【事件の表示】
　特許第２９１７２６９号「Ｘ線ＣＴ用シンチレータ材料」の請求項１ないし５に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　訂正を認める。
　特許第２９１７２６９号の請求項１ないし２に係る特許を維持する。
【理　由】
Ｉ．手続の経緯
　本件特許第２９１７２６９号の請求項１ないし５に係る発明は、平成４年９月２２日に出願され、平成１１年４月２３日に特許権の設定登録がされ、その後、高橋喜美夫より特許異議の申立てがされ、取消理由が通知され、その指定期間内である平成１２年１１月１３日付けで訂正請求（その後取り下げ）がされ、再度取消理由が通知され、その指定期間内である平成１５年３月６日付けで訂正請求がされたものである。
II．訂正の適否についての判断
　１．訂正の内容
　（１）訂正事項ａ
　特許請求の範囲の請求項１の記載について、
「複数のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料の密度について、それらの中の最大値Ａと最小値Ｂとから（式１）により求められる密度分布が０．３％以内であり、さらに、隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間における密度分布が０．２％以内であり、かつ前記シンチレータ単位素子は厚さと密度との積として示される値が０．７２５ｇ／ｃｍ２以上であって、隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料の密度の中の最大値Ｃと最小値Ｄとから（式２）により求められる感度分布が０．１％以内であることを特徴とするＸ線ＣＴ用セラミックスシンチレータ材料。
（式１）密度分布＝（（Ａ−Ｂ）／Ａ）×１００（％）
（式２）感度分布＝（（Ｃ−Ｄ）／Ｃ）×１００（％）」と訂正する。
　（２）訂正事項ｂ
　特許請求の範囲の請求項２、３、５を削除する。
　（３）訂正事項ｃ
　特許請求の範囲の請求項４を請求項２に繰り上げて、
「複数のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料について、（式２）により求められる感度分布が０．３％以内であることを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ用セラミックスシンチレータ材料。」と訂正する。
　（４）訂正事項ｄ
　段落【００１４】の記載について、「ＮＨ」とあるのを「ＮＨ４」と訂正する。
　（５）訂正事項ｅ
　段落【００１５】、【００１６】、【００１７】、【００２２】、【００２３】、【００２４】、【００２５】、【００２６】及び【００２７】の記載について、「Ｇｄ２Ｏ２：Ｐｒ」とあるのを「Ｇｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ」と訂正する。
　（６）訂正事項ｆ
　段落【００３１】の記載について、「単位素予」とあるのを「単位素子」と訂正する。
　２．訂正の目的の適否、新規事項の有無及び拡張・変更の存否
　（１）訂正事項ａは、訂正前の請求項２、３及び５に記載された構成「隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間における密度分布が０．２％以内であり、かつ前記シンチレータ単位素子は厚さと密度との積として示される値が０．７２５ｇ／ｃｍ２以上であって、隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料の密度の中の最大値Ｃと最小値Ｄとから（式２）により求められる感度分布が０．１％以内である、（式２）感度分布＝（（Ｃ−Ｄ）／Ｃ）×１００（％）」を付加して技術的に限定する訂正であるから、特許請求の範囲の減縮を目的とする訂正に該当する。
　（２）訂正事項ｂは、特許請求の範囲の請求項２、３、５を削除する訂正であるから、特許請求の範囲の減縮を目的とする訂正に該当する。
　（３）訂正事項ｃは、訂正事項ｂにより、請求項４を請求項２と繰り上げることにより、整合しなくなる特許請求の範囲の記載を整合させるための訂正であるから、明りょうでない記載の釈明を目的とする訂正に該当する。
　（４）訂正事項ｄ〜ｆは、誤記の訂正を目的とする訂正に該当する。
　そして、これらの訂正は、願書に添付した明細書、又は図面に記載された事項の範囲内において訂正するものであって新規事項を追加するものではなく、かつ、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
　３．独立特許要件の判断
　３−１．訂正明細書の請求項１ないし２に係る発明
　訂正明細書の請求項１ないし２に係る発明は、訂正明細書の請求項１ないし２に記載された次のとおりのものである。
「【請求項１】複数のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料の密度について、それらの中の最大値Ａと最小値Ｂとから（式１）により求められる密度分布が０．３％以内であり、さらに、隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間における密度分布が０．２％以内であり、かつ前記シンチレータ単位素子は厚さと密度との積として示される値が０．７２５ｇ／ｃｍ２以上であって、隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料の密度の中の最大値Ｃと最小値Ｄとから（式２）により求められる感度分布が０．１％以内であることを特徴とするＸ線ＣＴ用セラミックスシンチレータ材料。
