【事件の表示】
　特願２００６−　４４００９「プログラム制御の工作機械を測定する方法」拒絶査定不服審判事件〔平成１８年　９月　７日出願公開、特開２００６−２３１５０９〕について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１．手続の経緯
　本願は、平成１８年２月２１日（パリ条約による優先権主張２００５年２月２２日、ドイツ連邦共和国）の出願であって、平成２３年７月２５日付けで拒絶理由が通知され、平成２４年１月２５日に意見書が提出されるとともに手続補正がなされ、平成２４年６月２９日付けで拒絶査定がなされ、これに対し、同年１１月５日に拒絶査定に対する審判請求がなされるとともに、これと同時に特許請求の範囲を補正対象とする手続補正（以下、同手続補正を「本件補正」という。）がなされ、平成２５年３月８日付けの前置報告書の内容についての意見を求める同年３月２５日付けの当審からの審尋に対する回答書が同年９月２６日に提出されたものである。
　
第２．本件補正についての補正却下の決定
　
［補正却下の決定の結論］
本件補正を却下する。
　
［理由］
（１）補正後の特許請求の範囲の記載
　本件補正により、特許請求の範囲は、
「【請求項１】
　測定球（５）を使用して、プログラム制御される工作機械を測定する方法において、
　機械部品（２）に測定球（５）を位置決めする段階と、
　前記工作機械に配置されたセンサ素子（６）を選択された初期位置へ移動させる段階と、
　前記センサ素子（６）を前記測定球（５）の表面の異なる複数の点に接触するまで反復的に移動させる段階と、
　前記測定球（５）の表面の接触された複数の点の空間上の位置を検出する段階と、
　検出された測定値に基づいて前記測定球（５）の中心の空間上の位置（Ｐ１）を計算する段階と、
　機械部品（２）を前記機械部品（２）に取り付けた測定球（５）と共に、第１測定位置から第２測定位置まで予め定めた距離（α，Ｂ）だけ移動させる段階と、
　再度の前記測定球の表面の点のサンプリングにより、前記測定球（５）の中心の空間上の位置（Ｐ２）を決定する段階と、
　前記測定球（５）の中心の前記空間上の位置（Ｐ１、Ｐ２）の検出された実際の値を、所定の移動距離に起因するプログラム制御装置からの対応する目標値と比較することによって位置誤差を決定する段階と、を含むことを特徴とする方法。
　　【請求項２】
　前記機械部品（２）の回転軸線の空間上の位置を測定するために、前記機械部品（２）が前記測定球（５）とともに、予め定めた角度（α）だけ第１測定位置から第２測定位置へ旋回させられることを特徴とする、請求項１に記載された方法。」
と、補正された。
　
（２）補正前の特許請求の範囲の記載
　本件補正前の、特許請求の範囲は、平成２４年１月２５日に提出された手続補正書によって補正された、下記のとおりのものである。
「【請求項１】
　測定球（５）を使用してプログラム制御される工作機械の機械部品（２）の位置を測定する方法において、
　機械部品（２）に測定球（５）を位置決めする段階と、
　前記工作機械に配置されたセンサ素子（６）を第１測定位置へ移動させる段階と、
　前記センサ素子（６）を前記測定球の表面の異なる複数の点に接触するまで反復的に移動させて、測定球（５）の表面の前記センサ素子（６）に接触された複数の点の空間上の位置を測定して第１の測定値を得る段階と、
　得られた第１の測定値に基づいて前記測定球（５）の中心の第１の空間上の位置（Ｐ１）を計算する段階と、
　機械部品（２）を測定球（５）と共に、前記第１測定位置から第２測定位置まで予め定めた距離（α，Ｂ）だけ移動させる段階と、
　前記第２測定位置において、前記センサ素子（６）を前記測定球の表面の異なる複数の点に接触するまで反復的に移動させて、測定球（５）の表面の前記センサ素子（６）に接触された複数の点の空間上の位置を測定して第２の測定値を得る段階と、
　前記第２の測定値に基づいて前記測定球の中心の第２の空間上の位置（Ｐ２）を計算する段階と、
　前記測定球の中心の前記第１及び第２の空間上の位置（Ｐ１、Ｐ２）の計算された値をプログラム制御装置に記憶された目標値と比較することによって位置誤差を決定する段階と、を含むことを特徴とする方法。
　　【請求項２】
　前記機械部品（２）の回転軸線の空間上の位置を測定するために、前記機械部品（２）が前記測定球（５）とともに、予め定めた角度（α）だけ第１測定位置から第２測定位置へ旋回させられることを特徴とする、請求項１に記載された方法。」
