(57)【要約】【解決手段】  第１光ファイバ幹線と第２光ファイバ幹線とを接続する接続箱と、前記接続箱の内部において、前記第１光ファイバ幹線と、前記第２光ファイバ幹線と、を中継する光ファイバ主線と、前記接続箱の内部において、前記光ファイバ主線から分岐し、前記第１光ファイバ幹線からの入射光の一部が入射される光ファイバ分岐線と、前記接続箱において、前記光ファイバ分岐線と、前記入射光の一部の光強度を測定する測定機器と、を接続する測定用端子と、を備えることを特徴とする。【選択図】  図３
2018124517.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１光ファイバ幹線と第２光ファイバ幹線とを接続する接続箱と、
前記接続箱の内部において、前記第１光ファイバ幹線と、前記第２光ファイバ幹線と、を中継する光ファイバ主線と、
前記接続箱の内部において、前記光ファイバ主線から分岐し、前記第１光ファイバ幹線からの入射光の一部が入射される光ファイバ分岐線と、
前記接続箱において、前記光ファイバ分岐線と、前記入射光の一部の光強度を測定する測定機器と、を接続する測定用端子と、
を備えることを特徴とする光ファイバ測定用コネクタ。
【請求項２】
前記光ファイバ主線は、前記光ファイバ分岐線が接続する箇所において、前記入射光の一部が前記光ファイバ主線のコアから前記光ファイバ分岐線に漏れ出るような、前記光ファイバ主線のコアの第１屈折率よりも大きい第２屈折率のクラッドを有する
ことを特徴とする請求項１に記載の光ファイバ測定用コネクタ。
【請求項３】
前記光ファイバ分岐線は、前記第２屈折率に略等しい第３屈折率のコアを有する
ことを特徴とする請求項２に記載の光ファイバ測定用コネクタ。
【請求項４】
前記光ファイバ分岐線は、前記第３屈折率よりも大きい第４屈折率のクラッドを有する
ことを特徴とする請求項３に記載の光ファイバ測定用コネクタ。
【請求項５】
前記測定用端子と接続される前記測定機器の端子がＳＣコネクタであって、前記測定端子から前記測定機器の端子に前記入射光の一部が通過するように、前記測定用端子は前記ＳＣコネクタに対応する形状を呈する
ことを特徴とする請求項１乃至請求項４の何れか一項に記載の光ファイバ測定用コネクタ。
【請求項６】
前記測定用端子と接続される前記測定機器の端子がＦＣコネクタであって、前記測定端子から前記測定機器の端子に前記入射光の一部が通過するように、前記測定用端子は前記ＦＣコネクタに対応する形状を呈する
ことを特徴とする請求項１乃至請求項４の何れか一項に記載の光ファイバ測定用コネクタ。
【請求項７】
前記接続箱は、密封されている
ことを特徴とする請求項１乃至請求項６の何れか一項に記載の光ファイバ測定用コネクタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバ測定用コネクタに関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、光カプラから伸長する光ファイバ分岐端に受光素子を取り付けることにより、光出力レベルをモニターできる光ラップコネクタが知られている。（例えば特許文献１）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開平１１−６４６８６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１には、光送受信器の制御回路機能および伝送特性をチェックするとともに、光送受信器の光出力レベルをモニターする光ラップコネクタが開示されている。特許文献１に係る光ラップコネクタでは、入射される入射光の略半分を分岐させることにより受光素子で入射光をモニターしている。当該光ラップコネクタでは、入射光をモニターできるものの、入射光の分岐に伴う損失が大きいため、その損失が出射光に影響を及ぼす虞があった。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
前述した課題を解決する主たる本発明は、第１光ファイバ幹線と第２光ファイバ幹線とを接続する接続箱と、前記接続箱の内部において、前記第１光ファイバ幹線と、前記第２光ファイバ幹線と、を中継する光ファイバ主線と、前記接続箱の内部において、前記光ファイバ主線から分岐し、前記第１光ファイバ幹線からの入射光の一部が入射される光ファイバ分岐線と、前記接続箱において、前記光ファイバ分岐線と、前記入射光の一部の光強度を測定する測定機器と、を接続する測定用端子と、を備えることを特徴とする。
