【事件の表示】
　特願２００７−　４２０６１「エッジ検出装置」拒絶査定不服審判事件〔平成２０年　９月　４日出願公開、特開２００８−２０３１８２〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯
　本願は，平成１９年２月２２日の出願であって，平成２４年６月４日付けで特許請求の範囲について補正がなされ（以下，「補正１」という。），平成２５年３月２７日付けで拒絶査定がなされ（送達：同年４月３日），これに対して同年６月２６日に拒絶査定不服審判の請求がなされると同時に明細書及び特許請求の範囲について補正がなされた（以下，「本件補正」という。）ものである。
　
２．本件補正についての補正却下の決定
［結論］
　本件補正を却下する。
［理由］
（１）補正の内容
　本件補正により，請求項１は次のように補正された。
（補正前）
「透過照明された検出対象物を結像光学系を介して撮像するラインセンサと，このラインセンサの出力レベルを弁別して前記ラインセンサの画素セル配列方向における前記検出対象物のエッジ位置を検出する信号処理手段とを備えたエッジ検出装置であって，
　前記信号処理手段は，前記ラインセンサの出力信号を増幅する増幅器と，
　前記増幅器の出力信号レベルを互いに異なる複数の弁別閾値にてそれぞれ弁別する弁別器と，
　前記増幅器のゲインおよび／またはバイアスを可変設定する第１の制御手段と，
　前記弁別器の弁別閾値を可変設定する第２の制御手段と，
　前記ラインセンサからの信号読み出し位置に応じた前記弁別器による弁別結果から，前記検出対象物における複数のエッジ位置を並列に検出するエッジ位置検出手段と，を備える，ことを特徴とするエッジ検出装置。」
（補正後）
「透過照明された検出対象物を結像光学系を介して撮像するラインセンサと，このラインセンサの出力レベルを弁別して前記ラインセンサの画素セル配列方向における前記検出対象物の
複数の
　前記信号処理手段は，前記ラインセンサの出力信号を増幅する増幅器と，
　前記増幅器の出力信号レベルを互いに異なる複数の弁別閾値にてそれぞれ弁別する弁別器と，
　前記増幅器のゲインおよび／またはバイアスを
，前記複数のエッジ位置のそれぞれの受光レベルの差を区別可能であるとともに自由空間に相当する領域の受光レベルが飽和しないように
　前記弁別器の弁別閾値を可変設定する第２の制御手段と，
　前記ラインセンサからの信号読み出し位置に応じた前記弁別器による弁別結果から，前記検出対象物における複数のエッジ位置を並列に検出するエッジ位置検出手段と，を備える，ことを特徴とするエッジ検出装置。」（下線は補正箇所）
　
　上記補正は，請求項１に記載した発明を特定するために必要な事項である「検出対象物のエッジ位置」が「複数」である点を付加して限定するとともに，「可変設定する第１の制御手段」を，「前記複数のエッジ位置のそれぞれの受光レベルの差を区別可能であるとともに自由空間に相当する領域の受光レベルが飽和しないように」「可変設定する第１の制御手段」と限定するものであって，特許法第１７条の２第４項第２号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
　そこで，本件補正後の上記請求項１に記載された発明（以下，「本願補正発明」という。）が特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるかについて，以下に検討する。
　
（２）引用例記載の事項・引用発明
　原査定の拒絶の理由に引用され，本願出願前に国内又は外国において頒布された刊行物である特開平７−１１４４１号公報（発明の名称：蒸着フィルムの測定，制御方法，装置および製造方法，出願人：東レ株式会社，公開日：平成７年１月１３日，以下「引用例」という。）には，次の事項（ａ）ないし（ｆ）が図面とともに記載されている。
　
（ａ）「【請求項８】  走行している，蒸着部および非蒸着部を長さ方向にストライプ状に，かつ幅方向に交互に形成してなる帯状蒸着フィルムに光線を照射する光源と，前記蒸着フィルムを透過した光線を受光する手段と，透過光線から前記蒸着フィルムの幅方向の光線透過率分布を検出する手段と，検出した光線透過率分布に基づいて前記蒸着フィルムのエッジ位置ならびに蒸着部と非蒸着部の位置および幅を算出する手段とを備えていることを特徴とする，蒸着フィルムの測定装置。」（【請求項８】）
　
（ｂ）「【０００４】この結果，フィルム１２には，例えば図１７，１８のフィルム１２の幅方向の断面図に示すような金属蒸着の蒸着パターンが形成される。図１７では，このフィルム１２上に金属が蒸着された蒸着部１２ａと，金属が蒸着されていないマージン部１２ｂが形成される。」（段落【０００４】）
