(57)【要約】【課題】測定光が良好に照射される光断層画像撮影装置を提供すること。【解決手段】光断層画像撮影装置１は、測定光を偏向部７１によって被検体の組織上で走査すると共に、参照光と、被検体の組織からの測定光の戻り光と、の干渉を検出器１９によって検出するＯＣＴ光学系と、ＯＣＴ光学系の一部に設けられており、測定光が組織上に照射される第１状態と、組織上へ照射される測定光の光量が第１状態に対して減光される第２状態と、に切換るシャッター２５と、制御部３０と、を備える。制御部３０は、検出器１９からの信号に基づくＯＣＴデータの取込処理を行い、更に、１つのスキャンラインに対する走査が完了してから、該走査に基づくＯＣＴデータの取込処理が完了するまでの期間を少なくとも含む第１期間は、シャッター２５を第２状態に切換え、第１期間の経過後にシャッター２５を第１状態に切換える。【選択図】  図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定光を光スキャナによって被検体の組織上で走査すると共に、前記参照光と、被検体の組織からの前記測定光の戻り光と、の干渉を検出器によって検出するＯＣＴ光学系と、
前記ＯＣＴ光学系の一部に設けられており、測定光が前記組織上に照射される第１状態と、前記組織上へ照射される測定光の光量が第１状態に対して減光される第２状態と、に切換る光制限部と、
前記検出器からの信号に基づくＯＣＴデータの取込処理を行う画像処理手段と、
１つのスキャンラインに対する走査が完了してから、該走査に基づくＯＣＴデータの取込処理が完了するまでの期間を少なくとも含む第１期間は、前記光制限部を前記第２状態に切換え、前記第１期間の経過後に前記光制限部を前記第１状態に切換える、制御手段と、
を有する光断層像撮影装置。
【請求項２】
前記制御手段は、１つのスキャンラインに対して測定光を走査するための前記光スキャナの動作が、前記第１期間に対して短い第２期間で実行されるように、前記光スキャナを駆動制御する、請求項１記載の光断層像撮影装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記光スキャナを周期的に駆動させ、且つ、前記光スキャナにおけるスキャンライン毎のスキャン周期に対し、前記第１期間が長い、請求項１又は２記載の光断層像撮影装置。
【請求項４】
前記ＯＣＴ光学系は、波長掃引光源を、前記測定光の光源として有する請求項１から３の何れかに記載の光断層像撮影装置。
【請求項５】
前記画像処理手段は、前記取込処理によって取り込まれた前記ＯＣＴデータに基づくライブ画像をモニタへ表示させる表示処理を実行し、
前記制御手段は、１つのスキャンラインに対する走査が完了してから、該走査に基づくＯＣＴデータの取込処理と前記表示処理と、が完了するまでの期間を前記第１期間として、前記光制限部の切換制御を行う、請求項１から４のいずれかに記載の光断層像撮影装置。
【請求項６】
前記光制限部は、前記測定光の光路上に配置される光シャッターであって、前記制御手段は、前記光シャッターの開閉状態を、前記画像処理手段における処理状態に応じて制御する請求項１から５のいずれかに記載の光断層像撮影装置。
【請求項７】
前記測定光の照射位置を示すためのエイミング光となる可視光を、前記光スキャナへ導くための光路が、前記ＯＣＴ光学系における測定光の光路と一部共通しており、
前記光制限部は、前記可視光と前記測定光との共通光路上に配置される請求項１から６のいずれかに記載の光断層像撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、被検体の組織の断層画像を撮影する光断層像撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、被検体の所定部位における断層画像を撮影することができる装置として、光断層干渉計（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）を用いた装置が知られている。ＯＣＴでは、任意のスキャンラインにて被検体上で測定光を走査することによって、スキャンラインを切断面とする断面の情報（Ｂスキャンデータ）が、被検体からの戻り光に基づいて生成される。ＯＣＴにおいて、このような測定光の走査が、繰り返される場合がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１０−１１０３９３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
