(57)【要約】【課題】超高精細映像用の撮像系に対応したＭＴＦ測定用チャートを提供する。【解決手段】ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、矩形状のチャート面のアスペクト比が１６：９であり、チャート面の所定位置を中心位置Ｏとし、中心位置Ｏを通過する水平線ＬＨ及び垂直線ＬＶを所定の傾斜角φだけ傾斜させ、傾斜させた水平線ＬＨ及び垂直線ＬＶのそれぞれと、チャート面の対角線ＬＤとでチャート面を区分する放射領域Ｂ１〜Ｂ８を形成し、隣接する放射領域Ｂにコントラストが異なる色を配色した。【選択図】図１
2018138904.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像系の解像度の空間周波数特性を表すＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置で利用されるＭＴＦ測定用チャートであって、
矩形状のチャート面のアスペクト比が１６：９であり、
前記チャート面の所定位置を中心とし、前記中心を通過して所定の傾斜角だけ傾斜する水平軸に、前記中心側より前記チャート面の外周側で間隔が広くなるような区分位置を予め設定し、前記中心を通過して前記傾斜角だけ傾斜する垂直軸及び前記チャート面の対角軸に前記水平軸と等距離の前記区分位置を予め設定し、
前記水平軸と前記垂直軸と前記対角軸との区分位置で直交する区分線を接続した八角形の区分領域、及び、前記水平軸及び前記対角軸の区分線と前記チャート面の長辺とを接続した八角形の区分領域を、前記中心を基準として同心円状に配置し、
前記チャート面の中心、最も外周側の前記区分領域と当該区分領域に隣接する前記区分領域との境界が前記チャート面の長辺に接する第１端点、前記チャート面の長辺上で前記第１端点から予め設定した距離の第２端点を頂点とする放射領域を、前記中心を基準として点対称に配置し、
隣接する前記区分領域にコントラストが異なる色を配色し、前記放射領域を前記最も外周側の区分領域と同色で配色したことを特徴とするＭＴＦ測定用チャート。
【請求項２】
前記水平軸の区分位置は、前記チャート面の中心から短辺までの全長に対する前記中心から当該区分位置までの距離の比が等比級数で表される位置に予め設定されたことを特徴とする請求項１に記載のＭＴＦ測定用チャート。
【請求項３】
前記区分領域及び前記放射領域に、白色、黒色、又は、白色及び黒色以外の第３色を配色したことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載のＭＴＦ測定用チャート。
【請求項４】
撮像系の解像度の空間周波数特性を表すＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置で利用されるＭＴＦ測定用チャートであって、
矩形状のチャート面のアスペクト比が１６：９であり、
前記チャート面の所定位置を中心とし、前記中心を通過する水平線及び垂直線を所定の傾斜角だけ傾斜させ、傾斜させた前記水平線及び前記垂直線のそれぞれと、前記チャート面の対角線とで前記チャート面を区分する放射領域を複数形成し、
隣接する前記放射領域にコントラストが異なる色を配色したことを特徴とするＭＴＦ測定用チャート。
【請求項５】
前記放射領域に、白色、黒色、又は、白色及び黒色以外の第３色を配色したことを特徴とする請求項４に記載のＭＴＦ測定用チャート。
【請求項６】
前記傾斜角が２度以上５度以下であることを特徴とする請求項１から請求項５の何れか一項に記載のＭＴＦ測定用チャート。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像系の解像度の空間周波数特性を表すＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置で利用されるＭＴＦ測定用チャートに関する。
【背景技術】
【０００２】
高解像度テレビジョンの最大の特徴は、高い空間解像度であり、カメラの解像度特性が重要となる。現行のハイビジョンカメラの解像度測定として、図１４に示すように、複数の空間周波数を有する矩形波が空間的に配置されたインメガサイクルチャートを用いる手法が知られている。
【０００３】
このインメガサイクルチャートを用いる手法では、波形モニタから矩形波の変調度の空間周波数特性を表すＣＴＦ（Contrast Transfer Function）を読み取ることで、解像度測定を行っている。インメガサイクルチャートを用いる手法は、波形モニタから目視で読み取れる手軽さはあるが、サンプリングの位相やカメラノイズの影響で波形の振幅が変動する。また、インメガサイクルチャートを用いる手法は、レンズ中央と周辺でカメラの解像度特性が異なるため、８００ＴＶＬ／ｐｈに相当するチャート中央における矩形波応答だけ測定することが多い。さらに、インメガサイクルチャートを用いる手法は、所望の空間周波数を得るために撮像画角を正確にチャートサイズにフレーミングする必要があるが、４Ｋ／８Ｋカメラでは広角レンズを使うことが多いので、サイズの大きいインメガチャートが必要になり、非現実的である。
【０００４】
そこで、インメガサイクルチャートに代わり、Slanted-edge法が提案されている（特許文献１，２、非特許文献１，２）。このSlanted-edge法は、チャートサイズが比較的小さくてフレーミングが不要な手法であり、僅かに傾いたエッジ画像を撮像して、そのエッジの広がりから、正弦波の変調度の空間周波数特性を表すＭＴＦ（Modulation Transfer Function）を算出している。以下、Slanted-edge法の手順を示す。
【０００５】
まず、Slanted-edge法では、チャートを撮像したチャート画像からエッジを含む長方形の関心領域（ＲＯＩ：Region Of Interest、図１５）を選択する。次に、Slanted-edge法では、図１６（ａ）に示すように、ＩＳＯ１２２３３に準拠したアルゴリズム（非特許文献２）、又は、より精度の高いアルゴリズム（特許文献１、非特許文献１）を用いて、関心領域からエッジを検出する。次に、Slanted-edge法では、図１６（ｂ）に示すように、関心領域の各画素を、エッジ傾きθｅに沿って、サブピクセルで等間隔に区分した水平軸に投影する。そして、Slanted-edge法では、図１７に示すように、それぞれの区分けに投影された複数の画素の画素値の平均値を求め、オーバーサンプリング（ＩＳＯ１２２３３の場合、４倍オーバーサンプリング）されたエッジ広がり関数を求める。さらに、Slanted-edge法では、そのエッジ広がり関数を微分して求まる線広がり関数を算出し、線広がり関数を離散フーリエ変換して絶対値を求めることにより、ＤＣ成分からサンプリング周波数を超える帯域のＭＴＦを求める。ＭＴＦ測定結果の一例を図１８に示す。
【０００６】
