(57)【要約】 【課題】  移相器出力におけるスプリアス評価を効率よく行うことが可能なレーダ試験システムを提供する。【解決手段】  レーダ試験システムは、減衰器、測定処理部、レーダ制御部、及び測定制御部を具備する。減衰器は、アレイレーダ装置に設けられる移相器から送信される信号を、設定される減衰量で減衰させる。測定処理部は、前記減衰器で減衰された信号を測定する。レーダ制御部は、前記移相器からの信号の送信、及び停止を制御する。測定制御部は、前記移相器からの前記信号の送信が停止されている期間に前記減衰器の減衰量を設定する。【選択図】図１
2018044815.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アレイレーダ装置に設けられる移相器から送信される信号を、設定される減衰量で減衰させる減衰器と、
前記減衰器で減衰された信号を測定する測定処理部と、
前記移相器からの信号の送信、及び停止を制御するレーダ制御部と、
前記移相器からの前記信号の送信が停止されている期間に前記減衰器の減衰量を設定する測定制御部と
を具備するレーダ試験システム。
【請求項２】
前記測定処理部は、設定される測定条件に従って前記信号を測定し、
前記測定制御部は、前記測定処理部の前記測定条件を予め設定される順序に従って設定する請求項１記載のレーダ試験システム。
【請求項３】
前記アレイレーダ装置に設けられる複数の移相器と、前記減衰器との接続を切り換えるスイッチをさらに具備し、
前記測定制御部は、前記移相器からの前記信号の送信が停止されている期間に前記接続を切り換える請求項１又は２に記載のレーダ試験システム。
【請求項４】
前記減衰器、及び前記測定処理部を複数具備し、
前記複数の減衰器それぞれは、前記アレイレーダ装置に設けられる複数の移相器のいずれかと接続し、
前記複数の測定処理部それぞれは、前記複数の減衰器のいずれかと接続する請求項１記載のレーダ試験システム。
【請求項５】
前記複数の測定処理部は、設定される測定条件に従って前記信号を測定し、
前記測定制御部は、前記複数の測定処理部の前記測定条件を予め設定される順序に従って設定する請求項４記載のレーダ試験システム。
【請求項６】
前記アレイレーダ装置に設けられる複数の移相器と、前記複数の減衰器のうちいずれかとを切り換えて接続する複数のスイッチをさらに具備し、
前記測定制御部は、前記移相器からの前記信号の送信が停止されている期間に前記接続を切り換える請求項４又は５に記載のレーダ試験システム。
【請求項７】
予め設定される規格値を、伝送路の損失を考慮した値に校正し、前記校正した規格値と、前記測定処理部による測定結果とを比較する解析部をさらに具備する請求項１乃至６のいずれかに記載のレーダ試験システム。
【請求項８】
予め設定される規格値を、伝送路の損失を考慮した値に校正し、前記校正した規格値と、前記測定処理部による測定結果とを含む波形データを生成する解析部をさらに具備する請求項１乃至６のいずれかに記載のレーダ試験システム。
【請求項９】
アレイレーダ装置に設けられる移相器からの信号の送信、及び停止を制御し、
前記移相器からの前記信号の送信が停止されている期間に、測定処理部へ信号を入力する減衰器の減衰量を設定するレーダ試験方法。
【請求項１０】
前記測定処理部は、設定される測定条件に従って前記信号を測定し、
前記測定処理部の前記測定条件を予め設定される順序に従って設定する請求項９記載のレーダ試験方法。
【請求項１１】
前記移相器からの前記信号の送信が停止されている期間に、前記アレイレーダ装置に設けられる複数の移相器と、前記減衰器との接続を切り換えるスイッチの接続を切り換える請求項９又は１０に記載のレーダ試験方法。
【請求項１２】
予め設定される規格値を、前記信号が伝搬する経路を考慮した値に校正し、
前記校正した規格値と、前記測定処理部による測定結果とを比較する請求項９乃至１１のいずれかに記載のレーダ試験方法。
【請求項１３】
予め設定される規格値を、前記信号が伝搬する経路を考慮した値に校正し、
前記校正した規格値と、前記測定処理部による測定結果とを含む波形データを生成する請求項９乃至１１のいずれかに記載のレーダ試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、レーダ装置から送信される信号の品質を試験するレーダ試験システム、及びこのシステムで用いられるレーダ試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
フェーズドアレイレーダは、空中線内部に、輻射方向を制御するための移相器群を有する。スプリアス領域における不要発射の強度は、空中線から輻射される電力で規定される。測定方法としては、空間に輻射される信号の電力を直接測定する「直接法」と、レーダ装置における特定の箇所、例えば、移相器と結合路で接続し、移相器から出力される信号を測定し、空間に輻射される信号の電力に換算する「間接法」とがある。
【０００３】
間接法において、レーダ装置に設けられる全ての移相器出力を測定する場合がある。このとき、測定する移相器の個数、周波数チャンネル数、及び送信モード数が多いほど、測定通り数が増大し、測定時間を要することになる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−２１９２５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
そこで、目的は、移相器出力におけるスプリアス評価を効率よく行うことが可能なレーダ試験システム、及びこのシステムで用いられるレーダ試験方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
実施形態によれば、レーダ試験システムは、減衰器、測定処理部、レーダ制御部、及び測定制御部を具備する。減衰器は、アレイレーダ装置に設けられる移相器から送信される信号を、設定される減衰量で減衰させる。測定処理部は、前記減衰器で減衰された信号を測定する。レーダ制御部は、前記移相器からの信号の送信、及び停止を制御する。測定制御部は、前記移相器からの前記信号の送信が停止されている期間に前記減衰器の減衰量を設定する。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】図１は、本実施形態に係るレーダ試験システムの機能構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、図１に示されるシグナルアナライザの機能構成を示すブロック図である。
【図３】図３は、図１に示される記憶部に記憶される、シグナルアナライザの測定条件に関するテーブルを表す図である。
【図４】図４は、図１に示される測定制御部がフェーズドアレイレーダ装置から送信される信号を測定する際の動作を表すフローチャートである。
【図５】図５は、図１に示される測定制御部がフェーズドアレイレーダ装置から送信される信号を測定する際の動作を表すフローチャートである。
【図６】図６は、図１に示されるレーダ制御部４３が設定変更処理を実行する際の動作を表すフローチャートである。
【図７】図７は、図６に示される設定変更処理を説明する模式図である。
【図８】図８は、図１に示される解析部が挿入損失データから規格線を補正する際の動作を表すフローチャートである。
【図９】図９は、図１に示される解析部が波形データを解析する際の動作を表すフローチャートである。
【図１０】図１０は、図１に示される解析部が測定データを解析する際の動作を表すフローチャートである。
【図１１】図１１は、波形データに基づいて表示される表示画像を表す図である。
【図１２】図１２は、波形データに基づいて表示される表示画像を表す図である。
【図１３】図１３は、波形データに基づいて表示される表示画像を表す図である。
【図１４】図１４は、本実施形態に係るレーダ試験システムの効果を表す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
以下、実施の形態について、図面を参照して説明する。
【０００９】