（式１）密度分布＝（（Ａ−Ｂ）／Ａ）×１００（％）
（式２）感度分布＝（（Ｃ−Ｄ）／Ｃ）×１００（％）
【請求項２】複数のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料について、（式２）により求められる感度分布が０．３％以内であることを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ用セラミックスシンチレータ材料。」
　３−２．特許法第２９条第１項、同条第２項について（理由１、２）
　（１）当審の取消理由で引用した刊行物及びその記載事項
　［刊行物］
　刊行物１：特開昭６２−２７５０７２号公報（甲第１号証）
　刊行物２：特開平３−２４３６８６号公報（甲第２号証）
　刊行物３：特公平３−５０９９１号公報（甲第３号証）
　刊行物４：特開昭６３−１８２８６号公報（甲第４号証）
　［記載事項］
　刊行物１（特開昭６２−２７５０７２号公報、甲第１号証）には、
「（１）．セラミックス原料をモリブテン、タングステン、白金及びレニウムの群から選ばれる金属の箔で覆い、更にこれをタンタル又はニオブからなる気密容器内に封入した後、熱間静水圧プレス処理を施すことを特徴とするセラミックスの製造方法。
（２）．セラミックス原料が、希土類オキシ硫化物であることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のセラミックスの製造方法。
（３）．希土類オキシ硫化物が、ガドリニウムオキシ硫化物又はガドリニウムの一部を他の希土類元素で置換したガドリニウムオキシ硫化物であることを特徴とする特許請求の範囲第２項記載のセラミックスの製造方法。」（特許請求の範囲の請求項１〜３）、
「例えばＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ等のような希土類オキシ硫化物・・・を母体とする蛍光体をセラミックス化し、シンチレーション検出器として用いることは、特開昭５８−２０４０８８号に開示されている。」（第１頁右下欄１６〜２０行）、
「実施例１　プラセオジムで付活したオキシ硫化ガドリニウム（Ｇｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ）蛍光体の粉末を約２００ＭＰａの圧力で冷間静水圧プレスし、形状を整えた後、この蛍光体成形物１を４０μｍの厚さのモリブテン箔２で覆った。つづいて、これを厚さ０．３ｍｍ、内径４０ｍｍ、高さ５０ｍｍの円筒形タンタル製カプセルに装填した後、内部の空気を排気し、電子ビーム溶接により気密容器３とした（第１図図示）。次いで、気密容器に圧力媒体としてアルゴンを用いて常温で５０ＭＰａまで圧力を加えた後、昇温とこれに伴う昇圧を行い、１７００℃、１５０ＭＰａの最終条件に達したところで１時間の保持を行なうという手順により熱間静水圧プレス処理を施してＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ蛍光体の透光性セラミックスを製造した。得られたＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒセラミックスは、真比重に対して１００．０％の見掛け密度を示しており、セラミックス中の気孔の体積百分率は、０．０％であった。かかるセラミックスは薄い灰色の体色を呈しており、着色は少なかった。また、前記セラミックスを厚さ１ｍｍの板状試料に切出し、Ｈｅ−Ｎｅレーザ光に対する拡散透過率、試料前後にスリットを配置した時の白色光に対する直線透過率及び試料を白色紙上に置いた時の拡散反射率を測定した。その結果、拡散透過率は２３％、直線透過率は２０％、拡散反射率は２８％であった。更に、前記セラミックスを厚さ２ｍｍの板状試料に切出し、その試料に５７Ｃｏを線源に用いて第２図に示すように入射励起ビームとしてγ線を照射したところ、透過側より観察される発光は充分強いものであった。」（第３頁右上欄１９行〜同右下欄１０行、第２図）、
「実施例４　モリブテン箔の代わりに白金箔を用い、かつ熱間静水圧プレス処理における温度を１６００℃、圧力を１４００気圧（約１４０ＭＰａ）に設定した以外、前記実施例１と同様な方法によりＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒの透光性セラミックスを製造した。得られたＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒセラミックスは、見掛け密度が１００．０％であり、内部の着色は少ないものであった。また、このセラミックスは実施例１と同様な方法で測定した拡散反射率が４９％、直線透過率が３２％であった。」（第４頁左下欄６〜１６行）、
「第２図は本発明の実施例１により得たＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒセラミックス蛍光体の紫外線、電子線、Ｘ線、γ線等の励起ビームが入射した時の光の挙動を示す概略図である。」（第５頁左下欄５〜９行、第２図参照）と記載されている。
　刊行物２（特開平３−２４３６８６号公報、甲第２号証）には、
「化学式（Ｍ，Ｎ）２Ｏ２Ｓ（ただし、ＭはＹ，Ｌａ及びＧｄから成る群の中から選ばれる少なくとも１種の元素、ＮはＰｒ，Ｔｂ及びＥｕから成る群の中から選ばれる少なくとも１種の元素を示す）で表わされる希土類オキシ硫化物セラミックス中に、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウム及びセシウムから成る群の中から選ばれる少なくとも１種のアルカリ金属元素を５〜１５ｐｐｍ、及びリンを５〜４０ｐｐｍ含んで成ることを特徴とするセラミックシンチレータ。」（特許請求の範囲）、
