(57)【要約】【課題】定量分析用の粉末サンプルにおける結果を評価する上で、改善されたアプローチに対する要望がある。【解決手段】定量的なX線分析の方法は、バインダを含む圧粉サンプルから蛍光X線データを捕獲するステップを有する。バインダの量および／または分布が仮定され、測定データおよびバインダの仮定量から、サンプルの各成分の濃度が計算される。次に、バインダの濃度が調整され、方法が収束するまで、計算ステップが繰り返される。当該方法では、バインダの量の大きく異なる値が採用でき、これは、サンプル中のバインダの濃度、または計算に使用されるモデルの表面における仮定された薄い層の厚さであっても良い。【選択図】図6
2018205312.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
定量的なX線分析の方法であって、
追加のバインダを用いて調製された圧縮サンプルの蛍光X線データを受領するステップと、
バインダの仮定量を初期化するステップと、
前記蛍光X線データおよび前記バインダの仮定量に基づいて、前記サンプルの複数の成分の濃度を計算するステップと、
前記複数の成分の濃度を計算するステップの結果に基づいて、前記バインダの仮定量を変更するステップと、
計算が収束するまで、前記サンプルの複数の成分および前記バインダの濃度を計算するステップ、ならびに前記バインダの仮定量を変更するステップを繰り返すステップと、
前記サンプルの成分の濃度を出力するステップと、
を有する方法。
【請求項２】
前記バインダの変更された仮定濃度は、前記複数の成分の計算された濃度を合計し、残りがバインダであると仮定することにより計算される、請求項1に記載の方法。
【請求項３】
前記バインダの仮定量は、前記サンプル中の前記バインダの濃度である、請求項1に記載の方法。
【請求項４】
前記複数の成分の濃度を計算するステップは、前記バインダによる吸収、および前記複数の成分による吸収を考慮するステップを有する、請求項3に記載の方法。
【請求項５】
前記バインダの仮定量は、前記圧縮サンプルの表面における、純粋なバインダの仮定された層の厚さである、請求項1に記載の方法。
【請求項６】
前記バインダの仮定量は、前記圧縮サンプルの表面における仮定された層の厚さと、前記仮定された層内のバインダの濃度と、を含む、請求項1に記載の方法。
【請求項７】
前記バインダの仮定量は、前記圧縮サンプルの表面におけるバインダの仮定された層の厚さである第1のバインダ量と、前記サンプルのバルク中のバインダの濃度である第2のバインダ量と、を有する、請求項1に記載の方法。
【請求項８】
定量的なX線分析の方法であって、
バインダを用いて、サンプルをペレットに形成するステップと、
蛍光X線測定を実施するステップと、
前記請求項1乃至7のいずれか一つに記載の方法を用いて、結果を評価するステップと、
を有する、方法。
【請求項９】
バインダを含む圧粉サンプルの定量的なＸ線分析の機器であって、
前記圧粉サンプルからの蛍光Ｘ線データに関する方法を実行するように適合された、コード手段を有するコンピュータ
を有し、
前記方法は、
追加のバインダを用いて調製された圧縮サンプルの蛍光X線データを受領するステップと、
バインダの仮定量を初期化するステップと、
前記蛍光X線データおよび前記バインダの仮定量に基づいて、前記サンプルの複数の成分の濃度を計算するステップと、
前記複数の成分の濃度を計算するステップの結果に基づいて、前記バインダの仮定量を変更するステップと、
計算が収束するまで、前記サンプルの複数の成分の濃度を計算するステップ、および前記バインダの仮定量を変更するステップを繰り返すステップと、
前記サンプルの成分の濃度を出力するステップと、
を有する、機器。
【請求項１０】
さらに、
Ｘ線を発生し、該Ｘ線をサンプルに誘導するＸ線源と、
前記サンプルにより生成される蛍光Ｘ線を捕獲するＸ線検出器と、
を有し、
前記Ｘ線源およびＸ線検出器は、コンピュータに接続され、制御される、請求項9に記載のバインダを含む圧粉サンプルの定量的なＸ線分析の機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願は、圧粉サンプルの蛍光Ｘ線分析の方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
蛍光Ｘ線定量測定は、蛍光Ｘ線の強度を測定し、測定強度に基づいて、サンプル中の特定元素の濃度を計算することにより行われる。
【０００３】
