【事件の表示】
　特許第３３５３４９９号「Ｘ線撮像装置」の請求項１に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　訂正を認める。
　特許第３３５３４９９号の請求項１に係る特許を取り消す。
【理　由】
１．手続の経緯
　特許第３３５３４９９号の発明についての出願は、平成６年１０月２８日に特許出願され、その後、異議申立人伊藤恵介より特許異議の申立てがなされ、取消しの理由が通知され、その指定期間内である平成１５年１２月８日に訂正請求がされたものである。
２．訂正の適否
（１）訂正の内容
　特許明細書を訂正請求書に添付した訂正明細書のとおりに訂正するもので、以下の訂正事項ａ−ｃよりなる。
　訂正事項ａ
　特許請求の範囲の請求項１において、「複数の検出素子より構成され、照射されたＸ線を各素子ごとのデータとして出力するＸ線検出手段」とあるのを「複数の検出素子を２次元状に配列して構成され、照射されたＸ線を各素子ごとのデータとして出力するＸ線検出手段」と訂正する。
　訂正事項ｂ
　【００１１】【課題を解決するための手段】「複数の検出素子より構成され」（特許公報、第４欄、９−１０行）とあるのを「複数の検出素子を２次元状に配列して構成され」と訂正する。
　訂正事項ｃ
　【００１２】【作用】「多数の検出素子で構成された検出部３」（特許公報、第４欄、２０行）とあるのを「複数の検出素子を２次元状に配列して構成された検出部３」と訂正する。
（２）訂正の目的の適否、新規事項の有無、及び特許請求の範囲の拡張・変更の存否についての判断
　訂正事項ａは、請求項１の「Ｘ線検出手段」を構成する複数の検出素子が２次元状に配列されたものであることを明りょうにするためのものである。
　すなわち、請求項１の「被写体が存在しない状態で照射されたＸ線の前記各素子毎のデータを記憶する記憶素子マトリックス」という記載から、各素子に対応する記憶素子がマトリックス、すなわち、２次元のデータを示すものであることから、これに対応する検出素子も２次元に配列されたものであることは明らかであり、また、特許明細書の【００１４】の「３は多数の検出素子を２次元状に配列した検出部で、各素子毎にＸ線の検出データをディジタル信号４として出力するよう構成されている。」とあり、検出素子が２次元状に配列されたものであることが明記されていることによるものである。
　したがって、訂正事項ａは明りょうでない記載の釈明を目的とするものである。
　訂正事項ｂ、ｃもＸ線検出手段を構成する複数の検出素子が２次元状に配列されたものであることを明りょうにするためのものであり、明りょうでない記載の釈明を目的とするものである。
　訂正事項ａ−ｃは、願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内においてするものであり、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。
　したがって、上記訂正は、特許法第１２０条の４第３項において準用する平成６年法律第１１６号による改正前の特許法第１２６条第１項ただし書、第２項及び第３項の規定に適合するので、当該訂正を認める。
３．特許異議の申立ての概要
　申立人は、証拠として、甲第１−４号証を提出して請求項１に係る発明の特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものであるから取り消されるべきである、と主張している。
４．特許異議の申立てについての判断
（１）本件発明
　訂正明細書の請求項１に係る発明（以下、「本件発明」という。）は、訂正明細書の特許請求の範囲の請求項１に記載された次のとおりのものである。
　Ｘ線を発生するＸ線管装置と、
　複数の検出素子を２次元状に配列して構成され、照射されたＸ線を各素子ごとのデータとして出力するＸ線検出手段と、
