(57)【要約】【課題】本発明は、複数の機能モジュールのうちどの機能モジュールでエラーが発生しているかを簡単な構成で検出する半導体集積回路、エラー検査方法、エラー検査プログラム及び記録媒体に関する。【解決手段】ＡＳＩＣ１は、１つのエラー検出回路Ｅｋを搭載して、エラー検出回路Ｅｋが、シリアル接続されて順次データ処理する複数の機能モジュールＭａ〜Ｍｊのエラー検出を行う。エラー検出回路Ｅｋは、データ転送状況確認部１２が、連続する機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間で交換される信号の転送状況を確認して、監視対象の１対の連続する特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊを特定し、セレクタ１１が、特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間で転送されるライトコマンド信号MCmd[0]とデータ受取信号SCmdAcceptを取得して、エラー発生条件比較部１３が、これらの信号に基づいてエラー発生原因が１対の特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊのうちいずれにあるかを判定する。【選択図】          図４
2011191833.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
シリアルに接続されている複数の機能モジュールがデータに対して順次処理を行うとともに、該機能モジュールのエラー検出を行うエラー検出手段を少なくとも１つ搭載する半導体集積回路において、
前記エラー検出手段は、
連続する前記機能モジュール間で交換される信号または／及びデータの転送状況を確認して、監視対象とすべき１対の連続する特定機能モジュール及び該特定機能モジュール間において転送される信号のうち監視対象とすべき特定信号を特定する転送状況確認手段と、
前記特定機能モジュール間で転送される前記特定信号を取得する信号取得手段と、
前記信号取得手段の取得した前記特定信号に基づいてエラー発生原因が１対の連続する前記特定機能モジュールのうちいずれの機能モジュールにあるかを判定する判定手段と、
を備えていることを特徴とする半導体集積回路。
【請求項２】
前記エラー検出手段は、前記判定手段の判定結果を通知出力する通知手段を備えていることを特徴とする請求項１記載の半導体集積回路。
【請求項３】
前記判定手段は、前記信号取得手段の取得した前記特定信号のうち、適宜の信号を前記通知手段に渡すことを特徴とする請求項２記載の半導体集積回路。
【請求項４】
前記転送状況確認手段は、前記各機能モジュール間で交換される全ての信号及びデータの転送状況を確認し、
前記判定手段は、エラー発生時に前記転送状況確認手段の確認した全ての信号及びデータから必要な信号及び／またはデータを取得することを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載の半導体集積回路。
【請求項５】
前記転送状況確認手段は、前記機能モジュール間で交換される信号のうち、所定の判定基準信号が所定の信号状態であると、該信号状態の継続時間をカウントして、該継続時間が予め設定されている所定の設定継続時間を継続すると、該判定基準信号が該設定継続時間継続した１対の連続する該機能モジュールを前記特定機能モジュールとして特定することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれかに記載の半導体集積回路。
【請求項６】
前記エラー検出手段は、前記設定継続時間が任意に設定される設定継続時間記憶手段を備え、
前記転送状況確認手段は、前記設定継続時間記憶手段に設定されている前記設定継続時間に基づいて前記特定機能モジュールの設定を行うことを特徴とする請求項５記載の半導体集積回路。
【請求項７】
シリアルに接続されている複数の機能モジュールがデータに対して順次処理を行う半導体集積回路のエラー検査方法であって、
連続する前記機能モジュール間で交換される信号または／及びデータの転送状況を確認して、監視対象とすべき１対の連続する特定機能モジュール及び該特定機能モジュール間において転送される信号のうち監視対象とすべき特定信号を特定する転送状況確認処理ステップと、
前記特定機能モジュール間で転送される前記特定信号を取得する信号取得処理ステップと、
前記信号取得処理ステップで取得された前記特定信号に基づいてエラー発生原因が１対の連続する前記特定機能モジュールのうちいずれの機能モジュールにあるかを判定する判定処理ステップと、
を有していることを特徴とするエラー検査方法。
【請求項８】
シリアルに接続されている複数の機能モジュールがデータに対して順次処理を行う半導体集積回路のエラー検査プログラムであって、
コンピュータに、
連続する前記機能モジュール間で交換される信号または／及びデータの転送状況を確認して、監視対象とすべき１対の連続する特定機能モジュール及び該特定機能モジュール間において転送される信号のうち監視対象とすべき特定信号を特定する転送状況確認処理と、
