(57)【要約】【課題】欠陥が多く生じる前に印刷装置を迅速かつ的確に調整することが可能な印刷面の欠陥分析方法、印刷装置の調整方法、及びこれらのシステムを提供せんとする。【解決手段】印刷面１０を撮像する第１の撮像手段１１と、同じく印刷面１０を撮像する第２の撮像手段１２であって、前記第１の撮像手段１１よりも前記印刷装置１に近い上流側の位置に設けられ、前記第１の撮像手段１１よりも高い分解能でより詳細に撮像する第２の撮像手段１２とを備え、第１の撮像手段１１で得られる印刷面の画像情報から欠陥とその位置を特定すると、後に印刷された印刷面における前記欠陥の位置に対応する領域９を第２の撮像手段１２でより詳細に撮像し、欠陥の分析を行い、印刷装置を調整する。【選択図】図１
2018080955.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
印刷装置により印刷されたワークの印刷面を撮像する第１の撮像手段と、
同じく前記印刷装置により印刷されたワークの印刷面を撮像する第２の撮像手段であって、前記第１の撮像手段よりも前記印刷装置に近い上流側の位置に設けられ、前記第１の撮像手段よりも高い分解能でより詳細に撮像する第２の撮像手段とを設け、
コンピュータが、
前記第１の撮像手段で得られる印刷面の画像情報と基準となる画像情報とを比較し、欠陥及びその位置を特定する手順と、
前記欠陥の位置情報に基づき、前記第２の撮像手段を動作させ、前記印刷面よりも後に印刷されたワークの印刷面における前記欠陥の位置に対応する領域を詳細に撮像させる手順と、
前記第２の撮像手段が撮像した前記領域の詳細な画像情報を欠陥分析用の情報として記憶する手順とを備える印刷面の欠陥分析方法。
【請求項２】
前記第２の撮像手段が、前記第１の撮像手段よりも狭い撮像領域を撮像する撮像手段であり、
前記第２の撮像手段を前記ワークの流れ方向に交差する方向に沿って移動させる移動手段を設け、
前記コンピュータが、
前記第２の撮像手段を動作させる前に、前記欠陥の位置情報に基づき、前記第２の撮像手段を前記位置情報に対応するワーク幅方向の座標位置に移動させる手順を備える、請求項１記載の印刷面の欠陥分析方法。
【請求項３】
前記印刷装置の下流側に印刷面をワークに定着させるための乾燥装置が設けられ、
前記第１の撮像手段を、前記乾燥装置よりも下流側の位置に設け、
前記第２の撮像手段を、前記乾燥装置と前記印刷装置との間の位置に設けてなる請求項１又は２記載の印刷面の欠陥分析方法。
【請求項４】
前記コンピュータが、請求項１〜３の何れか１項に記載の欠陥分析方法により記憶した印刷面の欠陥分析用の情報に基づき前記欠陥を分析する手順と、この分析結果に基づき前記印刷装置に設けられた所定の調整機構を制御する手順を備える印刷装置の調整方法。
【請求項５】
前記コンピュータが、前記第２の撮像手段をさらに動作させ、前記調整機構を制御した後に印刷されたワークの印刷面における前記欠陥の位置に対応する領域を再度詳細に撮像させ、当該撮像された詳細な画像情報を分析し、この分析結果に基づき前記所定の調整機構をフィードバック制御する請求項４記載の印刷装置の調整方法。
【請求項６】
前記コンピュータが、前記調整機構を制御した後に印刷されたワークの印刷面の前記第１の撮像手段で得られる画像情報を分析し、この分析結果に基づき、前記所定の調整機構をフィードバック制御する請求項４又は５記載の印刷装置の調整方法。
【請求項７】
前記調整機構が、見当ずれ調整機構、版圧調整機構、及びインク調整機構のうち少なくとも１つである請求項４〜６の何れか１項に記載の印刷装置の調整方法。
【請求項８】
印刷装置により印刷されたワークの印刷面を撮像する第１の撮像手段と、
同じく前記印刷装置により印刷されたワークの印刷面を撮像する第２の撮像手段であって、前記第１の撮像手段よりも前記印刷装置に近い上流側の位置に設けられ、前記第１の撮像手段よりも高い分解能でより詳細に撮像する第２の撮像手段と、
前記第１の撮像手段で得られる印刷面の画像情報と基準となる画像情報とを比較することにより欠陥及びその位置を特定する欠陥特定処理部、前記欠陥の位置情報に基づき前記第２の撮像手段を動作させて前記印刷面より後に印刷されたワークの印刷面における前記欠陥の位置に対応する領域を詳細に撮像させる撮像処理部、及び前記第２の撮像手段が撮像した前記領域の詳細な画像情報を欠陥分析用の情報として記憶する記憶処理部を有するコンピュータとを備えることを特徴とする印刷面の欠陥分析システム。
【請求項９】
前記第２の撮像手段が、前記第１の撮像手段よりも狭い撮像領域を撮像する撮像手段であり、
前記第２の撮像手段を前記ワークの流れ方向に交差する方向に沿って移動させる移動手段を備え、
前記コンピュータが、前記欠陥の位置情報に基づき前記移動手段を動作させ、前記第２の撮像手段を前記位置情報に対応するワーク幅方向の座標位置に移動させる移動処理部を有する請求項８記載の印刷面の欠陥分析システム。
