(57)【要約】【課題】受光量を十分に得られる測定タイミングで受光して測定対象の色を精度よく測定すること。【解決手段】測定対象（Ｗ）からの反射光に基づいて測定対象の色を測定する測色装置（１）であって、光を照射する光源（２１）と、複数の干渉フィルタ（４５）を周回させて光源からの光を分光する回転板（４２）と、複数の干渉フィルタで分光された光を受光する受光センサ（３８）と、受光センサのスペクトル分布に基づき、受光センサの測定タイミングを理論値からスペクトル分布のピークが得られる実測値に補正する補正部とを備え、補正された測定タイミングで測定対象からの反射光を受光センサで受光して、測定対象の色を測定する構成にした。【選択図】図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定対象からの反射光に基づいて前記測定対象の色を測定する測色装置であって、
光を照射する光源と、
複数の干渉フィルタを周回させて前記光源からの光を分光する回転板と、
前記複数の干渉フィルタで分光された光を受光する受光センサと、
前記受光センサのスペクトル分布に基づき、前記受光センサの測定タイミングを理論値から前記スペクトル分布のピークが得られる実測値に補正する補正部とを備え、
補正された測定タイミングで前記測定対象からの反射光を前記受光センサで受光して、前記測定対象の色を測定することを特徴とする測色装置。
【請求項２】
前記回転板は、複数の干渉フィルタ及び抜き穴が設けられた一対の回転板であり、
前記一対の回転板のうち、いずれか一方の回転板を停止させ、いずれか他方の回転板を回転させて、前記一方の回転板の抜き穴から前記他方の回転板の複数の干渉フィルタを順番に露出させることを特徴とする請求項１に記載の測色装置。
【請求項３】
前記スペクトル分布のピークが得られる実測値と理論値がパルスモータのパルスで示され、
前記補正部が、前記受光センサの測定タイミングを理論値のパルスから前記スペクトル分布のピークが得られる実測値のパルスに補正することを特徴とする請求項１又は２に記載の測色装置。
【請求項４】
前記光源がＬＥＤ光源であることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれかに記載の測色装置。
【請求項５】
前記補正部による測定タイミングの補正時に、前記測定対象の反射光を含む前記光源からの光を前記受光センサが受光することを特徴とする請求項１から請求項４のいずれかに記載の測色装置。
【請求項６】
測定対象からの反射光に基づいて前記測定対象の色を測定する測色方法であって、
光源からの光を回転板の複数の干渉フィルタを周回させて分光して、前記複数の干渉フィルタで分光された光を受光センサで受光するステップと、
前記受光センサのスペクトル分布に基づき、前記受光センサの測定タイミングを理論値から前記スペクトル分布のピークが得られる実測値に補正するステップと、
補正された測定タイミングで前記測定対象からの反射光を前記受光センサで受光して、前記測定対象の色を測定するステップとを有することを特徴とする測色方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象の色を測定する測色装置及び測色方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、測色装置として、光源から測定対象に光を照射して、測定対象からの反射光を波長毎に分解して測定対象の色を測定するものが知られている（例えば、特許文献１参照）。特許文献１に記載の測色装置は、測定対象に光が照射されて、測定対象からの反射光が回転板に設けられた干渉フィルタを通って受光センサで受光される。回転板には透過波長が異なる複数の干渉フィルタが回転軸回りに設置されており、回転板の回転によって干渉フィルタが順番に切り換えられることで測定対象からの反射光が分光される。そして、透過波長毎の受光センサの受光結果から測定対象の色が測定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１７−０３６９３７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、上記した測色装置では、機械的な誤差等によって受光センサの中心に対して干渉フィルタの中心が一致する測定タイミングにズレが生じる場合がある。受光センサの中心と干渉フィルタの中心にズレが生じた状態で測定されると、十分な受光量が得られずに測定精度を悪化させてしまう可能性があった。
【０００５】