　
（３）補正事項
　上記補正は、以下の事項からなる。
　
ア．補正事項１
　本件補正前の請求項１に記載された発明を特定する事項である
「測定球（５）を使用してプログラム制御される工作機械の機械部品（２）の位置を測定する方法において」を、
「測定球（５）を使用して、プログラム制御される工作機械を測定する方法において」に補正する。
　
イ．補正事項２
　本件補正前の請求項１に記載された発明を特定する事項である
「前記工作機械に配置されたセンサ素子（６）を第１測定位置へ移動させる段階と」を、
「前記工作機械に配置されたセンサ素子（６）を選択された初期位置へ移動させる段階と」に補正する。
　
ウ．補正事項３
　本件補正前の請求項１に記載された発明を特定する事項である
「前記センサ素子（６）を前記測定球の表面の異なる複数の点に接触するまで反復的に移動させて、測定球（５）の表面の前記センサ素子（６）に接触された複数の点の空間上の位置を測定して第１の測定値を得る段階」を、
「前記センサ素子（６）を前記測定球（５）の表面の異なる複数の点に接触するまで反復的に移動させる段階と、
　前記測定球（５）の表面の接触された複数の点の空間上の位置を検出する段階」に補正する。
　
エ．補正事項４
　本件補正前の請求項１に記載された発明を特定する事項である
「得られた第１の測定値に基づいて前記測定球（５）の中心の第１の空間上の位置（Ｐ１）を計算する段階」を、
「検出された測定値に基づいて前記測定球（５）の中心の空間上の位置（Ｐ１）を計算する段階」に補正する。
　
オ．補正事項５
　本件補正前の請求項１に記載された発明を特定する事項である
「機械部品（２）を測定球（５）と共に、前記第１測定位置から第２測定位置まで予め定めた距離（α，Ｂ）だけ移動させる段階」を、
「機械部品（２）を前記機械部品（２）に取り付けた測定球（５）と共に、第１測定位置から第２測定位置まで予め定めた距離（α，Ｂ）だけ移動させる段階」に補正する。
　
カ．補正事項６
　本件補正前の請求項１に記載された発明を特定する事項である
「前記第２測定位置において、前記センサ素子（６）を前記測定球の表面の異なる複数の点に接触するまで反復的に移動させて、測定球（５）の表面の前記センサ素子（６）に接触された複数の点の空間上の位置を測定して第２の測定値を得る段階」を、削除する。
　
キ．補正事項７
　本件補正前の請求項１に記載された発明を特定する事項である
「前記第２の測定値に基づいて前記測定球の中心の第２の空間上の位置（Ｐ２）を計算する段階」を、
「再度の前記測定球の表面の点のサンプリングにより、前記測定球（５）の中心の空間上の位置（Ｐ２）を決定する段階」に補正する。
　
ク．補正事項８
　本件補正前の請求項１に記載された発明を特定する事項である
「前記測定球の中心の前記第１及び第２の空間上の位置（Ｐ１、Ｐ２）の計算された値をプログラム制御装置に記憶された目標値と比較することによって位置誤差を決定する段階」を、
「前記測定球（５）の中心の前記空間上の位置（Ｐ１、Ｐ２）の検出された実際の値を、所定の移動距離に起因するプログラム制御装置からの対応する目標値と比較することによって位置誤差を決定する段階」に補正する。
　
（４）補正の目的違反
　補正事項１は、「工作機械の機械部品（２）の位置を測定する方法」を、「工作機械を測定する方法」と補正することによって、「機械部品（２）の位置」との発明特定事項を削除するものである。
　また、補正事項６は、「前記第２測定位置において、前記センサ素子（６）を前記測定球の表面の異なる複数の点に接触するまで反復的に移動させて、測定球（５）の表面の前記センサ素子（６）に接触された複数の点の空間上の位置を測定して第２の測定値を得る段階」との発明特定事項を削除するものである。
　これらの補正事項は発明特定事項を削除することにより、特許請求の範囲を実質的に拡張することを目的とするものであるから、平成１８年法律第５５号による改正前の特許法（以下、「改正前特許法」という。）第１７条の２第４項各号のいずれの目的にも該当しない。
　したがって、本件補正は、特許法第１５９条第１項で読み替えて準用する同法第５３条第１項の規定により却下されるべきものである。
　
第３．本願発明について
（１）本願発明
　本件補正は上記のとおり却下されたので、本件の請求項１及び２に係る発明は、上記第２．（２）補正前の特許請求の範囲の記載のとおりであるところ、請求項１に記載された発明を、以下、「本願発明」という。
　
（２）引用刊行物
