(57)【要約】【課題】評価プロジェクトに不足している試験観点書を適切に判定することを目的とする。【解決手段】記憶部１１０が、試験観点書１００をプロジェクトごとに管理する管理テーブル１１１を記憶する。取得部１２０が、評価対象の評価プロジェクトの試験観点書である評価用の試験観点書１００を取得する。差異解析部１３０が、評価用の試験観点書１００と管理テーブル１１１に管理されている試験観点書とを解析し、評価プロジェクトと比較するプロジェクトであって評価プロジェクトには不足している試験観点書が付与されたプロジェクトを優位性分析結果３２１として管理テーブル１１１から選択する。妥当性解析部１４０が、優位性分析結果３２１に基づいて不足している試験観点書が評価プロジェクトに適しているかを判定する。【選択図】図１
2018124620.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プログラムのテスト仕様の有効性評価に用いられる試験観点書をプロジェクトごとに管理する管理テーブルを記憶する記憶部と、
評価対象の評価プロジェクトの試験観点書である評価用の試験観点書を取得する取得部と、
前記評価用の試験観点書と前記管理テーブルに管理されている試験観点書とを解析し、前記評価プロジェクトと比較するプロジェクトであって前記評価プロジェクトには不足している試験観点書が付与されたプロジェクトを優位性分析結果として前記管理テーブルから選択する差異解析部と、
前記優位性分析結果に基づいて前記不足している試験観点書が前記評価プロジェクトに適しているかを判定する妥当性解析部と
を備えた仕様書作成支援装置。
【請求項２】
前記妥当性解析部は、
前記不足している試験観点書が前記評価プロジェクトに適しているかを、前記評価用の試験観点書と前記不足している試験観点書との差異の大きさを用いて判定し、第１成果物評価結果として出力する請求項１に記載の仕様書作成支援装置。
【請求項３】
前記記憶部は、試験観点書の評価に用いる評価用情報を記憶し、
前記妥当性解析部は、
前記評価用情報を用いて前記評価用の試験観点書を評価し、第２成果物評価結果として出力する請求項２に記載の仕様書作成支援装置。
【請求項４】
前記仕様書作成支援装置は、
前記第１成果物評価結果に基づいて、前記不足している試験観点書を第１是正項目として表示する改善提案部を備えた請求項３に記載の仕様書作成支援装置。
【請求項５】
前記改善提案部は、
前記第２成果物評価結果に基づいて、前記評価用の試験観点書のうち評価の低い試験観点書を第２是正項目として表示する請求項４に記載の仕様書作成支援装置。
【請求項６】
プログラムのテスト仕様の有効性評価に用いられる試験観点書をプロジェクトごとに管理する管理テーブルを記憶する記憶部と、
評価対象の評価プロジェクトの試験観点書である評価用の試験観点書を取得する取得部と、
前記評価用の試験観点書と前記管理テーブルに管理されている試験観点書とを解析し、前記評価用の試験観点書と比較する試験観点書であって前記評価用の試験観点書には不足しているテスト仕様が付与された試験観点書を優位性分析結果として前記管理テーブルから選択する差異解析部と、
前記優位性分析結果に基づいて、前記不足しているテスト仕様が付与された試験観点書が、前記評価用の試験観点書に適しているかを判定する妥当性解析部と
を備えた仕様書作成支援装置。
【請求項７】
前記妥当性解析部は、
前記不足しているテスト仕様が付与された試験観点書の試験観点組合せと、前記評価用の試験観点書の試験観点組合せとの差異の大きさを判定し、第１成果物評価結果として出力する請求項６に記載の仕様書作成支援装置。
【請求項８】
前記記憶部は、試験観点書の評価に用いる評価用情報を記憶し、
前記妥当性解析部は、
前記評価用情報を用いて、前記評価用の試験観点書の試験観点組合せを評価し、第２成果物評価結果として出力する請求項７に記載の仕様書作成支援装置。
【請求項９】
前記仕様書作成支援装置は、
前記第１成果物評価結果に基づいて、前記不足しているテスト仕様が付与された試験観点書の試験観点組合せを第１是正項目として表示する改善提案部を備えた請求項８に記載の仕様書作成支援装置。
【請求項１０】
前記改善提案部は、
前記第２成果物評価結果に基づいて、前記評価用の試験観点書の試験観点組合せのうち評価の低い試験観点組合せを第２是正項目として表示する請求項９に記載の仕様書作成支援装置。
【請求項１１】
プログラムのテスト仕様の有効性評価に用いられる試験観点書をプロジェクトごとに管理する管理テーブルを備えた仕様書作成支援装置の仕様書作成支援方法において、
取得部が、評価対象の評価プロジェクトの試験観点書である評価用の試験観点書を取得し、
差異解析部が、前記評価用の試験観点書と前記管理テーブルに管理されている試験観点書とを解析し、前記評価プロジェクトと比較するプロジェクトであって前記評価プロジェクトには不足している試験観点書が付与されたプロジェクトを優位性分析結果として前記管理テーブルから選択し、
妥当性解析部が、前記優位性分析結果に基づいて前記不足している試験観点書が前記評価プロジェクトに適しているかを判定する仕様書作成支援方法。
【請求項１２】
プログラムのテスト仕様の有効性評価に用いられる試験観点書をプロジェクトごとに管理する管理テーブルを備えた仕様書作成支援装置の仕様書作成支援プログラムにおいて、
評価対象の評価プロジェクトの試験観点書である評価用の試験観点書を取得する取得処理と、
前記評価用の試験観点書と前記管理テーブルに管理されている試験観点書とを解析し、前記評価プロジェクトと比較するプロジェクトであって前記評価プロジェクトには不足している試験観点書が付与されたプロジェクトを優位性分析結果として前記管理テーブルから選択する差異解析処理と、
前記優位性分析結果に基づいて前記不足している試験観点書が前記評価プロジェクトに適しているかを判定する妥当性解析処理と
をコンピュータである仕様書作成支援装置に実行させる仕様書作成支援プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、仕様書作成支援装置、仕様書作成支援方法および仕様書作成支援プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ソフトウェア開発において、開発規模が急激に拡大している中、テスト仕様の増大あるいはテストの抜け漏れによる手戻りおよび市場不具合が問題となっている。
効率的かつ効果的なテスト手法の導入により、品質を保証したうえでのテスト仕様の選択あるいは削減が必要となっている。
