(57)【要約】      （修正有）【課題】互いに異なる高さを有する多様な電子部品の検査に共通して使用できるようになされる微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットを提供する。【解決手段】電子部品ＥＣが装着されるベース１００；ベース１００の上部を覆うか露出させるカバー２００；カバー２００に形成されたカバー雌ねじ部２０１に螺合されて回転操作時に移動する操作ハンドル３００；操作ハンドル３００に形成されたハンドル雌ねじ部３０１に螺合されて回転操作時に移動する調節レバー４１０；及び、カバー２００がベース１００の上部を覆った状態で操作ハンドル３００を回転操作すると、調節レバー４１０によって押されて電子部品ＥＣを加圧するプッシュブロック；を含むことを特徴とする。【選択図】図６
2018190707.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子部品が装着されるベース；
上記ベースの上部を覆うか露出させるカバー；
上記カバーに形成されたカバー雌ねじ部に螺合されて回転操作時に移動する操作ハンドル；
上記操作ハンドルに形成されたハンドル雌ねじ部に螺合されて回転操作時に移動する調節レバー；及び、
上記カバーが上記ベースの上部を覆った状態で上記操作ハンドルを回転操作すると、上記調節レバーによって押されて上記電子部品を加圧するプッシュブロック；を含むことを特徴とする微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケット。
【請求項２】
上記カバー雌ねじ部と上記ハンドル雌ねじ部の中心軸は互いに平行であり、
上記調節レバーが上記プッシュブロックを加圧している状態で上記操作ハンドルが回転操作されても上記調節レバーと上記プッシュブロックとの間の接触面摩擦による上記操作ハンドルと上記調節レバーとの相対回転が防止されるように、上記カバー雌ねじ部と上記ハンドル雌ねじ部のねじ山は互いに反対方向に形成されたことを特徴とする請求項１に記載の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケット。
【請求項３】
上記操作ハンドルは、
回転操作される取っ手；
上記取っ手と一体回転し、円周方向に沿って上記調節レバーの回転操作による移動距離を表示するリングブロック；及び、
上記取っ手と一体回転し、上記カバー雌ねじ部に螺合されるハンドル雄ねじ部；を含むことを特徴とする請求項１に記載の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケット。
【請求項４】
上記調節レバーは、
回転操作され、上記リングブロックに表示された上記調節レバーの回転操作による移動距離を指し示すレバー；及び、
上記レバーと一体回転し、上記ハンドル雌ねじ部に螺合されるレバー雄ねじ部；を含むことを特徴とする請求項３に記載の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケット。
【請求項５】
上記調節レバーは、上記レバーと一体回転し、円周方向の外面に沿って多数の係合溝が形成された係部を含み、
上記リングブロックには、上記操作ハンドルを基準とする上記調節レバーの相対回転時、上記係合溝に係合または離脱する係合体と、上記係合体を上記係合溝の方に加圧する弾性手段とが装着されたことを特徴とする請求項４に記載の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケット。
【請求項６】
上記プッシュブロックは、上記カバーに設けられた弾性部材によって上記調節レバーの方に加圧されることを特徴とする請求項１に記載の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケット。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットに関し、より詳しくは、互いに異なる高さを有する多様な電子部品の検査に共通して使用できるようになされる微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットに関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体、ＬＣＤモジュール、イメージセンサ、カメラモジュールなどは、各部品の組み立て完了後、実装される電子部品と同一の作動信号及び電源を供給して正常動作するか否かなどを確認する品質検査を受ける。
