(57)【要約】【課題】破壊靱性値の分布およびばらつき、あるいは外部からの荷重のばらつき、時間経過および非破壊検査の影響を考慮した確率論的破壊解析を可能とする。【解決手段】本実施形態の破壊評価解析装置１００は、繰り返し回数記憶部１１１と、時間情報記憶部１１３と、非破壊検査情報記憶部１１２と、中性子照射量情報記憶部１１４と、構造物情報記憶部１１５と、き裂進展情報記憶部１１６と、演算結果記憶部１１８と、破壊靭性値導出部１２７と、破壊判定部１２８と、き裂進展量算出部１２３と、時間情報と繰り返し回数による分割期間の総和が破壊評価時間に達したかを判定する評価時間判定部１２４と、繰り返し判定部１２９と、破壊確率算出部１３０と、分割期間の総和が非破壊検査情報記憶部１１２に入力した検査期間に達した際にき裂の検出確率を算出し、この検出確率の値に応じて破壊確率を再計算するき裂検出判定部１２５と、を備える。【選択図】図２
2018059863.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
中性子照射を受ける構造物の破壊確率を評価し、記憶部、演算部、および入力部を具備する破壊評価解析装置であって、
前記記憶部は、
前記入力部に外部入力されたき裂進展解析が繰り返し実行される繰り返し回数に関する情報を受け入れて記憶する繰り返し回数記憶部と、
前記入力部に外部入力されたき裂進展解析の破壊評価期間および破壊評価期間内の分割期間に関する時間情報を記憶する時間情報記憶部と、
前記入力部に外部入力されたき裂進展解析の前記破壊評価期間内における非破壊検査期間およびき裂検出確率算出式の非破壊検査情報を受け入れて記憶する非破壊検査情報記憶部と、
前記入力部に外部入力された前記構造物内の板厚方向の中性子照射量の分布および前記構造物内の板厚方向の各位置における中性子照射量のばらつきに関する中性子照射量情報を受け入れて記憶する中性子照射量情報記憶部と、
前記入力部に外部入力された前記構造物のポアソン比および縦弾性係数を含む構造物情報を受け入れて記憶する構造物情報記憶部と、
前記入力部に外部入力された前記構造物に生じているき裂およびき裂進展速度式に関するき裂進展情報を受け入れて記憶するき裂進展情報記憶部と、
前記演算部での演算結果を記憶する演算結果記憶部と、を備え、
前記演算部は、
前記構造物情報記憶部に記憶された前記構造物情報と前記中性子照射量情報記憶部に記憶された前記中性子照射量情報とに基づいて破壊靭性値を算出する破壊靭性値導出部と、
前記構造物の前記き裂の先端近傍の応力と前記き裂進展情報記憶部に記憶されたき裂進展情報とに基づいて算出された応力拡大係数と前記破壊靭性値とを比較して破壊の有無を判定する破壊判定部と、
前記き裂進展情報記憶部に記憶された前記き裂進展情報と前記時間情報記憶部に記憶された前記時間情報とに基づいてき裂進展量を算出するき裂進展量算出部と、
前記時間情報記憶部に記憶された前記時間情報と前記き裂進展解析の繰り返し回数による分割期間の総和が前記破壊評価期間に達したかを判定する評価期間判定部と、
前記非破壊検査期間および最後の非破壊検査の終了から前記破壊評価期間の終了までの期間に前記非破壊検査の有無の回数が、前記繰り返し回数記憶部に記憶されているき裂進展解析の繰り返し回数に達したかを判定する繰り返し判定部と、
前記破壊判定部で破壊と判定された回数と前記き裂進展解析の繰り返し回数との比から前記構造物の破壊確率を算出する破壊確率算出部と、
前記分割期間の総和が前記非破壊検査情報記憶部に入力した検査期間に達した際にき裂の検出確率を算出し、この検出確率の値に応じて前記破壊確率を再計算するき裂検出判定部と、
を備えることを特徴とする破壊評価解析装置。
【請求項２】
前記中性子照射量情報記憶部に記憶された前記中性子照射量情報に基づいて前記構造物の板厚方向の中性子照射量分布およびばらつきを設定する中性子照射量設定部をさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の破壊評価解析装置。
【請求項３】
前記中性子照射量設定部は、前記構造物の板厚方向の各位置においての中性子照射量のばらつきが正規分布しているものとして扱うことを特徴とする請求項２に記載の破壊評価解析装置。
【請求項４】
前記中性子照射量設定部は、前記正規分布の中央値および標準偏差が前記構造物の板厚方向の深さの関数であるものとして扱うことを特徴とする請求項３に記載の破壊評価解析装置。
【請求項５】
前記中性子照射量設定部は、前記き裂の先端近傍の中性子照射量のばらつきの前記正規分布の標準偏差が前記き裂の先端近傍の中性子照射量の中央値に比例するものとして扱うことを特徴とする請求項３に記載の破壊評価解析装置。
【請求項６】
前記中性子照射量設定部は、前記き裂の先端近傍の中性子照射量のばらつきの前記正規分布の標準偏差が一定値であるものとして扱うことを特徴とする請求項３に記載の破壊評価解析装置。
【請求項７】
前記構造物の前記き裂の先端近傍の応力を算出する応力算出部をさらに備え、
前記応力算出部は、前記き裂の先端近傍の応力のばらつきが正規分布しているものとして扱うことを特徴とする請求項２ないし請求項６のいずれか一項に記載の破壊評価解析装置。
【請求項８】
前記応力と前記き裂進展情報記憶部に記憶されたき裂進展情報とに基づいて応力拡大係数を算出する応力拡大係数算出部をさらに備え、
前記応力拡大係数算出部は、次の式により前記応力拡大係数Ｋを算出することを特徴とする請求項２ないし請求項７のいずれか一項に記載の破壊評価解析装置。
Ｋ＝（Ｆｍσｍ＋Ｆｂσｂ）√（πａ）
ただし、Ｆｍは膜応力分の重み係数、σｍは膜応力、Ｆｂは曲げ応力分の重み係数、σｂは曲げ応力、ａはき裂深さ、πは円周率を示す。
【請求項９】
前記応力拡大係数算出部は、ａ／ｔ（ｔは構造物の板厚）の関数として、膜応力分の重み係数Ｆｍ、および曲げ応力分の重み係数Ｆｂを算出することを特徴とする請求項８に記載の破壊評価解析装置。
【請求項１０】
前記き裂検出判定部は、前記非破壊検査情報記憶部に入力するき裂検出確率算出式の情報をき裂長さの関数とし、ある検査期間における全繰返し数の計算が終了した時点で、繰り返し回数に対するき裂が検出された回数の比と１の差を算出し、この値を破壊確率に乗じ、前記破壊確率を再計算することを特徴とする請求項２ないし請求項９のいずれか一項に記載の破壊評価解析装置。
【請求項１１】
中性子照射を受ける構造物の破壊確率を評価する破壊評価システムであって、
前記構造物の表面における放射線量を測定する放射線検出器と、
