(57)【要約】【課題】物品の表面に付着した汚れを、より高感度に検知することが可能な汚れ検知装置、端末装置、及び汚れ検知方法を提供する。【解決手段】汚れ検知装置１は、物品１００Ａの表面１００ｆに向けて検査光を照射する光源２と、光源２と物品１００Ａとの間に設けられ、光源２からの検査光が通過するスリット４を有したスリット部材３と、スリット４を通過した検査光が物品１００Ａの表面１００ｆにおいて反射した反射光Ｂｒを含む物品１００Ａの表面１００ｆの画像情報を取得する画像取得部５と、を備えている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
物品の表面に向けて検査光を照射する光源と、
前記光源と前記物品との間に設けられ、前記光源からの前記検査光が通過するスリットを有したスリット部材と、
前記スリットを通過した前記検査光が前記物品の表面において反射した反射光を含む前記物品の前記表面の画像情報を取得する画像取得部と、
を備える汚れ検知装置。
【請求項２】
前記スリット部材は、前記物品の前記表面と平行な第一方向に沿って延び、前記第一方向に間隔をあけて複数の前記スリットが形成されている、
請求項１に記載の汚れ検知装置。
【請求項３】
前記光源は、前記物品の前記表面と平行な第一方向に配列された複数の点光源からなる、
請求項１又は２に記載の汚れ検知装置。
【請求項４】
前記画像取得部で取得した前記画像情報に基づき、前記物品の表面に付着した汚れの度合いを評価する評価処理部、
をさらに備える請求項１から３のいずれか一項に記載の汚れ検知装置。
【請求項５】
前記評価処理部は、汚れが付着していない状態における前記物品の表面の基準画像情報と、前記画像取得部で取得した前記画像情報とを比較することで、前記物品の表面に付着した汚れの度合いを評価する、
請求項４に記載の汚れ検知装置。
【請求項６】
前記評価処理部における前記物品の表面に付着した汚れの度合いを示す情報を外部に出力する情報出力部、
をさらに備える請求項４又は５に記載の汚れ検知装置。
【請求項７】
前記光源は、近赤外領域の前記検査光を照射する、
請求項１から６のいずれか一項に記載の汚れ検知装置。
【請求項８】
前記画像取得部は、近赤外領域の光のみを透過するフィルタを備える、
請求項７に記載の汚れ検知装置。
【請求項９】
前記光源は、可視光領域の前記検査光を照射する、
請求項１から８のいずれか一項に記載の汚れ検知装置。
【請求項１０】
前記光源、及び前記画像取得部の作動を制御する制御部をさらに備え、
前記制御部は、予め定められた時間帯に、前記光源及び前記画像取得部を作動させ、前記物品の前記表面の前記画像情報を取得する、
請求項９に記載の汚れ検知装置。
【請求項１１】
請求項１から１０のいずれか一項に記載の汚れ検知装置を備える端末装置。
【請求項１２】
検査光を、スリットを介して物品に照射する工程と、
前記スリットを通過した前記検査光が前記物品の表面において反射した反射光を含む前記物品の前記表面の画像情報を取得する工程と、
を備える汚れ検知方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、物品表面に付着した汚れ等を評価する汚れ検知装置、汚れ検知装置を備えた端末装置、及び汚れ検知方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、現金自動預け払い機（ＡＴＭ（Automatic Teller Machine））や券売機等をはじめとした各種の端末装置において、タッチパネルを備えたものがある。タッチパネルは、液晶ディスプレイ等の表示装置と、指等で触れた位置を検出する膜状の入力装置とを備える。このようなタッチパネルは、ユーザが指等でタッチパネルの表面に触れて各種の入力操作を行うことで、端末装置を操作する。
【０００３】
タッチパネルを使用すると、タッチパネルの表面に、ユーザの指の皮脂分等の汚れが付着する。付着した汚れが多くなると、タッチパネルの視認性の低下、入力装置における入力検知精度の低下、外観（美観）の低下等を招く場合がある。
上記したような端末装置のタッチパネルに限らず、表面への汚れの付着は、様々な物品においても問題となる場合がある。
【０００４】
このため、タッチパネルやその他の物品の表面を、適宜のタイミングで清掃することが行われる。しかし、清掃を行うべきか否かは、清掃を行う人が、物品の表面の汚れの程度をいかに判断するか、感覚的な評価に委ねられる。その結果、物品の表面の清掃を行うタイミングにばらつきが生じる。
これに対し、物品の表面の汚れの程度にかかわらず、予め定めた一定時間（期間）ごとに、定期的に清掃を行う場合もある。
しかし、いずれにしても、清掃を行うには手間やコストが掛かる。このため、清掃を行うべきタイミングを適切に判断するため、物品の表面の汚れの程度を定量的に評価することが望まれる。
【０００５】
