(57)【要約】【課題】測定結果を解析する際に必要な検証を容易に行う。【解決手段】データ解析装置１は、時間情報と強度情報を有するサンプリングデータＤ１を取得し、横軸：時間軸、縦軸：強度軸の二次元座標上の各ピクセルがサンプリングデータＤ１の出現頻度を示すピクセルデータＤ３にサンプリングデータＤ１を変換するデータ変換部３と、ピクセルデータＤ３の各ピクセルと各ドットとを１対１に対応させ、サンプリングデータＤ１の出現頻度に応じて各ドットを色分け、輝度、濃淡または透過率の少なくとも何れかで識別した波形画像Ｄ２をピクセルデータＤ３から生成する波形画像生成部５と、ピクセルデータＤ３を統計処理して各種測定結果Ｄ４を取得する測定処理部４とを備える。データ変換部３は、波形画像Ｄ２を取り込むと、可逆変換処理にて波形画像Ｄ２からピクセルデータＤ３を復元する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
等価時間サンプリングオシロスコープで生成した、時間情報と強度情報を有するサンプリングデータ（Ｄ１）の出現頻度に応じて各ドットを色分け、輝度、濃淡または透過率の少なくとも何れかで識別した波形画像（Ｄ２）を取得し、横軸を時間軸、縦軸を強度軸とする二次元座標上の各ピクセルが前記サンプリングデータの出現頻度を示すピクセルデータ（Ｄ３）であって、各ピクセルを前記波形画像の各ドットと１対１に対応したピクセルデータを可逆変換処理にて前記波形画像から復元するデータ変換部（２）と、
前記ピクセルデータから統計処理による測定処理を実行して各種測定結果（Ｄ４）を取得する測定処理部（３）と、
前記波形画像と前記測定結果を表示する表示部（５）とを備えたことを特徴とするデータ解析装置。
【請求項２】
時間情報と強度情報を有するサンプリングデータ（Ｄ１）を取得し、横軸を時間軸、縦軸を強度軸とする二次元座標上の各ピクセルが前記サンプリングデータの出現頻度を示すピクセルデータ（Ｄ３）に前記サンプリングデータを変換するデータ変換部（２）と、
前記ピクセルデータの各ピクセルと各ドットとを１対１に対応させ、前記サンプリングデータの出現頻度に応じて前記各ドットを色分け、輝度、濃淡または透過率の少なくとも何れかで識別した波形画像（Ｄ２）を前記ピクセルデータから生成する波形画像生成部（７）と、
前記ピクセルデータから統計処理による測定処理を実行して各種測定結果（Ｄ４）を取得する測定処理部（３）とを備え、
前記データ変換部は、前記波形画像を取り込んだときに、可逆変換処理にて前記波形画像から前記ピクセルデータを復元することを特徴とするデータ解析装置。
【請求項３】
等価時間サンプリングオシロスコープで生成した、時間情報と強度情報を有するサンプリングデータ（Ｄ１）の出現頻度に応じて各ドットを色分け、輝度、濃淡または透過率の少なくとも何れかで識別した波形画像（Ｄ２）を取得するステップと、
横軸を時間軸、縦軸を強度軸とする二次元座標上の各ピクセルが前記サンプリングデータの出現頻度を示すピクセルデータ（Ｄ３）であって、各ピクセルを前記波形画像の各ドットと１対１に対応したピクセルデータを可逆変換処理にて前記波形画像から復元するステップと、
前記ピクセルデータから統計処理による測定処理を実行して各種測定結果（Ｄ４）を取得するステップと、
前記波形画像と前記測定結果を表示するステップとを含むことを特徴とするデータ解析方法。
【請求項４】
時間情報と強度情報を有するサンプリングデータ（Ｄ１）を取得するステップと、
横軸を時間軸、縦軸を強度軸とする二次元座標上の各ピクセルが前記サンプリングデータの出現頻度を示すピクセルデータ（Ｄ３）に前記サンプリングデータを変換するステップと、
前記ピクセルデータの各ピクセルと各ドットとを１対１に対応させ、前記サンプリングデータの出現頻度に応じて前記各ドットを色分け、輝度、濃淡または透過率の少なくとも何れかで識別した波形画像（Ｄ２）を前記ピクセルデータから生成するステップと、
前記ピクセルデータから統計処理による測定処理を実行して各種測定結果（Ｄ４）を取得するステップと、
