【事件の表示】
　特許第３３２８４７７号「コンデンサ」の請求項１ないし３に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　訂正を認める。
　特許第３３２８４７７号の請求項１ないし３に係る特許を維持する。
【理　由】
１．手続の経緯
　特許第３３２８４７７号の請求項１ないし３に係る発明の手続きの経緯は、以下のとおりである。
　出願（特願平７−２６０１３０号）　　平成７年１０月６日
　設定登録　　　　　　　　　　　　　　平成１４年７月１２日
　特許異議の申立て　　　　　　　　　　平成１５年３月２４日
　（株式会社指月電機製作所）
　取消理由通知　　　　　　　　　　　　平成１５年６月６日（起案日）
　意見書、訂正請求書（後日、取り下げ）平成１５年８月６日
　取消理由通知　　　　　　　　　　　　平成１７年５月１６日（起案日）
　意見書、訂正請求書　　　　　　　　　平成１７年５月２４日
　
　
２．訂正の適否についての判断
（１）訂正の内容
　特許権者が求めている、平成１７年５月２４日付け訂正請求書に添付された訂正明細書における訂正の内容は以下のとおりである。
　
訂正事項ａ．特許第３３２８４７７号の明細書中の特許請求の範囲において、
「【請求項１】　プラスチックフィルム上に電極となる蒸着膜を形成した金属化フィルムを２枚重ねて巻回したコンデンサであって、
　前記金属化フィルムは、前記プラスチックフィルム上にアルミニウム蒸着膜を形成し、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍の前記アルミニウム蒸着膜上に層状に亜鉛蒸着膜を形成すると共に、前記アルミニウム蒸着膜の膜抵抗値を８〜３０Ω／□とし、前記亜鉛蒸着膜の膜抵抗値を１．５〜７Ω／□としたことを特徴とするコンデンサ。」を、
「【請求項１】　プラスチックフィルム上に電極となる蒸着膜を形成した金属化フィルムを２枚重ねて巻回したコンデンサであって、
　前記金属化フィルムは、前記プラスチックフィルム上にアルミニウム蒸着膜を形成し、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍の前記アルミニウム蒸着膜上に層状に亜鉛蒸着膜を形成
し、自己回復性を有する２層蒸着膜と
、耐圧性能と耐電流性能を低下させず、破壊電圧の低下と容量減少とをともに防止させる
　
訂正事項ｂ．特許第３３２８４７７号の明細書中の段落【０００９】の記載を
「【０００９】
　【課題を解決するための手段】
　請求項１記載のコンデンサは、プラスチックフィルム上に電極となる蒸着膜を形成した金属化フィルムを２枚重ねて巻回したコンデンサであって、金属化フィルムは、プラスチックフィルム上にアルミニウム蒸着膜を形成し、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍のアルミニウム蒸着膜上に層状に亜鉛蒸着膜を形成
し、自己回復性を有する２層蒸着膜と
、耐圧性能と耐電流性能を低下させず、破壊電圧の低下と容量減少とをともに防止させる
　
訂正事項ｃ．特許第３３２８４７７号の明細書中の段落【００５２】の記載を
「【００５２】
　【発明の効果】
　請求項１記載のコンデンサは、金属化フィルムを２枚重ねて巻回したコンデンサであって、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍にはアルミニウム蒸着膜上に層状に亜鉛蒸着膜を形成し
、自己回復性を有する２層蒸着膜とする
　
（２）訂正の目的の適否、新規事項の有無及び拡張・変更の存否
ア．上記訂正事項ａについては、請求項１に記載された、「前記アルミニウム蒸着膜上に層状に亜鉛蒸着膜を形成する」を「前記アルミニウム蒸着膜上に層状に亜鉛蒸着膜を形成し、自己回復性を有する２層蒸着膜とする」とし、限定しようとするものであるとともに、「前記アルミニウム蒸着膜の膜抵抗値を８〜３０Ω／□とし、前記亜鉛蒸着膜の膜抵抗値を１．５〜７Ω／□としたことを特徴とするコンデンサ」を「前記アルミニウム蒸着膜の膜抵抗値を８〜３０Ω／□とし、前記亜鉛蒸着膜の膜抵抗値を１．５〜７Ω／□とし、耐圧性能と耐電流性能を低下させず、破壊電圧の低下と容量減少とをともに防止させることを特徴とするコンデンサ」とその作用・効果を特定し、限定しようとするものであり、特許法第１２０条の４第２項ただし書第１号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものである。
　当該自己回復性を有する２層蒸着膜は、明細書段落【００４６】中に「亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値が１Ω／□前後では、亜鉛蒸着膜３上に大きな破壊跡があったが、これは、１Ω／□前後まで膜抵抗値を低下させると、蒸着膜が厚くなりすぎ、良好な自己回復が行えないためと推定される。なお、亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値が１．５Ω／□以上のコンデンサでは、良好な自己回復が行われていた。」、段落【００５１】中に「この発明は、混合蒸着ではなく、アルミニウム蒸着の上に電極取り出し用メタリコンとの接触部を含む近傍にだけ亜鉛を蒸着する、いわゆる２層蒸着とでも呼ぶべき構成」と記載されているものである。
　また、アルミニウム蒸着膜の膜抵抗値を８〜３０Ω／□とし、亜鉛蒸着膜の膜抵抗値を１．５〜７Ω／□とすることで、耐圧性能と耐電流性能を低下させず、破壊電圧の低下と容量減少とをともに防止させるコンデンサが得られることは、願書に添付した明細書段落【００４０】中に「アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値により破壊電圧が変化する。膜抵抗値が８Ω／□未満のものでは、破壊電圧が低く、膜抵抗値の上昇とともに破壊電圧は上昇していく。膜抵抗値が８Ω／□〜１２Ω／□の間において、そのカーブは緩やかになり、１２Ω／□〜４０Ω／□の間において、破壊電圧はほぼ一定となる。この図１５から、安定的に高い破壊水準を得るためには、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値を８Ω／□以上にする必要があることがわかる。」、段落【００４２】中に「アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値が８Ω／□未満のものでは、容量減少が少し見られるが、膜抵抗値が８Ω／□〜３０Ω／□の間においては、１〜２％の容量減少ですみ安定している。膜抵抗値が３０Ω／□を超えると、容量減少が膜抵抗値とともに大きくなり、耐電流性能が低下していることが伺える。」、段落【００４４】中に「アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値は、８Ω／□〜３０Ω／□の間において、その耐圧性能および耐電流性能の両方を十分に満足する結果を得ることができると言える。」、段落【００４６】中に「亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値が１Ω／□前後のコンデンサにおいては破壊電圧レベルが他のものより数百Ｖ低下し、亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値が１．５Ω／□以上であれば、高い破壊電圧レベルで差はなく安定している。」、段落【００４８】中に「亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値が１Ω／□〜７Ω／□の間においては、容量減少が少なく安定しているが、膜抵抗値が７Ω／□を超えると、容量減少率が大きくなっていることがわかる。」、段落【００４９】中に「亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値は、１．５Ω／□〜７Ω／□の間において、その耐圧性能および耐電流性能の両方を十分に満足する結果を得ることができると言える。」「アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値を８Ω／□〜３０Ω／□とし、亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値を１．５Ω／□〜７Ω／□とすることによって、優れた耐圧性能および耐電流性能を発揮するコンデンサを得られることが確認できた。」とあり、また願書に添付した図面【図１５】〜【図１８】に示されているので、この訂正事項は、願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し又は変更するものではない。
　
イ．前記訂正事項ｂ、ｃについては、前記訂正事項ａで特許請求の範囲を訂正することにより、明細書中の発明の詳細な説明を明確化しようとする訂正であるから、この訂正は、特許法第１２０条の４第２項ただし書き第３号に規定する明りょうでない記載の釈明に該当するものである。
