(57)【要約】      （修正有）【課題】試料ラックと搬送装置に導体を設けることで試料容器に帯電した静電気を除電することが可能な自動分析装置を提供すること。【解決手段】自動分析装置は、検査対象である試料を保持する試料容器と、試料容器を載置する試料ラック３１と、試料ラック３１に設けられ、試料ラック３１に載置された試料容器と一部で接触する第１の導体部３１２ａと、第１の導体部３１２ａと連結し、試料ラックの外部に露出した第２の導体部３１２ｂと、試料ラック３１の搬送を行う搬送部と、搬送部に設けられ、第２の導体部３１２ｂと接触することで試料容器に帯電した電荷を除電する第３の導体部とを具備する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象である試料を保持する試料容器と、
前記試料容器を載置する試料ラックと、
前記試料容器に保持される試料を分注し、静電容量の変化を検出することで試料の液面を検出する試料分注プローブと、
前記試料ラックに設けられ、前記試料ラックに載置された前記試料容器と一部で接触する第１の導体部と、
前記第１の導体部と連結し、前記試料ラックの外部に露出した第２の導体部と、
前記試料ラックの搬送を行う搬送部と、
前記搬送部に設けられ、前記第２の導体部と接触することで前記試料容器に帯電した電荷を除電する第３の導体部と、
を有する自動分析装置。
【請求項２】
前記第１の導体部は、前記第２の導体部と電気的に導通し、且つ前記試料容器を固定する固定具である請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項３】
前記固定具は、前記試料容器の側面に複数の方向から接触することで前記試料容器を固定するとともに、前記試料容器に帯電した電荷を除電する請求項２に記載の自動分析装置。
【請求項４】
前記第２の導体部は、前記試料ラックの底面で露出しているものであって、前記搬送部の上面に設けられる前記第３の導体部と接触することで前記試料容器に帯電した電荷を除電する請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項５】
前記第２の導体部は、前記試料ラックの側面で露出しているものであって、前記搬送部の側面に設けられる前記第３の導体部と接触することで前記試料容器に帯電した電荷を除電する請求項１に記載の自動分析装置。
【請求項６】
前記試料ラックは複数の前記試料容器を保持することが可能であって、
前記第２の導体部は、複数の前記試料容器の数に対応した数だけ複数設けられ、複数の前記第１及び第２の導体部は導線にて接続されている請求項１から５の少なくとも１つに記載の自動分析装置。
【請求項７】
前記試料を分注するための試料分注プローブと、
前記搬送部は、前記試料ラックを前記試料容器が載置された状態において前記試料分注プローブが前記試料を吸引位置に移動させると共に、前記第３の導体部は、前記搬送部の前記吸引位置に設けられる請求項１から６の少なくとも１つに記載の自動分析装置。
【請求項８】
前記搬送部は、前記試料ラックに前記試料容器を載置した状態において、前記試料ラックをアームで保持した状態で搬送する第２の搬送部を更に有し、
前記第２の導体部は前記第２の搬送部に設けられた第４の導体部と接触することで除電を行う請求項１から６の少なくとも１つに記載の自動分析装置。
【請求項９】
検査対象である試料を保持することが可能な試料容器を載置する試料ラックにおいて、
絶縁体で構成され、前記試料容器を載置する開口領域を有する筐体と、
前記筐体の一部に設けられ、導体で構成され、前記試料容器と接触する試料容器接触具と、
前記筐体の一部に設けられ、導体で構成され、前記試料容器接触具と導線を介して接続され、前記試料容器に帯電した電荷を放出する外部接触具と、
を有する試料ラック。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、自動分析装置及び試料ラックに関する。
