(57)【要約】【課題】  Ｘ線照射領域の４辺のうち陰極側に位置する辺についても精度よく検出し、Ｘ線照射領域を正確に検出する。【解決手段】  被検体にＸ線を照射するＸ線管球を有するＸ線源と、該Ｘ線源から被検体に照射されるＸ線照射領域を制限するＸ線絞りと、該Ｘ線絞りを介して照射され、前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、該Ｘ線検出器から出力される電気信号に基づいてＸ線画像を生成する画像処理部と、該画像処理部によって生成されたＸ線画像におけるＸ線照射領域の４辺のうち、前記Ｘ線管球の陰極側に位置する辺を示す陰極位置情報を検出する陰極検出部と、前記陰極検出部より得られた陰極位置情報に基づいて、前記Ｘ線画像におけるＸ線照射領域を検出する照射領域検出部と、を備えたＸ線撮影装置を提供する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体にＸ線を照射するＸ線管球を有するＸ線源と、
該Ｘ線源から被検体に照射されるＸ線照射領域を制限するＸ線絞りと、
該Ｘ線絞りを介して照射され、前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、
該Ｘ線検出器から出力される電気信号に基づいてＸ線画像を生成する画像処理部と、
該画像処理部によって生成されたＸ線画像におけるＸ線照射領域の４辺のうち、前記Ｘ線管球の陰極側に位置する辺を示す陰極位置情報を検出する陰極検出部と、
前記陰極検出部より得られた陰極位置情報に基づいて、前記Ｘ線画像におけるＸ線照射領域を検出する照射領域検出部と、を備えたＸ線撮影装置。
【請求項２】
前記陰極検出部が、前記Ｘ線管球の位置情報に基づいて前記Ｘ線画像上の陰極位置情報を検出する請求項１記載のＸ線撮影装置。
【請求項３】
前記陰極検出部が、前記Ｘ線管球の位置情報及び前記Ｘ線検出器の回転情報に基づいて前記画像上の陰極位置情報を検出する請求項１記載のＸ線撮影装置。
【請求項４】
前記照射領域検出部が、前記Ｘ線画像に対して間引き処理を行うことにより、前記Ｘ線画像における前記Ｘ線管球の陰極側に位置する辺の境界線を検出するための第１の間引き画像と、前記Ｘ線画像における陰極側に位置する辺以外の辺の境界線を検出するための第２の間引き画像とを生成し、前記第１の間引き画像及び前記第２の間引き画像からＸ線の照射領域を検出する請求項１記載のＸ線撮影装置。
【請求項５】
前記陰極検出部が、前記画像処理部により生成したＸ線画像を処理することにより、前記陰極位置情報を検出する請求項１記載のＸ線撮影装置。
【請求項６】
前記陰極検出部が、前記Ｘ線画像の画素位置に対する画素値の変化のプロファイルの傾きに基づいて、前記陰極位置情報を検出する請求項５記載のＸ線撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線源から照射されるＸ線の照射領域をＸ線絞りによって設定し、設定した照射領域に対応する領域を透過したＸ線を、検出器を用いて検出することで画像化するＸ線撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、撮影不要領域の被ばくを低減する他、Ｘ線の散乱線を低減させることにより画質を向上させることを目的として、Ｘ線管球から照射されるＸ線の照射範囲を絞るＸ線絞りを備えたＸ線撮影装置が知られている。このようなＸ線撮影装置では、位置検出器などを用いてＸ線絞りの位置情報を取得し、Ｘ線絞りの開口部分に相当する領域を画像化している。
例えば、特許文献１には、Ｘ線絞り位置検出器により位置情報やＸ線管球角度情報等に基づいて画像中のＸ線絞り領域を特定するＸ線画像診断装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−２０００７５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１のＸ線画像診断装置では、ヒール効果について考慮されていないため、Ｘ線管球の陽極側に位置する絞り辺と陰極側による絞り辺の先鋭度に差が生じることについて言及されておらず、Ｘ線絞り領域の検出精度が低下する場合がある。
