(57)【要約】【課題】１回の対物レンズシフト動作で最適サーボパラメータを検出する。【解決手段】検出制御部２０は、対物レンズ１０をトラッキング方向に段階的にシフトさせる毎に、サブＰＰゲインｋを段階的に設定させる。そして、各シフト電圧と各サブＰＰゲインｋとの組み合わせ毎に、差動ＰＰバランス算出部１９で差動ＰＰバランス値ＢＬを算出してメモリ２１内に格納する。そうすると、検出制御部２０は、サブＰＰゲインｋの設定値毎に、対物レンズ１０のシフト電圧のＤＰＰバランス値ＢＬに対する影響度を求める。さらに、上記影響度とサブＰＰゲインｋとの関係を表す近似式に基づいて、上記影響度が最小となるときのサブＰＰゲインｋの値を最適サーボパラメータとして検出する。こうして、サーボ制御の制御量の誤差信号に対する影響度とサーボパラメータとの関係が直線的ではない場合でも、上記制御量に関する１回の変更動作で最適サーボパラメータを検出できる。【選択図】図１
2011233204.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基準ディスクに対して光ビームを照射すると共に、上記基準ディスクからの反射光を受光して複数の検出信号を出力する光ピックアップ装置と、
上記光ピックアップ装置をサーボ制御する際の制御量を段階的に変更する制御量変更部と、
上記サーボ制御に用いるパラメータであるサーボパラメータを段階的に設定するサーボパラメータ設定部と、
上記光ピックアップ装置からの上記検出信号に基づいて、上記サーボ制御を行うための誤差信号値を算出する誤差信号算出部と、
上記制御量変更部を制御して上記制御量を段階的に変更させる毎に、上記サーボパラメータ設定部を制御して上記サーボパラメータを段階的に設定させると共に、上記誤差信号算出部で算出された上記誤差信号値を取得し、この取得した各誤差信号値を上記制御量の変更値と上記サーボパラメータの設定値とに対応付けて記憶部に記憶させる誤差信号値取得格納部と、
上記記憶部に上記制御量の変更値と上記サーボパラメータの設定値とに対応付けて記憶された上記各誤差信号値に基づいて、上記サーボパラメータの設定値毎に、上記制御量の各変更値と上記各誤差信号値との関係を表す近似式を算出し、この算出された近似式の係数値に基づいて上記制御量の変更値の上記誤差信号値に対する影響度を抽出する影響度抽出部と、
上記サーボパラメータの設定値毎に抽出された上記影響度に基づいて、上記各影響度と上記サーボパラメータの各設定値との関係を表す近似式を算出し、この近似式に基づいて上記影響度が最小となるときの上記サーボパラメータの値を最適サーボパラメータとして検出し、この検出された最適サーボパラメータをサーボパラメータ記録部に記録する最適サーボパラメータ検出部と
を備えたことを特徴とする最適サーボパラメータの検出装置。
【請求項２】
請求項１に記載の最適サーボパラメータの検出装置において、
上記制御量変更部は、
上記光ピックアップ装置に搭載されるとともに、上記光ビームを上記基準ディスク上に集光させる対物レンズの上記基準ディスクに対する少なくともラジアル方向への相対位置を、上記制御量として変更するアクチュエータと、
上記誤差信号値取得格納部からの制御信号に基づいて、上記アクチュエータに対して駆動信号を出力して、上記対物レンズの上記相対位置を段階的に変更させるアクチュエータ駆動部と
を含み、
上記サーボパラメータ設定部は、上記サーボパラメータとしてサブプッシュプルゲインを段階的に設定し、
上記誤差信号算出部は、上記誤差信号値として差動プッシュプルバランス値を算出し、
上記最適サーボパラメータ検出部は、上記対物レンズの変更値の上記差動プッシュプルバランス値に対する影響度が最小となるときの上記サブプッシュプルゲインの値を上記最適サーボパラメータとして検出し、この検出された最適サブプッシュプルゲインの値を上記サーボパラメータ記録部に記録する
ことを特徴とする最適サーボパラメータの検出装置。
【請求項３】
請求項１あるいは請求項２に記載の最適サーボパラメータの検出装置において、
上記サーボパラメータ記録部は、上記光ピックアップ装置に設けられている
ことを特徴とする最適サーボパラメータの検出装置。
【請求項４】
検出制御部から制御量変更部に対して、光ビームを用いて光ディスクに記録再生を行う光ピックアップ装置をサーボ制御する際の制御量を段階的に変更させる指令を出力して、上記制御量を段階的に変更させるステップと、
上記制御量変更部に対して上記制御量を変更させる指令を出力する毎に、上記検出制御部からサーボパラメータ設定部に対して、サーボパラメータを段階的に設定させる指令を出力して、上記サーボパラメータを段階的に設定させるステップと、
上記制御量の変更値と上記サーボパラメータの設定値との組み合わせ毎に、上記光ピックアップ装置から出射された光ビームの基準ディスクからの反射光に基づく検出信号に基づいて、誤差信号算出部によって、上記制御量をサーボ制御するための誤差信号値を算出するステップと、
上記検出制御部によって、上記算出された上記誤差信号値に基づいて、上記各誤差信号値を上記制御量の変更値と上記サーボパラメータの設定値とに対応付けて記憶部に記憶するステップと、
上記検出制御部によって、上記記憶部に上記制御量の変更値と上記サーボパラメータの設定値とに対応付けて記憶された上記各誤差信号値に基づいて、上記サーボパラメータの設定値毎に、上記制御量の各変更値と上記各誤差信号値との関係を表す近似式を算出し、この算出された近似式の係数値に基づいて上記制御量の変更値の上記誤差信号値に対する影響度を抽出するステップと、
上記検出制御部によって、上記サーボパラメータの設定値毎に抽出された上記影響度に基づいて、上記各影響度と上記サーボパラメータの各設定値との関係を表す近似式を算出し、この近似式に基づいて、上記影響度が最小となるときの上記サーボパラメータの値を最適サーボパラメータとして検出するステップと
を備えたことを特徴とする最適サーボパラメータの検出方法。
【請求項５】
請求項４に記載の最適サーボパラメータの検出方法において、
上記制御量を段階的に変更させるステップでは、アクチュエータ駆動部に対して上記指令を出力して、アクチュエータを介して、上記光ビームを上記基準ディスク上に集光させる対物レンズの上記基準ディスクに対する少なくともラジアル方向への相対位置を、上記制御量として段階的に変更させ、
上記サーボパラメータを段階的に設定させるステップでは、上記サーボパラメータとしてサブプッシュプルゲインを段階的に設定し、
上記誤差信号値を算出するステップでは、上記誤差信号値として差動プッシュプルバランス値を算出する
ことを特徴とする最適サーボパラメータの検出方法。
【請求項６】
請求項４に記載の最適サーボパラメータの検出方法において、
上記サーボパラメータは、上記光ピックアップ装置のデフォーカス値である
ことを特徴とする最適サーボパラメータの検出方法。
【請求項７】
請求項４に記載の最適サーボパラメータの検出方法において、
上記サーボパラメータは、上記光ピックアップ装置の傾角である
ことを特徴とする最適サーボパラメータの検出方法。
【請求項８】
光ビームを用いて光ディスクに記録再生を行うと共に、
請求項４から請求項７までの何れかに記載の最適サーボパラメータの検出方法によって検出された上記最適サーボパラメータの値を記録するサーボパラメータ記録部を備えた
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項９】
請求項８に記載の光ピックアップ装置において、
