(57)【要約】【課題】端子付き電線の圧着部における電気抵抗値（圧着部抵抗値）を出来る限りコストを低減しながら推定すること。【解決手段】この推定方法は、導体芯線２１に端子３０を圧着する圧着過程のシミュレーションを行う工程Ｓ３と、圧着過程を経た後に導体芯線２１と端子３０とが接触している接触箇所Ａのうち、導体芯線２１の表面に形成された酸化皮膜が圧着過程を経て破壊されることによって導体芯線２１の母材と端子３０とが凝着している凝着箇所Ｂ、を特定する工程Ｓ４，Ｓ５と、凝着箇所Ｂを介して導体芯線２１と端子３０との間に通電が生じたときの電気抵抗値を圧着部抵抗値Ｒとして推定する工程Ｓ６，Ｓ７と、を備える。【選択図】図４
2018155624.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電線が有する導体芯線に端子が圧着された端子付き電線の圧着部における電気抵抗値である圧着部抵抗値をシミュレーションによって推定する推定方法であって、
前記導体芯線に前記端子を圧着する圧着過程のシミュレーションを行う第１工程と、
前記圧着過程を経た後に前記導体芯線と前記端子とが接触している接触箇所を特定する第２工程と、
前記接触箇所を介して前記導体芯線と前記端子との間に通電が生じたときの前記電気抵抗値を前記圧着部抵抗値として推定する第３工程と、を含む、
端子付き電線の圧着部抵抗値の推定方法。
【請求項２】
請求項１に記載の推定方法において、
前記導体芯線が、
アルミニウム又はアルミニウム合金から構成されており、
前記第２工程が、
前記接触箇所のうち、前記導体芯線の表面に形成された酸化皮膜が前記圧着過程を経て破壊されると共に前記導体芯線の母材と前記端子とが凝着している凝着箇所、を特定する工程であり、
前記第３工程が、
前記凝着箇所を介して前記通電が生じたときの前記電気抵抗値を前記圧着部抵抗値として推定する工程である、
端子付き電線の圧着部抵抗値の推定方法。
【請求項３】
請求項２に記載の推定方法において、
前記第２工程が、
前記圧着過程において、前記導体芯線と前記端子とが接触した状態にて前記導体芯線と前記端子とが相対的に移動したときの相対移動量が所定の閾値以上である箇所を、前記凝着箇所として特定する工程である、
端子付き電線の圧着部抵抗値の推定方法。
【請求項４】
電線が有する導体芯線に端子が圧着された端子付き電線の圧着部における電気抵抗値である圧着部抵抗値をシミュレーションによって推定する推定装置であって、
前記導体芯線に前記端子を圧着する圧着過程のシミュレーションを行う第１演算部と、
前記圧着過程を経た後に前記導体芯線と前記端子とが接触している箇所のうち、前記導体芯線の表面に形成された酸化皮膜が前記圧着過程を経て破壊されると共に前記導体芯線の母材と前記端子とが凝着している凝着箇所、を特定する第２演算部と、
前記凝着箇所を介して前記導体芯線と前記端子との間に通電が生じたときの前記電気抵抗値を前記圧着部抵抗値として推定する第３演算部と、を備える、
端子付き電線の圧着部抵抗値の推定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電線が有する導体芯線に端子が圧着された端子付き電線の圧着部における電気抵抗値である圧着部抵抗値を推定する推定方法、及び、そのような推定を行う推定装置、に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、端子付き電線の電気的特性を向上する観点などから、電線の導体芯線に端子が圧着されている圧着部において生じる電圧降下の大きさ（換言すると、圧着部における電気抵抗値）を評価する手法について、様々な提案がなされている。なお、圧着部における電圧降下は、主に、導体芯線と端子とが接触している箇所における接触抵抗（２つの導体の界面近傍に存在する電気抵抗）に起因して生じると考えられる。
【０００３】
例えば、従来の評価手法の一つ（以下「従来手法」という。）では、端子付き電線のサンプル（実物）を実際に製造すると共に、四端子測定法（測定対象への通電および電流測定のための回路と、測定対象における電圧降下測定のための回路と、を別々の回路とすることにより、回路自体の電気抵抗等を排除しながら測定対象の電気抵抗値を測定する測定法）を用い、導体芯線と端子との圧着部における電気抵抗値を測定（実測）するようになっている（例えば、特許文献１を参照。）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−１７５０６２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述した従来手法では、端子付き電線（実物）の圧着部の電気抵抗値が実際に測定されるようになっている。そのため、例えば、端子付き電線の開発段階において多種多様なバリエーションのサンプルを評価する場合、従来手法を用いると、多数の試作品を実際に製造した上で、圧着部の電気抵抗値の測定（実測）を繰り返すことになる。その結果、従来手法では、試作品を製造するための金型の製造コスト及び実測のための評価工数が多大となり、端子付き電線の評価コストが高まることとなり得る。そこで、出来る限り評価コストを低減しながら、端子付き電線の圧着部における電気抵抗値を評価可能な手法が望まれている。