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、受光量を十分に得られる測定タイミングで受光して測定対象の色を精度よく測定することができる測色装置及び測色方法を提供することを目的の１つとする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様の測色装置は、測定対象からの反射光に基づいて前記測定対象の色を測定する測色装置であって、光を照射する光源と、複数の干渉フィルタを周回させて前記光源からの光を分光する回転板と、前記複数の干渉フィルタで分光された光を受光する受光センサと、前記受光センサのスペクトル分布に基づき、前記受光センサの測定タイミングを理論値から前記スペクトル分布のピークが得られる実測値に補正する補正部とを備え、補正された測定タイミングで前記測定対象からの反射光を前記受光センサで受光して、前記測定対象の色を測定することを特徴とする。
【０００７】
本発明の一態様の測色方法は、測定対象からの反射光に基づいて前記測定対象の色を測定する測色方法であって、光源からの光を回転板の複数の干渉フィルタを周回させて分光して、前記複数の干渉フィルタで分光された光を受光センサで受光するステップと、前記受光センサのスペクトル分布に基づき、前記受光センサの測定タイミングを理論値から前記スペクトル分布のピークが得られる実測値に補正するステップと、補正された測定タイミングで前記測定対象からの反射光を前記受光センサで受光して、前記測定対象の色を測定するステップとを有することを特徴とする。
【０００８】
これらの構成によれば、複数の干渉フィルタの周回によって光源からの光が分光され、干渉フィルタを透過した光のスペクトル分布が求められる。機械的な誤差等によってスペクトル分布のピークに対して受光センサの測定タイミングの理論値にズレが生じても、受光センサの測定タイミングがスペクトル分布のピークが得られる実測値に補正される。よって、スペクトル分布のピークに測定タイミングで測定対象からの反射光を受光し、反射光の受光量を十分に取得して測定対象の色を精度よく測定することができる。
【０００９】
上記の測色装置において、前記回転板は、複数の干渉フィルタ及び抜き穴が設けられた一対の回転板であり、前記一対の回転板のうち、いずれか一方の回転板を停止させ、いずれか他方の回転板を回転させて、前記一方の回転板の抜き穴から前記他方の回転板の複数の干渉フィルタを順番に露出させる。この構成によれば、いずれか一方の回転板の抜き穴といずれか他方の回転板の干渉フィルタによって光源からの光を分光することができる。複数の干渉フィルタを一対の回転板に分散して設けることで、回転板を小さくして装置全体を小型化することができる。
【００１０】
上記の測色装置において、前記スペクトル分布のピークが得られる実測値と理論値がパルスモータのパルスで示され、前記補正部が、前記受光センサの測定タイミングを理論値のパルスから前記スペクトル分布のピークが得られる実測値のパルスに補正する。この構成によれば、パルスモータのパルス単位で測定タイミングを補正することができる。
【００１１】
上記の測色装置において、前記光源がＬＥＤ光源である。この構成によれば、波長毎に光量が安定しないＬＥＤ光源であっても、受光量が大きくなる測定タイミングで測定対象からの反射光を測定することができる。
【００１２】
上記の測色装置において、前記補正部による測定タイミングの補正時に、前記測定対象の反射光を含む前記光源からの光を前記受光センサが受光する。この構成によれば、測定対象からの反射光を利用して、測定タイミングを補正することができる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、受光センサの測定タイミングを理論値から前記スペクトル分布のピークが得られる実測値に補正することで、測定対象からの反射光を十分に受光して測定精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本実施の形態の測色装置の斜視図である。
【図２】本実施の形態の測色装置の縦断面図である。
【図３】本実施の形態の測色装置の横断面図である。
【図４】本実施の形態の分光器の上面模式図及び断面模式図である。
【図５】本実施の形態の光源特性の一例を示す図である。
【図６】本実施の形態の複数の干渉フィルタの透過特性の一例を示す図である。
【図７】本実施の形態の受光センサの出力特性の一例を示す図である。
【図８】本実施の形態の測定タイミングの補正処理の一例を示す図である。
