(57)【要約】【課題】Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できるＸ線検査装置を提供すること。【解決手段】Ｘ線検査装置は、被検査物が水平方向に通過する搬送路を形成するコンベアを挟んで、Ｘ線検出器がコンベアの搬送面からの高さ方向を検出するように、Ｘ線発生器と前記Ｘ線検出器とが配置されている。Ｘ線画像に映るコンベアの上端側は、設定操作部によって非検査領域として設定される。表示制御部は、Ｘ線画像上のコンベア２Ｘの上端側を強調させた画像情報を表示部５に表示させる。【選択図】図７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線を発生するＸ線発生器（９）と、
Ｘ線を検出するＸ線検出器（１０）と、を備え、
被検査物（Ｗ）が水平方向に通過する搬送路（３）を形成するコンベア（２）を挟んで、前記Ｘ線検出器が前記コンベアの搬送面からの高さ方向を検出するように、前記Ｘ線発生器と前記Ｘ線検出器とが配置され、
前記Ｘ線検出器が検出したＸ線に基づくＸ線画像を処理して前記被検査物を検査するＸ線検査装置（１）であって、
表示部（５）と、
前記Ｘ線画像に映る前記コンベアの上端側を非検査領域（５１）として設定する設定操作部（４５）と、
前記Ｘ線画像上の前記コンベアの上端側を強調させた画像情報を前記表示部に表示させる表示制御部（４７）と、を備えたことを特徴とするＸ線検査装置。
【請求項２】
前記表示制御部は、前記画像情報として、前記Ｘ線画像上の前記コンベアの上端近傍の拡大画像を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項１に記載のＸ線検査装置。
【請求項３】
前記表示制御部は、前記画像情報として、前記Ｘ線検出器が検出したＸ線の検出レベルを前記Ｘ線検出器の複数の検出素子（１０Ａ）の配列方向に沿って柱状グラフ形式で描画した２次元断面波形画像（５０）を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項１に記載のＸ線検査装置。
【請求項４】
前記表示制御部は、前記画像情報として、前記検査領域および前記非検査領域の両方からなる第１のＸ線画像と、前記検査領域からなり前記コンベアの上端近傍が拡大されている第２のＸ線画像とを同時に前記表示部に表示させることを特徴とする請求項１に記載のＸ線検査装置。
【請求項５】
前記表示制御部は、前記第１のＸ線画像の領域外に前記第２のＸ線画像を表示させることを特徴とする請求項４に記載のＸ線検査装置。
【請求項６】
前記表示制御部は、前記Ｘ線検出器の各検出素子に対応する画素の番号により前記非検査領域の境界位置を前記表示部に表示させ、前記設定操作部から指定された画素の番号により前記非検査領域を設定することを特徴とする請求項１から請求項５の何れか１項に記載のＸ線検査装置。
【請求項７】
前記表示制御部は、前記非検査領域の前記検査領域との境界の位置を示すシンボルを前記表示部に表示させ、前記設定操作部から指定された前記境界の位置により非検査領域を設定することを特徴とする請求項１から請求項５の何れか１項に記載のＸ線検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、肉、魚、加工食品、医薬品等の被検査物に対してＸ線発生器で発生したＸ線を照射し、被検査物を透過したＸ線をＸ線検出器により検出することで、被検査物の異物の有無や欠陥等について検査するＸ線検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば食品などの被検査物への異物の混入の有無を検出するために、従来からＸ線検査装置が用いられている。Ｘ線検査装置は、搬送される被検査物にＸ線を照射し、被検査物を透過したＸ線の透過量に応じて得られるＸ線画像から被検査物中の異物の有無や欠陥等について検査している。
【０００３】
