【事件の表示】
　特許第３２１５２９９号「積層フイルム」の請求項１ないし６に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第３２１５２９９号の請求項１ないし６に係る特許を維持する。
【理　由】
１．手続の経緯
　本件特許第３２１５２９９号の請求項１〜６に係る発明についての出願は、平成７年８月２１日の出願であって、平成１３年７月２７日にその特許権の設定登録がなされ、その後、平成１４年４月２日に特許異議申立人東レ株式会社（以下、「申立人」という）より特許異議の申立てがなされたものである。
　　
２．本件発明
　本件の請求項１〜６に係る発明（以下、「本件発明１」〜「本件発明６」という）は、特許明細書の記載からみて、特許請求の範囲の請求項１〜２に記載された事項により特定される次の通りのものである。
「【請求項１】　平均粒径が１〜３００ｎｍの不活性粒子を０．００１〜０．５重量％含有するポリエステルフイルムの少なくとも片面に、平均粒径の異なる２種の粒子を含有する塗膜を設けた積層フイルムであって、該塗膜の含有する２種の粒子が平均粒径（ｄｘ）が１００〜１０００ｎｍの粒子Ｘと、平均粒径（ｄｙ）が５〜１００ｎｍでかつｄｘ／ｄｙが１．２以上の粒子Ｙであり、粒子Ｘの含有量が０．０１〜４０重量％、粒子Ｙの含有量が１〜７０重量％かつ粒子Ｘと粒子Ｙの総量が７５重量％以下であり、そして塗膜厚みが４ｎｍ以上ｄｙ（ｎｍ）未満であることを特徴とする積層フイルム。
【請求項２】　粒子Ｘの平均粒径（ｄｘ）が１０５〜８００ｎｍで、含有量が０．０５〜３５重量％である請求項１に記載の積層フイルム。
【請求項３】　粒子Ｙの平均粒径（ｄｙ）が１０〜９５ｎｍで、含有量が５〜６０重量％である請求項１に記載の積層フイルム。
【請求項４】　平均粒径の比（ｄｘ／ｄｙ）が１．３以上である請求項１に記載の積層フイルム。
【請求項５】　ポリエステルフイルム中の不活性粒子の含有量が０．００５〜０．４５重量％である請求項１に記載の積層フイルム。
【請求項６】　積層フイルムのエア抜け指数が６０００秒以下である請求項１に記載の積層フイルム。」
　
３．特許異議申立ての理由の概要
　申立人は、下記の甲第１〜３号証を提出して、本件発明１〜４は甲１号証に記載された発明であり、また、本件発明１〜６は、甲第１〜３号証に記載のものから当業者が容易に発明できたものであるから、本件発明１〜４に係る特許は特許法第２９条第１項第３号の規定に違反し、また、本件発明１〜６に係る特許は特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものであり、取り消されるべきものであると主張している。
　甲第１号証：特開平６−２９７６６１号公報
　甲第２号証：特開平６−１９８７３１号公報
　甲第３号証：特開平７−１３７１２８号公報
　
４．甲各号証について
　申立人が提示した甲各号証には、以下のような事項が記載されている。
（１）甲第１号証
（１−ａ）「ポリエステルフィルムの少くとも片面に該ポリエステルフィルムの製膜工程内で設けられた塗布層を有し、該塗布層が（Ａ）平均粒径が１μｍ以下の酸化アルミニウム粒子、および（Ｂ）平均粒径が（Ａ）のそれよりも大きくかつ０．０５〜２μｍの範囲にある炭酸カルシウム、二酸化ケイ素および耐熱性有機粒子から選ばれた一種以上の粒子を下記式（１）〜（３）を同時に満足する条件で含有することを特徴とする磁気記録媒体用二軸延伸ポリエステルフィルム。
０．１≦Ｗａ≦５０…（１）
５≦Ｗｂ≦５０…（２）
０．１≦Ｗｂ／Ｗａ≦２０…（３）
（Ｗａ，Ｗｂは各々塗布層中の粒子Ａ、粒子Ｂの含有率（重量％）を示す）」（特許請求の範囲請求項１）
（１−ｂ）「本発明の塗布層の厚さは０．０１〜１μｍの範囲から選択することが好ましい。」（５頁左欄１７〜１８行）
（１−ｃ）「（１）平均粒径　塗布層中の粒子の粒径は塗布層断面を透過電子顕微鏡で観察することにより求めた。平均粒径は等価球換算値の積算体積分率５０％の直径を平均粒径とした。乾粉につていも同様な操作を行って、平均粒径を求めた。」（５頁左欄４２〜４６行）
