(57)【要約】      （修正有）【課題】超音波探触子の表面温度を目標温度に飽和させる駆動電圧を短時間で取得し、超音波探触子の感度を安定することができる装置を提供する。【解決手段】超音波診断装置１において、予測部１３１は、第１の電圧を、駆動電圧が印加されて超音波を送受信する超音波探触子１ｂに印加したときの、周囲温度に対する当該超音波探触子の表面の飽和温度を示す飽和温度上昇値を算出する。電圧算出部１３２は、算出した第１の電圧における飽和温度上昇値と、第１の電圧の値と、周囲温度に対する超音波探触子１ｂの表面の目標温度を示す目標温度上昇値とに基づき、目標温度に飽和させるための駆動電圧の値である第２の電圧の値を算出して設定する。【選択図】図２
2018134226.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
駆動電圧が印加されて超音波を送受信する超音波探触子を備える超音波診断装置であって、
第１の電圧を前記超音波探触子に印加したときの、周囲温度に対する当該超音波探触子の表面の飽和温度を示す飽和温度上昇値を算出する飽和温度上昇値算出部と、
前記算出した前記第１の電圧における飽和温度上昇値と、当該第１の電圧の値と、前記周囲温度に対する前記超音波探触子の表面の目標温度を示す目標温度上昇値とに基づき、当該目標温度に飽和させるための駆動電圧の値である第２の電圧の値を算出して設定する電圧算出部と、を備える超音波診断装置。
【請求項２】
前記超音波探触子は、交換接続が可能であり、
前記飽和温度上昇値算出部は、超音波探触子の種類を示す探触子情報と、診断モードと、測定条件との少なくとも１つに対応する時定数を有する時定数テーブルを参照し、接続中の前記超音波探触子の探触子情報、診断モード及び測定条件に対応する時定数を取得し、当該時定数と、前記周囲温度に対する前記超音波探触子の表面の現在温度を示す現在温度上昇値と、第１の電圧印加からの所定の経過時間と、前記周囲温度に対する当該経過時間経過したときの前記超音波探触子の表面温度を示す当該経過時間での温度上昇値とを用いて、前記飽和温度上昇値を算出する請求項１に記載の超音波診断装置。
【請求項３】
第１の電圧の値、経過時間及び目標温度の入力を受け付ける操作入力部を備え、
前記飽和温度上昇値算出部は、前記入力された第１の電圧の値、経過時間を用いて、前記飽和温度上昇値を算出し、
前記電圧算出部は、前記入力された目標温度を用いて、前記第２の電圧の値を算出する請求項２に記載の超音波診断装置。
【請求項４】
前記飽和温度上昇値算出部は、前記時定数Ｔと、前記現在温度上昇値ΔＴｃと、前記経過時間ｔ１と、前記経過時間ｔ１での温度上昇値ΔＴｄとを用いて、次式（１）により前記飽和温度上昇値ΔＴｓを算出する請求項２又は３に記載の超音波診断装置。
【数１】
2018134226.tif 000007
【請求項５】
前記超音波探触子の表面温度を検知する温度検知部を備え、
前記飽和温度上昇値算出部は、前記温度検知部により検知された温度により、前記周囲温度、前記現在温度、前記経過時間での前記超音波探触子の表面温度を取得する請求項２から４のいずれか一項に記載の超音波診断装置。
【請求項６】
前記飽和温度上昇値算出部は、算出した飽和温度上昇値が所定値より低いか否かを判別し、低い場合に、前記第１の電圧の値を所定量上げ、当該上げた第１の電圧を前記超音波探触子に印加して、飽和温度上昇値を再算出する請求項１から５のいずれか一項に記載の超音波診断装置。
【請求項７】
前記電圧算出部は、前記第１の電圧の値Ｖｉと、前記飽和温度上昇値ΔＴｓと、前記目標温度上昇値ΔＴｔとを用いて、次式（２）により、前記第２の電圧の値Ｖｔを算出する請求項１から６のいずれか一項に記載の超音波診断装置。
【数２】
2018134226.tif 000008
【請求項８】
診断モード及び測定条件の少なくとも１つが変更された場合に、変更直前の駆動電圧の値を変更後の第１の電圧の値に設定する第１の電圧切替部を備える請求項１から７のいずれか一項に記載の超音波診断装置。
【請求項９】
前記電圧算出部は、算出した第２の電圧の値を、接続中の前記超音波探触子の探触子情報、診断モード及び測定条件に対応付けて記憶部に記憶し、
診断モード及び測定条件の少なくとも１つが変更された場合に、前記記憶部を参照し、変更後の探触子情報、診断モード及び測定条件が前記記憶部に記憶されているか否かを判別し、記憶されている場合に、当該変更後の探触子情報、診断モード及び測定条件に対応する第２の電圧の値を当該記憶部から読み出して設定する第２の電圧切替部を備える請求項８に記載の超音波診断装置。
【請求項１０】
駆動電圧が印加されて超音波を送受信する超音波探触子を備える超音波診断装置のコンピューターを、
第１の電圧を前記超音波探触子に印加したときの、周囲温度に対する当該超音波探触子の表面の飽和温度を示す飽和温度上昇値を算出する飽和温度上昇値算出部、
前記算出した前記第１の電圧における飽和温度上昇値と、当該第１の電圧の値と、前記周囲温度に対する前記超音波探触子の表面の目標温度を示す目標温度上昇値とに基づき、当該目標温度に飽和させるための駆動電圧の値である第２の電圧の値を算出して設定する電圧算出部、
として機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、超音波診断装置及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
超音波診断は、超音波探触子を体表から当てるという簡単な操作で心臓の拍動や胎児の動きの様子が超音波画像として得られ、かつ安全性が高いため繰り返して検査を行うことができる。超音波診断を行うために用いられ、超音波画像を生成して表示する超音波診断装置が知られている。
【０００３】
超音波診断装置は、所定の駆動電圧（送信電圧）の電気的な駆動信号を超音波探触子内の圧電素子に出力することで超音波を発生し、被検体で反射された反射超音波を含む受信超音波を圧電素子で受信することにより電気的な受信信号を得て、超音波の送受信をスキャンしながら繰り返すことにより超音波画像を生成する。そのとき、電気エネルギー（電圧）と超音波エネルギー（超音波）とを相互に変換するため、エネルギー変換に際して熱を発してしまう。超音波探触子は、操作者や被検体が直接触れるものであって、過度に表面温度が上昇すると、操作者や被検体の火傷を引き起こすおそれがある。このため、表面温度の上限は、法令や規格で規制されており、表面温度が規制されている温度を超えないように、送信電圧を調整する超音波診断装置が知られている。
【０００４】
