(57)【要約】【課題】高精度に最適記録パワーを設定できる記録パワー調節方法、情報記録方法及び光情報記録媒体を提案する。【解決手段】複数種類の記録パワーPw,m（mは整数）を用いて試し書きを行い、各記録パワーPw,mに対応した変調度M,mを算出する。予め媒体毎に決定されている参考漸近パワーPasy-ref及び参考記録開始パワーPws-refを用いて所定の演算を行うことで、最適漸近パワーPasy-optを算出。最適漸近パワーPasy-optを用いて評価値S,m=M,m×（Pw,m-Pasy-opt）を算出。記録パワーPw,mと評価値S,mの関係を直線近似したときに、評価値Sがゼロとなる記録パワーPwを最適記録開始パワーPws-optとして算出。最適記録開始パワーPws-optに所定の演算を行うことによって最適記録パワーPw-optを求める。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数種類の記録パワーPw,mと試し書きした信号の信号振幅から求めた変調度M,mの関係を、パラメータとして飽和変調度Msat及び記録開始パワーPws及び漸近パワーPasyを持つ変調度特性式M,m=Msat(1-(Pws-Pasy)/(Pw,m-Pasy))でフィッティングし、誤差の指標の値を求めるステップと、
さらに、前記誤差の指標の値と予め決められた所定の値を用いて、前記記録パワーと前記変調度の関係が、記録パワー調整に適切であるかを評価するステップを有し、
前記フィッティングは、前記記録パワーPw,mと評価値M,m×(Pw,m - Pasy)の関係と、その近似直線とを用いて、誤差が最も小さくなる最適漸近パワーPasy-optを算出してからPws-opt，Msat-optを算出することにより行われる、
ことを特徴とする評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録パワーを調整するパワー調整方法が適切かどうかを評価する評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、光情報記録媒体である光ディスクとして、ＣＤ（Compact Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＢＤ（Blu-ray Disc）などが商品化され、普及している。これら光ディスクには再生専用型であるＲＯＭ（Read Only Memory）型、追記型であるＲ（Recordable）型、書き換え型であるＲＥ（Rewritable）型等、様々な種類がある。光ディスクにおける情報の記録再生は、光情報記録装置である光ディスクドライブが光ディスクに対してレーザ光を照射することによって行われる。情報の記録は、レーザ光の照射パワーを変化させ、光ディスクのデータ層に光学特性が変化したマークを形成することで行う。情報の再生は、光ディスクのデータ層にマークが形成されるよりも低いパワーのレーザ光を照射し、照射位置毎の反射光量の違いを検出することで行う。
【０００３】
ここで、情報の記録の際に用いる最適記録パワーは光ディスクの種別や光ディスク作製メーカーに応じて異なっており、ドライブは光ディスクの種類に応じて最適記録パワーを設定する必要がある。しかし、同じ種類の光ディスクであっても、作製ばらつきによって光ディスク毎に最適記録パワーが異なり、同じ記録パワーでは最適な記録が実現できない場合がある。また、同じ光ディスクを用いた場合にも、ドライブのパワーのばらつきによって、同じ設定パワーでは最適な記録が実現できない場合がある。そこで、各ドライブは光ディスクの記録に先立ち、所定の領域に試し書きを行い、当該光ディスクに応じた最適な記録パワーを調整する構成を備えている。
【０００４】
試し書きを用いた記録パワーの調整方法として、例えばＢＤ−ＲＥでは記録パワーと変調度の関係を用いた方法が提案されており、これはＢＤ−ＲＥの規格書である非特許文献１に開示されている。
【０００５】
この方法では、記録パワーPwと変調度Mの関係と、予め決められたパラメータである指定記録パワーPind，係数目標値κ，係数ρ等を用いて最適記録パワーPw-optの算出を行う。これらのパラメータは光ディスクの管理領域に予め記録されている。まず、指定記録パワーPind付近の複数種類の記録パワーPw,m（mは整数）を用いて光ディスクの所定の領域に所定の信号を記録し、記録した信号を再生することで、再生信号の振幅を上部包括レベルで割った値である変調度M,mを記録パワーPw,mと対応付けて取得する。次いで、Pw,mを中心とする所定のパワー範囲に対して評価値M,m×Pw,mと記録パワーPw,mの関係を直線近似し、評価値M×Pwがゼロとなる場合の記録パワーPwの値を記録パワー閾値Pthr,mとして算出する。算出したPthr,mに係数目標値κを乗算した目標記録パワーPtarget,m=κ×Pthr,mと記録パワーPw,mの関係において、Ptarget =Pwを満たす記録パワーPwを最適目標記録パワーPtarget-optとして決定し、最適目標記録パワーPtarget-optに係数ρを乗算した値を最適記録パワーPw-optとして決定する。
【０００６】
以上の方法により、各ドライブは各光ディスクに対して最適記録パワーを設定することが可能であり、最適な記録を実現できる。ここで、非特許文献１記載の以上の記録パワー調整は係数目標値κを用いて実施される方式であることから、以降ではこの記録パワー調整方法をκ方式と呼ぶこととする。
【０００７】
また、記録パワーと変調度の関係を用いた記録パワー調整方法で、上記とは異なる方法が特許文献１で開示されている。
【０００８】
この方法では、予め決められたパラメータである最適記録パワーPw-optと記録パワー閾値Pthとの比α=Pw-opt/Pthを用いて最適記録パワーPw-optの算出を行う。まず、複数種類の記録パワーPw,m（mは整数）を用いて光ディスクの所定の領域に所定の信号を記録し、記録した信号を再生することで各記録パワーPw,mに対応した変調度M,mを取得する。次いで、複数種類の記録パワー補正値Pc,n（nは整数）を設定し、評価値M,m×(Pw,m-Pc,n)と補正記録パワー(Pw,m-Pc,n)の関係が最も直線に近くなるPc,nを最適記録パワー補正値Pc-optと決定する。評価値M,m×(Pw,m-Pc-opt)と補正記録パワー(Pw,m-Pc-opt)の関係を直線近似した時に、評価値M×(Pw-Pc-opt)がゼロとなる場合の補正記録パワー(Pw-Pc-opt)の値を補正記録パワー閾値Pth’と算出し、算出したPth’を用いて記録パワー閾値Pth=Pth’+Pc-optを算出、算出したPthに係数αを乗算することで最適記録パワーPw-opt=α×Pthを決定する。
【０００９】