【図９】本実施の形態の測色装置による測定方法の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、添付図面を参照して、本実施の形態の測色装置について説明する。図１は、本実施の形態の測色装置の斜視図である。なお、本実施の形態の測色装置は一例に過ぎず、適宜変更が可能である。
【００１６】
図１に示すように、測色装置１は、分光測色方式で測定対象Ｗを測色するものであり、測定対象Ｗに光源２１（図２参照）から光を当てて、測定対象Ｗからの反射光を分光して色を測定するように構成される。測色装置１の装置カバー１１の上面には、測定対象Ｗが載せられる載置面１２が設けられており、載置面１２には測定対象Ｗを装置カバー１１内に露出する開口窓１３（図２参照）が形成されている。装置カバー１１の前側には、各種情報の入力を受け付ける操作パネル１４と、各種メニューを表示するＬＣＤ（Liquid  Crystal  Display）１５とが配置されている。
【００１７】
図２及び図３に示すように、装置カバー１１内には、測定対象Ｗに向けて光を照射する光源２１が設けられている。光源２１としては、例えば、寿命が長い白色ＬＥＤ（Light  Emitting  Diode）、近紫外ＬＥＤ、近赤外ＬＥＤが用いられている。３種類のＬＥＤを使用することによって、白色ＬＥＤで光量が小さくなる短波長端及び長波長端の近辺の光量を大きくしている。光源２１からの光はハーフミラー２２で分岐されて、ハーフミラー２２を透過した光は第１、第２のレンズ２３、２４を通じて積分球２５に入力され、ハーフミラー２２で反射した光は光源２１の変化を監視する受光センサ２６で受光される。
【００１８】
積分球２５の上部は装置カバー１１の開口窓１３が開口され、開口窓１３を通じて測定対象Ｗが積分球２５内に部分的に露出している。積分球２５に入った光は乱反射され、開口窓１３を通じて測定対象Ｗに対してあらゆる方向から光が当てられる。これにより、測定対象Ｗの凹凸形状の影響が減らされている。積分球２５の下部には、測定対象Ｗの正反射を抑えるトラップ用開口３１と、測定対象Ｗからの反射光を取り込む受光用開口３４とが設けられている。トラップ用開口３１にはトラップ部材３２が設けられており、測定対象Ｗで受光用開口３４に正反射しないようにトラップ部材３２で一部の光が除去される。
【００１９】
また、積分球２５の下部には、トラップ用開口３１を開閉するトラップ用反射板３３が設けられている。トラップ用反射板３３の開閉によって正反射成分を含むＳＣＩ（Specular  Components  Include）方式、正反射成分を除去したＳＣＥ（Specular  Components  Exclude）方式に測色装置１の測定方法が切り換えられる。受光用開口３４に入った反射光は第３のレンズ３５でミラー３６に集光され、ミラー３６で反射された反射光は第４のレンズ３７で受光センサ３８に向けて集光される。第４のレンズ３７と受光センサ３８の間には、一対の回転板４２によって測定対象Ｗからの反射光を分光する分光器４１が設けられている。
【００２０】
分光器４１は、一対のパルスモータ４３（図２では１つだけ図示）の各出力軸に一対の回転板４２を取り付けて構成されている。各回転板４２には、それぞれ透過波長が異なる複数の干渉フィルタ４５及び抜き穴４６（図４Ａ参照）が設けられている。一対の回転板４２によって複数の干渉フィルタ４５が周回され、反射光の光路に複数の干渉フィルタ４５が順番に位置付けられる。このように、複数の干渉フィルタ４５が周回されて、透過波長が切り換えられることで、測定対象Ｗからの反射光が分光される。なお、分光器４１の詳細構成については後述する。
【００２１】
受光センサ３８には、複数の干渉フィルタ４５によって分光された反射光が受光される。受光センサ３８は、フォトセンサ等の光電変換素子であり、分光された反射光毎のセンサ値（受光量）を制御基板５１に出力している。制御基板５１には、補正部５２（図４参照）や測色部５３（図４参照）等の各部が設けられている。補正部５２及び測色部５３は、各所処理を実行するプロセッサやメモリ等によって構成されている。メモリは、用途に応じてＲＯＭ(Read  Only  Memory)、ＲＡＭ（Random  Access  Memory）等の一つ又は複数の記憶媒体で構成されており、メモリには測色方法を実施する制御プログラム等が記憶されている。
【００２２】