例えば、超音波探触子の表面温度の温度情報に応じて、超音波探触子へ印加する送信電圧を自動的に変更し、超音波探触子の表面温度を適切な状態に維持することが可能な超音波診断装置が知られている（特許文献１参照）。
【０００５】
また、初期電圧印加後の予め操作入力された診断時間内での許容温度を算出して、初期電圧と許容温度とから目標温度となる送信駆動電圧を算出し、所定の診断時間内において、算出した送信駆動電圧を超音波探触子に出力し、診断時間を超えると、送信電圧をデフォルト電圧に下げる超音波診断装置が知られている（特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００５−２５３７７６号公報
【特許文献２】特開２０１１−６２３５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
駆動電圧を上げるほど、超音波探触子の感度はよくなり表面温度も上昇する。特許文献１の超音波診断装置では、超音波探触子の表面温度が飽和するまで送信電圧を変動しながら調整されるため、送信電圧が調整完了するまでに１０分以上の非常に長い時間がかかる。また、超音波診断は条件設定直後に行うことが多く、送信電圧が調整完了される前に診断してしまうと、感度の再現性がとれない場合がある。
【０００８】
また、特許文献２の超音波診断装置では、所定の診断時間を過ぎると超音波探触子の表面温度が許容温度を超えるために送信電圧がデフォルト電圧に変更される。このため、実際の診断中や診断継続後に、送信電圧の変更により超音波探触子の感度が変化するおそれがあった。
【０００９】
本発明の課題は、超音波探触子の表面温度を目標温度に飽和させる駆動電圧を短時間で取得し、超音波探触子の感度を安定することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決するため、請求項１に記載の発明の超音波診断装置は、
駆動電圧が印加されて超音波を送受信する超音波探触子を備える超音波診断装置であって、
第１の電圧を前記超音波探触子に印加したときの、周囲温度に対する当該超音波探触子の表面の飽和温度を示す飽和温度上昇値を算出する飽和温度上昇値算出部と、
前記算出した前記第１の電圧における飽和温度上昇値と、当該第１の電圧の値と、前記周囲温度に対する前記超音波探触子の表面の目標温度を示す目標温度上昇値とに基づき、当該目標温度に飽和させるための駆動電圧の値である第２の電圧の値を算出して設定する電圧算出部と、を備える。
【００１１】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の超音波診断装置において、
前記超音波探触子は、交換接続が可能であり、
前記飽和温度上昇値算出部は、超音波探触子の種類を示す探触子情報と、診断モードと、測定条件との少なくとも１つに対応する時定数を有する時定数テーブルを参照し、接続中の前記超音波探触子の探触子情報、診断モード及び測定条件に対応する時定数を取得し、当該時定数と、前記周囲温度に対する前記超音波探触子の表面の現在温度を示す現在温度上昇値と、第１の電圧印加からの所定の経過時間と、前記周囲温度に対する当該経過時間経過したときの前記超音波探触子の表面温度を示す当該経過時間での温度上昇値とを用いて、前記飽和温度上昇値を算出する。
【００１２】
請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の超音波診断装置において、
第１の電圧の値、経過時間及び目標温度の入力を受け付ける操作入力部を備え、
前記飽和温度上昇値算出部は、前記入力された第１の電圧の値、経過時間を用いて、前記飽和温度上昇値を算出し、
前記電圧算出部は、前記入力された目標温度を用いて、前記第２の電圧の値を算出する。
【００１３】
請求項４に記載の発明は、請求項２又は３に記載の超音波診断装置において、
前記飽和温度上昇値算出部は、前記時定数Ｔと、前記現在温度上昇値ΔＴｃと、前記経過時間ｔ１と、前記経過時間ｔ１での温度上昇値ΔＴｄとを用いて、次式（１）により前記飽和温度上昇値ΔＴｓを算出する。
【数１】
2018134226.tif 000003
【００１４】
請求項５に記載の発明は、請求項２から４のいずれか一項に記載の超音波診断装置において、
前記超音波探触子の表面温度を検知する温度検知部を備え、
前記飽和温度上昇値算出部は、前記温度検知部により検知された温度により、前記周囲温度、前記現在温度、前記経過時間での前記超音波探触子の表面温度を取得する。
【００１５】
請求項６に記載の発明は、請求項１から５のいずれか一項に記載の超音波診断装置において、
前記飽和温度上昇値算出部は、算出した飽和温度上昇値が所定値より低いか否かを判別し、低い場合に、前記第１の電圧の値を所定量上げ、当該上げた第１の電圧を前記超音波探触子に印加して、飽和温度上昇値を再算出する。
【００１６】
請求項７に記載の発明は、請求項１から６のいずれか一項に記載の超音波診断装置において、
前記電圧算出部は、前記第１の電圧の値Ｖｉと、前記飽和温度上昇値ΔＴｓと、前記目標温度上昇値ΔＴｔとを用いて、次式（２）により、前記第２の電圧の値Ｖｔを算出する。
【数２】
2018134226.tif 000004
【００１７】
請求項８に記載の発明は、請求項１から７のいずれか一項に記載の超音波診断装置において、
診断モード及び測定条件の少なくとも１つが変更された場合に、変更直前の駆動電圧の値を変更後の第１の電圧の値に設定する第１の電圧切替部を備える。
【００１８】
請求項９に記載の発明は、請求項８に記載の超音波診断装置において、
前記電圧算出部は、算出した第２の電圧の値を、接続中の前記超音波探触子の探触子情報、診断モード及び測定条件に対応付けて記憶部に記憶し、
診断モード及び測定条件の少なくとも１つが変更された場合に、前記記憶部を参照し、変更後の探触子情報、診断モード及び測定条件が前記記憶部に記憶されているか否かを判別し、記憶されている場合に、当該変更後の探触子情報、診断モード及び測定条件に対応する第２の電圧の値を当該記憶部から読み出して設定する第２の電圧切替部を備える。
【００１９】
請求項１０に記載の発明のプログラムは、
駆動電圧が印加されて超音波を送受信する超音波探触子を備える超音波診断装置のコンピューターを、
第１の電圧を前記超音波探触子に印加したときの、周囲温度に対する当該超音波探触子の表面の飽和温度を示す飽和温度上昇値を算出する飽和温度上昇値算出部、
前記算出した前記第１の電圧における飽和温度上昇値と、当該第１の電圧の値と、前記周囲温度に対する前記超音波探触子の表面の目標温度を示す目標温度上昇値とに基づき、当該目標温度に飽和させるための駆動電圧の値である第２の電圧の値を算出して設定する電圧算出部、