Ｂスキャンデータの取込制御の時間、または、表示制御の時間等については、ハードウェアによる制約があり、被検体に対する測定光の走査が短時間で繰り返し行われたとしても、全ての走査に基づいてＢスキャンデータを生成し、装置に取り込む、或いは、表示する、ことはできない場合があった。
【０００５】
このような場合であっても、光安全性の観点から許容される測定光の照射量は、各回の測定光の走査のうち、Ｂスキャンデータが取込まれない部分、又は、表示に用いられない部分、の走査において被検体へ照射される測定光の照射量についても考慮しなければならない。
【０００６】
本開示は、従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、測定光が良好に照射される光断層像撮影装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本開示の第１の態様に係る光断層像撮影装置は、前記測定光を光スキャナによって被検体の組織上で走査すると共に、前記参照光と、被検体の組織からの前記測定光の戻り光と、の干渉を検出器によって検出するＯＣＴ光学系と、前記ＯＣＴ光学系の一部に設けられており、測定光が前記組織上に照射される第１状態と、前記組織上へ照射される測定光の光量が第１状態に対して減光される第２状態と、に切換る光制限部と、前記検出器からの信号に基づくＯＣＴデータの取込処理を行う画像処理手段と、１つのスキャンラインに対する走査が完了してから、該走査に基づくＯＣＴデータの取込処理が完了するまでの期間を少なくとも含む第１期間は、前記光制限部を前記第２状態に切換え、前記第１期間の経過後に前記光制限部を前記第１状態に切換える、制御手段と、を有する。
【発明の効果】
【０００８】
本開示によれば、測定光が良好に照射されるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】光断層像撮影装置と周辺機器の概略構成を示す図である。
【図２】プローブの先端部近傍の拡大図である。
【図３】断層画像（２次元ＯＣＴデータ）の一例であって、極座標で表現されたものである。
【図４】本実施形態における断層画像の取込動作を示したタイミングチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本開示における１つの実施形態について、図面を参照して説明する。
【００１１】
＜装置構成の説明＞
まず、図１を参照して、本実施形態に係る光断層像撮影装置（以下、「撮影装置」と省略する）１の概略構成について説明する。撮影装置１は、被検体内の組織の２次元ＯＣＴデータ（例えば、断層画像（Ｂスキャン画像））を、被検体内に挿入されるプローブ２を利用して撮影する。
【００１２】
以下、具体例として、撮影装置１は、眼科撮影装置であるものとする。即ち、被検眼Ｅの内部組織（例えば、網膜）の断層画像が、撮影装置１によって撮影される。しかし、本開示は、眼以外の被検体（例えば、内臓、耳等）の断層画像を撮影する装置にも適用できる。撮影装置１は、測定部１０と制御部３０を備える。
【００１３】
測定部１０は、光断層干渉計（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）の構成（例えば、干渉光学系）を備える。本実施形態の測定部１０は、測定光源１１、エイミング光源１２、カップラー１３、カップラー１４、参照光学系１５、装着部１６、ファイバ回転モータ１８、検出器（受光素子）１９および光路長変更ユニット２０を備える。
【００１４】
測定光源１１は、２次元ＯＣＴデータ（例えば、断層画像，および，断面方向のアンジオグラフィー等）を取得するための光を出射する。一例として、本実施形態の撮影装置１は、出射するレーザ光の波長を高速で変化させることが可能な測定光源１１を備えることで、Ｓｗｅｐｔ−ｓｏｕｒｃｅ  ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ）計測によって２次元ＯＣＴデータを取得する。本実施形態の測定光源１１は、レーザ媒体、共振器、および波長選択フィルタ等によって構成される。波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、または、ファブリー・ペローエタロンを用いたフィルタ等を採用できる。
