(57)【要約】【課題】ブリルアン散乱を利用したブリルアン光センシング技術において、高速かつ高ダイナミックレンジで変化する動的歪を模擬でき、ブリルアン光センシング装置の測定性能を評価するブリルアン光センシング装置の評価治具及び評価方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明に係る評価治具は、全て長さが等しく、且つ互いにブリルアン周波数シフトが異なるＮ（Ｎは２以上の自然数）本の光ファイバ１１と、１つの合波側ポートとＮ本の光ファイバ１１の一端がそれぞれ接続されるＮ個の分岐側ポートを有し、前記合波側ポートと前記分岐側ポートのいずれかとを接続する１×Ｎ光スイッチ１２と、を備える。【選択図】図１
2018009798.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
全て長さが等しく、且つ互いにブリルアン周波数シフトが異なるＮ（Ｎは２以上の自然数）本の光ファイバと、
１つの合波側ポートとＮ本の前記光ファイバの一端がそれぞれ接続されるＮ個の分岐側ポートを有し、前記合波側ポートと前記分岐側ポートのいずれかとを接続する１×Ｎ光スイッチと、
を備えるブリルアン光センシング装置の評価治具。
【請求項２】
前記１×Ｎ光スイッチのｎ番目とｎ＋１番目（ｎはＮ−１以下の自然数）の前記分岐側ポートに接続される前記光ファイバのブリルアン周波数シフトの違いは、全てのｎで等しいことを特徴とする請求項１に記載のブリルアン光センシング装置の評価治具。
【請求項３】
１つの第１ポートとＮ本の前記光ファイバの他端がそれぞれ接続されるＮ個の第２ポートを有し、前記第１ポートからの光を前記第２ポート全てに分波し、前記第２ポートからの光を前記第１ポートに合波するＮ×１光カプラをさらに備えることを特徴とする請求項１又は２に記載のブリルアン光センシング装置の評価治具。
【請求項４】
１つの第１ポートとＮ本の前記光ファイバの他端がそれぞれ接続されるＮ個の第２ポートを有し、前記第１ポートと前記第２ポートのいずれかとを接続するもう一つの１×Ｎ光スイッチと、
前記１×Ｎ光スイッチと前記もう一つの１×Ｎ光スイッチに対して、同じ前記光ファイバを選択するように指示する同期制御部と、
をさらに備えることを特徴とする請求項１又は２に記載のブリルアン光センシング装置の評価治具。
【請求項５】
１つの合波側ポートとＮ個の分岐側ポートを有し、前記合波側ポートと前記分岐側ポートのいずれかとを接続する１×Ｎ光スイッチの前記分岐側ポートそれぞれに、全て長さが等しく、且つ互いにブリルアン周波数シフトが異なるＮ（Ｎは２以上の自然数）本の光ファイバを接続し、
前記１×Ｎ光スイッチの前記合波側ポートにブリルアン光センシング装置からの試験光を結合し、
前記１×Ｎ光スイッチで光路を切り替え前記試験光をＮ本の前記光ファイバに順に結合し、光周波数がブリルアン周波数シフトだけ変動したブリルアン散乱光をそれぞれの前記光ファイバで発生させることを特徴とするブリルアン光センシング装置の評価方法。
【請求項６】
前記１×Ｎ光スイッチのｎ番目とｎ＋１番目の前記分岐側ポートに接続される前記光ファイバのブリルアン周波数シフトの違いは、全てのｎで等しいことを特徴とする請求項５に記載のブリルアン光センシング装置の評価方法。
【請求項７】
１つの第１ポートとＮ個の第２ポートを有し、前記第１ポートからの光を前記第２ポート全てに分波し、前記第２ポートからの光を前記第１ポートに合波するＮ×１光カプラの前記第２ポートそれぞれに、Ｎ本の前記光ファイバの他端を接続し、
前記１×Ｎ光カプラの前記第１ポートにも前記ブリルアン光センシング装置からの試験光を結合することを特徴とする請求項５又は６に記載のブリルアン光センシング装置の評価方法。
【請求項８】
１つの第１ポートとＮ個の第２ポートを有し、前記第１ポートと前記第２ポートのいずれかとを接続するもう一つの１×Ｎ光スイッチの前記第２ポートそれぞれに、Ｎ本の前記光ファイバの他端を接続し、
