(57)【要約】【課題】撮影範囲全体にわたって眼底の深さ方向に広い範囲を描出する断層画像を取得可能な眼科装置を提供する。【解決手段】光源からの光を分割した測定光を被検眼の眼底へ照射した戻り光と光源からの光を分割した参照光との干渉光を発生させる干渉部と、測定光を被検眼の眼底上で走査する走査手段と、走査手段による測定光の走査の際に、測定光の走査位置に関する情報を用いて被検眼の瞳面での測定光の入射位置を移動させる移動手段と、干渉光を検出する光検出部と、光検出部によって検出された干渉光に関する情報を用いて、被検眼の断層の情報を取得する取得手段とを備える眼科装置。【選択図】図５
2018079049.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源からの光を分割した測定光を被検眼の眼底へ照射した戻り光と前記光源からの光を分割した参照光との干渉光を発生させる干渉部と、
前記測定光を前記被検眼の眼底上で走査する走査手段と、
前記走査手段による前記測定光の走査の際に、前記測定光の走査位置に関する情報を用いて前記被検眼の瞳面での前記測定光の入射位置を移動させる移動手段と、
前記干渉光を検出する光検出部と、
前記光検出部によって検出された前記干渉光に関する情報を用いて、前記被検眼の断層の情報を取得する取得手段と、
を備える、眼科装置。
【請求項２】
前記移動手段は前記測定光の入射位置を前記走査手段による前記測定光の走査方向とは逆方向に移動させる、請求項１に記載の眼科装置。
【請求項３】
前記移動手段は、前記断層の情報を用いて生成される断層像の湾曲をより小さくするように、前記測定光の入射位置を移動させる、請求項１又は２に記載の眼科装置。
【請求項４】
前記移動手段は前記測定光の光軸を移動させる光学部材を備える、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の眼科装置。
【請求項５】
前記参照光の光路に配置された参照光学部材をさらに備え、
前記参照光学部材は前記光学部材と同期して駆動する、請求項４に記載の眼科装置。
【請求項６】
前記走査手段を含む測定部をさらに備え、
前記移動手段は、
前記測定部の前記被検眼に対する相対位置を移動するように、前記測定部を駆動する駆動手段を含み、
前記駆動手段による前記測定部の駆動によって、前記測定光の入射位置を移動させる、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の眼科装置。
【請求項７】
前記移動手段は、前記走査手段による走査に同期して前記入射位置を移動させる、請求項１乃至６のいずれか一項に記載の眼科装置。
【請求項８】
前記走査手段は、前記被検眼の眼底上で前記測定光の主走査及び副走査を行い、
前記移動手段は、前記走査手段による前記主走査に同期して前記入射位置を移動させる、請求項７に記載の眼科装置。
【請求項９】
前記走査手段は、前記被検眼の眼底上で前記測定光の主走査及び副走査を行い、
前記移動手段は、前記走査手段による前記副走査に同期して前記入射位置を移動させる、請求項７に記載の眼科装置。
【請求項１０】
前記走査手段は、前記被検眼の眼底を走査するための走査ミラーを含み、
前記移動手段は、前記走査ミラーの角度に関する情報を用いて前記入射位置を移動させる、請求項１乃至９のいずれか一項に記載の眼科装置。
【請求項１１】
前記被検眼の前眼部を撮影する撮影手段と、
前記撮影手段によって撮影された前記前眼部の画像に関する情報を用いて、前記入射位置を移動させる領域を設定する設定手段をさらに備える、請求項１乃至１０のいずれか一項に記載の眼科装置。
【請求項１２】
前記取得手段によって取得された前記断層の情報を用いて、前記入射位置を移動させる領域を設定する設定手段をさらに備える、請求項１乃至１０のいずれか一項に記載の眼科装置。
【請求項１３】
前記移動手段によって前記入射位置を移動させる領域を入力するための入力部をさらに備える、請求項１乃至１０のいずれか一項に記載の眼科装置。
【請求項１４】
前記断層の情報を用いて生成される断層画像を動画として表示する表示部をさらに備え、
前記表示部によって前記断層画像が動画として表示されている際に前記領域が入力される、請求項１３に記載の眼科装置。
【請求項１５】
前記移動手段によって前記入射位置を移動させる領域を調整する調整手段をさらに備える、請求項１乃至１４のいずれか一項に記載の眼科装置。
【請求項１６】
光源からの光を、被検眼の眼底へ照射される測定光と参照光とに分割する工程と、
前記測定光を前記被検眼の眼底上で走査する工程と、
前記測定光の走査の間に、前記測定光の走査位置に関する情報を用いて前記被検眼の瞳面での前記測定光の入射位置を移動させる工程と、
前記測定光の前記被検眼からの戻り光と前記参照光との干渉光を発生させる工程と、
前記干渉光を検出する工程と、
検出された前記干渉光に関する情報を用いて、前記被検眼の断層の情報を取得する工程と、
を含む、眼科撮影方法。
【請求項１７】
コンピュータによって実行されると、前記コンピュータに対して請求項１６に記載の眼科撮影方法の各工程を実行させる、プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、眼科装置、眼科撮影方法、及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、眼科診療に用いられる眼科装置のうち、眼を観察する光学機器として様々なものが使用されている。その中で、光干渉断層撮影法（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）を用いた装置（以下、ＯＣＴ装置という。）が知られている。ＯＣＴ装置は、低コヒーレント光を被検眼に照射し、その被検眼からの戻り光を参照光と合波させた干渉光を用いて、被検眼の断層に関する情報を得る装置である。ＯＣＴ装置では、低コヒーレント光を被検眼の眼底上に走査することで、断層画像の取得を行うことができる。そのため、ＯＣＴ装置は網膜の診断等において広く利用されている。
【０００３】
ＯＣＴ装置において、測定光は眼底に対して可能な限り直角に近い角度で入射することが望ましい。これは、眼底を深さ方向に広い範囲で撮影するためには、眼内において眼底の深い層へ最短の光路長で達する光路が望ましいためである。しかしながら、被検眼に対するＯＣＴ装置のアライメント状態によっては、測定光の眼底に対する入射角が０よりも大きくなる場合がある。このとき、測定光と参照光との干渉光に基づいて生成される断層画像において、眼底の断層像が傾いて表示されることがある。
【０００４】
これに対して、特許文献１には、断層像を略水平とするために、撮影開始前に断層画像中の断層像の傾きに基づいて装置のアライメントを調節する技術が記載されている。特許文献１に記載されている技術では、上述のように装置のアライメントを調整し、断層画像の中心位置での眼底に対して測定光がほぼ垂直に入射するように、測定光の入射角度を制御するとされている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１３−２１５５９１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の技術では、撮影範囲全体にわたって眼底に対する測定光の入射角を小さくすることが難しいという問題があった。