物品の表面の汚れを定量的に評価（検知）する技術として、例えば特許文献１に記載されているように、光源と、受光部と、汚れ判定部と、を備えた構成を用いたものが知られている。この構成において、光源は、照射した光を物品の表面に照射する。受光部は、光源からの光が物品の表面で反射した反射光を受光する。光源から照射した光は、物品の表面において汚れが付着している部分で拡散する。このため、受光部で受光する反射光は、汚れの付着に応じて光量が変化する。汚れ判定部は、受光部で受光した反射光の光量に応じて、物品の表面への汚れの付着の有無等を検知する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１３−１６８１０４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１に開示されたような構成においては、汚れの付着を、正確に評価できない場合がある。例えば、光源から照射した光の光量が過大であったり、光源からの光の拡散により、ハレーションを起こし、光量の変化等を正確に検知できない場合である。
したがって、物品の表面に付着した汚れを、より高感度に検知し、汚れの度合いを評価することが望まれる。
【０００８】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであって、物品の表面に付着した汚れを、より高感度に検知することができる汚れ検知装置、端末装置、及び汚れ検知方法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明は以下の手段を採用する。
本発明の第一の態様に係る汚れ検知装置は、物品の表面に向けて検査光を照射する光源と、前記光源と前記物品との間に設けられ、前記光源からの前記検査光が通過するスリットを有したスリット部材と、前記スリットを通過した前記検査光が前記物品の表面において反射した反射光を含む前記物品の前記表面の画像情報を取得する画像取得部と、を備える。
【００１０】
また、本発明の第二の態様に係る端末装置は、上記したような汚れ検知装置を備える。
【００１１】
また、本発明の第三の態様に係る汚れ検知方法は、検査光を、スリットを介して物品に照射する工程と、前記スリットを通過した前記検査光が前記物品の表面において反射した反射光を含む前記物品の前記表面の画像情報を取得する工程と、を備える。
【発明の効果】
【００１２】
上記の汚れ検知装置、端末装置、及び汚れ検知方法によれば、物品の表面に付着した汚れを、より高感度に検知することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明の第一実施形態に係る汚れ検知装置の最小構成を示す図である。
【図２】本発明の第一実施形態に係る汚れ検知方法の最小構成を示す図である。
【図３】本発明の第二実施形態に係る端末装置の外観を示す斜視図である。
【図４】本発明の第二実施形態に係る汚れ検知装置の構成を示す側断面図である。
【図５】本発明の第二実施形態に係る汚れ検知装置の構成を示す平面図である。
【図６】本発明の第二実施形態に係る汚れ検知装置の機能的な構成を示すブロック図である。
【図７】本発明の第二実施形態に係る汚れ検知方法の流れを示すフローチャートである。
【図８】本発明の第三実施形態に係る汚れ検知装置の構成を示す側断面図である。
【図９】本発明の第三実施形態に係る汚れ検知方法の流れを示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
〔第一実施形態〕
図１は、実施形態による汚れ検知装置の最小構成を示す図である。
図１に示すように、汚れ検知装置１は、光源２と、スリット４を有したスリット部材３と、画像取得部５と、を少なくとも備えていればよい。
【００１５】
光源２は、物品１００Ａの表面１００ｆに向けて検査光Ｂ１を照射する。
【００１６】
スリット部材３は、光源２と物品１００Ａとの間に設ける。スリット部材３は、光源２からの検査光Ｂ１が通過するスリット４を有する。
【００１７】
画像取得部５は、物品１００Ａの表面１００ｆの画像情報を取得する。画像取得部５が取得する画像情報は、スリット４を通過した検査光Ｂ１が物品１００Ａの表面１００ｆにおいて反射した反射光Ｂｒを含む。ここで、画像取得部５で取得する画像情報は、画像取得部５で撮像した画像であってもよいし、画像取得部５で撮像した画像から抽出される特徴量等であってもよい。
【００１８】
このような構成によれば、光源２からの検査光Ｂ１は、スリット部材３のスリット４を通過し、物品１００Ａの表面１００ｆに照射される。
物品１００Ａの表面１００ｆに、皮脂や汗、埃等の汚れＤが付着していると、検査光Ｂ１が物品１００Ａの表面１００ｆにおいて汚れＤが付着している部分において散乱し、散乱光Ｂｓが発生する。物品１００Ａの表面１００ｆに汚れＤが付着している場合、画像取得部５で取得された画像情報には、物品１００Ａの表面１００ｆにおける反射光Ｂｒに、汚れＤが付着している部分における散乱光Ｂｓが含まれる。この画像情報に基づいて、物品１００Ａの表面１００ｆにおける汚れＤの検知や、汚れＤの度合いを評価することができる。
【００１９】
ここで、光源２から照射された検査光Ｂ１は、スリット部材３のスリット４を通過することで、光量と、光の拡散方向とが規制される。
【００２０】
