(57)【要約】【課題】透明インクのテストパターンを計測しやすくすること。【解決手段】透明インクを噴射する透明インク用プリントヘッドと、第１有色インクを噴射する第１プリントヘッドと、第２有色インクを噴射する第２プリントヘッドとを備える印刷装置を用いて、前記第１有色インクによって、印刷媒体上に下地を形成し、前記透明インクの着弾ずれを計測するための複数の罫線として、前記下地に前記透明インクを重ねて形成する第１罫線群と、前記下地の領域外に前記第２有色インクによって形成する第２罫線群とを作成するテストパターンの作成方法。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
透明インクを噴射する透明インク用プリントヘッドと、第１有色インクを噴射する第１プリントヘッドと、第２有色インクを噴射する第２プリントヘッドとを備える印刷装置を用いて、
前記第１有色インクによって、印刷媒体上に下地を形成し、
前記透明インクの着弾ずれを計測するための複数の罫線として、前記下地に前記透明インクを重ねて形成する第１罫線群と、前記下地の領域外に前記第２有色インクによって形成する第２罫線群とを作成する
テストパターンの作成方法。
【請求項２】
前記第１及び第２罫線群は、主走査方向についての前記第２プリントヘッドに対する前記透明インク用プリントヘッドのヘッドずれからの着弾ずれを計測するために用いられる
請求項１に記載の作成方法。
【請求項３】
前記透明インク用プリントヘッドには第１及び第２プリントチップが設けられ、
前記第１プリントチップには副走査方向に沿って配列した第１ノズル列と、前記第１ノズル列よりも主走査方向の所定側に位置する第２ノズル列とを構成する複数のノズルが設けられ、
前記テストパターンは、主走査方向についての着弾ずれを計測するための部位として、前記第１及び第２プリントチップのチップずれからの着弾ずれを計測するための部位、主走査の往路および復路の往復ずれからの着弾ずれを計測するための部位、前記第１ノズル列および前記第２ノズル列の列ずれからの着弾ずれを計測するための部位、主走査方向を中心とした回転方向についての前記透明インク用プリントヘッドの位置ずれからの着弾ずれを計測するための部位、並びに、主走査方向および副走査方向との直交方向を中心とした回転方向についての前記透明インク用プリントヘッドの位置ずれからの着弾ずれを計測するための部位のうち少なくとも１つを含む
請求項２に記載の作成方法。
【請求項４】
前記第１及び第２罫線群は、副走査方向についての前記第２プリントヘッドに対する前記透明インク用プリントヘッドのヘッドずれからの着弾ずれを計測するために用いられる
請求項１に記載の作成方法。
【請求項５】
前記透明インク用プリントヘッドには第１及び第２プリントチップが設けられ、
前記テストパターンは、前記第１及び第２プリントチップの副走査方向についてのチップずれからの着弾ずれを計測するための部位を含む
請求項４に記載の作成方法。
【請求項６】
前記第１有色インクの着弾ずれを計測するための複数の罫線として、前記第１有色インクによって形成する第３罫線群と、前記第２有色インクによって形成する第４罫線群とをそれぞれ前記下地の領域外に作成する
請求項１から請求項５までの何れか一項に記載の作成方法。
【請求項７】
前記第１罫線群における罫線同士の間隔は、前記第３罫線群における罫線群同士の間隔よりも広い
請求項６に記載の作成方法。
【請求項８】
前記第１及び第２罫線群の副走査方向の位置、及び前記第３及び第４罫線群の副走査方向の位置は、少なくとも一部が重複している
請求項６又は請求項７に記載の作成方法。
【請求項９】
前記印刷装置は、第３有色インクを噴射する第３プリントヘッドを備え、
前記第２有色インクを前記第２罫線群の形成に用いることを、前記印刷装置による印刷における前記第２及び第３有色インクの使用頻度の比較に基づき決定した上で、前記第２罫線群を形成する
請求項１から請求項８までの何れか一項に記載の作成方法。
【請求項１０】
透明インクの着弾ずれを計測するための複数の罫線として、第１有色インクによって印刷媒体上に形成された下地に前記透明インクを重ねて形成された第１罫線群と、前記下地の領域外に第２有色インクによって形成された第２罫線群と、を含む
テストパターン。
【請求項１１】
透明インクを噴射する透明インク用プリントヘッドと、第１有色インクを噴射する第１プリントヘッドと、第２有色インクを噴射する第２プリントヘッドとを備え、
前記透明インク用プリントヘッドには第１及び第２プリントチップが設けられ、
前記第１プリントチップには副走査方向に沿って配列した第１ノズル列と、前記第１ノズル列よりも主走査方向の所定側に位置する第２ノズル列とを構成する複数のノズルが設けられている印刷装置を備える印刷システムであって、
前記第１有色インクによって、印刷媒体上に下地を形成し、
前記透明インクの着弾ずれを計測するための複数の罫線として、前記下地に前記透明インクを重ねて形成する第１罫線群と、前記下地の領域外に前記第２有色インクによって形成する第２罫線群とを作成する
印刷システム。
【請求項１２】
前記第１罫線群に含まれる各罫線の位置を検出する検出部を備え、
前記検出部は、前記下地の輝度が、前記第１罫線群に含まれる各罫線の輝度よりも低い場合、前記第１罫線群に含まれる各罫線の位置を検出するために、前記下地の輝度と、前記第１罫線群に含まれる各罫線の輝度との相対的な関係を反転させる処理を実行する
請求項１１に記載の印刷システム。
【請求項１３】
透明インクを噴射する透明インク用プリントヘッドと、第１有色インクを噴射する第１プリントヘッドと、第２有色インクを噴射する第２プリントヘッドとを備え、
前記透明インク用プリントヘッドには第１及び第２プリントチップが設けられ、
前記第１プリントチップには副走査方向に沿って配列した第１ノズル列と、前記第１ノズル列よりも主走査方向の所定側に位置する第２ノズル列とを構成する複数のノズルが設けられている印刷装置に実行させるためのプログラムであって、
前記第１有色インクによって、印刷媒体上に下地を形成し、
前記透明インクの着弾ずれを計測するための複数の罫線として、前記下地に前記透明インクを重ねて形成する第１罫線群と、前記下地の領域外に前記第２有色インクによって形成する第２罫線群とを作成する
ためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、印刷のテストパターンに関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１は、記録ヘッドの傾きや、記録ヘッドの往路と復路とによるずれを検出することを開示している。ここでいう傾きとは、主走査方向および副走査方向に直交する方向を中心とする回転による位置ずれのことである。特許文献２は、着弾位置のずれを検出するために、テストパターンを作成することを開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−０１５２６９号公報
