(57)【要約】【課題】回路基板試験システムを提供する。【解決手段】回路基板試験システムは、試験ステージを有するとともに試験ステージに置かれる回路基板に対して試験を行うように配置される試験装置と、試験装置の外に位置するバッファステージと、試験ステージとバッファステージにそれぞれ置かれ、且つそれぞれ１つの回路基板を挟み込むように配置される２つの挟持治具と、それぞれ試験ステージとバッファステージとの間に移動し、挟持治具における一方を出したり入れたりするように配置される２つの出し入れモジュールを含む出し入れ装置と、試験装置において試験ステージに置かれる回路基板に対して試験した後で、挟持治具の配置位置を入れ替えるように出し入れモジュールを駆動するように配置される１つ又は複数のコントローラと、を備える。【選択図】図１
2018159695.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験ステージを有する試験装置と、
前記試験装置の外に位置するバッファステージと、
前記試験ステージと前記バッファステージにそれぞれ置かれ、且つそれぞれ１つの回路基板を挟み込むように配置され、また、前記試験装置が前記試験ステージに置かれる前記回路基板に対して試験を行うように配置される２つの挟持治具と、
それぞれが前記試験ステージと前記バッファステージとの間に移動し、前記挟持治具における一方を出したり入れたりするように配置される２つの出し入れモジュールを含む出し入れ装置と、
前記試験装置において前記試験ステージに置かれる前記回路基板に対して試験した後で、前記挟持治具の配置位置を入れ替えるように前記出し入れモジュールを駆動するように配置される１つ又は複数のコントローラと、
を備える回路基板試験システム。
【請求項２】
前記出し入れモジュールのそれぞれは、
前記試験ステージと前記バッファステージとの間に延伸するレールと、
前記レールに摺接される移動部材と、
前記移動部材に接続され、前記挟持治具における一方を出したり入れたりするように配置される出し入れユニットと、
を備える請求項１に記載の回路基板試験システム。
【請求項３】
回路基板が挟み込まれた挟持治具を試験装置の試験ステージに置くことと、
前記試験装置の外のバッファステージにおいて他の回路基板が挟み込まれた他の挟持治具を提供することと、
前記試験装置によって前記試験ステージに置かれる前記回路基板に対して試験を行うことと、
前記試験装置が前記試験ステージに置かれた前記回路基板を試験した後で、前記挟持治具の配置位置を入れ替えることと、
を含む回路基板試験方法。
【請求項４】
前記バッファステージにおいて前記他の回路基板が挟み込まれた前記他の挟持治具を提供する前記工程は、
前記他の挟持治具を前記バッファステージに置くことと、
前記他の挟持治具によって前記他の回路基板を挟み込むことと、
を含む請求項３に記載の回路基板試験方法。
【請求項５】
前記バッファステージにおいて前記他の回路基板が挟み込まれた前記他の挟持治具を提供する前記工程は、前記試験装置において前記試験ステージに置かれる前記回路基板に対して試験を行う期間内で行われる請求項３又は請求項４に記載の回路基板試験方法。
【請求項６】
挟持治具を備える回路基板実装装置において、前記挟持治具は、
第１のベースと、
前記第１のベースに取り外し可能に固定される固定基板と、第１の方向に沿って前記固定基板に摺動可能に設けられる変位アセンブリと、前記変位アセンブリに設けられ、前記変位アセンブリに対して近接又は離反して移動するように配置される挟持ヘッドと、前記固定基板と前記変位アセンブリに接続され、前記変位アセンブリを前記固定基板により前記第１のベースに対して外へ移動させるように駆動するように配置される少なくとも１つの第１の弾性部材と、前記変位アセンブリと前記挟持ヘッドに接続され、前記挟持ヘッドを前記変位アセンブリに向かって当接させるように駆動するように配置される少なくとも１つの第２の弾性部材と、をそれぞれ含む複数の挟持構造と、
を備える回路基板実装装置。
【請求項７】
前記第１のベースは、複数のコーナーを有する筐体であり、また、前記挟持構造がそれぞれ前記コーナーに近接するように設けられる請求項６に記載の回路基板実装装置。
【請求項８】
前記変位アセンブリは、
前記固定基板に摺動可能に設けられる第１の変位基板と、
第２の方向に沿って前記第１の変位基板に摺動可能に設けられる第２の変位基板と、
前記第１の変位基板と前記第２の変位基板に接続され、前記第２の変位基板を前記第１の変位基板により前記第１のベースに対して外へ移動させるように駆動するように配置される少なくとも１つの第３の弾性部材と、
を備え、
前記第１の弾性部材が前記固定基板と前記第１の変位基板に接続され、
前記挟持ヘッドが前記第２の変位基板に設けられ、且つ前記第２の弾性部材が前記第２の変位基板と前記挟持ヘッドに接続されている請求項６又は請求項７に記載の回路基板実装装置。
【請求項９】
前記挟持治具の下に設けられるように配置される第２のベースと、
対応する前記挟持ヘッドを押付して、対応する前記挟持ヘッドを対応する前記変位アセンブリから離れるように配置される押付アセンブリと、対応する前記第１の変位基板を押付して、対応する前記第１の変位基板を対応する前記固定基板により前記第１のベースに対して内へ移動させるように配置される第１の押付ブロックと、対応する前記第２の変位基板を押付して、対応する前記第２の変位基板を対応する前記第１の変位基板により前記第１のベースに対して内へ移動させるように配置される第２の押付ブロックと、をそれぞれ含み、前記第２のベースに固定され、それぞれ前記挟持構造に対応する複数のロック解除構造と、
を有するロック解除装置を更に備える請求項８に記載の回路基板実装装置。
【請求項１０】
前記第１の弾性部材は、前記第１の変位基板が前記固定基板に対して実質的に他の前記挟持構造における一方から離反して移動するように配置され、前記第３の弾性部材は、前記第２の変位基板が前記第１の変位基板に対して実質的に他の前記挟持構造における他方から離反して移動するように配置される請求項８又は請求項９に記載の回路基板実装装置。
【請求項１１】
前記固定基板が少なくとも１つのガイドブロックを有し、前記第１の変位基板が少なくとも１つのガイド溝を有し、前記ガイドブロックが前記ガイド溝内に摺接され、且つ、前記第１の弾性部材が前記ガイドブロックと前記ガイド溝の一端との間に接続される請求項８乃至請求項１０のいずれか１項に記載の回路基板実装装置。
