(57)【要約】【課題】精度良く濃度補正制御を行える画像形成装置を提供する。【解決手段】画像形成装置は、像担持体に光を照射して反射光を検出する第１及び第２検出手段と、テストパターンを第１検出手段が検出できる像担持体の位置に形成して濃度補正制御を行う制御手段と、を備え、制御手段は、像担持体にテストパターンが形成されていない場合、第１及び第２検出手段それぞれに反射光を検出させて、複数の第１下地検出値と複数の第１プロファイル検出値と、を取得する第１測定を行い、濃度補正制御において、第１及び第２検出手段それぞれに反射光を検出させて、複数のパターン検出値と、複数の第２プロファイル検出値と、を取得する第２測定を行い、複数の第１及び第２プロファイル検出値に基づき、複数の第１下地検出値から、複数のパターン検出値それぞれに対応する複数の第２下地検出値を求めて濃度に関する値を求める。【選択図】図１
2018022005.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転駆動される像担持体と、
前記像担持体にトナー像を形成する画像形成手段と、
前記像担持体に向けて光を照射して前記像担持体での反射光を検出する第１検出手段及び第２検出手段と、
前記画像形成手段により濃度補正のためのトナー像を含むテストパターンを前記第１検出手段が検出できる前記像担持体の位置に形成して濃度補正制御を行う制御手段と、
を備えており、
前記制御手段は、
前記像担持体に前記テストパターンが形成されていない場合、前記像担持体が少なくとも１回転する間、前記第１検出手段及び第２検出手段それぞれに前記像担持体の複数の位置での反射光を検出させて、前記第１検出手段の検出値である複数の第１下地検出値と、前記第２検出手段の検出値であって、前記複数の第１下地検出値それぞれに対応する複数の第１プロファイル検出値と、を取得する第１測定を行い、
前記濃度補正制御において、前記テストパターンが形成されている場合、前記像担持体が少なくとも１回転する間、前記第１検出手段及び第２検出手段それぞれに前記像担持体の複数の位置での反射光を検出させて、前記第１検出手段の検出値である複数のパターン検出値と、前記第２検出手段の検出値であって、前記複数のパターン検出値それぞれに対応する複数の第２プロファイル検出値と、を取得する第２測定を行い、
前記複数の第１プロファイル検出値及び前記複数の第２プロファイル検出値に基づき、前記複数の第１下地検出値から、前記複数のパターン検出値それぞれに対応する複数の第２下地検出値を求め、
前記テストパターンのトナー像での反射光に対応するパターン検出値と、当該パターン検出値に対応する第２下地検出値と、に基づき当該トナー像の濃度に関する値を求めることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記複数の第１プロファイル検出値及び前記複数の第２プロファイル検出値を比較して前記複数の第１プロファイル検出値及び前記複数の第２プロファイル検出値の対応関係を判定し、
前記複数の第１プロファイル検出値及び前記複数の第２プロファイル検出値の対応関係に基づき、前記複数の第１プロファイル検出値それぞれに対応する前記複数の第１下地検出値から、前記複数の第２プロファイル検出値それぞれに対応する前記複数の第２下地検出値を求めることで、前記複数のパターン検出値それぞれに対応する前記複数の第２下地検出値を求めることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記複数の第１プロファイル検出値の内、所定条件を満たす第１特徴値を判定し、前記複数の第２プロファイル検出値の内、所定条件を満たす第２特徴値を判定し、前記複数の第１プロファイル検出値を第１特徴値で区切った第１区間と、前記複数の第２プロファイル検出値を第２特徴値で区切った第２区間との対応関係を判定し、第１区間の第１プロファイル検出値の数と、当該第１区間に対応する第２区間の第２プロファイル検出値の数とが異なると、当該第１区間の第１プロファイル検出値に対応する第１下地検出値から、当該第１区間に対応する第２区間の第２プロファイル検出値それぞれに対応する第２下地検出値を生成することを特徴とする請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記制御手段は、第１区間の第１プロファイル検出値の数と、当該第１区間に対応する第２区間の第２プロファイル検出値の数とが異なると、当該第１区間の第１プロファイル検出値に対応する第１下地検出値を線形補間して、当該第１区間に対応する第２区間の第２プロファイル検出値それぞれに対応する第２下地検出値を生成することを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記第１特徴値は、前記複数の第１プロファイル検出値の平均値との差が閾値より大きい第１プロファイル検出値であり、前記第２特徴値は、前記複数の第２プロファイル検出値の平均値との差が前記閾値より大きい第２プロファイル検出値であることを特徴とする請求項３又は４に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記制御手段は、前記複数の第１プロファイル検出値及び前記複数の第２プロファイル検出値の一方の所定範囲の検出値を、他方の検出値と比較することで、前記一方の所定範囲の検出値に対応する他方の検出値を判定し、前記一方の所定範囲の検出値と判定した前記他方の検出値を基準として、前記第１区間と前記第２区間との対応関係を判定することを特徴とする請求項３から５のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記制御手段は、前記第１測定と前記第２測定を連続して行うことを特徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記制御手段は、前記第１測定の後に前記第２測定を行うことを特徴とする請求項７に記載の画像形成装置。