このように、Slanted-edge法では、エッジを水平からわずかに傾いた方向にすれば垂直方向のＭＴＦが測定できる。エッジを画像周辺部に位置させて測定すれば、画像周辺部の水平方向又は垂直方向のＭＴＦが測定できる。一般には、カメラの画素構造や画像処理などにより解像度特性の異方性が考えられる場合は、多方向のＭＴＦ測定が必要になる。ＩＳＯ１２２３３のSlanted-edge法は、水平方向と垂直方向の２方向のＭＴＦしか測定できないが、図１９のようなスターバーストチャートを用いて多方向のＭＴＦを測定することができる（特許文献２）。このチャートは２値画像であり、偶数個のエッジが等間隔の角度で配置されている。各エッジのＲＯＩは、既知の角度だけ回転して垂直方向からわずかに傾いたエッジとする。そして、図２０のように水平方向に投影し、各エッジのオーバーサンプリングされたエッジ広がり関数を得て、その後ＩＳＯ１２２３３のSlanted-edge法と同様にＭＴＦを求める。図２１に結果例（レーダーチャート）を示す。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２０１５−９４７０１号公報
【特許文献２】特開２０１０−２３７１７７号公報（特許第５１９３１１３号公報）
【非特許文献】
【０００８】
【非特許文献１】K. Masaoka et al., "Modified slanted-edge method and multidirectional modulation transfer function estimation", Optics Express, 22(5), 2014
【非特許文献２】ISO 12233:2000, "Photography−Electronic Still-picture Cameras−Resolution Measurements"
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
例えば、ＨＤＴＶ（High Definition Television）、ＵＨＤＴＶ（Ultra High Definition Television）等の超高精細映像用のレンズでは、アスペクト比が１６：９のチャートにおいて、対角線上で中心から４つの頂点までの距離が４０％又は８０％の位置で放射方向や円周方向のＭＴＦを測定することが多い。図２２には、距離が４０％の位置でＭＴＦを測定したときの測定結果表示画面を図示した。そこで超高精細映像用のレンズとＭＴＦの測定結果を比較するために、撮像系（カメラシステム）のＭＴＦを測定したいという要望がある。
【００１０】
そこで、本発明は、超高精細映像用の撮像系に対応したＭＴＦ測定用チャートを提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
前記した課題に鑑みて、本発明に係るＭＴＦ測定用チャートは、撮像系の解像度の空間周波数特性を表すＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置で利用されるＭＴＦ測定用チャートであって、矩形状のチャート面のアスペクト比が１６：９であり、前記チャート面の所定位置を中心とし、前記中心を通過して所定の傾斜角だけ傾斜する水平軸に、前記中心側より前記チャート面の外周側で間隔が広くなるような区分位置を予め設定し、前記中心を通過して前記傾斜角だけ傾斜する垂直軸及び前記チャート面の対角軸に前記水平軸と等距離の前記区分位置を予め設定し、前記水平軸と前記垂直軸と前記対角軸との区分位置で直交する区分線を接続した八角形の区分領域、及び、前記水平軸及び前記対角軸の区分線と前記チャート面の長辺とを接続した八角形の区分領域を、前記中心を基準として同心円状に配置し、前記チャート面の中心、最も外周側の前記区分領域と当該区分領域に隣接する前記区分領域との境界が前記チャート面の長辺に接する第１端点、前記チャート面の長辺上で前記第１端点から予め設定した距離の第２端点を頂点とする放射領域を、前記中心を基準として点対称に配置し、隣接する前記区分領域にコントラストが異なる色を配色し、前記放射領域を前記最も外周側の区分領域と同色で配色した構成とした。
【００１２】
かかる構成によれば、ＭＴＦ測定用チャートは、超高精細映像と同一のアスペクト比を有するので、超高精細映像用の撮像系でＭＴＦを測定できる。さらに、ＭＴＦ測定用チャートは、チャート面の外周側に大きな区分領域を同心円状に配置したので、撮像系の画角に関わらず、所望の区分領域にＲＯＩを設定できる。このとき、ＭＴＦ測定用チャートは、八角形の区分領域に円周方向でＲＯＩを設定できるので、放射方向のＭＴＦを測定できる。なお、アスペクト比とは、チャート面の幅及び高さの比を表す。
【００１３】
また、前記した課題に鑑みて、本発明に係るＭＴＦ測定用チャートは、矩形状のチャート面のアスペクト比が１６：９であり、前記チャート面の所定位置を中心とし、前記中心を通過する水平線及び垂直線を所定の傾斜角だけ傾斜させ、傾斜させた前記水平線及び前記垂直線のそれぞれと、前記チャート面の対角線とで前記チャート面を区分する放射領域を複数形成し、隣接する前記放射領域にコントラストが異なる色を配色した構成とした。
【００１４】
かかる構成によれば、ＭＴＦ測定用チャートは、超高精細映像と同一のアスペクト比を有するので、超高精細映像用の撮像系でＭＴＦを測定できる。さらに、ＭＴＦ測定用チャートは、放射方向でＲＯＩを設定できるので、円周方向のＭＴＦを測定できる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、以下のような優れた効果を奏する。
本発明に係るＭＴＦ測定用チャートは、超高精細映像と同一のアスペクト比を有するので、超高精細映像用の撮像系でＭＴＦを測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の第１実施形態に係るＭＴＦ測定用チャートのパターン図である。
【図２】図１のＭＴＦ測定用チャートの傾斜角を説明する説明図である。
【図３】本発明の第２実施形態に係るＭＴＦ測定用チャートのパターン図である。
【図４】図３のＭＴＦ測定用チャートの区分領域を説明する説明図である。
【図５】図３のＭＴＦ測定用チャートの傾斜角を説明する説明図である。
【図６】図３のＭＴＦ測定用チャートの全体を利用するときの放射領域を説明する説明図である。
【図７】図３のＭＴＦ測定用チャートの半分を利用するときの放射領域を説明する説明図である。
【図８】本発明の第３実施形態に係るＭＴＦ測定装置の構成を示すブロック図である。
【図９】第３実施形態において、図１のチャート画像で４０％の位置にＲＯＩを設定する手法を説明する説明図である。
【図１０】第３実施形態において、図３のチャート画像で４０％の位置にＲＯＩを設定する手法を説明する説明図である。
【図１１】第３実施形態において、図１のチャート画像で８０％の位置にＲＯＩを設定する手法を説明する説明図である。
【図１２】第３実施形態において、図３のチャート画像で８０％の位置にＲＯＩを設定する手法を説明する説明図である。
