【誤訳訂正書】
【提出日】平成27年5月18日(2015.5.18)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像スキャナの電磁放射を低減させる方法であって、
繰り返されるディザリングサイクルで、走査パスの間に元画像の複数の画素を走査する画素走査のために使用されるクロック信号の周波数をディザリングする段階と、
複数の走査パスのそれぞれの開始が対応するディザリングサイクル内の同じ時点に生じるように、複数の走査パスの開始を前記ディザリングサイクルに合わせて調節する段階と、
１つの既知の色および強度を有する、または、様々な既知の色および強度の様々な部分若しくは線を有する較正画像を走査する１以上の較正パスを実行して、センサ修正データを集める段階と、
前記１以上の較正パスのそれぞれの開始が対応するディザリングサイクル内の前記同じ時点に生じるように、前記１以上の較正パスの開始を前記ディザリングサイクルに合わせて調節する段階と、
前記１以上の較正パスの間に集められた前記センサ修正データに基づいて、１以上の走査パスの間に生成された複数の画素値を修正する段階と
を備える方法。
【請求項２】
前記ディザリングサイクルは、前記走査パスより短い、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記走査パスの開始を調節する段階は、
同期信号がそれぞれのディザリングサイクル内の同じ時点に生成されるように前記ディザリングサイクルにタイミングを合わせた前記同期信号を生成する段階を有する、請求項１または２に記載の方法。
【請求項４】
前記走査パスの開始を調節する段階は、
同期信号がそれぞれのディザリングサイクル内の同じ時点に生成されるように前記ディザリングサイクルにタイミングを合わせた前記同期信号を生成する段階と、
前記同期信号に呼応して、個々の走査パスを開始する段階と
を有する、請求項１または２に記載の方法。
【請求項５】
前記走査パスの開始を調節する段階は、
個々の走査パスを、ディザリングサイクルが開始されるまで遅らせる段階を有する、請求項１または２に記載の方法。
【請求項６】
走査位置信号に基づいて前記走査パスの１以上を遅らせる段階をさらに備える、請求項１から５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項７】
走査制御論理回路と、
前記走査制御論理回路に呼応して、連続した画素走査パスを実行するセンサと、
繰り返されるディザリングサイクルでディザリングされた周波数を有するクロック信号を、前記走査制御論理回路と前記センサとの間で伝送する通信バスと、
（ｉ）１つの既知の色および強度を有する、または、様々な既知の色および強度の様々な部分若しくは線を有する較正画像を走査する１以上の較正パスを実行してセンサ修正データを集め、（ｉｉ）前記１以上の較正パスのそれぞれの開始が対応するディザリングサイクル内の同じ時点に生じるように、前記１以上の較正パスの開始を前記ディザリングサイクルに合わせて調節し、（ｉｉｉ）前記１以上の較正パスの間に集められた前記センサ修正データに基づいて、１以上の走査パスの間に生成された複数の画素値を修正する較正論理回路と
を備え、
前記走査制御論理回路は、画素走査パスのそれぞれの開始が、対応するディザリングサイクル内の前記同じ時点に生じるように、前記画素走査パスの開始を前記ディザリングサイクルに合わせて調節する
光スキャナ。
【請求項８】
前記走査制御論理回路は、さらに、走査位置信号に基づいて、前記画素走査パスの１以上を遅らせる、請求項７に記載の光スキャナ。
【請求項９】
前記ディザリングサイクルは、前記画素走査パスより短い、請求項７または８に記載の光スキャナ。
【請求項１０】
前記画素走査パスを調節することは、
同期信号がそれぞれのディザリングサイクル内の同じ時点に生成されるように前記ディザリングサイクルにタイミングを合わせた前記同期信号を生成することを含む、請求項７から９のいずれか一項に記載の光スキャナ。
【請求項１１】
前記画素走査パスを調節することは、
同期信号がそれぞれのディザリングサイクル内の同じ時点に生成されるように前記ディザリングサイクルにタイミングを合わせた前記同期信号を生成することと、
