(57)【要約】【課題】光ディスク読取装置において、対物レンズに付着、堆積した塵埃を除去する。【解決手段】光ディスク読取装置は、対物レンズ３５ａ、３５ｂを保持する可動子４１と、可動子４１を可動自在に支持するワイヤ４２と、可動子４１を振動させる振動手段とを備える。振動手段は、可動子４１がワイヤ４２の弾性復元力によって振動するときの固有振動数ｆ０と等しい共振点周波数の交流電流（又はパルス電流）を電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃに供給することにより、可動子４１がワイヤ４２の弾性復元力によって振動するときの固有振動周期Ｔ０で可動子４１に外力（電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃと磁石４６との磁気作用による力）を作用させて、可動子４１を振動させる。これにより、可動子４１が共振して、可動子４１の振動が増幅され、対物レンズ３５ａ、３５ｂに付着、堆積した塵埃を除去するのに十分な可動子４１の振動が得られる。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
発光手段から出射された光を対物レンズにより光ディスク上に集光照射して、光ディスクに記録された記録データの読取を行う光ディスク読取装置において、
前記対物レンズを保持する可動子と、
前記可動子を可動自在に支持する弾性体と、
所定の周期で前記可動子に外力を作用させて、前記可動子を振動させる振動手段と、
を備え、
前記振動手段は、
前記可動子の振動が増幅される周期で前記可動子に外力を作用させて、前記可動子を振動させる、
ことを特徴とする光ディスク読取装置。
【請求項２】
前記振動手段は、
前記可動子が前記弾性体の弾性復元力によって振動するときの固有振動数をｆ０、固有振動周期をＴ０（＝１／ｆ０）としたときに、２−（１／２）×Ｔ０よりも長い周期で前記可動子に外力を作用させて、前記可動子を振動させる、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク読取装置。
【請求項３】
前記振動手段は、
前記固有振動周期Ｔ０を含む前記固有振動周期Ｔ０近傍の周期で前記可動子に外力を作用させて、前記可動子を振動させる、
ことを特徴とする請求項２に記載の光ディスク読取装置。
【請求項４】
前記弾性体は、ワイヤである、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク読取装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに記録されている記録データの読取を行う光ディスク読取装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、半導体レーザから出射された光を対物レンズにより光ディスク上に集光照射して、光ディスクに記録されている記録データの読取を行う光ディスク読取装置がある。このような光ディスク読取装置では、対物レンズが可動子に保持されていると共に、可動子が可動自在に支持されており、可動子と共に対物レンズを動かすことによって、対物レンズにより集光される光の集光点の位置を調整するようになっている。可動子の支持方式には、支持軸に摺動自在に支持されている軸摺動方式や、弾性を有するワイヤによって支持されているワイヤ支持方式などがある。
【０００３】
ところで、このような光ディスク読取装置では、対物レンズに塵埃が付着、堆積すると、光ディスクからの記録データの読取性能が劣化する。そこで、このような光ディスク読取装置において、対物レンズの周辺を覆う蓋板を設けることにより、対物レンズに塵埃が付着、堆積するのを防止したものがある。しかしながら、このような光ディスク読取装置では、蓋板を設けているため、高価になると共に大型化してしまう。
【０００４】
そこで、このような光ディスク読取装置において、対物レンズに付着、堆積した塵埃を除去する目的で、可動子を振動させることにより、可動子と共に対物レンズを振動させるようにしたものが知られている（例えば特許文献１乃至特許文献４参照）。対物レンズを振動させることにより、対物レンズに付着、堆積した塵埃を除去することができれば、対物レンズに塵埃が付着、堆積するのを防止する蓋板が不要になるため、低コスト化になると共に小型化になる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００２−１５４４７号公報