特許文献１では、テスト対象と目的の関係を示した図、すなわちＬＴＭａｐと、テスト対象間の不整合あるいは重複を発見する図、すなわちＴＲＭａｐを用いて、テスト仕様の十分性の判断、テスト仕様の最適化を行う手法を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１２−２２６６５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
テスト仕様の有効性評価に用いられた試験観点について、不足している試験観点あるいはテスト仕様の不足を検出し、改善案を提示する。テスト仕様の有効性評価に用いられた試験観点を、試験観点書という。
試験観点書の一例に特許文献１のＬＴＭａｐがあり、テスト対象とテスト目的の関係を示した図を使用することにより、プロジェクトの達成目標に沿った効率的なテスト仕様を定めることができる。しかし、作成する技術者の経験値、プロジェクトあるいは顧客ごとの要求の差から、抜け漏れあるいはバラつきが発生するという課題があった。
【０００５】
本発明は、試験観点書あるいはテスト仕様を他プロジェクトの様々なデータと比較および評価を行い、不足している試験観点あるいはテスト仕様の不足を検出し、改善案を自動的に提示することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る仕様書作成支援装置は、
プログラムのテスト仕様の有効性評価に用いられる試験観点書をプロジェクトごとに管理する管理テーブルを記憶する記憶部と、
評価対象の評価プロジェクトの試験観点書である評価用の試験観点書を取得する取得部と、
前記評価用の試験観点書と前記管理テーブルに管理されている試験観点書とを解析し、前記評価プロジェクトと比較するプロジェクトであって前記評価プロジェクトには不足している試験観点書が付与されたプロジェクトを優位性分析結果として前記管理テーブルから選択する差異解析部と、
前記優位性分析結果に基づいて前記不足している試験観点書が前記評価プロジェクトに適しているかを判定する妥当性解析部とを備えた。
【発明の効果】
【０００７】
本発明に係る仕様書作成支援装置では、記憶部が、試験観点書をプロジェクトごとに管理する管理テーブルを記憶する。取得部が、評価対象の評価プロジェクトの試験観点書である評価用の試験観点書を取得する。差異解析部が、評価用の試験観点書と管理テーブルに管理されている試験観点書とを解析し、評価プロジェクトと比較するプロジェクトであって評価プロジェクトには不足している試験観点書が付与されたプロジェクトを優位性分析結果として管理テーブルから選択する。妥当性解析部が、優位性分析結果に基づいて不足している試験観点書が評価プロジェクトに適しているかを判定する。よって、本発明に係る仕様書作成支援装置によれば、評価プロジェクトに不足している試験観点書を適切に判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】実施の形態１に係る仕様書作成支援装置１０の構成図。
【図２】実施の形態１に係る管理テーブル１１１の一例を示した図。
【図３】実施の形態１に係る成果情報１１２の一例を示した図。
【図４】実施の形態１に係る経験値情報１１３の一例を示した図。
【図５】実施の形態１に係るリスク情報１１４の一例を示した図。
【図６】実施の形態１に係る顧客情報１１５の一例を示した図。
【図７】実施の形態１に係る仕様書作成支援装置１０の仕様書作成支援方法５１２および仕様書作成支援プログラム５１１の仕様書作成支援処理Ｓ１００のフロー図。
【図８】実施の形態１に係る取得処理Ｓ１２０のフロー図。
【図９】実施の形態１に係る類似度解析処理Ｓ１３１のフロー図。
【図１０】実施の形態に係る類似度解析処理Ｓ１３１で算出された類似度分析結果３１１を示した図。
【図１１】実施の形態１に係る優位性解析処理Ｓ１３２のフロー図。
【図１２】実施の形態１に係る優位性解析処理Ｓ１３２で算出された優位性分析結果３２１を示した図。
【図１３】実施の形態１に係る差異成果物評価処理Ｓ１４１のフロー図。
【図１４】実施の形態１に係る差異成果物評価処理Ｓ１４１のステップＳ４１のフロー図。
【図１５】実施の形態１に係る差異成果物評価処理Ｓ１４１のステップＳ４２のフロー図。
【図１６】実施の形態１に係る差異成果物評価処理Ｓ１４１のステップＳ４３のフロー図。
【図１７】実施の形態１に係る差異成果物評価処理Ｓ１４１で算出された第１成果物評価結果４１１を示した図。
【図１８】実施の形態１に係る既存成果物評価処理Ｓ１４２のフロー図。
【図１９】実施の形態１に係る既存成果物評価処理Ｓ１４２のステップＳ５１のフロー図。
【図２０】実施の形態に係る既存成果物評価処理Ｓ１４２のステップＳ５２のフロー図。
【図２１】実施の形態１に係る既存成果物評価処理Ｓ１４２のステップＳ５３のフロー図。
【図２２】実施の形態１に係る既存成果物評価処理Ｓ１４２で算出された第２成果物評価結果４２１を示した図。
【図２３】実施の形態１に係る第１成果物評価結果４１１に基づく改善提案処理Ｓ１５０のフロー図。
【図２４】実施の形態１に係る第２成果物評価結果４２１に基づく改善提案処理Ｓ１５０のフロー図。
【図２５】実施の形態１に係る改善提案処理Ｓ１５０で選択された第１是正項目５０１を示した図。
【図２６】実施の形態１に係る改善提案処理Ｓ１５０で選択された第２是正項目５０２を示した図。
【図２７】実施の形態１の変形例に係る仕様書作成支援装置１０の構成図。
【図２８】実施の形態２に係る類似度解析処理Ｓ１３１ｂのフロー図。
【図２９】実施の形態２に係る類似度解析処理Ｓ１３１ｂで算出された類似度分析結果１３１２を示した図。
【図３０】実施の形態２に係る優位性解析処理Ｓ１３２ｂで算出された優位性分析結果１３２２を示した図。
【図３１】実施の形態２に係る差異成果物評価処理Ｓ１４１ｂで算出された第１成果物評価結果１４１２を示した図。
【図３２】実施の形態２に係る既存成果物評価処理Ｓ１４２ｂで算出された第２成果物評価結果１４２２を示した図。
【図３３】実施の形態２に係る改善提案処理Ｓ１５０ｂで選択された第１是正項目１５０３を示した図。
【図３４】実施の形態２に係る改善提案処理Ｓ１５０ｂで選択された第２是正項目１５０４を示した図。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施の形態について、図を用いて説明する。なお、各図中、同一または相当する部分には、同一符号を付している。実施の形態の説明において、同一または相当する部分については、説明を適宜省略または簡略化する。
【００１０】
実施の形態１．
＊＊＊構成の説明＊＊＊
