(57)【要約】【課題】本発明は、有機発光表示装置を提供する。【解決手段】本発明に係る有機発光表示装置は、有機発光ダイオードと、これを駆動する駆動ＴＦＴを含むピクセル複数個が備えられた表示パネル及びセンシングラインを介して１つ以上のピクセルに接続されてそのピクセルの駆動特性を検出するセンシング回路を含み、センシング回路は、完全差動増幅器の反転及び非反転入力端子に接続される隣接する２つのセンシングラインのそれぞれに流れる電流を積分する積分器、積分器の２つの積分出力をそれぞれサンプリングするサンプリング部及び、サンプリング部のサンプリング出力の動作範囲を調節するスケーラで構成される複数個のセンシングユニット、センシングユニットの１つ以上のスケーラの出力を差動増幅する差動増幅器及び差動増幅器の出力をデジタルセンシング値に変換するアナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）を含むことができる。【選択図】図８
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
完全差動増幅器の反転入力端子と非反転入力端子に接続される隣接する２つのセンシングラインのそれぞれに流れる電流を積分する積分器であって、前記のセンシングラインは、表示パネルのピクセルを構成する有機発光ダイオードを駆動する駆動ＴＦＴに接続される、積分器と、
前記積分器の２つの積分出力をそれぞれサンプリングするサンプリング部と、
前記サンプリング部の１つ以上のサンプリング出力を差動増幅する差動増幅器と、
前記差動増幅器の出力をデジタルセンシング値に変換するアナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）を含む、有機発光ダイオード駆動特性検出回路。
【請求項２】
前記サンプリング部の２つのサンプリング出力をそれぞれ前記ＡＤＣの動作範囲に変換して前記差動増幅器に出力するスケーラをさらに含むことを特徴とする、請求項１に記載の有機発光ダイオード駆動特性検出回路。
【請求項３】
前記有機発光ダイオードを発光させるディスプレイ駆動時に接続を切って、前記有機発光ダイオードの駆動特性を検出するセンシング駆動時に接続するように、前記反転入力端子と非反転入力端子を前記２つのセンシングラインにそれぞれ接続する第１及び第２センシングスイッチと、
前記サンプリング部の２つのサンプリング出力を前記差動増幅器の２つの入力端子にそれぞれ接続する第１及び第２モードスイッチをさらに含み、
前記積分器は、前記完全差動増幅器の反転入力端子と非反転出力端子を接続する第１キャパシタと第１リセットスイッチ及び前記完全差動増幅器の非反転入力端子と反転出力端子を接続する第２キャパシタと第２リセットスイッチを含み、前記完全差動増幅器の出力共通端子は、前記駆動ＴＦＴのソースに印加される基準電圧に接続され、
前記サンプリング部は、第１及び第２サンプリングキャパシタ、並びに、前記第１及び第２サンプリングキャパシタの第１端子をそれぞれ前記非反転出力端子と反転出力端子に接続する第１及び第２サンプリングスイッチを含み、前記第１及び第２サンプリングキャパシタの第２端子は、前記ＡＤＣの動作範囲に関連する第２基準電圧に接続されることを特徴とする、請求項１に記載の有機発光ダイオード駆動特性検出回路。
【請求項４】
前記第１モードスイッチは、第１サンプリング出力または第２サンプリング出力を選択的に前記差動増幅器の第１入力端子に接続し、前記第２モードスイッチは、前記第２サンプリング出力または第３基準電圧を選択的に前記差動増幅器の第２入力端子に接続することを特徴とする、請求項３に記載の有機発光ダイオード駆動特性検出回路。
【請求項５】
前記２つのセンシングラインのセンシング値の差を用いる第１モードにおいて、前記第１モードスイッチは前記差動増幅器の第１入力端子を前記第１サンプリング出力に接続し、前記第２モードスイッチは前記差動増幅器の第２入力端子を前記第２サンプリング出力に接続し、
前記２つのセンシングラインのそれぞれのセンシング値と所定の基準値との差を用いる第２モードにおいて、前記第１モードスイッチは前記差動増幅器の第１入力端子を前記第１サンプリング出力に接続し、前記第２モードスイッチは前記差動増幅器の第２入力端子を前記第３基準電圧に接続するか、または、前記第１モードスイッチは前記差動増幅器の第１入力端子を前記第２サンプリング出力に接続し、前記第２モードスイッチは前記差動増幅器の第２入力端子を前記第３基準電圧に接続することを特徴とする、請求項４に記載の有機発光ダイオード駆動特性検出回路。
【請求項６】
前記差動増幅器の第１入力端子を第３基準電圧に接続する第１基準スイッチ及び前記差動増幅器の第２入力端子を前記第３基準電圧に接続する第２基準スイッチをさらに含むことを特徴とする、請求項３に記載の有機発光ダイオード駆動特性検出回路。
【請求項７】
前記２つのセンシングラインのセンシング値の差を用いる第１モードにおいて、前記第１モードスイッチは前記差動増幅器の第１入力端子を前記第１サンプリング出力に接続し、前記第２モードスイッチは前記差動増幅器の第２入力端子を前記第２サンプリング出力に接続し、
前記２つのセンシングラインのそれぞれのセンシング値と所定の基準値との差を用いる第２モードにおいて、前記第１モードスイッチは前記差動増幅器の第１入力端子を前記第１サンプリング出力に接続し、前記第２基準スイッチは前記差動増幅器の第２入力端子を前記第３基準電圧に接続するか、または前記第２モードスイッチは前記差動増幅器の第２入力端子を前記第２サンプリング出力に接続し、前記第１基準スイッチは前記差動増幅器の第１入力端子を前記第３基準電圧に接続することを特徴とする、請求項６に記載の有機発光ダイオード駆動特性検出回路。
【請求項８】
初期化期間において、前記第１及び第２センシングスイッチ、前記第１及び第２リセットスイッチ、及び前記第１及び第２サンプリングスイッチがターン−オンされ、前記駆動ＴＦＴのソースに前記基準電圧が印加され、
サンプリング期間に、前記第１及び第２リセットスイッチがターン−オフされ、前記２つのセンシングラインの内、いずれか１つに接続された第１駆動ＴＦＴのゲートにセンシング用データ電圧が印加され、前記第１駆動ＴＦＴがターン−オンされ、前記２つのセンシングラインの内、他の１つに接続された第２駆動ＴＦＴのゲートに所定のデータ電圧が印加され、前記第２駆動ＴＦＴがターン−オフされ、前記第１及び第２サンプリングキャパシタの内、いずれかが１つが前記積分器が前記第１駆動ＴＦＴのソースに流れる電流を積分した第１積分出力を貯蔵し、前記第１及び第２サンプリングキャパシタの内、他の１つが前記積分器が前記第２駆動ＴＦＴのソースに流れる電流を積分した第２積分出力を貯蔵し、
変換期間に、前記第１及び第２サンプリングスイッチがターン−オフされ、前記第１及び第２モードスイッチがターン−オンされて、前記差動増幅器とＡＤＣが前記第１サンプリングキャパシタと第２キャパシタが貯蔵された２つの積分出力の差をデジタルに変換することを特徴とする、請求項３に記載の有機発光ダイオード駆動特性検出回路。
【請求項９】
各ピクセルが有機発光ダイオードとこれを駆動する駆動ＴＦＴを含む、複数個のピクセルが備えられたパネルと、
センシングラインを介して１つ以上のピクセルに接続されそのピクセルの駆動特性を検出するセンシング回路を含み、
前記センシング回路は、
各センシングユニットが、完全差動増幅器の反転及び非反転入力端子に接続される隣接する２つのセンシングラインのそれぞれに流れる電流を積分する積分器と、前記積分器の２つの積分出力をそれぞれサンプリングするサンプリング部と、前記サンプリング部のサンプリング出力の動作範囲を調節するスケーラで構成される、複数個のセンシングユニットと、
前記センシングユニットの１つ以上のスケーラの出力を差動増幅する差動増幅器と、
前記差動増幅器の出力をデジタルセンシング値に変換するアナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）を含むことを特徴とする有機発光表示装置。
【請求項１０】
前記センシングユニットは、
前記有機発光ダイオードを発光させるディスプレイ駆動時に接続を切って、前記有機発光ダイオードの駆動特性を検出するセンシング駆動時に接続するように、前記反転入力端子と非反転入力端子を前記２つのセンシングラインにそれぞれ接続する第１及び第２センシングスイッチと、
前記サンプリング部の２つのサンプリング出力を前記差動増幅器の２つの入力端子にそれぞれ接続する第１及び第２モードスイッチをさらに含み、
前記積分器は、前記完全差動増幅器の反転入力端子と非反転出力端子を接続する第１キャパシタと第１リセットスイッチ及び前記完全差動増幅器の非反転入力端子と反転出力端子を接続する第２キャパシタと第２リセットスイッチを含み、前記完全差動増幅器の出力共通端子は、前記駆動ＴＦＴのソースに印加される基準電圧に接続され、
前記サンプリング部は、第１及び第２サンプリングキャパシタと、前記第１及び第２サンプリングキャパシタの第１端子をそれぞれ前記非反転出力端子と反転出力端子に接続する第１及び第２サンプリングスイッチを含み、前記第１及び第２サンプリングキャパシタの第２端子は、前記ＡＤＣの動作範囲に関連する第２基準電圧に接続されることを特徴とする、請求項９に記載の有機発光表示装置。
【請求項１１】
第１期間において、奇数センシングラインに接続されるピクセルに前記駆動ＴＦＴをターン−オンさせるセンシング用データ電圧を印加し、偶数センシングラインに接続されるピクセルに前記駆動ＴＦＴをターン−オンさせない所定のデータ電圧を印加し、前記複数個のセンシングユニットを同時に駆動して、複数個の第１及び第２スケーラ出力を得て、各センシングユニットの第１及び第２モードスイッチを制御して前記複数個のセンシングユニットを順次前記差動増幅器に接続し、各センシングユニットが前記差動増幅器に接続するとき、前記差動増幅器とＡＤＣを駆動して、当該センシングユニットに関する奇数センシングラインに接続されたピクセルに対するデジタルセンシング値を出力し、
