【事件の表示】
　特許第３３４５２４７号「積層二軸配向ポリエステルフイルム」の請求項１ないし１１に係る特許に対する特許異議の申立てについて、次のとおり決定する。
【結　論】
　特許第３３４５２４７号の請求項１ないし１１に係る特許を維持する。
【理　由】
１．手続の経緯
　本件特許３３４５２４７号は、平成８年１月２６日に特許出願され、平成１４年８月３０日にその特許権の設定の登録がされ（請求項の数１１）、その後、特許異議申立人 東レ株式会社（以下「申立人」という。）から特許異議の申立てがされたものである。
　
２．本件発明
　本件特許の請求項１〜１１に係る発明（以下、それぞれ「本件発明１」〜「本件発明１１」という。）は、それぞれ、明細書の特許請求の範囲の請求項１〜１１に記載されるとおりの以下のものと認める。
「【請求項１】　ポリエステル層Ｂの片面に滑剤粒子Ｉ，IIを含有するポリエステル層Ａが積層されている積層二軸配向ポリエステルフイルムであって、ポリエステル層Ａの表面の中心面平均粗さＷＲａAが２〜１５ｎｍであり、前記滑剤粒子Ｉ，IIの凝集率がそれぞれ０（％）より大きく２０％未満であり、該粒子Ｉの平均粒径が０．３〜１．０μｍでかつ含有量が０．００５重量％以上０．１重量％未満であり、さらに該粒子IIの平均粒径が下記式（１）を満足しかつ含有量が０．１重量％以上１．０重量％未満であることを特徴とする積層二軸配向ポリエステルフイルム。
　　　　１＜ｄＩ／ｄII≦１０　　　…（１）
ここで、ｄＩは滑剤粒子Ｉの平均粒径、ｄIIは滑剤粒子IIの平均粒径である。
【請求項２】　滑剤粒子Ｉ，IIの凝集度がそれぞれ３％以上１５％以下である請求項１に記載の積層二軸配向ポリエステルフイルム。
【請求項３】　滑剤粒子Ｉの平均粒径が０．４〜０．８μｍでかつ含有量が０．００８〜０．８重量％である請求項１又は２に記載の積層二軸配向ポリエステルフイルム。
【請求項４】　滑剤粒子IIの平均粒径が下記式（２）を満足しかつ含有量が０．２〜０．５重量％である請求項１又は２に記載の積層二軸配向ポリエステルフイルム。
　　　　２≦ｄＩ／ｄII≦８　　　　…（２）
　ここで、ｄＩは滑剤粒子Ｉの平均粒径、ｄIIは滑剤粒子IIの平均粒径である。
【請求項５】　滑剤粒子Ｉ，IIがそれぞれ耐熱性高分子粒子および球状シリカ粒子から選ばれる少なくとも一種である請求項１〜４のいずれかに記載の積層二軸配向ポリエステルフイルム。
【請求項６】　ポリエステル層Ｂの表面の中心面平均粗さＷＲａBが０．１〜８ｎｍである請求項１に記載の積層二軸配向ポリエステルフイルム。
【請求項７】　積層フイルムの全体厚みが２〜１０μｍである請求項１に記載の積層二軸配向ポリエステルフイルム。
【請求項８】　ポリエステル層Ａの厚みが０．５〜２μｍである請求項７に記載の積層二軸配向ポリエステルフイルム。
【請求項９】　積層フイルムの長手方向及び幅方向のヤング率がそれぞれ４００〜２０００ｋｇ／ｍｍ２である請求項１に記載の積層二軸配向ポリエステルフイルム。
【請求項１０】　請求項１に記載の積層二軸配向ポリエステルフイルムをベースフイルムとする磁気記録媒体。
【請求項１１】　デジタル記録用磁気テープである請求項１０に記載の磁気記録媒体。」
（当審注：　請求項１及び４に記載された式（１）、（２）における「ｄＩ／ｄII」は、本件明細書中では、縦表示である。）
　
３．特許異議の申立て理由の概要
　申立人は、証拠方法として以下の甲第１〜４号証を提出して、以下の理由１〜３により、本件特許は、取り消されるべきものである旨を主張している。
　
理由１：　本件発明１〜３、５〜７、９〜１１は、甲第１号証に記載された発明であるから、これらの発明に係る特許は、特許法第２９条第１項第３号の規定に違反してされたものであり、特許法第１１３条第２号の規定に該当し、これを取り消すべきものである。
