(57)【要約】【課題】  基準板を用いることなく、対象物の光沢を表す画像における光沢のムラを補正するための画像処理技術を提供することを目的とする。【解決手段】  物体からの反射光の反射強度を表す第１画像データを取得する第１取得手段と、前記第１画像データを所定サイズの領域に分割する分割手段と、前記分割手段によって分割された各領域内の前記反射強度の平均値を算出する算出手段と、前記平均値の中から１つの値を抽出する抽出手段と、前記各領域内の前記反射強度の平均値が前記１つの値と同じ値となるように前記各領域内の前記反射強度を補正して得られる補正画像データを出力する出力手段と、を有することを特徴とする画像処理装置。【選択図】  図５
2018017611.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物体からの反射光の反射強度を表す第１画像データを取得する第１取得手段と、
前記第１画像データを所定サイズの領域に分割する分割手段と、
前記分割手段によって分割された各領域内の前記反射強度の平均値を算出する算出手段と、
前記平均値の中から１つの値を抽出する抽出手段と、
前記各領域内の前記反射強度の平均値が前記１つの値と同じ値となるように前記各領域内の前記反射強度を補正して得られる補正画像データを出力する出力手段と、
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
所定の１方向に偏光した前記物体への入射光に対する前記反射光を前記所定の１方向と同じ方向に偏光して得られる光の反射強度を表す第２画像データを取得する第２取得手段と、
前記第１方向に偏光した前記物体への入射光に対する前記反射光を前記所定の１方向とは異なる方向に偏光して得られる光の反射強度を表す第３画像データを取得する第３取得手段と、
前記第２画像データと前記第３画像データとに基づいて、前記第１画像データを生成する生成手段と、をさらに有し、
前記第１取得手段は、前記生成手段によって生成された前記第１画像データを取得することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記第１画像データは、前記反射光の正反射成分の反射強度を表すことを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記生成手段は、前記第２画像データが表す反射強度の値から前記第３画像データが表す反射強度の値を引くことによって前記第１画像データが表す反射強度の値を算出することを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記第３取得手段は、前記第１方向に偏光した前記物体への入射光に対する前記反射光を前記所定の１方向と直交する方向に偏光して得られる光の反射強度を表す第３画像データを取得することを特徴とする請求項２に記載の画像処理装置。
【請求項６】
前記抽出手段によって抽出する前記所定の１つの値は前記反射強度の平均値の中の最大値であることを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれか一項に記載の画像処理装置。
【請求項７】
前記第１画像データにおける複数種類のサイズの各領域内で、反射強度の標準偏差を算出する算出手段と、
前記標準偏差の値が最も小さい値となる領域のサイズを前記分割手段の分割に用いる前記所定サイズに設定する設定手段と、をさらに有し、
前記分割手段は、前記第１画像データを、前記設定手段によって設定された前記所定サイズの領域に分割することを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれか一項に記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記物体の反射特性を取得する第４取得手段と、
前記反射特性に基づいて、前記分割手段で分割する領域のサイズを決定する決定手段と、をさらに有し、
前記分割手段は、前記第１画像データを、前記決定手段によって決定されたサイズの領域に分割することを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれか一項に記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記反射特性は、ユーザの指示によって特定される反射特性であることを特徴とする請求項８に記載の画像処理装置。