【特許文献２】特開平８−３１５３９５号公報
【特許文献３】特開平４−３１１８２９号公報
【特許文献４】実開平４−１２１０２９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上述した従来の光ディスク読取装置では、可動子の振動特性（可動子と対物レンズとの質量やワイヤの弾性復元力などに起因する特性）を考慮して可動子を振動させる構成にはなっておらず、このため、対物レンズに付着、堆積した塵埃を除去するのに十分な可動子の振動（対物レンズの振動）が得られず、対物レンズに付着、堆積した塵埃を除去することができない。
【０００７】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、対物レンズに付着、堆積した塵埃を除去することができる光ディスク読取装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために請求項１の発明は、発光手段から出射された光を対物レンズにより光ディスク上に集光照射して、光ディスクに記録された記録データの読取を行う光ディスク読取装置において、対物レンズを保持する可動子と、可動子を可動自在に支持する弾性体と、所定の周期で可動子に外力を作用させて、可動子を振動させる振動手段と、を備え、振動手段は、可動子の振動が増幅される周期で可動子に外力を作用させて、可動子を振動させるものである。
【０００９】
請求項２の発明は、請求項１に記載の光ディスク読取装置において、振動手段は、可動子が弾性体の弾性復元力によって振動するときの固有振動数をｆ０、固有振動周期をＴ０（＝１／ｆ０）としたときに、２−（１／２）×Ｔ０よりも長い周期で可動子に外力を作用させて、可動子を振動させるものである。
【００１０】
請求項３の発明は、請求項２に記載の光ディスク読取装置において、振動手段は、固有振動周期Ｔ０を含む固有振動周期Ｔ０近傍の周期で可動子に外力を作用させて、可動子を振動させるものである。
【００１１】
請求項４の発明は、請求項１に記載の光ディスク読取装置において、弾性体は、ワイヤであるものである。
【発明の効果】
【００１２】
請求項１の発明によれば、可動子の振動が増幅される周期で可動子に外力を作用させることにより、可動子の振動が増幅されることになり、対物レンズに付着、堆積した塵埃を除去するのに十分な可動子の振動（対物レンズの振動）を得ることができ、対物レンズに付着、堆積した塵埃を除去することができる。これにより、光ディスクからの記録データの読取性能の劣化を防ぐことができる。また、対物レンズに塵埃が付着、堆積するのを防止する蓋板が不要であり、低コスト化及び小型化を実現することができる。
【００１３】
請求項２の発明によれば、２−（１／２）×Ｔ０（Ｔ０は、可動子が弾性体の弾性復元力によって振動するときの固有振動周期）よりも長い周期で可動子に外力を作用させることにより、可動子の振動が増幅される周期で可動子に外力を作用させることになり、可動子の振動が増幅されることになる。従って、対物レンズに付着、堆積した塵埃を除去するのに十分な可動子の振動（対物レンズの振動）を得ることができ、対物レンズに付着、堆積した塵埃を除去することができる。
【００１４】
請求項３の発明によれば、Ｔ０を含むＴ０近傍の周期で可動子に外力を作用させることにより、可動子が共振して、可動子の振動が増幅されることになる。従って、対物レンズに付着、堆積した塵埃を除去するのに十分な可動子の振動（対物レンズの振動）を得ることができ、対物レンズに付着、堆積した塵埃を除去することができる。
【００１５】
請求項４の発明によれば、可動子をワイヤによって可動自在に支持するワイヤ支持方式の光ディスク読取装置において、請求項１と同様の効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク読取装置の概略構成を示す平面図。
【図２】（ａ）は同光ディスク読取装置の光ピックアップユニットの平面図、（ｂ）は同光ピックアップユニットの側面図、（ｃ）は同光ピックアップユニットの可動子の斜視図。
