(57)【要約】【課題】分析感度が高く、且つ、例えば、試料分析時の分析誤差の発生が抑制されたプラズマ分光分析方法を提供する。【解決手段】本開示のプラズマ分光分析方法は、試料の存在下、一対の電極への電圧印加を行う電圧印加工程を含み、前記電圧印加により、少なくとも一方の電極の近傍に前記試料中の分析対象物を濃縮する濃縮工程、及び前記一対の電極への電圧印加によりプラズマを発生させ、前記プラズマにより生じた前記分析対象物の発光を検出する検出工程を含み、前記濃縮工程の少なくとも一部の期間における電圧印加時の一対の電極間の電流が一定である。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料の存在下、一対の電極への電圧印加を行う電圧印加工程を含み、前記電圧印加により、少なくとも一方の電極の近傍に前記試料中の分析対象物を濃縮する濃縮工程、及び
前記一対の電極への電圧印加によりプラズマを発生させ、前記プラズマにより生じた前記分析対象物の発光を検出する検出工程を含み、
前記濃縮工程の少なくとも一部の期間における電圧印加時の一対の電極間の電流が一定である、プラズマ分光分析方法。
【請求項２】
前記濃縮工程が、
前記一対の電極への電圧印加を行う電圧印加工程と、
前記一対の電極への電圧印加を行わない電圧非印加工程とを含む、請求項１記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項３】
前記濃縮工程において、前記電圧印加工程と前記電圧非印加工程とを各１回行う繰り返しを１セットとし、
前記１セットの時間が、０．２５秒以上である、請求項２記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項４】
前記濃縮工程において、前記電圧印加工程と前記電圧非印加工程とを各１回行う繰り返しを１セットとし、
前記１セットの時間における前記電圧非印加工程の時間が、０．１２５秒以上である、請求項２又は３記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項５】
前記濃縮工程において、前記電圧印加工程と前記電圧非印加工程とを各１回行う繰り返しを１セットとし、
前記１セットの時間における前記電圧印加工程の時間の割合が、１％以上９９％以下の範囲である、請求項２から４のいずれか一項に記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項６】
前記濃縮工程において、前記電圧印加時の一対の電極間の電流値が、０．０１ｍＡ以上２００ｍＡ以下の範囲である、請求項１から５のいずれか一項に記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項７】
前記一対の電極は、前記試料との接液面積が異なる一対の電極であり、
前記一対の電極のうち、前記試料との接液面積が小さい電極が、プラズマ発生により前記分析対象物を分析する電極である、請求項１から６記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項８】
前記検出工程における前記電圧は、前記濃縮工程における前記電圧より高い電圧である、請求項１から７のいずれか一項に記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項９】
前記濃縮工程における前記電圧は、１ｍＶ以上である、請求項１から８のいずれか一項に記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項１０】
前記検出工程における前記電圧は、１０Ｖ以上である、請求項１から９のいずれ一項に記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項１１】
前記一対の電極は、容器内に配置され、
前記容器は、透光部を含み、
前記容器の外部には、前記透光部を通して前記分析対象物の発光を受光可能な受光部が配置されている、請求項１から１０のいずれか一項に記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項１２】
前記分析対象物は、金属である、請求項１から１１のいずれか一項に記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項１３】
前記金属は、アルミニウム、アンチモン、ヒ素、バリウム、ベリリウム、ビスマス、カドミウム、セシウム、ガドリニウム、鉛、水銀、ニッケル、パラジウム、白金、テルル、タリウム、トリウム、スズ、タングステン、及びウランからなる群から選択された少なくとも１つの金属である、請求項１２記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項１４】
前記試料は、生体由来試料及び環境由来試料の少なくとも一方である、請求項１から１３のいずれか一項に記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項１５】
前記生体由来試料は、尿、血液、毛髪、唾液、汗、及び爪からなる群から選択された少なくとも１つである、請求項１４記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項１６】
前記環境由来試料は、食品、水、土壌、大気、及び空気からなる群から選択された少なくとも１つである、請求項１４記載のプラズマ分光分析方法。
【請求項１７】
一対の電極、容器、受光部、及び定電流部を含み、
前記容器は、透光部を含み、
前記一対の電極は、前記容器内に配置され、
前記容器の外部には、前記一対の電極への電圧印加により発生した分析対象物の発光を、前記透光部を通して受光可能な受光部が配置され、
前記定電流部は、前記一対の電極に接続され、且つ前記一対の電極への電圧印加時に、前記一対の電極間の電流を一定とし、
請求項１から１６のいずれか一項に記載のプラズマ分光分析方法に使用するための、プラズマ分光分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、プラズマ分光分析方法及びプラズマ分光分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