上記サーボパラメータ記録部は、上記最適サーボパラメータの値を表す二次元データコードが記録された二次元データコード記録部である
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項１０】
請求項８に記載の光ピックアップ装置において、
上記サーボパラメータ記録部は半導体メモリである
ことを特徴とする光ピックアップ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光ピックアップ装置のサーボ制御を行う場合に用いられるサーボパラメータの最適値を検出する最適サーボパラメータの検出装置、最適サーボパラメータの検出方法、および、その検出方法によって検出された最適サーボパラメータが記録された光ピックアップ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＢＤ(Blu-ray Disc：登録商標),ＤＶＤ(Digital Versatile Disc)およびＣＤ(Compact Disc)等の光ディスクに対して記録再生を行う場合に、光ピックアップ装置からのレーザ光を所望のトラックに高精度に追従させるトラッキング制御や、光ピックアップ装置からのレーザ光を信号記録層に高精度で合焦させるフォーカス制御や、光ピックアップ装置の光ディスクに対する傾きを高精度に修正するスキュー制御をサーボ制御によって行う。例えば、トラッキングサーボ制御には、安定化を目的としてＤＰＰ(Differential Push Pull：差動プッシュプル)方式が用いられる。その際に、サーボパラメータとしてのサブプッシュプルゲイン(以下、サブＰＰゲインと記載する)の最適化が必要となる。このような、サブＰＰゲインの最適値を求める方法として、例えば特開２００６‐１５５７２２号公報(特許文献１)に開示された「差動プッシュプル信号調整装置」がある。
【０００３】
上記引用文献１に開示された「差動プッシュプル信号調整装置」では、光ピックアップ装置からのメインビームの検出信号Ｓ1に基づくメインプッシュプル信号ＭＰＰと、光ピックアップからのサブビームの検出信号Ｓ2に基づくサブプッシュプル信号ＳＰＰとに基づいて、次式によって差動プッシュプル信号ＤＰＰを算出する。
ＤＰＰ＝ＭＰＰ−ｋ・ＳＰＰ
ここで、ｋはサブＰＰゲインであり、メインビームとサブビームとの光強度の差異を補正・校正するように定められる定数である。
【０００４】
そして、上記光ピックアップ装置の上記対物レンズを光ディスクの内周側および外周側に移動させた場合の夫々の差動プッシュプル信号ＤＰＰに基づいて、極大値の平均値である内周側トップ値Ｔiおよび外周側トップ値Ｔoと、極小値の平均値である内周側ボトム値Ｂiおよび外周側ボトム値Ｂoとを求め、内周側トップ値Ｔiから外周側トップ値Ｔoを差し引いたトップ差分値ＤＴ、および、内周側ボトム値Ｂiから外周側ボトム値Ｂoを差し引いたボトム差分値ＤＢを算出する。
【０００５】
そして、上記トップ差分値ＤＴおよびボトム差分値ＤＢが共に正あるいは共に負である場合には、サブＰＰゲインｋを所定変更量だけ減少あるいは増加させて、次回生成する差動プッシュプル信号ＤＰＰを変化させる。一方、上記トップ差分値ＤＴおよびボトム差分値ＤＢの少なくとも一方の符号が前回から変化した場合あるいは少なくとも一方が０となった場合には、当該サブＰＰゲインｋを最適サブＰＰゲインと確定するようにしている。
【０００６】
近年、光ディスクの高密度化が求められており、これを実現するために、光ディスクの情報記録層における線記録密度の向上や、トラックの狭ピッチ化が進められてきている。また、光ディスクの高密度化を図るためには、光ディスクの上記情報記録層上に集光される光ビームのビーム系を小さくする必要がある。さらに、上記光ビームのビーム系を小さくするためには、光ピックアップ装置の上記対物レンズから照射される光ビームの開口数を大きくすることと、上記光ビームの短波長化とが考えられる。
【０００７】
上述のごとくトラックの狭ピッチ化が進むと、上記対物レンズの移動時におけるトラッキングエラー信号(差動プッシュプル信号ＤＰＰ)のオフセットズレが益々無視できなくなり、上記対物レンズの移動時におけるトラッキングエラー信号(差動プッシュプル信号ＤＰＰ)のオフセットは、ＤＰＰ方式等によってより確実に打ち消す必要がある。
【０００８】
ところで、上記ＤＰＰ方式においては、上記対物レンズの移動時におけるトラッキングエラー信号のオフセットを打ち消すために、トラッキングエラー信号(差動プッシュプル信号ＤＰＰ)の基準レベル(ＧＮＤレベル)よりも＋側と−側とのバランスを表す差動プッシュプル信号バランス(ＤＰＰバランス)が対物レンズセンター時と上記対物レンズシフト時とで同等になるように、上記サブＰＰゲインｋを設定する方法がある。例えば特開２００３‐６７９４８号公報(特許文献２)に開示された「光ディスク装置」等。
【０００９】
上記引用文献２に開示された「光ディスク装置」では、先ずサブＰＰゲインｋの初期値を設定し、光ディスクを回転させながらフォーカスアクチュエータを動作させてフォーカスサーボを掛けながらトラッキングエラー信号(差動プッシュプル信号ＤＰＰ)の振幅が所定値になるように調整する。その後、対物レンズをトラックの中心上に位置させた後、トラッキングアクチュエータを駆動させて対物レンズをラジアル方向に一定量(２５０μm)だけシフトさせ、トラッキングエラー信号(差動プッシュプル信号ＤＰＰ)のオフセット量が最小(＝０)となるように、トラッキングエラー用可変アンプ等によってサブＰＰゲインｋの値を調整する。こうして、トラッキングエラー信号(差動プッシュプル信号ＤＰＰ)のオフセット量、すなわちＤＰＰバランスが、対物レンズセンター時と対物レンズシフト時とで同等になるようにサブＰＰゲインｋが設定される。
【００１０】
しかしながら、上記特許文献２に開示された従来のサブＰＰゲインｋの設定方法には、以下のような問題がある。
【００１１】
すなわち、上記サーボパラメータとしてのサブＰＰゲインｋの最適値を検出する際に、上記対物レンズをシフトさせて実際にトラッキングエラー信号(差動プッシュプル信号ＤＰＰ)を測定したとしても、サブＰＰゲインｋと、対物レンズのシフト量のトラッキングエラー信号のオフセットに対する影響の度合(以下、影響度と言う)とは、必ずしも正比例しない。そのため、上記特許文献２に開示された「光ディスク装置」においては、サブＰＰゲインｋ毎における対物レンズのシフト量のトラッキングエラー信号のオフセットに対する影響度は、上記対物レンズをシフトさせたシフト位置と仮に設定したサブＰＰゲインｋの値のみでしか特定できず、上記対物レンズのシフト可能領域全体で有効な最適サブＰＰゲインｋとはなり得ない場合がある。
【００１２】
そのため、上記特許文献２に開示された「光ディスク装置」においては、上記対物レンズのシフト可能領域全体で有効なサブＰＰゲインｋの最適値を得るためには、上記対物レンズを上記一定量(２５０μm)以外の複数のシフト量も含めた多数のシフト量で何度も繰り返してシフトさせながら、対物レンズセンター時と対物レンズシフト時とでＤＰＰバランスが同等になるまでサブＰＰゲインｋを段階的に設定して、最適なサブＰＰゲインｋを求める必要がある。したがって、上記対物レンズのシフト可能領域全体においてフラットなＤＰＰバランス特性が得られるサブＰＰゲインｋを、１回の対物レンズシフト動作で得ることができないという問題がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１３】
【特許文献１】特開２００６‐１５５７２２号公報