前記特定機能モジュール間で転送される前記特定信号を取得する信号取得処理と、
前記信号取得処理で取得された前記特定信号に基づいてエラー発生原因が１対の連続する前記特定機能モジュールのうちいずれの機能モジュールにあるかを判定する判定処理と、
を実行させることを特徴とするエラー検査プログラム。
【請求項９】
請求項８記載のエラー検査プログラムを記録したことを特徴とするコンピュータが読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体集積回路、エラー検査方法、エラー検査プログラム及び記録媒体に関し、詳細には、複数の機能モジュールのうちどの機能モジュールでエラーが発生しているかを簡単な構成で正確に検出する半導体集積回路、エラー検査方法、エラー検査プログラム及び記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタル複合機（ＭＦＰ：Multi Functional Products）等の画像処理装置においては、高機能化に伴って、搭載するソフトウェア及びハードウェア構成が大規模かつ複雑化し、画像処理装置の搭載する画像処理用の半導体集積回路であるＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）自体が高機能で様々な機能のモジュールを搭載したものとなってきている。
【０００３】
搭載する機能モジュール数の少ない小規模な半導体集積回路においては、各機能モジュールのレジスタをリード、ライトすることによって、異常のある機能モジュールを特定すること容易であるが、近年のように、その搭載する機能モジュールの数が多く大規模の半導体集積回路においては、多数搭載されている機能モジュールのレジスタをリード、ライトすることで、異常の機能モジュールを特定するには、長時間を要するだけでなく、正確に異常のある機能モジュールを特定して、異常状態を把握することが困難となってきている。
【０００４】
したがって、複数の機能モジュールを搭載する半導体集積回路であるＡＳＩＣで画像処理する画像処理装置においては、異常画像が出力された際に、ＡＳＩＣの搭載する機能モジュールのうちどの機能モジュールに異常が発生しているかを正確に検出することが困難になってきている。
【０００５】
そこで、従来、各機能モジュールの間にそれぞれエラー検出手段が配設され、該各エラー検出手段が、その出力信号線がデイジーチェーン接続されて、該エラー検出手段を挟んだ前段と次段の機能モジュール間で交換される信号及びデータからエラー発生の有無を検出し、エラー発生を検出したエラー検出手段が、該機能モジュール間で交換されている信号を取得して内部記憶手段に保持するとともに、該デイジーチェーン接続されている次段のエラー検出手段にエラー検出信号を出力し、該エラー検出信号を受信したエラー検出手段が、該エラー検出信号を受信したタイミングで、該エラー検出手段を挟んだ該機能モジュール間で交換されている信号を取得してその内部記憶手段に保持するとともに、次段のエラー検出手段に該エラー検出信号を出力するエラー状態取得通知処理を順次行う技術が提案されている（特許文献１参照）。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記公報記載の従来技術にあっては、各機能モジュール毎にエラー検出手段を配設してエラー検出して、エラー検出信号と信号内容をデイジーチェーン接続されているエラー検出手段によって順次通知及び保持しているため、どの機能モジュールでエラーが発生したかやどのようなエラーが発生したかを正確に知ることはできるが、機能モジュール毎にエラー検出手段を設けているため、半導体集積回路の回路構成が複雑で大型化し、コストが高くつくおそれがある。
【０００７】
そこで、本発明は、搭載する複数の機能モジュールのうち、エラーの発生している機能モジュールを、回路規模を大きくすることなく、簡単な構成でかつ正確に検出することのできる半導体集積回路、エラー検査方法、エラー検査プログラム及び記録媒体を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、上記目的を達成するために、半導体集積回路に搭載されシリアルに接続されていてデータに対して順次処理を行う複数の機能モジュールのエラー検出において、連続する該機能モジュール間で交換される信号または／及びデータの転送状況を確認して、監視対象とすべき１対の連続する特定機能モジュール及び該特定機能モジュール間において転送される信号のうち監視対象とすべき特定信号を特定し、該特定機能モジュール間で転送される該特定信号を取得して、該特定信号に基づいてエラー発生原因が１対の連続する該特定機能モジュールのうちいずれの機能モジュールにあるかを判定することを特徴としている。
【０００９】
また、本発明は、前記判定結果を通知出力することを特徴としてもよい。
【００１０】