この方法を用いた場合、評価値M×Pwと記録パワーPwの関係が曲線である光ディスクや、光ディスクの状態や再生条件によって変調度が一様に変化（全ての測定点で一様に倍率変化）する媒体に対して、高精度に最適再生パワーを設定することが可能であり、最適な記録を実現できる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開2007-334922号公報
【非特許文献】
【００１１】
【非特許文献１】System Description Blu-ray Disc Rewritable Format, Part 1, Basic Format Specifications, Version 1.02
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、光ディスクによっては試し書きにおける記録パワーと変調度の関係が乱雑に変動（個々の測定点で無相関に変動）し、上述した記録パワー調整方法で最適な記録パワーを決定できない場合がある。
【００１３】
一例として、2層以上のデータ層を持つ多層光ディスクの場合について述べる。多層光ディスクでは複数のデータ層が体積方向に積層しており、各層の記録再生は照射光の焦点を各層に合わせることで行う。このとき、入射光は当該層以外の他層にも照射されるため、他層の状態、例えば未記録と記録といった状態の違いが記録再生に影響することとなる。特許文献１の図５にはデータ層が2層の多層光ディスクにおいて、他層が未記録状態と記録状態で変調度が一様に変化（倍率で変化）する例が示してある。この変調度の変動に対しては、特許文献１記載の記録パワー調整方法を用いることで、高精度に記録パワーの決定が可能であると述べられている。しかし、多層光ディスクにおける記録パワーと変調度の変動は特許文献１の図５記載の変動だけに限られるものではない。
【００１４】
例えば、他層に未記録状態と記録状態の領域が混じっている場合を考える。このとき、他層を透過して当該層に照射される光の実効的なパワーは、他層の影響を受けて変化する。これにより、記録時の実効パワーは記録位置に依存して変化することとなる。また、再生時に検出される反射光は他層を反射，透過した光の重ね合わせであるため、他層の影響を受けることとなる。これにより、再生時の反射光に関しても、再生位置に依存して変化することとなる。従って、記録パワー調整における試し書きの領域で他層の状態が均一でない場合、試し書きによって得られる記録パワーと変調度の関係は、変調度が乱雑に変化（個々の測定点で無相関に変化）したものとなる。図１は、データ層を4層持つ多層光ディスクにおいて、他層が全て未記録状態の場合と、未記録状態と記録状態の領域が混じった場合で、記録パワーと変調度の関係、つまり変調度特性を測定した結果の一例である。他層に未記録と記録状態が混じった場合では、他層が全て未記録状態の場合に比べ、各記録パワーでの変調度が乱雑に変化しており、全て未記録状態の場合とは異なる変調度特性を示している。
【００１５】
この変動は、記録パワー調整における最適記録パワーの算出精度に影響する。図１の結果を基に、κ方式の記録パワー調整を実行した際に得られる、記録パワーPw,mと目標記録パワーPtarget,mの関係を図２に示す。図２のプロットとPtarget=Pwの交点が最適記録パワーの算出に用いられる最適目標記録パワーPtarget-optであるが、他層の全て未記録状態の場合に対し未記録と記録状態が混じった場合では異なるPtarget-optが算出されており、正確な最適記録パワーが決定できないことが分かる。図１と同じ光ディスクを用い、試し書き領域の他層に未記録と記録が混じった状態で、κ方式の記録パワー調整方法を100回実行し、それぞれで算出される最適記録パワーと真の最適記録パワーとの算出誤差を求めた結果を図３に示す。算出誤差0%の正確に記録パワー調整が実現できている頻度は少なく、最悪で-10%まで分布していることから、図１の変動に対してκ方式の記録パワー調整方法は十分な記録パワー調整が実現できないことが分かる。この原因は、κ方式の記録パワー調整方法は試し書きによって得られる変調度特性の微分値を用いて最適記録パワーを算出するため、局所的な変動に対して誤差を生じ易いためである。
【００１６】
上述と同様に、図１の光ディスクを用い、試し書き領域の他層に未記録と記録が混じった状態で、特許文献１記載の記録パワー調整方法を100回実行した結果得られる最適記録パワーと真の最適記録パワーとの算出誤差を求めた結果を図４に示す。図３に比べて図４の分布は狭くなっているが、算出誤差は最大で±4%まで分布しており、十分な記録パワー調整が実現できていないことが分かる。この原因は、特許文献１記載の記録パワー調整方法ではPcの最適値の決定において制限が無いため、変調度の変動によって変調度特性が変化した場合、その変動が正しいものとして最適記録パワーを算出してしまうところにある。
【００１７】
ここで、図１に代表される変動は各測定点の光ディスク上での位置に関係しており、個々の測定点で相関が無いことから、図１の影響を除去する単純な方法としては記録パワー調整を行う範囲において測定点を十分に増やす方法が考えられる。しかし、実際の光ディスク上の試し書き領域は有限であり、一回の記録パワー調整で試し書きに多大な量を使用すると、後に行われる記録パワー調整が実行できないこととなる。従って、現状と同程度の試し書きの量で高精度に記録パワー調整が実行できる方法が望まれる。
【００１８】
本発明は、上述した課題を解決し、高精度に最適記録パワーを決定可能な記録パワー調整方法、当該調整方法によって調整されたパワーで情報を記録する情報記録方法及び光情報記録媒体を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
上記課題を解決するために本発明の記録パワー調整では、複数種類の記録パワーPw,m（mは整数）を用いて所定の信号を記録し、記録した信号を再生することで各記録パワーPw,mに対応した変調度M,mを取得し、測定した記録パワーPw,mと変調度M,mの関係を次式(1)にてフィッティングし、式(1)におけるパラメータである飽和変調度Msat（Saturated modulation）及び記録開始パワーPws（Write Start power）及び漸近パワーPasy（Asymptotic power）の最適値を算出し、算出した最適記録開始パワーPws-optに所定の演算を行うことで最適記録パワーPw-optを決定する。
【００２０】
【数１】
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【００２１】
