(57)【要約】【課題】  放射線撮影条件の変化に応じた適切な残像補正を行うことができる放射線撮影装置を提供する。【解決手段】  本発明に係る放射線撮影装置は、放射線撮影の撮影条件に基づいて、前記放射線撮影を行う放射線撮影装置であって、照射された放射線を検出し、放射線画像データを出力する検出手段と、前記撮影条件に関する閾値を設定し、前記閾値に基づいて、前記放射線画像データにおける残像の特性を表す残像特性を算出する算出手段と、前記残像特性により算出された前記残像に基づいて、前記放射線画像データを補正する補正手段と、を備える。【選択図】図１
2018114174.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線撮影の撮影条件に基づいて、前記放射線撮影を行う放射線撮影装置であって、
照射された放射線を検出し、放射線画像データを出力する検出手段と、
前記撮影条件に関する閾値を設定し、前記閾値に基づいて、前記放射線画像データにおける残像の特性を表す残像特性を算出する算出手段と、
前記残像特性により算出された前記残像に基づいて、前記放射線画像データを補正する補正手段と、
を備えることを特徴とする放射線撮影装置。
【請求項２】
前記撮影条件は、所定の時間内における前記放射線画像データの撮影回数、所定の時間内における前記放射線画像データの撮影フレーム数、前記放射線画像データの撮影フレームレート、前記放射線画像データの撮影時間、所定の時間内における前記放射線の照射回数、前記放射線の照射時間、前記放射線の照射線量、及び前記検出手段の温度の少なくとも１つであることを特徴とする請求項１に記載の放射線撮影装置。
【請求項３】
前記残像特性は、前記残像の割合又は強度が前記放射線撮影ごとに変化する特性、及び前記残像の割合又は強度が前記撮影条件のパラメータにかかわらず略一定である特性を用いて変化することを特徴とする請求項１又は２に記載の放射線撮影装置。
【請求項４】
前記撮影条件が、所定の時間内における前記放射線画像データの撮影回数、所定の時間内における前記放射線画像データの撮影フレーム数、前記放射線画像データの撮影時間、及び所定の時間内における前記放射線の照射回数の少なくとも１つである場合、前記撮影条件のパラメータが前記閾値未満又は前記閾値以下の領域では、前記残像の割合又は強度が前記放射線撮影ごとに変化する前記残像特性により前記残像が算出され、前記撮影条件のパラメータが前記閾値以上又は前記閾値超の領域では、前記残像の割合又は強度が前記撮影条件にかかわらず略一定である前記残像特性により前記残像が算出されることを特徴とする請求項１乃至３の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
【請求項５】
前記撮影条件のパラメータが前記閾値未満又は前記閾値以下の領域では、前記残像特性は以下の式で表されることを特徴とする請求項１乃至４の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
Ａ（ｘ，ｋ）＝ｂｎ（ｋ）×ｅｘｐ（−ａｎ）×Ｓ（ｘ,ｋ）
Ｓ（ｘ，ｋ）＝ＩＣ（ｘ,ｋ−１）＋ｅｘｐ（−ａｎ）×Ｓ（ｘ,ｋ−１）
ｘ：画素番号
ｋ：放射線撮影の回数
Ａ（ｘ，ｋ）：ｋ回目の放射線画像データの画素番号ｘにおける残像
ａｎ：残像の時定数又は減衰率
ｂｎ（ｋ）：残像の割合又は強度
Ｓ（ｘ,ｋ）：残像補正が施された先の放射線画像データを含む画像情報
ＩＣ（ｘ,ｋ−１）：ｋ−１回目の放射線画像データの画素番号ｘにおける残像補正後の放射線画像データ
【請求項６】
前記撮影条件のパラメータが前記閾値以上又は前記閾値超の領域では、前記残像特性は以下の式で表されることを特徴とする請求項１乃至５の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
Ａ（ｘ，ｋ）＝ｂｎ（ｋ’）×ｅｘｐ（−ａｎ）×Ｓ（ｘ,ｋ）