【請求項９】
前記制御手段は、前記第１測定を、前記第２測定とは異なるタイミングで行うことを特徴とする請求項１から６のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１０】
前記制御手段が前記第１測定で取得した複数の第１下地検出値及び前記複数の第１プロファイル検出値と、を記憶する記憶手段をさらに備えており、
前記制御手段は、前記濃度補正制御において、前記複数のパターン検出値及び前記複数の第２プロファイル検出値を取得すると、前記記憶手段に記憶された前記複数の第１プロファイル検出値と、前記取得した前記複数の第２プロファイル検出値に基づき、前記記憶手段に記憶された前記複数の第１下地検出値から、前記取得した前記複数のパターン検出値それぞれに対応する複数の第２下地検出値を求めることを特徴とする請求項９に記載の画像形成装置。
【請求項１１】
前記第１測定で前記複数の第１下地検出値及び前記複数の第１プロファイル検出値を取得する時間間隔は、前記第２測定で前記複数のパターン検出値及び前記複数の第２プロファイル検出値を取得する時間間隔に等しいことを特徴とする請求項１から１０のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１２】
前記第１検出手段は、前記像担持体での正反射光を受光する第１受光手段と、前記像担持体での乱反射光を受光する第２受光手段と、を備えており、
前記複数のパターン検出値のそれぞれは前記第１受光手段による正反射検出値と、前記第２受光手段による乱反射検出値と、を含んでいることを特徴とする請求項１から１１のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１３】
前記複数の第１下地検出値は、前記第１受光手段により検出されることを特徴とする請求項１２に記載の画像形成装置。
【請求項１４】
前記第２検出手段は、前記像担持体での正反射光を受光する第３受光手段を備えており、
前記複数の第１プロファイル検出値及び前記複数の第２プロファイル検出値は、前記第３受光手段により検出されることを特徴とする請求項１から１３のいずれか１項に記載の画像形成装置。
【請求項１５】
回転駆動される像担持体と、
前記像担持体にトナー像を形成する画像形成手段と、
前記像担持体に向けて光を照射して前記像担持体での反射光を検出する第１検出手段及び第２検出手段と、
前記画像形成手段により濃度補正のためのトナー像を含むテストパターンを前記第１検出手段が検出できる前記像担持体の位置に形成して濃度補正制御を行う制御手段と、
を備えており、
前記制御手段は、
前記像担持体に前記テストパターンが形成されていない場合、前記像担持体が少なくとも１回転する間、前記第１検出手段及び第２検出手段それぞれに前記像担持体の複数の位置での反射光を検出させて、前記第１検出手段の検出値である複数の下地検出値と、前記第２検出手段の検出値であって、前記複数の下地検出値それぞれに対応する複数の第１プロファイル検出値と、を取得する第１測定を行い、
前記濃度補正制御において、前記テストパターンが形成されている場合、前記像担持体が少なくとも１回転する間、前記第１検出手段及び第２検出手段それぞれに前記像担持体の複数の位置での反射光を検出させて、前記第１検出手段の検出値である複数の第１パターン検出値と、前記第２検出手段の検出値であって、前記複数の第１パターン検出値それぞれに対応する複数の第２プロファイル検出値と、を取得する第２測定を行い、
前記複数の第１プロファイル検出値及び前記複数の第２プロファイル検出値に基づき、前記複数の第１パターン検出値から、前記複数の下地検出値それぞれに対応する複数の第２パターン検出値を求め、
前記テストパターンのトナー像での反射光に対応する第２パターン検出値と、当該第２パターン検出値に対応する下地検出値と、に基づき当該トナー像の濃度に関する値を求めることを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像形成装置に対しては、形成する画像の高画質化が求められている。一般に、画像形成装置は、環境の変化や長時間の使用により、形成される画像の濃度や階調特性が変動する。したがって、画像形成装置は、画質を維持するための調整動作を行う。この様な調整動作の１つに、濃度補正制御がある。濃度補正制御において、画像形成装置は、濃度補正用のテストパターンを中間転写体に形成し、形成したテストパターンの濃度を光センサにより検出し、その検出結果に基づき濃度に関する画像形成条件を補正する。
【０００３】
光センサは発光素子及び受光素子を有し、発光素子がテストパターンに向けて光を照射し、受光素子がその反射光を受光し、画像形成装置は、反射光の強度に基づきテストパターンの濃度を検出する。ここで、中間転写体の表面の状態は均一ではなく、その表面位置により光の反射率は異なる。したがって、テストパターンの濃度を精度よく検出するには、テストパターンからの反射光に加えて、テストパターンが形成された位置での中間転写体の表面の反射光を検出する必要がある。このため、中間転写体の表面のある位置Ａでの反射光を検出し、その後、位置Ａ上にテストパターンを形成して、テストパターンからの反射光を検出している。したがって、中間転写体の表面が所定距離を移動する時間、例えば、中間転写体が一周するのに要する時間を知る必要がある。
【０００４】
特許文献１は、中間転写体が回転しているときの、中間転写体の表面からの反射光を検出して、反射光強度の時間変化のパターンを求め、この時間変化のパターンにより中間転写体が一周するのに要する時間を算出する構成を開示している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１０−９０１８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
