(57)【要約】【課題】電極組立体において正極電極又は負極電極の積層ずれを容易に判定できる蓄電装置の検査方法を提供する。【解決手段】二次電池は、本体部２４及び正極タブ２３を有する複数の正極電極２０と本体部３４及び負極タブを有する複数の負極電極３０とが絶縁された状態で交互に積層された電極組立体１２を備える。本体部２４，３４からの正極タブ２３の突出方向に沿う方向を正極電極２０の高さ方向とする。このような二次電池の検査方法は、正極タブ２３を、正極タブ２３が突出する本体部２４と同一平面上に存在させた状態で、正極タブ２３の突出方向の先端部の位置を検出する検出工程と、検出された正極タブ２３の先端部の位置に基づいて、電極組立体１２における正極電極２０の高さ方向への積層ずれを判定する判定工程とを含む。【選択図】図６
2018190507.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
シート状の本体部と前記本体部の一辺の一部から突出した形状のタブとを有する複数の正極電極及び負極電極が絶縁された状態で交互に積層された電極組立体を備えた蓄電装置の検査方法であって、
前記正極電極のタブの突出方向に沿う方向を前記正極電極の高さ方向、又は前記負極電極のタブの突出方向に沿う方向を前記負極電極の高さ方向、としたとき、
前記正極電極のタブ又は前記負極電極のタブを、前記タブが突出する前記本体部と同一平面上に存在させた状態で、前記タブについて突出方向の先端部の位置を検出する検出工程と、
検出された前記先端部の位置に基づいて、前記電極組立体における前記正極電極の高さ方向又は前記負極電極の高さ方向への積層ずれを判定する判定工程と、
を含むことを特徴とする蓄電装置の検査方法。
【請求項２】
前記電極組立体は、複数の前記タブが積層されたタブ群を有し、
前記検出工程は、前記タブ群について前記タブの積層方向の一端から順に他端までの全ての前記タブについて行う請求項１に記載の蓄電装置の検査方法。
【請求項３】
前記電極組立体は、前記正極電極及び前記負極電極の積層方向が鉛直方向と一致するように配置される請求項１又は請求項２に記載の蓄電装置の検査方法。
【請求項４】
前記電極組立体からの前記正極電極のタブの突出方向と前記負極電極のタブの突出方向とを一致させた状態で、
前記正極電極のタブ及び前記負極電極のタブについて、前記検出工程及び前記判定工程を行う請求項１〜請求項３の何れか一項に記載の蓄電装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、シート状の本体部と本体部の一辺の一部から突出した形状のタブとを有する複数の正極電極及び負極電極が絶縁された状態で交互に積層された電極組立体を備えた蓄電装置の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、ＥＶ（Electric Vehicle）やＰＨＶ（Plug in Hybrid Vehicle）などの車両には、電動機などへの供給電力を蓄える蓄電装置としてリチウムイオン二次電池やニッケル水素二次電池などが搭載されている。二次電池は、シート状の正極電極及び負極電極をシート状のセパレータを介して積層した電極組立体と、該電極組立体を収容する直方体状で金属製のケースとを備える（例えば、特許文献１参照）。正極電極及び負極電極は、集電体としての金属箔と、該金属箔の両面又は片面に存在する活物質層とを備える。正極電極及び負極電極は、金属箔の一辺の一部から突出した形状のタブを有する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１４−４９１９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、このような電極組立体では、正極電極及び負極電極が、金属箔の一辺からのタブの突出する方向（高さ方向）にずれて積層されることがある。積層ずれが生じた電極組立体では、例えば、正極電極の活物質層の全面がセパレータを介して負極電極の活物質層に対向しなくなることで、二次電池におけるエネルギー密度が低下してしまう。このため、電極組立体において正極電極及び負極電極が積層ずれしているか否かを判定する二次電池の検査が行われている。例えば、特許文献１では、負極電極に形成された孔と正極電極を収納するセパレータに形成された孔の位置によって積層ずれを判定している。しかしながら、この方法では、負極電極及びセパレータに検査用の孔を形成しなければならず、二次電池の製造工程が煩雑になる。
【０００５】
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、その目的は、電極組立体における正極電極又は負極電極の積層ずれを容易に判定できる蓄電装置の検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記問題点を解決するための蓄電装置の検査方法は、シート状の本体部と前記本体部の一辺の一部から突出した形状のタブとを有する複数の正極電極及び負極電極が絶縁された状態で交互に積層された電極組立体を備えた蓄電装置の検査方法であって、前記正極電極のタブの突出方向に沿う方向を前記正極電極の高さ方向、又は前記負極電極のタブの突出方向に沿う方向を前記負極電極の高さ方向、としたとき、前記正極電極のタブ又は前記負極電極のタブを、前記タブが突出する前記本体部と同一平面上に存在させた状態で、前記タブについて突出方向の先端部の位置を検出する検出工程と、検出された前記先端部の位置に基づいて、前記電極組立体における前記正極電極の高さ方向又は前記負極電極の高さ方向への積層ずれを判定する判定工程と、を含むことを要旨とする。