【００１５】
エイミング光源１２は、測定光の照射位置（つまり、２次元ＯＣＴデータの取得位置。）を示すための可視光であるエイミング光を出射する。
【００１６】
カップラー１３は、測定光源１１から出射された光と、エイミング光源１２から出射されたエイミング光とを合波し、２つの光の光軸を一致させる。カップラー１４は、カップラー１３から入射された光を、測定光（試料光）と参照光に分割する。測定光は、装着部１６に装着されたプローブ２に導光される。参照光は、参照光学系１５に導光される。また、カップラー１４は、被検眼Ｅによって反射された測定光（反射測定光）と、参照光学系１５によって生成された参照光とを合成して干渉光を生成する。カップラー１４は、生成した干渉光を検出器１９に受光させる。
【００１７】
参照光学系１５は、カップラー１４から導光された参照光を再びカップラー１４に戻す。参照光学系１５は、反射光学系であってもよいし（特開２０１４−１８８２７６号公報）、透過光学系であってもよい（特開２０１０−２２０７７４号公報等）。
【００１８】
検出器１９は、反射測定光と参照光の干渉状態を検出する。換言すると、検出器１９は、カップラー１４によって生成された干渉光の干渉信号を検出する。より詳細には、フーリエドメインＯＣＴの場合には、干渉光のスペクトル強度が検出器１９によって検出され、スペクトル強度データに対するフーリエ変換によって、所定範囲における深さプロファイル（Ａスキャン信号）が取得される。また、走査位置毎に深さプロファイルを収集し、深さプロファイルを並べることで、２次元ＯＣＴデータ（例えば、Ｂスキャン画像  図５参照）が形成される。
【００１９】
前述したように、本実施形態の撮影装置１には、ＳＳ−ＯＣＴが採用されている。しかし、撮影装置１には、種々のＯＣＴを採用できる。例えば、Ｓｐｅｃｔｒａｌ−ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）、Ｔｉｍｅ−ｄｏｍａｉｎ  ＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）等のいずれを撮影装置１に採用してもよい。ＳＳ−ＯＣＴを採用する場合、複数の受光素子を有する平衡検出器を検出器１９として採用することが望ましい。平衡検出器を用いる場合、撮影装置１は、複数の受光素子からの干渉信号の差分を得て、干渉信号に含まれる不要なノイズを削減することができる。その結果、２次元ＯＣＴデータの品質が向上する。
【００２０】
装着部（例えばコネクタ）１６には、プローブ２におけるファイバ４の後端部（基端部）が着脱可能に装着される。装着部１６に対してプローブ２が装着されることによって、カップラー１４によって分割された測定光の導光路（例えば、測定部１０内のファイバ４）と、プローブ２とが接続される。
【００２１】
ファイバ回転モータ（以下、「モータ」と省略する）１８は、ファイバ４が装着された装着部１６を、ファイバ４の軸を中心として回転させることができる。つまり、モータ１８は、装着部１６を回転させることでファイバ４を回転させる。その結果として、本実施形態では、測定光およびエイミング光が走査される（詳細は後述する）。モータ１８には、回転検出センサ１８ａが設けられている。回転検出センサ１８ａは、後端部におけるファイバ４の回転を１回転毎に検出すると共に、検出毎（つまり、１回転毎）に信号を制御部３０へ出力する。回転検出センサ１８ａからの信号は、各々の２次元ＯＣＴデータ（例えば、Ｂスキャン画像）の生成開始のタイミングを決定するために利用される。つまり、ファイバ４の回転に伴って続けて出力される２回の信号の間に、１回の走査が行われる。
【００２２】
また、本実施形態の撮影装置１は、シャッター２５を有してもよい。シャッター２５は、測定光の光路上に配置される。シャッター２５は、図示無きアクチュエータへの制御信号に応じて、測定光を通過させる状態と、測定光を遮光する状態と、に切換る。これによって、測定光が被検眼の組織上に照射される第１状態と、測定光が被検眼Ｅの組織上へ照射されない第２状態と、に切換えられる。