従来のこの種のＸ線検査装置にあっては、特許文献１に記載されたものが知られている。特許文献１に記載のものは、コンベア上の搬送路を幅方向に跨ぐようにＸ線発生器およびＸ線検出器を対向して配置し、Ｘ線発生器からコンベア上の被検査物に対してＸ線を横向きに照射している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−２７２３５７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ここで、特許文献１に記載されているような横照射型のＸ線検査装置として、コンベアを自機に備えず、生産設備のコンベアに組み込んで用いられる組み込み型のＸ線検査装置があり、この組み込み型のＸ線検査装置が用いられることが多くなっている。
【０００６】
組み込み型のＸ線検査装置は、生産設備への設置時に設置作業者によってコンベアに対してＸ線発生器およびＸ線検出器が最適位置に調整された上で、製品検査時に検査作業者によって用いられる。Ｘ線発生器およびＸ線検出器の最適位置とは、コンベア上の被検査物にＸ線を照射して得られるＸ線画像にコンベアが映り込まず、かつ、被検査物の全体が映るような位置である。Ｘ線発生器およびＸ線検出器を最適位置に配置することで、Ｘ線画像にコンベアが映り込まなくなり、誤検出等により検査精度が低下してしまうことが防止される。
【０００７】
しかしながら、従来のＸ線検査装置にあっては、Ｘ線発生器およびＸ線検出器を最適位置に配置するためには、Ｘ線検出器の各検出素子から得た画素単位で高精度に位置調整を行う必要があり、最適位置に完全に調整したり常に最適位置を保つようにすることは容易ではないため、誤検出要因を完全に排除できず、検査精度を低下させてしまうおそれがあった。
【０００８】
したがって、Ｘ線発生器およびＸ線検出器が最適位置から外れている場合であっても、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下しないようにすることが求められていた。
【０００９】
そこで、本発明は、前述のような従来の問題を解決するためになされたもので、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できるＸ線検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明に係るＸ線検査装置は、Ｘ線を発生するＸ線発生器と、Ｘ線を検出するＸ線検出器と、を備え、被検査物が水平方向に通過する搬送路を形成するコンベアを挟んで、前記Ｘ線検出器が前記コンベアの搬送面からの高さ方向を検出するように、前記Ｘ線発生器と前記Ｘ線検出器とが配置され、前記Ｘ線検出器が検出したＸ線に基づくＸ線画像を処理して前記被検査物を検査するＸ線検査装置であって、表示部と、前記Ｘ線画像に映る前記コンベアの上端側を非検査領域として設定する設定操作部と、前記Ｘ線画像上の前記コンベアの上端側を強調させた画像情報を前記表示部に表示させる表示制御部と、を備えたことを特徴とする。
【００１１】
この構成により、ユーザは、表示部においてコンベアの上端側を強調させた画像情報を見ることで、コンベアが映り込んだ領域を非検査領域として精度よく設定できる。この結果、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できる。
【００１２】
本発明に係るＸ線検査装置において、前記表示制御部は、前記画像情報として、前記Ｘ線画像上の前記コンベアの上端近傍の拡大画像を前記表示部に表示させることを特徴とする。
【００１３】
この構成により、ユーザは、表示部においてコンベアの上端近傍の拡大画像を見ることで、非検査領域の検査領域との境界として設定するコンベアの上端部の位置を精度よく把握でき、設定値を精度よく設定することができる。
【００１４】
本発明に係るＸ線検査装置において、前記表示制御部は、前記画像情報として、前記Ｘ線検出器が検出したＸ線の検出レベルを前記Ｘ線検出器の複数の検出素子の配列方向に沿って柱状グラフ形式で描画した２次元断面波形画像を前記表示部に表示させることを特徴とする。
【００１５】
この構成により、ユーザは、非検査領域の境界として設定するコンベアの上端部の位置を、検出素子の画素ピッチで精度よく把握でき、設定値を精度よく設定することができる。
【００１６】
