(57)【要約】【課題】分析処理時間の短縮および分析精度の向上が可能である分析方法および分析装置を提供すること。【解決手段】本発明は、分析対象の抗原５０と結合する前に金粒子５２による反応前のラマン散乱光Ｌｆｗを測光し、複合体５３生成後に分析対象である抗原５０と結合しなかった磁性粒子５１と複合体５３とをレーザ光の照射領域から除去した状態で分析対象の抗原５０と結合しなかった金粒子５２による反応後のラマン散乱光Ｌｆｕを測光し、反応前のラマン散乱光の測光値と反応後のラマン散乱光の測光値との差を演算することによって、複合体５３そのものによるラマン散乱光を測定せずとも複合体５３によるラマン散乱光の強度を取得できる。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検体中の分析対象物と特異的に結合する磁性粒子を含む磁性試薬と、レーザ光が照射されることにより表面増強されたラマン散乱光を発するとともに前記分析対象物と特異的に結合する標識物質を含む標識試薬とを使用し、前記検体を分析する分析方法において、
前記検体、前記磁性試薬および前記標識試薬を反応容器内に分注する分注ステップと、
前記分注ステップで分注された前記磁性粒子および前記標識試薬が前記検体中の分析対象物と結合する前に、前記磁性粒子を前記レーザ光の照射領域から除去した状態で前記反応容器にレーザ光を照射し、前記反応容器内の前記標識物質によるラマン散乱光を測定する反応前測光ステップと、
前記反応容器内で、前記磁性粒子、前記分析対象物および標識物質が特異的に結合した複合体を生成する反応を促進させる反応促進ステップと、
前記反応促進ステップ後に、前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とを前記レーザ光の照射領域から除去した状態で前記反応容器内に前記レーザ光を照射し、前記反応容器内の前記標識物質によるラマン散乱光を測定する反応後測光ステップと、
前記反応前測光ステップにおける測光値と前記反応後測光ステップにおける測光値との差または比を演算することによって前記複合体によるラマン散乱光の強度を取得し、該取得した前記複合体によるラマン散乱光の強度をもとに前記分析対象物の前記検体における濃度を求める演算ステップと、
を含むことを特徴とする分析方法。
【請求項２】
前記反応前測光ステップは、前記検体、前記磁性試薬および前記標識試薬が分注された反応容器内に磁界を発生させることによって前記磁性粒子を前記レーザ光の照射領域から除去し、
前記反応後測光ステップは、前記複合体が生成された反応容器内に磁界を発生させることによって前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とを前記レーザ光の照射領域から除去することを特徴とする請求項１に記載の分析方法。
【請求項３】
前記反応前測光ステップは、前記検体、前記磁性試薬および前記標識試薬が分注された反応容器の外部から前記レーザ光の照射領域以外の領域に磁石を近接させることによって、前記磁性粒子を前記レーザ光の照射領域外に集磁し、
前記反応後測光ステップは、前記複合体が生成された反応容器の外部から前記レーザ光の照射領域以外の領域に磁石を近接させることによって、前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とを前記レーザ光の照射領域外に集磁することを特徴とする請求項１または２に記載の分析方法。
【請求項４】
前記磁石は、前記反応容器の底面もしくは側面の少なくとも一部に近接できる大きさを有することを特徴とする請求項３に記載の分析方法。
【請求項５】
前記磁石は、複数あることを特徴とする請求項３または４に記載の分析方法。
【請求項６】
前記反応前測光ステップにおいて前記ラマン散乱光が測定される反応前測定用の反応容器とは異なる反応後測定用の反応容器内に、前記検体、前記磁性試薬および前記標識試薬を分注する反応後測定用分注ステップをさらに含み、
前記反応前測光ステップは、磁界を発生する集磁棒を前記検体、前記磁性試薬および前記標識試薬が分注された前記反応前測定用の反応容器内に挿入し、前記磁性粒子を前記集磁棒に集磁させた状態で該集磁棒を前記反応前測定用の反応容器外に移送することによって、前記磁性粒子を前記レーザ光の照射領域から除去し、
前記反応促進ステップは、前記反応後測定用分注ステップにおいて前記検体、前記磁性試薬および前記標識試薬が分注された反応後測定用の反応容器内で前記複合体を生成する反応を促進させ、
前記反応後測光ステップは、前記集磁棒を前記複合体が生成された前記反応後測定用の反応容器内に挿入し、前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とを前記集磁棒表面に集磁させた状態で該集磁棒を前記反応後測定用の反応容器外に移送することによって、前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とを前記レーザ光の照射領域から除去することを特徴とする請求項１または２に記載の分析方法。
【請求項７】
前記分注ステップおよび前記反応前測光ステップは、各検体ごとに行われることを特徴とする請求項６に記載の分析方法。
【請求項８】
検体中の分析対象物と特異的に結合する磁性粒子を含む磁性試薬と、レーザ光が照射されることにより表面増強されたラマン散乱光を発するとともに前記分析対象物と特異的に結合する標識物質を含む標識試薬とを使用し、前記検体を分析する分析装置において、
前記反応容器内にレーザ光を照射して前記標識物質によるラマン散乱光を測定する測光手段と、
前記反応容器におけるレーザ光の照射領域から磁性体を除去する除去手段と、
前記測光手段による測光値をもとに前記分析対象物の前記検体における濃度を求める演算手段と、
を備え、
前記除去手段は、前記磁性粒子および前記標識試薬が前記検体中の分析対象物と結合する前に前記磁性粒子を前記レーザ光の照射領域から除去する反応前除去処理と、前記反応手段によって前記複合体が生成された後に前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とを前記レーザ光の照射領域から除去する反応後除去処理とを行い、
前記測光処理は、前記除去手段による前記反応前除去処理によって前記磁性粒子が前記レーザ光の照射領域から除去された状態で前記反応容器内に前記レーザ光を照射して前記反応容器内の前記標識物質によるラマン散乱光を測定する反応前測光処理と、前記除去手段による前記反応後除去処理によって前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とが前記レーザ光の照射領域から除去された状態で前記反応容器内に前記レーザ光を照射して前記反応容器内の前記標識物質によるラマン散乱光を測定する反応後測光処理とを行い、
前記演算手段は、前記測光手段による前記反応前測光処理における測光値と前記反応後測光処理における測光値との差または比を演算することによって前記複合体によるラマン散乱光の強度を取得し、該取得した前記複合体によるラマン散乱光の強度をもとに前記分析対象物の前記検体における濃度を求めることを特徴とする分析装置。
【請求項９】
前記除去手段は、前記反応前除去処理において前記検体、前記磁性試薬および前記標識試薬が分注された反応容器内に磁界を発生させることによって前記磁性粒子を前記レーザ光の照射領域から除去し、前記反応後除去処理において前記複合体が生成された反応容器内に磁界を発生させることによって前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とを前記レーザ光の照射領域から除去することを特徴とする請求項８に記載の分析装置。
【請求項１０】
請求項１〜７のいずれか一つに記載の分析方法を分析装置に実行させることを特徴とする分析プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検体中の分析対象物と特異的に結合する磁性粒子を含む磁性試薬と、レーザ光が照射されることにより表面増強されたラマン散乱光を発するとともに分析対象の物と特異的に結合する標識物質を含む標識試薬とを使用し、検体を分析する分析方法、分析装置および分析プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ラマン分光分析は、検体にレーザ光を照射することにより発生するラマン散乱光を検出する分析法であり、検出対象物の分子構造に関する情報を得ることができるため、ウィルス、蛋白質等の生化学物質や環境化学物質の検出、バイオセンサ等に有効な分析方法として知られている。このラマン分光分析では、原子レベルの粗さを持つ金、銀などの金属表面における吸着種のラマン散乱強度が非吸着種に比較して１０２−１０６倍増強される場合があることが知られており、この現象は表面増強ラマン散乱（ＳＥＲＳ）と呼ばれている。
【０００３】
このようなＳＥＲＳ分光分析法を用いた分析装置として、分析対象の抗原と表面増強ラマン粒子とのいずれかと結合可能である抗体を設けた基板を用い、この抗体と表面増強ラマン粒子とが会合した場合のラマン散乱光の強度と、表面増強ラマン粒子と分析対象の抗原とが接触し表面増強ラマン散乱粒子の代わりに分析対象の抗原が抗体と会合した場合のラマン散乱光の強度との差を検出することによって、分析対象の抗原を検出する分析方法が提案されている（特許文献１参照）。しかしながら、この特許文献１に記載された分析方法では、測定ごとに分析対象の抗原と会合可能である抗体を設けた複雑な構造の基板を用いる必要がある上に、各分析処理を各基板にそれぞれ対して同一の装置内で並行して実行するには非常に複雑な分析装置構成が必要となるという問題があった。
【０００４】
