【事件の表示】
　特許第４３４２７１５号に関する訂正審判事件について，次のとおり審決する。
【結　論】
　特許第４３４２７１５号に係る明細書を本件審判請求書に添付された訂正明細書のとおり訂正することを認める。
【理　由】
１　請求の要旨 
　本件審判の請求の要旨は，特許第４３４２７１５号（平成１２年１０月１３日特許出願，平成２１年７月１７日設定登録）の明細書（以下「本件特許明細書」という。）を審判請求書に添付した訂正明細書のとおり，すなわち，下記（１）〜（３）のとおり訂正することを求めるものである。なお，以下において，訂正した箇所に下線を付した。
　
（１）訂正事項ａ
　本件特許明細書における特許請求の範囲の請求項８について，
「【請求項８】
　請求項１から７までのいずれかに記載の粒界腐食性診断方法において、電流電位曲線測定装置に接続した測定制御装置における測定およびデータ処理方法の入力工程として、測定前に電位掃引方法および電気化学的特性値の算出方法の選択あるいは入力を促すステップと、電流電位曲線の測定開始を促すステップと、電流電位曲線測定測定終了を通知するステップと、電流電位曲線測定後改めて電気化学特性値の算出方法の選択あるいは入力を促すステップと、得られた電気化学特性値の出力を促すステップとを有することを特徴とするニッケル基合金の粒界腐食性診断方法。」を
　
「【請求項８】
　請求項１から７までのいずれかに記載の粒界腐食性診断方法において、電流電位曲線測定装置に接続した測定制御装置における測定およびデータ処理方法の入力工程として、測定前に電位掃引方法および電気化学的特性値の算出方法の選択あるいは入力を促すステップと、電流電位曲線の測定開始を促すステップと、電流電位曲線測
定終
　
（２）訂正事項ｂ
　本件特許明細書における段落【００１２】，【００２１】，【００２３】，【００２５】，【００２７】及び【００２８】を以下のとおりに訂正し，かつ，新たな段落【００１４】，【００１７】及び【００１９】を以下のとおりに追加する訂正を行う。
「【００１２】
【課題を解決するための手段】
　上記目的を達成するため、請求項１に記載のニッケル基合金の粒界腐食性診断方法
は、酸に有機インヒビターとしてチオアセトアミド（ＣＳＣＨ
３
ＮＨ
２
）を添加した電解液を
　
「
【００１４】
　
請求項２に記載のニッケル基合金の粒界腐食性診断方法は、電解液中のチオアセトアミド濃度が１．０×１０
−４
ｍｏｌ／ｌ以上１．０ｍｏｌ／ｌ以下の範囲であることを特徴とする。
　
「
【００１７】
　
請求項３に記載のニッケル基の合金粒界腐食性診断方法は、チオアセトアミドの代りに有機インヒビターとしてチオ尿素（ＣＳ（ＮＨ
２
）
２
）を電解液中に１．０×１０
−４
ｍｏｌ／ｌ以上１．０ｍｏｌ／ｌ以下の範囲内の濃度で添加することを特徴とする。
　
「
【００１９】
　
請求項４に記載のニッケル基合金の粒界腐食性診断方法は、酸として濃度が１．０×１０
−３
ｍｏｌ／ｌ以上５．０ｍｏｌ／ｌ以下の範囲内の硫酸を用いることを特徴とする。
　
「【００２１】
　請求項
５
ニッケル基合金の粒界腐食性診断方法は、粒界腐食性の指標である電気化学的特性値が、電位を腐食電位から貴方向に０．１ｍＶ／ｓｅｃ以上１０ｍＶ／ｓｅｃ以下の範囲内の速度で掃引したときに得られるアノード電流密度ピーク値Ｉａあるいは電気量Ｑａと、特定の電位に到達後、一定時間電位を保持したのち電位を卑方向に０．１ｍＶ／ｓｅｃ以上１０ｍＶ／ｓｅｃ以下の範囲内の速度で掃引して得られる電流密度ピーク値Ｉｒあるいはクーロン量Ｑｒとの、それぞれの比（Ｉｒ／Ｉａ），（Ｑｒ／Ｑａ）
　
「【００２３】
　請求項
６
ニッケル基合金の粒界腐食性診断方法は、粒界腐食性の指標である電気化学的特性値が、被測定部の電位を不動態化電位以上の電位に一定時間保持した後、卑方向に０．１ｍＶ／ｓｅｃ以上１０ｍＶ／ｓｅｃ以下の速度で電位掃引した時に得られる電流密度ピークＩｒあるいは電気量Ｑｒで
　
「【００２５】
　請求項７に記載の
ニッケル基合金の粒界腐食性診断方法は、
　
「【００２７】
　請求項８に記載の
ニッケル基合金の粒界腐食性診断方法は、
接続した測定制御装置における測定およびデータ処理方法の入力工程として、
定終
　
「【００２８】
　上記構成の測定制御
方法
　
（３）訂正事項ｃ
　本件特許明細書における段落【００１３】及び【００１５】を以下のとおりに訂正する。