「従来、Ｘ線ＣＴ装置等に設けられる放射線検出器として、シンチレータを用いた検出器が広く使用されている。シンチレータはＸ線等の放射線の刺激によって可視光または可視光に近い波長の電磁波を放射する物質で、シンチレータ材料としては、・・・特開昭５８−２０４０８８号公報に示されるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ等の希土類オキシ硫化物セラミックス等が知られている。この中でも・・・特に、ＭがＧｄである希土類オキシ硫化物セラミックスはＸ線吸収係数が大きいのでＸ線検出用シンチレータとして好ましい。」（第１頁右下欄３行〜第２頁左上欄１０行）、
「なお、本発明の希土類オキシ硫化物セラミックシンチレータにおける上記異相または気孔や空隙の体積比率は、０．５％以下であることが好ましく、さらには０．１％以下であることがより好ましい。」（第４頁左上欄１２〜１５行）、
「実施例１・・・組成式（Ｇｄ０．９９９Ｐｒ０．００１）２Ｏ２Ｓで表わされる蛍光体粉を原料として、冷間プレスによる成形を行った後、この蛍光体を金属性気密容器に封入し、アルゴン雰囲気下で温度１５００℃、圧力１５００気圧、処理時間３時間のＨＩＰ処理を施すことにより実施例１のセラミックシンチレータを得た。・・・このセラミックシンチレータの気孔率は０．１％以下であり、透光性に優れ、そのために感度が高かった。例えば、このシンチレータを２ｍｍの厚さに成形してシリコンフォトダイオード上に密着させて検出器を作成したところ、１２０ＫＶｐの管電圧のＸ線に対するこの検出器の感度は、ＣｄＷＯ４単結晶シンチレータを用いて同一の形状で構成した検出器に比べて２．２倍という高い値であった。」（第４頁右上欄８行〜同左下欄７行）と記載されている。
　刊行物３（特公平３−５０９９１号公報、甲第３号証）には、
「１　透過放射線源と共に使用され、放射線を入射させるための複数のチャネルを含み、各々の前記チャネルにはそれぞれのチャネル内で検出された放射線に対応する１組の信号を発生するためのシンチレータおよびそれに結合された光応答手段が装備され、透過放射線を定量的に検出するための放射線検出器の検出器列において、各シンチレータがそれぞれのチャネル内の放射線を検出するのに役立つ多結晶質セラミックシンチレータ結晶から成り、前記結晶はＧｄ２Ｏ３、Ｙ２Ｏ３、Ｌａ２Ｏ３およびＬｕ２Ｏ３からなる群から選ばれた少なくとも１種の希土類酸化物に少なくとも１種の希土類活性剤を添加して形成されて立方晶系の結晶構造および約０．１％以下の多孔度を有することを特徴とする放射線検出器列。」（特許請求の範囲の第１項）、
「本発明はＸ線検出器に関するもので、更に詳しく言えば、固体検出器として知られるようになった種類のＸ線検出器に関する。かかる種類の検出器の主要な用途はＣＴスキャナにおける使用であるが、それらはまたガンマ線や核放射線検出の分野および開発途上にある計算機処理ラジオグラフィーの分野においても有用なものとして期待されている。」（第３欄１２〜１９行）と記載されている。
　刊行物４（特開昭６３−１８２８６号公報、甲第４号証）には、
「１．放射線により発光する粉末シンチレータであり一般式・・・で表わされる粉末に焼結助剤として、・・・を加え、これを金属製の容器に詰めて真空封止して、熱間静水圧加圧し、更にアニールしてなる透光性焼結体シンチレータと、該シンチレータの発光を検知する光検出器とからなることを特徴とする放射線検出器。」（特許請求の範囲）、
「本発明はＸ線、γ線などの放射線検出器に関する。とくに、Ｘ線ＣＴ・・・に用いられる放射線検出器に関する。」（第１頁右下欄１１〜１４行）、
「Ｘ線ＣＴとしては種々のタイプがあるが、通常２０〜１０００個の性能の揃った放射線検出器を必要とする。」（第１頁右下欄１６〜１８行）、
「蛍光体粒子をシンチレータとして使用する放射線検出器を提案した。通常Ｘ線ＣＴ用の放射線検出器において断面像を得るためには、その幅は１〜３ｍｍ程度で、長さは２０ｍｍ程度である。それ故に一つの放射線検出器の中の蛍光体粒子は、その粒径にもよるが例えば３０万個程度である。個々の蛍光体粒子の特性は、少しずつ異なっている可能性はあるが、十分に混合して一つのシンチレータとして使用することにより、シンチレータとしての特性のばらつきは、粒子数の平方根分の一、すなわち０．０１％程度となり満足すべき結果が得られる。」（第２頁右上欄１１行〜左下欄２行）、
「反射膜において反射率のむらがあると入射したＸ線の正確な情報が得られない。そのためには、このような検出器を多素子化した場合に、各素子間において特性のばらつきが生じることになる。その結果、この検出器を用いて得られた再生像には、リングむらやアーチファクトが生じる。」（第２頁右下欄１〜７行）と記載されている。
　（３）対比・判断
　ア．特許法第２９条１項について（理由１）
　　訂正明細書の請求項１に係る発明１と刊行物１に記載された発明とを対比する。