図１を用いて、本実施の形態に係る仕様書作成支援装置１０の構成について説明する。
図１に示すように、仕様書作成支援装置１０は、コンピュータである。仕様書作成支援装置１０は、プロセッサ９１０、記憶装置９２０、入力インタフェース９３０、および出力インタフェース９４０といったハードウェアを備える。記憶装置９２０は、メモリ９２１と補助記憶装置９２２とを有する。プロセッサ９１０は、信号線を介して他のハードウェアと接続され、これら他のハードウェアを制御する。
【００１１】
仕様書作成支援装置１０は、構成要素として、取得部１２０と差異解析部１３０と妥当性解析部１４０と改善提案部１５０と記憶部１１０を備える。取得部１２０と差異解析部１３０は、類似度解析部１３１と優位性解析部１３２とを備える。妥当性解析部１４０は、差異成果物評価部１４１と既存成果物評価部１４２とを備える。
取得部１２０と類似度解析部１３１と優位性解析部１３２と差異成果物評価部１４１と既存成果物評価部１４２と改善提案部１５０との機能は、ソフトウェアで実現される。記憶部１１０は、メモリ９２１により実現される。なお、記憶部１１０は、メモリ９２１および補助記憶装置９２２により実現されていてもよい。あるいは、記憶部１１０は、補助記憶装置９２２のみで実現されてもよい。
【００１２】
補助記憶装置９２２には、取得部１２０と類似度解析部１３１と優位性解析部１３２と差異成果物評価部１４１と既存成果物評価部１４２と改善提案部１５０との機能を実現する仕様書作成支援プログラム５１１が記憶されている。このプログラムは、プロセッサ９１０によりメモリ９２１に読み込まれ、プロセッサ９１０によって実行される。これにより、取得部１２０と類似度解析部１３１と優位性解析部１３２と差異成果物評価部１４１と既存成果物評価部１４２と改善提案部１５０との機能が実現される。また、補助記憶装置９２２には、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）も記憶されている。ＯＳの少なくとも一部がメモリ９２１にロードされ、プロセッサ９１０はＯＳを実行しながら、仕様書作成支援プログラム５１１を実行する。
【００１３】
プロセッサ９１０は、演算処理を行うＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）である。プロセッサ９１０は、具体例としては、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）、あるいはＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）である。
【００１４】
メモリ９２１は、データを一時的に記憶する記憶機器である。メモリ９２１は、具体例としては、ＳＲＡＭ（Ｓｔａｔｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）あるいはＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ  Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）である。
補助記憶装置９２２は、データを保管する記憶機器である。補助記憶装置９２２は、具体例としては、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ）である。また、補助記憶装置９２２は、ＳＤ（登録商標）（Ｓｅｃｕｒｅ  Ｄｉｇｉｔａｌ）メモリカード、ＣＦ（ＣｏｍｐａｃｔＦｌａｓｈ）、ＮＡＮＤフラッシュ、フレキシブルディスク、光ディスク、コンパクトディスク、ブルーレイ（登録商標）ディスク、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）といった可搬記憶媒体であってもよい。
【００１５】
入力インタフェース９３０は、マウス、キーボード、タッチパネルといった入力装置と接続されるポートである。入力インタフェース９３０は、具体例としては、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ  Ｓｅｒｉａｌ  Ｂｕｓ）端子である。なお、入力インタフェース９３０は、ＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ  Ａｒｅａ  Ｎｅｔｗｏｒｋ）と接続されるポートであってもよい。また、出力インタフェース９４０は、ディスプレイといったモニタ１６０のケーブルが接続されるポートである。出力インタフェース９４０は、具体例としては、ＵＳＢ端子またはＨＤＭＩ（登録商標）端子である。ディスプレイは、具体例としては、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ  Ｃｒｙｓｔａｌ  Ｄｉｓｐｌａｙ）である。
【００１６】
仕様書作成支援装置１０は、１つのプロセッサのみを備えていてもよいし、複数のプロセッサを備えていてもよい。取得部１２０と類似度解析部１３１と優位性解析部１３２と差異成果物評価部１４１と既存成果物評価部１４２と改善提案部１５０との機能を実現するプログラムを連携して実行してもよい。
【００１７】
取得部１２０と類似度解析部１３１と優位性解析部１３２と差異成果物評価部１４１と既存成果物評価部１４２と改善提案部１５０との処理の結果を示す情報、データ、信号値、および、変数値は、補助記憶装置９２２、メモリ９２１、または、プロセッサ９１０内のレジスタまたはキャッシュメモリに記憶される。
【００１８】
仕様書作成支援プログラムプロダクトとは、取得部１２０と類似度解析部１３１と優位性解析部１３２と差異成果物評価部１４１と既存成果物評価部１４２と改善提案部１５０として説明している機能を実現するプログラムが記録された記憶媒体あるいは記憶装置である。仕様書作成支援プログラムプロダクトは、見た目の形式に関わらず、コンピュータ読み取り可能なプログラムをロードしているものである。
【００１９】
＊＊＊機能の説明＊＊＊
記憶部１１０は、プログラムのテスト仕様の有効性評価に用いられる試験観点書をプロジェクトごとに管理する管理テーブル１１１を記憶する。また、試験観点書の評価に用いる評価用情報１１を記憶する。具体的には、記憶部１１０は、各プロジェクトの試験観点およびテスト仕様書、妥当性評価に用いる比較データ、および試験観点書群を記憶する。記憶部１１０には、管理テーブル１１１と成果情報１１２と経験値情報１１３とリスク情報１１４と顧客情報１１５とが記憶される。成果情報１１２と経験値情報１１３とリスク情報１１４と顧客情報１１５とは、試験観点書の評価に用いる評価用情報１１の例である。
