【事件の表示】
　特願２００８−１５６８０９「プリズムシート」拒絶査定不服審判事件〔平成２１年１２月２４日出願公開，特開２００９−３００８７０，請求項の数（２）〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　原査定を取り消す。
　本願の発明は，特許すべきものとする。
【理　由】
第１　手続の経緯
　本願は，平成２０年６月１６日の出願であって，平成２４年１０月１８日付けで拒絶理由が通知され，同年１２月２０日に意見書及び手続補正書が提出され，平成２５年１月１７日付けで拒絶理由が通知され，同年３月１８日に意見書及び手続補正書が提出されたが，同年７月１９日付けで拒絶査定がなされたところ，同年１０月２１日に拒絶査定不服審判が請求されると同時に手続補正書が提出されたものである。
　なお，請求人は，当審における平成２６年１月１０日付けの審尋に対して，同年３月６日に回答書を提出している。
　
　
第２　補正却下の決定
〔補正却下の決定の結論〕
　平成２５年１０月２１日提出の手続補正書による手続補正を却下する。
　
〔理由〕
１　補正の内容
　平成２５年１０月２１日提出の手続補正書による手続補正（以下「本件補正」という。）は，同年３月１８日提出の手続補正書による手続補正によって補正された（以下「本件補正前」という。）特許請求の範囲及び明細書について補正しようとするもので，そのうち，請求項１に係る補正については次のとおりである。（下線は補正箇所を示す。）
（１）本件補正前の請求項１
「基材層と，該基材層の一方の面に形成された光拡散層とを有する光拡散フィルムと，該光拡散フィルムの基材層側に，高さ１５〜７５μｍ，プリズム頂角４５〜７５°，ピッチ１０〜７０μｍのプリズム列が形成されたプリズム層を有するプリズムシートであって，
　前記光拡散層の表面に，局部山頂間の平均間隔Ｓが１２〜２０μｍ，凹凸間ピッチＳｍが３０〜５０μｍ，算術平均粗さＲａが０．３〜１μｍ，十点平均粗さＲｚが１．５〜４μｍ，算術平均傾斜角ＲΔａが５〜１５°の凹凸が形成され，
　前記凹凸は，ブラスト加工により形成された凹凸パターンが転写されたものであり，
　前記光拡散フィルムは，下記測定方法Ａにより求められる視認限界が，２５０μｍを超え
３５０
　前記光拡散フィルムは，下記測定方法Ｂにより求められるピーク輝度の相対値が０．４以上であるプリズムシート。
　＜測定方法Ａ＞
　縞模様が印刷されたＭＴＦ測定用チャート（ＮＢＳ１９６３Ａ，解像力ターゲットポジ，厚さ１．５ｍｍ，エドモンド・オプティクス社製）を面光源装置上に載置し，前記ＭＴＦ測定用チャートに光拡散フィルムを載置する。この際，基材層側の面が前記ＭＴＦ測定用チャートに面するように前記光拡散フィルムを載置する。
　光源を点灯し，前記光拡散フィルムを通して，目視で前記縞模様を確認する。
　前記縞模様のラインピッチを視認できない場合を視認不可とし，視認不可のラインピッチの値が最も大きいものを視認限界とする。
　＜測定方法Ｂ＞
　半値全幅が１７°で，出射光ピーク角度が法線（０°±５°）に位置し，かつ，単一ピーク出射光分布特性を有する指向性面光源装置から発光された光を，光拡散フィルムを透過させた後の面光源装置の中央から法線方向に５０ｃｍ離した受光部（株式会社トプコン製，商品名：ＢＭ−７）で測定した輝度（α）を測定する。
　光拡散フィルムに代えて基材層のみを用いて輝度（β）を測定し，下記式により相対ピーク輝度を求める。
　相対ピーク輝度＝α÷β」
　
（２）本件補正後の請求項１
「基材層と，該基材層の一方の面に形成された光拡散層とを有する光拡散フィルムと，該光拡散フィルムの基材層側に，高さ１５〜７５μｍ，プリズム頂角４５〜７５°，ピッチ１０〜７０μｍのプリズム列が形成されたプリズム層を有するプリズムシートであって，
　前記光拡散層の表面に，局部山頂間の平均間隔Ｓが１２〜２０μｍ，凹凸間ピッチＳｍが３０〜５０μｍ，算術平均粗さＲａが０．３〜１μｍ，十点平均粗さＲｚが１．５〜４μｍ，算術平均傾斜角ＲΔａが５〜１５°の凹凸が形成され，
