(57)【要約】【課題】光伝送の運用中に送信部の劣化を精度よく測定できること。【解決手段】光信号を伝送する光モジュール１００のうち送信側は、送信する光信号のフレームのプリアンブルに光出力が連続ＯＮおよび連続ＯＦＦするテストパターンのコードを挿入して送信するテストパターン制御部１０９とＭＣＵ１０３を有する。受信側は、送信側から送信された光信号を受信し、受信した光信号のフレーム部分に含まれる特定パターンのコードの連続ＯＮおよび連続ＯＦＦの光レベルに基づき、消光比を求める受信制御部１０７とＭＣＵ１０３を有する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光信号を伝送する光モジュールにおいて、
光源と、前記光源が出力する光を、送信データに基づき変調して光信号を出力する変調部と、を有する送信部と、
前記送信部の消光比測定時に、送信する前記光信号のフレームのプリアンブルに、テスト開始コードとテスト終了コードとで挟んだ連続ＯＮおよび連続ＯＦＦするテストコードを挿入するテストパターン制御部と、
伝送路を介して対向する光モジュールの前記送信部から送信された前記光信号を受信する受信部と、
受信した前記光信号のフレームの前記プリアンブルに含まれる前記テストコードの連続ＯＮおよび連続ＯＦＦの光レベルに基づき、消光比を求める制御部と、
を有することを特徴とする光モジュール。
【請求項２】
光信号を伝送する光モジュールにおいて、
光源を有し、送信データに基づき前記光源の光を変調して光信号を出力する送信部と、
前記送信部の消光比測定時に、送信する前記光信号のフレームのプリアンブルに、テスト開始コードとテスト終了コードとで挟んだ連続ＯＮおよび連続ＯＦＦするテストコードを挿入するテストパターン制御部と、
伝送路を介して対向する光モジュールの前記送信部から送信された前記光信号を受信する受信部と、
受信した前記光信号のフレームの前記プリアンブルに含まれる前記テストコードの連続ＯＮおよび連続ＯＦＦの光レベルに基づき、消光比を求める制御部と、
を有することを特徴とする光モジュール。
【請求項３】
前記テストパターン制御部は、
複数ビットを連続「１」とした連続ＯＮの前記テストコードと、
複数ビットを連続「０」とした連続ＯＦＦの前記テストコードと、をそれぞれ前記プリアンブルに挿入することを特徴とする請求項１または２に記載の光モジュール。
【請求項４】
前記テストパターン制御部は、
外部入力される測定開始指示に基づき、運用中の前記光信号のフレームの前記プリアンブルに前記テストコードを挿入し、
外部入力される測定終了指示に基づき、運用中の前記光信号のフレームの前記プリアンブルを元に戻す、ことを特徴とする請求項１〜３のいずれか一つに記載の光モジュール。
【請求項５】
前記制御部は、
受信した前記光信号の前記プリアンブルに含まれる前記テストパターンの前記テストコードの前記連続ＯＮの光レベルの平均と、前記連続ＯＦＦの光レベルの平均と、に基づき前記消光比を求めることを特徴とする請求項１〜４のいずれか一つに記載の光モジュール。
【請求項６】
前記光モジュールは、前記伝送路上に前記受信部と前記送信部が縦列配置され、前記受信部で受信した光信号を電気信号に信号変換し、前記送信部に出力する構成であり、
前記テストコード制御部は、転送時の前記電気信号の前記プリアンブルに、前記テスト開始コードと、前記テスト終了コードと、前記テストコードと、を挿入することを特徴とする請求項１〜５のいずれか一つに記載の光モジュール。
【請求項７】
前記制御部は、
前記消光比を所定の閾値と比較することにより、消光比の劣化の程度を判定することを特徴とする請求項１〜６のいずれか一つに記載の光モジュール。
【請求項８】
前記制御部は、
前記消光比の劣化の程度に基づき測定対象の光モジュールの交換時期を判定することを特徴とする請求項７に記載の光モジュール。
【請求項９】
前記制御部は、前記測定対象の光モジュールを交換した場合、交換した前記光モジュールの品質を所定の試験方法により計測した際の消光比とビットエラーに基づく光モジュール劣化のデータから得た閾値を、前記所定の閾値として再設定する、ことを特徴とする請求項７または８に記載の光モジュール。
【請求項１０】
前記テストパターン制御部は、
自機が測定対象の場合、前記光信号を送信する対向側の光モジュールが測定した前記消光比の測定結果を受信する、ことを特徴とする請求項１〜９のいずれか一つに記載の光モジュール。
【請求項１１】
前記テストパターン制御部および前記制御部は、外部の管理装置と通信接続され、前記管理装置が出力する測定開始および測定終了の指示に基づき、前記測定処理の開始および終了を行い、測定した前記消光比を前記管理装置に出力する、ことを特徴とする請求項１〜１０のいずれか一つに記載の光モジュール。
【請求項１２】
請求項１〜１１のいずれか一つに記載の光モジュールを有し、
光通信ネットワーク上に配置され、データを前記光モジュールを介して前記光通信ネットワークに送信および受信処理することを特徴とする光伝送装置。
【請求項１３】
外部の管理装置と通信接続され、前記管理装置が出力する測定開始および測定終了の指示に基づき、前記光モジュールに対する前記処理の開始および終了の制御を行い、前記光モジュールが測定した前記消光比を前記管理装置に出力する制御部を有することを特徴とする請求項１２に記載の光伝送装置。
【請求項１４】
光信号を伝送する光モジュールの劣化判定方法において、
光伝送路上で対向配置された一対の光モジュールのうち光信号を送信する送信側の光モジュールの劣化を判定する際、
前記送信側の光モジュールは、
送信する前記光信号のフレームのプリアンブルに、テスト開始コードとテスト終了コードとで挟んだ連続ＯＮおよび連続ＯＦＦするテストコードを挿入して送信し、
受信側の光モジュールは、
前記光信号を受信し、受信した前記光信号のフレームのプリアンブルに含まれる前記テストコードの連続ＯＮおよび連続ＯＦＦの光レベルに基づき、消光比を求める、
ことを特徴とする光モジュールの劣化判定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光信号を伝送する光モジュール、光伝送装置、光モジュールの劣化判定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタル通信網のシステムでは、運用の開始後に光伝送装置の障害が直接、光信号の伝送の障害となるため、運用後における光伝送装置の経年劣化等を判定することが求められる。
【０００３】
デジタル通信網の光伝送装置や部品の劣化を判定する技術としては、例えば、光送信装置の光出力波形のＯＮ／ＯＦＦビットの平均出力を測定して、疑似的な消光比を求める技術がある（例えば、下記特許文献１参照。）。また、レーザダイオード（ＬＤ）について、ＬＤのバイアス電流の初期値と運用中のバイアス電流と計測日時に基づき、ＬＤの劣化日時を予想する技術がある（例えば、下記特許文献２参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開平１１−８５９０号公報