前記同期信号に呼応して、個々の走査パスを開始することと
を含む、請求項７から９のいずれか一項に記載の光スキャナ。
【請求項１２】
前記画素走査パスを調節することは、
個々の走査パスを、ディザリングサイクルが開始されるまで遅らせることを有する、請求項７から９のいずれか一項に記載の光スキャナ。
【請求項１３】
繰り返されるディザリングサイクルでディザリングされた周波数でクロック信号を生成するクロック生成器と、
繰り返される画素走査パスの間の元画像の複数の画素を走査する周波数がディザリングされるように、前記クロック信号に呼応して、前記繰り返される画素走査パスで複数の画素を走査する走査ユニットと、
画素走査パスのそれぞれの開始が、前記繰り返されるディザリングサイクル内の同じ時点に生じるように、画素走査パスの開始を前記ディザリングサイクルに合わせて調節する走査制御論理回路と、
（ｉ）１つの既知の色および強度を有する、または、様々な既知の色および強度の様々な部分若しくは線を有する較正画像を走査する１以上の較正パスを実行してセンサ修正データを集め、（ｉｉ）前記１以上の較正パスのそれぞれの開始が、対応するディザリングサイクル内の前記同じ時点に生じるように、前記１以上の較正パスの開始を前記ディザリングサイクルに合わせて調節し、（ｉｉｉ）前記１以上の較正パスの間に集められた前記センサ修正データに基づいて、１以上の走査パスの間に生成された複数の画素値を修正する較正論理回路と
を備える装置。
【請求項１４】
前記走査ユニットはさらに、同期信号がそれぞれのディザリングサイクル内の同じ時点に生成されるように前記ディザリングサイクルにタイミングを合わせた前記同期信号に呼応する、請求項１３に記載の装置。
【請求項１５】
前記走査制御論理回路は、個々の画素走査パスを前記ディザリングサイクルに合わせて調節するべく、前記個々の画素走査パスを遅らせる、請求項１３または１４に記載の装置。
【請求項１６】
前記走査制御論理回路は、モータ位置信号に合わせて調節するべく、個々の画素走査パスを遅らせる、請求項１３または１４に記載の装置。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】発明の名称
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【発明の名称】画像スキャナの電磁放射を低減させる方法、光スキャナ及び電磁放射を低減させるための装置
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００１】
本開示は、２０１１年１０月１４日出願の米国出願第１３／２７４，１５１号および２０１０年１０月２６日出願の米国仮出願第６０／４０６，９２２号の優先権を主張する。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００３】
背景技術の記載は、本開示の文脈を一般的にプレゼンテーションする目的を持つ。発明者の成果物は、この背景技術のセクションに記載されている限りにおいて、出願時に先行技術と認められない部分と同様に、本開示に対する先行技術として自明的あるいは黙示的に自認するものではない。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０００４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０００４】
光画像スキャナには、走査された画像データを走査ハードウェアから得て、一定の種類のデバイスコントローラに転送するものが多い。しかし設計およびパッケージの制約から、デバイスコントローラは、走査ハードウェアから離れた場所に設けられる場合が多い。これにより、許容できない量の電磁干渉（ＥＭＩであり、無線周波数干渉、または、ＲＦＩと称される場合もある）が生成される可能性がある。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１１】
本発明の別の態様では、元画像を走査するための光スキャナが提供される。スキャナは、制御論理回路と、制御論理回路に呼応して連続した画素走査パスを実行するセンサとを有する。通信バスが、制御論理回路とセンサとの間でクロック信号を伝送する。クロック信号は、繰り返されるディザリングサイクルでディザリングされた周波数を有する。走査制御論理回路は、画素走査パスを、繰り返されるディザリングサイクルに調節する。
