(57)【要約】【課題】第１フィルムにオシレーションをかけながら巻取り、さらに巻きだして第１フィルムにスリットを入れて第２フィルムを製造する場合、第２フィルムの疑欠陥の追跡可能性を向上させるフィルム検査システム及びフィルムの製造方法を提供する。【解決手段】フィルム検査システムは、オシレーションしながら巻き取って第１フィルム巻回体とする第１フィルムに対し、幅方向全体の領域を含む第１撮像領域を第１画像として撮像する第１画像処理装置と、第１フィルム巻回体を複数の第２フィルム巻回体とするため、スリットを入れて複数の第２フィルムとする直前の、第１フィルム巻回体を巻き出した第１フィルムに対し、幅方向全体の領域を含む第２撮像領域を第２画像として撮像する第２画像処理装置と、を含む。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
オシレーションしながら巻き取って第１フィルム巻回体とする第１フィルムに対し、幅方向全体の領域を含む第１撮像領域を第１画像として撮像する第１画像処理装置と、
第１フィルム巻回体を複数の第２フィルム巻回体とするため、スリットを入れて複数の第２フィルムとする直前の、前記第１フィルム巻回体を巻き出した前記第１フィルムに対し、幅方向全体の領域を含む第２撮像領域を第２画像として撮像する第２画像処理装置と、
前記第２画像に含まれて欠陥として疑いのある疑欠陥画像と、前記スリットの位置情報と、に基づいて、所定の判別基準の閾値に照らし、前記第２フィルムを分類し、
オシレーションがなかったとして、前記疑欠陥画像が存在するとして分類された前記第２フィルムと幅方向の位置及び巻き長さ方向が、少なくとも部分的に一致する前記第１画像における第１領域と、当該第１領域の前記幅方向の両側にあり、前記オシレーションにより変動する前記幅方向のオシレーション幅が重なる第２領域とを、前記第１フィルム巻回体の再検証領域として特定する制御装置と、
を含むことを特徴とするフィルム検査システム。
【請求項２】
表示部をさらに含み、
前記第１撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布と、
前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布と、
前記再検証領域と、
前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおいて、前記疑欠陥画像が存在するとして分類された前記第２フィルムが占める第３領域と、
が前記表示部に同時表示されることを特徴とする請求項１に記載のフィルム検査システム。
【請求項３】
前記再検証領域が前記表示部に強調表示されることを特徴とする請求項２に記載のフィルム検査システム。
【請求項４】
前記第１領域及び前記第２領域が区別可能なように、前記表示部に表示されることを特徴とする請求項２又は請求項３に記載のフィルム検査システム。
【請求項５】
前記第３領域が前記表示部に強調表示されることを特徴とする請求項２から請求項４のいずれか１項に記載のフィルム検査システム。
【請求項６】
前記第１フィルム巻回体とする第１フィルムに対し、幅方向全体の領域の厚みを計測する厚み検査装置を備え、
前記厚みの情報が、前記表示部にさらに表示されることを特徴とする請求項２から請求項５のいずれか１項に記載のフィルム検査システム。
【請求項７】
前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布において、複数の前記第２フィルムの位置が識別可能なように、前記スリットの位置が表示されている、請求項２から請求項６のいずれか１項に記載のフィルム検査システム。
【請求項８】
前記スリットの位置を変更することで、前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布に占める前記第３領域の位置が変更される請求項７に記載のフィルム検査システム。
【請求項９】
第１フィルムの幅方向全体の領域を含む第１撮像領域を第１画像として撮像する第１画像処理ステップと、
前記第１画像が撮像された第１フィルムをオシレーションしながら巻き取って第１フィルム巻回体とする第１フィルム巻回体の形成工程と、
前記第１フィルム巻回体の第１フィルムを巻き出して、前記第１フィルムに対し、幅方向全体の領域を含む第２撮像領域を第２画像として撮像する第２画像処理ステップと、
前記第２画像が撮像された第１フィルムにスリットをいれて複数の第２フィルムとし、前記第２フィルムをそれぞれ巻取り、複数の第２フィルム巻回体とする第２フィルム巻回体の形成工程と、
前記第２画像に含まれて欠陥として疑いのある疑欠陥画像と、前記スリットの位置情報とに基づいて、所定の判別基準の閾値に照らし、前記第２フィルムを分類し、
前記疑欠陥画像が存在するとして分類された前記第２フィルムと幅方向の位置及び巻き長さ方向が、少なくとも部分的に一致する前記第１画像における第１領域と、当該第１領域の前記幅方向の両側にあり、前記オシレーションにより変動する前記幅方向のオシレーション幅が重なる第２領域とを、前記第１フィルム巻回体の再検証領域として特定する検証工程と、
を含むことを特徴とするフィルムの製造方法。
【請求項１０】
前記第１撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布と、
前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布と、
前記再検証領域と、
前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布において、複数の前記第２フィルムの位置が識別可能なスリット位置と、を表示する表示工程をさらに含むことを特徴とする請求項９に記載のフィルムの製造方法。
【請求項１１】
前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおいて、前記疑欠陥画像が存在するとして分類された前記第２フィルムが占める第３領域を前記表示工程でさらに表示し、
前記スリットの位置を変更することで、前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布に占める前記第３領域の位置が変更される再表示工程をさらに含み、
前記第２フィルム巻回体の形成工程におけるスリット位置を、再表示工程で決定されたスリット位置に変更し、新たな第２フィルム巻回体の形成を行うことを特徴とする請求項１０に記載のフィルムの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、フィルム検査システム及びフィルムの製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、ロール状に巻かれたシート状製品原反を引き出して、所定サイズの枚葉のシート状製品に切断することが知られている。特許文献１には、シート状製品原反の欠点情報を解析し、良品か否かを判定する条件である判定条件に従って、シート状製品原反をスリットまたは切断することで得られるロール状または枚葉のシート状製品の歩留まりを算出することが記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００８−１１６４３７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、一般的に、フィルム（以下、シート状製品をフィルムと言う。）は、オシレーションをかけながら（フィルム厚みの凹凸を分散させながら）巻き取られる。