前記第１期間の以後の第２期間に、奇数センシングラインに接続されるピクセルに前記駆動ＴＦＴをターン−オンさせない所定のデータ電圧を印加し、偶数センシングラインに接続されるピクセルに前記駆動ＴＦＴをターン−オンさせるセンシング用データ電圧を印加し、前記複数個のセンシングユニットを同時に駆動して、複数個の第１及び第２のスケーラ出力を得て、各センシングユニットの第１及び第２モードスイッチを制御して前記複数個のセンシングユニットを順次前記差動増幅器に接続し、各センシングユニットが、前記差動増幅器に接続するとき、前記差動増幅器とＡＤＣを駆動して、該当センシングユニットに関する偶数センシングラインに接続されたピクセルに対するデジタルセンシング値を出力することを特徴とする、請求項１０に記載の有機発光表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、有機発光ピクセルを駆動する駆動ＴＦＴの電気的特性を検出するセンシングユニットの構造を改善する有機発光表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
アクティブマトリックス型の有機発光表示装置は、自ら発光する有機発光ダイオード（Organic Light Emitting Diode、ＯＬＥＤ）を含み、応答速度が速く、発光効率、輝度及び視野角が大きい長所がある。
【０００３】
有機発光表示装置は、ＯＬＥＤと駆動ＴＦＴ（Thin Film Transistor）をそれぞれ含むピクセル（pixel:画素）をマトリクスの形に配列し、ビデオデータの階調に応じて、ピクセルで実現される映像の輝度を調節する。駆動ＴＦＴは、自分のゲート電極とソース電極との間にかかる電圧に基づいてＯＬＥＤに流れる駆動電流を制御する。駆動電流に応じてＯＬＥＤの発光量が決定され、ＯＬＥＤの発光量に応じて、映像の輝度が決定される。
【０００４】
駆動ＴＦＴが飽和領域で動作するとき駆動ＴＦＴのドレイン−ソース間に流れるピクセル電流はしきい値電圧、電子移動度のような駆動ＴＦＴの電気的特性に依存して変わるが、プロセス特性、時間変化特性など、様々な原因によって駆動ＴＦＴの電気的特性がピクセルの間に偏差が生じ、これにより、ＴＦＴの電気的特性が異なるピクセルに同じデータ電圧を印加してもピクセルごとに輝度ばらつきが生じるので、このような特性ばらつきを補償しなければ、所望する品質の画像実現が難しい。
【０００５】
これを解決するために、駆動ＴＦＴの電気的特性（しきい値電圧、移動度）偏差による輝度ばらつきを画素の外部及び/または画素内部で補償する技術が提案されている。外部補償方式は、各画素の駆動ＴＦＴの特性パラメータをセンシングし、センシング値に基づいて入力データを補正して精密に補償することができるが、センシングに多くの時間がかかる欠点がある反面、内部補償方式は、リアルタイムで補償することができるが、画素構造が複雑であり、開口率が低下する欠点がある。
【０００６】
外部補償方式において駆動ＴＦＴの特性をセンシングするためのセンシングラインが各ピクセルに接続され、駆動ＴＦＴの特性を反映して、センシングラインを流れる電流や電圧を検出するためのセンシングユニットがデータ駆動回路に内蔵される。ピクセルデータの電圧を印加して駆動ＴＦＴの特性をセンシングするソースドライブＩＣは、ピクセル配列されるパネルの外郭非表示領域に配置され、ベゼルに覆われる。
【０００７】
センシングラインを流れる電流を用いて駆動ＴＦＴの特性をセンシングするセンシングユニットは、電流積分器、サンプリング部、スケーラ、アナログ−デジタル−変換器（ＡＤＣ）などを含み、センシングラインごとに積分器のＯＰアンプとスケーラなどを含むので、面積を多く占めることになる。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は、このようなことを勘案したものであり、本発明の目的は、駆動ＴＦＴの特性を検出するセンシングユニットの物理的な大きさを減らすことにある。
【０００９】
本発明の他の目的は、、センシングユニットが駆動ＴＦＴの特性を電流の形で検出するときにノイズの影響を減らすことにある。
【００１０】
本発明のまた他の目的は、駆動ＴＦＴの特性を検出する動作モードを変更することができるセンシングユニットの構造を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
前記本発明の目的を達成するために、本発明に係る有機発光ダイオード駆動特性検出回路は、完全差動増幅器の反転入力端子と非反転入力端子に接続される隣接する２つのセンシングラインのそれぞれに流れる電流を積分するが、センシングラインは表示パネルのピクセルを構成する有機発光ダイオードを駆動する駆動ＴＦＴに接続される積分器と積分器の２つの積分出力をそれぞれサンプリングするサンプリング部と、サンプリング部の１つ以上のサンプリング出力を差動増幅する差動増幅器と、差動増幅器の出力をデジタルセンシング値に変換するアナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）を含むことができる。
【００１２】
一実施形態において、検出回路は、サンプリング部２つのサンプリング出力をそれぞれ、ＡＤＣの動作範囲に変換して、差動増幅器に出力するスケーラをさらに含むことができる。
【００１３】
一実施形態において、検出回路は、有機発光ダイオードを発光させるディスプレイ駆動時に接続を切って、有機発光ダイオードの駆動特性を検出するセンシング駆動時に接続するように反転入力端子と非反転入力端子を２つセンシングラインにそれぞれ接続する第１及び第２センシングスイッチとサンプリング部の２つのサンプリング出力を差動増幅器の２つの入力端子にそれぞれ接続する第１及び第２モードスイッチをさらに含むことができる。
【００１４】
また、積分器は、完全差動増幅器の反転入力端子と非反転出力端子を接続する第１キャパシタと、第１リセットスイッチ及び完全差動増幅器の非反転入力端子と反転出力端子を接続する第２キャパシタと第２リセットスイッチを含み、完全差動増幅器の出力の共通端子は、駆動ＴＦＴのソースに印加される基準電圧に接続することができる。
【００１５】
また、サンプリング部は、第１及び第２サンプリングキャパシタと、第１及び第２サンプリングキャパシタの第１端子をそれぞれ非反転出力端子と反転出力端子に接続する第１及び第２サンプリングスイッチを含み、第１及び第２サンプリングキャパシタの第２端子は、ＡＤＣの動作範囲に関連する第２基準電圧に接続することができる。
【００１６】
一実施形態において、第１モードスイッチは、第１サンプリング出力または第２サンプリング出力を選択的に差動増幅器の第１入力端子に接続し、第２モードスイッチは、第２サンプリング出力または第３基準電圧を選択的に差動増幅器の第２入力端子に接続することができる。
【００１７】
一実施形態において、２つのセンシングラインのセンシング値の差を用いる第１モードにおいて、第１モードスイッチは、差動増幅器の第１入力端子を第１サンプリング出力に接続し、第２モードスイッチは、差動増幅器の第２入力端子を第２サンプリング出力に接続し、２つのセンシングラインのそれぞれのセンシング値と所定の基準値との差を用いる第２モードにおいて、第１モードスイッチは、差動増幅器の第１入力端子を第１サンプリング出力に接続し、第２モードスイッチは、差動増幅器の第２入力端子を第３基準電圧に接続するか、または第１モードスイッチは、差動増幅器の第１入力端子を第２サンプリング出力に接続し、第２モードスイッチは、差動増幅器の第２入力端子を第３基準電圧に接続することができる。
【００１８】
一実施形態において、検出回路は、差動増幅器の第１入力端子を第３基準電圧に接続する第１基準スイッチと差動増幅器の第２入力端子を第３基準電圧に接続する第２基準スイッチをさらに含むことができる。
【００１９】
一実施形態において、２つのセンシングラインのセンシング値の差を用いる第１モードにおいて、第１モードスイッチは、差動増幅器の第１入力端子を第１サンプリング出力に接続し、第２モードスイッチは、差動増幅器の第２入力端子を第２サンプリング出力に接続し、２つのセンシングラインのそれぞれのセンシング値と所定の基準値との差を用いる第２モードにおいて、第１モードスイッチは、差動増幅器の第１入力端子を第１サンプリング出力に接続し、第２基準スイッチは、差動増幅器の第２入力端子を第３基準電圧に接続するか、または第２モードスイッチは、差動増幅器の第２入力端子を第２サンプリング出力に接続し、第１基準スイッチは、差動増幅器の第１入力端子を第３基準電圧に接続することができる。
【００２０】
一実施形態において、初期化期間で、第１及び第２センシングスイッチ、第１及び第２リセットスイッチ、並びに、第１及び第２サンプリングスイッチがターン−オンされて、駆動ＴＦＴのソースに基準電圧が印加され、サンプリング期間で、第１及び第２リセットスイッチがターン−オフされ、２センシングラインの内、いずれか１つに接続された第１駆動ＴＦＴのゲートにセンシング用データ電圧が印加され、第１駆動ＴＦＴがターン−オンされて、２センシングラインの内、他の１つに接続された第２駆動ＴＦＴのゲートに所定のデータ電圧が印加され、第２駆動ＴＦＴがターン−オフされ、第１及び第２サンプリングキャパシタの内、いずれか１つが、積分器が第１駆動ＴＦＴのソースに流れる電流を積分した第１積分出力を貯蔵し、第１及び第２サンプリングキャパシタの内、他の１つが、積分器が第２駆動ＴＦＴのソースに流れる電流を積分した第２積分出力を貯蔵し、変換期間に、第１及び第２サンプリングスイッチがターン - オフされ第１及び第２モードスイッチがターン−オンされて、差動増幅器とＡＤＣが第１サンプリングキャパシタと第２キャパシタが貯蔵した２つの積分出力の差をデジタルに変換することができる。
【００２１】
