(57)【要約】【課題】サーミスターが給電時の発熱量が大きい電子部品と同一基板上に実装され、前記電子部品の給電停止及び給電開始が短時間で行われる状況下でも、サーミスターによって対象物の周囲温度を正確に測定可能な温度測定装置及び画像形成装置を提供する。【解決手段】温度測定装置は、基板、駆動回路６１、サーミスター６３、計時処理部８３及び温度演算部８６を備える。駆動回路６１は、前記基板に形成され、現像装置２３を駆動させる。サーミスター６３は、前記基板に実装され、現像装置２３の周囲温度に応じた検出信号を出力する。計時処理部８３は、現像装置２３に対する給電を停止している給電停止時間を取得する。温度演算部８６は、サーミスター６３から出力される検出信号と、計時処理部８３により取得される給電停止時間とに基づいて、現像装置２３の周囲温度を演算する。【選択図】図２
2018096932.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基板と、
前記基板に形成され、予め定められた対象物を駆動させると共に電子部品を有する駆動回路と、
前記基板に実装され、前記対象物の周囲温度に応じた検出信号を出力するサーミスターと、
前記電子部品に対する給電を停止している給電停止時間を取得する計時処理部と、
前記サーミスターから出力される検出信号と、前記計時処理部により取得される前記給電停止時間とに基づいて、前記対象物の周囲温度を演算する温度演算部と、
を備える温度測定装置。
【請求項２】
前記給電停止時間と、前記検出信号に基づいて演算される周囲温度を補正するための第１補正量とを対応付けた第１補正データを記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された前記第１補正データに基づいて、前記計時処理部により取得される給電停止時間に応じた第１補正量を決定する第１補正量決定部と、
をさらに備え、
前記温度演算部は、前記サーミスターから出力される検出信号と、前記第１補正量決定部によって決定される第１補正量とに基づいて前記対象物の周囲温度を演算する、
請求項１に記載の温度測定装置。
【請求項３】
前記計時処理部は、前記電子部品に対する給電を継続している給電継続時間を取得し、
前記記憶部は、前記給電継続時間と、前記検出信号に基づいて演算される周囲温度を補正するための第２補正量とを対応付けた第２補正データを記憶し、
前記記憶部に記憶された第２補正データに基づいて、前記計時処理部により取得される給電継続時間に応じた第２補正量を決定する第２補正量決定部をさらに備え、
前記温度演算部は、前記サーミスターから出力される検出信号と、前記第１補正量決定部によって決定される第１補正量と、前記第２補正量決定部によって決定される第２補正量と、に基づいて前記対象物の周囲温度を演算する、
請求項２に記載の温度測定装置。
【請求項４】
リアルタイムクロックを備え、
前記計時処理部は、前記リアルタイムクロックから取得される時間情報に基づいて前記給電停止時間を取得する、
請求項１〜３のいずれかに記載の温度測定装置。
【請求項５】
前記電子部品に対する給電が行われているときに充電されるコンデンサーと、前記電子部品に対する給電停止後の前記コンデンサーの放電量を検出する検出部と、を備え、
前記計時処理部は、前記検出部による検出結果に基づいて前記給電停止時間を取得する、
請求項１又は２に記載の温度測定装置。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれかに記載の温度測定装置と、
シートに画像を形成する画像形成部と、
を備える画像形成装置。
【請求項７】
前記対象物は、像担持体にトナー像を形成する現像部である、
請求項６に記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記現像部はトナー及びキャリアを含む現像剤を有し、
