【事件の表示】
　特許第３１４８００１号「フリンジスキャニング干渉測定方式による波面の位相つなぎ方法」の請求項１に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第３１４８００１号の請求項１に係る特許を維持する。
【理　由】
【１】（本件特許請求の範囲）
　本件特許第３１４８００１号（平成４年６月５日出願、平成１３年１月１２日設定登録。）の特許請求の範囲の請求項１には、次のとおりに記載されている。
「【請求項１】　フリンジスキャニング干渉測定方式により、測定光と参照光とをエリアセンサー上で干渉せしめ、参照光の位相を段階的に変化させ、その各段階での干渉縞の強度値を読み取り、そのデータに基づき演算処理を行って各点での位相を求める方法において、求めた位相データ領域を一方向でスキャンし、各スキャニングライン毎に位相データが連続して存在する連続位相領域中で位相つなぎを行う第一ステップと、前記方向と直交する方向で前記連続位相領域同士の位相つなぎを行う第二ステップとにより、連続的な位相分布を求めること特徴とする位相つなぎ方法。」
【２】（申立ての理由の概要）
　特許異議申立人　富士写真光機株式会社は、
［１］本件特許明細書の特許請求の範囲の記載中、「連続位相領域」なる用語は「位相データが連続して存在する」とのみ定義されており、連続して存在するとはいかなる場合を特定しているのか明らかでなく、請求項１には、発明の構成に欠くことの出来ない事項のみを記載しているとはいえない。したがって本件の特許請求の範囲の記載は、特許法第３６条第５項第２号に規定する要件を満たしていない故、特許を取り消すべき旨主張している。
［２］証拠として甲第１号証（特開平３−２１８４３１号公報）を提出し、本件発明の請求項１に係る特許は特許法第２９条第１項第３号の規定に違反してなされたものであるから、特許を取り消すべき旨主張している。
【３】（甲号証記載の発明）  
　甲第１号証には、次の事項が記載されている。
（イ）「（１）フリンジスキャニング干渉測定方式により、測定光と参照光とをエリアセンサー上で干渉せしめ、参照光の位相をＮ段階に変調させ、その各段階での干渉縞のパターンを読取り、そのデータに基づき、演算処理を行って波面形状Ｗ（Ｘ、Ｙ）を測定するにあたり、・・・」（公報１頁左下欄６行〜１１行）
（ロ）「フリンジスキャニング干渉測定方式は、参照光による位相変調により物体光と参照光との位相をＮ段階に変化させ、その各段階での干渉縞パターンを２次元エリアセンサーで読取り、光電変換し、デジタル化して
Ｗ（ｘ、ｙ）＝１/２ｋ・ｔａｎΣＩｊ（ｘ、ｙ）ｓｉｎ２ｋｌｊ/ΣＩｊ（ｘ、ｙ）ｃｏｓ２ｋｌｊ・・・・・〔１〕
により、波面形状Ｗ（Ｘ、Ｙ）を求める方法として知られている。ただし、〔１〕式において
Ｉｊ（ｘ、ｙ）はｊ断目の位相変調における干渉縞パターンの（ｘ、ｙ）位置における光強度でありｋはλを光の波長とするときの波数２π/λである。また、ｌｊ＝ｊλ/２πでｊ断目の位相変調量である。」（１頁右下欄２行〜下から４行）
（ハ）第８図に示すように、まず位相データＷｄ（Ｘ、Ｙ）をｘ方向にスキャンし、隣合う２点（Ｘｉ−1、Ｙ）、（Ｘｉ、Ｙ）間の位相差
｜ΔＷｄ（Ｘｉ、Ｙ）｜
＝｜Ｗｄ（Ｘｉ、Ｙ）−Ｗｄ（Ｘｉ−1、Ｙ）・・・〔２〕
が、あるしきい値θｔより大きい場合は位相飛びがあると判定し、
｜ΔＷｄ（Ｘｉ、Ｙ）｜＞θｔ
かつ；｜ΔＷｄ（Ｘｉ、Ｙ）｜＞０なら
Ｗｄ（Ｘｉ、Ｙ）からπを差し引き、
｜ΔＷｄ（Ｘｉ、Ｙ）｜＞θｔ
かつΔＷｄ（Ｘｉ、Ｙ）＜０なら
Ｗｄ（Ｘｉ、Ｙ）にπを加える。
　これをＸ方向の各スキャニングラインについて行う。」（２頁左上欄９行〜右上欄３行）
（ニ）「同様にＹ方向の隣合う２点（Ｘ、Ｙｊ−1）、（Ｘ、Ｙｊ）間について
｜ΔＷｄ（Ｘ、Ｙｊ）｜＞θｔ
かつ；ΔＷｄ（Ｘ、Ｙｊ）＞０なら
Ｗｄ（Ｘ、Ｙｊ）からπを差し引き、
｜ΔＷｄ（Ｘ、Ｙｊ）｜＞θｔ
かつΔＷｄ（Ｘ、Ｙｊ）＜０なら
Ｗｄ（Ｘ、Ｙｊ）にπを加える。
これをＹ方向の各スキャニングラインについて行う。」（２頁右上欄３行〜１２行）