【請求項１２】
前記第１の変位基板が少なくとも１つのガイドブロックを有し、前記第２の変位基板が少なくとも１つのガイド溝を有し、前記ガイドブロックが前記ガイド溝内に摺接され、且つ、前記第３の弾性部材が前記ガイドブロックと前記ガイド溝の一端との間に接続される請求項８乃至請求項１０のいずれか１項に記載の回路基板実装装置。
【請求項１３】
前記第２の変位基板は、
前記第１の変位基板に摺動可能に設けられるプレートと、
前記第１の方向に沿って前記プレートに摺動可能に設けられ、前記挟持ヘッドが設けられる連動板と、
前記プレートと前記連動板に接続され、前記連動板を前記プレートにより前記固定基板に対して内へ移動させるように駆動するように配置される第４の弾性部材と、
を含み、
前記第３の弾性部材が前記第１の変位基板と前記プレートに接続されている請求項８、請求項１０乃至請求項１２のいずれか１項に記載の回路基板実装装置。
【請求項１４】
前記挟持治具の下に設けられるように配置される第２のベースと、
対応する前記挟持ヘッドを押付して、対応する前記挟持ヘッドを対応する前記変位アセンブリから離れるように配置される押付アセンブリと、対応する前記第１の変位基板を押付して、対応する前記第１の変位基板を対応する前記固定基板により前記第１のベースに対して内へ移動させるように配置される第１の押付ブロックと、対応する前記第２の変位基板を押付して、対応する前記第２の変位基板を対応する前記第１の変位基板により前記第１のベースに対して内へ移動させるように配置される第２の押付ブロックと、対応する前記連動板を押付して、対応する前記連動板を対応する前記プレートにより前記第１のベースに対して外へ移動させるように配置される第３の押付ブロックと、をそれぞれ含み、前記第２のベースに固定され、それぞれ前記挟持構造に対応する複数のロック解除構造と、
を有するロック解除装置を更に備える請求項１３に記載の回路基板実装装置。
【請求項１５】
前記挟持治具の下に設けられるように配置される第２のベースと、
対応する前記挟持ヘッドを押付して、対応する前記挟持ヘッドを対応する前記変位アセンブリから離れるように配置される押付アセンブリをそれぞれ含み、前記第２のベースに固定され、それぞれ前記挟持構造に対応する複数のロック解除構造と、
を有するロック解除装置を更に備える請求項６乃至請求項８、請求項１０乃至請求項１３のいずれか１項に記載の回路基板実装装置。
【請求項１６】
前記押付アセンブリは、
対応する前記挟持ヘッドに対して近接又は離反して移動するように配置され、対向する第１の表面及び第２の表面を有する移動基板と、
摺動可能に前記第１の表面と前記第２の表面を貫通し、第１端及び第２端を有し、前記第１端が前記第１の表面に当接するように配置されるガイドロッドと、
前記第２端に接続され、対応する前記挟持ヘッドを押付するように配置される固定部材と、
前記ガイドロッドの外に外嵌され、前記固定部材を前記第２の表面から離反して移動させ、前記第１端を前記第１の表面に当接させるように配置されるバネと、
を含む請求項９、請求項１４、請求項１５のいずれか１項に記載の回路基板実装装置。
【請求項１７】
前記固定部材は、
前記第２端に接続される固定ブロックと、
前記固定ブロックに枢着され、対応する前記挟持ヘッドを押付するように配置されるローラと、
を含む請求項１６に記載の回路基板実装装置。
【請求項１８】
前記ロック解除装置のそれぞれは、前記押付アセンブリが設けられるシリンダーロッドを有するシリンダーモジュールを更に含む請求項９、請求項１４、請求項１５のいずれか１項に記載の回路基板実装装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路基板試験システム、回路基板試験方法及び回路基板実装装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
プリント回路基板（回路基板と略称）における回路の導電状況を点検するために、試験装置を使用してその検査プローブをプリント板におけるコンタクトに接触することによって試験を行うことは一般的である。試験時に、回路基板は、試験装置内部のステージに固定されることがある。次に、検査プローブは、下向きに回路基板へ延伸し、そして回路基板のコンタクトに接触し、これにより導電したかどうかを点検するようになる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、前記の試験装置は、十分な精度で安定的に点検ができないことがある。例を挙げれば、フレキシブル回路基板の点検時に、フレキシブル回路基板の中央部に重力による垂下が発生することがあり、これによってずっと平面状態に保持できないようになる。この理由で、試験装置によってこのようなフレキシブル回路基板を点検する時に、検査プローブは、確実にフレキシブル回路基板のコンタクトに接触できないことがある。ひいては、試験装置に高い位置決め精度を持つ精密な検査プローブが配置される場合、この精密な検査プローブは、フレキシブル回路基板の歪み又は変形の程度によりその実体公差値を超えて壊されやすくなる。
【０００４】
また、従来の試験装置は、１つのステージだけを有するので、利用者は試験後に試験が完成した回路基板を取り外さなければ、次の回路基板を置いて試験し続けることができないため、回路基板の試験周期が長い。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
これに鑑みて、本発明の一目的は、回路基板の試験周期を効果的に減少させることができる回路基板試験システムと方法、及び試験精度を向上させることができる回路基板実装装置を提供することにある。
【０００６】
上記の目的を達成するために、本発明の一実施形態によれば、回路基板試験システムは、試験装置、バッファステージ、２つの挟持治具、出し入れ装置及び１つ又は複数のコントローラを備える。試験装置は、試験ステージを有する。バッファステージは、試験装置の外に位置する。挟持治具は、試験ステージとバッファステージにそれぞれ置かれ、且つそれぞれ１つの回路基板を挟み込むように配置される。試験装置は、試験ステージに置かれる回路基板に対して試験を行うように配置される。出し入れ装置は、２つの出し入れモジュールを含む。出し入れモジュールのそれぞれは、試験ステージとバッファステージとの間に移動し、その中の一方の挟持治具を出したり入れたりするように配置される。１つ又は複数のコントローラは、試験装置において試験ステージに置かれる回路基板に対して試験を行った後で、挟持治具の配置位置を入れ替えるように出し入れモジュールを駆動するように配置される。
