(57)【要約】【課題】プラント機器等を制御する制御装置に対する模擬信号試験を効率化することができる模擬信号試験装置を得る。【解決手段】模擬信号試験装置１００は、試験対象のアナログ入力カードが実装されたＰＩＯ基板９２のＰＩＯ基板情報から試験対象のアナログ入力カードの型番を読み出すアナログ入力カード情報読出部１２２と、試験対象のアナログ入力カードの型番に対応するレンジ幅を取得するレンジ幅取得部１２３と、レンジ幅及び模擬信号情報からカウント値を演算するカウント値演算部１２４と、模擬信号生成器９４及びカウント値演算部１２４に模擬信号情報を送信する模擬信号情報保存部１２７と、模擬信号が入力された試験対象のアナログ入力カードによって出力されたカウント値と、カウント値部１２４によって演算されたカウント値とを比較して、試験対象のアナログ入力カードの異常の有無を判定する異常判定部１２８を備えた。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験対象のＰＩＯカードが実装されたＰＩＯ基板のＰＩＯ基板情報から前記試験対象のＰＩＯカードの型番を読み出すＰＩＯカード情報読出部と、
必要に応じて前記試験対象のＰＩＯカードの型番に対応する演算パラメータを取得し、前記演算パラメータ及び作業者が入力した模擬信号情報から出力値を演算する出力値演算部と、
前記作業者が入力した模擬信号情報を保存して、前記模擬信号情報に基づいて模擬信号を生成し前記試験対象のＰＩＯカードに送信する模擬信号生成器、及び前記出力値演算部に前記模擬信号情報を送信する模擬信号情報保存部と、
前記模擬信号が入力された前記試験対象のＰＩＯカードによって出力された出力値と、前記出力値演算部によって演算された出力値とを比較して、前記試験対象のＰＩＯカードの異常の有無を判定する異常判定部と、
前記異常判定部の判定結果を出力する試験結果出力部と
を備えたことを特徴とする模擬信号試験装置。
【請求項２】
前記出力値演算部は、型番に対応させてアナログ入力カードのレンジ幅が登録されたアナログ入力カード情報登録部と、前記アナログ入力カード情報登録部を参照してアナログ入力カードのレンジ幅を取得するレンジ幅取得部を備え、前記試験対象のＰＩＯカードがアナログ入力カードである場合に、試験対象のアナログ入力カードのレンジ幅及び前記模擬信号情報からカウント値を演算することを特徴とする請求項１に記載の模擬信号試験装置。
【請求項３】
前記出力値演算部は、型番に対応させてパルス入力カードのカウント範囲が登録されたパルス入力カード情報登録部と、前記パルス入力カード情報登録部を参照してパルス入力カードのカウント範囲を取得するカウント範囲取得部を備え、前記試験対象のＰＩＯカードがパルス入力カードである場合に、試験対象のパルス入力カードのカウント範囲及び前記模擬信号情報から出力カウント値を演算することを特徴とする請求項１または２に記載の模擬信号試験装置。
【請求項４】
前記出力値演算部は、前記試験対象のＰＩＯカードがディジタル入力カードである場合に、前記模擬信号情報からディジタル値を演算することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の模擬信号試験装置。
【請求項５】
前記模擬信号情報保存部は、予め設定された順序に従って、前記出力値演算部と前記模擬信号生成器に前記模擬信号情報を送信することを特徴とする請求項１から４のいずれか１項に記載の模擬信号試験装置。
【請求項６】
前記試験結果出力部は、模擬信号試験の進捗状況を出力することを特徴とする請求項１から５のいずれか１項に記載の模擬信号試験装置。
【請求項７】
前記試験結果出力部は、予め定められた印刷フォーマットで印刷装置に試験結果を印刷させることを特徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載の模擬信号試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、プラント機器等を制御する制御装置に対して模擬信号試験を実施する模擬信号試験装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
プラント機器等を制御する制御装置は、制御対象機器からのプロセス信号による計装ループ試験等を行うことにより異常の有無や精度が判定される。このような試験は、制御対象機器と制御装置を接続し、制御対象機器からの実際のプロセス信号を制御装置に入力する場合もあるが、模擬信号を制御装置に入力する模擬信号試験も広く行われている。従来、模擬信号試験を実施するための装置として、現場計器が出力するプロセス値を模した模擬信号を記録可能な記録用信号に変換し、この記録用信号を試験結果として記録するものがあった（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１４−８５８８８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