このように構成された測色装置１では、受光センサ３８の中心に対して干渉フィルタ４５の中心が一致するタイミングで受光センサ３８の受光量がピークになっている。しかしながら、一対の回転板４２の組み付けや干渉フィルタ４５の寸法公差等で機械的な誤差が生じると、受光センサ３８の中心に干渉フィルタ４５の中心が一致する測定タイミングに前後のズレが生じる。このため、機械的な誤差を考慮しない理論上の測定タイミングでは、受光センサ３８の中心に対して干渉フィルタ４５の中心が位置ズレした測定タイミングで測定されて受光センサ３８の受光量が少なくなる。
【００２３】
特に、ＬＥＤ光源等の光源２１では、波長毎に光量が不安定であり、一部の波長では光量が極端に小さくなっている。このため、十分な光量が得られない波長で測定タイミングにズレが生じると、受光センサ３８では十分な受光量が得られず、測定精度が悪化する恐れがある。そこで、本実施の形態では、受光センサ３８のスペクトル分布のピークが得られる測定タイミングの実測値を求め、受光センサ３８の測定タイミングを理論値から実測値に補正して、スペクトル分布のピークに測定タイミングを合わせるようにしている。
【００２４】
以下、図４を参照して、分光器について説明する。図４は、本実施の形態の分光器の上面模式図及び断面模式図である。
【００２５】
図４Ａ及び図４Ｂに示すように、分光器４１の一対の回転板４２は、複数の干渉フィルタ４５及び１つの抜き穴４６が周方向に並んだ円板であり、受光センサ３８に向かう光路上で部分的に重なるように配置されている。一対の回転板４２の中心にはパルスモータ４３の出力軸４４が固定されており、パルスモータ４３によって一対の回転板４２が出力軸４４を中心に回転される。このとき、一方の回転板４２は抜き穴４６を光路に位置付けた状態で停止され、他方の回転板４２だけが回転されて、一方の回転板４２の抜き穴４６から他方の回転板４２の複数の干渉フィルタ４５が順番に露出される。
【００２６】
このように、透過波長が異なる干渉フィルタ４５によって受光センサ３８に向かう光路が横切られて、抜き穴４６及び干渉フィルタ４５を透過した光が透過波長毎に分光される。そして、複数の干渉フィルタ４５で分光された光が受光センサ３８で受光される。よって、一方の回転板４２の抜き穴４６と他方の回転板４２の干渉フィルタ４５によって光源２１（図２参照）からの光を分光することができる。また、複数の干渉フィルタ４５を一対の回転板４２に分散して設けることで、回転板４２を小さくして、測色装置１全体を小型化することが可能になっている。
【００２７】
また、受光センサ３８には、機械的な誤差等に起因した受光センサ３８の測定タイミングのズレを補正する補正部５２と、補正された測定タイミングで測定対象Ｗからの反射光を受光して測定対象Ｗの色を測定する測色部５３とが接続されている。補正部５２による測定タイミングの補正時には、積分球２５（図２参照）の開口窓１３が閉じられて、光源２１からの光を測定対象Ｗで反射させることなく受光センサ３８に連続的に受光させている。補正部５２は、受光センサ３８のスペクトル分布に基づき、受光センサ３８の測定タイミングを理論値からスペクトル分布のピークが得られる実測値に補正する。
【００２８】
測色部５３による測定対象Ｗの色の測定時には、積分球２５（図２参照）の開口窓１３が開けられて、光源２１から測定対象Ｗに光を照射して、測定対象Ｗからの反射光を受光センサ３８に受光させている。測色部５３は、補正された測定タイミングで測定対象Ｗからの反射光を受光センサ３８で間欠的に受光して測定対象Ｗの色を測定する。測色部５３では、測定タイミング（透過波長）における受光センサ３８のセンサ値に対して各種処理が施されて、ＸＹＺ表色系、Ｌ＊a＊ｂ＊表色系、Ｌ＊Ｃ＊ｈ＊表色系等の値に変換されて測定対象Ｗの色が数値で表される。
【００２９】
次に、図５から図８を参照して、測定タイミングの補正処理について説明する。図５は、本実施の形態の光源特性の一例を示す図である。図６は、本実施の形態の複数の干渉フィルタの透過特性の一例を示す図である。図７は、本実施の形態の受光センサの出力特性の一例を示す図である。図８は、本実施の形態の測定タイミングの補正処理の一例を示す図である。なお、図５から図８では光源として白色ＬＥＤを使用した場合を示している。なお、ここでは、説明の便宜上、図２及び図３の符号を適宜使用して説明する。
【００３０】
図５に示すように、光源２１は、短波長側に急峻な山形のスペクトルを持ち、中波長から長波長にかけて緩やかな山形のスペクトルを持っている。また、図６に示すように、複数の干渉フィルタ４５には所定間隔で透過波長域が設定されている。このため、光源２１からの光を複数の干渉フィルタ４５を介して受光センサ３８が受光すると、図７に示すように、受光センサ３８のスペクトル分布に干渉フィルタ４５の透過波長毎に急峻なピークが現れる。スペクトル分布のピークで受光センサ３８の受光量が大きくなるため、スペクトル分布のピークが得られる測定タイミングで測定することが好ましい。