さらに、本発明は、取得した前記特定信号のうち、適宜の信号を報知出力することを特徴としてもよい。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、搭載する複数の機能モジュールのうちエラーの発生している機能モジュールを、回路規模を大きくすることなく、簡単な構成でかつ正確に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の一実施例を適用したＡＳＩＣの要部ブロック構成図。
【図２】ＡＳＩＣによる画像処理の説明図。
【図３】図２の続きの画像処理説明図。
【図４】機能モジュールとエラー検出回路の要部概略構成図。
【図５】エラー検出処理を示すフローチャート。
【図６】エラー発生パターンＰａの各信号のタイミング図。
【図７】エラー発生パターンＰｂの各信号のタイミング図。
【図８】機能モジュールとエラー検出回路の他の例の要部概略構成図。
【図９】機能モジュールとエラー検出回路のさらに他の例の要部概略構成図。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の好適な実施例を添付図面に基づいて詳細に説明する。なお、以下に述べる実施例は、本発明の好適な実施例であるので、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲は、以下の説明によって不当に限定されるものではなく、また、本実施の形態で説明される構成の全てが本発明の必須の構成要件ではない。
【実施例１】
【００１４】
図１〜図９は、本発明の半導体集積回路、エラー検査方法、エラー検査プログラム及び記録媒体の一実施例を示す図であり、図１は、本発明の半導体集積回路、エラー検査方法、エラー検査プログラム及び記録媒体の一実施例を適用した半導体集積回路としてのＡＳＩＣ１の要部ブロック構成図である。
【００１５】
図１において、ＡＳＩＣ１は、複数（図１では、１０個）のシリアル接続されている機能モジュールＭａ〜Ｍｊと１つのエラー検出回路Ｅｋを搭載しており、外部からデータ（Ｄａｔｅ）が入力されて、処理結果のデータ（画像データ等）を外部に出力する。ＡＳＩＣ１は、ファクシミリ装置、複写装置、プリンタ装置、複合装置等の画像処理装置及びコンピュータ等の情報処理装置に適用され、特に、画像処理装置に適用されることで、処理対象のデータとしての画像データに対して、機能モジュールＭａ〜Ｍｊによって順次画像処理を行う。
【００１６】
各機能モジュールＭａ〜Ｍｊは、入力されるデータをシリアルで処理する状態で接続されており、各機能モジュールＭａ〜Ｍｊは、それぞれエラー検出回路（エラー検出手段）Ｅｋに接続されている。
【００１７】
ＡＳＩＣ１は、そのシリアル接続されている機能モジュールＭａ〜Ｍｊのうち先頭の機能モジュールＭａに、外部からデータが入力され、各機能モジュールＭａ〜Ｍｊは、順次、先頭の機能モジュールＭａからそれぞれの機能モジュールＭａ〜Ｍｊに割り当てられた機能処理を実行して、次段の機能モジュールＭｂ〜Ｍｊに処理済みのデータを送り出す。最終段の機能モジュールＭｊは、処理したデータをＡＳＩＣ１の外部に出力する。
【００１８】
そして、ＡＳＩＣ１は、機能モジュールＭａ〜Ｍｊによって、連続する機能モジュールＭａ〜Ｍｊの各インターフェイス間でハンドシェイクを行うことで、データ及び各種信号のやり取りを行い、ＡＳＩＣ１が画像処理装置に適用される場合、例えば、図２及び図３に示すように、入力される各種画像データに対して、ＡＳＩＣ１の適用される画像処理装置のＣＰＵ（Central Processing Unit ）等によって設定された設定内容に応じて、各機能モジュールＭａ〜Ｍｊが、色補正処理、変倍処理、中間調処理等を処理単位として、順次処理を行う。すなわち、ＡＳＩＣ１は、図２に示すように、Ｓｔａｍｐ、Ｉｍａｇｅ等の複数種類の画像データが入力され、機能モジュールＭａ〜Ｍｊによって、入力された画像データに対して入力制御処理を行って、必要に応じて、グレイ（Ｇｒａｙ）→ＲＧＢ変換処理とＲＧＢ合成処理を行った後、ＲＧＢからＣＭＹＫパターンを、また、ＣＭＹＫからＲＧＢを、発生させるパターン発生処理を行う。そして、ＡＳＩＣ１は、機能モジュールＭａ〜Ｍｊによって、ＲＧＢ画像データに対しては、ポスト・フィルタ処理、ＡＤＳ地肌補正処理及び色補正処理を行い、また、ＣＭＹＫ画像データに対しては、前編集処理、主走査または／及び副走査方向に対する変倍処理を行い、図３に示すように、さらに、総量規制処理、中間調処理、編集処理を行って、上記処理済み画像データに対して、出力制御処理を行った後、各種データ形式で出力する。ＡＳＩＣ１は、図２及び図３に示した各処理を機能モジュールＭａ〜Ｍｊによって順次必要な処理を行わせる。
【００１９】
