【事件の表示】
　特許第３１４９５２２号「クリーム半田の外観検査方法」の請求項１に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　訂正を認める。
　特許第３１４９５２２号の請求項１に係る特許を維持する。
【理　由】
【１】手続きの経緯　
　本件特許第３１４９５２２号の請求項１に係る発明についての出願は、平成４年４月２４日に特許出願され、平成１３年１月１９日に設定登録され、その後、大和田　百合子より特許異議の申立てがなされ、取消理由通知がなされたところ、その指定期間内である平成１５年１月１０日に訂正請求がなされたものである。
　
【２】訂正の適否
ア．訂正事項
ａ．特許請求の範囲の請求項１の、
　　「【請求項１】銅箔から成る基板の電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方から波長６００ｎｍ以下の光を照射し、この基板から反射されたクリーム半田の散乱光を含む反射光を上方のカメラに入射させて明暗画像を入手し、この明暗画像を基にこのクリーム半田の塗布量の良否判定を行うことを特徴とするクリーム半田の外観検査方法。」を、
　　「【請求項１】銅箔から成る基板の電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方から波長６００ｎｍ以下であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍの光を照射し、この基板から反射されたクリーム半田の散乱光を含む反射光を上方のカメラに入射させて明暗画像を入手し、この明暗画像を基にこのクリーム半田の塗布量の良否判定を行うことを特徴とするクリーム半田の外観検査方法。」
に訂正する。
ｂ．明細書段落番号【００１１】の
　　「【課題を解決するための手段】このために本発明は、基板の銅箔から成る電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方より波長６００ｎｍ以下の光を照射し、この基板から反射されたクリーム半田の散乱光を含む反射光を上方のカメラに入射させ、その明暗画像を基にクリーム半田の塗布量の良否判定を行うものである。」を、
　　「【課題を解決するための手段】
　このために本発明は、基板の銅箔から成る電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方より波長６００ｎｍ以下てあってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍの光を照射し、この基板から反射されたクリーム半田の散乱光を含む反射光を上方のカメラに入射させ、その明暗画像を基にクリーム半田の塗布量の良否判定を行うものである。」
に訂正する。
ｃ．明細書段落番号【００１２】の
　　「【作用】上記構成によれば、基板の電極に半田コーティング部がない場合において、電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方より波長６００ｎｍ以下の光を照射すると．クリーム半田は光を散乱することから上方のカメラに明るく観察される。一方、電極の材料である銅箔は波長６００ｎｍ以下の光は吸収する特性を有するので、カメラに暗く観察される。従ってカメラに入手された明暗画像において、クリーム半田と電極の境界線は明瞭であってクリーム半田の形状や大きさを明白に認識でき、クリーム半田の塗布量の良否判定を的確に行うことができる。また基板の電極に半田コーティング部がある場合は、斜め上方から光を照射することにより、図５Ｂ−ｂ欄で示した場合と同様にクリーム半田と半田コーティング部の境界は明瞭であり、クリーム半田の形状や大きさを明白に認識できる。」を、
　　「【作用】
　上記構成によれば、基板の電極に半田コーティング部がない場合において、電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方より波長６００ｎｍ以下であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍの光を照射すると、クリーム半田は光を散乱することから上方のカメラに明るく観察される。一方、電極の材料である銅箔は波長６００ｎｍ以下の光は吸収する特性を有するので、カメラに暗く観察される。従ってカメラに入手された明暗画像において、クリーム半田と電極の境界線は明瞭であってクリーム半田の形状や大きさを明白に認識てき、クリーム半田の塗布量の良否判定を的確に行うことができる。また基板の電極に半田コーティング部がある場合は、斜め上方から光を照射することにより、図５Ｂ−ｂ欄で示した場合と同様にクリーム半田と半田コーディング部の境界は明瞭であり、クリーム半田の形状や大きさを明白に認識できる。」