本発明に係るＸ線検査装置において、前記表示制御部は、前記画像情報として、前記検査領域および前記非検査領域の両方からなる第１のＸ線画像と、前記検査領域からなり前記コンベアの上端近傍が拡大されている第２のＸ線画像とを同時に前記表示部に表示させることを特徴とする。
【００１７】
この構成により、ユーザは、第２のＸ線画像においてコンベアの映り込みを確認することで、非検査領域の境界として設定するコンベアの上端部の位置を精度よく把握でき、設定値を精度よく設定することができる。
【００１８】
本発明に係るＸ線検査装置において、前記表示制御部は、前記第１のＸ線画像の領域外に前記第２のＸ線画像を表示させることを特徴とする。
【００１９】
この構成により、ユーザは、第１のＸ線画像と第２のＸ線画像とを混同することなく、設定値の設定操作を行うことができる。
【００２０】
本発明に係るＸ線検査装置において、前記表示制御部は、前記Ｘ線検出器の各検出素子に対応する画素の番号により前記非検査領域の境界位置を前記表示部に表示させ、前記設定操作部から指定された画素の番号により前記非検査領域を設定することを特徴とする。
【００２１】
この構成により、画素の番号で設定値を把握し、設定値の設定操作を行うことができる。
【００２２】
本発明に係るＸ線検査装置において、前記表示制御部は、前記非検査領域の前記検査領域との境界の位置を示すシンボルを前記表示部に表示させ、前記設定操作部から指定された前記境界の位置により非検査領域を設定することを特徴とする。
【００２３】
この構成により、ユーザは、非検査領域の検査領域との境界の位置を表すシンボルを移動することで、視覚的に設定値の設定操作を行うことができる。
【発明の効果】
【００２４】
本発明は、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できるＸ線検査装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係るＸ線検査装置の斜視図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態に係るＸ線検査装置の搬送方向に直交する断面における断面図である。
【図３】本発明の第１の実施の形態に係るＸ線検査装置の、検査モードにおける動作を説明するフローチャートである。
【図４】本発明の第１の実施の形態に係るＸ線検査装置の、検査モードにおけるＸ線画像の領域区分を説明する図である。
【図５】本発明の第１の実施の形態に係るＸ線検査装置の、メンテナンスモードにおける動作を説明するフローチャートである。
【図６】本発明の第１の実施の形態に係るＸ線検査装置の、メンテナンスモードにおける画像処理前のＸ線画像を示す図である。
【図７】本発明の第１の実施の形態に係るＸ線検査装置の、メンテナンスモードにおける画像処理後のＸ線画像を示す図である。
【図８】本発明の第２の実施の形態に係るＸ線検査装置の、メンテナンスモードにおける動作を説明するフローチャートである。
【図９】本発明の第２の実施の形態に係るＸ線検査装置の、メンテナンスモードにおける画像処理後のＸ線画像を示す図である。
【図１０】本発明の第３の実施の形態に係るＸ線検査装置の、メンテナンスモードにおける動作を説明するフローチャートである。
【図１１】本発明の第３の実施の形態に係るＸ線検査装置の、メンテナンスモードにおける非検査領域の設定前のＸ線画像を示す図である。
【図１２】本発明の第３の実施の形態に係るＸ線検査装置の、メンテナンスモードにおける非検査領域の設定中のＸ線画像を示す図である。
【図１３】本発明の第３の実施の形態に係るＸ線検査装置の、メンテナンスモードにおける非検査領域の設定後のＸ線画像を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２６】
以下、本発明の第１の実施の形態について、図面を参照して説明する。まず構成について説明する。
【００２７】
図１において、Ｘ線検査装置１は筐体４を備えている。筐体４は、被検査物Ｗを搬送するコンベア２に組み込まれている。コンベア２上には、被検査物Ｗが搬送部材２１に載って水平方向に通過する搬送路３が形成されている。本実施の形態は、被検査物Ｗが飲料ボトルである場合を例示している。
