(57)【要約】【課題】第１物性を有する第１部分、及び第２物性を有する第２部分を含む物品において、異物を精度良く検出することができるＸ線検査装置を提供する。【解決手段】Ｘ線検査装置は、第１部分Ｐ１及び第２部分Ｐ２を含む物品Ｇを検査対象とする。制御部は、物品Ｇについて取得された低エネルギー帯のＸ線の第１検出結果及び高エネルギー帯のＸ線の第２検出結果を用いて第１処理を実施することにより、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否かを判定し、同一の第１検出結果及び第２検出結果を用いて第２処理を実施することにより、第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを判定する。第１処理は、予め第１部分Ｐ１について取得された第１検出結果及び第２検出結果を合わせ込む処理である。第２処理は、予め第２部分Ｐ２について取得された第１検出結果及び第２検出結果を合わせ込む処理である。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１物性を有する第１部分、及び第２物性を有する第２部分を含む物品にＸ線を照射するＸ線照射部と、
前記物品を透過した第１エネルギー帯のＸ線、及び前記物品を透過した第２エネルギー帯のＸ線を検出するＸ線検出部と、
前記第１エネルギー帯のＸ線の第１検出結果、及び前記第２エネルギー帯のＸ線の第２検出結果に基づいて、前記物品に異物が含まれているか否かを判定する処理部と、を備え、
前記処理部は、
前記物品について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を用いて第１処理を実施することにより、前記第１部分に前記異物が含まれているか否かを判定し、
前記物品について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を用いて第２処理を実施することにより、前記第２部分に前記異物が含まれているか否かを判定し、
前記第１処理は、予め前記第１部分について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を合わせ込む処理であり、
前記第２処理は、予め前記第２部分について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を合わせ込む処理である、Ｘ線検査装置。
【請求項２】
前記第１処理は、予め前記第１部分について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理であり、
前記第２処理は、予め前記第２部分について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理である、請求項１に記載のＸ線検査装置。
【請求項３】
前記処理部は、
前記物品について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を用いて、前記物品の全体に対応する領域について前記第１処理を実施することにより、前記第１部分に前記異物が含まれているか否かを判定し、
前記物品について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を用いて、前記物品の全体に対応する前記領域について前記第２処理を実施することにより、前記第２部分に前記異物が含まれているか否かを判定する、請求項１又は２に記載のＸ線検査装置。
【請求項４】
前記処理部は、
前記物品について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果の少なくとも１つに基づいて、当該物品において前記第１部分に対応する第１領域及び前記第２部分に対応する第２領域を抽出し、
前記物品について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を用いて、前記第１領域について前記第１処理を実施することにより、前記第１部分に前記異物が含まれているか否かを判定し、
前記物品について取得された前記第１検出結果及び前記第２検出結果を用いて、前記第２領域について前記第２処理を実施することにより、前記第２部分に前記異物が含まれているか否かを判定する、請求項１又は２に記載のＸ線検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
物品にＸ線を照射するＸ線照射部と、物品を透過した低エネルギー帯のＸ線、及び物品を透過した高エネルギー帯のＸ線を検出するＸ線検出部と、低エネルギー帯のＸ線の検出結果、及び高エネルギー帯のＸ線の検出結果に基づいて、物品に異物が含まれているか否かを判定する処理部と、を備えるＸ線検査装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。このようなＸ線検査装置によれば、例えば、低エネルギー帯のＸ線の検出結果として取得されたＸ線透過画像と、高エネルギー帯のＸ線の検出結果として取得されたＸ線透過画像との差分を取ることにより、Ｘ線の減衰特性において物品と差が少ない異物であっても精度良く検出することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１５−１５５８３０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述したようなＸ線検査装置においては、第１物性を有する第１部分、及び第２物性を有する第２部分を含む物品を検査対象として、Ｘ線の減衰特性において当該物品と差が少ない異物を検出すべき場合がある。例えば、赤身と脂身とを含む牛肉を検査対象として、異物として骨片を検出するような場合である。