【０００７】
特許文献１の技術では、ある固定のアライメント位置で撮影を行うため、撮影範囲全体にわたって眼底に対する測定光の入射角を制御することは一切考慮されていない。
【０００８】
そこで、本発明では、撮影範囲全体にわたって眼底の深さ方向に広い範囲を描出する断層画像を取得可能な眼科装置、眼科撮影方法、及びプログラムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の一実施態様による眼科装置は、光源からの光を分割した測定光を被検眼の眼底へ照射した戻り光と前記光源からの光を分割した参照光との干渉光を発生させる干渉部と、前記測定光を前記被検眼の眼底上で走査する走査手段と、前記走査手段による前記測定光の走査の際に、前記測定光の走査位置に関する情報を用いて前記被検眼の瞳面での前記測定光の入射位置を移動させる移動手段と、前記干渉光を検出する光検出部と、前記光検出部によって検出された前記干渉光に関する情報を用いて、前記被検眼の断層の情報を取得する取得手段とを備える。
【００１０】
また、本発明の別の実施態様による眼科撮影方法は、光源からの光を、被検眼の眼底へ照射される測定光と参照光とに分割する工程と、前記測定光を前記被検眼の眼底上で走査する工程と、前記測定光の走査の際に、前記測定光の走査位置に関する情報を用いて前記被検眼の瞳面での前記測定光の入射位置を移動させる工程と、前記測定光の前記被検眼からの戻り光と前記参照光との干渉光を発生させる工程と、前記干渉光を検出する工程と、検出された前記干渉光に関する情報を用いて、前記被検眼の断層の情報を取得する工程とを含む。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、撮影範囲全体にわたって眼底の深さ方向に広い範囲を描出する断層画像を取得できる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の一実施例による眼科装置の概略的な構成を示す。
【図２】一実施例に係る測定光学系の概略的な構成を示す。
【図３】移動手段の例である平行平面板と被検眼の関係を示す。
【図４】瞳面に対する測定光の入射位置を移動させない場合の例を示す。
【図５】瞳面に対する測定光の入射位置を移動させる場合の例を示す。
【図６】一実施例に係る制御の流れを示す。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明を実施するための例示的な実施例を、図面を参照して詳細に説明する。ただし、以下の実施例で説明する寸法、材料、形状、及び構成要素の相対的な位置等は任意であり、本発明が適用される装置の構成又は様々な条件に応じて変更できる。また、図面において、同一であるか又は機能的に類似している要素を示すために図面間で同じ参照符号を用いる。
【００１４】
以下、本発明の一実施例に係る眼科装置について説明する。本実施例では、主に眼科診療や眼科撮影等に用いられる眼科装置として、ＯＣＴ装置１０を例に挙げて説明する。
【００１５】
（装置の概略構成）
図１を参照して、本実施例におけるＯＣＴ装置１０の概略的な構成について説明する。ＯＣＴ装置１０には、測定光学系１００（測定部）、測定光学系駆動手段１５０（駆動手段）、制御部１６０（取得手段）、表示部１７０、及び入力部１８０が設けられている。
【００１６】
測定光学系１００（測定部）は、制御部１６０に通信可能に接続されており、制御部１６０によって制御され、被検眼の測定に用いられる。また、測定光学系１００には、測定光学系駆動手段１５０が設けられている。測定光学系駆動手段１５０（駆動手段）は、制御部１６０の制御に従って、測定光学系１００をＸＹＺ方向に駆動することができる。このため、測定光学系駆動手段１５０は、被検眼に対する測定光学系１００の相対位置を移動し、測定光学系１００のアライメントを調整することができる。
【００１７】
制御部１６０（取得手段）は、測定光学系１００の各構成要素の制御や測定光学系１００から取得した信号を処理し、断層画像の生成等を行う。さらに、制御部１６０は、表示部１７０に通信可能に接続されており、生成した断層画像や被検眼に関する情報等を表示部１７０に送る。制御部１６０は、汎用のコンピュータを用いて構成されることができる。しかしながら、制御部１６０の構成はこれに限られず、ＯＣＴ装置１０に専用のコンピュータによって構成されてもよい。また、本実施例では制御部１６０は、測定光学系１００と別個に設けられているが、制御部は測定光学系と一体的に構成されてもよい。また、制御部１６０にはマウスやキーボード等を含む入力部１８０が接続されており、制御部１６０は、入力部１８０の入力に基づいて、測定光学系１００や表示部１７０を制御することができる。
【００１８】
表示部１７０は、制御部１６０から受け取った画像や被検眼の情報等の表示を行う。表示部１７０は任意のモニタを用いて構成されることができる。また、本実施例では表示部１７０は、測定光学系１００や制御部１６０と別個に構成されているが、これらと一体的に構成されてもよい。
【００１９】
（測定光学系の構成）
図２を参照して、本実施例に係る測定光学系１００の構成について説明する。図２は、測定光学系１００の概略的な構成を示す。
【００２０】
測定光学系１００においては、被検眼１４０に対向して対物レンズ１０１が設置されている。対物レンズ１０１の光軸上にはダイクロイックミラー１０２及びダイクロイックミラー１０３が設けられている。対物レンズ１０１からの光路は、ダイクロイックミラー１０２，１０３によって、ＯＣＴ光学系の光路Ｌ１、内部固視灯及び眼底観察系用の光路Ｌ２、並びに前眼部観察系用の光路Ｌ３に、光路を通過する光の波長帯域ごとに分岐される。本実施例では、ダイクロイックミラー１０２の透過方向にＯＣＴ光学系の光路Ｌ１並びに内部固視灯及び眼底観察系の光路Ｌ２が配置され、反射方向に前眼部観察系の光路Ｌ３が配置される。また、ダイクロイックミラー１０３の透過方向に内部固視灯及び眼底観察系の光路Ｌ２が配置され、反射方向にＯＣＴ光学系の光路Ｌ１が配置される。しかしながら、これらの光路の配置は当該配置に限られず、ダイクロイックミラー１０２，１０３の透過方向及び反射方向にそれぞれ逆の配置となるように各光路が配置されてもよい。
【００２１】
光路Ｌ２には、レンズ１０４，１０５、ダイクロイックミラー１３４、内部固視灯１０６、及び眼底観察用のＣＣＤ１１１が設けられている。なお、眼底観察系の光路に配置される構成要素は眼底観察光学系を構成する。レンズ１０４は合焦レンズであり、光路Ｌ２を通過する光の合焦調整のため、制御部１６０によって制御される不図示のモータにより、図中矢印で示される光軸方向に駆動される。光路Ｌ２は、ダイクロイックミラー１３４によって内部固視灯１０６への光路と、ＣＣＤ１１１への光路とに分岐される。本実施例では、ダイクロイックミラー１３４の透過方向に内部固視灯１０６が配置され、反射方向にＣＣＤ１１１が配置される。なお、ダイクロイックミラー１３４の透過方向にＣＣＤ１１１が配置され、反射方向に内部固視灯１０６が設けられてもよい。
【００２２】
ＣＣＤ１１１は不図示の眼底観察用照明光の波長、具体的には７８０ｎｍ付近に感度を有する。内部固視灯１０６は可視光を発生して被検者の固視を促すために用いられる。