【０００７】
電極組立体において、タブを、タブが突出する本体部と同一平面上に存在させた状態、すなわちタブを平坦に延ばした状態で、タブの突出方向の先端部の位置を検出する。このため、タブの突出方向の先端部の位置を正確に検出できる。複数の正極電極又は負極電極のうち、一部の正極電極又は負極電極が高さ方向に積層ずれしている場合、積層ずれしている正極電極又は負極電極から突出するタブの高さ方向の位置は、積層ずれしていない正極電極又は負極電極から突出するタブの高さ方向の位置と比べて、高くなったり低くなったりする。よって、タブの突出方向の先端部の位置を正確に検出することで、正極電極の高さ方向への積層ずれ、又は負極電極の高さ方向への積層ずれを検出できる。この場合、正極電極又は負極電極に対して検査用の加工等を施す必要が無く、電極組立体における正極電極又は負極電極の積層ずれを容易に判定できる。
【０００８】
また、上記蓄電装置の検査方法について、前記電極組立体は、複数の前記タブが積層されたタブ群を有し、前記検出工程は、前記タブ群について前記タブの積層方向の一端から順に他端までの全ての前記タブについて行うのが好ましい。
【０００９】
これによれば、タブを本体部と同一平面上に存在させる際、積層方向の一端から順に他端までの全てのタブについて行うことで、タブの突出方向の先端部の位置をスムーズに検出できる。
【００１０】
また、上記蓄電装置の検査方法について、前記電極組立体は、前記正極電極及び前記負極電極の積層方向が鉛直方向と一致するように配置されるのが好ましい。
タブ群において、積層方向に撓んだタブと撓んでいないタブとが混在していることがある。このようなタブ群を有する電極組立体を積層方向が水平方向と一致するように支持すると、撓み具合がタブごとに異なる。一方、電極組立体を積層方向が鉛直方向と一致するように支持すると、重力によって全てのタブが撓むため、タブごとの撓み具合が同程度となる。このため、タブを本体部と同一平面上に存在させることが容易になる。
【００１１】
また、上記蓄電装置の検査方法について、前記電極組立体からの前記正極電極のタブの突出方向と前記負極電極のタブの突出方向とを一致させた状態で、前記正極電極のタブ及び前記負極電極のタブについて、前記検出工程及び前記判定工程を行うのが好ましい。
【００１２】
例えば、正極電極の積層ずれを判定した後で負極電極の積層ずれを判定するとき、正極電極のタブの突出方向と負極電極のタブの突出方向が異なる場合、正極電極のタブが検査装置付近に位置する状態から、負極電極のタブが検査装置付近に位置するように電極組立体又は検査装置を移動させる必要がある。これに対し、電極組立体からの正極電極のタブの突出方向と負極電極のタブの突出方向が一致する場合、電極組立体又は検査装置を大幅に移動させる必要がない。よって、蓄電装置の検査効率が向上する。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、電極組立体における正極電極又は負極電極の積層ずれを容易に判定できる蓄電装置の検査方法。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】実施形態の二次電池の分解斜視図。
【図２】電極組立体の分解斜視図。
【図３】電極組立体の平面図。
【図４】（ａ）〜（ｃ）は電極組立体の検査方法を示す側面図。
【図５】（ａ）〜（ｃ）は電極組立体の側面図。
【図６】（ａ）〜（ｃ）は電極組立体の側面図。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、蓄電装置の検査方法を二次電池の検査方法に具体化した一実施形態を図１〜図６にしたがって説明する。
図１に示すように、蓄電装置としての二次電池１０は、ケース１１を備える。二次電池１０は、ケース１１に収容された電極組立体１２を備える。ケース１１は、直方体状のケース本体１３と、ケース本体１３の開口部１３ａを閉塞する矩形平板状の蓋１４とを有する。ケース１１を構成するケース本体１３と蓋１４は、何れも金属製（例えば、ステンレスやアルミニウム）である。また、本実施形態の二次電池１０は、その外観が角型をなす角型電池である。また、本実施形態の二次電池１０は、リチウムイオン電池である。
【００１６】
ケース本体１３は、底面１３ｂと、底面１３ｂに繋がる第１〜第４壁部１３ｃ〜１３ｆとを備える。ケース本体１３は、底面１３ｂの一対の長縁部に繋がる壁部のうちの一方の壁部に第１壁部１３ｃを備え、第１壁部１３ｃと対面する他方の壁部に第２壁部１３ｄを備える。また、ケース本体１３は、第１壁部１３ｃと第２壁部１３ｄとを繋ぎ、底面１３ｂの一対の短縁部に繋がる壁部のうちの一方の壁部に第３壁部１３ｅを備え、第３壁部１３ｅと対面する他方の壁部に第４壁部１３ｆを備える。