【請求項１０】
前記印刷装置の下流側に印刷面をワークに定着させるための乾燥装置が設けられており、
前記第１の撮像手段が、前記乾燥装置よりも下流側の位置に設けられ、
前記第２の撮像手段が、前記乾燥装置と前記印刷装置との間の位置に設けられている請求項８又は９記載の印刷面の欠陥分析システム。
【請求項１１】
請求項８〜１０の何れか１項に記載の印刷面の欠陥分析システムを有し、前記コンピュータが、前記記憶した印刷面の欠陥分析用の情報に基づき前記欠陥を分析する欠陥分析処理部と、この分析結果に基づき印刷装置に設けられた所定の調整機構を制御する調整処理部とを有する印刷装置の調整システム。
【請求項１２】
前記コンピュータが、前記第２の撮像手段をさらに動作させ、前記調整機構を制御した後に印刷されたワークの印刷面における前記欠陥の位置に対応する領域を再度詳細に撮像させる再撮像処理部と、該再撮像処理部で撮像された詳細な画像情報を分析する再分析処理部とを備え、前記調整処理部が、この再分析の結果に基づき、前記所定の調整機構をフィードバック制御する請求項１１記載の印刷装置の調整システム。
【請求項１３】
前記コンピュータが、前記調整機構を制御した後に印刷されたワークの印刷面の前記第１の撮像手段で得られる画像情報を分析する第２の分析処理部を備え、前記調整処理部が、この分析の結果に基づき、前記所定の調整機構をフィードバック制御する請求項１１又は１２記載の印刷装置の調整システム。
【請求項１４】
前記調整機構が、見当ずれ調整機構、版圧調整機構、及びインク調整機構のうち少なくとも１つである請求項１１〜１３の何れか１項に記載の印刷装置の調整システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、印刷装置により印刷されたワークの印刷面の欠陥を分析する方法、システム、及び、これを用いて印刷装置を調整する方法、システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、印刷されたワークを検査装置で欠陥およびその位置を検出し、その位置にマークを付すか、その位置の情報を記憶しておき、当該ロットの印刷が終了して巻き取られたワークを他のロールに巻き替える過程で前記欠陥を検品し、不良と判断される欠陥であれば、その部分を切り貼りして切除することが行われる（例えば、特許文献１等。）。そして、この検品の際、作業者がルーペ等を用いて欠陥を目で見て分析し、分析の結果と作業者の経験に基づき、必要に応じて印刷装置のインキ濃度や印圧等の調整が行われている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１４−７１０６７号公報
【０００４】
しかしながら、従来のように検品の際に欠陥を分析して印刷装置を調整するものでは、欠陥の発生から印刷装置の調整までの間に当該ロットその他のワークに同様の印刷欠陥が多く発生し、検品作業の増大、多くの不良処理が避けられず、生産効率を上げられない一因となっていた。
【０００５】
また、検査装置は印刷面の品質の良否を判断するためのものであるため、インクが完全に定着し、印刷面が製品として完成した段階で行われる。さらに、この欠陥の検品（及び分析）は、一旦ワークが巻き取られた後、巻き替える際に行われるため、分析の際、例えばインクが滲んでいる場合、その原因がインクの粘性にあるのか、印圧にあるのか、乾燥工程にあるのか、或いは巻き替え工程で酷くなったものなのか、正確に判断することができない。したがって、このような分析に基づく印刷装置の調整についても、作業者の過去の経験によるところが大きく、印刷装置を迅速かつ的確に調整することは困難であった。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
そこで、本発明が前述の状況に鑑み、解決しようとするところは、欠陥が多く生じる前に印刷装置を迅速かつ的確に調整することが可能な印刷面の欠陥分析方法、印刷装置の調整方法、及びこれらのシステムを提供する点にある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明者は、かかる現況に鑑み、鋭意検討した結果、ゴミや埃による欠陥とは異なり、印刷装置の各種調整不良に基づく欠陥は、一旦生じるとその後も同じ位置に連続して生じる傾向にあるという経験に着目し、検査装置で検出された欠陥自体を分析するのではなく、その後に印刷される印刷面の同じ位置を、検査装置よりも上流側の印刷装置により近い位置で、撮像・分析することで、欠陥の原因をより的確に、しかも印刷中に把握することも可能になることを見出し、本発明を完成するに至った。
【０００８】
すなわち本発明は、以下の発明を包含する。
