【事件の表示】
　上記当事者間の特許第２６５７９６７号発明「磁気記録媒体及びその製造方法」の特許無効審判事件について、次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は、成り立たない。
　審判費用は、請求人の負担とする。
【理　由】
１．手続の経緯・本件発明
　本件特許第２６５７９６７号の請求項１ないし５に係る発明（昭和６３年７月２０日出願、平成９年６月６日設定登録。）は、平成１０年１０月５日付訂正請求書により訂正された特許明細書及び図面の記載から見て、その特許請求の範囲の請求項１ないし５に記載された次のとおりのものである。
「請求項１　表面側から厚さ方向に内部に向かって順次圧縮応力層及び引張応力層を形成したガラス基板であって、前記引張応力層の引張応力の最大値を４ｋｇ／ｍｍ２以下としたガラス基板の表面に少なくとも磁性層を形成したことを特徴とする磁気記録媒体。」（以下、「本件特許発明１」という。）
「請求項２　前記ガラス基板をその組成中に少なくともＳｉＯ２、Ｎａ２Ｏ及びＬｉＯ２を含むガラス材料で構成したことを特徴とする請求項１に記載の磁気記録媒体。」（以下、「本件特許発明２」という。）
「請求項３　前記圧縮応力層の厚さを５０μｍ以上としたことを特徴とする請求項１又は２に記載の磁気記録媒体。」（以下、「本件特許発明３」という。）
「請求項４　前記ガラス材料のの含有量が１０重量％以上であり、かつ、の含有量が５重量％以上であることを特徴とする請求項２又は３に記載の磁気記録媒体。」（以下、「本件特許発明４」という。）
「請求項５　請求項１ないし４のいずれかに記載の磁気記録媒体を製造する磁気記録媒体の製造方法において、前記ガラス基板の圧縮応力層及び引張応力層をイオン交換による化学強化法によって形成することを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。」（以下、「本件特許発明５」という。）
　
２．請求人の主張
　これに対して、請求人は、以下に示す第１ないし第４の理由により、本件特許の請求項１ないし５に係る発明の特許は特許法第２９条第１項第３号又は同条第２項の規定に違反してなされたと主張し、証拠方法として、甲第１号証ないし甲第３７号証を提出している。
　第１の理由
　平成７年７月１１日付手続補正書による明細書の補正は、明細書の要旨を変更するものであるから、本件特許発明の出願日はその手続補正書を提出した平成７年７月１１日とみなされる。よって、本件請求項１ないし５に係る発明は、甲第２８号証に記載された発明と同一か又はそれらから容易になされたものである。
　第２の理由
　本件請求項１ないし５に係る発明は甲第１号証ないし甲第８号証に記載された発明であるか又はこれらから容易になされたものである。
　第３の理由
　本件請求項１ないし５に係る発明は甲第９号証、甲第１０の１号証ないし甲第１０の３号証に記載された発明と同一であるか又はこれらから容易になされたものである。
　第４の理由
　本件請求項１ないし５に係る発明は甲第１１号証ないし甲第３７号証に記載された発明と同一であるか又はこれらから容易になされたものである。
　
３．甲第１号証ないし甲第３７号証
　甲第１号証（雑誌「工業材料」１９８７年４月特別増大号）には、光磁気ディスク基板に関して、光ディスク用ガラス基板は傷に対する信頼性維持のために６０〜８０μｍ以上の深さの圧縮応力層の付与が望ましいこと、また、遅れ破壊を防ぐため内部張力の低減が考えられること、および、光ディスクとしては１０年以上使用可能なことが目安である旨、記載されている。
　甲第２号証（米国特許第３７５１２３８号公報）には、ガラス基板表面の傷は遅れ破壊をもたらすこと、イオン交換による化学強化法によって高い表面強度と比較的厚い圧縮応力層及び低い内部引張応力が達成されること、圧縮応力層の厚さが約３３０μｍで内部引張応力が２Ｋｇ／mm２のガラス基板の衝撃破壊試験の結果は、圧縮応力層の厚さが約１５０μｍで内部引張応力層が４．２５　Ｋｇ／mm２のガラス基板の衝撃破壊試験の結果よりも優れていたことが記載されている。
　甲第３号証（米国特許第３７９０２６０号公報）には、眼鏡レンズの表面に約１００μｍ以上の圧縮応力層を形成したこと、および、内部引張応力３Ｋｇ／mm２で小さな傷が内部に伝搬しにくくなることが記載されている。
