(57)【要約】【課題】本発明の目的は、コロナ放電式イオナイザーから発生される、粒径が80nmより小さいダストを検出して計測し、該計測の結果を表示する、コロナ放電式イオナイザーを提供することである。【解決手段】コロナ放電式イオナイザーの電極針から発生するダストを捕集し、該ダストを凝縮核カウンターで凝縮成長させた上で計測し、該計測の結果を表示する。【選択図】図1
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
コロナ放電式イオナイザーの電極針から発生するダストを捕集するステップと、前記捕集されたダストを凝縮成長させて該ダストの個数を計測するステップと、前記計測の結果を表示するステップと、からなるコロナ放電式イオナイザーの管理方法。
【請求項２】
コロナ放電式イオナイザーの電極針から発生するダストを捕集するステップと、前記捕集されたダストを凝縮成長させて該ダストの個数を計測するステップと、前記計測の結果から前記電極針の清掃時期を判断するステップと、少なくとも前記判断結果を表示するステップと、からなるコロナ放電式イオナイザーの管理方法。
【請求項３】
前記捕集されたダストを凝縮成長させて計測するステップは、粒度分布を判定する工程を含む、請求項1又は2に記載のコロナ放電式イオナイザーの管理方法。
【請求項４】
前記粒度分布の判定は静電式粒径測定器にて行う、請求項3に記載のコロナ放電式イオナイザーの管理方法。
【請求項５】
前記粒度分布の判定は微分型モビリティアナライザーにて行う、請求項3に記載のコロナ放電式イオナイザーの管理方法。
【請求項６】
前記ダストの捕集は、静電気帯電を防止したチューブを用いる吸引にて行う、請求項1ないし5のいずれかに記載のコロナ放電式イオナイザーの管理方法。
【請求項７】
コロナ放電式イオナイザーの電極針に対して風下側に設置されたチューブと、該チューブが吸引したダストを凝集成長させて該ダストの個数を計測するカウンターと、該計測結果を表示する表示器と、を備えたコロナ放電式イオナイザーの管理装置。
【請求項８】
コロナ放電式イオナイザーの電極針に対して風下側に設置されたチューブと、該チューブが吸引したダストを凝集成長させて該ダストの個数を計測するカウンターと、該計測結果から前記電極針の清掃時期を判断し、少なくとも該判断結果を表示する表示器と、を備えた前記コロナ放電式イオナイザーの管理装置。
【請求項９】
前記コロナ放電式イオナイザーの管理装置は、粒子分級器をさらに備えた、請求項7又は8に記載のコロナ放電式イオナイザーの管理装置。
【請求項１０】
前記粒子分級器として静電式粒径測定器を用いる、請求項9に記載のコロナ放電式イオナイザーの管理装置。
【請求項１１】
前記粒子分級器として微分型モビリティアナライザーを用いる、請求項9に記載のコロナ放電式イオナイザーの管理装置。
【請求項１２】
前記チューブとして、静電気帯電を防止したチューブを用いる、請求項7ないし11のいずれかに記載のコロナ放電式イオナイザーの管理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はイオナイザーの管理方法、特にコロナ放電式イオナイザーの電極針の清掃時期を管理する方法及びその装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
シリコンウェーハやIC等を製造するクリーンルームにおいて、ダストが静電吸着によりウェーハに付着して、このダストに起因した不良品の発生により、ウェーハの歩留まりが著しく低下することがある。この対策としては、クリーンルーム内においてイオナイザーが利用されている。このイオナイザーは放電電極に高電圧を印加し、その先端からイオンを発生し、帯電したデバイス等を除電する装置である。
【０００３】
イオナイザーの種類には針先を用いないものもあるが、クリーンルームで使用するには制約が多いため、一般に、クリーンルームで使用されるイオナイザーとしては、除電能力の高い、針先を有したコロナ放電式イオナイザーが多用されている。
【０００４】