（１）  印刷装置により印刷されたワークの印刷面を撮像する第１の撮像手段と、同じく前記印刷装置により印刷されたワークの印刷面を撮像する第２の撮像手段であって、前記第１の撮像手段よりも前記印刷装置に近い上流側の位置に設けられ、前記第１の撮像手段よりも高い分解能でより詳細に撮像する第２の撮像手段とを設け、コンピュータが、前記第１の撮像手段で得られる印刷面の画像情報と基準となる画像情報とを比較し、欠陥及びその位置を特定する手順と、前記欠陥の位置情報に基づき、前記第２の撮像手段を動作させ、前記印刷面よりも後に印刷されたワークの印刷面における前記欠陥の位置に対応する領域を詳細に撮像させる手順と、前記第２の撮像手段が撮像した前記領域の詳細な画像情報を欠陥分析用の情報として記憶する手順とを備える印刷面の欠陥分析方法。
【０００９】
（２）  前記第２の撮像手段が、前記第１の撮像手段よりも狭い撮像領域を撮像する撮像手段であり、前記第２の撮像手段を前記ワークの流れ方向に交差する方向に沿って移動させる移動手段を設け、前記コンピュータが、前記第２の撮像手段を動作させる前に、前記欠陥の位置情報に基づき、前記第２の撮像手段を前記位置情報に対応するワーク幅方向の座標位置に移動させる手順を備える、（１）記載の印刷面の欠陥分析方法。
【００１０】
（３）  前記印刷装置の下流側に印刷面をワークに定着させるための乾燥装置が設けられ、前記第１の撮像手段を、前記乾燥装置よりも下流側の位置に設け、前記第２の撮像手段を、前記乾燥装置と前記印刷装置との間の位置に設けてなる（１）又は（２）記載の印刷面の欠陥分析方法。
【００１１】
（４）  前記コンピュータが、（１）〜（３）の何れかに記載の欠陥分析方法により記憶した印刷面の欠陥分析用の情報に基づき前記欠陥を分析する手順と、この分析結果に基づき前記印刷装置に設けられた所定の調整機構を制御する手順を備える印刷装置の調整方法。
【００１２】
（５）  前記コンピュータが、前記第２の撮像手段をさらに動作させ、前記調整機構を制御した後に印刷されたワークの印刷面における前記欠陥の位置に対応する領域を再度詳細に撮像させ、当該撮像された詳細な画像情報を分析し、この分析結果に基づき前記所定の調整機構をフィードバック制御する（４）記載の印刷装置の調整方法。
【００１３】
（６）  前記コンピュータが、前記調整機構を制御した後に印刷されたワークの印刷面の前記第１の撮像手段で得られる画像情報を分析し、この分析結果に基づき、前記所定の調整機構をフィードバック制御する（４）又は（５）記載の印刷装置の調整方法。
【００１４】
（７）  前記調整機構が、見当ずれ調整機構、版圧調整機構、及びインク調整機構のうち少なくとも１つである（４）〜（６）の何れかに記載の印刷装置の調整方法。
【００１５】
（８）  印刷装置により印刷されたワークの印刷面を撮像する第１の撮像手段と、同じく前記印刷装置により印刷されたワークの印刷面を撮像する第２の撮像手段であって、前記第１の撮像手段よりも前記印刷装置に近い上流側の位置に設けられ、前記第１の撮像手段よりも高い分解能でより詳細に撮像する第２の撮像手段と、前記第１の撮像手段で得られる印刷面の画像情報と基準となる画像情報とを比較することにより欠陥及びその位置を特定する欠陥特定処理部、前記欠陥の位置情報に基づき前記第２の撮像手段を動作させて前記印刷面より後に印刷されたワークの印刷面における前記欠陥の位置に対応する領域を詳細に撮像させる撮像処理部、及び前記第２の撮像手段が撮像した前記領域の詳細な画像情報を欠陥分析用の情報として記憶する記憶処理部を有するコンピュータとを備えることを特徴とする印刷面の欠陥分析システム。
【００１６】
（９）  前記第２の撮像手段が、前記第１の撮像手段よりも狭い撮像領域を撮像する撮像手段であり、前記第２の撮像手段を前記ワークの流れ方向に交差する方向に沿って移動させる移動手段を備え、前記コンピュータが、前記欠陥の位置情報に基づき前記移動手段を動作させ、前記第２の撮像手段を前記位置情報に対応するワーク幅方向の座標位置に移動させる移動処理部を有する（８）記載の印刷面の欠陥分析システム。
【００１７】
（１０）  前記印刷装置の下流側に印刷面をワークに定着させるための乾燥装置が設けられており、前記第１の撮像手段が、前記乾燥装置よりも下流側の位置に設けられ、前記第２の撮像手段が、前記乾燥装置と前記印刷装置との間の位置に設けられている（８）又は（９）記載の印刷面の欠陥分析システム。
【００１８】
（１１）  （８）〜（１０）の何れかに記載の印刷面の欠陥分析システムを有し、前記コンピュータが、前記記憶した印刷面の欠陥分析用の情報に基づき前記欠陥を分析する欠陥分析処理部と、この分析結果に基づき印刷装置に設けられた所定の調整機構を制御する調整処理部とを有する印刷装置の調整システム。
【００１９】