（１−ｄ）「実施例１　…得られたポリエステルを乾燥後、２９０℃で溶融押出し、無定形シートとし、縦方向に９０℃で３．５倍延伸した。次いで該フィルムの片面に次に示す粒子を含有した塗布液をバーコート法にて延伸乾燥後の塗布厚みが０．１０μｍとなるよう塗工した。…厚さ１５μｍのフィルムを得た。得られたフィルムの評価結果を他の実施例および比較例のそれとともに下記表−１に示す。…実施例２、３…塗布剤の条件を変えるほかは実施例１と同じ条件で塗布層を有するフィルムを製造し、その評価を行った。」（６頁右欄１１行〜同頁右欄下から３行）
（１−ｅ）「表−１
／粒子（Ａ）平均粒径（μｍ）／粒子（Ａ）含有率Ｗａ（重量％）／粒子（Ｂ）種類／粒子（Ｂ）平均粒径（μｍ）／粒子（Ｂ）含有率Ｗｂ（重量％）
実施例１／０．０２／３／炭酸カルシウム／０．１／２４
実施例２／０．０３／１０／球状シリカ／０．２／２０
実施例３／０．０３／１０／耐熱性有機粒子＊／０．１／２０」（７頁表−１　抜粋）
（２）甲第２号証
（２−ａ）「【請求項１】 平均粒子径（Ｄａ）が０．２〜２μｍの範囲内の粒子Ａを０．００５〜０．５重量％含有するポリエステルフィルムの少なくとも片面に、該ポリエステルフィルムの製膜工程内で設けられた膜厚（Ｔ）が０．０１〜１μｍの範囲内の塗布層を有し、該塗布層が平均粒子径（Ｄｂ）が０．００５〜０．５μｍの範囲内の粒子Ｂを０．１〜５０重量％含有し、かつ、下記式を満足することを特徴とするポリエステルフィルム。
９Ｄｂ≦Ｔ≦０．５Ｄａ」（特許請求の範囲請求項１）
（２−ｂ）「本発明のフィルムの塗布層厚さは０．０１〜１μｍの範囲から選択する。…また、塗布層の厚さの選定にあたっては、その中に添加される粒子の粒径との関係が塗膜の特性を大きく左右するので、配慮を要する。」（３頁右欄５〜１２行）
（２−ｃ）「（１）平均粒子径　塗布層中の粒子の粒径は塗布層断面を透過電子顕微鏡で観察し、等価球換算値の積算体積分率５０％の直径を平均粒子径とした。なお、乾粉およびスラリー中の粒子については、走査型電子顕微鏡を用いて粒径を求めた。」（５頁左欄２９〜３３行）
（２−ｄ）「以上得られた結果をまとめて下記表１および２に示す。
【表１】
／塗布層中粒子　Ｄｂμｍ／…／塗布層厚みＴμｍ
実施例１／０．１／…／０．１
実施例２／０．０４／…／０．１
実施例３／０．０４／…／０．６
…
比較例３／０．２／…／０．１」（６頁右欄２９〜３０行、６〜７頁表１　抜粋）
（３）甲第３号証
（３−ａ）「【請求項１】 平均粒径ｄが０．０５〜３μｍの粒子Ａを０．０１〜１０重量％含有し、少なくとも片面の空気洩れ指数が１×１０2〜２×１０4 秒、長手方向、幅方向のうち少なくとも一方向のＦ５値が１２ｋｇ／ｍｍ2 以上であることを特徴する二軸配向フィルム。
【請求項２】 前記粒子Ａを含有するフィルムが、少なくとも２層構造からなる積層フィルムの１つの最外層であることを特徴とする請求項１記載の二軸配向フィルム。
【請求項３】 前記粒子Ａの平均粒径ｄ（ｎｍ）と粒子Ａを含有する層厚さｔ（ｎｍ）との関係が 
０．２ｄ≦ｔ≦１０ｄ （１）
である請求項１または請求項２に記載の二軸配向フィルム。」（特許請求の範囲請求項１〜３）
（３−ｂ）「（１）粒子Ａの平均粒径　フィルム断面を透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）を用い、１０万倍以上の倍率で観察する。ＴＥＭの切片厚さは約１００ｎｍとし、場所を変えて１００視野以上測定する。粒子Ａの粒径は単分散粒子について、粒子Ｂの一次粒径は、粒子Ｂの分割できない粒子最小単位について、粒子Ｂの二次粒径は凝集体について、それぞれ等価円相当径の平均値である。なお、粒子Ａの粒径は、重量平均、粒子Ｂの一次粒径、二次粒径は個数平均とする。」（４頁右欄１０〜１８行）
（３−ｃ）「粒子Ａと粒子Ｂが少なくとも片面側の同じ最外層に含有され、そのフィルム層厚さｔと、粒子Ａの粒径ｄの関係が、０．２ｄ≦ｔ≦１０ｄ」（３頁右欄２０〜２３行）