【００３１】
この場合、一対の回転板４２の駆動源がパルスモータ４３であるため、一対の回転板４２を１パルスずつ回転させながら、複数の干渉フィルタ４５を透過した光が受光センサ３８で受光される。したがって、スペクトル分布のピーク、すなわち受光センサ３８の測定タイミングがパルスモータ４３のパルスで示される。測色装置１には機械的な誤差が生じない状況で理論上の測定タイミングが設定されているが、実際には機械的な誤差が僅かながら生じているため、理論上の測定タイミングでは受光センサ３８の中心に干渉フィルタ４５の中心が一致しない。
【００３２】
このため、図８に示すように、受光センサ３８の測定タイミング（測定トリガ）に対して補正処理が実施される。測定タイミングの補正処理では、パルスモータ４３で１パルスずつ回転板４２を回転させながら、光源２１からの光が干渉フィルタ４５を介して受光センサ３８で連続的に受光される。これにより、複数の急峻なピークを持った反射光のスペクトルが求められる。事前に測定タイミングの理論値がパルスモータ４３のパルスで１００パルス置きに設定されているが、実際のスペクトル分布のピークに対して測定タイミングの理論値が数パルスだけ前後にずれている。
【００３３】
このとき、補正部５２によってスペクトル分布のピークが得られるパルスが実測値として求められ、受光センサ３８の測定タイミングが理論値から実測値に補正される。具体的には、理論値として設定された５０パルス、１５０パルス、２５０パルス…が、スペクトル分布のピークを示す実測値である５２パルス、１５１パルス、２５１パルス…に補正される。そして、補正された測定タイミングで測定対象Ｗの反射光が受光センサ３８で間欠的に受光されて、測色部５３によって所定波長の受光センサ３８の受光量から測定対象Ｗの色が測定される。
【００３４】
続いて、図９を参照して、測色装置による測定方法について説明する。図９は、本実施の形態の測色装置による測定方法の一例を示す図である。
【００３５】
図９Ａに示すように、測定タイミングの補正時には、積分球２５の開口窓１３が閉じられており、光源２１からの光が第１、第２のレンズ２３、２４を介して積分球２５に入力されて、光源２１からの光が積分球２５で乱反射される。積分球２５で乱反射した光は第３のレンズ３５によってミラー３６に集光され、第４のレンズ３７によって分光器４１を介して受光センサ３８に集光される。分光器４１では、一方の回転板４２の抜き穴４６が光路に位置付けられた状態で、他方の回転板４２が回転される。これにより、光源２１からの光が複数の干渉フィルタ４５の周回によって分光されて受光センサ３８で受光される。
【００３６】
図９Ｂに示すように、回転板４２が１パルスずつ回転された状態で、干渉フィルタ４５を透過した光が受光センサ３８によって連続的に受光される。これにより、受光センサ３８のスペクトル分布が生成される。このとき、受光センサ３８の測定タイミングとして所定パルス置きに理論値が設定されているが、受光センサ３８のスペクトル分布のピークに対して理論値が数パルスだけずれている。補正部５２では、受光センサ３８のスペクトル分布に基づき、受光センサ３８の測定タイミングが理論値からスペクトル分布のピークが得られる実測値に補正される。
【００３７】
図９Ｃに示すように、測定対象Ｗの色の測定時には、積分球２５の開口窓１３が開かれて、開口窓１３から積分球２５に測定対象Ｗが露出される。光源２１からの光が第１、第２のレンズ２３、２４を介して積分球２５に入力され、光源２１からの光が積分球２５で乱反射されて開口窓１３を介して測定対象Ｗに照射される。測定対象Ｗからの反射光は第３のレンズ３５によってミラー３６に集光され、第４のレンズ３７によって分光器４１を介して受光センサ３８に集光される。測定対象Ｗからの反射光は分光器４１の複数の干渉フィルタ４５によって分光される。そして、補正された測定タイミングで測定対象Ｗからの反射光が受光センサ３８で間欠的に受光されて、測定対象Ｗの色が測定される。
【００３８】
以上のように、本実施の形態の測色装置１では、複数の干渉フィルタ４５の周回によって光源２１からの光が分光され、干渉フィルタ４５を透過した光のスペクトル分布が求められる。機械的な誤差等によってスペクトル分布のピークに対して受光センサ３８の測定タイミングの理論値にズレが生じても、受光センサの測定タイミングがスペクトル分布のピークが得られる実測値に補正される。よって、スペクトル分布のピークに測定タイミングで測定対象Ｗからの反射光を受光し、反射光の受光量を十分に取得して測定対象Ｗの色を精度よく測定することができる。
