(57)【要約】【課題】ビット誤り率の測定結果を確認しながらパラメータの設定を行う。【解決手段】誤り率測定装置１は、被測定物Ｗに既知のパターン信号を入力し、このパターン信号の入力に伴って被測定物Ｗから受信した入力データのビット誤り率をパターン信号との比較によって測定するものであり、ビット誤り率の測定に必要なパラメータを設定する設定画面２１を一つの表示画面上に表示する表示部６と、ビット誤り率を少なくとも含む測定結果画面３１を設定画面の最前面に表示する表示制御部５ａとを備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被測定物（Ｗ）に既知のパターン信号を入力し、このパターン信号の入力に伴って前記被測定物から受信した入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定装置（１）において、
前記ビット誤り率の測定に必要なパラメータを設定する設定画面（２１）を一つの表示画面上に表示する表示部（６）と、
前記ビット誤り率を少なくとも含む測定結果画面（３１）を前記設定画面の最前面に表示する表示制御部（５ａ）とを備えたことを特徴とする誤り率測定装置。
【請求項２】
前記表示制御部（５ａ）は、前記ビット誤り率に加えてエラー数と測定ビット数を前記測定結果画面（３１）に表示することを特徴とする請求項１記載の誤り率測定装置。
【請求項３】
前記被測定物（Ｗ）の測定内容に応じて装置本体（１１）に選択的に着脱可能に装着され、それぞれに設定画面（２１Ａ，２１Ｂ）が存在する複数のモジュール（２）と、
前記装置本体に装着されたモジュールの中から前記設定画面を表示するモジュールを指定する設定入力部（３）とを備えたことを特徴とする請求項１又は２記載の誤り率測定装置。
【請求項４】
被測定物（Ｗ）に既知のパターン信号を入力し、このパターン信号の入力に伴って前記被測定物から受信した入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定方法において、
表示部（６）の一つの表示画面上に表示される設定画面（２１）上で前記ビット誤り率の測定に必要なパラメータを設定するステップと、
前記ビット誤り率を少なくとも含む測定結果画面（３１）を前記設定画面の最前面に表示するステップとを含むことを特徴とする誤り率測定方法。
【請求項５】
前記ビット誤り率に加えてエラー数と測定ビット数を前記測定結果画面（３１）に表示するステップを含むことを特徴とする請求項４記載の誤り率測定方法。
【請求項６】
それぞれに設定画面（２１Ａ，２１Ｂ）が存在する複数のモジュール（２）のうち、前記被測定物（Ｗ）の測定に必要なモジュールを装置本体に装着するステップと、
前記装置本体に装着されたモジュールの中から前記設定画面を表示するモジュールを指定するステップとを含むことを特徴とする請求項４又は５記載の誤り率測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被測定物（ＤＵＴ：Device Under Test ）に既知パターンのテスト信号を入力し、このテスト信号の入力に伴って被測定物から受信した入力データのビット誤り率（ＢＥＲ：Bit Error Rate）を測定する誤り率測定装置および誤り率測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年の各種ディジタル通信装置は、利用者数の増加やマルチメディア通信の普及に伴い、より大容量の伝送能力が求められており、これらのディジタル通信装置におけるディジタル信号の品質評価の指標の一つとして、受信データのうち符号誤りが発生した数と受信データの総数との比較として定義されるビット誤り率が知られている。
【０００３】