しかし、このコロナ放電式イオナイザーは使用していくうちに針先に異物が付着し、それの成長に伴ってダストの発生や除電能力の劣化の問題が生じていた。このような針先から発生するダストがウェーハに付着しないようにするために、コロナ放電式イオナイザーの管理、特に清掃時期の管理が必要である。イオナイザーの清掃は、設置場所が清掃困難な場合も多く(密閉された空間では開放が必要)、頻繁な清掃は行えないため、その清掃時期については適切に把握できることが望まれる。
【０００５】
ところで、従来クリーンルーム内の空気中のダストは特許文献1に開示されているようなパーティクルカウンターで計測しており、このパーティクルカウンターには、レーザー式のパーティクルカウンターを用いるのが通例であった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開2007-040928号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
コロナ式のイオナイザーの清掃時期は、目視判断やイオナイザーメーカーによる推奨清掃間隔によることが一般的であるが、目視では作業者によるばらつきが大きく、また、メーカーによる推奨清掃間隔では、イオナイザーの設置状況や使用状況で汚れ具合が異なり、例えば、クリーンルームの環境の変化により、大量のシロキサンが発生するなどして、予定していたより早く発生するダストや大量のダスト、すなわち、異常なダストが発生する場合もあるため、必ずしも適切な清掃管理は行えなかった。
【０００８】
また、従来のレーザー式のレーザーカウンターで測定できるのは、80nm−100nmまでの粒径のダストであり、そのため粒径が小さい粒子は測定できなかった。イオナイザーから発生するダストはそれより粒径が小さいため、従来のレーザーカウンターではイオナイザーから発生するダストを感知できなかった。
【０００９】
一方で、近年のウェーハサイズの大口径化による、歩留まり管理、ディフェクトマネジメントの重要性の高まりや、デバイスの微細化に伴い制御されるべきダストのサイズが小さくなってきているといった背景から、このような小さいサイズのウェーハ付着物の対策への要求は非常に強いものとなってきている。
【００１０】
本発明の目的は、コロナ放電式イオナイザーから発生される、例えば粒径が80nmより小さいダストの個数をも検出して計測し、該計測結果を表示する、コロナ放電式イオナイザーの管理方法及びその装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するため、本発明者は、コロナ放電式イオナイザーの電極針から発生する微小粒のダストの計測を実現する手段について鋭意究明したところ、ダストを捕集し、該ダストを凝縮核カウンターで凝縮成長させた上で計測することによって、イオナイザー電極針からのダストの計測が可能になることを知見した。さらに、その計測結果から該電極針の清掃の時期を適切に把握できるため、それに応じてイオナイザーを効率的に清掃できることを見出した。
【００１２】
前記の課題を解決するための本発明の要旨構成は、以下の通りである。
(1) コロナ放電式イオナイザーの電極針から発生するダストを捕集するステップと、前記捕集されたダストを凝縮成長させて該ダストの個数を計測するステップと、前記計測の結果を表示するステップと、からなるコロナ放電式イオナイザーの管理方法。
【００１３】
(2) コロナ放電式イオナイザーの電極針から発生するダストを捕集するステップと、前記捕集されたダストを凝縮成長させて該ダストの個数を計測するステップと、前記計測の結果から前記電極針の清掃時期を判断するステップと、少なくとも前記判断結果を表示するステップと、からなるコロナ放電式イオナイザーの管理方法。
【００１４】
(3) 前記捕集されたダストを凝縮成長させて計測するステップは、粒度分布を判定する工程を含む、前記(1)又は(2)に記載のコロナ放電式イオナイザーの管理方法。
【００１５】
(4) 前記粒度分布の判定は静電式粒径測定器にて行う、前記(3)に記載のコロナ放電式イオナイザーの管理方法。
【００１６】
(5) 前記粒度分布の判定は微分型モビリティアナライザーにて行う、前記(3)に記載のコロナ放電式イオナイザーの管理方法。
【００１７】
(6) 前記ダストの捕集は、静電気帯電を防止したチューブを用いる吸引にて行う、前記(1)ないし(5)のいずれかに記載のコロナ放電式イオナイザーの管理方法。