前記波形画像を取り込んだときに、可逆変換処理にて前記波形画像から前記ピクセルデータを復元するステップとを含むことを特徴とするデータ解析方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、波形画像から復元されるピクセルデータに基づいて測定結果を検証・解析することができるデータ解析装置及びデータ解析方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、被測定物（ＤＵＴ）の評価試験を行うために用いられる測定器の一つとして、被測定物からの被測定信号を繰り返しサンプリングして観測波形やアイダイアグラムを表示する等価時間サンプリングオシロスコープが知られている。
【０００３】
尚、下記特許文献１には、ダイレクト・デジタル・シンセサイザ（ＤＤＳ：Direct Digital Synthesizer）とプログラマブルカウンタを用いて生成されるストローブ信号によりサンプラにてパターン信号をサンプリングする技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】米国特許第７２８４１４１号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、測定器としての等価時間サンプリングオシロスコープは、測定結果がドットによる波形画像と統計処理によって得られる数値データで表現されるが、そのサンプリング方式としてはアイダイアグラムを評価するランダムサンプリングが主流をなしており、測定結果から必要なデータを取り出して解析するのが困難であるという現状がある。また、等価時間サンプリングオシロスコープなどの測定器を使用するユーザは、測定結果に問題や疑問が生じて解析が行えない場合、測定時にキャプチャした波形画像や数値データをコメントとともに添えて測定器メーカに問い合わせる場合がある。この場合、測定器メーカの検証者は、ユーザから提供される波形画像や数値データの検証・解析を行うが、主観的評価によるものが大きく、検証・解析に個人差が生じ、正確な検証・解析が行えない可能性があった。
【０００６】
さらに、ユーザから例えばアイマスク試験で満足な結果が得られない、といったコメントのみが波形画像に添えられた場合、測定器メーカの検証者は、Ｅｙｅ  Ｃｒｏｓｓｉｎｇ（１レベルと０レベルを基準にしたクロスポイントの振幅レベル）の解析位置が正しいか、アイ振幅の値が妥当かなどを検証・解析する必要があるが、これらを検証・解析するために必要な情報がユーザから提供される波形画像に含まれていないことがある。この場合、検証や解析に必要な追加情報をユーザに問い合わせする必要があり、ユーザへの説明や追加情報の送付依頼など作業が煩雑になり、ユーザへの負担も増えるという問題があった。
【０００７】
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであって、測定結果を解析する際に必要な検証を容易に行うことができるデータ解析装置及びデータ解析方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するため、本発明の請求項１に記載されたデータ解析装置は、等価時間サンプリングオシロスコープで生成した、時間情報と強度情報を有するサンプリングデータＤ１の出現頻度に応じて各ドットを色分け、輝度、濃淡または透過率の少なくとも何れかで識別した波形画像Ｄ２を取得し、横軸を時間軸、縦軸を強度軸とする二次元座標上の各ピクセルが前記サンプリングデータの出現頻度を示すピクセルデータＤ３であって、各ピクセルを前記波形画像の各ドットと１対１に対応したピクセルデータを可逆変換処理にて前記波形画像から復元するデータ変換部２と、
前記ピクセルデータから統計処理による測定処理を実行して各種測定結果Ｄ４を取得する測定処理部３と、
前記波形画像と前記測定結果を表示する表示部５とを備えたことを特徴とする。