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１２】
本発明のまた別の実施形態では、繰り返されるディザリングサイクルでディザリングされた周波数でクロック信号を生成するクロック生成器を有する装置が提供される。走査ユニットが、クロック信号に呼応して、繰り返される画素走査パスで画素を走査する。走査制御論理回路は、画素走査パスを、繰り返されるディザリングサイクルに調節する。較正論理回路が、１以上の較正パスを、ディザリングサイクルに調節して、実行する。
【誤訳訂正８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１７】
例示される実施形態では、元媒体１０６（例えば用紙）が元画像を含んでいる。元媒体１０６は、走査部材１０４の上、下、または隣接する位置に設けてよい。走査部材１０４は、元画像の上に、連続して走査または検知パスを実行する。例えば、走査ユニット１０２は、走査部材又はセンサ１０４が、この線に沿った個々の位置または画素をサンプリングできるように、元媒体１０６の水平線上で走査部材１０４を移動する又は通過させるように構成された転送機構（不図示）を有してよい。加えて、走査ユニット１０２の転送機構または元媒体１０６のいずれかを動かして、走査部材の各パスが、元画像のそれぞれ異なる線を対象とするようにする。
【誤訳訂正９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１９】
上述したように、画像走査デバイスには、走査機能以外の機能が統合されていてもよい。画像スキャナ１００は、図１では、印刷コンポーネント１０８を含むものとして示されている。印刷コンポーネント１０８の処理の一部は、走査ユニット１０２と共有されてもよい。例えば、印刷コンポーネント１０８は、用紙処理機能および機構を、走査ユニット１０２との間で共有してよく、用紙処理機構は、走査ユニット１０２から書類用紙を自動供給するために利用されてよい。
【誤訳訂正１０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２０】
図１の走査デバイスは、走査ユニット１０２の処理、または、印刷コンポーネント１０８等のその他の統合された機能を制御するデバイス制御器１１０を有する。デバイス制御器１１０は、さらに、走査ユニット１０２および走査部材１０４から走査データを受信する。デバイス制御器１１０は、さらに、外部デバイスとの通信およびユーザとの交信といった他の機能も実行する。
【誤訳訂正１１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２６】
デバイス制御器１１０は、さらなる同期信号（ＣＬＫ信号２１４およびＳＹＮＣ信号２１６を含む）を生成するクロック制御モジュールまたはセクション２１２を有する。デバイス制御器１１０はさらに、ＣＬＫおよびＳＹＮＣ信号を受信して、ＣＬＫおよびＳＹＮＣ信号に基づいて、ＣＬＫ／ｎ信号およびＬＩＮＥ  ＳＴＡＲＴ信号を生成する走査制御論理回路２１８を有する。ＣＬＫ、ＳＹＮＣ、ＣＬＫ／ｎ信号およびＬＩＮＥ  ＳＴＡＲＴ信号の特性およびタイミングは、下記で詳述する。
【誤訳訂正１２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２８】
デバイス制御器１１０は、さらに、走査ユニット１０２から受信した画素データを修正する較正論理回路２２２を有する。較正論理回路２２２は、受信した画素値に適用されるデータを修正するためのアクセス権を有する。修正データは、既知の較正画像が走査され評価される、前の較正処理中に取得されてよい。較正画像は、一定の色および輝度の片方または両方を有する線または領域を複数有し、走査ユニット１０２の一貫性を、元媒体に対する複数の物理的位置で評価することができる。異なる物理的位置で不一致を検知すると、異なる画素位置に対応した修正値を計算する。後で行われる元画像の走査において、受信した画素値が対応する位置に基づいて、該画素値に修正値を適用する。
