【事件の表示】
　平成６年特許願第２３４５０７号「レーザ位置決め加工方法及び装置」拒絶査定に対する審判事件［平成８年３月１９日出願公開、特開平８−７１７８０］について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
【理　由】
第１　手続の経緯・本件出願の発明
　本件出願は、平成６年９月５日の特許出願であって、その請求項１及び請求項２に係る発明は、平成１０年１２月７日付手続補正書により補正をした明細書及び出願当初の図面の記載からみて、特許請求の範囲の請求項１及び請求項２に記載されたとおりの「レーザ位置決め加工方法」及び「レーザ位置決め加工装置」であると認められるところ、その請求項１に係る発明（以下「本件発明１」という。）は、次のとおりである。
「【請求項１】　被加工物としての連続シート状物はレーザ加工すべき加工領域を囲む長方形の各頂点に画像認識パターンを有しており、停止状態とした前記連続シート状物の各画像認識パターンを撮像装置で撮像して前記連続シート状物の基準配置に対するＸ方向、Ｙ方向及びθ方向の位置ずれ量を検出し、ＸＹガルバノミラー系及びスキャンレンズからなるレーザ光学系でレーザ発振器からのレーザ光を走査する場合に、検出された前記θ方向の位置ずれ量はＸ方向及びＹ方向の補正量に変換して、検出された前記Ｘ方向、Ｙ方向及びθ方向の位置ずれ量を相殺するように前記レーザ光のＸ方向及びＹ方向の走査位置を補正して前記レーザ光を走査することを特徴とするレーザ位置決め加工方法。」
第２　引用例
１　引用例記載事項
　これに対して、原査定の拒絶の理由に引用された本件出願前に日本国内において頒布された刊行物である特開平６−７９４７９ 号公報（以下「引用例」という。）には、「レーザマーキング装置」に関連して以下の事項が記載されている。
「【特許請求の範囲】
【請求項１】 レーザ発振器から出射されたレーザ光を受けて光パターンを発生するマスクと、該マスクからの光パターンを反射する反射鏡と、該反射鏡にて反射された光パターンにより被加工物になされるマーキングのマーク位置や傾きを認識する認識装置と、該認識装置で得られた認識データにもとづき、上記被加工物に対する上記マーク位置を補正するように、上記反射鏡の角度を制御する反射鏡角度制御手段とを備えたレーザマーキング装置。
　・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
【請求項４】 レーザ発振器から出射されたレーザ光を反射する反射鏡と、該反射鏡にて反射されたレーザ光により被加工物になされるマーキングのマーク位置や傾きを認識する認識装置と、該認識装置で得られた認識データにもとづき、上記被加工物に対する上記マーク位置を補正するように、上記反射鏡の角度を制御する反射鏡角度制御手段とを備えたレーザマーキング装置。
　・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
【請求項６】 被加工物にマーキングされるマーク位置や傾きを認識する認識装置が、被加工物の正規の代表座標と被加工物から得られたマーキング前の代表座標との比較結果に従って、上記マーク位置の補正データを演算によって求める請求項１，２，３，４または５に記載のレーザマーキング装置。」
「【００１１】請求項１の発明は・・・・・・・・・・・、収納トレイ内の被加工物の位置決めを行うことなく、反射鏡の角度を制御することにより、所定の位置に正確にマーキングを行うことができるレーザマーキング装置を得ることを目的とする。
　・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
【００１４】請求項４の発明はマスクを用いない場合でも、反射鏡の角度を制御することにより所定位置に正確にマーキングを行うことができるレーザマーキング装置を得ることを目的とする。
　・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
【００１６】請求項６の発明は演算によってマーキング位置を正確に求めてマーキングを実施できるレーザマーキング装置を得ることを目的とする。」
「【００２３】
【作用】請求項１の発明におけるレーザマーキング装置は、認識装置で被加工物のＸ−Ｙ方向の位置ずれや傾きを認識することができるため、被加工物が位置ずれしたり傾いていた場合は、反射鏡の角度を切り替えることによりレーザ光の角度を切り替えて、上記被加工物の位置ずれや傾きに拘らず被加工物の所定位置に正しくマーキングを行えるようにする。
  ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
【００２６】請求項４の発明におけるレーザマーキング装置は、マスクを使用しない場合にも、反射鏡の角度を調整することにより、被加工物の位置ずれや傾きに拘らず、被加工物の所定位置にマーキングを行えるようにする。  ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
【００２８】請求項６の発明におけるレーザマーキング装置は、収納トレイの抜き孔等を代表座標として利用して、１〜３点で被加工物の位置を認識し、これらの代表座標の正規の代表座標からの位置ずれや傾きを演算によって認識可能にする。」
「【００２９】
【実施例】
実施例１．以下、この発明の一実施例を図について説明する。図において、１はレーザ発振器、２はレーザ発振器１から出射されたレーザ光、３は文字や図形のような所定のパターンが形成されたマスク、４ａ，４ｂ，４ｃは入射するレーザ光２を反射する反射鏡、１２ａ，１２ｂ，１２ｃはこれらの反射鏡４ａ，４ｂ，４ｃの傾きを制御する反射鏡角度制御手段としての角度調整反射鏡、５は結像レンズ、６は半導体パッケージなどのような被加工物、７は被加工物６を収納する収納トレイ、１１は収納トレイ７内の被加工物６の位置を認識する認識装置である。
【００３０】次に動作について説明する。まず、認識装置１１により、被加工物６の光パターン（画像パターン）にもとづいて、収納トレイ７内の被加工物６の位置ずれや、傾きを認識する。次に、レーザ発振器１から出射したレーザ光２をマスク３に通過させて所定の光パターンを出力させ、この光パターンを各反射鏡４ａ，４ｂ，４ｃに次々に反射させる。
【００３１】このとき、認識装置１１で認識した被加工物６の上記の認識データにもとづき、角度調整反射鏡１２ａ，１２ｂ，１２ｃによって反射鏡４ａ，４ｂ，４ｃの角度を修正する。これにより、レーザ光の角度を補正することができ、マークの位置をＸ−Ｙ方向にずらせたり、所定角度だけ傾けたりすることで、被加工物６の上記位置ずれや傾きに応じて正しい位置にマーキングを行うことができる。
【００３２】次に、認識装置１１を用いた被加工物６の認識方法の一例を図２について説明する。同図において、６ａは収納トレイ７内の正規の位置に置かれた被加工物を示し（ｘ0 ，ｙ0 ），（ｘ1 ，ｙ1 ），（ｘ2 ，ｙ2 ）はこの場合における被加工物６の代表座標、６ｂはマーキング前における位置ずれや傾いた状態での被加工物を示し、（ｘ0'，ｙ0'），（ｘ1'，ｙ1'），（ｘ2'，ｙ2'）は上記正しい位置の被加工物６ａの代表座標に対応した点の座標である。
【００３３】かかる認識装置１１では、あらかじめ、被加工物６ａの上記座標（ｘ0 ，ｙ0 ），（ｘ1 ，ｙ1 ），（ｘ2 ，ｙ2 ）を認識装置１１に記憶しておく、次に、マーキング前に被加工物６の画像を認識装置１１にとりこみ、被加工物６ｂの座標（ｘ0'，ｙ0'），（ｘ1'，ｙ1'），（ｘ2'，ｙ2'）を読み取り、先に記憶された正しい位置での座標（ｘ0 ，ｙ0 ），（ｘ1 ，ｙ1 ），（ｘ2 ，ｙ2 ）と比較し、マーキング前の被加工物６ｂの平面的な（Ｘ−Ｙ方向の）位置ずれや傾き（傾斜角度θ）を演算により割り出し、認識する。
【００３４】そして、これらの演算結果データを各角度調整反射鏡１２ａ，１２ｂ，１２ｃへ転送する。こうすることにより、上記演算結果データを補正データとして傾きが変えられた反射鏡４を通過した光パターン（レーザ光）は、被加工物６の所期の位置に正確に照射され、マーキングが行われる。
  ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
【００３８】実施例４．さらに、図１の実施例ではレーザ発振器１と反射鏡４ａとの間にマスク３を設けているが、マスク３を設けずに被加工物６にレーザ光２によるマーキングを直接行うようにしてもよい。これによれば、上記実施例と同様に、反射鏡４ａ，４ｂ，４ｃの角度調整により正しい位置に上記マーキングを行うことができる。」
「【００４０】
【発明の効果】以上のように、請求項１の発明によれば、マスクからの光パターンにより被加工物になされるマーキングのマーク位置や傾きを認識する認識装置を設け、その認識データにもとづき、反射鏡制御手段に、上記被加工物に対する上記マーク位置を補正するように、上記反射鏡の角度を制御させるように構成したので、収納トレイ内の被加工物の位置ずれや傾きに応じて正しい位置にマーキングを行うことができるとともに、マーキングの際被加工物を位置決めする必要がないため、被加工物の負傷などによる外観不良を低減できるものが得られる効果がある。