【０００９】
請求項２に記載されたデータ解析装置は、時間情報と強度情報を有するサンプリングデータＤ１を取得し、横軸を時間軸、縦軸を強度軸とする二次元座標上の各ピクセルが前記サンプリングデータの出現頻度を示すピクセルデータＤ３に前記サンプリングデータを変換するデータ変換部２と、
前記ピクセルデータの各ピクセルと各ドットとを１対１に対応させ、前記サンプリングデータの出現頻度に応じて前記各ドットを色分け、輝度、濃淡または透過率の少なくとも何れかで識別した波形画像Ｄ２を前記ピクセルデータから生成する波形画像生成部７と、
前記ピクセルデータから統計処理による測定処理を実行して各種測定結果Ｄ４を取得する測定処理部３とを備え、
前記データ変換部は、前記波形画像を取り込んだときに、可逆変換処理にて前記波形画像から前記ピクセルデータを復元することを特徴とする。
【００１０】
請求項３に記載されたデータ解析方法は、等価時間サンプリングオシロスコープで生成した、時間情報と強度情報を有するサンプリングデータＤ１の出現頻度に応じて各ドットを色分け、輝度、濃淡または透過率の少なくとも何れかで識別した波形画像Ｄ２を取得するステップと、
横軸を時間軸、縦軸を強度軸とする二次元座標上の各ピクセルが前記サンプリングデータの出現頻度を示すピクセルデータＤ３であって、各ピクセルを前記波形画像の各ドットと１対１に対応したピクセルデータを可逆変換処理にて前記波形画像から復元するステップと、
前記ピクセルデータから統計処理による測定処理を実行して各種測定結果Ｄ４を取得するステップと、
前記波形画像と前記測定結果を表示するステップとを含むことを特徴とする。
【００１１】
請求項４に記載されたデータ解析方法は、時間情報と強度情報を有するサンプリングデータＤ１を取得するステップと、
横軸を時間軸、縦軸を強度軸とする二次元座標上の各ピクセルが前記サンプリングデータの出現頻度を示すピクセルデータＤ３に前記サンプリングデータを変換するステップと、
前記ピクセルデータの各ピクセルと各ドットとを１対１に対応させ、前記サンプリングデータの出現頻度に応じて前記各ドットを色分け、輝度、濃淡または透過率の少なくとも何れかで識別した波形画像Ｄ２を前記ピクセルデータから生成するステップと、
前記ピクセルデータから統計処理による測定処理を実行して各種測定結果Ｄ４を取得するステップと、
前記波形画像を取り込んだときに、可逆変換処理にて前記波形画像から前記ピクセルデータを復元するステップとを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、波形画像からピクセルデータを復元し、復元したピクセルデータに基づいて測定結果を解析する際に必要な検証が容易に行え、ユーザへの負担を減らして作業効率の向上を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】本発明に係るデータ解析装置の第１実施の形態のブロック構成図である。
【図２】本発明に係るデータ解析装置の第２実施の形態のブロック構成図である。
【図３】通常のデータ解析時の動作フローチャート図である。
【図４】データ逆解析時の動作フローチャート図である。
【図５】ピクセルデータの一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明を実施するための形態について、添付した図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１５】
［第１実施の形態］
以下、図１を参照しながら第１実施の形態のデータ解析装置の構成ついて説明する。
図１に示すように、第１実施の形態のデータ解析装置１（１Ａ）は、データ変換部２、測定処理部３、表示制御部４、表示部５を備えて概略構成される。
【００１６】
データ変換部２は、後述するデータ逆解析時に、例えば等価時間サンプリングオシロスコープ（以下、サンプリングオシロスコープという）で生成したサンプリングデータＤ１の出現頻度に応じて識別された波形画像Ｄ２を取得し、取得した波形画像Ｄ２を可逆変換処理してピクセルデータＤ３を復元する。
