(57)【要約】【課題】物体の表面のキズを検出するのに有利な画像処理方法を提供する。【解決手段】画像処理方法であって、物体を撮像して得られ且つＨＳＶ色空間において表現された画像データに対して、その第１色相範囲に関しては、物体の表面での鏡面反射成分を低減する低減処理を行って第１データを得、画像データに対して、第１色相範囲とは異なる第２色相範囲に関しては、低減処理を行わずに第２データを得て、画像データの補正を行う。【選択図】図４
2018115911.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像処理方法であって、
物体を撮像して得られ且つＨＳＶ色空間において表現された画像データに対して、その第１色相範囲に関しては、前記物体の表面での鏡面反射成分を低減する低減処理を行って第１データを得、前記画像データに対して、前記第１色相範囲とは異なる第２色相範囲に関しては、前記低減処理を行わずに第２データを得て、前記画像データの補正を行う、
ことを特徴とする画像処理方法。
【請求項２】
画像処理方法であって、
物体を撮像して得られ且つＨＳＶ色空間において表現された画像データに対して、その第１色相範囲に関しては、前記物体の表面での拡散反射成分についての明度と彩度との関係を表す第１関係を得、
前記画像データに対して、前記第１色相範囲とは異なる第２色相範囲に関しては、前記拡散反射成分についての明度と彩度との関係を表す第２関係を得、かつ前記表面での鏡面反射成分についての明度と彩度との関係を表す第３関係を得、
前記第１関係、前記第２関係および前記第３関係に基づいて、前記画像データの補正を行う、
ことを特徴とする画像処理方法。
【請求項３】
前記第１色相範囲および前記第２色相範囲のそれぞれに関して、明度に基づいて前記表面での拡散反射成分と前記鏡面反射成分とを識別することを特徴とする請求項１または２に記載の画像処理方法。
【請求項４】
前記第１色相範囲および前記第２色相範囲のそれぞれに関して、明度と彩度との関係を表す直線の傾きに基づいて前記表面での拡散反射成分と前記鏡面反射成分とを識別することを特徴とする請求項１または２に記載の画像処理方法。
【請求項５】
前記第１関係ないし前記第３関係のうちのそれぞれは、一次関数で表されることを特徴とする請求項１乃至３のうちいずれか１項に記載の画像処理方法。
【請求項６】
前記物体を撮像して得られ且つＲＧＢ色空間において表現された画像データをＨＳＶ色空間において表現された前記画像データに変換し、前記補正により得られ且つＨＳＶ色空間において表現された画像データをＲＧＢ色空間において表現された画像データに変換することを特徴とする請求項１乃至５のうちいずれか１項に記載の画像処理方法。
【請求項７】
前記第２色相範囲は、前記表面のキズの色相に対応することを特徴とする請求項１乃至６のうちいずれか１項に記載の画像処理方法。
【請求項８】
請求項１乃至７のうちいずれか１項に記載の画像処理方法をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項９】
画像処理装置であって、
物体を撮像して得られ且つＨＳＶ色空間において表現された画像データを取得する取得部と、
前記画像データに対して、その第１色相範囲に関しては、前記物体の表面での鏡面反射成分を低減する低減処理を行って第１データを得、前記画像データに対して、前記第１色相範囲とは異なる第２色相範囲に関しては、前記低減処理を行わずに第２データを得て、前記画像データの補正を行う処理部と、
を含むことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１０】
画像処理装置であって、
物体を撮像して得られ且つＨＳＶ色空間において表現された画像データを取得する取得部と、
前記画像データに対して、その第１色相範囲に関しては、前記物体の表面での拡散反射成分についての明度と彩度との関係を表す第１関係を得、前記画像データに対して、前記第１色相範囲とは異なる第２色相範囲に関しては、前記拡散反射成分についての明度と彩度との関係を表す第２関係を得、かつ前記表面での鏡面反射成分についての明度と彩度との関係を表す第３関係を得、前記第１関係、前記第２関係および前記第３関係に基づいて、前記画像データの補正を行う処理部と、
