(57)【要約】【課題】品質を安定化させることが可能な表示装置を提供する。【解決手段】  第１電極、発光層および第２電極をこの順に有する表示素子が複数設けられた表示領域と、前記表示領域の外側に設けられ、発光可能な検査素子を有する検査領域とを備え、前記検査領域では、前記検査素子の発光状態が外部から視認可能である表示装置。【選択図】図３
2018098070.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１電極、発光層および第２電極をこの順に有する表示素子が複数設けられた表示領域と、
前記表示領域の外側に設けられ、発光可能な検査素子を有する検査領域とを備え、
前記検査領域では、前記検査素子の発光状態が外部から視認可能である
表示装置。
【請求項２】
前記検査素子は、
前記第１電極と同一の構成材料を含むとともに、前記第１電極と同一の厚みを有する検査第１電極と、
前記検査第１電極と対向して設けられ、前記第２電極と同一の構成材料を含むとともに、前記第２電極と同一の厚みを有する検査第２電極と、
前記検査第１電極と前記検査第２電極との間に設けられ、前記発光層と同一の構成材料を含むとともに、前記発光層と同一の厚みを有する検査発光層とを含む
請求項１記載の表示装置。
【請求項３】
前記第２電極は、前記複数の表示素子に共通して設けられ、
前記検査第２電極は、前記第２電極と一体化して設けられている
請求項２記載の表示装置。
【請求項４】
前記検査第１電極は、前記検査第２電極と同一電位に接続可能に構成されている
請求項２記載の表示装置。
【請求項５】
前記検査素子は、前記表示領域により近い位置からより遠い位置に延在している
請求項２記載の表示装置。
【請求項６】
複数の前記検査素子が、前記表示領域の周囲に配置されている
請求項５記載の表示装置。
【請求項７】
前記検査第１電極は、前記表示領域に向かう方向に延在する複数の素子部と、前記複数の素子部の一端が連結される共通部とを含む
請求項６記載の表示装置。
【請求項８】
前記検査第１電極の前記複数の素子部各々に、前記検査発光層が積層されている
請求項７記載の表示装置。
【請求項９】
更に、前記検査領域にマークを有し、
前記マークと前記検査素子の発光状態とが比較可能に構成されている
請求項５記載の表示装置。
【請求項１０】
前記表示領域は矩形状であり、
前記表示領域の複数の辺の外側に前記検査領域が設けられている
請求項１記載の表示装置。
【請求項１１】
前記表示領域の全ての辺の外側に前記検査領域が設けられている
請求項１０記載の表示装置。
【請求項１２】
前記発光層は有機電界発光層である
請求項１記載の表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本技術は、例えば有機ＥＬ（electroluminescence）素子等の表示素子を有する表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
有機ＥＬ素子は、水分および不純物が侵入すると、発光層が劣化する（例えば、特許文献１参照）。この劣化した発光層を有する有機ＥＬ素子は非発光となり、表示領域に滅点が生じる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−１６１３８２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特に、市場に流通させる前にこのような表示不良を検出し、より安定した品質の表示装置を市場に供給することが望まれている。
【０００５】
品質を安定化させることが可能な表示装置を提供することが望ましい。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本技術の一実施の形態に係る表示装置は、第１電極、発光層および第２電極をこの順に有する表示素子が複数設けられた表示領域と、表示領域の外側に設けられ、発光可能な検査素子を有する検査領域とを備え、検査領域では、検査素子の発光状態が外部から視認可能であるものである。
【０００７】