前記１×Ｎ光スイッチと前記もう一つの１×Ｎ光スイッチに対して、同じ前記光ファイバを選択させ、前記もう一つの１×Ｎ光スイッチの前記第１ポートにも前記ブリルアン光センシング装置からの試験光を結合することを特徴とする請求項５又は６に記載のブリルアン光センシング装置の評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、ブリルアン光センシング技術を使用した測定装置の測定性能評価治具及び測定性能評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ブリルアン光センシング技術はブリルアン周波数シフト（Ｂｒｉｌｌｏｕｉｎ  ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ  ｓｈｉｆｔ：ＢＦＳ）変化を測定することで、ＢＦＳが感度を持つ構造物の歪みや振動、温度変化をモニタリングする技術である。非特許文献１に記載のＢＯＴＤＡ（Ｂｒｉｌｌｏｕｉｎ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ａｎａｌｙｓｉｓ）や、非特許文献２に記載のＢＯＣＤＡ（Ｂｒｉｌｌｏｕｉｎ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｒｒｅｌａｔｉｏｎ  −  ｄｏｍａｉｎ  ａｎａｌｙｓｉｓ）、非特許文献３に記載のＢＯＴＤＲ（Ｂｒｉｌｌｏｕｉｎ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）などが知られている。
【０００３】
ブリルアン散乱特性を高サンプリングレートにて測定する技術により、温度や歪の動的な変化量や振動数を測定する技術が盛んに研究されている（例えば、非特許文献４を参照。）。コンクリート構造物の鉄筋や航空機体の構造材料にかかる瞬時的、または周期的な動的歪を測定することで、測定対象構造物のヘルスモニタリングへの応用が期待されている。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】Ｘｉａｏｙｉ  Ｂａｏ，  Ｌｉａｎｇ  Ｃｈｅｎ，  “Ｈｉｇｈ  ｐｅｒｆｏｒｍａｎｃｅ  ＢＯＴＤＡ  ｆｏｒ  ｌｏｎｇ  ｒａｎｇｅ  ｓｅｎｓｉｎｇ”，  Ｐｒｏｃ．  ｏｆ  ＳＰＩＥ  Ｖｏｌ．  ７９８２、７９８２０６、（２０１１）．
【非特許文献２】Ｋ．  Ｈｏｔａｔｅ  ａｎｄ  Ｔ．  Ｈａｓｅｇａｗａ，  ＩＥＩＣＥ  Ｔｒａｎｓ．  Ｅｌｅｃｔｒｏｎ．  Ｅ８３−Ｃ，  ４０５，  （２０００）．
【非特許文献３】Ｈ．  Ｏｈｎｏ，  Ｈ．  Ｎａｒｕｓｅ，  Ｍ．  Ｋｉｈａｒａ，  ａｎｄ  Ａ．  Ｓｈｉｍａｄａ，  “Ｉｎｄｕｓｔｒｉａｌ  Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎｓ  ｏｆ  ｔｈｅ  ＢＯＴＤＲ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｆｉｂｅｒ  Ｓｔｒａｉｎ  Ｓｅｎｓｏｒ”，  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｆｉｂｅｒ  Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙ  ７，  ４５−６４，（２００１）．
【非特許文献４】張  春宇、岸  眞人、保立  和夫，  “ＢＯＣＤＡ  系による５ｋＨｚ  ランダムアクセス速度での多点動的歪測定”，  信ソ大，  Ｂ−１３−４，（２０１４）．
【非特許文献５】Ｃｈｉｈｉｒｏ  Ｋｉｔｏ，  Ｈｉｒｏｓｈｉ  Ｔａｋａｈａｓｈｉ，  Ｋｕｎｉｈｉｒｏ  Ｔｏｇｅ，  Ｔｅｔｓｕｙａ  Ｍａｎａｂｅ，  “Ｆｉｒｓｔ  ｆｉｅｌｄ  ｄｅｍｏｎｓｔｒａｔｉｏｎ  ｏｆ  ｅｎｄ−ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎ  ａｓｓｉｓｔｅｄ  Ｂｒｉｌｌｏｕｉｎ  ａｎａｌｙｓｉｓ  ｆｏｒ  ｉｎ−ｓｅｒｖｉｃｅ  ｌｏｓｓ  ｍｏｎｉｔｏｒｉｎｇ  ｏｆ  ｂｒａｎｃｈｅｄ  ｆｉｂｅｒｓ  ｉｎ  ＰＯＮｓ”，  Ｐｒｏｃ．  ＳＰＩＥ  ９６３４，  ２４ｔｈ  Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ  Ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ  ｏｎ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｆｉｂｒｅ  Ｓｅｎｓｏｒｓ，  ９６３４１Ｖ，  （２０１５）．