（１２）  前記コンピュータが、前記第２の撮像手段をさらに動作させ、前記調整機構を制御した後に印刷されたワークの印刷面における前記欠陥の位置に対応する領域を再度詳細に撮像させる再撮像処理部と、該再撮像処理部で撮像された詳細な画像情報を分析する再分析処理部とを備え、前記調整処理部が、この再分析の結果に基づき、前記所定の調整機構をフィードバック制御する（１１）記載の印刷装置の調整システム。
【００２０】
（１３）  前記コンピュータが、前記調整機構を制御した後に印刷されたワークの印刷面の前記第１の撮像手段で得られる画像情報を分析する第２の分析処理部を備え、前記調整処理部が、この分析の結果に基づき、前記所定の調整機構をフィードバック制御する（１１）又は（１２）記載の印刷装置の調整システム。
【００２１】
（１４）  前記調整機構が、見当ずれ調整機構、版圧調整機構、及びインク調整機構のうち少なくとも１つである（１１）〜（１３）の何れかに記載の印刷装置の調整システム。
【発明の効果】
【００２２】
以上にしてなる本願発明によれば、従来からの検査装置と同じように第１の撮像手段を用いて欠陥及びその位置を特定した後、その欠陥自体ではなく、その後に印刷される印刷面の前記欠陥の位置に対応する領域を、第２の撮像手段でより詳細に撮像し、当該位置を分析するので、印刷中に分析することも可能となり、同じ印刷欠陥が多く発生して不良に至る前に印刷装置を調整する等してそのような状態を回避し、生産効率を著しく向上させることが可能となる。
【００２３】
また、前記分析は、従来のように製品として完成した印刷面を検査して抽出された欠陥自体について行うものではなく、検査装置よりも上流側の印刷装置により近い位置において、欠陥の位置に対応する領域の詳細画像を取得し、これを分析するものであるため、インクの乾燥や巻き替えによる影響が生じる前の状態で分析することができ、欠陥の原因をより的確に判断することが可能となる。したがって、このような分析に基づく印刷装置の調整についてもより的確に調整することが可能となる。このような第２の撮像手段は、検査・分析を行う前の見当、接圧の分析、調整にも用いることができ、これにより印刷刷り出し時間を短縮することも可能となる。
【００２４】
また、前記第２の撮像手段が、前記第１の撮像手段よりも狭い撮像領域を撮像する撮像手段であり、前記第２の撮像手段を前記ワークの流れ方向に交差する方向に沿って移動させる移動手段を設け、前記コンピュータが、前記第２の撮像手段を動作させる前に、前記欠陥の位置情報に基づき、前記第２の撮像手段を前記位置情報に対応するワーク幅方向の座標位置に移動させる手順を備えることにより、本来欠陥に対応する領域のみ撮像すればよい第２の撮像手段を、必要最小限の撮像領域のものとし、高い分解能を持つ高価な第２の撮像手段を効率よく用いることでコスト低減を図ることができる。
【００２５】
また、前記印刷装置の下流側に印刷面をワークに定着させるための乾燥装置が設けられ、前記第１の撮像手段を、前記乾燥装置よりも下流側の位置に設け、前記第２の撮像手段を、前記乾燥装置と前記印刷装置との間の位置に設けたことにより、乾燥による影響が出る前の状態の欠陥対応位置を分析し、より的確な分析並びに印刷装置の調整が可能となる。
【００２６】
また、コンピュータが分析結果に基づき印刷装置に設けられた所定の調整機構を制御する場合において、第２の撮像手段をさらに動作させ、調整機構を制御した後に印刷されたワークの印刷面における前記欠陥の位置に対応する領域を再度詳細に撮像させ、当該撮像された詳細な画像情報を分析し、この分析結果に基づき前記所定の調整機構をフィードバック制御することにより、より的確な調整が可能となり、印刷品質を迅速に高めることができる。
【００２７】
また、同じくコンピュータが調整機構を制御する場合において、調整機構を制御した後に印刷されたワークの印刷面の第１の撮像手段で得られる画像情報を分析し、この分析結果に基づき、前記所定の調整機構をフィードバック制御することにより、より品質のよい印刷面を有する製品が迅速に得られる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の代表的実施形態に係る欠陥分析システム及びこれを備える印刷装置の調整システムの構成を示す説明図。
【図２】同じく欠陥分析システム及び印刷装置の調整システムが有するコンピュータの構成を示す説明図。
【図３】同じく欠陥分析システム及び印刷装置の調整システムが有する第１の撮像手段を示す説明図。
【図４】（ａ）、（ｂ）は同じく欠陥分析システム及び印刷装置の調整システムが有する第２の撮像手段及び移動手段を示す説明図。
【図５】同じく欠陥分析システムの処理手順を示すフロー図。
【図６】同じく調整システムの処理手順を示すフロー図。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