に訂正する。
ｄ．明細書段落番号【００２２】の
　「【発明の効果】以上説明したように本発明ては、銅箔から成る電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方から波長６００ｎｍ以下の光を照射し、この基板から反射されたクリーム半田の散乱光を含む反射光を上方のカメラに入射させて明暗画像を入手し、この明暗画像を基にこのクリーム半田の塗布量の良否判定を行うので、半田レべラーなどの半田コーティング部の有無にかかわらず、クリーム半田の塗布量の良否判定を的確に行うことができる。」を、
　「【発明の効果】
　以上説明したように本発明では、銅箔から成る電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方から波長６００ｎｍ以下であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍの光を照射し、この基板から反射されたクリーム半田の散乱光を含む反射光を上方のカメラに入射させて明暗画像を入手し、この明暗画像を基にこのクリーム半田の塗布量の良否判定を行うので、半田レべラーなどの半田コーティング部の有無にかかわらず、クリーム半田の塗布量の良否判定を的確に行うことができる。」
に訂正する。
イ．訂正の目的の適否、新規事項の有無及び拡張・変更の存否
（１）訂正事項ａ．について
　訂正事項ａ．は「波長６００ｎｍ以下の光」を「波長６００ｎｍ以下であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍの光」と限定するものであり、特許請求の範囲の減縮に相当するものである。
（２）訂正事項ｂ．〜ｄ．について
　訂正事項ｂ．〜ｄ．は、前記特許請求の範囲の訂正（訂正事項ａ．）に合わせて発明の詳細な説明の対応箇所を訂正するものであり、明りょうでない記載の釈明に相当するものである。
　そして、訂正事項ａ．〜ｄ．は訂正前の明細書に記載された事項に基づくものであり、また、特許請求の範囲を実質上拡張又は変更するものではない。
ウ．むすび
　以上のとおりであるから、前記訂正（訂正事項ａ．〜ｄ．）は、特許法等の一部を改正する法律（平成６年法律第１１６号。以下「平成６年改正法」という。）附則第６条第１項の規定によりなお従前の例によるとされる、特許法第１２０条の４第３項において準用する平成６年改正法による改正前の特許法第１２６条第１項ただし書き、第２項及び第３項の規定に適合するので、当該訂正を認める。
【３】特許異議の申立てについての判断（取消理由についての判断）
　ア．申立ての理由の概要
申立人　大和田　百合子は、甲第１号証（特開平２−２０８５４５号公報）、甲第２号証（特開昭５７−１９９９４５号公報）、及び参考資料(Lens Illumination Peripherals（総合カタログ：株式会社モリテックス）を提出し、請求項１に係る発明は、参考資料に記載の事項を踏まえた上で、これら甲第１号証及び甲第２号証に記載された発明から当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法第２９条第２項の規定により、特許を受けることができないものであるから、特許を取り消すべきであると主張している。
イ．本件発明
　本件請求項１に係る発明は、訂正された明細書及び図面の記載からみて、特許請求の範囲の請求項１に記載された次のとおりのものである。
「【請求項１】銅箔から成る基板の電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方から波長６００ｎｍ以下であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍの光を照射し、この基板から反射されたクリーム半田の散乱光を含む反射光を上方のカメラに入射させて明暗画像を入手し、この明暗画像を基にこのクリーム半田の塗布量の良否判定を行うことを特徴とするクリーム半田の外観検査方法。」。
ウ．引用刊行物
　　訂正明細書の請求項１に係る発明（以下、「本件請求項１に係る発明」という。）に対して、当審が通知した取消理由で引用した、特開平２−２０８５４５号公報（甲第１号証と同じ。以下、「引用例」という。）には、次の技術的事項が記載されている。
（１）「本発明は、プリント基板へのクリーム状はんだの塗布状態の良否検査方法に関する。」（公報１頁左下欄１１行〜１２行）
（２）「１はプリント基板、２はそのプリント基板１の上に予め形成された印刷回路の導体（銅箔）、３はその上にスクリーン印刷されたクリーム状はんだである。印刷回路の導体２´の表面にクリーム状はんだが塗布されていないのは何らかの阻害要因による。