【図１３】図８のＭＴＦ測定装置の動作を示すフローチャートである。
【図１４】従来のインメガサイクルチャートを説明する説明図である。
【図１５】従来のSlanted-edge法におけるＲＯＩを説明する説明図である。
【図１６】従来のSlanted-edge法において、（ａ）はエッジの検出を説明する説明図であり、（ｂ）はエッジプロファイルの生成を説明する説明図である。
【図１７】従来のSlanted-edge法におけるＭＴＦの測定を説明する説明図である。
【図１８】従来のSlanted-edge法においるＭＴＦの測定結果を示すグラフである。
【図１９】従来の多方向のＭＴＦ測定用チャートのパターン図である。
【図２０】従来の多方向のＭＴＦ測定用チャートを用いた場合において、（ａ）はＲＯＩの回転を説明する説明図であり、（ｂ）はエッジプロファイルの生成を説明する説明図である。
【図２１】従来の多方向のＭＴＦ測定用チャートを用いた場合において、ＭＴＦの測定結果を表すレーダチャートである。
【図２２】従来の超高精細映像用のレンズにおけるＭＴＦの測定結果表示画面の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
本発明の各実施形態について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。なお、各実施形態において、同一の部材には同一の符号を付し、説明を省略した。
まず、第１，２実施形態として、ＭＴＦ測定用チャートについて説明する。次に、第３実施形態として、ＭＴＦ測定用チャートを用いるＭＴＦ測定装置について説明する。
【００１８】
（第１実施形態）
＜ＭＴＦ測定用チャートのパターン＞
図１，図２を参照し、本発明の第１実施形態に係るＭＴＦ測定用チャートＣＨについて説明する。
ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、ＭＴＦを測定するＭＴＦ測定装置１で利用される（図８参照）。つまり、撮像系２がＭＴＦ測定用チャートＣＨを撮像し、その撮像画像（チャート画像）を用いて、ＭＴＦ測定装置１がＭＴＦを測定する。
【００１９】
図１，図２に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、矩形状のチャート面のアスペクト比（幅Ｗ：高さＨ）が１６：９である。また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、チャート面の所定位置を中心位置Ｏとし、中心位置Ｏを通過する水平線ＬＨ及び垂直線ＬＶを所定の傾斜角φだけ傾斜させる。そして、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、傾斜させた水平線ＬＨ及び垂直線ＬＶのそれぞれと、チャート面の対角線ＬＤとでチャート面を区分する放射領域Ｂを複数形成する。さらに、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、隣接する放射領域Ｂにコントラストが異なる色を配色する。
【００２０】
ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、チャート面の幅Ｗ及び高さＨが半分となる位置を中心位置Ｏとする。また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、中心位置Ｏから放射状に広がる水平線ＬＨ、垂直線ＬＶ及び対角線ＬＤにより区分された８個の放射領域Ｂ１〜Ｂ８を有する。この対角線ＬＤは、チャート面の４隅となる頂点同士を結んでおり、チャート面の中心位置Ｏを通過する。また、放射領域Ｂは、チャート面の矩形内側の端に達しており、中心位置Ｏを頂点とした直角三角形状のような形状である。
【００２１】
ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、同色の放射領域Ｂが隣接しないように、各放射領域Ｂを白色又は黒色で配色する。具体的には、放射領域Ｂ１，Ｂ３，Ｂ５，Ｂ７は、白色とする。また、放射領域Ｂ２，Ｂ４，Ｂ６，Ｂ８は、黒色とする。従って、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、放射領域Ｂ１〜Ｂ８で白色及び黒色が交互に表れる。
【００２２】
ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、放射領域Ｂと同数の境界を有する。つまり、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、放射領域Ｂ８，Ｂ１の境界、放射領域Ｂ１，Ｂ２の境界、…、放射領域Ｂ７，Ｂ８の境界というように、８本の境界を有する。各境界は、直線状であり、中心位置Ｏから放射状に伸びている。
【００２３】
Slanted-edge法では、多様な位相を測定できるように、傾斜角φが予め設定されている。そして、Slanted-edge法では、ＭＴＦを測定する際、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを傾斜角φだけ傾斜させる。ここで、ＭＴＦ測定用チャートＣＨの境界を水平方向又は垂直方向に設け、このＭＴＦ測定用チャートＣＨを傾斜角φだけ回転させて壁面に添付することや、撮像系２を傾斜角φだけ回転させて配置することが考えられる。しかし、ＭＴＦを測定する際、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ又は撮像系２を正確に回転させるのは困難、かつ、手間を要する。そこで、本実施形態では、ＭＴＦ測定用チャートＣＨのパターン自体を傾斜させている。
【００２４】
ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、水平線ＬＨ及び垂直線ＬＶを時計回りに傾斜角φだけ傾斜させる（図２）。この傾斜角φは、ＭＴＦ測定上、数度（例えば、２°以上５°以下）であればよい。その結果、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、水平方向に対して、放射領域Ｂ２，Ｂ３の境界、放射領域Ｂ６，Ｂ７の境界も傾斜角φだけ傾斜する。さらに、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、垂直方向に対して、放射領域Ｂ８，Ｂ１の境界、放射領域Ｂ４，Ｂ５の境界も傾斜角φだけ傾斜する。このように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、傾斜角φだけパターン自体が傾斜しているので、垂直方向及び水平方向に傾斜角φだけ傾斜したエッジが形成されるので、垂直方向及び水平方向のＭＴＦが測定可能となる。なお、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、対角線ＬＤを傾斜させる必要がない。