　原査定の拒絶の理由に引用された特開２００２−２１９６３４号公報（以下、「引用刊行物」という。）には、「反転加工装置および反転加工方法」に関して、図面とともに、以下のとおり記載されている。
　
ア．【特許請求の範囲】
「【請求項１】　ワーク搭載用パレット上に搭載されたワークを１８０゜回転して位置決めし、前記ワークを同軸反転加工する反転加工装置において、パレット交換装置により前記ワーク搭載用パレットと相互に交換され、かつ基準部材を上面に固定した校正用パレットと、この校正用パレットを１８０゜回転して前記基準部材の中心位置を測定してワーク回転軸の中心位置を検出するワーク回転軸検出手段とを備えたことを特徴とする反転加工装置。
【請求項２】　請求項１記載の反転加工装置において、前記ワーク回転軸検出手段は、加工装置本体の主軸に装着され、この主軸を１８０゜回転させ、前記基準部材の中心位置を２度測定することを特徴とする反転加工装置。
【請求項３】　請求項１記載の反転加工装置において、前記校正用パレット上の基準部材は、複数設けられたことを特徴とする反転加工装置。
【請求項４】　請求項１記載の反転加工装置において、前記基準部材を、ＮＣプログラムに基づいて校正用パレット上の任意の位置に位置決めする手段を設けたことを特徴とする反転加工装置。
【請求項５】　請求項１記載の反転加工装置において、前記基準部材を校正用パレットに代えて前記ワーク搭載用パレット上に固定することを特徴とする反転加工装置。
【請求項６】　請求項１ないし５のいずれかに記載の反転加工装置において、前記基準部材は、既知の厚さのリングであることを特徴とする反転加工装置。
【請求項７】　請求項１記載の反転加工装置において、前記ワーク回転軸検出手段は、そのプローブの長さをＮＣプログラムに基づいて変更可能としたことを特徴とする反転加工装置。
【請求項８】　ワーク搭載用パレット上に搭載されたワークを１８０゜回転して位置決めし、前記ワークを同軸反転加工する反転加工方法において、パレット交換装置により前記ワーク搭載用パレットを校正用パレットと交換し、この校正用パレットを１８０゜回転し、この校正用パレット上に固定した基準部材の中心位置を測定し、この測定結果に基づいてワーク回転軸の中心位置を検出することを特徴とする反転加工方法。」
　
イ．段落【０００１】〜【０００２】
「【発明の属する技術分野】本発明は、ワークを回転して位置決め（割り出し）する横形マシニングセンタにおけるミーリング加工装置に用いられる反転加工装置および反転加工方法に係り、特にワークを反転して同軸反転加工する反転加工装置および反転加工方法に関する。
【従来の技術】一般に、深さ、加工径の制約から片側のみしか加工することができない同軸の孔を横形のマシニングセンタにより加工する場合には、ワーク回転軸を中心として反転させ、一側と他側の双方から孔開け加工している。」
　
ウ．段落【０００４】〜【０００９】
「【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記のような従来の加工方法では、加工装置の熱変位などによる経時変化のため、加工基準となるワーク回転軸の位置が変化し、一側と他側の双方からの孔開け加工の同軸度が１０μｍの高精度加工を行うことができなかった。
　そこで、本発明は上記事情を考慮してなされたもので、反転加工の際、自動で、安定した高い同軸度精度が得られる反転加工装置および反転加工方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するために、請求項１記載の発明では、ワーク搭載用パレット上に搭載されたワークを１８０゜回転して位置決めし、前記ワークを同軸反転加工する反転加工装置において、パレット交換装置により前記ワーク搭載用パレットと相互に交換され、かつ基準部材を上面に固定した校正用パレットと、この校正用パレットを１８０゜回転して前記基準部材の中心位置を測定してワーク回転軸の中心位置を検出するワーク回転軸検出手段とを備えたことを特徴とする。
　ところで、反転加工装置では、加工装置の熱変位などによる経時変化のため、その変化したワーク回転軸の位置が加工直前に分かれば、その位置を基準として高精度な反転同軸加工を行うことができる。