図５には測定される記録パワーPwと変調度Mの関係（変調度特性），フィッティングした結果の式(1)の関数，最適飽和変調度Msat-opt，最適漸近パワーPasy-opt，最適記録開始パワーPws-opt，及び最適記録パワーPw-optの関係の模式図を示す。ここで、飽和変調度Msatは式(1)における変調度の漸近値であり、測定された変調度特性から予想される変調度の飽和値である。また、漸近パワーPasyは式(1)における変調度±無限大での記録パワーの漸近値である。さらに、記録開始パワーPwsは式(1)において変調度がゼロとなる場合の記録パワー、つまり式(1)と記録パワー軸との交点であり、測定された変調度特性から予想される記録が始まるパワーである。このように、式(1)は変調度特性を飽和変調度Msat，記録開始パワーPws，漸近パワーPasyで特徴づけた関数で表したものである。
【００２２】
本発明の記録パワー調整方法では、この式(1)を用い測定された変調度特性を正確にフィッティングすることで、図１に示される測定点の変動を平均化するため、高精度な記録パワー調整を実現する。また、本記録パワー調整方法では最適記録開始パワーPws-optから最適記録パワーPw-optを算出している。このように、記録が開始されるパワーを正確に求め、そのパワーを基に最適パワーを決定することは、情報記録媒体に照射されるエネルギーを正確に算出していることに相当する。従って、本発明の記録パワー調整方法は最適記録開始パワーPws-optを正確に算出することによっても、高い精度の記録パワー調整を実現している。
【発明の効果】
【００２３】
本発明の記録パワー調整方法によれば、記録パワーと変調度の関係が乱雑に変動する光ディスクに対し、最適記録パワーの調整を高精度に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】多層光ディスクの試し書きにおいて、他層に未記録と記録状態の領域が混じっている場合、記録パワーPwと変調度Mの関係（変調度特性）が変動することを示す、一例の図である。
【図２】変調度特性が変動する場合、κ方式の記録パワー調整で算出される最適目標記録パワーに誤差が生じることを示す、一例の図。
【図３】変調度特性が変動する光ディスクにおいて、κ方式の記録パワー調整を100回実施したときの、算出される最適記録パワーの誤差と頻度の関係を示す、一例の図。
【図４】変調度特性が変動する光ディスクにおいて、特許文献１記載の記録パワー調整を100回実施したときの、算出される最適記録パワーの誤差と頻度の関係を示す、一例の図。
【図５】本発明の式(1)で変調度特性をフィッティングしたときの、式(1)の各パラメータを説明する、一例の図。
【図６】本発明の実施例に関わる光ディスク装置の要部構成を示す一例のブロック図。
【図７】本発明の実施例に関わる光ディスク装置の制御部を示す一例のブロック図。
【図８】変調度特性が変動する光ディスクにおいて、本発明の記録パワー調整を100回実施したときの、算出される最適記録パワーの誤差と頻度の関係を示す、一例の図。
【図９】本発明の記録パワー調整方法のうち、参考漸近パワーPasy-ref及び参考記録開始パワーPws-refを使用して測定された変調度特性から最適記録開始パワーPws-optを決定する手順を示すフローチャート。
【図１０】参考漸近パワーPasy-ref及び参考記録開始パワーPws-reを使用して最適記録パワーの算出を行う記録パワー調整方法において、計算ループ回数Nと算出される最適記録パワーの誤差の関係を示す、一例の図。
【図１１】変調度特性が変動する光ディスクにおいて、本発明の参考漸近パワーPasy-ref及び参考記録開始パワーPws-refを使用する記録パワー調整を100回行ったときの、算出される最適記録パワーの誤差と頻度の関係を示す、一例の図。
【図１２】本願の記録媒体の構成を示す図。
【図１３】参考漸近パワーPasy-ref及び参考記録開始パワーPws-refを使用して変調度特性を近似する手順をκ方式に適用した場合と、適用しない場合について、記録パワーPw,mと目標記録パワーPtarget-opt,mの関係を示す、一例の図。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
以下、本発明の実施例としての記録パワー調整方法を、図面を参照しながら説明する。
まず、本実施例では情報記録媒体として光ディスクを用い、情報記録再生装置として光ディスク装置を用い、それらの構成を説明した上で、情報記録再生装置である光ディスク装置における本実施例としての記録パワー調節方法を説明する。
【００２６】
ここで、実施例にて用いた光ディスクは図１で用いた4層の光ディスクであり、当該層以外の他層を記録することで、課題でも述べた図１に示す変調度特性の変動が起こる光ディスクである。各実施例における記録パワー調整は、光ディスクの他層に未記録と記録が混じっている状態で行った。つまり、各記録パワー調整における変調度特性は図１に示すように、他層が全て未記録の場合に対して変調度が変動したものとなっている。
【実施例】
【００２７】
[実施例１]  
図６には、本発明の実施例で使用する光ディスク装置の要部構成のブロック図を示す。
光ディスク１０はスピンドルモータ１２によりＣＬＶ（Constant Linear Velocity）制御あるいはＣＡＶ（Constant Angular Velocity）制御される。光ディスク１０に対向して光ピックアップ部１４が設けられ、レーザダイオード（ＬＤ）から記録パワーのレーザ光１６を射出することにより光ディスク１０に信号を記録し、ＬＤから再生パワーのレーザ光を射出することにより記録された信号を読み取る。さらに、光ディスク１０が書き換え可能な光ディスクである場合には、ＬＤから消去パワー（再生パワー＜消去パワー＜記録パワー）のレーザ光を射出して記録された信号を消去する。記録された信号は、記録パワーのレーザ光により光ディスク１０の記録膜の材料を不可逆変化させてピットを形成する場合と、結晶状態にある記録膜を加熱急冷してアモルファス状態に変化させることで信号を記録する場合がある。本実施例においては、いずれの記録方法も用いることが可能である。後者の場合において、消去は消去パワーを照射してアモルファス状態を結晶状態に戻すことで行う。
【００２８】
信号を記録する場合、記録信号はエンコーダ１８にてエンコードされ、ＬＤ駆動部２０に供給される。ＬＤ駆動部２０は、エンコードされた記録信号に基づき駆動信号を生成し、光ピックアップ部１４内のＬＤに供給して信号を記録する。ＬＤ駆動部２０における記録パワー値は制御部２２からの制御信号により決定される。制御部２２は、信号を記録するに先立ち、光ディスク１０の試し書き領域において複数種類の記録パワーを用いて試し書きを行い、かかる試し書きの信号品質に基づいて最適記録パワーを決定する。
【００２９】