　被写体が存在しない状態で照射されたＸ線の前記各素子毎のデータを記憶する記憶素子マトリックスと、
　被写体を透過したＸ線の各素子毎のデータを前記記憶素子マトリックスに記憶された対応するデータで正規化する補正手段と、
　前記正規化されたデータをＸ線画像として表示する表示手段と、
を備えたことを特徴とするＸ線撮像装置。
（２）引用刊行物
　取り消しの理由に引用した刊行物は次のものである。
刊行物１：特開平４−２０３９９５号公報（申立人の提出した甲第１号証）
刊行物２：特開平５−１６７８４８号公報（申立人の提出した甲第２号証）
刊行物３：東芝レビュー　４０巻１２号　昭和６０年１１月１日発行、PP．1028−1031（申立人の提出した甲第３号証）
刊行物４：テレビジョン学会編「テレビジョン・画像情報工学ハンドブック」オーム社、１９９０年１１月３０日第１版発行、P.1034（申立人の提出した甲第４号証）
　刊行物１には、Ｘ線検出装置に関する発明が記載されており、特に以下のような記載がある。
　記載Ａ（第１頁、右下欄１１−１５行）
「産業上の利用分野
　本発明は、医療用Ｘ線診断装置、骨密度定量装置、非破壊検査装置、Ｘ線分析装置におけるＸ線等の検出素子の感度補正方法とＸ線検出装置に関する。」
　記載Ｂ（第１頁、右下欄１６行−第２頁、左上欄２行）
「従来の技術
　複数のＸ線検出素子を用いたＸ線検出装置においては、一般に計測開始前に素子間の感度ばらつきを知るために、一度計測を行い、演算装置により素子間の補正係数を得る。その後、実際の計測を行い、そこで得た各素子のＸ線強度を示す値に補正係数を乗算して測定結果とする。」
　記載Ｃ（第２頁、左下欄１−１１行）
「実施例
　以下に、本発明の一実施例について第１図を参照しながら説明する。
　第１図に本発明の一実施例のＸ線検出装置の構成図を示す。Ｘ線検出部１は５１２個の検出素子からなるＣｄＴｅセンサアレイ２である。このＣｄＴｅセンサアレイ２は、Ｘ線ファンビームを放射するＸ線発生装置３と連動し移動する。これによりＸ線強度の２次元情報を得ることができる。測定された情報は、データ転送部４により演算部５および記憶部６に転送される。７は表示部である。」
　記載Ｄ（第２頁、左下欄１２−１８行）
「ＣｄＴｅセンサアレイ２の素子間のばらつきを補正するため、測定前に補正係数算出のための測定を行う。Ｘ線の透過率が一定になるよう均一な材質、厚さの吸収体、例えば厚さ１５ｃｍのアクリル板を設置し、Ｘ線発生装置３とセンサアレイ２を走査して各検出素子について、５１２個のデータを得る。」
　記載Ｅ（第２頁、左下欄１８行−右下欄９行）
「これにより得られた５１２×５１２全データの平均値ＡＶを求める。ｎ番目の検出素子のｍラインのカウント数データをＣｎ（ｍ）とする。Ｃｎ（１）からＣｎ（５１２）までの５１２個のデータの平均値Ｃｎａｖを計算し、各検出素子ごとに補正係数ＣｎＨを
　　ＣｎＨ＝ＡＶ／Ｃｎａｖ
　　　　　　　　　　　　（ｎ＝１から５１２）
として求めた。
　このようにして算出する補正係数ＣｎＨを検出素子がすべて正常に動作している時にあらかじめ求めておき、記憶部６に保存しておいた。」
　記載Ｆ（第２頁、右下欄１０行−第３頁、左上欄１２行）
「この後、検査対象を測定前に補正係数を同じ方法で求めた。この際の各検出素子の補正係数を、記憶部６に保存してある値と演算部５により比較し、１０％の差が見られる検出素子を異常が発生したものとする。２５番目の検出素子のあらかじめ保管してある補正係数が０．９７５であったのに対し、計測した結果が０．８６７であった。これを異常検出素子とした。同時に、表示部７に異常が発生したことを表示し、また異常検出素子の番号を示し、操作者に異常検出素子の発生を認識させた。これにより、操作者は測定を行なう前に検出素子の異常を知ることができ、測定精度を損なうことがなくなった。
