(57)【要約】【課題】  装置の状態や故障の状況を容易に確認することが可能な材料試験機を提供する。【解決手段】  ＦＰＧＡ６０にバスブリッジ７４と通信コマンドを解析するコマンド解析部７３とを配設し、ＦＰＧＡ６０内のすべてのレジスタ、すなわち、インターフェイス６１、デジタルフィルタ６２、オフセット計算部６３、ゲイン計算部６４、非線形補正部６５、インターフェイス６６、励起信号生成部６７が持つすべてのレジスタを相互に内部バス６９で接続している。ＦＰＧＡ６０内に内部バス６９を張り巡らせることにより、バスブリッジ７４および通信部６８を介して、センサアンプ４１の外部から、各レジスタが保持する数値を読み取ることができる。【選択図】    図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験片に試験力を与える負荷機構と、前記負荷機構の状態を監視、および／または、前記試験片の物理的変化を測定するための複数の検出器と、信号の入出力端子を有する内蔵ユニットを備えた制御装置と、前記制御装置に通信回線を介して接続されるパーソナルコンピュータと、を備える材料試験機において、
前記制御装置は、
データを記憶する複数のレジスタと、前記複数のレジスタを接続する内部バスと、を有するデジタル回路と、
前記デジタル回路に接続され、前記内部バスを介して前記デジタル回路における前記複数のレジスタの各々が保持するデータの読み取りを実行するプロセッサーと、
を備え、
前記プロセッサーは、前記パーソナルコンピュータからの命令により、通信コマンドを出力し、
前記パーソナルコンピュータは、前記プロセッサーからの前記通信コマンドにより、前記複数のレジスタの各々から収集したデータの内容が、正常か異常かを判定することを特徴とする材料試験機。
【請求項２】
請求項１に記載の材料試験機において、
前記制御装置は、前記複数の検出器の各々に対応させて複数設けられた前記内蔵ユニットの各々と接続され、前記プロセッサーが配置されたメインユニットを備え、
前記デジタル回路は、前記内蔵ユニットと前記メインユニットの各々に配設されている材料試験機。
【請求項３】
請求項２に記載の材料試験機において、
前記メインユニットの前記デジタル回路には、前記プロセッサーの外部バスと前記メインユニットの前記デジタル回路における前記内部バスと、を接続するバスブリッジが設けられ、
前記内蔵ユニットの前記デジタル回路には、前記メインユニットとの間でデータを送受信する通信部と、前記通信部が受信した前記通信コマンドを解析するコマンド解析部と、前記内蔵ユニットの前記デジタル回路における前記内部バスと前記通信部とを前記コマンド解析部を介して接続するバスブリッジと、が設けられる材料試験機。
【請求項４】
請求項１に記載の材料試験機において、
前記プロセッサーは、前記パーソナルコンピュータからの命令により、前記複数のレジスタのうち特定のレジスタが保持するデータの書き換えを実行する材料試験機。
【請求項５】
請求項１に記載の材料試験機において、
前記パーソナルコンピュータの記憶装置には、前記デジタル回路の前記複数のレジスタの各々に保持されるデータの内容が正常か異常かを判定するときに参照するテーブルが記憶される材料試験機。
【請求項６】
請求項１に記載の材料試験機において、
前記パーソナルコンピュータは、前記複数のレジスタの各々から読み取られたデータと、それらのデータの内容が正常か異常かを判定した結果とを記述したレポートファイルを作成する材料試験機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、機能に応じた内蔵ユニットが設けられた制御装置と、制御装置に接続されたパーソナルコンピュータと、を備えた材料試験機に関する。
【背景技術】
【０００２】
材料の強度や特性を評価するための材料試験を実行する材料試験機は、試験片の伸びに相当する変位を測定する変位計や、試験片に与えられる試験力を測定するためのロードセルなど、物理量を測定する複数の検出器を備えている。変位計は、変位計用のアンプを介して材料試験機の制御装置に接続されている。同様に、ロードセルもロードセル用のアンプを介して材料試験機の制御装置に接続されている。そして、制御装置は、これらセンサアンプから取り込んだデータを表示器に表示している（特許文献１参照）。また、変位計やロードセルなどの検出器が正常に動作しているか否かを確認するために、検出器やセンサアンプの故障の有無を自動的に判定する自動故障診断装置が提案されている（特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−６９８６８号公報
