(57)【要約】【課題】  ３Ｄ記録の露光時間を判断する方法を提供する。【解決手段】  被写体（３）の３Ｄ座標を判断する方法における記録のための露光（特に露光時間）を判断するのに役立つ方法であって、ここでは、パターンが被写体（３）上へ投影され、被写体（３）により反射された光が記録される。このような方法を改善するために、被写体（３）の記録は所定露光、特には、露光時間により生成される。この記録のマスク画像が生成され、このマスク画像では測定容積（６）内に位置する被写体（３）の領域が描写される。記録のための露光、特には、露光時間は、所定露光、特には、露光時間に依存して、所定露光による記録の、測定容積（６）内に位置する領域内の平均階調値に依存して、そして理想階調値に依存して判断される。【選択図】図１
2018124281.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体（３）の３Ｄ座標を判断する方法における記録のための露光、特には、露光時間（ｔ１）を判断する方法であって、パターンが前記被写体（３）上へ投影され、前記被写体（３）により反射された光が記録される、方法において、
前記被写体（３）の記録が所定露光、特には、露光時間（ｔ０）で生成されることと、
この記録のマスク画像が生成され、前記マスク画像では前記測定容積（６）内に位置する前記被写体（３）の領域が描写されることと、
前記記録のための露光、特には、前記露光時間（ｔ１）は、前記所定露光、特には、特定露光時間（ｔ０）に依存して、所定露光による前記記録の、前記測定容積（６）内に位置する前記領域内の平均階調値（ｂｎ）に依存して、そして理想階調値（ｂｏｐｔ）に依存して、判断されることと、を特徴とする方法。
【請求項２】
前記露光時間（ｔ１）は次式
【数１】
2018124281.tif 000008
に従って判断される、ことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記露光は、前記記録のいかなる領域も前記測定容積内に位置しなくても画像階調値に基づき判断され、
前記階調値の重み付けは理想的露光を判断するために行われ、
好適には、明領域がより強く重み付けられることを特徴とする、請求項１または２に記載の方法。
【請求項４】
前記露光は、所定数の支援点が前記測定容積（６）内に存在すると直ちに、前記測定容積内に位置する前記記録の領域にもっぱら基づき判断され、
好適には、前記測定容積外の領域に基づく判断から前記測定容積内の領域に基づく判断への遷移は、特に、前記測定容積（６）内に位置する領域が前記重み付けの際に含まれており前記測定容積外に位置する領域より強く重み付けされるという事実のおかげで流動的に発生することを特徴とする、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項５】
前記投影パターンが識別可能であるおよび／または所定品質判定基準を満たす前記記録の領域が確定され、
好適には、前記マスク画像を生成するために、前記投影パターンが識別可能でないおよび／または前記所定品質判定基準を満たしていない領域は前記測定容積（６）外に位置すると考えられることを特徴とする、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の方法。
【請求項６】
エッジフィルタが、所定露光、特には、露光時間による記録へ適用されることを特徴とする、請求項１乃至５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項７】
前記エッジフィルタが適用された前記記録へ閾値設定方法が適用されることを特徴とする、請求項１乃至６のいずれか一項に記載の方法。
【請求項８】
請求項１乃至７のいずれか一項に記載の方法を行うための機器であって、
被写体（３）上へパターンを投影するためのプロジェクタ（２）、
前記被写体（３）により反射された光を記録するためのカメラ（４、５と、
この記録のマスク画像を生成するための装置であって、前記測定容積（６）内に位置する前記被写体（３）の前記領域が描写される、装置、
および、前記露光（特に前記露光時間（ｔ１））を判断するための装置であって、前記記録は、前記所定露光、特には、露光時間（ｔ０）に依存し、前記所定露光による前記記録の（前記測定容積（６）内に位置する）前記領域内の平均階調値（ｂｎ）に依存し、そして理想階調値（ｂｏｐｔ）に依存する、装置
により特徴づけられる、機器。
【請求項９】
次式
【数２】
2018124281.tif 000009
に従って前記露光時間を判断するための装置、
