【事件の表示】
　平成　４年特許願第１３０２９７号「静止誘導電器の直流磁化特性測定方法」拒絶査定に対する審判事件［平成　５年１２月１０日出願公開、特開平　５−３２６３０５］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
　
１．手続の経緯・本願発明
  本願は、平成４年５月22日の特許出願であって、その請求項１に係る発明は、平成12年11月27日付けの手続補正書により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項１に記載された次のとおりのものである。（以下、「本願発明」という。）
「【請求項１】　静止誘導電器の直流磁化特性測定方法において、直流電圧を印加した供試機器の電圧、電流を連続的に測定記録し、且つ予め測定した前記供試機器の直流抵抗値よりこの供試機器の磁束−電流特性を自動的に得る静止誘導電器の直流磁化特性測定方法。」
　
２．引用例
  これに対し、当審で通知した拒絶の理由において引用した特開平２−300670号公報（以下、「引用例１」という。）には、次の事項が記載されている。
(i)  「〔産業上の利用分野〕
　この発明はインダクタンス測定装置に関する。」（公報第１頁左下欄第14〜15行目の記載を参照。）
(ii) 「〔作用〕
  この発明では、純抵抗器の抵抗により、被測定コイルの抵抗分を打ち消し、インダクタンス成分だけを抽出することができる。」（公報第２頁左上欄第15〜18行目の記載を参照。）
(iii)「〔実施例〕
　以下、この発明の１実施例を図面を参照して説明する。
　第１図において、11は一定の電流増減率を持つ電流供給源（この例では、直流電源）、12は抵抗値可変の純抵抗器、13はコイル１の両端電圧を検出する電圧検出器（この例では、増幅器）、14は純抵抗器12の両端電圧を測定する電圧検出器（この例では、増幅器）、15は電圧検出器13と14の出力差電圧を検出する差電圧測定器である。
　この構成においては、下記(2)式が成立する。
　ｅ＝Ｌdi／dt + iR + iR０　                             ・・・・・(2)
  　ｅ：直流電源11の電圧
  　Ｌ：コイル１のインダクタンス
  　Ｒ：コイル１の抵抗
　Ｒ０ ：純抵抗器12の抵抗
　ｉ：回路に流れる電流
  増幅器13は「Ｌdi／dt + iR」を測定し、増幅器14は「iR０」を測定する。この両増幅器の出力差を検出する差電圧測定器15の測定値Ｖ（第２図に示す）は、
　Ｖ＝Ｌdi／dt + iR - iR０                                ・・・・・(3)
  次に、実施例の装置を用いるインダクタンス測定について述べる。
　まず、回路に電流供給源11から一定レベルの直流電流ｉを流し、
  iR＝iR０  が成立するように、純抵抗器12の抵抗値を調節し、差電圧測定器15の測定値を０にする。
  次いで、電流供給源11の出力電流を零レベルから一定上昇率di/dtで上昇させて、下式の電圧測定し、
  Ｖ＝Ｌdi／dt                                         ・・・・・(4)
下記(5)式に基づく演算を行って、
  Ｌ＝Ｖdt／di                                        ・・・・・(5)
コイル１のインダクタンスＬを測定する。
　本実施例では、純抵抗器12を設け、増加率が一定の測定電流ｉを流すから、この電流増加率を適切に選ぶことにより、極低周波数は勿論のこと、高周波領域まで広範囲の周波数領域でのインダクタンス測定を行うことができる。
　なお、上記実施例では、定レベルの測定電流ｉを流して純抵抗器12を調節することにより差電圧検出器15の出力を零としているが、差電圧検出器15の出力が零になるように、増幅器13と14のゲインを調節してもよい。
　また、電圧検出器13、14はデジタル電圧計を使用し、その出力をマイクロコンピュータに取り込んで、差電圧Ｖは該マイクロコンピュータで演算させてもよい。」（公報第２頁左上欄第19行目〜同頁右下欄第13行目の記載を参照。） 
  上記記載事項(i)〜(iii)、及び図面の記載を総合勘案すると、結局、上記引用例１には、次の発明が記載されている。
