(57)【要約】【課題】簡単な構成で、精度よく物体の位置を判別すること。【解決手段】位置判別装置は、複数の物体を保持する保持部材、及び保持部材を移動可能に支持する装置本体のいずれか一方に配置される検出部と、保持部材及び装置本体のいずれか他方に、複数の物体のそれぞれに対応して配置され、検出部により検出される複数の識別部と、検出部による検出結果から、識別部を特定してこの識別部に対応する物体が所定位置にあることを判別する判別部と、を備え、検出部は、被検出部材を検出するＭ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサを含み、複数の識別部のそれぞれは、いずれもＮ（Ｎ＜Ｍ、Ｎは２以上の自然数）個のセンサにより検出され、かつ、Ｎ個のセンサの組み合わせが異なるように、複数の被検出部材を配置して形成される。【選択図】図２
2018077316.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の物体を保持する保持部材、及び前記保持部材を移動可能に支持する装置本体のいずれか一方に配置される検出部と、
前記保持部材及び前記装置本体のいずれか他方に、複数の前記物体のそれぞれに対応して配置され、前記検出部により検出される複数の識別部と、
前記検出部による検出結果から、前記識別部を特定してこの識別部に対応する前記物体が所定位置にあることを判別する判別部と、を備え、
前記検出部は、被検出部材を検出するＭ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサを含み、
複数の前記識別部のそれぞれは、いずれもＮ（Ｎ＜Ｍ、Ｎは２以上の自然数）個の前記センサにより検出され、かつ、Ｎ個の前記センサの組み合わせが異なるように、複数の被検出部材を配置して形成される、位置判別装置。
【請求項２】
前記被検出部材は磁石である、請求項１に記載の位置判別装置。
【請求項３】
Ｍ個の前記センサは、各前記センサが２以上の磁石による磁界を検出しないように互いに離間して配置される、請求項２に記載の位置判別装置。
【請求項４】
複数の前記センサは、等間隔に配置される、請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の位置判別装置。
【請求項５】
前記保持部材は、所定の軸部を中心として回転可能であり、
前記物体は、前記軸部のまわりに配置され、
前記識別部は、前記保持部材に配置される、請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の位置判別装置。
【請求項６】
前記識別部は、前記保持部材において、前記物体どうしの間に配置される、請求項５に記載の位置判別装置。
【請求項７】
複数の前記磁石は、前記軸部を中心とした放射方向に配置される、請求項６に記載の位置判別装置。
【請求項８】
前記識別部は、前記保持部材において、前記物体の外側であって前記軸部を中心とした円周上に沿って配置される、請求項５に記載の位置判別装置。
【請求項９】
前記識別部は、対応する前記物体に対して前記軸部を挟んだ反対側に配置される、請求項８に記載の位置判別装置。
【請求項１０】
複数の前記磁石は、前記軸部を中心とする複数の同心円周上のいずれかに配置される、請求項８または請求項９に記載の位置判別装置。
【請求項１１】
前記センサは、検出した磁界の極性を判別可能であり、
前記判別部は、前記センサにより判別した極性から前記識別部を特定する、請求項１から請求項１０のいずれか１項に記載の位置判別装置。
【請求項１２】
Ｍ個の前記センサは、１つの支持部材により支持される、請求項１から請求項１１のいずれか１項に記載の位置判別装置。
【請求項１３】
Ｍ個の前記センサは、複数の支持部材により分割されて支持される、請求項１から請求項１２のいずれか１項に記載の位置判別装置。
【請求項１４】
前記識別部の一部が、他の前記識別部の一部として共用される、請求項１から請求項１３のいずれか１項に記載の位置判別装置。
【請求項１５】
前記物体は、光学部材であり、
前記装置本体は、顕微鏡装置の一部である、請求項１から請求項１４のいずれか１項に記載の位置判別装置。
【請求項１６】
前記保持部材は、使用者の手動により移動可能である、請求項１から請求項１５のいずれか１項に記載の位置判別装置。
【請求項１７】
請求項１から請求項１６のいずれか１項に記載の位置判別装置を備え、
前記物体は、光学部材であり、
前記所定位置は、照明光学系または結像光学系の光軸である、顕微鏡装置。
【請求項１８】
前記位置判別装置の判別結果を表示する表示部を備える、請求項１７に記載の顕微鏡装置。
【請求項１９】
前記表示部に表示される前記判別結果は、前記光軸上に配置された前記光学部材の情報である、請求項１８に記載の顕微鏡装置。
【請求項２０】
少なくとも一部の駆動系が、前記位置判別装置によって制御される、請求項１７から請求項１９のいずれか１項に記載の顕微鏡装置。
【請求項２１】
複数の物体を保持する保持部材、及び前記保持部材を移動可能に支持する装置本体のいずれか一方に配置される検出部によって、前記保持部材及び前記装置本体のいずれか他方に、複数の前記物体のそれぞれに対応して配置される複数の識別部のいずれかを検出し、この検出結果から、前記識別部を特定してこの識別部に対応する前記物体が所定位置にあることを判別する位置判別方法であって、
前記検出部として、被検出部材を検出するＭ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサを用いることと、
前記識別部のそれぞれに配置される複数の被検出部材により、いずれもＮ（Ｎ＜Ｍ、Ｎは２以上の自然数）個の前記センサにより被検出部材を検出し、かつ、Ｎ個の前記センサの異なる組み合わせから前記識別部を特定することと、を含む、位置判別方法。
【請求項２２】
請求項２１に記載の前記位置判別方法の判別結果を用いて顕微鏡装置を制御する、顕微鏡装置の制御方法。
【請求項２３】
顕微鏡装置の制御をコンピュータに実行させるプログラムであって、
前記制御は、請求項２１に記載の位置判別方法の判別結果を用いて前記顕微鏡装置を制御する、プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、位置判別装置、顕微鏡装置、位置判別方法、顕微鏡装置の制御方法、及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
保持体に保持された物体の装置本体に対する相対位置を判別する位置判別装置が知られている。例えば、複数の対物レンズを保持した保持体であるレボルバに備えられ、対物レンズの取り付け位置を判別する位置判別装置が知られている（例えば下記特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】米国再発行特許発明第４２９４８号明細書
【発明の概要】
【０００４】
本発明の第１の態様に従えば、複数の物体を保持する保持部材、及び保持部材を移動可能に支持する装置本体のいずれか一方に配置される検出部と、保持部材及び装置本体のいずれか他方に、複数の物体のそれぞれに対応して配置され、検出部により検出される複数の識別部と、検出部による検出結果から、識別部を特定してこの識別部に対応する物体が所定位置にあることを判別する判別部と、を備え、検出部は、被検出部材を検出するＭ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサを含み、複数の識別部のそれぞれは、いずれもＮ（Ｎ＜Ｍ、Ｎは２以上の自然数）個のセンサにより検出され、かつ、Ｎ個のセンサの組み合わせが異なるように、複数の被検出部材を配置して形成される位置判別装置が提供される。
【０００５】
本発明の第２の態様に従えば、第１の態様の位置判別装置を備え、物体は光学部材であり、所定位置は、照明光学系または結像光学系の光軸である、顕微鏡装置が提供される。
【０００６】
本発明の第３の態様に従えば、複数の物体を保持する保持部材、及び保持部材を移動可能に支持する装置本体のいずれか一方に配置される検出部によって、保持部材及び装置本体のいずれか他方に、複数の物体のそれぞれに対応して配置される複数の識別部のいずれかを検出し、この検出結果から、識別部を特定してこの識別部に対応する物体が所定位置にあることを判別する位置判別方法であって、検出部として、被検出部材を検出するＭ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサを用いることと、識別部のそれぞれに配置される複数の被検出部材により、いずれもＮ（Ｎ＜Ｍ、Ｎは２以上の自然数）個のセンサにより被検出部材を検出し、かつ、Ｎ個のセンサの異なる組み合わせから識別部を特定することと、を含む位置判別方法が提供される。
【０００７】
本発明の第４の態様に従えば、第３の態様の位置判別方法の判別結果を用いる、顕微鏡装置の制御方法が提供される。
【０００８】
本発明の第５の態様に従えば、顕微鏡装置の制御をコンピュータに実行させるプログラムであって、制御は、第３の態様の位置判別方法の判別結果を用いて顕微鏡装置を制御する、プログラムが提供される。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】第１実施形態に係る顕微鏡装置の一例を示す図である。
【図２】第１実施形態に係る位置判別装置の一例を示す図であり、（Ａ）は側方から見た図、（Ｂ）は上方から見た図である。
【図３】各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。
【図４】（Ａ）及び（Ｂ）は、従来の位置判別装置の例を示す図である。
【図５】図４（Ａ）に示す位置判別装置の識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。
【図６】（Ａ）及び（Ｂ）は、従来の位置判別装置の例を示す図である。
【図７】（Ａ）及び（Ｂ）は、従来の位置判別装置の例を示す図である。
【図８】本実施形態に係る位置判別方法のフローチャートであり、（Ｂ）は本実施形態に係る顕微鏡の制御方法のフローチャートである。
【図９】（Ａ）は、第２実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。
【図１０】識別部の磁石の配置の一例を示す図である。
【図１１】（Ａ）は、第３実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。
【図１２】（Ａ）は、第４実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。
【図１３】（Ａ）は、第５実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。
【図１４】（Ａ）は、第６実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。
【図１５】（Ａ）は、第７実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。
【図１６】（Ａ）は、第８実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。
【図１７】（Ａ）は、第９実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。
【図１８】（Ａ）及び（Ｂ）は、第１０実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ａ）は側方から見た図、（Ｂ）は上方から見た図である。（Ｃ）は各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
［第１実施形態］
第１実施形態について説明する。以下の説明において、適宜、図１などに示すＸＹＺ直交座標系を参照する。このＸＹＺ直交座標系は、Ｘ方向およびＹ方向が水平方向（横方向）であり、Ｚ方向が鉛直方向である。また、各方向において、適宜、矢印の先端と同じ側を＋側（例、＋Ｚ側）、矢印の先端と反対側を−側（例、−Ｚ側）と称す。例えば、鉛直方向（Ｚ方向）において、上方が＋Ｚ側であり、下方が−Ｚ側である。なお、図面においては、実施形態を説明するため、一部または全部を模式的に記載するとともに、一部分を大きくまたは強調して記載する等適宜縮尺を変更して表現した部分を含む。