前記構造物に生じたき裂を計測する探傷装置と、
演算部、記憶部、および入力部を具備し、中性子照射量情報およびき裂情報に基づいて、前記構造物の破壊確率を算出する破壊評価解析装置と、を備え、
前記記憶部は、
前記入力部に外部入力されたき裂進展解析の繰り返し実行される繰り返し回数に関する情報を受け入れて記憶する繰り返し回数記憶部と、
前記入力部に外部入力されたき裂進展解析の破壊評価期間および破壊評価期間内の分割期間に関する時間情報を記憶する時間情報記憶部と、
前記入力部に外部入力されたき裂進展解析の破壊評価期間内における非破壊検査期間およびき裂検出確率算出式の情報を受け入れて記憶する非破壊検査情報記憶部と、
前記入力部に外部入力された前記構造物内の板厚方向の中性子照射量の分布および前記構造物内の板厚方向の各位置における中性子照射量のばらつきに関する中性子照射量情報を受け入れて記憶する中性子照射量情報記憶部と、
前記入力部に外部入力された前記構造物のポアソン比および縦弾性係数を含む構造物情報を受け入れて記憶する構造物情報記憶部と、
前記入力部に外部入力された前記構造物に生じているき裂およびき裂進展速度式に関するき裂進展情報を受け入れて記憶するき裂進展情報記憶部と、
前記演算部での演算結果を記憶する演算結果記憶部と、を備え、
前記演算部は、
前記構造物情報記憶部に記憶された前記構造物情報と前記中性子照射量情報記憶部に記憶された前記中性子照射量情報とに基づいて破壊靭性値を算出する破壊靭性値導出部と、
前記構造物の前記き裂の先端近傍の応力と前記き裂進展情報記憶部に記憶されたき裂進展情報とに基づいて算出された応力拡大係数と前記破壊靭性値とを比較して破壊の有無を判定する破壊判定部と、
前記き裂進展情報記憶部に記憶された前記き裂進展情報と前記時間情報記憶部に記憶された前記時間情報とに基づいてき裂進展量を算出するき裂進展量算出部と、
前記時間情報記憶部に記憶された前記時間情報と前記き裂進展解析の繰り返し回数による分割期間の総和が前記破壊評価期間に達したかを判定する評価期間判定部と、
前記非破壊検査期間および最後の非破壊検査終了から前記破壊評価期間終了までの期間に前記非破壊検査の有無の回数が、前記繰り返し回数記憶部に記憶されているき裂進展解析の繰り返し回数に達したかを判定する繰り返し判定部と、
前記破壊判定部で破壊と判定された回数と前記き裂進展解析の繰り返し回数との比から前記構造物の破壊確率を算出する破壊確率算出部と、
前記分割期間の総和が前記非破壊検査情報記憶部に入力した検査期間に達した際にき裂の検出確率を算出し、この検出確率の値に応じて前記破壊確率を再計算するき裂検出判定部と、
を備えることを特徴とする破壊評価システム。
【請求項１２】
中性子照射を受ける構造物の破壊確率を非破壊検査の影響を考慮して破壊評価する破壊評価方法であって、
入力部が、き裂進展解析の繰り返し回数に関する情報、前記き裂進展解析の破壊評価期間および破壊評価期間内の分割期間に関する時間情報、前記き裂進展解析の破壊評価期間内における非破壊検査期間およびき裂検出確率算出式の非破壊検査情報、前記構造物内の板厚方向の中性子照射量の分布および前記構造物内の板厚方向の各位置における中性子照射量のばらつきに関する中性子照射量情報、前記構造物のポアソン比および縦弾性係数を含む構造物情報、および前記構造物に生じているき裂およびき裂進展速度式に関するき裂進展情報を読み込む読み込みステップと、
破壊靭性値導出部が、前記構造物情報と前記中性子照射量情報とに基づいて破壊靭性値を算出する破壊靭性値導出ステップと、
破壊判定部が、前記構造物の前記き裂の先端近傍の応力とき裂情報記憶部に記憶されたき裂進展情報とに基づいて算出された応力拡大係数と前記破壊靭性値とを比較して破壊の有無を判定する破壊判定ステップと、
き裂進展量算出部が、前記き裂進展情報と前記時間情報とに基づいてき裂進展量を算出するき裂進展量算出ステップと、
評価期間判定部が、前記時間情報と前記き裂進展解析の繰り返し回数による分割期間の総和が前記破壊評価期間に達したかを判定する評価期間判定ステップと、
繰り返し判定部が、前記非破壊検査期間および最後の非破壊検査の終了から前記破壊評価期間の終了までの期間に前記非破壊検査の有無の回数が、前記き裂進展解析の繰り返し回数に達したかを判定する繰り返し判定ステップと、
破壊確率算出部が、前記破壊判定ステップで破壊と判定された回数と前記き裂進展解析の繰り返し回数との比から前記構造物の破壊確率を算出する破壊確率算出ステップと、
き裂検出判定部が、前記分割期間の総和が非破壊検査情報記憶部に入力した検査期間に達した際にき裂の検出確率を算出し、この検出確率の値に応じて前記破壊確率を再計算するき裂検出判定ステップと、
を有することを特徴とする破壊評価方法。
【請求項１３】
中性子照射量設定部が、前記中性子照射量情報に基づいて前記構造物の板厚方向の中性子照射量分布およびばらつきを設定する中性子照射量設定ステップをさらに有し、
前記中性子照射量設定ステップは、前記構造物の板厚方向の各位置においての前記中性子照射量のばらつきが正規分布しているものとして、前記繰り返し判定ステップごとに前記中性子照射量を確率的に求めることを特徴とする請求項１２に記載の破壊評価方法。
【請求項１４】
応力算出部が、前記構造物の前記き裂の先端近傍の応力を算出する応力算出ステップをさらに有し、
前記応力算出ステップは、前記構造物の板厚方向の各位置においての前記応力のばらつきが正規分布しているものとして、前記繰り返し判定ステップごとに前記応力を確率的に求めることを特徴とする請求項１２または請求項１３に記載の破壊評価方法。
【請求項１５】
前記き裂検出判定ステップは、ある検査期間における全繰返し数の計算が終了した時点で、繰り返し数に対するき裂が検出された回数の比と１の差を算出し、前記破壊確率に乗じることにより、前記破壊確率を再計算することを特徴とする請求項１２ないし請求項１４のいずれか一項に記載の破壊評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、中性子照射を受ける構造物の破壊評価解析装置、破壊評価システム、および破壊評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
中性子照射を受ける構造物としては、たとえば原子力発電プラントの原子炉圧力容器内に設置された炉内構造物がある。この炉内構造物の一例であるシュラウドは、炉心で発生する中性子の照射により材料の劣化が生じて破壊靱性値が低下する。
【０００３】
