【事件の表示】
　特許第３３８０１８９号「光学用ポリカーボネート樹脂成形材料および光ディスク基板」の請求項１ないし９に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第３３８０１８９号の請求項１ないし９に係る特許を取り消す。
【理　由】
【Ｉ】手続きの経緯
　特許第３３８０１８９号の請求項１〜９に係る発明は、平成１１年９月１日に特許出願され、平成１４年１２月１３日にその発明について特許権の設定登録がなされ、その後、尾谷勉、三菱瓦斯化学株式会社、近藤武及び日本ジーイープラスチックス株式会社より特許異議の申立てがなされ、平成１６年２月１９日付けで取消理由が通知され、その指定期間内である平成１６年４月３０日付けで特許異議意見書とともに訂正請求書が提出され、平成１６年１２月２２日付けで訂正拒絶理由が通知され、それに対して、平成１７年３月３日付けで意見書が提出されたものである。
　
【II】訂正の適否について
１．訂正の内容
 　特許権者が求めている訂正には、下記の訂正事項が含まれている。 
 （訂正事項ａ） 
 　特許請求の範囲の【請求項１】の「安定剤および離型剤を含み、」を、 
 「ビスフェノールＡを２価フェノール成分とし、ｐ−ｔｅｒｔ−ブチルフェノールまたはｐ−クミルフェノールを末端停止剤として使用し界面重合法により製造されたポリカーボネート樹脂より形成され、安定剤および離型剤を含み、」と訂正する。 
 　当該訂正に伴い、明細書３頁６欄４６行（段落【００２３】）の「安定剤および離型剤を含み、」を、 
 「ビスフェノールＡを２価フェノール成分とし、ｐ−ｔｅｒｔ−ブチルフェノールまたはｐ−クミルフェノールを末端停止剤として使用し界面重合法により製造されたポリカーボネート樹脂より形成され、安定剤および離型剤を含み、」と訂正する。 
 　また、明細書段落【００５２】〜【００５５】の「本発明で使用されるポリカーボネート樹脂は、・・・２種以上を混合した混合物であってもよい。」を、 
 「本発明で使用されるポリカーボネート樹脂は、ビスフェノールＡを２価フェノール成分とし、ｐ−ｔｅｒｔ−ブチルフェノールまたはｐ−クミルフェノールを末端停止剤として使用し界面重合法により製造されたポリカーボネート樹脂である。」と訂正する。 
 　また、明細書段落【００５７】〜【００６３】、【００６５】〜【００６８】を削除する。 
 　 
 （訂正事項ｃ） 
 　【請求項４】の「安定剤および離型剤を含み、」を、 
 「ビスフェノールＡを２価フェノール成分とし、ｐ−ｔｅｒｔ−ブチルフェノールまたはｐ−クミルフェノールを末端停止剤として使用し界面重合法により製造されたポリカーボネート樹脂より形成され、安定剤および離型剤を含み、」と訂正する。 
 　当該訂正に伴い、明細書４頁７欄１行（明細書段落【００２３】）の「安定剤および離型剤を含み、」を、 
 「ビスフェノールＡを２価フェノール成分とし、ｐ−ｔｅｒｔ−ブチルフェノールまたはｐ−クミルフェノールを末端停止剤として使用し界面重合法により製造されたポリカーボネート樹脂より形成され、安定剤および離型剤を含み、」と訂正する。 
 　 
 （訂正事項ｅ） 
 　【請求項５】の「安定剤および離型剤を含み、」を、 
 「ビスフェノールＡを２価フェノール成分とし、ｐ−ｔｅｒｔ−ブチルフェノールまたはｐ−クミルフェノールを末端停止剤として使用し界面重合法により製造されたポリカーボネート樹脂より形成され、安定剤および離型剤を含み、」と訂正する。 
 　当該訂正に伴い、明細書４頁７欄９〜１０行（明細書段落【００２３】）の「安定剤および離型剤を含み、」を、 
 「ビスフェノールＡを２価フェノール成分とし、ｐ−ｔｅｒｔ−ブチルフェノールまたはｐ−クミルフェノールを末端停止剤として使用し界面重合法により製造されたポリカーボネート樹脂より形成され、安定剤および離型剤を含み、」と訂正する。 
 　 
２．訂正拒絶理由の内容
　訂正拒絶理由の内容は以下のとおりである。
 　訂正事項ａ，ｃ，ｅにより、「ポリカーボネート樹脂」を「ビスフェノールＡを２価フェノール成分とし、ｐ−ｔｅｒｔ−ブチルフェノールまたはｐ−クミルフェノールを末端停止剤として使用し界面重合法により製造されたポリカーボネート樹脂」と限定する訂正（以下、「本件訂正」という。）がなされた。 
　そこで、本件訂正のうち「ビスフェノールＡを２価フェノール成分とし、ｐ−クミルフェノールを末端停止剤として使用し界面重合法により製造されたポリカーボネート樹脂」とする訂正について検討する。 