一般に、画像形成装置の感光体と中間転写体の周速度には差がある。例えば、感光体の周速度が中間転写体の周速度より速く、かつ、中間転写体と感光体との摩擦力が強いと、中間転写体は複数の感光体により駆動される状態になり、中間転写体の周速度は感光体の周速度に近くなる。その後、中間転写体に画像が形成されると、トナーにより中間転写体と感光体との摩擦力が弱くなり、中間転写体は本来の周速度で回転する様になる。
【０００７】
濃度補正制御においては、上述した様に、まず、中間転写体の表面からの反射光を測定する（以下、下地測定と呼ぶ。）。このとき、中間転写体の表面には画像が形成されていないため、中間転写体は、感光体と同じ周速度で回転する。その後、中間転写体にテストパターンを形成し、テストパターンからの反射光を測定する（以下、パターン測定と呼ぶ。）が、中間転写体にテストパターンが形成された状態であるので、中間転写体は、下地測定時とは異なる速度で回転する。例えば、中間転写体の周長が７００ｍｍであり、下地測定時とパターン測定時での中間転写体の周速差が１％程度あり、テストパターンの長さが中間転写体の略１周分であるとすると、下地とテストパターンの検知位置は最大で約７ｍｍずれることになる。一般に、テストパターンの各パッチサイズは５〜１０ｍｍ程度であるので、７ｍｍのずれは略パッチ１つ分となる。したがって、この様な場合、濃度補正制御の精度が劣化する。
【０００８】
本発明は、精度良く濃度補正制御を行える画像形成装置を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の一側面によると、画像形成装置は、回転駆動される像担持体と、前記像担持体にトナー像を形成する画像形成手段と、前記像担持体に向けて光を照射して前記像担持体での反射光を検出する第１検出手段及び第２検出手段と、前記画像形成手段により濃度補正のためのトナー像を含むテストパターンを前記第１検出手段が検出できる前記像担持体の位置に形成して濃度補正制御を行う制御手段と、を備えており、前記制御手段は、前記像担持体に前記テストパターンが形成されていない場合、前記像担持体が少なくとも１回転する間、前記第１検出手段及び第２検出手段それぞれに前記像担持体の複数の位置での反射光を検出させて、前記第１検出手段の検出値である複数の第１下地検出値と、前記第２検出手段の検出値であって、前記複数の第１下地検出値それぞれに対応する複数の第１プロファイル検出値と、を取得する第１測定を行い、前記濃度補正制御において、前記テストパターンが形成されている場合、前記像担持体が少なくとも１回転する間、前記第１検出手段及び第２検出手段それぞれに前記像担持体の複数の位置での反射光を検出させて、前記第１検出手段の検出値である複数のパターン検出値と、前記第２検出手段の検出値であって、前記複数のパターン検出値それぞれに対応する複数の第２プロファイル検出値と、を取得する第２測定を行い、前記複数の第１プロファイル検出値及び前記複数の第２プロファイル検出値に基づき、前記複数の第１下地検出値から、前記複数のパターン検出値それぞれに対応する複数の第２下地検出値を求め、前記テストパターンのトナー像での反射光に対応するパターン検出値と、当該パターン検出値に対応する第２下地検出値と、に基づき当該トナー像の濃度に関する値を求めることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によると、精度良く濃度補正制御を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】一実施形態による画像形成装置の構成図。
【図２】一実施形態による光センサの配置を示す図。
【図３】一実施形態による光センサの構成図。
【図４】ブラックのトナー像での正反射光の反射特性を示す図。
【図５】有彩色のトナー像での反射光の反射特性を示す図。
【図６】一実施形態による濃度補正制御のフローチャート。
【図７】一実施形態による濃度補正制御で形成するテストパターンを示す図。
【図８】一実施形態による第１測定と第２測定との時間関係を示す図。
【図９】一実施形態によるプロファイル検出値の開始位置の対応関係を判定する処理の説明図。
【図１０】一実施形態による特徴値抽出処理のフローチャート。
【図１１】一実施形態による特徴値の説明図。
【図１２】一実施形態による下地検出値の補間処理の説明図。
【図１３】一実施形態による下地検出値の補間処理の説明図。
【図１４】一実施形態によるパッチと測定スポットとの関係を示す図。
【図１５】一実施形態によるＬＵＴの算出方法の説明図。
【図１６】一実施形態による光センサの配置を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本発明の例示的な実施形態について図面を参照して説明する。なお、以下の実施形態は例示であり、本発明を実施形態の内容に限定するものではない。また、以下の各図においては、実施形態の説明に必要ではない構成要素については図から省略する。
【００１３】
＜第一実施形態＞
図１は、本発明に係る画像形成装置の構成図である。画像形成装置は、イエロー（Ｙ）、マゼンタ（Ｍ）、シアン（Ｃ）、ブラック（Ｂｋ）の各色のトナー像を形成する画像形成部ＳＹ、ＳＭ、ＳＣ、ＳＢｋを備えている。各画像形成部の構成は、使用するトナーの色以外は同様であるため、以下では、画像形成部ＳＹについてのみ説明する。感光体１Ｙは、像担持体であり、画像形成時、図中の矢印の方向に回転駆動される。帯電部２Ｙは、回転駆動される感光体１Ｙの表面を一様な電位に帯電させる。露光部１１Ｙは、形成するトナー像に応じた光で感光体１Ｙを露光し、感光体１Ｙに静電潜像を形成する。現像部８Ｙは、静電潜像をトナーで現像し、感光体１Ｙにトナー像を形成する。一次転写ローラ４Ｙは、感光体１Ｙのトナー像を中間転写体１４に転写する。クリーニング部材９Ｙは、中間転写体１４に転写されず、感光体１Ｙに残留したトナーを除去する。なお、感光体１Ｙ、１Ｍ、１Ｃ、１Ｂｋのトナー像を重ねて中間転写体１４に転写することでフルカラーのトナー像を形成することができる。
