(57)【要約】【課題】製品を分解することなく除電用の導電膜の接続状態を検査出来る接続検査装置の提供を目的とする。【解決手段】本発明に係る接続検査装置は、表示装置に設けられた除電用の導電膜の接続状態を検査する接続検査装置である。その接続検査装置は、導電膜との間に静電容量を有するよう導電膜に対し距離を設けて対向配置可能な容量結合部材と、容量結合部材に接続され、容量結合部材に交流信号を印加する交流信号発生部と、交流信号発生部と容量結合部材との間の電流または電圧を測定し、インピーダンスを算出する計測部と、計測部によって算出されるインピーダンスに基づいて導電膜の接続状態に対応する抵抗を算出する制御部とを備える。【選択図】図４
2018063223.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示装置に設けられた除電用の導電膜の接続状態を検査する接続検査装置であって、
前記導電膜との間に静電容量を有するよう前記導電膜に対し距離を設けて対向配置可能な容量結合部材と、
前記容量結合部材に接続され、前記容量結合部材に交流信号を印加する交流信号発生部と、
前記交流信号発生部と前記容量結合部材との間の電流または電圧を測定し、インピーダンスを算出する計測部と、
前記計測部によって算出される前記インピーダンスに基づいて前記導電膜の前記接続状態に対応する抵抗を算出する制御部とを備える接続検査装置。
【請求項２】
前記交流信号発生部は、複数の周波数の前記交流信号を、前記周波数ごとに前記容量結合部材に印加し、
前記計測部は、前記交流信号の前記周波数ごとに前記電流または前記電圧を測定して前記インピーダンスを算出し、
前記制御部は、前記交流信号の前記周波数ごとに前記計測部によって算出される前記インピーダンスに基づいて前記抵抗を算出する請求項１に記載の接続検査装置。
【請求項３】
前記容量結合部材と前記交流信号発生部とを着脱可能に接続し、前記交流信号を出力可能な出力端子をさらに備える請求項１または請求項２に記載の接続検査装置。
【請求項４】
前記容量結合部材は、前記表示装置とは別に設けられる平板状の導体である請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の接続検査装置。
【請求項５】
対向配置される２枚の基板を含む表示パネルと、
前記表示パネルの前記２枚の基板のうち一方の基板の主面に配置され、アクティブマトリクスを形成する複数のソース配線と、
前記表示パネルの前記２枚の基板のうち他方の基板の主面に配置され、前記ソース配線とは絶縁された除電用の導電膜と、
前記ソース配線に電圧信号を出力するソース出力回路と、
前記電圧信号とは異なる信号を入力可能な入力端子を含み、前記ソース出力回路と前記ソース配線とを接続する経路上に設けられ、前記ソース出力回路と前記ソース配線とを接続する第１信号経路と前記入力端子と前記ソース配線とを接続する第２信号経路とを切り替えるセレクタとを備える表示装置。
【請求項６】
請求項３に記載の接続検査装置と、
請求項５に記載の表示装置とを備え、
前記接続検査装置の前記出力端子は、前記表示装置の前記ソース配線が前記容量結合部材として機能するよう、前記表示装置が含む前記セレクタの前記入力端子に接続され、
前記交流信号発生部は、前記セレクタによって切り替えられた前記第２信号経路を介して、前記ソース配線に交流信号を印加し、
前記計測部は、前記交流信号発生部と前記ソース配線との間の電流または電圧を測定してインピーダンスを算出し、
前記制御部は、前記計測部によって算出される前記インピーダンスに基づいて前記導電膜の接続状態に対応する抵抗を算出する接続検査システム。
【請求項７】
対向配置される２枚の基板を含む表示パネルと、
前記表示パネルの前記２枚の基板のうち一方の基板の主面に配置され、アクティブマトリクスを形成する複数のソース配線と、
前記表示パネルの前記２枚の基板のうち他方の基板の主面に配置され、前記ソース配線とは絶縁された除電用の導電膜と、
前記ソース配線に交流信号を印加する交流信号発生部と、
前記交流信号発生部と前記ソース配線との間の電流または電圧を測定してインピーダンスを算出する計測部と、
前記計測部によって算出される前記インピーダンスに基づいて前記導電膜の接続状態に対応する抵抗を算出する制御部とを備える表示装置。
【請求項８】
前記交流信号とは異なる電圧信号を前記ソース配線に出力するソース出力回路と、
前記ソース出力回路と前記ソース配線とを接続する第１信号経路上、かつ、前記交流信号発生部と前記ソース配線とを接続する第２信号経路上に設けられ、前記第１信号経路の導通と、前記第２信号経路の導通とを切り替えるセレクタとをさらに備え、
前記交流信号発生部は、前記セレクタによって切り替えられた前記第２信号経路を介して、前記ソース配線に交流信号を印加する請求項７に記載の表示装置。
【請求項９】
前記交流信号発生部が、Ｄ／Ａコンバーターであり、
前記Ｄ／Ａコンバーターは、前記交流信号を生成し前記ソース配線に印加する請求項７に記載の表示装置。
【請求項１０】
除電用の導電膜を備える表示装置を準備するステップと、
前記導電膜との間に静電容量を有するよう、前記導電膜に対し距離を設けて対向配置した容量結合部材を準備するステップと、
交流信号発生部が、前記容量結合部材に交流信号を印加するステップと、
前記交流信号発生部と前記容量結合部材との間の電流または電圧を測定してインピーダンスを算出するステップと、
算出された前記インピーダンスに基づいて前記導電膜の接続状態に対応する抵抗を算出するステップとを備える表示装置の接続検査方法。
【請求項１１】
前記交流信号を印加するステップは、複数の周波数の前記交流信号を、前記周波数ごとに前記容量結合部材に印加することを含み、
前記インピーダンスを算出するステップは、前記交流信号の前記周波数ごとに前記電流または前記電圧を測定し、前記インピーダンスを算出することを含み、
前記抵抗を算出するステップは、前記交流信号の前記周波数ごとに算出された前記インピーダンスに基づいて前記抵抗を算出することを含む請求項１０に記載の表示装置の接続検査方法。
【請求項１２】
除電用の導電膜とソース配線とを備える表示装置を準備するステップと、
交流信号発生部が、前記ソース配線に交流信号を印加するステップと、
前記交流信号発生部と前記ソース配線との間の電流または電圧を測定するステップと、
測定した前記電流または前記電圧からインピーダンスを算出するステップと、
算出された前記インピーダンスに基づいて前記導電膜の接続状態に対応する抵抗を算出するステップとを備える表示装置の接続検査方法。
【請求項１３】
前記交流信号を印加するステップと前記電流または前記電圧を測定するステップとにおいて、前記表示装置のゲート配線またはコモン配線がフローティングである請求項１２に記載の表示装置の接続検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、除電用の導電膜の接続状態を検査する接続検査装置、表示装置および接続検査システムに関し、特に、検査対象の導電膜に対し容量結合によって接続状態を検査する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
横電界方式の液晶表示装置は、２枚のガラス基板間、すなわちＴＦＴ基板とカラーフィルタ（ＣＦ）基板との間に封入された液晶を備える。その液晶を制御する電極は、一方のＴＦＴ基板にのみ設けられ、他方のＣＦ基板には配置されていない。よって、一度、ＣＦ基板側に電荷が帯電すると、それら電荷は除電されにくい。そして、ＣＦ基板の帯電は、液晶表示装置の表示不具合を引き起こす。その表示不具合を回避するために、除電用の導電膜、例えば、ＩＴＯ等の透明導電膜がＣＦ基板の裏面に設けられる。その除電用の透明導電膜は、ＧＮＤ等、液晶を駆動する電位と近い値を有する電位に接続される。