【０００６】
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、端子付き電線の圧着部における電気抵抗値（以下「圧着部抵抗値」という。）を出来る限り低コストにて評価可能とする圧着部抵抗値の推定方法、及び、推定装置、を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前述した目的を達成するために、本発明に係る「端子付き電線の圧着部抵抗値の推定方法」は、下記（１）〜（３）を特徴としている。
（１）
電線が有する導体芯線に端子が圧着された端子付き電線の圧着部における電気抵抗値である圧着部抵抗値をシミュレーションによって推定する推定方法であって、
前記導体芯線に前記端子を圧着する圧着過程のシミュレーションを行う第１工程と、
前記圧着過程を経た後に前記導体芯線と前記端子とが接触している接触箇所を特定する第２工程と、
前記接触箇所を介して前記導体芯線と前記端子との間に通電が生じたときの前記電気抵抗値を前記圧着部抵抗値として推定する第３工程と、を含む、
端子付き電線の圧着部抵抗値の推定方法であること。
（２）
上記（１）に記載の推定方法において、
前記導体芯線が、
アルミニウム又はアルミニウム合金から構成されており、
前記第２工程が、
前記接触箇所のうち、前記導体芯線の表面に形成された酸化皮膜が前記圧着過程を経て破壊されると共に前記導体芯線の母材と前記端子とが凝着している凝着箇所、を特定する工程であり、
前記第３工程が、
前記凝着箇所を介して前記通電が生じたときの前記電気抵抗値を前記圧着部抵抗値として推定する工程である、
端子付き電線の圧着部抵抗値の推定方法であること。
（３）
上記（２）に記載の推定方法において、
前記第２工程が、
前記圧着過程において、前記導体芯線と前記端子とが接触した状態にて前記導体芯線と前記端子とが相対的に移動したときの相対移動量が所定の閾値以上である箇所を、前記凝着箇所として特定する工程である、
端子付き電線の圧着部抵抗値の推定方法であること。
【０００８】
上記（１）の構成の推定方法によれば、従来手法のように端子付き電線のサンプル（実物）を製造することに代えて、導体芯線に端子を圧着する過程のシミュレーションに基づいて導体芯線と端子との接触箇所を特定する。そして、この接触箇所を介して電流が流れたときの電気抵抗値（換言すると、接触箇所における接触抵抗に起因する電気抵抗値）を、圧着部抵抗値として推定する。よって、従来手法のように試作品ごとに金型を準備する必要がなく、シミュレーションの下で評価を完結できるため評価工数を低減できる。
【０００９】
したがって、本構成の推定方法は、端子付き電線の圧着部における電気抵抗値（圧着部抵抗値）を出来る限り低コストにて評価可能である。
【００１０】
上記（２）の構成の推定方法によれば、導体芯線がアルミニウム又はアルミニウム合金から構成されている電線（以下、便宜上、「アルミニウム系電線」という。）を用いる場合であっても、圧着部抵抗値を精度良く推定することができる。具体的には、アルミニウム系電線の導体芯線の表面には、通常、大気中の酸素に起因した酸化皮膜（酸化アルミニウム。Ａｌ２Ｏ３）が形成される。この酸化皮膜は、絶縁性が高いため、導体芯線（酸化皮膜に覆われた母材）と端子との間の通電の妨げとなる。
【００１１】
そこで、アルミニウム系電線を用いる場合の圧着部抵抗値を精度良く推定するべく、本構成の推定方法では、導体芯線と端子との接触箇所のうちの実際に通電に寄与する箇所を特定するようになっている。具体的には、本構成の推定方法では、圧着過程を経て導体芯線の酸化皮膜が破壊されると共に導体芯線の母材と端子とが凝着している箇所（凝着箇所）を特定するようになっている。この凝着箇所は、通常、上述した接触箇所のうちの一部分にあたる。換言すると、凝着箇所の面積は、通常、接触箇所の面積よりも小さい（狭い）。そして、この凝着箇所を介して電気が流れたときの電気抵抗値（接触抵抗に起因する電気抵抗値）を、圧着部抵抗値として推定する。よって、本構成の推定方法によれば、アルミニウム系電線を用いる場合であっても、圧着部抵抗値が精度良く推定される。