【００２８】
コンベア２は、被検査物Ｗの生産設備の一部であり、Ｘ線検査装置１と別体に構成されている。本実施の形態は、コンベア２がトップチェーンコンベアからなる場合を例示している。トップチェーンコンベアは、無端状のチェーンに複数のプレートを設けたものであり、コンベア２の搬送部材２１となるプレートの上面で被検査物Ｗを搬送するようになっている。
【００２９】
このように、Ｘ線検査装置１は、別体のコンベア２に組み込まれる組み込み型のＸ線検査装置であり、図１で示すようなボトル搬送でよく使用されるトップチェーンコンベアやベルトコンベア等の被検査物Ｗを水平方向に搬送する既設のコンベアに組み込まれる。なお、ベルトコンベアによる被検査物Ｗの搬送の場合にはベルトが搬送部材２１となる。また、コンベア２は、Ｘ線検査装置１と一体に構成されていてもよい。
【００３０】
筐体４には、被検査物Ｗが搬入される開口部７と、被検査物Ｗが搬出される開口部８とが形成されている。コンベア２は、開口部７、８を通って筐体４を貫通している。筐体４は、ステンレス等のＸ線を遮蔽可能な金属からなる遮蔽カバー１６を、開口部７、８の周囲に備えており、遮蔽カバー１６は、開口部７、８から外部へのＸ線の漏洩を防止している。
【００３１】
コンベア２の上方にはガイド部材６１が設けられており、ガイド部材６１は、被検査物Ｗをコンベア２上の幅方向の中央の位置で搬送されるように案内している。ガイド部材６１は、被検査物Ｗを幅方向で挟むように、左右で一対、合計４本設けられている。
【００３２】
ガイド部材６１は、Ｘ線発生器９のＸ線照射野に入り込まないように分断されている。なお、ガイド部材６１は、Ｘ線透過率の高い材質から構成し、コンベア２と同様に開口部７から開口部８まで貫通するように連続して設けられていてもよい。
【００３３】
図２において、Ｘ線検査装置１は、Ｘ線を発生するＸ線発生器９と、Ｘ線を検出するＸ線検出器１０と、総合制御部４０とを備えている。これらのＸ線発生器９、Ｘ線検出器１０および総合制御部４０は筐体４（図１参照）の内部に収納されている。
【００３４】
Ｘ線発生器９およびＸ線検出器１０は、コンベア２上の被検査物Ｗが搬送される搬送路３を挟むように、コンベア２の幅方向に対向して配置されている。すなわち、コンベア２を幅方向に挟んで対向するように、Ｘ線発生器９とＸ線検出器１０とが配置されている。
【００３５】
Ｘ線発生器９は、その内部に設けられた図示しないＸ線管の陰極からの電子ビームを陽極のターゲットに照射させてＸ線を生成し、生成したＸ線を図示しないスリットにより略三角形状のスクリーン状に成形するようになっている。また、Ｘ線発生器９は、スクリーン状のＸ線照射野に成形したＸ線を、コンベア２上の搬送路３を幅方向に横切るようにして、Ｘ線検出器１０に向けて照射するようになっている。
【００３６】
Ｘ線検出器１０は、複数の検出素子１０Ａをライン状に整列したＸ線ラインセンサからなる。Ｘ線検出器１０の検出素子１０Ａは、図示しないフォトダイオードと、このフォトダイオード上に設けられた図示しないシンチレータとからなり、Ｘ線をシンチレータにより光に変換し、この光をフォトダイオードにより検出している。
【００３７】
Ｘ線検出器１０の複数の検出素子１０Ａは、コンベア２の搬送部材２１の上面に対して垂直にｎ個配置されている。Ｘ線検出器１０の下端部の検出素子１０Ａから出力されるデータは、Ｘ線画像の下端部の１画素目の画像に対応する。
【００３８】
同様に、Ｘ線検出器１０の下端部からｎ個目の検出素子１０Ａから出力されるデータは、Ｘ線画像の下端部からｎ画素目の画像に対応する。なお、図２には、ガイド部材６１の位置が破線で示されているが、ガイド部材６１はＸ線発生器９のＸ線照射野に入り込んでいない。
【００３９】
このように構成されたＸ線検出器１０は、被検査物ＷがＸ線検出器１０を通過することで、被検査物Ｗを透過するＸ線の量（検出レベル）に応じたＸ線画像を出力する。Ｘ線検出器１０は、図示しないＡ／Ｄ変換部を備えており、このＡ／Ｄ変換部によりフォトダイオードからの輝度値データをデジタルデータに変換するようになっている。
【００４０】