として機能させる。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、超音波探触子の表面温度を目標温度に飽和させる駆動電圧を短時間で取得でき、当該駆動電圧の印加により超音波探触子の感度を安定できる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の実施の形態の超音波診断装置の外観図である。
【図２】超音波診断装置の機能構成を示すブロック図である。
【図３】（ａ）は、コンベックス走査方式の超音波探触子のＢモード時の表面温度の熱画像を示す図である。（ｂ）は、コンベックス走査方式の超音波探触子のＢモード時の方位方向の表面温度特性を示す図である。
【図４】（ａ）は、リニア走査方式の超音波探触子のＢモード時の表面温度の熱画像を示す図である。（ｂ）は、リニア走査方式の超音波探触子のＢモード時の方位方向の表面温度特性を示す図である。
【図５】（ａ）は、リニア走査方式の超音波探触子のカラードプラーモード時の表面温度の熱画像を示す図である。（ｂ）は、リニア走査方式の超音波探触子のカラードプラーモード時の方位方向の表面温度特性を示す図である。
【図６】第１、第２、第３の条件の超音波探触子の表面温度の時間特性を示す図である。
【図７】時定数テーブルの構成を示す図である。
【図８】送信電圧設定処理を示すフローチャートである。
【図９】（ａ）は、超音波探触子の温度上昇値の時間特性を示す図である。（ｂ）は、（ａ）の超音波探触子の温度上昇値の時間特性の原点付近の拡大図である。
【図１０】飽和温度上昇値と電圧の２乗との関係を示す図である。
【図１１】送信電圧更新処理を示すフローチャートである。
【図１２】（ａ）は、条件変更時の超音波探触子の温度上昇値の時間特性を示す図である。（ｂ）は、（ａ）の超音波探触子の温度上昇値の時間特性の切片付近の拡大図である。
【図１３】飽和温度上昇値と電圧の２乗との関係を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
添付図面を参照して、本発明に係る実施の形態を詳細に説明する。なお、本発明は、図示例に限定されるものではない。
【００２３】
先ず、図１及び図２を参照して、本実施の形態の装置構成を説明する。図１は、本実施の形態の超音波診断装置１の外観図である。図２は、超音波診断装置１の機能構成を示すブロック図である。
【００２４】
図１及び図２に示す本実施の形態の超音波診断装置１は、病院などの医療機関に設置されている。超音波診断装置１は、超音波診断装置本体１ａと、超音波探触子１ｂと、を備える。超音波探触子１ｂは、図示しない患者の生体などの被検体に対して超音波（送信超音波）を送信するとともに、この被検体で反射した反射超音波、散乱超音波を含む受信超音波を受信する。超音波診断装置本体１ａは、超音波探触子１ｂのケーブル１ｃを介して、超音波探触子１ｂと接続され、超音波探触子１ｂに電気信号の駆動信号を送信することによって超音波探触子１ｂに被検体に対して送信超音波を送信させる。また、超音波診断装置本体１ａは、超音波探触子１ｂにて受信した被検体内からの受信超音波に応じて超音波探触子１ｂで生成された電気信号である受信信号に基づいて被検体内の内部状態を超音波画像として画像化する。
【００２５】
超音波探触子１ｂは、交換して超音波診断装置本体１ａに接続することが可能である。超音波探触子１ｂは、温度センサー１２１と、圧電素子からなる振動子１２２と、探触子情報記憶部１２３と、を備える。温度センサー１２１は、超音波探触子１ｂの表面温度を検出するセンサーであり、検知した温度情報を超音波診断装置本体１ａ（後述する予測部１３１）に出力する。
【００２６】
振動子１２２は、例えば、方位方向に一次元アレイ状に複数配列されている。本実施の形態では、例えば、１９２個の振動子を備えた超音波探触子１ｂを用いている。なお、振動子は、二次元アレイ状に配列されたものであってもよい。また、振動子の個数は、任意に設定することができる。また、超音波探触子１ｂは、電子走査方式あるいは機械走査方式の何れを採用してもよく、また、リニア走査方式、セクタ走査方式あるいはコンベックス走査方式の何れの方式を採用することもできる。
【００２７】
探触子情報記憶部１２３は、例えば、ケーブル１ｃのコネクター内に設けられ、超音波探触子１ｂの種類（型番など）情報を記憶する。操作者により、超音波診断の走査内容に応じて、適切な種類の超音波探触子１ｂが選択されて、超音波診断装置本体１ａに接続される。
【００２８】
図２に示すように、超音波診断装置本体１ａは、例えば、操作入力部１０１と、送信部１０２と、受信部１０３と、画像生成部１０４と、画像処理部１０５と、ＤＳＣ（Digital Scan Converter）１０６と、表示部１０７と、制御部１０８と、記憶部１０９と、を備える。
【００２９】
操作入力部１０１は、例えば、被検体の検査開始の指示などの各種コマンドや、後述する診断モード、測定条件、被検体情報などのデータの入力などを行うための各種スイッチ、ボタン、トラックボール、マウス、キーボードなどを備えており、操作入力に応じた操作情報を制御部１０８に出力する。また、操作入力部１０１は、初期電圧Ｖｉ、経過時間ｔ１、目標温度Ｔｔの入力を受け付ける構成としてもよい。
【００３０】
ここで、診断モードとは、超音波の送受信による診断のモードであり、Ｂ（Brightness）モードや、パルスドプラーモード、カラードプラーモード、Ａ（Amplitude）モード、Ｍ（Motion）モードなどがある。Ｂモードは、受信超音波の強さを明るさの強弱に変換（輝度変調）して、被検体の断層画像を表示するモードである。パルスドプラーモードは、目的となる部位にサンプルゲートを設け、そのサンプリング位置からドプラーシフト周波数を取り出して、被検体の体内の血流速度を測定し、画面に表示するモードである。カラードプラーモードは、被検体の生体内血行動態に色を付け、Ｂモード画像上に重ね合わせてリアルタイムに表示し、広範囲に血流の方向と速度を色表示するモードである。なお、診断モードには、Ａモード、Ｍモードなど、他のモードを含める構成としてもよい。
【００３１】
測定条件とは、ＰＲＦ（Pulse Repetition Frequency：パルス繰り返し周波数）、素子開口などである。ＰＲＦは、超音波を送信させるための電気信号である駆動信号のパルスの繰り返し周波数である。素子開口とは、超音波探触子１ｂの全ての振動子１２２のうちの一度のスキャンで超音波を出力させる連続した振動子１２２の数である。本実施の形態では、測定条件が、ＰＲＦ及び素子開口であるものとして説明するが、これに限定されるものではない。