【特許文献２】特開平９−１１６２３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、上記従来の技術では、運用中の個々の装置や部品に障害が発生した場合、装置ないしはネットワークを経由して監視装置が検知して障害が発生した装置や部品の切り替えや切り離し等を実施し、保守者が装置や部品の交換を行っていた。この場合、運用中のネットワークやサービスの停止など大きな影響が生じ、障害発生に対して適切な時期に障害予防のための交換が行えず運用コストが高くなるという問題があった。上記の劣化を予測する技術についても疑似的な消光比や予測した劣化日時ではいずれも精度が低く、障害発生を防ぐことはできない。
【０００６】
一つの側面では、本発明は、光伝送の運用中に送信部の劣化を精度よく測定できることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
一つの案では、光信号を伝送する光モジュールにおいて、光源と、前記光源が出力する光を、送信データに基づき変調して光信号を出力する変調部と、を有する送信部と、前記送信部の消光比測定時に、送信する前記光信号のフレームのプリアンブルに、テスト開始コードとテスト終了コードとで挟んだ連続ＯＮおよび連続ＯＦＦするテストコードを挿入するテストパターン制御部と、伝送路を介して対向する光モジュールの前記送信部から送信された前記光信号を受信する受信部と、受信した前記光信号のフレームの前記プリアンブルに含まれる前記テストコードの連続ＯＮおよび連続ＯＦＦの光レベルに基づき、消光比を求める制御部と、を有することを要件とする。
【発明の効果】
【０００８】
一つの実施形態によれば、光伝送の運用中に送信部の劣化を精度よく測定できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】図１は、実施の形態１の光モジュールの構成例を示す図である。
【図２】図２は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定にかかる構成例を示す図である。
【図３】図３は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定に用いるテストパターンの例を示す図表である。
【図４】図４は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定時に光モジュール外部で行う処理例を示すフローチャートである。
【図５】図５は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定時に測定対象の光モジュールの光伝送装置が行う処理例を示すフローチャートである。
【図６】図６は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定時に測定対象に対向する光モジュールの光伝送装置が行う処理例を示すフローチャートである。
【図７】図７は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定時に測定対象の光モジュールが行う処理例を示すフローチャートである。
【図８】図８は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定時に測定対象に対向する光モジュールが行う処理例を示すフローチャートである。
【図９】図９は、実施の形態１にかかる光モジュールの劣化判定時に測定対象に対向する光モジュールが行う消光比算出の処理例を示すフローチャートである。
【図１０】図１０は、実施の形態１にかかる光モジュールの劣化判定時の光信号の状態を示す図表である。
【図１１】図１１は、実施の形態２の光モジュールの劣化判定時に光モジュール外部で行う処理例を示すフローチャートである。
【図１２】図１２は、実施の形態２の光モジュールの劣化判定時に測定対象の光モジュールの光伝送装置が行う処理例を示すフローチャートである。
【図１３】図１３は、実施の形態２の光モジュールの劣化判定時に測定対象の光モジュールが行う処理例を示すフローチャートである。
【図１４】図１４は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定時に測定対象に対向する光モジュールが行う処理例を示すフローチャートである。
【図１５】図１５は、既存の技術による光モジュールの消光比の測定構成例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
（実施の形態１）
図１は、実施の形態１の光モジュールの構成例を示す図である。光モジュール１００は、入力された電気信号を光信号に変換して送信し、受信した光信号を電気信号に変換して出力する。この光モジュール１００は、送信部１０１と、送信制御部（送信部制御回路）１０２と、組み込み用マイクロプロセッサ（ＭＣＵ）１０３と、ＣＤＲ１０４，１０５と、受信部１０６と、受信制御部（受信部制御回路）１０７と、ＥＡドライバ１０８と、テストパターン制御部１０９と、を含む。
【００１１】
送信部１０１は、光を出力するレーザダイオード（ＬＤ）１１１と、ＬＤの光を電気信号でＥＡ（Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ａｂｓｏｒｐｔｉｏｎ）変調し、光信号として光伝送路に出力するＥＡ変調器１１２と、を含む。
【００１２】
送信制御部１０２は、送信部１０１による光の出力を制御し、ＬＤ１１１の発光制御を行う。ＭＣＵ（Ｍｉｃｒｏ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ  Ｕｎｉｔ）１０３は、光モジュール１００全体を統括制御する。図示の例では、ＭＣＵ１０３は、送信制御部１０２，受信制御部１０７，テストパターン制御部１０９を制御するとともに、装置各部の状態をモニタし、このモニタ信号の出力、アラーム（ＡＬＭ）監視、制御信号等を外部装置とやり取りする。そして、実施の形態のＭＣＵ１０３は、光モジュール１００の運用中（光信号によるデータの送信中）に、送信部１０１が出力する光信号の消光比を求めるための制御を行う。
【００１３】
ＣＤＲ（Ｃｌｏｃｋ  Ｄａｔａ  Ｒｅｃｏｖｅｒｙ）１０４，１０５は、波形成形し、データとクロックの重畳あるいは分離を行う。ＣＤＲ１０４には、送信する電気信号のデータが入力され、クロックとデータを重合し、波形成形したデータをＥＡドライバ１０８を介して送信部１０１に出力する。ＥＡドライバ１０８は、ＥＡ変調器１１２を駆動する。ＥＡドライバ１０８は、テストパターン制御部１０９により後述するテストパターンをデータ（プリアンブル）に挿入した場合、このテストパターンを含むデータ（電気信号）をＥＡ変調するドライバ制御を行う。
【００１４】
受信部１０６は、光伝送路から受信した光信号を電気信号に変換するＡＰＤ（Ａｖａｌａｎｃｈｅ  ＰｈｏｔｏＤｉｏｄｅ）１２１と、ＡＰＤ１２１の出力を増幅するＴＩＡ（Ｔｒａｎｓ−Ｉｍｐｅｄａｎｃｅ  Ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）１２２と、を含む。
【００１５】