模擬信号試験では、現場の制御対象機器に応じた種類の模擬信号を選択しなければならない。どの種類の模擬信号が制御対象機器に対応しているかは、制御装置のプロセス入出力基板（ＰＩＯ基板）に取り付けられた入出力カード（ＰＩＯカード）の種類を確認すれば知ることができる。ここで、上記特許文献１の技術では制御対象機器に応じた模擬信号の選択を現場試験員が行う必要があるが、大規模なプラントの場合、必要な模擬信号試験は数万点にも及ぶことがあり、都度入出力カードの確認を行うことで試験時間が非常に長期化する。また、誤入力により正確な試験結果を得ることができなくなる可能性もある。特に制御対象機器がアナログ計器である場合、アナログ入力カードがプロセス値から変換するカウント値を知る必要があるが、カウント値への変換はアナログ入力カードのレンジ幅によって異なるので、０−４０００、０−３２７６７などのレンジ幅のうち試験対象のアナログ入力カードのレンジ幅が何であるかを確認する必要もある。このため、模擬信号試験の実施に要する時間がさらに長期化し、誤入力の可能性もより大きくなっていた。
【０００５】
この発明は、上述のような問題点を解決するためになされたもので、プラント機器等を制御する制御装置に対する模擬信号試験を効率化することができる模擬信号試験装置を得るものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明の模擬信号試験装置は、試験対象のＰＩＯカードが実装されたＰＩＯ基板のＰＩＯ基板情報から試験対象のＰＩＯカードの型番を読み出すＰＩＯカード情報読出部と、必要に応じて試験対象のＰＩＯカードの型番に対応する演算パラメータを取得し、演算パラメータ及び作業者が入力した模擬信号情報から出力値を演算する出力値演算部と、作業者が入力した模擬信号情報を保存して、模擬信号情報に基づいて模擬信号を生成し試験対象のＰＩＯカードに送信する模擬信号生成器、及び出力値演算部に模擬信号情報を送信する模擬信号情報保存部と、模擬信号が入力された試験対象のＰＩＯカードによって出力された出力値と、出力値演算部によって演算された出力値とを比較して、試験対象のＰＩＯカードの異常の有無を判定する異常判定部と、異常判定部の判定結果を出力する試験結果出力部とを備えたものである。
【発明の効果】
【０００７】
この発明によれば、プラント機器等を制御する制御装置に対する模擬信号試験を効率化することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】この発明の実施の形態１における模擬信号試験装置のハードウェア構成の概略を示す図である。
【図２】この発明の実施の形態１における模擬信号試験装置を示すブロック図である。
【図３】この発明の実施の形態１において表示装置が表示する画面の一例を示す図である。
【図４】この発明の実施の形態１における模擬信号試験装置の動作を示すフロー図である。
【図５】この発明の実施の形態２における模擬信号試験装置を示すブロック図である。
【図６】この発明の実施の形態２において表示装置が表示する画面の一例を示す図である。
【図７】この発明の実施の形態３における模擬信号試験装置を示すブロック図である。
【図８】この発明の実施の形態３において表示装置が表示する画面の一例を示す図である。
【図９】この発明の実施の形態４における模擬信号試験装置を示すブロック図である。
【図１０】この発明の実施の形態４において表示装置が表示する画面の一例を示す図である。
【図１１】この発明の実施の形態５における模擬信号試験装置を示すブロック図である。
【図１２】この発明の実施の形態６における模擬信号試験装置を示すブロック図である。
【図１３】この発明の実施の形態６において表示装置が表示する画面の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
実施の形態１．
以下に、この発明の実施の形態１を図１から図４に基づいて説明する。図１は実施の形態１における模擬信号試験装置のハードウェア構成の概略を示す図、図２は実施の形態１における模擬信号試験装置を示すブロック図であり、図３は実施の形態１において表示装置が表示する画面の一例を示す図である。なお、実施の形態１では、試験対象のＰＩＯカードがアナログ入力カードであることを想定している。エンジニアリング装置１０１に備えられた模擬信号試験装置１００は、ハードディスク等の記憶装置１１０、ＣＰＵ等のプロセッサ１２０を備えている。エンジニアリング装置１０１とは、作業者が操作するパソコン等であり、模擬信号試験装置１００への入力を受け付ける入力装置１３１及び模擬信号試験装置からの出力を表示する表示装置１３２を備えている。入力装置１３１は、マウス、キーボード、タッチパネル等であり、表示装置１３２は、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、ＣＲＴ等である。
【００１０】