【００２５】
なお、図２では、説明を容易にするため、ＭＴＦ測定用チャートＣＨの配色を省略した。また、図２では、水平方向及び垂直方向の軸線を一点鎖線で図示したが、ＭＴＦ測定用チャートＣＨに軸線を描く必要はない。
【００２６】
＜ＭＴＦ測定用チャートの製造方法＞
次に、ＭＴＦ測定用チャートＣＨの製造方法の一例について説明する。
ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、矩形状のチャート部材に図１のパターンを配色することで、製造可能である。このチャート部材は、特に制限されないが、例えば、紙、フィルム、ガラス又は金属である。
【００２７】
チャート部材が紙の場合、図１のパターンをチャート部材に印刷し、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを製造できる。また、チャート部材がフィルムの場合、写真撮影によりＭＴＦ測定用チャートＣＨを製造できる。
また、チャート部材がガラスの場合、図１のパターンをクロム等で蒸着すればよい。さらに、チャート部材が金属の場合、図１のパターンで白色部分をカットすると共に、ナイフエッジ処理を施せばよい。
このように、チャート部材をガラス又は金属とすることで、ＭＴＦ測定時にＭＴＦ測定用チャートＣＨが撓みにくくなる。
【００２８】
［作用・効果］
以上のように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、超高精細映像と同一のアスペクト比を有するので、超高精細映像用の撮像系２でＭＴＦを測定することができる。さらに、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、放射方向（対角方向、水平方向及び垂直方向）にＲＯＩを設定できるので、円周方向のＭＴＦを測定することができる（図９参照）。
【００２９】
（第２実施形態）
＜ＭＴＦ測定用チャートのパターン＞
図３，図４を参照し、本発明の第２実施形態に係るＭＴＦ測定用チャートＣＨ２について説明する。
図３，図４に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、矩形状のチャート面のアスペクト比が１６：９である。また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、チャート面の所定位置を中心位置Ｏとし、中心位置Ｏを通過して傾斜角φだけ傾斜する水平軸ＡＨに、中心側よりチャート面の外周側で間隔が広くなるような区分位置ＰＨを予め設定する。また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、中心位置Ｏを通過して傾斜角φだけ傾斜する垂直軸ＡＶ及びチャート面の対角軸ＡＤに区分位置ＰＶ，ＰＤを予め設定する。
【００３０】
また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、水平軸ＡＨと垂直軸ＡＶと対角軸ＡＤとの区分位置ＰＨ，ＰＶ，ＰＤで直交する区分線ＮＨ，ＮＶ，ＮＤを接続した八角形の区分領域Ｃ１〜Ｃ９を、中心位置Ｏを基準として同心円状に配置する。さらに、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、水平軸ＡＨ及び対角軸ＡＤの区分線ＮＨ２，ＮＤ２とチャート面の長辺ＬＷとを接続した八角形の区分領域Ｃ１０，Ｃ１１を、中心位置Ｏを基準として同心円状に配置する。
【００３１】
また、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、チャート面の中心位置Ｏ、第１端点Ｔ１、第２端点Ｔ２を頂点とする放射領域Ｄを、中心位置Ｏを基準として点対称で形成する（図６参照）。そして、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、隣接する区分領域Ｃにコントラストが異なる色を配色すると共に、放射領域Ｄを最も外周側の区分領域Ｃ１１と同色で配色する。
【００３２】
＜＜区分領域＞＞
まず、区分領域Ｃについて詳細に説明する。図４に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、１１個の区分領域Ｃ１〜Ｃ１１を、チャート面の中心位置Ｏを基準として配置する。ここで、区分領域Ｃ１〜Ｃ９は、その直径がチャート面の高さＨ未満なので、チャート面に八角形の各辺が収まる。従って、区分領域Ｃ１〜Ｃ９は、中心位置Ｏを基準として、同心円状に配置する。一方、区分領域Ｃ１０，Ｃ１１は、その直径がチャート面の高さＨ以上なので、八角形の上下がチャート面に収まらない。このため、区分領域Ｃ１０，Ｃ１１は、チャート面の長辺ＬＷを八角形の上下の辺として利用する。また、区分領域Ｃ１０，Ｃ１１は、区分領域Ｃ１〜Ｃ９と同様、中心位置Ｏを基準として配置する。
【００３３】
区分領域Ｃを描くため、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、チャート面の中心位置Ｏから放射状に広がる対角軸ＡＤ、水平軸ＡＨ、及び、垂直軸ＡＶを設定する。図５に示すように、水平軸ＡＨ及び垂直軸ＡＶは、水平方向及び垂直方向に対して、傾斜角φだけ時計回りに傾斜する。この傾斜角φは、ＭＴＦ測定上、数度（例えば、２°以上５°以下）であればよい。そして、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、対角軸ＡＤ、水平軸ＡＨ、及び、垂直軸ＡＶのそれぞれに区分位置ＰＤ，ＰＨ，ＰＶを設定する。
【００３４】
ここで、撮像系２のズーム倍率を調整することで、同じ形状の撮像画像を取得可能とするため、水平軸ＡＨでは、チャート面の中心側より外周側の方が、隣接する区分位置ＰＨ，ＰＨ２の間隔が広くなる。具体的には、チャート面の中心位置Ｏから外周までの全長（＝幅Ｗ／２）に対し、中心位置Ｏから区分位置ＰＨ，ＰＨ２までの距離の比が任意の等比級数で表される。本実施形態では、４０％及び８０％の位置で放射方向や円周方向のＭＴＦを測定するために、全長に対して、中心位置Ｏから区分位置ＰＨ，ＰＨ２までの距離の比を√２の等比級数とする。従って、区分位置ＰＨ，ＰＨ２は、全長に対して、５√２％、１０／√２％、１０％、１０√２％、２０／√２％、２０％、２０√２％、４０／√２％、４０％、４０√２％、８０％の距離に位置する。この他、４０％及び８０％の位置でＭＴＦを測定する場合、前記した距離の比を２＾（１／ｎ）の等比級数としてもよい（但し、ｎは正の整数）。
【００３５】
なお、等比級数やＭＴＦの測定位置は、前記した例に限定されない。例えば、２０％及び６０％の位置でＭＴＦを測定する場合、前記した距離の比を３＾（１／ｎ）の等比級数としてもよい。
【００３６】