【００２０】
差異解析部１３０は、評価対象の試験観点書の差異を他のプロジェクトのデータから検出する。差異解析部１３０は、評価用の試験観点書１００と管理テーブル１１１に管理されている試験観点書とを解析する。差異解析部１３０は、評価プロジェクトと比較するプロジェクトであって評価プロジェクトには不足している試験観点書が付与されたプロジェクトを優位性分析結果３２１として管理テーブル１１１から選択する。
【００２１】
妥当性解析部１４０は、差異解析部１３０による解析結果が妥当であるか検出する。具体例としては、妥当性解析部１４０は、優位性分析結果３２１に基づいて、評価プロジェクトに不足している試験観点書が、評価プロジェクトに適しているかを判定する。具体的には、妥当性解析部１４０は、不足している試験観点書が評価プロジェクトに適しているかを、評価用の試験観点書１００と不足している試験観点書との差異の大きさを用いて判定し、第１成果物評価結果４１１として出力する。また、妥当性解析部１４０は、成果情報１１２、経験値情報１１３、リスク情報１１４および顧客情報１１５といった評価用情報１１を用いて、評価用の試験観点書１００を評価し、第２成果物評価結果４２１として出力する。
【００２２】
改善提案部１５０は、第１成果物評価結果４１１に基づいて、不足している試験観点書を第１是正項目５０１として表示する。また、改善提案部１５０は、第２成果物評価結果４２１に基づいて、評価用の試験観点書１００のうち評価の低い試験観点書を第２是正項目５０２として表示する。このように、改善提案部１５０は、不足していると考えられる試験観点書およびテスト仕様を、他プロジェクトの参考事例とともに表示する。
【００２３】
仕様書作成支援装置１０の構成および処理についてさらに説明する。
管理テーブル１１１には、プロジェクトごとの試験観点書あるいは製品種別といったプロジェクト特有の情報が格納される。
成果情報１１２には、管理テーブル１１１に格納されている各プロジェクトの顧客評価といった成果情報が記憶される。各情報の詳述は後述する。
【００２４】
取得部１２０は、評価対象の評価プロジェクトの試験観点書である評価用の試験観点書１００を取得する。具体的には、取得部１２０は、解析対象である試験観点書１００のプロジェクトあるいは機能種別といった情報を、入力インタフェース９３０を介して取得し、管理テーブル１１１へ入力する。解析対象である試験観点書１００については、管理テーブル１１１の項目と一致していればよく、ＬＴＭａｐ以外の試験観点書も使用可能である。また、入力インタフェース９３０を介した入力は、手動でも自動でもよい。
【００２５】
差異解析部１３０は、類似度解析部１３１と優位性解析部１３２を有する。類似度解析部１３１は入力された解析対象の試験観点書が他のどのプロジェクトと類似しているのか評価する。優位性解析部１３２は解析対象のプロジェクトと類似したプロジェクトのどちらが優れているのか算出し、比較するプロジェクトの優先度を決定する。
【００２６】
妥当性解析部１４０は、差異成果物評価部１４１と既存成果物評価部１４２を有する。差異成果物評価部１４１は差異解析部１３０で選択されたプロジェクトについて、さらに担当者の経験値、製品のリスク、および顧客情報から内容が妥当であるか算出を行い、参考にすべきプロジェクトを選択する。既存成果物評価部１４２は既存の試験観点書について担当者の経験値、製品のリスク、顧客情報から、内容が妥当であるか算出を行い、評価が低いものを選択する。
【００２７】
改善提案部１５０は、差異成果物評価部１４１および既存成果物評価部１４２の結果に基づき、不足している試験観点書を、類似のプロジェクトの試験観点書から参考事例として出力する。改善提案部１５０は、出力インタフェース９４０を介して、モニタ１６０に参考事例を表示する。
【００２８】
図２は、本実施の形態に係る管理テーブル１１１の一例を示した図である。
管理テーブル１１１には、試験観点書に記載の試験観点と、それに付随する情報が定義される。図２の管理テーブル１１１の例では、プロジェクト名、試験観点書ＩＤ、開発期間、開発規模、顧客、作成者、試験観点、量産出荷日、リスク＿高×テスト対象粒度＿クラス、およびリスク＿高×テスト対象粒度＿モジュールといった情報が定義されている。
【００２９】
図３は、本実施の形態に係る成果情報１１２の一例を示した図である。成果情報１１２は、管理テーブル１１１に記載のプロジェクト名と、それらの成果、および求められたスキルといった情報について定義される。図３の成果情報１１２の例では、市場不具合件数、フロントローディング率、顧客評価、試験工程リーダ、経験製品群、言語使用経験といった情報が定義されている。
【００３０】
図４は、本実施の形態に係る経験値情報１１３の一例を示した図である。経験値情報１１３は、属人性の原因となる各担当者の個人情報について定義される。図４の経験値情報１１３の例では、担当者名、専門、経験年数、担当経験、経験製品群といった情報が定義されている。
【００３１】
図５は、本実施の形態に係るリスク情報１１４の一例を示した図である。リスク情報１１４は、プロジェクトあるいは製品種別に関するリスク情報が定義される。図５のリスク情報１１４の例では、人的被害、および不具合回収コストといった情報が定義されている。
【００３２】
図６は、本実施の形態に係る顧客情報１１５の一例を示した図である。顧客情報１１５は、各顧客について特筆すべき情報が定義されている。図６の顧客情報１１５の例では、顧客名、種別、監査基準、重要項目、過去の受注件数といった情報が定義されている。
【００３３】
＊＊＊動作の説明＊＊＊
図７を用いて、本実施の形態に係る仕様書作成支援装置１０の仕様書作成支援方法５１２および仕様書作成支援プログラム５１１の仕様書作成支援処理Ｓ１００について説明する。仕様書作成支援処理Ｓ１００は、取得処理Ｓ１２０と差異解析処理Ｓ１３０と妥当性解析処理Ｓ１４０と改善提案処理Ｓ１５０とを有する。差異解析処理Ｓ１３０は、類似度解析処理Ｓ１３１と優位性解析処理Ｓ１３２とを有する。また、妥当性解析処理Ｓ１４０は、差異成果物評価処理Ｓ１４１と既存成果物評価処理Ｓ１４２とを有する。
【００３４】
＜取得処理Ｓ１２０＞
図８を用いて、本実施の形態に係る取得処理Ｓ１２０について説明する。
ステップＳ１０１において、取得部１２０は、入力インタフェース９３０を介して試験観点書１００を取得する。なお、上述したように、また、入力インタフェース９３０を介した入力は、手動でも自動でもよい。