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【００４３】請求項４の発明によれば、反射鏡にて直接反射されたレーザ光により被加工物になされるマーキングのマークの位置や傾きを認識する認識装置を設け、その認識データにもとづき、反射鏡制御手段に、上記被加工物に対する上記マーク位置を補正するように、上記反射鏡の角度を制御させるように構成したので、マスクを通すことなく、角度制御された反射鏡を介して得られたレーザ光により、直接被加工物に対してマーキングを行えるものが得られる効果がある。
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【００４５】請求項６の発明によれば、被加工物にマーキングされるマーク位置や傾きを認識する認識装置により、被加工物の正規の代表座標と被加工物から得られたマーキング前の代表座標との比較結果に従って、上記マーク位置の補正データを演算によって求めさせるように構成したので、演算によって求めた座標データである被加工物上のマーキング位置に、正確にマーキングを実施できるものが得られる効果がある。」
　長方形のシート状物である被加工物６の３つの頂点を当該被加工物６の位置ずれや傾きを認識するための代表座標点としていること。（図２参照）
２　引用例記載の発明
　上記各記載事項は、「レーザマーキング装置」の説明として記載されているが、本件発明１と同様に「レーザ位置決め加工方法」の説明としても把握できることは明らかであり、上記各記載事項を本件発明１の構成に沿って整理すると、引用例には次の発明が記載されていると認める。
　長方形のシート状物である被加工物６はレーザ加工すべき加工領域を囲む長方形の３つの頂点を画像認識のための代表座標点としており、停止状態とした前記シート状物である被加工物６の各代表座標点を画像とりこみ手段を備えた認識装置１１にとりこんでシート状物である被加工物６の正規の位置に対する平面的な（Ｘ−Ｙ方向）の位置ずれ及び傾き（傾斜角度θ）を検出し、反射鏡４ａ，４ｂ，４ｃ、反射鏡角度制御手段１２ａ，１２ｂ，１２ｃ及び結像レンズ５からなるレーザ光学系でレーザ発振器１からのレーザ光２を照射する場合に、検出された前記平面的な（Ｘ−Ｙ方向）の位置ずれ及び傾き（傾斜角度θ）を相殺するように反射鏡４ａ，４ｂ，４ｃを傾けることによりレーザ光２の照射位置を補正してレーザ光２を照射するレーザ位置決め加工方法。
第３　対比
　本件発明１と引用例記載の発明とを対比すると、引用例記載の発明の「画像認識のための代表座標点」、「画像とりこみ手段」、「正規の位置」及び「平面的な（Ｘ−Ｙ方向）の位置ずれ及び傾き（傾斜角度θ）」は、それぞれ本件発明１の「画像認識パターン」、「撮像装置」、「基準配置」及び「Ｘ方向、Ｙ方向及びθ方向の位置ずれ量」に相当することが明らかである。
　また、引用例記載の発明の「長方形のシート状物である被加工物６」は、被加工物としてのシート状物であるという限りで、本件発明１の「被加工物としての連続シート状物」と共通しており、同じく引用例記載の発明の「反射鏡４ａ，４ｂ，４ｃ、反射鏡角度制御手段１２ａ，１２ｂ，１２ｃ及び結像レンズ５からなるレーザ光学系」は、傾動可能な複数のミラー及びレンズからなるレーザ光学系であるという限りで、本件発明１の「ＸＹガルバノミラー系及びスキャンレンズからなるレーザ光学系」と共通している。
　また、本件発明１においてレーザ光を走査することは、レーザ光を照射する一態様である。
　また、引用例記載の発明において、被加工物のＸ方向、Ｙ方向及びθ方向の位置ずれ量を相殺するように反射鏡４ａ，４ｂ，４ｃを傾けることによりレーザ光２の照射位置を補正するためには、当然少なくともレーザ光のＸ方向及びＹ方向の照射位置を補正する必要がある。
　以上のことから、本件発明１と引用例記載の発明とは、以下のような一致点及び相違点を有している。
１　一致点　
　被加工物としてのシート状物はレーザ加工すべき加工領域を囲む長方形の頂点に画像認識パターンを有しており、停止状態とした前記シート状物の各画像認識パターンを撮像装置で撮像して前記シート状物の基準配置に対するＸ方向、Ｙ方向及びθ方向の位置ずれ量を検出し、傾動可能な複数のミラー及びレンズからなるレーザ光学系でレーザ発振器からのレーザ光を照射する場合に、検出された前記Ｘ方向、Ｙ方向及びθ方向の位置ずれ量を相殺するように前記レーザ光のＸ方向及びＹ方向の照射位置を補正して前記レーザ光を照射するレーザ位置決め加工方法。