前記電子部品は、前記現像剤におけるキャリア濃度を検出する透磁率センサーである、
請求項７に記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、温度測定装置及び画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子写真方式によってシートに画像を形成する画像形成装置は、感光体ドラムなどの像担持体にトナー像を形成する現像装置、前記像担持体のトナー像をシートなどの被転写材に転写する転写装置などを備える。この種の画像形成装置として、現像装置、転写装置などの温度又は周囲温度を温度測定センサーによって検出し、この温度測定センサーの検出温度に基づいて現像処理、転写処理を制御することが知られている（例えば特許文献１及び２参照）。
【０００３】
ところで、現像装置又は転写装置などの対象物の周囲温度の測定は、例えば駆動回路基板に実装されたサーミスターによって行われることがある。また、前記駆動回路基板にはサーミスターの他に、例えば現像装置のトナー濃度を測定するための透磁率センサーなどの給電時の発熱量が大きい電子部品が実装されることがある。前記駆動回路基板にサーミスターと共に発熱量の大きい電子部品が実装される場合、前記駆動回路基板の温度が上昇するため、サーミスターによって検出される温度が実際の周囲温度よりも高くなる。そのため、サーミスターによって検出される温度から、前記駆動回路基板の温度上昇を考慮した一定値を差し引くオフセット補正を行って周囲温度を演算することが考えられている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平９−２１１９６３号公報
【特許文献２】特開２００４−２１２９６８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
前記オフセット補正は、前記駆動回路基板の温度が前記周囲温度と同程度にまで冷却されていることを前提として行われる。一方、例えばスリープモードに移行した直後に画像形成処理が実行される場合のように、給電時の発熱量が大きい電子部品に対する給電の停止から給電が再開されるまでの時間の短いときには、前記駆動回路基板の温度が前記周囲温度よりも高いままのことがある。この場合、サーミスターでの検出温度は、前記駆動回路基板が前記周囲温度よりも高温であることに起因して実際の周囲温度よりも高くなる。そのため、給電時の発熱量が大きい電子部品の給電停止及び給電開始が短時間で行われる状況下では、前記オフセット補正を行うことによっても、前記周囲温度を正確に測定することが困難である。
【０００６】
本発明は、サーミスターが給電時の発熱量が大きい電子部品と同一基板上に実装され、前記電子部品の給電停止及び給電開始が短時間で行われる状況下でも、サーミスターによって対象物の周囲温度を正確に測定可能な温度測定装置及び画像形成装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一の局面に係る温度測定装置は、基板、駆動回路、サーミスター、計時処理部及び温度演算部を備える。前記駆動回路は、前記基板に形成され、予め定められた対象物を駆動させると共に電子部品を有する。前記サーミスターは、前記基板に実装され、前記対象物の周囲温度に応じた検出信号を出力する。前記計時処理部は、前記電子部品に対する給電を停止している給電停止時間を取得する。前記温度演算部は、前記サーミスターから出力される検出信号と、前記計時処理部により取得される前記給電停止時間とに基づいて、前記対象物の周囲温度を演算する。
【０００８】