【図３】同光ディスク読取装置の電気的ブロック構成図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明を具体化した実施形態による光ディスク読取装置について図面を参照して説明する。図１は、本実施形態による光ディスク読取装置の構成を示す。光ディスク読取装置１は、光ディスク１ａに記録されている記録データの読取を行う装置である。
【００１８】
光ディスク読取装置１は、光ディスク１ａが装着され、光ディスク１ａを回転させるスピンドルモータ２と、光ディスク１ａに記録されている記録データを読取るために、光ディスク１ａに光を照射すると共に光ディスク１ａからの反射光を受光する光ピックアップユニット３とを備える。また、光ディスク読取装置１は、光ピックアップユニット３を移動させるためのガイドレール４、ラック５、ギア６、及びシークモータ７と、シャーシ８等を備える。
【００１９】
スピンドルモータ２は、シャーシ８に固定的に支持されており、光ピックアップユニット３は、ガイドレール４に移動自在に支持されている。ガイドレール４は、シャーシ８に固定的に支持されている。また、光ピックアップユニット３は、ラック５に固定的に連結されており、ラック５は、ギア６に噛合されている。ギア６は、シークモータ７の回転軸に固定的に連結されており、シークモータ７は、シャーシ８に固定的に支持されている。スピンドルモータ２が回転駆動されると、スピンドルモータ２に装着された光ディスク１ａが回転する。シークモータ７が回転駆動されると、ギア６が回転し、ラック５及びラックに連結された光ピックアップユニット３がガイドレール４に沿って光ディスク１ａの半径方向（図示Ｘ軸に平行な方向）に移動する。
【００２０】
図２（ａ）（ｂ）（ｃ）は、光ピックアップユニット３の構成を示す。光ピックアップユニット３は、発光手段である半導体レーザ３１ａ、３１ｂと、コリメートレンズ３２ａ、３２ｂと、ビームスプリッタ３３ａ、３３ｂと、立上ミラー３４ａ、３４ｂと、対物レンズ３５ａ、３５ｂと、受光レンズ３６ａ、３６ｂと、フォトダイオード３７ａ、３７ｂとを有する。
【００２１】
半導体レーザ３１ａ、コリメートレンズ３２ａ、ビームスプリッタ３３ａ、立上ミラー３４ａ、対物レンズ３５ａ、受光レンズ３６ａ、及びフォトダイオード３７ａは、光ディスク１ａとしてＤＶＤに記録されている記録データを読取るためのものであり、半導体レーザ３１ｂ、コリメートレンズ３２ｂ、ビームスプリッタ３３ｂ、立上ミラー３４ｂ、対物レンズ３５ｂ、受光レンズ３６ｂ、及びフォトダイオード３７ｂは、光ディスク１としてＢＤに記録されている記録データを読取るためのものである。
【００２２】
また、光ピックアップユニット３は、対物レンズ３５ａ、３５ｂを保持する可動子４１と、可動子４１を可動自在に支持する弾性体である４本のワイヤ４２と、ケース体４３と、支柱４４と、基台４５と、磁石４６と、電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃ等を有する。
【００２３】
半導体レーザ３１ａ、３１ｂ、コリメートレンズ３２ａ、３２ｂ、ビームスプリッタ３３ａ、３３ｂ、立上ミラー３４ａ、３４ｂ、受光レンズ３６ａ、３６ｂ、及びフォトダイオード３７ａ、３７ｂは、ケース体４３内に配置されている。ケース体４３は、基台４５に固定されており、立上ミラー３４ａ、３４ｂの上方箇所が開口している。基台４５は、ラック５に固定的に連結されている。
【００２４】
対物レンズ３５ａ、３５ｂは、可動子４１の上面に固定的に取付けられている。可動子４１は、対物レンズ３５ａ、３５ｂを介して光が通過し得るように、内部が中空になっていると共に下面が開口している。
【００２５】
可動子４１は、ワイヤ支持方式になっており、４本のワイヤ４２を介して支柱４４に支持されている。４本のワイヤ４２は、各々、一端側が可動子４１の外壁面に接続されており、他端側が支柱４４に接続されている。すなわち、可動子４１は、４本のワイヤ４２の弾性によって、支柱４４に対して可動自在に支持されている。支柱４４は、基台４５に固定されている。磁石４６は、ケース体４３上に固定されており、電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃは、可動子４１の内壁面に固定されている。
【００２６】