【００２３】
眼底観察用光源から発せられ被検眼１４０によって反射された戻り光は、対物レンズ１０１、及びダイクロイックミラー１０２，１０３を透過し、光路Ｌ２に入射する。光路Ｌ２に入射した戻り光は、レンズ１０４，１０５を通った後、ダイクロイックミラー１３４によって反射され、ＣＣＤ１１１へと導かれる。ＣＣＤ１１１は、入射した被検眼１４０からの戻り光を検出し、戻り光に対応する信号を生成する。制御部１６０は、ＣＣＤ１１１によって生成された信号に基づいて被検眼１４０の眼底Ｅｒの正面画像を得ることができる。
【００２４】
内部固視灯１０６から発せられた光は、ダイクロイックミラー１３４、レンズ１０５，１０４、ダイクロイックミラー１０３，１０２、及び対物レンズ１０１を通り、被検眼１４０に入射する。内部固視灯１０６は、被検眼１４０上の任意の位置に任意の形状の光を固視標として提供することができ、被検者の固視を促すことができる。
【００２５】
なお、眼底観察光学系の構成は上記構成に限られず、例えば、照明光を被検眼に対して走査するＳＬＯ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ  Ｌａｓｅｒ  Ｏｐｈｏｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ：走査型検眼鏡）の構成を有していてもよい。この場合、内部固視灯１０６は、ＳＬＯ光学系の走査手段の動きに合わせて内部固視灯１０６を点滅させることによって、被検眼１４０上の任意の位置に任意の形状の光を固視標として提供することができ、被検者の固視を促すことができる。
【００２６】
次に、前眼部観察系の光路Ｌ３について説明する。前眼部観察系の光路Ｌ３には、レンズ１０７，１０９、スプリットプリズム１０８、及び赤外光を検知する前眼部観察用のＣＣＤ１１０が設けられている。なお、前眼部観察系の光路Ｌ３に配置されるこれらの構成要素は、前眼部観察光学系（撮影手段）を構成する。
【００２７】
光路Ｌ３では、不図示の光源から９７０ｎｍ付近の波長を有する前眼部観察用の光が被検眼１４０の前眼部に対して照射される。被検眼１４０の前眼部からの反射光は対物レンズ１０１、ダイクロイックミラー１０２、及びレンズ１０７を介してスプリットプリズム１０８に入射する。スプリットプリズム１０８は、被検眼１４０の瞳孔と共役な位置に配置されている。スプリットプリズム１０８から出射された光はレンズ１０９を介してＣＣＤ１１０に入射する。
【００２８】
ＣＣＤ１１０は、９７０ｎｍ付近の波長を有する光を検出するものであり、前眼部からの反射光を検出し、前眼部からの反射光に対応する信号を生成する。制御部１６０は、ＣＣＤ１１０によって生成された信号に基づいて、被検眼１４０の前眼部の画像を生成することができる。この際、制御部１６０は、ＣＣＤ１１０によってスプリットプリズム１０８を通った反射光を検出することで、前眼部のスプリット像から被検眼１４０に対する測定光学系１００のＺ方向（深さ方向）の距離を検出することができる。
【００２９】
次に光路Ｌ１について説明する。光路Ｌ１は前述の通りＯＣＴ光学系用の光路を構成しており、被検眼１４０の断層画像を形成するための干渉信号の取得に用いられる。光路Ｌ１には、平行平面板１２８，１２９、Ｘスキャナ１３２、Ｙスキャナ１３３、及びレンズ１１２，１１３が配置されている。
【００３０】
平行平面板１２８，１２９は、被検眼１４０の瞳面への測定光の入射位置を移動させるために、制御部１６０によって制御される不図示のモータにより後述する方法で駆動される。平行平面板１２８はＸ方向に被検眼１４０の瞳面に対する測定光の入射位置を移動させるために用いられる。平行平面板１２９は、平行平面板１２８の直後に配置され、光軸及び平行平面板１２８の回転軸と直行する回転軸を持つ。平行平面板１２９はＹ方向に被検眼１４０の瞳面に対する測定光の入射位置を移動させるために用いられる。
【００３１】
Ｘスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３は、測定光を被検眼１４０の眼底Ｅｒ上で走査する走査手段を構成する。Ｘスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３は、制御部１６０によって制御される不図示のガルバノモータにより後述する方法で駆動される。Ｘスキャナ１３２は測定光をＸ方向に走査するために用いられ、Ｙスキャナ１３３は測定光をＹ方向に走査するために用いられる。なお、Ｘスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３は、ガルバノミラー等の任意の偏向ミラーを用いて構成されることができる。なお、本実施例では、Ｘスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３によって走査手段を構成しているが、走査手段の構成はこれに限られない。走査手段は、ＭＥＭＳミラー等の１枚で２次元方向に光を偏向させられる偏向ミラーによって構成されてもよい。
【００３２】
レンズ１１２は、被検眼１４０の眼底Ｅｒに対する、ＯＣＴ測定光学系の光ファイバー１１５から出射する測定光の合焦調整のために用いられる合焦レンズである。レンズ１１２は、制御部１６０によって制御される不図示のモータにより、図中矢印で示される測定光の光軸方向に駆動される。この合焦調整によって眼底Ｅｒからの戻り光は同時に光ファイバー１１５の先端にスポット状に結像されて入射される。なお、光ファイバー１１５、光路Ｌ１に配置される各光学部材、ダイクロイックミラー１０２，１０３、及び対物レンズ１０１等は、ＯＣＴ光学系において測定光が伝播するＯＣＴ測定光学系を構成する。
【００３３】
光ファイバー１１５は、光カプラー１１９に接続されている。光カプラー１１９には、ＯＣＴ測定光学系の光ファイバー１１５、光源１１４に接続された光ファイバー１１６、ＯＣＴ参照光学系の光ファイバー１１７、及び分光器１２３に接続された光ファイバー１１８が接続されている。本実施例において、ＯＣＴ光学系はマイケルソン干渉計の構成を有する。そのため、光カプラー１１９は、光源１１４からの光を測定光と参照光に分割する分割器、及び被検眼１４０からの測定光の戻り光と参照光とを干渉させ、干渉光を発生させる干渉部として機能する。
【００３４】
光源１１４は代表的な低コヒーレント光源であるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ  Ｄｉｏｄｅ）である。本実施例では、光源１１４として、出射する光の中心波長が８５５ｎｍ、波長バンド幅が約１００ｎｍのものを用いている。なお、光源１１４の構成はこれに限られず、所望の構成に応じて任意の光源を用いることができる。
【００３５】
光源１１４から出射された光は光ファイバー１１６を通じ、光カプラー１１９を介して、光ファイバー１１５等のＯＣＴ測定光学系を伝播する測定光と光ファイバー１１７等のＯＣＴ参照光学系を伝播する参照光とに分割される。測定光は前述のＯＣＴ光学系の光路Ｌ１を通じ、観察対象である被検眼１４０の眼底Ｅｒに照射され、網膜による反射や散乱により、戻り光として同じ光路を通じて光カプラー１１９に到達する。
【００３６】