Ｓ（ｘ，ｋ）＝ＩＣ（ｘ,ｋ−１）＋ｅｘｐ（−ａｎ）×Ｓ（ｘ,ｋ−１）
ｘ：画素番号
ｋ：放射線撮影の回数
ｋ’：放射線撮影の回数の閾値
Ａ（ｘ，ｋ）：ｋ回目の放射線画像データの画素番号ｘにおける残像
ａｎ：残像の時定数又は減衰率
ｂｎ（ｋ）：残像の割合又は強度
Ｓ（ｘ,ｋ）：残像補正が施された先の放射線画像データを含む画像情報
ＩＣ（ｘ,ｋ−１）：ｋ−１回目の放射線画像データの画素番号ｘにおける残像補正後の放射線画像データ
【請求項７】
前記補正手段は、以下の式に基づいて、前記放射線画像データを補正することを特徴とする請求項１乃至６の何れか１項に記載の放射線撮影装置。
ＩＣ（ｘ,ｋ）＝Ｉ（ｘ,ｋ）−Ａ（ｘ,ｋ）
ｘ：画素番号
ｋ：放射線撮影の回数
ＩＣ（ｘ,ｋ）：ｋ回目の放射線画像データの画素番号ｘにおける残像補正後の放射線画像データ
Ｉ（ｘ,ｋ）：ｋ回目の放射線画像データの画素番号ｘにおける残像補正前の放射線画像データ
Ａ（ｘ，ｋ）：ｋ回目の放射線画像データの画素番号ｘにおける残像
【請求項８】
放射線撮影の撮影条件に基づいて、放射線を照射する放射線照射手段と、
照射された前記放射線を検出し、放射線画像データを出力する検出手段と、
前記撮影条件に関する閾値を設定し、前記閾値に基づいて、前記放射線画像データにおける残像の特性を表す残像特性を算出する算出手段と、
前記残像特性により算出された前記残像に基づいて、前記放射線画像データを補正する補正手段と、
を備えることを特徴とする放射線撮影システム。
【請求項９】
放射線撮影の撮影条件に基づいて、前記放射線撮影を行う放射線撮影方法であって、
照射された放射線を検出し、放射線画像データを出力する工程と、
前記撮影条件に関する閾値を設定し、前記閾値に基づいて、前記放射線画像データにおける残像の特性を表す残像特性を算出する工程と、
前記残像特性により算出された前記残像に基づいて、前記放射線画像データを補正する工程と、
を備えることを特徴とする放射線撮影方法。
【請求項１０】
コンピュータを請求項１乃至７の何れか１項に記載の放射線撮影装置の各手段として機能させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線撮影装置、放射線撮影システム、放射線撮影方法、及びプログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、アモルファスシリコンや単結晶シリコンからなる固体撮像素子を２次元状に配列して構成し、放射線画像の撮影を行う放射線撮影装置が広く実用化されている。
【０００３】
このような放射線撮影装置は、放射線が入射すると、残像が発生する場合がある。この場合、放射線撮影装置により撮影された画像データに残像成分が加算されて出力されるため、放射線撮影条件に対して不適切な画像情報が取得されることになる。
【０００４】
そこで、発生した残像を除去するために、オフセット信号を基にした画像情報（オフセットデータ）を用いて画像補正処理が行われている。オフセットデータは、放射線が入射していないときに放射線撮影装置から出力される画像データであり、ダーク画像と呼称される。
【０００５】
しかしながら、残像は、時間経過に伴って残像量が減衰する性質がある。そのため、時間経過に伴い変化する残像量を推定して、画像の補正を行う技術が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】米国特許第５２４９１２３号公報
【特許文献２】特許第４４６４６１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
特許文献１や特許文献２では、放射線検出信号に含まれる残像を、残像成分が複数の指数関数で構成されるインパルス応答に起因しているとして、放射線検出信号から再帰的演算処理によって残像を除去する技術を提案している。
【０００８】
