(57)【要約】【課題】小型・狭小のコネクタでも抵抗測定用プローブピンを用いて容易に抵抗測定が可能となる抵抗測定方法を提供する。【解決手段】二股電極とその連結部から二股電極とは反対向きに延びるランドとから構成される音叉状電極を多数個備えたコネクタ端子実装用の第１基板１０と第２基板２０を用いて各基板にコネクタＣ１０、Ｃ２０を実装し、次いで各コネクタＣ１０、Ｃ２０にフラットケーブル３０を装着し、測定したい電極に抵抗測定用プローブピンを当てる代わりに、測定したい電極に繋がっている第１基板１０のランド群１０Ｌのうちの１つに抵抗測定用プローブピンを当て、同じく、他方の測定したい電極に抵抗測定用プローブピンを当てる代わりに、測定したい電極に繋がっている第２基板２０のランド群２０Ｌのうちの１つに抵抗測定用プローブピンを当ててその電気抵抗値を測定するようにした。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
コネクタの端子が表面実装技術によって実装される回路基板であって、実装されるコネクタの端子と接続される部位に形成された電極パターン備えた基板において、
前記電極パターンが、複数の音叉状電極と、前記それぞれの音叉状電極の一方の電極と他方の電極とから成る二股電極の連結部から前記二股電極とは反対向きに延びるランドとを含むことを特徴とするコネクタ端子実装用回路基板。
【請求項２】
前記複数の音叉状電極が一列に並置され、前記ランドが千鳥配置されることを特徴とする請求項１記載のコネクタ端子実装用回路基板。
【請求項３】
請求項２記載のコネクタ端子実装用回路基板を２枚備えたコネクタの実装評価の抵抗測定装置において、各コネクタ端子実装用回路基板の電極数が等しく、かつ、それぞれ所定距離離れて対向配置されて成ることを特徴とする抵抗測定装置。
【請求項４】
請求項３記載の抵抗測定装置を用いた抵抗測定方法において、
２枚の前記コネクタ端子実装用回路基板のそれぞれにフラットケーブル用コネクタを実装し、次いで前記フラットケーブル用コネクタのそれぞれにケーブルを装着し、抵抗測定用プローブピンを前記一方のコネクタ端子実装用回路基板と前記他方のコネクタ端子実装用回路基板における測定したい対となる電極に繋がるランドにそれぞれ接触させてその電気抵抗値を測定することを特徴とする抵抗測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路基板の試験装置およびそれを用いた抵抗測定方法に関するもので、特に、ＦＰＣやＦＦＣ用のコネクタを含む実装型の回路基板の試験装置および方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
〈回路基板の問題点〉
近年、ユーザの使用態様による電子機器の縮小化や性能向上の要求から、半導体集積回路の高集積化・高密度化が図られている。これに伴って、コネクタの端子が表面実装技術（ＳＭＴ：Surface Mount Technology）によって実装される回路基板のフットプリントのピッチもますます狭くなる傾向にある。
一方、ＳＭＴ回路基板の導通試験及び絶縁試験は、半導体集積回路を半田等によって実装するフットプリントと中間配線層を含む表裏配線パターンを接続するバイアホールとに抵抗測定用プローブピンをそれぞれ接触させてその電気抵抗値を測定することで行っていた。ところが、時代の要求でＳＭＴ回路基板のフットプリントのピッチが狭くなっていき、やがて、抵抗測定用のプローブピンの幅よりもフットプリントのピッチの方が狭くなってしまうに至った。こうなると、抵抗測定用のプローブピンを端子に接触させて電気抵抗値を測定することができなくなり、外観・目視点検に依存するしかなかった。
これを解決する発明として、プローブピンの接触方法を工夫して、その導通試験及び絶縁試験をすることができるようにした発明が、特許文献１に開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平４−１０２０７９号公報
【０００４】
〈特許文献１記載の発明の測定法〉
