(57)【要約】【課題】試験対象の属性ごとに設定値が異なる試験仕様雛形を用いた試験仕様の作成を効率的に行うことを目的とする。【解決手段】設定値が設定される設定変数と試験仕様値を表す試験仕様変数とを含む条件式を有する試験仕様雛形２１０と、設定変数に設定する設定値をソフトウェアの属性ごとに対応付けた設定値情報２２０とを記憶する記憶部１２０と、試験対象情報２３０に含まれるソフトウェアの属性に基づいて、設定値情報２２０から設定変数に設定する設定値を代入設定値として抽出する設定値取得部１６０と、試験仕様雛形２１０に含まれる条件式の設定変数に代入設定値を代入し、代入された条件式を用いて試験仕様変数の値を試験仕様値として算出する解析部１８とを備えた。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ソフトウェアの試験に用いる試験仕様値を含む試験仕様を生成する試験仕様生成装置において、
設定値が設定される設定変数と前記試験仕様値を表す試験仕様変数とを含む条件式を有する試験仕様雛形と、前記設定変数に設定する設定値を前記ソフトウェアの属性ごとに対応付けた設定値情報とを記憶する記憶部と、
前記ソフトウェアの属性を含む試験対象情報を取得し、前記試験対象情報に含まれる前記ソフトウェアの属性に基づいて、前記設定値情報から前記設定変数に設定する設定値を代入設定値として抽出する設定値取得部と、
前記試験仕様雛形に含まれる前記条件式の前記設定変数に前記代入設定値を代入し、前記代入設定値が代入された前記条件式を用いて前記試験仕様変数の値を前記試験仕様値として算出する解析部と
を備えた試験仕様生成装置。
【請求項２】
前記設定値情報は、前記ソフトウェアを動作させる装置の機種を前記ソフトウェアの属性として、前記ソフトウェアが動作する機種ごとに設定値が設定された請求項１に記載の試験仕様生成装置。
【請求項３】
前記試験仕様生成装置は、さらに、
前記ソフトウェアを動作させる装置の状態を表す試験環境値を取得する試験環境取得部を備え、
前記試験仕様雛形は、
前記試験環境値が設定される変数を環境変数として前記条件式に含み、
前記解析部は、
前記試験仕様雛形に含まれる前記条件式の前記環境変数に前記試験環境値を代入し、前記試験環境値が代入された前記条件式を用いて前記試験仕様値を算出する請求項１または２に記載の試験仕様生成装置。
【請求項４】
前記試験仕様雛形は、
前記ソフトウェアに入力される入力値と前記入力値が入力された前記ソフトウェアから出力することが期待される出力期待値とを前記試験仕様値として含み、
前記解析部は、
前記入力値と前記出力期待値とを前記試験仕様値として算出する請求項１から３のいずれか１項に記載の試験仕様生成装置。
【請求項５】
前記試験仕様雛形は、
前記入力値を表す入力値変数を含む入力側条件式と、前記出力期待値を表す出力期待値変数を含む出力側条件式との少なくともいずれかを前記条件式として含む請求項４に記載の試験仕様生成装置。
【請求項６】
前記試験仕様雛形は、
出力側条件式に前記入力値変数を含み、
前記解析部は、
前記入力側条件式を用いて前記入力値を算出した後に、前記入力値を前記出力側条件式に代入し、前記入力値が代入された前記出力側条件式を用いて前記出力期待値を算出する請求項５に記載の試験仕様生成装置。
【請求項７】
前記試験仕様雛形は、さらに、
前記試験仕様雛形を用いるか否かの判定の条件を雛形選択条件として含み、
前記試験仕様生成装置は、さらに、
前記雛形選択条件に基づいて、前記試験仕様雛形を用いるか否かを判定する雛形選択部を備えた請求項１から６のいずれか１項に記載の試験仕様生成装置。
【請求項８】
前記雛形選択条件は、
前記設定変数に設定する設定値の条件と前記ソフトウェアの属性の条件との少なくともいずれかを含む請求項７に記載の試験仕様生成装置。
【請求項９】
前記試験仕様生成装置は、さらに、
前記解析部により生成された前記試験仕様と前記試験仕様が生成された生成日時とを格納する試験仕様格納部を備え、
前記設定値情報は、
前記設定値情報の内容を編集した編集日時を含み、
前記試験仕様雛形は、
前記試験仕様雛形の内容を修正した修正日時を含み、
前記雛形選択部は、
前記生成日時と前記編集日時と前記修正日時とに基づいて、前記生成日時に生成された試験仕様を用いて試験をするか否かを判定する請求項７または８に記載の試験仕様生成装置。
【請求項１０】
前記雛形選択部は、
前記編集日時と前記修正日時との少なくともいずれかが前記生成日時より後の日時の場合に、前記生成日時に生成された試験仕様を用いずに試験仕様を新たに生成すると判定する請求項９に記載の試験仕様生成装置。
【請求項１１】
ソフトウェアの試験に用いる試験仕様値を含む試験仕様を生成する試験仕様生成装置の試験仕様生成方法において、
前記試験仕様生成装置は、設定値が設定される設定変数と前記試験仕様値を表す試験仕様変数とを含む条件式を有する試験仕様雛形と、前記設定変数に設定する設定値を前記ソフトウェアの属性ごとに対応付けた設定値情報とを記憶する記憶部を備え、
設定値取得部が、前記ソフトウェアの属性を含む試験対象情報を取得し、前記試験対象情報に含まれる前記ソフトウェアの属性に基づいて、前記設定値情報から前記設定変数に設定する設定値を代入設定値として抽出し、
解析部が、前記試験仕様雛形に含まれる前記条件式の前記設定変数に前記代入設定値を代入し、前記代入設定値が代入された前記条件式を用いて前記試験仕様変数の値を前記試験仕様値として算出する試験仕様生成方法。
【請求項１２】
ソフトウェアの試験に用いる試験仕様値を含む試験仕様を生成する試験仕様生成装置の試験仕様生成プログラムにおいて、
前記試験仕様生成装置は、設定値が設定される設定変数と前記試験仕様値を表す試験仕様変数とを含む条件式を有する試験仕様雛形と、前記設定変数に設定する設定値を前記ソフトウェアの属性ごとに対応付けた設定値情報とを記憶する記憶部を備え、
前記ソフトウェアの属性を含む試験対象情報を取得し、前記試験対象情報に含まれる前記ソフトウェアの属性に基づいて、前記設定値情報から前記設定変数に設定する設定値を代入設定値として抽出する設定値取得処理と、
前記試験仕様雛形に含まれる前記条件式の前記設定変数に前記代入設定値を代入し、前記代入設定値が代入された前記条件式を用いて前記試験仕様変数の値を前記試験仕様値として算出する解析処理と
をコンピュータである前記試験仕様生成装置に実行させる試験仕様生成プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験仕様生成装置、試験仕様生成方法及び試験仕様生成プログラムに関する。特に、制御が同一または類似している複数のソフトウェアに対する試験仕様を単一の試験情報から生成する試験仕様生成装置、試験仕様生成方法及び試験仕様生成プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
多くの量産品開発では、ユーザのニーズや価格要求に応じた機能の有無、スペックの高低、販売先等により、１つの製品群中に機能の一部もしくは大部分が類似或いは同一である複数の機種がラインアップされる。