本技術の一実施の形態に係る表示装置では、外部から発光状態が視認可能な検査素子が設けられているので、市場に流通させる前に、検査素子の発光状態が容易に確認できる。これにより、例えば構成材料中の水分の異常や、装置の含水量および分圧等の異常など、製造工程の状態を把握することができる。
【発明の効果】
【０００８】
本技術の一実施の形態に係る表示装置によれば、外部から発光状態が視認可能な検査素子を設けるようにしたので、製造工程の状態を随時把握することができる。よって、表示装置の品質を安定化させることが可能となる。なお、ここに記載された効果は必ずしも限定されるものではなく、本開示中に記載されたいずれの効果であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本技術の一実施の形態に係る表示装置の概略構成を表す平面模式図である。
【図２】図１に示したＩＩ−ＩＩ’線に沿った断面構成を表す図である。
【図３】図１に示したＩＩＩ−ＩＩＩ’線に沿った断面構成を表す図である。
【図４】図３に示した検査素子の配置の一例を表す平面模式図である。
【図５】図１に示した表示装置の角部を表す平面模式図である。
【図６】図５に示した部分Ｐの拡大図である。
【図７】図３に示した検査素子の回路構成の一例を表す図である。
【図８Ａ】表示領域に生じる非発光領域について説明するための平面模式図である。
【図８Ｂ】図８Ａに示した非発光領域の他の例を表す平面模式図である。
【図９】製造直後の検査素子の発光状態の一例を表す平面模式図である。
【図１０Ａ】加速試験後の検査素子の発光状態の一例を表す平面模式図である。
【図１０Ｂ】加速試験後の検査素子の発光状態の他の例（１）を表す平面模式図である。
【図１１】加速試験後の検査素子の発光状態の他の例（２）を表す平面模式図である。
【図１２】製造直後の検査素子の発光状態の他の例を表す平面模式図である。
【図１３】変形例に係る検査領域の一部の構成を表す平面模式図である。
【図１４】表示装置の機能構成を表すブロック図である。
【図１５】電子機器の構成を表すブロック図である。
【図１６】図４に示した検査素子の配置の他の例を表す平面模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本技術の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．実施の形態（発光状態を視認可能な検査素子を有する表示装置の例）
２．変形例（検査領域にマークを有する例）
３．表示装置の機能構成例
４．電子機器の例
【００１１】
＜実施の形態＞
［構成］
図１は、本技術の一実施の形態に係る表示装置（表示装置１）の平面構成を模式的に表したものである。表示装置１は、例えば有機ＥＬ素子を用いた有機ＥＬディスプレイ等であり、例えばＲ（赤），Ｇ（緑），Ｂ（青）のいずれかの色の光が上面側から出射される、上面発光型（トップエミッション型）の表示装置である。この表示装置１は、中央部の表示領域１０Ａと、表示領域１０Ａの外側に、表示領域１０Ａを囲むように設けられた検査領域１０Ｂとを備えている。表示領域１０Ａは、例えば矩形状であり、この表示領域１０Ａには、複数の画素がマトリクス状に配置されている。
【００１２】
（表示領域１０Ａ）
図２は、図１のＩＩ−ＩＩ’線に沿った断面構成、即ち、表示領域１０Ａの断面構成を模式的に表している。表示領域１０Ａでは、第１基板１１上に、複数の表示素子２０が２次元配置されている。各々の表示素子２０は、画素毎に形成されている。図２には、４つの表示素子２０に対応する領域が示されている。第１基板１１と表示素子２０との間には、ＴＦＴ（Thin Film Transistor）１２が設けられ、このＴＦＴ１２を覆う層間絶縁膜１３上に、表示素子２０が配置されている。表示素子２０は、例えば、第１基板１１に近い位置から、第１電極２１、発光層２２および第２電極２３をこの順に有している。隣り合う表示素子２０は、隔壁２４により分離されている。表示素子２０は封止樹脂２５で覆われ、この封止樹脂２５上には第２基板３１が設けられている。即ち、複数の表示素子２０は、第１基板１１と第２基板３１との間に封止されている。
【００１３】