　
（ｃ）「【００１６】図１において，図１６に示した蒸着機と異なる構成部分は，真空槽１０内のフィルム搬送系１３の所定位置近傍に設けられた光源２１と，のぞき窓１８の近傍に配設されて上記光源２１から照射されてフィルム１２を透過した光線を検出するラインセンサカメラ２２を有する点である。このような測定・制御方法を用いた蒸着機１の制御装置では，ラインセンサカメラ２２による光源２１からの光信号の検出，フィルム１２のフィルムエッジ１２ｄ，蒸着部１２ａ・マージン部１２ｂ，ヘビーエッジ１２ｃの位置を求める作業をフィルム１２の一定長さ毎に行ったり，求めた測定値を保存したりするため，図２に示すパーソナルコンピュータなどの電子制御装置（以下，「ＥＣＵ」という。）２３を用いることが望ましい。」（段落【００１６】）
　
（ｄ）「【００１８】なお，ラインセンサカメラ２２の画素数，レンズの焦点距離およびラインセンサカメラ２２と蒸着フィルム１２間の距離に関しては，特に制限を設けるものではなく，測定対象となる蒸着フィルム１２のフィルム幅，蒸着幅，マージン幅から測定視野および分解能を定め，これに適合したものを選べば良い。望ましくは，ラインセンサカメラ２２の画素数は，５００以上，クロック数は，１ＭＨz 以上が好ましい。本実施例では，ラインセンサカメラ２２は，ＣＣＤ素子を有するカメラからなり，ＥＣＵ２３に対して８ビットのＡ／Ｄ変換器２７およびインターフェース２８を介してデータを出力し，またインターフェース２８を介してＥＣＵ２３からの動作用の制御信号を入力している。」（段落【００１８】）
　
（ｅ）「【００２１】本実施例では，図３に示すように，光源２１としては，発光部の長さが５００ｍｍの蛍光灯を用い，フィルム面の１０ｍｍ背後から３０ｋＨｚ高周波点灯する。このラインセンサカメラ２２および光源２１を用いてフィルムエッジ，蒸着部・マージン部の測定を行う場合には，ラインセンサカメラの光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値は，フィルムなしの部分のラインセンサカメラの検出信号が，このカメラのＣＣＤ素子が飽和する強度の４０〜１００％，好ましくは６０〜９０％の範囲内になるようにする。次にフィルムなしの部分の信号強度をＰb，マージン部の信号強度をＰf ，蒸着部分の信号強度をＰｍとした場合，フィルムエッジを検出するためのしきい値ＴＨfおよび蒸着部とマージン部の境界を検出するためのしきい値ＴＨｍを，
ＴＨf ＝Ｐf ＋ｋf ×（Ｐb −Ｐf ）        …(1)
ＴＨm ＝Ｐm ＋ｋm ×（Ｐf −Ｐm ）        …(2)
に設定する。ここで，ｋf ，ｋm は定数であり，ＴＨf ，ＴＨm の値は，０．２〜０．８，好ましくは０．４〜０．６の範囲内の値に設定する。」（段落【００２１】）
　
（ｆ）「【００３０】ここで，この算出結果から金属蒸着が開始されたと判定すると，図５において，ＥＣＵ２３は，エンコーダ２９から蒸着処理されたフィルム長（以下，「蒸着処理長さ」という。）Ｌを取り込む（ステップ１０５）。そして，この蒸着処理長さＬがステップ１０１で設定したデータの取り込み間隔ｌの整数倍であるかどうか判定する（ステップ１０６）。
【００３１】ここで，蒸着処理長さＬがこの取り込み間隔ｌの整数倍でない場合には，蒸着処理長さＬが間隔ｌの整数倍になるまで待つ。また，蒸着処理長さＬがこの取り込み間隔ｌの整数倍の場合には，ＥＣＵ２３は，ラインセンサカメラ２２からの測定データの取り込みを行う（ステップ１０７）。この場合，ラインセンサカメラ２２の画素数が２０４８，Ａ／Ｄ変換器２７の出力が８ビットであるので，測定データは，２０４８×８ビットのデータとしてＥＣＵ２３に取り込まれる（図９参照）。
【００３２】次に，ＥＣＵ２３は，各画素での測定データ値とステップ１０３で設定したフィルムエッジを検出するためのしきい値ＴＨfとの大小関係を，２０４８画素全てについて調べる。この場合には，画素番号の小さいもの（視野内での左側）「０」から画素番号の大きいもの（視野内での右側）「２０４７」の順で，測定データ値とＴＨfとの大小関係を調べる。そして，測定データ値がＴＨfより小に変化した最初の部分の画素番号Ｎfd（Ｎfdは０〜２０４７のうちの画素番号）をフィルムの左エッジとし，測定データ値がＴＨfより大に変化した最初の部分の画素番号Ｎfu（Ｎfuは０〜２０４７のうちの画素番号）をフィルムの右エッジとして検出し，揮発性メモリ３１に記録する（ステップ１０８）。なお，例えばステップ１０１でヘビーエッジなしとした場合には，この各画素の測定データによって求められるフィルムの光線透過率分布が図１０のごとくなり，画素番号ＮfdおよびＮfuの位置は，図示のごとくなる。つまり，図１０は，フィルムエッジ，蒸着部・マージン部の位置を検出する場合の例である。このフィルムの左右両エッジの位置は，画素番号ＮfdおよびＮfuの測定データ値に測定分解能０．２ｍｍを掛けた値が実際の位置（ｍｍ単位）となる。