【００３２】
初期電圧Ｖｉは、超音波探触子１ｂに印加する初期の所定の駆動電圧である。駆動電圧は、電源電圧であって、送信部１０２に入力する電気信号である駆動信号がとり得る最大の電圧である。経過時間ｔ１は、初期電圧Ｖｉを超音波探触子１ｂに印加する所定の時間である。目標温度Ｔｔは、超音波探触子１ｂの飽和し安定させる目標の表面温度であり、例えば、法令や規格で規制されている上限の表面温度以下に設定される。
【００３３】
送信部１０２は、制御部１０８からの駆動電圧（駆動電圧値）にしたがって、当該駆動電圧に対応する駆動信号を生成して超音波探触子１ｂにケーブル１ｃを介して供給し、送信超音波を発生させる回路である。このように、超音波探触子１ｂは、送信部１０２により印加された駆動電圧の駆動信号に応じて、超音波送受信の動作を行う。
【００３４】
また、送信部１０２は、例えば、クロック発生回路、遅延回路、パルス発生回路を備えている。クロック発生回路は、駆動信号の送信タイミングや送信周波数を決定するクロック信号を発生させる回路である。遅延回路は、駆動信号の送信タイミングを振動子毎に対応した個別経路毎に遅延時間を設定し、設定された遅延時間だけ駆動信号の送信を遅延させて送信超音波によって構成される送信ビームの集束を行うための回路である。パルス発生回路は、所定の周波数（測定条件としてのＰＲＦ）で駆動信号としてのパルス信号を発生させるための回路である。上述のように構成された送信部１０２は、例えば、超音波探触子１ｂに配列された複数（例えば、１９２個）の振動子１２２のうちの連続する一部（例えば、６４個）を駆動して送信超音波を発生させる。この連続する一部の振動子１２２の数（チャネル数）が、測定条件としての素子開口である。そして、送信部１０２は、送信超音波を発生させる毎に駆動する振動子を方位方向にずらすことで走査（スキャン）を行う。
【００３５】
受信部１０３は、制御部１０８の制御にしたがって、超音波探触子１ｂからケーブル１ｃを介して電気信号である受信信号を受信する回路である。受信部１０３は、例えば、増幅器、Ａ／Ｄ（Analog to Digital）変換回路、整相加算回路を備えている。増幅器は、受信信号を、振動子毎に対応した個別経路毎に、予め設定された増幅率で増幅させるための回路である。Ａ／Ｄ変換回路は、増幅された受信信号をＡ／Ｄ変換するための回路である。整相加算回路は、Ａ／Ｄ変換された受信信号に対して、振動子毎に対応した個別経路毎に遅延時間を与えて時相を整え、これらを加算（整相加算）して音線データを生成するための回路である。
【００３６】
画像生成部１０４は、制御部１０８の制御にしたがって、受信部１０３からの音線データに対して包絡線検波処理や対数増幅などを実施し、ダイナミックレンジやゲインの調整を行って輝度変換することにより、Ｂ（Brightness）モード画像データを生成する。すなわち、Ｂモード画像データは、受信信号の強さを輝度によって表したものである。画像生成部１０４は、診断モードがＢモードのＢモード画像データの他、Ａ（Amplitude）モード、Ｍ（Motion）モード、パルスドプラー法、カラードプラー法など、他の診断モードの超音波画像データが生成可能である。
【００３７】
画像処理部１０５は、ＤＲＡＭ（Dynamic Random Access Memory）などの半導体メモリーによって構成された画像メモリー部（図示略）を備える。画像処理部１０５は、制御部１０８の制御にしたがって、画像生成部１０４から出力されたＢモード画像データをフレーム単位で画像メモリー部に記憶する。画像メモリー部に記憶されたフレームの画像データは、制御部１０８の制御にしたがって、ＤＳＣ１０６に出力される。
【００３８】
ＤＳＣ１０６は、制御部１０８の制御にしたがって、画像処理部１０５から入力されたフレームの画像データに座標変換などを施して画像信号に変換し、表示部１０７に出力する。
【００３９】
表示部１０７は、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）、ＣＲＴ（Cathode-Ray Tube）ディスプレイ、有機ＥＬ（Electronic Luminescence）ディスプレイ、無機ＥＬティスプレイ及びプラズマディスプレイなどの表示装置が適用可能である。表示部１０７は、制御部１０８の制御にしたがって、ＤＳＣ１０６から出力された画像信号にしたがって表示画面上に画像の表示を行う。
【００４０】
制御部１０８は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Random Access Memory）を備えて構成され、ＲＯＭに記憶されているシステムプログラムなどの各種処理プログラムを読み出してＲＡＭに展開し、展開したプログラムにしたがって超音波診断装置１の各部を制御する。ＲＯＭは、半導体などの不揮発メモリーなどにより構成され、超音波診断装置１に対応するシステムプログラム及び該システムプログラム上で実行可能な各種処理プログラムや、ガンマテーブルなどの各種データなどを記憶する。これらのプログラムは、コンピューターが読み取り可能なプログラムコードの形態で格納され、ＣＰＵは、当該プログラムコードに従った動作を逐次実行する。各種処理プログラムには、後述する送信電圧設定プログラム、送信電圧更新プログラムが含まれる。ＲＡＭは、ＣＰＵにより実行される各種プログラム及びこれらプログラムに係るデータを一時的に記憶するワークエリアを形成する。
【００４１】
制御部１０８は、その一部を、飽和温度上昇値算出部としての予測部１３１、電圧算出部１３２、第１の電圧切替部としての電圧切替部１３３、第２の電圧切替部としての電圧切替部１３４として機能する。予測部１３１は、初期電圧Ｖｉ、経過時間ｔ１、診断モード、測定条件、超音波探触子１ｂの種類（探触子情報）と、温度センサー１２１からの現在温度Ｔｃと、経過時間ｔ１での温度Ｔｄとに応じて、飽和温度上昇値ΔＴｓを算出して電圧算出部１３２に出力する。
【００４２】
現在温度Ｔｃは、温度センサー１２１により検知された超音波探触子１ｂの現在の表面温度である。経過時間ｔ１での温度Ｔｄは、超音波探触子１ｂへの初期電圧Ｖｉの経過時間ｔ１印加時に、温度センサー１２１により検知された超音波探触子１ｂの表面温度である。飽和温度上昇値ΔＴｓは、超音波探触子１ｂに初期電圧Ｖｉを十分長い時間印加し表面温度が飽和したときの周囲温度Ｔａに対する飽和温度Ｔｓ（差分）である。周囲温度Ｔａは、超音波探触子１ｂの周囲温度であり、駆動電圧０［Ｖ］を超音波探触子１ｂに印加したときの、温度センサー１２１により検知された超音波探触子１ｂの表面温度とする。