【０００３】
ＣＦ基板に設けられた除電用のＩＴＯは、通常、導電性テープ等により液晶表示装置の金属筐体に、または、導電性ペースト等でＴＦＴ基板に設けられた電極に接続される。それら金属筐体とＴＦＴ基板の電極とはＧＮＤ電位に接続される。
【０００４】
ＣＦ基板に設けられた除電用のＩＴＯからＧＮＤ電位までの導電経路の接続が十分でない状態で、電荷がＣＦ基板に帯電した場合、液晶表示装置には表示不具合が現れる。しかし、接続不良の状態でも帯電が生じなければ、液晶表示装置は通常時と同様に、正常に画像を表示する。つまり、除電用の透明導電膜からＧＮＤ電位までの接続不良を、目視による検査によって検出することは難しい。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１１−１８６０８８号公報
【特許文献２】特開２０１４−２４０９３４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１および特許文献２には、前述した接続検査を行うための手法が開示されている。しかし、特許文献１に記載の検査方法においては、テスターの接触針が製品に接触する必要があり、検査工程等の工数が増加する。また、その検査方法は製品に傷をつける可能性がある。また、特許文献２には、冗長な接続を備えて接続を確認する方法が開示されているが、接続箇所が少なくとも２箇所必要であり、検査工程の工数が増える。また、その検査を行うための配線をインターフェースに追加する必要がある。つまり、ピン数を増加したコネクタを設ける必要があり、部材のコストが従来よりも上昇する。また、これらの方法は、表示装置の製造工程において実施される方法である。製品出荷後、市場で上記の不具合が発生した場合、接続不良等の原因の解析は、製品を分解して検査する必要がある。
【０００７】
本発明は、以上のような課題を解決するためになされたものであり、製品を分解することなく除電用の導電膜の接続状態を検査出来る接続検査装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る接続検査装置は、表示装置に設けられた除電用の導電膜の接続状態を検査する接続検査装置である。その接続検査装置は、導電膜との間に静電容量を有するよう導電膜に対し距離を設けて対向配置可能な容量結合部材と、容量結合部材に接続され、容量結合部材に交流信号を印加する交流信号発生部と、交流信号発生部と容量結合部材との間の電流または電圧を測定し、インピーダンスを算出する計測部と、計測部によって算出されるインピーダンスに基づいて導電膜の接続状態に対応する抵抗を算出する制御部とを備える。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、製品を分解することなく除電用の導電膜の接続状態を検査出来る接続検査装置の提供が可能となる。また、本発明に係る接続検査装置は、接続検査の際、製品に与えるダメージを従来よりも低減できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】実施の形態１における液晶表示装置の構成を示す平面図である。
【図２】実施の形態１における液晶表示装置の構成を示す断面図である。
【図３】実施の形態１における接続検査装置のブロック図である。
【図４】実施の形態１における液晶表示装置を検査する接続検査装置の概略図である。
【図５】実施の形態１における処理回路の構成を示す図である。
【図６】実施の形態１における接続検査方法のフローチャートである。
【図７】実施の形態１における等価回路を示す図である。
【図８】実施の形態１における合成インピーダンスの測定結果を示す図である。
【図９】実施の形態１における等価回路を示す図である。
【図１０】実施の形態２における配線の配置を示す図である。
【図１１】実施の形態２における液晶表示装置のブロック図である。
【図１２】実施の形態３における液晶表示装置のブロック図である。
【図１３】実施の形態３におけるドライバＩＣから出力される電圧信号を示す図である。
【図１４】実施の形態４における接続検査システムのブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
本発明に係る接続検査装置、表示装置、接続検査システムおよび表示装置の接続検査方法の実施の形態を説明する。なお、以下の各実施の形態における表示装置は液晶表示装置を例に説明する。
【００１２】
＜実施の形態１＞
（液晶表示装置）
図１は、横電界方式の液晶表示装置１００が備える表示パネルの構成、つまり液晶パネル１０の構成を模式的に示す正面図である。また、図２は、図１のＡ−Ａ’における液晶パネル１０の断面を模式的に示す断面図である。液晶パネル１０は、ＴＦＴ基板１とＣＦ基板２とが対向配置され、２枚のガラス基板１ａおよびガラス基板２ａの間に液晶４が封入されている。液晶パネル１０は、ＴＦＴ基板１の主面１ｂに液晶駆動用電極３を備える。液晶駆動用電極３は、ドライバＩＣ１１により駆動される。ドライバＩＣ１１は、ＴＦＴ基板１に実装されたフレキシブル基板９を経由して、液晶駆動用電極３に電気信号や電源を供給する。一方、ＣＦ基板２は、液晶４側に色材５が配置される。色材５は、画素毎に配置されており、典型的には赤、緑、青の３色の色材が配置される。それら色材５により、各画素はカラー表示が可能となる。なお、色材５は例えば塗布により形成される。
【００１３】
（除電用の導電膜）
横電界方式の液晶表示装置１００においては、画素駆動用の電極つまり液晶駆動用電極３がＣＦ基板２に配置されない。そのため、ＣＦ基板２には、静電気等による電荷の帯電が発生することがある。そのような帯電が生じると、液晶表示装置１００には表示不具合が発生する。そこで、本実施の形態１の液晶表示装置１００は、ＣＦ基板２の主面２ｂ、つまり、色材５が配置される側とは反対側の面に導電膜が配置される。本実施の形態１において、その導電膜は透明導電膜６であり、ＣＦ基板２のほぼ全面に配置される。なお、透明導電膜６の材料は、例えば酸化物半導体であり、例えばＩＴＯである。その透明導電膜６は、ＧＮＤ電位に接続される。以下に、透明導電膜６からＧＮＤ電位までの接続例を示す。透明導電膜６は、導電部材７を介して、ＴＦＴ基板１の額縁領域に設けられた配線８に接続される。導電部材７は、例えば導電性ペーストである。配線８は、フレキシブル基板９に接続され、ドライバＩＣ１１と共通のＧＮＤ電位などに接続される。そのＧＮＤ電位は、例えば、液晶表示装置１００の表示部以外を覆う金属の筐体である。また、別の接続方法として、図示は省略するが、透明導電膜６は、導電部材７として導電性テープを用いて、液晶表示装置１００の筐体に直接接続しても良い。以上のように、ＧＮＤ電位に接続される透明導電膜６は、ＣＦ基板２に帯電する電荷を速やかに除電する機能を有する。
【００１４】
（接続検査装置）
透明導電膜６が機能するためには、上述した透明導電膜６からＧＮＤ電位までの接続が電気的に低抵抗であることが必要である。以下に、その除電用の透明導電膜６の接続状態つまり透明導電膜６からＧＮＤ電位までの導電経路上の抵抗を検査する接続検査装置について説明する。
【００１５】
図３は、接続検査装置２０のブロック図である。また、図４は、図１に示した液晶パネル１０の透明導電膜６の接続状態を検査する接続検査装置２０を示す図である。
【００１６】
