(57)【要約】      （修正有）【課題】太陽光発電モジュールに発生した亀裂に基づく劣化などの不具合を判定することを可能とすることができる検査装置などを提供する。【解決手段】太陽光により発電する太陽光発電装置についてＥＬ検査を行う検査装置１１であって、前記太陽光発電装置に電流が流されて発光した状態で撮像された画像の情報に基づいて、前記太陽光発電装置に発生した亀裂に対応する線を検出する画像情報処理部を備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
太陽光により発電する太陽光発電装置についてＥＬ検査を行う検査装置であって、
前記太陽光発電装置に電流が流されて発光した状態で撮像された画像の情報に基づいて、前記太陽光発電装置に発生した亀裂に対応する線を検出する画像情報処理部を備える、
検査装置。
【請求項２】
前記画像情報処理部は、検出された前記線に基づいて、前記亀裂に起因して前記太陽光発電装置における発電による電流出力に寄与しない部分を検出する、
請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記画像情報処理部は、前記太陽光発電装置に設けられた母線のいずれについても、当該母線に対して垂直な方向に結んだときに前記線に交わる部分を、前記亀裂に起因して前記太陽光発電装置における発電による電流出力に寄与しない部分として検出する、
請求項２に記載の検査装置。
【請求項４】
前記画像情報処理部は、前記画像の情報に対して所定の格子を設定し、設定された前記格子を構成する単位となる単位格子ごとに、前記亀裂に起因して前記太陽光発電装置における発電による電流出力に寄与しない部分として検出する、
請求項２または請求項３のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項５】
前記画像情報処理部は、前記亀裂に起因して前記太陽光発電装置における発電による電流出力に寄与しない部分として検出された前記単位格子のうちの一部について、前記単位格子よりも小さい形状に変換する、
請求項４に記載の検査装置。
【請求項６】
前記画像情報処理部は、検査の結果に基づいて、前記太陽光発電装置における発電量に関する情報、または前記太陽光発電装置における発電低下量に関する情報のうちの一方または両方を取得する、
請求項１から請求項５のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項７】
検査の結果に関する情報を含む表示情報を生成する表示情報生成部を備える、
請求項１から請求項６のいずれか１項に記載の検査装置。
【請求項８】
太陽光により発電する太陽光発電装置についてＥＬ検査を行う検査装置により行われる検査方法であって、
前記検査装置に備えられた画像情報処理部は、前記太陽光発電装置に電流が流されて発光した状態で撮像された画像の情報に基づいて、前記太陽光発電装置に発生した亀裂に対応する線を検出する、
検査方法。
【請求項９】
太陽光により発電する太陽光発電装置についてＥＬ検査を行う検査装置を構成するコンピュータに実行させるための検査プログラムであって、
前記検査装置に備えられた画像情報処理部は、前記太陽光発電装置に電流が流されて発光した状態で撮像された画像の情報に基づいて、前記太陽光発電装置に発生した亀裂に対応する線を検出するステップを、コンピュータに実行させるための検査プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査装置、検査方法および検査プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
太陽光パネルにより太陽光を利用して電力を発電することが行われている。太陽光パネルは、例えば、複数個のセルを接続して構成される。また、複数個の太陽光パネルを接続してストリングが構成される場合もある。
本明細書では、セル、太陽光パネルあるいはストリングなどのように、太陽光発電を用いる装置（太陽光発電装置）を、太陽光発電モジュールとも呼ぶ。
【０００３】
太陽光発電モジュールの品質検査として、エレクトロ・ルミネッセンス（ＥＬ：ＥｌｅｃｔｒｏＬｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）検査が行われる場合がある。
ＥＬ検査では、検査対象の太陽光発電モジュールに電流を流すことで、当該太陽光発電モジュールにより発光させ、この光をカメラで撮像することが行われる。そして、撮像された画像に基づいて、当該太陽光発電モジュールにおいて劣化など（劣化または他の原因）の不具合が発生した部分を判定することが行われる。この判定は、例えば、当該画像における明暗に基づいて行われる。当該画像において、当該太陽光発電モジュールの劣化などの不具合が発生した部分については発光の強度が低下して暗くなる。
【０００４】
太陽光発電モジュールのＥＬ検査は、従来では当該太陽光発電モジュールの工場出荷前に行われており、最近では当該太陽光発電モジュールの設置前あるいは設置後に継続して行われる場合も増えてきている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】国際公開第２０１１／１５２４４５号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、ＥＬ検査において、人間（検査員）の目視によって画像を評価する場合、視覚による人為的判断に基づく評価となるため、個人の経験に依存して、劣化などの不具合が発生した部分を見逃す場合などがあり、例えば、明らかな発電低下箇所しか断定することができなかった。
また、ＥＬ検査において、人が画像を評価する作業が煩わしい場合があった。例えば、メガソーラなどのように数千枚の太陽光パネルを有する太陽光発電モジュールが検査対象となるようなときには、非常に多くの作業時間がかかっていた。このため、一部の発電事業者のみがＥＬ検査を採用するという状況があった。
【０００７】
なお、特許文献１では、大型の太陽電池パネルに対して適用可能な、太陽電池パネルのＥＬ検査装置を提供することが図られている。具体的には、特許文献１では、複数の太陽光発電セルを備えた太陽電池パネルのＥＬ検査装置であって、検査対象の太陽電池パネルに順バイアス電流を印加してＥＬ発光させるＤＣ電源と、ＥＬ発光状態の太陽電池パネルを撮影する撮影部と、撮影した太陽電池パネルの画像を補正する補正部と、補正後の画像と基準となるテンプレートとを比較する比較部と、比較結果に基づいて、太陽電池パネルの良否を判定する判定部と、を備えた太陽電池パネルのＥＬ検査装置が記載されている（特許文献１参照。）。しかしながら、特許文献１に記載された技術では、例えば、太陽電池パネル（太陽光パネル）に発生した亀裂に基づく劣化などの不具合を精度良く判定することができない場合があると考えられる。
【０００８】