蛍光Ｘ線測定用のサンプルを調製するため、あるサンプルの場合、粉末をペレット状に圧縮することにより、ペレットが調製される。粉末状サンプルは、まず、微細粉末にミル処理される。入手状態で、粉末が十分に微細な場合は、しばしば、その後のミル処理ステップが実施されない場合がある。緩い粉末は、次に、ペレット状に圧縮される。十分に強く、通常の作動条件（輸送、ロードおよびアンロード、真空条件）に耐えるようなペレットを形成するため、圧縮の前に結合剤を追加することが必要となる場合がある。
【０００４】
しかしながら、Ｘ線分析の定量理論は、サンプルが、含まれるＸ線の経路長の長さスケールにおいて、均一であるという仮定に基づく。これらの経路長は、通常、10μmよりも短い。この仮定は、粉末の分析の際に、粉末が圧縮されているか、ほぐれているかによっては、必ずしも成立しない。これは、測定の精度に影響を及ぼす。このため、定量蛍光X線測定用に、サンプルを溶解（溶融）させることによる、代替的なサンプル調製法がときおり採用される。しかしながら、溶解は、全てのサンプルにおいて実施可能ではなく、ときには難しい場合があり、圧粉サンプルを用いることに比べて、時間がかかり、高コストである。
【０００５】
圧粉サンプルを用いることの悪影響を抑制するため、一定の、十分に裏付けされた、確実に実行される、被測定サンプルおよび既知の組成の参照サンプルのそれぞれのサンプル調製プログラムを使用することにより、リスクは、大きく軽減される。混合の詳細とともに、使用される手順を一致させることが重要である。この調製プロセスにおける一貫性は、サンプルの非理想的な任意の効果が、測定サンプルと参照材料において、同じであり、サンプルの非理想性の結果が最小限に抑制されることを意味する。
【０００６】
当然のことながら、これは、参照サンプルが、関心サンプルと同じタイプであり、粒サイズ、粒サイズ分布、存在相、および組成のような、同じ物理的特性を有する必要があることを意味する。
【０００７】
好適な参照標準が利用できない場合、問題が生じ得る。これは、新しい問題ではなく、種類の異なる標準で、定量分析を行う際に特有の問題である。特に、測定強度値を濃度に変換する際に、「標準化レス」のアプローチが使用される。これらは、SQS、PSA、SSQ、UniQuant、IQ、Omnian等により、知られている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
従って、定量分析用の粉末サンプルにおける結果を評価する上で、改善されたアプローチに対する要望がある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の第1の態様では、
定量的なX線分析の方法であって、
バインダの仮定量を初期化するステップと、
前記蛍光X線データおよび前記バインダの仮定量に基づいて、前記サンプルの複数の成分および前記バインダの濃度を計算するステップと、
前記バインダの仮定量を変更するステップと、
計算が収束するまで、前記サンプルの複数の成分および前記バインダの濃度を計算するステップ、ならびに前記バインダの仮定量を変更するステップを繰り返すステップと、
前記サンプルの成分の濃度を出力するステップと、
を有する方法が提供される。
【００１０】
本願発明者らは、バインダを用いた圧縮サンプルに対して不正確な結果が得られる一つの理由は、バインダが偏析し、バインダおよび元の粉末サンプルの相対量に対して、試料のバルク特性とは異なる物理的表現として、試料の分析体積を記述するように、これを考慮する必要があるためであると認識している。その後の試料の分析体積の最終表現は、添加バインダの量を含む、繰り返し手順を有する。
【００１１】
予想に反して、バインダを有するサンプル自身に対応する分析用試料の物理的表現を制限することは、必要ではないことに留意する必要がある。例えば、以下に示すように、計算では、実際のサンプル中には存在しない、純粋なまたはほぼ純粋なバインダの表面層が仮定されても良い。あるいは、計算では、バインダのバルク濃度とは大きく異なるバインダの濃度を有する、バインダとサンプル材料の均一な混合が仮定されても良い。
【００１２】
ある実施例では、バインダの仮定量は、サンプル中のバインダの濃度である。これは、百分率（0から100%）、または割合（0から1）で表されても良い。
【００１３】
別の実施例では、圧縮試料は、表面にバインダの薄い層を有するサンプルとして、モデル化される。前記層は、純粋なバインダの層であっても良い。この場合、バインダの仮定量は、圧縮サンプルの表面における、仮定された純粋なバインダの層の厚さである。