【００１７】
二次電池１０は、電極組立体１２から電気を取り出すための正極端子１５と負極端子１６を備える。正極端子１５と負極端子１６は、蓋１４に所定の間隔をあけて並設された一対の孔１４ａからケース１１の外部に露出される。また、正極端子１５及び負極端子１６には、ケース１１から絶縁するためのリング状の絶縁リング１７がそれぞれ取り付けられている。
【００１８】
図２に示すように、電極組立体１２は、シート状の複数の正極電極２０と、負極電極３０と、セパレータ４０とを備える。電極組立体１２は、正極電極２０と負極電極３０との間にセパレータ４０を介在させ、かつ相互に絶縁させた状態で積層した層状構造を備える。なお、正極電極２０と負極電極３０とセパレータ４０を積層した方向を積層方向とする。
【００１９】
正極電極２０は、矩形シート状の正極金属箔（例えばアルミニウム箔）２１と、正極金属箔２１の両面に存在する正極活物質層２２とを有する。正極電極２０は、一対の長辺に沿う縁部のうちの一方の縁部に第１縁部２０ａを備える。正極電極２０は、第１縁部２０ａの一部から突出した形状のタブとしての正極タブ２３を有する。正極タブ２３は、正極活物質層２２が存在せず、正極金属箔２１そのもので構成されている。正極電極２０において、正極タブ２３を除く部分、すなわち正極金属箔２１のうち正極活物質層２２によって覆われた部分を本体部２４とする。以下、正極タブ２３が正極電極２０の第１縁部２０ａから突出する方向を正極タブ２３の突出方向とし、正極タブ２３の突出方向に沿う方向を正極電極２０の高さ方向とする。また、積層方向及び高さ方向と直交する方向を正極電極２０の幅方向とする。
【００２０】
また、正極電極２０は、一対の長辺に沿う縁部のうちの第１縁部２０ａの対辺となる他方の縁部に第２縁部２０ｂを備える。さらに、正極電極２０は、第１縁部２０ａと第２縁部２０ｂ同士を繋ぐ一対の短辺に沿う縁部のうちの一方の縁部に第３縁部２０ｃを備え、第３縁部２０ｃの対辺となる他方の縁部に第４縁部２０ｄを備える。上述の正極電極２０の高さ方向において、正極タブ２３の突出方向の先端側を高さ方向上側とし、正極電極２０の第２縁部２０ｂ側を高さ方向下側とする。
【００２１】
負極電極３０は、矩形シート状の負極金属箔（例えば銅箔）３１と、負極金属箔３１の両面に存在する負極活物質層３２とを有する。負極電極３０は、一対の長辺に沿う縁部のうちの一方の縁部に第１縁部３０ａを備える。負極電極３０は、第１縁部３０ａの一部から突出した形状のタブとしての負極タブ３３を有する。負極タブ３３は、負極活物質層３２が存在せず、負極金属箔３１そのもので構成されている。負極電極３０において、負極タブ３３を除く部分、すなわち負極金属箔３１のうち負極活物質層３２によって覆われた部分を本体部３４とする。以下、負極タブ３３が負極電極３０の第１縁部３０ａから突出する方向を負極タブ３３の突出方向とし、負極タブ３３の突出方向に沿う方向を負極電極３０の高さ方向とする。本実施形態では、負極タブ３３の突出方向は、正極タブ２３の突出方向と一致する。すなわち、負極電極３０の高さ方向は、正極電極２０の高さ方向と一致する。また、積層方向及び高さ方向と直交する方向を負極電極３０の幅方向とする。
【００２２】
また、負極電極３０は、一対の長辺に沿う縁部のうちの第１縁部３０ａの対辺となる他方の縁部に第２縁部３０ｂを備える。さらに、負極電極３０は、第１縁部３０ａと第２縁部３０ｂ同士を繋ぐ一対の短辺に沿う縁部のうちの一方の縁部に第３縁部３０ｃを備え、第３縁部３０ｃの対辺となる他方の縁部に第４縁部３０ｄを備える。上述の負極電極３０の高さ方向において、負極タブ３３の突出方向の先端側を高さ方向上側とし、負極電極３０の第２縁部３０ｂ側を高さ方向下側とする。
【００２３】
セパレータ４０は、矩形シート状の絶縁性材料からなる。セパレータ４０は、正極電極２０と負極電極３０とを絶縁する。セパレータ４０は、一対の長辺に沿う縁部のうちの一方の縁部に第１縁部４０ａを備え、第１縁部４０ａの対辺となる他方の縁部に第２縁部４０ｂを備える。また、セパレータ４０は、第１縁部４０ａと第２縁部４０ｂ同士を繋ぐ一対の短辺に沿う縁部のうちの一方の縁部に第３縁部４０ｃを備え、第３縁部４０ｃの対辺となる他方の縁部に第４縁部４０ｄを備える。
【００２４】
図３に示すように、電極組立体１２を積層方向から見たとき、負極電極３０の第１縁部３０ａの長さは、正極電極２０の第１縁部２０ａの長さより長く、負極電極３０の第２縁部３０ｂの長さは、正極電極２０の第２縁部２０ｂの長さより長い。さらに、負極電極３０の第３縁部３０ｃの長さは、正極電極２０の第３縁部２０ｃの長さより長く、負極電極３０の第４縁部３０ｄの長さは、正極電極２０の第４縁部２０ｄの長さより長い。つまり、負極電極３０は、正極電極２０より一回り大きい。
【００２５】
また、セパレータ４０の第１縁部４０ａの長さは、負極電極３０の第１縁部３０ａの長さと等しく、セパレータ４０の第２縁部４０ｂの長さは、負極電極３０の第２縁部３０ｂの長さと等しい。さらに、セパレータ４０の第３縁部４０ｃの長さは、負極電極３０の第３縁部３０ｃの長さと等しく、セパレータ４０の第４縁部４０ｄの長さは、負極電極３０の第４縁部３０ｄの長さと等しい。つまり、セパレータ４０は、正極電極２０より一回り大きく、負極電極３０と等しい大きさである。