　さらに、・・・・・・・・異常検出素子として認識された素子を除いて、平均値ＡＶｓを再計算した。このＡＶｓにより、さきほどと同様に各検出素子の補正係数ＣｎＨｓを算出した。」
　記載Ｇ（第３頁、左上欄１３−２０行）
「この補正係数を記憶させておき、検出物体を設置し、測定を行なった。各検出素子で得た測定データＤｎ（ｍ）（ｎ，ｍ＝１〜５１２）に対し、さきに求めた補正係数ＣｎＨｓを乗算し、
Ｄｒｎ（ｍ）＝Ｄｎ（ｍ）×ＣｎＨｓ
　　　　　　　　　　（ｍ＝１〜５１２）
を検出素子間のばらつきを補正した測定データとした。」
　記載Ｈ（第３頁、右上欄末行−左下欄６行）
「上記の方法は、ＣｄＴｅセンサアレイのほかに・・・・・・・・ＧａＡｓセンサアレイなどの半導体Ｘ線検出部１でも行えた。
　なお、本実施例ではＸ線検出素子として記述したが、それ以外の波長の光検出素子等、検出素子全般に適用できる。」
（３）判断
　記載Ｃ等から明らかなように、刊行物１には、Ｘ線発生装置３と、１次元状に配列された複数の検出素子からなるセンサアレイ２と、データ転送部４，演算部５，記憶部６及び表示部７とを備えたＸ線検出装置の発明が記載されている。
　そして、この発明では、センサアレイ２の素子間のばらつきを補正するため、Ｘ線の透過率が一定になるよう均一な材質、厚さの吸収体を設置した状態で各検出素子ごとのデータを得て（記載Ｄ参照）、このデータから各検出素子ごとに正規化された補正係数を求め（記載Ｅ，Ｆ参照）、検出物体を設置した状態で得た各検出素子ごとのデータに前記補正係数を乗算して検出素子間のばらつきを補正した測定データとしている（記載Ｇ参照）。
　本件発明と刊行物１に記載されたＸ線検出装置の発明（以下、「引用発明」という。）とを比較すると、引用発明のＸ線発生装置は本件発明のＸ線を発生するＸ線管装置に相当する。また、引用発明の複数の検出素子からなるセンサアレイは、複数の検出素子を配列して構成され、照射されたＸ線を各素子ごとのデータとして出力するＸ線検出手段ということができ、引用発明の表示部は、表示手段ということができる。また、引用発明は、上記のように検出物体（本件発明でいう被写体に相当するもの）を設置した状態で得たデータを検出物体が存在しない状態で得たデータで正規化している。したがって、引用発明は、被写体を透過したＸ線の各素子ごとのデータを被写体が存在しない状態で照射されたＸ線の各素子ごとの対応するデータで正規化する補正手段を備えたものである。また、引用発明は、Ｘ線撮像装置である。
　以上のことから、本件発明と引用発明とは、
　Ｘ線を発生するＸ線管装置と、
　複数の検出素子を配列して構成され、照射されたＸ線を各素子ごとのデータとして出力するＸ線検出手段と、
　被写体を透過したＸ線の各素子ごとのデータを被写体が存在しない状態で照射されたＸ線の各素子ごとの対応するデータで正規化する補正手段と、
　表示手段と、
を備えたことを特徴とするＸ線撮像装置
である点で一致し、次の３点で相違する。
　相違点１
　複数の検出素子の配列が、本件発明は、２次元状であるのに対し、引用発明は、１次元状である点
　相違点２
　本件発明は、被写体が存在しない状態で照射されたＸ線の各素子ごとのデータを記憶する記憶素子マトリックスを備え、補正手段が、被写体を透過したＸ線の各素子ごとのデータを前記記憶素子マトリックスに記憶された対応するデータで正規化する、ものであるのに対し、引用発明は、そのような記憶素子マトリックスを備えるものか否か明らかでなく、補正手段がそのようなものか否か明らかでない点
　相違点３
　表示手段が、本件発明は、正規化されたデータをＸ線画像として表示するものであるのに対し、引用発明はそのようなものか否か明らかでない点
　相違点について検討する。
　相違点１について
