【手続補正書】
【提出日】平成27年4月7日(2015.4.7)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
サンプル中の少なくとも１つの分析物の検出のための分析用補助器具（１１２）を製造するための方法であって、前記分析用補助器具（１１２）が、少なくとも１つのハウジング（１２０）と、少なくとも１つの試験化学（１３４）を備える少なくとも１つの試験エレメント（１２２）とを備え、前記方法が、以下の工程：
ａ）前記試験化学（１３４）を備える試験エレメント（１２２）を提供する工程、および
ｂ）ハウジング（１２０）の少なくとも１つのハウジング部材（１１４）を、少なくとも１つの成形プロセスによって製造する工程であって、そのあいだに前記試験化学（１３４）を備える試験エレメント（１２２）がハウジング部材（１１４）へと連結される工程
を含み、
前記工程段階ｂ）において、サンプル適用のための試験フィールド領域（１３６）としての試験化学（１３４）の少なくとも１つの表面がハウジング部材（１１４）のハウジング材料（１５８）によって覆われずに残るように、試験エレメント（１２２）がハウジング部材（１１４）へと連結され、少なくとも１つの観測ウィンドウ（１４６）がハウジング（１２０）内に作製されるように前記ハウジング（１２０）が構成され、前記試験フィールド領域（１３６）が前記ハウジング（１２０）の前記観測ウィンドウ（１４６）を通じて光学的にモニター可能であり、前記ハウジング（１２０）が少なくとも１つのチャンバ（１３８）を形成するように前記方法が実行され、前記試験フィールド領域（１３６）が前記チャンバ（１３８）の内部空間に対向している方法。
【請求項２】
前記サンプルが体液である請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記成形プロセスが少なくとも１つの鋳造プロセスを含む請求項１または２記載の方法。
【請求項４】
前記成形プロセスが少なくとも１つのプラスティック鋳造プロセスを含み、前記プラスティック鋳造プロセスが、バック射出成形およびインサート成形から選択される請求項１〜３のいずれか１項に記載の方法。
【請求項５】
前記工程段階ｂ）において、前記試験エレメント（１２２）の少なくとも一部が成形モールド中へ挿入され、および、成形モールド中で前記ハウジング部材（１１４）の少なくとも１つのハウジング材料（１５８）と少なくとも部分的に接触し、
前記成形モールド中に挿入された前記試験エレメント（１２２）の少なくとも一部分が、少なくとも１つのセクションを介して、前記成形モールドの少なくとも１つの壁上に設置され、
工程段階ｂ）が行われているあいだ、前記成形モールドの壁が、少なくとも前記試験エレメント（１２２）の前記セクションが壁上に設置されている領域において、１３０℃以内の温度であるように、工程段階ｂ）が行われる請求項１〜４のいずれか１項に記載の方法。
【請求項６】
前記工程段階ｂ）が行われているあいだ、前記成形モールドの壁が、少なくとも前記試験エレメント（１２２）の前記セクションが壁上に設置されている領域において、１２０℃以内の温度であるように、前記工程段階ｂ）が行われる請求項５記載の方法。
【請求項７】
前記工程段階ｂ）が行われているあいだ、前記成形モールドの壁が、少なくとも前記試験エレメント（１２２）の前記セクションが壁上に設置されている領域において、１１０℃以内の温度であるように、前記工程段階ｂ）が行われる請求項５記載の方法。
【請求項８】
壁上に設置される前記試験エレメント（１２２）の前記セクション（１３６）が、試験化学（１３４）の少なくとも一部を含む請求項５〜７のいずれか１項に記載の方法。
【請求項９】
壁上に設置される前記試験エレメント（１２２）の前記セクション（１３６）が、試験化学（１３４）の試験フィールド領域（１３６）の少なくとも一部を含む請求項８記載の方法。
【請求項１０】
前記試験化学（１３４）が、安定性の観点から、１００℃の温度において、少なくとも短期間、安定であるように選択される請求項１〜９のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１１】
前記試験化学（１３４）が、安定性の観点から、１１０℃の温度において、少なくとも短期間、安定であるように選択される請求項１０記載の方法。
【請求項１２】
前記試験化学（１３４）が、安定性の観点から、１２０℃の温度において、少なくとも短期間、安定であるように選択される請求項１０記載の方法。
【請求項１３】
