【事件の表示】
　特許第３３７６９６３号「積層セラミックコンデンサ及びその製造方法」の請求項１ないし４に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第３３７６９６３号の請求項１ないし４に係る特許を維持する。
【理　由】
第１　手続きの経緯
本件特許第３３７６９６３号に係る手続きの主な経緯は次のとおりである。
　特許出願（特願平１１−１８５４５０号）　　　平成１１年　６月３０日
　特許権設定登録　　　　　　　　　　　　　　　平成１４年１２月　６日
　特許異議申立（異議申立人：杉本絵里子）　　　平成１５年　８月１８日
　取消理由通知　　　　　　　　　　　　　　　　平成１６年　８月１９日
　特許異議意見書　　　　　　　　　　　　　　　平成１６年１０月２６日
　
第２　本件発明
　本件請求項１〜４に係る発明（以下、「本件発明１〜４」という。）は、その特許請求の範囲の請求項１〜４に記載された次のとおりのものである。
「【請求項１】　耐還元性誘電体セラミックスからなるセラミック焼結体と、
　前記セラミック焼結体内に配置されており、セラミック層を介して厚み方向に重なり合うように配置された卑金属からなる複数の内部電極と、
　前記セラミック焼結体の外表面に形成されており、かついずれかの内部電極に電気的に接続された一対の外部電極とを備える積層セラミックコンデンサであって、
　前記耐還元性誘電体セラミックスからなるセラミック焼結体において、コア−シェル構造を有する粒子と、均一系粒子とが混在しており、該セラミック焼結体の任意の断面を観察した場合、コア−シェル構造を有する粒子と、均一系の構造を有する粒子とが、２：８〜４：６の範囲の面積比で混在していることを特徴とする、積層セラミックコンデンサ。
【請求項２】　前記耐還元性誘電体セラミックスが、チタン酸バリウム系セラミックスである、請求項１に記載の積層セラミックコンデンサ。
【請求項３】　耐還元性誘電体セラミックスを主体とするセラミックグリーンシートを用意する工程と、
　前記セラミックグリーンシートの片面に卑金属ペーストを印刷し、内部電極を形成する工程と、
　前記内部電極が印刷されたセラミックグリーンシートを複数枚積層し、上下に無地の前記セラミックグリーンシートを積層し、厚み方向に加圧することにより、積層体を得る工程と、
　前記積層体を焼成し、セラミック焼結体を得る工程と、
　前記セラミック焼結体の外表面に外部電極を付与する工程とを備え、
　前記焼成に際しての焼成温度及び焼成時間が、得られたセラミック焼結体の任意の断面において、コア−シェル構造を有する粒子と均一系の構造を有する粒子とが、２：８〜４：６の範囲の面積比で混在するように選ばれていることを特徴とする、積層セラミックコンデンサの製造方法。
【請求項４】　前記耐還元性誘電体セラミックスとしてチタン酸バリウム系セラミックスを用いる、請求項３に記載の積層セラミックコンデンサの製造方法。」
　
第３　特許異議申立及びこれについての判断
　１　特許異議申立の理由及び取消理由の概要
　（１）特許異議申立の理由
　特許異議申立人は、証拠として、
刊行物１：特開平６−５４６０号公報（特許異議申立人が提出した甲第１号証）
刊行物２：特開平８−１２４７８５号公報（同甲第２号証）
を提出し、本件発明１〜４は、刊行物１、２に記載された発明に基づいて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定に違反してなされたものであり、本件発明１〜４についての特許を取り消すべき旨主張している。
　
　（２）取消理由の概要
　取消理由の概要は、以下のとおりである。
「１）本件特許の請求項１〜４に係る発明は、その出願前日本国内において頒布された下記の刊行物１又は２に記載された発明であるから、本件請求項１〜４に係る発明の特許は、特許法第２９条第１項第３号の規定に違反してなされたものである。
２）本件特許の請求項１〜４に係る発明は、その出願前日本国内において頒布された下記の刊行物１，２に記載された発明に基づいて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、本件請求項１〜４に係る発明の特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してなされたものである。
　
　　　　　　　　　　　　　　記
