【事件の表示】
　特願２０１３−　３８５３３「積層セラミックコンデンサ及びその製造方法」拒絶査定不服審判事件〔平成２５年１１月１４日出願公開、特開２０１３−２３２６２７〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
【第１】経緯  
 　  
［１］手続の概要
　本願は、平成２５年２月２８日（優先権主張平成２４年３月３０日）の出願であって、手続の概要は以下のとおりである。
　
　拒絶理由通知　　　　　　　：平成２５年　３月２１日（起案日）
　意見書　　　　　　　　　　：平成２５年　４月１９日　
　手続補正　　　　　　　　　：平成２５年　４月１９日　
　拒絶理由通知（最後）　　　：平成２５年　５月　７日（起案日）
　意見書　　　　　　　　　　：平成２５年　６月１３日　
　手続補正　　　　　　　　　：平成２５年　６月１３日　
　補正の却下の決定　　　　　：平成２５年　７月　５日（起案日）
　拒絶査定　　　　　　　　　：平成２５年　７月　５日（起案日）
　拒絶査定不服審判請求　　　：平成２５年１０月　４日
　　 
［２］査定  
　原審での査定の理由は、平成２５年５月７日付け拒絶理由通知書に記載した理由とするものであり、概略、以下のとおりである。  
　
〈査定の理由〉 　  
　本願の各請求項に係る発明は、下記の刊行物１〜６に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により、特許を受けることができない。  
　　　　　記（刊行物）  
　刊行物１：特開２００２−３４３６６９号公報
　刊行物２：特開２０００−２６９０６６号公報
　刊行物３：特開２００４−２５９５００号公報
　刊行物４：特開２０１０−２１２５０３号公報
　刊行物５：特開２０１０−６７７２１号公報
　刊行物６：特開２００７−２２８２９号公報
　
【第２】本願発明
　平成２５年６月１３日付けの補正は、平成２５年７月５日付けで却下の決定がなされているから、本願の請求項１〜４に係る各発明は、出願当初の特許請求の範囲，明細書及び図面の記載、及び平成２５年４月１９日付け手続補正書の特許請求の範囲の記載からみて、それぞれ、同手続補正書の特許請求の範囲の請求項１〜４に記載した事項により特定されるとおりのものと認められるところ、そのうち、請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、下記のとおりのものである。
　　　　　　記（本願発明）
　誘電体層と内部電極層とが交互に積層されてなる積層セラミックコンデンサであって、
　前記誘電体層を構成する誘電体粒子が一層一粒子で存在する割合が５０％よりも大きく、前記内部電極層は、その層厚を分断するように存在する粒界によって区切られた電極粒子で構成されており、前記電極粒子の最大厚さに対する当該厚さ方向に直交する最大長さの比である電極粒子アスペクト比の平均値が３よりも大きい、積層セラミックコンデンサ。　
　
【第３】当審の判断  
 　 
［１］引用刊行物の記載 
　 
［１-１］刊行物１：特開２００２−３４３６６９号公報
　原査定の拒絶理由に引用された刊行物１には、以下の記載（下線は、注目箇所を示すために当審で施したものである。）が認められる。
　
　(K1)〈請求項１〉
【請求項１】  誘電体層と内部電極層とを有する積層セラミック電子部品であって、
前記内部電極層が、前記誘電体層と平行な方向に連なって配置された導電材粒子を含み、
前記導電材粒子が、前記誘電体層と平行な方向の第１平均粒径（Ｒ１）と、前記誘電体層と垂直な方向の第２平均粒径（Ｒ２）とを有し、
前記第１平均粒径（Ｒ１）と前記第２平均粒径（Ｒ２）との比（Ｒ１／Ｒ２）が２以上である積層セラミック電子部品。」
　
　(K2)〈技術分野、従来の技術〉
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、
単位体積当たりの取得静電容量の低下が改善された積層セラミックコンデンサ
【０００２】
【従来の技術】積層セラミック電子部品の一例としての積層セラミックコンデンサの取得静電容量は、式（１）：「Ｃ＝ε０  ・εｒ  ×ｎ×（Ｓ／ｄ）」の関係にある。ただし、式（１）において、Ｃ：静電容量（Ｆ）、ε０  ：真空の誘電率、εｒ：誘電体材料の比誘電率、ｎ：層数、Ｓ：有効面積、ｄ：誘電体厚み、である。
【０００３】このため、コンデンサの取得静電容量を増加させるためには、誘電体厚みｄを薄くする、誘電体材料の比誘電率εｒ  を増加させる、有効面積Ｓを増加させる、誘電体層数ｎを増加させる、のいずれかの方法が考えられる。しかし、
小型で大容量を得る
誘電体厚みを薄層化するなどの手法がとられている。誘電体厚みの薄層化は、厚みばらつき等の問題から、その限界は１０μｍとも５μｍともいわれてきたが、最近では、製造技術の開発によりその限界を超えた薄層品も開発されるようになってきた
　
　(K3)〈課題〉
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、Ｎｉなどの卑金属を主成分とする内部電極は、誘電体材料の焼結の進行とともに太くなり、途切れていく傾向がある。このため、
積層セラミックコンデンサの厚み方向が内部電極の太りとともに膨張してしまう現象や、内部電極が途切れることにより、コンデンサの取得静電容量が低下するといった問題が生じた
【０００６】なお、特開２０００−２６９０６６号公報では、積層セラミックコンデンサの
内部電極を構成する導電材粒子が、一対の誘電体層間で１個ずつ連なって形成されている積層セラミックコンデンサ
導電材粒子の平均粒径がコンデンサのどのような特性に影響を与えるかについてまでは言及されておらず、これが今後の課題であった
【０００７】本発明の目的は、
単位体積当たりの取得静電容量を向上でき
小型化しても大容量を有し
信頼性の高い積層セラミックコンデンサ
　
　(K4)〈作用等〉
【００１５】
【作用】本発明者らは、誘電体層と、たとえばＮｉなどの卑金属で構成される導電材粒子を含む内部電極層とを、各々単独で焼成した場合と同時に焼成した場合とでは、異なる挙動を示すことを確認した。その原因としては、誘電体層と内部電極層とを同時に焼成した場合に、誘電体／導電材粒子の界面反応などの相互作用が関係していると推測される。このような現象を踏まえ、誘電体層と内部電極層とを同時に焼成した後の