一方、データ再生時には、光ピックアップ部１４から出力されたＲＦ信号はＲＦ信号処理部２４に供給される。ＲＦ信号処理部２４は、ＲＦアンプやイコライザ、二値化部、ＰＬＬ部等を有し、ＲＦ信号をこれらで処理してデコーダ２６に供給する。デコーダ２６では、二値化されたＲＦ信号とＰＬＬ部にて再生された同期クロックに基づき信号をデコードし再生データとして出力する。Henv,Lenv取得部２８は光ピックアップ部１４から出力された再生信号を増幅した後、再生信号の上部包括線（Henv）と下部包括線（Lenv）を算出し、信号品質評価用として制御部２２に供給する。また、ＲＦ信号取得系統であるＲＦ信号処理部２４からの再生ＲＦ信号も増幅された後、信号品質評価用として制御部２２に供給される。なお、データ記録再生時には、この他にトラッキングエラー信号やフォーカスエラー信号を生成してフォーカスサーボやトラッキングサーボを制御する回路、光ディスク１０に形成されたウォブル信号を再生してアドレス復調あるいは回転数制御に用いる回路もあるが、これらについては従来技術と同様であるのでその説明は省略する。
【００３０】
制御部２２は、ＲＦ信号処理部、若しくはHenv,Lenv取得部からの試し書きの再生信号品質に基づき最適記録パワーを決定する。すなわち、制御部２２は前記ＲＦ信号処理部、若しくはHenv,Lenv取得部からの信号に基づいて変調度Ｍを算出し、複数種類の記録パワーPw,mと対応する変調度M,mの関係を式(1)でフィッティングした際に得られる最適記録開始パワーPws-optに基づいて最適記録パワーPw-optを決定して、ＬＤ駆動部２０に供給する。
【００３１】
図７には、図６における制御部２２の構成ブロック図が示されている。
制御部２２は、具体的にはマイコンで構成され、その機能ブロックとしては変調度算出部、記録パワー調整部・決定部、記憶部及びパラメータ記憶部を有して構成される。変調度算出部、記録パワー調整部及び決定部は具体的には単一のＣＰＵで構成することができ、記憶部、パラメータ記憶部はＲＡＭで構成することができる。
【００３２】
制御部２２には、図示しないインターフェースを介してＲＦ信号処理部、若しくはHenv,Lenv取得部からの信号が供給され、変調度算出部に入力される。変調度算出部は、前記供給された信号から変調度Ｍを算出する。記録パワー調整において、算出された変調度M,mは各記録パワーPw,mに対応づけて記憶部に記憶される。最適記録パワー決定部は、記憶された変調度特性である記録パワーPw,mと変調度M,mの関係を式(1)でフィッティングした際に得られる最適記録開始パワーPws-optを決定し、この最適記録開始パワーPws-optを用いて所定の演算を行うことで最適記録パワーPw-optを決定する。
【００３３】
以下では上述した光ディスク装置を用いて記録パワー調整を行った結果について述べる。
【００３４】
まず、制御部２２は複数種類の記録パワーPw,mを所定の条件に従って設定、例えば、予め光記録再生装置に記憶させてある当該ディスクにおける平均最適記録パワーを読み出し、又は予め当該光ディスクの情報制御領域に記録してある平均最適記録パワーを再生して読み出し、その平均最適記録パワーを基にして複数種類の記録パワーPw,mを設定した。設定したPw,mを用いて光ディスクの所定の領域、例えば、光ディスクの試し書き領域に所定のパターンの信号、例えば、光ディスクに使用される最長信号のマークとスペースの繰り返しパターンを記録した。
【００３５】
各Pw,mで記録した信号を再生することで再生信号振幅の上部包括線（Henv,m）及び下部包括線（Lenv,m）を測定し、M,m=(Henv,m-Lenv,m)/Henv,mの演算を行うことで各記録パワーPw,mに対応した変調度M,mを算出した。算出した変調度M,mは記録パワーPw,mと対応づけて図７の記憶部に記憶される。
【００３６】
次いで、図７の記録パワー調整部にて測定した記録パワーPw,mと変調度M,mの関係を式(1)にてフィッティングし、式(1)におけるパラメータの最適値Msat-opt,Pws-opt,Pasy-optが決定した。フィッティングは、例えば、式(1)のパラメータMsat，Pws，Pasyを独立に変化させ、式(1)と測定点（Pw,m，M,m）との誤差が最小となるように、例えば、最小二乗法を用いてパラメータの最適値Msat-opt，Pws-opt，Pasy-optを決定した。
【００３７】
次に、光ディスク装置は予め光ディスク装置の記憶部に記憶してある当該光ディスクの最適記録開始パワーPws-optと最適記録パワーPw-optの比τ=Pw-opt/Pws-optを読み出して取得し、又は予め光ディスクの管理領域に記憶してある当該光ディスクの最適記録開始パワーPws-optと最適記録パワーPw-optの比τ=Pw-opt/Pws-optを読み出して取得し、最適記録パワーPw-optをPw-opt=τ×Pws-optと算出した。
【００３８】
上記記録パワー調整方法を用いて100回記録パワー調整を行った際の最適記録パワーPw-optの算出精度を図８に示す。図３，４に比べ算出誤差が小さくなっており、算出誤差0%においてもっとも頻度が高くなっていることから、本発明の記録パワー調整を用いることで、図１の変調度特性の変動を抑制でき、正確に記録パワー調整を実行できることが確認できる。本発明の記録パワー調整方法では測定された変調度特性を式(1)でフィッティングすることによって、図１に示される各測定点の変動は、記録パワー調整に用いられる全ての測定点で平均化される。これは、試し書きの測定点の量を増やさずに、現状の測定点のみで十分に乱雑な変動を平均化できていることを示している。以上から本発明の記録パワー調整方法は、測定点の位置に依存した実効的な記録パワーの変動や再生時の変調度の変動の影響を低減でき、高い精度の記録パワー調整を実現できる。
【００３９】
ここで利用する当該光ディスクの最適記録パワーPw-optと最適記録開始パワーPws-optとの比であるτ(=Pw-opt/Pws-opt)は、光ディスク等の情報記録媒体固有の値であって、例えば光ディスクの種別ごとに決められる値である。τは、ディスクの製造時、例えば基板を作製する際に、予めディスクに記録されていれば良い。例えば、ＢＤの場合においては、ディスク固有の値であるκ値は、ディスク製造時にアドレス情報などと一緒にウォブルに格納されているので、このτに関しても、同様にディスクに記録されていればよい。もしもディスクが有する情報の中にこのτが記録されていない場合には、関連する情報からτを算出しても良いし、τが光ディスクの種別ごとに決められる値であることを考慮して、考え得る（存在し得る）光ディスクの種別に対応したτの値を予測して光ディスク装置がそのデータを有していれば、光ディスクの種別によって光ディスク装置がτを決めても良い。
【００４０】
以上、制御部２２で記録パワー調整は終了し、決定された最適記録パワーPoptを用いて当該記録ディスクへの記録を行うことで、適切に記録ができることを確認した。
