(57)【要約】【課題】放射線測定装置において、指示値に対応する正確な統計誤差を表示できるようにする。【解決手段】エネルギースペクトルS(n,i)及びエネルギー補償関数G(i)に基づいて、線量率D(n)に対応する個別統計誤差σD(n)が演算される。今回の個別統計誤差σD(n)及び前回の統計誤差σR(n-1)に基づいて、指示値R(n)に対応する今回の統計誤差σR(n)が演算される。統計誤差σR(n)が指示値R(n)と共に表示される。【選択図】図２
2018087756.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射線の検出により複数の測定データを生成する生成手段と、
前記複数の測定データが反映された指示値を演算する指示値演算手段と、
前記指示値に対応する統計誤差を演算する統計誤差演算手段と、
を含むことを特徴とする放射線測定装置。
【請求項２】
請求項１記載の装置において、
前記指示値及び前記統計誤差を一緒に表示する表示器を含む、
ことを特徴とする放射線測定装置。
【請求項３】
請求項１記載の装置において、
前記指示値に対応する統計誤差は前記複数の測定データに対応する複数の個別統計誤差が反映されたものである、
ことを特徴とする放射線測定装置。
【請求項４】
請求項３記載の装置において、
前記指示値に対応する統計誤差は前記複数の個別統計誤差から誤差伝搬則に従って演算される、
ことを特徴とする放射線測定装置。
【請求項５】
請求項４記載の装置において、
前記各個別統計誤差は前記各測定データから誤差伝搬則に従って演算される、
ことを特徴とする放射線測定装置。
【請求項６】
請求項１記載の装置において、
前記指示値演算手段は、
前記複数の測定データに基づいて複数の測定値を演算する手段と、
前記複数の測定値に基づく平滑化演算により前記指示値を演算する手段と、
を含むことを特徴とする放射線測定装置。
【請求項７】
請求項６記載の装置において、
前記平滑化演算は時定数に従って平滑化を行う演算である、
ことを特徴とする放射線測定装置。
【請求項８】
請求項1記載の装置において、
前記複数の測定データは時間軸上に並ぶものである、
ことを特徴とする放射線測定装置。
【請求項９】
請求項１記載の装置において、
前記各測定データはエネルギースペクトルであり、
前記指示値演算手段は、
前記複数のエネルギースペクトルに対しエネルギー補償関数を適用することにより複数の線量率を演算する手段と、
前記複数の線量率に基づいて時定数に従う平滑化演算により前記指示値を演算する手段と、
を含み、
前記統計誤差演算手段は、誤差伝搬則に従って前記複数のエネルギースペクトル及び前記エネルギー補償関数から前記複数のエネルギースペクトルに対応する複数の個別統計誤差を演算すると共に、前記誤差伝搬式に従って前記複数の個別統計誤差から前記指示値に対応する統計誤差を演算する、
ことを特徴とする放射線測定装置。
【請求項１０】
請求項９記載の装置において、
前記指示値を演算する手段は、ｎ−１番目の指示値とｎ番目の測定データとに基づいて、前記時定数に従ってｎ番目の指示値を演算し、
前記統計誤差演算手段は、ｎ−１番目の統計誤差とｎ番目の測定データとに基づいて、前記時定数に従って前記ｎ番目の指示値に対応するｎ番目の統計誤差を演算する、
ことを特徴とする放射線測定装置。
【請求項１１】
請求項２記載の装置において、
前記指示値に対応する統計誤差が絶対誤差として又は相対誤差として表示される、
ことを特徴とする放射線測定装置。
【請求項１２】
放射線の検出により複数の測定データを生成する工程と、
前記複数の測定データが反映された指示値を演算する工程と、
誤差伝搬則に従って前記指示値に対応する誤差情報を演算する工程と、
前記指示値及び前記誤差情報を表示する工程と、
を含むことを特徴とする放射線測定方法。
【請求項１３】
請求項１２記載の方法において、
前記複数の測定データは時間軸上に並ぶ複数のエネルギースペクトルを含む、
ことを特徴とする放射線測定方法。
【請求項１４】
請求項１２記載の方法において、
前記複数の測定データはエネルギー軸上に並ぶ複数の計数値又は計数率を含む、