本発明の他の局面に係る画像形成装置は、前記温度測定装置と、シートに画像を形成する画像形成部と、を備える。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、サーミスターが給電時の発熱量が大きい電子部品と同一基板上に実装され、前記電子部品の給電停止及び給電開始が短時間で行われる状況下でも、サーミスターによって対象物の周囲温度を正確に測定可能な温度測定装置及び画像形成装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】図１は、本発明の第１実施形態に係る画像形成装置を示す模式図である。
【図２】図２は、図１の画像形成装置の要部の概略構成を示すブロック図である。
【図３】図３は、図１の画像形成装置におけるサーミスターからの検出信号の経時変化の一例を示すタイムチャートである。
【図４】図４は、図１の画像形成装置におけるサーミスターからの検出信号の経時変化の他の例を示すタイムチャートである。
【図５】図５は、図２に示される制御部の記憶部に記憶される第１補正データテーブルの一例を示す表である。
【図６】図６は、図１の画像形成装置におけるサーミスターからの検出信号の経時変化の他の例を示すタイムチャートである。
【図７】図７は、図２に示される制御部の記憶部に記憶される第２補正データテーブルの一例を示す表である。
【図８】図８は、図２に示される制御部のＣＰＵによって実行される温度演算処理の手順を示すフローチャートである。
【図９】図９は、図２に示される制御部のＣＰＵによって実行される温度演算処理の手順を示すフローチャートである。
【図１０】図１０は、本発明の第２実施形態に係る画像形成装置の要部の概略構成を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。なお、以下に説明される実施形態は本発明を具体化した一例にすぎず、本発明の要旨を変更しない範囲で、本発明の実施形態は適宜変更できる。
【００１２】
［第１実施形態］
まず、図１から図９を参照して本発明の第１実施形態に係る画像形成装置を説明する。
【００１３】
図１に示される画像形成装置１０は、トナーを用いてシートにカラー画像を形成可能なプリンターである。なお、本発明は、カラープリンター以外に、例えばモノクロプリンター、複写機、ファクシミリ、複合機などに適用できる。
【００１４】
画像形成装置１０は、画像形成部１１、給紙トレイ１７、排紙トレイ１８、及びタッチパネル、液晶表示部などを有する操作表示部１９を備える。
【００１５】
画像形成部１１は、シートに画像を形成する。画像形成部１１は、複数の画像形成ユニット１〜４、中間転写ユニット５、光走査装置１４、二次転写装置１５及び定着装置１６を備える。
【００１６】
画像形成ユニット１〜４各々は、トナー像を担持する感光体ドラム２１（本発明の像担持体の一例）、帯電装置２２、トナー及びキャリアを含む現像剤を収容する現像装置２３（本発明の対象物である現像部の一例）、一次転写装置２４及びドラムクリーニング装置２５を備える。現像装置２３は、感光体ドラム２１にトナー像を形成する。
【００１７】
中間転写ユニット５は、中間転写ベルト５１、駆動ローラー５２及び従動ローラー５３を有する。中間転写ベルト５１には、感光体ドラム２１に担持されたトナー像が転写され、複数色のトナー像（本実施形態では４色）からなるトナー像が形成される。中間転写ベルト５１は、駆動ローラー５２及び従動ローラー５３によって回転駆動可能に支持されている。
【００１８】
二次転写装置１５は、中間転写ベルト５１に転写されたトナー像を給紙トレイ１７から搬送されてきたシートに転写する。トナー像が転写されたシートは、図示しない搬送部によって定着装置１６に搬送される。定着装置１６は、加熱ローラー１６１及び加圧ローラー１６２を有する。定着装置１６は、トナー像が転写されたシートに対して熱と圧力とを加えながら搬送する。これにより、トナー像が溶融してシートに定着される。トナー像が定着されたシートは、更に下流側へ搬送され、中間転写ユニット５の上方に配置された排紙トレイ１８に排出されて保持される。