【請求項１０】
前記反射特性は、前記物体を撮像することによって得られた反射強度であることを特徴とする請求項８に記載の画像処理装置。
【請求項１１】
前記第１画像データは、前記物体を複数の領域に分けて撮像することによって得られた複数の画像データであって、
複数の前記補正画像データを連結する連結手段と、をさらに有し、
前記出力手段は、前記連結手段によって連結された前記補正画像データを出力することを特徴とする請求項１乃至請求項１０のいずれか一項に記載の画像処理装置。
【請求項１２】
前記補正画像データごとに、前記補正画像データが表す反射強度が前記物体においてどの位置の反射強度であるかを表す座標情報を取得する第５取得手段と、
前記座標情報に基づいて、複数の前記補正画像データの中で重複する領域を特定する特定手段と、をさらに有し、
前記連結手段は、前記特定手段によって特定された前記重複する領域で、前記補正画像データを連結することを特徴とする請求項１１に記載の画像処理装置。
【請求項１３】
コンピュータを請求項１乃至請求項１２のいずれか一項に記載の画像処理装置の各手段として機能させるためのプログラム。
【請求項１４】
物体からの反射光の反射強度を表す第１画像データを取得する第１取得ステップと、
前記第１画像データを所定サイズの領域に分割する分割ステップと、
前記分割手段によって分割された各領域内の前記反射強度の平均値を算出する算出ステップと、
前記平均値の中から１つの値を抽出する抽出ステップと、
前記各領域内の前記反射強度の平均値が前記１つの値と同じ値となるように前記各領域内の前記反射強度を補正して得られる補正画像データを出力する出力ステップと、
を有することを特徴とする画像処理装置の画像処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像からの反射光における光沢ムラに対する画像処理技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、絵画などの美術品の複製や保存などを目的として、対象物の色や光沢を取得する技術が求められている。対象物の光沢を取得する技術として、照明系の偏光子の偏光方向と受光系の偏光子の偏光方向とを直交させる条件と、平行にする条件とを切り替えて光沢強度の分布を示す画像を取得する方法がある。しかしながら、上述した方法では、照明光の入射角度や反射光の出射角度といった幾何条件が対象物の位置ごとに変化するため、画像が示す光沢にムラが発生する。一方で、特許文献１は、基準板を撮像することによって補正係数を算出し、基準板に載せた対象物の撮像によって得られる画像が示す光沢を補正係数によって補正する技術を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１２−００２６０１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、例えば油彩画のように表面に微細な凹凸を有する対象物の場合、対象物の位置毎に光の反射方向が変化する。従って、同様の凹凸を有する基準板を用いなければ、基準板を用いて得られた補正係数を表すデータの各画素と、対象物の画像の各画素とで上述したように撮像時の幾何条件が異なってしまい、精度良く光沢ムラを補正できないという課題がある。
【０００５】
そこで本発明は、基準板を用いることなく、対象物の光沢を表す画像における光沢のムラを補正するための画像処理技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明に係る画像処理装置は、物体からの反射光の反射強度を表す第１画像データを取得する第１取得手段と、前記第１画像データを所定サイズの領域に分割する分割手段と、前記分割手段によって分割された各領域内の前記反射強度の平均値を算出する算出手段と、前記平均値の中から１つの値を抽出する抽出手段と、前記各領域内の前記反射強度の平均値が前記１つの値と同じ値となるように前記各領域内の前記反射強度を補正して得られる補正画像データを出力する出力手段と、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、基準板を用いることなく、対象物の光沢を表す画像における光沢のムラを補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】画像処理装置１のハードウェア構成例を示すブロック図
