(57)【要約】      （修正有）【課題】部品の高さを測定する測定工具について、安価に製造できるようにし、また、持ち運びや収納を容易にする。【解決手段】目盛１０ｇを備える直尺体１０にスライダ１２をスライド可能に備え、スライダ１２は、表面１２ａと裏面とを貫通する第１の貫通孔及び第２の貫通孔を備える矩形状のプレートであり、直尺体１０を第１の貫通孔では裏面から表面１２ａに向かって貫通させ、第２の貫通孔では直尺体１０を表面１２ａから裏面に向かって貫通させスライド可能とし、基台Ｂに載置または配置された部品Ｐの高さの測定において、直尺体１０の一端１０ｃを基台Ｂの上面Ｂａに接触させ直尺体１０を立設させ、スライダ１２を直尺体１０の延在方向にスライドさせスライダ１２の下辺を部品Ｐの上面Ｐａに接触させ下辺が示す直尺体１０の目盛１０ｇで部品Ｐの高さを測定する測定工具１。【選択図】図３
2018017660.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
目盛を備える直尺体にスライダをスライド可能に備え基台に載置又は配置された部品の高さを測定する測定工具であって、
該スライダは、表面と裏面との間を貫通する第１の貫通孔及び第２の貫通孔を備える矩形状のプレートであり、該直尺体を該第１の貫通孔では裏面から表面に向かって貫通させ、該第２の貫通孔では該直尺体を表面から裏面に向かって貫通させスライド可能とし、
基台に載置または配置された部品の高さの測定において、該直尺体の一端を基台の上面に接触させ直尺体を立設させ、該スライダを該直尺体の延在方向にスライドさせ該スライダの下辺を該部品の上面に接触させ該下辺が示す該直尺体の目盛で部品の高さを測定する測定工具。
【請求項２】
該スライダの表面には該スライダをスライドさせる方向にバーニヤ目盛が形成される請求項１記載の測定工具。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基台に取り付けられた状態の部品の高さを測定することができる測定工具に関する。
【背景技術】
【０００２】
作業者の手によって操作され部品の高さや幅等を測定する測定器として、例えば、ノギス（例えば、特許文献１参照）やマイクロメータ等が従来から知られている。そして、加工装置等の構成部品であるブロック状の部品の外形寸法を測定する場合には、ノギスのジョウと呼ばれるコの字状に形成された部位で部品を挟み込み、ノギスの本尺に形成されている主目盛を作業者が読んで測定を行う。
【０００３】
しかし、ブロック状の部品が加工装置の基台に取り付けられている状態で、この部品の高さを測定したい場合には、ノギスのジョウで部品を上手く挟むことができない。このような場合に備えて、ノギスの下端側には、ノギスの長手方向に向かって伸縮可能なデプスバーが備えられている。そして、デプスバーの先端を基台に接触させデプスバーの先端面を基準面とし、さらに、部品の上面に本尺の末端を接触させることで、デプスバーがノギスから突出した長さを測定して部品の高さを測定することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−３４４００３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、上記特許文献１に記載されているようなノギスは複雑な構成で高価であり、また、工具箱に他の工具と一緒に収納しておくにはスペースを多くとられるという問題がある。
【０００６】
したがって、部品の高さを測定する測定工具については、安価に製造できるようにし、また、コンパクトで持ち運びや収納を容易にするという課題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するための本発明は、目盛を備える直尺体にスライダをスライド可能に備え基台に載置又は配置された部品の高さを測定する測定工具であって、該スライダは、表面と裏面とを貫通する第１の貫通孔及び第２の貫通孔を備える矩形状のプレートであり、該直尺体を該第１の貫通孔では裏面から表面に向かって貫通させ、該第２の貫通孔では該直尺体を表面から裏面に向かって貫通させスライド可能とし、基台に載置又は配置された部品の高さの測定において、該直尺体の一端を基台の上面に接触させ直尺体を立設させ、該スライダを該直尺体の延在方向にスライドさせ該スライダの下辺を該部品の上面に接触させ該下辺が示す該直尺体の目盛で部品の高さを測定する測定工具である。
【０００８】