【０００７】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記出し入れモジュールのそれぞれは、レール、移動部材及び出し入れユニットを含む。レールは、試験ステージとバッファステージとの間に延伸する。移動部材は、レールに摺接される。出し入れユニットは、移動部材に接続され、その中の一方の挟持治具を出したり入れたりするように配置される。
【０００８】
上記の目的を達成するために、本発明の一実施形態によれば、回路基板試験方法は、回路基板が挟み込まれた挟持治具を試験装置の試験ステージに置くことと、試験装置の外のバッファステージにおいて他の回路基板が挟み込まれた他の挟持治具を提供することと、試験装置によって試験ステージに置かれる回路基板に対して試験を行うことと、試験装置が試験ステージに置かれる回路基板に対して試験した後で、挟持治具の配置位置を入れ替えることと、を含む。
【０００９】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記の他の回路基板が挟み込まれた他の挟持治具をバッファステージに置く工程は、他の挟持治具をバッファステージに置くことと、他の挟持治具によって他の回路基板を挟み込むことと、を含む。
【００１０】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記の他の回路基板が挟み込まれた他の挟持治具をバッファステージに置く工程は、試験装置において試験ステージに置かれる回路基板に対して試験を行う期間内で行われる。
【００１１】
上記の目的を達成するために、本発明の一実施形態によれば、回路基板実装装置は、挟持治具を備える。挟持治具は、第１のベース及び複数の挟持構造を有する。挟持構造は、固定基板、変位アセンブリ、挟持ヘッド、少なくとも１つの第１の弾性部材及び少なくとも１つの第２の弾性部材をそれぞれ含む。固定基板は、第１のベースに取り外し可能に固定される。変位アセンブリは、第１の方向に沿って固定基板に摺動可能に設けられる。挟持ヘッドは、変位アセンブリに設けられ、変位アセンブリに対して近接又は離反して移動するように配置される。第１の弾性部材は、固定基板と変位アセンブリに接続され、変位アセンブリを固定基板により第１のベースに対して外へ移動させるように駆動するように配置される。第２の弾性部材は、変位アセンブリと挟持ヘッドに接続され、挟持ヘッドを変位アセンブリに向かって当接させるように駆動するように配置される。
【００１２】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記の回路基板実装装置は、第２のベース及び複数のロック解除構造を含むロック解除装置を更に備える。第２のベースは、挟持治具の下に設けられるように配置される。ロック解除構造は、第２のベースに固定され、それぞれ挟持構造に対応する。ロック解除構造のそれぞれは、押付アセンブリを含む。押付アセンブリは、対応する挟持ヘッドを押付して、対応する挟持ヘッドを対応する変位アセンブリから離れるように配置される。
【００１３】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記の第１のベースは、複数のコーナーを有する筐体である。挟持構造は、それぞれコーナーに近接するように設けられる。
【００１４】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記の変位アセンブリは、第１の変位基板、第２の変位基板及び第３の弾性部材を含む。第１の変位基板は、固定基板に摺動可能に設けられる。第１の弾性部材は、固定基板と第１の変位基板に接続される。第２の変位基板は、第２の方向に沿って第１の変位基板に摺動可能に設けられる。挟持ヘッドは、第２の変位基板に設けられる。第２の弾性部材は、第２の変位基板と挟持ヘッドに接続される。第３の弾性部材は、第１の変位基板と第２の変位基板に接続され、第２の変位基板を第１の変位基板により第１のベースに対して外へ移動させるように駆動するたように配置される。
【００１５】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記ロック解除構造のそれぞれは、第１の押付ブロック及び第２の押付ブロックを更に含む。第１の押付ブロックは、対応する第１の変位基板を押付して、対応する第１の変位基板を対応する固定基板により第１のベースに対して内へ移動させるように配置される。第２の押付ブロックは、対応する第２の変位基板を押付して、対応する第２の変位基板を対応する第１の変位基板により第１のベースに対して内へ移動させるように配置される。
【００１６】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記の第１の弾性部材は、第１の変位基板を固定基板に対して実質的に他の挟持構造における一方から離反して移動させるように配置される。第３の弾性部材は、第２の変位基板を第１の変位基板に対して実質的に他の挟持構造における他方から離反して移動させるように配置される。
【００１７】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記の固定基板は、少なくとも１つのガイドブロックを有する。第１の変位基板は、少なくとも１つのガイド溝を有する。ガイドブロックは、ガイド溝内に摺接される。第１の弾性部材は、ガイドブロックとガイド溝の一端との間に接続される。
【００１８】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記の第１の変位基板は、少なくとも１つのガイドブロックを有する。第２の変位基板は、少なくとも１つのガイド溝を有する。ガイドブロックは、ガイド溝内に摺接される。第３の弾性部材は、ガイドブロックとガイド溝の一端との間に接続される。