【００１４】
本願発明者らは、サンプルの表面におけるバインダの薄い層およびサンプルの均一な中間領域として、偏析をモデル化することにより、測定データに良好な近似が得られ、数学的計算が可能になると認識している。
【００１５】
別の実施例では、圧縮サンプルは、バルク材料、および表面におけるサンプルとバインダの混合物の薄い層で構成されるものとして、モデル化される。これは、分析表面に、バインダリッチな薄い層を有するペレットと見なすことと等価である。これは、バインダと粉末サンプルの間の、異なる流動特性、異なる粒サイズ、および圧縮率の差異のような因子により、生じ得る。
【００１６】
この例では、X線分光測定器に供される試料は、異なる組成の薄い層−バインダのみ、またはバインダとサンプルの別の混合物−でコーティングされたバルク試料（サンプル＋バインダ）で構成されるものとして表現される。しばしば、薄い層は、（ほぼ）純粋なバインダからなると見なされ得る。層の厚さは、反復法において求められる。バインダの層の厚さの初期の値から始まり、全体の濃度が計算される。従って、定められた全体の濃度の値に基づき、層の厚さが変更される。全体の濃度の合計が100%（組成が百分率w/wで計算される場合）または1（計算が質量比で行われる場合）に達すると、プロセスが停止される。
【００１７】
また、当該方法は、定量的なX線分析の方法であって、
バインダを用いて、サンプルをペレットに形成するステップと、
蛍光X線測定を実施するステップと、
前述の方法を用いて、結果を評価するステップと、
を有する、方法に関する。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】粉末とバインダの均一混合による圧粉サンプルを示した図である。
【図２】偏析状態のサンプルを示した図である。
【図３】本発明の実施例に使用されるモデルサンプルを示した図である。
【図４】比較例の較正グラフを示した図である。
【図５】本発明の実施例による方法の較正グラフを示した図である。
【図６】本発明の実施例による方法のフローチャートを示した図である。
【図７】本発明の実施例による機器を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、添付図面を参照して、本発明の実施例について説明する。
【００２０】
以下、いくつかの例を参照して、本発明の実施例について説明する
多くの例では、同じサンプルが使用され、サンプルは、以下の酸化物濃度（%表記）を有する。
【００２１】
【表１】
2018205312.tif 000003
これらは、バインダを含まない圧粉サンプルからの測定値である。測定値の合計は、99.113%である。100%になっていないのは、前述のようなサンプル調製による影響、および低濃度の他の成分の存在のためである。ペレットを形成するために必要な圧力は、200kNであった。サンプルは、参照サンプルであり、均一になるように、極めて注意深く調製される。測定結果は、以下の表の最初の行における「バインダなし」と言う欄に示されている。
【００２２】
【表２】
2018205312.tif 000004
次に、サンプル粉末は、5%のLicowaxを用いて100kNの圧力で圧縮され、試料となる。試料は測定され、その結果は、上の表の「5%  100kN  Licowax」の列に示されている。バインダを除く測定濃度の合計は、94.289%になる。濃度が合計100%であると仮定した場合、これは、バインダを含まない元のサンプルの濃度にするため、各濃度が1.061倍される必要があることを意味する。結果は、「x1.061」の欄に記載されている。通常、このスケール化により、ある検体の結果が改善されるが、他に悪影響が生じる。従って、これらの値と、各成分の実際の百分率との間には、前述のような大きな差異が存在する。
【００２３】
これを補正するため、実施例による方法が実行される。この場合、バインダの量は、一定とはされず、可変パラメータと見なされる。開始（初期化）ステップでは、バインダの初期の百分率が仮定され（ゼロであっても良いが負ではない）、これは、バインダの仮定濃度とも称される。
【００２４】
