(57)【要約】【課題】Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できるＸ線検査装置を提供すること。【解決手段】特定部位検出部は、被検査物の透過画像ＷＸの所定の特定部位を検出し、検出された特定部位から所定の高さ方向への所定の長さまでの領域を、検査対象である検査領域に設定する。好ましくは、特定部位検出部は、被検査物の透過画像ＷＸの上端面を特定部位Ｐ１として検出し、検出した特定部位Ｐ１から下方への所定の長さＬ１までの領域を、検査対象である検査領域５２に設定する。【選択図】図４
2018146419.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線を発生するＸ線発生器（９）と、
Ｘ線を検出するＸ線検出器（１０）と、を備え、
被検査物（Ｗ）が水平方向に通過する搬送路（３）を形成するコンベア（２）を挟んで、前記Ｘ線検出器が前記コンベアの搬送面からの高さ方向を検出するように、前記Ｘ線発生器と前記Ｘ線検出器とが配置されたＸ線検査装置であって、
前記Ｘ線検出器が検出したＸ線に基づくＸ線画像に画像処理を実施する画像処理部（４３）と、
前記Ｘ線画像における前記被検査物の所定の特定部位（Ｐ１）を検出する特定部位検出部（４３Ａ）とを備え、
前記特定部位検出部が検出した前記特定部位から所定の高さ方向への所定の長さ（Ｌ１）までの領域を、検査対象である検査領域（５２）とし、該検査領域内で前記Ｘ線画像処理部が画像処理を実施して前記被検査物を検査することを特徴とするＸ線検査装置。
【請求項２】
前記特定部位検出部は、前記Ｘ線画像における前記被検査物の上端面を前記特定部位として検出し、
前記特定部位検出部が検出した前記特定部位から下方への所定の長さまでの領域を前記検査領域として検査を行うことを特徴とする請求項１に記載のＸ線検査装置。
【請求項３】
前記特定部位検出部は、前記Ｘ線画像における前記被検査物の上端面よりも下方の部位を前記特定部位として検出し、
前記特定部位検出部が検出した前記特定部位から下方への第１の所定の長さと上方への第２の所定の長さまでの領域を、前記検査領域として検査を行うことを特徴とする請求項１に記載のＸ線検査装置。
【請求項４】
前記特定部位検出部は、前記Ｘ線画像における前記被検査物の外形形状に基づいて前記特定部位を検出することを特徴とする請求項１から請求項３の何れか１項に記載のＸ線検査装置。
【請求項５】
前記特定部位検出部は、前記Ｘ線画像における前記被検査物の輝度に基づいて前記特定部位を検出することを特徴とする請求項１から請求項３の何れか１項に記載のＸ線検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、肉、魚、加工食品、医薬品等の被検査物に対してＸ線発生器で発生したＸ線を照射し、被検査物を透過したＸ線をＸ線検出器により検出することで、被検査物の異物の有無や欠陥等について検査するＸ線検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば食品などの被検査物への異物の混入の有無を検出するために、従来からＸ線検査装置が用いられている。Ｘ線検査装置は、搬送される被検査物にＸ線を照射し、被検査物を透過したＸ線の透過量に応じて得られるＸ線画像から被検査物中の異物の有無や欠陥等について検査している。
【０００３】
従来のこの種のＸ線検査装置にあっては、特許文献１に記載されたものが知られている。特許文献１に記載のものは、コンベア上の搬送路を幅方向に跨ぐようにＸ線発生器およびＸ線検出器を対向して配置し、Ｘ線発生器からコンベア上の被検査物に対してＸ線を横向きに照射している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００１−２７２３５７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ここで、特許文献１に記載されているような横照射型のＸ線検査装置として、コンベアを自機に備えず、生産設備のコンベアに組み込んで用いられる組み込み型のＸ線検査装置があり、この組み込み型のＸ線検査装置が用いられることが多くなっている。
