(57)【要約】【課題】学習講座の推薦では、受講講座以外でも受講者がスキルを既に習得している場合があり、そのような講座を推薦し続けると受講者からの信頼を落としてしまう。そこで、推薦講座に対応するスキルの有無を判定するテストを実施し、合格した場合に今後推薦リストに表示しない方法が考えられるが、講座は複数のスキルに関連し、講座間でスキルが重複することもあるため、テストの実施が煩雑になる。【解決手段】そこで本発明では、講座に関係するスキルと、問題に関係するスキルを設定しておき、講座に関係するスキルをカバーするように問題を選択してテストを構成する方法を提案する。候補の問題の、推薦講座リストでの判定結果と、講座受講後のテスト結果の集計から評価値を計算し比較することで、講座に対応するテストを選択する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
推薦講座判定用テスト作成装置であって、
前記講座と当該講座に関連するスキルの情報を対応付けた第一のデータと、前記スキルと当該スキルに関連する推薦講座判定テストの問題とを対応付けた第二のデータと、を格納する記憶部と、
前記講座を指定する講座ＩＤと前記第一のデータとから当該講座に関連するスキルの情報を取得し、当該スキルの情報と前記第二のデータとから当該スキルに関連する推薦講座判定テストの問題を設定し、当該問題を受講者端末に送信する簡易判定作成処理部と、
前記受講者端末から送信された前記問題のテスト結果と、受講後の確認テスト結果とに基づき前記推薦講座判定テストの問題を修正する推薦講座修正処理部と、
を備えることを特徴とする推薦講座判定用テスト作成装置。
【請求項２】
請求項１に記載の推薦講座判定用テスト作成装置において、
前記簡易判定作成処理部は、前記講座に対して複数のスキルの情報に基づき推薦講座判定テストの問題を設定することを特徴とする推薦講座判定用テスト作成装置。
【請求項３】
請求項２に記載の推薦講座判定用テスト作成装置において、
前記推薦講座修正処理部は、前記問題のテスト結果が不合格で、受講後の確認テスト結果が合格の場合の数と、前記問題のテスト結果が不合格で、受講後の確認テスト結果が不合格の場合の数と、前記問題のテスト結果が未受講で、受講後の確認テスト結果が不合格の場合の数と、前記問題のテスト結果が未受講で、受講後の確認テスト結果が合格の場合の数とに基づいて前記推薦講座判定テストの問題を修正することを特徴とする推薦講座判定用テスト作成装置。
【請求項４】
推薦講座判定用テスト作成方法であって、
前記講座と当該講座に関連するスキルの情報を対応付けた第一のデータと、前記スキルと当該スキルに関連する推薦講座判定テストの問題とを対応付けた第二のデータと、があらかじめ有しており、
前記講座を指定する講座ＩＤと前記第一のデータとから当該講座に関連するスキルの情報を取得するステップと、
前記スキルの情報と前記第二のデータとから当該スキルに関連する推薦講座判定テストの問題を設定するステップと、
前記問題を受講者端末に送信するステップと、
前記受講者端末からの前記問題のテスト結果と、受講後の確認テスト結果とに基づき前記推薦講座判定テストの問題を修正するステップと、
を備えることを特徴とする推薦講座判定用テスト作成方法。
【請求項５】
請求項４に記載の推薦講座判定用テスト作成方法において、
前記推薦講座判定テストの問題を設定するステップでは、前記講座に対して複数のスキルの情報に基づき推薦講座判定テストの問題を設定することを特徴とする推薦講座判定用テスト作成方法。
【請求項６】
請求項５に記載の推薦講座判定用テスト作成方法において、
前記問題を修正するステップでは、前記問題のテスト結果が不合格で、受講後の確認テスト結果が合格の場合の数と、前記問題のテスト結果が不合格で、受講後の確認テスト結果が不合格の場合の数と、前記問題のテスト結果が未受講で、受講後の確認テスト結果が不合格の場合の数と、前記問題のテスト結果が未受講で、受講後の確認テスト結果が合格の場合の数とに基づいて前記推薦講座判定テストの問題を修正することを特徴とする推薦講座判定用テスト作成方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、受講者に対して学習講座や研修講座を推薦するシステムにおいて、特に推薦講座の内容に対応するテストを作成するシステムに関する。
【背景技術】
【０００２】
学習講座や研修講座では、受講者の受講履歴や成績に応じて、別の講座を推薦することがある。この講座推薦に関する技術として、特許文献１がある。特許文献1では、学習者の弱点を克服するため、学習者の能力を学力テストの結果から判断し、生徒ごとに異なるカリキュラムを作成することが開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開2005-242018号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
受講履歴に基づいて講座推薦を行う場合、受講者が講座以外で取得（別セミナーや本等）したスキルについては把握することができず、受講履歴に基づいて推薦した場合、不要な講座を推薦してしまい、受講者の推薦内容に対する信頼を落としてしまうことが考えられる。そこで、オンラインショッピングサイトなどで行われているような、推薦アイテムリストに表示されている商品に対して「既に持っている」、「興味がない」などのチェックを行うことで、ユーザからの情報を取得して推薦をブラッシュアップする方法が知られているが、研修講座の場合は書籍やCDなどの商品と違い既に該当するスキルを習得しているかどうかの判断がしにくく、適用は困難である。