【特許文献２】特公平５−７５２５４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
各センサアンプからは、例えば、ロードセルであれば試験力（Ｎ：ニュートン）、変位計であれば変位量（ｍｍ：ミリメートル）で表すことができる測定結果が出力されている。そして、出力された測定結果が表示器に表示される表示値となる。ここで、表示器に表示された表示値が異常な値を示した場合、その原因の候補は複数考えられる。例えば、ロードセルの測定結果である試験力値が、表示器の表示でゼロのまま変化しない、という現象が発生した場合、ロードセルを励起する電圧の異常、ロードセルから出力された信号を処理する回路の何処かの異常、表示器の故障など、複数の原因候補があげられる。
【０００５】
考えられる複数の原因候補の中から、実際に表示器の表示に異常を生じさせた原因を特定するために、従来は、機能ごとにまとめられた部品（ユニット）のうち、表示器の表示異常に関係すると考えられるユニットの全てを、フィールドエンジニアが材料試験機の設置場所まで持参して、それらのユニットをひとつずつ交換し、基準信号に対する応答が正常かどうかを確認することにより、異常を生じさせたユニットを特定する対応がとられていた。また、各ユニットには、複数の回路ブロックが配設されており、故障の原因となっている回路ブロックを特定するには、さらに手間と時間がかかっていた。
【０００６】
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、装置の状態や故障の状況を容易に確認することが可能な材料試験機を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１に記載の発明は、試験片に試験力を与える負荷機構と、前記負荷機構の状態を監視、および／または、前記試験片の物理的変化を測定するための複数の検出器と、信号の入出力端子を有する内蔵ユニットを備えた制御装置と、前記制御装置に通信回線を介して接続されるパーソナルコンピュータと、を備える材料試験機において、前記制御装置は、データを記憶する複数のレジスタと、前記複数のレジスタを接続する内部バスと、を有するデジタル回路と、前記デジタル回路に接続され、前記内部バスを介して前記デジタル回路における前記複数のレジスタの各々が保持するデータの読み取りを実行するプロセッサーと、を備え、前記プロセッサーは、前記パーソナルコンピュータからの命令により、通信コマンドを出力し、前記パーソナルコンピュータは、前記プロセッサーからの前記通信コマンドにより、前記複数のレジスタの各々から収集したデータの内容が、正常か異常かを判定することを特徴とする。
【０００８】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の材料試験機において、前記制御装置は、前記複数の検出器の各々に対応させて複数設けられた前記内蔵ユニットの各々と接続され、前記プロセッサーが配置されたメインユニットを備え、前記デジタル回路は、前記内蔵ユニットと前記メインユニットの各々に配設されている。
【０００９】
請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の材料試験機において、前記メインユニットの前記デジタル回路には、前記プロセッサーの外部バスと前記メインユニットの前記デジタル回路における前記内部バスと、を接続するバスブリッジが設けられ、前記内蔵ユニットの前記デジタル回路には、前記メインユニットとの間でデータを送受信する通信部と、前記通信部が受信した前記通信コマンドを解析するコマンド解析部と、前記内蔵ユニットの前記デジタル回路における前記内部バスと前記通信部とを前記コマンド解析部を介して接続するバスブリッジと、が設けられる。
【００１０】
請求項４に記載の発明は、請求項１に記載の材料試験機において、前記プロセッサーは、前記パーソナルコンピュータからの命令により、前記複数のレジスタのうち特定のレジスタが保持するデータの書き換えを実行する。
【００１１】
請求項５に記載の発明は、請求項１に記載の材料試験機において、前記パーソナルコンピュータの記憶装置には、前記デジタル回路の前記複数のレジスタの各々に保持されるデータの内容が正常か異常かを判定するときに参照するテーブルが記憶される。
【００１２】
請求項６に記載の発明は、請求項１に記載の材料試験機において、前記パーソナルコンピュータは、前記複数のレジスタの各々から読み取られたデータと、それらのデータの内容が正常か異常かを判定した結果とを記述したレポートファイルを作成する。