一方、参照光は光ファイバー１１７、レンズ１２０、測定光と参照光の分散を合わせるために挿入された分散補償ガラス１２１、平行平面板１３０，１３１を介して参照ミラー１２２に到達し反射される。そして同じ光路を戻り光カプラー１１９に到達する。平行平面板１３０，１３１は、制御部１６０によって制御される不図示のモータにより平行平面板１２８，１２９と同期して駆動される。ここで、光ファイバー１１７、レンズ１２０、分散補償ガラス１２１、平行平面板１３０，１３１、及び参照ミラー１２２はＯＣＴ参照光学系を構成する。
【００３７】
被検眼１４０からの測定光の戻り光と参照光は光カプラー１１９によって、合波され干渉光となる。測定光の光路長と参照光の光路長とがほぼ等しい状態となったときに、測定光の戻り光と参照光は互いに干渉し、干渉光となる。参照ミラー１２２は、制御部１６０によって制御される不図示のモータ及び駆動機構により、参照光の光軸方向に調整可能に保持され、被検眼１４０の被測定部によって変わる測定光の光路長に参照光の光路長を合わせることが可能である。干渉光は、光ファイバー１１８を介して分光器１２３に導かれる。
【００３８】
分光器１２３（光検出部）には、レンズ１２４，１２６、回折格子１２５、及びラインセンサ１２７が設けられている。光ファイバー１１８から出射された干渉光は、レンズ１２４を介して略平行光となった後、回折格子１２５で分光され、レンズ１２６によってラインセンサ１２７に結像される。なお、ラインセンサ１２７は、干渉光を受光して、干渉光に応じた出力信号を生成し、出力する受光素子の一例として示される。制御部１６０は、ラインセンサ１２７によって生成された信号に基づいて、被検眼１４０の眼底Ｅｒの断層に関する情報を取得し、眼底Ｅｒの断層画像を生成することができる。
【００３９】
（画像生成）
次に制御部１６０による画像生成について説明する。制御部１６０は、上述の一連の処理によりラインセンサ１２７から得られるデータをフーリエ変換し、フーリエ変換後のデータを輝度或いは濃度情報に変換することによって被検眼１４０の眼底Ｅｒのある一点における深さ方向（Ｚ方向）の断層画像を取得する。このようなスキャン方式をＡスキャンと呼び、得られる断層画像をＡスキャン画像と呼ぶ。
【００４０】
Ｘスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３によって測定光を眼底Ｅｒの所定の横断方向に走査しながら、このようなＡスキャンを繰り返し行うことにより、複数のＡスキャン画像を取得することができる。例えば、制御部１６０は、測定光をＸスキャナ１３２によってＸ方向に走査すればＸＺ面における断層画像が得られ、Ｙ方向に走査すればＹＺ面における断層画像が得られる。このように被検眼１４０の眼底Ｅｒを所定の横断方向に走査する方式をＢスキャンと呼び、得られる断層画像をＢスキャン画像と呼ぶ。
【００４１】
また、制御部１６０は、光路Ｌ２に配置される眼底観察用のＣＣＤ１１１によって取得されたデータから眼底正面画像を生成する。さらに、制御部１６０は、光路Ｌ３に配置される前眼部観察用のＣＣＤ１１０によって取得されたデータから前眼部画像を生成する。
【００４２】
（平行平面板と測定光の入射位置）
以下、図３（ａ）乃至（ｃ）を参照して平行平面板１２８を傾斜させ、被検眼１４０の瞳孔（瞳面）への測定光の入射位置を移動させる構成について説明する。図３（ａ）乃至（ｃ）は、平行平面板１２８の角度と、被検眼１４０の瞳孔への測定光の入射位置との関係を概略的に示す。
【００４３】
図３（ａ）は、被検眼１４０に対して垂直に測定光が入射する場合の例を模式的に示す。図３（ａ）において、平行平面板１２８から被検眼１４０の眼底Ｅｒへ至るまでの光学系は説明のため簡略化されている。
【００４４】
透過光学部材である平行平面板１２８は、制御部１６０によって制御される不図示のガルバノモータ等の駆動手段により、測定光の光軸の略直交面に対して傾斜角を発生するように駆動される。
【００４５】
光路３０１は平行平面板１２８の傾斜角が０である場合の測定光の光路である。この場合、測定光学系１００と被検眼１４０のアライメントが適切に行われていれば、測定光は被検眼１４０の瞳孔の中心から入射する。光路３０２は、測定光の平行平面板１２８に対する入射角がθになるように平行平面板１２８を傾斜させた場合の光路である。この場合、以下の式に示されるように、被検眼１４０の瞳孔への入射位置はδ２だけシフトされる。
【数１】
2018079049.tif 000003
【００４６】
ここで、θは平行平面板１２８に対する測定光の入射角、φは平行平面板１２８に対する測定光の屈折角、ｎは平行平面板１２８の屈折率、ＰはＯＣＴ測定光学系の光学倍率、ｄは平行平面板１２８の厚さである。具体的には、例えば屈折率ｎを１．５、倍率Ｐを１．５倍、厚さｄを１０ｍｍとしたとき、平行平面板１２８を±２５°回転させると、測定光の入射位置を被検眼１４０の瞳孔（瞳面）上でおよそ±１ｍｍ変化させることができる。一般に人眼の瞳孔径はおよそ２〜７ｍｍであるため、以上の条件によって多くの被検眼に対して瞳孔の範囲内で入射位置を移動させることができる。
【００４７】
被検眼１４０の眼底Ｅｒが球面であるとすると、光路３０１を通る測定光と光路３０２を通る測定光は眼底Ｅｒ上の同じ位置に集光するが、眼底Ｅｒへの入射角が異なる。光路３０１は眼球の中心を通るため、光路３０１を通る測定光は眼底Ｅｒへ垂直に、すなわち入射角が０で入射する。一方、光路３０２を通る測定光は、０より大きい入射角で眼底Ｅｒへ入射する。
【００４８】
図３（ｂ）は、説明の簡略化のために、図３（ａ）の光学系をさらに省略化した図である。図３（ｂ）においては、平行平面板１２８が仮想的に被検眼１４０の直前に示され、被検眼１４０から見て、測定光が図３（ａ）に示された測定光が通る光路と同一の光路を通るように平行平面板１２８が傾斜されている。光路３０３は光路３０１と、光路３０４は光路３０２と同一のものを仮想的に表している。
【００４９】
図３（ｃ）は、図３（ｂ）と同様の模式図であり、Ｘスキャナ１３２の角度を変更し、眼底Ｅｒ上の異なる点を走査しているときの平行平面板１２８と被検眼１４０の関係を示す。光路３０５は平行平面板１２８の傾斜角が０の場合の光路である。光路３０６は、平行平面板１２８の傾斜角が図３（ｂ）において傾斜された平行平面板１２８の傾斜角と同じ傾斜角になるように、平行平面板１２８を傾斜させた場合の光路である。
【００５０】
図３（ａ）及び（ｂ）の場合と同様に、光路３０６を通る測定光は光路３０５に対してδ２のオフセットをもって被検眼１４０の瞳面へ入射し、眼底Ｅｒで光路３０５を通る測定光と略同一の点へ集光する。光路３０５を通る測定光は眼底Ｅｒへ０より大きい入射角で入射するのに対し、光路３０６を通る測定光は眼球の中心を通るため、眼底Ｅｒへ０の入射角で入射する。従って、図３（ｂ）に示す場合とは異なり、図３（ｃ）に示す場合では、平行平面板１２８を傾斜させた場合に限り、眼底Ｅｒへの入射角が０となる測定光が眼底Ｅｒに照射・投影される。従って、ＯＣＴ装置１０では、眼底Ｅｒの走査位置に応じて平行平面板１２８を適切に傾斜させることにより、眼底Ｅｒへの入射角の小さい測定光を眼底Ｅｒに投影することができる。
【００５１】