【００１９】
図２に示されるように、画像形成装置１０は、駆動回路基板６、リアルタイムクロック（ＲＴＣ）７及び制御部８をさらに備える。駆動回路基板６、ＲＴＣ７及び制御部８は、本発明の温度測定装置を構成する。
【００２０】
駆動回路基板６は、基板（不図示）と、前記基板に形成され、予め定められた対象物を駆動させる駆動回路６１とを有する。前記対象物は、例えば画像形成ユニット１〜４の構成要素を含み、感光体ドラム２１、帯電装置２２、現像装置２３、一次転写装置２４、ドラムクリーニング装置２５である。駆動回路６１は、透磁率センサー６２（本発明の電子部品の一例）を有する。
【００２１】
透磁率センサー６２は、現像装置２３に収容された現像剤中のキャリア濃度に応じた信号を出力する。ここで、キャリア濃度は、トナー濃度と相関性があるため、キャリア濃度を検出することでトナー濃度を検出でき、またトナー残量を検出することができる。透磁率センサー６２は、現像剤の透磁率変化を検出できるものであれば特に制限はなく、公知の透磁率センサーを用いることができる。透磁率センサー６２としては、例えば所定の周波数を有する周期信号をトランス、コイルなどに入力したしたときに生じる位相差によって廃現像剤のキャリアの濃度に基づく透磁率の変化量を検出するものが挙げられる。
【００２２】
駆動回路基板６の基板（不図示）には、サーミスター６３が実装されている。サーミスター６３は、例えばチップサーミスターであり、現像装置２３の周囲温度に応じた出力値Ｙを有する検出信号を出力する。また、サーミスター６３は、後述の制御部８のＣＰＵ８２に接続されている。そのため、サーミスター６３から出力される検出信号はＣＰＵ８２に入力される。
【００２３】
ＲＴＣ７は、計時専用のＩＣであり、例えばメイン基板（不図示）に実装されている。ＲＴＣ７は、時刻に関する情報を提供する。また、ＲＴＣ７は、後述の制御部８のＣＰＵ８２に接続されている。そして、ＣＰＵ８２は、ＲＴＣ７から時刻に関する情報を取得する。なお、ＲＴＣ７は、メイン基板ではなく、制御部８を構成するエンジン基板などの他の基板に実装してもよい。
【００２４】
制御部８は、記憶部８１及びＣＰＵ８２を備える。制御部８は、記憶部８１に記憶された各種プログラムをＣＰＵ８２によって実行することで、画像形成動作を統括的に制御する。
【００２５】
記憶部８１は、各種プログラムの他、例えばプログラムの実行に必要な情報、第１補正データテーブル８１１、第２補正データテーブル８１２を記憶する。第１補正データテーブル８１１は、透磁率センサー６２に対する給電を停止している給電停止時間Ｘ１と、第１補正量Ａ１とを対応付けた第１補正データをテーブル化したものである。第１補正量Ａ１は、サーミスター６３から出力される検出信号に基づく周囲温度の演算値を補正するためのものである。一方、第２補正データテーブル８１２は、透磁率センサー６２に対する給電を継続している給電継続時間Ｘ２と、第２補正量Ａ２とを対応付けた第２補正データをテーブル化したものである。第２補正量Ａ２は、サーミスター６３から出力される検出信号に基づく周囲温度の演算値を補正するためのものである。
【００２６】
ここで、図３は、サーミスター６３からの検出信号の経時変化の一例を示すタイムチャートである。
【００２７】
図３における実線は検出信号の出力値Ｙを示す。図３に示す例では、駆動回路基板６が十分に放熱してサーミスター６３の温度が現像装置２３の周囲温度になっている状態で透磁率センサー６２に対する給電が開始されている。なお、サーミスター６３の温度が現像装置２３の周囲温度であるときのサーミスター６３から出力される検出信号の出力値Ｙ１を第１飽和出力値Ｙ１と称する。
【００２８】