【背景技術】
【０００２】
自動分析装置は、生化学検査項目や免疫検査項目等を検査対象とし、試料と各検査項目の分析に用いる試薬の混合液の反応によって生じる色調や濁りの変化を、分光光度計や比濁計の測光部で光学的に測定する。この測定により、試料中の様々な検査項目成分の濃度や酵素の活性等で示される分析データが生成される。
【０００３】
自動分析装置では、試料毎に複数の検査項目の中から選択された検査対象項目の分析を行う。分析手順は以下の通りである。まず、試料分注プローブが吸引位置に配置された試料容器内の試料を吸引して反応容器に吐出する。次に試薬分注プローブが試薬容器内の試薬を吸引して反応容器に吐出し、測光装置が反応容器内に吐出された試料及び試薬の混合液を測定する。
【０００４】
ところで、自動分析装置による検査を行う際に、試料容器を試料ラックに載置する際の摩擦等によって試料容器が静電気を帯びることがある。試料の液面は試料分注プローブによって液面での静電容量の変化を検出することによって検知されている。そのため、試料容器が静電気を帯びていると、試料分注プローブが試料容器との間で生じる浮遊容量を検出してしまう場合があり、試料分注プローブによって試料液面の検知が正常に行われない場合がある。そのため、試料液面の検知異常を除くためにも、試料分注前に試料容器に帯電した静電気を除電する必要がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００８−１０２０３２号公報
【特許文献２】特開平１１−２７１３１９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明が解決しようとする課題は、効率的に試料容器の除電を行うことで、液面検出を精度よく行うことが可能な自動分析装置及び試料ラックを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
実施形態の自動分析装置は、検査対象である試料を保持する試料容器と、試料容器を載置する試料ラックと、試料ラックに設けられ、試料ラックに載置された試料容器と一部で接触する第１の導体部と、第１の導体部と連結し、試料ラックの外部に露出した第２の導体部と、試料ラックの搬送を行う搬送部と、搬送部に設けられ、第２の導体部と接触することで試料容器に帯電した電荷を除電する第３の導体部とを具備する。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】第１の実施形態に係る自動分析装置の分析装置を示す外観図。
【図２】第１の実施形態に係る試料ラックの断面図及び外観図。
【図３】第１の実施形態に係る分注レーンの一例を示す模式図。
【図４】第１の実施形態に係る処理の流れを示すフローチャート。
【図５】第１の実施形態の変形例１に係る試料ラックの断面図及び外観図。
【図６】第１の実施形態の変形例１に係る分注レーンの一例を示す模式図。
【図７】第２の実施形態に係る試料ラックの断面図及び外観図。
【図８】第３の実施形態に係る試料ラックの断面図。
【図９】第３の実施形態に係る搬送アームの一例を示す模式図。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、図面を参照して自動分析装置１００の分析装置１０について説明する。
【００１０】
図１は自動分析装置１００の分析装置１０の構成を示した斜視図である。この分析装置１０は、第１試薬庫１５と第２試薬庫１６と反応テーブル１８とを有する。分析装置１０では、試料容器１１に保持された状態で搬送される試料に対して検査を行う。分析装置１０は、分析部の一例である。
【００１１】
試料容器１１は、試料を収容する容器であり、採血管や試料カップ、試験管等によって構成される。
【００１２】