　２次元データを得るために、１次元状に配列した検出素子を移動させるもののほかに検出素子を２次元状に配列するものも広く知られており（取消理由に引用した刊行物３、特に１０２８頁、右欄１５−１７行、１０２９頁、図２、参照）、引用発明において複数の検出素子の配列を２次元状のものとすることは当業者が適宜なしえる任意設計上の変更に過ぎない。
　相違点２について
　引用発明も、「被写体を透過したＸ線の各素子ごとのデータを被写体が存在しない状態で照射されたＸ線の各素子ごとの対応するデータで正規化する補正手段」（以下、「ばらつき補正手段」という。）を備えるものであり、該正規化を実行するために当該データを記憶する手段を備えるようにすることは当然考えられる設計上の配慮である。そして、相違点１について検討したように、検出素子の配列を２次元状のものとすることは当業者が適宜なしえる任意設計上の変更に過ぎないから、そのようにした場合、記憶する手段として記憶素子マトリックスを用いることもまた当然考えられることであり、その場合、補正手段が、被写体を透過したＸ線の各素子ごとのデータを記憶素子マトリックスに記憶された対応するデータで正規化する、ものとなることもまた、当然である。
　なお、引用発明のばらつき補正手段は、検出素子の配列が２次元状のものに対しても適用しうることは明らかである。なぜならば、刊行物１において、検出素子間の感度ばらつきを補正するための思想は、各素子ごとに補正係数を求め、この補正係数により各素子ごとの測定データを補正する、というもので、これは、検出素子の配列が１次元状か２次元状かにかかわらないことは、刊行物１の特許請求の範囲の記載や記載Ｂからも明らかであるし、また、撮像装置において、被写体を透過した放射の各検出素子ごとのデータを被写体が存在しない状態で照射された放射の各検出素子ごとの対応するデータで補正することは、検出素子の配列が１次元状か２次元状かにかかわらず、普通になされている（取消理由に引用した刊行物２参照）からである。
　したがって、引用発明において、相違点２に係る構成のようにすることは当業者にとって格別困難なこととはいえない。
　相違点３について
　２次元データを検出する検出装置において、検出されたデータを画像として表示することは普通になされており、引用発明において、相違点３に係る構成のようにすることは当業者にとって格別困難なこととはいえない。
　以上のように、引用発明において、相違点１−３に係る構成とすることは当業者にとって格別困難なこととはいえない。
　また、本件発明が有する効果は、引用発明が有する効果以上に格別すぐれたものとはいえない。すなわち、本件発明は、特許明細書【００３２】に記載されているように「Ｘ線管装置から発生するＸ線の強度分布を正規化して画像化するため、濃度均一性に優れた画像を得ることができる」という効果を有するが、この効果は、本質的には、ばらつき補正手段を採用し「Ｘ線管装置から発生するＸ線の強度分布のばらつき」を補正したことによるものである。
　そして、ばらつき補正手段を採用すれば、「Ｘ線管装置から発生するＸ線の強度分布のばらつき」だけでなく「Ｘ線検出素子間の感度ばらつき」も補正しうることは明らかである。
　本件発明は、「Ｘ線管装置から発生するＸ線の強度分布のばらつき」を補正するものとされているが、実際には、「Ｘ線管装置から発生するＸ線の強度分布のばらつき」と「Ｘ線検出素子間の感度ばらつき」の両方を補正するものであり、「Ｘ線管装置から発生するＸ線の強度分布のばらつき」のみを補正するものでないことは明らかである。（例えば、本件発明において、「Ｘ線管装置から発生するＸ線の強度分布のばらつき」がほとんど存在しない場合（本件発明は、上記で認定したとおりのものであるから、このような場合も含まれる。）には、「Ｘ線管装置から発生するＸ線の強度分布のばらつき」よりもむしろ、「Ｘ線検出素子間の感度ばらつき」を補正することになる。）