接続検査装置２０は、透明導電膜６との間に静電容量を有するよう透明導電膜６に対し距離を設けて対向配置可能な容量結合部材２３を備える。本実施の形態１においては、容量結合部材２３は、平板状の導体であり、例えば金属板である。容量結合部材２３は、液晶パネル１０の透明導電膜６に近接配置される。また、接続検査装置２０は交流信号発生部２２を備える。交流信号発生部２２の出力は容量結合部材２３に接続されており、交流信号発生部２２は容量結合部材２３に交流信号を印加する。接続検査装置２０は、制御部２１を備え、制御部２１は、交流信号発生部２２が容量結合部材２３に印加する交流信号を制御する。つまり、制御部２１は、交流信号発生部２２に対し所定の周波数の電圧信号を生成して出力するように指示する。また、接続検査装置２０は、交流信号発生部２２と容量結合部材２３との間の電流と電圧とを測定し、インピーダンスを算出する計測部２４を備える。なお、交流信号発生部２２は、接続ケーブル２５によって、液晶表示装置１００のＧＮＤ等の電位、例えば筐体やＧＮＤ端子に接続される。制御部２１は、計測部２４によって算出されるインピーダンスに基づいて透明導電膜６の接続状態に対応する抵抗Ｒを算出する。または、制御部２１は、交流信号発生部２２によって容量結合部材２３に印加される交流信号の周波数ｆと、計測部２４によって算出されるインピーダンスとに基づいて透明導電膜６の接続状態に対応する抵抗Ｒを算出する。その際、制御部２１は複数の周波数ｆごとに計測部２４で算出されたインピーダンスをメモリ等に保持できる。また、図示は省略するが、制御部２１は、出力表示器や、操作のためのスイッチ等が接続されている。
【００１７】
図５（ａ）は接続検査装置２０が備える処理回路２６ａの構成の概略を示す図である。処理回路２６ａは、入力側に計測部２４が、出力側に出力表示器等の出力部２８および交流信号発生部２２が接続される。処理回路２６ａは、制御部２１の上記の機能を実現する。すなわち、処理回路２６ａは、計測部２４によって算出されるインピーダンスに基づいて透明導電膜６の接続状態に対応する抵抗Ｒを算出し出力部２８に出力する。または、処理回路２６ａは、交流信号発生部２２によって容量結合部材２３に印加される交流信号の周波数ｆと、計測部２４によって算出されるインピーダンスとに基づいて透明導電膜６の接続状態に対応する抵抗Ｒを算出し出力部２８に出力する。処理回路２６ａが専用のハードウェアである場合、処理回路２６ａは、例えば、プログラム化したプロセッサーや並列プログラム化したプロセッサーである。制御部２１の各機能、すなわち、制御部２１の機能は、それらプロセッサーで実現される。また、制御部２１の機能はソフトウェアにより実現されても良い。その場合、処理回路２６ａは、図５（ｂ）に示すように、互いが接続されたプロセッサー２６ｂとメモリ２６ｃとを含む。制御部２１の機能はプログラムとして記述され、ソフトウェアまたはファームウェアとしてメモリ２６ｃに格納される。プロセッサー２６ｂがメモリ２６ｃに格納されたプログラムを読み出して実行することで、制御部２１の各機能を実現する。なおプロセッサーとは例えばＣＰＵである。
【００１８】
（除電用の導電膜の接続検査方法）
接続検査装置２０による除電用の透明導電膜６の接続検査方法を図６のフローチャートと、上述した図４に従い説明する。なお、液晶パネル１０を備える液晶表示装置１００は、外部からアクセス可能な部分、例えば筐体のＧＮＤ電位に接続されている。
【００１９】
まず、ステップＳ１０において、上述した図１の液晶パネル１０を含む液晶表示装置１００を準備する。
【００２０】
ステップＳ２０において、透明導電膜６との間に静電容量を有するよう、透明導電膜６に対し適切な空隙を開けて対向配置した容量結合部材２３を準備する。容量結合部材２３は、平板形状を有する金属等の導体である。
【００２１】
ステップＳ３０において、容量結合部材２３に交流信号発生部２２によって印加される交流信号の周波数ｆを設定する。
【００２２】
ステップＳ４０において、交流信号発生部２２が、容量結合部材２３に交流信号すなわち交流電圧を印加する。この際、印加する交流信号の周波数ｆは制御部２１によって制御される。図７は接続検査装置２０および液晶表示装置１００の概念的な等価回路を示す。容量Ｃは、接続検査装置２０の容量結合部材２３と、液晶表示装置１００の透明導電膜６とで形成される容量である。抵抗Ｒは、透明導電膜６からＧＮＤ電位までの導電経路上の抵抗成分を表す。つまり、抵抗Ｒは、導電部材７や配線８など各部品の抵抗や、各部品間の接続抵抗を含む。このように、交流信号発生部２２は、交流信号発生部２２と液晶表示装置１００のＧＮＤ電位との間に交流電圧を印加する。
【００２３】
図７に示す等価回路において、インピーダンスつまり容量Ｃと抵抗Ｒとを含む合成インピーダンスＺ１は、数式１で表される。なお、ωは交流信号発生部２２が印加する交流信号の角速度、ｊは虚数単位である。
【００２４】
【数１】
2018063223.tif 000003
【００２５】
ステップＳ５０において、計測部２４が、交流信号発生部２２と容量結合部材２３との間の電流と電圧とを測定する。
【００２６】
ステップＳ６０において、計測部２４が、測定した電流と電圧とから合成インピーダンスＺ１を算出する。つまり、本接続検査方法によって算出される合成インピーダンスＺ１は実測に基づく値である。
【００２７】
ステップＳ７０において、交流信号の周波数を変更して再度測定するか判定する。ステップＳ７０にてＹＥＳの場合、ステップＳ３０に移行し、異なる周波数ｆで上記のステップＳ４０からステップＳ６０までを実行し、合成インピーダンスＺ１を実測する。測定する周波数ｆの種類だけステップＳ３０からステップＳ７０を繰り返す。
【００２８】
ステップＳ８０において、制御部２１が、計測部２４によって算出される合成インピーダンスＺ１とに基づいて透明導電膜６の接続状態に対応する抵抗Ｒを算出する。数式１に示すように、角周波数ωが大きいほど、１／ｊωＣの項は小さくなり、数式１はＺ１＝Ｒに近似される。よって、高周波の交流信号を容量結合部材２３に印加することで、接続検査装置２０は、透明導電膜６の接続状態に対応する抵抗Ｒを測定することができる。なお、その接続状態が断線しているか否かを判定する程度であれば、交流信号発生部２２はＺ１＝Ｒに完全に近似されるほどの高い周波数ｆを印加する必要はない。
【００２９】
ステップＳ９０において、算出された抵抗Ｒの値が規定範囲に入っているかどうかを判定する。例えば、制御部２１がその判定を行う場合、その規定範囲の値は、例えば、予め制御部２１やメモリ２６ｃに抵抗の規定範囲が格納されており、制御部２１が適宜それらを読み出して判定する。
【００３０】
ステップＳ１００において、制御部２１は、判定結果または測定した抵抗Ｒの値を出力部２８、例えば出力表示器等に出力する。または、例えば、異常があれば、操作者に通知または警告を促す。または、例えば、抵抗Ｒが出力表示器等に表示されることにより、ステップＳ９０の断線の判断は操作者が行ってもよい。
【００３１】
以上の接続検査方法により、接続検査装置２０は、透明導電膜６の接続状態の検査を行うことが出来る。接続状態の判定精度または抵抗Ｒの算出精度を向上するには、ステップＳ８０において、印加する交流電圧の周波数ｆを大きくすれば良い。角周波数ωを大きくするほど、そして究極的には無限大すなわち周波数ｆを無限大にすれば、数式１はＺ１＝Ｒに近似される。しかし、周波数ｆが大きすぎると、導電部材７に大電流が流れ、導電部材７が破損することが予想される。そこで、以下に示す検査方法のように、幾つかの周波数ｆに対して合成インピーダンスＺ１を実測し、抵抗Ｒを算出することが好ましい。ステップＳ７０において、複数の周波数ｆごとに合成インピーダンスを測定するよう、ステップＳ３０に移行する。
【００３２】
すなわち、ステップＳ４０においては、交流信号発生部２２は、複数の周波数ｆの交流信号を、周波数ｆごとに容量結合部材２３に印加する。
【００３３】