【００２３】
なお、第２状態は、組織上へ照射される測定光の光量が、第１状態に対して減光された状態であればよく、測定光が組織上に照射されない状態に限られるものでない。例えば、シャッターの代わりにフィルタを挿脱して、被検眼へ照射れる測定光の光量を調整してもよい。
【００２４】
なお、図１において、シャッター２５は、測定光と、エイミング光と、の共通光路上に配置されているが、必ずしもこれに限られるものではなく、エイミング光の光路と独立に形成された光路上に、シャッター２５が配置されていてもよい（例えば、図１における測定光源１１とカップラー１３との間の光路上等）。
【００２５】
ここで、図１および図２を参照して、装着部１６に装着されるプローブ２について説明する。本実施形態のプローブ２は、プローブ本体３と、ファイバ４と、を備える。また、プローブ本体３は、ハンドピース５、およびニードル６を有する。
【００２６】
ファイバ４は、プローブ本体３に挿入されており，プローブ本体３の外部からのニードル６の先端部まで、測定部１０のカップラー１４から導かれた測定光とエイミング光を導光する。
【００２７】
ファイバ４は、図示無きトルクコイルによって被覆されている。トルクコイルは、トルク伝達部の一例であり、モータ１８からのトルクをファイバ４に伝達する。これにより、ファイバ４がトルクコイルと共に回転される。本実施形態において、ファイバ４およびトルクコイル７は、ハンドピース５に対して自在に回転する。
【００２８】
ハンドピース５は、作業者（例えば、検者、術者等）によって把持される略筒状の部材である。ニードル６は、ハンドピース５の先端に設けられており、ハンドピース５の外径よりも小さい外径を有する。ニードル６の先端部は、被検体（例えば、被検眼Ｅ）の内部に挿入される。ファイバ４は、ハンドピース５の後端部に接続し、ニードル６の先端部まで延びている。プローブ２は、ファイバ４によって導光された測定光およびエイミング光を走査させながら、それぞれの光を先端部から出射することができる。
【００２９】
ここで、図２を参照して、プローブ２における先端部の構造を、より詳細に説明する。ニードル６の先端部には、遮光部材６１、外筒６６、保持部６８、および偏向部７１等が設けられている。
【００３０】
遮光部材６１は、ファイバ４の先端側の周囲（特に、保持部６８および偏向部７１の周囲）を囲む。本実施形態では、遮光部材６１の形状は、略筒状である。遮光部材６１は、測定光およびエイミング光を遮光する材質によって形成されている。遮光部材６１のうち、軸線方向において偏向部７１が位置する部位の近傍には、測定光およびエイミング光の走査方向（軸周りの方向）に所定の幅を有する切欠き６２（又は、開口）が形成されている。偏向部７１から照射された光は、切欠き６２の内側の領域６３（以下、「透過領域６３」という。）では外部に透過されるが、切欠き６２が形成されていない領域６４（以下、「遮光領域６４」という。）では遮光部材６１によって遮光される。
【００３１】
本実施形態では、遮光部材６１の内側の面には粗面加工が施されている。つまり、遮光部材６１の内側の面には、微細な多数の凹凸が形成されている。この場合、遮光領域６４では、遮光部材６１の内側の面に照射された光が散乱する。従って、遮光部材６１の内側が光を散乱させにくい場合（例えば、内側の面に鏡面加工が施されている場合）に比べて、遮光領域６４で反射された反射光が偏向部７１に戻らない可能性が低下する。つまり、鏡面加工等が施されている場合には、偏向部７１とは異なる方向に光が反射すると、偏向部７１には反射光は入射しない。反射光が散乱すると、反射光は偏向部７１に戻りやすい。よって、撮影装置１は、測定光が遮光領域６４に照射されていることを検出する場合に、遮光領域６４で反射された反射光を用いてより確実な検出を行うことができる。
【００３２】
なお、本実施形態の透過領域６３の形状は略矩形であるが、透過領域６３の大きさ、形状、数等を変更できることは言うまでもない。また、透過領域６３と遮光領域６４を形成するための具体的な方法も変更できる。例えば、測定光およびエイミング光を透過する材質と、遮光する材質とを組み合わせて遮光部材６１を製造することで、透過領域６３と遮光領域６４を形成してもよい。