ことを特徴とする放射線測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は放射線測定装置及び方法に関し、特に、指示値に関連する情報の演算及び表示に関する。
【背景技術】
【０００２】
サーベイメータ、個人線量計、モニタリングポスト等の様々な放射線測定装置が活用さされている。以下においては、γ線を測定するサーベイメータ（γ線サーべイメータ）について説明する。
【０００３】
一般的なγ線サーベイメータにおいては、所定時間（例えば１秒）ごとに、γ線のエネルギースペクトルが取得される。エネルギースペクトルは、複数のエネルギーチャンネルにおいて得られた複数の計数値により構成される。エネルギースペクトルに対してエネルギー補償関数（Ｇ関数又はＧ（Ｅ）関数とも称される）を適用することにより、線量率が演算される（特許文献１を参照）。時系列順で並ぶ複数の線量率に基づいて時定数に従う平滑化演算を実行することにより、指示値が演算される（特許文献２を参照）。その指示値は数値として表示される。指示値は例えば１秒ごと更新される。時定数に従う平滑化演算は、ＲＣフィルタ回路により実行され、又は、その回路特性を模擬したデジタル演算回路により実行される。そのような平滑化演算として、移動平均演算が実行されることもある。
【０００４】
なお、計数率を測定及び表示するサーベイメータも知られている。また、指定された統計誤差（例えば１σ又は２σ）に応じて、自ら時定数を適応的に設定するサーベイメータも知られている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００４−１０８７９６号公報
【特許文献２】特開２０１５−２１９３９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
原子核崩壊は偶発的な事象であり、その崩壊により生じる放射線を測定する場合、統計的な揺らぎの影響を受ける。この統計的な揺らぎは測定精度を左右するものであり、統計誤差を生じさせる。計数率（例えばその単位は[s-1]又は[min-1]）についての統計誤差は、計数値を表すカウントＮの平方根（Ｎ１／２）をとることにより容易に求められる。カウントＮの平方根は、確率分布（ガウス分布）における１σ（標準偏差）に相当するもので
ある。
【０００７】
しかし、放射線測定装置において表示される指示値（計数率、線量率）は平滑化演算を経たものであり、単に指示値の平方根をとっても、それは正確な統計誤差とは言えない。また、指示値が線量率を表す場合、平滑化演算に先立って、エネルギースペクトルに対してエネルギー補償関数が適用されており、それも考慮しないと、正確な統計誤差を求めることはできない。そもそも、指示値に対応する統計誤差を演算及び表示できる放射線測定装置は未だ提供されていない。
【０００８】
本発明の目的は、指示値に対応する誤差情報を演算できる放射線測定装置を提供することにある。あるいは、本発明の目的は、時定数に従う平滑化演算により指示値が演算される場合において、その指示値に対応する正確な統計誤差を演算及び表示することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明に係る放射線測定装置は、放射線の検出により複数の測定データを生成する生成手段と、前記複数の測定データが反映された指示値を演算する指示値演算手段と、前記指示値に対応する統計誤差を演算する統計誤差演算手段と、を含む。
【００１０】
上記構成によれば、複数の測定データが反映された指示値が演算され、また、その指示値に対応する誤差情報として統計誤差が演算される。後述する実施形態において、指示値は平滑化演算により演算される。その場合、統計誤差は平滑化演算を考慮した統計誤差演算式に従って演算される。指示値と一緒に統計誤差を表示するのが望ましい。これによれば、指示値及び統計誤差の観察（特に対比観察）によって、指示値に関し、どの程度の統計的な揺らぎが生じているのかを認識することができる。その場合、統計誤差は絶対値として又は相対値として表示され得る。統計誤差は数値として又はグラフとして表示され得る。
【００１１】