を含むことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１１】
物体の外観を検査する検査装置であって、
前記物体を撮像して画像データを得る撮像装置と、
前記撮像装置により得られた前記画像データを処理する請求項９または１０に記載の画像処理装置と、
を含むことを特徴とする検査装置。
【請求項１１】
請求項１１に記載の検査装置を用いて物体の検査を行う工程と、
前記工程で前記検査の行われた前記物体を処理する工程と、
を含むことを特徴とする物品製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理方法、画像処理装置、プログラム、検査装置、および物品製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
撮像装置により撮像された物体の画像を処理して物体の表面状態の検査を行う画像処理方法がある。しかし、物体の表面の反射特性によっては、物体の表面状態の検査が困難になる。ここで、物体の表面における反射光が拡散反射成分と鏡面反射成分との二つに分けられるという２色性反射モデル（非特許文献１）を利用して、物体の表面状態の正しい認識を妨げうる鏡面反射成分を画像から除去する技術（非特許文献２）が知られている。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００３】
【非特許文献１】Ｓ．Ａ．Ｓｈａｆｅｒ  “Ｕｓｉｎｇ  ｃｏｌｏｒ  ｔｏ  ｓｅｐａｒａｔｅ  ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎ  ｃｏｍｐｏｎｅｎｔｓ”，  ｉｎ  ＣＯＬＯＲ  Ｒｅｓｅａｒｃｈ  ａｎｄ  Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ，  Ｖｏｌ．１０，  Ｎｏ．４，  ｐｐ．２１０−２１８，  １９８５
【非特許文献２】肥後智昭、宮崎大輔、池内克史、“二色性反射モデルに基づくリアルタイム鏡面反射成分除去”  情報処理学会コンピュータビジョンとイメージメディア研究会（ＣＶＩＭ）、２００６年
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記非特許文献２に記載の技術は、画像全体の鏡面反射成分を除去している。しかしながら、例えば、物体の表面のキズの有無を検査する場合、キズを有する領域の鏡面反射成分まで除去してしまうと、キズの認識が困難となりうる。
【０００５】
本発明は、例えば、物体の表面のキズを検出するのに有利な画像処理方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明は、画像処理方法であって、物体を撮像して得られ且つＨＳＶ色空間において表現された画像データに対して、その第１色相範囲に関しては、物体の表面での鏡面反射成分を低減する低減処理を行って第１データを得、画像データに対して、第１色相範囲とは異なる第２色相範囲に関しては、低減処理を行わずに第２データを得て、画像データの補正を行う、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、例えば、物体の表面のキズを検出するのに有利な画像処理方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】実施形態に係る画像処理方法を用いた装置を含む検査装置の構成を示す図である。
【図２】従来の画像処理方法により処理された画像を示す図である。
【図３】実施形態に係る画像処理方法を説明する図である。
【図４】実施形態に係る画像処理方法のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明を実施するための形態について図面などを参照して説明する。
【００１０】
（実施形態）