しかしながら、残像は、放射線撮影の撮影条件が変化すると（特に、放射線の連続照射回数が変化すると）、その減衰特性が大きく変化してしまい、残像補正が難しくなるという課題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係る放射線撮影装置は、放射線撮影の撮影条件に基づいて、前記放射線撮影を行う放射線撮影装置であって、照射された放射線を検出し、放射線画像データを出力する検出手段と、前記撮影条件に関する閾値を設定し、前記閾値に基づいて、前記放射線画像データにおける残像の特性を表す残像特性を算出する算出手段と、前記残像特性により算出された前記残像に基づいて、前記放射線画像データを補正する補正手段と、を備える。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、放射線撮影の撮影条件の変化に応じた適切な残像補正を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る放射線撮影装置の構成の一例を示す図である。
【図２】本発明の第１の実施形態に係る残像補正部の構成の一例を示す図である。
【図３】本発明の第１の実施形態に係る放射線撮影装置の処理の一例を示すフローチャートである。
【図４】本発明の第１の実施形態に係る放射線照射1回後のダーク画像の時間変化の一例を示す図である。
【図５】本発明の第１の実施形態に係る実施の効果の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施形態について説明する。なお、以下では、本発明の実施形態として、変化する放射線撮影条件が放射線の連続照射回数である場合の実施形態について説明する。なお、他の放射線撮影条件（例えば、放射線照射線量やセンサ温度など）が変化する場合にも、本発明は適用可能である。本実施例における放射線は、例えば、Ｘ線である。
【００１３】
（第１の実施形態）
【００１４】
本発明の第１の実施形態について説明する。図１は、本実施形態に係る放射線撮影装置１００の構成を示す図である。本実施形態に係る放射線撮影装置１００は、主に、医療用に使用され、放射線撮影の撮影条件に基づいて、放射線撮影を行う。
【００１５】
図１において、放射線照射部１０１は、被写体に放射線を照射する。放射線検出部１０２は、被写体を透過して入射する放射線を検出し、放射線画像データを生成する。管球制御部１０３は、放射線照射部１０１から照射される放射線照射線量を制御する。撮影条件設定部１０４は、被写体に照射される放射線の連続照射回数、放射線照射線量、及びフレームレートなどの放射線撮影条件を、操作者の操作に応じて設定する。検出器制御部１０５は、撮影条件設定部１０４から出力される信号に基づいて、放射線検出部１０２及び管球制御部１０３を制御する。
【００１６】
データ収集部１０６は、放射線検出部１０２で取得された放射線画像データを保持する。放射線検出部１０２で取得された放射線画像データには、残像が含まれる。残像補正部（補正部）１０７は、データ収集部１０６に保持されている放射線画像データ（放射線検出部１０２で取得された残像を含む放射線画像データ）から残像を除去する。残像補正部（補正部）１０７は、残像特性により算出された残像に基づいて、放射線画像データを補正する。画像表示部１０８は、残像補正部１０７で残像補正された放射線画像データをモニタなどに出力する。
【００１７】
次に、本実施形態に係る残像補正部１０７について詳細に説明する。図２は、残像補正部１０７の構成の一例を詳細に示す図である。
【００１８】
メモリ部２０１は、放射線を照射しない状態で放射線検出部１０２において撮影された画像データに基づいて生成された、残像補正に用いるデータ（以下、「残像特性データ」と呼称する）を保持する。残像特性データは、式（１）におけるａｎとｂｎの組み合わせｂｎ（ｋ）×ｅｘｐ（−ａｎ）で表される。ａｎは、残像の時定数又は減衰率である。ｂｎは、残像の割合又は強度である。式（１）では、残像特性データは、残像の割合又は強度ｂｎがｋに依存して放射線撮影ごとに変化する特性を有する。