本発明の他の実施形態に係る有機発光表示装置は、有機発光ダイオードと、これを駆動する駆動ＴＦＴを含むピクセル複数個が備えられた表示パネルと、センシングラインを介して１つ以上のピクセルに接続され、そのピクセルの駆動特性を検出するセンシング回路を含み、センシング回路は、完全差動増幅器の反転及び非反転入力端子に接続される隣接する２つのセンシングラインのそれぞれに流れる電流を積分する積分器、積分器の２つの積分出力をそれぞれサンプリングするサンプリング部と、サンプリング部のサンプリング出力の動作範囲を調節するスケーラで構成される複数個のセンシングユニットとセンシングユニットの１つ以上のスケーラの出力を差動増幅する差動増幅器と、差動増幅器の出力をデジタルセンシング値に変換するアナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）を含むことを特徴とする。
【００２２】
一実施形態において、センシングユニットは、有機発光ダイオードを発光させるディスプレイ駆動時に接続を切って、有機発光ダイオードの駆動特性を検出するセンシング駆動時に接続するように反転入力端子と非反転入力端子を２つのセンシングラインにそれぞれ接続する第１及び第２センシングスイッチと、サンプリング部の２つのサンプリング出力を差動増幅器の両方の入力端子にそれぞれ接続する第１及び第２モードスイッチをさらに含むことができる。
【００２３】
また、積分器は、完全差動増幅器の反転入力端子と非反転出力端子を接続する第１キャパシタ  と、第１リセットスイッチ及び完全差動増幅器の非反転入力端子と反転出力端子を接続する第２キャパシタと第２リセットスイッチを含み、完全差動増幅器の出力共通端子は、駆動ＴＦＴのソースに印加される基準電圧に接続することができる。
【００２４】
また、サンプリング部は、第１及び第２サンプリングキャパシタと、第１及び第２サンプリングキャパシタの第１端子をそれぞれ非反転出力端子と反転出力端子に接続する第１及び第２サンプリングスイッチを含み、第１及び第２サンプリングキャパシタの第２端子は、ＡＤＣの動作範囲に関連する第２基準電圧に接続することができる。
【００２５】
一実施形態において、第１期間で、奇数センシングラインに接続されるピクセルに駆動ＴＦＴをターン−オンさせるセンシング用データ電圧を印加して偶数センシングラインに接続されるピクセルに駆動ＴＦＴをターン−オンさせない所定のデータ電圧を印加し、複数個のセンシングユニットを同時に駆動して、複数個の第１及び第２スケーラ出力を得て、各センシングユニットの第１及び第２モードスイッチを制御して、複数個のセンシングユニットを順次差動増幅器に接続するが、各センシングユニットが差動増幅器に接続される時差動増幅器とＡＤＣを駆動して、当該センシングユニットに関する奇数センシングラインに接続されたピクセルに対するデジタルセンシング値を出力し、第１期間の後の第２期間で、奇数センシングラインに接続されるピクセルに駆動ＴＦＴをターン−オンさせない所定のデータを印加し、偶数センシングラインに接続されるピクセルに駆動ＴＦＴをターン−オンさせるセンシング用データ電圧を印加し、複数個のセンシングユニットを同時に駆動して、複数個の第１及び第２のスケーラ出力を得て、各センシングユニットの第１及び第２モードスイッチを制御して、複数個のセンシングユニットを順次差動増幅器に接続するが、各センシングユニットが差動増幅器に接続される時、差動増幅器とＡＤＣを駆動して、当該センシングユニットに関する偶数センシングラインに接続されたピクセルに対するデジタルセンシング値を出力することができる。
【発明の効果】
【００２６】
したがって、本発明は、従来センシングユニットの構成より増幅器とスケーラを半分に減少させて、データ駆動回路に含まれるソースドライブＩＣの面積を減らすことができるようになる。
【００２７】
また、ソースＩＣの面積が減少するにつれて、各ウェハが生産できるソースＩＣの数が増え、結果的に、ソースＩＣの単価を下げることができるようになる。
【００２８】
また、真の差動方式で隣接する２つのセンシングラインに流れる電流の積分値を差動増幅することにより、センシングラインに乗って、電流に混入されるノイズの影響を削減しながら、駆動ＴＦＴの特性を検出することができるようになる。
【００２９】
また、隣接する２つのセンシングラインに流れる電流の積分値を差動増幅するＣＤＳ動作モードと１つのセンシングラインに流れる電流の積分値を基準値と差動増幅する一般動作モードを切り替えることができるように、汎用で構成することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】電流を用いて、ピクセルの特性を検出する従来のセンシング回路構成を示す図である。
【図２】本発明の実施形態に係る有機発光表示装置の駆動回路をブロックで示す図である。
【図３】電流センシング方式を実現するためのピクセルアレイと、ソースドライブＩＣの構成を示す図である。
【図４】電流センシング方式を実現するためのピクセルとセンシングユニットの接続構造を示す図である。
【図５】１ピクセルラインに配置されたピクセルをセンシングするためのセンシング用ゲートパルス（ＳＣＡＮ）のオンパルス区間内センシング電圧の波形と駆動信号のタイミングを示す図である。
【図６】駆動ＴＦＴのしきい値電圧と移動度をセンシングする方法を示す図である。
【図７】駆動ＴＦＴのしきい値電圧と移動度をセンシングする方法を示す図である。
【図８】本発明の一実施形態に係るセンシング回路の構成を示す図である。
【図９】本発明の一実施形態に基づいて、ピクセルのセンシング回路を駆動する駆動信号のタイミングを示す図である。
【図１０】本発明の他の実施形態に係るセンシング回路の構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
以下、添付した図面を参照して本発明に係る好ましい実施形態を詳細に説明する。明細書の全体に亘って同一な参照番号は実質的に同一な構成要素を意味する。以下の説明において、本発明と関連した公知機能または構成に対する具体的な説明が本発明の要旨を曖昧にすることがあると判断される場合、その詳細な説明を省略する。
【００３２】
図１は、電流を用いて、ピクセルの特性を検出する従来のセンシング回路構成を示したものである。
【００３３】
電流を用いて、ピクセルの駆動特性を検出する時、ノイズが問題になってこれを解決するための方策が必ず必要である。図１のセンシング回路は、ノイズを減らすために相関二重サンプル（Correlated Double Sampling、ＣＤＳ）方式を適用して隣接する２つのセンシングラインのセンシング値を差動増幅する構成で飾られる。
【００３４】
相関二重サンプル方式は、基準値によって駆動され、出力ノードに伝達される値をサンプリングし、正常に駆動され、出力ノードに伝達される値をサンプリングした後、その差値を求めるものである。しかし、ピクセルの駆動特性を検出するときは、相関二重サンプル方式を直接適用することができないので、隣接するセンシングラインの値が類似ノイズを有するという仮定の下で、例えば、奇数ラインは、正常駆動して偶数ラインは基準値で駆動し、センシングした値を差動増幅する方法で、センシング値に含まれるノイズ成分を低減することができる。
【００３５】
図１においてセンシング回路は、センシングラインに流れる電流を積分し、サンプリングし、スケーリングするセンシングユニット、隣接する２つのセンシングライン（Even、Odd）に接続された２つのセンシングユニットの出力を差動増幅する差動増幅器（Global Amplifier、ＧＡ）と差動増幅器の出力をデジタル値に変換するアナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）を含むことができる。
【００３６】
センシングユニットは、センシングラインに流れる電流を積分する電流積分器、電流積分器の出力をサンプリングするサンプリング部と、サンプリング値を、ＡＤＣの動作範囲内に調節するスケーラ（Scaler）及び、複数個のスイッチを含むことができる。
【００３７】
電流積分器は、差動増幅器、差動増幅器の反転端子と出力端子を接続するフィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）、キャパシタと並列に接続されるリセットスイッチ（ＲＳＴ）を含み、反転端子がセンシングスイッチを介してセンシングラインに接続され、非反転端子が基準電圧（Ｖｒｅｆ）に接続することができる。センシングスイッチ（ＯＤＤ、ＥＶＥＮ）は、センシングラインの電流値を検出するセンシング駆動時のみ接続され、ピクセルを発光させるディスプレイ駆動時は接続を切ることができる。
【００３８】
サンプリング部は電流積分器との接続を制御するサンプリングスイッチ（ＳＡＭ）と電流積分器が積分した値を貯蔵するサンプリングキャパシタ（Cs/h）を含むことができる。スケーラ（Scaler）によってその大きさが調整された複数のサンプリング出力は、複数のスイッチ（Hold）を介して差動増幅器（ＧＡ）の入力端子に接続される。
【００３９】
センシング駆動において、二つのセンシングラインのセンシング値を差動増幅するために、第１期間（奇数ラインセンシング期間）と第２期間（偶数ラインセンシング期間）に分けてセンシング動作が実行されることができる。
【００４０】
第１期間には、、奇数センシングラインに接続されたピクセルにセンシング用データ電圧を印加して駆動ＴＦＴのソースに流れる電流をセンシングラインを介して検出し、偶数センシングラインに接続されたピクセルには、駆動ＴＦＴをターン−オフさせるデータ電圧を印加して駆動ＴＦＴのソースに流れる電流（ノイズ成分に対応）をセンシングラインを介して検出し、これらの検出値を差動増幅して、デジタルセンシング値に変換することができる。
【００４１】
第２期間には、、偶数センシングラインに接続されたピクセルにセンシング用データ電圧を印加して駆動ＴＦＴのソースに流れる電流を検出ラインを介して検出し、奇数センシングラインに接続されたピクセルには、駆動ＴＦＴをターン−オフさせるデータ電圧を印加して駆動ＴＦＴのソースに流れる電流（ノイズ成分に対応）をセンシングラインを介して検出し、これらの検出値を差動増幅して、デジタルセンシング値に変換することができる。
【００４２】
センシング駆動において第１期間と第２期間は、それぞれ初期化期間、センシング期間及び変換期間で構成されることができる。
【００４３】