図１は、本実施形態に係る画像処理方法を用いた装置を含む検査装置の構成を示す図である。検査装置１００は、物体Ｗの外観（例えば、キズの有無）を検査する。検査装置１００は、画像処理装置１１０および撮像装置１２０を有する。画像処理装置１１０は、処理部１１１と、画像入力部１１２と、デジタル入出力部１１３と、を有する。処理部１１１の内部に画像入力部１１２およびデジタル入出力部１１３が装備されている。処理部１１１は、本実施形態に係る画像処理に関するプログラムを実行するコンピュータ、およびプログラム等を記憶するメモリを含む。本実施形態では、画像入力部１１２として、カメラリンク規格に対応したフレームグラバと呼ばれるインタフェースボードを用いる。デジタル入出力部１１３は、デジタル信号を入出力する機能を有するインタフェースボードを用いることができる。
【００１１】
撮像装置１２０は、照明部１２１と、カメラ１２２と、検出器１２３と、照明制御部１２４と、を有する。照明部１２１は、物体Ｗを照明する。カメラ１２２としては、カラーカメラを用いうる。カメラ１２２は、照明された物体Ｗを撮像する。検出器１２３は、物体Ｗがカメラ１２２の撮像領域にあるか否かを検知する。照明制御部１２４は、照明部１２１の発光制御を行う。制御方式としては、例えば、ＰＷＭ方式を用いる。
【００１２】
物体Ｗの画像を取得するフローは以下の通りである。まず、検出器１２３が、物体Ｗがカメラ１２２の撮像領域にあることを検知すると、検知信号Ｓ１をデジタル入出力部１１３へ出力する。処理部１１１は、デジタル入出力部１１３に検知信号Ｓ１が入力されると、デジタル入出力部１１３から照明用制御部１２４へ照明トリガ信号Ｓ２を出力する。
【００１３】
照明トリガ信号Ｓ２を受けた照明制御部１２４は、照明信号Ｓ３を照明部１２１へ送る。これにより点灯が開始される。画像入力部１１２はカメラ１２２と接続され、カメラ１２２の露光時間を含む各種パラメータの通信とカメラ１２２で撮像された画像データの受信の双方向通信をカメラリンク信号Ｓ４により行う。パラメータの通信部としての画像入力部１１２は、カメラ１２２にカメラリンク信号Ｓ４を送り、照明部１２１により照明された物体Ｗの撮像が開始される。撮像して得られた画像データは画像データを取得する取得部としての画像入力部１１２に送信され、処理部１１１のメモリに保存される。保存される画像データは、ＲＧＢ色空間で表現されるＲＧＢ画像データである。
【００１４】
本実施形態に係る画像処理方法は、処理部１１１により行われる。処理部１１１は、保存された画像データを処理して、物体Ｗの表面のキズの有無を検査する。図２は、従来の画像処理方法により処理された画像を示す。表面が金属的な光沢をもった青色のディスク状であり、ディスクの中心から外側に向かって筋状のキズがある物体Ｗを検査対象とする。筋状のキズがある部分は図２の（ｃ）において矢印で示している。
【００１５】
図２の（ａ）は、ＲＧＢの色空間で表された物体Ｗの撮像画像である。図２の（ｂ）は、図２の（ａ）のＲＧＢ画像をＨＳＶ画像に変換し、かつ、色相を物体Ｗの表面色である青の近傍とした画像である。ここで、ＨＳＶ画像とは、Ｈ（色相）、Ｓ（彩度）、Ｖ（明度）のＨＳＶ色空間で表現された画像を意味する。図２の（ｂ）の右にある図は、色相を青近傍とし、横軸を彩度、縦軸を明度として、各画素の分布を示した図である。
【００１６】
図２の（ｃ）は、物体Ｗからの反射光は鏡面反射成分と拡散反射光成分との和で表されるという２色性反射モデルを利用して、鏡面反射成分を画像全体から除去する従来の画像処理により得られるＨＳＶ画像である。従来の画像処理では、まず、図２（ｂ）の右にある図で点線の丸で囲った部分にある画素以外の画素を拡散反射成分のみを含む画素として、明度と彩度との関係を直線近似した関数（図３の（ｃ）の右に示す）を得る。得られた関数に彩度を代入して明度を算出し、ＨＳＶ画像を再構築した結果が図２の（ｃ）の画像である。図２（ｂ）の右にある図で点線の丸で囲った部分にある画素は、拡散反射成分および鏡面反射成分を含み、図２の（ｂ）の画像において丸で囲った部分からの反射光の画素である。従来の画像処理では、画像全体から鏡面反射成分を含む画素を除去している。図２の（ｃ）の画像に示すように、画像全体から鏡面反射成分を除去する従来の画像処理方法では、キズの鏡面反射成分まで除去されてしまい、キズの有無の検査が困難となる。なお、図２の（ｃ）をＲＧＢ画像に変換したとしてもキズの有無の検査は困難である。