導電材粒子を特定の粒径比に制御することにより
内部電極層の途切れが抑制され、これにより取得静電容量の低下を改善
など
品質のよいコンデンサ
【００１６】すなわち、本発明によれば、
導電材粒子を特定の粒径比に制御し、内部電極の途切れを抑制することによって、単位体積当たりの取得静電容量が増加し
小型化しても大容量を有し
界面の平滑性も向上するため、信頼性の高い積層セラミックコンデンサ
【００１７】内部電極層に含まれる導電材粒子を特定の粒径比に制御するには、焼成前の卑金属（たとえばＮｉ）粉末の特性、ペースト化したときの内部電極層ペースト組成、このペーストの印刷条件、焼成条件、誘電体の組成などの様々な条件を最適化し、これらを綿密に制御することで実現することができる。従って、本発明に係る積層セラミック電子部品の製造方法は特に限定されず、これらの各種諸条件を最適化することにより、焼成後の導電材粒子の状態を制御すればよい。
　
　(K5)〈実施の形態〉
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、本発明を、図面に示す実施形態に基づき説明する。図１は本発明の一実施形態に係る積層セラミックコンデンサの概略断面図、図２は図１に示す内部電極層の要部拡大断面図、
【００２０】図３（Ａ）〜（Ｃ）は実施例１のコンデンササンプルの断面および被覆面を示す顕微鏡写真、図４は実施例１のコンデンササンプルの断面研磨面の顕微鏡写真、図５（Ａ）〜（Ｃ）は比較例１のコンデンササンプルの断面および被覆面を示す顕微鏡写真、図６は比較例１のコンデンササンプルの断面研磨面の顕微鏡写真である。
【００２１】
図１に示すように、本発明の一実施形態に係る積層セラミックコンデンサ１は、誘電体層２と内部電極層３とが交互に積層されたコンデンサ素子本体１０を有する
　
　(K6)〈誘電体層の積層数、厚み等〉
【００２５】なお、誘電体層２の積層数や厚み等の諸条件は、目的や用途に応じ適宜決定すればよい。たとえば、
各誘電体層２の厚みは、通常３０μｍ以下、好ましくは１０μｍ以下、より好ましくは５μｍ以下、さらに好ましくは３μｍ以下であり、その下限は好ましくは０．２μｍ程度である
各誘電体層２の積層数は、好ましくは５０層以上、より好ましくは１００層以上、さらに好ましくは３００層以上である
【００２６】
図１〜２に示すように
内部電極層３は導電材粒子３ａを含有する。導電材粒子３ａは、誘電体層２と平行な方向に１個ずつ連なって配置して構成してある
　
　(K7)〈Ｒ１／Ｒ２、その作用、誘電体材料等〉
【００２８】本実施形態では、内部電極層３に含まれる導電材粒子３ａは、誘電体層２と平行な方向の第１平均粒径（Ｒ１）と、誘電体層２と垂直な方向の第２平均粒径（Ｒ２）とを有する。
第１平均粒径（Ｒ１）は、内部電極層３の厚みｄよりも大きいことが好ましく、たとえば２．５μｍ以上、好ましくは３μｍ以上である
第２平均粒径（Ｒ２）は、特に限定されないが、２μｍ以下が好ましく、より好ましくは１．６μｍ以下であり、下限は０．５μｍ程度である。これ以上薄いと、途切れの増加による容量の低下が著しくなる
【００２９】しかも本発明では、上述した
第１平均粒径（Ｒ１）と第２平均粒径（Ｒ２）との比（Ｒ１／Ｒ２）が２以上である。なお、第１平均粒径と第２平均粒径との比（Ｒ１／Ｒ２）が大きいほど取得静電容量は大きくなる
第１平均粒径と第２平均粒径との比（Ｒ１／Ｒ２）が小さい場合
焼成の際に内部電極層３が途切れやすく
粒子が球状化する傾向があり、取得静電容量が低下したり、ショート不良が増加する
【００３０】なお、第１平均粒子径（Ｒ１）は以下のように定義される。すなわち、図２に示す切断面において
誘電体層２間の中央部分に、誘電体層と略平行な直線Ｈを引き、この線と交差する導電材粒子３ａの数をｎ（ｎは１０以上）、線の長さをＬ１としたときＬ１／ｎを第１平均粒径（Ｒ１）とする
厚さｄ方向に対する各導電材粒子３ａの最大長さＬ２の平均値
　・・・（中略）・・・
　【００３４】誘電体原料には、前述した誘電体磁器組成物の組成に応じ、主成分を構成する原料と、副成分を構成する原料と、必要に応じて焼結助剤を構成する原料とが用いられる。
主成分を構成する原料としては、Ｔｉ，Ｂａ，Ｓｒ，Ｃａ，Ｚｒの酸化物および／または焼成により酸化物になる化合物が用いられる
　
　(K8)〈実施例〉
【００５５】
【実施例】本発明の実施の形態をより具体化した実施例を挙げ、本発明をさらに詳細に説明する。但し、本発明は、これらの実施例のみに限定されるものではない。
【００５６】実施例１
下記の手順で、２個の
積層セラミックコンデンサ
主成分原料としての母材原料（母材組成：（Ｂａ
０．９５
，Ｃａ
０．０５
）（Ｔｉ
０．８
  Ｚｒ
０．２
）Ｏ
３
 
　　　　　　・・・（中略）・・・
【００５７】平均粒径０．４μｍの
Ｎｉ粒子
【００５８】前記誘電体層ペーストを用いてＰＥＴフィルム上に、厚さ５μｍのグリーンシートを形成し、この上に前記内部電極層ペーストを所定パターンで印刷し乾燥させた。印刷・乾燥後の内部電極層ペーストの厚みは２μｍであった。その後、前記グリーンシートをＰＥＴフィルムから剥離した。これらの内部電極が印刷されたグリーンシートを複数枚積層し、加圧接着して積層体を得た。なお、
誘電体層２の積層数は１００層であった
【００６９】コンデンササンプルを、内部電極に垂直で、且つ両端子電極を通る断面で切断し、その切断面を顕微鏡（ＳＥＭ）で観察した。結果を図３（Ａ）〜図３（Ｃ）に示す。
【００７０】また、前記切断面を研磨し、サーマルエッチングしてその研磨面を顕微鏡（ＳＥＭ）で観察した。その結果を図４に示す。　・・・（以下略）
【００７１】その結果、導電材粒子の第１平均粒径（Ｒ１）は５．４μｍ、
第１平均粒径（Ｒ１）と第２平均粒径（Ｒ２）との比（Ｒ１／Ｒ２）は３．４、単位体積当たりの静電容量（Ｃ）は１２．４μＦであった
　
　(K9)〈表１〉
【００７８】【表１】には、
焼成後のＮｉ粒子のＲ１／Ｒ２が、
　（実施例１）３．４（R2:1.6μm）のとき、静電容量Ｃが１２．４μＦ、
　（比較例１）１．５（R2:1.8μm）のとき、静電容量Ｃが１１．６μＦ、