【００１４】
像担持体である中間転写体１４は、ローラ１３、１９及び３０により張架され、画像形成時、ローラ１３の回転に従属して図中の矢印Ｒ１４の方向に回転駆動される。これにより、中間転写体１４に転写されたトナー像は、二次転写ローラ２０の対向位置へと搬送される。一方、給紙カセット１５の転写材は、搬送路Ｐに沿って配置されたローラにより二次転写ローラ２０の対向位置へと搬送される。なお、転写材が二次転写ローラ２０の対向位置へと搬送されるタイミングは、中間転写体１４に転写されたトナー像が二次転写ローラ２０の対向位置へと搬送されるタイミングに合わせられる。そして、二次転写ローラ２０は、中間転写体１４のトナー像を転写材に転写する。転写材に転写されず、中間転写体１４に残留したトナーはクリーニング部材２２により除去される。トナー像が転写された転写材は、その後、定着部２１に搬送される。定着部２１は、転写材を加熱・加圧して、トナー像を転写材に定着させる。その後、転写材は、画像形成装置外へと排出される。
【００１５】
また、中間転写体１４の表面の移動方向において、画像形成部ＳＢｋの下流側には、ローラ１９に対向するように光センサ２３ａ〜２３ｃが設けられている。図２は、光センサ２３ａ〜２３ｃの配置位置を示す図である。図２に示す様に、光センサ２３ａ〜２３ｃは、中間転写体の幅方向（表面の移動方向と直交する方向）において、両端部付近と、中央付近に配置される。なお、本実施形態において、光センサ２３ａは、濃度補正制御において下地測定とパターン測定のために使用される。また、光センサ２３ｃは、色ずれ補正制御において使用され、濃度補正制御においては使用されない。さらに、光センサ２３ｂは、濃度補正制御において、後述するプロファイル測定に使用され、さらに、色ずれ補正制御において使用される。
【００１６】
図３は、光センサ２３ａの構成図である。光センサ２３ａは、ＬＥＤ等の発光素子２３１と、フォトダイオード等の受光素子２３２及び２３３と、を有する。受光素子２３２は、発光素子２３１が照射した光の正反射光を主に受光する角度で設けられる。一方、受光素子２３３は、発光素子２３１が照射した光の正反射光を受光せず、乱反射光を受光する角度で設けられる。受光素子２３２及び２３３は、受光強度を示す検出信号を出力する。以下、濃度検出の原理について説明する。まず、ブラックのトナーは光を吸収する。したがって、光センサ２３ａがブラックのトナー像を検出しているときの受光素子２３２の受光強度は、図４に示す様に、トナー像の濃度が高くなる程、減少する。したがって、図４の関係をあらかじめ求めておくことで、受光素子２３２の受光強度から濃度を求めることができる。一方、イエロー、シアン、マゼンタといった有彩色のトナー像において、光は主に乱反射する。つまり、有彩色のトナー像においては、その濃度の増加と共に、正反射光は弱くなるが、乱反射光は強くなる。ここで、受光素子２３２は、正反射光のみならず乱反射光も受光する。したがって、光センサ２３ａが有彩色のトナー像を検出しているときの受光素子２３２の受光強度は、濃度の増加と共に減少する正反射成分と、濃度の増加と共に増加する乱反射成分の和であり図５の太線で示す様になる。図５の太線で示す様に、光センサ２３ａが有彩色のトナー像を検出しているときの受光素子２３２の受光強度は、濃度の増加と共に、最初は減少するが、ある濃度から再び増加する特性となる。したがって、受光素子２３２の受光強度からは一意に有彩色のトナー像の濃度を特定することができない。このため、乱反射光を受光する受光素子２３３の受光強度に基づき、受光素子２３２の受光強度に含まれる乱反射成分を抑えて、正反射成分を取り出す。これにより、有彩色のトナー像の濃度を特定・検出する。なお、色ずれ補正制御と、後述するプロファイル測定においては、正反射光のみを検出すれば良く、よって、光センサ２３ｂ及び２３ｃの構成は、図３の受光素子２３３を省略したものとすることができる。
【００１７】
図１に戻り、制御部２９は、画像形成装置の全体を制御する。ＣＰＵ２４は、ＲＯＭ２６に記憶されたプログラムを実行して各種制御を行う。ＲＯＭ２６には、ＣＰＵ２４が制御で使用する各種データも格納されている。また、ＣＰＵ２４は、制御において、ＲＡＭ２５に一時的なデータ等を格納する。なお、不揮発性メモリ２７には、画像形成装置の電源が断となっても維持すべきデータが格納される。例えば、本実施形態では、画像形成時の階調補正で使用され、濃度補正制御において生成・更新されるルックアップテーブル（ＬＵＴ）が格納される。パターン発生部２８は、濃度補正制御におけるテストパターンの画像データを生成する。
【００１８】
本実施形態において、濃度補正制御は、濃度検出処理、濃度算出処理、ＬＵＴ生成処理の順に行われる。まず、濃度検出処理について、図６のフローチャートに基づき説明を行う。なお、濃度補正制御は、例えば、画像形成装置の電源投入時、電源投入からの経過時間が所定時間に達したとき、画像形成枚数が所定枚数に達したとき、温度や湿度等の環境が所定量だけ変化したとき、ユーザからの指示が受けたとき等に実行する。
【００１９】