図１は、本実施形態に係るレーダ試験システム１の機能構成の例を示すブロック図である。図１に示されるレーダ試験システム１は、フェーズドアレイレーダ装置に実装される移相器群と、結合路を介して接続する。レーダ試験システム１と接続されていない移相器は、開放されていても構わないし、終端されていても構わない。レーダ試験システム１は、測定装置１０−１〜１０−４、ハブ２０、信号処理装置４０、及びレーダ設定器３０を具備する。なお、本実施形態では、レーダ試験システム１が測定装置１０−１〜１０−４を具備する場合を例に説明するが、これに限定されない。レーダ試験システム１に具備される測定装置は、１つ以上３つ以下でもよいし、５つ以上であっても構わない。
【００１０】
測定装置１０−１は、移相器群のうち複数の移相器、例えば、図１においては６つの移相器と結合路を介して接続する。測定装置１０−１は、接続する移相器から送信される信号を、結合路を介して受信する。測定装置１０−１は、受信した信号を測定し、測定により得られる測定データ、及び波形データを、ハブ２０を介して信号処理装置４０へ出力する。
【００１１】
測定装置１０−２〜１０−４は、測定装置１０−１が接続する移相器とは異なる移相器と、結合路を介して接続する。測定装置１０−２〜１０−４は、結合路を介して受信した信号を測定し、測定により得られる測定データ、及び波形データを、ハブ２０を介して信号処理装置４０へ出力する。なお、測定装置１０−１〜１０−４の構成はそれぞれ同様であるため、以下では、測定装置１０−１について説明する。
【００１２】
測定装置１０−１は、ＲＦ切換器１１、シグナルアナライザ１２、及びハブ１３を備える。
【００１３】
ＲＦ切換器１１は、マルチポートスイッチ１１１、第１のステップアッテネータ１１２、第２のステップアッテネータ１１３、ドライバ１１４、及びＡＣ／ＤＣ電源１１５を有する。
【００１４】
マルチポートスイッチ１１１は、複数のポートを有する。ポートは、移相器と接続する結合路のうちいずれかと接続する。マルチポートスイッチ１１１は、複数のポートのうちいずれかを、後段に位置する第１のステップアッテネータ１１２と接続する。マルチポートスイッチ１１１は、ドライバ１１４から出力される切換指示信号に従い、後段と接続するポートを切り換える。これにより、複数のポートへ供給される信号のうちいずれかが、第１のステップアッテネータ１１２へ導出される。
【００１５】
第１のステップアッテネータ１１２は、マルチポートスイッチ１１１から出力される信号を、ドライバ１１４により設定される減衰量で減衰させる。第１のステップアッテネータ１１２の減衰量は、所定の範囲、例えば０〜７０ｄＢの範囲において１０ｄＢ単位で設定可能である。
【００１６】
第２のステップアッテネータ１１３は、第１のステップアッテネータ１１２で減衰された信号を、ドライバ１１４により設定される減衰量で減衰させる。第２のステップアッテネータ１１３の減衰量は、所定の範囲、例えば０〜１１ｄＢの範囲において１ｄＢ単位で設定可能である。第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３による減衰により、マルチポートスイッチ１１１から出力される信号は、測定に適した振幅でシグナルアナライザ１２へ出力される。
【００１７】
ドライバ１１４は、マルチポートスイッチ１１１、第１のステップアッテネータ１１２、及び第２のステップアッテネータ１１３を駆動させる駆動部である。ドライバ１１４は、１００Ｖの交流電圧を直流電圧に変換するＡＣ／ＤＣ電源１１５と接続する。ドライバ１１４は、ＡＣ／ＤＣ電源１１５から供給される直流電圧を用いて制御信号を生成する。
【００１８】
具体的には、ドライバ１１４は、信号処理装置４０から出力される制御信号に基づき、マルチポートスイッチ１１１に対する制御信号として切換指示信号を生成する。また、ドライバ１１４は、信号処理装置４０から出力される制御信号に基づき、第１のステップアッテネータ１１２に対する制御信号として減衰量設定信号を生成する。また、ドライバ１１４は、信号処理装置４０から出力される制御信号に基づき、第２のステップアッテネータ１１３に対する制御信号として減衰量設定信号を生成する。
【００１９】
シグナルアナライザ１２は、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３で減衰された信号を受信する。シグナルアナライザ１２は、ＬＡＮケーブル等の有線接続により、又は、無線通信により信号処理装置４０から出力される信号を受信する。シグナルアナライザ１２は、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３で減衰された信号を測定する測定処理部である。シグナルアナライザ１２は、測定により得られる測定データ、及び波形データをハブ１３へ出力する。
【００２０】
図２は、図１に示されるシグナルアナライザ１２の機能構成の例を示すブロック図である。図２に示されるシグナルアナライザ１２は、可変アッテネータ１２１、ＬＮＰ（Low Noise Pass）切換回路１２２、周波数帯切換回路１２３、プリアンプ１２４、バイパス切換回路１２５、プリセレクタ１２６、第１の周波数変換部１２７、ＬＰＦ（Low Pass Filter）１２８、第２の周波数変換部１２９、ＩＦ（Intermediate Frequency：中間周波数）アンプ１２１０、ＩＦフィルタ１２１１、ディテクタ１２１２、ビデオフィルタ１２１３、アナログ−デジタルコンバータ１２１４、記憶部１２１５、及び制御部１２１６を有する。
【００２１】
可変アッテネータ１２１は、制御部１２１６により設定される減衰量で、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３により減衰された信号を減衰させる。例えば、可変アッテネータ１２１には、アナログ−デジタルコンバータ１２１４がオーバーフローしないように予め初期減衰量が設定されている。可変アッテネータ１２１は、制御部１２１６からの設定により初期減衰量を変化させ、変化させた減衰量で信号を減衰させる。可変アッテネータ１２１で減衰された信号は、ＬＮＰ切換回路１２２へ出力される。
【００２２】
ＬＮＰ切換回路１２２は、制御部１２１６からの指示に従い、接続先を周波数帯切換回路１２３、又はバイパスラインに切り換える。バイパスラインは、ローノイズパス（Low Noise Pass: LNP）であり、高周波数帯でのＤＡＮＬ（Displayed Average Noise Level）を改善するため、周波数帯切換回路１２３、及びプリアンプ１２４をバイパスする。
【００２３】
周波数帯切換回路１２３は、制御部１２１６からの指示に従い、高周波数帯用（例えば、３．６〜５０ＧＨｚ）の周波数変換経路と、低周波数帯用（例えば、０〜３．６ＧＨｚ）の周波数変換経路とを切り換える。具体的には、周波数帯切換回路１２３が高周波数帯用の周波数変換経路に接続される場合、ＬＮＰ切換回路１２２から入力される信号は、プリアンプ１２４、及び第１の周波数変換部１２７を介し、後段に接続するＩＦアンプ１２１０へ出力される。また、周波数帯切換回路１２３が低周波数帯用の周波数変換経路に接続される場合、ＬＮＰ切換回路１２２から入力される信号は、ＬＰＦ１２８、及び第２の周波数変換部１２９を介し、後段に接続するＩＦアンプ１２１０へ出力される。
【００２４】
プリアンプ１２４は、周波数帯切換回路１２３から出力される信号を所定の増幅率で増幅する。
【００２５】
バイパス切換回路１２５は、制御部１２１６からの指示に従い、接続先をプリセレクタ１２６、又はバイパスラインに切り換える。バイパスラインは、プリセレクタ１２６をバイパスする。
【００２６】
プリセレクタ１２６は、同調可能なバンドパスフィルタである。プリセレクタ１２６は、例えば、ＹＩＧ同調フィルタにより実現される。プリセレクタ１２６は、ＬＮＰ切換回路１２２により接続される回路から供給される信号に含まれる基本周波数成分を除去する。
【００２７】
第１の周波数変換部１２７は、入力される信号の周波数を高周波数帯、例えば、３．６ＧＨｚ以上の周波数帯へ変換する。第１の周波数変換部１２７は、例えば、局部発振器、ミキサ、及び掃引部により実現される。例えば、掃引部は、制御部１２１６により設定される周波数掃引幅を表す掃引信号を局部発振器へ出力する。局部発振器は、掃引信号により表される周波数掃引幅で局部発振信号を生成する。ミキサは、入力される信号と、局部発振器で生成される局部発振信号とを混合し、所定の周波数帯の信号を生成する。第１の周波数変換部１２７で生成された信号は、周波数帯切換回路１２３へ出力される。