 　特許明細書の段落【００２９】の記載は、ＰＣ製造由来物質についての説明の中で、原料の例としてビスフェノールＡなどに代表される２価フェノール、ジフェニルカーボネートに代表されるカーボネートエステル、末端停止剤の例としてｐ−ｔｅｒｔ−ブチルフェノールおよびｐ−クミルフェノールに代表される単官能フェノール類などを例示するものにすぎず、界面重合法によるポリカーボネートの製造においてビスフェノールＡとｐ−クミルフェノールを組み合わせることを具体的に意味するものではない。 
 　また、段落【００５２】〜【００６０】にも、ビスフェノールＡとｐ−クミルフェノールは各々、複数の選択肢の中の代表例の一つとして記載されてはいるものの、当該両化合物を組み合わせて界面重合法によりポリカーボネートを製造することが記載されているとまではいえない。 
 　したがって、本件訂正のうち「ビスフェノールＡを２価フェノール成分とし、ｐ−クミルフェノールを末端停止剤として使用し界面重合法により製造されたポリカーボネート樹脂」とする訂正は、特許明細書に明示的に記載されておらず、また、特許明細書から自明な事項であるともいえない。 
 　よって、本件訂正は、特許明細書に記載した事項の範囲内においてしたものではない。 
 　 
３．判断 
 　当審が通知した訂正拒絶理由に対して、特許権者は意見書を提出しているが、その内容は訂正案と共に再度の訂正の機会を希望する旨が記載されているだけである。
　そして、訂正拒絶理由は妥当なものと認められるから、当該訂正は、平成１１年改正前の特許法第１２０条の４第３項において準用する同第１２６条第２項の規定に適合しないので、当該訂正は認められない。 
 　
【III】本件発明
　本件の請求項１〜９に係る発明（以下、「本件発明１」〜「本件発明９」という。）は、特許明細書の記載からみて、特許請求の範囲の請求項１〜９に記載された事項により特定された次のとおりのものである。
「【請求項１】安定剤および離型剤を含み、粘度平均分子量が１０，０００〜２２，０００の範囲であり、熱重量分析で５％減量開始温度が４００℃以下の物質（Ａ）の総量が１重量％以下であり、かつナトリウム化合物の含有量がナトリウム金属に換算して１ｐｐｍ以下であることを特徴とする光学用ポリカーボネート樹脂成形材料。
【請求項２】該物質（Ａ）の総量が０.５重量％以下である請求項１記載の光学用ポリカーボネート樹脂成形材料。
【請求項３】ナトリウム化合物の含有量がナトリウム金属に換算して０.６ｐｐｍ以下である請求項１記載の光学用ポリカーボネート樹脂成形材料。
【請求項４】安定剤および離型剤を含み、粘度平均分子量が１０，０００〜２２，０００の範囲であり、（１）シリンダー温度３４０℃および金型温度７５℃でＣＤ光ディスク基板を１万枚成形した時、スタンパー上の付着物量が１５ｍｇ以下でありかつ（２）光ディスク基板の加速劣化試験（８０℃×８５％ＲＨ×１,０００時間）後において、大きさ２０μｍ以上の白点欠陥発生数が直径１２０ｍｍの円板状の基板当り２個以下である光学用ポリカーボネート樹脂成形材料。
【請求項５】安定剤および離型剤を含み、粘度平均分子量が１０，０００〜２２，０００の範囲であり、（１）シリンダー温度３８０℃および金型温度１１５℃でＤＶＤ光ディスク基板を１万枚成形した時、スタンパー上の付着物量が１５ｍｇ以下でありかつ（２）光ディスク基板の加速劣化試験（８０℃×８５％ＲＨ×１,０００時間）後において、大きさ２０μｍ以上の白点欠陥発生数が直径１２０ｍｍの円板状の基板当り２個以下である光学用ポリカーボネート樹脂成形材料。
【請求項６】請求項１記載の光学用ポリカーボネート樹脂成形材料より形成された光ディスク基板。
【請求項７】請求項４記載の光学用ポリカーボネート樹脂成形材料より形成された光ディスク基板。
【請求項８】請求項５記載の光学用ポリカーボネート樹脂成形材料より形成された光ディスク基板。
【請求項９】デジタルバーサタイルディスクに使用するための請求項６〜８のいずれか記載の光ディスク基板。」
　
【IV】取消理由の概要
　平成１６年２月１９日付け通知された取消理由の概要は、本件発明１〜９は、下記の刊行物１〜８に記載された発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本件発明１〜９に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものであり、また、明細書の記載が不備であるから、本件発明１〜９に係る特許は、特許法第３６条第４項及び第６項第２号に規定する要件を満たしていない特許出願に対してされたものであるから、取り消されるべきものである、というものである。
　　　　　　　　　　　　　　　記
刊行物１
刊行物２
刊行物３