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
光ファイバセンサヘッドに生じるブリルアン散乱特性の時間変化を測定することで温度や歪の動的な変化量や振動数を測定することができる。光ファイバセンサヘッドに生じる動的な歪の変化は、一般に光ファイバセンサヘッドをピエゾ素子などの圧電素子に巻き付け、圧電素子に時間変動する電圧を加え、光ファイバセンサヘッドを時間的に伸縮させることで生成し、ブリルアン光センシング技術の性能評価系に利用している。
【０００６】
しかしながら、ピエゾ素子に数十ｍ程度の光ファイバを巻きつけた場合の歪量は小さく、国内市販品の一例では最大１００με程度である。一方、コンクリート構造物の鉄筋や航空機体の構造材料の降伏歪は数千μεである。よって、ピエゾ素子による微小な光ファイバ伸縮では、ブリルアン光センシングの実利用対象の歪状態を十分に模擬することが困難という課題がある。
【０００７】
また、ピエゾ素子に巻きつけた光ファイバの電圧に対する歪係数は、例えば０．２με／Ｖ程度である。このため、前述の最大歪を加えるためには約４００Ｖの大きな電圧印加が必要であり、所望の歪変化を電圧変化でトレースしようとすれば高スペックで高価な高速電圧増幅器が必要となる。また、１０ｃｍ程度の短い光ファイバをピエゾ素子のストロークによって伸縮させる場合には、比較的大きな８００με程度の歪を印加可能である実験例もあるが、ブリルアン光センシング装置に対して１０ｃｍ以上の高い空間分解能が求められるという課題もある。
【０００８】
そこで、本発明は、上記課題を解決するために、ブリルアン散乱を利用したブリルアン光センシング技術において、高速かつ高ダイナミックレンジで変化する動的歪を模擬でき、ブリルアン光センシング装置の測定性能を評価するブリルアン光センシング装置の評価治具及び評価方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、本発明は、ブリルアン光センシング装置からの試験光をブリルアン周波数シフト（Ｂｒｉｌｌｏｕｉｎ  ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ  ｓｈｉｆｔ：ＢＦＳ）が互いに異なる複数の光ファイバに順に入射することとした。
【００１０】
具体的には、本発明に係るブリルアン光センシング装置の評価治具は、
全て長さが等しく、且つ互いにブリルアン周波数シフトが異なるＮ（Ｎは２以上の自然数）本の光ファイバと、
１つの合波側ポートとＮ本の前記光ファイバの一端がそれぞれ接続されるＮ個の分岐側ポートを有し、前記合波側ポートと前記分岐側ポートのいずれかとを接続する１×Ｎ光スイッチと、
を備える。
【００１１】
また、本発明に係るブリルアン光センシング装置の評価方法は、
１つの合波側ポートとＮ個の分岐側ポートを有し、前記合波側ポートと前記分岐側ポートのいずれかとを接続する１×Ｎ光スイッチの前記分岐側ポートそれぞれに、全て長さが等しく、且つ互いにブリルアン周波数シフトが異なるＮ（Ｎは２以上の自然数）本の光ファイバを接続し、
前記１×Ｎ光スイッチの前記合波側ポートにブリルアン光センシング装置からの試験光を結合し、
前記１×Ｎ光スイッチで光路を切り替え前記試験光をＮ本の前記光ファイバに順に結合し、光周波数がブリルアン周波数シフトだけ変動したブリルアン散乱光をそれぞれの前記光ファイバで発生させることを特徴とする。
【００１２】
歪変動を模擬するＮ系統の光ファイバは光ファイバ断面の屈折率プロファイルの違いによって、数千μεに相当するＢＦＳの違い（数百ＭＨｚ）を付加することは容易である。そして、１×Ｎチャネルの光スイッチの出力ポートを順次時間的に切り替えることで試験光が通過するルートを変え、ＢＦＳを時間的に変化させることができる。すなわち、ブリルアン光センシング装置が測定するＢＦＳを変化させ、動的な歪変動を模擬することができる。