【０００３】
製品の機能が類似している場合、新規開発量を削減し開発を効率化するために、既存の類似ソフトウェアを一部流用することが頻繁に行われる。開発によっては、機能やハードウェアに対応してソースコードを部品化し、その部品を組み合わせることで製品全体のソフトウェアを構築可能な仕組みを導入している。また、既存ソフトウェアのロジックは変えずに、異常検出の基準となる閾値やハードウェアへの出力指令値など、機種やスペックに固有なデータのみを変更して新機種のソフトウェアとして使用することもある。
【０００４】
このように製品で使用しているソフトウェアの大部分もしくは全部が既存製品から流用したものであったとしても、組み合わせたソフトウェア全体での動作が意図した通りであるかを確認する必要がある。また、製品としての品質を確保するためには、ハードウェアも含めた製品全体としての検証も重要である。
【０００５】
類似機種の動作検証をする場合、制御ロジックが同一である部分においては、試験者が確認するべき事項は本質的には同じである。しかし、機種固有データの差異により、入力である試験条件の入力値や出力である試験結果の出力期待値（以下、これらを入出力値或いは試験仕様値と呼ぶ）が異なるため、他機種の試験仕様を直接流用できない場合が多い。
【０００６】
類似機種のソフトウェア試験仕様生成を効率化する技術として、特許文献１のような技術がある。特許文献１では、試験仕様の中で各機種によって変更されうる部分を所定の変数で記述した試験仕様雛形を作成する。そして、この変数へ代入すべき値を機種固有の設定情報（以下、単に「設定値」と呼ぶ）として保存し、試験仕様作成時に代入することで、単一の試験仕様雛形から各機種向けにカスタマイズされた試験の生成を実現している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００５−２５０５９０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、特許文献１の試験仕様作成技術では、試験仕様雛形において変数で記述された部分に対し、設定値をそのまま代入するため、次の（ａ１），（ａ２）のような試験の自動生成を行うことはできない。
（ａ１）試験条件や出力期待値に、演算を行った結果を代入させる必要がある場合。
（ａ２）試験条件となる入力値が不等式による制約条件によって規定されている場合。
すなわち、入出力値に代入する設定値が演算等を行うことで間接的に表現される場合である。
【０００９】
上記のように試験仕様に現れる入出力値を設定値で直接的に表現することはできない場合、以下の（ｂ１），（ｂ２）の手順を踏む必要があり試験仕様雛形作成に時間を要していた。
（ｂ１）要求仕様書等で試験条件や制御動作を参照し、該当する試験に関係する入出力を抽出する。
（ｂ２）全試験の全入出力値に対して、各々に代入すべき数値を直接的に表現する変数（以降、「中間生成値」と呼ぶ）を定義し、試験仕様雛形の試験条件及び出力期待値には、この中間生成値を用いて記述する。
この中間生成値は全試験の入出力値ごとに個別で必要となるため、試験仕様作成時に中間生成値を１つずつ定義し、試験仕様雛形の入出力値は全て中間生成値を用いて表記する必要がある。そのため、試験仕様を効率的に作成するために用いる試験仕様雛形の作成に時間を要していた。
【００１０】
本発明は、試験対象の属性ごとに設定値が異なる試験仕様雛形を用いた試験仕様の作成を効率的に行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明に係る試験仕様生成装置は、ソフトウェアの試験に用いる試験仕様値を含む試験仕様を生成する試験仕様生成装置において、
設定値が設定される設定変数と前記試験仕様値を表す試験仕様変数とを含む条件式を有する試験仕様雛形と、前記設定変数に設定する設定値を前記ソフトウェアの属性ごとに対応付けた設定値情報とを記憶する記憶部と、
前記ソフトウェアの属性を含む試験対象情報を取得し、前記試験対象情報に含まれる前記ソフトウェアの属性に基づいて、前記設定値情報から前記設定変数に設定する設定値を代入設定値として抽出する設定値取得部と、
前記試験仕様雛形に含まれる前記条件式の前記設定変数に前記代入設定値を代入し、前記代入設定値が代入された前記条件式を用いて前記試験仕様変数の値を前記試験仕様値として算出する解析部とを備えた。
【発明の効果】
【００１２】
本発明に係る試験仕様生成装置は、ソフトウェアの属性を含む試験対象情報を取得し、試験対象情報に含まれるソフトウェアの属性に基づいて、設定値情報から設定変数に設定する設定値を代入設定値として抽出する設定値取得部を備える。また、試験仕様雛形に含まれる条件式の設定変数に代入設定値を代入し、代入設定値が代入された条件式を用いて試験仕様変数の値を試験仕様値として算出する解析部を備える。よって、本発明に係る試験仕様生成装置によれば、試験仕様の試験仕様値が設定値で直接表現できない場合であっても、仕様書等に記載されている条件式や数式等の形式的記述を試験仕様雛形にそのまま記載するだけで属性ごとの試験仕様を生成することができる。したがって、本発明に係る試験仕様生成装置によれば、試験対象の属性ごとに設定値が異なる試験仕様雛形を用いた試験仕様の作成を効率的に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】実施の形態１に係る試験仕様生成装置１０の構成図。
【図２】実施の形態１に係る試験仕様雛形２１０の例を示す図。
【図３】実施の形態１に係る設定値情報２２０の例を示す図。
【図４】実施の形態１に係る試験仕様生成装置１０の試験仕様生成方法５１０及び試験仕様生成プログラム５２０の仕様生成処理Ｓ１００を示すフロー図。
【図５】実施の形態１に係る試験仕様生成処理Ｓ１３０を示すフロー図。
【図６】図３の試験仕様雛形２１０に図４における機種Ｘの設定値２２３を代入設定値２２３ｘとして代入した試験仕様候補２１９の例を示す図。
【図７】図６に示す試験仕様候補２１９の条件式を解いた結果からなる試験仕様２４０を示す図。
【図８】実施の形態１の変形例に係る試験仕様生成装置１０の構成図。
【図９】実施の形態２に係る試験仕様生成装置１０ａの構成図。
【図１０】試験仕様雛形の条件式の入出力値に試験対象装置内外の状態を示す試験環境値を追加し拡張した例。
【図１１】試験仕様雛形に雛形選択条件を追加し拡張した例。
【図１２】試験仕様雛形において出力期待値が入力値に依存する例。
【図１３】図９から図１１の拡張を全て採用した試験仕様雛形の例。
【図１４】実施の形態２に係る試験仕様生成処理Ｓ１３０ａを示すフロー図。
【図１５】実施の形態３に係る試験仕様生成装置１０ｂの構成図。
【図１６】実施の形態３に係る設定値情報２２０ｂの例を示す図。
【図１７】実施の形態３に係る試験仕様雛形２１０ｂの例を示す図。