刊行物４
刊行物５
刊行物６
刊行物７
刊行物８
　
【V】取消理由に対する判断
（特許法第２９条第２項違反について）
１．刊行物１〜５，８の記載事項
　刊行物１には、以下の事項が記載されている。
ａ．「繰返し単位の少くとも９０％が下記の一般式(I)であり、粘度平均分子量が１３０００〜１８０００であるポリカーボネートを溶融成形して光学用成形品を製造する方法において、該ポリカーボネートが含有する一般式(II)または一般式(III)で表わされる化合物の含有量が０．３％未満であることを特徴とする光学用成形品の製造方法。
但し、一般式(II)及び一般式(III)において、Ｘはアルキレン基，アルキリデン基，シクロアルキリデン基，−Ｏ−，−ＣＯ−，−ＯＣＯ−，−Ｓ−，−ＳＯ−または−ＳＯ2−であり、ＹはＨ，
または
であり、Ｒは炭素数１〜４のアルキル基であつて、同一であつても異なつていてもよく、Ｒ’は炭素数１〜２５のアルキル基である。また、ｐおよびｑは、それぞれ０〜４の整数であり、ｒは０〜５の整数でありｌは０または１であり、ｍおよびｎは０または正の整数で、かつ、ｍ＋ｎは０〜４の整数である。」（特許請求の範囲）
ｂ．「［発明の利用分野］、
　本発明はポリカーボネートよりなる光学用成形品（光学的情報記録媒体の基板）の製造方法に関し、特に光学的に情報の記録・再生をする例えば、光デイスク，デジタルオーデイオデイスク，ビデオデイスク等の基盤や光学成形品となる各種レンズ，プリズム等の製造方法に関する。
［従来技術及びその問題点］
・・・・ところが、かかる成形品の連続成形を続けていると、金型やスタンパーが微量の付着物により汚染されてくることがあり、微細なグルーブやピットの正確転写が損なわれると云う新しい問題が起きる。・・・
［発明の目的］
　本発明の目的は、ポリカーボネートの射出成形，射出圧縮成形あるいは圧縮成形等の超精密成形において、金型やスタンパーを汚染したり、かくして得られる成形品の湿熱処理によつてみられる透明性の低下を生じない光学用成形品の製造方法を提供することにある。」（１頁右欄下から５行〜２頁右上欄９行）
ｃ．「本発明方法の特徴は使用するポリカーボネートに含有される一般式(II)または一般式(III)で表される化合物の総含有率（以下、低分子量物含有率という）を制限したことにある。ここで、低分子量物含有率は、後に詳細を述べるように、特的の条件下で行なつて得られるゲルパーミエーシヨンクロマトグラムのすべてのピークの面積を１００として、ポリマー以外のピークの総面積を表した数値（％）で示したものである。」（２頁右下欄５〜１３行）
ｄ．「溶液法によるポリカーボネートは、二価フエノールとホスゲン或はそのクロロホーメートとの反応によつて製造することができる。・・・二価フェエノールはビスフエノールＡ・・・である。・・・また分子量調節剤は・・・ｔ−ブチルフエノール、・・・を挙げることができる。反応によつて得られるポリカーボネートの塩化メチレン溶液は、酸洗浄，アルカリ洗浄および純粋洗浄等によつて不純物を除去し、次の非溶剤処理の方法に応じて、濃度を調整するか或はポリカーボネートの粉末を得る。・・・　
　非溶剤抽出法は、固体のポリカーボネートをその約２〜１０倍容量の芳香族炭化水素，・・・脂肪族ケトン，・・・等を用いて抽出するものであつて、一般式(II)または一般式(III)で表わされる化合物は非溶剤に溶解した状態で抽出分離される。
　採取する方法，装置，条件等によつて、使用に適する非溶剤の種類および使用量が変わるがそれは若干の予備テストによつて容易に決めることができる。最も重要なことは、得られるポリカーボネートの低分子量含有量が０．３％未満になることであつて、その他に、作業性，経済性等が考慮されるであろう。」（３頁左上欄１１行〜右下欄下欄４行）
ｅ．「かくして得られるポリカーボネートは、通常使用される公知の添加剤、例えばリン酸エステル，亜リン酸エステル等の安定剤，高級脂肪酸エステル等の離型剤、更に要すれば、紫外線吸収剤，着色剤等を配合して、粉末状或いはペレツト状で溶融成形に供される。光学用成形品の成形条件は成形機の種類，成形品の形状等によつて一概には定め難いが、例えば、射出成形においては、樹脂温度３００〜３６０℃，金型温度９０〜１２０℃が適当である。」（４頁左上欄１７行〜右上欄６行）
ｆ．「＜連続成形性の評価＞
　ポリカーボネートペレツトを射出成形機・・・を用い樹脂温度３５０℃，金型温度１１０℃で厚さ１．２ｍｍ，直径１２０ｍｍの円盤を連続成形し、成形円盤に曇りが発生するショツト数を判定した。
＜転写性の測定＞
