(57)【要約】【課題】テストパターンを密集させて印刷しても、着弾ずれの計測をし易くすること。【解決手段】複数のプリントチップに含まれる第１プリントチップに形成されたノズルからインクを噴射することによって、基準罫線群を作成し、複数のプリントチップに含まれる第２プリントチップに形成されたノズルからインクを噴射することによって、測定対象罫線群を作成し、基準罫線群と測定対象罫線群とにおいて、副走査方向についての着弾ずれが無い場合に副走査方向の位置が揃う罫線をそれぞれ特定罫線とした場合に、基準罫線群に含まれる罫線同士の間隔及び測定対象罫線群に含まれる罫線同士の間隔は、特定罫線から副走査方向に離れるに連れて長くなる作成方法。【選択図】図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
主走査方向に沿った複数の基準罫線を含む基準罫線群及び主走査方向に沿った複数の測定対象罫線を含む測定対象罫線群を有し、副走査方向についての着弾ずれを計測するためのテストパターンを、複数のプリントチップを有するキャリッジを主走査方向に走査して作成する方法であって、
前記複数のプリントチップに含まれる第１プリントチップに形成されたノズルからインクを噴射することによって、前記基準罫線群を作成し、
前記複数のプリントチップに含まれる第２プリントチップに形成されたノズルからインクを噴射することによって、前記測定対象罫線群を作成し、
前記基準罫線群と前記測定対象罫線群とにおいて、副走査方向についての着弾ずれが無い場合に副走査方向の位置が揃う罫線をそれぞれ特定罫線とした場合に、前記基準罫線群に含まれる罫線同士の間隔及び前記測定対象罫線群に含まれる罫線同士の間隔は、前記特定罫線から副走査方向に離れるに連れて長くなる、
テストパターンの作成方法。
【請求項２】
前記第１プリントチップは、第１インク色のドットを形成するための第１プリントヘッドに設けられ、
前記第２プリントチップは、第２インク色のドットを形成するための第２プリントヘッドに設けられる
請求項１に記載のテストパターンの作成方法。
【請求項３】
前記基準罫線群は、第１基準罫線群であり、
前記測定対象罫線群は、第１測定対象罫線群であり、
前記特定罫線は、第１特定罫線であり、
前記第１プリントチップを用いて、第２基準罫線群を作成し、
前記第１プリントヘッドに搭載された第３プリントチップに形成されたノズルからインクを噴射することによって、第２測定対象罫線群を作成し、
前記第２基準罫線群と前記第２測定対象罫線群とにおいて、副走査方向についての着弾ずれが無い場合に副走査方向の位置が揃う罫線をそれぞれ第２特定罫線とした場合に、前記第２基準罫線群に含まれる罫線同士の間隔及び前記第２測定対象罫線群に含まれる罫線同士の間隔は、前記第２特定罫線から離れるに連れて長くなる
請求項２に記載のテストパターンの作成方法。
【請求項４】
前記第１基準罫線群を、副走査方向について、前記第２基準罫線群の位置とは異なる位置に形成し、
前記第１測定対象罫線群を、副走査方向について、前記第２測定対象罫線群の位置とは異なる位置に形成する
請求項３に記載のテストパターンの作成方法。
【請求項５】
前記テストパターンは、前記基準罫線群と前記測定対象罫線群とが異なるプリントヘッドに搭載されたプリントチップによって作成されるペアを少なくとも２組含み、
前記第２プリントチップを用いて前記測定対象罫線群が作成される前記ペアとは異なるペアに含まれる前記測定対象罫線群を、第３インク色のドットを形成するための第３プリントヘッドに搭載されたプリントチップを用いて形成し、
前記第１インク色の使用頻度は、前記第２インク色の使用頻度、及び第３インク色の使用頻度の何れよりも低い
請求項２から請求項４までの何れか一項に記載のテストパターンの作成方法。
【請求項６】
前記第１及び第２プリントチップは、同一のプリントヘッドに設けられる
請求項１に記載のテストパターンの作成方法。
【請求項７】
