【事件の表示】
　平成２年特許願第１８１１２２号「ヘッドピース集合体の位置合わせ方法及び研磨方法」拒絶査定に対する審判事件［平成４年３月４日出願公開、特開平４−６９１６４］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯・本件出願の発明
　本件出願は、平成２年７月９日の特許出願であって、その請求項１及び請求項２に係る発明は、願書に添付した明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１及び請求項２に記載されたとおりのものと認められるところ、その請求項１に記載された発明(以下「本件発明１」という。)は、次のとおりである。
「位置合わせ装置を用いてヘッドピース集合体の位置合わせを行なう方法であって、
　前記位置合わせ装置は、オプチカルフラットと干渉縞検出用光学系とを含み、
　前記オプチカルフラットは、光学的に透明であって、オプチカルフラット面を構成する一面が、ヘッドピース集合体のための位置合わせ面を構成し、
　前記干渉縞検出用光学系は、前記オプチカルフラットの前記一面側と対向する他面側に配置されており、
　前記ヘッドピース集合体の位置合わせに当たり、第１の治具と、前記ヘッドピース集合体を貼付した複数個の第２の治具とを、前記オプチカルフラットの前記一面上に載せ、前記第１の治具及び前記第２の治具は前記オプチカルフラットによってのみ支持され前記オプチカルフラットの前記一面上で自立しており、前記一面上で、前記第１の治具の異なる側端面に、前記第２の治具の側端面をそれぞれ当接させ、
　前記オプチカルフラットの前記一面と、前記第２の治具に貼付された前記ヘッドピース集合体との接触界面における干渉縞を、前記干渉縞検出用光学系で検出し、所定の干渉縞が得られたとき、その位置で、前記第２の治具のそれぞれの側端面を前記第１の治具の側端面に接合するヘッドピース集合体位置合わせ方法。」
第２　引用例
１　引用例１
　これに対して、原査定の拒絶の理由に引用された本件出願前に日本国内において頒布された刊行物である特開平１−１５３２６４号公報（以下「引用例１」という。）の第２頁右下欄最下行〜第３頁右上欄第１０行には「第１図は本発明に係る研磨方法の実施に使用される治具の断面図、第２図は同じくその底面図である。・・・・（中略）・・・・。第１の治具３は、研磨側の面３１上に、表面鏡面仕上げとした基準片６を接着剤等で接着固定してある。
　第２の治具５は、研磨側の面５１上にヘッドピース集合体２を接着剤７によって貼付してある。・・・・（中略）・・・・。
　第１の治具３及び第２の治具５の位置合せに当っては、第３図に示すように、両者の研磨側の面３１，５１を、オプチカルフラット９上に載せ、スライダ部材２１の下面２１１及び基準片６の表面を、オプチカルフラット９の表面を基準にして位置合せし、かつ、互いの側端面３２，５２を当接させ、接着剤８（第１図及び第２図参照）で接合する。
　上述の位置合せによると、第４図に示すように、被研磨物たるヘッドピース集合体２を接着固定する接着剤７の厚みがｈ１，ｈ２のように異なった場合でも、それに影響されずに、研磨面となる下面２１１の表面を、オプチカルフラット９の表面位置によって定まる所定の平面位置に設定し、下面２１１を基準にして所定の研磨を行うことができる。」と記載されている。
  オプチカルフラットは、光学的に透明のものであることから、結局、引用例１には次の発明が記載されていると認める。
　位置合わせ装置を用いてヘッドピース集合体２の位置合わせを行なう方法であって、
　前記位置合わせ装置は、オプチカルフラット９を含み、
　前記オプチカルフラット９は、光学的に透明であって、オプチカルフラット面を構成する一面が、ヘッドピース集合体２のための位置合わせ面を構成し、
　前記ヘッドピース集合体２の位置合わせに当たり、第１の治具３と、前記ヘッドピース集合体２を貼付した複数個の第２の治具５とを、前記オプチカルフラット９の前記一面上に載せ、前記第１の治具３及び前記第２の治具５は前記オプチカルフラット９によってのみ支持され前記オプチカルフラット９の前記一面上で自立しており、前記一面上で、前記第１の治具３の異なる側端面に、前記第２の治具５の側端面をそれぞれ当接させ、
　前記第２の治具５のそれぞれの側端面を前記第１の治具３の側端面に接合するヘッドピース集合体位置合わせ方法。
２　引用例２
  また、同じく上記拒絶の理由に引用された本件出願前に日本国内において頒布された刊行物である特開昭５８−４３５３号公報（以下「引用例２」という。）には、ラッピング装置に関連して以下の(1)乃至(4)の事項が記載されている。
(1)（第２頁左上欄第１３〜２０行）
「本発明は、試料の傾きを修正できる機構を有するラッピング装置においてラップ定盤と同一基準面を有する検出系をもうけ、加工試料と検出部が接すべく移動させ、試料と検出部の相対位置を検出し、両者の２点あるいはそれ以上の検出点において差が一定値以下になるよう傾き修正装置により調整できるようにしたラッピング装置に関するものである。」
(2)（第２頁右上欄第３行〜同左下欄第８行）