【０００５】
本発明は、第１物性を有する第１部分、及び第２物性を有する第２部分を含む物品において、異物を精度良く検出することができるＸ線検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明のＸ線検査装置は、第１物性を有する第１部分、及び第２物性を有する第２部分を含む物品にＸ線を照射するＸ線照射部と、物品を透過した第１エネルギー帯のＸ線、及び物品を透過した第２エネルギー帯のＸ線を検出するＸ線検出部と、第１エネルギー帯のＸ線の第１検出結果、及び第２エネルギー帯のＸ線の第２検出結果に基づいて、物品に異物が含まれているか否かを判定する処理部と、を備え、処理部は、物品について取得された第１検出結果及び第２検出結果を用いて第１処理を実施することにより、第１部分に異物が含まれているか否かを判定し、物品について取得された第１検出結果及び第２検出結果を用いて第２処理を実施することにより、第２部分に異物が含まれているか否かを判定し、第１処理は、予め第１部分について取得された第１検出結果及び第２検出結果を合わせ込む処理であり、第２処理は、予め第２部分について取得された第１検出結果及び第２検出結果を合わせ込む処理である。
【０００７】
このＸ線検査装置では、第１部分に異物が含まれているか否かを判定するために、予め第１部分について取得された第１検出結果及び第２検出結果を合わせ込む第１処理が実施される。また、第２部分に異物が含まれているか否かを判定するために、予め第２部分について取得された第１検出結果及び第２検出結果を合わせ込む第２処理が実施される。これらにより、例えば、第１部分に異物が含まれているか否か、及び第２部分に異物が含まれているか否かを判定するために、第１検出結果及び第２検出結果を合わせ込む同一の処理が実施される場合に比べ、異物を精度良く検出することができる。よって、このＸ線検査装置によれば、第１物性を有する第１部分、及び第２物性を有する第２部分を含む物品において、異物を精度良く検出することができる。
【０００８】
本発明のＸ線検査装置では、第１処理は、予め第１部分について取得された第１検出結果及び第２検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理であり、第２処理は、予め第２部分について取得された第１検出結果及び第２検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理であってもよい。これによれば、第１部分に異物が含まれているか否か、及び第２部分に異物が含まれているか否かを好適に判定することができる。
【０００９】
本発明のＸ線検査装置では、処理部は、物品について取得された第１検出結果及び第２検出結果を用いて、物品の全体に対応する領域について第１処理を実施することにより、第１部分に異物が含まれているか否かを判定し、物品について取得された第１検出結果及び第２検出結果を用いて、物品の全体に対応する領域について第２処理を実施することにより、第２部分に異物が含まれているか否かを判定してもよい。これによれば、第１部分に異物が含まれているか否か、及び第２部分に異物が含まれているか否かを簡易に且つ精度良く判定することができる。
【００１０】
本発明のＸ線検査装置では、処理部は、物品について取得された第１検出結果及び第２検出結果の少なくとも１つに基づいて、当該物品において第１部分に対応する第１領域及び第２部分に対応する第２領域を抽出し、物品について取得された第１検出結果及び第２検出結果を用いて、第１領域について第１処理を実施することにより、第１部分に異物が含まれているか否かを判定し、物品について取得された第１検出結果及び第２検出結果を用いて、第２領域について第２処理を実施することにより、第２部分に異物が含まれているか否かを判定してもよい。これによれば、第１部分に異物が含まれているか否か、及び第２部分に異物が含まれているか否かをより精度良く判定することができる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、第１物性を有する第１部分、及び第２物性を有する第２部分を含む物品において、異物を精度良く検出することができるＸ線検査装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】一実施形態のＸ線検査装置の構成図である。
【図２】図１に示されるシールドボックスの内部の構成図である。
【図３】（ａ）は、物品の第１部分についての輝度値のヒストグラムであり、（ｂ）は、第１処理に用いられる輝度値と乗数との関係を示すグラフある。
【図４】（ａ）は、物品の第２部分についての輝度値のヒストグラムであり、（ｂ）は、第２処理に用いられる輝度値と乗数との関係を示すグラフある。
【図５】物品と、第１処理の実施により取得された輝度値の差分と、第２処理の実施により取得された輝度値の差分との関係を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００１４】