【０００５】
Ｘ線管球は、陰極（フィラメント）と陽極（ターゲット）の間に数十ｋＶから百数十ｋＶの高電圧を印加し、陰極から放出された熱電子を陽極に向けて加速させて陽極に衝突させることで、Ｘ線を発生する。このとき、陰極―陽極方向において、陽極側に照射されるＸ線は陽極内を進んでから放出されるため、低エネルギーのＸ線がより多く陽極内の金属に吸収され高エネルギーのＸ線がより多く放出される。一方、陰極側に照射されるＸ線は、陽極内の金属による吸収の影響をあまり受けない。このため、Ｘ線管球から照射されるＸ線のうち、陰極―陽極において、陽極側に照射されるＸ線のエネルギー分布は、陰極側に照射されるＸ線のエネルギー分布より高い側にシフトする（図１１参照）。
【０００６】
そのため、絞り透過後のＸ線画像では、矩形のＸ線照射領域の４辺のうち陽極側に位置する辺近傍の像に比して、陰極側に位置する辺近傍の像の先鋭性が緩やかとなってしまう。
このような理由から、Ｘ線照射領域の辺が陽極側に位置するか陰極側に位置するのかを正確に把握しなければ、Ｘ線照射領域を精度よく検出することができない場合がある。
【０００７】
本発明は上記実情に鑑みてなされたものであり、Ｘ線絞り透過後のＸ線照射領域の４辺のうち陰極側に位置する辺についても精度よく検出し、Ｘ線照射領域を正確に検出することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明は以下の手段を提供する。
本発明の一態様は、被検体にＸ線を照射するＸ線管球を有するＸ線源と、該Ｘ線源から被検体に照射されるＸ線照射領域を制限するＸ線絞りと、該Ｘ線絞りを介して照射され、前記被検体を透過したＸ線を検出するＸ線検出器と、該Ｘ線検出器から出力される電気信号に基づいてＸ線画像を生成する画像処理部と、該画像処理部によって生成されたＸ線画像におけるＸ線照射領域の４辺のうち、前記Ｘ線管球の陰極側に位置する辺を示す陰極位置情報を検出する陰極検出部と、前記陰極検出部より得られた陰極位置情報に基づいて、前記Ｘ線画像におけるＸ線照射領域を検出する照射領域検出部と、を備えたＸ線撮影装置を提供する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、Ｘ線照射領域の４辺のうち陰極側に位置する辺についても精度よく検出し、Ｘ線照射領域を正確に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の第１の実施形態に係るＸ線撮影装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施形態に係るＸ線撮影装置における設置情報を記憶する処理の流れを示すフローチャートである。
【図３】本発明の第１の実施形態に係るＸ線撮影装置おいて、（Ａ）は撮影された画像のプロファイルを行うための読出領域を説明する図であり、（Ｂ）はプロファイル結果を示すグラフである。
【図４】本発明の第１の実施形態に係るＸ線撮影装置におけるＸ線照射領域検出処理の流れを示すフローチャートである。
【図５】本発明の第１の実施形態に係るＸ線撮影装置における陰極位置情報生成処理の流れを示すフローチャートである。
【図６】（Ａ）読出領域の画素値をプロットして得られたグラフと、（Ｂ）間引き処理を行ったグラフとを比較する図である。
【図７】本発明の第２の実施形態に係るＸ線撮影装置における陰極位置情報生成処理の流れを示すフローチャートである。
【図８】本発明の第１の実施形態及び第２の実施形態の変形例に係るＸ線撮影装置において、間引き処理の際の間引き数と画素位置との関係を示すグラフである。
【図９】本発明の第１の実施形態及び第２の実施形態の変形例に係るＸ線撮影装置において、間引き処理の際の間引き数と管電圧との関係を示すグラフである。
【図１０】本発明の第１の実施形態及び第２の実施形態の変形例に係るＸ線撮影装置において、周波数画像を生成する際の微分フィルタの係数と画素位置との関係を示すグラフである。
【図１１】（Ａ）はＸ線管球から発生するＸ線の様子を説明する図であり、（Ｂ）は陽極側と陰極側に照射されるＸ線のエネルギー分布を比較するグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