【０００６】
本発明の他の特徴については、添付図面および本明細書の記載により明らかとなる。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、入射光の一部を入射させることにより入射光の光強度を測定するため、測定損失を抑制することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタが設置される光ケーブル回線系統の一例を示す図である。
【図２】本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタが光接続箱内に設置される一例を示す図である。
【図３】本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタの構成の一例を示す図である。
【図４】本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタを＋Ｙ方向から見た一例を示すＡ−Ａ断面図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
本明細書および添付図面の記載により、少なくとも以下の事項が明らかとなる。以下の説明において、同一符号を付した部分は同一の要素を表し、その基本的な構成および動作は同様であるものとする。また、以下説明において、Ｘ軸は接続箱の幅方向に沿う軸であり、Ｙ軸は接続箱の高さ方向に沿う軸であり、Ｚ軸は光ファイバ主線の延長方向に沿う軸である。また、Ｘ軸に沿う方向を「Ｘ方向」と示し、Ｙ軸に沿う方向を「Ｙ方向」と示し、Ｚ軸に沿う方向を「Ｚ方向」と示すこともある。また、「Ｘ方向」、「Ｙ方向」、「Ｚ方向」のそれぞれにおける＋側には「＋」を付けて示し、−側には「−」を付けて示すこともある。
【００１０】
＝＝＝光ケーブル回線系統１００＝＝＝
図１、図２を参照しつつ、光ケーブル回線系統１００について以下のとおり説明する。図１は、本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタ１０が設置される光ケーブル回線系統１００の一例を示す図である。図２は、本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタ１０が光接続箱１２０内に設置される一例を示す図である。
【００１１】
図１に示すように、光ケーブル回線系統１００は、光ケーブル１１０を通じて各種情報を各種装置に伝送する回線系統である。光ケーブル１１０は、複数本の光ファイバ１１１，１１２を収容している。光接続箱１２０は、光ケーブル回線系統１００の中継地点に設けられている。光接続箱１２０は、各種情報を送受信する各種装置（例えば制御装置１３０や観測装置１４０）と光ケーブル１１０とを接続するための中継箱である。
【００１２】
図２に示すように、光接続箱１２０内において、上流側の光ケーブル１１０の一部の光ファイバ１１１は、光ファイバ測定用コネクタ１０を通じて制御装置１３０に接続する。これにより、制御装置１３０は、上流側の光ケーブル１１０を通じて各種情報を取得する。
【００１３】
本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタ１０は、制御装置１３０において、光ケーブル１１０を通じて伝搬される光信号が不安定な状態を示すとき、光信号の光強度の測定に用いられる。光強度を測定する測定機器１５０は、直接、光ファイバ測定用コネクタ１０に接続される。つまり、光ファイバ測定用コネクタ１０を用いると、光ファイバ１１１の端子１１１Ａを取り外すことなく、測定機器１５０は光信号を測定できる。言い換えると、光ファイバ測定用コネクタ１０は、制御装置１３０の通信状態を維持しつつ、制御装置１３０が接続される光ケーブル１１０の回線状態を確認できる。なお、光強度とは、光ケーブル１１０を伝搬する光波の強度をいう。光ファイバ測定用コネクタ１０について、以下のとおり詳細に説明する。
【００１４】
＝＝＝光ファイバ測定用コネクタ１０＝＝＝