【００４１】
[実施例２]
本実施例では実施例１における複数種類の記録パワーPw,mの設定方法を変更した場合について述べる。変更していない部分に関しては実施例１と同様であるため、本実施例では省略する。
【００４２】
複数種類の記録パワーPw,mの設定は、例えば、光ディスクの管理領域に記録されている及び/又は光ディスク装置の記憶部に記憶されている試し書きの記録パワーを設定するための範囲を予め読み出すことで行われる。また、例えば、κ方式の記録パワー調整方法で用いられる指定記録パワーPindを読み出して、κ方式と同様に試し書きの記録パワーPw,mを設定することでも行うことが可能である。
【００４３】
いずれの場合でも記録パワーPw,mは適切に設定されるため、実施例１と同様に記録パワー調整を実施することが可能である。
【００４４】
[実施例３]
本実施例では実施例１における記録パワーPw,mを用いて記録される信号を変更した場合について述べる。変更していない部分に関しては実施例１と同様であるため、本実施例では省略する。
【００４５】
記録パワーPw,mを用いて記録する信号には、例えば、当該光ディスクにおける変調符号のランダムパターンや、孤立信号パターンを用いることが可能である。また、当該光ディスクにおける変調符号の最長信号よりも長い信号を含んだパターンを用いることも可能である。このパターンは、ユーザデータ領域で用いられる最長符号よりも長いものであり、例えばＢＤでは１−７変調が用いられているため、１−７変調規則を破る９T連続パターンなどが該当する。いずれの場合も全ての記録パワーPw,mにおいて同じパターンの信号であれば当該媒体における変調度特性を取得することができるため、実施例１と同様な記録パワー調整が可能である。
【００４６】
ここで、当該光ディスクにおける変調符号の最長信号よりも長い信号を含むパターンを用いた場合、記録パワー調整の精度が向上することがある。これは、最長信号のマークやスペースレベルが飽和レベルとならない信号を用いるディスクの場合、最長信号よりも長い信号を用いて試し書きを行うことで、記録パワー調整に使用する変調度のデータに対する信頼性が高くなるためである。
【００４７】
[実施例４]
本実施例では、実施例１における測定された変調度特性のフィッティング方法を変更した場合について述べる。変更していない部分に関しては実施例１と同様であるため、本実施例では省略する。
【００４８】
本実施例では、予め媒体毎に決められている参考漸近パワーPasy-refと参考記録開始パワーPws-refを光ディスクの管理領域及び／又は光ディスク装置の記憶部から予め取得し、取得した情報を基に測定された変調度特性を式(1)でフィッティングしてパラメータの最適値Msat-opt，Pws-opt，Pasy-optを決定した。
【００４９】
予め媒体毎に決められている参考漸近パワーPasy-ref及び参考記録開始パワーPws-refは、当該光ディスクの固有のパラメータであり、これらは以下の方法で予め決定してある。
【００５０】
参考とする当該光ディスクの状態、例えば、多層光ディスクにおいて他層すべてが未記録の状態において、記録パワー調整を実施する記録パワーの範囲で試し書きを行い、参考変調度特性を取得する。取得した参考変調度特性を式(1)でフィッティング、例えば、式(1)のパラメータMsat，Pws，Pasyを独立に変更して参考変調度特性と式(1)との誤差が最小となるように、例えば、最小二乗法を用いてパラメータの最適値Msat-opt，Pws-opt，Pasy-optを決定し、決定した最適記録開始パワーPws-optを参考記録開始パワーPws-ref、最適漸近パワーPasy-optを参考漸近パワーPws-refと決定した。
【００５１】
続いて、参考漸近パワーPasy-refと参考記録開始パワーPws-refを用いて測定された変調度特性を式(1)でフィッティングしてパラメータの最適値Msat-opt，Pws-opt，Pasy-optを決定する方法を、図９のフローを用いて説明する。
【００５２】
測定された変調度特性の測定点（Pw,m，M,m）に対して、まずS901で、参考漸近パワーPasy-refを用いて第1評価値S,m,1=M,m×(Pw,m-Pasy-ref)を算出した。次にS902にて、記録パワーPw,mと第1評価値S,m,1の関係を直線近似したときに第1評価値S,1がゼロとなる記録パワーPwを第1記録開始パワーPws,1と算出した。次いで、S903にて、算出した第1記録開始パワーPws,1と参考記録開始パワーPws-refを用いて、第2漸近パワーPasy,2をPasy,2=Pasy-ref×Pws,1/Pws-refと算出した。本フィッティング方式では、S901-S902-S903の計算ループを所定の回数N回（N≧1）繰り返すことでフィッティング精度が向上し、高精度に最適記録パワーPw-optが算出される。
【００５３】
図１０には計算ループの繰り返し回数と最適記録パワーの算出誤差の関係を示す。図中には参考変調度特性に対する記録パワー調整において測定された変調度特性の記録パワーPw方向の変動量が0.6倍から1.4倍の場合について示してある。計算ループ0回で最も算出誤差の大きい0.6倍のパワー変動に対しても計算ループ２回で算出誤差は1％以下となることから、本実施例では計算ループ回数を2回とした。計算ループを2回行った後、S902にて第3記録開始パワーPws,3算出し、S904にて第3記録開始パワーPws,3を最適記録開始パワーPws-optと決定した。
【００５４】
ここで、算出される第４漸近パワーPasy,4は最適漸近パワーPasy-optである。また、飽和変調度Msatについては触れていないが、第３記録開始パワーPws,3決定時の記録パワーPw,mと第３評価値S,m,3の関係の直線近似における傾きがMsatに相当し、直線近似に際に最適化されており、必要であればここから算出することが可能である。以上により、測定した変調度特性のフィッティング及び式(1)のパラメータの最適値の決定が行われる。
【００５５】
以上の手順では、第n漸近パワーPasy,nを用い、記録パワーと評価値を直線近似した結果から第n記録開始パワーPws,nを算出し、第n+1漸近パワーPasy,n+1をPasy,n+1=Pasy-ref×Pws,n/Pws-refと算出している。この式を変形するとPasy,n+1/ Pws,n=Pasy-ref /Pws-refであることから、漸近パワーPasyの算出を繰り返すことは参考変調度特性におけるPasy-refとPws-refの比に漸近パワーPasyと記録開始パワーPwsが近づくようにパラメータを補正していることに相当する。従って、この方法では、試し書きによって取得された変調度特性が参考変調度特性と同じ曲線形状をしていることを利用し、漸近パワーPasyを補正しながら記録開始パワーPwsと漸近パワーPasyの比が参考記録開始パワーPws-refと参考漸近パワーPasy-refの比と一致するようにフィッティングしていることに相当する。従って、パラメータの補正を十分繰り返した後には、パラメータMsat，Pasy，Pwsは最適に収束している。このように、フィッティングの際に予め関数形状に制約を加えることで、誤った形状の関数でフィッティングし、誤った最適記録パワーを算出することが防止できる。また、この方法では式(1)のパラメータMsat，Pws，Pasyを振って、最適値を探す動作が含まれず、同じ動作の繰り返しでよいため、簡素な構成で高精度な記録パワー調整が実行できる方法となっている。
