【事件の表示】
　平成　７年特許願第３２３６２４号「テストパターン生成方式」拒絶査定に対する審判事件［平成　９年　６月　６日出願公開、特開平　９−１４５８００］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
１．手続の経緯・本願発明
　　本願は平成７年１１月１７日の出願であって、その請求項に係る発明は、平成１０年６月２２日付け手続補正書で補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲に記載されたとおりのものと認められるところ、請求項１に係る発明（以下、本願発明という。）は次のとおりである。
　
「【請求項１】
　(a)テストパターンの生成対象である回路のうち検出したい故障を選択する工程と、
　(b)前記工程(a)で決定した全ての故障のうち目標の故障を選択する工程と、
　(c)前記目標の故障を検出するテストパターンを一つ生成する工程と、
　(d)前記工程(a)で選択した全ての故障に対してそれぞれ前記工程(c)で生成した一つのテストパターンの故障シミュレーションを行う工程と、
　(e)前記テストパターンで検出できない故障を目標の故障とする工程と、
　を含み、
　前記工程(c)から(e)を繰り返すことにより、前記工程(a)で決定された全ての故障を検出するテストパターンを生成することを特徴とするテストパターン生成方法。」
　
２．引用例の記載事項
　これに対して、原査定の拒絶理由に引用された特開平５−３４１０１１公報（以下、引用例という。）には、図面とともに以下の事項が記載されている。
「【０００１】
　【産業上の利用分野】
　本発明は半導体集積回路のテスト生成方法に関する。」（第２頁左欄第１３〜１５行）
「【０００２】
【従来の技術】
　一般にテスト生成方法は、回路図に定義された１つの故障を検出するパターンを生成する「テストパターン生成」と、あるパターンによって検出される故障を求める「故障シミュレーション」とを組み合わせて行われる。
【０００３】
　従来の一般的なテスト生成方法を図２を用いて説明する。
　まず始めにステップ２０１でテスト生成を行う回路の故障表を作成する。ステップ２０２で全ての故障について検出したかを判断し、そうでなければ、ステップ２０３でその故障表の中から１個の故障を取り出す。その時点までに生成されたテストパターンが、その故障の検出をしていない場合（ステップ２０４）、ステップ２０５でその故障を検出するパターンを生成する。ステップ２０７でそのパターンによって検出できる故障を故障シミュレーションによって求め、ステップ２０８でその結果を故障表に記録する。この手続きをすべての故障に対して繰り返し行う。一般に、１個の故障を検出するためのパターンは、１通りではなく複数通り存在することが多く、また、生成されたテストパターンが１個の故障だけでなく、複数個の故障を検出できることが多い。したがって、ステップ２０５でテストパターン生成されたパターン数は複数存在する可能性がある（ステップ２０６）。この場合、ステップ２０９で複数のテストパターンの中からランダムに１つのパターンを選んでその故障に対するテストパターンとするのが一般的な方法である。
【０００４】
　またこの方法とは別に、テストパターン生成手法の中に故障シミュレーション手法の一部を取り込むことで、テストパターン生成と故障シミュレーションを同時に進める方法もある（文献：高松、樹下「組合せ回路における同時検査入力生成アルゴリズム」、設計自動化研究会論文誌36-3(1988)）。」（第２頁左欄第１６〜４８行）
「【００１８】
　以下、比較のため従来のテスト生成方法を、図２の流れ図に沿って図３に示す回路を用いて説明する。まずステップ２０１で図３の回路の故障表を作成する。故障表は（表１）と同様である。
【００１９】
　次にステップ２０２で全ての故障について検出したかを判断し、そうでなければ、ステップ１０３で故障表の中からa1の0の縮退故障（以下、a1/0と示す）を取り出し、テストパターンを生成する目標とする。その目標故障a1/0はまだ検出されていないので（ステップ２０４）、ステップ２０５で目標故障a1/0を検出するパターンを生成する。このとき生成されるパターンは、(x1,x2,y1,y2)＝(1,0,0,0), (1,0,0,1)の２本なので（ステップ２０６）、この２本のパターンのうち、パターン(1,0,0,0)を目標故障a1/0に対するテストパターンとする。この選択はステップ２０９でランダム（無作為）に決定される。
【００２０】
　次にステップ２０７でパターン(1,0,0,0)によって検出できる故障を故障シミュレーションによって求める。このとき故障シミュレーションの対象となる故障は、故障表中でまだ検出されていない故障である。その結果このパターン(1,0,0,0)によって{a1/0,c/0,c1/0,e/1,x1/0,y1/1,z/0}の計７個の故障が検出できることがわかる。ステップ２０６でこの結果を故障表に記録する。故障表は（表２）と同様である。
【００２１】
　次に、ステップ２０３で目標故障a1/1について処理を行なう。その目標故障a1/1はまだ検出されていないので、目標故障a1/1を検出するパターンを生成し、そのパターンを用いて故障シミュレーションを行なう（ステップ２０５〜２０９）。このとき生成されるパターンは、(x1,x2,y1,y2)＝(0,0,0,0), (0,0,0,1)の２本なので（ステップ２０６）、この２本のパターンのうち、パターン(0,0,0,0)を目標故障a1/1に対するテストパターンとする。この選択はステップ２０９でランダム（無作為）に決定される。
【００２２】