【００１２】
本発明の実施形態に係るＸ線撮影装置は、被検体にＸ線を照射するＸ線管球を有するＸ線源１１と、Ｘ線源１１から被検体Ｐに照射されるＸ線照射領域を制限するＸ線絞り１２と、Ｘ線絞り３を介して照射され被検体Ｐを透過したＸ線を検出するＸ線検出器１３と、Ｘ線検出器１３を回転させる回転機構１４と、Ｘ線検出器１３から出力される電気信号に基づいてＸ線画像を生成する画像処理部２０と、画像処理部２０において生成されたＸ線画像を一時的に記憶する画像記憶部２１と、生成されたＸ線画像におけるＸ線照射領域の４辺のうちＸ線管球の陰極側に位置する辺を示す陰極位置情報を検出する陰極検出部２２と、陰極検出部２２より得られた陰極位置情報に基づいて画像におけるＸ線照射領域を検出する照射領域検出部２３とを備えている。
【００１３】
＜第１の実施形態＞
具体的には、図１に示すように、本発明の第１の実施形態に係るＸ線撮影装置は、Ｘ線源１１、Ｘ線絞り１２と、Ｘ線検出器１３と、回転機構１４と、画像処理ユニット１、システム制御ユニット２、及びディスプレイ３を備えている。Ｘ線撮影装置は、Ｘ線透視画像を撮影するものであっても、Ｘ線撮影画像（静止画）を撮影するものであってもよい。
【００１４】
Ｘ線源１１は、Ｘ線を発生するＸ線管球を備えＸ線管球において発生したＸ線を被検体に照射する。Ｘ線管球は必要に応じてＸ線管球回転機構１０により回転駆動される。Ｘ線絞り１２は、Ｘ線源１１から被検体Ｐに照射されるＸ線照射領域を制限する。Ｘ線検出器１３は、Ｘ線絞り３を介して照射され被検体Ｐを透過したＸ線を検出し、透過したＸ線量に相当する電気信号を画像処理ユニット１に出力する。Ｘ線検出器１３は、検出器回転機構１４により回転駆動される。
【００１５】
画像処理ユニット１は、画像処理部２０、画像記憶部２１、陰極検出部２２、及び照射領域検出部２３を備えている。
画像処理部２０は、Ｘ線検出器１３から出力される電気信号に基づいてＸ線画像を生成し、階調処理等必要な画像処理を行う、画像記憶部２１は、画像処理部２０において生成されたＸ線画像を一時的に記憶する。
【００１６】
陰極検出部２２は、生成されたＸ線画像におけるＸ線照射領域の４辺のうちＸ線管球の陰極側に位置する辺を示す陰極位置情報を検出する。
より具体的には、例えば、陰極検出部２２は、後述するシステム制御ユニット２の記憶領域であるシステム情報記憶部２８に格納されているＸ線源１１におけるＸ線管球の設置情報を取得し、設置情報に基づいて画像処理部２０によって生成されるＸ線画像上の陰極位置を特定して陰極位置情報を生成する。この時、Ｘ線管球又はＸ線検出器１３が回転している場合には、生成されたＸ線画像上の陰極の相対位置が異なるので、Ｘ線管球回転機構１０によるＸ線管球の回転情報も併せて取得する。
【００１７】
ここで、Ｘ線管球の設置情報とは、Ｘ線撮影装置を設置する際に例えば設置者によりシステム制御ユニット２に格納される情報であり、例えば図２のフローチャートに示す手順に従って取得される情報である。
以下、図２のフローチャートに従って設置情報をシステム制御ユニットの記憶領域に格納する手順について説明する。
【００１８】
ステップＳ１１において、Ｘ線撮影装置設置時にＸ線撮影装置によって、被検体のない状態で設置者による操作に従って画像を取得する。次のステップＳ１２では、ステップＳ１１で取得したＸ線画像において、図３（Ａ）に示すように、Ｘ線画像３０上の、Ｘ線照射領域３１の４辺夫々に対して、境界を跨ぐように予め定めた複数画素からなるライン状の読出領域３２の画素を読み出して画素値のプロファイルを作成する。
【００１９】
ステップＳ１３では、Ｘ線照射領域の４辺の画素値のプロファイル結果に基づいて、陰極側に位置する辺を検出する。例えば、プロファイルの傾きが夫々所定の閾値を超えるか否かを判定する。Ｘ線照射領域の４辺のうち、陰極側に位置する辺の近傍と陽極側に位置する辺の近傍とでは画像の尖鋭度が異なるので、図３（Ｂ）に示すように、読出領域３２の画素位置に対する画素値をプロットした場合に、陰極側の読出し領域と陽極側の領域とでその傾きが大きく異なる。同様に、陰極側の読出し領域と陰極側以外の読出領域とでも傾きが大きく異なる。