エンジニアリング装置１００は、プラント機器等の制御対象機器を制御する制御装置９０と通信ケーブル９５を介して接続されており、図示しない送受信装置によって制御装置及び模擬信号試験装置との間でデータや信号等の送受信が可能となっている。制御装置９０は、制御指令を演算するＣＰＵ等のプロセッサ９１と、複数のＰＩＯカード９３Ａ〜９３Ｅが実装されたＰＩＯ基板９２と、ＰＩＯカード９３Ａ〜９３Ｅのうち、模擬信号試験の試験対象となったＰＩＯカードに入力する模擬信号を生成する模擬信号生成器９４とを備えている。ＰＩＯカード９３Ａ〜９３Ｅは、制御対象機器からの信号の出力又は制御対象機器への信号の入力を行う同種又は異種の入出力カードであり、より具体的には、アナログ入力カード、アナログ出力カード、ディジタル入力カード、ディジタル出力カード、パルス入力カードである。ＰＩＯ基板９２に実装されるＰＩＯカードの種類及び枚数は、各現場の制御対象機器によって異なる。なお、上記ハードウェア構成については、特に記載のある場合を除き実施の形態２以降も同様である。
【００１１】
模擬信号試験装置１００は、図２に示すようにＰＩＯ基板９２に実装されている全てのＰＩＯカードの種類、型番や枚数、配列などの情報からなるＰＩＯ基板情報を読み出すＰＩＯ基板情報読出部１２１と、ＰＩＯ基板情報読出部１２１が読み出したＰＩＯ基板情報のうち、ＰＩＯ基板９２に実装されているアナログ入力カードの型番などのアナログ入力カード情報を読み出すアナログ入力カード情報読出部１２２と、試験対象のアナログ入力カードの型番及び後述する模擬信号情報から出力値としてのカウント値を演算するアナログ入力用出力値演算部１６０とを備えている。アナログ入力用出力値演算部１６０は、アナログ入力カードの型番に対応させてレンジ幅等の情報が登録されたアナログ入力カード情報登録部１１１と、アナログ入力カード情報登録部１１１を参照して試験対象のアナログ入力カードの型番に対応するレンジ幅を取得し、取得したレンジ幅を演算パラメータとしてカウント値演算部１２４に送信するレンジ幅取得部１２３とを備えている。
【００１２】
カウント値演算部１２４は、模擬信号情報保存部１２７から受信した模擬信号情報に含まれる模擬信号の入力信号値及びレンジ幅取得部１２３から受信したレンジ幅から、ＰＩＯ基板９２に実装されている試験対象のアナログ入力カードが出力するカウント値を演算し、演算したカウント値を工学値演算部１２５及び異常判定部１２８に送信する。例えば、レンジ幅が４００−３６００で入力信号値が０％、５０％、１００％の場合、算出されるカウント値は４００、２０００、３６００である。なお、入力信号値がレンジオーバーである場合、カウント値はゼロとする。
【００１３】
工学値演算部１２５は、カウント値演算部１２４から取得したカウント値より模擬信号の種類に応じた工学値を演算し、演算した工学値を試験結果表示部１２６に送信する。
【００１４】
模擬信号情報保存部１２７は、入力装置１３１によって作業者が入力した模擬信号の種類及び入力信号値を模擬信号情報として一時的に保存し、所定のタイミングでカウント値演算部１２４、工学値演算部１２５及び模擬信号生成器９４に送信する。
【００１５】
異常判定部１２８は、ＰＩＯ基板９２に実装された試験対象のアナログ入力カードにより出力されるカウント値と、カウント値演算部１２４によって演算されたカウント値とを比較して、試験対象のアナログ入力カードの異常の有無を判定し、判定結果を試験結果出力部１２６に送信する。
【００１６】
試験結果出力部１２６は、工学値演算部１２５の演算結果や異常判定部１２８の判定結果を取得し、表示装置１３２に試験結果及び試験の進捗状況を出力する。なお、試験結果は試験結果ファイルとして記憶装置１１０や外部の記憶装置に記憶させてもよい。
【００１７】
模擬信号試験の実施に用いられる試験パラメータ１５１及び試験プログラム１５２は、記憶装置１１０に保存されており、試験開始時に通信ケーブル９５を介して制御装置９０のプロセッサ９１に転送される。試験パラメータ１５１は、試験対象となるアナログ入力カードが取り付けられたスロットの番号など、試験対象のアナログ入力カードを特定する
パラメータや、試験対象となるアナログ入力カードに必要な設定を有している。試験プログラム１５２は、プロセッサ９１において実行されるもので、試験対象のアナログ入力カードから異常判定部１２８にカウント値を送信させる命令等、模擬信号試験の実施に必要な命令を有している。試験パラメータ１５１や試験プログラム１５２については、エンジニアリング装置１０１を用いて設定・作成行ってもよいし、予め外部で設定・作成したものをエンジニアリング装置に取り込んでも良い。
【００１８】
アナログ入力カード情報登録部１１１は、記憶装置１１０によって実現される。ＰＩＯ基板情報読出部１２１、アナログ入力カード情報読出部１２２、レンジ幅取得部１２３、カウント値演算部１２４、工学値演算部１２５、試験結果出力部１２６、模擬信号情報保存部１２７及び異常判定部１２８は、プロセッサ１２０及び図示しないメモリ等の一時記憶装置によって実現される。
【００１９】
図３は、実施の形態１において表示装置が表示する画面の一例を示す図である。入力信号選択部１７１は、「０％」、「５０％」、「１００％」「レンジオーバー」のように入力信号値を示す選択ボタンを有している。