　また、前記訂正事項は、願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内の訂正であり、新規事項の追加に該当せず、実質上特許請求の範囲を拡張し又は変更するものではない。
　
（３）むすび
　以上のとおりであるから、上記訂正は、平成１１年改正前の特許法第１２０条の４第２項及び同条第３項において準用する特許法第１２６条第２項から第４項までの規定に適合するので、当該訂正を認める。
　
　
３．特許異議の申立てについて
（１）申立の理由及び取消理由通知
ア．申立の理由の概要について
　特許異議申立人は、証拠として本件出願前国内において頒布された甲第１号証（特公昭３１−２４２７号公報）、甲第２号証（特開昭５２−７２４６０号公報）、甲第３号証（米国特許第３３０３５５０号明細書）、甲第４号証（特開平３−２１１８０９号公報）、甲第５号証（国際公開第９４／１９８１３号パンフレット）、甲第６号証（特開平６−２９０９９０号公報）、甲第７号証（特開昭５２−１２９９６２号公報）、甲第８号証（特開昭５９−７２７１４号公報）、甲第９号証（特開昭５４−１２７５５７号公報）、甲第１０号証（特開平４−１６７４１３号公報）、甲第１１号証（実願昭４８−１２１８６１号（実開昭５０−６７３３８号）のマイクロフィルム）、甲第１２号証（実願昭５０−５１６７６号（実開昭５１−１２８２３３号）のマイクロフィルム）、甲第１３号証（特開平３−５７２０６号公報）、甲第１４号証（欧州特許出願公開第０２２５８２２号明細書）を提出し、本件の請求項１に係る発明は、甲第１号証ないし甲第９号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであり、本件の請求項２、３に係る発明は、甲第１号証ないし甲第１４号証に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第第２９条第２項の規定により特許を受けることができず、特許法第１１３条第１項第２号により取り消されるべきものであると主張している。
　
イ．取消理由通知について
　当審において、平成１７年５月１６日付けで通知した取消理由の概要は、以下の通りである。
「　本件の下記の請求項に係る発明は、その出願前日本国内または外国において頒布された下記の刊行物に記載された発明に基づいて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第２９条第２項の規定により特許を受けることができないので、取り消されるべきである。
　
　　　　　　　　　　　　　　　　　記
　
刊行物１．特公昭３１−２４２７号公報（申立人の提出した甲第１号証）
刊行物２．特開昭５２−７２４６０号公報（申立人の提出した甲第２号証）
刊行物３．米国特許第３３０３５５０号明細書（申立人の提出した甲第３号証）
刊行物４．特開平３−２１１８０９号公報（申立人の提出した甲第４号証）
刊行物５．国際公開第９４／１９８１３号パンフレット（申立人の提出した甲第５号証）
刊行物６．特開平６−２９０９９０号公報（申立人の提出した甲第６号証）
刊行物７．特開昭５２−１２９９６２号公報（申立人の提出した甲第７号証）
刊行物８．特開昭５９−７２７１４号公報（申立人の提出した甲第８号証）
刊行物９．特開昭５４−１２７５５７号公報（申立人の提出した甲第９号証）
刊行物１０．特開平４−１６７４１３号公報（申立人の提出した甲第１０号証）
刊行物１１．実願昭４８−１２１８６１号（実開昭５０−６７３３８号）のマイクロフィルム（申立人の提出した甲第１１号証）
刊行物１２．実願昭５０−５１６７６号（実開昭５１−１２８２３３号）のマイクロフィルム（申立人の提出した甲第１２号証）
刊行物１３．特開平３−５７２０６号公報（申立人の提出した甲第１３号証）
刊行物１４．欧州特許出願公開第０２２５８２２号明細書（１９８７年）（申立人の提出した甲第１４号証）
　
　
　本件の請求項１ないし３に係る発明は、その特許請求の範囲の請求項１ないし３に記載されたとおりのものと認める。
　上記刊行物１〜１４には、申立人の提出した特許異議申立書第４頁第２０行〜第１３頁第１９行記載の発明が記載されている（ただし、「甲第１号証」〜「甲第１４号証」は、それぞれ「刊行物１」〜「刊行物１４」と読み替える。）。
　そして、申立人の提出した特許異議申立書第１３頁第２０行〜第１７頁第１９行記載の理由（ただし、「甲第１号証」〜「甲第１４号証」は、それぞれ「刊行物１」〜「刊行物１４」と読み替える。）により、本件の請求項１に係る発明は、その出願前に国内において頒布された上記刊行物１〜９に記載の発明に基づいて、本件の請求項２に係る発明は、その出願前に国内において頒布された上記刊行物１〜１２に記載の発明に基づいて、また、本件の請求項３に係る発明は、その出願前に国内において頒布された上記刊行物１〜１４に記載の発明に基づいて、それぞれ当業者が容易に発明をすることができたものである。」
　
（２）本件請求項１ないし３に係る発明
　上記「２．訂正の適否についての判断」で示したように上記訂正が認められるから、本件請求項１ないし３に係る発明は、上記訂正請求に係る訂正明細書の特許請求の範囲の請求項１ないし３に記載された次のとおりのものである。
「【請求項１】　プラスチックフィルム上に電極となる蒸着膜を形成した金属化フィルムを２枚重ねて巻回したコンデンサであって、
　前記金属化フィルムは、前記プラスチックフィルム上にアルミニウム蒸着膜を形成し、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍の前記アルミニウム蒸着膜上に層状に亜鉛蒸着膜を形成
し、自己回復性を有する２層蒸着膜と
、耐圧性能と耐電流性能を低下させず、破壊電圧の低下と容量減少とをともに防止させる
　【請求項２】　金属化フィルムは、アルミニウム蒸着膜をプラスチックフィルムの長手方向に間隙を設けて複数に分離形成し、前記アルミニウム蒸着膜に設けた前記間隙が重ならないように２枚の前記金属化フィルムを巻回した請求項１記載のコンデンサ。
　【請求項３】　２枚のうち少なくとも一方の金属化フィルムは、アルミニウム蒸着膜および亜鉛蒸着膜をプラスチックフィルムの幅方向に間隙を設けて複数に分離形成した請求項１または２記載のコンデンサ。」
　
（３）引用刊行物に記載された発明
　当審で通知した取消理由で引用した、本件特許出願前に日本国内で頒布された刊行物１（特公昭３１−２４２７号公報（申立人の提出した甲第１号証））には、「薄い再生性電極を備えるコンデンサー」（発明の名称）に関して、
「薄い電極と厚くした縁部のある電気用コンデンサーは公知である。この厚さを増した縁辺部は就中側面接触に対し有利な効果を現わす、それによれば誘電体の上に設けられ且つその補強された縁辺部に側面接触層をもつ再生性の薄い電極がアルミニウムからなりその薄い部分の厚さは１／２０μより薄く特に約１／４０から１／５０μである。」（第１頁左欄第６〜１２行）こと、
「本発明によるアルミニウムの長所を利用するため電極を一様の厚さで誘電体の上に設け、また異金属の狭小な帯、特に亜鉛のような低融金属の帯を縁辺部につけて縁辺部の厚さを増すことが多くの場合推奨される。」（第１頁左欄第２４〜２８行）こと、
「第１図−第３図は本発明の実施例を示す。第１図に於て１は例えば紙、又は特に合成樹脂物質からなる誘電体箔を示す。この誘電体箔の上に厚さをｄで示す極めて薄い電極２がおかれる。この箔の左端は３で示すように本質的に補強され、この補強縁辺部の幅はａで示してある。点線３’で示される厚くした縁辺部３は無条件に電極２と同一金属でなければならぬことはなく、異る金属となすことが出来る。」（第１頁右欄第１９〜２７行）こと、
「電極２あるいは１２を１／２０μ以下に充分に薄く維持すること、特に電極の厚さを１／４０から１／５０μ、或はさらに薄くすることにより、閃絡を中断したコンデンサーを再生するため極めて少量の金属がコンデンサー閃絡のさい蒸発される様なされる。」（第２頁左欄第１４〜１９行）こと、
「この電極の厚さは全広幅に渡つて大体一様である。その後に重点的に箔の狭い縁辺部３，１３のみを厚くする程度の幅狭い蒸発器２４の上を箔は滑走する。」（第２頁右欄第１２〜１５行）こと、
「然し厚さる増すため蝋（注；実際には、虫偏ではなく金偏である。）接性の良い亜鉛のような金属、また電極に蝋（注；実際には、虫偏ではなく金偏である。）接性の悪いアルミニウムのような金属を使用する時は、まず電極、次に厚さの増大、したがつて最後に蝋（注；実際には、虫偏ではなく金偏である。）接性の良い金属を蒸着することが厚さを増す皮膜の蝋（注；実際には、虫偏ではなく金偏である。）接性を維持するのに頗る有利である。」（第２頁右欄第２９〜３４行）ことが、第１図〜第３図と共に記載されている。
　
　同刊行物２（特開昭５２−７２４６０号公報（申立人の提出した甲第２号証））には、「コンデンサの製造方法」（発明の名称）に関して、
