【事件の表示】
　特願２００９−　　　２６１「分光光度計」拒絶査定不服審判事件〔平成２２年　７月１５日出願公開，特開２０１０−１５６６５５〕について，次のとおり審決する。
【結　論】
　本件審判の請求は，成り立たない。
【理　由】
１　手続の経緯　　
　本願は，平成２１年１月５日の出願であって，平成２４年８月１０日付けの拒絶理由通知に対し同年１０月１５日付けで意見書及び補正書が提出されたが，平成２５年１月２５日付けで拒絶査定がなされ，これに対し，同年４月３０日に拒絶査定不服審判の請求がなされたものである。　　
　
２　本願発明　　
　この出願の請求項１〜３に係る発明は，平成２４年１０月１５日付けの手続補正により補正された特許請求の範囲，明細書及び図面の記載からみて，その特許請求の範囲の請求項１〜３に記載された事項により特定されたとおりのものと認められ，その請求項１に係る発明（以下「本願発明」という）は次のとおりのものである。　
　
「測定光を試料側光路と参照側光路とに交互に振り分けるとともにその交互の振り分けの１サイクル中の一部期間で測定光を遮蔽する光路切替手段と，前記試料側光路中に配設された被測定試料を通過した光と前記参照側光路中に配設された参照試料を通過した光とを検出する光検出器と，を具備するダブルビーム方式の分光光度計において，
　ａ）試料側光束に対して得られる試料側測定信号及び参照側光束に対して得られる参照側測定信号をそれぞれノイズ低減処理するサイクルよりも長いサイクルに亘って，測定光が遮蔽された期間に得られる暗信号をノイズ低減処理するノイズ低減処理手段と，
　ｂ）ノイズ低減処理された，試料側測定信号と暗信号，及び，参照側測定信号と暗信号，によりそれぞれ暗信号の影響を除去し，被測定試料による吸収を求める吸光演算手段と，
　を備えることを特徴とする分光光度計。」
　
３　刊行物の記載事項　　
　本願出願前に頒布され，原査定の拒絶の理由に引用された刊行物である特公平２−１０３６７号公報（以下，「刊行物」という）には，図面とともに，次の事項が記載されている（下線は当審で付した）。
　
（１）「本発明の目的は
バツクグラウンド放射線のレベル変動が測定に及ぼす影響を軽減した分光光度計
　
（２）「第１図に示す分光光度計は放射線源Ｓ，２本の放射線ビームを作る手段，これらの２本の放射線ビームの通路を一つにする手段と，モノクロメーターＭＯと，検出器Ｄと信号処理装置ＰＣとを具える。
　
放射線源Ｓから出た放射線
を鏡Ｍ１で反射させ，測定室ＭＣ内の試料セルを通る通路ＳＢに沿つて進ませる。
　
この通路ＳＢに沿つて進む放射線は更に２個の鏡Ｍ２とＭ３で反射されて回転しているセクターミラー
組立体Ｍ４に向かう。
このセクターミラー組立体Ｍ４は通路ＳＢに沿つて進む放射線を交番的に透過させて鏡Ｍ８上に落し，鏡Ｍ８で反射させる。放射線源Ｓから出た放射線は別に鏡Ｍ５で反射させられてこれまた測定室ＭＣ内にある基準セルＲＣを通る第２の通路ＲＢに沿つて進む。この第２の通路ＲＢに沿つて進む放射線は更に２個の反射器Ｍ６及びＭ７で反射させられて回転しているセクターミラー組立体Ｍ４に向かう。するとこのセクターミラー組立体Ｍ４は第２の通路ＲＢに沿つて進む放射線を交番的に反射させて鏡Ｍ８上に落し，鏡８で反射させる。斯くしてセクターミラー組立体Ｍ４で第１の通路ＳＢに沿つて進んできた放射線のパルスとその間に挾まれた第２の通路に沿つて進んできた放射線のパルスとを含む合成放射線ビームＣＢが形成される。回転自在のセクターミラーＭ４は順次に放射線を透過するセクタと放射線を吸収するセクタと放射線を反射するセクタと放射線を吸収するセクタとをシリーズに並べたものを具え，このため複合放射線ビームＣＢでは第１の通路ＳＢに沿つて進んできた放射線のパルスと第２の通路ＲＢに沿つて進んできた放射線のパルスとが交互に繰り返され，それらのパルス同士の間に放射線源から放射線が届かない期間が挾まつている。複合放射線ビームＣＢは鏡Ｍ８で反射させられてモノクロメーターＭＯの入射スリツトＳＬ１に入射する。モノクロメーターＭＯは入射スリツトＳＬ１，凹面鏡Ｍ９，回折格子Ｇ及び射出スリツトＳＬ２を具え，入射スリツトＳＬ１にある帯域幅の広い放射線から波長帯の狭い放射線を選択するのに利用される。射出スリツトＳＬ２から取り出された狭帯域の放射線は鏡Ｍ１０で反射して検出器Ｄに入射する。検出器Ｄの出力信号は信号処理装置ＰＣを経て表示器Ｉに供給される