本発明は、このような事情を考慮してなされたものであり、太陽光発電モジュールに発生した亀裂に基づく劣化などの不具合を判定することを可能とすることができる検査装置、検査方法および検査プログラムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の一態様は、太陽光により発電する太陽光発電装置についてＥＬ検査を行う検査装置であって、前記太陽光発電装置に電流が流されて発光した状態で撮像された画像の情報に基づいて、前記太陽光発電装置に発生した亀裂に対応する線を検出する画像情報処理部を備える、検査装置である。
本発明の一態様は、検査装置において、前記画像情報処理部は、検出された前記線に基づいて、前記亀裂に起因して前記太陽光発電装置における発電による電流出力に寄与しない部分を検出する、構成が用いられてもよい。
本発明の一態様は、検査装置において、前記画像情報処理部は、前記太陽光発電装置に設けられた母線のいずれについても、当該母線に対して垂直な方向に結んだときに前記線に交わる部分を、前記亀裂に起因して前記太陽光発電装置における発電による電流出力に寄与しない部分として検出する、構成が用いられてもよい。
本発明の一態様は、検査装置において、前記画像情報処理部は、前記画像の情報に対して所定の格子を設定し、設定された前記格子を構成する単位となる単位格子ごとに、前記亀裂に起因して前記太陽光発電装置における発電による電流出力に寄与しない部分として検出する、構成が用いられてもよい。
本発明の一態様は、検査装置において、前記画像情報処理部は、前記亀裂に起因して前記太陽光発電装置における発電による電流出力に寄与しない部分として検出された前記単位格子のうちの一部について、前記単位格子よりも小さい形状に変換する、構成が用いられてもよい。
本発明の一態様は、検査装置において、前記画像情報処理部は、検査の結果に基づいて、前記太陽光発電装置における発電量に関する情報、または前記太陽光発電装置における発電低下量に関する情報のうちの一方または両方を取得する、構成が用いられてもよい。
本発明の一態様は、検査装置において、検査の結果に関する情報を含む表示情報を生成する表示情報生成部を備える、構成が用いられてもよい。
【００１０】
本発明の一態様は、太陽光により発電する太陽光発電装置についてＥＬ検査を行う検査装置により行われる検査方法であって、前記検査装置に備えられた画像情報処理部は、前記太陽光発電装置に電流が流されて発光した状態で撮像された画像の情報に基づいて、前記太陽光発電装置に発生した亀裂に対応する線を検出する、検査方法である。
本発明の一態様は、太陽光により発電する太陽光発電装置についてＥＬ検査を行う検査装置を構成するコンピュータに実行させるための検査プログラムであって、前記検査装置に備えられた画像情報処理部は、前記太陽光発電装置に電流が流されて発光した状態で撮像された画像の情報に基づいて、前記太陽光発電装置に発生した亀裂に対応する線を検出するステップを、コンピュータに実行させるための検査プログラムである。
【発明の効果】
【００１１】
上記した検査装置、検査方法および検査プログラムによれば、太陽光発電モジュールに発生した亀裂に基づく劣化などの不具合を判定することを可能とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の一実施形態に係るＥＬ検査の検査システムの概略的な構成例を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態に係るＥＬ検査の検査装置の概略的な構成例を示す図である。
【図３】本発明の一実施形態に係る太陽光発電モジュールの概略的な構成例を示す図である。
【図４】本発明の一実施形態に係るセルの画像の一例を示す図である。
【図５】本発明の一実施形態に係るセルにおける電流の流れの一例を示す図である。
【図６】本発明の一実施形態に係るセルにおける亀裂による発電利用不可部分の一例を示す図である。
【図７】本発明の一実施形態に係るセルにおける格子の一例を示す図である。
【図８】本発明の一実施形態に係るセルにおける亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子の一例を示す図である。
【図９】本発明の一実施形態に係るセルにおける亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子の他の一例を示す図である。
【図１０】本発明の一実施形態に係るセルにおいて特定される発電利用不可領域の一例を示す図である。
【図１１】本発明の一実施形態に係るセルにおいて特定される発電利用不可単位格子群の一例を示す図である。
【図１２】本発明の一実施形態に係る検査装置において行われる処理の手順の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
本発明の実施形態について図面を参照して詳細に説明する。
なお、以下の実施形態において、「平行」、「垂直」、「方向」、「同じ」、「同一」などについては、実用上で有効な範囲で、多少ずれてもよく、例えば、「ほぼ平行」、「ほぼ垂直」、「ほぼ方向」、「ほぼ同じ」、「ほぼ同一」などであってもよい。
また、以下の実施形態において、各種の形状、または、他の任意の特性（例えば、長さ、大きさなど）としては、実用上で有効な範囲で、多少ずれてもよい。
【００１４】
［検査システム］
図１は、本発明の一実施形態に係るＥＬ検査の検査システム１の概略的な構成例を示す図である。
検査システム１は、検査装置１１と、撮像装置１２と、電流供給装置１３と、表示装置１４を備える。
また、検査システム１は、検査装置１１と撮像装置１２とを通信可能に接続する回線ａ１と、検査装置１１と電流供給装置１３とを通信可能に接続する回線ａ２と、検査装置１１と表示装置１４とを通信可能に接続する回線ａ３を備える。
なお、それぞれの回線ａ１〜ａ３は、例えば、有線の回線であってもよく、または、無線の回線であってもよい。
また、図１には、ＥＬ検査の対象となるセル２１を示してある。
【００１５】
検査システム１は、例えば、工場などに設置されている。この場合、検査の対象となるセル２１は、工場などに持ち込まれて、１個ごとに検査される。
なお、検査システム１は、任意の場所に設置されてもよい。
また、他の例として、検査システム１は、自動車などのように移動することが可能な物（移動体）に設置されてもよい。
【００１６】
セル２１は、本実施形態においてＥＬ検査の対象となる単位であり、所定の箇所（以下で、説明の便宜上、「検査対象設置箇所」ともいう。）に設置される。
ここで、本実施形態では、ＥＬ検査の対象となる単位（太陽光発電モジュールの単位）として、セルが用いられるが、他の構成例として、任意の単位が用いられてもよく、ＥＬ検査の対象となる単位ごとに、検査対象設置箇所に設置される。
【００１７】
検査装置１１は、ＥＬ検査の全体の制御を行い、画像の処理などを行う。検査装置１１は、撮像装置１２と電流供給装置１３と表示装置１４のそれぞれを制御することが可能である。
撮像装置１２は、例えば、カメラを用いて構成されている。撮像装置１２は、検査対象設置箇所に設置されたセル２１の画像を撮像し、撮像された画像の情報を回線ａ１を介して検査装置１１に送信する。撮像装置１２は、回線ａ１を介して、検査装置１１により制御される。
