(57)【要約】【課題】保管や搬送を容易とし、製造コストや分析コストを低減する。【解決手段】分析対象のメッキ液Ｘａについて電気化学測定処理によって測定値データＤ１を取得する測定値取得処理、およびデータＤ１に基づいて分析値（分析結果データＤ２）特定する処理部２３，３３と、メッキ液Ｘａと同じ金属イオンを含有するメッキ液Ｘａ０についての分析値（基準値データＤ０）を記憶する記憶部３４とを備え、処理部３３は、互いに等しい温度のメッキ液Ｘａ，Ｘａ０について測定値取得処理を実行してデータＤ１を取得する処理、データＤ１に基づいて分析値（データＤ２）を特定する処理、並びに、各データＤ０〜Ｄ２に基づき、メッキ液ＸａについてのデータＤ２を、データＤ０が特定されるメッキ液Ｘａ０の温度と等しい温度のメッキ液Ｘａにおいて特定される分析値に補正可能な「補正係数」、および「補正済み分析値（分析結果データＤ３）」を特定する処理を実行する。【選択図】図１
2018072172.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
分析対象の電解メッキ液に接触させられた参照電極に対する作用電極の電位を制御しつつ当該電解メッキ液に接触させられた対向電極および当該作用電極の間を流れる電流の電流値を測定して測定値を取得する測定値取得処理を実行し、取得した当該測定値に基づいて分析値を特定して前記電解メッキ液の状態を分析する処理部を備えた電解メッキ液分析装置であって、
前記電解メッキ液と同じ金属イオンを含有する基準液についての前記分析値である基準分析値を記憶する記憶部を備え、
前記処理部は、互いに等しい温度の前記電解メッキ液および前記基準液を対象とする前記測定値取得処理をそれぞれ実行して当該電解メッキ液についての前記測定値としての第１の測定値および当該基準液についての前記測定値としての第２の測定値を取得する第１の処理、前記第１の測定値に基づいて前記分析値としての第１の分析値を特定すると共に前記第２の測定値に基づいて前記分析値としての第２の分析値を特定する第２の処理、並びに、前記基準分析値、前記第１の分析値および前記第２の分析値に基づき、当該第１の分析値を前記基準分析値が特定される前記基準液の温度と等しい温度の前記電解メッキ液において特定される前記分析値に補正可能な補正係数、および当該補正係数に基づいて前記第１の分析値を補正した補正済み分析値の少なくとも一方を特定する第３の処理を実行する電解メッキ液分析装置。
【請求項２】
分析対象の電解メッキ液に接触させられた参照電極に対する作用電極の電位を制御しつつ当該参照電極および当該作用電極の間を流れる電流の電流値を測定して測定値を取得する測定値取得処理を実行し、取得した当該測定値に基づいて前記電解メッキ液の状態を分析する処理部を備えた電解メッキ液分析装置であって、
前記電解メッキ液と同じ金属イオンを含有する基準液についての前記分析値である基準分析値を記憶する記憶部を備え、
前記処理部は、互いに等しい温度の前記電解メッキ液および前記基準液を対象とする前記測定値取得処理をそれぞれ実行して当該電解メッキ液についての前記測定値としての第１の測定値および当該基準液についての前記測定値としての第２の測定値を取得する第１の処理、前記第１の測定値に基づいて前記分析値としての第１の分析値を特定すると共に前記第２の測定値に基づいて前記分析値としての第２の分析値を特定する第２の処理、並びに、前記基準分析値、前記第１の分析値および前記第２の分析値に基づき、当該第１の分析値を前記基準分析値が特定される前記基準液の温度と等しい温度の前記電解メッキ液において特定される前記分析値に補正可能な補正係数、および当該補正係数に基づいて前記第１の分析値を補正した補正済み分析値の少なくとも一方を特定する第３の処理を実行する電解メッキ液分析装置。
【請求項３】
分析対象の電解メッキ液に接触させた参照電極に対する作用電極の電位を制御しつつ当該電解メッキ液に接触させた対向電極および当該作用電極の間を流れる電流の電流値を測定して測定値を取得する測定値取得処理を実行し、取得した当該測定値に基づいて分析値を特定して前記電解メッキ液の状態を分析する電解メッキ液分析方法であって、
前記電解メッキ液と同じ金属イオンを含有する基準液についての前記分析値である基準分析値を取得すると共に、互いに等しい温度の前記電解メッキ液および前記基準液を対象とする前記測定値取得処理をそれぞれ実行して当該電解メッキ液についての前記測定値としての第１の測定値および当該基準液についての前記測定値としての第２の測定値を取得する第１の処理、前記第１の測定値に基づいて前記分析値としての第１の分析値を特定すると共に前記第２の測定値に基づいて前記分析値としての第２の分析値を特定する第２の処理、並びに、前記基準分析値、前記第１の分析値および前記第２の分析値に基づき、当該第１の分析値を前記基準分析値が特定される前記基準液の温度と等しい温度の前記電解メッキ液において特定される前記分析値に補正可能な補正係数、および当該補正係数に基づいて前記第１の分析値を補正した補正済み分析値の少なくとも一方を特定する第３の処理を実行する電解メッキ液分析方法。
【請求項４】
分析対象の電解メッキ液に接触させた参照電極に対する作用電極の電位を制御しつつ当該参照電極および当該作用電極の間を流れる電流の電流値を測定して測定値を取得する測定値取得処理を実行し、取得した当該測定値に基づいて前記電解メッキ液の状態を分析する電解メッキ液分析方法であって、
前記電解メッキ液と同じ金属イオンを含有する基準液についての前記分析値である基準分析値を取得すると共に、互いに等しい温度の前記電解メッキ液および前記基準液を対象とする前記測定値取得処理をそれぞれ実行して当該電解メッキ液についての前記測定値としての第１の測定値および当該基準液についての前記測定値としての第２の測定値を取得する第１の処理、前記第１の測定値に基づいて前記分析値としての第１の分析値を特定すると共に前記第２の測定値に基づいて前記分析値としての第２の分析値を特定する第２の処理、並びに、前記基準分析値、前記第１の分析値および前記第２の分析値に基づき、当該第１の分析値を前記基準分析値が特定される前記基準液の温度と等しい温度の前記電解メッキ液において特定される前記分析値に補正可能な補正係数、および当該補正係数に基づいて前記第１の分析値を補正した補正済み分析値の少なくとも一方を特定する第３の処理を実行する電解メッキ液分析方法。
