(57)【要約】【課題】webページの待ち時間を適切に評価する待ち時間評価装置及び方法を提供することである。【解決手段】本発明の一態様は、webページの待ち時間を評価する待ち時間評価装置であって、対象webページの表示待ち時間の計測値群を取得するデータ取得部と、前記取得した表示待ち時間の計測値群においてベキ分布に従う計測値部分を検出すると、前記対象webページの待ち時間が劣化していると判定する劣化判定部とを有する待ち時間評価装置に関する。【選択図】図１
2018028862.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
webページの待ち時間を評価する待ち時間評価装置であって、
対象webページの表示待ち時間の計測値群を取得するデータ取得部と、
前記取得した表示待ち時間の計測値群においてベキ分布に従う計測値部分を検出すると、前記対象webページの待ち時間が劣化していると判定する劣化判定部と、
を有する待ち時間評価装置。
【請求項２】
前記劣化判定部は、前記取得した表示待ち時間の計測値群から抽出した計測値部分に対して対数変換を実行することによって累積補分布データを生成し、前記生成した累積補分布データがベキ直線に当てはめ可能であるか判定し、前記ベキ直線に当てはめ可能である場合、前記抽出した計測値部分がベキ分布に従っていると判定する、請求項１記載の待ち時間評価装置。
【請求項３】
前記データ取得部は、前記ベキ直線の傾き、当てはめ許容幅、当てはめ切り捨て幅、端点切り捨て閾値、判定下限閾値及び判定上限閾値を取得し、
前記劣化判定部は、前記取得したベキ直線の傾き、当てはめ許容幅、当てはめ切り捨て幅、端点切り捨て閾値、判定下限閾値及び判定上限閾値に基づき、前記ベキ分布に従う計測値部分を検出する、請求項２記載の待ち時間評価装置。
【請求項４】
前記データ取得部は、前記ベキ直線の当てはめ許容幅、当てはめ切り捨て幅、端点切り捨て閾値、判定下限閾値及び判定上限閾値を取得し、
前記劣化判定部は、前記累積補分布データに対して最小二乗回帰を実行することによって前記ベキ直線の傾きを算出し、前記算出したベキ直線の傾き、前記取得したベキ直線の当てはめ許容幅、当てはめ切り捨て幅、端点切り捨て閾値、判定下限閾値及び判定上限閾値に基づき、前記ベキ分布に従う計測値部分を検出する、請求項２記載の待ち時間評価装置。
【請求項５】
前記劣化判定部は、前記対象webページの待ち時間が劣化していると判定すると、劣化している範囲を示す劣化閾値を出力する、請求項１又は２記載の待ち時間評価装置。
【請求項６】
webページの待ち時間を評価する装置によって実行される待ち時間評価方法であって、
対象webページの表示待ち時間の計測値群を取得するステップと、
前記取得した表示待ち時間の計測値群においてベキ分布に従う計測値部分があるか判断するステップと、
前記ベキ分布に従う計測値部分を検出すると、前記対象webページの待ち時間が劣化していると判定するステップと、
を有する待ち時間評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、データ通信のためのQoE評価に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、webは各種分野において広範に利用されている。webのユーザ体感（Quality of Experience: QoE）が、webページの表示速度などの利用の快適さを示すための指標に基づき計測及び評価されている。非特許文献１では、webページのコンテンツに依らず一律の表示速度の基準値又は閾値によってwebのQoEを判断している。また、非特許文献２では、各webページの待ち時間を収集するための技術が提案されている。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００３】
【非特許文献１】The Cost of Poor Web Performance [INFOGRAPHIC], November 30, 2012 (http://blog.smartbear.com/web-performance/the-cost-of-poor-web-performance-infographic/)
【非特許文献２】Navigation Timing, W3C Recommendation 17 December 2012 (http://www.w3.org/TR/navigation-timing/)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