ステップＳ５０およびステップＳ６０においては、計測部２４が、それら交流信号の周波数ｆごとに電流または電圧を測定し、合成インピーダンスＺ１を算出する。図８は、複数の周波数ｆに対して算出された合成インピーダンスＺ１がプロットされた図である。なお、横軸は１／ω＝１／２πｆである。
【００３４】
そして、すべての周波数ｆに対して、合成インピーダンスＺ１が算出されると、ステップＳ７０にてＮＯの判定がなされる。ステップＳ８０において、制御部２１は、交流信号の周波数ｆごとに計測部２４によって算出される複数の合成インピーダンスＺ１に基づいて抵抗Ｒを算出する。つまり、制御部２１は、図８に示す各合成インピーダンスＺ１を、線形フィッティングする。その結果、傾きが２×１０９，切片が４２という結果が得られる。数式１と比較することにより、Ｃ＝５×１０−１０Ｆ，Ｒ＝４２Ωが得られる。ステップＳ９０およびステップＳ１００は、上記と同様である。
【００３５】
以上の接続検査方法により、接続検査装置２０は、透明導電膜６の接続状態の検査を行うことが出来る。なお、上記のように、数式１と合成インピーダンスＺ１の実測とによる線形近似法で抵抗Ｒを算出する場合、少なくとも２種類以上の周波数ｆで合成インピーダンスＺ１を測定することが必要である。本実施の形態１においては、３種類の周波数ｆに対する合成インピーダンスＺ１に基づいて、制御部２１が抵抗Ｒを算出する例を示した。なお、容量Ｃの値は、容量結合部材２３の面積や、透明導電膜６との距離などに依存するため参考値である。
【００３６】
また、本実施の形態１では、交流信号発生部２２は、定電圧交流を容量結合部材２３に印加し、計測部２４はその定電圧と実測した電流とから合成インピーダンスＺ１を求める例を示した。一方で、交流信号発生部２２が、定電流交流を容量結合部材２３に印加し、計測部２４は実測した電圧と定電流とから合成インピーダンスＺ１を求めることも出来る。
【００３７】
また、液晶表示装置１００は、表示面と異なる領域を覆う金属筐体を備え、その金属筐体が駆動回路のＧＮＤ電位に接続されることが多い。このような液晶表示装置１００に対し、上記の接続検査法による検査を行うと、容量結合部材２３がその金属筐体とも容量結合し、抵抗Ｒの検査精度が低下する。図９は、透明導電膜６の接続検査において、容量結合部材２３が金属筐体にも容量結合する場合の等価回路を示す。図９の等価回路は、図７に示した等価回路に寄生容量ＣＰが並列に接続される。
【００３８】
寄生容量ＣＰが接続された場合、交流信号発生部２２が印加する交流信号の周波数ｆを高くするほど、寄生容量ＣＰの経路がショートする。よって、接続検査装置２０は、抵抗Ｒを正確に算出することができない。そこで、筐体から十分な距離を隔てた大きさの容量結合部材２３を準備し、その容量結合部材２３に交流信号を印加することで、寄生容量ＣＰを小さくすることが望ましい。よって、接続検査装置２０は、交流信号発生部２２と容量結合部材２３とを着脱可能に接続する出力端子２７を備えることが好ましい。例えば、本実施の形態１における平板状の導体である容量結合部材２３は、出力端子２７に接続される。接続検査装置２０は、その出力端子２７を介して交流信号発生部２２から容量結合部材２３に交流信号を印加する。接続検査装置２０は、出力端子２７を備えることにより、様々なサイズの容量結合部材２３を接続することができ、液晶表示装置１００の仕様に合わせて容量結合部材２３を交換することが可能である。
【００３９】
しかし、実際の液晶表示装置１００の製造工程において、流動する様々なサイズを有する製品ごとに、異なるサイズの容量結合部材を準備することは、製造コストの上昇を招く。また、製品出荷後においても、簡便に検査できる方法が望まれる。そこで、上記と同様に、複数の周波数ｆに対する複数のインビーダンスを実測して抵抗Ｒを算出する。図９に示す等価回路において、抵抗Ｒ、容量Ｃ、寄生容量ＣＰからなる合成インピーダンスＺ２は数式２で表される。
【００４０】
【数２】
2018063223.tif 000004
【００４１】
未知数が、抵抗Ｒ、容量Ｃ、寄生容量ＣＰの３つであるから、３種類以上の周波数ｆに対する合成インピーダンスＺ２の測定結果を用いて、抵抗Ｒを求めることができる。その算出方法は、連立方程式やフィッティング等であり、上記のステップＳ３０からステップＳ８０と同様である。
【００４２】
（効果）
以上に述べた接続検査装置２０により、製品を分解することなく液晶表示装置１００の除電用の導電膜の接続状態を検査することができる。
【００４３】
以上をまとめると、本実施の形態１における接続検査装置２０は、液晶表示装置１００に設けられた除電用の導電膜の接続状態を検査する接続検査装置である。その導電膜は本実施の形態１においては、透明導電膜６である。接続検査装置２０は、透明導電膜６との間に静電容量を有するよう透明導電膜６に対し距離を設けて対向配置可能な容量結合部材２３と、容量結合部材２３に接続され、容量結合部材２３に交流信号を印加する交流信号発生部２２と、交流信号発生部２２と容量結合部材２３との間の電流または電圧を測定してインピーダンスを算出する計測部２４と、計測部２４によって算出される合成インピーダンスＺ１に基づいて透明導電膜６の接続状態に対応する抵抗Ｒを算出する制御部２１とを備える。以上のような構成により、接続検査装置２０は、液晶表示装置１００の構造を変更することなくつまり設計変更することなく除電用の透明導電膜６の接続状態を検査することができる。例えば、接続検査装置２０は、除電用の透明導電膜６からＧＮＤ電位までの接地抵抗を算出することができる。そして、接続検査装置２０は、透明導電膜６からＧＮＤ電位までの断線を検出することができる。また、製造工程において、検査工程数を複雑化することなくその検査ができる。そのため、接続検査のためのコストアップを抑制できる。また、接続検査装置２０は、液晶表示装置１００を分解することなく除電用の透明導電膜６の接続状態を検査できる。そのため、検査の際、液晶表示装置１００にダメージを与えることを防止できる。さらに、製品出荷後においても、簡便にその不具合を確認するための検査ができる。
【００４４】
また、本実施の形態１における接続検査装置２０が備える交流信号発生部２２は、複数の周波数ｆの交流信号を、周波数ｆごとに容量結合部材２３に印加する。計測部２４は、交流信号の周波数ｆごとに電流または電圧を測定して合成インピーダンスＺ１を算出する。制御部２１は、交流信号の周波数ｆごとに計測部２４によって算出される合成インピーダンスＺ１に基づいて抵抗Ｒを算出する。このような構成により、接続検査装置２０は、非破壊検査でありながら、精度よく透明導電膜６の接続状態に対応する抵抗を算出することができる。
【００４５】
また、本実施の形態１における接続検査装置２０は、容量結合部材２３と交流信号発生部２２とを着脱可能に接続し、交流信号を出力可能な出力端子２７をさらに備える。このような構成により、接続検査装置２０は、様々なサイズの液晶表示装置１００の構造を変更することなく除電用の透明導電膜６の接続状態の検査ができる。
【００４６】
また、本実施の形態１における接続検査装置２０が備える容量結合部材２３は、液晶表示装置１００とは別に設けられる平板状の導体である。このような構成により、接続検査装置２０は、液晶表示装置１００の構造を変更することなく除電用の透明導電膜６の接続状態の検査ができる。そのため、接続検査のためのコストアップを抑制できる。また、接続検査装置２０は、液晶表示装置１００を分解することなく検査できる。そのため、検査の際、液晶表示装置１００にダメージを与えることを防止できる。さらに、製品出荷後においても、簡便に不具合の検査を行うことができる。
【００４７】