【００１１】
以下、第１実施形態に係る位置判別装置及び顕微鏡装置を説明する。図１は、本実施形態に係る顕微鏡装置ＭＳの一例を示す図であり、本実施形態では、顕微鏡装置ＭＳが倒立顕微鏡である例を説明する。位置判別装置１は、例えば、顕微鏡装置ＭＳに備えられる。なお、本実施形態では、位置判別装置１が後に説明するターレット１３（コンデンサカセット保持装置）に適用される例を説明するが、この例に限定されるものではない。位置判別装置１の他の例については、後に説明する。以下、はじめに、顕微鏡装置ＭＳについて説明する。顕微鏡装置ＭＳは、例えば、支柱２と、ステージ３と、照明光学系４と、結像光学系５と、制御部６と、入力部７と、記憶部８と、表示部９と、を備える。
【００１２】
支柱２は、顕微鏡装置ＭＳの各部を支持する。ステージ３は、生体等の標本ＳＰを載置する。
【００１３】
照明光学系４は、透過照明に用いられる照明光学系４ａと、落射照明に用いられる照明光学系４ｂと、を含む。照明光学系４ａは、光源装置１０ａからの照明光を、標本ＳＰに照射する。光源装置１０ａは、ＬＥＤ（発光ダイオード）あるいはＬＤ（レーザダイオード）などの固体光源でもよいし、ランプ光源などでもよい。照明光学系４ａは、ステージ３の上方（＋Ｚ側）に配置される。照明光学系４ａは、例えば、光源装置１０ａの光出射側に、レンズ（図示せず）と、ミラー（図示せず）と、コンデンサカセットＣと、を備える。コンデンサカセットＣは、例えば、ターレット１３に保持される。ターレット１３（コンデンサレンズ保持装置）には、例えば、複数の異なるコンデンサカセットＣが保持される。ターレット１３は、複数のコンデンサカセットＣのうちの所定のコンデンサカセットＣを照明光学系４ａの光路ＯＰ（観察位置にある対物レンズ１６の光軸）に配置可能である。ターレット１３は、本実施形態の位置判別装置１である。なお、位置判別装置１は、後に図１７で説明するように、ターレット１３などの回転型以外に、スライド型が適用可能である。位置判別装置１は、複数のコンデンサカセットＣのうち、観察時に配置される光路ＯＰに位置するコンデンサカセットＣを判別する。なお、位置判別装置１については、後に図２等において説明する。コンデンサカセットＣは、例えば、位相差観察用、微分干渉観察用、明視野観察用、暗視野観察用の照明光を調整する光学部材である。
【００１４】
照明光学系４ｂは、ステージ３の下方に配置される。照明光学系４ｂは、光源装置１０ｂからの照明光を標本ＳＰに照射する。照明光学系４ｂは、例えば、光源装置１０ｂの光出射側に、レンズ（図示せず）と、ミラー（図示せず）と、蛍光観察に用いるフィルタユニット１５と、対物レンズ１６と、を含む。光源装置１０ｂは、ＬＥＤ（発光ダイオード）あるいはＬＤ（レーザダイオード）などの固体光源でもよいし、ランプ光源などでもよい。光源装置１０ｂから出射した照明光は、例えば、ターレット１８に保持されるフィルタユニット１５、及びレボルバ１９に保持される対物レンズ１６を透過して、標本ＳＰに照射される。フィルタユニット１５は、例えば、蛍光観察に用いる励起光及び観察光を調整する光学部材である。フィルタユニット１５は、例えば、フィルタ１５ａと、ダイクロイックミラー１５ｂと、フィルタ１５ｃと、を含む。フィルタユニット１５は、例えば、励起光がフィルタ１５ａを透過し、透過した励起光の一部がダイクロイックミラー１５ｂで反射して、励起光を対物レンズ１６に導く。ターレット１８には、複数の異なるフィルタユニット１５が保持され、所定のフィルタユニット１５を光路ＯＰ（光軸）に配置可能である。ターレット１８は、例えば、手動により、所定のフィルタユニット１５を光路ＯＰ（光軸）に配置可能である。なお、ターレット１８は、駆動装置により駆動する構成でもよい。
【００１５】
対物レンズ１６は、レボルバ１９に保持される。レボルバ１９には、複数の異なる対物レンズ１６が保持される。レボルバ１９は、複数の異なる対物レンズ１６のうち、観察に用いる対物レンズ１６を観察位置である光路ＯＰ（光軸）に配置可能である。レボルバ１９は、例えば、駆動部２１により駆動され、所定の対物レンズ１６を光路ＯＰ（光軸）に配置可能である。なお、レボルバ１９は、手動により駆動する構成でもよい。
【００１６】
例えば、蛍光観察の場合、照明光学系４ｂにより標本ＳＰに照射された励起光により励起された蛍光の一部は、結像光学系５に導かれる。結像光学系５は、標本ＳＰからの蛍光像を形成する。ユーザは、結像光学系５の光路ＯＰに形成される像を、接眼レンズ２３を介して観察可能である。結像光学系５は、例えば、対物レンズ１６と、フィルタユニット１５と、レンズ（図示せず）と、ミラー（図示せず）と、を含む。標本ＳＰからの蛍光は、対物レンズ１６に導かれる。対物レンズ１６を通った光は、フィルタユニット１５に導かれる。フィルタユニット１５は、対物レンズ１６からの光（観察光）の一部をフィルタ１５ｃにより透過し、透過した蛍光がダイクロイックミラー１５ｂを透過する。ダイクロイックミラーを通った光は、接眼レンズ２３に導かれる。
【００１７】
なお、照明光学系４ａ、照明光学系４ｂ及び結像光学系５のうち一部は、図１の構成に限定されず、適宜変更可能である。例えば、図１において、照明光学系４は、シャッタ部材、絞り部材などの光学部材を備えていてもよい。
【００１８】
次に、制御部６、入力部７、記憶部８、表示部９について説明する。制御部６は、顕微鏡装置ＭＳの各部を制御する。制御部６は、ハードディスクあるいはメモリなどの記憶部８と通信可能に接続される。制御部６は、記憶部８に記憶（記録）された各種情報（例、顕微鏡の制御情報）の読出し、および記憶部８に各種情報を記憶（記憶）させる。また、制御部６は、例えば、後に説明する位置判別装置１の判別部３４と通信可能に接続される。制御部６は、位置判別装置１の判別結果を表示部９に表示させる。なお、制御部６は、位置判別装置１の判別結果に基づいた情報を表示部９に表示させてもよい。また、制御部６は、例えば、位置判別装置１の判別結果に基づいて、駆動部２１を制御することにより、レボルバ１９を駆動して、所定の対物レンズ１６を光路ＯＰに配置する。なお、制御部６は、顕微鏡装置ＭＳにシャッタ部材、しぼり部材等を駆動する駆動装置が備えられる場合、制御部６はこれらの駆動装置を制御してもよい。
【００１９】
入力部７は、例えば、キーボード、マウス、トラックボール、タッチパネル、外部通信器などの各種入力デバイスである。入力部７は、外部（例、ユーザ）から情報（例、動作指令、設定情報）の入力を受け付ける。入力部７は、制御部６と通信可能に接続され、顕微鏡装置ＭＳに対する動作指令を制御部６に供給する。入力部７は、例えば、駆動部２１に対する動作指令等を受け付ける。制御部６は、入力部７から供給された動作指令に従って、顕微鏡装置ＭＳの各部を制御する。例えば、制御部６は、駆動部２１に対する動作指令に従って駆動部２１を制御することによって、レボルバ１９を駆動して、所定の対物レンズ１６を光路ＯＰに配置する。
【００２０】
表示部９は、各種情報を表示する。表示部９は、例えば、液晶モニタ、タッチパネルなどの表示装置である。表示部９は、例えば、制御部６から出力された情報を表示する。例えば、表示部９は、位置判別装置１の判別結果、位置判別装置１の判別結果に基づいた情報等を表示部９に表示する。なお、顕微鏡装置ＭＳは、制御部６、入力部７、記憶部８、及び表示部９の少なくとも一部を備えなくてもよい。
【００２１】
次に、本実施形態の位置判別装置について説明する。図２は、本実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、（Ａ）は側方（＋Ｘ方向）から見た図、（Ｂ）は上方から見た図である。コンデンサカセットの保持装置の概略図である。図２位置判別装置１は、装置本体３１と、保持部材３２と、識別部Ｘと、検出部３３と、判別部３４と、を備える。
【００２２】
装置本体３１は、保持部材３２を回転可能に支持する。装置本体３１は、例えば、保持部材３２を内部に収容する。装置本体３１及び保持部材３２は、それぞれ、照明光学系４ａの光路ＯＰを形成する孔部（図示せず）を有し、光源装置１０（ａ）からの照明光軸が標本ＳＰに照射可能な構成となっている。保持部材３２は、複数のコンデンサカセットＣ（物体、光学部材）を保持可能である。例えば、保持部材３２は、コンデンサカセットＣを保持可能な複数の保持部Ｈ（Ｈ１〜Ｈ６）を備える。例えば、保持部材３２は、複数の保持部Ｈ１〜Ｈ６により複数のコンデンサカセットＣ（Ｃ１〜Ｃ６）を保持する。
【００２３】
保持部材３２は、例えば、平面視において、その外形が円状である。保持部材３２は、例えば、装置本体３１に対して回転可能である。保持部材３２は、例えば、Ｚ方向と平行な軸ＡＸ１を回転軸として有する軸部３５を介して、装置本体３１に対して回転可能に、装置本体３１に支持される（図２（Ａ）参照）。保持部材３２は、例えば、使用者の手動により回転可能である。なお、保持部材３２は、駆動装置により駆動するものでもよい。
【００２４】
本実施形態では、保持部Ｈ１〜Ｈ６の大きさは、均一ではなく異なっている。なお、保持部Ｈ１〜Ｈ６の大きさは、それぞれ、同じでもよい。また、保持部Ｈ１〜Ｈ６は、それぞれ、例えば、軸部３５のまわりに配置される。例えば、保持部Ｈ１〜Ｈ６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとする円ＣＬの周方向に並んで配置される。本実施形態では、保持部Ｈ１〜Ｈ６は、各保持部Ｈと保持部Ｈとの間隔が均一ではなく異なっている。なお、保持部Ｈ１〜Ｈ６は、各保持部Ｈと保持部Ｈとの間隔が等しくてもよい。例えば、軸部３５のまわりに配置される。コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６はそれぞれ、軸部３５のまわりに配置された保持部Ｈ１〜Ｈ６に保持される（図２（Ｂ）参照）。保持部Ｈ１〜Ｈ６は、それぞれ、保持部材３２を回転することにより、保持するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６を光路ＯＰ（光軸）に配置可能に形成されている。
【００２５】
保持部材３２には、識別部Ｘ（Ｘ１〜Ｘ６）が設けられる（図２（Ｂ）参照）。なお、本明細書において、識別部Ｘ（Ｘａ〜Ｘｊ）は、図面において二点鎖線で示しているが、二点鎖線で囲んだ部分は、磁石３６を配置する位置の候補の位置を示すものであり、識別部Ｘ（Ｘａ〜Ｘｊ）に符号をつけるための説明上の領域である。識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、保持部Ｈ１〜Ｈ６（コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６）に対応して配置される。識別部Ｘ１〜Ｘ６は、観察位置である光路ＯＰに配置される保持部Ｈ１〜Ｈ６（コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６）の識別に用いられる。本実施形態では、識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、複数の磁石３６（被検出部材）により形成される。磁石３６は、例えば、永久磁石である。例えば、識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、複数の磁石３６が保持部材３２の上面に配置されることにより形成される。各識別部Ｘ１〜Ｘ６は、互いに、磁石３６の配置が異なる。図２（Ｂ）の例では、各識別部Ｘ１〜Ｘ６は、保持部Ｈ１〜Ｈ６間に配置され、各識別部における磁石は、保持部材３２の径方向に並べて配置されている。各識別部Ｘ１〜Ｘ６は、磁石３６の配置の違いを検出されることにより、個別に識別される。各識別部Ｘ１〜Ｘ６は、検出部３３により検出される。なお、各識別部Ｘ１〜Ｘ６の範囲は、検出部３３によって検出される部分を意味している。識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ（コンデンサカセットＣ）が光路ＯＰに配置された際に、検出部３３が検出可能な位置に配置される。各識別部Ｘ１〜Ｘ６の配置、各識別部Ｘ１〜Ｘ６の磁石３６については、後に説明する。
【００２６】