図３、図４を参照しつつ、光ファイバ測定用コネクタ１０について以下のとおり説明する。図３は、本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタ１０の構成の一例を示す図である。図４は、本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタ１０を＋Ｙ方向から見た一例を示すＡ−Ａ断面図である。
【００１５】
図３に示すように、光ファイバ測定用コネクタ１０は、第１光ファイバ幹線１１１と第２光ファイバ幹線１１２の間に設けられ、第１光ファイバ幹線１１１から入射される光信号の一部を分岐させる装置である。図４に示すように、光ファイバ測定用コネクタ１０は、第２光ファイバ幹線１１２に出射される光信号の強度に影響を及ぼすことなく、測定用の光信号として、第１光ファイバ幹線１１１から一部の光信号を分岐させる。一部の光信号とは、第１光ファイバ幹線１１１から入力される光信号の光強度に対して所定の割合の光強度を有する光信号をいう。分岐された光信号は、光ファイバ測定用コネクタ１０の測定用端子１１Ｄに伝搬される。測定用端子１１Ｄに伝搬された光信号は、測定用端子１１Ｄに接続される測定機器１５０に入力される。つまり、光ファイバ測定用コネクタ１０は、第１光ファイバ幹線１１１から入力される光信号の一部を、第２光ファイバ幹線１１２に到達するまでの間に、測定用端子１１Ｄに向けて分岐する。測定用端子１１Ｄに接続された測定機器１５０は、分岐された光信号を取得するため、第１光ファイバ幹線１１１の端子１１１Ａを取り外すことなく、第１光ファイバ幹線１１１を伝搬する光信号を間接的に測定できる。この光ファイバ測定用コネクタ１０は、接続箱１１、光ファイバ主線１２、光ファイバ分岐線１３、を含んで構成される。
【００１６】
＜＜接続箱１１＞＞
接続箱１１は、第１光ファイバ幹線１１１、第２光ファイバ幹線１１２および測定機器１５０が接続され、後述する光ファイバ主線１２および光ファイバ分岐線１３を物理的に保護する部材である。図３に示すように、接続箱１１は、例えば略直方体形状を呈し、樹脂材料で形成されている。また、接続箱１１は、光ファイバ主線１２および光ファイバ分岐線１３を紫外線から保護するために紫外線を遮断する材質で形成されることが好ましい。接続箱１１の大きさは、例えば光接続箱１２０内に収容できる大きさであることが好ましい。
【００１７】
接続箱１１は、保護本体１１Ａと、第１接続端子１１Ｂと、第２接続端子１１Ｃと、測定用端子１１Ｄと、を含んで構成されている。保護本体１１Ａは、後述する光ファイバ主線１２および光ファイバ分岐線１３を保護するための、密封された箱体である。第１接続端子１１Ｂは、保護本体１１Ａの一方の側面（−Ｚ方向側の側面）に設けられ、例えばＳＣコネクタに対応するコネクタ形状を呈する。第１光ファイバ幹線１１１の端子１１１Ａは、第１接続端子１１Ｂに接続される。第２接続端子１１Ｃは、保護本体１１Ａにおける、一方の側面と対向する他方の側面（＋Ｚ方向側の側面）に設けられ、例えばＳＣコネクタに対応するコネクタ形状を呈する。第２光ファイバ幹線１１２の端子１１２Ａは、第２接続端子１１Ｃに接続される。測定用端子１１Ｄは、保護本体１１Ａの他方の側面（＋Ｚ方向側の側面）において、第２接続端子１１Ｃと隣り合うように設けられる。第２接続端子１１Ｃと隣り合うように設けられる理由は、保護本体１１Ａの内部において、後述する光ファイバ分岐線１３が後述する光ファイバ主線１２に沿うように配置させるためである。これにより、後述する光ファイバ分岐線１３の湾曲が抑制されるため、光信号は、光ファイバ主線１２から光ファイバ分岐線１３に効率良く分岐する。測定用端子１１Ｄは、例えばＳＣコネクタに対応するコネクタ形状を呈し、測定機器１５０に接続される光コード１５０Ａの端子１５０Ｂが接続される。測定機器１５０は、測定用端子１１Ｄと反対側で光コード１５０Ａに接続する。測定機器１５０とは、例えば光パルス試験器である。
【００１８】
＜＜光ファイバ主線１２＞＞
光ファイバ主線１２は、第１光ファイバ幹線１１１から入射される光信号を第２光ファイバ幹線１１２に中継する部材である。光ファイバ主線１２は、一端が第１接続端子１１Ｂに接続され、他端が第２接続端子１１Ｃに接続される。光ファイバ主線１２は、透光性を有する第１コア１２Ａと、耐風化性を有する第１クラッド１２Ｂと、を含んで形成される。光ファイバ主線１２は、第１コア１２Ａの外側に第１クラッド１２Ｂが積層するように形成される、繊維状のガラスファイバである。光ファイバ主線１２は、第１光ファイバ幹線１１１および第２光ファイバ幹線１１２と同じファイバ（材質、太さなど）で形成され、例えばＳＭ型光ファイバである。
