(57)【要約】      （修正有）【課題】多層光ディスクにおいて、ユーザデータ領域を削ることなく十分なテスト領域を確保しかつ、各層のレーザ照射パワーを適切に制御して記録するための記録方法を提供する。【解決手段】第１の記録層と、第１の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第２の記録層を少なくとも有し、第１の記録層には複数の小領域よりなる第１のテスト領域を、第２の記録層は複数の小領域よりなる第２のテスト領域をそれぞれ有する光ディスクを用い、複数の層間の半径位置の相対精度と光スポット径に対応した所定の半径距離Ｌをあらかじめ定め、第２のテスト領域中の任意の小領域がテスト記録済みの場合には、第２のテスト領域中の記録済みテスト領域との半径距離が前記の所定の半径距離Ｌの範囲にある第１のテスト領域中の小領域を、テスト記録を行わない小領域とした。【効果】テスト領域の半径位置が重なっている場合においても、精度よく光パワー学習を行える。【選択図】図１
2011014213.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
３層以上の書換型または追記型の情報記録層を有し、該複数の情報記録層のうち、第１の記録層と、第１の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第２の記録層を少なくとも有し、第１の記録層には複数の小領域よりなる第１のテスト領域を、第２の記録層は複数の小領域よりなる第２のテスト領域をそれぞれ有する光ディスクを用いてテスト記録を行う方法であって、
所定の半径距離Ｌをあらかじめ定め、
前記第２のテスト領域中の任意の小領域がテスト記録済みの場合には、第２のテスト領域中の記録済みテスト領域との半径距離が前記の所定の半径距離Ｌの範囲にある第１のテスト領域中の小領域を、テスト記録を行わない小領域としたことを特徴とする、多層光ディスクの記録方法。
【請求項２】
請求項１に記載の多層光ディスクの記録方法において、所定の半径位置範囲であるかどうかの判定は、小領域のアドレスを比較することによって行うことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項３】
請求項１に記載の多層光ディスクの記録方法において、所定の半径位置範囲Ｌを、複数の層の半径位置の相対誤差、偏心量及び光ビーム径の和に相当する距離に定めたことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項４】
請求項１に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記小領域は前記第１の記録領域および第２の記録領域を略２分したものであることを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項５】
請求項１に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記小領域の大きさは記録単位ブロックサイズと等しいことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項６】
請求項１に記載の、テスト記録を行わない小領域の少なくとも一部には、使用不可領域であることを示すためのダミー情報を記録することを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項７】
請求項１に記載の多層光ディスクの記録方法において、第１のテスト領域のうち、それぞれの小領域が使用可能であるかどうかを判定するための情報を特定領域を記録するステップ有することを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項８】
３層以上の書換型または追記型の情報記録層を有し、該複数の情報記録層のうち、第１の記録層と、第１の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第２の記録層を少なくとも有し、第１の記録層には複数の小領域よりなる第１のテスト領域を、第２の記録層は複数の小領域よりなる第２のテスト領域をそれぞれ有する光ディスクであって、
第１のテストそれぞれの小領域が使用可能であるかどうかを判定するための情報を記録するための特定領域を有することを特徴とする、複数のテスト領域を有する多層光ディスク。
【請求項９】
３層以上の書換型または追記型の情報記録層を有し、該複数の情報記録層のうち、第１の記録層と、第１の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第２の記録層を少なくとも有し、第１の記録層には複数の記録単位ブロックよりなる第１のテスト領域を、第２の記録層には複数の記録単位ブロックよりなる第２のテスト領域をそれぞれ有する光ディスクを用いてテスト記録を行う方法であって、
半径距離Ｌを定め、
前記第２のテスト領域中の任意の記録単位ブロックがテスト記録済みの場合には、第２のテスト領域中の記録済みテスト領域との半径距離が前記の所定の半径距離Ｌの範囲にある第１のテスト領域中の記録単位ブロックを、テスト記録を行わない記録単位ブロックとしたことを特徴とする、多層光ディスクの記録方法。
【請求項１０】
請求項９に記載の多層光ディスクの記録方法において、上記半径距離Ｌは、複数の層間の半径位置の相対誤差と、複数の層間の相対偏心量と、記録再生対象層以外での光ビーム半径との和に相当する距離に定めたことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項１１】
請求項１０に記載の多層光ディスクの記録方法において、上記複数の層間の半径位置の相対誤差と、複数の層間の相対偏心量と、記録再生対象層以外での光ビーム半径の値として、予め定められたディスクの物理仕様範囲によって定まる値を用いたことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項１２】
請求項１０に記載の多層光ディスクの記録方法において、上記複数の層間の半径位置の相対誤差と、複数の層間の相対偏心量と、記録再生対象層以外での光ビーム半径の値は、ディスクの物理仕様範囲によって定まる値と、実際のディスクの状態を実際に検出することによって求めた値の両者のいずれかを用いて定めることを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の記録層を有する光ディスクおよび複数の記録層を有する光ディスクの記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
図２は従来の多層光ディスクの断面構造と各記録層の情報を選択的に記録再生する原理を模式的に示したものである。本従来例では、記録媒体は合計５つの記録層（第１の記録層４１１、第２の記録層４１２、第３の記録層４１３、第４の記録層４１４、第５の記録層４１５）を備えている。この５層媒体を用いて、例えば、第２の記録層４１２上の記録情報にアクセスするためには、対物レンズ３０の位置を制御し、光スポット３２の位置を第２の記録層４１２上に位置づける。その際、対物レンズによって絞り込まれる途中の収束光３１は、半透明の第１の記録層４１１を透過するが、この第１の記録層上では、収束光３１の光束径は、第２の記録層４１２上での光スポット３２の直径と比べて十分に大きく、このため、半透明の第１の記録層４１１上の記録情報を分解して再生することができない。半透明の第１の記録層４１１上では光束径が大きいため、単位面積あたりの光強度が相対的に小さくなり、記録時に第１の記録層４１１の情報を破壊する心配はない。このようにして第１の記録層の影響を受けずに第１の記録層よりも奥の第２の記録層の情報記録再生を実現している。
【０００３】
同様に第５の記録層４１５上の情報を記録再生する場合は、対物レンズ３０の位置を制御し、光スポット３２の位置を第５の記録層４１５上に位置づける。ここで、記録再生の目的とする層に隣接する層の光束径は、層間の間隔をｄ、対物レンズの開口数をＮＡ、光の波長をλとし、層間透明層の屈折率をｎとしたとき、
