(57)【要約】【課題】試験対象装置の出力値が許容範囲外であった場合に手動で修正する作業が不要になる自動入出力試験装置を提供する。【解決手段】一実施形態によれば、自動入出力試験装置は、試験対象装置の試験に用いる試験信号を発生させる信号発生器と、試験信号を測定する測定器と、信号発生器と試験対象装置との間で試験信号の出力先を切り替える信号切替器と、信号発生器、測定器、および信号切替器を制御する試験制御装置と、を備える。試験制御装置は、試験信号に応じて試験対象装置から出力された出力値と、測定器の測定値とに基づいて工学値を出力する工学値出力部と、工学値が許容範囲内であるか否か判断し、許容範囲外の場合に工学値を分析して修正情報を生成し、生成した修正情報を試験対象装置へ送信する自動修正部と、を含む。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験対象装置の試験に用いる試験信号を発生させる信号発生器と、
前記試験信号を測定する測定器と、
前記信号発生器と前記試験対象装置との間で前記試験信号の出力先を切り替える信号切替器と、
前記信号発生器、前記測定器、および前記信号切替器を制御する試験制御装置と、を備え、
前記試験制御装置は、
前記試験信号に応じて前記試験対象装置から出力された出力値と、前記測定器の測定値とに基づいて工学値を出力する工学値出力部と、
前記工学値が許容範囲内であるか否か判断し、許容範囲外の場合に前記工学値を分析して修正情報を生成し、生成した修正情報を前記試験対象装置へ送信する自動修正部と、
を含む、自動入出力試験装置。
【請求項２】
前記試験制御装置は、
前記試験対象装置から前記修正情報に基づく修正の完了を示す修正完了通知を受けると、再試験の要求を示す再試験要求通知を出力する自動再試験部と、
前記再試験要求通知を受けると、前記信号発生器に前記試験信号を再び発生させ、発生させた前記試験信号が前記試験対象装置に再び入力されるように前記信号切替器を制御する対話制御部と、
を含む、請求項１に記載の自動入出力試験装置。
【請求項３】
試験対象装置の試験に用いる試験信号を発生させる信号発生器と、
前記試験信号を測定する測定器と、
前記信号発生器と前記試験対象装置との間で前記試験信号の出力先を切り替える信号切替器と、
前記信号発生器、前記測定器、および前記信号切替器を制御する試験制御装置と、を備え、
前記信号切替器が、前記試験信号に前記出力先を示す出力先情報を付加したコントロール信号を生成するコントロール信号生成部を含み、
前記試験対象装置に、複数の端子に接続された端子台が設けられ、前記端子台が、前記コントロール信号から前記出力先情報を抽出し、抽出した前記出力先情報が当該端子台の番号に一致する場合に前記コントロール信号から前記試験信号を抽出する信号抽出部を有する、自動入出力試験装置。
【請求項４】
試験対象装置の試験に用いる試験信号を発生させる信号発生器と、
前記試験信号を測定する測定器と、
前記信号発生器と前記試験対象装置との間で前記試験信号の出力先を切り替える信号切替器と、
前記信号発生器、前記測定器、および前記信号切替器を制御する試験制御装置と、を備え、
前記試験制御装置は、
前記試験に関する複数の項目と、前記複数の項目にそれぞれ属する複数の試験情報とを関連付けた情報テーブルを記憶する情報記憶部と、
前記情報テーブルに基づくフォーマットを用いて、試験結果を示す試験成績書を作成する成績書作成部と、
前記試験成績書を印刷する印刷部と、を含む自動入出力試験装置。
【請求項５】
試験対象装置の試験に用いる試験信号に応じて前記試験対象装置から出力された出力値と、前記試験信号を測定する測定器の測定値とに基づいて工学値を出力する工学値出力部と、
前記工学値が許容範囲内であるか否か判断し、許容範囲外の場合に前記工学値を分析して修正情報を生成し、生成した修正情報を前記試験対象装置へ通知する自動修正部と、
を備える、試験制御装置。
【請求項６】
前記自動修正部は、前記工学値と基準工学値との比較結果に基づいて前記工学値が許容範囲内であるか否か判断し、許容範囲外の場合に前記工学値を用いて算出した数式に基づいて前記修正情報を生成する、請求項１または２に記載の自動入出力試験装置。
【請求項７】