【０００６】
組み込み型のＸ線検査装置は、生産設備への設置時に設置作業者によってコンベアに対してＸ線発生器およびＸ線検出器が最適位置に調整された上で、製品検査時に検査作業者によって用いられる。Ｘ線発生器およびＸ線検出器の最適位置とは、コンベア上の被検査物にＸ線を照射して得られるＸ線画像にコンベアが映り込まず、かつ、被検査物の全体が映るような位置である。Ｘ線発生器およびＸ線検出器を最適位置に配置することで、Ｘ線画像にコンベアが映り込まなくなり、誤検出等により検査精度が低下してしまうことが防止される。
【０００７】
しかしながら、従来のＸ線検査装置にあっては、Ｘ線発生器およびＸ線検出器を最適位置に配置するためには、Ｘ線検出器の各検出素子から得た画素単位で高精度に位置調整を行う必要があり、最適位置に完全に調整したり常に最適位置を保つようにすることは容易ではないため、誤検出要因を完全に排除できず、検査精度を低下させてしまうおそれがあった。
【０００８】
したがって、Ｘ線発生器およびＸ線検出器が最適位置から外れている場合であっても、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下しないようにすることが求められていた。
【０００９】
そこで、本発明は、前述のような従来の問題を解決するためになされたもので、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できるＸ線検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明に係るＸ線検査装置は、Ｘ線を発生するＸ線発生器と、Ｘ線を検出するＸ線検出器と、を備え、被検査物が水平方向に通過する搬送路を形成するコンベアを挟んで、前記Ｘ線検出器が前記コンベアの搬送面からの高さ方向を検出するように、前記Ｘ線発生器と前記Ｘ線検出器とが配置されたＸ線検査装置であって、前記Ｘ線検出器が検出したＸ線に基づくＸ線画像に画像処理を実施する画像処理部と、前記Ｘ線画像における前記被検査物の所定の特定部位を検出する特定部位検出部とを備え、前記特定部位検出部が検出した前記特定部位から所定の高さ方向への所定の長さまでの領域を、検査対象である検査領域とし、該検査領域内で前記Ｘ線画像処理部が画像処理を実施して前記被検査物を検査することを特徴とする。
【００１１】
この構成により、Ｘ線画像において被検査物のみが映っておりコンベアが映り込んでない領域を検査領域に自動的に設定でき、検査領域のみを対象に検査を行うことができる。このため、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことによる誤検出を防止できる。この結果、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できる。
【００１２】
本発明に係るＸ線検査装置において、前記特定部位検出部は、前記Ｘ線画像における前記被検査物の上端面を前記特定部位として検出し、前記特定部位検出部が検出した前記特定部位から下方への所定の長さまでの領域を前記検査領域として検査を行うことを特徴とする。
【００１３】
この構成により、被検査物Ｗの上端面を特定部位とすることで、設定値として長さの値を１つだけ設定すればよいため、設定値の設定操作を簡略化でき、設定操作の誤りを防止できる。
【００１４】
本発明に係るＸ線検査装置において、前記特定部位検出部は、前記Ｘ線画像における前記被検査物の上端面よりも下方の部位を前記特定部位として検出し、前記特定部位検出部が検出した前記特定部位から下方への第１の所定の長さと上方への第２の所定の長さまでの領域を、前記検査領域として検査を行うことを特徴とする。
【００１５】
このＸ線検査装置においては、Ｘ線発生器とコンベアとＸ線検出器との相対位置に起因し、コンベアの搬送面から離れた位置ほど、Ｘ線が被検査物を通過する傾斜角が大きくなりＸ線の画像がボケ易いが、上記構成のようにコンベアの搬送面から近い位置を特定位置とすることで、例えば高さが高い被検査物に対しても、Ｘ線画像のボケによる誤差を低減して精度よく検査領域と非検査領域とを区分けすることができる。