実施形態において、前記指示値に対応する統計誤差は前記複数の測定データに対応する複数の個別統計誤差が反映されたものである。望ましくは、前記指示値に対応する統計誤差は前記複数の個別統計誤差から誤差伝搬則に従って演算される。その場合、前記各個別統計誤差は前記各測定データから誤差伝搬則に従って演算される。各測定データはエネルギースペクトル、計数値等により構成される。
【００１２】
実施形態において、前記指示値演算手段は、前記複数の測定データに基づいて複数の測定値を演算する手段と、前記複数の測定値に基づく平滑化演算により前記指示値を演算する手段と、を含む。平滑化演算は、例えば、時定数に従って平滑化を行う演算である。測定値は例えば線量率、計数率である。
【００１３】
実施形態において、前記各測定データはエネルギースペクトルであり、前記指示値演算手段は、前記複数のエネルギースペクトルに対しエネルギー補償関数を適用することにより複数の線量率を演算する手段と、前記複数の線量率に基づいて時定数に従う平滑化演算により前記指示値を演算する手段と、を含み、前記統計誤差演算手段は、誤差伝搬則に従って前記複数のエネルギースペクトル及び前記エネルギー補償関数から前記複数のエネルギースペクトルに対応する複数の個別統計誤差を演算すると共に、前記誤差伝搬則に従って前記複数の個別統計誤差から前記指示値に対応する統計誤差を演算する。この構成によれば、エネルギー軸及び時間軸という２つの軸上においてそれぞれ誤差伝搬則が適用され、その結果として、指示値に対応する正確な統計誤差が演算される。誤差伝搬則に従う統計誤差の演算は、望ましくは、誤差伝搬則に従って導出された統計誤差演算式の実行により実現される。
【００１４】
実施形態において、前記指示値を演算する手段は、ｎ−１番目の指示値とｎ番目の測定データとに基づいて、前記時定数に従ってｎ番目の指示値を演算し、前記統計誤差演算手段は、ｎ−１番目の統計誤差とｎ番目の測定データとに基づいて、前記時定数に従って前記ｎ番目の指示値に対応するｎ番目の統計誤差を演算する。
【００１５】
本発明に係る表示方法は、放射線の検出により複数の測定データを生成する工程と、前記複数の測定データが反映された指示値を演算する工程と、誤差伝搬則に従って前記指示値に対応する誤差情報を演算する工程と、前記指示値及び前記誤差情報を表示する工程と、を含む。誤差情報は統計誤差又はそれと同視できる情報であって誤差伝搬則に従って演算される情報である。
【００１６】
複数の測定データは、時間軸上に並ぶ複数のデータ（特に複数のエネルギースペクトル）を含むものであってもよく、エネルギー軸上に並ぶ複数の計数値又は計数率を含むものであってもよい。本発明に係る方法は少なくとも１つの軸上において誤差伝搬則に従う正確な統計誤差演算を行うことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、指示値に対応する誤差情報を演算できる放射線測定装置が提供される。あるいは、本発明によれば、時定数に従う平滑化演算により指示値が求められる場合に、その指示値に対応する正確な統計誤差を演算及び表示できる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】第１実施形態に係る放射線測定装置を示すブロック図である。
【図２】図１に示したスペクトル演算部の第１構成例を示すブロック図である。
【図３】図１に示したスペクトル演算部の第２構成例を示すブロック図である。
【図４】第２実施形態に係る放射線測定装置を示すブロック図である。
【図５】図４に示したスペクトル演算部の構成例を示すブロック図である。
【図６】第１表示例を示す図である。
【図７】第２表示例を示す図である。
【図８】第３表示例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【００２０】
図１には、本発明に係る放射線測定装置の第１実施形態が示されている。図１に示されている放射線測定装置はγ線サーベイメータである。以下に説明する特徴的構成が他の放射線測定装置に適用されてもよい。
【００２１】
図１において、検出部１０は、シンチレータ１２及び光検出器１４により構成される。シンチレータ１２においては、γ線の入射によりシンチレーション光が生じ、その光が光検出器１４において検出される。光検出器１４は光電子増倍管（ＰＭＴ）により構成される。検出部１０として半導体センサ等を設けてもよい。光検出器１４からの電気信号が信号処理回路１６へ送られる。信号処理回路１６は、アンプ、波高弁別器等により構成され、この信号処理回路１６において、γ線のエネルギーに対応した波高値を有するパルスが生成される。そのパルスがプロセッサ１８へ送られる。