　（実施例２）２．０（R2:1.7μm）のとき、静電容量Ｃが１２．２μＦ、
　（比較例２）１．０（R2:1.9μm）のとき、静電容量Ｃが１１．０μＦ、
　（実施例３）２．７（R2:1.7μm）のとき、静電容量Ｃが１２．３μＦ、
　（比較例３）１．５（R2:1.7μm）のとき、静電容量Ｃが１１．５μＦ、
　であったことが　示されている。」
「【００７９】表１により、実施例１〜３と比較例１〜３とを比較して分かるように、導電材粒子の第１平均粒径と第２平均粒径との比（Ｒ１／Ｒ２）が２以上である場合に、単位体積当たりの取得静電容量を向上でき、小型化しても大容量を有し、信頼性の高い積層セラミックコンデンサを実現することができることが確認できた。
　
(K10)〈効果〉
【００８０】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれば、
単位体積当たりの取得静電容量を向上でき
小型化しても大容量を有し
信頼性の高い積層セラミックコンデンサ
　
［１-２］刊行物４：特開２０１０−２１２５０３号公報
　同じく、原査定の拒絶理由に引用された刊行物４には、以下の記載（下線は、注目箇所を示すために当審で施したものである。）が認められる。
　
　(L1)〈請求項１〉
【請求項１】
  積層された複数の誘電体セラミック層および誘電体セラミック層間の特定の界面に沿って形成された内部電極を含む積層体と、内部電極の特定のものに電気的に接続されるように積層体の外表面上に形成された外部電極とを備える、積層セラミックコンデンサにおいて、
  前記積層セラミックコンデンサの断面を観察したとき、
隣り合う二つの内部電極に接する結晶粒子の個数割合が５０％以上
  前記誘電体セラミックがＢａＴｉＯ3系ペロブスカイト化合物を主成分とし、Ｃａ、Ｍｎ、Ｖから選ばれる少なくとも一種を含む組成を有することを特徴とする、積層セラミックコンデンサ。
　【請求項２】
  前記主成分が
（Ｂａ，Ｃａ）ＴｉＯ3
　
　(L2)〈技術分野、背景技術，従来の技術〉
【技術分野】
【０００１】
  この発明は、積層セラミックコンデンサに関するもので、特に、
小型・大容量
一層あたりの誘電体セラミック層厚みが薄い薄層型の積層セラミックコンデンサ
　・・・（中略）・・・
【０００８】
  近年においては、積層セラミックコンデンサの
小型・大容量化
誘電体セラミック層一層あたりの厚みが２μｍ以下と薄くなってきている
薄層化が進むと、積層セラミックコンデンサとしての絶縁性
誘電体セラミック層を構成する結晶粒子を小さくし、結晶粒界の絶縁性を高めることが考えられる
誘電率が低くなるなどの弊害がある
よって、できる限り誘電率を確保しつつ、ある程度の絶縁性、寿命特性も確保したい
【０００９】
  そこで、
特許文献１
誘電体セラミック層一層中に一のセラミック粒子で形成されている一層一粒子の部分の割合
誘電体セラミック層の厚みに同程度に結晶粒子の径を大きくすることにより、絶縁性を確保できる旨が記されている
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開平１１−３１７３２２号公報
　
　(L3)〈課題〉
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
  しかしながら、特許文献１における積層セラミックコンデンサにおいては、
絶縁性や負荷試験時における寿命特性がまだまだ不十分である
【００１３】
  そこで、この発明の目的は、薄層の積層セラミックコンデンサにおいて、
ある程度の大きさの結晶粒子径を確保しながらも
高い絶縁性
　
　(L4)
【課題を解決するための手段】
【００１４】
  すなわち本発明は、積層された複数の誘電体セラミック層および誘電体セラミック層間の特定の界面に沿って形成された内部電極を含む積層体と、内部電極の特定のものに電気的に接続されるように積層体の外表面上に形成された外部電極とを備える、積層セラミックコンデンサにおいて、前記積層セラミックコンデンサの断面を観察したとき、
隣り合う二つの内部電極に接する結晶粒子の個数割合が５０％以上であり
【００１５】
  また本発明は、前記
主成分が（Ｂａ，Ｃａ）ＴｉＯ3であることが好ましい
　
　(L5)
【発明の効果】
【００１８】
  本発明の積層セラミックコンデンサにおいては、誘電体セラミック層が１つの結晶粒子から構成されている箇所が多いため、寿命特性には殆ど結晶粒界の特性は影響せず、結晶粒子自体の特性が影響する。このとき、誘電体セラミックの主成分ＢａＴｉＯ3系に対し、
Ｃａ、Ｍｎ、Ｖの少なくとも一種が含まれることで、結晶粒子自体の絶縁性および寿命特性が非常に高く向上する
特に、Ｃａが結晶粒子に均一に固溶した（Ｂａ，Ｃａ）ＴｉＯ3である場合、高い絶縁性と寿命特性を有する
　
　(L6)〈実施の形態〉
【００２２】
  図１は、この発明の一実施形態による積層セラミックコンデンサ１を示す断面図である。
【００２３】
  積層セラミックコンデンサ１は、積層体２を備えている。積層体２は、積層された複数の誘電体セラミック層３と、複数の誘電体セラミック層３間の特定の複数の界面に沿ってそれぞれ形成された複数の内部電極４および５とをもって構成されている。
　・・・（中略）・・・
【００２７】
  本発明の積層セラミックコンデンサの断面を観察したとき、
隣り合う二つの内部電極に接する結晶粒子の個数割合が５０％以上である
誘電体セラミック層一層が結晶粒子１個で構成されている箇所が５０％以上ある
結晶粒界の占める面積が非常に少なくなっている
個数割合は本発明を損なわない限り高いことが望ましく、８０％以上であるとさらに本発明の効果が顕著になる
【００２８】
  本発明において、誘電体セラミックの組成は、ＢａＴｉＯ3系ペロブスカイト化合物を主成分とし、Ｃａ、Ｍｎ、Ｖから選ばれる少なくとも一種を含む。これらの成分は、結晶粒界に若干位置することもあるが、大部分が結晶粒子の内部に固溶する。
これらの副成分が、結晶粒子における酸素空孔の電界印加による移動を抑制し、結晶粒子自体の信頼性を大きく向上させるものと考えられる
この作用効果は、主成分が（Ｂａ，Ｃａ）ＴｉＯ3であるとき、より大きくなる
【００２９】