以下、区分領域Ｃ９の例を説明する。この場合、水平軸ＡＨ上で、中心位置Ｏからの距離が４０％となる区分位置ＰＨに区分線ＮＨを２本設定する。また、垂直軸ＡＶ上で、中心位置Ｏからの距離が４０％となる区分位置ＰＶに区分線ＮＶを２本設定する。さらに、図４に示すように、対角軸ＡＤ上で、中心位置Ｏからの距離が４０％となる区分位置ＰＤにおいて、法線を区分線ＮＤとして４本設定する。その後、区分線ＮＨ，ＮＶ，ＮＤを互いに接続するように延長し、区分領域Ｃ９を形成する。従って、区分領域Ｃ９は、区分線ＮＨ，ＮＶ，ＮＤに挟まれた領域となる。
【００３７】
なお、区分領域Ｃ１〜Ｃ８は、区分領域Ｃ９と同様に形成できる。具体的には、区分領域Ｃ１〜Ｃ８は、中心位置Ｏからの距離が等比級数となる区分位置（図４不図示）において、区分領域Ｃ９と同様の手順で形成できる。
【００３８】
続いて、区分領域Ｃ１１の例を説明する。ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、チャート面の高さＨが幅Ｗ未満なので、水平軸ＡＨと等距離で全区分位置を垂直軸ＡＶに設定できない。このため、区分位置ＰＨ２，ＰＤ２は、水平軸ＡＨ及び対角軸ＡＤのみに設定され、垂直軸ＡＶでは設定していない。
【００３９】
区分線ＮＨ２，ＮＤ２は、水平軸ＡＨ及び対角軸ＡＤ上で、中心位置Ｏからの距離が８０％となる区分位置ＰＨ２，ＰＤ２において、区分線ＮＨ，ＮＤと同様の手順で設定できる。また、垂直軸ＡＶの区分線が未設定のため、チャート面の長辺ＬＷを垂直軸ＡＶの区分線の代わりに利用する。つまり、区分領域Ｃ１１は、２本の区分線ＮＨ２、４本の区分線ＮＤ２、２本のチャート面の長辺ＬＷで構成されている。従って、区分領域Ｃ１１は、区分線ＮＨ２，ＮＤ２及びチャート面の長辺ＬＷに挟まれた領域となる。
【００４０】
なお、区分領域Ｃ１０は、区分領域Ｃ１１と同様に形成できる。具体的には、区分領域Ｃ１０は、中心位置Ｏからの距離が４０√２％となる区分位置（図４不図示）において、区分領域Ｃ１１と同様の手順で形成できる。
【００４１】
なお、図４では、説明を容易にするため、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２の配色を省略した。また、図４では、説明を容易にするため、対角軸ＡＤ、水平軸ＡＨ、及び、垂直軸ＡＶと、区分位置ＰＤ，ＰＨ，ＰＶ，ＰＤ２，ＰＨ２とを図示したが、これらをＭＴＦ測定用チャートＣＨ２に描く必要はない。
【００４２】
＜＜放射領域＞＞
次に、放射領域Ｄについて詳細に説明する。
図６に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、チャート面の中心位置Ｏ、第１端点Ｔ１、第２端点Ｔ２を頂点とする放射領域Ｄ１〜Ｄ４を有する。つまり、放射領域Ｄは、中心位置Ｏを頂点とし、第１端点Ｔ１と第２端点Ｔ２との線分を底辺とする三角形の領域となる。
【００４３】
第１端点Ｔ１は、最も外側の区分領域Ｃ１１と区分領域Ｃ１１に隣接する区分領域Ｃ１０との境界がチャート面の長辺ＬＷに接する点である。
第２端点Ｔ２は、チャート面の長辺ＬＷ上で、第１端点Ｔ１から幅Ｗ方向で中央側に、予め設定した距離に位置する点である。第１端点Ｔ１から第２端点Ｔ２までの距離は、任意の値で設定できる。
【００４４】
ここで、放射領域Ｄの役割について説明する。この放射領域Ｄは、撮像系２のズームイン及びズームアウトに対応するため、ＲＯＩの設定位置を表すマーカとしての役割を有する。前記したように、放射領域Ｄの第１端点Ｔ１は、４０％の位置を表している。従って、上下の第１端点Ｔ１を結ぶ線分ＬＢを求め、線分ＬＢに交わる区分領域Ｃの境界にＲＯＩ（不図示）を設定すればよい。
【００４５】
図６に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２の全体を利用する場合、線分ＬＢに交わる区分領域Ｃ９，Ｃ１０の境界にＲＯＩを設定する（図１０参照）。
なお、図６では、説明を容易にするため、区分領域Ｃ１０，Ｃ１１を破線で図示すると共に、他の区分領域Ｃの図示及びＭＴＦ測定用チャートＣＨ２の配色を省略した。また、線分ＬＢを実際に描く必要はない。
【００４６】
さらに、図７に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２の半分を利用する場合を考える。このとき、幅Ｗ及び高さＨを半分にしたときのＭＴＦ測定用チャートＣＨ２の長辺と、中心位置Ｏから第１端点Ｔ１までの直線との接点を端点Ｔ１Ａとする。この場合、上下の端点Ｔ１Ａを結ぶ線分ＬＢ２を求め、線分ＬＢ２に交わる区分領域Ｃ７，Ｃ８の境界にＲＯＩ（不図示）を設定する。
【００４７】
なお、図７では、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２として利用する範囲を実線で図示し、それ以外の範囲を点線で図示した。また、図７では、説明を容易にするため、区分領域Ｃ７，Ｃ８を破線で図示すると共に、他の区分領域Ｃの図示及びＭＴＦ測定用チャートＣＨ２の配色を省略した。また、線分ＬＢ２を実際に描く必要はない。
【００４８】
図３に戻り、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２の説明を続ける。
ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、同色の区分領域Ｃが隣接しないように、各区分領域Ｃを白色又は黒色で配色する。具体的には、区分領域Ｃ１，Ｃ３，Ｃ５，Ｃ７，Ｃ９，Ｃ１１は、黒色とする。また、区分領域Ｃ２，Ｃ４，Ｃ６，Ｃ８，Ｃ１０は、黒色とする。従って、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、区分領域Ｃ１〜Ｃ１１で白色及び黒色が交互に表れる。さらに、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、放射領域Ｄ１〜Ｄ４を、第１端点Ｔ１で接する最も外側の区分領域Ｃ１１と同色（黒色）で配色する。
【００４９】
ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、区分領域Ｃ１，Ｃ２の境界、区分領域Ｃ２，Ｃ３の境界、…、区分領域Ｃ１０，Ｃ１１の境界を有する。各境界は、区分領域Ｃが八角形状であるから、円周方向に伸びている。さらに、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、白色の区分領域Ｃ２，Ｃ４，Ｃ６，Ｃ８，Ｃ１０と放射領域Ｄ１〜Ｄ４との境界を有する。
なお、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２の製造方法は、第１実施形態と同様のため、説明を省略する。
【００５０】
［作用・効果］