【００２２】
プロセッサ１８はプログラムに基づいて動作する電子回路である。それがＣＰＵ、マイクロプロセッサ等によって構成されてもよい。図１においては、プロセッサ１８が有する複数の機能が複数のブロックによって表現されている。個々のブロックがそれぞれ専用のデバイスによって構成されてもよい。
【００２３】
スペクトル生成部２０は生成手段又はその一部を構成するものである。スペクトル生成部２０は、入力されるパルス列に基づいてエネルギースペクトルN(n,i)を生成する。nは時間軸上の番号を意味し、iはエネルギーチャンネル番号を意味する。スペクトル生成部20は、例えば、マルチチャンネルアナライザ(MCA)により構成される。エネルギースペクトルN(n、i)は、例えば、数百個のエネルギーチャンネルに対応した得られた数百個の計数値からなるものである。各計数値はサンプリング時間dT(n)において得られたカウントである。サンプリング時間dT(n)は例えば0.5秒である。N(n,i)をdT(n)で除算することにより、1秒当たりのエネルギースペクトルS(n,i)が求められる。それは複数のエネルギーチャンネルに対応する複数の線量率により構成される。エネルギースペクトルN(n,i)，S(n,i)はそれぞれ測定データを構成するものである。
【００２４】
本実施形態において、サンプリング時間dT(n)は制御部２４によって設定される。サンプリング時間dT(n)を長くすると、応答性又は時間分解能が低下するものの、統計的な揺らぎの影響をより緩和できる。サンプリング時間dT(n)を自動的に又は手動で可変設定できるように構成するのが望ましい。
【００２５】
スペクトル演算部２２は、線量率演算手段、指示値演算手段、個別統計誤差演算手段、及び、統計誤差演算手段として機能する。具体的には、スペクトル演算部２２は、線量率D(n)を演算する機能、指示値R(n)を演算する機能、線量率D(n)に対応する統計誤差（個別統計誤差）σD(n)を演算する機能、指示値R(n)に対応する統計誤差σR(n)を演算する機能等を有している。各機能については後に詳述する。
【００２６】
制御部２４は、スペクトル演算部２２に対して、そこでの演算で必要な情報（例えば、現在設定されている時定数τ及びサンプリング時間dT(n)）を与えている。時定数τ及びサンプリング時間dt(n)が変更されても、指示値R(n)及び統計誤差σR(n)の演算は継続される。指示値R(n)は、過去における複数のエネルギースペクトルが反映されたものであり、且つ、過去における各時点での時定数が反映されたものである。同様に、統計誤差σR(n)も、過去における複数のエネルギースペクトル（あるいは過去における複数の線量率）が反映されたものであり、且つ、過去における各時点での時定数が反映されたものである。
【００２７】
スペクトル演算部２２によって演算された情報が表示処理部２６を経由して表示器３０へ送られる。表示器３０には、指示値R(n)及びそれに対応する統計誤差σR(n)が数値として又はグラフとして表示される。
【００２８】
入力部２８は複数のボタン等により構成される。入力部２８を利用してユーザーにより時定数τが選択され、また、サンプリング時間dT(n)が選択される。制御部２４はコントローラであり、図１に示される各構成の動作を制御している。統計誤差σR(n)に基づいて時定数τを演算するようにしてもよい。そのような機能は制御部２４により実現され得る。統計誤差σR(n)に基づいて表示更新時間が自動的に決定されてもよい。また、統計誤差σR(n)に基づいて他の情報が演算されてもよい。指示値R(n)と共に統計誤差σR(n)が記録又は外部へ伝送されてもよい。
【００２９】
図２には図１に示したスペクトル演算部２２の第１構成例がブロック図として示されている。図中の個々のブロックはソフトウエアの機能に相当する。もっとも、個々のブロックがプロセッサ又はデバイスにより構成されてもよい。
【００３０】