これに対し、近年、金属ナノ粒子を凝集させることによって、非吸着種と比較してラマン散乱強度を１０１４倍程度まで増強させることができることが発見された。そこで、原子レベルの粗さを持つ金・銀などの金属ナノ粒子を標識物質として用い、これに加え、この標識物質と検出対象物との複合体を凝集させてラマン散乱強度を増強させることによって、検出対象物を分析する分析方法が注目されている。たとえば、標識物質である金属ナノ粒子を含む試薬に加えて、検体内の検出対象物と反応する磁性粒子を含んだ試薬をさらに検体内に注入する分析装置が提案されている（特許文献２参照）。この分析装置では、磁性粒子と、検出対象物と、標識物質との複合体を、反応容器外部から先端が尖形状を有する磁石を近接させることによって所定の大きさに凝集させ、生成した凝集体にレーザ光を照射し、表面増強されたラマン散乱光を測定することによって、複雑な装置構成を取ることなく検体内の検出対象物を検出している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特表２００７−５２６４８８号公報
【特許文献２】国際公開第２００８／０１４２２３号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献２に記載された分析装置では、複合体を凝集させるために先端が尖った磁石を用いることから反応容器に近接する磁石面積が小さくなるため、ラマン散乱光を検出できる大きさにまで複合体を凝集させるには長い時間が必要となり、分析処理全体の処理時間が長時間化してしまうという問題があった。また、特許文献２に記載された分析装置では、常に一定の形状の凝集体が形成されるのではなく、複合体の分散状態などに応じて複合体の凝集形状にばらつきが生じる。この結果、この凝集体へのレーザ光の照射状態にも凝集形状によって差が生じることから、測光器が測定するラマン散乱光の強度もばらついてしまい、高精度の分析を行うことができないという問題があった。
【０００７】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、分析処理時間の短縮および分析精度の向上が可能である分析方法および分析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる分析方法は、検体中の分析対象物と特異的に結合する磁性粒子を含む磁性試薬と、レーザ光が照射されることにより表面増強されたラマン散乱光を発するとともに前記分析対象物と特異的に結合する標識物質を含む標識試薬とを使用し、前記検体を分析する分析方法において、前記検体、前記磁性試薬および前記標識試薬を反応容器内に分注する分注ステップと、前記分注ステップで分注された前記磁性粒子および前記標識試薬が前記検体中の分析対象物と結合する前に、前記磁性粒子を前記レーザ光の照射領域から除去した状態で前記反応容器にレーザ光を照射し、前記反応容器内の前記標識物質によるラマン散乱光を測定する反応前測光ステップと、前記反応容器内で、前記磁性粒子、前記分析対象物および標識物質が特異的に結合した複合体を生成する反応を促進させる反応促進ステップと、前記反応促進ステップ後に、前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とを前記レーザ光の照射領域から除去した状態で前記反応容器内に前記レーザ光を照射し、前記反応容器内の前記標識物質によるラマン散乱光を測定する反応後測光ステップと、前記反応前測光ステップにおける測光値と前記反応後測光ステップにおける測光値との差または比を演算することによって前記複合体によるラマン散乱光の強度を取得し、該取得した前記複合体によるラマン散乱光の強度をもとに前記分析対象物の前記検体における濃度を求める演算ステップと、を含むことを特徴とする。
【０００９】
また、この発明にかかる分析方法は、前記反応前測光ステップは、前記検体、前記磁性試薬および前記標識試薬が分注された反応容器内に磁界を発生させることによって前記磁性粒子を前記レーザ光の照射領域から除去し、前記反応後測光ステップは、前記複合体が生成された反応容器内に磁界を発生させることによって前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とを前記レーザ光の照射領域から除去することを特徴とする。
【００１０】
また、この発明にかかる分析方法は、前記反応前測光ステップは、前記検体、前記磁性試薬および前記標識試薬が分注された反応容器の外部から前記レーザ光の照射領域以外の領域に磁石を近接させることによって、前記磁性粒子を前記レーザ光の照射領域外に集磁し、前記反応後測光ステップは、前記複合体が生成された反応容器の外部から前記レーザ光の照射領域以外の領域に磁石を近接させることによって、前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とを前記レーザ光の照射領域外に集磁することを特徴とする。
【００１１】
また、この発明にかかる分析方法は、前記磁石は、前記反応容器の底面もしくは側面の少なくとも一部に近接できる大きさを有することを特徴とする。
【００１２】
また、この発明にかかる分析方法は、前記磁石は、複数あることを特徴とする。
【００１３】
また、この発明にかかる分析方法は、前記反応前測光ステップにおいて前記ラマン散乱光が測定される反応前測定用の反応容器とは異なる反応後測定用の反応容器内に、前記検体、前記磁性試薬および前記標識試薬を分注する反応後測定用分注ステップをさらに含み、前記反応前測光ステップは、磁界を発生する集磁棒を前記検体、前記磁性試薬および前記標識試薬が分注された前記反応前測定用の反応容器内に挿入し、前記磁性粒子を前記集磁棒に集磁させた状態で該集磁棒を前記反応前測定用の反応容器外に移送することによって、前記磁性粒子を前記レーザ光の照射領域から除去し、前記反応促進ステップは、前記反応後測定用分注ステップにおいて前記検体、前記磁性試薬および前記標識試薬が分注された反応後測定用の反応容器内で前記複合体を生成する反応を促進させ、前記反応後測光ステップは、前記集磁棒を前記複合体が生成された前記反応後測定用の反応容器内に挿入し、前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とを前記集磁棒表面に集磁させた状態で該集磁棒を前記反応後測定用の反応容器外に移送することによって、前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とを前記レーザ光の照射領域から除去することを特徴とする。
【００１４】
また、この発明にかかる分析方法は、前記分注ステップおよび前記反応前測光ステップは、各検体ごとに行われることを特徴とする。
【００１５】
また、この発明にかかる分析装置は、検体中の分析対象物と特異的に結合する磁性粒子を含む磁性試薬と、レーザ光が照射されることにより表面増強されたラマン散乱光を発するとともに前記分析対象物と特異的に結合する標識物質を含む標識試薬とを使用し、前記検体を分析する分析装置において、前記反応容器内にレーザ光を照射して前記標識物質によるラマン散乱光を測定する測光手段と、前記反応容器におけるレーザ光の照射領域から磁性体を除去する除去手段と、前記測光手段による測光値をもとに前記分析対象物の前記検体における濃度を求める演算手段と、を備え、前記除去手段は、前記磁性粒子および前記標識試薬が前記検体中の分析対象物と結合する前に前記磁性粒子を前記レーザ光の照射領域から除去する反応前除去処理と、前記反応手段によって前記複合体が生成された後に前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とを前記レーザ光の照射領域から除去する反応後除去処理とを行い、前記測光処理は、前記除去手段による前記反応前除去処理によって前記磁性粒子が前記レーザ光の照射領域から除去された状態で前記反応容器内に前記レーザ光を照射して前記反応容器内の前記標識物質によるラマン散乱光を測定する反応前測光処理と、前記除去手段による前記反応後除去処理によって前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とが前記レーザ光の照射領域から除去された状態で前記反応容器内に前記レーザ光を照射して前記反応容器内の前記標識物質によるラマン散乱光を測定する反応後測光処理とを行い、前記演算手段は、前記測光手段による前記反応前測光処理における測光値と前記反応後測光処理における測光値との差または比を演算することによって前記複合体によるラマン散乱光の強度を取得し、該取得した前記複合体によるラマン散乱光の強度をもとに前記分析対象物の前記検体における濃度を求めることを特徴とする。
【００１６】
また、この発明にかかる分析装置は、前記除去手段は、前記反応前除去処理において前記検体、前記磁性試薬および前記標識試薬が分注された反応容器内に磁界を発生させることによって前記磁性粒子を前記レーザ光の照射領域から除去し、前記反応後除去処理において前記複合体が生成された反応容器内に磁界を発生させることによって前記分析対象物と結合しなかった磁性粒子と前記複合体とを前記レーザ光の照射領域から除去することを特徴とする。
【００１７】
また、この発明にかかる分析プログラムは、上記いずれか一つに記載の分析方法を分析装置に実行させることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