【００３３】
外筒６６は、測定光およびエイミング光を透過する材質によって形成されており、遮光部材６１の外側を閉塞する。従って、外筒６６は、血液、硝子体の組織等が内側に侵入することを防止しつつ、透過領域６３の内側と外側との間における光の透過を許容する。なお、外筒６６は遮光部材６１の内側に位置してもよい。
【００３４】
保持部６８は、外形略円柱状の部材であり、遮光部材６１に対して固定されている。保持部６８の軸心部分には、ファイバ４を回転可能な状態で挿通する挿通孔６９が形成されている。保持部６８は、遮光部材６１に対するファイバ４の軸の位置を一定にした状態で、ファイバ４を回転可能に保持する。
【００３５】
偏向部７１は、ファイバ４の先端部に設けられている。偏向部７１は、ファイバ４の先端部から出射された光を偏向させる。偏向部７１によって偏向された光は、透過領域６３を通過したときに被検体の組織に照射される。なお、本実施形態において、偏向部７１によって偏向された光は、所定の距離で集光される。偏向部７１は、例えば、ボールレンズであってもよいし、プリズムであってもよい。また、偏向部７１は、組織で反射された反射測定光を受光し、ファイバ４に入射させる。本実施形態の偏向部７１は、ファイバ４の軸方向に対して約７０度の角度で光を偏向させるが、偏向の角度は適宜変更できる。なお、ファイバ４のうち、保持部６８よりも後端側の部分の外周には、ファイバ４のねじれ等を抑制するためのシャフト７３が設けられている。本実施形態では、モータ１８が、ファイバ４と共に偏向部７１を回転させ、これにより、測定光（およびエイミング光）が走査される。つまり、本実施形態における「光スキャナ」には、少なくともモータ１８および偏向部７１が含まれる。
【００３６】
なお、撮影装置１は、測定光のフォーカス調整を行うための光学系等の種々の構成を、測定部１０またはプローブ２に備えてもよい。これらの詳細な説明は省略する。
【００３７】
次に、図１を参照して、装置の制御系を説明する。制御部３０は、ＣＰＵ（プロセッサ）３１、ＲＡＭ３２、ＲＯＭ３３、および不揮発性メモリ３４等を備える。ＣＰＵ３１は、撮影装置１、および周辺機器の制御を司る。ＲＡＭ３２は、各種情報を一時的に記憶する。ＲＯＭ３３には、各種プログラム、初期値等が記憶されている。不揮発性メモリ３４は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、および、撮影装置１に着脱可能に装着されるＵＳＢメモリ等を、不揮発性メモリ３４として使用することができる。不揮発性メモリ３４には、後述する装置の各部を制御するためのプログラムが記憶されている。また、不揮発性メモリ３４には、撮影された断層画像等の各種情報が記憶される。
【００３８】
本実施形態では、測定部１０に接続されたパーソナルコンピュータ（以下、「ＰＣ」という。）が制御部３０として用いられる。しかし、ＰＣを用いずに、測定部１０と制御部３０を１つのデバイスとして一体化させてもよい。また、制御部３０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。例えば、ＰＣに設けられた第一制御部と、測定部１０内に設けられた第二制御部とによって、撮影装置１の制御部３０が構成されてもよい。この場合、例えば、ＰＣの第一制御部は、ＰＣに接続された操作部の操作に基づいて、撮影の開始および終了等を第二制御部に対して指示すればよい。第二制御部は、第一制御部からの指示に従って、測定光源１１、エイミング光源１２、モータ１８等の動作を制御すればよい。また、干渉信号に基づく画像の生成処理等は、第一制御部および第二制御部のいずれで行ってもよい。
【００３９】
制御部３０には、表示部４１、操作部４２、および手術顕微鏡４６等の周辺機器が電気的に接続される。表示部４１には、後述する断層画像等が表示される。表示部４１は、ＰＣのディスプレイであってもよいし、撮影装置１専用のディスプレイであってもよい。複数のディスプレイが併用されてもよい。操作部４２は、各種操作指示を認識するためのデバイスである。操作部４２には、例えば、マウス、ジョイスティック、キーボード、タッチパネル等の少なくともいずれかが用いられてもよい。これらは、作業者と離れた場所から作業を補助する補助者によって操作されてもよい。また、例えば、作業者からの操作指示が入力される操作部４２として、プローブ２に図示無きスイッチが設けられたり、作業者からの声を認識する音声認識デバイスが設けられたり、作業者のジェスチャーを認識するデバイスが設けられたりしてもよい。
