【事件の表示】
　特願２００８−１９５３３５「解析装置および解析方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２２年　２月１２日出願公開、特開２０１０−　３３３６９〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は、平成２０年７月２９日の出願であって、平成２４年３月２７日付けの拒絶理由の通知に対し、平成２４年６月１日付けで手続補正がなされたが、平成２４年８月７日付けで拒絶査定がなされ、これを不服として平成２４年１１月１４日に本件審判請求がなされると同時に同日付で手続補正がなされたものである。
　
２．本願発明
　本願の請求項１−５に係る発明は、平成２４年６月１日付けの手続補正、平成２４年１１月１４日付けの手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項１−５に記載された事項により特定されるものであるところ、その請求項１に係る発明（以下、「本願発明」という）は、次のとおりのものである。
　
［本願発明］
「解析対象となる素子の解析条件を受け付ける解析条件受付手段と、
　前記解析条件に基づいて、該解析条件に含まれる複数の条件を雛形ファイルの設定された位置に登録することで、解析用ファイルを作成する解析用ファイル作成手段と、
　前記解析用ファイル作成手段によって作成された解析用ファイルを実行することにより前記素子の特性を解析し、解析結果を出力する解析手段と、
　を備えたことを特徴とする解析装置。」
　
３．刊行物
（１）刊行物１の記載事項
　原査定の拒絶の理由で引用された本願の出願前に頒布された刊行物である特開２００５−３３９０５２号公報（以下、「刊行物１」という）には、図面とともに次の事項が記載されている。
　
「【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
  本発明は、ライブラリ生成方法及びプログラムに関するものである。
  近年、半導体集積回路装置は、高集積化及び高速化が求められるとともに、その設計期間の短縮化が求められている。半導体集積回路装置は、その設計段階において、規定の動作条件により作成されたライブラリを用いて様々な検証が実施される。しかし、ライブラリの抽出条件は、顧客が実際に使用する動作条件と異なる場合があるため検証の精度が低下する。このため、実際の動作条件に応じて精度の高い検証が可能なライブラリの作成が求められている。
【背景技術】
【０００２】
  従来、ＡＳＩＣ等の半導体集積回路装置（ＬＳＩ）の設計において、その設計されたＬＳＩが顧客の仕様を満足するか否かを検証する必要がある。その検証では、顧客の使用条件（ＬＳＩの動作条件）においてＬＳＩが正常に動作し得るか否かを判断する必要がある。設計段階においてＬＳＩを構成するために使用されるセルが登録されたライブラリには、動作条件（温度、電圧）に対する各セルの動作特性のデータが含まれており、この動作特性を用いてＬＳＩの検証が行なわれている。
【０００３】
  しかし、顧客が望むＬＳＩの動作条件は、ライブラリが示す抽出条件と一致しない。このため、顧客の仕様に応じた動作条件のデータを含むライブラリ（特性ライブラリ）を作成していた（例えば、特許文献１，特許文献２参照）。特性ライブラリを用いることで、顧客が望む動作条件におけるＬＳＩの検証が可能となる。」
　
「【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
  以下、本発明を具体化した一実施形態を図１〜図１０に従って説明する。
  図１は、ライブラリ生成装置の概略構成図である。
  この生成装置２０は、設計された半導体集積回路装置に対して検証を行なうために必要なライブラリ生成装置であり、ライブラリデータを生成する処理装置２１を含む。本実施形態の処理装置２１は、ライブラリ生成プログラムを実行し、基準ライブラリ２２、特性抽出ライブラリ２３、顧客条件２４に基づいて検証ツールが入力可能な検証用ライブラリ２５を生成するものである。