【００１６】
本発明に係るＸ線検査装置において、前記特定部位検出部は、前記Ｘ線画像における前記被検査物の外形形状に基づいて前記特定部位を検出することを特徴とする。
【００１７】
この構成により、外形形状に基づいて特定部位を検出し易い場合に、特定部位を確実に検出することができる。
【００１８】
本発明に係るＸ線検査装置において、前記特定部位検出部は、前記Ｘ線画像における前記被検査物の輝度に基づいて前記特定部位を検出することを特徴とする。
【００１９】
この構成により、輝度に基づいて特定部位を検出し易い場合に、特定部位を確実に検出することができる。
【発明の効果】
【００２０】
本発明は、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できるＸ線検査装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の一実施の形態に係るＸ線検査装置の斜視図である。
【図２】本発明の一実施の形態に係るＸ線検査装置の搬送方向に直交する断面における断面図である。
【図３】本発明の一実施の形態に係るＸ線検査装置の検査モードにおける動作を説明するフローチャートである。
【図４】本発明の一実施の形態に係るＸ線検査装置の検査モードにおいて被検査物の上端面を基準に検査領域を設定する例を示す図である。
【図５】本発明の一実施の形態に係るＸ線検査装置の検査モードにおいて被検査物の肩部を基準に検査領域を設定する例を示す図である。
【図６】本発明の一実施の形態に係るＸ線検査装置の検査モードにおいて被検査物の内容物の上端面を基準に検査領域を設定する例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００２２】
以下、本発明の一実施の形態について、図面を参照して説明する。まず構成について説明する。
【００２３】
図１において、Ｘ線検査装置１は筐体４を備えている。筐体４は、被検査物Ｗを搬送するコンベア２に組み込まれている。コンベア２の上部空間は、被検査物Ｗが水平方向に通過する搬送路３を形成している。本実施の形態は、被検査物Ｗが飲料ボトルである場合を例示している。
【００２４】
コンベア２は、被検査物Ｗの生産設備の一部であり、Ｘ線検査装置１と別体に構成されている。本実施の形態は、コンベア２がトップチェーンコンベアからなる場合を例示している。トップチェーンコンベアは、無端状のチェーンに複数のプレートを設けたものであり、コンベア２の搬送部材２１となるプレートの上面で被検査物Ｗを搬送するようになっている。
【００２５】
このように、Ｘ線検査装置１は、別体のコンベア２に組み込まれる組み込み型のＸ線検査装置であり、図１で示すようなボトル搬送でよく使用されるトップチェーンコンベアやベルトコンベア等の被検査物Ｗを水平方向に搬送する既設のコンベアに組み込まれる。なお、ベルトコンベアによる被検査物Ｗの搬送の場合にはベルトが搬送部材２１となる。また、コンベア２は、Ｘ線検査装置１と一体に構成されていてもよい。
【００２６】
筐体４には、被検査物Ｗが搬入される開口部７と、被検査物Ｗが搬出される開口部８とが形成されている。コンベア２は、開口部７、８を通って筐体４を貫通している。筐体４は、ステンレス等のＸ線を遮蔽可能な金属からなる遮蔽カバー１６を、開口部７、８の周囲に備えており、遮蔽カバー１６は、開口部７、８から外部へのＸ線の漏洩を防止している。
【００２７】
コンベア２の上方にはガイド部材６１が設けられており、ガイド部材６１は、被検査物Ｗをコンベア２上の幅方向の中央の位置で搬送されるように案内している。ガイド部材６１は、被検査物Ｗを幅方向で挟むように、左右で一対、合計４本設けられている。
【００２８】
ガイド部材６１は、Ｘ線発生器９のＸ線照射野に入り込まないように分断されている。なお、ガイド部材６１は、Ｘ線透過率の高い材質から構成し、コンベア２と同様に開口部７から開口部８まで貫通するように連続して設けられていてもよい。
【００２９】
図２において、Ｘ線検査装置１は、Ｘ線を発生するＸ線発生器９と、Ｘ線を検出するＸ線検出器１０と、総合制御部４０とを備えている。これらのＸ線発生器９、Ｘ線検出器１０および総合制御部４０は筐体４（図１参照）の内部に収納されている。