【００２６】
積層ずれが生じていない電極組立体１２を積層方向から見たとき、正極電極２０の第１縁部２０ａ及び第２縁部２０ｂは、高さ方向において負極電極３０及びセパレータ４０の第１縁部３０ａ，４０ａ及び第２縁部３０ｂ，４０ｂよりも内側に位置する。また、正極電極２０の第３縁部２０ｃ及び第４縁部２０ｄは、幅方向において負極電極３０及びセパレータ４０の第３縁部３０ｃ，４０ｃ及び第４縁部３０ｄ，４０ｄよりも内側に位置する。
【００２７】
図１に示すように、各正極電極２０は、それぞれの正極タブ２３が正極電極２０の積層方向に沿って列状に配置されるように積層される。同様に、各負極電極３０は、それぞれの負極タブ３３が、正極タブ２３と重ならないように負極電極３０の積層方向に沿って列状に配置されるように積層される。電極組立体１２は、積層された複数の正極タブ２３が積層方向の一端側から他端側までの範囲に集められた正極タブ群１８を備える。正極タブ群１８には、正極端子１５が電気的に接合される。また、電極組立体１２は、積層された複数の負極タブ３３が積層方向の一端側から他端側までの範囲に集められた負極タブ群１９を備える。負極タブ群１９には、負極端子１６が電気的に接続される。集められる前の正極タブ群１８及び負極タブ群１９の突出方向の先端部１８ａ，１９ａは、高さ方向における電極組立体１２の上端である。高さ方向における正極タブ群１８の突出方向の先端部１８ａの位置を上端位置Ａとする（図３参照）。
【００２８】
電極組立体１２は、蓋１４に対向した端面に正極タブ群１８及び負極タブ群１９が存在するタブ側端面１２ａを備え、ケース本体１３の底面に対向した端面に底側端面１２ｂを備える。電極組立体１２の底側端面１２ｂは、高さ方向における電極組立体１２の下端である。高さ方向における電極組立体１２の底側端面１２ｂの位置を下端位置Ｂとする（図３参照）。また、電極組立体１２は、ケース本体１３の第１壁部１３ｃに対向した端面に第１側面１２ｃを備え、ケース本体１３の第２壁部１３ｄに対向した端面に第２側面１２ｄを備える。第１側面１２ｃは、積層方向の一端に位置する負極電極３０によって形成され、第２側面１２ｄは、積層方向の他端に位置する負極電極３０によって形成される。
【００２９】
次に、正極電極２０及び負極電極３０の高さ方向への積層ずれを検査する方法について説明する。なお、例として正極電極２０の積層ずれを判定する方法について説明するが、負極電極３０についても同様の方法で積層ずれを判定する。
【００３０】
正極電極２０の積層ずれの検査は、正極タブ群１８（正極タブ２３）及び電極組立体１２の底側端面１２ｂを利用して行う。検査工程は、正極タブ群１８の上端位置Ａ及び電極組立体１２の下端位置Ｂを検出する検出工程と、検出された上端位置Ａ及び下端位置Ｂに基づいて正極電極２０の積層ずれを判定する判定工程とを含む。検出工程及び判定工程は、検査装置５０によって行われる。
【００３１】
図４（ａ）〜図４（ｃ）に示すように、検査装置５０は、電極組立体１２が載置される載置台５１を備える。電極組立体１２は、積層方向が鉛直方向と一致するように載置台５１に載置される。本実施形態の電極組立体１２は、第１側面１２ｃが鉛直方向下側、第２側面１２ｄが鉛直方向上側となるように載置される。電極組立体１２の第１側面１２ｃは、載置台５１と当接する。正極タブ群１８及び負極タブ群１９は、電極組立体１２を積層方向から見た平面視で載置台５１からはみ出すように配置される。図示しないが、載置台５１からはみ出した正極タブ群１８及び負極タブ群１９は、後述のタブ押上部５２によって支持されていない場合、重力によって垂れた状態にある。つまり、正極タブ群１８及び負極タブ群１９は、本体部２４，３４と同一平面上に存在しない。
【００３２】
検査装置５０は、正極タブ群１８を押し上げるタブ押上部５２を備える。タブ押上部５２は、正極タブ群１８のうち積層方向の一端に位置する第１正極タブ２３ａの下方に配置される。タブ押上部５２は、積層方向の一端側から他端側（鉛直方向下側から上側）に向けて移動可能である。タブ押上部５２が積層方向の一端側から他端側にかけて移動することによって、正極タブ群１８は積層方向の一端側から他端側に向けて押し上げられる。
【００３３】
検査装置５０は、上端位置Ａ及び下端位置Ｂを検出する位置センサ５３を備える。位置センサ５３は、上端位置Ａを検出する第１位置センサ５３ａと、下端位置Ｂを検出する第２位置センサ５３ｂとを有する。第１及び第２位置センサ５３ａ，５３ｂは、タブ押上部５２が積層方向の一端側から他端側まで移動する間、上端位置Ａ及び下端位置Ｂを検出し続ける。
【００３４】
第１位置センサ５３ａは、正極タブ群１８を積層方向に挟むように対向配置された投光部５４ａ及び受光部５５ａを備える。投光部５４ａは、積層方向の他端側に配置され、受光部５５ａは、積層方向の一端側に配置されている。投光部５４ａは、受光部５５ａに向けて投光し、受光部５５ａは、投光部５４ａから投光された光を受光する。このとき、投光部５４ａから投光された光の一部は、正極タブ群１８によって遮断される。受光部５５ａが受光した受光量から、正極タブ群１８の突出方向の先端部１８ａの位置、すなわち上端位置Ａを検出する。
【００３５】
