【事件の表示】
　平成　３年特許願第１１３６２８号「２次元電磁界強度測定装置」拒絶査定に対する審判事件［平成　４年　８月１９日出願公開、特開平　４−２３０８７４］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯・本願発明
　本願は平成３年５月２０日（優先権主張平成２年６月１８日）の出願であって、その請求項１に係る発明は、平成１１年３月２日付け手続補正書で補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１に記載された次のとおりのものと認める。
　
「【請求項１】　電子機器から放射される雑音電波の電磁界のうちの磁界及び電界の少なくとも一方の強度の２次元平面上の強度分布を測定する２次元電磁界強度測定装置であって、
　各々が前記電界および磁界の少なくとも一方を検出する複数の検出手段と、
　検出された電界および磁界の少なくとも一方から指定周波数の成分を抽出し、前記指定周波数の電界および磁界の少なくとも一方の強度を表わす強度信号を出力する選択受信手段と、
　前記複数の検出手段を前記２次元平面上で機構的に走査する２次元走査手段と、
　前記強度信号をデジタル処理して前記２次元平面上の前記電界および磁界の少なくとも一方の強度分布を表す強度分布信号を出力する処理手段と
　を有することを特徴とする２次元電磁界強度測定装置において、
　前記処理手段は、
　前記強度信号から電界および磁界の少なくとも一方の強度を計算し、計算された前記電界および磁界の少なくとも一方の強度を複数の強度区分帯に区分する計算手段と、
　区分された前記電界および磁界の少なくとも一方の強度に対応する前記検出手段の位置を示す位置データを作成する位置データ作成手段と
　を有し、前記区分された電界および磁界の少なくとも一方の強度と前記位置データを前記強度分布信号として出力することを特徴とする２次元電磁界強度測定装置。」
　
２．引用例の記載事項
　これに対して、原査定の拒絶理由に引用された特開昭６４−６５４６６公報（以下、引用例１という。）には、図面とともに以下の事項が記載されている。
「電子機器を横断する面を想定し、該平面と平行の関係にある任意の平面上をアンテナでスキャンし、電磁界ノイズの強度及び発生部位をサンプリングすることにより前記設定した平面から前記電子機器を見た場合の電磁界ノイズの発生分布図を等高線図として表現することを特徴とした電磁界ノイズの発生部位識別方法。」（特許請求の範囲）
「本発明は、電子機器例えばパーソナルコンピュータ、ワードプロセッサ等から発生する電磁界ノイズ強度の測定及び発生箇所の識別方法に関するものである。」（第１頁左下欄第１４〜１７行）
「本発明は、上述従来例の欠点を除去するために、アンテナスキャンをもとに、被測定物を任意の方向に切断した断面と平行の関係にある平面Ａから前記被測定物を眺めた発生ノイズ強度分布を平面Ａ上に等高線表示することにより、発生ノイズ部位を定量的且つ正確に認識することが可能となる。」（第１頁右下欄第９行〜１５行）
「第１図、第２図は本発明の実施例であり、第１図は測定手段を表わしたもので、第２図は本発明の概要を示すフローチャートである。
　第１図で１は被測定物、２は被測定物の任意の断面と平行線上にあるアンテナスキャンのための平面、３はアンテナ、４はスペクトラムアナライザ、５はｘｙプロッタ出力、６はスペクトラムアナライザ４（以後スペアナと称す）及びアンテナ３のコントローラである。ｌ１はアンテナから出力される電磁界ノイズ信号、ｌ２はスペアナ４より送られる周波数及び電磁界ノイズ強度信号、ｌ３はコントローラ６がアンテナをスキャン駆動させるためのコントロールラインであり、ｌ４はｘｙプロット出力信号である。」（第１頁右下欄第１７行〜第２頁左上欄第１０行）
「今、第２図のフローに従って処理ａによって平面２が設定され、且つ目的とする周波数ｆNの設定が処理ｂに従い、コントローラ６によって行われる。