【００１９】
第１コア１２Ａの屈折率（以下、「第１コア屈折率」と称する。）は、第１クラッド１２Ｂの屈折率（以下、「第１クラッド屈折率」と称する。）よりも大きくなるように設定される。具体的には、第１コア屈折率が“１．４６７”に設定されると、第１クラッド屈折率は“１．４６２”に設定される。これにより、光ファイバ主線１２の一端から入射される光信号は、第１コア１２Ａと第１クラッド１２Ｂの境界面で全反射を繰り返しながら他端に向かって第１コア１２Ａ内を伝搬する。ただし、第１コア屈折率および第１クラッド屈折率は、上記において、数値で一例を示したが、その屈折率が限定されるものではなく実験的に決定される数値である。
【００２０】
図４に示すように、光ファイバ主線１２は、入射される光信号の一部を後述する光ファイバ分岐線１３に分岐する。光ファイバ分岐線１３が接続される光ファイバ主線１２のクラッド（以下、「分岐接続部１２Ｃ」と称する。）は、第１クラッド屈折率よりも大きい屈折率（以下、「接続部屈折率」と称する。）に設定される。これにより、光ファイバ主線１２の第１コア１２Ａ内を伝搬する光信号の一部は、光ファイバ分岐線１３へ漏れ出るように分岐する。具体的には、接続部屈折率は、第１コア屈折率と第１クラッド屈折率の間の数値を示し、例えば“１．４６４”に設定される。
【００２１】
光ファイバ主線１２の設計においては、接続部屈折率が第１コア屈折率に近いほど光ファイバ主線１２から漏れ出る光信号が多くなることを考慮する。つまり、光ファイバ主線１２内を伝搬する光信号の光強度に対して所定の割合の光強度を有する光信号が、光ファイバ分岐線１３へ分岐するように、接続部屈折率を設定する。これにより、光ファイバ測定用コネクタ１０は、光ファイバ主線１２内を伝搬する光信号の光強度に対して所定の割合の光強度を有する光信号を測定機器１５０に伝搬できる。所定の割合とは、例えば１０％である。測定機器１５０は、光ファイバ分岐線１３を伝搬する光信号の光強度を測定することにより、第１光ファイバ幹線１１１から入射される光信号の光強度を間接的に測定できる。
【００２２】
＜＜光ファイバ分岐線１３＞＞
光ファイバ分岐線１３は、光ファイバ主線１２から分岐した光信号を測定機器１５０に伝搬する部材である。光ファイバ分岐線１３は、一端が光ファイバ主線１２に接続され、他端が測定用端子１１Ｄに接続される。光ファイバ分岐線１３の一端は、角度ずれや間隙が生じないように、光ファイバ主線１２の分岐接続部１２Ｃに融着接続される。光ファイバ分岐線１３は、透光性を有する第２コア１３Ａと、耐風化性を有する第２クラッド１３Ｂと、を含んで形成される。光ファイバ分岐線１３は、第２コア１３Ａの外側に第２クラッド１３Ｂが積層するように形成され、光ファイバ主線１２と同じ材質で形成される。第２コア１３Ａの屈折率（以下、「第２コア屈折率」と称する。）は、第２クラッド１３Ｂの屈折率（以下、「第２クラッド屈折率」と称する。）よりも大きくなるように設定される。ここで、第２コア屈折率は、接続部屈折率と同じ屈折率であることが好ましい。具体的には、光ファイバ主線１２の接続部屈折率が“１．４６４”に設定されると、第２コア屈折率は“１．４６４”に略等しく設定される。この場合、第２クラッド屈折率は、“１．４５９”に設定される。これにより、光ファイバ主線１２から分岐された光信号は、分岐接続部１２Ｃを通じて光ファイバ分岐線１３（第２コア１３Ａ）に伝搬される。ただし、第２コア屈折率および第２クラッド屈折率は、上記において、数値で一例を示したが、その屈折率が限定されるものではなく実験的に決定される数値である。
【００２３】
＝＝＝製作手順・使用手順＝＝＝
図２、図３、図４を参照しつつ、光ファイバ測定用コネクタ１０の製作手順および使用手順について以下のとおり説明する。
【００２４】
＜＜製作手順＞＞
