【事件の表示】
　平成４年特許願第３５０２００号「Ｘ線ＣＴスキャナー」拒絶査定に対する審判事件（平成７年９月２６日出願公開、特開平７−２４６２００）について、次のとおり審決する。
【結論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理由】
１．出願の経緯・本願発明
　本願は平成４年１２月４日の出願（米国での出願に基づくパリ条約による優先日：平成３年１２月２３日）であって、その請求項１〜５に係る発明は、平成８年２月２２日付け及び平成８年１０月２４日付け手続補正書により補正された明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲に記載されたとおりの「Ｘ線ＣＴスキャナー」と認められるところ、請求項１に係る発明（以下、「発明１」という。）は次のとおりである。
　「生成される両像面の幅を有し画像面の垂直方向に厚さを持っていて、開口部（１１）を通る厚いＸ線ビーム（５０）を発生する手段（１３）と；
　エックス線ビームに交叉するよう装置された検出器手段（１４）にして、エックス線ビームの厚さ方向に沿って配列された１組のサブ要素（４１−４９，６０）を含み、各サブ要素がＸ線ビームの厚さ方向における各部分に交叉して対応する薄スライスの減衰信号を生成するよう構成された、検出器手段（１４）と；
　次の前処理手段、すなわち、
　　（ａ）前記サブ要素のそれぞれ又は幾つかから減衰信号を受けて対数ととり、対応する薄スライスについての対数化した減衰信号を生成する対数化手段（５３，６４）、および、
　　（ｂ）薄スライスについての対数化した減衰信号を加え合わせて１つのスライスについての厚スライス減衰信号とする手段（５６，５８）
を含む前処理手段と、
　前記厚スライス減衰信号を受けて再構成し画像を形成する画像再構成手段（２５，３６，３７）と
を備えて成る、Ｘ線ＣＴスキャナー。」
２．引用例
　これに対して、原査定の拒絶の理由に引用された特公昭６３−６２２１５号公報（以下、「引用例」という。）には、以下の事項が記載されている。
［記載事項１］
「第１図にＣＴ装置の概略的な構成を示す。図において、１はＸ線を曝射する線源、２は放射線検出器（以下、単に検出器と称する）、３は被検体Ｐを介して前記線源１及び検出器２を対峙して保持さると共にこれらを被検体Ｐを中心にして回転或いは平行移動させるための支持装置、４は前記検出器２より得たＸ線吸収のデータを処理して被検体Ｐ断面の画像再構成処理を行ない断層像を得る演算処理装置、５はこの演算処理装置４により得た断層像を表示する画像表示装置である。このような装置は線源１よりＸ線を曝射させつつ支持装置３を駆動させてこの線源１及び検出器２を被検体Ｐの周囲に沿って移動させその透過線量を検出器２にて検出する。そして、この検出したデータを演算処理装置４に送り、被検体Ｐの断層面位置の種々の方向に対するデータを収集した後に、このデータを演算処理してその断層面の個々の位置におけるＸ線吸収率を算出し、画像再構成を行なう。そして、その再構成された画像を画像表示装置５に送り、表示させる。」（第２欄第１７行目〜第３欄第１０行）
［記載事項２］
「複数個の放射線検出器をスライス方向に並設し、これら放射線検出器からの出力を入力切換回路により任意に選択して加算し、実質的にスライス幅を選択可変することにより機構的な変化を生ずることなく、スライス厚の可変を行なうことができ、かつ散乱線の影響が小さく位置によるスライス厚の変化を小さくすることのできる放射線断層撮影装置を提供することを目的とする。」（第３欄第４２行目〜第４欄第６行）
［記載事項３］
「第４図は本装置に用いる放射線検出器を示す斜視図である。図に示す様に、Ｗの開口幅を持ち、且つ複数の検出素子（Ｎ個）を並設して構成される検出器列４１、検出器列４２、検出器列４３、検出器列４４がスライス方向に平行に並設されて構成されており、各検出器列４１，〜４４はまた、それぞれの検出器列の間を、機構的に可能な限り小さくするものとし、実質的に連続したスライス面を成すこととする。」（第４欄第９行目〜同欄第１７行）
［記載事項４］
「第５図に本発明装置の要部のブロック図を示す。図において４１，〜４４は前記検出器列である。５１はこれら検出器列４１，〜４４の各チャンネル別に出力を受けると共に後述する入力装置５２の指令信号によって前記検出器列４１，〜４４のうち１つ或いは複数の検出器列の各チャンネル毎の出力を同一チャンネル毎に合成して各々出力する入力切換回路、５２はその使用すべき対象とする検出器列を選択指示し、適宜な処理を行なうための命令を与える入力装置である。５３は前記入力切換回路５１の出力するチャンネル別出力（アナログ出力）を所定時間、積分し、これを放電してその放電時間を透過Ｘ線データとしてデータ収集してゆくデータ収集回路であり、このデータ収集回路５３は前記入力装置５２の選択指示指令を受けて使用検出器列数に応じて変わる出力レベルに対応できるようにこのデータ収集回路５３は処理方法を最適なものに合わせる。５４はこのデータ収集回路５３の収集データを再構成処理等をする演算処理装置であり、５５はこの演算処理装置５４の処理プログラムや前記演算処理装置５４の演算結果の記憶を行なう記憶装置、５６は前記演算処理装置５４の再構成画像を表示する画像表示装置である。演算処理装置５４にも前記入力装置５２の選択指示指令が与えられており、使用検出器列数に応じて最適な処理を行なえるように演算処理装置５２に指示を与える。」（第４欄第１８行目〜同欄第４４行）