【０００３】
テストソケットは、検査機の信号がＬＣＤモジュールやカメラモジュールなどに伝達可能なようにＬＣＤモジュールやカメラモジュールなどを検査機と連結する装置である。
【０００４】
これに関連して、本出願人によって出願された韓国登録特許公報第１０３２９８０号には、半導体チップ検査用ソケットが開示されている。韓国登録特許公報第１０３２９８０号は、半導体チップが装着される装着部を形成した胴部と、胴部の上部に備えられ上記装着部が露出するように中央に開放ホールを形成した連結部と、連結部が上記胴部の上部に分離可能に結合する結束部と、連結部の一側にヒンジ連結されて上記開放ホールを開閉する蓋部と、蓋部に備えられ蓋部の閉鎖状態を維持し、半導体チップを下方に加圧する作動部とを含み、結束部は、連結部の両側面にヒンジ連結され下部に係り突起が突出形成されたリブと、連結部とリブの上側の間に介在してリブを弾性支持する弾性支持部材と、胴部に形成されリブの回転方向によって弾性支持部材の圧縮時にロック突起と分離され、また弾性支持部材の弾性復元時にロック突起が結合される係合溝部とを含むことを特徴とする。
【０００５】
韓国登録特許公報第１０３２９８０号の半導体チップ検査用ソケットは、蓋部を閉じてハンドルだけ回す単純な作業により半導体チップの接続状態を維持することができて作業の利便性が向上するとの利点がある。
【０００６】
しかし、韓国登録特許公報第１０３２９８０号の半導体チップ検査用ソケットは、互いに異なる高さを有する多様な半導体チップの検査に共通して使用することができないという問題があった。すなわち、韓国登録特許公報第１０３２９８０号の半導体チップ検査用ソケットは、蓋部１３０の閉鎖状態を維持した状態で作業者が蓋部１３０の上部に備えられたハンドル１６４を回転させると、蓋部１３０の中央と螺合された昇降体１６２がねじ山に沿って下降し、昇降体１６２の下部に備えられた加圧部材１７０が下降して半導体チップの上部を加圧することになり、昇降体１６２の下降距離、すなわち、加圧部材１７０の下降距離が一定に固定されることにより、互いに異なる高さを有する多様な半導体チップの検査に共通して使用することができず、テストする半導体チップが変わると検査用ソケットを交換しなければならないという不便があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】韓国登録特許公報第１０３２９８０号(登録日：２０１１.０４.２７)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明の目的は、互いに異なる高さを有する多様な電子部品の検査に共通して使用できるようになされる微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的は、本発明によって、電子部品が装着されるベース；上記ベースの上部を覆うか露出させるカバー；上記カバーに形成されたカバー雌ねじ部に螺合されて回転操作時に移動する操作ハンドル；上記操作ハンドルに形成されたハンドル雌ねじ部に螺合されて回転操作時に移動する調節レバー；及び、上記カバーが上記ベースの上部を覆った状態で上記操作ハンドルを回転操作すると、上記調節レバーによって押されて上記電子部品を加圧するプッシュブロック；を含むことを特徴とする微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットによって達成される。
【００１０】
上記カバー雌ねじ部と上記ハンドル雌ねじ部の中心軸は互いに平行であり、上記調節レバーが上記プッシュブロックを加圧している状態で上記操作ハンドルが回転操作されても上記調節レバーと上記プッシュブロックとの間の接触面摩擦による上記操作ハンドルと上記調節レバーとの相対回転が防止されるように、上記カバー雌ねじ部と上記ハンドル雌ねじ部のねじ山は互いに反対方向に形成されるようになされることができる。
【００１１】
上記操作ハンドルは、回転操作される取っ手；上記取っ手と一体回転し、円周方向に沿って上記調節レバーの回転操作による移動距離を表示するリングブロック；及び、上記取っ手と一体回転し、上記カバー雌ねじ部に螺合されるハンドル雄ねじ部；を含んでなることができる。
【００１２】
上記調節レバーは、回転操作され、上記リングブロックに表示された上記調節レバーの回転操作による移動距離を指し示すレバー；及び、上記レバーと一体回転し、上記ハンドル雌ねじ部に螺合されるレバー雄ねじ部；を含んでなることができる。
【００１３】