【０００５】
また、仮にスキルを習得しているかどうかの判断ができたとしても、研修講座の内容は複数の知識・スキル（以降簡略のためスキルとのみ記述する）に関連することが多いため、ユーザへ確認する質問も複雑になる。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
そこで、本発明では受講者の学習履歴から作成した推薦リスト内の研修講座に対して、受講者がその講座に対応するスキルを有しているかを判定する簡易判定テストを実施する。ここで、講座に関係するスキルをカバーする問題の選択の仕方が複数存在する場合は、選択候補となっている問題に関する、推薦講座リストの簡易判定における結果と、講座受講後のテストでの結果の集計から評価値を計算し、それぞれの問題に対する評価値を比較して、講座に対応するテストを生成する。
【発明の効果】
【０００７】
本発明により、受講者の志向と所持スキルの両方を考慮した推薦講座の提示が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】推薦講座削除判定用テスト生成システムの構成図である。
【図２】推薦講座削除判定用テスト生成システムのレコメンドページ、簡易判定ページの処理の流れを示すタイムチャートである。
【図３】簡易判定（テスト）作成処理の流れを示すフローチャートである。
【図４】テスト作成処理（再帰）の流れを示すフローチャートである。
【図５】テスト結果DBの構成を示す図である。
【図６】講座-スキル関係DBの構成を示す図である。
【図７】問題-スキル関係DBの構成を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【実施例１】
【０００９】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
【００１０】
図１は、本発明の実施形態に係る推薦講座削除判定用テスト生成システムの構成図である。学習サーバ1はインターネット等のネットワーク4を介して受講者用の端末3と接続される。また学習サーバはDBサーバ2と接続し、学習サービスに必要なデータへのアクセスを行う。学習サーバ1はwebアプリケーションの技術を使って、受講者用の端末3に対してサービスを提供するものとする。
【００１１】
次に各サーバを構成するハードウエア及びそれらハードウエアにより実現される機能を説明する。学習サーバ1は、CPU100、メモリ110、HDD120などから構成されている。CPU100で実行する処理には、受講者管理処理101、学習提供処理102、レコメンドページ送付処理103、簡易判定（テスト）作成処理104、採点・推薦講座削除処理105などが存在する。受講者管理処理101は学習講座を受ける受講者の申し込みや、受講履歴などを管理する処理である。学習提供処理102は学習講座がe-ラーニングだった場合に、受講者端末に対して学習コンテンツを提供する機能である。レコメンドページ送付処理103、簡易判定（テスト）作成処理104、採点・推薦講座削除処理105の処理内容については、後で図２を用いて説明する。HDD120には、レコメンドページ121や簡易判定ページ122のフォーマットなどが格納される。レコメンドページ121は、受講者に対して、推薦講座リスト123を提供するページである。推薦講座リスト123内の推薦講座それぞれには、簡易判定ボタン124が設置されており、簡易判定ボタン124をクリックすることにより、推薦講座に対応する簡易判定テストを実施し、受講者がテストに合格した場合には、推薦講座リスト123から該当講座を削除する。簡易判定ページ122は、簡易判定ボタン124をクリックした際に呼び出される簡易判定テスト用のページであり、簡易判定用の問題125と回答ボタン126が設置されている。DBサーバ2は、CPU130、メモリ140、HDD150などから構成されている。DBサーバ2のHDD150には、受講履歴DB151、推薦講座リストDB152、受講者所持スキルリストDB153、講座-スキル関係DB154、問題-スキル関係DB155、テスト結果DB156が格納されている。
【００１２】
図２は推薦講座削除判定用テスト生成システムのレコメンドページ121、簡易判定ページ122の処理の流れを示すタイムチャートである。このタイムチャートは受講者が自分に対するレコメンドページの表示を要求した時点からの動作を示す。
受講者が自身のIDを学習サーバ1に送付してレコメンドページの表示を要求する(S301)と、学習サーバ1はレコメンドページ送付処理103を実行する。レコメンドページ送付処理103では、推薦講座リストDB152から受講者IDに対応した推薦講座リスト（個人用）を取得して(S302)、レコメンドページ121に推薦講座リストを設定したのちに、受講者端末に送信する(S303)。
受講者端末3はレコメンドページ121の簡易判定ボタンのクリックを検知すると(S304)、対応する講座IDを学習サーバ1に送付して、簡易判定ページを要求する(S305)。学習サーバ1は講座IDを取得すると、簡易判定（テスト）作成処理104を実行する。簡易判定（テスト）作成処理104は、講座-スキル関係DB、問題-スキル関係DB、テスト結果DBからデータを取得して(S306)、講座に対応する簡易判定テストを作成し、簡易判定ページ122に設定して受講者端末3に送付する(S307)。
【００１３】