［記載事項５］
「第７図に本発明による演算処理装置５４の詳細な構造を示す。データ収集回路５３の出力は、まずアナログーデイジタル変換装置（以下、Ａ／Ｄ変換装置と称する）６１に入力される。そして加算装置６２で検出器列の出力を同一チャンネル毎に加算し、主演算装置６３によって対数変換、再構成演算等の処理をし、断層画像を作成する。」（第５欄第１行目〜同欄第７行）
［記載事項６］
「このような構成の本装置の動作について説明する。初めに撮影目的により、入力装置５２にて使用すべき検出器列を指示する。すると入力装置５２より入力切換回路５１に選択指示指令が与えられ、入力切操回路５１は検出器列４１，〜４４のいずれか一つ、又は２つの検出器列、更に３つ、４つの検出器列を選択して、各検出器列毎に順次データ収集回路５３に入力するように切換えられる。データ収集回路５３の出力は演算処理装置５４に入力され、まずＡ／Ｄ変換装置６２に入力される。検出器列４１，〜４４はすべてファンビームＸ線の照射野内に入るようにしてあり、それぞれの入射Ｘ線を各チャンネル別に出力しているから加算装置６２の側から見ると、選択した各検出器列の各チャンネル毎の出力信号をその同一チャンネル毎に順次和を取ることにより、複数の隣接した検出器列からの信号を同時に受けることができ、選択した検出器列の幅分実質的にスライス厚を変化させたこととなる。加算装置６２の出力は主演算装置６３によって対数変換、再構成演算の処理をされ、断層像として記憶装置５５に記憶され、また画像表示装置５６によって表示される。」（第５欄第８行目〜同欄第３０行）
３．対比・判断
　そこで、発明１と引用例に記載された発明とを比較すると、引用例に記載された発明における
▲１▼「断層像」又は「断層画像」
　（［記載事項１］［記載事項５］［記載事項６］参照）、
▲２▼「線源１及び検出器２」の間の空間
　（［記載事項１］参照）、
▲３▼「線源」（［記載事項１］参照）、
▲４▼「検出器」又は「検出器列」
　（［記載事項３］［記載事項４］［記載事項５］［記載事項６］参照）、
▲５▼「検出器列の各チャンネル」
　（［記載事項４］［記載事項５］［記載事項６］参照）、
▲６▼「データ収集回路５３」からの信号
　（［記載事項４］［記載事項５］［記載事項６］参照）、
▲７▼「加算装置６２」で「チャンネル毎に加算」された信号
　（［記載事項５］［記載事項６］参照）、
▲８▼「主演算装置６３」の「再構成演算」の処理の部分
　（［記載事項５］［記載事項６］参照）、
は、発明１の
▲１▼「生成される画像面」（発明１における「両像面」は「画像面」を意味すると考えられる。）、
▲２▼「開口部」、
▲３▼「開口部を通る厚いＸ線ビームを発生する手段」、
▲４▼「検出器手段」、
▲５▼「エックス線ビームの厚さ方向に沿って配列された１組のサブ要素」、
▲６▼「薄スライスの減衰信号」、
▲７▼「厚スライス減衰信号」、
▲８▼「画像再構成手段」
に相当する。
　してみると、両者は、
「生成される画像面の幅を有し画像面の垂直方向に厚さを持っていて、開口部を通る厚いＸ線ビームを発生する手段と；
　エックス線ビームに交叉するよう装置された検出器手段にして、エックス線ビームの厚さ方向に沿って配列された１組のサブ要素を含み、各サブ要素がＸ線ビームの厚さ方向における各部分に交叉して対応する薄スライスの減衰信号を生成するよう構成された、検出器手段と；
　次の前処理手段、すなわち、
　　（ａ）前記サブ要素のそれぞれ又は幾つかから減衰信号を受けて、対応する薄スライスについての減衰信号を生成する、および、
　　（ｂ）薄スライスについての減衰信号を加え合わせて１つのスライスについての厚スライス減衰信号とする手段を含む前処理手段と、
　前記厚スライス減衰信号を受けて再構成し画像を形成する画像再構成手段と
を備えて成る、Ｘ線ＣＴスキャナー」
である点で一致する。
　そして、発明１は、サブ要素からの減衰信号を対数化したうえで加え合わせて１つの信号とし再構成するのに対し、引用例に記載された発明は、サブ要素からの減衰信号を加え合わせて１つの信号としたうえで対数化し再構成する（［記載事項５］［記載事項６］参照）点で、両者は相違する。
　しかし、検出器から直接得られた個々の減衰信号に、画像再構成処理や減衰信号の具体的特性に合わせて減衰信号に対する前処理を様々に変更して試みることは本願出願前、普通に行われていたことであり、引用例に記載された発明の対数化処理の段階を、同一チャンネル毎に順次和をとる段階より前の段階に変更することは、当業者にとって格別困難を伴うものとは考えられない。そして、前記変更に伴う効果も引用例の記載から予測される範囲である。
４．結び
　したがって、本願の請求項１に係る発明は引用例に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものと認められるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、本願の出願は、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく拒絶すべきものであるから結論のとおり審決する。