同様に、第２位置センサ５３ｂは、電極組立体１２の底側端面１２ｂを積層方向に挟むように対向配置された投光部５４ｂ及び受光部５５ｂを備える。投光部５４ｂは、積層方向の他端側に配置され、受光部５５ｂは、積層方向の一端側に配置されている。投光部５４ｂは、受光部５５ｂに向けて投光し、受光部５５ｂは、投光部５４ｂから投光された光を受光する。このとき、投光部５４ｂから投光された光の一部は、電極組立体１２の底側端面１２ｂによって遮断される。受光部５５ｂが受光した受光量から、電極組立体１２の底側端面１２ｂの位置、すなわち下端位置Ｂを検出する。
【００３６】
検査装置５０は、電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘを算出する算出部５６を備える。算出部５６は、第１位置センサ５３ａの受光部５５ａ及び第２位置センサ５３ｂの受光部５５ｂと接続されている。算出部５６は、第１位置センサ５３ａが検出した上端位置Ａと、第２位置センサ５３ｂが検出した下端位置Ｂとの高さ方向の距離である電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘを算出する。算出部５６は、算出した電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘのうち最大値Ｘｍａｘを記憶する記憶部５６ａを備える。
【００３７】
検査装置５０は、記憶部５６ａが記憶した電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘの最大値Ｘｍａｘから、電極組立体１２の積層ずれを判定する判定部５７を備える。判定部５７は、電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘの最大値Ｘｍａｘと、予め設定された電極組立体１２の高さ方向の規定寸法Ｘ０とを比較する。なお、規定寸法Ｘ０は、積層ずれが生じていない電極組立体１２の高さ方向の寸法である。判定部５７は、電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘの最大値Ｘｍａｘが規定寸法Ｘ０よりも大きい場合、正極電極２０が高さ方向へ積層ずれしていると判定する。判定部５７は、電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘの最大値Ｘｍａｘが規定寸法Ｘ０以下の場合、正極電極２０が高さ方向へ積層ずれしていないと判定する。すなわち、電極組立体１２に高さ方向への積層ずれが生じていないと判定する。
【００３８】
以下、正極電極２０及び負極電極３０が高さ方向へ積層ずれしていない場合の検査について詳述する。
例えば、図４（ａ）及び図５（ａ）に示すように、タブ押上部５２が積層方向の一端側にあるとき、正極タブ群１８のうち積層方向の一端に位置する第１正極タブ２３ａは、平坦に延ばされ、第１正極タブ２３ａを有する第１正極電極２００ａの本体部２４ａと同一平面上に存在する。これに対し、他の正極タブ２３は、積層方向に撓んだ状態にある。このため、他の正極タブ２３の先端部は、第１正極タブ２３ａの先端部よりも高さ方向下側に位置する。換言すると、第１正極タブ２３ａの先端部は、他の正極タブ２３の先端部よりも高さ方向上側に位置する。よって、正極タブ群１８の先端部１８ａは、積層方向の一端に位置する第１正極タブ２３ａの先端部によって構成される。第１位置センサ５３ａは、第１正極タブ２３ａの先端部の位置を第１上端位置Ａ１として検出する。一方、電極組立体１２の底側端面１２ｂは、負極電極３０及びセパレータ４０の第２縁部３０ｂ，４０ｂが積層されて構成される。第２位置センサ５３ｂは、電極組立体１２の底側端面１２ｂの位置を第１下端位置Ｂ１として検出する。
【００３９】
その後、図４（ｂ）及び図５（ｂ）に示すように、例えば、タブ押上部５２が積層方向の中央まで移動すると、正極タブ群１８のうち積層方向の中央に位置する第２正極タブ２３ｂは、平坦に延ばされ、第２正極タブ２３ｂを有する第２正極電極２００ｂの本体部２４ｂと同一平面上に存在する。これに対し、他の正極タブ２３は、積層方向に撓んだ状態にある。このため、他の正極タブ２３の先端部は、第２正極タブ２３ｂの先端部よりも高さ方向下側に位置する。換言すると、第２正極タブ２３ｂの先端部は、他の正極タブ２３の先端部よりも高さ方向上側に位置する。よって、正極タブ群１８の先端部１８ａは、積層方向の中央に位置する第２正極タブ２３ｂの先端部によって構成される。第１位置センサ５３ａは、第２正極タブ２３ｂの先端部の位置を第２上端位置Ａ２として検出する。一方、電極組立体１２の底側端面１２ｂは、負極電極３０及びセパレータ４０の第２縁部３０ｂ，４０ｂが積層されて構成される。第２位置センサ５３ｂは、電極組立体１２の底側端面１２ｂの位置を第２下端位置Ｂ２として検出する。第２上端位置Ａ２は第１上端位置Ａ１と一致し、第２下端位置Ｂ２は第１下端位置Ｂ１と一致する。
【００４０】