試料中の分析対象物を分析する方法として、プラズマ発光を利用した分析方法が知られている。前記分析方法に関し、特許文献１には、高周波プラズマ質量分析装置を用い、試料を分析する方法が開示されている。また、特許文献２及び３には、狭小部を有するプラズマ発生装置を用い、試料中でプラズマを発生させ、プラズマ発光を分析することで試料を分析する方法が開示されている。さらに、特許文献４及び５には、液体の試料中でプラズマを発生させ、プラズマ発光を分析することで試料を分析する方法が開示されている。
【０００３】
しかしながら、特許文献１の方法では、適切な前処理を行わないと、他の物質の混入により分析結果が変わるという問題があった。また、特許文献２及び３の方法では、夾雑物がある試料を使用した場合、及び試料の液量を減らす前処理をする際に異物等が混入した場合、前記夾雑物及び前記異物が前記狭小部に詰まり測定できなくなるという問題があった。さらに、特許文献４及び５の方法では、分析感度が低いという問題があった。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−１２８３１５号公報
【特許文献２】特開２０１１−１８００４５号公報
【特許文献３】特開２０１２−１８５０６４号公報
【特許文献４】国際公開第２００６／０５９８０８号
【特許文献５】国際公開第２０１１／０９９２４７号
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
そこで、本開示は、分析感度が高く、且つ、例えば、試料分析時の分析誤差の発生が抑制されたプラズマ分光分析方法、及び該プラズマ分光分析方法に使用するためのプラズマ分光分析装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
前記課題を解決するために、本開示のプラズマ分光分析方法（以下、「分析方法」ともいう。）は、
試料の存在下、一対の電極への電圧印加を行う電圧印加工程を含み、前記電圧印加により、少なくとも一方の電極の近傍に前記試料中の分析対象物を濃縮する濃縮工程、及び
前記一対の電極への電圧印加によりプラズマを発生させ、前記プラズマにより生じた前記分析対象物の発光を検出する検出工程を含み、
前記濃縮工程の少なくとも一部の期間における電圧印加時の一対の電極間の電流が一定であることを特徴とする。
【０００７】
本開示のプラズマ分光分析装置（以下、「分析装置」ともいう。）は、
一対の電極、容器、受光部、及び定電流部を含み、
前記容器は、透光部を含み、
前記一対の電極は、前記容器内に配置され、
前記容器の外部には、前記一対の電極への電圧印加により発生した分析対象物の発光を、前記透光部を通して受光可能な受光部が配置され、
前記定電流部は、前記一対の電極に接続され、且つ前記一対の電極への電圧印加時に、前記一対の電極間の電流を一定とし、
前記本開示のプラズマ分光分析方法に使用することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本開示のプラズマ分光分析方法によれば、分析感度が高く、且つ、例えば、試料分析時の分析誤差の発生を抑制できる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１（Ａ）は、本開示の分析装置の実施形態における分析装置の模式透視斜視図を示し、（Ｂ）は、図１（Ａ）のＩ−Ｉ方向から見た模式断面図である。
【図２】図２は、実施例１における鉛濃度とカウント値との相関を示すグラフである。
【図３】図３は、実施例２における各周期でのカウント値を示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
＜プラズマ分光分析方法＞
本開示のプラズマ分光分析方法は、前述のように、試料の存在下、一対の電極への電圧印加を行う電圧印加工程を含み、前記電圧印加により、少なくとも一方の電極の近傍に前記試料中の分析対象物を濃縮する濃縮工程、及び前記一対の電極への電圧印加によりプラズマを発生させ、前記プラズマにより生じた前記分析対象物の発光を検出する検出工程を含み、前記濃縮工程の少なくとも一部の期間における電圧印加時の一対の電極間の電流が一定であることを特徴とする。本開示の分析方法は、前記濃縮工程及び前記検出工程を含み、前記濃縮工程の少なくとも一部の期間における電圧印加時の一対の電極間の電流が一定であることが特徴であり、その他の工程及び条件は、特に制限されない。
【００１１】
一般的に、試料中の分析対象物を効率よく分析するためには、例えば、前記試料に対して、前記試料の全体積（全液量）を濃縮によって低減する前処理を施すことで、前記試料の全体積において単位体積あたりの分析対象物量を増加させていた。これに対し、本発明者らは、試料の存在下、一対の電極への電圧印加により、少なくとも一方の電極の近傍に前記試料中の分析対象物を濃縮、すなわち、前記電極の近傍において局所的に前記分析対象物を集積させ、さらに、前記分析対象物が集積した電極側にプラズマを発生させることで、局所的に高濃度となった分析対象物を効率よく分析できることを見出し、前述の前処理が不要な新たな分析方法を確立した。しかしながら、この分析方法を用いた場合、同じ濃度の分析対象物を含む複数の試料間で分析結果にばらつきが出る場合があった。本発明者らの鋭意研究により、例えば、鉛等の分析対象物と、キレート剤であるエチレンジアミン四酢酸（ＥＤＴＡ）との特定の共存物質と共存する試料では、前記分析結果に誤差が生じるため、前記複数の試料間の分析結果のばらつきが生じること、すなわち、前記特定の共存物質の存在による分析誤差の発生が、前記複数の試料間の分析結果のばらつきの原因であることを見出した。そして、本発明者らは、メカニズムは不明であるが、前記濃縮工程の少なくとも一部の期間における電圧印加時の一対の電極間の電流を一定にする、すなわち定電流とすることにより、前記特定の共存物質が存在する場合も分析誤差の発生を抑制できることを見出し、本開示の分析方法を完成するに至った。したがって、本開示の分析方法によれば、例えば、試料分析時の分析誤差の発生を抑制できる。また、本開示の分析方法は、試料分析時の分析誤差の発生を抑制できるため、例えば、試料の種類や、前記分析対象物の種類によらず、前記分析対象物を精度よく分析できる。さらに、本開示の分析方法は、前述のように、例えば、前記試料に対する前記前処理を行うことなく、局所的に高濃度となった分析対象物を効率よく分析できるため、簡便に、高い感度で前記試料を分析できる。