２×ｄ×（ＮＡ／ｎ）／（１−（ＮＡ／ｎ）2）1/2
となる。例えばｄが８μｍ、ＮＡが０．８５の場合には光束径は約１０μｍとなり、波長λが４００ｎｍの時の目的層での光スポット３２の径  λ／ＮＡ＝４７０ｎｍと比べて直径で２０倍以上、面積で４００倍以上となる。このようにして、他の層の影響なく、複数の記録層を有する光記録媒体上に記録再生を行う条件に関しては、特開平５−１０１３９８号公報（特許文献１）に詳細が記載されている。
【０００４】
このような複数層光ディスクにおいては、光入射側から見て奥の層に情報を記録する場合に、手前の層上の未記録領域を通して奥の層に記録する場合と、手前の層上の記録済み領域を通して記録する場合では、手前の層の実効的な透過率の違いのために、奥の層に到達するレーザパワーが異なってしまうという問題がある。図５を用いてこの問題を模式的に示す。図５（ａ）は第ｎ番目の記録層（第ｎ層）に光スポットが合焦された様子を示し、図５（ｂ）は、第ｎ層に光スポットが合焦された際に、第ｎ層よりも手前側の記録層（第ｍ層）を透過する光束の様子を示す。図中の縦線は第ｎ層に形成される記録トラックを示す。領域４３１が情報が何も記録されていない領域（未記録領域）を、領域４３２が何らかの情報が記録された領域（記録済み領域）を意味する。ブルーレイディスクの場合、トラックピッチは０．３２μｍであり、第ｎ層からの距離にもよるが、第ｍ層に入射した光は、およそ１００本程度のトラックを含む範囲に広がって第ｍ層を透過する。記録領域と未記録領域とでは透過率が異なるため、同じ光束が透過する場合であっても記録領域と未記録領域とでは透過光量が異なることになる。すなわち、第ｍ層の実効的な透過率は、第ｍ層に存在する記録流域と未記録領域の面積の比によって変化することになる。
【０００５】
この問題に対して、特開２００３−１０９２１７号公報（特許文献２）では、手前の層の未記録部分と記録済み部分の透過率の差が一定値以下になるように記録媒体を構成することにより、手前の層の記録状態によらず、奥の層に対して一定の記録パワーで記録できるようにしている。
【０００６】
特開２００３−１０９２１７号公報に記載のように、手前側の層（第ｍ層）の光学設計を行う際には、未記録領域と記録済み領域で、透過率が変化しないようにすることが望ましい。しかしながら、媒体の製造のバラツキ、設計誤差を始めとする種々の要因により未記録領域４３１と記録済み領域４３２の間に数％から１０％程度の透過率差が生じてしまうのが通例である。また、たとえ手前の透過率を同じにできたとしても反射率が異なるため、手前の層からの反射光の影響により奥の層の再生信号品質が変化することがある。
【０００７】
従って、実際の媒体では、未記録領域４３１と記録済み領域４３２の間に若干の透過率差が存在し、図５に示したように手前側の第ｍ層の未記録領域４３１を通して奥側の第ｎ層に記録する場合と、手前側の第ｍ層の記録済み領域４３２を通して奥側の第ｎ層に記録する場合とでは、第ｍ層の実効的な透過率の違いのために、第ｎ層に到達するレーザパワーが異なってしまう。より正確に言うと、光スポット３２１が奥の第ｎ層に合焦している時の、手前の第ｍ層の実効的な透過率は、手前の第ｍ層が未記録であるか記録済みであるかによって二値的に変化する訳ではなく、手前の第ｍ層上の光ビーム３２２に占める未記録部分と記録済み部分の面積比に応じて連続的に変化する。
【０００８】
この現象が記録学習に及ぼす影響の一例を次に示す。図３は、２層追記型光ディスクにおいて、奥側のＬ０層に記録・再生を行った時の記録パワーとジッタの関係を、手前側のＬ１層が未記録であった場合と、Ｌ１層が記録済みであった場合に分けて示したものである。再生信号を評価する際の信号処理方式としてはブルーレイディスクで標準に使われるリミットイコライザを適用し、信号ジッタ値の大小として信号を表わしている。この測定では、手前のＬ１層の全領域が未記録であった場合、最適記録パワー、すなわちジッタが最小となる記録パワーは７．１ｍＷであり、この時のジッタは６．７％であった。一方、手前のＬ１層の全領域が記録済みであった場合には、最適記録パワーは７．５ｍＷであった。すなわち、Ｌ１層が記録済みであった場合の最適記録パワーは、Ｌ１層が未記録であった場合と比較して約７％高パワー側にシフトした。仮に、Ｌ１層が記録済みの場合に、Ｌ１層が未記録の場合の最適記録パワー７．１ｍＷを用いて記録するとすれば、ジッタは７．０％となり、最適記録パワーを用いる場合よりも、０．３％増加することになる。
【０００９】
この結果は、例えば次のようなことを意味する。Ｌ０層に対する記録学習を行う際に、Ｌ１層上のレーザ光が通過する部分が未記録であったとし、この状態で決定した最適記録パワーを用いて、Ｌ０層全体に記録するものとする。そうすると、Ｌ１層上のレーザが通過する部分が未記録の場合は問題なく記録できるが、そこが記録済みの場合には、Ｌ０層に記録されたデータの再生信号のジッタが増加してしまう。すなわち実効的な記録パワーマージンが縮小してしまう。したがって、特許文献２の方法では、記録パワーマージンが小さくなるため、一定の記録パワーを用いて奥の層全体に渡って高い信頼性で記録を行うことは困難であった。
【００１０】
この問題を回避するための従来例、特許文献３（特開２００５−０３８５８４号公報）や特許文献４（特開２００４−３２７０３８号公報）では、複数層の記録学習のための領域が互いに重ならないようにして、常に手前側の層が未記録の状態で学習を行うようにしていた。また、特許文献５（特開２００８−１９２２５８号公報）では、他の層が記録状態である場合と未記録状態である場合の両者で記録パワーを学習し、その平均をとるという方式で、記録パワー学習の誤差の問題を回避している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１１】
【特許文献１】特開平５−１０１３９８号公報（米国特許第５４１４４５１号）
【特許文献２】特開２００３−１０９２１７号公報
【特許文献３】特開２００５−０３８５８４号公報（米国公開特許２００４／０２６４３３９号）
【特許文献４】特開２００４−３２７０３８号公報
【特許文献５】特開２００８−１９２２５８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら前述した複数の記録層のパワー学習のためのテスト領域の半径位置が互いに異なるように設定する特許文献３及び特許文献４に記載された方式において３層以上の複数層の記録層を持つ多層光ディスクに適用する場合は以下の課題があった。多層ディスクでは製造上の重ね合わせ誤差により異なる層のトラックは互いに偏心している。また、製造時の基板やスタンパの熱収縮・拡大により、半径自体もある程度の誤差を持つことになる。このＮ層の媒体でＮ箇所の異なる半径位置にテスト領域を配置する際には、この偏心分ｄ、熱変形等による半径誤差分Δ、さらに他の層でのスポットサイズ拡大分Ａを考慮して、（２ｄ＋２Δ＋Ａ）×（Ｎ−１）の領域を余裕として確保しなければならない。ｄ、Δ、Ａはたとえばブルーレイディスクの場合の典型的な値はそれぞれ、３７．５μｍ、５０μｍ、２５μｍ程度であるため、たとえば４層光ディスクの場合（２×３７．４＋２×５０＋２５）×（４−１）＝６００μｍの半径領域を確保する必要があり、さらにテスト領域を各層毎に２５０μｍずつ確保した場合、６００μｍ＋４×２５０μｍ＝２．６７５  ｍｍもの半径領域をＯＰＣのために確保する必要があり、その分ユーザデータ領域が減少してしまう問題があった。
【００１３】
手前の層が記録済みの場合と未記録の場合の両者を学習する特許文献５の方式において、３層以上の複数層の記録層を持つ光ディスクに適用する場合は、記録・未記録の組み合わせが層の数に応じて指数的に増大し、学習に時間がかかる問題があるとともに、記録済み、未記録の両者の領域を確保するために実質的なユーザデータ容量が減少してしまうといった問題があった。
【００１４】