【特許文献２】特開２００８−００１０５３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
印刷装置には、透明なインク（以下、透明インク）を噴射することで、印刷の前処理を実行するタイプのものがある。透明インクについても、テストパターンを用いて、着弾位置のずれを計測することが好ましい。
【０００５】
但し、透明インクをそのまま印刷媒体に噴射しても、着弾位置を計測することは難しい。そこで、有色インクによって下地を形成し、その下地に透明インクのテストパターンを形成する手法が考えられる。しかし、下地に形成された透明インクの罫線は、見えづらい場合があり、計測精度が低下することがあった。
【０００６】
本開示は、上記を踏まえ、透明インクのテストパターンを計測しやすくすることを解決課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本開示の一形態は、透明インクを噴射する透明インク用プリントヘッドと、第１有色インクを噴射する第１プリントヘッドと、第２有色インクを噴射する第２プリントヘッドとを備える印刷装置を用いて；前記第１有色インクによって、印刷媒体上に下地を形成し；前記透明インクの着弾ずれを計測するための複数の罫線として、前記下地に前記透明インクを重ねて形成する第１罫線群と、前記下地の領域外に前記第２有色インクによって形成する第２罫線群とを作成するテストパターンの作成方法である。この形態によれば、下地のインク色と、第２罫線群のインク色とが異なるため、第１及び第２罫線群の検出がしやすいように、下地のインク色と、第２罫線群のインク色とを選定できる。
【０００８】
上記形態において、前記第１及び第２罫線群は、主走査方向についての前記第２プリントヘッドに対する前記透明インク用プリントヘッドのヘッドずれからの着弾ずれを計測するために用いられてもよい。この形態によれば、主走査方向の着弾ずれが検出できる。
【０００９】
上記形態において、前記透明インク用プリントヘッドには第１及び第２プリントチップが設けられ；前記第１プリントチップには副走査方向に沿って配列した第１ノズル列と、前記第１ノズル列よりも主走査方向の所定側に位置する第２ノズル列とを構成する複数のノズルが設けられ；前記テストパターンは、主走査方向についての着弾ずれを計測するための部位として、前記第１及び第２プリントチップのチップずれからの着弾ずれを計測するための部位、主走査の往路および復路の往復ずれからの着弾ずれを計測するための部位、前記第１ノズル列および前記第２ノズル列の列ずれからの着弾ずれを計測するための部位、主走査方向を中心とした回転方向についての前記透明インク用プリントヘッドの位置ずれからの着弾ずれを計測するための部位、並びに、主走査方向および副走査方向との直交方向を中心とした回転方向についての前記透明インク用プリントヘッドの位置ずれからの着弾ずれを計測するための部位のうち少なくとも１つを含んでもよい。この形態によれば、種々の着弾ずれが検出できる。
【００１０】
上記形態において、前記第１及び第２罫線群は、副走査方向についての前記第２プリントヘッドに対する前記透明インク用プリントヘッドのヘッドずれからの着弾ずれを計測するために用いられてもよい。この形態によれば、副走査方向の着弾ずれが検出できる。
【００１１】
上記形態において、前記透明インク用プリントヘッドには第１及び第２プリントチップが設けられ；前記テストパターンは、前記第１及び第２プリントチップの副走査方向についてのチップずれからの着弾ずれを計測するための部位を含んでもよい。この形態によれば、プリントチップ間の副走査方向についてのチップずれからの着弾ずれが検出できる。
【００１２】
上記形態において、前記第１有色インクの着弾ずれを計測するための複数の罫線として、前記第１有色インクによって形成する第３罫線群と、前記第２有色インクによって形成する第４罫線群とをそれぞれ前記下地の領域外に作成してもよい。この形態によれば、第１有色インクの着弾ずれが検出できる。
【００１３】
上記形態において、前記第１罫線群における罫線同士の間隔は、前記第３罫線群における罫線群同士の間隔よりも広くてもよい。第１罫線群は、下地に透明インクを重ねて形成されるので滲みやすい。この形態によれば、第１罫線群を構成する罫線が滲んでも、罫線同士の間隔が広いので、罫線の位置が検出しやすくなる。
【００１４】
上記形態において、前記第１及び第２罫線群の副走査方向の位置、及び前記第３及び第４罫線群の副走査方向の位置は、少なくとも一部が重複していてもよい。この形態によれば、第１〜第４罫線群の形成を、副走査方向の位置が重複している部分については、同一の主走査で実施できる。
【００１５】
上記形態において、前記印刷装置は、第３有色インクを噴射する第３プリントヘッドを備え；前記第２有色インクを前記第２罫線群の形成に用いることを、前記印刷装置による印刷における前記第２及び第３有色インクの使用頻度の比較に基づき決定した上で、前記第２罫線群を形成してもよい。この形態によれば、有色インクの使用頻度に基づき、第２罫線群に用いるインク色を決定できる。
【００１６】
本開示は、上記以外の種々の形態で実現できる。例えば、上記のテストパターンや、印刷システム、上記の作成方法を実現するためのプログラム、このプログラムを記憶した一時的でない記憶媒体等の形態で実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】印刷装置の機能ブロック図。
【図２】プリントヘッド群を示す図。
【図３】第１プリントチップを印刷媒体側から見た図。
【図４】印刷処理を示すフローチャート。
【図５】補正処理を示すフローチャート。
【図６】テストパターンを示す図。
【図７】着弾ずれ量計測処理のフローチャートを示す図。
【図８】主走査方向用のテストパターンの第２部位を示す図。
【図９】罫線検出処理を示すフローチャート。
【図１０】検出領域が選択される様子を示す図。
【図１１】輝度値と画素位置との関係を例示するグラフ。
【図１２】輝度値と画素位置との関係を例示するグラフ。
【図１３】プリントヘッドがヨー方向に位置ずれする様子を示す図。
【図１４】プリントヘッドがロール方向に位置ずれする様子を示す図。
【図１５】往復ずれが発生した場合に作成される第２部位を示す図。
【図１６】ヨーが発生している場合に作成される第２部位を示す図。
【図１７】ロールが発生している場合に作成される第２部位を示す図。
【図１８】副走査方向のずれを計測するためのテストパターンの第２部位を示す図。
【図１９】副走査方向のずれを計測するためのテストパターンの第３部位を示す図。
【図２０】ドット形成処理を示すフローチャート。