　そこで、請求項１記載の発明では、ワークの同軸反転加工を行う直前にパレット交換装置によりワーク搭載用パレットを校正用パレットに交換し、この校正用パレットを１８０°回転させ、校正用パレット上に固定した基準部材の中心位置を両側からワーク回転軸検出手段で測定する。これら２つの中心位置の中点がワーク回転軸の中心位置である。このワーク回転軸の中心位置を基準としてワークを加工することにより、加工装置の熱変位などの経時変化誤差を取り除いて反転同軸加工を行うことができる。
　なお、ワーク搭載用パレットおよび校正用パレットは、ワーク回転軸上に設置されているため、パレットを相互に交換しても、ワーク回転軸の位置は変化することがない。」
　
エ．段落【００２７】〜【００３１】
「［第１実施形態］（請求項１対応）
　図１は本発明に係る反転加工装置の第１実施形態を示す要部斜視図である。
　図１に示すように、加工装置本体としてのミーリング加工装置（ワークを回転して位置決めするワーク回転軸を有する横形マシニングセンタ）において、ワーク搭載用パレット１にはワーク２が搭載される一方、校正用パレット３には円環状に形成された基準部材としての基準リング４が固定されている。そして、これらワーク搭載用パレット１と校正用パレット３は、図示しない自動パレット交換装置（ＡＰＣ）により相互に自動交換可能に構成されている。
　また、加工装置本体上に配置されたワーク搭載用パレット１および校正用パレット３は、それぞれワーク回転軸（以下、Ｂ軸という。）５を中心として回転し、１８０°毎に位置決めができるように構成されている。
　さらに、加工装置本体としてのミーリング加工装置の主軸６には、ワーク回転軸検出手段としてのタッチセンサ７が装着され、このタッチセンサ７が装着された主軸６は、回転可能であり、図示しないロータリーエンコーダにより１８０°毎に位置決めできるように構成されている。
　また、タッチセンサ７は、校正用パレットを１８０゜回転して基準リング４の中心位置を１８０゜回転させ、この基準リング４の両側からその中心位置を測定し、これら２つの中心位置の中点がＢ軸５の中心位置となり、これを検出する。」
　
オ．段落【００３２】〜【００３５】
「　次に、本実施形態の作用を説明する。
　加工装置本体の熱変位などによる経時変化のため、その変化したＢ軸５の位置が加工直前に分かれば、その位置を基準として高精度な反転同軸加工を行うことができる。
　ワーク７の同軸反転加工を行う直前に上記自動パレット交換装置によりワーク搭載用パレット１を校正用パレット３に交換し、この校正用パレット３を１８０°回転させて校正用パレット３上の基準リング４を、Ｂ軸５を中心として１８０°回転して位置決めし、この基準リング４の両側からその中心位置をタッチセンサ７により測定し、これら２つの中心位置の中点がＢ軸５の中心位置となる。
　すなわち、２つの測定値の中点におけるＸ座標がＢ軸５のＸ座標となる。この座標を基準としてワーク２を加工することにより、加工装置の熱変位などの経時変化誤差を取り除いて反転同軸加工を行うことができる。これにより、高精度な同軸度が得られる。」
　
　そして、引用刊行物には記載が省略されているが、同軸反転加工する反転加工装置においては、ワークを反転するための反転テーブルが備えられ、ワーク搭載用パレットまたは校正用パレットは反転テーブルに載せられて反転するものであるのは自明な事項である。
　
　以上によれば、引用刊行物には、
「ワーク搭載用パレットまたは校正用パレットを、反転テーブルに載せ、反転テーブルを１８０゜回転して位置決めし、前記ワークを同軸反転加工する反転加工装置において、
　加工装置本体の主軸６には、タッチセンサ７が装着され、校正用パレット３の上面に基準部材である基準リング４を固定し、この基準リング４の両側からその中心位置をタッチセンサ７により測定してから、当該校正用パレット３を１８０゜回転し、再度、この基準リング４の両側からその中心位置をタッチセンサ７により測定し、校正用パレット３の１８０゜回転の前後で検出された２つの中心位置の中点を検出して、これを反転テーブルの回転中心軸であるＢ軸５の中心位置とする、
　ワーク回転軸の中心位置を検出するワーク回転軸検出手段とを備えた反転加工方法。」
　との発明（以下、「引用刊行物発明」という。）が開示されていると認められる。
　
（３）対比
　そこで、本願発明と引用刊行物発明とを比較すると、引用刊行物発明の位置測定装置の「主軸に装着したタッチセンサ」は、本願発明の「センサ素子」に相当するものであり、また、センサが接触して測定する対象物として、引用刊行物発明が「基準リング」を用い、本願発明が「測定球」を用いているとの違いはあるものの、測定対象物の位置測定装置である限りにおいては共通している。