検出部３３は、識別部Ｘを検出する。検出部３３は、例えば、装置本体３１に配置される（図２（Ａ）参照）。検出部３３は、例えば、保持部材３２の上方に配置される。検出部３３は、磁界を検出するセンサＳを備える。センサＳは、例えば、ホールＩＣ、ホール素子等である。検出部３３は、Ｍ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサＳを備える。このセンサＳの個数Ｍは、各識別部Ｘ１〜Ｘ６において、検出部３３により検出される磁石３６の数Ｎ（Ｎは２以上の自然数）よりも多く設定される。例えば、本実施形態では、後に説明するように各識別部Ｘ１〜Ｘ６のそれぞれにおいて、検出部３３のセンサＳにより検出される磁石３６の数Ｎは２に設定され、検出部３３のセンサＳの個数は４に設定される。
【００２７】
４個のセンサＳａ〜Ｓｄは、例えば、１つの支持部材３８に支持される。なお、センサＳａ〜Ｓｄは、後に図１５等に示すように複数の支持部材３８に支持されてもよい。
【００２８】
センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、保持部Ｈ１〜Ｈ６（コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６）のいずれかが観察位置の光路ＯＰ（光軸）に配置された際に、対応する識別部Ｘ１〜Ｘ６を検出するように配置される。例えば、センサＳａ〜Ｓｄ及び識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、保持部Ｈ１〜Ｈ６（コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６）が光路ＯＰに配置された際に、対応する識別部Ｘ１〜Ｘ６が、センサＳａ〜Ｓｄの真下に配置されるように配置される。センサＳａ〜Ｓｄの配置は、それぞれ、識別部Ｘ１〜Ｘ６の磁石３６の配置に対応して設定される。例えば、本実施形態のセンサＳａ〜Ｓｄは、軸部３５の中心Ｏに対して放射方向（径方向）に並んで配置される。
【００２９】
また、センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、各センサＳａ〜Ｓｄが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。なお、各センサＳａ〜Ｓｄは、各センサとセンサとの間隔が、等間隔で配置されてもよいし、等間隔で配置されなくてもよい。また、各センサＳａ〜Ｓｄの相対位置は任意である。
【００３０】
以下、各識別部Ｘ１〜Ｘ６の磁石３６、各識別部Ｘ１〜Ｘ６の配置等について説明する。各識別部Ｘ１〜Ｘ６において、各磁石３６は、例えば、同様の形状、大きさ、磁力である。なお、各磁石３６において、磁極の位置は任意であり、磁極を同様の方向に設定してもよいし、磁極を異なる方向に設定してもよい。
【００３１】
識別部Ｘ１〜Ｘ６は、例えば、それぞれ、保持部Ｈと保持部Ｈとの間に配置される（図２（Ｂ）参照）。この場合、識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣとコンデンサカセットＣとの間に配置される。また、例えば、識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６の隣に配置される。また、例えば、識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、保持部材３２の中心Ｏを中心とした放射方向に配置される。例えば、各識別部Ｘ１〜Ｘ６の複数の磁石３６は、それぞれ、保持部材３２（軸部３５）の中心Ｏを通る所定の直線Ｌａ１〜Ｌａ６上に配置される。例えば、この直線Ｌａ１〜Ｌａ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６の中心と保持部材３２の中心Ｏとを結ぶ直線Ｌｂ１〜Ｌｂ６を、中心Ｏに対して右回り方向に所定の角度（図２（Ｂ）の例では３３°）回転した直線に設定される。
【００３２】
なお、識別部Ｘ１〜Ｘ６が配置される位置は、それぞれ、任意であり、上記の例に限定されない。また、識別部Ｘの磁石３６の位置は、任意であり、上記の例に限定されない。これらの他の例については、後の実施形態において説明する。また、各磁石３６は、形状、大きさ、磁力のうち、少なくとも１つが互いに異なっていてもよい。
【００３３】
各識別部Ｘ１〜Ｘ６において、各磁石３６は、例えば、互いに離間して配置される。また、各磁石３６は、例えば、対応するコンデンサレンズが光路ＯＰに配置された際に、１つのセンサＳが検出するように配置され、１つのセンサＳが２以上の磁石３６の磁界を検出しないように配置される。例えば、各磁石３６は、各識別部Ｘ１〜Ｘ６において、保持部材３２の同心円Ｃ１〜Ｃ４上のいずれかに配置され、且つセンサＳａ〜Ｓｄはそれぞれ、同心円Ｃ１〜Ｃ４上に配置される。この場合、同心円Ｃ１〜Ｃ４上に配置された磁石３６は、それぞれ、同心円Ｃ１〜Ｃ４上を移動するため、センサＳａ〜Ｓｄに検出される。
【００３４】
図３は、各識別部Ｘにおける磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図であり、位置を検出する際の各位置を識別する方法を示している。なお、図３等の各識別部Ｘにおける磁石と、磁石を検出するセンサとの関係の説明において、丸が表記される部分は、各センサＳａ〜Ｓｄが各識別部Ｘ１〜Ｘ６における磁石３６を検出する状態を示し、丸が表記されていない部分は、各センサＳａ〜Ｓｄが各識別部Ｘ１〜Ｘ６における磁石３６をを検出していない状態を示し、図中の「挿入されていない」はコンデンサカセットＣが光路ＯＰに配置されていないことを示す。図３に示すように、識別部Ｘ１〜Ｘ６のそれぞれは、検出部３３により検出される磁石３６の数がＮ（Ｎは２以上の自然数）に設定される。また、識別部Ｘ１〜Ｘ６のそれぞれは、磁石３６が検出されるＮ個（Ｎは２以上の自然数）のセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。例えば、本実施形態では、上記したように識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘ１〜Ｘ６は、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。本実施形態のように、センサＳが４個であり、各識別部Ｘにおいて検出部３３に検出される磁石３６が２個である場合、２個の磁石３６を検出する４個のセンサＳの異なる組み合わせは、４Ｃ２＝６通りにすることができる。例えば、センサＳがＭ個であり、各識別部Ｘにおいて検出部３３に検出される磁石３６がＮ個である場合、Ｎ個の磁石３６を検出するＭ個のセンサＳの異なる組み合わせは、ＭＣＮ通りにすることができる。なお、各識別部Ｘ１〜Ｘ６の磁石３６の配置は、図３に示すものに限定されず、各識別部Ｘ１〜Ｘ６の磁石３６の配置は、磁石３６が検出されるＮ個（Ｎは２以上の自然数）のセンサＳの組み合わせが異なるように形成されていれば任意である。
【００３５】
次に、図２（Ａ）の説明に戻り、判別部について説明する。判別部３４は、検出部３３による検出結果から、識別部Ｘを特定して、識別部Ｘに対応するコンデンサカセットＣが光路ＯＰにある（位置する）ことを判別する。判別部３４は、検出部３３と通信可能に接続される。判別部３４は、検出部３３の各センサＳａ〜Ｓｄによる磁界の検出結果に基づいて、識別部Ｘに対応するコンデンサカセットＣが観察時の光路ＯＰにあることを判別する。例えば、判別部３４は、各センサＳａ〜Ｓｄによる検出結果を、図３に示すような各識別部Ｘ１〜Ｘ６におけるセンサＳａ〜Ｓｄの検出結果を示すテーブルと比較することにより、識別部Ｘを特定し、特定した識別部Ｘに対応するコンデンサカセットＣが光路ＯＰにあることを判別する。このテーブルは、例えば、記憶部８に、予め記憶される。判別部３４は、例えば、センサＳａ〜Ｓｄの検出結果が、図３に示す各識別部Ｘ１〜Ｘ６における検出結果に該当したと判定した場合、各識別部Ｘ１〜Ｘ６に対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６が光路ＯＰに配置されたと判別する。また、判別部３４は、例えば、センサＳａ〜Ｓｄの検出結果が、図３の各識別部Ｘ１〜Ｘ６における検出結果に該当しないと判定した場合、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６が光路ＯＰに配置されていないと判別する。
【００３６】
ここで、従来の位置判別装置の例を説明する。図４（Ａ）及び図４（Ｂ）は、従来の位置判別装置の一例を示す。図５は、図４に示す位置判別装置の各識別部Ｘにおける磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。図４（Ａ）の位置判別装置１００は、識別部Ｂ１〜Ｂ６及びセンサＳａ〜Ｓｃが、図２に示す本実施形態の位置判別装置１と異なり、それ以外の構成は位置判別装置１と同様である。この位置判別装置１００の識別部Ｂ１〜Ｂ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応して配置される。識別部Ｂ１〜Ｂ６の磁石３６、及び３つのセンサＳａ〜Ｓｃは、それぞれ、軸部３５の中心Ｏを中心とする円周ＣＬ１（図２（Ｂ）参照）上に配置される。
【００３７】
この位置判別装置１００の場合、図４（Ａ）に示すように、コンデンサカセットＣ１が光路ＯＰに配置された場合、識別部Ｂ１の磁石３６が検出部３３のセンサＳａに検出される。また、図４（Ｂ）に示すように、コンデンサカセットＣ４が光路ＯＰの近傍に配置される場合(コンデンサカセットＣ４が光路ＯＰに配置される直前の状態)も、識別部Ｂ４の磁石３６が検出部３３のセンサＳａに検出される。図４（Ｂ）の状態においては、センサＳａが磁石３６を検出し、センサＳｂ及びセンサＳｃが磁石３６を検出しない結果となり、図５に示す識別部Ｂ１を検出する時と同じ検出結果になっている。例えば、この判別結果を表示部９等に表示する場合、光路ＯＰに配置されるべき正確な判別結果ではない判別結果が表示されることになってしまう。すなわち、位置判別装置１００のようなコンデンサカセットＣが光路ＯＰに正確に配置されたことを検出しない位置判別装置の場合、光路ＯＰへの配置直前からセンサが磁石を検出し始め、この検出結果を基に、光路ＯＰに配置されたコンデンサカセットＣを判定してしまうので、図４（Ａ）に示すような場合と、図４（Ｂ）に示すような状態とで、異なるコンデンサカセットＣが光路ＯＰに配置ようとした状態でも両者の状態は同じと判定されてしまう。ところで、コンデンサカセット保持装置（ターレット１３）の回転手段が使用者の手動である場合、コンデンサカセット保持装置の回転位置を使用者が任意に設定することができるため、図４（Ｂ)の状態が正確に判別されることが要求される。
【００３８】
上記のように、この位置判別装置１００は、図４（Ａ）及び図４（Ｂ）に示す状態を区別することができないため、識別部Ｂ１〜Ｂ６が誤って判定されるおそれがある。この誤判定を回避するためには、コンデンサカセットＣが光路ＯＰに配置されたときに、識別部Ｂ１〜Ｂ６の判定を行うことが考えられる。この場合、コンデンサカセットＣが光路ＯＰに配置されたことを検出するセンサなどが必要となり、その結果、コストが高くなる。しかし、本実施形態では、全ての識別部Ｘで検出する磁石３６の数は少なくとも２個であることを必須とし、かつ、全ての識別部Ｘで検出する磁石３６の数を同数とすることでコンデンサカセットＣが光路ＯＰに正確に配置されたことを検出するセンサなどを配置しない構成であっても誤判定がない装置を提供することができる。
【００３９】
図６（Ａ）及び図６（Ｂ）は、従来の位置判別装置の他の例を示す。この位置判別装置１０１は、識別部Ｂ１〜Ｂ６及びセンサＳａ〜Ｓｃが、図２に示す本実施形態の位置判別装置１と異なり、それ以外の構成は位置判別装置１と同様である。この位置判別装置１０１の識別部Ｂ１〜Ｂ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応して配置される。識別部Ｂ１〜Ｂ６は、それぞれ、１個または２個の磁石３６により、３個のセンサＳａ〜Ｓｃに検出される磁石３６が互いに異なるように形成される。また、識別部Ｂ１〜Ｂ６は、それぞれ、図２に示す識別部Ｘ１〜Ｘ６と同様に、軸部３５の中心Ｏを中心とした放射方向に延びる直線Ｌａ１〜Ｌａ６（図２参照）上に配置される。