透磁率センサー６２に対する給電が開始されると、検出信号の出力値Ｙは、周囲温度に対応する第１飽和出力値Ｙ１から経時的に単調増加する。また、透磁率センサー６２に対する給電が開始されてから一定時間Ｘ２ｍが経過すると、検出信号の出力値Ｙが一定値Ｙ２になる。以下、一定時間Ｘ２ｍを第２飽和時間Ｘ２ｍと称し、一定値Ｙ２を第２飽和出力値Ｙ２と称する。
【００２９】
一方、検出信号の出力値Ｙが第２飽和出力値Ｙ２である状態で透磁率センサー６２に対する給電が停止されると、検出信号の出力値Ｙは、第２飽和出力値Ｙ２から経時的に単調減少する。また、透磁率センサー６２に対する給電が停止されてからの一定時間Ｘ１ｍが経過すると、検出信号の出力値Ｙが第１飽和出力値Ｙ１で一定値になる。以下、一定時間Ｘ１ｍを第１飽和時間Ｘ１ｍと称する。
【００３０】
ところで、サーミスター６３は、発熱量の大きな透磁率センサー６２と同一基板に実装されていることから、透磁率センサー６２の発熱による影響を受ける。そのため、サーミスター６３は、図３に二点鎖線で示す実際の現像装置２３の周囲温度よりも高い温度に対応した出力値Ｙの検出信号を出力する。そこで、本実施形態では、サーミスター６３からの検出信号に基づいて現像装置２３の周囲温度を検出する場合、検出信号の出力値Ｙを予め定められた一定量ΔＹだけ低値側にオフセットして周囲温度を演算する。
【００３１】
以下、一定量ΔＹをオフセット量ΔＹと称する。オフセット量ΔＹは、第２飽和出力値Ｙ２と、第２飽和時間Ｘ２ｍにおける現像装置２３の周囲温度に対応するサーミスター６３からの検出信号の出力値Ｙ３との差分値である。
【００３２】
また、透磁率センサー６２に対する給電が停止された状態から給電が開始されるまでの給電停止時間Ｘ１が第１飽和時間Ｘ１ｍよりも短い場合、透磁率センサー６２に対する給電が開始されたときのサーミスター６３からの出力値Ｙが第１飽和出力値Ｙ１よりも高くなる。例えば図４に示されるように、出力値Ｙが第２飽和出力値Ｙ２にある状態で透磁率センサー６２に対する給電が停止された後、第１飽和時間Ｘ１ｍに達する前に透磁率センサー６２に対する給電が再開された場合、サーミスター６３からの検出信号の出力値Ｙは、第１飽和出力値Ｙ１よりもΔＹ１だけ高くなる。そこで、本実施形態では、給電停止時間Ｘ１が第１飽和時間Ｘ１ｍよりも短い場合にサーミスター６３からの検出信号の出力値Ｙの補正が行われる。
【００３３】
具体的には、図５に示されるように、出力値Ｙの補正は、記憶部８１に記憶される第１補正データテーブル８１１に基づいて行われる。なお、図５では、給電停止時間Ｘ１は第１飽和時間Ｘ１ｍに対する比率として示され、第１補正量Ａ１は第２飽和出力値Ｙ２と第１飽和出力値Ｙ１との差分Ｙｍに対する比率して示されている。
【００３４】
第１補正データテーブル８１１は、上述のように給電停止時間Ｘ１と、第１補正量Ａ１とを対応付けた第１補正データをテーブル化したものである。第１補正量Ａ１は、例えばΔＹ１に相当する値に設定される。この第１補正量Ａ１は、例えば出力値Ｙが第２飽和出力値Ｙ２にある状態において透磁率センサー６２に対する給電が停止されたときの出力値Ｙの経時変化から算出される。
【００３５】
逆に、透磁率センサー６２に対する給電が開始された状態から給電が停止されるまでの給電継続時間Ｘ２が第２飽和時間Ｘ２ｍよりも短い場合、次に透磁率センサー６２に対する給電が開始されたときのサーミスター６３からの出力値Ｙが第２飽和出力値Ｙ２よりも低くなることがある。例えば図６に示されるように、出力値Ｙが第１飽和出力値Ｙ１にある状態で透磁率センサー６２に対する給電が開始された後、第２飽和時間Ｘ２ｍに達する前に透磁率センサー６２に対する給電が停止された場合、サーミスター６３からの検出信号の出力値Ｙは、第２飽和出力値Ｙ２よりもΔＹ２だけ低くなる。そこで、本実施形態では、給電継続時間Ｘ２が第２飽和時間Ｘ２ｍよりも短い場合にサーミスター６３からの検出信号の出力値Ｙの補正が行われる。