また、本実施の形態１における液晶表示装置１００の接続検査方法は、除電用の透明導電膜６が設けられた液晶表示装置１００を準備するステップと、透明導電膜６との間に静電容量を有するよう、透明導電膜６に対し距離を設けて対向配置した容量結合部材２３を準備するステップと、交流信号発生部２２が容量結合部材２３に交流信号を印加するステップと、交流信号発生部２２と容量結合部材２３との間の電流または電圧を測定して合成インピーダンスＺ１を算出するステップと、算出された合成インピーダンスＺ１に基づいて透明導電膜６の接続状態に対応する抵抗Ｒを算出するステップとを備える。このような構成により、液晶表示装置１００の構造を変更することなく除電用の透明導電膜６の接続状態の検査ができる。例えば、除電用の透明導電膜６からＧＮＤ電位までの接地抵抗を算出することができる。そして、透明導電膜６からＧＮＤ電位までの断線を検出することができる。また、製造工程において、検査工程数を複雑化することなくその検査ができる。そのため、接続検査のためのコストアップを抑制できる。また、接続検査装置２０は、液晶表示装置１００を分解することなく除電用の透明導電膜６の接続状態を検査できる。そのため、検査の際、液晶表示装置１００にダメージを与えることを防止できる。さらに、製品出荷後においても、簡便にその不具合を確認するための検査を行うことができる。
【００４８】
また、本実施の形態１における液晶表示装置１００の接続検査方法が含む交流信号を印加するステップは、複数の周波数ｆの交流信号を、周波数ごとに容量結合部材２３に印加することを含む。また、合成インピーダンスＺ１を算出するステップは、交流信号の周波数ｆごとに電流または電圧を測定して合成インピーダンスＺ１を算出することを含む。また、抵抗Ｒを算出するステップは、交流信号の周波数ｆごとに算出された合成インピーダンスＺ１に基づいて抵抗Ｒを算出することを含む。このような構成により、非破壊検査でありながら、精度よく透明導電膜６の接続状態に対応する抵抗を算出することができる。
【００４９】
＜実施の形態２＞
本実施の形態２の液晶表示装置は、実施の形態１に記載した接続検査装置の機能を有する検査回路を内蔵する。ここで、本実施の形態２における液晶表示装置に液晶表示装置１１０の符号を付して説明する。液晶表示装置１１０は、実施の形態１の図１および図２に示した液晶表示装置１００と同様の液晶パネル１０と除電用の透明導電膜６とを備える。すなわち、液晶表示装置１１０は、対向配置される２枚の基板つまりＴＦＴ基板１とＣＦ基板２とを含む液晶パネル１０を備える。また、液晶表示装置１１０は、ＴＦＴ基板１の主面１ｂに配置され、アクティブマトリクスを形成する複数のソース配線と、ＣＦ基板２の主面２ｂに配置され、ソース配線とは絶縁された除電用の透明導電膜６を備える。
【００５０】
図１０は、液晶表示装置１１０が備えるソース配線３ａおよびゲート配線３ｂの配置を概略的に示す図である。図示は省略するが、ソース配線３ａとゲート配線３ｂとの交差位置には画素を駆動するトランジスタが設けられる。つまり、液晶表示装置１１０はアクティブマトリクスを形成するソース配線３ａとゲート配線３ｂとを備える。なお、トランジスタのドレイン端子は画素に接続される。
【００５１】
また、図１に示したドライバＩＣ１１は、詳細には図１０に示すようにソースドライバ１１ａとゲートドライバ１１ｂとに別れて配置される。ソース配線３ａはソースドライバ１１ａに接続され、ゲート配線３ｂは、ゲートドライバ１１ｂに接続される。ゲートドライバ１１ｂはガラス基板１ａ上に、直接ＴＦＴで形成されても良いし、ソースドライバ１１ａとゲートドライバ１１ｂとが１つのＩＣに集積されても良い。各画素の各トランジスタには、ソースドライバ１１ａおよびゲートドライバ１１ｂより電圧が印加される。つまり、ゲート配線３ｂにゲートドライバ１１ｂより電圧が印加され励起される。その励起されたゲート配線３ｂに対応する行に配置された画素に、ソース配線３ａより電圧が印加され充電される。それにより、各画素の液晶への印加電圧が制御される。つまり各画素の駆動が制御される。また、図示は省略するが、横電界方式である液晶表示装置１１０において、対向電極であるコモン配線はＴＦＴ基板１に配置される。
【００５２】
図１１は、液晶表示装置１１０のブロック図である。液晶表示装置１１０が備えるドライバＩＣ１１は、ソース配線３ａが接続されるソース出力端子１４を含む。ドライバＩＣ１１は、実際には、ソース配線３ａに対応した複数のソース出力端子１４を含むが、図１１では１つのブロックとして図示される。また、ドライバＩＣ１１は、ソース出力端子１４と同数のソース出力回路１３を含む。図１１では、そのソース出力回路１３も１つのブロックとして図示している。実際の回路では、各ソース出力回路１３がトランジスタを駆動するための電圧信号を、各ソース出力端子１４を介して各ソース配線３ａに出力する。
【００５３】
また、液晶表示装置１１０は、ソース出力回路１３とソース配線３ａとを接続する経路上にセレクタ１２を備える。本実施の形態２では、セレクタ１２は、ソース出力回路１３とソース出力端子１４とに接続する。ソース出力回路１３およびソース出力端子１４と同数のセレクタ１２が、その経路上に配置されるが、図１１では１つのブロックとして図示されている。なお、このソース出力回路１３とソース配線３ａとを接続する経路を第１信号経路と称する。第１信号経路は、ソース出力回路１３から出力されるトランジスタ駆動用の電圧信号を伝達する機能を有する。実際の回路では、各ソース出力回路１３から出力される電圧信号は、各セレクタ１２と各ソース出力端子１４とを介して各ソース配線３ａに出力される。
【００５４】
（接続検査に関わる検査回路）
図１１に示すように、液晶表示装置１１０は、除電用の透明導電膜６の接続状態を検査するための以下の構成を備える。
【００５５】
液晶表示装置１１０は、交流信号発生部２２を備え、その交流信号発生部２２の出力は、セレクタ１２に接続される。つまり、セレクタ１２は、交流信号発生部２２とソース配線３ａとを接続する経路上にも位置する。その経路を第２信号経路と称する。第２信号経路は、交流信号発生部２２から出力される交流信号をソース配線３ａに伝達する機能を有する。本実施の形態２において、液晶表示装置１１０が備える交流信号発生部２２は１個である。一方で、上述したように、液晶表示装置１１０は、複数のセレクタ１２、複数のソース出力端子１４および複数のソース配線３ａを備える。このような構成により、全てのソース配線３ａには、共通の交流信号発生部２２から出力される同じ交流信号が出力される。
【００５６】
また、セレクタ１２は、第１信号経路の導通と第２信号経路の導通とを切り替えることが可能である。セレクタ１２が第２信号経路を導通した場合、交流信号発生部２２はそのセレクタによって切り替えられた第２信号経路を介して、ソース配線３ａに交流信号を印加する。また、この接続により、液晶表示装置１１０のソース配線３ａは、実施の形態１に示した接続検査装置２０の容量結合部材２３として機能する。ソース配線３ａは、透明導電膜６との間に静電容量を有するよう透明導電膜６に対し距離を設けて対向配置されているからである。
【００５７】
また、液晶表示装置１１０は、制御部２１を備え、制御部２１は、交流信号発生部２２がソース配線３ａに印加する交流信号を制御する。つまり、制御部２１は、交流信号発生部２２に対し所定の周波数の信号を生成して出力するように指示する。例えば、交流信号発生部２２がソース配線３ａに印加する交流信号は、電源電圧を一定周波数でスイッチングする矩形波である。これにより、ソース配線３ａと透明導電膜６とが容量結合する。また、液晶表示装置１１０は、交流信号発生部２２とソース配線３ａとの間の電流と電圧とを測定し、インピーダンスを算出する計測部２４を備える。本実施の形態２においては、液晶表示装置１１０は１個の計測部２４を備え、その計測部２４は交流信号発生部２２とセレクタ１２との間の電流をまとめて検出する。これにより、計測部２４の回路を簡素化でき、またインピーダンスの算出も容易となる。
