(57)【要約】      （修正有）【課題】干渉信号の波形全体に発生するノイズを低減するための光干渉ユニットおよび光干渉測定装置を提供する。【解決手段】光干渉ユニット２０は、分岐光学素子２１、合波光学素子２３、および少なくとも一つのファイバデバイスを備える。分岐光学素子２１は、出射波長が時間的に掃引されたレーザ光を、測定光と参照光に分岐する。合波光学素子２３は、参照光と、被測定物によって反射された測定光を合波して干渉させる。少なくとも１つのファイバデバイスには、参照光用デバイス２２Ａが含まれている。参照光用デバイス２２Ａを透過した参照光の、参照光用デバイス２２Ａから合波光学素子２３までの光路長を、透過光路長とする。参照光用デバイス２２Ａの離脱部によって反射された参照光の、参照光用デバイス２２Ａから合波光学素子２３までの光路長を、反射光路長とする。この場合、透過光路長は反射光路長以上である。【選択図】図１
2018205203.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
出射波長が時間的に掃引されたレーザ光を、測定光と参照光に分岐する分岐光学素子と、
前記参照光と、被測定物によって反射された前記測定光を合波して干渉させる合波光学素子と、
光ファイバによって導光される前記レーザ光が前記光ファイバのコアから前記コアの屈折率とは異なる屈折率を有する外部に一旦離脱されて再度前記コアに入射する離脱部を有する少なくとも１つのファイバデバイスと、
を備え、
前記少なくとも１つのファイバデバイスには、前記分岐光学素子と前記合波光学素子の間の前記参照光の光路上に配置された前記ファイバデバイスである参照光用デバイスが含まれており、
前記参照光用デバイスを透過した前記参照光の、前記参照光用デバイスから前記合波光学素子までの光路長である透過光路長と、前記参照光用デバイスの前記離脱部によって反射された前記参照光の、前記参照光用デバイスから前記合波光学素子までの光路長である反射光路長とのうち、前記透過光路長が前記反射光路長以上であることを特徴とする光干渉ユニット。
【請求項２】
請求項１に記載の光干渉ユニットであって、
前記ファイバデバイスは、前記レーザ光の出力を調整する減衰器、前記レーザ光の光路長を調整する光遅延部、サーキュレータ、およびアイソレータの少なくとも何れかであることを特徴とする光干渉ユニット。
【請求項３】
出射波長を時間的に掃引させたレーザ光を出力する波長掃引光源と、
前記波長掃引光源から出力されたレーザ光を、測定光と参照光に分岐する分岐光学素子と、
前記参照光と、被測定物によって反射された前記測定光を合波して干渉させる合波光学素子と、
光ファイバによって導光される前記レーザ光が前記光ファイバのコアから前記コアの屈折率とは異なる屈折率を有する外部に一旦離脱されて再度前記コアに入射する離脱部を有する少なくとも一つのファイバデバイスと、
前記合波光学素子によって生成された干渉光の干渉信号を検出する検出器と、
を備え、
前記少なくとも一つのファイバデバイスには、前記分岐光学素子と前記合波光学素子の間の前記参照光の光路上に配置された前記ファイバデバイスである参照光用デバイスが含まれており、
前記参照光用デバイスを透過した前記レーザ光の、前記参照光用デバイスから前記合波光学素子までの光路長である透過光路長と、前記参照光用デバイスによって反射された前記レーザ光の、前記参照光用デバイスから前記合波光学素子までの光路長である反射光路長とのうち、前記透過光路長が前記反射光路長以上であることを特徴とする光干渉測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、光干渉ユニットおよび光干渉測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光源から出力された光を分岐する分岐光学素子と、分岐された光を合波する合波光学素子と、ファイバデバイスとを備える光干渉ユニットが知られている。ファイバデバイスは、光ファイバによって導光される光が光ファイバのコアからコアの屈折率とは異なる屈折率を有する外部に一旦離脱されて再度コアに入射する離脱部を有する。ファイバデバイスは、例えば、光を減衰させる、光路を調整する等の少なくとも何れかの機能を有する。