【発明の効果】
【００１３】
請求項１から請求項６に記載の発明によれば、制御装置のデジタル回路内に内部バスを張り巡らし、プロセッサーにより、デジタル回路内のあらゆるレジスタが保持するデータを読み取り可能とするとともに、パーソナルコンピュータで、その内容が正常か異常を判定することから、装置の状態や故障の状況を容易に確認することが可能となるとともに、より詳細な故障原因の特定が可能となる。
【００１４】
請求項６に記載の発明によれば、レポートファイルにより、装置の状態を容易に把握することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】この発明に係る材料試験機の概要図である。
【図２】センサアンプ４１の構成を示すブロック図である。
【図３】メインユニット４０の構成を示すブロック図である。
【図４】レポートファイルの記述内容の一例を示す表である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図１は、この発明に係る材料試験機の概要図である。
【００１７】
この材料試験機は、試験機本体１と、試験片１０の物理的変化を測定するために試験機本体１や試験片１０に配置された複数の検出器との間で信号を送受信する制御装置２から構成される。試験機本体１は、テーブル１６と、このテーブル１６上に鉛直方向を向く状態で回転可能に立設された一対のねじ棹１１、１２と、これらのねじ棹１１、１２に沿って移動可能なクロスヘッド１３と、このクロスヘッド１３を移動させて試験片１０に対して負荷を付与するための負荷機構３０と、被測定物である試験片１０における物理量の変化を電気信号に変換する検出器であるロードセル１４および変位計１５とを備える。
【００１８】
クロスヘッド１３は、一対のねじ棹１１、１２に対して、図示を省略したナット（ボールナット）を介して連結されている。各ねじ棹１１、１２の下端部には、負荷機構３０におけるウォーム減速機３２、３３が連結されている。このウォーム減速機３２、３３は、負荷機構３０の駆動源であるサーボモータ３１と連結されており、サーボモータ３１の回転がウォーム減速機３２、３３を介して、一対のねじ棹１１、１２に伝達される構成となっている。サーボモータ３１の動作は、メインユニット４０によりサーボアンプ４４を介して制御され、サーボモータ３１の回転はロータリエンコーダ３４により検出される。サーボモータ３１の回転によって、一対のねじ棹１１、１２が同期して回転することにより、クロスヘッド１３は、これらのねじ棹１１、１２に沿って昇降する。なお、ロータリエンコーダ３４は、サーボモータ３１の回転を検出することにより、クロスヘッド１３の位置を監視する検出器でもある。
【００１９】
クロスヘッド１３には、試験片１０の上端部を把持するための上つかみ具２１が付設されている。一方、テーブル１６には、試験片１０の下端部を把持するための下つかみ具２２が付設されている。引張試験を行う場合には、試験片１０の両端部をこれらの上つかみ具２１および下つかみ具２２により把持した状態で、クロスヘッド１３を上昇させることにより、試験片１０に試験力（引張試験力）を負荷する。
【００２０】
制御装置２は、コンピュータやシーケンサーおよびこれらの周辺機器によって構成されており、後述するＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）９１や、装置の制御に必要な動作プログラムやデータ等が一時的にストアされるメモリを有し、装置全体を制御するメインユニット４０を備える。メインユニット４０は、ロードセル１４により測定した試験力および変位計１５により測定した変位量を表示するための表示器４８と、データ処理用のパーソナルコンピュータ（ＰＣ）４９に接続されている。
【００２１】
この材料試験機の制御装置２に設けられる主な内蔵ユニットは、ロードセル１４の信号を処理する試験力用のセンサアンプ４１ａと、変位計１５の信号を処理する変位用のセンサアンプ４１ｂと、ロータリエンコーダ３４の出力が入力されるカウンタユニット４３である。このように、制御装置２内には、材料試験の種別、試験片１０の材質に応じて選択される測定機器、サーボモータ３１の駆動状況を監視するセンサなどの機能に対応させて、複数の内蔵ユニットが設けられており、図１には記載していないが他の内蔵ユニットとして汎用入出力ユニットやパルスカウンタユニットなども存在する。
【００２２】
