(57)【要約】【課題】挿入損失を容易に知ることができ、光トランシーバ用の高精度な検査システムを容易に構築できる光スイッチ及び検査システムを提供する。【解決手段】第１光ポート２と、第１光ポート２から入力された光を出力するための第２光ポート３と、を備え、少なくとも、第１光ポート２と第２光ポート３の一方を複数備えており、第１光ポート２と第２光ポート３との間に設けられ、光学的に接続する第１光ポート２と第２光ポート３の組み合わせを切り替え可能な光スイッチング機構４と、第１光ポート２と光スイッチング機構４との間に設けられ、第１光ポート２から入力される光の光強度を検出可能な第１光モニタ機構５と、第２光ポート３と光スイッチング機構４との間に設けられ、第２光ポート３から出力される光の光強度を検出可能な第２光モニタ機構６と、を備えた。【選択図】図２
2018031830.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１光ポートと、
前記第１光ポートから入力された光を出力するための第２光ポートと、を備え、
少なくとも、前記第１光ポートと前記第２光ポートの一方を複数備えており、
前記第１光ポートと前記第２光ポートとの間に設けられ、光学的に接続する前記第１光ポートと前記第２光ポートの組み合わせを切り替え可能な光スイッチング機構と、
前記第１光ポートと前記光スイッチング機構との間に設けられ、前記第１光ポートから入力される光の光強度を検出可能な第１光モニタ機構と、
前記第２光ポートと前記光スイッチング機構との間に設けられ、前記第２光ポートから出力される光の光強度を検出可能な第２光モニタ機構と、を備えた、
光スイッチ。
【請求項２】
前記第１光モニタ機構は、前記第１光ポートで入出力される光の光強度を検出可能に構成されており、
前記第２光モニタ機構は、対応する前記第２光ポートで入出力される光の光強度を検出可能に構成されている、
請求項１に記載の光スイッチ。
【請求項３】
前記第１光モニタ機構及び前記第２光モニタ機構で検出した光強度を基に、前記第１光ポートと前記第２光ポート間での光損失を演算する光損失演算部をさらに備えた、
請求項１または２に記載の光スイッチ。
【請求項４】
前記光損失演算部で演算した光損失が、予め設定した閾値を超えたときアラームを発するアラーム報知部をさらに備えた、
請求項３に記載の光スイッチ。
【請求項５】
請求項１乃至４の何れか１項に記載の光スイッチと、
検査対象となる光トランシーバの光特性を測定するための複数の光測定器と、を備え、
前記検査対象となる光トランシーバの光出力と前記光スイッチの前記第１光ポートとを光学的に接続し、前記光スイッチの前記複数の第２光ポートと前記複数の光測定器とをそれぞれ光学的に接続した、
検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光スイッチ及び検査システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光トランシーバとして、１０Ｇｂｉｔ／ｓｅｃから４０Ｇｂｉｔ／ｓｅｃの大容量信号を伝送可能なものが広く使用されている。
【０００３】
光トランシーバの光特性の検査項目として、送信側においては、光出力パワーレベル、消光比、中心波長等が挙げられる。例えば、光出力パワーレベルは光パワーメータ、消光比はコミュニケーションアナライザ、中心波長等は光スペクトラムアナライザを用いて検査が実施される。
【０００４】
このように、光トランシーバの送信側の光特性の検査には、複数の異なる光測定器が用いられる。そのため、被測定（ＤＵＴ、Ｄｅｖｉｃｅ  Ｕｎｄｅｒ  Ｔｅｓｔ）光トランシーバと複数の光測定器との間に光スイッチを設け、光スイッチによりＤＵＴ光トランシーバの光信号の出力先となる光測定器を切り替えつつ検査を実施することが行われている。
【０００５】
また、検査能力の向上や、光測定器の稼働率を向上させるために、複数台のＤＵＴ光トランシーバの検査を並行して実施することも行われている。この場合、光スイッチを多段に接続して検査システムが構築される。
【０００６】
光スイッチを用い、当該光スイッチや各光測定器を制御装置でコントロールすることにより、光トランシーバの送信側の光特性を自動で検査することが可能になる。つまり、光スイッチは、光トランシーバの光特性を自動で検査する自動検査システムを構築するために必要不可欠な装置である。
【０００７】
なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、特許文献１がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】特開２００８−５８２７４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところで、光スイッチを用いた検査システムでは、光スイッチにおける光損失（挿入損失）を考慮して光特性の評価を行う必要がある。例えば、光測定器として光パワーメータを用いた場合、当該光パワーメータで測定される光出力パワーレベルは光スイッチの挿入損失を含んだものとなるため、光スイッチの挿入損失を考慮して光出力パワーレベルを補正する必要がある。光出力パワーレベルの補正は、例えば、光パワーメータのオフセット機能の利用や、光パワーメータから光出力パワーレベルを読み取るパソコン等の演算装置にて、光スイッチでの損失分を補正値として演算することにより行うことができる。
【００１０】
つまり、光スイッチを用いる場合、検査システムを構築するためには、光スイッチの挿入損失を予め測定しておく必要があり、システム構築に手間がかかってしまう。特に、光スイッチを多数使用する大規模な検査システム（例えば、上述した複数の光トランシーバの検査を並行して実施する検査システム）においては、その構築に多大な時間を要してしまうという問題がある。
【００１１】
また、光スイッチの性能が経年等により劣化すると、光スイッチの挿入損失も大きくなることが懸念される。そのため、従来の検査システムでは、検査精度を維持するために定期的に光スイッチの挿入損失を測定し、補正値を変更したり、あるいは挿入損失が過大であれば故障と判断して光スイッチを交換したりする必要があり、検査システムの管理にも手間がかかってしまう。
【００１２】
そこで、本発明は、挿入損失を容易に知ることができ、光トランシーバ用の高精度な検査システムを容易に構築できる光スイッチ及び検査システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明は、上記課題を解決することを目的として、第１光ポートと、前記第１光ポートから入力された光を出力するための第２光ポートと、を備え、少なくとも、前記第１光ポートと前記第２光ポートの一方を複数備えており、前記第１光ポートと前記第２光ポートとの間に設けられ、光学的に接続する前記第１光ポートと前記第２光ポートの組み合わせを切り替え可能な光スイッチング機構と、前記第１光ポートと前記光スイッチング機構との間に設けられ、前記第１光ポートから入力される光の光強度を検出可能な第１光モニタ機構と、前記第２光ポートと前記光スイッチング機構との間に設けられ、前記第２光ポートから出力される光の光強度を検出可能な第２光モニタ機構と、を備えた、光スイッチを提供する。
【００１４】
また、本発明は、上記課題を解決することを目的として、前記光スイッチと、検査対象となる光トランシーバの光特性を測定するための複数の光測定器と、を備え、前記検査対象となる光トランシーバの光出力と前記光スイッチの前記第１光ポートとを光学的に接続し、前記光スイッチの前記複数の第２光ポートと前記複数の光測定器とをそれぞれ光学的に接続した、検査システムを提供する。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、挿入損失を容易に知ることができ、光トランシーバ用の高精度な検査システムを容易に構築できる光スイッチ及び検査システムを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施の形態に係る検査システムの概略構成図である。
【図２】図１の検査システムに用いる光スイッチの概略構成図である。
【図３】図１の検査システムの一変形例を示す概略構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
［実施の形態］
以下、本発明の実施の形態を添付図面にしたがって説明する。
【００１８】
（検査システムの全体構成）
図１は、本発明の一実施の形態に係る検査システムの概略構成図である。
【００１９】
図１に示すように、検査システム１０は、被測定光トランシーバ１１（以下、ＤＵＴ光トランシーバ１１という）の光特性の検査を行うためのものである。
【００２０】
検査システム１０は、ＤＵＴ光トランシーバ１１の送信側の光特性（送信特性）を検査するための送信側検査システム１０ａと、ＤＵＴ光トランシーバ１１の受信側の光特性（受信特性）を検査するための受信側検査システム１０ｂと、を有している。
【００２１】
送信側検査システム１０ａは、本実施の形態に係る光スイッチ１と、複数の光測定器１２と、を備えている。
【００２２】
光スイッチ１は、第１光ポート２と、第２光ポート３とを有し、光学的に接続する第１光ポート２と第２光ポート３の組み合わせを切り替え可能に構成されている。光スイッチ１は、光路を切り替えるためのものであるから、少なくとも、第１光ポート２と第２光ポート３の一方が複数備えられる。ここでは、光スイッチ１が１つの第１光ポート２と３つの第２光ポート３とを有する場合を示しているが、各光ポート２，３の数はこれに限定されない。光スイッチ１の詳細については後述する。
