(57)【要約】【課題】形状記憶バネ及び戻しバネを用いてシーリング材に動的挙動を付与する試験装置において、形状記憶バネの温度上昇を促進する手段を提供すること。【解決手段】試験装置１００は、シーリング材２０が固定される第１取付部材２１を有する第１支持部材１１と、上記シーリング材２０が固定される第２取付部材２６を有する第２支持部材１２と、戻しバネ３５及び形状記憶バネ３４を有する第１バネ機構１５及び第２バネ機構１６と、上記シーリング材２０が位置する試料空間３０を外部へ露出させ、且つ、上記第１バネ機構１５及び第２バネ機構１６を少なくとも部分的に被覆する基板１０及び２つのアクリル板１７と、を備えている。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験対象のシーリング材が固定される第１取付部を有する第１支持部材と、
上記シーリング材が固定される第２取付部を有し、上記第１支持部材と対向して配置され、上記第１支持部材と対向する第１方向に沿って移動可能に設けられた第２支持部材と、
上記第２支持部材が上記第１支持部材に当接する上記第１方向の当接向きに上記第２支持部材を付勢する戻しバネ、及び、変態点以上の温度において上記当接向きとは反対の離間向きに上記第２支持部材を付勢する形状記憶バネを有するバネ機構と、
上記第１取付部及び上記第２取付部に固定された上記シーリング材が位置する試料空間を外部へ露出させ、且つ、上記バネ機構を少なくとも部分的に被覆する被覆部材と、を備えており、
上記形状記憶バネの付勢力は、上記形状記憶バネの温度の上昇に伴って増加するシーリング材の動暴露試験装置。
【請求項２】
上記被覆部材は、上記バネ機構を間に介在させる表カバー及び裏カバーであり、
上記表カバーは、太陽光を透過可能である請求項１に記載のシーリング材の動暴露試験装置。
【請求項３】
上記形状記憶バネは、被膜を有する請求項１又は２に記載のシーリング材の動暴露試験装置。
【請求項４】
上記第２支持部材が上記第１支持部材に当接した状態において、上記形状記憶バネの温度が所定温度であるとき、上記形状記憶バネの付勢力が上記戻しバネの付勢力に釣り合う請求項１から３のいずれかに記載のシーリング材の動暴露試験装置。
【請求項５】
上記バネ機構は、上記第１方向と直交する第２方向における上記試料空間の両側にそれぞれ配置された第１バネ機構及び第２バネ機構を有しており、
上記第１バネ機構による上記離間向きへの付勢力は、上記第２バネ機構による上記離間向きへの付勢力と異なり、
上記第２支持部材は、上記第２方向の両側部分が上記第１方向へ移動する距離を異ならせつつ上記第１方向へ移動可能である請求項１から４のいずれかに記載のシーリング材の動暴露試験装置。
【請求項６】
上記第１バネ機構が有する上記形状記憶バネの数は、上記第２バネ機構が有する上記形状記憶バネの数と異なる請求項５に記載のシーリング材の動暴露試験装置。
【請求項７】
上記第１支持部材に対して上記第１方向へ移動せず、上記第１方向において上記第２支持部材を挟んで配置された副支持部材を更に備えており、
上記第１支持部材及び上記第２支持部材の間に、上記形状記憶バネ及び上記戻しバネのいずれか一方が配置されており、
上記第２支持部材及び上記副支持部材の間に、上記形状記憶バネ及び上記戻しバネのいずれか他方が配置されている請求項１から６のいずれかに記載のシーリング材の動暴露試験装置。
【請求項８】
上記第１支持部材及び上記第２支持部材の間に、上記形状記憶バネ及び上記戻しバネの双方が配置されている請求項１から６のいずれかに記載のシーリング材の動暴露試験装置。
【請求項９】
試験対象のシーリング材が固定される第１取付部を有する第１支持部材と、
上記シーリング材が固定される第２取付部を有し、上記第１支持部材と対向して配置され、上記第１支持部材と対向する第１方向に沿って移動可能に設けられた第２支持部材と、
上記第２支持部材が上記第１支持部材に当接する上記第１方向の当接向きに上記第２支持部材を付勢する戻しバネ、及び、変態点以上の温度において上記当接向きとは反対の離間向きに上記第２支持部材を付勢する形状記憶バネを有するバネ機構と、を備えており、
上記第１取付部及び上記第２取付部に固定された上記シーリング材が位置する空間として、試料空間が形成され、
上記形状記憶バネの付勢力は、上記形状記憶バネの温度の上昇に伴って増加し、
上記バネ機構は、上記第１方向と直交する第２方向における上記試料空間の両側にそれぞれ配置された第１バネ機構及び第２バネ機構を有しており、
上記第１バネ機構による上記離間向きへの付勢力は、上記第２バネ機構による上記離間向きへの付勢力と異なり、
上記第２支持部材は、上記第２方向の両側部分が上記第１方向へ移動する距離を異ならせつつ上記第１方向へ移動可能であるシーリング材の動暴露試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、目地を埋めるシーリング材の屋外における劣化を試験するための動暴露試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
壁部材の目地間に配置される建築用シーリング材は、日射や降雨による劣化に加えて、壁部材の熱伸縮に起因する動的挙動によって劣化していく。
【０００３】
シーリング材の動的挙動によって当該シーリング材が受ける劣化を再現する試験方法として、非特許文献１に開示される技術がある。この試験方法では、壁部材の動的挙動を再現するために、サーボモータ等の動力が使用されている。
【０００４】
また、動力を使うことなくシーリング材の動的挙動を再現する試験方法として、非特許文献２に開示される技術がある。この試験方法では、白色の鋼製フレームに黒色のアクリル板の一端が取り付けられ、試験対象のシーリング材の両端が鋼製フレームの他端及びアクリル板の他端に取り付けられている。鋼製フレームの熱膨張率及びアクリル板の熱膨張率が異なるので、温度変化に伴ってシーリング材が引き延ばされ又は圧縮される。このようにして、温度変化に伴う動的挙動が再現されている。
【０００５】
太陽光及び降雨によるシーリング材の複合劣化を再現するには、屋外での暴露試験が好ましい。ところが、非特許文献１に開示される試験装置のように、動力を使った試験装置は、サーボモータ等のアクチュエータ及び電源を必要とするため、屋外での暴露試験には不適切である。