【特許文献２】特開２００３‐６７９４８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
そこで、この発明の課題は、光ピックアップ装置のサーボ制御において、制御量の誤差信号に対する影響度とサーボパラメータとの関係が直線的ではなく、検出時に仮に設定したサーボパラメータが最適なサーボパラメータであるとは限らない場合であっても、制御量の１回の変更動作で最適サーボパラメータを検出することができる最適サーボパラメータの検出装置、最適サーボパラメータの検出方法、および、それによって検出された最適サーボパラメータが記録された光ピックアップ装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記課題を解決するため、この発明の最適サーボパラメータの検出装置は、
基準ディスクに対して光ビームを照射すると共に、上記基準ディスクからの反射光を受光して複数の検出信号を出力する光ピックアップ装置と、
上記光ピックアップ装置をサーボ制御する際の制御量を段階的に変更する制御量変更部と、
上記サーボ制御に用いるパラメータであるサーボパラメータを段階的に設定するサーボパラメータ設定部と、
上記光ピックアップ装置からの上記検出信号に基づいて、上記サーボ制御を行うための誤差信号値を算出する誤差信号算出部と、
上記制御量変更部を制御して上記制御量を段階的に変更させる毎に、上記サーボパラメータ設定部を制御して上記サーボパラメータを段階的に設定させると共に、上記誤差信号算出部で算出された上記誤差信号値を取得し、この取得した各誤差信号値を上記制御量の変更値と上記サーボパラメータの設定値とに対応付けて記憶部に記憶させる誤差信号値取得格納部と、
上記記憶部に上記制御量の変更値と上記サーボパラメータの設定値とに対応付けて記憶された上記各誤差信号値に基づいて、上記サーボパラメータの設定値毎に、上記制御量の各変更値と上記各誤差信号値との関係を表す近似式を算出し、この算出された近似式の係数値に基づいて上記制御量の変更値の上記誤差信号値に対する影響度を抽出する影響度抽出部と、
上記サーボパラメータの設定値毎に抽出された上記影響度に基づいて、上記各影響度と上記サーボパラメータの各設定値との関係を表す近似式を算出し、この近似式に基づいて上記影響度が最小となるときの上記サーボパラメータの値を最適サーボパラメータとして検出し、この検出された最適サーボパラメータをサーボパラメータ記録部に記録する最適サーボパラメータ検出部と
を備えたことを特徴としている。
【００１６】
上記構成によれば、光ピックアップ装置の製造時等において、上記光ピックアップ装置の最適サーボパラメータを検出する際に、誤差信号値取得格納部によって、上記光ピックアップ装置をサーボ制御する際の制御量を段階的に変更させる毎に、上記サーボ制御に用いるパラメータであるサーボパラメータを段階的に設定させると共に、誤差信号算出部で算出された上記サーボ制御を行うための誤差信号値を取得して、上記制御量の変更値と上記サーボパラメータの設定値とに対応付けて記憶部に記憶させる。
【００１７】
そして、影響度抽出部によって、上記記憶部に記憶されている上記誤差信号値を読み出して、サーボパラメータの設定値毎に、上記制御量の変更値と上記誤差信号値との関係を表す近似式の係数値に基づいて、上記制御量の変更値の上記誤差信号値に対する影響度を抽出し、最適サーボパラメータ検出部によって、上記各影響度とサーボパラメータの各設定値との関係を表す近似式に基づいて、上記影響度が最小となるときの上記サーボパラメータの値を最適サーボパラメータとして検出するようにしている。
【００１８】
したがって、上記制御量の上記誤差信号に対する影響度と上記サーボパラメータとの関係が直線的ではない場合であっても、上記影響度とサーボパラメータの設定値との関係を表す近似式を用いることによって、上記影響度が最小となるときのサーボパラメータの値を最適サーボパラメータとして検出することができる。
【００１９】
すなわち、この発明によれば、上記サーボパラメータ設定部によって仮に設定されたサーボパラメータが最適なサーボパラメータであるとは限らない場合であっても、上記制御量変更部による制御量の１回の変更動作で、最適なサーボパラメータを検出することができるのである。
【００２０】
また、１実施の形態の最適サーボパラメータの検出装置では、
上記制御量変更部は、
上記光ピックアップ装置に搭載されるとともに、上記光ビームを上記基準ディスク上に集光させる対物レンズの上記基準ディスクに対する少なくともラジアル方向への相対位置を、上記制御量として変更するアクチュエータと、
上記誤差信号値取得格納部からの制御信号に基づいて、上記アクチュエータに対して駆動信号を出力して、上記対物レンズの上記相対位置を段階的に変更させるアクチュエータ駆動部と
を含み、
上記サーボパラメータ設定部は、上記サーボパラメータとしてサブプッシュプルゲインを段階的に設定し、
上記誤差信号算出部は、上記誤差信号値として差動プッシュプルバランス値を算出し、
上記最適サーボパラメータ検出部は、上記対物レンズの変更値の上記差動プッシュプルバランス値に対する影響度が最小となるときの上記サブプッシュプルゲインの値を上記最適サーボパラメータとして検出し、この検出された最適サブプッシュプルゲインの値を上記サーボパラメータ記録部に記録する。
【００２１】
この実施の形態によれば、上記サーボパラメータ設定部によって仮に設定されたサブプッシュプルゲインが最適なサブプッシュプルゲインであるとは限らない場合であっても、上記制御量変更部による対物レンズの基準ディスクに対するラジアル方向への相対位置の１回の変更動作で、最適サブプッシュプルゲインの値を検出することができる。
【００２２】
また、１実施の形態の最適サーボパラメータの検出装置では、
上記サーボパラメータ記録部は、上記光ピックアップ装置に設けられている。
【００２３】
この実施の形態によれば、上記サーボパラメータ記録部は上記光ピックアップ装置に設けられている。したがって、この光ピックアップ装置を光情報記録再生装置に搭載する際に、上記サーボパラメータ記録部に記録されている最適サーボパラメータを読み出して、当該光ピックアップ装置を動作させる場合の制御データとして使用することができる。したがって、当該光ピックアップ装置のサーボ制御を高精度に行うことができる。
【００２４】
また、この発明の最適サーボパラメータの検出方法は、
検出制御部から制御量変更部に対して、光ビームを用いて光ディスクに記録再生を行う光ピックアップ装置をサーボ制御する際の制御量を段階的に変更させる指令を出力して、上記制御量を段階的に変更させるステップと、
上記制御量変更部に対して上記制御量を変更させる指令を出力する毎に、上記検出制御部からサーボパラメータ設定部に対して、サーボパラメータを段階的に設定させる指令を出力して、上記サーボパラメータを段階的に設定させるステップと、
上記制御量の変更値と上記サーボパラメータの設定値との組み合わせ毎に、上記光ピックアップ装置から出射された光ビームの基準ディスクからの反射光に基づく検出信号に基づいて、誤差信号算出部によって、上記制御量をサーボ制御するための誤差信号値を算出するステップと、
上記検出制御部によって、上記算出された上記誤差信号値に基づいて、上記各誤差信号値を上記制御量の変更値と上記サーボパラメータの設定値とに対応付けて記憶部に記憶するステップと、