  また、結晶粒子が、積層方向に短い扁平状の形状を有していて、そのアスペクト比が１．５以上、より好ましくは２以上の偏平形状である場合、結晶粒界の占める面積がさらに少なくなる。このような偏平形状の結晶粒子を得るには、
内部電極の厚みを誘電体セラミック層の厚みの０．７５倍以上程度にしておき、かつ１μｍ以上にすることが有効である
　
　(L7)〈実施例〉
【００３２】
  ［実験例１］まず、主成分の出発原料として、固相法によって合成した３種類のＢａＴｉＯ3系粉末を用意した。この３種類は組成が互いに異なり、それぞれ、試料１：ＢａＴｉＯ3、試料２：（Ｂａ0.95Ｃａ0.05）ＴｉＯ3、試料３：（Ｂａ0.90Ｃａ0.10）ＴｉＯ3であった。
　・・・（中略）・・・
【００３８】
  試料１〜３の積層セラミックコンデンサそれぞれの破断面のＳＥＭ観察写真を、それぞれ図２〜図４に示す。これらより、
誘電体セラミック層が結晶粒子１個で占められる部分が明らかに８０％以上であり
　・・・（中略）・・・
【００４０】
  図５より、Ｃａの含まれた試料２および３は、Ｃａの含まれない試料１と比較して、非常に長い寿命特性が得られた。
【００４１】
  ［実験例２］  まず、原料粉末として、試料１０１：試料１：ＢａＴｉＯ3、試料１０２：（Ｂａ0.95Ｃａ0.05）ＴｉＯ3、試料１０３：（Ｂａ0.95Ｃａ0.05）（Ｔｉ0.9995Ｖ0.0005）Ｏ3、試料１０４：（Ｂａ0.95Ｃａ0.05）（Ｔｉ0.9995Ｍｎ0.0005）Ｏ3、の組成を有する粉末を用意した。
　　・・・（中略）・・・
【００４４】
  図６の結果より、Ｍｎ、Ｖを含んだ場合、含まない場合よりさらに高い絶縁性を得られることがわかった。
　
　(L8)図６
　図６には、（Ｂａ0.95Ｃａ0.05）ＴｉＯ3（試料１０２）が、ＢａＴｉＯ3（試料１，１０１）より高い絶縁性が得られることが示されている。
　
［２］刊行物１に記載された発明（以下、「引用発明」という。）　
　
　ア　概要
　刊行物１には、「単位体積当たりの取得静電容量の低下が改善された積層セラミックコンデンサなどの積層セラミック電子部品」｛前掲(K2)【0002】｝に関し、
　概要、
　従来より、「
小型で大容量を得る
誘電体厚みを薄層化するなどの手法
　「
積層セラミックコンデンサの厚み方向が内部電極の太りとともに膨張してしまう現象や、内部電極が途切れることにより、コンデンサの取得静電容量が低下するといった
　「
単位体積当たりの取得静電容量を向上でき
小型化しても大容量を有し
信頼性の高い積層セラミックコンデンサ
　積層セラミック電子部品の構成を、
「誘電体層と内部電極層とを有する積層セラミック電子部品であって、
前記内部電極層が、前記誘電体層と平行な方向に連なって配置された導電材粒子を含み、　　　　　　　　　　　　　　　　
前記導電材粒子が、前記誘電体層と平行な方向の第１平均粒径（Ｒ１）と、前記誘電体層と垂直な方向の第２平均粒径（Ｒ２）とを有し、
前記第１平均粒径（Ｒ１）と前記第２平均粒径（Ｒ２）との比（Ｒ１／Ｒ２）が２以上」｛(K1)，請求項１｝としたものであって、
　これにより、
「
内部電極層の途切れが抑制され、これにより取得静電容量の低下を改善
など
品質のよいコンデンサ
単位体積当たりの取得静電容量が増加し
小型化しても大容量を有し
界面の平滑性も向上するため、信頼性の高い積層セラミックコンデンサ
　
　上記において、「積層セラミック電子部品」の例として明記されている「
積層セラミックコンデンサ
誘電体層２と内部電極層３とが交互に積層されたコンデンサ素子本体１０を有する
積層セラミックコンデンサ１
　
　以上を総合すると、引用発明は、
　
　従来より、「
小型で大容量を得る
誘電体厚みを薄層化するなどの手法
積層セラミックコンデンサの厚み方向が内部電極の太りとともに膨張してしまう現象や、内部電極が途切れることにより、コンデンサの取得静電容量が低下するといった
　「
単位体積当たりの取得静電容量を向上でき
小型化しても大容量を有し
内部電極層の途切れが抑制され、これにより取得静電容量の低下を改善
品質
界面の平滑性も向上
信頼性の高い積層セラミックコンデンサ
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（→引用発明のｐ）
　「
誘電体層２と内部電極層３とが交互に積層されたコンデンサ素子本体１０を有する
積層セラミックコンデンサ
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（→引用発明のｑ）
　概要、
　前記内部電極層が、前記誘電体層と平行な方向に連なって配置された導電材粒子を含み、　　　　　　　　　　　　　　　　　（→引用発明のｒ）
　前記導電材粒子が、前記誘電体層と平行な方向の第１平均粒径（Ｒ１）と、前記誘電体層と垂直な方向の第２平均粒径（Ｒ２）とを有し、
　前記第１平均粒径（Ｒ１）と前記第２平均粒径（Ｒ２）との比（Ｒ１／Ｒ２）が２以上」であるものが認められる。　　　　　　　　（→ｒ１’）
　
　イ　詳細
　〈寸法〉
　実施の形態として示される「
積層セラミックコンデンサ
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（→引用発明のｓ）
　〈誘電体層〉
　「
各誘電体層２の厚みは、通常３０μｍ以下、好ましくは１０μｍ以下、より好ましくは５μｍ以下、さらに好ましくは３μｍ以下であり、その下限は好ましくは０．２μｍ程度
各誘電体層２の積層数は、好ましくは５０層以上、より好ましくは１００層以上、さらに好ましくは３００層以上
　また、誘電体の主成分原料は、Ｔｉ，Ｂａ，Ｓｒ，Ｃａ，Ｚｒの酸化物および／または焼成により酸化物になる化合物が用いられる。｛(K7)【0034】｝　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（→引用発明のｒ４）
　〈内部電極層〉
　請求項１で特定する内部電極層について詳細に説明されていて、
　「
内部電極層３
導電材粒子３ａは
図２に示すように
誘電体層２と平行な方向に１個ずつ連なって配置
　したがって、上記アで「前記内部電極層が、前記誘電体層と平行な方向に連なって配置された導電材粒子」は、「
図２に示すように