ステップＳ１０２において、取得部１２０は、試験観点書１００に関する情報を、管理テーブル１１１の項目に従い、管理テーブル１１１に入力する。なお、取得部１２０による管理テーブルの入力にあたり、入力の方式は特に限定しない。具体例としては、あらかじめ試験観点書１００に管理テーブル１１１の情報を記載しておき、自動で管理テーブル１１１に記載する情報を抽出することも可能である。
図２の管理テーブル１１１は取得部１２０により生成された管理テーブルの一例を示した図である。プロジェクトＸは解析対象のプロジェクト、プロジェクトＡは他のプロジェクト情報という形で登録されている。なお、管理テーブル１１１に関してデータの管理方法は特に限定しない。プロジェクトＸは評価対象の評価プロジェクトの例である。
【００３５】
＜差異解析処理Ｓ１３０＞
＜類似度解析処理Ｓ１３１＞
図９を用いて、本実施の形態に係る類似度解析処理Ｓ１３１について説明する。
ステップＳ２０１ａにおいて、類似度解析部１３１は、取得部で入力された試験観点書の製品種別名と一致するプロジェクトを管理テーブル１１１から検索する。類似度解析部１３１は、一致したプロジェクトがある場合はそのプロジェクトを選択する（ステップＳ２０２ａ）。類似度解析部１３１は、一致するプロジェクトがない場合は、全プロジェクトを選択する（ステップＳ２０３ａ）。
ステップＳ２０４ａにおいて、類似度解析部１３１は、取得部で入力された試験観点書の顧客名と一致するプロジェクトを管理テーブル１１１から検索する。類似度解析部１３１は、一致したプロジェクトがある場合はそのプロジェクトを選択する（ステップＳ２０５ａ）。類似度解析部１３１は、一致するプロジェクトがない場合は、全プロジェクトを選択する（ステップＳ２０６ａ）。
ステップＳ２０７ａにおいて、類似度解析部１３１は、取得部で入力された試験観点書の開発規模と近いプロジェクトを管理テーブル１１１から検索し、開発規模が近い順に高い点数を付与する。この際の点数の振り方は特に限定しないものとする。
ステップＳ２０８ａにおいて、類似度解析部１３１は、取得部で入力された試験観点書の量産出荷日と近いプロジェクトを管理テーブル１１１から検索し、量産出荷日が近い順に高い点数を付与する。この際の点数の振り方は特に限定しないものとする。
ステップＳ２０９ａにおいて、類似度解析部１３１は、ステップＳ２０１ａからステップＳ２０６ａで選択されたプロジェクトおよびステップ２０７ａとステップ２０８ａとにより加算された総合点の上位数件について比較対象のプロジェクトとして選択する。この際の選択件数については、任意に決定できるものとする。また、ステップＳ２０７ａおよびステップＳ２０８ａの例では加算を用いているが、特に計算方法は限定しないものとする。
【００３６】
図１０は、本実施の形態に係る類似度解析処理Ｓ１３１で算出された類似度分析結果３１１を示した図である。類似度分析結果３１１には、類似度解析処理Ｓ１３１により類似性の高いプロジェクト数件が登録されている。
【００３７】
＜優位性解析処理Ｓ１３２＞
図１１を用いて、本実施の形態に係る優位性解析処理Ｓ１３２について説明する。
ステップＳ３０１において、優位性解析部１３２は、類似度解析処理Ｓ１３１で選択された類似プロジェクトについて、成果情報１１２から市場不具合数を参照し、市場不具合数の低いプロジェクト順に高い点数を付与する。
ステップＳ３０２において、優位性解析部１３２は、類似度解析処理Ｓで選択された類似プロジェクトについて、成果情報１１２から顧客評価を参照し、顧客評価が高いプロジェクト順に高い点数を付与する。
ステップＳ３０３において、優位性解析部１３２は、類似度解析部１３１で選択された類似プロジェクトについて、成果情報１１２からフロントローディング率を参照し、フロントローディング率の高いプロジェクト順に高い点数を付与する。
ステップＳ３０４において、優位性解析部１３２は、ステップＳ３０１からステップＳ３０３で算出された総合点の上位数件について比較対象のプロジェクトとして選択する。さらに、優位性解析部１３２は、解析対象のプロジェクトと上位数件のプロジェクトとを比較し、足りない試験観点を登録する。
【００３８】
図１２は、本実施の形態に係る優位性解析処理Ｓ１３２で算出された優位性分析結果３２１を示した図である。優位性分析結果３２１には、類似度解析部１３１で選択されたプロジェクトに関して、さらに優位性を加味したプロジェクト数件が登録されている。優位性を加味したプロジェクト数件の各々には、不足試験観点書ＩＤが設定されている。
【００３９】
＜妥当性解析処理Ｓ１４０＞
次に、本実施の形態に係る妥当性解析処理Ｓ１４０について説明する。
差異成果物評価処理Ｓ１４１では、差異解析処理Ｓ１３０で選択された不足している試験観点について妥当性の評価を行う。また、既存成果物評価処理Ｓ１４２では、取得部１２０により入力された試験観点書全体に関して妥当性の評価を行う。
【００４０】
＜差異成果物評価処理Ｓ１４１＞
図１３を用いて、本実施の形態に係る差異成果物評価処理Ｓ１４１について説明する。
ステップＳ４１では、差異成果物評価部１４１は、担当者の経験値情報１１３から試験観点書の妥当性を算出する。
ステップＳ４２では、差異成果物評価部１４１は、顧客情報１１５から試験観点書の妥当性を算出する。
ステップＳ４３では、差異成果物評価部１４１は、リスク情報１１４から試験観点書の妥当性を算出する。
ステップＳ４４では、差異成果物評価部１４１は、ステップＳ４１からステップＳ４３までの評価を加味し、総合的な評価を行う。それぞれ詳細について説明する。
【００４１】
図１４を用いて、本実施の形態に係る差異成果物評価処理Ｓ１４１のステップＳ４１について説明する。ステップＳ４１は、ステップＳ４１１からステップＳ４１６を有する。
ステップＳ４１１において、差異成果物評価部１４１は、差異解析処理Ｓ１３０で選択された不足している試験観点書において、それら試験観点書を作成した担当者の情報を経験値情報１１３から参照し、製品経験が一致しなかったら点数を付与する。
ステップＳ４１２において、差異成果物評価部１４１は、差異解析処理Ｓ１３０で選択された不足している試験観点書において、それら試験観点書を作成した担当者の情報を経験値情報１１３から参照し、言語使用経験が一致しなかったら点数を付与する。
ステップＳ４１３において、差異成果物評価部１４１は、差異解析処理Ｓ１３０で選択された不足している試験観点書において、それら試験観点書を作成した担当者の情報を経験値情報１１３から参照し、専門が一致しなかったら点数を付与する。
ステップＳ４１４において、差異成果物評価部１４１は、差異解析処理Ｓ１３０で選択された不足している試験観点書において、それら試験観点書を作成した担当者の情報を経験値情報１１３から参照し、経験年数が高い順に点数を付与する。