（ホ）「以上の操作を反復して行い、まずＸ方向で位相をつないで、次にＹ方向で位相をつなぎ、最終的に２次元的に隣合うどの２点の画素間の位相差もθｔより小さくなるようにするという方法をとっていた。」（２頁右上欄１３行〜１７行）
（ヘ）「第１図は本発明をフローチャートで示したものである。
　まず、前記の〔１〕式によって求められた位相データをＸ方向にスキャンして各画素（Ｘｉ、Ｙｊ）における補正値σｘ（Ｘｉ、Ｙｊ）をＸ＝Ｘｃのライン上での値を基準として求める。」（２頁右下欄２行〜７行）
（ト）「次に、Ｘ＝Ｘｃのライン上でＹ方向の補正値σｙ（Ｘｃ、Ｙｊ）をＹ＝Ｙｃでの値を基準として求める。
　最後に上記の如く求められた補正値σｘ（Ｘｉ、Ｙｊ）、σｙ（Ｘｃ、Ｙｊ）を各画素点（Ｘｉ、Ｙｊ）での位相データに加え合わせて連続的な位相分布を得る。」（２頁右下欄８行〜１４行）
【４】（当審の判断）
［１］特許法第３６条第５項第２号の規定に違反しているとの主張について
　異議申立人は、特許異議申立書中において、
「本願明細書の特許請求の範囲の請求項１における「連続位相領域」なる用語は、・・・「位相データが連続して存在する」とのみ定義されており、連続して存在するとはいかなる場合を特定しているのか明らかでないので、特許を受けようとする発明が不明確であり、特許請求の範囲に発明の構成に欠くことができない事項のみを記載しているとはいえない」と主張しているので、該主張について検討する。
　本件特許明細書中には、この点に関して次のように記載されている。
（１）「【０００５】従来知られている位相分布の求め方としては、特開平３−２１８４３１号公報に開示された技術がある。」
（２）「【０００６】【発明が解決しようとする課題】ところが、上述の従来技術においては、一方向でのスキャニングライン上の前後２点間での位相のみから位相飛びを判定していたため、前の画素の位相データが欠落している場合には位相飛びを判定することができず、位相つなぎが不連続になるという問題点があった。」
（３）「【０００７】本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、干渉縞パターン中にゴミや欠陥が存在して、一部の位相データが欠落しても連続的な位相分布を得ることのできる位相つなぎ方法を提供することを目的とする。」
（４）「【０００８】【課題を解決するための手段】上記目的を達成するために本発明の位相つなぎ方法では、フリンジスキャニング干渉測定方式により、測定光と参照光とをエリアセンサー上で干渉せしめ、参照光の位相を段階的に変化させ、その各段階での干渉縞の強度値を読み取り、そのデータに基づき演算処理を行って各点での位相を求める方法において、求めた位相データ領域を一方向でスキャンし、各スキャニングライン毎に位相データが連続して存在する連続位相領域中で位相つなぎを行う第一ステップ・・・」。
　上記記載（２）、（３）から、従来技術では、干渉縞パターン中にゴミや欠陥が存在して一部の位相データが欠落すると連続的な位相分布が得られなかったことが読みとれ、このことを言い換えれば、従来技術においても、仮に位相データに欠陥がなければ連続的な位相分布が得られるものであるところ、通常は、干渉縞パターン中にゴミや欠陥が存在して、一部の位相データが欠落するものであるが、本件発明は、一部の位相データが欠落しても連続的な位相分布を得ることのできるようにしたものである、と解することができる。
　そして、上記記載（４）に依れば、連続位相領域中では「位相データが連続して存在する」のであるから、結局「位相データが連続して存在する」とは、干渉縞パターン中の一部領域にゴミや欠陥が存在せず、位相データに欠落がないことを意味し、そのような領域を「連続位相領域」と呼ぶと解するのが自然である。
　そうすると、異議申立人の主張するように「連続して存在するとはいかなる場合を特定しているのか明らかでないので、特許を受けようとする発明が不明確であ」るとは言えないことになり、異議申立人の主張は採用し得ない。