主走査方向に沿った複数の基準罫線を含む基準罫線群及び主走査方向に沿った複数の測定対象罫線を含む測定対象罫線群を有し、副走査方向についての着弾ずれを計測するために印刷媒体上に作成されたテストパターンであって、
前記基準罫線群は、複数のプリントチップが設けられたキャリッジを主走査方向に走査し、前記複数のプリントチップに含まれる第１プリントチップに形成されたノズルからインクを噴射することによって作成され、
前記測定対象罫線群は、前記キャリッジを主走査方向に走査し、前記複数のプリントチップに含まれる第２プリントチップに形成されたノズルからインクを噴射することによって作成され、
前記基準罫線群と前記測定対象罫線群とにおいて、副走査方向についての着弾ずれが無い場合に副走査方向の位置が揃う罫線をそれぞれ特定罫線とした場合に、前記基準罫線群に含まれる罫線同士の間隔及び前記測定対象罫線群に含まれる罫線同士の間隔は、前記特定罫線から副走査方向に離れるに連れて長くなる
テストパターン。
【請求項８】
主走査方向に沿った複数の基準罫線を含む基準罫線群及び主走査方向に沿った複数の測定対象罫線を含む測定対象罫線群を有し、副走査方向についての着弾ずれを計測するためのテストパターンを、複数のプリントチップが設けられたキャリッジを主走査方向に走査して作成する印刷装置であって、
前記複数のプリントチップに含まれる第１プリントチップに形成されたノズルからインクを噴射することによって、前記基準罫線群を作成し、
前記複数のプリントチップに含まれる第２プリントチップに形成されたノズルからインクを噴射することによって、前記測定対象罫線群を作成し、
前記基準罫線群と前記測定対象罫線群とにおいて、副走査方向についての着弾ずれが無い場合に副走査方向の位置が揃う罫線をそれぞれ特定罫線とした場合に、前記基準罫線群に含まれる罫線同士の間隔及び前記測定対象罫線群に含まれる罫線同士の間隔は、前記特定罫線から副走査方向に離れるに連れて長くなる
印刷装置。
【請求項９】
主走査方向に沿った複数の基準罫線を含む基準罫線群及び主走査方向に沿った複数の測定対象罫線を含む測定対象罫線群を有し、副走査方向についての着弾ずれを計測するためのテストパターンを、複数のプリントチップが設けられたキャリッジを主走査方向に走査して作成する印刷装置に、
前記複数のプリントチップに含まれる第１プリントチップに形成されたノズルからインクを噴射することによって、前記基準罫線群を作成し、
前記複数のプリントチップに含まれる第２プリントチップに形成されたノズルからインクを噴射することによって、前記測定対象罫線群を作成する
機能を実現させるためのプログラムであって、
前記基準罫線群と前記測定対象罫線群とにおいて、副走査方向についての着弾ずれが無い場合に副走査方向の位置が揃う罫線をそれぞれ特定罫線とした場合に、前記基準罫線群に含まれる罫線同士の間隔及び前記測定対象罫線群に含まれる罫線同士の間隔は、前記特定罫線から副走査方向に離れるに連れて長くなる
プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、印刷のテストパターンに関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１は、着弾位置のずれを検出するために、テストパターンを作成することを開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−００１０５３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