第１試薬庫１５と第２試薬庫１６のそれぞれには試薬容器１３が収容される。試薬容器１３には各検査時に使用する試薬が収容される。第１試薬庫１５及び第２試薬庫１６の中には、試薬ラック１４が配置され、試薬容器１３が保持されている。例えば、第１試薬庫及び第２試薬庫は円柱形の筐体やケースによって構成される。反応テーブル１８は、第１試薬庫１５を取り囲むように配置され、円周上に配置された複数の反応容器１７を保持する円柱形の筐体である。
【００１３】
また、分析装置１０は、試料分注プローブ１９と試料分注アーム２０と第１試薬分注プローブ２１と第１試薬分注アーム２２と攪拌装置２３を有する。
【００１４】
試料分注プローブ１９は、後述する分注レーン４２上の試料ラック３１に保持された試料容器１１内の試料を吸引して反応容器１７内へ分注するプローブである。試料分注プローブ１９は、試料の液面に試料分注プローブ１９が接した際の静電容量の変化を検出することによって試料液面を検出する。
【００１５】
試料ラック３１は、検査対象の試料を収容した試料容器１１を複数保持することが可能な保持具である。第１の実施形態に係る試料ラック３１ａに関しては、図２を用いて後述する。
【００１６】
試料分注アーム２０は、試料分注プローブ１９を保持し、試料分注アーム２０が回転動作することにより試料分注プローブ１９を移動させるアームである。また、試料分注アーム２０が上下動作に伴い試料分注プローブ１９を上下方向に移動させる。
【００１７】
第１試薬分注プローブ２１は、試薬容器１３から吸引した試薬を反応容器１７内に分注するプローブである。反応容器１７内には試料が分注されており、試薬は反応容器１７内の試料と混合される。
【００１８】
第１試薬分注アーム２２は、第１試薬分注プローブ２１を保持し、第１試薬分注アーム２２が回転動作することにより第１試薬分注プローブ２１を移動させるアームである。また、第１試薬分注アーム２２が上下動作することにより、第１試薬分注プローブ２１を上下方向に移動させる。
【００１９】
攪拌装置２３は、反応容器１７に分注された試料及び試薬の混合液の攪拌を行う攪拌機である。
【００２０】
更に、分析装置１０は、第２試薬分注プローブ２５と第２試薬分注アーム２６と測定装置２９と洗浄ノズル３０を有する。
【００２１】
第２試薬分注プローブ２５は、試薬ラック１４に保持された試薬容器１３内の試薬を吸引して反応容器１７内に吐出し、分注を行うプローブである。第２試薬分注アーム２６は、第２試薬分注プローブ２５を回動及び上下移動可能に保持するアームである。
【００２２】
測定装置２９は、反応容器１７内の標準試料や試料及び試薬を含む混合液を透過した光を検出し、得られた検出信号を解析して、例えば標準データや被検データを生成する。測定装置２９は、反応容器１７内の試料に対して光を照射する光源、反応容器１７中の混合液を透過した光を検出し、光のスペクトルなどの性質を示す検出信号を出力する検出器、検出信号から検査結果を示すデータを生成するプロセッサ等によって構成される。標準データは濃度が既知の標準試料の吸光度である。被検データは測定装置２９で測定された検査対象試料の吸光度である。プロセッサは検査対象試料から得られた被検データと標準データとを比較することによって、検査対象試料に含まれる物質とその濃度を検出する。洗浄ノズル３０は、測定装置２９による測定を終了した反応容器１７内を洗浄する。
【００２３】
分注レーン４２は、試料分注プローブ１９が試料を分注する吸引位置Ｔｃへ試料ラック３１を移動可能に設けられ、分注レーン４２の長手方向が分析装置１０の図１に示す左右方向に平行になるように分析装置１０の前方に配置されるレーンである。ここで、試料ラック３１は分注レーン４２上の複数任意の位置に載置される。また、分注レーン４２に載置された複数の試料ラック３１、ベルトの回転駆動により試料容器１１一つ分の距離ずつ吸引位置へとスライド移動する。また、第１の実施形態に係る分注レーン４２ａに関しては、図３を用いて後述する。また、分注レーン４２は、第１の搬送部の一例である。
【００２４】
（第１の実施形態）