webは多種多様なコンテンツで構成されるため、同じ環境であってもページにより表示に要する時間（以降、「表示待ち時間」と呼ぶ）は異なりうる。QoEが劣化しているとして判断したい状態は、もともとコンテンツが重くて遅延するものでなく、ネットワーク遅延、サーバの混雑、端末の処理負荷の増加等によって通常よりも遅くなっている状態である。
【０００５】
しかしながら、従来技術によると、当該判断は困難であると考えられる。すなわち、従来技術のように、webページのコンテンツの差を考慮せず一律に設定された表示待ち時間の閾値に基づく劣化基準とすると、コンテンツが重いため、ネットワークやサーバ負荷による劣化が発生していないにもかかわらず劣化していると判断されたり、もともと軽いwebページが大幅に遅延しても閾値以下に収まっている限り劣化していると判断されないなどの問題がある。
【０００６】
例えば、各ページの待ち時間計測値の母集団に対して、待ち時間上位５％等を劣化していると設定してしまうと、観測サンプルを収集した際の環境の良否により劣化を取りこぼしたり、他方、劣化していないものを劣化していると判定してしまう可能性がある。
【０００７】
また、待ち時間の平均値から標準偏差のＸ倍という劣化基準も可能であるが、どこからが劣化しているかの閾値Ｘを決定することは困難である。また、長大な待ち時間が観測サンプルに含まれるとき、平均値で評価することは適切でないという問題もある。
【０００８】
上述した問題点を鑑み、本発明の課題は、webページの待ち時間を適切に評価する待ち時間評価装置及び方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するため、本発明の一態様は、webページの待ち時間を評価する待ち時間評価装置であって、対象webページの表示待ち時間の計測値群を取得するデータ取得部と、前記取得した表示待ち時間の計測値群においてベキ分布に従う計測値部分を検出すると、前記対象webページの待ち時間が劣化していると判定する劣化判定部とを有する待ち時間評価装置に関する。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によると、webページの待ち時間を適切に評価する待ち時間評価装置及び方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】図１は、本発明の一実施例による待ち時間評価装置の機能構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、本発明の一実施例による累積補分布に対するベキ直線当てはめ処理を示す概略図である。
【図３】図３は、本発明の一実施例による待ち時間評価処理を示すフロー図である。
【図４】図４は、本発明の一実施例による待ち時間評価装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、図面に基づいて本発明の実施の形態を説明する。
【００１３】
以下の実施例では、webページの表示待ち時間に基づきwebページの待ち時間を評価する待ち時間評価装置及び方法が開示される。以下の実施例を概略すると、webページの表示待ち時間が増大するなど、webページの待ち時間が劣化すると、劣化した部分と劣化していない部分とが異なる統計的分布構造を有することになると想定される。このような想定に基づき、各webページのコンテンツ量、評価サンプル収集時のネットワーク状態などに依存することなく、対象となるwebページの各読み込み試行が劣化しているか否か判断することが可能になる。
【００１４】
具体的には、劣化した部分では表示待ち時間はベキ分布に従う一方、劣化していない部分では表示待ち時間は正規分布等の他の統計的分布に従うことになると考えられる。このような考察に基づき、対象webページの表示待ち時間の計測値群にベキ分布に従う計測値部分があるか特定することによって、当該webページの待ち時間が劣化しているか否か判定する。以下の実施例では、対数変換することによってベキ関数が直線（ベキ直線）により表現可能であるという性質を利用して、計測値群を対数変換し、変換後の計測値が直線に当てはめ可能であるか判定する。
【００１５】
まず、図１〜２を参照して、本発明の一実施例による待ち時間評価装置を説明する。図１は、本発明の一実施例による待ち時間評価装置の機能構成を示すブロック図である。