上記調節レバーは、上記レバーと一体回転し、円周方向の外面に沿って多数の係合溝が形成された係部を含み、上記リングブロックには、上記操作ハンドルを基準とする上記調節レバーの相対回転時、上記係合溝に係合または離脱する係合体と、上記係合体を上記係合溝の方に加圧する弾性手段とが装着されるようになされることができる。
【００１４】
上記プッシュブロックは、上記カバーに設けられた弾性部材によって上記調節レバーの方に加圧されるようになされることができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、調節レバーが操作ハンドルに形成されたハンドル雌ねじ部に螺合されて回転操作時に移動することにより、互いに異なる高さを有する多様な電子部品の検査に共通して使用できるようになされる微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットを提供することができるようになる。
【００１６】
また、カバー雌ねじ部とハンドル雌ねじ部のねじ山が互いに反対方向に形成されることにより、調節レバーがプッシュブロックを加圧している状態で操作ハンドルが回転操作されても調節レバーとプッシュブロックとの間の接触面摩擦による操作ハンドルと調節レバーとの相対回転が防止されるようになされる微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットを提供することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の一実施例による微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットのカバーが閉まった状態を示した斜視図である。
【図２】図１の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットのカバーが開いた状態を示した斜視図である。
【図３】図１の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットの部分分解斜視図である。
【図４】図１の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットの使用状態を段階的に示した断面図である。
【図５】図１の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットの使用状態を段階的に示した断面図である。
【図６】図１の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットの使用状態を段階的に示した断面図である。
【図７】図１の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットの使用状態を段階的に示した平面図である。
【図８】図１の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットの使用状態を段階的に示した平面図である。
【図９】図１の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットの使用状態を段階的に示した平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
以下、添付図面を参照して本発明の望ましい実施例を詳しく説明すれば次の通りである。但し、本発明の説明において、既に公知の機能或いは構成に関する説明は、本発明の要旨を明瞭にするために省略することにする。
【００１９】
本発明の目的は、互いに異なる高さを有する多様な電子部品の検査に共通して使用できるようになされる微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットを提供することにある。
【００２０】
図１は本発明の一実施例による微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットのカバーが閉まった状態を示した斜視図であり、図２は図１の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットのカバーが開いた状態を示した斜視図であり、図３は図１の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットの部分分解斜視図であり、図４乃至図６は図１の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットの使用状態を段階的に示した断面図であり、図７乃至図９は図１の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットの使用状態を段階的に示した平面図である。
