(57)【要約】  【課題】  従来よりも十分に精度良く異物を検査可能な検査装置等を提供する。  【解決手段】  帯状のテープが巻き回されてなる巻回体の異物を検査する検査装置であって、前記巻回体の一方の側面部に光を照射する光源部と、前記光源部から照射されて前記巻回体を透過した光を受光して撮像する撮像部を有し、該撮像部で巻回体を撮像することによって異物を検査する検査部とを備えた検査装置。【選択図】  図２
2018081017.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
帯状のテープが巻き回されてなる巻回体の異物を検査する検査装置であって、
前記巻回体の一方の側面部に光を照射する光源部と、
前記光源部から照射されて前記巻回体を透過した光を受光する撮像部を有し、該撮像部で前記巻回体を撮像することによって異物を検査する検査部とを備えた検査装置。
【請求項２】
前記巻回体と前記撮像部との間に配された、スリットを有する案内部を、さらに備え、
前記スリットを通過した前記光源部からの光のみを前記撮像部に到達させるように構成された、請求項１に記載の検査装置。
【請求項３】
前記テープは、基材と、該基材の少なくとも一方の面上に配された粘着剤層とを有する、請求項１または２に記載の検査装置。
【請求項４】
前記テープは、基材と、該基材の両方の面上にそれぞれ配された粘着剤層と、該粘着剤層の少なくとも一方に配されたセパレータとを有する、請求項１〜３のいずれかに記載の検査装置。
【請求項５】
前記セパレータは、紙によって形成された、請求項４に記載の検査装置。
【請求項６】
前記基材は、不織布によって形成された、請求項３〜５のいずれかに記載の検査装置。
【請求項７】
前記粘着剤層の厚みが、前記基材の厚みの０．５〜２．５倍である、請求項３〜６のいずれかに記載の検査装置。
【請求項８】
前記テープの幅が、２〜１０ｍｍである、請求項１〜７のいずれかに記載の検査装置。
【請求項９】
前記光源部が、前記巻回体に赤外光を照射するように構成された、請求項１〜８のいずれかに記載の検査装置。
【請求項１０】
前記撮像部が、ラインセンサカメラであり、
前記撮像部に対して前記巻回体が相対的に移動しながら前記撮像部が前記巻回体の異物を検査するように構成された、請求項１〜９のいずれかに記載の検査装置。
【請求項１１】
請求項１〜１０のいずれかに記載の検査装置を用いて、
前記巻回体の異物を検査する、検査方法。
【請求項１２】
帯状のテープが巻き回されてなる巻回体の製造方法であって、
前記テープを巻き回した後に検査する検査工程を備え、
前記検査工程として、請求項１１に記載の検査方法を行う、巻回体の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査装置、検査方法及び巻回体の製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、例えば、基材の両面に粘着剤層が配されてなるテープは、巻き回されて巻回体とされた状態で流通されている。かかる巻回体は、幅広のシートがその幅方向に間隔を空けてその長手方向に沿うように切断されて幅狭のテープが形成された後、該テープが巻き回されることによって、製造されている。
【０００３】
この種の巻回体の製造においては、上記切断時に基材等から切り屑が発生し、これが巻回体の巻き面に付着して異物となる場合があるため、作業者の目視によって異物が検査されている。
【０００４】
しかし、作業者の目視によって異物が検査されると、検査精度にバラツキが生じるおそれがある。
そこで、巻回体の側面部（切断面）に垂直な方向に対して傾斜した方向から該側面部に光を照射し、該側面部からの反射光を検出することによって、異物を検査する方法が提案されている（特許文献１、２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１３−１８１８３２号公報
【特許文献２】特開２０１３−１４８５５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、反射光を検出する特許文献１、２に記載されたような方法では、十分に精度良く異物を検査できるとはいい難い。