【００１９】
Ａ（ｘ，ｋ）＝ｂｎ（ｋ）×ｅｘｐ（−ａｎ）×Ｓ（ｘ,ｋ）      ・・・・・（１）
【００２０】
ここで、ｋは、放射線撮影がｋ回目（すなわち、撮影フレーム数がｋフレーム目又は放射線の照射回数がｋ回目）の放射線画像データであり、ｘは、所定の画素（例えば、画素番号ｘ）である。また、Ａ（ｘ,ｋ）は、ｋ回目の放射線画像データの画素ｘにおける残像量である。ａｎ及びｂｎは、例えば、放射線が照射された場合に放射線検出部１０２が出力する信号における下降ステップ応答関数（ＦＳＲＦ：Ｆａｌｌｉｎｇ Ｓｔｅｐ−Ｒｅｓｐｏｉｎｓｅ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）に、以下の式（２）をフィッティングさせることで求めることができる。
【００２１】
ＦＳＲＦ（ｋ）＝Σ{ｂｎ}×ｅｘｐ（−ａｎ・ｋ）×（１−ｅｘｐ（−ａｎ・Ｎｆ））×ｕ（ｋ）／（１−ｅｘｐ（−ａｎ））      ・・・・・（２）
【００２２】
ここで、Ｎｆは、放射線の照射回数である。ｕ（ｋ）は、不連続の単位ステップ関数（ｄｉｓｃｒｅｔｅ ｕｎｉｔ ｓｔｅｐ ｆｕｎｃｔｉｏｎ）である。
【００２３】
Ｓ（ｘ,ｋ）は、先に取得された放射線画像データから導かれる画像情報であり、残像補正が施された先の放射線画像データを含む画像情報である。Ｓ（ｘ,ｋ）は、式（３）により算出される。以下、Ｓ（ｘ,ｋ）は、「Ｓ値」又は「Ｓ」と呼称する。例えば、Ｓ値は、１つ前のフレームの情報が格納された値であり、式（３）によって撮影ごとに更新される。なお、Ｓ値の初期値Ｓ（ｘ，１）は、０又は所定の値に設定される。
【００２４】
Ｓ（ｘ，ｋ）＝ＩＣ（ｘ,ｋ−１）＋ｅｘｐ（−ａｎ）×Ｓ（ｘ,ｋ−１）      ・・・・・（３）
【００２５】
ここで、ＩＣ（ｘ,ｋ−１）は、ｋ−１フレーム目（ｋ回目の放射線画像データ）の画素番号ｘにおける残像補正後の放射線画像データであり、以下の式（４）により表される。Ｉ（ｘ,ｋ−１）は、ｋ−１フレーム目（ｋ−１回目の放射線画像データ）の画素番号ｘにおける残像補正前の放射線画像データである。
【００２６】
ＩＣ（ｘ,ｋ−１）＝Ｉ（ｘ,ｋ−１）−Ａ（ｘ,ｋ−１）      ・・・・・（４）
【００２７】
フレーム情報取得部２０２は、１つ前のフレームにおける残像補正後の放射線画像データ及び１つ前のフレームにおけるＳ値から現在のフレームにおけるＳ値を取得し、保持する。
【００２８】
残像推定部（算出部）２０３は、放射線撮影条件などに基づいて、メモリ部２０１から選択した残像特性データと、フレーム情報取得部２０２で保持される現在のフレームにおけるＳ値とを用いて、残像量を推定する。残像推定部（算出部）２０３は、撮影条件に関する閾値を設定し、閾値に基づいて、放射線画像データにおける残像の特性を表す残像特性を算出する。演算部２０４は、残像推定部２０３で推定された残像量を、放射線検出部１０２で取得された残像を含む放射線画像データから減算する。演算部２０４は、残像特性により算出された残像に基づいて、放射線画像データを補正する。
【００２９】
次に、図３を参照しながら、被写体の撮影から放射線画像データを表示するまでの処理について説明する。ここでは、撮影中に変化させる放射線撮影条件は、所定の時間内における放射線の照射回数（連続照射回数）である。連続照射回数は、所定の時間内における放射線画像データの撮影回数、及び所定の時間内における放射線画像データの撮影フレーム数に対応する。この場合、撮影条件のパラメータは、放射線の照射回数（連続照射回数）ｋである。放射線の照射回数ｋは、撮影回数及び撮影フレーム数に対応する。
【００３０】