　４はイメージセンサを内蔵した撮像装置、５はそのレンズである。６は波長６００ｎｍ（ナノメートル）の近傍にピークスペクトルを有する蛍光放電灯であって、可視光の中でも波長が大である（第２図）。また、その放電灯６は検査目的物を所定の角度θで照明するように配置されている。」（公報２頁左上欄５行〜１７行）
（３）「上記構成において、蛍光放電灯６によって検査対象物であるプリント基板２を照明すると、その反射光がレンズ５に達するが、その反射光によって撮像装置４が出力する電圧は、その最大出力が１０００ｍｖであるのに対し、
印刷回路の導体（銅箔）２のとき、４００ｍｖ、クリーム状はんだ３のとき、８００ｍｖ、の出力が得られる。したがって前記撮像装置に接続された画像処理装置（図示されていない）によってその出力を処理し、印刷回路の導体２とクリーム状はんだ３とを完全に識別した検査結果を得ることができる。」（公報２頁右上欄３行〜１４行）
（４）「これに対して、放電灯のスペクトルが波長６００ｎｍ（ナノメートル）未満のものでは、印刷回路の導体（銅箔）２とクリーム状はんだ３の出力電圧はほぼ同等であって、識別できる程の差異が得られない。」（公報２頁右上欄１５行〜１９行）
エ．対比・判断
（引用例）
　本件請求項１に係る発明と引用例に記載の発明とを対比すると、引用例に記載された発明は、本件請求項１に係る発明の構成要件である「波長６００ｎｍ以下であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍの光を照射」する構成を有していない。
　すなわち、引用例のものは、波長６００ｎｍ（ナノメートル）の近傍にピークスペクトルを有する蛍光放電灯からの光を照射する構成を有するものの、「ピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍの光を照射」する構成は開示されていない。
　しかも、引用例は、上記【３】ウ．（４）に摘記したとおり、「放電灯のスペクトルが波長６００ｎｍ（ナノメートル）未満のものでは・・・識別できる程の差異が得られない」のであることから、波長６００ｎｍ（ナノメートル）未満の光を照射することを意図しているものではないと解される。
　そして、上記構成により、本件請求項１に係る発明は、「半田レべラーなどの半田コーティング部の有無にかかわらず、クリーム半田の塗布量の良否判定を的確に行うことができる」という、明細書に記載の効果を奏するものと認められる。
　したがって、本件請求項１に係る発明は、引用例に記載された発明と同一とは言えず、また、それから容易に発明をすることができたものであるとも言えない。
（その他の刊行物）
　異議申立人の提出したその他の刊行物のうち、甲第２号証（特開昭５７−１９９９４５号公報）は、はんだ付けぬれ性の測定評価装置に関するものであるが、甲第１号証と同様「波長６００ｎｍ以下であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍの光を照射」する構成について記載されていない。
　また、参考資料(Lens Illumination Peripherals（総合カタログ：株式会社モリテックス）は、そもそも本願出願前に頒布された刊行物か否か、不明であり、かつ、該参考資料に記載されている蛍光ランプが、引用例の蛍光放電灯と如何なる関係にあるかも不明である（両者は分光分布特性を異にするものである。）。
【４】むすび
　したがって本件請求項１に係る発明は、異議申立人の提出した刊行物に記載された発明及び参考資料に記載されたもののいずれとも同一ではなく、また、それらから容易に発明をすることができたものであるとも言えない。
　また、他に本件請求項１に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１５年１月１７日（２００３．１．１７）
【訂正の要旨】
訂正事項
　（ａ）特許請求の範囲の請求項１の、
　「銅箔から成る基板の電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方から波長６００ｎｍ以下の光を照射し、この基板から反射されたクリーム半田の散乱光を含む反射光を上方のカメラに入射させて明暗画像を入手し、この明暗画像を基にこのクリーム半田の塗布量の良否判定を行うことを特徴とするクリーム半田の外観検査方法。」を、
　「銅箔から成る基板の電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方から波長６００ｎｍ以下
であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍ
に訂正する。
　（ｂ）（００１１）の
　「【課題を解決するための手段】