【００４０】
この位置判別装置１０１の場合、図６（Ａ）に示すように、コンデンサカセットＣ１が光路ＯＰに配置された場合、識別部Ｂ１の磁石３６ｃが検出部３３のセンサＳｃに検出される。また、位置判別装置１０１は、図６（Ｂ）に示すように、コンデンサカセットＣ３が光路ＯＰの近傍に配置される場合(例えばコンデンサカセットＣ３が光路ＯＰに配置される直前の状態)、識別部Ｂ３の磁石３６ｂ、３６ｃが、それぞれ、検出部３３のセンサＳｂ、Ｓｃの近傍に配置される。この状態のとき、センサＳｂと磁石３６ｂとの距離が大きいと磁石３６ｂはセンサＳｂに検出されず、磁石３６ｃのみがセンサＳｃに検出される。これはセンサＳｂの感度が低いときに、より生じやすくなる。このように、位置判別装置１０１は、図６（Ａ）及び図６（Ｂ）に示す状態を区別することができない。つまり、図６（Ａ）の状態も図６（Ｂ）の状態も共に磁石３６ｃのみの検出をしてしまうため、識別部Ｘの磁石３６識別部Ｂ１〜Ｂ６が誤って判定されるおそれがある。この誤判定を回避するためには、上述したように、コンデンサカセットＣが光路ＯＰに配置されたときに、識別部Ｘ１〜Ｘ６の判定を行うことにより回避することができる。この場合、コンデンサカセットＣが光路ＯＰに正確に配置されたことを検出するセンサなどが必要となり、その結果、コストが高くなる。これに対して、本実施形態の位置判別装置１の場合、上述したように、各識別部Ｘ１〜Ｘ６は、磁石３６が検出されるＮ個（Ｎは２以上の自然数）のセンサＳの組み合わせが異なるように形成されているので、図６（Ｂ）に示す状態においても、図６（Ａ）に示した識別部Ｂ１に相当するような、誤判定の原因となる識別部が存在しない。すなわち、図６（Ａ）や図６（Ｂ）の構成のようにコンデンサカセットＣが光路ＯＰに正確に配置されたことを検出するセンサなどを配置しない場合、１個の磁石を検出するような構成であると誤判定が生じてしまう。しかし、本実施形態の位置判別装置１は、全ての識別部Ｘで検出する磁石の数は少なくとも２個であることを必須とし、かつ、全ての識別部で検出する磁石の数を同数とすることでコンデンサカセットＣが光路ＯＰに正確に配置されたことを検出するセンサなどを配置しない構成であっても誤判定がない装置を提供することができ、図６（Ａ）及び図６（Ｂ）に示す状態を区別する必要がないように構成されている。このように、本実施形態の位置判別装置１は、コンデンサカセットＣ（保持部Ｈ）が光路ＯＰに配置されたことを正確に検出するセンサなどを必要とせず、このような誤判定を確実に回避できる。
【００４１】
図７は、従来の位置判別装置の他の例を示す。この位置判別装置１０２は、識別部Ｂ１〜Ｂ６及びセンサＳａ〜Ｓｆが、図２に示す本実施形態の位置判別装置１と異なり、それ以外の構成は位置判別装置１と同様である。この位置判別装置１０１の識別部Ｂ１〜Ｂ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応して配置される。識別部Ｂ１〜Ｂ６は、それぞれ、１個の磁石３６により形成され、６個のセンサＳａ〜Ｓｆに検出される磁石３６が互いに異なるように形成される。識別部Ｂ１〜Ｂ６は、それぞれ、図２に示す識別部Ｘ１〜Ｘ６と同様に、軸部３５の中心Ｏを中心とした放射方向に延びる直線Ｌａ１〜Ｌａ６（図２参照）上に配置される。この位置判別装置１０２は、図４及び図６に示した誤判定を回避できる。しかし、１個の磁石３６により、Ｃ１〜Ｃ６の６か所の識別を行う場合、センサの数を６個にする必要がある。この場合、センサの数が多いため、センサの占める領域の径方向の長さが長くなり、装置のサイズが大きくなる。これに対して、本実施形態の位置判別装置１の場合、上述したように、各識別部Ｘ１〜Ｘ６は、磁石３６が検出されるＮ個（Ｎは２以上の自然数）のセンサＳの組み合わせが異なるように形成されているので、センサの数を少なくすることができ、装置のサイズを小さくすることができる。
【００４２】
次に、位置判別装置１及び顕微鏡装置ＭＳの動作に基づき、本実施形態に係る位置判別方法及び顕微鏡装置の制御方法を説明する。図８（Ａ）は、本実施形態に係る位置判別方法のフローチャートであり、図８（Ｂ）は本実施形態に係る顕微鏡の制御方法のフローチャートである。なお、図８（Ａ）及び図８（Ｂ）を説明する際、適宜、図１〜図３を参照する。
【００４３】
本実施形態の位置判別方法は、図８（Ａ）に示すステップＳ１において、検出部３３として、被検出部材（磁石３６）を検出するＭ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサＳを用いる。例えば、検出部３３として、図２に示すように、磁界を検出する４個のセンサＳａ〜Ｓｄを用いる。
【００４４】
図８（Ａ）に示すステップＳ２において、Ｎ（Ｎ＜Ｍ、Ｎは２以上の自然数）個のセンサＳにより、識別部Ｘのそれぞれに配置される複数の磁石３６の磁界を検出する。例えば、まず、図２（Ｂ）及び図３に示すように、各識別部Ｘ１〜Ｘ６を、検出部３３により検出される磁石３６の数を２に設定し、且つ、識別部Ｘ１〜Ｘ６のそれぞれを、２つの磁石３６が検出される２個のセンサＳａ〜Ｓｄの組み合わせが異なるように形成する。そして、例えば、図２（Ｂ）に示すように、保持部材３２の回転によりコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６が光路ＯＰに配置される際、センサＳａ〜Ｓｄのいずれかが、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応する識別部Ｘ１〜Ｘ６に配置される２個の磁石３６を検出する。
【００４５】
図８（Ａ）に示すステップＳ３において、磁石３６を検出するＮ個のセンサＳの異なる組み合わせから識別部Ｘを特定する。例えば、図２（Ｂ）に示す検出部３３が、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６が観察時の光路ＯＰ（所定位置）に配置された際、識別部Ｘ１〜Ｘ６のいずれかにおいて、２個の磁石３６を検出し、判別部３４（図２（Ａ）参照）が検出部３３による検出結果から、識別部Ｘを特定する。例えば、判別部３４は、各センサＳａ〜Ｓｄによる検出結果を、図３に示すような、各識別部Ｘ１〜Ｘ６におけるセンサＳａ〜Ｓｄの検出結果を示すテーブルを参照して、比較することにより、識別部Ｘ１〜Ｘ６のいずれかを特定する。これにより、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６が観察時の光路ＯＰ（所定位置）にあることが判別される。以上のように、本実施形態に係る位置判別方法は、精度よくコンデンサカセットＣや対物レンズ１６等の物体の位置を判別することができる。
【００４６】
続いて、本実施形態の顕微鏡装置の制御方法を説明する。本実施形態の顕微鏡装置の制御方法は、図８（Ｂ）に示すステップＳ４において、上記した位置判別方法の判別結果を用いて顕微鏡装置を制御する。位置判別方法の判別結果は、例えば、上記ステップＳ３において特定された識別部Ｘである。本ステップＳ４では、例えば、ステップＳ５において、制御部６は、位置判別方法の判別結果に基づく情報を表示部９（図１参照）に表示させる。例えば、位置判別方法の判別結果は、判別部３４から制御部６に出力される。制御部６は、位置判別方法の判別結果を示す情報を表示部９に出力する。例えば、制御部６は、位置判別方法の判別結果に基づいて、光路ＯＰに配置されたコンデンサカセットＣの種類等の情報を表示部９に表示する。
【００４７】
また、ステップＳ５において、制御部６は、例えば、位置判別方法の判別結果により特定されたコンデンサカセットＣ（光学部材）に対応する顕微鏡装置ＭＳの操作に関する情報を表示してもよい。例えば、顕微鏡装置ＭＳの操作情報は、記憶部８に予め記憶される。例えば、制御部６は、ユーザの顕微鏡操作を補助する情報を含む観察条件の設定等の操作情報を、表示部９に表示させる。例えば、制御部６は、位置判別方法の判別結果により特定されたコンデンサカセットＣが微分干渉観察用の場合には、「観察方法は微分干渉観察です。落射照明用のシャッタを閉じてください。対物レンズは微分干渉用（ＤＩＣ）を用いてください。」などの、コンデンサカセットＣ（光学部材）に対応した、観察条件の設定に関するユーザの顕微鏡操作を補助する情報を含む操作情報を表示部９に表示させる。なお、顕微鏡装置ＭＳが音声出力装置を備える場合、制御部６は、このような操作情報を音声出力するように制御をしてもよい。
【００４８】
続いて、図８（Ｂ）に示すステップＳ６において、位置判別方法の判別結果を用いて、顕微鏡装置ＭＳの光学部材を制御する。例えば、制御部６は、位置判別方法の判別結果に基づいて、位置判別装置１に保持される光学部材以外の光学部材を制御する。例えば、制御部６は、駆動部２１を駆動することにより、所定の対物レンズ１６（光学部材）を光路ＯＰに配置する。例えば、制御部６は、位置判別方法の判別結果により特定されたコンデンサカセットＣに対応する対物レンズ１６を、駆動部２１によりレボルバ１９を駆動することにより、観察時の光路ＯＰ（光軸）に配置してもよい。なお、ステップＳ５及びステップＳ６のいずれか一方は行わなくてもよい。また、ステップＳ５及びステップＳ６は同時に行ってもよいし、ステップＳ５の前にステップＳ６を開始してもよい。
【００４９】
以上のように、本実施形態の位置判別装置１、顕微鏡装置ＭＳ及び位置判別方法は、簡単な構成で、精度よくコンデンサカセットＣ等の物体の位置を判別することができる。また、本実施形態の顕微鏡装置の制御方法は、精度よくコンデンサカセット等の物体の位置を判別する位置判別方法を用いて行うので、顕微鏡装置の制御を精度よく行うことができる。
【００５０】
［第２実施形態］
第２実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。
【００５１】
図９（Ａ）は、第２実施形態に係る位置判別装置を示す図である。図９（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。図１０（Ａ）及び図１０（Ｂ）は、図９（Ａ）と識別部の磁石の数とセンサの数を同じにし、磁石の配置を図９（Ａ）と変えた比較例である。本実施形態の位置判別装置１は、図９（Ａ）に示すように、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２と、識別部Ｘａと、検出部３３ａと、判別部３４（図２参照）と、を備える。装置本体３１、保持部材３２、及び判別部３４は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１及び判別部３４については、図示を省略する。
【００５２】
位置判別装置１は、複数の識別部Ｘａ（Ｘａ１〜Ｘａ６）を備える。識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応して配置される。各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、例えば、それぞれ、保持部材３２の上面に配置される。各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６の外側に配置される。この場合、各保持部Ｈ１〜Ｈ６を、より密に配置することができる。例えば、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとし、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６の外側に設定される円周ＣＬ１上に沿って配置される。各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６の各磁石３６も円周ＣＬ１上に沿って配置される。各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対して、軸部３５を挟んだ反対側に配置される。例えば、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６の中心と軸部３５の中心Ｏとを通る直線Ｌｃ１〜Ｌｃ６上に配置される。各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対して、軸部３５を挟んだ反対側に配置される場合、光路ＯＰとセンサＳとの間隔を大きくすることができるため、光路ＯＰ近傍のスペースを効率よく使用することができる。なお、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６を配置する位置は任意である。例えば、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６の近傍に配置されてもよい。