　甲第４号証（米国特許第３６３０７０４号公報）には、化学強化において遅れ破壊が従来問題であったこと、小さな傷が、圧縮応力層の下の内部引張応力ゾーンに伝搬して遅れ破壊につながることが記載されている。
　甲第５号証（特開昭６２−１８７１４０号公報）には、SiO2が６４〜７０％，Na2Oが７〜10Wt％，LiO2が４〜６Wt％のガラスとすることで、極めて深い（２５０〜３１０μｍ）圧縮応力層を持つ強化ガラスが得られるのでディスク基板としての使用が可能となったことが記載されている。
　甲第６号証（特開昭６２−７３４２６号公報）には、低温型イオン交換処理（化学強化）されたガラス基板上に磁性膜を被着した構成が記載されている。
　甲第７号証（エレクトロニクス　エッセンシャルズ　No．４）には、ソーダ石灰ガラスは光ディスク用ガラス基板として大量に使用されたことが記載されている。
　甲第８号証（Reports Res.Lab.Asahi Glass Co.,Ltd.,26[2]1976）には、化学強化ガラスの圧縮応力層の厚みが５０〜６０μまでは強度が上昇し、それ以上では一定となるので通常は５０〜６０μｍの厚みが必要である旨、記載されている。
　甲第９号証（「電子材料」１９８４．３月号）には、急冷強化法は通常３ｍｍ以上の厚みがないと十分に強化できないこと、イオン交換によって強化された記録媒体用ガラス基板には引張応力が存在すること、および、強化層（圧縮応力層の厚さが１５０μｍ）が記載されている。
　甲第１０の１号証（特開昭６２−４３８１９号公報）には、ガラス基板に磁気記録用磁性薄膜を形成した媒体（圧縮応力層の厚みが１５０〜２００μｍ）が記載されている。
　甲第１０の２号証（ガラスハンドブック、１９８７年２月１０日）には、イオン交換によって強化されたガラスの引張応力層の引張応力を示す図と、化学強化したガラス層の圧縮応力層の厚さが３０〜４０μｍのものが記載されている。
　甲第１０の３号証（特公昭４７−２６３３号公報）には、イオン交換によって強化された一般的ガラスの中心張力が3.4〜4.95Ｋｇ／mm２である例が記載されている。
　甲第１１号証（「セラミックスの機械的性質」昭和５４年５月１日）には、ガラスは典型的な脆性材料であること、脆性破壊においては、張力によって原子間の結合が破られ、分割という形で破壊が進行すること、および、過去の履歴が不明のガラスは強度試験が無意味であることが記載されている。
　甲第１２号証（「セラミックスの強度と破壊対策」昭和５９年１月２５日）には、どの組成のガラスも引っ張り強度は圧縮強度の１／１０程度に過ぎないため、ガラスは圧縮応力では破壊せず、引っ張り応力で破壊する。よって、ガラスの表面層にあらかじめ強い圧縮応力を与えておけば、衝撃などで加えられる引っ張り応力が打ち消されるので破壊強度が高められる。と記載されている。
　甲第１３号証（「新しいガラスとその物性」昭和５９年８月２０日）には、化学強化法としてのイオン交換法が一般的に行われていることが記載されている。
　甲第１４号証（「ガラス光学ハンドブック」昭和３８年２月２８日）には、ガラスは表面に圧縮応力層を設ければかならず内部に引張応力層が形成される。内層に破砕のきっかけを与えると、この点を起点として亀裂が急激に発達しガラスは破壊されることが記載されている。
　甲第１５号証（「Journal of Materials Science」Vol.11、１９７６年９月）には、２ｍｍ厚のソーダライムガラスの内部応力層にキズが入ったときの表面圧縮応力と破壊時間との関係が記載されている。
　甲第１６号証（「Journal of the Amerikan Ceramic Society」Vol.51、No.2、１９８６年２月２１日）には、内部応力と平均破片重量との関係が記載されている。
　甲第１７号証（「Material Engineering」１９７６年６月）には、化学強化ガラスの内部応力が4Ｋｇ／mm２以下のものが記載されている。
　甲第１８号証（学術雑誌総合目録・自然科学欧文編　1979年版）には、甲１５〜１７号証が刊行物であることの記載がある。
　甲第１９号証（米国特許第４１５６７５５号公報　１９７９．５．２９）には、ガラス組成として、ＳｉＯ２、Ｎａ２Ｏ及びＬｉＯ２を含むものが記載されている。
　甲第２０号証は、甲第１９号証の単位を変換して示すものである。