　刊行物１の実施例１において、「プラセオジムで付活したオキシ硫化ガドリニウム（Ｇｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ）蛍光体の粉末を約２００ＭＰａの圧力で冷間静水圧プレスし、形状を整えた後、この蛍光体成形物１を４０μｍの厚さのモリブテン箔２で覆った。つづいて、これを厚さ０．３ｍｍ、内径４０ｍｍ、高さ５０ｍｍの円筒形タンタル製カプセルに装填した後、内部の空気を排気し、電子ビーム溶接により気密容器３とした（第１図図示）。次いで、気密容器に圧力媒体としてアルゴンを用いて常温で５０ＭＰａまで圧力を加えた後、昇温とこれに伴う昇圧を行い、１７００℃、１５０ＭＰａの最終条件に達したところで１時間の保持を行なうという手順により熱間静水圧プレス処理を施してＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ蛍光体の透光性セラミックスを製造した。」と記載され、Ｇｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ蛍光体の透光性セラミックスの「真比重に対して１００．０％の見掛け密度を示しており、セラミックス中の気孔の体積百分率は、０．０％のもの」が得られており、厚さ１ｍｍの板状試料に切出し、拡散透過率は２３％、直線透過率は２０％、拡散反射率は２８％と測定されている。
　同様に実施例４において、「モリブテン箔の代わりに白金箔を用い、かつ熱間静水圧プレス処理における温度を１６００℃、圧力を１４００気圧（約１４０ＭＰａ）に設定した以外、前記実施例１と同様な方法によりＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒの透光性セラミックスを製造した。得られたＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒセラミックスは、見掛け密度が１００．０％であり、内部の着色は少ないものであった。また、このセラミックスは実施例１と同様な方法で測定した拡散反射率が４９％、直線透過率が３２％であった。」としている。
　そこで、刊行物１記載の実施例１及び実施例４で製造されたＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒセラミックスをみると、両者は、真比重に対して、見掛け密度が１００．０％であるが、直線透過率、拡散反射率が、実施例１では、それぞれ２０％、２８％であるのに対し、実施例４のものはそれぞれ、３２％、４９％であり、直線透過率、拡散反射率に明らかな差がある。
　してみれば、上記のように直線透過率、拡散反射率に明らかな差があることから、見掛け密度が１００．０％のものでも、焼結体の微細構造に相違があるといえる。そして、Ｘ線透過率が、発光によるＸ線感度の支配要因の一つであることは、本件公報の第８図を参酌すると容易に想到し得るし、刊行物１には、Ｘ線透過率が違っても発光によるＸ線に対する感度に差異がないとの記載がないから、見掛け密度が１００．０％のものであっても、発光によるＸ線に対する感度は、バラツキがあり、実質的に同じということができないというのが自然である。
　それ故、刊行物１には、真比重に対して、見掛け密度が１００．０％のＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒセラミックスが記載されているとしても、それらの見掛け密度が１００．０％のＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒセラミックスをシンチレータ素子とした場合に、発光によるＸ線に対する感度が一定であるとはいえず、密度のみをみて訂正明細書の請求項１に係る発明のように感度差が少ないものを得ようとする意図があるものとはいえないから、感度分布を密度分布により規定する訂正明細書の請求項１に係る発明が記載されているものとはいえない。
　したがって、訂正明細書の請求項１に係る発明は、刊行物１に記載された発明ではない。
　イ．特許法第２９条第２項について（理由２）
　［訂正明細書の請求項１に係る発明について］
　訂正明細書の請求項１に係る発明は、アーチファクトの抑制を課題として、「単位素子間の密度分布」というパラメータを採用し、単位素子間の密度分布を管理して得られるＸ線ＣＴ用セラミックスシンチレータ材料が有効であることを明らかにした点に特徴があり、１００％の理論密度のＣＴ用シンチレータ材料でなくても、全てのシンチレータ単位素子同士が密度分布が０．３％以内であればアーチファクトの抑制を可能とするというものである。そうしてみると、訂正明細書の請求項１に係る発明には、製造が困難な１００．０％の理論密度であるものは当然含まれるものではなく、ある程度の空隙を有するものを対象にするものであるといえる。
　刊行物１に記載された発明は、前記ア．で述べたとおり、真比重に対して、見掛け密度が１００．０％であるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒセラミックスが記載されているものの、見掛け密度が１００．０％のものでも、Ｘ線に対する感度が必ずしも均一であるとはいえず、また、密度分布を特定範囲内にすることも開示されていないから、訂正明細書の請求項１に係る発明は刊行物１に記載された発明から容易に想到し得るものではない。
　次に、訂正明細書の請求項１に係る発明と刊行物２に記載された発明とを対比する。
　刊行物２には、「Ｇｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒの希土類オキシ硫化物セラミックスはＸ線吸収係数が大きいのでＸ線検出用シンチレータとして好ましい。」（第１頁右下欄３行〜第２頁左上欄１０行）、「本発明の希土類オキシ硫化物セラミックシンチレータにおける上記異相または気孔や空隙の体積比率は、０．５％以下であることが好ましく、さらには０．１％以下であることがより好ましい。」（第４頁左上欄１２〜１５行）、「実施例１組成式（Ｇｄ０．９９９Ｐｒ０．００１）２Ｏ２Ｓで表わされる蛍光体粉を原料として、冷間プレスによる成形を行った後、温度１５００℃、圧力１５００気圧、処理時間３時間のＨＩＰ処理を施すことにより実施例１のセラミックシンチレータを得た。・このセラミックシンチレータの気孔率は０．１％以下であり、透光性に優れ、そのために感度が高かった。例えば、このシンチレータを２ｍｍの厚さに成形してシリコンフォトダイオード上に密着させて検出器を作成したところ、１２０ＫＶｐの管電圧のＸ線に対するこの検出器の感度は、ＣｄＷＯ４単結晶シンチレータを用いて同一の形状で構成した検出器に比べて２．２倍という高い値であった。」（第４頁右上欄８行〜同左下欄７行）と記載されている。