【００１２】
上記（３）の構成の推定方法によれば、導体芯線の酸化皮膜が圧着過程にて破壊される箇所（凝着箇所）を特定する具体的手法の一例として、導体芯線と端子とが接触した状態にて導体芯線と端子とが相対的に移動したときの相対移動量（相対的な滑り量）が所定の閾値以上である箇所が、凝着箇所と見なされる。これにより、過度に複雑な演算処理を要することなく、アルミニウム系電線を用いる場合の圧着部抵抗値が精度良く推定される。
【００１３】
更に、前述した目的を達成するために、本発明に係る「端子付き電線の圧着部抵抗値の推定装置」は、下記（４）を特徴としている。
（４）
電線が有する導体芯線に端子が圧着された端子付き電線の圧着部における電気抵抗値である圧着部抵抗値をシミュレーションによって推定する推定装置であって、
前記導体芯線に前記端子を圧着する過程のシミュレーションを行う第１演算部と、
前記過程を経た後に前記導体芯線と前記端子とが接触している箇所のうち、前記導体芯線の表面に形成された酸化皮膜が前記過程を経て破壊されることによって前記導体芯線の母材と前記端子とが凝着している凝着箇所、を特定する第２演算部と、
前記凝着箇所を介して前記導体芯線と前記端子との間に通電が生じたときの前記電気抵抗値を前記圧着部抵抗値として推定する第３演算部と、を備えた、
端子付き電線の圧着部抵抗値の推定装置であること。
【００１４】
上記（４）の構成の推定装置によれば、従来手法のように端子付き電線のサンプル（実物）を製造することに代えて、導体芯線に端子を圧着する過程のシミュレーションに基づき、圧着過程を経て導体芯線の酸化皮膜が破壊されると共に導体芯線の母材と端子とが凝着している箇所（凝着箇所）を特定する。そして、この凝着箇所を介して電流が流れたときの電気抵抗値（換言すると、凝着箇所における接触抵抗に起因する電気抵抗値）を、圧着部抵抗値として推定する。よって、従来手法のように試作品ごとに金型を準備する必要がなく、シミュレーションの下で評価を完結できるため評価工数を低減できる。
【００１５】
更に、例えば、アルミニウム系電線を用いる場合、導体芯線の表面に形成される酸化皮膜（酸化アルミニウム）の絶縁性を考慮した上で、実際に通電に寄与する箇所（凝着箇所。単に接触している箇所よりも通常は狭い）を特定し、この凝着箇所を介して電気が流れたときの電気抵抗値が、圧着部抵抗値として推定される。よって、アルミニウム系電線を用いる場合であっても、圧着部抵抗値が精度良く推定される。
【００１６】
したがって、本構成の推定装置は、端子付き電線の圧着部における電気抵抗値（圧着部抵抗値）を出来る限り低コストにて評価可能である。更に、アルミニウム系電線を用いる場合であっても、圧着部抵抗値が精度良く推定される。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、端子付き電線の圧着部における電気抵抗値（圧着部抵抗値）を出来る限り低コストにて評価可能とする圧着部抵抗値の推定方法、及び、推定装置、を提供できる。
【００１８】
以上、本発明について簡潔に説明した。更に、以下に説明される発明を実施するための形態（以下「実施形態」という。）を添付の図面を参照して通読することにより、本発明の詳細は更に明確化されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】図１は、本発明の実施形態に係る端子付き電線の圧着部抵抗値の推定装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、図１に示す推定装置によって圧着部抵抗値が推定される端子付き電線の製造方法の概略を説明する図であって、図２（ａ）は端子を圧着する前の電線の端部の斜視図であり、図２（ｂ）は端子を圧着した後の電線の端部の斜視図である。
【図３】図３は、端子を圧着した後の導体芯線と端子との接触箇所および凝着箇所を説明するための模式図（電線の端部を側方からみた図）である。
【図４】図４は、図１に示す推定装置が圧着部抵抗値を推定するために実行するプログラムの処理の流れを示すフローチャートである。
【図５】図５は、図４のフローチャートに示すプログラムにおいて推定される接触箇所および凝着箇所の一例を示す模式図である。
【図６】図６は、図１に示す推定装置を用いた端子付き電線の圧着部抵抗値の推定方法の活用例を説明する図であり、図６（ａ）は、端子付き電線の圧着部の高さ（クリンプハイト）と圧着部抵抗値との関係の一例を示すグラフであり、図６（ｂ）は、クリンプハイトを説明するための端子付き電線の圧着部の断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
＜圧着部抵抗値の推定装置＞