シュラウドの外表面は、中性子の照射の影響が内表面に比べて小さいため、破壊靱性値の低下は内表面より小さい。その結果、シュラウドには、内表面から外表面にかけて破壊靱性値の分布が存在することになる。このシュラウドの内表面にき裂が生じたと仮定し、外部からの荷重によってシュラウドが破壊するか否かを解析で評価する場合、き裂先端の破壊靱性値の分布を考慮して評価する必要がある。
【０００４】
しかし、現状の解析手法では、破壊靱性値の分布を考慮することができない課題がある。また、解析での破壊評価においては非破壊検査によるき裂の検出後の補修などを考慮する必要がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１５−５１２５２６号公報
【特許文献２】特開２００７−１９８８３８号公報
【特許文献３】特開２０１１−３８７７８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
前述したように、破壊靱性値の低下は、構造物全体に均一に生じるのではなく、中性子の照射を直接受ける面が最も顕著に表れ、その面から離れるに伴い減衰する。また、同一箇所でも、中性子の照射にばらつきが生じるため、破壊靱性値にもばらつきが生じる。
【０００７】
従来、このような構造物の破壊評価を行う際は、演算の煩雑さを避けるために、また中性子照射量について安全側の評価、すなわち厳しい側の評価としていた。そのため、中性子照射の時間的積算量である中性子照射量は、板厚方向に一定であると近似して、中性子照射量が最も大きな内面での値を用いていた。
【０００８】
シュラウドのように板厚寸法が大きな構造物の場合は、中性子照射量の板厚方向の減衰による分布は顕著である。このような場合、中性子照射量が板厚方向に一定とした場合、解析上はすでに破壊条件に至っているものの、現実には破壊に対して大きな余裕を有しているという事態が生じることも考えられる。
【０００９】
したがって、現実的にはむしろ、中性子照射量の板厚方向の分布を考慮し、その上で適正な余裕をとることが望ましい。また、非破壊検査においてき裂が検出された場合に補修工事を行うため、非破壊検査によるき裂の補修の影響を評価に加えることが望ましい。
【００１０】
本実施形態が解決しようとする課題は、破壊靱性値の分布およびばらつき、あるいは外部からの荷重のばらつき、時間経過および非破壊検査の影響を考慮した確率論的破壊解析が可能な破壊評価解析装置、破壊評価システム、および破壊評価方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するために、本実施形態に係る破壊評価解析装置は、  中性子照射を受ける構造物の破壊確率を評価し、記憶部、演算部、および入力部を具備する破壊評価解析装置であって、前記記憶部は、前記入力部に外部入力されたき裂進展解析が繰り返し実行される繰り返し回数に関する情報を受け入れて記憶する繰り返し回数記憶部と、前記入力部に外部入力されたき裂進展解析の破壊評価期間および破壊評価期間内の分割期間に関する時間情報を記憶する時間情報記憶部と、前記入力部に外部入力されたき裂進展解析の前記破壊評価期間内における非破壊検査期間およびき裂検出確率算出式の非破壊検査情報を受け入れて記憶する非破壊検査情報記憶部と、前記入力部に外部入力された前記構造物内の板厚方向の中性子照射量の分布および前記構造物内の板厚方向の各位置における中性子照射量のばらつきに関する中性子照射量情報を受け入れて記憶する中性子照射量情報記憶部と、前記入力部に外部入力された前記構造物のポアソン比および縦弾性係数を含む構造物情報を受け入れて記憶する構造物情報記憶部と、前記入力部に外部入力された前記構造物に生じているき裂およびき裂進展速度式に関するき裂進展情報を受け入れて記憶するき裂進展情報記憶部と、前記演算部での演算結果を記憶する演算結果記憶部と、を備え、前記演算部は、前記構造物情報記憶部に記憶された前記構造物情報と前記中性子照射量情報記憶部に記憶された前記中性子照射量情報とに基づいて破壊靭性値を算出する破壊靭性値導出部と、前記構造物の前記き裂の先端近傍の応力と前記き裂進展情報記憶部に記憶されたき裂進展情報とに基づいて算出された応力拡大係数と前記破壊靭性値とを比較して破壊の有無を判定する破壊判定部と、前記き裂進展情報記憶部に記憶された前記き裂進展情報と前記時間情報記憶部に記憶された前記時間情報とに基づいてき裂進展量を算出するき裂進展量算出部と、前記時間情報記憶部に記憶された前記時間情報と前記き裂進展解析の繰り返し回数による分割期間の総和が前記破壊評価期間に達したかを判定する評価期間判定部と、前記非破壊検査期間および最後の非破壊検査の終了から前記破壊評価期間の終了までの期間に前記非破壊検査の有無の回数が、前記繰り返し回数記憶部に記憶されているき裂進展解析の繰り返し回数に達したかを判定する繰り返し判定部と、前記破壊判定部で破壊と判定された回数と前記き裂進展解析の繰り返し回数との比から前記構造物の破壊確率を算出する破壊確率算出部と、前記分割期間の総和が前記非破壊検査情報記憶部に入力した検査期間に達した際にき裂の検出確率を算出し、この検出確率の値に応じて前記破壊確率を再計算するき裂検出判定部と、を備えることを特徴とする。
【００１２】
本実施形態に係る破壊評価システムは、中性子照射を受ける構造物の破壊確率を評価する破壊評価システムであって、前記構造物の表面における放射線量を測定する放射線検出器と、前記構造物に生じたき裂を計測する探傷装置と、演算部、記憶部、および入力部を具備し、中性子照射量情報およびき裂情報に基づいて、前記構造物の破壊確率を算出する破壊評価解析装置と、を備え、前記記憶部は、前記入力部に外部入力されたき裂進展解析の繰り返し実行される繰り返し回数に関する情報を受け入れて記憶する繰り返し回数記憶部と、前記入力部に外部入力されたき裂進展解析の破壊評価期間および破壊評価期間内の分割期間に関する時間情報を記憶する時間情報記憶部と、前記入力部に外部入力されたき裂進展解析の破壊評価期間内における非破壊検査期間およびき裂検出確率算出式の情報を受け入れて記憶する非破壊検査情報記憶部と、前記入力部に外部入力された前記構造物内の板厚方向の中性子照射量の分布および前記構造物内の板厚方向の各位置における中性子照射量のばらつきに関する中性子照射量情報を受け入れて記憶する中性子照射量情報記憶部と、前記入力部に外部入力された前記構造物のポアソン比および縦弾性係数を含む構造物情報を受け入れて記憶する構造物情報記憶部と、前記入力部に外部入力された