　そして、２ｍｍの厚さにしたシンチレータ素子は、厚さと密度との積として示される値が０．７２５ｇ／ｃｍ２以上になるものである。
　それ故、両者は、複数のシンチレータ単位素子にＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料を用いたＸ線用セラミックスシンチレータ材料であって、厚さと密度との積として示される値が０．７２５ｇ／ｃｍ２以上とする点では一致するが、訂正明細書の請求項１に係る発明では、「複数のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料の密度について、それらの中の最大値Ａと最小値Ｂとから（式１）により求められる密度分布が０．３％以内であり、さらに、隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間における密度分布が０．２％以内であり、隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料の密度の中の最大値Ｃと最小値Ｄとから（式２）により求められる感度分布が０．３％以内」とするのに対し、刊行物２には、「異相または気孔や空隙の体積比率は、０．５％以下であることが好ましく、さらには０．１％以下であることがより好ましい。」と記載されるにとどまる点で相違する。
　そして、刊行物２には、セラミックシンチレータの気孔率はより好ましくは０．１％以下であり、透光性に優れ、そのために感度が高いとの記載はあるが、密度分布に関連する記載がなく、ホットプレスで焼結する技術からみて、個々の素子あるいは隣接する素子間で、訂正明細書の請求項１に係る発明に規定する数値範囲を満たすかどうか不明であるというよりも、普通は満たすものではないというのが技術常識である。
　また、刊行物３記載のものは、材料組成及び結晶構造においても相違し、また、密度分布についての記載もない。
　刊行物４には、Ｘ線ＣＴに用いられる放射線検出器が記載され、「シンチレータとしての特性のばらつきは、粒子数の平方根分の一、すなわち０．０１％程度となり満足すべき結果が得られる。」と個々のシンチレータのばらつきについては記載されているものの密度分布に触れるものではなく、まして、単位素子間の密度分布について言及、あるいは示唆する記載もない。
　それ故、刊行物１ないし刊行物４に記載された事項を組み合わせたとしても、訂正明細書の請求項１に係る発明を想起し得るものではない。
　そして、訂正明細書の請求項１に係る発明で、「複数のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料の密度について、密度分布が０．３％以内であり、さらに、隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間における密度分布が０．２％以内であり、かつ前記シンチレータ単位素子は厚さと密度との積として示される値が０．７２５ｇ／ｃｍ２以上であって、隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間における感度分布が０．１％以内であること」を組み合わせて採用することにより、アーチファクトの抑制等の効果は、明細書に記載されたとおり格別なものと認められる。
　したがって、訂正明細書の請求項１に係る発明は、刊行物１ないし４に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。
　［訂正明細書の請求項２に係る発明について］
　訂正明細書の請求項２に係る発明は、訂正明細書の請求項１に係る発明の複数のシンチレータ単位素子間における（式２）で求められる感度分布の数値を限定するものであるから、訂正明細書の請求項１に係る発明と同じことがいえる。
　したがって、訂正明細書の請求項２に係る発明は、刊行物１ないし４に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。
　３−３．まとめ
　したがって、訂正明細書の請求項１ないし２に係る発明は、特許出願の際独立して特許を受けることができるものである。
　４．訂正の適否についての結論
　以上のとおりであるから、本件訂正請求は、平成１１年改正前の特許法第１２０条の４第３項で準用する平成６年法律第１１６号による改正前の特許法第１２６条第１項ただし書、第２項、第３項の規定に適合するから、本件訂正を認める。
　なお、以後、訂正明細書の請求項１ないし２に係る発明を、それぞれ本件請求項１ないし２に係る発明という。
III．異議申立てについての判断
　１．異議申立ての理由の概要
　（１）訂正前の請求項１、２に係る発明は、甲第１号証に記載された発明であるから、訂正前の請求項１、２に係る特許は、特許法第２９条１項に違反してされたものである。（理由１）
　（２）訂正前の請求項１ないし５に係る発明は、甲第１号証ないし甲第４号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、訂正前の請求項１ないし５に係る特許は、特許法第２９条第２甲の規定に違反してされたものである。（理由２）