そして、図４（ｃ）及び図５（ｃ）に示すように、例えば、タブ押上部５２が積層方向の他端側まで移動すると、正極タブ群１８のうち積層方向の他端に位置する第３正極タブ２３ｃは、平坦に延ばされ、第３正極タブ２３ｃを有する第３正極電極２００ｃの本体部２４ｃと同一平面上に存在する。これに対し、他の正極タブ２３は、積層方向に撓んだ状態にある。このため、他の正極タブ２３の先端部は、第３正極タブ２３ｃの先端部よりも高さ方向下側に位置する。換言すると、第３正極タブ２３ｃの先端部は、他の正極タブ２３の先端部よりも高さ方向上側に位置する。よって、正極タブ群１８の先端部１８ａは、積層方向の他端に位置する第３正極タブ２３ｃの先端部によって構成される。第１位置センサ５３ａは、第３正極タブ２３ｃの先端部の位置を第３上端位置Ａ３として検出する。一方、電極組立体１２の底側端面１２ｂは、負極電極３０及びセパレータ４０の第２縁部３０ｂ，４０ｂが積層されて構成される。第２位置センサ５３ｂは、電極組立体１２の底側端面１２ｂの位置を第３下端位置Ｂ３として検出する。第３上端位置Ａ３は第１及び第２上端位置Ａ１，Ａ２と一致し、第３下端位置Ｂ３は、第１及び第２下端位置Ｂ１，Ｂ２と一致する。
【００４１】
このように、タブ押上部５２が積層方向の一端側から他端側にかけて移動する間に、積層方向の一端に位置する第１正極タブ２３ａから他端に位置する第３正極タブ２３ｃにかけて順番に正極電極２０の本体部２４と同一平面上に存在する。正極タブ群１８の先端部１８ａは、正極電極２０の本体部２４と同一平面上に存在する正極タブ２３の先端部によって構成される。なお、電極組立体１２の底側端面１２ｂは、タブ押上部５２の積層方向の位置によらず、負極電極３０及びセパレータ４０の第２縁部３０ｂ，４０ｂが積層されて構成される。そして、高さ方向への積層ずれが生じていない電極組立体１２の場合、第１〜第３上端位置Ａ１〜Ａ３は、高さ方向において一定の位置に存在する。同様に、第１〜第３下端位置Ｂ１〜Ｂ３は、高さ方向において一定の位置に存在する。
【００４２】
算出部５６は、第１〜第３上端位置Ａ１〜Ａ３と第１〜第３下端位置Ｂ１〜Ｂ３との距離から電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘ１〜Ｘ３を算出する。寸法Ｘ１〜Ｘ３は、同じ寸法となり、算出部５６の記憶部５６ａは、例えば寸法Ｘ１を最大値Ｘｍａｘとして記憶する。判定部５７は、寸法Ｘ１（最大値Ｘｍａｘ）と規定寸法Ｘ０とを比較する。なお、上述したように、電極組立体１２は高さ方向への積層ずれが生じていないため、寸法Ｘ１は規定寸法Ｘ０と同じ寸法である。よって、判定部５７は、正極電極２０が積層ずれしていないと判定する。
【００４３】
以下、正極電極２０及び負極電極３０が高さ方向へ積層ずれしている場合の検査について詳述する。例として、複数の正極電極２０のうち、積層方向の中央に位置する１枚の正極電極２０に高さ方向への積層ずれが生じている場合について説明する。なお、タブ押上部５２が積層方向の一端側や他端側にあるときの正極タブ群１８の突出方向の先端部１８ａ（第１及び第３上端位置Ａ１，Ａ３）及び電極組立体１２の底側端面１２ｂ（第１及び第３下端位置Ｂ１，Ｂ３）は、積層ずれしていない場合と同様であるため、説明を省略する。
【００４４】
例えば、図６（ｂ）に示す電極組立体１２０ａでは、複数の正極電極２０のうち、積層方向の中央に位置する１枚の第２正極電極２００ｂが高さ方向上側にずれた状態で積層されている。この場合、タブ押上部５２が積層方向の中央まで移動すると、正極タブ群１８のうち積層方向の中央に位置する第２正極タブ２３ｂは、平坦に延ばされ、第２正極タブ２３ｂを有する第２正極電極２００ｂの本体部２４ｂと同一平面上に存在する。このとき、正極タブ群１８の先端部１８ａは、積層方向の中央に位置する第２正極タブ２３ｂの先端部によって構成される。第１位置センサ５３ａは、第２正極タブ２３ｂの先端部の位置を第２上端位置Ａ２ａとして検出する。一方、電極組立体１２の底側端面１２ｂは、負極電極３０及びセパレータ４０の第２縁部３０ｂ，４０ｂが積層されて構成される。第２位置センサ５３ｂは、電極組立体１２の底側端面１２ｂの位置を第２下端位置Ｂ２ａとして検出する。
【００４５】
算出部５６は、第１上端位置Ａ１と第１下端位置Ｂ１との距離から電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘ１ａを算出する。また、算出部５６は、第２上端位置Ａ２ａと第２下端位置Ｂ２ａとの距離から電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘ２ａを算出し、第３上端位置Ａ３と第３下端位置Ｂ３との距離から電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘ３ａを算出する。
【００４６】
ここで、積層方向の中央に位置する第２正極電極２００ｂは高さ方向上側にずれているため、第２正極タブ２３ｂの先端部は、積層ずれしていない場合の第２正極タブ２３ｂの先端部（図６（ａ）参照）よりも高さ方向上側に位置する。すなわち、第２上端位置Ａ２ａは、積層ずれしていない場合の第２上端位置Ａ２よりも高さ方向上側に位置する。第２下端位置Ｂ２ａは、積層ずれしていない場合の第２下端位置Ｂ２と一致する。よって、寸法Ｘ２ａは、寸法Ｘ１ａ，Ｘ３ａより長くなる。算出部５６の記憶部５６ａは、寸法Ｘ２ａを最大値Ｘｍａｘとして記憶する。判定部５７は、寸法Ｘ２ａ（最大値Ｘｍａｘ）が規定寸法Ｘ０よりも大きいことから、正極電極２０が積層ずれしていると判定する。