【００３０】
Ｘ線発生器９およびＸ線検出器１０は、コンベア２上の被検査物Ｗが搬送される搬送路３を挟むように、コンベア２の幅方向に対向して配置されている。すなわち、コンベア２を幅方向に挟んで対向するように、Ｘ線発生器９とＸ線検出器１０とが配置されている。
【００３１】
Ｘ線発生器９は、その内部に設けられた図示しないＸ線管の陰極からの電子ビームを陽極のターゲットに照射させてＸ線を生成し、生成したＸ線を図示しないスリットにより略三角形状のスクリーン状に成形するようになっている。また、Ｘ線発生器９は、スクリーン状のＸ線照射野に成形したＸ線を、コンベア２上の搬送路３を幅方向に横切るようにして、Ｘ線検出器１０に向けて照射するようになっている。
【００３２】
したがって、Ｘ線発生器９から発生するＸ線は、Ｘ線発生器９を点光源として放射状に広がる。このため、コンベア２の上面である搬送面２Ａの近傍ではＸ線が搬送面２Ａと概ね平行に照射されるが、搬送面２Ａから離れた位置ほどＸ線が大きな角度で斜めに照射される。
【００３３】
Ｘ線検出器１０は、複数の検出素子１０Ａをライン状に整列したＸ線ラインセンサからなる。Ｘ線検出器１０の検出素子１０Ａは、図示しないフォトダイオードと、このフォトダイオード上に設けられた図示しないシンチレータとからなり、Ｘ線をシンチレータにより光に変換し、この光をフォトダイオードにより検出している。
【００３４】
Ｘ線検出器１０の複数の検出素子１０Ａは、コンベア２の上面に対して垂直にｎ個配置されている。Ｘ線検出器１０の下端部の検出素子１０Ａから出力されるデータは、Ｘ線画像の下端部の１画素目の画像に対応する。
【００３５】
同様に、Ｘ線検出器１０の下端部からｎ個目の検出素子１０Ａから出力されるデータは、Ｘ線画像の下端部からｎ画素目の画像に対応する。なお、図２には、ガイド部材６１の位置が破線で示されているが、ガイド部材６１はＸ線発生器９のＸ線照射野に入り込んでいない。
【００３６】
このように構成されたＸ線検出器１０は、被検査物ＷがＸ線検出器１０を通過することで、被検査物Ｗを透過するＸ線の量（検出レベル）に応じたＸ線画像を出力する。Ｘ線検出器１０は、図示しないＡ／Ｄ変換部を備えており、このＡ／Ｄ変換部によりフォトダイオードからの輝度値データをデジタルデータに変換するようになっている。
【００３７】
なお、Ａ／Ｄ変換部から出力されるデータは、輝度値により明暗で表されるＸ線画像（明暗画像）であってもよいし、輝度値を所望の濃度となるように変換した濃度値により濃淡で表されるＸ線画像（濃淡画像）であってもよい。本実施例では、Ｘ線検出器１０のＡ／Ｄ変換部から出力されるＸ線画像は、検出レベルを明暗で表した明暗画像である。
【００３８】
本実施の形態において、Ｘ線発生器９は、Ｘ線照射野がコンベア２の上方となるように、設置作業により予め調整されている。より詳しくは、Ｘ線発生器９は、コンベア２の搬送面２Ａと同一面に位置するように調整されている。また、Ｘ線検出器１０の下端部がコンベア２の上面とほぼ同じ高さになるように、Ｘ線検出器１０の位置が設置作業により予め調整されている。
【００３９】
Ｘ線検査装置１は、表示部５、設定操作部４５および総合制御部４０を備えている。
【００４０】
表示部５は、平面ディスプレイ等から構成されており、ユーザに対する表示出力を行うようになっている。表示部５は、総合制御部４０による検査結果等の画像を表示するようになっている。
【００４１】
また、表示部５は、被検査物Ｗの良否判定結果を「ＯＫ」や「ＮＧ」等の文字または記号で表示するようになっている。また、表示部５は、総検査数、良品数、ＮＧ総数等の統計値を表示するようになっている。
【００４２】
表示部５の表示内容および表示態様は、既定設定、または設定操作部４５からの所定のキー操作による要求に基づいて決定される。
【００４３】