図１に示されるように、Ｘ線検査装置１は、装置本体２と、支持脚３と、シールドボックス４と、搬送部５と、Ｘ線照射部６と、Ｘ線検出部７と、表示操作部８と、制御部１０と、を備えている。Ｘ線検査装置１は、物品Ｇを搬送しつつ物品ＧのＸ線透過画像を生成し、当該Ｘ線透過画像に基づいて物品Ｇの検査（例えば、収納数検査、異物混入検査、欠品検査、割れ欠け検査等）を行う。検査前の物品Ｇは、搬入コンベア５１によってＸ線検査装置１に搬入される。検査後の物品Ｇは、搬出コンベア５２によってＸ線検査装置１から搬出される。Ｘ線検査装置１によって不良品と判定された物品Ｇは、搬出コンベア５２の下流に配置された振分装置（図示省略）よって生産ライン外に振り分けられる。Ｘ線検査装置１によって良品と判定された物品Ｇは、当該振分装置をそのまま通過する。
【００１５】
装置本体２は、制御部１０等を収容している。支持脚３は、装置本体２を支持している。シールドボックス４は、装置本体２に設けられている。シールドボックス４は、外部へのＸ線の漏洩を防止する。シールドボックス４の内部には、Ｘ線による物品Ｇの検査が実施される検査領域Ｒが設けられている。シールドボックス４には、搬入口４ａ及び搬出口４ｂが形成されている。検査前の物品Ｇは、搬入コンベア５１から搬入口４ａを介して検査領域Ｒに搬入される。検査後の物品Ｇは、検査領域Ｒから搬出口４ｂを介して搬出コンベア５２に搬出される。搬入口４ａ及び搬出口４ｂのそれぞれには、Ｘ線の漏洩を防止するＸ線遮蔽カーテン（図示省略）が設けられている。
【００１６】
搬送部５は、シールドボックス４内に配置されている。搬送部５は、搬入口４ａから検査領域Ｒを介して搬出口４ｂまで、搬送方向Ａに沿って物品Ｇを搬送する。搬送部５は、例えば、搬入口４ａと搬出口４ｂとの間に掛け渡されたベルトコンベアである。
【００１７】
図１及び図２に示されるように、Ｘ線照射部６は、シールドボックス４内に配置されている。Ｘ線照射部６は、搬送部５によって搬送される物品ＧにＸ線を照射する。Ｘ線照射部６は、例えば、Ｘ線を出射するＸ線管と、Ｘ線管から出射されたＸ線を搬送方向Ａに垂直な面内において扇状に広げるコリメータと、を有している。
【００１８】
Ｘ線検出部７は、シールドボックス４内に配置されている。Ｘ線検出部７は、第１ラインセンサ１１と、第２ラインセンサ１２と、を有している。第１ラインセンサ１１及び第２ラインセンサ１２は、それぞれ、搬送方向Ａに垂直な水平方向に沿って一次元に配列されたＸ線検出素子によって構成されている。第１ラインセンサ１１は、物品Ｇ及び搬送部５の搬送ベルトを透過した低エネルギー帯（第１エネルギー帯）のＸ線を検出する。第２ラインセンサ１２は、物品Ｇ、搬送部５の搬送ベルト及び第１ラインセンサ１１を透過した高エネルギー帯（第２エネルギー帯）のＸ線を検出する。
【００１９】
図１に示されるように、表示操作部８は、装置本体２に設けられている。表示操作部８は、各種情報を表示すると共に、各種条件の入力を受け付ける。表示操作部８は、例えば、液晶ディスプレイであり、タッチパネルとしての操作画面を表示する。この場合、オペレータは、表示操作部８を介して各種条件を入力することができる。
【００２０】
制御部１０は、装置本体２内に配置されている。制御部１０は、Ｘ線検査装置１の各部の動作を制御する。制御部１０は、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）、ＲＯＭ（Read  Only  Memory）、ＲＡＭ（Random  Access  Memory）等で構成されている。制御部１０には、Ｘ線検出部７の第１ラインセンサ１１（図２参照）から低エネルギー帯のＸ線の検出結果（第１検出結果）が入力されると共に、Ｘ線検出部７の第２ラインセンサ１２（図２参照）から高エネルギー帯のＸ線の検出結果（第２検出結果）が入力される。制御部１０は、低エネルギー帯のＸ線の検出結果、及び高エネルギー帯のＸ線の検出結果に基づいて、物品Ｇに異物が含まれているか否かを判定する処理部として機能する。
【００２１】
以上のように構成されたＸ線検査装置１において実施される異物検出処理の一例について説明する。以下の例は、図５の（ａ）に示されるように、第１物性を有する第１部分Ｐ１（例えば赤身）及び第２物性を有する第２部分Ｐ２（例えば脂身）を含む物品Ｇ（例えば牛肉）を検査対象として、異物Ｆ（例えば骨片）を検出する例である。なお、第１物性及び第２物性とは、Ｘ線の減衰特性（エネルギー特性）が互いに異なる物性を意味する。
【００２２】
まず、第１部分Ｐ１のみを含む物品Ｇを用意し、当該物品ＧをＸ線検査装置１に掛ける。これにより、図３の（ａ）に示されるように、第１部分Ｐ１のみを含む物品Ｇについて、低エネルギー帯のＸ線の検出結果（破線）及び高エネルギー帯のＸ線の検出結果（実線）が取得される。図３の（ａ）は、第１部分Ｐ１のみを含む物品ＧのＸ線透過画像における輝度値のヒストグラムであり、縦軸の度数は、当該物品ＧのＸ線透過画像における画素数に相当する。
【００２３】
続いて、制御部１０は、等しい度数Ｆにおいて、高エネルギー帯のＸ線の輝度値ＬＨを低エネルギー帯のＸ線の輝度値ＬＬに合わせるための乗数を算出する。制御部１０は、当該乗数の算出を全ての度数について実施することにより、図３の（ｂ）に示されるように、高エネルギー帯のＸ線の輝度値と乗数との関係を取得し、当該関係を記憶する。