【００１６】
図１に示されるように、待ち時間評価装置１００は、データ取得部１１０及び劣化判定部１２０を有する。
【００１７】
データ取得部１１０は、対象webページの表示待ち時間の計測値群を取得する。具体的には、データ取得部１１０は、評価対象となるwebページを端末などに表示するのに要した表示待ち時間の計測結果のサンプル群を入力データとして受信するか、又は表示待ち時間を自ら計測することによって計測結果のサンプル群を取得してもよい。その後、データ取得部１１０は、以降の処理のため、取得した計測値群を昇順などにソートする。例えば、N個の計測値を取得すると、データ取得部１１０は、取得した計測値群を昇順にソートすることによって待ち時間計測値のリストT=[t_1, t_2, …, t_N]を構成し、劣化判定部１２０に提供する。
【００１８】
また、データ取得部１１０は、以降において詳細に説明される計測値群に対する直線当てはめ処理に利用される各種パラメータを入力パラメータとして受信する。当該パラメータとして、後述されるように、ベキ直線の傾きR_p、当てはめ許容幅γ、当てはめ切り捨て幅β、端点切り捨て閾値X_th、判定下限閾値μ、判定上限閾値κなどがあげられる。なお、ベキ関数の傾きR_pは、後述されるように、入力パラメータとして提供されてもよいし、あるいは、計測値群に対して最小二乗回帰を実行することによって算出されてもよい。
【００１９】
劣化判定部１２０は、取得した表示待ち時間の計測値群においてベキ分布に従う計測値部分を検出すると、対象webページの待ち時間が劣化していると判定する。本実施例では、劣化判定部１２０は、対数表現された表示待ち時間の計測値群及びその累積補分布がベキ関数を対象表現した直線（ベキ直線）に当てはめ可能であるか判定する。具体的には、劣化判定部１２０は、取得した表示待ち時間の計測値群から抽出した計測値部分に対して対数変換を実行することによって、図２に示されるような待ち時間と累積補分布との関係を示すデータ群からなる累積補分布データを生成し、生成した累積補分布データがベキ直線に当てはめ可能であるか判定し、ベキ直線に当てはめ可能である場合、抽出した計測値部分がベキ分布に従っていると判定する。
【００２０】
一実施例による具体的な当てはめ処理について説明する。
【００２１】
データ取得部１１０はまず、上述したように、昇順にソートされた待ち時間計測値のリストT=[t_1, t_2, …, t_N]を構成すると共に、ベキ直線の傾きR_p、当てはめ許容幅γ、当てはめ切り捨て幅β、端点切り捨て閾値X_th、判定下限閾値μ、判定上限閾値κを入力パラメータとして受信する。
【００２２】
ここで、図２に示されるように、ベキ直線の傾きR_pは負であり（R_p<0）、例えば、-2.2などであってもよい。
【００２３】
当てはめ許容幅γは、当該許容幅以内の計測値はベキ直線に従っているとみなす当てはめ許容範囲を表し、例えば、0.2などの正の数であってもよい。
【００２４】
当てはめ切り捨て幅βは、当てはめ対象となる計測値群のうち当てはめ許容範囲から外れることを許容する許容値の個数の比率（0≦β<1）を表し、例えば、0.05（=5%）などであってもよい。図示されるように、当てはめ切り捨て幅β以上に当てはめ許容範囲から外れる計測値が出現すると、当てはめ処理を終了し、当該出現した計測値の直前の計測値までを当てはめ範囲としてもよい。
【００２５】
端点切り捨て閾値X_thは、N個の計測値群のうち異常値として評価に適さない端点部分（0<X_th<1）を切り捨てるための値を表し、例えば、異常値が１％含まれていると推定される場合、0.99に設定される。
【００２６】
判定下限閾値μは、当該閾値以下でしか計測値がベキ直線に当てはまらない場合、当該計測値群はベキ直線に当てはまらず、待ち時間は劣化していないと判定される値（0<μ<1）を表し、例えば、0.03などであってもよい。
【００２７】
判定上限閾値κは、後述される劣化閾値の上限（0<κ<1）を表し、例えば、0.5などであってもよい。当該閾値以上で計測値がベキ直線に当てはまる場合、ベキ分布の当てはめ範囲が大きすぎて本来目的の劣化か否かを判断するのに適切ではない分布であるために、劣化閾値が判定不能であることを意味する。
【００２８】
待ち時間計測値のリストT及び入力パラメータを受信すると、劣化判定部１２０はまず、端点切り捨て閾値X_thに従って待ち時間計測値のリストT=[t_1, t_2, …, t_N]から分布裾の異常値を切り捨てる。具体的には、劣化判定部１２０は、