　前記凹凸は，ブラスト加工により形成された凹凸パターンが転写されたものであり，
　前記光拡散フィルムは，下記測定方法Ａにより求められる視認限界が，２５０μｍを超え
３５７
　前記光拡散フィルムは，下記測定方法Ｂにより求められるピーク輝度の相対値が０．４以上であるプリズムシート。
　＜測定方法Ａ＞
　縞模様が印刷されたＭＴＦ測定用チャート（ＮＢＳ１９６３Ａ，解像力ターゲットポジ，厚さ１．５ｍｍ，エドモンド・オプティクス社製）を面光源装置上に載置し，前記ＭＴＦ測定用チャートに光拡散フィルムを載置する。この際，基材層側の面が前記ＭＴＦ測定用チャートに面するように前記光拡散フィルムを載置する。
　光源を点灯し，前記光拡散フィルムを通して，目視で前記縞模様を確認する。
　前記縞模様のラインピッチを視認できない場合を視認不可とし，視認不可のラインピッチの値が最も大きいものを視認限界とする。
　＜測定方法Ｂ＞
　半値全幅が１７°で，出射光ピーク角度が法線（０°±５°）に位置し，かつ，単一ピーク出射光分布特性を有する指向性面光源装置から発光された光を，光拡散フィルムを透過させた後の面光源装置の中央から法線方向に５０ｃｍ離した受光部（株式会社トプコン製，商品名：ＢＭ−７）で測定した輝度（α）を測定する。
　光拡散フィルムに代えて基材層のみを用いて輝度（β）を測定し，下記式により相対ピーク輝度を求める。
　相対ピーク輝度＝α÷β」
　
２　新規事項の追加について
（１）請求項１に係る本件補正について
　前記１で記載した請求項１に係る本件補正は，本件補正前の請求項１の発明特定事項である光拡散フィルムの視認限界の数値範囲について，その上限を３５０μｍから３５７μｍに変更しようとするものである。
　
（２）本願明細書等の記載
　ア　本願の願書に最初に添付された（以下「出願当初」という。）明細書及び特許請求の範囲には，光拡散フィルムの視認限界の数値範囲について，次の記載がある。
（ア）「【請求項１】
・・・（中略）・・・該パターンに対する視認限界が，２５０μｍを超え３５０μｍ以下であり，
・・・（中略）・・・光拡散フィルム。」
　
（イ）「【課題を解決するための手段】
　【０００８】
　本発明の光拡散フィルムは，・・・（中略）・・・該パターンに対する視認限界が，２５０μｍを超え３５０μｍ以下であり，・・・（中略）・・・ことを特徴とする。」
　
（ウ）「【００１２】
　光拡散フィルム１０の視認限界は，２５０μｍを超え３５０μｍ以下であり，好ましくは２７５〜３５０μｍである。２５０μｍ以下であると，欠陥を隠す能力（隠蔽性）が低く，光拡散フィルム１０近傍の欠陥，例えば，プリズムシートのプリズム列表面等の欠陥の視認性を低減することができない。３５０μｍを超えると，輝度が著しく低下する傾向にある。
　【００１３】
　視認限界について，図２，３を用いて説明する。図２は，視認限界を測定するための縞模様パターン２０の平面図である。図３は，光拡散フィルム１０の視認限界の測定方法を説明するための配置図である。
図２に示す通り，縞模様パターン２０は，透光性の部材である透光性シート２２に，幅を持った複数の黒色の直線（黒色線）２４が等間隔で配置され，縞模様が表されている。黒色線２４の幅Ｗ１と，その配置間隔であるＷ２とは等しく，幅Ｗ１とＷ２との和をラインピッチＷ（μｍ）とする。視認限界の測定は，例えば，縞模様パターン２０として，ラインピッチＷの異なる複数種の縞模様が印刷されたＭＴＦ測定用チャート（ＮＢＳ１９６３Ａ　解像力ターゲットポジ，エドモンド・オプティクス社製）を用いて行う。
　【００１４】
　視認限界の測定方法について，図３を用いて説明する。視認限界の測定は，図３に示すように，光拡散フィルム１０の基材層１４側の面１５と，縞模様パターン２０の黒色線２４が形成されていない面とが面するように，縞模様パターン２０を配置する。そして，縞模様パターン２０側に面光源装置２６を配置し，面光源装置２６から光Ａを照射し，光拡散層１２の面１３側から目視にて縞模様を観察する。