ステップＳ４１５において、差異成果物評価部１４１は、差異解析処理Ｓ１３０で選択された不足している試験観点書において、それら試験観点書を作成した担当者の情報を経験値情報１１３から参照し、担当経験の回数分だけ点数を減点する。
ステップＳ４１６において、差異成果物評価部１４１は、差異解析処理Ｓ１３０で選択された不足している試験観点書において、それら試験観点書を作成した担当者の情報を経験値情報１１３から参照し、障害原因件数が少ない順に点数を減点する。
【００４２】
図１５を用いて、本実施の形態に係る差異成果物評価処理Ｓ１４１のステップＳ４２について説明する。ステップＳ４２は、ステップＳ４２１からステップＳ４２３を有する。
ステップＳ４２１において、差異成果物評価部１４１は、差異解析処理Ｓ１３０で選択された不足している試験観点書において、それらのプロジェクトの顧客が顧客情報１１５と一致するか否かを判定する。
差異成果物評価部１４１は、顧客情報１１５と一致したら、ステップＳ４２３において、監査基準が厳しいほど高い点数を付与する。また、差異成果物評価部１４１は、顧客情報１１５と一致しない場合は、製品種別が同じ顧客情報１１５を適用し、監査基準が高いほど高い点数を付与する。
【００４３】
図１６を用いて、本実施の形態に係る差異成果物評価処理Ｓ１４１のステップＳ４３について説明する。ステップＳ４３は、ステップＳ４３１からステップＳ４３２を有する。
ステップＳ４３１において差異成果物評価部１４１は、差異解析処理Ｓ１３０で選択された不足している試験観点書において、それらのプロジェクトをリスク情報１１４から参照し、プロジェクトもしくは製品種別が一致したら、障害レベルが高い順に点数を付与する。
ステップＳ４３２において、差異成果物評価部１４１は、差異解析処理Ｓ１３０で選択された不足している試験観点書において、それらのプロジェクトをリスク情報１１４から参照し、プロジェクトもしくは製品種別が一致したら、不具合回収コストが高い順に点数を付与する。
【００４４】
図１７は、本実施の形態に係る差異成果物評価処理Ｓ１４１で算出された第１成果物評価結果４１１を示した図である。第１成果物評価結果４１１は、差異解析処理Ｓ１３０で選択された試験観点書について、さらに経験値情報１１３、リスク情報１１４および顧客情報１１５を加味して登録されている。第１成果物評価結果４１１では、総合点が高いほど追加すべき試験観点であることを示している。
【００４５】
＜既存成果物評価処理Ｓ１４２＞
図１８を用いて、本実施の形態に係る既存成果物評価処理Ｓ１４２について説明する。
図１８の既存成果物評価処理Ｓ１４２のステップＳ５１からステップＳ５４は、図１３の差異成果物評価処理Ｓ１４１のステップＳ４１からステップＳ４４と基本的に仕組みが同じであるため差異のみ説明する。図１３のステップＳ４１からステップＳ４４に関しては入力される情報が、差異解析処理Ｓ１３０から算出された試験観点書であったが、図１８のステップＳ５１からステップＳ５４では、入力は取得処理Ｓ１２０で入力された試験観点書となる。
図１９は、本実施の形態に係る既存成果物評価処理Ｓ１４２のステップＳ５１を示す図である。図２０は、本実施の形態に係る既存成果物評価処理Ｓ１４２のステップＳ５２を示す図である。図２１は、本実施の形態に係る既存成果物評価処理Ｓ１４２のステップＳ５３を示す図である。
図１９のフローチャートと図１４のフローチャート、図２０のフローチャートと図１５のフローチャート、図２１のフローチャートと図１６のフローチャートについては同じ処理であるため、説明を省略する。
【００４６】
図２２は、本実施の形態に係る既存成果物評価処理Ｓ１４２で算出された第２成果物評価結果４２１を示した図である。第２成果物評価結果４２１は、差異解析処理Ｓ１３０で選択された試験観点書について、さらに経験値情報１１３、リスク情報１１４、および顧客情報１１５を加味して登録されている。第２成果物評価結果４２１では、総合点が低いほど修正すべき試験観点書であることを示している。
【００４７】
＜改善提案処理Ｓ１５０＞
改善提案処理Ｓ１５０では、改善提案部１５０は妥当性解析処理Ｓ１４０で得たデータから、足りない試験項目、評価の低い試験項目について提示を行う。
図２３を用いて、本実施の形態に係る第１成果物評価結果４１１に基づく改善提案処理Ｓ１５０について説明する。
ステップＳ６０１において、改善提案部１５０は、第１成果物評価結果４１１より総合点がある閾値より高いものを選択する。
ステップＳ６０２において、改善提案部１５０は、試験観点書群１１６から該当の参考試験観点書を選択する。
ステップＳ６０３において、改善提案部１５０は、解析結果と参考試験観点書の提示を行う。
【００４８】
図２４を用いて、本実施の形態に係る第２成果物評価結果４２１に基づく改善提案処理Ｓ１５０について説明する。
ステップＳ７０１において、改善提案部１５０は、第２成果物評価結果４２１より総合点がある閾値より高いものを選択する。
ステップＳ７０２において、改善提案部１５０は、試験観点書群１１６から該当の参考試験観点書を選択する。
ステップＳ７０３において、改善提案部１５０は、解析結果と参考試験観点書の提示を行う。
【００４９】
図２５は、本実施の形態に係る改善提案処理Ｓ１５０で選択された第１是正項目５０１を示した図である。第１是正項目５０１では、分析対象の試験観点書に追記すべき試験観点の一覧が出力されるとともに、該当試験観点書がモニタ１６０に出力される。
図２６は、本実施の形態に係る改善提案処理Ｓ１５０で選択された第２是正項目５０２を示した図である。第２是正項目５０２では、分析対象の試験観点書において確認すべき試験観点の一覧がモニタ１６０出力されるとともに、該当試験観点書が出力される。
【００５０】
＊＊＊他の構成＊＊＊
本実施の形態では、仕様書作成支援装置１０の取得部は、入力インタフェースを介して取得していた。しかし、仕様書作成支援装置１０は通信装置を有し、通信装置を介して他の装置から試験観点書を受信する構成でもよい。このとき、通信装置はレシーバとトランスミッタとを備える。具体的には、通信装置は通信チップまたはＮＩＣ（Ｎｅｔｗｏｒｋ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ  Ｃａｒｄ）である。通信装置はデータを通信する通信部として機能する。レシーバはデータを受信する受信部として機能し、トランスミッタはデータを送信する送信部として機能する。
【００５１】