【００１８】
  基準ライブラリ２２は、種々の検証ツール（例えば遅延時間検証）にて読込み可能なフォーマットを有したライブラリであり、半導体集積回路装置を設計するための種々のセルの情報を含み、セルの情報は標準条件におけるセルの特性データを含む。
【００１９】
  特性抽出ライブラリ２３は、特性抽出テーブル２６を含む。特性抽出テーブル２６は、予め所定の条件において求めた特性値のテーブルである。顧客条件２４は顧客サインオフ条件（製品の品質を保証するための条件）であり、顧客が半導体集積回路装置を使用する温度条件や電圧条件を含む。」
　
「【００２８】
  そして、処理装置２１は、得られた特性値を含む検証用ライブラリ２５を生成する。この時、処理装置２１は、基準ライブラリ２２を参照し、該基準ライブラリ２２のフォーマットと一致するフォーマットを有する検証用ライブラリ２５を生成する。更に、処理装置２１は、基準ライブラリ２２を参照し、該基準ライブラリ２２に含まれる書式情報を検証用ライブラリ２５にコピーする。このように生成された検証用ライブラリ２５は、そのフォーマットや書式情報が基準ライブラリ２２と実質的に同じであるため、基準ライブラリ２２と同様に検証ツールに問題なく読み込まれる。」
　
「【００３９】
  次に、ステップ４３において、処理装置２１は、顧客が指定する条件のパラメータを計算する。即ち、処理装置２１は、先のステップ４２において算出した係数を用い、対応する多項式関数に従って顧客が指定する条件の特性値を算出する。
【００４０】
  次に、ステップ４４において、処理装置２１は、特性抽出ライブラリ２３に基づき制御系パラメータを設定する。制御系パラメータには、最大遷移時間(max transition)、最大容量(max capacitance) 、仮配線容量(ＷＬＭ:Wire Load Model)、等を含む。仮配線容量は、論理合成や仮配線遅延計算の時に使用される。仮配線容量は、配線長から算出した容量値に対してその配線の抵抗分を補正し、抵抗を考慮した遅延時間に相当するように設定されている。従って、処理装置２１は、例えば直線補間により、ＰＴＶ条件の変動に対して、温度・電圧に依存する抵抗値の補正や、温度・電圧により変動するセル特性による補正を行なう。
【００４１】
  これら制御系パラメータについて、処理装置２１は、特性抽出ライブラリ２３に含まれるデータに基づいて設定する。その設定において、処理装置２１は、上記特性値と同様に補間用データがある場合にはそれに基づいて顧客が指定する条件のパラメータを計算し、その計算値を設定する。また、制御系パラメータの設定において、処理装置２１は、特性抽出ライブラリ２３又は顧客条件２４にそれの固定値が含まれる場合にはそれに基づいて制御系パラメータを設定する。
【００４２】
  次に、ステップ４５において、処理装置２１は、基準ライブラリ２２に対してパラメータを更新(Update)する。即ち、処理装置２１は、基準ライブラリ２２のデータをメモリ３２上に読み込み、その読み込んだデータに、ステップ４３において算出した特性値と、ステップ４４において設定した制御系パラメータを、上書きする。これにより、処理装置２１は、メモリ３２上に、実質的に基準ライブラリ２２を更新した一時的なデータを生成する。
【００４３】
  次に、ステップ４６において、処理装置２１は、検証用ライブラリ２５を生成する。即ち、処理装置２１は、ステップ４５においてメモリ３２上に作成した一時的なデータを検証用ライブラリ２５としてファイル化する。」
　
「【００５９】
  次に、生成される検証用ライブラリ２５について説明する。
  図１０はライブラリ（タイミングライブラリ）の構造を示す説明図である。図において、左側には概略構造を示し、右側には記述例を示す。
【００６０】
  基準ライブラリ２２と検証用ライブラリ２５は、実質的に同じ構造を有しているため、ここでは基準ライブラリ２２を用いてそれを説明する。