　一方、引用発明は、「Ｘ線検出素子間の感度ばらつき」を補正するためのものであるが、本件発明と同様に「ばらつき補正手段」を備えており、「Ｘ線検出素子間の感度ばらつき」の補正だけでなく、「Ｘ線管装置から発生するＸ線の強度分布のばらつき」についても補正しうるものである。
　つまり、ばらつき補正手段を採用することにより、「Ｘ線管装置から発生するＸ線の強度分布のばらつき」と「Ｘ線検出素子間の感度ばらつき」の両方が補正できるということであり、本件発明も引用発明もばらつき補正手段を採用しているから、いずれも、両方の補正ができるということであって、両発明において、実際に得られる効果に本質的な差異はないということである。
　そして、相違点１について検討したように、引用発明において、センサの配列を１次元状から２次元状とすることは、当業者が適宜なしうる設計上の変更であり、その場合、「Ｘ線管装置から発生するＸ線の強度分布を正規化して画像化するため、濃度均一性に優れた画像を得ることができる」という効果が得られることは明らかである。
　なお、本件発明は「Ｘ線管装置から発生するＸ線の強度分布のばらつき」により正確な検出結果を得ることができない、という課題を解決するものであり、引用発明は「Ｘ線検出素子間の感度ばらつき」により正確な検出結果を得ることができない、という課題を解決するものであるが、この相違は本質的なものとはいえない。なぜならば、両発明は、Ｘ線管装置から発生するＸ線の強度分布のばらつき、Ｘ線検出素子間の感度ばらつきを含め、Ｘ線検出素子の出力に影響を与える空間的不均一により正確な検出結果が得られない、という課題を解決する点で共通しており、また、撮像装置において、被写体に照射される放射の強度分布のばらつき、放射検出素子間の感度ばらつきなどのため正確な検出結果を得ることができない、という課題が存在することは広く知られている（取消理由に引用した刊行物４参照）からである。
　したがって、本件発明は、刊行物１−４に記載された発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。
５．むすび
　以上のとおりであるから、本件発明は、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができない。
　したがって、本件発明についての特許は拒絶の査定をしなければならない特許出願に対してされたものと認める。
　よって、特許法等の一部を改正する法律（平成６年法律第１１６号）附則第１４条の規定に基づく、特許法等の一部を改正する法律の施行に伴う経過措置を定める政令（平成７年政令第２０５号）第４条第２項の規定により、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１６年９月２日（２００４．９．２）
【訂正の要旨】
審決（決定）の【理由】欄参照。
（５４）【発明の名称】
Ｘ線撮像装置
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】　Ｘ線を発生するＸ線管装置と、
複数の検出素子を２次元状に配列して構成され
【発明の詳細な説明】
　【０００１】
　【産業上の利用分野】本発明は、被写体のＸ線画像を得るＸ線撮像装置、特にＸ線の強度分布を補正し優れた濃度均一性を持つＸ線画像を提供するＸ線診断装置に関する。
　【０００２】
　【従来技術】Ｘ線を被写体に照射し、その透過Ｘ線を直接Ｘ線フィルムに照射してＸ線像を得るＸ線撮像装置が長年用いられてきたが、最近では、ＣＲ（コンピューテッド・ラジオロジー）と呼ばれるディジタルＸ線画像システムが開発されている。
　【０００３】図３は、かかるディジタルＸ線画像システムの一例を示す概略図であり、Ｘ線管装置１１から照射され被写体１２を透過したＸ線は、検出素子をマトリックス状に配列した検出部１３で検出され、それぞれの素子毎の検出データがディジタルデータとして記憶素子マトリックス１５に記憶される。そして、一旦記憶された素子毎の検出データは、表示回路１７に読み出され、表示装置１８にＸ線画像として表示される。