【請求項５】
分析対象の電解メッキ液に接触させられた参照電極に対する作用電極の電位を制御しつつ当該電解メッキ液に接触させられた対向電極および当該作用電極の間を流れる電流の電流値を測定して測定値を取得する測定値取得処理によって取得された当該測定値に基づいて分析値を特定して前記電解メッキ液の状態を分析する処理を電解メッキ液分析装置の処理部に実行させる電解メッキ液分析用プログラムであって、
前記電解メッキ液を対象とする前記測定値取得処理によって取得された当該電解メッキ液についての前記測定値としての第１の測定値に基づいて前記分析値としての第１の分析値を特定すると共に、前記電解メッキ液と同じ金属イオンを含有し、かつ当該電解メッキ液と等しい温度の基準液を対象とする前記測定値取得処理によって取得された当該基準液についての前記測定値としての第２の測定値に基づいて前記分析値としての第２の分析値を特定する処理Ａと、
前記基準液について予め取得された前記分析値である基準分析値、前記第１の分析値および前記第２の分析値に基づき、当該第１の分析値を前記基準分析値が特定される前記基準液の温度と等しい温度の前記電解メッキ液において特定される前記分析値に補正可能な補正係数、および当該補正係数に基づいて前記第１の分析値を補正した補正済み分析値の少なくとも一方を特定する処理Ｂを前記処理部に実行させる電解メッキ液分析用プログラム。
【請求項６】
分析対象の電解メッキ液に接触させられた参照電極に対する作用電極の電位を制御しつつ当該参照電極および当該作用電極の間を流れる電流の電流値を測定して測定値を取得する測定値取得処理によって取得された当該測定値に基づいて分析値を特定して前記電解メッキ液の状態を分析する処理を電解メッキ液分析装置の処理部に実行させる電解メッキ液分析用プログラムであって、
前記電解メッキ液を対象とする前記測定値取得処理によって取得された当該電解メッキ液についての前記測定値としての第１の測定値に基づいて前記分析値としての第１の分析値を特定すると共に、前記電解メッキ液と同じ金属イオンを含有し、かつ当該電解メッキ液と等しい温度の基準液を対象とする前記測定値取得処理によって取得された当該基準液についての前記測定値としての第２の測定値に基づいて前記分析値としての第２の分析値を特定する処理Ａと、
前記基準液について予め取得された前記分析値である基準分析値、前記第１の分析値および前記第２の分析値に基づき、当該第１の分析値を前記基準分析値が特定される前記基準液の温度と等しい温度の前記電解メッキ液において特定される前記分析値に補正可能な補正係数、および当該補正係数に基づいて前記第１の分析値を補正した補正済み分析値の少なくとも一方を特定する処理Ｂを前記処理部に実行させる電解メッキ液分析用プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電解メッキ液の状態を分析する電解メッキ液分析装置、電解メッキ液分析方法および電解メッキ液分析用プログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば、下記の特許文献には、メッキ液に添加されている添加剤の分析方法、およびそのような分析方法によってメッキ液を分析可能な分析装置の発明が開示されている。この特許文献に開示の分析装置は、試料溶液（分析対象のメッキ液）を貯液可能な測定セルと、電極ホルダーに取り付けられた３本の電極（参照電極、作用電極および対向電極）と、各電極に接続されたポテンショスタットと、測定セル内の試料溶液の温度を検出する液温センサと、測定セル内の試料溶液を攪拌するための磁石および回転子と、測定セルを収容可能なウオーターバスと、ウオーターバス内（測定セル外）の水を温度調整する熱交換体および冷却／加熱機構と、分析装置を統括的に制御して各種の測定・分析処理を行う制御装置とを備えている。
【０００３】
この場合、分析対象のメッキ液は、例えば、電解メッキ処理を開始するまでは処理室の室内温度と同程度の温度となっているが、電解メッキ処理の実行中や、処理を完了した直後には、非常に高い温度まで温度上昇した状態となる。また、メッキ液は液温が低いときと、液温が高いときとでは、分析処理によって特定される分析値（添加剤の量（添加率）など）が異なる値となることが知られている。
【０００４】
したがって、この特許文献に開示の分析装置・分析方法では、分析処理の開始に先立ち、冷却／加熱機構および熱交換体によってウオーターバス内の水を冷却または加熱して予め規定した温度（以下、「分析時温度」ともいう）とすることによって測定セル内の試料溶液を分析時温度とする構成が採用されている。これにより、この分析装置・分析方法では、分析作業を行う都度、常に同じ温度条件化で試料溶液についての分析値を得ることができるため、試料溶液の状態（添加剤の状態等）を的確に把握することが可能となっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−３１７１９７号公報（第４−６頁、第１図）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記したように、上記特許文献に開示の分析装置・分析方法では、分析処理時の温度条件を一定とするために、処理の開始に先立ち、試料溶液（電解メッキ液）を冷却／加熱して分析時温度とする構成・方法が採用されている。
【０００７】
このため、上記の特許文献に開示の分析装置・分析方法では、測定セルを収容可能なウオーターバスと、ウオーターバス内の水を温度調整する熱交換体および冷却／加熱機構と、測定セル内の試料溶液の温度を検出する液温センサとが必要となっている。したがって、上記の特許文献に開示の分析装置・分析方法には、試料溶液の温度を調整したり温度を検出したりするための構成要素の存在に起因して、分析装置の小形化が困難となっており、分析装置の保管や搬送が煩雑であるという問題点が存在する。また、上記の特許文献に開示の分析装置・分析方法には、試料溶液の温度を調整したり温度を検出したりするための構成要素の存在に起因して、その製造コストが高騰すると共に、試料溶液の分析コストの低減が困難となっているという問題点もある。