【図１８】実施の形態３に係る試験仕様生成処理Ｓ１３０ｂを示すフロー図。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明の実施の形態について、図を用いて説明する。なお、各図中、同一または相当する部分には、同一符号を付している。実施の形態の説明において、同一または相当する部分については、説明を適宜省略または簡略化する。
【００１５】
実施の形態１．
＊＊＊構成の説明＊＊＊
図１を用いて、本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０の構成について説明する。
本実施の形態において、試験仕様生成装置１０は、コンピュータである。試験仕様生成装置１０は、プロセッサ９１０を備えると共に、記憶装置９２０、入力インタフェース９３０、出力インタフェース９４０といった他のハードウェアを備える。記憶装置９２０は、メモリと補助記憶装置とを有する。
【００１６】
図１に示すように、試験仕様生成装置１０は、機能構成として、雛形管理部１１０と、記憶部１２０と、設定値管理部１３０と、情報入力部１５０と、設定値取得部１６０と、代入部１７０と、試験条件解析部１８０とを備える。代入部１７０と試験条件解析部１８０とを合わせて解析部１８という。記憶部１２０は、雛形蓄積部１２１と設定値蓄積部１２２とを備える。以下の説明では、試験仕様生成装置１０における雛形管理部１１０と、設定値管理部１３０と、情報入力部１５０と、設定値取得部１６０と、代入部１７０と、試験条件解析部１８０とを、試験仕様生成装置１０の「部」の機能という。
【００１７】
試験仕様生成装置１０の「部」の機能は、ソフトウェアで実現される。
また、記憶部１２０は、記憶装置９２０で実現される。
【００１８】
プロセッサ９１０は、信号線を介して他のハードウェアと接続され、これら他のハードウェアを制御する。
プロセッサ９１０は、プロセッシングを行うＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）である。プロセッサ９１０は、具体的には、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）等である。
【００１９】
入力インタフェース９３０は、マウス、キーボード、タッチパネルといった入力装置と接続されるポートである。入力インタフェース９３０は、具体的には、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ・Ｓｅｒｉａｌ・Ｂｕｓ）端子である。なお、入力インタフェース９３０は、ＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ・Ａｒｅａ・Ｎｅｔｗｏｒｋ）と接続されるポートであってもよい。
出力インタフェース９４０は、ディスプレイといった表示機器のケーブルが接続されるポートである。出力インタフェース９４０は、例えば、ＵＳＢ端子又はＨＤＭＩ（登録商標）（Ｈｉｇｈ・Ｄｅｆｉｎｉｔｉｏｎ・Ｍｕｌｔｉｍｅｄｉａ・Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）端子である。ディスプレイは、具体的には、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ・Ｃｒｙｓｔａｌ・Ｄｉｓｐｌａｙ）である。
【００２０】
補助記憶装置は、具体的には、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、フラッシュメモリ、又は、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ）である。メモリは、具体的には、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）である。記憶部１２０は、補助記憶装置により実現されてもよいし、メモリにより実現されてもよいし、メモリと補助記憶装置とにより実現されていてもよい。記憶部１２０の実現方法は任意である。
【００２１】
補助記憶装置には、「部」の機能を実現するプログラムが記憶されている。このプログラムは、メモリにロードされ、プロセッサ９１０に読み込まれ、プロセッサ９１０によって実行される。補助記憶装置には、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）も記憶されている。ＯＳの少なくとも一部がメモリにロードされ、プロセッサ９１０はＯＳを実行しながら、「部」の機能を実現するプログラムを実行する。
【００２２】
試験仕様生成装置１０は、プロセッサ９１０を代替する複数のプロセッサを備えていてもよい。これらの複数のプロセッサは、「部」の機能を実現するプログラムの実行を分担する。それぞれのプロセッサは、プロセッサ９１０と同じように、プロセッシングを行うＩＣである。
【００２３】
「部」の機能による処理の結果を示す情報、データ、信号値、及び、変数値は、メモリ、補助記憶装置、又は、プロセッサ９１０内のレジスタ又はキャッシュメモリに記憶される。なお、図１において、各部と記憶部とを結ぶ矢印は、各部が処理の結果を記憶部に記憶すること、或いは、各部が記憶部から情報を読み出すことを表している。また、各部を結ぶ矢印は、制御の流れを表している。
【００２４】
試験仕様生成装置１０の「部」の機能を実現するプログラムは、磁気ディスク、フレキシブルディスク、光ディスク、コンパクトディスク、ブルーレイ（登録商標）ディスク、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）といった可搬記録媒体に記憶されてもよい。
なお、試験仕様生成装置１０の「部」の機能を実現するプログラムを試験仕様生成プログラム５２０ともいう。また、試験仕様生成プログラムプロダクトと称されるものは、試験仕様生成プログラム５２０が記録された記憶媒体及び記憶装置であり、見た目の形式に関わらず、コンピュータ読み取り可能なプログラムをロードしているものである。
【００２５】
＊＊＊機能構成の説明＊＊＊
次に、試験仕様生成装置１０の機能構成について説明する。
開発者は、仕様書等から作成された試験仕様雛形２１０と試験対象のソフトウェアに応じた設定値情報２２０とを予め作成する。
雛形管理部１１０は、入力インタフェース９３０を介して試験仕様雛形２１０を取得し、雛形蓄積部１２１に登録する。雛形管理部１１０は、雛形蓄積部１２１に登録された試験仕様雛形２１０の修正も受け付ける。
設定値管理部１３０は、入力インタフェース９３０を介して設定値情報２２０を取得し、設定値蓄積部１２２に登録する。設定値管理部１３０は、設定値蓄積部１２２に登録された設定値情報２２０の編集も受け付ける。設定値管理部１３０から設定値情報２２０への一点鎖線の矢印は、入力インタフェース９３０を介した設定値情報２２０の追加・編集を表わす。
【００２６】
図２を用いて、本実施の形態に係る試験仕様雛形２１０の例について説明する。また、図３を用いて、本実施の形態に係る設定値情報２２０の例について説明する。