例えば、特許文献１に開示されている断層像読取部は、分岐光学素子の一例であるファイバカップラーと、合波光学素子の一例であるファイバカップラーと、ファイバデバイスの一例であるディレイラインユニットとを備える。ディレイラインユニットは、ファイバカップラーによって分岐された光の一方である参照光の光路長を調整する。もう一つのファイバカップラーは、光路長が調整された参照光を、分岐された光の他方である測定光と合波する。参照光と測定光が合波されることで、干渉光が生成される。干渉光の波長毎の干渉信号が、検出器によって測定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１４−２２６１７３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ファイバデバイスにおいて、光が光ファイバのコアから外部に離脱される時、および、光が再度コアに入射する時、離脱部において光が反射する。本件出願の発明者は、出射波長が時間的に掃引されたレーザ光が用いられる場合、ファイバデバイスの影響で、干渉信号の波形全体にノイズが発生することを発見した。波形全体にノイズが発生する原因は正確には判明していないが、恐らく、ファイバデバイスの離脱部によって反射された反射光に起因して発生しているものと推測される。
【０００５】
本開示の典型的な目的は、干渉信号の波形全体に発生するノイズを低減するための光干渉ユニットおよび光干渉測定装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本開示における典型的な実施形態が提供する光干渉ユニットは、分岐光学素子、合波光学素子、および少なくとも一つのファイバデバイスを備える。分岐光学素子は、出射波長が時間的に掃引されたレーザ光を、測定光と参照光に分岐する。合波光学素子は、参照光と、被測定物によって反射された測定光を合波して干渉させる。少なくとも一つのファイバデバイスは、光ファイバによって導光されるレーザ光が光ファイバのコアからコアの屈折率とは異なる屈折率を有する外部に一旦離脱されて再度コアに入射する離脱部を有する。少なくとも１つのファイバデバイスには、分岐光学素子と合波光学素子の間の参照光の光路上に配置されたファイバデバイスである参照光用デバイスが含まれている。参照光用デバイスを透過した参照光の、参照光用デバイスから合波光学素子までの光路長である透過光路長と、参照光用デバイスの離脱部によって反射された参照光の、参照光用デバイスから合波光学素子までの光路長である反射光路長とのうち、透過光路長が反射光路長以上である。
【０００７】
本開示における典型的な実施形態が提供する光干渉測定装置は、波長掃引光源、分岐光学素子、合波光学素子、少なくとも一つのファイバデバイス、および検出器を備える。波長掃引光源は、出射波長を時間的に掃引させたレーザ光を出力する。分岐光学素子は、波長掃引光源から出力されたレーザ光を、測定光と参照光に分岐する。合波光学素子は、参照光と、被測定物によって反射された測定光を合波して干渉させる。少なくとも一つのファイバデバイスは、光ファイバによって導光されるレーザ光が光ファイバのコアからコアの屈折率とは異なる屈折率を有する外部に一旦離脱されて再度コアに入射する離脱部を有する。検出器は、合波光学素子によって生成された干渉光の干渉信号を検出する。少なくとも一つのファイバデバイスには、分岐光学素子と合波光学素子の間の参照光の光路上に配置されたファイバデバイスである参照光用デバイスが含まれている。参照光用デバイスを透過したレーザ光の、参照光用デバイスから合波光学素子までの光路長である透過光路長と、参照光用デバイスによって反射されたレーザ光の、参照光用デバイスから合波光学素子までの光路長である反射光路長とのうち、透過光路長が反射光路長以上である。
【０００８】
本開示に係る光干渉ユニットおよび光干渉測定装置によると、干渉信号の波形全体に発生するノイズが適切に低減される。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】第１実施形態の光干渉測定装置１の構成を説明するための概略図である。
【図２】ファイバデバイス２２の構成を説明するための概略図である。
【図３】第２実施形態の光干渉測定装置１００の構成を説明するための概略図である。