【図２１】実施形態２におけるテストパターンを示す図。
【図２２】マゼンタの主走査方向用の第２部位を示す図。
【図２３】有色インクの副走査方向用の第２部位を示す図。
【図２４】マゼンタの副走査方向用の第２部位を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
実施形態１を説明する。図１は、印刷装置２０の機能ブロック図である。印刷装置２０は、通常の印刷機能に加え、後述する着弾ずれを計測する機能を有するため、広義の印刷システムである。
【００１９】
印刷装置２０は、制御部２１と、キャリッジ２５とを備える。制御部２１は、ＣＰＵ２２と、記憶媒体２３と、を備える。キャリッジ２５は、プリントヘッド群３０と、エリアセンサー３６と、ライト３９と、を備える。
【００２０】
印刷装置２０は、印刷媒体ＭＤに向けてインクを噴射することで、印刷媒体ＭＤ上にドットを形成する。印刷装置２０は、７色のインクを噴射する。７色のうちの６色は、ＣＭＹＫＬｃＬｍ、つまりシアン、マゼンタ、イエロー、ブラック、ライトシアン、ライトマゼンタである。これら６色を総称する場合、有色インクと呼ぶ。
【００２１】
もう１色のインクは、オプティマイザーインクである。オプティマイザーインクは、無色透明である。オプティマイザーインクは、グロスオプティマイザーインクとも呼ばれる。オプティマイザーインクは、印刷の前処理に利用される。
【００２２】
印刷装置２０は、ドットを形成するために、キャリッジ２５を主走査方向に走査し、印刷媒体ＭＤを副走査方向に搬送する。
【００２３】
エリアセンサー３６は、印刷媒体ＭＤ上の輝度値を計測する。ライト３９は、エリアセンサー３６の計測範囲に向けて光を照射する。エリアセンサー３６による計測は、後述する着弾ずれ量計測処理に用いられる。
【００２４】
上記のドット形成および輝度値の計測は、ＣＰＵ２２によって制御される。記憶媒体２３は、後述する印刷処理を実現するためのプログラムを記憶する。印刷処理は、上記のドット形成および輝度値の計測のための処理である。
【００２５】
図２は、プリントヘッド群３０を示す。図２には、ＸＹ座標系が示されている。Ｘ方向は、主走査方向を表す。Ｘ方向のプラスの向きの主走査は、往路の主走査とも呼ぶ。Ｘ方向のマイナスの向きの主走査は、復路の主走査とも呼ぶ。
【００２６】
Ｙ方向は、副走査方向を表す。副走査の下流側は、Ｙ方向のプラス側である。つまり、図２の下側から上側に向かって、印刷媒体ＭＤが搬送される。
【００２７】
プリントヘッド群３０は、マゼンタ用プリントヘッド３０Ｍと、シアン用プリントヘッド３０Ｃと、ブラック用プリントヘッド３０Ｋと、イエロー用プリントヘッド３０Ｙと、ライトシアン用プリントヘッド３０Ｌｃと、ライトマゼンタ用プリントヘッド３０Ｌｍと、オプティマイザー用プリントヘッド３０ｏｐと、から構成される。
【００２８】
以下、マゼンタ用プリントヘッド３０Ｍを例にとって説明する。以下のプリントヘッドに関する説明は、インク色の違いを除けば、全てのプリントヘッドに共通である。マゼンタ用プリントヘッド３０Ｍは、第１プリントチップ３１Ｍ〜第４プリントチップ３４Ｍを備える。
【００２９】
図３は、第１プリントチップ３１Ｍを印刷媒体ＭＤ側から見た図である。第１プリントチップ３１Ｍには、複数のノズルＮＺが設けられている。インク滴は、各ノズルＮＺから噴射される。
【００３０】
ノズルＮＺは、図３に示すように、２列に並んでいる。このようにノズルが形成する列のうち、Ｘ方向マイナス側に位置するものをノズル列Ａと呼び、Ｘ方向プラス側に位置するものをノズル列Ｂと呼ぶ。第２プリントチップ３２Ｍ〜第４プリントチップ３４Ｍについても、第１プリントチップ３１Ｍと同じようにノズルが設けられている。
【００３１】
第１プリントチップ３１Ｍ〜第４プリントチップ３４Ｍはそれぞれ、重複領域を含む。重複領域とは、同一のプリントヘッドに搭載された異なる２つのプリントチップの何れによっても、ドット形成が可能な領域のことである。第２プリントチップ３２Ｍは、第１プリントチップ３１Ｍ及び第３プリントチップ３３Ｍのそれぞれとの重複領域を有する。第３プリントチップ３３Ｍは、第４プリントチップ３４Ｍとの重複領域を有する。
【００３２】
以下、重複領域ではない領域を、単独領域という。図２には、重複領域と単独領域との境界としての破線が示されている。
【００３３】
図４は、印刷処理を示すフローチャートである。印刷処理は、ＣＰＵ２２によって実行される。印刷処理を開始すると、補正処理（Ｓ１００）を実行する。補正処理は、オプティマイザーインクの着弾ずれを補正するための処理である。
【００３４】
図５は、補正処理を示すフローチャートである。まず、印刷媒体ＭＤ上に、下地Ｇ（図６）を印刷する（Ｓ１０５）。下地Ｇは、往路の主走査で印刷される。
【００３５】
次に、往路の主走査でテストパターン４０と、テストパターン５０の一部とを印刷し（Ｓ１１０）、続いて復路の主走査でテストパターン５０の残りを印刷する（Ｓ１１５）。Ｓ１０５、Ｓ１１０及びＳ１１５によってテストパターン４０及びテストパターン５０の全体が作成される。
【００３６】
図６は、テストパターン４０，５０を示す。テストパターン４０は、Ｙ方向の着弾ずれを計測するためのものである。テストパターン５０は、Ｘ方向の着弾ずれを計測するためのものである。
【００３７】
下地Ｇは、テストパターン４０，５０それぞれにおいて、塗りつぶされた領域である。下地Ｇは、べた塗りによって形成される。本実施形態における下地Ｇは、ブラックインクによって形成される。下地Ｇの領域内に形成された線は、オプティマイザーインクによって形成される。下地の領域外に形成された線は、シアンインク又はブラックインクによって形成される。
【００３８】
図６には、テストパターン４０，５０とのＹ方向についての位置関係を図示するために、第１〜第４プリントチップ３１〜３４及びエリアセンサー３６も示されている。第１プリントチップ３１とは、７つのヘッドそれぞれに搭載されている第１プリントチップを区別せずに呼ぶ場合の呼称である。第２〜第４プリントチップ３２〜３４についても同様である。
【００３９】
テストパターン４０は、第１部位４１〜第８部位４８から構成される。第１部位４１〜第８部位〜４８はそれぞれ、Ｙ方向について異なる位置に形成される。
【００４０】
第２部位４２、第４部位４４、第６部位４６及び第８部位４８は、単独領域に含まれるノズルから噴射されたインクによって形成される。以下、これらの部位をまとめて、ヘッド用部位とも呼ぶ。ヘッド用部位は、プリントヘッド間の着弾ずれを計測するための部位である。
【００４１】
第３部位４３、第５部位４５及び第７部位４７は、重複領域に含まれるノズルから噴射されたインクによって形成される。以下、これらの部位をまとめて、チップ用部位とも呼ぶ。チップ用部位は、プリントチップ間の着弾ずれを計測するための部位である。