誘電体層２と平行な方向に１個ずつ連なって配置
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（→引用発明のｒ）
　《
第１平均粒径（Ｒ１）
第２平均粒径（Ｒ２）
　図２及び、段落【0030】によれば、
　図２に示されるように、「
第１平均粒径（Ｒ１）
Ｌ１／ｎ
　「
第２平均粒径（Ｒ２）
厚さｄ方向に対する各導電材粒子３ａの最大長さＬ２の平均値
 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（→引用発明のｒ１）
　また、「
第１平均粒径（Ｒ１）
　「
第２平均粒径（Ｒ２）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（→引用発明のｒ２）
　
Ｒ１／Ｒ２
　「
第１平均粒径と第２平均粒径との比（Ｒ１／Ｒ２）が大きいほど取得静電容量は大きくな
第１平均粒径と第２平均粒径との比（Ｒ１／Ｒ２）が小さい場合
焼成の際に内部電極層３が途切れやすく
粒子が球状化する傾向があり、取得静電容量が低下したり、ショート不良が増加する
　
　〈実施例等〉
　実施例を説明する前掲(K8)(K9)によれば、例えば、誘電体（層数１００）が主成分原料を（Ｂａ０．９５，Ｃａ０．０５）（Ｔｉ０．８  Ｚｒ０．２）Ｏ３ とし、内部電極がＮｉである積層セラミックコンデンサであり、
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（→引用発明のｒ４）
　そこでは、まず、上記比（Ｒ１／Ｒ２）が３．４のもの（実施例１）が図３，図４と共に説明され、これが、実施例のうち最良、すなわち単位体積当たりの静電容量が得られること、比（Ｒ１／Ｒ２）が２．０→２．７→３．４と大きくにつれて単位体積当たりの静電容量も大きい結果が得られることが示される。
　このことと、上記アのｒ１’「比（Ｒ１／Ｒ２）が２以上」、上記アのｒ３の「
第１平均粒径と第２平均粒径との比（Ｒ１／Ｒ２）が大きいほど取得静電容量は大きくな
　引用発明として、特に、上記比（Ｒ１／Ｒ２）が３．４程度であるものを認めることができる。　　　　　　　　　　　　　（→引用発明のｒ１）
　
　ウ　引用発明
　以上によれば、引用発明（刊行物１記載された発明）として、下記の発明を認めることができる。
　
　　　　　　　記（引用発明）
ｐ　：従来より、小型で大容量を得るために誘電体厚みを薄層化するなどの手法が採られてきている中、積層セラミックコンデンサの厚み方向が内部電極の太りとともに膨張してしまう現象や、内部電極が途切れることにより、コンデンサの取得静電容量が低下するといった課題を解決し、
　単位体積当たりの取得静電容量を向上でき、小型化しても大容量を有し、内部電極層の途切れが抑制され、これにより取得静電容量の低下を改善でき、かつ、品質がよく、界面の平滑性も向上して信頼性の高い積層セラミックコンデンサを提供するために、
ｑ　：誘電体層と内部電極層とが交互に積層されたコンデンサ素子本体を有する積層セラミックコンデンサにおいて、
ｒ　：前記内部電極層が、前記誘電体層と平行な方向に連なり、図２，図４に示すように、誘電体層２と平行な方向に１個ずつ連なって配置された導電材粒子を含み、
ｒ１：前記導電材粒子が、前記誘電体層と平行な方向の第１平均粒径（Ｒ１）と、前記誘電体層と垂直な方向の第２平均粒径（Ｒ２）とを有し、
　前記第１平均粒径（Ｒ１）と前記第２平均粒径（Ｒ２）との比（Ｒ１／Ｒ２）が２以上、特に、３．４程度である積層セラミックコンデンサであって、
　ここに、図２に示されるように、
　第１平均粒径（Ｒ１）は、誘電体層２間の中央部分に、誘電体層と略平行な直線Ｈを引き、この線と交差する導電材粒子３ａの数をｎ（ｎは１０以上）、線の長さをＬ１としたときのＬ１／ｎであり、
　第２平均粒径（Ｒ２）は、内部電極層３の厚さｄ方向に対する各導電材粒子３ａの最大長さＬ２の平均値であり、
ｓ　：寸法は、通常、縦（０．６〜５．７ｍｍ）×横（０．３〜５．０ｍｍ）×厚さ（０．３〜５．０ｍｍ）程度であり、
ｔ　：各誘電体層は、
　厚みが、通常３０μｍ以下、好ましくは１０μｍ以下、より好ましくは５μｍ以下、さらに好ましくは３μｍ以下であり、その下限は好ましくは０．２μｍ程度であり、
　積層数が、好ましくは５０層以上、より好ましくは１００層以上、さらに好ましくは３００層以上であり、
ｒ２　：内部電極層は、
　第１平均粒径（Ｒ１）は、たとえば２．５μｍ以上、好ましくは３μｍ以上であり、
　第２平均粒径（Ｒ２）は２μｍ以下が好ましく、より好ましくは１．６μｍ以下であり、下限は０．５μｍ程度であり、
ｒ３　：第１平均粒径と第２平均粒径との比（Ｒ１／Ｒ２）が大きいほど取得静電容量は大きくなり、第１平均粒径と第２平均粒径との比（Ｒ１／Ｒ２）が小さい場合、焼成の際に内部電極層３が途切れやすく、粒子が球状化する傾向があり、取得静電容量が低下したり、ショート不良が増加することになり、
ｒ４　：誘電体の主成分原料は、Ｔｉ，Ｂａ，Ｓｒ，Ｃａ，Ｚｒの酸化物および／または焼成により酸化物になる化合物が用いられ、例えば、誘電体（層数１００）が主成分原料を（Ｂａ０．９５，Ｃａ０．０５）（Ｔｉ０．８  Ｚｒ０．２）Ｏ３ とし、内部電極がＮｉである
ｐ　：積層セラミックコンデンサ
　
［３］本願発明と引用発明との対比（対応関係）  
　
　（１）本願発明（構成要件の分説）
　
　本願発明は、以下のように要件Ａ〜Ｃに分説することができる。
　　　　　本願発明（分説）
Ａ：　誘電体層と内部電極層とが交互に積層されてなる積層セラミックコンデンサであって、
Ｂ：　前記誘電体層を構成する誘電体粒子が一層一粒子で存在する割合が５０％よりも大きく、
Ｃ　：前記内部電極層は、その層厚を分断するように存在する粒界によって区切られた電極粒子で構成されており、前記電極粒子の最大厚さに対する当該厚さ方向に直交する最大長さの比である電極粒子アスペクト比の平均値が３よりも大きい、
Ａ　：積層セラミックコンデンサ。　
　
　（２）本願発明と引用発明との対比（対応関係） 
　本願発明の各構成要件について、引用発明と対応する。
　
　ア　要件Ａについて
Ａ「誘電体層と内部電極層とが交互に積層されてなる積層セラミックコンデンサであって、」