　甲第２１号証（特開昭５７−２０５３４３号公報）には、ガラスをイオン交換処理によって強化したもののイオン交換厚さを６０〜１００μｍとするものが記載されている。
　甲第２２号証（「New Glass Technology」Vol.2、No.2、１９８２年８月２５日）には、ガラスの応力について記載されている。
　甲第２３号証（学術雑誌総合目録・和文編　1991年版）は甲第２２号証の刊行物性を証明する記載がある。
　甲第２４号証（「豊田中央研究所Ｒ＆Ｄレビュー」Vol.12、No.4、１９７７年３月）には、寿命の計算式について記載されている。
　甲第２５号証は、甲第２４号証に基づいて請求人が作成した破壊時間の計算手法が記載されている。
　甲第２６号証（学術雑誌総合目録・和文編　1991年版）は、甲第２４号証の刊行物性の証明の記載がある。
　甲第２７号証ないし甲第２９号証は、本件特許発明の出願当初の願書、明細書、図面、その公開公報、手続補正書である。
　甲第３０号証は、請求人の作成した本件請求項の記載に関する説明が記載されている。
　甲第３１号証には、審査における拒絶理由に対する、出願人の意見が記載されている。
　甲第３２号証（「エレクトニク・セラミクス」８７　Vol.18　11）には、光ディスク特集として、光磁気ディスク用ガラス基板について、ディスク基板用として低温化学強化を行う。この方法は硝子の転移温度以下の温度域でガラス中のアルカリイオンを、それよりもイオン半径の大きいアルカリイオンと置換する方法である。その後、洗浄してから溝及びピットを形成する。という記載がある。
　甲第３３号証（「金属表面技術」第３８巻１号）には、磁気ディスク基板に求められている特性から材料の１つとしてガラスが挙げられるが、実用になっているのはアルミニウムのみである。ガラスは光ディスク、光磁気ディスク用基板としてすでに広く用いられている。磁気ディスク用基板として積極的に利用しようとする動きは活発であるが強度に対する不安からなかなか採用されない。と記載されている。
　甲第３４号証（アルトピア「各種磁気ディスク基板」）には、最近、硬質材料としてガラス（ＨＯＹＡ）およびセラミックス（京セラ）のディスク基板が注目されている。……ガラスには、回転、衝撃、加傷、ヒートショック等、強度に関する不安が必要以上につきまとう。しかし、化学強化に適する＃0317素材ガラス（ＵＳＰ3790430、3752729）を用いて強化層が約１５０μｍと厚い、超高強度のガラスディスクもコーニング社によって開発されている。と記載されている。
　甲第３５号証（特開昭６３−１７５２１９号公報）には、磁気記録媒体及びその製造方法に関して、表面の少なくとも一部が強化されたガラス基板からなる非磁性基板に磁性薄膜を形成してなる磁気記録媒体が記載され、その表面強化は、イオン置換により行われる。この置換により表面に急峻な分布を持つ圧縮応力層が形成される。と記載されている。
　甲第３６号証（工業材料　第３５巻，第５号　臨時増刊号1987「高密度ガラスハードディスク」）には、ガラスで基板を作ればアルミよりも熱膨張係数が小さく平面度、平行度に優れている。基板表面を化学強化することで十分な強度を有する。と記載されている。
　甲第３７号証には、本件特許権者の６２年出願の公開公報リストが記載されている。
　
　なお、請求人は平成１２年４月１８日付の審判事件上申書において、「甲第７号証第６４頁の図４・１１下段には、化学強化ガラスの圧縮応力層と引張応力層との分布が記載され、その引張応力層の引張応力の最大値は、数値目盛からみて大きくても３ｋｇ／ｍｍ２以下であることが開示されている（この点は、甲第１０の２号証第４９４頁の図４・５４下段にも同様な図において、化学強化ガラスの引張応力の最大値が３ｋｇ／ｍｍ２以下程度であることが開示されている）。」と主張しているが、これらの各図はいずれも、化学強化ガラスにおいては圧縮応力層と引張応力層とがほぼこのように分布するということを示しているに過ぎず、引張応力の正確な分布は不明であり、かつ、その最大値を数値で示すものでもなく、このような図のみで直ちに化学強化ガラスの引張応力の最大値が３ｋｇ／ｍｍ２以下程度であることが開示されていると認めることはできない。
　
４．対比・判断
　まず、請求人の主張する第１の理由について検討する。