【００２０】
従って、各読出領域のプロファイル結果（例えば、図３（Ｂ）のグラフの傾き）と所定の閾値とを比較することで、Ｘ線照射領域の４辺から陰極側に位置する辺を特定することができる。そこで、ステップＳ１３では、Ｘ線照射領域の４辺のプロファイル結果が、夫々所定の閾値を超えるか否かを判定し、閾値を超えた場合には、陰極側に位置しない辺であるとして、ステップＳ１４に進み、陰極側でない旨のフラグを、システム情報記憶部２８に記憶する。ステップＳ１３の判定において、プロファイル結果が閾値より小さい場合には陰極側に位置する辺であるとして、ステップＳ１５に進み、陰極側である旨のフラグをシステム情報記憶部２８に記憶する。このようにして、設置情報として、Ｘ線源の陰極と陽極の位置情報をシステム情報記憶部２８に記憶し、上記処理を終了する。なお、上記処理は、Ｘ線撮影装置の設置時に一度行えばよい。
【００２１】
照射領域検出部２３は、陰極検出部２２より得られた陰極位置情報に基づいて画像におけるＸ線照射領域を検出する。すなわちＸ線照射領域の境界線の位置を検出する。つまり、照射領域検出部２３は、Ｘ線照射領域の４辺のうち陰極側に位置する辺を陰極検出部２２の出力である陰極位置情報により特定し、陰極側の辺とそれ以外の３辺とで、Ｘ線照射領域検出処理をそれぞれの特性に応じて異ならせることにより、正確にＸ線照射領域を検出する。
【００２２】
システム制御ユニット２は、上述したＸ線源の設置情報を含む各種情報を記憶するシステム情報記憶部２８を備え、画像処理ユニット１や上記各部を制御すると共に、画像処理ユニット１で生成された画像をディスプレイ３に表示させる。
ディスプレイ３は、画像処理ユニット１により生成され所定の画像処理がなされたＸ線画像を、システム制御ユニット２の指示に従って表示する。
【００２３】
なお、画像処理ユニット１及びシステム制御ユニット２は、その一部又は全部をＣＰＵ（中央処理装置）、メモリ等を含むシステムとして構築することができ、画像処理ユニット１及びシステム制御ユニット２を構成する各部の機能は、予め記憶部に格納されたプログラムをＣＰＵがメモリにロードし、実行することにより実現することができる。また機能の一部又は全部は、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）やＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）などのハードウェアで構成することもできる。
【００２４】
上述のように構成され、設置情報として陰極と陽極の位置情報がシステム情報記憶部２８に記憶されたＸ線撮影装置における、Ｘ線照射領域検出処理について図４のフローチャートに従って説明する。
【００２５】
ステップＳ４１で、照射領域検出部２３が、画像処理部２０において生成されて画像記憶部２１に記憶されたＸ線画像を取り込み、ステップＳ４２に進む。ステップＳ４２では、照射領域検出部２３が、取り込んだＸ線画像におけるＸ線照射領域の境界の４辺近傍それぞれについて、陰極側の辺であるか否かを陰極検出部２２から取得した陰極位置情報に基づいて判定する。ステップＳ４２において、陰極側の辺であると判定された場合にはステップＳ４３に進み、陰極側の辺でないと判定された場合にはステップＳ４４に進む。
【００２６】
ここで、照射領域検出部２３による陰極側の辺であるか否かの判定は、陰極検出部２２から取得する陰極位置情報に基づいて行われる。陰極検出部２２での陰極位置情報は、陰極位置情報生成処理に従って生成される。図５に陰極位置情報生成処理にかかるフローチャートの一例を示す。
図５のステップＳ５１において、陰極検出部２２が、システム情報記憶部２８から設置情報を取得する。次のステップＳ５２で、Ｘ線源１１及びＸ線検出器２の回転情報を取得する。ステップＳ５３で、設置情報及び回転情報に基づいて、Ｘ線画像上の陰極位置情報を生成し、照射領域検出部２３に出力する。
【００２７】
図４に戻り、ステップＳ４３では、陰極側に位置する辺の境界線を検出するために第１の間引き画像を生成する。ステップＳ４４では、陰極側に位置する辺以外の辺の境界線を検出するために第２の間引き画像を生成する。
【００２８】