　引用発明のｑ「誘電体層と内部電極層とが交互に積層されたコンデンサ素子本体を有する積層セラミックコンデンサ」は、上記要件Ａと一致するから、要件Ａにおいて本件発明と相違しない。
　
　イ　要件Ｂについて
Ｂ「前記誘電体層を構成する誘電体粒子が一層一粒子で存在する割合が５０％よりも大きく、」
　引用発明には、誘電体層について要件Ｂのような特定はない。
　したがって、引用発明では、要件Ｂとしておらず、この点、本願発明と相違する。
　
　ウ　要件Ｃについて
　上記要件Ｃは、
　前段Ｃ１「前記内部電極層は、その層厚を分断するように存在する粒界によって区切られた電極粒子で構成されており、」と、　
　後段Ｃ２「前記電極粒子の最大厚さに対する当該厚さ方向に直交する最大長さの比である電極粒子アスペクト比の平均値が３よりも大きい、」とに更に分説できる。
　
　ウ-１　前段Ｃ１について
　引用発明では、ｒ「前記内部電極層が、前記誘電体層と平行な方向に連なり、図２に示すように、誘電体層２と平行な方向に１個ずつ連なって配置された導電材粒子を含み」としていて、図２から、導電粒子（本願発明の「電極粒子」に相当する）が層厚を分断するように境界で区切られていることが見て取れ、その内部電極層の態様・構成は、「その層厚を分断するように存在する粒界によって区切られた電極粒子で構成されており」といいえる態様・構成と認められ、前段Ｃ１において、本願発明と相違しない。
　
　ウ-２　後段Ｃ２「前記電極粒子の
最大厚さ
厚さ方向に直交する最大長さ
　〈本願発明〉
　後段Ｃ２の上記「最大厚さ」，「当該
厚さ方向
　明細書の記載「【００３０】・・・評価に用いる「電極粒子アスペクト比」は、これら電極粒子の
最大層厚ｔｅ１
最大幅ｔｅ２
　それぞれ、「
内部電極層の厚さ方向の最大長」「ｔｅ１
　後段Ｃ２の「
厚さ方向に直交する最大長さ
ｔｅ２
　
　〈引用発明との比較〉
　引用発明では、ｒ１「前記導電材粒子が、前記誘電体層と平行な方向の第１平均粒径（Ｒ１）と、前記誘電体層と垂直な方向の第２平均粒径（Ｒ２）とを有し、
　前記第１平均粒径（Ｒ１）と前記第２平均粒径（Ｒ２）との比（Ｒ１／Ｒ２）が２以上、特に、３．４程度である積層セラミックコンデンサであって、ここに、
　第１平均粒径（Ｒ１）は、誘電体層２間の中央部分に、誘電体層と略平行な直線Ｈを引き、この線と交差する導電材粒子３ａの数をｎ（ｎは１０以上）、線の長さをＬ１としたときのＬ１／ｎであり、
　第２平均粒径（Ｒ２）は、内部電極層３の厚さｄ方向に対する各導電材粒子３ａの最大長さＬ２の平均値」としていて、
　「導電材粒子」は本願発明でいう「電極粒子」といえることは明らかである。
　《Ｌ２とｔｅ１》
　その「
内部電極層３の厚さｄ方向に対する各導電材粒子３ａの最大長さＬ２
　《Ｌ１とｔｅ２》
　引用発明の「Ｌ１」は、本願発明の「ｔｅ２」に対応するものであるがその定義は異なる。すなわち、引用発明の「Ｌ１」は、本願発明の「当該
厚さ方向に直交する
　つまり、本願発明の「ｔｅ２」は、「当該厚さ方向に直交する
最大長さ
　引用発明の「Ｌ１」は、「該厚さ方向に直交する
誘電体層間の中央での長さ
　《比》
　また、引用発明の「平均粒径」の「比（Ｒ１／Ｒ２）」は、
　（Ｌ１の平均）／（Ｌ２の平均）、すなわち、
長さの平均の比
　（ｔｅ２／ｔｅ１）の平均値、すなわち、
長さの比の平均値
　《一致、相違》
　もっとも、本願発明も引用発明も、
　電極粒子が層方向に扁平である度合いを特定程度大きいとする（その大きさの程度を特定の範囲であるとする）点では相違はなく、
　その
層方向に扁平である度合いを特定程度大きいとする
　本願発明では、後段Ｃ「前記電極粒子の最大厚さ（ｔｅ１）に対する当該厚さ方向に直交する最大長さ（ｔｅ２）の比である電極粒子アスペクト比（ｔｅ２／ｔｅ１）の平均値が３よりも大きい、」とするのに対して、
　引用発明では、前記電極粒子の最大厚さ（Ｌ２）の
平均値
誘電体層間の中央での長さ
平均値
　
［４］一致点、相違点 
　以上の対比結果によれば、本願発明と引用発明との一致点、相違点は次のとおりであることが認められる。 
　
　［一致点］ 
Ａ　　誘電体層と内部電極層とが交互に積層されてなる積層セラミックコンデンサであって、
Ｃ１　前記内部電極層は、その層厚を分断するように存在する粒界によって区切られた電極粒子で構成されており、
Ｃ２’
電極粒子が層方向に扁平である度合いが特定程度大きい
Ａ　　積層セラミックコンデンサ。　
　
　［相違点］
　［相違点１］
　本願発明では、
Ｂ　「前記誘電体層を構成する誘電体粒子が一層一粒子で存在する割合が５０％よりも大きく」とするのに対して、
　引用発明は、そのようにするとはしていない点。
　
　［相違点２］
　上記Ｃ２’の「
電極粒子が層方向に扁平である度合いが特定程度大きい
　本願発明では、
Ｃ２「前記電極粒子の最大厚さ（ｔｅ１）に対する当該厚さ方向に直交する最大長さ（ｔｅ２）の比である電極粒子アスペクト比の平均値が３よりも大きい、」とするのに対して、
　引用発明では、
　前記電極粒子の最大厚さ（Ｌ２＝ｔｅ１）
の平均値
誘電体層間の中央での長さ（Ｌ１）の平均値
　
　
　［５］相違点等の判断
　
　（１）［相違点の克服］
　引用発明を出発点とし、
　引用発明の誘電体層を、Ｂ「前記誘電体層を構成する誘電体粒子が一層一粒子で存在する割合が５０％よりも大きく」すること（以下「
相違点１の克服
　引用発明の「
電極粒子が層方向に扁平である度合いが特定程度大きい
相違点２の克服
　
　（２）［相違点１の克服］の容易性判断
　
　ア　刊行物４（特開２０１０−２１２５０３号公報）
　前記［１-２］によれば、刊行物４には、
　積層セラミックコンデンサを
小型・大容量化
　誘電体を薄層にしたとき、
層を構成する結晶粒子を小さく
結晶粒界の絶縁性
　
ある程度の大きさの結晶粒子径を確保し
できる限り誘電率
容量
を確保しながらも
高い絶縁性
　
隣り合う二つの内部電極に接する結晶粒子の個数割合が５０％以上
  誘電体セラミックがＢａＴｉＯ３系ペロブスカイト化合物を主成分とし、Ｃａ、Ｍｎ、Ｖから選ばれる少なくとも一種、特に、
主成分
Ｃａが結晶粒子に均一に固溶した（Ｂａ，Ｃａ）ＴｉＯ
３
これらの副成分が、結晶粒子における酸素空孔の電界印加による移動を抑制し、高い絶縁性と寿命特性を有する