　被測定コイル１に直列に純抵抗器12を接続したものに直流電源を印加し、被測定コイルに流れる電流ｉと被測定コイルの両端電圧と純抵抗器の両端電圧との差電圧Ｖとを連続的に測定し、回路に直流電源から一定レベルの直流電流を流し純抵抗器の値を調節して被測定コイルの直流抵抗値と相殺させ、次いで該コイルに増加率が一定の電流ｉを流し、上記差電圧Ｖをマイクロコンピュータで演算して極低周波数を含む所定の周波数帯における被測定コイルのインダクタンスＬをを測定する方法。
  同じく引用した特開平１−161178号公報（以下、「引用例２」という。）には、次の事項が記載されている。
(i)  「２．特許請求の範囲
　(1)　被測定磁性体に巻かれた磁化コイルと、この磁化コイルに交流電流を流す信号源と、上記磁化コイルに流れる電流波形を測定する手段と、上記磁化コイルの両端の電圧波形を測定する手段と、上記計測した電流波形データおよび電圧波形データにもとづいて各時刻における磁束Φ、起磁力NIを下式
  Φ＝1/N ∫｛Ｅ２ −Ｉ２Ｒ２｝dt + 定数
（なお、上式は公報においては「＝1/N｛｝」とあるが、これは「Φ＝1/N ∫｛｝」の誤記であることは明らかであるので上記のように示した。昭和63年６月28日付けの手続補正書でもそのように補正されている。）
  NI＝NI２〔ただし、Ｎ：磁化コイルの巻数、Ｅ２：磁化コイルの両端の電圧、Ｉ２：磁化コイルに流れる電流、Ｒ２：磁化コイルの抵抗成分〕
にもとづいて算出する演算手段とを備えた磁性体の磁気特性測定装置。」（公報第１頁左下欄第４〜18行目を参照。）
(ii) 「〔産業上の利用分野〕
　この発明は磁性体の磁気特性の測定装置に関する。」（公報第１頁右下欄第１〜３行目の記載を参照。）
(iii)「〔作用〕
　この発明における演算手段は、磁化電流データから起磁力を算出し、磁化コイルの両端の電圧データと磁化電流データから当該磁化コイルに発生する抵抗成分による影響が補正された内部起電力を算出し、この起電力から磁束Φを算出する。」（公報第２頁右下欄第２〜７行目の記載を参照。）
(iv) 「〔発明の実施例〕
　以下、この発明の一実施例を図について説明する。
　第１図はこの実施例の構成を示すブロック回路図で、第５図の従来例と同一部分には同一符号を付しており、従来例と異なる点はさぐりコイル(3)を除いて電圧計(6)で磁化コイル(2)の両端の電圧を測定するように構成されている点である。なお、この実施例では計算精度の向上を図るため、電流計(5)、および電圧計(6)は、測定波形をディジタル信号に変換するA/Dコンバータと、メモリを内蔵しており、測定した波形データをディジタルデータとして記憶する。計算機(7)はディジタル・コンピュータであり電流計(5)と電圧計(6)のメモリに記憶されているデータを読み出して磁気特性を計算する。
　第２図は第１図の等価回路図で、第６図と同一符号は同一要素を示しており、Ｅ２は磁化コイル(2)の両端の電圧で、磁化コイル(2)の抵抗成分Ｒ２によって生じる電圧Ｅ２２と、インダクタンス成分Ｌ２によって生じる電圧Ｅ２１とを加算したものである。
　磁化コイル(2)の巻数をＮとすると、インダクタンス成分Ｌ２によって生じる電圧Ｅ２１は(5)式で表わされ、抵抗成分によって生じる電圧Ｅ２２は(6)式で表される。磁化コイル(2)の両端の電圧Ｅ２はＥ２１+Ｅ２２であるため(7)式で表わされる。
  Ｅ２１＝Ｎ dΦ／dt                                     ・・・・・(5)
  Ｅ２２＝Ｉ２Ｒ２                                         ・・・・・(6)
  Ｅ２ ＝Ｅ２１+Ｅ２２      ＝Ｎ dΦ／dt + Ｉ２Ｒ２                            ・・・・・(7)
　(7)式を磁束Φについて解けば
  Φ＝1/N ∫｛Ｅ２−Ｉ２Ｒ２｝dt + 定数                    ・・・・・(8)
（なお、(8)式は公報においては「＝1/N｛｝」とあるが、これは「Φ＝1/N ∫｛｝」の誤記であることは明らかであるので上記のように示した。昭和63年６月28日付けの手続補正書でもそのように補正されている。）
  となる。また、起磁力NIは(1)式と同様に
  NI＝NＩ２                                           ・・・・・(9)
  となる。(8)式と(9)式より、磁化コイル(2)の巻数Ｎと抵抗分Ｒ２とをあらかじめ求めておけば、磁化コイル(2)に流れる電流Ｉ２の波形データと、磁化コイル(2)の両端の電圧Ｅ２の波形データをそれぞれ電流計(5)と電圧計(6)で同時に測定し、測定データを計算器(7)に送り計算することにより磁束Φと起磁力NIの波形データを求めることができる。