本発明は、分析対象の抗原または抗体と結合する前に標識物質による反応前のラマン散乱光を測光し、複合体生成後に複合体と分析対象である抗原または抗体と結合しなかった磁性粒子とをレーザ光の照射領域から除去した状態で分析対象の抗原または抗体と結合しなかった標識物質による反応後のラマン散乱光を測光し、反応前のラマン散乱光の測光値と反応後のラマン散乱光の測光値との差または比を演算することによって、複合体そのものによるラマン散乱光を測定せずとも、複合体によるラマン散乱光の強度を取得できるため、複合体を凝集させた凝集体を形成する必要がなく、分析処理時間の短縮および分析精度の向上が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】図１は、実施の形態１にかかる分析装置の構成を示す模式図である。
【図２】図２は、図１に示す測光部の構成を示す図である。
【図３】図３は、図１に示す分析装置による分析処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図４】図４は、図１に示す分析装置による分析処理を説明する図である。
【図５】図５は、図１に示す分析装置における攪拌処理後の反応時間と未反応粒子数との関係を示す図である。
【図６】図６は、図３に示す演算処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図７】図７は、図１に示す分析装置において得られるラマンスペクトル図である。
【図８】図８は、従来の分析処理を説明する図である。
【図９】図９は、図１に示す測光部の他の構成を示す図である。
【図１０】図１０は、図３に示す演算処理の他の処理手順を示すフローチャートである。
【図１１】図１１は、実施の形態２にかかる分析装置の構成を示す模式図である。
【図１２】図１２は、図１１に示す集磁棒移送部および集磁棒洗浄部の概略を示す斜視図である。
【図１３】図１３は、図１１に示す分析装置による分析処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１４】図１４は、図１３に示す反応前測定処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１５】図１５は、図１３に示す反応前測定処理を説明する図である。
【図１６】図１６は、図１３に示す反応後測定処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１７】図１７は、図１３に示す反応後測定処理を説明する図である。
【図１８】図１８は、図１３に示す演算処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１９】図１９は、図１２に示す演算処理の他の処理手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
以下に、本発明にかかる実施の形態である分析装置について、血液、尿または唾液などの体液検体に対してＳＥＲＳ分光分析法を用いて分析を行なう分析装置を例に説明する。なお、この実施の形態によりこの発明が限定されるものではない。また、図面の記載において、同一部分には同一の符号を付している。
【００２１】
（実施の形態１）
まず、実施の形態１について説明する。図１は、本実施の形態１にかかる分析装置の構成を示す模式図である。図１に示すように、実施の形態１にかかる分析装置１は、標識物質が含まれた反応容器内にレーザ光を発し、標識物質による表面増強されたラマン散乱光を測定する測定機構２と、測定機構２を含む分析装置１全体の制御を行なうとともに測定機構２における測定結果の分析を行なう制御機構４とを備える。分析装置１は、これらの二つの機構が連携することによって複数の検体に対する分析を自動的に行なう。
【００２２】
測定機構２について説明する。測定機構２は、大別して、反応テーブル１０、検体移送部１９、検体分注部２０、磁性試薬庫２１、磁性試薬分注部２２、プローブ洗浄部２３、標識試薬庫２４、標識試薬分注部２５、プローブ洗浄部２６、攪拌部２７および測光部３０を備える。
【００２３】
反応テーブル１０は、反応容器１１を恒温保持しながら、反応容器１１への検体や試薬の分注、反応容器１１の攪拌、測光を行うために反応容器１１を所定の位置まで移送する。この反応テーブル１０は、後述する制御部４１の制御のもと、図示しない駆動機構が駆動することによって、反応テーブル１０の中心を通る鉛直線を回転軸として回動自在である。
【００２４】
検体移送部１９は、血液、尿または唾液等の液体検体を収容した複数の検体容器１９ａを保持し、図中の矢印方向に順次移送する複数の検体ラック１９ｂを備える。検体移送部１９上の検体吸引位置に移送された検体容器１９ａ内の検体は、検体分注部２０によって、反応テーブル１０上に配列して搬送される反応容器１１に分注される。
【００２５】
検体分注部２０は、鉛直方向への昇降および自身の基端部を通過する鉛直線を中心軸とする回転を自在に行うアームを備える。このアームの先端部には、検体の吸引および吐出を行う検体プローブが取り付けられている。検体分注部２０は、図示しない吸排シリンジまたは圧電素子を用いた吸排機構を備える。検体分注部２０は、上述した検体移送部１９上の所定位置に移送された検体容器１９ａの中から検体プローブによって検体を吸引し、アームを図中反時計回りに旋回させ、反応テーブル１０上の反応容器１１内に検体を吐出する。
【００２６】
磁性試薬庫２１は、磁性試薬が収容された磁性試薬ボトル２１ａを複数収納できる。標識試薬庫２４は、標識試薬が収容された標識試薬ボトル２４ａを複数収納できる。この磁性試薬ボトル２１ａ内の磁性試薬、および、標識試薬ボトル２４ａ内の標識試薬は、反応テーブル１０の反応容器１１内にそれぞれ分注される。磁性試薬庫２１および標識試薬庫２４は、図示しない駆動機構が駆動することによって、時計回りまたは反時計回りに回動自在であり、所望の試薬ボトルを磁性試薬分注部２２または標識試薬分注部２５による試薬吸引位置まで移送する。ここで、検体内の分析対象物は、たとえば、抗体、タンパク質、ペプチド、アミノ酸、炭水化物、ホルモン、ステロイド、ビタミン、細菌、ＤＮＡ、ＲＮＡ、細胞、ウィルスに加え、任意の抗原物質、ハプテン、抗体およびこれらの組み合わせなどがある。磁性試薬は、分析対象である検体内の分析対象物と結合する抗原または抗体を固相した磁性粒子を含む試薬である。この磁性粒子は、磁界が及ぶ領域に位置する場合には、この磁界において磁力を有し、磁界発生源に引き寄せられる。標識試薬は、検体内の分析対象物と結合する標識物質を含む試薬である。標識物質は、原子レベルの表面粗さを持つ金、銀、銅または白金などの金属を含むナノ粒子であり、この粒子の表面には、分析対象物と結合可能である抗原または抗体がコーティングされている。この標識物質は、標識物質単体、あるいは、分析対象物と結合した複合体の状態であっても、レーザ光が照射された場合には表面増強されたラマン散乱光を発する。以後の説明では、標識物質として金粒子を用いた場合を例に説明する。
【００２７】
磁性試薬分注部２２は、磁性試薬の吸引および吐出を行なう試薬プローブが先端部に取り付けられ鉛直方向への昇降および自身の基端部を通過する鉛直線を中心軸とする回転を自在に行なうアームを備える。磁性試薬分注部２２は、図示しない吸排シリンジまたは圧電素子を用いた吸排機構を備える。磁性試薬分注部２２は、磁性試薬庫２１によって所定位置に移動された磁性試薬ボトル２１ａ内の試薬を、試薬プローブによって吸引し、アームを旋回させ、反応テーブル１０によって磁性試薬吐出位置に搬送された反応容器１１に分注する。標識試薬分注部２５は、磁性試薬分注部２２と同様の構成を有し、標識試薬庫２４によって所定位置に移動された標識試薬ボトル２４ａ内の試薬を、試薬プローブによって吸引し、アームを旋回させ、反応テーブル１０によって標識試薬吐出位置に搬送された反応容器１１に分注する。
【００２８】
プローブ洗浄部２３，２６は、磁性試薬分注部２２の試薬プローブの軌跡上、標識試薬分注部２５の試薬プローブの軌跡上にそれぞれ配置され、試薬プローブの内側と外側との洗浄を行う。試薬分注が終了した試薬プローブは、プローブ洗浄部２３，２６によって洗浄された後、次の試薬の分注処理を行なう。
【００２９】
攪拌部２７は、反応容器１１に分注された検体と試薬との攪拌を行い、反応を促進させる。反応容器１１内に分注された検体、磁性試薬および標識試薬に含まれる磁性粒子、分析対象の抗体または抗原および標識物質は、攪拌部２７によって攪拌されることによって反応が促進され、所定の反応時間を経過することによって、検体に含まれる分析対象物と磁性粒子と標識物質とが結合して複合体を生成する。この複合体は、磁性粒子を有する。また、この複合体は、標識物質を有するため、レーザ光が照射された場合には、この標識物質による表面増強されたラマン散乱光を発する。
【００３０】
測光部３０は、反応容器１１内にレーザ光を照射して、反応容器１１内の標識物質による表面増強されたラマン散乱光を測定する。測光部３０は、たとえば図２に示すように、レーザ光源３０ａ、ラマン分光計３０ｂおよびレンズ３０ｄ，３０ｅ，３０ｆ，３０ｇを備え、反応容器１１側面に対し斜め方向からレーザ光を入射する構成を有する。レーザ光源３０ａから照射されたレーザ光Ｌｉは、レンズ３０ｄによって平行光に揃えられた後、レンズ３０ｅによって集光されて、反応容器１１の側面に対し斜め方向から反応容器１１内に入射する。このレーザ光Ｌｉは、反応容器１１内の照射領域Ｓ１に位置する金粒子５２に照射する。これによって、金粒子５２表面で増強されたラマン散乱光Ｌｆは、レンズ３０ｆによって平行光に揃えられ、レンズ３０ｇで集光された後、ラマン分光計３０ｂに入射する。ラマン分光計３０ｂの測定結果は、制御部４１に出力され、分析部４３は、この測定結果をもとに検体を分析する。
【００３１】