前記試験制御装置が、前記試験信号の番号と、前記出力先情報とを関連付けた情報テーブルを記憶する情報記憶部を含み、
前記コントロール信号生成部は、前記情報テーブルを用いて前記コントロール信号を生成する、請求項３に記載の自動入出力試験装置。
【請求項８】
前記成績書作成部は、前記複数の項目から予め指定された指定項目と、前記指定項目に属する前記試験情報とを前記情報テーブルから抽出して前記試験成績書を作成する、請求項４に記載の自動入出力試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の実施形態は、自動入出力試験装置および試験制御装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
発電プラントと、当該発電プラントを制御する制御装置との間では、制御や監視に用いられる多くの信号が入出力される。そのため、実際の信号に相当する模擬信号を制御装置に入力したときに当該制御装置の出力値が許容範囲内であるか試験する場合がある。このような試験を自動で行うことが可能な自動入出力試験装置が知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１５−１２５６６１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
第１に、上記のような自動入出力試験装置には、制御装置の出力値が許容範囲外であった場合に手動で修正する作業が必要になるという課題がある。
【０００５】
第２に、上記のような自動入出力試験装置では、試験が終わるたびに、数多くの信号ケーブルを端子台につなぎなおす作業が必要になる。そのため、試験時間が長くなるという課題がある。
【０００６】
第３に、上記のような自動入出力試験装置では、試験成績書を作成する際、試験結果を入力する作業が生じる場合がある。この場合、試験成績書の作成に手間がかかるという課題がある。
【０００７】
そこで、本発明の実施形態は、上記第１から第３の課題のいずれかを解決することが可能な自動入出力試験装置および試験制御装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
一実施形態によれば、自動入出力試験装置は、試験対象装置の試験に用いる試験信号を発生させる信号発生器と、試験信号を測定する測定器と、信号発生器と試験対象装置との間で試験信号の出力先を切り替える信号切替器と、信号発生器、測定器、および信号切替器を制御する試験制御装置と、を備える。試験制御装置は、試験信号に応じて試験対象装置から出力された出力値と、測定器の測定値とに基づいて工学値を出力する工学値出力部と、工学値が許容範囲内であるか否か判断し、許容範囲外の場合に工学値を分析して修正情報を生成し、生成した修正情報を試験対象装置へ送信する自動修正部と、を含む。
【発明の効果】
【０００９】
本実施形態によれば、上述した第１から第３の課題のいずれかを解決することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】第１実施形態に係る自動入出力試験装置の構成を示すブロック図である。
【図２】情報記憶部に格納された情報テーブルの構造を示す図である。
【図３】自動修正部の動作内容を示すフローチャートである。
【図４】工学値の分析方法の一例を説明するためのグラフである。
【図５】第２実施形態に係る自動入出力試験装置の構成を示すブロック図である。
【図６】第３実施形態に係る自動入出力試験装置の構成を示すブロック図である。
【図７】図６に示す端子台の詳細図である。
【図８】第４実施形態に係る自動入出力試験装置の構成を示すブロック図である。
【図９】試験成績書の作成方法の一例を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の実施形態を、図面を参照して説明する。本実施形態は、本発明を限定するものではない。
【００１２】
（第１実施形態）
図１は、第１実施形態に係る自動入出力試験装置１の構成を示すブロック図である。本実施形態に係る自動入出力試験装置１は、発電プラント監視システム１００内に設置された制御装置２００を試験対象装置とする。