受信制御部１０７は、受信部１０６のＡＰＤ１２１，ＴＩＡ１２２等を制御する。受信部１０６が受信したデータはＣＤＲ１０５に出力され、ＣＤＲ１０５は、クロックとデータを分離して波形成形した電気信号のデータを出力する。
【００１６】
テストパターン制御部１０９は、入力される電気信号（パケット）のプリアンブル部分に所定のテストパターンを挿入する。このテストパターンを含む光信号を送信部１０１が送信し、対向する光伝送装置がテストパターンを測定して送信部１０１が送信した光信号の消光比を測定する。
【００１７】
図１に記載した光モジュール１００は、例えば、スイッチやルータ等の光伝送装置に組み込み、光伝送路に対する光信号の入出力の機能を実行する。
【００１８】
図１の構成例では、テストパターン制御部１０９が入力された電気信号、すなわち送信データのプリアンブルにテストパターンを挿入して送信部１０１のＥＡドライバ１０８に出力する構成とした。他の変調方式として直接変調方式にも同様に適用できる。この場合には、テストパターン制御部１０９は、入力された電気信号、すなわち、送信データのプリアンブルにテストパターンを挿入して、送信部１０１のＬＤ１１１の駆動部（送信制御部１０２）に出力すればよい。ＬＤ１１１は、入力された電気信号を、例えば強度変調により光変調した光信号を出力する。
【００１９】
図２は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定にかかる構成例を示す図である。図２に示すように、一般的に光モジュール１００を有するルータ／スイッチ等の光伝送装置２０１は、システムのネットワークである光伝送路（光ファイバケーブル）２０２を介して相互に接続されている。例えば、光モジュール１００のＭＣＵ１０３は、ネットワークの管理装置２０４に接続される。また、図２に示すように、ＭＣＵ１０３が光伝送装置２０１のＣＰＵ等の制御部２０３に接続され、制御部２０３が管理装置２０４に接続される構成としてもよい。
【００２０】
実施の形態１では、一対の光伝送装置２０１（２０１ａ，２０１ｂ）を用いて、送信側の光伝送装置２０１ａ（送信部１０１）の消光比を測定する。そして、測定した消光比に基づき、障害発生を予測する。消光比測定のために、一方の光伝送装置２０１ａをテストパターンの送信側とし、他方の光伝送装置２０１ｂをテストパターンの受信側として機能させる。
【００２１】
詳細は後述するが、この消光比の測定は、光伝送装置２０１の運用中、すなわち、光伝送装置２０１が光信号を送受信している期間中に行う。
【００２２】
管理装置２０４は、サーバ等で構成でき、消光比測定にかかる命令（コマンド）を消光比測定時の一対の光伝送装置２０１に対し送信し、測定結果を収集する。管理装置２０４を用いずに、保守者が消光比測定にかかる命令（コマンド）を消光比測定時の一対の光伝送装置２０１に対し送信する等して測定結果を収集することもできる。
【００２３】
図２の構成において、光伝送装置２０１ａの光モジュール１００の送信部１０１の消光比を測定する場合には、この送信部１０１をテストパターンの送信側として機能させる。また、光伝送装置２０１ｂの光モジュール１００の受信部１０６をテストパターンの受信側として機能させる。
【００２４】
また、光伝送装置２０１ｂの光モジュール１００の送信部１０１の消光比を測定する場合には、この送信部１０１をテストパターンの送信側として機能させる。また、光伝送装置２０１ａの光モジュール１００の受信部１０６をテストパターンの受信側として機能させる。
【００２５】
管理装置２０４は、対象となる一対の光伝送装置２０１（２０１ａ，２０１ｂ）に送信側および受信側の機能設定をコマンド送信する。
【００２６】
図２に示したＭＣＵ１０３は、プログラム領域に格納された所定のプログラムを実行し、記憶領域の一部を作業領域として使用することにより、光モジュール１００を統括制御する機能を実現する。また、送信制御部１０２、受信制御部１０７、テストパターン制御部１０９は、ＦＰＧＡやプロセッサを用いて構成できる。例えば、プロセッサ構成時には、プロセッサがプログラム領域に格納された所定のプログラムを実行し、記憶領域の一部を作業領域として使用することにより、送信制御部１０２と受信制御部１０７の機能をそれぞれ実現する。
【００２７】
また、管理装置２０４についても、サーバ等のプロセッサがＲＯＭ等のメモリのプログラム領域に格納された所定のプログラムを実行し、ＲＡＭ等のメモリを作業領域として使用することにより、管理装置２０４の機能を実現できる。
【００２８】
図３は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定に用いるテストパターンの例を示す図表である。実施の形態１では、例えば、イーサネット（登録商標）フレーム３０１を用いてテストパターンを送信する。ＩＥＥＥ８０２．３のイーサネットフレーム３０１は、図３（ａ）に示すように、プリアンブル３１１、ＳＦＤ、宛先アドレス、送信元アドレス、長さ／タイプ、データ／ＬＬＣ、ＦＣＳ、の各フィールドを含む。ＳＦＤはＳｔａｒｔ  Ｆｒａｍｅ  Ｄｅｌｉｍｉｔｅｒの略であり、ＬＬＣはＬｏｇｉｃａｌ  Ｌｉｎｋ  Ｃｏｎｔｒｏｌ、ＦＣＳはＦｒａｍｅ  Ｃｈｅｃｋ  Ｓｅｑｕｅｎｃｅの略である。
【００２９】
長さ／タイプフィールドについて、１５００以下の値の場合は「データ」フィールド部のサイズ（オクテット数）を示す。１５３６（０ｘ０６００）以上の値の場合は「データ」フィールドに格納するデータの上位層プロトコルＩＤを示す（例えば、ＴＣＰ／ＩＰならば、ＩＰｖ４（０ｘ０８００）やＡＲＰ（０ｘ０８０６）等）。このとき、データ部には、対応するＩＰｖ４やＡＲＰプロトコルのパケットが格納される。なお、１５０１〜１５３５の値については未定義である。
【００３０】
テストパターン制御部１０９は、テストパターン送信時にのみプリアンブル３１１内に特定のコードを実装（挿入）する。テストパターン制御部１０９は、特定のコードとして、例えば、図３（ｂ）に示すテスト開始コード３１１ａと、図３（ｃ）に示す連続ＯＦＦパターンのテスト開始コード３１１ｂとを送信するデータ（パケット）のプリアンブル３１１に挿入する。
【００３１】
図３（ｂ）に示すテスト開始コード３１１ａは、プリアンブル３１１の最終ビットまで連続するビット「１」のテストビット３１１ａａを有する。図３（ｃ）に示すテスト開始コード３１１ｂは、プリアンブル３１１の最終ビットまで連続するビット「０」のテストビット３１１ｂａを有する。
【００３２】
テストパターン制御部１０９は、テスト開始コード３１１ａの送信後に、テスト開始コード３１１ｂをテストパターンとして送信する。
【００３３】
例えば、連続ＯＮパターンのテスト開始コード３１１ａおよび連続するビット「１」で計７オクテット長のプリアンブル３１１を含むイーサネットフレーム３０１により、連続ＯＮの光信号の測定を実施する。また、別の連続ＯＦＦパターンのテスト開始コード３１１ｂおよび連続するビット「０」で計７オクテット長のプリアンブル３１１を含むイーサネットフレーム３０１により、連続ＯＦＦの光信号の測定を実施する。
【００３４】