　【０００４】また、蛍光輝尽性のフィルムを用いて一旦Ｘ線量をフィルムに記憶させた後、レーザー光により二次元マトリクスデータとしてディジタル信号で読み出すものや、イメージインテンシファイアの画像をＣＣＤ素子で読み出すもの、あるいは、半導体センサーを用いて、半導体内のＸ線による電離信号を読み出したり、Ｘ線フォトンを個々に計数するよう構成されたディジタルＸ線画像システムも存在する。
　【０００５】図４ａは、かかるＸ線撮像装置に用いられるＸ線管装置１１の全体概略図である。同図において、陽極１１ｄや陰極１１ｅはガラスや金属製の真空バルブ１１ｂで覆われ真空状態に保持されている。真空バルブ１１ｂは陽極１１ｄで発生する熱を吸収するために絶縁油１１ｃに浸されているため、陽極１１ｄより発生したＸ線は、その間に介在するガラスや油によって減弱され、その強度に差が生じる。
　【０００６】また、図４ｂに示されるように、Ｘ線は、陰極１１ｅから放出した熱電子ｅ−が陽極１１ｄに衝突することによって発生するのであるが、Ｘ線の強度分布は、図４ｃに示されるように、一般に実焦点と呼ばれている電子流の陽極上での分布と、それを取り出す見かけ上の焦点に依存し、陽極１１ｅの形状とＸ線を取り出す方向で決まる。このため、図４ｂにおいて、Ｘ線強度はθ方向に従って減少する分布を示し、同図φで示したターゲットの角度より大きいθ（θ＞φ）ではＸ線は発生しない。
　【０００７】かかる場合、Ｘ線の強度差は撮像画像の濃淡として現れ、特に画像の端部では中心部に比べて非常に濃度の薄いコントラスト比の悪い画像となり、正確な診断ができない。このため、従来のＸ線撮像装置では、Ｘ線管装置１１と検出部１３との距離を十分とることによって、かかるＸ線の強度分布差による撮像画像への影響を軽減していた。
　【０００８】
　【発明が解決しようとする課題】しかしながら、陽極１１ｄに衝突する電子のエネルギーのうちＸ線に変換される割合は非常に小さく概ね１％程度であり、さらに、発生するＸ線は四方に拡散するため、実際にＸ線画像を得るために寄与するＸ線の割合はさらに小さいものとなる。このため、Ｘ線管装置１１と検出部１３との距離を十分とる場合には、相当強いＸ線を発生させなければならないが、かかる場合、投入パワーの大部分が熱に変わるため、Ｘ線撮像を行うにはＸ線管装置を十分冷却できる機能が必要となり、装置全体が大型化するという問題があった。
　【０００９】また、小熱容量のＸ線管装置を用いると、その冷却時間が非常に長くなり、撮像に多大な時間を要するため、迅速な撮像を行うにはある程度大きい熱容量のＸ線管装置を用いざるを得なかった。
　【００１０】そこで、本発明は、かかる課題を解決するために創案されたものであって、小型でかつ小熱容量のＸ線管装置を用いた場合であっても、濃淡の少ない良好なＸ線画像が得られ、しかも、迅速にＸ線撮像が可能なＸ線撮像装置を提供することを目的とする。
　【００１１】
　【課題を解決するための手段】本発明にかかるＸ線撮像装置は、Ｘ線を発生するＸ線管装置と、
複数の検出素子を２次元状に配列して構成され、
　【００１２】
　【作用】Ｘ線管装置１から発生し、被写体２を透過したＸ線は、
複数の検出素子を２次元状に配列して構成され
　【００１３】
　【実施例】本発明の実施例を図１及び図２を基づいて説明する。図１は本発明にかかるＸ線撮像装置の概要図であり、１はＸ線管装置で、上述した図４の構成を有し、Ｘ線を発生する。２はＸ線の撮像対象となる被写体である。
　【００１４】３は多数の検出素子を２次元状に配列した検出部で、各素子毎にＸ線の検出データをディジタル信号４として出力するよう構成されている。