【０００５】
このため、検査して欠陥として疑いのある疑欠陥画像の位置が判明しているフィルムであっても、原反を巻き出して、スリットをいれるときには、疑欠陥画像の位置が幅方向にずれが生じてしまう。
【０００６】
原反を巻き出して、スリットをいれる直前に、検査して疑欠陥画像を抽出すれば、オシレーションの影響を抑制できるが、スリットで分割されたフィルムの疑欠陥しか判明せず、原反で既に生じている疑欠陥の対策をすることができない。
【０００７】
本発明の目的は、第１フィルムにオシレーションをかけながら巻取り、さらに巻きだして第１フィルムにスリットを入れて第２フィルムを製造する場合、第２フィルムの疑欠陥の追跡可能性を向上させるフィルム検査システム及びフィルムの製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の一態様に係るフィルム検査システムは、オシレーションしながら巻き取って第１フィルム巻回体とする第１フィルムに対し、幅方向全体の領域を含む第１撮像領域を第１画像として撮像する第１画像処理装置と、第１フィルム巻回体を複数の第２フィルム巻回体とするため、スリットを入れて複数の第２フィルムとする直前の、前記第１フィルム巻回体を巻き出した前記第１フィルムに対し、幅方向全体の領域を含む第２撮像領域を第２画像として撮像する第２画像処理装置と、前記第２画像に含まれて欠陥として疑いのある疑欠陥画像と、前記スリットの位置情報と、に基づいて、所定の判別基準の閾値に照らし、前記第２フィルムを分類し、オシレーションがなかったとして、前記疑欠陥画像が存在するとして分類された前記第２フィルムと幅方向の位置及び巻き長さ方向が、少なくとも部分的に一致する前記第１画像における第１領域と、当該第１領域の前記幅方向の両側にあり、前記オシレーションにより変動する前記幅方向のオシレーション幅が重なる第２領域とを、前記第１フィルム巻回体の再検証領域として特定する制御装置と、を含む。
【０００９】
この態様によれば、第２フィルムの疑欠陥に対応する第１フィルムの位置を容易に認識でき、疑欠陥の追跡可能性を向上させる。
【００１０】
望ましい態様として、表示部をさらに含み、前記第１撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布と、前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布と、前記再検証領域と、前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおいて、前記疑欠陥画像が存在するとして分類された前記第２フィルムが占める第３領域と、が前記表示部に同時表示される。これにより、第３領域と、再検証領域とにある疑欠陥画像を比較することで、オシレーション幅を考慮しつつ、第２フィルムの疑欠陥に対応する第１フィルムの位置が容易に認識される。
【００１１】
望ましい態様として、前記再検証領域が前記表示部に強調表示される。これにより、オシレーション幅を考慮しつつ、第２フィルムの疑欠陥に対応する第１フィルムの位置が容易に認識される。
【００１２】
望ましい態様として、前記第１領域及び前記第２領域が区別可能なように、前記表示部に表示される。これにより、オシレーション幅を考慮しつつ、第２フィルムの疑欠陥に対応する第１フィルムの位置が容易に認識される。
【００１３】
望ましい態様として、前記第３領域が前記表示部に強調表示される。これにより、適切な第２フィルム巻回体が選択されることを支援できる。
【００１４】
望ましい態様として、前記第１フィルム巻回体とする第１フィルムに対し、幅方向全体の領域の厚みを計測する厚み検査装置を備え、前記厚みの情報が、前記表示部にさらに表示される。これにより、同じグレードであっても、厚みの平坦性を考慮して、適切な第２フィルム巻回体が選択されることを支援できる。
【００１５】
望ましい態様として、前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布において、複数の前記第２フィルムの位置が識別可能なように、前記スリットの位置が表示されている。これにより、適切な第２フィルム巻回体が選択されることを支援できる。
【００１６】
望ましい態様として、前記スリットの位置を変更することで、前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布に占める前記第３領域の位置が変更される。これにより、第２フィルム巻回体の歩留まり改善を支援できる。
【００１７】
本発明の一態様に係るフィルムの製造方法は、第１フィルムの幅方向全体の領域を含む第１撮像領域を第１画像として撮像する第１画像処理ステップと、前記第１画像が撮像された第１フィルムをオシレーションしながら巻き取って第１フィルム巻回体とする第１フィルム巻回体の形成工程と、前記第１フィルム巻回体の第１フィルムを巻き出して、前記第１フィルムに対し、幅方向全体の領域を含む第２撮像領域を第２画像として撮像する第２画像処理ステップと、前記第２画像が撮像された第１フィルムにスリットをいれて複数の第２フィルムとし、前記第２フィルムをそれぞれ巻取り、複数の第２フィルム巻回体とする第２フィルム巻回体の形成工程と、前記第２画像に含まれて欠陥として疑いのある疑欠陥画像と、前記スリットの位置情報とに基づいて、所定の判別基準の閾値に照らし、前記第２フィルムを分類し、前記疑欠陥画像が存在するとして分類された前記第２フィルムと幅方向の位置及び巻き長さ方向が、少なくとも部分的に一致する前記第１画像における第１領域と、当該第１領域の前記幅方向の両側にあり、前記オシレーションにより変動する前記幅方向のオシレーション幅が重なる第２領域とを、前記第１フィルム巻回体の再検証領域として特定する検証工程と、を含む。
【００１８】
ここの態様によれば、第２フィルムの疑欠陥に対応する第１フィルムの位置を容易に認識でき、疑欠陥の追跡可能性を向上させる。
【００１９】
望ましい態様として、前記第１撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布と、前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布と、前記再検証領域と、前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布において、複数の前記第２フィルムの位置が識別可能なスリット位置と、を表示する表示工程をさらに含む。これにより、適切な第２フィルム巻回体が選択される。
【００２０】