理由２：　本件発明１〜１１は、甲第１号証に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、これらの発明に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものであり、特許法第１１３条第２号の規定に該当し、これを取り消すべきものである。
理由３：　本件発明１〜１１は、甲第１、３及び４号証に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、これらの発明に係る特許は、特許法第２９条第２項の規定に違反してされたものであり、特許法第１１３条第２号の規定に該当し、これを取り消すべきものである。
　
証拠方法：
甲第１号証：　特開平７−２７２２５号公報
甲第２号証：　東レ株式会社・田中和典が作成した平成１４年１２月９日付けの実験報告書
甲第３号証：　特開平７−８８９５３号公報
甲第４号証：　特開平５−３２９９９７号公報
　
４．甲号各証の記載
　甲第１号証には、以下の記載がある。
ア：　「【請求項１】　ポリエステルからなる基層（Ｂ層）の少なくとも片面に、粒子を含有するポリエステル組成物からなる層（Ａ層）を積層してなるフイルムに磁性層を設けたテープであって、該フィルムのＡ層表面の縦方向の表面ピークカウントＰｃ１と横方向の表面ピークカウントＰｃ２の差、Ｐｃ２−Ｐｃ１が１０〜１５０個／ｍｍ、該積層厚さｔと磁性層の厚さｔｍとｔの比、ｔｍ／ｔが０．５〜５０、かつ、テープの縦方向のヤング率が５００〜２０００ｋｇ／ｍｍ２であることを特徴とするデータカートリッジテープ。
【請求項２】　Ａ層表面の縦方向の表面粗さＲａ１と横方向の表面粗さＲａ２の差、Ｒａ２−Ｒａ１が１〜１０ｎｍの範囲である請求項１記載のデータカートリッジテープ。
【請求項３】　Ａ層に含有する粒子の平均粒径ｄと積層厚さｔの比、ｔ／ｄが０．１〜１０の範囲である請求項１または２記載のデータカートリッジテープ。」（特許請求の範囲の請求項１〜３）
イ：　「ポリエステル層に含有せしめる粒子は特に限定されず、無機粒子でも有機粒子でもいずれでも構わないが、粉発生の点からは酸化タングステン、炭酸カルシウム、アルミナ、シリカ等の無機粒子や、ポリジビニルベンゼン、不飽和ポリエステル等の架橋高分子からなる有機粒子が望ましい。また、その含有量は、積層部全体に対して０．０５〜５重量％、特に、０．０７〜３重量％の場合に粉発生が一層良好となるので望ましい。ここで粒子の種類、径は２種類以上でもよいが、その総量が上記範囲であるのが望ましい。含有する粒子の平均粒径（直径）は、特に限定されるものではないが、０．０５〜２μｍ、特に、０．０７〜１．５μｍ、さらに、０．１〜１μｍの場合に、粉発生がより一層良好となるので望ましい。」（段落０００８）
ウ：　「（１）粒子の平均粒径
　フィルムからポリエステルをプラズマ低温灰化処理法（たとえばヤマト科学製ＰＲ−５０３型）で除去し粒子を露出させる。処理条件はポリエステルは灰化されるが粒子はダメージを受けない条件を選択する。これをＳＥＭ（走査型電子顕微鏡）で観察し、粒子の画像（粒子によってできる光の濃淡）をイメージアナライザー（たとえばケンブリッジインストルメント製ＱＴＭ９００）に結び付け、観察箇所を変えて粒子数５０００個以上で求めた面積平均径ｄを平均粒径とする。」（段落００２７）
エ：　「（６）中心線平均表面粗さＲａ
　小坂研究所製の高精度薄膜段差測定器ＥＴ−１０を用いて測定した。条件は下記のとおりであり、２０回の測定の平均値をもって値とした。
　　・触針先端半径：０．５μｍ
　　・触針荷重　　：５ｍｇ
　　・測定長　　　：１ｍｍ
　　・カットオフ値：０．０８ｍｍ
なお、Ｒａの定義は、たとえば、奈良治郎著「表面粗さの測定・評価法」（総合技術センター、１９８３）に示されているものである。」（段落００３４〜００３５）