本発明の目的は、３層以上の記録層を有する多層光ディスクにおいて、ユーザデータ領域を削ることなく十分なテスト領域を確保するための記録方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明の目的を達成するために以下の手段を用いた。
（１）３層以上の書換型または追記型の情報記録層を有し、該複数の情報記録層のうち、第１の記録層と、第１の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第２の記録層を少なくとも有し、第１の記録層には複数の小領域（セグメント）よりなる第１のテスト領域を、第２の記録層は複数の小領域よりなる第２のテスト領域をそれぞれ有する光ディスクを用いてテスト記録を行う方法であって、所定の半径距離Ｌをあらかじめ定め、前記第２のテスト領域中の任意の小領域（セグメント）がテスト記録済みの場合には、第２のテスト領域中の記録済みテスト領域との半径距離が前記の所定の半径距離Ｌの範囲にある第１のテスト領域中の小領域（セグメント）を、テスト記録を行わない小領域（セグメント）とした。
【００１６】
第２の層でテスト記録を行った後、層間隔ｄだけ離れた光入射面から遠い側に位置する第１の層に記録する場合、記録領域から一定の半径領域Ｌの範囲に位置する第１の記録層上の領域は、第２の記録層での記録の有無の影響を受けることになるが、本手段によりこの影響を回避することが可能になる。ある層の記録の有無が、別の層の記録特性に影響する可能性がある半径範囲Ｌは、ディスク製造誤差による半径位置の相対誤差や、光スポットの大きさで決まる。したがって、この半径範囲にある第１の記録層上のテスト記録ブロックを用いてパワー学習などのテスト記録を行わないようにすることにより、光入射面に近い側に位置する第２の記録層のテスト領域の記録の影響を受けることなく、第１の記録層上のテスト領域でテスト記録を行うことが可能になる。
【００１７】
（２）前記の、所定の半径位置範囲であるかどうかの判定は、小領域のアドレスを比較することによって行う。
テスト領域の任意のアドレスが記録済みか未記録であるかはドライブでアクセスして信号レベルを調べることにより簡単に知ることができるため、記録可能領域のディスク半径範囲の判別が容易になる。
【００１８】
（３）前記の、所定の半径位置範囲Ｌを、複数の層の半径位置の相対誤差、偏心量及び光ビーム径の和に相当する距離に定めた。
これにより、確実に他層での記録の有無の影響を回避することが可能になる。
【００１９】
（４）前記小領域は前記第１の記録領域および第２の記録領域を略２分したものとした。
これにより、記録領域の分類が最小限に抑えられているため、ドライブでの処理が簡略化される。
【００２０】
（５）前記小領域の大きさは、記録単位ブロックサイズと等しいこととした。
これにより、最も無駄なくテスト領域を使用することが可能となる。
【００２１】
（６）前記の、テスト記録を行わない小領域の少なくとも一部には、使用不可領域であることを示すためのダミー情報を記録する。
これにより使用不可能領域の判別が不要になる。
【００２２】
（７）前記第１のテスト領域のそれぞれの小領域が使用可能であるかどうかを判定するための情報を特定領域に記録した。
これにより使用不可能領域の判別が容易になる。
【００２３】
（８）３層以上の書換型または追記型の情報記録層を有し、該複数の情報記録層のうち、第１の記録層と、第１の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第２の記録層を少なくとも有し、第１の記録層には複数の小領域よりなる第１のテスト領域を、第２の記録層は複数の小領域よりなる第２のテスト領域をそれぞれ有する光ディスクであって、第１のテスト領域のそれぞれの小領域が使用可能であるかどうかを判定するための情報を記録するための特定領域を有することとした。
これにより、複数の記録層を持つ光ディスクの実質的な記録容量損なうことなく十分な量のテスト領域を確保することが可能になる。
【００２４】
（９）３層以上の書換型または追記型の情報記録層を有し、該複数の情報記録層のうち、第１の記録層と、第１の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第２の記録層を少なくとも有し、第１の記録層には複数の記録単位ブロック（ＲＵＢ）よりなる第１のテスト領域を、第２の記録層には複数の記録単位ブロック（ＲＵＢ）よりなる第２のテスト領域をそれぞれ有する光ディスクを用いてテスト記録を行う方法であって、半径距離Ｌを定め、
前記第２のテスト領域中の任意の記録単位ブロック（ＲＵＢ）がテスト記録済みの場合には、第２のテスト領域中の記録済みテスト領域との半径距離が前記の所定の半径距離Ｌの範囲にある第１のテスト領域中の記録単位ブロック（ＲＵＢ）を、テスト記録を行わない記録単位ブロック（ＲＵＢ）とした。
【００２５】
第２の層でテスト記録を行った後、層間隔ｄだけ離れた光入射面から遠い側に位置する第１の層に記録する場合、記録領域から一定の半径領域Ｌの範囲に位置する第１の記録層上の領域は、第２の記録層での記録の有無の影響を受けることになるが、本手段によりこの影響を回避することが可能になる。ある層の記録の有無が、別の層の記録特性に影響する可能性がある半径範囲Ｌは、ディスク製造誤差による半径位置の相対誤差や、光スポット大きさで決まる。したがって、この半径範囲にある範囲第１の記録層上のテスト記録ブロックを用いてパワー学習などのテスト記録を行わないようにすることにより、光入射面に近い側に位置する第２の記録層のテスト領域の記録の影響を受けることなく、第１の記録層上のテスト領域でテスト記録を行うことが可能になる。
【００２６】
（１０）上記、半径距離Ｌを、複数の層間の半径位置の相対誤差と、複数の層間の相対偏心量と、記録再生対象層以外での光ビーム半径との和に相当する距離に定めた。
これにより、確実に他層での記録の有無の影響を回避することが可能になる。
【００２７】
（１１）その際、上記、複数の層間の半径位置の相対誤差と、複数の層間の相対偏心量と、記録再生対象層以外での光ビーム半径の値として、予め定められたディスクの物理仕様範囲によって定まる値を用いた。
【００２８】
このように、上記半径距離Ｌを、ディスクの物理仕様範囲によって定めることにより、実際に記録再生を行うドライブによらず同一の記録制御を行うことが容易になるため、互換性が向上する。
【００２９】
各種仕様値として、実際に記録再生を行うドライブで検出した値を用いて、上記Ｌを動的に定めることにより、テスト記録に使うことの出来ない領域を最小限に抑えることがテスト領域をより効率的に利用することが可能となる。
【発明の効果】
【００３０】
本発明によれば、記録パワーの学習時に、他の層が記録済か未記録であるかの差による影響をほとんど受けないため、記録パワーの学習の精度を向上させることができる。また、その際に、実質的に同一の半径位置に各層の記録パワー学習領域を重ねて配置することができるため、ユーザデータ容量の減少を招くことがない。すなわち、３層以上の記録層を有する多層光ディスクにおいて、ユーザデータ領域を削ることなく十分なテスト領域を確保でき、かつ、各層のレーザ照射パワーを適切に制御して記録するための記録することが可能となるため、記録品質、記録データの信頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の多層光ディスクの記録調整領域の配置を示す図。
【図２】多層光ディスクの構造と各層に独立して記録再生を行う原理を示した図。
【図３】従来の多層光ディスクの問題点を説明する図。
【図４】本発明の多層光ディスクの記録再生装置の例。
【図５】従来の多層光ディスクの問題点を説明する図。
【図６】本発明の光ディスクのテスト領域とユーザデータ領域の配置を示す図。
【図７】記録パワー調整のための指標であるアシンメトリの検出方法を説明する図。
【図８】記録パワー調整のための指標であるβの検出方法を説明する図。
【図９】従来の多層光ディスクの記録パワー調整領域での記録特性を示す図。
【図１０】従来の多層光ディスクで記録パワー調整結果を示す図。