望ましい態様として、前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおいて、前記疑欠陥画像が存在するとして分類された前記第２フィルムが占める第３領域を前記表示工程でさらに表示し、前記スリットの位置を変更することで、前記第２撮像領域で撮像した第１フィルムにおける疑欠陥画像の面内分布に占める前記第３領域の位置が変更される再表示工程をさらに含み、前記第２フィルム巻回体の形成工程におけるスリット位置を、再表示工程で決定されたスリット位置に変更し、新たな第２フィルム巻回体の形成を行う。これにより、第２フィルム巻回体の歩留まりが向上する。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、第１フィルムにオシレーションをかけながら巻取り、さらに巻きだして第１フィルムにスリットを入れて第２フィルムを製造する場合、第２フィルムの疑欠陥の追跡可能性を向上させるフィルム検査システム及びフィルムの製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】図１は、フィルムの検査システムを示す模式図である。
【図２】図２は、フィルムの原反形成工程を説明するための説明図である。
【図３】図３は、フィルム巻回体形成工程を説明するための模式図である。
【図４】図４は、フィルム原反の幅と、スリット位置との関係を説明するための説明図である。
【図５】図５は、検査データ処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【図６】図６は、表示画面の一例を説明するための説明図である。
【図７】図７は、疑欠陥画像の種別毎のランク分けを説明するための説明図である。
【図８】図８は、検査データ処理の一例を説明するためのフローチャートである。
【図９】図９は、表示画面の一例を説明するための説明図である。
【図１０】図１０は、表示画面の一例を説明するための説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
以下、本発明を実施するための形態（以下、実施形態という）につき、図面を参照しつつ説明する。なお、下記の実施形態により本発明が限定されるものではない。また、下記実施形態における構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均等の範囲のものが含まれる。さらに、下記実施形態で開示した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。
【００２４】
（実施形態１）
図１は、フィルムの検査システムを示す模式図である。図１に示すように、フィルム検査システム１００は、第１画像処理装置１、第２画像処理装置２、厚み検査装置３、検査データ処理サーバ４及び情報端末５を備えている。
【００２５】
第１画像処理装置１は、撮像装置６と、照射装置７と、エンコーダ８と、第１制御装置１０と、第１制御装置１０の入力部１８と、第１制御装置１０の表示部１９とを有している。
【００２６】
第２画像処理装置２は、撮像装置６と、照射装置７と、エンコーダ８と、第２制御装置２０と、第２制御装置２０の入力部２８と、第２制御装置２０の表示部２９とを有している。
【００２７】
厚み検査装置３は、厚み計９と、エンコーダ８と、第３制御装置３０と、第３制御装置３０の入力部２８と、第３制御装置３０の表示部３９とを有している。
【００２８】
検査データ処理サーバ４は、第４制御装置４０と、第４制御装置４０の入力部４８と、第４制御装置４０の表示部４９とを有している。
【００２９】
情報端末５は、情報端末本体５０と、情報端末本体５０の入力部５８と、情報端末本体５０の表示部５９とを有している。
【００３０】
第１制御装置１０、第２制御装置２０は、いわゆるコンピュータであり、入力インターフェースと、出力インターフェースと、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）と、記憶部１２又は記憶部２２と、通信部１３又は通信部２３とを有している。入力インターフェースには、入力部１８又は入力部２８と、撮像装置６と、エンコーダ８とが接続されており、出力インターフェースには、表示部１９又は表示部２９が接続されている。ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ及び記憶部１２又は記憶部２２は、バスで接続されている。ＲＯＭには、ＢＩＯＳ（Ｂａｓｉｃ  Ｉｎｐｕｔ  Ｏｕｔｐｕｔ  Ｓｙｓｔｅｍ）等のプログラムが記憶されている。ＣＰＵは、演算手段であり、ＲＡＭをワークエリアとして使用しながらＲＯＭや記憶部１２又は記憶部２２に記憶されているプログラムを実行することにより、制御部１１又は制御部２１と、画像処理部１４又は画像処理部２４との機能を実現する。記憶部１２には、画像処理部１４で処理された第１画像データが記憶される。記憶部２２には、画像処理部２４で処理された第２画像データが記憶される。
【００３１】
第３制御装置３０は、いわゆるコンピュータであり、入力インターフェースと、出力インターフェースと、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）と、記憶部３２と、通信部３３とを有している。入力インターフェースには、入力部３８と、厚み計９と、エンコーダ８とが接続されており、出力インターフェースには、表示部３９が接続されている。ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ及び記憶部３２は、バスで接続されている。ＲＯＭには、ＢＩＯＳ（Ｂａｓｉｃ  Ｉｎｐｕｔ  Ｏｕｔｐｕｔ  Ｓｙｓｔｅｍ）等のプログラムが記憶されている。ＣＰＵは、演算手段であり、ＲＡＭをワークエリアとして使用しながらＲＯＭや記憶部３２に記憶されているプログラムを実行することにより、制御部３１の機能を実現する。記憶部３２には、制御部３１で処理された厚みデータが記憶される。
【００３２】
第４制御装置４０は、いわゆるサーバという種別のコンピュータであり、入力インターフェースと、出力インターフェースと、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）と、記憶部４２と、通信部４３とを有している。入力インターフェースには、入力部４８が接続されており、出力インターフェースには、表示部４９が接続されている。ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ及び記憶部４２は、バスで接続されている。ＲＯＭには、ＢＩＯＳ（Ｂａｓｉｃ  Ｉｎｐｕｔ  Ｏｕｔｐｕｔ  Ｓｙｓｔｅｍ）等のプログラムが記憶されている。ＣＰＵは、演算手段であり、ＲＡＭをワークエリアとして使用しながらＲＯＭや記憶部４２に記憶されているプログラムを実行することにより、制御部４１の機能を実現する。
【００３３】