なお、Ａ／Ｄ変換部から出力されるデータは、輝度値により明暗で表されるＸ線画像（明暗画像）であってもよいし、輝度値を所望の濃度となるように変換した濃度値により濃淡で表されるＸ線画像（濃淡画像）であってもよい。本実施例では、Ｘ線検出器１０のＡ／Ｄ変換部から出力されるＸ線画像は、検出レベルを明暗で表した明暗画像である。
【００４１】
本実施の形態において、Ｘ線発生器９は、Ｘ線照射野がコンベア２の上方となるように、設置作業により予め調整されている。また、Ｘ線検出器１０の下端部がコンベア２の上面と同じ高さになるように、Ｘ線検出器１０の位置が設置作業により予め調整されている。
【００４２】
Ｘ線検査装置１は、表示部５、設定操作部４５および総合制御部４０を備えている。
【００４３】
表示部５は、平面ディスプレイ等から構成されており、ユーザに対する表示出力を行うようになっている。表示部５は、総合制御部４０による検査結果等の画像を表示するようになっている。
【００４４】
また、表示部５は、被検査物Ｗの良否判定結果を「ＯＫ」や「ＮＧ」等の文字または記号で表示するようになっている。また、表示部５は、総検査数、良品数、ＮＧ総数等の統計値を表示するようになっている。
【００４５】
表示部５の表示内容および表示態様は、既定設定、または設定操作部４５からの所定のキー操作による要求に基づいて決定される。
【００４６】
設定操作部４５は、総合制御部４０への各種パラメータ等の設定入力を行うものである。設定操作部４５は、ユーザが操作する複数のキーやスイッチ等で構成され、総合制御部４０への各種パラメータ等の設定入力や動作モードの選択を行うものである。本実施の形態では、表示部５と設定操作部４５とがタッチパネル式表示器として一体化され、筐体４の前面上部に配置されている。Ｘ線検査装置１の動作モードには、被検査物Ｗの検査を行う通常の検査モードと、Ｘ線検査装置１の各種の調整や状態確認等のメンテナンスを行うメンテナンスモードとが含まれる。
【００４７】
総合制御部４０は、Ｘ線画像記憶部４２、画像処理部４３、判定部４４および制御部４６を備えている。また、総合制御部４０は、Ｘ線画像上のコンベア２（図７の透過画像２Ｘを参照）の上端側を強調させた画像情報を表示部５に表示させる表示制御部４７を備えている。
【００４８】
Ｘ線画像記憶部４２は、Ｘ線検出器１０から受け取ったＸ線画像を一時的に記憶するようになっている。すなわち、Ｘ線画像記憶部４２は、Ｘ線画像のバッファメモリとして機能する。
【００４９】
画像処理部４３は、Ｘ線画像記憶部４２から読み出したＸ線画像に対して各種の画像処理アルゴリズム等を適用して画像処理を施すようになっている。ここで、画像処理アルゴリズムは、複数の画像処理フィルタを組み合わせたものからなる。
【００５０】
判定部４４は、画像処理部４３により画像処理されたＸ線画像に対して、被検査物Ｗと異物との判別を行って異物の混入の有無を判定する異物判定を行い、また、被検査物Ｗの形状の良否を判定する形状判定を行うようになっている。
【００５１】
制御部４６は、ＣＰＵおよび制御プログラムの記憶領域または作業領域としてのメモリなどを有しており、検査モードおよびメンテナンスモードを含む各動作モードにおいて、Ｘ線検査装置１の全体を制御するようになっている。
【００５２】
ここで、コンベア２に対してＸ線発生器９とＸ線検出器１０とを最適位置に完全に調整したり、完全な最適位置に保つようにすることは容易ではない。このため、Ｘ線検出器１０から取得したＸ線画像にコンベア２が映り込んでしまう場合がある。例えば、設置時の位置調整後に、振動等によりコンベア２の上面に沿う平面がＸ線検出器１０の下端部より上方に定常的に変位した場合、Ｘ線画像にコンベア２の上側、すなわち、被検査物Ｗが載る搬送部材２１などが映り込んでしまう。特に、本実施の形態のコンベア２は、プレートとしての複数の搬送部材２１を無端状のチェーンに設けてなるトップチェーンコンベアであり、搬送部材２１のＸ線透過率がベルトコンベアのベルトよりも低いため、Ｘ線画像への搬送部材２１の映り込みの影響が大きい。
【００５３】