前記構造物に生じているき裂およびき裂進展速度式に関するき裂進展情報を受け入れて記憶するき裂進展情報記憶部と、前記演算部での演算結果を記憶する演算結果記憶部と、を備え、前記演算部は、前記構造物情報記憶部に記憶された前記構造物情報と前記中性子照射量情報記憶部に記憶された前記中性子照射量情報とに基づいて破壊靭性値を算出する破壊靭性値導出部と、前記構造物の前記き裂の先端近傍の応力と前記き裂進展情報記憶部に記憶されたき裂進展情報とに基づいて算出された応力拡大係数と前記破壊靭性値とを比較して破壊の有無を判定する破壊判定部と、前記き裂進展情報記憶部に記憶された前記き裂進展情報と前記時間情報記憶部に記憶された前記時間情報とに基づいてき裂進展量を算出するき裂進展量算出部と、前記時間情報記憶部に記憶された前記時間情報と前記き裂進展解析の繰り返し回数による分割期間の総和が前記破壊評価期間に達したかを判定する評価期間判定部と、前記非破壊検査期間および最後の非破壊検査終了から前記破壊評価期間終了までの期間に前記非破壊検査の有無の回数が、前記繰り返し回数記憶部に記憶されているき裂進展解析の繰り返し回数に達したかを判定する繰り返し判定部と、前記破壊判定部で破壊と判定された回数と前記き裂進展解析の繰り返し回数との比から前記構造物の破壊確率を算出する破壊確率算出部と、前記分割期間の総和が前記非破壊検査情報記憶部に入力した検査期間に達した際にき裂の検出確率を算出し、この検出確率の値に応じて前記破壊確率を再計算するき裂検出判定部と、を備えることを特徴とする。
【００１３】
本実施形態の破壊評価方法は、中性子照射を受ける構造物の破壊確率を非破壊検査の影響を考慮して破壊評価する破壊評価方法であって、入力部が、き裂進展解析の繰り返し回数に関する情報、前記き裂進展解析の破壊評価期間および破壊評価期間内の分割期間に関する時間情報、前記き裂進展解析の破壊評価期間内における非破壊検査期間およびき裂検出確率算出式の非破壊検査情報、前記構造物内の板厚方向の中性子照射量の分布および前記構造物内の板厚方向の各位置における中性子照射量のばらつきに関する中性子照射量情報、前記構造物のポアソン比および縦弾性係数を含む構造物情報、および前記構造物に生じているき裂およびき裂進展速度式に関するき裂進展情報を読み込む読み込みステップと、破壊靭性値導出部が、前記構造物情報と前記中性子照射量情報とに基づいて破壊靭性値を算出する破壊靭性値導出ステップと、破壊判定部が、前記構造物の前記き裂の先端近傍の応力とき裂情報記憶部に記憶されたき裂進展情報とに基づいて算出された応力拡大係数と前記破壊靭性値とを比較して破壊の有無を判定する破壊判定ステップと、き裂進展量算出部が、前記き裂進展情報と前記時間情報とに基づいてき裂進展量を算出するき裂進展量算出ステップと、評価期間判定部が、前記時間情報と前記き裂進展解析の繰り返し回数による分割期間の総和が前記破壊評価期間に達したかを判定する評価期間判定ステップと、繰り返し判定部が、前記非破壊検査期間および最後の非破壊検査の終了から前記破壊評価期間の終了までの期間に前記非破壊検査の有無の回数が、前記き裂進展解析の繰り返し回数に達したかを判定する繰り返し判定ステップと、破壊確率算出部が、前記破壊判定ステップで破壊と判定された回数と前記き裂進展解析の繰り返し回数との比から前記構造物の破壊確率を算出する破壊確率算出ステップと、き裂検出判定部が、前記分割期間の総和が非破壊検査情報記憶部に入力した検査期間に達した際にき裂の検出確率を算出し、この検出確率の値に応じて前記破壊確率を再計算するき裂検出判定ステップと、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本実施形態によれば、破壊靱性値の分布およびばらつき、あるいは外部からの荷重のばらつき、時間経過および非破壊検査の影響を考慮した確率論的破壊解析が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】実施形態に係る破壊評価システムの構成を示すブロック図である。
【図２】実施形態に係る破壊評価解析装置の構成を示すブロック図である。
【図３】解析対象の例としての二次元き裂を有する平板の概念図である。
【図４】中性子照射量分布の例を示すグラフである。
【図５】中性子照射量のばらつきの確率密度関数の例を示すグラフである。
【図６】中性子照射量のばらつきの累積確率の例を示すグラフである。
【図７】実施形態に係る破壊評価解析方法の手順を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態に係る破壊評価解析装置、破壊評価システム、および破壊評価方法について説明する。ここで、互いに同一または類似の部分には、共通の符号を付して、重複説明は省略する。
【００１７】
図１は、実施形態に係る破壊評価システムの構成を示すブロック図である。
【００１８】
図１に示すように、破壊評価システム５００は、対象とする炉内構造物などの構造物（以下、構造物と記す。）１０に生じたき裂１５に関連して構造物１０が破壊に至るか否かを評価する。破壊評価システム５００は、破壊評価解析装置１００、放射線検出器２００、および探傷装置３００を有する。
【００１９】
探傷装置３００は、プラントが停止しメンテナンス状態に移行した後に、構造物１０の近傍に持ち込まれて、構造物１０に生じたき裂深さを含むき裂１５の形状、寸法を測定する。
【００２０】
放射線検出器２００は、プラント運転中に、構造物１０の表面の中性子の強度、すなわち中性子束レベルを測定する。放射線検出器２００は、プラント運転中に炉心内の出力分布を測定する局所出力領域モニタ（ＬＰＲＭ：Ｌｏｃａｌ  Ｐｏｗｅｒ  Ｒａｎｇｅ  Ｍｏｎｉｔｏｒ）のうち、最も近いものを用いてもよい。あるいは、これらのＬＰＲＭの出力から算出される原子炉の炉心内の中性子束の分布に基づいて、構造物１０の内壁における中性子束を推定することができる。
【００２１】
放射線検出器２００による測定結果、あるいは炉心内の中性子束分布に基づく推定結果を、照射時間で累積することにより、構造物１０の内壁の中性子照射量を求めることができる。
【００２２】
破壊評価解析装置１００は、計算機システムであり、構造物１０の内壁の中性子照射量、探傷装置３００の測定結果によるき裂１５の深さ、および計算機システムの入力部からの外部情報に基づいて、構造物１０が破壊に至るか否かの破壊評価を行う。
【００２３】