第１基板１１は、表示素子２０を支持するためのものであり、例えばガラス，石英，シリコン，樹脂材料または金属板等により構成されている。樹脂材料としては、例えばＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート），ＰＩ（ポリイミド），ＰＣ（ポリカーボネート）またはＰＥＮ（ポリエチレンナフタレート）などが挙げられる。
【００１４】
ＴＦＴ１２は、表示装置１の画素回路を構成するものである。例えば、駆動トランジスタに相当するＴＦＴ１２は、表示素子２０の第１電極２１に電気的に接続されている。ＴＦＴ１２は、例えば、ボトムゲート構造を有している。このＴＦＴ１２は、第１基板１１上の選択的な領域に、ゲート電極を有し、このゲート電極上にゲート絶縁膜を介して半導体層を有している。この半導体層には、一対のソース・ドレイン電極が電気的に接続されている。この一対のソース・ドレイン電極のうちの一方が、例えば表示素子２０の第１電極２１に電気的に接続されている。ＴＦＴ１２は、書き込みトランジスタであってもよい。ＴＦＴ１２は、トップゲート構造を有していてもよい。第１基板１１と表示素子２０との間には、このＴＦＴ１２に加えて、例えば、保持容量、走査線、信号線および電源線等が設けられている。
【００１５】
層間絶縁膜１３は、ＴＦＴ１２が設けられた第１基板１１を平坦化するためのものであり、例えばポリイミドおよびアクリル樹脂等の有機絶縁材料を含んでいる。層間絶縁膜１３を有機絶縁材料と無機絶縁材料との積層構造により構成するようにしてもよく、あるいは、無機絶縁材料により層間絶縁膜１３を構成するようにしてもよい。
【００１６】
第１電極２１は、例えば、アノードとして機能する反射電極であり、表示素子２０毎に分離して設けられている。この第１電極２１の構成材料としては、例えばアルミニウム（Ａｌ），クロム（Ｃｒ），金（Ａｕ），白金（Ｐｔ），ニッケル（Ｎｉ），銅（Ｃｕ），タングステン（Ｗ）あるいは銀（Ａｇ）などの金属元素の単体または合金が挙げられる。第１電極２１は、これらの金属元素の単体または合金よりなる金属膜と、光透過性を有する導電材料（透明導電膜）との積層膜を含んでいてもよい。透明導電膜としては、例えば、ＩＴＯ（酸化インジウム錫），ＩＺＯ（酸化インジウム亜鉛）および酸化亜鉛（ＺｎＯ）系材料が挙げられる。酸化亜鉛系材料としては、例えばアルミニウム（Ａｌ）などを添加した酸化亜鉛（ＡＺＯ）またはガリウム（Ｇａ）を添加した酸化亜鉛（ＧＺＯ）などが挙げられる。
【００１７】
隔壁２４は、第１電極２１の中央部に対向する領域に開口を有し、第１電極２１の周縁を覆っている。この隔壁２４は、各画素の発光領域を規定するとともに、第１電極２１と第２電極２３との絶縁性を確保するためのものである。隔壁２４は、例えばアクリル系樹脂，ポリイミド系樹脂，フッ素系樹脂，シリコン系樹脂，フッ素系ポリマー，シリコン系ポリマー，ノボラック系樹脂，エポキシ系樹脂およびノルボルネン系樹脂等の感光性樹脂を含んで構成されている。あるいは、これらの樹脂材料に顔料を分散させたものを用いるようにしてもよい。隔壁２４は、酸化シリコン，窒化シリコンおよび酸窒化シリコン等の無機材料により構成するようにしてもよい。
【００１８】
発光層２２は、例えば有機電界発光層であり、有機材料を含んでいる。この発光層２２は、例えば、赤色の光を発生する赤色発光層、緑色の光を発生する緑色発光層，青色の光を発生する青色発光層を有しており、これらが画素毎に配置されている。第１電極２１と第２電極２３との間には、発光層２２に加えて、正孔注入層、正孔輸送層および電子輸送層等を設けるようにしてもよい。発光層２２は、例えば白色の光を発生するものであってもよく、複数の画素に共通して発光層２２を設けるようにしてもよい。
【００１９】
第２電極２３は、例えばカソードとして機能するものである。この第２電極２３は、複数の表示素子２０に共通して設けられ、表示領域１０Ａの全面にわたって設けられている。第２電極２３は、例えば、透明導電膜により構成されている。透明導電膜としては、例えば、ＩＴＯ（酸化インジウム錫），ＩＺＯ（酸化インジウム亜鉛）および酸化亜鉛（ＺｎＯ）系材料が挙げられる。酸化亜鉛系材料としては、例えばアルミニウム（Ａｌ）などを添加した酸化亜鉛（ＡＺＯ）またはガリウム（Ｇａ）を添加した酸化亜鉛（ＧＺＯ）などが挙げられる。第２電極２３は、マグネシウムと銀との合金（ＭｇＡｇ合金）を用いて構成するようにしてもよい。