　
試料の透過率を測定するために試料を測定室ＭＣ内に入れ，試料ビームを通過させ，信号処理装置ＰＣで以つて試料セルＳＣから現われる放射線の大きさの基準セルＲＣから現われる放射線の大きさに対する比を求める。
　また試料（測定）期間内に検出器Ｄで検出される放射線は放射線源から出て試料セルを通過した放射線による分にバツクグラウンド放射線による分が加つたものであるから，
試料セルを通過し，検出器に入射する放射線による信号だけを取り出すためには試料信号
から暗信号
を差し引く
同様に透過率
を求める前に基準信号から暗信号を差し引く
　この信号処理装置ＰＣには更に試料信号又は基準信号の夫々の両端に生ずる暗信号を平均する装置を設け，この平均信号を試料信号又は基準信号から差し引くべき暗信号として用いる。これにより暗信号の振幅が変動することが試料信号又は基準信号に及ぼす影響を軽減できる。試料期間又は基準期間の両端で生起する暗信号を平均化することにより得られるもう一つの利点は検出器Ｄを信号処理装置ＰＣに交流結合する場合又は検出器Ｄ自体が交流検出器である場合にこれにより透過信号の非線形性の程度が下がることである。」（６欄６行〜８欄５行）
　
（３）「波形ｇ及びｈは２個の順次の暗信号期間における暗信号レベルの平均をとり，基準信号又は試料信号から差し引く信号処理回路の応答を示すものである。
期間Ｔｂにおいて波形ｇとして示す試料―暗信号の計算された値は第１の暗信号期間ではＳａ−（Ｄ１ａ＋Ｄ２ａ）／２であり，基準信号期間及び第２の暗信号期間ではＳａ−（Ｄ２ａ＋Ｄ１ｂ）／２であり，試料信号期間ではＳａ−（Ｄ１ｂ＋Ｄ２ｂ）／２である。それ故期間Ｔｂに亘る平均値は
　
［Ｓａ−（Ｄ１ａ＋Ｄ２ａ）／２＋２〔Ｓａ−（Ｄ２ａ＋Ｄ１ｂ）／２〕＋Ｓａ−（Ｄ１ｂ＋Ｄ２ｂ（当審でＤ２ａはＤ２ｂの誤記と認めた））／２］／４
　
＝Ｓａ−（３／４）・（Ｄ１ｂ＋Ｄ２ａ）／２−（１／４）・（Ｄ１ａ＋Ｄ２ｂ）／２
に等しい。
　
斯くして暗信号レベルは
試料信号期間の両側の暗信号期間における暗信号レベルの平均に
，試料信号期間から次に遠い暗信号レベルに因る付加的成分も１／３の重みで付加される。
　第１１図に示す複合波形は信号処理回路に交流結合されている検出器又は例えばパイロ電気検出器若しくはゴーレイニユーマチツク検出器のような赤外分光光合計で普通に使われている検出器から取り出されるものである。第１１ａ図は検出器で受け取つたエネルギーを示し，第１１ｂ図は信号処理回路に結合されている生成信号を示す。各レベルの下降量σｘはその平均レベルに関する信号の大きさ（ｘ）に比例し，τ≫ｔであればｔ／τで与えられる。τは交流結合時定数，換言すれば赤外検出器の低周波熱時定数である。
良好な雑音波特性を得るにはできるだけ長時間に亘つて，それもできれば基準信号期間又は試料信号期間の全体に亘つて，信号の瞬時値を確定するのではなく，平均レベルをとる必要がある。測定された透過率を
試料，基準及び暗信号期間の平均信号レベルとして
　
　以上の記載事項（１）〜（３）を総合すると，上記刊行物には，以下の発明が記載されていると認められる。　　
　
「放射線源Ｓから出た放射線を鏡Ｍ１で反射させ，測定室ＭＣ内の試料セルを通る通路ＳＢに沿つて進ませ，この通路ＳＢに沿つて進む放射線は更に２個の鏡Ｍ２とＭ３で反射されて回転しているセクターミラー組立体Ｍ４に向かい，このセクターミラー組立体Ｍ４は通路ＳＢに沿つて進む放射線を交番的に透過させて鏡Ｍ８上に落し，鏡Ｍ８で反射させるものであり，