【００３３】このフィルムエッジ位置検出後，ＥＣＵ２３は，ステップ１０７で取り込んだ各画素での測定データ値とステップ１０３で設定した蒸着部とマージン部の境界を検出するためのしきい値ＴＨmとの大小関係を，ＮfdからＮfuの間の画素全てについて調べる。この場合も，フィルムエッジ位置検出の場合と同様に，画素番号の小さいものから画素番号の大きいものの順で，測定データ値とＴＨmとの大小関係を調べる。そして，測定データ値がＴＨmより小に変化した部分の画素番号Ｎmd（Ｎmdは０〜２０４７のうちの画素番号）をマージン部から蒸着部への変化点とし，測定データ値がＴＨmより大に変化した部分の画素番号Ｎmu（Ｎmuは０〜２０４７のうちの画素番号）を蒸着部からマージン部への変化点として検出し揮発性メモリ３１に記録する（ステップ１０９）。ここで，蒸着部およびマージン部が，フィルム全幅内に複数個存在する場合には，画素番号の小さい方から順序付けて，Ｎmd(1) ，Ｎmu(1) ，Ｎmd(2) ，Ｎmu(2) ，…，Ｎmd(n) ，Ｎmu(n) （ｎは，任意の整数）のように，揮発性メモリ３１に記録する。なお，図１０の場合には，蒸着部が４つあるので，この検出される画素番号も４つづつ存在する。蒸着部・マージン部の変化点位置は，画素番号ＮmdおよびＮmuの測定データ値に測定分解能０．２ｍｍを掛けた値が実際の位置（ｍｍ単位）となる。
（当審注　上記段落【００３２】の「画素番号ＮfdおよびＮfuの測定データ値に測定分解能０．２ｍｍを掛けた値が実際の位置（ｍｍ単位）となる。」は「画素番号ＮfdおよびＮfuに測定分解能０．２ｍｍを掛けた値が実際の位置（ｍｍ単位）となる。」の誤記であり，段落【００３３】の「画素番号ＮmdおよびＮmuの測定データ値に測定分解能０．２ｍｍを掛けた値が実際の位置（ｍｍ単位）となる。」は「画素番号ＮmdおよびＮmuに測定分解能０．２ｍｍを掛けた値が実際の位置（ｍｍ単位）となる。」の誤記であると認められる。）」（段落【００３０】−【００３３】）
　
　・上記記載（ａ）及び【図２】の記載によれば，引用例に記載された「蒸着フィルムの測定装置」は「光源２１」，「ラインセンサカメラ２２」，「ＥＣＵ２３」を含んでおり，上記記載（ｂ）ないし（ｃ）によれば，上記「ラインセンサカメラ２２」は，「光源２１から照射されてフィルム１２を透過した光線を検出するラインセンサカメラ２２」（段落【００１６】）であり，ここで「フィルム１２」は「金属が蒸着された蒸着部１２ａと，金属が蒸着されていないマージン部１２ｂが形成され」（段落【０００４】）ており，また，上記記載（ｅ）によれば，上記「ＥＣＵ２３」は，「ラインセンサカメラ２２の各画素での測定データ値としきい値ＴＨｆ，ＴＨｍとの大小関係により前記ラインセンサカメラ２２の画素番号の方向における前記フィルム１２のフィルムエッジ及び蒸着部とマージン部の境界を検出するＥＣＵ２３」であるから，
　ア　「光源２１から照射されて金属が蒸着された蒸着部と金属が蒸着されていないマージン部が形成されたフィルム１２を透過した光線を検出するラインセンサカメラ２２と，このラインセンサカメラ２２の各画素での測定データ値としきい値ＴＨｆ，ＴＨｍとの大小関係により前記ラインセンサカメラ２２の画素番号の方向における前記フィルム１２のフィルムエッジ及び蒸着部とマージン部の境界を検出するＥＣＵ２３とを備えた蒸着フィルムの測定装置」との技術事項が読み取れる。
　
・上記記載（ｄ）ないし（ｅ）によれば，上記「ラインセンサカメラ２２」は，上記「ＥＣＵ２３」に制御され，光信号蓄積時間及びカメラレンズの絞り値が調整されると認められるから，
　イ　「前記ＥＣＵ２３は，前記ラインセンサカメラ２２の光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値を調整する」との技術事項が読み取れる。
　
・上記アによれば，
　ウ　「前記ＥＣＵ２３は，ラインセンサカメラ２２の各画素での測定データ値としきい値ＴＨｆ，ＴＨｍとの大小関係を調べる」ものである。
　
・上記記載（ｅ）によれば，
  エ　「前記ＥＣＵ２３は，