【０００６】
一方、非特許文献２に開示される試験装置は、アクチュエータも電源も不要であるため、屋外での暴露試験に適している。また、当該試験装置を、恒温器のような温度プログラム運転可能な装置内に入れることも可能である。しかしながら、当該試験装置を用いて有意な動的挙動を発生させるには、非常に長いアクリル板が必要である。長さ３ｍのコンクリート壁の伸縮を再現する場合、３００〜７００ｍｍの長さのアクリル板が必要である。そのため、当該試験装置が屋外に設置される場合、大きな試験面積が必要である。さらに、恒温器内に当該試験装置が配置される場合、非常に大型の恒温器が必要である。
【０００７】
このような問題を解決するために、本出願人は、特許文献１に記載の劣化試験装置を開示している。この劣化試験装置は、形状記憶バネ及び戻しバネを用いて、シーリング材に動的挙動を付与できる。
【０００８】
形状記憶バネ及び戻しバネは、上述のアクリル板と同様の作用を発揮する。形状記憶バネは、温度が変態点以上になると元の形状に復帰する。この性質が利用されており、形状記憶バネは、変態点以上の温度においてシーリング材を引き延ばす向きに付勢する。戻しバネは、形状記憶バネと反対の向きにシーリング材を付勢する。形状記憶バネの温度上昇に伴って、形状記憶バネの付勢力が増大する。形状記憶バネの付勢力が戻しバネの付勢力よりも小さい間、シーリング材は引き延ばされない。温度上昇に伴って形状記憶バネの付勢力が戻しバネの付勢力よりも大きくなると、シーリング材は引き延ばされる。形状記憶バネ及び戻しバネの長さは、例えば２〜６ｃｍ程度である。したがって、この劣化試験装置は、アクリル板を利用した非特許文献２の試験装置における大型化の欠点を克服している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開２０１０−１１７１８１
【非特許文献】
【００１０】
【非特許文献１】日本建築学会構造系論文集、２００７年５月３０日、６１５巻、ｐ３９−４６
【非特許文献２】日本建築学会構造系論文集、２００１年１１月３０日、５４９巻、ｐ１３−１８
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
ところが、特許文献１に記載の劣化試験装置が屋外の暴露試験に用いられた場合、外気温が低い冬期に形状記憶バネの温度が上昇せず、形状記憶バネが伸びない場合があった。形状記憶バネが伸びないとシーリング材に動的挙動が発生しない。その結果、年間を通じた劣化試験の実施が困難となってしまう。
【００１２】
本発明は、前述された事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、形状記憶バネ及び戻しバネを用いてシーリング材に動的挙動を付与する試験装置において、形状記憶バネの温度上昇を促進する手段を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
(1)  本発明に係るシーリング材の動暴露試験装置は、試験対象のシーリング材が固定される第１取付部を有する第１支持部材と、上記シーリング材が固定される第２取付部を有し、上記第１支持部材と対向して配置され、上記第１支持部材と対向する第１方向に沿って移動可能に設けられた第２支持部材と、上記第２支持部材が上記第１支持部材に当接する上記第１方向の当接向きに上記第２支持部材を付勢する戻しバネ、及び、変態点以上の温度において上記当接向きとは反対の離間向きに上記第２支持部材を付勢する形状記憶バネを有するバネ機構と、上記第１取付部及び上記第２取付部に固定された上記シーリング材が位置する試料空間を外部へ露出させ、且つ、上記バネ機構を少なくとも部分的に被覆する被覆部材と、を備えており、上記形状記憶バネの付勢力は、上記形状記憶バネの温度の上昇に伴って増加する。
【００１４】
上記構成によれば、形状記憶バネの付勢力は、形状記憶バネの温度の上昇に伴って増加する。したがって、形状記憶バネの温度の変化に伴って、第２支持部材を離間向きに付勢する力が変化する。シーリング材を引き延ばす向きの力が変動するので、シーリング材に動的挙動が付与される。また、被覆部材がバネ機構を少なくとも部分的に被覆しているので、バネ機構に設けられた形状記憶バネの温度上昇が促進される。
【００１５】
(2)  好ましくは、上記被覆部材は、上記バネ機構を間に介在させる表カバー及び裏カバーであり、上記表カバーは、太陽光を透過可能である。
【００１６】
上記構成によれば、表カバーは太陽光を透過可能であるので、太陽光により形状記憶バネが加熱される。
【００１７】
(3)  好ましくは、上記形状記憶バネは、被膜を有する。
【００１８】
上記構成によれば、形状記憶バネが被膜を有するので、形状記憶バネの温度上昇が促進される。
【００１９】
(4)  好ましくは、上記第２支持部材が上記第１支持部材に当接した状態において、上記形状記憶バネの温度が所定温度であるとき、上記形状記憶バネの付勢力が上記戻しバネの付勢力に釣り合う。
【００２０】
上記構成によれば、第２支持部材が第１支持部材に当接した状態において形状記憶バネの温度が所定温度以上であるとき、形状記憶バネの離間向きの付勢力が戻しバネの当接向きの付勢力よりも大きい。また、形状記憶バネの温度の低下に伴って、形状記憶バネの付勢力が戻しバネの付勢力よりも小さくなる。形状記憶バネの温度変化に伴って、シーリング材に引き延ばす向き及び圧縮する向きの力が加えられるので、シーリング材に動的挙動が付与される。
【００２１】
(5)  好ましくは、上記バネ機構は、上記第１方向と直交する第２方向における上記試料空間の両側にそれぞれ配置された第１バネ機構及び第２バネ機構を有しており、上記第１バネ機構による上記離間向きへの付勢力は、上記第２バネ機構による上記離間向きへの付勢力と異なり、上記第２支持部材は、上記第２方向の両側部分が上記第１方向へ移動する距離を異ならせつつ上記第１方向へ移動可能である。
【００２２】
