(57)【要約】【課題】利便性を向上させることが可能なランプユニット制御機構および耐候光性試験機を提供する。【解決手段】ランプユニット制御機構は、金属ハロゲン化物および水銀を含む物質が封入されているランプ（メタルハライドランプ１１０）を有する耐候光性試験機用ランプユニット（メタルハライドランプユニット１１）の動作を制御する制御部１９を備えている。この制御部１９は、ランプの点灯温度Ｔを変化させることにより、ランプにおける発光スペクトルを、金属ハロゲン化物および水銀の双方の発光スペクトルを含む第１のモード（メタルハライドランプ試験モード）と、水銀の発光スペクトルのみを含む第２のモード（水銀灯試験モード）との間で切り替える。【選択図】図６
2018169342.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
金属ハロゲン化物および水銀を含む物質が封入されているランプを有する耐候光性試験機用ランプユニットの動作を制御する制御部を備え、
前記制御部は、前記ランプの点灯温度を変化させることにより、前記ランプにおける発光スペクトルを、前記金属ハロゲン化物および前記水銀の双方の発光スペクトルを含む第１のモードと、前記水銀の発光スペクトルのみを含む第２のモードとの間で切り替える
ランプユニット制御機構。
【請求項２】
前記制御部は、
前記点灯温度が相対的に高くなるように制御することにより、前記ランプにおける発光スペクトルを前記第１のモードに設定すると共に、
前記点灯温度が相対的に低くなるように制御することにより、前記ランプにおける発光スペクトルを前記第２のモードに設定する
請求項１に記載のランプユニット制御機構。
【請求項３】
前記制御部は、
前記ランプにおける放電電力が相対的に大きくなるように制御することにより、前記点灯温度を相対的に高くすると共に、
前記放電電力が相対的に小さくなるように制御することにより、前記点灯温度を相対的に低くする
請求項１または請求項２に記載のランプユニット制御機構。
【請求項４】
前記耐候光性試験機用ランプユニットが、
軸方向に沿って延在する前記ランプと、
前記ランプの外周側に配置され、前記軸方向に沿って延在する内管フィルタと、
前記内管フィルタの外周側に配置され、前記軸方向に沿って延在する外管フィルタと
を含んで構成されており、
前記制御部は、
前記ランプと前記内管フィルタとの間において前記軸方向に沿って冷媒が流れないように制御することにより、前記点灯温度を相対的に高くすると共に、
前記ランプと前記内管フィルタとの間において前記軸方向に沿って前記冷媒が流れるように制御することにより、前記点灯温度を相対的に低くする
請求項１または請求項２に記載のランプユニット制御機構。
【請求項５】
前記冷媒が空気である
請求項４に記載のランプユニット制御機構。
【請求項６】
前記耐候光性試験機用ランプユニットが、
軸方向に沿って延在する前記ランプと、
前記ランプの外周側に配置され、前記軸方向に沿って延在する内管フィルタと、
前記内管フィルタの外周側に配置され、前記軸方向に沿って延在する外管フィルタと
を含んで構成されており、
前記制御部は、
前記ランプと前記内管フィルタとの間において前記軸方向に沿って冷媒が流れるように制御すると共に、
前記冷媒による前記ランプへの冷却量が相対的に小さくなるように制御することにより、前記点灯温度を相対的に高くし、
前記冷却量が相対的に大きくなるように制御することにより、前記点灯温度を相対的に低くする
請求項１または請求項２に記載のランプユニット制御機構。
【請求項７】
前記耐候光性試験機用ランプユニットが、
軸方向に沿って延在する前記ランプと、
前記ランプの外周側に配置され、前記軸方向に沿って延在する内管フィルタと、
前記内管フィルタの外周側に配置され、前記軸方向に沿って延在する外管フィルタと
を含んで構成されており、
前記制御部は、
前記ランプにおける放電電力の変化と、
前記ランプと前記内管フィルタとの間において前記軸方向に沿って流れる冷媒の有無、もしくは、前記冷媒による前記ランプへの冷却量の変化と、
を組み合わせて用いることにより、前記点灯温度を変化させる
請求項１または請求項２に記載のランプユニット制御機構。
【請求項８】
前記冷媒が空気であると共に、
前記冷却量が、前記空気の風速である
請求項６または請求項７に記載のランプユニット制御機構。
【請求項９】
前記制御部は、
前記ランプから放射される放射光における放射照度の検出情報を取得すると共に、
前記検出情報に基づいて特定される、前記ランプにおける発光スペクトルと、前記第１および第２のモードのうちの設定されているモードにおける発光スペクトルとが、一致しないと判定された場合には、その設定されているモードに切り替わるように、前記点灯温度を変化させる
請求項１ないし請求項８のいずれか１項に記載のランプユニット制御機構。
【請求項１０】
前記検出情報が、
１つの受光器において得られる前記放射照度の情報と、
２種類の波長選択フィルタを受光面上に個別に有する２つの受光器においてそれぞれ得られる前記放射照度の情報と、
１つの分光放射照度計において得られる、前記放射照度としての分光放射照度の情報と、
のうちのいずれかである
請求項９に記載のランプユニット制御機構。
【請求項１１】
試験室と、
金属ハロゲン化物および水銀を含む物質が封入されているランプを有するランプユニットと、
前記ランプユニットの動作を制御する制御部を有する制御機構と
を備え、
前記制御部は、前記ランプの点灯温度を変化させることにより、前記ランプにおける発光スペクトルを、前記金属ハロゲン化物および前記水銀の双方の発光スペクトルを含む第１のモードと、前記水銀の発光スペクトルのみを含む第２のモードとの間で切り替える
耐候光性試験機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試料についての耐候光性試験を行う耐候光性試験機、および、そのような耐候光性試験機に用いられるランプユニット制御機構に関する。
【背景技術】
【０００２】
耐候光性試験機は、太陽に代わる光源（人工光源）からの放射光を各種試料に照射することにより、その試料（材料）の劣化度合い等を評価する（耐候性・耐光性の試験を行う）ための装置である。なお、このような試験の際には、劣化促進環境条件下（加速試験環境下）において、上記した放射光が各種試料に照射されるようになっている。
【０００３】
このような耐候光性試験機では一般に、試験室（試験槽）の中に、光源として、例えば、キセノンアークランプ、サンシャインカーボンアークランプ、紫外線カーボンアークランプ、メタルハライドランプまたは紫外線蛍光ランプ等が配置されている（例えば、特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特許第３３１８９１０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、このような耐候光性試験機では一般に、耐候光性試験を行う際の利便性を向上させることが求められている。したがって、利便性を向上させることが可能なランプユニット制御機構および耐候光性試験機を提供することが望ましい。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一実施の形態に係るランプユニット制御機構は、金属ハロゲン化物および水銀を含む物質が封入されているランプを有する耐候光性試験機用ランプユニットの動作を制御する制御部を備えたものである。この制御部は、上記ランプの点灯温度を変化させることにより、このランプにおける発光スペクトルを、金属ハロゲン化物および水銀の双方の発光スペクトルを含む第１のモードと、水銀の発光スペクトルのみを含む第２のモードとの間で切り替える。
【０００７】