試験仕様雛形２１０は、ソフトウェアの試験に用いる試験仕様値２１１を含む試験仕様２４０の雛形である。試験仕様雛形２１０は、設定値２２３が設定される設定変数２２１と、試験仕様値２１１を表す試験仕様変数２１１ｘとを含む条件式２１６を有する。
試験仕様雛形２１０は、ソフトウェアに入力される入力値２１２と、入力値２１２が入力されたソフトウェアから出力することが期待される出力期待値２１３とを試験仕様値２１１として含む。また、試験仕様雛形２１０は、入力値２１２を表す入力値変数２１２ｘを含む入力側条件式２１４と、出力期待値２１３を表す出力期待値変数２１３ｘを含む出力側条件式２１５との少なくともいずれかを条件式２１６として含む。
試験仕様雛形２１０は、図２のように、少なくとも「入力」「出力」の２要素を含み、入力値２１２と出力期待値２１３との各々は、定数と、設定値を設定する設定変数２２１と、試験仕様変数２１１ｘとを含んだ条件式や数式等の形式的記述で表現されている。
試験仕様雛形２１０は、仕様書等の設計情報が記載されている文書もしくは過去の試験仕様書又はノウハウをインプットとして作成する。試験仕様雛形２１０の「入力」と「出力」部分は、上記のように条件式や数式等の形式的記述で試験仕様値が記述されていれば良く、中間生成値を定義する必要は無い。
【００２７】
図３に示すように、設定値情報２２０は、設定変数２２１に設定する設定値２２３が、ソフトウェアの属性２２２ごとに対応付けられた情報である。なお、本実施の形態では、設定値情報２２０は、ソフトウェアを動作させる装置の機種をソフトウェアの属性２２２として、ソフトウェアが動作する機種ごとに設定値２２３が設定されている。
設定値情報２２０は、試験仕様雛形２１０に出現した設定変数２２１の具体的な値を設定値２２３として定義するために、各機種又はソフトウェアもしくは機種群又はソフトウェア群等の分類ごとに、設定変数２２１に設定値２２３が対応付けられている。
設定値蓄積部１２２には、各機種又はソフトウェアもしくは機種群又はソフトウェア群等の分類ごとに、試験仕様雛形２１０の入力側条件式２１４或いは出力側条件式２１５で使用した設定変数２２１の具体的な値として設定値２２３が定義されている必要がある。
【００２８】
情報入力部１５０は、開発者により今回の試験対象として選定されたソフトウェアに関する試験対象情報２３０を受け取る。試験対象情報２３０には、試験対象のソフトウェアの属性が含まれる。具体的には、試験対象情報２３０には、試験対象のソフトウェアが動作する機種の機種情報、システム構成等が含まれる。
設定値取得部１６０は、試験対象情報２３０に含まれるソフトウェアの属性に基づいて、設定値情報２２０から設定変数２２１に設定する設定値２２３を代入設定値２２３ｘとして抽出する。設定値取得部１６０は、情報入力部１５０から受け取った試験対象情報２３０を基に、記憶部１２０に記憶された設定値情報２２０から今回の試験対象に対応する設定値２２３を抽出する。
解析部１８の代入部１７０は、試験仕様雛形２１０に含まれる条件式２１６の設定変数２２１に代入設定値２２３ｘを代入する。具体的には、代入部１７０は、雛形蓄積部１２１から試験仕様雛形２１０を抽出し、試験仕様雛形２１０の設定変数２２１の部分に設定値取得部１６０が抽出した代入設定値２２３ｘを代入する。
解析部１８の試験条件解析部１８０は、代入設定値２２３ｘが代入された条件式２１６を用いて試験仕様変数２１１ｘの値を試験仕様値２１１として算出する。すなわち、解析部１８の試験条件解析部１８０は、入力値２１２と出力期待値２１３とを試験仕様値２１１として算出する。具体的には、試験条件解析部１８０は、代入部１７０によって具体的な定数値である代入設定値２２３ｘが代入された試験仕様雛形２１０の条件式を解き、試験の入出力値である試験仕様値２１１を決定する。そして、試験条件解析部１８０は、決定した入力値２１２と出力期待値２１３とを試験仕様２４０として生成する。試験条件解析部１８０は、出力インタフェース９４０を介して、生成した試験仕様２４０を出力する。
【００２９】
＊＊＊動作の説明＊＊＊
図４を用いて、本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０の試験仕様生成方法５１０及び試験仕様生成プログラム５２０の仕様生成処理Ｓ１００について説明する。
ステップＳ１１０において、雛形管理部１１０は、入力インタフェース９３０を介して試験仕様雛形２１０を取得し、雛形蓄積部１２１に記憶する。
ステップＳ１２０において、設定値管理部１３０は、入力インタフェース９３０を介して設定値情報２２０を取得し、設定値蓄積部１２２に記憶する。
【００３０】
試験仕様雛形２１０と設定値情報２２０との登録が完了すると、情報入力部１５０は、入力インタフェース９３０を介して試験対象のソフトウェアの情報を試験対象情報２３０として取得する。そして、試験仕様生成装置１０は、試験対象情報２３０に基づいて、試験仕様２４０を生成する試験仕様生成処理Ｓ１３０を実行する。
【００３１】
図５を用いて、本実施の形態に係る試験仕様生成処理Ｓ１３０の詳細な処理について説明する。
試験仕様生成処理Ｓ１３０は、設定値取得処理Ｓ１０と、解析処理Ｓ２０とを有する。
設定値取得処理Ｓ１０において、設定値取得部１６０は、試験対象情報２３０を取得し、試験対象情報２３０に含まれるソフトウェアの属性に基づいて、設定値情報２２０から設定変数２２１に設定する設定値２２３を代入設定値２２３ｘとして抽出する。
解析処理Ｓ２０において、解析部１８は、試験仕様雛形２１０に含まれる条件式２１６の設定変数２２１に代入設定値２２３ｘを代入し、代入設定値２２３ｘが代入された条件式２１６を用いて試験仕様変数２１１ｘの値を試験仕様値２１１として算出する。
以下に具体的に説明する。
【００３２】
ステップＳ１３１において、設定値取得部１６０は、試験対象情報２３０に基づいて、設定値蓄積部１２２の設定値情報２２０から試験対象のソフトウェアに対応する設定値２２３を代入設定値２２３ｘとして抽出する。
ステップＳ１３２において、代入部１７０は、雛形蓄積部１２１から試験仕様雛形２１０を任意に１つ選択して取り出す。ステップＳ１３３において、代入部１７０は、設定値取得部１６０により抽出された代入設定値２２３ｘを試験仕様雛形２１０に代入する。代入設定値２２３ｘが代入された試験仕様雛形２１０を試験仕様候補２１９とする。
【００３３】
図６は、図３の試験仕様雛形２１０に図４における機種Ｘの設定値２２３を代入設定値２２３ｘとして代入した試験仕様候補２１９である。
図６の状態では、試験仕様候補２１９の入力は制約条件を含んだ式となっている。
そこで、ステップＳ１３４において、試験条件解析部１８０は、試験仕様候補２１９の入力側条件式を試験仕様変数２１１ｘであるＩＮ＿１及びＩＮ＿２について解く。
【００３４】