本実施形態の破壊評価解析装置１００は、非破壊検査を実施する場合、き裂検出確率算出式の情報からき裂１５が検出されるかを判定し、き裂１５が検出された場合にはき裂１５を補修し、非破壊検査の有無を判定した回数があらかじめ設定された所定の繰り返し回数に達した場合、き裂検出判定部１２５（図２参照）によって破壊確率の再計算を行う。
【００２４】
図２は、実施形態に係る破壊評価解析装置の構成を示すブロック図である。
【００２５】
図２に示すように、破壊評価解析装置１００は、記憶部１１０、演算部１２０、入力部１４０および出力部１５０を有する。
【００２６】
入力部１４０は、外部から入力される少なくとも、次の複数の情報を受け入れる。これらの情報は、繰り返し回数Ｎに関する情報、構造物情報、時間情報、非破壊検査情報、き裂進展情報、中性子照射量情報、および外荷重情報である。
【００２７】
上記繰り返し回数Ｎに関する情報は、あらかじめ設定され、き裂進展解析が繰り返し実行される繰り返し回数Ｎに関する情報である。
【００２８】
上記構造物情報は、構造物１０の厚さ・材質に応じてあらかじめ設定された形状・寸法、ポアソン比および縦弾性係数、使用温度条件を含む情報である。
【００２９】
上記時間情報は、あらかじめ設定されたき裂進展解析の破壊評価期間および破壊評価期間内の分割期間に関する情報である。
【００３０】
上記非破壊検査情報は、上記破壊評価期間内においてあらかじめ設定された非破壊検査期間およびき裂検出確率算出式の情報である。
【００３１】
上記き裂進展情報は、き裂１５の形状・寸法およびき裂進展速度式を含むき裂１５に関する情報である。このき裂１５の形状・寸法は、探傷装置３００によって測定され、き裂進展速度式の情報は、構造物１０の材質に基づいてあらかじめ設定されている。
【００３２】
上記中性子照射量情報は、構造物１０内の板厚方向の中性子照射量の分布および構造物１０内の板厚方向の各位置における中性子照射量のばらつきを含む中性子照射量に関する情報である。上記中性子照射量情報は、放射線検出器３００によって検出される。
【００３３】
上記外荷重情報は、構造物１０に付加される外荷重およびそのばらつきに関する情報である。上記外荷重情報は、構造物１０の使用状況に応じてあらかじめ設定されている。
【００３４】
記憶部１１０は、繰り返し回数記憶部１１１、非破壊検査情報記憶部１１２、時間情報記憶部１１３、中性子照射量情報記憶部１１４、構造物情報記憶部１１５、き裂進展情報記憶部１１６、外荷重情報記憶部１１７、および演算結果記憶部１１８を有する。
【００３５】
繰り返し回数記憶部１１１は、入力部１４０が受け入れた、あらかじめ設定されたき裂進展解析が繰り返し実行される繰り返し回数Ｎに関する情報を記憶する。
【００３６】
非破壊検査情報記憶部１１２は、入力部１４０が受け入れたき裂進展解析の破壊評価期間内においてあらかじめ設定された非破壊検査期間およびき裂検出確率算出式に関する非破壊検査情報を記憶する。すなわち、非破壊検査情報記憶部１１２は、破壊評価期間内において非破壊検査期間から非破壊検査時期も記憶される。
【００３７】
時間情報記憶部１１３は、入力部１４０が受け入れたき裂進展解析の破壊評価期間および破壊評価期間内の分割期間に関する時間情報を記憶する。ここで、破壊評価期間とは、構造物１０が破壊するかどうかを評価する全体の期間をいう。破壊評価期間内の分割期間とは、破壊評価期間内で細かく均等に分割した期間であって、その分割した期間の度に構造物１０全体のサンプルが破壊するかどうかを評価する。破壊評価期間をたとえば１０年とし、１年ずつに分割したとすると、分割期間の数は１０となる。この場合、構造物１０全体のサンプルが破壊するかどうかを評価する破壊評価時期は、１年ごとになる。
【００３８】
中性子照射量情報記憶部１１４は、入力部１４０が受け入れた構造物１０内の板厚方向の中性子照射量の分布および構造物１０内の板厚方向の各位置における中性子照射量のばらつきを含む中性子照射量に関する中性子照射量情報を記憶する。
【００３９】
構造物情報記憶部１１５は、入力部１４０が受け入れた構造物１０の厚さ・材質に応じてあらかじめ設定された形状・寸法、ポアソン比および縦弾性係数、使用温度条件を含む構造物情報を記憶する。構造物情報には、前記の構造物１０の形状・寸法、ポアソン比および縦弾性係数、使用温度条件の他に、使用温度条件および中性子照射量に依存する当該構造物１０の材料の破壊靭性値も含まれる。
【００４０】
き裂進展情報記憶部１１６は、入力部１４０が受け入れた構造物１０に生じているき裂１５の形状・寸法およびき裂進展速度式を含むき裂１５に関するき裂進展情報を記憶する。このき裂進展速度式は、応力拡大係数と中性子照射量の少なくとも一方に依存している。外荷重情報記憶部１１７は、構造物１０に付加される引張荷重ＦおよびモーメントＭ（図３参照）を含む外荷重情報を記憶する。演算結果記憶部１１８は、演算部１２０で演算された結果を記憶する。
【００４１】
演算部１２０は、応力算出部１２１、応力拡大係数算出部１２２、き裂進展量算出部１２３、評価期間判定部１２４、き裂検出判定部１２５、中性子照射量設定部１２６、破壊靭性値導出部１２７、破壊判定部１２８、繰り返し判定部１２９、および破壊確率算出部１３０を有する。
【００４２】
図３は、解析対象の例としての二次元き裂を有する平板の概念図である。図３は、構造物１０に、引張荷重Ｆと、曲げモーメントＭが付加されている場合を示している。曲げモーメントＭは、き裂１５に垂直の方向に付加されている。き裂１５に対する荷重の作用の形式は、モードＩの引張形式、モードＩＩのせん断形式、モードＩＩＩの面外せん断形式に分類される。図３は、引張形式の場合を示している。
【００４３】
図２に示す応力算出部１２１は、構造物１０のき裂１５の先端近傍の応力を算出する。具体的には、応力算出部１２１は、外荷重情報記憶部１１７に記憶された引張荷重Ｆおよび曲げモーメントＭを含む外荷重情報と、き裂進展情報記憶部１１６に記憶されたき裂の形状・寸法に関するき裂進展情報に基づいて、き裂先端近傍の応力として、引張荷重Ｆに起因する膜応力σｍおよび曲げモーメントＭに起因する曲げ応力σｂを算出する。
【００４４】
ここで、外荷重情報には、引張荷重Ｆおよび曲げモーメントＭの負荷の条件に起因して引張荷重Ｆおよび曲げモーメントＭの値にばらつきが存在する場合がある。このような場合には、引張荷重Ｆに起因する膜応力σｍおよび曲げモーメントＭに起因する曲げ応力σｂにもばらつきが付帯する。このばらつきの確率密度関数は、たとえば正規分布で近似することができ、膜応力σｍおよび曲げ応力σｂはそれぞれ中央値と標準偏差により表現することができる。