測定されたX線強度から成分の量を正確に計算するため、当業者は、バインダを含む、全ての成分の量を考慮する必要があることを認識する。例えば、蛍光Ｘ線の前後の両方において、サンプルを通過するX線は、試料の各成分およびバインダにより吸収される。従って、各成分の量の計算には、バインダの量、および好ましくは他の成分を考慮する必要があり、例えば、Ｘ線がサンプルを通過する際のバインダによるＸ線の吸収を考慮する必要がある。これらの影響の的確な把握ができないと、好ましくない、非定量的な結果が得られる。
【００２５】
通常、バインダの濃度を直接測定することはできないものの、他の成分の測定強度から他の成分の量が計算され、その後、残量がバインダであると仮定されることに留意する必要がある。
【００２６】
従って、バインダの仮定された百分率を考慮して、試料の組成が計算される。バインダ以外の成分の全体の濃度も、計算される。
【００２７】
全体の値に基づいて、バインダの量が再計算され、バインダの仮定濃度が再計算値に変更される。試料の組成が再度、計算される。このプロセスは、全体の濃度が約100%（組成が百分率でw/wで計算される場合）、または1（質量比で計算される場合）に達した際に、停止される。
【００２８】
実際には、収束の尺度は、以下の一つが生じた際に、停止され得るものであることに留意する必要がある：
（a）合計の濃度が100%±所定の範囲となった後、例えば、必要な精度に応じて、100%からのずれが、0.001％と0.01％の間内になったとき；
（b）連続する繰り返しの間の変化が、所定の変化、例えば0.0001%よりも小さくなった後；または
（c）所定の数の繰り返しの後。
【００２９】
尺度（c）を含めることにより、収束が生じない場合であっても、反復が停止され、コンピュータプログラムにより、この事象が正しく完了される。
【００３０】
この方法は、一例を参照することにより、より容易に理解される。開始点として、バインダの仮定値が5%である場合を考える。次に、バインダを含む成分全体の濃度が計算される。例えば、成分の全濃度は、合計93%である。
【００３１】
次に、この最初の繰り返しにおいて、（100%−93%）＝7%のエラーがあり、バインダの仮定濃度は、7%だけ増加され、第2の繰り返しの場合、12%になる。
【００３２】
第2の繰り返しでは、次に、それぞれの成分の全体の濃度が再度計算される。この例では、全濃度は、今度は101%である。この場合、バインダの全量は、11%に調整され、バインダの仮定濃度は、第3の繰り返しにおいて、100%となるように調整される。
【００３３】
第3の繰り返しでは、各成分の濃度が、再度計算される。この場合、全体の濃度は、99.8%であると仮定する。バインダの濃度は、今度は0.2%だけ上方に調整され、仮定されたバインダ濃度は、第4の繰り返しでは、11.2%となる。
【００３４】
第4の繰り返しでは、各成分の濃度が再度計算される。この場合、全体は、100.002%であると仮定する。これは、100％に十分に近く、計算が停止される。その後、濃度が出力される。
【００３５】
当業者には、そのような反復プロセスを実施する、多くのアプローチが存在することが理解される。特に、引き算によりエラーの割合の正確な量だけ、バインダの濃度を変化させることは、必ずしも必要ではない。他のアプローチでは、割合の増分が計算されても良い（すなわち、バインダの百分率における百分率の変化）。
【００３６】
上記表1における具体的な例を参照すると、この方法が実施されると、25%のバインダの有意に高い百分率で、100%±所定の量に収束される。なお、この方法は、バインダの百分率を得るようには構成されておらず、バインダを含まない元の試料の成分の相対百分率が得られる。表1における結果を参照すると、25%のバインダのこの仮定された百分率を用いた結果、元の試料の相対組成の良好な結果が提供されることは、明らかである。これらの結果を、バインダを含まない試料（表の最初の行）で得られた濃度と比較すると、結果が、良好な一致を示していることは明らかである。
【００３７】
換言すれば、この例では、25%のバインダ百分率であるバインダを用いてなされた測定から、良好な結果が得られる。これは、実際の百分率である5%とは大きく異なる百分率であることに留意する必要がある。
【００３８】
このアプローチは、多くのサンプルで実施された。表2には、別の結果を詳細に示す。データは、異なる方法で調製された、単一の材料のものである。バルク材料の組成に対する均一性は、異なるサンプルを採取し、これらをハイエンドWDXRF機器で分析することにより、確認されている。バルク材料の濃度に関する均一性の問題を示す統計的な証拠は、認められていない。従って、記載された影響は、個々の試料の組成の差異に寄与しない。また、全てのサンプルは、3つずつ製造されている。統計的な解析に基づくと、試料の調製の再現性は、観測される影響（すなわち、濃度の差異）に寄与しない程度である。