【００１８】
(7) コロナ放電式イオナイザーの電極針に対して風下側に設置されたチューブと、該チューブが吸引したダストを凝集成長させて該ダストの個数を計測するカウンターと、該計測結果を表示する表示器と、を備えたコロナ放電式イオナイザーの管理装置。
【００１９】
(8) コロナ放電式イオナイザーの電極針に対して風下側に設置されたチューブと、該チューブが吸引したダストを凝集成長させて該ダストの個数を計測するカウンターと、該計測結果から前記電極針の清掃時期を判断し、少なくとも該判断結果を表示する表示器と、を備えた前記コロナ放電式イオナイザーの管理装置。
【００２０】
(9) 前記コロナ放電式イオナイザーの管理装置は、粒子分級器をさらに備えた、前記(7)又は(8)に記載のコロナ放電式イオナイザーの管理装置。
【００２１】
(10) 前記粒子分級器として静電式粒径測定器を用いる、前記(9)に記載のコロナ放電式イオナイザーの管理装置。
【００２２】
(11) 前記粒子分級器として微分型モビリティアナライザーを用いる、前記(9)に記載のコロナ放電式イオナイザーの管理装置。
【００２３】
(12) 前記チューブとして、静電気帯電を防止したチューブを用いる、前記(7)ないし(11)のいずれかに記載のコロナ放電式イオナイザーの管理装置。
【発明の効果】
【００２４】
この発明によれば、コロナ放電式イオナイザーの針先からの発塵を正確にモニタリングでき、その結果、針先清掃の時期を適切に把握することができる。また、異常なダスト、すなわち、予期せず早期に発生したダストや大量のダストが発生した場合にもそれを検出することができる。これによって、ダストの影響を強く受けるウェーハ製造工程での歩留まり向上が達成され、異常なダストによる不良品も最小限にとどめられる。また、必要以上の清掃作業、装置の停止は不要となりクリーンルームの管理コストの削減となる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本発明によるコロナ放電式イオナイザーの管理方法を表した図である。
【図２】本発明の実施例における凝縮核カウンター(CNC)と微分型モビリティアナライザー(DMA)の使用態様を表す図である。
【図３】コロナ放電式イオナイザーから発生したダストの粒度分布(DMA結果)図である。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
以下、図面を参照して、本発明を詳細に説明する。図1に、本発明の方法に直接使用する装置を示す。該装置は、電極針20を有するコロナ式イオナイザー10の直下に設置したサンプリングチューブ30、凝縮核カウンター(CNC)40、モニター50を有する。本発明の方法では、図1に示す装置において、まず、クリーンルームに設置されたコロナ放電式イオナイザー10の電極針20の直下にダストを捕集するためのサンプリングチューブ30を電極針20に対向して設置し、該サンプリングチューブで電極針20から発生するダストを捕集する。捕集されたダストは凝縮核カウンター(CNC)40に導入される。凝縮核カウンター(CNC)40による計測数の結果が、モニター50に表示される。
【００２７】
ここで、凝縮核カウンター(CNC)40は、エアロゾル粒子に飽和水分を含ませ、これを断熱膨張させて、エアロゾル粒子を核として凝縮成長した水滴をつくり、この断熱膨張前後の光透過度の減少比から粒子数濃度を求めるものである。本発明によると、従来のレーザーカウンターでは計測することができなかった、例えば80nm以下の粒径のダストでもこの凝縮核カウンター(CNC)40によって断熱膨張されて計測されるようになるのである。つまり、凝縮核カウンター(CNC)40を用いて、例えば80nm以下の微細なダストでも大きく成長させて計測できる。ダストの個数は例えば、単位体積あたりのダストの数として計測することができる。
【００２８】
このように凝縮核カウンター(CNC)40を用いた、コロナ放電式イオナイザーの管理方法によると、80nm以下のダストであっても計測することができ、しかも、電極針直下にチューブ開口を配置してダストの捕集を行うため、より正確にコロナ放電式イオナイザーから発生するダストを捕集、そして計測することが可能となる。