Nr=int((N-1)*X_th)+1
を計算し、Nr個の評価対象のリストT'=[t_1, t_2, …, t_Nr]を構成する。ここで、int()は、実数値の引数の小数部分を切り捨てる関数である。
【００２９】
次に、劣化判定部１２０は、リストT'について、図２に示されるような累積補分布データを生成する。具体的には、劣化判定部１２０は、
Xc=map(log, T')
を計算し、リストT'の各要素の対数値を算出する。ここで、map()は、T'の各要素に対数関数logを適用する関数である。さらに、劣化判定部１２０は、
Tc=map(cologN, Tidx')
を計算する。ここで、Tidx'はT'の添え字列[1, 2,…, Nr]を表し、cologNは、T'の各要素i (i=1, 2, …,Nr)の累積補分布を求めるための関数であり、
cof(i)=log(1-(i-1.0)/(N-1.0))
をTidx'の各要素i (i=1, 2, …,Nr)に適用する。
【００３０】
次に、劣化判定部１２０は、判定下限閾値μ及び判定上限閾値κに基づく探索範囲において、当てはめ切り捨て幅β以上当てはめ許容範囲から外れる計測値を特定し、特定した計測値の直前の計測値（劣化閾値）を求める。具体的には、劣化判定部１２０は、
s=int(μ*N), k=int(κ*N)
を計算し、探索範囲の下限s及び上限kを求める。
【００３１】
また、劣化判定部１２０は、Xc, Tcの列の後方、すなわち、待ち時間の長いものから、傾きR_p及び当てはめ許容幅γによって規定されるベキ直線の許容範囲に収まる表示待ち時間の計測値部分を探索する。具体的には、劣化判定部１２０は、Xcを傾きR_pで補正して平らにしたベクトルX2（長さはNr）を生成する。すなわち、i番目の計測値に対するX2の値は以下のようになる。
【００３２】
X2[i]=Xc[i]-R_p*Tc[i]
その後、劣化判定部１２０は、以下の手順に従って、ベキ直線に当てはまる最小の待ち時間となるXcの要素をXcの列の後方から順次探索する。
【００３３】
【表１】
2018028862.tif 000003
ここで、Xmin, Xmaxはそれぞれ、X2'の分布の裾をβ/2ずつ切り捨てた残りの最小値及び最大値であり、例えば、β=0.05 (=5%)である場合、Xmin, Xmaxはそれぞれ２．５パーセンタイル及び９７．５パーセンタイルとなる。また、if条件が成立した場合、(i-1)番目までは許容範囲内にあり、劣化判定部１２０は、劣化している範囲を示す劣化閾値として(i-1)番目の値を出力する。他方、if条件が成立しない場合、劣化判定部１２０は、カウンタiをインクリメントし、forループを繰り返す。
【００３４】
劣化判定部１２０は、上述した手順で得られた値をDとし、K>DかつD>sである場合、ベキ直線に当てはまる計測値部分が検出されたと判定し、当該計測値部分をベキ分布に従っており、対象となったwebページの待ち時間が劣化していると判定する。さらに、劣化判定部１２０は、劣化閾値T[Nr-D]を出力し、当該計測値部分はリストTのうち(Nr-D)番目以降の計測値であり、劣化閾値T[Nr-D]以上の計測値は劣化していると判定できる。
【００３５】
他方、D≦sである場合、劣化判定部１２０は、計測値群にはベキ直線に当てはまる計測値部分はなく、待ち時間の劣化は生じていないと判定する。
【００３６】
また、k≦Dである場合、劣化判定部１２０は、待ち時間の劣化が多数の計測値について発生していると判定する。この場合、劣化判定部１２０は、劣化閾値を特定できないため、劣化閾値を出力しない。
【００３７】
他の実施例による具体的な当てはめ処理について説明する。本実施例は、データ取得部１１０がベキ直線の傾きR_pを事前に提供されていないケースに適用可能である。
【００３８】
データ取得部１１０はまず、上述したように、昇順にソートされた待ち時間計測値のリストT=[t_1, t_2, …, t_N]を構成すると共に、ベキ直線の当てはめ許容幅γ、当てはめ切り捨て幅β、端点切り捨て閾値X_th、判定下限閾値μ、判定上限閾値κを入力パラメータとして受信する。
【００３９】
待ち時間計測値のリストT及び入力パラメータを受信すると、劣化判定部１２０はまず、端点切り捨て閾値X_thに従って待ち時間計測値のリストT=[t_1, t_2, …, t_N]から分布裾の異常値を切り捨てる。具体的には、劣化判定部１２０は、
Nr=int((N-1)*X_th)+1