そして、測光部３０は、図２に示すように、反応容器１１の外部であって、レーザ光源３０ａからのレーザ光Ｌｉの照射領域Ｓ１以外の領域に近接可能に設けられた永久磁石３０ｃをさらに有する。この永久磁石３０ｃは、上部に反応容器１１が反応テーブル１０によって移送された場合には、反応容器１１の底面に近接する位置に配置される。そして、永久磁石３０ｃは、反応容器１１の底面のほぼ全面に近接できる大きさを有する。この永久磁石３０ｃは、永久磁石３０ｃ上部に位置する反応容器１１内部に磁界を発生させることによって、反応容器１１内の磁性粒子、複合体を構成する磁性粒子を反応容器１１底面側に集磁する。言い換えると、永久磁石３０ｃは、永久磁石３０ｃ上部に位置する反応容器１１内部に磁界を発生させることによって、反応容器１１内の磁性粒子、複合体をレーザ光Ｌｉの照射領域Ｓ１から除去している。この永久磁石３０ｃは、測光部３０による測光位置にのみ設けられており、反応テーブル１０の移送処理によって測光部３０内の測光位置に移送された反応容器１１が、反応容器１１底面に永久磁石３０ｃが近接するように位置することによって、内部の磁性粒子、複合体がレーザ光Ｌｉの照射領域Ｓ１から除去される。反応テーブル１１によって測光位置以外に移送される反応容器１１においては永久磁石３０ｃによって集磁されることがないため、磁性粒子および複合体は、反応容器１１内の液体中で分散した状態となっている。
【００３２】
なお、分析処理が終了した反応容器１１は、分析処理ごとに図示しない廃棄機構によって廃棄される。また、分析装置１は、図示しない容器洗浄機構を設けて、分析処理が終了した反応容器１１を洗浄した後、再度分析処理に使用してもよい。この場合、容器洗浄機構は、ノズルによって、反応容器１１内の混合液を吸引して排出するとともに、洗剤や洗浄水等の洗浄液を注入および吸引することで反応容器１１を洗浄する。
【００３３】
次に、制御機構４について説明する。制御機構４は、制御部４１、入力部４２、分析部４３、記憶部４４および出力部４５を備える。測定機構２および制御機構４が備えるこれらの各部は、制御部４１に電気的に接続されている。
【００３４】
制御部４１は、ＣＰＵ等を用いて構成され、分析装置１の各部の処理および動作を制御する。制御部４１は、これらの各構成部位に入出力される情報について所定の入出力制御を行い、かつ、この情報に対して所定の情報処理を行う。入力部４２は、キーボード、マウス等を用いて構成され、検体の分析に必要な諸情報や分析動作の指示情報等を外部から取得する。分析部４３は、測光部３０から取得したラマン分光測光値に基づいて検体の分析を行う。記憶部４４は、情報を磁気的に記憶するハードディスクと、分析装置１が処理を実行する際にその処理にかかわる各種プログラムをハードディスクからロードして電気的に記憶するメモリとを用いて構成され、検体の分析結果等を含む諸情報を記憶する。記憶部４４は、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＰＣカード等の記憶媒体から情報を読み取ることができる補助記憶装置を備えてもよい。出力部４５は、プリンタ、スピーカー等を用いて構成され、検体の分析結果を含む諸情報を出力する。出力部４５は、図示しない通信ネットワークを介して所定の形式にしたがった情報を外部装置に出力してもよい。
【００３５】
以上の構成を有する分析装置１においては、検体に含まれる分析対象物と磁性粒子と標識物質とが結合した複合体そのものによる散乱光の強度を測定するのではない。分析装置１では、分析対象物と結合する前の反応前の標識物質であって分注された標識物質の全量に相当するラマン散乱光の強度を測定し、さらに、反応促進処理による複合体生成後であって磁性粒子および複合体を除去した状態で、分析対象物と結合しなかった標識物質のラマン散乱光の強度を測定している。そして、分析装置１では、分注された反応前の標識物質の全量に相当するラマン散乱光の強度と、反応後であって分析対象物と結合しなかった標識物質によるラマン散乱光との差分値を求めることによって、間接的に複合体そのもののラマン散乱光の強度を取得し、この差分値をもとに検体中の分析対象物濃度を検出している。
【００３６】
そこで、図３および図４を参照し、分析装置１の分析処理について詳細に説明する。図３は、図１に示す分析装置１による分析処理の処理手順を示すフローチャートであり、図４は、図１に示す分析装置１による分析処理を説明する図である。
【００３７】
分析装置１では、分析処理開始が指示されることによって、図３および図４（１）に示すように、磁性試薬分注部２２は、磁性試薬庫２１によって所定位置に移送された磁性試薬ボトル２１ａ内から磁性粒子５１を含む磁性試薬を、反応テーブル１０の磁性試薬分注位置に位置する反応容器１１内に分注する磁性試薬分注処理を行なう（ステップＳ１）。次に、図４（２）に示すように、検体分注部２０は、検体容器１９ａ内から分析対象の検体を、磁性試薬が分注された反応容器１１内に分注する（ステップＳ２）。検体内には、分析対象物である抗原５０が含まれるほか、抗原５０以外の夾雑物５５も含まれており、検体分注処理においては、この夾雑物５５も抗原５０と一緒に反応容器１１内に分注される。そして、図４（３）に示すように、標識試薬分注部２５は、標識試薬庫２４によって所定位置に移動された標識試薬ボトル２４ａ内から、分析対象の抗原５０と結合可能である金粒子５２を含む標識試薬を、反応テーブル１０の標識試薬分注位置に位置する反応容器１１であって磁性試薬および検体が分注された反応容器１１内に分注する標識試薬分注処理を行なう（ステップＳ３）。その後、反応テーブル１０は、磁性試薬、検体および標識試薬が分注された反応容器１１を攪拌部２７による攪拌位置に移送し、攪拌部２７は、この反応容器１１内の液体を攪拌する攪拌処理を行なう（ステップＳ４）。
【００３８】
攪拌部２７による攪拌処理終了後、反応テーブル１０は、磁性粒子５１、抗原５０および金粒子５２の結合反応が進む前に、この反応容器１１を測光部３０による測光位置に移送する。測光部３０においては、図２において説明したように、測光対象の反応容器１１底面に永久磁石３０ｃが近接した状態となる。
【００３９】
この結果、図４（４）に示すように、反応容器１１内の抗原５０と結合前の磁性粒子５１が永久磁石３０ｃに近接した反応容器１１底面に集磁される。言い換えると、抗原５０と結合前の磁性粒子５１は、レーザ光Ｌｉの照射領域から除去される。測光部３０においては、この状態で、レーザ光源３０ａが反応容器１１内にレーザ光Ｌｉを照射し、ラマン分光計３０ｂは、抗原５０と結合する前の金粒子５２によるラマン散乱光Ｌｆｗの強度を測光する反応前測光処理（ステップＳ５）を行う。ここで、磁性粒子５１は、標識物質である金粒子５２の１０倍以上の直径を有する上に、レーザ光Ｌｉを吸収する性質も有するため、磁性粒子５１によって金粒子５２へのレーザ光の到達が阻害される場合がある。反応前測光処理においては、この磁性粒子５１をレーザ光Ｌｉの照射領域外に集磁することによって、反応容器１１内の照射領域内に金粒子５２および検体中の抗原５０、夾雑物５５のみが存在する状態で、分注された金粒子５２の全量に相当するラマン散乱光を正確に測定している。なお、反応容器１１底面のほぼ全面に永久磁石３０ｃを近接して磁性粒子５１の集磁を行うため、測光部３０による集磁時間は約１０秒程度の短時間で足りる。また、攪拌処理後の反応時間と未反応粒子数との関係を示す図５に示すように、反応前測光処理は、未反応粒子数が減少し始める前の期間Ｔｗの間であればいつ実行してもよく、たとえば、反応時間が５分経過したタイミングで実行する。なお、図４（４）では、測光部３０における集光機構の図示を省略する。
【００４０】
そして、この反応前測光処理が終了した後、攪拌部２７は、この反応容器１１に対して再度攪拌処理を行ない（ステップＳ６）、反応を促進させる。そして、分析装置１は、所定の時間、反応容器内で磁性粒子５１、抗原５０および金粒子５２を特異的に結合させる抗原抗体反応を促進させる反応促進処理を行い（ステップＳ７）、図４（５）に示すように、反応容器１１内に、磁性粒子５１、抗原５０および金粒子５２が特異的に結合した複合体５３を生成する。反応時間は、図５に示すように、減少していた未反応粒子数が一定となり、抗原との反応がほぼ終了したと考えられる期間Ｔｕに含まれる時間まで行えば足りる。
【００４１】
次いで、反応テーブル１０は、所定の反応時間を経過し複合体が生成された反応容器１１を測光部３０による測光位置に移送する。測光部３０においては、反応前測光処理（ステップＳ３）と同様に、図４（６）に示すように、測光対象の反応容器１１底面に永久磁石３０ｃが近接した状態となり、反応容器１１内の磁性粒子５１が反応容器１１底面に集磁される。この複合体５３形成後の反応容器１１内においては、磁性体として、分析対象である抗原５０と結合しなかった磁性粒子５１の他に、複合体５３を構成する磁性粒子が混在している。このため、複合体５３形成後の反応容器１１においては、これらの磁性粒子５１および複合体５３の磁性粒子が、永久磁石３０ｃによって反応容器１１底面に集磁される。これにともない、抗原５０と結合し複合体５３を構成する金粒子も反応容器１１底面側に集磁され、レーザ光Ｌｉの照射領域から除去されることとなる。
【００４２】
測光部３０は、この状態で、レーザ光源３０ａが反応容器１１内にレーザ光Ｌｉを照射し、ラマン分光計３０ｂは、分析対象物である抗原５０と結合しなかった金粒子５２によるラマン散乱光Ｌｆｕの強度を測光する反応後測光処理（ステップＳ８）を行う。この反応後測光処理においては、磁性粒子５１および複合体５３を構成する磁性粒子をレーザ光Ｌｉ照射領域外に集磁することによって、反応容器１１内の照射領域内に、抗原５０と結合しなかった金粒子５２および検体中の夾雑物５５のみが存在する状態で、抗原５０と結合しなかった金粒子５２に相当するラマン散乱光を正確に測定している。なお、分析装置１では、反応容器１１底面のほぼ全面に永久磁石３０ｃを近接して磁性粒子５１および複合体５３の磁性粒子の集磁を行うため、効率的な集磁処理が可能となり、測光部３０による集磁時間は約１０秒程度の短時間で足りる。また、攪拌処理後の反応時間と未反応粒子数との関係を示す図５に示すように、反応後測光処理は、減少していた未反応粒子数が一定となり、抗原との反応がほぼ終了したと考えられる期間Ｔｕの間であればいつ実行してもよく、たとえば、反応時間が３５分経過したタイミングで実行する。また、図４（６）では、測光部３０における集光機構の図示を省略する。