また、図３（ｃ）では光路３０５と光路３０６の光路長が異なる。この光路長の変化は、瞳孔への入射位置が移動することで生じる光路長の変化と、平行平面板１２８が傾斜することで生じる光路長の変化を合わせたものである。このうち、平行平面板１２８が傾斜することで生じる光路長の変化は、参照光の光路において平行平面板１３０を平行平面板１２８と同期して駆動することで抑制できる。
【００５２】
これに対し、光路３０５と光路３０６では、瞳孔への入射位置が移動することでも光路長に変化が生じる。そのため、平行平面板１２８の傾斜によって瞳孔への入射位置を移動させることで、一定の範囲内で測定光の任意の光路長を実現できる。ここで、測定光の光路長は眼底Ｅｒの走査位置に応じても変化する。従って、ＯＣＴ装置１０では、眼底Ｅｒの走査位置に応じて平行平面板１２８を適切に傾斜させることにより、瞳孔への入射位置を移動させつつ、測定光と参照光との光路長差を略一定に保つことができる。このため、ＯＣＴ装置１０では、眼底Ｅｒの断層像を略水平に描画し、折り返しのない断層画像を得ることができる。平行平面板１２８の適切な制御方法については後述する。
【００５３】
なお、本実施例では、平行平面板１２８は被検眼１４０の瞳孔（瞳面）上で測定光がＸ方向に移動する向きに傾斜し、平行平面板１２９は被検眼１４０の瞳孔上で測定光がＹ方向に移動する向きに傾斜するように配置されている。従って、平行平面板１２８による、瞳孔に対する測定光の入射位置の移動方向軸とＸスキャナ１３２による走査方向軸は略一致し、平行平面板１２９による、瞳孔に対する測定光の入射位置の移動方向軸とＹスキャナ１３３による走査方向軸も略一致している。
【００５４】
（測定光の入射位置を移動させない場合）
本実施例では、平行平面板１２８，１２９によって、被検眼１４０の瞳孔に対する測定光の入射位置を移動させることで、眼底Ｅｒに対する測定光の入射角を０に近づけることができる。この構成による利点を説明するため、まず被検眼１４０の瞳孔に対する測定光の入射位置を移動しない場合の動作について図４（ａ）及び（ｂ）を用いて説明する。
【００５５】
図４（ａ）は、瞳孔に対する測定光の入射位置を移動しない場合における、表示部１７０の表示の例である。表示部１７０には、前眼部画像４１０、眼底正面画像４２０、及び断層画像４３０（Ｂスキャン画像）が表示される。
【００５６】
前眼部画像４１０には、ライン４１１及び入射位置ライン４１２が示されている。ライン４１１は、測定光学系１００と被検眼１４０とのアライメントの際に用いられる。より具体的には、Ｚ方向（深度方向）において、被検眼１４０に対して測定光学系１００の位置が適切でない場合、前眼部画像はスプリットプリズム１０８によってライン４１１に沿って分離される。
【００５７】
入射位置ライン４１２は、測定光が被検眼１４０の瞳面に入射する際の入射位置が移動される領域を示すものである。図４（ａ）に示す例では、入射位置ライン４１２の位置が被検眼１４０の瞳孔中心に設定されるとともに、入射位置ライン４１２の幅、すなわち入射位置が移動される領域の幅はゼロに設定されている。このとき、制御部１６０は、平行平面板１２８，１２９，１３０，１３１の傾斜角度を０に設定した状態で、平行平面板１２８，１２９，１３０，１３１を停止させる。そのため、図４（ａ）に示す例では、瞳孔に対する測定光の入射位置はＸスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３による走査の際に変化しない。
【００５８】
眼底正面画像４２０には、断層画像の撮影位置を示すライン４２１が示されている。測定光は、Ｘスキャナ１３２によって、被検眼１４０の眼底Ｅｒ上においてライン４２１に沿って走査される。
【００５９】
断層画像４３０は、眼底正面画像４２０に示されたライン４２１に対応する眼底Ｅｒ上の位置を走査して得られたＢスキャン画像である。図４（ａ）の例では、ライン４２１がＸ方向に設定されており、断層画像４３０はＸスキャナ１３２の走査によって取得されたＢスキャン画像である。Ｘスキャナ１３２がＢスキャンを繰り返し行うことで、断層画像４３０は動画として表示される。
【００６０】
図４（ｂ）は、図４（ａ）に示される各画像が表示部１７０によって表示されているときの、平行平面板１２８の角度と被検眼１４０の関係を模式的に示す。図４（ｂ）においては、説明の簡略化のため、平行平面板１２８から被検眼１４０に至るまでの光学系は省略されており、光学系の倍率は無視されている。図４（ｂ）には、Ｘスキャナ１３２による走査位置がライン４２１の中心に達した際の光路４０１、及びＸスキャナ１３２による走査位置がライン４２１の端に達したときの光路４０２が示されている。なお、ライン４２１上の他の位置を走査しているときの光路は省略されている。
【００６１】
測定光が光路４０１を通るときには、測定光は入射位置ライン４１２の位置で被検眼１４０の瞳面に入射し、眼球の中心を通って眼底Ｅｒ上のライン４２１の中心へ垂直に入射する。測定光が光路４０２を通るときには、測定光は、光路４０１と同じ位置で被検眼１４０への瞳面に入射し、眼球の中心を通らずに眼底Ｅｒ上のライン４２１の端の位置へ一定の入射角をもって入射する。ライン４２１に沿った一連の走査により、断層画像４３０が得られる。
【００６２】
このように、被検眼１４０の瞳面に対する測定光の入射位置が、測定光の走査中に移動しない場合には、走査位置によっては眼底に対する測定光の入射角度が０よりも大きくなる。そのため、走査位置によっては、測定光が眼底のより深い層へ達することができず、眼底の深さ方向に広い範囲を描出することができない場合がある。
【００６３】
また、この場合、走査位置によって測定光の光路長が異なる。そのため、断層画像４３０における断層像は湾曲をもって、すなわち傾いて表示される。このように断層画像４３０において断層像が傾いている場合、断層像が深さ方向の撮影範囲を超えることで断層画像４３０に断層像の折り返しが発生して所望の画像が得られないことがある。なお、被検眼１４０の眼底Ｅｒの湾曲が大きい場合や走査方向の撮影範囲が広い場合には、断層像の折り返しが発生しやすくなる。
【００６４】
（測定光の入射位置を移動させる場合）
これに対し、図５（ａ）及び（ｂ）は、測定光の入射位置の移動を行う場合の制御について説明するための図である。図５（ａ）は、測定光の入射位置の移動を行う場合における、表示部１７０の表示の例を示す。表示部１７０には、前眼部画像５１０、眼底正面画像５２０、及び断層画像５３０（Ｂスキャン画像）が表示される。ライン５１１，５２１及び入射位置ライン５１２はそれぞれ、ライン４１１，４２１及び入射位置ライン４１２と同様のものであるため、説明を省略する。
【００６５】
図５（ａ）において、断層画像の撮影位置を表すライン５２１の位置は、図４（ａ）に示されるライン４２１の位置と同じである。一方で、図５（ａ）に示す場合には、入射位置ライン５１２が瞳孔中心に位置し、且つ、入射位置ライン５１２の幅が瞳孔径よりやや短い幅になるように設定されている。
【００６６】
制御部１６０は、Ｘスキャナ１３２による走査の際に、入射位置ライン５１２の設定に従って、被検眼１４０の瞳面に対する測定光の入射位置が入射位置ライン５１２上を移動するように平行平面板１２８を駆動する。平行平面板１２８の駆動周期はＸスキャナ１３２と同じであり、Ｘスキャナ１３２がライン５２１上を１回走査する間に、Ｘスキャナ１３２による走査に同期して、測定光の入射位置が入射位置ライン５１２上を１回移動するように平行平面板１２８を駆動する。特に、制御部１６０は、瞳面に対する測定光の入射位置を、眼底Ｅｒ上の走査方向と同一の軸方向において、走査方向と逆方向に移動させるように平行平面板１２８を駆動する。これにより、測定光は眼球の中心付近を通り、眼底Ｅｒに対して０により近い入射角で、すなわち垂直により近い状態に入射する。