第１の実施形態では、図１に示す試料ラック３１には試料容器１１に接する導体が設けられ、また、分注レーン４２には試料ラック３１に設けられた導体と接触する導体を配置しておき、試料ラック３１及び分注レーン４２のそれぞれに取り付けられた導体が互いに接触することで試料容器１１に帯電した静電気を除電する場合について説明する。なお、試料ラック３１に取り付けられた導体は、試料ラック３１に載置される試料容器１１と接触するように配置される。
【００２５】
図２は、第１の実施形態に係る試料ラック３１の一例を示している。図２（ａ）、図２（ｂ）、及び図２（ｃ）は、それぞれ試料ラック３１の正面図に対応する向きの断面図、試料ラック３１の上面図、及び試料ラック３１の底面図を示している。
【００２６】
図２（ａ）に示すように、試料ラック３１は、プラスチック等の絶縁体で構成される筐体３１０と、導体３１２から構成される。試料ラック３１の筐体３１０には、試料容器１１を載置するための開口領域３１１が複数設けられている。試料ラック３１の開口領域３１１に試料容器１１が挿入されると、試料容器１１は導体３１２と接触する。
【００２７】
導体３１２は、試料容器１１が試料ラック３１に載置された際に接触するように設けられている。また、導体３１２は、試料ラック３１が分注レーン４２上の吸引位置Ｔｃの位置にあるときに分注レーン４２上に設けられた導体と接触することで、試料容器１１に帯電した静電気を除電する機能を有し、電気を通す金属製の導線で構成される。
【００２８】
導体３１２は、試料容器接触具３１２ａと、外部接触具３１２ｂと、導線３１２ｃから構成される。導体３１２は単一の導体を加工することで図２に示す形状を有することにしても構わないし、各領域を複数の導体から構成しても構わない。
【００２９】
試料容器接触具３１２ａは、試料容器１１と接触することで試料容器１１を固定する金属製の固定具である。試料容器接触具３１２ａは、図２（ｂ）に示すような短冊形状の導線を開口領域３１１の開口側から試料ラック３１の底面側に向かって、開口領域３１１の側壁とは一定の角度を有して配置される。試料容器接触具３１２ａが有するこの形状により、試料容器１１は導体で構成される試料容器接触具３１２ａに複数の方向から接触することで固定され、且つ、試料容器１１に帯電した静電気を、導体３１２を通じて除電することが可能である。なお、試料容器接触具３１２ａは、第１の導体部の一例であり、後述する外部接触具３１２ｂと電気的に導通している。
【００３０】
外部接触具３１２ｂは、分注レーン４２上の導体と接触することで、導体３１２に蓄積された電荷を放出し、除電を行う機能を有する。第１の実施形態における外部接触具３１２ｂは、図２（ｃ）に示すように試料ラック３１の底面に露出するように設けられる電極である。外部接触具３１２ｂと試料容器接触具３１２ａは導線３１２ｃを介して接続されている。なお、外部接触具３１２ｂは、第２の導体部の一例である。
【００３１】
導線３１２ｃは、試料容器接触具３１２ａと外部接触具３１２ｂとを接続する導線である。
【００３２】
次に、図３を用いて除電方法の一例を説明する。
【００３３】
図３は、分注レーン４２上に試料ラック３１が配置され、分注レーン４２上の導体４２１と試料ラック３１の外部接触具３１２ｂが接触することによって行われる除電を説明するための模式図である。
【００３４】
図３（ａ）は、分注レーン４２上における導体４２１の配置を説明するための図である。
【００３５】
導体４２１（第２の導体部）は、例えば平板の金属板や金属シートにて構成され、図示しない導線によってアース接続されている。導体４２１は、図３（ａ）に示すように分注レーン４２上に設けられる。例えば、導体４２１は、試料分注プローブ１９によって分注が行われる吸引位置Ｔｃに配置される。また、導体４２１は第３の導体部の一例である。
【００３６】
図３に示す例では、導体４２１は試料分注プローブ１９による吸引位置Ｔｃに設けられる。これにより、図３（ｂ）に示すように、吸引位置Ｔｃにおいて分注が行われている試料容器１１に対応する位置の外部接触具３１２ｂは導体４２１と接触し、試料容器１１に帯電した電荷を、導体４２１を介して除電することが可能になる。このように、吸引位置Ｔｃにて除電を行うことにより、確実に試料容器１１が除電された状態で試料を分注することが可能になる。