試験結果表示部１７２は、「信号名称」「スパン」「現在値」「進捗状況」「試験結果」を表形式で表示するものである。「信号名称」は、模擬信号試験で用いるアナログ入力信号の名称を示している。「スパン」は、模擬信号試験で用いるアナログ入力信号の下限値及び上限値であり、アナログ入力信号の種類により異なる。「現在値」は試験を実施中のアナログ入力信号の入力信号値を工学値で表したものである。なお、試験を実施中のアナログ入力信号について、工学値演算部１２５でカウント値から工学値への変換を行う際にセンサーエラーが検出された場合には「センサーエラー」の欄に「●」を表示し、検出されなかった場合は「○」を表示している。「進捗状況」は、それぞれの信号名称及び入力信号値毎に模擬信号試験の進捗を示すもので、初期状態では「○」を表示しておき、試験が完了した場合に表示を「●」に変化させる。「試験結果」は、それぞれの信号名称毎の試験結果を示すもので、全ての入力信号値について異常がなければ「問題なし」と表示し、いずれかの入力信号値でエラーがあった場合はその旨とエラーが検出された入力信号値を表示する。
【００２０】
次に、動作について説明する。図４は、実施の形態１における模擬信号試験装置の動作を示すフロー図である。まず、試験パラメータ１５１及び試験プログラム１５２を制御装置９０のプロセッサ９１に転送し、試験用プログラム１５２を実行させる（ステップＳＴ０１）。
試験用プログラム１５２の動作開始後、ＰＩＯ基板情報読出部１２１によりＰＩＯ基板９２のＰＩＯ基板情報を読み出す。ＰＩＯ基板情報読出部１２１は、記憶装置１１０に保存されている試験パラメータ１５１を参照して、読み出したＰＩＯ基板情報と試験パラメータ１５１との整合性を確認する。（ステップＳＴ０２）この整合性の確認では、試験パラメータが指定する試験対象のアナログ入力カードがＰＩＯカード９２に実装されているか、試験パラメータ１５１による設定と読み出されたＰＩＯ基板情報との間に不整合はないかなどの確認が行われる。
【００２１】
ＰＩＯ基板９２のＰＩＯ基板情報と試験パラメータ１５１との間の整合性の確認後、ＰＩＯ基板情報読出部１２１がＰＩＯ基板情報から試験対象のアナログ入力カードの型番を読み出し、レンジ幅を取得する。（ステップＳＴ０３）。より具体的には、まずアナログ入力カード情報読出部１２２によりＰＩＯ基板情報読出部１２１から受信したＰＩＯ基板情報より試験対象のアナログ入力カードの型番を取り出してレンジ幅取得部１２３に送信する。次に、レンジ幅取得部１２３によりアナログ入力カード情報登録部１１１を参照して試験対象のアナログ入力カードの型番に対応するレンジ幅を取得する。取得したレンジ幅は、カウント値演算部１２４に送信される。
【００２２】
次に、模擬信号試験に用いる模擬信号の種類及び入力信号値を作業者が入力する（ステップＳＴ０４）。模擬信号の入力は、入力信号選択部１７１にて入力信号値を選択し、試験結果表示部１７２に表示されている信号名称の中から模擬信号の種類を選択して入力する。入力された入力信号値及び模擬信号の種類は、都度模擬信号情報保存部１２７に保存される。なお、模擬信号情報のうち、入力信号値と模擬信号の種類はどちらを先に入力してもよい。また、説明の便宜上模擬信号の入力をステップＳＴ０３のレンジ幅取得後としているが、ステップＳＴ０４の模擬信号の入力は、ステップＳＴ０１以降であればどのタイミングでよく、ステップＳＴ０２やステップＳＴ０３と並行して行ってもよい。
【００２３】
模擬信号情報保存部１２７は、模擬信号試験に用いる模擬信号の種類と入力信号値の両方が選択されると、これらの模擬信号情報をカウント値演算部１２４、工学値演算部１２５及び模擬信号生成器９４に送信する（ステップＳＴ０５）。
【００２４】
次に、模擬信号試験装置１００側でカウント値及び工学値を演算するとともに、制御装置９０側で模擬信号をカウント値に変換する（ステップＳＴ０６）。具体的には、模擬信号情報の入力信号値とレンジ幅からカウント値演算部１２４により模擬信号に対応するカウント値を演算し、演算したカウント値を工学値演算部１２５及び異常判定部１２８に送信する。工学値演算部１２５は、受信したカウント値とスパンから工学値を演算し、演算した工学値を試験結果表示部１２６に送信する。これらの演算と並行して、制御装置９０では模擬信号生成器９４が模擬信号情報に基づいて模擬信号を生成し、生成した模擬信号を試験対象のアナログ入力カードに入力する。試験対象のアナログ入力カードは、入力された模擬信号をカウント値に変換して出力する。このカウント値は、ＰＩＯ基板９２により異常判定部１２８に送信される。
【００２５】
次に、２つのカウント値（カウント値演算部１２４によって演算されたカウント値及び試験対象のアナログ入力カードによって変換されたカウント値）を異常判定部１２８によって比較し、異常の有無を判定する（ステップＳＴ０７）。判定後、判定結果を試験結果出力部１２６に送信する。
【００２６】
次に、試験結果出力部１２６により試験結果を出力する（ステップＳＴ０８）。試験結果は、図３に示した試験結果表示部１７２を都度更新することで表示する。
【００２７】