特許文献１記載の発明によれば、複数の接触子から成る抵抗測定用プローブピンと、抵抗測定用プローブピンの複数の接触子を被試験基板の微小ピッチの電極に接触させる第１の接触手段と、抵抗測定用プローブピンの複数の接触子を被試験基板の通常ピッチの電極に接触させる第２の接触手段と、被試験基板の電気的状態（導通・絶縁）を測定する測定手段と、第１の接触手段とを駆動する駆動手段と、駆動手段および測定手段の入出力を制御する制御手段と、を備えて、第１の接触手段の抵抗測定用プローブピンの１つの接触子を被試験基板の２つ以上の微小ピッチの電極に同時に接触させるようにしたものである。
【０００５】
〈特許文献１記載の発明の長所〉
抵抗測定用プローブピンの１つの接触子を被試験基板の２つ以上の微小ピッチの電極に同時に接触させるようにすることにより、中間配線層や配線パターン等の導通不良や絶縁不良の検査が再現性良くかつ正確に行うことが可能となった。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
〈特許文献１記載の発明の問題点〉
ＦＰＣやＦＦＣコネクタの小型化が進むにつれ、端子形状も小型化されつつある。そんな状況下で製品の実装評価などで抵抗測定をする場合、特許文献１記載の発明における被試験基板の「通常ピッチの電極」も小型化されることとなり、次の（１）および（２）のようなことが生じた。
（１）小型端子に抵抗測定用プローブピンを当てることがとても困難となる（例：端子厚み＝０．１ｍｍ、ピッチ＝０．３ｍｍ）。
（２）小型端子に抵抗測定用プローブピンを一定の力で押しにくいため、２端子法では信頼性が乏しい（端子と抵抗測定用プローブピンの接触抵抗のバラツキ増大）。
【０００７】
〈本発明の目的〉
本発明は上記（１）と（２）の問題を解決するためになされたもので、小型端子に抵抗測定用プローブピンを当てることが容易となり、しかも４端子法で測定することも可能となる回路基板の試験装置および試験方法を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するため、第１発明は、コネクタ端子実装用回路基板に係り、コネクタの端子が表面実装技術によって実装される回路基板であって、実装されるコネクタの端子と接続される部位に形成された電極パターン備えた基板において、前記電極パターンが、複数の音叉状電極と、前記それぞれの音叉状電極の一方の電極と他方の電極とから成る二股電極の結合部から前記二股電極とは反対向きに延びるランドとを含むことを特徴としている。
第２発明は、第１発明のコネクタ端子実装用回路基板において、前記複数の音叉状電極が一列に並置され、前記ランドが千鳥配置されることを特徴としている。
第３発明は、第２発明のコネクタ端子実装用回路基板を２枚備えたコネクタの実装評価の抵抗測定装置において、各コネクタ端子実装用回路基板の電極数が等しく、かつ、それぞれ所定距離離れて対向配置されて成ることを特徴としている。
【０００９】
第４発明は、抵抗測定方法に係り、第３発明の抵抗測定装置を用いた抵抗測定方法において、２枚の前記コネクタ端子実装用回路基板のそれぞれにフラットケーブル用コネクタを実装し、次いで前記フラットケーブル用コネクタのそれぞれにケーブルを装着し、抵抗測定用プローブピンを前記一方のコネクタ端子実装用回路基板と前記他方のコネクタ端子実装用回路基板における測定したい対となる電極に繋がるランドにそれぞれ接触させてその電気抵抗値を測定することを特徴としている。
【発明の効果】
【００１０】
第１発明によれば、複数の音叉状電極とそれとは反対向きに延びるランドとを含むことにより、面積の大きなランドが形成できてそこに抵抗測定用プローブピンを接触させることができるため、小型の電極に抵抗測定用プローブピンを当てる必要がなくなり、抵抗測定が容易となり、かつ接触抵抗が小さく・安定するので正確な測定が可能となる。
第２発明によれば、ランドが千鳥配置されるので、ランドの設置面積をさらに大きく採ることが可能となり、抵抗測定がさらに容易となり、かつ正確な測定が可能となる。