テストパターンは、コストの観点から、印刷に使用する面積が小さいことが好ましい。但し、上記面積を小さくするために、テストパターンを密集させて印刷すると、着弾ずれの計測が難しくなる。本開示は、上記を踏まえ、テストパターンを密集させて印刷しても、着弾ずれの計測をし易くすることを解決課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本開示の一形態は、主走査方向に沿った複数の基準罫線を含む基準罫線群及び主走査方向に沿った複数の測定対象罫線を含む測定対象罫線群を有し、副走査方向についての着弾ずれを計測するためのテストパターンを、複数のプリントチップを有するキャリッジを主走査方向に走査して作成する方法であって；前記複数のプリントチップに含まれる第１プリントチップに形成されたノズルからインクを噴射することによって、前記基準罫線群を作成し；前記複数のプリントチップに含まれる第２プリントチップに形成されたノズルからインクを噴射することによって、前記測定対象罫線群を作成し；前記基準罫線群と前記測定対象罫線群とにおいて、副走査方向についての着弾ずれが無い場合に副走査方向の位置が揃う罫線をそれぞれ特定罫線とした場合に、前記基準罫線群に含まれる罫線同士の間隔及び前記測定対象罫線群に含まれる罫線同士の間隔は、前記特定罫線から副走査方向に離れるに連れて長くなる、テストパターンの作成方法である。
【０００６】
この形態によれば、テストパターンを密集させて印刷しても、着弾ずれの計測がし易くなる。基準罫線群および測定対象罫線群は共に、特定罫線から副走査方向に離れるに連れて、罫線同士の間隔が長くなるので、何れの着弾ずれ量の罫線が揃っているかが判別し易いからである。
【０００７】
上記形態において、前記第１プリントチップは、第１インク色のドットを形成するための第１プリントヘッドに設けられ；前記第２プリントチップは、第２インク色のドットを形成するための第２プリントヘッドに設けられていてもよい。この形態によれば、プリントヘッド間のヘッドずれから着弾ずれを計測するためのテストパターンを作成できる。
【０００８】
上記形態において、前記基準罫線群は、第１基準罫線群であり；前記測定対象罫線群は、第１測定対象罫線群であり；前記特定罫線は、第１特定罫線であり；前記第１プリントチップを用いて、第２基準罫線群を作成し；前記第１プリントヘッドに搭載された第３プリントチップに形成されたノズルからインクを噴射することによって、第２測定対象罫線群を作成し；前記第２基準罫線群と前記第２測定対象罫線群とにおいて、副走査方向についての着弾ずれが無い場合に副走査方向の位置が揃う罫線をそれぞれ第２特定罫線とした場合に、前記第２基準罫線群に含まれる罫線同士の間隔及び前記第２測定対象罫線群に含まれる罫線同士の間隔は、前記第２特定罫線から離れるに連れて長くなってもよい。この形態によれば、プリントチップ間のチップずれからの着弾ずれを計測するためのテストパターンを作成できる。
【０００９】
上記形態において、前記第１基準罫線群を、副走査方向について、前記第２基準罫線群の位置とは異なる位置に形成し；前記第１測定対象罫線群を、副走査方向について、前記第２測定対象罫線群の位置とは異なる位置に形成してもよい。この形態によれば、１回の主走査で、第１及び第２基準罫線群、並びに第１及び第２測定対象罫線群を作成できる。
【００１０】
上記形態において、前記テストパターンは、前記基準罫線群と前記測定対象罫線群とが異なるプリントヘッドに搭載されたプリントチップによって作成されるペアを少なくとも２組含み；前記第２プリントチップを用いて前記測定対象罫線群が作成される前記ペアとは異なるペアに含まれる前記測定対象罫線群を、第３インク色のドットを形成するための第３プリントヘッドに搭載されたプリントチップを用いて形成し；前記第１インク色の使用頻度は、前記第２インク色の使用頻度、及び第３インク色の使用頻度の何れよりも低くてもよい。この形態によれば、使用頻度の低いインク色で、複数の基準罫線群を作成できる。
【００１１】
上記形態において、前記第１及び第２プリントチップは、同一のプリントヘッドに設けられていてもよい。この形態によれば、プリントチップ間のチップずれからの着弾ずれを計測するためのテストパターンを作成できる。
【００１２】