【００６７】
なお、制御部１６０は、参照光の光路中の平行平面板１３０を平行平面板１２８と同じ周期及び角度で駆動する。その結果、上述の走査位置に応じた測定光の瞳面への入射位置の移動と合わせて、一連の走査（Ｂスキャン）の際に測定光学系１００における参照光と測定光の光路長差を略一定に保つことができる。平行平面板１２９，１３１は、入射位置ライン５１２がＹ方向に長さを持って設定されている場合のみ駆動される。図５（ａ）の状態では、制御部１６０は平行平面板１２９，１３１を停止させている。
【００６８】
図５（ｂ）は、図５（ａ）に示す各画面が表示部１７０に表示されているときの、平行平面板１２８の角度と被検眼１４０の関係を模式的に示す。図５（ｂ）においては、説明の簡略化のため、平行平面板１２８から被検眼１４０に至るまでの光学系は省略されており、光学系の倍率は無視されている。図５（ｂ）には、Ｘスキャナ１３２による走査位置がライン５２１の中心に達した際の光路５０１、及びＸスキャナ１３２による走査位置がライン５２１の端に達したときの光路５０２が示されている。なお、ライン５２１上の他の位置を走査している時の光路は省略されている。
【００６９】
光路５０１では平行平面板１２８の傾射角は０であるため、光路５０１は図４（ｂ）に示す光路４０１と同一である。一方、光路５０２では、平行平面板１２８の傾斜角が最大となり、瞳面への測定光の入射位置は入射位置ライン５１２の端の位置となる。このとき、光路５０２を通る測定光の眼底Ｅｒ上の走査位置は図４（ｂ）に示す光路４０２を通る測定光の走査位置と同じであるが、光路５０２は眼球の中心により近い位置を通る。そのため、眼底Ｅｒへの測定光の入射角は０により近くなる。これにより、測定光が眼底のより深い層へ達することができるため、ＯＣＴ装置１０は、測定光の戻り光に基づいて眼底の深さ方向に広い範囲を描出することができる。
【００７０】
なお、上述したように、走査位置に応じて平行平面板１２８，１３０を制御することにより、走査位置に応じた測定光と参照光との光路長差の変化を抑制できる。このため、光路５０１及び参照光路の光路長差と光路５０２及び参照光路の光路長差との差は、光路４０１及び参照光路との光路長差と光路４０２及び参照光路の光路長差との差に比べて小さい。この場合の一連の走査では、上述のように、走査位置に従った測定光と参照光との光路長差の変化が小さくなるため、断層画像５３０における断層像は図４（ｂ）に示される断層画像４３０の断層像よりも湾曲、すなわち傾きが小さく表示される。
【００７１】
（制御の流れ）
次に図５（ａ）乃至図６を参照して、本実施例に係る被検眼１４０の観察から断層画像の表示まで流れの例を説明する。図６（ａ）は本実施例に係る一連の制御の流れを示し、図６（ｂ）はステップＳ６０４において行われる撮影の流れを示す。
【００７２】
まず、検者は、ステップＳ６０１において、前眼部画像５１０を見ながら、被検眼１４０に対する測定光学系１００の位置合せ（アライメント）を行う。上述のように、被検眼１４０のＺ方向（深度方向）における、被検眼１４０に対する測定光学系１００の位置が適切でない場合、前眼部画像５１０はスプリットプリズム１０８によってライン５１１に沿って分離される。なお、被検眼１４０に対する測定光学系１００の位置合わせは、制御部１６０が前眼部画像５１０を解析し、解析結果に基づいて測定光学系駆動手段１５０を制御し測定光学系１００を駆動させることで行われてもよいし、他の任意の方法によって行われてもよい。
【００７３】
次に検者は、ステップＳ６０２において、眼底正面画像５２０と断層画像５３０を見ながら、入力部１８０を用いて撮影位置（ライン５２１）、並びに、参照ミラー１２２、及びレンズ１０４，１１２の位置を調節する。なお、ここで表示されている断層画像５３０は、上述のように動画であり、本制御の前に生成された断層画像である。なお、断層画像５３０は静止画であってもよい。また、一連の診断において、初めて断層画像が生成される場合には、検者は眼底正面画像５２０のみに基づいて撮影位置を設定することができる。なお、撮影位置や参照ミラー１２２等の設定は、制御部１６０によって、眼底正面画像５２０を解析した解析結果及び所望の構成等に応じて自動的に設定されてもよい。
【００７４】
撮影位置（ライン５２１）等を設定した後、検者は、ステップＳ６０３において、マウス等の不図示の入力部１８０を用いて、前眼部画像５１０に示される入射位置ライン５１２の位置及び幅を指定する。これにより、平行平面板１２８によって、被検眼１４０の瞳面（瞳孔）に対する測定光の入射位置を移動させる領域（移動範囲）を設定・調整することができる。この場合、検者は、表示部１７０によって断層画像が動画として表示されている際に、断層画像を見ながら、入射位置ライン５１２を入力することができる。ここで、ＯＣＴ装置１０は、断層画像が動画として表示されている際に入力された入射位置ライン５１２に従って、断層画像を静止画として撮影してもよい。この場合には、ＯＣＴ装置１０によって、複数のＢスキャンの結果に対し加算平均処理等を行い、断層画像のノイズ低減や画質向上を図ってもよい。なお、入射位置ライン５１２、すなわち測定光の入射位置を移動させる領域の設定は、制御部１６０の設定手段によって行われてもよく、また、当該領域の調整は、制御部１６０の調整手段によって行われてもよい。ここで、設定手段及び調整手段は、制御部１６０によって実行されるモジュールやＡＳＩＣ等の回路等によって構成されることができる。
【００７５】
次に検者は、ステップＳ６０４において不図示の撮影キーを押し、断層画像の撮影を開始する。撮影においては、上述のように、まず図６（ｂ）に示すステップＳ６１１において、光カプラー１１９が光源１１４から出射された光を測定光と参照光に分割する。
【００７６】
次にステップＳ６１２において、走査手段であるＸスキャナ１３２によって測定光を眼底Ｅｒ上で走査しながら、平行平面板１２８によって瞳面に対する測定光の入射位置を移動させる。この際、Ｘスキャナ１３２はライン５２１の位置を走査し、平行平面板１２８は、Ｘスキャナ１３２による走査に同期して、測定光の入射位置を入射位置ライン５１２の位置で移動させる。上述のように、制御部１６０は、瞳孔に対する測定光の入射位置を眼底Ｅｒ上の走査方向と逆方向に移動させるように、平行平面板１２８を駆動する。これにより、制御部１６０は、断層像の湾曲をより小さくするように、言い換えると、断層像の傾きを抑制するように、平行平面板１２８を駆動することができる。なお、この際に参照光の光路に配置される平行平面板１３０が平行平面板１２８に同期して駆動される。
【００７７】
その後、ステップＳ６１３において、光カプラー１１９で被検眼１４０からの測定光の戻り光と参照光を合波して干渉光を発生させ、ステップＳ６１４において分光器１２３で検出した干渉光に基づいて干渉信号を生成する。干渉信号を生成したら、ステップＳ６１５において、制御部１６０が干渉信号に基づいて断層画像を生成する。撮影後、ステップＳ６０５において、生成した断層画像５３０を表示部１７０によって表示する。上述のような制御を行うことで、全ての走査位置で測定光が眼底Ｅｒに対してより小さい入射角で入射するため、撮影範囲全体にわたって眼底Ｅｒのより深い層を観察可能な断層画像を得ることができる。