【００２８】
ＬＰＦ１２８は、予め設定される低周波数帯の信号を通過させる。ＬＰＦ１２８を通過した信号は、第２の周波数変換部１２９へ出力される。
【００２９】
第２の周波数変換部１２９は、入力される信号の周波数を低周波数帯へ変換する。第２の周波数変換部１２９は、例えば、局部発振器、ミキサ、及び掃引部により実現される。第２の周波数変換部１２９で生成された信号は、周波数帯切換回路１２３へ出力される。
【００３０】
ＩＦアンプ１２１０は、第１又は第２の周波数変換部１２７，１２９から出力される所定の周波数帯の信号を所定の増幅率で増幅する。ＩＦアンプ１２１０で増幅された信号は、ＩＦフィルタ１２１１へ出力される。
【００３１】
ＩＦフィルタ１２１１は、ＩＦアンプ１２１０から出力される信号から、所定の周波数成分以外の周波数成分を除去する。ＩＦフィルタ１２１１の帯域幅は、分解能帯域幅（ＲＢＷ）と称され、制御部１２１６により設定される。ＩＦフィルタ１２１１で取り出された信号は、ディテクタ１２１２へ出力される。
【００３２】
ディテクタ１２１２は、ＩＦフィルタ１２１１で取り出された信号を包絡線検波し、ベースバンド信号に変換する。ベースバンド信号は、ビデオフィルタ１２１３へ出力される。
【００３３】
ビデオフィルタ１２１３は、ディテクタ１２１２から出力されるベースバンド信号から、高調波成分を除去する。ビデオフィルタ１２１３の帯域幅は、ビデオ帯域幅（ＶＢＷ）と称され、制御部１２１６により設定される。ビデオフィルタ１２１３で取り出された信号は、アナログ−デジタルコンバータ１２１４へ出力される。
【００３４】
アナログ−デジタルコンバータ１２１４は、ビデオフィルタ１２１３から出力される信号をサンプリングして量子化することで、デジタル信号に変換する。デジタル信号は、記憶部１２１５へ出力される。
【００３５】
記憶部１２１５は、例えば、磁気的若しくは光学的記録媒体、又は半導体メモリ等のプロセッサにより読み取り可能な記録媒体等により実現される。記憶部１２１５は、アナログ−デジタルコンバータ１２１４から出力される信号に基づいて生成される測定データ、及び波形データを記憶する。記憶部１２１５は、制御部１２１６がシグナルアナライザ１２の動作を制御するための制御プログラムを記憶する。
【００３６】
制御部１２１６は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、並びに、ＲＯＭ（Read Only Memory）、及びＲＡＭ（Random Access Memory）等のＣＰＵが処理を実行するためのプログラムやデータの格納領域等により実現される。制御部１２１６は、シグナルアナライザ１２の動作を制御する。また、制御部１２１６は、レーダ装置から送信される信号の品質を測定するための測定条件に関する情報を、信号処理装置４０から受け取る。測定条件には、例えば、可変アッテネータ１２１に対して設定される減衰量、ＩＦフィルタ１２１１に対して設定されるＲＢＷ、ビデオフィルタ１２１３に対して設定されるＶＢＷ、並びに、第１及び第２の周波数変換部１２７，１２９に設けられる掃引部に対して設定される周波数掃引幅が設定値として含まれている。制御部１２１６は、信号処理装置４０から受け取った測定条件に含まれる設定値を、各構成要素に対して設定する。
【００３７】
ハブ１３は、ＲＦ切換器１１、シグナルアナライザ１２、及びハブ２０と有線で、例えば、ＬＡＮケーブルを介して接続する。なお、ハブ１３は、ＲＦ切換器１１、シグナルアナライザ１２、及びハブ２０と無線通信により接続しても構わない。ハブ１３は、例えば、スイッチングハブであり、受け取ったデータを、所望のあて先へ転送する。
【００３８】
ハブ２０は、測定装置１０−１〜１０−４、信号処理装置４０、及びレーダ設定器３０と有線で、例えば、ＬＡＮケーブルを介して接続する。なお、ハブ２０は、測定装置１０−１〜１０−４、信号処理装置４０、及びレーダ設定器３０と無線通信により接続しても構わない。ハブ１３は、例えば、スイッチングハブであり、受け取ったデータを、所望のあて先へ転送する。
【００３９】
レーダ設定器３０は、ドライバ３１、及びＡＣ／ＤＣ電源３２を備える。ドライバ３１は、レーダ装置に設けられる送信機を操作する駆動部である。ドライバ３１は、１００Ｖの交流電圧を直流電圧に変換するＡＣ／ＤＣ電源３２と接続する。ドライバ３１は、ＡＣ／ＤＣ電源３２から供給される直流電圧を用いて制御信号を生成する。
【００４０】
具体的には、ドライバ３１は、信号処理装置４０から出力される制御信号に基づき、レーダ装置に対する制御信号として送信停止信号を生成する。送信停止信号は、例えば、「開放」、又は「短絡」の状態を有する接点信号である。
【００４１】
信号処理装置４０は、ＣＰＵ、並びに、ＲＯＭ、及びＲＡＭ等のＣＰＵが処理を実行するためのプログラムやデータの格納領域等を含む、例えば、パーソナルコンピュータである。信号処理装置４０の記憶部４１には、測定装置１０−１〜１０−４、及びレーダ設定器３０を制御するための制御用プログラムがインストールされている。また、記憶部４１には、測定装置１０−１〜１０−４から送信される測定データ、及び波形データを解析するための解析用プログラムがインストールされている。また、記憶部４１には、シグナルアナライザ１２が測定を実施する際の測定条件が記憶されている。スプリアス測定では、取得する波形毎にシグナルアナライザ１２の測定条件が異なる。測定対象となるスプリアスに応じた測定条件が記憶部４１に予め記憶される。
【００４２】
信号処理装置４０は、制御用プログラムを実行することで、測定制御部４２の機能を実現する。測定制御部４２は、測定装置１０−１〜１０−４を制御することで、レーダ装置に設けられる移相器から送信される信号を測定する。具体的には、例えば、測定制御部４２は、記憶部４１に記憶される測定条件を読み出し、読み出した測定条件を所定の順序で測定装置１０−１〜１０−４に設けられるシグナルアナライザ１２に設定する。また、測定制御部４２は、予め設定される手順に従い、測定装置１０−１〜１０−４のＲＦ切換器１１に設けられるマルチポートスイッチ１１１、第１のステップアッテネータ１１２、及び第２のステップアッテネータ１１３を、ドライバ１１４を介して制御する。
【００４３】
信号処理装置４０は、制御用プログラムを実行することで、レーダ制御部４３の機能を実現する。レーダ制御部４３は、レーダ装置に設けられる送信機からの信号の送信を制御する。具体的には、レーダ制御部４３は、ＲＦ切換器１１において設定の切り換えが必要な場合、すなわち、マルチポートスイッチ１１１、第１のステップアッテネータ１１２、及び第２のステップアッテネータ１１３の設定を切り換える必要がある場合、レーダ設定器３０のドライバ３１を介して送信機からの信号の送信を停止させる。
【００４４】
信号処理装置４０は、解析用プログラムを実行することで、解析部４４の機能を実現する。解析部４４は、記憶部４１に記憶される測定データ、及び波形データを解析する。
【００４５】
次に、以上のように構成されるレーダ試験システムの動作を説明する。以下の説明では、シグナルアナライザ１２が、レーダ装置の移相器から出力される信号を、３つの測定項目で測定する場合を例に説明する。測定１は、帯域外領域と、スプリアス領域との境界付近を取得するための測定である。測定２は、スプリアス領域の低域、及び中域部分を取得するための測定である。測定３は、ダイナミックレンジを引き上げ、スプリアス領域の高域部分を取得するための測定である。シグナルアナライザ１２は、測定１乃至測定３毎に、レーダ装置において予め設定される周波数チャンネル、及び送信モードで送信される信号を受信し、受信した信号を測定する。
【００４６】
シグナルアナライザ１２は、測定１乃至測定３を各測定に応じた測定条件を用いて実行する。測定条件は、測定項目毎に予め決定されている。測定条件は、信号処理装置４０の記憶部４１に記憶されている。図３は、記憶部４１に記憶される、測定条件に関するテーブルの例を表す図である。図３に示されるテーブルでは、測定１、測定２、及び測定３それぞれにおいて、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量、可変アッテネータ１２１の値［ｄＢ］、ＬＮＰの動作有無、掃引開始周波数［Ｈｚ］、掃引終了周波数［Ｈｚ］、解析帯域幅［Ｈｚ］、掃引時間［ｓ］、スキャン数［回］、ＲＢＷ［Ｈｚ］、及びＶＢＷ［Ｈｚ］が設定されている。なお、図３の左端に示されている第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量は、図３に示される設定１、及び設定２に関するパラメータがシグナルアナライザ１２に設定された際に計測される値に基づいて決定される。