【００２０】
封止樹脂２５は、第１基板１１と第２基板３１とを貼り合わせるとともに、表示素子２０を封止している。封止樹脂２５は、例えばアクリル系樹脂，ポリイミド系樹脂，フッ素系樹脂，シリコン系樹脂，フッ素系ポリマー，シリコン系ポリマー，ノボラック系樹脂，エポキシ系樹脂およびノルボルネン系樹脂等により構成されている。
【００２１】
第２基板３１は、封止樹脂２５とともに表示素子２０を封止している。この第２基板３１から、発光層２２で発生した光が第２電極２３および封止樹脂２５を介して取り出されるようになっている。第２基板３１は、表示素子２０で発生した光に対して光透過性を有していればよく、上記第１基板１１と同様の材料を用いて構成することができる。第２基板３１の一方の面（例えば、第１基板１１との対向面）には、カラーフィルタ層およびブラックマトリクス層等を設けるようにしてもよい。
【００２２】
（検査領域１０Ｂ）
図３は、図１のＩＩＩ−ＩＩＩ’線に沿った断面構成、即ち、検査領域１０Ｂの断面構成を模式的に表している。検査領域１０Ｂでは、第１基板１１上に複数の検査素子２０Ａが設けられている。図３では、１つの検査素子２０Ａに対応する領域を示している。
【００２３】
図４は、検査素子２０Ａの配置の一例を表したものである。複数の検査素子２０Ａは、表示領域１０Ａを囲むように設けられ、例えば、表示領域１０Ａの全ての辺の外側に配置されている。検査素子２０Ａは、検査領域１０Ｂ内に配置されていればよいが、検査精度を向上させるため、表示領域１０Ａの複数の辺の外側に検査素子２０Ａを設けることが好ましい。
【００２４】
図３に示したように、第１基板１１と検査素子２０Ａとの間には、第１取出配線１４および第２取出配線１５が設けられ、この第１取出配線１４および第２取出配線１５を覆う層間絶縁膜１３上に、検査素子２０Ａが配置されている。検査素子２０Ａは、例えば、第１基板１１に近い位置から、検査第１電極２１Ａ、検査発光層２２Ａおよび検査第２電極２３Ａをこの順に有している。検査第１電極２１Ａと同層に、第１導電膜２１Ｂが設けられ、この第１導電膜２１Ｂに検査第２電極２３Ａが接している。隣り合う検査素子２０Ａは、隔壁２４Ａにより分離されている。検査素子２０Ａは封止樹脂２５で覆われ、この封止樹脂２５上には第２基板３１が設けられている。即ち、検査素子２０Ａは、表示素子２０と同様の構成を有している。表示素子２０および検査素子２０Ａは、シール２６で囲まれた領域内に封止されている。シール２６は、第１基板１１と第２基板３１とを接着するためのものであり、第１基板１１および第２基板３１の周縁に沿って設けられている。
【００２５】
第１取出配線１４は、層間絶縁膜１３に設けられた接続孔を介して検査第１電極２１Ａに電気的に接続されている。この第１取出配線１４は、検査第１電極２１Ａにアノード電位を供給するための外部取出配線である。第２取出配線１５は、層間絶縁膜１３に設けられた接続孔を介して第１導電膜２１Ｂに電気的に接続されている。この第１取出配線１４は、検査第２電極２３Ａに、第１導電膜２１Ｂを介してカソード電位を供給するための外部取出配線である。
【００２６】
検査第１電極２１Ａは、例えば、表示素子２０の第１電極２１と同一工程で形成され、第１電極２１と同層に設けられている。この検査第１電極２１Ａは、例えば第１電極２１と同一の構成材料からなり、第１電極２１と同一の厚みを有している。
【００２７】
図５は、表示装置１の１つの角部の平面構成を模式的に表したものであり、図６は、図５に示した部分Ｐの拡大図である。検査第１電極２１Ａは、図６に示したように、例えば、素子部２１Ａ−１および共通部２１Ａ−２を含んでおり、平面視で櫛歯形状を有している。素子部２１Ａ−１は、複数設けられ、各々の素子部２１Ａ−１に検査発光層２２Ａが積層されて検査素子２０Ａが構成されている。各々の素子部２１Ａ−１は、互いに所定の間隔で分離され、第１基板１１の周縁から表示領域１０Ａに向かう方向に延在している。このように複数の素子部２１Ａ−１は、櫛歯状に配置されている。素子部２１Ａ−１は、表示領域１０Ａからの距離が様々な位置で発光状態の検査を行うことができるよう、表示領域１０Ａにより近い位置から、より離れた位置まで長く延在していることが好ましい。即ち、検査素子２０Ａは、表示領域１０Ａにより近い位置から、より離れた位置まで長く延在していることが好ましい。各々の素子部２１Ａ−１の周縁を覆うように、隔壁２４Ａが設けられている。共通部２１Ａ−２は、複数の素子部２１Ａ−１の一端が連結される根元部分であり、例えば表示領域１０Ａの外周に沿って配置されている。例えば、この検査第１電極２１Ａの共通部２１Ａ−２は、平面視で検査第２電極２３Ａから露出するように設けられ、第１取出配線１４に電気的に接続されている。