【００１２】
本開示の分析方法において、前記試料は、例えば、検体である。前記検体は、液体の検体でもよいし、固体の検体でもよい。前記検体は、例えば、前記検体の未希釈液をそのまま液体検体として使用してもよいし、前記検体を媒体に、懸濁、分散又は溶解した希釈液を液体検体として使用してもよい。前記検体が固体の場合、例えば、前記検体を前記媒体に懸濁、分散又は溶解した希釈液を液体検体として使用することが好ましい。前記媒体は、特に制限されず、例えば、水、緩衝液等があげられる。前記検体は、例えば、生体由来の検体（試料）、環境由来の検体（試料）、金属、化学物質、医薬品等があげられる。前記生体由来の検体は、特に制限されず、尿、血液、毛髪、唾液、汗、爪等があげられる。前記血液検体は、例えば、赤血球、全血、血清、血漿等があげられる。前記生体は、例えば、ヒト、非ヒト動物、植物等があげられ、前記非ヒト動物は、例えば、ヒトを除く哺乳類、魚介類等があげられる。前記環境由来の検体は、特に制限されず、例えば、食品、水、土壌、大気、空気等があげられる。前記食品は、例えば、生鮮食品又は加工食品等があげられる。前記水は、例えば、飲料水、地下水、河川水、海水、生活排水等があげられる。前記試料は、例えば、前記金属と後述するキレート剤とを含み、前記金属が前記分析対象物であることが好ましい。
【００１３】
前記分析対象物は、特に制限されず、例えば、金属、化学物質等があげられる。前記金属は、特に制限されず、例えば、アルミニウム（Ａｌ）、アンチモン（Ｓｂ）、ヒ素（Ａｓ）、バリウム（Ｂａ）、ベリリウム（Ｂｅ）、ビスマス（Ｂｉ）、カドミウム（Ｃｄ）、セシウム（Ｃｓ）、ガドリニウム（Ｇｄ）、鉛（Ｐｂ）、水銀（Ｈｇ）、ニッケル（Ｎｉ）、パラジウム（Ｐｄ）、白金（Ｐｔ）、テルル（Ｔｅ）、タリウム（Ｔｌ）、トリウム（Ｔｈ）、スズ（Ｓｎ）、タングステン（Ｗ）、ウラン（Ｕ）等の金属があげられる。前記化学物質は、例えば、試薬、農薬、化粧品等があげられる。前記分析対象物は、例えば、１種類でもよいし、２種類以上でもよい。
【００１４】
前記分析対象物が金属の場合、前記試料は、例えば、前記検体中の金属を分離するための試薬を含んでもよい。前記試薬は、例えば、キレート剤、マスキング剤等があげられる。前記キレート剤は、例えば、ジチゾン、チオプロニン、メソ−２，３−ジメルカプトコハク酸（ＤＭＳＡ）、２，３−ジメルカプト−１−プロパンスルホン酸ナトリウム（ＤＭＰＳ）、エチレンジアミン四酢酸（ＥＤＴＡ）、ニトリロ三酢酸（ＮＴＡ）、エチレンジアミン-N,N'-ジコハク酸（ＥＤＤＳ）、αリポ酸等があげられる。本開示において、「マスキング」は、ＳＨ基の反応性を不活性にすることを意味し、例えば、ＳＨ基の化学修飾により行うことができる。前記マスキング剤は、例えば、マレイミド、Ｎ−メチルマレイミド、Ｎ−エチルマレイミド、Ｎ−フェニルマレイミド、マレイミドプロピオン酸、ヨードアセトアミド、ヨード酢酸等があげられる。
【００１５】
前記試料は、例えば、ｐＨを調整した試料（以下、「ｐＨ調整試料」ともいう。）でもよい。前記ｐＨ調整試料のｐＨは、特に制限されない。前記試料のｐＨの調整方法は、特に制限されず、例えば、アルカリ性試薬、酸性試薬等のｐＨ調整試薬が使用できる。
【００１６】
前記アルカリ性試薬は、例えば、アルカリ及びその水溶液等があげられる。前記アルカリは、特に制限されず、例えば、水酸化ナトリウム、水酸化リチウム、水酸化カリウム、アンモニア等があげられる。前記アルカリの水溶液は、例えば、アルカリを水又は緩衝液で希釈したものがあげられる。前記アルカリの水溶液において、前記アルカリの濃度は、特に制限されず、例えば、０．０１ｍｏｌ／Ｌ以上５ｍｏｌ／Ｌ以下である。
【００１７】
前記酸性試薬は、例えば、酸及びその水溶液等があげられる。前記酸は、特に制限されず、例えば、塩酸、硫酸、酢酸、ホウ酸、リン酸、クエン酸、リンゴ酸、コハク酸、硝酸等があげられる。前記酸の水溶液は、例えば、酸を水又は緩衝液で希釈したものがあげられる。前記酸の水溶液において、前記酸の濃度は、特に制限されず、例えば、０．０１ｍｏｌ／Ｌ以上５ｍｏｌ／Ｌ以下である。
【００１８】
前記電極は、特に制限されず、例えば、固体電極があげられ、具体例として、棒電極、球電極等があげられる。前記電極の材料は、特に制限されず、固形導電材料であればよく、例えば、前記分析対象物の種類に応じて、適宜決定できる。前記電極の材料は、例えば、非金属でもよいし、金属でもよいし、これらの混合物でもよい。前記電極の材料が非金属を含む場合、前記電極の材料は、例えば、１種類の非金属を含んでもよいし、２種類以上の非金属を含んでもよい。前記非金属は、例えば、炭素等があげられる。前記電極の材料が金属を含む場合、前記電極の材料は、例えば、１種類の金属を含んでもよいし、２種類以上の金属を含んでもよい。前記金属は、例えば、金、白金、銅、亜鉛、スズ、ニッケル、パラジウム、チタン、モリブデン、クロム、鉄等があげられる。前記電極の材料が２種類以上の金属を含む場合、前記電極の材料は、合金でもよい。前記合金は、例えば、真鍮、鋼、インコネル（登録商標）、ニクロム、ステンレス等があげられる。前記一対の電極は、例えば、同じ材料でもよいし、異なる材料でもよい。
【００１９】
前記電極の大きさは、特に制限されず、例えば、前記試料と接液可能な大きさであればよい。前記電極が棒電極である場合、前記電極の直径は、例えば、０．０２ｍｍ以上５０ｍｍ以下であることが好ましく、０．０５ｍｍ以上５ｍｍ以下であることがより好ましい。前記電極の長さは、例えば、０．１ｍｍ以上２００ｍｍ以下であることが好ましく、０．３ｍｍ以上５０ｍｍ以下であることがより好ましい。
【００２０】