【００１９】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記の第２の変位基板は、プレート、連動板及び第４の弾性部材を含む。プレートは、第１の変位基板に摺動可能に設けられる。第３の弾性部材は、第１の変位基板とプレートに接続される。連動板は、第１の方向に沿ってプレートに摺動可能に設けられる。挟持ヘッドは、連動板に設けられる。第４の弾性部材は、プレートと連動板に接続され、連動板をプレートにより固定基板に対して内へ移動させるように駆動するように配置される。
【００２０】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記ロック解除構造のそれぞれは、第３の押付ブロックを更に含む。第３の押付ブロックは、対応する連動板を押付して、対応する連動板を対応するプレートにより第１のベースに対して外へ移動させるように配置される。
【００２１】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記の押付アセンブリは、移動基板、ガイドロッド、固定部材及びバネを含む。移動基板は、対応する挟持ヘッドに対して近接又は離反して移動するように配置され、対向する第１の表面及び第２の表面を有する。ガイドロッドは、摺動可能に第１の表面と第２の表面を貫通し、且つ第１端及び第２端を有する。第１端は、第１の表面に当接するように配置される。固定部材は、第２端に接続され、対応する挟持ヘッドを押付するように配置される。バネは、ガイドロッドの外に外嵌され、固定部材を第２の表面から離反して移動させ、第１端を第１の表面に当接させるように配置される。
【００２２】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記の固定部材は、固定ブロック及びローラを含む。固定ブロックは、第２端に接続される。ローラは、固定ブロックに枢着され、対応する挟持ヘッドを押付するように配置される。
【００２３】
本発明の１つ又は複数の実施形態において、上記ロック解除装置のそれぞれは、シリンダーモジュールを更に含む。シリンダーモジュールは、シリンダーロッドを有する。押付アセンブリは、シリンダーロッドに設けられる。
【発明の効果】
【００２４】
要するに、本発明に係る回路基板試験システム及び回路基板試験方法によれば、回路基板が挟み込まれた挟持治具は、先に試験装置内の試験ステージに置かれて試験を行うことができる。試験装置の試験期間内で、利用者は、試験装置の外のバッファステージにおいて予め他の挟持治具によって他の回路基板を挟み込むことができる。このため、試験装置は、試験が完成すると、出し入れ装置によって挟持治具の配置位置を速く入れ替えでき、これによって、回路基板の試験周期を効果的に減少させるように、直ちに次の回路基板を点検することができる。また、本発明に係る回路基板実装装置の挟持治具によれば、挟持ヘッドが変位アセンブリに向かって当接して回路基板を挟み込んだ後で、弾性部材によって変位アセンブリを固定基板により第１のベースに対して外へ移動させるように駆動し、これによって、回路基板を平面状態に保持するように回路基板を外へ展開させ、更に試験精度を向上させることができる。本発明に係る回路基板実装装置のロック解除装置によれば、押付ブロックによって回路基板を未展開状態に回復させるように変位アセンブリを押付して、押付アセンブリによって挟持ヘッドを変位アセンブリから離れて回路基板を解放するように押付する。これにより、本発明に係る回路基板実装装置は、単純な機械的方式で回路基板の実装とロック解除を完成するものであるため、複雑な配線を略すことができ、本発明に係る回路基板試験システム及び回路基板試験方法に合わせて使用できることが判明される。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
本発明の上記及び他の目的、特徴、メリット及び実施例をより分かりやすくするための、添付図面の説明は以下の通りである。
【図１】本発明の一実施形態に係る回路基板試験システムを示す斜視図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る回路基板試験システムの一部の素子を示す回路図である。
【図３】本発明の一実施形態に係る回路基板試験方法を示すフロー図である。
【図４】本発明の一実施形態に係る回路基板実装装置の斜視図である。
【図５】図４における挟持治具を示す斜視図である。
【図６】図４におけるロック解除装置を示す斜視図である。
【図７】図５における一方の挟持構造の一部の素子を示す斜視図である。
【図８】図６における一方のロック解除構造の一部の素子を示す斜視図である。
【図９Ａ】本発明の一実施形態に係る１組の挟持構造とロック解除構造を示す正面図であり、また、ロック解除構造が挟持構造に対してロック解除を行わない。
【図９Ｂ】図９Ａにおけるすべての部材を示す上面図である。
【図１０Ａ】本発明の一実施形態に係る１組の挟持構造とロック解除構造を示す正面図であり、また、ロック解除構造が既に挟持構造に対してロック解除を行った。
【図１０Ｂ】図１０Ａにおけるすべての部材を示す上面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
上記は、本発明が解決しようとする課題、課題を解決するための技術手段、及びその効果等を記述するためのものであり、本発明の具体的な細部を、下記の実施形態及び関連する図面において詳しく説明する。
【００２７】
以下に、図面で本発明の複数の実施形態を開示するが、明らかに説明するために、多くの実務上の細部は、以下の説明において併せて説明する。しかしながら、了解すべきなのは、これらの実務上の細部が、本発明を制限するためのものではない。即ち、本発明の実施形態の一部において、これらの実務上の細部は必要でないものである。なお、図面を簡略化するために、幾つかの従来の慣用の構造と素子は、図面において簡単で模式的に描画されるものである。
【００２８】