情報端末本体５０は、いわゆるコンピュータであり、入力インターフェースと、出力インターフェースと、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）と、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）と、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）と、記憶部５２と、通信部５３とを有している。入力インターフェースには、入力部５８が接続されており、出力インターフェースには、表示部５９が接続されている。ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ及び記憶部５２は、バスで接続されている。ＲＯＭには、ＢＩＯＳ（Ｂａｓｉｃ  Ｉｎｐｕｔ  Ｏｕｔｐｕｔ  Ｓｙｓｔｅｍ）等のプログラムが記憶されている。ＣＰＵは、演算手段であり、ＲＡＭをワークエリアとして使用しながらＲＯＭや記憶部５２に記憶されているプログラムを実行することにより、制御部５１の機能を実現する。
【００３４】
検査データ処理サーバ４の通信部４３は、ネットワークＮＷを介して、第１画像処理装置１の通信部１３、第２画像処理装置２の通信部２３、厚み検査装置３の通信部３３、及び情報端末５の通信部５３とそれぞれ情報を送受信可能である。
【００３５】
記憶部１２、記憶部２２、記憶部３２、記憶部４２及び記憶部５２は、例えばＨＤＤ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ）やフラッシュメモリ等であり、オペレーティングシステムプログラムやアプリケーションプログラムを記憶している。記憶部１２、記憶部２２、記憶部３２、記憶部４２及び記憶部５２は、内蔵であっても外付けであってもよく、ＲＡＭを一時記憶として使ってもよく、あるいは、ネットワーク上の記憶装置やサーバ等であってもよい。
【００３６】
図２は、フィルムの原反形成工程を説明するための説明図である。図３は、フィルム巻回体形成工程を説明するための模式図である。図４は、フィルム原反の幅と、スリット位置との関係を説明するための説明図である。図５は、検査データ処理の一例を説明するためのフローチャートである。図６は、表示画面の一例を説明するための説明図である。図７は、疑欠陥画像の種別毎のランク分けを説明するための説明図である。以下、図１から図７を適宜参照して、フィルム検査システム１００及びフィルムの製造方法を説明する。
【００３７】
図２に示すフィルムの原反形成工程ＳＴ１により、原反ＭＲが製造される。第１フィルムＦＭＬの製造方法には、口金装置６１、キャストロール６２、圧着ロール６３、テイクオフロール６４、熱処理装置６５、厚み検査装置３、第１画像処理装置１、原反巻取機６６が用いられる。
【００３８】
図２に示す第１フィルムＦＭＬは、たとえば、熱可塑性樹脂で形成されている。例えば、第１フィルムＦＭＬは、ポリカーボネート系樹脂、アクリル系樹脂、ポリエステル系樹脂、アクリロニトリル・ブタジエン・スチレン樹脂（ＡＢＳ）、アクリロニトリル・エチレン−プロピレン−ジエン・スチレン樹脂（ＡＥＳ）、アクリロニトリル・スチレン・アクリレート樹脂（ＡＳＡ）、塩化ビニル樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィン系樹脂や、これらを２種類以上組み合わせた樹脂、又はこれらの樹脂に繊維や微粒子を加えて形成されている。第１フィルムＦＭＬの表面には、エンボスと呼ばれる凹凸又は保護フィルムが付与されてもよい。
【００３９】
樹脂シートを供給する供給ステップとして、口金装置６１のリップ面の相互間にあるスリット状の吐出口から樹脂材料が吐出され、この樹脂材料がキャストロール６２、圧着ロール６３間で圧延されつつ、冷却固化され、シート状の第１フィルムＦＭＬになる。
【００４０】
テイクオフロール６４を経由して、第１フィルムＦＭＬが搬送され、熱処理装置６５を通過することで、第１フィルムＦＭＬの延伸処理や熱固定処理が行われる。
【００４１】
厚み検査ステップにおいて、供給された第１フィルムＦＭＬが厚み計９の間を通過する。厚み計９は、レーザ又はＸ線などにより、第１フィルムＦＭＬの幅方向ＷＤ（図４参照）全体の厚みを計測する。厚み計９で計測された厚みの情報は、エンコーダ８で計測した搬送方向Ｆの位置の情報に関連付けられた、厚みデータとして記憶部３２（図１）参照に記憶される。
【００４２】
第１画像処理ステップにおいて、第１フィルムＦＭＬは、照射装置７と撮像装置６との間を通過する。照射装置７は、撮像装置６の光軸上に配置されている。
【００４３】
図２に示すように、撮像装置６は、搬送方向Ｆに移動する第１フィルムＦＭＬの表面に焦点が合うように、配置されている。撮像装置６は、ラインカメラとも呼ばれる。撮像装置６は、図４に示すように、搬送方向Ｆ（図１参照）と直交する第１フィルムＦＭＬの幅方向ＷＤの長さ以上の長さが一括して画像として撮像可能なような画角を有している。撮像装置６は、搬送方向Ｆの一部であって第１フィルムＦＭＬの幅方向全体の領域を含む撮像領域ＳＡ１の画像を撮像できる。撮像装置６は、幅方向ＷＤに撮像原点ＬＣＳＰ１を通る第１基準線ＳＬ１を撮像領域ＳＡ１に含むように配置されている。
【００４４】
撮像装置６は、例えば、ＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）を用いた固体撮像素子、相補性金属酸化膜半導体（ＣＭＯＳ:Ｃｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙ  Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）を用いた固体撮像素子、または金属酸化膜半導体（ＭＯＳ:Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）を用いた固体撮像素子のいずれかを有している。
【００４５】
撮像装置６で撮像された第１画像の情報は、図１に示す画像処理部１４で画像処理される。画像処理部１４で画像処理された、第１画像処理データは、エンコーダ８で計測した搬送方向Ｆの位置の情報に関連付けられた、第１画像データとして記憶部１２に記憶される。
【００４６】
巻取りステップにおいて、図２に示す原反巻取機６６が、図４に示すオシレーション幅ＯＣＷｍａｘの範囲のオシレーション（揺動）をかけて、原反ＭＲを巻き取る。これにより、原反ＭＲのシワ、歪み、巻き戻した際のたるみが抑制される。
【００４７】
第１フィルムＦＭＬは、フィルムの幅方向ＷＤの両端部の厚みが中央部に比して厚くなりやすいため、フィルムの幅方向ＷＤの両端部をそれぞれ、成膜時の幅ＦＭＷから除去量ＥＣＷＬ、ＥＣＷＲだけ削除する耳取り加工を行った上で、巻取りステップを行うこともある。巻取りステップで巻き取られる第１フィルムは、幅ＭＷとなる。
【００４８】
図３に示すフィルム巻回体形成工程ＳＴ２により、複数の第２フィルムＱＡからＱＯが巻回された複数の製品ロールＲＬが形成される。第２製品ロールＲＬの製造方法には、スリッター６９、第２画像処理装置２が用いられる。
【００４９】
巻き出しステップにおいて、原反ＭＲを巻き出した第１フィルムＦＭＬが、スリッター６９に投入される。
【００５０】
第２画像処理ステップにおいて、原反ＭＲを巻き出した第１フィルムＦＭＬは、カッターロールＣＲの直前の位置で、照射装置７と撮像装置６との間を通過する。照射装置７は、撮像装置６の光軸上に配置されている。