センシング駆動の初期化期間で、リセットスイッチ（ＲＳＴ）が接続されて非反転端子の基準電圧がセンシングラインに接続された駆動ＴＦＴのソースに印加される。センシング駆動のセンシング期間で、リセットスイッチ（ＲＳＴ）の接続が切られ、サンプリングスイッチ（ＳＡＭ）が接続され、奇数センシングライン（または偶数センシングライン）に接続されたピクセルにセンシング用データ電圧が印加され、その駆動ＴＦＴがターン−オンされ、偶数センシングライン（または奇数センシングライン）に接続されたピクセルに所定のデータ電圧が印加され、その駆動ＴＦＴがターン−オフされ、駆動ＴＦＴのソースに流れる電流がセンシングラインを介して電流積分器に伝達され、積分され、サンプリング部のサンプリングキャパシタ（Cs/h）にサンプリング値として貯蔵される。センシング駆動の変換期間に、サンプリングスイッチ（ＳＡＭ）が接続が切られ、スケーラと差動増幅器間のスイッチ（Hold）が接続されて、差動増幅器（ＧＡ）が奇数センシングラインに接続された奇数センシングユニットの出力と偶数センシングラインに接続された偶数センシングユニットの出力を差動増幅してＡＤＣがこれを変換してデジタルセンシング値で出力する。
【００４４】
図１において、サンプリング部は電流積分器の出力をサンプリングするだけでなく、基準電圧（Ｖｒｅｆ）もサンプリングするように構成され、スケーラと差動増幅器の間に８つのスイッチが配置される。これは奇数センシングラインのセンシング値と偶数センシングラインのセンシング値を直接差動増幅せずに、各センシングラインのセンシング値と基準値との差動値を求めた後、二つの値の差を求める間接的な差動増幅方法を適用するためである。つまり、奇数センシングラインのセンシング値（Ssl_odd）と偶数センシングユニットからの基準電圧をサンプリングした値（Sref_even）を差動増幅して（Ssl_odd - Sref_even）デジタルに変換し、偶数センシングラインのセンシング値（Ssl_even）と奇数センシングユニットからの基準電圧をサンプリングした値（Sref_odd）を差動増幅して（Ssl_even - Sref_odd）デジタルに変換した後、その差値（（Ssl_odd - Sref_even）−（Ssl_even−Sref_odd）＝（Ssl_odd−Ssl_even））を求める。もちろん、奇数センシングラインのセンシング値（Ssl_odd）と偶数センシングラインのセンシング値（Ssl_even）の内、いずれか１つは、対応ピクセルにセンシング用データ電圧を印加して得られた値であり、他の１つは、対応ピクセルに駆動ＴＦＴをターン−オフさせる所定のデータ電圧を印加して得られた値で、第１期間と第２期間ごとに交互にセンシング用データ電圧が印加されるセンシングラインが変えることがある。
【００４５】
図１のセンシング回路において、各センシングラインにセンシングユニットが備えられ、各センシングユニットごとにＯＰアンプとスケーラが備えられ、このようなセンシング回路を含むソースドライブＩＣのサイズが大きくなる。
【００４６】
本発明は、このような問題を解決するために、２センシングラインのセンシングユニットを完全差動増幅器（Fully Differential Amplifier、ＦＤＡ）を用いて、１つに構成することにより、電流検出方式で問題となるノイズを削減しながら、ソースドライブＩＣの面積を減らすことができようにする。
【００４７】
図２は、本発明の実施形態に係る有機発光表示装置の駆動回路をブロックで示したものであり、図３は、電流検出方式を実現するためのピクセルアレイと、ソースドライブＩＣの構成を示したものである。
【００４８】
本発明の一実施形態に係る有機発光表示装置は、表示パネル１０、タイミングコントローラ１１は、データ駆動回路１２及びゲート駆動回路１３を含むことができる。
【００４９】
表示パネル１０には、複数のデータライン１４Ａとセンシングライン１４Ｂ及び複数のゲートライン（またはスキャンライン）（１５Ａ、１５Ｂ）が交差し、この交差領域ごとにピクセル（Ｐ）がマトリックスの形に配置され、ピクセルアレイを構成する。ゲートライン１５は、第１スキャン信号（ＳＣＡＮ）が供給される複数の第１ゲートライン１５Ａと第２スキャン信号（ＳＥＮ）が供給される複数の第２ゲートライン１５Ｂを含むことができる。
【００５０】
各ピクセル（Ｐ）は、データライン１４Ａの内、いずれか１つ、センシングライン１４Ｂの内、いずれか１つ、第１ゲートライン１５Ａの内、いずれか１つ、第２ゲートライン１５Ｂのいずれか１つに接続することができる。
【００５１】
ピクセル（Ｐ）は、図示しない電源生成部から高電位駆動電圧（ＥＶＤＤ）と低電位駆動電圧（ＥＶＳＳ）の供給を受け、ＯＬＥＤ、駆動ＴＦＴ、ストレージキャパシタ、第１スイッチＴＦＴと第２スイッチＴＦＴを備えることができる。ピクセル（Ｐ）を構成するＴＦＴはＰタイプで実現されるか、またはＮタイプで実現されるか、またはＰタイプとＮタイプが混在したハイブリッドタイプで実現されることができる。また、ＴＦＴ半導体層は、アモルファスシリコンや、ポリシリコンまたは、酸化物を含むことができる。
【００５２】
本発明の駆動回路やピクセルでスイッチ素子は、ｎ型またはｐ型ＭＯＳＦＥＴ（Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor）構造のトランジスタ（ＴＦＴ）で実現されることができる。以下の実施形態でＮ型トランジスタを例示するが、本発明はこれに限定されない。トランジスタは、ゲート（gate）、ソース（source）及びドレイン（drain）を含む３電極素子である。ソースは、キャリア（carrier）をトランジスタに供給する電極である。トランジスタ内でキャリアは、ソースから流れ始める。ドレインはトランジスタでキャリアが外部に出る電極である。つまり、ＭＯＳＦＥＴでのキャリアの流れは、ソースからドレインに流れる。ＮタイプＭＯＳＦＥＴ（ＮＭＯＳ）の場合、キャリアが電子（electron）であるため、ソースからドレインに電子が流れることができるよう、ソース電圧がドレイン電圧より低い電圧を有する。ＮタイプＭＯＳＦＥＴで電子がソースからドレインの方向に流れるため、電流の方向は、ドレインからソースの方向に流れる。ＰタイプＭＯＳＦＥＴ（ＰＭＯＳ）の場合、キャリアが正孔（hole）であるため、ソースからドレインに正孔が流れることができるよう、ソース電圧がドレイン電圧より高い。ＰタイプＭＯＳＦＥＴで正孔がソースからドレインの方向に流れるため、電流がソースからドレインの方向に流れる。ＭＯＳＦＥＴのソースとドレインは、固定されたものではないことに注意しなければならない。例えば、ＭＯＳＦＥＴのソースとドレインは、印加電圧に応じて変更されることができる。以下の実施形態で、トランジスタのソースとドレインによって発明が限定されてはならない。
【００５３】
本発明の有機発光表示装置は、外部補償技術を採用することができる。外部補償技術は、ピクセル（Ｐ）に備えられた駆動ＴＦＴの電気的特性をセンシングし、そのセンシング値に基づいて入力映像のデジタルデータ（ＤＡＴＡ）を補正する技術である。駆動ＴＦＴの電気的特性は、駆動ＴＦＴのしきい値電圧と駆動ＴＦＴの電子移動度を含む。
【００５４】
タイミングコントローラ１１は、ピクセルの駆動特性をセンシングし、それに応じた補償値を更新するためのセンシング駆動と補償値が反映された入力映像を表示するためのディスプレイ駆動を所定の制御シーケンスに基づいて時間的に分離することができる。タイミングコントローラ１１の制御動作により、外部補償駆動は、ディスプレイ駆動中の垂直ブランク期間（または垂直ブランク時間）に行われるか、またはディスプレイ駆動が開始される前のパワーオンシーケンス期間（駆動電源が印加された後、画像が表示される画像表示区間前まで非表示区間）に行われるか、またはディスプレイ駆動が終わった後のパワーオフシーケンス期間（画像表示が終了した直後から駆動電源が遮断されるまでの非表示区間）に実行されることができる。
【００５５】
垂直ブランク期間は、入力映像データ（ＤＡＴＡ）が書き込まれていない期間として、１フレーム分の入力映像データ（ＤＡＴＡ）が書き込まれる垂直アクティブ期間の間毎に配置される。パワーオンシーケンス期間は駆動電源がオンされた後から入力映像が表示されるまでの過渡期間を意味する。パワーオフシーケンスの期間は、入力映像の表示が終わった後から駆動電源がオフになるまでの過渡期間を意味する。
【００５６】
駆動ＴＦＴの特性センシングと補償のための外部補償駆動は、システム電源が印加されている途中で表示装置の画面だけオフ状態、例えば、待機モード、スリープモード、低電力モードなどで実行されることもできる。タイミングコントローラ１１は、予め決められた感知プロセスに基づいて待機モード、スリープモード、低電力モードなどを感知し、外部補償駆動のための諸般の動作を制御することができる。
【００５７】
タイミングコントローラ１１は、ホストシステムから入力される垂直同期信号（Ｖｓｙｎｃ）、水平同期信号（Ｈｓｙｎｃ）、ドットクロック信号（ＤＣＬＫ）及びデータイネーブル信号（ＤＥ）などのタイミング信号に基づいてデータ駆動回路１２の動作タイミングを制御するためのデータ制御信号（ＤＤＣ）及びゲート駆動回路１３の動作タイミングを制御するためのゲート制御信号（ＧＤＣ）を生成する。タイミングコントローラ１１は、画像表示が行われる期間と、外部補償動作が実行される期間を時間的に分離し、画像表示のための制御信号（ＤＤＣ、ＧＤＣ）と外部補償のための制御信号（ＤＤＣ、ＧＤＣ）を互いに異なるように生成することができる。
【００５８】
ゲート制御信号（ＧＤＣ）は、ゲートスタートパルス（Gate Start Pulse、ＧＳＰ）、ゲートシフトクロック（Gate Shift Clock、ＧＳＣ）、ゲート出力イネーブル信号（Gate Output Enable、ＧＯＥ）などを含む。ゲートスタートパルス（ＧＳＰ）は、最初のスキャン信号を生成するゲートステージに印加されて、最初のスキャン信号が発生するように、そのゲートステージを制御する。ゲートシフトクロック（ＧＳＣ）は、ゲートステージに共通に入力されるクロック信号として、ゲートスタートパルス（ＧＳＰ）をシフトさせるためのクロック信号である。ゲート出力イネーブル信号（ＧＯＥ）はゲートステージの出力を制御するマスキング信号である。