【図２】画像処理装置１の機能構成例を示すブロック図
【図３】画像処理装置１が実行する処理のフローチャート
【図４】対象物を２つの異なる幾何条件で撮像した様子を表す模式図
【図５】光沢ムラを補正する処理のフローチャート
【図６】ブロックに分割する処理の一例を示す図
【図７】画像を連結する処理のフローチャート
【図８】連結する２つの画像データの位置関係の一例を示す図
【図９】座標保持部２０８が保持するデータの一例を示す図
【図１０】光沢ムラを補正する処理のフローチャート
【図１１】対象物の反射特性の一例を示す図
【図１２】光沢ムラを補正する処理のフローチャート
【図１３】対象物の反射特性を取得するためのＵＩの一例を示す図
【図１４】対象物の反射特性とブロックサイズとの対応関係を表すテーブルの一例を示す図
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施例について、図面を参照して説明する。尚、以下の実施例は本発明を限定するものではない。また、本実施例で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。尚、同一の構成については、同じ符号を付して説明する。
【００１０】
［実施例１］
図１は、本実施例における画像処理装置１のハードウェア構成例である。画像処理装置１は、例えばコンピュータであり、ＣＰＵ１０１、ＲＯＭ１０２、ＲＡＭ１０３を備える。ＣＰＵ１０１は、ＲＡＭ１０３をワークメモリとして、ＲＯＭ１０２、ＨＤＤ（ハードディスクドライブ）１５などに格納されたＯＳ（オペレーティングシステム）や各種プログラムを実行する。また、ＣＰＵ１０１は、システムバス１０７を介して各構成を制御する。尚、後述するフローチャートによる処理は、ＲＯＭ１０２やＨＤＤ１５などに格納されたプログラムコードがＲＡＭ１０３に展開され、ＣＰＵ１０１によって実行される。汎用Ｉ／Ｆ（インターフェース）１０４には、シリアルバス１１を介して、マウスやキーボードなどの入力デバイス１２やプリンタ１３が接続される。ＳＡＴＡ（シリアルＡＴＡ）Ｉ／Ｆ１０５には、シリアルバス１４を介して、ＨＤＤ１５や各種記録メディアの読み書きを行う汎用ドライブ１６が接続される。ＣＰＵ１０１は、ＨＤＤ１５や汎用ドライブ１６にマウントされた各種記録メディアを各種データの格納場所として使用する。ビデオＩ／Ｆ１０６には、ディスプレイ１７が接続される。ＣＰＵ１０１は、プログラムによって提供されるＵＩ（ユーザインターフェース）をディスプレイ１７に表示し、入力デバイス１２を介して受け付けるユーザ指示などの入力を受信する。
【００１１】
図２は、本実施例における画像処理装置１の機能構成を示すブロック図である。画像処理装置１は、第１取得部２０１、第２取得部２０２、画像保持部２０３、生成部２０４、補正部２０５、連結部２０６、出力部２０７、座標保持部２０８を有する。第１取得部２０１は、対象物を撮像することによって得られた対象物の光沢を表す第１の光沢画像データを画像保持部２０３より取得する。尚、本実施例では、対象物を、重複を含むように領域ごとに分けて撮像した画像を表す複数の画像データを取得する。第２取得部２０２は、第１の光沢画像データを得たときと異なる撮像の条件で、対象物を撮像することによって得られた対象物の光沢を表す第２の光沢画像データを画像保持部２０３より取得する。尚、本実施例では、第１取得部２０１で取得した各第１の光沢画像データが含んでいる対象物の領域と同じ領域を異なる条件で撮像した複数の画像データを取得する。生成部２０４は、第１取得部２０１及び第２取得部２０２で取得した第１の光沢画像データ及び第２の光沢画像データを用いて、対象物の光沢の正反射成分を表す正反射画像データを生成する。補正部２０５は、生成部２０４で生成された正反射画像データに対して光沢ムラの補正を行う。尚、本実施例における光沢ムラは、撮像時の照明光の入射角度や反射光の出射角度といった幾何条件が対象物の位置ごとに変化することによって発生する光沢の変化である。連結部２０６は、座標保持部２０８に保持されている座標情報に基づいて、補正部２０５で補正された複数の各正反射画像データ（補正画像データ）を重複領域で連結し、出力部２０７にて出力する。