以上説明した本実施形態の汚れ検知装置１によると、スリット部材３のスリット４により、光源２から照射される検査光Ｂ１の光量と拡散方向とを規制するので、画像取得部５側で取得する画像情報に、ハレーション等の悪影響が生じることを抑制できる。
また、スリット４で検査光Ｂ１の光量と拡散方向とを規制するので、画像取得部５で取得する画像情報における汚れＤの付着による散乱光Ｂｓの影響が大きくなる。
したがって、物品１００Ａの表面１００ｆへの汚れＤの付着を、より高感度に検知し、汚れＤの度合いの評価を正確に行うことが可能となる。
【００２１】
〔第二実施形態〕
図２は、本実施形態による汚れ検知方法の最小構成を示す図である。
この図２に示すように、汚れ検知方法は、検査光を照射する工程Ｓ１と、画像情報を取得する工程Ｓ２と、を少なくとも備えていればよい。
【００２２】
検査光を照射する工程Ｓ１は、検査光を、スリットを介して物品の表面に対して照射する。
【００２３】
画像情報を取得する工程は、物品の表面の画像情報を取得する。取得される画像情報は、スリットを通過した検査光が、物品の表面において反射した反射光を含む。
【００２４】
このような構成によれば、光源からの検査光は、スリットを通過し、物品の表面に照射される。物品の表面に汚れ等が付着していると、検査光が物品の表面において汚れが付着している部分において散乱する。これにより、物品の表面に汚れが付着している場合、取得される画像情報には、物品の表面における反射光に、汚れが付着している部分における散乱光が含まれる。この画像情報に基づいて、物品の表面における汚れの検知や、汚れの度合いの評価を行うことができる。
【００２５】
ここで、光量が抑えられ光源から照射された検査光は、スリットを通過することで、光量と拡散方向とが規制される。これにより、画像情報に、ハレーション等の悪影響が生じることを抑制できる。また、物品の表面における反射光に与える散乱光の影響が、相対的に大きくなる。したがって、物品の表面への汚れの付着を、より高感度に検知することが可能となる。
【００２６】
〔第三実施形態〕
次に、本発明の第三実施形態について説明する。
第一、第二実施形態と同様の構成要素には同一の符号を付して詳細説明を省略する。
【００２７】
図３に示すように、本実施形態において、汚れ検知装置１０Ｂは、例えば、現金自動預け払い機（ＡＴＭ）等の端末装置９０に備えられる。
【００２８】
端末装置９０は、筐体９１内に、端末装置９０としての所定の機能を実現するための各種の機構等を内蔵している。筐体９１には、利用者に対面する側に、利用者が端末装置９０を操作するための操作パネル（物品）１００Ｂを備えている。本実施形態において、操作パネル１００Ｂは、下方から上方に向かって、利用者から漸次離間する方向に傾斜しているが、操作パネル１００Ｂの設置角度については、何ら限定するものではない。
【００２９】
操作パネル１００Ｂは、筐体９１に形成された開口部９２に配置されている。操作パネル１００Ｂの外周部には、筐体９１との隙間を塞ぐ枠状のベゼル９３が装着されている。
【００３０】
操作パネル１００Ｂは、液晶ディスプレイ等の表示装置と、利用者が指等で触れた位置を検出する膜状の入力装置とを一体に備える。操作パネル１００Ｂは、その表面１００ｆに、利用者が指等で触れて使用される。
【００３１】
図３、図４、図５に示すように、汚れ検知装置１０Ｂは、投光部２０Ｂと、画像取得部５０Ｂと、制御部６０（図６参照）と、を備える。
【００３２】
投光部２０Ｂは、操作パネル１００Ｂを挟んだ一方の側、例えば操作パネル１００Ｂの下側に配置されている。投光部２０Ｂは、光源２１Ｂと、スリット部材２２と、を備える。
【００３３】
光源２１Ｂは、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに向けて検査光Ｂ２を照射する。光源２１Ｂは、複数の点光源２３Ｂからなる。これら複数の点光源２３Ｂは、操作パネル１００Ｂの下辺１００ｄに沿って、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆと平行な第一方向Ｄ１に配列される。
ここで、点光源２３Ｂは、可視光領域（波長約４００〜約７００ｎｍ）の検査光Ｂ２を照射する。
【００３４】
スリット部材２２は、操作パネル１００Ｂの下辺１００ｄに沿って、第一方向Ｄ１に延びている。スリット部材２２は、点光源２３Ｂから照射される検査光Ｂ２が通過するスリット２４を有する。複数のスリット２４は、スリット部材２２において、第一方向Ｄ１に間隔をあけて形成されている。各スリット２４は、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆと平行で、第一方向Ｄ１に直交する第二方向Ｄ２に連続している。各スリット２４は、スリット部材２２を、光源２１Ｂ側と操作パネル１００Ｂ側とに貫通するように形成されている。
【００３５】
このような投光部２０Ｂにおいては、複数の光源２１Ｂから照射された検査光Ｂ２が、スリット部材２２に形成された複数のスリット２４を通る。これにより、検査光Ｂ２は、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに沿って広がり、広範囲に照射される。