上記構成によれば、第１バネ機構による離間向きへの付勢力は、第２バネ機構による離間向きへの付勢力とは異なっている。そのため、形状記憶バネの温度上昇に伴って、第１バネ機構において離間向きへの付勢力が当接向きへの付勢力を上回るタイミングと、第２バネ機構において離間向きへの付勢力が当接向きへの付勢力を上回るタイミングとが、異なってくる。第１バネ機構の形状記憶バネの伸び量と第２バネ機構の形状記憶バネの伸び量とが異なってくるので、シーリング材の両端部のうちの第１バネ機構に近い端部における伸び量と、上記両端部のうちの第２バネ機構に近い端部における伸び量とが、異なってくる。したがって、シーリング材の引き裂き試験が実行可能である。
【００２３】
(6)  好ましくは、上記第１バネ機構が有する上記形状記憶バネの数は、上記第２バネ機構が有する上記形状記憶バネの数と異なる。
【００２４】
上記構成によれば、第１バネ機構が有する形状記憶バネの数が、第２バネ機構が有する形状記憶バネの数とは異なっている。そのため、同一の形状記憶バネを用いながら、第１バネ機構における離間向きへの付勢力を第２バネ機構における離間向きへの付勢力と異ならせることができる。
【００２５】
(7)  好ましくは、上記第１支持部材に対して上記第１方向へ移動せず、上記第１方向において上記第２支持部材を挟んで配置された副支持部材を更に備えており、上記第１支持部材及び上記第２支持部材の間に、上記形状記憶バネ及び上記戻しバネのいずれか一方が配置されており、上記第２支持部材及び上記副支持部材の間に、上記形状記憶バネ及び上記戻しバネのいずれか他方が配置されている。
【００２６】
(8)  好ましくは、上記第１支持部材及び上記第２支持部材の間に、上記形状記憶バネ及び上記戻しバネの双方が配置されている。
【００２７】
(9)  本発明に係るシーリング材の動暴露試験装置は、試験対象のシーリング材が固定される第１取付部を有する第１支持部材と、上記シーリング材が固定される第２取付部を有し、上記第１支持部材と対向して配置され、上記第１支持部材と対向する第１方向に沿って移動可能に設けられた第２支持部材と、上記第２支持部材が上記第１支持部材に当接する上記第１方向の当接向きに上記第２支持部材を付勢する戻しバネ、及び、変態点以上の温度において上記当接向きとは反対の離間向きに上記第２支持部材を付勢する形状記憶バネを有するバネ機構と、を備えており、上記第１取付部及び上記第２取付部に固定された上記シーリング材が位置する空間として、試料空間が形成され、上記形状記憶バネの付勢力は、上記形状記憶バネの温度の上昇に伴って増加し、上記バネ機構は、上記第１方向と直交する第２方向における上記試料空間の両側にそれぞれ配置された第１バネ機構及び第２バネ機構を有しており、上記第１バネ機構による上記離間向きへの付勢力は、上記第２バネ機構による上記離間向きへの付勢力と異なり、上記第２支持部材は、上記第２方向の両側部分が上記第１方向へ移動する距離を異ならせつつ上記第１方向へ移動可能である。
【００２８】
上記構成によれば、形状記憶バネの付勢力は、形状記憶バネの温度の上昇に伴って増加する。したがって、形状記憶バネの温度の変化に伴って、第２支持部材を離間向きに付勢する力が変化する。シーリング材を引き延ばす向きの力が変動するので、シーリング材に動的挙動が付与される。また、第１バネ機構による上記離間向きへの付勢力は、第２バネ機構による上記離間向きへの付勢力とは異なっている。そのため、形状記憶バネの温度上昇に伴って、第１バネ機構において離間向きへの付勢力が当接向きへの付勢力を上回るタイミングと、第２バネ機構において離間向きへの付勢力が当接向きへの付勢力を上回るタイミングとが、異なってくる。第１バネ機構の形状記憶バネの伸び量と第２バネ機構の形状記憶バネの伸び量とが異なってくるので、シーリング材の両端部のうちの第１バネ機構に近い端部における伸び量と、上記両端部のうちの第２バネ機構に近い端部における伸び量とが、異なってくる。したがって、シーリング材の引き裂き試験が実行可能である。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、形状記憶バネ及び戻しバネを用いてシーリング材に動的挙動を付与する試験装置において、形状記憶バネの温度上昇が促進されうる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】図１は、本発明の第１実施形態に係るシーリング材の動暴露試験装置１００の斜視図である。
【図２】図２は、本発明の第１実施形態に係るシーリング材の動暴露試験装置１００の３面図であり、図２（ａ）は平面図であり、図２（ｂ）は図２（ａ）のＩＩＢ−ＩＩＢ線の矢視断面図であり、図２（ｃ）は側面図である。
【図３】図３は、図１のＩＩＩ−ＩＩＩ線の矢視断面図である。
【図４】図４は、引き裂き状態におけるシーリング材の動暴露試験装置１００の平面図である。
【図５】図５は、本発明の第２実施形態に係るシーリング材の動暴露試験装置２００の平面図である。
【図６】図６は、本発明の第３実施形態に係るシーリング材の動暴露試験装置３００の平面図である。
【図７】図７は、本発明の第４実施形態に係るシーリング材の動暴露試験装置４００の平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
以下、本発明の好ましい実施形態が説明される。なお、各実施形態は、本発明の一実施態様にすぎず、本発明の要旨を変更しない範囲で実施態様が変更できることは言うまでもない。
【００３２】
［第１実施形態に係るシーリング材の動暴露試験装置１００］
図１から図３に示されるように、第１実施形態に係るシーリング材の動暴露試験装置（以下、試験装置）１００は、基板１０と、第１支持部材１１と、第２支持部材１２と、第３枠部材１３と、５つのガイドシャフト１４と、第１バネ機構１５と、第２バネ機構１６と、２つのアクリル板１７と、を備える。
【００３３】
試験装置１００について、第１方向３１、第２方向３２、及び第３方向３３が定義されている。第１方向３１、第２方向３２、及び第３方向３３は、互いに直交する。第１方向３１は、第２支持部材１２が第１支持部材１１に対向する方向である。第２方向は、第１バネ機構１５及び第２バネ機構１６が並ぶ方向である。第３方向は、基板１０及びアクリル板１７が並ぶ方向である。
【００３４】