  ライブラリ２２は、ヘッダー部分２２ａと複数のセル情報２２ｂとを含む。ヘッダー部分２２ａには、テクノロジ共通情報６１、仮配線テーブル情報６２、ＰＴＶ条件情報６３を含む。テクノロジ共通情報６１には、このライブラリ２２に含まれる値の単位(unit)が含まれている。仮配線テーブル情報６２には、配線負荷や出力端子に接続される配線長等の情報が含まれている。ＰＴＶ条件情報６３には、標準温度、標準電圧、動作条件、等の情報が含まれている。
【００６１】
  各セル情報２２ｂはそれぞれ、ツール設定パラメータ６４、ピン(pin )パラメータ６５、ファンクション(Function )定義６６、タイミング定義６７を含む。ツール設定パラメータ６４には、ツール上にて表示される名称等が含まれている。ピン(pin )パラメータ６５には、セルが持つピンの入出力の区別や負荷、容量等の情報が含まれている。ファンクション(Function )定義６６には、セルが持つ機能（例えばアンド機能）の情報が含まれている。タイミング定義６７には、入力に対する出力の遅延情報（遅延時間）等が含まれている。
【００６２】
  図１に示す処理装置２１は、ライブラリ２２に含まれる情報をコピーするとともに、対応する情報を書き換える。例えば、ヘッダー部分２２ａに含まれる仮配線テーブル情報６２やＰＴＶ条件情報６３を顧客条件に書き換え、セル情報２２ｂの値（タイミング定義６７に記述された遅延時間等）を、顧客条件と特性近似関数により算出した特性データに書き換える。これにより、顧客条件に応じた検証用ライブラリ２５が生成される。
【００６３】
  尚、図１０に示されるライブラリ２２において、セル情報２２ｂのピンパラメータ６５には最大遷移時間(max-transition)が固定値として含まれ、タイミング定義６７には最大容量(max-capasitance )が固定値として含まれている。図１の処理装置２１は、これら値を、特性抽出テーブル２６や顧客条件に含まれる値により書き換えるようにしてもよく、これによってこれらの制御パラメータを任意に変更することが可能となり、検証の精度を向上させることができる。」
　
（２）刊行物１発明
　刊行物１には、「設計された半導体集積回路装置に対して検証を行なうために必要なライブラリ生成装置」（【００１７】、【図１】）が記載されており、この半導体集積回路装置は、複数のセルを含むものである。
　このライブラリ生成装置には、「顧客が半導体集積回路装置を使用する温度条件や電圧条件を含む」「顧客条件」が入力される（【００１９】、【図１】）。
　したがって、刊行物１には、ライブラリ生成装置であって、検証を行う複数のセルを含む半導体集積回路装置を顧客が使用するときの温度条件や電圧条件を含む顧客条件を入力する手段を備えたものが記載されている。
　
　刊行物１のライブラリ生成装置は、「ライブラリ２２に含まれる情報を・・・書き換え・・・例えば、・・・ＰＴＶ条件情報６３を顧客条件に書き換え、・・・これにより、顧客条件に応じた検証用ライブラリ２５が生成される」（【００６２】）ものであり、「検証用ライブラリ」は「ファイル化」されたものである（【００４３】）。ＰＴＶ条件情報とは、温度、電圧、動作条件の情報であるから、刊行物１のライブラリ生成装置は、基準ライブラリに含まれる温度条件や電圧条件を前記顧客条件に書き換え、ファイル化された検証用ライブラリを生成する手段を備えている。
　
　刊行物１のライブラリ生成装置により生成されるライブラリは、「半導体集積回路装置は、その設計段階において、規定の動作条件により作成されたライブラリを用いて様々な検証が実施される」（【０００１】）ためのものであり、「その検証では、顧客の使用条件（ＬＳＩの動作条件）においてＬＳＩが正常に動作し得るか否かを判断する必要があ」り、「設計段階においてＬＳＩを構成するために使用されるセルが登録されたライブラリには、動作条件（温度、電圧）に対する各セルの動作特性のデータが含まれており、この動作特性を用いてＬＳＩの検証が行なわれている」（【０００２】）のであるから、刊行物１のライブラリ生成装置における、前記検証用ライブラリを生成する手段により生成された検証用ライブラリは、半導体集積回路装置の設計段階において、その検証用ライブラリを用いて様々な検証を実施するためのものであり、その検証では、顧客の使用条件（ＬＳＩの動作条件）においてＬＳＩが正常に動作し得るか否かを判断する必要があり、設計段階においてＬＳＩを構成するために使用されるセルが登録されたライブラリには、動作条件（温度、電圧）に対する各セルの動作特性のデータが含まれており、この動作特性を用いてＬＳＩの検証が行なわれている、ものである。