【００５１】
図３に示すように、撮像装置６は、搬送方向Ｆに移動する第１フィルムＦＭＬの表面に焦点が合うように、配置されている。撮像装置６は、搬送方向Ｆの一部であって第１フィルムＦＭＬの幅方向全体の領域を含む撮像領域ＳＡ２の画像を撮像できる。撮像装置６は、幅方向ＷＤに撮像原点ＬＣＳＰ２を通る第１基準線ＳＬ２を撮像領域ＳＡ２に含むように配置されている。
【００５２】
撮像装置６で撮像された第２画像の情報は、図１に示す画像処理部２４で画像処理される。
【００５３】
巻取りステップにおいて、原反ＭＲを巻き出した第１フィルムＦＭＬが、スリッター６９のカッターロールＣＲを通過することで、第１フィルムＦＭＬには、スリットが付与される。これにより、第１フィルムＦＭＬよりも幅方向ＷＤに幅が狭い第２フィルムＱＡからＱＯが形成される。巻取機が、第２フィルムＱＡからＱＯのそれぞれを巻取り、複数の製品ロールＲＬが得られる。
【００５４】
カッターロールＣＲの刃Ｃの位置は、図４に示すように、例えば、幅方向ＷＤに等間隔の幅ＲＷに並ぶように配置されている。カッターロールＣＲの刃Ｃの位置は、幅方向ＷＤに所定量ΔＣＬだけ、それぞれシフトさせることができる。
【００５５】
カッターロールＣＲの刃Ｃの位置は、撮像領域ＳＡ２との位置関係が計測され、刃Ｃの位置情報として、予め記憶部２２に記憶されている。刃Ｃの位置の情報は、具体的には、撮像原点ＬＣＳＰ２から搬送方向Ｆの距離ＣＳＰＬ及び幅方向ＷＤの距離ＣＳＰＷ、刃Ｃ間の距離ＲＷである。画像処理部２４で画像処理された、第２画像処理データは、図３に示すエンコーダ８で計測した搬送方向Ｆの位置の情報及びカッターロールＣＲの刃Ｃの位置情報に関連付けられた、第２画像データとして記憶部２２に記憶される。
【００５６】
上述したように、シワを抑制しつつ、第１フィルムＦＭＬを巻き出した際にもタルミが発生しないよう、オシレーションをかけながら第１フィルムＦＭＬを巻き取って原反ＭＲとし、巻き取った原反ＭＲをスリッター６９でスリットをいれて、オシレーションをかけながら製品ロールＲＬを得る。この場合、第１画像処理装置１で検査した疑欠陥位置が、原反ＭＲとして巻き取る際の幅方向ＷＤのズレやオシレーションの影響により、幅方向ＷＤの移動し、第２画像処理装置２で検査した疑欠陥位置とは整合していない可能性がある。
【００５７】
例えば、図４に示すように、ステップＳＴ１において、オシレーション幅ＯＣＷｍａｘの範囲で、第１フィルムＦＭＬが揺動するので、ステップＳＴ２において、第２画像処理装置２で撮像する撮像領域ＳＡ２の画像は、第１画像処理装置１が撮像する撮像領域ＳＡ１の画像より、幅方向ＷＤにＯＣＷ１量だけ、ずれている。
【００５８】
第１画像処理装置１で検査した疑欠陥位置が、オシレーション幅ＯＣＷｍａｘの情報及び搬送方向Ｆの位置の情報に基づいて、スリッター６９でスリットをいれた複数の第２フィルムＱＡからＱＯのいずれかに移動するかを予測する考え方もある。しかしながら、この予測には、第１フィルムＦＭＬを原反ＭＲとして巻き取る際、幅方向ＷＤのズレが発生してしまうことが考慮されておらず、良品の製品ロールＲＬを不良の製品ロールＲＬと誤認してしまう可能性がある。また、上述した除去量ＥＣＷＬ、ＥＣＷＲも考慮する必要がある。
【００５９】
第２画像処理装置２で検査した第２画像データにおける疑欠陥位置は、スリッター６９でスリットをいれる直前で撮像されているので、原反ＭＲとして巻き取る際の幅方向ＷＤのズレ、又はオシレーションの影響が抑制されている。しかし、スリットで分割された複数の第２フィルムＱＡからＱＯの疑欠陥しか判明せず、原反ＭＲで既に生じている疑欠陥の対策をすることができない。
【００６０】
本実施形態のフィルム検査システム１００は、第１フィルムＦＭＬにオシレーションをかけながら巻取り、さらに巻きだして第１フィルムＦＭＬにスリットを入れて第２フィルムＱＡからＱＯを製造する場合、各第２フィルムＱＡからＱＯの疑欠陥に対応する第１フィルムＦＭＬの位置を容易に認識でき、疑欠陥の追跡可能性を向上させる。以下、疑欠陥の追跡可能性を向上させるフィルム検査システム１００の検査データ処理について、説明する。
【００６１】
フィルム巻回体形成工程ＳＴ２が終了すると、図１に示すフィルム検査システム１００は、情報集約ステップを実行処理する。情報集約ステップにおいて、第１画像処理装置１、第２画像処理装置２及び厚み検査装置３は、記憶部１２の第１画像データ、記憶部２２の第２画像データ及び、記憶部３２の厚みデータを、検査データ処理サーバ４へネットワークＮＷを介して送信する。
【００６２】
検査データ処理サーバ４の制御部４１は、通信部４３を介して、第１画像データ、第２画像データ及び厚みデータを受信する。検査データ処理サーバ４の制御部４１は、第１画像データを第１画像データベース４２１に格納し、第２画像データを第２画像データベース４２２に格納し、厚みデータを厚みデータベース４２３に格納する。第１画像データ、第２画像データ及び、厚みデータは、それぞれＩＤデータベース４２４の原反ＭＲの識別情報及び製品ロールＲＬの識別情報、製品仕様データベース４２５の品種名、製品仕様としてのグレードの情報と関連付けられる。ＩＤデータベース４２４は、原反ＭＲの識別情報又は製品ロールＲＬの識別情報と、それぞれの大きさ（長さ、幅の情報など）、製造日時（例えば、製造開始日時、製造終了日時）の情報を関連付けて格納する。
【００６３】
次に図５、図６を参照して、検査結果参照ステップを説明する。図５に示すように、情報端末５は、入力部５８からの入力を受け付け、検索対象が入力される（ステップＳ１１）。検索対象は、例えば、原反ＭＲの識別情報、製品ロールＲＬの識別情報、製造日時などである。
【００６４】
情報端末５の制御部５１は、通信部５３を制御し、ネットワークＮＷを介して、検査データ処理サーバ４へ情報を要求する（ステップＳ１２）。
【００６５】
検査データ処理サーバ４の制御部４１は、情報端末５の情報要求を通信部４３で受信すると、記憶部４２のＩＤデータベース４２４へデータベース問い合わせを実行する（ステップＳ２１）。
【００６６】
検査データ処理サーバ４の制御部４１は、情報要求に合致する、原反ＭＲの識別情報、製品ロールＲＬの識別情報、第１画像データ、第２画像データ及び、厚みデータをデータ抽出する（ステップＳ２２）。
【００６７】
検査データ処理サーバ４の制御部４１は、製品仕様データベース４２５のグレードの情報の閾値と、各製品ロールＲＬの第２画像データとに基づいて、各製品ロールＲＬの合否判定処理を行う（ステップＳ２３）。各製品ロールＲＬの合否判定処理は、第２画像データに含まれる欠陥として疑いのある画像データを、疑欠陥画像として抽出し、疑欠陥画像の種別（以下、疑欠陥画像種別という。）毎に、所定の判別基準（以下、欠陥パラメータという。）の閾値に基づいて分類する。欠陥パラメータは、過去の実際の欠陥の情報に基づいて、製品に影響を与える重要な欠陥であるほど、値が大きくなるような重み付けをもったパラメータである。
【００６８】