実施の形態１によれば、プラント機器等を制御する制御装置に対する模擬信号試験を効率化することができる。より具体的には、異常の有無の判定に用いるカウント値の演算にあたり、演算に必要なレンジ幅をレンジ幅取得部がアナログ入力カード情報登録部より取得している。アナログ入力カード情報登録部ではアナログ入力カードの型番に対応させてレンジ幅が登録されており、試験対象のアナログ入力カードの型番は、アナログ入力カード情報読出部がＰＩＯ基板情報から読み出している。このため、作業者自身が試験対象のアナログ入力カードの型番やレンジ幅を確認する必要がなく、模擬信号試験の実施に要する時間を短縮できるとともに、誤入力の可能性も小さくすることができ、模擬信号試験を効率化することができる。
【００２８】
また、試験結果表示部に実施中の模擬信号試験の進捗状況を表示するため、実施ミスや試験忘れを防ぐことができる。
【００２９】
実施の形態２．
以下に、この発明の実施の形態２を図５及び図６に基づいて説明する。なお、図１から図４と同一又は相当部分については同一の符号を付し、その説明を省略する。図５は、実施の形態２における模擬信号試験装置を示すブロック図である。エンジニアリング装置２
０１に備えられた模擬信号試験装置２００は、模擬信号試験に用いる入力信号値の順序（例えば、０％→５０％→１００％→センサーエラー）を指定する設定ファイル１５３を備えている点が実施の形態１の模擬信号試験装置１００と異なる。模擬信号情報保存部２２７は、予め設定ファイル１５３を読み込み、設定ファイル１５３が指定する順序に従って模擬信号情報をカウント値演算部１２５、工学値演算部１２５及び模擬信号生成器９４に送信する。なお、設定ファイル１５３は、記憶装置１１０に記憶させておいてもよいし、模擬信号試験開始時に外部から取り込んでもよい。
【００３０】
模擬信号情報保存部１２７から模擬信号情報を受信したカウント値演算部１２４は、実施の形態１と同様にしてカウント値の演算を順次行い、演算結果を工学値演算部１２５及び異常判定部１２８に送信する。また、カウント値演算部１２４からカウント値を受信した工学値演算部は、実施の形態１と同様にして工学値の演算を順次行い、演算結果を試験結果表示部に送信する。模擬信号生成器９４も同様に、模擬信号情報に基づいて模擬信号を生成し、生成した模擬信号を試験対象のアナログ入力カードに入力する。試験対象のアナログ入力カードによって変換されたカウント値は、ＰＩＯ基板９２により異常判定部１２８に送信される。
【００３１】
図６は、実施の形態２において表示装置が表示する画面の一例を示す図である。図に示すように、入力信号選択部２７１は、実施の形態１の入力信号選択部１７１が有していた入力信号値のボタンに加えて「次へ」ボタンを有している。この「次へ」ボタンが選択された場合、模擬信号情報保存部１２７は、設定ファイル１５３が指定する次の入力信号値が入力されたと認識し、次の入力信号値を含む模擬信号情報をカウント値演算部１２４及び模擬信号生成器９４に送信する。
その他については実施の形態１と同様であるので、その説明を省略する。
【００３２】
実施の形態２によれば、実施の形態１と同様の効果を得ることができる。
【００３３】
また、設定ファイルが指定する入力信号値の順序に従って、模擬信号情報保存部が模擬信号情報を順次カウント値演算部及び制御装置９０に送信するため、試験の重複実施や試験漏れを防ぎ、模擬信号試験をさらに効率化することができる。
【００３４】
実施の形態３．
以下に、この発明の実施の形態３を図７及び図８に基づいて説明する。なお、実施の形態３では、試験対象のＰＩＯカードがディジタル入力カードであることを想定している。また、図１から図６と同一又は相当部分については同一の符号を付し、その説明を省略する。図７は、実施の形態３における模擬信号試験装置を示すブロック図である。エンジニアリング装置３０１に備えられた模擬信号試験装置３００は、図７に示すようにＰＩＯ基板情報読出部１２１と、ＰＩＯ基板情報読出部１２１が読み出したＰＩＯ基板情報のうち、ＰＩＯ基板９２に実装されているディジタル入力カードの定格電流や定格電圧などのディジタル入力カード情報を読み出し、ディジタル値演算部３２４に送信するディジタル入力カード情報読出部３２２と、試験対象のディジタル入力カードのディジタル入力カード情報及び模擬信号情報から出力値としてのディジタル値を演算するディジタル入力用出力値演算部３６０とを備えている。
【００３５】
ディジタル入力用出力値演算部３６０に設けられたディジタル値演算部３２４は、模擬信号情報保存部３２７から受信した模擬信号情報に含まれる模擬信号の入力信号値及びディジタル入力カード情報読出部３２２から取得したディジタル入力カード情報から、ＰＩＯ基板９２に実装されている試験対象のディジタル入力カードが出力するディジタル値を演算し、演算したディジタル値を試験結果出力部１２６及び異常判定部１２８に送信する。ディジタル値演算部３２４の演算結果は、０又は１で出力される。
【００３６】