以上のように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、超高精細映像と同一のアスペクト比を有するので、超高精細映像用の撮像系２でＭＴＦを測定することができる。さらに、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、円周方向にＲＯＩを設定できるので、放射方向のＭＴＦを測定することができる（図１０参照）。
【００５１】
さらに、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、チャート面の外周側に大きな区分領域Ｃを同心円状に配置したので、撮像系２のズームイン又はズームアウトに関わらず、所望の区分領域ＣにＲＯＩを設定できる。さらに、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ２は、放射領域Ｄの位置を参照することで、ＲＯＩの設定位置を容易に把握することができる。
【００５２】
（第３実施形態）
［ＭＴＦ測定装置の構成］
以下、図８を参照して、本発明の第３実施形態に係るＭＴＦ測定装置１の構成について説明する。このＭＴＦ測定装置１は、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを用いて、ＭＴＦを測定するものである。すなわち、ＭＴＦ測定装置１は、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを撮像した画像でＭＴＦを測定する際、コントラストの異なる放射領域に跨ったＲＯＩにおいて、その方向に応じた空間周波数特性を測定する。よって、空間周波数特性を測定したい方向に応じて、適宜、どのＭＴＦ測定用チャートＣＨを用いるかを決めればよい。第３実施形態では、図１のＭＴＦ測定用チャートＣＨを用いることとする。
【００５３】
図８に示すように、ＭＴＦ測定装置１は、チャート画像記憶手段１０と、画像位置特定手段１１と、画像抽出手段１２と、演算手段１３と、グラフ生成手段１４とを備える。ここでは、ＭＴＦ測定装置１は、被測定対象となる超高精細映像用の撮像系２と、ＭＴＦ測定装置１を操作するユーザインタフェースを提供する表示装置３とを接続しているものとする。
【００５４】
チャート画像記憶手段１０は、被測定対象の撮像系２で、図１のＭＴＦ測定用チャートＣＨを撮像した画像（チャート画像）を記憶するものであって、ハードディスク等の一般的な記憶装置である。
【００５５】
画像位置特定手段１１は、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを撮像したチャート画像から、ＭＴＦ測定を行うＲＯＩの画像の位置を特定するものである。ここでは、画像位置特定手段１１は、チャート中心取得手段１１１と、基準ＲＯＩ領域情報取得手段１１２と、相対位置判定手段１１３と、角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４と、を備える。
【００５６】
チャート中心取得手段１１１は、チャート画像記憶手段１０に記憶されているチャート画像において、放射線状の境界の中心位置Ｏ（図１）を取得するものである。このチャート中心取得手段１１１は、表示装置３にチャート画像を表示し、例えば、タッチペン３１等のポインティングデバイス（入力手段）によって、操作者が中心を指定することで、チャート画像の中心位置Ｏを取得する。なお、このチャート中心取得手段１１１は、チャート画像において、エッジ検出により放射領域Ｂの境界である複数の直線を抽出し、この直線の交点によって中心位置Ｏを求めることとしてもよい。
【００５７】
ここで、チャート中心取得手段１１１は、中心位置Ｏが設定された場合、当該中心位置Ｏがチャート画像の中心座標（０，０）となるように、座標系を設定し、チャート画像の各画素の座標をシフトすることとする。なお、チャート画像の中心座標が既知の場合には、他のチャート画像を入力するときの座標を、その中心が中心座標（０，０）になるように入力することで、次のチャート画像の中心位置Ｏの取得を省略することもできる。
このチャート中心取得手段１１１は、取得した中心位置Ｏを相対位置判定手段１１３及び角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４に出力する。
【００５８】
基準ＲＯＩ領域情報取得手段１１２は、チャート画像において、水平方向又は垂直方向のコントラストが異なる放射領域Ｂに跨った矩形領域を指定されることで、測定基準となる基準ＲＯＩの領域を示す領域情報を取得するものである。このとき、基準ＲＯＩ領域情報取得手段１１２は、チャート面の中心位置Ｏからの距離が４０％となる位置に基準ＲＯＩを指定させる。つまり、図９に示すように、基準ＲＯＩの中心が、チャート面の中心位置Ｏからの距離が４０％の場所に位置する。
【００５９】
ここで、基準ＲＯＩ領域情報取得手段１１２は、表示装置３に表示されたチャート画像で、例えば、タッチペン３１等のポインティングデバイスによって、操作者が矩形領域を指定することで、基準ＲＯＩの位置及び大きさを領域情報として取得する。
【００６０】
例えば、図９に示すように、チャート画像ＩＭＧＣＨにおいて、放射領域Ｂ８，Ｂ１が隣接している垂直境界付近で、かつ、中心位置Ｏよりも上側の領域Ｒ１を基準ＲＯＩとして指定する。図９では、縦軸及び横軸が中心座標（０，０）を基準とした座標系を表す。
この他、放射領域Ｂ６，Ｂ７が隣接している水平境界付近で、かつ、中心位置Ｏよりも左側の領域Ｒ７を基準ＲＯＩとして指定してもよい。
この基準ＲＯＩ領域情報取得手段１１２は、基準ＲＯＩの領域情報（座標値）を、相対位置判定手段１１３に出力する。
【００６１】
相対位置判定手段１１３は、基準ＲＯＩ領域情報取得手段１１２で取得した基準ＲＯＩの領域情報と、チャート中心取得手段１１１で取得した中心位置Ｏとに基づいて、基準ＲＯＩの中心位置に対する相対位置を判定するものである。すなわち、相対位置判定手段１１３は、基準ＲＯＩが、中心位置Ｏに対して、どの方向（上下左右）に存在する画像であるのかを判定する。この相対位置判定手段１１３は、判定結果を角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４に出力する。
【００６２】
角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４は、チャート画像の中心位置Ｏを基準として、予め定めた角度で基準ＲＯＩを回転した角度別ＲＯＩを特定するものである。
この角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４は、相対位置判定手段１１３で判定した相対位置に基づいて、角度別ＲＯＩの位置と回転方向（及びその角度）を特定する。このとき、角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４は、中心位置Ｏからの距離が４０％となる位置で角度別ＲＯＩを特定する。つまり、図９に示すように、角度別ＲＯＩの中心が、中心位置Ｏからの距離が４０％の場所に位置する。