【００２１】
図１乃至図３に示されているように、本発明の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケット１０は、互いに異なる高さを有する多様な電子部品ＥＣの検査に共通して使用できるようになされ、ベース１００、カバー２００、操作ハンドル３００、調節レバー４００及びプッシュブロック５００を含んで構成される。
【００２２】
上記の電子部品ＥＣは、微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケット１０に装着され検査機を通して品質検査を受ける半導体、ＬＣＤモジュール、イメージセンサ、カメラモジュールなどを意味する。図面には電子部品ＥＣとして半導体チップを示した。下では本発明の容易な理解のために図１及び図５に示されている状態で上下を区分して説明することにする。
【００２３】
図２及び図４に示されているように、ベース１００は、電子部品ＥＣが装着される構成であり、回路基板ＰＣＢの上面に載せられた状態でボルトなどによって検査機（図示せず）に装着される。ベース１００には電子部品ＥＣが装着される装着部１１０が形成される。装着部１１０はベース１００の上面において上側に露出される。
【００２４】
微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケット１０は、電子部品ＥＣを検査機と連結するための装置であり、電子部品ＥＣが装着部１１０に装着された状態で電子部品ＥＣの下に形成されたコネクタ（図示せず）は装着部１１０に形成された接続ピン（図示せず）に接続される。接続ピンは回路基板ＰＣＢに連結される。
【００２５】
図１及び図２に示されているように、カバー２００は、ベース１００の上部を覆うか露出させる構成であり、ベース１００に回転可能に結合される。
【００２６】
図２及び図４に示されているように、カバー２００とベース１００は、ピン（以下‘カバーピン２２０’）によって相対回転可能に結合される。カバー２００は、ベース１００を基準に略９０度回転された状態でベース１００に係ってそれ以上の回転が防止される。
【００２７】
カバーピン２２０にはトーションばねが装着される。カバー２００はトーションばねによってベース１００から開く方向に加圧される。電子部品ＥＣはカバー２００とベース１００が略９０度の夾角を形成した状態で装着部１１０に装着される。
【００２８】
図４に示されている状態から使用者がカバー２００をベース１００側に押すと、図５に示されているように、カバー２００がベース１００の上部を覆うことになる。図２及び図４に示されているように、カバー２００にはカバーピン２２０と反対側にホック２１０が形成され、ベース１００にはホック２１０が係る係止突部１２０が形成される。ホック２１０はピン（以下‘ホックピン２１１’）によってカバー２００に回転可能に結合される。
【００２９】
ホックピン２１１にはトーションばねが装着される。ホック２１０はトーションばねによって係止突部１２０に係る方向に回転力を持つようになる。図２に示されているように、ホック２１０はカバー２００がベース１００の上部を覆うとき、係止突部１２０に係ることによりカバー２００がベース１００の上部を覆った状態を維持する。
【００３０】
図５及び図６に示されているように、カバー２００の内部にはプッシュブロック５００が上下方向に移動する空間（以下‘移動空間２００Ａ’)が形成される。移動空間２００Ａは（プッシュブロック５００が電子部品ＥＣを押圧できるように）下側に開放される。
【００３１】
図３に示されているように、カバー２００の上部には操作ハンドル３００のハンドル雄ねじ部３３０が螺合されるカバー雌ねじ部２０１が形成される。カバー雌ねじ部２０１は移動空間２００Ａの上でカバー２００の上部を上下方向に貫通するホール形態を形成する。ホールの内周面にはハンドル雄ねじ部３３０が螺合されるねじ山が形成される。
【００３２】
図３乃至図６に示されているように、操作ハンドル３００は、カバー２００に形成されたカバー雌ねじ部２０１に螺合されて回転操作時に上下方向に移動する構成であり、取っ手３１０、リングブロック３２０及びハンドル雄ねじ部３３０を含んで構成される。
【００３３】
取っ手３１０は、使用者によって回転操作される構成であり、第１リングブロック３２１の上端部にボルト締結される。