【００１２】
以下、上記構成からなる本実施例で実行される処理について図３のフローチャートを用いて説明する。尚、本実施例で扱う対象物は、例えば油彩画のように同一の素材で構成されており、マクロ的に光沢は略均一であるが、ミクロ的には表面の凹凸により対象物の位置によって光沢強度が異なる物体とする。以下、各ステップ（工程）は符号の前にＳをつけて表す。
【００１３】
Ｓ３０１において、第１取得部２０１は、対象物における正反射光の反射強度の分布を表す光沢画像データとして、撮像装置の偏光子の偏光方向を照明の偏光子の偏光方向と平行状態にして撮像された第１の光沢画像データを画像保持部２０３から取得する。本実施例における第１の光沢画像データは各画素に光の反射強度が格納された画像データである。尚、第１の光沢画像データが各画素に格納している反射強度には、正反射光だけではなく偏光子を通過した拡散反射光の反射強度も含まれている。図４（ａ）は第１の光沢画像データを得るための撮像条件の一例を示した図である。図４（ａ）において、光源５０１から照射された光は偏光フィルタ５０４を通過し、照射光（入射光）として対象物体５０３に入射する。対象物体５０３で反射した反射光は、偏光フィルタ５０５を介して撮像装置の受光部５０２で受光される。尚、偏光フィルタ５０４の偏光方向と偏光フィルタ５０５の偏光方向は同方向、すなわち平行な向きで配置されている。図４（ａ）のような条件で対象物を撮像して得られた第１の光沢画像データを画像保持部２０３に予め保持させておく。
【００１４】
Ｓ３０２において、第２取得部２０２は、対象物における拡散反射光の反射強度の分布を表す光沢画像データとして、撮像装置の偏光子の偏光方向を照明の偏光子の偏光方向と直交状態にして撮像された第２の光沢画像データを画像保持部２０３から取得する。図４（ｂ）は第２の光沢画像データを得るための撮像条件の一例を示した図である。図４（ｂ）において、５０１から５０４は図４（ａ）と同様である。受光部５０２は、偏光フィルタ５０４の偏光方向と偏光方向が直交するような向きで配置された偏光フィルタ５０６を介して、対象物の反射光を受光する。図４（ｂ）のような条件で対象物を撮像して得られた第２の光沢画像データを画像保持部２０３に予め保持させておく。尚、撮像装置の偏光子の偏光方向が照明の偏光子の偏光方向と異なる１方向であれば、２つの方向が直交していなくても良い。
【００１５】
Ｓ３０３において、生成部２０４は、Ｓ３０１で取得した対象物の各領域における第１の光沢画像データ、及び、Ｓ３０２で取得した第２の光沢画像データに基づいて、式１により対象物の正反射画像データを生成する。第１の光沢画像データが有する画素値をＩＮｐ、第２の光沢画像データが有する画素値をＩＮｃ、正反射画像データが有する画素値をＩＮｇとし、Ｎは対象物の領域番号を表す。式１により光の反射強度から拡散反射光の反射強度が取り除かれた正反射光のみの反射強度を画素値とした正反射画像データが得られる。正反射画像データは、画素位置に応じて撮像時の照明の入射／出射角度が異なるため、光沢ムラを有したデータとなる。
【００１６】
ＩＮｇ（ｘ，ｙ）＝αＩＮｐ（ｘ，ｙ）−ＩＮｃ（ｘ，ｙ）・・・（式１）
尚、式１のαは第１の光沢画像データを撮像したときの撮像装置の露出と第２の光沢画像データを撮像したときの撮像装置の露出とを合わせるための定数である。Ｎごとに、つまり第１の光沢画像データ及び第２の光沢画像データの１組について１つの正反射画像データを生成する。
【００１７】
Ｓ３０４において、補正部２０５は、Ｓ３０３で生成した複数の正反射画像データについて光沢ムラの補正を行う。尚、Ｓ３０４の詳細については後述する。Ｓ３０５において、連結部２０６は、Ｓ３０４で光沢ムラを補正した後の複数の正反射画像データを重複領域で連結する。尚、Ｓ３０５の詳細は後述する。Ｓ３０６において、出力部２０７は、Ｓ３０５で連結した連結画像データを出力し処理を終了する。
【００１８】
以下、Ｓ３０４の光沢ムラを補正する処理に関して図５のフローチャートを用いて説明する。尚、Ｓ３０４の処理は各正反射画像データに対して行う。
【００１９】