　前記光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値を，フィルムなしの部分のラインセンサカメラの検出信号が，このカメラのＣＣＤ素子が飽和する強度の４０〜１００％の範囲内になるようにし，
　前記しきい値ＴＨｆ，ＴＨｍを，フィルムなしの部分の信号強度をＰb ，マージン部の信号強度をＰf，蒸着部分の信号強度をＰmとし，ｋf，ｋmを定数とした場合，
　ＴＨf ＝Ｐf ＋ｋf ×（Ｐb −Ｐf ）
　ＴＨm ＝Ｐm ＋ｋm ×（Ｐf −Ｐm ）
に設定している」との技術事項が読み取れる。
　
・上記記載（ｆ）によれば，
　オ　「前記ＥＣＵ２３は，
前記ラインセンサカメラ２２の画素番号０から画素番号２０４７の全画素での測定データ値がＴＨfより小に変化した最初の部分の画素番号Ｎfd（Ｎfdは０〜２０４７のうちの画素番号）をフィルムの左エッジとし，測定データ値がＴＨfより大に変化した最初の部分の画素番号Ｎfu（Ｎfuは０〜２０４７のうちの画素番号）をフィルムの右エッジとして検出し，このフィルムの左右両エッジの位置は，画素番号ＮfdおよびＮfuに測定分解能０．２ｍｍを掛けた値が実際の位置（ｍｍ単位）となり，画素番号Ｎfdから画素番号Ｎfuの画素での測定データ値がＴＨｍより小に変化した部分の画素番号Ｎmd（Ｎmdは０〜２０４７のうちの画素番号）をマージン部から蒸着部への変化点とし，測定データ値がＴＨｍより大に変化した部分の画素番号Ｎmu（Ｎmuは０〜２０４７のうちの画素番号）を蒸着部からマージン部への変化点として検出し，蒸着部・マージン部の変化点位置は，画素番号ＮmdおよびＮmuに測定分解能０．２ｍｍを掛けた値が実際の位置（ｍｍ単位）となる」との技術事項が読み取れる。
　
　以上の技術事項アないしオ，及び，この分野における技術常識を総合勘案すると，引用例には次の発明が記載されているものと認められる。
　
「光源２１から照射されて金属が蒸着された蒸着部と金属が蒸着されていないマージン部が形成されたフィルム１２を透過した光線を検出するラインセンサカメラ２２と，このラインセンサカメラ２２の各画素での測定データ値としきい値ＴＨｆ，ＴＨｍとの大小関係により前記ラインセンサカメラ２２の画素番号の方向における前記フィルム１２のフィルムエッジ及び蒸着部とマージン部の境界を検出するＥＣＵ２３とを備えた蒸着フィルムの測定装置であって，
　前記ＥＣＵ２３は，前記ラインセンサカメラ２２の光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値を調整し，
　前記ラインセンサカメラ２２の各画素での測定データとしきい値ＴＨｆ，ＴＨｍとの大小関係を調べ，
　前記光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値を，フィルムなしの部分のラインセンサカメラの検出信号が，このカメラのＣＣＤ素子が飽和する強度の４０〜１００％の範囲内になるようにし，
　前記しきい値ＴＨｆ，ＴＨｍを，フィルムなしの部分の信号強度をＰb ，マージン部の信号強度をＰf，蒸着部分の信号強度をＰmとし，ｋf，ｋmを定数とした場合，
　ＴＨf ＝Ｐf ＋ｋf ×（Ｐb −Ｐf ）
　ＴＨm ＝Ｐm ＋ｋm ×（Ｐf −Ｐm ）
に設定し，
　前記ラインセンサカメラ２２の画素番号０から画素番号２０４７の全画素での測定データ値がＴＨf より小に変化した最初の部分の画素番号Ｎfd（Ｎfdは０〜２０４７のうちの画素番号）をフィルムの左エッジとし，測定データ値がＴＨfより大に変化した最初の部分の画素番号Ｎfu（Ｎfuは０〜２０４７のうちの画素番号）をフィルムの右エッジとして検出し，このフィルムの左右両エッジの位置は，画素番号ＮfdおよびＮfuに測定分解能０．２ｍｍを掛けた値が実際の位置（ｍｍ単位）となり，画素番号Ｎfdから画素番号Ｎfuの画素での測定データ値がＴＨmより小に変化した部分の画素番号Ｎmd（Ｎmdは０〜２０４７のうちの画素番号）をマージン部から蒸着部への変化点とし，測定データ値がＴＨmより大に変化した部分の画素番号Ｎmu（Ｎmuは０〜２０４７のうちの画素番号）を蒸着部からマージン部への変化点として検出し，蒸着部・マージン部の変化点位置は，画素番号ＮmdおよびＮmuに測定分解能０．２ｍｍを掛けた値が実際の位置（ｍｍ単位）となる，
　蒸着フィルムの測定装置。」（以下，「引用発明」という。）
　
（３）対比
　本願補正発明と引用発明とを，主たる構成要件毎に順次対比する。
　