電流供給装置１３は、検査対象設置箇所に設置されたセル２１と電気的に接続されて、当該セル２１に対して電流を供給する。当該電流は、当該セル２１において発光（本実施形態では、ＥＬ検査のための発光）が行われる向きに流される。電流供給装置１３は、回線ａ２を介して、検査装置１１により制御される。なお、検査対象設置箇所は、例えば、電流供給装置１３に設けられてもよく、または、他の物（例えば、テーブルなど）に設けられてもよい。
表示装置１４は、画面を有しており、検査装置１１から送信された表示情報を回線ａ３を介して受信し、受信された表示情報を当該画面に表示する。表示装置１４は、回線ａ３を介して、検査装置１１により制御される。
【００１８】
［検査装置］
図２は、本発明の一実施形態に係るＥＬ検査の検査装置１１の概略的な構成例を示す図である。
検査装置１１は、例えば、１個のコンピュータを用いて構成されてもよく、または、複数個のコンピュータの組み合わせを用いて構成されてもよい。
検査装置１１は、入力部３１と、出力部３２と、記憶部３３と、制御部３４を備える。
制御部３４は、画像情報取得部５１と、画像情報処理部５２と、表示情報生成部５３を備える。
【００１９】
入力部３１は、情報を入力する。
入力部３１は、例えば、人（ユーザ）により操作される操作部を備え、当該操作部に対して行われた操作に対応した情報（操作の内容を示す情報）を受け付けて入力する。
また、入力部３１は、例えば、外部の装置から出力された情報を入力する。本実施形態では、当該外部の装置として、撮像装置１２が用いられている。また、本実施形態では、入力部３１は、電流供給装置１３あるいは表示装置１４から出力される情報を入力してもよい。また、入力部３１は、例えば、外部の装置である記憶媒体から情報を入力してもよい。
【００２０】
出力部３２は、情報を出力する。
出力部３２は、例えば、外部の装置に情報を出力する。本実施形態では、当該外部の装置として、撮像装置１２、電流供給装置１３および表示装置１４が用いられている。また、出力部３２は、例えば、音（音声でもよい）などにより情報を出力してもよい。また、出力部３２は、例えば、外部の装置である記憶媒体に情報を出力してもよい。
【００２１】
記憶部３３は、情報を記憶する。
記憶部３３は、例えば、撮像装置１２から入力された画像の情報、各種の処理が行われた画像の情報、制御部３４により実行されるプログラムおよび当該プログラムで使用されるパラメータの情報など、任意の情報を記憶してもよい。
【００２２】
制御部３４は、検査装置１１における各種の制御および各種の処理を実行する。
本実施形態では、制御部３４は、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）を用いて構成されており、記憶部３３に記憶されたパラメータを使用して、記憶部３３に記憶されたプログラムを実行することで、各種の動作を行う。
【００２３】
画像情報取得部５１は、画像の情報を取得する。画像情報取得部５１は、例えば、画像の情報を入力部３１により入力することで当該画像の情報を取得してもよく、あるいは、記憶部３３に記憶された画像の情報を取得してもよい。
画像情報処理部５２は、画像情報取得部５１により取得された画像の情報に対して、ＥＬ検査のための所定の処理を行う。
表示情報生成部５３は、画像情報処理部５２により行われた所定の処理の結果に基づいて、表示するための情報（表示情報）を生成する。表示情報生成部５３は、生成された表示情報を出力部３２から表示装置１４に出力する。
【００２４】
［太陽光発電モジュールにおける発電低下］
図３〜図６を参照して、太陽光発電モジュール１１１における発電低下について説明する。
図３は、本発明の一実施形態に係る太陽光発電モジュール１１１の概略的な構成例を示す図である。
図３には、説明の便宜上、ＸＹ直交座標系を示してある。
本実施形態では、複数個のセルのうちの１個のみに符号（セル１３１）を付してある。それぞれのセルは同じ構成を有している。なお、他の構成例として、異なる構成を有する複数個のセルが組み合わされてもよい。
本実施形態では、それぞれのセル１３１は、正方形の面を持つ板状の形状を有するが、他の形状のセルが用いられてもよい。
なお、本実施形態では、図３に示されるそれぞれのセル１３１が、図１に示される検査対象のセル２１として用いられる。
【００２５】
太陽光発電モジュール１１１は、複数個のセル１３１を並べて構成されている。本実施形態では、複数個のセル１３１は、縦方向（Ｙ軸の方向）に並べられているとともに、横方向（Ｘ軸の方向）に並べられている。
縦方向に並べられた２個以上のセルは直列に電気的に接続されており、当該縦方向の一方から他方に電流が流れる配置となっている。また、縦方向に並べられた２個以上のセルの列における端のセルと、それと隣り合う列における端（前記した端と同じ側の端）のセルとは、直列の関係となるように電気的に接続されている。これにより、ある列ではＹ軸の負の側から正の側に電流が流れ、続いて隣の列ではＹ軸の正の側から負の側に電流が流れ、続いてさらに隣の列ではＹ軸の負の側から正の側に電流が流れるといったように、複数個のセル１３１の全体にわたって直列に電流が流れる配置となっている。なお、複数個のセル１３１のなかには、電流の流れの始点となる１個のセル（図３の例では、Ｘ軸の正の方向の端にありＹ軸の負の方向の端にあるセル）と、電流の流れの終点となる１個のセル（図３の例では、Ｘ軸の負の方向の端にありＹ軸の正の方向の端にあるセル）が存在する。
【００２６】
セル１３１は、母線１５１〜１５３を備える。
それぞれの母線１５１〜１５３は、セル１３１の面（本実施形態では、正方形の面）において、一辺から対向する他の一辺まで、同じ方向（図３の例では、Ｙ軸に平行な方向）に向くように配置されて設けられている。本実施形態では、直列に接続される隣り合う２個のセル１３１において、それぞれの母線１５１〜１５３ごとに、母線１５１〜１５３どうしが接続されることで、電気的に導通する。
ここで、本実施形態では、１個のセル１３１は、３本の母線１５１〜１５３を備えるが、他の構成例として、１個のセル１３１は、１本以上の任意の数の母線を備えてもよい。
【００２７】
図４は、本発明の一実施形態に係るセル１３１の画像の一例を示す図である。
図４には、説明の便宜上、図３と同様なＸＹ直交座標系を示してある。
図４には、セル１３１が有する正方形の面が示されている。当該正方形は縦方向（Ｙ軸の方向）の２個の辺と、横方向（Ｘ軸の方向）の２個の辺を有している。セル１３１において、３本の母線１５１〜１５３が、縦方向（Ｙ軸の方向）の辺に平行に流れるように配置されている。
【００２８】
図４の例では、Ｘ軸の負から正に向かう方向に、順に、セル１３１における縦方向（Ｙ軸の方向）の一方の辺Ｂ１、母線１５１、母線１５２、母線１５３、セル１３１における縦方向（Ｙ軸の方向）の他方の辺Ｂ２が、間隔をあけて並んでいる。一方の辺Ｂ１と母線１５１との間隔と、母線１５３と他方の辺Ｂ２との間隔は、同じである。母線１５１と母線１５２との間隔と、母線１５２と母線１５３との間隔は、同じである。また、一方の辺Ｂ１と母線１５１との間隔（母線１５３と他方の辺Ｂ２との間隔）は、母線１５１と母線１５２との間隔（母線１５２と母線１５３との間隔）と比べて、小さい。