【００４３】
そして、分析部４３は、反応前測光処理（ステップＳ３）における測光値と、反応後測光処理における測光値をもとに、分析対象の抗原５０の検体における濃度を求める演算処理を行なう（ステップＳ９）。その後、出力部４５が、分析部４３が求めた抗原５０の濃度を出力する出力処理を行ない（ステップＳ１０）、分析装置１における分析処理を終了する。なお、制御部４１は、分析部４３が求めた抗原５０の濃度を記憶部４４に記憶させてもよい。
【００４４】
次に、図３に示す演算処理について、図６を参照して説明する。図６は、図３に示す演算処理の処理手順を示すフローチャートである。図６に示すように、分析部４３は、反応前測光値を取得し（ステップＳ２０）、反応後測光値を取得する（ステップＳ２２）。そして、分析部４３は、取得した反応前測光値と反応後測光値との差分値を演算する（ステップＳ２４）。
【００４５】
具体的には、ラマン分光計３０ｂでラマン散乱光を測定することによって、測定結果として、図７に示すような縦軸にラマン散乱強度、横軸にラマンシフトをとるラマンスペクトルを得ることができる。ここで、図７に示す曲線Ｌｗは、反応前測光処理において得られたラマンスペクトルであり、曲線Ｌｕは、反応後測光処理において得られたラマンスペクトルである。分析部４３は、曲線Ｌｗにおける最大強度値から基底値を減算した値Ｉｗを反応前測光値として取得し、曲線Ｌｕにおける最大強度値から基底値を減算した値Ｉｕを反応前測光値として取得する。
【００４６】
この反応前測光値は、前述したように、反応容器１１内に分注された金粒子５２の全量に相当するラマン散乱光の強度に相当する。そして、反応後測光値は、前述したように、複合体５３を除去しているため、抗原５０と結合しなかった金粒子５２に相当するラマン散乱光の強度に相当する。このため、反応前測光値と反応後測光値との差分値は、反応後測光処理においてレーザ光Ｌｉの照射領域から除去された、抗原５０と結合し複合体５３を構成する金粒子によるラマン散乱光の強度に相当する。すなわち、反応前測光値と反応後測光値との差分値は、複合体５３によるラマン散乱光の強度に相当する。分析装置１においては、分析部４３が反応前測光値と反応後測光値との差分値を演算することによって、複合体５３によるラマン散乱光の強度を間接的に取得している。
【００４７】
そして、分析部４３は、この複合体５３によるラマン散乱光の強度に相当する差分値をもとに、この差分値に対応した分析値を演算して（ステップＳ２６）、制御部４１に演算結果を出力し、演算処理を終了する。
【００４８】
このように、分析装置１においては、分析装置１では、分析対象物と結合する前の反応前の標識物質によるラマン散乱光の強度を測定し、反応促進処理による複合体生成後であって複合体を除去した状態で分析対象物と結合しなかった標識物質のラマン散乱光の強度を測定し、反応前の標識物質によるラマン散乱光の強度と、反応後であって分析対象物と結合しなかった標識物質によるラマン散乱光との差分値を求めることによって、間接的に複合体そのもののラマン散乱光の強度を取得して検体中の分析対象物濃度を検出している。
【００４９】
ここで、従来の分析処理について説明する。従来では、図８（１）〜図８（３）に示すように、磁性粒子５１、抗原５０および夾雑物５５を含む検体、および、金粒子５２を分注した後、図８（４）に示すように、これらを反応させて、複合体５３を形成する。次いで、従来では、図８（５）に示すように、先端が尖った永久磁石１３０ｃを反応容器１１底面に近接させて複合体５３を凝集させた凝集体５４を反応容器１１底面に形成する。そして、従来では、図８（６）に示すように、この凝集体５４にレーザ光源１３０ａからのレーザ光Ｌｉ０を照射し、凝集体５４による表面増強されたラマン散乱光Ｌｆ０をラマン分光計１３０ｂが測定していた。
【００５０】
このような従来の分析処理では、常に一定の形状の凝集体が形成されるのではなく、複合体５３の分散状態などに応じて凝集体５４の形および大きさにばらつきが生じる。この凝集体５４の形状ばらつきの結果、この凝集体５４へのレーザ光Ｌｉ０の照射状態にも差が生じることから、ラマン分光計１３０ｂが測定するラマン散乱光Ｌｆ０の強度もばらついてしまい、高精度の分析を行うことができないという問題があった。
【００５１】
実際に、従来の分析処理にしたがって形成した凝集体５４からのラマン散乱光の測定結果を表１に示す。表１は、この従来の分析処理を同条件下のもと１０回行なった場合における各ラマン散乱光の測定値と、変動係数ＣＶ（Ｃｏｅｆｆｉｃｉｅｎｔ  ｏｆ  Ｖａｒｉａｔｉｏｎ）値とを示す表である。また、使用した検体にはＴＳＨ抗原が２００〔μＩＵ／ｍｌ〕の濃度で含まれる。なお、変動係数ＣＶ値は、標準偏差を平均で割った値を１００分比で示したものであり、平均値に対する相対誤差を示すものである。
【００５２】
【表１】
2011158334.tif 000003
【００５３】
この表１に示すように、従来の分析処理にしたがって凝集体５４を形成した場合、各ラマン散乱光のＣＶ値は、４．３％と非常に高い値を示す。この表１に示すように、従来の分析処理を用いた場合、測光処理によって得られるラマン散乱光の強度はばらつきを大きく含んだものであることから、この測光値をもとに演算される分析結果もばらつきを含むものとなっていた。
【００５４】
これに対し、本実施の形態１にかかる分析装置１は、従来のように凝集形状にばらつきが生じる凝集体５４からのラマン散乱光、すなわち、複合体５３そのものによるラマン散乱光を測定していない。分析装置１では、分析対象物と結合する前の金粒子５２の全量に相当するラマン散乱光の強度を測定し、さらに、反応促進処理による複合体生成後であって複合体を除去した状態で、分析対象物と結合しなかった金粒子５２のラマン散乱光の強度を測定している。そして、分析装置１は、いずれの測光処理においても、金粒子５２の１０倍以上の直径を有する上にレーザ光Ｌｉを吸収する性質も有する磁性粒子５１を除去し、検体由来の夾雑物と測定対象となる金粒子５２のみが分散する状態で、測定対象となる金粒子５２によるラマン散乱光を測定する。言い換えると、分析装置１は、金粒子５２へのレーザ光の到達が阻害されることない状態で、分注された金粒子５２の全量に相当するラマン散乱光と、分析対象物と結合しなかった金粒子５２のラマン散乱光との双方を測定することができるため、分注された金粒子５２の全量に相当するラマン散乱光の強度と、分析対象物と結合しなかった金粒子５２のラマン散乱光の強度とのいずれについても正確な値を取得することができる。
【００５５】
そして、分析装置１は、この反応前の金粒子５２の全量に相当するラマン散乱光の強度と、反応後であって分析対象物と結合しなかった標識物質によるラマン散乱光の強度との差分値を求めることによって、間接的に複合体のラマン散乱光の強度を取得し、この差分値をもとに検体中の分析対象物濃度を検出している。したがって、分析装置１は、この反応前の金粒子５２の全量に相当するラマン散乱光の強度と、反応後であって分析対象物と結合しなかった標識物質によるラマン散乱光の強度とのいずれをも正確に取得することができるため、この反応前測光値と反応後測光値とを用いることによって、複合体そのもののラマン散乱光の強度についても正確な値を取得することができる。
【００５６】
実際に、本分析装置１において図３および図４に示す分析処理を行なった場合における、反応前測光処理と反応後測光処理の結果を表２に示す。表２は、表１の場合と同検体について、分析装置１において分析処理を同条件下のもと１０回行なった場合における各反応前測光処理における反応前測光値と、反応後測光処理における反応後測光値と、反応前測光値および反応後測光値の差分値と、各値の変動係数ＣＶ値とを示す表である。
【００５７】
【表２】
2011158334.tif 000004
【００５８】
この表２に示すように、分析装置１においては、反応前測光値のＣＶ値は０．６５％であり、反応後測光値のＣＶ値は１．３０％であり、ともに従来と比較して低い値を示す。これは、磁性粒子５１および複合体５３の磁性粒子をレーザ光Ｌｉの照射領域外に除外した状態で反応前測光処理および反応後測光処理を行なっていることから、金粒子５２へのレーザ光の到達が阻害されることのない状態で、反応前の金粒子５２の全量に相当するラマン散乱光と、反応後であって分析対象物と結合しなかった標識物質によるラマン散乱光とを正確に測光できるためである。
【００５９】
そして、表２に示すように、反応前測光値と反応後測光値との差分値のＣＶ値は、０．５９％と非常に低い値を示している。これは、反応前測光値と反応後測光値はともにばらつきが小さいため、これらの差分値もばらつきが小さくなるからである。この差分値は、複合体５３そのもののラマン散乱光の強度に対応するため、分析装置１においては、この差分値を演算することによって、非常にばらつきが小さい複合体５３そのもののラマン散乱光の強度を安定して取得することができる。さらに、分析装置１では、反応前測光処理を行った反応容器１１と同じ反応容器に対して、反応後測光処理を行っているため、反応容器差に起因する測光誤差も考慮する必要がない。したがって、分析装置１は、従来と比較し、格段に分析精度を向上させることができる。
【００６０】