【００２９】
また、モニター50に、凝縮核カウンター(CNC)40によって計測されたダストの個数の結果からコロナ放電式イオナイザーの電極針の清掃の必要性を判断するための演算を行う演算装置を組み込むことができる。その結果、モニター50には清掃の必要性の判断結果を表示することも可能になり、より適切に清掃時期を把握することが可能となる。
【００３０】
また、上述の凝縮核カウンター(CNC)40と組み合わせて静電式粒径測定器(EAA)などの粒子分級器を用いることができる。すなわち、静電式粒径測定器(EAA)は、粒子を荷電させ、荷電粒子の電気移動度分布を測定しこれを粒度分布に変換するものとして知られている。この静電式粒径測定器(EAA)を凝縮核カウンター(CNC)と組み合わせて用いることにより、ダスト数のみならずその粒径分布まで把握することができる。
【００３１】
ここで、粒径の分布を把握する手段としては、静電式粒径測定器(EAA)の他、これと同様の原理を用いる微分型モビリティアナライザー(DMA)を用いることもできる。微分型モビリティアナライザー(DMA)は、粒径分解能にすぐれ、微細な粒径の粒子の分級が可能であり、その結果、かなり小さな粒径の範囲のダストの粒径分布が得ることができる。
【００３２】
図2は凝縮核カウンター(CNC)40に微分型モビリティアナライザー(DMA)60とDMAコントローラ70が接続され、組み合わせて用いられている図である。サンプリングチューブによって捕集されたダストは、サンプリングされたときのそのままの形状・粒径で除電される。ここでいう除電とは、ダスト1つ1つが全て電気的に中性ということではなく、0Vを中心に、プラス側とマイナス側に均等に、粒子が対称的に分布することをいう。これにより、サンプリングされたダストの集団は、集団としては電気的な偏りがない状態となる。このとき、DMA60内部の外側にはパージガスが流れ、流速を安定させる。パージガスの流速は、分析ガスの流量の10倍程度にすることが好ましい。それから、DMA60の円筒の筒の中心にマイナスの電荷をかけると+1荷(+1eV)に帯電したダストが選び出され、DMA60の円筒の筒の中心に吸い寄せられて、特定の大きさのダストのみを取り出すことができる。取り出すダストの大きさの範囲は、パージガス流量と分析ガス流量との和、及び、電極に印加する電圧で決定される。そしてこの範囲内から電極の印加電圧を変化させることによって特定の粒径のダストのみを選別する。選別されたダストを凝縮核カウンター(CNC)40で計測して粒度分布を得ることができる。すなわち、ダストの大きさによって該ダストの移動度が異なり、そのことによってDMA60の内側の電極に沈着させるために必要な印加電圧が異なってくることを利用して、印加電圧の大きさと粒径サイズとを対応づけ、そのように粒径選別してから、凝縮核カウンター(CNC)40で、ある粒径範囲にあるダストの個数を計測するのである。
【００３３】
上記の場合、より具体的には、CNCカウンターを2台用意して、1台のCNCカウンターはDMAを通さずにダスト全体の個数をカウントし、もう1台のCNCカウンターでは前述の通り、DMAを通した後にCNCでカウントし粒度分布を得ることができる。すなわち、サンプリングチューブを分岐させて、該サンプリングチューブで捕集したダストのうち一部は、1台のCNCカウンターに導入され、単位体積当たりのダスト個数を計測し、捕集されたダストのうち残りの部分はもう1台のCNCカウンターに接続されたDMAに導入され、その中で+1荷に荷電したダストの粒度分布を得る。
これにより、清掃時期を粒子数のみならず、粒径分布からも判定されることができ、さらに適切な清掃時期の把握が可能となる。すなわち、清掃時期につき、例えば同じダスト数でも大きい粒径のダストの分布数が大きい場合には、清掃時期を早めるように判断するなどすることができる。さらに、一般にデバイスサイズによって制御すべきダストのサイズは異なるため、予定しているデバイスサイズに応じて、清掃が必要と判断するための、ダストの計測個数及び粒径分布の基準を適切に決定することもできる。
【００３４】