【００２３】
光測定器１２は、ＤＵＴ光トランシーバ１１の送信側の光特性を測定するためのものである。ここでは、光測定器１２が、光出力パワーレベルを測定するための光パワーメータ１２ａと、消光比を測定するためのコミュニケーションアナライザ１２ｂと、中心波長等を測定するための光スペクトラムアナライザ１２ｃと、を有する場合を示しているが、使用する光測定器１２は検査対象となる項目に応じて適宜変更可能である。
【００２４】
送信側検査システム１０ａでは、ＤＵＴ光トランシーバ１１の光出力と光スイッチ１の第１光ポート２とが光学的に接続されている。また、送信側検査システム１０ａでは、光スイッチ１の複数の第２光ポート３と複数の光測定器１２とがそれぞれ光学的に接続されている。ＤＵＴ光トランシーバ１１の第１光ポート２と光スイッチ１との接続、及び、光スイッチ１の各第２光ポート３と各光測定器１２との接続には、光ファイバ（光ケーブル）を用いることができる。
【００２５】
受信側検査システム１０ｂは、試験用の光信号を出力する光源１３と、光源１３からの光を減衰し所定の光強度に調整してＤＵＴ光トランシーバ１１に出力する光アッテネータ１４と、を備えている。
【００２６】
また、図示していないが、検査システム１０は、光スイッチ１の切り替え制御、各光測定器１２の制御、光源１３の駆動制御、及び光アッテネータ１４による減衰量の制御を行う制御装置と、各光測定器１２の測定結果を基に、ＤＵＴ光トランシーバ１１の光特性を求める演算装置と、をさらに備えている。制御装置及び演算装置は、例えばパーソナルコンピュータで所定のソフトウェアを実行することによって実現される。
【００２７】
（光スイッチ１の説明）
図２は、本実施の形態に係る光スイッチ１の概略構成図である。
【００２８】
図２に示すように、光スイッチ１は、第１光ポート２と、第１光ポート２から入力された光を出力するための第２光ポート３と、を備え、少なくとも、第１光ポート２と第２光ポート３の一方を複数備えている。また、光スイッチ１は、光学的に接続する第１光ポート２と第２光ポート３の組み合わせを切り替え可能な光スイッチング機構４を備えている。
【００２９】
本実施の形態では、光スイッチ１は、１つの第１光ポート２と、３つの第２光ポート３と、を備えている。よって、本実施の形態では、光スイッチング機構４は、第１光ポート２からの光の出力先となる第２光ポート３を切り替え可能に構成される。
【００３０】
本実施の形態では、光スイッチング機構４として、第１光ポート２から延びる第１光ファイバ２ａと、各第２光ポート３から延びる第２光ファイバ３ａと、第１光ファイバ２ａの端部を移動（回転）させることで第１光ファイバ２ａの端面と対向させる第２光ファイバ３ａを切り替え、第１光ファイバ２ａと光学的に接続される第２光ファイバ３ａを切り替える図示しないアクチュエータと、を有するものを用いた。アクチュエータにより第１光ファイバ２ａの端部を移動（回転）させて、特定の第２光ファイバ３ａの端面と第１光ファイバ２ａの端面とを対向させることで、両光ファイバ２ａ，３ａが光学的に接続され、第１光ポート２と特定の第２光ポート３とが光学的に接続される。
【００３１】
ただし、光スイッチング機構４の具体的な構成はこれに限定されず、例えば、光スイッチング機構４は、第１光ファイバ２ａからの光をミラーで反射して第２光ファイバ３ａに入力するようにし、ミラーの角度を制御することで、出力先の第２光ファイバ３ａを切り替えるものであってもよい。また、光スイッチング機構４は、微細なマイクロミラーを利用したＭＥＭＳ（Ｍｉｃｒｏ  Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｍｅｃｈａｎｉｃａｌ  Ｓｙｓｔｅｍｓ）スイッチ機構であってもよい。
【００３２】
本実施の形態に係る光スイッチ１は、第１光ポート２と光スイッチング機構４との間に設けられ、第１光ポート２から入力される光の光強度を検出可能な第１光モニタ機構５と、第２光ポート３と光スイッチング機構４との間に設けられ、第２光ポート３から出力される光の光強度を検出可能な第２光モニタ機構６と、をさらに備えている。
【００３３】
第１光モニタ機構５と第２光モニタ機構６とを備えることにより、両モニタ機構５，６の検出結果を基に、光スイッチ１における光ポート２，３間の光損失（光スイッチ１の挿入損失）を容易に知ることができる。よって、従来のように予め光スイッチの挿入損失を測定しておくといった手間をなくすことができ、高精度な検査システム１０を容易に実現可能になる。
【００３４】
また、第１光モニタ機構５と第２光モニタ機構６とを備えることにより、光スイッチ１の挿入損失を常時モニタすることが可能になり、光スイッチ１の劣化等による挿入損失の変化を容易に反映することが可能となり、ＤＵＴ光トランシーバ１１の光特性の検査精度の向上に寄与すると共に、検査システム１０の管理が容易になる。