【００５３】
検出部３３ａは、５個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｅ）を備える。センサＳａ〜Ｓｅは、例えば、１つの支持部材３８に支持される。センサＳａ〜Ｓｅは、磁石３６と同様に円周ＣＬ１上に沿って配置される。センサＳａ〜Ｓｅは、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｅが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。
【００５４】
各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、それぞれ、３個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、図９に示すように、それぞれ、３個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。
【００５５】
ところで、センサＳが５個であり、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６において検出部３３に検出される磁石３６が３個であるので、３個の磁石３６を検出する５個のセンサＳの異なる組み合わせは、５Ｃ３＝２０通りになる。本実施形態の識別部Ｘａ１〜Ｘａ６は、例えば、この組み合わせにおいて、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６における磁石３６の配置が、円周ＣＬ１上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している。
【００５６】
例えば、図１０（Ａ）に示す例では、各識別部Ｂ１〜Ｂ６は、３個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。この例では、コンデンサカセットＣ１が光路ＯＰに配置される場合、識別部Ｂ１の３つの磁石３６ｂ、３６ｃ、３６ｅは、それぞれ、センサＳｂ、Ｓｃ、Ｓｅにより検出される。また、この例では、図１０（Ｂ）に示すように、コンデンサカセットＣ３が光路ＯＰ近傍に配置される場合（観察は可能な状態ではある）、識別部Ｂ３の３つの磁石３６ａ、３６ｂ、３６ｄが、それぞれ、センサＳｂ、Ｓｃ、Ｓｅにより検出される。これは、図９（Ａ）と同じセンサＳｂ、Ｓｃ、Ｓｅで、図９（Ａ）とは異なる磁石３６を検出してしまっている状態である。コンデンサカセットＣ３が観察時の光路ＯＰに正確に配置された状態であれば識別部Ｂ３の３つの磁石３６ａ、３６ｂ、３６ｄは、センサＳａ、Ｓｂ、Ｓｄで検出されるはずである。このように、この例では、図１０（Ａ）及び図１０（Ｂ）に示す状態を区別することができないため、識別部を誤判別するおそれがある。この誤判別は、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６における磁石３６の配置が、円周ＣＬ１上を移動させた際に、互いに重複するときに生じるおそれがある。本実施形態のように、各識別部Ｘａ１〜Ｘａ６における磁石３６の配置が、円周ＣＬ１上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している場合、この誤判別を確実に回避することができる。
【００５７】
［第３実施形態］
第３実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。
【００５８】
図１１（Ａ）は、第３実施形態に係る位置判別装置を示す図であり、図１１（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２と、識別部Ｘｂと、検出部３３ｂと、判別部３４と、を備える。装置本体３１、保持部材３２、及び判別部３４は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１及び判別部３４については、図示を省略する。
【００５９】
位置判別装置１は、複数の識別部Ｘｂ（Ｘｂ１〜Ｘｂ６）を備える。識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応して配置される。各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、例えば、それぞれ、保持部材３２の上面に配置される。各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６の磁石３６は、軸部３５を中心とする径の異なる複数の同心円周ＣＬ２、ＣＬ３上のいずれかに配置される。例えば、各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６の磁石３６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３上のいずれかに沿って配置される。各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６の磁石３６は、軸部３５を中心とする複数の同心円周ＣＬ２、ＣＬ３上のいずれかに配置される場合、軸部３５を中心とする１つの円周上に配置される場合に対して、磁石の配置のバリエーションが増え、識別部Ｘの誤判定を効率よく抑制することができる。なお、各磁石３６は、軸部３５を中心とする３つ以上の同心円周上のいずれかに配置されてもよい。各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対して、軸部３５を挟んだ反対側に配置される。例えば、各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６の中心と軸部３５の中心Ｏとを通る直線Ｌｃ１〜Ｌｃ６上に、各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６の中央部分が位置するように、配置される。なお、各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６を配置する位置は任意である。例えば、各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６の近傍に配置されてもよい。
【００６０】
検出部３３ｂは、４個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｄ）を備える。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、１つの支持部材３８に支持される。センサＳａ〜Ｓｄは、磁石３６と同様に、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３上のいずれかに沿って配置される。例えば、センサＳａ、センサＳｃ及びセンサＳｄは、円周ＣＬ２上に沿って配置され、センサＳｂは円周ＣＬ３上に沿って配置される。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｄが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。
【００６１】
図１１（Ｂ）に示すように、各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、図１１（Ｂ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。なお、本実施形態の各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、中心Ｏに対して外周側の円周ＣＬ２上に配置される磁石３６を少なくとも１つ含む。外周側の円周ＣＬ２上の磁石３６は、軸部３５の中心Ｏからの距離が遠いセンサＳの方が、保持部材３２の回転移動による磁石３６の回転移動に対して感度よく反応可能であるため、センサＳに精度よく検出される。これにより、各識別部Ｘｂ１〜Ｘｂ６は、精度よく検出される。
【００６２】
［第４実施形態］
第４実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。
【００６３】
図１２（Ａ）は、第４実施形態に係る位置判別装置を示す図である。図１２（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、図１２（Ａ）に示すように、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２と、識別部Ｘｃと、検出部３３ｃと、判別部３４ｃと、を備える。装置本体３１、及び保持部材３２は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１については、図示を省略する。
【００６４】
位置判別装置１は、複数の識別部Ｘｃ（Ｘｃ１〜Ｘｃ６）を備える。識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、複数の磁石３６により形成される。識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、磁石３６の極性の配置が互いに異なる。各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、磁石３６の極性の配置の違いが検出されることにより、個別に識別される。例えば、各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６において、各磁石３６は、その上方がＮ極またはＳ極になるように配置される。
【００６５】
各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応して配置される。各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、保持部材３２の上面に配置される。各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、第２実施形態と同様に、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６の外側に設定される円周ＣＬ１上に沿って配置される。各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６の各磁石３６も円周ＣＬ１上に沿って配置される。各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、第２実施形態と同様に、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６の中心と軸部３５の中心Ｏとを通る直線Ｌｃ１〜Ｌｃ６上に、各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６の中央部分が位置するように、配置される。
【００６６】
検出部３３ｃは、３個のセンサＳ（Ｓａ１〜Ｓｃ１）を備える。センサＳａ１〜Ｓｃ１は、磁石３６の極性を判別可能である。センサＳａ１〜Ｓｃ１は、例えば、１つの支持部材３８に支持される。センサＳａ１〜Ｓｃ１は、磁石３６と同様に円周ＣＬ１上に沿って配置される。センサＳａ１〜Ｓｃ１は、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ１〜Ｓｃ１ｃが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。
【００６７】