線量率演算器３２は、エネルギースペクトルS(n,i)に基づいて、線量率D(n)を演算するモジュールである。具体的には、メモリ３４内に格納されたエネルギー補償関数G(i)をエネルギースペクトルS(n,i)に対して乗算した上で、複数のエネルギーチャンネルについての複数の乗算結果を加算することにより、線量率D(n)が演算される。図１に示した検出部に適合したエネルギー補償関数G(i)が用意されている。
【００３１】
指示値演算器３６は、時系列順で並ぶ複数の線量率D(n)を順次入力し、時定数τに基づく平滑化演算（時定数演算）を順次実行し、これにより平滑化された線量率としての指示値R(n)を順次出力する。時定数τはユーザーにより指定され、あるいは、自動的に決定される。時定数τに基づく平滑化演算では、前回の指示値R(n-1)及び今回の線量率D(n)が利用される。前回の指示値R(n-1)を一時的に格納するためにバッファ３８が設けられている。平滑化演算に際してはサンプリング時間dT(n)も参照される。時定数τに従う平滑化演算に代えて、移動平均処理、又は、重み付け移動平均処理が実行されてもよい。
【００３２】
個別統計誤差演算器４０は、線量率D(n)に対応する統計誤差（個別統計誤差）σD(n)を演算するモジュールである。具体的には、エネルギースペクトルS(n,i)及び エネルギー補償関数G(i)に基づいて、誤差伝搬則に従う演算式（後述する(7)式）を実行することにより、個別統計誤差σD(n)を演算している。
【００３３】
統計誤差演算器４２は、時系列順で並ぶ複数の個別統計誤差σD(n)を順次入力し、時定数τに基づく平滑化演算が考慮された統計誤差演算（後述する（6）式）を順次実行し、これにより平滑化された統計誤差σR(n)を順次出力する。その統計誤差演算は誤差伝搬則に従うものである。統計誤差演算では、前回の統計誤差σR (n-1)及び今回の個別統計誤差σD(n)が利用される。前回の統計誤差σR (n-1)を一時的に格納するためにバッファ４４が設けられている。統計誤差演算に際してはサンプリング時間dT(n)も参照される。統計誤差演算器４２においては、指示値演算器３６において実行された平滑化演算を取り込んだ統計誤差演算が実行される。統計誤差演算器４２においては、指示値演算器３６が参照したパラメータ（時定数τ、サンプリング時間dT(n)）と同じパラメータが与えられる。
【００３４】
次に統計誤差の演算について詳述する。以下の(1)式には線量率D(n)の求め方が示されている。D(n)はサンプリング時間dT(n)において得られたエネルギースペクトルS(n,i)から計算される線量率である。
【００３５】
【数１】
2018087756.tif 000003
【００３６】
上記(1)式に示されているように、エネルギースペクトルS(i)に対してエネルギー補償関数G(i)を適用することにより、線量率D(n)が求められる。上記の線量率演算器において上記(1)式が実行される。
【００３７】
指示値Rは以下の(2)式によって演算される。以下の(2)式はＩＩＲ型平滑化フィルタの作用を表すものである。（１−Ｘ）及びＸはそれぞれ重みである。
【００３８】
【数２】
2018087756.tif 000004
【００３９】
上記の指示値演算器において上記(2)式が実行される。
【００４０】
ところで、Ｙについての誤差がΔＹと表現される場合、誤差伝搬則として、以下の(3-1)式〜(3-3)式が成り立つ。また、以下の(3-4)式に示すようにNが偶発的に発生するある事象の発生回数である場合（放射線検出回数、カウントなどもNに該当する）、ΔNはNの平方根（N1/2）で表される（ただし、1σの場合）。
【００４１】
【数３】
2018087756.tif 000005
【００４２】
上記(2)式で計算される指示値R(n)に対応する統計誤差σR(n)は以下のように表現される。
【００４３】
【数４】
2018087756.tif 000006
【００４４】
上記(4)式における右辺を展開すると以下のようになる。
【００４５】
【数５】
2018087756.tif 000007
【００４６】
上記(5-1)式は、誤差伝搬則に基づくものであり、具体的には上記(3-1)式、(3-3)式及び(3-4)式に基づくものである。結局、統計誤差σR(n)は以下のように表現される。