【００３７】
図４は、第１の実施形態における除電の流れの一例を示すフローチャートである。
【００３８】
分注レーン４２上に試料ラック３１が配置されると（ステップＳ１０１）、試料ラック３１に載置された試料容器１１が吸引位置Ｔｃに移動する（ステップＳ１０２）。
【００３９】
次に、試料容器１１は吸引位置Ｔｃに移動すると、分注レーン４２上に設けられた導体４２１と試料ラック３１側の外部接触具３１２ｂが接触し試料容器１１の除電が行われる（ステップＳ１０３）。
【００４０】
吸引位置Ｔｃにて分注が行われている試料容器１１に対する試料の吸引が終了すると、隣接した次の試料容器１１の分注を行うために試料容器１１の１つ分に相当する距離だけ吸引位置Ｔｃ側に移動する（ステップＳ１０４）。
【００４１】
以上説明した実施形態では、試料ラック３１に載置された試料容器１１の除電を、試料ラック３１及び分注レーン４２に設けられた導体で行うため、試料容器１１には、除電のために試料ラック３１外から物理的に何らかの物（例えば除電ブラシ等）を接触させる必要がない。したがって、例えば試料容器１１の外側面に貼布されているラベルが除電のための何らかの物理的な物に巻き込まれたり、或いは剥がされることがないので、試料容器１１に設けられるラベルの機能を損ねることがなく、測定にも何らかの悪影響を及ぼすことがない。
【００４２】
また、実施形態によれば、試料ラック３１自体を導体として構成せずに、絶縁体で構成される筐体３１０とし、試料容器１１が試料ラック３１に載置された際に接触する部分に導体３１２を設けたので、導体と試料分注プローブ１９との間で生じる浮遊容量が液面検出に及ぼす影響が少ない。従って、試料分注プローブ１９による液面の検出をより確実に行うことが可能となる。
【００４３】
（第１の実施形態の変形例１）
第１の実施形態では、試料ラック３１に設けられる外部接触具３１２ｂは、試料ラック３１の底面に設けられ、分注レーン４２上に配置された導体４２１と接触することで試料容器１１の除電を行うものとして説明した。本変形例における試料ラック３１ｂに設けられる導体３１３の外部接触具３１３ｂは試料ラック３１ｂの底面ではなく側面に設けられるものとして説明する。試料ラック３１の底面は分注レーン４２上にて絶えず接触しているため外部接触具３１２ｂが汚れやすい。そのため、試料ラック３１の側面に外部接触具３１３ｂを設け、外部接触具３１３ｂが汚れることを回避する。また、分注レーン４２ｃではなく分注レーン４２ｃに隣接して平行に設けられる筐体５０の壁部に除電用の導体４２１ｂが設けられる。
【００４４】
図５は、本変形例に係る試料ラック３１ｂの一例を示している。図５（ａ）、（ｂ）、及び（ｃ）は、それぞれ試料ラック３１ｂの正面図に対応する断面図、試料ラック３１ｂの上面図、及び試料ラック３１ｂの底面図を示している。本変形例に係る試料ラック３１ｂに設けられる導体３１３は、図２を用いて説明した第１の実施形態の導体３１２と同様に、試料容器接触具３１３ａと、外部接触具３１３ｂと、導線３１３ｃから構成される。本変形例に係る、導体３１３の外部接触具３１３ｂは、図５（ｂ）及び（ｃ）に示すように試料ラック３１ｂの長手面の少なくとも一方に配置される。なお、外部接触具３１３ｂの試料ラック３１の高さ方向（ｚ方向）における配置位置は、図５（ａ）に示す配置には限定されず、試料ラック３１ｂの側面であればｚ方向（高さ方向）の位置に制約は無い。
【００４５】
図６は、本変形例に係る除電時の試料ラック３１ｂと筐体５０の壁部との配置関係の一例を示す模式図である。
【００４６】
図６に示すように、吸引位置Ｔｃに対応する筐体５０の側面に導体４２１ｂは設けられる。試料ラック３１ｂの導体３１３の外部接触具３１３ｂと筐体５０の壁部に設けられた導体４２１ｂが接触すると、試料容器１１に帯電した静電気は除電される。
【００４７】