設定操作部４５は、総合制御部４０への各種パラメータ等の設定入力を行うものである。設定操作部４５は、ユーザが操作する複数のキーやスイッチ等で構成され、総合制御部４０への各種パラメータ等の設定入力や動作モードの選択を行うものである。本実施の形態では、表示部５と設定操作部４５とがタッチパネル式表示器として一体化され、筐体４の前面上部に配置されている。Ｘ線検査装置１の動作モードには、被検査物Ｗの検査を行う通常の検査モードと、Ｘ線検査装置１の各種の調整や状態確認等のメンテナンスを行うメンテナンスモードとが含まれる。
【００４４】
総合制御部４０は、Ｘ線画像記憶部４２、画像処理部４３、判定部４４および制御部４６を備えている。
【００４５】
Ｘ線画像記憶部４２は、Ｘ線検出器１０から受け取ったＸ線画像を一時的に記憶するようになっている。すなわち、Ｘ線画像記憶部４２は、Ｘ線画像のバッファメモリとして機能する。
【００４６】
画像処理部４３は、Ｘ線画像記憶部４２から読み出したＸ線画像に対して各種の画像処理アルゴリズム等を適用して画像処理を施すようになっている。ここで、画像処理アルゴリズムは、複数の画像処理フィルタを組み合わせたものからなる。本実施の形態において、画像処理部４３には特定部位検出部４３Ａが設けられており、この特定部位検出部４３Ａは、Ｘ線画像における被検査物Ｗの所定の特定部位を検出するようになっている。
【００４７】
判定部４４は、画像処理部４３により画像処理されたＸ線画像に対して、被検査物Ｗと異物との判別を行って異物の混入の有無を判定する異物判定を行い、また、被検査物Ｗの形状の良否を判定する形状判定を行うようになっている。
【００４８】
制御部４６は、ＣＰＵおよび制御プログラムの記憶領域または作業領域としてのメモリなどを有しており、検査モードおよびメンテナンスモードを含む各動作モードにおいて、Ｘ線検査装置１の全体を制御するようになっている。制御部４６の制御内容には、表示部５の表示内容および表示形態の制御が含まれる。
【００４９】
ここで、コンベア２に対してＸ線発生器９とＸ線検出器１０とを最適位置に完全に調整したり、完全な最適位置に保つようにすることは容易ではない。このため、Ｘ線検出器１０から取得したＸ線画像にコンベア２が映り込んでしまう場合がある。例えば、設置時の位置調整後に、振動等によりコンベア２の上面に沿う平面がＸ線検出器１０の下端部より上方に定常的に変位した場合、Ｘ線画像にコンベア２の上側、すなわち、被検査物Ｗが載る搬送部材２１などが映り込んでしまう。特に、本実施の形態のコンベア２は、プレートとしての複数の搬送部材２１を無端状のチェーンに設けてなるトップチェーンコンベアであり、搬送部材２１のＸ線透過率がベルトコンベアのベルトよりも低いため、Ｘ線画像への搬送部材２１の映り込みの影響が大きい。
【００５０】
Ｘ線画像にコンベア２の搬送部材２１が映り込んでしまうと、その搬送部材２１の影響により、判定部４４における誤検出が発生して検査精度が低下するおそれがある。一方、Ｘ線検出器１０を最適位置に再度調整することは、調整作業の時間を確保できない等の理由から容易ではない場合がある。
【００５１】
そこで、本実施の形態のＸ線検査装置１は、Ｘ線画像における被検査物Ｗが映っている領域のみを、検査対象の領域である検査領域に自動で設定し、非検査領域を除外して検査領域に対してのみ検査を行うようになっている。検査領域はＸ線画像における検査対象の領域であり、非検査領域はＸ線画像における検査対象外の領域である。
【００５２】
詳しくは、画像処理部４３の特定部位検出部４３Ａは、Ｘ線画像における被検査物Ｗの所定の特定部位を検出し、検出した特定部位から所定の高さ方向への所定の長さまでの領域を、検査対象である検査領域に設定するようになっている。
【００５３】
所定の特定部位、所定の高さ方向、および所定の長さは、メンテナンスモードにおいてユーザが設定操作部４５から予め設定値として入力し、特定部位検出部４３Ａに記憶しておくようになっている。設定値のうち、所定の特定部位については、この特定部位を識別可能な外形形状または輝度に関する情報が設定されるようになっている。
【００５４】
被検査物Ｗが外形形状により特定部位を検出し易い材質や形状である場合、設定値に外形形状を用いることが好ましく、被検査物Ｗが輝度により特定部位を検出し易い材質や形状である場合、設定値に輝度を用いることが好ましい。設定値の詳細と、設定値に基づく検査領域の設定動作の詳細については後述する。
【００５５】