【００３４】
リングブロック３２０は、円周方向に沿って調節レバー４００の回転操作による移動距離を表示する構成であり、リングブロック３２０の中央にはレバー雄ねじ部４２０と係部４３０の通過するホールが形成される。
【００３５】
リングブロック３２０は、第１リングブロック３２１及び第２リングブロック３２２を含んで構成される。第１リングブロック３２１と第２リングブロック３２２は互いにボルト締結されて取っ手３１０と一体回転する。
【００３６】
図７乃至図９に示されているように、第１リングブロック３２１の上面には調節レバー４００の回転操作による移動距離を表示するシンボルＳが円周方向に沿って形成される。シンボルＳは数字で表示されることができる。一例として、シンボルＳは、基準位置で‘０’と表示され、基準位置からいずれか一方には‘正数’として増加し、基準位置から他方には‘負数’として増加する。
【００３７】
‘正数’は調節レバー４００の高さが基準位置から低くなることを意味し、‘負数’は調節レバー４００の高さが基準位置から高くなることを意味する。‘正数’及び‘負数’の絶対値は、基準位置とシンボルＳの夾角を３６０度で割った後、レバー雄ねじ部４２０（一条ねじの場合）のねじ山のピッチを掛けた値であり得る。
【００３８】
使用者は操作ハンドル３００を基準として調節レバー４００を回転させながらレバー４１０の確認ホール４１１を通して観察されるシンボルＳの値を読むことで、調節レバー４００の回転操作に従属する調節レバー４００の上下方向移動距離を正確に確認することになる。
【００３９】
図３に示されているように、第２リングブロック３２２には係合体Ｂ及び弾性手段Ｅが装着される。係合体Ｂと弾性手段Ｅは係部４３０と連動して作動する構成であるため、調節レバー４００の説明時に詳しく説明することにする。
【００４０】
図１に示されているように、ハンドル雄ねじ部３３０がカバー雌ねじ部２０１に螺合された状態でリングブロック３２０はカバー２００の上側に配置される。図３に示されているように、カバー２００の上面には突出部２４０が形成され、第２リングブロック３２２には操作ハンドル３００の回転区間を形成する挿入空間Ａが形成される。
【００４１】
突出部２４０は、ハンドル雄ねじ部３３０がカバー雌ねじ部２０１に螺合された状態で挿入空間Ａ内に配置される。挿入空間Ａはハンドル雄ねじ部３３０の回転軸を中心に円弧形態を形成する。
【００４２】
したがって、挿入空間Ａの円周方向両端部は、操作ハンドル３００の回転時に突出部２４０が係る境界をそれぞれ形成する。すなわち、操作ハンドル３００は、ハンドル雄ねじ部３３０の回転軸を基準として大略挿入空間Ａの円周方向両端の夾角だけ回転することができる。
【００４３】
図７及び図８に示されているように、取っ手３１０にはハンドル雄ねじ部３３０の回転軸を中心として両側に‘ＯＰＥＮ’と‘ＴＥＳＴ’という表示がなされ、カバー２００の上面には‘ＣＬＯＳＥ’という表示がなされる。
【００４４】
図７及び図８を基準として、操作ハンドル３００は、‘ＯＰＥＮ’という表示が‘ＣＬＯＳＥ’という表示に一致する地点までだけ反時計方向に回転され、‘ＴＥＳＴ’という表示が‘ＣＬＯＳＥ’という表示に一致する地点までだけ時計方向に回転される。
【００４５】
これは、ハンドル雄ねじ部３３０の回転軸を中心に挿入空間Ａの両端の夾角が略１８０度であり、‘ＯＰＥＮ’及び‘ＴＥＳＴ’という表示が‘ＣＬＯＳＥ’という表示に一致する地点で突出部２４０が挿入空間Ａの両端部にそれぞれ接触したことを意味する。
【００４６】
図３乃至図６に示されているように、ハンドル雄ねじ部３３０は、カバー雌ねじ部２０１に螺合される構成であり、第２リングブロック３２２の下部に結合されて取っ手３１０と一体回転する。
【００４７】
ハンドル雄ねじ部３３０の外面にはカバー雌ねじ部２０１のねじ山に対応するねじ山が形成される。よって、使用者が取っ手３１０を回転操作すると、操作ハンドル３００は取っ手３１０の回転角に比例して上下方向に移動することになる。
【００４８】
操作ハンドル３００が上下方向に移動する距離は、取っ手３１０の回転角を３６０度で割った後、ハンドル雄ねじ部３３０（一条ねじの場合）のねじ山のピッチを掛けた値と一致することができる。
【００４９】
図７及び図８を基準として、‘ＯＰＥＮ’という表示は、取っ手３１０を反時計方向に回したとき、操作ハンドル３００が上昇したことを意味し、‘ＴＥＳＴ’という表示は、取っ手３１０を時計方向に回したとき、操作ハンドル３００が下降したことを意味する。
【００５０】