図６に示すように、各辺近傍の読出領域プロットして得られたグラフを参照すると、陰極側の辺近傍の読出領域についての結果と、それ以外の辺近傍の読出し領域についての結果とで、グラフ上の傾きが異なる。例えば、傾きの差が３倍である場合には、陰極以外の辺の精度に見かけ上合致させるため、第１の間引き画像の間引き数を第２の間引き画像の間引き数の３倍とする。
【００２９】
図４のフローチャートでは、第１の間引き画像の間引き数を３０とし、第２の間引き画像の間引き数を１０としている。このように間引き処理を行うことで、図６の右図のように両者の傾きを見かけ上合致させて処理を進めることができる。
【００３０】
ステップＳ４５では、第１の間引き画像及び第２の間引き画像夫々に対して、高周波画像を生成する。これは、微分フィルタ等を用いて低周波成分を除去した高周波画像を生成することによりエッジを抽出することで、Ｘ線照射領域の境界を検出するためである。ステップＳ４６では、二つの高周波画像に対して夫々Ｈｏｕｇｈ変換により直線検出を行い、直線の長さ、境界値の濃度差を検出し、Ｘ線照射領域の境界線であるか否かを決定し、Ｘ線照射領域の座標を特定する。次のステップＳ４７では、特定したＸ線照射領域の座標を、間引き画像生成前のＸ線画像に対する座標に変換して、最終的にＸ線照射領域を検出し、上記処理を終了する。
【００３１】
このように本実施形態によれば、Ｘ線管球において発生しＸ線絞りを介して照射され被検体を透過したＸ線に基づいて取得された画像においてＸ線照射領域を特定する場合において、Ｘ線照射領域の各辺がＸ線管球の陰極側に位置するかを判定した上で、陰極側に位置する辺とそれ以外の辺とで処理を異ならせてＸ線照射領域を検出する。このため、他辺に比して、尖鋭度が低い陰極側の辺についてその特性に応じた画像処理を行うことで高精度にＸ線照射領域の境界線を検出することができる。一方、陰極側以外の辺は、陰極側の辺に比して尖鋭度が高いため、陰極側以外の辺についても特性に応じた処理により高精度にＸ線照射領域の境界線を検出することができる。この結果、Ｘ線画像上のＸ線照射領域を正確に検出することができる。
【００３２】
Ｘ線照射領域を正確に検出することで、その後に行われる階調処理や周波数処理等の画像処理の際に、Ｘ線照射領域を用いることができるので、画質を向上させることができる。
Ｘ線絞りが斜めに挿入されている場合や、Ｘ線管球を射入しＸ線画像上のＸ線照射領域が台形となる場合であっても陰極側の位置を特定することで、陰極側の辺とそれ以外の辺とで検出処理を異ならせることでＸ線照射領域の検出精度の向上が可能となる。
【００３３】
＜第２の実施形態＞
上述した第１の実施形態に係るＸ線撮影装置では、Ｘ線画像上の陰極位置を、設置情報や回転情報等のシステム情報記憶部が有する情報に基づいて判定していた。本実施形態では、取得したＸ線画像に基づいて撮影の都度陰極位置を判定する。Ｘ線撮影装置の構成及び陰極位置の判定以外の処理は上記第１の実施形態と同様であるので説明を省略し、以下、画像処理によって陰極位置を判定する陰極位置判定処理について、図７のフローチャートに従って説明する。
【００３４】
ステップＳ７１において、照射領域検出部２３が、画像処理部２０において生成されて画像記憶部２１に記憶されたＸ線画像を取り込み、ステップＳ７２に進む。次のステップＳ７２では、ステップＳ７１で取得した画像において、図３（Ａ）に示すように、画像３０上の、Ｘ線照射領域３１の４辺夫々に対して、境界を跨ぐように予め定めた複数画素からなるライン状の読出領域３２の画素を読み出してプロファイルを作成する。
【００３５】
ステップＳ７３では、Ｘ線照射領域の４辺のプロファイル結果が、夫々所定の閾値を超えるか否かを判定する。Ｘ線照射領域の４辺のうち、陰極側に位置する辺の近傍と陽極側に位置する辺の近傍とでは画像の尖鋭度が異なるので、図３（Ｂ）に示すように、読出領域３２の画素位置に対する画素値をプロットした場合に、陰極側の読出し領域と陽極側の領域とでその傾きが大きく異なる。同様に、陰極側の読出し領域と陰極側以外の読出領域とでも傾きが大きく異なる。また、撮影時にＸ線絞りを適用せず、つまりＸ線照射領域がＸ線絞りによって制限されていない場合には、読出領域３２を画素位置に対する画素値をプロットした場合、傾きが略０となる。