次に、本発明の実施形態を添付図面に基づき詳細に説明する。
【００３０】
まず、本発明に係る印刷面の欠陥分析システムＳ１を説明し、次に、該欠陥分析システムＳ１を備える印刷装置の調整システムＳ２について説明する。
【００３１】
本発明に係る印刷面の欠陥分析システムＳ１は、図１に示すように、印刷装置１（１Ａ〜１Ｄ）により印刷されたワークＷの印刷面１０を撮像する第１の撮像手段１１と、同じく前記印刷装置１により印刷されたワークＷの印刷面１０を撮像する第２の撮像手段１２であって、前記第１の撮像手段１１よりも前記印刷装置１に近い上流側の位置に設けられ、前記第１の撮像手段１１よりも高い分解能でより詳細に撮像する第２の撮像手段１２と、コンピュータ５とを備えている。
【００３２】
本発明の印刷面の欠陥分析システムＳ１は、下流側の第１の撮像手段１１で得られる印刷面の画像情報から欠陥とその位置を特定すると、欠陥が特定された印刷面よりも後に印刷された印刷面における前記欠陥の位置に対応する領域９を第２の撮像手段１２でより詳細に撮像し、欠陥の分析を行うシステムである。これにより、印刷中に欠陥の分析することが可能であり、しかもインクの乾燥や巻き替えによる影響が生じる前の状態で分析することができ、欠陥の原因をより的確に判断することができるものである。ワークＷは、帯状の連続したシートに同種の印刷を印刷していく方式を例示しているが、連続したシートではなく裁断された状態のシートにそれぞれ印刷していく方式でも同様に本発明を適用できる。また、紙以外に合成樹脂フィルムやアルミニウム箔など種々のシートが対象に入る。
【００３３】
このように本発明は「欠陥の分析」とはいいつつも検査（第１の撮像手段１１）で検出された欠陥自体を分析するのではなく、その後に印刷される同じ位置の領域を分析するものであり、このような領域９を分析することで、検査位置よりも印刷装置に近い位置で他の影響を受けない純粋に印刷装置の調整不良から生じる欠陥の分析を可能としたものである。したがって、第１の撮像手段１１で欠陥が検出された段階で滞りなくその位置に対応する領域９を第２の撮像手段１２で分析し、これに基づき印刷装置を調整することにより、迅速に欠陥の発生を無くすことができ、欠陥の程度が次第にひどくなって不良になる前に未然に対処することができるため、生産効率並びに品質を著しく向上させることができる。
【００３４】
第１の撮像手段１１は、従来の検査装置に用いられる撮像手段と同様、例えば図３に示すようにワーク幅方向に複数の撮像カメラ２を設け、ワーク全幅にわたる領域を撮像するものである。ＣＣＤやＣＭＯＳ撮像素子を搬送方向に直交する横方向に複数並設したラインセンサカメラとしてもよい。カメラの数や配置はワークＷを撮像できるものであれば特に限定されず、またラインセンサカメラ以外にＣＣＤやＣＭＯＳ撮像素子を縦横方向に複数並設したエリアセンサカメラを単又は複数設けたものでもよい。尚、撮像のためにワークを横方向全幅に亘ってほぼ均一な照度で照明する図示しない照明手段も設けられており、複数個のランプを横方向に列設したものや、横方向に長い直管状のランプを設けたものも好ましい。
【００３５】
他方、第２の撮像手段１２は、上記のとおり欠陥の位置に対応するピンポイントの領域９の撮像が目的であることから、図４（ａ），（ｂ）に示すように、例えば第１の撮像手段１１よりも狭い撮像領域を撮像する単一の撮像カメラ３とされ、さらにこの撮像カメラ３をワークＷの流れ方向に交差する方向に沿って移動させる移動手段４として、撮像カメラ３を支持して上記交差する方向、本例ではワーク幅方向に移動させるトラバース機構４０（４）が設けられている。
【００３６】
撮像カメラ３には、例えば分解能０．１ｍｍ／画素−０．０１６ｍｍ／画素、場合によっては１２．５μｍ／画素−２μｍ／画素の光学ズーム搭載２００万画素フルハイビジョンカメラが用いられ、第１の撮像手段１１と同様、照明手段も設けられている。このように、本例では高い分解能を備えた比較的高価な単一の撮像カメラ３を流れ方向に交差する方向に移動させる移動手段４を設けることで、欠陥位置に対応する領域９を効率よく詳細に撮像できるように構成されている。
【００３７】
勿論、第１の撮像手段１１と同様、ワーク幅方向に複数の撮像カメラ３を設けてワーク全幅にわたる領域を詳細に撮像できるように構成してもよい。この場合、分析に用いる撮像画像は、あくまでも前記欠陥の位置に対応する領域である。
【００３８】
印刷装置１は、センタードラム式のフレキソ印刷機とした例を示しているが、フレキソ印刷以外に、グラビア印刷、高速オフセット輪転印刷、デジタル印刷など、種々の印刷方式に適用できる。本例では、印刷装置１は、４種の色のインクを印刷する４つの印刷装置１Ａ〜１Ｄより構成されており、印刷装置１の下流側に印刷面１０をワークＷに定着させるための乾燥装置６が設けられている。第１の撮像手段１１は、乾燥装置６よりも下流側の位置に設けられ、第２の撮像手段１２は、乾燥装置６よりも上流側の位置である乾燥装置６と印刷装置１との間の位置に設けられている。