　
　以上をまとめると、刊行物１には、次の発明（以下、「刊行物１発明」という）が記載されていると認められる。
　
［刊行物１発明］
　検証を行う複数のセルを含む半導体集積回路装置を顧客が使用するときの温度条件や電圧条件を含む顧客条件を入力する手段と、
　基準ライブラリに含まれる温度条件や電圧条件を前記顧客条件に書き換え、ファイル化された検証用ライブラリを生成する手段と、
　を備え、
　前記検証用ライブラリを生成する手段により生成された検証用ライブラリは、半導体集積回路装置の設計段階において、その検証用ライブラリを用いて様々な検証を実施するためのものであり、その検証では、顧客の使用条件（ＬＳＩの動作条件）においてＬＳＩが正常に動作し得るか否かを判断する必要があり、設計段階においてＬＳＩを構成するために使用されるセルが登録されたライブラリには、動作条件（温度、電圧）に対する各セルの動作特性のデータが含まれており、この動作特性を用いてＬＳＩの検証が行なわれている、
　ライブラリ生成装置。
　
４．本願発明と刊行物１発明との対比
（１）本願発明の「解析対象となる素子の解析条件を受け付ける解析条件受付手段」について
　本願発明における「解析」とは、集積回路の設計を行う場合に、シミュレータであるＳＰＩＣＥなどに実際の集積回路で使用する素子の使用条件を入力して集積回路に使用する素子（回路）の特性を得るために行うものである（【０００２】、【０００３】、【００３４】、【図６】）。ここで、「解析条件」（ＳＰＩＣＥなどに入力する使用条件）とは、例えば、素子の端子電圧や端子に接続される容量など（【００１８】、【図２】）であり、これらの解析条件が記述された解析ＳＰＩＣＥファイルを用いてＳＰＩＣＥにより解析が行われる。
　刊行物１発明は、ライブラリ生成装置であって、生成される検証用ライブラリは、半導体集積回路装置の設計段階において、その検証用ライブラリを用いて様々な検証を実施するためのものであり、その検証では、顧客の使用条件（ＬＳＩの動作条件）においてＬＳＩが正常に動作し得るか否かを判断する。顧客の使用条件は、検証用ライブラリに記述される。
　すなわち、刊行物１発明の「検証」は、検証用ライブラリに記述された顧客の使用条件（ＬＳＩの動作条件）におけるＬＳＩの動作（したがって、ＬＳＩを構成するセルの動作）がどのようになるかを検証するものであるから、解析ＳＰＩＣＥファイルに記述された素子の使用条件を入力して集積回路に使用する素子（回路）の特性を得る、本願発明の「解析」に相当するものである。
　そうすると、刊行物１発明の「検証を行う複数のセルを含む半導体集積回路装置」は、「解析対象となる素子」といえ、「顧客が使用するときの温度条件や電圧条件を含む顧客条件」は、検証を実施するときの条件であるから、「解析条件」といえる。
　したがって、刊行物１発明の「検証を行う複数のセルを含む半導体集積回路装置を顧客が使用するときの温度条件や電圧条件を含む顧客条件を入力する手段」は、本願発明の「解析対象となる素子の解析条件を受け付ける解析条件受付手段」に相当するものである。
　よって、本願発明と刊行物１発明とは、「解析対象となる素子の解析条件を受け付ける解析条件受付手段」を備える点で一致する。
　
（２）本願発明の「前記解析条件に基づいて、該解析条件に含まれる複数の条件を雛形ファイルの設定された位置に登録することで、解析用ファイルを作成する解析用ファイル作成手段」について
　刊行物１発明は、「基準ライブラリに含まれる温度条件や電圧条件を前記顧客条件に書き換え、ファイル化された検証用ライブラリを生成する手段」を備える。