【００２８】
検査領域１０Ｂに設けられた第１導電膜２１Ｂは、例えば、検査第１電極２１Ａと同一工程で形成され、検査第１電極２１Ａと同層に設けられている。この第１導電膜２１Ｂは、例えば検査第１電極２１Ａと同一の構成材料からなり、検査第１電極２１Ａと同一の厚みを有している。第１導電膜２１Ｂは、検査領域１０Ｂのうち、検査素子２０Ａが設けられた領域以外の部分の広い領域にわたって設けられている。例えば、第１導電膜２１Ｂの凹部に、検査第１電極２１Ａの素子部２１Ａ−１が配置され、それ以外の検査領域１０Ｂには第１導電膜２１Ｂが設けられている。第１導電膜２１Ｂと検査第１電極２１Ａとの間隙を埋めるように、隔壁２４Ａが設けられている。
【００２９】
検査第１電極２１Ａ（素子部２１Ａ−１）と検査第２電極２３Ａとの間の検査発光層２２Ａは、例えば、表示素子２０の発光層２２と同一工程で形成され、発光層２２と同層に設けられている。この検査発光層２２Ａは、例えば発光層２２と同一の構成材料からなり、発光層２２と同一の厚みを有している。即ち、検査発光層２２Ａも有機電界発光層であり、有機材料を含んでいる。表示素子２０と同様に、検査第１電極２１Ａと検査第２電極２３Ａとの間に、検査発光層２２Ａに加えて、正孔注入層、正孔輸送層および電子輸送層等を設けるようにしてもよい。検査発光層２２Ａは、例えば。各々の検査素子２０Ａ（素子部２１Ａ−１）毎に分離して設けられている。
【００３０】
検査第２電極２３Ａは、例えば、表示素子２０の第２電極２３と一体化して設けられている。即ち、表示素子２０の第２電極２３は、表示領域１０Ａから検査領域１０Ｂにわたって設けられており、検査領域１０Ｂでは、検査第２電極２３Ａとして機能するようになっている。検査第２電極２３Ａは、第１導電膜２１Ｂに接している。
【００３１】
図７は、検査素子２０Ａの回路構成を模式的に表したものである。検査第１電極２１Ａに、第１取出配線１４を介してアノード電位が供給され、検査第２電極２３Ａに、第１導電膜２１Ｂおよび第２取出配線１５を介してカソード電位が供給されると、検査発光層２２Ａでは、正孔と電子とが再結合して発光が生じる。この検査発光層２２Ａからの光は、検査第２電極２３Ａ、封止樹脂２５および第２基板３１を介して外部に取り出されるようになっている。
【００３２】
［製造方法］
表示装置１は、例えば以下のようにして製造する。
【００３３】
まず、第１基板１１上にＴＦＴ１２を形成する。このとき、ＴＦＴ１２とともに、第１基板１１上に第１取出配線１４および第２取出配線１５を形成する。次いで、ＴＦＴ１２、第１取出配線１４および第２取出配線１５を覆うように、第１基板１１の全面に、層間絶縁膜１３を形成する。この層間絶縁膜１３にＴＦＴ１２，第１取出配線１４，第２取出配線１５それぞれに達する接続孔を形成した後、層間絶縁膜１３上の表示領域１０Ａに第１電極２１、検査領域１０Ｂに検査第１電極２１Ａおよび第１導電膜２１Ｂを形成する。続いて、第１電極２１上に発光層２２を形成するとともに、検査第１電極２１Ａ上に検査発光層２２Ａを形成する。この後、表示領域１０Ａおよび検査領域１０Ｂにわたって、一体化された第２電極２３および検査第２電極２３Ａを形成する。最後に封止樹脂２５およびシール２６を間にして、第１基板１１に第２基板３１を貼りわせる。これにより、図１に示した表示装置１が完成する。
【００３４】
［動作］
本実施の形態の表示装置１では、駆動トランジスタであるＴＦＴ１２から、表示素子２０に駆動電流が注入されると、各表示素子２０の発光層２２で正孔と電子とが再結合して発光を生じる。この光は、第２電極２３、封止樹脂２５および第２基板３１を透過して取り出される。これにより、各画素から赤色光，緑色光，青色光が射出され、これらの色光の加法混色により、カラーの映像表示がなされる。