【図１１】本発明の多層光ディスクの記録パワー調整領域での記録特性を示す図。
【図１２】本発明の多層光ディスクの記録パワー調整領域での記録パワー調整結果を示す図。
【図１３】本発明の効果を示す図。
【図１４】従来の５層光ディスクの記録パワー調整領域での記録特性を示す図。
【図１５】本発明の５層光ディスクの記録パワー調整領域での記録パワー調整結果を示す図。
【図１６】本発明の記録装置での偏芯量の測定方法を示す図。
【図１７】本発明の記録装置での層間隔の測定方法を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００３２】
（実施例１）
図６は本発明の多層光ディスクにおいて、ユーザデータ領域１１と記録パワーなどの記録再生条件を学習・調整するためのテスト領域１２の配置の仕方の概略を示したものである。本実施例では、テスト領域１２は、ユーザデータ領域１１よりも内周側に配置されている。
【００３３】
図１は、多層ディスク（本実施例では５層）上に、各領域がどのように配置されるかの詳細を示したものである。図１（ａ）ではユーザ領域１１とテスト領域１２、さらにはディスクの最内周付近に光ヘッドを位置づけるためのリードイン領域１４、領域間の緩衝領域であるバッファ領域や管理情報記録領域等を記録する領域１３が、複数の記録層にどのように配置されているかを示している。図で、左側がディスク内周側、右がディスク外周側である。第０層は光入射面から最も遠い側に位置し、第４層は光入射面に最も近い。すなわち、図２の第５の記録層４１５が本実施例の第０層、図２の第１の記録層４１１が本実施例の第４層と対応する。各記録層の層間の間隔は、層間クロストークの影響が最小になるように層毎に違えてあるが、層間間隔の最小値は約１１μｍである。テスト領域１１は、本実施例の多層ディスクでは記録のためのパワーを最適に制御するための学習領域という意味で、Optimum Power Control領域（ＯＰＣ領域）と呼ばれている。各層のテスト領域１１はほぼ同一の半径位置に位置する。
【００３４】
図１（ｂ）は、テスト領域内の細分を示したものであり、セグメント（小領域）１２３が、複数個配置されている。各セグメント１２３は複数の記録単位ブロックからなり、図ではセグメント内のすべての領域が記録済みのセグメント、セグメントの一部のみが記録済みのセグメント、未記録のセグメントが混在している。図中、光入射面に近い層（第ｎ層）の左から２番目のセグメントは一部記録済みであるため、第ｍ層のセグメントから半径範囲Ｌ以内にある第ｍ層の中央のセグメントの未記録領域は使用不適領域として、右から２番目の領域でテスト記録を行っている。本実施例では、各セグメントの半径長さは、ある層の記録の有無が、別の層の記録特性に影響する可能性がある半径範囲Ｌよりも大きく設定している。このＬは焦点位置から層間隔分離れた位置での光ビーム直径にディスクの製造時の半径公差の最大値と層間の相対偏心の最大値（７５μｍ）を加えた値で、このＬの範囲内に有る領域同士は、ディスクの製造バラツキに起因する半径位置ずれや偏心の最悪のケースで半径位置が透過層での光ビーム径の広がり分を考慮すると実質的に重なる可能性がある。
【００３５】
したがって、本実施例のように、第ｎ層の記録済みセグメントから半径範囲Ｌに位置する第ｍ層（光入射面から遠い層）のセグメント、すなわち、隣接セグメントを使用不適領域として、パワー学習などの記録テストには使用しないようにすることにより、透過層（第ｎ層）の記録影響を受けずに正確な学習を行うことが可能となる。
【００３６】
図１（ｃ）は、テスト領域の別の使用方法の例を示したものである。この例ではセグメントは最小記録単位（記録ブロック、または、記録クラスタ）と一致している。記録ブロックは半径範囲Ｌよりも小さいための複数の記録ブロックが半径範囲Ｌ内に位置することになる。したがって、複数の記録ブロックが使用不適ブロックとなる。
【００３７】
ここで、半径範囲Ｌについて説明する。第２の層でテスト記録を行った後、層間隔ｄだけ離れた光入射面から遠い側に位置する第１の層に記録する場合を考える、対物レンズのＮＡ０．８５、層間のスペーサ層の屈折率ｎ＝１．６を用いると、例えば層間隔ｄが３０μｍの時、層間隔ｄ離れた層でのビーム直径は
［２ｄ×（ＮＡ／ｎ）／｛１−（ＮＡ／ｎ）2｝1/2］≒２５μｍ
となる。これにディスクの製造時の層間の半径交差の最大値（１００μｍ）と層間の相対偏心の最大値（７５μｍ）を加えた値（２００μｍ）が、ある層の記録の有無が、別の層の記録特性に影響する可能性がある半径範囲Ｌである。したがって、この半径範囲にある第１の記録層上のテスト記録ブロックを用いてパワー学習などのテスト記録を行わないようにすることにより、光入射面に近い側に位置する第２の記録層のテスト領域の記録の影響を受けることなく、第１の記録層上のテスト領域でテスト記録を行うことが可能になる。
【００３８】
使用不適ブロックを使用不適と判断する方法は、複数の層間のブロックアドレスを比較して行う方法、使用不適ブロックにダミーデータをあらかじめ記録する方法、管理領域（ＴＤＤＳ）などに記録不適ブロックであることを示す情報を記録するなどの方法があり、ドライブ間互換性の観点からこれらの複数の方法を組み合わせるのが望ましい。
【００３９】
（実施例２）
次に、各種光ディスクを、図４に示した記録再生装置により再生評価する例を示す。ヘッド３の一部であるレーザ光源３４（本実施例では波長約４０５ｎｍ）から出射された光はコリメータレンズ３３１を通してほぼ平行な光ビームへとコリメートされる。コリメートされた光ビームはビームスプリッタ３６を透過し収差補正素子３７及び対物レンズ３０を通して光ディスク１上に収束光３１として照射され、スポット３２を形成する。  
【００４０】
ディスクからの反射光は、ビームスプリッタ３６やホログラム素子３９などを通して、検出レンズ３３２及び３３３によりサーボ用検出器３５１及び信号検出器３５２へと導かれる。各検出器からの信号は加算・減算処理されトラッキング誤差信号やフォーカス誤差信号などのサーボ信号となりサーボ回路７９に入力される。サーボ回路は得られたトラッキング誤差信号やフォーカス誤差信号をもとに、対物レンズアクチュエータ７８や光ヘッド３全体の位置を制御し、光スポット３２の位置を目的の記録・再生領域に位置づける。検出器３５２の加算信号は信号再生ブロック２へ入力される。入力信号は信号処理回路２５によってフィルタ処理、周波数等化処理後、デジタル化処理される。ディスク上にグルーブ（溝部）のウォブルなどの形で形成されているアドレス情報は分割検出器３５２からの差動信号として検出され、信号再生ブロック２中のウォブル検出回路２２へと入力される。ウォブル検出回路２２は、ウォブル信号と同期したクロックを生成し、ウォブル波形を弁別する働きを持つ。ウォブル検出回路２２により検出されたウォブル信号はアドレス検出回路２３によってデジタル情報に変換され、その後、復号回路２６によってエラー訂正などの処理を行ってアドレス情報として検出される。検出されたアドレス情報をもとに、記録再生処理の開始タイミング信号などが生成されユーザデータの復調回路２４が制御される。同時にアドレス情報は制御回路（マイクロプロセッサ）２７にも送られ、アクセスなどに用いられる。
【００４１】
このような光ディスク記録再生装置で、多層光ディスクに記録再生を行う方法は、（背景技術）に記載した方法と基本的には同じである。たとえば実施例１に示した５層の記録層を持つ記録媒体にアクセスする場合、対物レンズ３０の位置を制御し、光スポット３２の位置を目的の記録層（たとえば第２層）上に位置づける。すなわち目的の記録層上では合焦状態である。その際、対物レンズによって絞り込まれる途中の収束光は、手前側にある半透明の別の記録層（たとえば第４層や第３層）を透過するが、別の記録層上では、収束光３１の光束径は、目的の記録層上での光スポット３２の直径と比べて十分に大きく、このため、半透明の記録層上の記録情報を分解して再生することができない。すなわち、別の層の記録情報の影響を受けずに目的の層の情報再生することが可能である。記録時にも目的の層以外の記録層上では光束径が十分に大きいため、単位面積あたりの光強度が相対的に小さくなり、記録時にも目的以外の記録層の情報を破壊する心配はない。このようにして、複数の層の光ディスクでの情報記録再生を実現している。