を計算し、Nr個の評価対象のリストT'=[t_1, t_2, …, t_Nr]を構成する。ここで、int()は、実数値の引数の小数部分を切り捨てる関数である。
【００４０】
次に、劣化判定部１２０は、リストT'について、図２に示されるような累積補分布データを生成する。具体的には、劣化判定部１２０は、
Xc=map(log, T')
を計算し、リストT'の各要素の対数値を算出する。ここで、map()は、T'の各要素に対数関数logを適用する関数である。さらに、劣化判定部１２０は、
Tc=map(cologN, Tidx')
を計算する。ここで、Tidx'はT'の添え字列[1, 2,…, Nr]を表し、cologNは、T'の各要素i (i=1, 2, …,Nr)の累積補分布を求めるための関数であり、
cof(i)=log(1-(i-1.0)/(N-1.0))
をTidx'の各要素i (i=1, 2, …,Nr)に適用する。
【００４１】
次に、劣化判定部１２０は、判定下限閾値μ及び判定上限閾値κに基づく探索範囲において、当てはめ切り捨て幅β以上当てはめ許容範囲から外れる計測値を特定し、特定した計測値の直前の計測値（劣化閾値）を求める。具体的には、劣化判定部１２０は、
s=int(μ*N), k=int(κ*N)
を計算し、探索範囲の下限s及び上限kを求める。
【００４２】
また、劣化判定部１２０は、Xc, Tcの組に対して最小二乗回帰を実行し、推定された回帰直線の傾きaを算出する。具体的には、劣化判定部１２０は、
a, b=lsq(Xc, Tc)
を計算し、傾きaを算出する。ここで、lsq()は最小二乗回帰を実行する関数であり、Xc, Tcの組に対して最小二乗回帰を実行し、推定された回帰直線の傾きa及び切片bを決定する。なお、対象とする傾きは負値であるため、初期値に適当な正値が設定されてもよい（prev_a=99）。
【００４３】
当該傾きaを上述したR_pと置換して、劣化判定部１２０は、Xc, Tcの列の後方、すなわち、待ち時間の長いものから、傾きR_p及び当てはめ許容幅γによって規定されるベキ直線の許容範囲に収まる表示待ち時間の計測値部分を探索する。具体的には、劣化判定部１２０は、以下の手順を実行する。
【００４４】
【表２】
2018028862.tif 000004
ここで、Xmin, Xmaxはそれぞれ、X2'の分布の裾をβ/2ずつ切り捨てた残りの最小値及び最大値であり、例えば、β=0.05 (=5%)である場合、Xmin, Xmaxはそれぞれ２．５パーセンタイル及び９７．５パーセンタイルとなる。また、if条件が成立した場合、(i-1)番目までは許容範囲内にあり、劣化判定部１２０は、劣化している範囲を示す劣化閾値として(i-1)番目の値を出力する。他方、if条件が成立しない場合、劣化判定部１２０は、カウンタiをインクリメントし、forループを繰り返す。
【００４５】
劣化判定部１２０は、上述した手順で得られた値をDとし、K>DかつD>sである場合、ベキ直線に当てはまる計測値部分が検出されたと判定し、当該計測値部分をベキ分布に従っており、対象となったwebページの待ち時間が劣化していると判定する。また、劣化判定部１２０は、劣化閾値T[Nr-D]を出力し、当該計測値部分はリストTのうち(Nr-D)番目以降の計測値であり、劣化閾値T[Nr-D]以上の計測値は劣化していると判定できる。
【００４６】
他方、D≦sである場合、劣化判定部１２０は、計測値群にはベキ直線に当てはまる計測値部分はなく、待ち時間の劣化は生じていないと判定する。
【００４７】
また、k≦Dである場合、劣化判定部１２０は、待ち時間の劣化が多数の計測値について発生していると判定する。この場合、劣化判定部１２０は、劣化閾値を特定できないため、劣化閾値を出力しない。
【００４８】
上述したベキ直線当てはめ処理は単なる一例にすぎず、本発明によるベキ直線当てはめ処理はこれに限定されるものでなく、ベキ直線に当てはめ可能な計測値部分を検出するための他の何れか適切な処理が適用されてもよい。
【００４９】
次に、図３を参照して、本発明の一実施例による待ち時間評価処理を説明する。当該待ち時間評価処理は、上述した待ち時間評価装置１００によって実行される。図３は、本発明の一実施例による待ち時間評価処理を示すフロー図である。
【００５０】