【００１３】
制御装置２００は、複数のプロセス入出力基板（以下、ＰＩＯ基板）２０１と、ＣＰＵ（Central Processing Unit）基板２０２と、を有する。各ＰＩＯ基板２０１とＣＰＵ基板２０２との間では、種々の信号を入出力する処理が行われる。ＣＰＵ基板２０２は、伝送回線４００を介して自動入出力試験装置１およびオペレーション装置３００にそれぞれ接続される。オペレーション装置３００は、発電プラント監視システム１００内に設置され、制御装置２００の操作に用いられる。
【００１４】
自動入出力試験装置１は、信号発生器１１と、測定器１２と、信号切替器１３と、試験制御装置１４と、を備える。試験制御装置１４は、情報記憶部２１と、対話制御部２２と、信号切替部２３と、試験信号生成／読取部２４と、信号記録部２５と、工学値出力部２６と、自動修正部２７と、印刷部２８と、を有する。
【００１５】
信号発生器１１は、例えば電圧電流発生器で構成され、試験信号生成／読取部２４の指示に基づいて制御装置２００の試験に用いる試験信号５１を発生させる。この試験信号は、試験内容に応じてアナログ信号またはデジタル信号である。信号発生器１１は、試験信号５１を信号切替器１３へ出力する。
【００１６】
測定器１２は、例えばデジタルマルチメータで構成され、信号切替器１３から出力される試験信号５１を測定する。測定器１２は、測定値５２を試験信号生成／読取部２４へ出力する。
【００１７】
信号切替器１３は、信号ケーブル７０を介して複数のＰＩＯ基板２０１に接続される。信号切替器１３は、信号切替部２３の指示内容に応じて、複数のＰＩＯ基板２０１のいずれかを試験信号５１の出力先として選択する。試験信号５１が入力されたＰＩＯ基板２０１は、工学値をＣＰＵ基板２０２へ出力する。ＣＰＵ基板２０２は、その工学値に対応するカウント値５３を出力値として試験制御装置１４へ出力する。
【００１８】
図２は、情報記憶部２１に格納された情報テーブル４０の構造を示す図である。情報テーブル４０は、複数の項目４１および試験情報４２を有する。各項目４１には、試験信号５１の番号、試験信号５１の信号レベル、線番、名称、基準工学値、出力先情報、試験結果、許容誤差、パターン等の試験に関する項目が入力される。ここで、線番は名称を記号で示したものであり、パターンは、正常な試験結果に対応する数式パターンである。試験情報４２は、各項目に属する情報である。
【００１９】
図１に戻って、対話制御部２２は、キーボードまたはタッチパネル等の入力装置や、ディスプレイ等の表示装置を有する。試験員が表示装置を見ながら入力装置に所定の入力操作を行うと、対話制御部２２は、その入力操作に基づいて試験制御装置１４の各部を制御する。
【００２０】
信号切替部２３は、対話制御部２２の制御に基づいて、信号切替器１３に対して試験信号５１の出力先の切り替えを指示する。試験信号生成／読取部２４は、対話制御部２２の制御に基づいて、信号発生器１１に対して試験信号５１の発信を指示し、かつ、測定器１２の測定値５２を読み取って工学値出力部２６へ出力する。信号記録部２５は、試験信号５１の入力に応じてＣＰＵ基板２０２から出力されたカウント値５３を記録し、記録したカウント値５３を対話制御部２２の制御に基づいて工学値出力部２６へ出力する。
【００２１】
工学値出力部２６は、測定値５２を用いてカウント値５３を工学値５４に換算し、換算した工学値５４を自動修正部２７へ出力する。この工学値５４は、例えば流量等の物理的な単位で示すことができる物性値に相当する。自動修正部２７は、工学値５４が許容範囲内であるか否か判断し、許容範囲外である場合に工学値５４を分析して修正情報５５を作成する。さらに、自動修正部２７は、修正情報５５を伝送回線４００を介してＣＰＵ基板２０２へ送信する。印刷部２８は、試験の終了後に対話制御部２２の指示に基づいて試験結果を印刷する。
【００２２】
以下、自動入出力試験装置１が制御装置２００の試験動作に関する全体的なフローについて説明する。対話制御部２２は、試験開始の入力操作を受け付けると、情報テーブル４０の試験信号５１の番号順に試験を行う。具体的には、対話制御部２２は、まず、試験信号５１の番号に対応する出力先情報を情報テーブル４０から読み出して信号切替部２３へ通知する。信号切替部２３は、その出力先情報に基づいて信号切替器１３に対して試験信号５１の出力先の切り替えを指示する。