なお、これらの間隔としては、それぞれ、任意の間隔が用いられてもよい。
【００２９】
本実施形態では、説明の便宜上から、セル１３１において、一方の辺Ｂ１と母線１５１との間にある長方形の領域を「領域Ａ１」と呼び、母線１５１と母線１５２との間にある長方形の領域を「領域Ａ２」と呼び、母線１５２と母線１５３との間にある長方形の領域を「領域Ａ３」と呼び、母線１５３と他方の辺Ｂ２との間にある長方形の領域を「領域Ａ４」と呼ぶ。これらの領域Ａ１〜Ａ４は、電極単位に区別された領域となる。
【００３０】
ここで、図４では、セル１３１に亀裂などが発生した場合の例を示してある。
具体的には、セル１３１において、複数の線２１１〜２１７と、複数の暗い部分（以下、「暗部」ともいう。）３１１〜３１３が存在する。
それぞれの線２１１〜２１７は、亀裂に相当する。亀裂は、例えば、直線あるいは曲線である。
図４の例では、線２１３と線２１４とはつながっているが、これら２本の線２１３、２１４によって横方向（Ｘ軸の方向）に挟まれる領域が存在するため、説明の便宜上、別の線とみなしている。本例では、これら２本の線２１３、２１４は、縦方向（Ｙ軸の方向）について増加と減少が逆転する点で区切られている。
また、図４の例では、線２１５と線２１６とはつながっているが、説明の便宜上、２個の異なる領域Ａ３、Ａ４の境界（母線１５３に相当する境界）の点で区切られた別の線とみなしている。
【００３１】
また、本実施形態では、それぞれの暗部３１１〜３１３は、何らかの原因によって、一時的に発電による電力が（通常よりも）低下したムラの部分に相当するとみなす。当該原因としては、例えば、一時的に影に覆われたという原因、あるいは、一時的に葉などに覆われたという原因などが考えられる。
なお、他の例として、暗部３１１〜３１３は、セル１３１の面に発生した一部の故障などの原因によって発電による電力が（通常よりも）低下した部分である可能性も考えられる。
本実施形態では、主に、亀裂による発電低下について説明し、暗部３１１〜３１３については任意に扱われてもよい。
【００３２】
図５は、本発明の一実施形態に係るセル１３１における電流の流れの一例を示す図である。
図５には、説明の便宜上、図３と同様なＸＹ直交座標系を示してある。
セル１３１において、ある部分で発電された電力の電流は、母線１５１〜１５３に対して垂直な方向（Ｘ軸の方向）に向かって、母線１５１〜１５３まで流れる。
本例では、領域Ａ１で発生した電流は母線１５１に向かって流れ、領域Ａ２で発生した電流は母線１５１または母線１５２に向かって流れ、領域Ａ３で発生した電流は母線１５２または母線１５３に向かって流れ、領域Ａ４で発生した電流は母線１５３に向かって流れる。
図５には、それぞれの亀裂が発生した部分について、電流が流れる方向４１１〜４１５を示してある。なお、領域Ａ２および領域Ａ３では、電流が流れ込む母線（領域Ａ２では母線１５１、１５２、領域Ａ３では母線１５２、１５３）が２本あるため、それぞれの母線に向かう方向を示してある。
それぞれの母線１５１〜１５３には、周囲から流れ込んだ電流が所定の方向（本例では、図３に示される方向）に流れる。セル１３１において、ある部分で発電された電力の電流がいずれの母線１５１〜１５３にも流れ込まない場合には、当該電流は実質的にはセル１３１における発電による電流出力（発電量）に寄与しない。
【００３３】
図６は、本発明の一実施形態に係るセル１３１における亀裂による発電利用不可部分５１１〜５１５の一例を示す図である。なお、図６に示される亀裂による発電利用不可部分５１１〜５１５は、理論的に考えた場合の部分である。
図６には、説明の便宜上、図３と同様なＸＹ直交座標系を示してある。
ここで、亀裂が発生したことに起因して、発電される電力の電流がいずれの母線１５１〜１５３にも流れることができない部分が、亀裂により発電を利用することができない部分（亀裂による発電利用不可部分）となる。つまり、セル１３１に設けられた母線１５１〜１５３のいずれについても、当該母線１５１〜１５３に対して垂直な方向（本例では、Ｘ軸の方向）に結んだときに線（１本以上の線２１１〜２１７）と交わる部分（セル１３１の部分）が、亀裂による発電利用不可部分となる。亀裂による発電利用不可部分を含む領域では、正常な場合（当該発電利用不可部分を含まない場合）と比べて、発電による電力が低下すると考えられる。
【００３４】
概略的には、領域Ａ１および領域Ａ４では、横方向（Ｘ軸の方向）に関して、亀裂（線）と辺との間に挟まれる部分が亀裂による発電利用不可部分となる。また、領域Ａ２および領域Ａ３では、横方向（Ｘ軸の方向）に関して、２本の亀裂（線）の間に挟まれる部分が亀裂による発電利用不可部分となる。
【００３５】
具体的に、領域Ａ１では、一方の辺Ｂ１と、線２１１と、当該線２１１の両端のそれぞれから横方向（Ｘ軸の方向）に向かう直線（ただし、線２１１の端が辺Ｂ１と接しているところでは実質的に点となる。）とで囲まれた領域の部分が、亀裂（当該線２１１）による発電利用不可部分５１１となる。
同様に、領域Ａ４では、他方の辺Ｂ２と、線２１６と、当該線２１６の両端のそれぞれから横方向（Ｘ軸の方向）に向かう直線（ただし、線２１６の端が辺Ｂ２と接しているところでは実質的に点となる。）とで囲まれた領域の部分が、亀裂（当該線２１６）による発電利用不可部分５１４となる。また、他の亀裂（線２１７）に応じた発電利用不可部分５１５についても同様である。
【００３６】
領域Ａ２では、隣り合う２本の線２１２、２１３と、縦方向（Ｙ軸の方向）について当該２本の線２１２、２１３のうちでＹ軸の正の側の端がより負の側にある線の端から横方向（Ｘ軸の方向）に向かう直線（ただし、当該端が２本の線２１２、２１３の接点である場合には実質的には点となる。）と、縦方向（Ｙ軸の方向）について当該２本の線２１２、２１３のうちでＹ軸の負の側の端がより正の側にある線の端から横方向（Ｘ軸の方向）に向かう直線（ただし、当該端が２本の線２１２、２１３の接点である場合には実質的には点となる。）とで囲まれた領域の部分が、２本の亀裂（当該線２１２、２１３）による発電利用不可部分５１２となる。また、他の２本の亀裂（線２１３、２１４）に応じた発電利用不可部分５１３についても同様である。
また、領域Ａ３においても同様である。なお、図６の例では、領域Ａ３においては、亀裂による発電利用不可部分は存在しない。
【００３７】
ここで、本実施形態では、説明の便宜上、１本の線を２本の線２１３、２１４に区別して、これら２本の線２１３、２１４によって横方向（Ｘ軸の方向）に挟まれる領域を発電利用不可部分５１３として検出するが、他の構成例として、これら２本の線２１３、２１４を１本の線（一つのつながりの一端から他端までの線）として検出して、当該１本の線（つまり、同一の線）において、一部の線分（例えば、線２１３に相当する線分）と他の部分の線分（例えば、線２１４に相当する線分）とによって横方向（Ｘ軸の方向）に挟まれる領域を発電利用不可部分５１３として検出してもよい。
【００３８】