【００３６】
画像取得部５０Ｂは、操作パネル１００Ｂを挟んだ他方の側、例えば操作パネル１００Ｂの上側に配置されている。図３に示すように、本実施形態において、画像取得部５０Ｂは、操作パネル１００Ｂの上辺１００ｅから上方に向かって延びる筐体９１の上壁部９４に取り付けられている。
画像取得部５０Ｂは、カメラ５１からなる。このカメラ５１は、端末装置９０の悪用等を防ぐため、操作パネル１００Ｂを常時、あるいは適宜間隔で間欠的に撮影するものを兼ねてもよい。また、操作パネル１００Ｂのみならず、操作パネル１００Ｂを操作する操作者が立つと想定される範囲を視野に含めて撮影可能としても良い。この場合に、操作パネル１００Ｂが撮影領域の中央ではなく、端側に含まれていても構わない。
【００３７】
ここで、図４に示すように、画像取得部５０Ｂのカメラ５１は、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに対して、検査対象となる各位置において５°〜３０°の撮影角度θで撮像を行うように設置するのが好ましい。カメラ５１の、より好ましい撮影角度θは、例えば２０°程度である。
【００３８】
カメラ５１は、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの画像情報として、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの画像を撮像して取得する。カメラ５１で撮像される画像には、検査光Ｂ２が操作パネル１００Ｂの表面１００ｆにおいて反射した反射光Ｂｒが含まれる。
ここで、カメラ５１は、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの広範囲を撮像できるよう、広角レンズや魚眼レンズを用いてもよい。
【００３９】
光源２１Ｂからの検査光Ｂ２は、スリット部材２２のスリット２４を通過し、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに照射される。操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに汚れＤ等が付着していると、検査光Ｂ２が操作パネル１００Ｂの表面１００ｆにおいて汚れＤが付着している部分において散乱し、散乱光Ｂｓが発生する。この場合、画像取得部５０Ｂのカメラが撮像する画像には、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆにおける反射光Ｂｒに、汚れＤが付着している部分における散乱光Ｂｓが含まれる。
【００４０】
制御部６０は、筐体９１内に収容される。図６に示すように、制御部６０は、ＣＰＵ等の処理装置と、メモリ等の記憶装置とを含むハードウェアと、予め記憶されたコンピュータプログラム（ソフトウェア）とが協働することで、機能的に実現される。
制御部６０は、評価処理部６１と、画像情報格納部６２と、情報出力部６３と、時刻情報取得部６４と、操作入力部６５と、を備える。
【００４１】
評価処理部６１は、画像取得部５０Ｂで取得した画像に基づき、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに付着した汚れＤの度合いを評価する。評価処理部６１は、汚れＤが付着していない状態における操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの基準画像（基準画像情報）と、画像取得部５０Ｂで取得した画像とを、適宜の画像処理方法によって比較する。比較方法としては、両画像のマッチング処理を行い、不一致部分について強調表示、または、二値化表示するものとしても良い。さらに、二値化したものについて汚れと対応する画素数を求めても良い。また、輝度積算値をそれぞれ求め、互いの輝度積算値の差分値、または増減率などを求めても良い。これにより、評価処理部６１は、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに付着した汚れＤの付着の検知、汚れＤの度合いの評価等を行う。
【００４２】
画像情報格納部６２は、汚れＤが付着していない状態における操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの基準画像を、少なくとも記憶する。画像情報格納部６２は、画像取得部５０Ｂで取得した画像を記憶するようにしてもよい。
【００４３】
情報出力部６３は、評価処理部６１での評価結果、すなわち操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに付着した汚れＤの度合いを示す情報を外部に出力する。情報出力部６３における情報の出力先としては、例えば、端末装置９０の管理を行う管理センターに設置された管理端末や、端末装置９０が設置された店舗の管理端末等がある。情報出力部６３における情報の出力先を、操作パネル１００Ｂ等とすることも可能である。
【００４４】
時刻情報取得部６４は、現在時刻を示す時刻情報を、内蔵時計や、外部の時計装置等から取得する。