負荷機構３０を動作させたときに、上つかみ具２１および下つかみ具２２により両端を把持された試験片１０に作用する試験力はロードセル１４によって検出され、センサアンプ４１ａを介してメインユニット４０に入力される。また、試験片１０に生じた伸びは、変位計１５により検出され、センサアンプ４１ｂを介してメインユニット４０に入力される。
【００２３】
メインユニット４０では、デジタル回路やメモリに格納された制御プログラムの動作により、ロードセル１４および変位計１５からの試験力データおよび変位量データを取り込み、表示器４８に表示させる表示制御が実行される。またメインユニット４０は、デジタルデータとして入力された試験力および変位量の変動を利用して、クロスヘッド１３の位置を制御するためにサーボモータ３１の回転駆動を制御する。
【００２４】
この材料試験機の制御装置２に設けられる内蔵ユニットの構成を、ロードセル１４に接続される試験力用のセンサアンプ４１ａを例に説明する。以下では試験力用のセンサアンプ４１ａをセンサアンプ４１と記載する。図２は、センサアンプ４１の構成を説明するブロック図である。
【００２５】
センサアンプ４１には、検出器との間で信号を伝送するケーブルを接続する信号の入出力端子が設けられている。センサアンプ４１は、ロードセル１４のひずみゲージに与える励起電圧を出力する出力側のアナログ回路ブロックと、ロードセル１４から入力される信号を処理するための入力側のアナログ回路ブロックと、デジタル信号を処理するデジタル回路ブロックとから成る。ロードセル１４からの入力側のアナログ回路ブロックは、入力されたアナログ信号を増幅する計装アンプ５１と、ローパスフィルタ５２と、アナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器５３から構成される。また、ロードセル１４への出力側のアナログ回路ブロックは、デジタル回路から出力されたデジタル信号をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換器５４と、ローパスフィルタ５５と、パワーアンプ５６とから構成される。なお、デジタル回路は、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）６０により構成される。
【００２６】
ロードセル１４から計装アンプ５１に入力され、入力側のアナログ回路ブロックを経た信号は、Ａ／Ｄ変換器用のインターフェイス６１を介してＦＰＧＡ６０に入力される。また、ロードセル１４を励起する信号は、ＦＰＧＡ６０内でその元となる波形を生成し、Ｄ／Ａ変換器５４用のインターフェイス６６を介して、出力側のアナログ回路ブロックへ出力される。しかる後、ローパスフィルタ５５で高周波成分が除去され、パワーアンプ５６で増幅された信号（アナログ電圧）によりロードセル１４が励起される。
【００２７】
ＦＰＧＡ６０内には、ロードセル１４からの入力信号を試験力に変換する信号経路を形成する機能的構成として、デジタルフィルタ６２、オフセット計算部６３、ゲイン計算部６４、非線形補正部６５が設けられている。また、ＦＰＧＡ６０内には、ロードセル１４に出力する信号の元となる波形を生成する機能的構成として、励起信号生成部６７が設けられている。これらの機能的構成は、それぞれの信号処理時に利用するデータを保持するレジスタを備えている。
【００２８】
ＦＰＧＡ６０に入力された信号は、デジタルフィルタ６２で不要な周波数成分が除去され、オフセット計算部６３で試験力のゼロ点に相当するオフセット量が差し引かれる。そして、ゲイン計算部６４でフルスケールを調整するための定数が乗算され、非線形補正部６５で非線形補正が行われる。一連の信号経路を経て求められた試験力は、通信部６８からメインユニット４０に出力される。
【００２９】
この実施形態では、ＦＰＧＡ６０にバスブリッジ７４と通信コマンドを解析するコマンド解析部７３とを配設し、ＦＰＧＡ６０内のすべてのレジスタ、すなわち、インターフェイス６１、デジタルフィルタ６２、オフセット計算部６３、ゲイン計算部６４、非線形補正部６５、インターフェイス６６、励起信号生成部６７が持つすべてのレジスタを相互に内部バス６９で接続している。従来は、通信部６８からセンサアンプ４１の外部に送信される情報は、信号処理後の試験力値のみであったが、この実施形態のようにＦＰＧＡ６０内に内部バス６９を張り巡らせることにより、バスブリッジ７４および通信部６８を介して、センサアンプ４１の外部から、複数のレジスタの各々が保持する数値を読み取ることが可能となっている。
【００３０】
図３は、メインユニット４０の構成を示すブロック図である。
【００３１】