　縞模様の観察は，面１３側から，ラインピッチＷの異なる複数種の縞模様を順次観察する。観察結果は，縞模様の輪郭が鮮明，即ち，黒色線２２とその配置間隔とを視認できる場合を視認可能とし，縞模様の輪郭が不鮮明，即ち，黒色線２２とその配置間隔とを視認できない場合を視認不可とする。そして，視認不可と判定した縞模様の中で，ラインピッチＷの値が最も大きいものをもって視認限界とする。例えば，ラインピッチＷが２００μｍより広い縞模様は「視認可能」であり，ラインピッチＷが２００μｍ以下の縞模様は「視認不可」であった場合，視認限界は，視認不可のラインピッチＷの値の中の最大値である２００μｍと判定する。得られた視認限界の値が大きいほど，黒色線２４の配置間隔が粗な縞模様の輪郭を不鮮明にできるため，光拡散シート１０の隠蔽性が高いことになる。」
　
（エ）「【００５６】
　＜視認限界の測定＞
　視認限界の測定は，半値全幅が１７°で，出射光ピーク角度が法線（０°±５°）に位置し，かつ，単一ピーク出射光分布特性を有する１４．１インチサイズの全反射形プリズムシート（Ｓ２６８ＹＫ，三菱レイヨン株式会社製）を使用した指向性面光源装置を用いて行った。面光源装置上に縞模様パターンとして，ＭＴＦ測定用チャート（ＮＢＳ１９６３Ａ　解像力ターゲットポジ，厚さ１．５ｍｍ，エドモンド・オプティクス社製）を縞模様が形成されている面を前記面光源装置側として載置し，この上に実施例１〜５，比較例１〜４で得られた光拡散フィルムをその基材層側の面が，前記ＭＴＦ測定用チャートに面するように載置した。次いで，光源を点灯し，光拡散フィルムを通して目視で確認し，視認限界を測定した。視認限界は縞模様のラインピッチの値（μｍ）で表した。」
・・・（中略）・・・
【００６０】
【表１】
」
　
　イ　前記ア（ア）ないし（ウ）の記載中では光拡散フィルムの視認限界の数値範囲の上限が３５０μｍであることが示されているが，３５０μｍ以外の他の上限値については記載も示唆もされていない。
　また，前記ア（エ）の【００６０】の【表１】に示された実施例１ないし実施例５の視認限界の値は，それぞれ，「２６３．２」，「２７７．８」，「２５６．０」，「２５６．０」，「３３３．３」であって，いずれも，３５０μｍという前記（２）アないしウの記載中に示された視認限界の数値範囲の上限と整合している。
　以上からすると，出願当初の明細書等には，光拡散フィルムの視認限界の数値範囲について，その上限値が３５０μｍであることが記載されているのみであって，「３５７μｍ」という上限値については記載も示唆もされていないといわざるを得ない。
　
（３）請求人の主張について
　ア　請求人は，本件補正の根拠について，審判請求書の【請求の理由】の欄の「【本願発明が特許されるべき理由】」「２．補正の根拠の明示」において，
「別途提出の手続補正書に記載した通り，請求項１として，視認限界の上限「３５０μｍ」を「３５７μｍ」とした。これは，明らかな誤記を訂正するものである。「３５０μｍ」が「３５７μｍ」の誤記であることを，資料１（メレスグリオ株式会社のカタログの「分解能テストターゲット」），資料２（ソーラボジャパン株式会社のカタログの「テストターゲットとステージ用マイクロメータ」）を参照して説明する。　
　資料１に示すＭＴＦチャート（ＮＢＳテストターゲット）は，５本の黒色線が横に並んだパターンと５本の黒色線が縦に並んだパターンとで，１つのグループが構成されている。各グループにおいて，１つの黒色線と１つのラインピッチとでラインペアを形成しており，１ｍｍ当たりのラインペアの数が空間周波数である。なお，資料１のＭＴＦチャートには，空間周波数を１．０，１．１・・・・・１０としたグループが形成されている。　