【００４７】
図３に示される設定１は、測定１、及び測定２で採用する第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量を決定する際に用いられる条件に関する。設定１では、測定時のダイナミックレンジを最大まで確保するために、シグナルアナライザ１２が歪を生じない範囲で、基本周波数におけるピークレベルが最適値、すなわち、シグナルアナライザ管面の一番上の水平軸に合うように、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量を決定する。
【００４８】
また、設定２は、測定３で採用する第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量を決定する際に用いられる条件に関する。測定３は、測定１，２に対し、さらにダイナミックレンジを向上させている。そこで、設定２では、ダイナミックレンジをさらに向上させるため、基本周波数をシグナルアナライザ１２の掃引周波数範囲から外す、すなわち、シグナルアナライザ１２のプリセレクタ１２６で基本周波数を除去するようにしている。基本周波数を除去すると、シグナルアナライザ１２が歪を生じない範囲となる最大入力レベルが上昇する。最大入力レベルが上昇した分、設定１で決定した第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量をある程度下げることができ、また、可変アッテネータ１２１の値を０ｄＢまで下げることができる。
【００４９】
入力レベルを上昇させた場合、この上昇分がそのままダイナミックレンジに加算されることになる。また、ＬＮＰを動作させる、すなわち、周波数帯切換回路１２３、及びプリアンプ１２４をバイパスさせることで、シグナルアナライザ１２内部のノイズを下げ、ダイナミックレンジがさらに向上することになる。
【００５０】
図４、及び図５は、図１に示される測定制御部４２がフェーズドアレイレーダ装置から送信される信号を測定する際の動作の例を表すフローチャートである。
【００５１】
また、測定制御部４２は、図４、及び図５に示される動作の実施中に、記憶部４１に記憶される「設定１」、及び「設定２」に基づき、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量を決定する。
【００５２】
具体的には、測定制御部４２は、記憶部４１において「設定１」として記憶されている測定条件を読み出し、読み出した測定条件を、測定装置１０−１〜１０−４に備えられるシグナルアナライザ１２に設定する。また、測定制御部４２は、測定装置１０−１〜１０−４に備えられる第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３による減衰量が予め設定される値となるように、測定装置１０−１〜１０−４に備えられるドライバ１１４を制御する。測定制御部４２は、測定装置１０−１〜１０−４に備えられるシグナルアナライザ１２により測定された測定データを取得し、基本周波数におけるピークレベルが所定の範囲内、例えば、０±０．５ｄＢｍの範囲内にあるか否かを判断する。基本周波数におけるピークレベルが０±０．５ｄＢｍの範囲内にある場合、測定制御部４２は、設定されている第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量を、測定１、及び測定２で採用する第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量とする。基本周波数におけるピークレベルが０±０．５ｄＢｍの範囲内にない場合、測定制御部４２は、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３による減衰量を変更するためにドライバ１１４を制御する。測定制御部４２は、基本周波数におけるピークレベルが０±０．５ｄＢｍの範囲内になるまでドライバ１１４の制御を繰り返す。以下の説明では、「設定１」により取得される第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量をＡ値と称する。なお、スプリアス測定では、取得する波形毎に第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３からシグナルアナライザ１２へ入力される信号のレベルが異なる。基準となるピークレベルは測定対象となるスプリアスに応じて予め設定可能である。
【００５３】
また、測定制御部４２は、記憶部４１において「設定２」として記憶されている測定条件を読み出し、読み出した測定条件を、測定装置１０−１〜１０−４に備えられるシグナルアナライザ１２に設定する。また、測定制御部４２は、測定装置１０−１〜１０−４に備えられる第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３による減衰量が、Ａ値から予め設定される値、例えば、５ｄＢだけ小さくなるように、測定装置１０−１〜１０−４に備えられるドライバ１１４を制御する。以下の説明では、「設定２」により取得される第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量をＡ値−５ｄＢとする。
【００５４】
また、測定制御部４２は、シグナルアナライザ１２により測定される測定データに基づき、信号の伝搬経路に係る挿入損失データを取得する。測定制御部４２は、取得した挿入損失データを信号処理装置４０の記憶部４１に記憶する。
【００５５】
図４において、測定制御部４２は、記憶部４１に記憶される測定条件を読み込む（ステップＳ４１）。具体的には、測定制御部４２は、測定１、測定２、及び測定３にそれぞれ設定される測定条件を読み込む。なお、図４、及び図５の説明では、マルチポートスイッチ１１１の接続がポート１、ポート２、ポート３、…、ポート６の順に切り換わるように、測定制御部４２が設定されているとする。
【００５６】
測定制御部４２は、マルチポートスイッチ１１１が所望のポート、すなわち、最初の測定においてはポート１と接続し、かつ、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量が予め設定される初期値に設定されているかを判断する（ステップＳ４２）。マルチポートスイッチ１１１がポート１と接続し、かつ、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量が予め設定される初期値に設定されている場合（ステップＳ４２のＹｅｓ）、測定制御部４２は、「測定１」についての測定条件に関する情報を、測定装置１０−１〜１０−４へ出力する（ステップＳ４３）。測定装置１０−１〜１０−４のシグナルアナライザ１２に設けられる制御部１２１６は、測定制御部４２から出力される情報に基づき、シグナルアナライザ１２内の各構成要素を設定する。マルチポートスイッチ１１１がポート１と接続しておらず、かつ／若しくは、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量が予め設定される初期値に設定されていない場合（ステップＳ４２のＮｏ）、測定制御部４２は、レーダ制御部４３に設定変更処理を開始させる（ステップＳ４４）。
【００５７】
図６は、設定変更処理を実行する際のレーダ制御部４３の動作の例を表すフローチャートである。また、図７は、設定変更処理を説明する模式図である。
【００５８】
図６において、設定変更処理が開始されると、レーダ制御部４３は、レーダ設定器３０に備えられるドライバ３１を制御し、送信停止信号をアクティブにする。すなわち、レーダ制御部４３は、送信停止信号として、「短絡」の状態を有する接点信号を、ドライバ３１に生成させる（ステップＳ６１）。フェーズドアレイレーダ装置に設けられる送信機は、ドライバ３１から出力される「短絡」の送信停止信号を受信すると、移相器からの信号の送信を停止する。