【００４５】
ここで、ばらつきを考慮して確率的に膜応力σｍおよび曲げ応力σｂを設定するには、乱数を用いる方法がある。例として、膜応力σｍの算出式を式（１）に示す。
【００４６】
【数１】
2018059863.tif 000003
【００４７】
式（１）において、膜応力σmは式（１）を満たす値として決定され、Ｆ（σｍ）は膜応力がσｍとなる際の確率密度関数、σは標準偏差、μは中央値である。
【００４８】
応力拡大係数算出部１２２は、応力算出部１２１において算出された膜応力σｍおよび曲げ応力σｂと、構造物情報記憶部１１５に記憶された構造物情報と、き裂進展情報記憶部１１６に記憶されたき裂進展情報とに基づいて、次の式（２）によりき裂先端の応力拡大係数Ｋを算出する。
Ｋ＝（Ｆｍσｍ＋Ｆｂσｂ）√（πａ）          …（２）
【００４９】
ただし、式（２）において、ａはき裂の深さ、Ｆｍは膜応力に対する重み係数、Ｆｂは曲げ応力に対する重み係数である。
【００５０】
ここで、膜応力σｍおよび曲げ応力σｂは、ばらつきを考慮して確率的に求められた値であるので、これに基づいて導出された応力拡大係数Ｋもまた、確率的な値である。
【００５１】
膜応力に対する補正係数Ｆｍおよび曲げ応力に対する補正係数Ｆｂを、次の式（３）、（４）のように、（ａ／ｔ）の関数として求めてもよい。ただし、ｔは構造物１０の板厚である。
Ｆｍ＝ｆｍ（ａ／ｔ）            …（３）
Ｆｂ＝ｆｂ（ａ／ｔ）            …（４）
【００５２】
さらに具体的には、次の式（５）、（６）により膜応力に対する補正係数Ｆｍおよび曲げ応力に対する補正係数Ｆｂをそれぞれ求めてもよい。
【００５３】
【数２】
2018059863.tif 000004
【００５４】
【数３】
2018059863.tif 000005
【００５５】
図４は、中性子照射量分布の例を示すグラフである。図４において、横軸は構造物１０の板厚方向の距離ａ、縦軸は、中性子照射量Φｔである。また、図５は、中性子照射量のばらつきの確率密度関数の例を示すグラフである。図５において、横軸は、中性子照射量Φｔ[ｎ／ｍ２]、縦軸は、ばらつきの確率密度関数ｐ（Φｔ）の値である。
【００５６】
中性子照射量Φｔは、中性子束Φの中性子照射の時間に関する積算量である。中性子照射の時間は板厚方向の各部に共通であるから、中性子照射量Φｔは、中性子束Φに比例する。中性子束Φは、板厚方向に進むにつれて減衰する。したがって、中性子照射量Φｔも、図４の曲線Ａに示すように板厚方向に進むにつれて低減するような分布を有している。
【００５７】
ここで、中性子照射量の板厚方向の分布は、通常、次の式（７）のように指数関数で与えられる。あるいは、次の式（８）を用いてもよい。ただし、ａは板厚方向の深さ、ａの係数は、長さの逆数の次元をもつ定数である。
Φｔ＝Φ０ｔ×ｅｘｐ（−ｈａ）              …（７）
【００５８】
【数４】
2018059863.tif 000006
【００５９】
構造物１０の板厚方向における中性子束の減衰は、中性子と構造物１０との相互作用の結果により生ずるものである。構造物１０の構成は結晶粒などの影響により微視的には非均質である。また、中性子と構造物１０との相互作用も確率的なものである。これらの結果、中性子照射量は、曲線Ａに沿って減衰するものの、曲線Ａの近傍でばらつきが存在する。
【００６０】
たとえば、板厚方向の距離がａ１の位置においては、曲線Ａによれば中性子照射量Φｔは、Φｍｔであるが、ばらつきを考慮すると、たとえばΦｍｔを中央値として、図５に示す例のように、その近傍にばらついている。このばらつきは、たとえば正規分布で近似することができ、中央値と標準偏差により表現することができる。
【００６１】
き裂検出判定部１２５は、非破壊検査情報記憶部１１２に記憶された非破壊検査期間による非破壊検査時期にき裂１５の検出確率を算出し、この検出確率の値に応じて破壊確率を再計算する。具体的には、き裂検出判定部１２５は、き裂進展解析の繰り返し回数による分割期間の数の総和が非破壊検査情報記憶部１１２で入力した検査間隔の期間に達した際にき裂１５が検出されるかを判定する。き裂１５の検出確率算出式は、き裂長さの関数とする。０以上１未満の乱数を用いて、求めた検出確率が乱数の値よりも大きければ、き裂１５は検出されたものと判定する。
【００６２】
き裂１５の検出判定を受けたサンプルのき裂長さおよび中性子照射量の情報は、演算結果記憶部１１８に記憶され、次のサンプルの計算を行う。１回目の非破壊検査期間までのき裂進展解析の全繰返し数の計算を終了したら、次の非破壊検査期間まで再度き裂進展解析の全繰り返し数の計算を行う。
【００６３】
ある非破壊検査期間におけるき裂進展解析の全繰返し数の計算が終了した時点で、繰り返し数に対するき裂が検出された回数の比と１の差を算出し、この値を破壊確率に乗じることにより、破壊確率を再計算する。次の非破壊検査期間までの計算の再開時において、検出されたき裂１５のき裂長さは初期き裂長さとし、検出されなかったき裂１５は演算結果記憶部１１８に記憶されたき裂長さから計算を行う。
【００６４】
中性子照射量設定部１２６は、き裂先端の位置における中性子照射量を確率的に設定する。すなわち、中性子照射量設定部１２６は、中性子照射量情報記憶部１１４に記憶された中性子照射量分布情報に基づいて構造物１０の板厚方向の中性子照射量分布およびばらつきを設定する。
【００６５】
図６は、中性子照射量のばらつきの累積確率の例を示すグラフである。図６において、横軸は、中性子照射量Φｔ[ｎ／ｍ２]、縦軸は、ばらつきの累積確率Ｐ（Φｔ）であり、最小値０から最大値１までの値をとる。
【００６６】
ここで、累積確率Ｐ（Φｔ）は確率密度関数ｐ（Φｔ）を用いて次の式（９）により得られる。
【００６７】
【数５】
2018059863.tif 000007
【００６８】
中性子照射量設定部１２６は、累積確率Ｐ（Φｔ）として０から１の間の任意の数値Ｘ１を与え、図６を用いて、この数値Ｘ１に対応する中性子照射量Φ１ｔを設定する。０から１の間の任意の数値Ｘ１を確率的に与えるには、たとえば、乱数発生器を用いて乱数として与える方法がある。
【００６９】
き裂進展量算出部１２３は、き裂進展情報記憶部１１６に記憶されたき裂進展情報と時間情報記憶部１１３に記憶された時間情報とに基づいてき裂進展量を算出する。具体的には、き裂進展量算出部１２３は、応力拡大係数算出部１２２で算出された応力拡大係数と中性子照射量設定部１２６で設定された中性子照射量の少なくとも一方の関数としたき裂進展速度式と、時間情報記憶部１１３に記憶された分割期間の数との積により、き裂進展量を算出する。