【００４２】
このような装置を用いて記録パワーを学習する方法としては、図７や図８に記載したような信号の非対称性を検出する方法や、信号の振幅（変調度）のパワー依存性を評価する方法が一般的である。
【００４３】
図７は一般にアシンメトリと言われる指標で、信号のアイパターンの中心と信号の上下の包落線までの振幅を測定する方法を示したものである。上側（スペース側）包落線とアイパターンの中心までの振幅をＡ、下側（マーク側）包落線とアイパターンの中心までの振幅をＢ、とした時、アシンメトリは（Ａ−Ｂ）／（Ａ＋Ｂ） で定義され、記録パワーが大きくなるにしたがって、アシンメトリは負から正に変化する。最適パワーの記録条件でのアシンメトリは、光ディスク記録膜の特性によって若干（数％）のオフセットがある場合もあるが、およそはゼロ付近である。図８はβと呼ばれる評価指標で、この場合はアイパターンの中心を求める代わりにハイパスフィルタを用いてＤＣ成分を取り除き、ＡＣ結合したゼロ点を基準に上下の包落線振幅Ａ１、Ａ２を求め、β＝（Ａ１−Ａ２）／（Ａ１＋Ａ２）を求めるものである。２つの手法は若干の違いがあるものの、どちらもゼロ付近が最適パワーとなる点で共通しており、装置の回路系の構成によって、いずれかを選択して用いられることが多い。信号の振幅（変調度）のパワー依存性を評価する方法は、ここでは説明しないが、ＤＣ振幅を検出するため、多層光ディスクのように漏れ光・迷光の影響が出やすい系では検出精度が悪化しやすい。
【００４４】
（実施例３）
実施例２に記載の装置を用いて、３層追記型光ディスクの再生信号品質をジッタとして評価した例を図９に示す。この例では、手前側に位置する２つの層が記録状態の場合と未記録状態の場合とで、目的とする奥の層の記録特性（記録マージンカーブ）が異なっている。この原因は、再生特性ではなく、多層光ディスクにおいて、光入射側から見て奥の層に記録する場合に、手前の層上の未記録領域を通して奥の層に記録する場合と、手前の層上の記録済み領域を通して記録する場合では、手前の層の実効的な透過率の違いのために、奥の層に到達するレーザパワーが異なってしまうためである。すなわち実効的に記録感度が異なり、実効的な記録パワーが変化してしまうことが、記録特性変化の原因である。
【００４５】
一番奥の層（第０層）のユーザデータ領域へ記録した記録情報のβ値を評価した例を図１０に示す。手前の２層に記録してある場合は、β値が低下する。すなわち最適記録パワーが相対的に高い側にシフトし、実効的な記録感度が低下する。この変化は、本実施例の光ディスクでは記録パワーにして最大１０％である。
【００４６】
図１１は本発明を適用して記録調整のためのテスト領域で記録特性（ジッタ）を評価したものである。手前の２つの層へ記録をした後にも、未記録の場合と全く変わらない記録特性が得られており、手前の層の記録／未記録の違いの影響を受けないテスト記録が実現されていることが分かる。  
【００４７】
図１２は本発明を適用して記録調整のためのテスト領域でβ値を評価したものである。手前の２つの層へ記録をした後にも、未記録の場合と全く変わらない記録感度特性が得られており記録パワーが正確に求められることがわかる。実際にユーザデータ領域に記録を行う場合は、このようにして求めた正確な記録パワー（１２．１ｍＷ）の５％増の記録パワーを用いる。その理由は、ユーザデータ領域では、手前の層の記録状態によって、最大１０％記録感度が低下（最適パワーが増大）するため、約５％増の記録パワーで記録することにより、記録感度最大の領域（手前の２層が未記録）と記録感度最低の領域（手前の２層が記録済み）のどちらにとっても５％以下のパワー誤差で記録できることになる。すなわち、図１０の２つのジッタカーブのどちらにとっても、ジッタカーブのボトム付近に当たる１２．７ｍＷ程度のパワーを用いて記録することにより、手前の層の記録状態によらずほぼ最適なパワーで記録することが可能となる。
【００４８】
図１３（ａ）は、本発明の追記型光ディスクを用いて、テスト領域で記録パワー調整を行った場合と、従来の光ディスクの記録方法の場合とのパワー調整結果を比較したものであり、図１３（ｂ）は記録データのエラー率を示したものである。横軸は、ユーザデータ領域のうちの記録済み領域の割合であり、２種のディスクは同一の条件、かつ、準ランダムな順序で、複数の層に記録を行い、また、一定の間隔でロード・アンロードを行うことにより強制的に記録パワー調整を行わせている。本発明では、記録済み割合によらず記録パワー学習結果がほぼ一定しているのに対して、従来例では、記録済み割合が増えるにしたがって、記録パワーの学習結果のバラツキが大きくなるとともに、記録パワーも高パワー側にシフトしている（図１３（ａ））。すなわち従来の方法では記録するにしたがって本来の記録パワーではなく、高パワー側にシフトした誤った記録パワーに調整されることを示している。
【００４９】
図１３（ｂ）は本発明の記録方法で記録した場合と従来の記録方法で記録した場合とでの記録データの品質を評価したものである。縦軸はシンボルエラー率であり、エラー率が低いほど良い記録品質である。本発明では、記録済み割合によらずエラー率が常に１０のマイナス５乗程度以下に保たれ、良好な記録品質を維持しているが、従来例では記録済み割合が増えるにしたがいエラー率が増加している。これは、従来例では記録パワーの学習制度が悪くなり、過剰な記録パワーで記録したために、記録品質が低下していることを示している。
【００５０】
以上のように本発明によれば、記録パワーの学習時に、他の層が記録済か未記録であるかの差による影響を全く受けないため、記録パワーの学習の精度を向上させることができる。また、その際に、実質的に同一の半径位置に各層の記録パワー学習領域を重ねて配置することができるため、ユーザデータ容量の減少を招くことがない。すなわち、３層以上の記録層を有する多層光ディスクにおいて、ユーザデータ領域を削ることなく十分なテスト領域を確保でき、かつ、各層のレーザ照射パワーを適切に制御して記録するための記録することが可能となるため、記録品質、記録データの信頼性が向上する。
【００５１】
（実施例４）
実施例２に記載の装置を用いて、実施例１に記載の追記型５層光ディスクにおいて、一番奥の層（第０層）のユーザデータ領域へ記録した記録情報のアシンメトリを評価した例を図１４に示す。手前の層に１層でも記録してあるとアシンメトリが低下する。すなわち最適記録パワーが相対的に高い側にシフトし、実効的な記録感度が低下する。この変化は手前の４つの層全てに記録した場合に最大となり、パワーにして最大１２％変化する。
【００５２】
図１５は本発明を適用して記録調整のためのテスト領域でアシンメトリを評価したものである。手前の４つの層へ記録をした後にも、未記録の場合とほとんど変わらない記録感度特性が得られており記録パワーが正確に求められることがわかる。
【００５３】
求めた記録パワーを用いてユーザ領域に実際に記録を行う場合には求めた最適パワーの約６％増の記録パワーを用いて行う。これは、手前の層が全て未記録の場合と比べて、全て記録の場合は必要パワーが１２％増大することを考慮したものである。本発明の適用によりテスト領域での学習で求まる記録パワーは常に手前の層が未記録の際の記録パワーに同等なものとなる。しかしながら、ユーザデータ領域では、手前の層の記録状態によって、最大１２％記録感度が低下（最適パワーが増大）するため、約６％増の記録パワーで記録することにより、記録感度最大の領域と記録感度最低の領域のどちらにとっても最大でも６％以下のパワー誤差で記録できることになる。本発明の多層光ディスクでは、記録パワーマージンは±１３％程度あるので、この６％の誤差は許容できるが、本発明の記録方法を適用しない場合は、１２％のパワー誤差が生じることになるためマージンがほとんどなくなり、ディスク傾きなど他のストレスでエラーを生じる原因になってしまう。ここでは、ユーザ領域の記録パワーをテスト領域で求めたパワーの何倍にするかは、予めディスク毎、層毎の特性を評価しておき、対照表としてドライブ内に格納しておく方法と、ディスクのコントロール情報領域に記載しておく方法があるが、互換性の観点からはディスクのコントロール情報領域に予め記載しておくのが望ましい。