まず、ＣＰＵ２４は、Ｓ１００で初期動作を行う。初期動作は、濃度検出処理の準備動作であり、感光体１Ｙ、１Ｍ、１Ｃ、１Ｂｋ及び中間転写体１４を回転させ、感光体１Ｙ、１Ｍ、１Ｃ、１Ｂｋを帯電させるといった処理が含まれる。ＣＰＵ２４は、Ｓ１０１で、第１測定を開始する。第１測定においては、光センサ２３ａによる下地測定と、光センサ２３ｂによる第１プロファイル測定を行う。なお、第１プロファイル測定も、下地測定と同様に、中間転写体１４の表面からの正反射光の強度を検出する処理である。なお、下地測定及び第１プロファイル測定は、少なくとも、中間転写体１４が１回転する期間に渡り中間転写体１４の複数の位置で行う。例えば、中間転写体１４の周長を７００ｍｍとし、中間転写体１４の周速度を１００ｍｍ／ｓとすると、中間転写体１４が１周する期間は７ｓである（以下、この期間を公称周期と呼ぶ。）。しかしながら、中間転写体１４の周長の公差や画像形成装置のメカ部品の公差を考慮する必要があり、本例では公称周期に５％のマージンを乗せる。つまり、第１測定を７．３５ｓ間に渡り行う。また、この期間において、所定のサンプリング間隔で中間転写体１４の表面からの正反射光の強度をサンプリング測定する。例えば、本例では１ｍｓの間隔で行うものとする。この場合、光センサ２３ａ及び光センサ２３ｂは、それぞれ、７３５０個の検出値を取得する。以下では、この下地測定及び第１プロファイル測定で検出される検出値の個数をＥ１で表す。さらに、以下では、下地測定で得られる値を第１下地検出値Ｕ（ｉ）（ｉは１〜Ｅ１）と表記し、第１プロファイル測定で得られる値を第１プロファイル検出値Ｐ１（ｉ）（ｉは１〜Ｅ１）と表記する。ＣＰＵ２４は、Ｓ１０２で、これら検出値をＲＡＭ２５に格納していく。なお、各検出値はＣＰＵ２４内のＡ／Ｄコンバータによって１０ビットのデジタルデータに変換されるものとする。ここで、第１下地検出値Ｕ（ｉ）と、第１プロファイル検出値Ｐ１（ｉ）は、同じタイミングで検出されている。
【００２０】
ＣＰＵ２４は、所定タイミングになると、Ｓ１０３で、その後のパターン測定のため、中間転写体１４にテストパターンの形成を開始する。なお、この所定タイミングは、Ｓ１０１で開始した第１測定が終了するころに、テストパターンが光センサ２３ａの検出領域に到達する様に決定される。図７は、Ｓ１０３で形成を開始するテストパターンを示している。図７において、ＰＹｘ（ｘは１から７）、ＰＭｘ、ＰＣｘ及びＰＢｋｘは、それぞれ、イエロー、マゼンタ、シアン及びブラックのトナー像のパッチである。なお、各パッチの横の()内にはパッチの画像データの値を１６進数で示している。本実施形態において、テストパターンは、各色について７つの異なる濃度のパッチを含んでいる。なお、本例において、各パッチは一辺１０ｍｍの正方形とする。また、色が変更される箇所においては、パッチ１つ分の間隔を設けている。
【００２１】
ＣＰＵ２４は、下地測定を開始してから所定期間だけ経過すると、Ｓ１０４で、第２測定を開始する。第２測定は、光センサ２３ａによるパターン測定と、光センサ２３ｂによる第２プロファイル測定を含んでいる。ここで、パターン測定では、光センサ２３ａの受光素子２３２が検出する正反射光の強度と、受光素子２３３が受光する乱反射光の強度それぞれを測定する。また、第２プロファイル測定では、光センサ２３ｂが検出する中間転写体１４の表面からの正反射光の強度を測定する。なお、第２測定の期間は、公称周期の１０％だけマージンを載せ、よって、７．７ｓ間に渡り行う。また、パターン測定及び第２プロファイル測定の時間間隔は、第１測定と同じ、つまり、本例では１ｍｓとする。したがって、第２測定では、それぞれ、７７００個の検出値が得られる。以下では、このパターン測定及び第２プロファイル測定で取得される検出値の個数をＥ２で表す。さらに、以下では、パターン測定における正反射光の検出値を正反射検出値Ｓ（ｋ）（ｋは１〜Ｅ２）と表記し、乱反射光の検出値を、乱反射検出値Ｒ（ｋ）（ｋは１〜Ｅ２）と表記する。なお、正反射検出値Ｓ（ｋ）及び乱反射検出値Ｒ（ｋ）を纏めてパターン検出値と呼ぶ。また、第２プロファイル測定での検出値を第２プロファイル検出値Ｐ２（ｋ）（ｉは１〜Ｅ２）と表記する。なお、第２プロファイル検出値Ｐ２（ｋ）と、正反射検出値Ｓ（ｋ）及び乱反射検出値Ｒ（ｋ）は、同じタイミングで検出されている。また、第２プロファイル検出値Ｐ２（ｋ）と、正反射検出値Ｓ（ｋ）及び乱反射検出値Ｒ（ｋ）は、ＲＡＭ２５に格納される。
【００２２】
図８は、第１測定期間と、Ｓ１０４で開始する第２測定期間との関係を示している。まず、本実施形態において、第２測定は、第１測定を開始してから、公称周期の５％だけ前のタイミングから開始する。つまり、第１測定を開始してから６．６５ｓが経過すると第２測定を開始する。図８に示す様に、本例では、第１測定の最後の０.７ｓ間と、第２測定の最初の０.７ｓ間は重複している。例えば、サンプリング・タイミングが同じであると、第１プロファイル検出値Ｐ１の最後の７００個の測定値と、第２プロファイル検出値Ｐ２の最初の７００個は同じ測定結果である。第１下地検出値Ｕと正反射検出値Ｓについても同様である。
【００２３】
図５に戻り、Ｓ１０５で、図８に示す様に、第１測定は終了するが、第２測定は継続する。そして、Ｓ１０６で第２測定も終了すると、Ｓ１０７で、ＣＰＵ２４は、中間転写体１４のクリーニング等の後処理を行って濃度検出処理を終了する。
【００２４】
続いて、濃度算出処理について説明する。本実施形態では、まず、第１プロファイル検出値Ｐ１（ｉ）（ｉは１〜Ｅ１）の最初の所定期間の検出値に基づき、この所定期間の検出値に対応する第２プロファイル検出値Ｐ２（ｋ）（ｋは１〜Ｅ２）を求める。具体的には、本例では、この所定期間を５００個の検出値、つまり、Ｐ１（１）〜Ｐ１（５００）とし、以下の値Ｉ（Ｘ）を計算する。
【００２５】
【数１】
2018022005.tif 000003
Ｉ（Ｘ）は、プロファイル検出値Ｐ１（ｉ）と、プロファイル検出値Ｐ２（ｉ＋Ｘ）との差の絶対値を、Ｐ１（１）〜Ｐ１（５００）まで積算した値であり、例えば、Ｘ＝０〜５００について、それぞれ、Ｉ（Ｘ）の値を計算する。 
【００２６】