【００３５】
本実施の形態では、光ポート２，３が反対に使用された場合（つまり、第２光ポート３から光が入射され、当該光が第１光ポート２から出射されるように使用された場合）にも対応できるように、第１光モニタ機構５は、第１光ポート２で入出力される光の光強度を検出可能に構成されており、第２光モニタ機構６は、対応する第２光ポート３で入出力される光の光強度を検出可能に構成されている。
【００３６】
具体的には、第１光モニタ機構５は、第１光ポート２から入力される光（光信号）の一部を分岐させる第１入力側光分波器５ａと、第１入力側光分波器５ａで分岐された光の光強度を検出する第１入力側光センサ５ｂと、第１光ポート２から出力される光の一部を分岐させる第１出力側光分波器５ｃと、第１出力側光分波器５ｃで分岐された光の光強度を検出する第１出力側光センサ５ｄと、を有している。
【００３７】
また、第２光モニタ機構６は、第２光ポート３から出力される光（光信号）の一部を分岐させる第２出力側光分波器６ａと、第２出力側光分波器６ａで分岐された光の光強度を検出する第２出力側光センサ６ｂと、第２光ポート３から入力される光の一部を分岐させる第２入力側光分波器６ｃと、第２入力側光分波器６ｃで分岐された光の光強度を検出する第２入力側光センサ６ｄと、を有している。
【００３８】
なお、光スイッチ１の入出力が明確に規定されており、光ポート２，３が反対に使用されるおそれがない場合には、第１出力側光分波器５ｃ、第１出力側光センサ５ｄ、第２入力側光分波器６ｃ、及び第２入力側光センサ６ｄは省略可能である。
【００３９】
また、本実施の形態では、１つの第２光ポート３のみに第２光モニタ機構６を設けているが、全ての第２光ポート３に第２光モニタ機構６を設けてもよい。また、第１光ポート２を複数備える場合には、すべての第１光ポート２に第１光モニタ機構５を設けてもよい。
【００４０】
さらに、光スイッチ１は、第１光モニタ機構５及び第２光モニタ機構６で検出した光強度を基に、第１光ポート２と第２光ポート３間での光損失（つまり光スイッチ１の挿入損失）を演算する光損失演算部７をさらに備えている。光損失演算部７は、第１入力側光センサ５ｂで検出した光強度と第２出力側光センサ６ｂで検出した光強度との差（光の入出力が逆になった場合には、第１出力側光センサ５ｄで検出した光強度と第２入力側光センサ６ｄで検出した光強度との差）により、光スイッチ１の挿入損失を求める。
【００４１】
光スイッチ１は、光損失演算部７で演算した光損失を、検査システム１０の制御装置等に有線または無線により送信する光損失送信手段を有していてもよい。また、光スイッチ１は、光損失演算部７で演算した光損失を表示する表示手段を有していてもよい。
【００４２】
さらにまた、光スイッチ１は、光損失演算部７で演算した光損失が、予め設定した閾値を超えたときアラームを発するアラーム報知部８を備えている。アラーム報知部８は、例えば、アラーム信号を検査システム１０の制御装置等に有線または無線により送信する。光スイッチ１に光あるいは音を発するアラーム手段を備え、当該アラーム手段により光あるいは音によりアラームを発するようにアラーム報知部８を構成してもよい。
【００４３】
アラーム報知部８を有することで、光スイッチ１の異常や光スイッチ１の劣化が進んでしまっていることを管理者等に通知することが可能となり、検査システム１０の保全に役立てることができる。
【００４４】
なお、アラーム報知部８にて複数の閾値範囲を設定しておき、光損失演算部７で演算した光損失がいずれの閾値範囲に含まれるかを報知することで、光スイッチ１の劣化の程度を段階的に報知できるようにアラーム報知部８を構成してもよい。
【００４５】
光損失演算部７及びアラーム報知部８は、プロセッサ、メモリ、ソフトウェア、インターフェイス等を適宜組み合わせて実現される。なお、光損失演算部７及びアラーム報知部８を省略し、第１光モニタ機構５及び第２光モニタ機構６で検出した光強度を検査システム１０の制御装置等に有線または無線により送信する手段を備えてもよい。
【００４６】
（実施の形態の作用及び効果）
以上説明したように、本実施の形態に係る光スイッチ１では、第１光ポート２と光スイッチング機構４との間に設けられ、第１光ポート２から入力される光の光強度を検出可能な第１光モニタ機構５と、第２光ポート３と光スイッチング機構４との間に設けられ、第２光ポート３から出力される光の光強度を検出可能な第２光モニタ機構６と、を備えている。
【００４７】
両モニタ機構５，６を備え、光ポート２，３を通過する光（光信号）の光強度をモニタすることで、光スイッチ１の挿入損失を容易に知ることができる。よって、システム構築の際に事前に光スイッチ１の挿入損失を測定するといった手間を省くことができ、高精度な検査システム１０を容易に構築できる。つまり、本実施の形態によれば、検査システム１０を構築する際におけるシステム設計の簡素化と迅速化が可能である。