オ：　「実施例１〜５、比較例１〜５
　二軸スクリューを有するベント式混練機を用いて、粒径の異なるいつかの種類の粒子をポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリエチレンー２，６ーナフタレート（ＰＥＮ）に所定量添加したポリマを製造した。また、常法によって、実質的に粒子を含有しないＰＥＴ、ＰＥＮを製造した。これらのチップを適宜混合し、基層部（ポリエステルＢ）と積層部用のポリマ（ポリエステルＡ）を調整した。これらのポリマをそれぞれ１８０℃で３時間減圧乾燥（３Torr）し、それぞれを２台の押出機に供給し２９０℃で溶融し、これらのポリマを、２または３層用の矩形の合流ブロック（フィードブロック）で合流積層し、静電印加キャスト法を用いて表面温度３０℃のキャスティング・ドラムに巻きつけて冷却固化し、２〜３層構造の未延伸フィルムを作った。この時、それぞれの押出機の吐出量を調節し総厚さ、ポリエステルＡ層の厚さを調節した。この未延伸フイルムを温度８０℃にて長手方向に４．５倍延伸した。この延伸は２組のロ−ルの周速差で行なった。この一軸延伸フイルムをステンタを用いて延伸速度５０００％／分で１００℃で幅方向に４．０倍延伸し、定長下で、２００℃にて５秒間熱処理し二軸配向積層ポリエステルフィルムを得た。
　このフィルムに、下記組成の磁性塗料をグラビヤロールにより塗布し、磁気配向させ、乾燥させる。さらに、小型テストカレンダ−装置（スチ−ルロール／ナイロンロール、５段）で、温度：７０℃、線圧：２００ｋｇ／ｃｍでカレンダ−処理した後、７０℃、４８時間キュアリングする。上記テ−プを６．３ｍｍ、８ｍｍにスリットし、カートリッジに組み込みカートリッジテープとした。…これらのカートリッジテープの本発明のパラメータ、性能は表１〜３に示したとおりであり、本発明のパラメータが範囲内の場合は、粉発生に優れたものである」（段落００４５〜００４７）
カ：　「表１」において、「実施例２」として、カートリッジテープの「ベースフィルム」が「積層部Ａ」と「基層部Ｂ」から成り、「積層部Ａ」について、「粒子種」、「粒径（μｍ）」及び「粒子量（重量％）」が、それぞれ、「イ」、「０．３」及び「０．６」の粒子と「イ」、「０．８」及び「０．０５」の粒子とを配合した「ポリマ」が「ＰＥＴ」であること、並びに、「基層部Ｂ」について、「粒子種」、「粒径（μｍ）」及び「粒子量（重量％）」が、「イ」、「０．３」及び「０．１」の粒子を配合した「ポリマ」が「ＰＥＴ」であること、が記載されているものと認められる。（第７ページ）
キ：　「表１」の下部の「注）」において、「イ：架橋ポリジビニルベンゼン」と記載されている。（第７ページ）
ク：　「表２」において、「実施例２」として、カートリッジテープの「ベースフィルム」の「構成」が「Ａ／Ｂ」、「厚さ（μｍ）」が「４」、「Ｒａ１（ｎｍ）」が「１８」で、「Ｒａ２（ｎｍ）」が「２０」であることが記載されているものと認められる。（第７ページ）
　
　甲第２号証には、以下の記載がある。
ケ：　「３．実験の目的
　特開平７−２７２２５５号公報の実施例２記載の方法に基づいて追試実験を行い、特許第３３４５２４７号公報の粒子凝集率、中心面平均粗さ、ヤング率を満たす二軸配向積層ポリエステルフイルムが得られることを確認する。」（第２ページ目第１４〜１７行）
コ：　「４．実験の方法
　上記特開平７−２７２２５５号公報の実施例２の方法に従い、ポリエステルフイルムを作成した。実験方法の詳細は次のとおりである。
（１）二軸スクリューを有するベント式混練機を用いて、粒経の異なる架橋ポリジビニルベンゼン粒子をポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）に所定量添加したポリマを製造した。また、常法によって、実質的に粒子を含有しないＰＥＴを製造した。これらのチップを適宜混合し、基層部（ポリエステルＢ）と積層部用のポリマ（ポリエステルＡ）を調製した。