【００４２】
第１部位４１は、テストパターン４０の一部であるものの、着弾ずれ量の計測には用いられない。
【００４３】
テストパターン５０は、Ｙ方向について４つの領域に区分される。４つの領域とは、図６に示された第１部位５１、第２部位５２、第３部位５３、第４部位５４のことである。第１部位５１と第２部位５２との境界は、第１プリントチップ３１と第２プリントチップ３２とによる重複領域のＹ方向の中央付近である。第２部位５２と第３部位５３との境界は、第２プリントチップ３２と第３プリントチップ３３とによる重複領域のＹ方向の中央付近である。第３部位５３と第４部位５４との境界は、第３プリントチップ３３と第４プリントチップ３４とによる重複領域のＹ方向の中央付近である。
【００４４】
第１部位５１は、第１プリントチップ３１に設けられたノズルから噴射されたインクによって形成される。同様に、第２部位４２〜第４部位４４は、第２プリントチップ３２〜第４プリントチップ３４に設けられたノズルから噴射されたインクによって形成される。着弾ずれの計測を含め、テストパターン４０，５０の詳細については、後述する。
【００４５】
続いて、テストパターン４０，５０の撮影を開始する（Ｓ１２０）。テストパターン４０，５０の撮影は、主走査と副走査とを組み合わせて実施する。副走査は、第１部位５１〜第４部位５４のそれぞれが撮影範囲内になるように実施される。このように副走査が実施されると、テストパターン４０については、２つずつの部位が同時に撮影範囲に入る。例えば、第１部位５１、並びに第１部位４１及び第２部位４２は、印刷媒体ＭＤに対するエリアセンサー３６のＹ方向の位置が同じ位置である場合に撮影される。
【００４６】
テストパターン４０，５０の撮影を開始し、１箇所目の撮影が終わり次第、他の部位の撮影と並行して、着弾ずれ量の計測を開始する（Ｓ２００）。
【００４７】
図７は、着弾ずれ量計測処理のフローチャートを示す。着弾ずれ量計測処理は、テストパターン４０，５０を用いて、Ｘ方向及びＹ方向それぞれについての着弾ずれ量を計測するための処理である。
【００４８】
まず、撮影された画像を読み込む（Ｓ２１０）。続いて、トンボを検出する（Ｓ２２０）。以下、トンボを含め、まず、テストパターン５０の詳細について説明する。テストパターン４０については後述する。
【００４９】
図８は、テストパターン５０の４つの部位の代表として第２部位５２を示す。他の部位についても、特に説明しない内容については第２部位５２と同じである。
【００５０】
図８においては、下地Ｇを、二点鎖線による輪郭によって示す。さらに図８においては、オプティマイザーインクによって形成される線を、黒色で示す。
【００５１】
第２部位５２は、第１罫線群５０１〜第１３罫線群５１３と、複数のトンボと、から構成される。第１罫線群５０１〜第１３罫線群５１３はそれぞれ、１１本の罫線から構成される。各罫線は、後述するロールやヨーが発生していなければ、Ｙ方向に平行な線として形成される。
【００５２】
なお、第１３罫線群５１３は、実線で描かれたものと、破線で描かれたものがある。第２部位５２に含まれるのは、実線で描かれたものである。破線で描かれたものは、第１部位５１に属するものである。第１部位５１に属する第１３罫線群５１３は、着弾ずれの計測を説明するために示されている。第１部位５１に属する第１３罫線群５１３も、実際には実線で形成される。
【００５３】
先述したように、第２部位５２は、第２プリントチップ３２によって形成される。そして、第２プリントチップ３２は、ノズル列Ａと、ノズル列Ｂとを有する。また、第２部位５２は２パスで形成される。
【００５４】
２パスのうちの往路で形成されるのは、第１罫線群５０１、第２罫線群５０２、第４罫線群５０４、第６罫線群５０６、第７罫線群５０７、第８罫線群５０８、第９罫線群５０９、第１１罫線群５１１、及び第１３罫線群５１３である。
【００５５】
２パスのうちの復路で形成されるのは、第３罫線群５０３、第５罫線群５０５、第１０罫線群５１０、及び第１２罫線群５１２である。
【００５６】
ノズル列Ａによって形成されるのは、第１罫線群５０１、第２罫線群５０２、第３罫線群５０３、第６罫線群５０６、第７罫線群５０７、第９罫線群５０９、第１２罫線群５１２、及び第１３罫線群５１３である。
【００５７】
ノズル列Ｂによって形成されるのは、第４罫線群５０４、第５罫線群５０５、第８罫線群５０８、第１０罫線群５１０、及び第１１罫線群５１１である。
【００５８】
第１罫線群５０１〜第６罫線群５０６、及び第８罫線群５０８〜第１３罫線群５１３は、オプティマイザー用プリントヘッド３０ｏｐに含まれる第２プリントチップ３２ｏｐによって形成される。一方、第７罫線群５０７は、基準となるプリントヘッド（以下、基準ヘッド）に設けられた第２プリントチップ３２によって形成される。本実施形態の場合、基準ヘッドは、シアン用プリントヘッド３０Ｃである。本実施形態においては、シアンインクの使用頻度が、６色の中で最も低い。
【００５９】
図８には、上記で説明した往路か復路かが、矢印によって示されている。左矢印は、往路を示す。右矢印は、復路を示す。ノズル列については、Ａ，Ｂとしての文字によって示されている。
【００６０】
次に、トンボについて説明する。図８に示すように、第２部位５２は、トンボＴ１〜Ｔ８を含む。図８においては、Ｘ方向マイナス側に位置するトンボに符号を付していないが、Ｙ方向の位置が同じ２つの線のペアで、１つのトンボ（トンボＴ１等）を構成する。
【００６１】
トンボＴ１は、第１罫線群５０１と、第１部位５１に含まれる第１３罫線群５１３との境界を示す。トンボＴ２は、第２罫線群５０２と第３罫線群５０３との境界を示す。トンボＴ３は、第４罫線群５０４と第５罫線群５０５との境界を示す。トンボＴ５は、第８罫線群５０８と第９罫線群５０９との境界を示す。トンボＴ６は、第１０罫線群５１０と第１１罫線群５１１との境界を示す。トンボＴ７は、第１２罫線群５１２と第１３罫線群５１３との境界を示す。トンボＴ８は、第１３罫線群５１３と、第３部位５３に含まれる第１罫線群５０１との境界を示す。
【００６２】
各トンボを挟んで隣接する２つの部位は、着弾ずれが計測できるように、罫線同士の間隔が異なっている。図８は、ずれが発生していない状態を示す。このため、各部位における真ん中の罫線において、Ｘ方向の位置が一致している。
【００６３】
Ｓ２２０におけるトンボの検出とは、トンボＴ１〜Ｔ７のＹ方向の位置を大まかに決定することである。トンボＴ８は、Ｓ２２０の対象外である。なお、第２部位５２のトンボＴ８は、第３部位５３のトンボＴ１を兼ねている。何れの部位においても、トンボＴ８として検出されることはない。
【００６４】
トンボは、何れの有色インクで形成されてもよい。本実施形態においては、ブラックインクで形成される。
【００６５】