【００４３】
電圧算出部１３２は、目標温度Ｔｔ、初期電圧Ｖｉと、予測部１３１からの飽和温度上昇値ΔＴｓとに応じて、送信電圧Ｖｔを算出し、送信部１０２又は電圧切替部１３４に出力して送信部１０２に設定し、送信電圧Ｖｔを条件（診断モード、測定条件、探触子情報）に対応付けて記憶部１０９の送信電圧テーブル４００に記憶する。
【００４４】
電圧切替部１３３は、診断モード、測定条件の少なくとも１つが変更され、変更後の診断モード、測定条件、探触子情報の条件が記憶部１０９の送信電圧テーブル４００に記憶されていない場合に、超音波探触子１ｂへの変更前の駆動信号の送信電圧Ｖｔを初期電圧Ｖｉとする。電圧切替部１３４は、診断モード、測定条件の少なくとも１つが変更され、変更後の診断モード、測定条件、探触子情報の条件が送信電圧テーブル４００に記憶されている場合に、変更後の診断モード、測定条件、探触子情報に対応する送信電圧Ｖｔを送信電圧テーブル４００から読み出して、直接送信部１０２に出力して設定する。
【００４５】
記憶部１０９は、例えば、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）などの大容量記録媒体によって構成されており、画像処理部１０５で生成された超音波画像データや、温度データ２００、時定数テーブル３００、送信電圧テーブル４００などを記憶する。
【００４６】
温度データ２００は、温度センサー１２１により検知された温度としての周囲温度Ｔａである。
【００４７】
時定数テーブル３００は、超音波探触子１ｂの表面温度上昇の時定数Ｔを、超音波探触子１ｂ（探触子情報）、診断モード、測定条件の条件に対応付けて記憶するテーブルである。
【００４８】
ここで、図３（ａ）〜図７を参照して、時定数を説明する。図３（ａ）は、コンベックス走査方式の超音波探触子１ｂのＢモード時の表面温度の熱画像を示す図である。図３（ｂ）は、コンベックス走査方式の超音波探触子１ｂのＢモード時の方位方向の表面温度特性を示す図である。図４（ａ）は、リニア走査方式の超音波探触子１ｂのＢモード時の表面温度の熱画像を示す図である。図４（ｂ）は、リニア走査方式の超音波探触子１ｂのＢモード時の方位方向の表面温度特性を示す図である。図５（ａ）は、リニア走査方式の超音波探触子１ｂのカラードプラーモード時の表面温度の熱画像を示す図である。図５（ｂ）は、リニア走査方式の超音波探触子１ｂのカラードプラーモード時の方位方向の表面温度特性を示す図である。図６は、条件１，２，３の超音波探触子１ｂの表面温度の時間特性を示す図である。図７は、時定数テーブル３００の構成を示す図である。
【００４９】
時定数Ｔは、超音波探触子１ｂの表面温度が、所定の駆動電圧を印加した飽和温度Ｔｓを１００％として、飽和温度Ｔｓの約６２．３％の温度に達するまでの時間を示す。例えば、１番目の条件として、超音波探触子１ｂの種類がコンベックス走査方式であり、診断モードがＢモードである場合の送信電圧を印加した超音波探触子１ｂの表面温度特性を考える。条件１における超音波探触子１ｂの表面温度の熱画像は、例えば図３（ａ）に示す分布となる。図３（ａ）において、横方向が方位方向であり、縦方向が超音波探触子１ｂの厚み方向であり、温度が高いほどより白く表れ、温度が低いほどより黒く表れ、図４（ａ）、図５（ａ）も同様である。条件１における超音波探触子１ｂの方位方向の表面温度特性は、例えば図３（ｂ）に示す特性となる。図３（ｂ）において、横軸が超音波探触子１ｂの振動子１２２のデータ数であり、縦軸が超音波探触子１ｂの表面温度［℃］であり、図４（ｂ）、図５（ｂ）も同様である。
【００５０】
同様に、２番目の条件として、超音波探触子１ｂの種類がリニア走査方式であり、診断モードがＢモードである場合の送信電圧を印加した超音波探触子１ｂの表面温度の熱画像、方位方向の温度特性は、例えば図４（ａ）、図４（ｂ）に示すものとなる。３番目の条件として、超音波探触子１ｂの種類がリニア走査方式であり、診断モードがカラードプラーモードである場合の送信電圧を印加した超音波探触子１ｂの表面温度の熱画像、方位方向の温度特性は、例えば図５（ａ）、図５（ｂ）に示すものとなる。
【００５１】
条件１では、超音波探触子１ｂの発熱面積が大きく、中心の素子（振動子１２２）が周りの素子の温度に影響されやすい。条件３では、超音波探触子１ｂの発熱面積が小さく、中心の素子（振動子１２２）が周りの素子の温度に影響されにくい。条件２は、条件１と条件３との間の特性となっている。
【００５２】
図６において、条件１の超音波探触子１ｂの表面温度の時間特性を破線で表し、条件２の表面温度の時間特性を一点鎖線で表し、条件３の曲線を表面温度の時間特性を実線で表す。このように、探触子情報、診断モード、測定条件によって温度分布が異なるため、時間によって温度の上がりやすさが異なる。例えば、図６に示すように、条件１では、時間経過とともに超音波探触子１ｂの表面温度が緩やかに上昇しており、条件３では、時間経過とともに超音波探触子１ｂの表面温度が急峻に上昇しており、条件２では、条件１と条件３との間の上昇特性となっている。このように条件によって異なるので時定数Ｔで表すことができ、条件１、条件２、条件３の順に時定数Ｔが小さくなる。
【００５３】
条件１，２，３に対応する時定数テーブルは、例えば、図７に示す時定数テーブル３００となる。時定数テーブル３００は、超音波探触子３１０、診断モード３２０、ＰＲＦ３３０、素子開口３４０、時定数３５０のフィールドを有する。超音波探触子３１０は、超音波探触子１ｂの種類を示す情報である。診断モード３２０は、診断モードを示す情報である。ＰＲＦ３３０は、ＰＲＦ［ｋＨｚ］を示す情報である。素子開口３４０は、超音波探触子１ｂの素子開口部分の連続する振動子１２２のチャネル数である。時定数３５０は、超音波探触子３１０、診断モード３２０、ＰＲＦ３３０、素子開口３４０の条件に対応する時定数である。
【００５４】
送信電圧テーブル４００は、超音波探触子１ｂに実際に設定した送信電圧の値を、超音波探触子１ｂ（探触子情報）、診断モード、測定条件の条件に対応付けて記憶するテーブルである。
【００５５】