【００５４】
（実施例５）
本実施例では、テスト領域の使用方法は先の実施例で図１（ｃ）と実質的に同じである。すなわち、第ｎ層の記録済みブロックから、半径距離Ｌの範囲にある、第ｍ層の記録ブロックを使用不適ブロックとする。その際、半径範囲Ｌは動的に定めるものとする。
【００５５】
本実施例で使用したディスクの場合、層間の半径公差の最大値は１００μｍ、層間の相対偏心の最大値は７５μｍである。層間隔ｄ離れた層での光スポットの半径は、
［ｄ×（ＮＡ／ｎ）／｛１−（ＮＡ／ｎ）2｝1/2］
で表されるため、層間隔の最大値が５０μｍである本実施例のディスクでは、スポット径は２５μｍである。したがって、ディスクの物理仕様値範囲で定まる半径誤差、偏芯、光ビーム半径の和は、Ｌ＝１００μｍ＋７５μｍ＋３１μｍ＝２０６μｍとなる。これに対し、本実施例ではＬとしてこの２０６μｍという値をそのまま用いるのではなく、光ディスクドライブによって実際に検出した偏芯値および層間距離を用いる。
【００５６】
本実施例での偏芯値の測定の方法の例を、図１６を用いて説明する。偏芯量の測定の際には測定対象の層にフォーカスした後、当該層の記録トラックに光スポット３２追従させるようにトラキングサーボをかけ、その際レンズ移動量５０を測定する。レンズ移動量はトラッキングのためのアクチュエータ７８に印加するレンズ駆動電流５１から求める。ディスク偏芯に相当する周波数すなわち、ディスクの回転数に相当する周波数帯域では、レンズの移動量は、レンズ駆動電流と比例する。したがって、レンズ駆動電流とレンズ移動量の関係はドライブに固有の値で予め分かっているため、レンズの駆動電流を測定することにより、ディスクの偏芯量に対応したレンズ移動量を求めることが出来る。ここで、正確な偏芯量の測定のためには、ヘッド全体を移動させるスレッドモータの移動を停止するか、移動量を加味して補正するなどの処理が推奨される。この処理をそれぞれの層に対して行うことによって各層の偏芯量が求められる。２層間の相対偏芯量は、各層の偏芯量のPeak-to-Peak値の平均にて与えられる。各層の偏芯の位相が測定可能な場合には、偏芯の量と方向を加味したベクトル減算により、より正確な相対偏芯量を算出することが可能となる。
【００５７】
層間距離の測定方法を、図１７を用いて説明する。フォーカスアクチュエータをランプ波形で駆動してフォーカス方向にレンズを走引させる。走引しながら、フォーカス誤差信号５２と総光量信号５３を検出し、２つの信号の関係から、各層のフォーカス方向位置を特定し、そのレンズ位置の差から層間隔５４を求める。この層間隔５４は、ｎ層とｍ層が２層分離れた場合である。はただし、レンズ移動量と層間隔は層間のスペーサの屈折率をｎとすると、層間隔＝レンズ移動量×ｎなる関係がある。
【００５８】
このようにしてディスク装填時などに、相対偏芯量や層間隔を測定し、この測定値を元にＬ＝相対半径誤差（仕様範囲）＋相対偏芯量（測定値）＋光ビーム半径（測定値からの計算値）を算出し、そのＬに基づきこの半径範囲にある範囲第１の記録層上のテスト記録ブロックを用いてパワー学習などのテスト記録を行わないようにすることにより、光入射面に近い側に位置する第２の記録層のテスト領域の記録の影響を受けることなく、第１の記録層上のテスト領域でテスト記録を行うことが可能になる。その際、使用不適ブロックを使用不適と判断する方法は複数の層間のブロックアドレスを比較して行う方法、使用不適ブロックにダミーデータをあらかじめ記録する方法、管理領域（ＴＤＤＳ）などに記録不適ブロックであることを示す情報あるいは、使用可能な領域の開始アドレスを記録するなどの方法があり、ドライブ間互換性の観点からこれらの複数の方法を組み合わせるのが望ましい。層間のブロックアドレスを比較する際には、層によってアドレスの起点や表現方法が異なる場合には、その分を考慮して算出する必要がある。
【００５９】
本実施例では、相対半径誤差としてディスクの仕様値を用いたが、相対半径誤差として測定値を用いることも可能である。相対半径誤差の測定は、たとえば、第１の層で任意のトラックに追従させた状態でヘッド全体を移動させるスレッドモータの駆動を停止し、レンズ駆動信号をモニターしながら、レンズ駆動信号のＤＣ成分がゼロになるような記録ブロックにアクセスする。次に、スレッドモータの駆動を停止したまま、第２の層に移動して、トラッキングをかけ、レンズ駆動信号をモニターしながら、レンズ駆動信号のＤＣ成分がゼロになるような記録ブロックにアクセスする。こうして第１の層のアドレスと第２の層のアドレスを比較することにより、アドレスの差分から相対半径位置誤差算出することが出来る。層によってアドレスの起点や表現方法が異なる場合には、その分を考慮して算出する必要がある。
【００６０】
この実施例では、半径範囲Ｌを動的に定めることを説明したが、各記録層毎、媒体毎、媒体とドライブとの組み合わせごと等、それぞれの任意の場合に定めて良い。      
【００６１】
本発明の効果は以上説明した実施例に限られるものではない。たとえば、光ディスクの記録層として、追記型の他に、書き換え型の記録層を用いることも可能である。書き換え型の記録層の場合はアシンメトリやβ値では、必ずしも正確なパワーが求まらないことがあるので、記録パワー調整ＯＰＣの指標として、変調度やε、γ、κなどの指標を併用するのが望ましい。
【００６２】
また、記録可能領域の割合を制限する本発明の考え方は、テスト領域に適用するだけでなく、記録管理情報や欠陥管理情報などが記録される管理領域に適用するのも有効である。この場合、通常のユーザ情報領域と比べて管理情報の記録を高品質・高信頼で行うことが可能となるため、ディスク全体の記録信頼性が向上する利点がある。
【符号の説明】
【００６３】
１…記録媒体、１１…ユーザデータ領域、１２…テスト領域、１２３…セグメント（小領域）、１２４…記録単位ブロック、１３…バッファ領域、管理領域、…、１４…リードイン領域、２２…ウォブル検出回路、２３…アドレス検出回路、２４…復調回路、２５…信号処理回路、２６…復号回路、２７…マイクロプロセッサ、２８…レーザドライバ、２９…メモリ、３…光ヘッド、３０…対物レンズ、３１…収束光、３２…光スポット、３２１…合焦光スポット、３２２…手前の層での光ビーム、３３１、３３２、３３３…コリメタ−レンズ、３４…レーザ、３５１…サーボ用検出器、３５２…信号検出器、３６…ビームスプリッタ、３７…収差補正素子、３９…ホログラム素子、４１１、４１２、４１３、４１４、４１５…第１、第２、第３、第４、第５の記録層、４３１…未記録領域、４３２…記録済み領域、５０…レンズ移動量、５１…レンズ駆動電流、５２…フォーカス誤差信号、５３…検出総光量信号、５３…層間隔、７７…モータ、７８…レンズアクチュエータ、７９…サーボ回路。
【図１】
2011014213.tif 000003
【図２】
2011014213.tif 000004
【図３】
2011014213.tif 000005
【図４】
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【図５】
2011014213.tif 000007
【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
2011014213.tif 000014
【図１３】
2011014213.tif 000015
【図１４】
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【図１５】
2011014213.tif 000017
【図１６】
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【図１７】
2011014213.tif 000019
【手続補正書】
【提出日】平成21年9月25日(2009.9.25)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００４】