【０００８】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、装置の保管や搬送を容易とし、かつ製造コストや分析コストの低減を図り得る電解メッキ液分析装置、電解メッキ液分析方法および電解メッキ液分析用プログラムを提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成すべく請求項１記載の電解メッキ液分析装置は、分析対象の電解メッキ液に接触させられた参照電極に対する作用電極の電位を制御しつつ当該電解メッキ液に接触させられた対向電極および当該作用電極の間を流れる電流の電流値を測定して測定値を取得する測定値取得処理を実行し、取得した当該測定値に基づいて分析値を特定して前記電解メッキ液の状態を分析する処理部を備えた電解メッキ液分析装置であって、前記電解メッキ液と同じ金属イオンを含有する基準液についての前記分析値である基準分析値を記憶する記憶部を備え、前記処理部は、互いに等しい温度の前記電解メッキ液および前記基準液を対象とする前記測定値取得処理をそれぞれ実行して当該電解メッキ液についての前記測定値としての第１の測定値および当該基準液についての前記測定値としての第２の測定値を取得する第１の処理、前記第１の測定値に基づいて前記分析値としての第１の分析値を特定すると共に前記第２の測定値に基づいて前記分析値としての第２の分析値を特定する第２の処理、並びに、前記基準分析値、前記第１の分析値および前記第２の分析値に基づき、当該第１の分析値を前記基準分析値が特定される前記基準液の温度と等しい温度の前記電解メッキ液において特定される前記分析値に補正可能な補正係数、および当該補正係数に基づいて前記第１の分析値を補正した補正済み分析値の少なくとも一方を特定する第３の処理を実行する。
【００１０】
また、請求項２記載の電解メッキ液分析装置は、分析対象の電解メッキ液に接触させられた参照電極に対する作用電極の電位を制御しつつ当該参照電極および当該作用電極の間を流れる電流の電流値を測定して測定値を取得する測定値取得処理を実行し、取得した当該測定値に基づいて前記電解メッキ液の状態を分析する処理部を備えた電解メッキ液分析装置であって、前記電解メッキ液と同じ金属イオンを含有する基準液についての前記分析値である基準分析値を記憶する記憶部を備え、前記処理部は、互いに等しい温度の前記電解メッキ液および前記基準液を対象とする前記測定値取得処理をそれぞれ実行して当該電解メッキ液についての前記測定値としての第１の測定値および当該基準液についての前記測定値としての第２の測定値を取得する第１の処理、前記第１の測定値に基づいて前記分析値としての第１の分析値を特定すると共に前記第２の測定値に基づいて前記分析値としての第２の分析値を特定する第２の処理、並びに、前記基準分析値、前記第１の分析値および前記第２の分析値に基づき、当該第１の分析値を前記基準分析値が特定される前記基準液の温度と等しい温度の前記電解メッキ液において特定される前記分析値に補正可能な補正係数、および当該補正係数に基づいて前記第１の分析値を補正した補正済み分析値の少なくとも一方を特定する第３の処理を実行する。
【００１１】
また、請求項３記載の電解メッキ液分析方法は、分析対象の電解メッキ液に接触させた参照電極に対する作用電極の電位を制御しつつ当該電解メッキ液に接触させた対向電極および当該作用電極の間を流れる電流の電流値を測定して測定値を取得する測定値取得処理を実行し、取得した当該測定値に基づいて分析値を特定して前記電解メッキ液の状態を分析する電解メッキ液分析方法であって、前記電解メッキ液と同じ金属イオンを含有する基準液についての前記分析値である基準分析値を取得すると共に、互いに等しい温度の前記電解メッキ液および前記基準液を対象とする前記測定値取得処理をそれぞれ実行して当該電解メッキ液についての前記測定値としての第１の測定値および当該基準液についての前記測定値としての第２の測定値を取得する第１の処理、前記第１の測定値に基づいて前記分析値としての第１の分析値を特定すると共に前記第２の測定値に基づいて前記分析値としての第２の分析値を特定する第２の処理、並びに、前記基準分析値、前記第１の分析値および前記第２の分析値に基づき、当該第１の分析値を前記基準分析値が特定される前記基準液の温度と等しい温度の前記電解メッキ液において特定される前記分析値に補正可能な補正係数、および当該補正係数に基づいて前記第１の分析値を補正した補正済み分析値の少なくとも一方を特定する第３の処理を実行する。
【００１２】
また、請求項４記載の電解メッキ液分析方法は、分析対象の電解メッキ液に接触させた参照電極に対する作用電極の電位を制御しつつ当該参照電極および当該作用電極の間を流れる電流の電流値を測定して測定値を取得する測定値取得処理を実行し、取得した当該測定値に基づいて前記電解メッキ液の状態を分析する電解メッキ液分析方法であって、前記電解メッキ液と同じ金属イオンを含有する基準液についての前記分析値である基準分析値を取得すると共に、互いに等しい温度の前記電解メッキ液および前記基準液を対象とする前記測定値取得処理をそれぞれ実行して当該電解メッキ液についての前記測定値としての第１の測定値および当該基準液についての前記測定値としての第２の測定値を取得する第１の処理、前記第１の測定値に基づいて前記分析値としての第１の分析値を特定すると共に前記第２の測定値に基づいて前記分析値としての第２の分析値を特定する第２の処理、並びに、前記基準分析値、前記第１の分析値および前記第２の分析値に基づき、当該第１の分析値を前記基準分析値が特定される前記基準液の温度と等しい温度の前記電解メッキ液において特定される前記分析値に補正可能な補正係数、および当該補正係数に基づいて前記第１の分析値を補正した補正済み分析値の少なくとも一方を特定する第３の処理を実行する。
【００１３】
また、請求項５記載の電解メッキ液分析用プログラムは、分析対象の電解メッキ液に接触させられた参照電極に対する作用電極の電位を制御しつつ当該電解メッキ液に接触させられた対向電極および当該作用電極の間を流れる電流の電流値を測定して測定値を取得する測定値取得処理によって取得された当該測定値に基づいて分析値を特定して前記電解メッキ液の状態を分析する処理を電解メッキ液分析装置の処理部に実行させる電解メッキ液分析用プログラムであって、前記電解メッキ液を対象とする前記測定値取得処理によって取得された当該電解メッキ液についての前記測定値としての第１の測定値に基づいて前記分析値としての第１の分析値を特定すると共に、前記電解メッキ液と同じ金属イオンを含有し、かつ当該電解メッキ液と等しい温度の基準液を対象とする前記測定値取得処理によって取得された当該基準液についての前記測定値としての第２の測定値に基づいて前記分析値としての第２の分析値を特定する処理Ａと、前記基準液について予め取得された前記分析値である基準分析値、前記第１の分析値および前記第２の分析値に基づき、当該第１の分析値を前記基準分析値が特定される前記基準液の温度と等しい温度の前記電解メッキ液において特定される前記分析値に補正可能な補正係数、および当該補正係数に基づいて前記第１の分析値を補正した補正済み分析値の少なくとも一方を特定する処理Ｂを前記処理部に実行させる。