　
　イ　判断
　刊行物４の「隣り合う二つの内部電極に接する結晶粒子の個数割合が５０％以上、特に８０％以上としつつ」とする構成において、
　その「
隣り合う二つの内部電極に接する結晶粒子
一層一粒子
一層一粒子
　したがって、刊行物４の上記「隣り合う・・・としつつ」とする構成は、本願発明の要件Ｂ「前記誘電体層を構成する誘電体粒子が一層一粒子で存在する割合が５０％よりも大きく」と一致する。
　
　そして、上記刊行物４の「
容量を確保しながらも
高い絶縁性
　すなわち、引用発明は、「積層セラミックコンデンサ」を「小型で大容量を得るため誘電体厚みを薄層化」（ｐ）しても、「取得静電容量が低下したり、ショート不良が増加」しないように（ｒ２）すること、すなわち、容量を確保しつつ絶縁性も担保することを、その目的とし、
　そのために、内部電極層に着目し、内部電極層を構成する導電材粒子（
電極粒子
層方向に扁平である度合いを特定程度大きい
　「内部電極層の途切れ」を「抑制」し「界面の平滑性も向上」させて、上記目的を達成するものであるから、
　その課題，目的は、「
容量を確保しながらも
高い絶縁性
　このうち、刊行物４が上記「
隣り合う二つの内部電極に接する結晶粒子の個数割合が５０％以上、特に８０％以上としつつ
結晶粒子径を確保し
できる限り誘電率
容量
を確保
容量を確保しながら
　
　そうすると、引用発明においても、誘電率（容量）確保のため、その誘電体層に、刊行物４が誘電率（容量）確保のために採る構成を適用する動機付けがあるといえ、引用発明の誘電体層を、「誘電体層を構成する誘電体粒子が一層一粒子で存在する割合が５０％よりも大きく」とすることは、当業者が容易に想到し得ることである。（このとき、刊行物４の、上記Ｃａ、Ｍｎ、Ｖから選ばれる少なくとも一種を含む、との構成の採用は任意選択事項である。）
　加えて、引用発明も刊行物４も、共に誘電体層を構成する主成分に、結晶粒子にＣａを含んだ（Ｂａ，Ｃａ）ＴｉＯ３を含んでいて、このことも、Ｃａを含むことで寿命・絶縁性が向上するとする刊行物４の適用をより指向させるものである。
　
　（３）［相違点２の克服］の容易性判断
　
　ア　当該厚さ方向に直交する
最大長さ
誘電体層間の中央での長さ
　上記ｔｅ２とＬ１は、確かに同じものではなく異なるものではある。
　しかしながら、引用発明も、厚さｄ方向長さ「Ｌ２」については上記のように「厚さｄ方向に対する
各導電材粒子３ａの最大長さ
　また、本願発明も引用発明も「内部電極層は、その層厚を分断するように存在する粒界によって区切られ」ているものであって、引用発明の図２，図４（実施例１）に示される導電粒子の形態をみても、「厚さ方向に直交する
最大長さ
誘電体層間の中央での長さ
　つまり、ｔｅ２≒Ｌ１であって、特に区別するほどの意義もなく、実際上ｔｅ２＝Ｌ１とみても特段の支障は無い。
　以下、ｔｅ２＝Ｌ１として議論を進める。
　
　イ　長さの比の平均値＝３（本願発明の下限値）と、長さの平均値の比＝３．４（引用発明の値）の違いについて
　以下、粒子の水平方向長であるＬ１＝ｔｅ２をｘ，垂直方向長であるＬ２＝ｔｅ１をｙとして、粒子形状を（ｘ，ｙ）で表わし、両者の違いについて、粒子形状の簡単な分布モデル例を挙げて検討する。
　本願発明　
比の平均値
　引用発明　
平均値の比
　なお、この
平均値の比
　
　イ-１　簡単な（ｘ，ｙ）の分布モデル例での計算
　
　(1)各粒子が、ｙが一定で、ｘのみ分布している場合
　　（1.4，1.0）:33.3％　　　（1.0，1.0）:25％
　　（3.4，1.0）:33.3％　　　（3.0，1.0）:50％　
　　（5.4，1.0）:33.3％　　　（5.0，1.0）:25％
　　　
平均値の比
平均値の比
　　　
比の平均値
比の平均値
　　各粒子のｙが一定であれば、ｘの分布にかかわらず両者は同じである。
　
　(2)各粒子のｘが一定で、ｙのみ分布している場合
　　（3.4，0.8）:33.3％　　　（3.0，0.8）:25％
　　（3.4，1.0）:33.3％　　　（3.0，1.0）:50％　
　　（3.4，1.2）:33.3％　　　（3.0，1.2）:25％
　　　
平均値の比
平均値の比
　このとき、比の分布は、
　　　　4.25:33.3％　　　　　 3.75:25％
　　　　3.4:33.3％　　　　　　3.0:50％　
　　　　2.833:33.3％　　　　　2.5:25％
　　　
比の平均値
比の平均値
　
　(3)各粒子のｙ／ｘが一定の場合
　　（2.72，0.8）:33.3％　　　（2.1，0.7）:25％
　　（3.4 ，1.0）:33.3％　　　（3.0，1.0）:50％　
　　（4.08，1.2）:33.3％　　　（3.9，1.3）:25％
　　　
平均値の比
平均値の比
　　　
比の平均値
比の平均値
　　各粒子のｙ／ｘが一定であれば、分布にかかわらず両者は同じである。
　
　(4)ｘの平均値、ｙの平均値のまわりに特に偏り無くｘ、ｙが分布している場合)
　（2.8，0.8）:6.25％　（3.4，0.8）:12.5％　（4.0，0.8）:6.25％
　（2.8，1.0）:12.5％　
（3.4，1.0）:25.0％
　（2.8，1.2）:6.25％　（3.4，1.2）:12.5％　（4.0，1.2）:6.25％
　　　
平均値の比
　比の分布は、
　　　3.5 :6.25％　　　　4.25:12.5％　　　　5.0 :6.25％
　　　2.8 :12.5％　　　　3.4 :25.0％　　　　4.0 :12.5％
　　　2.33:6.25％　　　　2.83:12.5％　　　　3.33:6.25％
　であって、
　　
比の平均値
　
　(5)ｘの平均値、ｙの平均値の周りに特定の偏りをもってｘ、ｙが分布している場合１
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（4.0，0.8）:25％
　　　　　　　　　　　
（3.4，1.0）:50.0％
　（2.8，1.2）:25％　
　このとき、
平均値の比
　
　比の分布は、
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　5.0 :25％
　　　　　　　　　　　　