なお、被検査物Ｗの外形形状に基づいて特定部位を設定する場合、被検査物Ｗであるボトルの肩部、または首部の基部、等の複数の部位を、特定部位に設定してもよい。また、底部に窪みのあるボトルにおける窪みの上底部分や、くびれのあるボトルにおけるくびれ部分、等の複数の部位を、特定部位に設定してもよい。複数の特定部位を設定することで、被検査物Ｗが揺れていても、複数の特定部位の位置関係から高さ方向を補正することが可能となり、検査領域にコンベア２が含まれないように精度良く検査領域と非検査領域とを区分けすることができる。
【００５６】
このようにすることで、Ｘ線画像において被検査物Ｗのみが映っておりコンベア２が映り込んでない領域を検査領域に自動的に設定でき、検査領域のみを対象に検査を行うことができる。このため、Ｘ線画像にコンベア２が映り込むことによる誤検出を防止できる。この結果、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できる。
【００５７】
次に動作と作用効果を説明する。まず、図３のフローチャートを参照して検査モードの動作を説明する。検査モードにおいて、Ｘ線検査装置１は、Ｘ線検出器１０からＸ線画像（透過画像）のデータを取得し（ステップＳ１）、このＸ線画像をＸ線画像記憶部４２に一時的に記憶する（ステップＳ２）。
【００５８】
次いで、Ｘ線検査装置１は、Ｘ線画像において検査領域を設定するための設定値を読み込む（ステップＳ３）。次いで、Ｘ線検査装置１は、設定値に基づいて特定部位を検出するとともにＸ線画像を検査領域と非検査領域とに区分し、検査領域に対してエッジ強調処理等の画像処理を実施する（ステップＳ４）。
【００５９】
このように、本実施例では、Ｘ線画像の全体に画像処理を実施するのではなく、検査対象の領域である検査領域に対してのみ画像処理を実施しているため、画像処理の演算の負荷を低減できる。
【００６０】
次いで、Ｘ線検査装置１は、ステップＳ４で設定および画像処理された検査領域のみを対象として、判定部４４により異物の混入の有無や形状不良の有無等について判定を行い（ステップＳ５）、この判定結果をＸ線画像等と共に表示部５により表示する（ステップＳ６）。
【００６１】
以下、設定値の詳細と、設定値に基づく検査領域の設定動作の詳細について説明する。
【００６２】
上記のステップＳ４において、画像処理部４３の特定部位検出部４３Ａは、Ｘ線画像における被検査物Ｗの上端面を特定部位として検出し、特定部位から下方への所定の長さまでの領域を、検査対象である検査領域に設定することが好ましい。
【００６３】
より詳しくは、特定部位検出部４３Ａは、図４に示すように、Ｘ線画像における被検査物Ｗの透過画像ＷＸの上端面を特定部位Ｐ１として検出する。そして、特定部位検出部４３Ａは、この特定部位Ｐ１を基準として被検査物Ｗの長さＬ１だけ下方までの領域を検査領域５２に設定する。
【００６４】
これにより、検査領域５２は、図４において、Ｘ線画像上の被検査物Ｗの透過画像ＷＸのみが映っている縦方向の領域（２本の破線で挟まれた領域）となる。また、特定部位検出部４３Ａは、検査領域５２以外の領域を非検査領域５１、５３に設定する。
【００６５】
図４において、非検査領域５１は、Ｘ線画像におけるコンベア２の透過画像２Ｘが映り込んでいる領域であり、非検査領域５３は、Ｘ線画像において被検査物Ｗの透過画像ＷＸの上方の背景の領域である。
【００６６】
なお、本実施の形態は、コンベア２がトップチェーンコンベアからなる場合を例示しているため、図４において、コンベア２の透過画像２Ｘの上面は平坦ではなくプレート間の段差が生じている。
【００６７】
図４のように、被検査物Ｗの上端面を特定部位Ｐ１とし、この特定部位Ｐ１から下方に長さＬ１までの縦方向の領域を検査領域５２に設定することで、検査領域５２にコンベア２の透過画像２Ｘが含まれてしまうことを防止でき、被検査物Ｗの透過画像ＷＸのみを検査領域５２に含めることができる。
【００６８】
また、コンベア２の振動等により被検査物Ｗが上下に変位した場合であっても、変位に追従して特定部位Ｐ１が検出されるため、Ｘ線画像が常に精度よく検査領域と非検査領域とに区分される。
【００６９】