【００５６】
本実施例の記録パワー調整方法を用いて100回記録パワー調整を行った際の最適記録パワーPw-optの算出精度を図１１に示す。図８に比べ、さらに算出誤差が小さくなっていることから、本実施例の記録パワー調整方法では当該光ディスクの変調度特性の特徴を予め固定してフィッティングをすることで、図８に使用した手順よりもさらに高精度に最適記録パワーを算出できていることが確認できる。
【００５７】
[実施例５]
本実施例では、実施例１における測定された変調度特性のフィッティング方法を変更した場合について述べる。本実施例で用いたフィッティング方法は実施例４とは異なる方法である。変更していない部分に関しては実施例１と同様であるため、本実施例では省略する。
【００５８】
本実施例では、予め媒体毎に決められている最適漸近パワーPasy-optと最適記録開始パワーPws-optの比ν=Pws-opt/Pasy-optを光ディスクの管理領域及び／又は光ディスク装置の記憶部から予め取得し、取得した情報を基に測定された変調度特性を式(1)でフィッティングしてパラメータの最適値Msat-opt，Pws-opt，Pasy-optを決定した。
【００５９】
予め媒体毎に決められている比νは当該光ディスクの固有のパラメータであるため、実施例４における当該光ディスクの固有のパラメータの算出と同様に、当該光ディスクの参考変調度特性を用いて算出される最適漸近パワーPasy-optと最適記録開始パワーPws-optの比ν=Pws-opt/Pasy-optとして決定した。
【００６０】
続いて、PwsとPasyの比νを用いて測定された変調度特性を式(1)でフィッティングし、パラメータの最適値Msat-opt，Pws-opt，Pasy-optの決定方法を以下に説明する。
【００６１】
測定した変調度特性の各測定点（Pw,m，M,m）を式(1)に代入し、このときνを用いてPwsを消すと次式(2)が得られる。
【００６２】
【数２】
2011014230.tif 000004
【００６３】
右辺Msatは一定であるため、式(2)の左辺が最も一定に近くなるようにPasyを決定すれば、決定したPasyが最適漸近パワーPasy-opt、そのときの右辺の平均値が最適飽和変調度Msat-opt、ν×Pasy-optが最適記録開始パワーPws-optと決定される。この方法を用いてPws-optを決定したところ、記録パワー調整100回に対する算出誤差は、実施例４と同様に小さく、高精度な記録パワー調整が実行できていることが確認できた。
【００６４】
このように、本記録パワー調整方法ではPwsとPasyの比νを一定としていることから、先の記録パワー調整方法と同様に測定した変調度特性と参考変調度特性の曲線形状が同じであるとしてフィッティングを行っている。これにより、実施例４の記録パワー調整方法と同様に、誤った関数でフィッティングすることを防止し、図１に示される変調度変動に対して高い精度の記録パワー調整が実現される。また、PwsとPasyの比νを与えてフィッティングすることで式(1)の3つのパラメータを2つに減らしており、さらに式(2)の形で左辺が一定になるようにPasyを検索することができるので、この方法は1パラメータについて最適値を検索すればよく、簡素構成で高精度な記録パワー調整を実行できる方法となっている。
【００６５】
[実施例６]
本実施例では、実施例４，５におけるフィッティングに用いる媒体固有のパラメータ、例えば、Pws-ref，Pasy-ref，νの値の決定方法を変更した場合について述べる。変更していない部分に関しては実施例４，５と同様であるため、本実施例では省略する。
【００６６】
参考変調度特性の測定点（Pw,m，M,m）に対して、漸近パワーPasyを変数とした評価値M,m×(Pw,m - Pasy)を考え、記録パワーPw,mと評価値の関係と近似直線との誤差が最も小さくなるPasyを算出、例えば、二乗誤差和が最も小さくなるPasyを算出し、算出したPasyを最適漸近パワーPasy-optと決定した。次いで、Pasy-optを用いた評価値M,m×(Pw,m−Pasy-opt)と記録パワーPw,mを直線近似した時の、評価値がゼロとなる記録パワーPwの値を最適記録開始パワーPws-optと決定した。
【００６７】
この方法を用いて決定した媒体固有のパラメータの値は実施例４，５における値と同じであるため、実施例４，５と同様に、記録パワー調整におけるフィッティングに用いるパラメータを適切に与えることができる。
【００６８】
[実施例７]
本実施例では、実施例４，５の媒体固有のパラメータを決定する際に使用する参考とする当該光ディスクの状態を変更した場合について述べる。変更していない部分に関しては実施例４，５と同様であるため、本実施例では省略する。
【００６９】
本実施例では、他層に未記録と記録が混じった状態を参考とする光ディスクの状態とし、媒体固有のパラメータの値を決定した。本実施例で参考とする光ディスクの状態において参考変調度特性を取得し、実施例４，５と同様に参考変調度特性をフィッティングすることでパラメータの値を算出したところ、実施例４におけるPws-refとPasy-refは異なった値となったが、実施例５におけるνは同じ値が算出された。これは、νがPws-refとPasy-refとの比であり、媒体固有の変調度特性の曲線形状を決定するパラメータはνに代表される変調度特性上の決められた２点の記録パワー比であり、この比は同一媒体であれば参考変調度特性が変化しても一定であることを示している。
【００７０】
算出されたPws-refとPasy-ref及びνを用い、実施例４，５のフィッティング方法を用いて記録パワー調整を行ったところ、実施例４，５と同様な結果が得られた。ここから、参考変調度特性を変更して媒体固有のパラメータを算出した際も、記録パワー調整は正確に実施できることがわかる。
【００７１】
[実施例８]
本実施例では、実施例１における最適記録開始パワーPws-optから最適記録パワーPw-optを算出する方法を変更した場合について述べる。変更していない部分に関しては実施例１と同様であるため、本実施例では省略する。