　次に、コントローラ６は処理ｃ〜ｆに従い、アンテナ３を先ず平面２のｘ方向、次に平面２のｙ方向にスキャンし、それぞれｘo〜ｘn，ｙo〜ｙnのｎ×２ポイントのサンプリングを行う。この時、発生ノイズ信号Ｎはｌ１，スペアナ４，ｌ２を通り、コントローラ６に発生ノイズ強度Ｎ［ｄＢ］として伝達される。ｘ又はｙ方向のスキャンはコントローラが随時、ｌ３をコントロールしアンテナを移動させる。このようにしてサンプリングされたｎ×２個のデータは処理ｇに従い、ｎ×ｎ個のデータとしてコントローラに格納される。コントローラ６はｎ×ｎ個のデータを同一の電磁界強度値を持ついくつかのグループに分類し同一値を持つものを（ｘ，ｙ）平面上で結線していく。すなわち処理ｈの変行で第１図の５に示すような電磁界強度分布の等高線表示になる。なお上述の各ステップは不図示のＣＰＵの制御の元に行われることは言うまでもない。この結果、測定者は最も電磁界強度の大きい部位を正確に知ることが可能となる。」（第２頁左上欄第１１行〜同頁右上欄第１４行）
　また、同じく、実願昭６３−１０７２５９号（実開平２−２７５７９号）のマイクロフィルム（以下、引用例２という。）には、図面とともに以下の事項が記載されている。
「被測定物が発生する磁界を測定するための装置であって、
　前記被測定物に非接触で、かつ、該被測定物に対して、ＸＹの二次元方向に走査される近磁界センサと、
　前記近磁界センサの出力に基づいて、前記被測定物の磁界強度分布を表示する表示手段を備えることを特徴とする磁界測定装置。」（実用新案登録請求の範囲）
「本考案は、各種の電子機器などが発生する磁界を測定してその発生部分を特定するための磁界測定装置に関する。」（第１頁第１５〜１７行）
「この実施例の磁界測定装置は、基本的に、被測定物であるプリント配線基板１に非接触で、かつ、プリント配線基板１に対してＸ，Ｙの二次元方向に仮想線で示されるように走査される近磁界センサ２と、この近磁界センサ２の出力に基づいて、プリント配線基板１の磁界強度の分布を輝度レベルで表示する表示手段３とを備えている。
　近磁界センサ２は、Ｘ方向制御機構７と、Ｙ方向制御機構８とから成るＸＹ走査装置９によって、矢符Ａ，Ｂで示されるように、プリント配線基板１に対して二次元走査される。
　この実施例では、近磁界センサ２は、第２図に示されるように、Ｘ方向に沿って所定の傾斜をもって配置された２つの第１，第２センサ２ａ，２ｂから構成されており、このように２つのセンサ２ａ，２ｂを用いることによって、単一のセンサの場合よりも高い精度の測定が可能となる。」（第４頁第１６行〜第５頁第１２行）
「上記構成を有する磁界測定装置では、ＸＹ走査装置９によって近磁界センサ２をプリント配線基板１に非接触で、かつ、二次元方向に走査し、この近磁界センサ２によって測定された磁界強度、この実施例では、２つのセンサ２ａ，２ｂの磁界強度の平均値をコンピュータ５で算出し、その測定位置の磁界強度を輝度レベルに対応させてディスプレイ４に表示する。」（第５頁第２０行〜第６頁第７行）
　
３．対比・判断
　そこで、請求項１に係る発明と引用例１記載の発明を対比する。
(１)引用例１の「被測定物」、「アンテナ」、「コントローラ」は、それぞれ請求項１に係る発明の「電子機器」、「検出手段」、「処理手段」に相当することは明らかである。
(２)引用例１には、「目的とする周波数ｆNの設定が処理ｂに従い、コントローラ６によって行われる。」，「この時発生ノイズ信号Ｎはｌ１，スペアナ４，ｌ２を通り、コントローラ６に発生ノイズ強度Ｎ［ｄＢ］として伝達される。」との記載があるから、引用例１記載の発明は「検出された電界および磁界の少なくとも一方から指定周波数の成分を抽出し、前記指定周波数の電界および磁界の少なくとも一方の強度を表わす強度信号を出力する選択受信手段」を有するものである。
(３)引用例１には、「２は被測定物の任意の断面と平行線上にあるアンテナスキャンのための平面、」，「ｌ３はコントローラ６がアンテナをスキャン駆動させるためのコントロールラインであり、」，「次に、コントローラ６は処理ｃ〜ｆに従い、アンテナ３を先ず平面２のｘ方向、次に平面２のｙ方向にスキャンし、」，「ｘ又はｙ方向のスキャンはコントローラが随時、ｌ３をコントロールしアンテナを移動させる。」との記載があるから、引用例１記載の発明は「検出手段を２次元平面上で機構的に走査する２次元走査手段」を有するものである。