図１及び図２を参照されたい。図１は、本発明の一実施形態に係る回路基板試験システム１００を示す斜視図である。図２は、本発明の一実施形態に係る回路基板試験システム１００の一部の素子を示す回路図である。図１と図２に示すように、本実施形態において、回路基板試験システム１００は、試験装置１１０、バッファステージ１２０、２つの挟持治具１３０、出し入れ装置及び１つ又は複数のコントローラ１５０（図２において１つだけを例示的に示す）を備える。試験装置１１０は、試験ステージ１１１を有する。バッファステージ１２０は、試験装置１１０の外に位置する。挟持治具１３０は、試験ステージ１１１とバッファステージ１２０にそれぞれ置かれ、且つそれぞれ１つの回路基板を挟み込むように配置される。試験装置１１０は、試験ステージ１１１に置かれる回路基板に対して試験を行うように配置される。試験装置１１０の回路基板に対して試験を行うための具体的な素子は、ここで詳しく説明しない。出し入れ装置は、２つの出し入れモジュール１４０を含む。出し入れモジュール１４０のそれぞれは、試験ステージ１１１とバッファステージ１２０との間に移動し、その中の一方の挟持治具１３０を出したり入れたりするように配置される。１つ又は複数のコントローラ１５０は、試験装置１１０が試験ステージ１１１に置かれる回路基板に対して試験を行った後で、挟持治具１３０の配置位置を入れ替えるように出し入れモジュール１４０を駆動するように配置される。
【００２９】
具体的には、出し入れモジュール１４０のそれぞれは、レール１４１、移動部材１４２及び出し入れユニット１４３を含む。レール１４１は、試験ステージ１１１とバッファステージ１２０との間に延伸する。移動部材１４２は、レール１４１に摺接される。出し入れユニット１４３は、移動部材１４２に接続され、その中の一方の挟持治具１３０を出したり入れたりするように配置される。
【００３０】
幾つかの実施形態において、前記移動部材１４２は、サーボモータに合わせるリニアスライドの方式又は他の取り替え可能な方式によって実現されることができるので、ここで詳しく説明しない。
【００３１】
幾つかの実施形態において、出し入れユニット１４３は、昇降ロッド又は多軸ロボットアームにより構成されるが、本発明はこれらに限定されない。
【００３２】
幾つかの実施形態において、出し入れユニット１４３は、機械式グリッパ又は吸着方式によって挟持治具１３０に対して出したり入れたりすることができるが、本発明はこれらに限定されない。更に、前記吸着方式は、またマグネティック方式（例えば、電磁石によって挟持治具１３０に設けられる磁性素子を吸着）と吸気方式（例えば、吸盤又は真空吸着によるもの）を含む。
【００３３】
図３を参照されたい。図３は、本発明の一実施形態に係る回路基板試験方法を示すフロー図である。本実施形態の回路基板試験方法は、図１に示すような回路基板試験システム１００に合わせて使用されてもよい。回路基板試験方法は、工程Ｓ１０１〜Ｓ１０５を含む。
【００３４】
工程Ｓ１０１において、回路基板が挟み込まれた挟持治具１３０は、試験装置１１０の試験ステージ１１１に置かれる。
【００３５】
工程Ｓ１０２において、試験装置１１０は、試験ステージ１１１に置かれる回路基板に対して試験を行うことに用いられる。
【００３６】
工程Ｓ１０３において、他の挟持治具１３０は、試験装置１１０の外のバッファステージ１２０に置かれる。
【００３７】
工程Ｓ１０４において、他の回路基板は、他の挟持治具１３０によって挟み込まれる。本実施形態において、工程Ｓ１０４は、工程Ｓ１０３の後に続いて行われるが、本発明はこれらに限定されない。バッファステージ１２０が試験装置１１０の外に位置し、且つ利用者に近付くため、利用者は、他の挟持治具１３０を容易に置くことができる。本実施形態において、工程Ｓ１０３と工程Ｓ１０４は、工程Ｓ１０２を行う期間内で行われるが、本発明はこれに限定されない。
【００３８】
工程Ｓ１０５において、試験装置１１０は、試験ステージ１１１に置かれる回路基板に対して試験した後で、挟持治具１３０の配置位置を入れ替える。
【００３９】
前記構造配置と工程操作から分かるように、回路基板が挟み込まれた挟持治具１３０は、先に試験装置１１０内の試験ステージ１１１に置かれて試験を行うことができる。試験装置１１０の試験期間内で、利用者は、試験装置１１０の外のバッファステージ１２０において予め他の挟持治具１３０によって他の回路基板を挟み込むことができる。このため、試験装置１１０は、試験を完成すると、出し入れ装置によって挟持治具１３０の配置位置を速く入れ替えでき、これによって、回路基板の試験周期を効果的に減少させるように、直ちに他の挟持治具１３０における他の回路基板を点検することができる。
【００４０】
図４〜図６を参照されたい。図４は、本発明の一実施形態に係る回路基板実装装置を示す斜視図である。図５は、図４における挟持治具１３０を示す斜視図である。図６は、図４におけるロック解除装置１６０を示す斜視図である。図４〜図６に示すように、本実施形態において、回路基板実装装置は、挟持治具１３０及びロック解除装置１６０を備える。挟持治具１３０は、第１のベース１３１及び４つの挟持構造１３２（図４において１つだけを例示的に示す）を有する。第１のベース１３１は、４つのコーナーを有する筐体である。挟持構造１３２は、それぞれコーナーに近接するように設けられる。ロック解除装置１６０は、第２のベース１６１及び４つのロック解除構造１６２（図４において１つだけを例示的に示す）を含む。第２のベース１６１は、挟持治具１３０の下に設けられるように配置される。具体的には、第１のベース１３１は、バッファステージ１２０に搭載され、第２のベース１６１は、バッファステージ１２０の下に設けられてよい。ロック解除構造１６２は、第２のベース１６１に固定され、それぞれ挟持構造１３２に対応する。実用上、挟持治具１３０に含まれる挟持構造１３２の数、第１のベース１３１のコーナーの数とロック解除装置１６０に含まれるロック解除構造１６２の数は、本実施形態に限定されない。以下、挟持構造１３２とロック解除構造１６２に含まれる素子の構造、機能及び各素子の間の接続と作動関係を詳しく説明する。
【００４１】