該スライダの表面には該スライダをスライドさせる方向にバーニヤ目盛が形成されていると好ましい。
【発明の効果】
【０００９】
本発明に係る測定工具は、目盛を備える直尺体にスライダをスライド可能に備え基台に載置又は配置された部品の高さを測定する測定工具であって、スライダは、表面と裏面とを貫通する第１の貫通孔及び第２の貫通孔を備える矩形状のプレートであり、直尺体を第１の貫通孔では裏面から表面に向かって貫通させ、第２の貫通孔では直尺体を表面から裏面に向かって貫通させスライド可能とし、基台に載置又は配設された部品の高さの測定において、直尺体の一端を基台の上面に接触させ直尺体を立設させ、スライダを直尺体の延在方向にスライドさせスライダの下辺を部品の上面に接触させ下辺が示す直尺体の目盛で部品の高さを測定することができる。そして、本発明に係る測定工具は、測定工具の構成を複雑な構成としていないため、安価に製造することができる。また、本発明に係る測定工具は、工具箱に収納する場合にスペースを多くとらず、また、コンパクトで持ち運びも容易である。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】測定工具の構成部品である直尺体及びスライダの一例を示す斜視図である。
【図２】スライダと直尺体とを組み合わせた状態を示す側面図である。
【図３】基台に載置された部品の高さを測定工具によって測定している状態を正面からみた場合の断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
図１に示す測定工具１は、基台に載置又は配置した部品の高さを測定する測定工具であり、目盛１０ｇを備える直尺体１０と、直尺体１０の長手方向（Ｙ軸方向）に沿って直尺体１０にスライド可能に組み合わされるスライダ１２と備えている。直尺体１０は、例えば、合成樹脂又は金属等を長尺状に形成したものであり、その表面１０ａには、−Ｙ方向側の一端１０ｃの端辺を基準（０ｍｍ）として長手方向に沿って目盛１０ｇが１ｍｍ単位で形成されており、１０ｍｍごとに数値が１０、２０、〜１００と記されている。なお、直尺体１０の形状及び目盛の１０ｇの形成位置等は本実施形態に限定されるものではなく、例えば、直尺体１０の一端１０ｃからは、直尺体１０の長手方向と垂直に交わるＸ方向に向かって延在する別の直尺体が一体的に形成されている曲尺でもよい。
【００１２】
スライダ１２は、例えば、その外形が平面視で矩形状となるプレートであり、ポリカーボネート等の透明部材で形成されている。なお、スライダ１２の形成材料は、透明部材に限定されるものではない。例えばスライダ１２は、平板状の中央部分１２ｄを備えており、中央部分１２ｄの長手方向（Ｙ軸方向）の両端には＋Ｚ方向に垂直に立設する貫通孔形成部１２ｃ、１２ｅが一体的に形成されている。貫通孔形成部１２ｃの上部からは、−Ｙ方向側に向かって中央部分１２ｄと平行に延出される端部１２ｆが形成され、貫通孔形成部１２ｅの上部からは、＋Ｙ方向側に向かって中央部分１２ｄと平行に延出される端部１２ｈが形成されている。例えば、スライダ１２の裏面１２ｂの中央部分１２ｄ又はスライダ１２の表面Ｗａの端部１２ｆ、１２ｈには、微小粒子が練りこまれた基材樹脂又はゴム樹脂等からなり摩擦抵抗を付与するための滑り止めシールが貼着されていてもよい。
【００１３】
図１、２に示すようにスライダ１２には、スライダ１２の表面１２ａと裏面１２ｂとを貫通する第１の貫通孔１２１（図１には不図示）及び第２の貫通孔１２２が形成されている。例えば、第１の貫通孔１２１及び第２の貫通孔１２２は、スライダ１２の貫通孔形成部１２ｃ、１２ｅにそれぞれＹ軸方向において向かい合うように貫通形成されている。第１の貫通孔１２１及び第２の貫通孔１２２の横幅（Ｘ軸方向における長さ）は、直尺体１０の横幅（Ｘ軸方向における長さ）よりも僅かに大きく形成されており、第１の貫通孔１２１及び第２の貫通孔１２２の高さ（Ｚ軸方向における長さ）は、直尺体１０の厚みよりも僅かに大きく形成されている。
スライダ１２は、直尺体１０と接触した状態で移動され、直尺体１０から滑り落ちない構成になっている。例えば、第１の貫通孔１２１と第２の貫通孔１２２が同じ形状であったとき、Ｚ方向に位置をずらして第１の貫通孔１２１と第２の貫通孔を配設することで、直尺体１０の第１の貫通孔１２１と表面１０ａとを接触させ、第２の貫通孔１２２と裏面１０ｂとを接触させる。また、例えば、スライダ１２のＸ方向を湾曲させるとともに第１の貫通孔１２１と第２の貫通孔１２２をその形状に合うように湾曲させ、第１の貫通孔１２１と第２貫通孔１２２とが表面１０ａ、１０ｂに接触させてもよい。さらに、スライダ１２の例えば中央部分１２ｄに磁石１２３を埋め込んでおき、磁石１２３の磁力によってスライダ１２が直尺体１０を引き寄せることにより、スライダ１２が直尺体１０から滑り落ちないようにしてもよい。