【００１７】
図３は、本実施形態に係る画像処理方法を説明する図である。検査対象の物体Ｗは、図２の場合と同じとする。図３の（ａ）は、ＲＧＢの色空間で表された物体Ｗの撮像画像である。図３の（ｂ）は、画像処理後のＲＧＢの色空間で表された物体Ｗの撮像画像である。図３の（ｃ）は、図３の（ａ）のＲＧＢ画像をＨＳＶ画像に射影し、かつ、色相をキズの色相近傍の色相範囲に含まれる色相にしたＨＳＶ画像である。図３の（ｄ）は、図３の（ａ）のＲＧＢ画像をＨＳＶ画像に射影し、かつ、色相を物体Ｗの表面の色相近傍の色相範囲に含まれる色相にして鏡面反射成分除去したＨＳＶ画像である。
【００１８】
図３の（α）は、図３の（ａ）のＲＧＢ画像をＨＳＶ画像に変換し、９つの色相ごとに、横軸を彩度、縦軸を明度として、各画素の分布を示した図である。図３の（β）は、図３の（α）から２色性反射モデルを利用して、鏡面反射成分と拡散反射成分とを分離し、物体Ｗの表面の色相近傍（左から１つ目から５つめまで）についてのみ鏡面反射成分を低減した図である。
【００１９】
図４は、本実施形態に係る画像処理方法のフローチャートである。図３および図４により、本実施形態に係る画像処理方法を説明する。Ｓ０では、上述の通り処理部１１１の制御により物体Ｗの撮像が行われ、撮像画像が処理部１１１のメモリに保存される。Ｓ１で、処理部１１１は、メモリに保存されたＲＧＢ画像をＨＳＶ画像に変換する。Ｓ２で、処理部１１１は、ＨＳＶ画像を色相ごとに分割して、分割した色相について横軸を彩度、縦軸を明度として撮像データをプロットした図３の（α）の散布図を得る。本実施形態では、図３の（α）に示す通り、色相を９つに分割し、散布図を９つ得る。
【００２０】
２色性反射モデルによると、横軸を彩度、縦軸を明度とした散布図において、拡散反射成分のみを含む反射光の画素を示すプロットは、連続的に変化する直線あるいは曲線の上に乗る。直線あるいは曲線の上に乗らないプロットは、拡散反射成分および鏡面反射成分を含む反射光の画素を示す。本実施形態では、下記で説明するように拡散反射成分を直線近似する工程を含む。この工程において、所定の明度を閾値として、当該閾値よりも明度が高いプロット、あるいは、プロットの分布傾向から外れたプロットを除去して、残りのプロット（拡散反射成分）に基づいて直線近似をしている。除去するプロットは、例えば、図３の（α）において、丸で囲った領域にあるプロットである。除去した後に残ったプロットは、本実施形態では、鏡面反射成分を低減した反射光の画素を示すプロットとみなす。
【００２１】
Ｓ３で、処理部１１１は、分割した色相のうち、物体Ｗの表面の色相に近い第１色相範囲に含まれる色相と、物体Ｗのキズの色相に近い第２色相範囲に含まれる色相と、を判別する。キズの色相に近いか表面の色相に近いかの判別基準は、それぞれの色相に基づいて決定される。キズの色相近傍でない場合（Ｓ３でＮＯ）、Ｓ４で、処理部１１１は、物体Ｗの表面の色相に近い第１色相範囲に含まれる色相についての散布図（図３の（α）の左から１つ目から５つ目までの散布図）において、丸で囲った領域のプロットを除去する。これらプロットの除去処理は、鏡面反射成分を低減する低減処理である。低減処理後に残ったプロットは、以下において、第１データという。
【００２２】
Ｓ３でＹＥＳと判断された場合、Ｓ５で、処理部１１１は、物体Ｗのキズの色相に近い第２色相範囲に含まれる色相の散布図（図３の（α）の左から６つ目から９つ目までの散布図）において、丸で囲った領域のプロットとその他プロットとを識別する。処理部１１１は、丸で囲った領域のプロットが示す反射光データをメモリに保持する。なお、丸で囲った領域のプロットおよびその他プロットからなるプロットを第２データという。
【００２３】
Ｓ６で、処理部１１１は、図３の（α）の左から１つ目から５つ目までの散布図に対応した色相ごとに、拡散反射光を示すプロットである第１データの分布の彩度と明度との関係を表す第１関係を一次関数で近似する。Ｓ７で、処理部１１１は、図３の（α）の左から６つ目から９つ目までの散布図に対応した色相ごとに、拡散反射光のみを含む反射光の画素を示すプロットの彩度と明度との関係を表す第２関係を一次関数で近似する。