図７、図９Ａ及び図９Ｂを参照されたい。図７は、図５における一方の挟持構造１３２の一部の素子を示す斜視図である。精確に言えば、図７は、図５における右上の挟持構造１３２を例として説明するものである。図９Ａは、本発明の一実施形態に係る１組の挟持構造１３２とロック解除構造１６２を示す正面図であり、また、ロック解除構造１６２が挟持構造１３２に対してロック解除を行わない。図９Ｂは、図９Ａにおけるすべての部材を示す上面図である。本実施形態において、挟持構造１３２は、固定基板１３２ａ、変位アセンブリ１３２ｂ、挟持ヘッド１３２ｃ、第２の弾性部材１３２ｅ（図９Ａを参照）及び４つの第１の弾性部材１３２ｆ（図７において１つだけを例示的に示す）をそれぞれ備える。実用上、第１の弾性部材１３２ｆの数は、本実施形態に限定されない。固定基板１３２ａは、第１のベース１３１に取り外し可能に固定される（図５を合わせて参照）。変位アセンブリ１３２ｂは、第１の方向Ａ１に沿って固定基板１３２ａに摺動可能に設けられる。挟持ヘッド１３２ｃは、変位アセンブリ１３２ｂに設けられ、変位アセンブリ１３２ｂに対して近接又は離反して移動するように配置される。第１の弾性部材１３２ｆは、固定基板１３２ａと変位アセンブリ１３２ｂに接続され、変位アセンブリ１３２ｂを固定基板１３２ａにより第１のベース１３１に対して外へ移動させるように駆動するように配置される（図５を合わせて参照）。第２の弾性部材１３２ｅは、変位アセンブリ１３２ｂと挟持ヘッド１３２ｃに接続され、挟持ヘッド１３２ｃを変位アセンブリ１３２ｂに向かって当接させるように駆動するように配置される。
【００４２】
具体的には、本実施形態において、変位アセンブリ１３２ｂは、第１の変位基板１３２ｂ１、第２の変位基板１３２ｂ２及び４つの第３の弾性部材１３２ｂ３を含む（図７において１つだけを例示的に示す）。実用上、第３の弾性部材１３２ｂ３の数は、本実施形態に限定されない。第１の変位基板１３２ｂ１は、固定基板１３２ａに摺動可能に設けられる。第１の弾性部材１３２ｆは、固定基板１３２ａと第１の変位基板１３２ｂ１に接続される。第２の変位基板１３２ｂ２は、第２の方向Ａ２に沿って第１の変位基板１３２ｂ１に摺動可能に設けられる。挟持ヘッド１３２ｃは、第２の変位基板１３２ｂ２に設けられる。第２の弾性部材１３２ｅは、第２の変位基板１３２ｂ２と挟持ヘッド１３２ｃに接続される。第３の弾性部材１３２ｂ３は、第１の変位基板１３２ｂ１と第２の変位基板１３２ｂ２に接続され、第２の変位基板１３２ｂ２を第１の変位基板１３２ｂ１により第１のベース１３１に対して第２の方向Ａ２に沿って外へ移動させるように駆動するように配置される（図５を合わせて参照）。
【００４３】
図５を合わせて参照されたい。本実施形態において、第１の弾性部材１３２ｆは、第１の変位基板１３２ｂ１を固定基板１３２ａに対して実質的に他の挟持構造１３２における一方から離反して移動させるように配置される（即ち、図５の右下の挟持構造１３２から離反して移動する）。第３の弾性部材１３２ｂ３は、第２の変位基板１３２ｂ２を第１の変位基板１３２ｂ１に対して実質的に他の挟持構造１３２における他方から離反して移動させるように駆動するように配置される（即ち、図５の左上の挟持構造１３２から離反して移動する）。
【００４４】
本実施形態において、固定基板１３２ａは、４つのガイドブロック１３２ａ１を有する（図７において１つだけを例示的に示す）。第１の変位基板１３２ｂ１は、４つのガイド溝１３２ｂ１１を有する（図７において１つだけを例示的に示す）。ガイドブロック１３２ａ１は、ガイド溝１３２ｂ１１内に摺接される。第１の弾性部材１３２ｆは、第１の変位基板１３２ｂ１を固定基板１３２ａにより第１のベース１３１に対して第１の方向Ａ１に沿って外へ移動させるように駆動する目的で、ガイドブロック１３２ａ１とガイド溝１３２ｂ１１の一端との間に接続される。実用上、ガイドブロック１３２ａ１とガイド溝１３２ｂ１１の数は、本実施形態に限定されない。
【００４５】
本実施形態において、第１の変位基板１３２ｂ１は、４つのガイドブロック１３２ｂ１２を有する（図７において１つだけを例示的に示す）。第２の変位基板１３２ｂ２は、４つのガイド溝１３２ｂ２２を有する（図７において１つだけを例示的に示す）。ガイドブロック１３２ｂ１２は、ガイド溝１３２ｂ２２内に摺接される。第３の弾性部材１３２ｂ３は、第２の変位基板１３２ｂ２を第１の変位基板１３２ｂ１により第１のベース１３１に対して第２の方向Ａ２に沿って外へ移動させるように駆動する目的で、ガイドブロック１３２ｂ１２とガイド溝１３２ｂ２２の一端との間に接続される。実用上、ガイドブロック１３２ｂ１２とガイド溝１３２ｂ２２の数は、本実施形態に限定されない。
【００４６】
更に、第２の変位基板１３２ｂ２は、プレート１３２ｂ２１、連動板１３２ｂ２３、第４の弾性部材１３２ｂ２４、挟持底板１３２ｂ２５及びストッパーブロック１３２ｂ２６を備える。プレート１３２ｂ２１は、第１の変位基板１３２ｂ１に摺動可能に設けられる。前記ガイド溝１３２ｂ２２は、プレート１３２ｂ２１に設けられる。第３の弾性部材１３２ｂ３は、第１の変位基板１３２ｂ１とプレート１３２ｂ２１に接続される。連動板１３２ｂ２３は、第１の方向Ａ１に沿ってプレート１３２ｂ２１に摺動可能に設けられる。挟持ヘッド１３２ｃは、連動板１３２ｂ２３に設けられる。挟持底板１３２ｂ２５は、プレート１３２ｂ２１に固定され、挟持ヘッド１３２ｃに当接するように配置される。挟持構造１３２は、昇降底板１３２ｄを更に含む。昇降底板１３２ｄは、連動板１３２ｂ２３を貫通して挟持ヘッド１３２ｃに接続され、且つ、第２の弾性部材１３２ｅは、挟持ヘッド１３２ｃが挟持底板１３２ｂ２５に向かって挟み込むように、連動板１３２ｂ２３と昇降底板１３２ｄとの間に圧縮される。ストッパーブロック１３２ｂ２６は、プレート１３２ｂ２１に固定される。第４の弾性部材１３２ｂ２４は、プレート１３２ｂ２１と連動板１３２ｂ２３に接続され、連動板１３２ｂ２３をプレート１３２ｂ２１により固定基板１３２ａに対して第１の方向Ａ１に沿って内へ移動させるように駆動するように配置される。具体的には、第４の弾性部材１３２ｂ２４は、連動板１３２ｂ２３がストッパーブロック１３２ｂ２６から離反して移動し昇降底板１３２ｄに当接するように、プレート１３２ｂ２１におけるストッパーブロック１３２ｂ２６と連動板１３２ｂ２３との間に圧縮される（図９Ａを合わせて参照）。
【００４７】
図８、図１０Ａ及び図１０Ｂを参照されたい。図８は、図６における一方のロック解除構造１６２の一部の素子を示す斜視図である。精確に言えば、図８は、図５における右上のロック解除構造１６２を例として説明するものである。図１０Ａは、本発明の一実施形態に係る１組の挟持構造１３２とロック解除構造１６２を示す正面図であり、また、ロック解除構造１６２が既に挟持構造１３２に対してロック解除を行った。図１０Ｂは、図１０Ａにおけるすべての部材を示す上面図である。本実施形態において、ロック解除装置１６０のそれぞれは、シリンダーモジュール１６３を更に含む。シリンダーモジュール１６３は、シリンダーロッド１６３ａを有する。ロック解除構造１６２は、押付アセンブリ１６２ａを含む。押付アセンブリ１６２ａは、シリンダーロッド１６３ａに設けられ、対応する挟持ヘッド１３２ｃを押付して（昇降底板１３２ｄを押付することによって挟持ヘッド１３２ｃを連動させる）、対応する挟持ヘッド１３２ｃを対応する変位アセンブリ１３２ｂの第２の変位基板１３２ｂ２における挟持底板１３２ｂ２５から離れるように配置される。