　放射線源Ｓから出た放射線は別に鏡Ｍ５で反射させられてこれまた測定室ＭＣ内にある基準セルＲＣを通る第２の通路ＲＢに沿つて進み，この第２の通路ＲＢに沿つて進む放射線は更に２個の反射器Ｍ６及びＭ７で反射させられて回転しているセクターミラー組立体Ｍ４に向かい，このセクターミラー組立体Ｍ４は第２の通路ＲＢに沿つて進む放射線を交番的に反射させて鏡Ｍ８上に落し，鏡８で反射させるものであり，
　斯くしてセクターミラー組立体Ｍ４で第１の通路ＳＢに沿つて進んできた放射線のパルスとその間に挾まれた第２の通路に沿つて進んできた放射線のパルスとを含む合成放射線ビームＣＢが形成され，
　回転自在のセクターミラーＭ４は順次に放射線を透過するセクタと放射線を吸収するセクタと放射線を反射するセクタと放射線を吸収するセクタとをシリーズに並べたものを具え，このため複合放射線ビームＣＢでは第１の通路ＳＢに沿つて進んできた放射線のパルスと第２の通路ＲＢに沿つて進んできた放射線のパルスとが交互に繰り返され，それらのパルス同士の間に放射線源から放射線が届かない期間が挾まつているものであり，
　複合放射線ビームＣＢは鏡Ｍ８で反射させられてモノクロメーターＭＯの入射スリツトＳＬ１に入射し，モノクロメーターＭＯは入射スリツトＳＬ１，凹面鏡Ｍ９，回折格子Ｇ及び射出スリツトＳＬ２を具え，入射スリツトＳＬ１にある帯域幅の広い放射線から波長帯の狭い放射線を選択するのに利用され，射出スリツトＳＬ２から取り出された狭帯域の放射線は鏡Ｍ１０で反射して検出器Ｄに入射し，
　検出器Ｄの出力信号は信号処理装置ＰＣを経て表示器Ｉに供給される分光光度計において，
　試料の透過率を測定するために試料を測定室ＭＣ内に入れ，試料ビームを通過させ，信号処理装置ＰＣで以つて試料セルＳＣから現われる放射線の大きさの基準セルＲＣから現われる放射線の大きさに対する比を求めるものであり，
　試料セルを通過し，検出器に入射する放射線による信号だけを取り出すためには試料信号から暗信号を差し引き，同様に透過率を求める前に基準信号から暗信号を差し引くものであり，
　期間Ｔｂにおいて波形ｇとして示す試料―暗信号の計算された値は第１の暗信号期間ではＳａ−（Ｄ１ａ＋Ｄ２ａ）／２であり，基準信号期間及び第２の暗信号期間ではＳａ−（Ｄ２ａ＋Ｄ１ｂ）／２であり，試料信号期間ではＳａ−（Ｄ１ｂ＋Ｄ２ｂ）／２であり，それ故期間Ｔｂに亘る平均値は
　［Ｓａ−（Ｄ１ａ＋Ｄ２ａ）／２＋２〔Ｓａ−（Ｄ２ａ＋Ｄ１ｂ）／２〕＋Ｓａ−（Ｄ１ｂ＋Ｄ２ｂ）／２］／４
　＝Ｓａ−（３／４）・（Ｄ１ｂ＋Ｄ２ａ）／２−（１／４）・（Ｄ１ａ＋Ｄ２ｂ）／２
に等しく，斯くして暗信号レベルは試料信号期間の両側の暗信号期間における暗信号レベルの平均に，試料信号期間から次に遠い暗信号レベルに因る付加的成分も１／３の重みで付加されるものであり，
　良好な雑音波特性を得るにはできるだけ長時間に亘つて，それもできれば基準信号期間又は試料信号期間の全体に亘つて，信号の瞬時値を確定するのではなく，平均レベルをとる必要があり，測定された透過率を試料，基準及び暗信号期間の平均信号レベルとするものである，
　バツクグラウンド放射線のレベル変動が測定に及ぼす影響を軽減した分光光度計。」（以下「引用発明」という）　
　
４　対比
　本願発明と引用発明とを対比する。
　