ア　引用発明の「金属が蒸着された蒸着部と金属が蒸着されていないマージン部が形成されたフィルム１２」，「光線を検出するラインセンサカメラ２２」は，それぞれ本願補正発明の「検出対象物」，「結像光学系を介して撮像するラインセンサ」に相当するから，引用発明の「光源２１から照射されて金属が蒸着された蒸着部と金属が蒸着されていないマージン部が形成されたフィルム１２を透過した光線を検出するラインセンサカメラ２２」は，本願補正発明の「透過照明された検出対象物を結像光学系を介して撮像するラインセンサ」に相当する。
　
イ　引用発明の「ラインセンサカメラ２２の各画素での測定データ値」，「ラインセンサカメラ２２の画素番号の方向」，「フィルム１２のフィルムエッジ及び蒸着部とマージン部の境界」，は，それぞれ本願補正発明の「ラインセンサの出力レベル」，「ラインセンサの画素セル配列方向」，「検出対象物の複数のエッジ位置」に相当し，引用発明の「測定データ値としきい値ＴＨｆ，ＴＨｍとの大小関係により」「検出する」ことは，「出力レベル」を「弁別して」「検出する」ことに他ならない。また，引用発明の「ＥＣＵ２３」は「電子制御装置」であって，「信号処理手段」と言いうるものである。
　よって，引用発明の「このラインセンサカメラ２２の各画素での測定データ値としきい値ＴＨｆ，ＴＨｍとの大小関係により前記ラインセンサカメラ２２の画素番号の方向における前記フィルム１２のフィルムエッジ及び蒸着部とマージン部の境界を検出するＥＣＵ２３」は，本願補正発明の「このラインセンサの出力レベルを弁別して前記ラインセンサの画素セル配列方向における前記検出対象物の複数のエッジ位置を検出する信号処理手段」に相当する。
　
ウ　引用発明の「前記ＥＣＵ２３は，前記ラインセンサカメラ２２の光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値を調整し」に関し，
　引用発明の「ＥＣＵ２３」は，「ラインセンサカメラ２２の光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値を調整」することでラインセンサカメラ２２の検出信号（出力信号）の大きさを調整していることは明らかであるから，「ラインセンサカメラ２２の出力信号を調整する手段」を備えていると言える。
　一方，本願補正発明の「前記信号処理手段は，前記ラインセンサの出力信号を増幅する増幅器と，」「を備え」に関し，「増幅する増幅器」は「ラインセンサの出力信号を調整する手段」と言える。
　そうすると，引用発明の「前記ラインセンサカメラ２２の光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値を調整し」と本願補正発明の「前記ラインセンサの出力信号を増幅する増幅器」を「備え」とは，「前記ラインセンサの出力信号を調整する手段」を「備え」た点で共通する。
　
エ　引用発明の「前記ＥＣＵ２３は」「前記ラインセンサカメラ２２の各画素での測定データとしきい値ＴＨｆ，ＴＨｍとの大小関係を調べ」に関し，
　「前記ラインセンサカメラ２２の各画素での測定データ」は，上記ウでの検討によれば，「前記調整する手段で調整された出力信号のレベル」と言え，また，引用発明の「ＥＣＵ２３」は，「しきい値ＴＨｆ，ＴＨｍとの大小関係を調べ」ることで測定データを「弁別する」ことは明らかであるから，「互いに異なる複数の弁別閾値にてそれぞれ弁別する弁別器」を備えていると言うことができる。
　そうすると，引用発明の「前記ラインセンサカメラ２２の各画素での測定データとしきい値ＴＨｆ，ＴＨｍとの大小関係を調べ」と本願補正発明の「前記増幅器の出力信号レベルを互いに異なる複数の弁別閾値にてそれぞれ弁別する弁別器」を「備え」とは，「前記調整する手段で調整された出力信号レベルを互いに異なる複数の弁別閾値にてそれぞれ弁別する弁別器」を「備え」た点で共通する。
　
オ　引用発明の「前記ＥＣＵ２３は」「前記光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値を，フィルムなしの部分のラインセンサカメラの検出信号が，このカメラのＣＣＤ素子が飽和する強度の４０〜１００％の範囲内になるようにし」に関し，
　「前記光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値」は，上記ウでの検討によれば「前記調整する手段の設定値」と言え，本願補正発明の「前記増幅器のゲインおよび／またはバイアス」とは，「前記調整する手段の設定値」の点で共通する。
　そして，引用発明において，ラインセンサカメラ２２の各画素での測定データ値としきい値ＴＨf，ＴＨmとの大小関係を調べる（段落【００３２】−【００３３】）ことを踏まえれば，前記光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値の調整に際し，前記大小関係が区別可能であるように調整することは明らかである。