【０００７】
上記事情に鑑み、本発明は、従来よりも十分に精度良く異物を検査可能な検査装置、該検査装置を用いた検査方法、及び、該検査方法を用いた巻回体の製造方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題に鑑みて本発明者らが鋭意研究したところ、テープが巻き回されてその端面が積層されてなる巻回体の側面部には、巻き回しの際に発生した凹凸が存在しているため、上記特許文献１、２に記載されたような、反射光を検出する検査方法では、巻き回しに起因する凹凸と異物に起因する凹凸とを十分に区別することが難いことを見出した。特に、例えば、不織布や紙の切り屑といった比較的白い色を有する異物が巻回体に付着していると、これら白色の異物からの反射光を十分に検査することが一層困難であることを見出した。
すなわち、異物の種類によって検査精度が大きく変動することを見出した。
かかる知見に基づいて本発明者らがさらに鋭意研究を行い、巻回体に光を照射し、照射した光が巻回体を透過した透過光を用いて検査することによって、驚くべきことに、白色の異物も十分に検査することができ、その結果、異物の種類によらず、異物を十分に検査し得ることを見出して、本発明を完成するに至った。
【０００９】
すなわち、本発明に係る検査装置は、
帯状のテープが巻き回されてなる巻回体の異物を検査する検査装置であって、
前記巻回体の一方の側面部に光を照射する光源部と、
前記光源部から照射されて前記巻回体を透過した光を受光する撮像部を有し、該撮像部で前記巻回体を撮像することによって異物を検査する検査部とを備える。
【００１０】
かかる構成によれば、巻回体を透過した光が検査部で検査されることにより、異物の種類によらず、十分に精度良く異物を検査することが可能となる。
よって、反射光を受光して検査する従来の検査装置と比較して、十分に精度良く異物を検査することが可能となる。
【００１１】
上記構成の検査装置においては、
前記巻回体と前記撮像部との間に配された、スリットを有する案内部を、さらに備え、
前記スリットを通過した前記光源部からの光のみを前記撮像部に到達させるように構成されたことが好ましい。
【００１２】
ここで、案内部が備えられていない場合、光源部から照射された光は拡がりを有するため、該光が巻回体を透過する際に、その光の一部が巻回体の外周面や、該巻回体の中心の孔部の内周面で反射することによって散乱光が発生し、この散乱光が撮像部で受光されるおそれがある。かかる散乱光が撮像部で受光されると、本来的に異物を検査するために必要な透過光に干渉し、検査精度に悪影響を及ぼすおそれがある。
しかし、案内部を備えることによって、巻回体よりも光の進行方向下流側にて、光源部から巻回体に照射された光の一部が遮られ、残りの、スリットを通過した光のみが撮像部に到達する（撮像部で受光される）ことになる。
このように光が案内部で遮蔽されて絞られることによって、その分、上記散乱光が撮像部で受光されることを抑制しつつ、巻回体を透過した透過光が撮像部で受光され得る。これによって、該散乱光が透過光に干渉することを抑制し得るため、より精度良く異物を検査することが可能となる。
【００１３】
上記構成の検査装置においては、
前記テープは、基材と、該基材の少なくとも一方の面上に配された粘着剤層とを有していてもよい。
【００１４】
かかる構成によれば、異物が付着し易い粘着剤層を有する巻回体において、異物を十分に精度良く検査することが可能になるため、上記検査装置が、より有用なものとなる。
また、通常、粘着剤層は、基材よりも光を透過させ易いため、テープが粘着剤層を有することによって、光源部から照射された光がテープを透過し易くなるため、より精度良く異物を検査することが可能となる。
【００１５】
上記構成の検査装置においては、
前記テープは、基材と、該基材の両方の面上にそれぞれ配された粘着剤層と、該粘着剤層の少なくとも一方に配されたセパレータとを有していてもよい。
【００１６】
かかる構成によれば、異物が付着し易い粘着剤層を有し、また、異物の発生源となり得るセパレータを有する巻回体について、異物を十分に精度良く検査することが可能になるため、上記検査装置が、より有用なものとなる。