【図４】実施例における測定結果を示すグラフである。
【図５】第１比較例における測定結果を示すグラフである。
【図６】第２比較例における測定結果を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
＜概要＞
本開示で例示する光干渉ユニットの第１態様は、分岐光学素子、合波光学素子、および少なくとも一つのファイバデバイスを備える。分岐光学素子は、出射波長が時間的に掃引されたレーザ光を、測定光と参照光に分岐する。合波光学素子は、参照光と、被測定物によって反射された測定光を合波して干渉させる。少なくとも一つのファイバデバイスは、光ファイバによって導光されるレーザ光が光ファイバのコアからコアの屈折率とは異なる屈折率を有する外部に一旦離脱されて再度コアに入射する離脱部を有する。少なくとも１つのファイバデバイスには、分岐光学素子と合波光学素子の間の参照光の光路上に配置されたファイバデバイスである参照光用デバイスが含まれている。参照光用デバイスを透過した参照光の、参照光用デバイスから合波光学素子までの光路長である透過光路長と、参照光用デバイスの離脱部によって反射された参照光の、参照光用デバイスから合波光学素子までの光路長である反射光路長とのうち、透過光路長が反射光路長以上である。即ち、前記参照光用デバイスは、透過光路長が反射光路長以上となる位置に配置されている。この場合、参照光用デバイスに起因して干渉信号の波形全体に発生するノイズが、適切に低減される。従って、検出された干渉信号に基づき、より正確に被測定物を測定することが可能となる。また、検出後のデータ処理によってノイズを除去する必要が少なくなり、処理時間を短縮し得る。
【００１１】
なお、参照光用デバイスの数は一つでも複数でもよい。参照光用デバイスが複数設けられる場合、全ての参照光用デバイスが、透過光路長が反射光路長以上であるという配置条件を満たしていることが望ましい。しかしながら、分岐光学素子と合波光学素子の間の参照光の光路上において、少なくとも、分岐光学素子に最も近い参照光用デバイス（つまり、参照光の光路のうち最も上流側に配置された参照光用デバイス）が、該配置条件を満たしていればよい。
【００１２】
本開示で例示する光干渉ユニットの第２態様は、分岐光学素子、合波光学素子、および少なくとも一つのファイバデバイスを備える。分岐光学素子は、出射波長が時間的に掃引されたレーザ光を、測定光と参照光に分岐する。合波光学素子は、参照光と、被測定物によって反射された測定光を合波して干渉させる。少なくとも一つのファイバデバイスは、光ファイバによって導光されるレーザ光が光ファイバのコアからコアの屈折率とは異なる屈折率を有する外部に一旦離脱されて再度コアに入射する離脱部を有する。少なくとも一つのファイバデバイスには、分岐光学素子と被測定物の間の測定光の光路上に配置されたファイバデバイスである測定光用デバイスが含まれている。参照光の、分岐光学素子から合波光学素子までの光路長である透過光路長と、測定光の、分岐光学素子から測定光用デバイスで反射後分岐光学素子を経由して合波光学素子に到達するまでの光路長である反射光路長とのうち、透過光路長が反射光路長以上である。即ち、前記測定光用デバイスは、透過光路長が反射光路長以上となる位置に配置されている。この場合、測定光用デバイスに起因して干渉信号の波形全体に発生するノイズが、適切に低減される。従って、検出された干渉信号に基づき、より正確に被測定物を測定することが可能となる。また、検出後のデータ処理によってノイズを除去する必要が少なくなり、処理時間を短縮し得る。
【００１３】
なお、測定光用デバイスの数は一つでも複数でもよい。測定光用デバイスが複数設けられる場合、全ての測定光用デバイスが、透過光路長が反射光路長以上であるという配置条件を満たしていることが望ましい。しかしながら、分岐光学素子と被測定物の間の測定光の光路上において、少なくとも、分岐光学素子に最も近い測定光用デバイス（つまり、測定光の光路のうち最も上流側に配置された測定光用デバイス）が、該配置条件を満たしていればよい。
【００１４】