【００４８】
具体的には、図８、図９Ａ及び図１０Ａを合わせて参照されたい。押付アセンブリ１６２ａは、移動基板１６２ａ１、ガイドロッド１６２ａ２、固定部材１６２ａ３及びバネ１６２ａ４を含む。移動基板１６２ａ１は、対応する挟持ヘッド１３２ｃに対して近接又は離反して移動するように配置され、対向する第１の表面１６２ａ１１及び第２の表面１６２ａ１２を有する。ガイドロッド１６２ａ２は、摺動可能に第１の表面１６２ａ１１と第２の表面１６２ａ１２を貫通し、第１端１６２ａ２１及び第２端１６２ａ２２を有する。第１端１６２ａ２１は、大きなヘッド部を有するため、第１の表面１６２ａ１１に当接するように配置される。固定部材１６２ａ３は、第２端１６２ａ２２に接続され、対応する挟持ヘッド１３２ｃを押付するように配置される（昇降底板１３２ｄを押付することによって挟持ヘッド１３２ｃを連動させる）。バネ１６２ａ４は、ガイドロッド１６２ａ２の外に外嵌され、固定部材１６２ａ３を第２の表面１６２ａ１２から離反して移動させ、第１端１６２ａ２１を第１の表面１６２ａ１１に当接させるように配置される。
【００４９】
図８に示すように、ロック解除構造１６２は、第１の押付ブロック１６２ｂ及び第２の押付ブロック１６２ｃを更に含む。第１の押付ブロック１６２ｂと第２の押付ブロック１６２ｃは、それぞれ押付アセンブリ１６２ａの移動基板１６２ａ１に接続される。第１の押付ブロック１６２ｂは、対応する第１の変位基板１３２ｂ１を押付して、対応する第１の変位基板１３２ｂ１を対応する固定基板１３２ａにより第１のベース１３１に対して第１の方向Ａ１に沿って内へ移動させるように配置される（図１０Ｂを合わせて参照）。第２の押付ブロック１６２ｃは、対応する第２の変位基板１３２ｂ２を押付して、対応する第２の変位基板１３２ｂ２を対応する第１の変位基板１３２ｂ１により第１のベース１３１に対して第２の方向Ａ２に沿って内へ移動させるように配置される（図１０Ｂを合わせて参照）。
【００５０】
図８に示すように、ロック解除構造１６２は、第３の押付ブロック１６２ｄを更に含む。第３の押付ブロック１６２ｄは、押付アセンブリ１６２ａの移動基板１６２ａ１に接続される。第３の押付ブロック１６２ｄは、対応する連動板１３２ｂ２３を押付して、対応する連動板１３２ｂ２３を対応する第２の変位基板１３２ｂ２のプレート１３２ｂ２１により第１のベース１３１に対して第１の方向Ａ１に沿って外へ移動させるように配置される（図５と図１０Ｂを合わせて参照）。
【００５１】
図８、図９Ａ及び図１０Ａを合わせて参照されたい。固定部材１６２ａ３は、固定ブロック１６２ａ３１及びローラ１６２ａ３２を含む。固定ブロック１６２ａ３１は、第２端１６２ａ２２に接続される。ローラ１６２ａ３２は、固定ブロック１６２ａ３１に枢着され、対応する挟持ヘッド１３２ｃを押付するように配置される。これによって、ローラ１６２ａ３２が昇降底板１３２ｄを押付する期間内で、昇降底板１３２ｄが連動板１３２ｂ２３に従い第１の方向Ａ１に沿って移動しても、ローラ１６２ａ３２は、昇降底板１３２ｄとの間の摩擦力を取り除くことができる。
【００５２】
上記の構造配置によれば、回路基板を実装しようとする時に、ロック解除構造１６２によって挟持構造１３２に対してロック解除を行って、挟持ヘッド１３２ｃを挟持底板１３２ｂ２５から離れさせる。具体的には、シリンダーモジュール１６３は、シリンダーロッド１６３ａを延出して挟持構造１３２へ移動させるように駆動することができ、更に、押付アセンブリ１６２ａが挟持ヘッド１３２ｃを押付して（昇降底板１３２ｄを押付することによって挟持ヘッド１３２ｃを連動させる）挟持底板１３２ｂ２５から離れるように連動させ、第１の押付ブロック１６２ｂが第１の変位基板１３２ｂ１を押付して第１のベース１３１に対して第１の方向Ａ１に沿って内へ移動するように連動させ、第２の押付ブロック１６２ｃが第２の変位基板１３２ｂ２を押付して第１のベース１３１に対して第２の方向Ａ２に沿って内へ移動するように連動させ、そして、第３の押付ブロック１６２ｄが連動板１３２ｂ２３を押付して第１のベース１３１に対して第１の方向Ａ１に沿って外へ移動するように連動させると、挟持構造１３２を、図１０Ａと図１０Ｂに示すようなロック解除状態にすることができる。この場合、利用者は、回路基板の一部を挟持ヘッド１３２ｃと挟持底板１３２ｂ２５との間に挟み込ませることができる。
【００５３】
次に、シリンダーモジュール１６３によって、シリンダーロッド１６３ａが戻って挟持構造１３２から離反して移動するように駆動する期間内で、押付アセンブリ１６２ａ、第１の押付ブロック１６２ｂ、第２の押付ブロック１６２ｃ及び第３の押付ブロック１６２ｄを適切な長さに設定することによって、先に第３の押付ブロック１６２ｄを連動板１３２ｂ２３から離脱させ、次に押付アセンブリ１６２ａを昇降底板１３２ｄから離脱させて挟持ヘッド１３２ｃを挟持底板１３２ｂ２５によって挟み込まれるようにし、最後に、第１の押付ブロック１６２ｂと第２の押付ブロック１６２ｃをそれぞれ第１の変位基板１３２ｂ１と第２の変位基板１３２ｂ２から離脱させると、挟持構造１３２を、図９Ａと図９Ｂに示すような挟持状態にすることができる。
【００５４】
具体的には、シリンダーモジュール１６３によって、シリンダーロッド１６３ａが戻って挟持構造１３２から離反して移動するように駆動する期間内で、第３の押付ブロック１６２ｄは、先に連動板１３２ｂ２３から離脱して、連動板１３２ｂ２３を第１のベース１３１に対して第１の方向Ａ１に沿って内へ移動させ、更に、挟持ヘッド１３２ｃを第１のベース１３１の中央に近付く位置に移動させる。移動基板１６２ａ１と固定部材１６２ａ３との間に設けられるバネ１６２ａ４によって、ローラ１６２ａ３２が持続的に昇降底板１３２ｄを押付するようにするため、更に挟持ヘッド１３２ｃの下降する時間を第３の押付ブロック１６２ｄが連動板１３２ｂ２３から離脱した後に遅らせることができる。挟持ヘッド１３２ｃが、挟持底板１３２ｂ２５によって回路基板が挟み込まれるように下降した場合、持続的に下降するシリンダーロッド１６３ａによって第１の押付ブロック１６２ｂと第２の押付ブロック１６２ｃをそれぞれ第１の変位基板１３２ｂ１と第２の変位基板１３２ｂ２から離脱させて、第１の変位基板１３２ｂ１と第２の変位基板１３２ｂ２を第１のベース１３１に対して外へ移動させる。この場合、回路基板を挟み込んだ挟持ヘッド１３２ｃもそれに従い第１のベース１３１に対して外へ移動するため、回路基板を展開し、更に回路基板を平面状態に保持でき、試験精度を向上させることができる。