先ず、製作者は、例えばＶＡＤ法を用いて、光ファイバ主線１２の多孔質ファイバ母材を製作する。多孔質ファイバ母材は、例えば円柱形状を呈するガラス塊である。製作者は、多孔質ファイバ母材を製作する過程において、光ファイバ主線１２の分岐接続部１２Ｃとなる部分を形成する。分岐接続部１２Ｃとなる部分は、例えば、多孔質ファイバ母材を製作する過程における第１クラッド１２Ｂの層の形成過程において、接続部屈折率が第１コア屈折率に近づくように形成される。具体的には、第１コア１２Ａとなるガラス棒に対して第１クラッド１２Ｂとなるスート状のガラスを噴射させる際に、分岐接続部１２Ｃとなる部分には、屈折率を高めるドープ材を添加したガラスを噴射する。屈折率を高めるドープ材とは、例えば酸化ゲルマニウムである。そして、多孔質ファイバ母材を線引きすることにより、光ファイバ主線１２が形成される。次に、製作者は、光ファイバ主線１２と同様の手法により、光ファイバ分岐線１３を製作する。なお、光ファイバ分岐線１３の製造においては、第２コア屈折率が接続部屈折率と等しくなるようにドープ材を調整する。
【００２５】
次に、製作者は、光ファイバ主線１２の分岐接続部１２Ｃに光ファイバ分岐線１３の一端を融着接続する。次に、製作者は、保護本体１１Ａ内に光ファイバ主線１２および光ファイバ分岐線１３を収容するとともに、光ファイバ主線１２の両端部と、第１接続端子１１Ｂおよび第２接続端子１１Ｃとを接続する。そして、光ファイバ分岐線１３の他端を測定用端子１１Ｄに接続する。
【００２６】
＜＜使用手順＞＞
図２に示すように、管理者は、光接続箱１２０に導入される光ケーブル１１０を確認する。そして、光ケーブル１１０の端部から分岐して延出する第１光ファイバ幹線１１１を確認する。
【００２７】
図３、図４に示すように、管理者は、第１光ファイバ幹線１１１の端子１１１Ａを光ファイバ測定用コネクタ１０の第１接続端子１１Ｂに接続する。これにより、光ファイバ測定用コネクタ１０は、第１光ファイバ幹線１１１から光信号を入射する。次に、第２光ファイバ幹線１１２の端子１１２Ａを光ファイバ測定用コネクタ１０の第２接続端子１１Ｃに接続する。これにより、光ファイバ測定用コネクタ１０は、第１光ファイバ幹線１１１から入射された光信号を下流側の光ケーブル１１０または各種装置に伝搬する。次に、管理者は、光コード１５０Ａを介して測定機器１５０を測定用端子１１Ｄに接続する。これにより、光ファイバ測定用コネクタ１０は、その接続箱１１内で分岐される光信号を測定機器１５０に伝搬する。これにより、管理者は、第１光ファイバ幹線１１１の端子１１１Ａを取り外さずに、上流側の光ケーブル１１０の通信状態を確認できる。
【００２８】
尚、上記の実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更、改良され得るとともに、本発明にはその等価物も含まれる。例えば、以下のような実施形態も含まれることとする。
【００２９】
＝＝＝その他の実施形態＝＝＝
＜＜接続箱１１＞＞
上記において、接続箱１１は略直方体形状を呈しているとして説明したが、これに限定されない。例えば円柱形状であってよく、その形状が限定されるものではない。
【００３０】
上記において、第１接続端子１１Ｂ、第２接続端子１１Ｃおよび測定用端子１１ＤはＳＣコネクタに対応する形状を呈するとして説明したが、これに限定されない。例えばＦＣコネクタに対応する形状を呈するものでもよく、コネクタ形状が限定されるものではない。
【００３１】
上記において、測定用端子１１Ｄは第２接続端子１１Ｃと隣り合うように設けられるとして説明したが、これに限定されない。例えば、測定用端子１１Ｄは、第２接続端子１１Ｃが設けられる＋Ｚ方向側の側面に隣接する側面の何れかに設けられていてもよい。この場合、光ファイバ分岐線１３が光ファイバ主線１２から略垂直に分岐することとなる。この場合であっても、光ファイバ分岐線１３の第２コア１３Ａの第２コア屈折率を調整することにより、光ファイバ主線１２内の光信号を光ファイバ分岐線１３に分岐できる。
【００３２】
＜＜光ファイバ主線１２＞＞
上記において、光ファイバ主線１２はガラスファイバであるとして説明したが、これに限定されない。例えばプラスチック製ファイバであってもよく、その材質が限定されるものではない。その場合、光ファイバ主線１２に接続される光ファイバ分岐線１３の第２コア屈折率は光ファイバ主線１２の接続部屈折率に応じて設定される。
【００３３】