【００４８】
また、両モニタ機構５，６を備えることで、光スイッチ１の劣化等による挿入損失の変化を容易に検出可能となり、光スイッチ１の劣化等による検査システム１０の検査精度の低下を抑制できる。つまり、光スイッチ１の挿入損失の再測定の手間を省くことができ、検査システム１０を高精度に保つための管理が容易になる。
【００４９】
光スイッチ１を用いた検査システム１０では、光スイッチ１の挿入損失を常時モニタすることができるので、ＤＵＴ光トランシーバ１１の光出力パワーレベル等の光特性を精度よく測定することが可能である。
【００５０】
また、本実施の形態では、第１光モニタ機構５は、第１光ポート２で入出力される光の光強度を検出可能に構成されており、第２光モニタ機構６は、対応する第２光ポート３で入出力される光の光強度を検出可能に構成されているため、第１光ポート２と第２光ポート３とが反対になっても（第２光ポート３から光を入力し、当該光を第１光ポート２から出力するように使用された場合であっても）、光スイッチ１を通過する光信号の光強度を検出し、光スイッチ１の挿入損失をモニタすることができ、光スイッチ１の取り扱いが容易になり汎用性が向上する。
【００５１】
（変形例）
上記実施の形態では、１つの光スイッチ１を用い、１つのＤＵＴ光トランシーバ１１の検査のみを行う場合について説明したが、図３に示すように、検査システム１０は、複数（ここでは３つ）のＤＵＴ光トランシーバ１１の検査を並行して行うものであってもよい。
【００５２】
図３の検査システム１０は、図１において、送信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ａと、受信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ｂと、をさらに備えたものである。
【００５３】
送信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ａは、光スイッチ１の第１光ポート２に接続するＤＵＴ光トランシーバ１１を切り替えるためのものである。送信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ａは、３入力１出力の光スイッチであり、その各入力がＤＵＴ光トランシーバ１１にそれぞれ光学的に接続され、その出力が光スイッチ１の入力に光学的に接続されている。
【００５４】
送信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ａとしては、本実施の形態に係る光スイッチ１と同じものを入出力を反対として使用するとよい。つまり、送信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ａは、第１光モニタ機構５及び第２光モニタ機構６を備えている。
【００５５】
受信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ｂは、光源１３から出射され光アッテネータ１４を通過した光の出射先となるＤＵＴ光トランシーバ１１を切り替えるためのものである。受信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ｂは、１入力３出力の光スイッチであり、その入力が光アッテネータ１４の出力に、その各出力がＤＵＴ光トランシーバ１１にそれぞれ光学的に接続されている。
【００５６】
受信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ｂとしては、本実施の形態に係る光スイッチ１と同じものを用いるとよい。つまり、受信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ｂは、第１光モニタ機構５及び第２光モニタ機構６を備えている。
【００５７】
なお、図３では３つのＤＵＴ光トランシーバ１１を並行して検査する場合について示しているが、並行して検査するＤＵＴ光トランシーバ１１の数はこれに限定されない。つまり、送信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ａの入力の数、及び受信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ｂの出力の数は３つに限定されない。
【００５８】
図３で示したように、複数の光スイッチ１を使用する検査システム１０においては、使用する全ての光スイッチ１の挿入損失を事前に測定しておく作業や、光スイッチ１の劣化を反映するための挿入損失の再測定作業には非常に手間がかかる。各光スイッチ１，１ａ，１ｂに第１光モニタ機構５及び第２光モニタ機構６を搭載しておくことで、各光スイッチ１，１ａ，１ｂの挿入損失を常時モニタすることが可能になり、高精度な検査システム１０の構築や管理が容易になる。