【００３６】
具体的には、図７に示されるように、出力値Ｙの補正は、記憶部８１に記憶される第２補正データテーブル８１２に基づいて行われる。なお、図７では、給電継続時間Ｘ２は第２飽和時間Ｘ２ｍに対する比率として示され、第２補正量Ａ２は第２飽和出力値Ｙ２と第１飽和出力値Ｙ１との差分Ｙｍに対する比率して示されている。
【００３７】
第２補正データテーブル８１２は、上述のように給電継続時間Ｘ２と、第２補正量Ａ２とを対応付けた第２補正データをテーブル化したものである。第２補正量Ａ２は、例えばΔＹ２に相当する値に設定される。この第２補正量Ａ２は、例えば出力値Ｙが第１飽和出力値Ｙ１にある状態において透磁率センサー６２に対する給電が開始されたときの出力値Ｙの経時変化から算出される。
【００３８】
なお、第１補正データ及び第２補正データは、テーブル化することなく、関数として記憶部８１に記憶させてもよい。
【００３９】
図２に示されるＣＰＵ８２は、計時処理部８３、第１補正量決定部８４、第２補正量決定部８５及び温度演算部８６を備える。
【００４０】
計時処理部８３は、給電停止時間Ｘ１及び給電継続時間Ｘ２を取得する。具体的には、計時処理部８３は、まず透磁率センサー６２に対する給電開始時にＲＴＣから給電開始時刻に関する第１時間情報を取得し、例えば記憶部８１に前記第１時間情報を記憶させる。また、計時処理部８３は、透磁率センサー６２に対する給電停止時にＲＴＣから時刻に関する第２時間情報を取得し、例えば記憶部８１に前記第２時間情報を記憶させる。なお、計時処理部８３は、透磁率センサー６２に対する給電が開始されるたびに記憶部８１に記憶された前記第１時間情報を最新の情報に更新し、透磁率センサー６２に対する給電が停止されるたびに記憶部８１に記憶された前記第２時間情報を最新の情報に更新する。そして、計時処理部８３は、記憶部８１に記憶されたプログラム、前記第１時間情報及び前記第２時間情報に基づいて、透磁率センサー６２に対する給電開始時に給電停止時間Ｘ１を演算し、透磁率センサー６２に対する給電停止時に給電継続時間Ｘ２を演算する。
【００４１】
第１補正量決定部８４は、記憶部８１に記憶された第１補正データに基づいて、計時処理部８３によって演算される給電停止時間Ｘ１に応じた第１補正量Ａ１を決定する。本実施形態では、第１補正量決定部８４は、第１補正データテーブル８１１（図５参照）に基づいて給電停止時間Ｘ１に応じた第１補正量Ａ１を決定する。
【００４２】
第２補正量決定部８５は、記憶部８１に記憶された第２補正データに基づいて、計時処理部８３によって演算される給電継続時間Ｘ２に応じた第２補正量Ａ２を決定する。本実施形態では、第２補正量決定部８５は、第２補正データテーブル８１２（図７参照）に基づいて給電継続時間Ｘ２に応じた第２補正量Ａ２を決定する。
【００４３】
温度演算部８６は、サーミスター６３から出力される検出信号と、計時処理部８３によって演算される給電停止時間Ｘ１及び給電継続時間Ｘ２とに基づいて、現像装置２３の周囲温度を演算する。具体的には、温度演算部８６は、サーミスター６３から出力される検出信号と、第１補正量決定部８４によって決定される第１補正量Ａ１と、第２補正量決定部８５によって決定される第２補正量Ａ２とに基づいて現像装置２３の周囲温度を演算する。
【００４４】
ところで、従来は駆動回路基板の温度が環境温度と同程度にまで冷却されていることを前提としてオフセット補正を行っていた。そのため、給電時の発熱量が大きい透磁率センサー６２などの電子部品の給電が停止されてから給電が再開されるまでの時間の短く、駆動回路基板の温度が現像装置などの対象物の周囲温度と同程度にまで冷却されない場合、周囲温度を正確に測定することが困難である。これに対して、本発明の画像形成装置１０では、透磁率センサー６２の給電停止時間Ｘ１が短い場合に、第１補正データに基づいて給電停止時間Ｘ１を考慮した補正が行われる。そのため、画像形成装置１０では、サーミスター６３が給電時の発熱量が大きい透磁率センサー６２など電子部品と同一基板上に実装され、透磁率センサー６２などの電子部品の給電停止及び給電開始が短時間で行われる状況下でも、サーミスター６３によって現像装置２３などの対象物の周囲温度を正確に測定可能である。