および／またはエッジフィルタを所定露光による前記記録へ適用するための装置、
および／または前記エッジフィルタが適用された前記記録へ閾値設定方法を適用するための装置
により特徴づけられる、請求項８に記載の機器。
【請求項１０】
請求項１乃至７のいずれか一項に記載の方法により前記露光を自動的に判断するための装置により特徴づけられる、請求項８または９に記載の機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被写体の３Ｄ座標を判断する方法における記録のための露光を判断する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
被写体の３Ｄ座標を判断する方法は、被写体上にパターンを投影するためのプロジェクタと、被写体により反射された光を記録するためのカメラとを含む機器を使用して行われ得る。
【０００３】
このような被写体の３Ｄ座標を判断する方法は（特許文献１）から知られている。
【０００４】
（特許文献２）は被写体の３Ｄ座標を判断する方法を開示し、ここではパターンが被写体上に投影される。被写体はカメラにより記録される。被写体の２つの画像（すなわち、パターンが被写体上に投影される第１の画像と、いかなるパターンも被写体上に投影されない第２の画像）が、理想的露光を確認するために生成される。理想的露光がこれらの２つの画像から確定されるように意図されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】米国特許第７，５７０，３７０Ｂ２号明細書
【特許文献２】米国特許第７，９５７，６３９Ｂ２号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明の目的は、被写体の３Ｄ座標を判断する方法における記録のための露光を判断する改良された方法を提案することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この目的は請求項１に記載の特徴により本発明に従って達成される。パターンが、被写体の３Ｄ座標を判断する方法において被写体上に投影される。具体的にはこのパターンは縞パターンである。被写体により反射される光が記録される。記録はカメラにより行われ得る。好適には、カメラは光学ユニットと面記録センサ（特には、ＣＣＤセンサまたはＣＭＯＳセンサ）とを含む。記録は３Ｄ座標を判断するために評価され得る。これは、好適には評価装置において、特にはコンピュータにおいて、好適にはＰＣにおいて行われる。
【０００８】
本発明によると、記録のための露光が判断される。その際、記録の露光時間が好適には判断される。しかし、代替的にまたは追加的に、露光の１つまたは複数の他のパラメータ、特には、カメラの絞り、カメラの面センサの感度、および／または露光の強度（すなわち、投影パターン（特には、縞パターン）の）を判断することも可能である。
【０００９】
本発明による方法では、被写体の記録は、所定露光（特には、所定露光時間）により当初生成される。マスク画像（測定容積（ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ  ｖｏｌｕｍｅ）内に位置する被写体の領域が描写される）がこの記録から生成される。すなわち、マスク画像は、被写体の領域（測定容積内および測定容積外に位置する領域内に位置する）を含む。マスク画像において、１つの好ましい構成では、測定容積内に幾何学的に位置するが遮光の結果として測定され得ない被写体のこれらの領域もまた、測定容積外に位置するものとして識別され得る。
【００１０】
被写体の３Ｄ座標を判断するための記録のための露光は、所定露光に依存して、所定露光による記録の（測定容積内に位置する）領域内の平均階調値に依存して、そして理想階調値に依存して判断される。その際、特に、記録の露光時間をこのようにして判断することが可能である。しかし、代替的にまたは追加的に、記録のための露光の１つまたは複数の他のパラメータ（特には、絞り、感度、および／または露光の強度）を判断することも可能である。記録のための露光は所定露光（特には、所定露光時間、絞り、感度、および／または露光強度）に依存して判断される。さらに、記録のための露光は、測定容積内に位置する所定露光による記録のそれらの領域の平均階調値に依存して、そしてこれらの領域の理想階調値に依存して判断される。理想階調値は好適には所定階調値である。
【００１１】
本発明により実現され得る利点は、単一記録（すなわち所定露光による記録）だけが露光を判断するために必要であるということである。さらに、実現され得る利点は、記録のための露光を判断する目的のために、測定容積内に位置する被写体の領域だけが使用されるということである。すなわち、一方では測定容積内に位置する被写体と他方では背景とが互いに分離され得る。