【００３５】
［検査方法］
ここで、検査素子２０Ａを用いた検査方法について説明する。
【００３６】
図８Ａ，８Ｂは、表示領域１０Ａに滅点が生成し、非発光領域１００Ａが形成された状態を表している。非発光領域１００Ａは、例えば、表示領域１０Ａの外側から内側に向かって徐々に広がっていく（図８Ａ）。これは、外部から侵入した水分および不純物が、表示領域１０Ａに拡散することにより、あるいは、製造時に内包された水分および不純物が、経時的に拡散していくことにより、形成される。また、局所的に非発光領域１００Ａが生成する場合もある（図８Ｂ）。これは、主に、蒸着マスク等についた傷や異物等に起因する。具体的には、この傷や異物等がついた蒸着マスクを使用して形成された膜の欠損箇所が起点となり、水分および不純物が拡散して非発光領域１００Ａが形成される。
【００３７】
本実施の形態の表示装置１では、検査素子２０Ａを用いることにより、製造工程の状態を把握することができるので、市場流通後の表示不良発生を抑え、市場により安定した品質の表示装置１を供給することが可能となる。
【００３８】
図９は、製造直後の検査素子２０Ａの状態の一例を表している。まず、製造直後に、検査素子２０Ａの検査第１電極２１Ａを第１取出配線１４に接続し、検査第２電極２３Ａを第２取出配線１５に接続して、検査素子２０Ａを発光させる。この検査素子２０Ａで発生した光は、第２基板３１から取り出され、外部から視認可能となっている。検査素子２０Ａは、例えば、製造直後は、全域にわたって正常に発光している状態（発光状態Ｅ）となっている。この後、加速試験（エージングテスト）を行う。
【００３９】
図１０Ａ，１０Ｂはそれぞれ、加速試験後の検査素子２０Ａの状態の一例を表している。加速試験後も、検査素子２０Ａを発光させて、外部から発光状態を確認する。例えば、検査素子２０Ａは、外側（表示領域１０Ａにより遠い側）から徐々に水分および不純物が侵入し、非発光状態Ｎが広がっていく。例えば、図１０Ａに示したように、非発光状態Ｎの領域が小さければ製造工程に問題はないが、図１０Ｂに示したように、非発光状態Ｎの領域が大きいと、製造工程に何らかの問題が生じていることが疑われる。例えば、構成材料中の水分の異常や、装置の含水量および分圧等の異常である。
【００４０】
図１１は、加速試験後の検査素子２０Ａの状態の他の例を表している。このように、内側（表示領域１０Ａにより近い側）にも非発光状態Ｎが生成する場合には、例えば、水分を含んだ異物Ｆの存在が疑われる。
【００４１】
図１２は、製造直後の検査素子２０Ａの状態の他の例を表している。加速試験前の複数の検体で、検査素子２０Ａの同様の箇所に非発光状態Ｎが生成している場合には、例えば、蒸着マスクの傷等が疑われる。
【００４２】
検査後は、検査素子２０Ａの検査第１電極２１Ａを第１取出配線１４から外し、例えば第２取出配線１５に接続する。これにより、検査第１電極２１Ａに検査第２電極２３Ａと同一電位（カソード電位）が供給され、検査素子２０Ａが発光しないようになる。
【００４３】
［作用・効果］
このように、外部から発光状態が視認可能な検査素子２０Ａを設けることにより、簡便な方法で製造工程の状態を随時把握することができる。したがって、市場に流通させる表示装置１の品質を安定化させることが可能となる。
【００４４】
非発光領域１００Ａ（図８Ａ，８Ｂ）の発生を防ぐため、表示装置自体の構造または表示装置の構成材料を工夫することにより、水分および不純物の侵入を防ぐことも考え得る（例えば、国際公開第２００４／０５７９２０号，特開２００５−１０８８２４号公報）。しかし、製造工程のトラブルや、製造工程の揺らぎおよび振れ等を考慮すると、このような方法では、市場に流通する表示装置の品質を大きく向上させることは困難である。
【００４５】
一方、表示装置１では、検査素子２０Ａが設けられているので、市場流通前に、容易に品質の確認が行える。したがって、高い信頼性を有し、安定した品質の表示装置１を市場に流通させることができる。換言すれば、市場での不良発生率を低減することができる。
【００４６】