このため、所望のディジタル通信装置を被測定物とし、この被測定物におけるビット誤り率を測定する場合には、例えば、下記特許文献１に開示されるような誤り率測定装置が用いられる。この種の誤り率測定装置では、被測定物が電気的なストレスをどの程度許容できるかを測定するため、パターン発生器から既知パターンの電気的ストレス信号をテスト信号として印可し、このテスト信号を被測定物内部又は外部でループバックし、エラー検出器で受信してテスト信号との比較により、テスト信号の印可量に対してエラーの有無を測定するジッタ耐力測定を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００７−２７４４７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、この種のビット誤り率を測定する誤り率測定装置としては、規格に基づく被測定物の各種試験を行うため、装置本体に備えた複数のスロットに対して着脱可能なモジュール構成とし、測定内容に応じて複数のモジュールの増設、取り外し、組み換えを自由に行い、様々な形態で被測定物の測定を行うことができるものが知られている。
【０００６】
上述したモジュール構成の誤り率測定装置では、それぞれのモジュールが別々の機能を有しており、モジュール毎の画面が存在する。例えば、ジッタモジュールによるジッタ設定の表示、エンファシスモジュールによるエンファシス設定の表示、誤り測定モジュールによる誤り率測定結果の表示がそれぞれ異なる画面になっている。このため、リアルタイムでビット誤り率の測定結果を確認しながらジッタやエンファシスなどのパラメータの値を変化させる操作を行うことができなかった。例えば、ジッタ耐力測定を行う場合、ジッタモジュールの設定画面を表示させてジッタ振幅を設定した後、表示画面を切り替えて誤り測定モジュールの誤り率測定結果を確認する必要があり、一つの表示画面上で設定及び測定結果の確認を行うことができなかった。
【０００７】
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、ビット誤り率の測定結果を確認しながらパラメータの設定を行うことができる誤り率測定装置および誤り率測定方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載された誤り率測定装置は、被測定物Ｗに既知のパターン信号を入力し、このパターン信号の入力に伴って前記被測定物から受信した入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定装置１において、
前記ビット誤り率の測定に必要なパラメータを設定する設定画面２１を一つの表示画面上に表示する表示部６と、
前記ビット誤り率を少なくとも含む測定結果画面３１を前記設定画面の最前面に表示する表示制御部５ａとを備えたことを特徴とする。
【０００９】
請求項２に記載された誤り率測定装置は、請求項１の誤り率測定装置において、
前記表示制御部５ａは、前記ビット誤り率に加えてエラー数と測定ビット数を前記測定結果画面３１に表示することを特徴とする。
【００１０】
請求項３に記載された誤り率測定装置は、請求項１又は２の誤り率測定装置において、
前記被測定物Ｗの測定内容に応じて装置本体１１に選択的に着脱可能に装着され、それぞれに設定画面２１Ａ，２１Ｂが存在する複数のモジュール２と、
前記装置本体に装着されたモジュールの中から前記設定画面を表示するモジュールを指定する設定入力部３とを備えたことを特徴とする。
【００１１】
請求項４に記載された誤り率測定方法は、被測定物Ｗに既知のパターン信号を入力し、このパターン信号の入力に伴って前記被測定物から受信した入力データのビット誤り率を測定する誤り率測定方法において、
表示部６の一つの表示画面上に表示される設定画面２１上で前記ビット誤り率の測定に必要なパラメータを設定するステップと、
前記ビット誤り率を少なくとも含む測定結果画面３１を前記設定画面の最前面に表示するステップとを含むことを特徴とする。
【００１２】
請求項５に記載された誤り率測定方法は、請求項４の誤り率測定方法において、
前記ビット誤り率に加えてエラー数と測定ビット数を前記測定結果画面３１に表示するステップを含むことを特徴とする。
【００１３】
請求項６に記載された誤り率測定方法は、請求項４又は５の誤り率測定方法において、
それぞれに設定画面２１Ａ，２１Ｂが存在する複数のモジュール２のうち、前記被測定物Ｗの測定に必要なモジュールを装置本体に装着するステップと、