　このために本発明は、基板の銅箔から成る電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方より波長６００ｎｍ以下の光を照射し、この基板から反射されたクリーム半田の散乱光を含む反射光を上方のカメラに入射させ、その明暗画像を基にクリーム半田の塗布量の良否判定を行うものである。」を、
　「【課題を解決するための手段】
　このために本発明は、基板の銅箔から成る電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方より波長６００ｎｍ以下
であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍ
に訂正する。
　（ｃ）（００１２）の
　「【作用】
　上記構成によれば、基板の電極に半田コーティング部がない場合において、電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方より波長６００ｎｍ以下の光を照射すると、クリーム半田は光を散乱することから上方のカメラに明るく観察される。一方、電極の材料である銅箔は波長６００ｎｍ以下の光は吸収する特性を有するので、カメラに暗く観察される。従ってカメラに入手された明暗画像において、クリーム半田と電極の境界線は明瞭であってクリーム半田の形状や大きさを明白に認識でき、クリーム半田の塗布量の良否判定を的確に行うことができる。また基板の電極に半田コーティング部がある場合は、斜め上方から光を照射することにより、図５Ｂ−ｂ欄で示した場合と同様にクリーム半田と半田コーティング部の境界は明瞭であり、クリーム半田の形状や大きさを明白に認識できる。」を、
　「【作用】
　上記構成によれば、基板の電極に半田コーティング部がない場合において、電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方より波長６００ｎｍ以下
であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍ
に訂正する。
　（ｄ）（００２２）の
　「【発明の効果】
　以上説明したように本発明では、銅箔から成る電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方から波長６００ｎｍ以下の光を照射し、この基板から反射されたクリーム半田の散乱光を含む反射光を上方のカメラに入射させて明暗画像を入手し、この明暗画像を基にこのクリーム半田の塗布量の良否判定を行うので、半田レベラーなどの半田コーティング部の有無にかかわらず、クリーム半田の塗布量の良否判定を的確に行うことができる。」を、
　「【発明の効果】
　以上説明したように本発明では、銅箔から成る電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方から波長６００ｎｍ以下
であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍ
に訂正する。
（５４）【発明の名称】
クリーム半田の外観検査方法
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】銅箔から成る基板の電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方から波長６００ｎｍ以下
であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍ
【発明の詳細な説明】
　【０００１】
　【産業上の利用分野】
　本発明はクリーム半田の外観検査方法に係り、詳しくは、半田レベラーなどの半田コーティング部の有無にかかわらず、電極上に形成されたクリーム半田の塗布量の良否判定を的確に行うことができるクリーム半田の外観検査方法に関する。
　【０００２】
　【従来の技術】
　ＩＣ、ＬＳＩなどのチップは半田付けにより基板の電極に接着される。この半田付けは、スクリーン印刷装置により基板の電極にクリーム半田を塗布し、このクリーム半田上にチップのリードを着地させた後、リフロー装置によりクリーム半田を加熱処理して行われる。
　【０００３】
　ところで、クリーム半田の塗布量が適正でないと、半田付けが不良になりやすいことから、チップマウンタによりチップを基板に搭載する前に、クリーム半田部の塗布量の良否を判定する検査が行われる。この検査方法として、ＣＣＤカメラを用いてクリーム半田の面積を測定し、その結果に基づいてクリーム半田の塗布量の良否を判定することが知られている。
　【０００４】