　【００１５】５は第１の記憶素子マトリックスで、予め被写体２が存在しない状態でＸ線を照射したときに、検出部３の各検出素子毎に得られた検出データが記憶されている。６は第２の記憶素子マトリックスで、被写体２のＸ線透過データが一時的に記憶される。
　【００１６】７は表示回路で、第２の記憶素子マトリックス６に記憶された被写体２のＸ線透過データを読み出し、ＣＲＴ等により構成される表示装置８に被写体２のＸ線画像を表示させる。
　【００１７】９は補正手段で、第２の記憶素子マトリックス６に記憶された被写体２のＸ線透過データを第１の記憶素子マトリックスに記憶されたデータを用いて正規化すると共に、表示回路７に正規化されたデータの読み出し指示を与える。
　【００１８】次に、本発明の作用を補正手段９の動作を示す図２のフローチャートに基づいて説明する。まず、被写体２のＸ線撮像を行う前に、予め被写体２が存在しない状態でＸ線を照射し、検出部３の各素子毎に得られた検出データＡ（ｉ，ｊ）を第１の記憶素子マトリックス５に記憶させる。この際、補正手段９は、この検出データＡ（ｉ，ｊ）の中から最大値ＭＡＸ｛Ａ｝を特定して記憶する。そして、被写体２のＸ線撮像を行い、検出部３で検出された各素子毎の撮像データＢ（ｉ，ｊ）を第２の記憶素子マトリックス５に記憶させる。
　【００１９】この状態で、補正手段９は、第２の記憶素子マトリックス６に記憶された各素子毎の一の撮像データＢ（ｉ，ｊ）と、第１の記憶素子マトリックス５に記憶された対応する素子についての検出データＡ（ｉ，ｊ）を読み出す（Ｓ１，Ｓ２）。
　【００２０】そして、下記の演算処理を施すことによって、撮像データＢ（ｉ，ｊ）を検出データＡ（ｉ，ｊ）で正規化する（Ｓ３）。
　【００２１】Ｃ（ｉ，ｊ）＝Ｂ（ｉ，ｊ）×Ｍａｘ｛Ａ｝／Ａ（ｉ，ｊ）演算処理が終わると補正手段９は、正規化されたデータＣ（ｉ，ｊ）を第２の記憶素子マトリックス６の対応する記憶素子に記憶する（Ｓ４）。
　【００２２】そして、上述したＳ１〜Ｓ４の動作を繰り返し（Ｓ５）、全マトリックスについて処理が終了すると、補正手段９は、表示回路７に正規化されたデータの表示指示を与えて処理を終了する（Ｓ６）。表示回路７は、この指示を受け取ると第２の記憶素子マトリックス６から正規化されたデータＣ（ｉ，ｊ）を順次読み出し、表示装置８にＸ線画像を表示させる。
　【００２３】なお、上述した実施例では、第２の記憶素子マトリックス６の記憶データＡ（ｉ，ｊ）のすべてを正規化したのち、Ｘ線像の表示を行ったが、Ｘ線撮像データＢ（ｉ，ｊ）及びそれを正規化したデータＣ（ｉ，ｊ）は各素子ごとに独立であるから、正規化したデータＣ（ｉ，ｊ）を第２の記憶素子マトリックス６に再書き込みすることなく、表示回路７に直接出力するよう構成してもよい。また、予め、Ｍａｘ｛Ａ｝／Ａ（ｉ，ｊ）の演算処理を施し、これを第１の記憶素子マトリックスに記憶しておけば、正規化の処理時間が短縮される。
　【００２４】また、第１の記憶素子マトリックス５に記憶された検出データＡ（ｉ，ｊ）は被写体２が存在しない状態で撮像されたデータであるため、相隣り合うデータＡ（ｉ，ｊ）とＡ（ｉ＋１，ｊ）の値に大きな差は生じないと考えられる。このため、複数素子、例えば、Ｂ（ｉ，ｊ）、Ｂ（ｉ＋１，ｊ）、Ｂ（ｉ，ｊ＋１）、Ｂ（ｉ＋１，ｊ＋１）の２×２の素子を、一つのデータ、例えば対応する素子Ａ（ｉ，ｊ）、Ａ（ｉ＋１，ｊ）、Ａ（ｉ，ｊ＋１）、Ａ（ｉ＋１，ｊ＋１）のいずれか一つ、あるいは、これらの平均値で正規化するようにすれば、第１の記憶素子マトリックス５のメモリサイズを４分の１にすることができる。
　【００２５】さらに、検出データＡ（ｉ，ｊ）それぞれの差分を第１の記憶素子マトリックス５に記憶するよう構成すれば、一素子当たりのビット数を減らすことができるためメモリ容量が削減される。