続いて、罫線検出処理を実行する（Ｓ２３０）。図９は、罫線検出処理を示すフローチャートである。まず、検出領域ＫＲを選択する（Ｓ２３１）。以下、図１０を参照する。
【００６６】
図１０は、第６罫線群５０６及び第７罫線群５０７を例にとって、検出領域ＫＲが選択される様子を示す。Ｓ２３１における選択は、トンボＴ４のＹ方向の位置が利用される。つまり、トンボＴ４からＹ方向のプラス側及びマイナス側それぞれに所定長さＤだけずれた位置を中心とした矩形領域が検出領域ＫＲとして選択される。なお、第６罫線群５０６において、罫線同士の間隔は、間隔Ｗ１である。
【００６７】
次に、輝度値の変化を算出する（Ｓ２３３）。具体的には、まず、選択した検出領域ＫＲ内の輝度値を、罫線と平行な方向に平均化する。そして、罫線に垂直な方向の輝度値の変化を、一次元のデータとして算出する。
【００６８】
次に、非罫線部の輝度値が、罫線部の輝度値以上であるかを判定する（Ｓ２３５）。罫線部とは、輝度値に基づき、罫線であると推定される部位のことである。非罫線部とは、輝度値に基づき、罫線でないと推定される部位のことである。
【００６９】
図１１及び図１２は、輝度値と画素位置との関係を例示するグラフである。図１１及び図１２は、１本の罫線と、その周囲の非罫線部との画素位置を抜粋して示す。図１１は、罫線部の輝度値が、非罫線部の輝度値よりも大きい場合を示す。図１２は、非罫線部の輝度値が、罫線部の輝度値よりも大きい場合を示す。図１１に示された破線は、反転後（後述）の輝度値である。
【００７０】
下地Ｇの領域外に形成される第７罫線群５０７の場合、罫線部の方が、非罫線部よりも輝度値が低い。つまり、第７罫線群５０７の場合、図１２に示すような輝度値と画素値との関係になる。
【００７１】
一方、下地Ｇに重ね打ちされるオプティマイザーインクによる第１罫線群５０１〜第６罫線群５０６、第８罫線群５０８〜第１３罫線群５１３の場合、図１１に示されるように罫線部の方が非罫線部よりも輝度値が高いこともあれば、図１２に示されるように、その逆のこともある。このように、輝度値の相対的な関係が一定でないのは、この関係が、印刷媒体ＭＤに対するインクの浸透性などに依存するからである。
【００７２】
Ｓ２３５の判定には、下記式が用いられる。下記式が満たされる場合はＹＥＳ、満たされない場合はＮＯと判定される。
Ｒｍａｘ−Ｒａｖｅ≧Ｒａｖｅ−Ｒｍｉｎ・・・（１）
Ｒｍａｘは、輝度値の最大値である。Ｒａｖｅは、輝度値の平均値である。Ｒｍｉｎは、輝度値の最小値である。
【００７３】
式（１）によってＳ２３５の判定が可能である理由は、罫線同士の間隔が、罫線の幅よりも十分に広く設定されていることである。つまり、輝度値の平均値Ｒａｖｅは、罫線部の輝度値よりも、非罫線部の輝度値の方に強く影響を受けるため、最大値Ｒｍａｘと最小値Ｒｍｉｎとで、輝度値の平均値Ｒａｖｅにより近い方が非罫線部であると推定できる。
【００７４】
非罫線部の輝度値が罫線部の輝度値未満の場合（Ｓ２３５，ＮＯ）、輝度値のデータを反転させる（Ｓ２３７）。図１１は、反転後の輝度値を破線で示す。図１１に示すように、本実施形態における反転は、最大値と最小値との中間値を基準に実施される。
【００７５】
一方、非罫線部の輝度値が罫線部の輝度値未満の場合（Ｓ２３５，ＮＯ）、Ｓ２３７をスキップする。先述したように、第７罫線群５０７を対象とした場合、Ｓ２３５ではＮＯと判定することになる。このように輝度値の相対的な関係に基づき、輝度値を取り扱うことによって、下地Ｇの領域内に形成された罫線群と、下地Ｇの領域外に形成された罫線群とを対象に、次のＳ２３８を統一的に実行できる。
【００７６】
続いて、輝度値が最も低い画素位置を検出する（Ｓ２３８）。Ｓ２３８は、適宜、統計処理（例えば移動平均など）を用いて、検出する画素位置を修正してもよい。最後に、検出した画素位置を罫線の位置として記録して（Ｓ２３９）、罫線検出処理を終える。続いて着弾ずれ量を算出する（Ｓ２４０）。
【００７７】
なお、下地Ｇの領域内に形成された罫線群と、下地Ｇの領域外に形成された罫線群とでは、罫線部と非罫線部とのコントラストが大きく異なる場合がある。コントラストが大きく異なると、罫線部の位置検出の精度に影響することがある。本実施形態では、第７罫線群５０７がシアンインクで形成されることを前提にした場合、６つの有色インクの中で最もコントラストの差が小さくなるのがブラックインクであったことに基づき、下地Ｇをブラックインクで形成することにしている。
【００７８】
ここで、第１罫線群５０１〜第１３罫線群５１３を用いた着弾ずれの計測について説明する。トンボＴ１の両側、つまり、第１罫線群５０１と、第１部位５１の第１３罫線群５１３との罫線の位置を比較することによって、第１プリントチップ３１ｏｐと、第２プリントチップ３２ｏｐとのずれ（以下、チップずれ）を計測できる。つまり、第１罫線群５０１及び第１３罫線群５１３は、プリントチップが異なる以外は、形成方法が共通している。従って、ずれが発生している場合、チップずれによることが分かる。
【００７９】
なお、第１部位５１に属する部位の場合、トンボＴ１のＹ方向プラス側には、罫線は形成されない。このため、第１部位５１に属する部位の場合、トンボＴ１を用いた計測は実施されない。
【００８０】
トンボＴ２の両側、つまり、第２罫線群５０２と第３罫線群５０３との罫線の位置を比較することによって、ノズル列Ａについての往路と復路とのずれ（以下、往復ずれ）を計測できる。第２罫線群５０２及び第３罫線群５０３は、往路か復路かが異なる以外は、形成方法が共通しているからである。
【００８１】
トンボＴ３の両側、つまり、第４罫線群５０４と第５罫線群５０５との罫線の位置を比較することによって、トンボＴ２の両側を用いたノズル列Ａの場合と同様、ノズル列Ｂについての往復ずれを計測できる。
【００８２】
トンボＴ４の両側、つまり、第６罫線群５０６と第７罫線群５０７との罫線の位置を比較することによって、プリントヘッド間のずれ（以下、ヘッドずれ）を計測できる。第６罫線群５０６と第７罫線群５０７は、プリントヘッドが異なる以外は、形成方法が共通しているからである。
【００８３】
トンボＴ５の両側、つまり、第８罫線群５０８と第９罫線群５０９との罫線の位置を比較することによって、ノズル列Ａとノズル列Ｂとのずれ（以下、列ずれ）を計測できる。第８罫線群５０８及び第９罫線群５０９は、ノズル列が異なる以外は、形成方法が共通しているからである。
【００８４】
トンボＴ６の両側、つまり、第１０罫線群５１０と第１１罫線群５１１との罫線の位置を比較することによって、トンボＴ３の場合と同様、ノズル列Ｂについての往復ずれを計測できる。
【００８５】
トンボＴ７の両側、つまり、第１２罫線群５１２と第１３罫線群５１３との罫線の位置を比較することによって、トンボＴ２の場合と同様、ノズル列Ａについての往復ずれを計測できる。
【００８６】