上記検出制御部によって、上記記憶部に上記制御量の変更値と上記サーボパラメータの設定値とに対応付けて記憶された上記各誤差信号値に基づいて、上記サーボパラメータの設定値毎に、上記制御量の各変更値と上記各誤差信号値との関係を表す近似式を算出し、この算出された近似式の係数値に基づいて上記制御量の変更値の上記誤差信号値に対する影響度を抽出するステップと、
上記検出制御部によって、上記サーボパラメータの設定値毎に抽出された上記影響度に基づいて、上記各影響度と上記サーボパラメータの各設定値との関係を表す近似式を算出し、この近似式に基づいて、上記影響度が最小となるときの上記サーボパラメータの値を最適サーボパラメータとして検出するステップと
を備えたことを特徴としている。
【００２５】
上記構成によれば、光ピックアップ装置の製造時等において、上記光ピックアップ装置の最適サーボパラメータを検出する際に、上記光ピックアップ装置をサーボ制御する際の制御量を段階的に変更する毎に、上記サーボ制御に用いるパラメータであるサーボパラメータを段階的に設定し、上記制御量の変更値と上記サーボパラメータの設定値との組み合わせ毎に、上記サーボ制御を行うための誤差信号値を算出し、上記制御量の変更値と上記サーボパラメータの設定値とに対応付けて記憶部に記憶する。
【００２６】
そして、上記記憶部に記憶されている上記誤差信号値に基づいて、上記サーボパラメータの設定値毎に、上記制御量の変更値と上記誤差信号値との関係を表す近似式の係数値に基づいて、上記制御量の変更値の上記誤差信号値に対する影響度を抽出し、上記各影響度とサーボパラメータの各設定値との関係を表す近似式に基づいて、上記影響度が最小となるときの上記サーボパラメータの値を最適サーボパラメータとして検出するようにしている。
【００２７】
したがって、上記制御量の上記誤差信号に対する影響度と上記サーボパラメータとの関係が直線的ではない場合であっても、上記影響度とサーボパラメータの設定値との関係を表す近似式を用いることによって、上記影響度が最小となるときのサーボパラメータの値を最適サーボパラメータとして検出することができる。
【００２８】
すなわち、この発明によれば、上記サーボパラメータ設定部によって仮に設定されたサーボパラメータが最適なサーボパラメータであるとは限らない場合であっても、上記制御量変更部による制御量の１回の変更動作で、最適なサーボパラメータを検出することができるのである。
【００２９】
また、１実施の形態の最適サーボパラメータの検出方法では、
上記制御量を段階的に変更させるステップでは、アクチュエータ駆動部に対して上記指令を出力して、アクチュエータを介して、上記光ビームを上記基準ディスク上に集光させる対物レンズの上記基準ディスクに対する少なくともラジアル方向への相対位置を、上記制御量として段階的に変更させ、
上記サーボパラメータを段階的に設定させるステップでは、上記サーボパラメータとしてサブプッシュプルゲインを段階的に設定し、
上記誤差信号値を算出するステップでは、上記誤差信号値として差動プッシュプルバランス値を算出する。
【００３０】
この実施の形態によれば、上記サーボパラメータ設定部によって仮に設定されたサブプッシュプルゲインが最適なサブプッシュプルゲインであるとは限らない場合であっても、対物レンズの基準ディスクに対するラジアル方向への相対位置の１回の変更動作で、最適サブプッシュプルゲインの値を検出することができる。
【００３１】
また、１実施の形態の最適サーボパラメータの検出方法では、
上記サーボパラメータは、上記光ピックアップ装置のデフォーカス値である。
【００３２】
この実施の形態によれば、誤差の少ない高精度な最適デフォーカス値を検出することが可能になる。
【００３３】
また、１実施の形態の最適サーボパラメータの検出方法では、
上記サーボパラメータは、上記光ピックアップ装置の傾角である。
【００３４】
この実施の形態によれば、誤差の少ない高精度な上記光ピックアップ装置の傾角を検出することが可能になる。
【００３５】
また、この発明の光ピックアップ装置は、
光ビームを用いて光ディスクに記録再生を行うと共に、
この発明の最適サーボパラメータの検出方法によって検出された上記最適サーボパラメータの値を記録するサーボパラメータ記録部を備えた
ことを特徴としている。
【００３６】
上記構成によれば、誤差の少ない高精度な最適サーボパラメータを光ピックアップ装置のサーボパラメータ記録部に記録している。したがって、当該光ピックアップ装置を光情報記録再生装置に搭載する際に、上記サーボパラメータ記録部に記録されている最適サーボパラメータを読み出して、上記光情報記録再生装置の記憶装置等に記憶しておく。そして、当該光ピックアップ装置を動作させる場合に制御データとして使用することにより、当該光ピックアップ装置のサーボ制御を高精度に行うことが可能になる。
【００３７】
また、１実施の形態の光ピックアップ装置では、
上記サーボパラメータ記録部は、上記最適サーボパラメータの値を表す二次元データコードが記録された二次元データコード記録部である。
【００３８】
この実施の形態によれば、上記最適サーボパラメータの検出方法によって検出された上記最適サーボパラメータの値を、バーコードの数十倍から数百倍の情報量を有し、バーコードと同じ情報量であれば１０分の１程度の小さなスペースでよく、汚れ・破損に強く、どの方向からでも読み取り可能な二次元データコードで記録している。したがって、本光ピックアップ装置を単体で出荷し、光情報記録装置に組み込む場合でも、上記最適サーボパラメータを容易に且つ正確に読み出して当該光情報記録装置に登録して使用することができる。
【００３９】
また、１実施の形態の光ピックアップ装置では、
上記サーボパラメータ記録部は半導体メモリである。
【００４０】
この実施の形態によれば、上記最適サーボパラメータの検出方法によって検出された上記最適サーボパラメータを半導体メモリに記録している。したがって、記録されている上記最適サーボパラメータの書き換え変更を簡単に行うことができる。
【発明の効果】
【００４１】
以上より明らかなように、この発明の最適サーボパラメータの検出装置および最適サーボパラメータの検出方法では、光ピックアップ装置をサーボ制御する際の制御量を段階的に変更させる毎に、上記サーボ制御に用いるサーボパラメータを段階的に設定させると共に、上記サーボ制御を行うための誤差信号値を算出して上記制御量の変更値と上記サーボパラメータの設定値とに対応付けて記憶部に記憶する。
【００４２】
そして、上記記憶部に記憶されている上記誤差信号値に基づいて、サーボパラメータの設定値毎に、上記制御量の変更値と上記誤差信号値との関係を表す近似式の係数値に基づいて、上記制御量の変更値の上記誤差信号値に対する影響度を抽出し、上記各影響度とサーボパラメータの各設定値との関係を表す近似式に基づいて、上記影響度が最小となるときの上記サーボパラメータの値を最適サーボパラメータとして検出するようにしている。
【００４３】
したがって、上記制御量の上記誤差信号に対する影響度と上記サーボパラメータとの関係が直線的ではない場合であっても、上記影響度とサーボパラメータの設定値との関係を表す近似式を用いることによって、上記影響度が最小となるときのサーボパラメータの値を最適サーボパラメータとして検出することができる。
【００４４】
すなわち、この発明によれば、上記サーボパラメータ設定部によって仮に設定されたサーボパラメータが最適なサーボパラメータであるとは限らない場合であっても、上記制御量変更部による１回の制御量の変更動作で、最適サーボパラメータを検出することができる。
【００４５】
