(57)【要約】【課題】絞り機構や光源ランプが誤作動や故障した際も、大型化、複雑化、コストUPなく、確実にエラー検知することを可能にした投射表示装置を提供すること。【解決手段】発光強度を調整可能な光源ランプと、光源ランプからの光路中に配置され、開閉により光源からの光を遮光する遮光手段と、投射中に投影画像と対応する照度を測定可能な照度測定手段と、を有する投射表示装置において、前記照度測定手段は前記遮光手段とは空間的に隔絶された箇所に配置され、 前記照度測定手段により測定された照度データより遮光手段の開閉を検知することを特徴とする構成とした。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
発光強度を調整可能な光源ランプと、
光源ランプからの光路中に配置され、開閉により光源からの光を遮光する遮光手段と、
投射中に投影画像と対応する照度を測定可能な照度測定手段と、
を有する投射表示装置において、
前記照度測定手段は前記遮光手段とは空間的に隔絶された箇所に配置され、 
前記照度測定手段により測定された照度データより遮光手段の開閉を検知すること、
を特徴とする投射表示装置。
【請求項２】
請求項1に記載の投射表示装置において、
投射表示装置は光源ランプからの光を分離、合成するためのプリズムを有し、
照度測定手段はプリズムの光入射面と平行な面に対向する位置に配置されること、
を特徴とした投射表示装置。
【請求項３】
請求項1または2に記載の投射表示装置において、
任意の画像を生成するための液晶表示装置を有し、
照度測定手段は前記液晶表示装置のフリッカ補正の為の照度測定も兼ねること、
を特徴とする投射表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、投射表示装置に関し、特に絞り機構の開閉検知に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光源ランプを大幅に減光したり、大幅に減光した状態から元の減光しない状態に短時間で戻すことが困難であった。しかし近年、光源ランプと制御技術の発達でこれらのことが可能となってきた。これにより、高輝度であっても絞り機構の開閉と光源ランプの減光を併用することで（温度上昇を低減）、長時間にわたりランプを消灯せずに投影を中断し、再開時は短時間で投影を再開することが可能となっている。
【０００３】
例えば、特許文献１では第１の絞りの入射方向の前段に、第１の絞りよりも耐熱性の高い材料の第２の絞りを配置し、第１の絞り羽根を輝度の強い光線から保護する提案が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１２−１１３０１５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
絞り機構や光源ランプが誤作動や故障した場合は、絞り機構や光源ランプは高温となるため、センサでのモニタリングが必須となる。センサは絞り機構や光源ランプが誤作動や故障したことによる発熱で同時に故障せぬよう一段階適切な箇所に設置する必要があり、熱的、距離的に離して設置する必要があるが、大型化、複雑化、コストUPを招くため問題解決手法が求められていた。
【０００６】
しかしながら、上述の特許文献に開示された従来技術では、絞り機構自身の保護は可能であるが、誤作動や故障時の検知に関しては言及されておらず、十分な対策とは言えない。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、絞り機構や光源ランプが誤作動や故障した際も、大型化、複雑化、コストUPなく、高い確率でエラー検知することを可能にした投射表示装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、本発明は、発光強度を調整可能な光源ランプと、
光路途中に配置され、開閉により光源からの光を遮光する遮光手段と、
装置内に配置され、投射中に投影画像と対応する照度を測定可能な照度測定手段と、
を有する投射表示装置において、 
前記照度測定手段は前記遮光手段とは空間的に隔絶された箇所に配置され、 
前記照度測定手段により測定された照度データより遮光手段の開閉を検知すること、
を特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、絞り機構や光源ランプが誤作動や故障した際も、大型化、複雑化、コストUPなく、エラーを検知できる確率を高くすることを可能にした投射表示装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本実施例を説明するためのフローチャート
【図２】本実施例を説明するための投射表示装置における必要ユニット抜粋略図