【００４７】
例えば、図６（ｃ）に示す電極組立体１２０ｂでは、複数の正極電極２０のうち、積層方向の中央に位置する１枚の第２正極電極２００ｂが高さ方向下側にずれた状態で積層されている。この場合、タブ押上部５２が積層方向の中央まで移動すると、正極タブ群１８のうち積層方向の中央に位置する第２正極タブ２３ｂは、平坦に延ばされ、第２正極タブ２３ｂを有する第２正極電極２００ｂの本体部２４ｂと同一平面上に存在する。第２正極電極２００ｂは、高さ方向下側にずれているため、第２正極タブ２３ｂの先端部は、積層方向に隣り合う第４正極タブ２３ｄの先端部よりも高さ方向下側に位置する。換言すると、第４正極タブ２３ｄの先端部は、第２正極タブ２３ｂの先端部よりも高さ方向上側に位置する。このとき、正極タブ群１８の先端部１８ａは、第４正極タブ２３ｄの先端部によって構成される。第１位置センサ５３ａは、第４正極タブ２３ｄの先端部の位置を第２上端位置Ａ２ｂとして検出する。一方、電極組立体１２の底側端面１２ｂは、高さ方向下側にずれている第２正極電極２００ｂの第２縁部２０ｂによって構成される。第２位置センサ５３ｂは、第２正極電極２００ｂの第２縁部２０ｂの位置を第２下端位置Ｂ２ｂとして検出する。
【００４８】
算出部５６は、第１上端位置Ａ１と第１下端位置Ｂ１との距離から電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘ１ａを算出する。また、算出部５６は、第２上端位置Ａ２ｂと第２下端位置Ｂ２ｂとの距離から電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘ２ｂを算出し、第３上端位置Ａ３と第３下端位置Ｂ３との距離から電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘ３ａを算出する。
【００４９】
ここで、積層方向の中央に位置する第２正極電極２００ｂは高さ方向下側にずれているため、第２上端位置Ａ２ｂは、積層ずれしていない場合の第２上端位置Ａ２よりも僅かに高さ方向下側に位置する。また、第２下端位置Ｂ２ｂは、積層ずれしていない場合の第２下端位置Ｂ２よりも高さ方向下側に位置する。よって、寸法Ｘ２ｂは、寸法Ｘ１ｂ，Ｘ３ｂより長くなる。算出部５６の記憶部５６ａは、寸法Ｘ２ｂを最大値Ｘｍａｘとして記憶する。判定部５７は、寸法Ｘ２ｂ（最大値Ｘｍａｘ）が規定寸法Ｘ０よりも大きいことから、正極電極２０が積層ずれしていると判定する。
【００５０】
次に、本実施形態の効果を作用とともに記載する。
（１）電極組立体１２において、各正極タブ２３を本体部２４と同一平面上に存在させた状態、すなわち各正極タブ２３を平坦に延ばした状態で、正極タブ２３の突出方向の先端部（正極タブ群１８の突出方向の先端部１８ａ）の位置を検出する。このため、積層方向のいずれの位置でも正極タブ群１８の突出方向の先端部１８ａを構成する正極タブ２３の位置を正確に検出できる。例えば、複数の正極電極２０のうち、積層方向の中央に位置する第２正極電極２００ｂが高さ方向に積層ずれしている場合、積層ずれしている第２正極電極２００ｂから突出する第２正極タブ２３ｂの高さ方向の位置は、積層ずれしていない正極電極２０から突出する正極タブ２３の高さ方向の位置と比べて、高くなったり低くなったりする。このような検査方法により、電極組立体１２において、正極電極２０の高さ方向への積層ずれ、又は負極電極３０の高さ方向への積層ずれを検出できる。この場合、正極電極２０又は負極電極３０に対して検査用の加工等を施す必要が無く、電極組立体１２における正極電極２０又は負極電極３０の積層ずれを容易に判定できる。
【００５１】
（２）正極タブ２３を本体部２４と同一平面上に存在させる際、積層方向の一端から順に他端までの全ての正極タブ２３について行うことで、上端位置Ａをスムーズに検出できる。
【００５２】
（３）正極タブ群１８において、積層方向に撓んだ正極タブ２３と撓んでいない正極タブ２３とが混在していることがある。このような正極タブ群１８を有する電極組立体１２を積層方向が水平方向と一致するように支持すると、撓み具合が正極タブ２３ごとに異なる。一方、電極組立体１２を積層方向が鉛直方向と一致するように支持すると、重力によって全ての正極タブ２３が撓むため、正極タブ２３ごとの撓み具合が同程度となる。このため、タブ押上部５２によって正極タブ２３を本体部２４と同一平面上に存在させることが容易になる。
【００５３】
（４）例えば、正極電極２０の積層ずれを判定した後で負極電極３０の積層ずれを判定するとき、電極組立体１２からの正極タブ２３の突出方向と負極タブ３３の突出方向が異なる場合、正極タブ２３が検査装置５０付近に位置する状態から、負極タブ３３が検査装置５０付近に位置するように電極組立体１２又は検査装置５０を移動させる必要がある。これに対し、電極組立体１２からの正極タブ２３の突出方向と負極タブ３３の突出方向が一致する場合、電極組立体１２又は検査装置５０を大幅に移動させる必要がない。よって、二次電池１０の検査効率が向上する。
【００５４】
なお、上記実施形態は、以下のように変更してもよい。