ステップＳ１３５において、試験条件解析部１８０は、条件式に解が存在するか否かを判定する。解が存在しない場合（ステップＳ１３５でＮＯ）、ステップＳ１３７に進む。ステップＳ１３７において、試験条件解析部１８０は、出力インタフェース９４０を介して、エラー通知を出力し、ステップＳ１３８に進む。条件式に解が存在しない場合、その試験は論理的に実行不可能であるため、設定値情報２２０もしくは試験仕様雛形２１０に誤りが含まれている旨のエラーを出す。
【００３５】
解が存在する場合（ステップＳ１３５でＹＥＳ）、ステップＳ１３６に進む。ステップＳ１３６において、試験条件解析部１８０は、算出された解を試験仕様２４０とし、ステップＳ１３８に進む。
【００３６】
図７は、図６に示す試験仕様候補２１９の条件式を解いた結果である試験仕様２４０を示す図である。試験条件解析部１８０は、試験仕様候補２１９を用いて、試験仕様変数２１１ｘであるＩＮ＿１及びＩＮ＿２の値を試験仕様値２１１として算出する。
図７のように得られたＩＮ＿１及びＩＮ＿２の値及びＯＵＴ＿５の値を試験仕様値２１１とする試験仕様２４０が完成する。条件式から複数の解が得られる場合は、解の中から任意に１つを選択してもよい。
【００３７】
ステップＳ１３８において、全試験仕様雛形２１０について処理した場合（ステップＳ１３８でＹＥＳ）、処理を終了する。未処理の試験仕様雛形２１０がある場合（ステップＳ１３８でＮＯ）ステップＳ１３２に戻り、次の試験仕様雛形２１０について処理を繰り返す。すなわち、代入部１７０が雛形蓄積部１２１からまだ試験仕様２４０を生成していない試験仕様雛形２１０を選択し、全試験仕様雛形を選択し終えるまで上記手順を繰り返す。
【００３８】
なお、条件式の解を導出するためには、考えうる全ての入力値の組み合わせを順番に確かめていく方法でも良いが、条件式の特徴に応じて線形計画法、ＳＡＴソルバ―などの数理的手法を用いることで効率化できる。
【００３９】
＊＊＊本実施の形態の効果の説明＊＊＊
以上のように、本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０は、試験のロジックを記述している試験仕様雛形を蓄積する雛形蓄積部と、試験対象ソフトウェアごとに関連付けられた情報を保存する設定値蓄積部とを備える。また、使用する設定値や試験仕様雛形に関する情報を与える情報入力部と、情報入力部により入力された試験対象情報を基に、設定値蓄積部から当該ソフトウェアの設定値を抽出する設定値取得部を備える。また、試験仕様雛形へ定数値（代入設定値）を取り込むことで、試験内容を各ソフトウェア向けに対応させる代入部と、試験仕様雛形に記述されている条件式を解いて試験の具体的な入力値と出力期待値とを確定させ、試験仕様を出力する試験条件解析部とを備える。
よって、本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０によれば、試験仕様の入出力値が設定値で直接表現できない場合に、中間生成値の定義を行わずとも、仕様書等に記載されている条件式や数式等の形式的記述を試験仕様雛形にそのまま記載するだけで機種ごとの試験仕様を生成することが可能となる。よって、試験仕様雛形の作成時間を削減できる。また、中間生成値を定義することなく試験仕様雛形に仕様書等に記載されている条件式や数式等の形式的記述をそのまま記入するだけで試験仕様が自動的に作成されるため、試験仕様の作成が効率化される。
【００４０】
＊＊＊他の構成＊＊＊
本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０は、通信インタフェースを備えていてもよい。
通信インタフェースは、レシーバとトランスミッタとを備える。具体的には、通信インタフェースは通信チップまたはＮＩＣ（Ｎｅｔｗｏｒｋ・Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ・Ｃａｒｄ）である。通信インタフェースはデータを通信する通信部として機能する。レシーバはデータを受信する受信部として機能し、トランスミッタはデータを送信する送信部として機能する。
【００４１】
本実施の形態では、試験仕様生成装置１０の機能がソフトウェアで実現されるが、変形例として、試験仕様生成装置１０の機能がハードウェアで実現されてもよい。
図８は、本実施の形態の変形例に係る試験仕様生成装置１０の構成を示す図である。
図８に示すように、試験仕様生成装置１０は、処理回路９０９、入力インタフェース９３０、出力インタフェース９４０といったハードウェアを備える。
【００４２】
処理回路９０９は、上述した「部」の機能及び記憶部を実現する専用の電子回路である。処理回路９０９は、具体的には、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ロジックＩＣ、ＧＡ（Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ  Ｓｐｅｃｉｆｉｃ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ）、又は、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ−Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｇａｔｅ  Ａｒｒａｙ）である。
【００４３】
試験仕様生成装置１０は、処理回路９０９を代替する複数の処理回路を備えていてもよい。これら複数の処理回路により、全体として「部」の機能が実現される。それぞれの処理回路は、処理回路９０９と同じように、専用の電子回路である。
【００４４】
別の変形例として、試験仕様生成装置１０の機能がソフトウェアとハードウェアとの組合せで実現されてもよい。すなわち、試験仕様生成装置１０において一部の機能が専用のハードウェアで実現され、残りの機能がソフトウェアで実現されてもよい。
【００４５】
プロセッサ９１０、記憶装置９２０、及び、処理回路９０９を、総称して「プロセッシングサーキットリ」という。つまり、試験仕様生成装置１０の構成が図１及び図８のいずれに示した構成であっても、「部」の機能及び記憶部は、プロセッシングサーキットリにより実現される。
【００４６】
「部」を「工程」又は「手順」又は「処理」に読み替えてもよい。また、「部」の機能をファームウェアで実現してもよい。
【００４７】
実施の形態２．
本実施の形態では、主に、実施の形態１との差異について説明する。
本実施の形態において、実施の形態１で説明した構成と同様の構成には同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００４８】
＊＊＊構成の説明＊＊＊
図９を用いて、本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０ａの構成について説明する。