前記装置本体に装着されたモジュールの中から前記設定画面を表示するモジュールを指定するステップとを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、複数のモジュールから選択された一つの設定画面上で測定結果を確認しながらパラメータを変化させることができ、リアルタイムでパラメータの設定内容に追従した測定結果を設定画面上で確認しながら所望の測定を短時間で簡易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明に係る誤り率測定装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】本発明に係る誤り率測定装置の外観の一例を示す斜視図である。
【図３】本発明に係る誤り率測定装置において、設定画面としてのジッタモジュール設定画面の表示例を示す図である。
【図４】ビット誤り発生時のジッタモジュール設定画面と測定結果画面の表示例を示す図である。
【図５】本発明に係る誤り率測定装置において、設定画面としてのエンファシスモジュール設定画面の表示例を示す図である。
【図６】ビット誤り発生時のエンファシスモジュール設定画面と測定結果画面の表示例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１７】
［誤り率測定装置の構成について］
図１に示すように、本実施の形態の誤り率測定装置１は、複数のモジュール２、設定入力部３、記憶部４、制御部５、表示部６を含んで概略構成され、被測定物Ｗに既知のパターン信号を入力し、このパターン信号の入力に伴って被測定物Ｗから受信した入力データのビット誤り率（以下、誤り率と略称する）をパターン信号との比較によって行う機能を有する。
【００１８】
複数のモジュール２は、図１に示すように、送信モジュール２ａと受信モジュール２ｂとを含む。複数のモジュール２は、例えば、パターン発生モジュール、誤り測定モジュール、変調信号発生モジュール、ジッタモジュール、エンファシスモジュール、多重変換モジュール、逆多重変換モジュールなどで構成され、試験内容に応じたパラメータを設定するためのモジュールごとの固有の設定画面が存在する。
【００１９】
複数のモジュール２は、図２に示す矩形状の筐体からなる装置本体１１の側面部の開口部１１ａ内に備えた不図示の複数のスロットに対して着脱可能であり、被測定物Ｗの測定内容に応じて必要な数だけ選択して装着される。すなわち、様々な形態で規格に基づく被測定物Ｗの各種測定を行うため、測定内容に応じて選択される複数のモジュール２の増設、取り外し、組み換えが可能となっている。
【００２０】
複数のモジュール２は、スロットに装着した状態において、記憶部４や制御部５を実装した制御回路基板（不図示）と電気的に接続される。また、制御回路基板には設定入力部３や表示部６なども配線接続される。
【００２１】
設定入力部３は、ユーザによって操作される例えば、キー、スイッチ、ボタン、表示部６の表示画面上のソフトキー、カーソルキー、矢印キーなどで構成され、被測定物Ｗの誤り率の測定開始や停止の指示、後述する設定画面２１を表示するモジュール２の指定、設定画面２１上のパラメータの設定や変更などを行う際に操作される。
【００２２】
記憶部４は、後述する設定画面２１で設定したパラメータ（例えば、変調周波数、振幅、エンファシス量など）、被測定物Ｗに送信されるパターン信号の発生時間や発生回数、測定結果など、被測定物Ｗの誤り率の測定や測定結果に関する各種情報を記憶する。
【００２３】
制御部５は、被測定物Ｗの誤り率の測定を行うにあたって、複数のモジュール２、設定入力部３、記憶部４、表示部６を統括制御するものであり、後述する表示部６の設定画面２１や測定結果画面３１の表示制御を行う表示制御部５ａを含んで構成される。
【００２４】
表示部６は、例えば、図２に示す装置本体１１の前面に装備された液晶表示器などで構成される。表示部６は、制御部５の表示制御部５ａの表示制御により、装置本体１１に装着された複数のモジュール２の中から設定入力部３にて指定して設定を行う設定画面２１（図３や図４のジッタモジュール設定画面２１Ａ、図５や図６のエンファシスモジュール設定画面２１Ｂ）をメイン画面として一つの表示画面上に表示する。
【００２５】
なお、表示部６は、装置本体１１とは別体のモニタ装置（表示機能を備えた端末装置を含む）とし、制御回路基板との間を電気的に接続する構成としてもよい。
【００２６】
図３は複数のモジュール２におけるジッタモジュールが有する固有の設定画面２１としてのジッタモジュール設定画面２１Ａの一例を示している。
【００２７】