　資料２の２頁の下段の表には，ＭＴＦチャート（ＮＢＳ１９６３Ａ）の空間周波数（表中のＣｙｃｌｅｓ／ｍｍ）とラインピッチ（表中のＣｙｃｌｅ　Ｓｉｚｅ）との関係が記載されている。資料２の２頁の下段の表の通り，ＮＢＳ１９６３Ａにはラインピッチ「３５０μｍ」となる空間周波数はなく，空間周波数２．８においてラインピッチが「３５７μｍ」となる。即ち，ラインピッチが３５０μｍであることはあり得ず，補正前の視認限界の上限値「３５０μｍ」は，空間周波数２．８のラインピッチ「３５７μｍ」の誤記であることが自明である。
　上記請求項の補正に伴い，明細書の関連する箇所を補正した（段落０００８，０００９，００１２，００３９，００６１）。　
　従って，本補正は，特許法第１７条の２第３項に規定する要件を満たしている。」
と主張するとともに，前記記載中の「資料１」としてインターネット＜http://www.cvimgkk.com/products/pdf/cvimgkk/cvimgkk24/cvimgkk-24_20.pdf＞の印刷物を，「資料２」としてインターネット＜http://www.thorlabs.co.jp/NewGroupPage9_PF.cfm?Guide=10Category_ID=220ObjectGroup_ID=4338＞の印刷物を提出し，さらに，平成２６年３月６日提出の回答書の【回答の内容】の欄の「３．本願が特許されてしかるべき理由」「（１）指摘事項Ａについて」において，
「審査官殿は，「ＮＢＡ１９６３Ａ（そもそも，これも例示されているだけであり，視認限界の上限値を３５０μｍとする際にＮＢＳ１９６３Ａが用いられていたかどうかは不明であるが）の空間周波数から，ラインピッチが飛び飛びの値を取り，ラインピッチが３５０μｍであることはあり得無いと言うことは理解し得るにしても，これがもともと空間周波数２．８のもの，すなわちラインピッチが「３５７μｍ」であったものを示していたの誤記であることを示す根拠は全くなく，「３５０μｍ」は，空間周波数２．８のラインピッチ「３５７μｍ」の誤記であることがただちに言えることは無い。」と指摘されました。
　しかしながら，本願の出願当初明細書の段落００５６に記載されている通り，実施例において，「ＮＢＡ１９６３Ａ」を用いた測定方法Ａによって視認限界を定めています。即ち，本願発明１における視認限界が，「ＮＢＡ１９６３Ａ」を用いた測定方法により定められたことは明らかです。　
　審判請求書に示した資料１〜２の通り，「ＮＢＡ１９６３Ａ」における空間周波数２．８の前後の空間周波数は２．５（ラインピッチ４００μｍ）と３．２（ラインピッチ３１３μｍ）です。空間周波数２．８以外に，ラインピッチ「３５７μｍ」を「３５０μｍ」と見誤る要素はありません。
　即ち，ラインピッチ「３５０μｍ」がラインピッチ「３５７μｍ」の誤記であることは明らかです。
　従いまして，審判請求時にした補正は，本願の願書に添付した明細書，特許請求の範囲又は図面に記載された事項の範囲内のものであり，特許法第１７条の２第３項の規定に違反するものではありません。」
と主張している。
　要するに，前記請求人の主張は，出願当初明細書に記載された「ＭＴＦ測定用チャート（ＮＢＳ１９６３Ａ，解像力ターゲットポジ，厚さ１．５ｍｍ，エドモンド・オプティクス社製）」（前記（２）ア（エ）参照）を用いて測定した視認限界の値が「３５０μｍ」となることはないから，本件補正前の請求項１や明細書に記載された視認限界の数値範囲の上限値である「３５０μｍ」が誤記であり，正しくは「３５７μｍ」であることが技術常識から自明であるというものである。
　
　イ　そこで，前記アの請求人の主張について検討する。
　「資料２」の２ページにおける「ＮＢＳ１９６３Ａターゲット」と題された欄には，「これらのターゲットでは，５本の垂直線と５本と（審決注：「５本の」の誤記）水平線がペアになっています。これらのペアは１．０サイクル／ｍｍから１８．０サイクル／ｍｍまであります。認識できる最小の線（最大のサイクル／ｍｍ）がそのイメージングシステム上で認識できる最高の解像度です。下の表は，当社のＮＢＳ１９６３Ａターゲットが対応できるサイクル／ｍｍの数値とサイクルサイズ（線幅はサイクルサイズの半分）への変換のリストです。」と記載されるとともに，当該記載の下方には各「Ｃｙｃｌｅｓ／ｍｍ」に対応する「Ｃｙｃｌｅ　Ｓｉｚｅ」の値を示す表が掲載されており，当該表は次のとおりである。