【００１４】
また、請求項６記載の電解メッキ液分析用プログラムは、分析対象の電解メッキ液に接触させられた参照電極に対する作用電極の電位を制御しつつ当該参照電極および当該作用電極の間を流れる電流の電流値を測定して測定値を取得する測定値取得処理によって取得された当該測定値に基づいて分析値を特定して前記電解メッキ液の状態を分析する処理を電解メッキ液分析装置の処理部に実行させる電解メッキ液分析用プログラムであって、前記電解メッキ液を対象とする前記測定値取得処理によって取得された当該電解メッキ液についての前記測定値としての第１の測定値に基づいて前記分析値としての第１の分析値を特定すると共に、前記電解メッキ液と同じ金属イオンを含有し、かつ当該電解メッキ液と等しい温度の基準液を対象とする前記測定値取得処理によって取得された当該基準液についての前記測定値としての第２の測定値に基づいて前記分析値としての第２の分析値を特定する処理Ａと、前記基準液について予め取得された前記分析値である基準分析値、前記第１の分析値および前記第２の分析値に基づき、当該第１の分析値を前記基準分析値が特定される前記基準液の温度と等しい温度の前記電解メッキ液において特定される前記分析値に補正可能な補正係数、および当該補正係数に基づいて前記第１の分析値を補正した補正済み分析値の少なくとも一方を特定する処理Ｂを前記処理部に実行させる。
【発明の効果】
【００１５】
請求項１，２記載の電解メッキ液分析装置、および請求項３，４記載の電解メッキ液分析方法では、互いに等しい温度の電解メッキ液、および基準液（電解メッキ液と同じ金属イオンを含有する液）を対象とする測定値取得処理をそれぞれ実行して電解メッキ液についての第１の測定値および基準液についての第２の測定値を取得する第１の処理、第１の測定値に基づいて第１の分析値を特定すると共に第２の測定値に基づいて第２の分析値を特定する第２の処理、並びに、第１の分析値、第２の分析値および基準分析値（基準液についての分析値）に基づき、第１の分析値を基準分析値が特定される基準液の温度と等しい温度の電解メッキ液において特定される分析値に補正可能な補正係数、および補正係数に基づいて第１の分析値を補正した補正済み分析値の少なくとも一方を特定する第３の処理を実行する。また、請求項５，６記載の電解メッキ液分析用プログラムは、上記の第２の処理に対応する処理Ａ、および上記の第３の処理に対応する処理Ｂを電解メッキ液分析装置の処理部に実行させる。
【００１６】
したがって、請求項１，２記載の電解メッキ液分析装置、請求項３，４記載の電解メッキ液分析方法、および請求項５，６記載の電解メッキ液分析用プログラムによれば、前述した特許文献に開示の分析装置・分析方法とは異なり、分析対象の電解メッキ液を温度調整するための熱交換体および冷却／加熱機構や液温センサなどを電解メッキ液分析装置の構成要素として備えていなくても、基準分析値を取得して記憶部に記憶させておくことで、電解メッキ液の実測値に基づいて特定される分析値を、基準分析値が特定される基準液の温度と等しい温度（予め規定された分析時基準温度）の電解メッキ液において特定される分析値に補正可能な補正係数や、そのような補正係数に基づいて補正された補正済み分析値を特定することができる。これにより、熱交換体および冷却／加熱機構や液温センサなどが存在しない分だけ、電解メッキ液分析装置を小形化することができるため、その保管や搬送が容易になると共に、電解メッキ液分析装置の製造コストを十分に低減することができ、また、電解メッキ液の分析コストを十分に低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】電解メッキ液分析システム１の構成図である。
【図２】電解メッキ液分析システム１による電解メッキ液Ｘａの分析手順について説明するための説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、電解メッキ液分析装置、電解メッキ液分析方法および電解メッキ液分析用プログラムの実施の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１９】
図１に示す電解メッキ液分析システム１は、メッキ液槽内に貯液されている電解メッキ液（メッキ浴）Ｘａの状態を「電解メッキ液分析方法」に従って分析可能な「電解メッキ液分析装置」の一例であって、電気化学測定装置２および分析装置３を備えて構成されている。
【００２０】
電気化学測定装置２は、電気化学センサ２ａおよび測定装置本体２ｂを備えている。電気化学センサ２ａは、三極測定による電気化学測定処理を実行するためのセンサ装置であって、ケーシング１０、参照電極１１、作用電極１２、対向電極１３および信号処理回路基板１４を備えている。なお、本明細書では、「電解メッキ液分析装置」および「電解メッキ液分析方法」に関する理解を容易とするために、参照電極１１、作用電極１２および対向電極１３を同じ形状・同じ大きさに図示しているが、実際には、測定対象（電解メッキ液分析システム１による分析対象）の電解メッキ液Ｘａの種類に応じて、各電極１１〜１３毎に各種の形状・大きさ・構成の電極が採用される。
【００２１】
ケーシング１０は、耐薬品性樹脂材料などで形成された容器体であって、各電極１１〜１３が取り付けられると共に、各電極１１〜１３に接続された信号処理回路基板１４を収容する。信号処理回路基板１４は、ポテンショスタットやＩ／Ｖ変換回路などが実装された回路基板であって、信号ケーブル２ｃを介して測定装置本体２ｂに接続されている。なお、この信号処理回路基板１４については、測定装置本体２ｂ側の構成要素とすることもできる。
【００２２】