ジッタモジュール設定画面２１Ａには、パラメータとしてジッタの種類を選択するジッタ種類選択項目２１ａが表示される。ジッタ種類選択項目２１ａにおいて選択可能なジッタの種類としては、例えば、図３に示すように、ＳＪ（正弦波ジッタ）、ＳＳＣ（スペクトラム拡散クロッキング）、ＲＪ（ランダムジッタ）、ＢＵＪ（バウンデット・アンコリレート・ジッタ）などがある。
【００２８】
設定入力部３の操作によりジッタ種類選択項目２１ａからジッタの種類が選択されると、その選択されたジッタの種類の設定画面が表示される。図３の例では、ジッタ種類選択項目２１ａから「ＳＪ」をジッタの種類として選択した場合の正弦波ジッタ設定画面２２がジッタモジュール設定画面２１Ａに表示された状態を示している。正弦波ジッタ設定画面２２には、パラメータとしての変調周波数やジッタ振幅の設定入力窓２２ａがそれぞれ表示される。そして、設定入力部３の操作にて所望の数値を設定入力窓２２ａに入力すれば、変調周波数やジッタ振幅を個別に設定することができる。
【００２９】
表示部６は、設定画面２１が表示された状態において、制御部５の表示制御部５ａの表示制御により、設定内容に追従したリアルタイムの測定結果を示す測定結果画面３１を、設定画面２１の一部の領域の最前面にサブ画面として表示する。図３の例では、ジッタモジュール設定画面２１Ａの左下部分の領域に測定結果画面３１が表示された状態を示している。測定結果画面３１には、誤り率、誤り数、測定ビット数が測定結果として表示される。
【００３０】
なお、サブ画面としての測定結果画面３１は、メイン画面としての設定画面２１（例えば、ジッタモジュール設定画面２１Ａ、エンファシスモジュール設定画面２１Ｂ）の一部の領域に対し、少なくとも誤り率が表示されていればよく、誤り数と測定ビット数は適宜追加表示してもよい。また、測定結果画面３１は、設定画面２１におけるパラメータ設定の邪魔にならないように、設定入力部３の操作により、拡大・縮小して大きさを調整したり、設定画面２１上の任意の領域に移動させることができる。
【００３１】
次に、上記のように構成される誤り率測定装置１においてジッタを設定してジッタ耐力測定を行う場合とエンファシスを設定して測定を行う場合を例にとって説明する。
【００３２】
［ジッタ設定によるジッタ耐力測定について］
ジッタ耐力測定を行うため、設定入力部３にてジッタモジュールを指定してジッタモジュール設定画面２１Ａを表示する。図３は設定画面２１としてのジッタモジュール設定画面２１Ａの表示例を示している。図３の例では、ジッタモジュール設定画面２１Ａにおいて、ジッタの種類として「ＳＪ」が設定入力部３にて選択され、正弦波ジッタ設定画面２２がジッタモジュール設定画面２１Ａ上に表示されている。
【００３３】
そして、正弦波ジッタ設定画面２２において、パラメータとしての変調周波数やジッタ振幅の設定入力窓２２ａに対し、操作入力部３の操作にて所望の数値を入力してパラメータを設定する。図３の例では、設定入力窓２２ａに対し、変調周波数：１００００００Ｈｚ、ジッタ振幅：０．２００ＵＩｐ−ｐが入力されている。
【００３４】
また、ジッタモジュール設定画面２１Ａの一部の領域（図３の例では、ジッタモジュール設定画面２１Ａの左下部分の領域）の最前面には、正弦波ジッタ設定画面２２で設定された正弦波ジッタを付与したパターン信号を被測定物Ｗに入力したときの測定結果画面３１が表示される。
【００３５】
測定結果画面３１には、設定内容に追従した測定結果として、誤り率、誤り数、測定ビット数が表示される。図３の例では、誤り率：０．００００Ｅ−１１、誤り数：０、測定ビット数：１．５３７４Ｅ−１１が測定結果画面３１に表示される。
【００３６】
そして、ジッタ耐力測定において、設定入力窓２２ａに入力設定されたパラメータとしての変調周波数やジッタ振幅を変える場合には、図３の正弦波設定画面２２において、測定結果画面３１を見ながら設定入力窓２２ａの数値（例えば、ジッタ振幅の数値）を増減して所望の数値に変える。
【００３７】
図４はビット誤りが発生したときの表示例を示している。図４の例では、パラメータとしての振幅の値を３．７００ＵＩｐ−ｐに設定したときにビット誤りが発生し、誤り率：１．７４１９Ｅ−１１、誤り数：２、測定ビット数：１．１４８２Ｅ１１の測定結果画面３１がジッタモジュール設定画面２１Ａの一部の領域（図４の例では、ジッタモジュール設定画面２１Ａの左下部分の領域）の最前面に表示される。