模擬信号情報保存部３２７は、入力装置１３１によって作業者が入力した模擬信号の種類及び入力信号値（ＯＮ又はＯＦＦ）を模擬信号情報として一時的に保存し、所定のタイミングでディジタル値演算部３２４及び模擬信号生成器９４に送信する。
【００３７】
異常判定部３２８は、ＰＩＯ基板９２に実装された試験対象のディジタル入力カードにより出力されたディジタル値と、ディジタル値演算部３２４によって演算されたディジタル値とを比較して、試験対象のディジタル入力カードの異常の有無を判定し、判定結果を試験結果出力部１２６に送信する。
【００３８】
試験結果出力部３２６は、異常判定部１２８の判定結果を取得し、表示装置１３２に試験結果及び試験の進捗状況を出力する。
【００３９】
図８は、実施の形態３において表示装置が表示する画面の一例を示す図である。入力信号選択部３７１は、「ＯＮ」、「ＯＦＦ」のように入力信号値を示す選択ボタンを有している。
試験結果表示部３７２は、「信号名称」「現在値」「進捗状況」「試験結果」を表形式で表示するものである。「信号名称」は、模擬信号試験で用いるディジタル入力信号の名称を示している。「現在値」は試験を実施中のディジタル入力信号の入力信号値を表したものである。「進捗状況」は、それぞれの信号名称及び入力信号値毎に模擬信号試験の進捗を示すもので、初期状態では「○」を表示しておき、試験が完了した場合に表示を「●」に変化させる。「試験結果」は、それぞれの信号名称毎の試験結果を示すもので、全ての入力信号値について異常がなければ「問題なし」と表示し、いずれかの入力信号値でエラーがあった場合はその旨とエラーが検出された入力信号値を表示する。
その他については実施の形態１と同様であるので、その説明を省略する。
【００４０】
実施の形態３によれば、試験対象がディジタル入力カードの場合でも実施の形態１と同様の効果を得ることができる。
【００４１】
実施の形態４．
以下に、この発明の実施の形態４を図９及び図１０に基づいて説明する。なお、実施の形態４では、試験対象のＰＩＯカードがパルス入力カードであることを想定している。また、図１から図６と同一又は相当部分については同一の符号を付し、その説明を省略する。図９は、実施の形態４における模擬信号試験装置を示すブロック図である。エンジニアリング装置４０１に備えられた模擬信号試験装置４００は、図９に示すようにＰＩＯ基板情報読出部１２１と、ＰＩＯ基板情報読出部１２１が読み出したＰＩＯ基板情報のうち、ＰＩＯ基板９２に実装されているパルス入力カードの型番などのパルス入力カード情報を読み出すパルス入力カード情報読出部４２２と、試験対象のパルス入力カードの型番及び模擬信号情報から出力値としての出力カウント値を演算するパルス入力用出力値演算部４６０とを備えている。パルス入力用出力値演算部４６０は、パルス入力カードの型番に対応させてカウント値範囲等の情報が登録されたパルス入力カード情報登録部４１１と、パルス入力カード情報登録部４１１を参照してパルス入力カード情報読出部４２２が読み出した試験対象のパルス入力カードの型番に対応するカウント範囲を取得し、取得したカウント範囲を演算パラメータとして出力カウント値演算部４２４に送信するカウント範囲取得部４２３とを備えている。
【００４２】
出力カウント値演算部４２４は、模擬信号情報保存部４２７から受信した模擬信号情報に含まれる入力カウント値及びカウント範囲取得部４２３から受信したカウント範囲から、ＰＩＯ基板９２に実装されている試験対象のパルス入力カードが出力する出力カウント値を演算し、演算した出力カウント値を試験結果出力部４２６及び異常判定部４２８に送信する。ここで、出力カウント値の演算は、入力カウント値が１カウントＵＰする毎に前回の出力カウント値に１カウント分の足し込みを行い、今回の出力カウント値とする演算を繰り返す。また、足し込みを行った結果がカウント範囲を上回る場合は、カウント一周したとして、出力カウント値はゼロとする。
【００４３】
模擬信号情報保存部４２７は、入力装置１３１によって作業者が入力した模擬信号の種類及び最大カウント値を模擬信号情報として一時的に保存し、１カウントずつカウントＵＰさせながら、最大カウント値に達するまで入力カウント値を順次出力カウント値演算部４２４及び模擬信号生成器９４に送信する。
【００４４】
異常判定部４２８は、ＰＩＯ基板９２に実装された試験対象のパルス入力カードにより出力される出力カウント値と、出力カウント値演算部４２４によって演算された出力カウント値とを比較して、試験対象のパルス入力カードの異常の有無を判定し、判定結果を試験結果出力部４２６に送信する。なお、異常の有無の判定において、入力カウント値がカウント値上限以下のときはカウントＵＰに関する判定となり、入力カウント値がカウント値上限を上回ったときはカウント一周に関する判定となる。
【００４５】
試験結果出力部４２６は、出力カウント値演算部４２４の演算結果や異常判定部４２８の判定結果を取得し、表示装置１３２に試験結果及び試験の進捗状況を出力する。
【００４６】
図１０は、実施の形態４において表示装置が表示する画面の一例を示す図である。入力信号選択部４７１は、「１カウント」「１０カウント」「１００カウント」「カードカウント最終」のように、模擬信号試験おける最大カウント値を示す選択ボタンと、設定ファイル１５３で指定する順序により試験を実施することを指示する「次へ」ボタンを有している。