○  正極電極２０は、正極金属箔２１の片面に正極活物質層２２が存在する構造でもよい。同様に、負極電極３０は、負極金属箔３１の片面に負極活物質層３２が存在する構成でもよい。
【００５５】
○  正極電極２０の本体部２４は、正極活物質層２２によって覆われていない部分を備えていてもよい。同様に、負極電極３０の本体部３４は、負極活物質層３２によって覆われていない部分を備えていてもよい。
【００５６】
○  負極電極３０の外形は、正極電極２０の外形と同じ大きさ、又は正極電極２０の外形より小さくてもよい。
○  セパレータ４０の外形は、正極電極２０及び負極電極３０のうち外形が大きい方の電極の外形より大きくてもよい。
【００５７】
○  電極組立体１２は、複数の正極電極２０と複数の負極電極３０とをセパレータ４０を介して交互に積層した構造であったが、電極組立体１２の構造はこれに限定されない。例えば、電極組立体１２は、正極電極を収納した電極収納セパレータと負極電極とを交互に積層した構造であってもよい。
【００５８】
○  上記実施形態では、電極組立体１２からの正極タブ２３の突出方向と負極タブ３３の突出方向は一致していたが、異なっていてもよい。
○  上記実施形態では、上端位置Ａ及び下端位置Ｂを検出し、上端位置Ａと下端位置Ｂとの距離から算出された電極組立体１２の高さ方向の寸法Ｘによって積層ずれを判定したが、下端位置Ｂの検出を省略し、上端位置Ａによって積層ずれを判定してもよい。この場合、各正極タブ２３の上端位置Ａが高さ方向における規定の範囲外にあるとき、積層ずれしていると判定し、高さ方向における規定の範囲内にあるとき、積層ずれしていないと判定する。
【００５９】
○  タブ押上部５２は、積層方向の他端側から一端側に向けて移動させてもよい。
○  上記実施形態では、各正極タブ２３と本体部２４とを同一平面上に存在させる際、積層方向の一端側から他端側にかけて順番に行ったが、順番に行わなくてもよい。
【００６０】
○  上記実施形態では、算出部５６の記憶部５６ａが、算出された電極組立体１２の寸法Ｘのうち最大値Ｘｍａｘを記憶し、判定部５７は、寸法Ｘの最大値Ｘｍａｘと規定寸法Ｘ０とを比較し、積層ずれを判定していた。しかしながら、記憶部５６ａを省略してもよい。この場合、判定部５７は、電極組立体１２の寸法Ｘが算出される毎に、規定寸法Ｘ０と比較し、積層ずれを判定する。
【００６１】
○  上記実施形態では、複数の正極電極２０のうち１枚の正極電極２０が高さ方向に積層ずれしている例を挙げたが、複数の正極電極２０が積層ずれしている場合についても同様に検査できる。
【００６２】
○  上記実施形態では、複数の正極電極２０のうち、積層方向の中央に位置する第２正極電極２００ｂが積層ずれしている例を挙げたが、積層方向の他の位置にある正極電極２０が積層ずれしている場合についても同様に検査できる。
【００６３】
○  上記実施形態では、電極組立体１２からの正極電極２０及び負極電極３０の積層方向が鉛直方向と一致するように、電極組立体１２を載置台５１上に載置して検査したが、正極電極２０及び負極電極３０の積層方向が水平方向と一致するように電極組立体１２を支持して検査してもよい。
【００６４】
○  二次電池１０は、リチウムイオン二次電池でもよいし、他の二次電池であってもよい。要は、正極用の活物質と負極用の活物質との間をイオンが移動するとともに電荷の授受を行うものであればよい。
【００６５】
○  蓄電装置は、例えばキャパシタなど、二次電池以外の蓄電装置にも適用可能である。
次に、上記実施形態及び別例から把握できる技術的思想を、その効果とともに記載する。
【００６６】
（イ）検出工程では、高さ方向における電極組立体の底側端面の位置を検出し、判定工程では、タブの突出方向の先端部の位置及び電極組立体の底側端面の位置から算出される電極組立体の高さ方向の寸法に基づいて、電極組立体の高さ方向への積層ずれを判定する。
【００６７】
正極電極や負極電極が高さ方向下側に積層ずれしている場合、電極組立体を積層方向から見ると、ずれているタブの突出方向の先端部は他のタブによって隠れた状態になる。このため、ずれているタブの先端部を検出しづらい。しかしながら、タブの先端部に加えて、電極組立体の底側端面の位置を検出することで、高さ方向下側への積層ずれの検出が容易になる。
【００６８】
（ロ）判定工程では、電極組立体の高さ方向の寸法の最大値と電極組立体の高さ方向の規定寸法とを比較することによって、電極組立体の高さ方向への積層ずれを判定する。
これによれば、算出された電極組立体の高さ方向の寸法を全て、規定寸法と比較する場合よりも、効率良く検査できる。
【符号の説明】
【００６９】
１０…蓄電装置としての二次電池、１２…電極組立体、２０…正極電極、２３…タブとしての正極タブ、２４…本体部、３０…負極電極、３３…タブとしての負極タブ、３４…本体部。
【図１】
2018190507.tif 000003
【図２】
2018190507.tif 000004
【図３】
2018190507.tif 000005
【図４】
2018190507.tif 000006
【図５】
2018190507.tif 000007
【図６】
2018190507.tif 000008