【００７８】
なお、ステップＳ６０３において、検者は、断層画像を見ながら断層像の湾曲が小さくなるように入射位置ライン５１２の位置と幅を設定・調整することができる。このような操作を行うことで、全ての走査位置で眼底Ｅｒに対して測定光が小さい入射角で入射し、眼底Ｅｒのより深い層を観察可能な断層画像を得ることができる。また、湾曲が小さくなるように入射位置ライン５１２を設定・調整することで、折り返しのない断層画像を得ることができる。
【００７９】
なお、眼底Ｅｒ上のＹ方向の断層画像を取得する場合には、平行平面板１２８，１３０を静止させ、平行平面板１２９，１３１を上記と同様に駆動させればよい。また、ボリュームスキャン、ラジアルスキャン、及びサークルスキャン等のＸスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３を両方用いる走査を行う場合も考えられる。これらの場合には、Ｘスキャナ１３２の駆動に応じて平行平面板１２８，１３０を、Ｙスキャナ１３３の駆動に応じて平行平面板１２９，１３１を駆動させ、測定光の入射位置をＸ方向及びＹ方向に同時に移動させることができる。このように平行平面板１２８，１２９，１３０，１３１を駆動することで、スキャンパターンの形状に関わらず、眼底Ｅｒのより深い層を観察可能な、折り返しのない断層画像を得ることができる。
【００８０】
上記のように、本実施例によるＯＣＴ装置１０は、光を出射する光源１１４と、光源１１４からの光を測定光と測定光に対応する参照光に分割する光カプラー１１９とを備える。さらに、光カプラー１１９は、測定光を被検眼１４０の眼底Ｅｒに照射した戻り光と参照光との干渉光を発生させる。また、ＯＣＴ装置１０は、測定光を被検眼１４０の眼底Ｅｒ上で走査する走査手段として、走査ミラーであるＸスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３を備える。測定光は、Ｘスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３の角度に応じて眼底Ｅｒ上で走査される。ＯＣＴ装置１０は、Ｘスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３による測定光の走査位置に関する情報を用いて、被検眼１４０の瞳面での測定光の入射位置を移動させる移動手段を更に備える。ＯＣＴ装置１０は、当該移動手段として、測定光の光軸を移動させる光学部材である平行平面板１２８，１２９を備える。ここで、測定光の走査位置に関する情報とは、眼底Ｅｒ上の走査位置に限られず、例えば、Ｘスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３の角度に関する情報等であってもよい。なお、Ｘスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３の角度に関する情報は、各スキャナの角度に限られず、各スキャナの駆動タイミングを示す信号等の制御情報であってもよい。また、ＯＣＴ装置１０は、干渉光を検出する分光器１２３と、分光器１２３によって検出された干渉光に関する情報を用いて、被検眼１４０の断層の情報を取得する制御部１６０とを備える。なお、干渉光に関する情報とは、干渉光自体に限られず、例えば、干渉光を検出した分光器１２３の出力信号や分光器１２３の出力信号に任意の信号処理を施した信号等であってもよい。
【００８１】
ＯＣＴ装置１０では、平行平面板１２８が、Ｘスキャナ１３２による測定光の走査の際に、測定光の走査位置に関する情報を用いて瞳面での測定光の入射位置を移動させる。これにより、測定光が眼球の中心付近を通り、眼底Ｅｒに対して０により近い入射角で、すなわち垂直により近い状態で入射する。より具体的には、制御部１６０が、瞳面に対する測定光の入射位置が眼底Ｅｒ上の走査方向と同一の軸方向において走査方向と逆方向に移動するように、平行平面板１２８を駆動する。これにより、測定光が、各走査位置において被検眼１４０の眼底Ｅｒに対して０により近い入射角で入射するため、測定光が眼底Ｅｒのより深い位置まで届くこととなる。このため、ＯＣＴ装置１０では、被検眼１４０からの測定光の戻り光に基づく被検眼１４０の眼底Ｅｒの断層の情報から、撮影範囲全体にわたって眼底Ｅｒのより深い層を観察可能な断層画像を得ることができる。また、ＯＣＴ装置１０では、撮影範囲全体にわたって眼底Ｅｒに対する測定光の入射角を略均一に保てるため、撮影範囲全体における眼底Ｅｒの各断層による測定光の散乱率等を略均一に保つことができ、より高い画質の断層画像を生成することができる。さらに、ＯＣＴ装置１０では、瞳孔への入射位置を移動させることにより、撮影範囲全体にわたって眼底Ｅｒに対する測定光の入射角を略均一に保てることから、走査位置による測定光の光路長変化を軽減することができる。これにより、断層画像における断層像の傾きを抑制し、断層像を水平に近づけることができ、断層像の傾きに起因して生じる断層画像における断層像の折り返しを抑制することができる。
【００８２】
また、ＯＣＴ装置１０は、参照光の光路に配置された平行平面板１３０，１３１（参照光学部材）をさらに備え、平行平面板１３０，１３１は平行平面板１２８，１２９と同期して駆動する。瞳面に対する測定光の入射位置を移動させるために平行平面板１２８が駆動されることで、測定光の光路長が変化する際に、平行平面板１２８に同期して駆動する平行平面板１３０によって参照光の光路長も変更される。このため、平行平面板１３０の駆動による測定光の光路及び参照光の光路間の光路長差の変化が抑制される。従って、測定光の走査の際に、測定光と参照光の光路長差を略一定に保ちつつ被検眼１４０の瞳孔への入射位置を移動させることができる。これにより、被検眼１４０からの測定光の戻り光に基づく断層画像において、被検眼１４０の断層像が傾くことをさらに抑制し、断層像をより水平に近づけることができる。この結果、断層像の傾きに起因して生じる断層画像における折り返しをさらに抑制することができる。ここで、平行平面板１２９が駆動される場合には、平行平面板１３１が平行平面板１２９に同期して駆動することで同様の効果を奏することができる。また、参照光の光路に平行平面板１３０，１３１を設けることで、測定光の光路に配置された平行平面板１２８，１２９によって変化した測定光の分散に合わせて参照光の分散を補償することもできる。
【００８３】
なお、被検眼１４０の瞳孔径が小さい場合や、眼底Ｅｒの湾曲が大きい場合には、断層像の湾曲を小さくしようとすると、測定光の入射位置ラインが瞳孔の外側まで及んでしまう場合がある。この場合には、虹彩によって測定光が遮断され断層像が欠けてしまう。このように断層像が欠けることを抑制するために、入射位置ラインは瞳孔内で設定することができる。さらに被検眼の固視微動を考慮して、瞳孔内である程度の余裕をもって入射位置ラインを設定することができる。また、被検眼の水晶体に混濁がある場合には、混濁を避けて入射位置ラインを設定することができる。このように、断層画像を取得可能な範囲内で入射位置ラインを設定することで、被検眼の状態等を考慮しつつ、眼底Ｅｒのより深い層を観察可能な、折り返しのない断層画像を得ることができる。