前記濃縮工程は、前述のように、試料の存在下、一対の電極への電圧印加を行う電圧印加工程を含み、前記電圧印加により、少なくとも一方の電極の近傍に前記試料中の分析対象物を濃縮する工程であり、濃縮工程の少なくとも一部の期間における電圧印加時の一対の電極間の電流が一定である。前記一対の電極は、例えば、前記試料に接触（接液）している。前記濃縮工程において、「電極の近傍に試料中の分析対象物を濃縮する」とは、電極の近傍に試料中の分析対象物を電気的に誘引することをいう。前記電極の近傍の範囲は、特に制限されず、例えば、後述する検出工程において、プラズマが発生する範囲があげられる。本開示において、前記電極の近傍は、例えば、電極上、すなわち電極と接している部分も含む。
【００２１】
濃縮工程において、「一対の電極間の電流が一定」とは、一対の電極間の電流が定電流であることを意味する。本開示において、「電流が一定」又は「定電流」とは、電極間の電流値が実質的に一定である場合を含む。電流値が実質的に一定である場合とは、電流値が設定した電流値から経時的に変動する場合であっても、電極間の電流値（Ａｃ）が、設定した電流値（ＡＳ）±２０％の範囲内（０．８×ＡＳ≦Ａｃ≦１．２×ＡＳ）に維持されることを意味する。例えば、電極間の電流値（Ａｃ）が、設定した電流値±１０％の範囲内（０．９×ＡＳ≦Ａｃ≦１．１×ＡＳ）に維持される場合、又は設定した電流値±５％の範囲内（０．９５×ＡＳ≦Ａｃ≦１．０５×ＡＳ）に維持される場合には、「電流が一定」又は「定電流」であるといえる。前記設定した電流値は、例えば、後述する一対の電極間の電流の説明を援用できる。
【００２２】
本開示の分析方法において、濃縮工程の少なくとも一部の期間における電圧印加時の一対の電極間の電流が一定であると、試料分析時の分析誤差の発生を抑制することができる。例えば、共存物質（例えば、ＥＤＴＡ）を含む試料と、前記共存物質を含まない試料とについて、本開示の分析方法で同じ濃度の分析対象物（例えば、Ｐｂ）を分析した際に、前記共存物質を含む試料における前記分析対象物量の測定値と、前記共存物質を含まない試料における前記分析対象物量の測定値との差（誤差）を抑制することができる。具体的には、例えば、前記誤差を、基準値に対して、±１５％以内、好ましくは±１０％以内、より好ましくは±５％以内の範囲に抑制することができる。前記基準値は公知の方法にて適宜設定することができる。
【００２３】
前記濃縮工程において、例えば、前記分析対象物の一部を前記電極の近傍に濃縮してもよいし、前記分析対象物の全部を前記電極の近傍に濃縮してもよい。
【００２４】
前記濃縮工程では、後述する検出工程において、前記分析対象物の検出に使用する電極、すなわちプラズマが発生する電極に前記分析対象物を濃縮するように、前記電極の電荷条件を設定することが好ましい。前記電荷条件は、特に制限されず、例えば、前記分析対象物が正の電荷を有する場合、前記プラズマが発生する電極が負の電荷を有するように電荷条件を設定すればよい。また、例えば、前記分析対象物が負の電荷を有する場合、前記プラズマが発生する電極が正の電荷を有するように電荷条件を設定すればよい。
【００２５】
前記分析対象物の濃縮は、例えば、電圧によって調節できる。このため、当業者であれば、前記濃縮がおきる電圧（以下、「濃縮電圧」ともいう。）を適宜設定できる。前記濃縮電圧は、例えば、１ｍＶ以上であってもよく、４００ｍＶ以上であってもよい。濃縮電圧の上限は、特に制限されず、例えば、１０００Ｖ以下であってもよい。前記濃縮電圧は、例えば、濃縮工程の期間を通して同じ電圧でもよいし、濃縮工程の期間中に変動してもよい。また、前記濃縮電圧は、例えば、プラズマが発生しない電圧でもよい。
【００２６】
前記濃縮電圧を印加する時間（以下、濃縮工程において「印加時間」ともいう。）は、特に制限されず、前記濃縮電圧に応じて、適宜設定できる。前記濃縮電圧を印加する時間は、例えば、０．２分以上４０分以下であることが好ましく、１分以上５分以下であることがより好ましい。前記一対の電極への電圧印加は、例えば、連続的に印加してもよいし、非連続的に印加してもよい。前記非連続的な印加は、例えば、パルス印加があげられる。前記電圧印加が非連続的な場合、前記濃縮電圧を印加する時間は、前記濃縮電圧を印加している時間の合計の時間として定義されてもよく、前記濃縮電圧を印加している時間と前記濃縮電圧を印加していない時間との合計の時間として定義されてもよい。
【００２７】
本開示の分析方法では、濃縮工程の少なくとも一部の期間における電圧印加時の一対の電極間の電流が一定である。一対の電極間の電流が一定である期間は、濃縮工程の濃縮電圧を印加している時間の合計の時間に対して５０％以上であることが好ましく、７０％以上であることがより好ましく、８０％以上であることがさらに好ましく、９０％以上であることが特に好ましく、１００％であることが極めて好ましい。
【００２８】
前記電極への電圧の印加は、電圧印加手段により行うことができる。電圧印加手段は、特に制限されず、例えば、前記一対の電極間の電流が一定となるように、電圧を印加できればよく、公知の手段として電圧器等が使用できる。
【００２９】
前記濃縮工程において、前記一対の電極間の電流は、例えば、０．０１ｍＡ以上２００ｍＡ以下であることが好ましく、１０ｍＡ以上６０ｍＡ以下であることがより好ましく、１０ｍＡ以上４０ｍＡ以下であることがさらに好ましい。特に好ましくは、１０ｍＡ、２０ｍＡ、又は４０ｍＡに設定してもよい。
【００３０】
前記濃縮工程において、前記一対の電極への電圧印加は、例えば、前記分析誤差をより抑制できることから非連続的な印加が好ましい。前記一対の電極への電圧印加が非連続的印加の場合、前記濃縮工程は、例えば、前記一対の電極への電圧印加を行う電圧印加工程と、前記一対の電極への電圧印加を行わない電圧非印加工程とを含む。この場合、少なくとも１回の電圧印加工程の少なくとも一部の期間において、一対の電極間の電流が一定である。
【００３１】