【００５９】
なお、ここでは検査システム１０に用いる全ての光スイッチ１，１ａ，１ｂに第１光モニタ機構５及び第２光モニタ機構６を搭載する場合を説明したが、検査システム１０は、第１光モニタ機構５及び第２光モニタ機構６を搭載していない光スイッチを含んでいてもよい。
【００６０】
また、図３の例では、送信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ａとその後段の光スイッチ１の両者に、それぞれ第１光モニタ機構５及び第２光モニタ機構６を搭載したが、送信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ａと光スイッチ１の全体を３入力３出力の光スイッチと考え、送信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ａの各第１光ポート２に第１光モニタ機構５を、その後段の光スイッチ１の各第２光ポート３に第２光モニタ機構６を搭載するようにしてもよい。つまり、送信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ａの第２光モニタ機構６と、その後段の光スイッチ１の第１光モニタ機構５を省略し、送信側ＤＵＴ選択用光スイッチ１ａとその後段の光スイッチ１とを１つの光スイッチとして扱ってもよい。
【００６１】
（実施の形態のまとめ）
次に、以上説明した実施の形態から把握される技術思想について、実施の形態における符号等を援用して記載する。ただし、以下の記載における各符号等は、特許請求の範囲における構成要素を実施の形態に具体的に示した部材等に限定するものではない。
【００６２】
［１］第１光ポート（２）と、前記第１光ポート（２）から入力された光を出力するための第２光ポート（３）と、を備え、少なくとも、前記第１光ポート（２）と前記第２光ポート（３）の一方を複数備えており、前記第１光ポート（２）と前記第２光ポート（３）との間に設けられ、光学的に接続する前記第１光ポート（２）と前記第２光ポート（３）の組み合わせを切り替え可能な光スイッチング機構（４）と、前記第１光ポート（２）と前記光スイッチング機構（４）との間に設けられ、前記第１光ポート（２）から入力される光の光強度を検出可能な第１光モニタ機構（５）と、前記第２光ポート（３）と前記光スイッチング機構（４）との間に設けられ、前記第２光ポート（３）から出力される光の光強度を検出可能な第２光モニタ機構（６）と、を備えた、光スイッチ（１）。
【００６３】
［２］前記第１光モニタ機構（５）は、前記第１光ポート（２）で入出力される光の光強度を検出可能に構成されており、前記第２光モニタ機構（６）は、対応する前記第２光ポート（３）で入出力される光の光強度を検出可能に構成されている、［１］に記載の光スイッチ（１）。
【００６４】
［３］前記第１光モニタ機構（５）及び前記第２光モニタ機構（６）で検出した光強度を基に、前記第１光ポート（２）と前記第２光ポート（３）間での光損失を演算する光損失演算部（７）をさらに備えた、［１］または［２］に記載の光スイッチ（１）。
【００６５】
［４］前記光損失演算部（７）で演算した光損失が、予め設定した閾値を超えたときアラームを発するアラーム報知部（８）をさらに備えた、［３］に記載の光スイッチ（１）。
【００６６】
［５］［１］乃至［４］の何れか１項に記載の光スイッチ（１）と、検査対象となる光トランシーバ（１１）の光特性を測定するための複数の光測定器（１２）と、を備え、前記検査対象となる光トランシーバ（１１）の光出力と前記光スイッチ（１）の前記第１光ポート（２）とを光学的に接続し、前記光スイッチ（１）の前記複数の第２光ポート（３）と前記複数の光測定器（１２）とをそれぞれ光学的に接続した、検査システム（１０）。
【００６７】
以上、本発明の実施の形態を説明したが、上記に記載した実施の形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。また、実施の形態の中で説明した特徴の組合せの全てが発明の課題を解決するための手段に必須であるとは限らない点に留意すべきである。
【００６８】
本発明は、その趣旨を逸脱しない範囲で適宜変形して実施することが可能である。例えば、光スイッチ１の用途は光トランシーバ用の検査システム１０に限定されない。
【符号の説明】
【００６９】
１…光スイッチ
２…第１光ポート
３…第２光ポート
４…光スイッチング機構
５…第１光モニタ機構
６…第２光モニタ機構
７…光損失演算部
８…アラーム報知部
１０…検査システム
１１…被測定（ＤＵＴ）光トランシーバ
１２…光測定器
１３…光源
１４…光アッテネータ
【図１】
2018031830.tif 000003
【図２】
2018031830.tif 000004
【図３】
2018031830.tif 000005