【００４７】
【数６】
2018087756.tif 000008
【００４８】
上記(6)式は、演算の基礎となる測定データがエネルギースペクトルであっても単なる計数率であっても成り立つものである。上記の統計誤差演算器において上記(6)式が実行される。
【００４９】
図1及び図２に示したように、エネルギースペクトルから線量率D(n)が求められる場合、上記(6)式に含まれるσD(n)（つまり線量率D(n)に対応する個別統計誤差）は以下のように演算される。なお、以下のＮ(n,i)はn番目のスペクトルにおけるチャンネル番号ｉの計数値を意味している。
【００５０】
【数７】
2018087756.tif 000009
【００５１】
上記(7)式は、誤差伝搬則に基づくものであり、具体的には上記(3-1)式、(3-3)式及び(3-4)式に基づくものである。個別統計誤差σD(n)は線量率D(n)に対応する真の統計誤差である。上記(7)式においては標準偏差（１σ）に相当する個別統計誤差σD(n)が演算されている。もちろん、例えば２σ又は3σに対応する個別統計誤差が演算されてもよい。その場合には、1σに対応する個別統計誤差を２倍又は３倍すればよい。上記の個別統計誤差演算器において上記(7)式が実行される。
【００５２】
一方、後に図４及び図５に示すように、放射線検出結果として複数の計数率が演算される場合、上記(6)式に含まれるσD(n)（つまり計数率D(n)に対応する個別統計誤差）は以下のように演算される。以下のＮ(n)はn番目の計数値を意味している。
【００５３】
【数８】
2018087756.tif 000010
【００５４】
上記(8)式においては標準偏差（１σ）に対応する個別統計誤差σD(n)が演算されている。もちろん、例えば２σ又は3σに対応する個別統計誤差が演算されてもよい。その場合には、1σに対応する個別統計誤差を２倍又は３倍すればよい。後の図５に示す統計誤差演算器においては上記(8)式が実行される。
【００５５】
上記で説明した統計誤差は絶対値であったが、それが相対値として表現されてもよい。統計誤差の相対値を求めるには統計誤差の絶対値σR(n)を線量率D(n)で割ればよい。
【００５６】
図３には図１に示したスペクトル演算部の第２構成例２２Ａがブロック図として示されている。図３において、線量率演算器３２Ａ、メモリ３４Ａ及び個別統計誤差演算器４０Ａは、図２に示した線量率演算器３２、メモリ３４及び個別統計誤差演算器４０と同じものである。図３において、個々のブロックはソフトウエアの機能に相当する。もっとも、個々のブロックがプロセッサ又はデバイスにより構成されてもよい。
【００５７】
指示値演算器３６Ａは、時系列順で入力される複数の線量率Ｄ(n)に対して重み付け移動平均演算を実行することにより、平滑化された線量率としての指示値R(n)を演算するモジュールである。指示値演算器３６Ａには、重み付け移動平均演算で使われる重み付け関数F1が与えられている。統計誤差演算器４２Ａは、指示値R(n)に対応する真の統計誤差σR(n)を演算するものである。統計誤差演算器４２Ａにも上記の重み付け関数F1が与えられている。この際の統計誤差演算においても、指示値R(n)を求める演算式に対応した演算式であって誤差伝搬則が適用された統計誤差演算式を用いて、正確な統計誤差σR(n)が演算される。なお、重み付け関数F1は重み付けのないフラットな関数であってもよい。その場合は、単純移動平均の計算による指示値R(n)と、その統計誤差と、が演算される。
【００５８】
図４及び図５には第２実施形態に係るγ線サーベイメータが示されている。図４において、図１に示した構成と同様の構成には同一符号を付し、その説明を省略する。符号１８はプログラムに従って動作するプロセッサを表している。
【００５９】
図４において、計数率演算部４５は生成手段として機能するものである。具体的には、信号処理回路１６から出力されるパルス列を入力し、サンプリング時間dTごとに計数を行うことにより計数率D(n)を演算している。計数率D(n)は測定データとして理解される。
【００６０】