「第１図において１は基板となる誘電体フィルムであり、紙またはプラスチックフィルムである。２は蒸着された金属電極で半田付可能な、Ａｕ，Ｃｕ，Ｎｉ，Ｆｅ，Ｓｎ，Ｚｎ，またはこれらの合金が使用される。第２図は第１図と同様に蒸着誘電体フィルムの構成の一例である。第２図において３は基板となる誘電体フィルムであり、４は通常使用される電極金属でＡｌ等である。この金属は付着強度が強いことと抵抗が低いことが望ましい。５は電極の端部にもうけられた半田付可能な金属部である。金属の種類は第１図の説明で行なったものと同種のものが使用される。」ことが、第１図〜第４図と共に記載されている。
　
　当審で通知した取消理由で引用した、本件特許出願前に日本国内で頒布された刊行物３（米国特許第３３０３５５０号明細書（申立人の提出した甲第３号証））には、
「真空蒸着装置は、真空蒸着チャンバー１１を有しており、このチャンバー１１は公知の真空ポンプ１２によって極めて低圧に排気される。誘電体シート材料１０の供給ロール１３はチャンバー１１内において、第１蒸発ユニット１４の進行方向後方に配置される。第１蒸発ユニット１４の内部に、蒸発点に加熱されたアルミニウムのような金属が供給される。もし所望なら、これに代えて、供給ロール１３を真空蒸着チャンバー１１の外部に配置し、公知の真空シールを通ってチャンバー内に進入させるようにしてもよい。ユニット１４内の金属蒸気は、マスク１５の開口部を通過し、誘電体材料１０の特定部分に蒸着する。これにより、約１００万分の１．５〜１５．０インチの均一な厚さを有する金属化フィルム１６の広幅バンドが形成される。
　金属化誘電体シートは、引き続き第２蒸発ユニット１７へと送られる。第２蒸発ユニット１７はその内部に蒸発点まで加熱された金属が供給される。この蒸発金属は、第２マスク１８の開口部を通過し、第２図に示すように、金属化フィルム１６の各バンドの中央部に位置する狭幅の金属境界パスを形成する。金属境界パス１９は、約１００万分の３インチの均一な厚さのもので、金、白金、銀、銅、亜鉛、イリジウム、鉛、インジウム、錫、又は他の適当な金属のいずれかである。これら金属は（１）大気に曝されたときに酸化して絶縁体とならず、（２）ロウ材に対して親和力を有するか、ロウ材に対して濡れ性を有するものであり、（３）ロウ材中に拡散してロウ材と金属化フィルム１６との間に金属結合を行うような金属的性質を有するものである。」（第１頁第２欄第４５行〜第２頁第３欄第４行）こと、
「２枚の薄帯は、巻き込むように、第４図に示されるように、コンデンサの巻物２１に形成される。」（第２頁第３欄第７３〜７４行）ことが、第１図〜第５図と共に記載されている。
　また、第４図には、プラスチックフィルム上に電極となる蒸着膜を形成した金属化フィルムを２枚重ねて巻回したことが、示唆されている。
　
　当審で通知した取消理由で引用した、本件特許出願前に日本国内で頒布された刊行物４（特開平３−２１１８０９号公報（申立人の提出した甲第４号証））には、
「第１図，第２図において従来例と相異する点は、一方の電極１を、溶射金属電極１２と接触する近傍を絶縁フィルム（厚さ６μｍのポリプロピレンフィルム）１０の上に真空蒸着法によりアルミニウム２を形成し、その上に結晶核金属として銀を用いて真空蒸着法により亜鉛１１を形成した積層分割電極とした点である。その積層分割電極１にレーザー加工法により空白部１４と分割部１５を形成し、ヒューズ部３を設け、乾式保安機構を形成した。積層分割電極１の膜抵抗は４〜６Ω／□、亜鉛からなる１層分割電極１７の膜抵抗は１５〜２０Ω／□とした。」（第２頁左上欄第１８行〜同頁右上欄第９行）ことが、第１図、第２図と共に記載されている。
　
　当審で通知した取消理由で引用した、本件特許出願前に日本国内で頒布された刊行物５（国際公開第９４／１９８１３号パンフレット（申立人の提出した甲第５号証））には、
「この発明の典型的な実施例においては、各電極２２、２７は約１〜２Ω／□の厚さを有している。電極２２、２７の厚さは、その上に従来のスプレイ法によってコンデンサリードが形成されることから、電極２０、２５の厚さよりも大きくなっている。電極２２、２７は、コンデンサのアクティブ領域４０内に延びてはならないということに留意することは重要なことである。アクティブ領域４０は、許容誤差領域の間におけるコンデンサ部分であって、この領域において電極２０の部分と電極２５の部分とが重なる。もし電極２２及び／又は２７がアクティブ領域４０内へと延びると、これらが薄い金属（例えば４０Ω／μ以下）よりも比較的重い金属（例えば、２Ω／μ以下）によって構成されているので、電極２０、２５の厚さを減少させることによって得られる絶縁強度改善効果に悪影響を及ぼすことになる。」（第８頁第８〜２４行）こと、
「この発明においては、金属化フィルムコンデンサ用として典型的に使用されるほとんどのタイプの金属を使用し得るという点に留意されたい。しかしながら、この発明の典型的な実施例においては、アルミニウムが好ましい。」（第９頁第２０〜２４行）こと、
「第３Ａ図に示しているように、ウエブ２１、２６は、空マージン３０、３４が、それぞれ重ねられたウエブの反対端に配置されるような関係でそれぞれ配置される。
　各電極２０、２５は、それぞれ第２部分２７、２２を有しているが、これは電極の残りの部分よりも相対的に厚いものである。例えば、第２部分２７、２２は、１〜４Ω／□であるのに対し、電極２０、２５の残りの部分（又は第１部分）は、５〜３００Ω／□である。」（第１１頁第１１〜２０行）ことが、図３Ａと共に記載されている。
　
　当審で通知した取消理由で引用した、本件特許出願前に日本国内で頒布された刊行物６（特開平６−２９０９９０号公報（申立人の提出した甲第６号証））には、
「【００１３】また、本発明のコンデンサ用金属化ポリプロピレンフイルムの金属層の厚さ構成は、コンデンサの良好な耐電圧と誘電正接を得るため、通常部に比べリード取り出し側の端部の方が厚い、ヘビーエッジ構造であることが必要である。
【００１４】即ち、良好な耐電圧特性を得るには膜抵抗を高くする必要がある一方、良好な誘電正接特性を得るには膜抵抗（特にリードを取り出す側）を低くすることが必要となる。膜抵抗が高い程、高い耐電圧が得られることは一般によく知られている。これは、金属化誘電体特有の自己回復性機能が、金属層が薄い程高まることによる。
【００１５】一方、誘電正接は膜抵抗が低い程低く（良く）なることが知られているが、その大部分はリードを取り出すためにコンデンサ素子の端面に溶射される金属とフイルム上の金属層との接触抵抗に支配され、この接触抵抗が低い程誘電正接も低くなる。金属溶射側の金属層を厚くすることが必要となる所以である。
【００１６】また、金属層の膜抵抗は、コンデンサの良好な耐電圧及び誘電正接を得るには、通常部の膜抵抗が６Ω／□以上５０Ω／□以下、ヘビーエッジ部の膜抵抗が１．０Ω／□以上５．０Ω／□以下の範囲にあることが必要である。通常部の膜抵抗が５０Ω／□を越えると、誘電正接が高くなり、コンデンサとしての性能が悪くなる。また、通常部の膜抵抗が６Ω／□未満になると自己回復性が悪くなり、コンデンサの耐電圧が低くなる。好ましくは通常部の膜抵抗は８Ω／□以上４０Ω／□以下、さらに好ましくは１０Ω／□以上３５Ω／□以下である。また、ヘビーエッジ部の膜抵抗が１．０Ω／□未満になると、金属層の形成加工時に発生する熱量が過剰になり、フィルムが熱変形を起こすので、実用に支障をきたす。一方、５．０Ω／□を越えると、誘電正接が悪化する。好ましくは、１．５Ω／□以上４．５Ω／□以下である。
【００１７】金属層を構成する金属としては亜鉛もしくはアルミニウム単独または亜鉛とアルミニウムの２種類併用である。これは、良好なコンデンサ特性を得ることができ、かつ金属層形成が比較的容易なためである。また、亜鉛単独という場合にも金属付着力を向上させる目的で核となる微量の異種金属を同時に設けることが一般的である。核金属としては、銅、錫、銀、アルミニウム、などが例示されるが、特に限定されるものではない。」こと、
「【００２６】このフイルムを真空蒸着装置にセットし、フイルムのコロナ放電処理面の上に、亜鉛を通常部が６〜５０Ω／□、ヘビーエッジ部が１．０〜５．０Ω／□の膜抵抗になるように蒸着する。このとき、ヘビーエッジ部と反対側端に沿ってマージンを設ける。この蒸着フイルムをにスリットし、これを２枚重ね巻回してコンデンサ素子を作る。この素子に端面金属溶射を施し、リード線を取り付けた後、外装してコンデンサとする。」こと、
「【００４６】実施例５
蒸着金属をアルミニウム単独とした以外は、実施例１と同様に実施した。」ことが、図１、表１と共に記載されている。
　
　当審で通知した取消理由で引用した、本件特許出願前に日本国内で頒布された刊行物７（特開昭５２−１２９９６２号公報（申立人の提出した甲第７号証））には、
「対向電極部となる金属化層の少くとも一方の電極層の電極抵抗値が２０〜１００Ω／ｃｍ２で電極導出部と接続する端部電極層の電極抵抗値が１〜１０Ω／ｃｍ２である金属化プラスチックフィルムの片面あるいは両面に、有機材料によるコーテング膜にて第２誘電体層を形成した、複合金属化フィルムを巻回または積層してなる蓄電器。」（第１頁左下欄、特許請求の範囲）が、第３図と共に記載されている。