また、上記の通り、通常、粘着剤層は、基材よりも光を透過させ易いため、テープが基材の両面に粘着剤層を有することによって、光源部から照射された光がテープを透過し易くなるため、より精度良く異物を検査することが可能となる。
【００１７】
上記構成の検査装置においては、
前記セパレータは、紙によって形成されていてもよい。
【００１８】
かかる構成によれば、紙は切断の際に異物を発生し易いが、このように異物を発生し易い紙を用いた場合であっても、異物を十分に精度良く検査することが可能になるため、上記検査装置が、より有用なものとなる。
【００１９】
上記構成の検査装置においては、
前記基材は、不織布によって形成されていてもよい。
【００２０】
かかる構成によれば、不織布は切断の際に異物を発生し易いが、このように異物を発生し易い不織布を用いた場合であっても、異物を十分に精度良く検査することが可能になるため、上記検査装置が、より有用なものとなる。
【００２１】
上記構成の検査装置においては、
前記粘着剤層の厚みが、前記基材の厚みの０．５〜２．５倍であることが好ましい。
【００２２】
かかる構成によれば、基材よりも比較的光が透過し易い粘着剤層の厚みが、基材に対して上記範囲であることによって、光源部からの光が巻回体を透過し易くなるため、検査部によって、より異物が検査され易くなる。
【００２３】
上記構成の検査装置においては、
前記テープの幅が、２〜１０ｍｍであることが好ましい。
【００２４】
かかる構成によれば、光源部からの光が巻回体を透過し易くなるため、検査部によって、より異物が検査され易くなる。
【００２５】
上記構成の検査装置においては、
前記光源部が、前記巻回体に赤外光を照射するように構成されていることが好ましい。
【００２６】
かかる構成によれば、光源部が、巻回体に赤外光を照射することによって、巻回体に印字が含まれていても、該印字が透過光に及ぼす悪影響を抑制し得る。
よって、検査部によって、より異物が検査され易くなる。
【００２７】
上記構成の検査装置においては、
前記撮像部が、ラインセンサカメラであり、
前記撮像部に対して前記巻回体が相対的に移動しながら前記撮像部が前記巻回体の異物を検査するように構成されていることが好ましい。
【００２８】
かかる構成によれば、巻回体の側面部全体について、より確実により精度良く異物を検査し易くなる。
また、ラインセンサカメラは、その延在方向に対して傾斜した方向に進行する散乱光の影響を受け難いため、その分、より精度良く異物を検査し得る。
【００２９】
本発明に係る検査方法は、
前記検査装置を用いて、
前記巻回体の異物を検査する。
【００３０】
かかる構成によれば、上記検査装置を用いて巻回体の異物を検査することによって、従来よりも十分に精度良く異物を検査することが可能となる。
【００３１】
本発明に係る巻回体の製造方法は、
帯状のテープが巻き回されてなる巻回体の製造方法であって、
前記テープを巻き回した後に検査する検査工程を備え、
前記検査工程として、前記検査方法を行う。
【００３２】
かかる構成によれば、上記検査方法を用いて巻回体の異物を検査することによって、従来よりも十分に精度良く異物を検査することが可能となるため、十分に精度良く異物が検査された巻回体が製造される。
【発明の効果】
【００３３】
以上の通り、本発明によれば、従来よりも十分に精度良く異物を検査可能な検査装置、該検査装置を用いた検査方法、及び、該検査方法を用いた巻回体の製造方法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本発明の実施形態の検査装置が適用される巻回体の製造装置を示す概略側面図
【図２】本実施形態の検査装置を示す概略斜視図
【図３】本実施形態の検査装置を示す概略側面図
【図４】本実施形態の検査装置の光の経路の一例を示す概略側面図
【図５】本実施形態で用いられるテープの層構成を示す概略側面図
【図６】実施例の検査装置を用いて異物を検査した結果を示す図
【図７】実施例の検査装置を用いて異物を検査した結果を示す図
【図８】実施例の検査装置を用いて異物を検査した結果を示す図