また、他のテストコードの例としては、テスト開始コード３１１ａ，３１１ｂにテストビット３１１ａａ，３１１ｂａのビット長の情報を含ませてもよい。これにより、テストビット３１１ａａ，３１１ｂａの終了タイミングを受信側に知らせることができ、プリアンブル３１１全体に連続する「１または０」のビットを挿入しなくてもよい。
【００３５】
また、さらに他のテストコードの例を図３（ｄ）および図３（ｅ）に示す。図３（ｄ）に示すテストコード３２１は、プリアンブルの先頭ビット側と終端ビット側にそれぞれ特定ビット列からなるテスト開始コード３２１ａと、テスト終了コード３２１ｃとを設ける。そして、これらテスト開始コード３２１ａとテスト終了コード３２１ｃとの間に、連続するビット「１」のテストビット３２１ｂを挿入する。
【００３６】
図３（ｅ）に示すテストコード３２２は、プリアンブルの先頭ビット側と終端ビット側にそれぞれ特定ビット列からなるテスト開始コード３２２ａと、テスト終了コード３２２ｃとを設ける。そして、これらテスト開始コード３２２ａとテスト終了コード３２２ｃとの間に、連続するビット「０」のテストビット３２２ｂを挿入する。
【００３７】
テストパターン制御部１０９は、テストコード３２１の送信後にテストコード３２２をテストパターンとして送信する。
【００３８】
図３（ｄ），（ｅ）に示すテストコード３２１，３２２によれば、受信側でテストコード毎に開始と終了のタイミングを容易に判断することができる。
【００３９】
次に、図４〜図６を用いて実施の形態１の光モジュールの劣化判定の処理の全体内容を説明する。保守者あるいは管理装置２０４は、消光比測定にかかる命令（コマンド）を消光比測定時の一対の光伝送装置２０１（２０１ａ，２０１ｂ）に送信して測定を開始する。
【００４０】
例えば、光モジュール１００のＭＣＵ１０３および送信制御部１０２，受信制御部１０７、テストパターン制御部１０９が図４に示す処理を実行するソフトウェアのモジュールを追加実装し、ソフトウェア実行することにより、それぞれの機能を実現できる。
【００４１】
図４は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定時に光モジュール外部で行う処理例を示すフローチャートである。図４では、管理装置２０４が実行する処理内容を示すが、同様の処理は保守者が行う操作内容としてもよい。
【００４２】
はじめに、管理装置２０４は、送信部１０１が消光比測定時期の光モジュール１００があるか判断する（ステップＳ４０１）。管理装置２０４は、ネットワーク上の複数の光モジュール１００（光伝送装置２０１）を管理しており、各光モジュール１００の送信部１０１の使用時間（年数等）を個別に管理している。そして、管理装置２０４は、例えば、送信部１０１の標準の寿命時間に対応して設定した一つあるいは複数の閾値（使用時間）を設定保持しておき、送信部１０１の使用時間が各閾値に達する毎に消光比測定時期と判断する。
【００４３】
管理装置２０４は、管理している光モジュール１００のうち、消光比測定時期に達していない光モジュールだけであれば処理開始を待機する（ステップＳ４０１：Ｎｏのループ）。この間、管理装置２０４は、光モジュール１００（該当する光伝送装置２０１）に対し通常の運用を継続させる。なお、消光比を測定する期間中においても光信号の通信を継続することができる。
【００４４】
そして、消光比測定時期に達すれば（ステップＳ４０１：Ｙｅｓ）、管理装置２０４は、該当する測定（対象）の光モジュール１００を実装する光伝送装置２０１ａ（ＣＰＵ２０３）に光モジュール１００の消光比測定（テスト）を指示する（ステップＳ４０２）。
【００４５】
また、管理装置２０４は、測定（対象）の光モジュール１００に対向する光モジュール１００の光伝送装置２０１ｂにも消光比測定（テスト）を指示する（ステップＳ４０３）。
【００４６】
この後、管理装置２０４は、測定の光モジュールを実装する光伝送装置２０１ａおよび対向する光伝送装置２０１ｂの両方からテスト終了の通知があるか判断する（ステップＳ４０４）。通知がなければ（ステップＳ４０４：Ｎｏ）、管理装置２０４は、測定が終了するまで待機し、通知があれば（ステップＳ４０４：Ｙｅｓ）、対向する光伝送装置２０１ｂから消光比の測定結果を受信し（ステップＳ４０５）、以上の処理を終了する。
【００４７】
図５は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定時に測定対象の光モジュールの光伝送装置が行う処理例を示すフローチャートである。図１のように、光伝送装置２０１ａ（自機）の光モジュール１００が測定対象の例で説明する。
【００４８】
はじめに、測定対象である光モジュール１００の光伝送装置２０１ａ（ＣＰＵ２０３）は、管理装置２０４からの消光比測定（テスト）実行の指示を待つ（ステップＳ５０１：Ｎｏのループ）。消光比測定の指示があれば（ステップＳ５０１：Ｙｅｓ）、光伝送装置２０１ａ（ＣＰＵ２０３）は、測定する自機の光モジュール１００に消光比測定（テスト）の実行を指示する（ステップＳ５０２）。
【００４９】
この後、光伝送装置２０１ａ（ＣＰＵ２０３）は、自機の光モジュール１００から消光比測定（テスト）終了の通知を待機する（ステップＳ５０３：Ｎｏのループ）。消光比測定終了の指示があれば（ステップＳ５０３：Ｙｅｓ）、光伝送装置２０１ａ（ＣＰＵ２０３）は、管理装置２０４に消光比測定（テスト）の終了を通知し（ステップＳ５０４）、以上の処理を終了する。
【００５０】
図６は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定時に測定対象に対向する光モジュールの光伝送装置が行う処理例を示すフローチャートである。図１のように、光伝送装置２０１ａ（自機）の光モジュール１００が測定対象であり、光伝送装置２０１ｂの光モジュール１００が対向する光モジュールである例で説明する。
【００５１】
はじめに、測定対象の光伝送装置２０１ａの光モジュール１００に対向する光伝送装置２０１ｂ（ＣＰＵ２０３）は、管理装置２０４からの消光比測定（テスト）実行の指示を待つ（ステップＳ６０１：Ｎｏのループ）。消光比測定の指示があれば（ステップＳ６０１：Ｙｅｓ）、光伝送装置２０１ｂ（ＣＰＵ２０３）は、自機の光モジュール１００に消光比測定（テスト）の実行を指示する（ステップＳ６０２）。
【００５２】
この後、光伝送装置２０１ｂ（ＣＰＵ２０３）は、自機の光モジュール１００から消光比測定（テスト）終了の通知を待機する（ステップＳ６０３：Ｎｏのループ）。消光比測定終了の通知があれば（ステップＳ６０３：Ｙｅｓ）、光伝送装置２０１ｂ（ＣＰＵ２０３）は、管理装置２０４に消光比測定（テスト）の終了を通知する（ステップＳ６０４）。また、管理装置２０４に光モジュール１００が測定した消光比の測定結果を通知し（ステップＳ６０５）、以上の処理を終了する。
【００５３】
図７は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定時に測定対象の光モジュールが行う処理例を示すフローチャートである。測定対象の光モジュール１００のＭＣＵ１０３、送信制御部１０２、テストパターン制御部１０９が行う処理例を説明する。
【００５４】