　
　当審で通知した取消理由で引用した、本件特許出願前に日本国内で頒布された刊行物８（特開昭５９−７２７１４号公報（申立人の提出した甲第８号証））には、
「（１）電極の一部または全部が亜鉛よりなる金属化シートを積層巻回したコンデンサ素子」（第１頁左下欄、特許請求の範囲第１項の一部）、
「（２）コンデンサ素子の電極導出部側の電極の抵抗値が７±２Ω／□で容量形成部側の電極の抵抗値が２０〜８００Ω／□であり、」（第１頁左欄、特許請求の範囲第２項の一部）が、第２図と共に記載されている。
　
　当審で通知した取消理由で引用した、本件特許出願前に日本国内で頒布された刊行物９（特開昭５４−１２７５５７号公報（申立人の提出した甲第９号証））の第２頁右上欄第５行〜同頁右下欄第２行には、主電極部分がアルミニウム蒸着膜である場合と亜鉛蒸着膜である場合とを比較検討した結果が開示されている。その結果、第３図、第４図、第５図に示されているように、容量変化率、ｔａｎδ、絶縁破壊電圧は、共に亜鉛蒸着膜よりもアルミニウム蒸着膜が優れているとの開示がなされている。
　
　当審で通知した取消理由で引用した、本件特許出願前に日本国内で頒布された刊行物１０（特開平４−１６７４１３号公報（申立人の提出した甲第１０号証））、刊行物１１（実願昭４８−１２１８６１号（実開昭５０−６７３３８号）のマイクロフィルム（申立人の提出した甲第１１号証））、刊行物１２（実願昭５０−５１６７６号（実開昭５１−１２８２３３号）のマイクロフィルム（申立人の提出した甲第１２号証））には、図面からも明らかなとおり、金属化フィルムは、アルミニウム蒸着膜をプラスチックフィルムの長手方向に間隙を設けて複数に分離形成し、前記アルミニウム蒸着膜に設けた前記間隙が重ならないように２枚の前記金属化フィルムを巻回したコンデンサが開示されており、上記事項が周知技術であったことが明らかである。
　
　当審で通知した取消理由で引用した、本件特許出願前に日本国内で頒布された刊行物１３（特開平３−５７２０６号公報（申立人の提出した甲第１３号証））、刊行物１４（欧州特許出願公開第０２２５８２２号明細書（１９８７年）（申立人の提出した甲第１４号証））には、図面からも明らかなとおり、２枚のうち少なくとも一方の金属化フィルムは、アルミニウム蒸着膜および亜鉛蒸着膜をプラスチックフィルムの幅方向に間隙を設けて複数に分離形成したコンデンサが開示されており、上記事項が周知技術であったことが明らかである。
　
（４）対比・判断
ア．本件請求項１に係る発明について
　本件請求項１に係る発明と刊行物１に記載された発明とを対比すると、両者は、プラスチックフィルム上に電極となる蒸着膜を形成した金属化フィルムを２枚重ね、前記したプラスチックフィルム上に主電極部としてアルミニウム蒸着膜を形成し、さらに電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍において、前記したアルミニウム蒸着膜上に層状に亜鉛蒸着膜を形成したコンデンサである点で一致しているが、刊行物１には、本件請求項１に係る発明の構成要件である「電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍の前記アルミニウム蒸着膜上に層状に亜鉛蒸着膜を形成し、自己回復性を有する２層蒸着膜とする」点について記載されていない点で相違している。
　本件請求項１に係る発明は、この点の構成要件により、２層蒸着膜部分においても、短絡電流による自己回復が起こりうるものである。
　一方、刊行物１に記載された発明は、「・・（補強部の）幅aは間隔bより小さい」（第２頁左欄第８行）、「外部の薄い電極２と１２が相互に向き合って閃絡（自己回復）が厚い場所に行われえないことが保証される」（第２頁下から８行）、「・・補強部の幅が・・縁辺部までの間隔よりも小さい」（特許請求の範囲）、と記載されているように、補強部はもう一方の電極とは対向しない構成となっており、換言すると、刊行物１における補強部（本件請求項１に係る発明の、アルミニウム蒸着膜上に層状に亜鉛蒸着膜を形成した部分に相当）は、自己回復が起こるように構成しているものではない。
　また、本件請求項１に係る発明と刊行物２〜９に記載された発明とを対比すると、刊行物２〜９に記載された発明には、本件請求項１に係る発明の上記構成要件である「電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍の前記アルミニウム蒸着膜上に層状に亜鉛蒸着膜を形成し、自己回復性を有する２層蒸着膜とする」点が、記載されておらず、また、示唆もない。
　本件請求項１に係る発明は、上記構成要件により、２層蒸着膜部分において、絶縁欠陥部分の自己回復による蒸着膜の飛散部分をより小さくでき、良好な自己回復が行われるという明細書記載の作用・効果を奏するものである。
　したがって、本件請求項１に係る発明は、刊行物１〜９に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。
　
イ．本件請求項２に係る発明について
　刊行物１０〜１２には、本件請求項２に係る発明の「金属化フィルムは、アルミニウム蒸着膜をプラスチックフィルムの長手方向に間隙を設けて複数に分離形成し、前記アルミニウム蒸着膜に設けた前記間隙が重ならないように２枚の前記金属化フィルムを巻回した」コンデンサに相当する記載が認められる。
　しかしながら、上記したように、本件請求項１に係る発明は刊行物１〜９に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものではないのであるから、本件請求項１に係る発明を引用した発明である本件請求項２に係る発明も刊行物１〜１４に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。
　
ウ．本件請求項３に係る発明について
・本件請求項３に係る発明と刊行物１〜１４に記載の発明との対比
　刊行物１３、１４には、本件請求項３に係る発明の「２枚のうち少なくとも一方の金属化フィルムは、アルミニウム蒸着膜および亜鉛蒸着膜をプラスチックフィルムの幅方向に間隙を設けて複数に分離形成した」コンデンサに相当する記載が認められる。
　しかしながら、上記したように、本件請求項１に係る発明は刊行物１〜９に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものではないのであるから、本件請求項１に係る発明を直接的又は間接的に引用した発明である本件請求項３に係る発明も刊行物１〜１４に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものとはいえない。
　
（５）むすび
　以上のとおりであるから、特許異議申立ての理由及び証拠によっては、本件請求項１ないし３に係る発明の特許を取り消すことができない。
　そして、他に本件請求項１ないし３に係る発明の特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１７年６月６日（２００５．６．６）
【訂正の要旨】
審決（決定）の【理由】欄参照。
（５４）【発明の名称】
コンデンサ
（５７）【特許請求の範囲】
　【請求項１】プラスチックフィルム上に電極となる蒸着膜を形成した金属化フィルムを２枚重ねて巻回したコンデンサであって、
　前記金属化フィルムは、前記プラスチックフィルム上にアルミニウム蒸着膜を形成し、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍の前記アルミニウム蒸着膜上に層状に亜鉛蒸着膜を形成
し、自己回復性を有する２層蒸着膜と
、耐圧性能と耐電流性能を低下させず、破壊電圧の低下と容量減少とをともに防止させる
　【請求項２】金属化フィルムは、アルミニウム蒸着膜をプラスチックフィルムの長手方向に間隙を設けて複数に分離形成し、前記アルミニウム蒸着膜に設けた前記間隙が重ならないように２枚の前記金属化フィルムを巻回した請求項１記載のコンデンサ。
　【請求項３】２枚のうち少なくとも一方の金属化フィルムは、アルミニウム蒸着膜および亜鉛蒸着膜をプラスチックフィルムの幅方向に間隙を設けて複数に分離形成した請求項１または２記載のコンデンサ。
【発明の詳細な説明】
　【０００１】
　【発明の属する技術分野】
　この発明は、電力用コンデンサ・電気機器コンデンサなどに使用するエネルギー充放電用のコンデンサに関するものである。
　【０００２】
　【従来の技術】
　従来、エネルギー充放電用のコンデンサの用途としては、フラッシュランプ電源などのインパルス電圧・インパルス電流発生装置や、電力機器などのアース間絶縁耐力試験などに用いられるインパルス試験装置などがある。これらの電源や装置に用いられるコンデンサは、誘電体としては、紙またはプラスチックフィルムもしくはこれらの複合体を用い、電極としては、アルミニウム箔もしくは紙に亜鉛などを蒸着した金属化紙を用いている。これらの誘電体・電極を巻回してコンデンサ素子とし、これらの素子を１個、もしくは必要な電圧・容量に応じて複数個直列・並列接続した集合コンデンサ素子を、外装ケース内に収納・密閉してコンデンサを構成していた。