図１から図３に示されるように、基板（裏カバーの一例）１０は、第１方向３１及び第２方向３２に拡がる板材である。基板１０の長手方向は、第２方向３２である。基板１０は、熱伝導率が比較的低い断熱性に優れた材料、例えば樹脂材料によって構成されている。
【００３５】
図１から図３に示されるように、第１支持部材１１は、第１取付部材（第１取付部の一例）２１と、第１枠部材２２と、２つの保持部材２３と、間座２４と、４つのボルト２５と、を備える。
【００３６】
第１取付部材２１は、試験対象のシーリング材２０が固定される部材である。第１取付部材２１は、一方向に長い板材で構成されている。第１実施形態では、第１取付部材２１は、第１取付部材２１の長手方向が第２方向３２と一致する姿勢に配置されている。第１取付部材２１の材質は、例えばアルミニウムである。第１取付部材２１は、目地を構成する一対の部品の一方であるので、外壁材に使用される材料と同じ材料で構成されてもよい。
【００３７】
第１枠部材２２は、第１取付部材２１が固定される部材である。第１枠部材２２は、第２方向３２に長い部材である。第１枠部材２２の断面は、本実施形態では、直角Ｕ字型である。第１枠部材２２は、ボルト１８により基板１０に固定されている。
【００３８】
２つの保持部材２３は、第１取付部材２１を第１枠部材２２に対して位置決めする部材である。保持部材２３は、第１方向３１に伸びる直方体形状の本体部２３ａと、本体部２３ａから第２方向３２に伸びる当接部２３ｂと、を有する。保持部材２３は、第３方向３３より視てＬ字型形状である。本体部２３ａは、第１枠部材２２に固定される。当接部２３ｂは、第１方向３１において第１取付部材２１に当接する。２つの当接部２３ｂは、第１取付部材２１の第２方向３２における両端部にそれぞれ当接可能である。
【００３９】
間座２４は、第１取付部材２１と第１枠部材２２との距離を調整する部材である。第１取付部材２１は、第２方向３２に長い板材で構成されている。
【００４０】
ボルト２５は、第１取付部材２１を第１枠部材２２に固定する固定部材である。ここで、間座２４には貫通孔が形成されており、保持部材２３の本体部２３ａにはネジ穴が形成されている。ボルト２５は、間座２４の貫通孔を介して本体部２３ａのネジ穴に螺合される。１つの保持部材２３は、２つのボルト２５により固定される。４つのボルト２５により２つの保持部材２３が固定されると、２つの当接部２３ｂ及び間座２４に第１取付部材２１が固定される。このようにして、第１取付部材２１が第２枠部材２７に固定される。
【００４１】
図１から図３に示されるように、第２支持部材１２は、第１支持部材１１と第１方向３１において対向して配置されている。第２支持部材１２は、第１方向３１に沿って移動可能に設けられている。第２支持部材１２は、第２取付部材（第２取付部の一例）２６と、第２枠部材２７と、２つの保持部材２３と、間座２４と、４つのボルト２５と、を備える。
【００４２】
第２取付部材２６は、第１取付部材２１と同様の構成を有する。第２取付部材２６は、第１取付部材２１と平行に配置され、第１取付部材２１と第１方向３１において対向する。
【００４３】
第１取付部材２１及び第２取付部材２６の双方に、試験対象のシーリング材２０が固定される。第１取付部材２１及び第２取付部材２６の間に、試料空間３０が形成されている。試料空間３０は、第１取付部材２１及び第２取付部材２６に固定されたシーリング材２０が位置する空間である。
【００４４】
第２枠部材２７は、第２取付部材２６が固定される部材である。第２枠部材２７は、第２方向３２に長い部材である。第２枠部材２７の断面は、本実施形態では、四角形である。第１枠部材２２が基板１０に固定されているのに対して、第２枠部材２７は基板１０に固定されていない。したがって、第２枠部材２７は、第１枠部材２２に対して移動可能である。
【００４５】
第２取付部材２６は、２つの保持部材２３と、間座２４と、４つのボルト２５とによって、第２枠部材２７に固定される。
【００４６】
図１から図３に示されるように、第３枠部材（副支持部材の一例）１３は、第２方向３２に長い部材である。第３枠部材１３は、第１枠部材２２と同様の構成を有している。第３枠部材１３は、ボルト１８により基板１０に固定されている。したがって、第３枠部材１３に第１取付部材２１を固定することも可能である。第３枠部材１３は、第１方向３１において、第２枠部材２７を挟んで第１枠部材２２に対向している。
【００４７】
図３に示されるように、５つのガイドシャフト１４は、第２枠部材２７を第１枠部材２２に対して第１方向３１に沿って移動可能に案内する部材である。５つのガイドシャフト１４は、第２方向３２に沿って並んでいる。３つのガイドシャフト１４が試料空間３０に対して第２方向３２の一方側に配置され、２つのガイドシャフト１４が試料空間３０に対して第２方向３２の他方側に配置されている。第２方向３２の一方側は、図２（ａ）及び図３（ａ）の上側であり、第２方向３２の他方側は、図２（ａ）及び図３（ａ）の下側である。
【００４８】
ガイドシャフト１４は、軸部材２８と、２つのネジ２９と、を備える。軸部材２８は、第１方向３１に伸びる円柱状の部材である。軸部材２８には、当該軸部材２８の両端面からそれぞれ内側に２つのネジ穴２８ａが形成されている。２つのネジ２９は、軸部材２８の第１方向３１における両側にそれぞれ配置されている。ネジ２９は、ネジ穴２８ａに螺合可能である。
【００４９】
軸部材２８は、第１枠部材２２及び第３枠部材１３の内部に配置され、２つのネジ２９は、第１枠部材２２及び第３枠部材１３の外部に配置されている。ここで、第２枠部材２７には、軸部材２８が通過可能な第２挿通孔２７ａが形成されている。第２挿通孔２７ａは、第２方向３２に伸びる長孔である。ここで、第１枠部材２２及び第３枠部材１３にはそれぞれ第１挿通孔２２ａ及び第１挿通孔１３ａが形成されている。２つのネジ２９は、第１挿通孔２２ａ及び第１挿通孔１３ａを介して、軸部材２８の２つのネジ穴２８ａにそれぞれ螺合されている。このようにして、軸部材２８が、２つのネジ２９により、第１枠部材２２及び第３枠部材１３に固定されている。
【００５０】