以下、ノズル列Ａ，Ｂについての往復ずれを計測するための部位がそれぞれ２箇所、設けられていることを含め、他のずれの計測について説明する。
【００８７】
テストパターン５０を用いて計測する着弾ずれの種類は、上記のものに加え、少なくとも以下の２つが含まれる。１つ目は、プリントヘッドのヨーである。２つ目は、プリントヘッドのロールである。２つとも、プリントヘッドのアライメントのずれの一種である。
【００８８】
図１３は、オプティマイザー用プリントヘッド３０ｏｐがヨー方向に位置ずれする様子を示す。ヨーとは、図１３に示すように、Ｚ方向を中心した回転によるアライメントのずれのことである。Ｚ方向は、Ｘ方向およびＹ方向に直交する方向である。つまり、Ｚ方向は、印刷媒体ＭＤの印字面に直交する方向である。
【００８９】
図１４は、オプティマイザー用プリントヘッド３０ｏｐがロール方向に位置ずれする様子を示す。ロールとは、図１３に示すように、Ｘ方向を中心した回転によるアライメントのずれのことである。
【００９０】
なお、ピッチ（Ｙ方向を中心にした回転によるアライメントのずれ）は、トンボＴ４の両側を用いたヘッドずれとして計測すれば、着弾ずれの補正が支障なく実施できるので、本実施形態では、ピッチを独立したずれ量としては計測しない。
【００９１】
以下、ヨー及びロールの詳細な説明に先立ち、往復ずれについて説明する。
【００９２】
図１５は、往復ずれが発生した場合に作成される第２部位５２を示す。但し、第１罫線群５０１、第６罫線群５０６、第７罫線群５０７、第８罫線群５０８及び第９罫線群５０９は、往復ずれの計測に用いられないので、図１５では省略されている。また、下地Ｇも説明に不要なので、省略されている。図１６，図１７でも同様に省略される。図１５に示された第２部位５２では、往復ずれ以外のずれは発生していないものとする。また、往復ずれによって、トンボのＸ方向の位置もずれが発生するが、トンボのＸ方向の位置は、さほど重要ではないので、図１５ではトンボのＸ方向の位置はずれていないものとして図示されている。
【００９３】
図１５に示すように、往復ずれが発生している場合、往路で形成される部位同士には、ずれは発生しない。同様に、復路で形成される部位同士には、ずれは発生しない。これに対し、往路で形成される部位と、復路で形成される部位とにはＸ方向のずれが発生する。従って、トンボＴ２，Ｔ３の両側と、トンボＴ６，Ｔ７の両側との少なくとも何れか一方を用いることで、往復ずれを計測できる。
【００９４】
図１６は、ヨーが発生している場合に作成される第２部位５２を示す。図１６に示された第２部位５２では、ヨー以外のずれは発生していないものとする。ヨーのずれが発生している場合、第２部位５２は、全体的にＺ方向を中心に回転する。
【００９５】
図１６に示された部位は、ノズル列Ａかノズル列Ｂか、及び往路か復路かによって定まる４つの形成方法それぞれについて、２つずつ含む。例えば、第２罫線群５０２及び第１３罫線群５１３は何れも、ノズル列Ａ及び往路によって形成される。そして、本実施形態においては、このような同じ形成方法による部位に含まれる各罫線は、ずれが発生していなければ、Ｘ方向について同じ位置に形成されるように、テストパターン５０が設計されている。つまり、対応する罫線の検出位置は同じになる。対応する罫線とは、例えば最もＸ方向プラス側に位置する罫線同士、或いはＸ方向の真ん中に位置する罫線同士等、Ｘ方向の配列における位置（以下、配列位置）が同じ罫線のことである。
【００９６】
ヨーのずれが発生している場合、同じ形成方法による部位に含まれる各罫線は、ヨー以外のずれが発生していなければ、対応する罫線を用いて計測される角度が、ヨーの回転角度に等しくなる。
【００９７】
図１６においては、真ん中の罫線を用いた回転角度の計測結果として、角度θが示されている。角度θは、Ｙ方向と、所定線分とのなす角度である。所定線分とは、第２罫線群５０２の検出位置Ｈ１と、第１３罫線群５１３の検出位置Ｈ２とを結ぶ線分である。
【００９８】
なお、ヨー以外のずれが発生していなければ、対応する罫線として何れの配列位置の罫線を用いても同じ角度になる。また、ヨー以外のずれが発生していなければ、ノズル列Ａかノズル列Ｂか、及び往路か復路かによる４つの形成方法の何れの部位を用いても、同じ角度になる。この回転角度が把握できれば、ヨーによるずれ量の算出が可能になる。
【００９９】
図１７は、ロールが発生している場合に作成される第２部位５２を示す。図１７に示された第２部位５２では、ロール以外のずれは発生していないものとする。また、ロールのずれによっても、トンボの位置にずれが発生するが、図１５と同様、図１７ではトンボの位置はずれていないものとして図示されている。
【０１００】
ロールのずれが発生している場合、何れの部位も、Ｚ方向を中心に回転する。但し、往路で形成される部位と、復路で形成される部位とでは、回転の向きが逆になる。
【０１０１】
図１５と図１７とを比べると、トンボＴ２，Ｔ３の両側において、計測上、同様なずれが発生している。このため、トンボＴ２，Ｔ３の両側のみを用いた場合には、往復ずれと、ロールのずれとを分離し難い。一方、トンボＴ６，Ｔ７の両側を比べると、ずれの関係が逆転している。このため、トンボＴ２，Ｔ３の両側と、トンボＴ６，Ｔ７の両側との両方を用いることで、往復ずれと、ロールのずれとを分離できる。
【０１０２】
上記で説明した関係を用いることによって、往復ずれ、ヨーのずれ、ロールのずれが全て発生し得ることを前提にしても、トンボＴ２，Ｔ３，Ｔ６，Ｔ７のそれぞれの両側の検出位置を用いることによって、３つのずれをそれぞれ求めることができる。
【０１０３】
ここで、テストパターン５０についての説明から、テストパターン４０の説明に移る。補正処理における全ステップにおいて、テストパターン４０とテストパターン５０との違いは、特に説明しないもの限り、Ｘ方向とＹ方向とを入れ替えることで理解される。以下、テストパターン４０の詳細について説明する。
【０１０４】
図１８は、第２部位４２を示す。図１８及び図１９（後述）は、図８と同様、下地Ｇを二点鎖線による輪郭によって示し、オプティマイザーインクによって形成される線を黒色で示す。
【０１０５】
第２部位４２は、基準罫線群４２ｂｍと、測定対象罫線群４２ｏｂと、トンボＴ４２１と、トンボＴ４２２と、から構成される。基準罫線群４２ｂｍ及び測定対象罫線群４２ｏｂは、一対になってペアを形成する。
【０１０６】
図１９は、第３部位４３を示す。第３部位４３は、基準罫線群４３ｂｍと、測定対象罫線群４３ｏｂと、トンボＴ４３１と、トンボＴ４３２と、から構成される。基準罫線群４３ｂｍ及び測定対象罫線群４３ｏｂは、一対になってペアを形成する。
【０１０７】
図１８に示された「−３」〜「＋３」は、ずれ量を示しており、実際には印刷されない。図１９に示された「−２」〜「＋２」は、ずれ量を示しており、実際には印刷されない。図１８及び図１９は何れも、ずれ量「０」の罫線（以下、特定罫線）同士が、Ｙ方向の位置について揃っている。つまり、図１８及び図１９は何れも、ずれが発生していない状態を示している。