Ｓ７０１において、Ｓ３０３で生成された正反射画像データを、予め設定されたｍ×ｎの画素数のブロックに分割する。図６（ａ）はブロックに分割された正反射画像データであり、図６（ｂ）は図６（ａ）におけるブロック８０１で囲まれた領域の光沢強度の分布を表すヒストグラムである。正反射画像データは、対象物の位置ごとに撮像時の入射／出射角度が変化するため、光沢ムラが光沢に表れたデータである。一方、小領域（本実施例ではブロック内の領域）の範囲内であれば、撮像時の幾何条件は隣接画素間で類似しているため、領域内の光沢ムラは無視できるほど小さい。従って、図６（ｂ）のヒストグラムに示すような光沢強度の分布は、撮像時の幾何条件の違いによる分布ではなく、対象物の表面の微細な凹凸に起因する光沢強度の大小関係を表しているといえる。
【００２０】
Ｓ７０２において、式２によりブロック内の画素値の平均値
【００２１】
【数１】
2018017611.tif 000003
を算出する。
【００２２】
【数２】
2018017611.tif 000004
尚、式２においてＭは、正反射画像データの各ブロックを識別するためのブロック番号を表す。
【００２３】
Ｓ７０３において、Ｓ７０２で算出したブロック毎の平均画素値
【００２４】
【数３】
2018017611.tif 000005
の中から、最大値Ｖｍａｘを抽出する。略同一の素材で構成された対象物では、正反射光の反射強度が最も大きな値となる。従って、平均画素値の最大値Ｖｍａｘは素材の正反射光を最も反映した値であるといえる。
【００２５】
Ｓ７０４において、Ｓ７０３で抽出したＶｍａｘを用いて、式３により、全てのブロックの平均画素値がＶｍａｘとなるように、各ブロックのブロック内の画素値を補正し、補正された正反射画像データを得る。尚、式３において、（ｉ，ｊ）はブロックＭにおける各画素の座標であり、正反射画像データの座標（ｘ，ｙ）に対応した座標である。
【００２６】
【数４】
2018017611.tif 000006
本処理により、各ブロックでマクロ的な光沢強度をＶｍａｘに均一化することにより、対象物の位置ごとの光沢強度を保持しながら、光沢ムラを補正することができる。尚、各ブロック内を平均値の最大値ではなく、他のブロックの平均値で全ブロックの光沢強度を均一化しても、光沢ムラを補正することができる。
【００２７】
以下、Ｓ３０５の正反射画像データの連結処理に関して図７のフローチャートを用いて説明する。尚、本実施例では説明を簡易にするため、図８（ａ）に示すような横方向に重複領域を持つ正反射画像データＤ１ｇ’とＤ２ｇ’とを連結する場合について説明を行う。尚、縦方向に重複領域を持つ場合も同様に、処理を縦方向に対して行うことで連結が可能である。
【００２８】
Ｓ９０１において、補正部２０５で補正された正反射画像データのうち、画像連結における連結先である第１の正反射画像データＤ１ｇ’を取得する。Ｓ９０２において、補正部２０５で補正された正反射画像データのうち、Ｓ９０１で取得された正反射画像データとの重複領域が存在する第２の正反射画像データＩ２ｇ’を連結対象として画像保持部２０３から取得する。
【００２９】
Ｓ９０３において、Ｓ９０１で取得した第１の正反射画像データの対象物の表面上の位置を表す座標情報と、Ｓ９０２で取得した第２の正反射画像データの対象物の表面上の位置を表す座標情報とを座標保持部２０８から取得する。尚、表面上の座標情報は、図９に示すように、画像の４隅（左上、右上、左下、右下）に対応した対象物の全体における相対位置がミリメートルで記載されたデータであり、ｘ１０やｙ１０等にはそれぞれ値が入っている。
【００３０】
Ｓ９０４において、第１の正反射画像データと第２の正反射画像データとのｘ方向に重複する領域Ｓｘと、ｙ方向に重複する領域Ｓｙとを、それぞれ式４、式５により算出する。
【００３１】
ｘ２０≦Ｓｘ≦ｘ１１・・・（式４）
ｙ２１≦Ｓｙ≦ｙ１０・・・（式５）
算出されたＳｘ及びＳｙにより、Ｓｘ×Ｓｙの重複領域が特定できる。
【００３２】
Ｓ９０５において、重複領域に含まれる第１の正反射画像データの画素値Ｉ１ｇ’（ｘ、ｙ）及び第２の正反射画像データの画素値Ｉ２ｇ’（ｘ、ｙ）に対して、式６により評価値Ｒを算出する。式６において、ｋは重複領域に含まれる第１の正反射画像データの画素の総数である。尚、重複領域に含まれる画素の総数については、第１の正反射画像データと第２の正反射画像データは同じであるため、ｋを重複領域に含まれる第２の正反射画像データの画素の総数としても良い。