測定装置本体２ｂは、操作部２１、表示部２２、処理部２３および記憶部２４を備えている。操作部２１は、測定条件等の設定操作、各種処理の開始／停止の指示、および測定結果の分析装置３への送信指示などの操作が可能な操作スイッチを備え、これらの操作に応じた操作信号を処理部２３に出力する。表示部２２は、処理部２３の制御下で、処理部２３によって演算される電気化学測定処理の測定結果などを表示する。
【００２３】
処理部２３は、電気化学測定装置２を総括的に制御する。具体的には、処理部２３は、操作部２１からの操作信号に応じて「測定値取得処理（電気化学測定処理）」などを実行する。この場合、処理部２３は、参照電極１１に対する作用電極１２の電位（以下、単に「作用電極１２の電極電位」ともいう）を制御しつつ、対向電極１３および作用電極１２の間を流れる電流の電流値（電気化学センサ２ａから出力されたセンサ信号）を取得し、取得した電流値（センサ信号の値）に基づいて測定値を演算すると共に、演算結果（測定値）を記録した測定値データＤ１を生成して記憶部２４に記憶させる処理を「測定値取得処理」として、実行する。
【００２４】
また、処理部２３は、操作部２１からの操作信号（または、分析装置３からの制御信号）に応じて記憶部２４から測定値データＤ１を読み出して分析装置３に出力する。この場合、本例の電解メッキ液分析システム１では、処理部２３が、電気化学センサ２ａの信号処理回路基板１４や、後述する分析装置３の処理部３３と相俟って「処理部」を構成する。記憶部２４は、処理部２３の動作ブログラムや、上記の測定値データＤ１などを記憶する。
【００２５】
一方、分析装置３は、一例として、「電解メッキ液分析用プログラム」に相当する分析用プログラムＤｐがインストールされたパーソナルコンピュータで構成されており、操作部３１、表示部３２、処理部３３および記憶部３４を備えている。操作部３１は、キーボードや、マウスおよびタッチパッド等のポインティングデバイスで構成されて、これらの操作に応じた操作信号を処理部３３に出力する。表示部３２は、処理部３３による「分析処理」の結果（分析結果）などを表示する。
【００２６】
処理部３３は、前述したように、電気化学測定装置２（測定装置本体２ｂ）の処理部２３と相俟って「処理部」を構成し、測定値が記録された測定値データＤ１を電気化学測定装置２（測定装置本体２ｂ）から送信させて記憶部３４に記憶させる。また、処理部３３は、分析用プログラムＤｐに従って電気化学測定装置２から送信させた測定値データＤ１を解析することにより、後述する各分析項目毎に電解メッキ液Ｘａの状態を分析し、分析結果を表示部３２に表示させると共に、分析結果を記録した分析結果データＤ２，Ｄ３を生成して記憶部３４に記憶させる（「分析処理」の一例）。
【００２７】
この場合、本例の電解メッキ液分析システム１では、処理部３３が、「分析処理」に際して、分析用プログラムＤｐの記述に従い、様々な種温度環境下で取得される測定値データＤ１に基づいて演算される各種の「分析値」に関して、予め規定された温度（一例として、常温＝２５℃）で演算されるべき値に補正する「温度相違分補正処理」を実行する構成が採用されている。なお、この「温度相違分補正処理」、および「温度相違分補正処理」を含む「分析処理」の具体的な内容については、後に詳細に説明する。記憶部３４は、「記憶部」の一例であって、上記の分析用プログラムＤｐや、後述するように各処理に先立って取得される基準値データＤ０（「温度相違分補正処理」において使用するデータ：「基準分析値」の一例）を記憶する。また、記憶部３４は、電気化学測定装置２から送信された測定値データＤ１や、処理部３３によって生成された分析結果データＤ２，Ｄ３を記憶する。
【００２８】
この電解メッキ液分析システム１は、分析装置３の処理部３３が、一例として、次のような分析（分析値の特定）を行う処理を「分析処理」として実行可能に構成されている。
【００２９】
具体的には、処理部３３は、分析対象の電解メッキ液Ｘａを用いたメッキ処理に際してメッキ対象物（陰極）および電極（陽極）の間に印加する電圧（電流密度）と、メッキ対象物に対して単位時間当りに析出する金属の量（金属量）との関係がどのような状態となっているかの分析を実行する。また、処理部３３は、分析対象の電解メッキ液Ｘａを用いたメッキ処理における電流密度と、電解メッキ液Ｘａに加える電荷のうちのメッキ対象物に対する金属の析出に寄与しない電荷の量やメッキ対象物に対する金属の析出に寄与する電荷の量との関係がどのような関係となっているかの分析（「電流効率：陰極効率」の特定）を実行する。
【００３０】
さらに、処理部３３は、分析対象の電解メッキ液Ｘａを用いたメッキ処理に際して予め規定された金属量以上の金属をメッキ対象物に析出させ得る電流密度の下限値（「電流密度下限値」）の特定（「臨界電流密度（下限値）」、「均一電着性（下限値）」および「被覆力」の特定）を実行する。また、処理部３３は、分析対象の電解メッキ液Ｘａを用いたメッキ処理に際して予め規定された金属量以上の金属をメッキ対象物に析出させ得る電流密度の上限値（「電流密度上限値」）の特定（「臨界電流密度（上限値）」、「均一電着性（上限値）」および「被覆力」の特定）を実行する。
【００３１】
さらに、処理部３３は、分析対象の電解メッキ液Ｘａに不純物が含まれているか否か、および含まれている場合には、どの程度の量の不純物が含まれているかの分析を実行する。また、処理部３３は、分析対象の電解メッキ液Ｘａを用いたメッキ処理における電流密度と、メッキ処理時に酸化反応によってメッキ対象物が溶解する溶解率との関係がどのような状態となっているかの分析を実行する。
【００３２】
以下、「電解メッキ液分析装置」の構成、「電解メッキ液分析方法」および「電解メッキ液分析用プログラム」の内容についての理解を容易とするために、上記の各種分析のうちの「電流効率：陰極効率」の特定を「分析処理」として実行する例を説明する。なお、「測定値取得処理」や、上記の各種の「分析値」を特定する際の具体的な手順については、一例として、出願人が特開２０１６−１０５０７２号公報や特開２０１６−１０５０７３号公報に開示している手順と同様の手順で実施することができる。したがって、これら公開公報に開示の事項と同様の事項については、詳細な説明を省略する。
【００３３】
この電解メッキ液分析システム１によってメッキ液槽内の電解メッキ液Ｘａの状態を分析する際には、まず、「温度相違分補正処理」において使用する基準値データＤ０を取得（生成）する。なお、この基準値データＤ０の取得作業については、メッキ液槽の設置場所において実施することもできるが、本例では、「分析処理」を実行する分析装置３の設置場所においてこれを実施するものとする。