【００４０】
なお、本実施形態では、検出器１９からの信号に基づいて断層画像を形成する画像形成部を、制御部３０が兼用する。この場合、例えば、制御部３０は、検出器１９からの信号をフーリエ変換することで、深さプロファイル（Ａスキャン）を取得し、走査位置毎に取得された深さプロファイルを並べることで、２次元ＯＣＴデータ（例えば、Ｂスキャン画像）を生成する。本実施形態において、プローブ２の軸周りに走査されるため、各々の深さプロファイルは、プローブ２の軸に原点が置かれる極座標によって表現されている。制御部３０は、この極座標によって表現された被検体の２次元ＯＣＴデータを取得してもよい。また、２次元ＯＣＴデータは、極座標によって表現された断層画像データであってもよいし、直交座標によって表現された断層画像データであってもよい。極座標データから直交座標データへの変換手法については、例えば、本出願人による特開２０１５−１０４５８２号公報等を参照されたい。
【００４１】
手術顕微鏡４６は、被検体（本実施形態では被検眼Ｅ）の内部を、手術中、診断中、またはこれらの訓練中に拡大表示（本実施形態では撮影して拡大表示）する。作業者は、手術顕微鏡４６を覗き込みながら手術、診断、またはこれらの訓練（本実施形態では、これらをまとめて「作業」という。）を行う。また、本実施形態では、制御部３０は、手術顕微鏡４６によって撮影された画像を取得し、表示部４１に表示させることができる。作業中において、作業者の補助者等は、表示部４１に表示された画像を確認することで、作業状況等を確認することができる。なお、手術顕微鏡４６を用いずに本開示を実現することも可能である。例えば、被検体の内部の画像を撮影するための観察光学系を、測定部１０に設けてもよい。この場合、作業者は、観察光学系によって撮影された画像を確認しながら作業を行うことができる。また、作業者が肉眼でプローブ２の先端部近傍を注視する場合でも、本開示は適用できる。
【００４２】
＜動作の説明＞
次に、撮影装置１の動作について説明する。
【００４３】
＜Ｂスキャン画像の取得＞
制御部３０は、測定光源１１を点灯させて偏向部７１から測定光を照射させると共に、モータ１８を制御してファイバ４を一定速度で回転させる。これにより、測定光が被検眼Ｅ上で走査される。制御部３０は、測定光の走査に伴って検出器１９から出力される信号に基づいて、２次元ＯＣＴデータ（例えば、Ｂスキャン画像）を取得する。２次元ＯＣＴデータは、例えば、透過領域６３の一端から他端までの間を測定光が走査した結果として検出器１９から出力される信号に基づいて形成されてもよい。本実施形態では、ファイバ４の１回転毎に、回転検出センサ１８ａからの信号を得たタイミングを基準とする所定期間において、検出器１９からの信号が収集され、収集された信号に基づいて２次元ＯＣＴデータが構築される。
【００４４】
ここで、図３に、上記構成の装置によって取得される２次元ＯＣＴデータの一例を示す。図３は、極座標によって表現された断層画像である。符号１０１は、遮光部材６１の反射像を示し、符号１０５は、被検体（眼底）の像を示し、１１０は、内部反射像を示す。内部反射像１１０は、プローブ２の内部において、屈折率の異なる箇所での反射に基づく像である。例えば、ファイバ４と図示無きレンズとの融着面での反射によって内部反射像１１０が生じる場合がある。
【００４５】
撮影装置１は、測定光の走査に基づいて得られる断層画像を、ライブ画像として、表示部４１へ表示させてもよい。ライブ画像は、被検眼Ｅの組織が略リアルタイムに撮影され、表示される。ライブ画像は、作業中における被検眼の状態を、断層画像に基づいて把握するうえで、有用である。なお、ライブ画像は、直近の一定回数（例えば、３回）の走査に基づく断層画像を加算することによって形成される加算画像であってもよい。
【００４６】