　（３）訂正前の請求項１ないし４記載の「複数のシンチレータ単位素子」は、出願当初の明細書に記載がなく、発明の詳細な説明の記載は不備であり、また、訂正前の請求項１ないし４に記載された発明は、発明の詳細な説明に記載された発明ではない、さらに、本件明細書に記載された密度分布の測定方法では、０．３％以内という微少な範囲で測定することは実質的に不可能であるから、訂正前の本件明細書は、特許法第３６条第４項及び第５項の規定を満たしていない。（理由３）
［証拠一覧］
　甲第１号証：特開昭６２−２７５０７２号公報
　甲第２号証：特開平３−２４３６８６号公報
　甲第３号証：特公平３−５０９９１号公報
　甲第４号証：特開昭６３−１８２８６号公報
　２．判断
　（１）訂正前の請求項２、３、５は、削除され、請求項４は請求項２と訂正されたが、異議申立人の申立ての理由（１）ないし（２）の主張が採用できないことは、上記II．３−４．から明らかである。
　（２）特許法第３６条第４項及び第５項について(理由３）
　申立人は、「複数のシンチレータ単位素子間」についての記載は、平成１０年１月３０日および平成１０年１１月１１日の手続補正書により新たに追加されたものであり、出願当初の明細書に記載された範囲を超える補正であると主張するので、この点について検討する。
　本件の出願当初明細書の段落【０００６】には、「アーチファクトが生じるかどうかは、各素子ごとの感度分布のばらつきの大きさに起因し、・・・すべての素子が同じ感度分布であれば、・・・密度分布に相関する感度分布の各素子間におけるばらつき」と記載されており、「複数のシンチレータ単位素子間」における感度分布のばらつきを論じていることは明らかに認められるから、出願当初の明細書に記載された範囲内での補正と認められる。
　また、「（式２）により求められる感度分布」も同様に検討すると、（式２）は、密度を変数にする点で（式１）と同じであり、実質（式１）の密度分布と重複するものであるから、出願当初の明細書に記載されている事項であるものと認められる。
　したがって、手続補正書が却下されることを前提とする明細書の記載不備との申立ては理由がない。
　次に、密度分布の測定方法に対する主張を検討する。
　密度分布の測定方法は、段落【００２９】、【００３０】に記載されているが、測定は絶対値を求めるものではなく、最大値を１として、相対値を求める方法であり、密度分布の大小を直感的に判断し得るようにしたもので、原理的には可能なものであるから、本件の測定方法を実質的に不可能ということはできない。
IV．むすび
　以上のとおりであるから、特許異議申立ての理由及び証拠をもっては、本件請求項１ないし２に係る発明の特許を取り消すことはできない。　
　また、他に本件請求項１ないし２に係る発明の特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１５年６月２４日（２００３．６．２４）
【訂正の要旨】
　▲１▼　特許第２９１７２６９号公報第１ページ第２欄２行目「０．３％以内である」を「０．３％以内であり、さらに、隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間における密度分布が０．２％以内であり、かつ前記シンチレータ単位素子は厚さと密度との積として示される値が０．７２５ｇ／ｃｍ２以上であって、隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料の密度の中の最大値Ｃと最小値Ｄとから（式２）により求められる感度分布が０．１％以内である」と訂正する。（以下、訂正事項ａという。）
　▲２▼　特許第２９１７２６９号公報第１ページ第１欄及び第２欄の第４行目「（式１）密度分布＝（（Ａ−Ｂ）／Ａ）×１００（％）」を「（式１）密度分布＝（（Ａ−Ｂ）／Ａ）×１００（％）
（式２）感度分布＝（（Ｃ−Ｄ）／Ｃ）×１００（％）」と訂正する。（以下、訂正事項ｂという。）
　▲３▼　特許第２９１７２６９号公報中の特許請求の範囲の請求項２（特許第２９１７２６９号公報第１ページ第１欄５行目ないし９行目）を削除する。（以下、訂正事項ｃという。）
　▲４▼　特許第２９１７２６９号公報中の特許請求の範囲の請求項３（特許第２９１７２６９号公報第１ページ第１欄１０行目及び１１行目及び同第２欄５行目乃至９行目）を削除する。（以下、訂正事項ｄという。）
　▲５▼　特許第２９１７２６９号公報第１ページ第１欄最終行「請求項１〜３」を「請求項１」と訂正する。（以下、訂正事項ｅという。）
　▲６▼　特許第２９１７２６９号公報第１ページ第１欄１２行目「請求項４」を「請求項２」と訂正する。（以下、訂正事項ｆという。）
　▲７▼　特許第２９１７２６９号公報中の特許請求の範囲の請求項５（特許第２９１７２６９号公報第１ページ第２欄１３行目乃至１５行目及び同第２ページ第３欄１行目）を削除する。（以下、訂正事項ｇという。）
　▲８▼　特許第２９１７２６９号公報第２ページ【００１４】段落第５行目「（ＮＨ）」を「（ＮＨ４）」と訂正する。（以下、訂正事項ｈという。）
　▲９▼　特許第２９１７２６９号公報第２ページ第４欄４０行目、
　同第２ページ第４欄４５行目、同第３ページ第５欄２行目、
　同第３ページ第５欄２７行目、同第３ページ第５欄３４行目、
　同第３ページ第５欄４０行目、同第３ページ第５欄４６行目、
　同第３ページ第６欄２行目、同第３ページ第６欄８行目「Ｇｄ２Ｏ２：Ｐｒ」を、「Ｇｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ」と訂正する。（以下、訂正事項ｉという。）