【００３４】
具体的には、まず、新品の電解メッキ液Ｘａ（「電解メッキ液と同じ金属イオンを含有する基準液」の一例：以下、メッキ液槽内の分析対象の電解メッキ液Ｘａと区別するために新品の電解メッキ液Ｘａを「電解メッキ液Ｘａ０」ともいう）を用意して、予め規定した「分析時基準温度」に温度調整する。この際には、一例として、「分析時基準温度」を２５℃（常温）と規定し、その温度となるまで電解メッキ液Ｘａ０を静置しておく。なお、作業場所の温度が「分析時基準温度」よりも低いときには、既存の温度計等を使用して電解メッキ液Ｘａ０の温度を測定しつつ、湯煎等で電解メッキ液Ｘａを加熱し、作業場所の温度が「分析時基準温度」よりも高いときには、冷水等で電解メッキ液Ｘａを冷却する。
【００３５】
次いで、ケーシング１０に各電極１１〜１３を取り付けて電気化学センサ２ａを組み立てると共に、信号ケーブル２ｃを介して電気化学センサ２ａを測定装置本体２ｂに接続する。続いて、「分析時基準温度」の電解メッキ液Ｘａ０内に電気化学センサ２ａにおける各電極１１〜１３の電極面をそれぞれ浸した後に、測定装置本体２ｂの操作部２１を操作して、「測定値取得処理」の開始を指示する。なお、上記したように、この「測定値取得処理」の具体的な内容については、一例として、出願人が上記公開公報において開示している「測定値取得処理」と同様の手順で実施することができる。これにより、「分析時基準温度」の電解メッキ液Ｘａ０についての測定値データＤ１が生成されて記憶部２４に記憶される。
【００３６】
次いで、電気化学センサ２ａを電解メッキ液Ｘａ０の容器から引き上げ、必要に応じて各電極１１〜１３をケーシング１０から取り外して保管用のケースに収容した後に、信号ケーブル４（図１参照）を介して測定装置本体２ｂを分析装置３に接続する。続いて、電気化学測定装置２（測定装置本体２ｂ）の操作部２１を操作することにより、記憶部２４に記憶されている各測定値データＤ１を分析装置３に送信する。
【００３７】
これに応じて、分析装置３では、処理部３３が、電気化学測定装置２から送信された各測定値データＤ１を記憶部３４に記憶させる。なお、電気化学測定装置２から分析装置３への測定値データＤ１の送信については、電気化学測定装置２の操作部２１を操作する上記の例に限定されず、分析装置３の操作部３１を操作して分析装置３から電気化学測定装置２に送信要求信号を送信することで、電気化学測定装置２から分析装置３に測定値データＤ１を送信させることもできる。以上により、電解メッキ液Ｘａ０の分析に必要な測定値データＤ１が分析装置３の記憶部３４に記憶された状態となる。
【００３８】
次いで、分析装置３において「分析処理」を実行する。なお、この「分析処理」に関しても、一例として、出願人が上記の公開公報に開示している「分析処理」と同様の手順で実施することができる。これにより、「電流効率：陰極効率」等の分析結果を記録した分析結果データＤ２が生成される。続いて、処理部３３は、生成した分析結果データＤ２を基準値データＤ０として記憶部３４に記憶させる。以上により、「分析時基準温度」である常温（２５℃）の電解メッキ液Ｘａ０についての「分析値」である「基準分析値」の取得が完了する。この際に、電解メッキ液Ｘａ０の「電流効率」としては、図２に示す「電流効率Ａａ」との値が取得されて基準値データＤ０内に記録される。
【００３９】
なお、この基準値データＤ０（基準分析値）については、分析対象の電解メッキ液Ｘａの種類や、使用している電気化学センサ２ａ（各電極１１〜１３）の種類が変わらない限り、継続的に使用することができる。したがって、この基準値データＤ０（基準分析値）の取得作業については、分析対象の電解メッキ液Ｘａおよび使用する電気化学センサ２ａの組み合わせ毎に、任意の場所で１回だけ実行すればよい。以上により、メッキ液槽内の電解メッキ液Ｘａを分析する準備が整う。
【００４０】
一方、電解メッキ液Ｘａの分析に際しては、まず、メッキ液槽内の電解メッキ液Ｘａ，Ｘａ０を対象とする「測定値取得処理」を実行する。この場合、本例の電解メッキ液分析システム１では、後述するように、メッキ液槽内の電解メッキ液Ｘａと、上記の基準値データＤ０を取得した電解メッキ液Ｘａ０とを互いに等しい温度とした状態で「測定値取得処理」を実行する構成・方法が採用されている。したがって、本例では、一例として、以下に説明する作業を開始する前に、分析対象の電解メッキ液Ｘａを貯液しているメッキ液槽内に、密閉容器（図示せず）内に収容した状態の電解メッキ液Ｘａ０を密閉容器ごと浸しておくことにより、電解メッキ液Ｘａ，Ｘａ０を同じ温度とする。これにより、メッキ処理の実施によってメッキ液槽内の電解メッキ液Ｘａが温度上昇しているときには、その電解メッキ液Ｘａ内に浸されている電解メッキ液Ｘａ０も同様に温度上昇した状態となる。
【００４１】
次いで、分析装置３から切り離した電気化学測定装置２をメッキ液槽の設置場所に搬送し、ケーシング１０に各電極１１〜１３を取り付けて電気化学センサ２ａを組み立てると共に、信号ケーブル２ｃを介して電気化学センサ２ａを測定装置本体２ｂに接続する。なお、後述の「分析処理」をメッキ液槽の設置場所において実施する場合には、電気化学測定装置２と共に分析装置３をメッキ液槽の設置場所に搬送しておく。続いて、メッキ液槽内の電解メッキ液Ｘａ、および密閉容器内の電解メッキ液Ｘａ０を対象とする「測定値取得処理」を連続して実行する（「第１の処理」の一例）。
【００４２】
具体的には、一例として、まず、メッキ液槽内の電解メッキ液Ｘａを測定容器に汲み取る。この場合、メッキ処理の実行中や、メッキ処理を完了した直後においては、メッキ液槽内の電解メッキ液Ｘａや電解メッキ液Ｘａ０が４０℃〜５０℃程度まで温度上昇した状態となっている。次いで、測定容器内の電解メッキ液Ｘａに電気化学センサ２ａにおける各電極１１〜１３の電極面をそれぞれ浸した後に、測定装置本体２ｂの操作部２１を操作して、「測定値取得処理」の開始を指示する。これにより、電解メッキ液Ｘａについての測定値データＤ１（「電解メッキ液についての測定値としての第１の測定値」を記録したデータの一例）が生成されて記憶部２４に記憶される。なお、電解メッキ液Ｘａについての「測定値取得処理」に関しては、測定容器に汲み取った電解メッキ液Ｘａを対象とする上記の処理に代えて、メッキ液槽Ｘ内の電解メッキ液Ｘａに電気化学センサ２ａ（各電極１１〜１３）を直接浸して実行してもよい。