【００７０】
破壊靭性値導出部１２７は、中性子照射量設定部１２６で設定されたき裂１５の先端部ａ１における中性子照射量Φ１ｔに基づいて、き裂１５の先端部近傍の破壊靭性値ＫＩＣを導出する。破壊靭性値ＫＩＣは、構造物１０の材料、環境温度および中性子照射を含む環境条件に依存する。
【００７１】
したがって、破壊靭性値導出部１２７は、構造物情報記憶部１１５に記憶された構造物１０に関する材料、材料使用温度と、中性子照射量設定部１２６で設定された中性子照射量とから、き裂１５の先端近傍の破壊靭性値ＫＩＣを導出する。すなわち、破壊靭性値導出部１２７は、構造物情報記憶部１１５に記憶された構造物情報と、中性子照射量情報記憶部１１４に記憶された中性子照射量情報とに基づいて破壊靭性値ＫＩＣを算出する。
【００７２】
なお、破壊靭性値ＫＩＣを、次の式（１０）を用いて算出してもよい。
【００７３】
【数６】
2018059863.tif 000008
【００７４】
ただし、式（１０）において、Ｅは縦弾性率、νはポアソン比を示す。
【００７５】
中性子照射量Φ１ｔが前記のようにばらつきを考慮して確率的に設定されるので、これに基づいて算出された破壊靭性値ＫＩＣも、ばらつきを考慮した値であり、かつ確率的な値である。
【００７６】
破壊判定部１２８は、応力拡大係数算出部１２２で算出された確率的な値である応力拡大係数Ｋと、破壊靱性値導出部１２７で導出された確率的な値である破壊靭性値ＫＩＣとを受け入れて、両者を比較し、破壊の有無を評価する。すなわち、応力拡大係数Ｋが破壊靭性値ＫＩＣを上回っていれば、破壊すると判定する。この判定結果は、演算結果記憶部１１８に記憶される。この演算結果記憶部１１８に記憶された判定結果は、破壊確率算出部１３０において繰り返し回数が所定の繰り返し回数Ｎになった後に破壊確率を算出するために用いられる。この破壊確率は、非破壊検査時期にき裂１５の検出確率に応じて再計算される。
【００７７】
評価期間判定部１２４は、時間情報記憶部１１３に記憶された破壊評価期間と、き裂進展解析の繰り返し回数による分割期間の総和とを比較し、分割期間の総和が破壊評価期間に達したかを判定する。分割期間の総和が破壊評価期間に達した場合は、非破壊と判定する。この判定結果は、演算結果記憶部１１８に記憶される。
【００７８】
繰り返し判定部１２９は、非破壊検査期間および最後の非破壊検査終了から評価期間終了までの期間にき裂検出判定部１２５において判定されたき裂１５の有無の回数が、繰り返し回数記憶部１１１に記憶されている所定の繰り返し回数Ｎに達したかを判定する。
【００７９】
破壊確率算出部１３０は、破壊判定部１２８で破壊と判定された回数と外部入力されたき裂進展解析の繰り返し回数との比から構造物１０の破壊確率を算出する。具体的には、破壊確率算出部１３０は、非破壊検査期間および最後の非破壊検査終了から評価期間終了までの期間に繰り返し回数が所定の繰り返し回数Ｎとなった後に、演算結果記憶部１１８に記憶された破壊判定部１２８での判定結果に基づいて、破壊確率を算出する。
【００８０】
今、繰り返し回数Ｎのうち、破壊判定部１２８が破壊すると判定した回数をＤとすると、破壊確率ｄは、ｄ＝Ｄ／Ｎにより与えられる。ただし、非破壊検査期間における破壊確率ｄは、非破壊検査時期にき裂１５の検出確率に応じて再計算される。繰り返し回数が所定の繰り返し数Ｎとならなかった場合は、分割期間とき裂増分の総和を０とする。この結果は、演算結果記憶部１１８に記憶される。
【００８１】
出力部１５０は、演算結果記憶部１１８に記憶された破壊確率を含む主要な情報と、記憶部１１０のその他の部分に記憶された主要な情報を出力する。
【００８２】
なお、本実施形態では、破壊評価解析装置１００に、破壊確率算出部１３０およびき裂検出判定部１２５により算出された破壊確率に基づいて、構造物１０の健全性を評価する健全性評価部をさらに設けてもよい。
【００８３】
この場合、評価全体として正規分布を仮定すると、たとえば、標準偏差の３倍をカバーする確率で破壊しないとする場合には、破壊確率ｄの判定値を０．００１５程度にすればよい。あるいは、標準偏差の６倍をカバーする確率で破損しないとする場合には、破壊確率ｄの判定値を３．４×１０−６程度にすればよい。この場合、繰り返し回数Ｎは、十分に判定できるための繰り返し回数とする必要がある。
【００８４】
図７は、実施形態に係る破壊評価解析方法の手順を示すフローチャートである。
【００８５】
本実施形態に係る破壊評価解析方法は、非破壊検査期間の間隔とき裂検出確率算出式に基づいて非破壊検査を実施するかを判定する。実施する場合には、き裂検出確率算出式の情報からき裂１５が検出されるかを判定する。き裂１５が検出された場合にはき裂１５を補修する。き裂１５を補修したことで、破壊確率が変化する。そして、非破壊検査の有無を判定した回数があらかじめ設定された所定の繰り返し回数に達した場合に破壊確率の再計算を行う。以下、具体的に説明する。
【００８６】
図７に示すように、まず、入力部１４０が、き裂進展解析の繰り返し回数Ｎに関する情報、構造物情報、き裂進展情報、時間情報、非破壊検査情報、中性子照射量情報、外荷重情報などを受け入れる（ステップＳ０１）。これらの情報は、それぞれ記憶部１１０内の各部に記憶される（ステップＳ０２）。
【００８７】
次に、応力算出部１２１により、確率的な応力の設定が行われる（ステップＳ０３）。具体的には、き裂先端部での膜応力σｍおよび曲げ応力σｂについてのばらつきの分布のそれぞれの累積確率に基づいて、たとえば、乱数発生器から発せられた０から１の範囲の乱数に基づいて、膜応力σｍおよび曲げ応力σｂの値が設定される。
【００８８】
次に、応力拡大係数算出部１２２が、応力算出部１２１により確率的に設定された膜応力σｍおよび曲げ応力σｂの値に基づいて、前述の式（２）を用いて応力拡大係数Ｋを算出する（ステップＳ０４）。
【００８９】
また、中性子照射量設定部１２６が、き裂１５の先端部近傍における中性子照射量Φｔについてのばらつきの分布の累積確率に基づいて、たとえば乱数発生器から発せられた０から１の範囲の乱数に基づいて、中性子照射量Φｔを設定する（ステップＳ０５）。
【００９０】
次に、破壊靭性値導出部１２７が、構造物情報記憶部１１５に記憶された構造物１０に関する材料のポアソン比および縦弾性係数と、中性子照射量設定部１２６で設定された中性子照射量とから、き裂１５の先端近傍の破壊靭性値ＫＩＣを導出する（ステップＳ０６）。