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態に係る推定装置１０について説明する。推定装置１０は、電線が有する導体芯線に端子が圧着された端子付き電線（図２（ｂ）に示す端子付き電線ＷＴ）の圧着部における電気抵抗値（図６（ａ）に示す圧着部抵抗値Ｒ）をシミュレーションによって推定する装置である。
【００２１】
先ず、図１を参照しながら、推定装置１０のハードウェア構成の概略について簡単に説明する。図１に示すように、推定装置１０は、ＣＰＵ１１、メモリ１２、入力部１３、表示部１４、及び、ＨＤＤ１５を有する。
【００２２】
ＣＰＵ１１は、いわゆるマイクロコンピュータであり、圧着部抵抗値を推定するために実行するプログラム（詳細は図４を参照しながら後述される。）を含む各種プログラムを実行することにより、推定装置１０を制御するようになっている。メモリ１２は、揮発性の記憶領域であり、実行される各種プログラムの作業領域などとして利用されるようになっている。
【００２３】
入力部１３は、マウス及びキーボードを含む入力装置であり、推定装置１０を使用するユーザからの入力を受け付けるようになっている。表示部１４は、ディスプレイ等の出力装置であり、入力部１３からの入力情報、プログラムの実行状況、圧着部抵抗値の推定結果などを逐次表示するようになっている。
【００２４】
ＨＤＤ１５は、いわゆる不揮発性の記憶領域であり、圧着部抵抗値を推定するために実行するプログラム（図４を参照）を含む各種プログラム、プログラム実行の際に使用される各種データ（テーブル及びマップ等）を格納して記憶するようになっている。
【００２５】
＜端子付き電線の構造＞
以下、図２を参照しながら、推定装置１０によって圧着部抵抗値が推定される対象の一例として、端子付き電線ＷＴについて説明する。図２に示すように、端子付き電線ＷＴは、電線２０と、端子３０と、を備える。
【００２６】
図２（ａ）に示すように、電線２０は、複数の導体芯線２１が束ねられた芯線束２２の外周を絶縁被覆２３によって覆うように構成されている。本例では、導体芯線２１は、アルミニウム又はアルミニウム合金製の非メッキ素線である。換言すると、電線２０は、いわゆるアルミニウム系電線（アルミニウム電線またはアルミニウム合金電線）である。
【００２７】
端子３０は、電気接続部３１と、圧着接続部３２と、を有している。端子３０は、例えば、銅または銅合金などの導電性金属材料からなる金属板をプレス加工することによって形成されている。本例において、端子３０の厚さは、いずれの箇所においても実質的に同一である。
【００２８】
電気接続部３１は、平板状の接続板部３３を有しており、この接続板部３３には、接続孔３３ａが形成されている。接続板部３３は、例えば、接続孔３３ａに締結ボルトを挿通させて接続機器の端子台などに締結することにより、端子台に電気的に接続される。
【００２９】
圧着接続部３２は、電気接続部３１側から順に、導体圧着部３４と、外被圧着部３５と、を有している。導体圧着部３４は、基底部３６と、基底部３６の両側部に形成された一対の導体圧着片３７と、を有している。基底部３６には、芯線束２２が載置される。導体圧着片３７は、芯線束２２を挟むように基底部３６から延設されている。導体圧着部３４の内壁面には、セレーション（凹凸。図示省略）が形成されている。導体圧着部３４は、一対の導体圧着片３７を内側へ向けて湾曲させる（加締める）ことにより、電線２０の芯線束２２を圧着する。これにより、端子３０が電線２０の芯線束２２と導通接続されることになる。
【００３０】
外被圧着部３５は、基底部３８と、基底部３８の両側部に形成された一対の外被圧着片３９と、を有している。外被圧着部３５の基底部３８は、導体圧着部３４の基底部３６から延在されている。基底部３８には、電線２０の絶縁被覆２３が載置される。外被圧着片３９は、基底部３８から電線２０の絶縁被覆２３部分を挟むように延設されている。外被圧着部３５は、一対の外被圧着片３９を内側へ向けて湾曲させる（加締める）ことにより、電線２０の絶縁被覆２３の部分を圧着し、且つ、固定することになる。
【００３１】
より詳細には、端子付き電線ＷＴ（実物）は、以下の手順に従って製造される。
【００３２】
先ず、図２（ａ）に示すように、電線２０の端部の絶縁被覆２３を皮剥きし、導体芯線２１を束ねた芯線束２２を所定長さだけ露出させる。露出させる芯線束２２の所定長さは、端子３０を圧着するのに十分な長さであればよい。
【００３３】