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。図１は、本発明の実施形態を説明するフローチャートである。図2は、本発明の実施形態にかかわる投射表示装置を示す図である。
【００１２】
1は光源ランプ。2は開閉により光源1からの出射光を遮光する絞り。7は絞り2を開閉させるための駆動手段であるモータ。11A、11B、11Cは任意の画像を生成するための液晶表示素子であり、赤、青、緑色用の合計3つある。6は生成された画像を投影するための投射レンズ。10A、10B、10Cは光源ランプ1からの出射光を赤、青、緑の3色に分解して液晶表示素子11A、11B、11Cに照射し、また、液晶表示素子11A、11B、11Cからの光を合成するためのプリズム。12は光源ランプ1からの出射光を分光するためのダイクロイックミラー。
【００１３】
3は光源からの光強度を検出し、さらに液晶表示素子のフリッカ補正のためにも使用される照度検出センサ。照度検出センサ3は任意時間ごとに照度を検出する。9は光源ランプ1と図示せぬ光学部品を格納し、出射光を均一化して液晶表示素子11A、11B、11Cへ照射するための照明光学系ユニット。5はダイクロイックミラー12、プリズム10A、10B、10C、液晶表示素子11A、11B、11C、照度検出センサ3を格納する色分離合成光学系ユニット。8は光源ランプの駆動状況を検出するための光源ランプ駆動検出センサ。4は光源ランプの駆動状況と照度検出センサの関係を記憶するための記憶装置。
【００１４】
［実施例］
以下、図1、2を参照して、本発明の実施例について説明する。本実施例の流れを
Step1：投射表示装置を投影中に、ユーザーがランプを消灯せずに投影を一時中断させる指令を出す。
Step2：光源ランプ1は通常点灯状態と比較して2割程度の出力まで減光する。
Step3：絞り2はモータ7により光路中にて閉じられて、光源ランプ1からの出射光を遮光する。
【００１５】
Step4：光源ランプ1が指令通りに駆動しているかを光源ランプ駆動検出センサ8で検出する。具体的には温度センサで出力差に比例する温度を検知している。
Step5：照度検出センサ3により照度を検出する。照度センサ3は通常、液晶パネル11のフリッカ補正の為に照度を検出しているセンサであり、ランプを消灯せずに投影を一時中断させる指令がされた際は本センサで照度を検出する。照度センサ3は色分離合成光学系ユニット5内で、かつ、プリズム10Cに面して配置され、絞り2が配置される照明光学系ユニット9とは部品により仕切られた別の空間に配置されることで熱的影響を受けにくい。
【００１６】
Step6：光源ランプ駆動検出センサ8からの検出結果と、照度検出センサ3からの検出結果と記憶装置4内に記憶されるデータとを照合する。記憶されるデータは光源ランプ駆動検出センサ8の温度データに対する照度検出センサ3の照度データとの関係をあらかじめ記録させたテーブルを指す。照合では、光源ランプ駆動検出センサ8の検出結果に対して、照度センサ3の検出結果があらかじめ記憶された任意照度になっているか、を判断する。
Step7：上記のStep6で記憶情報と取得データが合致したか、合致していないかを判断する。
【００１７】
Step8：上記Step7で合致した場合、光源ランプ1の減光と絞り2の開閉状態を継続する。Step9：上記Step7で合致していない場合、絞りを開く。
Step10：エラー表示を行う。具体的には投影画面にエラー表示するか、本体ランプの点灯にてエラー表示してもよい。
【００１８】
本構成とすることで、元々設置されている液晶パネル11のフリッカ調整用の照度検出センサ3で絞りの開閉を検知することができる為、新たな検出手段を設ける必要がない。また、照度検出センサ3は色分離合成系ユニット5内に配置されているので、照明光学系ユニット9に配置される絞り2と部品により空間的に離れて配置されることから、故障時の熱的な影響を受けず確実に開閉状況を検知できる。
【００１９】
さらに熱的に影響を受けない箇所に検出手段を配置できるので、本来必要な熱的影響を避けるための構成、部品の追加がなくセットの大型化を招くことがない。
【００２０】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
【符号の説明】
【００２１】
1-光源ランプ。2-絞り。3-照度検出センサ。4-記憶装置。5-色分離合成光学系ユニット。6-投射レンズ。7-モータ。8-光源ランプ駆動検出センサ。9-照明光学系ユニット。10-プリズム。11-液晶表示素子。12-ダイクロイックミラー。
【図１】
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【図２】
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