操作入力部６５は、操作パネル１００Ｂの清掃担当者によって操作がなされる。操作入力部６５は、操作パネル１００Ｂの清掃を終えた清掃担当者によって、所定の操作がなされると、情報出力部６３を介し、制御部６０に、操作パネル１００Ｂの清掃が終わったことを示す所定の信号を出力する。
【００４５】
次に、上記したような汚れ検知装置１０Ｂで操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに付着した汚れＤの検知方法について説明する。以下に示す、汚れ検知装置１０Ｂにおける汚れＤの検知方法は、制御部６０がコンピュータプログラムに基づいて所定の処理を順次実行することで、自動的に実施される。
【００４６】
図７に示すように、汚れ検知装置１０Ｂで、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに付着した汚れＤの度合いを評価するには、制御部６０は、予め、基準画像情報を画像情報格納部６２に格納しておく（ステップＳ１１）。
ここで、基準画像情報は、汚れＤが付着していない状態で操作パネル１００Ｂの表面１００ｆをカメラ５１で撮像した画像である。基準画像情報をカメラ５１で撮像するタイミングは、端末装置９０を新規に導入して設置するときでもよいが、端末装置９０の起動時や、操作パネル１００Ｂを清掃した直後とするのが好ましい。
【００４７】
次に、制御部６０は、時刻情報取得部６４から時刻情報を取得し、現在時刻が、予め定めた規定時間帯であるか否かを確認する（ステップＳ１２）。
その結果、現在時刻が規定時間帯でなければ、ステップＳ１２の処理を繰り返す。
現在時刻が規定時間帯であれば、ステップＳ１３以下に進み、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの汚れＤの度合いを評価する。
ここで、ステップＳ１２での判定基準となる規定時間帯は、例えば、端末装置９０の設置場所の営業時間外、日照のない夜間等に設定することができる。すなわち、本実施形態では、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの汚れＤの検知を、営業時間外や夜間に行う。これは、営業時間中、設置場所やその周囲で点灯される照明の光や、日中の太陽光等が操作パネル１００Ｂで反射すると、画像取得部５０Ｂで取得する反射光Ｂｒに、これらの照明の光や太陽光が含まれ、悪影響が及ぶからである。営業時間外や、夜間等に設定した規定時間帯に、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの汚れＤの度合いを評価することで、照明の光や太陽光等の外乱光による悪影響を抑える。日照のある日中に稼働するとしても、例えば夕方の時間帯を避けた時間帯を規定時間帯とすることもでき、これにより特に外乱として強い影響を与える西日の影響を避けることができる。
【００４８】
操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの汚れＤの検知を行うには、投光部２０Ｂの光源２１Ｂを点灯（ＯＮ）させる（ステップＳ１３）。光源２１Ｂからの検査光Ｂ２は、スリット部材２２のスリット２４を通過し、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに照射される。
【００４９】
次いで、画像取得部５０Ｂのカメラ５１で、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの画像情報を取得する（ステップＳ１４）。ここで、カメラ５１で取得される画像には、スリット２４を通過した検査光Ｂ２が操作パネル１００Ｂの表面１００ｆにおいて反射した反射光Ｂｒが含まれる。さらに、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに汚れＤが付着していれば、取得される画像には、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆにおける反射光Ｂｒに、汚れＤが付着している部分における散乱光Ｂｓが含まれる。
【００５０】
次に、制御部６０は、評価処理部６１における汚れ度合いの評価処理を実施する（ステップＳ１５）。評価処理部６１は、汚れＤが付着していない状態における操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの基準画像情報と、画像取得部５０Ｂで取得した画像とを、適宜の画像処理方法によって比較することで、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに付着した汚れＤの度合いを評価する。
【００５１】
汚れＤの度合いの評価基準は、適宜に設定すればよいが、例えば、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの面積に対する、表面１００ｆに付着した汚れＤの面積の割合が、予め定めた基準値を上回ったか否か、等によって判定することができる。