Ｘ線画像にコンベア２の搬送部材２１が映り込んでしまうと、その搬送部材２１の影響により、判定部４４における誤検出が発生して検査精度が低下するおそれがある。一方、Ｘ線検出器１０を最適位置に再度調整することは、調整作業の時間を確保できない等の理由から容易ではない場合がある。
【００５４】
そこで、本実施の形態では、Ｘ線画像におけるコンベア２が映り込んだ領域をメンテナンスモードにおいてユーザが非検査領域として設定しておき、Ｘ線検査装置１は、検査モードにおいて非検査領域以外の検査領域を対象に判定部４４により被検査物Ｗを検査するようになっている。
【００５５】
また、ユーザがＸ線画像におけるコンベア２の位置を確認しながら非検査領域を設定する際は、コンベア２が全て非検査領域に収まり、かつ、被検査物Ｗが全て検査領域に収まることが望ましく、そのためには、Ｘ線検出器１０の検出素子１０Ａの配列ピッチ（画素ピッチ）で非検査領域を精度良く設定する必要がある。
【００５６】
本実施の形態では、非検査領域を精度良く設定できるようにするため、ユーザがＸ線画像においてコンベア２とそれ以外の部分との境界を明確に判別できるよう、表示制御部４７は、Ｘ線画像上のコンベア２（透過画像２Ｘ）の上端側を強調させた画像情報を表示部５に表示させるようになっている。
【００５７】
このようにすることで、ユーザは、表示部５においてコンベア２の上端側を強調させた画像情報を見ることで、コンベア２が映り込んだ領域を非検査領域として容易にかつ精度よく設定できる。このため、Ｘ線画像の検査領域にコンベア２が映り込むことによる誤検出を防止でき、検査精度を向上することができる。
次に動作と作用効果を説明する。
【００５８】
まず、図３のフローチャートを参照して検査モードの動作を説明する。検査モードにおいて、Ｘ線検査装置１は、Ｘ線検出器１０からＸ線画像（透過画像）のデータを取得し（ステップＳ１）、このＸ線画像をＸ線画像記憶部４２に一時的に記憶する（ステップＳ２）。
【００５９】
次いで、Ｘ線検査装置１は、メンテナンスモードで予め設定された非検査領域の設定値を読み込む（ステップＳ３）。非検査領域の設定値は表示制御部４７に記憶されている。次いで、Ｘ線検査装置１は、設定値によりＸ線画像を検査領域と非検査領域とに区分する（ステップＳ４）。
【００６０】
このステップＳ３では、非検査領域の境界の上下方向の位置または画素の番号が設定値として読み込まれる。そして、Ｘ線画像は、図４に示すように、設定値としての境界５１Ａの位置（図中、Ｈと記す）または画素の番号に基づいて、コンベア２の透過画像２Ｘが含まれる非検査領域５１と、被検査物Ｗの透過画像ＷＸが含まれる検査領域５２とに精度よく区分される。なお、検査領域５２に対しては、次のステップＳ５における判定動作を精度よく行うために画像処理が施される。
【００６１】
次いで、Ｘ線検査装置１は、画像処理後のＸ線画像の検査領域を対象として、判定部４４により異物の混入の有無や形状不良の有無等について判定を行い（ステップＳ５）、この判定結果をＸ線画像等と共に表示部５により表示する（ステップＳ６）。
【００６２】
次に、図５のフローチャートを参照してメンテナンスモードの動作を説明する。メンテナンスモードにおいて、Ｘ線検査装置１は、Ｘ線検出器１０からＸ線画像（透過画像）のデータを取得し（ステップＳ１１）、このＸ線画像をＸ線画像記憶部４２に一時的に記憶する（ステップＳ１２）。
【００６３】
次いで、表示制御部４７は、Ｘ線画像上のコンベア２（透過画像２Ｘ）の上端側を強調させた画像情報を生成し（ステップＳ１３）、生成した画像情報を表示部５に表示させる（ステップＳ１４）。
【００６４】
ここで、ステップＳ１１で取得したＸ線画像は、図６に示すように、Ｘ線検出器１０の各検出素子１０Ａに対応する画素が全て含まれており、表示部５の画面サイズに対するコンベア２の透過画像２Ｘのサイズが小さい。このため、このＸ線画像から透過画像２Ｘの上端位置を特定してこの上端位置を非検査領域の設定値として設定しようとした場合、画素単位で精度よく設定値を設定することは容易ではない。
【００６５】
一方、ステップＳ１３で表示制御部４７により生成されてステップＳ１４で表示部５に表示される画像情報は、図７に示すように、コンベア２の透過画像２Ｘの上端近傍の拡大画像からなる。すなわち、コンベア２（透過画像２Ｘ）の上端近傍を拡大することでその上端側を強調している。また、図７の例では、Ｘ線検出器１０の各検出素子１０Ａに対応する画素の番号をＸ線画像に重畳（オーバーレイ）している。