【００５９】
データ制御信号（ＤＤＣ）は、ソーススタートパルス（Source Start Pulse、ＳＳＰ）、ソースサンプリングクロック（Source Sampling Clock、ＳＳＣ）、ソース出力イネーブル信号（Source Output Enable、ＳＯＥ）などを含む。ソーススタートパルス（ＳＳＰ）は、データ駆動回路１２のデータサンプリングの開始タイミングを制御する。ソースサンプリングクロック（ＳＳＣ）はライジングまたはフォーリングエッジに基づいて、ソースドライブＩＣの各々においてデータのサンプリングタイミングを制御するクロック信号である。ソース出力イネーブル信号（ＳＯＥ）はデータ駆動回路１２の出力タイミングを制御する。
【００６０】
センシング駆動時にタイミングコントローラ１１は、データ駆動回路１２から入力されるデジタルセンシング値（ＳＤ）に基づいて駆動ＴＦＴの電気的特性の変化を補償することができる補償パラメータを計算し、この補償パラメータをメモリに貯蔵することができる。メモリに貯蔵される補償パラメータは、センシング駆動するたびに更新されることができ、それに応じて駆動ＴＦＴの時間変化特性が容易に補償することができる。
【００６１】
ディスプレイ駆動時のタイミングコントローラ１１は、メモリからの補償パラメータを読み込み、この補償パラメータに基づいて入力映像のデジタルデータ（ＤＡＴＡ）を補正して、データ駆動回路１２に供給する。
【００６２】
データ駆動回路１２は、少なくとも１つ以上のソースドライブＩＣ（Integrated Circuit）（ＳＤＩＣ）を含むことができる。ソースドライブＩＣは、データライン１４Ａに接続された複数のデジタル−アナログコンバータ（以下、ＤＡＣ）とセンシングライン１４Ｂに接続されるセンシング回路を含み、センシング回路は隣接する２つのセンシングライン１４Ｂに接続される複数のセンシングユニット１２１、差動増幅器１２２及びアナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）を含むことができる。
【００６３】
各センシングユニットは、図３のように、偶数センシングラインと奇数センシングラインに接続され、各センシングライン１４Ｂを介して、1ピクセルライン（例えば、Ｌｉ）に配置された複数のピクセル（Ｐ）に共通接続されることができる。図３には４つのピクセル（Ｐ）からなる１つの単位ピクセル(ＵＰＸＬ)が１つのセンシングライン１４Ｂを共有することで示されているが、本発明の技術的思想はこれに限定されない。本発明の技術的思想は、複数のピクセル（Ｐ）が１つのセンシングライン１４Ｂを介して１つのセンシングユニットに接続される様々な変形例にすべて適用することができる。
【００６４】
ソースドライブＩＣのＤＡＣは、ディスプレイ駆動時にタイミングコントローラ１１から印加されるデータのタイミング制御信号（ＤＤＣ）に基づいて入力映像データ（ＤＡＴＡ）を表示用のデータ電圧に変換してデータライン１４Ａに供給する。ディスプレイ用のデータ電圧は、入力映像の階調に応じて変わる電圧である。
【００６５】
ソースドライブＩＣのＤＡＣはセンシング駆動時のタイミングコントローラ１１から印加されるデータのタイミング制御信号（ＤＤＣ）に基づいてセンシング用データ電圧を生成して、データライン１４Ａに供給する。センシング用データ電圧は、センシング駆動時のピクセル（Ｐ）に備えられた駆動ＴＦＴをターンオンさせることができる電圧である。センシング用データ電圧は、すべてのピクセル（Ｐ）と同じ値で生成されることができる。また、カラーごとにピクセルの特性が相違することを勘案して、センシング用データ電圧は、カラーごとに異なる値で生成されることができる。例えば、センシング用データ電圧は、第１の色を表示する第１ピクセル（Ｐ）に対して第１の値に生成され、第２色を表示する第２ピクセル（Ｐ）に対して第２の値に生成され、第３色を表示する第３ピクセルの（Ｐ）の第３値に生成することができる。
【００６６】
センシングユニット１２１は、センシングライン１４Ｂに基準電圧（Ｖｒｅｆ）を供給してセンシングライン１４Ｂを介して入力されるセンシング値（ＯＬＥＤや駆動ＴＦＴの電気的特性値）をサンプリングしホールディングしてＡＤＣに供給することができる。
【００６７】
ゲート駆動回路１３は、ディスプレイ駆動時、ゲート制御信号（ＧＤＣ）に基づいて、ディスプレイ用のゲートパルスを生成して、ピクセルライン（Ｌｉ、Ｌｉ ＋ １、Ｌｉ ＋ ２、Ｌｉ ＋ ３、...）に接続されたゲートライン１５に順次供給する。ピクセルライン（Ｌｉ、Ｌｉ ＋ １、Ｌｉ ＋ ２、Ｌｉ ＋ ３、...）は、水平方向に隣接したピクセル（Ｐ）の集合を意味する。ゲートパルスはゲートハイ電圧（ＶＧＨ）とゲートロー電圧（ＶＧＬ）の間でスイングする。ゲートハイ電圧（ＶＧＨ）は、ＴＦＴのしきい値電圧より高い電圧に設定されてＴＦＴをターン−オン（turn-on）させ、ゲートロー電圧（ＶＧＬ）は、ＴＦＴのしきい値電圧より低い電圧である。
【００６８】
ゲート駆動回路１３は、センシング駆動時、ゲート制御信号（ＧＤＣ）に基づいて、センシング用ゲートパルスを生成して、ピクセルライン（Ｌｉ、Ｌｉ ＋ １、Ｌｉ ＋ ２、Ｌｉ ＋ ３、...）に接続されたゲートライン１５に順次供給する。センシング用ゲートパルスは、ディスプレイ用のゲートパルスに比べてオンパルス区間が広いことがある。センシング用ゲートパルスのオンパルス区間は１ラインセンシングオン時間内に一個または複数個含むことができる。ここで、１ラインセンシングオン時間とは１ピクセルライン（例えば、Ｌｉ）のピクセル（Ｐ）を同時にセンシングするために割愛するスキャン時間を意味する。
【００６９】
図４は、電流センシング方式を実現するためのピクセルとセンシングユニットの接続構造を示したものであり、図４は、電流センシング方式の駆動理解を助けるための１つ例示に過ぎないので、本発明の電流センシングが適用されるピクセル構造とその駆動タイミングは、様々な変形が可能であるから、本発明の技術的思想は、この実施形態に限定されない。
【００７０】
図４を参照すると、本発明のピクセル（Ｐ）は、ＯＬＥＤ、駆動ＴＦＴ（ＤＴ）、ストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）、第１スイッチＴＦＴ（ＳＴ１）、及び第２スイッチＴＦＴ（ＳＴ２）を備えることことができる。
【００７１】
ＯＬＥＤは、駆動ＴＦＴ（ＤＴ）のソースノード（Ｎｓ）に接続されたアノード電極、低電位駆動電圧（ＥＶＳＳ）の入力端に接続されたカソード電極、アノード電極とカソード電極との間に位置する有機化合物層を含む。駆動ＴＦＴ（ＤＴ）は、ゲート−ソース間電圧（Ｖｇｓ）に応じて、ＯＬＥＤに入力される電流量を制御する。駆動ＴＦＴ（ＤＴ）は、ゲートノード（Ｎｇ）に接続されたゲート電極、高電位駆動電圧（ＥＶＤＤ）の入力端に接続されたドレイン電極とソースノード（Ｎｓ）に接続されたソース電極を備える。ストレージキャパシタ（Ｃｓｔ）は、ゲートノード（Ｎｇ）とソースノード（Ｎｓ）との間に接続される。第１スイッチＴＦＴ（ＳＴ１）は、第１ゲートパルス（ＳＣＡＮ）に応答してデータライン１４Ａ上のデータ電圧（Ｖｄａｔａ）をゲートノード（Ｎｇ）に印加する。第１スイッチＴＦＴ（ＳＴ１）は、第１ゲートライン１５Ａに接続されたゲート電極、データライン１４Ａに接続されたドレイン電極とゲートノード（Ｎｇ）に接続されたソース電極を備える。第２スイッチＴＦＴ（ＳＴ２）は、第２ゲートパルス（ＳＥＮ）に応答して、ソースノード（Ｎｓ）とセンシングライン１４Ｂとの間の電流の流れをオン／オフする。第２スイッチＴＦＴ（ＳＴ２）は、第２ゲートライン（１５Ｂ）に接続されたゲート電極、センシングライン１４Ｂに接続されたドレイン電極及びソースノード（Ｎｓ）に接続されたソース電極を備える。
【００７２】
第１ゲートライン１５Ａと第２ゲートライン１５Ｂを共有して、同じ位相の第１ゲートパルス（ＳＣＡＮ）と第２ゲートパルス（ＳＥＮ）で第１スイッチＴＦＴ（ＳＴ１）と第２スイッチＴＦＴ（ＳＴ２）を駆動することができる。以下においては、第１ゲートライン１５Ａと第２ゲートライン１５Ｂが互いに縛られて１つのゲート信号が印加されるものとして説明する。
【００７３】
図４のセンシング回路は、１つのセンシングラインに流れるセンシング電流を検出する動作を説明するために、簡略に示したもので、図１のものと比較してスケーラ、差動増幅器及び、一部スイッチが省略されている。
【００７４】
電流積分器（ＣＩ）は、オフィシャル増幅器（ＡＭＰ）、フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）、第１スイッチ（ＳＷ１）を含み、ピクセル電流（Ｉｐ）を蓄積して積分値（Ｖｓｅｎ）を出力する。オフィシャル増幅器（ＡＭＰ）は、センシングライン１４Ｂに接続され、ピクセル電流（Ｉｐ）の入力を受ける反転入力端子（ー）、基準電圧（Ｖｒｅｆの入力を受ける非反転入力端子（＋）、積分値（Ｖｓｅｎ）を出力する出力端子を含む。フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）は、増幅器（ＡＭＰ）の反転入力端子（ー）と出力端子の間に接続され、ピクセル電流（Ｉｐ）を蓄積する。第１スイッチ（ＳＷ１）は、フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）の両端に接続され、第１スイッチ（ＳＷ１）がターン−オンされる時フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）は、初期化される。
【００７５】
サンプリング部（ＳＨ）は、サンプリング信号（ＳＡＭ）に基づいてスイッチングされる第２スイッチ（ＳＷ２）、ホールディング信号（ＨＯＬＤ）に基づいてスイッチングされる第３スイッチ（ＳＷ３）、第２及び第３スイッチ（ＳＷ２、ＳＷ３）の間に一端が接続され、他端が基底電圧源（ＧＮＤ）に接続されたサンプリングキャパシタ（Ｃｓ）を含み、電流積分器（ＣＩ）からの積分値（Ｖｓｅｎ）をサンプリング及びホールディングする。