第２挿通孔２７ａによって軸部材２８の移動が制限されていることから、第２支持部材１２は、軸部材２８に沿って移動可能に軸部材２８に案内される。第２挿通孔２７ａが長孔であるので、第２挿通孔２７ａの長手幅（第２方向３２における幅）の範囲内で、第２支持部材１２は軸部材２８に対して第２方向に相対的に移動可能である。したがって、第２支持部材１２は、第１支持部材１１に対して傾斜可能である。第２支持部材１２の第２方向３２における両側部分がそれぞれ第１方向３１に移動する距離が、異なることができる。
【００５１】
第１枠部材２２は、第２方向３２の一方側（図３の上側）に配置された３つの第１挿通孔２２ａと、第２方向３２の他方側（図３の下側）に配置された３つの第１挿通孔２２ａと、を有する。第１枠部材２２は、合計で、６つの第１挿通孔２２ａを有する。同様に、第３枠部材１３も、６つの第１挿通孔１３ａを有する。したがって、試験装置１００には、６つのガイドシャフト１４が設けられうる。ただし、第１実施形態では、５つのガイドシャフト１４が試験装置１００に設けられている。
【００５２】
図１から図３に示されるように、第１バネ機構１５及び第２バネ機構１６は、試料空間３０に対する第２方向３２の一方側及び他方側に配置されている。
【００５３】
第１バネ機構１５は、一方側（図２（ａ）、図３（ａ）の上側）の３つのガイドシャフト１４に対応して設けられた３つのバネ対を有する。各バネ対は、形状記憶バネ３４及び戻しバネ３５からなる。各バネ対において、形状記憶バネ３４及び戻しバネ３５は、軸部材２８の外側に配置され、互いに同軸上に位置している。第１実施形態では、形状記憶バネ３４は、第１枠部材２２及び第２枠部材２７の間に配置されており、戻しバネ３５は、第２枠部材２７及び第３枠部材１３の間に配置されている。
【００５４】
第２バネ機構１６は、他方側（図２（ａ）、図３（ａ）の下側）の２つのガイドシャフト１４に対応して設けられた２つのバネ対を有する。第２バネ機構１６の各バネ対は、第１バネ機構１５のバネ対と同様に、形状記憶バネ３４及び戻しバネ３５からなる。
【００５５】
形状記憶バネ３４及び戻しバネ３５は、圧縮コイルバネであり、共に圧縮された状態で配置されている。形状記憶バネ３４は、固定された第１枠部材２２と、移動可能な第２枠部材２７との間に配置され、第１方向３１に圧縮されている。形状記憶バネ３４は、変態点以上の温度において、第２枠部材２７を、第１方向３１の離間向き（図２（ａ）及び図３（ａ）の右向き）に、つまり第３枠部材１３の方へ向かって付勢する。戻しバネ３５は、移動可能な第２枠部材２７と、固定された第３枠部材１３との間に配置され、第１方向３１に圧縮されている。戻しバネ３５は、第２枠部材２７を、第１方向３１の当接向き（図２（ａ）及び図３（ａ）の左向き）に、つまり第１枠部材２２の方へ向かって付勢する。
【００５６】
形状記憶バネ３４は、形状記憶合金で製造されたバネである。形状記憶バネ３４は、変態点以上の温度において弾性体として機能する。変態点は、例えば２０度である。一方、変態点より小さな温度では、形状記憶バネ３４は、弾性体として機能しない。変態点以上の温度では、形状記憶バネ３４は、圧縮され又は引き延ばされることで、付勢力を発揮する。形状記憶バネ３４の付勢力は、自然長さからの変位量の増大だけでなく、温度上昇に伴って、増加する。形状記憶バネ３４の自然長さからの変位量が同一に保たれた状態において、形状記憶バネ３４の付勢力は、温度上昇に伴って、所定の上限値まで増大する。また、温度低下に伴って、形状記憶バネ３４の付勢力は低下する。一方、戻しバネ３５は、温度上昇によらず略一定の付勢力を発揮するバネ、すなわち、熱膨張等による影響を別として弾性係数に温度依存性がないバネである。形状記憶バネ３４及び戻しバネ３５を組み合わせることで、温度変化に伴って、形状記憶バネ３４及び戻しバネ３５を合わせた付勢力の向きを変更させることが可能である。
【００５７】
図２、図３において、試験装置１００の状態は、基本状態にある。基本状態では、第２支持部材１２は、第１支持部材１１に当接している。より詳しくは、第２支持部材１２の保持部材２３が第１支持部材１１の保持部材２３に当接している。基本状態における第２支持部材１２の位置が、近接位置３６である。基本状態では、形状記憶バネ３４の温度が所定温度であるとき、形状記憶バネ３４の付勢力が戻しバネ３５の付勢力に釣り合う。所定温度は、本実施形態では約３０度である。形状記憶バネ３４の温度が所定温度を上回ると、形状記憶バネ３４の付勢力が戻しバネ３５の付勢力よりも大きくなる。形状記憶バネ３４の温度が所定温度を下回ると、形状記憶バネ３４の付勢力が戻しバネ３５の付勢力よりも小さくなる。
【００５８】
形状記憶バネ３４の付勢力が戻しバネ３５の付勢力よりも大きくなると、第２支持部材１２は、第１支持部材１１から離間する。ここで、第１バネ機構１５が備える形状記憶バネ３４の数が、第２バネ機構１６が備える形状記憶バネ３４の数よりも多い。第１バネ機構１５による離間向き（図４における右向き）の付勢力は、第２バネ機構１６による離間向き（図４における右向き）の付勢力よりも大きくなる。温度上昇に伴って形状記憶バネ３４の付勢力が戻しバネ３５の付勢力を上回ったときに、第２支持部材１２の両側端部は、それぞれ第１支持部材１１から離間する。第２支持部材１２の両側端部は、第２支持部材１２の第１バネ機構１５側の端部、及び、第２支持部材１２の第２バネ機構１６側の端部である。第１バネ機構１５による離間向きの付勢力と、第２バネ機構１６による離間向きの付勢力とが異なるので、第１バネ機構１５において離間向きの付勢力が当接向きの付勢力を上回るタイミングと、第２バネ機構１６において離間向きへの付勢力が当接向きへの付勢力を上回るタイミングとが、異なってくる。この結果、図４に示される引き裂き状態が発生する。
【００５９】
図４において、試験装置１００の状態は、引き裂き状態にある。引き裂き状態では、第２支持部材１２が第１支持部材１１から離間している。特に、引き裂き状態では、第２支持部材１２の第１バネ機構１５側の端部が第１支持部材１１から離間している距離が、第２支持部材１２の第２バネ機構１６側の端部が第１支持部材１１から離間している距離とは、異なっている。引き裂き状態における第２支持部材１２の位置が、離間位置３７である。図４に示されるように、第２支持部材１２が傾斜することで、シーリング材２０の第２方向３２における両端部それぞれの第１方向３１に沿った伸び量が異なる。試験装置１００は、シーリング材２０に引き裂き状態を付与することが可能である。