（２）粒子の含有量は、基層部について平均粒径０．３μｍの粒子の添加量が０．１重量％になるように調整し、積層部については平均粒径０．３μｍの粒子の添加量が０．６重量％、平均粒径０．８μｍの粒子の添加量が０．０５重量％になるようにそれぞれ調整した。なお、特許第３３４５２４７号記載の方法に従い粒径を測定したところ、それぞれの粒径は０．３μｍ、０．８μｍであった。
（３）これらのポリマをそれぞれ１８０℃で３時間減圧乾燥（３Ｔｏｒｒ）し、それぞれを２台の押出機に供給し２９０℃で溶融し、これらのポリマを２層用の矩形の合流ブロック（フィードブロック）で合流積層し、静電印可キャスト法を用いて表面温度３０℃のキャスティング・ドラムに巻きつけて冷却固化し、２層構造の未延伸フィルムを作った。この時、それぞれの押出機の吐出量を調節して総厚さ４μｍ、ポリエステルＡ層（積層部）の厚さを０．４μｍとした。
（４）この未延伸フィルムを８０℃にて長手方向に４．５倍延伸した。この延伸は２組のロールの周速差で行った。この一軸延伸フィルムをステンタを用いて延伸速度５０００％／分で１００℃で幅方向に４．０倍延伸し、定長下で、２００℃にて５秒間熱処理し二軸配向積層ポリエステルフィルムを得た。」（第２ページ目第１８行〜第３ページ目第２０行）
サ：　「５．測定方法
　上記実験で得られた、ポリエステルフィルムを特許第３３４５２４７号公報記載の方法にて測定した。」（第３ページ目第２１〜２３行）
シ：　「６．実験結果
（１）長手方向及び幅方向のヤング率の測定方法については、特許第３３４５２４７号に記載がない。一般にフィルムの引張試験方法は、ＪＩＳ−Ｋ７１２７、ＪＩＳ−Ｚ１７０２に記載されている。ＪＩＳ−Ｋ７１２７に従って測定したところ、長手方向　４６５ｋｇ／ｍｍ２、幅方向　４５０ｋｇ／ｍｍ２、ＪＩＳ−Ｚ１７０２に従って測定したところ、長手方向　４６０ｋｇ／ｍｍ２、幅方向　４５３ｋｇ／ｍｍ２であり、いずれの測定方法においてもほぼ同等の結果が得られた。
（２）得られた上記フィルムのポリエステルＡ層表面（積層部）の表面ピークカウントＰｃを特開平７−２７２２５５号公報記載の方法により測定したところ、縦方向の表面ピークカウントＰｃ１は１４０個／ｍｍであり、横方向の表面ピークカウントＰｃ２は１８４個／ｍｍ、差Ｐｃ２−Ｐｃ１は４４個／ｍｍであり、特開平７−２７２２５５号公報に記載の実施例２と同一の結果となり、完全に再現されたことを確認できた。
（３）上記実験で得られた二軸配向積層ポリエステルフイルムの各測定値は、
○１ 滑剤粒子Ｉ（平均粒径０．８μｍ）のフイルム中での凝集率は８％、滑剤粒子II（平均粒径０．３μｍ）のフイルム中での凝集率は１３％であった。
○２　中心面平均粗さは、ポリエステルＡ層（積層部）ＷＲａＡは１２．１ｎｍ、ポリエステルＢ層（基層部）ＷＲａＢは４．９ｎｍであった。」（第４ページ目第１〜１８行）
（当審注：　「○１」、「○２」は、「○」の中に数字「１」、「２」が書かれた、いわゆる丸数字を意味する。）
　
　甲第３号証には、以下の記載がある。
ス：　「【請求項１】　不活性粒子を含有する熱可塑性樹脂Ａからなるフイルムであって、該粒子の平均粒径がフイルム厚さの０．１〜１０倍であり、かつ、該粒子に起因して形成されるフイルム表面突起の高さ分布の相対標準偏差が０．６以上あることを特徴とする二軸配向熱可塑性樹脂フイルム。
【請求項２】　熱可塑性樹脂Ｂからなるフイルムの少なくとも片面に、請求項１に記載の熱可塑性樹脂Ａからなるフイルムが積層されてなることを特徴とする二軸配向熱可塑性樹脂フイルム。」（特許請求の範囲の請求項１、２）