　【０００３】
　また、最近では、誘電体のプラスチックフィルムに電極として金属を蒸着した金属化フィルムを使用したコンデンサも多く提案されている。
　【０００４】
　【発明が解決しようとする課題】
　最近では、これらのコンデンサを使用する装置・設備においても小型・軽量化の要望が大きくなってきている。これらのコンデンサの体積の大部分しめるのは、誘電体および電極を巻回したコンデンサ素子であり、誘電体の電位傾度を大きくし、フィルム厚みを薄くすることが、コンデンサ素子の小型化に大きく寄与するものである。
　【０００５】
　誘電体の電位傾度を大きくするためにはフィルム厚みを薄くすることが必要であるが、当然、フィルム厚みを薄くすると耐圧的に、寿命的にその信頼性は落ちてくる。そこで、薄いフィルムでより高い耐圧性能・寿命特性を確保するために様々な提案がなされてきた。
　その一つとして、金属化フィルムの蒸着膜を、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍部分がその他の主電極部分よりも厚くなるように、厚さに差をつけること（段付き蒸着）が提案されている。
　【０００６】
　この提案は、フィルムに存在する絶縁欠陥が自己回復（セルフヒーリング）によって回復することをより高めることによって、フィルムの電位傾度をより向上させようとするものである。
　自己回復（セルフヒーリング）とは、絶縁欠陥部分の短絡電流により絶縁欠陥部分周辺の蒸着膜を飛散させて絶縁欠陥の絶縁耐力を回復させることである。この自己回復が不完全な場合、絶縁欠陥部分の絶縁耐力がフィルム全体の絶縁耐力となり、その最低絶縁耐力以下でコンデンサの設計を行わなくてはならない。この自己回復が良好に行われれば、フィルムの絶縁耐力はフィルム本来の絶縁耐力を示すことができ、すなわちフィルムの電位傾度を向上することができる。
　【０００７】
　良好な自己回復を行うためには、蒸着膜の厚みを薄くすることによって蒸着膜の飛散性を高める方法、絶縁欠陥部分に流れ込む短絡電流を少なくする方法等によって、自己回復をより良好にすることができる。
　この提案は、自己回復をより完全なものとするため、主電極部分の蒸着膜をより薄くすることにより自己回復性を向上しようとするものであり、また、電極引き出し用メタリコンとのコンタクト性を良好にするために、電極引き出し用メタリコン近傍の蒸着膜の厚みを主電極部分より厚くした、いわゆるヘビーエッジ構造であり、段付き蒸着を行っている。この段付き蒸着を行うためには、一般的に亜鉛を蒸着金属として使用し、アルミニウムを使うことは少ない。これは蒸着金属の厚みをフィルム幅方向で変化させる段付き蒸着において、亜鉛のほうがアルミニウムよりその段付き状態を良好に形成することができるためである。なお、アルミニウムにおいても可能であるがその段付きの形成状態が良好でない場合、メタリコンとヘビーエッジとのコンタクト性が悪化し、耐電流性能が低下してしまう。また、主電極部分の亜鉛を薄くして使用する段付き蒸着においても、その蒸着膜の薄さは現在の状態で限界であり、抵抗値の管理を含めてこれ以上の電位傾度の向上につながる改善を求めることは困難である。
　【０００８】
　この発明は、上記従来の問題点を解決するもので、フィルム上の絶縁欠陥部をより良好に回復させ、フィルム本来の耐圧性能を十分に引き出し、フィルムの電位傾度を更に向上し、信頼性が高くかつ小型化が図れるコンデンサを提供することを目的とする。
　【０００９】
　【課題を解決するための手段】
　請求項１記載のコンデンサは、プラスチックフィルム上に電極となる蒸着膜を形成した金属化フィルムを２枚重ねて巻回したコンデンサであって、金属化フィルムは、プラスチックフィルム上にアルミニウム蒸着膜を形成し、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍のアルミニウム蒸着膜上に層状に亜鉛蒸着膜を形成
し、自己回復性を有する２層蒸着膜と
、耐圧性能と耐電流性能を低下させず、破壊電圧の低下と容量減少とをともに防止させる
　【００１０】
　請求項２記載のコンデンサは、請求項１記載のコンデンサにおいて、金属化フィルムは、アルミニウム蒸着膜をプラスチックフィルムの長手方向に間隙を設けて複数に分離形成し、アルミニウム蒸着膜に設けた間隙が重ならないように２枚の金属化フィルムを巻回している。このように、アルミニウム蒸着膜をプラスチックフィルムの長手方向に間隙を設けて複数に分離形成し、その間隙が重ならないように２枚の金属化フィルムを巻回して、１個の素子内に多段直列構成のコンデンサを設けることができ、定格電圧が高くても小型化を図ることができる。
　【００１１】
　請求項３記載のコンデンサは、請求項１または２記載のコンデンサにおいて、２枚のうち少なくとも一方の金属化フィルムは、アルミニウム蒸着膜および亜鉛蒸着膜をプラスチックフィルムの幅方向に間隙を設けて複数に分離形成している。このように、アルミニウム蒸着膜および亜鉛蒸着膜をプラスチックフィルムの幅方向に間隙を設けて複数に分離形成することにより、自己回復が発生したときに流れ込む電流を抑制し、自己回復部分の大きさをより小さくし、絶縁耐力をより高めることができる。
　【００１２】
　【００１３】
　【発明の実施の形態】
　以下、この発明の実施の形態について説明する。
〔第１の実施の形態〕
　図１〜図３はこの発明の第１の実施の形態のコンデンサの製造工程を順に示す図である。
　【００１４】
　まず、ポリエチレンテレフタレート（以下「ＰＥＴ」という）フィルム１の片面に、図１に示すパターンのアルミニウム蒸着膜２を形成し、その後、マスキングにより図２に示すパターンの亜鉛蒸着膜３を、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍のアルミニウム蒸着膜２上に形成して、金属化フィルムを得る。アルミニウム蒸着膜２と亜鉛蒸着膜３の蒸着は同一蒸着工程内で実施しても良いし、同一蒸着工程内で実施することができないなら、２回にわけて行っても良い。すなわち、この実施の形態における金属化フィルムは、誘電体としてＰＥＴフィルム１を用い、このＰＥＴフィルム１上に電極として、アルミニウム蒸着膜２と、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍のアルミニウム蒸着膜２上に亜鉛蒸着膜３とを形成している。この金属化フィルムを、図３のように、２枚組み合わせて巻回し、電極引き出し用メタリコン（図示せず）を溶射して、コンデンサとする。
　【００１５】
〔第２の実施の形態〕
　図９，図１０はこの発明の第２の実施の形態のコンデンサの製造工程を示す断面図である。なお、図９，図１０は、２枚組み合わせる金属化フィルムの配置がわかりやすいように図示したものであり、製造中に２枚上下に配置されていることを意味するものではない。
　【００１６】
　まず、ＰＥＴフィルム１の片面に、図９に示すパターンのアルミニウム蒸着膜２を形成する。このアルミニウム蒸着膜２はＰＥＴフィルム１の長手方向に長いストライプ状に４本形成され、各アルミニウム蒸着膜２間が絶縁層となる。その後、マスキングにより図１０に示すパターンの亜鉛蒸着膜３を、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍のアルミニウム蒸着膜２上に形成して、金属化フィルムを得る。この金属化フィルムを、第１の実施の形態と同様に、図１０のように２枚配置して巻回し、電極引き出し用メタリコン（図示せず）を溶射して、コンデンサとする。
　【００１７】
　この第２の実施の形態のコンデンサ内には、４本のストライプ状にアルミニウム蒸着膜２を形成した金属化フィルムを、図９，図１０に示すように、２つ重ねることにより、７個の直列コンデンサが形成されている。
〔第３の実施の形態〕
　図１１はこの発明の第３の実施の形態のコンデンサに用いる金属化フィルムの斜視図である。
　【００１８】
　図１０に示す第２の実施の形態の金属化フィルムを、レーザ加工，オイル転写蒸着等により非蒸着部８を形成して、アルミニウム蒸着膜２，亜鉛蒸着膜３をＰＥＴフィルム１の幅方向に複数に分割し、図１１に示すパターンの金属化フィルムを形成する。この金属化フィルムを２枚組み合わせるうちの少なくとも一方に用い、第２の実施の形態と同様に、図１０のように配置して巻回し、電極引き出し用メタリコン（図示せず）を溶射して、コンデンサとする。このコンデンサは、第２の実施の形態と同様、７個の直列コンデンサの構成となる。
　【００１９】
　【実施例】
　以下、実施例について説明する。