再び、図１において、エラー検出回路Ｅｋは、機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間で交換される全ての信号のうち必要な特定信号（特定信号または／及び特定データ）を取得する。例えば、機能モジュールＭａと機能モジュールＭｂの間及び機能モジュールＭｂと機能モジュールＭｃの間の場合、図４に示すように、機能モジュールＭａと機能モジュールＭｂの間及び機能モジュールＭｂと機能モジュールＭｃの間でそれぞれハンドシェイクを行い、ハンドシェイクでやり取りされている全ての信号のうち、必要な信号をエラー検出回路Ｅｋが取得する。図４において、機能モジュールＭａと機能モジュールＭｂの場合、機能モジュールＭａがマスター、機能モジュールＭｂがスレーブとなってデータ及び信号の交換を行い、機能モジュールＭｂと機能モジュールＭｃの場合、機能モジュールＭｂがマスター、機能モジュールＭｃがスレーブとなってデータ及び信号の交換を行う。そして、この機能モジュールＭａと機能モジュールＭｂとのハンドシェイクの間の信号をエラー検出回路Ｅｋが受け取り、機能モジュールＭｂと機能モジュールＭｃとのハンドシェイクの間の信号をエラー検出回路Ｅｋが受け取る。
【００２０】
なお、この各機能モジュールＭａ〜Ｍｊの間でのハンドシェイクによるデータは、図４では、MData[*:0]と記載されており、信号としては、データのライトコマンド信号であるMCmd[0]、データ受取信号であるSCmdAccept及び各種パラメータであるMflag[1:0]等がある。そして、エラー検出回路Ｅｋは、これらの信号、データ及びパラメータのうち、エラー検出に必要な信号等として、ライトコマンド信号MCmd[0]、データ受取信号SCmdAccept、パラメータのうち、ラインデータ転送完了信号であるeolまたはページデータ転送完了であるeofを受け取る。
【００２１】
そして、エラー検出回路Ｅｋは、図４に示すように、セレクタ１１、データ転送状況確認部１２及びエラー発生条件比較部１３を備えている。
【００２２】
データ転送状況確認部（転送状況確認手段）１２は、各機能モジュールＭａ〜Ｍｊのラインデータ転送完了信号eolまたはページデータ転送完了eofを取得して、機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間でのデータの転送状況を確認する。データ転送状況確認部１２は、どのタイミングでエラーを検出するかを、ある機能モジュールＭａ〜Ｍｊのラインデータ転送完了信号eolまたはページデータ転送完了eofを取得した後、予め設定された設定時間までに、次段の機能モジュールＭｂ〜Ｍｊからラインデータ転送完了信号eolまたはページデータ転送完了eofがさらに次段の機能モジュールＭａ〜Ｍｊに対して出力されたか否かで判断する。データ転送状況確認部１２は、ある機能モジュールＭａ〜Ｍｊにエラーが発生している場合は、その機能モジュールＭａ〜Ｍｊのラインデータ転送完了信号eolまたはページデータ転送完了eofが出力されないため、それらの信号eol、eofが出力されていないことを確認することで、ＡＳＩＣ１の内蔵している機能モジュールＭａ〜Ｍｊのうち、ストールしている（エラーの発生している）連続している１対の機能モジュールＭａ〜Ｍｊを特特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊとして定する。データ転送状況確認部１２は、エラーが発生しているとして特定した１対の機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間のライトコマンド信号MCmd[0]、データ受取信号SCmdAcceptの各信号を取得するようにセレクタ１１に指示する。
【００２３】
セレクタ（信号取得手段）１１は、データ転送状況確認部１２から特定された１対の機能モジュールＭａ〜Ｍｊの間で交換されているライトコマンド信号MCmd[0]、データ受取信号SCmdAcceptの各信号を取得して、エラー発生条件比較部１３に渡す。
【００２４】
エラー発生条件比較部（判定手段）１３は、後述するエラーカウンタを内蔵しており、セレクタ１１からライトコマンド信号MCmd[0]、データ受取信号SCmdAcceptの各信号を受け取ると、ライトコマンド信号MCmd[0]、データ受取信号SCmdAcceptの各信号及びエラーカウンタのカウント結果に基づいて、１対の特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊのうち、エラー発生原因があるのは、前段と次段のいずれの機能モジュールＭａ〜Ｍｊであるかを確認する。エラー検出の詳細については、後で説明する。
【００２５】
なお、ＡＳＩＣ１は、ＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable and Programmable Read Only Memory ）、ＥＰＲＯＭ、フラッシュメモリ、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory ）、ＣＤ−ＲＷ（Compact Disc Rewritable ）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）、ＳＤ（Secure Digital）カード、ＭＯ（Magneto-Optical Disc）等のコンピュータが読み取り可能な記録媒体に記録されている本発明のエラー検査方法を実行するエラー検査プログラムを読み込んでＲＯＭ等に導入することで、後述する複数の機能モジュールＭａ〜Ｍｊのうちエラーの発生している機能モジュールＭａ〜Ｍｊを簡単かつ正確に検出するエラー検査方法を実行する半導体集積回路として構築されている。このエラー検査方法は、アセンブラ、Ｃ、Ｃ＋＋、Ｃ＃、Ｊａｖａ（登録商標）等のレガシープログラミング言語やオブジェクト指向ブログラミング言語等で記述されたコンピュータ実行可能なプログラムであり、上記記録媒体に格納して頒布することができる。