超音波診断装置１が備える各部について、各々の機能ブロックの一部又は全部の機能は、集積回路などのハードウェア回路として実現することができる。集積回路とは、例えばＬＳＩ（Large Scale Integration）であり、ＬＳＩは集積度の違いにより、ＩＣ（Integrated Circuit）、システムＬＳＩ、スーパーＬＳＩ、ウルトラＬＳＩと呼称されることもある。また、集積回路化の手法はＬＳＩに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセッサで実現してもよいし、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）やＬＳＩ内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサーを利用してもよい。また、各々の機能ブロックの一部又は全部の機能をソフトウェアにより実行するようにしてもよい。この場合、このソフトウェアは一つ又はそれ以上のＲＯＭなどの記憶媒体、光ディスク、又はハードディスクなどに記憶されており、このソフトウェアが演算処理器により実行される。
【００５６】
次に、図８〜図１３を参照して、超音波診断装置１の動作を説明する。図８は、送信電圧設定処理を示すフローチャートである。図９（ａ）は、超音波探触子１ｂの温度上昇値の時間特性を示す図である。図９（ｂ）は、図９（ａ）の超音波探触子１ｂの温度上昇値の時間特性の原点付近の拡大図である。図１０は、飽和温度上昇値ΔＴｓと電圧の２乗との関係を示す図である。図１１は、送信電圧更新処理を示すフローチャートである。図１２（ａ）は、条件変更時の超音波探触子１ｂの温度上昇値の時間特性を示す図である。図１２（ｂ）は、図１２（ａ）の超音波探触子１ｂの温度上昇値の時間特性の切片付近の拡大図である。図１３は、飽和温度上昇値ΔＴｓと電圧の２乗との関係を示す図である。
【００５７】
図８〜図１０を参照して、超音波診断装置１で実行される送信電圧設定処理を説明する。送信電圧設定処理は、超音波探触子１ｂの表面温度を適正にするための送信電圧を設定する処理である。超音波診断装置１において、被検体の超音波画像を表示する超音波診断を行う前に、例えば操作者（医師、技師など）により超音波診断装置１の電源がオンされたことをトリガとして、制御部１０８は、ＲＯＭに記憶された送信電圧設定プログラムにしたがって、送信電圧設定処理を実行する。
【００５８】
図８に示すように、先ず、予測部１３１は、電圧算出部１３２を介して送信部１０２に駆動電圧＝０［Ｖ］を設定し、温度センサー１２１から検知された温度情報を取得し、取得した温度情報を周囲温度Ｔａとし、周囲温度Ｔａを記憶部１０９の温度データ２００に記憶する（ステップＳ１１）。そして、予測部１３１は、初期電圧Ｖｉ、経過時間ｔ１、目標温度Ｔｔを取得して設定する（ステップＳ１２）。ステップＳ１２では、例えば、デフォルトの初期電圧Ｖｉ、経過時間ｔ１、目標温度Ｔｔが記憶部１０９に記憶され、予測部１３１は、デフォルトの初期電圧Ｖｉ、経過時間ｔ１、目標温度Ｔｔを記憶部１０９から読み出して設定する。また、ステップＳ１２では、予測部１３１は、操作入力部１０１を介して操作者から初期電圧Ｖｉ、経過時間ｔ１、目標温度Ｔｔの入力を受け付けて設定することとしてもよい。
【００５９】
そして、予測部１３１は、操作入力部１０１を介して操作者からＢモードなどの診断モード、測定条件（ＰＲＦ、素子開口）の入力を受け付けて設定する（ステップＳ１３）。
【００６０】
そして、予測部１３１は、探触子情報記憶部１２３から、超音波診断装置本体１ａに接続中の超音波探触子１ｂの種類を示す探触子情報を取得する（ステップＳ１４）。そして、予測部１３１は、ステップＳ１３で入力された診断モード、測定条件（診断モード３２０、ＰＲＦ３３０、素子開口３４０）と、ステップＳ１４で取得した探触子情報（超音波探触子３１０）とに対応する時定数（時定数３５０）を記憶部１０９に記憶されている時定数テーブル３００から読み出して決定する（ステップＳ１５）。
【００６１】
そして、予測部１３１は、温度センサー１２１から検知された温度情報を取得し、取得した温度情報を現在温度Ｔｃとし、電圧算出部１３２を介して送信部１０２に直前のステップＳ１２又はＳ１８で設定された初期電圧Ｖｉを設定する。また、予測部１３１は、超音波探触子１ｂへの設定された初期電圧Ｖｉ印加からステップＳ１２で設定された経過時間ｔ１経過したときに温度センサー１２１から検知された温度情報を取得し、取得した温度情報を経過時間ｔ１での温度Ｔｄとし、現在温度上昇値ΔＴｃ、経過時間ｔ１での温度上昇値ΔＴｄを算出し、飽和温度上昇値ΔＴｓを算出して予測する（ステップＳ１６）。現在温度上昇値ΔＴｃは、周囲温度Ｔａに対する現在温度Ｔｃ（差分）である。経過時間ｔ１での温度上昇値ΔＴｄは、周囲温度Ｔａに対する経過時間ｔ１での温度Ｔｄ（差分）である。
【００６２】
また、ステップＳ１６では、予測部１３１は、ステップＳ１１で算出された周囲温度Ｔａ［℃］、現在温度Ｔｃ［℃］、経過時間ｔ１での温度Ｔｄ［℃］を用いて、次式（０）により、現在温度上昇値ΔＴｃ［℃］、経過時間ｔ１での温度上昇値ΔＴｄ［℃］を算出する。
ΔＴ＝Ｔ１−Ｔａ（Ｔ１＝Ｔｃ，Ｔｄ，Ｔｔ）  …（０）
【００６３】
また、予測部１３１は、ステップＳ１２で入力された経過時間ｔ１［ｓ］、算出された現在温度上昇値ΔＴｃ［℃］、経過時間ｔ１での温度上昇値ΔＴｄ［℃］、ステップＳ１５で決定された時定数［ｓ］を用いて、次式（１）により、飽和温度上昇値ΔＴｓ［℃］を算出する。
【数３】
2018134226.tif 000005
ただし、ΔＴｓ＜０の場合、ΔＴｓ＝０とする。
【００６４】
具体例としては、図９（ａ）の、初期電圧印加後の超音波探触子１ｂの温度上昇値［℃］の時間［ｓ］特性に示すように、飽和温度上昇値＝１６．５［℃］（破線）、飽和温度上昇値＝２０［℃］（一点鎖線）、飽和温度上昇値＝２３．５［℃］（実線）があるものとする。図９（ａ）の図の原点付近の拡大図を図９（ｂ）に示す。例えば、図９（ｂ）に示すように、現在温度Ｔｃ＝２３．０［℃］、周囲温度Ｔａ＝２３．０［℃］、初期電圧Ｖｉ＝仮に５０［Ｖ］、初期電圧Ｖｉを印加した経過時間ｔ１＝１０［ｓ］での温度上昇値ΔＴｄ＝２．５［℃］であった場合、飽和温度上昇値ΔＴｓ＝１６．５［℃］と算出されて予測できる。
【００６５】
そして、予測部１３１は、ステップＳ１６で算出された飽和温度上昇値ΔＴｓが所定閾値よりも低いか（例えば０．５［℃］よりも低いか）否かを判別する（ステップＳ１７）。飽和温度上昇値ΔＴｓが所定閾値よりも低い場合（ステップＳ１７；ＹＥＳ）、予測部１３１は、初期電圧Ｖｉを所定量上げ（ステップＳ１８）、ステップＳ１６に移行する。所定量は、予め設定された電圧値とするが、操作入力部１０１を介する操作者からの入力に応じた所定量を設定することとしてもよい。
【００６６】