中間転写体１４の表面からの正反射強度はその位置により異なり、かつ、表面の移動方向に沿った正反射強度の変化のパターンには周期性がない。よって、Ｉ（Ｘ）の値が最小となるときのＸが第１プロファイル検出値Ｐ１と第２プロファイル検出値Ｐ２の対応関係を示すことになる。具体的には、Ｘ＝２０のときにＩ（Ｘ）が最小であると、Ｐ１（１）とＰ２（２１）が中間転写体１４の略同じ位置での正反射光強度を示していることになる。この様子を図９に示す。
【００２７】
ＣＰＵ２４は、Ｘの値を求めると、正反射検出値Ｓ、乱反射検出値Ｕ、及び、第２プロファイル検出値Ｐ２のインデクスをＸだけずらして修正する処理を行う。具体的には、修正後の各検出値をＳ´、Ｕ´、Ｐ２´とすると、
Ｓ´（ｉ）＝Ｓ（ｉ＋Ｘ）
Ｒ´（ｉ）＝Ｒ（ｉ＋Ｘ）
Ｐ２´（ｉ）＝Ｐ２（ｉ＋Ｘ）
として、インデクスを修正する。つまり、Ｘが２０であるとすると、Ｓ´（１）には、Ｓ（２１）の値が設定される。これにより、中間転写体１４が第１測定と第２測定の両方において理想的な一定速度で回転しているとすると、Ｓ´（ｉ）及びＲ´(ｉ)の測定位置での中間転写体１４からの正反射光の強度は、第１下地検出値Ｕ（ｉ）となる。
【００２８】
しかしながら、第２測定のときの中間転写体１４の回転速度は、第１測定のときの中間転写体１４の回転速度から変動し得る。これは、上述した様に、第２測定のときには中間転写体にトナーが載るからである。この場合、Ｓ´（ｉ）及びＲ´(ｉ)の測定位置での、中間転写体１４からの正反射光の強度は、第１下地検出値Ｕ（ｉ）とはならない。なお、図９の処理は、第１プロファイル検出値Ｐ１（ｉ）の測定開始位置を基準として求めているため、少なくともＵ（１）と、Ｓ´（１）及びＲ´(１)は一致する。そして、第２測定のときの中間転写体１４の速度が、第１測定のときの中間転写体１４の速度から変動すると、インデックスの値ｉが大きくなるにつれ、Ｓ´（ｉ）及びＲ´(ｉ)とＵ（ｉ）の測定位置の差が大きくなる。したがって、本実施形態では、中間転写体１４の速度の変化を考慮し、正反射検出値Ｓ´及び乱反射検出値Ｒ´の測定位置での中間転写体１４からの正反射光の強度を、第１下地検出値Ｕ（ｉ）に基づき生成する。以下では、この、第１下地検出値Ｕ（ｉ）から求めた、正反射検出値Ｓ´及び乱反射検出値Ｒ´に対応する中間転写体１４からの正反射光の強度を示す値を、第２下地検出値Ｕ´と呼ぶ。
【００２９】
このため、まず、ＣＰＵ２４は、第１プロファイル検出値Ｐ１（ｉ）及び、インデックス補正後の第２プロファイル検出値Ｐ´２(ｉ)から、それぞれ、所定条件を満たす特徴値Ｅｐ１（ｋ）及びＥｐ２（ｋ）の抽出を行う。以下、図１０のフローチャートを使って特徴値Ｅｐ１の抽出方法を説明する。
【００３０】
ＣＰＵ２４は、Ｓ２００で、プロファイル検出Ｐ１の全データ、つまりＰ１（１）〜Ｐ１（Ｅ１）の平均値Ｐ１ａｖｅを求める。続いて、ＣＰＵ２４は、Ｓ２０１でｉ＝１、ｋ＝１に初期化し、Ｓ２０２で、Ｐ１（ｉ）とＰ１ａｖｅの差の絶対値と閾値とを比較する。差の絶対値が閾値より大きいと、ＣＰＵ２４は、Ｓ２０３で、Ｅｐ１（ｋ）にｉを代入してＲＡＭ２５に格納し、Ｓ２０４でｋを１だけ増加させる。その後、ＣＰＵ２４は、Ｓ２０５においてｉを１だけ増加させる。なお、Ｓ２０２で、差の絶対値が閾値以下であると、ＣＰＵ２４は、Ｓ２０５においてｉを１だけ増加させる。ＣＰＵ２４は、Ｓ２０６で、ｉがＥ１を超えているか否かを判定し、超えていなければＳ２０２から処理を繰り返す。一方、Ｓ２０６でｉがＥ１を超えていると処理を終了する。
【００３１】
ＣＰＵ２４は、第２プロファイル検出値Ｐ２´（ｉ）に対しても図１０と同様の処理を行うことで特徴値Ｅｐ２を抽出する。なお、その際、図１０のフローチャートにおいて、Ｐ１（ｉ）をＰ２´（ｉ）とし、Ｅｐ１（ｋ）をＥｐ２（ｋ）と読み替える。また、Ｐ１ａｖｅを、第２プロファイル検出値Ｐ２´（ｉ）の平均値Ｐ２ａｖｅと読み替える。図１１は、Ｐ１（ｉ）と、Ｅｐ１（ｋ）と、平均値Ｐ１ａｖｅとの関係を示している。図１１において、実線の直線は、Ｐ１ａｖｅの値を示し、点線は、Ｐ１ａｖｅより閾値だけ大きい値を示し、一点鎖線は、Ｐ１ａｖｅより閾値だけ小さい値を示している。Ｐ（ｉ）の内、点線を超えるものと、１点鎖線を下回るもののｉの値がＥｐ１に順に格納される。図１１の例では、Ｐ１（２）が点線を超え、Ｐ１（１１）及びＰ１（２６）が一点鎖線を下回っている。したがって、Ｅｐ１（１）＝２、Ｅｐ１（２）＝１１、Ｅｐ１（３）＝２６となる。
【００３２】
続いて、ＣＰＵ２４は、ｋ＝１から順に、Ｅｐ１（ｋ）とＥｐ２（ｋ）の値を比較し、その値が一致するか否かを判定する。そして、Ｅｐ１（ｋ）とＥｐ２（ｋ）が一致していると、第２下地検出値Ｕ´(Ｅｐ１（ｋ−１）)〜Ｕ´（Ｅｐ１（ｋ））に、第１下地検出値Ｕ(Ｅｐ１（ｋ−１）)〜Ｕ´（Ｅｐ１（ｋ））の値をそのまま設定する。なお、ｋ＝１の場合、Ｅｐ１（０）は１とする。例えば、図１１で、Ｅｐ１（１）とＥｐ２（１）が同じ値であると、Ｕ´（１）＝Ｕ（１）とし、Ｕ´（２）＝Ｕ（２）とする。さらに、Ｅｐ１（２）とＥｐ２（２）が同じ値であると、Ｕ´（２）〜Ｕ´（１１）に、Ｕ（２）〜Ｕ（１１）の値を設定する。
【００３３】
一方、Ｅｐ１（ｋ）とＥｐ２（ｋ）の値に不一致が生じると、それは、中間転写体１４の速度変動により、第１プロファイル検出値Ｐ１と第２プロファイル検出値Ｐ２´の測定位置が異なっていることを意味する。したがって、測定位置を合わせる処理を行う。例えば、図１２に示す様に、Ｅｐ１（５００）とＥｐ２（５００）までは、つまり、ｋ＝１〜５００まではＥｐ１とＥｐ２の値は一致していたが、Ｅｐ１（５０１）とＥｐ２（５０１）の値が不一致になったものとする。なお、図１２の例では、Ｅｐ１（５００）＝Ｅｐ２（５００）＝１０００であり、Ｅｐ１（５０１）＝１０１０であり、Ｅｐ２（５０１）＝１００８である。これは、第１プロファイル検出値Ｐ１（１０００）〜Ｐ１（１０１０）の測定区間が、第２プロファイル検出値Ｐ２´（１０００）〜Ｐ２（１００８）の測定区間に対応することを意味する。第１プロファイル検出値Ｐ１と第１下地検出値Ｕは、同じタイミングで測定したものなので、第１下地検出値Ｕ（１０００）〜Ｕ（１０１０）に基づき、第２下地検出値Ｕ´（１０００）〜Ｕ´（１００８）を生成する必要がある。
