【手続補正書】
【提出日】平成26年12月15日(2014.12.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００９８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００９８】
本発明を、詳細に図示した好適な実施形態を参照しながら詳細に説明したが、当業者であれば、本発明の範囲から逸脱することなく構成および細部に様々な変更を施すことができ、そのような変更も添付の特許請求の範囲に包含される。
なお、本発明は、実施の態様として以下の内容を含む。
〔態様１〕
光源からの光源光信号を試料アームと参照アームとに分割する干渉計スプリッタと、
前記光源光信号を試料に送出する第１の試料アーム偏光ビームスプリッタであって、前記光源光信号のうちの前記試料から反射した第１偏光を、第１の光検出器ペアに方向付ける第１の試料アーム偏光ビームスプリッタと、
前記光源光信号を前記試料に送出する第２の試料アーム偏光ビームスプリッタであって、前記光源光信号のうちの前記試料から反射した第２偏光を、第２の光検出器ペアに方向付ける第２の試料アーム偏光ビームスプリッタと、
前記第１の試料アーム偏光ビームスプリッタと前記第２の試料アーム偏光ビームスプリッタとの間に位置する非相反性の試料偏光方向回転システムとを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様２〕
態様１に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記光源光信号を前記参照アーム内に送出する第１の参照アームビームスプリッタであって、前記参照アーム内の前記光源光信号を、前記第１の光検出器ペアに方向付ける第１の参照アームビームスプリッタを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様３〕
態様２に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記光源光信号を前記参照アーム内に送出する第２の参照アームビームスプリッタであって、前記参照アーム内の前記光源光信号を、前記第２の光検出器ペアに方向付ける第２の参照アームビームスプリッタを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様４〕
態様１に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記光源光信号のうちの前記試料から反射した前記第１偏光と、前記参照アームからの前記光源光信号とから、前記第１の光検出器ペアによって検出される光干渉信号を生成する、第１の検出器干渉スプリッタ／コンバイナを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様５〕
態様５に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記光源光信号のうちの前記試料から反射した前記第２偏光と、前記参照アームからの前記光源光信号とから、前記第２の光検出器ペアによって検出される光干渉信号を生成する、第２の検出器干渉スプリッタ／コンバイナを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様６〕
態様１に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記第１の参照アームビームスプリッタと前記第２の参照アームビームスプリッタとの間に位置する、前記参照アームにおける非相反性の参照偏光方向回転システムを備え、
２つの前記参照アームビームスプリッタが偏光ビームスプリッタである、光コヒーレンス分析システム。
〔態様７〕
態様１に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記参照アームにおいて前記光源光信号を受信して複数回反射する反射ブロックを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様８〕
態様１に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記光源光信号を生成する掃引光源を備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様９〕
態様８に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記掃引光源への戻り反射を防止する光アイソレータを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様１０〕
態様１に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記光源光信号をフィルタ処理する分光フィルタと、
スペクトルについてフィルタ処理された光源光信号を検出し、前記第１の光検出器ペアの出力および前記第２の光検出器ペアの出力のサンプリングをトリガするｋクロック信号を生成するｋクロック検出器とを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様１１〕
態様１に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記第１の試料アーム偏光ビームスプリッタ、前記第２の試料アーム偏光ビームスプリッタ、前記第１の光検出器ペア、および前記第２の光検出器ペアが一体となって設けられている光学ベンチを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様１２〕
態様１１に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、前記光学ベンチが密閉された筐体内に装着されている、光コヒーレンス分析システム。
〔態様１３〕
光学ベンチと、
前記光学ベンチに設けられた第１の光検出器ペアと、
前記光学ベンチに設けられた第２の光検出器ペアと、
前記光学ベンチに設けられ、光源からの光源光信号を試料アームと参照アームとに分割する干渉計スプリッタと、
前記光学ベンチに設けられ、試料から反射した前記光源光信号と、前記参照アームからの前記光源光信号とから、前記第１の光検出器ペアによって検出される光干渉信号を生成する、第１の検出器干渉スプリッタ／コンバイナと、
前記光学ベンチに設けられ、前記試料から反射した前記光源光信号と、前記参照アームからの前記光源光信号とから、前記第２の光検出器ペアによって検出される光干渉信号を生成する、第２の検出器干渉スプリッタ／コンバイナとを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様１４〕
態様１３に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記光源光信号を前記試料に送出する第１の試料アームビームスプリッタであって、前記試料から反射した前記光源光信号を、前記第１の検出器干渉スプリッタ／コンバイナに送出する第１の試料アームビームスプリッタと、
前記光源光信号を前記試料に送出する第２の試料アームビームスプリッタであって、前記試料から反射した前記光源光信号を、前記第２の検出器干渉スプリッタ／コンバイナに送出する第２の試料アームビームスプリッタとを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様１５〕
態様１４に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記第１の試料アームビームスプリッタと前記第２の試料アームビームスプリッタとの間に位置する非相反性の試料偏光方向回転システムを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様１６〕
態様１３に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記光源光信号を送出させる第１の参照アームビームスプリッタであって、前記参照アームからの前記光源光信号を、前記第１の検出器干渉スプリッタ／コンバイナに方向付ける第１の参照アームビームスプリッタを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様１７〕
態様１６に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記光源光信号を送出させる第２の参照アームビームスプリッタであって、前記参照アームからの前記光源光信号を、前記第２の検出器干渉スプリッタ／コンバイナに方向付ける第２の参照アームビームスプリッタを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様１８〕
態様１３に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記光学ベンチに設けられ、前記参照アームにおいて前記光源光信号を受信して複数回反射する反射ブロックを備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様１９〕
態様１３に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記光学ベンチに設けられ、前記光源光信号を生成する掃引光源を備えた、光コヒーレンス分析システム。
〔態様２０〕
態様１３に記載の光コヒーレンス分析システムにおいて、さらに、
前記光学ベンチに設けられ、前記光源光信号をフィルタ処理する分光フィルタと、
前記光学ベンチに設けられ、スペクトルについてフィルタ処理された光源光信号を検出し、前記第１の光検出器ペアの出力および前記第２の光検出器ペアの出力のサンプリングをトリガするｋクロック信号を生成するｋクロック検出器とを備えた、光コヒーレンス分析システム。