図７及び図８を基準として、操作ハンドル３００は、０．５周の回転区間を有するため、カバー２００を基準として操作ハンドル３００の‘ＯＰＥＮ’と‘ＴＥＳＴ’の位置間の高低差は、ハンドル雄ねじ部３３０（一条ねじの場合）のピッチの長さの半分と等しい。
【００５１】
勿論、ハンドル雄ねじ部３３０の回転軸を中心に操作ハンドル３００の‘ＯＰＥＮ’と‘ＣＬＯＳＥ’という表示の夾角は略１８０度以外の他の角度（以下‘特定角度’）からなることもできる。このとき、カバー２００を基準として操作ハンドル３００の‘ＯＰＥＮ’と‘ＴＥＳＴ’位置間の高低差は、特定角度を３６０度で割った後、ハンドル雄ねじ部３３０（一条ねじの場合）のねじ山のピッチを掛けた値と等しい。
【００５２】
図３に示されているように、ハンドル雄ねじ部３３０の内部にはハンドル雌ねじ部３０１が形成される。カバー雌ねじ部２０１とハンドル雌ねじ部３０１の中心軸は互いに平行である。カバー雌ねじ部２０１とハンドル雌ねじ部３０１の中心軸は一直線上に形成されることが望ましい。ハンドル雌ねじ部３０１はハンドル雄ねじ部３３０を上下方向に貫通するホール形態を形成する。ホールの内周面にはレバー雄ねじ部４２０が螺合されるねじ山が形成される。
【００５３】
図３乃至図６に示されているように、調節レバー４００は、操作ハンドル３００に形成されたハンドル雌ねじ部３０１に螺合されて回転操作時に移動する構成であり、レバー４１０、レバー雄ねじ部４２０及び係部４３０を含んで構成される。
【００５４】
図７及び図９に示されているように、レバー４１０は、使用者によって回転操作される構成であり、係部４３０の上端部にボルト締結される。レバー４１０は、レバー雄ねじ部４２０がハンドル雌ねじ部３０１に螺合された状態で第１リングブロック３２１の上に配置されて回転操作される。
【００５５】
レバー４１０は、シンボルＳのすぐ上側に確認ホール４１１が形成される。使用者は確認ホール４１１を通してシンボルＳの特定の値を確認することができる。すなわち、レバー４１０は、確認ホール４１１を通して第１リングブロック３２１に表示された調節レバー４００の回転操作による移動距離を指し示すことになる。
【００５６】
再度説明すると、シンボルＳは数字で表示されることができる。シンボルＳは、基準位置で‘０’と表示され、基準位置から反時計方向には‘正数’として増加し、基準位置から時計方向には‘負数’として増加する。
【００５７】
‘正数’は、レバー４１０の反時計方向回転時、調節レバー４００の高さが基準位置から低くなることを意味し、'負数'は、レバー４１０の時計方向回転時、調節レバー４００の高さが基準位置から高くなることを意味する。‘正数’及び‘負数’の絶対値は、基準位置とシンボルＳの夾角を３６０度で割った後、レバー雄ねじ部４２０（一条ねじの場合）のねじ山のピッチを掛けた値であり得る。
【００５８】
使用者は操作ハンドル３００を基準として調節レバー４００を回転させながらレバー４１０の確認ホール４１１を通して観察されるシンボルＳの値を読むことで、調節レバー４００の回転操作に従属する調節レバー４００の上下方向移動距離を正確に確認することになる。
【００５９】
図３に示されているように、係部４３０は、円周方向の外面に沿って多数の係合溝４３１が形成された構成であり、レバー４１０と一体回転することになる。多数の係合溝４３１は、レバー雄ねじ部４２０の回転軸を中心にシンボルＳと同一の角度ごとに凹溝をなす。
【００６０】
リングブロック３２０には、操作ハンドル３００を基準とする調節レバー４００の相対回転時、係合溝４３１に係合または離脱する係合体Ｂと、係合体Ｂを係合溝４３１の方に加圧する弾性手段Ｅとが装着される。係合体Ｂは、係合溝４３１に係合及び離脱が容易なように球形に製作される。弾性手段Ｅは圧縮スプリングであり得る。
【００６１】
したがって、係合体Ｂは、レバー４１０が確認ホール４１１を通してシンボルＳの特定の値を正確に指し示した状態で係合溝４３１に挿入され、使用者はレバー４１０を回転操作して調節レバー４００の上下方向移動距離を正確に調節及び確認することができる。
【００６２】
図３乃至図６に示されているように、レバー雄ねじ部４２０は、ハンドル雌ねじ部３０１に螺合される構成であり、係部４３０と一体に形成される。
【００６３】
レバー雄ねじ部４２０の外面にはハンドル雌ねじ部３０１のねじ山に対応するねじ山が形成される。よって、使用者がレバー４１０を回転操作すると、調節レバー４００はレバー４１０の回転角に比例して上下方向に移動することになる。
【００６４】
調節レバー４００が上下方向に移動する距離は、レバー４１０の回転角（基準位置とシンボルＳの夾角）を３６０度で割った後、レバー雄ねじ部４２０（一条ねじの場合）のねじ山のピッチを掛けた値と一致することができる。