［検査システムにおける処理］
図４および図７〜図１１を参照して、検査システム１において行われる処理について説明する。
まず、人の手動により、検査対象となるセル２１を検査対象設置箇所に設置して、セル２１と電流供給装置１３とを電気的に接続する。なお、他の構成例として、所定の装置により自動的に検査対象となるセル２１を検査対象設置箇所に設置などする機能が検査システム１に備えられてもよい。
次に、人が検査装置１１に対して指示を入力することで、検査が開始される。なお、他の構成例として、検査装置１１に、検査を自動的に開始する機能を備えてもよい。
【００３９】
次に、検査装置１１は、電流供給装置１３に対して指示を送信することで、電流供給装置１３によって所定の電流を所定の向きでセル２１に供給する。これにより、セル２１では、当該電流による発光が行われる。なお、他の構成例として、電流供給装置１３が人の手動により制御されてもよい。
次に、検査装置１１は、撮像装置１２に対して指示を送信することで、撮像装置１２によって検査対象設置箇所に設置されたセル２１の画像を撮像する。当該画像には、セル２１における発光の状態が写される。つまり、当該画像は、セル２１に電流が流されて発光した状態で撮像された画像に相当する。なお、他の構成例として、撮像装置１２が人の手動により制御されてもよい。
【００４０】
＜検査装置における処理＞
検査装置１１は、画像情報取得部５１により、撮像装置１２により撮像された画像の情報を取得する。
次に、検査装置１１は、画像情報処理部５２により所定の画像処理を行うことで、取得された画像の情報に含まれる亀裂に相当する線を検出する。
図４の例では、検査装置１１は、セル１３１における亀裂に相当する線２１１〜２１７を検出する。
また、検査装置１１は、セル１３１における母線１５１〜１５３を検出する。なお、他の構成例として、セル１３１における母線１５１〜１５３の情報は、例えば、あらかじめ、検査装置１１の記憶部３３に記憶されていて使用されてもよい。
【００４１】
ここで、撮像装置１２により撮像される画像は、例えば、白黒（二値）の画像であってもよく、グレースケールの画像であってもよく、あるいは、カラーの画像であってもよい。
本実施形態では、検査装置１１は、撮像装置１２により撮像された画像の情報が白黒（二値）の画像の情報でない場合には、画像情報処理部５２により、撮像装置１２により撮像された画像を白黒（二値）の画像の情報へ変換して処理を行う。なお、他の構成例として、検査装置１１は、白黒（二値）以外の画像の情報に対して処理を行ってもよい。
【００４２】
また、検査装置１１がセル１３１における線を検出する手法としては、任意の手法が用いられてもよい。線を検出する手法として、例えば、エッジ検出の手法が利用されてもよい。
一例として、検査装置１１は、所定の色（例えば、黒）の集合を検出し、当該集合の形状が線状である場合には、それに対応する線を検出する。この場合に、検査装置１１は、検出された線が縦方向（Ｙ軸の方向）であって、セル１３１の２個の辺（本例では、Ｘ軸に平行な辺）の一方と他方とをつなぐ線であったときには、当該線を母線１５１〜１５３として検出してもよい。そして、検査装置１１は、それ以外の線（母線１５１〜１５３以外の線）を亀裂に相当する線２１１〜２１７として検出してもよい。また、この場合に、検査装置１１は、当該集合の形状が線状ではなく面状であるときには、当該集合を暗部３１１〜３１３として検出してもよい。なお、線状であるかあるいは面状であるかを検出（判定）する条件としては、任意の条件が用いられてもよい。
【００４３】
また、検査装置１１は、例えば、検出された線が横方向（Ｘ軸の方向）を向く線である場合には、亀裂に相当する線として検出しなくてもよい。つまり、本実施形態では、セル１３１において発電された電力の電流は横方向（Ｘ軸の方向）に流れることを想定していることから、それと同じ方向の亀裂については検出を省略しても、検査結果には実質的に影響が無い（または、影響が少ない）と考えられる。
【００４４】
次に、検査装置１１は、画像情報処理部５２により、セル１３１の正方形の面に対して、所定の格子を設定する。
図７は、本発明の一実施形態に係るセル１３１における格子の一例を示す図である。
図７には、説明の便宜上、図３と同様なＸＹ直交座標系を示してある。
図７の例では、検査装置１１は、セル１３１の正方形の面（画像の情報）において、横方向（Ｘ軸の方向）に平行な複数の横線６１１が同じ間隔（等間隔）で並べられるとともに、縦方向（Ｙ軸の方向）に平行な複数の縦線６１２が同じ間隔（等間隔）で並べられて構成される格子を設定する。当該格子は、複数の横線６１１と複数の縦線６１２によって区切られており、セル１３１の正方形の面を複数に分割する。ここで、図７の例では、複数の横線６１１のうちの１本のみに符号を付してあり、複数の縦線６１２のうちの１本のみに符号を付してある。
互いに隣り合う２本の横線６１１と互いに隣り合う２本の縦線６１２で囲まれた領域が、格子における１単位の領域（以下で、説明の便宜上、「単位格子」ともいう。）となる。なお、本実施形態では、セル１３１の正方形の面が有する４個の辺のそれぞれに、格子の線（横線６１１あるいは縦線６１２）が設定される。
【００４５】
ここで、本実施形態では、複数の横線６１１の間隔と複数の縦線６１２の間隔とは、同じ間隔となっており、これにより、単位格子は正方形となっている。他の構成例として、複数の横線６１１の間隔と複数の縦線６１２の間隔とが異なってもよく、この場合、単位格子は長方形となる。
なお、このような格子は、例えば、仮想的なものであり、セル１３１の画像の情報に対する処理において使用されるものである。
【００４６】
また、単位格子の大きさとしては、任意の大きさが用いられてもよい。
検査装置１１は、複数の異なる大きさの単位格子（格子）を設定することが可能であってもよい。
検査装置１１により設定する単位格子（格子）の大きさは、例えば、あらかじめ設定されていてもよく、または、人により行われた操作の入力に応じて設定されてもよい。
また、検査装置１１は、例えば、同一のセル１３１の画像に対して、２以上の異なる大きさの単位格子（格子）を設定して、それぞれの単位格子（格子）について処理を行ってもよい。
また、格子の形状としては、任意の形状が用いられてもよい。
【００４７】
次に、検査装置１１は、セル１３１の画像の情報において、亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子を検出する。
図８は、本発明の一実施形態に係るセル１３１における亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子の一例を示す図である。
図８には、説明の便宜上、図３と同様なＸＹ直交座標系を示してある。
検査装置１１は、画像情報処理部５２により、セル１３１の画像の情報において、亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子（図８の例では、所定の模様を付した単位格子）を検出する。この検出の手法としては、任意の手法が用いられてもよく、例えば、図４〜図６を参照して説明した亀裂による発電利用不可部分を特定し、特定された亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子を特定（検出）する手法が用いられる。