図３では、連続照射回数ｋに閾値ｋ’を設け、閾値の前後で補正方法が変化する実施形態について説明する。
【００３１】
閾値ｋ’は、放射線検出部１０２における残像アーチファクトの減衰特性によって決定される。放射線の連続照射回数に閾値ｋ’を設ける場合、例えば、放射線を１回照射した後のダーク画像の出力から決めることができる。ダーク画像とは、放射線が入射していないときに放射線撮影装置１００から出力された画像データのことである。
【００３２】
図４は、放射線を１回照射した後のダーク画像の出力の時間変化を示す図である。図４に示すように、残像量が、連続照射回数が１０回目付近で十分に減衰していることが分かる。つまり、ｎ−１０回目の放射線の照射による残像量は、ｎ回目の放射線の照射時には十分減衰しており、実質的に０と考えることができる。同様に、ｎ回目の放射線の照射時には、ｎ−１０回目以前の放射線の照射による残像量も十分減衰しており、実質的に０と考えることができる。
【００３３】
したがって、ｎ回目の放射線の照射による残像量は、１回目からの残像量の累積であると仮定すると、１回目からｎ−１０回目までの残像量は実質的に０であることから、ｎ回目の残像量は、ｎ−９回目からｎ−１回目までの残像量の累積であると推定される。
【００３４】
つまり、１回目から９回目までの放射線の照射による残像量の累積値は変化するが、１０回目以降の残像量（具体的には、残像の割合又は強度）は略一定となると推定される。
【００３５】
この場合、放射線の連続照射回数の閾値ｋ’が１０回であると決定し、閾値ｋ’以降の放射線撮影では、残像の割合又は強度が略一定となると推定することができる。つまり、残像特性データは、残像の割合又は強度が照射回数にかかわらず略一定である特性を有する。
【００３６】
なお、閾値ｋ’は、残像の減衰量、もしくは減衰率に基づいて決定されてもよい。例えば、図４において、減衰量が所定の値（好ましくは、０．０３％）となる場合に残像が十分減衰されると仮定し、減衰量の所定の値に対応する放射線の連続照射回数（又は、撮影フレーム数）を閾値ｋ’とすればよい。
【００３７】
本実施形態では、ダーク画像の情報から閾値ｋ’を決定する例を挙げたが、残像量の減衰特性が分かる他の情報からも、閾値ｋ’を決定することができる。また、本実施形態では、閾値ｋ’は、放射線の連続照射回数（又は、撮影フレーム数）ｋの閾値であるが、放射線の照射による残像量も十分減衰するまでの時間の閾値であってもよい。この場合、ｋは、放射線の連続照射回数（又は、撮影フレーム数）の代わりに、放射線の連続照射時間を用いる。
【００３８】
ステップＳ１０１において、撮影条件設定部１０４は、操作者の操作に応じて、撮影モード、放射線照射線量、及び放射線照射部１０１の管電圧などの被写体の撮影時における放射線撮影条件を設定する。設定された放射線撮影条件は、検出器制御部１０５に出力される。
【００３９】
ステップＳ１０２において、放射線の連続照射回数（又は、撮影フレーム数）ｋを０にセットする。ステップＳ１０３において、検出器制御部１０５は、ステップＳ１０１で設定された放射線撮影条件に基づいて、線量制御信号を管球制御部１０３に対して出力する。管球制御部１０３は、線量制御信号に基づいて、放射線信号を放射線照射部１０１に対して出力する。放射線照射部１０１は、放射線照射信号を受けて、被写体に放射線を照射する。
【００４０】
ステップＳ１０４において、放射線の連続照射回数（又は、撮影フレーム数）ｋに１加算（インクリメント）する。ステップＳ１０５において、検出器制御部１０５は、ステップＳ１０１で設定された放射線撮影条件に基づいて、画像データ取得信号を放射線検出部１０２に対して出力する。放射線検出部１０２は、ステップＳ１０１で設定された放射線撮影条件に基づいて撮影された放射線画像データｙ（ｋ）を取得する。
【００４１】
ステップＳ１０６において、放射線の連続照射回数（又は、撮影フレーム数）ｋが、事前に設定された閾値ｋ’以上であるか否かを判定する。