　ポリカーボネートペレツトを前記の射出成形機を用いて樹脂温度３５０℃，金型温度１１０℃で２．５μｍピツチグループ付きスタンパーを用い厚さ１．２ｍｍ，直径２００ｍｍのグループ付円盤に連続的に精密成形し、２０００ショツト後の成形品表面を走査型電顕（１万倍）にて観察した。」（４頁右下欄下から２行〜５頁左上欄１２行）
ｇ．「実施例１
　・・・ビスフェノールＡ７．１０ｋｇを投入し、・・・ホスゲン３．５ｋｇを１００分間で吹き込み、反応させた。吹き込み終了後、ｐ−ｔ−ブチルフエノール０．３１ｋｇを・・・加えて、２時間撹拌を続けて反応を終了した。
　反応終了後のメチレンクロライド層を取り出し、電解質が殆ど無くなるまで水洗した後、・・・粘度平均分子量１４，９００，低分子量物含有率１．２％のポリカーボネートを得た。該ポリカーボネート２ｋｇに対し、アセトン５．５ｌを加え、室温で撹拌２時間後濾過し、減圧乾燥して、精製ポリマーを得た。このものの低分子量物含有率は０．２２％であつた。
　該精製ポリカーボネート１００重量部に対して第１表記載の添加剤を配合して２５０〜２７０℃の温度範囲で・・・ペレツト化した。
　得られたペレツトを前記の射出成形機を用いて樹脂温度３５０℃，金型温度１１０℃の条件で７０ｍｍ×５０ｍｍ×２ｍｍの見本板と直径１２０ｍｍ，厚さ１．２ｍｍの円板に射出成形した。この評価結果は第１表のとおりであつた。」（５頁右上欄４行〜左下欄最下行）
ｈ．「
」（６頁上欄）
　
　刊行物２には、以下の事項が記載されている。
ａ．「（１）末端水酸基の含有量が、重合の繰り返し単位当り０．３モル％以下であるポリカーボネート樹脂からなることを特徴とした光学用成形品。
（２）残留ナトリウム量が１ｐｐｍ以下であることを特徴とする請求項１記載の光学用成形品」（特許請求の範囲第１〜２項）
ｂ．「本発明の光学用成形品において使用されるポリカーボネート樹脂としては、・・・・成形品が光学式ディスク基板である場合には１２０００〜２００００のものであれば特に制限はなく、二価フェノール類とホスゲン・・・との反応により製造されるものがある。」（２頁右下欄９〜１６行）
ｃ．「射出成形による原料ポリカーボネート樹脂は、従来公知の方法により製造した後、溶液状態において酸洗，アルカリ洗，水洗を繰返したり、酸，アルカリの濃度を変更したり、濾過処理をしたり、あるいは粒状の原料を、例えば加熱条件下でアセトンなどの貧溶媒で洗浄したりして低分子量成分，未反応成分，金属成分などの不純物や異物を除去することが好ましい。・・・
　なお、必要により、例えばリン系等の酸化防止剤などの添加剤を加えることも可能である。」（３頁右上欄下から６行〜左下欄９行）
ｄ．「このようにして製造した光学式ディスク基板中の末端水酸基の量は、重合鎖の繰り返し単位当り０．３モル以下に、また残留微量金属（ナトリウム）の量は１ｐｐｍ以下とする必要がある。
　本発明者達に実験によると、末端水酸基及びナトリウムの量がそれぞれ上記の量を越えると、光学式ディスク基板に発生する白点が急激に増加することが判明した。」（３頁右下欄６〜１３行）
ｅ．また、表１には、実施例１〜２，４において、基板サイズが１３０ｍｍφ、厚み１．２ｍｍの光ディスク基板を、８０℃、９０％ＲＨ、１０００時間及び２０００時間の加速劣化試験を行った後の、目視による５０μｍ以上の白点発生数が０個であったことが記載されている。
　
　刊行物３には、以下の事項が記載されている。
ａ．「【請求項１】粘度平均分子量（Ｍｖ）が１３，０００〜２０，０００のポリカーボネート樹脂であって、該ポリカーボネート樹脂中に含まれる分子量が１，０００以下の低分子量カーボネート化合物が１重量％未満であり、かつ分子量が２，０００〜５，０００のポリカーボネートオリゴマーが少なくとも１０重量％であることを特徴とする高流動性ポリカーボネート樹脂。」
ｂ．「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は高流動性ポリカーボネートおよびその製造方法に関し、更に詳しくは、特定のポリカーボネートを素材としてなるＣＤ、・・・・、デジタルビデオディスク（ＤＶＤ）などの光記録媒体を製造するのに好適な転写性、ハイサイクル成形性などが優れ、しかもスタンパーへの付着物の少ない、高流動性ポリカーボネート樹脂に関する。」
ｃ．「【００１１】分子量が１，０００以下の低分子量カーボネート化合物には、たとえば、ビスフェノールのホスゲン化反応で生成したビスフェノールのジクロロホルメートと分子量調節剤との縮合反応物であるジカーボネート化合物などが含まれる。このジカーボネート化合物が樹脂中０．２重量％を越える量含有すると、分子量が１，０００以下の低分子量カーボネート化合物が１重量％以下であっても、基板作成時にスタンパー汚染を引き起こす要因となり好ましくない。