【００６０】
試験装置１００は、屋外での暴露試験に用いられるため、上述の所定温度は、２０度から４０度の範囲内にあることが好ましい。所定温度がこのような温度範囲内に設定されると、一日の温度変化に伴って、形状記憶バネ３４の付勢力と戻しバネ３５の付勢力との大小関係の逆転が繰り返される。したがって、試験装置１００において、基本状態と引き裂き状態とが繰り返される。
【００６１】
図３（ｂ）に示されるように、形状記憶バネ３４は、バネ本体３４ａと、バネ本体３４ａを被覆する被膜３４ｂと、を有する。バネ本体３４ａは、形状記憶合金によって形成された部材である。被膜３４ｂは、例えば、塗膜である。被膜３４ｂは、形状記憶バネ３４の温度上昇を促進する。
【００６２】
図１から図３に示されるように、２つのアクリル板（表カバーの一例）１７は、試料空間３０に対する第２方向３２の一方側及び他方側に配置されている。アクリル板１７は、第１方向３１及び第２方向３２に拡がる板材である。アクリル板１７は、アクリル樹脂によって構成されている。アクリル樹脂は、太陽光を透過可能である。アクリル樹脂は、熱伝導率が比較的低い材料であり、断熱性に優れている。アクリル板１７は、第１枠部材２２及び第３枠部材１３にボルト１９により固定されている。
【００６３】
第３方向３３より視て、２つのアクリル板１７は、それぞれ第１バネ機構１５及び第２バネ機構１６を覆っているが、試料空間３０を露出させている。一方のアクリル板１７及び基板１０の間には、第１バネ機構１５が介在している。他方のアクリル板１７及び基板１０の間には、第２バネ機構１６が介在している。２つのアクリル板１７及び基板１０は、第１バネ機構１５及び第２バネ機構１６を少なくとも部分的に被覆する被覆部材である。各アクリル板１７及び基板１０は、当該アクリル板１７及び当該基板１０によって囲まれた各空間内の空気の流動を抑制する。空気の流動が抑制されるので、当該空間内の空気の温度が保持される。したがって、一方のアクリル板１７と基板１０との間の空間内に配置された第１バネ機構１５の温度が保持される。同様に、他方のアクリル板１７と基板１０との間の空間内に配置された第２バネ機構１６の温度が保持される。このように、２つのアクリル板１７及び基板１０は、第１バネ機構１５及び第２バネ機構１６に含まれる形状記憶バネ３４の温度上昇を促進する。
【００６４】
［第１実施形態の使用例］
試験装置１００は、例えば以下のように使用される。まず、試験装置１００から、第１取付部材２１及び第２取付部材２６が取り外される。第１取付部材２１及び第２取付部材２６にシーリング材２０が固定される。シーリング材２０が固定された第１取付部材２１及び第２取付部材２６が、それぞれ、第１枠部材２２及び第２枠部材２７に取り付けられる。
【００６５】
シーリング材２０が取り付けられた試験装置１００は、太陽光及び降雨の暴露試験のために、屋外に配置される。あるいは、恒温器のような温度プログラム運転可能な装置内に配置されてもよい。この場合、所定温度を跨ぐ定期的な温度変化が繰り返されるように設定される。
【００６６】
屋外に配置された試験装置１００では、形状記憶バネ３４の所定温度を跨ぐ温度変化に伴って、第２支持部材１２の第１方向３１に沿った移動が繰り返される。この移動の繰り返しにより、シーリング材２０の状態は、図２、図３に示される基本状態と、図４に示される引き裂き状態との間を移り変わる。
【００６７】
形状記憶バネ３４の温度が所定温度より小さい状態では、第２支持部材１２は、図２、図３に示される近接位置３６にある。形状記憶バネ３４の温度が所定温度になると、第２支持部材１２は、図４に示される離間位置３７に移動する。一日における低温時である夜間、早朝には、形状記憶バネ３４の温度が所定温度より小さくなりやすい。一日における高温時である日中には、形状記憶バネ３４の温度が所定温度以上となりやすい。試験装置１００では、アクリル板１７を介して透過した太陽光によって形状記憶バネ３４が加熱される。形状記憶バネ３４が、アクリル板１７及び基板１０によって覆われた空間内に配置されている。当該空間内の空気の温度が低下しにくいので、当該空間内に配置された形状記憶バネ３４の温度も低下しにくくなっている。さらに、形状記憶バネ３４自体が被膜３４ｂを有するので、形状記憶バネ３４からの放熱が抑制され、形状記憶バネ３４の温度上昇が促進される。
【００６８】
そのため、年間における気温が低い時期である冬期においても、形状記憶バネ３４の温度が日中には上がりやすくなっている。つまり、冬期であっても、第２支持部材１２の第１方向３１に沿った移動が繰り返される。シーリング材２０の引き裂き試験が年間を通じて可能となる。
【００６９】
［第１実施形態の作用効果］
第１実施形態に係る試験装置１００によれば、形状記憶バネ３４の付勢力は、形状記憶バネ３４の温度の上昇に伴って増加する。したがって、形状記憶バネ３４の温度の変化に伴って、第２支持部材１２を離間向きに付勢する力が変化する。シーリング材２０を引き延ばす向きの力が変動するので、シーリング材２０に動的挙動が付与される。また、アクリル板１７及び基板１０が第１バネ機構１５及び第２バネ機構１６を少なくとも部分的に被覆しているので、第１バネ機構１５及び第２バネ機構１６に設けられた形状記憶バネ３４の温度上昇が促進される。
【００７０】
また、アクリル板１７は太陽光を透過可能であるので、太陽光により形状記憶バネ３４が加熱される。
【００７１】
また、形状記憶バネ３４が被膜３４ｂを有するので、形状記憶バネ３４の温度上昇が促進される。特に、被膜３４ｂの色を黒色とすることにより、太陽光による温度上昇がより促進される。
【００７２】
また、第２支持部材１２が第１支持部材１１に当接した状態において形状記憶バネ３４の温度が所定温度以上であるとき、形状記憶バネ３４の離間向きの付勢力が戻しバネ３５の当接向きの付勢力よりも大きい。また、形状記憶バネ３４の温度の低下に伴って、形状記憶バネ３４の付勢力が戻しバネ３５の付勢力よりも小さくなる。形状記憶バネ３４の温度変化に伴って、シーリング材２０に引き延ばす向き及び圧縮する向きの力が加えられるので、シーリング材２０に動的挙動が付与される。
【００７３】