半導体レーザ３１ａが発光駆動されると、半導体レーザ３１ａから光が出射され、その出射光は、コリメートレンズ３２ａによりコリメート化され、ビームスプリッタ３３ａを透過し、立上ミラー３４ａで反射された後、対物レンズ３５ａにより集光されて、スピンドルモータ２に装着された光ディスク１ａ上に照射される。この光ディスク１ａ上に照射された光は、光ディスク１ａにより反射され、その反射光は、対物レンズ３５ａによりコリメート化され、ビームスプリッタ３３ａにより反射された後、受光レンズ３６ａにより集光されて、フォトダイオード３７ａに受光される。
【００２７】
同様に、半導体レーザ３１ｂが発光駆動されると、半導体レーザ３１ｂから光が出射され、その出射光は、コリメートレンズ３２ｂによりコリメート化され、ビームスプリッタ３３ｂを透過し、立上ミラー３４ｂで反射された後、対物レンズ３５ｂにより集光されて、スピンドルモータ２に装着された光ディスク１ａ上に照射される。この光ディスク１ａ上に照射された光は、光ディスク１ａにより反射され、その反射光は、対物レンズ３５ｂによりコリメート化され、ビームスプリッタ３３ｂにより反射された後、受光レンズ３６ｂにより集光されて、フォトダイオード３７ｂに受光される。
【００２８】
また、各電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃに電流が供給されると、各電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃと磁石４６との磁気作用により、電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃと共に可動子４１が動かされる。可動子４１は、上下方向（光ディスク１ａに垂直な方向（図示Ｚ軸に平行な方向））の位置、左右方向（光ディスク１ａの半径方向（図示Ｘ軸に平行な方向））の位置、及び正面方向（光ディスク１ａの接線方向（図示Ｙ軸に平行な方向））を軸とした軸周りの傾きが変化するように動かされる。可動子４１が動かされることにより、可動子４１と共に対物レンズ３５ａ、３５ｂが動かされ、対物レンズ３５ａ、３５ｂにより集光される光の集光点の位置や収差などが調整される。なお、ワイヤ４２は、導電性を有しており、各電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃへの電流の供給は、ワイヤ４２を介して行われる。
【００２９】
このような構成の光ディスク読取装置１は、半導体レーザ３１ａ、３１ｂから出射された光を対物レンズ３５ａ、３５ｂにより光ディスク１ａ上に集光照射して、光ディスク１ａに記録された記録データの読取を行うようになっている。また、この光ディスク読取装置１は、対物レンズ３５ａ、３５ｂに付着、堆積した塵埃を除去する塵埃除去動作を行うようになっている。
【００３０】
図３は、光ディスク読取装置１の電気的ブロック構成を示す。光ディスク読取装置１は、上述の構成に加え、サーボ制御部５１と、データ再生部５２と、メモリ５３と、光ディスク読取装置１を制御するためのＣＰＵ、ＲＯＭ、及びＲＡＭ等を含むシステム制御部５４等を備える。システム制御部５４のＲＯＭには、光ディスク読取装置１の動作を制御するためのプログラムや各種データが記憶されている。
【００３１】
スピンドルモータ２は、システム制御部５４による制御のもと、回転駆動され、装着された光ディスク１ａを回転させる。シークモータ７は、システム制御部５４による制御のもと、回転駆動され、ギア６及びラック５（上記図１参照）を介して、光ピックアップユニット３を移動させる。
【００３２】
半導体レーザ３１ａ、３１ｂは、システム制御部５４による制御のもと、レーザ駆動部（不図示）により発光駆動されて、レーザ光を出射する。フォトダイオード３７ａ、３７ｂは、受光強度に応じた電圧レベルの受光信号を出力する。
【００３３】