試験結果表示部４７２は、「信号名称」「カウント値（上限値及び現在値）」「進捗状況」「試験結果」を表形式で表示するものである。「信号名称」は、模擬信号試験で用いるパルス入力信号の名称を示している。「カウント値」の「上限値」は、試験対象のパルス入力カードのカウント範囲の上限値であり、「現在値」は試験を実施中の模擬信号の入力カウント値を表したものである。「進捗状況」は、「カウントＵＰ」「カウント一周」のそれぞれについて信号名称毎に模擬信号試験の進捗を示すもので、初期状態では「○」を表示しておき、試験が完了した場合に表示を「●」に変化させる。「試験結果」は、それぞれの信号名称及び試験項目毎の試験結果を示すもので、「カウントＵＰ」及び「カウント一周」の双方について異常がなければ「問題なし」と表示し、いずれかでエラーがあった場合はその旨とエラーが検出された試験項目を表示する
その他については実施の形態１と同様であるので、その説明を省略する。
【００４７】
実施の形態４によれば、試験対象がパルス入力カードの場合でも実施の形態１と同様の効果を得ることができる。
【００４８】
実施の形態５．
以下に、この発明の実施の形態５を図１１に基づいて説明する。なお、図１から図６と同一又は相当部分については同一の符号を付し、その説明を省略する。図１１は、実施の形態５における模擬信号試験装置を示すブロック図である。エンジニアリング装置５０１に備えられた模擬信号試験装置５００は、実施の形態２の模擬信号試験装置２００に印刷機能を追加したものであり、図１１に示すように試験結果出力部５２６の出力先が表示装置１３２及び印刷装置９６となっている。試験結果を印刷装置９６に出力する場合、試験結果出力部５２６は、試験結果を印刷装置９６に出力し、印刷設定ファイル１５４が指定する印刷フォーマットで印刷装置９６から印刷結果９７を出力させる。印刷設定ファイル１５４は、印刷結果９７の図枠など印刷フォーマットに関する情報が記述されたものであ
り、記憶装置１１０に記憶させておいてもよいし、模擬信号試験開始時に外部から取り込んでもよい。
その他については実施の形態２と同様であるので、その説明を省略する。
【００４９】
実施の形態５によれば、実施の形態２と同様の効果を得ることができる。
【００５０】
また、試験結果を表示装置に表示させるだけでなく、印刷装置から印刷させることが可能である。
【００５１】
なお、実施の形態５では実施の形態２に印刷機能を追加したが、同様にして実施の形態１、３及び４に印刷機能を追加してもよい。
【００５２】
実施の形態６．
以下に、この発明の実施の形態６を図１２及び図１３に基づいて説明する。なお、図１から図６と同一又は相当部分については同一の符号を付し、その説明を省略する。図１２は、実施の形態６における模擬信号試験装置を示すブロック図である。エンジニアリング装置６０１に備えられた模擬信号試験装置６００は、図に示すようにＰＩＯ基板情報読出部１２１と、ＰＩＯ基板情報読出部１２１が読み出したＰＩＯ基板情報からＰＩＯ基板９２に実装されたＰＩＯカード９３Ａ〜９３ＥのＰＩＯカード情報（アナログ入力カード情報、ディジタル入力カード情報及びパルス入力カード情報）を読み出すＰＩＯカード情報読出部６２２と、実施の形態１の説明で説明したアナログ入力用出力値演算部１６０と、実施の形態３の説明で説明したディジタル入力用出力値演算部３６０と、実施の形態４の説明で説明したパルス入力用出力値演算部４６０とを備えている。
【００５３】
ＰＩＯカード情報読出部６２２は、アナログ入力カード情報読出部１２２（図示なし）、ディジタル入力カード情報読出部３２２（図示なし）、パルス入力カード情報読出部４２２（図示なし）を有している。それぞれの入力カード情報読出部は上記実施の形態１、３、４で説明したものと同様である。ＰＩＯカード情報読出部６２２は、ＰＩＯ基板情報に含まれるアナログ入力カード情報をアナログ入力カード情報読出部１２２により読み出し、ディジタル入力カード情報をディジタル入力カード情報読出部３２２により読み出す。また、パルス入力カード情報をパルス入力カード情報読出部４２２により読み出す。さらに、試験パラメータ１５１を参照して試験対象のＰＩＯカードがアナログ入力カード、ディジタル入力カード、パルス入力カードのいずれかであるかを特定し、試験対象がアナログ入力カードである場合は、読み出したアナログ入力カード情報をアナログ入力用出力値演算部１６０に送信する。また、試験対象がディジタル入力カードである場合は、読み出したディジタル入力カード情報をディジタル入力用出力値演算部３６０に送信する。試験対象がパルス入力カードである場合は、読み出したパルス入力カード情報をパルス入力用出力値演算部４６０に送信する。
【００５４】
アナログ入力用出力値演算部１６０は、実施の形態１の場合と同様にして試験対象のアナログ入力カードの型番及び模擬信号情報保存部６２７から受信した模擬信号情報から出力値としてのカウント値を演算し、異常判定部６２８に送信する。また、カウント値から演算した工学値を試験結果出力部６２６に送信する。