はじめに、測定対象である光モジュール１００は、自機の光伝送装置２０１ａからの消光比測定（テスト）実行の開始の指示を待つ（ステップＳ７０１：Ｎｏのループ）。消光比測定の開始指示があれば（ステップＳ７０１：Ｙｅｓ）、光モジュール１００は、テストパターン制御部１０９により連続ＯＮのテスト開始コードａ（図３（ｂ）、（ｄ）参照）を含むイーサネットフレームの光信号を送信する（ステップＳ７０２）。
【００５５】
この後、光モジュール１００は、テストパターン制御部１０９により連続ＯＦＦのテスト開始コードｂ（図３（ｃ）、（ｅ）参照）を含むイーサネットフレームの光信号を送信する（ステップＳ７０３）。この後、測定対象である光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と送信制御部１０２）は、自機の光伝送装置２０１ａに消光比測定（テスト）の終了を通知し（ステップＳ７０４）、以上の処理を終了する。
【００５６】
図８は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定時に測定対象に対向する光モジュールが行う処理例を示すフローチャートである。図１の光伝送装置２０１ｂの光モジュール１００が対向する光モジュールであり、この光モジュール１００のＭＣＵ１０３と受信制御部１０７が行う処理例を説明する。
【００５７】
はじめに、測定対象である光モジュール１００に対向する光モジュール（ＭＣＵ１０３と受信制御部１０７）は、自機の光伝送装置２０１ｂからの消光比測定（テスト）実行の開始の指示を待つ（ステップＳ８０１：Ｎｏのループ）。消光比測定の開始指示があれば（ステップＳ８０１：Ｙｅｓ）、光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と受信制御部１０７）は、連続ＯＮ（テスト開始コードａ）の光信号の平均受信レベルｃを計測する（ステップＳ８０２）。
【００５８】
次に、光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と受信制御部１０７）は、テスト開始コードａの連続ＯＮの光出力が終了したか判断する（ステップＳ８０３）。連続ＯＮの光出力が終了していなければ（ステップＳ８０３：Ｎｏ）、ステップＳ８０２に戻る。
【００５９】
連続ＯＮの光出力が終了すれば（ステップＳ８０３：Ｙｅｓ）、光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と受信制御部１０７）は、テスト開始コードｂの連続ＯＦＦの光信号の平均受信レベルｄを計測する（ステップＳ８０４）。
【００６０】
次に、光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と受信制御部１０７）は、連続ＯＦＦ（テスト開始コードｂ）の光出力が終了したか判断する（ステップＳ８０５）。連続ＯＦＦの光出力が終了していなければ（ステップＳ８０５：Ｎｏ）、ステップＳ８０４に戻る。
【００６１】
連続ＯＦＦの光出力が終了すれば（ステップＳ８０５：Ｙｅｓ）、光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と受信制御部１０７）は、自機の光伝送装置２０１ｂに消光比の測定結果（平均受信レベルｃ，ｄ）を通知する（ステップＳ８０６）。この後、光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と受信制御部１０７）は、自機の光伝送装置２０１ｂに消光比測定の終了を通知し（ステップＳ８０７）、以上の処理を終了する。
【００６２】
図９は、実施の形態１にかかる光モジュールの劣化判定時に測定対象に対向する光モジュールが行う消光比算出の処理例を示すフローチャートである。光伝送装置２０１ｂのＣＰＵ２０３は、光モジュール１００から通知された消光比の測定結果（平均受信レベルｃ，ｄ）に基づき、測定対象の光伝送装置２０１ａの光モジュール１００の送信部１０１が送信する光信号の消光比を算出する（ステップＳ９０１）。
【００６３】
測定対象の送信部１０１の消光比＝［連続ＯＮの光出力の平均受信レベルｃ］÷［連続ＯＦＦの光出力の平均受信レベルｄ］
【００６４】
消光比は、「１」のパワー・レベル／「０」のパワー・レベルであり、ＬＤ１１１にパルス電流を加えたときの光出力と、パルス信号電流がないときの光出力の比である。高速変調の場合などは、ＬＤ１１１にバイアス電流を流すため、無信号時でも光出力はゼロにならない。信号有時の光出力と同時に、無信号時の光出力も光モジュール１００の品質（ＬＤ１１１（電気−光変換部）に漏れ電流が生じる等の劣化）を示す指標となる。この消光比を所定の閾値と比較することにより、ＬＤ１１１を有する送信部１０１の劣化を判定できる。閾値を複数設けることにより、送信部１０１の経時的な劣化を判定することもできる。
【００６５】
上記処理では、光伝送装置２０１ｂ内のＣＰＵ２０３が光モジュール１００から通知された消光比の測定結果（平均受信レベルｃ，ｄ）に基づき消光比を算出した。これに限らず、光モジュール１００内のＭＣＵ１０３で消光比を算出してもよい。この場合には、光モジュール１００（ＭＣＵ１０３）は、光伝送装置２０１ｂに測定結果（平均受信レベルｃ，ｄ）ではなく、測定結果（平均受信レベルｃ，ｄ）に基づきＭＣＵ１０３が算出した消光比を通知すればよい。
【００６６】
図１０は、実施の形態１にかかる光モジュールの劣化判定時の光信号の状態を示す図表である。各図の横軸は時間、縦軸は光信号の光出力（光パワー）である。図１０（ａ）は測定対象である送信部１０１が送信する連続ＯＮの光信号の光出力ａである。図１０（ｂ）は測定対象である送信部１０１が送信する連続ＯＦＦの光信号の光出力ｂである。
【００６７】
図１０（ｃ）は測定対象の送信部１０１に対向する受信部１０６が連続ＯＮの光信号を受信したときの平均受信レベルｃである。図１０（ｄ）は測定対象の送信部１０１に対向する受信部１０６が連続ＯＦＦの光信号を受信したときの平均受信レベルｄである。
【００６８】
平均受信レベルｃ，ｄについて、１〜２バイトの連続ＯＮまたは連続ＯＦＦの信号を受信することにより連続ＯＮないしは連続ＯＦＦビットの平均出力が測定可能である。例えば、１０［Ｇｉｇａ−ｂｐｓ］の伝送速度の光モジュール１００の場合、８〜１６ｂｉｔ÷１［Ｇｉｇａ−ｂｉｔ］／［ｓｅｃ］＝８〜１６［ｎａｎｏ−ｓｅｃｏｎｄ］の連続ＯＮおよび連続ＯＦＦの出力時間Ｔを有していればよい。
【００６９】
連続ＯＮまたは連続ＯＦＦの光信号は、図３に示したようなイーサネットフレーム３０１のプリアンプル３１１内に消光比測定時のみ挿入する構成であり、システムの運用中であっても測定対象の送信部１０１は連続ＯＮまたは連続ＯＦＦの光信号を送信できる。同様に、システムの運用中であっても測定対象の送信部１０１に対向する受信部１０６は連続ＯＮまたは連続ＯＦＦの光信号を受信できる。すなわち、消光比測定は、システムが運用中でありデータ送信を中断することなく行える。
【００７０】
以上説明した実施の形態１によれば、運用中に対向する光モジュール同士を組みにして消光比劣化を測定することができる。この際、光信号のフレームの一部であるプリアンブルを消光比測定用のテストパターンに変更して送信し、テストパターンの受信で消光比を求めるため、消光比を精度よく求めることができ、この際、運用中の光信号（データ）の伝送を行いながら消光比を測定できる。