サーボ制御部５１は、対物レンズ３５ａ、３５ｂにより集光される光の集光点の位置や収差などが適切な状態に保たれるようにするサーボ制御動作を行う。すなわち、サーボ制御部５１は、サーボ制御動作において、各電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃに電流を供給することにより、対物レンズ３５ａ、３５ｂの位置や傾きを制御して、対物レンズ３５ａ、３５ｂにより集光される光の集光点の位置や収差などが適切な状態に保たれるようにする。このとき、サーボ制御部５１は、フォトダイオード３７ａ、３７ｂから出力される受光信号に基いて、各電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃに供給する電流を制御する。サーボ制御部５１は、システム制御部５４による制御のもと、サーボ制御動作を行う状態とサーボ制御動作を行わない状態とに切り替えられる。
【００３４】
データ再生部５２は、フォトダイオード３７ａ、３７ｂから出力される受光信号に基いて、光ディスク１ａに記録されている記録データを再生し、その再生した記録データを表す記録データ信号を出力する。メモリ５３は、光ディスク読取装置１の各種動作を制御するための各種データを記憶している。
【００３５】
システム制御部５４は、光ディスク１ａに記録された記録データを読取る読取動作、対物レンズ３５ａ、３５ｂに付着、堆積した塵埃を除去する塵埃除去動作等、光ディスク読取装置１の各種動作を制御する。
【００３６】
読取動作は、システム制御部５４による制御のもと、以下のようにして行われる。すなわち、システム制御部５４は、スピンドルモータ２により光ディスク１ａを回転させると共に、シークモータ７により光ピックアップユニット３を光ディスク１ａの下方位置に移動させる。そして、システム制御部５４は、レーザ駆動部（不図示）により半導体レーザ３１ａ又は３１ｂを発光駆動させることにより、半導体レーザ３１ａ又は３１ｂから出射された光を対物レンズ３５ａ又は３５ｂにより光ディスク１ａ上に集光照射する。
【００３７】
これにより、光ディスク１ａで反射された反射光がフォトダイオード３７ａ又は３７ｂで受光され、フォトダイオード３７ａ又は３７ｂから出力される受光信号に基いて、データ再生部５２により光ディスク１ａに記録されている記録データが再生され、データ再生部５２から記録データ信号が出力される。システム制御部５４は、このデータ再生部５２から出力される記録データ信号を取得して、光ディスク１ａに記録されている記録データを得る。これにより、光ディスク１ａに記録されている記録データが読取られる。読取動作は、このようにして行われる。
【００３８】
また、読取動作を行っているとき、システム制御部５４は、サーボ制御部５１によりサーボ制御動作を行わせる。すなわち、読取動作を行っているとき、サーボ制御部５１は、フォトダイオード３７ａ又は３７ｂから出力される受光信号に基いて、対物レンズ３５ａ又は３５ｂにより集光される光の集光点の位置や収差などが適切な状態に保たれるように、各電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃに電流を供給する。
【００３９】
塵埃除去動作は、可動子４１を振動させることにより、可動子４１に保持されている対物レンズ３５ａ、３５ｂを振動させて、対物レンズ３５ａ、３５ｂに付着、堆積した塵埃を除去する動作である。塵埃除去動作は、読取動作を行っていないとき（サーボ制御部５１によるサーボ制御動作を行っていないとき）に行われ、例えば、光ディスク読取装置１の電源投入時や、読取動作を行う指示があったときにおける読取動作を開始する直前等に行われる。
【００４０】
塵埃除去動作は、システム制御部５４による制御のもと、以下のようにして行われる。すなわち、システム制御部５４は、所定の周期で可動子４１に外力を作用させて、可動子４１を振動させる。可動子４１への外力の作用は、電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃに電流を供給することにより、電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃと磁石４６との磁気作用による力を用いて行われる。
【００４１】