【誤訳訂正１３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２９】
画素データの不一致は、照明、センサ位置のばらつき、といった様々な要因から生じうる。較正論理回路２２２は、そのような不一致が位置の関数であると想定し、かつ、そのような位置の不一致が比較的一定の期間残存する、と想定する。したがって、修正データには、１つの線の各画素位置の修正値を含ませ、受信された線それぞれを、同じ修正データで修正するようにしてよい。あるいは、修正データに、走査された用紙全体または二次元走査領域の画素位置それぞれに対応する値を含ませてもよい。
【誤訳訂正１４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３０】
図３から図５は、光画像スキャナでＥＭＩを低減させるために利用可能なディザリング調節された走査方法を示す。通常の方法には、（ａ）繰り返されるディザリングサイクルで画素走査周波数をディザリングすることと、（ｂ）走査パスをディザリングサイクルに調整し、又は個々の走査パスをディザリングサイクルに一致させるべく遅らせることとが含まれる。これには、繰り返されるディザリングサイクルにタイミングを合わされた同期信号（例えばＳＹＮＣ信号またはＬＩＮＥ  ＳＴＡＲＴ信号）を提供または生成することが含まれてよい。加えて、走査ユニット１０２は、個々の走査パスを、少なくとも一部に同期信号に呼応して開始させてよい。
【誤訳訂正１５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３１】
図３は、ＣＬＫディザリングおよびＳＹＮＣ信号のタイミングの例を示す。ＣＬＫ信号（図３では不図示）は、公称周波数の±0.5-5%（通常のディザリング量は3%）等の一定量をディザリングした公称周波数を有する発振信号である。図３の上方の線３０２は、ＣＬＫ信号の経時的な周波数を表す。上方の線の中央に描かれた破線は、ＣＬＫ信号の公称周波数を示している。
【誤訳訂正１６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００３８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００３８】
ＳＣＡＮ信号に呼応して、走査制御論理回路２１８は、線のスキャンまたは走査パスを開始する。図４に示すＬＩＮＥ  ＳＴＡＲＴ信号４０４は、走査パスの開始タイミングを示す。図で示すように、各走査パスを、クロックディザリングサイクルが開始されるまで遅らせる。より詳しくは、各走査パスは、該走査パスが次のＳＹＮＣ信号および対応するクロックディザリングサイクルと合致するまで、またはこれらに調節されるまで、遅延させられる。このようにして、各走査パスが、あるディザリングサイクル内の同じ時点に開始され、各走査パスは、一貫した、繰り返し可能なクロック周波数パターンで実行される。
【誤訳訂正１７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４０】
走査は、ＳＣＡＮ信号がアクティブである間、続けられる。ＬＩＮＥ  ＳＴＡＲＴ信号で、線の走査または走査パスが開始され、ＬＩＮＥ  ＥＮＤ４０８信号は、走査パスの終了を示す。ＳＣＡＮ信号がアクティブであり続けていることを前提に、前述したように次のＳＹＮＣ信号に合わせるよう遅延させた別の線の走査を、各ＬＩＮＥ  ＥＮＤ信号の後に開始する。この場合、ＬＩＮＥ  ＥＮＤ信号は、次の走査パスをトリガするために利用されているといえる。この代わりに、各走査パスで、既知数のＳＹＮＣ信号に相当する既知の時間を消費して、既知数のＳＹＮＣ信号が生じた後で、新たな走査パスを繰り返し開始させてもよい。
【誤訳訂正１８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４２】