　まず、第１の実施例について説明する。第１の実施例は、図１〜図３に示す第１の実施の形態のコンデンサにおいて、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値を８〜３０Ω／□とし、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍に形成する亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値を１．５〜７Ω／□としたものである。
　【００２０】
　つぎに、第１，第２，第３の比較例について説明する。
　第１の比較例では、ＰＥＴフィルム１の片面に、図１に示すパターンのアルミニウム蒸着膜２を形成して、金属化フィルムとする。ここでは、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値を８〜３０Ω／□とした。したがって、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍のアルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値も８〜３０Ω／□である。このＰＥＴフィルム１上にアルミニウム蒸着膜２を形成した金属化フィルムを、図３と同様に、２枚組み合わせて巻回し、電極引き出し用メタリコンを溶射して、コンデンサとする。
　【００２１】
　第２の比較例では、ＰＥＴフィルム１の片面に、図１に示すパターンのアルミニウム蒸着膜２を形成して、金属化フィルムとする。ここでは、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値を１．５〜７Ω／□とした。したがって、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍のアルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値も１．５〜７Ω／□である。このＰＥＴフィルム１上にアルミニウム蒸着膜２を形成した金属化フィルムを、図３と同様に、２枚組み合わせて巻回し、電極引き出し用メタリコンを溶射して、コンデンサとする。
　【００２２】
　第３の比較例では、ＰＥＴフィルム１の片面に、図４に示すパターンの亜鉛蒸着膜３ａを形成して、金属化フィルムとする。ここでは、亜鉛蒸着膜３ａの薄い部分の膜抵抗値を８〜３０Ω／□とし、亜鉛蒸着膜３ａの厚い部分である電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍の膜抵抗値を１．５〜７Ω／□として、第１の実施例に合わせた。このＰＥＴフィルム１上に亜鉛蒸着膜３ａを形成した金属化フィルムを、図３と同様に、２枚組み合わせて巻回し、電極引き出し用メタリコンを溶射して、コンデンサとする。すなわち、この第３の比較例は、従来の段付き蒸着によるいわゆるヘビーエッジ構造のフィルムを使用したコンデンサである。
　【００２３】
　ここで、第１の実施例と第３の比較例とを比較すると、外観状態はほぼ同等の構成を有しているが、電極の主電極部分が、第１の実施例ではアルミニウム蒸着膜２であり、第３の比較例は亜鉛蒸着膜３ａであり、異なる。また、電極の電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍部分において、第１の実施例はアルミニウム蒸着膜２の上に亜鉛蒸着膜３を形成した２層蒸着構成となっているが、第３の比較例では亜鉛蒸着膜３ａであり、異なる。
　【００２４】
　これらのコンデンサ素子を、内部圧力検出装置を金属容器に取り付けた外装容器内に収納し、ポリブテンオイルを用いて充填し、電極引き出し用メタリコンから外部電極引き出し用端子と接続した。
　これらのコンデンサに使用したＰＥＴフィルム１の厚みは１０μｍであり、コンデンサ容量は３０μＦである。
　【００２５】
　第１の実施例のコンデンサの効果を検証するために、第１〜第３の比較例のコンデンサとともに、電圧印加による破壊試験を実施し、その破壊電圧レベルを評価した。その試験結果を図５に示す。図５の縦軸は破壊電圧であり、この時の試験条件は常温・常湿であり、電圧昇圧スピードは１分間に１００Ｖである。
　図５から、第１の実施例のコンデンサの方が第３の比較例のコンデンサより、破壊電圧が７００Ｖ〜１０００Ｖ上回っていることがわかる。第１の比較例は、第１の実施例とほぼ同様な破壊水準を示しているが若干バラツキが見られる。第２の比較例は、第１の実施例・第１の比較例のコンデンサより破壊水準が低いが、第３の比較例よりは若干高いことがわかる。
　【００２６】
　つぎに、電圧破壊試験実施後のコンデンサ素子を分解し、金属化フィルムの状態を確認したところ、図６，図７に示すような自己回復（セルフヒーリング）が確認できた。
　図６は電圧破壊試験実施後に分解した第１の実施例の金属化フィルムの状態を示し、（ａ）はその斜視図、（ｂ）はそのＡ−Ａ′断面図である。図６において、４は絶縁欠陥部、５はアルミニウム蒸着膜２が飛散した自己回復部である。図７は電圧破壊試験実施後に分解した第３の比較例の金属化フィルムの状態を示し、（ａ）はその斜視図、（ｂ）はそのＢ−Ｂ′断面図である。図７において、６は絶縁欠陥部、７は亜鉛蒸着膜３ａが飛散した自己回復部である。
　【００２７】
　図６の第１の実施例における自己回復部５の形状は、図７に示す第３の比較例の自己回復部７よりはるかに小さく、良好に自己回復が行われている。したがってＰＥＴフィルム１に与えるダメージも小さく、絶縁耐力もＰＥＴフィルム１が本来持っている絶縁耐力により近づいているものと考えられる。
　これに対し、図７に示す第３の比較例では、自己回復部７の形状が大きく、ところによっては自己回復が上手く行われず、次の層のＰＥＴフィルム１に破壊が進行していることが伺えた。段付き蒸着を実施することにより段付き蒸着を実施しない場合よりは自己回復は良好に行われているが、それでも不完全な自己回復によってＰＥＴフィルム１にダメージを与え、絶縁耐力を低下させていることがわかる。亜鉛の飛散性による自己回復では、ＰＥＴフィルム１が本来持っている絶縁耐力にまで回復できないことが伺える。
　【００２８】
　第１の比較例においても、第１の実施例と同様に、自己回復部の形状は第３の比較例の場合よりはるかに小さく、良好に自己回復が行われているが、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍においてアルミニウム蒸着膜２の飛散が発生し、電極引き出し用メタリコンとのコンタクトが失われ、コンデンサ容量を失っていた。これは電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍の膜抵抗値が高いため、自己回復時の電流によりコンタクト部近傍の蒸着膜が飛散し、失われたためである。結果として、耐電圧性能は高くなったが、耐電流性能は低くなっていると考えられる。
　【００２９】
　第２の比較例においては、第３の比較例の場合と同様に、大きな自己回復部が見られ、アルミニウム蒸着膜２の飛散性において、蒸着膜抵抗値が低い場合には高い耐電圧性能が得られないことがわかる。
　つぎに、第１の実施例のコンデンサおよび第１〜第３の比較例のコンデンサの充放電試験における試験結果を図８に示す。これは耐電流破壊レベルを評価したものであり、図８は、縦軸に容量減少率をプロットし、横軸に充放電回数をプロットしたグラフである。この時の試験条件は常温・常湿であり、印加電圧は２５００Ｖである。また、充放電電流はピーク電流２００Ａ、放電時間２００μｓである。
　【００３０】
　図８から、第１の実施例のコンデンサの容量減少率が最も少なく、続いて、第２の比較例・第３の比較例・第１の比較例のコンデンサの順で容量減少率が少ないことがわかる。そしてこの傾向は充放電回数の増加に伴いより顕著になっている。
　つぎに、電圧破壊試験の時と同様、充放電試験後にコンデンサ素子を分解し、金属化フィルムの状態を確認した。
　【００３１】
　第１の比較例のコンデンサにおいては、電圧破壊試験の時と同様に、良好な自己回復を示していたが、その発生個数が少ないにもかかわらず、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍の蒸着膜の飛散が発生し、電極引き出し用メタリコンとのコンタクトが失われ、コンデンサ容量を失っていた。これは、電圧破壊試験の時と同様な理由によるものと考えられる。
　【００３２】
　第２の比較例・第３の比較例においては、多数自己回復が発生していたが、第１の比較例のような電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍の蒸着膜の飛散の発生は少なく、容量減少は第１の比較例より大幅に少ない。しかしながら自己回復状態は思わしくなく、その形状も大きく理想的状態とは言いがたい。
　第１の実施例においては、若干の自己回復が見られるが、他のサンプルよりは自己回復状態は良好であり、望ましい状態にあると言える。
　【００３３】