上記において、光ファイバ主線１２はＳＭ型光ファイバであるとして説明したが、これに限定されない。例えばＧＩ型光ファイバでもよく、この場合、第１コア屈折率が中心から周辺に近づくにつれて低くなるように設定されるため、接続部屈折率は、第１コア１２Ａの周辺部の屈折率よりも小さく設定される。
【００３４】
上記において、接続部屈折率を第１コア屈折率に近づけることにより漏れ出る光信号を調整するとして説明したが、これに限定されない。例えば、分岐接続部１２Ｃの面積が大きいほど、又、分岐接続部１２Ｃの厚みが薄いほど、光ファイバ主線１２から漏れ出る光信号が多くなるため、これらを調整することにより、漏れ出る光信号を調整してもよい。
【００３５】
＝＝＝まとめ＝＝＝
以上説明したように、本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタ１０は、第１光ファイバ幹線１１１と第２光ファイバ幹線１１２とを接続する接続箱１１と、接続箱１１の内部において、第１光ファイバ幹線１１１と、第２光ファイバ幹線１１２と、を中継する光ファイバ主線１２と、接続箱１１の内部において、光ファイバ主線１２から分岐し、第１光ファイバ幹線１１１からの入射光の一部が入射される光ファイバ分岐線１３と、接続箱１１において、光ファイバ分岐線１３と、入射光の一部の光強度を測定する測定機器１５０と、を接続する測定用端子１１Ｄと、を備える。本実施形態によれば、入射光の一部を測定機器１５０に取り入れることができるため、測定損失を抑制できる。
【００３６】
又、本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタ１０の光ファイバ主線１２は、光ファイバ分岐線１３が接続する箇所において、入射光の一部が光ファイバ主線１２のコアから光ファイバ分岐線１３に漏れ出るような、光ファイバ主線１２のコアの第１コア屈折率よりも大きい接続部屈折率の分岐接続部（クラッド）を有する。本実施形態によれば、入射光の一部を測定機器１５０に取り入れるため、測定損失を抑制できる。
【００３７】
又、本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタ１０の光ファイバ分岐線１３は、第１クラッド屈折率に略等しい第２コア屈折率のコアを有する。本実施形態によれば、光ファイバ主線１２から光ファイバ分岐線１３に光信号を低損失で分岐させることできる。
【００３８】
又、本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタ１０の光ファイバ分岐線１３は、第２コア屈折率よりも大きい第２クラッド屈折率のクラッドを有する。本実施形態によれば、入射光の一部を測定機器１５０に取り入れるため、測定損失を抑制できる。
【００３９】
又、本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタ１０において、測定用端子１１Ｄと接続される測定機器１５０の端子１５０ＢがＳＣコネクタであって、測定端子１１Ｄから測定機器１５０の端子１５０Ｂに入射光の一部が通過するように、測定用端子１１ＤはＳＣコネクタに対応する形状を呈する。本実施形態によれば、汎用性の高いコネクタで構成されるため、安価に製作できる。
【００４０】
又、本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタ１０において、測定用端子１１Ｄと接続される測定機器１５０の端子１５０ＢがＦＣコネクタであって、測定端子１１Ｄから測定機器１５０の端子１５０Ｂに入射光の一部が通過するように、測定用端子１１ＤはＦＣコネクタに対応する形状を呈する。本実施形態によれば、汎用性の高いコネクタで構成されるため、安価に製作できる。
【００４１】
又、本実施形態に係る光ファイバ測定用コネクタ１０の接続箱１１は、密封されている。本実施形態によれば、光ファイバ主線１２および光ファイバ分岐線１３の劣化を防止できる。
【符号の説明】
【００４２】
１０  光ファイバ測定用コネクタ
１１  接続箱
１１Ｄ  測定用端子
１２  光ファイバ主線
１３  光ファイバ分岐線
１５０  測定機器
【図１】
2018124517.tif 000003
【図２】
2018124517.tif 000004
【図３】
2018124517.tif 000005
【図４】
2018124517.tif 000006