本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０ａは、実施の形態１に係る試験仕様生成装置１０の構成に加えて、試験環境取得部１９１と、雛形選択部１９２と、出力期待値算出部１９３とを備える。なお、出力期待値算出部１９３は、解析部１８ａが備える。すなわち、試験仕様生成装置１０ａの「部」の機能には、実施の形態１の試験仕様生成装置１０の「部」の機能に加えて、試験環境取得部１９１と、雛形選択部１９２と、出力期待値算出部１９３との機能が加わる。
【００４９】
試験環境取得部１９１は、ソフトウェアを動作させる装置の状態を表す試験環境値２１７を取得する。試験環境取得部１９１は、ソフトウェアを動作させる装置の状態として、試験対象装置内外の状態を表す試験環境値２１７を取得する。
雛形選択部１９２は、試験仕様雛形の一覧の中から必要な試験仕様雛形を取り出す。
出力期待値算出部１９３は、入力値に依存する出力期待値の具体的な値を決定する。
【００５０】
本実施の形態では、実施の形態１で説明した図３の試験仕様雛形２１０の記載方法を以下のように拡張する。
図１０は、試験仕様雛形の条件式の入出力値に試験対象装置内外の状態を示す試験環境値を追加し拡張した例である。
図１１は、試験仕様雛形に雛形選択条件を追加し拡張した例である。
図１２は、試験仕様雛形において出力期待値が入力値に依存する例である。
図１３は、図９から図１１の拡張を全て採用した試験仕様雛形の例である。
【００５１】
図１０に示す試験仕様雛形について説明する。
図１０では、試験仕様雛形２１０に、試験環境値２１７が設定される変数を環境変数２１７ｘとして条件式２１６に含む。具体的には、図１０に示すように、試験仕様雛形２１０の入出力値の記述に、定数、設定値を意味する変数以外に、試験仕様生成時の試験対象装置内外の状態を意味する環境変数２１７ｘを用いることを許容する。試験対象装置内外の状態とは、試験仕様生成時の時刻、気温、通信データ、試験対象ソフトウェアの内部状態、ログデータ、ハードウェア構成など、試験仕様生成時に取得可能な情報であれば何でも良い。
【００５２】
図１１に示す試験仕様雛形について説明する。
図１１では、試験仕様雛形２１０は、さらに、試験仕様雛形２１０を用いるか否かの判定の条件を雛形選択条件２１８として含む。具体的には、図１１に示すように、試験仕様雛形２１０に、「入力」「出力」の要素に加え、試験仕様を生成する条件を記述した「雛形選択条件２１８」を加える。試験仕様生成時に、雛形選択条件２１８を満たさなかった場合、該当する試験仕様の生成を行わない。雛形選択条件２１８には、試験対象ソフトウェアのバージョン、機種など情報入力部１５０から入力する試験対象情報２３０、設定変数に設定する設定値に関する情報、試験環境取得部１９１が収集する試験環境値の情報を含むことができる。雛形選択条件２１８には、設定変数に設定する設定値の条件とソフトウェアの属性の条件との少なくともいずれかを含むものとする。
【００５３】
図１２に示す試験仕様雛形について説明する。
図１２では、試験仕様雛形２１０は、出力側条件式に入力値変数を含む。すなわち、図１２の試験仕様雛形２１０は、入力値に依存して決定される出力期待値が存在する。図１２に示すように、試験仕様雛形２１０の出力期待値ＯＵＴ＿１の記述にその試験での入力値を意味する入力値変数ＩＮ＿１を用いている。
【００５４】
図１３に示す試験仕様雛形について説明する。
試験仕様雛形に対する上記３種類の拡張はそれぞれ独立しているので、単独で実施しても組み合わせて実施しても良い。図１３に示す試験仕様雛形は、３種類の拡張を全て採用したものであり、以降は、試験仕様生成装置１０ａが図１３に示す試験仕様雛形２１０ａを用いて動作するものとする。
【００５５】
＊＊＊動作の説明＊＊＊
図１４を用いて、本実施の形態に係る試験仕様生成処理Ｓ１３０ｂについて説明する。
図１４において、図５で説明した処理と同様の処理には同一の符号を付し、図５で説明した処理に変更を加えた処理については符号に添え字ａを付し、新たに加えた処理には新たな符号を付している。
試験仕様生成処理の前に、試験仕様雛形２１０ａと設定値情報２２０を予め準備しておくことは実施の形態１と同様である。
【００５６】
ステップＳ２３１において、まず、試験仕様生成処理Ｓ１３０ａの開始時に、試験環境取得部１９１が試験対象装置内外の状態を試験環境値として取得する。具体的には、試験環境取得部１９１が試験対象装置内外の状態として、入力電流値と気温とを試験環境値として取得する。
次に、ステップＳ１３１ａにおいて、設定値取得部１６０は、試験対象情報２３０を基に設定値蓄積部１２２から試験対象に対応する設定値２２３を抽出すると共に、試験環境取得部１９１が取得した試験環境値を取得する。すなわち、設定値取得部１６０は、試験対象のソフトウェアに関する試験対象情報２３０に基づいて、代入設定値２２３ｘと環境設定値とを、試験仕様雛形２１０ａの変数部分に代入すべき定数値として決定する。
【００５７】
ステップＳ１３２ａにおいて、雛形選択部１９２が、雛形蓄積部１２１から試験仕様雛形２１０ａを１つ選択する。
ステップＳ２３２において、雛形選択部１９２は、雛形選択条件２１８に基づいて、試験仕様雛形２１０ａを用いるか否かを判定する。具体的には、雛形選択部１９２は、雛形選択部１９２が取り出した試験仕様雛形２１０ａの雛形選択条件２１８と、試験対象情報２３０と、設定値取得部１６０が取得した代入設定値２２３ｘ（定数値）とを参照し、当該試験仕様雛形２１０ａが雛形選択条件２１８に合致するか否かを判定する。
図１３を用いて具体的に説明する。機種Ｘの試験仕様生成時に図１３に記載の試験仕様雛形２１０ａを選択した場合、（Ａ）は機種Ｘで条件を満たし、（Ｂ）は図３からＳＥＴ＿Ａ＝５で条件を満たし、双方の条件を満たす。よって、機種Ｘの場合は、この試験仕様雛形２１０ａを採用し試験仕様の生成を続ける。一方、機種Ｙの試験仕様生成時に図１３記載の試験仕様雛形を選択した場合、（Ａ）は機種Ｘで条件を満たすが、（Ｂ）は図３からＳＥＴ＿Ａ＝０となり条件を満たさない。よって、ステップＳ２３２でＮＯとなり、試験仕様の生成は行わず次の試験仕様雛形を選択する（ステップＳ１３８）。
【００５８】
ステップＳ１３３ａにおいて、代入部１７０は、試験仕様雛形２１０ａに含まれる条件式２１６の環境変数２１７ｘに試験環境値を代入する。代入部１７０は、設定値取得部１６０により抽出された代入設定値２２３ｘ及び試験環境値を、試験仕様雛形２１０ａの変数部分に代入する。
ステップＳ１３４ａにおいて、試験条件解析部１８０は、試験環境値が代入された条件式２１６を用いて試験仕様値２１１の値を算出する。試験条件解析部１８０は、代入設定値２２３ｘ及び試験環境値が代入された試験仕様雛形２１０ａの入出力値部分に記述されている条件式２１６を解く。
ステップＳ１３５，ステップＳ１３６，ステップＳ１３７，ステップＳ１３８の処理は、実施の形態１と同様である。すなわち、条件式の解の存否の判定から試験仕様２４０の決定までは、実施の形態１と同手順である。
【００５９】