メインユニット４０は、デジタル回路としてのＦＰＧＡ８０と、プロセッサーであるＭＰＵ９１と、通信回線を通じてパーソナルコンピュータ４９に接続するためのイーサネットコントローラ９２（イーサネットは登録商標）を備える。
【００３２】
ＦＰＧＡ８０には、各内蔵ユニットとの間での通信を行うための機能的構成として、内蔵ユニットの各々に対応する複数の内蔵ユニット通信部８１ａ、８１ｂ、８１ｃ、８１ｄが設けられている。このように、内蔵ユニット通信部８１ａ、８１ｂ、８１ｃ、８１ｄを複数設けることで、メインユニット４０に対し内蔵ユニットが複数接続される。また、ＦＰＧＡ８０には、さらに機能的構成として、クロスヘッド１３を移動させるための位置指令を生成してサーボアンプ４４に送信する位置制御部８２と、試験力用のセンサアンプ４１ａや、変位用のセンサアンプ４１ｂからメインユニット４０に入力された測定結果を表示器４８に送信する表示制御部８３が配置される。
【００３３】
これらのＦＰＧＡ８０内の機能的構成は、各々レジスタを有する。そして、各レジスタは、内部バス８９に接続される。ＦＰＧＡ８０の内部バス８９を、ＭＰＵバスブリッジ８４を介して、ＭＰＵ９１の外部バスに接続することで、ＦＰＧＡ８０内の各機能的構成は、パーソナルコンピュータ４９の命令によるＭＰＵ９１からの通信コマンドを受け付けることが可能である。パーソナルコンピュータ４９は、演算装置（ＣＰＵ）、記憶装置、表示部および入力装置を備え、各種動作命令を生成して、ＭＰＵ９１に命令を送信する。
【００３４】
パーソナルコンピュータ４９からの命令が、デジタル回路（ＦＰＧＡ６０およびＦＰＧＡ８０）内の全てのレジスタが保持する数値を取得する内容であった場合は、ＭＰＵ９１はそれに対応する通信コマンドを送信する。ＭＰＵ９１からＦＰＧＡ８０の内蔵ユニット通信部８１ａを経て、センサアンプ４１に送信された通信コマンドは、通信部６８を経てコマンド解析部７３で解析され、内部バス６９を介して、ＦＰＧＡ６０内の各レジスタからのデータの読み取りが行われ、メインユニット４０に送信される。
【００３５】
変位用のセンサアンプ４１ｂ、カウンタユニット４３、パラレル入出力ユニットなどの他の内蔵ユニットについても、図２を参照して説明したセンサアンプ４１と同様に、各ユニットに配置したデジタル回路内に内部バスを張り巡らせておくことで、メインユニット４０からの通信コマンドにより、各レジスタからのデータの読み取りが行われる。
【００３６】
各レジスタから読み取られたデータの内容は、パーソナルコンピュータ４９に集約され、蓄積される。さらに、読み取られたデータの内容が正常か異常かの判定が行われる。そして、パーソナルコンピュータ４９は、各レジスタから読み取られたデータの内容とともに判定結果についてレポートファイルを作成し、ファイルを記憶装置に保存するとともにレポート内容を表示部に表示する。これにより、ユーザおよびフィールドエンジニアは、装置の状態や故障の状況を容易に確認することが可能となる。
【００３７】
図４は、レポートファイルの記述内容の一例を示す表である。図４（ａ）は、試験力用のセンサアンプ４１ａの情報、図４（ｂ）は、変位用のセンサアンプ４１ｂの情報、図４（ｃ）は、位置制御部８２の情報をそれぞれ示している。
【００３８】
各項目は、デジタル回路内の各レジスタに対応し、現在値は、各レジスタに現在保持されている数値である。最大値と最小値は、各内蔵ユニットのデジタル回路での処理において許容される範囲の上限と下限を示すものである。各レジスタから読み取られた数値である現在値が正常か異常かは、現在値が最小値と最大値の間に収まっているか否かで判断できる。なお、図４に示す表の項目、最小値、最大値の情報を含む参照テーブルをパーソナルコンピュータ４９の記憶装置に記憶させておき、パーソナルコンピュータ４９の演算装置の作用により、項目ごとに現在値と参照テーブルの数値とを比較することで、各レジスタから読み取られたデータの内容が正常か異常かの判定を行うことができる。
【００３９】
図４に示すレポートファイルの記述例では、判定結果は、現在値が最小値と最大値の間に収まる数値であれば、「正常」と表記される。また、図４（ａ）のオフセット値のように、現在値３０００が、最大値+２０００を超えている場合には、「異常（Ｈ）」と表記され、図４（ｃ）の現在速度のように、現在値−２０００が最小値−１５００を下回っている場合には、「異常（Ｌ）」と表記される。
【００４０】