【００４５】
また、画像形成装置１０では、透磁率センサー６２の給電継続時間Ｘ２が短い場合にも、第２補正データに基づいて給電継続時間Ｘ２を考慮した補正が行われる。そのため、画像形成装置１０では、サーミスター６３によって現像装置２３などの対象物の周囲温度をより正確に測定可能である。
【００４６】
次に、図８及び図９のフローチャートを参照して、制御部８によって実行される周囲温度演算処理について説明する。図中のＳ１、Ｓ２、・・・は処理手順（ステップ）の番号を表している。各ステップにおける処理は、制御部８の計時処理部８３、第１補正量決定部８４、第２補正量決定部８５、温度演算部８６などによって実行される。
【００４７】
＜ステップＳ１及びＳ２＞
図８に示されるように、制御部８は、主電源がオン状態であることを条件に（ステップＳ１：Ｙｅｓ）、透磁率センサー６２に対する給電が開始されたか否かを判定する（ステップＳ２）。制御部８は、透磁率センサー６２に対する給電が開始された場合（ステップＳ２：Ｙｅｓ）、ステップＳ３に処理を移行させる。一方、制御部８は、透磁率センサー６２に対する給電が開始されていない場合（ステップＳ２：Ｎｏ）、ステップＳ７に処理を移行させる。
【００４８】
＜ステップＳ３＞
ステップＳ３において、制御部８の計時処理部８３は、透磁率センサー６２に対する給電が開始された給電開始時刻に関する第１時間情報をＲＴＣ７から取得し、記憶部８１に記憶された第１時間情報を更新する。
【００４９】
＜ステップＳ４＞
ステップＳ４において、制御部８の計時処理部８３は、記憶部８１に記憶されている第２時間情報と、ステップＳ３で更新された第１時間情報とに基づいて、給電停止時間Ｘ１を演算する。なお、第２時間情報は、後述のステップＳ８（図９参照）において制御部８の計時処理部８３によって更新される給電停止時刻に関する情報である。
【００５０】
＜ステップＳ５＞
ステップＳ５において、制御部８の第１補正量決定部８４は、記憶部８１に記憶された第１補正データテーブル８１１（図５参照）に基づいてステップＳ４で演算された給電停止時間Ｘ１に応じた第１補正量Ａ１を決定して記憶部８１に記憶された第１補正量Ａ１を更新する。
【００５１】
＜ステップＳ６＞
ステップＳ６において、制御部８の温度演算部８６は、現像装置２３の周囲温度を演算する。具体的には、まず制御部８は、ステップＳ５において決定された第１補正量Ａ１及び後述のステップＳ１０において記憶部８１に記憶された第２補正量Ａ２に基づいて、サーミスター６３から出力される検出信号の出力値Ｙを補正する。次いで、制御部８は、補正された出力値Ｙと、現像装置２３の周囲温度との関係に基づいて、周囲温度を演算する。
【００５２】
＜ステップＳ７＞
ステップＳ７において、制御部８は、透磁率センサー６２に対する給電が停止されたか否かを判定する。制御部８は、透磁率センサー６２に対する給電が停止された場合（ステップＳ７：Ｙｅｓ）、図９のステップＳ８に処理を移行させる。一方、制御部８は、透磁率センサー６２に対する給電が停止されていない場合（ステップＳ７：Ｎｏ）、ステップＳ２に処理を移行させ、再び現像装置２３の周囲温度の演算を行う。即ち、画像形成装置１０では、透磁率センサー６２に対する給電が継続されている間、現像装置２３の周囲温度の演算が繰り返し行われる。
【００５３】
＜ステップＳ８及びＳ９＞