【００５９】
レーダ制御部４３は、ドライバ３１に送信停止信号を生成させると、シグナルアナライザ１２で測定される測定データの信号レベルを取得する（ステップＳ６２）。レーダ制御部４３は、取得した信号レベルに基づき、フェーズドアレイレーダ装置に実装される移相器からの送信が停止されたか否かを判断する（ステップＳ６３）。具体的には、レーダ制御部４３は、取得した信号レベルが無信号となっているか否かを判断する。
【００６０】
移相器からの送信が停止されている場合（ステップＳ６３のＹｅｓ）、レーダ制御部４３は、移相器からの送信停止が確認された時点から、予め設定される切換時間のカウントを開始する（ステップＳ６４）。切換時間は、図７に示されるように、非送信確認の直後から開始される。切換時間は、ＲＦ切換器１１の設定を変更するのに必要と考えられる時間の最大値に基づいて予め設定される。
【００６１】
測定制御部４２は、レーダ制御部４３により切換時間のカウントが開始されると、マルチポートスイッチ１１１をポート１に接続させ、かつ／若しくは、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量を初期値に設定するように、測定装置１０−１〜１０−４を制御する。測定装置１０−１〜１０−４のＲＦ切換器１１に設けられるドライバ１１４は、測定制御部４２による制御に基づき、マルチポートスイッチ１１１へ切換指示信号を出力し、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３へ減衰量設定信号を出力する。
【００６２】
移相器からの送信が停止されてない場合（ステップＳ６３のＮｏ）、レーダ制御部４３は、フェーズドアレイレーダ装置への送信停止が正常に動作していないと判断し（ステップＳ６５）、処理を終了させる。
【００６３】
レーダ制御部４３は、移相器からの送信停止が確認された時点から、切換時間が経過するまで待機する（ステップＳ６６）。移相器からの送信停止が確認された時点から切換時間が経過すると、レーダ制御部４３は、ドライバ３１を制御し、送信停止信号をノンアクティブにする。すなわち、レーダ制御部４３は、送信停止信号として、「開放」の状態を有する接点信号を、ドライバ３１に生成させる（ステップＳ６７）。フェーズドアレイレーダ装置に設けられる送信機は、ドライバ３１から出力される「開放」の送信停止信号を受信すると、移相器からの信号の送信を再開する。レーダ制御部４３は、送信停止信号をノンアクティブにした後、所定のバースト期間が経過すると、測定制御部４２にステップＳ４３の処理を実行させる。
【００６４】
測定制御部４２は、ステップＳ４３において、シグナルアナライザ１２に「測定１」についての測定条件を設定すると、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３に設定されている減衰量で測定を進めてよいか否かを判断する（ステップＳ４５）。現在設定されている減衰量は初期値であるため、測定制御部４２は、現在設定されている減衰量のままでは測定を開始できないと判断し（ステップＳ４５のＮｏ）、レーダ制御部４３に設定変更処理を開始させる（ステップＳ４６）。
【００６５】
レーダ制御部４３は、図６に示されるステップＳ６１乃至ステップＳ６３を介して、フェーズドアレイレーダ装置に実装される移相器からの信号の送信を停止させる。レーダ制御部４３は、移相器からの送信停止が確認された時点から、予め設定される切換時間のカウントを開始する。測定制御部４２は、レーダ制御部４３により、切換時間のカウントが開始されると、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量を、「設定１」により決定されたＡ値に設定するように、測定装置１０−１〜１０−４を制御する。レーダ制御部４３は、移相器からの送信停止が確認された時点から、切換時間が経過すると、ドライバ３１を制御し、送信停止信号をノンアクティブにする。レーダ制御部４３は、送信停止信号をノンアクティブにした後、所定のバースト期間が経過すると、測定制御部４２にステップＳ４７の処理を実行させる。
【００６６】
測定制御部４２は、測定装置１０−１〜１０−４に備えられるシグナルアナライザ１２で測定される測定データの信号レベルを取得する（ステップＳ４７）。測定制御部４２は、取得した信号レベルに基づき、入力レベルの設定は完了したか否かを判断する（ステップＳ４８）。具体的には、測定制御部４２は、取得した信号レベルが、期待される所定の信号レベルに達しているか否かを判断する。入力レベルの設定が完了した場合（ステップＳ４８のＹｅｓ）、測定制御部４２は、シグナルアナライザ１２に測定を開始するように指示を出す（ステップＳ４９）。シグナルアナライザ１２は、レーダ装置において予め設定される周波数チャンネル、及び送信モードで送信される信号を受信し、受信した信号を測定する。
【００６７】
測定制御部４２は、シグナルアナライザ１２での測定で取得される測定データ、及び波形データを信号処理装置４０の記憶部４１に記憶し（ステップＳ４１０）、処理を図５に示されるステップＳ５１へ移行する。これにより、ポート１についての「測定１」に関する測定データ、及び波形データが取得される。入力レベルの設定が完了していない場合（ステップＳ４８のＮｏ）、測定制御部４２は、処理をステップＳ４５へ移行する。
【００６８】
図５において、測定制御部４２は、全ての測定条件、すなわち、「測定１」、「測定２」、及び「測定３」で測定データ、及び波形データが取得されたか否かを判断する（ステップＳ５１）。現在「測定１」に関する測定データ、及び波形データが取得された状態であるため、測定制御部４２は、全ての測定条件において測定データ、及び波形データが取得されていないと判断し（ステップＳ５１のＮｏ）、処理を図４に示されるステップＳ４３へ移行する。
【００６９】
測定制御部４２は、ステップＳ４３において、シグナルアナライザ１２に「測定２」についての測定条件を設定させる。続いて、測定制御部４２は、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３に設定されている減衰量で測定を進めてよいか否かを判断する（ステップＳ４５）。現在設定されている減衰量はＡ値であるため、測定制御部４２は、現在設定されている減衰量のままで測定を開始できると判断し（ステップＳ４５のＹｅｓ）、処理をステップＳ４９へ移行する。
【００７０】
測定制御部４２は、ステップＳ４９において、シグナルアナライザ１２に測定を開始させ、シグナルアナライザ１２での測定で取得される測定データ、及び波形データを記憶部４１に記憶する（ステップＳ４１０）。これにより、ポート１についての「測定２」に関する測定データ、及び波形データが取得される。
【００７１】
図５に示されるステップＳ５１において、測定制御部４２は、全ての測定条件で測定データ、及び波形データが取得されたか否かを判断する。現在「測定１」、及び「測定２」に関する測定データ、及び波形データが取得された状態であるため、測定制御部４２は、全ての測定条件において測定データ、及び波形データが取得されていないと判断し（ステップＳ５１のＮｏ）、処理を図４に示されるステップＳ４３へ移行する。
【００７２】
測定制御部４２は、ステップＳ４３において、シグナルアナライザ１２に「測定３」についての測定条件を設定させる。続いて、測定制御部４２は、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３に設定されている減衰量で測定を進めてよいか否かを判断する（ステップＳ４５）。現在設定されている減衰量はＡ値であるため、測定制御部４２は、現在設定されている減衰量のままでは測定を開始できないと判断し（ステップＳ４５のＮｏ）、レーダ制御部４３に設定変更処理を開始させる（ステップＳ４６）。
【００７３】
レーダ制御部４３は、図６に示されるステップＳ６１乃至ステップＳ６３を介して、フェーズドアレイレーダ装置に実装される移相器からの信号の送信を停止させる。レーダ制御部４３は、移相器からの送信停止が確認された時点から、予め設定される切換時間のカウントを開始する。測定制御部４２は、レーダ制御部４３により、切換時間のカウントが開始されると、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量を、「設定２」により決定されたＡ値−５ｄＢに設定するように、測定装置１０−１〜１０−４を制御する。レーダ制御部４３は、移相器からの送信停止が確認された時点から、切換時間が経過すると、ドライバ３１を制御し、送信停止信号をノンアクティブにする。レーダ制御部４３は、送信停止信号をノンアクティブにした後、所定のバースト期間が経過すると、測定制御部４２にステップＳ４９の処理を実行させる。