セ：　「本発明フイルムを構成する熱可塑性樹脂としては、…特に限定されるものではないが、磁気記録媒体のベースフイルム用としては、とくにポリエステルが好ましい。ポリエステルとしては、特に限定されないが、エチレンテレフタレート、エチレンα，β−ビス（２−クロルフェノキシ）エタン−４，４’−ジカルボキシレート、エチレン２，６−ナフタレート単位から選ばれた少なくとも一種の構造単位を主要構成成分とする場合に特に好ましい。中でもエチレンテレフタレートを主要構成成分とするポリエステルの場合が特に好ましい。…
　本発明における熱可塑性樹脂Ａからなるフイルムには、不活性粒子が含有される。不活性粒子の種類としては、特に限定されず、炭酸カルシウム、α型、γ型、δ型、θ型アルミナ、ジルコニア、シリカ、チタン粒子等の無機粒子、あるいは、架橋ポリスチレン、ジビニルベンゼン、シリコーン粒子等の有機粒子から選ぶことができる。」（段落０００８〜０００９）
ソ：　「本発明においては、所望の表面突起を効率よくを形成するために、粒子の平均
粒径とフイルム厚さを所定の範囲にコントロールする必要がある。」（段落００１１）
タ：　「本発明の特性値の測定方法並びに効果の評価方法は次の通りである。
（１）粒子の平均粒径
フイルムからポリマをプラズマ低温灰化処理法で除去し、粒子を露出させる。処理条件はポリマは灰化されるが粒子は極力ダメージを受けない条件を選択する。その粒子を走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）で観察し、粒子画像をイメージアナライザで処理する。ＳＥＭの倍率はおよそ２０００〜１００００倍、また、１回の測定での視野は１辺がおよそ１０〜５０μｍから適宜選択する。観察箇所をかえて粒子数５０００個以上で粒径とその体積分率から、次式で体積平均径ｄを得る。
　　ｄ＝Σｄｉ・Ｎｖｉ
ここで、ｄｉは粒径、Ｎｖｉはその体積分率である。粒子がプラズマ低温灰化処理法で大幅にダメージを受ける場合には、以下の方法を用いても良い。フイルム断面を透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）を用い、３０００〜１０００００倍で観察する。ＴＥＭの切片厚さは約１０００オングストロームとし、場所をかえて５００視野以上測定し、上記式から体積平均径ｄを求める。」（段落００２２）
　
　甲第４号証には、以下の記載がある。
チ：　「【請求項１】　二軸配向されたポリエステルフイルムの少なくとも片面に、モース硬度が６以上であり、平均粒径ｄA が０．０２〜０．３μｍである不活性粒子Ａを０．０５〜１．５重量％含有し、かつモース硬度が３未満であり、平均粒径ｄB が０．２〜１．５μｍでかつ前記平均粒径ｄA よりも大きい不活性粒子Ｂを０．００１〜１重量％含有するポリエステルよりなり、そして層の厚みが前記不活性粒子Ｂの平均粒径ｄB の０．１〜５倍である層を積層させてなることを特徴とする積層二軸配向ポリエステルフイルム。」（特許請求の範囲の請求項１）
ツ：　「（１）粒子の平均粒径（ｄ）
　島津製作所製ＣＰ―５０型セントリフュグル　パーティクル　サイズ　アナライザー（Centrifugal Particle Size Analyzer）を用いて測定する。得られる遠心沈降曲線を基に算出した各粒径の粒子とその存在量との積算曲線から、５０マスパーセントに相当する粒径を読み取り、この値を上記平均粒径とする（Ｂｏｏｋ「粒度測定技術」日刊工業新聞発行、１９７５年、頁２４２〜２４７参照）。」（段落００５２）
テ：　「（２）フイルム表面粗さ（Ｒａ）
　中心線平均粗さ（Ｒａ）としてＪＩＳ―Ｂ０６０１で定義される値であり、本発明では（株）小坂研究所の触針式表面粗さ計（SURFCORDER SE-30C ）を用いて測定する。測定条件等は次の通りである。
（ａ）触針先端半径：２μｍ
（ｂ）測定圧力　　：３０ｍｇ
（ｃ）カットオフ　：０．０８ｍｍ
（ｄ）測定長　　　：１．０ｍｍ