【００５８】
さらに、制御部２１は、交流信号発生部２２によってソース配線３ａに印加される交流信号の周波数ｆと、計測部２４によって算出されるインピーダンスとに基づいて透明導電膜６の接続状態に対応する抵抗Ｒを算出する。
【００５９】
また、制御部２１は、透明導電膜６の接続検査の際、セレクタ１２を第２信号経路に切り替える。これにより、交流信号発生部２２とソース配線３ａとが導通し、透明導電膜６の接続検査が可能なる。また、検査が終了すると、制御部２１は、セレクタ１２を第１信号経路に切り替える。これにより、ソース出力回路１３とソース配線３ａとが導通し、液晶表示装置１１０は画像の表示が可能となる。
【００６０】
また、本実施の形態２においては、ドライバＩＣ１１内部に、これら接続検査に必要な構成、つまり、制御部２１、交流信号発生部２２および計測部２４が配置される。また、液晶表示装置１１０は、ドライバＩＣ１１に検査回路を有する構成のため、実施の形態１において、交流信号発生部２２からＧＮＤ電位に接続していた接続ケーブル２５を備える必要はない。
【００６１】
（接続状態の検査方法）
液晶表示装置１１０が、透明導電膜６の接続状態を検査する方法について説明する。図６に示した接続検査方法のフローチャートのステップＳ１０において、本実施の形態２に示した液晶表示装置１１０を準備する。そのステップＳ１０の後、ステップＳ２０は、以下のステップに置き換える。制御部２１は、例えば接続検査開始の信号を受信するなどし、セレクタ１２を制御して第２信号経路に切り替える。これにより、交流信号発生部２２とソース配線３ａとが導通する。この際、制御部２１は、交流信号発生部２２によって生成された交流信号が、すべてのソース出力端子１４から出力されソース配線３ａに印加されるようセレクタ１２を制御する。その後、図示は省略するが、ゲート配線３ｂがフローティング状態に設定される。または、各配線が１つのＩＣに集積されている場合、ゲート配線３ｂに対しても接続検査用の交流信号を出力しても良い。図示は省略するが、更には、コモン電極回路も、フローティング状態に設定することが望ましい。ゲート配線３ｂとコモン電極回路とをフローティング状態に設定することで、図９に示す寄生容量ＣＰを削減し、検査対象である透明導電膜６とソース配線３ａとが容量結合する経路が主の導電経路とすることができる。以上のように、本実施の形態２において、ステップＳ２０は、制御部２１が、セレクタ１２を切り替え、交流信号発生部２２とソース配線３ａとを導通する。本実施の形態２では、実施の形態１において交流信号が印加される対象物であった容量結合部材２３は、ソース配線３ａと読み替えることができ、図６のステップＳ２０は、容量結合部材２３としてソース配線３ａを準備するとも読み替えることができる。
【００６２】
図６に示すステップＳ３０からステップＳ１００までは、実施の形態１と同様であるので説明は省略する。なお、上述したように、それらの説明において、交流信号発生部２２が交流信号を印加する容量結合部材２３は、本実施の形態２においては、ソース配線３ａに読み替える。
【００６３】
図６のステップＳ１００の後、本実施の形態２では、ゲート配線３ｂまたはコモン電極回路のフローティング設定を解除する。さらに、制御部２１は、例えば、接続検査終了の信号を受信し、それに従い制御部２１は、セレクタ１２を制御して第１信号経路に切り替える。これにより、ソース出力回路１３とソース配線３ａとが導通する。
【００６４】
（効果）
以上をまとめると、本実施の形態２における液晶表示装置１１０は、対向配置される２枚の基板を含む液晶パネル１０と、液晶パネル１０の２枚の基板のうち一方の基板であるＴＦＴ基板１の主面１ｂに配置され、アクティブマトリクスを形成する複数のソース配線３ａと、液晶パネル１０の２枚の基板のうち他方の基板であるＣＦ基板２の主面２ｂに配置され、ソース配線３ａとは絶縁された除電用の透明導電膜６と、ソース配線３ａに交流信号を印加する交流信号発生部２２と、交流信号発生部２２とソース配線３ａとの間の電流または電圧を測定してインピーダンスを算出する計測部２４と、計測部２４によって算出される合成インピーダンスＺ１に基づいて透明導電膜６の接続状態に対応する抵抗Ｒを算出する制御部２１とを備える。このような構成により、液晶表示装置１１０は、液晶表示装置１１０を分解することなく、除電用の透明導電膜６の接続状態を検査できる。例えば、液晶表示装置１１０は、除電用の透明導電膜６からＧＮＤ電位までの接地抵抗を算出することができる。そして、液晶表示装置１１０は、透明導電膜６からＧＮＤ電位までの断線を検出することができる。そのため、検査の際、液晶表示装置１１０にダメージを与えることを防止できる。さらに、製品出荷後においても、簡便にその不具合を確認するための検査を行うことができる。
【００６５】
また、本実施の形態２における接続検査装置２０は、検査用の交流信号とは異なる電圧信号をソース配線３ａに出力するソース出力回路１３と、ソース出力回路１３とソース配線３ａとを接続する第１信号経路上、かつ、交流信号発生部２２とソース配線３ａとを接続する第２信号経路上に設けられ、第１信号経路の導通と、第２信号経路の導通とを切り替えるセレクタ１２とをさらに備える。交流信号発生部２２は、セレクタ１２によって切り替えられた第２信号経路を介して、ソース配線３ａに交流信号を印加する。このような構成により、液晶表示装置１１０は、透明導電膜６の接続状態の検査の際のみ、ソース配線３ａを容量結合部材として機能させることできる。
【００６６】
また、本実施の形態２における液晶表示装置１１０のドライバＩＣ１１内部に検査用の回路が集積されるため、液晶表示装置１１０は、起動時等に、自己故障チェックとして透明導電膜６の接続状態を検査することができる。その検査は、詳細に抵抗値を測定する検査ではなく、概略的な接続検査である。よって、計測部２４は、精密に電流を計測するＡ／Ｄコンバーターのようなものではなく、一定のしきい値以上の電流が流れるかどうかの判定回路でよい。従って、透明導電膜６を検査する回路構築のために、新たに追加する部品等は安価なもので良い。つまり、本実施の形態２の液晶表示装置１１０は、コストアップを抑えながら除電用の透明導電膜６の検査機能を内蔵することが出来る。また、液晶表示装置１１０は、例えば起動時に毎回接続検査を行い、異常があれば液晶表示装置１１０のシステムを介して操作者に通知または警告を促すことができる。これにより、液晶表示装置１１０の信頼性が向上できる。
【００６７】
また、本実施の形態２における液晶表示装置１００の接続検査方法は、除電用の透明導電膜６とソース配線３ａとを備える液晶表示装置１１０を準備するステップと、交流信号発生部２２が、ソース配線３ａに交流信号を印加するステップと、交流信号発生部２２とソース配線３ａとの間の電流または電圧を測定するステップと、その測定した電流または電圧から合成インピーダンスＺ１を算出するステップと、算出された合成インピーダンスＺ１に基づいて透明導電膜６の接続状態に対応する抵抗Ｒを算出するステップとを備える。このような構成により、液晶表示装置１１０を分解することなく、除電用の透明導電膜６の接続状態を検査できる。例えば、除電用の透明導電膜６からＧＮＤ電位までの接地抵抗を算出することができる。そして、透明導電膜６からＧＮＤ電位までの断線を検出することができる。そのため、検査の際、液晶表示装置１００にダメージを与えることを防止できる。さらに、製品出荷後においても、簡便にその不具合を確認するための検査を行うことができる。
【００６８】
また、本実施の形態２における液晶表示装置１００の接続検査方法は、交流信号を印加するステップと電流または電圧を測定するステップにおいて、液晶表示装置１１０のゲート配線またはコモン配線がフローティングである。このような構成により、図９に示した寄生容量ＣＰを低減し、抵抗Ｒの算出精度を向上できる。