各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、図１２（Ｂ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６の磁極が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。また、識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６は、例えば、図１２（Ａ）に示すように、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６における磁石３６の配置が、円周ＣＬ１上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している。
【００６８】
判別部３４ｃは、センサにより検出した極性から識別部Ｘｃを特定する。判別部３４ｃは、第１実施形態と同様に、各センサＳａ１〜Ｓｃ１による検出結果を、図１２（Ｂ）に示す各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６におけるセンサＳａ１〜Ｓｃ１の検出結果を示すテーブルと比較することにより、識別部Ｘｃを特定し、特定した識別部Ｘｃに対応するコンデンサカセットＣが光路ＯＰにあることを判別する。
【００６９】
以上のように、本実施形態の位置判別装置１は、各識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６が、それぞれ、２個の磁石３６の磁極（極性）が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成されるので、識別部Ｘｃ１〜Ｘｃ６の判別に必要なセンサＳの個数を減らすことができる。
【００７０】
［第５実施形態］
第５実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。
【００７１】
図１３（Ａ）は、第５実施形態に係る位置判別装置を示す図である。図１３（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、図１３（Ａ）に示すように、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２と、識別部Ｘｄと、検出部３３ｄと、判別部３４と、を備える。装置本体３１、保持部材３２、及び判別部３４は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１については、図示を省略する。
【００７２】
位置判別装置１は、複数の識別部Ｘｄ（Ｘｄ１〜Ｘｄ６）を備える。識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、第１実施形態と同様に、それぞれ、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対応して配置される。各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、第１実施形態と同様に、例えば、それぞれ、保持部材３２の上面に配置される。
【００７３】
識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、それぞれ、識別部の一部が、他の識別部の一部として共用される。識別部Ｘｄの一部が、他の識別部Ｘｄの一部として共用される場合、識別部Ｘｄの部分の大きさを小さくすることができる。各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６の磁石３６は、軸部３５を中心とする複数の同心円周上のいずれかに配置される。例えば、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６の磁石３６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２（図１１（Ａ）参照）上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３（図１１（Ａ）参照）上のいずれかに沿って配置される。各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対して、軸部３５を挟んだ反対側に配置される。例えば、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６の中心と軸部３５の中心Ｏとを通る直線Ｌｃ１〜Ｌｃ６（図９（Ａ）参照）上に、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６の中央部分が位置するように、配置される。なお、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６を配置する位置は任意である。例えば、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６の近傍に配置されてもよい。
【００７４】
検出部３３ｄは、６個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｆ）を備える。センサＳａ〜Ｓｆは、例えば、１つの支持部材３８に支持される。センサＳａ〜Ｓｆは、磁石３６と同様に、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３上のいずれかに沿って配置される。例えば、センサＳａ、センサＳｃ、センサＳｄ及びセンサＳｆは、円周ＣＬ２上に沿って配置され、センサＳｂ及びセンサＳｅは、円周ＣＬ２上に沿って配置される。センサＳａ〜Ｓｆは、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｆが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。
【００７５】
各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、図１３（Ｂ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、例えば、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６における磁石３６の配置が、円周ＣＬ２、ＣＬ３上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している。また、各識別部Ｘｄ１〜Ｘｄ６は、中心Ｏに対して外周側の円周ＣＬ２上に配置される磁石３６を少なくとも１つ含む。また、図１３（Ａ）の構成では、磁石３６が光学部材であるコンデンサカセットＣの隙間（コンデンサカセットＣとコンデンサカセットＣとの間）に配置されている。言い換えると、磁石３６が配置されている同心円ＣＬ２、ＣＬ３が光学部材の上を通る位置になっている。従って、例えば図９〜図１２の構成に比較して、保持部材３２の外周近傍にまで光学部材の取り付け領域を設定することが可能となる。これにより保持部材３２の径をより小さくすることが可能となる。この場合、１つの同心円上に磁石３６を配置すると磁石３６と磁石３６との間の間隔が小さくなってしまうことも考えられるが、図１３（Ａ）のように２つの同心円ＣＬ２、ＣＬ３上に配分して磁石３６を配置することで、磁石３６と磁石３６との間の間隔を広げることが可能になる。磁石３６と磁石３６との間の間隔が広い場合、１つのセンサＳが２つの磁石３６からの磁界を検出することを抑制することができるため、センサＳによる磁石３６の検出を精度よく行うことができる。
【００７６】
［第６実施形態］
第６実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。
【００７７】
図１４（Ａ）は、第６実施形態に係る位置判別装置１を示す図である。図１４（Ｂ）は、各識別部Ｘにおける磁石３６と、磁石３６を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、図１４（Ａ）に示すように、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２と、識別部Ｘｅと、検出部３３ｅと、判別部３４と、を備える。装置本体３１、保持部材３２、及び判別部３４は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１については、図示を省略する。
【００７８】
位置判別装置１は、複数の識別部Ｘｅ（Ｘｅ１〜Ｘｅ６）を備える。識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、第５実施形態と同様に、それぞれ、識別部Ｘｅの一部が、他の識別部Ｘｅの一部として共用される。
【００７９】
各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６の磁石３６は、軸部３５を中心とする複数の同心円周上のいずれかに配置される。例えば、各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６の磁石３６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２（図１１（Ａ）参照）上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３（図１１（Ａ）参照）上のいずれかに沿って配置される。各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対して、軸部３５を挟んだ反対側に配置される。例えば、各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６の中心と軸部３５の中心Ｏとを通る直線Ｌｃ１〜Ｌｃ６（図９（Ａ）参照）上に、各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６の中央部分が位置するように、配置される。なお、各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６を配置する位置は任意である。例えば、各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６の近傍に配置されてもよい。
【００８０】
検出部３３ｅは、４個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｄ）を備える。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、１つの支持部材３８に支持される。センサＳａ〜Ｓｄは、磁石３６と同様に、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３上のいずれかに沿って配置される。例えば、センサＳａ及びセンサＳｄは、円周ＣＬ２上に沿って配置され、センサＳｂ及びセンサＳｃは、円周ＣＬ３上に沿って配置される。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｄが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。
【００８１】
各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、図１４（Ｂ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、例えば、各識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６における磁石３６の配置を円周ＣＬ２、円周ＣＬ３上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している。また、識別部Ｘｅ１〜Ｘｅ６は、中心Ｏに対して外周側の円周ＣＬ２上に配置される磁石３６を少なくとも１つ含む。また、図１４（Ａ）の構成では、図１３（Ａ）と同様に、磁石３６が光学部材であるコンデンサカセットＣの隙間（コンデンサカセットＣとコンデンサカセットＣとの間）に配置されているので、保持部材３２を小型化できるメリットがある。
【００８２】
［第７実施形態］
第７実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。