【００３３】
【数５】
2018017611.tif 000007
Ｓ９０６において、Ｓ９０５で算出した評価値Ｒに対して、重複領域ごとに算出する評価値Ｒの最小値を表す変数Ｒｍｉｎとの大小関係を比較する。もし、ＲがＲｍｉｎよりも小さければＳ９０７へ進み、そうでなければＳ９０８へ進む。Ｓ９０７において、式７により変数Ｒｍｉｎの値をＲに更新する。
【００３４】
Ｒｍｉｎ＝Ｒ・・・（式７）
Ｓ９０８において、予め設定された探索範囲について探索が終了したかを判定する。もし全ての探索範囲について処理が完了していればＳ９１０に進み、そうでなければＳ９０９に進む。尚、本実施例では図８（ｂ）における黒い枠で表した探索範囲を、第２の正反射画像データの長辺と短辺の１０％に囲まれた領域に相当する範囲とするがこれに限るものではない。
【００３５】
Ｓ９０９において、探索範囲内で、第２の正反射画像データをｘ方向又はｙ方向に１画素分の距離（Δｘ、Δｙ）ずつずらして移動させ、式８、式９により重複領域Ｓｘ、Ｓｙを更新しＳ９０５に戻る。
【００３６】
ｘ２０＋Δｘ≦Ｓｘ≦ｘ１１・・・（式８）
ｙ２１＋Δｙ≦Ｓｙ≦ｙ１０・・・（式９）
Ｓ９１０において、Ｒｍｉｎに対応する重複領域の範囲で第１の正反射画像データと第２の正反射画像データとを連結する。このとき、重複する領域においては公知の補間演算を行う。本実施例における公知の補間方法として、線形濃度変換法を用いることとするが、これに限るものではない。例えば、ヒストグラム一致法や平均濃度差補正法などを用いても良い。Ｓ９１１において、全ての正反射画像データの連結が完了したかを判定する。もし連結が完了していれば処理を終了し、そうでなければＳ９０２に戻る。
【００３７】
以上により、正反射画像データのブロックごとの平均値が一定となるように各ブロック内の画素値を補正することで、対象物の位置ごとの光沢強度の相対関係を保持しながら、画像が有する光沢のムラを補正することができる。
【００３８】
尚、本実施例では、対象物を複数の領域に分けて撮像を行い、光沢ムラの補正を行ってから連結を行ったが、上記一例に限定されない。対象物を複数の領域に分けて撮像する必要がなければ、１つの第１の光沢画像データと１つの第２の光沢画像データを取得し、１つの正反射画像データに光沢ムラの補正を行った後、Ｓ３０５の連結処理を行わずにＳ３０６で正反射画像データを出力しても良い。
【００３９】
［実施例２］
実施例１では、光沢ムラの補正処理において、光沢画像を予め決められた所定サイズのブロックに分割し処理を行った。しかし、ブロックサイズが大きい場合、幾何条件の違いによる光沢ムラがブロック内に含まれる場合がある。このような場合、光沢画像に応じてブロックサイズを適応的に変えても良い。本実施例では、光沢画像に応じて適切にブロックサイズを決定する方法について、実施例１との差分を主に説明する。
【００４０】
以下、Ｓ３０４の光沢ムラの補正処理に関して図１０のフローチャートを用いて説明する。本処理は、複数種類のブロックサイズから、幾何条件の違いによる光沢ムラの影響が少ないブロックサイズを決定するため、ブロック内における画素値の統計値に基づいてブロックサイズを決定する処理である。
【００４１】
Ｓ１２０１において、正反射画像データの中心座標を中心として、ｘ方向に−ａから＋ａ、ｙ方向に−ｂから＋ｂの画素範囲（２ａ×２ｂの領域）を抽出する。Ｓ１２０２において、Ｓ１２０１で抽出したブロック内の画素値の標準偏差σを式１０及び式１１により算出する。尚、ＩｃｇはＳ１２０１で抽出したブロック内の画素値である。
【００４２】
【数６】
2018017611.tif 000008
【００４３】
【数７】
2018017611.tif 000009
Ｓ１２０３において、Ｓ１２０２で算出したσと、標準偏差の最小値を表す変数σｍｉｎとの大小関係を比較し、もし式１２を満たせばＳ１２０４に進み、そうでなければＳ１２０５に進む。
【００４４】
σ＜σｍｉｎ・・・（式１２）