ところで、ＳＳ−ＯＣＴの場合、光源１１における波長掃引の周期が、Ａスキャンデータの取得周期となる。本実施形態では、測定光の振れ角は、プローブ２の透過領域６３の幅に応じて一定である。故に、Ａスキャンデータの取得周期に対してファイバ４の回転周期（つまり、１回あたりの走査時間）が長すぎると、被検眼上におけるＡスキャンデータの取得ポイントが重なり合いやすくなる。
【００４７】
そこで、ファイバ４の回転周期（つまり、被検眼に対する測定光の走査の周期）は、Ａスキャンデータの取得ポイントが互いに重なり合わない程度の範囲で、設定されてもよい。一例として、以下の説明では、ファイバ４が１秒当たり３０回転で駆動される。つまり、測定光によって被検眼上が最大で３０回走査可能となっている。なお、単位時間当たりのファイバ４の回転回数（換言すれば、走査回数）は、上記の通り、Ａスキャンデータの取得周期との関係で適宜設定されればよく、必ずしも上記示した数値に限定されるものではない。
【００４８】
一方で、装置の制約により、各回の走査全てからＢスキャンデータを得ることができない場合があり得る。また、ライブ画像を表示する場合には、各回の走査全てに基づいてＢスキャンデータの取得処理を行ったり、表示処理を行ったりすると、それらの処理に時間を要し、リアルタイムな表示が困難になってしまう場合が考えられる。
【００４９】
つまり、Ｂスキャンデータの取込処理に要する時間、または、取込処理および表示処理に要する時間が、測定光の走査周期に対して長い場合があり得る。Ｂスキャンデータの取込処理に要する時間、または、取込処理および表示処理に要する時間は、撮影装置１におけるフレームグラバー、ビデオカード、および画像処理プロセッサの性能等に依存する（つまり、画像処理部の性能に依存する）。なお、本実施形態において、画像処理部は、制御部３０の一部であるものとして説明する。但し、制御部３０とは別体の電子回路が、画像処理部として設けられていてもよい。
【００５０】
なお、以下の説明において、撮影装置１では、Ｂスキャンデータの取込および表示が、１秒あたり１０枚を上限として実行されるものとする。この場合、被検眼上で測定光が１秒当たり３０回走査されたとしても、そのうち２０回分については、Ｂスキャンデータの取込・表示に活用されない。
【００５１】
これに対し、本実施形態では、制御部３０が、測定光の光路中に配置されたシャッター２５を制御することによって、１フレーム分のＢスキャンデータを得るための走査が完了してから、該走査に基づくＢスキャンデータの取込処理、又は、表示処理が完了するまでの期間は少なくとも、シャッター２５で測定光を遮光させる。そして、取込処理、又は、表示処理の完了後に、シャッター２５の状態を切換え、被検眼上で測定光を走査させる。これにより、新たなＢスキャンデータの取得・表示が開始される。
【００５２】
図４に示したタイミングチャートを用いて、上記制御動作を、より詳細に説明する。
【００５３】
図４（ａ）に示すように、本実施形態における撮影装置１では、Ｂスキャンデータの取込開始信号（取込トリガ信号）が、一定の時間間隔で出力される。より詳細には、ファイバ４の１回転毎に出力される。このような取込開始信号は、本実施形態では、回転検出センサ１８ａによる検出信号であってもよいし、検出信号の出力タイミングから、一定の時間差で出力される信号であってもよい。
【００５４】
図４（ｂ）は、Ｂスキャンデータの取込処理が行われているか否かを示している。Ｂスキャンデータの取込開始信号が入力されたタイミングにおいて、Ｂスキャンデータの取込処理が行われていなければ、新たなＢスキャンデータの取込処理が開始される。Ｂスキャンデータの取込処理中は、取込開始信号が入力されても、該取込開始信号に基づく新たな処理は開始されない。
【００５５】
図４（ｃ）は、シャッター２５における開閉状態を示している。本実施形態では、Ｂスキャンデータの取込処理の開始タイミング、および、完了タイミング、と同期して、シャッター２５の開閉状態が切換る。即ち、Ｂスキャンデータの取込状態に応じて、シャッター２５を測定光が通過する状態と、シャッター２５で測定光が遮光される状態と、に切換わってもよい。
【００５６】
より具体的には、図４（ｃ）では、Ｂスキャンデータの取込状態と、取込開始信号に基づいてシャッター２５の開閉制御が行われる。
【００５７】