前記電圧印加工程は、前記一対の電極への電圧印加を行うことにより、例えば、少なくとも一方の電極の近傍に前記試料中の分析対象物を濃縮する。このため、前記電圧印加工程では、後述する検出工程において、前記分析対象物の検出に使用する電極、すなわちプラズマが発生する電極に前記分析対象物を濃縮するように、前記電極の電荷条件を設定することが好ましい。前記電圧印加工程において、前記一対の電極に印加する電圧は、例えば、前述の濃縮電圧の説明を援用できる。また、前記電圧印加工程において、前記一対の電極間の電流は、例えば、０．０１ｍＡ以上２００ｍＡ以下であることが好ましく、１０ｍＡ以上６０ｍＡ以下であることがより好ましく、１０ｍＡ以上４０ｍＡ以下であることがさらに好ましい。特に好ましくは、１０ｍＡ、２０ｍＡ、又は４０ｍＡに設定してもよい。
【００３２】
前記電圧印加工程は、例えば、１回実施してもよいし、複数回実施してもよい。
電圧印加工程を複数回実施する場合、少なくとも１回の電圧印加工程の少なくとも一部の期間において、一対の電極間の電流が一定である。好ましくは、少なくとも１回の電圧印加工程を通して、一対の電極間の電流が一定である。それぞれの電圧印加工程における一対の電極間の電流値は同じであっても異なってもよく、同じであることが好ましい。複数回の電圧印加工程にわたって、電圧印加時の一対の電極間の電流が一定（定電流）かつ同じ電流値であることがより好ましい。
【００３３】
前記電圧非印加工程は、一対の電極への電圧印加を行わない。このため、前記電圧非印加工程では、例えば、少なくとも一方の電極の近傍への前記分析対象物の濃縮が生じない。前記電圧非印加工程において、前記一対の電極に印加する電圧は、例えば、０Ｖである。また、前記電圧印加工程において、前記一対の電極間の電流は、例えば、０ｍＡに設定できる。なお、前記電圧非印加工程における前記一対の電極に印加する電圧及び電流の例示は、例えば、電極外から電極に印加する電圧及び電流の例示である。このため、前記一対の電極間では、例えば、前記電極の材料、試料の種類、試料の状態に基づく電位差が生じてもよい。
【００３４】
前記電圧非印加工程は、例えば、１回実施してもよいし、複数回実施してもよい。また、前記電圧非印加工程は、例えば、前記電圧印加工程と同じ回数実施してもよいし、異なる回数実施してもよいが、前者が好ましい。
【００３５】
前記電圧印加工程と、前記電圧非印加工程との調節は、例えば、印加する電圧の調節により行うことができる。前記印加する電圧の調節としては、例えば、電気回路を閉回路と開回路とに切り替える方法がある。
【００３６】
電気回路を閉回路と開回路とに切り替える場合、例えば、電気回路を閉回路と開回路とに切り替えることにより、前記電圧印加工程と前記電圧非印加工程とを交互に行う。前記閉回路の状態が、前記電圧印加工程であり、電気回路を閉回路とすることで、前記一対の電極に電圧を印加できる。また、前記開回路の状態が、前記電圧非印加工程であり、開回路とすることで、電圧を非印加、つまり、電圧０ボルト（Ｖ）とすることができる。前記閉回路の電圧は、前記電圧印加工程の電圧、すなわち、濃縮電圧であり、前記開回路の電圧、つまり、０Ｖは、前記電圧非印加工程の電圧であり、前記一対の電極に電圧は印加されない。前記閉回路の電圧は、特に制限されず、例えば、前記濃縮電圧の例示を援用できる。
【００３７】
前記濃縮工程において、前記電圧印加工程と前記電圧非印加工程とを各１回行う繰り返しを１セットとした場合、前記１セットの時間は、特に制限されない。前記１セットの時間を、以下、印加周期ともいう。前記印加周期は、下限が、例えば、２５０ｍ秒以上であることが好ましく、１０００ｍ秒以上であることがより好ましく、分析感度がより向上することから、２０００ｍ秒以上であることがさらに好ましく、３０００ｍ秒以上であることが特に好ましい。また、前記印加周期は、上限が、例えば、６０００００ｍ秒以下であることが好ましく、６４０００ｍ秒以下であることがより好ましく、１００００ｍ秒以下であることがさらに好ましい。また、前記印加周期の範囲は、例えば、２５０ｍ秒以上６０００００ｍ秒以下であることが好ましく、１０００ｍ秒以上６０００００ｍ秒以下であることがより好ましく、２０００ｍ秒以上６０００００ｍ秒以下であることがさらに好ましく、２０００ｍ秒以上６４０００ｍ秒以下であることが特に好ましく、２０００ｍ秒以上１００００ｍ秒以下であることが極めて好ましい。
【００３８】
前記濃縮工程において、前記電圧印加工程と前記電圧非印加工程とを各１回行う繰り返しを１セットとした場合、前記１セットの時間における前記電圧非印加工程の時間は、特に制限されない。以下、前記電圧非印加工程の時間を、非印加時間ともいう。前記非印加時間は、下限が、例えば、１２５ｍ秒以上であることが好ましく、１０００ｍ秒以上であることがより好ましく、１５００ｍ秒以上であることがさらに好ましい。また、前記非印加時間は、上限が、例えば、３０００００ｍ秒以下であることが好ましく、３２０００ｍ秒以下であることがより好ましく、１００００ｍ秒以下であることがさらに好ましい。前記非印加時間の範囲は、例えば、１２５ｍ秒以上３０００００ｍ秒以下であることが好ましく、１０００ｍ秒以上３０００００ｍ秒以下であることがより好ましく、１５００ｍ秒以上３０００００ｍ秒以下であることがさらに好ましく、１５００ｍ秒以上１００００ｍ秒以下であることがさらに好ましい。
【００３９】
前記濃縮工程において、前記電圧印加工程と前記電圧非印加工程とを各１回行う繰り返しを１セットとした場合、前記１セットの時間における前記電圧印加工程の時間の割合は、特に制限されない。前記割合を、以下、Ｄｕｔｙともいう。前記Ｄｕｔｙは、下限が、例えば、１％以上であることが好ましく、２５％以上であることがより好ましく、５０％以上であることがさらに好ましい。Ｄｕｔｙは、上限が、例えば、１００％未満であることが好ましく、８５％以下であることがより好ましく、５０％以下であることがさらに好ましい。Ｄｕｔｙの範囲は、例えば、１％以上１００％未満であることが好ましく、１％以上９９％以下であることがより好ましく、１５％以上８５％以下であることがさらに好ましく、４５％以上５５％以下であることが特に好ましい。前記Ｄｕｔｙは、例えば、５０％であることが好ましい。
【００４０】
前記濃縮工程において前記電圧印加工程と前記電圧非印加工程との繰り返し回数は、特に制限されず、例えば、２回以上９６００回以下、好ましくは、３回以上５回以下である。