評価処理部６１は、予め定めた評価基準を上回った場合に、例えば、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの清掃の必要がある、という評価結果を出す。
【００５２】
制御部６０は、評価処理部６１で出した評価結果の情報を、情報出力部６３によって外部に出力する（ステップＳ１６）。ここでは、情報出力部６３は、評価結果の情報を、例えば、端末装置９０の管理を行う管理センターに設置された管理端末（図示無し）に出力する。管理センター側では、管理担当者が汚れ検知装置１０Ｂから管理端末に入力された評価結果の情報を確認する。その結果、評価結果が、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの清掃の必要あり、という内容であった場合には、管理担当者は、清掃担当者に清掃を依頼する。依頼を受けた清掃得担当者は、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの清掃を実施する。
【００５３】
清掃担当者は、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの清掃を実施した後、汚れ検知装置１０Ｂに設けられた操作入力部６５において、清掃が完了したことを示す所定の操作を行う。
制御部６０は、操作入力部６５への入力を監視し、清掃が実施されたか否かを確認する（ステップＳ１７）。清掃が実施されて所定の操作がなされない限り、ステップＳ１２に戻って処理を繰り返す。
清掃が実施されて操作入力部６５に所定の操作がなされた後は、制御部６０は、端末装置９０の運転状態を確認し（ステップＳ１８）、端末装置９０の運転が終了しない限り、ステップＳ１１に戻る。
清掃実施後、ステップＳ１１に戻った場合、制御部６０は、改めて、投光部２０Ｂの光源２１Ｂを点灯させるとともに、画像取得部５０Ｂのカメラ５１で、清掃後の操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの画像を、新たな基準画像として取得し、画像情報格納部６２に格納する。
【００５４】
以降は、端末装置９０の運転が終了するまで、上記一連の処理を繰り返す。
【００５５】
以上説明した本実施形態の汚れ検知装置１０Ｂ、汚れ検知方法によると、光源２１Ｂから照射された検査光Ｂ２は、スリット部材２２のスリット２４を通過することで、光量が抑えられる。これにより、画像取得部５０Ｂ側で取得する画像に、ハレーション等の悪影響が生じることを抑制できる。したがって、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆへの汚れＤの付着を、より高感度に検知することが可能となる。
【００５６】
また、複数の点光源２３Ｂから照射される検査光Ｂ２は、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに沿って第一方向Ｄ１に拡がる広範囲に照射される。また、光源２１Ｂから照射された検査光Ｂ２が、複数のスリット２４を通る。これにより、検査光Ｂ２は、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに沿って広がり、広範囲に照射される。したがって、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの、より広い範囲において、汚れＤの検知や汚れＤの度合いを評価することができる。
【００５７】
さらに、画像取得部５０Ｂは、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに対して５°〜３０°の撮影角度で画像情報を取得する。このような構成によれば、スリット２４を通過した検査光Ｂ２が、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに汚れＤが付着している部分で散乱したときに、その散乱光Ｂｓによる影響が、より顕著に画像情報に現れる。これにより、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆにおける汚れＤの検知や、汚れＤの度合いの評価を、より高感度に行うことが可能となる。
【００５８】
また、汚れ検知装置１０Ｂは、画像取得部５０Ｂで取得した画像情報に基づき、評価処理部６１で、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに付着した汚れＤの度合いを評価する。これにより、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの清掃の必要の有無を、適切に判定することができる。
【００５９】
さらに、評価処理部６１は、汚れＤが付着していない状態における操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの基準画像と、画像取得部５０Ｂで取得した画像とを比較することで、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに付着した汚れＤの度合いを評価する。このように、汚れＤが付着していない状態における基準画像を基準とすることで、汚れＤが付着した部位における散乱光Ｂｓを、より高感度に検知することができる。