ファイバデバイスは、レーザ光の出力を調整する減衰器（アッテネータ）、前記レーザ光の光路長を調整する光遅延部（オプティカルディレイライン）、サーキュレータ、およびアイソレータの少なくとも何れかであってもよい。離脱部を有する減衰器、光遅延部、サーキュレータ、およびアイソレータでは、離脱部によってレーザ光の一部が反射してしまう。これに対し、透過光路長が反射光路長以上であるという配置条件を満たすことで、離脱部による反射光に起因すると考えられるノイズの影響が低減されつつ、より確実に光路が調整される。
【００１５】
なお、ファイバデバイスには、光ファイバによって導光されるレーザ光が光ファイバのコアからコアの屈折率とは異なる屈折率を有する外部に一旦離脱されて再度コアに入射する離脱部を有する種々のデバイスを採用できる。例えば、ファイバデバイスは、フィルタ型カップラーであってもよいし、ファイバコネクタであってもよい。
【００１６】
本開示で例示する光干渉測定装置の第１態様は、波長掃引光源、分岐光学素子、合波光学素子、少なくとも一つのファイバデバイス、および検出器を備える。波長掃引光源は、出射波長を時間的に掃引させたレーザ光を出力する。分岐光学素子は、波長掃引光源から出力されたレーザ光を、測定光と参照光に分岐する。合波光学素子は、参照光と、被測定物によって反射された測定光を合波して干渉させる。少なくとも一つのファイバデバイスは、光ファイバによって導光されるレーザ光が光ファイバのコアからコアの屈折率とは異なる屈折率を有する外部に一旦離脱されて再度コアに入射する離脱部を有する。検出器は、合波光学素子によって生成された干渉光の干渉信号を検出する。少なくとも一つのファイバデバイスには、分岐光学素子と合波光学素子の間の参照光の光路上に配置されたファイバデバイスである参照光用デバイスが含まれている。参照光用デバイスを透過したレーザ光の、参照光用デバイスから合波光学素子までの光路長である透過光路長と、参照光用デバイスによって反射されたレーザ光の、参照光用デバイスから合波光学素子までの光路長である反射光路長とのうち、透過光路長が反射光路長以上である。即ち、前記参照光用デバイスは、透過光路長が反射光路長以上となる位置に配置されている。この場合、参照光用デバイスに起因して干渉信号の波形全体に発生するノイズが、適切に低減される。従って、検出された干渉信号に基づき、より正確に被測定物を測定することが可能となる。また、検出後のデータ処理によってノイズを除去する必要が少なくなり、処理時間を短縮し得る。
【００１７】
本開示で例示する光干渉測定装置の第２態様は、波長掃引光源、分岐光学素子、合波光学素子、少なくとも一つのファイバデバイス、および検出器を備える。波長掃引光源は、出射波長を時間的に掃引させたレーザ光を出力する。分岐光学素子は、波長掃引光源から出力されたレーザ光を、測定光と参照光に分岐する。合波光学素子は、参照光と、被測定物によって反射された測定光を合波して干渉させる。少なくとも一つのファイバデバイスは、光ファイバによって導光されるレーザ光が光ファイバのコアからコアの屈折率とは異なる屈折率を有する外部に一旦離脱されて再度コアに入射する離脱部を有する。検出器は、合波光学素子によって生成された干渉光の干渉信号を検出する。少なくとも一つのファイバデバイスには、分岐光学素子と被測定物の間の測定光の光路上に配置されたファイバデバイスである測定光用デバイスが含まれている。参照光の、分岐光学素子から合波光学素子までの光路長である透過光路長と、測定光の、分岐光学素子から測定光用デバイスで反射後分岐光学素子を経由して合波光学素子に到達するまでの光路長である反射光路長とのうち、透過光路長が反射光路長以上である。即ち、前記測定光用デバイスは、透過光路長が反射光路長以上となる位置に配置されている。この場合、測定光用デバイスに起因して干渉信号の波形全体に発生するノイズが、適切に低減される。従って、検出された干渉信号に基づき、より正確に被測定物を測定することができる。また、検出後のデータ処理によってノイズを除去する必要が少なくなり、処理時間を短縮し得る。
【００１８】
＜実施形態＞
以下、本開示における典型的な実施形態の例について、図面を参照して説明する。まず、図１および図２を参照して、第１実施形態の光干渉測定装置１の概略構成について説明する。光干渉測定装置１は、光コヒーレンストモグラフィ装置である。図１に示すように、光干渉測定装置１は、波長掃引光源１０、光干渉ユニット２０、投光光学系３０、および検出器４０を備える。