【００９１】
次に、き裂進展量算出部１２３が、き裂進展情報記憶部１１６に記憶されたき裂進展情報と時間情報記憶部１１３に記憶された時間情報に基づいて、き裂進展量を算出する（ステップＳ０７）。
【００９２】
ここで、ステップＳ０４はステップＳ０３の後に、また、ステップＳ０６はステップＳ０５の後に行うという条件のもとに、ステップＳ０３およびステップＳ０４は、ステップＳ０５およびステップＳ０６の後に行うことでもよい。
【００９３】
次に、破壊判定部１２８は、応力拡大係数算出部１２２で算出された応力拡大係数Ｋと、破壊靱性値導出部１２７で導出された破壊靭性値ＫＩＣとを比較し、応力拡大係数Ｋが破壊靭性値ＫＩＣを上回っていれば、破壊すると判定し（ステップＳ０８）、この判定結果は、演算結果記憶部１１８により記憶される（ステップＳ０９）。
【００９４】
破壊確率算出部１３０は、演算結果記憶部１１８に記憶された破壊判定部１２８での判定結果に基づいて、破壊確率を算出する（ステップＳ１０）。この結果は、演算結果記憶部１１８に記憶され、出力部１５０により出力される。
【００９５】
き裂検出判定部１２５は、非破壊検査情報記憶部１１２に記憶された非破壊検査期間（時期）とき裂検出確率算出式に関する情報に基づき、非破壊検査を実施するか否かの判定を行う（ステップＳ１１）。非破壊検査が無い場合（ステップＳ１１：ＮＯ）は、ステップＳ１３へ移行し、非破壊検査がある場合（ステップＳ１１：ＹＥＳ）はステップＳ１２へ移行する。ステップＳ１２では、分割期間の総和が非破壊検査期間（時期）に到達したかを判定し、非破壊検査時期に到達していない場合（ステップＳ１２：ＮＯ）は、ステップＳ０３に戻る。非破壊検査期間に到達している場合（ステップＳ１２：ＹＥＳ）はステップＳ１４へ移行する。このステップＳ１４では、非破壊検査を行ってき裂の検出確率を算出し、き裂検出確率算出式に関する情報からき裂１５が検出されるか否かの判定を行う。このステップＳ１４でき裂１５が検出された場合には、き裂１５の補修を行う。なお、き裂１５の補修を行えば、破壊確率が低下するように変化するため、後述するステップＳ１６で破壊確率を再計算する。
【００９６】
ステップＳ１３では、時間情報記憶部１１３に記憶された破壊評価期間と、繰返し計算による分割期間の総和を比較し、分割期間が破壊評価期間に達したか判定する。分割期間の総和が評価期間に達した場合（ステップＳ１３：ＹＥＳ）は、ステップＳ１５に移行する。分割期間の総和が評価期間に達していない場合（ステップＳ１３：ＮＯ）は、ステップＳ０３に戻る。
【００９７】
ステップＳ１５では、非破壊検査期間および最後の非破壊検査終了から評価期間終了までの期間にステップＳ１１において非破壊検査の有無を判定した回数が、ステップＳ０１で入力された所定の繰り返し回数Ｎに到達したか否かを判定する。繰り返し数に達していない場合（ステップＳ１５：ＮＯ）はステップＳ０３に戻る。繰り返し数に達している場合（ステップＳ１５：ＹＥＳ）は、ステップＳ１６へ移行する。
【００９８】
ステップＳ１６では、き裂検出判定部１２５が繰り返し数に対するき裂が検出された回数の比と１の差を算出し、破壊確率に乗じることにより、破壊確率を再計算する。非破壊検査が無い場合は検出回数を０とする。
【００９９】
ステップＳ１７では、上述したステップＳ１３と同様に、時間情報記憶部１１３に記憶された破壊評価期間と、繰返し計算による分割期間の総和を比較し、分割期間が破壊評価期間に達したか判定する。分割期間の総和が破壊評価期間に達した場合（ステップＳ１７：ＹＥＳ）は、全体の処理を終了する。分割期間の総和が破壊評価期間に達していない場合（ステップＳ１７：ＮＯ）は、ステップＳ０３に戻る。
【０１００】
以上の過程は、たとえば乱数発生器により発せられた乱数に基づき導出された応力拡大係数Ｋと、同様に乱数発生器により発せられた乱数に基づき導出された破壊靭性値ＫＩＣとを、繰り返しの都度、導出して比較することから、モンテカルロ法の手法によっているといえる。
【０１０１】
以上のように、本実施形態によれば、破壊靱性値の分布およびばらつき、あるいは外部からの荷重による応力のばらつき、時間経過および非破壊検査の影響を考慮した確率論的破壊解析が可能となる。
【０１０２】
（その他の実施形態）
本発明の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。この実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、組み合わせを行うことができる。この実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【０１０３】
たとえば、き裂に対する荷重の作用の仕方として分類される、モードＩの引張形式、モードＩＩのせん断形式、モードＩＩＩの面外せん断形式のうち、実施形態では、モードＩの場合を例に示したが、モードＩに限定されるものではない。本発明は、他のモードＩＩおよびモードＩＩＩの場合にも、それぞれのモードに対応した応力および破壊靭性値を用いることにより同様の構成および方法により適用可能である。
【符号の説明】
【０１０４】
１０…構造物、１５…き裂、１００…破壊評価解析装置、１１０…記憶部、１１１…繰り返し回数記憶部、１１２…非破壊検査情報記憶部、１１３…時間情報記憶部、１１４…中性子照射量情報記憶部、１１５…構造物情報記憶部、１１６…き裂進展情報記憶部、１１７…外荷重情報記憶部、１１８…演算結果記憶部、１２０…演算部、１２１…応力算出部、１２２…応力拡大係数算出部、１２３…き裂進展量算出部、１２４…評価期間判定部、１２５…き裂検出判定部、１２６…中性子照射量設定部、１２７…破壊靭性値導出部、１２８…破壊判定部、１２９…繰り返し判定部、１３０…破壊確率算出部、１４０…入力部、１５０…出力部、２００…放射線検出器、３００…探傷装置、５００…破壊評価システム
【図１】
2018059863.tif 000009
【図２】
2018059863.tif 000010
【図３】
2018059863.tif 000011
【図４】
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【図５】
2018059863.tif 000013
【図６】
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【図７】
2018059863.tif 000015