【０１０８】
本実施形態において、テストパターン４０における罫線間の距離は、図１８，図１９に示されるように、等間隔ではない。具体的には、罫線間の距離は、次のように定められている。
【０１０９】
図１８に示される基準罫線群４２ｂｍの場合、ずれ量ｎ（ｎは−２〜＋２の整数）の罫線から、次の罫線までの距離は次式で表される。なお、次の罫線とは、ずれ量ｎの罫線に隣接する２つの罫線のうち、特定罫線から遠ざかる側に位置する罫線のことである。但し、ｎ＝０の場合、ずれ量ｎの罫線が特定罫線であるので、上記の定義では次の罫線を決定できない。但し、本実施形態においては、ｎ＝０の場合、次の罫線がずれ量「−１」及びずれ量「＋１」の何れの罫線でも距離は同じであるので、次の罫線は、ずれ量「−１」と、ずれ量「＋１」との何れの罫線でもよいこととする。
Ｄｂｍ（ｎ）＝｜ｎ｜×ａ・・・（２）
【０１１０】
上式に含まれるａは、ゼロより大きい定数である。上式から、基準罫線群４２ｂｍの罫線間の距離は、特定罫線から遠ざかるに連れて、長くなることが分かる。式（２）による罫線間の距離の定め方は、ヘッド用部位の全てにおいて共通である。
【０１１１】
基準罫線群４２ｂｍにおいて、特定罫線を基準にした場合、ずれ量ｎ’（ｎ’は−３〜３の整数）の罫線の位置は、次式で表される。
Ｅｂｍ（ｎ’）＝ｎ’ａ（｜ｎ’｜＋１）／２・・・（３）
【０１１２】
一方、測定対象罫線群４２ｏｂの場合、特定罫線を基準にした場合、ずれ量ｎ’（ｎ’は−３〜＋３の整数）の罫線の位置は、次式で表される。
Ｅｏｂ（ｎ’）＝ｎ’［｛ａ（｜ｎ’｜＋１）／２｝−ｂ］・・・（４）
【０１１３】
式（４）に含まれるｂは、０＜ｂ＜ａ／２を満たす定数である。式（４）及びｂ＜ａ／２から、測定対象罫線群４２ｏｂの罫線間の距離は、特定罫線から遠ざかるに連れて、長くなる。式（４）による罫線間の距離の定め方は、ヘッド用部位の全てにおいて共通である。
【０１１４】
図１９に示される基準罫線群４３ｂｍの場合について、ずれ量ｎの罫線から次の罫線までの距離Ｄｂｍ（ｎ）、及び特定罫線を基準にしたときのずれ量ｎ’の罫線の位置は、ヘッド用部位と同様、式（２）〜（４）によって表される。このため、測定対象罫線群４２ｏｂの罫線間の距離は、特定罫線から遠ざかるに連れて長くなり、且つ基準罫線群４２ｂｍの罫線間の距離は、特定罫線から遠ざかるに連れて長くなる。但し、ｎは−１〜＋１の整数、ｎ’は−２〜＋２の整数と読み替える。また、定数ａ，ｂの値は、ヘッド用部位の場合と同じでもよいし、変更してもよい。
【０１１５】
プリントヘッド間の着弾位置のずれとは、基準ヘッドによる着弾位置を基準にした場合におけるＹ方向のずれのことである。このため、ヘッド用部位に含まれる全ての基準罫線群は、シアンインクによって形成される。
【０１１６】
ヘッド用部位における測定対象罫線群は、計測対象となるオプティマイザー用プリントヘッド３０ｏｐから噴射されるインクによって形成される。
【０１１７】
チップ用部位における各領域は、重複領域におけるプリントチップ間の着弾位置のずれを計測するために利用される。このため、チップ用部位において、ペアを構成する基準罫線群および測定対象罫線群は、オプティマイザー用プリントヘッド３０ｏｐから噴射されるインクによって形成される。
【０１１８】
チップ用部位における基準罫線群は、印刷媒体ＭＤの搬送方向についての下流側に位置するプリントチップによって形成される。そして、チップ用部位における測定対象罫線群は、印刷媒体ＭＤの搬送方向についての上流側に位置するプリントチップによって形成される。例えば、基準罫線群４３ｂｍは第１プリントチップ３１ｏｐによって形成され、測定対象罫線群４３ｏｂは第２プリントチップ３２ｏｐによって形成される。
【０１１９】
Ｓ２４０では、テストパターン４０を対象にする場合、チップずれ、ヘッドずれをそれぞれ求める。テストパターン５０を対象にする場合、上記で説明したチップずれ、ノズル列Ａ，Ｂそれぞれの往復ずれ、列ずれ、ヘッドずれ、ヨーのずれ、ロールのずれを全て求める。
【０１２０】
次に、全て検出したかを判定する（Ｓ２５０）。検出が終わっていない部位が残っている場合（Ｓ２５０，ＮＯ）、Ｓ２１０〜Ｓ２４０を適宜、繰り返す。全て検出した場合（Ｓ２５０，ＹＥＳ）、着弾ずれ量計測処理を終える。
【０１２１】
着弾ずれ量計測処理を終えると、着弾ずれの補正計算を実行し（Ｓ２９０）、補正処理を終える。補正処理を終えると、ドット形成処理を実行する（Ｓ３００）。
【０１２２】
図２０は、ドット形成処理を示すフローチャートである。まず、印刷対象となる印刷データを取得する（Ｓ３１０）。次に、色変換を実行する（Ｓ３２０）。つまり、ＲＧＢで表された印刷データを、ＣＭＹＫＬｃＬｍの表色系によるインク値に変換する。次に、ハーフトーン処理を実行する（Ｓ３３０）。
【０１２３】
続いて、着弾ずれ量を適用する（Ｓ３４０）。つまり、ハーフトーン処理によって得られたドットデータを、Ｓ２９０で保存された着弾ずれ量を用いて、修正する。
【０１２４】
次に、修正されたドットデータを用いて、ドットを形成する（Ｓ３５０）。Ｓ３５０においては、適宜、オプティマイザーインクによるドットを形成する。Ｓ３１０で取得した印刷データに基づくドット形成が終わると、印刷を継続するかを判定する（Ｓ３６０）。印刷を継続する場合（Ｓ３６０，ＹＥＳ）、Ｓ３１０に戻る。印刷を終了する場合（Ｓ３６０，ＮＯ）、ドット形成処理を終了する。これに伴い、印刷処理を終了する。
【０１２５】
実施形態２を説明する。図２１は、実施形態２におけるテストパターンを示す。実施形態２のテストパターンは、実施形態１で説明したテストパターン４０，５０に加え、テストパターン４０Ｚ，５０Ｚが含まれる。
【０１２６】
テストパターン４０Ｚ，５０Ｚについて特に説明しない点については、原則、テストパターン４０及びテストパターン４０Ｚの特徴は同じであり、テストパターン５０及びテストパターン５０Ｚの特徴は同じである。以下、テストパターン４０Ｚ，５０Ｚについて説明する。
【０１２７】
テストパターン４０Ｚは、有色インクの副走査方向の着弾ずれを計測するためのものである。テストパターン５０Ｚは、有色インクの主走査方向の着弾ずれを計測するためのものである。テストパターン４０Ｚ，５０Ｚは、補正処理の対象である。つまり、テストパターン４０Ｚ，５０Ｚは、Ｓ１１０及びＳ１１５によって形成され、テストパターン４０，５０と同様、着弾ずれ量計測（Ｓ２００）等の対象になる。
【０１２８】
テストパターン４０は、Ｘ方向について最もプラス側に位置する。テストパターン５０は、テストパターン４０のＸ方向マイナス側に位置する。テストパターン５０Ｚは、テストパターン５０のＸ方向マイナス側に位置する。テストパターン４０Ｚは、テストパターン５０Ｚのマイナス側に位置する。