【００３４】
このため、本実施形態では、図１３に示す様に、第１下地検出値Ｕ（１０００）〜Ｕ（１０１０）のインデックス１０００〜１０１０を、均等に縮小してＵ（１０００）〜Ｕ（１００８）に変更する。このとき、インデックスは小数値となる。続いて、第２下地検出値Ｕ´（ｉ）を、インデックス修正後のＵ（ｘ）とＵ（ｙ）の値から求める。ここで、ｘは、ｉとの差が１未満で、かつ、ｉより小さい値であり、ｙは、ｉとの差が１未満で、かつ、ｉより大きい値である。なお、インデックス修正後の第１下地検出値Ｕのインデックスが整数であると、そのＵの値を、そのまま対応するインデックスの第２下地検出値Ｕ´に設定する。例えば、図１３において、Ｕ´（１００４）の値は、インデックス補正後のＵ（１００４）の値、つまり、インデックス補正前のＵ（１００５）の値をそのまま設定する。一方、Ｕ´（１００１）は、インデックス補正後のＵ（１０００．８）とＵ（１００１．６）の線形補間により以下の様に求める。なお、インデックス補正後のＵ（１０００．８）とＵ（１００１．６）は、それぞれ、インデックス補正前のＵ（１００１）とＵ（１００２）に対応する。
Ｕ´（１００１）=(Ｕ（１００１．６）−Ｕ(１０００．８))／(１００１．６−１０００．８)×（１００１−１０００．８）＋Ｕ（１０００．８）
【００３５】
この様にして第２下地検出値Ｕ´（Ｅｐ（ｋ−１））〜Ｕ´（Ｅｐ（ｋ））の値を求める。なお、これにより第１下地検出値Ｕのインデックスｉがずれるため、インデックスのシフト処理を行う。例えば、本例では、ｉが２だけずれたため、ｉ＝１０１１以降の第１下地検出値Ｕ（ｉ）をＵ（ｉ−２）とする。よって、元の第１下地検出値Ｕ（１０１１）がＵ（１００９）になり、Ｕ（１０１２）がＵ（１０１０）になる。同様に、特徴データＥｐ２も、ｋ＝５０２以降はシフトするので、Ｅｐ２（ｋ）をＥｐ２（ｋ）−２に変更する処理を行う。
【００３６】
上記の通り、本実施形態では、第１プロファイル検出値Ｐ１及び第２プロファイル検出値Ｐ２´をそれぞれ特徴値で複数の区間に区切る。そして、対応する区間の検出値の数に基づき第１下地検出値Ｕから第２下地検出値Ｕ´を求める。以上の処理を繰り返すことで、パターン測定値Ｓ及びＲの測定位置に対応する、中間転写体１４の表面からの正反射光の強度を示す第２下地検出値Ｕ´が得られる。具体的には、正反射検出値Ｓと、乱反射検出値Ｒと、第２下地検出値Ｕ´の同じインデックスの検出値は、それぞれ、中間転写体１４の略同じ位置での測定結果となっている。
【００３７】
上記の通り第２下地検出値Ｕ´を求めると、ＣＰＵ２４は、続いて、正反射光検出値Ｓと各パッチの対応関係を求める。本実施形態では、中間転写体１４の表面からの正反射光を受光したときに受光素子２３２が最大出力Ｖｓの３／４の信号を出力する様に調整されているものとする。なお、このとき、トナーの色に拘らず、画像値ＦＦＨで形成されたパッチからの正反射光を受光すると、受光素子２３２は最大出力Ｖｓの１／４の信号を出力するものとする。本実施形態では、図７に示す様に、画像値ＦＦＨのパッチを各色の先頭に形成している。したがって、例えば、ＣＰＵ２４は、ｉ＝１から正反射検出値Ｓ（ｉ）の値を探索して、Ｓ（ｉ）≦Ｖｓ／２となると、図７のＰＹ１の先端での正反射光のデータと判定することができる。なお、Ｓ（ｉ）≦Ｖｓ／２となるときのｉの値をｍに代入する。
【００３８】
図１４はパッチＰＹ１と、測定位置との関係を示している。本実施形態では、測定間隔が０．１ｍｓであり、パッチの一辺は１０ｍｍであるため、１つのパッチについて１００個の測定値が得られる。しかしながら、パッチの先端と後端での測定値は、隣接するパッチや、中間転写体１４の表面からの反射成分をも含んでいる。したがって、パッチの先端および後端から２ｍｍの部分については濃度算出には使用せず、中央の６ｍｍの部分からの反射光を濃度算出に使用する。
【００３９】
そして、本実施形態では、検出値Ｓ（ｉ）、Ｒ（ｉ）、Ｕ´（ｉ）から、
Ｄ（ｉ）＝（Ｓ（ｉ）−α×Ｒ（ｉ））／Ｕ´（ｉ） 
として、各測定位置での濃度値を求める。ここで、αは所定の係数である。そして、濃度値Ｄ（ｉ）を領域（ｍ＋２０）〜（ｍ＋７９）の範囲で算出し、これらを平均してパッチＰＹ１の濃度ＤＹ１とする。イエローの残りのパッチが続く間にはパッチの大きさの変動は大きくないので、以下のように各濃度データを平均してイエローの残りのパッチＰＹ２〜ＰＹ７の濃度ＤＹ２〜ＤＹ７を求める。
ＰＹ２：Ｄ（ｍ＋１２０）〜Ｄ（ｍ＋１７９）
ＰＹ３：Ｄ（ｍ＋２２０）〜Ｄ（ｍ＋２７９）
ＰＹ４：Ｄ（ｍ＋３２０）〜Ｄ（ｍ＋３７９）
ＰＹ５：Ｄ（ｍ＋４２０）〜Ｄ（ｍ＋４７９）
ＰＹ６：Ｄ（ｍ＋５２０）〜Ｄ（ｍ＋５７９）
ＰＹ７：Ｄ（ｍ＋６２０）〜Ｄ（ｍ＋６７９）
【００４０】
イエローの各パッチの濃度を算出すると、同様にしてＣ、Ｍ、Ｂｋの各基準パッチ（画像値ＦＦＨで形成されたパッチ）の先端を検知し、各パッチの濃度ＤＹ１〜ＤＹ７、ＤＭ１〜ＤＭ７、ＤＣ１〜ＤＣ７、ＤＢｋ１〜ＤＢｋ７を算出してＲＡＭ２５に格納する。
【００４１】
最後に、上記の様に算出した濃度値から、ＣＰＵ２４は、ＬＵＴを算出する。例えばパッチＰＹ１〜ＰＹ７の濃度ＤＹ１〜ＤＹ７が図１５の黒丸で示すようになったとする。この時、画像データと濃度とを直線関係にするためには黒丸点を直線補間または曲線補間をしてその階調特性を表す曲線２１１を求め、さらにその曲線の逆曲線を求めてＬＵＴとすればよい。したがってＬＵＴは参照符号２１２のようになる。この様に、ＣＰＵ２４は、ＲＡＭ２５に格納されたＤＹ１〜ＤＹ７、ＤＭ１〜ＤＭ７、ＤＣ１〜ＤＣ７、ＤＢｋ１〜ＤＢｋ７に基づき各色のＬＵＴを算出して不揮発性メモリ２７に格納する。このＬＵＴの算出により濃度補正制御は終了する。なお、画像データと濃度とは直線関係以外の所定の関係に合わせてもよい。また、濃度算出処理で濃度以外の他の指標を算出した場合はそれを用いてＬＵＴを算出することも可能である。