【図９】比較例の検査装置を示す概略側面図
【図１０】比較例の検査装置を用いて異物を検査した結果を示す図
【発明を実施するための形態】
【００３５】
以下、本発明の実施形態に係る検査装置及び該検査装置を用いた巻回体の検査方法について図面を参照しつつ説明する。
【００３６】
図１は、本実施形態の検査装置が適用される巻回体を製造する製造装置の概略側面図を示す。
図１に示すように、巻回体の製造装置１は、相対的に長手方向に移動する帯状のシート２０を、その幅方向において複数に分断するように長手方向に沿って該シート２０を切断して、シート２０よりも幅が狭い帯状のテープ３０を形成する切断部５と、形成されたテープ３０を巻き取って巻き回す巻回体４０を形成する巻き取り部７とを備えている。
切断部５は、上刃５ａと、該上刃５ａに噛み合わされた下刃５ｂと、該下刃５ｂに潤滑剤を供給する潤滑剤供給体５ｃとを備えている。切断部５は、上刃５ａ及び下刃５ｂが互いに噛み合いながら相対的に回転することによって、シート２０を切断するようになっている。また、潤滑剤供給体５ｃは、Ｓｉ水等の潤滑剤を染み込ませたフェルトによって形成されており、該潤滑剤供給体５ｃに下刃５ｂの周縁部が回転しながら接触することによって、該周縁部に潤滑剤を供給するようになっている。
該製造装置１を用いて、シート２０が切断されることによって、該シートよりも幅狭のテープ３０が形成される。形成されたテープ３０が巻き回されることによって、側面部４０ａ、４０ｂと、孔部４０ｃとを有する巻回体４０が形成される。
この切断の際の切り屑が異物となってテープ３０の端縁に付着する場合があり、このように異物が付着した状態で巻き取られると、巻回体４０の側面部４０ａ、４０ｂに異物が付着することになる。
【００３７】
図２、図３に示すように、本実施形態の検査装置１０は、
帯状のテープ３０が巻き回されてなる巻回体４０の異物を検査する検査装置１０であって、
前記巻回体４０の一方の側面部４０ａに光を照射する光源部１１と、
前記光源部１１から照射されて前記巻回体４０を透過した光を受光する撮像部１３を有し、該撮像部１３で前記巻回体４０を撮像することによって異物を検査する検査部１２とを備える。
検査装置１０は、前記撮像部１３と前記巻回体４０との間に配された、スリット１５ｂを有する案内部１５を、さらに備え、前記スリット１５ｂを通過した前記光源部１１からの光のみを前記撮像部１３に到達させるように構成されている。
【００３８】
前記テープ３０は、その層構成として、単一の層を有していても、図５に示すように、複数の層を有していてもよい。
テープ３０が複数の層を有する場合には、例えば、テープ３０は、基材３３と、該基材３３の両方の面上にそれぞれ配された粘着剤層３５と、該粘着剤層３５の少なくとも一方の面上に配されたセパレータ３７とを有していてもよい。なお、図示はしないが、前記テープ３０として、基材３３と、該基材３３の一方の面上に配された粘着剤層３５とを有する態様も採用され得る。
【００３９】
前記基材３３の形成材料は、特に限定されるものではないが、例えば、不織布によって形成されたものが好適である。
ここで、不織布は切断の際に異物を発生し易いが、このように異物を発生し易い不織布を用いた場合であっても、異物を十分に精度良く検査することが可能になるため、上記検査装置１０が、より有用なものとなる。
基材３３の厚みは、４５〜１０５μｍが好ましい。
【００４０】
前記粘着剤層３５は、特に限定されるものではないが、粘着剤によって形成されたものが挙げられる。
粘着剤としては、光を透過させ得るものであれば特に限定されないが、例えば、アクリル系粘着剤が挙げられる。
粘着剤層３５の厚みは、前記基材３３の厚みの０．５〜２．５倍であることが好ましい。
ここで、テープ３０が複数の粘着剤層３５を有している場合（例えば、図５では、２層）には、粘着剤層３５の厚みは、各層の厚みの和である。
基材３３よりも比較的光が透過し易い粘着剤層３５の厚みが、基材３３に対して上記範囲であることによって、光源部１１からの光が巻回体４０を透過し易くなるため、検査部１２によって、より異物が検査され易くなる。
【００４１】