飽和温度上昇値ΔＴｓが所定閾値よりも低くない場合（ステップＳ１７；ＮＯ）、予測部１３１は、飽和温度上昇値ΔＴｓを、直前のステップＳ１６で算出された飽和温度上昇値ΔＴｓに決定する（ステップＳ１９）。そして、電圧算出部１３２は、ステップＳ１２で設定された目標温度Ｔｔを用いて、式（０）により目標温度上昇値ΔＴｔを算出し、算出した目標温度上昇値ΔＴｔ、直前の初期電圧Ｖｉ、ステップＳ１９で決定された飽和温度上昇値ΔＴｓを用いて、次式（２）により、送信電圧Ｖｔを算出する（ステップＳ２０）。
【数４】
2018134226.tif 000006
【００６７】
目標温度上昇値ΔＴｔは、周囲温度Ｔａに対する目標温度Ｔｔ（差分）である。また、式（２）は、温度上昇値と電圧との関係が、温度が電圧の２乗と比例することを利用している。
【００６８】
ステップＳ２０において、具体的には、図１０の、初期電圧印加後の超音波探触子１ｂの温度上昇値［℃］の電圧２［Ｖ２］特性があるものとする。例えば、初期電圧Ｖｉ＝５０［Ｖ］、飽和温度上昇値ΔＴｓ＝１６．５［℃］、のときの目標温度上昇値ΔＴｔ＝２３．５［℃］の送信電圧Ｖｔは、図１０から、初期電圧Ｖｉ２＝２５００［Ｖ２］（初期電圧Ｖｉ＝５０［Ｖ］）のとき、飽和温度上昇値ΔＴｓ＝１６．５［℃］となるので、目標温度上昇値ΔＴｔ＝２３．５［℃］は、送信電圧Ｖｔ２＝３５６１［Ｖ２］となり、送信電圧Ｖｔ＝５９．７［Ｖ］が得られる。
【００６９】
そして、電圧算出部１３２は、設定する送信電圧をステップＳ２０で算出された送信電圧Ｖｔに決定し、決定した送信電圧Ｖｔを送信部１０２に設定する。また、電圧算出部１３２は、送信電圧Ｖｔを、ステップＳ１３で取得された診断モード、測定条件、ステップＳ１４で取得された探触子情報に対応付けて記憶部１０９の送信電圧テーブル４００に記憶し（ステップＳ２１）、送信電圧設定処理を終了する。
【００７０】
次いで、図１１〜図１３を参照して、超音波診断装置１で実行される送信電圧更新処理を説明する。超音波診断装置１において、送信電圧設定処理の後に、設定された診断モード、測定条件、探触子情報の超音波探触子１ｂ及び送信電圧Ｖｔを用いて、被検体の超音波画像を生成して表示部１０７に表示する超音波診断処理がなされる。送信電圧更新処理は、送信電圧設定処理の後の超音波診断処理において、診断モード、測定条件の少なくとも１つの変更があった場合に、送信電圧を更新する処理である。超音波探触子１ｂの種類（探触子情報）の変更があった場合は、図８の処理になる。
【００７１】
超音波診断装置１において、例えば操作入力部１０１を介して操作者から変更後の診断モード、測定条件の少なくとも１つの入力を受け付けたことをトリガとして、制御部１０８は、ＲＯＭに記憶された送信電圧更新プログラムにしたがって、送信電圧更新処理を実行する。このように、診断モード、測定条件の少なくとも１つが変更されたものとする。
【００７２】
図１１に示すように、先ず、電圧切替部１３３，１３４は、入力された変更後の診断モード及び／又は測定条件を設定する（ステップＳ３１）。そして、電圧切替部１３３，１３４は、探触子情報記憶部１２３から、超音波診断装置本体１ａに接続中の超音波探触子１ｂの種類を示す探触子情報を取得する（ステップＳ３２）。ステップＳ３２において、ステップＳ３３の同一条件か否かを判別するため探触子情報の取得は必要である。そして、電圧切替部１３３，１３４は、記憶部１０９の送信電圧テーブル４００を参照し、変更後の診断モード、測定条件、探触子情報と同一の条件が記憶されているか否かを判別する（ステップＳ３３）。
【００７３】
同一の条件が記憶されていない場合（ステップＳ３３；ＮＯ）、電圧切替部１３３は、送信部１０２から現在設定中の送信電圧を取得して初期電圧Ｖｉとして予測部１３１に出力し、予測部１３１は、送信電圧設定処理のステップＳ１２と同様に、電圧切替部１３３から入力された初期電圧Ｖｉと、経過時間ｔ１、目標温度Ｔｔとを設定する（ステップＳ３４）。ステップＳ３５〜Ｓ３９は、送信電圧設定処理のステップＳ１５〜Ｓ１９と同様の処理である。
【００７４】
ステップＳ３６の具体例としては、図１２（ａ）の、初期電圧印加後の超音波探触子１ｂの温度上昇値［℃］の時間［ｓ］特性に示すように、飽和温度上昇値＝９．５［℃］（破線）、飽和温度上昇値＝１３［℃］（一点鎖線）、飽和温度上昇値＝１６．５［℃］（実線）があるものとする。図１２（ａ）の図の切片付近の拡大図を図１２（ｂ）に示す。例えば、図１２（ｂ）に示すように、現在温度上昇値ΔＴｃ＝２３．５［℃］、初期電圧Ｖｉ＝現在電圧５９．７［Ｖ］、初期電圧Ｖｉ印加後の経過時間ｔ１＝１０［ｓ］での温度上昇値ΔＴｄ＝２２．８［℃］であった場合、飽和温度上昇値ΔＴｓ＝１６．５［℃］と算出されて予測できる。
【００７５】
ステップＳ４０は、送信電圧設定処理のステップＳ２０と同様の処理であるが、予測部１３１は、記憶部１０９の温度データ２００から周囲温度Ｔａを読み出して用いる。なお、ステップＳ４０において、送信電圧設定処理のステップＳ１１と同様に、新たに周囲温度Ｔａを再度取得することとしてもよい。ステップＳ４０において、具体的には、図１３の、初期電圧印加後の超音波探触子１ｂの温度上昇値［℃］の電圧２［Ｖ２］特性があるものとする。例えば、初期電圧Ｖｉ＝５９．７［Ｖ］、飽和温度上昇値ΔＴｓ＝１６．５［℃］、のときの目標温度上昇値ΔＴｔ＝２３．５［℃］の送信電圧Ｖｔは、図１３から、初期電圧Ｖｉ２＝３５６１［Ｖ２］（初期電圧Ｖｉ＝５９．７［Ｖ］）のとき、飽和温度上昇値ΔＴｓ＝１６．５［℃］となるので、目標温度上昇値ΔＴｔ＝２３．５［℃］は、送信電圧Ｖｔ２＝５０７６［Ｖ２］となり、送信電圧Ｖｔ＝７１．２［Ｖ］が得られる。
【００７６】
そして、電圧算出部１３２は、設定する更新後の送信電圧をステップＳ４０で算出された送信電圧Ｖｔに決定し、電圧切替部１３４を介して、決定した送信電圧Ｖｔを送信部１０２に設定し、決定した送信電圧Ｖｔを、ステップＳ３１で入力された診断モード、測定条件、ステップＳ３２で取得された探触子情報に対応付けて記憶部１０９の送信電圧テーブル４００に記憶し（ステップＳ４１）、送信電圧更新処理を終了する。ステップＳ４１において、電圧切替部１３４は、同一の条件が記憶されていない場合に、設定する送信電圧を電圧算出部１３２から入力される送信電圧Ｖｔに切り替え、当該入力された送信電圧Ｖｔを送信部１０２に出力する。
【００７７】
同一の条件が記憶されている場合（ステップＳ３３；ＹＥＳ）、電圧切替部１３４は、変更後の診断モード、測定条件、探触子情報と同一の条件の送信電圧を記憶部１０９の送信電圧テーブル４００から読み出す（ステップＳ４２）。そして、電圧切替部１３４は、設定する送信電圧をステップＳ４２で読み出された送信電圧Ｖｔに切り替えて決定し、決定した送信電圧Ｖｔを送信部１０２に設定し（ステップＳ４３）、送信電圧更新処理を終了する。