本発明の一実施の形態に係る耐候光性試験機は、試験室と、金属ハロゲン化物および水銀を含む物質が封入されているランプを有するランプユニットと、このランプユニットの動作を制御する制御部を有する制御機構とを備えたものである。上記制御部は、上記ランプの点灯温度を変化させることにより、このランプにおける発光スペクトルを、金属ハロゲン化物および水銀の双方の発光スペクトルを含む第１のモードと、水銀の発光スペクトルのみを含む第２のモードとの間で切り替える。
【０００８】
本発明の一実施の形態に係るランプユニット制御機構および耐候光性試験機では、上記ランプの点灯温度が変化することで、このランプにおける発光スペクトルが、上記第１のモードと上記第２のモードとの間で切り替えられる。これにより、メタルハライドランプの発光スペクトルを用いた耐候性試験（第１のモード）と、水銀灯の発光スペクトルを用いた耐光性試験（第２のモード）との２種類の耐候光性試験が、単一の試験機内で（共通のランプユニットを用いて）実施できるようになる。
【０００９】
本発明の一実施の形態に係るランプユニット制御機構および耐候光性試験機では、上記制御部が、上記点灯温度が相対的に高くなるように制御することによって、ランプにおける発光スペクトルを上記第１のモードに設定すると共に、上記点灯温度が相対的に低くなるように制御することによって、ランプにおける発光スペクトルを上記第２のモードに設定するようにしてもよい。
【００１０】
この場合において、例えば、上記制御部が、ランプにおける放電電力が相対的に大きくなるように制御することによって上記点灯温度を相対的に高くすると共に、上記放電電力が相対的に小さくなるように制御することによって上記点灯温度を相対的に低くするようにしてもよい。
【００１１】
あるいは、例えば、上記耐候光性試験機用ランプユニットが、軸方向に沿って延在する上記ランプと、このランプの外周側に配置され、上記軸方向に沿って延在する内管フィルタと、この内管フィルタの外周側に配置され、上記軸方向に沿って延在する外管フィルタとを含んで構成されている場合、制御部が以下のように制御してもよい。
【００１２】
すなわち、例えば、上記制御部が、ランプと内管フィルタとの間において上記軸方向に沿って冷媒が流れないように制御することによって、上記点灯温度を相対的に高くすると共に、ランプと内管フィルタとの間において上記軸方向に沿って冷媒が流れるように制御することによって、上記点灯温度を相対的に低くするようにしてもよい。また、例えば、上記制御部が、ランプと内管フィルタとの間において上記軸方向に沿って冷媒が流れるように制御すると共に、この冷媒によるランプへの冷却量が相対的に小さくなるように制御することによって上記点灯温度を相対的に高くし、上記冷却量が相対的に大きくなるように制御することによって上記点灯温度を相対的に低くするようにしてもよい。更に、例えば、上記制御部が、ランプにおける放電電力の変化と、ランプと内管フィルタとの間において上記軸方向に沿って流れる冷媒の有無、もしくは、冷媒によるランプへの冷却量の変化と、を組み合わせて用いることによって、上記点灯温度を変化させるようにしてもよい。なお、上記冷媒としては、例えば、空気などの気体、または、水などの液体等が挙げられると共に、上記冷却量としては、例えば、空気などの気体の風速、または、水などの液体の流速等が挙げられる。
【００１３】
本発明の一実施の形態に係るランプユニット制御機構および耐候光性試験機では、上記制御部が、ランプから放射される放射光における放射照度の検出情報を取得すると共に、この検出情報に基づいて特定されるランプにおける発光スペクトルと、上記第１および第２のモードのうちの設定されているモードにおける発光スペクトルとが、一致しないと判定された場合には、その設定されているモードに切り替わるように上記点灯温度を変化させるようにしてもよい。
【００１４】
この場合において、上記検出情報としては、例えば、１つの受光器において得られる放射照度の情報と、２種類の波長選択フィルタを受光面上に個別に有する２つの受光器においてそれぞれ得られる放射照度の情報と、１つの分光放射照度計において得られる放射照度としての分光放射照度の情報と、のうちのいずれかが挙げられる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明の一実施の形態に係るランプユニット制御機構および耐候光性試験機によれば、上記ランプの点灯温度を変化させることによって、このランプにおける発光スペクトルを上記第１のモードと上記第２のモードとの間で切り替えるようにしたので、上記２種類の耐候光性試験を単一の試験機内で実施することができる。よって、耐候光性試験を行う際の利便性を向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の一実施の形態に係る耐候光性試験機の概略構成例を表す模式図である。
【図２】図１に示したメタルハライドランプユニットの詳細構成例を表す模式斜視図である。
【図３】図１に示したメタルハライドランプユニットの詳細構成例を表す模式断面図である。
【図４】ランプユニット制御機構による制御に関する詳細構成例を表す模式図である。
【図５】２種類のランプにおける発光スペクトルの一例を表す特性図である。
【図６】実施の形態に係るランプ制御の一例を表す図である。
【図７】図４に示した各部分における電圧波形および電流波形の一例を表す模式図である。
【図８】変形例１に係るランプ制御の一例を表す図である。
【図９】変形例２に係るランプ制御の一例を表す図である。
【図１０】変形例３に係るランプ制御の一例を表す図である。
【図１１】変形例４に係るランプ制御の一例を表す流れ図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、説明は以下の順序で行う。
１．実施の形態（放電電力を制御してランプの点灯温度を変化させる手法の例）
２．変形例
変形例１（送風機の使用の有無に応じてランプの点灯温度を変化させる手法の例）
変形例２（風速を制御してランプの点灯温度を変化させる手法の例）
変形例３（放電電力と風速とを制御してランプの点灯温度を変化させる手法の例）
変形例４（放射照度の検出情報を用いて発光スペクトルを切り替える手法の例）
３．その他の変形例
【００１８】
＜１．実施の形態＞
［概略構成例］
図１は、本発明の一実施の形態に係る耐候光性試験機（耐候光性試験機１）の概略構成例を模式的に表したものである。
【００１９】
この耐候光性試験機１は、試験室（試験槽）１０内に配置された各種の材料からなる試料（試験片）９について、耐候光性試験（劣化促進環境条件下での耐候性試験または耐光性試験）を行うものである。この耐候光性試験機１は、図１に示したように、温度および湿度等の調節が可能な試験室１０の周囲に、光源としてのメタルハライドランプユニット１１、試料台１２、噴霧機構１３、受光器１４およびブラックパネル温度計１５を備えている。耐候光性試験機１はまた、図１に示したように、入力部１６、ランプ冷却水タンク１７１、ランプ冷却水循環ポンプ１７２、湿度発生機１７３、送風機（ブロアー）１８および制御部１９を備えている。
【００２０】
メタルハライドランプユニット１１は、試験室１０の上方に、自身の軸方向Ｚ（この例では水平方向）に沿って延在するように配置されている。このメタルハライドランプユニット１１は、試験室１０内の試料９へ向けて放射光Ｌoutを放射するユニットである。なお、このメタルハライドランプユニット１１の詳細構成については、後述する（図２，図３参照）。また、このようなメタルハライドランプユニット１１は、本発明における「耐候光性試験機用ランプユニット」および「ランプユニット」の一具体例に対応している。
【００２１】
試料台１２は、試験室１０内において試料９を保持（載置）しておくための台（ホルダ）である。この試料台１２上にはまた、この例では図１に示したように、後述する受光器１４およびブラックパネル温度計１５も配置されるようになっている。なお、この試料台１２は、この例では、例えば回転動作等を行わずに固定配置された台となっている。