【００４１】
前記濃縮工程について、前記電圧印加工程と前記電圧非印加工程との１セットあたりの条件を以下に例示するが、本発明は、これには限定されない。
印加周期：２５０ｍ秒以上６０００００ｍ秒以下
非印加時間：１２５ｍ秒以上３０００００ｍ秒以下
Ｄｕｔｙ：１％以上１００％未満
電圧印加工程の電流：０．０１ｍＡ以上２００ｍＡ以下
電圧非印加工程の電流：０ｍＡ
【００４２】
前記検出工程は、前述のように、前記一対の電極への電圧印加によりプラズマを発生させ、前記プラズマにより生じた前記分析対象物の発光を検出する。
【００４３】
前記検出工程は、前記濃縮工程と連続的に行ってもよいし、非連続的に行ってもよい。前者の場合、前記検出工程は、前記濃縮工程の終了と同時に前記検出工程を行う。後者の場合、前記検出工程は、前記濃縮工程の終了後から所定時間内に検出工程を行う。前記所定時間は、例えば、前記濃縮工程後、０．００１秒以上１０００秒以下、好ましくは、１秒以上１０秒以下である。
【００４４】
前記検出工程において、「プラズマを発生させる」とは、プラズマを実質的に発生させることであり、具体的には、プラズマ発光の検出において、実質的に検出可能な発光を示すプラズマの発生を意味する。具体例として、プラズマ発光の検出器により、プラズマ発光が検出可能である場合に、プラズマが発生したといえる。
【００４５】
実質的なプラズマの発生は、例えば、電圧によって調節できる。このため、当業者であれば、実質的に検出可能な発光を示すプラズマを発生させるための電圧（以下、「プラズマ電圧」ともいう。）は、適宜設定できる。前記プラズマ電圧は、例えば、１０Ｖ以上、好ましくは、１００Ｖ以上である。プラズマ電圧の上限は、特に制限されず、例えば、１０００Ｖ以下であってもよい。前記プラズマが発生する電圧は、例えば、前記濃縮が起こる電圧に対して、相対的に高い電圧である。このため、前記プラズマ電圧は、前記濃縮電圧に対して、高い電圧であることが好ましい。前記プラズマ電圧は、例えば、検出工程の期間を通して同じ電圧でもよいし、検出工程の期間中に変動してもよい。
【００４６】
前記プラズマ電圧を印加する時間（以下、検出工程において「印加時間」ともいう。）は、特に制限されず、前記プラズマ電圧に応じて、適宜設定できる。前記プラズマ電圧を印加する時間は、例えば、０．００１秒以上０．０２秒以下であることが好ましく、０．００１秒以上０．０１秒以下であることがより好ましい。前記一対の電極への電圧印加は、例えば、連続的に印加してもよいし、非連続的に印加してもよい。前記非連続的な印加は、例えば、パルス印加があげられる。前記電圧印加が非連続的な場合、前記プラズマ電圧を印加する時間は、例えば、１回の前記プラズマ電圧を印加している時間として定義されてもよく、前記プラズマ電圧を印加している時間の合計の時間として定義されてもよく、前記プラズマ電圧を印加している時間と前記プラズマ電圧を印加していない時間との合計の時間として定義されてもよい。
【００４７】
前記検出工程において、前記プラズマが発生する電極は、例えば、前記一対の電極の接液面積を異なる接液面積とすることで調節できる。具体的には、一方の電極の接液面積を他方の電極の接液面積に対して小さくすることで、前者に、プラズマを発生させることができる。このため、本開示において、前記一対の電極は、前記試料との接液面積が異なる一対の電極であり、前記一対の電極のうち、前記試料との接液面積が小さい電極が、プラズマ発生により前記分析対象物を分析する電極であることが好ましい。前記一対の電極の接液面積が異なる場合、前記一対の電極の接液面積の差は、例えば、０．００１ｃｍ２以上３００ｃｍ２以下であることが好ましく、１ｃｍ２以上１０ｃｍ２以下であることがより好ましい。本開示において、「接液面積」は、前記試料と接する面積を意味する。前記接液面積の調節方法は、特に制限されず、例えば、前記試料に浸漬する前記電極の長さを異なる長さにする方法、前記試料と接する電極の一部を絶縁性材料により被覆する方法等があげられる。前記絶縁性材料は、特に制限されず、例えば、樹脂、シリコーン、ガラス、紙、セラミックス、ゴム等があげられる。前記樹脂は、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリ塩化ビニル、ポリエチレンテレフタレート、ポリメタクリレート、ポリアミド、飽和ポリエステル樹脂、アクリル樹脂、ポリブチレンテレフタレート（ＰＢＴ）、ポリエーテルエーテルケトン（ＰＥＥＫ）、ポリメチルペンテン（例えば、登録商標ＴＰＸ）等の熱可塑性樹脂、尿素樹脂、メラミン樹脂、フェノール樹脂、フッ素樹脂ガラスエポキシ等のエポキシ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂等の熱硬化性樹脂等があげられる。前記シリコーンは、例えば、ポリジメチルシロキサン等があげられる。
【００４８】
前記検出工程において、前記発生したプラズマの発光は、例えば、連続的に検出してもよいし、非連続的に検出してもよい。前記発光の検出は、例えば、発光の有無の検出、発光の強度の検出、特定の波長の検出、スペクトルの検出等があげられる。前記特定の波長の検出は、例えば、前記分析対象物が、プラズマ発光時に発する特有の波長の検出があげられる。前記発光の検出方法は、特に制限されず、例えば、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）、分光器等の公知の光学測定機器が利用できる。
【００４９】
前記電極への電圧の印加は、電圧印加手段により行うことができる。電圧印加手段は、例えば、前述の説明が援用できる。前記検出工程において、前記電極間の電流は、例えば、０．０１ｍＡ以上１０００００ｍＡ以下であることが好ましく、５０ｍＡ以上２０００ｍＡ以下であることがより好ましい。
【００５０】