【００２６】
次に、本実施例の作用を説明する。本実施例のＡＳＩＣ１は、シリアルに接続されている機能モジュールＭａ〜Ｍｊのうちいずれの機能モジュールＭａ〜Ｍｊでエラーが発生しているかを１つのエラー検出回路Ｅｋで確実に検出する。
【００２７】
すなわち、本実施例のＡＳＩＣ１は、エラー検出回路Ｅｋが、シリアル接続されてハンドシェイクで信号及びデータの授受を行う機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間の信号及びデータを確認して、監視の必要な特定の機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間の特定の信号及び情報（パラメータ）を特定し、該特定の機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間の特定の信号及び情報に基づいて該特定の機能モジュールＭａ〜Ｍｊのいずれにエラーが発生しているかを判定する。
【００２８】
この場合、エラー検出回路Ｅｋは、図５に示すエラー検出処理手順に従ってエラー検出を行う。すなわち、シリアル接続されている機能モジュールＭａ〜Ｍｊは、図４に示したように、それぞれ前段の機能モジュールＭａ〜Ｍｊ-1がマスターとなり、後段の機能モジュールＭｂ〜Ｍｊがスレーブとなって、ハンドシェイクを行って、ライトコマンド信号MCmd[0]とデータ受取信号SCmdAcceptを交換して、データMData[*:0]の授受を行うとともに、各種パラメータであるMflag[1:0]を授受する。
【００２９】
そして、エラー検出回路Ｅｋは、図５に示すエラー検出処理手順に従ってエラー検出を行う。すなわち、図５において、エラー検出回路Ｅｋは、まず、データ転送状況確認部１２が、各機能モジュールＭａ〜Ｍｊのパラメータのうち、ラインデータ転送完了信号eolまたはページデータ転送完了eofを取得して（ステップＳ１０１）、各機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間におけるデータ転送状況を確認する（ステップＳ１０２）。データ転送状況確認部１２は、どのタイミングでエラーを検出するかを、上述のように、ある機能モジュールＭａ〜Ｍｊのラインデータ転送完了信号eolまたはページデータ転送完了eofを取得した後、予め設定された設定時間までに、次段の機能モジュールＭｂ〜Ｍｊからラインデータ転送完了信号eolまたはページデータ転送完了eofを受けたかどうかで判断する。データ転送状況確認部１２は、ある機能モジュールＭａ〜Ｍｊにエラーが発生している場合は、その機能モジュールＭａ〜Ｍｊのラインデータ転送完了信号eolまたはページデータ転送完了eofが出力されないため、それらの信号eol、eofが出力されていないことを確認することで、ＡＳＩＣ１の内蔵している機能モジュールＭａ〜Ｍｊのうち、ストールしている（エラーの発生している）連続している１対の機能モジュールＭａ〜Ｍｊを特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊとして特定する。
【００３０】
データ転送状況確認部１２は、エラーが発生しているとして特定したハンドシェイクしている１対の特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間のライトコマンド信号MCmd[0]、データ受取信号SCmdAcceptの各信号を取得するようにセレクタ１１に指示する（ステップＳ１０３）。
【００３１】
セレクタ１１は、データ転送状況確認部１２から特定された１対の特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊの間で交換されているライトコマンド信号MCmd[0]、データ受取信号SCmdAcceptの各信号を取得して、エラー発生条件比較部１３に渡す（ステップＳ１０４）。
【００３２】
エラー発生条件比較部１３は、セレクタ１１からライトコマンド信号MCmd[0]、データ受取信号SCmdAcceptの各信号を受け取ると、ライトコマンド信号MCmd[0]、データ受取信号SCmdAcceptの各信号が予め設定されているエラー発生パターンＰａ、Ｐｂに一致するか確認し（ステップＳ１０５）、エラー発生パターンＰａ、Ｐｂの確認結果をエラー通知する（ステップＳ１０６）。
【００３３】
上記エラーパターンＰａ、Ｐｂは、図６及び図７に示すパターンである。
【００３４】
エラー発生パターンＰａ：図６に示すように、WRITEコマンドがアサートされているが、データ受取信号SCmdAcceptがアサートされないWRITE＝＝１＆＆SCmdAccept＝＝０のパターン。