１．刊行物１：特開平６−５４６０号公報（特許異議申立人が提出した甲第１号証）
２．刊行物２：特開平８−１２４７８５号公報（同甲第２号証）
　
　本件請求項１〜４に係る発明は、特許異議申立人が提出した特許異議申立書の「３．申立ての理由」記載の理由により、刊行物１，２に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであり、さらに、刊行物１又は２に記載された発明である。」
　
　２　刊行物に記載された発明
　（１）刊行物１に記載された発明
　刊行物１は、磁器コンデンサ及びその製造方法に関するものであり、図１、４とともに以下の点が記載されている。
「【請求項１】　誘電体磁器組成物からなる１又は２以上の誘電体層と、この誘電体層を挟むように形成された２以上の内部電極とを備えた磁器コンデンサにおいて、
前記誘電体磁器組成物がセラミック粒子の焼結体からなり、このセラミック粒子のコア部が殆どＢａＴｉＯ３からなり、このセラミック粒子のシェル部が、Ｍｇ，Ｃａ，Ｓｒ及びＺｎから選択された１種又は２種以上の元素の酸化物と、Ｒ２Ｏ３（但し、ＲはＳｃ，Ｙ，Ｇｄ，Ｄｙ，Ｈｏ，Ｅｒ，Ｙｂ，Ｔｂ，Ｔｍ及びＬｕから選択された１種又は２種以上の元素）で表わされる酸化物とを固溶したＢａＴｉＯ３からなることを特徴とする磁器コンデンサ。」
「【請求項３】　前記内部電極がＮｉを主成分とする材料によって形成されていることを特徴とする請求項１又は２記載の磁器コンデンサ。
【請求項４】　基本成分の原料粉末を調製する工程と、この基本成分の原料粉末を所定の温度で仮焼する工程と、この仮焼によって得られた基本成分の粉末に添加成分の粉末及び有機バインダーを混合してスラリーを形成する工程と、このスラリーをシート状に成形して未焼結磁器シートを形成するとともに、この未焼結磁器シートを挟むように導電性ペースト膜を形成して積層物を得る工程と、この積層物を非酸化性雰囲気中において焼成する工程と、この積層物を酸化性雰囲気中において熱処理する工程とを備え、
前記基本成分が、主成分であるＢａＴｉＯ３に、ＭｇＯ，ＣａＯ，ＳｒＯ及びＺｎＯから選択された１種又は２種以上の酸化物と、Ｒ２Ｏ３（但し、ＲはＳｃ，Ｙ，Ｇｄ，Ｄｙ，Ｈｏ，Ｅｒ，Ｙｂ，Ｔｂ，Ｔｍ及びＬｕから選択された１種又は２種以上の元素）で表わされる酸化物と、前記基本成分及び添加成分全体におけるモル比（Ｂａ＋Ｍｇ＋Ｃａ＋Ｓｒ＋Ｚｎ）／（Ｔｉ＋Ｒ）をｋとして、１．００≦ｋ≦１．０４となるように加えたＢａＯ及び／又はＴｉＯ２とからなり、
前記添加成分が、Ｌｉ２Ｏ−ＳｉＯ２−ＭｅＯ又はＢ２Ｏ３−ＳｉＯ２−ＭｅＯ（但し、ＭｅはＢａ，Ｃａ，Ｓｒ，Ｍｇ及びＺｎから選択された１種又は２種以上の元素）からなることを特徴とする磁器コンデンサの製造方法。」
「【０００９】この発明は、Ｘ７Ｒ特性（Ｂ特性）を有し、小型で、しかも１２５℃における直流破壊電圧のバラツキが少ない単層または積層構造の磁器コンデンサ及びその製造方法を提供することを目的とするものである。」
「【００２７】次に、電極が露出する積層焼結体チップの側面に亜鉛とガラスフリット（ｇｌａｓｓ　ｆｒｉｔ）とビヒクル（ｖｅｈｉｃｌｅ）とからなる導電性ペーストを塗布して乾燥し、これを大気中において５５０℃の温度で１５分間焼付け、亜鉛電極層を形成し、更にこの上に無電解メッキ法で銅層を形成し、更にこの上に電気メッキ法でＰｂ−Ｓｎ半田層を設けて、一対の外部電極を形成した。
【００２８】これにより、図４に示すように、３層の誘電体磁器層１２と２層の内部電極１４とからなる積層焼結体チップ１５に一対の外部電極１６を形成した積層磁器コンデンサ１０が得られた。ここで、外部電極１６は、亜鉛電極層１８と、この亜鉛電極層１８の上に形成された銅層２０と、この銅層２０の上に形成されたＰｂ−Ｓｎ半田層２２とからなる。」
「【００４６】更に、分析電子顕微鏡を用いてＥＤＳ法（エネルギー分散型Ｘ線分光法）により、結晶粒１個１個の組成の分析を行なったところ、多くの結晶粒において結晶粒内部と結晶粒シェル部で組成の異なるいわゆるコア・シェル構造が認められた。
【００４７】図１に、実施例１の試料の電子顕微鏡写真を示す。この電子顕微鏡写真からわかるように、結晶粒のコア部（Ａ部）にはドメイン・ウォール（ｄｏｍａｉｎ　ｗａｌｌ）であるところの複数のすじが見られ、これによって双極子モーメントが特定方向に分極した「強誘電性」を示すドメイン（分域）が存在することがわかる。結晶粒のシェル部（Ｂ部）にはそれが見られない。」