　本件の願書に最初に添付した明細書には、圧縮応力層について、実施例として表面から内部に１１５μｍまで至る圧縮応力層と、さらに内部の引張応力層の最大応力が３．７ｋｇ／ｍｍ２であるものが記載され、請求項１には、少なくとも５０μｍまで至る圧縮応力層を有するとともに、最大値が４ｋｇ／ｍｍ２以下の引張応力層を有するものが記載されていた。これに対し平成７年７月１０付手続補正書で補正された請求項１では、圧縮応力層についての要件が削除され、その結果、請求項１に係る発明では圧縮応力層の厚さについては任意のものとなったものである。
　これについて請求人は、最大値が４ｋｇ／ｍｍ２以下の引張応力層を有するだけでよいとする発明は記載されていなかったので、甲第３０号証に示すように不当に拡張されたものであり要旨変更の補正であると主張する。
　しかしながら、本件の願書に最初に添付した明細書には、第３図及びその説明として、引張応力が４ｋｇ／ｍｍ２以下であれば、圧縮応力層を越えて引張応力層の１μｍの深さに達するクラックがあっても１０年以上耐えることができる旨の記載があり、すなわち、引張応力層の引張応力を最大値が４ｋｇ／ｍｍ２以下とすることのみに対する効果について、すなわち、この要件を１つの発明として記載されていたものである。
　したがって、審査請求時における上記補正は、請求項に係る発明の範囲を拡張するものであっても、明細書に記載された事項の範囲内の補正であるから適法なものであると認められる。
　よって、本件の出願日は昭和６３年７月２０日であるから、本件請求項１ないし５に係る特許が、甲第２８号証に記載された発明と同一か又はそれらから容易になされたものであるから、特許法第２９条１項または第２項の規定に違反してなされたものであるとすることはできない。
　
　次に、第２ないし４の理由について検討する。
　甲第２７号証ないし甲第３０号証については上記のとおり採用できないものであり、また、甲第２０号証、甲第２５号証、および甲第３１号証も本件出願の日前に公知の刊行物であるものとは認められないので、本件特許発明１と、甲第１号証ないし甲第２４号証、甲第２６号証および甲第３２号証ないし甲第３７号証に記載されたものとを比較すると、これら甲各号証にはいずれも磁気記録媒体に用いるガラス基板において引張応力層の引張応力を最大値が４ｋｇ／ｍｍ２以下とすべきことについて記載されていない。
　すなわち、上記３に記載されているように、甲各号証には磁気記録媒体の基板に化学強化ガラスを用いること、ガラス基板としては１０年以上使用できるようにすべきこと、強化ガラスにおいては内部引張応力が大きいと遅れ破壊を招くこと、および、内部引張応力層の引張応力が４ｋｇ／ｍｍ２以下のものが存在することがそれぞれ公知であることは示されているが、磁気記録媒体のガラス基板において引張応力層の引張応力の値が４ｋｇ／ｍｍ２以下であるものは示されておらず、かつ、ガラス基板を強化したときに、表面圧縮応力層を形成することによって形成される内部引張応力層の引張応力を単に小さくするのではなく、磁気記録媒体の基板として１０年以上使用できるようにするためには、引張応力層の引張応力を最大値が４ｋｇ／ｍｍ２以下となるように強化すべきことについては、記載も示唆もされていない。すなわち、内部引張応力層の引張応力の大きさと磁気記録媒体基板の寿命との関連についての言及は甲各号証のいずれにも認められない。そして、本件特許発明はこの要件を有することにより、明細書に記載の効果を奏するものと認められる。
　したがって、本件特許発明１が上記甲各号証のいずれかに記載された発明であるとも、あるいはこれらの発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものともすることができない。
　本件特許発明２ないし５は、いずれも本件特許発明１を引用して、さらに限定するものであるから、同様の理由により上記甲各号証のいずれかに記載された発明であるとも、あるいはこれらに基づいて当業者が容易に発明をすることができたものともすることができない。　
　
５．むすび
　以上のとおりであるから、請求人の主張及び証拠方法によっては、本件特許の請求項１ないし５に係る発明の特許を無効とすることができない。審判に関する費用については、特許法第１６９条第２項の規定で準用する民事訴訟法第６１条の規定により、請求人が負担するべきものとする。
　よって、結論のとおり審決する。