また、随時製造工程を把握することができるので、異常が見つかった場合に、早期に対処することができる。よって、歩留まりを向上させることができる。
【００４７】
更に、検査素子２０Ａは、表示素子２０と同一工程で製造可能であり、容易に広範囲にわたって形成することができる。例えば、検査素子２０Ａは、表示領域１０Ａの全ての辺の外側に設けることができ、高い検査精度を実現可能である。
【００４８】
加えて、検査素子２０Ａを、表示領域１０Ａにより遠い位置から近い位置に向かう方向に長く延在させることにより、製造工程の振れを検査しやすくなる。
【００４９】
以上説明したように本実施の形態では、検査領域１０Ｂに検査素子２０Ａを設けるようにしたので、表示装置１の品質を安定化させることができる。
【００５０】
以下、本実施の形態の変形例について説明するが、以降の説明において上記実施の形態と同一構成部分については同一符号を付してその説明は適宜省略する。
【００５１】
＜変形例＞
図１３は、上記実施の形態の変形例に係る検査素子２０Ａの平面構成を模式的に表したものである。このように、検査領域１０Ｂにマーク２０ＡＭを設けるようにしてもよい。マーク２０ＡＭは、例えば、検査素子２０Ａの一端と他端との間に対応する位置に設けられ、このマーク２０ＡＭの位置と、検査素子２０Ａの発光状態Ｅの領域（発光状態Ｅと非発光状態Ｎとの境界）とが比較可能となっている。これにより、表示装置１の品質を容易に判断することができる。マーク２０ＡＭは、例えば、ブラックマトリクス層を用いて形成されている。マーク２０ＡＭは、カラーフィルタ層またはＴＦＴ１２の構成膜等を用いて形成するようにしてもよい。
【００５２】
＜機能構成例＞
図１４は、上記実施の形態等において説明した表示装置１の機能ブロック構成を表すものである。
【００５３】
表示装置１は、外部から入力された映像信号あるいは内部で生成した映像信号を、映像として表示するものであり、上述した有機ＥＬディスプレイの他にも、例えば液晶ディスプレイなどにも適用される。表示装置１は、例えばタイミング制御部４１と、信号処理部４２と、駆動部４３と、表示画素部４４とを備えている。
【００５４】
タイミング制御部４１は、各種のタイミング信号（制御信号）を生成するタイミングジェネレータを有しており、これらの各種のタイミング信号を基に、信号処理部４２等の駆動制御を行うものである。信号処理部４２は、例えば、外部から入力されたデジタルの映像信号に対して所定の補正を行い、それにより得られた映像信号を駆動部４３に出力するものである。駆動部４３は、例えば走査線駆動回路および信号線駆動回路などを含んで構成され、各種制御線を介して表示画素部４４の各画素を駆動するものである。表示画素部４４は、例えば表示素子２０と、表示素子２０を画素毎に駆動するための画素回路とを含んで構成されている。
【００５５】
＜電子機器の例＞
上記実施の形態等において説明した表示装置１は、様々なタイプの電子機器に用いることができる。図１５に、電子機器３の機能ブロック構成を示す。電子機器３としては、例えばテレビジョン装置、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）、スマートフォン、タブレット型ＰＣ、携帯電話機、デジタルスチルカメラおよびデジタルビデオカメラ等が挙げられる。
【００５６】
電子機器３は、例えば上述の表示装置１と、インターフェース部５０とを有している。インターフェース部５０は、外部から各種の信号および電源等が入力される入力部である。このインターフェース部５０は、また、例えばタッチパネル、キーボードまたは操作ボタン等のユーザインターフェースを含んでいてもよい。
【００５７】
以上、実施の形態等を挙げて説明したが、本技術は上記実施の形態等に限定されるものではなく、種々変形が可能である。例えば、上記実施の形態等に記載した各層の材料、厚み、または成膜方法および成膜条件等は列挙したものに限定されるものではなく、他の材料、厚みまたは成膜方法および成膜条件としてもよい。
【００５８】
また、図４では、検査素子２０Ａを表示領域１０Ａの全ての辺の外側に設ける場合を図示したが、検査素子２０Ａを設ける領域は必要に応じて決定すればよい。図１６に示したように、検査素子２０Ａを、表示領域１０Ａの２辺の外側に設けるようにしてもよい。