　これらの結果を基に、例として定格電圧２４００Ｖ、定格電流１００Ａ、容量３０μＦのコンデンサを設計した場合のコンデンサの体積を算定すると、第１の実施例のコンデンサが、第１〜第３の比較例のコンデンサに比べて、２５〜３０％小さくなる結果となった。
　以上のことから、第１の実施例によれば、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍にはアルミニウム蒸着膜２上に膜抵抗値が１．５〜７Ω／□の亜鉛蒸着膜３を形成した電極構成とし、その他の主電極部分は膜抵抗値が８〜３０Ω／□のアルミニウム蒸着膜２とすることにより、金属化フィルム内に存在する絶縁欠陥部分の自己回復による蒸着膜の飛散部分をより小さくし、良好な自己回復を行うことができ、ＰＥＴフィルム１が持っている本来の絶縁耐力を引き出し、より高電位傾度においてフィルムを使用、コンデンサの設計を行うことができ、また良好なヘビーエッジを形成することが可能なため、より耐電流強度を強くすることができる。結果として、より小型・軽量で寿命特性の優れたコンデンサを実現することができる。
　【００３４】
　つぎに、第２，第３の実施例について説明する。第２の実施例は、図９，図１０に示す第２の実施の形態のコンデンサにおいて、アルミニウム蒸着膜２および亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値を、第１の実施例と同様にしたものである。また、第３の実施例は、図１１に示す第３の実施の形態のコンデンサにおいて、アルミニウム蒸着膜２および亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値を、第１の実施例と同様にしたものである。
　【００３５】
　さらに、第４の比較例として、第１の実施例のコンデンサを７個直列に接続したコンデンサを用意した。
　これら第２，第３の実施例および第４の比較例のコンデンサに使用したＰＥＴフィルム１の厚みは１０μｍであり、コンデンサ容量は４．３μＦであり、定格電圧は１７０００Ｖである。
　【００３６】
　これらのコンデンサの体積を算定し比較した結果を図１２に示す。
　図１２では、第４の比較例のコンデンサの体積を１００％とした場合に、第２の実施例では約８０％、第３の実施例では約７５％となっている。すなわち、第２，第３の実施例では、第４の比較例より２０〜２５％小さくなる結果となった。これは定格電圧が高くなり多段直列構成を必要とする場合、第４の比較例のように１直のコンデンサ素子を多段に接続するより、第２，第３の実施例のように１個のコンデンサ素子内に多段直列構成を設ける方がスペースファクターが良いためである。すなわち、１直のコンデンサ素子を多段に接続する場合においては、接続のためのリード線やハンダ付け部分において余分なスペースが発生し、体積的に不利となる。
　【００３７】
　つぎに、第１の実施例の場合と同様、耐電圧試験として、第２，第３の実施例および第４の比較例のコンデンサの電圧印加による破壊試験を実施し、その破壊電圧レベルを評価した。その試験結果を図１３に示す。また、同様に耐電流試験としてコンデンサの充放電試験における試験結果を図１４に示す。
　第２，第３の実施例および第４の比較例の各コンデンサは、図１３，図１４からわかるように、いずれの場合の試験においても満足できる特性を示しているが、特に第３の実施例のコンデンサがより良好な特性を示している。これは、コンデンサの少なくとも一方の電極のアルミニウム蒸着膜２および亜鉛蒸着膜３を、ＰＥＴフィルム１の幅方向に複数に分割したことにより、自己回復が発生した時に流れ込む電流が抑制され、蒸着膜が飛散した自己回復部の大きさをより小さくしているためと考えられる。
　【００３８】
　なお、上記第１〜第３の実施例では、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値を８〜３０Ω／□とし、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍に形成する亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値を１．５〜７Ω／□とした構成について説明したが、このように膜抵抗値を設定した理由および効果について、以下に説明する。
　まず、図１〜図３に示す第１の実施の形態と同様にして複数のコンデンサ素子（Ａ）を作製した。この複数のコンデンサ素子（Ａ）は、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍に形成する亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値を３Ω／□とし、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値をそれぞれのコンデンサで異なる値（３Ω／□，５Ω／□，８Ω／□，１０Ω／□，１２Ω／□，２０Ω／□，３０Ω／□，３５Ω／□，４０Ω／□）として作製したものである。そして、これらのコンデンサ素子を、内部圧力検出装置を金属容器に取り付けた外装容器内に収納し、ポリブテンオイルを用いて充填し、電極引き出し用メタリコンから外部電極引き出し用端子と接続した。
　【００３９】
　これらのコンデンサに使用したＰＥＴフィルム１の厚みは１０μｍであり、コンデンサ容量は３０μＦである。
　そして、これらの複数のコンデンサに電圧印加による破壊試験を実施し、その破壊電圧レベルを評価した。その試験結果を図１５に示す。図１５の横軸はアルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値であり、縦軸は破壊電圧であり、この時の試験条件は常温・常湿であり、電圧昇圧スピードは１分間に１００Ｖである。
　【００４０】
　図１５に示すように、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値により破壊電圧が変化する。膜抵抗値が８Ω／□未満のものでは、破壊電圧が低く、膜抵抗値の上昇とともに破壊電圧は上昇していく。膜抵抗値が８Ω／□〜１２Ω／□の間において、そのカーブは緩やかになり、１２Ω／□〜４０Ω／□の間において、破壊電圧はほぼ一定となる。この図１５から、安定的に高い破壊水準を得るためには、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値を８Ω／□以上にする必要があることがわかる。
　【００４１】
　また、亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値が３Ω／□で、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値がそれぞれ異なる上記の複数のコンデンサ素子（Ａ）の充放電試験における試験結果を図１６に示す。これは耐電流破壊レベルを評価したものであり、図１６の横軸はアルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値であり、縦軸は容量減少率をプロットしている。この容量減少率は充放電回数が２５００回時のものである。印加電圧は２５００Ｖ、充放電電流はピーク電流２００Ａ、放電時間２００μｓである。
　【００４２】
　図１６に示すように、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値が８Ω／□未満のものでは、容量減少が少し見られるが、膜抵抗値が８Ω／□〜３０Ω／□の間においては、１〜２％の容量減少ですみ安定している。膜抵抗値が３０Ω／□を超えると、容量減少が膜抵抗値とともに大きくなり、耐電流性能が低下していることが伺える。
　【００４３】
　また、充放電試験後にコンデンサ素子を分解し、蒸着膜の状態を確認したところ、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値が８Ω／□〜３０Ω／□の間のコンデンサは良好な自己回復を示しており、蒸着膜にも変化は少ないが、膜抵抗値が８Ω／□未満のコンデンサでは自己回復の大きさが大きくなり、蒸着膜の飛散も大きくなっている。一方、膜抵抗値が３０Ω／□を超えたコンデンサでは自己回復は良好であるが、その自己回復の周りの蒸着膜に蒸着膜の更なる後退が見られた。これは、蒸着膜金属が非常に薄いため、電流を印加することによって自己回復をした場所をトリガーとしてコロナ放電等により蒸着膜が除々に飛散していき、大きな容量減少となったものと推定できる。
　【００４４】
　すなわち、上記の検証結果より、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値は、８Ω／□〜３０Ω／□の間において、その耐圧性能および耐電流性能の両方を十分に満足する結果を得ることができると言える。