（１）引用発明の「通路ＳＢ」，「通路ＲＢ」及び「セクターミラーＭ４」は，それぞれ，本願発明の「試料側光路」，「参照側光路」及び「光路切替手段」に相当する。そして，引用発明の「セクターミラーＭ４」は「順次に放射線を透過するセクタと放射線を吸収するセクタと放射線を反射するセクタと放射線を吸収するセクタとをシリーズに並べたものを具え，このため複合放射線ビームＣＢでは第１の通路ＳＢに沿つて進んできた放射線のパルスと第２の通路ＲＢに沿つて進んできた放射線のパルスとが交互に繰り返され，それらのパルス同士の間に放射線源から放射線が届かない期間が挾まつているもの」であるから，引用発明の「セクターミラーＭ４」と，本願発明の「測定光を試料側光路と参照側光路とに交互に振り分けるとともにその交互の振り分けの１サイクル中の一部期間で測定光を遮蔽する光路切替手段」とは，「試料側光路と参照側光路とを交互に選択するとともにその交互の選択の１サイクル中の一部期間で測定光を遮蔽する光路切替手段」の点で共通する。
　
（２）引用発明は「試料セルを通る通路ＳＢに沿つて」「進む放射線」と「基準セルＲＣを通る第２の通路ＲＢに沿つて」「進む放射線」「とを含む合成放射線ビームＣＢ」が「モノクロメーターＭＯの入射スリツトＳＬ１に入射し」「射出スリツトＳＬ２から取り出された狭帯域の放射線」が「検出器Ｄに入射する」分光光度計であるから，引用発明の「検出器Ｄ」は，本願発明の「前記試料側光路中に配設された被測定試料を通過した光と前記参照側光路中に配設された参照試料を通過した光とを検出する光検出器」に相当し，引用発明の「分光光度計」は「ダブルビーム方式の分光光度計」に相当する。　　
　
（３）本願発明の「ノイズ低減処理」は，本願の発明の詳細な説明の段落【００１１】を参酌すると，「積算処理や平均化処理…などのデジタルフィルタ処理、或いは、回路上で積算（積分）などを行うアナログフィルタ処理」に相当するから，引用発明の「平均レベル信号とする」ことは，「積算処理や平均化処理」または「積算（積分）」に相当し，本願発明の「ノイズ低減処理」に相当する。
　したがって，引用発明の「良好な雑音波特性を得るにはできるだけ長時間に亘つて，それもできれば基準信号期間又は試料信号期間の全体に亘つて，信号の瞬時値を確定するのではなく，平均レベルをとる必要があり，測定された透過率を試料，基準及び暗信号期間の平均信号レベルとする」ことが，本願発明の「試料側光束に対して得られる試料側測定信号及び参照側光束に対して得られる参照側測定信号をそれぞれノイズ低減処理」し，「測定光が遮蔽された期間に得られる暗信号をノイズ低減処理する」ことに相当する。
　そして，引用発明の「期間Ｔｂにおいて波形ｇとして示す試料―暗信号の計算された値は第１の暗信号期間ではＳａ−（Ｄ１ａ＋Ｄ２ａ）／２であり，基準信号期間及び第２の暗信号期間ではＳａ−（Ｄ２ａ＋Ｄ１ｂ）／２であり，試料信号期間ではＳａ−（Ｄ１ｂ＋Ｄ２ｂ）／２であり，それ故期間Ｔｂに亘る平均値は
　［Ｓａ−（Ｄ１ａ＋Ｄ２ａ）／２＋２〔Ｓａ−（Ｄ２ａ＋Ｄ１ｂ）／２〕＋Ｓａ−（Ｄ１ｂ＋Ｄ２ｂ）／２］／４
　＝Ｓａ−（３／４）・（Ｄ１ｂ＋Ｄ２ａ）／２−（１／４）・（Ｄ１ａ＋Ｄ２ｂ）／２
に等しく，斯くして暗信号レベルは試料信号期間の両側の暗信号期間における暗信号レベルの平均に，試料信号期間から次に遠い暗信号レベルに因る付加的成分も１／３の重みで付加されるもの」は，Ｄ１ａ，Ｄ２ａ，Ｄ１ｂ，Ｄ２ｂの２サイクルに亘って平均レベルをとっており，１サイクル内で平均をとる基準信号期間又は試料信号期間に比べて，長いサイクルに亘って暗信号の平均レベルをとっているものである。
　ここで，引用発明は，バックグラウンド放射線のレベル変動が測定に及ぼす影響を軽減したものであり，その一例として，刊行物の第１０図及びそれに対応する発明の詳細な説明には「ドリフト」に関して記載されているが，１サイクル内での暗信号期間の平均レベルをとりノイズ低減処理したものを，さらにその２サイクルの平均をとれば，重ねて暗信号のノイズ低減処理がされ得ることは当業者に自明の事項というべきである。