上述したように、この材料試験機では、メインユニット４０およびセンサアンプ４１などの内蔵ユニットのデジタル回路に内部バス６９、８９を張り巡らしたことで、この材料試験機では、パーソナルコンピュータ４９からの命令によるＭＰＵ９１からの通信コマンドにより、各レジスタが保持する情報を読み取ることが可能である。そして、ユーザおよびフィールドエンジニアは、レポートファイルを参照することで、材料試験機のどこに不具合が生じているのかを、容易に知ることができるようになる。また、内部バス６９、８９により、ＭＰＵ９１を介してパーソナルコンピュータ４９から各レジスタへのアクセスを可能としたことで、図４に示すレポートで異常と判断された特定のレジスタについて、パーソナルコンピュータ４９の命令により数値を書き換えることも可能である。さらに、特定のレジスタの数値を書き換えた後の各レジスタの数値の変化を見ることで、故障の原因の特定に有用な、より詳細な情報を取得することもできる。
【００４１】
また、レポートファイルをパーソナルコンピュータ４９の記憶装置に保存し、このレポートファイルをパーソナルコンピュータ４９から通信回線を通じてさらに遠隔のパーソナルコンピュータに送ることで、サービス拠点に材料試験機の状態を知らせることも容易となる。サービス拠点では、ユーザからのメンテナンス依頼があったときに、担当するフィールドエンジニアが予めレポートファイルの内容を検討し、不具合の原因箇所を絞り込むことができるため、従来のように、多くの部品を持参して材料試験機の設置場所を訪問する必要がなくなり、メンテナンス作業も効率化される。レポートファイルの内容を検討した結果、例えば、特定のレジスタの数値を書き換える対応や、制御設定の変更などで特定のレジスタの数値の異常が解消できるなど、制御装置２の内部のユニットの交換の必要性がない場合には、フィールドエンジニアが材料試験機の設置場所を訪問することなく、ユーザに対処法を連絡するなどの対応で、極めて短時間に問題を解決することも可能となる。
【００４２】
パーソナルコンピュータ４９での各レジスタの数値の収集とレポートファイルの作成は、所定の時間間隔で自動的に行ってもよく、任意の日時にユーザがパーソナルコンピュータ４９の入力装置を操作して行うようにしてもよい。なお、各レジスタの数値の収集とレポートファイルの作成を所定の時間間隔で自動的に行わせておけば、ユーザおよびフィールドエンジニアは、時間を追ってレポートファイルを参照することで、材料試験機の測定機器や制御機器の長い時間軸での状態変化を把握することが可能となる。装置の各部の消耗状態が確認できるため、故障が発生する前に、部品の交換や点検をサービス拠点からユーザに提案することも可能となる。
【００４３】
また、上述した実施形態では、ロードセル１４などの検出器の状態を捉えるための内蔵ユニットについて主に説明したが、この発明の内蔵ユニットはこれに限定されない。すなわち、検出器の検出信号に限らず、制御信号などの信号の入出力端子を有し、何らかの信号処理を行うデジタル回路を備える内蔵ユニット（例えば、汎用入出力ユニット）であればよい。
【符号の説明】
【００４４】
１    試験機本体
２    制御装置
１０    試験片
１１    上つかみ具
１２    下つかみ具
１３    クロスヘッド
１４    ロードセル
１５    変位計
１６    テーブル
２１    上つかみ具
２２    下つかみ具
３１    サーボモータ
３２    ウォーム減速機
３３    ウォーム減速機
３４    ロータリエンコーダ
４１    センサアンプ
４３    カウンタユニット
４４    サーボアンプ
４８    表示器
４９    パーソナルコンピュータ
５１    計装アンプ
５２    ローパスフィルタ
５３    Ａ／Ｄ変換器
５４    Ｄ／Ａ変換器
５５    ローパスフィルタ
５６    パワーアンプ
６０    ＦＰＧＡ
６１    インターフェイス
６２    デジタルフィルタ
６３    オフセット計算部
６４    ゲイン計算部
６５    非線形補正部
６６    インターフェイス
６７    励起信号生成部
６９    内部バス
７３    コマンド解析部
７４    バスブリッジ
８０    ＦＰＧＡ
８１    内蔵ユニット通信部
８２    位置制御部
８３    表示器制御部
８４    ＭＰＵバスブリッジ
８９    内部バス
９１    ＭＰＵ
９２    イーサネットコントローラ
【図１】
2018072096.tif 000003
【図２】
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【図３】
2018072096.tif 000005
【図４】
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