図７に示すように、本実施形態においては、疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤ毎の欠陥パラメータの閾値ＴＨＡ、ＴＨＢが記憶部４２に記憶されている。疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤ毎に、欠陥パラメータの閾値ＴＨＡ、ＴＨＢがそれぞれ異なっていてもよい。
【００６９】
図６に示す第２画像データ（ＲＬデータ）に含まれて欠陥として疑いのある疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤがある。図６に示す第２画像データ（ＲＬデータ）において、複数の第２フィルムＱＡからＱＯのそれぞれにおいて、疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤ毎に、図７に示す判別基準の閾値ＴＨＡ及び閾値ＴＨＢに照会される。第２フィルムＱＦは、図７に示すように、疑欠陥画像種別ＰＤが閾値ＴＨＢを越えているので、第２フィルムＱＦが不良グレードＮＧＧとして分類される。
【００７０】
図７に示すように、疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣにおいて、欠陥パラメータが閾値ＴＨＡを越え、閾値ＴＨＢ以下の場合であり、疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣがある第２フィルムには、よいグレード（Ｂグレード）が判別される。これにより、図６に示す第２画像データ（ＲＬデータ）において、第２フィルムＱＡ、ＱＢ、ＱＤ、ＱＥ、ＱＪ、ＱＫ、ＱＯがＢグレードＢＧとして分類される。なお、各第２フィルムにある疑欠陥画像の種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤのそれぞれにおいて、欠陥パラメータが閾値ＴＨＡ以下の場合であれば、疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤがあっても、当該第２フィルムには、最もよいグレード（Ａグレード）が判別される。最もよいグレード（Ａグレード）には、疑欠陥画像がない場合も含む。図６に示す第２画像データ（ＲＬデータ）において、第２フィルムＱＣ、ＱＧ、ＱＨ、ＱＩ、ＱＬ、ＱＭ、ＱＮには、疑欠陥画像がないので、第２フィルムＱＣ、ＱＧ、ＱＨ、ＱＩ、ＱＬ、ＱＭ、ＱＮがＡグレードＧＧとして分類される。
【００７１】
次に、オシレーション幅ＯＣＷｍａｘの情報と、ステップＳ２３の各製品ロールＲＬの合否判定処理結果に基づいて、原反ＭＲの再検証領域を特定し、再検証領域の情報を出力する（ステップＳ２４）。
【００７２】
例えば、オシレーションがなかったとしたならば、図６に示す第２画像データ（ＲＬデータ）において、ＢグレードＢＧとして分類された第２フィルムＱＡ、ＱＢ、ＱＤ、ＱＥ、ＱＪ、ＱＫ、ＱＯと幅方向ＷＤの位置及び巻き長さ方向Ｆが、少なくとも部分的に一致する、図６に示す第１画像データ（ＦＭＬデータ）のＱＡ、ＱＢ、ＱＤ、ＱＥ、ＱＪ、ＱＫ、ＱＯの領域を特定する。次に、オシレーションにより変動する幅方向ＷＤのオシレーション幅ＯＣＷｍａｘが重なる、ＱＣ、ＱＩ、ＱＬ、ＱＮの領域を原反ＭＲの再検証領域ＶＢＧとして特定する。ＱＣ、ＱＩ、ＱＬ、ＱＮの領域は、図６に示す第１画像データ（ＦＭＬデータ）のＱＡ、ＱＢ、ＱＤ、ＱＥ、ＱＪ、ＱＫ、ＱＯの領域のいずれかの両側になる。
【００７３】
また、オシレーションがなかったとしたならば、図６に示す第２画像データ（ＲＬデータ）において、不良グレードＮＧＧとして分類された第２フィルムＱＦと幅方向ＷＤの位置及び巻き長さ方向Ｆが、少なくとも部分的に一致する、図６に示す第１画像データ（ＦＭＬデータ）のＱＦの領域を特定する。
【００７４】
次に、図６に示す第１画像データ（ＦＭＬデータ）において、ＱＦの領域の両側のＱＥ、ＱＧの領域を特定する。ＱＥ、ＱＧの領域は、オシレーションにより変動する幅方向ＷＤのオシレーション幅ＯＣＷｍａｘが重なる領域である。そして、図６に示す第１画像データ（ＦＭＬデータ）において、ＱＥ、ＱＦ、ＱＧの領域を、原反ＭＲの再検証領域ＶＮＧＧとして特定する。図６に示す第１画像データ（ＦＭＬデータ）において、ＱＥの領域は、再検証領域ＶＢＧとも重なるが、欠陥パラメータの大きい検証領域ＶＮＧＧとして特定する。
【００７５】
なお、図６に示す第１画像データ（ＦＭＬデータ）において、ＱＨ、ＱＭの領域は、再検証不要領域ＶＧＧである。
【００７６】
検査データ処理サーバ４は、原反ＭＲの識別情報、製品ロールＲＬの識別情報、第１画像データ、第２画像データ及び、厚みデータ、各製品ロールＲＬの合否判定処理結果、原反ＭＲの再検証領域についてのデータを情報端末５へ送信する。
【００７７】
情報端末５は、これらのデータを受信する（ステップＳ１３）。情報端末５は、表示部５９に図６に示すウィンドウ画像ＷＴを表示する。図６に示すウィンドウ画像ＷＴには、第１画像データを示すウィンドウＷ１と、第２画像データを示すウィンドウＷ２と、厚みデータを示すウィンドウＷ３とが同時表示されている（ステップＳ１４）。
【００７８】
ウィンドウ画像ＷＴには、インデックス情報ＷＣも表示されている。インデックス情報ＷＣには、ＩＤとして製品ロールＲＬの識別情報、品種名、グレードとして、不良グレードの判別基準の閾値、ＭＬとして原反ＭＲの識別情報、幅ＭＷ、幅ＲＷ、製造開始日時、製造終了日時が表示される。
【００７９】
ウィンドウＷ２には、画面ＷＴの左右が図４の幅方向ＷＤとなり、画面ＷＴの上下が巻き長さ方向Ｆとなるように、第２撮像領域ＳＡ２で撮像した第１フィルムＦＭＬにおける疑欠陥画像の面内分布が表示される。
【００８０】
ウィンドウＷ１には、画面ＷＴの左右が図４の幅方向ＷＤとなり、画面ＷＴの上下が巻き長さ方向Ｆとなるように、第１撮像領域ＳＡ１で撮像した第１フィルムＦＭＬにおける疑欠陥画像の面内分布が表示される。
【００８１】
ウィンドウＷ２には、第２撮像領域ＳＡ２で撮像した第１フィルムＦＭＬにおける疑欠陥画像の面内分布に、スリットの位置ＰＳが表示されている。スリット位置ＰＳが表示されることで、第２撮像領域ＳＡ２で撮像した第１フィルムＦＭＬにおける疑欠陥画像の面内分布に、複数の第２フィルムＱＡからＱＯの位置が認識できるようになる。
【００８２】
ウィンドウＷ２には、図４に示す撮像原点ＬＣＳＰ１を撮像原点ＬＣＳＰ２と、幅方向ＷＤにおいて、合致されていると仮定した場合（図４に示す幅方向ＷＤのＯＣＷ１量が０の場合）のスリットの位置ＰＳが表示されている。このとき、図６に示す第１画像データ（ＦＭＬデータ）のＱＡからＱＯの位置は、第２画像データ（ＲＬデータ）の第２フィルムＱＡからＱＯの位置と幅方向の位置及び巻き長さ方向が、少なくとも部分的に一致する。これにより、ウィンドウＷ１とウィンドウＷ２とを画面ＷＴ内の上下に並べて確認することで、疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤのずれが容易に視認できる。
【００８３】
ウィンドウＷ１には、第１撮像領域ＳＡ１で撮像した第１フィルムＦＭＬにおける疑欠陥画像の面内分布に、スリットの位置ＰＳが表示されている。スリット位置ＰＳが表示されることで、ウィンドウＷ２における複数の第２フィルムＱＡからＱＯの位置と比較できるようになる。