また、従来の分析方法では、図８（５）に示すように、複合体５３を凝集させるために先端が尖った永久磁石１３０ｃを用いることから反応容器に近接する磁石面積が小さくなるため、ラマン散乱光を検出できる大きさにまで複合体を凝集させるには長い時間が必要となり、分析処理全体の処理時間が長時間化してしまうという問題があった。具体的には、従来の分析処理では、複合体５３形成のための反応時間として、約４０分の時間が必要であるうえに、凝集体５４を形成する集磁処理に約２分もの処理時間が必要であった。したがって、従来の分析装置においては、単位時間あたりの検体処理数を高めることに限界があり、分析処理の処理能力を向上させることができなかった。
【００６１】
これに対し、分析装置１では、複合体５３そのもののラマン散乱光を測定しているわけではないので、反応前測光処理および反応後測光処理においては、集磁形状に関係なく磁性粒子５１、複合体５３の磁性粒子を反応容器１１底面側に集磁できれば足りる。このため、分析装置１では、図４（５）および図４（６）に示すように、反応容器１１の底面のほぼ全面に近接できる大きな永久磁石３０ｃを用いることが可能になり、反応容器１１内の磁性粒子５１、複合体５３の磁性粒子５１を効率よく反応容器１１底面に集磁することができる。実際に、分析装置１が行う反応前測光処理および反応後測光処理における集磁時間は、前述したように約１０秒程度の短時間で足りる。したがって、本実施の形態１にかかる分析装置１によれば、従来よりも確実に分析処理全体の処理時間の短縮が可能になり、単位時間あたりの検体処理数を高めて分析処理の処理能力を向上させることができる。もちろん、分析装置１は、図１に示すように、複雑な装置構成を取らずとも、複数の反応容器に対して複数の各分析処理を同一の装置内で並行して実行可能であるため、各処理を停滞させることなく速やかに進めることができる。
【００６２】
なお、本実施の形態１では、図２に示した構成を有する測光部３０を例として説明したが、もちろん図２に示す構成に限らない。たとえば、永久磁石３０ｃは、反応容器１１内の磁性粒子、複合体を構成する磁性粒子を反応容器１１底面側に集磁できるのであれば、反応容器１１の底面の全面ではなく、反応容器１１の底面の少なくとも一部に近接していてもよい。測光部３０は、たとえば、図９に示すように、反応容器１１底面に対し斜め方向からレーザ光を入射する構成であってもよい。この場合、反応容器１１下方のレーザ光源３０ａから照射されたレーザ光Ｌｉは、レンズ３０ｄによって平行光に収束された後、レンズ３０ｅによって集光されて、反応容器１１の底面に対し斜め方向から入射する。このレーザ光Ｌｉは、反応容器１１内の照射領域Ｓ１１に位置する金粒子５２に照射する。これによって、金粒子５２表面で増強されたラマン散乱光Ｌｆは、レンズ３０ｆによって平行光に収束され、レンズ３０ｇで集光された後、ラマン分光計３０ｂに入射する。
【００６３】
また、測光部３０の永久磁石３０ｃは、レーザ光源３０ａからのレーザ光Ｌｉの照射領域Ｓ１１以外の領域に近接できる位置であれば、図９に示すように、反応容器１１の側面側外部に位置していてもよい。また、この永久磁石３０ｃは、単数のみならず、図１２に示すように複数設けられていてもよい。さらに、測光部３０は、永久磁石３０ｃに代えて、磁性体によって形成される導線を巻回したコイルによって形成される電磁石を磁界発生部材として用いてもよい。この場合、制御部４１は、電磁石に供給する電流を制御することによって、電磁石による磁界の発生および停止を制御し、少なくとも測光部３０の測光位置に測光対象の反応容器が位置する間は、電流を供給して電磁石から磁界を発生させる。
【００６４】
また、実施の形態１では、分析部４３は、反応前測光値と反応後測光値との差分値を演算することによって、複合体の標識物質のラマン散乱光の強度を取得したが、反応前測光値と反応後測光値との比を演算することによって、複合体の標識物質のラマン散乱光の相対強度を取得して、検体中の分析対象物濃度を検出してもよい。
【００６５】
この場合、図１０のフローチャートに示すように、分析部４３は、図６に示すステップＳ２０〜ステップＳ２３と同様に、反応前測光値を取得し（ステップＳ１２０）、反応後測光値を取得する（ステップＳ１２２）。そして、分析部４３は、反応前測光値と反応後測光値との比を演算し（ステップＳ１２４）、この演算した比に対する分析値を演算して（ステップＳ１２６）、制御部４１に演算結果を出力し、演算処理を終了する。この演算した比は、反応容器１１内に分注された標識試薬の濃度に対する複合体の標識物質のラマン散乱光の相対強度に相当し、分析部４３は、反応容器１１内に分注された標識試薬の濃度と、演算した比の値とをもとに、検体における分析対象の抗原または抗体の濃度を演算する。
【００６６】
（実施の形態２）
次に、実施の形態２について説明する。本実施の形態２にかかる分析装置では、反応容器内の磁性粒子および複合体を、反応容器内に直接挿入可能である集磁棒を用いて反応容器１１外に除去することによって、磁性粒子、複合体をレーザ光の照射領域から除去している。
【００６７】
図１１は、実施の形態２にかかる分析装置の構成を示す図である。図１１に示すように、実施の形態２にかかる分析装置２０１においては、図１に示す分析装置１と比して、測定機構２０２は、反応テーブル１０に代えて反応テーブル２１０と、測光部３０に代えて測光部２３０とを有し、磁性体を集磁可能である集磁棒を移送する集磁棒移送部２２８と、集磁棒を洗浄する集磁棒洗浄部２２９とをさらに備える。分析装置２０１の制御機構２０４は、分析装置１と比して、制御部４１に代えて、集磁棒移送部２２８および集磁棒洗浄部２２９の処理動作についても制御する制御部２４１と、分析部４３と同様の処理手順を行って検体を分析する分析部２４３とを備える。反応テーブル２１０は、集磁棒移送部２２８による集磁位置にも反応容器１１を移送する。測光部２３０は、測光部３０と比較し、図２に示す永久磁石３０ｃを省いた構成を有する。
【００６８】
集磁棒移送部２２８は、図１２に示すように、磁界を発生する集磁棒２２８ａが先端部に取り付けられ昇降および回転を自在に行なうアーム２２８ｂを有する。集磁棒移送部２２８は、検体および試薬を収容し反応テーブル１０の所定の集磁位置に位置する反応容器１１の内部、または、後述する集磁棒洗浄部２２９による洗浄位置に集磁棒２２８ａを移送する。具体的には、集磁棒移送部２２８は、所定の軌跡Ｌ２にしたがって、反応テーブル１０に移送される反応容器１１であって軌跡Ｌ１上の所定の集磁位置に位置する反応容器１１の内部、または、集磁棒洗浄部２２９の洗浄槽２２９ａ内部に、集磁棒２２８ａを移送する。
【００６９】
集磁棒移送部２２８は、図１２に示すように、アーム２２８ｂの他端に接続し、このアーム２２８ｂの他端を通過する鉛直線が中心軸である支柱２２８ｃを有する。そして、集磁棒移送部２２８は、この支柱２２８ｃを回転させる回転機構２２８ｄと支柱２２８ｃを昇降させる昇降機構２２８ｅとを有する。
【００７０】
回転機構２２８ｄは、プーリ２２８２ｄに接続するとともに装置本体の不動部分に固定された回転用モータ２２８１ｄと、支柱２２８ｃに一体となって設けられたプーリ２２８４ｄと、プーリ２２８２ｄおよびプーリ２２８４ｄに掛け渡された回転用ベルト２２８３ｄとを備える。回転用モータ２２８１ｄが時計回りまたは反時計回りに対応する向きで回転した場合、回転用モータ２２８１ｄの回転がプーリ２２８２ｄ、回転用ベルト２２８３ｄ、プーリ２２８４ｄに順次伝達することによって支柱２２８ｃが中心軸の回りを時計回りまたは反時計回りに回転する。この支柱２２８ｃの回転によって、支柱２２８ｃが接続するアーム２２８ｂが矢印Ｙ５のように軌跡Ｌ２に沿って回転する。
【００７１】
昇降機構２２８ｅは、プーリ２２８２ｅに接続するとともに分析装置１内部の不動部分に固定された昇降用モータ２２８１ｅと、支柱２２８ｃ下端に一体となって設けられた昇降板２２８６ｅと、支柱２２８ｃと平行となるように分析装置１内部の不動部分に固定され下端にプーリ２２８４ｅが設けられたネジ軸２２８５ｅと、プーリ２２８２ｅおよびプーリ２２８４ｅに掛け渡された昇降用ベルト２２８３ｅとを備える。ネジ軸２２８５ｅは、昇降板２２８６ｅ内を貫通しており、昇降板２２８６ｅとネジ軸２２８５ｅとは、たとえばボールねじ機構を構成している。昇降用モータ２２８１ｅが上昇方向または下降方向に対応する向きで回転した場合、昇降用モータ２２８１ｅの回転がプーリ２２８２ｅ、昇降用ベルト２２８３ｅ、プーリ２２８４ｅに順次伝達することによってネジ軸２２８５ｅが回転し、このネジ軸２２８５ｅの回転にともない昇降板２２８６ｅが上昇または下降することによって、支柱２２８ｃが上昇または下降する。この支柱２２８ｃの昇降によって、支柱２２８ｃが接続するアーム２２８ｂも矢印Ｙ６のように昇降する。
【００７２】
集磁棒移送部２２８は、検体、磁性試薬および標識試薬が分注され、複合体が生成された反応容器１１内に集磁棒２２８ａを挿入する。反応容器１１内に挿入された集磁棒２２８ａは、反応容器１１内に磁界を発生させることによって、集磁棒２２８ａ表面に反応容器１１内の磁性粒子、複合体における磁性粒子を吸着して集磁する。その後、集磁棒移送部２２８は、アーム２２８ｂを上昇させ、さらにアーム２２８ｂを回転させて、集磁棒２２８ａを反応容器１１に移送することによって、反応容器１１内の磁性粒子、複合体を反応容器１１外に除去する。次いで、集磁棒移送部２２８は、後述する集磁棒洗浄部２２９における洗浄槽２２９ａ上に集磁棒２２８ａを移送した後、アーム２２８ｂを下降することによって洗浄槽２２９ａ内に集磁棒２２８ａを挿入する。これによって、集磁棒２２８ａは、洗浄槽２２９ａ内で洗浄される。
【００７３】
集磁棒洗浄部２２９は、図１２に示すように、洗浄槽２２９ａと、洗浄槽２２９ａ側面に接続され、洗浄液タンクと接続し洗浄液を供給する洗浄液供給管２２９ｂと、洗浄槽２２９ａ底面に接続され、排液タンクと接続し洗浄液等を排出する排液管２２９ｃとを有し、集磁棒２２８ａを洗浄する。
【００７４】