【００３９】
第２の撮像手段を、印刷装置１Ａ〜１Ｄごとにその下流位置、すなわち印刷装置１Ａと１Ｂの間、１Ｂと１Ｃの間、１Ｃと１Ｄの間、１Ｄの下流側にそれぞれ設けることも好ましい例である。これによれば、欠陥の位置に対応する領域として、それぞれ各色ごとに撮像・分析することができ、より正確な分析、調整が可能となる。この場合、４つの第２の撮像手段はすべて同じ対応位置を撮像することになる。また、一色づつ乾燥しながら印刷するものでは、同じく各色の印刷装置の下流側であって且つ乾燥装置の上流位置にそれぞれ第２の撮像手段を設けることで、乾燥に影響されない正確な分析が可能となる。
【００４０】
コンピュータ５は、処理装置７と記憶手段８を備えている。処理装置７は、マイクロプロセッサなどのＣＰＵを主体に構成され、入出力部、バスラインを通じて第１の撮像手段１１、第２の撮像手段１２、移動手段４、及び印刷装置１Ａ〜１Ｂの各調整機構との間でそれぞれ各種情報を送受信する。記憶手段８は、処理装置７内外のＲＡＭ、ＲＯＭなどの記憶メモリやハードディスク等より構成され、処理装置７における各種処理動作の手順を規定するプログラムや処理データが記憶される。
【００４１】
記憶手段８は、図２に示すように、欠陥を検出する際に基準となる画像データを記憶するマスター画像記憶部８ａと、第１の撮像手段１１で撮像された印刷面の画像データを記憶する撮像画像記憶部８ｂと、検出された欠陥の画像データを記憶する欠陥画像記憶部８ｃと、その欠陥の位置情報を記憶する欠陥位置情報記憶部８ｄと、第２の撮像手段１２で撮像された領域９の詳細画像データを記憶する詳細画像情報記憶部８ｅとを少なくとも備えている。
【００４２】
処理装置７は、機能的に、図２に示すように、第１の撮像手段１１で得られる印刷面１０の画像情報と基準となる画像情報とを比較することにより欠陥及びその位置を特定する欠陥特定処理部７ａと、前記欠陥の位置情報に基づき移動手段４を動作させ、第２の撮像手段１２を前記位置情報に対応するワーク幅方向の座標位置に移動させる移動処理部７ｂと、前記欠陥の位置情報に基づき前記第２の撮像手段１２を動作させて前記印刷面より後に印刷されたワークの印刷面における前記欠陥の位置に対応する領域９をより詳細に撮像させる撮像処理部７ｃと、第２の撮像手段１２が撮像した前記領域９の詳細な画像情報を欠陥分析用の情報として記憶する記憶処理部７ｄとを少なくとも備えており、これら機能は上記プログラムにより実現される。
【００４３】
欠陥特定処理部７ａは、第１の撮像手段１１で撮像された画像と合格基準となるマスター画像とを比較し、欠陥部を検出する欠陥検出処理部７０と、検出された欠陥部のワークＷ上の位置を特定する位置特定処理部７１とより構成されている。
【００４４】
欠陥検出処理部７０は、第１の撮像手段１１によって撮像された画像とマスター画像記憶部８ａのマスター画像とを比較し、濃度レベルの比較値の差が予め設定された許容範囲を超えた場合に、当該許容範囲を超えた箇所を欠陥部として検出する。マスター画像記憶部８ａに記憶されるマスター画像は、撮像画像と同様、２５６階調以上の濃度レベルを有する多階調エリア画像であり、比較手段により被検査画像の多階調エリア画像とマスター画像の多階調エリア画像とを比較し、各部の濃度レベル差が求められる。そして、検出した欠陥の画像を欠陥画像記憶部８ｃに記憶させる。
【００４５】
位置特定処理部７１は、シート長手方向に一定間隔おきに設けられたマークや絵柄の一部を数え、そこを基準とした欠陥部の長手方向、幅方向の位置（座標）の特定を行なうことができる。その他、長手方向の位置を巻取りシートが一定距離走行する毎にパルス発生器から出されるパルス信号の計数で行なうこともできる。特定した欠陥の位置情報は、欠陥位置情報記憶部８ｄに記憶させる。
【００４６】
移動処理部７ｂは、欠陥位置情報記憶部８ｄの位置情報に基づいて移動手段４を動作させる。また、撮像処理部７ｃは、同じく欠陥位置情報記憶部８ｄの位置情報に基づいて第２の撮像手段１２を欠陥位置に対応する領域９を撮像するように動作させる。そして、第２の撮像手段１２で撮像された詳細な画像情報は、記憶処理部７ｄにより、欠陥分析用の情報として詳細画像情報記憶部８ｅに記憶される。
【００４７】
実際の分析は、前記詳細画像情報記憶部８ｅに記憶された詳細な画像情報を図示しないディスプレイ上に表示する表示処理部を処理装置７に設けることや、後述する調整システムのように処理装置に自動分析する分析処理部を設けることが好ましい。
【００４８】
以上の欠陥分析システムＳ１の処理手順を、図５に基づいて説明する。
【００４９】