【００２２】
噴霧機構１３は、試料９に対して、例えば純水または試験溶液を噴霧させるための部材である。この噴霧機構１３は、図示しない１または複数のノズル（スプレノズル）を含んで構成されている。このノズルは、上記した純水または試験溶液を噴出する部材であり、例えば試料９の対向位置に配置されている。
【００２３】
受光器１４は、メタルハライドランプユニット１１から放射された放射光Ｌoutの放射照度を測定するための機器（照度計）である。なお、この受光器１４により得られた受光データＤｉ（放射照度の検出情報：積分値）は、例えば、後述する制御部１９へ伝送されるようになっている（後述する図４参照）。
【００２４】
ブラックパネル温度計１５は、試料９の温度情報を検出するための温度計である。この温度情報としては、放射光Ｌoutの光エネルギーが温度化された成分と、試験室１０内の環境温度成分とを含んでいる。このようなブラックパネル温度計１５は、例えば、バイメタル、白金抵抗体、サーミスタまたは熱電対等の感熱体を含んで構成されている。
【００２５】
入力部１６は、耐候光性試験機１のユーザ（使用者）によって各種の操作を行う際に用いられる情報入力部（操作部）である。このような入力部１６は、例えば各種のスイッチや表示部、タッチパネル等を用いて構成されており、使用者によって入力された各種情報は、例えば後述する制御部１９へ伝送されるようになっている。
【００２６】
ランプ冷却水タンク１７１は、後述する冷却水Ｗｃ（メタルハライドランプユニット１１内の後述するメタルハライドランプ１１０を間接的に冷却するための液体）を貯蔵するためのタンク（容器）である。
【００２７】
ランプ冷却水循環ポンプ１７２は、ランプ冷却水タンク１７１内の冷却水Ｗｃを、メタルハライドランプユニット１１内との間で循環させるためのポンプである。
【００２８】
湿度発生機１７３は、試験室１０内の湿度を制御する（設定された所定の湿度を発生する）ための機器である。
【００２９】
送風機１８は、冷媒としての空気Ａout（メタルハライドランプユニット１１内の後述するメタルハライドランプ１１０を直接的に冷却するための気体）を、メタルハライドランプユニット１１の内部へ向けて出力する機器である。なお、この空気Ａoutは、本発明における「冷媒」の一具体例に対応すると共に、後述するこの空気Ａoutの風速Ｖｗは、本発明における「冷却量」の一具体例に対応する。
【００３０】
制御部１９は、耐候光性試験機１全体の動作を制御する部分であり、例えば、シーケンサやマイクロコンピュータ等を用いて構成されている。制御部１９は、このような制御動作の１つとして、この例では、メタルハライドランプユニット１１の動作や、送風機１８の動作等の制御を含んでいる。なお、このような制御部１９等による制御に関連する詳細構成例については、後述する（図４参照）。
【００３１】
［メタルハライドランプユニット１１の詳細構成例］
続いて、図２および図３を参照して、前述したメタルハライドランプユニット１１の詳細構成例について説明する。図２は、図１に示したメタルハライドランプユニット１１の詳細構成例を、模式斜視図で表したものである。また、図３は、このメタルハライドランプユニット１１の詳細構成例を、模式断面図で表したものである。
【００３２】
図２および図３に示したように、このメタルハライドランプユニット１１は、メタルハライドランプ１１０、内管フィルタ１１１および外管フィルタ１１２を有している。
【００３３】
メタルハライドランプ１１０は、前述した軸方向Ｚに沿って延在する略円筒状の発光管１１０ａを有している。また、このメタルハライドランプ１１０では、発光管１１０ａの軸方向Ｚに沿った両端付近に、電極（一対の電極１１０ｂ１，１１０ｂ２）が内蔵されている。また、発光管１１０ａ内には、金属ハロゲン化物（例えば、沃化鉄（ＦｅＩ2）、沃化錫（ＳｎＩ2）、臭化錫（ＳｎＢｒ2）等）、水銀（Ｈｇ）およびガス類などの複数の物質が封入されている。これらの物質のうち、水銀およびガス類はそれぞれ、メタルハライドランプ１１０の点灯の際に、金属ハロゲン化物（ハロゲン化金属）を気化させるために用いられるようになっている。このようなメタルハライドランプ１１０は、前述した放射光Ｌoutを放射する光源であり、本発明における「ランプ」の一具体例に対応している。なお、このメタルハライドランプ１１０の外径（径Ｒ０）は、例えば３０ｍｍ程度である。
【００３４】
内管フィルタ１１１は、メタルハライドランプ１１０の外周側に間隙を介して配置されており、軸方向Ｚに沿って延在する略円筒状の部材である。この内管フィルタ１１１は、前述した冷却水Ｗｃの流路および前述した空気Ａoutの風路をそれぞれ形成する役割を担う部材（囲いとして機能する部材）であり、例えば石英等により構成されている。なお、この内管フィルタ１１１の軸方向Ｚに沿った長さは、例えば６８０ｍｍである。また、内管フィルタ１１１の内径は、例えば３５ｍｍ程度であり、内管フィルタ１１１の外径（径Ｒ１）は、例えば４０ｍｍ程度である。
【００３５】
外管フィルタ１１２は、内管フィルタ１１１の外周側に間隙を介して配置されており、軸方向Ｚに沿って延在する略円筒状の部材である。この外管フィルタ１１２は、メタルハライドランプ１１０からの放射光Ｌoutのうち、所定の波長領域（例えば２９５ｎｍ以下の波長領域）の光を遮断（制限）する機能を有するフィルタ（波長選択透過フィルタ）となっている。なお、この外管フィルタ１１２の軸方向Ｚに沿った長さは、例えば６８０ｍｍ程度であり、外管フィルタ１１２の外径（径Ｒ２）は、例えば６０ｍｍ程度である。
【００３６】
ここで、図２および図３に示したように、このメタルハライドランプユニット１１では、内管フィルタ１１１と外管フィルタ１１２との間に形成される流路に、軸方向Ｚに沿って（図２中の矢印の方向に）冷却水Ｗｃが流れるようになっている。なお、以下では、この流路に流入する冷却水Ｗｃを冷却水Ｗｃin、この流路から流出する冷却水Ｗｃを冷却水Ｗｃoutと称する。このような流路を冷却水Ｗｃが流れることで、メタルハライドランプ１１０に対する冷却動作（間接的な冷却動作）がなされるようになっている。
【００３７】
また、図２および図３に示したように、このメタルハライドランプユニット１１では、メタルハライドランプ１１０と内管フィルタ１１１との間に形成される風路に、軸方向Ｚに沿って（図２中の矢印の方向に）、送風機１８から出力される空気Ａoutが流れるようになっている。なお、この空気Ａoutの流れる方向は、この例では、上記した冷却水Ｗｃの流れる方向とは反対方向（軸方向Ｚに沿った逆方向）となっている。このような風路を空気Ａoutが流れることで、メタルハライドランプ１１０に対する冷却動作（直接的な冷却動作）がなされるようになっている。
【００３８】
［ランプユニット制御機構による制御に関する詳細構成例］
続いて、図４を参照して、前述した制御部１９等による制御に関する詳細構成例について説明する。この図４は、このような制御部１９等（ランプユニット制御機構）による制御に関する詳細構成例を、模式図で表したものである。
【００３９】
図４に示した例では、制御部１９等による制御（メタルハライドランプユニット１１の動作制御）に関して、耐候光性試験機１には、以下のようなものが設けられている。すなわち、この例では、前述した受光器１４、送風機１８および制御部１９に加え、３つのリアクタ１９１ａ，１９１ｂ，１９２、昇圧トランス１９３、電磁接触器１９４、電力調整器１９５およびインバータ１８０が設けられている。なお、これらが、本発明における「ランプユニット制御機構」および「制御機構」の一具体例に対応している。
【００４０】
交流電源１９０は、電源電圧としての交流電圧（電圧Ｖ０）を出力する電源である。
【００４１】