　ステップ２０７ではパターン(0,0,0,0)によって検出できる故障を故障シミュレーションによって求める。このとき故障シミュレーションの対象となる故障は、故障表中でまだ検出されていない故障である。その結果このパターン(0,0,0,0)によって{a1/1,e/0,f/0,g/0,x1/1,z/1}の計６個の故障が検出できることがわかる。ステップ２０８でこの結果を故障表に記録する。
【００２３】
　このような処理をすべての故障について繰り返し行ない、図３の回路に対するテストパターンを生成する。この処理の過程を（表４）に示す。この方法によって生成される図３のテストパターンは{(1,0,0,0),(0,0,0,0),(1,1,1,0),(0,1,0,0),(0,1,0,1),(0,0,0,1),(1,0,1,0),(0,1,1,1),(1,1,1,1)}の９本となる。」（第４頁左欄第１行〜第５頁右欄１６行）
　図２からは、故障表の作成ステップ２０１、全ての故障について検出したか判断するステップ２０２、目標故障の決定ステップ２０３、目標故障は検出済みか判断するステップ２０４、目標故障を検出するパターン生成ステップ２０５、パターンが１通りか判断するステップ２０６、１個のパターンをランダムに選択するステップ２０９、故障シミュレーションステップ２０７、故障表の更新ステップ２０８、よりなるテスト生成方法がみてとれる。
　表１からは図３に示された回路の故障表がみてとれる。
　表４からは図３に示された回路を図２に示されたテスト生成方法によって処理することにより、{(1,0,0,0),(0,0,0,0),(1,1,1,0),(0,1,0,0),(0,1,0,1),(0,0,0,1),(1,0,1,0),(0,1,1,1),(1,1,1,1)}の９本のテストパターンが生成されることがみてとれる。
　
３．対比・判断
　本願発明と引用例の従来技術として記載されたもの（図２、段落【０００２】〜【０００４】、【００１８】〜【００２３】）とを対比する。
（１）引用例の「目標故障の決定ステップ２０３」、「故障シミュレーションステップ２０７」、「故障表の更新ステップ２０８」、「テスト生成方法」は、それぞれ本願発明の、「(b)決定した全ての故障のうち目標の故障を選択する工程」、「(d)全ての故障に対してそれぞれ前記工程(c)で生成した一つのテストパターンの故障シミュレーションを行う工程」、「(e)前記テストパターンで検出できない故障を目標の故障とする工程」、「テストパターン生成方法」に相当することは明らかである。
（２）引用例には、「まず始めにステップ２０１でテスト生成を行う回路の故障表を作成する。」と記載されており、該記載の「テスト生成を行う回路」は本願発明の「テストパターンの生成対象である回路」に相当し、また「故障表を作成」は「検出したい故障を選択」に相当するから、引用例の「ステップ２０１」は本願発明の「テストパターンの生成対象である回路のうち検出したい故障を選択する工程」に相当する。
（３）引用例の「目標故障を検出するパターン生成ステップ２０５、パターンが１通りか判断するステップ２０６、１個のパターンをランダムに選択するステップ２０９」は、目標故障に対して複数のテストパターンが存在する場合でも最終的には１つのテストパターンを選択することは明らかであるから、本願発明の「(c)前記目標の故障を検出するテストパターンを一つ生成する工程」に相当するものである。
（４）引用例には、「全ての故障について検出したか判断するステップ２０２」が記載されており、また「このような処理をすべての故障について繰り返し行ない、図３の回路に対するテストパターンを生成する。この処理の過程を（表４）に示す。この方法によって生成される図３のテストパターンは・・・の９本となる。」と記載されていることから、引用例のものは、テストパターン生成、故障シミュレーション、故障表の更新及び目標故障の決定、というステップを全ての故障について検出するまで繰り返すことにより、前記全ての故障を検出するテストパターンが生成されることが理解できるから、引用例には、本願発明の「前記工程(c)から(e)を繰り返すことにより、全ての故障を検出するテストパターンを生成する」ことが記載されている。
　
上記考察（１）〜（４）より、両者は、
「(a)テストパターンの生成対象である回路のうち検出したい故障を選択する工程と、
　(b)決定した全ての故障のうち目標の故障を選択する工程と、
　(c)前記目標の故障を検出するテストパターンを一つ生成する工程と、
　(d)全ての故障に対してそれぞれ前記工程(c)で生成した一つのテストパターンの故障シミュレーションを行う工程と、
　(e)前記テストパターンで検出できない故障を目標の故障とする工程と、
　を含み、
　前記工程(c)から(e)を繰り返すことにより、前記工程(a)で決定された全ての故障を検出するテストパターンを生成するテストパターン生成方法」との全ての点で一致し、両者に構成上の差異はない。
　
　なお、引用例は出願人が先行技術としても引用し、さらに原査定の拒絶理由において引用したものである。そして本件審判の請求にあたっては、引用例の記載事項について漏れなく検討することを要するとともに、引用例との進歩性の検討ばかりでなく、新規性についても当然検討されるべきものである。
　しかも引用例に基づく拒絶理由に対し、意見陳述の機会が出願人に既に与えられているのであるから、原審における容易との拒絶理由に対して、上述のとおり判断した。
　
４．むすび
  したがって、本願発明は引用例に記載された発明であるから、特許法第２９条第１項第３号の規定により特許を受けることができない。
　よって、結論のとおり審決する。