（３−ｄ）「粒子Ａ（およびＢ）を…公知の溶融押出機に供給し、スリット状のダイからシート状に押出し、キャスティングロール上で冷却固化せしめて未延伸フィルムを作る。積層ポリエステルフィルムの場合は、２または３台の押出機、２または３層のマニホールドまたは合流ブロックを用いて、溶融状態のポリエステルを積層せしめて未延伸フィルムを作る。」（４頁左欄２５〜３２行）
（３−ｅ）「表１
／粒子Ａ　平均粒径（μｍ）　含有量（ｗｔ％）／粒子Ｂ　平均粒径　含有量（ｗｔ％）／積層構成　厚み（μｍ）
実施例３／コロイダルシリカ粒子　０．４５　１．０／ジルコニア　一次径４０ｎｍ二次径２００ｎｍ　０．３／単層　１５」（７頁表１　抜粋）
　
５．当審の判断
　本件発明１〜６に係る平均粒径は、本件特許明細書段落【００４２】に記載されているように、遠心沈降により測定（以下、この測定法を「遠心沈降法」という）されているが、甲第１〜３号証に記載の発明における平均粒径は、摘示記載（１−ｃ）、（２−ｃ）、（３−ｂ）より明らかなように、塗布層（＝塗膜）もしくはフィルムの断面を透過電子顕微鏡で観察することにより測定（以下、この測定法を「顕微鏡法」という）されている。
　ここで、遠心沈降法において測定する粒子は、塗膜を構成する樹脂に配合する前の粒子であるものと認められる。
　してみると、一般的な技術常識からすれば、粒子の凝縮等の状態は、樹脂への配合前後で変化するものといえるから、遠心沈降法と顕微鏡法とでは、測定原理が異なるのみならず、粒径測定時の粒子の状態が相違し、同じ粒子を測定しても測定値が異なることになるといえる。
　そして、これら異なった測定法を適用して同じ粒子を測定した場合、同じ平均粒径値が得られるとする根拠も無く、本件発明１〜６と甲第１〜３号証に記載の発明を直接比較することはできないが、仮に、本件発明１〜６と甲第１〜３号証に記載の発明に係る平均粒径の測定法によって、同じ粒子を測定した場合、実質的に同じ平均粒径値が得られるものとして、以下、検討する。
（１）本件発明１について
　甲第１号証には、ポリエステルフィルムの少くとも片面に塗布層を有する磁気記録媒体用二軸延伸ポリエステルフィルムにおいて、該塗布層に平均粒径が１μｍ以下の酸化アルミニウム粒子（以下、粒子Ａという）、および平均粒径が粒子Ａのそれよりも大きくかつ０．０５〜２μｍの範囲にある炭酸カルシウム、二酸化ケイ素および耐熱性有機粒子から選ばれた一種以上の粒子（以下、粒子Ｂという）を特定の含有率の関係を満足するように含有させたものが記載（摘示記載（１−ａ））されている。
　ここで、甲第１号証における「磁気記録媒体用二軸延伸ポリエステルフィルム」、「粒子Ａ」、「粒子Ｂ」は、それぞれ本件発明１における、「積層フイルム」、「粒子Ｙ」、「粒子Ｘ」に相当する。そして、甲第１号証には、粒子Ｂ（＝粒子Ｘ）と粒子Ａ（＝粒子Ｙ）の平均粒径の比として、実施例１〜３に、それぞれ、５（当審において計算。＝０．１／０．０２）、６．７（当審において計算し、小数点以下２桁目を四捨五入。＝０．２／０．０３、）、３．３（当審において計算し、小数点以下２桁目を四捨五入。＝０．１／０．０３）のものが、また、粒子Ｂ（＝粒子Ｘ）と粒子Ａ（＝粒子Ｙ）の総量（重量％）として、実施例１〜３に、それぞれ、２７（当審において計算。＝２４＋３）、３０（当審において計算。＝２０＋１０）、３０（当審において計算。＝２０＋１０）のものが記載（摘示記載（１−ｅ））されている。
　ここで、本件発明１と甲第１号証に記載の発明を対比すると、両者は、「ポリエステルフイルムの少なくとも片面に、平均粒径の異なる２種の粒子を含有する塗膜を設けた積層フイルムであって、該塗膜の含有する２種の粒子が平均粒径（ｄｘ）が１００〜１０００ｎｍの粒子Ｘと、平均粒径（ｄｙ）が５〜１００ｎｍでかつｄｘ／ｄｙが３．３〜６．７の粒子Ｙであり、粒子Ｘの含有量が５〜４０重量％、粒子Ｙの含有量が１〜５０重量％かつ粒子Ｘと粒子Ｙの総量が２７〜３０重量％以下である積層フイルム」である点で一致し、以下の点で相違する。
相違点ａ．本件発明１では、塗膜厚みを４ｎｍ以上ｄｙ（ｎｍ）未満と特定しているが、甲第１号証では、このような特定をしていない点。