本実施の形態では、仕様書作成支援装置１０の取得部１２０と類似度解析部１３１と優位性解析部１３２と差異成果物評価部１４１と既存成果物評価部１４２と改善提案部１５０との機能がソフトウェアで実現される。しかし、変形例として、仕様書作成支援装置１０の取得部１２０と類似度解析部１３１と優位性解析部１３２と差異成果物評価部１４１と既存成果物評価部１４２と改善提案部１５０との機能がハードウェアで実現されてもよい。
図２７を用いて、本実施の形態の変形例に係る仕様書作成支援装置１０の構成について説明する。
図２７に示すように、仕様書作成支援装置１０は、処理回路９０９、入力インタフェース９３０、および出力インタフェース９４０といったハードウェアを備える。
【００５２】
処理回路９０９は、上述した取得部１２０と類似度解析部１３１と優位性解析部１３２と差異成果物評価部１４１と既存成果物評価部１４２と改善提案部１５０との機能および記憶部１１０を実現する専用の電子回路である。処理回路９０９は、具体的には、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ロジックＩＣ、ＧＡ、ＡＳＩＣ、または、ＦＰＧＡである。ＧＡは、Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙの略語である。ＡＳＩＣは、Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔの略語である。ＦＰＧＡは、Ｆｉｅｌｄ−Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙの略語である。
【００５３】
仕様書作成支援装置１０の取得部１２０と類似度解析部１３１と優位性解析部１３２と差異成果物評価部１４１と既存成果物評価部１４２と改善提案部１５０との機能は、１つの処理回路９０９で実現されてもよいし、複数の処理回路９０９に分散して実現されてもよい。
【００５４】
別の変形例として、各装置の機能がソフトウェアとハードウェアとの組合せで実現されてもよい。すなわち、各装置の一部の機能が専用のハードウェアで実現され、残りの機能がソフトウェアで実現されてもよい。
【００５５】
仕様書作成支援装置１０のプロセッサ９１０、記憶装置９２０、および、処理回路９０９を、総称して「プロセッシングサーキットリ」という。つまり、仕様書作成支援装置１０の構成が図１および図２７のいずれに示した構成であっても、仕様書作成支援装置１０の機能は、プロセッシングサーキットリにより実現される。
【００５６】
「部」を「工程」または「ステップ」または「処理」に読み替えてもよい。また、各装置の機能をファームウェアで実現してもよい。
【００５７】
＊＊＊本実施の形態の効果の説明＊＊＊
以上のように、本実施の形態に係る仕様書作成支援装置１０によれば、試験観点書あるいはテスト仕様の作成における属人性を排除することができる。また、本実施の形態に係る仕様書作成支援装置１０によれば、プロジェクトごとに異なる要求の違いが考慮可能となり、これらを自動化することで抜け漏れあるいはバラつきの改善を効率的に実施することができる。
【００５８】
実施の形態２．
＊＊＊構成の説明＊＊＊
本実施の形態では、主に、実施の形態１との差異について説明する。
本実施の形態において、実施の形態１で説明した構成と同様の構成については同一の符号を付し、その説明を省略する場合がある。
【００５９】
実施の形態１では試験観点における改善提案を行ったが、試験観点書に記載されているテスト仕様の不足についても改善の提案が可能である。テスト仕様の不足提示に関する仕様書作成支援装置１０の構成図は図１に示す仕様書作成支援装置１０と同じである。ただし、差異解析部１３０、妥当性解析部１４０および改善提案部１５０の一部の機能が実施の形態１と異なる。以下に、異なる機能について説明する。
【００６０】
＊＊＊機能の説明＊＊＊
差異解析部１３０は、評価用の試験観点書と管理テーブル１１１に管理されている試験観点書とを解析する。差異解析部１３０は、評価用の試験観点書と比較する試験観点書であって評価用の試験観点書には不足しているテスト仕様が付与された試験観点書を優位性分析結果１３２２として管理テーブル１１１から選択する。
妥当性解析部１４０は、優位性分析結果１３２２に基づいて、不足しているテスト仕様が付与された試験観点書が、評価用の試験観点書に適しているかを判定する。妥当性解析部１４０は、不足しているテスト仕様が付与された試験観点書の試験観点組合せと、評価用の試験観点書の試験観点組合せとの差異の大きさを判定し、第１成果物評価結果１４１２として出力する。また、妥当性解析部１４０は、評価用情報１１を用いて、評価用の試験観点書の試験観点組合せを評価し、第２成果物評価結果１４２２として出力する。
改善提案部１５０は、第１成果物評価結果１４１２に基づいて、不足しているテスト仕様が付与された試験観点書の試験観点組合せを第１是正項目１５０３として表示する。また、改善提案部１５０は、第２成果物評価結果１４２２に基づいて、評価用の試験観点書の試験観点組合せのうち評価の低い試験観点組合せを第２是正項目１５０４として表示する。
【００６１】
＊＊＊動作の説明＊＊＊
図２８は、本実施の形態に係る類似度解析処理Ｓ１３１ｂのフローチャートを示した図である。実施の形態１においては、プロジェクト単位および試験観点の比較を行っていたが、本実施の形態では、試験観点書および試験観点組合せをキーとした試験観点書の類似度解析を行う。
ステップＳ２１０ｂにおいて、類似度解析部１３１は、取得部１２０で入力された試験観点書の試験観点の組合せと一致する試験観点書を管理テーブル１１１から検索を行う。一致した試験観点書がある場合は、類似度解析部１３１は、その試験観点書を選択する（ステップＳ２１１ｂ）。一致する試験観点書がない場合は、類似度解析部１３１は、全試験観点書を選択する（ステップＳ２１２ｂ）。
図２８のステップＳ２０１ｂからステップＳ２０９ｂまでのステップについては、図９のステップＳ２０１ａからステップＳ２０９ａと同様のフローである。図２８のステップＳ２０１ｂからステップＳ２０９ｂまででは、プロジェクトではなく、試験観点書の比較および選択を行っている。
【００６２】
図２９は、本実施の形態に係る類似度解析処理Ｓ１３１ｂで算出された類似度分析結果１３１２を示した図である。類似度分析結果１３１２には、類似度解析処理Ｓ１３１ｂにより類似性の高い試験観点書数件が登録されている。
【００６３】
本実施の形態に係る優位性解析処理Ｓ１３２は、基本的なフローは図１１と同様であるため説明を省略する。本実施の形態に係る優位性解析処理Ｓ１３２ｂでは、比較および選択はプロジェクト単位ではなく、試験観点書単位で行う。