「【００１３】
　上記構成のニッケル基合金の粒界腐食性診断方法
に
　
「【００１５】
　チオアセトアミド濃度が低い場合、インヒビター添加による被計測面の保護作用が弱くなり、測定過程において腐食ピットが多数発生し、電流密度ピーク値が結晶粒界の腐食量
を反
　
　
２　当審の判断                    
（１）訂正事項ａについて
　請求項８の「電流電位曲線の測定開始を促すステップと、電流電位曲線測定測定終了を通知するステップ」との記載について，前者は，「電流電位曲線」の測定を開始することを促すステップということで技術的に明瞭であるが，後者は，「電流電位曲線測定」の測定を終了することを通知するステップとなり，前者の関係で，何の測定の終了を通知するステップであるのか明瞭でない。それに対し，「電流電位曲線測定測定終了」を「電流電位曲線測定終了」と訂正することにより，「電流電位曲線」の測定終了を通知するステップということになり，技術的に明瞭となるものである。
　よって，訂正事項ａは，特許法第１２６条第１項ただし書第３号に規定する「明瞭でない記載の釈明」を目的とするものである。
　
　また，願書に添付した明細書の段落【００６８】及び【００６９】には，
「【００６８】
第一のステップ（Ｓ１）では、電位掃引方法４８について、ダブルループ式あるいはシングルループ式のいずれかを選択し、掃引開始電位４９、貴方向、卑方向への電位掃引速度５０、電流電位曲線測定後の特性値算出方法５１について選択／入力を行う。
【００６９】
第二のステップ（Ｓ２）では、測定開始および終了をコンピュータを用いた制御５２を行なう。」
と記載されており，訂正された「電流電位曲線測定終了」は，電流電位曲線の測定終了のことであるから，上記訂正は，願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内においてされたものである。さらに，上記訂正によって，実質上特許請求の範囲を拡張し，又は変更するものでもない。
　よって，訂正事項ａは，特許法第１２６条第５項及び第６項に適合するものである。
　
（２）訂正事項ｂについて
　本件特許明細書の見出し【課題を解決するための手段】に相当する部分の記載（段落【００１２】〜【００２８】の記載）は，本件特許明細書の特許請求の範囲の記載と整合しないものである。そこで，訂正事項ｂは，本件特許明細書の特許請求の範囲の請求項１〜７及び上記訂正事項ａによって訂正された請求項８の記載との整合性をとるために訂正されたものであるから，特許法第１２６条第１項ただし書第３号に規定する「明瞭でない記載の釈明」を目的とするものである。
　また，上記訂正は，願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内においてされたものであることは明らかであるから，特許法第１２６条第５項に適合するものであり，上記訂正によって，実質上特許請求の範囲を拡張し，又は変更するものでもないことから，同条第６項に適合するものである。
　
（３）訂正事項ｃについて
　本件特許明細書の段落【００１３】の「上記構成のニッケル基合金の粒界腐食性診断方法おいて」を「上記構成のニッケル基合金の粒界腐食性診断方法において」と訂正することにより，「上記構成のニッケル基合金の粒界腐食性診断方法」を前提とすることが明瞭となり，また，同段落【００１５】の「電流密度ピーク値が結晶粒界の腐食量を反映で反映できない」を「電流密度ピーク値が結晶粒界の腐食量を反映できない」と訂正することにより，電流密度ピーク値が結晶粒界の腐食量を反映できないという技術的事項が明瞭となるものであるから，両者とも，特許法第１２６条第１項ただし書第３号に規定する「明瞭でない記載の釈明」を目的とするものである。
　また，上記訂正は，願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内においてされたものであることは明らかであるから，特許法第１２６条第５項に適合するものであり，上記訂正によって，実質上特許請求の範囲を拡張し，又は変更するものでもないことから，同条第６項に適合するものである。
　
　
３　むすび
　以上のとおり，本件審判の請求は，特許法第１２６条第１項ただし書第３号に掲げる事項を目的とし，かつ，同条第５項及び第６項の規定にも適合する。
　
　よって，結論のとおり審決する。