第３発明によれば、抵抗測定装置が、第２発明のコネクタ端子実装用回路基板を二枚備えているので、抵抗測定がさらに容易となり、かつ正確な測定が可能となる。
【００１１】
第４発明の抵抗測定方法によれば、第３発明の抵抗測定装置を備えているので、抵抗測定がさらに容易となり、かつ正確な測定が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】図１は本発明の試験装置に用いられる２種類の基板の平面図で、（ａ）は通電用ランドを備えた第１基板、（ｂ）は通電用ランドを備えない第２基板である。
【図２】図２は図１の第１基板と第２基板の一部を四角で囲って「図２（ａ）」、「図２（ｂ）」の符号で示した部分の拡大図である。
【図３】図３は図１の第１基板と第２基板のそれぞれにそれぞれコネクタを実装した状態を示す平面図である。
【図４】図４は図３の第１基板に実装されたコネクタと第２基板に実装されたコネクタの間を接続するために用いられるフラットケーブルを説明する図で、（ａ）は平面図、（ｂ）は背面図である。
【図５】図５は図３の２個のコネクタ間に図４のフラットケーブルを接続した状態を示す平面図である。
【図６】図６は図５の２個のコネクタ間に接続されたフラットケーブルの斜視図である。
【図７】図７は図５の第１基板のコネクタと第２基板のコネクタのそれぞれの一部を四角で囲って「図７（ａ）」、「図７（ｂ）」の符号で示した部分の拡大図で、（ｃ）はフラットケーブルを接続した回路基板の試験装置の等価回路である。
【図８】図８は回路基板の試験方法の手順を説明する図で、（１）は１極目の導通（抵抗測定）試験、（２）は２極目の導通試験、（３）は３極目の導通試験である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
〈回路基板の試験装置〉
本発明の試験装置に用いられる基板を説明する図１において、１０は第１のコネクタが実装される第１基板、２０は第２のコネクタが実装される第２基板である。第１基板１０には、図で左右両側に通電用パターン１０Ｐと、この通電用パターン１０Ｐの端部に通電用ランド１１が設けられている。さらに、２つの通電用パターン１０Ｐの間に、次に説明する音叉状電極が設けられている。また、コネクタ取り付け用の孔１２が左右に設けられている。
一方、第２基板２０には、第１基板１０のような通電用パターン１０Ｐと通電用ランド１１とはなく、次に説明する「音叉状電極」群２０Ｐが設けられている。また、コネクタ取り付け用の孔２２が左右に設けられている。
【００１４】
〈音叉状電極〉
図２は図１の第１基板と第２基板の一部を四角で囲って「図２（ａ）」、「図２（ｂ）」の符号で示した部分の拡大図である。図２において、「音叉状電極」は、隣接する一方の電極（例えば第１基板１０のＰ２）と他方の電極（例えば第１基板１０のＰ３）とは端部で互いに連結して成るＵ字状の二股電極を形成し、この二股電極の連結部からこれらの電極（Ｐ２、Ｐ３）とは反対向きにパターンが延びてその先端でランド（例えば例えば第１基板１０のＬ２）を形成して、全体で音叉状になっている。
音叉状電極のうちＵ字状二股電極の形状・サイズはすべて同じであるが、ランドに至るパターンには長短２種類の長さのものがある。これら長短２種類の長さのパターンをそれぞれ交互に並べることでパターンの先端のランドＬ１、Ｌ２、Ｌ３、Ｌ４、Ｌ５、・・・は千鳥配置となっている。
一方、Ｕ字状二股電極はすべて横並び１列に整然と並置されていて、左右両端以外の電極はそれぞれ隣接の電極どうしで対をなしている。左右両端の電極だけは音叉状電極のＵ字状二股電極の一方しかない構成となっている。
【００１５】
〈第１基板１０〉
図２において、第１基板１０には音叉状電極が上記のように配置され、左から右に電極Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６、Ｐ７、・・・と並んでいる。
（１）電極Ｐ１は通電用パターン１０Ｐを介して通電用ランド１１に繋がり、かつ短いパターンを介して近くのランドＬ１に繋がっている。
（２）電極Ｐ２とＰ３からは長いパターンを介して遠くのランドＬ２に繋がっている。