【００４２】
ステップＳ１０６において、閾値ｋ’以上である場合には、残像特性データがＬａｇＣｃｏｎｔに決定される（ステップＳ１０７−２）。閾値ｋ’以下である場合には、残像特性データＬａｇＣ（ｋ）がメモリ部２０１から選択される（ステップＳ１０７−１）。ただし、ＬａｇＣ（ｋ’）とＬａｇＣｃｏｎｔは同値である。ここで、ＬａｇＣは、上記の式（１）のａｎとｂｎの組み合わせｂｎ×ｅｘｐ（−ａｎ）である。
【００４３】
ステップＳ１０８において、ステップＳ１０７で選択又は決定された残像特性データを残像推定部２０３に出力し、フレーム時間経過によって変化する残像量の推定を行う。
【００４４】
残像量の推定は、閾値ｋ’であるフレーム数に応じて、以下の場合分けをして行われる。
【００４５】
ケース１（フレーム数ｋが閾値ｋ’未満の場合）：ｋ＜ｋ’
【００４６】
ケース２（フレーム数ｋが閾値ｋ’以上の場合）：ｋ≧ｋ’
【００４７】
フレーム数が閾値未満であるケース１の場合には、上記の式（１）を用いて残像量の推定を行う。フレーム数ｋが閾値ｋ’以上であるケース２の場合には、式（５）を用いて残像量の推定を行う。
【００４８】
Ａ（ｘ，ｋ）＝ｂｎ（ｋ’）×ｅｘｐ（−ａｎ）×Ｓ（ｘ,ｋ）      ・・・・・（５）
【００４９】
ここで、Ｓ（ｘ，ｋ）は、フレーム情報取得部２０２において、上記式（３）を用いて更新される。残像特性データは、式（５）におけるａｎとｂｎの組み合わせｂｎ（ｋ’）×ｅｘｐ（−ａｎ）で表される。式（５）では、残像特性データは、残像の割合又は強度がパラメータにかかわらず略一定である特性を有する。
【００５０】
ステップＳ１０９において、ステップＳ１０８で推定された残像量を演算部２０４に出力し、その情報を用いて残像補正を行う。演算部２０４では、データ収集部１０６で保持されている残像補正前の画像データから、残像推定部２０３で推定された残像量を減算する演算が行われている。また、演算には式（６）が用いられる。
【００５１】
ＩＣ（ｘ，ｋ）＝Ｉ（ｘ,ｋ）−Ａ（ｘ,ｋ）      ・・・・・（６）
【００５２】
ここで、Ｉ（ｘ，ｋ）は、ｋフレーム目（ｋ回目の放射線画像データ）の画素番号ｘにおける、データ収集部１０６で保持されている残像補正前の放射線画像データである。
【００５３】
ステップＳ１１０において、画像表示部１０８はステップＳ１０９で残像補正された放射線画像データｘ（ｋ）を表示する。ステップＳ１１１において、放射線が連続で曝射されるか否かを判定する。放射線が連続で曝射される場合には、ステップＳ１０４に戻る。放射線の曝射がない場合には、撮影が終了し、フローが完了する。
【００５４】
次に、放射線の連続照射回数が１００回である場合について、より具体的に説明する。
【００５５】
放射線の連続照射回数ｋに対して、残像の減衰特性を表す残像特性データは変化していく。その変化の閾値ｋ’が放射線の連続照射１０回付近である場合について説明する。
【００５６】
ステップＳ１０１において、撮影条件設定部１０４は、操作者の操作に応じて、撮影モード、放射線照射線量、及び放射線照射部１０１の管電圧などの被写体撮影時の放射線撮影条件を設定する。設定された放射線撮影条件は、検出器制御部１０５に出力される。ステップＳ１０２において、放射線の連続照射回数（又は、撮影フレーム数）ｋを０にセットする。
【００５７】
ステップＳ１０３において、検出器制御部１０５は、ステップＳ１０１で設定された放射線撮影条件に基づいて、線量制御信号を管球制御部１０３に対して出力する。管球制御部１０３は、線量制御信号に基づいて、放射線信号を放射線照射部１０１に対して出力する。放射線照射部１０１は、放射線照射信号を受けて、被写体に放射線を照射する。
【００５８】