【００１７】
サンプリングデータＤ１は、例えば被測定物からの被測定信号を繰り返しサンプリングして得られるデータであり、時間情報と強度情報を含む。また、サンプリングデータＤ１は、時間情報と強度情報を含んでいればよく、例えば時間情報と振幅情報、位相情報と電圧情報、位相情報と電力情報などがある。
【００１８】
波形画像Ｄ２は、後述するピクセルデータＤ３の各ピクセルと各ドットが１対１に対応し、サンプリングデータＤ１の出現頻度（ヒットカウント値）に応じて各ドットが色分けや、輝度や濃淡、透過率やこれらの組み合わせにて識別表示された画像である。
【００１９】
例えば時間軸をＸ座標、強度軸をＹ座標とする二次元座標上でピクセルデータＤ３が４００×４００ピクセルからなる場合、波形画像Ｄ２は４００×４００ドットからなる。すなわち、波形画像Ｄ２の各ドットとピクセルデータＤ３の各ピクセルとを１対１に対応付け、波形画像Ｄ２の画像サイズのドット数とピクセルデータＤ３のデータサイズのピクセル数とを同じ数で同一配列にしている。これにより、波形画像Ｄ２から可逆変換処理によりピクセルデータＤ３を復元できるようにしている。
【００２０】
尚、波形画像Ｄ２は、サンプリングデータＤ１のヒットカウント値が最も多く出現する最頻値のドットを特定の色（例えば白色）で表示し、最頻値を基準とする出現割合に応じて設定される配色で各ドットを色分けや、輝度や濃淡、透過率やこれらの組み合わせにて識別表示する。
【００２１】
ピクセルデータＤ３は、図５に示すように、Ｘ座標（横軸）：時間軸、Ｙ座標（縦軸）：強度軸からなる二次元座標上の各ピクセルに対してサンプリングデータＤ１を展開したものであり、Ｘ−Ｙの二次元座標上の各ピクセルがサンプリングデータＤ１のヒットカウント値による出現頻度を示す。
【００２２】
測定処理部３は、後述するデータ逆解析時に、データ変換部２にて変換されたピクセルデータＤ３から統計処理による測定処理を実行し、各種測定結果Ｄ４（例えばアイ振幅、ジッタ、アイマスク試験などの結果）を取得する。
【００２３】
表示制御部４は、後述するデータ逆解析時に、データ変換部２から波形画像Ｄ２が入力されると、この波形画像Ｄ２を表示部５の表示画面上に表示制御する。また、表示制御部４は、後述するデータ逆解析時に、測定処理部３にて取得した各種測定結果Ｄ４が入力されると、この各種測定結果Ｄ４を表示部５の表示画面上に表示制御する。
【００２４】
表示部５は、例えば装置本体に設けられる液晶表示器などで構成され、表示制御部４の表示制御により、波形画像Ｄ２と各種測定結果Ｄ４を表示画面上に表示する。
【００２５】
［第２実施の形態］
次に、図２を参照しながら第２実施の形態のデータ解析装置の構成ついて説明する。尚、図２において、第１実施の形態のデータ解析装置１Ａと同一又は同等の構成要素には同一番号を付して説明する。
【００２６】
図２に示すように、第２実施の形態のデータ解析装置１（１Ｂ）は、第１実施の形態のデータ解析装置１Ａにおけるデータ変換部２、測定処理部３、表示制御部４、表示部５に加え、切替部６、波形画像生成部７、記憶部８を備えて概略構成される。
【００２７】
切替部６は、後述する通常のデータ解析時に、不図示の制御部により、外部からサンプリングデータＤ１をデータ変換部２に入力するように切替制御される。また、切替部６は、後述するデータ逆解析時に、不図示の制御部により、外部から波形画像Ｄ２をデータ変換部２に入力するように切替制御される。
【００２８】
サンプリングデータＤ１は、例えば被測定物からの被測定信号をサンプリングオシロスコープにて繰り返しサンプリングして得られるデータであり、時間情報と強度情報を含む。また、サンプリングデータＤ１は、時間情報と強度情報を含んでいればよく、例えば時間情報と振幅情報、位相情報と電圧情報、位相情報と電力情報などがある。
【００２９】