【００３５】
エラー発生パターンＰｂ：図７に示すように、データ受取信号SCmdAcceptがアサートされているが、WRITEコマンドがアサートされないWRITE＝＝０＆＆SCmdAccept＝＝１のパターン。
【００３６】
このエラー発生パターンＰａは、特定した連続する機能モジュールＭａ〜Ｍｊのうち、前段の機能モジュールＭａ〜Ｍｊ-1にエラーが発生している場合の検出パターンであり、エラー発生パターンＰｂは、後段の機能モジュールＭｂ〜Ｍｊにエラーが発生している場合の検出パターンである。すなわち、図４の場合、機能モジュールＭｂと機能モジュールＭｃが特定機能モジュールとして特定されているものとすると、エラー発生パターンＰａは、機能モジュールＭｂにエラーが発生している場合の検出パターンであり、エラー発生パターンＰｂは、機能モジュールＭｃにエラーが発生している場合の検出パターンである。
【００３７】
まず、エラー発生パターンＰａの場合のエラー検出処理について、図６に基づいて説明する。この場合、図６に示すように、エラー検出回路Ｅｋの検査する機能モジュールＭａ〜Ｍｊのうち前段（マスタ側）の機能モジュールＭａ〜Ｍｊ-1のbusy信号がアサートし、ライトコマンド信号MCmd[0]のWRITEコマンドがアサートすると、次段（スレーブ側）の機能モジュールＭｂ〜Ｍｊがデータ受取信号SCmdAcceptをアサートして有効データVALIDを受け取るが、エラー発生条件比較部１３は、このライトコマンド信号MCmd[0]とデータ受取信号SCmdAcceptをセレクタから受け取って上記状態が継続されていると、エラーが発生していないと判断する。ところが、前段の機能モジュールＭａ〜Ｍｊ-1のライトコマンド信号MCmd[0]がIDLEコマンドからWRITEコマンドに変化しても、次段の機能モジュールＭｂ〜Ｍｊのデータ受取信号SCmdAcceptがアサートしないと、エラー条件比較部１３は、エラーカウンタによるカウントを開始して、そのカウント値（エラー検査状態時間）err_count［*:0］が予めレジスタに設定されている所定値（エラー規定時間）Ｎになると、エラーが発生していると判断してエラーパルスst_trigを外部に出力する。この所定値Ｎは、機能モジュールＭａ〜Ｍｊのエラーを検出するのに適宜の値を設定することができるが、ＡＳＩＣ１の適用される画像処理装置が、例えば、複写装置の場合、スキャナ部で読み取った１ライン分の画像データをメモリやプリンタ部に所定の時間内に転送する必要があり、いわゆるデータの等時性が要求されるが、この等時性を考慮した値が所定値Ｎとして設定される。具体的には、図７において、ｔ１のタイミングでデータMData[*:0]の入力が行われて、等時性から一定量のデータ転送が完了していなければならないｔ２タイミングまでの時間ＴＡと、エラーカウンタによるカウントを開始したｔ３から所定値Ｎをカウントするまでの時間ＴＢを比較して、ＴＡ≦ＴＢとなると、画像処理装置として、データ転送に破綻をきたしており、適切な画像処理を行うことができないため、ＴＡ＞ＴＢとなる所定値Ｎを設定する。
【００３８】
次に、エラー発生パターンＰｂの場合のエラー検出処理について、図７に基づいて説明する。この場合、図７に示すように、各エラー検出回路Ｅｋの検査する機能モジュールＭａ〜Ｍｊのうち前段（マスタ側）の機能モジュールＭａ〜Ｍｊ-1のbusy信号がアサートし、ライトコマンド信号MCmd[0]のWRITEコマンドがアサートすると、次段（スレーブ側）の機能モジュールＭｂ〜Ｍｊがデータ受取信号SCmdAcceptをアサートして有効データVALIDを受け取るが、この状態が継続されていると、エラー条件比較部１３は、エラーカウンタによるカウントを行うことなく、エラーが発生していないと判断する。ところが、次段の機能モジュールＭｂ〜Ｍｊのデータ受取信号SCmdAcceptがアサートしても、前段の機能モジュールＭａ〜Ｍｊ-1のライトコマンド信号MCmd[0]がIDLEコマンドからWRITEに変化しないと、エラー条件比較部１３は、エラーカウンタによるカウントを開始して、そのカウント値err_count［*:0］が予めレジスタに設定されている所定値Ｎになると、外部にエラーパルスst_trigを出力する。
【００３９】
そして、このエラー検出回路Ｅｋの検出したエラーの発生している機能モジュールＭａ〜Ｍｊが、どの機能モジュールＭａ〜Ｍｊで発生しているかを示す情報として、データ転送状況確認部１２がセレクタ１１に出力した監視対象として特定した１対の特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊの情報及び１対の該特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊのうちいずれにエラーが発生しているかを示す情報として、ライトコマンド信号MCmd[0]とデータ受取信号SCmdAcceptの情報を外部に出力することで、外部のコンピュータ等の検査装置でエラー発生した機能モジュールＭａ〜Ｍｊを特定することができる。すなわち、MCmd[0]＝＝１＆＆ScmdAccept＝＝０の場合は、次段（slave側）の機能モジュールＭｂ〜Ｍｊにエラーが発生して動作が止まっていることを示しており、MCmd[0]＝＝０＆＆ScmdAccept＝＝１の場合は、前段（master側）の機能モジュールＭａ〜Ｍｊ-1にエラーが発生して、動作が止まっていることを示している。