【００６９】
＜実施の形態３＞
液晶表示装置は、トランジスタを駆動するためのソース配線に電圧信号を出力するソース出力回路にＤ／Ａコンバーターを備える。本実施の形態３における液晶表示装置は、そのＤ／Ａコンバーターが交流信号発生部として機能する。以下、本実施の形態３における液晶表示装置に、液晶表示装置１２０の符号を付して説明する。
【００７０】
液晶表示装置１２０は、実施の形態１および実施の形態２に示した液晶表示装置１１０と同様の液晶パネル１０と除電用の透明導電膜６とを備える。すなわち、液晶表示装置１２０は、対向配置されるＴＦＴ基板１とＣＦ基板２とを含む液晶パネル１０を備える。また、液晶表示装置１２０は、ＴＦＴ基板１の主面１ｂに配置され、アクティブマトリクスを形成する複数のソース配線３ａと、ＣＦ基板２の主面２ｂに配置され、ソース配線３ａとは絶縁された除電用の透明導電膜６とを備える。
【００７１】
図１２は、液晶表示装置１２０のブロック図である。液晶表示装置１２０が備えるドライバＩＣはドット反転駆動が可能であり、図１２は、そのドライバＩＣ１１の出力端子付近の部分を示す。液晶表示装置１２０が備えるドライバＩＣ１１は、Ｄ／Ａコンバーター１３ａとＤ／Ａコンバーター１３ｂとを含む。ドライバＩＣ１１内部で生成されたデータはＤ／Ａコンバーターに出力され、そのＤ／Ａコンバーターにおいて所定の電圧信号が生成される。Ｄ／Ａコンバーター１３ａとＤ／Ａコンバーター１３ｂとは、それぞれ出力する電圧範囲が異なる。ここでは、Ｄ／Ａコンバーター１３ａは正極性用であり、Ｄ／Ａコンバーター１３ｂは負極性用である。ドット反転駆動においては、隣接するソース配線３ａごとに、印加電圧の極性が反転する。よって、Ｄ／Ａコンバーター１３ａと１３ｂは、バッファの出力を入れ替えることで両方のソース配線３ａに、正極性／負極性、または、負極性／正極性の電圧を印加することが出来る。これにより、Ｄ／Ａコンバーター１３ａと１３ｂとは、交流信号を出力することができる。Ｄ／Ａコンバーター１３ａおよび１３ｂの出力は切替部１５と出力端子ＯＤＤ１４ａおよび出力端子ＥＶＥＮ１４ｂとを介してソース配線３ａに接続される。なお、交流信号発生部２２として機能するＤ／Ａコンバーター１３ａおよび１３ｂを含む回路は、図１２に示すように２本の出力回路をペアとする。また、その出力回路のペア数は、ソース配線３ａの配線本数に対応して設けられる。Ｄ／Ａコンバーター１３ａおよび１３ｂのペア数と、出力端子ＯＤＤ１４ａおよび出力端子ＥＶＥＮ１４ｂのペア数とは、ソース配線３ａの配線本数に対応する。ただし、図１２においては、それらＤ／Ａコンバーター１３ａ、Ｄ／Ａコンバーター１３ｂ、出力端子ＯＤＤ１４ａおよび出力端子ＥＶＥＮ１４ｂは、それぞれ１つのブロックとして図示されている。
【００７２】
また、液晶表示装置１２０は、上記のＤ／Ａコンバーター１３ａおよび１３ｂとソース配線３ａとの間の電流または電圧を測定し、合成インピーダンスＺ１を算出する計測部２４を備える。液晶表示装置１２０が備える計測部は１個であり、その計測部２４は、Ｄ／Ａコンバーター１３ａまたは１３ｂの後段に設けられた出力バッファの電源の根元の電流を測定する。計測部２４は、正電源側または負電源側のいずれかの電流を測定する。これにより、計測部２４は回路が簡素化でき、またインピーダンスの算出も容易となる。
【００７３】
また、液晶表示装置１２０は、制御部２１を備える。制御部２１は、Ｄ／Ａコンバーターよってソース配線３ａに印加される交流信号の周波数ｆと、計測部２４によって算出される合成インピーダンスＺ１または合成インピーダンスＺ２とに基づいて透明導電膜６の接続状態に対応する抵抗Ｒを算出する。また、制御部２１は、Ｄ／Ａコンバーターに対し入力するデータを切り替える機能を有する。つまり、液晶表示装置１２０が通常の画像を表示する際、制御部２１は、Ｄ／Ａコンバーターに通常の画像データが入力されるよう制御し、透明導電膜６の接続検査の際は、検査用のデータつまり交流信号を出力するためのデータが入力されるよう制御する。
【００７４】
（接続状態の検査方法）
液晶表示装置１２０が、透明導電膜６の接続状態を検査する方法を説明する。図６に示した接続検査方法のフローチャートのステップＳ１０において、本実施の形態３に示した液晶表示装置１２０を準備する。そのステップＳ１０の後、ステップＳ２０は、以下のステップに置き換える。図示は省略するが、ゲート配線３ｂまたはコモン配線はフローティング状態に設定される。さらに、制御部２１は、Ｄ／Ａコンバーター１３ａおよびＤ／Ａコンバーター１３ｂに入力されるデータを、接続検査用のデータに切り替える。以上のように、本実施の形態３において、ステップＳ２０は、制御部２１は、Ｄ／Ａコンバーター１３ａおよびＤ／Ａコンバーター１３ｂに入力されるデータを、接続検査用のデータに切り替える。
【００７５】
図６に示すステップＳ３０からステップＳ１００までは、実施の形態１と同様であり、ステップＳ１００以降は、実施の形態２と同様であるので説明は省略する。なお、実施の形態１および実施の形態２における交流信号発生部２２は、本実施の形態３では、Ｄ／Ａコンバーター１３ａおよびＤ／Ａコンバーター１３ｂと読み替える。また、交流信号が印加される対象物である容量結合部材２３は、本実施の形態３においては、ソース配線３ａと読み替える。なお、検査時には、図１３に示す電圧信号がドライバＩＣより出力される。出力端子ＯＤＤ１４ａから出力される正極性の電圧信号１６ａと、出力端子ＥＶＥＮ１４ｂから出力される負極性の電圧信号１６ｂとが、共に同相で変化する。そのため、透明導電膜６に対しては、ソース配線３ａが配置されたＴＦＴ基板の面内から同期した電圧が印加される。これにより、ソース配線３ａと透明導電膜６とが同相で容量結合する。このようにして、Ｄ／Ａコンバーターは交流波形を生成し、その交流信号をソース配線３ａに印加する。例えば、その交流波形は、２値または多値の電圧信号からなり、多値の電圧信号であればＳｉｎ波を含む波形が形成できる。また、抵抗Ｒが断線状態であれば、一定以上の電流が計測部２４にて検出されないため、異常を検出できる。
【００７６】
（効果）
以上まとめると、本実施の形態３における液晶表示装置１２０は、交流信号発生部がＤ／Ａコンバーター１３ａおよびＤ／Ａコンバーター１３ｂである。それらＤ／Ａコンバーターは、交流信号を生成しソース配線３ａに印加する。このような構成により、液晶表示装置１２０は、既存のＤ／Ａコンバーターを用いるため、実施の形態２の液晶表示装置１１０と比較して、接続検査用に追加する部品等が少なく、コストアップを抑制出来る。
【００７７】
＜実施の形態４＞
本実施の形態２においては、液晶表示装置１１０が実施の形態１に記載した接続検査装置２０の検査回路を内蔵するものであった。本実施の形態４では、接続検査装置が接続できる液晶表示装置と、その接続検査装置と液晶表示装置とを備える接続検査システムを説明する。
【００７８】
（液晶表示装置）
ここで、本実施の形態４における液晶表示装置に液晶表示装置１３０の符号を付して説明する。液晶表示装置１３０は、実施の形態１に示した液晶表示装置１００と同様の液晶パネル１０と除電用の透明導電膜６とを備える。すなわち、液晶表示装置１３０は、対向配置される２枚の基板つまりＴＦＴ基板１とＣＦ基板２とを含む液晶パネル１０を備える。また、液晶表示装置１３０は、ＴＦＴ基板１の主面１ｂに配置され、アクティブマトリクスを形成する複数のソース配線と、ＣＦ基板２の主面２ｂに配置され、ソース配線とは絶縁された除電用の透明導電膜６を備える。
【００７９】