【００１２】また、分子量が１，０００以下の低分子量カーボネート化合物が１重量％以上含まれるポリカーボネート樹脂は、ディスクの射出成形等を連続的に行った際に、比較的早い段階で金型やスタンパーが微量の付着物によって汚染される。これによって成形ディスクにくもりが生じたり、グルーブやピットの転写が損なわれる結果となり、スタンパーの交換時期を早める必要が生じるなどの不都合が生じ好ましくない。」
ｄ．「【００１４】・・・・このようにして得られたポリカーボネート樹脂は、通常使用される添加剤、例えば安定剤、離型剤、必要に応じて紫外線吸収剤、着色剤などが添加された後に、押出機によってペレット化される。・・・」
ｅ．「【００３４】〔低分子量カーボネート化合物およびポリカーボネートオリゴマー含有率〕上記手法によって得られた試料ポリカーボネートの溶出曲線（ピーク面積）に対して、分子量が１，０００以下の低分子量カーボネート化合物、及び分子量が２，０００〜５，０００のポリカーボネートオリゴマーのピーク面積の割合から含有率を求めた。
【００３５】〔未反応ビスフェノール含有率〕上記手法によって得られた試料ポリカーボネートの溶出曲線（ピーク面積）に対して、ビスフェノール（ＢＰＡ）のピーク面積の割合から含有率を求めた。
【００３６】〔ポリマー中のジカーボネート化合物含有率〕Ｗａｔｅｒｓ社製ＬＣ（カラム：Ｓｈｏｄｅｘ社製　Ｋ８０３Ｌ×２本）を用いて測定を行った。試料ポリカーボネートの溶出曲線（ピーク面積）に対して、ジカーボネート化合物のピーク面積の割合から含有率を求めた。」
ｆ．「【００４０】〔スタンパー付着物の観察〕
　コンパクトディスク金型を用いて、樹脂温度３４０℃、金型温度９０℃、射出圧１０００ｋｇ／ｃｍ2 、保持圧３００ｋｇ／ｃｍ2 にて、外径１２０ｍｍ、厚さ１．２ｍｍの円盤を射出成形（射出成形機：住友重機工業（株）製のネオマット、３５０／１２０（ＳＹＣＡＰ　付））し、連続５，０００ショット成形した後、成形後のスタンパー付着物について原子間力顕微鏡で観察した。
【００４１】実施例１
　反転式撹拌機、ガス吹き込み管および凝縮器を備えたジャケット付き１００Ｌガラスライニング製反応釜に、８．８％(w/v) の水酸化ナトリウム水溶液３４リットルに、２，２−ビス（４−ヒドロキシフェニル）プロパン（BPA ）７．００Kg（31mol ）とハイドロサルファイト２０ｇを加え溶解した。
  これにメチレンクロライド１１リットル加え、反転速度１８０回／分で撹拌しながら、溶液温度を１５℃に保ちつつ、ホスゲン３．３Ｋｇを３０分かけて吹き込んだ。
  ホスゲンの吹き込み終了後、１２％(w/v) のトリエチルベンジルアンモニウムクロライド水溶液５０ｍｌ（0.026mol）、８．８％(w/v) の水酸化ナトリウム水溶液２リットルおよびメチレンクロライド９リットルを加え、反応混合液の温度を２１℃に保持したまま反転速度を２１０回／分で１５分撹拌した。反応混合物の粘度平均分子量（Ｍｖ）が１１，６００に達したのでｐ−ｔ−ブチルフェノールを０．２７Kg（1.8mol）、８．８％(w/v) の水酸化ナトリウム水溶液３リットルおよび0.043molのトリエチルアミンを加え、反応混合物の温度を２７℃に保持したまま反転速度２００回／分で撹拌しながら約１時間重合させた。
【００４２】重合液を水相と有機相に分離し、有機相をリン酸で中和し、洗液のpHが中性になるまで純水で水洗を繰り返した後、マイクロフィルターにて有機相を濾過した。有機相にイソプロパノール４７リットルを加え、重合物を沈澱させた。沈澱物を濾過後、クリーン乾燥機にて乾燥し粉末状重合体を得た。
【００４３】この重合体は、ＧＰＣ分析の結果、粘度平均分子量（Ｍｖ）１５，４００であった。比色法による樹脂末端ＯＨ基量は１００ｐｐｍ、及び
比色法による樹脂末端Ｃｌ基量は０．０５ｐｐｍであった。ＧＰＣとＬＣによる分析の結果、ＢＰＡは２０ｐｐｍ以下であり、分子量が２，０００〜５，０００のポリカーボネートオリゴマーが１２．６重量％、分子量が１，０００以下の低分子量カーボネート化合物が０．７４重量％、ジカーボネート化合物が０．１２重量％含まれていた。
【００４４】この得られた粉末状重合体をステアリン酸モノグリセリド０．０３％を添加した後、Ｌ／Ｄ＝２８のベント付二軸押出機にて、樹脂温度２７０℃でペレット化した。得られたペレットをクリーン乾燥機にて１２０℃で４時間乾燥し、ディスク成形機にて樹脂温度３４０℃、金型温度９０℃にて、外径１２０ｍｍ、厚さ１．２ｍｍのコンパクトディスクを連続５，０００ショット射出成形した後、成形後のスタンパー付着物について原子間力顕微鏡で観察した。