【００７６】
ＡＤＣは、第３スイッチ（ＳＷ３）を介してサンプリングキャパシタ（Ｃｓ）に接続される。
【００７７】
図５は、１ピクセルラインに配置されたピクセルをセンシングするためのセンシング用ゲートパルス（ＳＣＡＮ）のオンパルス区間内センシング電圧の波形と駆動信号のタイミングを示したものである。図５を参照すると、センシング駆動は、初期化期間（Ｔｉｎｉ）、サンプリング期間（Ｔｓａｍ）、及び変換期間（Ｔｃｏｎ）を含む。
【００７８】
初期化期間（Ｔｉｎｉ）に、第１スイッチ（ＳＷ１）のターン−オンにより増幅器（ＡＭＰ）は、利得が１であるユニットゲインバッファとして動作する。初期化期間（Ｔｉｎｉ）で増幅器（ＡＭＰ）の入力端子（＋、−）と出力端子、センシングライン１４Ｂ、及びソースノード（Ｎｓ）は、すべて基準電圧（Ｖｒｅｆ）に初期化される。
【００７９】
初期化期間（Ｔｉｎｉ）中にソースドライバＩＣのＤＡＣを介してセンシング用データ電圧がピクセルＰ）のゲートノード（Ｎｇ）に印加される。それに応じて駆動ＴＦＴ（ＤＴ）には、ゲートノード（Ｎｇ）とソースノード（Ｎｓ）の電位差（Ｖｄａｔａ−Ｖｒｅｆ）に対応するピクセル電流（Ｉｐ）が流れる。初期化期間（Ｔｉｎｉ）中、増幅器（ＡＭＰ）は、継続してユニットゲインバッファとして動作するので、電流積分器（ＣＩ）の出力値（Ｖｓｅｎ）は、基準電圧（Ｖｒｅｆ）を維持する。
【００８０】
サンプリング期間（Ｔｓａｍ）に第１スイッチ（ＳＷ１）のターン−オフのため、増幅器（ＡＭＰ）は、電流積分器（ＣＩ）で動作して駆動ＴＦＴ（ＤＴ）に流れるピクセル電流（Ｉｐ）を積分する。サンプリング期間（Ｔｓａｍ）に増幅器（ＡＭＰ）の反転入力端子（ー）に流入されるピクセル電流（Ｉｐ）によってフィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）の両端電位差は、センシング時間（ΔＴ）が長くなるほど、すなわち、蓄積される電流量が増加するほど大きくなって、フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）の両端電位差に対応して増幅器（ＡＭＰ）の出力端子の電位が低くなる。このような原理でサンプリング期間（Ｔｓａｍ）に電流積分器（ＣＩ）の出力値（Ｖｏｕｔ）は、フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）を介して積分値（Ｖｓｅｎ）に変わる。センシングライン１４Ｂを介して流入されるピクセル電流（Ｉｐ）が大きいほど、電流積分器（ＣＩ）の出力値（Ｖｏｕｔ）の下降の傾きが増加するので、基準電圧（Ｖｒｅｆ）と積分値（Ｖｓｅｎ）の電圧差（ΔＶ）も増加する。サンプリング期間（Ｔｓａｍ）に積分値（Ｖｓｅｎ）は、第２スイッチ（ＳＷ２）を経由して、サンプリングキャパシタ（Ｃｓ）に貯蔵される。    
【００８１】
変換期間（Ｔｃｏｎ）に第３スイッチ（ＳＷ３）がターンオンされると、サンプリングキャパシタ（Ｃｓ）に貯蔵された積分値（Ｖｓｅｎ）が第３スイッチ（ＳＷ３）を経由してＡＤＣに入力される。積分値（Ｖｓｅｎ）は、ＡＤＣでデジタルセンシング値（ＳＤ）に変換された後、タイミングコントローラ１１に伝送される。デジタルセンシング値（ＳＤ）は、タイミングコントローラ１１で駆動ＴＦＴのしきい値電圧偏差（ΔＶｔｈ）と移動度偏差（ΔＫ）を導出するために用いられる。
【００８２】
タイミングコントローラ１１には、フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）のキャパシタンス、基準電圧値（Ｖｒｅｆ）、センシング時間の値（ΔＴ）が予めデジタルコードに貯蔵されている。したがって、タイミングコントローラ１１は、積分値（Ｖｓｅｎ）のデジタルコードであるデジタルセンシング値（ＳＤ）から駆動ＴＦＴ（ＤＴ）に流れるソース−ドレイン間の電流（Ｉｄｓ＝Ｃｆｂ＊ΔＶ/ΔＴ、ここで、ΔＶ＝Ｖｒｅｆ−Ｖｓｅｎ）を計算することができる。タイミングコントローラ１１は、デジタルセンシング値（ＳＤ）を補償アルゴリズムに適用して偏差値（ΔＶｔｈ、ΔＫ）と偏差補償のための補償データを導出する。補償アルゴリズムは、ルックアップテーブルまたは、演算ロジックで実現されることができる。
【００８３】
図６と図７は、それぞれ駆動ＴＦＴのしきい値電圧と移動度をセンシングする方法を示したものである。
【００８４】
図６のセンシング方法は、駆動ＴＦＴ（ＤＴ）のゲートにセンシング用データ電圧（Ｖｄａｔａ）を供給し、その駆動ＴＦＴ（ＤＴ）をソースフォロワー（Source Follower）の方法で動作させた後、駆動ＴＦＴ（ＤＴ）のソースに流れる電流をセンシング回路に印加して、これに基づいて駆動ＴＦＴ（ＤＴ）のしきい値電圧（Ｖｔｈ）をセンシングする。
【００８５】
駆動ＴＦＴのゲートとソースとの間には、駆動ＴＦＴのゲート−ソース間電圧を貯蔵するキャパシタ（Ｃｓｔ）が接続される。ソース電圧（Ｖｓ）は、Ｖｓ＝Ｖｄａｔａ−Ｖｔｈである。駆動ＴＦＴのしきい値電圧は、センシング回路が駆動ＴＦＴ（ＤＴ）のソースに流れる電流を積分して知ることができ、その駆動ＴＦＴのしきい値電圧の変化量を補償するためのオフセット値（offset value）が決定されることができる。入力映像のデータにオフセット値が加算され、駆動ＴＦＴのしきい値電圧の変化量が補償されることができる。この方法は、ソースフォロワーとして動作する駆動ＴＦＴ（ＤＴ）のゲート−ソース間電圧（Ｖｇｓ）が飽和状態（saturation state）に到達した後に、その駆動ＴＦＴ（ＤＴ）のしきい値電圧がセンシングしなければならないので、センシングに望する時間が比較的長い。駆動ＴＦＴ（ＤＴ）のゲート−ソース間電圧（Ｖｇｓ）が飽和状態にあるとき、駆動ＴＦＴ（ＤＴ）のドレイン−ソース間電流がゼロ（zero）である。
【００８６】
図７のセンシング方法は、駆動ＴＦＴ（ＤＴ）の移動度（μ）をセンシングする。この方法は、駆動ＴＦＴ（ＤＴ）のゲートに駆動ＴＦＴ（ＤＴ）のしきい値電圧より高い電圧（Ｖｄａｔａ ＋ Ｘ、ここで、Ｘはオフセット値補償による電圧）を印加して駆動ＴＦＴ（ＤＴ）をターン−オン（turn-on）させて、一定時間の間に充電された駆動ＴＦＴ（ＤＴ）のソースに流れる電流をセンシング回路に印加して、これに基づいて駆動ＴＦＴ（ＤＴ）の移動度をセンシングする。駆動ＴＦＴの移動度は、駆動ＴＦＴ（ＤＴ）のソースの電圧大きさに応じて決定され、これにより、データの補償のためのゲイン値（gain value）が求められる。このセンシング方法は、駆動ＴＦＴ（ＤＴ）がアクティブ区間で動作するとき、その駆動ＴＦＴの移動度をセンシングする。駆動ＴＦＴ（ＤＴ）がアクティブ区間の間に、ゲート電圧（Ｖｇ）に沿って、ソース電圧（Ｖｓ）が上昇する。入力映像のデータにゲイン値が乗算となり駆動ＴＦＴの移動度変化量が補償されることができる。このセンシング方法は、駆動ＴＦＴのアクティブ区間で移動度がセンシングされるため、センシングに所望する時間が短い。
【００８７】
図６のセンシング方法は、センシング時間が長いので、ユーザインタフェースを介してユーザから受信されたパワーオフコマンド信号に応答して、遅延された駆動電源のオフタイミング前まで実行されることができる。図７のセンシング方法は、センシング時間が短いため、表示装置に駆動電源が安定に供給された後、画面が変わる間、すなわち、垂直ブランク期間（Vertical Blank Period、ＶＢ）内で実行されることができる。本発明のセンシング方法は、図６及び図７に限定されず、公知されたピクセルの駆動特性センシング方法を用いることができる。
【００８８】
図８は、本発明の一実施形態に係るセンシングユニットの構成を示したものである。
【００８９】
センシング回路は、電流積分器、サンプリング部及びスケーラ（Scaler）で構成されて隣接する２つのセンシングラインのセンシング値を検出するセンシングユニット、センシングユニットの複数の出力を用いて差動増幅する差動増幅器（ＧＡ）及び差動増幅器の出力をアナログ−デジタル変換するＡＤＣを含むことができる。
【００９０】
センシング駆動時センシングラインの電流を積分した積分値が、ＡＤＣの動作範囲内にある場合、センシングユニットにおいてスケーラは省略することができる。または、センシングラインに電流シンク回路を電流積分器と並列に接続させ、電流シンク回路が電流積分器に流入されるピクセル電流を低減させ積分器が出力する積分出力電圧がＡＤＣのセンシング範囲を逸脱しないようにしてスケーラを省略することもできる。
【００９１】
電流積分器は、完全差動増幅器を用いて、２つのセンシングラインに流れる電流を積分して、２つの積分値を出力し、完全差動増幅器（ＦＤＡ）、２つのフィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）及び２つのリセットスイッチ（ＳＷ１２、ＳＷ２２）を含むことができる。
【００９２】
完全差動増幅器は、入力だけでなく、出力も差動で構成し、低電圧システムで信号の大きさを最大に受け入れダイナミックレンジ（dynamic range）を差動増幅器に比べて２倍に高めることができる長所がある。したがって、差動ＡＤＣに完全差動増幅器を使用して接続すると、信号の大きさを極大化することができる。
【００９３】
第１フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）と、第１リセットスイッチ（ＳＷ１２）は、並列の形で、完全差動増幅器（ＦＤＡ）の反転入力端子と非反転出力端子を接続し、第２フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）と第２リセットスイッチ（ＳＷ２２）は、並列の形で、完全差動増幅器（ＦＤＡ）の非反転入力端子と反転出力端子を接続する。完全差動増幅器（ＦＤＡ）の出力共通端子は、基準電圧（Ｖｒｅｆ）に接続される。
【００９４】