【００１２】
本方法をリアルタイムで行うことが可能である。具体的には本方法は一連の連続記録（特には、映像記録）における各フレームへ連続的に適用され得る。シーン記録のための露光が変化すると直ちに、新たに必要とされる露光（特には、露光時間）を直ちに計算することが可能である。
【００１３】
被写体の３Ｄ座標を判断する目的のために、本発明に従って判断された露光による被写体の記録が生成され評価される。
【００１４】
本発明の有利な発展形態は従属請求項に記載される。
【００１５】
露光時間が次式に従って判断されれば有利である。
【数１】
2018124281.tif 000003
ここで、ｂｏｐｔは理想階調値を表し、ｂｎは所定露光時間による被写体の記録の（測定容積内に位置する）領域内の平均階調値を表し、ｔ０は被写体の記録の所定露光時間を表す。これから、判断されるべき露光時間ｔ１が計算される。
【００１６】
前述の式は線形カメラ（特には、工業カメラ）へ適用される。しかし、非線形性則が知られているまたは少なくとも近似され得るという条件で非線形カメラを使用することも可能である。この場合、前述の式はこの非線形性へ適応されなければならない。このとき、前述の式は非線形カメラの非線形性係数を含む。
【００１７】
１つの可能な実施形態では、露光は、記録のいかなる領域も測定容積内に位置しないとしても画像階調値（特には、平均階調値）に基づき判断される。したがって、本発明は、例えば、記録を生成するために使用されるカメラが測定前または測定中に被写体に対して移動されるタイプの測定方法にすら使用され得る。
【００１８】
好適には、階調値の重み付けが（理想的）露光を判断するために行われる。具体的には階調値の重み付けは平均階調値を判断する状況で行われ得る。
【００１９】
階調値は記録内の支援点における階調値であり得る。
【００２０】
好適には、重み付けの状況では、明領域は暗領域より強く重み付けられる。重み付けは、例えば、特定の階調値だけが判断に含まれそのために例えば１に重み付けられかつ他の階調値は判断に含まれない（すなわち、零により重み付けされる）ことにより行われ得る。
【００２１】
一例として、（理想的）露光および／または平均階調値は存在するすべての支援点のうちの一定割合の支援点に基づき判断され得る。この目的のために、存在する支援点は輝度に従ってソートされ、最高輝度を有する支援点だけが選択される。
【００２２】
このような重み付けは、（理想的）露光および／または平均階調値の判断が測定容積内におよび／またはその外に位置する記録の領域に基づき行われれば、行われ得る。
【００２３】
本発明の１つの好ましい構成によると、露光は、所定数の支援点が測定容積内に存在すると直ちに、測定容積内に位置する記録の領域にもっぱら基づき判断される。したがって、十分な階調値が測定容積内に存在すれば測定容積外の階調値は無視され得る。
【００２４】
しかし、好適には、露光はまた、所定数の支援点が測定容積内に未だ存在しない限り測定容積外に位置する記録の領域に基づき判断される。アーチアファクトおよび／または遷移中の結果としての画像のちらつきが結果として回避されることになる。
【００２５】
好適にはさらに、測定容積外の領域に基づく判断から測定容積内の領域に基づく判断への遷移は流動的に発生する。特に、この目的のために、測定容積内に位置する領域は測定容積外に位置する領域より強く重み付けられる。
【００２６】
好適には、露光および／または平均階調値を判断するために支援点が使用される。この結果、判断の基礎として採用された領域内に位置するすべての画素を使用することは必要ではない。好適には、支援点は、測定容積内に位置する領域内で一様に分散されるおよび／または一様なグリッドを形成する。好適には、測定容積外に位置する領域内では、支援点は記録のエッジよりも中心部においてより密に配置される。
【００２７】
本発明の１つの好ましい構成によると、測定容積内に位置する領域を判断することは記録の領域（投影パターンが識別可能であるおよび／または所定品質判定基準を満たす）を確定することを含む。
【００２８】
これは好適には記録を評価することにより行われる。特に、この場合、パターンが十分な鮮明度、輝度および／または詳細忠実度でもって存在する領域は測定容積内に位置すると考えられる。縞パターンの場合、これは例えば、密に隣接する平行縞が存在する領域は測定容積内に位置すると考えられるということを意味する。
【００２９】