ステップＳ１３６において、出力期待値算出部１９３は、入力値の条件式を解いたことにより確定した入力値を用いて、出力期待値を算出する。すなわち、解析部１８ａの出力期待値算出部１９３は、入力側条件式２１４を用いて入力値を算出した後に、算出した入力値を出力側条件式２１５に代入し、入力値が代入された出力側条件式を用いて出力期待値を算出する。図１２や図１３に示す試験仕様雛形のように、入力値によって出力期待値が変化する場合、まず入力値を全て確定する。そして、出力期待値算出部１９３は、確定した入力値を用いて演算を行い、出力期待値も確定させ、試験仕様２４０が完成する。
以上の手順を未選択の試験仕様雛形が無くなるまで繰り返す（ステップＳ１３８）。
【００６０】
＊＊＊本実施の形態の効果の説明＊＊＊
以上のように、本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０ａは、試験仕様生成時の試験対象装置内外の状態を試験環境取得部が取得し、代入部において設定値と共に試験仕様雛形に代入すべき値とする。また、出力期待値が入力値に依存する場合、試験条件解析部において確定した当該試験の入力値を用いて出力期待値を決定する出力期待値算出部を備える。また、試験対象情報、設定値、試験仕様生成時の環境の状態を基に、雛形蓄積部から当該ソフトウェアの試験で使用する試験仕様雛形を抽出する雛形選択部を備える。
【００６１】
本実施の形態のように、試験仕様雛形の拡張と試験環境取得部の追加により、設定値蓄積部に予め準備する必要があった試験仕様雛形の変数に代入する定数値を動的に決めることが可能となり、以下の（ｃ１），（ｃ２）の効能が得られる。
（ｃ１）試験直前や試験中に本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０ｂを起動することで、気温や時刻など試験実行時にならないと分からない状態を試験仕様に含めることが可能となる。
（ｃ２）試験結果が自身の内部状態に依存する場合、自身の状態を一定にするためにソフトウェアやハードウェアを初期化する必要があった。しかし、本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０ｂによれば自身の状態を試験仕様に反映させればよく、試験時間の短縮が可能となる。
【００６２】
また、本実施の形態のように、図１１に示す試験仕様雛形に雛形選択条件を付加する拡張と雛形選択部１９２ｂの追加により、雛形選択条件を参照し、条件に適合した試験仕様のみ生成するため、以下の（ｄ１），（ｄ２）の効能が得られる。
（ｄ１）試験対象ソフトウェアで実施すべき試験のみ生成するため、出力された試験仕様の選別、すなわち実施要否の判断を改めて行う必要がなくなる。
（ｄ２）試験を実施しない無駄な試験仕様の生成を予め抑止できるため、試験仕様生成装置の高速化が図れる。
【００６３】
また、本実施の形態のように、図１３に示す試験仕様雛形の拡張と出力期待値算出部１９３の追加により、試験の入力値によって出力期待値が変化する試験仕様の生成も可能となる。例えば、入力に試験の開始時刻、出力に試験の終了時刻を採用することにより試験実行時間の確認を行う試験も可能となる。
【００６４】
実施の形態３．
本実施の形態では、主に、実施の形態１，２との差異について説明する。
本実施の形態において、実施の形態１，２で説明した構成と同様の構成には同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００６５】
＊＊＊構成の説明＊＊＊
図１５を用いて、本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０ｂの構成について説明する。
本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０ｂは、最小構成を示している。本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０ｂは、実施の形態１に係る試験仕様生成装置１０の構成に加えて、雛形選択部１９２ｂと、試験仕様格納部１２３とを備える。試験仕様格納部１２３は、記憶部１２０が備える。すなわち、試験仕様生成装置１０ｂの「部」の機能には、実施の形態１の試験仕様生成装置１０の「部」の機能に加えて、雛形選択部１９２ｂの機能が加わる。
雛形選択部１９２ｂは、実施の形態２で説明した雛形選択部１９２の変形例である。
試験仕様格納部１２３は、作成した試験仕様２４０を保存する。試験仕様格納部１２３は、解析部１８により生成された試験仕様２４０と試験仕様２４０が生成された生成日時２４５とを格納するものとする。
【００６６】
図１６は、本実施の形態に係る設定値情報２２０ｂの構成を示す図である。図１７は、本実施の形態に係る試験仕様雛形２１０ｂの構成を示す図である。
本実施の形態では、開発者が雛形管理部１１０や設定値管理部１３０を通して試験仕様雛形２１０ｂや設定値情報２２０ｂを修正及び編集した場合、修正及び編集した日時を試験仕様雛形２１０ｂと設定値情報２２０ｂに記録する。すなわち、設定値情報２２０ｂは、設定値情報２２０ｂの内容を編集した編集日時２２５を含み、試験仕様雛形２１０ｂは、試験仕様雛形２１０ｂの内容を修正した修正日時２５５を含む。編集日時２２５は、設定値情報２２０ｂの最終更新日時である。また、修正日時２５５は、試験仕様雛形２１０ｂの最終更新日時である。修正及び編集時刻の記録は、図１６及び図１７のように、試験仕様雛形１個単位や各機種の設定値１個単位で行うことが好ましいが、複数の試験仕様雛形や設定値情報でまとめて管理しても良い。
【００６７】
雛形選択部１９２ｂは、各機種の試験仕様２４０を最後に生成した生成日時２４５を試験仕様格納部１２３から取得する。雛形選択部１９２ｂは、生成日時２４５と、編集日時２２５と及び修正日時２５５とに基づいて、生成日時２４５に生成された試験仕様２４０を用いて試験をするか否かを判定する。具体的には、雛形選択部１９２ｂは、編集日時２２５と修正日時２５５との少なくともいずれかが生成日時２４５より後の日時の場合に、生成日時２４５に生成された試験仕様２４０、すなわち試験仕様格納部１２３に格納されている試験仕様２４０を用いずに、試験仕様を新たに生成すると判定する。
言い換えると、雛形選択部１９２ｂは、生成日時２４５と、編集日時２２５と修正日時２５５との各々を比較することで、試験仕様２４０が前回から変化する可能性があるかを判定する。雛形選択部１９２ｂは、前回から試験仕様２４０が変化する可能性が有る場合は試験仕様の生成を行い、可能性が無い場合は生成作業を行わずに前回の試験仕様２４０をそのまま使用する。
【００６８】
＊＊＊動作の説明＊＊＊
図１８を用いて、本実施の形態に係る試験仕様生成処理Ｓ１３０ｂについて説明する。
図１８において、図５及び図１４で説明した処理と同様の処理には同一の符号を付し、図５及び図１４で説明した処理に変更を加えた処理については符号に添え字ｂを付し、新たに加えた処理には新たな符号を付している。
【００６９】
ステップＳ１３１とステップＳ１３２の処理は、実施の形態１と同様である。