第１及び第２フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）は、センシングラインを流れる電流を積分して出力端子の電位を増加させたり減少させ、第１及び第２リセットスイッチ（ＳＷ１２、ＳＷ２２）は、リセット信号（ＲＳＴ）の制御に基づいて、初期にターン−オンされて、完全差動増幅器（ＦＤＡ）の入力端子、出力端子、ピクセルの駆動ＴＦＴのソース端子が基準電圧（Ｖｒｅｆ）に初期化され、以後にターン−オフされ、第１及び第２フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）を介してセンシングラインに流れる電流が積分される。
【００９５】
隣接する２つのセンシングライン、例えば奇数センシングライン（１４Ｂ_＃（２ｋ−１））と偶数センシングライン（１４Ｂ_＃２ｋ）は、それぞれ、第１センシングスイッチ（ＳＷ１１）と第２センシングスイッチ（ＳＷ２１）を介して、完全差動増幅器の反転入力端子と非反転入力端子または非反転入力端子と反転入力端子に接続される。第１及び第２センシングスイッチ（ＳＷ１１、ＳＷ２１）はセンシング信号（ＯＥ）の制御に基づいて、有機発光ダイオードを発光させるディスプレイ駆動時に接続を切って、有機発光ダイオードの駆動特性を検出するセンシング駆動時に接続することができる。
【００９６】
例えば、奇数センシングライン（１４Ｂ_＃（２ｋ−１））は、図３に示したように、１ピクセルラインで隣接する４つのピクセルからなる１つの単位ピクセルに共通に接続され、偶数センシングライン（１４Ｂ_＃２ｋ）は、１ピクセルラインで奇数センシングライン（１４Ｂ_＃（２k−１））に接続されたピクセルより右側にある隣接する４つのピクセルに共通に接続することができる。１個、２個、３個、４個またはそれ以上のピクセル（Ｐ）が１つのセンシングラインを介して１つのセンシングユニットに接続されることも可能である。
【００９７】
サンプリング部は、第１及び第２サンプリングキャパシタ（Cs/h）と、第１及び第２サンプリングキャパシタ（Cs/h）の一端をそれぞれ非反転出力端子と反転出力端子に接続する第１及び第２サンプリングスイッチ（SW１３、SW２３）を含み、第１及び第２サンプリングキャパシタ（Cs/h）の第２端子は、第２基準電圧（Vref２）に接続されるが、第２基準電圧（Vref２）は、ＡＤＣの動作範囲と関連した電圧である。
【００９８】
第１及び第２サンプリングスイッチ（ＳＷ１３、ＳＷ２３）は、サンプリング信号（ＳＡＭ）の制御に基づいてターン−オンされたりターン−オフされるが、第１及び第２リセットスイッチ（ＳＷ１２、ＳＷ２２）がターン−オンされる時ターン−オンされて第１及び第２サンプリングキャパシタ（Ｃｓ/ｈ）が初期化され、第１及び第２フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）を介してセンシングラインに流れる電流が積分される所定時間の間継続ターン−オン状態を維持して、第１及び第２サンプリングキャパシタ（Ｃｓ/ｈ）に電流積分器の出力である積分値を貯蔵し、所定時間後にターン−オフされることができる。
【００９９】
スケーラ（Scaler）は、第１及び第２サンプリングキャパシタ（Ｃｓ/ｈ）にサンプリングされるセンシング電圧をＡＤＣの動作範囲に変換して出力するが、電流積分器の出力積分値が、ＡＤＣの動作範囲内である場合、スケーラは省略されることができる。
【０１００】
スケーラの２つの出力は、それぞれ第１及び第２モードスイッチ（ＳＷ１４、ＳＷ２４）を経て、差動増幅器（ＧＡ）の２つの入力端子に接続することができる。差動増幅器（ＧＡ）は、反転及び非反転入力端子に入力される信号を差動増幅して出力し、これをＡＤＣがデジタルに変換して、デジタルセンシングデータ（ＳＤ）に出力する。
【０１０１】
２センシングラインの電流をそれぞれ積分した値を相関二重サンプル方式で差動増幅する場合、第１及び第２モードスイッチ（ＳＷ１４、ＳＷ２４）が接続される。
【０１０２】
第１及び第２モードスイッチ（ＳＷ１４、ＳＷ２４）に加え、差動増幅器（ＧＡ）の２つの入力端子は、それぞれ第１及び第２基準スイッチ（ＳＷ１５、ＳＷ２５）を介して第３基準電圧（Ｖｒｅｆ３）に接続することができるが、これは隣接する２つのセンシングラインの電流を積分した値を差動して増幅する相関二重サンプル（ＣＤＳ）動作モードだけでなく、各センシングラインの電流を積分した値を所定の基準値（第３基準電圧）と差動して増幅する一般（Normal）動作モードも可能にするためである。
【０１０３】
第３基準電圧（Ｖｒｅｆ３）は、基準電圧（Ｖｒｅｆ）をスケーラを介して、その大きさを調節することに対応する電圧値を有することができる。
【０１０４】
一般動作モードで動作するとき、第１モードスイッチ（ＳＷ１４）をターン−オンして差動増幅器の第１入力端子（非反転入力端子）には、ピクセルにセンシング用データ電圧が印加された奇数センシングライン（１４Ｂ_＃（２ｋ−１））に接続されたセンシングユニットを接続し、第２基準スイッチ（ＳＷ２５）をターン−オンして差動増幅器の他の入力端子（反転入力端子）には、第３基準電圧（Ｖｒｅｆ３）を接続することができる。または、第２モードスイッチ（ＳＷ２４）をターン−オンして差動増幅器の第２入力端子（反転入力端子）には、ピクセルにセンシング用データ電圧が印加された偶数センシングライン（１４Ｂ_＃２ｋ）に接続されたセンシングユニットを接続し、第１基準スイッチ（ＳＷ１５）をターン−オンして差動増幅器の他の入力端子（非反転入力端子）には、第３基準電圧（Ｖｒｅｆ）を接続することができる。
【０１０５】
第１及び第２モードスイッチ（ＳＷ１４、ＳＷ２４）と第１及び第２基準スイッチ（ＳＷ１５、ＳＷ２５）は、モード信号（ＣＤＳＯ＃ｋ、ＣＤＳＥ＃ｋ）と基準信号（ＮＯＲＭＯ＃ｋ、ＮＯＲＭＥ＃ｋ）に基づいて制御されて、ＣＤＳ動作モードや一般動作モードが選択されることができる。
【０１０６】
図３に示したように、ソースドライブＩＣは、複数個のセンシングユニットと１つの差動増幅器とＡＤＣを含むことができる。例えば、１つのセンシングラインが同じピクセルラインの４つのピクセル（例えば、Ｒ、Ｇ、Ｂ、Ｗ）に共通に接続され、データ駆動回路１２にｍ個のソースドライブＩＣがある場合、センシングユニットが２つの隣接するセンシングラインに接続されるので、表示パネルの横方向の解像度をＨとしたとき、各ソースドライブＩＣはＨ/２ｋ個数のセンシングユニットを含む。
【０１０７】
各センシングユニットの２つの出力は、それぞれ差動増幅器の反転入力端子と非反転入力端子に接続されるが、各センシングユニットに設けられた第１及び第２モードスイッチ（ＳＷ１４、ＳＷ２４）により、その接続が順次制御することができる。
【０１０８】
センシング回路においてセンシング信号（ＯＥ）、リセット信号（ＲＳＴ）、サンプリング信号（ＳＡＭ）は、すべてのセンシングユニットに共通に適用され、対応するスイッチを同じタイミングで制御するが、モード信号（ＣＤＳＯ＃ｋ、ＣＤＳＥ#ｋ）と基準信号（ＮＯＲＭＯ＃ｋ、ＮＯＲＭＥ＃ｋ）は、各センシングユニットに個別に適用され、対応するスイッチを他のタイミングで制御する。
【０１０９】
一般的な動作モードでピクセルの駆動特性を検出する場合、各センシングユニットの２つの出力がすべて差動増幅器の１つの入力端子に接続され、差動増幅器の他の入力端子には、第３基準電圧（Ｖｒｅｆ３）が接続することもできる。
【０１１０】
センシング駆動時、偶数センシングラインに接続されたピクセルの駆動特性を検出する第１期間と奇数センシングラインに接続されたピクセルの駆動特性を検出する第２期間に区分されることができ、第１期間の以後、第２期間又は第２期間の以後、第１期間の順序になることができる。また、１つのセンシングラインが１ピックアップラインの２以上のピクセルに共通接続される場合、第１期間にすべての奇数センシングラインのＲピクセルのセンシング値を検出し、第２期間に、すべての偶数センシングラインのＲピクセルのセンシング値を検出し、再び以降の第１期間にすべての奇数センシングラインのＧピクセルのセンシング値を検出し、第２期間に、すべての偶数センシングラインのＧピクセルのセンシング値を検出することができる。このような方法で１つのピクセルラインに含まれるすべてのＲ、Ｇ、Ｂピクセル（パネルの種類に応じＷピクセルも含む）の駆動特性に対応するセンシング値を検出することができる。
【０１１１】
奇数センシングラインのＲピクセルの駆動特性を検出するとき、当該ピクセルラインのＲピクセルの内、奇数センシングラインに接続されたＲピクセルにセンシング用データ電圧を印加し、そのピクセルラインのＲピクセルの内、偶数センシングラインに接続されたＲピクセル及びそのピクセルラインのＧ、Ｂ、Ｗピクセルには駆動ＴＦＴをターン−オフさせる所定のデータ電圧を印加することができる。この場合、奇数センシングラインには、Ｒピクセルの駆動特性にのみ該当するピクセル電流が流れ、電流積分器に積分され、隣接する偶数センシングラインには、ピクセル電流が流れずセンシングラインに乗るノイズ成分のみ電流積分器に積分され、差動増幅器にによって奇数センシングラインに含まれたノイズ成分が偶数センシングラインのノイズ成分によって除去されたり、その大きさが減少することができる。
【０１１２】
偶数センシングラインのＲピクセルに対しても類似にセンシング駆動し、他の色のピクセルに対しても類似にセンシング駆動することができる。
【０１１３】
図８のセンシング回路の構成は、図１の従来センシング回路の構成に比べて、増幅器とスケーラの数を半分に減らしながらもＣＤＳ動作モードを実現することができようになる。
【０１１４】
図９は、本発明の一実施形態に基づいて、ピクセルとセンシング回路を駆動する駆動信号のタイミングを示したものであり、奇数センシングラインのＲピクセルの駆動特性を検出し、偶数センシングラインのＲピクセルの駆動特性を検出し、奇数センシングラインのＧピクセルの駆動特性を検出する過程を示している。
【０１１５】
図９は、隣接する２つのセンシングラインの電流を積分した値を差動して増幅する相関二重サンプル（ＣＤＳ）の動作モードを中心に説明する。
【０１１６】
奇数センシングラインの所定色のピクセルの駆動特性を検出する第１期間は、Ｔｏｄｄで表示され、偶数センシングラインの所定色のピクセルの駆動特性を検出する第２期間は、Ｔｅｖｅｎに表示される。