【００６４】
図３０は、本実施の形態に係る優位性解析処理Ｓ１３２ｂで算出された優位性分析結果１３２２を示した図である。優位性分析結果１３２２では、類似度解析処理Ｓ１３１ｂで選択された試験観点書に関して、さらに優位性を加味した試験観点と不足している試験観点および不足しているテスト仕様書数が登録されている。
【００６５】
本実施の形態に係る差異成果物評価処理Ｓ１４１ｂは、基本的なフローは図１３から図１６と同様であるため説明を省略する。本実施の形態に係る差異成果物評価処理Ｓ１４１ｂでは、比較および選択は試験観点ではなく、試験観点の組合せである。
【００６６】
図３１は、本実施の形態に係る差異成果物評価処理Ｓ１４１ｂで算出された第１成果物評価結果１４１２を示した図である。第１成果物評価結果１４１２では、差異解析処理Ｓ１３０ｂで選択された試験観点組合せについて、さらに経験値情報、リスク情報および顧客情報を加味して登録されている。総合点が高いほどテスト仕様を追加すべきであることを示している。
【００６７】
本実施の形態に係る既存成果物評価処理Ｓ１４２ｂは、基本的なフローは図１８から図２１と同様であるため説明を省略する。本実施の形態に係る既存成果物評価処理Ｓ１４２ｂでは、比較および選択は試験観点ではなく、試験観点の組合せである。
【００６８】
図３２は、本実施の形態に係る既存成果物評価処理Ｓ１４２ｂで算出された第２成果物評価結果１４２２を示した図である。第２成果物評価結果１４２２では、差異解析処理Ｓ１３０ｂで選択された試験観点組合せについて、さらに経験値情報、リスク情報および顧客情報を加味して登録されている。総合点が低いほどテスト仕様に誤りを含んでいる可能性が高いことを示している。
【００６９】
本実施の形態に係る改善提案処理Ｓ１５０ｂは、基本的なフローは図２３から図２４と同様であるため説明を省略する。本実施の形態に係る改善提案処理Ｓ１５０ｂでは、選択は試験観点書ではなく、試験観点の組合せである。
【００７０】
図３３は、本実施の形態に係る改善提案処理Ｓ１５０ｂで選択された第１是正項目１５０３を示した図である。第１是正項目１５０３では、分析対象の試験観点組合せに対して不足しているテスト仕様数の一覧がモニタ１６０に出力されるとともに、参考となる試験観点書が出力される。
【００７１】
図３４は、本実施の形態に係る改善提案処理Ｓ１５０ｂで選択された第２是正項目１５０４を示した図である。第２是正項目１５０４では、分析対象の試験観点組合せに対して誤りを含んでいる可能性の高いテスト仕様数の一覧が出力されるとともに、参考となる試験観点書がモニタ１６０に出力される。
【００７２】
以下に、上述した実施の形態に係る仕様書作成支援装置の構成についてまとめる。
上述した実施の形態に係る仕様書作成支援装置は、あるプロジェクトで作成する試験項目の有効性評価に用いられた試験観点書と他のプロジェクトで作成された試験観点書を比較する差異解析部を有する。また、仕様書作成支援装置１０は、試験観点書がプロジェクトに適しているか評価を行う妥当性解析部を有する。また、仕様書作成支援装置１０は、差異解析部と妥当性解析部によって抽出された改善項目および、改善例を提示する改善提案部を有する。
差異解析部は、あるプロジェクトで作成された試験観点書と、他のプロジェクトで作成された試験観点書を同じ観点で分類した時の差異を抽出する。また、妥当性解析部は、試験観点書がプロジェクトに対する要求あるいは属人性等を考慮した内容か、妥当性を判断する。改善提案部は、不足している試験観点書について、他プロジェクトの類似している試験観点書から選択し、改善例として提示を行う機能を有する。特に、差異解析部は、あるプロジェクト作成されたテスト仕様と、他のプロジェクトで作成されたテスト仕様を同じ試験観点で分類し、差異を抽出する。また、妥当性解析部は、テスト仕様書がプロジェクトに対する要求あるいは属人性等を考慮した内容か、妥当性を判断する。また、改善提案部は、不足しているテスト仕様について参考例を他プロジェクトの類似しているテスト仕様書から選択し、改善例として提示を行う。
【００７３】
上述した実施の形態では、取得部１２０と類似度解析部１３１と優位性解析部１３２と差異成果物評価部１４１と既存成果物評価部１４２と改善提案部１５０との各々が独立した機能ブロックとして仕様書作成支援装置を構成している。しかし、上述した実施の形態のような構成でなくてもよく、仕様書作成支援装置の構成は任意である。仕様書作成支援装置の機能ブロックは、上述した実施の形態で説明した機能を実現することができれば、任意である。これらの機能ブロックを、他のどのような組み合わせ、あるいは任意のブロック構成で、仕様書作成支援装置を構成しても構わない。
【００７４】
実施の形態１および２について説明したが、これらの実施の形態のうち、複数の部分を組み合わせて実施しても構わない。あるいは、これらの実施の形態のうち、１つの部分を実施しても構わない。その他、これらの実施の形態を、全体としてあるいは部分的に、どのように組み合わせて実施しても構わない。
なお、上述した実施の形態は、本質的に好ましい例示であって、本発明、その適用物および用途の範囲を制限することを意図するものではなく、必要に応じて種々の変更が可能である。
【符号の説明】
【００７５】
１０  仕様書作成支援装置、１１  評価用情報、１００  試験観点書、１１０  記憶部、１２０  取得部、１３０  差異解析部、１３１  類似度解析部、１３２  優位性解析部、１４０  妥当性解析部、１４１  差異成果物評価部、１４２  既存成果物評価部、１５０  改善提案部、１６０  モニタ、１１１  管理テーブル、１１２  成果情報、１１３  経験値情報、１１４  リスク情報、１１５  顧客情報、１１６  試験観点書群、３１１，１３１２  類似度分析結果、３２１，１３２２  優位性分析結果、４１１，１４１２  第１成果物評価結果、４２１，１４２２  第２成果物評価結果、５０１，１５０３  第１是正項目、５０２，１５０４  第２是正項目、５１１  仕様書作成支援プログラム、５１２  仕様書作成支援方法、Ｓ１００  仕様書作成支援処理、Ｓ１２０  取得処理、Ｓ１３０  差異解析処理、Ｓ１４０  妥当性解析処理、９０９  処理回路、９１０  プロセッサ、９２０  記憶装置、９２１  メモリ、９２２  補助記憶装置、９３０  入力インタフェース、９４０  出力インタフェース。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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