本実施の形態２にかかる分析装置２０１では、集磁棒移送部２２８の動作処理によって、反応容器１１の液体内に集磁棒２２８ａを直接挿入し反応容器１１内の磁性粒子、複合体を集磁棒２２８ａ表面に集磁させた状態で、この集磁棒２２８ａを反応容器１１外に移送することによって、磁性粒子、複合体を反応容器１１外に除去している。これによって、分析装置２０１では、磁性粒子、複合体をレーザ光の照射領域から除去している。なお、集磁棒２２８ａ表面に集磁された磁性粒子および複合体は、集磁棒洗浄部２２９による集磁棒２２８ａの洗浄処理によって、集磁棒２２８ａの表面から取り除かれる。
【００７５】
そして、本実施の形態２にかかる分析装置２０１では、反応前測光処理と反応後測光処理とは、同一の反応容器ではなく、異なる反応容器１１に対してそれぞれ行っている。分析装置２０１は、検体ごとに、予め反応前測光処理用の反応容器１１に対し反応前測光処理を行う。そして、分析装置２０１は、同一の検体に対しては、この反応前測光処理による測光値をレファレンスデータとしている。すなわち、分析装置２０１は、同一の検体に対して複数回の分析処理を指示された場合には、各分析処理ごとに反応前測定処理を行なうのではなく、反応前測定処理を一度だけ実施し、この反応前測定処理による反応前測光値をレファレンスデータとして、各分析処理の各反応後測光処理の測光値との差分値を演算し、検体中の分析対象物の濃度検出を行っている。
【００７６】
具体的に、分析装置２０１の分析処理について詳細に説明する。図１３は、図１１に示す分析装置２０１による分析処理の処理手順を示すフローチャートである。図１３に示すように、分析装置２０１は、所定の検体に対して所定項目の分析処理が指示されることによって、まず、反応前測光処理用の反応容器１１に対して、磁性試薬、検体および標識試薬を分注し、磁性試薬、検体中の抗原および金粒子の結合反応が進む前に抗原と結合前の磁性粒子を反応容器１１外に除去し、その後、抗原と結合する前の金粒子によるラマン散乱光の強度を測光する反応前測定処理（ステップＳ２０２）を行う。
【００７７】
次いで、分析装置２０１は、反応前測定処理において使用された反応容器１１とは異なる反応容器１１に対して、磁性試薬、検体および標識試薬を分注し、磁性試薬中の磁性粒子、検体中の抗原および金粒子の結合反応によって複合体が生成された後に磁性粒子および複合体を反応容器１１外に除去し、その後、分析対象物である抗原と結合しなかった金粒子によるラマン散乱光の強度を測光する反応後測定処理（ステップＳ２０４）を行う。
【００７８】
次に、分析装置２０１では、制御部２４１が分析対象の検体に対して指示された全回数の測定処理を終了したか否かを判断する（ステップＳ２０６）。制御部２４１は、分析対象の検体に対して、指示された全回数の測定処理を終了していないと判断した場合（ステップＳ２０６：Ｎｏ）、ステップＳ２０４に戻り、新たな反応容器11に対して反応後測定処理を行なう。これに対し、制御部２４１が分析対象の検体に対して、指示された全回数の測定処理を終了したと判断した場合（ステップＳ２０６：Ｙｅｓ）、分析部２４３は、反応前測光処理（ステップＳ２０２）における測光値と、各反応後測光処理（ステップＳ２０４）における測光値をもとに、分析対象の抗原５０の検体における濃度を求める演算処理を行なう（ステップＳ２０８）。その後、出力部４５が、分析部４３が求めた抗原の濃度を出力する出力処理を行ない（ステップＳ２１０）、分析装置１における分析処理を終了する。
【００７９】
次に、図１４および図１５を参照して、図１３に示す反応前測定処理について説明する。図１４は、図１３に示す反応前測定処理の処理手順を示すフローチャートであり、図１５は、図１３に示す反応前測定処理を説明する図である。
【００８０】
分析装置２０１では、まず、図１４および図１５（１）の矢印Ｙ２１〜Ｙ２３に示すように、磁性試薬分注部２２が反応前測定処理用の反応容器１１ａ内に磁性粒子５１を含む磁性試薬を分注する磁性試薬分注処理（ステップＳ２２０）と、検体分注部２０が反応前測定処理用の反応容器１１ａ内に抗原５０および夾雑物５５を含む検体を分注する検体分注処理（ステップＳ２２２）と、標識試薬分注部２５が反応前測定処理用の反応容器１１ａ内に金粒子５２を含む標識試薬を分注する標識試薬分注処理（ステップＳ２２４）とを行う。そして、攪拌部２７は、磁性試薬、検体および標識試薬が分注されたこの反応容器１１ａ内の液体を攪拌する攪拌処理を行なう（ステップＳ２２６）。その後、反応テーブル２１０は、磁性粒子５１、抗原５０および金粒子５２の結合反応が進む前に、この反応容器１１ａを所定の集磁位置に移送する。
【００８１】
そして、集磁棒移送部２２８は、この反応容器１１ａから磁性粒子５１を除去する磁性体除去処理を行なう（ステップＳ２２８）。具体的には、まず、集磁棒移送部２２８は、この磁性粒子５１、抗原５０、夾雑物５５および金粒子５２が分散する反応容器１１ａ内部に、図１５（２）の矢印Ｙ２５に示すように集磁棒２２８ａを挿入する。そして、集磁棒２２８ａによる反応容器１１ａ内に発生した磁界によって、集磁棒２２８ａ表面に磁性粒子５１が引き寄せられて吸着する。このように集磁棒２２８ａ表面に磁性粒子５１を集磁した状態で、集磁棒移送部２２８は、図１５（３）の矢印Ｙ２６に示すように、集磁棒２２８ａを引き上げ、この集磁棒２２８ａを反応容器１１ａ外に移送する。この結果、この反応前測定処理用の反応容器１１ａ内には、抗原５０、夾雑物５５および抗原５０と結合する前の金粒子５２のみが含まれることとなる。すなわち、抗原５０と結合前の磁性粒子がレーザ光の照射領域から除去されることとなる。なお、分析装置２０１では、反応容器１１ａの液体内に直接集磁棒２２８ａを挿入して磁性粒子５１の集磁を行うため、効率的な集磁処理が可能となり、集磁棒２２８ａによる集磁時間は約１０秒程度の短時間で足りる。
【００８２】
次いで、反応テーブル１０は、この抗原５０、夾雑物５５および抗原５０と結合する前の金粒子５２のみが含まれる反応容器１１ａを測光部２３０の測光位置に移送する。そして、図１５（４）に示すように、測光部２３０においては、レーザ光源３０ａが反応容器１１ａ内にレーザ光Ｌｉを照射し、ラマン分光計３０ｂは、抗原５０と結合する前の金粒子５２によるラマン散乱光Ｌｆｗの強度を測光する反応前測光処理（ステップＳ２３０）が行われる。この反応前測光処理においては、磁性粒子５１が反応容器１１ａ外に除去されているため、反応容器１１内の照射領域内に金粒子５２および検体中の抗原５０、夾雑物５５のみが存在する状態で、分注された金粒子５２の全量に相当するラマン散乱光を正確に測定している。なお、図１５（４）では、測光部２３０における集光機構の図示を省略する。
【００８３】
次に、測光部２３０によって、この反応前測光処理における測光値が制御部２４１に出力されることによって、反応前測定処理は終了する。この反応前測定処理は、同一の検体に対してであれば、一度行うのみでよい。なお、反応前測定処理に使用された反応容器１１ａは、廃棄されるほか、洗浄後、再度分析処理に使用されてもよい。
【００８４】
次に、図１６および図１７を参照して、図１３に示す反応後測定処理について説明する。図１６は、図１３に示す反応後測定処理の処理手順を示すフローチャートであり、図１７は、図１３に示す反応後測定処理を説明する図である。
【００８５】
反応後測定処理では、分析装置２０１において、図１６および図１７（１）の矢印Ｙ３１〜Ｙ３２に示すように、反応前測定処理用の反応容器１１ａとは別の反応後測定処理用の反応容器１１ｂに、反応前測定処理における各分注処理において分注された各液体と同種および同量の液体がそれぞれ分注される。具体的には、磁性試薬分注部２２が反応前測定処理において分注された磁性試薬と同種および同量の磁性試薬を反応後測定処理用の反応容器１１ｂ内に分注する磁性試薬分注処理（ステップＳ２４０）と、検体分注部２０が反応前測定処理において分注された磁性試薬と同種および同量の検体を反応後測定処理用の反応容器１１ｂ内に分注する検体分注処理（ステップＳ２４２）と、標識試薬分注部２５が反応前測定処理において分注された磁性試薬と同種および同量の標識試薬を反応後測定処理用の反応容器１１ｂ内に分注する標識試薬分注処理（ステップＳ２４４）とが行われる。したがって、図１７（２）に示すように、反応後測定処理用の反応容器１１ｂ内では、図１５(２)に示す反応前測定処理における各液体分注処理後の反応容器１１ａ内と同じ状態で磁性粒子５１、抗原５０、夾雑物５５および金粒子５２が分散するとみなしてもよい。
【００８６】
そして、攪拌部２７は、この反応容器１１ｂ内の液体を攪拌する攪拌処理を行なって（ステップＳ２４６）、反応を促進させる。そして、分析装置２０１は、所定の時間、反応容器１１ｂ内で磁性粒子５１、抗原５０および金粒子５２を特異的に結合させる抗原抗体反応を促進させる反応促進処理を行い（ステップＳ２４７）、図１７（３）に示すように、反応容器１１ｂ内に、磁性粒子５１、抗原５０および金粒子５２が特異的に結合した複合体５３を生成する。
【００８７】
そして、集磁棒移送部２２８は、この反応容器１１ｂから磁性粒子５１および複合体５３の磁性粒子を除去する磁性体除去処理を行なう（ステップＳ２４８）。具体的には、集磁棒移送部２２８は、反応前測定処理における磁性体除去処理と同様に、磁性粒子５１、抗原５０、夾雑物５５、金粒子５２および複合体５３が分散する反応容器１１ｂ内部に、図１７（３）の矢印Ｙ３５に示すように集磁棒２２８ａを挿入する。そして、集磁棒２２８ａによる反応容器１１ｂ内に発生した磁界によって、集磁棒２２８ａ表面に磁性粒子５１および複合体５３の磁性粒子が引き寄せられて吸着する。このように集磁棒２２８ａ表面に磁性粒子５１および複合体５３の磁性粒子を集磁した状態で、集磁棒移送部２２８は、図１７（４）の矢印Ｙ３６に示すように、集磁棒２２８ａを引き上げ、この集磁棒２２８ａを反応容器１１ｂ外に移送する。この結果、この反応後測定処理用の反応容器１１ｂ内には、夾雑物５５および分析対象物である抗原５０と結合しなかった金粒子５２のみが含まれることとなる。なお、この磁性体除去処理では、反応前測定処理における磁性体除去処理と同様に、反応容器１１ｂの液体内に直接集磁棒２２８ａを挿入して磁性粒子５１の集磁を行うため、効率的な集磁処理が可能となり、集磁棒２２８ａによる集磁時間は約１０秒程度の短時間で足りる。