以上説明した第１の実施形態では試料ラック３１は、図３における紙面右側から吸引位置Ｔｃに向って搬送されるものとして説明したが、試料ラック３１の搬送方向は反対向きであっても構わない。例えば、通常の検査フローに従って試料ラック３１が図３に示す紙面右側から左側に向って分注レーン４２上を移動する場合において、緊急の検査を要する試料を有する試料ラック３１が存在する場合がある。このとき、試料ラック３１は図３に示す紙面左側から通常の試料ラック３１の移動方向とは逆方向に移動することで、吸引位置Ｔｃにおいて除電が行われることにしても構わない。
【００４８】
以上説明した変形例により、導体３１３の外部接触具３１３ｂが試料ラック３１ｂの側面に設けられることにより、外部接触具３１３ｂに付着する汚れを低減し、より効率的に試料容器１１の除電を行うことが可能になる。
【００４９】
（第２の実施形態）
第１の実施形態では、試料ラック３１に設けられる導体３１２は、複数の試料容器１１を載置するための開口領域３１１の数に対応した数だけ独立して設けられるものとして説明した。本実施形態では、各開口領域３１１の数に設けられる導体３１４はそれぞれ連結しており、外部接触具３１４ｂが試料ラック３１ｃにつき１つだけ設けられる場合について図７を用いて説明する。
【００５０】
図７は、本実施形態に係る試料ラック３１ｃの一例を示している。図７（ａ）及び（ｂ）は、それぞれ試料ラック３１ｃの正面図に対応する断面図及び試料ラック３１ｃの底面図を示している。本実施形態に係る試料ラック３１ｃに設けられる導体３１４は、第１の実施形態の導体３１２と同様に、試料容器接触具３１４ａと、外部接触具３１４ｂと、導線３１４ｃから構成される。
【００５１】
本実施形態に係る導体３１４は、図７（ａ）に示すように、導線３１４ｃによって各開口領域３１１に対応した導体３１４が全て接続されており、単一の外部接触具３１４ｄに接続されている。また、図７（ｂ）に示すように、外部接触具３１４ｄは試料ラック３１ｃの底面に１箇所設けられる。このとき、分注レーン４２の構成は第１の実施形態と同様の構成にて導体４２１を配置すればよい。
【００５２】
ただし、外部接触具３１４ｄの配置位置は試料ラック３１ｃの底面に限定される必要はなく、第１の実施形態の変形例１にて示したように試料ラック３１ｃの側面に配置されることにしても構わない。このとき、導体４２１は、第１の実施形態の変形例１と同様に、筐体５０の側面に設ければよい。
【００５３】
また、外部接触具３１４ｂは１つだけある必要はなく、複数の外部接触具３１４ｄを設けることにしても構わない。以上説明した第２の実施形態の試料ラック３１ｃを用いることにより、第１の実施形態よりも簡略な構成で試料容器１１の除電を行うことが可能である。
【００５４】
（第３の実施形態）
第１及び第２の実施形態では、試料ラック３１に設けられた導体と分注レーン４２又は筐体５０の側面に設けられた導体が接触することで試料容器１１の除電を行うものとして説明した。本実施形態では、試料ラック３１ｄに設けられた導体３１５と試料ラック３１ｄを任意の位置に搬送可能な搬送アーム５１のアーム５１ｂに設けられた導体とが接触することによって除電を行う場合について説明する。
【００５５】
搬送アーム５１は、例えば、検査前の試料ラック３１が載置される投入レーン（図示なし）から分注レーン４２へと試料ラック３１を搬送する装置であり、搬送アームを駆動させるモータやアーム５１ｂから構成される。なお、搬送アーム５１が試料ラック３１を搬送することは、投入レーンと分注レーン４２間の搬送に限られるものではなく、試料吸引まで一時的に試料ラックを待機させるために設けられる待機レーンや、検査後の試料ラック３１が載置される回収レーンへと試料ラック３１を搬送することも該当する。また、搬送アーム５１のアーム５１ｂの少なくとも一部は導体が設けられている。
【００５６】
なお、搬送アーム５１は、試料ラック３１に設けられる貫通穴にアーム５１ｂを貫通させることで試料ラック３１を持ち上げ、所定の位置に搬送する。また、搬送アーム５１は、第２の搬送部の一例である。