　なお、異議申立人は、特許異議申立書中において、「上述したような仮定の上にたった場合、欠陥（位相データ）存在の有無を判別するためのステップが構成要件となると考えられ、この場合には、判別のための具体的手法、例えば閾値レベルをどの程度にすればよいのかを、明細書の発明の詳細な説明中に記載しなければ当業者がこの発明を容易に実施することは困難でありますから、特許法第３６条第４項の要件を満足しているとはいえない」と主張しているので、該主張について検討する。
　本件発明は、位相データ領域中に連続位相領域が存在することを前提としているが、それが存在することは、干渉縞パターン中のゴミや欠陥が干渉縞パターンの全面を覆うことはなく、通常部分的に存在するものであることから明白である。そして、干渉縞パターン中のゴミや欠陥を検出するための具体的手法は、検出対象のサイズ等に応じて当業者が周知技術の内から適宜に選択し得る事項であるから、判別のための手法が詳細な説明中に記載がないからといって、当業者が容易に実施し得ないとすることはできない。
　
　
［２］特許法第２９条第１項第３号の規定に違反しているとの主張について
（本件発明）
［１］で述べたように、本件特許請求の範囲の請求項１に記載された事項が特許法第３６条第５項第２号の規定に違反しているとは言えないのであるから、本件特許請求の範囲の請求項１に係る発明は、本件特許明細書及び図面の記載からみて、その特許請求の範囲の請求項１に記載されたとおりのものと認める（以下、「本件発明」という）。
　そこで、異議申立人の提出した甲第１号証に、本件発明の構成要件である、
「各スキャニングライン毎に位相データが連続して存在する連続位相領域中で位相つなぎを行う第一ステップ」、かつ、「前記方向と直交する方向で前記連続位相領域同士の位相つなぎを行う第二ステップ」について記載されて否かについて検討する。
　異議申立人の提出した甲第１号証は、【３】（ハ）に記載されているように、「位相データＷｄ（Ｘ、Ｙ）をｘ方向にスキャンし、隣合う２点（Ｘｉ−1、Ｙ）、（Ｘｉ、Ｙ）間の位相差
｜ΔＷｄ（Ｘｉ、Ｙ）｜
＝｜Ｗｄ（Ｘｉ、Ｙ）−Ｗｄ（Ｘｉ−1、Ｙ）・・・〔２〕
が、あるしきい値θｔより大きい場合は位相飛びがあると判定し」ているが、【４】［１］（１）〜（３）で従来技術（すなわち、甲第１号証に相当する）について言及した記載内容から明らかなように、この場合のスキャンする範囲である干渉縞パターン中に、全くゴミや欠陥が存在しないと想定するのは不自然であり、通常は「ゴミや欠陥が存在して、一部の位相データが欠落」していると考えられるものである。
　そして、甲第１号証中には、干渉縞パターン中、ゴミや欠陥が存在する領域を見分ける何らかの手段やステップの記載が一切見いだせない以上、甲第１号証においては、干渉縞パターン中にゴミや欠陥が存在するか否かを調べることなしにスキャンしているものと解され、したがって、干渉縞パターンのスキャンする範囲中にゴミや欠陥が存在しないとは言えない。
　そうすると、甲第１号証におけるスキャンする範囲は「位相データが連続して存在する連続位相領域」とは言えないことになるから、甲第１号証のものは、「連続位相領域中で位相つなぎを行う」ものであるとは言えない。
　そして、上記構成により、本件発明は、「ゴミや欠陥の存在する干渉縞や、形状的に穴が空いている被検物の干渉縞にも適用が可能であり、しかも、測定精度を向上することができる」という、明細書に記載の効果を奏するものと認められる。
　したがって、本件発明が甲第１号証のものと同一であるとすることはできない。
　なお、異議申立人は、参考文献として「APPLIED OPTICS/Vol.22,No.23/1 December 1983」を提出しているが、該参考文献中にも、本件発明の上記構成要件について記載されていない。
【５】（むすび）
　以上のとおりであるから、特許異議申立人の主張する理由および提出した証拠方法によっては本件発明の特許を取り消すことはできない。
　また、他に本件発明の特許を取り消すべき理由を発見しない。
 　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１５年３月１１日（２００３．３．１１）