　▲１０▼　特許第２９１７２６９号公報第３ページ第６欄【００３１】段落の７行目「単位素予」を「単位素子」と訂正する。（以下、訂正事項ｊという。）
（５４）【発明の名称】
Ｘ線ＣＴ用シンチレータ材料
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】
　複数のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料の密度について、それらの中の最大値Ａと最小値Ｂとから（式１）により求められる密度分布が０．３％以内で
あり、さらに、隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間における密度分布が０．２％以内であり、かつ前記シンチレータ単位素子は厚さと密度との積として示される値が０．７２５ｇ／ｃｍ２以上であって、隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料の密度の中の最大値Ｃと最小値Ｄとから（式２）により求められる感度分布が０．１％以内であることを特徴とするＸ線ＣＴ用セラミックスシンチレ
　　（式１）密度分布＝（（Ａ−Ｂ）／Ａ）×１００（％）
　　
（式２）感度分布＝（（Ｃ−Ｄ）／Ｃ）×１００（％）
　【請求項２】
　
複数のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料について、（式２）により求められる感度分布が、０．３％以内であることを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ用セラミックスシンチレータ材料。
【発明の詳細な説明】
　【０００１】
　【産業上の利用分野】本発明はＸ線を検出する放射線検出器に用いられるシンチレータ材料に関するものであり、特にＸ線ＣＴに用いられる放射線検出器に適用されるシンチレータ材料に関するものである。
　【０００２】
　【従来の技術】
　Ｘ線診断装置の一つにコンピュータ断層撮影装置（ＣｏｍｐｕｔｅｒｉｚｅｄＴｏｍｏｇｒａｐｈｙ：以下ＣＴ装置と称する）がある。
　【０００３】
　このＣＴ装置は扇状のファンビームＸ線を照射するＸ線管と多数のＸ線検出素子を並設したＸ線検出器を被検体の断層面の中央に対向して配置して構成され、Ｘ線検出器に向けてＸ線管からファンビームＸ線を照射し、１回照射を行なう毎に断層面に対して例えば角度を１度ずつ変えてゆくことによってＸ線吸収データを収集した後、このデータをコンピュータで解析することによって断層面の個々の位置のＸ線吸収率を算出し、その吸収率に応じた画像を構成するものである。
　【０００４】
　従来からこのＣＴ装置にはキセノンガス検出器が用いられている。このキセノンガス検出器はガスチャンバにキセノンガスを封入し、多数配列した電極間に電圧を印加すると共にＸ線を照射すると、Ｘ線がキセノンガスを電離し、Ｘ線の強度に応じた電流信号を取り出す事ができ、それにより画像が構成される。
　【０００５】
　しかし、このキセノンガス検出器では高圧のキセノンガスをガスチャンバに封入するため厚い窓が必要であり、そのためＸ線の利用効率が悪く感度が低いという問題がある。また、高解像度のＣＴ装置を得るためには電極板の厚みを極力薄くする必要があり、そのように電極板を薄くすると外部からの振動によって電極板が振動しノイズが発生するという問題がある。
　【０００６】
　そこでＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系セラミックスシンチレータ材料とフォトダイオードを組み合わせた検出器の開発が進められている。このセラミックシンチレータ材料を用いた検出器では、検出素子を小型化し、チャンネル数を増やすことが容易であることから、高解像度のＣＴ装置を得ることが可能となる。
　【０００７】
　【発明が解決しようとする課題】
　しかし従来の検出器に用いられるセラミックシンチレータ材料については、次のような問題があった。
　【０００８】
　Ｘ線ＣＴの多数のシンチレータ検出器に感度分布のばらつきがあると、特に身体頭頂部の断面を画像処理する場合、アーチファクトと呼ばれるリング状の虚像を生じ易いという問題があった。
　【０００９】
　したがって本発明は以上の従来の問題に鑑みてなされたものであって、身体頭頂部の断面を画像処理する場合にもアーチファクトを生じることがないＸ線ＣＴ用シンチレータ材料を提供することを目的とする。
　【００１０】
　【課題を解決するための手段】
　本発明者は以上の目的を達成するため種々検討した結果、複数のシンチレータ単位素子間における感度分布の支配要因である密度分布を一定レベル以下に押さえることが有効であることを見いだした。すなわち感度と密度との間には図８に示す関係が成立する。これより、試料の厚さ×密度が０．７２５ｇ／ｃｍ２以上では、感度と密度との間には、負の相関関係が成立する。よって、密度分布の凸部には感度分布の凹部が、密度分布の凹部には、感度分布の凸部が対応する。本発明者はかかる知見に基づき本発明を創出するに至った。
　【００１１】
　本発明は以上の知見に基づくものでＸ線ＣＴ用セラミックスシンチレータ材料は複数のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２Ｓ：Ｐｒ系材料の密度分布が０．３％以内であることを特徴とする。
　【００１２】