【００３９】
なお、本実施の形態において、測定対象の反射光を含まない光で測定タイミングを補正する構成を例示したが、測定対象の反射光を含む光で測定タイミングを補正してもよい。この場合、補正部による測定タイミングの補正時に、開口窓を開けて光源から測定対象に光を照射し、測定対象の反射光を含む光源からの光を受光センサで受光する。そして、補正部が、受光センサのスペクトル分布に基づき、受光センサの測定タイミングを理論値からスペクトル分布のピークが得られる実測値に補正するようにする。これにより、測定対象からの反射光を利用して、測定タイミングを補正することができる。
【００４０】
また、本実施の形態において、複数の干渉フィルタ及び抜き穴が設けられた一対の回転板によって光源からの光を分光する構成にしたが、この構成に限定されない。回転板の数は特に限定されるものではなく、単一の回転板に設けられた複数の干渉フィルタで光源からの光を分光してもよいし、３つ以上の回転板に設けられた複数の干渉フィルタで光源からの光を分光してもよい。
【００４１】
また、本実施の形態において、回転板がパルスモータで駆動される構成にしたが、この構成に限定されない。回転板は、回転可能な構成であればよく、サーボモータ等の他のロータリーアクチュエータで駆動されてもよい。
【００４２】
また、本実施の形態において、光源がＬＥＤである構成にしたが、この構成に限定されない。光源は、測定対象を照射可能であれば、どのように構成されてもよい。例えば、光源として白熱発光タイプ、放電発光タイプ、電界発光タイプのいずれのタイプの光源が用いられてもよい。白熱発光タイプの光源としては、例えば、白熱電球、ハロゲンランプが用いられてもよいし、放電発光タイプの光源としては、例えば、蛍光灯、ＨＩＤランプが用いられてもよいし、電界発光タイプの光源としては、例えば、有機ＥＬ、無機ＥＬが用いられてもよい。
【００４３】
また、本発明の実施の形態及び変形例を説明したが、本発明の他の実施の形態として、上記実施の形態及び変形例を全体的又は部分的に組み合わせたものでもよい。
【００４４】
また、本発明の実施の形態は上記の実施の形態及び変形例に限定されるものではなく、本発明の技術的思想の趣旨を逸脱しない範囲において様々に変更、置換、変形されてもよい。さらには、技術の進歩又は派生する別技術によって、本発明の技術的思想を別の仕方で実現することができれば、その方法を用いて実施されてもよい。したがって、特許請求の範囲は、本発明の技術的思想の範囲内に含まれ得る全ての実施態様をカバーしている。
【００４５】
さらに、上記実施形態では、測定対象からの反射光に基づいて測定対象の色を測定する測色装置であって、光を照射する光源と、複数の干渉フィルタを周回させて光源からの光を分光する回転板と、複数の干渉フィルタで分光された光を受光する受光センサと、受光センサのスペクトル分布に基づき、受光センサの測定タイミングを理論値からスペクトル分布のピークが得られる実測値に補正する補正部とを備え、補正された測定タイミングで測定対象からの反射光を受光センサで受光して、測定対象の色を測定することを特徴とする。この構成によれば、複数の干渉フィルタの周回によって光源からの光が分光され、干渉フィルタを透過した光のスペクトル分布が求められる。機械的な誤差等によってスペクトル分布のピークに対して受光センサの測定タイミングの理論値にズレが生じても、受光センサの測定タイミングがスペクトル分布のピークが得られる実測値に補正される。よって、スペクトル分布のピークに測定タイミングで測定対象からの反射光を受光し、反射光の受光量を十分に取得して測定対象の色を精度よく測定することができる。
【産業上の利用可能性】
【００４６】
以上説明したように、本発明は、受光量を十分に得られる測定タイミングで受光して測定対象の色を精度よく測定することができるという効果を有し、特に、分光測定方式の測色装置及び測色方法に有用である。
【符号の説明】
【００４７】
１  測色装置
２１  光源
３８  受光センサ
４１  分光器
４２  回転板
４３  パルスモータ
４４  出力軸
４５  干渉フィルタ
４６  抜き穴
５２  補正部
５３  測色部
Ｗ  測定対象
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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