【００３９】
表におけるデータは、OmnianソフトウェアによるPANalytical  E3  XRFを用いて採取される。
【００４０】
バルク材料を、3種類の異なるバインダを含む、蛍光X線測定用のサンプルに調製した。それぞれ、5%、10%、および25%のバインダを含み、その結果、9の異なる結果が得られた。第1の例は、前述のものと同じであり、結果は、同じ方法で表されている。前述のように、結果の最初の行は、直接的な真の値の結果であり、3番目の行は、合計が100%となるように補正された結果であり、4番目の行は、真値との間の差であり、5番目の行は、実際とは異なるバインダの量を用いて計算された結果であり、6番目の行は、これらの結果と真値との間の差である。
【００４１】
本発明では、全ての場合において、最終計算の結果が参照値に最近接となることに留意する必要がある。
【００４２】
ただし、実際に高い百分率のバインダを含むサンプルは、より高いバインダの仮定百分率を有することに留意する必要がある。
【００４３】
この方法から得られるバインダの百分率は、実際のサンプル中のバインダの百分率よりも大きいことは、明らかである。しかしながら、実験の点では、元のサンプル中の異なる材料の百分率が測定され、バインダは測定されないため、これは重要ではない。本願発明者らは、バインダのそのような事実とは異なる値を用いた計算の実行により、改善された結果が得られることを把握している。
【００４４】
この方法は、バインダとサンプルが均一に分散されていない、圧縮ペレット状試料を取り扱う方法として見ることができる。これは、圧縮の際の、粉末サンプルとバインダ材料との特性の差異によって生じ得る。
【００４５】
【表３】
2018205312.tif 000005
理論に拘束されることを望むものではないが、本願発明者らによれば、バルク組成（粉末サンプルおよび添加バインダの質量に基づいて計算される）から大きく異なるバインダの百分率による計算で、好適な結果が得られるのは、分析された体積（極めて少量）は、バルクとは異なる組成を有するという事実によるものと考えられる。換言すれば、この方法は、バインダがサンプル内に均一に分布していないという事実を考慮するものである。図1、2、3には、これが示されている。
【００４６】
図1には、X線測定に使用されるサンプル中にバインダが均一に分散された、理論的な状態を示す。この場合、分析体積の濃度とバルクの濃度は、同じである。
【００４７】
実際には、ある程度の偏析が生じ、図2に示すように、バインダは、表面近傍に高濃度で存在する。図において、バインダは、白で表されていることに留意する必要がある。
【００４８】
偏析の効果は、前述のような、バインダの百分率を変数として処理する方法を用いて補正することができる。
【００４９】
バインダの偏析を処理する代わりの方法として、図3に示すように、サンプルが、該サンプルの残り部分を挟む、純粋なバインダの2つの薄い層で構成されると仮定することも可能である。この場合、バインダの量は、バインダの百分率の変化によっては変化せず、代わりに、バインダの表面層の厚さの変化により変化し、繰り返しプロセスが再度実施される。モデルは、必ずしも実際の正確な表現ではなくても良いことに留意する必要がある。実際のバインダの配置は、図2に示した状態により近く、図3に示されたものとは異なるが、本願発明者らは、実際の状況を正確には表してはいないものの、このモデルの使用により、実際のサンプルの組成のより高精度な測定が可能になることを認識している。
【００５０】
理論に拘束されることを望むものではないが、試料内の距離に対する、（サンプルに対するバインダの）組成の少しずつの変化の効果が、この方法では、徐々の変化と同じ吸収特性を有する所与の組成（バインダまたはバインダ＋サンプル）の薄い層に置換されると考えられる。
【００５１】
モデルにおけるこのバインダの厚さの値が仮定され、取得データに基づいて、計算が実行され、全体の濃度が計算される。計算に基づいて、バインダの層の仮定厚さが変更され、全体の濃度が再度計算される。このプロセスは、元のサンプルの全ての成分の全体の濃度の合計値が、百分率で表される場合、100%になるまで、または割合で表される場合、1になるまで、繰り返される。
【００５２】