【００７２】
例えば、κ方式の記録パワー調整方法における係数ρ、及び最適目標記録パワーPtarget-optと最適記録開始パワーPws-optの比τ’を予め取得した場合、最適記録パワーPw-optはPw-opt=ρ×τ’×Pws-optと算出される。
【００７３】
また、例えば、参考記録開始パワーPws-refと参考最適記録パワーPw-opt-refを予め取得した場合、最適記録パワーPw-optはPw-opt=Pw-opt-ref/Pws-ref×Pws-optと算出される。
【００７４】
また、例えば、κ方式の記録パワー調整方法における係数ρ、及び指定記録パワーPindと参考記録開始パワーPws-refを予め取得した場合、最適記録パワーPw-optはPw-opt=ρ×Pind/Pws-ref×Pws-optと算出される。
【００７５】
上述したいずれの場合においても、最適記録開始パワーPws-optと最適記録パワーPw-optの比が、予め取得されるパラメータから換算できており、最適記録パワーPw-optを正確に算出できている。従って、Pws-optからPw-optの算出に用いられるパラメータは、Pws-optとPw-optの比を換算できるパラメータの組合せであればよいことが分かる。
【００７６】
[実施例９]
本実施例では、実施例１の記録パワー調整におけるフィッティング、及び実施例４，５の記録パワー調整におけるフィッティングで使用される媒体固有のパラメータの算出における、測定点と式(1)の誤差の指標を変更した場合について述べる。変更していない部分に関しては実施例１，４，５と同様であるため、本実施例では省略する。
【００７７】
最小二乗法で用いられる二乗誤差とは異なる誤差の指標として、式(1)と測定点との距離の和，標準誤差σ，相関係数r，決定係数R2などが挙げられる。これらを用いて、例えば、式(1)と測定点との距離の和が最小となるようにパラメータ最適値を決定してもよい。ここで、記録パワー軸と変調度軸を測定点のPw,m及びM,mの最大値で規格化し、式(1)と測定点との距離の和が最小となるように式(1)のパラメータMsat，Pws，Pasyの最適値を決定してもよい。また、例えば、式(1)と測定点の標準誤差σ及び/又は相関係数r及び/又は決定係数R2を用いて式(1)のパラメータの最適値を決定してもよい。ここで、決定係数R2は次式(3)で表され、1に最も近い場合にパラメータは最適値であると判断される。
【００７８】
【数３】
2011014230.tif 000005
ここで、nは測定点の数、M(Pw)は式(1)のPw,mにおけるMである。
【００７９】
いずれの指標を用いた場合も、同じ指標を使用する限りでは記録パワー調整の精度を劣化させることはない。従って、予め指標を決めておけば、誤差の評価にどの指標を用いてもよい。
【００８０】
[実施例１０]
本実施例では、実施例１，４，５における最適記録開始パワーPws-optを算出するためのフィッティングに、当該光ディスク固有のパラメータであるフィッティング残差Dを追加した場合について述べる。変更していない部分に関しては実施例１，４，５と同様であるため、本実施例では省略する。
【００８１】
フィッティング残差Dは当該光ディスクの変調度特性を式(1)でフィッティングした場合の、フィッティング精度を表す指標であり、光ディスクの管理領域に記録されている情報を再生することで及び/又は光ディスク装置の記憶部に記憶されている情報を読み出すことで予め取得される。ここで、取得されるフィッティング残差Dは、参考変調度特性を式(1)でフィッティングした場合の、参考変調度特性と式(1)の誤差であり、例えば、最小二乗法を用いてフィッティングした場合には、二乗誤差和の最小値である。これは、実施例４，５，６，１１における記録パワー調整前に予め取得される、当該光ディスク固有のパラメータを決定する際に、同時に求めておけばよい。ここから、フィッティング残差Dはフィッティング誤差の指標によって、例えば、二乗誤差和、式(1)と測定点の距離の和、標準偏差、相関係数、決定係数の場合がある。
【００８２】
フィッティング残差Dは、記録パワー調整のフィッティングにおいて、例えば、測定された変調度特性を式(1)でフィッティングした際の誤差と比較される。これにより、参考変調度特性と測定された変調度特性のフィッティング精度の比較が可能となり、フィッティングが適切に実行されているかを確認できる。
【００８３】
また、フィッティング残差Dを取得した時点で、当該光ディスクの変調度特性が式(1)でどの程度フィッティングできるかが判定できる。これにより、本発明の記録パワー調整方法が適用できない光ディスクを判定可能となる。
【００８４】
[実施例１１]
本実施例では、実施例１，８の最適記録開始パワーPws-optから最適記録パワーPw-optを算出する際に使用されるパラメータ、例えば、Pws-optとPw-optの比τや、Pws-optとPtarget-optの比τ’等を決定する方法について述べる。
【００８５】
これらパラメータは、実施例４，５の記録パワー調整においてフィッティングに用いられる媒体固有のパラメータPws-ref，Pasy-ref，νの決定方法と同様に、参考とする当該光ディスクの状態における参考変調度特性を、式(1)を用いてフィッティングすることで決定される。
【００８６】
例えば、参考変調度特性と式(1)の誤差、例えば、二乗誤差の和が最小になるように式(1)のパラメータMsat，Pws，Pasyを算出し、これらの値をMsat-opt，Pws-opt，Pasy-optと決定する。ここで、当該参考変調度特性を用いてκ方式で用いられるパラメータである係数ρ，指定記録パワーPind，目標係数値κなども決定しておいてもよい。これら算出値を用いて、Pws-optからPw-optを算出する際に使用するパラメータの値を決定しておけばよい。例えば、τは算出されたPws-optとPw-optとの比、τ’は算出されたPws-optとPindの比として決定する。実施例８に示すように、Pws-optからPw-optを算出する際に用いるパラメータは、計算方法によって様々であるので、それぞれの方法で必要となるパラメータを、上記参考変調度特性から算出された値を用いて決定しておけばよい。
【００８７】
ここで、パラメータの選び方は、記録パワー調整全体として最終的に最適記録パワーPw-optが決定できるように選べばよい。つまり、例えば、実施例４のフィッティング方法を用いた記録パワー調整方法を実現する場合は、既に参考記録開始パワーPws-refと参考漸近パワーPasy-refがフィッティングで使用されるパラメータとして与えられているため、Pws-optからPw-optを決定するためのパラメータとしては、κ方式における指定記録パワーPind、又はPws-optとPw-optの比、又はPasy-optとPw-optの比、又は参考最適記録パワーPw-opt-refのいずれかでよい。