前記セパレータ３７は、特に限定されるものではないが、紙によって形成されたものが挙げられる。
ここで、紙は切断の際に異物を発生し易いが、このように異物を発生し易い紙を用いた場合であっても、異物を十分に精度良く検査することが可能になるため、上記検査装置１０が、より有用なものとなる。
前記セパレータ３７の厚みは、前記基材３３の厚みの１〜３倍であることが好ましい。
【００４２】
前記テープの幅は、特に限定されるものではないが、２〜１０ｍｍであることが好ましい。
テープの幅が２〜１０ｍｍであることによって、光源部１１からの光が巻回体４０を透過し易くなるため、検査部１２によって、より異物が検査され易くなる。
【００４３】
前記光源部１１は、巻回体４０の一方の側面部４０ａに光を照射するものである。具体的には、光源部１１は、巻回体４０の一方の側面部４０ａに光を照射し、該光を、巻回体該一方の側面部４０ａから他方の側面部４０ｂまで透過させるように照射するものである。
光源部１１が照射する光は、特に限定されるものではないが、赤外光が好ましい。かかる赤外光は、波長９４０ｎｍ付近にピークを有する光である。
ここで、例えば、光源部１１が巻回体に白色光を照射する場合には、巻回体４０に印字が含まれている（例えば、基材３３またはセパレータ３７に印字されている）と、印字が影として撮像部１３に検出されてしまい（すなわち、受光されなくなってしまい）、誤検出という悪影響が生じ得る。
しかし、光源部１１が、巻回体４０に赤外光を照射することによって、巻回体４０に印字が含まれていても、該印字が透過光に及ぼす悪影響を抑制し得る。
よって、検査部１２によって、より異物が検査され易くなる。
【００４４】
前記検査部１２は、光源部１１から照射されて巻回体４０を透過した光を受光する撮像部１３を有し、該撮像部１３で巻回体４０の他方の側面部４０ｂを撮像することによって異物を検査することが可能であればよく、特に限定されない。
例えば、撮像部１３としては、エリアセンサカメラや、ラインセンサカメラが挙げられる。
これらのうち、エリアセンサカメラは、その配置方向に平行な方向及垂直な方向のみならず、全方向から散乱光の影響を受けるが、ラインセンサカメラは、該センサと平行な散乱光の影響しか受けないため、エリアセンサカメラよりも散乱光の影響を低減し得る。この点を考慮すると、撮像部１３は、ラインセンサカメラが好ましい。
【００４５】
また、撮像部１３は、ラインセンサカメラであり、該撮像部１３に対して巻回体４０が相対的に移動しながら巻回体４０の異物を検査するように構成されていることが好ましい。
かかる構成によれば、巻回体４０の側面部４０ｂ全体について、より確実により精度良く異物を検査し易くなる。
【００４６】
検査部１２は、撮像部１３が巻回体４０からの光を受光することによって、巻回体４０の側面部４０ｂの画像を撮像し、撮像された画像にシェーディング補正と２値化処理とを含む画像処理を施すことによって、異物に相当する領域の画像と、他の領域の画像との階調差を検出し、これによって、側面部４０ｂの異物を検出するようになっている。
異物を十分に検出し得る点を考慮すれば、階調差のしきい値が２０以上であることが好ましい。
撮像部１３は、巻回体４０の側面部４０ｂに焦点が合わされるように、該側面部４０ｂに対して垂直な方向に移動可能に構成されている。
【００４７】
前記案内部１５は、巻回体４０と撮像部１３との間に配されており、且つ、スリット１５ｂを有しており、スリット１５ｂを通過した光のみを撮像部１３に到達させるように構成されている。
該案内部１５は、スリット１５ｂが光の進行方向と垂直な平面において該光の拡がりを制限することによって、光を撮像部１３に案内するように構成されている。
具体的には、案内部１５は、２つの板状部材１５ａが、互いに離間して配され、これらの間にスリット１５ｂが形成されている。
【００４８】
ここで、案内部１５が備えられていない場合、光源部１１から照射された光は拡がりを有するため、該光が巻回体４０を透過する際に、その光の一部が巻回体４０の外周面や、該巻回体４０の中心の孔部４０ｃの内周面で反射することによって散乱光が発生し、この散乱光が撮像部１３で受光されるおそれがある。かかる散乱光が撮像部１３で受光されると、本来的に異物を検査するために必要な透過光に干渉し、検査精度に悪影響を及ぼすおそれがある。