「【００５０】更に、比較例〜５の試料について実施例１〜５と同様にして分析顕微鏡による微細構造の観察を行なったところ、部分的にコア・シェル構造がみられるものがあるものの、明確にコア・シェル構造と認められる結晶粒の数は、実施例１〜５のものに比べてかなり少なかった。」
「【００５３】
【発明の効果】この発明によれば直流破壊電圧のバラツキが小さくなるとともに、そのレベルが向上し、しかも静電容量の温度変化率も若干改善されるので、従来のものより更に小さい磁器コンデンサを提供することができるという効果がある。」
　
　（２）刊行物２に記載された発明
　刊行物２は、積層型セラミックチップコンデンサに関するものであり、以下の点が記載されている。
「【請求項１】　誘電体層と内部電極層とが交互に積層された構成のコンデンサチップ体を有する積層型セラミックチップコンデンサであって、
誘電体層が、主成分としてチタン酸バリウムを、副成分として酸化マグネシウムと、酸化イットリウムと、酸化バリウムおよび酸化カルシウムから選択される少なくとも１種と、酸化ケイ素と、酸化マンガンと、酸化バナジウムおよび酸化モリブデンから選択される少なくとも１種とを含有し、チタン酸バリウムをＢａＴｉＯ３に、酸化マグネシウムをＭｇＯに、酸化イットリウムをＹ２Ｏ３に、酸化バリウムをＢａＯに、酸化カルシウムをＣａＯに、酸化ケイ素をＳｉＯ２に、酸化マンガンをＭｎＯに、酸化バナジウムをＶ２Ｏ５に、酸化モリブデンをＭｏＯ３にそれぞれ換算したとき、ＢａＴｉＯ３１００モルに対する比率が
ＭｇＯ：０．１〜３モル、
Ｙ２Ｏ３：０モル超５モル以下、
ＢａＯ＋ＣａＯ：２〜１２モル、
ＳｉＯ２：２〜１２モル、
ＭｎＯ：０モル超０．５モル以下、
Ｖ２Ｏ５：０〜０．３モル、
ＭｏＯ３：０〜０．３モル、
Ｖ２Ｏ５＋ＭｏＯ３：０モル超
である積層型セラミックチップコンデンサ。」
「【００１２】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、容量の温度特性であるＸ７Ｒ特性を満足することができ、かつ、直流電界下での容量の経時変化が小さく、絶縁抵抗ＩＲの加速寿命が長く、直流バイアス特性が良好であり、絶縁破壊が生じにくい積層型セラミックチップコンデンサを提供することである。」
「【００１４】
【作用および効果】本発明によれば、特願平５−８５７０５号および特願平５−１５４３５５号において報告したように、容量の温度特性に関するＸ７Ｒ特性を満足することができ、かつ、直流電界下での容量の経時変化が小さく、絶縁抵抗ＩＲの加速寿命が長く、直流バイアス特性が良好な積層型セラミックチップコンデンサが実現する。・・・」
「【００２０】図１に示されるように、本発明の積層型セラミックチップコンデンサ１は、誘電体層２と内部電極層３とが交互に積層された構成のコンデンサチップ体１０を有し、このコンデンサチップ体１０表面に、内部電極層３と導通する外部電極４を有する。・・・」
「【００３４】平均結晶粒径が０．４５μｍ以下である場合、誘電体層断面の透過型電子顕微鏡写真において、ドメインウォールの存在が確認できる結晶粒の比率は、好ましくは３５〜８５％であり、より好ましくは３５〜５０％である。ドメインウォールが確認できる結晶粒の比率が高いと、容量の経時変化が大きくなりやすい。」
「【００３８】＜内部電極層３＞内部電極層３に含有される導電材は特に限定されないが、誘電体層２構成材料が耐還元性を有するため、卑金属を用いることができる。導電材として用いる卑金属としては、ＮｉまたはＮｉ合金が好ましい。・・・」
「【００５５】焼成時の保持温度は、１１００〜１４００℃、特に１２００〜１３００℃とすることが好ましい。保持温度が前記範囲未満であると緻密化が不十分であり、前記範囲を超えると直流電界印加時の容量の経時変化が大きくなる。」
　
　３　本件発明と刊行物に記載された発明との対比・判断
　（１）本件発明１、３について
　本件発明１と刊行物１、２に記載された発明とを対比すると、刊行物１、２には、本件発明１の構成要素である「耐還元性誘電体セラミックスからなるセラミック焼結体において、コア−シェル構造を有する粒子と、均一系粒子とが混在しており、該セラミック焼結体の任意の断面を観察した場合、コア−シェル構造を有する粒子と、均一系の構造を有する粒子とが、２：８〜４：６の範囲の面積比で混在している」点が記載されていない。