波形画像Ｄ２は、後述するピクセルデータＤ３の各ピクセルと各ドットが１対１に対応し、サンプリングデータＤ１の出現頻度（ヒットカウント値）に応じて各ドットが色分けや、輝度や濃淡、透過率やこれらの組み合わせにて識別表示された画像である。
【００３０】
例えば時間軸をＸ座標、強度軸をＹ座標とする二次元座標上でピクセルデータＤ３が４００×４００ピクセルからなる場合、波形画像Ｄ２は４００×４００ドットからなる。すなわち、波形画像Ｄ２の各ドットとピクセルデータＤ３の各ピクセルとを１対１に対応付け、波形画像Ｄ２の画像サイズのドット数とピクセルデータＤ３のデータサイズのピクセル数とを同じ数で同一配列にしている。これにより、波形画像Ｄ２から可逆変換処理によりピクセルデータＤ３を復元できるようにしている。
【００３１】
尚、波形画像Ｄ２は、サンプリングデータＤ１のヒットカウント値が最も多く出現する最頻値のドットを特定の色（例えば白色）で表示し、最頻値を基準とする出現割合に応じて設定される配色で各ドットを色分けや、輝度や濃淡、透過率やこれらの組み合わせにて識別表示する。
【００３２】
データ変換部２は、後述する通常のデータ解析時に、切替部６を介して入力されるサンプリングデータＤ１のデータ群を統計処理が可能なピクセルデータＤ３に変換する。このピクセルデータＤ３への変換は例えば所定時間（設定時間）ごとに行われる。また、データ変換部２は、後述するデータ逆解析時に、切替部６を介して入力される波形画像Ｄ２を可逆変換処理してピクセルデータＤ３を復元する。
【００３３】
ピクセルデータＤ３は、図５に示すように、Ｘ座標（横軸）：時間軸、Ｙ座標（縦軸）：強度軸からなる二次元座標上の各ピクセルに対してサンプリングデータＤ１を展開したものであり、Ｘ−Ｙの二次元座標上の各ピクセルがサンプリングデータＤ１のヒットカウント値による出現頻度を示す。
【００３４】
測定処理部３は、後述する通常のデータ解析時、又はデータ逆解析時に、データ変換部２にて変換されたピクセルデータＤ３から統計処理による測定処理を実行し、各種測定結果Ｄ４（例えばアイ振幅、ジッタ、アイマスク試験などの結果）を取得する。
【００３５】
波形画像生成部７は、後述する通常のデータ解析時に、データ変換部２にて変換されたピクセルデータＤ３が入力されると、可逆性を意識してピクセルデータＤ３から波形画像Ｄ２を生成する。すなわち、波形画像Ｄ２からピクセルデータＤ３が可逆変換処理により復元できるように、ピクセルデータＤ３の各ピクセルと波形画像Ｄ２の各ドットとを１対１に対応させ、サンプリングデータＤ１のヒットカウント値による出現頻度に応じて各ドットを色分けや、輝度や濃淡、透過率やこれらの組み合わせにて識別した波形画像Ｄ２をピクセルデータＤ３から生成する。
【００３６】
記憶部８は、波形画像生成部７が生成した波形画像Ｄ２を記憶する。尚、記憶部８には、データ変換部２にて変換したピクセルデータＤ３を必要に応じて保存することもできる。
【００３７】
表示制御部４は、後述する通常のデータ解析時に、波形画像生成部７にて生成した波形画像Ｄ２を表示部５の表示画面上に表示制御する。また、表示制御部４は、後述するデータ逆解析時に、データ変換部２から波形画像Ｄ２が入力されると、この波形画像Ｄ２を表示部５の表示画面上に表示制御する。さらに、表示制御部４は、後述する通常のデータ解析時、又はデータ逆解析時に、測定処理部３にて取得した各種測定結果Ｄ４が入力されると、この各種測定結果Ｄ４を表示部５の表示画面上に表示制御する。
【００３８】
表示部５は、例えば装置本体に設けられる液晶表示器などで構成され、表示制御部４の表示制御により、波形画像Ｄ２と各種測定結果Ｄ４を表示画面上に表示する。
【００３９】
次に、上述した第２実施の形態のデータ解析装置１Ｂを用いたデータ解析方法として、通常のデータ解析時の動作について図３のフローチャートを参照しながら説明する。
【００４０】
［通常のデータ解析時の動作］