較正プロシージャ５０２は、上述したディザリングサイクルに調節されて、画素修正データを取得するために評価される１以上の較正走査パスを含んでいる。１つの既知の色および強度を有する較正画像を走査したり、または、様々な既知の色および強度を有する様々な部分若しくは線を有する較正画像を走査したりするタイプの較正がある。走査された値のばらつきまたは精度を分析して、修正値を計算して、修正された値が較正画像の既知の特性と合致するようにする。修正値は、較正データ５０４として格納される。較正プロシージャにおいては、個々の走査パスを図４に示すＳＹＮＣ信号に同期させる点に留意されたい。したがって、較正プロシージャは、後続する走査処理と同じ条件で行う。
【誤訳訂正１９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４５】
走査を開始するには、デバイス制御器１１０が開始コマンド５０６を生成するが、これは、アサートされたＳＣＡＮ信号またはコマンド４０２と同等であり、またはこれを生じさせてよい。走査制御論理回路は、ディザリング同期信号ＳＹＮＣのアサートを待つ動作５０８を実行することで、ＳＣＡＮ信号４０２に呼応する。
【誤訳訂正２０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４６】
次のＳＹＮＣ信号を受信すると、動作５０１は、線の走査または走査パスを開始することを含み、これは、クロック生成器２１２が提供するＣＬＫ信号と同期して実行される。各クロックサイクルは、画素の読み出しを開始またはトリガして、画素値がデータバス２０４経由でデバイス制御器１１０に送信される。次に、デバイス制御器１１０の較正論理回路２２２は、走査された線または画像における位置、または、戻された画素値におけるシーケンスに応じて、較正データ５０４に基づいて受信した画素値を修正する動作５１２を行う。修正には、前に実行した較正プロシージャ５０２内の取得された修正データを、完了した走査パスの画素に適用することが含まれる。
【誤訳訂正２１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４７】
線が走査されると、引き続き走査が別の線に行われることを想定して、プロセスは動作５０８に戻り、次のＳＹＮＣ信号を待つ。次のＳＹＮＣ信号を受信すると、動作５１０および５１２を繰り返す。従って、各線の走査をＳＹＮＣ信号との間で調節して、同じクロック周波数のパターンで行う。これは、ＳＣＡＮ信号４０２がアクティブであるまたはアサートされている間、続けられる。
【誤訳訂正２２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００４８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００４８】
図６は、走査がさらにＳＴＡＲＴ  ＰＯＳＩＴＩＯＮ信号６０２に同期される、またはこれに調節される実施形態の動作を示す。ＳＴＡＲＴ  ＰＯＳＩＴＩＯＮ信号は、モータの位置に関するエンコーダまたはセンサに基づいて走査部材１０４の実際の位置を決定するモータ制御回路により生成された位置信号であってよい。モータ制御回路が、所望の物理的位置に達したと判断すると、ＳＴＡＲＴ  ＰＯＳＩＴＩＯＮ信号をアサートする。走査が実行中の場合（ＳＣＡＮ信号がアサートされた場合）、デバイスが走査し始めることができる。したがってこの実施形態では、最初の線の走査を、ＳＴＡＲＴ  ＰＯＳＩＴＩＯＮがアサートされるまで遅らせる。しかし、図４の場合同様に、後続する各線の走査も、ＳＹＮＣ信号と合致するように遅らせる。
【誤訳訂正２３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５９】
ここでは実施形態を記載および図示してきたが、本開示の範囲を逸脱せずに、記載および図示された実施形態を、同じ目的を達成すると想定される幅広い様々な代替、均等実施形態または実装形態で置き換えることが可能である。本願は、ここに記載した実施形態のすべての変形例および代替例を含むことを意図している。従って、本開示の実施形態は、請求項およびその均等物によってのみ限定されることを意図する。
［項目１］
画像スキャナの電磁放射を低減させる方法であって、
繰り返されるディザリングサイクルで、画素走査周波数をディザリングする段階と、
走査パスを前記ディザリングサイクルに応じて調節する段階と
を備える方法。
［項目２］
前記ディザリングサイクルは、前記走査パスより短い、項目１に記載の方法。
［項目３］