【００７４】
なお、ここでは、レベル合わせをせずとも第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の設定値が決められるため、ステップＳ４７で信号レベルを測定せずに、ステップＳ４８の処理を完了させることが可能である。ステップＳ４７における信号レベルの測定は実施しても構わないが、測定された信号レベルがステップＳ４８にて判定されることはない。
【００７５】
測定制御部４２は、ステップＳ４９において、シグナルアナライザ１２に測定を開始させ、シグナルアナライザ１２での測定で取得される測定データ、及び波形データを記憶部４１に記憶する（ステップＳ４１０）。これにより、ポート１についての「測定３」に関する測定データ、及び波形データが取得される。
【００７６】
図５に示されるステップＳ５１において、測定制御部４２は、全ての測定条件で測定データ、及び波形データが取得されたか否かを判断する。現在「測定１」乃至「測定３」に関する測定データ、及び波形データが取得された状態であるため、測定制御部４２は、全ての測定条件において測定データ、及び波形データが取得されたと判断し（ステップＳ５１のＹｅｓ）、全てのポートで測定データ、及び波形データが取得されたか否かを判断する（ステップＳ５２）。現在ポート１に関する測定データ、及び波形データが取得された状態であるため、測定制御部４２は、測定データ、及び波形データが取得されていないポートがあると判断し（ステップＳ５２のＮｏ）、処理を図４に示されるステップＳ４２へ移行する。
【００７７】
測定制御部４２は、マルチポートスイッチ１１１が所望のポート、すなわち、ポート２と接続し、かつ、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量が予め設定される初期値に設定されているかを判断する（ステップＳ４２）。現在、マルチポートスイッチ１１１がポート１と接続し、かつ、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量がＡ値−５ｄＢに設定されているため、測定制御部４２は、ステップＳ４２において「Ｎｏ」と判断し、レーダ制御部４３に設定変更処理を開始させる（ステップＳ４４）。
【００７８】
レーダ制御部４３は、図６に示されるステップＳ６１乃至ステップＳ６３を介して、フェーズドアレイレーダ装置に実装される移相器からの信号の送信を停止させる。レーダ制御部４３は、移相器からの送信停止が確認された時点から、予め設定される切換時間のカウントを開始する。測定制御部４２は、レーダ制御部４３により、切換時間のカウントが開始されると、マルチポートスイッチ１１１がポート２と接続し、かつ、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量が初期値となるように、測定装置１０−１〜１０−４を制御する。レーダ制御部４３は、移相器からの送信停止が確認された時点から、切換時間が経過すると、ドライバ３１を制御し、送信停止信号をノンアクティブにする。レーダ制御部４３は、送信停止信号をノンアクティブにした後、所定のバースト期間が経過すると、測定制御部４２にステップＳ４３の処理を実行させる。
【００７９】
続いて、測定制御部４２は、「測定１」についての測定条件を、測定装置１０−１〜１０−４に備えられるシグナルアナライザ１２に設定する（ステップＳ４３）。測定制御部４２は、シグナルアナライザ１２に測定条件を設定すると、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３に設定されている減衰量で測定を進めてよいか否かを判断する（ステップＳ４５）。現在設定されている減衰量は初期値であるため、測定制御部４２は、現在設定されている減衰量のままでは測定を開始できないと判断し（ステップＳ４５のＮｏ）、レーダ制御部４３に設定変更処理を開始させる（ステップＳ４６）。
【００８０】
レーダ制御部４３は、図６に示される設定変更処理に従い、フェーズドアレイレーダ装置に実装される移相器からの信号の送信を停止させる。測定制御部４２は、信号の送信が停止している間に、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量を、「設定１」により決定されたＡ値に設定するように、測定装置１０−１〜１０−４を制御する。
【００８１】
測定制御部４２は、ステップＳ４７において、シグナルアナライザ１２で測定される測定データの信号レベルを取得する。測定制御部４２は、ステップＳ４８において、取得した信号レベルに基づき、入力レベルの設定は完了したか否かを判断する。入力レベルの設定が完了している場合（ステップＳ４８のＹｅｓ）、測定制御部４２は、シグナルアナライザ１２に測定を開始させ（ステップＳ４９）、シグナルアナライザ１２での測定で取得される測定データ、及び波形データを記憶部４１に記憶する（ステップＳ４１０）。これにより、ポート２についての「測定１」に関する測定データ、及び波形データが取得される。
【００８２】
図５に示されるステップＳ５１において、測定制御部４２は、全ての測定条件で測定データ、及び波形データが取得されたか否かを判断する。現在「測定１」に関する測定データ、及び波形データが取得された状態であるため、測定制御部４２は、全ての測定条件において測定データ、及び波形データが取得されていないと判断し（ステップＳ５１のＮｏ）、処理を図４に示されるステップＳ４３へ移行する。測定制御部４２は、ポート２についての「測定１」乃至「測定３」に関する測定データ、及び波形データが取得されるまで、ステップＳ４３、ステップＳ４５乃至ステップＳ４１０、及びステップＳ５１の処理を繰り返す。
【００８３】
ポート２についての「測定１」乃至「測定３」に関する測定データ、及び波形データが取得されると、測定制御部４２は、図５に示されるステップＳ５２において、全てのポートで測定データ、及び波形データが取得されたか否かを判断する。現在ポート１、及びポート２に関する測定データ、及び波形データが取得された状態であるため、測定制御部４２は、測定データ、及び波形データが取得されていないポートがあると判断し（ステップＳ５２のＮｏ）、処理を図４に示されるステップＳ４２へ移行する。測定制御部４２は、ポート１乃至ポート６について、「測定１」乃至「測定３」に関する測定データ、及び波形データが取得されるまで、ステップＳ４２乃至ステップＳ４１０、ステップＳ５１、及びステップＳ５２の処理を繰り返す。ポート１乃至ポート６について、「測定１」乃至「測定３」に関する測定データ、及び波形データが取得されると、測定制御部４２は、処理をステップＳ５３へ移行する。
【００８４】
測定制御部４２は、ステップＳ５３において、マルチポートスイッチ１１１において先頭ポート、すなわちポート１が接続されているか否かを判断する（ステップＳ５３）。現在、ポート６についての測定データを取得した直後であるため、マルチポートスイッチ１１１では、ポート６が接続されている。測定制御部４２は、マルチポートスイッチ１１１において先頭ポートが接続されていないと判断し（ステップＳ５３のＮｏ）、レーダ制御部４３に設定変更処理を開始させる（ステップＳ５４）。
【００８５】
レーダ制御部４３は、図６に示される設定変更処理に従い、フェーズドアレイレーダ装置に実装される移相器からの信号の送信を停止させる。測定制御部４２は、信号の送信が停止している間に、マルチポートスイッチ１１１を先頭ポートであるポート１に接続させ、かつ、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量を初期値に設定するように、測定装置１０−１〜１０−４を制御する。
【００８６】
マルチポートスイッチ１１１をポート１に接続させ、かつ、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量を初期値に設定すると、測定制御部４２は、シグナルアナライザ１２の設定をプリセットし（ステップＳ５６）、処理を終了させる。