【００８４】
ここで、ウィンドウＷ２における不良グレードＮＧＧと、ウィンドウＷ１における原反ＭＲの再検証領域ＶＮＧＧとを比較して視認が可能である。そうすると、表示部５９は、ウィンドウＷ２における不良グレードＮＧＧに対応するウィンドウＷ１のＱＦの位置と、オシレーションにより変動する幅方向ＷＤのオシレーション幅ＯＣＷｍａｘが重なるＱＥ、ＱＦの領域とが、スリットの位置ＰＳの表示を手がかりとして、区別されるように表示できる。
【００８５】
上述したように、図６に示す第２画像データ（ＲＬデータ）と、図６に示す第１画像データ（ＦＭＬデータ）とに含まれる疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤを一瞥して、比較できる。再検証領域ＶＢＧ、ＶＮＧＧが表示されるので、各第２フィルムＱＡからＱＯの疑欠陥に対応する第１フィルムＦＭＬの位置が、オシレーション幅ＯＣＷｍａｘを考慮しつつ、容易に認識できる。このため、本実施形態のフィルム検査システム１００は、第１フィルムＦＭＬにオシレーションをかけながら巻取り、さらに巻きだして第１フィルムＦＭＬにスリットを入れて第２フィルムＱＡからＱＯを製造する場合、各第２フィルムＱＡからＱＯの疑欠陥に対応する第１フィルムＦＭＬの位置を容易に認識でき、疑欠陥の追跡可能性を向上させる。その結果、スリットで分割された複数の第２フィルムＱＡからＱＯの疑欠陥と対応する、原反ＭＲで既に生じている疑欠陥の対策をすることができる。また、スリットで分割された複数の第２フィルムＱＡからＱＯの疑欠陥と、原反ＭＲで既に生じている疑欠陥とを比較することで、原反ＭＲからスリットで分割された複数の第２フィルムＱＡからＱＯとなるまでの表面処理などの他の工程での疑欠陥を把握することができる。
【００８６】
なお、ウィンドウＷ１で表示する巻き長さ方向Ｆの長さＭＦＬは、ウィンドウＷ２で表示する巻き長さ方向Ｆの長さＲＦＬ以上とすることが望ましい。第１基準線ＳＬ１で撮像した疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤが、第２基準線ＳＬ２で撮像した疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤと巻き長さ方向Ｆで一致することが望ましい。しかし、第１基準線ＳＬ１で撮像した疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤが、ウィンドウＷ２で表示する巻き長さ方向Ｆの長さＲＦＬの範囲で撮像した範囲に含まれていればよく、第２基準線ＳＬ２で撮像した疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤが、ウィンドウＷ１で表示する巻き長さ方向Ｆの長さＭＦＬの範囲で撮像した範囲に含まれていればよい。
【００８７】
ウィンドウＷ２において、不良グレードＮＧＧとして分類される第２フィルムＱＦの領域と、ＢグレードＢＧとして分類される第２フィルムＱＡ、ＱＢ、ＱＤ、ＱＥ、ＱＪ、ＱＫ、ＱＯの領域と、ＡグレードＧＧとして分類される、第２フィルムＱＣ、ＱＧ、ＱＨ、ＱＩ、ＱＬ、ＱＭ、ＱＮとは、表示部４９に色分け表示され、不良グレードＮＧＧと、ＢグレードＢＧとがＡグレードＧＧと区別され、強調表示されている。これにより、オペレータは、適切な製品ロールＲＬを選択して出荷できるようになる。
【００８８】
ウィンドウ画像ＷＴにおいて、ウィンドウＷ３は、ウィンドウＷ１及びウィンドウＷ２と同時に表示される。ウィンドウＷ３には、厚みデータベース４２３に格納されていた厚みの情報が表示される。オペレータは、疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤの情報に加え、厚みの情報を確認することで、同じＢグレードであっても、厚みの平坦性を考慮して、製品ロールＲＬを選択し、出荷することができる。
【００８９】
（変形例）
上述したように、図１に示すフィルム検査システム１００は、第１画像処理装置１、第２画像処理装置２、厚み検査装置３、検査データ処理サーバ４及び情報端末５を備えている。検査データ処理サーバ４におけるステップＳ２１からステップＳ２４の処理の一部又は全部の処理は、第１画像処理装置１、第２画像処理装置２、厚み検査装置３、又は情報端末５のいずれかで処理してもよい。
【００９０】
例えば、上述したフィルム巻回体形成工程ＳＴ２が終了すると、図１に示すフィルム検査システム１００は、情報集約ステップを実行処理する。情報集約ステップにおいて、第１画像処理装置１は、記憶部１２の第１画像データから抽出した擬欠陥画像種別及び擬欠陥画像種別の座標（図４に示す撮像原点ＬＣＳＰ１に対する幅方向ＷＤの位置、巻き長さ方向Ｆの位置）を、検査データ処理サーバ４へネットワークＮＷを介して送信する。第１画像データから抽出した擬欠陥画像種別及び擬欠陥画像種別の座標の情報は、図１に示す第１画像データベース４２１に格納される。第２画像処理装置２は、記憶部２２の第２画像データから抽出した擬欠陥画像種別及び擬欠陥画像種別の座標（図４に示す撮像原点ＬＣＳＰ２に対する幅方向ＷＤの位置、巻き長さ方向Ｆの位置）を、検査データ処理サーバ４へネットワークＮＷを介して送信する。第２画像データから抽出した擬欠陥画像種別及び擬欠陥画像種別の座標は、第２画像データベース４２２に格納される。厚み検査装置３は、記憶部３２の厚みデータを、検査データ処理サーバ４へネットワークＮＷを介して送信する。
【００９１】
図５に示すように、検査データ処理サーバ４の制御部４１は、情報要求に合致する、原反ＭＲの識別情報、製品ロールＲＬの識別情報、第１画像データから抽出した擬欠陥画像種別及び擬欠陥画像種別の座標、第２画像データから抽出した擬欠陥画像種別、擬欠陥画像種別の座標及び、厚みデータをデータ抽出する（ステップＳ２２）。検査データ処理サーバ４の制御部４１は、データ抽出した情報を情報端末５へ送信する。情報端末５は、データ受信Ｓ１３の後、検査データ処理サーバ４の代わりに、図５のステップＳ２３の処理及びステップＳ２４の処理をする。これにより、情報容量の大きな第１画像データ、第２画像データの送受信が減る。次に、情報端末５は、図５のステップＳ１４の処理をする。また、情報容量の大きな第１画像データ、第２画像データの二重記憶がなくなり、記憶部４２の記憶容量の余裕が増える。また、情報端末５は、受信する第１画像データから抽出した擬欠陥画像種別及び擬欠陥画像種別の座標、第２画像データから抽出した擬欠陥画像種別、擬欠陥画像種別の座標から、図５のステップＳ２３の処理及びステップＳ２４の処理をすることができる。このため、受信端末５の演算負荷が軽減される。
【００９２】
（実施形態２）
図８は、検査データ処理の一例を説明するためのフローチャートである。図９は、表示画面の一例を説明するための説明図である。図１０は、表示画面の一例を説明するための説明図である。実施形態２では、実施形態１とは異なり、ウィンドウＷ２に表示されたスリットの位置ＰＳを変更する。なお、上述した実施形態１で説明したものと同じ構成要素、には同一の符号を付して重複する説明は省略する。また、図８に示すように、ステップＳ１１からステップＳ１４、及びステップＳ２１からステップＳ２４の処理は、図５に示す処理と同じであるので、説明を省略する。