【００８４】
本実施例では、測定光の光路中の平行平面板１２８，１２９と、参照光の光路中の平行平面板１３０，１３１を同期させて駆動することで、測定光と参照光の光路長差を略一定に保っている。しかしながら、他の方法で測定光と参照光の光路長差を略一定に保ってもよい。例えば、参照光の光路中には平行平面板を配置せず、参照ミラー１２２を測定光の光路中の平行平面板１２８，１２９と同期させて駆動してもよい。その場合、分散補償ガラス１２１の厚さは平行平面板１２８，１２９を考慮して決められることができる。
【００８５】
本実施例では、測定光と参照光との光路長差の変化及び分散の不一致を抑制するために、参照光の光路に平行平面板１３０，１３１を設けている。しかしながら、単に、測定光が眼底Ｅｒのより深い層を観察可能な断層画像を生成する場合には、平行平面板１３０，１３１を設けなくてもよい。この場合にも、測定光は眼底Ｅｒに対して０により近い入射角で入射するため、ＯＣＴ装置１０は、眼底Ｅｒのより深い層の観察が可能な断層画像を生成できる。
【００８６】
また、瞳面に対する測定光の入射位置を移動させられる構成であれば、平行平面板を用いなくてもよい。例えば、可変頂角プリズムを向かい合うように並べ、それらの角度を制御することによって、瞳面に対する測定光の入射位置を移動させてもよい。又は、測定光学系１００内部には瞳面に対する測定光の入射位置の調節機構を設けずに、ＯＣＴ測定光学系を内部に含む測定部、すなわち測定光学系１００を測定光学系駆動手段１５０により駆動させることで、測定光の入射位置を調整してもよい。
【００８７】
本実施例では、Ｘスキャナ１３２によるＢスキャンに同期させて瞳面に対する測定光の入射位置の移動を制御しているが、走査位置に基づいた制御であれば、他の制御でもよい。例えば、３次元データを取得するために被検眼１４０に対して測定光の２次元走査を行う際、主走査であるＢスキャンではなく、副走査に同期させて瞳面に対する測定光の入射位置を移動させる制御を行ってもよい。眼底Ｅｒは主走査方向と副走査方向のいずれにも湾曲を持っているため、副走査方向に対して上記制御を適用することで、副走査方向において上記と同様の効果を得ることができる。なお、副走査は主走査よりも遅いため、入射位置の移動に時間がかかる装置構成をより容易に適用することができる。
【００８８】
さらに、図５（ａ）の入射位置ライン５１２の位置と幅の設定・調整は、制御部１６０が自動的に行う構成でもよい。例えば、制御部１６０は前眼部画像５１０を解析して瞳孔中心と瞳孔径を算出し、入射位置ライン５１２の位置を瞳孔中心に設定し、入射位置ライン５１２の幅を瞳孔径よりやや短い幅になるように自動的に調整してもよい。又は、制御部１６０は、制御部１６０によって取得された被検眼１４０の断層の情報に基づく断層画像５３０を解析し、断層画像５３０における断層像の傾きと湾曲が小さくなるように入射位置ライン５１２を設定・調整してもよい。なお、制御部１６０は、上記構成に限られず、前眼部画像５１０に関する情報や断層画像５３０に関する情報を用いて、入射位置ライン５１２の設定・調整を行うことができる。ここで、前眼部画像５１０に関する情報や断層画像５３０に関する情報は、各画像自体に限られない。例えば、前眼部画像５１０に関する情報は、前眼部観察用のＣＣＤ１１０を含む前眼部観察光学系からの出力等であってもよく、断層画像５３０に関する情報は、分光器１２３からの出力等であってもよい。
【００８９】
また、制御部１６０は、断層画像５３０に対して画像補正を行ってもよい。断層画像５３０における断層像は、実際には湾曲を持つ眼底Ｅｒを撮影したものであるが、本実施例による処理により湾曲が小さい像として描出されている。そのため、断層像を、実際の被検眼１４０の眼底Ｅｒの形状に近くなるように断層画像５３０を補正して表示してもよい。
【００９０】
例えば、まず、制御部１６０は撮影時の入射位置ライン５１２の位置と幅を記憶する。制御部１６０は、記憶した情報から、入射位置を移動させて取得した断層画像５３０における断層像の湾曲と、入射位置を移動しない場合に得られるべき断層像の湾曲との差を計算し、その結果に基づいて断層画像５３０を補正する。それにより、断層画像４３０のような画像が得られる。従って、この場合には、上記処理により湾曲の小さい断層像を取得し、表示の際に折り返しを発生させず、且つ、実際の湾曲に即するように断層像の湾曲を補正する。これにより、通常の撮影では断層画像に折り返しが発生するような眼底Ｅｒの湾曲の大きい被検眼であっても、折り返しがなくかつ実際の湾曲に即した断層画像を生成することができる。
【００９１】
また、本実施例では、ＯＣＴ装置の干渉光学系としてマイケルソン干渉計の構成を用いているが、干渉光学系の構成はこれに限られない。例えば、ＯＣＴ装置の干渉光学系はマッハツェンダー干渉計の構成を有していてもよい。さらに、測定光学系１００の構成は、上記の構成に限られず、測定光学系１００に含まれる構成の一部を測定光学系１００と別体の構成としてもよい。
【００９２】
また、分割手段として光カプラーを使用したファイバー光学系を用いているが、コリメータとビームスプリッタを使用した空間光学系を用いてもよい。さらに、波長ごとに光を分割する光学部材としてダイクロイックミラーを用いているが、当該光学部材はこれに限られない。例えば、穴あきミラーや中空のミラーが蒸着されたプリズム等から構成されるミラーを用いて、波長ごとに光を分割してもよい。
【００９３】
なお、本実施例では、ＯＣＴ装置として、ＳＬＤを光源として用いたスペクトラルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）装置について述べたが、本発明によるＯＣＴ装置の構成はこれに限られない。例えば、出射光の波長を掃引することができる波長掃引光源を用いた波長掃引型ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ）装置等の他の任意の種類のＯＣＴ装置にも本発明を適用することができる。
【００９４】
［その他の実施例］
本発明は、上述の実施例の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【００９５】
以上、実施例を参照して本発明について説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではない。本発明の趣旨に反しない範囲で変更された発明、及び本発明と均等な発明も本発明に含まれる。また、上述の各実施例及び変形例は、本発明の趣旨に反しない範囲で適宜組み合わせることができる。
【符号の説明】
【００９６】
１０：ＯＣＴ装置（眼科装置）、１１４：光源、１１９：光カプラー（干渉部）、１２３：分光器（光検出部）、１２８，１２９：平行平面板（移動部）、１３２：Ｘスキャナ（走査手段）、１３３：Ｙスキャナ（走査手段）、１４０：被検眼、１６０：制御部（取得部）、Ｅｒ：眼底
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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