しかし、案内部１５を備えることによって、巻回体４０よりも光の進行方向下流側にて、光源部１１から巻回体４０に照射された光の一部が遮られ、残りの、スリット１５ｂを通過した光のみが撮像部１３に到達する（撮像部１３で受光される）ことになる。
このように光が案内部１５で遮蔽されて絞られることによって、その分、上記散乱光が撮像部１３で受光されることを抑制しつつ、巻回体４０を透過した透過光が撮像部１３で受光され得る。これによって、該散乱光が透過光に干渉することを抑制し得るため、より精度良く異物を検査することが可能となる。
【００４９】
スリット１５ｂの幅（すなわち、２つの板状部材１５ａの間隔）は特に限定されるものではないが、例えば、２ｍｍに設定し得る。
巻回体４０と撮像部１３との間での案内部１５の位置は、透過光に対する散乱光の影響を抑制し得る程度に散乱光を遮ることができるような位置に、適宜設定され得る。
なお、本発明においては、図示しないが、検査装置１０が案内部１５を備えていない態様も採用し得る。
【００５０】
次いで、上記検査装置１０を用いた本実施形態の検査方法について、説明する。
本実施形態の検査方法は、上記した検査装置１０を用いて、前記巻回体４０の異物を検査する。
検査装置１０を用いて検査を行う際には、巻回体４０の中心の孔部４０ｃを、光が通過しないように覆ってもよい。これにより、散乱光の発生を抑制し得る。
また、２つの検査装置１０を、巻回体４０の一方の側面部４０ａ側と、他方の側面部４０ｂ側の両方に配し、これら２つの検査装置１０によって巻回体４０の両側面部４０ａ、４０ｂを検査することが好ましい。
【００５１】
次いで、上記検査方法を用いた本実施形態の巻回体４０の製造方法について、説明する。
本実施形態の巻回体４０の製造方法は、帯状のテープ３０が巻き回されてなる巻回体４０の製造方法であって、
前記テープ３０を巻き回した後に検査する検査工程を備え、
前記検査工程として、本実施形態の検査方法を行う。
【００５２】
具体的には、前述したように、図１に示すような製造装置１が用いられ、切断部５によってシート２０が切断されることによって、該シート２０よりも幅狭のテープ３０が形成され、形成されたテープ３０が巻き取り部７によって巻き取られて巻き回された後、上記検査方法によって巻回体４０が検査されることによって、検査された巻回体４０が製造される。
【００５３】
上記の通り、本実施形態の検査装置１０は、
帯状のテープ３０が巻き回されてなる巻回体４０の異物を検査する検査装置であって、
前記巻回体４０の一方の側面部４０ａに光を照射する光源部１１と、
前記光源部１１から照射されて前記巻回体４０を透過した光を受光する撮像部１３を有し、該撮像部１３で前記巻回体４０を撮像することによって異物を検査する検査部１２とを備える。
【００５４】
かかる本実施形態の検査装置１０によれば、巻回体４０を透過した光が検査部１２で検査されることにより、異物の種類によらず、十分に精度良く異物を検査することが可能となる。
よって、反射光を受光して検査する従来の検査装置と比較して、十分に精度良く異物を検査することが可能となる。
【００５５】
本実施形態の検査装置１０は、
前記巻回体４０と前記撮像部１３との間に配された、スリット１５ｂを有する案内部１５を、さらに備え、
前記スリット１５ｂを通過した前記光源部１１からの光のみを前記撮像部１３に到達させるように構成されている。
【００５６】
ここで、案内部１５が備えられていない場合、光源部１１から照射された光は拡がりを有するため、該光が巻回体４０を透過する際に、その光の一部が巻回体４０の外周面や、該巻回体４０の中心の孔部４０ｃの内周面で反射することによって散乱光が発生し、この散乱光が撮像部１３で受光されるおそれがある。かかる散乱光が撮像部１３で受光されると、本来的に異物を検査するために必要な透過光に干渉し、検査精度に悪影響を及ぼすおそれがある。
しかし、案内部１５を備えることによって、巻回体４０よりも光の進行方向下流側にて、光源部１１から巻回体４０に照射された光の一部が遮られ、残りの、スリット１５ｂを通過した光のみが撮像部１３に到達する（撮像部１３で受光される）ことになる。