　図４は従来手段に係るクリーム半田の外観検査装置の正面図である。１０１は基板であり、この基板１０１に形成された銅箔の電極１０２上には半田コーティング部としての半田レベラー１０３が形成されており、さらにその上にクリーム半田１０４が塗布されている。半田コーティング部としては、半田レベラー以外にも、半田メッキなども多用されている。１０５は基板１０１上に塗布されたソルダーレジストである。１０６はクリーム半田１０４を上方から観察するためのカメラ、１０７はカメラ１０６の下方に配置されたリング状の光源である。光源１０７から発光された光はクリーム半田１０４に斜め上方から照射され、その反射光は上方に配置されたカメラ１０６に入射し、その明暗画像に基づいて、クリーム半田１０４の塗布量の良否が判定される。以下、この検査装置を用いたクリーム半田１０４の画像検査方法を説明する。
　【０００５】
　図５のＡ欄は電極１０２周辺の断面図であり、Ｂ欄はカメラ１０６に入手された明暗画像である。ａ欄は電極１０２上に半田レベラー１０３無のものを示し、ｂ欄は電極１０２上に半田レベラー１０３有のものを示している。
　【０００６】
　Ａ−ａ欄において、光源１０７より斜め上方から光ａを照射すると、クリーム半田１０４は球状粒子の集合体なのでその表面で光は散乱しやすく、その反射光の一部は上方のカメラ１０６に入射し、Ｂ−ａ欄に示すように明るく観察される。電極１０２はやや粗面な金属面なのでこれに照射された光ｂは反射光は散乱光と正反射光に分離し、散乱光の一部が入射してカメラ１０６にやや明るく観察される。またソルダーレジスト１０５はその表面が平滑面なので、光ｃは斜め上方に正反射してカメラ１０６には入射せず、暗く観察される。基板１０１は光を吸収し、カメラ１０６に暗く観察される。したがってＡ−ａ欄に示すものは、Ｂ−ａ欄に示す明暗分布となるが、電極１０２はやや明るく観察されるので、明るく観察されるクリーム半田１０４との境界がはっきりせず、クリーム半田１０４の形状や大きさ、ひいてはクリーム半田１０４の塗布量の良否を正しく判断しにくいものである。
　【０００７】
　Ａ−ｂ欄は半田レベラー１０３のある電極１０２周辺の断面図であり、Ｂ−ｂ欄はそのカメラ１０６に入手された明暗画像である。Ａ−ｂ欄において、電極１０２上に塗布された半田レベラー１０３は平滑な鏡面であって、斜め上方から照射された光ｄは斜め上方に反射されるので上方のカメラ１０６には入射せず、Ｂ−ｂ欄に示すように暗く観察される。その他の箇所の明暗は、Ｂ−ａ欄の場合と同様であって、クリーム半田１０４は明るく、ソルダーレジスト１０５および基板１０１は暗く観察される。従って、クリーム半田１０４と電極１０２の境界線は明瞭であり、クリーム半田１０４の塗布量の良否を正しく判定できる。
　【０００８】
　【発明が解決しようとする課題】
　従来のクリーム半田１０４の外観検査方法では、上述したように電極１０２上に半田レベラー１０３がある場合には、半田レベラー１０３とクリーム半田１０４の明暗は鮮明で境界線も明瞭なので、クリーム半田１０４の形状や大きさを明白に認識できるが、電極１０２上に半田レベラー１０３がない場合には、クリーム半田１０４と電極１０２の境界線は曖昧となり、クリーム半田１０４の形状や大きさを的確に認識できず、ひいてはクリーム半田１０４の塗布量の良否を正しく判定できないという問題点があった。
　【０００９】
　ところで、電極１０２は一般に銅箔により形成されるが、銅箔は自然光はそのかなりの部分を反射するが、６００ｎｍ以下の波長の光は吸収するという光学的特性を有している。
　【００１０】
　そこで本発明は、上記実情に鑑みなされたものであって、半田コーティング部の有無にかかわらず、電極上に形成されたクリーム半田をカメラにより明瞭に認識して、クリーム半田の良否判定を的確に行うことができる外観検査方法を提供することを目的とする。
　【００１１】
　【課題を解決するための手段】
　このために本発明は、基板の銅箔から成る電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方より波長６００ｎｍ以下
であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍ
　【００１２】
　【作用】
　上記構成によれば、基板の電極に半田コーティング部がない場合において、電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方より波長６００ｎｍ以下
であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍ
　【００１３】
　【実施例】
　次に、図面を参照しながら本発明の実施例を説明する。図１は本発明に係るクリーム半田の外観検査装置の正面図である。１は基板であり、この基板１に形成された銅箔から成る電極２上には半田レベラーや半田メッキなどの半田コーティング部３が形成されており、さらにその上にクリーム半田４が塗布されている。５は基板１上に塗布されたソルダーレジストであり、６はクリーム半田４を上方から観察するためのカメラである。
　【００１４】