（ｅ）データーのまとめ方：同一試料について５回繰返し測定し、最も大きい値を１つ除き、残り４つのデーターの平均値の少数点以下５桁目を四捨五入し、小数点以下４桁目まで表示する。」（段落００５３）
　
５．理由１について
５−１．本件発明１について
５−１−１．甲第１号証に記載された発明、及び、本件発明１との対比
　甲第１号証には、摘示ア〜ウ、オ〜クの開示、特に「実施例２」の開示から、「ポリエステルからなる基層（Ｂ層）の少なくとも片面に、ＳＥＭで観察した粒子の画像を用いて求めた面積平均径としての平均粒径が０．３μｍの架橋ポリジビニルベンゼンの粒子を０．６重量％、同じく面積平均径としての平均粒径が０．８μｍの架橋ポリジビニルベンゼンの粒子を０．０５重量％含有するポリエステル組成物からなる層（Ａ層）を積層してなる２軸配向したベースフイルム」の発明、及び、「該ベースフィルムに磁性層を設けたテープであって、該ベースフィルムのＡ層表面の縦方向の表面ピークカウントＰｃ１と横方向の表面ピークカウントＰｃ２の差、Ｐｃ２−Ｐｃ１が１０〜１５０個／ｍｍ、該積層厚さｔと磁性層の厚さｔｍとｔの比、ｔｍ／ｔが０．５〜５０、かつ、テープの縦方向のヤング率が５００〜２０００ｋｇ／ｍｍ2 であることを特徴とするデータカートリッジテープ」の発明が記載されているものと認められる。
　本件発明１（以下、「前者」という。）と甲第１号証に記載されたベースフィルムに係る発明（以下、「後者」という。）とを対比すると、後者における「面積平均径としての平均粒径が０．３μｍの架橋ポリジビニルベンゼンの粒子」及び「面積平均径としての平均粒径が０．８μｍの架橋ポリジビニルベンゼンの粒子」は、平均粒径の大小関係において、前者における「滑剤粒子II」及び「滑剤粒子Ｉ」に対応すると認められるから、
両者は、
「ポリエステル層Ｂの片面に滑剤粒子Ｉ，IIを含有するポリエステル層Ａが積層されている積層二軸配向ポリエステルフイルム」で一致するが、
ポリエステル層Ａに含有される滑剤粒子Ｉ，IIが、
前者では、「（１）粒子の平均粒径（ＤＰ）
　島津製作所製ＣＰ―５０型セントリフュグル　パーティクル　サイズ　アナライザー（Centrifugal Particle Size Analyzer）を用いて測定する。得られる遠心沈降曲線を基に算出した各粒径の粒子とその存在量との積算曲線から、５０マスパーセントに相当する粒径を読み取り、この値を上記平均粒径とする（Ｂｏｏｋ「粒度測定技術」日刊工業新聞社発行、１９７５年、頁２４２〜２４７参照）。」（本件明細書の段落００４３参照）と特定される平均粒径の値を用いて、「該粒子Ｉの平均粒径が０．８μｍでかつ含有量が０．００５重量％であり、さらに該粒子IIの平均粒径が下記式（１）を満足しかつ含有量が０．６重量％である
　　　　１＜ｄＩ／ｄII≦１０　　　…（１）
ここで、ｄＩは滑剤粒子Ｉの平均粒径、ｄIIは滑剤粒子IIの平均粒径である。」のに対して、
後者では、「（１）粒子の平均粒径
　フィルムからポリエステルをプラズマ低温灰化処理法（たとえばヤマト科学製ＰＲ−５０３型）で除去し粒子を露出させる。処理条件はポリエステルは灰化されるが粒子はダメージを受けない条件を選択する。これをＳＥＭ（走査型電子顕微鏡）で観察し、粒子の画像（粒子によってできる光の濃淡）をイメージアナライザー（たとえばケンブリッジインストルメント製ＱＴＭ９００）に結び付け、観察箇所を変えて粒子数５０００個以上で求めた面積平均径ｄを平均粒径とする。」（摘示ウ）と特定される平均粒径の値を用いて、「平均粒径が０．３μｍの架橋ポリジビニルベンゼンの粒子を０．６重量％、平均粒径が０．８μｍの架橋ポリジビニルベンゼンの粒子を０．０５重量％」である点（相違点１）、
前者では、「ポリエステル層Ａの表面の中心面平均粗さＷＲａAが２〜１５ｎｍ」であるのに対して、後者では、ポリエステル層（Ａ層）の表面の中心面平均粗さＷＲａAが特定されていない点（相違点２）、及び、