　本発明の言うところの密度分布とは、複数のシンチレータ単位素子個々についてγ線の透過率分布を用いて求めた密度についてそれらのばらつきの度合いを表したものであり、それらの中の最大値Ａと最小値Ｂとから（式１）により求められる値を示す。
　　（式１）密度分布＝（（Ａ−Ｂ）／Ａ）×１００（％）
　【００１３】
　かかる密度分布は０．３％以内が好ましく、さらに好ましくは０．２％以下であるのがよい。密度分布が０．３％を越えると感度分布のばらつきが顕著となり、かかるシンチレータ材料を用いてなるＸ線ＣＴでは身体頭頂部の断面を画像処理する場合にアーチファクトを生じ好ましくない。
　【００１４】
　本発明シンチレータ材料においては、残光を低減するためにＣｅを含有せしめることができる（特公昭６０−４８５６号参照）。また、本発明シンチレータ材料は公知の焼結法によって製造することができるが、この際焼結助剤としてＬｉＧｅＦ、
（ＮＨ４）
　【００１５】
　さらに本発明では隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２　
Ｓ
　【００１６】
　また本発明では、隣接して設置される２個のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２　
Ｓ
　　（式２）感度分布＝（（Ｃ−Ｄ）／Ｃ）×１００（％）
　【００１７】
　さらに本発明では、複数のシンチレータ単位素子間におけるＧｄ２Ｏ２　
Ｓ
　【００１８】
　【作用】
　一般にシンチレータ材料においては、その感度分布には材料側面からの光の漏れに起因する「片落ち」が生じる。この片落ちは材料の光吸収係数が大きくなると小さくなる。
　【００１９】
　しかしアーチファクトが生じるかどうかは、各素子間における感度分布の大きさに起因し、光吸収係数が小さく片落ちが大きい素子を用いる場合であっても、すべての素子が同じ感度であればアーチファクトの発生を抑制できる。
　【００２０】
　本発明のＸ線ＣＴ用セラミックスシンチレータ材料は複数のシンチレータ単位素子間における材料の密度分布が、０．３％以内であることからこの密度分布に相関する感度分布が小さくなる結果として身体頭頂部の断面を画像処理する場合にもアーチファクトを生じない様にすることが可能となった。
　【００２１】
　【実施例】
　次に本発明のシンチレータ材料の実施例につき説明する。
　【００２２】
　実施例１
　Ｇｄ２Ｏ２　
Ｓ
　【００２３】
　実施例２
　Ｇｄ２Ｏ２　
Ｓ
　【００２４】
　実施例３
　Ｇｄ２Ｏ２　
Ｓ
　【００２５】
　比較例１
　Ｇｄ２Ｏ２　
Ｓ
　【００２６】
　比較例２
　Ｇｄ２Ｏ２　
Ｓ
　【００２７】
　比較例３
　Ｇｄ２Ｏ２　
Ｓ
　【００２８】
　以上の各実施例および比較例のシンチレータ材料につき密度分布を測定し、さらに感度分布を測定した。測定は以下のようにしておこなった。
　【００２９】
　密度の測定密度分布の測定装置は、クレーブゼーゲ社製ガンマデンソマットを用いた。測定は、６６２ＫｅＶのγ線（１３７Ｃｓから放出されるγ線）を使用、アパーチャサイズφ４ｍｍ、積算時間２５５秒で行い、感度分布評価区間２０ｍｍを３ｍｍピッチで７点測定した。
　【００３０】
　感度の測定感度分布の測定装置は、日立メディコ株式会社製Ｘ線ＣＴ装置ＣＴ−Ｗ８００を用いた。Ｘ線源からでたＸ線（１２０Ｋｖ、３００ｍＡ）１を、図１に示すスリット幅２ｍｍのコリメーター２を通し、ＳＰＤ（シリコンフォトダイオード）３上におかれた試料４に照射し、このＳＰＤ３と試料４を走査することにより、試料４の長手方向の感度分布を測定した。なお試料４上面には、蛍光反射板を取り付け、測定領域は、試料４の長手方向の中心２０ｍｍの区間とした。密度分布及び感度分布は、密度及び感度の測定結果から、前出（式１）及び（式２）により求めることができる。しかしここでは密度分布及び感度分布の大小を直感的に判断しやすくするために、測定結果のうち最大値を１としてその他の値を最大値に対する比すなわち相対値として求め、図２乃至図７に示した。
　【００３１】
　図５乃至図７に示すように各比較例のシンチレータ材料では密度分布が０．３％を越え、最大０．７％程度に達し、それに伴い各比較例のシンチレータ材料の感度分布は大きい。これに対し、各実施例のシンチレータ材料では密度分布が０．３％未満でそれに伴い感度分布は小さいことがわかる。実際にＸ線ＣＴ用セラミックスシンチレータの単位素
子
　【００３２】
　【発明の効果】
　以上にように本発明のＸ線ＣＴ用セラミックスシンチレータ材料によれば、複数のシンチレータ単位素子間における材料の密度分布が０．３％以内であるため、感度分布のばらつきが小さくなる結果として、身体頭頂部の断面を画像処理する場合にもアーチファクトを生じない様にすることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
　【図１】本発明実施例で使用した感度の測定装置を示す模式図である。
　【図２】本発明実施例１のシンチレータ材料の相対密度と相対感度とを示す図である。
　【図３】本発明実施例２のシンチレータ材料の相対密度と相対感度とを示す図である。
　【図４】本発明実施例３のシンチレータ材料の相対密度と相対感度とを示す図である。
　【図５】本発明の実施例とを対比する比較例１のシンチレータ材料の相対密度と相対感度とを示す図である。
　【図６】本発明の実施例と対比する比較例２のシンチレータ材料の相対密度と相対感度とを示す図である。
　【図７】本発明の実施例と対比する比較例３のシンチレータ材料の相対密度と相対感度とを示す図である。
　【図８】Ｘ線透過率及び感度と試料厚さ×密度との関係を示す参考図である。
　【符号の説明】
　１　Ｘ線
　２　コリメーター
　３　２４チャンネルＳＰＤ
　４　試料