欠陥特定処理部７ａの欠陥検出処理部７０は、第１の撮像手段１１で得られる印刷面の画像情報を撮像画像記憶部８ｂに順次記憶するとともに（Ｓ１０１）、マスター画像記憶部８ａの基準となる画像情報とを比較する（Ｓ１０２）。比較の結果、欠陥を検出すると（Ｓ１０３）、位置特定処理部７１がその欠陥の位置情報を取得し（Ｓ１０４）、欠陥の画像及び位置情報がそれぞれ撮像画像記憶部８ｂ及び欠陥画像記憶部８ｃに記憶される（Ｓ１０５）。
【００５０】
そして、この欠陥の位置情報に基づき、移動処理部７ｂが移動手段４を動作させ、第２の撮像手段１２を前記欠陥の位置情報に対応するワーク幅方向の座標位置に移動させる（Ｓ１０６）。次に、撮像処理部７ｃは、前記欠陥の位置情報に基づき、第２の撮像手段１２を動作させ、前記欠陥の位置に対応する領域９をタイミングを合わせて詳細に撮像させる（Ｓ１０７）。
【００５１】
次に、詳細画像記憶処理部７ｄが、第２の撮像手段１２で撮像された前記領域９の詳細な画像情報を詳細画像情報記憶部８ｅに記憶させる（Ｓ１０８）。この記憶された詳細画像情報は、その後、欠陥分析用の情報として利用される。利用形態は、上述のとおり、当該画像を表示させて作業者が判断してもよいし、コンピュータの処理装置に自動的に分析する処理部を設けることも好ましい。いずれにしても、詳細な画像にもとづきドット単位の分析が可能であり、印刷直後のインクの載りの状態から、その濃度、粘度等の良否を判断することも可能となる。
【００５２】
次に、該欠陥分析システムＳ１を備える印刷装置の調整システムＳ２について説明する。
【００５３】
調整システムＳ２は、図１及び図２に示すように、前記コンピュータ５の処理装置７が、さらに機能的に、前記記憶した印刷面の欠陥分析用の情報に基づき、前記欠陥を分析（正確には、欠陥の後に印刷された印刷面の対応領域を分析）する欠陥分析処理部７ｅと、この分析結果に基づき、印刷装置１（１Ａ〜１Ｄ）に設けられた所定の調整機構（１３Ａ〜１３Ｄ）を制御する調整処理部７ｆとを有し、また記憶手段８が、さらに分析結果記憶部８ｆと、調整データ記憶部８ｇを備え、コンピュータ５が分析を行い、印刷装置１（調整機構）を自動的に制御するものである。これにより、印刷装置１を止めることなく印刷中に分析・調整を行い、当該ロット中の欠陥の発生を少なくすることが可能とされている。
【００５４】
コンピュータ５は、調整処理部７ｆにより印刷装置の所定の調整機構（１３Ａ〜１３Ｄ）を調整した後、さらに第２の撮像手段１２を動作させ、前記調整の後に印刷されるワークの印刷面における前記欠陥の位置に対応する領域９を、再度詳細撮像させる再撮像処理部７ｇと、該再撮像処理部で撮像された詳細な画像情報をさらに分析する再分析処理部７ｈとを備えており、調整処理部７ｆは、この再分析の結果に基づき、所定の調整機構（１３Ａ〜１３Ｄ）をフィードバック制御するように構成されている。
【００５５】
さらに本例では、コンピュータ５は、調整処理部７ｆにより印刷装置の調整機構１３Ａ〜１３Ｄを調整した後に印刷された印刷面について、第１の撮像手段１１で得られる画像情報を分析する第２の分析処理部７ｉを備えており、調整処理部７ｆは、この分析の結果に基づき、所定の調整機構（１３Ａ〜１３Ｄ）をさらにフィードバック制御するように構成されている。このように構成することで、より品質のよい印刷面となるように印刷装置を制御することが可能とされている。
【００５６】
調整処理部７ｆのこれら２種のフィードバック制御については、いずれか一方のみでもよいし、双方省略してもよい。また、双方のフィードバック制御は、本例のようにまず再分析処理部７ｈに基づくフィードバック制御をした後、第２の分析処理部７ｉに基づくフィードバック制御を行ってもよいし、同時進行的に双方のフィードバック制御を行ってもよいし、適宜組み合わせて行うことができる。
【００５７】
各印刷装置の調整機構（１３Ａ〜１３Ｄ）は、見当ずれの調整機構や版圧調整機構、インク調整機構、その他の機構とすることができる。インク調整は、従来、たとえば作業者が水を足して粘度を変えたりして行っているが、これも自動的に設定量の水やインキ原液を足す装置を設けることなど、適宜自動化することができる。このように本発明によれば印刷装置１の自動化を進めることが可能となるため、印刷装置の調整も含めて印刷システム全体の制御をクローズドシステムで完全無人化することも可能となるのである。
【００５８】
以上の調整システムＳ２の処理手順を、図６に基づいて説明する。
【００５９】
まず、欠陥分析処理部７ｅが、詳細画像情報記憶部８ｅの詳細画像に基づき、予め決められた所定のプログラムに基づき分析を行い（Ｓ２０１）、分析結果記憶部８ｆに記憶する（Ｓ２０２）。分析の内容は、例えばドット単位のインクの状態を正常な状態と比較し、形状や濃度などが予め決められた正常な値からどれだけ外れているか数値で把握する。見当ずれなども同様に詳細に分析することができる。
【００６０】