【００３６】
従って、各読出領域のプロファイル結果（例えば、図３（Ｂ）のグラフの傾き）と所定の閾値Ａとを比較することで、Ｘ線絞りを用いたか否かを判定することができる。ステップＳ７２において、Ｘ線照射領域の４辺のプロファイル結果が、夫々所定の閾値Ａを超えるか否かを判定し、閾値Ａを超えた場合には、Ｘ線絞りがあるとしてステップＳ７４に進む。Ｘ線照射領域の４辺のプロファイル結果が、夫々所定の閾値Ａを下回る場合には、Ｘ線絞りなしとしてステップＳ７７に進む。
【００３７】
ステップＳ７４では、各読出領域のプロファイル結果に基づいて、Ｘ線照射領域の４辺から陰極側に位置する辺を特定する。つまり、ステップＳ７４では、Ｘ線照射領域の４辺のプロファイル結果が、夫々所定の閾値Ｂを超えるか否かを判定し、閾値Ｂを超えた場合には、陰極側に位置しない辺であるとして、ステップＳ７５に進み、陰極側でない旨のフラグを陰極検出部２２の記憶領域に記憶する。
【００３８】
ステップＳ７４の判定において、プロファイル結果が閾値Ｂより小さい場合には陰極側に位置する辺であるとして、ステップＳ７６に進み、陰極側である旨のフラグを陰極検出部２２の記憶領域に記憶する。このようにして、Ｘ線源の陰極の位置を示す陰極位置情報を陰極検出部２２の記憶領域に記憶する。ステップＳ７７では４辺すべての処理が終了したか否かを判定し終了していなければステップＳ７３に戻り上記処理を繰り返す。４辺全ての処理が終了した場合には上記処理を終了する。
【００３９】
（変形例）
上述した第１の実施形態及び第２の実施形態に係るＸ線撮影装置では、間引き処理の際に間引き数を固定値で設定する例について説明した。図８のグラフに示すように、Ｘ線管球がＸ線検出器の中心に位置する場合、Ｘ線検出器中心からＸ線絞りの位置に応じて間引き数を可変にした方がより精度の良い検出が可能となる。
また、Ｘ線管球がＸ線検出機器の中心にない場合（例えば、Ｘ線管球が振り角を持ち、射入撮影をする場合）、幾何学的位置より、間引き数を可変に設定することもできる。
【００４０】
さらに、Ｘ線撮影時にＸ線管球に印加する管電圧により、プロファイル結果が変化する。つまり、管電圧が高い程、Ｘ線透過率や散乱線の影響を受け、プロファイルの傾きが緩やかになる。従って、この場合は図９に示すように、間引き数と管電圧との比例関係に従って、幾何学的な位置に加え管電圧に依存し、間引き数を変ることにより精度良く検出が可能となる。
【００４１】
さらにまた、上述の例では、陰極位置情報に基づいて、陰極が位置する辺とそれ以外の辺とで間引き数を異ならせる例について説明したが、必ずしも間引き画像を生成する必要はなく、高周波画像を生成する際の微分フィルタの係数Ｋを陰極側の辺とそれ以外の辺とで異ならせても良い。図１０にＸ線検出器の中心から周辺部に従って微分フィルタの係数を大きくした例を示す。高周波画像を生成する際に使用する微分フィルタの係数を陰極側（Ｙｎ方向側）に大きくすることにより、陰極側に位置するＸ線照射領域の境界線におけるプロファイルの傾きが緩やかであることを補正してもよい。
【００４２】
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明のより良い理解のために詳細に説明したのであり、必ずしも説明の全ての構成を備えるものに限定されるものではない。例えば、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
【符号の説明】
【００４３】
１・・・画像処理ユニット、２・・・システム制御ユニット、３・・・ディスプレイ、１０・・・Ｘ線管球回転機構、１１・・・Ｘ線源、１２・・・Ｘ線絞り、１３・・・Ｘ線検出器、１４・・・検出器回転機構、２０・・・画像処理部、２１・・・画像記憶部、２２・・・陰極検出部、２３・・・照射領域検出部、２８・・・システム情報記憶部、３０・・・Ｘ線画像、３１・・・Ｘ線照射領域、３２・・・読出領域、Ｐ・・・被検体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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