【００１９】
波長掃引光源１０は、被測定物（本実施形態では被検眼Ｅ）の内部情報を取得するためのレーザ光を光ファイバ１１内に出射する。波長掃引光源１０は波長走査型光源であり、出射波長を時間的に高速で変化させる。波長掃引光源１０は、例えば、レーザ媒体、共振器、および波長選択フィルタを備えてもよい。波長選択フィルタには、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、または、ファブリー・ペローエタロンを用いたフィルタ等が用いられてもよい。
【００２０】
光干渉ユニット２０は、分岐光学素子２１、少なくとも１つのファイバデバイス２２、および合波光学素子２３を備える。分岐光学素子２１は、波長掃引光源１０から出射されたレーザ光を測定光と参照光に分岐して、測定光路１２と参照光路１３のそれぞれに導光する。一例として、本実施形態の分岐光学素子２１は、ファイバカップラーである。ただし、ファイバカップラー以外の素子（例えば、サーキュレータ、ビームスプリッタ等）を分岐光学素子２１として使用してもよい。
【００２１】
少なくとも１つのファイバデバイス２２には、分岐光学素子２１と合波光学素子２３の間の参照光路１３上に配置されたファイバデバイス２２（以下、「参照光用デバイス２２Ａ」という場合もある）が含まれている。光干渉測定装置１および光干渉ユニット２０は、少なくとも１つのファイバデバイス２２として、例えば、参照光用デバイス２２Ａを１つ備える。なお、光干渉測定装置１および光干渉ユニット２０は、ファイバデバイス２２を参照光路１３以外の光路上にも備えていてもよい。また、光干渉測定装置１および光干渉ユニット２０は、参照光路１３上に複数のファイバデバイス２２を備えていてもよい。
【００２２】
ファイバデバイス２２は、例えば、レーザ光を減衰させる、光路を調整する等の少なくとも何れかの機能を有する。一例として、本実施形態のファイバデバイス２２は、レーザ光の出力を調整する減衰器（アッテネータ）である。図２に示すように、ファイバデバイス２２は、光ファイバ１１によって導光されるレーザ光が光ファイバ１１のコアからコアの屈折率とは異なる屈折率を有する外部（図２に示す例では空気中）に一旦離脱されて再度コアに入射する離脱部２４を備える。例えば、空気は、コアの屈折率とは異なる屈折率を有する。図２に示す例では、離脱部２４は、コリメータレンズ２５、波長板２６、ビームスプリッタ２７、および集束レンズ２８を備える。
【００２３】
離脱部２４において、光ファイバ１１から離脱したレーザ光は、コリメータレンズ２５を通過して平行光となる。コリメータレンズ２５を通過したレーザ光が波長板２６を通過すると、レーザ光の直交する偏光成分に位相差（光路差）が生じる。その後、レーザ光は、ビームスプリッタ２７において、ビームスプリッタ２７を透過するレーザ光とビームスプリッタ２７により反射されるレーザ光に分岐される。ビームスプリッタ２７を透過したレーザ光は、再度光ファイバ１１のコアに入射する。波長板２６が回転されることで、レーザ光がビームスプリッタ２７を透過する透過率が調整される。
【００２４】
合波光学素子２３は、参照光と、被測定物によって反射された測定光を合波して干渉させる。第１実施形態では、合波光学素子２３によって測定光と合波される参照光は、参照光路１３において、光ファイバ１１および参照光用デバイス２２Ａを透過したレーザ光である。つまり、第１実施形態では、参照光を生成する参照光学系は、光を分岐光学素子２１に戻さずに合波光学素子２３に透過させることで参照光を生成する透過光学系である。合波光学素子２３によって参照光と合波される測定光は、測定光路１２において、光ファイバ１１および投光光学系３０を透過して、被測定物によって反射された後、投光光学系３０および分岐光学素子２１を透過したレーザ光である。一例として、本実施形態の合波光学素子２３は、ファイバカップラーである。ただし、ファイバカップラー以外の素子を合波光学素子２３として使用してもよい。
【００２５】