ステップＳ１０４において、放射線の連続照射回数（又は、撮影フレーム数）ｋを１加算する。ステップＳ１０５において、検出器制御部１０５は、ステップＳ１０１で設定された放射線撮影条件に基づいて、画像データ取得信号を放射線検出部１０２に対して出力する。放射線検出部１０２は、ステップＳ１０１で設定された放射線撮影条件に基づいて撮影された放射線画像データｙ（ｋ）を取得する。
【００５９】
ステップＳ１０６において、放射線の連続照射回数（又は、撮影フレーム数）ｋが、事前に設定された閾値１０回以上であるか否かを判定する。
【００６０】
ステップＳ１０７において、放射線の連続照射回数（又は、撮影フレーム数）ｋが１回から１０回の間であった場合には、残像特性データを放射線の連続照射回数（又は、撮影フレーム数）ｋに応じてメモリ部２０１から選択する。つまり、放射線の連続照射回数（又は、撮影フレーム数）ｋに応じて、残像特性データが変化する。このために、メモリ部２０１には、ｋ’＝１０パターンの残像特性データを保持しておく必要がある。
【００６１】
ステップＳ１０７において、放射線の連続照射回数（又は、撮影フレーム数）ｋが１０回以上であった場合には、残像特性データを放射線連続照射１０回の値に固定する。つまり、放射線連続照射１０回以降は、同一の残像特性データを用いて残像補正を行う。
【００６２】
ステップＳ１０８において、ステップＳ１０７で選択又は決定された残像特性データを残像推定部２０３に出力し、フレーム時間経過によって変化する残像量の推定を行う。ステップＳ１０９において、ステップＳ１０８で推定された残像量を演算部２０４に出力し、その情報を用いて残像補正を行う。ステップＳ１１０において、画像表示部１０８はステップＳ１０９で残像補正された放射線画像データｘ（ｋ）を表示する。
【００６３】
ステップＳ１１１において、放射線が連続で曝射されるか否かを判定する。放射線が連続で曝射される場合には、ステップＳ１０４に戻る。放射線の曝射が１００回に到達した場合には、撮影が終了し、フローが完了する。
【００６４】
本実施形態を適用した結果を図５に示す。図５に示すように、補正前の残像の減衰に対して、特許文献１を適用した場合にも残像補正の効果が表れているが、初期のフレームにおける残像に対して、補正が十分に行われていないことが分かる。
【００６５】
一方、本実施形態を適用した場合には、初期のフレームにおける残像に対して、十分に補正ができており、特許文献１と比べて、十分な補正結果が表れている。
【００６６】
なお、撮影条件は、放射線画像データの撮影フレームレート、放射線画像データの撮影時間、及び放射線の照射時間であってもよい。
【００６７】
本実施形態では、撮影条件が、放射線画像データの撮影回数、放射線画像データの撮影フレーム数、撮影時間、及び放射線の照射回数の少なくとも１つである場合に、本発明の適用が可能であることを説明した。この場合、撮影条件のパラメータｋが閾値未満又は閾値以下の領域では、残像の割合又は強度が放射線撮影ごとに変化する残像特性により残像が算出される。また、撮影条件のパラメータｋが閾値以上又は閾値超の領域では、残像の割合又は強度が撮影条件にかかわらず略一定である残像特性により残像が算出される。
【００６８】
（第２の実施形態）
【００６９】
第２の実施形態では、撮影中に変化する放射線撮影条件が、放射線照射線量である場合に、放射線照射線量に閾値を設け、閾値の前後で補正方法を変化させる方法について説明する。
【００７０】
センサ出力と放射線照射線量が比例関係である場合は、センサ出力と残像量が比例関係であると仮定すると、センサ出力に対する残像の割合又は強度は放射線照射線量に依らず略一定であると推定される。この場合、残像特性データは、残像の割合又は強度が放射線照射線量にかかわらず略一定である特性を有する。
【００７１】
しかし、センサ出力と放射線照射線量の関係が比例でなくなる高線量を照射した場合は、センサ出力に対する残像量の割合が変化する。この場合、残像特性データは、残像の割合又は強度が放射線照射線量に依存して放射線撮影ごとに変化する特性を有する。つまり、以下のように場合分けをして、残像量の推定を行う必要がある。