ステップＳ３３１において、雛形選択部１９２ｂは、試験仕様生成作業を行う前に試験仕様の再生成が必要か否かを判定する。以下、機種Ｘにおいて、図１６の設定値情報２２０ｂを用いて、図１７の試験仕様雛形２１０ｂから試験仕様を生成する事例を用いて、再生成の要否判定の具体的な方法を説明する。
【００７０】
雛形選択部１９２ｂは、機種Ｘの試験仕様を最後に生成した生成日時２４５が２０１６年１月１日９時であった場合、図１６及び図１７から、その後に試験仕様雛形２１０ｂ及び設定値情報２２０ｂが変更されているので、試験仕様の再生成が必要と判定する。また、雛形選択部１９２ｂは、過去に生成した試験仕様が試験仕様格納部１２３に保存されていない場合も、同様に試験仕様の生成が必要と判定する。
【００７１】
機種Ｘの試験仕様を最後に生成した生成日時２４５が２０１６年１月１日１１時であった場合、試験仕様雛形２１０ｂは修正されていないが、設定値情報２２０ｂが変更されているため、生成される試験仕様が変化する可能性がある。よって、雛形選択部１９２ｂは、試験仕様の再生成が必要と判定する。また、機種Ｘの試験仕様を最後に生成した生成日時２４５が２０１６年１月１日１８時であった場合、試験仕様雛形２１０ｂ及び設定値情報２２０ｂともに変更されていないので、試験仕様の再生成は明らかに不要である。よって、雛形選択部１９２ｂは、試験仕様の再生成が不要と判定する。
【００７２】
機種Ｘの試験仕様を最後に生成した生成日時２４５が２０１６年１月１日１４時であった場合、その後に設定値情報２２０ｂは変更されている。しかし、試験仕様雛形２１０ｂでは１４時以降に変更されている設定値ＳＥＴ＿Ｄと設定値ＳＥＴ＿Ｅとは全く使用していない。よって、雛形選択部１９２ｂは、試験仕様の再生成が不要と判定する。
【００７３】
上記の説明では、設定値情報２２０ｂの変更があった場合として説明を行ったが、実施の形態２で説明した試験対象装置内外の状態が試験仕様雛形に含まれている場合にも、同様の方法が適用できる。
【００７４】
次に、図１８に戻り説明を続ける。
試験仕様の再生成が不要であると判断された場合（ステップＳ３３１でＮＯ）、ステップＳ１３８に進む。試験仕様の再生成が不要であると判断された場合は、試験仕様生成装置１０ｂは、以前に生成した試験仕様２４０が試験仕様格納部１２３に保存されているので、その試験仕様２４０をそのまま試験に用いる。
【００７５】
試験仕様の再生成が必要であると判断された場合（ステップＳ３３１でＹＥＳ）、ステップＳ２３２に進む。ステップＳ２３２において、雛形選択部１９２ｂが、試験仕様雛形２１０ｂが雛形選択条件２１８に合致すると判定した場合（ステップＳ２３２でＹＥＳ）、ステップＳ１３３〜ステップＳ１３７の処理を行う。ステップＳ１３３〜ステップＳ１３７の処理は、実施の形態１及び２で説明した試験仕様生成の処理である。このとき、ステップＳ１３６の後、ステップＳ３３２において、試験条件解析部１８０は、作成した試験仕様２４０を試験仕様格納部１２３に格納（保存或いは更新）する。
【００７６】
なお、ステップＳ２３２において、再生成を行おうとする際に実施の形態２で説明した雛形選択条件２１８に適合しなった場合、その試験は行わないことになるため、該当する試験仕様を試験仕様格納部１２３から削除してもよい。あるいは、試験仕様自体を削除せずとも、除外リストを作成するなど、その試験仕様を実行しない旨が分かるような実現方法であればよい。
【００７７】
＊＊＊本実施の形態の効果の説明＊＊＊
以上のように、本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０ｂは、試験条件解析部によって生成された試験仕様を格納する試験仕様格納部を備える。本実施の形態に係る試験仕様生成装置１０ｂによれば、試験仕様格納部の追加と、試験仕様の生成日時の記録、試験仕様雛形の修正の修正日時の記録、設定値情報の編集の編集日時の記録を行うことで、前回生成した試験仕様を最大限に再利用することができ、試験仕様生成に要する時間を短縮可能となる。
【００７８】
以上、本発明の実施の形態１から３について説明したが、本発明にかかる試験仕様生成装置は、制御が同一または類似している複数のソフトウェアの試験仕様を生成する際の、試験のロジックを規定する試験仕様雛形を効率的に作成することが可能となる。
【００７９】
また、本発明の実施の形態１から３の説明において「部」として説明するもののうち、いずれか１つのみを採用してもよいし、いくつかの任意の組合せを採用してもよい。つまり、試験仕様生成装置の機能ブロックは、上記の実施の形態で説明した機能を実現することができれば、任意である。これらの機能ブロックを、どのような組合せ、或いは任意のブロック構成で試験仕様生成装置を構成しても構わない。また、試験仕様生成装置は、１つの装置でなく、複数の装置から構成されていてもよい。
【００８０】
また、実施の形態１から３について説明したが、これらの実施の形態のうち、複数の部分を組み合わせて実施しても構わない。或いは、これらの実施の形態のうち、１つの部分を実施しても構わない。その他、これらの実施の形態の内容を、全体として或いは部分的に、どのように組合せて実施しても構わない。
なお、上記の実施の形態は、本質的に好ましい例示であり、本発明、その適用物や用途の範囲を制限することを意図するものではなく、必要に応じて種々の変更が可能である。
【符号の説明】
【００８１】
１０，１０ａ，１０ｂ  試験仕様生成装置、１８，１８ａ  解析部、１１０  雛形管理部、１２０  記憶部、１２１  雛形蓄積部、１２２  設定値蓄積部、１２３  試験仕様格納部、１３０  設定値管理部、１５０  情報入力部、１６０  設定値取得部、１７０  代入部、１８０  試験条件解析部、１９１  試験環境取得部、１９２，１９２ｂ  雛形選択部、１９３  出力期待値算出部、２１０，２１０ａ，２１０ｂ  試験仕様雛形、２１１  試験仕様値、２１１ｘ  試験仕様変数、２１２  入力値、２１２ｘ  入力値変数、２１３  出力期待値、２１３ｘ  出力期待値変数、２１４  入力側条件式、２１５  出力側条件式、２１６  条件式、２１７  試験環境値、２１７ｘ  環境変数、２１８  雛形選択条件、２１９  試験仕様候補、２２０，２２０ｂ  設定値情報、２２１  設定変数、２２２  属性、２２３  設定値、２２３ｘ  代入設定値、２２５  編集日時、２３０  試験対象情報、２４０  試験仕様、２４５  生成日時、２５５  修正日時、５１０  試験仕様生成方法、５２０  試験仕様生成プログラム、９０９  処理回路、９１０  プロセッサ、９２０  記憶装置、９３０  入力インタフェース、９４０  出力インタフェース、Ｓ１００  仕様生成処理、Ｓ１３０，Ｓ１３０ａ，Ｓ１３０ｂ  試験仕様生成処理、Ｓ１０  設定値取得処理、Ｓ２０  解析処理。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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