　つぎに、図１〜図３に示す第１の実施の形態と同様にして複数のコンデンサ素子（Ｂ）を作製した。この複数のコンデンサ素子（Ｂ）は、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値を１５Ω／□とし、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍に形成する亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値をそれぞれのコンデンサで異なる値（１Ω／□，１．５Ω／□，２Ω／□，３Ω／□，５Ω／□，７Ω／□，８Ω／□，９Ω／□）として作製したものである。そして、これらのコンデンサ素子を、内部圧力検出装置を金属容器に取り付けた外装容器内に収納し、ポリブテンオイルを用いて充填し、電極引き出し用メタリコンから外部電極引き出し用端子と接続した。
　【００４５】
　これらのコンデンサに使用したＰＥＴフィルム１の厚みは１０μｍであり、コンデンサ容量は３０μＦである。
　そして、これらの複数のコンデンサに電圧印加による破壊試験を実施し、その破壊電圧レベルを評価した。その試験結果を図１７に示す。図１７の横軸は亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値であり、縦軸は破壊電圧であり、この時の試験条件は常温・常湿であり、電圧昇圧スピードは１分間に１００Ｖである。
　【００４６】
　図１７に示すように、亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値が１Ω／□前後のコンデンサにおいては破壊電圧レベルが他のものより数百Ｖ低下し、亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値が１．５Ω／□以上であれば、高い破壊電圧レベルで差はなく安定している。
　破壊試験後にコンデンサ素子を分解し、蒸着膜の状態を確認したところ、亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値が１Ω／□前後では、亜鉛蒸着膜３上に大きな破壊跡があったが、これは、１Ω／□前後まで膜抵抗値を低下させると、蒸着膜が厚くなりすぎ、良好な自己回復が行えないためと推定される。なお、亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値が１．５Ω／□以上のコンデンサでは、良好な自己回復が行われていた。
　【００４７】
　また、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値が１５Ω／□で、亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値がそれぞれ異なる上記の複数のコンデンサ素子（Ｂ）の充放電試験における試験結果を図１８に示す。これは耐電流破壊レベルを評価したものであり、図１８の横軸は亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値であり、縦軸は容量減少率をプロットしている。この容量減少率は充放電回数が２５００回時のものである。印加電圧は２５００Ｖ、充放電電流はピーク電流２００Ａ、放電時間２００μｓである。
　【００４８】
　図１８に示すように、亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値が１Ω／□〜７Ω／□の間においては、容量減少が少なく安定しているが、膜抵抗値が７Ω／□を超えると、容量減少率が大きくなっていることがわかる。
　充放電試験後にコンデンサ素子を分解し、蒸着膜の状態を確認したところ、亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値が７Ω／□を超えるものについては、亜鉛蒸着膜３上に蒸着膜の飛散跡が見られた。これは、亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値が高いため、蒸着膜の耐電流性能が低下し、繰り返し突入される電流により蒸着膜が飛散したものと推定される。
　【００４９】
　すなわち、上記の検証結果より、亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値は、１．５Ω／□〜７Ω／□の間において、その耐圧性能および耐電流性能の両方を十分に満足する結果を得ることができると言える。
　以上のように、複数のコンデンサ素子（Ａ），（Ｂ）の検証結果より、第１〜第３の実施例のように、アルミニウム蒸着膜２の膜抵抗値を８Ω／□〜３０Ω／□とし、亜鉛蒸着膜３の膜抵抗値を１．５Ω／□〜７Ω／□とすることによって、優れた耐圧性能および耐電流性能を発揮するコンデンサを得られることが確認できた。
　【００５０】
　なお、上記の発明の実施の形態および実施例では、プラスチックフィルムとしてＰＥＴフィルムを用いたが、ＰＥＴの他に、ポリプロピレン、ポリカーボネイト、ポリスチレン、ポリエチレン、等を単独または組み合わせて用いることができる。
　また、上記の発明の実施の形態および実施例において、金属化フィルムを巻回したコンデンサ素子の形状を、丸形または小判形としても、また、このコンデンサ素子を金属容器に収納し、内部圧力検出装置を金属容器に取付けた構造としても、さらに内部圧力検出装置を金属容器に取り付けた外装容器内にコンデンサ素子を収納する際、ポリブテンオイルを用いて充填した構造としても、上述した効果の得られることは明らかである。
　【００５１】
　なお、従来、蒸着金属に亜鉛とアルミニウムを混合した混合蒸着フィルム（アロイ蒸着フィルム）の提案が多数なされているが、その目的は主に蒸着膜の耐湿性の向上にあり、この発明の意図するところとは意味合いが異なる。また、この発明は混合蒸着ではなく、アルミニウム蒸着の上に電極取り出し用メタリコンとの接触部を含む近傍にだけ亜鉛を蒸着する、いわゆる２層蒸着とでも呼ぶべき構成を有し、上記混合蒸着フィルムとは全く違うものである。
　【００５２】
　【発明の効果】
　請求項１記載のコンデンサは、金属化フィルムを２枚重ねて巻回したコンデンサであって、電極引き出し用メタリコンとの接触部を含む近傍にはアルミニウム蒸着膜上に層状に亜鉛蒸着膜を形成し
、自己回復性を有する２層蒸着膜とする
　【００５３】
　さらに、請求項２記載のコンデンサは、アルミニウム蒸着膜をプラスチックフィルムの長手方向に間隙を設けて複数に分離形成し、その間隙が重ならないように２枚の金属化フィルムを巻回して、１個の素子内に多段直列構成のコンデンサを設けることができ、定格電圧が高くても小型化を図ることができる。
　さらに、請求項３記載のコンデンサは、アルミニウム蒸着膜および亜鉛蒸着膜をプラスチックフィルムの幅方向に間隙を設けて複数に分離形成することにより、自己回復が発生したときに流れ込む電流を抑制し、自己回復部分の大きさをより小さくし、絶縁耐力をより高めることができる。
　【００５４】
【図面の簡単な説明】
　【図１】
　この発明の第１の実施の形態のコンデンサの製造工程を示す断面図。
　【図２】
　この発明の第１の実施の形態のコンデンサの製造工程を示す断面図。
　【図３】
　この発明の第１の実施の形態のコンデンサの製造工程を示す斜視図。
　【図４】
　第３の比較例に用いる金属化フィルムの断面図。
　【図５】
　この発明の第１の実施例および第１〜第３の比較例のコンデンサの電圧破壊試験結果を示す図。
　【図６】
　電圧破壊試験実施後に分解した第１の実施例における金属化フィルムの状態を示す図。
　【図７】
　電圧破壊試験実施後に分解した第３の比較例における金属化フィルムの状態を示す図。
　【図８】
　この発明の第１の実施例および第１〜第３の比較例のコンデンサの充放電試験結果を示す図。
　【図９】
　この発明の第２の実施の形態のコンデンサの製造工程を示す断面図。
　【図１０】
　この発明の第２の実施の形態のコンデンサの製造工程を示す断面図。
　【図１１】
　この発明の第３の実施の形態のコンデンサに用いる金属化フィルムの斜視図。
　【図１２】
　この発明の第２，第３の実施例および第４の比較例のコンデンサの体積の比較結果を示す図。
　【図１３】
　この発明の第２，第３の実施例および第４の比較例のコンデンサの電圧破壊試験結果を示す図。
　【図１４】
　この発明の第２，第３の実施例および第４の比較例のコンデンサの充放電試験結果を示す図。
　【図１５】
　第１の実施の形態におけるコンデンサのアルミニウム蒸着膜の膜抵抗値に対する電圧破壊試験結果を示す図。
　【図１６】
　第１の実施の形態におけるコンデンサのアルミニウム蒸着膜の膜抵抗値に対する充放電試験結果を示す図。
　【図１７】
　第１の実施の形態におけるコンデンサの亜鉛蒸着膜の膜抵抗値に対する電圧破壊試験結果を示す図。
　【図１８】
　第１の実施の形態におけるコンデンサの亜鉛蒸着膜の膜抵抗値に対する充放電試験結果を示す図。
　【符号の説明】
　１　ポリエチレンテレフタレートフィルム（プラスチックフィルム）
　２　アルミニウム蒸着膜
　３　亜鉛蒸着膜
　４　絶縁欠陥部
　５　自己回復部
　６　絶縁欠陥部
　７　自己回復部
　８　非蒸着部