代替的に、投影パターンが識別可能であるおよび／または所定品質判定基準を満たす記録の領域もまた、被写体と測定システムとの既知の相対位置と被写体の既知の形状とに基づき（例えば被写体のＣＡＤモデルに基づき）確定され得る。
【００３０】
さらに好適には、投影パターンが識別可能でないおよび／または所定品質判定基準を満たしていない領域は測定容積外に位置すると考えられる。
【００３１】
測定容積内および／または外に位置する領域の判断はマスク画像を生成するために行われることが好ましい。
【００３２】
別の独立態様によると、本発明はさらに、被写体の３Ｄ座標を判断する方法における記録のための露光（特には、露光時間（ｔ１））を適合化する方法を含む。ここでは、パターンが被写体上に投影され、被写体により反射された光が記録され、被写体の記録は所定露光（特には、露光時間（ｔ０））により生成される。第２の態様による本発明によると、投影パターンが識別可能であるおよび／または所定品質判定基準を満たす記録の領域が確定され、露光の適応化は露光量（特には、確定された領域の平均階調値）に基づき行われる。
【００３３】
好適には、投影パターンが識別可能であるおよび／または所定品質判定基準を満たす記録の領域は上で詳細に説明したようなやり方で確定される。
【００３４】
さらに、本発明の第１の態様について上に説明したそれらの好ましい構成もまた、第２の態様の発展形態に同じやり方で使用され得る。
【００３５】
さらに好適には、第１の態様による露光の判断は露光を適合化するため（好適には第２の態様による露光を適合化するため）に役立つ。
【００３６】
エッジフィルタが所定露光による記録へ適用されれば有利である。好適には、これはコントラストベースエッジフィルタである。Ｓｏｂｅｌ、ラプラス、および／またはＣａｎｎｙエッジフィルタが特に好適である。ここでは、カメラ画像内のエッジが発生し、（垂直に）投影された縞に沿って検出されるやり方で、採用されたカメラ分解能と採用されたパターンパラメータ（特には、縞幅）とに従ってフィルタサイズ、フィルタ方向および／または感度を適合化することが有利である。測定容積内の主としてエッジまたはエッジだけは、測定容積の外のカメラ鮮明度および／またはプロジェクタ鮮明度の低下および／または測定容積の外の画像輝度の低下の理由で検出される。この結果、測定容積の領域は測定容積の外に位置する領域から区別され得る。マスク画像の生成はエッジフィルタにより簡単化または容易化され得る。
【００３７】
フィルタ方向が投影パターンに依存して設定されれば有利である。具体的にはフィルタ方向は垂直縞または水平縞が投影されるかどうかに依存して設定され得る。フィルタ方向がフィルタカーネルを回転することにより設定されれば有利である。
【００３８】
フィルタの感度が設定されればさらに有利である。この目的を達成するために、階調値ジャンプを設定することが特に可能である。階調値ジャンプは、カメラ画像内のエッジを識別するための閾値を設定し得る。これは、「カメラ画像内のエッジを確実に検知することが可能である」ということと「無関係なエッジが例えばカメラ雑音の理由で不注意に識別されることがないということ」とを保証し得る。
【００３９】
フィルタサイズが設定されれば有利である。具体的にはフィルタサイズはカメラ画像内の記録された縞の幅により設定され得る。記録される縞の幅はカメラ分解能および／またはプロジェクタ分解能に依存して変化し得る。フィルタサイズを適合化する代わりに、またはこの適応化に加えて、画像サイズを変更する（例えば、画像サイズサイズを低減または増加する）ことも可能であり、その結果、画像内の縞幅は同様に変化する。
【００４０】
別の有利な発展形態によると、エッジフィルタが適用された記録へ閾値設定方法（ｔｈｒｅｓｈｏｌｄｉｎｇ  ｍｅｔｈｏｄ）が適用される。ここでは、これは大津（Ｏｔｓｕ）閾値設定方法であり得る。エッジ画像は閾値設定方法を使用することにより２値画像に変換され得る。
【００４１】
マスク画像は２値画像に基づき生成され得る。今や、マスク画像を表すこのような２値画像は２つの階調値（第１に測定容積内に位置する白領域と第２に測定容積の外に位置する黒領域）だけを含む。
【００４２】
改善されたマスク画像は閾値設定方法により生成され得る。
【００４３】
マスク画像を生成する文脈では、好適には、測定容積外に位置するエッジは除去されるおよび／または測定容積内に走るエッジは閉鎖される。測定容積内に走ると考えられるエッジは具体的には記録の際にクラスター様式で発生するおよび／または互いに近接して位置するエッジである。エッジは、エッジ無し領域および／または投影縞間の領域が測定容積内に位置するものとして処理されるおかげで閉鎖され得る。エッジは、測定容積の外のエッジが削除されるおかげで除去され得る。測定容積外に位置すると考えられるエッジは具体的には個々に位置するおよび／または他のエッジから遠く離れて位置するタイプのエッジである。