【００６３】
例えば、図９に示すように、チャート画像ＩＭＧＣＨで基準ＲＯＩ（Ｒ１）が選択された場合を考える。この場合、角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４は、基準ＲＯＩ（Ｒ１）を、中心位置Ｏを基準として、時計回りに、放射領域Ｂの境界の方向６０°，９０°，１２０°，…，３００°だけ回転した位置で角度別ＲＯＩ（Ｒ２，Ｒ３，…，Ｒ８）を特定する。この角度別ＲＯＩは、基準ＲＯＩを回転したものであるため、方向の違いはあるが、基準ＲＯＩと同じ大きさである。
【００６４】
このように、角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４は、基準ＲＯＩの領域を所定の角度だけ回転させて角度別ＲＯＩの領域を特定するため、各角度別ＲＯＩは、その領域内にコントラストが異なるエッジが含まれていることになる。
なお、角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４は、特定した角度別ＲＯＩ（基準ＲＯＩを含む）の領域情報（座標値）を画像抽出手段１２に出力する。
【００６５】
画像抽出手段１２は、画像位置特定手段１１で特定された各角度別のＲＯＩの画像を、チャート画像から抽出するものである。ここでは、画像抽出手段１２は、ＲＯＩ抽出手段１２１と、ＲＯＩ回転手段１２２と、を備える。
【００６６】
ＲＯＩ抽出手段１２１は、画像位置特定手段１１で特定された各角度別ＲＯＩ（基準ＲＯＩを含む）の画像を、チャート画像記憶手段１０から抽出して読み出すものである。ＲＯＩ抽出手段１２１は、抽出した画像（角度別ＲＯＩ）を図示を省略したメモリに記憶し、ＲＯＩ回転手段１２２に通知する。
【００６７】
ＲＯＩ回転手段１２２は、ＲＯＩ抽出手段１２１で抽出した角度別ＲＯＩを、中心位置Ｏを基準に、基準ＲＯＩからの回転角に応じて座標変換を行うことで、当該基準ＲＯＩの位置に相当する位置に回転させた回転角度別ＲＯＩを生成するものである。
このＲＯＩ回転手段１２２は、各角度別ＲＯＩの画素値の座標値（なお、この座標系は任意でよい）を、極座標系に変換し、回転角に応じて回転させた後、デカルト座標系（ｘｙ座標値）に変換することで、各角度別ＲＯＩの回転後の座標と対応する画素値を求めることができる。
【００６８】
以上説明したように、画像抽出手段１２は、チャート画像から、基準ＲＯＩとともに、所定の方向ごとの角度別ＲＯＩを基準ＲＯＩと同一の向き、略同一形状となる回転角度別ＲＯＩとして抽出することができる。この各方向のＲＯＩ（角度別ＲＯＩ、回転角度別ＲＯＩ）は、画素構造（の傾き）は異なるが、略同じエッジ画像となる。また、各ＲＯＩのエッジは、撮像系２のひずみがなく、中心位置Ｏが正しく選択されていれば、同じ傾き角度となる。
【００６９】
演算手段１３は、ＲＯＩ（基準ＲＯＩ、回転角度別ＲＯＩ）から、ＭＴＦを演算するものである。ここでは、演算手段１３は、エッジプロファイル生成手段１３１と、トリミング手段１３２と、ＭＴＦ算出手段１３３と、を備える。
【００７０】
エッジプロファイル生成手段１３１は、各ＲＯＩのエッジ傾きを検出し、当該エッジの向きに応じたエッジプロファイルを生成するものである。例えば、エッジプロファイル生成手段１３１は、チャート画像における水平方向及び垂直方向の軸を２軸とする座標系（ｘｙ座標系）において、ＲＯＩ（基準ＲＯＩ、回転角度別ＲＯＩ）のｘｙ座標値とその画素値とからエッジ傾きを求める。このエッジ傾きは、正規累積密度関数等によるフィッティングにより求めることができる。また、このフィッティングは、エッジ傾きを求めるためだけに行うだけで、画像に完全にフィッティングさせる必要はない。
【００７１】
そして、エッジプロファイル生成手段１３１は、基準ＲＯＩが垂直方向にエッジを含んだ画像である場合（すなわち、図９のＲ１を基準ＲＯＩとした場合）、ＲＯＩ（基準ＲＯＩ、回転角度別ＲＯＩ）ごとに、エッジ傾きに沿って画素値を水平方向の軸（ｘ軸）に投影し、平均化することでエッジプロファイルを生成する。なお、平均化する軸のビンのサイズは、画素よりも小さいサイズを用いることとする。例えば、１画素の１／４又は１／８の幅をビンのサイズとする。そして、エッジプロファイル生成手段１３１は、生成した回転角ごとのＲＯＩのエッジプロファイルをトリミング手段１３２に出力する。
【００７２】
ここで、基準ＲＯＩ（Ｒ１）の場合、エッジプロファイル生成手段１３１は、基準ＲＯＩ内でエッジｅを検出し、そのエッジ傾きθｅに沿って、基準ＲＯＩの各画素値をｘ軸に投影し、ｘ座標のビンごとに画素値を平均化する（図１６参照）。
【００７３】
一方、基準ＲＯＩ以外（つまり、角度別ＲＯＩ）の場合、ＲＯＩ回転手段１２２が、角度別ＲＯＩを基準ＲＯＩ相当の位置に回転させることで、回転角度別ＲＯＩを予め生成している。従って、エッジプロファイル生成手段１３１は、回転角度別ＲＯＩ内でエッジｅを検出し、そのエッジ傾きθｅに沿って、回転角度別ＲＯＩの各画素値をｘ軸に投影し、ｘ座標のビンごとに入った画素値の平均を得る（図２０参照）。
これによって、エッジプロファイル生成手段１３１は、水平方向、垂直方向以外にも、任意の角度に対応した方向のエッジに対して、エッジプロファイルを生成することができる。
【００７４】
トリミング手段１３２は、エッジプロファイル生成手段１３１で生成した各ＲＯＩのエッジプロファイルの長さが同じになるように、最短のエッジプロファイルを基準として、各エッジプロファイルをトリミングするものである。例えば、最短のエッジプロファイルの長さ以下とすると、全てのＲＯＩについて、同一の空間周波数ステップ幅でＭＴＦが算出されることになる。
【００７５】
ＭＴＦ算出手段１３３は、回転角度別ＲＯＩ及び基準ＲＯＩごとに、ＭＴＦを算出するものである。このＭＴＦ算出手段１３３は、一般的なSlanted-edge法を用いて、エッジプロファイルから、ＭＴＦを算出する。すなわち、ＭＴＦ算出手段１３３は、ＲＯＩごとに、エッジプロファイルを順次微分することで線広がり関数（ＬＳＦ）を求めた後、離散フーリエ変換を行うことでＭＴＦを求める。
【００７６】
これによって、ＭＴＦ算出手段１３３は、図９のＲＯＩ（Ｒ１〜Ｒ８）において、Ｒ１,Ｒ５については水平周波数成分、Ｒ３,Ｒ７については垂直周波数成分、それ以外のＲＯＩについては、それぞれの方向に対応したＭＴＦを得ることができる。なお、ＭＴＦ算出手段１３３は、算出したＭＴＦをグラフ生成手段１４に出力する。
【００７７】
以上説明したように、演算手段１３は、画像抽出手段１２によってチャート画像より抽出された測定対象画像から、予め定めたチャート画像の放射領域Ｂにおける境界の方向に応じて、任意の方向のＭＴＦを算出することができる。
【００７８】
グラフ生成手段１４は、ＭＴＦ算出手段１３３で算出したＭＴＦをグラフ化するものである。このグラフ生成手段１４は、例えば、横軸に周波数、縦軸にＭＴＦをとった座標上にＭＴＦ算出手段１３３で算出したＭＴＦをプロットする。