　また、引用刊行物発明が、位置測定にあたって、「この基準リング４（測定対象物）の両側からその中心位置をタッチセンサ７により測定」していることは、本願発明が「センサ素子（６）を測定球（測定対象物）の表面の異なる複数の点に接触するまで反復的に移動させて、測定球（５）（測定対象物）の表面の前記センサ素子（６）に接触された複数の点の空間上の位置を測定して第１の測定値を得る段階と、得られた第１の測定値に基づいて前記測定球（５）（測定対象物）の中心の第１の空間上の位置（Ｐ１）を計算する段階」とにより、測定対象物の中心位置を測定していることに相当している。
　さらに、引用刊行物発明が、測定対象物である基準リングを校正用パレットの上面に固定した点についてみると、引用刊行物発明の反転加工装置の機械部品である反転テーブルは、本願発明の機械部品に相当するから、引用刊行物発明が基準リングの中心位置を測定していることは、校正用パレットを介するものではあるものの、反転加工装置の機械部品である反転テーブルの回転軸の位置を測定していることになるのであるから、引用刊行物発明が、基準リングを校正用パレットに固定した点は、本願発明が、工作機械の機械部品（２）に測定球（５）を位置決めすることと、共通している。
　そして、引用刊行物発明が「校正用パレット３を１８０゜回転」したことは、基準リングの中心位置を二箇所で測定するために、校正用パレットを反転テーブルにより１８０゜回転させたのであるから、これは、基準リングの中心位置を二箇所で測定するために予め定めた距離だけ移動させたということができ、本願発明の、「機械部品（２）を測定球（５）と共に、前記第１測定位置から第２測定位置まで予め定めた距離（α，Ｂ）だけ移動させる段階」に相当する。
　そして、引用刊行物発明が、基準リング４の中心位置をタッチセンサ７により測定してから、当該校正用パレット３を１８０゜回転し、再度、この基準リング４の中心位置をタッチセンサ７により測定することは、本願発明が、第１の測定値をもとに測定球の中心の第１の空間上の位置（Ｐ１）を計算してから、測定球を第１測定位置から第２測定位置まで予め定めた距離（α，Ｂ）だけ移動させた後、第２の測定値をもとに測定球の中心の第２の空間上の位置（Ｐ２）を計算することに相当している。
　そして、「測定対象物を使用してプログラム制御される工作機械の機械部品の位置を測定する方法」であること、「前記工作機械に配置されたセンサ素子を測定位置へ移動させる」こと、及び、センサ素子を「測定対象物の表面の異なる複数の点に接触するまで反復的に移動させ」ることの各点において、引用刊行物発明と本願発明は基本的に共通している。
　
　以上の通りであるから、両者は、
＜一致点＞
「測定対象物を使用してプログラム制御される工作機械の機械部品の位置を測定する方法において、
　機械部品に測定対象物を位置決めする段階と、
　前記工作機械に配置されたセンサ素子を第１測定位置へ移動させる段階と、
　前記センサ素子を前記測定対象物の表面の異なる複数の点に接触するまで反復的に移動させて、測定対象物の表面の前記センサ素子に接触された複数の点の空間上の位置を測定して第１の測定値を得る段階と、
　得られた第１の測定値に基づいて前記測定対象物の中心の第１の空間上の位置（Ｐ１）を計算する段階と、
　機械部品を測定対象物と共に、前記第１測定位置から第２測定位置まで予め定めた距離（α，Ｂ）だけ移動させる段階と、
　前記第２測定位置において、前記センサ素子を前記測定対象物の表面の異なる複数の点に接触するまで反復的に移動させて、測定対象物の表面の前記センサ素子に接触された複数の点の空間上の位置を測定して第２の測定値を得る段階と、
　前記第２の測定値に基づいて前記測定対象物の中心の第２の空間上の位置（Ｐ２）を計算する段階と、
を含む方法。」
　の点で一致し、以下の点で相違している。
　
＜相違点１＞
　工作機械の機械部品に測定対象物を位置決めするにあたって、本願発明では、機械部品に直接に測定球を位置決めしているのに対し、引用刊行物発明では、機械部品である反転テーブルに校正用パレットを介して基準リングを位置決めしている点。
　
＜相違点２＞
　測定対象物として本願発明では、「測定球」を用いているのに対して、引用刊行物発明は、「基準リング４」を用いており、「測定球」ではない点。
　
＜相違点３＞