【００４０】
すなわち、ＡＳＩＣ１にエラーが発生した場合、ＡＳＩＣ１の適用される画像処理装置またはデバッグ装置のＣＰＵからデバッグソフトウェアを起動させて、ＣＰＵから各機能モジュールＭａ〜Ｍｊ及びエラー検出回路Ｅｋに、機能モジュールＭａ〜Ｍｊ及びエラー検出回路Ｅｋの内部レジスタからハンドシェイクの情報とエラー解析に必要なパラメータ情報、例えば、busy信号やカウント値err_count［*:0］等を読み取る。
【００４１】
例えば、エラー発生時に、ＡＳＩＣ１の適用されている画像処理装置やデバッグ装置のＣＰＵが、busy信号やカウント値err_count［*:0］等のパラメータ及びエラーパルスst_trig発生時のライトコマンド信号MCmd[0]及びデータ受取信号SCmdAcceptを読み出すことで、デバッグソフトウェアによって、エラーの発生した機能モジュールＭａ〜Ｍｊを簡単かつ容易に特定することができ、デバッグ効率を向上させることができる。
【００４２】
このように、本実施例のＡＳＩＣ１は、１つのエラー検出回路Ｅｋを搭載して、該エラー検出回路Ｅｋが、シリアルに接続されてデータに対して順次処理を行う複数の機能モジュールＭａ〜Ｍｊのエラー検出を行うのに、データ転送状況確認部１２が、連続する機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間で交換される信号または／及びデータの転送状況を確認して、監視対象とすべき１対の連続する特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊ及び特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間において転送される信号のうち監視対象とすべき特定信号（上記例では、ライトコマンド信号MCmd[0]とデータ受取信号SCmdAccept）を特定し、セレクタ１１が、特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間で転送される特定信号（ライトコマンド信号MCmd[0]とデータ受取信号SCmdAccept）を取得して、エラー発生条件比較部１３が、該特定信号に基づいてエラー発生原因が１対の連続する特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊのうちいずれの機能モジュールＭａ〜Ｍｊにあるかを判定している。すなわち、各機能モジュールＭａ〜Ｍｊが出力するデータ転送完了信号であるeolまたはeofをデータ転送状況確認部１２で監視して、データ転送完了信号（eolまたはeof）が取得できなかった機能モジュールＭａ〜Ｍｊと次段の機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間の出力信号（ライトコマンド信号MCmd[0]とデータ受取信号SCmdAccept）を確認して、いずれの機能モジュールＭａ〜Ｍｊでエラーが発生しているか判定している。
【００４３】
したがって、ＡＳＩＣ１が搭載して接続されている機能モジュールＭａ〜Ｍｊの数に関わらず、１つのエラー検出回路Ｅｋで複数の機能モジュールＭａ〜Ｍｊのうちどの機能モジュールＭａ〜Ｍｊにエラーが発生しているかを判定することができ、搭載する複数の機能モジュールＭａ〜Ｍｊのうち、エラーの発生している機能モジュールＭａ〜Ｍｊを、回路規模を大きくすることなく、簡単な構成でかつ正確に検出することができる。
【００４４】
また、本実施例のＡＳＩＣ１は、エラー発生条件比較部１３が、判定結果をエラー通知している。
【００４５】
したがって、ＡＳＩＣ１の適用される画像処理装置やデバッグ装置で、エラー解析を適切かつ容易に行うことができる。また、エラーの情報を正確に把握できるため、ＡＳＩＣ１の適用されている画像処理装置がストールする現象を回避することができる。さらに、ＡＳＩＣ１の適用される画像処理装置が、画像形成装置である場合、異常画像が発生するエラーに関して、紙出力を中止させる制御を行って、省資源を図ることができる。
【００４６】
さらに、本実施例のＡＳＩＣ１は、エラー発生条件比較部１３が、セレクタ１１の取得した特定信号のうち、適宜の信号を通知出力している。
【００４７】
したがって、エラー解析をより一層高精度に行うことができ、エラー発生に対するより一層適切な処理を行うことができる。
【００４８】
また、本実施例のＡＳＩＣ１は、データ転送状況確認部１２が、機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間で交換される信号のうち、所定の判定基準信号（本実施例では、ラインデータ転送完了信号eolまたはページデータ転送完了eof）が検出されてから次の判定基準信号が検出されるまで継続時間をカウントして、該継続時間が予め設定されている所定の設定時間（設定継続時間）継続すると、該判定基準信号が該設定時間継続した１対の連続する機能モジュールＭａ〜Ｍｊを特定機能モジュールＭａ〜Ｍｊとして特定している。