【００４８】
当該手法では、概略的には、領域Ａ１および領域Ａ４においては、亀裂が存在する単位格子および当該単位格子から横方向（Ｘ軸の方向）に向かってセル１３１の縦方向（Ｙ軸の方向）の辺までの単位格子が、亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子として検出される。
また、当該手法では、概略的には、領域Ａ２および領域Ａ３においては、横方向（Ｘ軸の方向）において互いに対向する２個の異なる単位格子に互いに対向する亀裂が存在する場合に、これら２個の異なる単位格子およびこれら２個の異なる単位格子の間の単位格子が、亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子として検出される。
【００４９】
図８の例では、セル１３１の画像の情報において、図７に示されるのと同様な格子を示してあり、また、検出された単位格子（亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子）のまとまり（以下、「発電利用不可単位格子群」ともいう。）７１１〜７１５を示してある。
このように、図８の例では、単位格子ごとに、亀裂による発電利用不可部分を含むか否かが判定される。そして、この結果が検査結果となる。
なお、図８の例では、単位格子ごとに亀裂による発電利用不可部分を含むか否かが判定されることから、発電利用不可単位格子群７１１〜７１５は実際の亀裂による発電利用不可部分５１１〜５１５（図６）とは異なり得る。
【００５０】
次に、検査装置１１は、表示情報生成部５３により、検査結果に基づいて表示情報を生成する。そして、検査装置１１は、生成された表示情報を表示装置１４に送信し、当該表示装置１４により当該表示情報を画面に表示させる。検査装置１１により表示情報を表示装置１４の画面に表示させる処理は、例えば、人により行われる操作の入力に応じて行われてもよく、または、あらかじめ設定された手順で自動的に行われてもよい。
【００５１】
ここで、表示情報としては、様々な情報が用いられてもよい。
表示情報では、例えば、発電利用不可単位格子群７１１〜７１５に対応する箇所に所定の色あるいは所定の模様が付された情報が用いられてもよい。当該所定の色としては、任意の色が用いられてもよく、例えば、発電低下していない箇所の色（背景の色）が白色（または、他の例として、黒色）である場合に、発電利用不可単位格子群７１１〜７１５に対応する箇所を黒色（または、他の例として、白色）にしてもよい。また、当該所定の模様としては、任意の模様が用いられてもよい。
【００５２】
一例として、表示情報として、セル１３１の画像の情報と、設定された格子（格子の線）の情報と、検出された発電利用不可単位格子群７１１〜７１５の情報を有する表示用の情報が用いられてもよい。ここで、セル１３１の画像の情報は、例えば、セル１３１の枠（本例では、正方形の４個の辺）の情報、セル１３１に設けられている母線１５１〜１５３の情報、セル１３１において発生した亀裂（線２１１〜２１７）の情報、撮像結果における暗部３１１〜３１３の情報を含む。なお、セル１３１の画像の情報としては、例えば、撮像装置１２により撮像された画像（そのまま）の情報が用いられてもよく、または、当該画像の情報が検査装置１１の画像情報処理部５２により処理（加工）された結果の画像の情報が用いられてもよい。また、例えば、表示情報は、設定された格子（格子の線）の情報を含まなくてもよい。
【００５３】
図９は、本発明の一実施形態に係るセル１３１における亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子の他の一例を示す図である。
図９には、説明の便宜上、図３と同様なＸＹ直交座標系を示してある。
図９の例では、検査装置１１は、画像情報処理部５２により、セル１３１の正方形の面に対して、複数の横線６３１および複数の縦線６３２によって区切られる格子を設定している。
ここで、図９の例における単位格子の大きさは、図７および図８の例における単位格子の大きさと比べて、大きい。そして、検査装置１１は、図９の例における単位格子を用いて、発電利用不可単位格子群８１１〜８１５を検出する。
なお、格子（単位格子）の大きさ（サイズ）以外の点については、図９の例は、図８の例と同様である。
通常、単位格子が小さいほど、精度が高くなり、処理の負荷が大きくなる。
【００５４】
図１０は、本発明の一実施形態に係るセル１３１において特定される発電利用不可領域９１１〜９１５の一例を示す図である。
図１０には、説明の便宜上、図３と同様なＸＹ直交座標系を示してある。
図１０の例では、検査装置１１は、セル１３１の正方形の面に対して、図７および図８の例の場合と同じ格子を設定している。また、検査装置１１は、亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子として図８の場合と同じ単位格子を検出している。そして、検査装置１１は、検出された単位格子（亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子）のまとまり（発電利用不可単位格子群７１１〜７１５）について周囲の形状を変形させた領域（発電利用不可領域９１１〜９１５）を検出する。
【００５５】
図１０の例では、検査装置１１は、検出された単位格子（亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子）のまとまりにおいて、周囲の角に対応する単位格子については半分の領域（本例では、三角形の領域）に変換して当該まとまりに含める処理を行い、これにより得られる当該まとまりを発電利用不可領域９１１〜９１５として検出している。ここで、当該半分の領域としては、任意に定められてもよく、図１０の例では、当該まとまり（発電利用不可領域９１１〜９１５）の周囲が滑らかになるように定められており、例えば、可能な箇所では外側に凸となるように定められている。
なお、図１０の例では、単位格子ごとに亀裂による発電利用不可部分を含むか否かが判定され、また、所定の単位格子については半分の領域とされることから、発電利用不可領域９１１〜９１５は実際の亀裂による発電利用不可部分５１１〜５１５（図６）とは異なり得る。
【００５６】
図１０の例では、表示情報において、図８に示される発電利用不可単位格子群７１１〜７１５の情報の代わりに、発電利用不可領域９１１〜９１５の情報が用いられる。一例として、表示情報として、セル１３１の画像の情報と、設定された格子（格子の線）の情報と、検出された発電利用不可領域９１１〜９１５の情報を有する表示用の情報が用いられてもよい。
【００５７】