　７は光源であり、この光源７には光ファイバー８を介してカメラ６の下方に配置された照明用のリングファイバー９が接続されている。このリングファイバー９は、クリーム半田４に対して２０〜３０度（対垂直軸）の斜め上方から光が照射されるように配置されている。このようにクリーム半田４に対して斜め上方から光を照射することにより、図５Ｂ−ｂ欄に示した場合と同様に、半田コーティング部３がある場合に、クリーム半田４を明瞭に観察できるようにしている。
　【００１５】
　銅箔から成る電極２は波長が６００ｎｍを超える光は反射するが、６００ｎｍ以下の光は吸収して暗く観察される特性を有している。そこで本手段ではこのような電極２の光学特性に着眼し、次のように光学系を構成している。
　【００１６】
　光源７の内部には、ハロゲンランプ１０と、集光レンズ１１と、このハロゲンランプ１０から発光された光を波長６００ｎｍ以下の光に分光する例えば青色のフィルタ１２が収納されている。図２は分光特性を示しており、ハロゲンランプ１０から発光された光Ｌ１のピーク波長は６００ｎｍ〜７００ｎｍであるが、フィルタ１２を透過した光Ｌ２のピーク波長は４５０ｎｍ〜５５０ｎｍにシフトされる。図１においてランプ１０から発光された光は集光レンズ１１により集光され、フィルタ１２を透過して波長６００ｎｍ以下の光に分光され、次いで光ファイバー８を介してリングファイバー９よりクリーム半田４に斜め上方から照射される。以下、この検査装置を用いたクリーム半田４の外観検査方法を説明する。
　【００１７】
　図３はクリーム半田４の外観検査の説明図である。Ａ欄は電極２周辺の断面図であり、Ｂ欄はカメラ６に入手される明暗画像である。ａ欄は電極２上に半田コーティング部３無のものを示し、ｂ欄は電極２上に半田コーティング部３有のものを示している。
　【００１８】
　Ａ−ａ欄において、クリーム半田４は球状粒子の集合体なのでその表面で光は散乱しやすく、光源７より斜め上方から光ａを照射すると、クリーム半田４の散乱光を含む反射光の一部は上方のカメラ６に入射してＢ−ａ欄に示すように明るく観察される。電極２は、材料の銅箔が波長６００ｎｍ以下の光を吸収する特性があるため、フィルタ１２を透過して６００ｎｍ以下になった光ｂは電極２に反射されず、従ってカメラ６に暗く観察される。またソルダーレジスト５はその表面が平滑面であるので、これに照射された光ｃは正反射してカメラ６には入射せず、カメラ６に暗く観察される。また基板１は光を吸収し、カメラ６に暗く観察される。
　【００１９】
　従ってＡ−ａ欄に示すものは、Ｂ−ａ欄に示す明暗分布となるが、図示するようにクリーム半田４は明るく、基板１、電極２、ソルダーレジスト５は暗く観察され、クリーム半田４と電極２の境界線は明瞭になる。このため、従来手段では電極上に半田コーティング部がない場合、明暗画像にクリーム半田は明るく、また電極はやや明るく観察されて両者の境界が曖昧になっていたが、本手段では光の波長を６００ｎｍ以下にシフトしたので、電極２は暗く観察され、クリーム半田４と電極２の境界線は明瞭になってクリーム半田４の形状や大きさを明白に認識でき、従って半田コーティング部３のない電極２上に形成されたクリーム半田４でも、塗布量の良否判定を的確に行うことができる。
　【００２０】
　Ａ−ｂ欄は半田コーティング部３のある電極２周辺の断面図であり、Ｂ−ｂ欄はカメラ６に入手された明暗画像である。Ａ−ｂ欄において、電極２上に塗布された半田コーティング部３は平滑な鏡面であって、斜め上方から照射された光ｄは斜め上方に反射されるので上方のカメラ６には入射せず、Ｂ−ｂ欄に示すように暗く観察される。その他の箇所の明暗は、Ｂ−ａ欄の場合と同様であって、クリーム半田４は明るく、基板１およびソルダーレジスト５は暗く観察される。従って、クリーム半田４と電極２の境界線は明瞭であり、クリーム半田４の塗布量の良否を正しく判定できる。
　【００２１】
　以上のように本方法では、光源７からの光をクリーム半田４に斜め上方から照射し、且つこの光の波長を６００ｎｍ以下にしているため、半田コーティング部３の有無にかかわらず、明暗画像においてクリーム半田４と電極２の境界を明瞭に認識でき、いずれの場合でもクリーム半田４の塗布量の良否判定を的確に行うことができる。
　【００２２】
　【発明の効果】
　以上説明したように本発明では、銅箔から成る電極上に形成されたクリーム半田に斜め上方から波長６００ｎｍ以下
であってピーク波長が４５０ｎｍ〜５５０ｎｍ
【図面の簡単な説明】
　【図１】
　本発明の一実施例に係るクリーム半田の外観検査装置の正面図
　【図２】
　本発明の一実施例に係る光の分光特性図
　【図３】
　本発明の一実施例に係るクリーム半田の外観検査の説明図
　【図４】
　従来手段に係るクリーム半田の外観検査装置の正面図
　【図５】
　従来手段に係るクリーム半田の外観検査の説明図
　【符号の説明】
　１　基板
　２　電極
　４　クリーム半田
　６　カメラ