【００３８】
［エンファシス設定による測定について］
エンファシス設定による測定を行うため、設定入力部３にてエンファシスモジュールを指定してエンファシスモジュール設定画面２１Ｂを表示する。図５は設定画面２１としてのエンファシスモジュール設定画面２１Ｂの表示例を示している。エンファシスモジュール設定画面２１Ｂには、パラメータとしてエンファシス波形イメージにおける振幅、カーソル１、カーソル２の設定入力窓２２ｂがそれぞれ表示される。そして、エンファシスモジュール設定画面２１Ｂにおいて、エンファシス波形イメージにおける振幅、カーソル１、カーソル２の設定入力窓２２ｂに対し、操作入力部３の操作にて所望の数値を入力してパラメータを設定する。図５の例では、設定入力窓２２ｂに対し、振幅：０．２８８Ｖｐ−ｐ、カーソル１：−５．３ｄＢ、カーソル２：２．５ｄＢが数値入力されている。
【００３９】
また、エンファシスモジュール設定画面２１Ｂの一部の領域（図４の例では、エンファシスモジュール設定画面２１Ｂの左下部分の領域）の最前面には、エンファイスモジュール設定画面２１Ｂで設定されたエンファシス波形を付加したパターン信号を被測定物Ｗに入力したときの測定結果画面３１が表示される。
【００４０】
測定結果画面３１には、設定内容に追従した測定結果として、誤り率、誤り数、測定ビット数が表示される。図５の例では、誤り率：０．００００Ｅ−１１、誤り数：０、測定ビット数：１．１４８２Ｅ１１が測定結果画面３１に表示される。
【００４１】
そして、エンファシス設定による測定において、設定入力窓２２ｂに設定入力されたパラメータとしての振幅、カーソル１、カーソル２を変える場合には、図５のエンファシスモジュール設定画面２１Ｂにおいて、測定結果画面３１を見ながら設定入力窓２２ｂの数値（例えば、振幅の数値）を増減して所望の数値に変える。
【００４２】
図６はビット誤りが発生したときの表示例を示している。パラメータとしての振幅の値を０．１００Ｖｐ−ｐに設定したときにビット誤りが発生し、誤り率：３．８５７４Ｅ−１１、誤り数：５、測定ビット数：１．２９６２Ｅ１１の測定結果画面がエンファシスモジュール設定画面２１Ｂの一部の領域（図６の例では、エンファシスモジュール設定画面２１Ｂの左下部分の領域）の最前面に表示される。
【００４３】
このように、本実施の形態の誤り率測定装置１は、表示部６の一つの表示画面に対し、誤り率、誤り数、測定ビット数のうち少なくとも誤り率を含む測定結果画面３１を、常にモジュール２の設定画面２１（例えば、ジッタモジュール設定画面２１Ａ、エンファシスモジュール設定画面２１Ｂ）の最前面に表示する。これにより、設定画面２１上で測定結果画面３１により測定結果を確認しながらパラメータ（例えば、正弦波ジッタのジッタ振幅、エンファシス波形の振幅など）の値を変化させる操作を行うことができる。すなわち、リアルタイムでパラメータの設定内容に追従した測定結果を設定画面上で確認しながらパラメータの設定や変更が行え、所望の測定を短時間で簡易に行うことができる。
【００４４】
以上、本発明に係る誤り率測定装置および誤り率測定方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述及び図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例及び運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。
【符号の説明】
【００４５】
１  誤り率測定装置
２  モジュール
２ａ  送信モジュール
２ｂ  受信モジュール
３  設定入力部
４  記憶部
５  制御部
５ａ  表示制御部
６  表示部
１１  装置本体
１１ａ  開口部
２１  設定画面
２１Ａ  ジッタモジュール設定画面
２１Ｂ  エンファシス設定画面
２１ａ  ジッタ種類選択項目
２２  正弦波設定画面
２２ａ，２２ｂ  設定入力窓
３１  測定結果画面
Ｗ  被測定物
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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