【００９３】
実施形態２において、図９に示すウィンドウ画像ＷＴがステップＳ１４において表示されている。図９に示すウィンドウ画像ＷＴでは、図６に示すウィンドウ画像ＷＴよりも、疑欠陥画像種別ＰＤの数が多い。このため、疑欠陥画像が存在するとして、第２フィルムＱＥ、ＱＦが不良グレードＮＧＧとして分類される。その結果、図９に示す第１画像データ（ＦＭＬデータ）のＱＤ、ＱＥ、ＱＦ、ＱＧの領域が、検証領域ＶＮＧＧとして特定されている。
【００９４】
ステップＳ１４の後、情報端末５の情報端末本体５０は、入力部５８の入力待ちとなる。制御部５１は、入力部５８からのスリットの位置ＰＳの変更入力を受け付ける（ステップＳ１５）。制御部５１は、スリット位置ＰＳの変更情報を検査データ処理サーバ４へネットワークＮＷを介して送信する。
【００９５】
検査データ処理サーバ４の制御部４１は、通信部４３を介して、スリット位置ＰＳの変更情報を受信する。検査データ処理サーバ４の制御部４１は、製品仕様データベース４２５のグレードの情報の閾値と、スリット位置ＰＳが変更された各製品ロールＲＬの第２画像データとに基づいて、各模擬製品ロールＲＬの合否判定処理を行う（ステップＳ２５）。
【００９６】
図１０に示す第２画像データ（ＲＬデータ）において、スリット位置ＰＳが変更された、複数の第２フィルムＱＡからＱＯのそれぞれにおいて、疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤとこれらの数との積算数が、上述した判別基準の閾値に照会される。第２フィルムＱＦは、疑欠陥画像が存在するとして、第２フィルムＱＦが不良グレードＮＧＧとして分類される。
【００９７】
同様に、図１０に示す第２画像データ（ＲＬデータ）において、第２フィルムＱＡ、ＱＢ、ＱＤ、ＱＥ、ＱＪ、ＱＫ、ＱＯがＢグレードＢＧとして分類される。図１０に示す第２画像データ（ＲＬデータ）において、第２フィルムＱＣ、ＱＧ、ＱＨ、ＱＩ、ＱＬ、ＱＭ、ＱＮがＡグレードＧＧとして分類される。
【００９８】
検査データ処理サーバ４は、原反ＭＲの識別情報、製品ロールＲＬの識別情報、第１画像データ、第２画像データ及び、厚みデータ、各模擬製品ロールＲＬの合否判定処理結果についてのデータを情報端末５へ送信する。なお、検査データ処理サーバ４の制御部４１は、ステップＳ２５の後、ステップＳ２４と同じ処理をして、原反ＭＲの再検証領域についてのデータを情報端末５へ送信するようにしてもよい。
【００９９】
情報端末５は、ステップＳ２５のデータを受信する（ステップＳ１６）。情報端末５は、表示部５９に図１０に示すウィンドウ画像ＷＴを表示する。図１０に示すウィンドウ画像ＷＴには、第１画像データを示すウィンドウＷ１と、第２画像データを示すウィンドウＷ２と、厚みデータを示すウィンドウＷ３とが同時表示されている（ステップＳ１７）。
【０１００】
図１０に示すウィンドウ画像ＷＴでは、図９に示すウィンドウ画像ＷＴと比較して、スリット位置ＰＳの変更に応じて、疑欠陥画像種別ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤが移動し、ウィンドウＷ２における不良グレードＮＧＧの領域が小さくなっている。そこで、上述したフィルム巻回体形成工程ＳＴ２において、実際に、カッターロールＣＲの刃Ｃの位置を、ステップＳ１５で変更した幅方向ＷＤに所定量ΔＣＬだけ、それぞれシフトさせる。
【０１０１】
次回、同じ種別の原反ＭＲを製造し、同じ種別の製品ロールを製造する場合、不良グレードＮＧＧと判定される製品ロールが抑制される。その結果、製品ロールＲＬの歩留まりが向上する。
【０１０２】
以上、好適な実施形態を説明したが、本発明はこのような実施形態に限定されるものではない。実施の形態で開示された内容はあくまで一例にすぎず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。本発明の趣旨を逸脱しない範囲で行われた適宜の変更についても、当然に本発明の技術的範囲に属する。上述した発明を基にして当業者が適宜設計変更して実施しうる全ての発明も、本発明の要旨を包含する限り、本発明の技術的範囲に属する。
【０１０３】
実施形態２においても実施形態１の変形例が適用できる。また、上述した実施形態１、実施形態１の変形例、実施形態２の情報端末５は、第１画像処理装置１、第２画像処理装置２、厚み検査装置３又は検査データ処理サーバ４のいずれかで代用してもよい。
【０１０４】
一般的に「シート」とは、ＪＩＳにおける定義上、薄く、一般にその厚みが長さと幅のわりには小さく平らな製品をいい、一般的に「フィルム」とは、長さ及び幅に比べて厚みが極めて小さく、最大厚みが任意に限定されている薄い平らな製品で、通常、ロールの形で供給されるものをいい（日本工業規格ＪＩＳＫ６９００）、しかし、シートとフィルムの境界は定かでなく、本実施形態においては両者を同義として用い、統一して「フィルム」と記す。
【符号の説明】
【０１０５】
１  第１画像処理装置
２  第２画像処理装置
３  厚み検査装置
４  検査データ処理サーバ
５  情報端末
６  撮像装置
７  照射装置
８  エンコーダ
９  厚み計
１０  第１制御装置
１１、２１、３１、４１、５１  制御部
１２、２２、３２、４２、５２  記憶部
１３、２３、３３、４３、５３  通信部
１４、２４  画像処理部
１８、２８、３８、４８、５８  入力部
１９、２９、３９、４９、５９  表示部
２０  第２制御装置
３０  第３制御装置
４０  第４制御装置
５０  情報端末本体
６１  口金装置
６２  キャストロール
６３  圧着ロール
６４  テイクオフロール
６５  熱処理装置
６６  原反巻取機
６９  スリッター
１００  フィルム検査システム
４２１  第１画像データベース
４２２  第２画像データベース
４２３  厚みデータベース
４２４  ＩＤデータベース
４２５  製品仕様データベース
ＣＲ  カッターロール
ＣＳＰＬ  距離
ＣＳＰＷ  距離
ＥＣＷＬ、ＥＣＷＲ  除去量
Ｆ  搬送方向
ＦＭＬ  第１フィルム
ＧＧ  グレード
ＬＣＳＰ１  撮像原点
ＬＣＳＰ２  撮像原点
ＭＲ  原反
ＮＧＧ  不良グレード
ＮＷ  ネットワーク
ＯＣＷｍａｘ  オシレーション幅
ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ、ＰＤ  疑欠陥画像
ＰＳ  スリット位置
ＲＬ  製品ロール
【図１】
2018155566.tif 000003
【図２】
2018155566.tif 000004
【図３】
2018155566.tif 000005
【図４】
2018155566.tif 000006
【図５】
2018155566.tif 000007
【図６】
2018155566.tif 000008
【図７】
2018155566.tif 000009
【図８】
2018155566.tif 000010
【図９】
2018155566.tif 000011
【図１０】
2018155566.tif 000012