また、この発明の光ピックアップ装置は、上記この発明の最適サーボパラメータの検出方法によって検出された誤差の少ない高精度な最適サーボパラメータを、光ピックアップ装置のサーボパラメータ記録部に記録しているので、当該光ピックアップ装置を光情報記録再生装置に搭載する際に、上記サーボパラメータ記録部に記録されている最適サーボパラメータを読み出して、上記光情報記録再生装置が当該光ピックアップ装置を動作させる場合に、制御データとして使用することができる。
【００４６】
したがって、当該光ピックアップ装置のサーボ制御を高精度に行うことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】この発明の最適サーボパラメータの検出方法を実現させる光ピックアップ装置と基準ディスクとサーボパラメータ検出装置とを示す図である。
【図２】トラッキングサーボ制御を停止した場合に生成される差動ＰＰ信号の波形図である。
【図３】図１における検出制御部による制御の下に行われる最適サーボパラメータ検出処理のフローチャートである。
【図４】図１におけるメモリ内に記憶されるＤＰＰバランスマトリックスの概念図である。
【図５】設定サブＰＰゲインｋ1(＝１.０)時におけるシフト電圧とＤＰＰバランス値との関係を示す図である。
【図６】設定サブＰＰゲインｋ2(＝１.４)時におけるシフト電圧とＤＰＰバランス値との関係を示す図である。
【図７】設定サブＰＰゲインｋ3(＝１.８)時におけるシフト電圧とＤＰＰバランス値との関係を示す図である。
【図８】設定サブＰＰゲインｋ4(＝２.２)時におけるシフト電圧とＤＰＰバランス値との関係を示す図である。
【図９】設定サブＰＰゲインｋ5(＝２.６)時におけるシフト電圧とＤＰＰバランス値との関係を示す図である。
【図１０】設定サブＰＰゲインｋ6(＝３.０)時におけるシフト電圧とＤＰＰバランス値との関係を示す図である。
【図１１】設定サブＰＰゲインｋ7(＝３.４)時におけるシフト電圧とＤＰＰバランス値との関係を示す図である。
【図１２】設定サブＰＰゲインｋ8(＝３.８)時におけるシフト電圧とＤＰＰバランス値との関係を示す図である。
【図１３】シフト電圧とＤＰＰバランス値との関係を表す一次式の傾き(影響度)とサブＰＰゲインとの関係を示す図である。
【図１４】光ピックアップ装置に設けられたＱＲコードデータおよび半導体メモリの説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００４８】
以下、この発明を図示の実施の形態により詳細に説明する。図１は、本実施の形態の最適サーボパラメータの検出方法を実現させる光ピックアップ装置と基準ディスクとサーボパラメータ検出装置とを示す。図１において、１は光ピックアップ装置であり、２はサーボパラメータの調整を行う際の基準となる基準ディスクであり、３はサーボパラメータ検出装置である。尚、本実施の形態においては、最適サーボパラメータとして最適サブＰＰゲインを検出する場合を例に説明を行う。
【００４９】
上記光ピックアップ装置１においては、レーザ駆動ＩＣ(集積回路)４からの駆動信号に基づいてレーザダイオード５から出射された光ビームを、コリメートレンズ６によって平行光束とし、球面収差補正機構７によって所定の球面収差を付加し、立ち上げミラー８で反射し、スピンドルモータ９によって回転駆動されている基準ディスク２の方向に進路を変える。その後、光ビームを対物レンズ１０によって集光し、基準ディスク２の情報記録面に光スポットを形成させる。
【００５０】
上記基準ディスク２の情報記録面で反射された光ビームは、対物レンズ１０を通り、立ち上げミラー８によってビームスプリッタ１１の方向に反射され、ビームスプリッタ１１によって光検出器１３の方向に反射され、検出レンズ１２等によって光検出器１３上に集光される。そして、光検出器１３によって検出信号Ｓ1,Ｓ2を生成し、検出信号Ｓ1をメインプッシュプル(以下、メインＰＰと略称する)信号生成部１４に送出する一方、検出信号Ｓ2をサブプッシュプル(以下、サブＰＰと略称する)信号生成部１５に送出する。
【００５１】
そうすると、上記メインＰＰ信号生成部１４は、検出信号Ｓ1に基づいてメインＰＰ信号ＭＰＰを生成して、差動プッシュプル(以下、差動ＰＰと略称する)信号生成部１６に送出する一方、サブＰＰ信号生成部１５は、検出信号Ｓ2に基づいてサブＰＰ信号ＳＰＰを生成して、差動ＰＰ信号生成部１６に送出する。そして、差動ＰＰ信号生成部１６は、メインＰＰ信号ＭＰＰおよびサブＰＰ信号ＳＰＰと、サーボパラメータ検出装置３のサブＰＰゲイン設定部１７で設定されたサブＰＰゲインｋとに基づいて、式(１)によって差動ＰＰ信号ＤＰＰを算出する。
ＤＰＰ＝ＭＰＰ−ｋ・ＳＰＰ        …（１）
こうして算出された差動ＰＰ信号ＤＰＰは、サーボ制御部１８およびサーボパラメータ検出装置３の差動ＰＰバランス算出部１９に送出される。
【００５２】
上記サーボ制御部１８は、差動ＰＰ信号ＤＰＰに基づいて、光ピックアップ装置１自体および光ピックアップ装置１のアクチュエータ２３を制御して対物レンズ１０をトラッキング方向に移動させて、対物レンズ１０から照射される光ビームを所望のトラックに高精度に追従させるトラッキングサーボ制御を行う。尚、本実施の形態とは直接関係がないので説明は省略するが、サーボ制御部１８は、上記フォーカスサーボ制御等の他のサーボ制御をも行うようになっている。
【００５３】
以下、上記サーボパラメータ検出装置３による最適サーボパラメータ(最適サブＰＰゲイン値)の検出について述べる。サーボパラメータ検出装置３は、上記サブＰＰゲイン設定部１７および差動ＰＰバランス算出部１９に加えて、検出制御部２０,メモリ２１およびアクチュエータ駆動部２２を含んで構成されている。
【００５４】
上記検出制御部２０は、上記アクチュエータ駆動部２２を制御して、対物レンズ１０をトラッキング方向にシフトさせる際のアクチュエータ２３へのシフト電圧を段階的に切り換えて、対物レンズ１０の基準ディスク２に対する相対位置をトラッキング方向に段階的にシフトさせる。そして、対物レンズ１０の各シフト位置において、サブＰＰゲイン設定部１７を制御して、サブＰＰゲインｋを段階的に設定させる。そして、各シフト電圧と各サブＰＰゲインｋとの組み合わせ毎に、差動ＰＰバランス算出部１９によって、後に詳述するようにして算出された差動ＰＰバランス(ＤＰＰバランス)値に基づいて、最適サブＰＰゲイン値(最適サーボパラメータ)を求める。尚、上記ＤＰＰバランス値は、差動ＰＰ信号ＤＰＰにおける基準レベル(ＧＮＤレベル)よりも＋側と−側とのバランスを表す値であり、差動ＰＰ信号ＤＰＰのオフセット評価値として用いる。こうして求められた最適サブＰＰゲイン値(最適サーボパラメータ)は、光ピックアップ装置１に設けられたデータ記録部２４に記録される。
【００５５】
尚、上記サブＰＰゲイン設定部１７によるサブＰＰゲインｋの設定方法は、特定の方法に限定するものではない。例えば、ボリューム抵抗等の機械的な方法や設定値をレジスタに設定する方法によって、差動ＰＰ信号生成部１６を構成するゲイン可変アンプのゲインを設定すればよい。
【００５６】
次に、上記差動ＰＰバランス算出部１９によるＤＰＰバランス値の算出方法について、詳細に説明する。
【００５７】
上記光ピックアップ装置１,サーボパラメータ検出装置３,メインＰＰ信号生成部１４,サブＰＰ信号生成部１５,差動ＰＰ信号生成部１６およびサーボ制御部１８を含む光ディスク装置においては、基準ディスク２が装着された場合に、製造時における精度の問題等によって、基準ディスク２におけるトラックの中心と回転の中心とが僅かながら一致しない、所謂偏心が発生する。そして、最適サーボパラメータ検出時には、サーボパラメータ検出装置３の検出制御部２０によって、サーボ制御部１８に対してトラッキング停止命令が送出されている。