【００６０】
加えて、情報出力部６３により、評価処理部６１における汚れＤの度合いの評価結果等の情報を外部に出力して報知することができる。これにより、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの清掃を、適切なタイミングで実施することができる。
【００６１】
また、光源２１Ｂは、可視光領域の検査光Ｂ２を照射するので、特殊な光源２１Ｂを用いることなく、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの汚れＤの検知、評価を行うことができる。
【００６２】
また、制御部６０は、予め定められた時間帯に、光源２１Ｂ及び画像取得部５０Ｂを作動させ、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの画像情報を取得する。このようにして、例えば、太陽光が当たらない夜間に設定した時間帯や、照明が用いられていない時間帯に、光源２１Ｂ及び画像取得部５０Ｂを作動させる。これにより、太陽光や照明光等、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの評価に影響を及ぼす外乱光を避けることができる。
【００６３】
なお、画像取得部５０Ｂ（または制御部６０）は、カメラ５１で撮像した画像から、適宜の画像処理方法によって各種の特徴量等を抽出し、抽出した特徴量等を画像情報としてもよい。
【００６４】
〔第四実施形態〕
次に、本発明の第三実施形態について説明する。
第一〜第三実施形態と同様の構成要素には同一の符号を付して詳細説明を省略する。
【００６５】
本実施形態において、汚れ検知装置１０Ｃは、例えば、上記第三実施形態と同様、図３に示すような端末装置９０に備えられる。
【００６６】
図８に示すように、汚れ検知装置１０Ｃは、投光部２０Ｃと、画像取得部５０Ｃと、制御部６０（図６参照）と、を備える。
【００６７】
投光部２０Ｃは、光源２１Ｃと、スリット部材２２と、を備える。
光源２１Ｃは、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに向けて検査光Ｂ３を照射する。光源２１Ｃは、複数の点光源２３Ｃからなる。
ここで、点光源２３Ｃとしては、近赤外領域（波長約８００〜２５００ｎｍ）の検査光Ｂ３を照射する。
【００６８】
画像取得部５０Ｃは、カメラ５１と、フィルタ５２と、からなる。
フィルタ５２は、光源２１Ｃから照射される近赤外領域の光のみを通すものであり、カメラ５１のレンズを覆うように装着される。
【００６９】
上記したような汚れ検知装置１０Ｃで操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに付着した汚れＤを検知するには、以下のようにする。
図９に示すように、汚れ検知装置１０Ｃで、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに付着した汚れＤの度合いを評価するには、制御部６０は、予め、基準画像の情報を画像情報格納部６２に格納しておく（ステップＳ２１）。
【００７０】
次に、制御部６０は、時刻情報取得部６４から時刻情報を取得し、現在時刻が、予め定めた検査開始時刻であるか否かを確認する（ステップＳ２２）。
その結果、現在時刻が検査開始時刻でなければ、ステップＳ２２の処理を繰り返す。
現在時刻が検査開始時刻であれば、ステップＳ２３以下に進み、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの汚れＤの度合いを評価する。
ここで、ステップＳ２２における検査開始時刻は、上記第三実施形態とは異なり、端末装置９０の設置場所の営業時間内や、日照のある日中等に設定しても、外乱の影響を抑制して精度低下を抑制することができる。本実施形態では、光源２１Ｃからの検査光Ｂ３に近赤外光を用い、画像取得部５０Ｃでは、近接外交のみを通すフィルタ５２を用いる。したがって、営業時間中、設置場所やその周囲で点灯される照明の光や、日中の太陽光等が操作パネル１００Ｂで反射しても、画像取得部５０Ｃで取得する反射光Ｂｒに、これらの照明の光や太陽光が含まれるのを抑えることができる。
【００７１】
操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの汚れＤを検知するには、上記第三実施形態と同様、投光部２０Ｃの光源２１Ｃを点灯（ＯＮ）させる（ステップＳ２３）。光源２１Ｃからの検査光Ｂ３は、スリット部材２２のスリット２４を通過し、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに照射される。
【００７２】
次いで、画像取得部５０Ｃのカメラ５１で、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの画像情報を取得する（ステップＳ２４）。