　結果を表１に示す。」
ｇ．「 【表１】
」
　
　刊行物４には、以下の事項が記載されている。
ａ．「（１）ＩＡ族及びVIII族に属する金属のうち、一種類の金属の含有量が１ppm以下であるポリカーボネート樹脂からなることを特徴とした光学式ディスク基板。
（２）ポリカーボネート樹脂の粘度平均分子量が、１００００〜２２０００であることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光学式ディスク基板。」（特許請求の範囲第１〜２項）
ｂ．「射出成形に用いる原料ポリカーボネート樹脂は、従来公知の方法により製造した後、溶液状態において酸洗，アルカリ洗，水洗を繰返したり、濾過処理をしたり、あるいは粒状の原料を、例えば加熱条件下でアセトンなどの貧溶媒で洗浄したりして低分子量成分、未反応成分、金属成分等の不純物や異物を除去することが好ましい。・・・
　なお、必要により、例えばリン系等の酸化防止剤などの添加剤を加えることも可能である。」（３頁左上欄７〜１８行）
ｃ．「本発明者達の実験によると、ＩＡ属及びVIII属に属する金属、特にＦｅ，Ｎａ等の金属残留量が１ppmを越えると、ポリカーボネート樹脂の劣化が早まることが判明した。」（３頁右下欄８〜１１行）
ｄ．また、表１には、射出成形した光ディスク基板を、８０℃，９０％ＲＨ，１０００時間又は２０００時間の条件で加速劣化テストを行った後の外観が良好である実施例Ａ１及び実施例Ａ２が記載され、比較例Ａ１は外観がやや白化したことことも記載されている。
　
　刊行物５には、以下の事項が記載されている。
「【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、低分子量体の少ない光学用ポリカーボネート樹脂の製造法に関するものである。ポリカーボネート樹脂は、レーザー光の反射や透過によって信号の読み取りを行う、光ディスク用、コンパクトディスク用の原料として用いられており、本発明の低分子量体の少ない光学用ポリカーボネート樹脂を使用することにより、ディスク成形時に発生するスタンパーの汚れを低減し、高温高湿の環境下における、成形品の白点の発生を抑えることができるので、光ディスク用、コンパクトディスク用の原料として、特に有用である。」
　
　刊行物８には、以下の事項が記載されている。
「本発明は、レーザー光の反射や透過によって信号の記録や読み取りを行う光ディスク用のポリカーボネート成形材料であり、高温多湿環境下において信号の読み取りエラーとなるディスク基板中の白点の生成を大幅に改善したものである。」（１頁右欄２〜６行）
　
２．対比・判断
　刊行物１の記載事項ｅには、「リン酸エステル，亜リン酸エステル等の安定剤，高級脂肪酸エステル等の離型剤・・・等を配合」することが記載され、また、記載事項ｈの実施例には、りん化合物からなる安定剤と脂肪酸エステルからなる離型剤が共に含まれた材料が記載されていることから、記載事項ａ，ｂ，ｅ，ｆ及びｈからみて、刊行物１には、安定剤及び離型剤を含み、粘度平均分子量１３０００〜１８０００の範囲である光学用成形品ポリカーボネート材料が記載されている。
　そこで、本件発明４と刊行物１に記載された発明を対比すると、両者は、「安定剤及び離型剤を含み、粘度平均分子量１３，０００〜１８，０００の範囲である光学用ポリカーボネート樹脂成形材料」である点で一致し、下記の点で相違している。
（相違点Ａ）本件発明４は、「シリンダー温度３４０℃および金型温度７５℃でＣＤ光ディスク基板を１万枚成形した時、スタンパー上の付着物量が１５ｍｇ以下」であるのに対し、刊行物１に記載された発明では当該規定はなされていない点。
（相違点Ｂ）本件発明４は、「光ディスク基板の加速劣化試験（８０℃×８５％ＲＨ×１,０００時間）後において、大きさ２０μｍ以上の白点欠陥発生数が直径１２０ｍｍの円板状の基板当り２個以下」であるのに対し、刊行物１に記載された発明では当該規定はなされていない点。
　そこで、まず上記相違点Ａについて検討する。
　刊行物１には、ポリカーボネートに含まれる一般式(II)あるいは一般式（III)で示される低分子量物の含有量率を０．３％未満とすることにより、射出成形などの超精密溶融成形時に、スタンパーが付着物により汚染されない旨が記載され（記載事項ａ，ｂ，ｃ）、樹脂温度３５０℃金型温度１１０℃で厚さ１．２ｍｍ直径１２０ｍｍの円盤を１０，０００以上のショツトで成形しても成形円盤に曇りが生じていないことが実施例で確認されている（記載事項ｆ，ｈ）。また、刊行物１に記載された発明と同様に、ポリカーボネートに含まれる低分子量物を一定値以下に制限することにより、スタンパーが微量の付着物により汚染されるのを防ぐ旨が記載されている刊行物３（記載事項ａ，ｃ）において、光ディスクの射出成形連続５，０００ショット成形後のスタンパー上の付着物を実際に原子間力顕微鏡で観察し、付着物がないことを確認していること（記載事項ｆの段落【００４４】，ｇ）を考慮するならば、刊行物１に記載された発明において同様にスタンパー上の付着物の有無を観察し、付着物量を測定して成形に影響しない程度にその量を抑えることは、当業者が容易に想到し得る程度の事項である。