（３）電極Ｐ４とＰ５は短いパターンを介して近くのランドＬ３に繋がっている。
（４）電極Ｐ６とＰ７は長いパターンを介して遠くのランドＬ４に繋がっている。
以下、これを同じように繰り返す。これを一般式で表すと、
ランドＬｎ（ｎは正の整数）には、電極Ｐ（２ｎ−２）と電極Ｐ（２ｎ−１）とが繋がっており、ｎが奇数のランドＬｎは電極に近いランドであり、ｎが偶数のランドＬｎは電極から遠いランドとなる。
また、最初（ｎ＝１）のランドＰ１には上記一般式から電極Ｐ０と電極Ｐ１が繋がることになるが電極Ｐ０は本発明では存在しない（すなわち、最初のランドＰ１には電極Ｐ１しか繋がっていない。）。
また、最終のランドＰｅは電極Ｐ（２ｅ−２）であり、電極Ｐ（２ｅ−１）は本発明では存在しない。すなわち、最後のランドＰｅには電極Ｐ（２ｅ−２）しか繋がっていない。
【００１６】
〈第２基板２０〉
以上述べた音叉状電極は、第２基板２０の音叉状電極についても基本的に同様のことが言える。ただし、第１基板１０の左右両端の１個だけの電極はここにはなくて、すべて音叉状電極で構成されている。すなわち、電極Ｐ１とＰ２は近くのランドＬ１に繋がり、電極Ｐ３とＰ４は遠くのランドＬ２、電極Ｐ５とＰ６は近くのランドＬ３、電極Ｐ７とＰ８は遠くのランドＬ４にそれぞれ繋がって、以下、同じように繰り返す。
これを一般式で表すと、プローブ用ランドＬｎ（ｎは正の整数）には、電極Ｐ（２ｎ−１）と電極Ｐ（２ｎ）とが繋がっており、ｎが奇数のランドＬｎは電極に近いランドであり、ｎが偶数のランドＬｎは電極から遠いランドとなっている。
【００１７】
〈音叉状電極は互いに電気的に独立〉
図２から分かるように、第１基板１０ではそれぞれの電極Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６、Ｐ７、・・・が並び、電極Ｐ１は通電用ランド１１と近くのランドＬ１に繋がり、電極Ｐ２とＰ３からは遠くのランドＬ２に繋がり、次の電極Ｐ４とＰ５は近くのランドＬ３に繋がっている。それぞれの音叉状電極（Ｐ１、Ｌ１）・（Ｐ２、Ｐ３、Ｌ２）・（Ｐ４、Ｐ５、Ｌ３）・（Ｐ６、Ｐ７、Ｌ４）・（Ｐ８、Ｐ９、Ｌ５）・・・は互いに電気的に独立している。
第２基板２０ではそれぞれの電極Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６、Ｐ７、・・・が並び、電極Ｐ１とＰ２は近くのランドＬ１、次の電極Ｐ３とＰ４は遠くのランドＬ２、次の電極Ｐ５とＰ６は近くのランドＬ２にそれぞれ繋がっている。それぞれの音叉状電極（Ｐ１、Ｐ２、Ｌ１）・（Ｐ３、Ｐ４、Ｌ２）・（Ｐ５、Ｐ６、Ｌ３）・（Ｐ７、Ｐ８、Ｌ４）・・・は互いに電気的に独立している。
また、第１基板１０の電極Ｐ１の図で真下には第２基板２０の同じ符号の電極Ｐ１が位置し、同じように第１基板１０の電極Ｐ２の図で真下には第２基板２０の電極Ｐ２が位置している。
【００１８】
〈コネクタＣ１０、Ｃ２０の実装〉
図３は図１の第１基板１０と第２基板２０のそれぞれにコネクタＣ１０とコネクタＣ２０を接続した状態を示す平面図である。コネクタＣ１０、Ｃ２０は表面実装用コネクタで、導電性の端子金具と絶縁性のコネクタハウジングとを備えて成り、端子金具は電線の端部などに取りつけられて芯線と電気的に接続する。コネクタハウジングは端子金具を収容する。端子金具として、互いの間に相手側の端子金具やフラットな導体を挟むもので、例えば一対の接触片を備えた端子金具が用いられる。この種の端子金具は相手側の端子金具や導体などの相手側の導体を一方の接触片の表面上に位置付けて、他方の接触片が前記相手側の導体を前記一方の接触片に向かって付勢している。
コネクタハウジングはその両端を固定具でコネクタ取り付け用の孔１２、２２に固定される。
【００１９】
〈コネクタＣ１０、Ｃ２０間に用いられるフラットケーブル３０〉
図４は図３の第１基板１０に実装されたコネクタＣ１０と第２基板２０に実装されたコネクタＣ２０の間を接続するために用いられるフラットケーブル３０を説明する図で、（ａ）は平面図、（ｂ）は背面図である。