図９に示されるように、制御部８の計時処理部８３は、透磁率センサー６２に対する給電が停止された給電開始時刻に関する第２時間情報をＲＴＣ７から取得して記憶部８１に記憶された第２時間情報を更新する（ステップＳ８）。また、制御部８の計時処理部８３は、ステップＳ３で更新された第１時間情報と、ステップＳ８で更新された第２時間情報とに基づいて、給電継続時間Ｘ２を演算する（ステップＳ９）。
【００５４】
＜ステップＳ１０＞
ステップＳ１０において、制御部８の第２補正量決定部８５は、第２補正データテーブル８１２（図７参照）に基づいてステップＳ９で演算された給電継続時間Ｘ２に応じた第２補正量Ａ２を決定して記憶部８１に記憶された第２補正量Ａ２を更新する。
【００５５】
＜ステップＳ１１＞
ステップＳ１１において、制御部８は主電源がオフ状態にされたか否かを判定する。制御部８は、主電源がオフ状態にされていない場合（ステップＳ１１：Ｎｏ）、ステップＳ２に処理を移行させ（図８参照）、周囲温度演算処理を継続する。一方、制御部８は、主電源がオフ状態された場合（ステップＳ１１：Ｙｅｓ）、周囲温度演算処理を終了する。
【００５６】
［第２実施形態］
次に、図１０を参照して本発明の第２実施形態に係る画像形成装置を説明する。この画像形成装置は、計時情報提供部９を備える。計時情報提供部９は、コンデンサー９１及び検出部９２を備える。
【００５７】
コンデンサー９１は、透磁率センサー６２に対する給電が行われているときに充電され、透磁率センサー６２に対する給電が停止されたときに放電する。コンデンサー９１としては、透磁率センサー６２に対する給電が停止されたときの放電時間が第１飽和時間Ｘ１ｍ（図３参照）よりも長いものが好ましく、例えば前記放電時間が１０秒以上の容量を有するものであればよい。
【００５８】
検出部９２は、透磁率センサー６２に対する給電が停止されたときにコンデンサー９１の放電量を検出する。検出部９２からの信号は、計時処理部８３に入力される。検出部９２は、例えばコンデンサー９１に抵抗器などの負荷と、コンデンサー９１の端子電圧を測定する電圧測定部とを備える。前記電圧測定部は、例えば前記端子電圧に応じたレベルの信号を出力する電圧検出回路として構成される。ただし、前記電圧測定部の構成は特に制限されない。
【００５９】
計時処理部８３は、検出部９２での検出結果に基づいて給電停止時間Ｘ１を取得する。例えば、計時処理部８３は、予め定められたコンデンサー９１の放電量（例えば前記端子電圧）と給電停止時間Ｘ１との関係に基づいて、給電停止時間Ｘ１を演算する。この給電停止時間Ｘ１は、第１補正量決定部８４による第１補正量Ａ１の決定に用いられる。
【００６０】
なお、給電停止時間Ｘ１は、例えば前記負荷の抵抗（放電抵抗）が一定である場合、下記式により演算することができる。下記式中、Ｃはコンデンサー容量（Ｆ）、Ｒは放電抵抗（Ω）、Ｖ０は放電開始時のコンデンサーの端子電圧（Ｖ）、Ｖは放電開始後に検出されるコンデンサーの端子電圧（Ｖ）である。
【００６１】
Ｘ１＝−Ｃ×Ｒ×ｌｎ（Ｖ／Ｖ０）
【００６２】
前述の実施形態では、画像形成装置１０における対象物が現像装置２３であったが、前記対象物は、例えば一次転写装置２４、二次転写装置１５などの転写部であってもよい。
【符号の説明】
【００６３】
１０  画像形成装置
１１  画像形成部
２３  現像装置
６２  透磁率センサー
６３  サーミスター
７  ＲＴＣ
８  制御部
８１  記憶部
８１１  第１補正データテーブル
８１２  第２補正データテーブル
８２  ＣＰＵ
８３  計時処理部
８４  第１補正量決定部
８５  第２補正量決定部
８６  温度演算部
９１  コンデンサー
９２  検出部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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