　また、そのスタンパー上の付着物量の測定の条件を、本件発明１のシリンダー温度３４０℃および金型温度７５℃でＣＤ光ディスク基板を１万枚成形した時とすることは当業者が必要に応じて適宜設定する事項にすぎない。
　さらに、付着物量が少ないほど良いことは自明であるから、本件発明１においてスタンパー上の付着物量を１５ｍｇ以下とすることに、格別の想到困難性があったとはいえない。
　次に相違点Ｂについて検討する。
　刊行物８に記載されるように、光学用ポリカーボネート樹脂成形品の高温多湿環境下における白点の発生を防ぐことは、本件出願時当業者に周知の課題であり、ナトリウムの残留量を１ｐｐｍ以下とすることにより、光学用ポリカーボネート樹脂成形品の加速劣化試験（８０℃×９０％ＲＨ×１０００時間）後の白点の発生や白化を防ぐことも、刊行物２（記載事項ｄ，ｅ）及び刊行物４（記載事項ｃ，ｄ）に記載されている。そして、刊行物５には、光学用ポリカーボネート樹脂成形品の成形時のスタンパーの汚れ低減と加熱劣化試験後の白点の発生防止の両方が望まれることが記載されていることを合わせ考慮するならば、刊行物１に記載された発明においても、スタンパー上の付着物量の低減を図るとともに、ナトリウムの残留量を１ｐｐｍ以下とすることにより加熱劣化試験後に白点欠陥が発生しないようにすることは、当業者が容易に想到し得る事項であるといえる。
　また、加熱劣化試験の具体的な条件や許容できる基板当りの白点欠陥の個数は、当業者が必要に応じて適宜設定し得る事項にすぎない。
　そして、本件発明４の効果は相違点Ａ及びＢの発明特定事項を採用することにより必然的に奏される効果であり、相違点Ａ及びＢを合わせ考慮しても、本件発明４は、刊行物１〜５及び８に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものといえる。
　
　本件発明５と刊行物１に記載された発明を対比すると、両者は、「安定剤及び離型剤を含み、粘度平均分子量１３，０００〜１８，０００の範囲である光学用ポリカーボネート樹脂成形材料」である点で一致し、下記の点で相違している。
（相違点Ｃ）本件発明５は、「シリンダー温度３８０℃および金型温度１１５℃でＤＶＤ光ディスク基板を１万枚成形した時、スタンパー上の付着物量が１５ｍｇ以下」であるのに対し、刊行物１に記載された発明では当該規定はなされていない点。
（相違点Ｄ）本件発明５は、「光ディスク基板の加速劣化試験（８０℃×８５％ＲＨ×１,０００時間）後において、大きさ２０μｍ以上の白点欠陥発生数が直径１２０ｍｍの円板状の基板当り２個以下」であるのに対し、刊行物１に記載された発明では当該規定はなされていない点。
　そこで、上記相違点Ｃについて検討すると、上記の相違点Ａについて記載したように、刊行物１に記載された発明において、スタンパー上の付着物量を１５ｍｇ以下とすることは、当業者が容易に想到し得る事項であり、また、スタンパー上の付着物量の測定条件は当業者が適宜設定し得る事項にすぎない。
　相違点Ｄについても、上記の相違点Ｂについて記載したように、刊行物１に記載された発明において、適当な測定条件を定めて白点欠陥の発生個数を基板あたり２個以下とすることは、当業者が容易に想到し得る。
　そして、本件発明５の効果は相違点Ｃ及びＤの発明特定事項を採用することにより必然的に奏される効果であり、相違点ＣとＤを合わせ考慮しても、本件発明５は、刊行物１〜５及び８に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものといえる。
　
　本件発明７は、本件発明４の光学用ポリカーボネート樹脂成形材料より成形された光ディスク基板に関する発明であり、本件発明８は、本件発明５の光学用ポリカーボネート樹脂成形材料より成形された光ディスク基板に関する発明であり、本件発明９は、本件発明７〜８をデジタルバーサタイルディスクに使用するためのものと特定する発明であるが、刊行物１〜５及び８には、ポリカーボネート樹脂を、デジタルバーサタイルディスク（ＤＶＤ）等の光ディスク基板に用いることが記載されているので、本件発明４〜５が、刊行物１〜５及び８に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである以上、本件発明７〜９も、刊行物１〜５及び８に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたということができる。