このため、Ｘ線画像の検査領域５２にコンベア２が映り込むことによる誤検出を防止でき、ステップＳ５の判定動作において誤判定が防止されるので、被検査物Ｗの検査精度を向上することができる。
【００７０】
特に、被検査物Ｗの上端面を特定部位Ｐ１とすることで、設定値として長さの値を１つだけ設定すればよいため、設定値の設定操作を簡略化でき、設定操作の誤りを防止できる。
【００７１】
ここで、Ｘ線検査装置１においては、Ｘ線発生器９とコンベア２とＸ線検出器１０との相対位置に起因し、コンベア２の搬送面２Ａから離れた位置ほど、Ｘ線が被検査物Ｗを通過する傾斜角が大きくなりＸ線の画像がボケ易い。
【００７２】
そこで、上記のステップＳ４において、特定部位検出部４３Ａは、Ｘ線画像における被検査物Ｗの上端面よりも下方の所定の特定部位を検出し、特定部位から下方への第１の所定の長さと上方への第２の所定の長さまでの領域を、検査対象である検査領域に設定することが好ましい。
【００７３】
より詳しくは、特定部位検出部４３Ａは、図５に示すように、Ｘ線画像における被検査物Ｗの透過画像ＷＸの肩部を特定部位Ｐ１として検出する。そして、特定部位検出部４３Ａは、この特定部位Ｐ１を基準として、下方に長さＬ２および上方に長さＬ３までの領域を検査領域５２に設定する。長さＬ２は本発明における第１の所定の長さに対応し、長さＬ３は本発明における第２の所定の長さに対応する。
【００７４】
図５のように、被検査物Ｗの肩部を特定部位Ｐ１とし、この特定部位Ｐ１から下方に長さＬ２および上方に長さＬ３までの領域を検査領域５２に設定することで、コンベア２の搬送面２Ａから近い位置を特定位置にできる。このため、例えば高さが高い被検査物Ｗに対しても、Ｘ線画像のボケによる誤差を低減して精度よく検査領域と非検査領域とを区分けすることができる。
【００７５】
ここで、被検査物Ｗの透過画像ＷＸは、容器の透過画像ＷＸ１と内容物の透過画像ＷＸ２とからなり、内容物の透過画像ＷＸ２の上端面は、形状または輝度に基づく検出が可能である。
【００７６】
そこで、上記のステップＳ４において、特定部位検出部４３Ａは、図６に示すように、内容物の透過画像ＷＸ２の上端面を特定部位Ｐ１として検出し、この特定部位Ｐ１を基準として、下方に長さＬ４および上方に長さＬ５までの領域を検査領域５２に設定してもよい。長さＬ４は本発明における第１の所定の長さに対応し、長さＬ５は本発明における第２の所定の長さに対応する。
【００７７】
図６のように、内容物の透過画像ＷＸ２の上端面を特定部位Ｐ１とし、この特定部位Ｐ１から下方に長さＬ４および上方に長さＬ５までの領域を検査領域５２に設定することで、検査領域５２にコンベア２の透過画像２Ｘが含まれてしまうことを防止でき、被検査物Ｗの透過画像ＷＸのみを検査領域５２に含めることができる。
【００７８】
また、コンベア２の振動等により被検査物Ｗが上下に変位した場合であっても、変位に追従して特定部位Ｐ１が検出されるため、Ｘ線画像が常に精度よく検査領域と非検査領域とに区分される。
【００７９】
このため、Ｘ線画像の検査領域５２にコンベア２が映り込むことによる誤検出を防止でき、ステップＳ５の判定動作において誤判定が防止されるので、被検査物Ｗの検査精度を向上することができる。
【産業上の利用可能性】
【００８０】
以上のように、本発明に係るＸ線検査装置は、Ｘ線画像にコンベアが映り込むことに起因して検査精度が低下することを防止できるという効果を有し、Ｘ線発生器から照射されて被検査物を透過したＸ線をＸ線検出器により検出して異物を検出するＸ線検査装置として有用である。
【符号の説明】
【００８１】
１  Ｘ線検査装置
２  コンベア
３  搬送路
９  Ｘ線発生器
１０  Ｘ線検出器
４３  画像処理部
４３Ａ  特定部位検出部
５２  検査領域
Ｗ  被検査物
Ｐ１  特定部位
Ｌ１  長さ
【図１】
2018146419.tif 000003
【図２】
2018146419.tif 000004
【図３】
2018146419.tif 000005
【図４】
2018146419.tif 000006
【図５】
2018146419.tif 000007
【図６】
2018146419.tif 000008