　【００２６】以上の通り、本発明によれば、Ｘ線管装置と検出部間の距離を十分短くすることにより、照射されるＸ線強度にバラツキが生じても、濃淡のない正確なＸ線像が得られる。このため、Ｘ線利用率の向上が図ることができ、その分Ｘ線管装置に発生する熱量も減少させることができるため、装置全体を小型化できると共に、小熱容量のＸ線管装置を用いた場合であっても、冷却時間が短くなり迅速なＸ線撮像が可能となる。
　【００２７】なお、ここでの検出部３は、例えば、蛍光輝尽性のフィルムを用いたもの、すなわち、入射したＸ線量に応じて準安定状態となる物質でフィルムを形成し、レーザー光の２次元的走査によりそれを読み出すもので、別途設けた光ファイバなどで信号を取り出す検出器であってもよい。但し、これから出力される信号はアナログ信号であるのでＡ／Ｄ変換器を通しレーザー光の走査周期とＡ／Ｄ変換器とを同期させることで各々の画素をディジタル化するよう構成される。
　【００２８】また、Ｘ線イメージインテンシファイアも検出器として使用できる。Ｘ線イメージインテンシファイアはＸ線を光に変換するシンチレータを用いこの光を光電膜により電子に変換し加速電圧を印加することで電子のエネルギーを強め出力蛍光面を強力に発光させる検出器である。この出力蛍光面を撮像管やＣＣＤ素子で取り込みその信号をＡ／Ｄ変換すれば、ディジタル画像を得ることができる。
　【００２９】さらに、光電膜に生成される電子をＴＦＴ素子やＭＩＭ素子、ＭＩＳ素子などの能動型素子をマトリックス状に設けて、その電荷量を読み出す方法も考えられる。
　【００３０】また、半導体センサーマトリックスを用いて、半導体の空乏層内でＸ線によって電離される電離信号をアナログ的に読み出し、Ａ／Ｄ変換器を用いてディジタル化する検出器や、また、Ａ／Ｄ変換器を使わずに電離信号をパルス的に個々計数することで直接ディジタル信号で取り出す検出器が考えられる。前者には例えばＳｉ、ＧａＡｓなど一般の半導体材料が使用できるし、後者にはＨｇＩ２やｄＴｅを用いたものが好ましい。
　【００３１】第１及び第２の記憶素子マトリックス５，６は一般のいわゆるＩＣメモリがもっとも経済的かつコンパクトであるため好ましい。また、医療用画像で必要とされる画素数（検出素子の数に対応）は最低でも５１２×５１２マトリックスで、一般のＸ線フィルムと同等程度の分解能を得るには２０４８×２０４８マトリックス以上の画素数が必要であり、それらの１画素のビット数は１２ビット以上好ましくは最低でも１６ビットが必要である。これは１枚のＸ線画像に要求されるダイナミックレンジが１０進数で３桁以上であること、撮影におけるＸ線量の変化すなわちＸ線管電流・電圧による線量変化が１桁あること、被写体の厚さによる変化が１桁以上あることからこれらを満足するには５桁以上のダイナミックレンジが必要である。１６ビットの分解能は、２の１６乗＝６５５３６の分解能であるから５桁を超えるダイナミックレンジを満足している。
　【００３２】
　【発明の効果】本発明にかかるＸ線撮像装置によれば、Ｘ線管装置から発生するＸ線の強度分布を正規化して画像化するため、濃度均一性に優れた画像を得ることができる。また、これに伴い、Ｘ線管装置と検出部の距離を短くしても濃度均一性に優れた良好な画像を得ることができるため、結果的にＸ線の利用率を向上させることができる。従って、Ｘ線管装置の負担が軽減されると共に、その発熱量を抑制でき装置の小型化及びその冷却時間の短縮により診断に要する時間の短縮も図れる。
【図面の簡単な説明】
　【図１】本発明にかかるＸ線撮像装置の概略図である。
　【図２】本発明にかかる補正手段の動作を示すフローチャートである。
　【図３】従来のＸ線撮像装置の概略図である。
　【図４】Ｘ線管装置の概略図である。
　【符号の説明】
　１・・・Ｘ線管装置
　２・・・被写体
　３・・・検出部
　５・・・第１の記憶素子マトリックス
　６・・・第２の記憶素子マトリックス
　７・・・表示回路
　８・・・表示装置
　９・・・補正手段