　また，引用発明の「フィルムなしの部分」は，本願補正発明の「自由空間に相当する領域」に相当し，引用発明の「このカメラのＣＣＤ素子が飽和する強度の４０〜１００％の範囲内になるようにし」と本願補正発明の「受光レベルが飽和しないように可変設定する」は，引用発明では「飽和」が「ＣＣＤ素子」における飽和を意味しているのに対し，本願補正発明では「増幅器」における飽和を意味している点で相違するものの，両者は「受光レベルが飽和しないように可変設定する」点で共通する。
　そして，引用発明の「ＥＣＵ２３」は，以上のような「受光レベルが飽和しないように可変設定する」手段を備えていることは明らかであり，これを「第１の制御手段」と称することは任意である。
　そうすると，引用発明の「前記光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値を，フィルムなしの部分のラインセンサカメラの検出信号が，このカメラのＣＣＤ素子が飽和する強度の４０〜１００％の範囲内になるようにし」と本願補正発明の「前記増幅器のゲインおよび／またはバイアスを，前記複数のエッジ位置のそれぞれの受光レベルの差を区別可能であるとともに自由空間に相当する領域の受光レベルが飽和しないように可変設定する第１の制御手段」を「備え」とは，「前記調整する手段の設定値を，前記複数のエッジ位置のそれぞれの受光レベルの差を区別可能であるとともに自由空間に相当する領域の受光レベルが飽和しないように可変設定する第１の制御手段」を「備え」た点で共通する。
　
カ　引用発明の「前記ＥＣＵ２３」は
　「前記しきい値ＴＨｆ，ＴＨｍを，フィルムなしの部分の信号強度をＰb，マージン部の信号強度をＰf，蒸着部分の信号強度をＰmとし，ｋf，ｋmを定数とした場合，
　ＴＨf ＝Ｐf ＋ｋf ×（Ｐb −Ｐf ）
　ＴＨm ＝Ｐm ＋ｋm ×（Ｐf −Ｐm ）
に設定し」に関し，
　引用発明の「ＥＣＵ２３」が上式のように「しきい値ＴＨｆ，ＴＨｍ」を設定する以上，これらを可変設定する手段を備えていることは明らかであって，これを「第２の制御手段」と称することは任意である。
　そうすると，引用発明の
「前記しきい値ＴＨｆ，ＴＨｍを，フィルムなしの部分の信号強度をＰb，マージン部の信号強度をＰf，蒸着部分の信号強度をＰmとし，ｋf，ｋmを定数とした場合，
　ＴＨf ＝Ｐf ＋ｋf ×（Ｐb −Ｐf ）
　ＴＨm ＝Ｐm ＋ｋm ×（Ｐf −Ｐm ）
に設定し」は，
　本願補正発明の「前記弁別器の弁別閾値を可変設定する第２の制御手段」を「備え」ることに相当する。
　
キ　引用発明の「ＥＣＵ２３」は「前記ラインセンサカメラ２２の画素番号０から画素番号２０４７の全画素での測定データ値がＴＨfより小に変化した最初の部分の画素番号Ｎfd（Ｎfdは０〜２０４７のうちの画素番号）をフィルムの左エッジとし，測定データ値がＴＨfより大に変化した最初の部分の画素番号Ｎfu（Ｎfuは０〜２０４７のうちの画素番号）をフィルムの右エッジとして検出し，このフィルムの左右両エッジの位置は，画素番号ＮfdおよびＮfuに測定分解能０．２ｍｍを掛けた値が実際の位置（ｍｍ単位）となり，画素番号Ｎfdから画素番号Ｎfuの画素での測定データ値がＴＨmより小に変化した部分の画素番号Ｎmd（Ｎmdは０〜２０４７のうちの画素番号）をマージン部から蒸着部への変化点とし，測定データ値がＴＨmより大に変化した部分の画素番号Ｎmu（Ｎmuは０〜２０４７のうちの画素番号）を蒸着部からマージン部への変化点として検出し，蒸着部・マージン部の変化点位置は，画素番号ＮmdおよびＮmuに測定分解能０．２ｍｍを掛けた値が実際の位置（ｍｍ単位）となる」に関し，
　測定データ値としきい値ＴＨfとの比較は「ラインセンサカメラ２２の画素番号０から画素番号２０４７の全画素で」行われ，測定データ値としきい値ＴＨmとの比較は「画素番号Ｎfdから画素番号Ｎfuの画素で」行われるから，その比較結果は「前記ラインセンサからの信号読み出し位置に応じた前記弁別器による弁別結果」と言える。
　また，該比較結果から検出される「画素番号Ｎfd」，「画素番号Ｎfu」，「画素番号Ｎmd」，「画素番号Ｎmu」は，それぞれ「フィルムの左エッジ」，「フィルムの右エッジ」，「マージン部から蒸着部への変化点」，「蒸着部からマージン部への変化点」という「検出対象物における複数のエッジ」であり，これらの画素番号に「測定分解能０．２ｍｍを掛けた値」が「エッジ位置」として検出され，かつ，これらのエッジ位置は同じ測定結果から検出されるものであるから「並列に検出」されたものと言える。そして，そのような「検出」を行うものである以上，引用発明の「ＥＣＵ２３」は「エッジ位置検出手段」を備えていると言える。