２　相違点
(1) 相違点１
　本件発明１では、被加工物が連続シート状物であって、当該連続シート状物はレーザ加工すべき加工領域を囲む長方形の各頂点、すなわち、４つの頂点に画像認識パターンを有してるのに対して、引用例記載の発明では、被加工物が長方形のシート状物であって、長方形の３つの頂点に画像認識パターンを有している点。
(2) 相違点２
　本件発明１では、ＸＹガルバノミラー系及びスキャンレンズからなるレーザ光学系でレーザ発振器からのレーザ光を走査する場合に、検出されたθ方向の位置ずれ量はＸ方向及びＹ方向の補正量に変換して、検出されたＸ方向、Ｙ方向及びθ方向の位置ずれ量を相殺するようにレーザ光のＸ方向及びＹ方向の走査位置を補正してレーザ光を走査するのに対して、引用例記載の発明では、３つの反射鏡、反射鏡角度制御手段及び結像レンズからなるレーザ光学系でレーザ発振器からのレーザ光を照射する場合に、検出されたＸ方向、Ｙ方向及びθ方向の位置ずれ量を相殺するように各反射鏡を傾けることによりレーザ光の照射位置を補正してレーザ光を照射する点。
第４　判断
１　相違点１について
　連続シート状物をレーザ加工することは、例えば、特開平２−１８２３８８号公報に示されているように従来周知であり、この従来周知の事項を引用例記載の発明に適用して、被加工物を連続シート状物とすることに格別の困難性はない。そして、被加工物を連続シート状物とした場合には、被加工物の位置ずれを検知するためには、当該連続シート状物のレーザ加工すべき加工領域を囲む長方形の頂点に画像認識パターンを設ければよいことは引用例記載の発明から当業者が容易に想到するところである。
　また、画像認識パターンの数については、上記平成１０年１２月７日付手続補正書により削除された本件出願の願書に最初に添付した明細書の段落【００３２】に「なお、上記実施例では画像認識マーク２１を連続シート状物２０の加工領域２０ａに対し４個設けたが、少なくとも２個の画像認識マーク２１があれば、対応する加工領域２０ａの基準配置からの位置ずれ量を算出することができる。例えば、２点の中間点の位置からＸ方向及びＹ方向の位置ずれ量を検出でき、２点を結ぶ直線の傾きからθ方向の位置ずれ量を検出できる。」と記載されていたように、画像認識マーク、すなわち、画像認識パターンは、少なくとも２個あればＸ方向、Ｙ方向及びθ方向の位置ずれ量を検出することができることからみて、画像認識パターンを、本件発明１のように長方形の各頂点、すなわち、４つの頂点に設けるか、或いは、引用例記載の発明のように長方形の３つの頂点に設けるかは必要に応じて適宜決めればよい単なる設計的事項にすぎない。
２　相違点２について
　ＸＹガルバノミラー系及びスキャンレンズからなるレーザ光学系でレーザ発振器からのレーザ光を走査することは、例えば、原査定の拒絶の理由に引用された特開昭６２−６４４８８号公報の第１図に示されているように従来周知であり、この従来周知の事項を引用例記載の発明に適用して、ＸＹガルバノミラー系及びスキャンレンズからなるレーザ光学系でレーザ発振器からのレーザ光を走査するように構成することに格別の困難性はない。
　そして、初等数学において教示されるようにＸ−Ｙ平面上の直線の傾き量は、Ｘ方向の変位量とＹ方向の変位量との割合によって表示されることから、ＸＹガルバノミラー系及びスキャンレンズからなるレーザ光学系でレーザ発振器からのレーザ光を走査する場合には、検出されたθ方向の位置ずれ量、すなわち、傾き量をＸ方向及びＹ方向の補正量に変換して、検出されたＸ方向、Ｙ方向及びθ方向の位置ずれ量を相殺するようにレーザ光のＸ方向及びＹ方向の走査位置を補正してレーザ光を走査するように構成することは、上記適用に当たって当業者が容易に想到することができる設計的改変事項にすぎない。
３　本件発明１の効果について
　本件発明１の採用する構成によって齎される効果も、引用例記載の発明及び上記従来周知の各事項から当業者であれば予測できる程度のものであって格別のものではない。
第５　むすび
　したがって、本件発明１は、引用例記載の発明及び上記従来周知の各事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許をすることができないものである。
　よって、本件出願の請求項２に係る発明について検討するまでもなく、結論のとおり審決する。