【００４４】
したがって、区別は、測定容積の外のエッジが測定容積に属さないものとして識別され得るようにクラスター形式で発生しないおかげで、行われ得る。エッジは数学的形態により閉鎖および除去され得る。
【００４５】
本発明はさらに、本発明による方法を行うための機器に関する。本機器は、被写体上にパターンを投影するためのプロジェクタと、被写体により反射された光を記録するための少なくとも１つのカメラとを含む。本装置はさらに、被写体の３Ｄ座標を判断するための評価装置を含み得る。本発明によると、本機器は、所定露光により被写体の記録のマスク画像を生成するための装置と、所定露光に依存して、所定露光による記録の（測定容積内に位置する）領域内の平均階調値に依存して、そして理想階調値に依存して露光を判断するための装置とを含む。
【００４６】
本機器が、次式
【数２】
2018124281.tif 000004
に従って露光時間を判断する装置、および／またはエッジフィルタを所定露光による記録へ適用するための装置、および／またはエッジフィルタが適用された記録へ閾値設定方法を適用するための装置を含めば有利である。
【００４７】
本発明はさらに、被写体上にパターンを投影するためのプロジェクタと、被写体により反射された光を記録するためのカメラと、そしてまた上記方法の１つに従って露光を自動的に判断および／または適合化するための装置とを含む機器を含む。
【００４８】
好適には、この目的のために、本機器はこのような方法を行うようにプログラムされたコントローラを含む。具体的にはこの目的のためのコントローラは、マイクロプロセッサと、このような方法を行うための指示を有するプログラムが格納されるメモリとを含む。
【００４９】
本発明の例示的実施形態は添付図を参照して以下に詳細に説明されることになる。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】被写体の３Ｄ座標を判断するための機器を示す。
【図２】所定露光時間による被写体の記録を示す。
【図３】エッジフィルタを適用した後の図２による画像を示す。
【図４】閾値設定方法を適用した後の図３による画像を示す。
【図５】図４に従って画像から生成されたマスク画像を示す。
【発明を実施するための形態】
【００５１】
図１に示す被写体の３Ｄ座標を判断するための機器は、プロジェクタ２と２つのカメラ４、５とを含む３Ｄセンサ１を含む。プロジェクタ２は被写体３上に縞パターンを投影する。カメラ４、５は被写体３を記録する。被写体３は測定容積６内に位置する。別の被写体７が測定容積６の外に存在し得る。
【００５２】
図２は、所定露光により（具体的には所定露光時間ｔ０で）生成された記録された縞画像の例を示す。エッジ検出のためのコントラストベースエッジフィルタ（例えばＳｏｂｅｌ、Ｌａｐｌａｃｅ、Ｃａｎｎｙアルゴリズム）が縞画像へ適用される。フィルタサイズ、フィルタ方向および感度は、エッジがプロジェクタ２により（垂直に）投影された縞に沿ってカメラ画像内で検出されるようなやり方で、採用されたカメラ分解能および採用された縞幅に従って適応化され得る。測定容積内の主としてエッジまたはエッジだけが測定容積６の外のカメラ／プロジェクタ鮮明度の低下の理由で検出される。
【００５３】
このようにして生成されたエッジ画像を図３に示す。記録状況に依存して、このエッジ画像はまた、測定容積の外に位置し得るエッジ要素を含む。閾値設定方法（例えば大津閾値設定方法）を使用することにより、図３によるエッジ画像は図４に従って２値画像に変換される。複数のほぼ平行なエッジが投影パターンの理由で被写体３上で延伸し得るので、既知の画像処理方法（例えば数学的形態）の助けを借りて測定容積６の外の検出エッジ（被写体３上で密に平行に延伸する）を除去することと閉鎖することの両方が可能である。図５によるマスク画像はこのようにして図４による２値画像から生成される。図５によるマスク画像は被写体３上の有効な画素だけ、またはほぼそれだけを含む。
【００５４】
被写体３の３Ｄ座標を判断するための記録の露光時間ｔ１は、測定容積６内に位置するとともに図５によるマスク画像から見える被写体３の領域に基づき判断される。この目的を達成するために、図２による初期画像内の平均階調値ｂｎは図５によるマスク画像から見える領域内で確定される。さらに、理想階調値ｂｏｐｔが判断される。理想階調値は予め設定され得る。一例として、理想階調値はセンサ構成に依存して経験的に確定され得る。カメラの線形性の理由で、必要とされる露光時間ｔ１は次式に従って計算され得る：