フラットケーブル３０はフレキシブルプリントサーキット（Flexible Printed Circuit：ＦＰＣ）やフレキシブルフラットケーブル（Flexible Flat Cable：ＦＦＣ）などのように複数の導体と、これらの導体を被覆する絶縁性の被覆部と、を備えて扁平な帯状に形成されているものを意味する。導体は断面形が矩形状に形成されて、図中に丸で囲った拡大図で示すように、複数の導体Ｗはそれぞれ一方向に沿って互いに平行にストレートに延びている。一対の絶縁シートは、絶縁性の合成樹脂からなる帯状に形成されたもので、一対の絶縁シートが互いの間に複数の導体を挟んでこれらの導体を被覆している。その両端部１０Ｔ、２０Ｔでは、一対の絶縁シートのうち一方が除去されて、内部の導体３０Ｐが露出して、コネクタＣ１０、Ｃ２０の端子とそれぞれ接続されるようになっている。
【００２０】
〈回路基板の試験装置〉
図３で示した第１基板１０に実装されたコネクタＣ１０と第２基板２０に実装されたコネクタＣ２０の間に図４で示したフラットケーブル３０を接続することにより、図５のフラットケーブル３０付き回路基板の試験装置が得られる。
図５はコネクタＣ１０とコネクタＣ２０の間にフラットケーブル３０を接続した状態を示す平面図、図６はその斜視図で、図７は図５の第１基板のコネクタと第２基板のコネクタのそれぞれの一部を四角で囲った「図７（ａ）」、「図７（ｂ）」の符号で示した部分の拡大図で、（ｃ）はフラットケーブルを接続した回路基板の試験装置の等価回路である。
図５から図７において、フラットケーブル３０がコネクタＣ１０とコネクタＣ２０に両端がそれぞれ接続されており、各コネクタＣ１０とＣ２０の反対側から本発明に係る音叉状電極がそれぞれ電気的に接続されている。したがって、第１基板１０の各電極Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６、Ｐ７、・・・はそれぞれフラットケーブル３０の導体Ｗを介して第２基板２０の各電極Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６、Ｐ７、・・・と接続されている。
そして上述したように、第１基板１０の電極Ｐ２とＰ３、電極Ｐ４とＰ５、電極Ｐ６とＰ７、電極Ｐ８とＰ９、・・・そして第２基板２０の電極Ｐ１とＰ２、電極Ｐ３とＰ４、電極Ｐ５とＰ６、電極Ｐ７とＰ８、・・・はそれぞれ音叉状電極（電気的に接続状態）であるので、最終的に、第１基板１０の電極Ｐ１（図５）と第１基板１０の最終の電極間は図７（ｃ）の等価回路で示すように、すべて電気的に接続されることになる。
【００２１】
〈回路基板の試験方法〉
図８は回路基板の試験方法の手順を説明する図で、（１）は１極目の導通（抵抗測定）試験、（２）は２極目の導通試験、（３）は３極目の導通試験である。
コネクタＣ１０の電極Ｐ１はランドＬ１とフラットケーブル３０の導体Ｗと電極Ｐ２に接続されており、コネクタＣ２０の電極Ｐ１はフラットケーブル３０の導体Ｗと電極Ｐ２に接続されている。そこで本発明に係る導通試験は次の手順で行われる。
【００２２】
（１）１極目の導通（抵抗測定）試験、
そこで、まず、１極目の電極Ｐ１同士の導通（抵抗測定）試験は、、図８（１）に示すように、抵抗測定用プローブピンの一方をコネクタＣ１０の検査対象であるピッチの狭い電極Ｐ１ではなくて本発明によって後方に設置された広い面積のランドＬ１に当て、かつ抵抗測定用プローブピンの他方を同じくコネクタＣ２０の検査対象であるピッチの狭い電極Ｐ１ではなくて本発明によって後方に設置された広い面積のランドＬ１に当て、その間に電流を流して抵抗値を測定すればよい。その抵抗値が所定の値以下であれば１極目の導通測定は「良」とされ、所定の値を超えていれば１極目の導通測定は「不良」とされる。
このように本発明によれば、電極２個をＵ字状二股電極に繋ぎ、その連結部からパターンを介して広い面積のランドを形成したので、抵抗測定用プローブピンをランドに当て易くなり、接触抵抗が小さくなり、かつ測定が安定した。
【００２３】
（２）２極目の導通（抵抗測定）試験、