まず、Ｂスキャンデータの取込処理が行われておらず、予めシャッター２５が開放されているものとする。この状態において入力される取込開始信号に基づいて、Ｂスキャンデータの取込処理が開始される。
【００５８】
Ｂスキャンデータの取込処理が実行中において、最初に入力される取込開始信号に基づいて、シャッター２５の開閉状態を切換え、測定光を遮光させる（第１状態→第２状態）。結果、ファイバ４が回転しても、被検眼Ｅの組織上で測定光は走査されなくなる。
【００５９】
Ｂスキャンデータの取込処理の完了後、シャッター２５の開閉状態が再度切換えられ、シャッター２５が開放される。なお、シャッター２５の開放動作のトリガは、取込処理の完了後に最初に入力される取込開始信号であってもよい。
【００６０】
以上のような動作によって、本実施形態の撮影装置１は、被検眼に対する測定光の照射時間が、Ｂスキャンデータの取込処理の能力に応じて制御される。例えば、図４のタイミングチャートに基づいて動作した場合、ファイバ４の３回転毎に１回転分だけ、測定光が走査されるので、光安全性の観点から許容される測定光の光量は、ファイバの３回転でそれぞれ測定光が照射される場合の約３倍まで高めることができる。つまり、被検眼Ｅに照射される測定光の光量を増大させやすく、結果として、ＯＣＴデータのＳ／Ｎ比を向上させやすくなる。
【００６１】
以上、実施形態に基づいて説明を行ったが、本開示は、必ずしも上記実施形態に限定されるものではなく、当業者の通常の知識に基づいて実施され得る種々の変容例を含むものである。
【００６２】
＜光制限部の変形例＞
例えば、上記実施形態では、光制限部の一例として、シャッター２５が設けられた場合について説明した。即ち、ＯＣＴ光学系（干渉光学系１０）の一部に設けられており、測定光が被検体の組織上に照射される第１状態と、測定光が被検体の組織上へ照射されない第２状態と、に、シャッター２５の開閉によって切換えられていた。しかし、これに限られるものでは無い。例えば、シャッター２５の開閉の代わりに、測定光源１１からの測定光照射のオン／オフを切り替えることで、第１状態と第２状態との切換を行ってもよい。即ち、測定光源１１が光制限部を兼ねてもよい。また、光スキャナの動作を、詳細に制御可能であれば、光スキャナが光制限部を兼ねていてもよい。例えば、光スキャナが測定光を、被検眼に照射されない角度へ偏向することで、第２状態に設定する。
【００６３】
＜光スキャナの変形例＞
例えば、上記実施形態では、偏向部７１とモータ１８（アクチュエータの一例）と、によって光スキャナが実現される場合を説明した。つまり、回転動作によって、１軸に関して常に一方向へ走査を行うものであるが、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、光スキャナが１軸に関して走査を行うものである場合において、１軸に関して往復走査を行ってもよい。この場合、例えば、光スキャナとして、１つのガルバノミラー、レゾナントスキャナ、ＭＥＭＳ、および、ＡＯＭ（音響光学素子）、等の光を揺動させるものが適用されてもよい。また、光スキャナは、２軸に関して走査を行うものであってもよい。この場合、走査方向が互いに異なる複数の光スキャナが用いられてもよい。複数の光スキャナは、同種のデバイスであってもよいし、種類の異なるデバイスであってもよい。
【００６４】
＜据え置き型装置への適用に関する変形例＞
また、例えば、上記実施形態では、プローブ２（手持ち部の一例）を介して被検体に対する測定光の投受光を行う装置について説明したが、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、据え置き型の装置本体に設けられた光学系から、測定光が被検体へ直接照射される装置に対して、本開示の技術が適用されてもよい。
【符号の説明】
【００６５】
１      光断層像撮影装置
１０    測定部
１８    モータ（光スキャナの一部）
１９    検出器
２５    シャッター
３０    制御部
７１    偏向部（光スキャナの一部）
Ｅ      被検眼
【図１】
2018143446.tif 000003
【図２】
2018143446.tif 000004
【図３】
2018143446.tif 000005
【図４】
2018143446.tif 000006