【００４２】
以上の構成により、下地測定を含む第１測定と、パターン測定を含む第２測定との期間において中間転写体１４の回転速度が異なったとしても、パターン測定の測定位置に対応する下地の測定値を求めることができ、高い精度で濃度補正制御を行うことができる。
【００４３】
＜第二実施形態＞
続いて、第二実施形態について第一実施形態との相違点を中心に説明する。第一実施形態では、光センサ２３ａ〜２３ｃの３つの光センサを使用していた。本実施形態では、図１６に示す様に、光センサ２３ａを中間転写体１４の幅方向の一方の端部付近に設け、光センサ２３ｂを他方の端部付近に設ける。本実施形態において、濃度補正制御は、第一実施形態と同様である。また、色ずれ補正制御は、光センサ２３ａ及び２３ｂにより行う。
【００４４】
＜第三実施形態＞
続いて、第三実施形態について第一実施形態との相違点を中心に説明する。第一実施形態では、第１測定と第２測定を連続して行っていた。本実施形態では、第１測定を、第２測定とは連続して行わず、第２測定とは別のタイミングで行う。例えば、画像形成前の前回転や、画像形成後の後回転や、ジャムリカバリー時の回転等では、中間転写体１４の表面にトナー像が形成されていない状態で中間転写体１４を回転させる。本実施形態では、これらの機会を利用して第１測定を行う。そして、第１プロファイル検出値Ｐ１（ｉ）と第１下地検出値Ｕ（ｉ）をＲＡＭ２５に記憶しておく。この測定は、トナー像が形成されていない中間転写体１４が回転するタイミング毎に行う必要はなく、例えば、１日当たり１回等、適当なタイミングで行う構成とすることができる。そして、濃度補正制御を行うタイミングになると、第２測定を行い、第２プロファイル検出値Ｐ２と、正反射検出値Ｓ及び乱反射検出値Ｒを取得する。そして、ＲＡＭ２５に保存しておいた第１プロファイル検出値Ｐ１（ｉ）と第１下地検出値Ｕ（ｉ）を使用して、第一実施形態で述べたのと同様に濃度を算出してＬＵＴを更新する。
【００４５】
以上、本実施形態では、トナー像が形成されていない中間転写体１４を回転させるタイミングで第１測定を行う。これにより、濃度補正制御時には、第２測定から開始できるので、濃度補正制御に要する時間を短くすることができる。また、本実施形態によれば、先に第２測定を行っておき、その後、第１測定を行うことも可能である。
【００４６】
［その他の実施形態］
なお、本発明は上記実施形態に限定されない。例えば、第一実施形態において光センサ２３ｂ及び２３ｃは、受光素子２３３を有さないものであった。しかしながら、光センサ２３ｂ及び２３ｃにも受光素子２３３を設ける構成とすることができる。この場合、一つの光センサをプロファイル測定用に使い、残りの二つのセンサをパターン測定及び下地測定用に使うことができる。また、プロファイル測定を行う光センサと、パターン測定及び下地測定を行う光センサを、所定タイミングで切り替える構成とすることもできる。
【００４７】
また、特徴値の抽出方法や、第２下地検出値Ｕ´の算出方法は、第一実施形態で述べた方法に限定されず、他の方法であっても良い。さらに、本実施形態では、第１下地検出値Ｕに基づき、パターン測定値に対応する第２下地検出値を求めたが、検出したパターン検出値を補間して、第１下地検出値と測定位置が同じとなるパターン検出値を求める構成であっても良い。また、上記実施形態では、第１プロファイル検出値の最初の所定範囲の検出値を、第２プロファイル検出値と比較することで、第１プロファイル検出値の当該所定範囲の検出値に対応する第２プロファイル検出値を判定していた。しかしながら、第２プロファイル検出値の最初の所定範囲の検出値を、第１プロファイル検出値と比較することで、第２プロファイル検出値の当該所定範囲に対応する第１プロファイル検出値を判定する構成であっても良い。
【００４８】
さらに、上記実施形態の下地測定では、正反射光のみを測定していたが、乱反射光も合わせて測定して濃度算出に用いることができる。また、図７に示す様に、上記実施形態では、各色について異なる濃度の７つのパッチを作成していたが、形成する濃度の異なるパッチの数は、他の数であっても良い。また、上記実施形態では、パッチＰＹ１、ＰＭ１、ＰＣ１、ＰＢｋ１の濃度もＬＵＴの調整に用いたが、これら最も高い濃度のパッチは、その他の濃度のパッチの位置を判定するための基準として用い、ＬＵＴの算出には使用しない構成であっても良い。また、光センサの数は３つより多くても良い。さらに、上記実施形態では、濃度補正制御によりＬＵＴを生成・更新していたが、現像バイアス等の、濃度に関する画像形成条件を補正するものであっても良い。また、本発明は、中間転写体１４を有する画像形成装置のみならず、例えば、搬送ベルトにより搬送される転写材に各感光体から直接トナー像を転写する画像形成装置にも適用できる。この場合、テストパターンは例えば、搬送ベルトに形成される。また、１つの感光体に対して各色の現像部によりトナー像を形成する画像形成装置にも本発明は適用できる。
【００４９】
［その他の実施形態］
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００５０】
１４：中間転写体、ＳＹ、ＳＭ、ＳＣ、ＳＢｋ：画像形成部、２３ａ、２４ｂ：光センサ、２９：制御部
【図１】
2018022005.tif 000004
【図２】
2018022005.tif 000005
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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