リアクタ１９１ａ，１９１ｂ，１９２はそれぞれ、点灯時にメタルハライドランプ１１０に電流が流れ過ぎないようにするための安定器として機能する素子（チョークコイル）である。リアクタ１９１ａ，１９１ｂは、互いに直列接続された状態で、電力調整器１９５に対して並列配置されている。具体的には、図４に示したように、リアクタ１９１ａの一端は、交流電源１９０の一端および電力調整器１９５の一端にそれぞれ接続され、リアクタ１９１ａの他端は、リアクタ１９１ｂの一端に接続されている。また、リアクタ１９１ｂの他端は、電力調整器１９５の他端および昇圧トランス１９３の１次側の端子にそれぞれ接続されている。一方、リアクタ１９２の一端は、昇圧トランス１９３の２次側の端子に接続され、リアクタ１９２の他端は、メタルハライドランプ１１０における電極１１０ｂ２に接続されている。なお、メタルハライドランプ１１０における電極１１０ｂ１は、図４に示したように、昇圧トランス１９３を介して交流電源１９０の他端に接続されている。また、ここでは、リアクタ１９１ａの一端からリアクタ１９１ｂの他端に流れる電流を電流Ａ１、電力調整器１９５を流れる電流を電流Ａ２、電力調整器１９５の他端とリアクタ１９１ｂの他端と電磁接触器１９４の他端とから、昇圧トランス１９３の１次側の端子に流れる電流を、電流Ａ３と称する。また、リアクタ１９２の出力側の電圧（メタルハライドランプ１１０の電極１１０ｂ１，１１０ｂ２間に印加される放電電圧）を、電圧Ｖ５と称する。
【００４２】
昇圧トランス１９３は、図４に示したように、リアクタ１９１ｂの他端側から出力される１次側電圧（電圧Ｖ３）を電圧変換（昇圧）して、２次側電圧（電圧Ｖ４）を出力する素子である。なお、この電圧Ｖ４は、メタルハライドランプ１１０の点灯時に必要とされる大きさの電圧となっている。
【００４３】
電磁接触器１９４は、電磁石の動作によって電路を開閉する素子であり、リアクタ１９１ｂに対して並列接続されている。すなわち、電磁接触器１９４の一端はリアクタ１９１ｂの一端に接続され、電磁接触器１９４の他端はリアクタ１９１ｂの他端に接続されている。このような構成により電磁接触器１９４では、詳細は後述するが（図６等参照）、短絡状態（閉状態）に設定されたときには、電磁接触器１９４側に電流が流れることでリアクタ１９１ｂ側に電流が流れなくなる結果、リアクタ１９１ｂが使用されない状態となる。一方、電磁接触器１９４が開放状態（開状態）に設定されたときには、電磁接触器１９４側に電流が流れないことでリアクタ１９１ｂ側に電流が流れる結果、リアクタ１９１ｂが使用される状態となる。
【００４４】
電力調整器１９５は、リアクタ１９１ａの一端とリアクタ１９１ｂの他端との間に接続されており、メタルハライドランプ１１０の点灯時の放電電力Ｐｄの大きさを制御するための素子である。このような電力調整器１９５は、図４に示したように、制御部１９によって動作制御されるようになっており、例えばサイリスタ等の素子を用いて構成されている。
【００４５】
インバータ１８０は、制御部１９からの動作制御に従って直流電力を変換し、所定の交流電力（出力周波数ｆout）を送風機１８へと出力する電力変換器である。このようなインバータ１８０における出力周波数ｆoutが、制御部１９によって制御されることで、図４に示したように、送風機１８から出力される空気Ａoutの風速Ｖｗが制御されるようになっている。
【００４６】
このような構成により制御部１９（ランプユニット制御機構）では、詳細は後述するが、メタルハライドランプユニット１１の動作制御（後述する発光スペクトルのモードの切り替え制御等）を行うようになっている。なお、このような制御部１９等による制御手法例の詳細については、後述する（図５〜図７参照）。
【００４７】
［動作および作用・効果］
（Ａ．基本動作）
この耐候光性試験機１では、試験室１０内において、メタルハライドランプユニット１１（メタルハライドランプ１１０）から試料台１２上の試料９へ向けて、放射光Ｌoutが放射される。そして、このような放射光Ｌoutが試料９に対して照射されることで、耐候光性試験が行われる。具体的には、劣化促進環境条件（加速試験環境）の下で、試料９に放射光Ｌoutが照射されると共に、このような放射光Ｌoutの放射が所定の試験時間（例えば数時間〜数千時間程度）の間連続して行われることで、各試料９（材料）の劣化度合い等が評価され、耐候光性試験がなされる。
【００４８】
この際に、メタルハライドランプ１１０では、電極１１０ｂ１，１１０ｂ２間の温度（点灯温度Ｔ）が放電の熱で上昇し、発光管１１０ａ内に封入されている物質（前述した水銀および金属ハロゲン化物等）が気化することで、発光動作（放射光Ｌoutの放射）がなされる。具体的には、メタルハライドランプ１１０の点灯開始直後では、まず、発光管１１０ａ内のガス類を媒介として放電することで、発光管１１０ａの内部温度が上昇して水銀が気化し、その後、水銀も媒介として放電することで内部温度が更に上昇し、金属ハロゲン化物も気化して発光動作がなされる。また、このような点灯の際には、電極１１０ｂ１，１１０ｂ２から飛び出した電子が、上記のようにして気化した物質（水銀や金属ハロゲン化物等）に衝突し、その衝突の際に発生する励起エネルギーによって、その物質に特有の発光スペクトルを有する放射光Ｌoutが放射される（後述する図５参照）。
【００４９】
また、このような点灯の際に、制御部１９は、受光器１４において得られた受光データＤｉ（放射照度の検出情報）に基づいて、メタルハライドランプ１１０の放電電力Ｐｄを制御することにより、試料９への放射照度を制御する。あるいは、制御部１９は、このような受光データＤｉに基づいて、インバータ１８０における出力周波数ｆoutを制御して、送風機１８から出力される空気Ａoutの風速Ｖｗを制御することによって、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを制御して、試料９への放射照度を制御する。このような制御部１９による制御によって、受光データＤｉの値が予め設定された試験条件値と略一致（望ましくは一致）するように、メタルハライドランプ１１０の放電電力Ｐｄや点灯温度Ｔが制御され、安定した放射動作が担保されることになる。
【００５０】
更に、この際にメタルハライドランプユニット１１では、内管フィルタ１１１と外管フィルタ１１２との間に形成される流路に、ランプ冷却水タンク１７１内の冷却水Ｗｃが、ランプ冷却水循環ポンプ１７２によって循環供給される。このような流路を冷却水Ｗｃが流れることで、メタルハライドランプ１１０に対する冷却動作（間接的な冷却動作）がなされる。
【００５１】
加えて、このメタルハライドランプユニット１１ではまた、メタルハライドランプ１１０と内管フィルタ１１１との間に形成される風路に、送風機１８から出力される空気Ａoutが流れる。このような風路を空気Ａoutが流れることで、メタルハライドランプ１１０に対する冷却動作（直接的な冷却動作）がなされる。
【００５２】
（Ｂ．ランプユニット制御機構における制御手法例）
続いて、図１〜図４に加えて図５〜図７を参照して、本実施の形態のランプユニット制御機構（制御部１９等）による制御手法例について、比較例と比較しつつ詳細に説明する。
【００５３】
まず、図５は、一般的な２種類のランプ（メタルハライドランプおよび水銀灯）における発光スペクトルの一例を表したものである。具体的には、図５（Ａ）は、メタルハライドランプにおける発光スペクトルの一例を、図５（Ｂ）は、水銀灯における発光スペクトルの一例を、それぞれ示している。なお、図５（Ａ），図５（Ｂ）中にそれぞれ示した波長帯域Δλ１，Δλ２の内容については、後述する（変形例４参照）。
【００５４】
図５（Ａ）に示したメタルハライドランプの発光スペクトルは、紫外領域での放射照度が大きいと共に赤外領域での放射照度は小さい、連続スペクトルとなっている。一方、図５（Ｂ）に示した水銀灯の発光スペクトルは、紫外領域を主とした輝線スペクトルとなっている。このような発光スペクトルの特性の違いは、前述したように、ランプ点灯の際、気化した物質に電子が衝突し、各々の物質特有の発光スペクトルが得られるからである。具体的には、メタルハライドランプの発光スペクトルには、ランプ内に封入されている物質である、金属ハロゲン化物および水銀の発光スペクトルが含まれている。一方、水銀灯の発光スペクトルには、ランプ内に封入されている物質である、水銀の発光スペクトルのみが含まれている。