【００４３】
続いて、電解メッキ液Ｘａ０が収容されている密閉容器をメッキ液槽から引き上げて測定容器に電解メッキ液Ｘａ０を注ぎ入れる。次いで、電気化学センサ２ａにおける各電極１１〜１３の電極面を測定容器内の電解メッキ液Ｘａ０にそれぞれ浸した後に、測定装置本体２ｂの操作部２１を操作して、「測定値取得処理」の開始を指示する。これにより、電解メッキ液Ｘａ０についての測定値データＤ１（「基準液についての測定値としての第２の測定値」を記録したデータの一例）が生成されて記憶部２４に記憶される。なお、電解メッキ液Ｘａ０についての「測定値取得処理」に関しては、測定容器に注ぎ入れた電解メッキ液Ｘａ０を対象とする上記の処理に代えて、密閉容器内の電解メッキ液Ｘａ０に電気化学センサ２ａ（各電極１１〜１３）を直接浸して実行してもよい。以上により、「第１の処理」が完了する。
【００４４】
次いで、電気化学センサ２ａを電解メッキ液Ｘａ０の容器から引き上げ、必要に応じて各電極１１〜１３をケーシング１０から取り外して保管用のケースに収容した後に、分析装置３の設置場所まで電気化学測定装置２を搬送し、信号ケーブル４を介して測定装置本体２ｂを分析装置３に接続する。続いて、電気化学測定装置２（測定装置本体２ｂ）の操作部２１を操作することにより、記憶部２４に記憶されている電解メッキ液Ｘａについての各測定値データＤ１および電解メッキ液Ｘａ０についての測定値データＤ１を分析装置３に送信する。
【００４５】
これに応じて、分析装置３では、処理部３３が、電気化学測定装置２から送信された各測定値データＤ１を記憶部３４に記憶させる。なお、この際の電気化学測定装置２から分析装置３への測定値データＤ１の送信についても、電気化学測定装置２の操作部２１を操作する上記の例に限定されず、分析装置３の操作部３１を操作して分析装置３から電気化学測定装置２に送信要求信号を送信することで、電気化学測定装置２から分析装置３に測定値データＤ１を送信させることもできる。
【００４６】
次いで、分析装置３において「分析処理（第２の処理（処理Ａ））」を実行する。具体的には、処理部３３は、分析用プログラムＤｐに従い、電解メッキ液Ｘａについての測定値データＤ１に基づき、前述した基準値データＤ０の取得時の「分析処理」と同様の手順で「分析値」としての「第１の分析値」を特定すると共に、電解メッキ液Ｘａ０についての測定値データＤ１に基づき、上記の「分析処理」と同様の手順で「分析値」としての「第２の分析値」を特定する。これにより、メッキ液槽内において４０℃〜５０℃程度まで温度上昇した状態の電解メッキ液Ｘａ，Ｘａ０についての「電流効率：陰極効率」等の分析結果を記録した分析結果データＤ２がそれぞれ生成される。以上により、「第２の処理（処理Ａ）」が完了する。この際には、電解メッキ液Ｘａ０の「電流効率」としては、図２に示す「電流効率Ｂａ」との値が取得されて分析結果データＤ２に記録され、電解メッキ液Ｘａの「電流効率」としては、同図に示す「電流効率Ｂｂ」との値が取得されて分析結果データＤ２に記録される。
【００４７】
続いて、処理部３３は、分析用プログラムＤｐに従い、上記の「第２の処理（処理Ａ）」において特定された電解メッキ液Ｘａについての分析結果データＤ２の値（図２における「電流効率Ｂｂ」等）を、「分析時基準温度（常温：２５℃）」において特定される「分析値（図２における「電流効率Ａｂ」等）」に補正可能な「補正係数」、および「分析時基準温度」において特定される「分析値」に補正した「補正済み分析値（図２における「電流効率Ａｂ」等）」をそれぞれ特定する「第３の処理（処理Ｂ）」を実行する。
【００４８】
この場合、記憶部２４に記憶されている基準値データＤ０における「電流効率Ａａ」は、「分析時基準温度（常温：２５℃）」の電解メッキ液Ｘａについての「分析値」である。また、上記の「第２の処理（処理Ａ）」において特定される電解メッキ液Ｘａ０についての分析結果データＤ２における「電流効率Ｂａ」は、電解メッキ液Ｘａと共にメッキ液槽内で４０℃〜５０℃程度まで温度上昇した状態の電解メッキ液Ｘａ０についての「分析値」である。つまり、本例では、電解メッキ液Ｘａ０の温度の相違によって「電流効率Ａａ」と「電流効率Ｂａ」との差が生じている。
【００４９】
したがって、処理部３３は、基準値データＤ０、および電解メッキ液Ｘａ０についての分析結果データＤ２に基づき、まず、「補正係数Ａ：電流効率Ａａ／電流効率Ｂａ」および「補正係数Ｂ：電流効率Ｂａ／電流効率Ａａ」の少なくとも一方を特定する。
【００５０】
この場合、「補正係数Ａ：電流効率Ａａ／電流効率Ｂａ」は、４０℃〜５０℃程度まで温度上昇した状態の電解メッキ液Ｘａについて実測値に基づいて特定された上記の「電流効率Ｂａ」に乗じることで、「分析時基準温度（常温：２５℃）」の電解メッキ液Ｘａにおいて特定される「電流効率Ａａ」）を演算可能な「補正係数」である。また、「補正係数Ｂ：電流効率Ｂａ／電流効率Ａａ」は、「電流効率Ｂａ」を除すことで、「分析時基準温度（常温：２５℃）」の電解メッキ液Ｘａにおいて特定される「電流効率Ａａ」）を演算可能な「補正係数」である。なお、これら「補正係数」については、「分析値」の種類に応じてそれぞれ別個に特定する。
【００５１】
次いで、処理部３３は、上記の「補正係数Ａ」および「補正係数Ｂ」のいずれかを使用して、電解メッキ液Ｘａについて実測値である「電流効率Ｂｂ」を補正して「補正済み分析値：電流効率Ａｂ」を特定する。続いて、処理部３３は、電解メッキ液Ｘａについての分析結果データＤ２の値（補正前の「分析値」：電流効率Ｂｂ等）と、上記の「補正係数Ａ」および「補正係数Ｂ」と、補正後の「分析値」（電流効率Ｂａ等）とを含ませて分析結果データＤ３を生成して記憶部３４に記憶させる。これにより、「第３の処理（処理Ｂ）」が完了し、分析結果データＤ３の各値が表示部３２に表示される。以上により、電解メッキ液Ｘａについての一連の「分析処理」が完了する。
【００５２】
この場合、分析結果データＤ３における「電流効率Ａｂ」等は、「分析時基準温度（常温：２５℃）」の電解メッキ液Ｘａについて特定される「分析値」である。また、分析作業を行う都度、上記のような一連の処理を実行して電解メッキ液Ｘａについての分析結果データＤ２の値を補正することで、常に同じ温度環境下（本例では、２５℃）で特定され得る「分析値」を取得することが可能となる。したがって、上記のような分析結果データＤ３の特定を定期的に実施しておくことにより、各分析結果データＤ３の値を比較して電解メッキ液Ｘａの状態の変化を的確に把握することができる。