本開示は、上記以外の種々の形態で実現できる。例えば、上記のテストパターンや、上記の作成方法を実現する印刷装置、上記の方法を実現するためのプログラム、このプログラムを記憶した一時的でない記憶媒体等の形態で実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】印刷装置の機能ブロック図。
【図２】印刷処理を示すフローチャート。
【図３】補正処理を示すフローチャート。
【図４】プリントヘッド群と、パターンとを示す図。
【図５】ノズルを示す図。
【図６】着弾ずれ量計測処理のフローチャートを示す図。
【図７】第２部位を示す図。
【図８】第３部位を示す図。
【図９】ヘッド用部位に含まれるマゼンタ用領域を抜粋して示す図。
【図１０】チップ用部位に含まれるマゼンタ用領域を抜粋して示す図。
【図１１】ドット形成処理を示すフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
図１は、印刷装置２０の機能ブロック図である。印刷装置２０は、制御部２１と、キャリッジ２５とを備える。制御部２１は、ＣＰＵ２２と、記憶媒体２３と、を備える。キャリッジ２５は、プリントヘッド群３０と、エリアセンサー３６と、ライト３９と、を備える。
【００１５】
印刷装置２０は、印刷媒体ＭＤに向けてインクを噴射することで、印刷媒体ＭＤ上にドットを形成する。印刷装置２０は、６色のインクを噴射する。６色とは、ＣＭＹＫＬｃＬｍ、つまりシアン、マゼンタ、イエロー、ブラック、ライトシアン、ライトマゼンタである。印刷装置２０は、ドットを形成するために、キャリッジ２５を主走査方向に走査し、印刷媒体ＭＤを副走査方向に搬送する。
【００１６】
エリアセンサー３６は、印刷媒体ＭＤ上の輝度値を計測する。ライト３９は、エリアセンサー３６の計測範囲に向けて光を照射する。エリアセンサー３６による計測は、後述する着弾ずれ量計測処理に用いられる。
【００１７】
上記のドット形成および輝度値の計測は、ＣＰＵ２２によって制御される。記憶媒体２３は、後述する印刷処理を実現するためのプログラムを記憶する。印刷処理は、上記のドット形成および輝度値の計測のための処理である。
【００１８】
図２は、印刷処理を示すフローチャートである。印刷処理を開始すると、補正処理（Ｓ１００）を実行する。
【００１９】
図３は、補正処理を示すフローチャートである。まず、印刷媒体ＭＤ上に、テストパターン４０を印刷する（Ｓ１１０）。
【００２０】
図４は、プリントヘッド群３０と、エリアセンサー３６と、テストパターン４０とを示す。図４には、ＸＹ座標系が示されている。Ｘ方向は、主走査方向を表す。Ｙ方向は、副走査方向を表す。副走査の下流側は、Ｙ方向のプラス側である。つまり、図４の下側から上側に向かって、印刷媒体ＭＤが搬送される。
【００２１】
まず、プリントヘッド群３０について説明する。プリントヘッド群３０は、マゼンタ用プリントヘッド３０Ｍと、シアン用プリントヘッド３０Ｃと、ブラック用プリントヘッド３０Ｋと、イエロー用プリントヘッド３０Ｙと、ライトシアン用プリントヘッド３０Ｌｃと、ライトマゼンタ用プリントヘッド３０Ｌｍと、から構成される。
【００２２】
以下、マゼンタ用プリントヘッド３０Ｍを例にとって説明する。以下のプリントヘッドに関する説明は、インク色を除けば、全てのプリントヘッドに共通である。マゼンタ用プリントヘッド３０Ｍは、第１プリントチップ３１Ｍ〜第４プリントチップ３４Ｍを備える。
【００２３】
図５は、第１プリントチップ３１Ｍを印刷媒体ＭＤ側から見た図である。第１プリントチップ３１Ｍには、複数のノズルＮＺが設けられている。インク滴は、各ノズルＮＺから噴射される。
【００２４】
ノズルＮＺは、図５に示すように、２列に並んでいる。このようにノズルが形成する列のうち、Ｘ方向マイナス側に位置するものをノズル列Ａと呼び、Ｘ方向プラス側に位置するものをノズル列Ｂと呼ぶ。第２プリントチップ３２Ｍ〜第４プリントチップ３４Ｍについても、第１プリントチップ３１Ｍと同じようにノズルが設けられている。