図3の方法は、表面の層が、純粋なバインダではなく、バインダリッチな層、すなわち、バインダの百分率がサンプル中の全体としてのバルクの百分率よりもずっと大きい、と仮定することにより、変更されても良い。ここでも、この表現は、物理的な現実と整合しない。
【００５３】
図4には、測定ラインとして、MgKα1，2ラインを用いた、ワックスの量が可変の、前述のものと同じサンプルで（比較例として）得られた校正曲線を示す。図4の例では、ワックスは、単にサンプルを希釈するものと仮定される。グラフにおける異なる点は、ワックス量が異なることによるものである。各点は、垂直軸における測定値と、水平軸における計算値とを有する。
【００５４】
ワックスが単に、希釈剤として機能する場合、プロット点は、グラフに示された直線のような、原点を通る直線である必要がある。しかしながら、全てのプロット点が、この原点を通る直線上にないことは明らかである。従って、均一性の仮定は、正しくない。
【００５５】
図5を参照すると、純粋なバインダの薄い層が存在すると仮定し、前述の方法を用いた場合の、同じデータがプロットされている。これは、図4に比べて大きく改善される。
【００５６】
このグラフは、バインダの薄い層の仮定を用いることにより、より良好な結果が得られることを示している。
【００５７】
一般に、前述の2つの方法は、いずれも、バインダの量が可変であるとして処理している。バインダの量は、百分率、割合、またはバインダの薄い層の厚さのいずれかとして、仮定され、サンプルの各種成分の濃度が計算される。バインダの量は、変化し、計算は、合計濃度が、補正された値になるまで繰り返される。サンプルの全ての成分が測定される場合、これは100%であり、または割合表記の場合、1である。
【００５８】
本方法は、図6に示すフローチャートとして表される。
【００５９】
ステップ20では、複数の成分を有するサンプルの測定XRFデータが、システムに入力される。次に、ステップ30では、表面における百分率、または純粋なバインダの薄い層の厚さのいずれかとして、バインダの量が仮定される。
【００６０】
次に、ステップ40では、各成分の百分率が計算される。ステップ50では、バインダの百分率がアップデートされ、計算が収束するまで、これらのステップが繰り返される。
【００６１】
ステップ60では、計算が収束した後、測定濃度が出力される。
【００６２】
図7には、本発明を実行する機器が概略的に示されている。X線源72は、X線をサンプル76に誘導し、該サンプル76は、蛍光X線の結果として、X線を放射する。X線は、X線検出器78で捕獲され、データがコンピュータ74に取り込まれる。図では、コンピュータ74は、X線機器の一部として示されているが、これは、スタンドアローン式のコンピュータであっても良い。コンピュータは、前述の方法の例を自動的に実行するソフトウェアコードを収容する。また、コンピュータは、X線源、X線検出器、および蛍光X線機器の他の部材を制御する、ソフトウェアコードを収容しても良く、これは、当業者には明らかである。
【００６３】
前述の機器が概略的なものであり、本方法の利用が可能な他の部材および配置が認識されることは、当業者には理解される。例えば、波長分散XRF機器、およびより最新のXRF機器では、位置72と位置76の間に、二次ターゲット、回折結晶（例えば高配向熱分解グラファイト（HOPG））、または一次ビームフィルタのような、追加の部材が配置されても良い。同様に、例えば、位置76と位置78の間に、単色化結晶が存在しても良い。本方法は、これら全ての構成に適用できる。
【００６４】
前述の結果は、これらの例では、計算の収束のためのバインダの仮定量は、実際のバインダの量よりも多く、これは、バインダが表面に偏析するためであると推定される。しかしながら、本方法は、バルクよりも表面において存在量が少ないバインダにも適用することができる。
【符号の説明】
【００６５】
７４    コンピュータ
７６    サンプル
７８    X線検出器
【図１】
2018205312.tif 000006
【図２】
2018205312.tif 000007
【図３】
2018205312.tif 000008
【図４】
2018205312.tif 000009
【図５】
2018205312.tif 000010
【図６】
2018205312.tif 000011
【図７】
2018205312.tif 000012
【外国語明細書】
2018205312000001.pdf