次いで、端子圧着機（アンビル及びクリンパを用いた圧着機構を備えた一般的な装置。図示省略）を用いて、図２（ｂ）に示すように、芯線束２２に端子３０を圧着する。具体的には、端子圧着機のアンビル（図示省略）の支持面に端子３０を載せ、この端子３０に電線２０の端部を配置させた状態にて、アンビルの上方に配置されたクリンパ（図示省略）を下降させる。そして、クリンパのアーチ溝によって導体圧着片３７を互いに近接する方向へ押圧して内側に湾曲させると共に、導体圧着部３４をアンビルとクリンパとによって挟んで芯線束２２に押圧させる（加締める）。これら処理により、図２（ｂ）に示すような端子付き電線ＷＴが製造される。
【００３４】
端子付き電線ＷＴでは、後述する図６（ｂ）に示すように、導体圧着部３４の基底部３６及び導体圧着片３７が芯線束２２に圧着され、導体圧着部３４（即ち、端子３０）が芯線束２２と電気的に接続される（導通される）ことになる。なお、端子圧着の前に、芯線束２２に対して超音波接合処理を施し、超音波接合処理が施された芯線束２２に端子３０を圧着させてもよい。
【００３５】
端子付き電線ＷＴにおいて、端子３０の圧着に寄与している部分（電線２０の芯線束２２（導体芯線２１）と、端子３０の導体圧着部３４（＝基底部３６＋導体圧着片３７）と、を含む部分）を、便宜上、「圧着部４０」と称呼する。
【００３６】
なお、端子３０の外被圧着片３９についても、端子圧着機に設けられた外被用のアンビル及びクリンパ（図示省略）によって加締められる。これにより、端子３０の外被圧着部３５が、電線２０の絶縁被覆２３を圧着し、固定することになる。
【００３７】
ところで、端子付き電線ＷＴの電気的特性を向上する観点などから、端子圧着後の圧着部４０において生じる電圧降下の大きさ（圧着部４０における電気抵抗値）を評価することは重要である。以下、圧着部４０における電気抵抗値を「圧着部抵抗値」と称呼する。圧着部抵抗値は、具体的には、電線２０の芯線束２２（導体芯線２１）と端子３０の導体圧着部３４（＝基底部３６＋導体圧着片３７）とが接触（又は凝着）している箇所における接触抵抗（２つの導体の界面近傍に存在する電気抵抗）の値ということもできる。
【００３８】
＜圧着部抵抗値の推定方法＞
以下、推定装置１０による圧着部抵抗値の推定方法について、特に図３〜図６を参照しながら説明する。
【００３９】
圧着部抵抗値を推定するためには、電線２０の芯線束２２と端子３０の導体圧着部３４との間にて通電が生じ得る箇所（換言すると、芯線束２２と導体圧着部３４との接触箇所Ａ）を特定する必要がある。図３において、この接触箇所Ａが、概略的に図示されている（斜線にて示す領域を参照）。
【００４０】
ここで、電線２０がアルミニウム系電線の場合、芯線束２２（導体芯線２１）の表面には、通常、酸化皮膜（酸化アルミニウム。Ａｌ２Ｏ３）が形成される。この酸化被膜は、絶縁性が高いため、芯線束２２（導体芯線２１の母材）と端子３０との間の通電の妨げとなる。そのため、端子付き電線ＷＴのようにアルミニウム系電線を用いる場合、圧着部抵抗値を精度良く推定するためには、芯線束２２と導体圧着部３４との接触箇所Ａのうち、実際に通電に寄与する箇所（凝着箇所Ｂ）を特定することが好ましい。具体的には、凝着箇所Ｂは、芯線束２２の表面に形成された酸化皮膜が圧着の過程を経て破壊されると共に導体芯線２１の母材と導体圧着部３４とが凝着している箇所である。図３において、この凝着箇所Ｂも、概略的に図示されている（交差する斜線にて示す領域を参照）。
【００４１】
推定装置１０は、接触箇所Ａに加えて（又は、接触箇所Ａの特定を省略可能であれば、接触箇所Ａに代えて）、凝着箇所Ｂを特定するようになっている。そして、推定装置１０は、この凝着箇所Ｂを介して電気が流れたときの電気抵抗値（接触抵抗に起因する電気抵抗値）を、圧着部抵抗値Ｒとして推定するようになっている。
【００４２】
具体的には、推定装置１０のＣＰＵ１１は、図４にフローチャートにて示すルーチン（プログラム）を実行することにより、圧着部抵抗値Ｒを推定するようになっている。このプログラムは、ＨＤＤ１５（図１を参照）に格納されている。このプログラムの処理は、ユーザが圧着部抵抗値Ｒの推定処理を開始する指示を入力部１３に入力したとき、開始される。
【００４３】
このプログラムの処理が開始されると、図４のステップＳ１にて、電線２０の芯線束２２の形状および材料などの各種諸元に関するデータがＣＰＵ１１に入力される。入力された芯線束２２の形状はメッシュ分割される。この入力は、入力部１３を介して行われる。
【００４４】
次いで、ステップＳ２にて、端子３０についての形状および材料などの各種諸元に関するデータがＣＰＵ１１に入力される。入力された端子３０の形状はメッシュ分割される。この入力も、入力部１３を介して行われる。
【００４５】