前記試験エレメント（１２２）が、少なくとも１つの支持エレメント（１３０）を備え、前記試験化学（１３４）が前記支持エレメント（１３０）に連結される請求項１〜１２のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１４】
前記試験化学（１３４）が前記支持エレメント（１３０）に、試験化学（１３４）の少なくとも１つの層を前記支持エレメント（１３０）へと適用することによって連結される請求項１３記載の方法。
【請求項１５】
前記支持エレメント（１３０）が、ディスク形状の支持エレメント（１３０）であり、前記試験化学（１３４）がコーティングとして支持エレメント（１３０）へと適用され、前記コーティングが分析用補助器具（１１２）のための試験フィールド領域（１３６）を提供する請求項１３または１４記載の方法。
【請求項１６】
前記支持エレメント（１３０）が、円形のディスク形状の支持エレメント（１３０）である請求項１５記載の方法。
【請求項１７】
前記支持エレメント（１３０）が、円環形状の支持エレメント（１３０）である請求項１５記載の方法。
【請求項１８】
複数の分析用補助器具（１１２）が製造され、前記分析用補助器具（１１２）が分析用マガジン（１１０）中に含まれるように行われる請求項１〜１７のいずれか１項に記載の方法。
【請求項１９】
前記分析用補助器具（１１２）が、共通のマガジンハウジング（１１８）内に収容され、前記分析用補助器具（１１２）の前記ハウジング（１２０）が、前記マガジンハウジング（１１８）の構成要素となるように行われる請求項１８記載の方法。
【請求項２０】
請求項１〜１９のいずれか１項に記載の方法によって得られる、サンプル中の少なくとも１つの分析物の検出のための分析用補助器具（１１２）であって、前記分析用補助器具（１１２）が、少なくとも１つのハウジング部材（１１４）を備える少なくとも１つのハウジング（１２０）と、少なくとも１つの試験化学（１３４）を備える少なくとも１つの試験エレメント（１２２）とを備え、前記試験エレメント（１２２）が、前記ハウジング部材（１１４）の成形プロセスによって前記ハウジング部材（１１４）へ連結され、
前記ハウジング部材（１１４）の製造のあいだに、サンプル適用のための試験フィールド領域（１３６）としての試験化学（１３４）の少なくとも１つの表面がハウジング部材（１１４）のハウジング材料（１５８）によって覆われずに残るように、前記試験化学（１３４）を備える前記試験エレメント（１２２）が前記ハウジング部材（１１４）へと連結され、少なくとも１つの観測ウィンドウ（１４６）がハウジング（１２０）内に作製されるように前記ハウジング（１２０）が構成され、前記試験フィールド領域（１３６）が前記ハウジング（１２０）の前記観測ウィンドウ（１４６）を通じて光学的にモニター可能であり、前記ハウジング（１２０）が少なくとも１つのチャンバ（１３８）を形成し、前記試験フィールド領域（１３６）が前記チャンバ（１３８）の内部空間に対向している分析用補助器具（１１２）。
【請求項２１】
前記分析用補助器具（１１２）が、さらに、サンプルを生じさせるための少なくとも１つのランセットエレメントを備える請求項２０記載の分析用補助器具（１１２）。
【請求項２２】
前記サンプルを生じさせるためのランセットエレメントがマイクロサンプラーである請求項２１記載の分析用補助器具（１１２）。
【請求項２３】
前記ハウジング（１２０）が、前記ハウジング（１２０）の外側からアクセス可能な少なくとも１つの観察ウィンドウ（１４６）を備え、前記試験エレメント（１２２）の少なくとも１つの特性の変化が、前記観察ウィンドウ（１４６）を通じて外側から検出可能である、分析用補助器具に関連する請求項２０〜２２のいずれか１項に記載の分析用補助器具（１１２）。
【請求項２４】
前記試験エレメント（１２２）の前記少なくとも１つの特性の変化が、少なくとも１つの色の変化および／または少なくとも１つの光学的特性における少なくとも１つの特性の変化である請求項２３記載の分析用補助器具（１１２）。
【請求項２５】
前記試験エレメント（１２２）の少なくとも１つの試験フィールド領域（１３６）が、前記試験エレメント（１２２）の少なくとも１つの、少なくとも部分的に光学的に透明である支持エレメント（１３０）を通じて観察可能であるように、前記観察ウィンドウ（１４６）が構成される請求項２３または２４記載の分析用補助器具（１１２）。
【請求項２６】
分析用補助器具（１１２）に関連する請求項２０〜２５のいずれか１項に記載の複数の分析用補助器具（１１２）を含む分析用マガジン（１１０）。