【０１２９】
テストパターン４０Ｚは、テストパターン４０と同様に、第１部位４１Ｚ〜第８部位４８Ｚを含む。テストパターン４０Ｚは、テストパターン４０とは異なり、第９部位４９Ｚを含む。但し、第９部位４９Ｚは、着弾ずれの計測には用いられない。
【０１３０】
テストパターン５０Ｚは、テストパターン５０Ｍ、５０Ｃ、５０Ｋ、５０Ｙ、５０Ｌｃ、５０Ｌｍを含む。テストパターン５０Ｍはマゼンタ、テストパターン５０Ｃはシアン、テストパターン５０Ｋはブラック、テストパターン５０Ｙはイエロー、テストパターン５０Ｌｃはライトシアン、テストパターン５０Ｌｍはライトマゼンタのインクの主走査方向の着弾ずれを計測するためのものである。
【０１３１】
テストパターン４０Ｚ，５０Ｚは、下地Ｇを含まない点において、テストパターン４０，５０とは異なる。このため、テストパターン４０Ｚ，５０Ｚを対象とした場合、罫線検出処理におけるＳ２３５では、常にＹＥＳと判定される。
【０１３２】
テストパターン５０Ｍ、５０Ｃ、５０Ｋ、５０Ｙ、５０Ｌｃ、５０Ｌｍは、着弾ずれの対象とするインク色が異なること以外は、同様な特徴を有する。以下、テストパターン５０Ｍを代表として説明する。
【０１３３】
図２２は、第２部位５２Ｍを示す。第２部位５２Ｍは、テストパターン５０Ｍにおいて、テストパターン５０の第２部位４２に相当する部位である。
【０１３４】
第２部位５２Ｍに含まれる第６罫線群５０６の罫線同士の間隔は、間隔Ｗ２である。テストパターン５０における間隔Ｗ１は、間隔Ｗ２よりも広い。間隔Ｗ１が間隔Ｗ２よりも広く設定されているのは、テストパターン５０においては、第６罫線群５０６が下地Ｇに滲みやすいからである。
【０１３５】
なお、間隔Ｗ１が間隔Ｗ２よりも広いので、テストパターン５０に含まれる第６罫線群５０６に含まれる罫線の数は、テストパターン５０Ｍに含まれる第６罫線群５０６に含まれる罫線の数よりも、２本少ない。
【０１３６】
テストパターン５０Ｍに比べて罫線同士の間隔が広く取られているのは、テストパターン４０の各罫線群において共通である。
【０１３７】
図２３は、第２部位４２Ｚを示す。第２部位４２Ｚは、各プリントヘッドに搭載された第１プリントチップについての着弾ずれを計測するための部位である。なお、第４部位４４は、各プリントヘッドに搭載された第２プリントチップについての着弾ずれを計測するための部位である。第６部位４６は、各プリントヘッドに搭載された第３プリントチップについての着弾ずれを計測するための部位である。第８部位４８は、各プリントヘッドに搭載された第４プリントチップについての着弾ずれを計測するための部位である。
【０１３８】
ヘッド用部位に属する各部位は、対象とするプリントチップが異なる以外、特徴は同じである。このため、以下、第２部位４２Ｚをヘッド用部位の代表として説明する。
【０１３９】
第２部位４２Ｚは、マゼンタ用領域４２Ｍと、シアン用領域４２Ｃと、ブラック用領域４２Ｋと、イエロー用領域４２Ｙと、ライトシアン用領域４２Ｌｃと、ライトマゼンタ用領域４２Ｌｍと、から構成される。破線で示した矩形は、仮想的な境界線を示しており、実際に印刷される訳ではない。
【０１４０】
図２４は、マゼンタ用領域４２Ｍを抜粋して示す。マゼンタ用領域４２Ｍは、基準罫線群４２Ｍｂｍと、測定対象罫線群４２Ｍｏｂと、トンボＴ４２Ｍ１と、トンボＴ４２Ｍ２と、から構成される。基準罫線群４２Ｍｂｍ及び測定対象罫線群４２Ｍｏｂは、一対になってペアを形成する。
【０１４１】
マゼンタ用領域４２Ｍの場合、図２４に示されるように「−６」〜「＋６」のずれ量が用意されている。
【０１４２】
マゼンタ用領域４２Ｍの場合、ずれ量ｎ（ｎは−５〜＋５の整数）の罫線から、次の罫線までの距離は次式で表される。
Ｄｂｍ（ｎ）＝｜ｎ｜×ａ×ｃ・・・（５）
【０１４３】
上式に含まれるｃは、ゼロより大きく１よりも小さい定数である。このため、ｎの値が同じである場合、式（５）によって算出される距離は、式（２）によって算出される距離に比べて、短くなる。
【０１４４】
基準罫線群４２Ｍｂｍは、オプティマイザーインク用の基準罫線群４２ｂｍと同様、測定対象となるマゼンタ用領域４２Ｍの位置に応じて、着弾ずれが計測できるように間隔が設定されている。このため、ｎの値が同じである場合、オプティマイザーインク用の基準罫線群４２ｂｍにおける罫線同士の間隔は、マゼンタ用領域４２Ｍにおける罫線同士の間隔に比べて広い。このように設定されているのは、テストパターン５０の場合と同様、測定対象罫線群４２ｏｂにおける滲みの対策のためである。
【０１４５】
本開示は、本明細書の実施形態や実施例、変形例に限られるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲において種々の構成で実現できる。例えば、発明の概要の欄に記載した各形態中の技術的特徴に対応する実施形態、実施例、変形例中の技術的特徴は、先述の課題の一部又は全部を解決するために、或いは、先述の効果の一部又は全部を達成するために、適宜、差し替えや、組み合わせができる。その技術的特徴が本明細書中に必須なものとして説明されていなければ、適宜、削除できる。例えば、以下のものが例示される。
【０１４６】
印刷装置は、テストパターンの撮影、及び着弾ずれ量計測処理を実行する機能を有していなくてもよい。この場合、印刷装置と共に印刷システムを構成する検出部が、テストパターンの撮影、及び着弾ずれ量計測処理を実行してもよい。
【０１４７】
Ｙ方向の着弾ずれを計測するための部位において、罫線同士の間隔は、特定罫線から遠ざかるに連れて長くならなくてもよい。
【０１４８】
基準ヘッドは、下地のためのインクを噴射するプリントヘッド、及びオプティマイザー用プリントヘッド以外であれば、何れのプリントヘッドでもよい。
【０１４９】
主走査方向の往路および復路の向きは、実施形態で例示した向きと入れ替えてもよい。
【０１５０】
上記実施形態において、ソフトウエアによって実現された機能及び処理の一部又は全部は、ハードウエアによって実現されてもよい。また、ハードウエアによって実現された機能及び処理の一部又は全部は、ソフトウエアによって実現されてもよい。ハードウエアとしては、例えば、集積回路、ディスクリート回路、または、それらの回路を組み合わせた回路モジュールなど、各種回路を用いてもよい。
【符号の説明】
【０１５１】
２０…印刷装置、２１…制御部、２２…ＣＰＵ、２３…記憶媒体、２５…キャリッジ、３０…プリントヘッド群、３６…エリアセンサー、３９…ライト、４０…テストパターン、５０・・・テストパターン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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