次いで、ステップＳ３にて、電線２０の導体芯線２１（芯線束２２）に端子３０を圧着する圧着過程のシミュレーション（圧着シミュレーション）が実行される。圧着シミュレーションでは、ステップＳ１，Ｓ２の実行により入力された各種データ、及び、ＨＤＤ１５に事前に格納されている端子圧着機に関する各種データ（アンビル及びクリンパの形状及び材料を含む）等に基づき、芯線束２２に導体圧着部３４を圧着する圧着処理の過程における圧着部４０の変形挙動および押圧状態などが、例えば分割された微小領域ごとに時系列に沿って模擬されるようになっている。
【００４６】
この圧着シミュレーションの実行により、圧着処理が完了した後における圧着部４０の形状および押圧状態（接触状態）が推定されることに加え、圧着処理の過程において、芯線束２２と導体圧着部３４とが接触した状態を維持しながら相対的に移動していく場合の相対移動量（相対的な滑り量）なども推定され得る。この圧着シミュレーションは、例えば、周知の有限要素法（ＦＥＭ）等を用いることで実現され得る。
【００４７】
次いで、ステップＳ４にて、圧着シミュレーションの結果に基づき、圧着処理完了後における接触箇所Ａ（図３を参照）が特定される。接触箇所Ａは、具体的には、圧着処理完了後において導体圧着部３４が芯線束２２に押圧されている（接触圧力が正の値となる）箇所として特定され得る。
【００４８】
次いで、ステップＳ５にて、圧着シミュレーションの結果に基づき、圧着処理完了後における凝着箇所Ｂ（図３を参照）が特定される。凝着箇所Ｂは、具体的には、ステップＳ４にて特定された接触箇所Ａのうち、圧着処理の過程において芯線束２２と導体圧着部３４とが接触した状態（接触圧力が正の状態）を維持しながら相対的に移動した相対移動量（相対滑り量）が所定の閾値以上となる箇所として特定され得る。
【００４９】
ここで、相対移動量が閾値以上となる箇所を凝着箇所Ｂと特定する理由は、圧着処理の過程にて芯線束２２と導体圧着部３４とが接触した状態を維持しながら相対移動すると、芯線束２２と導体圧着部３４との摩擦等によって芯線束２２（導体芯線２１）の表面に形成された酸化皮膜（酸化アルミニウム）が破壊され、導体芯線２１の母材と導体圧着部３４との間での凝着が発生する、と考えられるためである。なお、この場合に用いられる閾値は、あらかじめ種々の実験等を行うことによって適宜決定され得る。
【００５０】
図５は、ステップＳ４及びステップＳ５によって特定される接触箇所Ａ及び凝着箇所Ｂの一例を示す模式図である。図５において、一点鎖線によって囲まれる領域が、図３における圧着部４０（芯線束２２に導体圧着部３４が圧着されている部分）に対応する。図５では、接触箇所Ａが薄い灰色にて示されており、凝着箇所Ｂが濃い灰色にて示されている。図５に示すように、本例では、凝着箇所Ｂは接触箇所Ａの一部分にあたり、凝着箇所Ｂの面積は接触箇所Ａの面積よりも小さく（狭く）なっている。なお、圧着部４０の中央領域におけるリング状の凝着箇所Ｂは、導体圧着部３４の内壁面に形成されたセレーション（凹凸）に起因して生じていると考えられる。
【００５１】
次いで、ステップＳ６にて、ステップＳ５にて特定された凝着箇所Ｂの面積Ｓが算出される。この面積Ｓは、凝着箇所Ｂとして特定された微小領域の面積の総和として算出され得る。
【００５２】
次いで、ステップＳ７にて、ステップＳ６にて算出された凝着箇所Ｂの面積Ｓに基づき、圧着部抵抗値Ｒを推定する。圧着部抵抗値Ｒは、面積Ｓに応じた通電電流と電圧降下をＣＰＵ１１により数値計算し、算出される。本例では、圧着部抵抗値Ｒは、面積Ｓの増加に応じて反比例して減少するように算出される。ステップＳ７の処理が完了すると、このプログラムの処理が終了する。
【００５３】
以上の処理により、端子付き電線ＷＴの圧着過程のシミュレーションに基づき、圧着部４０における圧着部抵抗値Ｒが推定されることになる。
【００５４】
＜実用例＞
以下、図６を参照しながら、上述した推定装置１０及び推定方法を実用する例について、記載する。
【００５５】
図６（ａ）は、端子付き電線ＷＴの圧着処理完了後における圧着部４０の高さ（図６（ｂ）に示すクリンプハイトＣＨ）を変更しながら図４に示す処理（圧着シミュレーション）を繰り返し実行することによって得られた「クリンプハイトＣＨと、圧着部抵抗値Ｒと、の関係」の一例を示す。
【００５６】
圧着シミュレーションにおけるクリンプハイトＣＨの変更は、ＨＤＤ１５に事前に格納されている端子圧着機に関する各種データのうちアンビル及びクリンパの相対位置を変更することによってなされ得る。なお、クリンプハイトＣＨが大きいほど、圧着処理完了後における圧着部４０の圧着の度合いが小さく（低圧縮であり）、クリンプハイトＣＨが小さいほど、圧着処理完了後における圧着部４０の圧着の度合いが大きい（高圧縮である）ことになる。
【００５７】