【００２５】
第１プリントチップ３１Ｍ〜第４プリントチップ３４Ｍはそれぞれ、重複領域を含む。重複領域とは、同一のプリントヘッドに搭載された異なる２つのプリントチップの何れによっても、ドット形成が可能な領域のことである。第２プリントチップ３２Ｍは、第１プリントチップ３１Ｍ及び第３プリントチップ３３Ｍのそれぞれとの重複領域を有する。第３プリントチップ３３Ｍは、第４プリントチップ３４Ｍとの重複領域を有する。
【００２６】
以下、重複領域ではない領域を、単独領域という。図４には、重複領域と単独領域との境界としての破線が示されている。
【００２７】
テストパターン４０は、第１部位４１〜第９部位４９から構成される。第１部位４１〜第９部位４９はそれぞれ、Ｙ方向について異なる位置に形成される。Ｓ１１０におけるパターンの印刷は、１パスによって全て形成される。１パスとは、片道の主走査を１回、実施することである。
【００２８】
第２部位４２、第４部位４４、第６部位４６及び第８部位４８は、単独領域に含まれるノズルから噴射されたインクによって形成される。以下、これらの部位をまとめて、ヘッド用部位とも呼ぶ。ヘッド用部位は、プリントヘッド間の着弾ずれを計測するための部位である。
【００２９】
第３部位４３、第５部位４５及び第７部位４７は、重複領域に含まれるノズルから噴射されたインクによって形成される。以下、これらの部位をまとめて、チップ用部位とも呼ぶ。チップ用部位は、プリントチップ間の着弾ずれを計測するための部位である。
【００３０】
第１部位４１及び第９部位４９は、テストパターン４０の一部であるものの、着弾ずれ量の計測には用いられない。着弾ずれの計測を含め、テストパターン４０の詳細については、後述する。
【００３１】
続いて、パターンの撮影を開始する（Ｓ１２０）。図４に示すＹ方向の位置関係においては、第１部位４１〜第３部位４３が、エリアセンサー３６の撮影範囲になる。このため、最初の撮影は、第１部位４１〜第３部位４３を対象に実施する。その後、副走査を利用して、第４部位４４〜第６部位４６の撮影、第７部位４７〜第９部位４９を順に実行する。
【００３２】
パターンの撮影を開始し、第１部位４１〜第３部位４３の撮影が終わり次第、他の部位の撮影と並行して、着弾ずれ量の計測を開始する（Ｓ２００）。
【００３３】
図６は、着弾ずれ量計測処理のフローチャートを示す。まず、撮影された画像を読み込む（Ｓ２１０）。続いて、トンボを検出する（Ｓ２２０）。以下、トンボを含め、テストパターン４０の詳細について説明する。
【００３４】
図７は、第２部位４２を示す。第２部位４２は、各プリントヘッドに搭載された第１プリントチップについての着弾ずれを計測するための部位である。なお、第４部位４４は、各プリントヘッドに搭載された第２プリントチップについての着弾ずれを計測するための部位である。第６部位４６は、各プリントヘッドに搭載された第３プリントチップについての着弾ずれを計測するための部位である。第８部位４８は、各プリントヘッドに搭載された第４プリントチップについての着弾ずれを計測するための部位である。
【００３５】
ヘッド用部位に属する各部位は、対象とするプリントチップが異なる以外、特徴は同じである。このため、以下、第２部位４２をヘッド用部位の代表として説明する。
【００３６】
第２部位４２は、マゼンタ用領域４２Ｍと、シアン用領域４２Ｃと、ブラック用領域４２Ｋと、イエロー用領域４２Ｙと、ライトシアン用領域４２Ｌｃと、ライトマゼンタ用領域４２Ｌｍと、から構成される。破線で示した矩形は、仮想的な境界線を示しており、実際に印刷される訳ではない。
【００３７】
第２部位４２において、検出対象となるトンボとは、図７に示されるトンボＴ42M1〜Ｔ42Lm1，Ｔ42M2〜Ｔ42Lm2である。トンボの検出とは、各トンボの位置を大まかに決定することである。ここでいう位置とは、Ｘ方向およびＹ方向それぞれの座標位置のことである。
【００３８】