【００５５】
ここで、比較例に係る従来の耐候光性試験では、例えば以下のＪＩＳ（Japanese Industrial Standards：日本工業規格）やＪＴＭ（日本試験機工業会規格）の規格番号により示されるように、耐候性試験や耐光性試験の目的や用途等に応じて、上記した２種類のランプが個別に用いられている。すなわち、この比較例では、メタルハライドランプの発光スペクトルを用いた耐候性試験と、水銀灯の発光スペクトルを用いた耐光性試験とが、各々に専用の２種類の試験機内で（個別のランプユニットを用いて）実施されている。このようにして、この比較例の耐候光性試験では、耐候性試験や耐光性試験の用途等に応じてこれら２種類の試験機が必要となることから、利便性が損なわれると共に、コストも増大することになる。
【００５６】
・メタルハライドランプによる促進耐候性試験（例えば、JTM G01「メタルハライドランプ方式試験機」）
・水銀灯による耐光性試験（例えば、JIS R 3212「自動車用安全ガラス試験方法」、JIS R 3205「合わせガラス」、JIS K 5572「フタル酸樹脂エナメル」）
【００５７】
そこで、本実施の形態の耐候光性試験機１では、制御部１９（ランプユニット制御機構）において、メタルハライドランプユニット１１の動作を制御することで、例えば図５（Ａ），図５（Ｂ）に示した２種類の発光スペクトル間での切り替え制御を行う。すなわち、本実施の形態ではそのような切り替え制御がなされることで、上記した比較例とは異なり、単一のランプユニット（メタルハライドランプユニット１１）から上記した２種類の発光スペクトルが得られるようになっている。
【００５８】
具体的には、制御部１９は、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを変化させることで、このメタルハライドランプ１１０における発光スペクトルを、以下の２種類のモードの間で切り替えるようにしている。なお、以下のメタルハライドランプ試験モードは、本発明における「第１のモード」の一具体例に対応すると共に、以下の水銀灯試験モードは、本発明における「第２のモード」の一具体例に対応している。
【００５９】
・メタルハライドランプ試験モード  ……  発光管１１０ａ内に封入されている、前述した金属ハロゲン化物および水銀の双方の発光スペクトルを含むモード
・水銀灯試験モード  ……  発光管１１０ａ内に封入されている水銀の発光スペクトルのみを含むモード
【００６０】
より具体的には、制御部１９は、上記した点灯温度Ｔが相対的に高くなるように制御することによって、メタルハライドランプ１１０における発光スペクトルを、上記したメタルハライドランプ試験モードに設定する。一方、制御部１９は、この点灯温度Ｔが相対的に低くなるように制御することによって、メタルハライドランプ１１０における発光スペクトルを、上記した水銀灯試験モードに設定する。
【００６１】
ここで、このような点灯温度Ｔの高低に応じて、単一のメタルハライドランプ１１０から得られる発光スペクトルが２種類に切り替わるのは、以下の理由によるものである。すなわち、まず、点灯温度Ｔが、水銀の沸点Ｔ１以上かつ金属ハロゲン化物の沸点Ｔ２未満である場合（Ｔ１≦Ｔ＜Ｔ２：相対的に低い場合）、発光管１１０ａ内に封入されている金属ハロゲン化物および水銀のうち、水銀のみが気化する（金属ハロゲン化物は気化しない）ことになる。そのため、点灯温度Ｔがこの範囲内である場合には、水銀の発光スペクトルのみを含むモード（水銀灯試験モード）となる。一方、点灯温度Ｔが、金属ハロゲン化物の沸点Ｔ２以上である場合（Ｔ２≦Ｔ：相対的に高い場合）、発光管１１０ａ内に封入されている金属ハロゲン化物および水銀の双方が、気化することになる。そのため、点灯温度Ｔがこの沸点Ｔ２以上である場合には、金属ハロゲン化物および水銀の双方の発光スペクトルを含むモード（メタルハライドランプ試験モード）となる。このように、点灯温度Ｔの高低に応じて、メタルハライドランプ１１０内の状態（発光管１１０ａ内に封入されている各物質の固体・液体・気体の状態）が変化することで、発光スペクトルが切り替えられるのである。
【００６２】
このようにして本実施の形態では、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔが変化させられることで、このメタルハライドランプ１１０における発光スペクトルが、上記した２種類のモード（メタルハライドランプ試験モードおよび水銀灯試験モード）の間で切り替えられる。これにより本実施の形態では、上記比較例とは異なり、以下のようになる。すなわち、例えば図５（Ａ）に示したメタルハライドランプの発光スペクトルを用いた耐候性試験（メタルハライドランプ試験モード）と、例えば図５（Ｂ）に示した水銀灯の発光スペクトルを用いた耐光性試験（水銀灯試験モード）との２種類の耐候光性試験が、実現可能となる。つまり、本実施の形態の耐候光性試験機１では上記比較例とは異なり、このような目的や用途等に応じた２種類の耐候光性試験が、単一の試験機内において、共通のランプユニット（メタルハライドランプユニット１１）を用いて実施できるようになる。
【００６３】
ここで、図６および図７を参照して、上記した本実施の形態におけるランプ制御（発光スペクトルの切り替え制御）について、より具体的に説明する。
【００６４】
図６は、本実施の形態のランプ制御の一例を、上記した２種類のモード（メタルハライドランプ試験モードおよび水銀灯試験モード）について、表にまとめて表したものである。
【００６５】
まず、本実施の形態のランプ制御では、図６に示したように、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを変化させるために、このメタルハライドランプ１１０における放電電力Ｐｄを制御するようにしている。具体的には、制御部１９は、この放電電力Ｐｄが相対的に大きくなるように制御することによって、点灯温度Ｔを相対的に高くすると共に、放電電力Ｐｄが相対的に小さくなるように制御することによって、点灯温度Ｔを相対的に低くするようにしている。
【００６６】
より具体的には、図６に示したように、メタルハライドランプ試験モードの際には、電磁接触器１９４が前述した短絡状態（閉状態）に設定されることで、電磁接触器１９４側に電流が流れてリアクタ１９１ｂ側に電流が流れなくなる（図４参照）。その結果、リアクタ１９１ｂが使用されない状態となり、昇圧トランス１９３の１次側における回路のインピーダンスが低下して電流が増加することから、最終的にメタルハライドランプ１１０における放電電力Ｐｄが、相対的に大きくなる。したがって、点灯温度Ｔが相対的に高くなる（前述したＴ２≦Ｔの範囲）ため、メタルハライドランプ試験モードに設定されるようになっている。
【００６７】
一方、図６に示したように、水銀灯試験モードの際には、電磁接触器１９４が前述した開放状態（開状態）に設定されることで、電磁接触器１９４側に電流が流れずにリアクタ１９１ｂ側に電流が流れる（図４参照）。その結果、リアクタ１９１ｂが使用される状態となり、昇圧トランス１９３の１次側における回路のインピーダンスが増加して電流が低下することから、最終的にメタルハライドランプ１１０における放電電力Ｐｄが、相対的に小さくなる。したがって、点灯温度Ｔが相対的に低くなる（前述したＴ１≦Ｔ＜Ｔ２の範囲）ため、水銀灯試験モードに設定されるようになっている。
【００６８】