図６（ａ）に示す例では、推定された圧着部抵抗値Ｒ（グラフの縦軸）は、クリンプハイトＣＨ（グラフの横軸）が所定値ＣＨｔｈ以下の範囲では基準値Ｒｔｈ未満の比較的小さいほぼ一定の値にて推移し、クリンプハイトＣＨが所定値ＣＨｔｈに近付くと上昇を始め、クリンプハイトＣＨが所定値ＣＨｔｈであるときに基準値Ｒｔｈに達し、クリンプハイトＣＨが所定値ＣＨｔｈを超えると基準値Ｒｔｈを超えた比較的大きい値にて推移するようになっている。
【００５８】
そこで、例えば、端子付き電線ＷＴに要求される電気的特性に基づいて基準値Ｒｔｈを定め、推定装置１０による推定方法を用いて算出（推定）される圧着部抵抗値Ｒがこの基準値Ｒｔｈを超えないように、電線２０及び端子３０の諸元、並びに、端子圧着機（図示省略）の諸元を設定することが考えられる。このように設定された諸元に準じて実際に端子付き電線ＷＴ（実物）を製造すれば、上述した従来手法のように多数のサンプル（試作品）を製造することなく、要求される電気的特性を満足する端子付き電線ＷＴを製造できることになる。推定装置１０及び推定方法は、例えば、このように実用され得る。
【００５９】
ところで、図６（ａ）に示す圧着部抵抗値Ｒの推移は、クリンプハイトＣＨが大きい（又は小さい）場合に凝着箇所Ｂの面積Ｓが小さく（又は大きく）なることから説明され得る。なお、通常の端子圧着機では、圧着の前後において圧着部４０の厚さ（クリンプハイトＣＨ）は大きく変化するものの、圧着部４０の幅は実質的に変化しない。そのため、圧着部抵抗値Ｒを評価する上で、圧着部４０の厚さ（クリンプハイトＣＨ）の重要度が高い。よって、図６（ａ）に示す例では、圧着部４０の厚さ（クリンプハイトＣＨ）のみが検討され、圧着部４０の幅は検討されていない。
【００６０】
なお、発明者が実際の端子付き電線（実物）を用いて行った比較試験等によれば、図６（ａ）に示す推定装置１０による圧着部抵抗値Ｒの推定結果と、実際の端子付き電線（実物）を利用した測定結果（クリンプハイトＣＨと圧着部抵抗値Ｒとの関係）と、が実用上十分な程度に一致することが確認されている。
【００６１】
＜作用・効果＞
以上、本発明の実施形態に係る推定装置１０及び推定方法（図４のフローチャートを参照）によれば、従来手法のように端子付き電線のサンプル（実物）を製造することに代えて、電線２０の芯線束２２に端子３０の導体圧着部３４を圧着するシミュレーションを行い、芯線束２２と導体圧着部３４との接触箇所Ａ（図３を参照）のうち、芯線束２２の表面に形成された酸化皮膜が圧着の過程を経て破壊されることによって導体芯線２１の母材と導体圧着部３４とが凝着している凝着箇所Ｂを特定する。そして、この凝着箇所Ｂを通電する際の電気抵抗値（接触抵抗の値）を、圧着部抵抗値Ｒとして推定する。
【００６２】
この結果、従来手法のように試作品ごとに金型を準備する必要がなく、シミュレーションの下で評価を完結できるため評価工数を低減できる。更に、芯線束２２（導体芯線２１）として、表面に酸化被膜（酸化アルミニウム。Ａｌ２Ｏ３）が形成され易いアルミニウム系電線を用いる場合であっても、圧着部抵抗値Ｒを精度良く推定し得る。
【００６３】
したがって、推定装置１０及び上述した推定方法（図４）によれば、端子付き電線ＷＴの圧着部４０における電気抵抗値（圧着部抵抗値Ｒ）を出来る限り低コストにて評価可能である。更に、アルミニウム系電線を用いる場合であっても、圧着部抵抗値Ｒが精度良く推定され得る。
【００６４】
＜他の態様＞
なお、本発明は上記各実施形態に限定されることはなく、本発明の範囲内において種々の変形例を採用できる。例えば、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。その他、上述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数、配置箇所、等は本発明を達成できるものであれば任意であり、限定されない。
【００６５】
例えば、上記実施形態に係る推定装置１０及び推定方法では、導体芯線２１（芯線束２２）の表面に形成される酸化皮膜（酸化アルミニウム）の絶縁性を考慮した上で、実際に通電に寄与する箇所（凝着箇所Ｂ）を特定し、凝着箇所Ｂを介して通電が生じたときの電気抵抗値（接触抵抗の値）を圧着部抵抗値Ｒとして推定している。
【００６６】
しかし、電線２０として導体芯線２１の表面に形成される酸化皮膜の絶縁性を敢えて考慮する必要がない電線（例えば、銅または銅合金から構成された導体芯線２１を有する電線。いわゆる銅電線）を用いる場合、接触箇所Ａのみを特定し、接触箇所Ａを介して通電が生じたときの電気抵抗値（接触抵抗の値）を圧着部抵抗値Ｒとして推定してもよい。この場合、図４に示すフローチャートにおいて、ステップＳ５を省略し、ステップＳ６にて、凝着箇所Ｂに代えて接触箇所Ａの面積Ｓを算出するように、推定方法を構成すればよい。