3.4 :50.0％
　　　2.33:25％　　
　であって、　
比の平均値
　
　(6)ｘの平均値、ｙの平均値の周りに特定の偏りをもってｘ、ｙが分布している場合２
　（2.8，0.8）:25％　
　　　　　　　　　　　
（3.4，1.0）:50.0％
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（4.0，1.2）:25％
　このとき、
平均値の比
　
　比の分布は、
　　　3.5:25％　
　　　　　　　　　　　　　
3.4:50.0％
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　3.33:25％
　であって、　
比の平均値
　
　イ-２　判断
　上記イ-１の結果によれば、（ｘ，ｙ）の平均値の周りに特定の偏りがなく（ｘ、ｙ）が分布している場合においては、概ね、引用発明の
平均値の比
比の平均値
　このことは、本願発明の「
比の平均値
平均値の比
　
　もっとも、（ｘ，ｙ）の平均値の周りに、例えば、上記(6)のような特定の偏りをもって（ｘ、ｙ）が分布しているような場合には、前者（平均値の比）が後者（比の平均値）よりも若干大きくなることもあり得ると考えられ、そのような場合には、本願発明の「
比の平均値
平均値の比
　
　つまり、引用発明の「
電極粒子が層方向に扁平である度合いが特定程度大きい
の平均値
誘電体層間の中央での長さ（Ｌ１）の平均値
　ほぼ、本願発明でいう、Ｃ２「前記電極粒子の最大厚さ（ｔｅ１）に対する当該厚さ方向に直交する最大長さ（ｔｅ２）の比である電極粒子アスペクト比の平均値が３よりも大きい」範囲に入っているということができるのである。
　すなわち、上記相違点２は、実質上、相違ではなかったことになる。
　　
　《相違があった場合の検討》
　とはいえ、上記(6)のような場合等、（ｘ，ｙ）の分布によっては、引用発明の上記「３．４程度」が、本願発明の「前記電極粒子の・・・の比である電極粒子アスペクト比の平均値」でいえば、例えば「２．９（程度）」に相当して、すなわち「３より大きい」とはいえず、この点相違点２が存在することも全くは否定はし得ないし、
　上記アにおいて、実際上はｔｅ２＝Ｌ１といえるとしても、ｔｅ２とＬ１が全く同じとまで言いきることはできない。
　これらのことから、相違点２の存在を前提に、上記［相違点２の克服］の容易性判断について、以下、検討する。
　
　本願発明と引用発明が共にＣ２’「
電極粒子が層方向に扁平である度合いが特定程度大きい
　すなわち、本願明細書によれば、その理由は、本願発明は、
内部電極の表面を適正な程度に平坦化して凸凹を抑制する
　引用発明も、内部電極の
界面の平滑性を向上する
粒子の球状化を抑制
ショート等も抑制
　そして、刊行物１（引用発明）のｐ、ｒ２、特に「第１平均粒径と第２平均粒径との比（Ｒ１／Ｒ２）が大きいほど取得静電容量は大きくなり、第１平均粒径と第２平均粒径との比（Ｒ１／Ｒ２）が小さい場合、焼成の際に内部電極層３が途切れやすく、粒子が球状化する傾向があり、取得静電容量が低下したり、ショート不良が増加することになり」に接した当業者であれば、
　引用発明の「３．４程度」をもう少し大きくすれば、より、「内部電極層の途切れ」が「抑制」されて「界面の平滑性も向上」し、大きな容量を実現できると普通に考えるといえ、そのようにする動機付けは十分にあるというべきである。
　そして、そのようにすれば、「３．４程度」は大きくなって、本願発明の「前記電極粒子の・・・の比である電極粒子アスペクト比の平均値が３より大きい」を満たすことになり、結果、上記［相違点２の克服］がなされることとなる。
　上記［相違点２の克服］は当業者が容易に想到し得ることである。
　
　イ-３　臨界的意義について
　本願発明の上記相違点２の構成とすることが当業者の容易想到であること、すなわち、構成の容易想到性については、上記で判断したとおりである。
　次に、本願発明が、要件Ｃ２で「前記電極粒子の最大厚さ（ｔｅ１）に対する当該厚さ方向に直交する最大長さ（ｔｅ２）の比である電極粒子アスペクト比の平均値」の下限値を特に「３」であるとした点の格別顕著性についてみてみる。
　本願明細書の段落【0038】〜【0041】には、確かに、誘電体層の一層一粒子割合が５０％よりも大きく、電極粒子アスペクト比が３よりも大きいものが、比誘電率ε＞
６０００
５０Ｖ
　しかし、表１には、
　
試料４
　本願発明の範囲外として、
　
試料３
　
試料１６
　アスペクト比が3より若干小さい2.91の
試料３
５０Ｖ
試料４の耐電圧51Ｖより若干小さい46Ｖの耐電圧
　アスペクト比が3より若干小さい2.85の
試料１６
５０
試料４の耐電圧51Ｖより若干小さい49Ｖの耐電圧
６０００
　電極粒子アスペクト比の平均値が「３」を境界にして、予測し得ない程顕著な特性の跳躍があるとまでは言えない。
　
　（４）上記［相違点１の克服］と上記［相違点２の克服］を共になすこと
　一般に、積層セラミックコンデンサでは
小型化
大容量
　刊行物１では、
小型化
大容量
　刊行物４では、
ある程度の大きさの結晶粒子径を確保し
できる限り誘電率
容量
を確保しながらも
高い絶縁性
　
　そうすると、引用発明において、主に薄層で容量確保の点から［相違点１の克服］をなし、絶縁性向上から［相違点２の克服］をなすことは、当業者にとって困難とは言えない。
　
　（５）まとめ（相違点等の判断）
　以上、引用発明を出発点として、上記［相違点の克服］（上記［相違点１の克服］、及び上記［相違点２の克服］）をすることで、本願発明の構成に達するところ、同克服は、刊行物１および刊行物４に基づいて当業者が容易になし得ることである。
　効果についてみても、構成の採用に伴って予測し得ない格別顕著なものがあるとも認められない。
　
【第４】むすび 
　
　以上のとおり、本願の請求項１に係る発明は、上記刊行物１に記載された発明及び上記刊行物４に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。 
　それ故、本願の他の請求項について検討するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　
　よって、結論のとおり審決する。