簡易判定（テスト）作成処理104の詳細は次図以降で説明する。簡易判定ページにてテストの解答を行い(S308)、テストの解答を学習サーバ1に送付すると(S309)、学習サーバ1は採点・推薦講座削除処理105を実行する。採点・推薦講座削除処理105では、送られてきた解答の採点を行い、結果をテスト結果DBに登録する(S310)とともに、テストの結果が合格だった場合には、問題-スキル関係DB155から、テストに関係するスキルを取得し(S311)、受講者所持スキルリストDB153に取得したスキルを登録する(S312)。また、推薦講座リスト（一人分）から対応する講座を削除し、受講者端末3に送付する(S313)。
【００１４】
図３は、簡易判定（テスト）作成処理104の流れを示すフローチャートである。簡易判定（テスト）作成処理104では、まず、受信した講座IDの講座に関係するスキルを講座-スキル関係DB152から取得する(S401)。次に再帰処理によるテスト作成処理を実行し(S402)、S402のテスト作成処理（再帰）が終わった時点でテスト候補となっているテストを、対象の講座に対応する簡易判定テストに設定する(S403)。次に簡易判定テストを簡易判定ページ122に設定し（S404）、簡易判定ページ122を受講者端末3に送付して(S405)終了する。
【００１５】
図４は、テスト作成処理（再帰）(S402)の流れを示すフローチャートである。テスト作成処理（再帰）(S402)では、まず、講座に関係するスキルのうち、問題未割当のものを一つ選択する(S501)。次に問題-スキル関係DB155からスキルに対応する問題のリストを取得し(S502)、ループにより、S502で取得したすべての問題に対して順に処理を行う(S503)。ループ内で前記リストから問題を一つ選択し、次に問題-スキル関係DB155から選択した問題に関係するスキルを取得して割り当てる(S504)。次に講座に関係するスキルで足りないものがあるか判定し(S505)、まだ足りないスキルがある場合には、現在の選択・割り当て状態でテスト作成処理（再帰）を再帰的に呼び出し(S506)、すべてのスキルが割り当てられるまで処理を継続する。S505にてすべてのスキルが割り当てられていると判定された場合は、現在選択されている問題のセットをテスト候補1に設定し(S507)、テスト候補1の評価値を計算する(S508)。テストの評価値の計算方法の例は図５にて説明する。次に、現在のテスト候補と、先ほど選択されたテスト候補1の評価値を比較し(S509)、テスト候補1の評価値のほうが高い場合には、テスト候補１を現在のテスト候補に設定する。リストに選択されたほかの問題に対する処理が残っている場合には、現在のループにて設定した問題は割り当てから外し、リスト内の残りの問題を選択して同様の処理を行う。すべての問題に対して処理を行った場合は、テスト作成処理（再帰）(S402)を終了する。以上のループと再帰処理により、講座のスキルに関係するすべての問題の組み合わせ方に対して、評価値を比較して、最高の評価値となる問題の組み合わせをテスト候補として選択することができる。
【００１６】
図５は、テスト結果DB156の構成を示す図である。テスト結果DB156は、レコードのIDと受講者ID、講座ID、テストID、推薦リストでのテスト結果、講座の受講有無、受講後のテスト結果、日時のフィールドからなる。
推薦リストでのテスト結果には、合格、不合格、未受講の値が存在し、合格の場合には、受講者は講座を受講することはない。本DBにより、特定の講座とテストの組み合わせにおける、講座の受講前と受講後のテストの結果を集計することができる。
【００１７】
図４の評価値計算 (S508)に関して、特定の講座ID、テストIDのテスト結果の数をNとして、推薦リストでのテスト結果が不合格で、受講後のテスト結果が合格の場合の数をa、推薦リストでのテスト結果が不合格で、受講後のテスト結果が不合格の場合の数をb、推薦リストでのテスト結果が未受講で、受講後のテスト結果が不合格の場合の数をc、推薦リストでのテスト結果が未受講で、受講後のテスト結果が合格の場合の数をdとしたときに、テストの評価値の一例として「a/N - d/N (1 - a/N - b/N - c/N)」という式が考えられる。
【００１８】
図６は講座-スキル関係DB154の構成を示す図である。講座-スキル関係DB154はレコードのIDと講座ID、スキルIDのフィールドからなる。講座IDとスキルIDの組み合わせが、講座に関係するスキルとなる。一つの講座に複数のスキルが割り当てられることもある。
【００１９】
図７は問題-スキル関係DB155の構成を示す図である。問題-スキル関係DB155はレコードのIDと問題ID、スキルIDのフィールドからなる。問題IDとスキルIDの組み合わせが、問題に関係するスキルとなる。一つの問題に複数のスキルが割り当てられることもある。
【符号の説明】
【００２０】
1…学習サーバ、2…DBサーバ、3…受講者端末、4…ネットワーク、101…受講者管理処理、102…学習提供処理、103…レコメンドページ送付処理、104…簡易判定（テスト）作成処理、105…採点・推薦講座削除処理、121…レコメンドページ、122…簡易判定ページ、151…受講履歴DB、152…推薦講座リストDB、153…受講者所持スキルリストDB、154…講座-スキル関係DB、155…問題-スキル関係DB、156…テスト結果DB
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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