データ変換部２は、切替部６を介してサンプリングデータＤ１を取り込み（ＳＴ１）、取り込んだサンプリングデータＤ１のデータ群を統計処理が可能なピクセルデータＤ３に変換する（ＳＴ２）。この変換したピクセルデータＤ３は、測定処理部３及び波形画像生成部７に入力される。
【００４１】
続いて、測定処理部３は、データ変換部２にて変換されたピクセルデータＤ３から統計処理による測定処理を実行し、各種測定結果Ｄ４を取得する（ＳＴ３）。この取得した各種測定結果Ｄ４は、表示制御部４に入力される。
【００４２】
これに並行して、波形画像生成部７は、データ変換部２から入力されるピクセルデータＤ３の各ピクセルと各ドットとを１対１に対応させてサンプリングデータＤ１の出現頻度に応じて各ドットを色分けや、輝度や濃淡、透過率やこれらの組み合わせにて識別した波形画像Ｄ２をピクセルデータＤ３から生成し（ＳＴ４）、生成した波形画像Ｄ２を記憶部８に保存する（ＳＴ５）。
【００４３】
そして、表示制御部４は、波形画像生成部７にて生成した波形画像Ｄ２と測定処理部３から入力される各種測定結果Ｄ４とを表示部５の表示画面上に表示制御する（ＳＴ６）。
【００４４】
次に、上述した第１実施の形態のデータ解析装置１Ａ又は第２実施の形態のデータ解析装置１Ｂを用いたデータ解析方法として、データ逆解析時の動作について図４のフローチャートを参照しながら説明する。
【００４５】
［データ逆解析時の動作］
第１実施の形態のデータ解析装置１Ａでは、データ変換部２がサンプリングオシロスコープ１１で生成した波形画像Ｄ２を取り込み（ＳＴ１１）、取り込んだ波形画像Ｄ２から可逆変換処理によりピクセルデータＤ３を復元する（ＳＴ１２）。また、第２実施の形態のデータ解析装置１Ｂでは、データ変換部２が切替部２を介して波形画像Ｄ２を取り込み（ＳＴ１１）、取り込んだ波形画像Ｄ２から可逆変換処理によりピクセルデータＤ３を復元する（ＳＴ１２）。この復元したピクセルデータＤ３は測定処理部３に入力される。
【００４６】
尚、このときデータ変換部２に取り込まれる波形画像Ｄ２は、可逆変換処理によりピクセルデータＤ３を復元できる形式であることが前提となる。
【００４７】
測定処理部３は、データ変換部２にて変換されたピクセルデータＤ３から統計処理による測定処理を実行し、各種測定結果Ｄ４を取得する（ＳＴ１３）。この取得した各種測定結果Ｄ４は、波形画像Ｄ２とともに表示制御部４に入力される。
【００４８】
そして、表示制御部４は、データ変換部２から入力される波形画像Ｄ２と測定処理部３から入力される各種測定結果Ｄ４を表示部５の表示画面上に表示制御する（ＳＴ１４）。
【００４９】
尚、本実施の形態では、データ逆解析を測定器としてのデータ解析装置１（１Ａ，１Ｂ）の一部の機能として例示したが、データ逆解析の機能のみを備えたデータ解析装置としても実現可能であり、例えばパーソナルコンピュータ（ＰＣ）等の情報処理装置でデータ解析装置を構成し、データ逆解析の機能のみを実施することもできる。
【００５０】
次に、ピクセルデータを用いた測定例として、アイ解析の「Ｏｎｅ  Ｌｅｖｅｌ」の測定例について図５を参照しながら説明する。
【００５１】
「Ｏｎｅ  Ｌｅｖｅｌ」とは、２値デジタル信号伝送における「Ｌｏｇｉｃ１」の電圧振幅（光の場合は光電力）を表す測定値となり、アイダイアグラムの中心±１０％の範囲のヒストグラムを計算して平均値として測定するのが慣例である。
【００５２】
ここで、平均値に関して特に規定がないため、以下の方式で計算を行う。「Ｏｎｅ  Ｌｅｖｅｌ」とは、２値デジタル信号伝送における「Ｌｏｇｉｃ１」の電圧振幅（光の場合は光電力）を表す測定値なので、測定結果は電圧値または光電力値であり、平均とはＹ軸方向の平均値になる。
【００５３】
一方で、±１０％とあるように、Ｘ座標に関しても幅を持っている。図５の太線で囲まれる部分の例の場合は４つのＸ座標を有する。
【００５４】