【００２３】
次に、対話制御部２２は、情報テーブル４０から読み出した信号レベルを試験信号生成／読取部２４へ通知する。試験信号生成／読取部２４は、信号発生器１１に対して、その信号レベルに基づく試験信号５１の発信を指示する。
【００２４】
試験信号５１が、信号切替器１３によって切り替えられた経路でＰＩＯ基板２０１に入力されると、ＣＰＵ基板２０２がカウント値５３を出力する。カウント値５３は信号記録部２５に記録される。また、試験信号５１は、測定器１２によって測定され、測定値５２が試験信号生成／読取部２４に入力される。
【００２５】
その後、対話制御部２２は、信号記録部２５に記録されたカウント値５３および試験信号生成／読取部２４に入力された測定値５２を工学値出力部２６へ出力させる。工学値出力部２６は、測定値５２を用いてカウント値５３を工学値５４に換算する。この工学値５４は、自動修正部２７へ出力される。ここで、自動修正部２７の動作内容について図３を参照して詳しく説明する。
【００２６】
図３は、自動修正部２７の動作内容を示すフローチャートである。工学値５４が、工学値出力部２６から自動修正部２７に入力されると(ステップＳ１１)、自動修正部２７は、その工学値５４が許容範囲内か否か判断する(ステップＳ１２)。ステップＳ１２では、自動修正部２７は、図２に示す情報テーブル４０で設定された基準工学値および許容誤差を用いて判断する。情報テーブル４０によれば、例えば、番号が「１」に設定された試験信号５１の場合、基準工学値の許容範囲（上限値から下限値を減算した絶対値）は１２００であり、許容誤差は５％に設定されている。この場合、許容範囲内であるか否か判断するしきい値は、１２００×５÷１００＝６０となる。
【００２７】
試験信号５１の信号レベルが４ｍＡである場合、自動修正部２７は、試験結果の工学値５４（最小値）と基準工学値の下限値とを比較し、比較結果が±６０以内である場合にその工学値５４は、許容範囲内であると判断し、そうでない場合に許容範囲外であると判断する。試験信号５１の信号レベルが２０ｍＡである場合も、自動修正部２７は、同様に、工学値５４（最大値）と基準工学値の上限値とを比較し、その比較結果に基づいて判断する。
【００２８】
ステップＳ１２で工学値５４が許容範囲内であると判断された場合、その工学値５４は、対話制御部２２によって情報テーブル４０に試験結果として記録される。許容範囲外である場合、自動修正部２７は、その工学値５４を分析して修正可能かどうか判断する（ステップＳ１３）。以下、ステップＳ１３の内容について図４を参照して説明する。
【００２９】
図４は、工学値５４の分析方法の一例を説明するためのグラフである。図４では、横軸ｘは信号レベルを示し、縦軸ｙは工学値を示す。直線ｌ１は、情報テーブル４０の信号レベルおよびこれに対応する基準工学値をプロットした２点を結んだものである。図４に示すように、これらの間には一次関数の相関があり、この関数式ｙ＝ａｘ＋ｂは情報テーブル４０のパターンに予め記録されている。
【００３０】
一方、直線ｌ２は、情報テーブル４０の信号レベルおよびこの信号レベルで試験した時の工学値５４をプロットした２点を結んだものである。自動修正部２７は、直線ｌ２の関数式ｙ＝ｃｘ＋ｄを算出する。続いて、自動修正部２７は、算出した関数式を上記直線ｌ１の関数式と比較する。
【００３１】
２つの関数式が同じ傾向を示す（信号レベルの増減に対する工学値の増減の傾向が同じ）場合、自動修正部２７は、修正可能であると判断して修正情報５５を作成する(ステップＳ１４)。反対に、２つの関数式が異なる傾向を示す場合、自動修正部２７は、修正不能であると判断し、工学値５４を異常な記録結果として情報テーブル４０に記録する（ステップＳ１５）。
【００３２】
ステップＳ１４において、例えば、上述した２つの関数式の傾きが異なっている（ａ≠ｃ）である場合、自動修正部２７は、傾きの値ａを修正情報５５として作成する。その後、自動修正部２７は、その修正情報５５を伝送回線４００を介してＣＰＵ基板２０２へ通知する（ステップＳ１６）。ＣＰＵ基板２０２は、修正情報５５に基づいて自身のプログラムを修正する。