　したがって，引用発明は，本願発明の「試料側光束に対して得られる試料側測定信号及び参照側光束に対して得られる参照側測定信号をそれぞれノイズ低減処理するサイクルよりも長いサイクルに亘って，測定光が遮蔽された期間に得られる暗信号をノイズ低減処理するノイズ低減処理手段」に相当する手段を備えるものといえる。　
　
（４）引用発明の「試料セルを通過し，検出器に入射する放射線による信号だけを取り出すためには試料信号から暗信号を差し引き，同様に透過率を求める前に基準信号から暗信号を差し引くもの」は，これらの処理は信号処理装置ＰＣで行われることは自明であって，また，「透過率を求める」ことと「吸収を求める」こととは同義であるから，本願発明の「ノイズ低減処理された，試料側測定信号と暗信号，及び，参照側測定信号と暗信号，によりそれぞれ暗信号の影響を除去し，被測定試料による吸収を求める吸光演算手段」に相当する。
　
　してみると，本願発明と引用発明とは　　　
「１サイクル中の一部期間で測定光を遮蔽する光路切替手段と，前記試料側光路中に配設された被測定試料を通過した光と前記参照側光路中に配設された参照試料を通過した光とを検出する光検出器と，を具備するダブルビーム方式の分光光度計において，
　試料側光束に対して得られる試料側測定信号及び参照側光束に対して得られる参照側測定信号をそれぞれノイズ低減処理するサイクルよりも長いサイクルに亘って，測定光が遮蔽された期間に得られる暗信号をノイズ低減処理するノイズ低減処理手段と，
　ノイズ低減処理された，試料側測定信号と暗信号，及び，参照側測定信号と暗信号，によりそれぞれ暗信号の影響を除去し，被測定試料による吸収を求める吸光演算手段と，
　を備える分光光度計。」　　
である点で一致し，次の点で相違する。　　
　
（相違点）　　
　光路切替手段が，本願発明では「測定光を試料側光路と参照側光路とに交互に振り分ける」ものであるのに対し，引用発明ではそのようなものではない点。
　
５　判断　　
（１）相違点について　　
　光路切替手段たるセクターミラーが，測定光を試料側光路と参照側光路とに交互に振り分ける分光光度計は，例えば，原査定の拒絶の理由に引用された特開２００２−１６２２９４号公報（「【０００２】【従来の技術】例えばダブルビーム型の紫外可視分光光度計では，光源から発した光を分光器に導入して特定波長の単色光を取り出し，この単色光を回転するセクタ鏡などにより試料側光束及び参照側光束の２光束に交互に振り分ける。各光束はそれぞれ試料セル及び参照セルを通過したあとに１つの光検出器に入射され、そこで光電変換されて、試料側光束信号ｓ及び参照側光束信号ｒとして取り出される。セクタ鏡には、回転に伴って試料側光束及び参照側光束の一部期間をそれぞれ遮光する遮光部が設けられており、この個所に対応した光検出器出力が試料側暗信号ｚｓ及び参照側暗信号ｚｒとなる。」）に開示されているように周知技術である。
　そして，試料セルを通過したビームと基準セルを通過したビームとを交互に選択するために光路切替手段たるセクターミラーを，引用発明のように通路ＳＢ，ＲＢにおける試料セル及び基準セルの下流側に設けるか，上記周知技術のように試料セル及び基準セルの上流側に設けるかは，光学系の設計の際に当業者が適宜選択し得る事項というべきであり，上記周知技術を適用して本願発明の相違点に係る構成とすることは当業者が容易になし得たというべきである。
　
（２）効果について　　
　上記相違点により本願発明の奏する効果は，刊行物の記載及び周知技術から，当業者が予測できる範囲のものであり，格別顕著なものとはいえない。　
６　むすび　　
　したがって，本願発明は，引用発明及び周知技術に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから，特許法２９条２項の規定により特許を受けることができないから，その余の請求項に係る発明について言及するまでもなく，本願は拒絶されるべきものである。　　
　よって，結論のとおり審決する。