【００４９】
したがって、簡単な信号状態でエラー発生に関係している１対の機能モジュールＭａ〜Ｍｊを特定することができ、簡単かつ容易にエラー検出することができる。
【００５０】
なお、上記説明においては、データ転送状況確認部１２が、各機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間で交換されているラインデータ転送完了信号eolまたはページデータ転送完了eofを取得した後、予め設定された設定時間までに、次段の機能モジュールＭｂ〜Ｍｊからラインデータ転送完了信号eolまたはページデータ転送完了eofがさらに次の機能モジュールＭａ〜Ｍｊに出力されたか否かで監視対象の機能モジュールＭａ〜Ｍｊを特定しているが、この設定時間を外部から適宜設定可能としてもよい。
【００５１】
この場合、例えば、図８に示しように、エラー検出回路Ｅｋにエラーカウンタ１４を設け、エラーカウンタ１４に、ＡＳＩＣ１外部（例えば、ＡＳＩＣ１の適用されている画像処理装置やデバッグ装置のＣＰＵ）から適宜の設定値を設定する。
【００５２】
そして、データ転送状況確認部１２は、エラーカウンタ１４に設定された設定値の設定時間に基づいて上記監視対象とする機能モジュールＭａ〜Ｍｊを特定する。
【００５３】
このようにすると、ラインデータ転送完了信号eolまたはページデータ転送完了eof信号の監視を、機能モジュールＭａ〜Ｍｊが処理対象としているデータによって適宜変更することができ、処理対象のデータに対して要求されているパフォーマンスに応じて適切なエラー検出を行うことができる。
【００５４】
また、上記説明においては、機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間で交換されているパラメータ情報のうち、ラインデータ転送完了信号eolまたはページデータ転送完了eofのみを、取得してエラー検出回路Ｅｋのデータ転送状況確認部１２に入力しているが、取得するパラメータ情報としては、ラインデータ転送完了信号eolまたはページデータ転送完了eofに限るものではない。
【００５５】
例えば、図９に示すように、各機能モジュールＭａ〜Ｍｈ間のパラメータ情報ライン（バス等）とエラー検出回路Ｅｋのデータ転送状況確認部１２とを同じ情報量を取得できるライン（バス等）で接続し、ラインデータ転送完了信号eol及びページデータ転送完了eofを含む全てのパラメータ情報をエラー検出回路Ｅｋのデータ転送状況確認部１２に取り込み、エラー発生時に、エラー発生条件比較部１３が該パラメータ情報のうち、必要なパラメータ情報を取得できるようにしてもよい。例えば、転送ライン数の情報が各種パラメータ情報で出力されている場合、エラー発生時に、エラー発生源の機能モジュールＭａ〜Ｍｊがどのラインまで出力または入力されたかを、エラー発生条件比較部１３がデータ転送状況確認部１２の取得した転送ライン数情報から取得することができる。
【００５６】
このように、各機能モジュールＭａ〜Ｍｊ間のラインデータ転送完了信号eol及びページデータ転送完了eofを含む全てのパラメータ情報をデータ転送状況確認部１２が取得するようにすると、エラー発生時にエラー発生条件比較部１３が詳細な情報を取得することができ、障害時の解析効率を向上させることができる。
【００５７】
以上、本発明者によってなされた発明を好適な実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例で説明したものに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００５８】
本発明は、画像処理装置やコンピュータ等に搭載されて、その備えている各種データ処理を行う複数の機能モジュールのうちどの機能モジュールでエラーが発生しているかを簡単な構成で正確に検出するＡＳＩＣ等の半導体集積回路、エラー検査方法、エラー検査プログラム及び記録媒体に利用することができる。
【符号の説明】
【００５９】
１  ＡＳＩＣ
Ｍａ〜Ｍｊ  機能モジュール
Ｅｋ  エラー検出回路
１１  セレクタ
１２  データ転送状況確認部
１３  エラー発生条件比較部
１４  エラーカウンタ
【先行技術文献】
【特許文献】
【００６０】
【特許文献１】特開２００９−０７０１２４号公報
【図１】
2011191833.tif 000003
【図２】
2011191833.tif 000004
【図３】
2011191833.tif 000005
【図４】
2011191833.tif 000006
【図５】
2011191833.tif 000007
【図６】
2011191833.tif 000008
【図７】
2011191833.tif 000009
【図８】
2011191833.tif 000010
【図９】
2011191833.tif 000011