【００７９】
また、グラフ生成手段１４は、放射領域Ｂの境界の方向ごと（例えば、０°，６０°，９０°，１２０°，…，３００°）の放射状の軸上に、ＭＴＦ算出手段１３３で算出したＭＴＦの値をプロットし、軸上にプロットした点を連結することでレーダチャートを生成してもよい。
このグラフ生成手段１４で生成されたグラフは、例えば、表示装置３に出力され、操作者が撮像系２のＭＴＦの解析結果を視認することができる。
【００８０】
このように、ＭＴＦ測定装置１は、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを撮像したチャート画像から、円周方向のＭＴＦを測定することができる。また、ＭＴＦ測定装置１は、角度別ＲＯＩを基準ＲＯＩ相当の画像に回転して処理するため、正確に円周方向のＭＴＦを測定することができる。
【００８１】
なお、ＭＴＦ測定装置１は、図１のＭＴＦ測定用チャートＣＨに代えて、図３のＭＴＦ測定用チャートＣＨ２を用いて、放射方向のＭＴＦを測定することもできる。この場合、ＭＴＦ測定装置１は、図１０に示すように、円周方向にＲＯＩ（Ｒ１〜Ｒ８）を設定する。
【００８２】
さらに、ＭＴＦ測定装置１は、図１１，図１２に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨ，ＣＨ２のそれぞれに、中心位置Ｏからの距離が８０％の位置にＲＯＩ（Ｒ２〜Ｒ４，Ｒ６〜Ｒ８）を設定することもできる。なお、ＲＯＩ（Ｒ１，Ｒ５）は、チャート面の高さＨが足りないので、中心位置Ｏからの距離が４０％の位置に設定している。
【００８３】
［ＭＴＦ測定装置の動作］
次に、図１３を参照して、ＭＴＦ測定装置１の動作について説明する（適宜図８参照）。
まず、ＭＴＦ測定装置１は、撮像系２によって、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを撮像し、撮像したチャート画像をチャート画像記憶手段１０に記憶する（ステップＳ１）。
そして、ＭＴＦ測定装置１は、画像位置特定手段１１のチャート中心取得手段１１１によって、表示装置３上にチャート画像を表示し、操作者によって中心を指定されることで、チャート画像の中心位置Ｏを取得する（ステップＳ２）。
【００８４】
さらに、ＭＴＦ測定装置１は、画像位置特定手段１１の基準ＲＯＩ領域情報取得手段１１２によって、表示装置３上に表示されたチャート画像において、操作者によって領域を指定されることで、基準ＲＯＩの領域情報（位置及び大きさ）を取得する（ステップＳ３）。なお、このステップＳ２，Ｓ３の動作は、その順序を入れ替えて行ってもよい。
【００８５】
そして、ＭＴＦ測定装置１は、相対位置判定手段１１３によって、ステップＳ２で取得したチャート画像の中心位置Ｏと、ステップＳ３で取得した基準ＲＯＩの領域情報とに基づいて、基準ＲＯＩの位置がチャート画像の中心位置に対して上、下、左又は右の何れの位置（相対位置）を指定されたのか判定する（ステップＳ４）。
【００８６】
そして、ＭＴＦ測定装置１は、角度別ＲＯＩ領域特定手段１１４によって、ステップＳ４で判定した相対位置に基づいて、ステップＳ２で取得した中心位置を中心として、予め定めた角度だけ、基準ＲＯＩを回転した角度別ＲＯＩを特定する（ステップＳ５）。
【００８７】
その後、ＭＴＦ測定装置１は、画像抽出手段１２のＲＯＩ抽出手段１２１によって、ステップＳ５で特定された角度別ＲＯＩ（基準ＲＯＩを含む）の画像を、チャート画像記憶手段１０に記憶されているチャート画像から抽出して読み出す（ステップＳ６）。
【００８８】
また、ＭＴＦ測定装置１は、画像抽出手段１２のＲＯＩ回転手段１２２によって、ステップＳ６で読み出した角度別ＲＯＩを、中心位置Ｏを基準に、基準ＲＯＩからの回転角に応じて、当該基準ＲＯＩの位置に相当する位置に回転させた回転角度別ＲＯＩを生成する（ステップＳ７）。
【００８９】
そして、ＭＴＦ測定装置１は、演算手段１３のエッジプロファイル生成手段１３１によって、各ＲＯＩのエッジ傾きに応じて、水平又は垂直の軸にＲＯＩの画素値を投影することで、エッジプロファイルを生成する（ステップＳ８）。
【００９０】
さらに、ＭＴＦ測定装置１は、演算手段１３のトリミング手段１３２によって、各ＲＯＩのエッジプロファイルの長さが同じになるように、最短のエッジプロファイルを基準として、各エッジプロファイルをトリミングする（ステップＳ９）。
【００９１】
その後、ＭＴＦ測定装置１は、演算手段１３のＭＴＦ算出手段１３３によって、ステップＳ９でトリミングされた各ＲＯＩのエッジプロファイルについて、線広がり関数（ＬＳＦ）を求めた後、離散フーリエ変換を行うことでＭＴＦを算出する（ステップＳ１０）。
そして、ＭＴＦ測定装置１は、グラフ生成手段１４によって、ステップＳ１０で算出したＭＴＦをプロットしたグラフを生成し、表示装置３に出力する（ステップＳ１１）。
【００９２】
以上の動作により、ＭＴＦ測定装置１は、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを撮像したチャート画像から、円周方向のＭＴＦを測定することができる。
【００９３】
以上、本発明の各実施形態を詳述してきたが、本発明は前記した実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
例えば、ＭＴＦ測定用チャートは、白色及び黒色を逆に配色してもよい。さらに、ＭＴＦ測定用チャートは、白色又は黒色に代えて、第３色（例えば、灰色）を配色してもよい。
【００９４】
前記した実施形態では、図２に示すように、ＭＴＦ測定用チャートＣＨを時計回りに傾斜させることとして説明したが、本発明は、これに限定されない。つまり、ＭＴＦ測定用チャートＣＨは、傾斜角φを負値にして、反時計回りに傾斜角φだけ傾斜させてもよい。
【符号の説明】
【００９５】
Ｂ，Ｂ１〜Ｂ８  放射領域
Ｃ，Ｃ１〜Ｃ１１  区分領域
ＣＨ，ＣＨ２  ＭＴＦ測定用チャート
Ｄ，Ｄ１〜Ｄ４  放射領域
ＡＤ  対角軸
ＡＨ  水平軸
ＡＶ  垂直軸
ＬＤ  対角線
ＬＨ  水平線
ＬＶ  垂直線
ＬＷ  チャート面の長辺
ＮＤ、ＮＨ，ＮＶ，ＮＤ２，ＮＨ２  区分線
Ｏ  中心位置（中心）
ＰＤ，ＰＨ，ＰＶ，ＰＤ２，ＰＨ２  区分位置
１  ＭＴＦ測定装置
１０  チャート画像記憶手段
１１  画像位置特定手段
１２  画像抽出手段
１３  演算手段
１４  グラフ生成手段
１１１  チャート中心取得手段
１１２  基準ＲＯＩ領域情報取得手段
１１３  相対位置判定手段
１１４  角度別ＲＯＩ領域特定手段
１２１  ＲＯＩ抽出手段
１２２  ＲＯＩ回転手段
１３１  エッジプロファイル生成手段
１３２  トリミング手段
１３３  ＭＴＦ算出手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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