　本願発明では、「測定球の中心の第１及び第２の空間上の位置（Ｐ１、Ｐ２）の計算された値をプログラム制御装置に記憶された目標値と比較することによって位置誤差を決定する段階」を含むのに対して、引用刊行物発明の「ワーク回転軸の中心位置を検出するワーク回転軸検出手段」は、「ワーク回転軸の中心位置を検出」しており、プログラム制御装置に記憶された目標値と比較することによって「位置誤差を決定する」ものではない点。
　
（４）判断
○　相違点１について
　相違点１について検討する。
　引用刊行物発明が、「校正用パレットを介して」反転加工装置の反転テーブルの回転軸位置を測定しているものである点は、校正用パレットとワーク搭載用パレットを相互に交換可能としたためであることは明らかであり、このように相互に交換可能にする必要がなければ、反転加工装置の反転テーブルに直接測定対象物である基準リングを固定すればよいことは自明事項である。
　してみれば、相違点１に係る発明特定事項の違いは、当業者が容易に想到する設計変更にすぎない事項である。
　なお、本願発明は、発明特定事項として、「工作機械の機械部品（２）に測定球（５）を位置決めする」とあるのみであり、「工作機械の機械部品」がどのようなものであるかの具体的な限定事項は無いのであるから、「機械部品」という概念には、引用刊行物発明の「校正用パレット」が含まれるとみることもでき、このような解釈によれば、相違点１は実質的に相違点ではないということもできる。
　
○　相違点２について
　位置測定装置において、主軸に取り付けたセンサ素子とともに組み合わせる測定対象物として、「測定球」を用いるものは、例えば、拒絶理由にて示された特開平１１−１２３６３５号公報、拒絶査定で例示された特開平４−６３６６３号公報にも見られるように、従来周知のものにすぎず、「測定球」を用いたことによる格別の効果もない。
　してみれば、相違点２に係る発明特定事項の違いは、引用刊行物発明に周知事項を適用したにすぎないものであり、当業者が容易に想到し得たものである。
　
○　相違点３について
　引用刊行物発明においても、「ワーク回転軸の中心位置を検出」しており、これを目標値と比較して「位置誤差を決定する」か、あるいは決定しないかは、設計上の微差である。
　してみれば、相違点３は実質的な相違点とはいえない。
　
（５）むすび
　以上のとおり、本願発明は、引用刊行物発明及び従来周知の事項に基いて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができず、他の請求項についてみるまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
　よって、結論のとおり審決する。
　
（６）補正案について
　
　請求人は平成２５年９月２６日提出の回答書において、審判請求時にした特許請求の範囲の補正が認められない場合の補正案として、新たな特許請求の範囲を、補正案１と補正案２の２つ提示している。
　これらの補正案にも、一応触れておく。
　
　補正案１は、審判請求時に補正された特許請求の範囲の記載を査定時のものに戻すものであるから、上記結論にかわりはない。
　
　補正案２は、査定時の特許請求の範囲に、以下の事項を加入するものである。
○加入事項１
　請求項１に記載された発明を特定する事項である、「測定球（５）を使用してプログラム制御される工作機械の機械部品（２）の位置を測定する方法において」に、「工作テーブルが不可欠な」を加入して、「測定球（５）を使用してプログラム制御される、工作テーブルが不可欠な工作機械の機械部品（２）の位置を測定する方法において」とする。
○加入事項２
　請求項１に記載された発明を特定する事項である、「前記工作機械に配置されたセンサ素子（６）を第１測定位置へ移動させる段階」に、「旋回ヘッド（１５）に移動可能に取り付けられた工作主軸（１４）」を加入して、「前記工作機械の旋回ヘッド（１５）に移動可能に取り付けられた工作主軸（１４）に取り付けられたセンサ素子（６）を第１測定位置へ移動させる段階」とする。
　
また、以下の事項を削除する。
○削除事項
　請求項１に記載された、「機械部品（２）に測定球（５）を位置決めする段階」との発明を特定する事項を削除する。
　
　上記加入事項１、２は、いずれも、工作機械の構造においては従来周知の事項にすぎず、これらの事項の加入は、いずれも従来周知の事項の付加あるいは適用にすぎない。
　また、上記削除は、特許請求の範囲の実質的拡張であり、発明を上位概念化するものであって、これにより、発明の容易想到性が覆されることはない。
　したがって、この補正案２を採用することはできないし、たとえ採用しても、上記結論にかわりはない。