【００７１】
また、消光比を所定のタイミング、例えば定期的に自動計測することができる。これにより、劣化した光モジュール（送信部）の障害が発生する以前に一定期間毎に、ある程度まとめて交換する運用が行えるようになる。これにより、障害発生後の対応に比して保守の稼動や運用コストをより削減できるようになる。
【００７２】
また、光伝送路上で対向する光モジュール同士を組みにして消光比の周期的な自動計測を行うため、送信部の劣化のみならず、光ファイバ等の光伝送路や、受信部の経年劣化も判定できるようになる。
【００７３】
（実施の形態２）
次に、実施の形態２について説明する。実施の形態１では、対向する一対の光モジュール１００に対し、それぞれ消光比測定開始を指示する構成例について説明した。実施の形態２では、管理装置２０４あるいは保守者が一対の光モジュール１００の一方にのみ消光比測定開始を指示し、一方の光モジュール１００が他方の光モジュール１００から算出した消光比のデータを受信する構成である。
【００７４】
図１１は、実施の形態２の光モジュールの劣化判定時に光モジュール外部で行う処理例を示すフローチャートである。図１１では、管理装置２０４が実行する処理内容を示すが、同様の処理は保守者が行う操作内容としてもよい。
【００７５】
はじめに、管理装置２０４は、送信部１０１が消光比測定時期の光モジュール１００があるか判断する（ステップＳ１１０１）。管理装置２０４は、管理している光モジュール１００のうち、消光比測定時期に達していない光モジュールだけであれば処理開始を待つ（ステップＳ１１０１：Ｎｏのループ）。この間、管理装置２０４は、光モジュール１００（該当する光伝送装置２０１）に対し通常の運用を継続させる。なお、消光比を測定する期間中においても光信号の通信を継続することができる。
【００７６】
そして、消光比測定時期に達すれば（ステップＳ１１０１：Ｙｅｓ）、管理装置２０４は、該当する測定（対象）の光モジュール１００を実装する光伝送装置２０１ａ（ＣＰＵ２０３）に光モジュール１００の消光比測定を指示する（ステップＳ１１０２）。
【００７７】
この後、管理装置２０４は、測定の光モジュールを実装する光伝送装置２０１ａから消光比測定終了の通知があるか判断する（ステップＳ１１０３）。通知がなければ（ステップＳ１１０３：Ｎｏ）、管理装置２０４は、測定が終了するまで待機し、通知があれば（ステップＳ１１０３：Ｙｅｓ）、通知を受けたこの光伝送装置２０１ａから消光比の測定結果を受信し（ステップＳ１１０４）、以上の処理を終了する。
【００７８】
図１２は、実施の形態２の光モジュールの劣化判定時に測定対象の光モジュールの光伝送装置が行う処理例を示すフローチャートである。図１のように、光伝送装置２０１ａ（自機）の光モジュール１００が測定対象であり、光伝送装置２０１ｂの光モジュール１００が測定対象に対向している例で説明する。
【００７９】
はじめに、測定対象である光モジュール１００の光伝送装置２０１ａ（ＣＰＵ２０３）は、管理装置２０４からの消光比測定（テスト）実行の指示を待つ（ステップＳ１２０１：Ｎｏのループ）。消光比測定の指示があれば（ステップＳ１２０１：Ｙｅｓ）、光伝送装置２０１ａ（ＣＰＵ２０３）は、一対の光モジュール１００に消光比測定（テスト）の実行を指示する（ステップＳ１２０２）。一対の光モジュール１００とは、自機の送信部１０１の光モジュール１００と、光伝送装置２０１ｂに設けられ、送信部１０１に対向する受信部１０６を有する光モジュール１００である。
【００８０】
この後、光伝送装置２０１ａ（ＣＰＵ２０３）は、自機および対向する一対の光モジュール１００から消光比測定（テスト）終了の通知を待機する（ステップＳ１２０３：Ｎｏのループ）。一対の光モジュール１００から消光比測定終了の通知があれば（ステップＳ１２０３：Ｙｅｓ）、光伝送装置２０１ａ（ＣＰＵ２０３）は、対向する光伝送装置２０１ｂの光モジュール１００から消光比の測定結果を受信する（ステップＳ１２０４）。
【００８１】
この後、光伝送装置２０１ａ（ＣＰＵ２０３）は、管理装置２０４に消光比測定（テスト）の終了を通知し（ステップＳ１２０５）、消光比の測定結果を通知し（ステップＳ１２０６）、以上の処理を終了する。
【００８２】
図１３は、実施の形態２の光モジュールの劣化判定時に測定対象の光モジュールが行う処理例を示すフローチャートである。測定対象の光モジュール１００のＭＣＵ１０３と送信制御部１０２が行う処理例を説明する。
【００８３】
はじめに、測定対象である光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と送信制御部１０２）は、自機の光伝送装置２０１ａからの消光比測定（テスト）の開始の受信を待つ（ステップＳ１３０１：Ｎｏのループ）。消光比測定の開始指示があれば（ステップＳ１３０１：Ｙｅｓ）、光モジュール１００のテストパターン制御部１０９は、連続ＯＮのテスト開始コードａ（図３（ｂ）や（ｄ））を含むイーサネットフレームの光信号を送信する（ステップＳ１３０２）。
【００８４】
この後、光モジュール１００のテストパターン制御部１０９は、連続ＯＦＦのテスト開始コードｂ（図３（ｃ）や（ｅ））を含むイーサネットフレームの光信号を送信する（ステップＳ１３０３）。
【００８５】
この後、測定対象である光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と送信制御部１０２）は、自機および対向する光モジュール１００から消光比測定（テスト）終了の通知を待つ（ステップＳ１３０４：Ｎｏのループ）。自機および対向する光モジュール１００から消光比測定（テスト）終了の通知があれば（ステップＳ１３０４：Ｙｅｓ）、測定対象の光モジュール１００は、対向する光モジュール１００から消光比測定の測定結果を受信する（ステップＳ１３０５）。
【００８６】
この後、測定対象である光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と送信制御部１０２）は、自機の光伝送装置２０１ａに消光比測定（テスト）の終了を通知する（ステップＳ１３０６）。また、消光比測定（テスト）の測定結果を通知し（ステップＳ１３０７）、以上の処理を終了する。
【００８７】
図１４は、実施の形態１の光モジュールの劣化判定時に測定対象に対向する光モジュールが行う処理例を示すフローチャートである。図１の光伝送装置２０１ｂの光モジュール１００が対向する光モジュールであり、この光モジュール１００のＭＣＵ１０３と受信制御部１０７が行う処理例を説明する。
【００８８】
はじめに、測定対象である光モジュール１００に対向する光モジュール（ＭＣＵ１０３と受信制御部１０７）は、測定対象の光モジュール１００（光伝送装置２０１ａ）からの消光比測定（テスト）の開始の受信を待つ（ステップＳ１４０１：Ｎｏのループ）。消光比測定の開始指示があれば（ステップＳ１４０１：Ｙｅｓ）、光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と受信制御部１０７）は、連続ＯＮ（テスト開始コードａ）の光信号の平均受信レベルｃを計測する（ステップＳ１４０２）。