【００１３】
従って、本発明は、ブリルアン散乱を利用したブリルアン光センシング技術において、高速かつ高ダイナミックレンジで変化する動的歪を模擬でき、ブリルアン光センシング装置の測定性能を評価するブリルアン光センシング装置の評価治具及び評価方法を提供することができる。
【００１４】
本発明に係るブリルアン光センシング装置の評価治具及び評価方法は、前記１×Ｎ光スイッチのｎ番目とｎ＋１番目（ｎはＮ−１以下の自然数）の前記分岐側ポートに接続される前記光ファイバのブリルアン周波数シフトの違いは、全てのｎで等しいことが好ましい。規則的な周期性のある動的歪の試験が可能になる。
【００１５】
本発明に係るブリルアン光センシング装置の評価治具は、１つの第１ポートとＮ本の前記光ファイバの他端がそれぞれ接続されるＮ個の第２ポートを有し、前記第１ポートからの光を前記第２ポート全てに分波し、前記第２ポートからの光を前記第１ポートに合波するＮ×１光カプラをさらに備えることを特徴とする。
また、本発明に係るブリルアン光センシング装置の評価方法は、１つの第１ポートとＮ個の第２ポートを有し、前記第１ポートからの光を前記第２ポート全てに分波し、前記第２ポートからの光を前記第１ポートに合波するＮ×１光カプラの前記第２ポートそれぞれに、Ｎ本の前記光ファイバの他端を接続し、前記１×Ｎ光カプラの前記第１ポートにも前記ブリルアン光センシング装置からの試験光を結合することを特徴とする。
このように光ファイバの他端に光カプラを取り付けることで、一端からプローブ光、他端からポンプ光を入射するＢＯＴＤＡやＢＯＣＤＡにも対応できる。
【００１６】
本発明に係るブリルアン光センシング装置の評価治具は、１つの第１ポートとＮ本の前記光ファイバの他端がそれぞれ接続されるＮ個の第２ポートを有し、前記第１ポートと前記第２ポートのいずれかとを接続するもう一つの１×Ｎ光スイッチと、前記１×Ｎ光スイッチと前記もう一つの１×Ｎ光スイッチに対して、同じ前記光ファイバを選択するように指示する同期制御部と、をさらに備えることを特徴とする。
また、本発明に係るブリルアン光センシング装置の評価方法は、１つの第１ポートとＮ個の第２ポートを有し、前記第１ポートと前記第２ポートのいずれかとを接続するもう一つの１×Ｎ光スイッチの前記第２ポートそれぞれに、Ｎ本の前記光ファイバの他端を接続し、前記１×Ｎ光スイッチと前記もう一つの１×Ｎ光スイッチに対して、同じ前記光ファイバを選択させ、前記もう一つの１×Ｎ光スイッチの前記第１ポートにも前記ブリルアン光センシング装置からの試験光を結合することを特徴とする。
このように光ファイバの他端にも光スイッチを取り付けることで、一端からプローブ光、他端からポンプ光を入射するＢＯＴＤＡやＢＯＣＤＡにも対応できる上、挿入損失が小さい評価系を構成することができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明は、ブリルアン散乱を利用したブリルアン光センシング技術において、高速かつ高ダイナミックレンジで変化する動的歪を模擬でき、ブリルアン光センシング装置の測定性能を評価するブリルアン光センシング装置の評価治具及び評価方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明に係るブリルアン光センシング装置の評価治具を説明する図である。
【図２】本発明に係るブリルアン光センシング装置の評価治具を使用する評価方法を説明する図である。
【図３】本発明に係るブリルアン光センシング装置の評価治具を説明する図である。
【図４】本発明に係るブリルアン光センシング装置の評価治具を使用する評価方法を説明する図である。
【図５】本発明に係るブリルアン光センシング装置の評価治具を説明する図である。
【図６】本発明に係るブリルアン光センシング装置の評価治具を使用する評価方法を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
添付の図面を参照して本発明の実施形態を説明する。以下に説明する実施形態は本発明の実施例であり、本発明は、以下の実施形態に制限されるものではない。なお、本明細書及び図面において符号が同じ構成要素は、相互に同一のものを示すものとする。