【００２４】
Ｓ８で、処理部１１１は、Ｓ６で得た関数に彩度を代入して明度を算出し、図３の（β）の左から１つ目から５つ目に示すデータを得る。Ｓ９で、処理部１１１は、Ｓ７で得た関数に彩度を代入して明度を算出し、図３の（β）の左から６つ目から９つ目に示す傾きを有する直線で表されたデータを得る。２色性反射モデルによれば、物体Ｗの反射光の明度Ｉは、拡散反射成分の明度Ｉｄと鏡面反射成分の明度Ｉｓとの二つの合計で表される。すなわち、Ｉ＝Ｉｄ＋Ｉｓの関係がある。図３の（β）の左から６つ目から９つ目に示す２つの直線のうち、グラフの縦軸（明度軸）からの傾きが大きい方の直線で表されたデータは、拡散反射成分の明度Ｉｄである。鏡面反射成分の明度Ｉｓは、Ｓ５でメモリに保持された反射光Ｉから拡散反射成分Ｉｄを減算することで算出される。図３の（β）の左から６つ目から９つ目に示す２つの直線のうち、グラフの縦軸（明度軸）からの傾きが小さい直線は、鏡面反射成分の明度Ｉｓと彩度との関係を表す第３関係である。
【００２５】
Ｓ１０で、処理部１１１は、Ｓ８およびＳ９で得られたデータに基づいて、ＨＳＶ画像データを補正して、キズが強調された画像を得る。また、必要に応じて、ＨＳＶ画像データをＲＧＢ画像データに変換する。図３の（ｂ）は、変換した後のＲＧＢ画像を示している。このＲＧＢ画像において、筋状のラインがキズである。画像処理前の図３の（ａ）の画像および従来の画像処理により得られた図２の（ｃ）の画像では、キズが明瞭に見えなかったが、画像処理後の図３の（ｂ）の画像では、キズが強調され、明瞭に見えている。
【００２６】
以上のように、本実施形態の画像処理方法によれば、物体Ｗの表面のうち、キズがある部分において鏡面反射光成分を残し、それ以外の部分の鏡面反射光成分を低減することでキズの検出精度を向上させることができる。
【００２７】
なお、上記フローチャートにおいて、色相の分割工程をＳ２において一度で行っていたが、１つずつ分割してもよい。この場合、Ｓ２で、１つめの色相についてＨＳＶ画像を抜き出して散布図を得て、Ｓ８またはＳ９でデータを得た後に、Ｓ２に戻り、次の色相について工程を繰り返す。また、Ｓ６〜Ｓ９における明度と彩度との関係の近似は、直線近似に限られない。また、明度と彩度との関係を近似せずに、第１データおよび第２データを用いて、Ｓ１０で画像データを補正してもよい。
【００２８】
（物品の製造方法に係る実施形態）
以上に説明した実施形態に係る検査装置は、物品製造方法に使用しうる。当該物品製造方法は、当該検査装置を用いて物体の検査を行う工程と、検査の結果に基づいて当該工程で検査を行われた物体の処理を行う工程と、を含みうる。当該処理は、例えば、加工、切断、搬送、組立（組付）、検査、および選別のうちの少なくともいずれか一つを含みうる。本実施形態の物品製造方法は、従来の方法に比べて、物品の性能・品質・生産性・生産コストのうちの少なくとも１つにおいて有利である。
【００２９】
（その他の実施形態）
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、これらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。
【符号の説明】
【００３０】
１００    検査装置
１１０    画像処理装置
１１１    処理部
１１２    画像入力部
１１３    デジタル入出力部
１２０    撮像装置
１２１    照明部
１２２    カメラ
１２３    検出器
１２４    照明制御部
【図１】
2018115911.tif 000003
【図２】
2018115911.tif 000004
【図３】
2018115911.tif 000005
【図４】
2018115911.tif 000006
【手続補正書】
【提出日】平成29年2月9日(2017.2.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像処理方法であって、