「第２図において、ハンドル１を回転させることにより上下駆動機構２が上下動し、その量を検出器７により検出する。上下駆動機構２は一方向に回転自在のヒンジ３を介し、アーム４と連結しているアーム４の先端に試料５を取付ける。試料５はラップ剤を供給した回転又は摺動運動するラップ定盤６上に設置し一定加圧状態のもとで相対運動させ加工する機構となっている。さらに本装置においては、試料５をアーム４の先端にとりつけ、加工する前に試料５がラップ定盤６に対し傾いているか否かを検出する検出機構９を有する。検出機構９により、傾きが検出された場合ハンドル１を操作することにより上下駆動機構２を上下動させ傾き量を少なくするよう調整する。次ぎに検出機構９につき第３図を用いて概説する。本実施例はレーザ光による干渉縞を検出し傾きを調整する方法である。レーザ光源１０より発生したレーザ光はコリメータ１１により平行かつ光束を拡げ半透鏡１２を介し、オプテイカルフラット１３を通過し試料５とオプテイカルフラット１３間で干渉を生じ、干渉縞を形成し、Ａ方向から目視できる。この干渉縞の状態を観察しつつ、上下駆動機構２を上下動させ試料５とオプテイカルフラット１３の間の平行を出す。」
(3)（第２頁右下欄第１〜６行）
「本発明により、試料の傾きを修正できる機構を具備するラッピング装置において、試料とラップ定盤の間の傾き量を検出し、調整できることにより、試料の設置が容易となり、かつ傾き量を修正することにより、加工取代を少なくでき、加工時間は短縮できる効果がある。」
(4)（第３図）
　干渉縞検出用光学系であるレーザ光源１０、コリメータ１１及び半透鏡１２は、オプテイカルフラット１３の試料５が載置される面を構成する一面側と対向する他面側に配置されていること。
　上記各記載事項から、引用例２には次の発明が記載されていると認める。
　ラッピング装置において、被研磨体である試料の傾きを調整するための手段として、オプチカルフラットと干渉縞検出用光学系とが設けられ、干渉縞検出用光学系は、オプテイカルフラットの試料が載置される面を構成する一面側と対向する他面側に配置されており、試料の傾きを調整するに当たり、オプチカルフラットの前記一面と試料との接触界面における干渉縞を、干渉縞検出用光学系で検出し、所定の干渉縞が得られるように試料の傾きを調整すること。
第３　対比
　本件発明１と引用例１記載の発明とを対比すると、両者は、
「位置合わせ装置を用いてヘッドピース集合体の位置合わせを行なう方法であって、
　前記位置合わせ装置は、オプチカルフラットを含み、
　前記オプチカルフラットは、光学的に透明であって、オプチカルフラット面を構成する一面が、ヘッドピース集合体のための位置合わせ面を構成し、
　前記ヘッドピース集合体の位置合わせに当たり、第１の治具と、前記ヘッドピース集合体を貼付した複数個の第２の治具とを、前記オプチカルフラットの前記一面上に載せ、前記第１の治具及び前記第２の治具は前記オプチカルフラットによってのみ支持され前記オプチカルフラットの前記一面上で自立しており、前記一面上で、前記第１の治具の異なる側端面に、前記第２の治具の側端面をそれぞれ当接させ、
　前記第２の治具のそれぞれの側端面を前記第１の治具の側端面に接合するヘッドピース集合体位置合わせ方法。」
である点で一致し、以下の点で相違している。
相違点：
　本件発明１では、位置合わせ装置は、オプチカルフラットの外に干渉縞検出用光学系を含み、前記干渉縞検出用光学系は、前記オプチカルフラットのヘッドピース集合体のための位置合わせ面を構成する一面側と対向する他面側に配置されており、前記ヘッドピース集合体の位置合わせに当たり、前記オプチカルフラットの前記一面と、前記第２の治具に貼付された前記ヘッドピース集合体との接触界面における干渉縞を、前記干渉縞検出用光学系で検出し、所定の干渉縞が得られたとき、その位置で、前記第２の治具のそれぞれの側端面を前記第１の治具の側端面に接合するのに対して、引用例１記載の発明では、そのようになっていない点。
第４　判断
　そこで、上記相違点について検討すると、先に認定したように引用例２には、ラッピング装置において、被研磨体である試料の傾きを調整するための手段として、オプチカルフラットと干渉縞検出用光学系とが設けられ、干渉縞検出用光学系は、オプテイカルフラットの試料が載置される面を構成する一面側と対向する他面側に配置されており、試料の傾きを調整するに当たり、オプチカルフラットの前記一面と試料との接触界面における干渉縞を、干渉縞検出用光学系で検出し、所定の干渉縞が得られるように試料の傾きを調整することが記載されている。
　そして、引用例１記載の発明におけるヘッドピース集合体も被研磨体であるので、その位置合わせに当たり、被研磨面がオプチカルフラットの基準面に対して傾いた状態で位置合わせが行われると研磨工程において研磨精度が低下することは技術常識に照らして明らかであり、引用例１には明記されていないものの引用例１記載の発明においてもヘッドピース集合体の位置合わせに当たって被研磨面が傾かないようにすることは、当然に要請される事項であること、また、引用例１記載の発明と引用例２記載の発明とは、同一技術分野に属するものであることを考慮すると、引用例１記載の発明に引用例２記載の発明を適用して、相違点における本件発明１のように構成する点に格別の困難性はない。
　また、本件発明１の採用する構成によって齎される効果も、引用例１及び引用例２記載の発明から当業者であれば予測できる程度のものであって格別のものではない。
第５　むすび
　したがって、本件発明１は、引用例１及び引用例２記載の発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　よって、本件の請求項２に係る発明について検討するまでもなく結論のとおり審決する。