【００２４】
これにより、制御部１０は、第１部分Ｐ１について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果に対し輝度値ごとに乗数を掛けて輝度値を補正し、補正した高エネルギー帯のＸ線の検出結果と、第１部分Ｐ１について取得された低エネルギー帯のＸ線の検出結果との差分を画素ごとに取る第１処理を実施することが可能となる。つまり、第１処理は、予め第１部分Ｐ１について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理といえる。更に、第１処理は、予め第１部分Ｐ１について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む処理といえる。
【００２５】
以上の第１処理の実施の準備を行う一方で、第２部分Ｐ２のみを含む物品Ｇを用意し、当該物品ＧをＸ線検査装置１に掛ける。これにより、図４の（ａ）に示されるように、第２部分Ｐ２のみを含む物品Ｇについて、低エネルギー帯のＸ線の検出結果（破線）及び高エネルギー帯のＸ線の検出結果（実線）が取得される。図４の（ａ）は、第２部分Ｐ２のみを含む物品ＧのＸ線透過画像における輝度値のヒストグラムであり、縦軸の度数は、当該物品ＧのＸ線透過画像における画素数に相当する。
【００２６】
続いて、制御部１０は、等しい度数Ｆにおいて、高エネルギー帯のＸ線の輝度値ＬＨを低エネルギー帯のＸ線の輝度値ＬＬに合わせるための乗数を算出する。制御部１０は、当該乗数の算出を全ての度数について実施することにより、図４の（ｂ）に示されるように、高エネルギー帯のＸ線の輝度値と乗数との関係を取得し、当該関係を記憶する。
【００２７】
これにより、制御部１０は、第２部分Ｐ２について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果に対し輝度値ごとに乗数を掛けて輝度値を補正し、補正した高エネルギー帯のＸ線の検出結果と、第２部分Ｐ２について取得された低エネルギー帯のＸ線の検出結果との差分を画素ごとに取る第２処理を実施することが可能となる。つまり、第２処理は、予め第２部分Ｐ２について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理といえる。更に、第２処理は、予め第２部分Ｐ２について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む処理といえる。
【００２８】
以上の第１処理の実施の準備及び第２処理の実施の準備を行った後に、図５に示されるように、第１物性を有する第１部分Ｐ１及び第２物性を有する第２部分Ｐ２を含む物品Ｇの検査を開始する。
【００２９】
まず、制御部１０は、第１部分Ｐ１及び第２部分Ｐ２を含む物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を用いて、物品Ｇの全体に対応する領域について第１処理を実施することにより、図５の（ｂ）に示されるように、輝度値の差分を取得する。続いて、制御部１０は、当該輝度値の差分と予め設定された第１閾値Ｔ１とを比較し、第１閾値Ｔ１を超えた領域を、異物Ｆに対応する領域と判定する。このように、制御部１０は、第１部分Ｐ１及び第２部分Ｐ２を含む物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を用いて、物品Ｇの全体に対応する領域について第１処理を実施することにより、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否かを判定する。
【００３０】
その一方で、制御部１０は、第１部分Ｐ１及び第２部分Ｐ２を含む物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果（上述したものと同一の検出結果）を用いて、物品Ｇの全体に対応する領域について第２処理を実施することにより、図５の（ｃ）に示されるように、輝度値の差分を取得する。続いて、制御部１０は、当該輝度値の差分と予め設定された第２閾値Ｔ２とを比較し、第２閾値Ｔ２を超えた領域を、異物Ｆに対応する領域と判定する。このように、制御部１０は、第１部分Ｐ１及び第２部分Ｐ２を含む物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を用いて、物品Ｇの全体に対応する領域について第２処理を実施することにより、第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを判定する。
【００３１】
図５の（ｂ）及び（ｃ）には、図５の（ａ）に示される一点鎖線上に位置する画素の輝度値の差分が示されている。図５の（ｂ）では、第１部分Ｐ１に相当する領域において、第２部分Ｐ２に相当する領域よりもノイズが小さくなっており、第１部分Ｐ１に含まれる異物Ｆに相当する領域において、輝度値の差分が第１閾値Ｔ１を超えている（すなわち、第１部分Ｐ１に含まれる異物Ｆが検出されている）。これは、図５の（ｂ）に示される輝度値の差分が、予め第１部分Ｐ１について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む第１処理を実施した結果だからである。
【００３２】