投光光学系３０は、測定光を被測定物（例えば、被検眼Ｅの眼底または前眼部等）に導くと共に、被測定物によって反射された測定光の反射光を測定光路１２の光ファイバ１１に導く。本実施形態の投光光学系３０は、光スキャナおよび対物レンズ系を備える。測定光は、光ファイバ１１を介して光スキャナに向かう。光スキャナは、測定光の偏向方向を変更する。光スキャナによって偏向された測定光は、対物レンズ系によって平行ビームとなって被測定物に入射する。光スキャナは、被測定物内でＸＹ方向（横断方向）に測定光を走査させることができる。光スキャナには、光の進行方向を変更することが可能な各種構成（例えば、ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ、および音響光学素子等）を用いることができる。一例として、本実施形態では２つのガルバノミラーが光スキャナとして用いられる。
【００２６】
検出器４０は、合波光学素子２３によって生成された干渉光の干渉信号を検出する。光干渉測定装置１は、検出器４０によって検出された干渉信号に基づき、被測定物を測定する。
【００２７】
光ファイバ１１によって導光されるレーザ光が外部に一旦離脱されて再度コアに入射する時、コアと離脱部２４の屈折率の差によって、離脱部２４において光が反射する。本件出願の発明者は、出射波長が時間的に掃引されたレーザ光が用いられる場合に、参照光用デバイス２２Ａの影響で、干渉信号の波形全体にノイズが発生することを発見した。このノイズの発生原因は、恐らく、参照光用デバイス２２Ａの離脱部２４によって反射される反射光によるものと推測される。第１実施形態において、参照光用デバイス２２Ａを透過した参照光の、参照光用デバイス２２Ａから合波光学素子２３までの光路長を、透過光路長とする。参照光用デバイス２２Ａの離脱部２４によって反射された参照光の、参照光用デバイス２２Ａから分岐光学素子２１を通過して合波光学素子２３に到達するまでの光路長を、反射光路長とする。第１実施形態では、透過光路長が反射光路長以上となるように各素子が配置されている。即ち、参照光用デバイス２２Ａは、透過光路長が反射光路長以上となる位置に配置されている。この場合、干渉信号の波形全体に発生するノイズが適切に低減されることを、本件出願の発明者は実験によって見出した（詳細は後述する）。従って、第１実施形態の光干渉測定装置１および光干渉ユニット２０によると、参照光路１３に参照光用デバイス２２Ａを配置する場合でも、検出された干渉信号に基づき、より正確に被測定物を測定することが可能となる。また、検出後のデータ処理によってノイズを除去する必要が少なくなり、処理時間を短縮し得る。
【００２８】
望ましくは、参照光用デバイス２２Ａは、透過光路長が反射光路長の２分の３以上となる位置に配置される。更に望ましくは、参照光用デバイス２２Ａは、透過光路長が反射光路長の３分の７以上となる位置に配置される。この場合、干渉信号の波形全体に発生するノイズが、更に適切に低減される。
【００２９】
なお、参照光用デバイス２２Ａの数は一つでも複数でもよい。参照光用デバイス２２Ａが複数設けられる場合、全ての参照光用デバイス２２Ａが、前述した配置条件（例えば、透過光路長が反射光路長以上であるという配置条件）を満たしていることが望ましい。しかしながら、分岐光学素子２１と合波光学素子２３の間の参照光路１３上において、少なくとも、分岐光学素子２１に最も近い参照光用デバイス２２Ａ（つまり、参照光路１３のうち最も上流側に配置された参照光用デバイス２２Ａ）が、該配置条件を満たしていればよい。
【００３０】
次に、図２および図３を参照して、第２実施形態の光干渉測定装置１００の概略構成について説明する。以下の説明では、第１実施形態と同一の構成には同一の符号を付して説明を省略または簡略化し、第１実施形態と異なる点について説明する。第２実施形態の光干渉測定装置１００は、光コヒーレンストモグラフィ装置である。図３に示すように、光干渉測定装置１００は、波長掃引光源１０、光干渉ユニット２００、投光光学系３０、および検出器４０を備える。
【００３１】