【００８９】
次に、光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と受信制御部１０７）は、テスト開始コードａの連続ＯＮの光出力が終了したか判断する（ステップＳ１４０３）。連続ＯＮの光出力が終了していなければ（ステップＳ１４０３：Ｎｏ）、ステップＳ１４０２に戻る。
【００９０】
連続ＯＮの光出力が終了すれば（ステップＳ１４０３：Ｙｅｓ）、光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と受信制御部１０７）は、テスト開始コードｂの連続ＯＦＦの光信号の平均受信レベルｄを計測する（ステップＳ１４０４）。
【００９１】
次に、光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と受信制御部１０７）は、連続ＯＦＦ（テスト開始コードｂ）の光出力が終了したか判断する（ステップＳ１４０５）。連続ＯＦＦの光出力が終了していなければ（ステップＳ１４０５：Ｎｏ）、ステップＳ１４０４に戻る。
【００９２】
連続ＯＦＦの光出力が終了すれば（ステップＳ１４０５：Ｙｅｓ）、光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と受信制御部１０７）は、自機の光伝送装置２０１ｂに消光比の測定結果（平均受信レベルｃ，ｄ）を通知する（ステップＳ１４０６）。この後、光モジュール１００（ＭＣＵ１０３と受信制御部１０７）は、自機の光伝送装置２０１ｂに消光比測定の終了を通知し（ステップＳ１４０７）、以上の処理を終了する。
【００９３】
以上説明した実施の形態２によれば、実施の形態１同様に、運用中に対向する光モジュール同士を組みにして消光比劣化を測定することができる。この際、光信号のフレームの一部であるプリアンブルを消光比測定用のテストパターンに変更して送信し、テストパターンの受信で消光比を求めるため、消光比を精度よく求めることができ、この際、運用中の光信号（データ）の伝送を行いながら消光比を測定できる。
【００９４】
また、消光比を所定のタイミング、例えば定期的に自動計測することができる。これにより、劣化した光モジュール（送信部）の障害が発生する以前に一定期間毎に、ある程度まとめて交換する運用が行えるようになる。これにより、障害発生後の対応に比して保守の稼動や運用コストをより削減できるようになる。
【００９５】
また、光伝送路上で対向する光モジュール同士を組みにして消光比の周期的な自動計測を行うため、送信部の劣化のみならず、光ファイバ等の光伝送路や、受信部の経年劣化も判定できるようになる。
【００９６】
また、実施の形態２では、管理装置や保守者からの消光比測定の開始を一方の光モジュール側で受けて、この一方の光モジュールが主導し、他方の光モジュールと連携して測定を実行する。これにより、管理装置は、一方の光モジュール側との間でのみ情報をやり取りするだけで消光比の測定結果を一方の光モジュールから得ることができる。
【００９７】
図１５は、既存の技術による光モジュールの消光比の測定構成例を示す図である。既存の消光比測定においては、被試験用の光モジュール１００の送信部（トランシーバ）にバースト信号用パルスパターン発生器１５０１を接続する。バースト信号用パルスパターン発生器１５０１は、バースト信号（ビットＯＮ、およびＯＦＦのバースト信号）を光モジュール１００に出力する。光モジュール１００は、バースト信号に対応する光信号を出力し、光ファイバ１５０２および減衰器１５０３を通してＯ／Ｅ変換器１５０４が受信する。１５０４ａは受光面である。
【００９８】
Ｏ／Ｅ変換器１５０４で光電変換後の電気信号は、ローパスフィルタ１５０５を通してデジタルオシロスコープ等の波形観測装置１５０６に出力される。バースト信号用パルスパターン発生器１５０１が出力する測定用信号の測定用トリガは波形観測装置１５０６に出力される。波形観測装置１５０６は、光モジュール１００の出力（測定用信号）を計測し、ビットＯＮの部分とＯＦＦの分の出力比を測定し、消光比を観測する。
【００９９】
図１５の構成の場合、消光比測定のためには、光モジュール１００に対し測定用信号を用いて消光比を測定するため、運用中の光モジュール１００に対する消光比測定は行えない。この点、実施の形態によれば、運用を停止させることなく精度よく消光比を測定できる。
【０１００】
そして、実施の形態により、例えば、消光比の特性が悪く特性劣化と判断した光モジュール１００について、障害発生前に交換（予防交換）した後、交換した光モジュール１００の品質を図１５に示す既存の試験方法により計測してもよい。この場合、消光比とビットエラー等の光モジュール１００の劣化との関係に関するデータを収集する。この収集結果に基づいて、上述した実施の形態において、劣化を判定するための閾値を設定できる。これによれば、予防交換を実施すべき消光比を判断するための適正な閾値を得ることができ、継続的に閾値を適正な値に補正していくことができる。
【０１０１】
また、上述した各実施の形態では、一対の送信側と受信側の光モジュール１００を用いて送信された光信号の消光比を測定する構成であり、送信側の光モジュール１００に送信データ（電気信号）が入力され光信号を生成して伝送路２０２に送信する構成とした。これに限らず、光モジュール１００は、伝送路２０２上でデータを中継する中継器に適用してもよい。
【０１０２】
例えば、図２に示す一つの光伝送装置２０１ａは、受信部１０６と送信部１０１とが伝送路２０２上に沿って縦列接続された構成を有し、信号再生後に再度光信号にして送信する構成に適用することもできる。この場合、光伝送装置２０１ａの受信部１０６が光信号を電気信号に変換した後、送信部１０１で再度電気信号から光信号に変換して、対向する光伝送装置２０１ｂに光信号を出力する。このような光信号の中継機能を有する光伝送装置２０１ａにおいても、上記のテストパターン制御部１０９がプリアンブルにテストパターンを挿入することで、送信部１０１が出力する光信号の消光比を対向する光伝送装置２０１ｂで同様に測定できる。さらには、光モジュール１００は、中継器に適用するに限らず、伝送路２０２に対し光信号を挿入または分岐（Ａｄｄ／Ｄｒｏｐ）する光分岐挿入器に適用することもできる。
【０１０３】
そして、各実施の形態によれば、光モジュール送信部の劣化を示す消光比の測定を簡易な構成および手順で実現できる。また、光モジュールの消光比の経年劣化を運用中において自動計測することができるため、運用中の光信号を停止させることなく、ネットワーク上の任意の光モジュールの消光比を測定できる。また、消光比の測定結果を用いて、障害発生前に交換等の有無を障害が発生する以前の適切な時期に判断できるようになる。障害発生を未然に防止することができるため、運用中のネットワークおよびサービスの停止を防ぎ、安定した運用を継続できるようになる。
【０１０４】