また、コロナ放電式イオナイザーの電極針から発生するダストを捕集するステップは、例えば0.3m/sのクリーンルーム上からのダウンフローにて、サンプリングチューブを電極針の風下側、例えば5cmの位置に設置して行うことができる。例えば5cmとは、電極針に近すぎると電極からの放電を誘い、離れすぎるとダストを観測できなくなることから適切な位置を例示したものである。このとき、一度設置したらその場所から動かないように固定する。
また、静電気帯電を防止したチューブを用いることが好ましい。なぜなら、チューブが帯電することでダストがチューブに付着するのを防止することができるからである。
【実施例】
【００３５】
図1に示したところに従って、クリーンルームに設置されたコロナ放電式イオナイザー10の電極針20の直下にダストを捕集するための静電気帯電を防止したサンプリングチューブ30を電極針20に対して風下側に、電極針と約5cm離して設置し、電極針20から発生するダストを捕集した。さらに、図2に示したように、凝縮核カウンター(CNC)40に微分型モビリティアナライザー(DMA)60とDMAコントローラ70を接続した。まず、サンプリングチューブから導入されたダストを、サンプリングされたときのそのままの形状・粒径で除電し、DMAの60の筒に導入する。前述のとおり、取り出すダストの大きさは、パージガス流量と分析ガス流量との和、及び、電極に印加する電圧で決定されるが、表1にDMA装置と分析ガス及びパージガスの流量による、粒度分布の範囲を示す。今回はDMA(Long)を用い、分析ガスの流量を1.0L/min、パージガスの流量を10L/minとして実験を行った。このとき、表1に示したように、粒度分布の範囲は7.1nm-318nmである。そして、この範囲内から電極の印加電圧を変化させることによって、+1荷(+1eV)に帯電したダストのうち、特定の粒径の粒子のみを選別した。選別された粒子を凝縮核カウンター(CNC)40で計測し、捕集ダストの粒度分布を得た。その結果を、モニター50によって表示することができる。今回の実験で得られた粒度分布を図3に示す。また、60分間のスキャンの間に検出されたダストの個数を、同様の計測器設置状況下、実験環境下でレーザーカウンターによって計測した場合と比較した。
【００３６】
【表１】
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【００３７】
図3より、凝縮核カウンター(CNC)40を用いることにより、レーザーカウンターの場合に全く検出されなかった粒径80nm以下のダストを検出できたことがわかる。また、60分間のスキャンの間に検出されたダストの個数はレーザーカウンターでは0(ヶ/CF)であるのに対し、本発明の実施例にかかるCNCカウンターでは数千(ヶ/CF)であった。ここでCFはcubic feetで、1CFは約28.3リットルである。
【００３８】
予め、清掃が必要であると判断するダスト数や粒度分布の条件、例えば10nm以上のダストが1000個計測された場合に清掃を行うというような条件を定めることで、適切な清掃時期を導出することができ、図1のモニター50によって清掃の必要性を作業者に知らせることができ、作業者はそれに従ってコロナ放電式イオナイザーを清掃することができる。清掃には例えばアルコールをつけた綿棒を使用することができる。
【産業上の利用可能性】
【００３９】
この発明によれば、コロナ放電式イオナイザーの針先からの発塵をモニタリングでき、針先清掃の時期を適切に把握することができる。また、針先からの異常なダストも検出できる。これによって、ダストに弱い製造工程での歩留まり向上が達成され、異常なダストによる不良品も最小限にとどめられる。また、必要以上の清掃作業、装置の停止は不要となりクリーンルームの管理コストの削減となる。
【符号の説明】
【００４０】
10  コロナ放電式イオナイザー
20  電極針
30  サンプリングチューブ
40  凝縮核カウンター(CNC)
50  モニター
60  微分型モビリティアナライザー(DMA)
70  DMAコントローラ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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