なお、図６に示したように、本実施の形態のランプ制御では、後述する変形例１〜３とは異なり、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを変化させるために、送風機１８を使用していない。具体的には、本実施の形態では、送風機１８の使用の有無（空気Ａoutの有無）や、インバータ１８０の出力周波数ｆoutの制御に応じた風速Ｖｗ（冷却量）の制御等は、点灯温度Ｔの変化のために利用されないようになっている。
【００６９】
続いて、図７は、図４に示した各部分における電圧波形（電圧Ｖ０，Ｖ４，Ｖ５の各波形）および電流波形（電流Ａ１，Ａ２，Ａ３の各波形）の一例を、電力調整器１９５の出力＝２５％，５０％、７５％の各場合について、模式的に表したものである。この図７の各電圧波形と、図４に示した制御部１９等（ランプユニット制御機構）の構成例とを参照して、図６に示したように放電電力Ｐｄを制御して点灯温度Ｔを変化させる手法について、より具体的に説明する。
【００７０】
この図７に示したように、電力調整器１９５の出力が２５％，５０％、７５％と増加するのに従って、電流Ａ１（リアクタ１９１ａ，１９１ｂに流れる電流）が減少していくと共に、電流Ａ２（電力調整器１９５に流れる電流）の積分値が増加していくことが分かる。また、それに伴って、電力調整器１９５の出力が２５％，５０％、７５％と増加するのに従い、電圧Ｖ５（リアクタ１９２の両端の電圧）が増加している。このように、リアクタ１９１ａ，１９１ｂ全体のインピーダンスを変化させていくことで、電圧Ｖ５、ひいては、放電電力Ｐｄも変化していくことが分かる。そして、このリアクタ１９１ａ，１９１ｂ全体のインピーダンスを、上記したように電磁接触器１９４の開閉状態（リアクタ１９２の使用の有無）に応じて変化させることで、放電電力Ｐｄの範囲を広げることができる。具体的には、本実施の形態では、電磁接触器１９４の開閉状態（リアクタ１９２の使用の有無）に応じて、リアクタ１９１ａ，１９１ｂ全体のインピーダンスを増加させることで、放電電力Ｐｄの下限値を下げることが可能となっている。
【００７１】
なお、実際には、図４に示した回路（点灯回路）全体のインピーダンスを考慮する必要があるものの、リアクタ１９２および昇圧トランス１９３については、リアクタ１９１ａ，１９１ｂとは用途が異なっている。したがって、リアクタ１９１ａ，１９１ｂ全体のインピーダンスの変化を利用して、放電電力Ｐｄの調整がなされるようになっている。
【００７２】
以上のように本実施の形態では、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを変化させることによって、このメタルハライドランプ１１０における発光スペクトルを、上記した２種類のモード（メタルハライドランプ試験モードおよび水銀灯試験モード）の間で切り替えるようにしたので、以下のようになる。すなわち、目的や用途等に応じた２種類の耐候光性試験を、単一の試験機（耐候光性試験機１）内において、共通のランプユニット（メタルハライドランプユニット１１）を用いて実施することができる。よって、耐候光性試験を行う際の利便性を向上させることが可能となると共に、コストを削減することも可能となる。
【００７３】
＜２．変形例＞
続いて、上記実施の形態の変形例（変形例１〜４）について説明する。なお、実施の形態における構成要素と同一のものには同一の符号を付し、適宜説明を省略する。
【００７４】
［変形例１］
図８は、変形例１に係るランプ制御の一例を、実施の形態の場合（図６）と同様にして、表にまとめて表したものである。
【００７５】
まず、本変形例のランプ制御においても、実施の形態と同様に、制御部１９は、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを変化させることで、このメタルハライドランプ１１０における発光スペクトルを、前述した２種類のモードの間で切り替えるようにしている。具体的には、制御部１９は、この点灯温度Ｔが相対的に高くなるように制御することによって、メタルハライドランプ１１０における発光スペクトルを、メタルハライドランプ試験モードに設定する。一方、制御部１９は、この点灯温度Ｔが相対的に低くなるように制御することによって、メタルハライドランプ１１０における発光スペクトルを、水銀灯試験モードに設定する。
【００７６】
ただし、本変形例のランプ制御では、実施の形態とは異なり、図８に示したように、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを変化させるために、送風機１８を使用している。具体的には、本変形例では、送風機１８の使用の有無（空気Ａoutの有無）を利用して、点灯温度Ｔを変化させるようにしている。
【００７７】
つまり、制御部１９は、メタルハライドランプ１１０と内管フィルタ１１１との間の風路に、冷媒としての空気Ａoutが流れないように制御する（送風機１８を使用しない）ことによって、点灯温度Ｔを相対的に高くする。一方、制御部１９は、メタルハライドランプ１１０と内管フィルタ１１１との間の風路に、この空気Ａoutが流れるように制御する（送風機１８を使用する）ことによって、点灯温度Ｔを相対的に低くする。
【００７８】
より具体的には、図８に示したように、メタルハライドランプ試験モードの際には、送風機１８の使用が停止されることで、上記した冷媒としての空気Ａoutが、メタルハライドランプユニット１１内の上記風路に供給されなくなる。その結果、前述したような、メタルハライドランプ１１０に対する直接的な冷却動作が行われない状態となる。したがって、点灯温度Ｔが相対的に高くなる（前述したＴ２≦Ｔの範囲）ため、メタルハライドランプ試験モードに設定されるようになっている。
【００７９】
一方、図８に示したように、水銀灯試験モードの際には、送風機１８が使用されることで、上記した冷媒としての空気Ａoutが、メタルハライドランプユニット１１内の上記風路に供給されることになる。その結果、前述したような、メタルハライドランプ１１０に対する直接的な冷却動作が行われる状態となる。したがって、点灯温度Ｔが相対的に低くなる（前述したＴ１≦Ｔ＜Ｔ２の範囲）ため、水銀灯試験モードに設定されるようになっている。
【００８０】
なお、図８に示したように、本変形例のランプ制御では、図６に示した実施の形態とは異なり、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを変化させるために、放電電力Ｐｄの制御を利用しないようになっている。すなわち、放電電力Ｐｄが固定値に設定されていると共に、この例では、電磁接触器１９４が短絡状態に設定されて、リアクタ１９１ｂが使用されない状態となっている。また、本変形例のランプ制御では、後述する変形例２，３とは異なり、インバータ１８０の出力周波数ｆoutの制御に応じた風速Ｖｗ（冷却量）の制御等は、点灯温度Ｔの変化のために利用されないようになっている。すなわち、送風機１８を使用する際においても、これらの出力周波数ｆoutおよび風速Ｖｗ（冷却量）はそれぞれ、固定値に設定されている。
【００８１】
このようにして本変形例においても、実施の形態と同様の効果を得ることが可能である。すなわち、耐候光性試験を行う際の利便性を向上させることが可能となると共に、コストを削減することも可能となる。
【００８２】
［変形例２］
図９は、変形例２に係るランプ制御の一例を、実施の形態の場合（図６）と同様にして、表にまとめて表したものである。
【００８３】
まず、本変形例のランプ制御においても、実施の形態と同様に、制御部１９は、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを変化させることで、このメタルハライドランプ１１０における発光スペクトルを、前述した２種類のモードの間で切り替えるようにしている。
【００８４】
ただし、本変形例のランプ制御では、実施の形態とは異なり、図９に示したように、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを変化させるために、送風機１８を使用している。具体的には、本変形例では、インバータ１８０の出力周波数ｆoutの制御に応じた、送風機１８から出力される空気Ａoutの風速Ｖｗ（冷却量）の制御を利用して、点灯温度Ｔを変化させるようにしている。