従って、平均値を計算する前に、まずＸ座標に関する総和を計算する。例えば図５の太線で囲まれる部分の例の場合、特定のＹ座標において４つのＸ座標の値が４７、３９、３１、５６なので、そのＹ座標における総和は４７＋３９＋３１＋５６＝１７３となる。この計算を対象となるＹ座標全てにおいて算出し、ひとつのＹ座標配列を計算する。そして、最後に求めたＹ座標配列に関して平均を算出することにより「Ｏｎｅ  Ｌｅｖｅｌ」を求める。
【００５５】
尚、上記説明は「Ｏｎｅ  Ｌｅｖｅｌ」の測定例であるが、基本的な概念はジッタでも同様である。ジッタの場合、理想的にはＸ座標に対する分布を測定するため、Ｙ幅は１（強いて言えば幅０）が好ましいが、それでは計算が安定しないため、実際にはＹ座標に幅を持たせ、上述した「Ｏｎｅ  Ｌｅｖｅｌ」の測定例と同様に総和を計算することでＸ座標の平均値（場合によっては、Ｐｅａｋ−ｔｏ−Ｐｅａｋ、標準偏差）を計算する。
【００５６】
このように、本実施の形態のデータ解析装置及びデータ解析方法では、通常のデータ解析時に、時間情報と強度情報を有するサンプリングデータＤ１を取得すると、横軸を時間軸、縦軸を強度軸とする二次元座標上の各ピクセルがサンプリングデータＤ１の出現頻度を示すピクセルデータＤ３に変換する。そして、ピクセルデータＤ３の各ピクセルと各ドットとを１対１に対応させ、サンプリングデータＤ１の出現頻度に応じて各ドットを色分けや、輝度や濃淡、透過率やこれらの組み合わせにて識別した波形画像Ｄ２をピクセルデータＤ３から生成する。また、並行して、ピクセルデータＤ３から統計処理による測定処理を実行して各種測定結果Ｄ４（例えばアイ振幅、ジッタ、アイマスク試験などの結果）を取得する。そして、データ逆解析時には、波形画像Ｄ２を取り込むと、可逆変換処理にて波形画像Ｄ２からピクセルデータＤ３を復元する。
【００５７】
これにより、ユーザから測定器メーカへのアイ波形の解析結果の問い合わせの際など、波形画像の提供がなされた時点で設定や検証に必要な結果の表示がたとえ提供された波形画像に含まれていなくとも、波形画像からピクセルデータを復元させることが可能になり、復元したピクセルデータに基づいて測定結果を解析する際に必要な検証が容易に行え、ユーザへの負担を減らして作業効率の向上を図ることができる。
【００５８】
例えばユーザからアイマスク試験で満足な結果が得られない、といったコメントのみ添えられた場合、測定器メーカの検証者はＥｙｅ  Ｃｒｏｓｓｉｎｇ（１レベルと０レベルを基準にしたクロスポイントの振幅レベル）の解析位置が正しいか、アイ振幅の値が妥当かなどを検証・解析する必要があるが、これらを検証・解析するために必要な情報がユーザから提供された波形画像には含まれていないことがある。その場合、従来であれば必要な追加情報をユーザに問い合わせする必要があり、ユーザへの説明や追加情報の送付依頼などが煩雑し、ユーザへの負担も増えるという問題があったが、本実施の形態を採用すればユーザに追加の問い合わせをせずとも解析が可能となる。特に、評価結果が温度試験中など測定系の再現が難しい場合など、通常であれば同等のデータの再測定が困難な場合であっても本実施の形態であれば解析が可能となる。
【００５９】
以上、本発明に係るデータ解析装置及びデータ解析方法の最良の形態について説明したが、この形態による記述及び図面により本発明が限定されることはない。すなわち、この形態に基づいて当業者等によりなされる他の形態、実施例及び運用技術などはすべて本発明の範疇に含まれることは勿論である。
【符号の説明】
【００６０】
１（１Ａ，１Ｂ）  データ解析装置
２  データ変換部
３  測定処理部
４  表示制御部
５  表示部
６  切替部
７  波形画像生成部
８  記憶部
１１  サンプリングオシロスコープ
Ｄ１  サンプリングデータ
Ｄ２  波形画像
Ｄ３  ピクセルデータ
Ｄ４  各種測定結果
【図１】
2018132443.tif 000003
【図２】
2018132443.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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