【００５３】
このように、この電解メッキ液分析システム１、およびその電解メッキ液分析方法では、互いに等しい温度の電解メッキ液Ｘａ、および「基準液（電解メッキ液Ｘａと同じ金属イオンを含有する液：一例として、未使用の電解メッキ液Ｘａである電解メッキ液Ｘａ０）」を対象とする「測定値取得処理」をそれぞれ実行して電解メッキ液Ｘａについての「第１の測定値」および電解メッキ液Ｘａ０についての「第２の測定値」を取得する「第１の処理」、「第１の測定値」に基づいて「第１の分析値」を特定すると共に「第２の測定値」に基づいて「第２の分析値」を特定する「第２の処理」、並びに、「第１の分析値」、「第２の分析値」および「基準分析値（基準液についての「分析値」）」に基づき、「第１の分析値」を「基準分析値」が特定される電解メッキ液Ｘａ０の温度と等しい温度の電解メッキ液Ｘａにおいて特定される「分析値」に補正可能な「補正係数」、および「補正係数」に基づいて「第１の分析値」を補正した「補正済み分析値」の少なくとも一方を特定する「第３の処理」を実行する。また、この分析用プログラムＤｐでは、上記の「第２の処理」に対応する「処理Ａ」、および上記の「第３の処理」に対応する「処理Ｂ」を電解メッキ液分析システム１（分析装置３）の処理部３３に実行させる。
【００５４】
したがって、この電解メッキ液分析システム１、電解メッキ液分析方法および分析用プログラムＤｐによれば、前述した特許文献に開示の分析装置・分析方法とは異なり、分析対象の電解メッキ液Ｘａを温度調整するための熱交換体および冷却／加熱機構や液温センサなどを電解メッキ液分析システム１の構成要素として備えていなくても、基準値データＤ０を取得して記憶部３４に記憶させておくことで、電解メッキ液Ｘａの実測値に基づいて特定される分析結果データＤ２を「分析時基準温度（常温：２５℃）」の電解メッキ液Ｘａにおいて特定される「分析値」に補正可能な「補正係数」や、そのような「補正係数」に基づいて補正された「補正済み分析値」を特定することができる。これにより、熱交換体および冷却／加熱機構や液温センサなどが存在しない分だけ、電解メッキ液分析システム１（電気化学測定装置２）を小形化することができるため、その保管や搬送が容易になると共に、電解メッキ液分析システム１の製造コストを十分に低減することができ、また、電解メッキ液Ｘａの分析コストを十分に低減することができる。
【００５５】
なお、「電解メッキ液分析装置」の構成、「電解メッキ液分析方法」の具体的な内容、および「電解メッキ液分析用プログラム」の処理手順については、上記の電解メッキ液分析システム１の構成、電解メッキ液分析システム１による電解メッキ液分析方法、および分析用プログラムＤｐの処理手順の例に限定されない。例えば、参照電極１１、作用電極１２および対向電極１３を用いた「三極測定」を実行する構成・方法・手順を例に挙げて説明したが、このような構成・方法・手順に代えて、参照電極１１および作用電極１２を用いた「二極測定」を実行する構成・方法・手順を採用することもできる。なお、このような構成・方法・手順を採用する場合には、「測定値取得処理」に際して対向電極１３および作用電極１２の間を流れる電流を測定するのに代えて、作用電極１２および参照電極１１の間を流れる電流を測定する点が相違するだけであり、上記の例と同様の効果を奏することができることが明らかであるため、そのような構成に関する図示、およびそのような方法に関する詳細な説明を省略する。
【００５６】
また、「第１の処理」において互いに等しい温度の電解メッキ液Ｘａ，Ｘａ０についての測定値データＤ１（「第１の測定値」および「第２の測定値」）を取得するために、電解メッキ液Ｘａ０を密閉容器に収容してメッキ液槽内の電解メッキ液Ｘａに浸しておく作業方法を例に挙げて説明したが、「第１の処理」の実行に際して、「第１の測定値」を取得する電解メッキ液Ｘａの温度と、「第２の測定値」を取得する電解メッキ液Ｘａ０の温度とが相違している場合には、例えば、電解メッキ液Ｘａ，Ｘａ０を恒温槽内に静置して互いに等しい温度（恒温槽の設定温度）とした後に「第１の処理」を開始すればよい。
【００５７】
さらに、「基準液」として新品の電解メッキ液Ｘａを使用する例について説明したが、電解メッキ液Ｘａと同じ金属イオンを含有する電解液であれば、電解メッキ液Ｘａ以外の液体を「基準液」として使用することができる。また、各処理の開始に先立って基準値データＤ０を取得する作業を行う例について説明したが、「基準液」についての「基準分析値」が「電解メッキ液」の製造メーカ等から提供されていたり、一連の分析処理とは別個に行った処理によって「基準分析値」が既知となっているときには、それらの値を使用することもできる。さらに、「第３の処理（処理Ｂ）」において「補正係数」および「補正済み分析値」の双方を特定する構成・方法・手順を例に挙げて説明したが、「第３の処理（処理Ｂ）」において「補正係数」および「補正済み分析値」いずれか一方だけを特定する構成・方法・手順を採用することができる。
【００５８】
加えて、「測定値取得処理（第１の処理）」を実行する電気化学測定装置２と、「分析処理（第２の処理（処理Ａ）および第３の処理（処理Ｂ））」を実行する分析装置３とを別体に構成した電解メッキ液分析システム１を例に挙げて説明したが、この電解メッキ液分析システム１における電気化学測定装置２および分析装置３を一体化した「電解メッキ液分析装置」（図示せず）を用いて「電解メッキ液分析方法」による電解メッキ液Ｘａの分析を実行することもできる。
【符号の説明】
【００５９】
１  電解メッキ液分析システム
２  電気化学測定装置
２ａ  電気化学センサ
２ｂ  測定装置本体
２ｃ  信号ケーブル
３  分析装置
４  信号ケーブル
１１  参照電極
１２  作用電極
１３  対向電極
１４  信号処理回路基板
２３，３３  処理部
２４，３４  記憶部
Ｄ０  基準値データ
Ｄ１  測定値データ
Ｄ２，Ｄ３  分析結果データ
Ｄｐ  分析用プログラム
Ｘ  メッキ液槽
Ｘａ，Ｘａ０  電解メッキ液
【図１】
2018072172.tif 000003
【図２】
2018072172.tif 000004