【００７３】
次に、制御部６０は、評価処理部６１における汚れ度合いの評価処理を実施する（ステップＳ２５）。評価処理部６１は、汚れＤの度合いが予め定めた評価基準を上回った場合に、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの清掃の必要がある、という評価結果を出す。
【００７４】
次に、制御部６０は、評価処理部６１で出した評価結果の情報を、情報出力部６３によって外部に出力する（ステップＳ２６）。ここでは、情報出力部６３は、評価結果の情報を、例えば、端末装置９０の管理を行う管理センターに設置された管理端末（図示無し）に出力する。評価結果が、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの清掃の必要あり、という内容であった場合には、管理センター側の管理担当者は、清掃担当者に清掃を依頼する。依頼を受けた清掃得担当者は、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの清掃を実施する。
【００７５】
清掃担当者は、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの清掃を実施した後、汚れ検知装置１０Ｃに設けられた操作入力部６５において、清掃が完了したことを示す所定の操作を行う。
制御部６０は、操作入力部６５への入力を監視し（ステップＳ２７）、清掃が実施されて所定の操作がなされない限り、ステップＳ２２に戻って処理を続行している。
清掃が実施されて操作入力部６５に所定の操作がなされた後は、制御部６０は、端末装置９０の運転状態を確認し（ステップＳ２８）、端末装置９０の運転が終了しない限り、ステップＳ２１に戻る。
清掃実施後、ステップＳ２１に戻った場合、制御部６０は、改めて、投光部２０Ｃの光源２１Ｃを点灯させるとともに、画像取得部５０Ｃのカメラ５１で、清掃後の操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの画像情報を取得し、画像情報格納部６２に格納する。
【００７６】
以降は、端末装置９０の運転が終了するまで、上記一連の処理を繰り返す。
【００７７】
以上説明した本実施形態の汚れ検知装置１０Ｃ、汚れ検知方法によると、上記第三実施形態と同様、光源２１Ｃから照射された検査光Ｂ３は、スリット部材２２のスリット２４を通過することで、光量が抑えられる。これにより、画像取得部５０Ｃ側で、画像取得部５０Ｃ側で取得する画像情報に、ハレーション等の悪影響が生じることを抑制できる。これにより、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆへの汚れＤの付着を、より高感度に検知することが可能となる。
【００７８】
また、光源２１Ｃは、近赤外領域の検査光Ｂ２を照射する。さらに、画像取得部５０Ｃは、近赤外領域の光のみを透過するフィルタ５２を備える。これにより、操作パネル１００Ｂの使用環境に設置された照明からの照明光に含まれる可視光の影響を抑えて、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆを評価することができる。
【００７９】
また、上記第三実施形態と同様、光源２１Ｃから照射された検査光Ｂ３が、スリット部材２２に形成された複数のスリット２４を通る。これにより、検査光Ｂ３は、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆに沿って広がり、広範囲に照射される。したがって、操作パネル１００Ｂの表面１００ｆの、より広い範囲において、汚れＤの有無や汚れＤの度合いを評価することができる。
【００８０】
なお本実施形態では、汚れ検知装置１０Ｂ、１０Ｃは、端末装置９０の操作パネル１００Ｂの汚れを検知するものとしたが、このような場合に限定されない。操作パネル１００Ｂ以外の物品の表面の汚れを検知するものとしてもよい。また、汚れ検知装置１０Ｂ、１０Ｃを備えるのは、端末装置９０に限られず、例えば、監視カメラのレンズや、その他の各種物品であってもよい。
【符号の説明】
【００８１】
１、１０Ｂ、１０Ｃ…汚れ検知装置
２、２１Ｂ、２１Ｃ…光源
３、２２…スリット部材
４、２４…スリット
５、５０Ｂ、５０Ｃ…画像取得部
２０Ｂ、２０Ｃ…投光部
２３Ｂ、２３Ｃ…点光源
５１…カメラ
５２…フィルタ
６０…制御部
６１…評価処理部
６２…画像情報格納部
６３…情報出力部
６４…時刻情報取得部
６５…操作入力部
９０…端末装置
９１…筐体
９２…開口部
９３…ベゼル
９４…上壁部
１００Ａ…物品
１００Ｂ…操作パネル（物品）
１００ｄ…下辺
１００ｅ…上辺
１００ｆ…表面
Ｂ…検査光
Ｂ１…検査光
Ｂ２…検査光
Ｄ１…第一方向
Ｄ２…第二方向
Ｒ…反射光
Ｓ…散乱光
Ｓ１…工程
Ｓ２…工程
θ…撮影角度
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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