【００５５】
そして、前記実施形態により、回路基板実装装置は、単純な機械的方式で回路基板の実装とロック解除を完成するものであるため、複雑な配線を略すことができ、前記実施形態に係る回路基板試験システム１００及び回路基板試験方法に合わせて使用できることが判明される。
【００５６】
幾つかの実施形態において、挟持構造１３２は、前記の変位アセンブリ１３２ｂを略し、対応するロック解除構造１６２は、第１の押付ブロック１６２ｂと第２の押付ブロック１６２ｃを略し、そして大体、前記実施形態の原理に基づき、ロック解除と挟持プロセスを行ってもよい。このような挟持構造１３２は、例えば、図５における左下の挟持構造１３２のように、回路基板の挟持中に主動的に回路基板を展開することがない。このような挟持構造１３２と対応するロック解除構造１６２との他の細部をここで詳しく説明しない。
【００５７】
幾つかの実施形態において、挟持構造１３２は、前記の変位アセンブリ１３２ｂにおける第１の変位基板１３２ｂ１と第２の変位基板１３２ｂ２を単一の変位基板に整合してもよい。対応するロック解除構造１６２は、第２の押付ブロック１６２ｃを略し、そして大体、前記実施形態の原理に基づき、ロック解除と挟持プロセスを行ってもよい。このような挟持構造１３２は、回路基板の挟持中に回路基板を一方向だけに展開させ、例えば、図５における左上の挟持構造１３２は回路基板を第１の方向Ａ１に沿って展開させ、図５における右下の挟持構造１３２は回路基板を第２の方向Ａ２に沿って展開させる。このような挟持構造１３２と対応するロック解除構造１６２との他の細部をここで詳しく説明しない。
【００５８】
以上の本発明の具体的な実施形態に対する詳しい説明から容易に分かるように、本発明に係る回路基板試験システム及び回路基板試験方法によれば、回路基板が挟み込まれた挟持治具は、先に試験装置内の試験ステージに置かれて試験を行うことができる。試験装置の試験期間内で、利用者は、試験装置の外のバッファステージにおいて予め他の挟持治具によって他の回路基板を挟み込むことができる。このため、試験装置は、試験を完成すると、出し入れ装置によって挟持治具の配置位置を速く入れ替えでき、直ちに次の回路基板を点検することができ、これによって、回路基板の試験周期を効果的に減少させることができる。また、本発明に係る回路基板実装装置の挟持治具によれば、挟持ヘッドが変位アセンブリに向かって当接して回路基板を挟み込んだ後で、弾性部材によって、変位アセンブリを固定基板により第１のベースに対して外へ移動させるように駆動し、これによって、回路基板を平面状態に保持するように回路基板を外へ展開させ、更に試験精度を向上させることができる。本発明に係る回路基板実装装置のロック解除装置によれば、押付ブロックによって回路基板を未展開状態に回復させるように変位アセンブリを押付して、押付アセンブリによって挟持ヘッドを変位アセンブリから離れて回路基板を解放するように押付する。これにより、本発明に係る回路基板実装装置は、単純な機械的方式で回路基板の実装とロック解除を完成するものであるため、複雑な配線を略すことができ、本発明に係る回路基板試験システム及び回路基板試験方法に合わせて使用できることが判明される。
【００５９】
本発明を実施形態により前述の通りに開示したが、これは本発明を限定するものではなく、当業者なら誰でも、本発明の精神と領域から逸脱しない限り、多様の変更や修飾を加えることができる。従って、本発明の保護範囲は、後の特許請求の範囲で指定した内容を基準とするものである。
【符号の説明】
【００６０】
１００  回路基板試験システム
１１０  試験装置
１１１  試験ステージ
１２０  バッファステージ
１３０  挟持治具
１３１  第１のベース
１３２  挟持構造
１３２ａ  固定基板
１３２ａ１、１３２ｂ１２  ガイドブロック
１３２ｂ  変位アセンブリ
１３２ｂ１  第１の変位基板
１３２ｂ１１、１３２ｂ２２  ガイド溝
１３２ｂ２  第２の変位基板
１３２ｂ２１  プレート
１３２ｂ２３  連動板
１３２ｂ２４  第４の弾性部材
１３２ｂ２５  挟持底板
１３２ｂ２６  ストッパーブロック
１３２ｂ３  第３の弾性部材
１３２ｃ  挟持ヘッド
１３２ｄ  昇降底板
１３２ｅ  第２の弾性部材
１３２ｆ  第１の弾性部材
１４０  出し入れモジュール
１４１  レール
１４２  移動部材
１４３  出し入れユニット
１５０  コントローラ
１６０  ロック解除装置
１６１  第２のベース
１６２  ロック解除構造
１６２ａ  押付アセンブリ
１６２ａ１  移動基板
１６２ａ１１  第１の表面
１６２ａ１２  第２の表面
１６２ａ２  ガイドロッド
１６２ａ２１  第１端
１６２ａ２２  第２端
１６２ａ３  固定部材
１６２ａ３１  固定ブロック
１６２ａ３２  ローラ
１６２ａ４  バネ
１６２ｂ  第１の押付ブロック
１６２ｃ  第２の押付ブロック
１６２ｄ  第３の押付ブロック
１６３  シリンダーモジュール
１６３ａ  シリンダーロッド
Ｓ１０１〜Ｓ１０５  工程
Ａ１  第１の方向
Ａ２  第２の方向
【図１】
2018159695.tif 000003
【図２】
2018159695.tif 000004
【図３】
2018159695.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９Ａ】
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【図９Ｂ】
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【図１０Ａ】
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【図１０Ｂ】
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