他の構成例として、検出された単位格子（亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子）のまとまりにおいて、横方向（Ｘ軸の方向）の端（左右の端）に存在する単位格子と、縦方向（Ｙ軸の方向）の端（上下の端）に存在する単位格子とのうちの任意の一方のみについて、所定の単位格子を半分の領域とする処理が適用され得る構成が用いられてもよい。
ここで、所定の単位格子をより小さい形状の領域に変換する処理において、変換後の領域の形状としては、任意の形状が用いられてもよく、例えば、半分以外の割合の領域が用いられてもよい。
【００５８】
なお、図８、図９あるいは図１０の例では、単位格子を用いて発電利用不可単位格子群７１１〜７１５、８１１〜８１５あるいは発電利用不可領域９１１〜９１５を検出する構成例を示したが、他の構成例として、検査装置１１は、画像情報処理部５２により、図６に示される亀裂による発電利用不可部分５１１〜５１５を検出するような構成が用いられてもよい。
【００５９】
図１１は、本発明の一実施形態に係るセル１３１において特定される発電利用不可単位格子群１０１１〜１０１５（図８に示される発電利用不可単位格子群７１１〜７１５に相当するもの）の一例を示す図である。
図１１には、説明の便宜上、図３と同様なＸＹ直交座標系を示してある。
図１１の例では、検査装置１１は、表示情報生成部５３により、発電利用不可単位格子群１０１１〜１０１５の情報を有する表示情報を生成する。当該表示情報は、例えば、セル１３１の枠（本例では、正方形の４個の辺）の情報、セル１３１に設けられている母線１５１〜１５３の情報、検出された発電利用不可単位格子群１０１１〜１０１５の情報を含む。なお、当該表示情報に、母線１５１〜１５３の情報が含まれなくてもよい。
【００６０】
ここで、他の例として、図１１の例における発電利用不可単位格子群１０１１〜１０１５の情報の代わりに、図１０に示されるような発電利用不可領域９１１〜９１５の情報が用いられてもよい。この場合、表示情報は、例えば、セル１３１の枠（本例では、正方形の４個の辺）の情報、セル１３１に設けられている母線１５１〜１５３の情報、検出された発電利用不可領域９１１〜９１５の情報を含む。なお、当該表示情報に、母線１５１〜１５３の情報が含まれなくてもよい。
【００６１】
＜処理の手順の例＞
図１２は、本発明の一実施形態に係る検査装置１１において行われる処理の手順の一例を示す図である。
（ステップＳ１）
検査装置１１は、画像情報取得部５１により、検査対象となるセル２１（本実施形態では、セル１３１と同じ）の画像の情報を取得する。
（ステップＳ２）
検査装置１１は、画像情報処理部５２により、取得された画像の情報について、亀裂に相当する線を検出する。
（ステップＳ３）
検査装置１１は、画像情報処理部５２により、取得された画像の情報について、所定の格子を設定する。
（ステップＳ４）
検査装置１１は、画像情報処理部５２により、設定された格子について、異常な単位格子を検出する。本実施形態では、検査装置１１は、亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子を異常な単位格子として検出する。本実施形態では、この検出の結果が検査の結果となる。
（ステップＳ５）
検査装置１１は、表示情報生成部５３により、検査結果に基づく表示情報を生成し、生成された表示情報を表示装置１４の画面に表示させる。これにより、人は、当該画面に表示された表示情報に基づいて、異常な単位格子などを把握することが可能である。
【００６２】
ここで、本実施形態では、検査装置１１は、ステップＳ２の処理（亀裂を検出する処理）を行った後に、ステップＳ３の処理（格子を設定する処理）を行う構成としたが、他の構成例として、これらの処理の順序が逆であってもよく、つまり、格子を設定する処理を行った後に、亀裂を検出する処理を行ってもよい。
また、検査装置１１において行われる処理の手順としては、他の手順が用いられてもよい。
また、人の視覚的な判断により、または、検査装置１１により自動的に、検査結果に基づいて、太陽光発電モジュールに発生した亀裂に基づく劣化などの不具合について、不具合の有無などの判定が行われてもよい。
また、検査装置１１は、例えば、検査結果に関する情報を記憶部３３に記憶してもよい。当該情報は、検出された亀裂による発電利用不可部分を含む単位格子を特定する情報を含んでもよい。
【００６３】
＜発電量および発電低下量の推定＞
検査装置１１は、画像情報処理部５２により、検査結果に基づいて、セル１３１における発電量を推定することが可能である。
例えば、検査装置１１は、セル１３１の面（本例では、正方形の面）の全体の面積に対する正常な領域の面積の比（面積比）を演算することで、当該面積比を、有効な発電が行われる割合として取得することができる。また、セル１３１の面の全体が正常なときにおける発電量が設定されている場合、検査装置１１は、当該発電量と当該面積比（当該割合）とを乗算することで、その乗算の結果の値を、セル１３１の正常な領域における発電量として定量的に取得（推定）することができる。
【００６４】
同様に、セル１３１の面（本例では、正方形の面）の全体の面積に対する異常な領域の面積の比（面積比）を演算することで、当該面積比を、有効な発電が行われない割合として取得することができる。また、セル１３１の面の全体が正常なときにおける発電量が設定されている場合、検査装置１１は、当該発電量と当該面積比（当該割合）とを乗算することで、その乗算の結果の値を、セル１３１の異常な領域による発電低下量として定量的に取得（推定）することができる。
なお、セル１３１の面の全体が正常なときにおける発電量からセル１３１の正常な領域における発電量を減算した結果が、セル１３１の異常な領域による発電低下量（絶対値）となる。
【００６５】
このように、検査装置１１では、太陽光発電モジュールにおける発電による電流の出力量を把握することが可能である。
また、検査装置１１は、表示情報生成部５３により、取得（推定）された発電量に関する情報あるいは取得（推定）された発電低下量に関する情報の一方または両方を含む表示情報を生成して、当該表示情報を表示装置１４により表示させてもよい。
【００６６】
ここで、セル１３１の異常な領域としては、一例として、図８に示される発電利用不可単位格子群７１１〜７１５の領域、あるいは、図９に示される発電利用不可単位格子群８１１〜８１５の領域が用いられてもよい。
また、セル１３１の異常な領域としては、他の例として、図１０に示される発電利用不可領域９１１〜９１５の領域が用いられてもよい。
【００６７】
［実施形態のまとめ］
以上のように、本実施形態に係る検査システム１における検査装置１１では、太陽光発電モジュールについて検査単位（本実施形態では、セル）ごとにＥＬ検査を行い、これにより、太陽光発電モジュールに発生した亀裂に基づく劣化などの不具合を判定することを可能とすることができる。
本実施形態に係る検査システム１における検査装置１１では、メガソーラなどのように数千枚の太陽光パネルを有する太陽光発電モジュールについても、（例えば、自動的に）検査を行うことができる。これにより、本実施形態に係る検査システム１における検査装置１１では、例えば、検査の作業が人により行われるような場合と比べて、検査の所要時間を大幅に短縮することが可能であり、また、太陽光発電モジュールにおいて亀裂によって発電低下が発生する箇所を検出することが可能である。