【００２０】
（実施形態１）
図１は、本実施形態の評価治具１０１を説明する図である。評価治具１０１は、
全て長さが等しく、且つ互いにブリルアン周波数シフトが異なるＮ（Ｎは２以上の自然数）本の光ファイバ１１と、
１つの合波側ポートとＮ本の光ファイバ１１の一端がそれぞれ接続されるＮ個の分岐側ポートを有し、前記合波側ポートと前記分岐側ポートのいずれかとを接続する１×Ｎ光スイッチ１２と、
を備える。
【００２１】
評価治具１０１は、長さ（長さは任意）が等しく、ＢＦＳの異なるＮ系統（Ｎは２以上の自然数）の光ファイバ１１の一端に、１×Ｎチャネルの光スイッチ１２を接続する。ＢＦＳの違いは光ファイバ断面の屈折率プロファイルの違いにより、任意に設定できる。屈折率プロファイルの違いは、光ファイバメーカの違いや光ファイバ種別の違いによっても生じることが知られている。同種別の光ファイバでも、メーカが異なることで５０ＭＨｚ程度（１０００μεに相当）ＢＦＳが異なる。また、種別が異なる光ファイバでは１００ＭＨｚ程度（２０００μεに相当）ＢＦＳが異なるとの報告がある（例えば、非特許文献５を参照。）。すなわち、ＢＦＳの違いにより構造材料の降伏歪に相当する大きな歪変化を模擬することが可能となる。
【００２２】
図２は、評価治具１０１を用いてブリルアン光センシング装置３０１を評価する評価方法を説明する図である。ブリルアン光センシング装置３０１は、被測定光ファイバの一端に試験光（プローブ光とポンプ光）を入射するタイプであり、ＢＯＴＤＲやＢＯＣＤＲ（Ｂｒｉｌｌｏｕｉｎ  Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｒｒｅｌａｔｉｏｎ−Ｄｏｍａｉｎ  Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）である。
【００２３】
図２の評価方法は、
１つの合波側ポートとＮ個の分岐側ポートを有し、前記合波側ポートと前記分岐側ポートのいずれかとを接続する１×Ｎ光スイッチ１２の前記分岐側ポートそれぞれに、全て長さが等しく、且つ互いにブリルアン周波数シフトが異なるＮ（Ｎは２以上の自然数）本の光ファイバ１１を接続し、
１×Ｎ光スイッチ１２の前記合波側ポートにブリルアン光センシング装置３０１からの試験光を結合し、
１×Ｎ光スイッチ１２で光路を切り替え前記試験光をＮ本の光ファイバ１１に順に結合し、光周波数がブリルアン周波数シフトだけ変動したブリルアン散乱光をそれぞれの光ファイバ１１で発生させることを特徴とする。
【００２４】
制御器２０１は１×Ｎ光スイッチ１２の合波側ポートと分岐側ポートとの接続を切り替える。ブリルアン光センシング装置３０１はプローブ光とポンプ光を１×Ｎ光スイッチ１２の合波側ポートに入射する。当該試験光は１×Ｎ光スイッチ１２によりいずれかの光ファイバ１１に結合される。そして、光ファイバ１１で発生したブリルアン散乱光は１×Ｎ光スイッチ１２の合波側ポートを経由してブリルアン光センシング装置３０１で受光される。試験者は、当該光ファイバで模擬される歪をブリルアン光センシング装置３０１が測定できているか否かを確認する。試験者は、制御器２０１で試験光を結合する光ファイバ１１を切り替え、他の模擬歪もブリルアン光センシング装置３０１が測定できているか否かを確認する。
【００２５】
ここで、１×Ｎ光スイッチ１２のｎ番目とｎ＋１番目（ｎはＮ−１以下の自然数）の前記分岐側ポートに接続される光ファイバ１１のブリルアン周波数シフトの違いは、全てのｎで等しくしておく。つまり、光ファイバ１１のＢＦＳの違いを等間隔で段階的に設定しておく。１×Ｎ光スイッチ１２の接続先を単位時間ごとに順次切り替えることで、規則的な周期性のある動的歪も模擬可能となる。
【００２６】
（実施形態２）
図３は、本実施形態の評価治具１０２を説明する図である。評価治具１０２は、図１の評価治具１０１に、１つの第１ポートとＮ本の光ファイバ１１の他端がそれぞれ接続されるＮ個の第２ポートを有し、前記第１ポートからの光を前記第２ポート全てに分波し、前記第２ポートからの光を前記第１ポートに合波するＮ×１光カプラ１３をさらに備える。