　この「ファイル化された検証用ライブラリ」は、解析用ファイルといえ、これは基準ライブラリに含まれる温度条件や電圧条件を前記顧客条件（本願発明でいう「解析条件」）に書き換えることにより生成されるもの、すなわち、基準ライブラリの温度条件や電圧条件があった位置に顧客条件を登録して生成されるものである。また、基準ライブラリは、検証用ライブラリとフォーマットが一致するものであって、刊行物１発明の「基準ライブラリ」、「検証用ライブラリ」は、本願発明の「雛形ファイル」、「解析用ファイル」に相当し、本願発明と刊行物１発明とは、「前記解析条件に基づいて、該解析条件に含まれる複数の条件を雛形ファイルの設定された位置に登録することで、解析用ファイルを作成する解析用ファイル作成手段」を備える点で一致する。
　
（３）本願発明の「前記解析用ファイル作成手段によって作成された解析用ファイルを実行することにより前記素子の特性を解析し、解析結果を出力する解析手段」、「解析装置」について
　刊行物１発明は、ライブラリ生成装置であって、検証用ライブラリを生成する手段により生成された検証用ライブラリを用いてＬＳＩの動作（したがって、ＬＳＩを構成するセルの動作）を解析するためのライブラリを生成するものであり、また、解析が行われると解析結果が出力されるのは明らかであるから、刊行物１発明は、「前記解析用ファイル作成手段によって作成された解析用ファイルを実行することにより前記素子の特性を解析し、解析結果を出力する解析」を行うための装置といえる。
　よって、本願発明と刊行物１発明とは、「前記解析用ファイル作成手段によって作成された解析用ファイルを実行することにより前記素子の特性を解析し、解析結果を出力する解析」のための装置である点では共通しているが、本願発明は、この解析のための「解析手段」を備えた「解析装置」であるのに対し、刊行物１発明は、検証（本願発明でいう「解析」）のための装置ではあるが、解析を行う手段を備えない点で両者は相違する。
　
（４）一致点、相違点
　以上（１）−（３）をまとめると、本願発明と刊行物１発明の一致点、相違点は次のとおりである。
　
［一致点］
　解析対象となる素子の解析条件を受け付ける解析条件受付手段と、
　前記解析条件に基づいて、該解析条件に含まれる複数の条件を雛形ファイルの設定された位置に登録することで、解析用ファイルを作成する解析用ファイル作成手段と、
　を備え、
　前記解析用ファイル作成手段によって作成された解析用ファイルを実行することにより前記素子の特性を解析し、解析結果を出力する解析のための装置。
　
［相違点］
　本願発明は、「解析手段」を備えた「解析装置」であるのに対し、刊行物１発明は、検証（本願発明でいう「解析」）のための装置ではあるが、解析を行う手段を備えない点。
　
５．当審の判断
　刊行物１発明のライブラリ生成装置は、検証用ライブラリを生成するものであり、生成する検証用ライブラリは、それを用いて検証を実施して初めて意味があるものである。換言すると、刊行物１発明は、検証用ライブラリを生成後に引き続いて検証を当然に予定しているものといえ、刊行物１発明において、予定する検証を引き続き行うことは当業者が容易に想到し得るといえる。
　したがって、検証手段を刊行物１発明に備えること、すなわち、本願発明でいう「解析手段」を備えた「解析装置」とすることは当業者が容易に想到し得ることである。
　したがって、本願発明は、刊行物１発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであり、その効果についても当業者が予測し得るものである。
　
５．むすび
　以上のとおりであるから、本願の請求項１に係る発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、本願は、その余の請求項２−５について論及するまでもなく、拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。