このように光が案内部１５で遮蔽されて絞られることによって、その分、上記散乱光が撮像部１３で受光されることを抑制しつつ、巻回体４０を透過した透過光が撮像部１３で受光され得る。これによって、該散乱光が透過光に干渉することを抑制し得るため、より精度良く異物を検査することが可能となる。
【００５７】
本実施形態の検査装置１０においては、
前記テープ３０は、基材３３と、該基材３３の少なくとも一方の面上に配された粘着剤層３５とを有していてもよい。
【００５８】
かかる構成によれば、異物が付着し易い粘着剤層３５を有する巻回体４０において、異物を十分に精度良く検査することが可能になるため、上記検査装置１０が、より有用なものとなる。
また、通常、粘着剤層３５は、基材３３よりも光を透過させ易いため、テープ３０が粘着剤層３５を有することによって、光源部１１から照射された光がテープ３０を透過し易くなるため、より精度良く異物を検査することが可能となる。
【００５９】
本実施形態の検査装置１０においては、
前記テープ３０は、前記基材３３と、該基材３３の両方の面上にそれぞれ配された粘着剤層３５と、該粘着剤層３５の少なくとも一方の面上に配されたセパレータ３７とを有していてもよい。
【００６０】
かかる構成によれば、異物が付着し易い粘着剤層３５を有し、また、異物の発生源となり得るセパレータ３７を有する巻回体４０について、異物を十分に精度良く検査することが可能になるため、上記検査装置１０が、より有用なものとなる。
また、上記の通り、通常、粘着剤層３５は、基材３３よりも光を透過させ易いため、テープ３０が基材３３の両面に粘着剤層３５を有することによって、光源部１１から照射された光がテープ３０を透過し易くなるため、より精度良く異物を検査することが可能となる。
【００６１】
本実施形態の検査装置１０においては、
前記セパレータ３７は、紙によって形成されていてもよい。
かかる構成によれば、紙は切断の際に異物を発生し易いが、このように異物を発生し易い紙を用いた場合であっても、異物を十分に精度良く検査することが可能になるため、上記検査装置１０が、より有用なものとなる。
【００６２】
本実施形態の検査装置１０においては、
前記基材３３は、不織布によって形成されていてもよい。
かかる構成によれば、不織布は切断の際に異物を発生し易いが、このように異物を発生し易い不織布を用いた場合であっても、異物を十分に精度良く検査することが可能になるため、上記検査装置１０が、より有用なものとなる。
【００６３】
本実施形態の検査装置１０においては、
前記粘着剤層３５の厚みが、前記基材３３の厚みの０．５〜２．５倍であることが好ましい。
かかる構成によれば、基材３３よりも比較的光が透過し易い粘着剤層３５の厚みが、基材３３に対して上記範囲であることによって、光源部１１からの光が巻回体４０を透過し易くなるため、検査部１２によって、より異物が検査され易くなる。
【００６４】
本実施形態の検査装置１０においては、
前記テープ３０の幅が、２〜１０ｍｍであることが好ましい。
かかる構成によれば、光源部１１からの光が巻回体４０を透過し易くなるため、検査部１２によって、より異物が検査され易くなる。
【００６５】
本実施形態の検査装置１０においては、
前記光源部１１が、前記巻回体４０に赤外光を照射するように構成されていることが好ましい。
かかる構成によれば、光源部１１が、巻回体４０に赤外光を照射することによって、巻回体４０に印字が含まれていても、該印字が透過光に及ぼす悪影響を抑制し得る。
よって、検査部１２によって、より異物が検査され易くなる。
【００６６】
本実施形態の検査装置１０においては、
前記撮像部１３が、ラインセンサカメラであり、
前記撮像部１３に対して前記巻回体４０が相対的に移動しながら前記巻回体４０の異物を検査するように構成されていることが好ましい。
かかる構成によれば、巻回体４０の側面部４０ｂ全体について、より確実により精度良く異物を検査し易くなる。
また、ラインセンサは、その延在方向に対して傾斜した方向に進行する散乱光の影響を受け難いため、その分、より精度良く異物を検査し得る。
【００６７】
本実施形態の検査方法は、