【００３３】
以上説明した本実施形態によれば、制御装置２００の試験結果が許容範囲外となっても、自動修正部２７が試験結果を分析し、修正可能である場合には修正情報を生成して制御装置２００へ通知する。そのため、手動で修正する作業が不要になるので、利便性を高めることが可能となる。
【００３４】
（第２実施形態）
図５は、第２実施形態に係る自動入出力試験装置２の構成を示すブロック図である。本実施形態では、第１実施形態と同様の構成要素には同じ符号を付し、詳細な説明を省略する。
【００３５】
本実施形態では、試験制御装置１４が、第１実施形態で説明した各部に加えて自動再試験部２９を有する。また、制御装置２００のＣＰＵ基板２０２は、第１実施形態で自動修正部２７から提供された修正情報５５に基づいて修正が完了した後、その旨を示す修正完了通知５６を自動再試験部２９へ送信する。自動再試験部２９は、修正完了通知５６を受信すると、修正後のＣＰＵ基板２０２の再試験を要求する再試験要求通知５７を対話制御部２２へ出力する。
【００３６】
対話制御部２２は、第１実施形態で説明したように、情報テーブル４０から再試験する試験信号５１の番号を読み出す。続いて、対話制御部２２は、その試験信号５１がＰＩＯ基板２０１に入力されるように信号発生器１１および信号切替器１３を制御して、試験結果を判断する。なお、複数の修正情報５５が存在する場合には、自動再試験部２９および対話制御部２２は、試験信号５１の番号順に上述した処理を自動で繰り返す。
【００３７】
以上説明した本実施形態によれば、制御装置２００が修正情報によって修正された後、自動再試験部２９によって、再試験が自動的に実施される。そのため、再試験の操作が不要になるので、利便性をさらに高めることが可能となる。
【００３８】
（第３実施形態）
図６は、第３実施形態に係る自動入出力試験装置３の構成を示すブロック図である。本実施形態でも、第１実施形態と同様の構成要素には同じ符号を付し、詳細な説明を省略する。
【００３９】
本実施形態に係る自動入出力試験装置３では、信号切替器１３が信号切替回路１３１およびコントロール信号生成部１３２を有する一方で、試験制御装置１４が自動修正部２７を有していない。また、本実施形態に係る制御装置２００には、複数の端子台２０３が設けられている。
【００４０】
信号切替回路１３１は、複数のＰＩＯ基板２０１にそれぞれ対応する複数のスイッチ(不図示)を有し、信号切替部２３の指示に基づいていずれかのスイッチをオンする。これにより、複数のＰＩＯ基板２０１のいずれかに試験信号５１が入力される。
【００４１】
コントロール信号生成部１３２は、信号切替回路１３１から出力された試験信号５１に出力先情報を付加したコントロール信号５８を生成する。本実施形態では、コントロール信号生成部１３２は、図２に示す情報テーブル４０から当該試験信号５１に対応する出力先情報を読み出してコントロール信号５８を生成する。また、コントロール信号生成部１３２は、信号ケーブル７０を介してコントロール信号５８を端子台２０３へ送信する。
【００４２】
図７は、端子台２０３の詳細図である。端子台２０３は、複数の端子Ｔ１〜Ｔ１６に接続されている。各端子は、複数のＰＩＯ基板２０１のいずれかに接続されている。また、端子台２０３には、信号抽出部２０４が設けられている。
【００４３】
コントロール信号５８が信号ケーブル７０を介して信号抽出部２０４に入力されると、信号抽出部２０４は、コントロール信号５８から出力先情報を抽出する。続いて、信号抽出部２０４は、抽出した出力先情報の端子台番号が当該端子台２０３に一致するか否か判定する。一致する場合、信号抽出部２０４は、出力先情報から端子番号を抽出する。その後、信号抽出部２０４は、コントロール信号５８から試験信号５１を抽出し、抽出した試験信号５１を出力先情報の端子番号に該当する端子に伝送する。
【００４４】
抽出した出力先情報の端子台番号が当該端子台２０３と一致しない場合、コントロール信号５８は、次の端子台２０３へ伝送される。このようにして、情報テーブル４０で設定された出力先へ試験信号５１を伝送することが可能となる。
【００４５】