前者では、「滑剤粒子Ｉ，IIの凝集率がそれぞれ０（％）より大きく２０％未満」であるのに対して、後者では、凝集率が特定されていない点（相違点３）、で相違する。
　
５−１−２．相違点１についての検討
　まず、相違点１について検討する。
　申立人は、甲第２号証の実験報告書において、甲第１号証に記載された実施例２記載の方法に基づいて追試実験を行った（摘示ケ）結果を示して、摘示サ、シのとおり、滑剤粒子の凝集率及びフィルムの中心面平均粗さに係る先の相違点２、３は実質的な相違点でない旨を主張している。
　そこで甲第２号証に記載された実験方法を検討すると、「（２）粒子の含有量は、基層部について平均粒径０．３μｍの粒子の添加量が０．１重量％になるように調整し、積層部については平均粒径０．３μｍの粒子の添加量が０．６重量％、平均粒径０．８μｍの粒子の添加量が０．０５重量％になるようにそれぞれ調整した。なお、特許第３３４５２４７号記載の方法に従い粒径を測定したところ、それぞれの粒径は０．３μｍ、０．８μｍであった。」（摘示コ）としている。
　すなわち、申立人の主張は、後者における平均粒径の値が、前者における平均粒径の値と同一であることを前提として、前者と後者が同一である旨を主張するものである。
　しかしながら、前者における平均粒径は、原理上、粒子の質量分布から導出される値であり、後者における平均粒径は、面積平均として導出される値であると認められるから、前者における平均粒径の値と後者における平均粒径の値が、極めて特殊なケース（例えば、均一粒径の真球状粒子のみから成る場合など。）以外、異なるものであることは当業者に明らかである。加えて、前者と後者における平均粒径の値が、粒径が０．３μｍ及び０．８μｍの２点において同一となる蓋然性は極めて低いと解される。
　してみれば、前者と後者における平均粒径の値と同一であることを前提としている甲第２号証の実験報告書は、その内容を信用することができない。
　なお、さらに、甲第２号証の実験報告書については、摘示コをみても、架橋ポリビニルベンゼン粒子及びポリエチレンテレフタレートが、甲第１号証の実施例２において使用する架橋ポリビニルベンゼン粒子及びポリエチレンテレフタレートと同一のものであると認めるに足る根拠は具体的に示されておらず、また、摘示シの実験結果においては、甲第１号証の実施例２の結果として表２に具体的に記載されている「Ｒａ１（ｎｍ）」及び「Ｒａ２（ｎｍ）」（摘示ク）の測定値が示されていないことから、甲第１号証の記載の忠実な追試実験を行ったものであると認めることはできない。
　したがって、前者と後者における滑剤粒子Ｉ、IIの平均粒径と含有量に関する特定については、同一かどうかは不明である。
　よって、相違点１は、実質的な相違点である。
　
５−１−３．本件発明１についてのまとめ
　５−１−２．で述べたとおり、本件発明１と甲第１号証に記載された発明とは、少なくとも相違点１において相違するから、相違点２、３について検討するまでもなく、発明を特定するための要件において相違する。
　したがって、本件発明１は、甲第１号証に記載された発明ではない。
　
５−２．本件発明２、３、５〜７、９〜１１について
　本件発明２、３、５〜７、９〜１１は、本件発明１を特定するための要件をすべて備えて、更に、その余の事項を発明を特定するための要件として備えるものであるから、本件発明１について述べたと同様の理由により、甲第１号証に記載された発明ではない。
　
６．理由２について
６−１．本件発明１について
　本件発明１と甲第１号証に記載された発明は、５−１−１．で述べたとおり、相違点１〜３において相違する。
　そして、少なくとも相違点１については、甲第１号証にこれを示唆する記載は認められず、また、５−１−２．で述べたように、甲第２号証の実験報告書をみても、相違点１を示唆する記載は認められない。