図８は、第３部位４３を示す。第３部位４３は、各プリントヘッドに搭載された第１プリントチップと第２プリントチップとの着弾ずれを計測するための部位である。なお、第５部位４５は、各プリントヘッドに搭載された第２プリントチップと第３プリントチップとの着弾ずれを計測するための部位である。第７部位４７は、各プリントヘッドに搭載された第３プリントチップと第４プリントチップとの着弾ずれを計測するための部位である。
【００３９】
チップ用部位に属する各部位は、対象とするプリントチップが異なる以外、特徴は同じである。このため、以下、第３部位４３をチップ用部位の代表として説明する。
【００４０】
第３部位４３は、マゼンタ用領域４３Ｍと、シアン用領域４３Ｃと、ブラック用領域４３Ｋと、イエロー用領域４３Ｙと、ライトシアン用領域４３Ｌｃと、ライトマゼンタ用領域４３Ｌｍと、から構成される。破線で示した矩形は、仮想的な領域を示しており、実際に印刷される訳ではない。
【００４１】
第３部位４３において、検出対象となるトンボとは、図８に示されるトンボＴ43M1〜Ｔ43Lm1，Ｔ43M2〜Ｔ43Lm2である。
【００４２】
続いて、罫線の位置を検出する（Ｓ２３０）。罫線とは、テストパターン４０に含まれる線のうち、Ｘ方向に沿った線のことである。Ｓ２３０において検出される位置とは、Ｙ方向の位置のことである。図７においては罫線４２Ｇとして、図８においては罫線４３Ｇとして示されている。
【００４３】
以下、６色のインク色の領域の代表として、マゼンタについて説明する。図９は、マゼンタ用領域４２Ｍを抜粋して示す。図１０は、マゼンタ用領域４３Ｍを抜粋して示す。
【００４４】
マゼンタ用領域４２Ｍは、基準罫線群４２Ｍｂｍと、測定対象罫線群４２Ｍｏｂと、トンボＴ４２Ｍ１と、トンボＴ４２Ｍ２と、から構成される。基準罫線群４２Ｍｂｍ及び測定対象罫線群４２Ｍｏｂは、一対になってペアを形成する。
【００４５】
マゼンタ用領域４３Ｍは、基準罫線群４３Ｍｂｍと、測定対象罫線群４３Ｍｏｂと、トンボＴ４３Ｍ１と、トンボＴ４３Ｍ２と、から構成される。基準罫線群４３Ｍｂｍ及び測定対象罫線群４３Ｍｏｂは、一対になってペアを形成する。
【００４６】
Ｓ２３０における罫線の位置の検出とは、基準罫線群４２Ｍｂｍを構成する各罫線のＹ方向の位置の検出と、測定対象罫線群４２Ｍｏｂを構成する各罫線のＹ方向の位置の検出と、のことである。
【００４７】
図９に示された「−６」〜「＋６」は、着弾ずれ量を示しており、実際には印刷されない。図１０に示された「−２」〜「＋２」は、着弾ずれ量を示しており、実際には印刷されない。図９及び図１０は何れも、着弾ずれ量「０」の罫線（以下、特定罫線）同士が、Ｙ方向の位置について揃っている。つまり、図９及び図１０は何れも、着弾ずれが発生していない状態を示している。
【００４８】
図４，図７，図８においては、罫線同士の間隔は、等間隔であるように示されている。しかし実際には、本実施形態における罫線間の距離は、図９，図１０に示されるように、等間隔ではない。具体的には、罫線間の距離は、次のように定められている。
【００４９】
図９に示される基準罫線群４２Ｍｂｍの場合、着弾ずれ量ｎ（ｎは−５〜＋５の整数）の罫線から、次の罫線までの距離は次式で表される。なお、次の罫線とは、着弾ずれ量ｎの罫線に隣接する２つの罫線のうち、特定罫線から遠ざかる側に位置する罫線のことである。但し、ｎ＝０の場合、着弾ずれ量ｎの罫線が特定罫線であるので、上記の定義では次の罫線を決定できない。但し、本実施形態においては、ｎ＝０の場合、次の罫線が着弾ずれ量「−１」及び着弾ずれ量「＋１」の何れの罫線でも距離は同じであるので、次の罫線は、着弾ずれ量「−１」と、着弾ずれ量「＋１」との何れの罫線でもよいこととする。
Ｄｂｍ（ｎ）＝｜ｎ｜×ａ・・・（１）
【００５０】
上式に含まれるａは、ゼロより大きい定数である。上式から、基準罫線群４２Ｍｂｍの罫線間の距離は、特定罫線から遠ざかるに連れて、長くなることが分かる。式（１）による罫線間の距離の定め方は、ヘッド用部位の全てにおいて共通である。