なお、上述した実施の形態で説明した消光比の測定にかかる方法は、予め用意された制御プログラムを対象機器（上記光モジュールや光伝送装置）等のコンピュータ（プロセッサ）で実行することにより実現することができる。本制御プログラムは、磁気ディスク、光ディスク、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ  Ｓｅｒｉａｌ  Ｂｕｓ）フラッシュメモリなどのコンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録され、コンピュータによって記録媒体から読み出されることによって実行される。また、制御プログラムは、インターネット等のネットワークを介して配布してもよい。
【０１０５】
上述した実施の形態に関し、さらに以下の付記を開示する。
【０１０６】
（付記１）光信号を伝送する光モジュールにおいて、
光源と、前記光源が出力する光を、送信データに基づき変調して光信号を出力する変調部と、を有する送信部と、
前記送信部の消光比測定時に、送信する前記光信号のフレームのプリアンブルに、テスト開始コードとテスト終了コードとで挟んだ連続ＯＮおよび連続ＯＦＦするテストコードを挿入するテストパターン制御部と、
伝送路を介して対向する光モジュールの前記送信部から送信された前記光信号を受信する受信部と、
受信した前記光信号のフレームの前記プリアンブルに含まれる前記テストコードの連続ＯＮおよび連続ＯＦＦの光レベルに基づき、消光比を求める制御部と、
を有することを特徴とする光モジュール。
【０１０７】
（付記２）光信号を伝送する光モジュールにおいて、
光源を有し、送信データに基づき前記光源の光を変調して光信号を出力する送信部と、
前記送信部の消光比測定時に、送信する前記光信号のフレームのプリアンブルに、テスト開始コードとテスト終了コードとで挟んだ連続ＯＮおよび連続ＯＦＦするテストコードを挿入するテストパターン制御部と、
伝送路を介して対向する光モジュールの前記送信部から送信された前記光信号を受信する受信部と、
受信した前記光信号のフレームの前記プリアンブルに含まれる前記テストコードの連続ＯＮおよび連続ＯＦＦの光レベルに基づき、消光比を求める制御部と、
を有することを特徴とする光モジュール。
【０１０８】
（付記３）前記テストパターン制御部は、
複数ビットを連続「１」とした連続ＯＮの前記テストコードと、
複数ビットを連続「０」とした連続ＯＦＦの前記テストコードと、をそれぞれ前記プリアンブルに挿入することを特徴とする付記１または２に記載の光モジュール。
【０１０９】
（付記４）前記テストパターン制御部は、
外部入力される測定開始指示に基づき、運用中の前記光信号のフレームの前記プリアンブルに前記テストコードを挿入し、
外部入力される測定終了指示に基づき、運用中の前記光信号のフレームの前記プリアンブルを元に戻す、ことを特徴とする付記１〜３のいずれか一つに記載の光モジュール。
【０１１０】
（付記５）前記制御部は、
受信した前記光信号の前記プリアンブルに含まれる前記テストパターンの前記テストコードの前記連続ＯＮの光レベルの平均と、前記連続ＯＦＦの光レベルの平均と、に基づき前記消光比を求めることを特徴とする付記１〜４のいずれか一つに記載の光モジュール。
【０１１１】
（付記６）前記光モジュールは、前記伝送路上に前記受信部と前記送信部が縦列配置され、前記受信部で受信した光信号を電気信号に信号変換し、前記送信部に出力する構成であり、
前記テストコード制御部は、転送時の前記電気信号の前記プリアンブルに、前記テスト開始コードと、前記テスト終了コードと、前記テストコードと、を挿入することを特徴とする付記１〜５のいずれか一つに記載の光モジュール。
【０１１２】
（付記７）前記制御部は、
前記消光比を所定の閾値と比較することにより、消光比の劣化の程度を判定することを特徴とする付記１〜６のいずれか一つに記載の光モジュール。
【０１１３】
（付記８）前記制御部は、
前記消光比の劣化の程度に基づき測定対象の光モジュールの交換時期を判定することを特徴とする付記７に記載の光モジュール。
【０１１４】
（付記９）前記制御部は、前記測定対象の光モジュールを交換した場合、交換した前記光モジュールの品質を所定の試験方法により計測した際の消光比とビットエラーに基づく光モジュール劣化のデータから得た閾値を、前記所定の閾値として再設定する、ことを特徴とする付記７または８に記載の光モジュール。
【０１１５】
（付記１０）前記テストパターン制御部は、
自機が測定対象の場合、前記光信号を送信する対向側の光モジュールが測定した前記消光比の測定結果を受信する、ことを特徴とする付記１〜９のいずれか一つに記載の光モジュール。
【０１１６】
（付記１１）前記テストパターン制御部および前記制御部は、外部の管理装置と通信接続され、前記管理装置が出力する測定開始および測定終了の指示に基づき、前記測定処理の開始および終了を行い、測定した前記消光比を前記管理装置に出力する、ことを特徴とする付記１〜１０のいずれか一つに記載の光モジュール。
【０１１７】
（付記１２）付記１〜１１のいずれか一つに記載の光モジュールを有し、
光通信ネットワーク上に配置され、データを前記光モジュールを介して前記光通信ネットワークに送信および受信処理することを特徴とする光伝送装置。
【０１１８】
（付記１３）外部の管理装置と通信接続され、前記管理装置が出力する測定開始および測定終了の指示に基づき、前記光モジュールに対する前記処理の開始および終了の制御を行い、前記光モジュールが測定した前記消光比を前記管理装置に出力する制御部を有することを特徴とする付記１２に記載の光伝送装置。
【０１１９】
（付記１４）光信号を伝送する光モジュールの劣化判定方法において、
光伝送路上で対向配置された一対の光モジュールのうち光信号を送信する送信側の光モジュールの劣化を判定する際、
前記送信側の光モジュールは、
送信する前記光信号のフレームのプリアンブルに、テスト開始コードとテスト終了コードとで挟んだ連続ＯＮおよび連続ＯＦＦするテストコードを挿入して送信し、
受信側の光モジュールは、
前記光信号を受信し、受信した前記光信号のフレームのプリアンブルに含まれる前記テストコードの連続ＯＮおよび連続ＯＦＦの光レベルに基づき、消光比を求める、
ことを特徴とする光モジュールの劣化判定方法。
【０１２０】
（付記１５）前記送信側の光モジュールは、
前記複数ビットを連続「１」とした連続ＯＮの前記テストコードの送信と、
前記複数ビットを連続「０」とした連続ＯＦＦの前記テストコードの送信と、を行うことを特徴とする付記１４に記載の光モジュールの劣化判定方法。
【符号の説明】
【０１２１】
１００  光モジュール
１０１  送信部
１０２  送信制御部
１０３  ＭＣＵ
１０４，１０５  ＣＤＲ
１０６  受信部
１０７  受信制御部
１０８  ＥＡドライバ
１０９  テストコード制御部
１１２  ＥＡ変調器
１２１  ＡＰＤ
１２２  ＴＩＡ
２０１（２０１ａ，２０１ｂ）  光伝送装置
２０２  光伝送路
２０３  制御部
２０４  管理装置
３０１  イーサネットフレーム
３１１  プリアンプル
３１１ａ，３１１ｂ  テスト開始コード
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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