本開示の分析方法は、さらに、検出工程における検出結果から、前記試料中の前記分析対象物の濃度を算出する算出工程を含んでもよい。前記検出結果は、例えば、前述の発光の強度等があげられる。前記算出工程において、前記分析対象物の濃度は、例えば、検出結果、及び検出結果と試料中の前記分析対象物の濃度との相関関係に基づき、算出できる。前記相関関係は、例えば、前記分析対象物の濃度が既知である標準試料について、前記本開示の分析方法により得られた検出結果と、前記標準試料の前記分析対象物の濃度とをプロットすることにより求めることができる。前記標準試料は、前記分析対象物の希釈系列が好ましい。このように算出を行うことによって、信頼性の高い定量が可能となる。
【００５１】
本開示の分析方法において、前記一対の電極は、透光部を含む容器内に配置されていてもよい。この場合、前記検出工程において、前記透光部を通して前記分析対象物の発光を受光可能に配置された受光部により前記発光を検出する。前記容器、前記透光部、前記受光部等の説明は、例えば、後述する本開示の分析装置の説明を援用できる。
【００５２】
＜プラズマ分光分析装置＞
本開示のプラズマ分光分析装置は、前述のように、一対の電極、容器、受光部、及び定電流部を含み、前記容器は、透光部を含み、前記一対の電極は、前記容器内に配置され、前記容器の外部には、前記一対の電極への電圧印加により発生した分析対象物の発光を、前記透光部を通して受光可能な受光部が配置され、前記定電流部は、前記一対の電極に接続され、且つ前記一対の電極への電圧印加時に、前記一対の電極間の電流を一定とし、前記本開示のプラズマ分光分析方法に使用することを特徴とする。本開示の分析装置は、前記本開示の分析方法に使用することが特徴であり、その他の構成及び条件は、特に制限されない。本発明の分析装置によれば、前記本開示の分析方法を簡便に実施できる。本開示の分析装置は、例えば、前記本開示の分析方法と互いの説明を援用できる。
【００５３】
本開示の分析装置の一例について、図面を参照し説明する。また、図面においては、説明の便宜上、各部の構造は適宜簡略化して示す場合があり、各部の寸法比等は、実際とは異なり、模式的に示す場合がある。
【００５４】
図１において、（Ａ）は、本実施形態の分析装置の模式透視斜視図であり、（Ｂ）は、（Ａ）において、Ｉ−Ｉ方向からみた模式断面図である。図１（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、本実施形態の分析装置１０は、一対の電極１、２、容器４、受光部５、及び定電流部６を含み、容器４は、透光部３を含み、容器４の外部には、一対の電極１、２への電圧印加により発生した分析対象物の発光を、透光部３を通して受光可能に配置された受光部５が配置されている。また、電極１は、容器４の底面に対して水平方向に配置され、その先端は、透光部３と当接するように配置されている。電極２は、容器４の底面に対して水平方向に配置され、また、容器４の側面において、電極２の一部が容器４内に露出するように配置されている。電極１は、絶縁性材料７により被覆されている。定電流部６は、電極１及び２と接続されている。本実施形態の分析装置１０において、前記分析対象物を含む試料は、例えば、容器４の筒内に、電極１、２と接するように導入される。本実施形態において、分析装置１０は、縦置き型の分析装置としているが、分析装置１０は、この実施形態に限定されず、例えば、横置き型の分析装置としてもよい。
【００５５】
本実施形態において、定電流部６は、特に制限されず、電流値を一定に制御する公知の手段が使用でき、具体例として、定電流源、ガルバノスタット等があげられる。
【００５６】
本実施形態において、電極１は、その表面の一部を絶縁性材料７により被覆されているが、絶縁性材料７は、任意の構成であり、あってもよいし、なくてもよい。また、本実施形態において、電極１、２は、容器４の同じ面に対して水平方向に配置されているが、電極１、２の配置位置は、特に制限されず、例えば、任意の位置に配置できる。
【００５７】
本実施形態において、電極１と透光部３とは接しているが、本発明はこれに限定されず、例えば、電極１が透光部３から離れて配置されてもよい。電極１と容器４の側面との距離は、特に制限されず、例えば、０ｃｍ以上２ｃｍ以下、好ましくは、０ｃｍ以上０．５ｃｍ以下である。
【００５８】
透光部３の材料は、特に制限されず、例えば、一対の電極１、２への電圧印加により発生した発光を透過する材料であればよく、前記発光の波長に応じて、適宜設定できる。透光部３の材料は、例えば、石英ガラス、アクリル樹脂（例えば、ポリメチルメタクリレート（ＰＭＭＡ））、ホウケイ酸ガラス、ポリカーボネート（ＰＣ）、シクロオレフィンポリマー（ＣＯＰ）、メチルペンテンポリマー（ＴＰＸ（登録商標））等があげられる。透光部３の大きさは、特に制限されず、例えば、一対の電極１、２への電圧印加により発生した発光を透過可能な大きさであればよい。
【００５９】
本実施形態において、容器４は、有底柱状であるが、容器４の形状はこれに限定されず、有底筒状等、任意の形状としてよい。容器４の材料は、特に制限されず、例えば、アクリル樹脂（例えば、ポリメチルメタクリレート（ＰＭＭＡ））、ポリプロピレン（ＰＰ）、ポリエチレン（ＰＥ）、ポリ塩化ビニル（ＰＶＣ）、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリスチレン（ＰＳ）等があげられる。容器４の容積は、例えば、０．２ｃｍ３以上３ｃｍ３以下であってもよく、０．３ｃｍ３以上０．５ｃｍ３以下であってもよい。容器４が有底柱状である場合、容器４の幅及び奥行きは、例えば、０．４ｃｍ以上５０ｃｍ以下、好ましくは、１ｃｍ以上５ｃｍ以下である。容器４が有底筒状である場合、容器４の直径は、例えば、０．４ｃｍ以上５０ｃｍ以下、好ましくは、１ｃｍ以上５ｃｍ以下である。容器４が有底柱状又は有底筒状である場合、その高さは、例えば、０．３ｃｍ以上５０ｃｍ以下、好ましくは、０．５ｃｍ以上５ｃｍ以下、より好ましくは、０．７ｃｍ以上２ｃｍ以下である。
【００６０】
受光部５は、特に制限されず、例えば、ＣＣＤ、分光器等の公知の光学測定機器があげられる。受光部５は、例えば、分析装置１０の外部に配置された前記光学測定機器に前記発光を伝送する伝送手段でもよい。前記伝送手段は、例えば、光ファイバー等の伝送路があげられる。
【００６１】