【００６６】
図７のＸ線画像において、コンベア２の透過画像２Ｘの上端部が４画素目に位置し、被検査物Ｗの透過画像ＷＸの下端部が５画素目に位置していることが、ユーザにより容易に精度よく把握可能である。したがって、図７に示すＸ線画像をステップＳ１４において表示部５に表示することで、ユーザは、コンベア２の透過画像２Ｘの上端部の位置が４画素目であることを容易に精度よく把握でき、後述するステップＳ１５において、非検査領域の検査領域との境界の位置を表す設定値として、画素の番号（４画素目）を指定することができる。すなわち、ユーザは、画素の番号で設定値を把握でき、設定値の設定操作を行うことができる。
【００６７】
ここで、ユーザによる設定値の指定方法は、画素の番号により設定値を指定する方法に限らない。例えば、非検査領域の境界の位置を特定する水平ライン状のシンボルＳを表示部５に表示しておき、このシンボルＳをユーザがタッチ操作等によりコンベア２の透過画像２Ｘの上端部の位置に移動する方法であってもよい。シンボルＳを移動することで境界の位置を指定する方法によれば、ユーザは、視覚的に設定値の設定操作を行うことができる。
【００６８】
Ｘ線検査装置１は、ユーザにより入力された設定値を設定操作部４５から取得し（ステップＳ１５）、この設定値を表示制御部４７に記憶し（ステップＳ１６）、今回の動作を終了する。ステップＳ１６で記憶された設定値は、検査モードにおける画像処理時に検査領域と非検査領域とを区分する際に用いられる。
【００６９】
次に、本発明の第２の実施の形態について、図面を参照して説明する。第２の実施の形態は、メンテナンスモードにおけるＸ線検査装置１の動作において第１の実施の形態と異なる。
【００７０】
以下、図８のフローチャートを参照してメンテナンスモードにおけるＸ線検査装置１の動作と作用効果について説明する。メンテナンスモードにおいて、Ｘ線検査装置１は、Ｘ線検出器１０からＸ線画像（透過画像）のデータを取得し（ステップＳ２１）、このＸ線画像をＸ線画像記憶部４２に一時的に記憶する（ステップＳ２２）。
【００７１】
次いで、表示制御部４７は、Ｘ線画像上のコンベア２（透過画像２Ｘ）の上端側を強調させた画像情報を生成し（ステップＳ２３）、生成した画像情報を表示部５に表示させる（ステップＳ２４）。
【００７２】
ステップＳ２３では、表示制御部４７は、図９に示す２次元断面波形画像５０を生成する。この２次元断面波形画像５０は、Ｘ線検出器１０が検出したＸ線の検出レベルの一定時間における最大値５０ｍａｘと最小値５０ｍｉｎを、Ｘ線検出器１０の検出素子１０Ａの配列方向に沿って柱状グラフ形式で描画したＸ線画像である。
【００７３】
図９において、コンベア２の映り込みにより１画素目から４画素目まで検出レベルが小さくなっている。ユーザは、表示部５において２次元断面波形画像５０を確認することで、Ｘ線画像にコンベア２がどの程度映り込んでいるかを精度よく把握でき、コンベア２の映り込みが最小となるように非検査領域の境界（４画素目）を設定値として設定操作部４５から指定することができる。
【００７４】
Ｘ線検査装置１は、ユーザにより入力された設定値を設定操作部４５から取得し（ステップＳ２５）、この設定値を表示制御部４７に記憶し（ステップＳ２６）、今回の動作を終了する。
【００７５】
次に、本発明の第３の実施の形態について、図面を参照して説明する。第３の実施の形態は、メンテナンスモードにおけるＸ線検査装置１の動作において第１および第２の実施の形態と異なる。
【００７６】
以下、図１０のフローチャートを参照してメンテナンスモードにおけるＸ線検査装置１の動作と作用効果について説明する。メンテナンスモードにおいて、Ｘ線検査装置１は、Ｘ線検出器１０からＸ線画像（透過画像）のデータを取得し（ステップＳ３１）、このＸ線画像をＸ線画像記憶部４２に一時的に記憶する（ステップＳ３２）。
【００７７】