図３に示されるように、ステップＳ１０１において、待ち時間評価装置１００は、対象webページの表示待ち時間の計測値群を取得する。具体的には、待ち時間評価装置１００は、評価対象となるwebページを端末などに表示するのに要した表示待ち時間の計測結果のサンプル群を入力データとして受信するか、又は表示待ち時間を自ら計測することによって計測結果のサンプル群を取得してもよい。例えば、N個の計測値を取得すると、待ち時間評価装置１００は、取得した計測値群を昇順にソートすることによって待ち時間計測値のリストT=[t_1, t_2, …, t_N]を構成する。
【００５１】
ステップＳ１０２において、待ち時間評価装置１００は、取得した表示待ち時間の計測値群においてベキ分布に従う計測値部分があるか判断する。具体的には、待ち時間評価装置１００は、劣化判定部１２０に関して上述したように、取得した表示待ち時間の計測値群から抽出した計測値部分に対して対数変換を実行することによって累積補分布データを生成し、生成した累積補分布データがベキ直線に当てはめ可能であるか判定し、ベキ直線に当てはめ可能である場合、抽出した計測値部分がベキ分布に従っていると判定する。
【００５２】
ベキ分布に従う計測値部分が検出された場合（Ｓ１０２：Ｙｅｓ）、ステップＳ１０３において、待ち時間評価装置１００は、対象webページの待ち時間が劣化していると判定する。他方、ベキ分布に従う計測値部分が検出されなかった場合（Ｓ１０２：Ｎｏ）、ステップＳ１０４において、待ち時間評価装置１００は、対象webページの待ち時間が劣化していないと判定する。
【００５３】
次に、図４を参照して、本発明の一実施例による待ち時間評価装置のハードウェア構成を説明する。図４は、本発明の一実施例による待ち時間評価装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
【００５４】
図４に示されるように、待ち時間評価装置１００は、典型的には、サーバにより実現されてもよく、例えば、バスを介し相互接続されるドライブ装置１０１、補助記憶装置１０２、メモリ装置１０３、プロセッサ１０４、インタフェース装置１０５及び通信装置１０６から構成される。予測装置１００における上述した各種機能及び処理を実現するプログラムを含む各種コンピュータプログラムは、ＣＤ−ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｋ−Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｋ）、フラッシュメモリなどの記録媒体１０７によって提供されてもよい。プログラムを記憶した記録媒体１０７がドライブ装置１０１にセットされると、プログラムが記録媒体１０７からドライブ装置１０１を介して補助記憶装置１０２にインストールされる。但し、プログラムのインストールは必ずしも記録媒体１０７により行う必要はなく、ネットワークなどを介し何れかの外部装置からダウンロードするようにしてもよい。補助記憶装置１０２は、インストールされたプログラムを格納すると共に、必要なファイルやデータなどを格納する。メモリ装置１０３は、プログラムの起動指示があった場合に、補助記憶装置１０２からプログラムやデータを読み出して格納する。プロセッサ１０４は、メモリ装置１０３に格納されたプログラムやプログラムを実行するのに必要なパラメータなどの各種データに従って、待ち時間評価装置１００の各種機能及び処理を実行する。インタフェース装置１０５は、ネットワーク又は外部装置に接続するための通信インタフェースとして用いられる。通信装置１０６は、インターネットなどのネットワークと通信するための各種通信処理を実行する。しかしながら、上述したハードウェア構成は単なる一例であり、待ち時間評価装置１００は、上述したハードウェア構成に限定されるものでなく、他の何れか適切なハードウェア構成により実現されてもよい。
【００５５】
なお、上述した待ち時間評価装置１００の各機能部及び各ステップは、コンピュータのメモリ装置１０３に記憶されたプログラムをプロセッサ１０４が実行することによって実現されてもよい。
【００５６】
以上、本発明の実施例について詳述したが、本発明は上述した特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
【符号の説明】
【００５７】
１００  待ち時間評価装置
１１０  データ取得部
１２０  劣化判定部
【図１】
2018028862.tif 000005
【図２】
2018028862.tif 000006
【図３】
2018028862.tif 000007
【図４】
2018028862.tif 000008