【００８３】
図１５（Ａ）は、第７実施形態に係る位置判別装置を示す図である。図１５（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、図１５（Ａ）に示すように、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２と、識別部Ｘｆと、検出部３３ｆと、判別部３４と、を備える。装置本体３１、保持部材３２、及び判別部３４は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１については、図示を省略する。
【００８４】
位置判別装置１は、複数の識別部Ｘｆ（Ｘｆ１〜Ｘｆ６）を備える。各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、それぞれ、保持部Ｈ１〜Ｈ６のうちいずれか２つを跨いで形成される。各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、それぞれ、互いに離間した２つ以上の領域に形成される。位置識別部Ｘｆが互いに離間した２つ以上の領域に形成される場合、保持部材３２のスペースを有効に、識別部に使用することができる。識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、第５実施形態と同様に、それぞれ、識別部Ｘｆの一部が、他の識別部Ｘｆの一部として共用される。
【００８５】
各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６の磁石３６は、軸部３５を中心とする複数の同心円周上のいずれかに配置される。例えば、各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６の磁石３６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２（図１１（Ａ）参照）上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３（図１１（Ａ）参照）上のいずれかに沿って配置される。各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、それぞれ、対応するコンデンサカセットＣ１〜Ｃ６に対して、軸部３５を挟んだ反対側に配置される。各磁石３６は、例えば、保持部Ｈどうしの間に配置される。
【００８６】
検出部３３ａは、４個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｄ）を備える。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、１つの支持部材３８に支持される。センサＳａ〜Ｓｄは、磁石３６と同様に、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３上のいずれかに沿って配置される。例えば、センサＳａ及びセンサＳｄは、円周ＣＬ２上に沿って配置され、センサＳｂ及びセンサＳｃは、円周ＣＬ３上に沿って配置される。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｄが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。
【００８７】
各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、図１５（Ｂ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。また、各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、中心Ｏに対して外周側の円周ＣＬ２上に配置される磁石３６を少なくとも１つ含む。また、識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６は、例えば、各識別部Ｘｆ１〜Ｘｆ６における磁石３６の配置が、円周ＣＬ２、ＣＬ３上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している。また、図１５（Ａ）の構成では、図１３（Ａ）と同様に、磁石３６が光学部材であるコンデンサカセットＣの隙間（コンデンサカセットＣとコンデンサカセットＣとの間）に配置されているので、保持部材３２を小型化できるメリットがある。
【００８８】
［第８実施形態］
第８実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。
【００８９】
図１６（Ａ）は、第８実施形態に係る位置判別装置を示す図である。図１６（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、図１６（Ａ）に示すように、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２と、識別部Ｘｇと、検出部３３ｇと、判別部３４と、を備える。装置本体３１、保持部材３２、及び判別部３４は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１及び判別部３４については、図示を省略する。
【００９０】
位置判別装置１は、複数の識別部Ｘｇ（Ｘｇ１〜Ｘｇ６）を備える。各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６は、それぞれ、保持部Ｈ１〜Ｈ６のうちいずれか１つを跨いで形成される。各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６は、それぞれ、互いに離間した２つ以上の領域に形成される。識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６は、それぞれ、識別部Ｘｇの一部が、他の識別部Ｘｇの一部として共用される。
【００９１】
各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６の磁石３６は、軸部３５を中心とする複数の同心円周上のいずれかに配置される。例えば、各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６の磁石３６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２（図１１（Ａ）参照）上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３（図１１（Ａ）参照）上のいずれかに沿って配置される。また、本実施形態では、保持部Ｈと保持部Ｈとの間に磁石３６が配置されているが、保持部Ｈと保持部Ｈとの間に配置される磁石３６の数は異なっている。
【００９２】
検出部３３ｇは、４個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｄ）を備える。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、２つの支持部材３８（３８ａ、３８ｂ）により分割されて支持される。本実施形態の場合、センサＳａとセンサＳｂとの距離と、センサＳｃとセンサＳｄとの距離が等しく設定されている。この場合、センサＳａとセンサＳｂとを備える支持部材３８ａと、センサＳｃとセンサＳｄとを備える支持部材３８ｂとを共通に用いることができる。センサＳを備える支持部材３８は、例えば、センサ基板である。なお、センサＳａ〜Ｓｄは、３つ以上の支持部材３８に分割されて支持されてもよい。また、センサＳａとセンサＳｂとの距離と、センサＳｃとセンサＳｄとの距離は、異なってもよい。
【００９３】
センサＳａ〜Ｓｄは、磁石３６と同様に、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３上のいずれかに沿って配置される。例えば、センサＳａ及びセンサＳｄは、円周ＣＬ２上に沿って配置され、センサＳｂ及びセンサＳｃは、円周ＣＬ３上に沿って配置される。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｄが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。
【００９４】
各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６は、図１６（Ｂ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。また、各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６は、中心Ｏに対して外周側の円周ＣＬ２上に配置される磁石３６を少なくとも１つ含む。また、識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６は、例えば、各識別部Ｘｇ１〜Ｘｇ６における磁石３６の配置が、円周ＣＬ２、ＣＬ３上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している。また、図１６（Ａ）の構成では、図１３（Ａ）と同様に、磁石３６が光学部材であるコンデンサカセットＣの隙間（コンデンサカセットＣとコンデンサカセットＣとの間）に配置されているので、保持部材３２を小型化できるメリットがある。
【００９５】
このように、本実施形態の位置判別装置１は、検出部３３ｇが複数の支持部材３８（センサ基板）によって分割して支持されるので、支持部材３８の配置位置の選択肢（バリエーション）を多くすることができる。なお、本実施形態のように、本明細書中に記載する検出部（例、検出部３３ｄ〜３３ｆ）を、複数の支持部材３８で支持してもよい。
【００９６】
［第９実施形態］
第９実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。
【００９７】
図１７（Ａ）は、第９実施形態に係る位置判別装置を示す図である。図１７（Ｂ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、図１７（Ａ）に示すように、装置本体３１（図２参照）と、保持部材３２ｈと、識別部Ｘｈと、検出部３３ｈと、判別部３４と、を備える。装置本体３１、保持部材３２、及び判別部３４は、それぞれ、第１実施形態と同様であり、これらの説明は省略する。また、装置本体３１については、図示を省略する。
【００９８】
保持部材３２ｈは、例えば、平面視において、その外形が円状である。保持部材３２ｈは、コンデンサカセットＣを保持可能な複数の保持部Ｈ（Ｈ１〜Ｈ７）を備え、複数の保持部Ｈ１〜Ｈ７により複数のコンデンサカセットＣ（Ｃ１〜Ｃ７）を保持する。７つの保持部Ｈ１〜Ｈ７は、それぞれ、例えば、軸部３５のまわりに配置される。
【００９９】
位置判別装置１は、複数の識別部Ｘｈ（Ｘｈ１〜Ｘｈ７）を備える。各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７は、それぞれ、保持部Ｈ１〜Ｈ７のうちいずれか１つを跨いで形成される。各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７は、それぞれ、互いに離間した２つ以上の領域に形成される。識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７は、それぞれ、識別部Ｘｈの一部が、他の識別部Ｘｈの一部として共用される。
【０１００】
各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７の磁石３６は、軸部３５を中心とする複数の同心円周上のいずれかに配置される。例えば、各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７の磁石３６は、それぞれ、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２（図１１（Ａ）参照）上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３（図１１（Ａ）参照）上のいずれかに沿って配置される。