光干渉ユニット２００は、分岐光学素子２１、少なくとも１つのファイバデバイス２２、および合波光学素子２３を備える。少なくとも一つのファイバデバイス２２には、分岐光学素子２１と被測定物の間の測定光路１２上に配置されたファイバデバイス２２（以下、「測定光用デバイス２２Ｂ」という場合もある）が含まれている。第２実施形態の測定光用デバイス２２Ｂには、図２に例示したファイバデバイス２２と同様の構成を採用し得るため、測定光用デバイス２２Ｂの詳細な説明は省略する。光干渉測定装置１００および光干渉ユニット２００は、少なくとも１つのファイバデバイス２２として、例えば、測定光用デバイス２２Ｂを１つ備える。なお、光干渉測定装置１００および光干渉ユニット２００は、ファイバデバイス２２を測定光路１２以外の光路上にも備えていてもよい。また、光干渉測定装置１００および光干渉ユニット２００は、測定光路１２上に複数のファイバデバイス２２を備えていてもよい。
【００３２】
合波光学素子２３は、参照光と、被測定物によって反射された測定光を合波して干渉させる。第２実施形態では、合波光学素子２３によって測定光と合波される参照光は、参照光路１３において、光ファイバ１１を透過したレーザ光である。つまり、第２実施形態でも第１実施形態と同様に、参照光を生成する参照光学系は透過光学系である。合波光学素子２３によって参照光と合波される測定光は、測定光路１２において、光ファイバ１１および測定光用デバイス２２Ｂを透過し、投光光学系３０を透過して、被測定物によって反射された後、投光光学系３０、測定光用デバイス２２Ｂ、および分岐光学素子２１を透過したレーザ光である。
【００３３】
第２実施形態において、参照光の、分岐光学素子２１から合波光学素子２３までの光路長を、透過光路長とする。測定光の、分岐光学素子２１から測定光用デバイス２２Ｂで反射後分岐光学素子２１を経由して合波光学素子２３に到達するまでの光路長を反射光路長とする。第２実施形態では、透過光路長が反射光路長以上となるように各素子が配置されている。即ち、測定光用デバイス２２Ｂは、透過光路長が反射光路長以上となる位置に配置されている。この場合においても、測定光用デバイス２２Ｂに起因して干渉信号の波形全体に発生するノイズが、適切に低減される。従って、検出された干渉信号に基づき、より正確に被測定物を測定することが可能となる。また、検出後のデータ処理によってノイズを除去する必要が少なくなり、処理時間を短縮し得る。
【００３４】
第２実施形態において、望ましくは、測定光用デバイス２２Ｂは、透過光路長が反射光路長の２分の３以上となる位置に配置される。更に望ましくは、測定光用デバイス２２Ｂは、透過光路長が反射光路長の３分の７以上となる位置に配置される。この場合、干渉信号の波形全体に発生するノイズが、更に適切に低減される。
【００３５】
なお、測定光用デバイス２２Ｂの数は一つでも複数でもよい。測定光用デバイス２２Ｂが複数設けられる場合、全ての測定光用デバイス２２Ｂが、前述した配置条件（例えば、透過光路長が反射光路長以上であるという配置条件）を満たしていることが望ましい。しかしながら、分岐光学素子２１と被測定物の間の測定光路１２上において、少なくとも、分岐光学素子２１に最も近い測定光用デバイス２２Ｂ（つまり、測定光路１２のうち最も上流側に配置された測定光用デバイス）が、該配置条件を満たしていればよい。
【００３６】
上記実施形態は、種々の変更が可能である。上記実施形態では、光干渉測定装置１および光干渉測定装置１００は、光コヒーレンストモグラフィ装置である。しかしながら、光干渉測定装置１および光干渉測定装置１００は、光コヒーレンストモグラフィ装置以外の光干渉測定装置（例えば、眼軸長を測定する眼軸長測定装置）であってもよい。この場合、各種構成（例えば、投光光学系３０の構成等）は、装置の種類に応じて適宜設計されればよい。
【００３７】
ファイバデバイス２２には、光ファイバによって導光されるレーザ光が光ファイバのコアからコアの屈折率とは異なる屈折率を有する外部に一旦離脱されて再度コアに入射する離脱部を有する種々のデバイスを採用できる。
【００３８】
上記実施形態の例では、ファイバデバイス２２は、レーザ光の出力を調整する減衰器である。しかしながら、ファイバデバイス２２は、減衰器以外のデバイスであってもよい。例えば、ファイバデバイス２２は、レーザ光の光路長を調整する光遅延部（オプティカルディレイライン）であってもよい。離脱部を有する光遅延部では、減衰器と同様に、離脱部によってレーザ光の一部が反射してしまう。これに対し、透過光路長が反射光路長以上であるという配置条件を参照光用デバイス２２Ａおよび測定光用デバイス２２Ｂが満たすことで、離脱部による反射光に起因すると考えられるノイズの影響が低減されつつ、より確実に光路が調整される。