指示値及び統計誤差の演算部４６は、指示値演算手段、個別統計誤差演算手段及び統計誤差演算手段として機能するものである。演算部４６で演算された指示値R(n)及び統計誤差σR(n)が表示処理部２６を経由して表示器３０へ送られている。計数率演算部４５及び演算部４６がそれぞれ専用のプロセッサ又はデバイスにより構成されてもよい。
【００６１】
図５には、演算部４６の構成例がブロック図として示されている。指示値演算器３６Ｂは、時定数に従う平滑化演算の実行により、計数率D(n) 及び前回の指示値R(n-1)から、今回の指示値R(n)を求めるものである。具体的には上記(2)式を実行するモジュールである。前回の指示値R(n-1)を一時的に格納しておくためにバッファ３８Ｂが設けられている。
【００６２】
個別統計誤差演算器４０Ｂは、計数率D(n)から統計誤差（個別統計誤差）σD(n)を求めるものであり、具体的には上記(8)式を実行するモジュールである。統計誤差演算器４２Ｂは、今回の個別統計誤差σD(n)と前回の統計誤差σR(n-1)に基づいて、今回の統計誤差σR(n)を求めるモジュールである。具体的には上記(6)式が実行される。前回の統計誤差σR(n-1)を一時的に格納しておくためにバッファ４４Ｂが設けられている。
【００６３】
以上の構成によれば、線量率ではなく単なる計数率が測定される場合においても指示値に対応する統計誤差を演算及び表示できる。特に、時定数に基づく平滑化演算を考慮したところでの正確な統計誤差を演算及び表示できる。なお、エネルギースペクトル及びエネルギー補償関数から演算される個別統計誤差が表示されてもよい。そのような個別統計誤差も誤差伝搬則に従って計算される統計誤差である。
【００６４】
なお、上記第１実施形態は、エネルギー軸及び時間軸の両軸上において誤差伝搬則に従う統計誤差演算を実行するものである。統計誤差と同視できる誤差情報（例えば近似計算により得られた数値）が指示値と一緒に表示されてもよい。
【００６５】
次に表示例について説明する。図６には第１表示例が示されている。表示画面５０上には、指示値５２と共に統計誤差５４が表示されている。よって、線量率との対比において、どの程度の統計誤差が生じているのかを容易に認識できる。統計誤差５４は絶対値であるが、符号５６で示すように、統計誤差の相対値を表示してもよい。インジケータ６０は統計誤差が１σに対応するものであることを示している。符号５８は現在の時定数を示している。時定数を変更しても指示値５２及び統計誤差５４の表示は継続される。時定数変更時の統計誤差計算は、(5-2)式中のXに含まれる時定数τを変更するだけでよい。指示値５２には時定数変更前のエネルギースペクトル及び時定数変更後のエネルギースペクトルが反映され、同じく、統計誤差５４にも時定数変更前のエネルギースペクトル及び時定数変更後のエネルギースペクトルが反映される。
【００６６】
図７には第２表示例が示されている。棒グラフ６２は、指示値を示すバー６４と、統計誤差を示すバー６６と、を含む。バー６６の中間レベルがバー６４の上辺に一致している。バー６６は浮動的に運動するものである。線量率の変化及び時定数に応じて、個々のバー６４，６６の長さが変化する。バー６６の中には統計誤差の種類を示すインジケータ（１σ）６８が表示されている。棒グラフ６２の近傍には現在の時定数７０が表示されている。
【００６７】
図８には第３表示例が示されている。曲線グラフ７２は、指示値の時間的な変化を示す曲線７４と、統計誤差の時間的な変化を示す２つの曲線７６，７８とを含む。２つの曲線７６，７８の間隔が各時刻における統計誤差を示している。
【００６８】
以上のように、統計誤差は数値又はグラフにより表示され得る。時定数に応じた指示値の変化に連動して統計誤差も変化することになる。指示値に対応する統計誤差を演算及び表示する技術をサーベイメータ以外の放射線測定装置に適用してもよい。その技術をγ線以外の放射線の測定に適用してもよい。
【符号の説明】
【００６９】
１８  プロセッサ、２０  スペクトル生成部、２２  スペクトル演算部、３２  線量率演算器、３６  指示値演算器、４０  個別統計誤差演算器、４２  統計誤差演算器。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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