【０１０１】
検出部３３ｈは、６個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｆ）を備える。センサＳａ〜Ｓｆは、例えば、２つの支持部材３８（３８ａ、３８ｂ）により分割されて支持される。なお、センサＳａ〜Ｓｆは、３つ以上の支持部材３８に分割されて支持されてもよい。センサＳａ〜Ｓｆは、磁石３６と同様に、軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ２上及び軸部３５の中心Ｏとする円周ＣＬ３上のいずれかに沿って配置される。例えば、センサＳａ、センサＳｃ、センサＳｄ及びセンサＳｆは、円周ＣＬ２上に沿って配置され、センサＳｂ及びセンサＳｅは、円周ＣＬ３上に沿って配置される。センサＳａ〜Ｓｆは、例えば、コンデンサカセットＣ１〜Ｃ６のいずれかが光路ＯＰに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｆが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。
【０１０２】
各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７は、図１７（Ｂ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。また、各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７は、中心Ｏに対して外周側の円周ＣＬ２上に配置される磁石３６を少なくとも１つ含む。また、識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７は、例えば、各識別部Ｘｈ１〜Ｘｈ７における磁石３６の配置が、円周ＣＬ２、ＣＬ３上を移動させた際に、互いに重複しない組み合わせを有している。また、図１７（Ａ）の構成では、図１３（Ａ）と同様に、磁石３６が光学部材であるコンデンサカセットＣの隙間（コンデンサカセットＣとコンデンサカセットＣとの間）に配置されているので、保持部材３２を小型化できるメリットがある。
【０１０３】
上記の実施形態では、保持部Ｈの数は６つであるとして説明したが、保持部Ｈの数は、任意であり、例えば、本実施形態の位置判別装置１のように、保持部Ｈの数は７つでもよいし、保持部Ｈは２つ〜５つでもよいし、８つ以上でもよい。
【０１０４】
［第１０実施形態］
第１０実施形態について説明する。本実施形態において、上述の実施形態と同様の構成については、同じ符号を付してその説明を省略あるいは簡略化する。
【０１０５】
図１８（Ａ）は、第１０実施形態に係る位置判別装置を側方から見た図である。図１８（Ｂ）は、位置判別装置を上方から見た図である。図１８（Ｃ）は、各識別部における磁石と、磁石を検出するセンサとの関係を示す図である。本実施形態の位置判別装置１は、図１８（Ａ）に示すように、装置本体３１ｊと、保持部材３２ｊと、識別部Ｘｊと、検出部３３ｊと、判別部３４と、を備える。
【０１０６】
本実施形態の位置判別装置１は、保持部材３２ｊの外形が矩形状である。保持部材３２ｊは、例えば、装置本体３１ｊの内部に収容される。保持部材３２ｊは、例えば、手動により、Ｘ方向に移動可能である。なお、保持部材３２ｊの形状、大きさは任意である。
【０１０７】
保持部材３２ｊは、複数の物体Ｔ（Ｔ１〜Ｔ６）を保持可能な６つの保持部Ｈ（Ｈ１〜Ｈ６）を備える。上記実施形態では、物体ＴがコンデンサカセットＣであるとして説明したが、物体Ｔは、任意に設定可能である。なお、保持部Ｈは６つでなくてもよい。例えば、保持部Ｈは１個〜５個でもよいし、７個以上でもよい。各保持部Ｈ１〜Ｈ６は、それぞれ、Ｘ方向に並んで配置される。
【０１０８】
保持部材３２ｊには、各保持部Ｈ１〜Ｈ６に対応した６つの識別部Ｘｊ（Ｘｊ１〜Ｘｊ６）が配置される。識別部Ｘｊ１〜Ｘｊ６は、Ｘ方向に並んで配置される。各識別部Ｘｊ１〜Ｘｊ６は、それぞれ、対応する保持部Ｈ１〜Ｈ６軸の近傍に配置される。
【０１０９】
各識別部Ｘｊ１〜Ｘｊ６は、それぞれ、２個の磁石３６により形成される。各識別部Ｘｊ１〜Ｘｊ６において、磁石３６は、Ｙ方向と平行な方向に沿って配列される。各識別部Ｘｊ１〜Ｘｊ６は、図１８（Ｃ）に示すように、それぞれ、２個の磁石３６が検出されるセンサＳの組み合わせが異なるように形成される。
【０１１０】
検出部３３ｊは、装置本体３１に配置される（図１８（Ａ）参照）。例えば、検出部３３ｊは、保持部材３２ｊの上方に配置される。検出部３３ｊは、４個のセンサＳ（Ｓａ〜Ｓｄ）を備える。センサＳａ〜Ｓｄは、支持部材３８により支持される。センサＳａ〜Ｓｄは、磁石３６と同様に、Ｙ方向と平行な方向に沿って配列される。センサＳａ〜Ｓｄは、例えば、物体Ｔ１〜Ｔ６のいずれかが所定位置Ｐに配置された際に、各センサＳａ〜Ｓｄが２以上の磁石３６による磁界を検出しないように互いに離間して配置される。上記実施形態では、所定位置Ｐが光路ＯＰとして説明したが、所定位置Ｐは、光路ＯＰに限定されず、任意に設定可能である。
【０１１１】
上記の実施形態では、保持部材３２を回転して移動させる例を示したが、保持部材３２の移動方法は任意であり、例えば、位置判別装置１は、本実施形態のように、保持部材３２をスライドして移動する構成でもよい。
【０１１２】
以上説明したように、上記した実施形態の位置判別装置１は、複数の物体Ｔ（例、コンデンサカセットＣ）を保持する保持部材（３２、３２ｈ、３２ｊ）、及び保持部材（３２、３２ｈ、３２ｊ）を移動可能に支持する装置本体（３１、３１ｊ）のいずれか一方に配置される検出部（３３、３３ａ〜３３ｊ）と、保持部材（３２、３２ｈ、３２ｊ）及び装置本体（３１、３１ｊ）のいずれか他方に、複数の物体Ｔのそれぞれに対応して配置され、検出部（３３、３３ａ〜３３ｊ）により検出される複数の識別部（Ｘ、Ｘａ〜Ｘｊ）と、検出部（３３、３３ａ〜３３ｊ）による検出結果から、識別部（Ｘ、Ｘａ〜Ｘｊ）を特定してこの識別部（Ｘ、Ｘａ〜Ｘｊ）に対応する物体Ｔが所定位置Ｐ（例、光路ＯＰ）にあることを判別する判別部（３４、３４ｃ）と、を備え、検出部（３３、３３ａ〜３３ｊ）は、被検出部材（磁石３６）を検出するＭ（Ｍは３以上の自然数）個のセンサＳを含み、複数の識別部（Ｘ、Ｘａ〜Ｘｊ）のそれぞれは、いずれもＮ（Ｎ＜Ｍ、Ｎは２以上の自然数）個のセンサにより検出され、かつ、Ｎ個のセンサＳの組み合わせが異なるように、複数の被検出部材が配置される。これにより、上記した実施形態の位置判別装置１は、簡単な構成で、精度よく物体の位置を判別することができる。
【０１１３】
なお、本発明の技術範囲は、上述の実施形態などで説明した態様に限定されるものではない。上述の実施形態などで説明した要件の１つ以上は、省略されることがある。また、上述の実施形態などで説明した要件は、適宜組み合わせることができる。また、法令で許容される限りにおいて、上述の実施形態などで引用した全ての文献の開示を援用して本文の記載の一部とする。
【０１１４】
例えば、上述の実施形態では、顕微鏡装置ＭＳが倒立顕微鏡である場合を例に説明したが、これに限定されず、顕微鏡装置ＭＳは倒立顕微鏡以外の任意の顕微鏡装置でもよい。例えば、顕微鏡装置ＭＳは正立顕微鏡でもよいし、実体顕微鏡でもよい。
【０１１５】
例えば、上述の実施形態では、検出部３３（３３ａ〜３３ｊ）は装置本体３１に配置され、識別部Ｘ、Ｘａ〜Ｘｊは、保持部材３２に配置される例を示したが、検出部３３は保持部材３２に配置され、識別部Ｘ、Ｘａ〜Ｘｊは、装置本体３１に配置されてもよい。
【０１１６】
例えば、上述の実施形態では、顕微鏡装置ＭＳは、第１実施形態の位置判別装置１を備える例を示したが、これに限定されず、例えば、顕微鏡装置ＭＳは、第２実施形態から第１０実施形態の位置判別装置１を備えてもよい。
【０１１７】
例えば、上述の実施形態では、位置判別装置１は顕微鏡装置ＭＳに備えられる例を示したが、これに限定されず、例えば、位置判別装置１は、顕微鏡装置ＭＳ以外の装置に備えられてもよいし、また、位置判別装置１は装置等に備えられず、位置判別装置１は単独に用いられるのものでもよい。
【０１１８】
例えば、上述の実施形態では、顕微鏡装置ＭＳが位置判別装置１を備え、位置判別装置１がコンデンサカセットＣを保持するターレット１３である例を示したが、これに限定されず、顕微鏡装置ＭＳにおいて、位置判別装置１はターレット１３以外のものでもよい。例えば、位置判別装置１は、複数の対物レンズ１６を保持可能なレボルバ１９でもよいし、複数のフィルタユニット１５を保持可能なターレット１８でもよいし、シャッタ部材、フィルタ等の光学部材を保持可能で且つ光学部材を光路ＯＰに配置する切り替え装置でもよい。
【０１１９】
例えば、上述の実施形態では、顕微鏡装置ＭＳが位置判別装置１を１つ備える例を示したが、これに限定されず、顕微鏡装置ＭＳは複数の位置判別装置１を備えてもよい。例えば、顕微鏡装置ＭＳは、位置判別装置１をターレット１３、ターレット１８、レボルバ１９、シャッタ部材、フィルタ等の光学部材を保持可能で且つ光学部材を光路ＯＰに配置する切り替え装置のうち少なくとも２つを備えるものでもよい。
【０１２０】
また、上述の実施形態において、制御部６は、例えばコンピュータシステムを含む。制御部６は、記憶部８に記憶されているプログラムを読み出し、このプログラムに従って各種の処理を実行する。このプログラムは、例えば、顕微鏡装置ＭＳの制御をコンピュータに実行させるプログラムである。この制御は、例えば、上記した位置判別方法の判別結果を用いて顕微鏡装置ＭＳを制御する。このプログラムは、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体（記録媒体）に記憶（記録）されて提供されてもよい。
【０１２１】
なお、上述の実施形態において、上記した位置判別方法の判別結果を用いて、顕微鏡装置ＭＳを制御する制御方法を説明したが、位置判別装置１を備える装置（図示せず）において、位置判別装置１の判別結果を用いて、装置ＭＳを制御する制御方法でもよい。また、位置判別装置１を備える装置（図示せず）が、コンピュータシステムを含む制御装置（図示せず）を備える場合、制御装置は、コンピュータに、位置判別装置１の判別結果を用いて、装置ＭＳを制御するプログラムを実行させることにより、装置を制御してもよい。このプログラムは、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体（記録媒体）に記憶（記録）されて提供されてもよい。
【符号の説明】
【０１２２】
１・・・位置判別装置、４、４ａ、４ｂ・・・照明光学系、５・・・結像光学系、６・・・制御部、９・・・表示部、Ｃ、Ｃ１〜Ｃ７・・・コンデンサカセット(光学部材、物体)、Ｘ、Ｘａ〜Ｘｊ・・・識別部、ＯＰ・・・光路（光軸、所定位置）、Ｐ・・・所定位置、Ｓ、Ｓａ〜Ｓｆ・・・センサ、Ｔ・・・物体、２１・・・駆動部（駆動系）、３１、３１ｊ・・・装置本体、３２、３２ｈ、３２ｊ・・・保持部材、３３、３３ａ〜３３ｊ・・・検出部、３４、３４ｃ・・・判別部、３５・・・軸部、３６・・・磁石（被検出部材）、３８、３８ａ、３８ｂ・・・支持部材、ＭＳ・・・顕微鏡装置、ＯＰ・・・光路（光軸、所定位置）
【図１】
2018077316.tif 000003
【図２】
2018077316.tif 000004
【図３】
2018077316.tif 000005
【図４】
2018077316.tif 000006
【図５】
2018077316.tif 000007
【図６】
2018077316.tif 000008
【図７】
2018077316.tif 000009
【図８】
2018077316.tif 000010
【図９】
2018077316.tif 000011
【図１０】
2018077316.tif 000012
【図１１】
2018077316.tif 000013
【図１２】
2018077316.tif 000014
【図１３】
2018077316.tif 000015
【図１４】
2018077316.tif 000016
【図１５】
2018077316.tif 000017
【図１６】
2018077316.tif 000018
【図１７】
2018077316.tif 000019
【図１８】
2018077316.tif 000020