【００５１】
基準罫線群４２Ｍｂｍにおいて、特定罫線を基準にした場合、着弾ずれ量ｎ’（ｎ’は−６〜＋６の整数）の罫線の位置は、次式で表される。
Ｅｂｍ（ｎ’）＝ｎ’ａ（｜ｎ’｜＋１）／２・・・（２）
【００５２】
一方、測定対象罫線群４２Ｍｏｂの場合、特定罫線を基準にした場合、着弾ずれ量ｎ’（ｎ’は−６〜＋６の整数）の罫線の位置は、次式で表される。
Ｅｏｂ（ｎ’）＝ｎ’［｛ａ（｜ｎ’｜＋１）／２｝−ｂ］・・・（３）
【００５３】
式（３）に含まれるｂは、０＜ｂ＜ａ／２を満たす定数である。式（３）及びｂ＜ａ／２から、基準罫線群４２Ｍｂｍの罫線間の距離は、特定罫線から遠ざかるに連れて、長くなる。式（３）による罫線間の距離の定め方は、ヘッド用部位の全てにおいて共通である。
【００５４】
図１０に示される基準罫線群４３Ｍｂｍの場合について、着弾ずれ量ｎの罫線から次の罫線までの距離Ｄｂｍ（ｎ）、及び特定罫線を基準にしたときの着弾ずれ量ｎ’の罫線の位置は、ヘッド用部位と同様、式（１）〜（３）によって表される。このため、測定対象罫線群４２Ｍｏｂの罫線間の距離は、特定罫線から遠ざかるに連れて長くなり、且つ基準罫線群４２Ｍｂｍの罫線間の距離は、特定罫線から遠ざかるに連れて長くなる。但し、ｎは−１〜＋１の整数、ｎ’は−２〜＋２の整数と読み替える。また、定数ａ，ｂの値は、ヘッド用部位の場合と同じでもよいし、変更してもよい。
【００５５】
プリントヘッド間のヘッドずれからの着弾ずれとは、基準となるプリントヘッドによる着弾位置を基準にした場合におけるＹ方向の着弾ずれのことである。本実施形態においては、基準となるプリントヘッドとして、ヘッドの交換頻度が低いものから選択される。例えば、本実施形態としてはシアン用プリントヘッドＣが選択されたものとする。このため、ヘッド用部位に含まれる全ての基準罫線群は、シアンインクによって形成される。本実施形態においては、シアンインクの使用頻度が、６色の中で最も低い。ここで、基準となるプリントヘッドの選択は本実施形態に限定されず、例えば、ヘッドの交換頻度が高いものや罫線位置が検出しやすい色のものから選択されてもよい。
【００５６】
ヘッド用部位における測定対象罫線群は、計測対象となるプリントヘッドから噴射されるインクによって形成される。例えば測定対象罫線群４２Ｍｏｂは、マゼンタインクによって形成される。なお、何れのトンボについても、何れのインクによって形成されてもよい。本実施形態においては、ブラックインクによって形成される。
【００５７】
チップ用部位における各領域は、重複領域におけるプリントチップ間のチップずれからの着弾ずれを計測するために利用される。このため、チップ用部位において、ペアを構成する基準罫線群および測定対象罫線群は、同じインク色によって形成される。例えば、測定対象罫線群４３Ｍｏｂ及び基準罫線群４３Ｍｂｍは、何れもマゼンタインクによって形成される。
【００５８】
チップ用部位における基準罫線群は、印刷媒体ＭＤの搬送方向についての下流側に位置するプリントチップによって形成される。そして、チップ用部位における測定対象罫線群は、印刷媒体ＭＤの搬送方向についての上流側に位置するプリントチップによって形成される。例えば、基準罫線群４３Ｍｂｍは第１プリントチップ３１Ｍによって形成され、測定対象罫線群４３Ｍｏｂは第２プリントチップ３２Ｍによって形成される。
【００５９】
Ｓ２３０における罫線の検出は、各領域に含まれるトンボを利用して実行される。例えば、トンボＴ42M1及びトンボＴ42M2を利用する場合、トンボＴ42M1及びトンボＴ42M2のＸ方向プラス側及びマイナス側それぞれに、所定長さＤだけずれた位置において、Ｙ方向の輝度の変化を検出することによって、罫線４２Ｇを構成する各線のＹ方向の位置を検出することができる。所定長さＤは、罫線のＸ方向の長さの半分の長さとして定められている。
【００６０】