前記検査装置１０を用いて、
前記巻回体４０の異物を検査する。
【００６８】
かかる構成によれば、上記検査装置１０を用いて巻回体４０の異物を検査することによって、従来よりも十分に精度良く異物を検査することが可能となる。
【００６９】
本実施形態の巻回体の製造方法は、
帯状のテープ３０が巻き回されてなる巻回体４０の製造方法であって、
前記テープ３０を巻き回した後に検査する検査工程を備え、
前記検査工程として、本実施形態の検査方法を行う。
【００７０】
かかる構成によれば、上記検査方法を用いて巻回体４０の異物を検査することによって、従来よりも十分に精度良く異物を検査することが可能となるため、十分に精度良く異物が検査された巻回体４０が製造される。
【００７１】
以上の通り、本実施形態によれば、従来よりも十分に精度良く異物を検査可能な検査装置１０、該検査装置１０を用いた検査方法、及び、該検査方法を用いた巻回体４０の製造方法が提供される。
【００７２】
次いで、本発明を実施例によってさらに説明するが、本発明は実施例に限定されるものではない。
【実施例】
【００７３】
図３、４に示す検査装置を用いて、幅３ｍｍ、６ｍｍ、１０ｍｍを有する各テープ３０が巻き回された巻回体４０（側面部の幅（直径）３００ｍｍ）を、各巻回体４０を透過した光を検査部１２で検査した。結果を図６〜図８に示す。
一方、図９に示すように、巻回体４０に対して光源部１１と同じ側に配された、撮像部５３を有する検査部５２を用い、光源部１１から巻回体４０の一方の側面部４０ａに照射され、該側面部４０ａから反射された反射光を受光して、側面部４０ａを検査するように構成された検査装置５０を用いて、上記幅３ｍｍの厚みを有する巻回体４０を検査した。検査部５２としては、検査部１２と同様に構成されたものを用いた。結果を図１０に示す。
【００７４】
図６〜図８、図１０に示すように、反射光を受光する場合よりも、透過光を受光する場合の方が、異物に相当する領域の画像と、他の領域の画像との階調差が大きくなり、また、異物を十分に検出することができた。また、透過光を受光する場合には、階調差のしきい値が２０以上であり、この結果、階調差のしきい値が２０以上であると、異物を十分に検出し得ることがわかった。
【００７５】
なお、テープ幅６ｍｍ、１０ｍｍを有するテープ３０を巻き回してなる巻回体４０について、図９に示す検査装置５０を用いて反射光を受光したが、階調差がほとんど発生せず、異物は全く検知されなかった。
【００７６】
また、図２、図３に示す検査装置を用いて、巻回体のテープとして、緑色印字が施されたセパレータ（Ｎｏ．５０００Ｎ（Ｃ）、日東電工社製）と、赤色印字が施されたセパレータ（Ｎｏ．５０００ＮＳ）とを有するものの異物を、それぞれ検査した。この際、光源部１１として白色ＬＥＤを用いた場合とで、赤外ＬＥＤ（ピーク波長：９４０ｎｍ）を用いた場合とで検査を行って、比較した。
その結果、白色ＬＥＤでは、いずれの色の印字が施された巻回体の異物も、十分に検出することができなかった。
これに対し、赤外ＬＥＤでは、いずれの色の印字が施された巻回体の異物も、十分に検出することができた。
【００７７】
以上のように本発明の実施の形態及び実施例について説明を行なったが、各実施の形態及び実施例の特徴を適宜組み合わせることも当初から予定している。また、今回開示された実施の形態及び実施例はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した実施の形態及び実施例ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【符号の説明】
【００７８】
１：製造装置、１０：検査装置、１１：光源部、１２：検査部、１３：撮像部、１５：案内部、１５ａ：板状部材、１５ｂ：スリット、２０：シート、３０：テープ、３３：基材、３５：粘着剤層、３７：セパレータ、４０：巻回体、４０ａ、４０ｂ：側面部、４０ｃ：孔部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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