【００５７】
図８は、本実施形態に係る試料ラック３１ｄの一例を示している。図８に示すように、試料ラック３１ｄには、上記説明した実施形態と同様に導体３１５が設けられている。また、導体３１５は、上記説明した実施形態と同様に試料容器接触具３１５ａと、外部接触具３１５ｂと、導線３１５ｃから構成される。ただし、本実施形態における外部接触具３１５ｂは、試料ラック３１ｄに設けられる貫通穴３１６の上部に設けられる。これにより、後述する搬送アーム５１の導体にて構成されるアーム５１ｂが接触すると搬送アーム５１を介して試料容器１１に帯電した静電気を除電することが可能である。また、各開口領域に対応した複数の導体３１５外部接触具３１５ｂと導線３１５ｃを介して接続される。各試料容器１１に帯電した静電気は、図８に示す２つの外部接触具３１５ｂの何れかによって除電されればよい。なお、搬送アーム５１のアーム５１ｂは、第４の導体部の一例である。
【００５８】
図９は、第３の実施形態に係る搬送アーム５１による試料容器１１の除電の一例を示す模式図である。図９に示すように、搬送アーム５１はアーム５１ｂを試料ラック３１ｄの貫通穴に挿入した状態で試料ラック３１ｄを保持し、搬送を行う。そのため、搬送アーム５１のアーム５１ｂを導体にて構成し、搬送アーム５１をアースしておくことで、搬送アーム５１による試料ラック３１ｄの搬送時に試料容器１１の除電を行うことが可能である。本実施形態では、搬送アーム５１は試料容器１１の除電が完了した状態にて試料ラック３１ｄを分注レーン４２上へと載置する。
【００５９】
以上説明した第３の実施形態により、分注レーン４２や筐体５０の側面に導体を設けることなく試料容器１１の除電を行うことが可能である。また、本実施形態における外部接触具３１５ｂは、貫通穴３１６の上部に設けられる。これにより、外部接触具３１５ｂが汚れにくくなり、より確実に試料容器１１の除電を行うことが可能になる。
【００６０】
以上説明した各実施形態により、除電ブラシを用いずに試料容器１１に帯電した静電気を除電することが可能となる。これにより、除電ブラシを用いる場合に起こりうるエラーの発生の恐れを無くすことができ、検査効率の向上に寄与することが可能である。また、除電に用いる導体の設置箇所も試料容器１１との接触部位と導線、外部との接触部位に限定することができるため試料ラック３１に用いられる導体を大幅に減らすことが可能となる。これにより、試料分注プローブ１９によって試料液面を検出する際に生じる浮遊容量の影響を低減させることも可能となる。
【００６１】
なお、本実施形態において「部」として説明した構成要素は、その動作がハードウェアによって実現されるものであってもよいし、ソフトウェアによって実現されるものであってもよいし、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせによって実現されるものであってもよい。
【００６２】
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これらの実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると共に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
【符号の説明】
【００６３】
１０…分析装置、１１…試料容器、１９…試料分注プローブ、３１、３１ｂ、３１ｃ、３１ｄ…試料ラック、３１１…開口領域、３１２…導体、３１２ａ…試料容器接触具、３１２ｂ…外部接触具、３１２ｃ…導線、４２…分注レーン、４２１…導体、５０…筐体、５１…搬送アーム、５１ｂ…アーム、１００…自動分析装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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