また、第１バネ機構１５による離間向きへの付勢力は、第２バネ機構１６による離間向きへの付勢力とは異なっている。そのため、形状記憶バネ３４の温度上昇に伴って、第１バネ機構１５において離間向きへの付勢力が当接向きへの付勢力を上回るタイミングと、第２バネ機構１６において離間向きへの付勢力が当接向きへの付勢力を上回るタイミングとが、異なってくる。第１バネ機構１５の形状記憶バネ３４の伸び量と第２バネ機構１６の形状記憶バネ３５の伸び量とが異なってくるので、シーリング材２０の両端部のうちの第１バネ機構１５に近い端部における伸び量と、上記両端部のうちの第２バネ機構１６に近い端部における伸び量とが、異なってくる。したがって、シーリング材２０の引き裂き試験が実行可能である。
【００７４】
また、第１バネ機構１５が有する形状記憶バネ３４の数が、第２バネ機構１６が有する形状記憶バネ３４の数とは異なっている。そのため、同一の形状記憶バネ３４を用いながら、第１バネ機構１５による離間向きへの付勢力を第２バネ機構１６による離間向きへの付勢力と異ならせることができる。
【００７５】
［第２実施形態に係る試験装置２００］
図５を参照して、第２実施形態に係る試験装置２００が説明される。第２実施形態に係る試験装置２００は、第１バネ機構１５における形状記憶バネ３４の数が、第２バネ機構１６における形状記憶バネ３４の数と同一となっている。他の点においては、第２実施形態に係る試験装置２００は、第１実施形態に係る試験装置１００と同一の構成を有している。同一の構成については、その説明が省略されている。
【００７６】
試験装置２００は、４つのガイドシャフト１４を備えている。２つのガイドシャフト１４が試料空間３０に対して第２方向３２の一方側（図５の上側）に配置され、２つのガイドシャフト１４が試料空間３０に対して第２方向３２の他方側（図５の下側）に配置されている。
【００７７】
第１バネ機構１５は、一方側の２つのガイドシャフト１４に対応して設けられた２つのバネ対を備えている。第２バネ機構１６は、他方側の２つのガイドシャフト１４に対応して設けられた２つのバネ対を備えている。各バネ対は、形状記憶バネ３４及び戻しバネ３５を備えている。第１バネ機構１５における形状記憶バネ３４の数は２つであり、第２バネ機構１６における形状記憶バネ３４の数も２つである。そのため、第１バネ機構１５による付勢力は、第２バネ機構１６による付勢力に等しい。
【００７８】
図５に示されるように、形状記憶バネ３４の温度が所定温度以上であるとき、第２支持部材１２は、第１方向３１の離間向き（右向き）に移動させられた状態にある。第１バネ機構１５による付勢力が、第２バネ機構１６による付勢力に等しいので、第２支持部材１２は第１支持部材１１と平行に第１方向３１に沿って移動する。また、形状記憶バネ３４の温度が所定温度よりも小さいとき、第２支持部材１２は、第１方向３１の当接向き（左向き）に移動し、第１支持部材１１に当接した状態で静止する。したがって、第２実施形態に係る試験装置２００は、シーリング材２０の引き延ばし試験を実行できる。
【００７９】
［第２実施形態の作用効果］
第２実施形態に係る試験装置２００によれば、第２支持部材１２が第１支持部材１１と平行に第１方向３１に移動する。したがって、当該試験装置２００は、シーリング材２０の引き延ばし試験を実行できる。
【００８０】
［第３実施形態に係る試験装置３００］
図６を参照して、第３実施形態に係る試験装置３００が説明される。第３実施形態に係る試験装置３００では、形状記憶バネ３４及び戻しバネ３５の双方が、第１支持部材３１１と第２支持部材３１２との間に配置されている。他の点においては、第３実施形態に係る試験装置３００は、第１実施形態に係る試験装置１００と同一の構成を有している。同一の構成については、その説明が省略されている。
【００８１】
試験装置３００は、４つのガイドシャフト１４を備えている。２つのガイドシャフト１４が試料空間３０に対して第２方向３２の一方側（図６の上側）に配置され、２つのガイドシャフト１４が試料空間３０に対して第２方向３２の他方側（図６の下側）に配置されている。
【００８２】
第１バネ機構３１５は、一方側の２つのガイドシャフト１４にそれぞれ対応して設けられた形状記憶バネ３４及び戻しバネ３５を備えている。１つのガイドシャフト１４には形状記憶バネ３４が配置され、もう１つのガイドシャフト１４には戻しバネ３５が配置されている。形状記憶バネ３４及び戻しバネ３５は共に、第１支持部材３１１及び第２支持部材３１２の間に配置されている。戻しバネ３５は、第１支持部材３１１及び第２支持部材３１２の双方に接続されている。同様に、第２バネ機構１６は、他方側の２つのガイドシャフト１４にそれぞれ対応して設けられた形状記憶バネ３４及び戻しバネ３５を備えている。形状記憶バネ３４及び戻しバネ３５は共に、第１支持部材３１１及び第２支持部材３１２の間に配置されている。戻しバネ３５は、第１支持部材３１１及び第２支持部材３１２の双方に接続されている。
【００８３】
図６に示されるように、形状記憶バネ３４の温度が所定温度以上であるとき、第２支持部材１２は、第１方向３１の離間向き（右向き）に移動させられた状態にある。第１バネ機構３１５による付勢力が、第２バネ機構３１６による付勢力に等しいので、第２支持部材１２は第１支持部材１１と平行に第１方向３１に移動する。また、形状記憶バネ３４の温度が所定温度よりも小さいとき、第２支持部材１２は、第１方向３１の当接向き（左向き）に移動し、第１支持部材１１に当接した状態で静止する。したがって、第３実施形態に係る試験装置３００は、シーリング材２０の引き延ばし試験を実行できる。
【００８４】
［第３実施形態の作用効果］
第３実施形態に係る試験装置３００によれば、第２支持部材１２が第１支持部材１１に対して平行に第１方向３１に移動する。したがって、当該試験装置３００は、シーリング材２０の引き延ばし試験を実行できる。
【００８５】
［第４実施形態に係る試験装置４００］
図７を参照して、第４実施形態に係る試験装置４００が説明される。第４実施形態に係る試験装置４００では、第１取付部材２１及び第２取付部材２６の長手方向が、第１枠部材２２及び第２枠部材２７の長手方向に対して直交している。他の点においては、第４実施形態に係る試験装置４００は、第３実施形態に係る試験装置３００と同一の構成を有している。同一の構成については、その説明が省略されている。