(４)引用例１には、「この時発生ノイズ信号Ｎはｌ１，スペアナ４，ｌ２を通り、コントローラ６に発生ノイズ強度Ｎ［ｄＢ］として伝達される。ｘ又はｙ方向のスキャンはコントローラが随時、ｌ３をコントロールしアンテナを移動させる。このようにしてサンプリングされたｎ×２個のデータは処理ｇに従い、ｎ×ｎ個のデータとしてコントローラに格納される。コントローラ６はｎ×ｎ個のデータを同一の電磁界強度値をもついくつかのグループに分類し同一値をもつものを（ｘ，ｙ）平面上で結線していく。すなわち処理ｈの変行で第１図の５に示すような電磁界強度分布の等高線表示になる。」との記載及び第２図のフローチャートの記載より、コントローラは、アンテナをスキャンして得られたｎ×ｎ個の電磁界強度データをアンテナのスキャン位置データと併せて記憶するとともに、ｘｙプロッタに等高線表示するためにアンテナのスキャン位置データと併せて前記電磁界強度データを複数の強度区分に区分してｘｙプロッタに出力することが理解できる。
　そして、上記等高線表示の間の領域が他の領域と異なる強度の領域であることは明らかであって、これを「強度区分帯」と言いうることは明らかである。
　よって、コントローラは「強度信号から電界および磁界の少なくとも一方の強度を計算し、計算された前記電界および磁界の少なくとも一方の強度を複数の強度区分帯に区分する計算手段と、
　区分された前記電界および磁界の少なくとも一方の強度に対応する前記検出手段の位置を示す位置データを作成する位置データ作成手段と
　を有し、前記区分された電界および磁界の少なくとも一方の強度と前記位置データを前記強度分布信号として出力する」ものであることは明らかである。
　上記(１)〜(４)の考察より、両者は、
「被測定物から放射される雑音電波の電磁界のうちの磁界及び電界の少なくとも一方の強度の２次元平面上の強度分布を測定する２次元電磁界強度測定装置であって、
　前記電界および磁界の少なくとも一方を検出する検出手段と、
　検出された電界および磁界の少なくとも一方から指定周波数の成分を抽出し、前記指定周波数の電界および磁界の少なくとも一方の強度を表わす強度信号を出力する選択受信手段と、
　前記検出手段を前記２次元平面上で機構的に走査する２次元走査手段と、
　前記強度信号をデジタル処理して前記２次元平面上の前記電界および磁界の少なくとも一方の強度分布を表す強度分布信号を出力する処理手段と
　を有することを特徴とする２次元電磁界強度測定装置において、
　前記処理手段は、
　前記強度信号から電界および磁界の少なくとも一方の強度を計算し、計算された前記電界および磁界の少なくとも一方の強度を複数の強度区分帯に区分する計算手段と、
　区分された前記電界および磁界の少なくとも一方の強度に対応する前記検出手段の位置を示す位置データを作成する位置データ作成手段と
　を有し、前記区分された電界および磁界の少なくとも一方の強度と前記位置データを前記強度分布信号として出力することを特徴とする２次元電磁界強度測定装置。」である点で一致し、以下の相違点で相違する。
（相違点）
　請求項１に係る発明は、検出手段を複数有しているのに対し、引用例１記載の発明は、検出手段（アンテナ）を１つしか有していない点
　上記相違点について検討する。
　引用例２には、被測定物が発生する磁界を測定するための装置において、前記被測定物に対して、ＸＹの二次元方向に走査される近磁界センサを２つのセンサより構成することが記載されているから、引用例１の検出手段を複数とすることにより、上記相違点の構成とすることは当業者が容易に成し得るものである。
　なお、請求人は、審判請求書において、上記相違点の構成により、検出手段１個のみで測定する場合に比べ電磁界強度分布の測定時間（スキャン時間）の短縮が可能となること、各検出手段として、互いに異なるものを用いることにより、異なる種類のデータを１回の測定で同時に収集することが可能になること、複数の検出手段として２次元走査手段に対する取り付け角度の違う２つの磁界プローブを用いることもでき、この場合、磁界強度分布のみならず、磁界ベクトルの方向の分布をも測定することが可能となること、を主張しているが、単に検出手段を１個から複数にしただけでは上記の効果が得られるものではないから、該主張は特許請求の範囲（請求項１）の記載に基づかないものであって採用するに足らないものである。
　そして、請求項１に係る発明が奏する作用効果も引用例１，２に基づき当業者が予測し得る程度のものにすぎない。
　
４．むすび
  以上のとおりであるから、請求項１に係る発明は、引用例１，２に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。