　そうすると，引用発明の「前記ラインセンサカメラ２２の画素番号０から画素番号２０４７の全画素での測定データ値がＴＨfより小に変化した最初の部分の画素番号Ｎfd（Ｎfdは０〜２０４７のうちの画素番号）をフィルムの左エッジとし，測定データ値がＴＨfより大に変化した最初の部分の画素番号Ｎfu（Ｎfuは０〜２０４７のうちの画素番号）をフィルムの右エッジとして検出し，このフィルムの左右両エッジの位置は，画素番号ＮfdおよびＮfuに測定分解能０．２ｍｍを掛けた値が実際の位置（ｍｍ単位）となり，画素番号Ｎfdから画素番号Ｎfuの画素での測定データ値がＴＨmより小に変化した部分の画素番号Ｎmd（Ｎmdは０〜２０４７のうちの画素番号）をマージン部から蒸着部への変化点とし，測定データ値がＴＨmより大に変化した部分の画素番号Ｎmu（Ｎmuは０〜２０４７のうちの画素番号）を蒸着部からマージン部への変化点として検出し，蒸着部・マージン部の変化点位置は，画素番号ＮmdおよびＮmuに測定分解能０．２ｍｍを掛けた値が実際の位置（ｍｍ単位）となる」は，本願補正発明の「前記ラインセンサからの信号読み出し位置に応じた前記弁別器による弁別結果から，前記検出対象物における複数のエッジ位置を並列に検出するエッジ位置検出手段」を「備え」ることに相当する。
　
ク　引用発明の「蒸着フィルムの測定装置」と本願補正発明の「エッジ検出装置」とは「装置」である点で共通する。
　
　してみると，両者の一致点及び相違点は，以下のとおりある。
　
（一致点）
「透過照明された検出対象物を結像光学系を介して撮像するラインセンサと，このラインセンサの出力レベルを弁別して前記ラインセンサの画素セル配列方向における前記検出対象物の複数のエッジ位置を検出する信号処理手段とを備えた装置であって，
　前記信号処理手段は，前記ラインセンサの出力信号を調整する手段と，
　前記調整する手段で調整された出力信号レベルを互いに異なる複数の弁別閾値にてそれぞれ弁別する弁別器と，
　前記調整する手段の設定値を，前記複数のエッジ位置のそれぞれの受光レベルの差を区別可能であるとともに自由空間に相当する領域の受光レベルが飽和しないように可変設定する第１の制御手段と，
　前記弁別器の弁別閾値を可変設定する第２の制御手段と，
　前記ラインセンサからの信号読み出し位置に応じた前記弁別器による弁別結果から，前記検出対象物における複数のエッジ位置を並列に検出するエッジ位置検出手段と，を備える，ことを特徴とする装置。」
  
（相違点１）
　「ラインセンサの出力信号を調整する手段」が，本願補正発明では「ラインセンサの出力信号を増幅する増幅器」であるのに対し，引用発明では「ラインセンサカメラ２２の光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値を調整」する手段である点。
（相違点２）
　「前記調整する手段の設定値を，前記複数のエッジ位置のそれぞれの受光レベルの差を区別可能であるとともに自由空間に相当する領域の受光レベルが飽和しないように可変設定する第１の制御手段」に関し，
　本願補正発明では「調整する手段の設定値」が「増幅器のゲインおよび／またはバイアス」であって，「飽和」が「増幅器」における飽和であるのに対し，引用発明では「調整する手段の設定値」が「光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値」であって，「飽和」が「ＣＣＤ素子」における飽和である点。
（相違点３）
　「装置」が，本願補正発明では「エッジ検出装置」であるのに対し，引用発明では「蒸着フィルムの測定装置」である点。
　
（４）判断
　上記各相違点につき検討する。
　
　まず，（相違点１）と（相違点２）についてまとめて検討する。
　引用発明のラインセンサの出力信号のような各種信号のレベルを調整するために増幅器を用いることは信号処理の技術分野における常套手段であり，引用発明において「ラインセンサカメラ２２の光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値を調整」することでラインセンサの出力信号を調整することに代え，本願補正発明のように「ラインセンサの出力信号を増幅する増幅器」で調整するようにすることは，当業者が必要に応じて適宜なし得たものである。