このような複数層光ディスクにおいては、光入射側から見て奥の層に情報を記録する場合に、手前の層上の未記録領域を通して奥の層に記録する場合と、手前の層上の記録済み領域を通して記録する場合では、手前の層の実効的な透過率の違いのために、奥の層に到達するレーザパワーが異なってしまうという問題がある。図５を用いてこの問題を模式的に示す。図５（ａ）は第ｎ番目の記録層（第ｎ層）に光スポットが合焦された様子を示し、図５（ｂ）は、第ｎ層に光スポットが合焦された際に、第ｎ層よりも手前側の記録層（第ｍ層）を透過する光束の様子を示す。図中の縦線は第ｍ層に形成される記録トラックを示す。領域４３１が情報が何も記録されていない領域（未記録領域）を、領域４３２が何らかの情報が記録された領域（記録済み領域）を意味する。ブルーレイディスクの場合、トラックピッチは０．３２μｍであり、第ｎ層からの距離にもよるが、第ｍ層に入射した光は、およそ１００本程度のトラックを含む範囲に広がって第ｍ層を透過する。記録領域と未記録領域とでは透過率が異なるため、同じ光束が透過する場合であっても記録領域と未記録領域とでは透過光量が異なることになる。すなわち、第ｍ層の実効的な透過率は、第ｍ層に存在する記録流域と未記録領域の面積の比によって変化することになる。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３３】
図１は、多層ディスク（本実施例では５層）上に、各領域がどのように配置されるかの詳細を示したものである。図１（ａ）ではユーザ領域１１とテスト領域１２、さらにはディスクの最内周付近に光ヘッドを位置づけるためのリードイン領域１４、領域間の緩衝領域であるバッファ領域や管理情報記録領域等を記録する領域１３が、複数の記録層にどのように配置されているかを示している。図で、左側がディスク内周側、右がディスク外周側である。第０層は光入射面から最も遠い側に位置し、第４層は光入射面に最も近い。すなわち、図２の第５の記録層４１５が本実施例の第０層、図２の第１の記録層４１１が本実施例の第４層と対応する。各記録層の層間の間隔は、層間クロストークの影響が最小になるように層毎に違えてあるが、層間間隔の最小値は約１１μｍである。テスト領域１２は、本実施例の多層ディスクでは記録のためのパワーを最適に制御するための学習領域という意味で、Optimum Power Control領域（ＯＰＣ領域）と呼ばれている。各層のテスト領域１２はほぼ同一の半径位置に位置する。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３４】
図１（ｂ）は、テスト領域内の細分を示したものであり、セグメント（小領域）１２３が、複数個配置されている。各セグメント１２３は複数の記録単位ブロックからなり、図ではセグメント内のすべての領域が記録済みのセグメント、セグメントの一部のみが記録済みのセグメント、未記録のセグメントが混在している。図中、光入射面に近い層（第ｎ層）の左から２番目のセグメントは一部記録済みであるため、第ｎ層の記録済みセグメントから半径範囲Ｌ以内にある第ｍ層の中央のセグメントの未記録領域は使用不適領域として、右から２番目の領域でテスト記録を行っている。本実施例では、各セグメントの半径長さは、ある層の記録の有無が、別の層の記録特性に影響する可能性がある半径範囲Ｌよりも大きく設定している。このＬは焦点位置から層間隔分離れた位置での光ビーム直径にディスクの製造時の半径公差の最大値と層間の相対偏心の最大値（７５μｍ）を加えた値で、このＬの範囲内に有る領域同士は、ディスクの製造バラツキに起因する半径位置ずれや偏心の最悪のケースで半径位置が透過層での光ビーム径の広がり分を考慮すると実質的に重なる可能性がある。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００３７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００３７】
ここで、半径範囲Ｌについて説明する。第２の層でテスト記録を行った後、層間隔ｄだけ離れた光入射面から遠い側に位置する第１の層に記録する場合を考える、対物レンズのＮＡ０．８５、層間のスペーサ層の屈折率ｎ＝１．６を用いると、例えば層間隔ｄが３０μｍの時、層間隔ｄ離れた層でのビーム直径は
［２ｄ×（ＮＡ／ｎ）／｛１−（ＮＡ／ｎ）2｝1/2］≒２５μｍ
となる。これにディスクの製造時の層間の半径公差の最大値（１００μｍ）と層間の相対偏心の最大値（７５μｍ）を加えた値（２００μｍ）が、ある層の記録の有無が、別の層の記録特性に影響する可能性がある半径範囲Ｌである。したがって、この半径範囲にある第１の記録層上のテスト記録ブロックを用いてパワー学習などのテスト記録を行わないようにすることにより、光入射面に近い側に位置する第２の記録層のテスト領域の記録の影響を受けることなく、第１の記録層上のテスト領域でテスト記録を行うことが可能になる。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５０】
以上のように本発明によれば、記録パワーの学習時に、他の層が記録済か未記録であるかの差による影響を全く受けないため、記録パワーの学習の精度を向上させることができる。また、その際に、実質的に同一の半径位置に各層の記録パワー学習領域を重ねて配置することができるため、ユーザデータ容量の減少を招くことがない。すなわち、３層以上の記録層を有する多層光ディスクにおいて、ユーザデータ領域を削ることなく十分なテスト領域を確保でき、かつ、各層のレーザ照射パワーを適切に制御して記録することが可能となるため、記録品質、記録データの信頼性が向上する。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００５５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００５５】
本実施例で使用したディスクの場合、層間の半径公差の最大値は１００μｍ、層間の相対偏心の最大値は７５μｍである。層間隔ｄ離れた層での光スポットの半径は、
［ｄ×（ＮＡ／ｎ）／｛１−（ＮＡ／ｎ）2｝1/2］
で表されるため、層間隔の最大値が５０μｍである本実施例のディスクでは、スポット径は３１μｍである。したがって、ディスクの物理仕様値範囲で定まる半径誤差、偏芯、光ビーム半径の和は、Ｌ＝１００μｍ＋７５μｍ＋３１μｍ＝２０６μｍとなる。これに対し、本実施例ではＬとしてこの２０６μｍという値をそのまま用いるのではなく、光ディスクドライブによって実際に検出した偏芯値および層間距離を用いる。 
【手続補正書】
【提出日】平成22年7月20日(2010.7.20)
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
３層以上の書換型または追記型の情報記録層を有し、該複数の情報記録層のうち、第１の記録層と、前記第１の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第２の記録層を少なくとも有し、前記第１の記録層には複数の小領域よりなる第１のテスト領域を、前記第２の記録層には複数の小領域よりなる第２のテスト領域をそれぞれ有する光ディスクを用いてテスト記録を行う方法であって、
所定の半径距離Ｌをあらかじめ定め、
前記第２のテスト領域中の任意の小領域がテスト記録済みの場合には、前記第２のテスト領域中の記録済みテスト領域との半径距離が前記所定の半径距離Ｌの範囲にある前記第１のテスト領域中の小領域を、テスト記録を行わない小領域とし、前記テスト記録を行わない小領域の少なくとも一部には、使用不可領域であることを示すためのダミー情報を記録することを特徴とする、多層光ディスクの記録方法。
【請求項２】
請求項１に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記所定の半径距離Ｌの範囲であるかどうかの判定は、小領域のアドレスを比較することによって行うことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項３】