【００５８】
したがって、上記差動ＰＰ信号生成部１６からは、トラッキングサーボ制御が強制的に停止されて対物レンズ１０がトラッキング方向に静止しているため、回転している基準ディスク２における偏心の影響によって、図２に示すような略正弦波形状の差動ＰＰ信号ＤＰＰが生成される。差動ＰＰバランス算出部１９は、図２に示すような差動ＰＰ信号ＤＰＰの波形に基づいて、トラッキングエラー信号(差動ＰＰ信号ＤＰＰ)のオフセットの評価値としての差動ＰＰバランス値を、以下のようにして算出する。但し、差動ＰＰバランス値の算出方法は、以下に述べる算出方法に限定されるものではない。
【００５９】
すなわち、上記差動ＰＰバランス算出部１９はＡ/Ｄ変換器を内蔵しており、差動ＰＰ信号生成部１６からの差動ＰＰ信号ＤＰＰをディジタル差動ＰＰ信号Ｄに変換する。そして、基準ディスク２の回転周期に同期するディジタル差動ＰＰ信号Ｄの変動周期の一周期毎にトップホールドおよびボトムホールドを検出し、これをｎ周期分繰り返し、ｎ個の極大値の平均値を求めて上側値Ａとする一方、ｎ個の極小値の平均値を求めて下側値Ｂとする。そして、上側値Ａと下側値Ｂとに基づいて、式(２)によって、差動ＰＰ信号ＤＰＰのＧＮＤレベルを中心とした＋側と−側との非対称性を表すＤＰＰバランス値ＢＬを算出する。
ＢＬ＝〔｛(Ａ−Ｂ)/２｝/(Ａ＋Ｂ)〕×１００（％）    …（２）
【００６０】
次に、上記検出制御部２０による最適サブＰＰゲイン値(最適サーボパラメータ)の検出方法について説明する。
【００６１】
図３は、上記検出制御部２０による制御の下に行われる最適サーボパラメータ検出処理のフローチャートを示す。以下、図１および図３に従って、最適サーボパラメータ検出処理動作について詳細に説明する。
【００６２】
図３において、ステップＳ1で、上記検出制御部２０によって、対物レンズ１０のシフト量を規定するアクチュエータ２３へのシフト電圧ｖmの変更数ｍに、初期値１がセットされる。尚、本実施の形態においては、一例として、上記シフト電圧ｖmを、変更間隔をＶ［mＶ］として、「−５＊Ｖ［mＶ］」,「−４＊Ｖ［mＶ］」，「−３＊Ｖ［mＶ］」，「−２＊Ｖ［mＶ］」，「−Ｖ［mＶ］」，「±０［mＶ］」，「＋Ｖ［mＶ］」，「＋２＊Ｖ［mＶ］」，「＋３＊Ｖ［mＶ］」,「＋４＊Ｖ［mＶ］」,「＋５＊Ｖ［mＶ］」の１１段階に変更するものとする。したがって、本ステップにおいては、シフト電圧ｖmが、ｖ１＝−５＊Ｖ［mＶ］に変更されるのである。ステップＳ2で、アクチュエータ駆動部２２に対して、光ピックアップ装置１の対物レンズ１０を基準ディスク２における最内周までシフトさせるためのシフト電圧ｖm=1の出力指令が送出される。その結果、対物レンズ１０は、基準ディスク２における最内周まで移動される。ステップＳ3で、サブＰＰゲインｋnの設定数ｎに、初期値１がセットされる。尚、本実施の形態においては、一例として、サブＰＰゲインｋnを、「１.０」,「１.４」,「１.８」,「２.２」,「２.６」,「３.０」,「３.４」,「３.８」の８段階に設定するものとする。ステップＳ4で、上記サブＰＰゲイン設定部１７が制御されて、サブＰＰゲインｋnが設定される。
【００６３】
ステップＳ5で、上記メインＰＰ信号生成部１４,サブＰＰ信号生成部１５,差動ＰＰ信号生成部１６および差動ＰＰバランス算出部１９によって、ＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)が算出される。ステップＳ6で、上記算出されたＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)が取り込まれ、メモリ２１内に後に詳述するようにしてマトリクス状に配列されて記憶される。
【００６４】
ステップＳ7で、上記サブＰＰゲインｋnの設定数ｎが「＋１」だけインクリメントされる。ステップＳ8で、サブＰＰゲインｋnの設定数ｎが最大値ｎmax(本実施の形態の場合には、ｎmax＝８)を超えたか否かが判別される。その結果、最大値ｎmaxを超えていなければ上記ステップＳ4に戻って、サブＰＰゲインｋnの設定とＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)の算出とが行われる。一方、最大値ｎmaxを超えていれば、つまり、サブＰＰゲインｋnが最大値「３.８」を超えていれば、ステップＳ9に進む。
【００６５】
ステップＳ9で、シフト電圧ｖmの変更数ｍが「＋１」だけインクリメントされる。ステップＳ10で、シフト電圧ｖmの変更数ｍが最大値ｍmax(本実施の形態の場合には、ｍmax＝１１)を超えたか否かが判別される。その結果、最大値ｍmaxを超えていなければ、ステップＳ11に進む。一方、最大値ｍmaxを超えていれば、つまり、シフト電圧ｖmが、最大値「＋５＊Ｖ［mＶ］」を超えていれば、ステップＳ12に進む。
【００６６】
ステップＳ11で、上記アクチュエータ駆動部２２に対して、アクチュエータ２３へのシフト電圧ｖmの出力指令が送出される。その結果、対物レンズ１０は、所定の距離だけ外側に移動される。その後、上記ステップＳ3に戻って、サブＰＰゲインｋnの設定とＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)の算出とが行われる。
【００６７】
ステップＳ12で、シフト電圧ｖmの変更数ｍが中間値(本実施の形態の場合には「６」)に戻される。そして、アクチュエータ駆動部２２からアクチュエータ２３に対してシフト電圧ｖm=6の出力指令が送出されて、対物レンズ１０が基準ディスク２における中立位置に戻される。ステップＳ13で、メモリ２１内にマトリクス状に配列されたＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)に基づいて、サブＰＰゲインｋnの設定値毎に、ｘ軸をシフト電圧ｖmとし、ｙ軸をＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)とした場合におけるｘとｙとの関係を表す一次式が、最小二乗法によって算出される。そして、上記算出された一次式「ｙ＝ａｘ＋ｂ」の傾き「ａ」が、シフト電圧ｖm(対物レンズ１０のシフト量)のＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)(トラッキングエラー信号のオフセット)に対する影響度として抽出される。
【００６８】
ステップＳ14で、上記ステップＳ13においてサブＰＰゲインｋnの設定値毎に抽出されたｘ(シフト電圧ｖm)とｙ(ＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n))との関係を表す一次式の「傾き(一次項の係数)」、つまりシフト電圧ｖmのＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)に対する影響度に基づいて、ｘ軸を上記影響度とし、ｙ軸をサブＰＰゲインｋnとした場合におけるｘとｙとの関係を表す近似式が、最小二乗法等によって算出される。
【００６９】