容器４の製造方法は、特に制限されず、例えば、射出成型等により、成型体を製造してもよいし、プレート等の基材に凹部を形成することで製造してもよい。その他、容器４等の製造方法は、特に制限されず、例えば、リソグラフィ、切削加工等があげられる。
【実施例】
【００６２】
つぎに、本発明の実施例について説明する。なお、本発明は、下記の実施例により制限されない。
【００６３】
（実施例１）
本開示の分析方法により、尿検体中の鉛を、幅広い濃度でばらつきが少なく分析できることを確認した。
【００６４】
（１）プラズマ分光分析装置
前記実施形態の分析装置を準備した。具体的には、有底柱状の透明ＰＭＭＡ製容器（高さ３５ｍｍ×幅８ｍｍ×奥行き６．５ｍｍ）を準備した。容器４の側面には、石英ガラスを配置した。容器４内に、電極１と電極２とを配置した。電極１と電極２とは、定電流部６（ガルバノスタット）に、それぞれ接続した。電極１と電極２とは、容器４の底面に対して水平方向に配置した。そして、電極１の先端が、容器４の側面の石英ガラスに当接するように配置した。電極１は、直径０．１ｍｍ×長さ２５ｍｍのニクロム電極棒を使用した。電極１は、先端から０．５ｍｍまでを露出し、その他の領域を絶縁したものを使用した。電極２は、容器４の側面において、電極２の一部が容器４内に露出するように配置した。電極２は、直径４ｍｍ×長さ１５ｍｍのカーボン電極棒とした。また、受光部として、前記石英ガラスを介して、電極１の先端と対面するように光ファイバーを配置した。前記光ファイバーは、直径４００μｍ  単芯の光ファイバーを使用した。また、前記光ファイバーは、凹面グレーティング方式の分光器（自家調製）に接続した。
【００６５】
（２）プラズマ分光分析
２人の被験者に、ＥＤＴＡを点滴により投与した後、前記被験者の尿をそれぞれ採取し、これを尿検体とした。前記尿検体に、２ｍｏｌ／Ｌとなるように水酸化リチウムを溶解した。前記尿検体について、それぞれの鉛の濃度を原子吸光法により測定した。その結果、前記尿検体における鉛の濃度は、それぞれ、２．７ｐｐｂ及び１２．３ｐｐｂであった。また、コントロール（０ｐｐｂの検体）として、２ｍｏｌ／Ｌの水酸化リチウム水溶液を用いた。つぎに、前記分析装置の前記容器の内部に、３種類の検体を、それぞれ導入した。そして、電極１と電極２との間に、電極１が陰極（カソード）となり、電極２が陽極（アノード）となるよう、下記の濃縮条件で電圧を印加し、電極１の近傍に前記鉛を濃縮した。なお、下記の濃縮条件において、「印加時間」とは、濃縮工程における濃縮電圧を印加している時間と前記濃縮電圧を印加していない時間との合計の時間を表す。
【００６６】
（濃縮条件）
電圧印加時の電流値：４０ｍＡ
印加時間：１２００秒
印加周期：４秒
Ｄｕｔｙ：５０％
【００６７】
前記濃縮直後に、さらに、電極１と電極２との間に、電極１が陽極となり、電極２が陰極となるよう、下記のプラズマ発生条件で電圧及び電流を印加し、鉛特有のプラズマ発光の波長である３６８．３ｎｍ付近のピークにおける発光強度（カウント値）を測定した（実施例１、ｎ＝２）。なお、下記のプラズマ発生条件において、「印加時間」とは、検出工程におけるプラズマ電圧を印加している時間とプラズマ電圧を印加していない時間との合計の時間を表す。
【００６８】
（プラズマ発生条件）
印加電圧：５００Ｖ
印加時間：２．５ｍｓ
印加周期：５０μｓ
Ｄｕｔｙ：５０％
【００６９】
この結果を図２に示す。図２は、鉛濃度とカウント値との相関を示すグラフである。図２において、横軸は、鉛の濃度を示し、縦軸は、カウント値を示す。図２に示すように、実施例１では、鉛の濃度依存的にカウント値が増加し、２．７ｐｐｂと低濃度の鉛も検出された。また、サンプル間でのカウント値のばらつきが抑制されていた。これらの結果から、本開示の分析方法によれば、幅広い濃度でカウント値のばらつきを抑制できることがわかった。
【００７０】
（実施例２）
異なる印加周期において、尿検体中の鉛を、ばらつきが少なく分析できることを確認した。
【００７１】
前記実施例１（２）の濃縮条件において、印加周期を、０．２５秒、０．５秒、１秒、２秒、３秒、４秒、又は８秒とした以外は、前記実施例１（２）と同様にして、カウント値を測定した（ｎ＝２）。
【００７２】
この結果を図３に示す。図３は、異なる周期におけるカウント値を示すグラフである。図３において、横軸は、印加周期を示し、縦軸は、カウント値を示す。図３に示すように、印加周期が０．２５秒から効果があり、印加周期が長くなるにつれてカウント値が増加した。そして、２秒以上の長い印加周期において、より高いカウント値が得られた。これらの結果から、本開示の分析方法によれば、幅広い周期で分析対象物を分析可能であり、特に２秒以上の印加周期とすることにより、強いシグナル（高いカウント値）を得られることがわかった。
【００７３】
以上、実施形態及び実施例を参照して本発明を説明したが、本発明は、上記実施形態及び実施例に限定されるものではない。本発明の構成や詳細には、本発明のスコープ内で当業者が理解しうる様々な変更をできる。
【産業上の利用可能性】
【００７４】
本開示の分析方法によれば、例えば、試料分析時の分析誤差の発生を抑制できる。また、本開示の分析方法は、試料分析時の分析誤差の発生を抑制できるため、例えば、試料の種類や、前記分析対象物の種類によらず、前記分析対象物を精度よく分析できる。さらに、本開示の分析方法は、例えば、前記試料に対する前記前処理を行うことなく、局所的に高濃度となった分析対象物を効率よく分析できるため、簡便に、高い感度で前記試料を分析できる。このため、本開示の分析方法は、例えば、プラズマ発生を利用した元素等の分析に、極めて有用である。
【符号の説明】
【００７５】
１、２              電極
３                  透光部
４                  容器
５                  受光部
６                  定電流部
７                  絶縁性材料
１０                分析装置
【図１】
2018021902.tif 000003
【図２】
2018021902.tif 000004
【図３】
2018021902.tif 000005