　資料２の前記表は，ソーラボジャパン株式会社製のＮＢＳ１９６３Ａターゲットのサイクルサイズを示すものであって，本願の出願当初明細書に記載された「ＭＴＦ測定用チャート（ＮＢＳ１９６３Ａ　解像力ターゲットポジ，厚さ１．５ｍｍ，エドモンド・オプティクス社製）」（前記（２）ア（エ）参照）そのものではないものの，そもそも「ＮＢＳ１９６３Ａ」とは，ＮＢＳ（米国標準局）の規格である１９６３Ａ解像力パターンのことを指していることが明らかであり，ソーラボジャパン株式会社製の「ＮＢＳ１９６３Ａターゲット」もエドモンド・オプティクス社製の「ＮＢＳ１９６３Ａ」もその名称からみてＮＢＳの規格である前記１９６３Ａ解像力パターンに準拠したものであることが明らかだから，本願の出願当初明細書に記載された「ＭＴＦ測定用チャート（ＮＢＳ１９６３Ａ，解像力ターゲットポジ，厚さ１．５ｍｍ，エドモンド・オプティクス社製）」に描かれた複数種の縞模様における各サイクル／ｍｍの値は，資料２の前記表に示された値と同じであると推認できる。
　そうすると，資料２の前記表からみて，「ＭＴＦ測定用チャート（ＮＢＳ１９６３Ａ，解像力ターゲットポジ，厚さ１．５ｍｍ，エドモンド・オプティクス社製）」を用いて測定した視認限界の値は，本願の出願当初明細書に記載された数値範囲である「２５０μｍを超え３５０μｍ以下」の近傍では，３５７μｍ，３１３μｍ，２７８μｍ，２５０μｍ及び２２２μｍのいずれかの値となり，請求人が指摘するように，３５０μｍという値になることはないといわざるを得ない。
　しかしながら，離散的な値しか取り得ない視認限界の数値範囲を定めるに際して，その上限値を，視認限界が取り得る離散的な値のいずれかとしなければならない技術的な理由は見当たらない。
　また，そもそも，本願の出願当初明細書の【００１３】の「視認限界の測定は，
例えば
　さらに，本願の出願当初明細書の【００６０】の【表１】（前記（２）ア（エ）参照。）に，比較例を含め，「ＭＴＦ測定用チャート（ＮＢＳ１９６３Ａ，解像力ターゲットポジ，厚さ１．５ｍｍ，エドモンド・オプティクス社製）」を用いて視認限界を測定した結果，あり得ないはずの「３５０μｍ」という値になったことが示されているわけでもない。
　以上によれば，本願の出願当初明細書及び特許請求の範囲に記載された「２５０μｍを超え３５０μｍ以下」という視認限界の数値範囲について，その上限値である「３５０μｍ」を明らかな誤記とすべき理由は存在しないから，請求人の主張を採用することはできない。
　
（４）まとめ
　前記（２）及び（３）のとおりであるから，請求項１に係る本件補正が，本願の出願当初明細書等のすべての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において，新たな技術的事項を導入しないものであるとすることはできない。
　したがって，請求項１に係る本件補正は，本願の出願当初明細書等に記載された事項の範囲内においてしたものでなく，特許法１７条の２第３項の規定に違反するので，同法１５９条１項において読み替えて準用する同法５３条１項の規定により却下すべきものである。
　
　
第３　本願発明について
　本件補正は前記のとおり却下されたので，本願の請求項１及び２に係る発明は，平成２５年３月１８日提出の手続補正書によって補正された特許請求の範囲の請求項１及び２に記載された事項により特定されるとおりのものであると認める。
　そして，本願については，原査定の拒絶理由を検討してもその理由によって拒絶すべきものとすることはできない。 
　また，他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
　よって，結論のとおり審決する。