また、本実施形態に係る検査システム１における検査装置１１では、検査結果に関する情報を表示装置１４の画面に表示することが可能である。これにより、検査装置１１では、検査結果に関する情報を、人に対して視覚的に通知することができる。
【００６８】
＜構成例＞
一構成例として、太陽光により発電する太陽光発電装置（本実施形態では、太陽光発電モジュールであり、例えば、セル２１）についてＥＬ検査を行う検査装置（本実施形態では、検査装置１１）であって、太陽光発電装置に電流が流されて発光した状態で撮像された画像の情報（例えば、図４に示されるような画像の情報）に基づいて、太陽光発電装置に発生した亀裂に対応する線（本実施形態では、線２１１〜２１７）を検出する画像情報処理部（本実施形態では、画像情報処理部５２）を備える、検査装置である。
一構成例として、検査装置において、画像情報処理部は、検出された線に基づいて、亀裂に起因して太陽光発電装置における発電による電流出力に寄与しない部分を検出する。
一構成例として、検査装置において、画像情報処理部は、太陽光発電装置に設けられた母線（本実施形態では、母線１５１〜１５３）のいずれについても、当該母線に対して垂直な方向（本実施形態では、Ｘ軸の方向）に結んだときに線に交わる部分を、亀裂に起因して太陽光発電装置における発電による電流出力に寄与しない部分として検出する。
一構成例として、検査装置において、画像情報処理部は、画像の情報に対して所定の格子を設定し、設定された格子を構成する単位となる単位格子ごとに、亀裂に起因して太陽光発電装置における発電による電流出力に寄与しない部分として検出する（図８の例、図９の例）。
一構成例として、検査装置において、画像情報処理部は、亀裂に起因して太陽光発電装置における発電による電流出力に寄与しない部分として検出された単位格子のうちの一部について、単位格子よりも小さい形状に変換する（図１０の例）。
一構成例として、検査装置において、画像情報処理部は、検査の結果に基づいて、太陽光発電装置における発電量に関する情報、または太陽光発電装置における発電低下量に関する情報のうちの一方または両方を取得する。
一構成例として、検査装置において、検査の結果に関する情報を含む表示情報を生成する表示情報生成部（本実施形態では、表示情報生成部５３）を備える。
【００６９】
一構成例として、太陽光により発電する太陽光発電装置についてＥＬ検査を行う検査装置により行われる検査方法であって、前記検査装置に備えられた画像情報処理部は、前記太陽光発電装置に電流が流されて発光した状態で撮像された画像の情報に基づいて、前記太陽光発電装置に発生した亀裂に対応する線を検出する、検査方法（本実施形態では、検査装置１１において行われる検査の方法）である。
一構成例として、太陽光により発電する太陽光発電装置についてＥＬ検査を行う検査装置を構成するコンピュータに実行させるための検査プログラムであって、前記検査装置に備えられた画像情報処理部は、前記太陽光発電装置に電流が流されて発光した状態で撮像された画像の情報に基づいて、前記太陽光発電装置に発生した亀裂に対応する線を検出するステップを、コンピュータに実行させるための検査プログラム（本実施形態では、検査装置１１において実行されるプログラム）である。
【００７０】
以上の本実施形態では、実施形態に係る装置（例えば、検査装置１１など）の機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体（記憶媒体）に記録（記憶）して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することにより、処理を行ってもよい。
なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、オペレーティング・システム（ＯＳ：Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）あるいは周辺機器等のハードウェアを含むものであってもよい。
また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、フラッシュメモリ等の書き込み可能な不揮発性メモリ、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。
さらに、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークあるいは電話回線等の通信回線を介してプログラムが送信された場合のサーバあるいはクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリ（例えばＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ））のように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。
また、上記のプログラムは、このプログラムを記憶装置等に格納したコンピュータシステムから、伝送媒体を介して、あるいは、伝送媒体中の伝送波により他のコンピュータシステムに伝送されてもよい。ここで、プログラムを伝送する「伝送媒体」は、インターネット等のネットワーク（通信網）あるいは電話回線等の通信回線（通信線）のように情報を伝送する機能を有する媒体のことをいう。
また、上記のプログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよい。さらに、上記のプログラムは、前述した機能をコンピュータシステムに既に記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるもの、いわゆる差分ファイル（差分プログラム）であってもよい。
【００７１】
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
【符号の説明】
【００７２】
１…検査システム、１１…検査装置、１２…撮像装置、１３…電流供給装置、１４…表示装置、２１…セル（検査対象）、３１…入力部、３２…出力部、３３…記憶部、３４…制御部、５１…画像情報取得部、５２…画像情報処理部、５３…表示情報生成部、１１１…太陽光発電モジュール、１３１…セル、１５１〜１５３…母線、２１１〜２１７…線（亀裂）、３１１〜３１３…暗部、４１１〜４１５…方向、５１１〜５１５…発電利用不可部分、６１１、６３１…横線（格子の線）、６１２、６３２…縦線（格子の線）、７１１〜７１５、８１１〜８１５、１０１１〜１０１５…発電利用不可単位格子群、９１１〜９１５…発電利用不可領域、ａ１〜ａ３…回線、Ａ１〜Ａ４…領域、Ｂ１〜Ｂ２…辺
【図１】
2018098989.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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