つまり、システム制御部５４は、所定の周波数ｆの交流電流（又はパルス電流）を電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃに供給することにより、所定の周期Ｔ（＝１／ｆ）で可動子４１に外力（電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃと磁石４６との磁気作用による力）を作用させて、可動子４１を振動させる。システム制御部５４は、各電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃに供給する電流を制御することにより、可動子４１を上下方向、左右方向、及び正面方向を軸とした軸周り方向の３方向に振動させる。磁石４６、電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃ、及びシステム制御部５４等によって、振動手段が構成されている。
【００４２】
ところで、可動子４１にワイヤ４２の弾性復元力のみを作用させると、可動子４１は、ワイヤ４２の弾性復元力によって、ある固有振動数ｆ０で振動する。可動子４１は、対物レンズ３５ａ、３５ｂ及び電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃと一体となって振動することから、可動子４１がワイヤ４２の弾性復元力によって振動するときの固有振動数ｆ０は、可動子４１、対物レンズ３５ａ、３５ｂ、及び電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃから成る組立体を、ワイヤ４２の弾性復元力によって振動させたときの固有振動数である。
【００４３】
すなわち、可動子４１がワイヤ４２の弾性復元力によって振動するときの固有振動数ｆ０は、可動子４１、対物レンズ３５ａ、３５ｂ、及び電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃから成る組立体の質量ｍと、４本のワイヤ４２を１つの弾性体と考えた場合の弾性係数ｋによって規定され、ｆ０＝１／（２π）×（ｋ／ｍ）１／２と表される。
【００４４】
このような振動系において、ある周期で可動子４１に外力を作用させて可動子４１を振動させることについて検討すると、外力を作用させる周期を周波数で考えた場合、除振領域と呼ばれる周波数領域と、共振領域と呼ばれる周波数領域が存在する。除振領域とは、その周波数で可動子４１に外力を作用させたときに、可動子４１の振動が増幅されない（振動の増幅率が１倍未満の）周波数領域であり、２１／２×ｆ０よりも高い周波数領域である。また、共振領域とは、その周波数で可動子４１に外力を作用させたときに、可動子４１の振動が増幅される（振動の増幅率が１倍以上の）周波数領域であり、２１／２×ｆ０よりも低い周波数領域である。
【００４５】
また、共振点周波数と呼ばれる周波数が存在する。共振点周波数とは、その周波数で可動子４１に外力を作用させたときに、共振現象を起こす周波数であって、共振領域（２１／２×ｆ０よりも低い周波数領域）のうち、可動子４１の振動が最も増幅される（振動の増幅率が最も高い）周波数である。共振点周波数は、固有振動数ｆ０と等しい周波数である。
【００４６】
従って、可動子４１がワイヤ４２の弾性復元力によって振動するときの固有振動周期をＴ０（＝１／ｆ０）としたときに、２−（１／２）×Ｔ０よりも長い周期で（すなわち、２１／２×ｆ０よりも低い共振領域の周波数で）可動子４１に外力を作用させて、可動子４１を振動させると、可動子４１の振動が増幅されることになる。
【００４７】
また、可動子４１がワイヤ４２の弾性復元力によって振動するときの固有振動周期Ｔ０（＝１／ｆ０）で（すなわち、固有振動数ｆ０と等しい共振点周波数で）可動子４１に外力を作用させて、可動子４１を振動させると、可動子４１が共振して、可動子４１の振動（振幅）が最も増幅されることになる。
【００４８】
塵埃除去動作において、システム制御部５４が、可動子４１の振動が増幅される周期、すなわち、可動子４１がワイヤ４２の弾性復元力によって振動するときの固有振動数をｆ０、固有振動周期をＴ０（＝１／ｆ０）としたときに、２−（１／２）×Ｔ０よりも長い周期で可動子４１に外力を作用させて、可動子４１を振動させることが望ましい。つまり、システム制御部５４が、２１／２×ｆ０よりも低い共振領域の周波数の交流電流（又はパルス電流）を電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃに供給することにより、可動子４１の振動が増幅される周期で可動子４１に外力（電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃと磁石４６との磁気作用による力）を作用させて、可動子４１を振動させることが望ましい。