　また，引用発明では「ラインセンサカメラ２２の光信号蓄積時間およびカメラレンズの絞り値」の設定によりラインセンサの出力信号レベルが設定されているが，このような出力信号レベルの設定を，増幅器ではゲイン設定により行うことは技術常識であり，本願補正発明の「増幅器のゲインおよび／またはバイアス」を「可変設定する」ことが増幅器のゲインのみを可変設定することを含むことは明らかであるから，「調整する手段の設定値」として本願補正発明のように「増幅器のゲインおよび／またはバイアス」を採用することは当業者であれば適宜なし得ることである。
　さらに，「受光レベル」の「飽和」に関し，引用発明において「カメラのＣＣＤ素子が飽和する強度の４０〜１００％の範囲内になるように」するのは，最大の受光レベル（出力信号が最大の時）においてもラインセンサの出力信号を正確なものとするためであることは明らかであるところ，本願補正発明のように「ラインセンサの出力信号を増幅する増幅器」で出力信号を調整する場合，ラインセンサの出力信号を正確なものとするために増幅器の出力が「飽和」しないようにそのゲイン設定を行うことは当業者であれば容易に想到し得ることである。
　
　従って，上記（相違点１）及び（相違点２）はいずれも格別の相違とすることはできない。
　
　次に，（相違点３）につき検討する。
　引用発明の「フィルム測定装置」は，「フィルムの左右両エッジの位置」及び「蒸着部・マージン部の変化点位置」を検出・測定しているから，検出対象物のエッジ位置を検出しており，そのような装置を本願補正発明のように「エッジ位置検出装置」と称することに何ら困難性はない。
　
　また，本願補正発明の作用効果も，当業者が予測可能なものであって，格別なものではない。
　
（５）まとめ
　以上のとおり，本願補正発明は，引用発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。
　したがって，本件補正は，平成１８年法律第５５号改正附則第３条第１項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前の特許法第１７条の２第５項において準用する同法第１２６条第５項の規定に違反するので，同法第１５９条第１項において読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下すべきものである。
　
３．本願発明について
（１）本願発明
　本件補正は上記のとおり却下されたので，本願の請求項１ないし５に係る発明は，補正１によって補正された特許請求の範囲の請求項１ないし５に記載された事項により特定されるとおりのものと認められるところ，その請求項１に係る発明は次のとおりである。
「透過照明された検出対象物を結像光学系を介して撮像するラインセンサと，このラインセンサの出力レベルを弁別して前記ラインセンサの画素セル配列方向における前記検出対象物のエッジ位置を検出する信号処理手段とを備えたエッジ検出装置であって，
　前記信号処理手段は，前記ラインセンサの出力信号を増幅する増幅器と，
　前記増幅器の出力信号レベルを互いに異なる複数の弁別閾値にてそれぞれ弁別する弁別器と，
　前記増幅器のゲインおよび／またはバイアスを可変設定する第１の制御手段と，
　前記弁別器の弁別閾値を可変設定する第２の制御手段と，
　前記ラインセンサからの信号読み出し位置に応じた前記弁別器による弁別結果から，前記検出対象物における複数のエッジ位置を並列に検出するエッジ位置検出手段と，を備える，ことを特徴とするエッジ検出装置。」（以下，「本願発明」という。）
　
（２）引用例記載の事項・引用発明
　原査定の拒絶の理由に引用された引用例記載の事項及び引用発明は，前記「２．（２）引用例記載の事項・引用発明」に記載したとおりである。
　
（３）対比・判断
　本願発明は，前記「２．（１）補正の内容」で検討したとおり，本願補正発明から本件補正に係る限定を省いたものである。
　そうすると，本願発明の構成に当該本件補正に係る限定を付加した本願補正発明が，前記「２．（３）対比」，「２．（４）判断」で説示したとおり引用発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，本願発明も同様の理由により，引用発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
　
（４）むすび
　以上のとおり，本願発明は，引用発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって，他の請求項に係る発明について審理するまでもなく，本願は拒絶すべきものである。
　よって，結論のとおり審決する。