【００５５】
ディジタル入力用出力値演算部３６０は、実施の形態３の場合と同様にして試験対象のディジタル入力カード情報及び模擬信号情報保存部６２７から受信した模擬信号情報から出力値としてのディジタル値を演算し、試験結果表示部６２６及び異常判定部６２８に送信する。
【００５６】
パルス入力用出力値演算部４６０は、実施の形態１の場合と同様にして試験対象のパル
ス入力カードの型番及び模擬信号情報保存部６２７から受信した模擬信号情報から出力値としての出力カウント値を演算し、試験結果表示部６２６及び異常判定部６２８に送信する。
【００５７】
模擬信号情報保存部６２７は、入力装置１３１によって作業者が入力した模擬信号の種類及び入力信号値を模擬信号情報として一時的に保存し、保存している模擬信号情報を所定のタイミングでアナログ入力用出力値演算部１６０、ディジタル入力用出力値演算部３６０、パルス入力用出力値演算部４６０及び模擬信号生成器９４に送信する。
【００５８】
異常判定部６２８は、ＰＩＯ基板９２に実装された試験対象のＰＩＯカードが出力した出力値（カウント値、ディジタル値、又は出力カウント値）と、アナログ入力用出力値演算部１６０、ディジタル入力用出力値演算部３６０又はパルス入力用出力値演算部４６０の演算結果とを比較して、試験対象のＰＩＯカードの異常の有無を判定し、判定結果を試験結果出力部６２６に送信する。
【００５９】
試験結果出力部６２６は、異常判定部６２８の判定結果を取得し、表示装置１３２に試験結果及び試験の進捗状況を出力する。
【００６０】
図１３は、実施の形態６において表示装置が表示する画面の一例を示す図である。
ＰＩＯカード種類選択部６７３は、アナログ入力カード、ディジタル入力カード、パルス入力カードのいずれを試験対象とするかを示すボタンを有している。入力信号選択部６７１は、アナログ入力、ディジタル入力、パルス入力のそれぞれについて、入力信号値を示す選択ボタンを有している。また、設定ファイル１５３で指定する順序により試験を実施することを指示する「次へ」ボタンを有している。
試験結果表示部６７２は、「信号名称」「現在値」「進捗状況」「試験結果」等を表形式で表示するもので、表示内容はＰＩＯカード種類選択部６７３でいずれを選択したかにより異なる。図１３の例ではアナログ入力カードが選択されているため、試験結果表示部６７２の表示は、実施の形態１の試験結果表示部１７２と同様になっている。
【００６１】
実施の形態６によれば、実施の形態１〜４と同様の効果を得ることができる。
【００６２】
また、アナログ入力カード情報読出部、ディジタル入力カード情報読出部及びパルス入力カード情報読出部を有し、試験対象のＰＩＯカードの種類に応じてアナログ入力用出力値演算部、ディジタル入力用出力値演算部、パルス入力用出力値演算部にＰＩＯカード情報を送信するＰＩＯカード情報読出部と、作業者に試験対象とするＰＩＯカードの種類を選択させるＰＩＯカード種類選択部を備えた。このため、試験対象のＰＩＯカードがアナログ入力カード、ディジタル入力カード又はパルス入力カードのいずれであっても対応可能であり、模擬信号試験の実施の段階で試験対象とするＰＩＯカードの種類を選択することができるので、より効率的に模擬信号試験を実施することができる。
【００６３】
なお、この発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせることが可能である。また、各実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。
【符号の説明】
【００６４】
９０  制御装置、９２  ＰＩＯ基板、９３Ａ〜９３Ｅ  ＰＩＯカード、９４  模擬信号生成器、９６  印刷装置、９７  印刷結果、１００、２００、３００、４００、５００、６００  模擬信号試験装置、１１１  アナログ入力カード情報登録部、１２１  ＰＩＯ基板情報読出部、１２２  アナログ入力カード情報読出部、１２３  レンジ幅取得部、１２４
カウント値演算部、１２５  工学値演算部、１２６、３２６、４２６、５２６、６２６
試験結果出力部、１２７、２２７、３２７、４２７、６２７  模擬信号情報保存部、１
２８、３２８、４２８、６２８  異常判定部、１５３  設定ファイル、１５４  印刷設定ファイル、１６０  アナログ入力用出力値演算部、１７２、３７２、４７２、６７２  試験結果表示部、３２２  ディジタル入力カード情報読出部、３２４  ディジタル値演算部、３６０  ディジタル入力用出力値演算部、４１１  パルス入力カード情報登録部、４２２  パルス入力カード情報読出部、４２３  カウント範囲取得部、４２４  出力カウント値演算部、４６０  パルス入力用出力値演算部、６２２  ＰＩＯカード情報読出部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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