【００６７】
更に、上記実施形態では、圧着シミュレーションに基づいて導体芯線２１（芯線束２２）と端子３０（導体圧着部３４）との相対移動量（相対的な滑り量）の大小により、凝着箇所Ｂを特定（推定）するようになっている（図４のステップＳ６）。しかし、凝着箇所Ｂの特定（推定）は、この手法とは異なる手法によっても行い得る。
【００６８】
具体的には、例えば、導体芯線２１と端子３０との摩擦によって生じる摩耗痕の深さを圧着シミュレーションに基づいて算出し、この摩耗痕の深さの大小により、凝着箇所Ｂを特定（推定）してもよい。更に、例えば、導体芯線２１に生じる変形（歪み）の大小により、凝着箇所Ｂを特定（推定）してもよい。更に、実際にいくつかの端子付き電線のサンプル（各種諸元が異なる試作品）を製造、分解および分析し、諸元ごと及び圧縮の度合いごとに凝着箇所の面積等を実測すると共に、その実測値（グラフ等）を利用し、特定の諸元を有する端子付き電線の凝着箇所Ｂを特定（推定）してもよい。
【００６９】
加えて、上記実施形態では、端子付き電線ＷＴの凝着箇所Ｂの面積Ｓが内部的に算出されている。しかし、必要に応じて、圧着後の導体芯線２１（芯線束２２）の画像上に凝着箇所Ｂをマッピングして表示部１４に表示することにより、端子付き電線ＷＴの凝着箇所Ｂを可視化してもよい。
【００７０】
ここで、上述した本発明に係る「端子付き電線の圧着部抵抗値の推定方法」及び「端子付き電線の圧着部抵抗値の推定装置」の実施形態の特徴をそれぞれ以下（１）〜（４）に簡潔に纏めて列記する。
（１）
電線（２０）が有する導体芯線（２１）に端子（３０）が圧着された端子付き電線（ＷＴ）の圧着部（４０）における電気抵抗値である圧着部抵抗値（Ｒ）をシミュレーションによって推定する推定方法（図４）であって、
前記導体芯線（２１）に前記端子（３０）を圧着する圧着過程のシミュレーションを行う第１工程（図４のＳ３）と、
前記圧着過程を経た後に前記導体芯線と前記端子とが接触している接触箇所（Ａ）を特定する第２工程（図４のＳ４，Ｓ５）と、
前記接触箇所（Ａ）を介して前記導体芯線と前記端子との間に通電が生じたときの前記電気抵抗値を前記圧着部抵抗値（Ｒ）として推定する第３工程（図４のＳ６，Ｓ７）と、を含む、
端子付き電線の圧着部抵抗値の推定方法。
（２）
上記（１）に記載の推定方法において、
前記導体芯線（２１）が、
アルミニウム又はアルミニウム合金から構成されており、
前記第２工程（図４のＳ４，Ｓ５）が、
前記接触箇所（Ａ）のうち、前記導体芯線（２１）の表面に形成された酸化皮膜が前記圧着過程を経て破壊されると共に前記導体芯線の母材と前記端子（３０）とが凝着している凝着箇所（Ｂ）、を特定する工程（Ｓ５）であり、
前記第３工程（図４のＳ６，Ｓ７）が、
前記凝着箇所（Ｂ）を介して前記通電が生じたときの前記電気抵抗値を前記圧着部抵抗値（Ｒ）として推定する工程（Ｓ７）である、
端子付き電線の圧着部抵抗値の推定方法。
（３）
上記（２）に記載の推定方法において、
前記第２工程が、
前記圧着過程において、前記導体芯線（２１）と前記端子（３０）とが接触した状態にて前記導体芯線と前記端子とが相対的に移動したときの相対移動量が所定の閾値以上である箇所を、前記凝着箇所（Ｂ）として特定する工程（図４のＳ５）である、
端子付き電線の圧着部抵抗値の推定方法。
（４）
電線（２０）が有する導体芯線（２１）に端子（３０）が圧着された端子付き電線（ＷＴ）の圧着部（４０）における電気抵抗値である圧着部抵抗値（Ｒ）をシミュレーションによって推定する推定装置（１０）であって、
前記導体芯線（２１）に前記端子（３０）を圧着する圧着過程のシミュレーションを行う第１演算部（１１，図４のＳ３）と、
前記圧着過程を経た後に前記導体芯線（２１）と前記端子（３０）とが接触している箇所のうち、前記導体芯線の表面に形成された酸化皮膜が前記圧着過程を経て破壊されると共に前記導体芯線の母材と前記端子とが凝着している凝着箇所（Ｂ）、を特定する第２演算部（１１，図４のＳ４，Ｓ５）と、
前記凝着箇所（Ｂ）を介して前記導体芯線と前記端子との間に通電が生じたときの前記電気抵抗値を前記圧着部抵抗値（Ｒ）として推定する第３演算部（１１，図４のＳ６，Ｓ７）と、を備える、
端子付き電線の圧着部抵抗値の推定装置。
【符号の説明】
【００７１】
ＷＴ    端子付き電線
１０    推定装置
２０    電線
２１    導体芯線
２２    芯線束
３０    端子
４０    圧着部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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