【００８８】
次いで、反応テーブル１０は、夾雑物５５および分析対象物である抗原５０と結合しなかった金粒子５２のみが含まれる反応容器１１ｂを測光部２３０の測光位置に移送する。そして、図１７（５）に示すように、測光部２３０においては、レーザ光源３０ａが反応容器１１ｂ内にレーザ光Ｌｉを照射し、ラマン分光計３０ｂは、抗原５０と結合しなかった金粒子５２によるラマン散乱光Ｌｆｕの強度を測光する反応後測光処理（ステップＳ２５０）が行われる。この反応後測光処理においては、複合体５３の磁性粒子および抗原５０と結合しなかった磁性粒子５１が反応容器１１ｂ外に除去されているため、反応容器１１内の照射領域内に夾雑物５５と抗原５０と結合しなかった金粒子５２のみが存在する状態で、抗原５０と結合しなかった金粒子５２に相当するラマン散乱光を正確に測定できる。なお、図１７（５）では、測光部２３０における集光機構の図示を省略する。
【００８９】
次に、測光部２３０によって、この反応後測光処理における測光値が制御部２４１に出力されることによって、反応後測定処理は終了する。この反応後測定処理は、図１３に示すように、同一の検体に対して分析処理が複数回指示される場合には、各指示された処理内容ごとにそれぞれ実行される。なお、反応前測定処理に使用された反応容器１１ｂは、廃棄されるほか、洗浄後、再度分析処理に使用されてもよい。
【００９０】
次に、図１８を参照して、図１３に示す演算処理について説明する。図１８は、図１３に示す演算処理の処理手順を示すフローチャートである。図１８に示すように、分析部２４３は、分析対象の検体の反応前測定処理での反応前測光値を取得する（ステップＳ２６０）。この反応前測光値は、同一の検体に対して反応後測定処理における反応容器１１ｂとは異なる反応容器１１ａに対して行なわれたものをレファレンスとして用いる。次いで、分析部２４３は、この検体の反応後測定処理での反応後測光値を取得する（ステップＳ２６２）。そして、分析部２４３は、取得した反応前測光値と反応後測光値との差分値を演算する（ステップＳ２６４）。分析装置２０１においては、分析装置１と同様に、分析部２４３が反応前測光値と反応後測光値との差分値を演算することによって、抗原５０と結合し複合体５３を構成する金粒子５２によるラマン散乱光の強度を間接的に取得している。そして、分析部２４３は、この抗原５０と結合し複合体５３を構成する金粒子５２によるラマン散乱光の強度に相当する差分値をもとに、この差分値に対応した分析値を演算して（ステップＳ２６６）、制御部２４１に演算結果を出力する。次いで、分析部２４３は、指示された全回数の演算処理を終了したか否かを判断する（ステップＳ２６８）。分析部２４３は、指示された全回数の演算処理を終了していないと判断した場合には（ステップＳ２６８：Ｎｏ）、ステップＳ２６０に戻り、再度、処理対象の検体に対応する反応前測光値の取得を行う。これに対し、分析部２４３は、指示された全階数の演算処理を終了したと判断した場合には（ステップＳ２６８：Ｙｅｓ）、演算処理を終了する。
【００９１】
このように、分析装置２０１においては、実施の形態１と同様に、磁性粒子５１、複合体５３の磁性粒子を反応容器１１から除去し、金粒子５２へのレーザ光の到達が阻害されることのない状態で、分注された金粒子５２の全量に相当するラマン散乱光と、分析対象物と結合しなかった金粒子５２のラマン散乱光とを正確に測定することができる。したがって、分析装置２０１は、反応前の金粒子５２の全量に相当するラマン散乱光の強度と、反応後であって分析対象物と結合しなかった標識物質によるラマン散乱光の強度との差分値を求めることによって、複合体５３そのもののラマン散乱光の強度についても正確な値を取得することができ、格段に分析精度を向上させることができる。
【００９２】
また、分析装置２０１では、反応容器１１の液体内に直接集磁棒２２８ａを挿入して磁性粒子５１の集磁を行うため、反応容器１１内の磁性粒子５１、複合体５３の磁性粒子を効率よく集磁することができる。したがって、分析装置２０１では、実施の形態１と同様に、従来よりも確実に分析処理全体の処理時間を短縮が可能になり、単位時間あたりの検体処理数を高めて分析処理の処理能力を向上させることができる。
【００９３】
さらに、分析装置２０１では、同一の検体に対して複数回分析処理を指示された場合には、反応前測光処理はレファレンスとして一度行えば足りる。このため、分析装置２０１では、各分析処理ごとに反応前測光処理および反応後測光処理の双方の処理を行う必要はない。言い換えると、分析装置２０１では、同一の検体に対して複数回分析処理を指示された場合には、反応前測光処理を１回行なって反応後測光値を取得すれば、この検体に対する以降の処理については反応後測光値を取るだけで足りる。したがって、分析装置２０１では、一つの分析結果を得るために必ずしも２度の測光処理を行なう必要がないことから、この検体に対しての全処理時間自体を短縮できる。
【００９４】
なお、実施の形態２では、実施の形態１と同様に、分析部２４３は、反応前測光値と反応後測光値との差分値を演算することによって、複合体の標識物質のラマン散乱光の強度を取得したが、反応前測光値と反応後測光値との比を演算することによって、複合体の標識物質のラマン散乱光の相対強度を取得して、検体中の分析対象物濃度を検出してもよい。
【００９５】
この場合、図１９のフローチャートに示すように、分析部２４３は、図１８に示すステップＳ２６０およびステップＳ２６２と同様に、反応前測光値を取得し（ステップＳ２６０）、反応後測光値を取得する（ステップＳ３６２）。そして、分析部２４３は、反応前測光値と反応後測光値との比を演算し（ステップＳ３６４）、この演算した比に対する分析値を演算して（ステップＳ３６６）、制御部４１に演算結果を出力する。次いで、分析部２４３は、指示された全回数の演算処理を終了したか否かを判断する（ステップＳ３６８）。分析部２４３は、指示された全回数の演算処理を終了していないと判断した場合には（ステップＳ３６８：Ｎｏ）、ステップＳ３６０に戻り、再度、処理対象の検体に対応する反応前測光値の取得を行う。これに対し、分析部２４３は、指示された全階数の演算処理を終了したと判断した場合には（ステップＳ３６８：Ｙｅｓ）、演算処理を終了する。
【００９６】
また、分析装置１，２０１においては、予め、標識試薬の反応容器１１内における濃度を変えた反応前測定処理をそれぞれ行ない、各標識試薬の濃度に対する各反応前測光値を取得し、標識試薬の濃度と反応前測光値との関係を示す検量線を作成することによって、反応前測定処理を省略することも可能である。この場合、分析部２４３は、反応前測光値として、検量線から標識試薬の反応容器１１内における濃度に対応する測光値を取得して演算処理を行なえばよい。
【００９７】
また、分析装置１，２０１においては、磁性試薬の次に標識試薬を分注した場合を例に説明したが、試薬分注順によって複合体生成反応に差はないため、標識試薬の次に磁性試薬を分注してもよい。また、分析装置１，２０１の装置レイアウトは一例であり、このレイアウトによって分注順序が拘束されるものではない。
【００９８】
また、分析装置１，２０１においては、ラマンピークがそれぞれ異なる複数種の標識物質を含む標識試薬を使用して一連の分析処理を行なうことによって、複数項目の分析結果を取得することも可能である。
【符号の説明】
【００９９】
１，２０１  分析装置
２，２０２  測定機構
４，２０４  制御機構
１０  反応テーブル
１１，１１ａ，１１ｂ  反応容器
１９  検体移送部
１９ａ  検体容器
１９ｂ  検体ラック
２０  検体分注部
２１  磁性試薬庫
２２  磁性試薬分注部
２３，２６  プローブ洗浄部
２４  標識試薬庫
２５  標識試薬分注部
２７  攪拌部
３０  測光部
４１，２４１  制御部
４２  入力部
４３，２４３  分析部
４４  記憶部
４５  出力部
５０  抗原
５１  磁性粒子
５２  金粒子
５３  複合体
５５  夾雑物
２２８  集磁棒移送部
２２８ａ  集磁棒
２２９  集磁棒洗浄部
【図１】
2011158334.tif 000005
【図２】
2011158334.tif 000006
【図３】
2011158334.tif 000007
【図４】
2011158334.tif 000008
【図５】
2011158334.tif 000009
【図６】
2011158334.tif 000010
【図７】
2011158334.tif 000011
【図８】
2011158334.tif 000012
【図９】
2011158334.tif 000013
【図１０】
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【図１１】
2011158334.tif 000015
【図１２】
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【図１３】
2011158334.tif 000017
【図１４】
2011158334.tif 000018
【図１５】
2011158334.tif 000019
【図１６】
2011158334.tif 000020
【図１７】
2011158334.tif 000021
【図１８】
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【図１９】
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