【００３９】
ファイバデバイス２２は、サーキュレータまたはアイソレータであってもよい。サーキュレータとミラーが組み合わされることで、光遅延器として使用されてもよい。また、ファイバデバイス２２は、コリメータおよびフィルタを備えるフィルタ型カップラーであってもよい。フィルタ型カップラーは、フィルタの特性によってレーザ光を分岐したり合波したりすることができる。また、ファイバデバイス２２は、ファイバコネクタであってもよい。サーキュレータ、アイソレータ、フィルタ型カップラー、およびファイバコネクタも離脱部を有する。しかし、透過光路長が反射光路長以上であるという配置条件を参照光用デバイス２２Ａおよび測定光用デバイス２２Ｂが満たすことで、離脱部による反射光に起因すると考えられるノイズの影響が低減されつつ、光路が調整される。
【００４０】
ファイバデバイス２２は、上記実施形態に示すようなレーザ光の減衰量が可変の光可変減衰器ではなく、レーザ光の減衰量が固定の光固定減衰器であってもよい。
【００４１】
＜ノイズ測定試験＞
図４から図６を参照して、実施例、第１比較例、および第２比較例における、干渉信号に発生するノイズの測定結果について説明する。実施例、第１比較例、および第２比較例において、光干渉ユニットおよび光干渉測定装置は、第１実施形態の光干渉ユニット２０および光干渉測定装置１と同様の構成を有するが、それぞれ参照光用デバイス２２Ａの配置が異なる。実施例（図４参照）では、「透過光路長：反射光路長＝１．３：１」となっている。つまり、実施例では、参照光用デバイス２２Ａは、透過光路長が反射光路長より長くなる位置に配置されている。第１比較例（図５参照）では、「透過光路長：反射光路長＝１：１」となっている。つまり、第１比較例では、参照光用デバイス２２Ａは、透過光路長と反射光路長が略等しくなる位置に配置されている。従って、実施例および第１比較例において、参照光用デバイス２２Ａは、第１実施形態における配置条件を満たす。また、第２比較例（図６参照）では、「透過光路長：反射光路長＝０．６：１」となっている。つまり、第２比較例では、参照光用デバイス２２Ａは、透過光路長が反射光路長より短くなる位置に配置されている。従って、第２比較例において、参照光用デバイス２２Ａは、第１実施形態における配置条件を満たさない。
【００４２】
図４から図６において、グラフの縦軸はノイズの強度（ｄＢ）を示す。グラフの横軸は、被測定物のＺ方向（レーザ光が被測定物に入射する方向）における位置に対応するポイントを示す。本試験では、被測定物は被検眼Ｅであり、横軸において、数値の小さい側が角膜側、数値の大きい側が眼底側である。図４に示すように、実施例では、干渉信号において、８４ｄＢ〜８８ｄＢの範囲内でノイズが発生した。図５に示すように、第１比較例では、干渉信号において、８４ｄＢ〜９０ｄＢの範囲内でノイズが発生した。図６に示すように、第２比較例では、干渉信号において、８６ｄＢ〜９３ｄＢの範囲内でノイズが発生した。
【００４３】
第１比較例および第２比較例と比べて、実施例では、干渉信号において発生したノイズの強度が小さい。第２比較例と比べて、第１比較例では、干渉信号において発生したノイズの強度が小さい。第２比較例では、実施例および第１比較例と比べて、干渉信号において大きいノイズが発生した。本試験における測定結果から、参照光用デバイス２２Ａが、透過光路長が反射光路長以上となる位置に配置されている場合、干渉信号の波形全体に発生するノイズが、適切に低減されることが分かる。また、透過光路長が反射光路長と略等しい場合より、透過光路長が反射光路長より長い場合の方が、ノイズがより低減されることが分かる。
【符号の説明】
【００４４】
１，１００    光干渉測定装置
１０    波長掃引光源
１１    光ファイバ
１２    測定光路
１３    参照光路
２０，２００    光干渉ユニット
２１    分岐光学素子
２２    ファイバデバイス
２２Ａ    参照光用デバイス
２２Ｂ    測定光用デバイス
２３    合波光学素子
２４    離脱部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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