　測定結果例として第３図に起磁力NIと電圧Ｅ２と磁束Φの波形を示す。起磁力NIと磁束Φのヒステリシスループは、第７図と同様である。」（公報第２頁右下欄第８行目〜第３頁右上欄第17行目の記載を参照。）
  上記記載事項(i)〜(iv)、及び図面の記載を総合勘案すると、結局、引用例２には、次の発明が記載されている。
  磁化コイルの両端電圧と、磁化コイルに流れる電流を同時に測定し、予め求めた磁化コイルの抵抗分とより磁化コイルを含む磁性体の磁束−電流特性をディジタルコンピュータ等により自動的に求める方法。
　
３．対比
  本願発明と上記引用例１に記載された発明とを対比する。引用例１に記載された発明における供試機器としての「被測定コイル」は誘導電器である点で、本願発明における供試機器としての「静止誘導電器」と共通する。また、インダクタンスが磁束と電流の関係で表されることは周知の技術事項であるから、引用例１に記載された発明における「インダクタンス」は、本願発明における「磁束−電流特性」に相当する。そうすると、本願発明と上記引用例１に記載された発明とは、次の点で一致する。
　誘導電器の磁化特性測定方法において、電圧を印加した供試機器の電圧、電流を連続的に測定記録して、この供試機器の磁束−電流特性を自動的に得る誘導電器の磁化特性測定方法。
  そして、次の各点で相違する。
ａ)　供試機器に関し、本願発明においては「静止誘導電器」を対象とするものであるのに対し、引用例１に記載された発明においては単に「誘導電器」を対象とするものである点。（以下、「相違点ａ」という。）
ｂ） 本願発明は、直流磁化特性測定に係るものであるのに対し、引用例１に記載された発明は、極低周波数を含む所定周波数帯におけるインダクタンスの測定に係るものである点。（以下、「相違点ｂ」という。）
ｃ)　磁化特性の算出に関し、本願発明においては、直流電圧を印加した供試機器の電圧、電流と予め測定した直流抵抗値より該供試機器の磁束−電流特性を算出するものであるのに対し、上記引用例１に記載された発明においては、直流電源を印加した被測定コイル（供試機器）電圧と純抵抗の両端電圧との差電圧と該コイルに流れる電流とによりインダクタンスを測定している点（以下、「相違点ｃ」という。）
　
４．当審の判断
  上記各相違点について検討する。
　相違点ａ について
  引用例１に記載された発明において、「被測定コイル」は「誘導電器」であり、誘導電器として変圧器、リアクトル等の静止型のもの、すなわち静止誘導電器は周知のものであるから、引用例１に記載された発明において、供試機器を静止誘導電器とすることは当業者が必要に応じて適宜なし得た事項である。
  相違点ｂについて
　引用例１に記載された発明は、極低周波数を含む所定の周波数帯で被測定コイルの磁化特性を測定するものであり、引用例１に記載された発明において周波数をさらに低めた直流の磁化特性を測定するものとすることは当業者が必要に応じて容易に想到できたものである。（なお、供試コイルに整流回路からの直流電圧を印加して該コイルのインダクタンスを測定すること自体は、特開昭52-83265号公報にみられるように本願出願前に周知の技術である。）
  相違点ｃ について
　上記引用例２に記載された発明は、コイルの両端電圧と、該コイルに流れる電流を同時に測定し、予め求めた磁化コイルの抵抗分とより磁化コイルを含む磁性体の磁束−電流特性をデイジタルコンピュータ等により自動的に求めるものであり、上記引用例１と引用例２に記載された発明とはともにコイルの磁化特性の測定に関する技術であるから、上記引用例１に記載された発明においても、被測定コイル（供試機器）電圧と純抵抗器の両端電圧との差電圧と該コイルに流れる増加率が一定の電流に替えて、上記引用例２に記載された発明のように、被測定コイル（供試機器）の両端の電圧、該コイルに流れる電流と予め測定した直流抵抗値より該コイル（供試機器）の磁束−電流特性を自動的に算出することは当業者が容易に想到できたものである。
  そして、本願発明が奏する効果は、上記引用例１及び引用例２に記載された発明から当業者が十分予測できた範囲のものである。
　
５．むすび
  したがって、本願発明は、上記引用例１及び引用例２に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第29条第２項の規定により特許を受けることができない。
  よって、結論のとおり審決する。