【００８７】
ステップＳ５３において、マルチポートスイッチ１１１において先頭ポートが接続されている場合（ステップＳ５３のＹｅｓ）、測定制御部４２は、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量が初期値に設定されているか否かを判断する（ステップＳ５５）。減衰量が初期値に設定されている場合（ステップＳ５５のＹｅｓ）、測定制御部４２は、シグナルアナライザ１２の設定をプリセットし（ステップＳ５６）、処理を終了させる。
【００８８】
減衰量が初期値に設定されていない場合（ステップＳ５５のＮｏ）、測定制御部４２は、レーダ制御部４３に設定変更処理を開始させ（ステップＳ５４）、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量を初期値に設定するように、測定装置１０−１〜１０−４を制御する。第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量を初期値に設定すると、測定制御部４２は、シグナルアナライザ１２の設定をプリセットし（ステップＳ５６）、処理を終了させる。
【００８９】
次に、解析部４４の動作を図８乃至図１３を用いて説明する。図８は、図１に示される解析部４４が記憶部４１に記憶される挿入損失データから規格線を補正する際の動作の例を表すフローチャートである。
【００９０】
まず、解析部４４は、記憶部４１から挿入損失データを読み込む（ステップＳ８１）。解析部４４は、読み込んだ挿入損失データに基づき、電波法に基づいて予め設定される規格値を、シグナルアナライザ１２が測定した周波数ポイント毎に伝送路の損失を考慮した値に校正する（ステップＳ８２）。解析部４４は、校正した規格値を波形データとしての規格線に変換し（ステップＳ８３）、処理を終了する。
【００９１】
図９は、図１に示される解析部４４が記憶部４１に記憶される波形データを解析する際の動作の例を表すフローチャートである。
【００９２】
まず、解析部４４は、記憶部４１から波形データを読み込む（ステップＳ９１）。解析部４４は、読み込んだ波形データに、図８のステップＳ８３で取得した、校正後の規格線を付与し（ステップＳ９２）、処理を終了する。解析部４４は、読み込んだ波形データに基づく表示、及び規格線が付与された波形データに基づく表示を、信号処理装置４０に接続される表示器に表示させてもよいし、ネットワークを介して、例えば、プリンタ等の外部装置へ出力するようにしてもよい。また、解析部４４は、この表示を記憶部４１に記憶させてもよい。
【００９３】
図１１乃至図１３は、波形データに基づいて表示される表示画像の例を表す図である。図１１は、所定のポートについての「測定１」に関する波形データに基づく表示画像を表す図である。「測定１」は、帯域外領域と、スプリアス領域との境界付近を取得するための測定である。
【００９４】
図１２は、所定のポートについての「測定２」に関する波形データに規格線を付与したデータに基づく表示画像を表す図である。「測定２」は、スプリアス領域の低域、及び中域部分を取得するための測定である。図１２において、太線が測定値を表し、細線が校正された規格値を表す。
【００９５】
図１３は、所定のポートについての「測定３」に関する波形データに規格線を付与したデータに基づく表示画像を表す図である。「測定３」は、ダイナミックレンジを引き上げ、スプリアス領域の高域部分を取得するための測定である。図１３において、太線が測定値を表し、細線が校正された規格値を表す。
【００９６】
図１０は、図１に示される解析部４４が記憶部４１に記憶される測定データを解析する際の動作の例を表すフローチャートである。
【００９７】
まず、解析部４４は、「測定１」、「測定２」、及び「測定３」に関する測定データを記憶部４１から読み込む（ステップＳ１０１）。解析部４４は、読み出した測定データと、図８のステップＳ８２で取得した、校正後の規格値とを比較する（ステップＳ１０２）。図１３に示されるように校正後の規格値よりも大きい測定値がある場合、解析部４４は、移相器から送信される信号にはスプリアスが含まれていると判断する（ステップＳ１０３）。解析部４４は、判断結果を、信号処理装置４０に接続される表示器に表示させてもよいし、ネットワークを介して外部装置へ出力するようにしてもよい。また、解析部４４は、判定結果を記憶部４１に記憶させてもよい。
【００９８】
図１４は、本実施形態に係るレーダ試験システム１の効果を模式的に表す図である。図１４では、１０００個の移相器が設けられたフェーズドアレイレーダ装置を、１台の測定装置を用いて手動で試験した場合にかかる時間と、測定装置１０−１〜１０−４を備えるレーダ試験システム１を用いて試験した場合にかかる時間とを示す。
【００９９】
１台の測定装置を用いて手動で試験した場合、同時に実施できる測定数Ａは、「１」である。また、送信機から送信される信号の停止／再開を操作するのにかかる時間Ｂは、「３０秒」である。また、測定装置に備えられる計測器の測定条件を設定するのにかかる時間Ｃは、「３５秒」である。また、計測器へ信号を入力する減衰器の減衰量を設定するのにかかる時間Ｄは、「１５秒」である。また、規格線を校正し、校正した規格線を波形データに付与するのにかかる時間Ｅは、「１８０秒」である。また、校正後の規格値と測定値とを比較することで不要発射を評価するのにかかる時間Ｆは、「１０秒」である。以上のことから、１０００個の移相器が設けられたフェーズドアレイレーダ装置を試験するのにかかる総時間Ｔは、Ｔ＝（（Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）×１０００）／Ａ＋（Ｅ＋Ｆ）×１０００の式で求められ、２７０，０００秒、すなわち７５時間となる。
【０１００】
一方、測定装置１０−１〜１０−４を備えるレーダ試験システム１を用いて試験した場合、同時に実施できる測定数Ａは、「４」である。また、送信機から送信される信号の停止／再開を操作するのにかかる時間Ｂは、「３秒」である。また、測定装置１０−１〜１０−４に備えられるシグナルアナライザ１２の測定条件を設定するのにかかる時間Ｃは、「１０秒」である。また、シグナルアナライザ１２へ信号を入力する第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の減衰量を設定するのにかかる時間Ｄは、「２秒」である。また、規格線を校正し、校正した規格線を波形データに付与するのにかかる時間Ｅは、「５秒」である。また、校正後の規格値と測定値とを比較することで不要発射を評価するのにかかる時間Ｆは、「５秒」である。そうすると、１０００個の移相器が設けられたフェーズドアレイレーダ装置を試験するのにかかる総時間Ｔは、Ｔ＝（（Ｂ＋Ｃ＋Ｄ）×１０００）／Ａ＋（Ｅ＋Ｆ）×１０００から、１３，７５０秒、すなわちおよそ４時間と求められる。このように、大幅な効率化が実現することになる。
【０１０１】
以上のように、本実施形態では、レーダ試験システム１は、レーダ装置に設けられる移相器から送信される信号を、第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３により減衰させる。シグナルアナライザ１２は、減衰された信号を測定する。信号処理装置４０は、レーダ装置からの信号の送信、及び停止を制御する。そして、信号処理装置４０は、送信が停止している間に、シグナルアナライザ１２へ入力信号を供給する第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の設定を切り換えるようにしている。第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の設定を切り換える際、測定経路が開路となる。この状態で信号が入力されると、入力信号が反射され、故障の原因となる。本実施形態では、レーダ装置からの信号が停止している間に第１及び第２のステップアッテネータ１１２，１１３の設定を切り換えるため、操作者が反射波の発生に注意を払う必要はない。
【０１０２】
したがって、本実施形態に係るレーダ試験システムによれば、移相器出力におけるスプリアス評価を効率よく行うことができる。
【０１０３】