以上説明した本実施形態によれば、試験開始前に上述した複数の端子台２０３を用意し、試験の際にコントロール信号５８を生成することによって、試験信号５１が、自動的に出力先のＰＩＯ基板２０１に入力される。これにより、信号ケーブル７０を端子台に接続し直す作業が不要になるので、試験時間の短縮が可能となる。また、信号ケーブルの接続ミスなどを削減することも可能となる。
【００４６】
なお、本実施形態の試験制御装置１４には、第１実施形態で説明した自動修正部２７や第２実施形態で説明した自動再試験部２９が設けられていてもよい。この場合、修正情報５５の作成や再試験が自動的に行われるので、再試験に要する時間を短縮することが可能となる。
【００４７】
（第４実施形態）
図８は、第４実施形態に係る自動入出力試験装置３の構成を示すブロック図である。本実施形態でも、第１実施形態と同様の構成要素には同じ符号を付し、詳細な説明を省略する。本実施形態に係る自動入出力試験装置４では、試験制御装置１４が自動修正部２７を有していない一方で成績書作成部３０を有する。
【００４８】
自動入出力試験装置４では、試験が終了すると、対話制御部２２が印刷部２８に対して試験成績書の印刷を要求する。印刷部２８は、成績書作成部３０に対して試験結果が示された試験成績書の作成を指示する。ここで、試験成績書の作成方法の一例について図９を参照して説明する。
【００４９】
図９に示すように、成績書作成部３０は、情報テーブル４０に基づくフォーマットを用いて試験成績書８０を作成する。具体的には、まず、成績書作成部３０は、情報テーブル４０の項目から試験員によって予め指定された指定項目を抽出する。このとき、試験成績書８０を見やすくするために、指定項目の掲載位置を情報テーブル４０とは異なるフォーマットにしてもよい。
【００５０】
次に、成績書作成部３０は、指定項目に属する試験情報を情報テーブル４０から抽出してフォーマットに書き込む。すなわち、情報テーブル４０から予め選択された項目の属性に一致する試験情報が、自動的に抽出されてフォーマットに書き込まれる。その後、成績書作成部３０は、生成した試験成績書８０を印刷部２８へ出力する。印刷部２８は、その試験成績書８０を印刷する。
【００５１】
以上説明した本実施形態によれば、試験内容が示された情報テーブル４０に基づくフォーマットを用いて試験成績書８０を作成している。そのため、手作業で試験結果を入力しなくても試験成績書８０を自動的に作成することができる。よって、試験成績書の作成時間を大幅に削減することが可能となる。さらに、入力作業が不要になるので、人的な作成ミスを削減することも可能となる。
【００５２】
なお、本実施形態の試験制御装置１４には、第１実施形態で説明した自動修正部２７と、第２実施形態で説明した自動再試験部２９と、第３実施形態で説明したコントロール信号生成部１３２の少なくとも１つが設けられていてもよい。この場合、通常の試験または再試験に要する時間を短縮することが可能となる。
【００５３】
以上、いくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例としてのみ提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図したものではない。本明細書で説明した新規なシステムは、その他の様々な形態で実施することができる。また、本明細書で説明したシステムの形態に対し、発明の要旨を逸脱しない範囲内で、種々の省略、置換、変更を行うことができる。添付の特許請求の範囲およびこれに均等な範囲は、発明の範囲や要旨に含まれるこのような形態や変形例を含むように意図されている。
【符号の説明】
【００５４】
１〜４  自動入出力試験装置、１１  信号発生器、１２  測定器、１３  信号切替器、１４  試験制御装置、２１  情報記憶部、２２  対話制御部２２  工学値出力部、２７  自動修正部、２８  印刷部、２９  自動再試験部、３０  成績書作成部、４０  情報テーブル、１３２  コントロール信号生成部、２００  制御装置、２０３  端子台、２０４  信号抽出部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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