ステップＳ15で、上記ステップＳ14において算出された近似式に基づいて、ｘ＝０、つまり上記一次式の傾きが「０」、すなわちシフト電圧ｖmのＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)に対する影響度が最小となるときのｙの値、すなわちサブＰＰゲインｋの値が、最適サブＰＰゲイン値(最適サーボパラメータ)として検出される。そして、この検出された最適サブＰＰゲイン値(最適サーボパラメータ)が、光ピックアップ装置１に設けられたデータ記録部２４に記録される。そうした後、最適サーボパラメータ検出処理動作が終了される。
【００７０】
以下、上述したように、上記シフト電圧ｖmを、変更間隔をＶ［mＶ］として、「−５＊Ｖ」,「−４＊Ｖ」,「−３＊Ｖ」,「−２＊Ｖ」,「−Ｖ」,「±０」,「＋Ｖ」,「＋２＊Ｖ」,「＋３＊Ｖ」,「＋４＊Ｖ」,「＋５＊Ｖ」の１１段階に変更すると共に、サブＰＰゲインｋnを「１.０」,「１.４」,「１.８」,「２.２」,「２.６」,「３.０」,「３.４」,「３.８」の８段階に設定する場合を例に、図３に示す最適サーボパラメータ検出処理動作をさらに具体的に説明する。
【００７１】
図３におけるステップＳ1において、シフト電圧ｖmがｖ１＝−５＊Ｖ［mＶ］に変更され、ステップＳ2において、対物レンズ１０が基準ディスク２における最内周にシフトされる。以下、ステップＳ3〜ステップＳ6において、サブＰＰゲインｋ1が「１.０」に設定されてＤＰＰバランス値ＢＬ(1,1)(＝１０３.３％)が算出される。そして、メモリ２１内に、シフト電圧ｖ１(＝−５＊Ｖ［mＶ］)とサブＰＰゲインｋ1(＝１.０)とが関連付けられて記憶される。以下、ステップＳ7,Ｓ8,Ｓ4〜Ｓ8を繰り返すことによって、サブＰＰゲインｋnが「１.４」,「１.８」,「２.２」,「２.６」,「３.０」,「３.４」,「３.８」に順次切り換え設定されて、ＤＰＰバランス値ＢＬ(1,n)が算出される。その結果、メモリ２１内には、図４に示すＤＰＰバランスマトリックスにおける１行目が記憶される。
【００７２】
次に、ステップＳ9において、シフト電圧ｖmがシフト電圧ｖ2(＝−４＊Ｖ［mＶ］)に変更され、ステップＳ10,Ｓ11,Ｓ3〜Ｓ8において、ＤＰＰバランス値ＢＬ(2,n)が算出される。その結果、メモリ２１内には、図４に示すＤＰＰバランスマトリックスにおける１行目および２行目が記憶される。
【００７３】
以下、ステップＳ3〜Ｓ10を繰り返すことによって、シフト電圧ｖmが、「−３＊Ｖ」,「−２＊Ｖ」,「−Ｖ」,「±０」,「＋Ｖ」,「＋２＊Ｖ」,「＋３＊Ｖ」,「＋４＊Ｖ」,「＋５＊Ｖ」に順次切り換え変更される毎に、サブＰＰゲインｋnが「１.０」,「１.４」,「１.８」,「２.２」,「２.６」,「３.０」,「３.４」,「３.８」に順次切り換え設定されて、ＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)が算出される。その結果、メモリ２１内には、図４に示すＤＰＰバランスマトリックスが記憶される。
【００７４】
そうした後、ステップＳ13において、先ず、図４に示すＤＰＰバランスマトリックスの１列目が読み出され、図５に示すように、サブＰＰゲインｋ1(＝１.０)時におけるｘ(シフト電圧ｖm)とｙ(ＤＰＰバランス値ＢＬ(m,1))との関係を表す一次式「ｙ＝−(２３.０００/Ｖ)ｘ＋１４.０１」が算出される。そして、上記算出された一次式の傾き(一次項係数値)「−２３.０００/Ｖ」が、サブＰＰゲインｋ1(＝１.０)時におけるシフト電圧ｖm(対物レンズ１０のシフト量)の、ＤＰＰバランス値ＢＬ(m,1)(トラッキングエラー信号のオフセット)に対する影響度として抽出される。
【００７５】
以下、同様にして、図４に示すＤＰＰバランスマトリックスの各列が読み出され、図６〜図１２に示すように、各サブＰＰゲインｋ2〜8におけるｘ(シフト電圧ｖm)とｙ(ＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n))との関係を表す一次式の傾き「−１８.８７８/Ｖ」,「−１４.２４４/Ｖ」,「−９.２６８/Ｖ」,「−４.３２０/Ｖ」,「０.７３５/Ｖ」,「５.７５５/Ｖ」，「１０.６７４/Ｖ」が、シフト電圧ｖm(対物レンズ１０のシフト量)のＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n）（トラッキングエラー信号のオフセット)に対する影響度として抽出される。
【００７６】
次に、ステップＳ14において、上記サブＰＰゲインｋn毎に抽出された上記一次式の傾き(一次係数値)、つまりシフト電圧ｖmのＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)に対する影響度に基づいて、図１３に示すようなｘ(上記傾き(つまり上記影響度))とｙ(サブＰＰゲインｋn)との関係を表す近似式が、最小二乗法によって「ｙ＝Ａｘ2＋Ｂｘ＋Ｃ」の形式で算出される。
【００７７】
ここで、シフト電圧ｖmのＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)に対する影響度を表す上記一次式の傾きは、その傾きが大きい程シフト電圧ｖmの変化がＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)に大きな変化をもたらすため上記影響度が大きいと言える。そこで、対物レンズ１０のシフト可能な全領域においてフラットなＤＰＰバランス特性が得られる最適なサブＰＰゲインｋを検出するには、シフト電圧ｖmのＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)に対する影響度が最も小さくなる場合のサブＰＰゲインｋを検出すればよいことになる。
【００７８】
そこで、図１３に示す上記近似式「ｙ＝Ａｘ2＋Ｂｘ＋Ｃ」に関して、シフト電圧ｖmのＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)に対する影響度が最小、つまり上記一次式の傾き(一次係数)が「０」、すなわちｘ＝０となるときのｙの値(サブＰＰゲインｋの値)を、最適サブＰＰゲイン値(最適サーボパラメータ)として検出するのである。
【００７９】
ところで、個々の光ピックアップ装置１には光学部品の組立精度等にばらつきがあるため、サブＰＰゲインｋの最適値にも個々の光ピックアップ装置１毎にばらつきが生ずることは避けられない。したがって、個々の光ディスク装置毎に最適サブＰＰゲインｋの調整・設定を行う必要がある。
【００８０】
そこで、本実施の形態においては、上述のようにして抽出された最適サブＰＰゲイン値を、当該光ピックアップ装置１毎にデータ記録部２４に保存しておくようにしている。こうすることによって、光ピックアップ装置１を光情報記録再生装置に組み込む際には、データ記録部２４に保存されている最適サブＰＰゲイン値を上記光情報記録再生装置によって読み取り、上記光情報記録再生装置が当該光ピックアップ装置１にトラッキングサーボ制御を行わせる際に制御データとして利用することによって、上記式(１)に従った演算処理を行わせることができるのである。
【００８１】
尚、上記最適サブＰＰゲイン値(最適サーボパラメータ)が保存された当該光ピックアップ装置１のデータ記録部２４の一例として、特許請求の範囲における上記二次元データコードとしてのＱＲコード(Quick Response code：登録商標)が記録された記録媒体がある。この場合は、上記求められた最適サブＰＰゲイン値をコード変換装置(図示せず)によってＱＲコードに変換する。そして、図１４に例示するように、変換されたＱＲコードデータ２５が記録された記録媒体を光ピックアップ装置１に貼り付けて出荷するのである。こうすることによって、光情報記録再生装置に組み込む際には、別体のコード読取装置(図示せず)によってＱＲコードデータ２５で記録された最適サブＰＰゲイン値（最適サーボパラメータ)を読み取り、その値を上記光情報記録再生装置の記憶装置等に記憶させることによって、当該光ピックアップ装置１の制御データとして利用することができる。