請求項１に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記所定の半径距離Ｌを、複数の層の半径位置の相対誤差、偏心量及び光ビーム径の和に相当する距離に定めたことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項４】
請求項１に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記小領域の大きさは記録単位ブロックサイズと等しいことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項５】
請求項１に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記第１のテスト領域のうち、それぞれの小領域が使用可能であるかどうかを判定するための情報を特定領域に記録するステップを有することを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項６】
３層以上の書換型または追記型の情報記録層を有し、該複数の情報記録層のうち、第１の記録層と、前記第１の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第２の記録層を少なくとも有し、前記第１の記録層には複数の記録単位ブロックよりなる第１のテスト領域を、前記第２の記録層には複数の記録単位ブロックよりなる第２のテスト領域をそれぞれ有する光ディスクを用いてテスト記録を行う方法であって、
半径距離Ｌを定め、
前記第２のテスト領域中の任意の記録単位ブロックがテスト記録済みの場合には、前記第２のテスト領域中の記録済みテスト領域との半径距離が前記半径距離Ｌの範囲にある前記第１のテスト領域中の記録単位ブロックを、テスト記録を行わない記録単位ブロックとし、前記テスト記録を行わない記録単位ブロックの少なくとも一部には、使用不可領域であることを示すためのダミー情報を記録することを特徴とする、多層光ディスクの記録方法。
【請求項７】
請求項６に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記半径距離Ｌは、複数の層間の半径位置の相対誤差と、複数の層間の相対偏心量と、記録再生対象層以外での光ビーム半径との和に相当する距離に定めたことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項８】
請求項７に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記複数の層間の半径位置の相対誤差と、複数の層間の相対偏心量と、記録再生対象層以外での光ビーム半径の値として、予め定められたディスクの物理仕様範囲によって定まる値を用いたことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項９】
請求項７に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記複数の層間の半径位置の相対誤差と、前記複数の層間の相対偏心量と、記録再生対象層以外での光ビーム半径の値は、ディスクの物理仕様範囲によって定まる値と、実際のディスクの状態を実際に検出することによって求めた値の両者のいずれかを用いて定めることを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【手続補正書】
【提出日】平成22年12月1日(2010.12.1)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
３層以上の書換型または追記型の情報記録層を有し、該複数の情報記録層のうち、第１の記録層と、前記第１の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第２の記録層を少なくとも有し、前記第１の記録層には複数の小領域よりなる記録パワー学習のための第１のテスト領域を、前記第２の記録層には複数の小領域よりなる記録パワー学習のための第２のテスト領域をそれぞれ有し、前記第１のテスト領域と前記第２のテスト領域とは実質的に同一の半径位置に重ねて配置されている光ディスクを用いてテスト記録を行う方法であって、
複数の層の半径位置の相対誤差、偏心量及び光ビーム径の和に相当する所定の半径距離Ｌをあらかじめ定め、
前記第２のテスト領域中の任意の小領域がテスト記録済みの場合には、前記第２のテスト領域中の記録済みテスト領域との半径距離が前記所定の半径距離Ｌの範囲にある前記第１のテスト領域中の小領域を、テスト記録を行わない小領域とし、前記テスト記録を行わない小領域の少なくとも一部には、使用不可領域であることを示すためのダミー情報を記録することを特徴とする、多層光ディスクの記録方法。
【請求項２】
請求項１に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記所定の半径距離Ｌの範囲であるかどうかの判定は、小領域のアドレスを比較することによって行うことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項３】
請求項１に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記小領域の大きさは記録単位ブロックサイズと等しいことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項４】
請求項１に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記第１のテスト領域のうち、それぞれの小領域が使用可能であるかどうかを判定するための情報を特定領域に記録するステップを有することを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項５】
３層以上の書換型または追記型の情報記録層を有し、該複数の情報記録層のうち、第１の記録層と、前記第１の記録層よりも光入射面に近い側に位置する第２の記録層を少なくとも有し、前記第１の記録層には複数の記録単位ブロックよりなる記録パワー学習のための第１のテスト領域を、前記第２の記録層には複数の記録単位ブロックよりなる記録パワー学習のための第２のテスト領域をそれぞれ有し、前記第１のテスト領域と前記第２のテスト領域とは実質的に同一の半径位置に重ねて配置されている光ディスクを用いてテスト記録を行う方法であって、
複数の層間の半径位置の相対誤差と、前記複数の層間の相対偏心量と、記録再生対象層以外での光ビーム半径との和に相当する所定の半径距離Ｌを定め、
前記第２のテスト領域中の任意の記録単位ブロックがテスト記録済みの場合には、前記第２のテスト領域中の記録済みテスト領域との半径距離が前記所定の半径距離Ｌの範囲にある前記第１のテスト領域中の記録単位ブロックを、テスト記録を行わない記録単位ブロックとし、前記テスト記録を行わない記録単位ブロックの少なくとも一部には、使用不可領域であることを示すためのダミー情報を記録することを特徴とする、多層光ディスクの記録方法。
【請求項６】
請求項５に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記複数の層間の半径位置の相対誤差と、前記複数の層間の相対偏心量と、前記記録再生対象層以外での光ビーム半径の値として、予め定められたディスクの物理仕様範囲によって定まる値を用いたことを特徴とする多層光ディスクの記録方法。
【請求項７】
請求項５に記載の多層光ディスクの記録方法において、前記複数の層間の半径位置の相対誤差と、前記複数の層間の相対偏心量と、前記記録再生対象層以外での光ビーム半径の値は、ディスクの物理仕様範囲によって定まる値と、実際のディスクの状態を実際に検出することによって求めた値の両者のいずれかを用いて定めることを特徴とする多層光ディスクの記録方法。