【００５９】
更に、上記実施の形態等では、表示装置１がトップエミッション型である場合について説明したが、本技術はボトムエミッション型の表示装置にも適用可能である。
【００６０】
上記実施の形態等において説明した効果は一例であり、本開示の効果は、他の効果であってもよいし、更に他の効果を含んでいてもよい。
【００６１】
尚、本技術は以下のような構成を取ることも可能である。
（１）
第１電極、発光層および第２電極をこの順に有する表示素子が複数設けられた表示領域と、
前記表示領域の外側に設けられ、発光可能な検査素子を有する検査領域とを備え、
前記検査領域では、前記検査素子の発光状態が外部から視認可能である
表示装置。
（２）
前記検査素子は、
前記第１電極と同一の構成材料を含むとともに、前記第１電極と同一の厚みを有する検査第１電極と、
前記検査第１電極と対向して設けられ、前記第２電極と同一の構成材料を含むとともに、前記第２電極と同一の厚みを有する検査第２電極と、
前記検査第１電極と前記検査第２電極との間に設けられ、前記発光層と同一の構成材料を含むとともに、前記発光層と同一の厚みを有する検査発光層とを含む
前記（１）記載の表示装置。
（３）
前記第２電極は、前記複数の表示素子に共通して設けられ、
前記検査第２電極は、前記第２電極と一体化して設けられている
前記（２）記載の表示装置。
（４）
前記検査第１電極は、前記検査第２電極と同一電位に接続可能に構成されている
前記（２）または（３）記載の表示装置。
（５）
前記検査素子は、前記表示領域により近い位置からより遠い位置に延在している
前記（２）乃至（４）のうちいずれか１つに記載の表示装置。
（６）
複数の前記検査素子が、前記表示領域の周囲に配置されている
前記（５）記載の表示装置。
（７）
前記検査第１電極は、前記表示領域に向かう方向に延在する複数の素子部と、前記複数の素子部の一端が連結される共通部とを含む
前記（６）記載の表示装置。
（８）
前記検査第１電極の前記複数の素子部各々に、前記検査発光層が積層されている
前記（７）記載の表示装置。
（９）
更に、前記検査領域にマークを有し、
前記マークと前記検査素子の発光状態とが比較可能に構成されている
前記（５）乃至（８）のうちいずれか１つに記載の表示装置。
（１０）
前記表示領域は矩形状であり、
前記表示領域の複数の辺の外側に前記検査領域が設けられている
前記（１）乃至（９）のうちいずれか１つに記載の表示装置。
（１１）
前記表示領域の全ての辺の外側に前記検査領域が設けられている
前記（１０）記載の表示装置。
（１２）
前記発光層は有機電界発光層である
前記（１）乃至（１１）のうちいずれか１つに記載の表示装置。
【符号の説明】
【００６２】
１…表示装置、１０Ａ…表示領域、１０Ｂ…検査領域、１１…第１基板、１２…ＴＦＴ、１３…層間絶縁膜、１４…第１取出配線、１５…第２取出配線、２０…表示素子、２１…第１電極、２２…発光層、２３…第２電極、２４，２４Ａ…隔壁、２５…封止樹脂、２６…シール、２０Ａ…検査素子、２０ＡＭ…マーク、２１Ａ…検査第１電極、２１Ｂ…第１導電膜、２２Ａ…検査発光層、２３Ａ…検査第２電極、３１…第２基板、３…電子機器、４１…タイミング制御部、４２…信号処理部、４３…駆動部、４４…表示画素部、５０…インターフェース部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８Ａ】
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【図８Ｂ】
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【図９】
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【図１０Ａ】
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【図１０Ｂ】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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