次に、２極目の電極Ｐ２同士の導通（抵抗測定）試験は、図８（２）に示すように、抵抗測定用プローブピンの一方をコネクタＣ１０の電極Ｐ２ではなくてランドＬ２に当て、かつ抵抗測定用プローブピンの他方をコネクタＣ２０の電極Ｐ２ではなくてランドＬ１に当てて、その間に電流を流して抵抗値を測定し、同じように測定すればよい。
ここでも同じく、電極２個をＵ字状二股電極に繋ぎ、その連結部からパターンを介して広い面積のランドを形成したので、抵抗測定用プローブピンをランドに当て易くなり、接触抵抗が小さくなり、かつ測定が安定した。
【００２４】
（３）３極目の導通（抵抗測定）試験、
次に、３極目の電極Ｐ３同士の導通（抵抗測定）試験は、図８（３）に示すように、抵抗測定用プローブピンの一方をコネクタＣ１０の電極Ｐ３ではなくてランドＬ２に当て、かつ抵抗測定用プローブピンの他方をコネクタＣ２０の電極Ｐ３ではなくてランドＬ２に当てて、その間に電流を流して抵抗値同じように測定する。接触抵抗が小さくなり、かつ測定が安定した。
【００２５】
（４）ｍ極目の導通（抵抗測定）試験、
そこで、一般にｍ極目（ｍは正の整数）の電極Ｐｍ同士の導通（抵抗測定）試験は、図８（３）に示すように、抵抗測定用プローブピンの一方をコネクタＣ１０の検査対象である電極Ｐｍではなくて本発明によって設置されたランドＬ（ｍ／２）に当て、かつ抵抗測定用プローブピンの他方をコネクタＣ２０のランドＬ（ｍ／２）に当てて同じように測定すればよい。このように抵抗測定用プローブピンを任意の極の両端に繋がるランドに当てることで正確にかつ容易に抵抗測定をすることができる。
【００２６】
〈４端子法による測定〉
また、本発明により設けられた広い面積のランドとランドに至るパターンを用いることで、４端子法による測定が可能となる。４端子法による測定自体は良く知られているので説明を省略するが、第１基板の測定対象の電極と第２基板の測定対象の電極との間の抵抗を測定するとき、電流計と電圧計の一方の端子を第１基板の測定対象の電極に繋がるパターンとランドの上にそれぞれ当て、電流計と電圧計の他方の端子を第２基板の測定対象の電極に繋がるパターンとランドの上にそれぞれ当てればよい。
このように、本発明による広い面積のランドとランドに至る広いピッチのパターンを用いれば、ランドによる接触抵抗を小さくできる効果と相まって、４端子法の長所である特に接触抵抗が小さいときの正確な抵抗測定が可能となる。
【００２７】
以上、本発明によれば、実装後に抵抗測定用プローブ用ランドを介して抵抗を測定することにより、電極にプローブを直接当てることなく抵抗測定が可能となるため、小型・狭小のコネクタでも容易に抵抗測定が可能となる。
また、抵抗測定が可能となるため、小型・狭小のコネクタでも容易に容易に抵抗測定用プローブを当てることば可能となる。
また、構造的に４端子を接続できるため、４端子法にて測定することが可能となる。
電極２個分を纏めて１個のランドを形成したのでランド自体の幅（面積）を電極１個の幅よりも広くでき、さらに本発明により、ランドと両隣接ランドとの配置関係を千鳥配置としたのでランドと隣接のランドを直線配置した場合よりもさらにランド自体の面積を広くすることができ、したがって接触抵抗が小さくなりかつ測定が安定する。
また、２極を通電させるパターンにつき１か所のランドにしたので、１極ずつランドを設けた場合よりスペースレスとなる。
ランドを形成することによりスペース的に余裕が生じるので、ランドの大きさ・形状は抵抗測定用プローブピンの大きさ・形状に合わせて変更が自由となる。
【符号の説明】
【００２８】
１０  第１基板
１０Ｐ  通電用パターン
１１  通電用ランド
１２、２２  コネクタ取り付け用の孔
２０  第２基板
３０  フラットケーブル
Ｃ１０、Ｃ２０  コネクタ
Ｌ１、Ｌ２、・・・Ｌｎ・・・Ｌｅ  ランド
Ｐ１、Ｐ２、・・・Ｐｍ、Ｐｎ、・・・、Ｐｅ  電極
１０Ｌ、２０Ｌ  ランド群
Ｗ  導体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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