【００１４】
スライダ１２の横幅（Ｘ軸方向における長さ）は、直尺体１０の横幅（Ｘ軸方向における長さ）よりも大きく形成されており、スライド１２を直尺体１０にスライド移動可能に組み合わせた場合に、スライダ１２のＸ方向側の外側部分は直尺体１０の両横から張り出た状態になる。そして、スライダ１２の表面１２ａの＋Ｘ方向側の外側領域には、直尺体１０の目盛１０ｇに対する補助目盛、すなわち、直尺体１０の目盛をさらに細分化して正確に読む為のバーニヤ目盛１２ｇが形成されている。バーニヤ目盛１２ｇは、例えば、スライダ１２の端部１２ｆの端辺を基準（０）として長手方向に沿って９／１０あるいは１９／２０の間隔で目盛が形成されており、１、２、３、及び４と数値が付されている。
【００１５】
図２に示すように、直尺体１０をスライダ１２の第１の貫通孔１２１では裏面１２ｂから表面１２ａに向かって貫通させ、第２の貫通孔１２２では直尺体１０を表面１２ａから裏面１２ｂに向かって貫通させることで、スライド１２は直尺体１０にスライド移動可能に組み合わせることができる。すなわち、測定工具１の使用者が、直尺体１０に組み合わされたスライド１２の端部１２ｈに指Ｆを接触させて、スライド１２に対して＋Ｙ方向に向かって力を加えることで、スライド１２が直尺体１０に対して相対的に＋Ｙ方向に向かって摺動する。
【００１６】
以下に、図３に示す測定工具１を用いて、図３に示す基台Ｂに載置された部品Ｐの高さを測定する場合の、測定工具１の動作について説明する。図３に示す基台Ｂは、例えば、研削装置や切削装置等の装置ベースであり、その上面Ｂａはフラットな水平面となっている。部品Ｐは、研削装置や切削装置の構成部品であり、例えば、外形が直方体のブロック状に形成されている。
【００１７】
まず、使用者が測定工具１の直尺体１０の一端１０ｃを基台Ｂの上面Ｂａに接触させ、直尺体１０を基台Ｂの上面Ｂａ上に立設させるとともに、直尺体１０の側面１０ｅを部品Ｐの側面Ｐｄに接触させる。次いで、例えば、スライダ１２を直尺体１０の延在方向、すなわち−Ｚ方向にスライド移動させて、スライダ１２の下辺、すなわち、端部１２ｆの端辺を部品Ｐの上面Ｐａに接触させる。
【００１８】
次いで、使用者が、端部１２ｆの端辺が示す直尺体１０の目盛１０ｇを読み取る。スライダ１２は透明部材で形成されているため、使用者は、スライダ１２の端部１２ｆを透かして直尺体１０の目盛１０ｇを読み取ることができる。図３においては、スライダ１２の端部１２ｆの端辺は、直尺体１０の目盛１０ｇの２６ｍｍと２７ｍｍとの間に位置している。したがって、部品Ｐの高さを０．１ｍｍ単位で測定するために、使用者はさらにスライダ１２に形成されているバーニヤ目盛１２ｇを読み取る。すなわち、図３においては、スライダ端部１２ｆの端辺（０目盛目）から３目盛目のバーニヤ目盛１２ｇが、直尺体１０の目盛１０ｇと重なっているため、バーニヤ目盛１２ｇの読値は０．３ｍｍとなる。したがって、使用者は、部品Ｐの高さを２６．３ｍｍと測定することができる。なお、スライダ１２を部品Ｐの上面Ｐａから離間する方向に所定量（例えば１０ｍｍ）ずらし、その状態でバーニヤ目盛１２ｇを読むようにすれば、スライダ１２が透明部材によって形成されていなくてもよい。
【００１９】
上記のように測定工具１は、基台Ｂに載置または配置された部品Ｐの高さを０．１ｍｍ単位で正確に測定することができるとともに、複雑な構成となっていないため、安価に製造することができる。また、測定工具１は、工具箱に収納する場合にスペースを多くとらず、また、コンパクトで持ち運びも容易である。
【００２０】
なお、本発明に係る測定工具１は上記実施形態に限定されるものではなく、また、添付図面に図示されている測定工具１の各構成の大きさや形状等についても、これに限定されず、本発明の効果を発揮できる範囲内で適宜変更可能である。
【符号の説明】
【００２１】
１：測定工具
１０：直尺体  １０ａ：直尺体の表面  １０ｇ：直尺体の目盛
１２：スライダ  １２１：第１の貫通孔  １２２：第２の貫通孔  １２ｇ：バーニヤ目盛
Ｂ：基台  Ｂａ：基台の上面  Ｐ：部品  Ｐａ：部品の上面
【図１】
2018017660.tif 000003
【図２】
2018017660.tif 000004
【図３】
2018017660.tif 000005