　本件発明３と刊行物１、２に記載された発明とを対比すると、刊行物１、２には、本件発明３の構成要素である「焼成に際しての焼成温度及び焼成時間が、得られたセラミック焼結体の任意の断面において、コア−シェル構造を有する粒子と均一系の構造を有する粒子とが、２：８〜４：６の範囲の面積比で混在するように選ばれている」点が記載されていない。
　刊行物１には、コア−シェル構造を有する粒子の面積比について記載がなく、また、段落【００４６】の「更に、分析電子顕微鏡を用いてＥＤＳ法（エネルギー分散型Ｘ線分光法）により、結晶粒１個１個の組成の分析を行なったところ、多くの結晶粒において結晶粒内部と結晶粒シェル部で組成の異なるいわゆるコア・シェル構造が認められた。」との記載によれば、コア−シェル構造を有する粒子が多く存在するとのことであるから、面積比は、本件発明１、３の面積比（２０〜４０％）よりも、かなり大きいと推測される。
　刊行物２にも、コア−シェル構造を有する粒子の面積比について記載がなく、また、段落【００３４】の「平均結晶粒径が０．４５μｍ以下である場合、誘電体層断面の透過型電子顕微鏡写真において、ドメインウォールの存在が確認できる結晶粒の比率は、好ましくは３５〜８５％であり、より好ましくは３５〜５０％である。ドメインウォールが確認できる結晶粒の比率が高いと、容量の経時変化が大きくなりやすい。」との記載における比率は、コア−シェル構造を有する粒子数の比率と認められ、面積比は、不明である。さらに、刊行物２の表１〜３によれば、比誘電率は２〜３０００程度で、本件発明１、３の４５００以上を大きく下回っており、この点からも、刊行物２の面積比が、本件発明１、３の面積比（２０〜４０％）の範囲内とは、認められない。
　なお、特許異議申立人は、「甲第２号証（刊行物２）の結晶粒は平均結晶粒径が０．４５μｍ以下の均一なものが用いられていることから、目的とする結晶粒の面積を測定することと目的とする結晶粒の数を求めることは実質的に同じことになる。」（特許異議申立書第９頁第１６行〜第１８行）と主張している。しかし、刊行物２には、「均一なもの」との記載はなく、刊行物２の結晶粒は、平均の結晶粒径０．４５μｍの前後に広く分布したものであり、また、コア−シェル構造を有する粒子と均一系粒子の粒径が、ほぼ同じ大きさのものなのか否かも不明であり、前記主張は、採用できない。
　さらに、特許異議申立人は、「甲第２号証（刊行物２）の【００３４】の「ドメインウォールの存在が確認できる結晶粒の比率が高いと容量の経時変化が大きくなりやすい」と示唆されていることから、この２：８〜３．５：６．５の範囲は当業者が適宜選択できる事項である。」（特許異議申立書第９頁第２３行〜第２６行）と主張している。しかし、刊行物２の段落【００３４】の「平均結晶粒径が０．４５μｍ以下である場合、誘電体層断面の透過型電子顕微鏡写真において、ドメインウォールの存在が確認できる結晶粒の比率は、好ましくは３５〜８５％であり、より好ましくは３５〜５０％である。ドメインウォールが確認できる結晶粒の比率が高いと、容量の経時変化が大きくなりやすい。」との記載は、ドメインウォールの存在が確認できる結晶粒の比率が８５％を超えると良くないことを示唆しているだけで、３５％以下とすることを示唆するものではなく、前記主張は、採用できない。
　そして、本件発明１、３は、上記構成要素により、特許明細書記載の顕著な効果を奏する。
　したがって、本件発明１、３は、刊行物１又は２に記載された発明であるとも、刊行物１、２に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるともいえない。
　
　（２）本件発明２、４について
　本件発明２、４は、本件発明１又は３を引用して、更に限定したものであるから、本件発明１又は３と同様の理由により、刊行物１又は２に記載された発明であるとも、刊行物１、２に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるともいえない。
　
　４　特許異議申立についての判断のむすび
　以上のとおりであるから、特許異議の申立ての理由及び取消理由によっては本件発明１〜４についての特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件発明１〜４についての特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１７年５月１８日（２００５．５．１８）