また、本実施形態では、信号処理装置４０は、シグナルアナライザ１２に対し、予め設定される順序で測定条件を設定するようにしている。これにより、本実施形態では、操作者がシグナルアナライザ１２の設定を変更する必要がなくなる。
【０１０４】
また、本実施形態では、測定装置１０−１〜１０−４に設けられるＲＦ切換器１１は、マルチポートスイッチ１１１を備える。そして、信号処理装置４０は、送信が停止している間に、マルチポートスイッチ１１１の接続を切り換えるようにしている。マルチポートスイッチ１１１の接続を切り換える際、測定経路が開路となる。この状態で信号が入力されると、入力信号が反射され、故障の原因となる。本実施形態では、レーダ装置からの信号が停止している間にマルチポートスイッチ１１１の接続を切り換えるため、操作者が反射波の発生に注意を払う必要はない。
【０１０５】
また、本実施形態では、測定装置１０−１〜１０−４は、結合路を介してレーダ装置の移相器と接続する。そして、測定装置１０−１〜１０−４に設けられるシグナルアナライザ１２は、移相器から送信される信号を測定するようにしている。これにより、レーダ試験システム１は、より多くの移相器に対して試験を実施することが可能となる。
【０１０６】
また、本実施形態では、信号処理装置４０は、測定装置１０−１〜１０−４で取得された測定データ、及び波形データを、挿入損失データに基づいて校正した規格値と比較するようにしている。これにより、操作者が規格値を校正する必要がなくなり、かつ、測定データ、及び波形データと校正後の規格値とを比較する必要がなくなる。
【０１０７】
また、本実施形態では、信号処理装置４０は、測定装置１０−１〜１０−４で取得された波形データに校正後の規格値に基づく波形データを付与するようにしている。これにより、操作者が測定装置１０−１〜１０−４で取得された波形データに校正後の規格値に基づく波形データを付与する必要がなくなる。
【０１０８】
また、本実施形態では、信号処理装置４０が測定制御部４２、レーダ制御部４３、及び解析部４４の機能を実現する場合を例に説明した。しかしながら、これに限定されない。例えば、解析部４４は、信号処理装置４０とは異なる装置で実現するようにしても構わない。このとき、他装置で実現される解析部４４は、信号処理装置４０の記憶部４１から測定データ、及び波形データを読み出し、読み出した測定データ、及び波形データを解析する。
【０１０９】
なお、本実施形態に関わるレーダ試験システム１による試験の対象となるフェーズドアレイレーダ装置は、パッシブ方式であっても、アクティブ方式であっても構わない。
【０１１０】
本発明の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。この実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。この実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【０１１１】
１…レーダ試験システム、１０−１〜１０−４…測定装置、１１…ＲＦ切換器、１１１…マルチポートスイッチ、１１２…第１のステップアッテネータ、１１３…第２のステップアッテネータ、１１４…ドライバ、１１５…ＡＣ／ＤＣ電源、１２…シグナルアナライザ、１２１…可変アッテネータ、１２２…ＬＮＰ切換回路、１２３…周波数帯切換回路、１２４…プリアンプ、１２５…バイパス切換回路、１２６…プリセレクタ、１２７…第１の周波数変換部、１２８…ＬＰＦ、１２９…第２の周波数変換部、１２１０…ＩＦアンプ、１２１１…ＩＦフィルタ、１２１２…ディテクタ、１２１３…ビデオフィルタ、１２１４…アナログ−デジタルコンバータ、１２１５…記憶部、１２１６…制御部、１３…ハブ、２０…ハブ、３０…レーダ設定器、３１…ドライバ、３２…ＡＣ／ＤＣ電源、４０…信号処理装置、４１…記憶部、４２…測定制御部、４３…レーダ制御部、４４…解析部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【手続補正書】
【提出日】平成29年11月27日(2017.11.27)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アレイレーダ装置に設けられる移相器から送信される信号を、設定される減衰量で減衰させる減衰器と、
設定される測定条件に従い、前記減衰器で減衰された信号を測定する測定処理部と、
前記測定条件を参照し、前記減衰器の減衰量の設定を変更するか否かを判断する測定制御部と、
前記測定制御部により前記減衰器の減衰量の設定を変更すると判断されると、前記移相器からの信号の送信を停止させるレーダ制御部と
を具備し、
前記測定制御部は、前記移相器からの前記信号の送信が停止されている期間に前記減衰器の減衰量の設定を変更する、レーダ試験システム。
【請求項２】
前記測定制御部は、前記測定処理部の前記測定条件を予め設定される順序に従って設定する請求項１記載のレーダ試験システム。
【請求項３】
前記アレイレーダ装置に設けられる複数の移相器と、前記減衰器との接続を切り換えるスイッチをさらに具備し、
前記測定制御部は、前記接続を切り換えるか否かを判断し、
前記レーダ制御部は、前記測定制御部により前記接続を切り換えると判断されると、前記移相器からの信号の送信を停止させ、
前記測定制御部は、前記移相器からの前記信号の送信が停止されている期間に前記接続を切り換える請求項１又は２に記載のレーダ試験システム。
【請求項４】
前記減衰器、及び前記測定処理部を複数具備し、
前記複数の減衰器それぞれは、前記アレイレーダ装置に設けられる複数の移相器のいずれかと接続し、
前記複数の測定処理部それぞれは、前記複数の減衰器のいずれかと接続する請求項１記載のレーダ試験システム。
【請求項５】
前記複数の測定処理部は、設定される測定条件に従って前記信号を測定し、
前記測定制御部は、前記複数の測定処理部の前記測定条件を予め設定される順序に従って設定する請求項４記載のレーダ試験システム。
【請求項６】
前記アレイレーダ装置に設けられる複数の移相器と、前記複数の減衰器との接続を切り換えるスイッチをさらに複数具備し、
前記測定制御部は、前記接続を切り換えるか否かを判断し、
前記レーダ制御部は、前記測定制御部により前記接続を切り換えると判断されると、前記移相器からの信号の送信を停止させ、
前記測定制御部は、前記移相器からの前記信号の送信が停止されている期間に前記接続を切り換える請求項４又は５に記載のレーダ試験システム。
【請求項７】
予め設定される規格値を、伝送路の損失を考慮した値に校正し、前記校正した規格値と、前記測定処理部による測定結果とを比較する解析部をさらに具備する請求項１乃至６のいずれかに記載のレーダ試験システム。
【請求項８】
予め設定される規格値を、伝送路の損失を考慮した値に校正し、前記校正した規格値と、前記測定処理部による測定結果とを含む波形データを生成する解析部をさらに具備する請求項１乃至６のいずれかに記載のレーダ試験システム。
【請求項９】
設定される測定条件に従い、アレイレーダ装置に設けられる移相器から送信されて減衰器で減衰された信号を測定し、
前記測定条件を参照し、前記減衰器の減衰量の設定を変更するか否かを判断し、
前記減衰器の減衰量の設定を変更すると判断すると、前記移相器からの信号の送信を停止させ、
前記移相器からの前記信号の送信が停止されている期間に前記減衰器の減衰量の設定を変更するレーダ試験方法。
【請求項１０】
前記測定条件は、予め設定される順序に従って設定される請求項９記載のレーダ試験方法。
【請求項１１】
前記アレイレーダ装置に設けられる複数の移相器と、前記減衰器との接続を切り換えるか否かを判断し、
前記接続を切り換えると判断すると、前記移相器からの信号の送信を停止させ、
前記移相器からの前記信号の送信が停止されている期間に前記接続を切り換える請求項９又は１０に記載のレーダ試験方法。
【請求項１２】
予め設定される規格値を、前記信号が伝搬する経路を考慮した値に校正し、
前記校正した規格値と、前記測定の結果とを比較する請求項９乃至１１のいずれかに記載のレーダ試験方法。
【請求項１３】
予め設定される規格値を、前記信号が伝搬する経路を考慮した値に校正し、
前記校正した規格値と、前記測定の結果とを含む波形データを生成する請求項９乃至１１のいずれかに記載のレーダ試験方法。