【数３】
2018124281.tif 000005
【００５５】
図２による初期画像の所定露光時間ｔ０が余りに長ければ、より短い露光時間により初期画像として第２の画像を生成することが可能である。これは特に、初期画像の露光時間が非常に長いので被写体がカメラ画像内でホワイトアウトされれば（階調値２５６）、行われ得る。露光過度シーンは、画像の解析的評価により（例えば、コントラストマスクのサイズ、露光過度画素の数を計算することにより、エッジ画像の分散に基づき画像の非鮮明度を照査することにより）識別され得る。
【００５６】
露光制御装置はまた、いかなる領域も測定容積内に存在しなくてもまたは被写体が測定容積内に移動しても、露光の判断または適応化を行う。
【００５７】
いかなる領域も測定容積内に存在しなければ、露光制御装置は、後の測定容積内の領域と全く同じやり方で画像を調節するように意図されており、その結果、ユーザはまた、センサカメラが現在どこを「見ている」かを認識し得る。センサが測定対象の被写体の方向に移動され、被写体が測定容積内に入れば、画像輝度の急変（ちらつき）は発生すべきでない。むしろ「露光制御装置が測定容積内の領域にもっぱら集中する時点」までの遷移が可能な限り流動的に発揮されるように意図されている。
【００５８】
これは、例示的実施形態において次のように行われる：
【００５９】
例示的実施形態では、記録の画素のすべてが露光を判断するために使用されるのではなく、むしろ個々の画素が支援点として選択される。支援点としての機能を果たす画像ピクセルがソートされる：より明るい画素はより暗い画素（高階調値は低階調値）に優先する。しかし、優先権は常に、測定容積内に位置する被写体の領域を撮像するピクセルに与えられる。ピクセルは、ソート済みリスト内のそのランクに依存して、露光制御の計算において対応重み付けと共に含まれる。
【００６０】
例：
画像は、支援点として２４のピクセルを含み、次の階調値を有する：
【００６１】
【表１】
2018124281.tif 000006
【００６２】
これらのピクセルは次のようにソートされ、（例示的）重み付けを取得する：
【００６３】
【表２】
2018124281.tif 000007
【００６４】
重み付けはまた、純粋なあり／なし判断として（すなわち、ソート済みリスト内のそのランクに依存して）行われ得、ピクセルはそれぞれの場合、露光制御の計算に同じ重み付けと共に含まれる、またはその中に含まれない（すなわち、零の重み付けを有する）。
【００６５】
被写体の十分に大きな部分が測定容積内に位置すると直ちに、他の領域はもはや考慮されない（重み付け０）。これは、測定容積内の領域がリスト内の測定容積外の領域を上回る優先順位によりソートされているおかげで自動的に行われる。
【００６６】
１つの例示的アプリケーションでは、評価の際に含まれるピクセルまたは支援点の一部はすべてのピクセルまたは支援点の０．５％〜１０％であり得る。
【００６７】
本発明は、測定対象の被写体の縞投影システムにおいて必要とされる露光時間が単一記録から判断されるようにする。ここでは、特定縞パターンにより照射されるとともにシステムの視野内に位置する測定対象の被写体だけが考慮される。したがって、測定対象の被写体は背景とは切り離して考慮され得る。背景内の妨害要素は露光時間を判断することにいかなる影響も及ぼさない。露光時間はリアルタイムで判断され得る。これは、様々なやり方で投影されたパターン、および／または様々な露光時間、および／または様々なプロジェクタ強度による少なくとも２つの記録を必要とする既知の解決策手法、または背景から測定対象の所望被写体を分離することができなく、したがって背景からの画像領域もまた露光時間の計算に含まれることになる既知の解決策手法のいずれにも対する利点を実現する。これらの不都合は本発明により回避される。
【００６８】
本発明による方法はモノクロカメラにより行われ得る。しかし、本発明による方法はまた、カラーカメラにより実現され得る。
【符号の説明】
【００６９】
１  センサ
２  プロジェクタ
３  被写体
４  カメラ
５  カメラ
６  測定容積
７  被写体
ｂｎ  平均階調値
ｂｏｐｔ  理想階調値
ｔ０  露光時間
ｔ１  露光時間
【図１】
2018124281.tif 000010
【図２】
2018124281.tif 000011
【図３】
2018124281.tif 000012
【図４】
2018124281.tif 000013
【図５】
2018124281.tif 000014
【外国語明細書】
2018124281000001.pdf