　したがって、相違点２、３を想到することが当業者にとって容易かどうかを検討するまでもなく、本件発明１が、甲第１号証に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるということはできない。
　
６−２．本件発明２〜１１について
　本件発明２〜１１は、本件発明１を特定するための要件をすべて備えて、更に、その余の事項を発明を特定するための要件として備えるものであるから、本件発明１について述べたと同様の理由により、甲第１号証に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるということはできない。
　
７．理由３について
７−１．本件発明１について
　本件発明１と甲第１号証に記載された発明は、５−１−１．で述べたとおり、相違点１〜３において相違する。
　甲第３号証には、ポリエステルＢからなるフイルムの少なくとも片面に、不活性粒子を含有するポリエステルＡからなるフイルムが積層されて成る二軸配向ポリエステルフイルムが記載されている（摘示ス、セ）が、摘示ソから、本件発明１を特定する要件である、「遠心沈降曲線を基に算出した各粒径の粒子とその存在量との積算曲線から、５０マスパーセントに相当する粒径」として求めた特定の粒径と含有量との組合せを備える２種の粒子を採用することについては何ら記載も示唆も認められないから、甲第３号証から相違点１を想到することが当業者にとり容易であるとすることはできない。また、甲第３号証には、不活性粒子の凝集率及び積層二軸配向ポリエステルフイルムの表面の中心面平均粗さについての記載も示唆も認められない。
　また、甲第４号証には、ポリエステルフイルムの少なくとも片面に、平均粒径ｄAが０．０２〜０．３μｍである不活性粒子Ａを０．０５〜１．５重量％含有し、平均粒径が０．２〜１．５μｍでかつ前記平均粒径ｄA よりも大きい不活性粒子Ｂを０．００１〜１重量％含有するポリエステルの層を積層させて成る積層二軸配向ポリエステルフイルムが記載されている（摘示タ）が、不活性粒子の凝集率及び積層二軸配向ポリエステルフイルムの表面の中心面平均粗さについては記載も示唆も認められない。
　この点、申立人は、特許異議申立書において、先の相違点２、３に係る不活性粒子の凝集率及び積層二軸配向ポリエステルフイルムの中心面平均粗さは、所定の粒子含有条件の結果として現れる特性であり、粒子条件及びフィルム厚み条件が同一であれば、結果として同じ凝集率、中心面表面粗さが得られるから、本件発明１は、出願前公知の粒子含有条件の積層二軸配向ポリエステルフィルムについて、単にパラメータで表現したにすぎないものである旨を主張しているが、ここで主張する内容は当業者に周知の技術的事項と認めることはできず、また、この主張を裏付けるに足る技術的な根拠は何ら提示されていないから、該主張は採用しない。
　したがって、本件発明１が、甲第１、３及び４号証に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるということはできない。
　
７−２．本件発明２〜１１について
　本件発明２〜１１は、本件発明１を特定するための要件をすべて備えて、更に、その余の事項を発明を特定するための要件として備えるものであるから、本件発明１について述べたと同様の理由により、甲第１、３及び４号証に記載された発明に基いて当業者が容易に発明をすることができたものであるということはできない。
　
８．むすび
　以上のとおりであるから、特許異議の申立ての理由及び証拠によっては、請求項１〜１１に係る特許を取り消すことはできない。
　また、他に請求項１〜１１に係る特許を取り消すべき理由を発見しない。
　よって、結論のとおり決定する。
【異議決定日】
平成１６年１１月１６日（２００４．１１．１６）