次いで、表示制御部４７は、Ｘ線画像上のコンベア２（透過画像２Ｘ）の上端側を強調させた画像情報を生成し（ステップＳ３３）、生成した画像情報を表示部５に表示させる（ステップＳ３４）。表示部５に表示されるＸ線画像の詳細については後述する。
【００７８】
Ｘ線検査装置１は、ユーザにより入力された設定値を設定操作部４５から取得し（ステップＳ３５）、設定値が確定しているか否かを判別する（ステップＳ３６）。ここでは、Ｘ線検査装置１は、ユーザによる確定操作が行われている場合に設定値が確定していると判定する。
【００７９】
Ｘ線検査装置１は、ステップＳ３６で設定値が確定していないと判定した場合はステップＳ３３に戻り、設定値が確定していると判定した場合は、確定した設定値を表示制御部４７に記憶し（ステップＳ３７）、今回の動作を終了する。
【００８０】
本実施の形態では、ステップＳ３４で表示部５に表示されるＸ線画像には、図１１、図１２、図１３に示すように、検査領域５２および非検査領域５１の両方からなる第１のＸ線画像が表示領域５Ａに表示されている。また、表示部５に表示されるＸ線画像には、検査領域５２からなりコンベア２の上端近傍が拡大されている第２のＸ線画像が表示領域５Ｂに表示されている。すなわち、表示制御部４７は、検査領域５２および非検査領域５１の両方からなる第１のＸ線画像と、検査領域５２からなりコンベア２の上端近傍が拡大されている第２のＸ線画像とを同時に表示部５に表示させる。
【００８１】
図１１、図１２、図１３のＸ線画像において、表示領域５Ａには、コンベア２の透過画像２Ｘが実寸サイズで表示されている。また、表示領域５Ａには、非検査領域の境界の位置を特定する水平ライン状のシンボルＳが表示されている。一方、表示領域５Ｂには、検査領域５２に映り込んだコンベア２の透過画像２Ｘが、２値化等による塗り潰しおよび縦方向への引き延ばしによる画像処理が実施されて表示されている。
【００８２】
また、図１１、図１２、図１３において、第１のＸ線画像の表示領域５Ａの外に第２のＸ線画像の表示領域５Ｂが配置されている。すなわち、表示制御部４７は、第１のＸ線画像の領域外に第２のＸ線画像を表示させている。このため、ユーザは、第１のＸ線画像と第２のＸ線画像とを混同することなく、設定値の設定操作を行うことができる。
【００８３】
図１１に示す設定値の設定前のＸ線画像に対してユーザがタッチ操作等によりシンボルＳの位置を調整することで、図１２に示すように表示領域５Ｂにおいてコンベア２の透過画像２Ｘが小さくなる。そして、最終的に図１３に示すように表示領域５Ｂにコンベア２の透過画像２Ｘが映らなくなるまでユーザは精度よく調整を行うことができる。その後、ユーザは図１３の状態を確認してから設定値の確定操作を行うことができる。
【００８４】
したがって、本実施の形態では、設定値が確定されるまでステップＳ３３からステップＳ３５が繰り返されることで、ユーザは、Ｘ線画像へのコンベア２の映り込みの状態を確認しながら、設定値を設定することができる。また、ユーザは、非検査領域５１の境界の位置を設定するシンボルＳを移動することで、視覚的に設定値の設定操作を行うことができる。
【００８５】
なお、第１の実施の形態から第３の実施の形態において、画素の番号により設定値を表示および設定する方法と、シンボルＳにより設定値を表示および設定する方法の何れか一方または両方を採用してよい。
【産業上の利用可能性】
【００８６】
以上のように、本発明に係るＸ線検査装置は、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できるという効果を有し、Ｘ線発生器から照射されて被検査物を透過したＸ線をＸ線検出器により検出して異物を検出するＸ線検査装置として有用である。
【符号の説明】
【００８７】
１  Ｘ線検査装置
２  コンベア
５  表示部
９  Ｘ線発生器
１０  Ｘ線検出器
１０Ａ  検出素子
４５  設定操作部
４７  表示制御部
５０  ２次元断面波形画像
５１  非検査領域
５２  検査領域
Ｓ  シンボル
Ｗ  被検査物
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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