【００８８】
参考変調度特性をフィッティングする方法は上記方法だけではなく、実施例６で述べられる方法を用いてもよい。
【００８９】
[実施例１２]
本実施例は上記実施例１〜１１で決定された固定値を媒体の所定の領域、例えば、管理領域のコントロールデータのDIに予め記録する実施例である。上記実施例１〜１１についての組合せはどのような組合せであってもよい。
【００９０】
本発明の記録パワー調整で使用される、予め取得される複数種類の記録パワーPw,mの設定に用いる情報、及び/又はフィッティングに用いられる情報、及び/又は最適記録開始パワーPws-optから最適記録パワーPw-optの算出に用いられる情報は、光ディスクの管理領域に記録及び/又は光ディスク装置の記憶部に記憶されている。図１２は光ディスクの管理領域101と、管理領域に含まれる情報であるDI（Disc Information）102を示す図であり、上記本発明の記録パワー調整方法で使用される予め取得される情報はDI情報102に記録されている。また、記録パワー調整方法に使用される予め取得される情報が光ディスク装置に記憶されている場合には、これらの情報は図７における記憶部に記憶されている。
【００９１】
これらの情報は上述での使用方法に直接ではなく、例えば、予め取得される計算方法を用いることで、上述と同様な方法で使用できる情報として光ディスクの管理領域に記録及び/又は光ディスク装置の記憶部に記憶されていてもよい。ここで、予め取得される定数も、光ディスクの管理領域に記録及び/又は光ディスク装置の記憶部に記憶されていてもよい。例えば、実施例５における測定した変調度特性をフィッティングする際に使用される参考記録パワーPws-refと参考漸近パワーPasy-refの比τは、光ディスクの管理情報及び／又は光ディスク装置の記憶部から直接取得するのではなく、例えば、参考記録開始パワーPws-ref及び参考漸近パワーPasy-refを取得することで、τ=Pws-ref/Pasy-refと算出すればよい。
【００９２】
[実施例１３]
本実施例では、実施例４のフィッティング方法をκ方式に適用し、κ方式の高精度化を実現する方法について述べる。
【００９３】
この方法では、κ方式で用いられるパラメータである指定記録パワーPind、最適目標記録パワーPtarget-optと最適記録パワーPw-optの比ρ=Pw-opt/Ptarget-optに加え、参考漸近パワーPasy-ref，参考記録開始パワーPws-ref，Ptarget-optと参考記録開始パワーPws-refの比τ’=Pws-ref/Ptarget-optを用いる。これらのパラメータは記録パワー調整前に予め取得される。ここで、Pind，ρ，Pasy-ref，Pws-ref，τ’は当該光ディスクにおける同じ参考変調度特性から算出された値である。
【００９４】
Pindを中心とした±10%の記録パワー範囲について複数種類の記録パワーPw,mを設定し、それぞれの記録パワーで所定の長さのランダムパターンを記録し、記録した信号を再生することで記録パワーPw,mに対応した変調度M,mを取得した。記録パワーPw,mを中心とする±3%の範囲に対して、実施例４記載のフィッティングを行い、算出された最適記録開始パワーPws-opt,mにτ’を乗算して目標記録パワーPtarget,mを算出した。ここで、フィッティングを行った範囲の中心値Pw,mと算出したPtarget,mの関係を図１３に示す。図中には併せて、上記と同様に記録パワー範囲毎に通常のκ方式を用いてPtarget,mを算出した結果を載せてある。最適目標記録パワーPtarget-optは、図１３におけるデータ曲線とPtarget=Pwとの交点として与えられる。ここから、本発明で算出されるPtarget-opt値に対してκ方式で算出されるPtarget-opt値はデータ曲線が変動しており、誤った値が算出されている。これは、κ方式は変調度特性の局所変動の影響を受け易いためである。ここで、本発明のPtarget,mは記録パワーPw,mに依らず一定値であることから、変調度特性に対して高い精度でフィッティングができており、算出されるPtarget-optはPtarget,mの平均値でよいことがわかる。Ptarget,mの平均値としてPtarget-optを算出し、Ptarget-optに係数ρを乗算することで最適記録パワーPw-optを算出した。
【００９５】
以上から、本発明をκ方式に適用することでκ方式における最適目標記録パワーPtarget-optの算出が容易となり、更に高精度に最適記録パワーPw-optを決定できることが確認できる。
【００９６】
[実施例１４]
本実施例では、実施例６，１１の記録パワーと評価値の関係と近似直線の誤差の指標を変更した場合について述べる。変更していない部分に関しては実施例１，４，５と同様であるため、本実施例では省略する。
【００９７】
最小二乗法で用いられる二乗誤差とは異なる誤差の指標として、記録パワーと評価値の関係と近似直線の距離の和，標準誤差σ，相関係数r，決定係数R2などを用いてもよい。
【００９８】
いずれの指標を用いた場合も、同じ指標を使用する限りでは記録パワー調整の精度を劣化させることはない。従って、予め指標を決めておけば、誤差の評価にどの指標を用いてもよい。
【００９９】
なお、上記実施形態は本発明の実施例の一部であって、上記実施例に限られるものではない。本発明の主要部を採用して実施した場合には、細部に違いがあっても、同様の効果が得られることがある。
【符号の説明】
【０１００】
１０：光ディスク、１２：スピンドルモータ、１４：光ピックアップ部、１６：レーザ光、１８：エンコーダ、２０：LD駆動部、２２：制御部、２４：RF信号処理部、２６：デコーダ、２８：Henv、Lenv取得部、１００：光ディスク、１０１：管理領域、１０２：ID（Disc Information）、１０３：欠陥管理情報、１０４：試し書き領域。
【図１】
2011014230.tif 000006
【図２】
2011014230.tif 000007
【図３】
2011014230.tif 000008
【図４】
2011014230.tif 000009
【図５】
2011014230.tif 000010
【図６】
2011014230.tif 000011
【図７】
2011014230.tif 000012
【図８】
2011014230.tif 000013
【図９】
2011014230.tif 000014
【図１０】
2011014230.tif 000015
【図１１】
2011014230.tif 000016
【図１２】
2011014230.tif 000017
【図１３】
2011014230.tif 000018