【００４９】
本実施形態では、システム制御部５４は、可動子４１がワイヤ４２の弾性復元力によって振動するときの固有振動周期Ｔ０（＝１／ｆ０）で可動子４１に外力を作用させて、可動子４１を振動させる。つまり、システム制御部５４は、可動子４１がワイヤ４２の弾性復元力によって振動するときの固有振動数ｆ０と等しい共振点周波数の交流電流（又はパルス電流）を電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃに供給することにより、可動子４１がワイヤ４２の弾性復元力によって振動するときの固有振動周期Ｔ０で可動子４１に外力（電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃと磁石４６との磁気作用による力）を作用させて、可動子４１を振動させる。
【００５０】
メモリ５３には、可動子４１がワイヤ４２の弾性復元力によって振動するときの固有振動数ｆ０を示す周波数データが記憶されており、システム制御部５４は、メモリ５３に記憶されている周波数データに基いて、固有振動数ｆ０と等しい共振点周波数の交流電流（又はパルス電流）を生成して、その交流電流（又はパルス電流）を電磁コイル４７ａ、４７ｂ、４７ｃに供給する。塵埃除去動作は、このようにして行われる。
【００５１】
このような構成の光ディスク読取装置１によれば、可動子４１がワイヤ４２の弾性復元力によって振動するときの固有振動周期Ｔ０で可動子４１に外力を作用させることにより、可動子４１が共振して、可動子４１の振動が増幅されることになる。従って、対物レンズ３５ａ、３５ｂに付着、堆積した塵埃を除去するのに十分な可動子４１の振動（対物レンズ３５ａ、３５ｂの振動）を得ることができ、対物レンズ３５ａ、３５ｂに付着、堆積した塵埃を除去することができる。これにより、光ディスク１ａからの記録データの読取性能の劣化を防ぐことができる。また、対物レンズ３５ａ、３５ｂに塵埃が付着、堆積するのを防止する蓋板が不要であり、装置の低コスト化及び小型化を実現することができる。
【００５２】
なお、本発明は、上記実施形態の構成に限られず、種々の変形が可能である。例えば、システム制御部は、塵埃除去動作において、可動子がワイヤの弾性復元力によって振動するときの固有振動周期Ｔ０に限られず、固有振動周期Ｔ０近傍の周期で可動子に外力を作用させて、可動子を振動させてもよく、また、２−（１／２）×Ｔ０よりも長い周期であれば、固有振動周期Ｔ０近傍以外の周期で可動子に外力を作用させて、可動子を振動させてもよい。このようにしても、可動子の振動が増幅される周期で可動子に外力を作用させて、可動子を振動させることになり、可動子の振動が増幅され、対物レンズに付着、堆積した塵埃を除去するのに十分な可動子の振動（対物レンズの振動）を得ることができる。また、システム制御部は、塵埃除去動作において、上下方向、左右方向、及び正面方向を軸とした軸周り方向の３方向に限られず、いずれか１方向にのみ可動子を振動させるようにしてもよい。また、本発明は、光ディスクに記録データを記録する機能を有する装置にも適用可能である。
【符号の説明】
【００５３】
１    光ディスク読取装置
１ａ    光ディスク
２    スピンドルモータ
３    光ピックアップユニット
４    ガイドレール
５    ラック
６    ギア
７    シークモータ
８    シャーシ
３１ａ、３１ｂ    半導体レーザ（発光手段）
３２ａ、３２ｂ    コリメートレンズ
３３ａ、３３ｂ    ビームスプリッタ
３４ａ、３４ｂ    立上ミラー
３５ａ、３５ｂ    対物レンズ
３６ａ、３６ｂ    受光レンズ
３７ａ、３７ｂ    フォトダイオード
４１    可動子
４２    ワイヤ（弾性体）
４３    ケース体
４４    支柱
４５    基台
４６    磁石
４７ａ、４７ｂ、４７ｃ    電磁コイル
５１    サーボ制御部
５２    データ再生部
５３    メモリ
５４    システム制御部
【図１】
2011060379.tif 000003
【図２】
2011060379.tif 000004
【図３】
2011060379.tif 000005