相違点ｂ．本件発明１では、塗膜を設けるポリエステルフィルムは、平均粒径が１〜３００ｎｍの不活性粒子を０．００１〜０．５重量％含有しているが、甲第１号証に記載の発明では、塗膜を設けるポリエステルフィルムに、このような不活性粒子が含有しているのか否か不明である点。
　上記相違点について検討する。
（相違点ａ．について）
　甲第１号証には、塗布層（＝塗膜）の厚さは「０．０１〜１μｍの範囲から選択」（摘示記載（１−ｂ））と記載されているが、ｄｙとの関係については一切記載も示唆もされていない。しかも、実施例１〜３における塗布厚み（＝塗膜の厚み）は、いずれも０．１０μｍ（＝１００ｎｍ）である（摘示記載（１−ｄ））のに対し、ｄｙ（＝粒子（Ａ）平均粒径）は、それぞれ０．０２μｍ（＝２０ｎｍ）、０．０３μｍ（＝３０ｎｍ）、０．０３μｍ（＝３０ｎｍ）であり（摘示記載（１−ｅ））、いずれの場合も、塗膜の厚みはｄｙ未満とはなっていない。
　甲第２号証では、塗布層（＝塗膜）の厚み（Ｔ）は、０．０１〜１μｍの範囲から選択する（摘示記載（２−ｂ））こと、Ｔと塗膜に含まれる粒子の平均粒子径（Ｄｂ）の関係を、０．９Ｄｂ≦Ｔと特定（摘示記載（２−ａ））し、さらに、「塗布層の厚さの選定にあたっては、その中に添加される粒子の粒径との関係が塗膜の特性を大きく左右するので、配慮を要する。」（摘示記載（２−ｂ））と記載されている。
　しかしながら、甲第２号証には、塗膜に含まれる粒子として、平均粒径の異なる２種の粒子を含有させることは記載も示唆もされておらず、しかも、実施例１〜３における塗布層厚み（＝塗膜の厚み）は、いずれの場合においても、塗膜に含まれる粒子の平均粒子径（＝Ｄｂ）未満となっておらず、唯一比較例３においてのみ塗膜の厚みが、Ｄｂ未満となっているに過ぎない。したがって、甲第２号証からは、塗膜の厚みを、塗膜に含まれる平均粒径の異なる２種の粒子のうち、小さい平均粒子径未満にするという技術思想は読みとれない。
　甲第３号証には、溶融押出により得た２種類の粒子Ａおよび粒子Ｂを含むフィルムにおいて、粒子Ａの平均粒径ｄと粒子Ａを含有する層厚さｔ（ｎｍ）との関係を、０．２ｄ≦ｔ≦１０ｄとすることが記載されている（摘示記載（３−ａ）、（３−ｃ）、（３−ｄ））が、該層は塗膜ではなく、さらに、実施例３では、ｄは０．４５μｍ（＝４５０ｎｍ）であって、粒子Ｂの平均粒径（一次径４０ｎｍ、二次径２００ｎｍ）よりも大きく、しかもｔは１５μｍ（＝１５０００ｎｍ）であって、ｄよりも大きい（摘示記載（３−ｅ））。したがって、甲第３号証からは、塗膜の厚みを、塗膜に含まれる平均粒径の異なる２種の粒子のうち、小さい平均粒子径未満にするという技術思想は読みとれない。
　これらに対し、本件発明１では、相違点ａ．により、本件特許明細書に記載の顕著な効果を奏するのである。
　したがって、異なる測定法によっても実質的に同じ平均粒子径値が得られるとの前記仮定のものにおいてすら、相違点ａ．は、甲第１号証に記載されているとすることができず、また甲第１〜３号証に記載のものから当業者が容易に想到しうるものということもできない。
　以上のことから、相違点ｂ．を検討するまでもなく、本件発明１は甲第１号証に記載の発明ではなく、また甲第１〜３号証に記載のものから当業者が容易に発明をすることができたものでもない。
　
（２）本件発明２〜４について
　本件発明２〜４は、本件発明１にさらに発明を特定する事項を付加したものであって、上述５−１．（１）で示したのと同様の理由により、甲第１号証に記載の発明ではなく、また甲第１〜３号証に記載のものから当業者が容易に発明をすることができたものでもない。
　
（３）本件発明５、６について
　本件発明５、６は、本件発明１にさらに発明を特定する事項を付加したものであって、上述５−１．（１）で示したのと同様の理由により、甲第１〜３号証に記載のものから当業者が容易に発明をすることができたものではない。
　
６．むすび
　以上のとおりであるから、特許異議申立ての理由及び証拠によっては、本件発明１〜６に係る特許を取り消すことができない。
　また、他に本件発明１〜６に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１５年１月２８日（２００３．１．２８）