続いて、着弾ずれ量を算出する（Ｓ２４０）。本実施形態においては、測定対象罫線群に含まれる罫線の何れか１つが、基準罫線群に含まれる１本の罫線に対し、Ｙ方向の位置が一致していると見なす。
【００６１】
次に、全て検出したかを判定する（Ｓ２５０）。つまり、第２部位４２〜第８部位４８それぞれについて、各色の部位を対象にした着弾ずれ量の算出を終えたかを判定する。
【００６２】
検出が終わっていない場合（Ｓ２５０，ＮＯ）、Ｓ２１０〜Ｓ２４０を適宜、繰り返す。全て検出した場合（Ｓ２５０，ＹＥＳ）、着弾ずれ量計測処理を終える。
【００６３】
着弾ずれ量計測処理を終えると、着弾ずれの補正計算を実行し（Ｓ２９０）、補正処理を終える。補正処理を終えると、ドット形成処理を実行する（Ｓ３００）。
【００６４】
図１１は、ドット形成処理を示すフローチャートである。まず、印刷対象となる印刷データを取得する（Ｓ３１０）。次に、色変換を実行する（Ｓ３２０）。つまり、ＲＧＢで表された印刷データを、ＣＭＹＫＬｃＬｍの表色系によるインク値に変換する。次に、ハーフトーン処理を実行する（Ｓ３３０）。
【００６５】
続いて、着弾ずれ量を適用する（Ｓ３４０）。つまり、ハーフトーン処理によって得られたドットデータを、Ｓ２９０で保存された着弾ずれ量を用いて、修正する。
【００６６】
次に、修正されたドットデータを用いて、ドットを形成する（Ｓ３５０）。Ｓ３１０で取得した印刷データに基づくドット形成が終わると、印刷を継続するかを判定する（Ｓ３６０）。印刷を継続する場合（Ｓ３６０，ＹＥＳ）、Ｓ３１０に戻る。印刷を終了する場合（Ｓ３６０，ＮＯ）、ドット形成処理を終了する。これに伴い、印刷処理を終了する。
【００６７】
上記実施形態によれば、テストパターン４０を作成するのに使用する面積を小さくして、罫線同士をＹ方向に密集させても、何れの着弾ずれ量の罫線が揃っているかが検出し易い。基準罫線群および測定対象罫線群において、罫線間の距離が、特定罫線から遠ざかるに連れて、長くなるからである。
【００６８】
本開示は、本明細書の実施形態や実施例、変形例に限られるものではなく、その趣旨を逸脱しない範囲において種々の構成で実現できる。例えば、発明の概要の欄に記載した各形態中の技術的特徴に対応する実施形態、実施例、変形例中の技術的特徴は、先述の課題の一部又は全部を解決するために、或いは、先述の効果の一部又は全部を達成するために、適宜、差し替えや、組み合わせができる。その技術的特徴が本明細書中に必須なものとして説明されていなければ、適宜、削除できる。例えば、以下のものが例示される。
【００６９】
基準罫線群および測定対象罫線群において、罫線間の距離が、特定罫線から遠ざかるに連れて、長くなっていれば、どのように変更しても構わない。
【００７０】
テストパターンは、ヘッド用部位と、チップ用部位との何れか一方を含まなくてもよい。
【００７１】
テストパターンの作成に使用されるインク色は、何色でもよく、例えば１色でもよい。
【００７２】
エリアセンサー３６が設けられる位置としては、テストパターンが読み取れる位置であればよく、キャリッジ２５とは別構成のものに設けられていてもよい。
【００７３】
上記実施形態において、ソフトウエアによって実現された機能及び処理の一部又は全部は、ハードウエアによって実現されてもよい。また、ハードウエアによって実現された機能及び処理の一部又は全部は、ソフトウエアによって実現されてもよい。ハードウエアとしては、例えば、集積回路、ディスクリート回路、または、それらの回路を組み合わせた回路モジュールなど、各種回路を用いてもよい。
【符号の説明】
【００７４】
２０…印刷装置、２１…制御部、２２…ＣＰＵ、２３…記憶媒体、２５…キャリッジ、３０…プリントヘッド群、３６…エリアセンサー、３９…ライト、４０…テストパターン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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