　　
（特許法第３６条第４項違反について）
　本件発明１においては、「熱重量分析で５％減量開始温度が４００℃以下の物質（Ａ）の総量が１重量％以下」であることが特定されている。
　当該物質（Ａ）の総量を測定するには、ポリカーボネート樹脂成形材料自体を分析し、全ての成分を同定・定量した後、その純物質を用意してそれら各々の５％減量開始温度を測定し、その上で、全ての成分の中から物質Ａに相当する成分を特定した後で、ポリカーボネート樹脂成形材料中の総量を計算することが必要であると認められる。
　しかしながら、本件明細書の発明の詳細な説明においては、当該物質（Ａ）をＰＣ製造由来物質と添加剤由来物質の２種類に区分けし、当該２種類の分類に含まれ得る具体的物質名が例として記載されているだけであり、ポリカーボネート樹脂成形材中の物質（Ａ）に相当する成分をどのように確定するかについては、なんら具体的な記載はない。
　また、実施例におけるＰＣ製造由来物質と添加剤由来物質の合計量の測定法についても、物質（Ａ）に含まれる成分が何であったかを記載しておらず、成形前のポリカーボネート樹脂成形材料の物質Ａの総量を特定する方法は不明である。
　さらに、平成１６年４月３０日付け意見書において、「物質（Ａ）中のＰＣ製造由来物質は段落【００４２】に掲載され、例示された化合物が大部分である。一方、添加剤由来物質（安定剤及び離型剤）は、添加化合物自体の５％減量開始温度を測定すればよく、これらの代表的な化合物およびその５％開始温度は、段落【００４２】に記載されている。」と特許権者が主張しているように、例示された化合物が物質（Ａ）の大部分であるとしても、全てを網羅しているわけではなく、例示のＰＣ製造由来物質と例示の添加剤由来物質の合計量は物質（Ａ）の総量とは一致しない。
　したがって、発明の詳細な説明は、物質（Ａ）の総量の測定方法についてなんら記載しておらず、また、当業者が物質（Ａ）の総量を測定するには過度な負担を要すると認められることから、発明の詳細な説明は、本件発明１について、当業者が実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されているということはできない。
　発明の詳細な説明は、本件発明１について当業者が実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されているとはいえない以上、本件発明１と同様に当該物質（Ａ）の総量が発明特定事項の一つとなっている本件発明２〜３，６，９についても、当業者が実施をすることができる程度に明確かつ十分に記載されているということはできない。
　
（特許法第３６条第６項第２号）
　請求項４及び５においては、スタンパー上の付着物量を規定しているが、一般に、スタンパーを構成する材質により付着物の付着量は異なるということができるので、請求項４及び５の記載では、発明を明確に記載したとはいえない。
　また、請求項４あるいは５を引用することにより、材質が特定されていないスタンパー上の付着物量を発明特定事項の一つとする請求項７〜９の記載も、発明を明確に記載したとはいえない。
　したがって、本件発明４〜５，７〜９に係る特許は、明細書の記載が不備であり、特許法第３６条第６項第２号の規定を満たしていない特許出願に対してされたものである。
　
【VI】むすび
　以上のとおり、本件発明４〜５，７〜９は、刊行物１〜５及び８に記載された発明に基づいて当業者が容易になし得た発明であるから、本件発明４〜５，７〜９に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものであり、また、本件発明１〜３，６，９に係る特許は、明細書の記載が不備であり、特許法第３６条第４項の規定を満たしていない特許出願に対してされたものであり、さらに、本件発明４〜５，７〜９に係る特許は、明細書の記載が不備であり、特許法第３６条第６項第２号の規定を満たしていない特許出願に対してされたものである。
　したがって、本件発明１〜９係る特許は、特許法第１１３条第２号に該当し、取り消されるべきものである。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１７年３月１６日（２００５．３．１６）