Ｓ１２０４において、σｍｉｎの値をσに更新する。Ｓ１２０５において、ブロックサイズにおけるａとｂの全ての組み合わせについて標準偏差σの算出を行ったかを判定する。ａとｂの組み合わせは、（ａ，ｂ）＝（１，１）から２ａ×２ｂの領域が正反射画像データの全領域と等しくなる値の組み合わせまでである。例えば、正反射画像データが６×６画素である場合、ａとｂとについて、（１，１）、（２，１）、（１，２）、（２，２）、（３，２）、（２，３）、（３，３）が全ての組み合わせである。全ての組み合わせに対して標準偏差の算出が行われていればＳ１２０７に進み、そうでなければＳ１２０６に進む。
【００４５】
Ｓ１２０６において、ａとｂとについて、未処理の組み合わせとなるように、ａ又はｂの値を変えて、Ｓ１２０２に戻る。Ｓ１２０７からＳ１２１０は実施例１におけるＳ７０１からＳ７０４と同様であるため、説明を省略する。
【００４６】
以上の処理により、光沢画像のブロック毎の画素値の標準偏差に応じてブロックサイズを適応的に決定することにより、より精度よく画像が有する光沢のムラを補正することができる。
【００４７】
［実施例３］
実施例２では、光沢ムラの補正処理において、光沢画像のブロック毎の画素値の標準偏差に応じてブロックサイズを決定した。しかし、ブロックサイズの決定方法はこれに限るものではない。図１１は対象物の特性による反射特性の違いを表した図である。図１１で横軸は反射角度を表しており、０度方向が正反射方向である。また、縦軸は反射強度を表している。図１１（ａ）に示すように、金属などの角度ごとの反射強度の変化が大きい対象物の場合、正反射方向を示す角度からわずかに外れるだけで反射強度は大きく変化する。一方、図１１（ｂ）が示すように油彩画などの角度ごとの反射強度の変化が小さい場合、正反射方向を示す角度から外れても反射強度は大きく変化しない。このような場合、対象物の角度ごとの反射強度の変化に応じてブロックサイズを適応的に決定しても良い。本実施例では、対象物の特性に応じてブロックサイズを決定する方法について、実施例１との差分について主に説明する。
【００４８】
以下、Ｓ３０４の光沢ムラの補正処理に関して図１２のフローチャートを用いて説明する。
【００４９】
Ｓ１４０１において、対象物の角度ごとの反射特性を取得する。図１３は対象物の特性を取得するためのユーザーインターフェース（ＵＩ）である。本実施例では、予め３種類の特性がプリセットされているものとする。１つ目は角度ごとの反射強度の変化が大きい状態として「金属」、２つ目は角度ごとの反射強度の変化が中程度の状態として「油彩画」、３つ目は角度ごとの反射強度の変化が小さい状態として「その他」とする。図１３のＵＩを介した、対象物が上記３つのうちどの状態であるかを示すユーザの指示結果に基づいて、反射特性を取得する。尚、プリセットされている角度ごとの反射特性は３つに限るものではない。
【００５０】
Ｓ１４０２において、図１４に示す対象物の特性とブロックサイズとの対応関係を表すテーブルを参照し、Ｓ１４０１で取得した特性に応じたブロックサイズを取得する。Ｓ１４０３からＳ１４０６は実施例１におけるＳ７０１からＳ７０４と同様であるため、説明を省略する。
【００５１】
以上の処理により、対象物の特性に応じて、ブロックサイズを適応的に決定することにより、より精度よく画像が有する光沢のムラを補正することができる。
【００５２】
尚、本実施例のようにユーザの指示結果に基づいて、対象物の反射特性を取得するのではなく、対象物を撮像することによって得られた反射特性（反射強度）を取得しても良い。この場合、反射強度の値とブロックサイズとが対応付いたテーブルを予め用意しておくことで、対象物の特性に応じたブロックサイズを決定することができる。
【００５３】
［その他の実施例］
本発明は、上述の実施例の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００５４】
１  画像処理装置
２０５  補正部
２０７  出力部
【図１】
2018017611.tif 000010
【図２】
2018017611.tif 000011
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
2018017611.tif 000019
【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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