【００８５】
つまり、制御部１９は、まず、メタルハライドランプ１１０と内管フィルタ１１１との間の風路に、冷媒としての空気Ａoutが流れる（送風機１８を使用する）ように制御する。そして、制御部１９は、この空気Ａoutによるメタルハライドランプ１１０への冷却量（空気Ａoutの風速Ｖｗ）が、相対的に小さくなるように制御することによって、点灯温度Ｔを相対的に高くする。一方、制御部１９は、この空気Ａoutの風速Ｖｗ（冷却量）が相対的に大きくなるように制御することによって、点灯温度Ｔを相対的に低くする。
【００８６】
より具体的には、図９に示したように、メタルハライドランプ試験モードの際には、送風機１８が使用されることで、上記した冷媒としての空気Ａoutが、メタルハライドランプユニット１１内の上記風路に供給される。その結果、前述したような、メタルハライドランプ１１０に対する直接的な冷却動作が行われる状態となる。また、インバータ１８０の出力周波数ｆoutが相対的に低く設定されることで、このときの空気Ａoutの風速Ｖｗ（冷却量）が、相対的に小さくなる。したがって、点灯温度Ｔが相対的に高くなる（前述したＴ２≦Ｔの範囲）ため、メタルハライドランプ試験モードに設定されるようになっている。
【００８７】
一方、図９に示したように、水銀灯試験モードの際にも、送風機１８が使用されることで、上記した冷媒としての空気Ａoutが、メタルハライドランプユニット１１内の上記風路に供給される。その結果、前述したような、メタルハライドランプ１１０に対する直接的な冷却動作が行われる状態となる。ただし、インバータ１８０の出力周波数ｆoutが相対的に高く設定されることで、このときの空気Ａoutの風速Ｖｗ（冷却量）が、相対的に大きくなる。したがって、点灯温度Ｔが相対的に低くなる（前述したＴ１≦Ｔ＜Ｔ２の範囲）ため、水銀灯試験モードに設定されるようになっている。
【００８８】
なお、図９に示したように、本変形例のランプ制御においても、図６に示した実施の形態とは異なり、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを変化させるために、放電電力Ｐｄの制御を利用しないようになっている。すなわち、放電電力Ｐｄが固定値に設定されていると共に、この例では、電磁接触器１９４が短絡状態に設定されて、リアクタ１９１ｂが使用されない状態となっている。
【００８９】
このようにして本変形例においても、実施の形態と同様の効果を得ることが可能である。すなわち、耐候光性試験を行う際の利便性を向上させることが可能となると共に、コストを削減することも可能となる。
【００９０】
［変形例３］
図１０は、変形例３に係るランプ制御の一例を、実施の形態の場合（図６）と同様にして、表にまとめて表したものである。
【００９１】
まず、本変形例のランプ制御においても、実施の形態と同様に、制御部１９は、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを変化させることで、このメタルハライドランプ１１０における発光スペクトルを、前述した２種類のモードの間で切り替えるようにしている。
【００９２】
ただし、本変形例のランプ制御では、実施の形態とは異なり、図１０に示したように、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを変化させるために、送風機１８を使用している。具体的には、本変形例では、変形例２において説明した、送風機１８から出力される空気Ａoutの風速Ｖｗ（冷却量）の制御と、実施の形態において説明した放電電力Ｐｄの制御との双方を組み合わせて利用することで、点灯温度Ｔを変化させるようにしている。
【００９３】
つまり、制御部１９は、メタルハライドランプ１１０における放電電力Ｐｄの変化と、冷媒としての空気Ａoutの風速Ｖｗ（冷却量）の変化と、を組み合わせて用いることによって、点灯温度Ｔを変化させるようにしている。
【００９４】
なお、変形例１において説明した、送風機１８の使用の有無（空気Ａoutの有無）と、実施の形態において説明した放電電力Ｐｄの制御との双方を組み合わせて利用することで、点灯温度Ｔを変化させるようにしてもよい。つまり、制御部１９は、メタルハライドランプ１１０における放電電力Ｐｄの変化と、冷媒としての空気Ａoutの有無と、を組み合わせて用いることによって、点灯温度Ｔを変化させるようにしてもよい。
【００９５】
より具体的には、図１０に示したように、メタルハライドランプ試験モードの際には、電磁接触器１９４が前述した短絡状態（閉状態）に設定されることで、電磁接触器１９４側に電流が流れてリアクタ１９１ｂ側に電流が流れなくなる（図４参照）。その結果、リアクタ１９１ｂが使用されない状態となり、昇圧トランス１９３の１次側における回路のインピーダンスが低下して電流が増加することから、最終的にメタルハライドランプ１１０における放電電力Ｐｄが、相対的に大きくなる。また、送風機１８が使用されることで、上記した冷媒としての空気Ａoutが、メタルハライドランプユニット１１内の前述した風路に供給される。その結果、前述したような、メタルハライドランプ１１０に対する直接的な冷却動作が行われる状態となる。更に、インバータ１８０の出力周波数ｆoutが相対的に低く設定されることで、このときの空気Ａoutの風速Ｖｗ（冷却量）が、相対的に小さくなる。これらのことから、点灯温度Ｔが相対的に高くなる（前述したＴ２≦Ｔの範囲）ため、メタルハライドランプ試験モードに設定されるようになっている。
【００９６】
一方、図１０に示したように、水銀灯試験モードの際には、電磁接触器１９４が前述した開放状態（開状態）に設定されることで、電磁接触器１９４側に電流が流れずにリアクタ１９１ｂ側に電流が流れる（図４参照）。その結果、リアクタ１９１ｂが使用される状態となり、昇圧トランス１９３の１次側における回路のインピーダンスが増加して電流が低下することから、最終的にメタルハライドランプ１１０における放電電力Ｐｄが、相対的に小さくなる。また、この水銀灯試験モードの際にも、送風機１８が使用されることで、上記した冷媒としての空気Ａoutが、メタルハライドランプユニット１１内の前述した風路に供給される。その結果、前述したような、メタルハライドランプ１１０に対する直接的な冷却動作が行われる状態となる。ただし、インバータ１８０の出力周波数ｆoutが相対的に高く設定されることで、このときの空気Ａoutの風速Ｖｗ（冷却量）が、相対的に大きくなる。これらのことから、点灯温度Ｔが相対的に低くなる（前述したＴ１≦Ｔ＜Ｔ２の範囲）ため、水銀灯試験モードに設定されるようになっている。
【００９７】
このようにして本変形例においても、実施の形態と同様の効果を得ることが可能である。すなわち、耐候光性試験を行う際の利便性を向上させることが可能となると共に、コストを削減することも可能となる。
【００９８】
また、特に本変形例では、放電電力Ｐｄの変化と、冷媒としての空気Ａoutの有無、もしくは、この空気Ａoutの風速Ｖｗ（冷却量）の変化と、の双方を組み合わせて用いるようにしたので、放射光Ｌoutにおける放射照度の増減の幅（制御範囲）を広げることも可能となる。
【００９９】
［変形例４］
図１１は、変形例４に係るランプ制御の一例を、流れ図で表したものである。
【０１００】
まず、本変形例のランプ制御においても、実施の形態と同様に、制御部１９は、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを変化させることで、このメタルハライドランプ１１０における発光スペクトルを、前述した２種類のモードの間で切り替えるようにしている。
【０１０１】