物体を撮像して得られ且つＨＳＶ色空間において表現された画像データに対して、その第１色相範囲に関しては、前記物体の表面での鏡面反射成分を低減する低減処理を行って第１データを得、前記画像データに対して、前記第１色相範囲とは異なる第２色相範囲に関しては、前記低減処理を行わずに第２データを得て、前記画像データの補正を行う、
ことを特徴とする画像処理方法。
【請求項２】
画像処理方法であって、
物体を撮像して得られ且つＨＳＶ色空間において表現された画像データに対して、その第１色相範囲に関しては、前記物体の表面での拡散反射成分についての明度と彩度との関係を表す第１関係を得、
前記画像データに対して、前記第１色相範囲とは異なる第２色相範囲に関しては、前記拡散反射成分についての明度と彩度との関係を表す第２関係を得、かつ前記表面での鏡面反射成分についての明度と彩度との関係を表す第３関係を得、
前記第１関係、前記第２関係および前記第３関係に基づいて、前記画像データの補正を行う、
ことを特徴とする画像処理方法。
【請求項３】
前記第１色相範囲および前記第２色相範囲のそれぞれに関して、明度に基づいて前記表面での拡散反射成分と前記鏡面反射成分とを識別することを特徴とする請求項１または２に記載の画像処理方法。
【請求項４】
前記第１色相範囲および前記第２色相範囲のそれぞれに関して、明度と彩度との関係を表す直線の傾きに基づいて前記表面での拡散反射成分と前記鏡面反射成分とを識別することを特徴とする請求項１または２に記載の画像処理方法。
【請求項５】
前記第１関係ないし前記第３関係のうちのそれぞれは、一次関数で表されることを特徴とする請求項１乃至３のうちいずれか１項に記載の画像処理方法。
【請求項６】
前記物体を撮像して得られ且つＲＧＢ色空間において表現された画像データをＨＳＶ色空間において表現された前記画像データに変換し、前記補正により得られ且つＨＳＶ色空間において表現された画像データをＲＧＢ色空間において表現された画像データに変換することを特徴とする請求項１乃至５のうちいずれか１項に記載の画像処理方法。
【請求項７】
前記第２色相範囲は、前記表面のキズの色相に対応することを特徴とする請求項１乃至６のうちいずれか１項に記載の画像処理方法。
【請求項８】
請求項１乃至７のうちいずれか１項に記載の画像処理方法をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項９】
画像処理装置であって、
物体を撮像して得られ且つＨＳＶ色空間において表現された画像データを取得する取得部と、
前記画像データに対して、その第１色相範囲に関しては、前記物体の表面での鏡面反射成分を低減する低減処理を行って第１データを得、前記画像データに対して、前記第１色相範囲とは異なる第２色相範囲に関しては、前記低減処理を行わずに第２データを得て、前記画像データの補正を行う処理部と、
を含むことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１０】
画像処理装置であって、
物体を撮像して得られ且つＨＳＶ色空間において表現された画像データを取得する取得部と、
前記画像データに対して、その第１色相範囲に関しては、前記物体の表面での拡散反射成分についての明度と彩度との関係を表す第１関係を得、前記画像データに対して、前記第１色相範囲とは異なる第２色相範囲に関しては、前記拡散反射成分についての明度と彩度との関係を表す第２関係を得、かつ前記表面での鏡面反射成分についての明度と彩度との関係を表す第３関係を得、前記第１関係、前記第２関係および前記第３関係に基づいて、前記画像データの補正を行う処理部と、
を含むことを特徴とする画像処理装置。
【請求項１１】
物体の外観を検査する検査装置であって、
前記物体を撮像して画像データを得る撮像装置と、
前記撮像装置により得られた前記画像データを処理する請求項９または１０に記載の画像処理装置と、
を含むことを特徴とする検査装置。
【請求項１２】
請求項１１に記載の検査装置を用いて物体の検査を行う工程と、
前記工程で前記検査の行われた前記物体を処理する工程と、
を含むことを特徴とする物品製造方法。