【００８６】
試験装置４００は、第１支持部材４１１、第２支持部材４２２、第１バネ機構３１５、及び第２バネ機構３１６を備えている。
【００８７】
第１支持部材４１１は、第１取付部材２１と、第１枠部材２２と、保持部材４２３と、２つのボルトと、を備える。第４実施形態では、第１取付部材２１は、当該第１取付部材２１の長手方向が第１方向３１と一致する姿勢に配置されている。保持部材４１３は、第２方向３２に伸びる本体部４２３ａと、本体部４２３ａから第１方向３１に伸びる鉤状の当接部４２３ｂと、を有する。本体部４２３ａはボルトにより第１枠部材２２に固定される。第１取付部材２１は、第１方向３１の一方側（図７の右側）において当接部４２３ｂに当接し、第１方向３１の他方側（図７の左側）において第１枠部材２２に当接する。そのため、本体部４２３ａが第１枠部材２２に固定されると、第１取付部材２１が第１枠部材２２に固定される。
【００８８】
同様に、第２支持部材４１２は、第２取付部材２６と、第２枠部材２７と、保持部材４２３と、２つのボルトと、を備える。第４実施形態では、第２取付部材２６は、当該第２取付部材２６の長手方向が第１方向３１と一致する姿勢に配置されている。保持部材４２３が第２枠部材２７に固定されると、第２取付部材２６が第２枠部材２７に固定される。
【００８９】
図７に示されるように、形状記憶バネ３４の温度が所定温度以上であるとき、第２支持部材４１２が第１方向３１の離間向き（図７の右向き）に移動させられた状態にある。シーリング材２０の形状が菱形状になる。シーリング材２０の第１方向３１における一方（図７の上方）の端部が他方（図７の下方）の端部に対して第１方向３１に変位する。この状態が、シーリング材２０の剪断状態である。形状記憶バネ３４の温度が所定温度より小さいとき、第２支持部材４１２が第１方向３１の当接向き（図７の左向き）に移動させられた状態にある。シーリング材２０の形状は矩形状となり、シーリング材２０の状態が基本状態に復帰する。したがって、第４実施形態に係る試験装置４００は、シーリング材２０の剪断試験を実行できる。
【００９０】
［第４実施形態の作用効果］
第４実施形態に係る試験装置４００によれば、シーリング材２０の一方の端部が他方の端部に対して、第１方向３１において変位する。したがって、当該試験装置４００は、シーリング材２０の剪断試験を実行できる。
【００９１】
［変形例］
以上、本発明の実施の形態を詳細に説明してきたが、前述までの説明はあらゆる点において本発明の例示に過ぎない。本発明の範囲を逸脱することなく種々の改良や変形を行うことができることは言うまでもない。各実施形態に係る試験装置１００、２００、３００、４００の各構成要素に関して、実施の形態に応じて、適宜、構成要素の省略、置換、及び追加が行われてもよい。また、上記試験装置１００、２００、３００、４００の各構成要素の形状及び大きさも、実施の形態に応じて、適宜、設定されてよい。例えば、以下の変更が可能である。
【００９２】
第１から第４実施形態に係る試験装置１００から４００では、試料空間３０の第２方向３２における両側に、第１バネ機構１５、３１５及び第２バネ機構１６、３１６が、それぞれ配置されている。つまり、２つのバネ機構が設けられている。第２支持部材１２、３１２、４１２が第１方向３１に沿って付勢される限り、バネ機構の構成は、上記構成に限定されない。単一のバネ機構が設けられて、当該バネ機構により、第２支持部材１２、３１２、４１２が付勢されてもよい。この場合、単一のバネ機構は、例えば、第１方向３１に沿って試料空間３０と同軸上に配置される。当該バネ機構は、第２枠部材２７と第３枠部材１３との間に配置される。
【００９３】
第１から第４実施形態に係る試験装置１００から４００では、第２支持部材１２が第１支持部材１１に当接した状態において、形状記憶バネ３４の温度が所定温度であるとき、形状記憶バネ３４の付勢力が戻しバネ３５の付勢力に釣り合っている。この構成に変えて、変態点以上の温度において、第２支持部材１２が第１支持部材１１に当接した状態において、形状記憶バネ３４の付勢力が戻しバネ３５の付勢力よりも大きくてもよい。この場合も、シーリング材２０を引き延ばす力が付与された状態で、形状記憶バネ３４の温度変化に伴って、この引き延ばす力が変動する。したがって、シーリング材に動的挙動が付与される。
【００９４】
第１実施形態に係る試験装置１００では、形状記憶バネ３４の数を異ならせることによって、第１バネ機構１５による付勢力が第２バネ機構１６による付勢力から変更されている。第１バネ機構１５と第２バネ機構１６との間で付勢力を変更するための構成は、上記構成に限定されない。形状記憶バネ３４の数の代わりに、異なる弾性係数を有する形状記憶バネ３４が使用されてもよい。あるいは、第１バネ機構１５と第２バネ機構１６との間で、形状記憶バネ３４の数を同一としながら、戻りバネ３５の数が変更されてもよい。
【００９５】
第１から第４実施形態に係る試験装置１００から４００は、第１バネ機構１５、３１５及び第２バネ機構１６、３１６を部分的に被覆するアクリル板１７を備えている。試験装置１００から４００は、アクリル板１７を備えていなくてもよい。この場合、例えば、試験装置１００から４００は、屋外での暴露試験ではなく、恒温器のような温度プログラム運転可能な装置内で使用される。
【符号の説明】
【００９６】
１０・・・基板（裏カバーの一例）
１１、３１１、４１１・・・第１支持部材
１２、３１２、４１２・・・第２支持部材
１３・・・第３枠部材（副支持部材の一例）
１５、３１５・・・第１バネ機構
１６、３１６・・・第２バネ機構
１７・・・アクリル板（表カバーの一例）
２０・・・シーリング材
２１・・・第１取付部材（第１取付部の一例）
２６・・・第２取付部材（第２取付部の一例）
３０・・・試料空間
３１・・・第１方向
３２・・・第２方向
３３・・・第３方向
３４・・・形状記憶バネ
３５・・・戻しバネ
１００、２００、３００、４００・・・動暴露試験装置
【図１】
2018072216.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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