ただし、本変形例では、制御部１９は、受光器１４から取得した放射照度の検出情報（受光データＤｉ）を用いて、メタルハライドランプ１１０における発光スペクトルの切り替え制御を行うようになっている。
【０１０２】
具体的には、制御部１９は、まず、受光器１４から放射照度の検出情報（受光データＤｉ）を取得する（図１１のステップＳ１１）。なお、このような放射照度の検出情報としては、例えば、以下の（Ａ）〜（Ｃ）で示すような種類の情報が挙げられる。
【０１０３】
（Ａ）１つの受光器１４において得られる放射照度の情報（積分値の情報）
（Ｂ）２種類の波長選択フィルタ（分光フィルタ）を受光面上に個別に有する２つの受光器（受光器１４１，１４２とする）においてそれぞれ得られる、放射照度の情報（積分値の情報）
（Ｃ）受光器１４としての１つの分光放射照度計において得られる、放射照度としての分光放射照度の情報
【０１０４】
ちなみに、上記（Ｂ）のケースにおいて、上記した受光器１４１，１４２における各波長選択フィルタの透過波長帯域としては、例えば以下のようなものが挙げられる。つまり、受光器１４１での透過波長帯域（波長帯域Δλ１）は、金属ハロゲン化物および水銀の双方の発光スペクトルが存在する波長帯域に対応している。一方、受光器１４２での透過波長帯域（波長帯域Δλ２）は、水銀の発光スペクトルが存在しない（金属ハロゲン化物の発光スペクトルは存在する）波長帯域に対応している。
・受光器１４１での透過波長帯域：３００〜４００ｎｍ
（図５（Ａ），図５（Ｂ）に示した波長帯域Δλ１に相当）
・受光器１４２での透過波長帯域：３７０〜４００ｎｍ
（図５（Ａ），図５（Ｂ）に示した波長帯域Δλ２に相当）
【０１０５】
次いで、制御部１９は、このようにして取得した放射照度の検出情報（受光データＤｉ）に基づいて、メタルハライドランプ１１０における現在の発光スペクトルの種類（試験モード）を特定する（図１１のステップＳ１２）。
【０１０６】
具体的には、例えば、上記（Ａ）のケースでは、制御部１９は、メタルハライドランプ試験モードの場合における放射照度の積分値と、水銀灯試験モードの場合における放射照度の積分値との比率の関係を用いて、現在の発光スペクトルの種類を特定する。つまり、まず、一般的には、図５（Ａ）に示したメタルハライドランプの発光スペクトルの場合の放射照度の積分値と、図５（Ｂ）に示した水銀灯の発光スペクトルの場合の放射照度の積分値との比率は、例えば、１０：１００程度である。そして、制御部１９は、このような比率の関係を用いることで、取得した放射照度の情報（積分値）から、現在の発光スペクトルがどちらであるのかを特定する。
【０１０７】
また、例えば、上記（Ｂ）のケースでは、制御部１９は、２つの受光器１４１，１４２においてそれぞれ得られる放射照度の情報（積分値）に基づいて、現在の発光スペクトルに金属ハロゲン化物のものが含まれているのか否かを判定する。そして、金属ハロゲン化物の発光スペクトルが含まれているのか否かに応じて、制御部１９は、現在の発光スペクトルがどちらであるのかを特定する。
【０１０８】
更に、例えば、上記（Ｃ）のケースでは、分光放射照度計から分光放射照度の情報が得られることから、制御部１９は、その分光放射照度の特性を用いて、現在の発光スペクトルがどちらであるのかを特定する。
【０１０９】
続いて、制御部１９は、このようにして特定した現在の発光スペクトルの種類（試験モード）が、選択中（設定中）の発光スペクトルの種類と一致するのか否かを判定する（図１１のステップＳ１３）。ここで、これらの発光スペクトルの種類が一致していると判定された場合には（ステップＳ１３：Ｙ）、最初のステップＳ１１へと戻ることになる。
【０１１０】
一方、これらの発光スペクトルの種類が一致していないと判定された場合には（ステップＳ１３：Ｎ）、次に制御部１９は、選択中（設定中）の発光スペクトルの種類（試験モード）に切り替わるように制御を行う（図１１のステップＳ１４）。具体的には、制御部１９は、例えば、これまでに説明した手法（実施の形態および変形例１〜３のいずれかの手法）を用いて、メタルハライドランプ１１０の点灯温度Ｔを変化させることで、発光スペクトルの切り替え制御を行う。なお、その後は、最初のステップＳ１１へと戻ることになる。
【０１１１】
このようにして本変形例においても、実施の形態と同様の効果を得ることが可能である。すなわち、耐候光性試験を行う際の利便性を向上させることが可能となると共に、コストを削減することも可能となる。
【０１１２】
また、特に本変形例では、受光器１４から取得した放射照度の検出情報（受光データＤｉ）を用いて、メタルハライドランプ１１０における発光スペクトルの切り替え制御を行うようにしたので、例えば以下の効果も得られる。すなわち、現在の発光スペクトルの種類（試験モード）について、フィードバック制御を随時行うことができるため、信頼性の高い耐候光性試験を行うことが可能となる。
【０１１３】
＜３．その他の変形例＞
以上、実施の形態および変形例を挙げて本発明を説明したが、本発明はこれらの実施の形態等に限定されず、種々の変形が可能である。
【０１１４】
例えば、上記実施の形態等では、耐候光性試験機およびランプユニット制御機構における各部分の構成（形状、配置、個数、材料等）を具体的に挙げて説明したが、これらの構成については、上記実施の形態等で説明したものには限られず、他の形状や配置、個数、材料等であってもよい。
【０１１５】
具体的には、例えば、上記実施の形態等では、本発明における「冷媒」の一具体例として空気Ａoutを挙げると共に、本発明における「冷却量」の一具体例として（空気Ａoutの）風速Ｖｗを挙げて説明したが、これらの例には限られない。すなわち、例えば、空気以外の気体や、水などの液体等を、本発明における「冷媒」として用いるようにしてもよい。また、例えば、空気以外の気体の風速や、水などの液体の流速等を、本発明における「冷却量」として用いるようにしてもよい。
【０１１６】
また、上記実施の形態等では、制御部による各種の制御動作（発光スペクトルのモードの切り替え制御など）や耐候光性試験方法等について、具体的に挙げて説明したが、上記実施の形態等で説明した手法には限られない。すなわち、他の手法を用いて、各種の制御動作や耐候光性試験を行うようにしてもよい。
【０１１７】
更に、上記実施の形態等で説明した一連の制御は、ハードウェア（回路）で行われるようにしてもよいし、ソフトウェア（プログラム）で行われるようにしてもよい。ソフトウェアで行われるようにした場合、そのソフトウェアは、上記した各機能をコンピュータ（マイクロコンピュータ等）により実行させるためのプログラム群で構成される。各プログラムは、例えば、上記コンピュータに予め組み込まれて用いられてもよいし、ネットワークや記録媒体から上記コンピュータにインストールして用いられてもよい。
【符号の説明】
【０１１８】
１…耐候光性試験機、１０…試験室（試験槽）、１１…メタルハライドランプユニット、１１０…メタルハライドランプ、１１０ａ…発光管、１１０ｂ１，１１０ｂ２…電極、１１１…内管フィルタ、１１２…外管フィルタ、１２…試料台、１３…噴霧機構、１４…受光器、１５…ブラックパネル温度計、１６…入力部、１７１…ランプ冷却水タンク、１７２…ランプ冷却水循環ポンプ、１７３…湿度発生機、１８…送風機、１８０…インバータ、１９…制御部、１９０…交流電源、１９１ａ，１９１ｂ，１９２…リアクタ、１９３…昇圧トランス、１９４…電磁接触器、１９５…電力調整器、９…試料、Ｌout…放射光、Ｚ…軸方向、Ｗｃ，Ｗｃin，Ｗｃout…冷却水、Ａout…空気（冷媒）、Ｒ０，Ｒ１，Ｒ２…径、Ｄｉ…受光データ、Ｖ０，Ｖ３，Ｖ４，Ｖ５…電圧、Ａ１，Ａ２，Ａ３…電流、Ｖｗ…風速、ｆout…出力周波数、Ｔ…点灯温度、Ｔ１，Ｔ２…沸点、Ｐｄ…放電電力、Δλ１，Δλ２…波長帯域。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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