【００６５】
図５及び図６に示されているように、レバー雄ねじ部４２０がハンドル雌ねじ部３０１に螺合された状態でレバー雄ねじ部４２０の下端はハンドル雄ねじ部３３０の下端よりも下に突き出された状態を維持する。
【００６６】
カバー雌ねじ部２０１とハンドル雌ねじ部３０１のねじ山（ハンドル雄ねじ部３３０とレバー雄ねじ部４２０のねじ山）は互いに反対方向に形成される。上述のように、カバー雌ねじ部２０１のねじ山（ハンドル雄ねじ部３３０のねじ山）は右ねじに形成され、ハンドル雌ねじ部３０１のねじ山（レバー雄ねじ部４２０のねじ山）は左ねじに形成されることができる。勿論、カバー雌ねじ部２０１のねじ山（ハンドル雄ねじ部３３０のねじ山）は左ねじに形成され、ハンドル雌ねじ部３０１のねじ山（レバー雄ねじ部４２０のねじ山）は右ねじに形成されることができる。
【００６７】
カバー雌ねじ部２０１とハンドル雌ねじ部３０１のねじ山（ハンドル雄ねじ部３３０とレバー雄ねじ部４２０のねじ山）が互いに反対方向に形成されることにより、調節レバー４００がプッシュブロック５００を加圧している状態で操作ハンドル３００が回転操作されても調節レバー４００とプッシュブロック５００との間の接触面摩擦による操作ハンドル３００と調節レバー４００との相対回転が防止される。調節レバー４００とプッシュブロック５００との間の接触面摩擦による操作ハンドル３００と調節レバー４００との相対回転が防止されるメカニズムの詳しい説明は、使用状態の説明とともに後述することにする。
【００６８】
図５及び図６に示されているように、プッシュブロック５００は、調節レバー４００によって押されて電子部品ＥＣを加圧する構成であり、胴体５１０及び押圧部５２０から構成される。胴体５１０及び押圧部５２０はそれぞれ直方体のブロック形態をなす。
【００６９】
胴体５１０は、カバー２００に設けられた弾性部材２３０によって調節レバー４００側に加圧される。カバー２００の上端部にはボルトが挿入される挿入ホール２０２が形成され、ボルトは挿入ホール２０２に挿入された状態で胴体５１０に形成された締結ホール５１１に結合される。弾性部材２３０は挿入ホール２０２内でボルトヘッドを上方に加圧する。よって、胴体５１０の上面はレバー雄ねじ部４２０の底面に接触した状態を維持する。
【００７０】
押圧部５２０は、電子部品ＥＣの上面を加圧する構成であり、胴体５１０の下端部に形成される。押圧部５２０は、ゴムなど柔らかい材質で製作されることが望ましい。
【００７１】
下では、本発明の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケット１０の使用状態を詳しく説明することにする。
【００７２】
微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケット１０を用いて電子部品ＥＣのテストを開始する前に、レバー４１０は電子部品ＥＣの高さに応じてシンボルＳの特定の値を指し示す状態に回転される。
【００７３】
一例として、検査する電子部品ＥＣの高さが２ｍｍであるとき、レバー４１０の確認ホール４１１がシンボルＳ‘０’を指し示すと押圧部５２０が適正圧力で電子部品ＥＣを押し、電子部品ＥＣの高さが２．３ｍｍであるとき、レバー４１０の確認ホール４１１がシンボルＳ‘−０．２’を指し示すと押圧部５２０が適正圧力で電子部品ＥＣを押すことができる場合、使用者は電子部品ＥＣの高さに応じて押圧部５２０が適正圧力で電子部品ＥＣを押すようにレバー４１０を回転させる（図７及び図９参照)。
【００７４】
また、使用者は、電子部品ＥＣのテストを開始する前に、取っ手３１０の‘ＯＰＥＮ’表示がカバー２００の‘ＣＬＯＳＥ’表示と一致するかを確認しなければならない。
【００７５】
上記の事項が完了した後、カバー２００が開いた状態（図２参照）で使用者は装着部１１０に電子部品ＥＣを装着させた後（図４参照）、カバー２００を閉める（図１及び図５参照）。
【００７６】
図５に示されているように、電子部品ＥＣを装着させた後にカバー２００を閉めた状態で、押圧部５２０の底面は電子部品ＥＣの上面と離隔している。図７は、図５の状態の平面図である。
【００７７】
以後、使用者は、図８に示されているように、ハンドルを時計方向に回して取っ手３１０の‘ＴＥＳＴ’表示をカバー２００の‘ＣＬＯＳＥ’表示と一致させる。
【００７８】