次に、調整処理部７ｆは、分析結果記憶部８ｆの分析結果に基づき、調整機構（１３Ａ〜１３Ｄ）を制御する制御指令を生成し（Ｓ２０３）、これを必要な調整機構に送信して当該調整機構を制御する（Ｓ２０４）。次に、再撮像処理部７ｇが第２の撮像手段１２を動作させ、調整の後に印刷された印刷面の同じ領域９を再度詳細に撮像させて（Ｓ２０５）、詳細画像情報記憶部８ｅに調整後の情報として記憶する（Ｓ２０６）。
【００６１】
再分析処理部７ｈは、Ｓ２０１と同様にその画像を分析するとともに（Ｓ２０７）、分析結果記憶部８ｆに記憶する（Ｓ２０８）。この再分析の結果、再度の調整が必要と判定されると（Ｓ２０９）、所定の調整機構（１３Ａ〜１３Ｄ）を再度、調整するべく、Ｓ２０３〜の手順を繰り返す。再度の調整が必要か否かは、上述の正常な値からのズレが所定の閾値の範囲内に収まっているか否かで判断することができる。
【００６２】
Ｓ２０９で再度の調整が不要と判定されると、次に、第２の分析処理部７ｉは、調整後に印刷された印刷面について、第１の撮像手段１１で得られる画像情報から対応する領域９を分析し（Ｓ２１０）。この分析の結果、変わらず欠陥であると判断されると、さらに調整が必要であるとして、Ｓ２０３に戻り、新たな制御情報を生成し、Ｓ２０４以下を繰り返すように構成されている。このように構成することで、より品質のよい印刷面となるように印刷装置を制御することが可能とされている。
【００６３】
調整処理部７ｆのこれら２種のフィードバック制御については、いずれか一方のみでもよいし、双方省略してもよい。また、双方のフィードバック制御は、本例のようにまず再分析処理部７ｈに基づくフィードバック制御を終了した後に、第２の分析処理部７ｉに基づくフィードバック制御を行ってもよいし、同時進行的に双方のフィードバック制御を行ってもよいし、適宜組み合わせて行うことができる。
【００６４】
各印刷装置の調整機構（１３Ａ〜１３Ｄ）は、見当ずれの調整機構や版圧調整機構、インク調整機構、その他の機構とすることができる。インク調整は、従来、たとえば作業者が水を足して粘度を変えたりして行っているが、これも自動的に設定量の水やインキ原液を足す装置を設けることなど、適宜自動化することができる。このように本発明によれば印刷装置１の自動化を進めることが可能となるため、印刷装置の調整も含めて印刷システム全体の制御をクローズドシステムで完全無人化することも可能となるのである。
【００６５】
コンピュータ５は、複数の装置に分散して構成してもよい。例えば、上記欠陥分析システムＳ１のコンピュータと調整システムＳ２としての印刷装置調整専用のコンピュータとをそれぞれ別の装置構成としてもよいし、印刷装置の制御コンピュータの一部として構成してもよい。また、印刷装置を含むシステム全体を担う動作を制御している制御コンピュータの一部として構成することもできる。
【００６６】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はこうした実施例に何ら限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々なる形態で実施し得ることは勿論である。
【符号の説明】
【００６７】
１，１Ａ−１Ｄ  印刷装置      ２  撮像カメラ
３  撮像カメラ                ４  移動手段
５  コンピュータ              ６  乾燥装置
７  処理装置                  ７ａ  欠陥特定処理部
７ｂ  移動処理部              ７ｃ  撮像処理部
７ｄ  詳細画像記憶処理部      ７ｅ  欠陥分析処理部
７ｆ  調整処理部              ７ｇ  再撮像処理部
７ｈ  再分析処理部            ７ｉ  分析処理部
８  記憶手段                  ８ａ  マスター画像記憶部
８ｂ  撮像画像記憶部          ８ｃ  欠陥画像記憶部
８ｄ  欠陥位置情報記憶部      ８ｅ  詳細画像情報記憶部
８ｆ  分析結果記憶部          ８ｇ  調整データ記憶部
９  領域                      １０  印刷面
１１  第１の撮像手段          １２  第２の撮像手段
１３Ａ−１３Ｄ  調整機構      ４０  トラバース機構
７０  欠陥検出処理部          ７１  位置特定処理部
Ｓ１  欠陥分析システム        Ｓ２  調整システム
Ｗ  ワーク
【図１】
2018080955.tif 000003
【図２】
2018080955.tif 000004
【図３】
2018080955.tif 000005
【図４】
2018080955.tif 000006
【図５】
2018080955.tif 000007
【図６】
2018080955.tif 000008