【００２７】
図４は、評価治具１０２を用いてブリルアン光センシング装置３０２を評価する評価方法を説明する図である。ブリルアン光センシング装置３０２は、被測定光ファイバの一端にプローブ光を入射し、他端にポンプ光を入射するタイプであり、ＢＯＴＤＡやＢＯＴＤＲである。
【００２８】
図４の評価方法は、図２で説明した評価方法にさらに次の手順を行う。
１つの第１ポートとＮ個の第２ポートを有し、前記第１ポートからの光を前記第２ポート全てに分波し、前記第２ポートからの光を前記第１ポートに合波するＮ×１光カプラ１３の前記第２ポートそれぞれに、Ｎ本の光ファイバ１１の他端を接続し、
１×Ｎ光カプラ１３の前記第１ポートにもブリルアン光センシング装置３０２からの試験光を結合する。
【００２９】
作業者は、図２で説明したように光ファイバ１１で模擬される歪をブリルアン光センシング装置３０２が測定できているか否かを順次確認することができる。
【００３０】
（実施形態３）
図５は、本実施形態の評価治具１０３を説明する図である。評価治具１０３は、図１の評価治具１０１に、
１つの第１ポートとＮ本の光ファイバ１１の他端がそれぞれ接続されるＮ個の第２ポートを有し、前記第１ポートと前記第２ポートのいずれかとを接続するＮ×１光スイッチ１４と、
１×Ｎ光スイッチ１２とＮ×１光スイッチ１４に対して、同じ光ファイバ１１を選択するように指示する同期制御部１５と、
をさらに備える。
【００３１】
つまり、評価治具１０３は、図４のＮ×１光カプラ１３をＮ×１光スイッチ１４に置き換えたものである。図６は、評価治具１０３を用いてブリルアン光センシング装置３０２を評価する評価方法を説明する図である。
【００３２】
図６の評価方法は、図２で説明した評価方法にさらに次の手順を行う。
１つの第１ポートとＮ個の第２ポートを有し、前記第１ポートと前記第２ポートのいずれかとを接続するＮ×１光スイッチ１４の前記第２ポートそれぞれに、Ｎ本の光ファイバ１１の他端を接続し、
１×Ｎ光スイッチ１２とＮ×１光スイッチ１４に対して、同じ光ファイバ１１を選択させ、Ｎ×１光スイッチ１４の前記第１ポートにもブリルアン光センシング装置３０２からの試験光を結合する。
【００３３】
Ｎ×１光カプラ１３をＮ×１光スイッチ１４に置換したことで、ポンプ光のパワーを全て所望の光ファイバ１１に結合でき、挿入損失が小さい模擬動的歪評価系を構成することができる。ただし、１×Ｎ光スイッチ１２とＮ×１光スイッチ１４は同期して同チャネルに光路が切り替わるよう同期制御部１５で制御する。具体的には、同期制御部１５から発される同期制御電気信号にて両光スイッチを制御する。また、同期制御電気信号の電気的ジッタは光スイッチのチャネル切り替え時間に対して十分小さい必要がある。また、１×Ｎ光スイッチ１２およびＮ×１光スイッチ１４の切り替え速度は所望の模擬歪の変動速度と同等以上に速い必要がある。
【００３４】
作業者は、図２で説明したように光ファイバ１１で模擬される歪をブリルアン光センシング装置３０２が測定できているか否かを順次確認することができる。
【００３５】
（他の実施形態）
上記実施形態の評価治具を複数連結して使用することも可能である。その場合には、光スイッチ（光カプラ）のチャネル数ＮやＮ系統の光ファイバの長さおよび光路を切り替えるタイミングを評価治具間で一致させる必要はない。
【００３６】
（発明の効果）
本発明によれば、高価な電圧増幅器を利用することなく、構造物材料の降伏歪に相当する大きな歪変動を簡易デバイスのみで実現するブリルアン光センシング技術の模擬動的歪評価系を提供することができる。
【符号の説明】
【００３７】
１１：光ファイバ
１２：１×Ｎ光スイッチ
１３：Ｎ×１光カプラ
１４：Ｎ×１光スイッチ
１５：同期制御部
１０１、１０２、１０３：評価治具
２０１：制御器
３０１、３０２：ブリルアン光センシング装置
【図１】
2018009798.tif 000003
【図２】
2018009798.tif 000004
【図３】
2018009798.tif 000005
【図４】
2018009798.tif 000006
【図５】
2018009798.tif 000007
【図６】
2018009798.tif 000008