図１４は、本実施の形態４における液晶表示装置１３０および接続検査装置２２０のブロック図である。液晶表示装置１３０が備えるドライバＩＣ１１は、ソース配線３ａが接続されるソース出力端子１４を含む。また、ドライバＩＣ１１は、ソース配線３ａにトランジスタを駆動するための電圧信号を出力するソース出力回路１３を含む。つまり、ソース出力回路１３から出力される電圧信号は、ソース出力端子１４を介してソース配線３ａに出力される。
【００８０】
また、液晶表示装置１１０は、ソース出力回路１３とソース配線３ａとを接続する経路上にセレクタ１２を備える。本実施の形態４においては、セレクタ１２は、ソース出力回路１３とソース出力端子１４とに接続する。また、セレクタ１２は、ソース出力回路１３から出力される電圧信号とは異なる信号を入力可能な入力端子１７を含む。セレクタ１２は、ソース出力回路１３とソース配線３ａとを接続する第１信号経路と、入力端子１７とソース配線３ａとを接続する第２信号経路とを切り替え可能である。なお、図１４においては、セレクタ１２は、ソースドライバ１１ａに組み込まれているが、ソースドライバ１１ａの外部に設けられていても良い。また、入力端子１７は、液晶表示装置１１０の筐体に露出して配置されることで、後述する接続検査装置２２０を接続しやすい。
【００８１】
（接続検査装置および接続検査システム）
本実施の形態４における接続検査装置２２０は、実施の形態１にて説明した出力端子２７を備える。透明導電膜６の接続検査の際、出力端子２７は、液晶表示装置１１０が備えるセレクタ１２の入力端子１７に接続される。この接続により、液晶表示装置１１０のソース配線３ａが接続検査装置２０の容量結合部材２３として機能する。ソース配線３ａは、透明導電膜６との間に静電容量を有するよう透明導電膜６に対し距離を設けて対向配置されているからである。
【００８２】
また、透明導電膜６の接続検査の際、接続検査装置２２０が備える制御部２１は、セレクタ１２を制御可能に液晶表示装置１１０に接続される。そして、制御部２１は、透明導電膜６の接続検査の際、セレクタ１２を第２信号経路に切り替える。これにより、交流信号発生部２２とソース配線３ａとが導通し、透明導電膜６の接続検査が可能となる。また、検査が終了すると、制御部２１は、セレクタ１２を第２信号経路に切り替える。これにより、ソース出力回路１３とソース配線３ａとが導通し、液晶表示装置１１０は画像の表示が可能となる。また、接続検査の際、接続検査装置２２０が備える計測部２４は、交流信号発生部２２とソース配線３ａとの間の電流または電圧を測定しインビーダンスを算出する。特に、本実施の形態４においては、計測部２４は、交流信号発生部２２とセレクタ１２との間の電流を検出する。
【００８３】
本実施の形態４における接続検査システムは、上記の液晶表示装置１３０と接続検査装置２２０とを備える。
【００８４】
（接続状態の検査方法）
接続検査システムが、透明導電膜６の接続状態を検査する方法について説明する。図６に示した接続検査方法のフローチャートのステップＳ１０において、液晶表示装置１３０だけでなく、接続検査装置２２０も準備する。そのステップＳ１０の後、ステップＳ２０に代えて、接続検査装置２２０の出力端子２７と液晶表示装置１３０の入力端子１７とが接続される。その後、図示は省略するが、ゲート配線３ｂまたはコモン配線がフローティング状態に設定される。図６に示すステップＳ３０からステップＳ１００までは、実施の形態１または実施の形態２と同様であり、ステップＳ１００以降は、実施の形態２と同様であるので説明は省略する。なお、その説明において、交流信号発生部２２が交流信号を印加する容量結合部材２３は、実施の形態２と同様に、ソース配線３ａに読み替える。検査終了後は、接続検査装置２２０の出力端子２７と液晶表示装置１３０の入力端子１７との接続が解除される。
【００８５】
（効果）
以上をまとめると、本実施の形態４における液晶表示装置１１０は、対向配置される２枚の基板を含む液晶パネル１０と、液晶パネル１０の２枚の基板のうち一方の基板であるＴＦＴ基板１の主面１ｂに配置され、アクティブマトリクスを形成する複数のソース配線３ａと、液晶パネル１０の２枚の基板のうち他方の基板であるＣＦ基板２の主面２ｂに配置され、ソース配線３ａとは絶縁された除電用の透明導電膜６と、ソース配線３ａに電圧信号を出力するソース出力回路１３とを備える。また、液晶表示装置１１０は、その電圧信号とは異なる信号を入力可能な入力端子１７を含み、ソース出力回路１３とソース配線３ａとを接続する経路上に設けられ、ソース出力回路１３とソース配線３ａとを接続する第１信号経路と、入力端子１７とソース配線３ａとを接続する第２信号経路とを切り替えるセレクタ１２とをさらに備える。このような構成により、液晶表示装置１３０は、接続検査装置２２０に接続可能となる。従来の液晶表示装置と比較して、液晶表示装置１３０はセレクタ１２を備えるだけで、除電用の透明導電膜６の接続検査を、非破壊に、かつ、任意の時間と場所で実施できる。
【００８６】
また、本実施の形態４における接続検査システムは、接続検査装置２２０と、液晶表示装置１３０とを備える。接続検査装置２２０の出力端子２７は、液晶表示装置１３０のソース配線３ａが容量結合部材２３として機能するよう、液晶表示装置１３０が含むセレクタ１２の入力端子１７に接続される。また、交流信号発生部２２は、セレクタ１２によって切り替えられた第２信号経路を介して、ソース配線３ａに交流信号を印加する。計測部２４は、交流信号発生部２２とソース配線３ａとの間の電流または電圧を測定して合成インピーダンスＺ１を算出する。制御部２１は、計測部によって算出される合成インピーダンスＺ１に基づいて導電膜の接続状態に対応する抵抗Ｒを算出する。以上のような構成により、接続検査システムは、液晶表示装置１３０にセレクタ１２を追加するだけで、除電用の透明導電膜６の接続状態の検査ができる。例えば、接続検査システムは、除電用の透明導電膜６からＧＮＤ電位までの接地抵抗を算出することができる。そして、接続検査システムは、透明導電膜６からＧＮＤ電位までの断線を検出することができる。そのため、接続検査のためのコストアップを抑制できる。また、接続検査システムは、液晶表示装置１３０を分解することなく検査できる。そのため、接続状態の検査の際、製品へダメージを与えることを防止できる。さらに、製品出荷後においても、簡便に不具合の検査を行うことができる。
【００８７】
なお、実施の形態１から実施の形態４において、検査対象の表示装置は、液晶表示装置を例に説明したが、これに限らず、他の表示装置であっても本発明の効果を奏する。
【００８８】
なお、本発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略したりすることが可能である。本発明は詳細に説明されたが、上記した説明は、すべての態様において、例示であって、本発明がそれに限定されるものではない。例示されていない無数の変形例が、本発明の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。
【符号の説明】
【００８９】
１  ＴＦＴ基板、１ｂ  主面、２  ＣＦ基板、２ｂ  主面、３ａ  ソース配線、６  透明導電膜、１０  液晶パネル、１１  ドライバＩＣ、１１ａ  ソースドライバ、１２  セレクタ、１３  ソース出力回路、１３ａ  Ｄ／Ａコンバーター、１３ｂ  Ｄ／Ａコンバーター、１７  入力端子、２０  接続検査装置、２１  制御部、２２  交流信号発生部、２３  容量結合部材、２４  計測部、２７  出力端子、１００  液晶表示装置、Ｃ  容量、ＣＰ  寄生容量、Ｒ  抵抗、Ｚ１  合成インピーダンス、Ｚ２  合成インピーダンス、ｆ  周波数。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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