図６は、図８の状態の断面図である。図６に示されているように、取っ手３１０の‘ＴＥＳＴ’表示をカバー２００の‘ＣＬＯＳＥ’表示と一致させると、プッシュブロック５００がレバー雄ねじ部４２０の底面によって押されて下降することにより、押圧部５２０が電子部品ＥＣを下に加圧し、電子部品ＥＣの下に形成されたコネクタ（図示せず）は、装着部１１０に形成された接続ピン（図示せず）に完全に接続される。
【００７９】
取っ手３１０を時計方向に回して（特に、押圧部５２０が電子部品ＥＣを加圧しながら）プッシュブロック５００を下降させる過程で、レバー雄ねじ部４２０の底面（胴体５１０との接触面）には反時計方向の摩擦力が加えられる。また、レバー雄ねじ部４２０には弾性部材２３０の弾性回復力が上方に作用する。
【００８０】
したがって、レバー雄ねじ部４２０のねじ山がハンドル雄ねじ部３３０と同一の方向（右ねじ）に形成されれば、レバー雄ねじ部４２０は（レバー雄ねじ部４２０に加えられる反時計方向の摩擦力及び上方に作用する弾性回復力によって）ハンドル雌ねじ部３０１と噛み合った状態で反時計方向に回転しながら上方に移動し得る。
【００８１】
取っ手３１０を時計方向に回してプッシュブロック５００を下降させる過程で、レバー雄ねじ部４２０がハンドル雌ねじ部３０１と噛み合った状態で反時計方向に回転すると、押圧部５２０が適正圧力よりも小さい力で電子部品ＥＣを押すことになるため、電子部品ＥＣの下に形成されたコネクタと装着部１１０に形成された接続ピンとの接続不良が起きることになる。
【００８２】
しかし、上述のように、本発明の微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケット１０は、ハンドル雄ねじ部３３０とレバー雄ねじ部４２０のねじ山が互いに反対方向に形成されるため、レバー雄ねじ部４２０に反時計方向の摩擦力が加えられても上方に作用する弾性回復力により下方への移動が遮断されて、ハンドル雌ねじ部３０１と噛み合った状態で反時計方向に回転する現象が防止される。
【００８３】
検査機による電子部品ＥＣのテストが完了したら、使用者はハンドルを反時計方向に回して取っ手３１０の‘ＯＰＥＮ’表示をカバー２００の‘ＣＬＯＳＥ’表示と一致させる（図５及び図７参照）。以後、使用者はカバー２００を開き、検査が完了した電子部品ＥＣを装着部１１０から離脱させる。
【００８４】
本発明によれば、調節レバーが操作ハンドルに形成されたハンドル雌ねじ部に螺合されて回転操作時に移動することにより、互いに異なる高さを有する多様な電子部品の検査に共通して使用できるようになされる微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットを提供することができる。
【００８５】
また、カバー雌ねじ部とハンドル雌ねじ部のねじ山が互いに反対方向に形成されることにより、調節レバーがプッシュブロックを加圧している状態で操作ハンドルが回転操作されても調節レバーとプッシュブロックとの間の接触面摩擦による操作ハンドルと調節レバーとの相対回転が防止されるようになされる微細高さ調節が可能な二重スクリューテストソケットを提供することができる。
【００８６】
先に本発明の特定の実施例が説明及び図示されているが、本発明は記載の実施例に限定されるものではなく、本発明の思想及び範囲を逸脱しない範囲で多様な修正及び変形が可能であることは、本技術の分野における通常の知識を有する者にとって自明なことである。従って、かかる修正例または変形例は本発明の技術的思想や観点から個別的に理解されてはならず、変形された実施例は本発明の特許請求の範囲に属するものとされなければならない。
【符号の説明】
【００８７】
１０：二重スクリューテストソケット
１００：ベース
１１０：装着部
１２０：係止突部
２００：カバー
２００Ａ：移動空間
２０１：カバー雌ねじ部
２０２：挿入ホール
２１０ ：ホック
２１１：ホックピン
２２０：カバーピン
２３０：弾性部材
２４０：突出部
３００：操作ハンドル
３０１：ハンドル雌ねじ部
３１０：取っ手
３２０：リングブロック
３２１：第１リングブロック
３２２：第２リングブロック
３３０：ハンドル雄ねじ部
４００：調節レバー
４１０：レバー
４１１：確認ホール
４２０：レバー雄ねじ部
４３０：係部
４３１：係合溝
５００：プッシュブロック
５１０：胴体
５１１：締結ホール
５２０：押圧部
Ｓ：シンボル
Ｂ：係合体
Ｅ：弾性手段
Ａ：挿入空間
ＥＣ：電子部品
ＰＣＢ：回路基板
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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