【００８２】
また、当該光ピックアップ装置１のデータ記録部２４の他の一例として、図１４に例示するような当該光ピックアップ装置１に搭載された半導体メモリ２６を用いることができる。この半導体メモリ２６には、光ピックアップ装置１の外部から電気的に記録データの書き込み読み出しを行うための電気配線(図示せず)が設けられている。そして、サーボパラメータ検出装置３の検出制御部２０によって、上記電気配線を介して、最適サブＰＰゲイン値(最適サーボパラメータ)を半導体メモリ２６に書き込むのである。こうすることによって、当該光ピックアップ装置１を光情報記録再生装置に組み込む際には、半導体メモリ２６に書き込まれた最適サブＰＰゲイン値を上記光情報記録再生装置から読み取り、当該光ピックアップ装置１の制御データとして利用することができる。
【００８３】
以上のごとく、本実施の形態においては、上記検出制御部２０によって、アクチュエータ駆動部２２を制御して、アクチュエータ２３を介して対物レンズ１０の基準ディスク２に対する相対位置をトラッキング方向に段階的にシフトさせる毎に、サブＰＰゲイン設定部１７を制御して、サブＰＰゲインｋを段階的に設定させる。そして、各シフト電圧と各サブＰＰゲインｋとの組み合わせ毎に、差動ＰＰ信号生成部１６によって差動ＰＰ信号ＤＰＰが生成され、差動ＰＰバランス算出部１９によって差動ＰＰ信号ＤＰＰの波形に基づいて差動ＰＰバランス値ＢＬ(m,n)が算出されてメモリ２１内に格納される。
【００８４】
そして、上記検出制御部２０によって、メモリ２１内にマトリクス状に配列されたＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)に基づいて、サブＰＰゲインｋnの設定値毎に、「シフト電圧ｖm」と「ＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)」との関係を表す一次式を算出し、この一次式の傾き(一次係数)を、シフト電圧ｖm(対物レンズ１０のシフト量)のＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)(トラッキングエラー信号のオフセット)に対する影響度として抽出する。
【００８５】
さらに、上記検出制御部２０によって、「上記影響度」と「サブＰＰゲインｋn」との関係を表す近似式を算出し、この近似式に基づいて上記影響度が最小となるときのサブＰＰゲインｋの値を、最適サブＰＰゲイン値(最適サーボパラメータ)として検出するようにしている。
【００８６】
すなわち、本実施の形態においては、特許請求の範囲における上記サーボパラメータ設定部をサブＰＰゲイン設定部１７で構成し、上記誤差信号算出部をメインＰＰ信号生成部１４,サブＰＰ信号生成部１５,差動ＰＰ信号生成部１６および差動ＰＰバランス算出部１９で構成し、上記記憶部をメモリ２１で構成し、上記サーボパラメータ記録部をデータ記録部２４で構成し、上記誤差信号値取得格納部,上記影響度抽出部および上記最適サーボパラメータ検出部を検出制御部２０で構成するのである。
【００８７】
したがって、本実施の形態によれば、「対物レンズシフト量」等のサーボ制御の制御量の「トラッキングエラー信号オフセット」等の誤差信号に対する影響度と、「サブＰＰゲイン値」等のサーボパラメータとの関係が直線的ではなく、検出時に仮に設定したサーボパラメータが最適なサーボパラメータであるとは限らない場合であっても、１回の制御量変更動作で上記影響度が最小となるときの最適サーボパラメータを検出することができるのである。
【００８８】
また、上記検出制御部２０によって、「上記影響度」と「サブＰＰゲインｋn」との関係を表す近似式を算出する際に、上記影響度をｘ軸とし、サブＰＰゲインｋnをｙ軸とした場合に、ｘ軸とｙ軸との関係を表すデータ群がｙ軸と交差しない場合であっても、上記データ群から「上記影響度」と「サブＰＰゲインｋn」との関係を表す近似式を算出することによって、この近似式において「ｘ＝０」となるｙの値を最適サーボパラメータとして検出することができるのである。
【００８９】
尚、上記実施の形態においては、上記最適サーボパラメータとして、最適サブＰＰゲイン値を検出する場合を例に説明している。しかしながら、この発明はこれに限定されるものではなく、光ピックアップ装置１のデフォーカス値や傾角(スキュー値)の最適値を検出する場合にも適用することができる。
【００９０】
何れの最適サーボパラメータの場合にも、先ず、「サーボパラメータ(上記デフォーカス値や上記スキュー値)」の値を段階的に設定させた場合に、サーボパラメータの各値毎に、「制御量(フォーカスエラー信号のオフセット量や対物レンズの傾き)」と「誤差量(サーボ制御時の目標からの誤差を表すジッター値)」との関係を表す多項式(近似式)を最小二乗法等によって求め、この多項式の係数値(例えば、最高次項の係数値)に基づいて上記制御量の上記誤差信号に対する影響度を求める。次に、上記影響度と上記サーボパラメータとの関係を表す近似式を最小二乗法等によって求め、この近似式から上記影響度が最小時の上記サーボパラメータ値を最適サーボパラメータとして求めればよいのである。
【００９１】
このように、「制御量(フォーカスエラー信号のオフセット量や対物レンズの傾き)」と「誤差量(サーボ制御時の目標からの誤差を表すジッター値)」との関係が、上述した「シフト電圧ｖm」と「ＤＰＰバランス値ＢＬ(m,n)」との関係の場合のように一次式で近似できない場合には、多次式(多項式)で近似すればよい。その場合には、最高次項の係数値が大きい程上記制御量の変化が上記誤差量に大きな変化をもたらすため上記影響度が大きいと言える。そこで、例えば上記最高次項の係数値に基づいて上記制御量の上記誤差信号に対する影響度を求めればよい。
【００９２】
また、上記実施の形態においては、ｘ軸を上記影響度(上記一次係数)とし、ｙ軸をサブＰＰゲインｋnとした場合におけるｘとｙとの関係を表す近似式が、ｙ軸と交差する場合を例示しているため、ｘ＝０となるときのｙの値を最適サブＰＰゲイン値(最適サーボパラメータ)として検出している。しかしながら、ｘ軸(上記制御量の上記誤差信号に対する影響度)とｙ軸(上記サーボパラメータ)との関係を表す近似式がｙ軸と交差しない場合には、ｘが最小値となるときのｙの値を最適サーボパラメータとして検出すればよい。
【符号の説明】
【００９３】
１…光ピックアップ装置
２…基準ディスク
３…サーボパラメータ検出装置
４…レーザ駆動ＩＣ
５…レーザダイオード
６…コリメートレンズ
７…球面収差補正機構
８…ミラー
９…スピンドルモータ
１０…対物レンズ
１１…ビームスプリッタ
１２…検出レンズ
１３…光検出器
１４…メインＰＰ信号生成部
１５…サブＰＰ信号生成部
１６…差動ＰＰ信号生成部
１７…サブＰＰゲイン設定部
１８…サーボ制御部
１９…差動ＰＰバランス算出部
２０…検出制御部
２１…メモリ
２２…アクチュエータ駆動部
２３…アクチュエータ
２４…データ記録部
２５…ＱＲコードデータ
２６…半導体メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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