【００７８】
以上、本実施の形態によれば、超音波診断装置１において、超音波探触子１ｂは、駆動電圧が印加されて超音波を送受信する。予測部１３１は、初期電圧Ｖｉを超音波探触子１ｂに印加したときの、周囲温度Ｔａに対する超音波探触子１ｂの表面の飽和温度を示す飽和温度上昇値ΔＴｓを算出する。電圧算出部１３２は、算出した初期電圧Ｖｉにおける飽和温度上昇値ΔＴｓと、初期電圧Ｖｉと、周囲温度Ｔａに対する超音波探触子１ｂの表面の目標温度Ｔｔを示す目標温度上昇値ΔＴｔとに基づき、目標温度Ｔｔに飽和させるための駆動電圧である送信電圧Ｖｔを算出して設定する。
【００７９】
このため、超音波探触子１ｂの表面温度を目標温度Ｔｔに飽和させる送信電圧Ｖｔを短時間で算出して取得できる。さらに、送信電圧Ｖｔを変更することなく超音波探触子１ｂに印加させることにより、表面温度が目標温度Ｔｔを超えることなく安定し超音波探触子１ｂの感度を高く安定できる。
【００８０】
また、超音波探触子１ｂは、交換接続が可能である。予測部１３１は、時定数テーブル３００を参照し、接続中の超音波探触子１ｂの探触子情報、診断モード及び測定条件に対応する時定数Ｔを取得する。予測部１３１は、時定数Ｔと、周囲温度Ｔａに対する超音波探触子１ｂの表面の現在温度を示す現在温度上昇値ΔＴｃと、初期電圧Ｖｉ印加からの所定の経過時間ｔ１と、周囲温度Ｔａに対する経過時間ｔ１での温度Ｔｄを示す経過時間ｔ１での温度上昇値ΔＴｄとを用いて、飽和温度上昇値ΔＴｓを算出する。このため、接続中の超音波探触子１ｂの探触子情報、診断モード及び測定条件に対応する適切な時定数を用いて、適切な飽和温度上昇値ΔＴｓを算出できる。
【００８１】
また、超音波診断装置１は、初期電圧Ｖｉ、経過時間ｔ１及び目標温度Ｔｔの入力を受け付ける操作入力部１０１を備える。予測部１３１は、入力された初期電圧Ｖｉ及び経過時間ｔ１を用いて、飽和温度上昇値ΔＴｓを算出する。電圧算出部１３２は、入力された目標温度Ｔｔを用いて、送信電圧Ｖｔを算出する。このため、操作者が初期電圧Ｖｉ、経過時間ｔ１及び目標温度Ｔｔを自在に設定できる。
【００８２】
また、予測部１３１は、時定数Ｔと、現在温度上昇値ΔＴｃと、経過時間ｔ１と、経過時間ｔ１での温度上昇値ΔＴｄとを用いて、式（１）により飽和温度上昇値ΔＴｓを算出する。このため、飽和温度上昇値ΔＴｓを容易かつ短時間に算出できる。
【００８３】
また、超音波診断装置１は、超音波探触子１ｂの表面温度を検知する温度センサー１２１を備える。予測部１３１は、温度センサー１２１により検知された温度により、周囲温度Ｔａ、現在温度Ｔｃ、経過時間ｔ１での温度Ｔｄを取得する。このため、周囲温度Ｔａ、現在温度Ｔｃ、経過時間ｔ１での温度Ｔｄを容易かつ正確に取得できる。
【００８４】
また、予測部１３１は、算出した飽和温度上昇値ΔＴｓが所定値より低いか否かを判別し、低い場合に、初期電圧Ｖｉの値を所定量上げ、上げた初期電圧Ｖｉを超音波探触子１ｂに印加して、飽和温度上昇値ΔＴｓを再算出する。このため、超音波探触子１ｂへの初期電圧Ｖｉ印加後の経過時間ｔ１における表面温度が上がりやすくなり、飽和温度上昇値ΔＴｓを容易に算出して予測できる。
【００８５】
また、電圧算出部１３２は、初期電圧Ｖｉと、飽和温度上昇値ΔＴｓと、目標温度上昇値ΔＴｔとを用いて、式（２）により、送信電圧Ｖｔを算出する。このため、送信電圧Ｖｔを容易かつ短時間に算出できる。
【００８６】
また、超音波診断装置１は、診断モード及び測定条件の少なくとも１つが変更された場合に、変更直前の駆動電圧の値を変更後の初期電圧Ｖｉに設定する電圧切替部１３３を備える。このため、接続中の前記超音波探触子の探触子情報、診断モード及び測定条件の少なくとも１つが変更された場合に、変更後の初期電圧Ｖｉを用いて、送信電圧Ｖｔを容易かつ適切に算出できる。
【００８７】
また、電圧算出部１３２は、算出した送信電圧Ｖｔを、接続中の超音波探触子１ｂの探触子情報、診断モード及び測定条件に対応付けて記憶部１０９の送信電圧テーブル４００に記憶する。電圧切替部１３４は、診断モード及び測定条件の少なくとも１つが変更された場合に、送信電圧テーブル４００を参照し、変更後の探触子情報、診断モード及び測定条件が記憶されているか否かを判別し、当該条件が記憶されている場合に、変更後の探触子情報、診断モード及び測定条件に対応する送信電圧Ｖｔを送信電圧テーブル４００から読み出して設定する。このため、過去の送信電圧Ｖｔを利用でき、制御部１０８（予測部１３１、電圧算出部１３２）の送信電圧Ｖｔ算出の負担を低減できる。
【００８８】
なお、上記実施の形態における記述は、本発明に係る好適な超音波診断装置の一例であり、これに限定されるものではない。
【００８９】
また、上記実施の形態では、周囲温度Ｔａは一定である構成としたが、これに限定されるものではない。周囲温度Ｔａは時間とともに変化することがある。このため、例えば、診断が長時間中断される場合や、長時間フリーズされてから超音波探触子の表面温度が完全に下がったときに、温度センサー１２１により温度を取得し、当該取得した温度で周囲温度Ｔａを更新する構成としてもよい。
【００９０】
また、以上の実施の形態における超音波診断装置１を構成する各部の細部構成及び細部動作に関して本発明の趣旨を逸脱することのない範囲で適宜変更可能である。
【符号の説明】
【００９１】
１  超音波診断装置
１ａ  超音波診断装置本体
１０１  操作入力部
１０２  送信部
１０３  受信部
１０４  画像生成部
１０５  画像処理部
１０６  ＤＳＣ
１０７  表示部
１０８  制御部
１３１  予測部
１３２  電圧算出部
１３３  電圧切替部
１３４  電圧切替部
１０９  記憶部
１ｂ  超音波探触子
１ｃ  ケーブル
【図１】
2018134226.tif 000009
【図２】
2018134226.tif 000010
【図３】
2018134226.tif 000011
【図４】
2018134226.tif 000012
【図５】
2018134226.tif 000013
【図６】
2018134226.tif 000014
【図７】
2018134226.tif 000015
【図８】
2018134226.tif 000016
【図９】
2018134226.tif 000017
【図１０】
2018134226.tif 000018
【図１１】
2018134226.tif 000019
【図１２】
2018134226.tif 000020
【図１３】
2018134226.tif 000021