【０１１７】
第１期間と第２期間は、それぞれ初期化期間（Ｔｉｎｉ）、サンプリング期間（Ｔｓａｍ）、変換期間（Ｔｃｏｎ）を含むことができる。
【０１１８】
初期化期間（Ｔｉｎｉ）は、対応するピクセルと対応するセンシングユニットの各端子を基準電圧（Ｖｒｅｆ）に初期化し、サンプリング期間（Ｔｓａｍ）は駆動特性を検出するセンシングラインに接続されるピクセルの駆動ＴＦＴをターン−オンさせて、そのセンシングラインに流れる電流を積分し、サンプリングする期間であり、（駆動特性を検出しないセンシングラインに接続されるピクセルの駆動ＴＦＴはターン−オフさせた状態で、そのセンシングラインに流れる電流を積分してサンプリングする）、変換期間（Ｔｃｏｎ）は、各センシングユニットにサンプリングされた（またはサンプリングされた後、スケール処理された）二出力を差動増幅してデジタル変換する期間として、各センシングユニットの差動増幅とデジタル変換を順次進める。
【０１１９】
先ず、奇数センシングラインのＲピクセルの駆動特性を検出する第１期間（Ｔｏｄｄ）を説明する。
【０１２０】
初期化期間（Ｔｉｎｉ）に、図４のＳＣＡＮ、ＳＥＮ信号（測定しようとするピクセルラインに接続される第１及び第２ゲートラインに印加される信号）、リセット信号（ＲＳＴ）、センシング信号（ＯＥ）、サンプリング信号（ＳＡＭ）がハイロジックレベルになって、すべてのセンシングラインが対応するセンシングユニットに接続され、各ピクセルの駆動ＴＦＴのソース端子、完全差動増幅器（ＦＤＡ）の出力端子、サンプリングキャパシタ（Ｃｓ/ｈ）が完全差動増幅器（ＦＤＡ）の出力共通端子の基準電圧（Ｖｒｅｆ）によって初期化される。
【０１２１】
サンプリング期間（Ｔｓａｍ）に、リセット信号（ＲＳＴ）がローロジックレベルに変わり、データ駆動回路１２のＤＡＣを介して測定しようとするピクセルラインのＲピクセルの内、奇数センシングラインに接続されたＲピクセルに（正確には駆動ＴＦＴのゲート端子に）センシング用データ電圧（Ｖｄａｔａ）が印加され、当該ピクセルラインの残りのすべてのピクセルに所定のデータ電圧が印加されて当該Ｒピクセルの駆動ＴＦＴがターン−オンされ、ピクセル電流が流れ、残りのピクセルの駆動ＴＦＴがターン−オフされる。図９においてＶｓ_ＯＤＤは駆動ＴＦＴのソース端子の電圧に初期化期間時、基準電圧で（Ｖｄａｔａ−Ｖｔｈ）に増加する。Ｖｏｕｔ_ＯＤＤは完全差動増幅器で奇数センシングラインにフィードバック接続された出力端子の電圧に当該奇数センシングラインに流れる電流がフィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）に蓄積されて電圧がサンプリング期間にわたって一定に増加する。Ｖｏｕｔ_ＥＶＥＮは完全差動増幅器において偶数センシングラインにフィードバック接続された出力端子の電圧に当該偶数センシングラインに電流が流れないので、（ノイズ成分のみある）フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）に蓄積される電圧がなくて、初期化期間と大きな違いがない基準電圧（Ｖｒｅｆ）で一定である。
【０１２２】
変換期間（Ｔｃｏｎ）に、サンプリング信号（ＳＡＭ）がローロジックレベルになって、フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）が蓄積を停止し、サンプリング期間（Ｔｓａｍ）の最後に蓄積された積分値またはセンシング値（Ｖｓｅｎ_ＯＤＤ）をサンプリングキャパシタ（Ｃｓ/ｈ）に貯蔵することになる。以後、各センシングユニットが（図９において第１センシングユニットから第ｎセンシングユニットまで）順次モード信号（ＣＤＳＯ＃ｋ、ＣＤＳＥ＃ｋ）をハイロジックレベルに遷移して、当該センシングユニットと差動増幅器を順次接続し、差動増幅器が、そのセンシングユニットの奇数センシングラインのセンシング値（Ｖｓｅｎ_ＯＤＤ）と偶数センシングラインのセンシング値（Ｖｓｅｎ_ＥＶＥＮ）を差動増幅し、ＡＤＣがこれをデジタルに変換して奇数センシングラインのＲピクセルのデジタルセンシング値で出力する。
【０１２３】
次に、偶数センシングラインのＲピクセルの駆動特性を検出する第２期間（Ｔｅｖｅｎ）を説明する。
【０１２４】
初期化期間（Ｔｉｎｉ）に、ＳＣＡＮ、ＳＥＮ信号、リセット信号（ＲＳＴ）、センシング信号（ＯＥ）、リセット信号（ＲＳＴ）、サンプリング信号（ＳＡＭ）がハイロジックレベルになって、すべてのセンシングラインが対応されるセンシングユニットに接続され、各ピクセルの駆動ＴＦＴのソース端子、完全差動増幅器（ＦＤＡ）の出力端子、サンプリングキャパシタ  （Ｃｓ/ｈ）が完全差動増幅器（ＦＤＡ）の出力共通端子の基準電圧（Ｖｒｅｆ）によって初期化される。
【０１２５】
サンプリング期間（Ｔｓａｍ）に、リセット信号（ＲＳＴ）がローロジックレベルに変わり、データ駆動回路１２のＤＡＣを介して測定しようとするピクセルラインのＲピクセルの内、偶数センシングラインに接続されたＲピクセルに（正確には駆動ＴＦＴのゲート端子に）センシング用データ電圧（Ｖｄａｔａ）が印加され、当該ピクセルラインの残りのすべてのピクセルに所定のデータ電圧が印加されて、当該Ｒピクセルの駆動ＴＦＴがターン−オンされ、ピクセル電流が流れ、残りのピクセルの駆動ＴＦＴがターン−オフされる。図９においてＶｓ_ＥＶＥＮは駆動ＴＦＴのソース端子の電圧で初期化期間のとき、基準電圧で（Ｖｄａｔａ−Ｖｔｈ）に増加する。Ｖｏｕｔ_ＥＶＥＮは完全差動増幅器において偶数センシングラインにフィードバック接続された出力端子の電圧に当該偶数センシングラインに流れる電流がフィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）に蓄積されて電圧がサンプリング期間にわたって一定に減少する。Ｖｏｕｔ_ＯＤＤは完全差動増幅器において奇数センシングラインにフィードバック接続された出力端子の電圧に該当奇数センシングラインに電流が流れないので、（ノイズ成分のみある）フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）に蓄積される電圧がなくて、初期化期間と大きな違いがなく基準電圧（Ｖｒｅｆ）で一定である。
【０１２６】
変換期間（Ｔｃｏｎ）に、サンプリング信号（ＳＡＭ）がローロジックレベルになって、フィードバックキャパシタ（Ｃｆｂ）が蓄積を停止し、サンプリング期間（Ｔｓａｍ）の最後に蓄積された積分値またはセンシング値（Ｖｓｅｎ_ＥＶＥＮ）をサンプリングキャパシタ（Ｃｓ/ｈ）に貯蔵することになる。以後、各センシングユニットが順次モード信号（ＣＤＳＯ＃ｋ、ＣＤＳＥ＃ｋ）をハイロジックレベルに遷移して、当該センシングユニットと差動増幅器を順次接続し、差動増幅器が、そのセンシングユニットの偶数センシングラインのセンシング値（Ｖｓｅｎ_ＥＶＥＮ）と奇数センシングラインのセンシング値（Ｖｓｅｎ_ＯＤＤ）を差動増幅し、ＡＤＣがこれをデジタルに変換して偶数センシングラインのＲピクセルのデジタルセンシング値で出力する。
【０１２７】
次の第１期間（Ｔｏｄｄ）に奇数センシングラインのＢピクセルの駆動特性を検出するのに、先に奇数センシングラインのＲピクセルの駆動特性を検出するものとほぼ同じなので、説明を省略する。
【０１２８】
図１０は、本発明の他の実施形態に係るセンシング回路の構成を示したものである。
【０１２９】
図１０は、図８において第１及び第２基準スイッチ（ＳＷ１５、ＳＷ２５）が省略され、第１及び第２モードスイッチ（ＳＷ１４、ＳＷ２４）が第３及び第４モードスイッチ（ＳＷ１６、ＳＷ２６）に変わったことを除外して、図８の構成と同じである。センシングユニットが順次差動増幅器と接続するとき、第３モードスイッチ（ＳＷ１６）と第４モードスイッチ（ＳＷ２６）の接続が、図８の実施形態と異なるだけである。
【０１３０】
第３モードスイッチ（ＳＷ１６）は、第１モード選択信号（ＣＮＯＥ＃ｋ）に基づいて、差動増幅器（ＧＡ）の１つの入力端子を奇数センシングラインをサンプリングしたセンシング値または偶数センシングラインをサンプリングしたセンシング値の内、いずれか１つに接続することができる。第４モードスイッチ（ＳＷ２６）は、第２モード選択信号（ＣＮＥＲ＃ｋ）に基づいて、差動増幅器（ＧＡ）の他の入力端子を偶数センシングラインをサンプリングしたセンシング値または第３基準電圧（Ｖｒｅｆ３）のいずれか１つに接続することができる。
【０１３１】
ＣＤＳ動作モードで動作するとき、第１期間（Ｔｏｄｄ）と第２期間（Ｔｅｖｅｎ）にすべて、第３モードスイッチ（ＳＷ１６）は、差動増幅器（ＧＡ）の１つの入力端子を奇数センシングラインをサンプリングしたセンシング値に接続し、第４モードスイッチ（ＳＷ２６）は、差動増幅器（ＧＡ）の他の入力端子を偶数センシングラインをサンプリングしたセンシング値に接続することができる。
【０１３２】
一般動作モードで動作するときには、第１期間（Ｔｏｄｄ）に第３モードスイッチ（ＳＷ１６）は、差動増幅器（ＧＡ）の１つの入力端子を奇数センシングラインをサンプリングしたセンシング値に接続し、第４モードスイッチ（ＳＷ２６）は、差動増幅器（ＧＡ）の他の入力端子を第３基準電圧（Ｖｒｅｆ３）に接続し、第２期間（Ｔｅｖｅｎ）に第３モードスイッチ（ＳＷ１６）は、差動増幅器（ＧＡ）のいずれか１つの入力端子を偶数センシングラインをサンプリングしたセンシング値に接続し、第４モードスイッチ（ＳＷ２６）は、差動増幅器（ＧＡ）の他の入力端子を第３基準電圧（Ｖｒｅｆ３）に接続することができる。
【０１３３】
以上説明した内容から、当業者であれば本発明の技術思想を逸脱しない範囲で様々な変更及び修正が可能であることが分かる。したがって、本発明の技術的範囲は、明細書の詳細な説明に記載された内容に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって定めるべきである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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