前記走査パスを調節する段階は、
前記ディザリングサイクルにタイミングを合わせた同期信号を生成する段階を有する、項目１または２に記載の方法。
［項目４］
前記走査パスを調節する段階は、
前記ディザリングサイクルにタイミングを合わせた同期信号を生成する段階と、
前記同期信号に呼応して、個々の走査パスを開始する段階と
を有する、項目１から３のいずれか一項に記載の方法。
［項目５］
前記走査パスを調節する段階は、
個々の走査パスを、ディザリングサイクルに調節するべく遅らせる段階を有する、項目１から４のいずれか一項に記載の方法。
［項目６］
前記走査パスは、１以上の較正パスを含む、項目１から５のいずれか一項に記載の方法。
［項目７］
走査位置信号に基づいて前記走査パスの１以上を遅らせる段階をさらに備える、項目１から６のいずれか一項に記載の方法。
［項目８］
センサ修正データを集めるために１以上の較正パスを実行する段階と、
前記ディザリングサイクルに前記１以上の較正パスに調節する段階と
をさらに備える、項目１から７のいずれか一項に記載の方法。
［項目９］
較正パスが前記ディザリングサイクルに調節される１以上の前に実行された較正プロシージャに呼応して、個々の走査パスを修正する段階をさらに備える、項目６または８に記載の方法。
［項目１０］
走査制御論理と、
前記走査制御論理に呼応して、連続した画素走査パスを実行するセンサと、
繰り返されるディザリングサイクルでディザリングされた周波数を有するクロック信号を、前記走査制御論理と前記センサとの間で伝送する通信バスと
を備え、
前記走査制御論理は、前記繰り返されるディザリングサイクルに前記画素走査パスを調節する
光スキャナ。
［項目１１］
前記走査制御論理は、さらに、走査位置信号に基づいて、前記画素走査パスの１以上を遅らせる、項目１０に記載の光スキャナ。
［項目１２］
前記ディザリングサイクルは、前記画素走査パスより短い、項目１０または１１に記載の光スキャナ。
［項目１３］
前記画素走査パスを調節することは、
前記ディザリングサイクルにタイミングを合わせた同期信号を生成することを含む、項目１０から１２のいずれか一項に記載の光スキャナ。
［項目１４］
前記画素走査パスを調節することは、
前記ディザリングサイクルにタイミングを合わせた同期信号を生成することと、
前記同期信号に呼応して、個々の走査パスを開始することと
を含む、項目１０から１３のいずれか一項に記載の光スキャナ。
［項目１５］
前記画素走査パスを調節することは、
個々の走査パスを、ディザリングサイクルに調節するべく遅らせることを有する、項目１０から１４のいずれか一項に記載の光スキャナ。
［項目１６］
前記画素走査パスは、１以上の較正パスを含む、項目１０から１５のいずれか一項に記載の光スキャナ。
［項目１７］
前記画素走査パスは、前記ディザリングサイクルに調節するよう実行される１以上の較正パスを含む、項目１０から１６のいずれか一項に記載の光スキャナ。
［項目１８］
較正パスが前記ディザリングサイクルに調節される１以上の以前に実行された較正プロシージャに呼応して、個々の走査パスを修正する較正論理をさらに備える、項目１６または１７に記載の光スキャナ。
［項目１９］
繰り返されるディザリングサイクルでディザリングされた周波数でクロック信号を生成するクロック生成器と、
前記クロック信号に呼応して、繰り返される画素走査パスで画素を走査する走査ユニットと、
前記画素走査パスを前記繰り返されるディザリングサイクルに調節する走査制御論理と、
前記ディザリングサイクルに調節された１以上の較正パスを実行する較正論理と
を備える装置。
［項目２０］
前記走査ユニットはさらに、前記ディザリングサイクルにタイミングを合わせた同期信号に呼応する、項目１９に記載の装置。
［項目２１］
前記走査制御論理は、個々の画素走査パスを遅らせて、前記個々の画素走査パスを前記ディザリングサイクルに調節する、項目１９または２０に記載の装置。
［項目２２］
前記走査制御論理は、個々の画素走査パスを遅らせて、モータ位置信号に調節する、項目１９から２１のいずれか一項に記載の装置。
［項目２３］
前記較正論理は、さらに、前記１以上の実行された較正パスに呼応して、個々の画素走査パスを修正する、項目１９から２２のいずれか一項に記載の装置。