【００７２】
ケース１（センサ出力と放射線照射線量が比例関係である場合）
【００７３】
ケース２（センサ出力と放射線照射線量が比例関係ではない場合）
【００７４】
残像補正の手順に関しては、第１の実施形態に準ずる。例えば、ケース１の場合は、１次関数を用いて、ケース１とケース２を区別する放射線照射線量の閾値ｋ’に基づいて、式（５）により残像量が推定される。また、ケース２の場合は、上記の式（１）に基づいて、残像量が推定される。
【００７５】
（第３の実施形態）
【００７６】
第３の実施形態では、撮影中に変化する放射線撮影条件がセンサ温度（放射線検出部１０２の温度）である場合に、センサ温度に閾値を設け、閾値の前後で補正方法を変化させる方法について説明する。
【００７７】
センサ出力とセンサ温度が比例関係である場合は、センサ出力と残像量が比例関係であると仮定すると、センサ出力に対する残像の割合又は強度はセンサ温度に依らず略一定であると推定される。この場合、残像特性データは、残像の割合又は強度がセンサ温度にかかわらず略一定である特性を有する。
【００７８】
しかし、センサ出力とセンサ温度の関係が比例でなくなる場合は、センサ出力に対する残像量の割合が変化する。この場合、残像特性データは、残像の割合又は強度がセンサ温度に依存して放射線撮影ごとに変化する特性を有する。つまり、以下のように場合分けをして、残像量の推定を行う必要がある。
【００７９】
ケース１（センサ出力と残像量が比例関係である第１の温度領域）：Ｔ１≦Ｔ≦Ｔ２
【００８０】
ケース２（センサ出力と残像量が比例関係ではない第２の温度領域）：Ｔ＜Ｔ１
【００８１】
ケース３（センサ出力と残像量が比例関係ではない第３の温度領域）：Ｔ＞Ｔ２
【００８２】
ここで、Ｔは、センサ温度[℃]である。Ｔ１は、センサ出力と残像量が比例関係である温度領域の下限値である。Ｔ２は、センサ出力と残像量が比例関係である温度領域の上限値である。
【００８３】
残像補正の手順に関しては、第１の実施形態に準ずる。例えば、ケース１の場合は、１次関数を用いて、ケース１とケース２を区別するセンサ温度の閾値ｋ’＝Ｔ１に基づいて、式（５）により残像量が推定される。また、ケース２及びケース３の場合は、上記の式（１）に基づいて、残像量が推定される。
【００８４】
以上、本発明に係る実施形態について説明したが、本発明はこれらに限定されるものではなく、請求項に記載された範囲内において変更・変形することが可能である。
【００８５】
本発明は、上記の実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）をネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、システム又は装置のコンピュータ（ＣＰＵやＭＰＵなど）がプログラムを読み出すことにより実行されてもよい。また、本発明は、システム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能であり、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００８６】
１００  放射線撮影装置
１０１  放射線照射部
１０２  放射線検出部
１０３  管球制御部
１０４  撮影条件設定部
１０５  検出器制御部
１０６  データ収集部
１０７  残像補正部
１０８  画像表示部
２０１  メモリ部
２０２  フレーム情報取得部
２０３  残像推定部（算出部）
２０４  演算部
【図１】
2018114174.tif 000003
【図２】
2018114174.tif 000004
【図３】
2018114174.tif 000005
【図４】
2018114174.tif 000006
【図５】
2018114174.tif 000007