その一方で、図５の（ｃ）では、第２部分Ｐ２に相当する領域において、第１部分Ｐ１に相当する領域よりもノイズが小さくなっており、第２部分Ｐ２に含まれる異物Ｆに相当する領域において、輝度値の差分が第２閾値Ｔ２を超えている（すなわち、第２部分Ｐ２に含まれる異物Ｆが検出されている）。これは、図５の（ｃ）に示される輝度値の差分が、予め第２部分Ｐ２について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む第２処理を実施した結果だからである。
【００３３】
以上説明したように、Ｘ線検査装置１では、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否かを判定するために、予め第１部分Ｐ１について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む第１処理が実施される。また、第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを判定するために、予め第２部分Ｐ２について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む第２処理が実施される。これらにより、例えば、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否か、及び第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを判定するために、高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む同一の処理が実施される場合に比べ、異物Ｆが第１部分Ｐ１に含まれているか第２部分Ｐ２に含まれているかにかかわらず、異物Ｆを精度良く検出することができる。よって、Ｘ線検査装置１によれば、第１物性を有する第１部分Ｐ１、及び第２物性を有する第２部分Ｐ２を含む物品Ｇにおいて、異物Ｆを精度良く検出することができる。
【００３４】
一例として、第１処理は、予め第１部分Ｐ１について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理である。また、第２処理は、予め第２部分Ｐ２について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果において対応する画素間の輝度値を輝度値ごとに合わせ込む処理である。これにより、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否か、及び第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを好適に判定することができる。
【００３５】
制御部１０は、物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を用いて、物品Ｇの全体に対応する領域について第１処理を実施することにより、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否かを判定する。また、制御部１０は、物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を用いて、物品Ｇの全体に対応する領域について第２処理を実施することにより、第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを判定する。これにより、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否か、及び第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを簡易に且つ精度良く判定することができる。
【００３６】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上述した実施形態に限定されない。例えば、制御部１０は、物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を用いて、第１部分Ｐ１に対応する第１領域について第１処理を実施することにより、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否かを判定し、物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を用いて、第２部分Ｐ２に対応する第２領域について第２処理を実施することにより、第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを判定してもよい。この場合、制御部１０は、物品Ｇについて取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果の少なくとも１つに基づいて、物品Ｇにおいて第１部分Ｐ１に対応する第１領域及び第２部分Ｐ２に対応する第２領域を予め抽出する。これによれば、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否か、及び第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かをより精度良く判定することができる。
【００３７】
また、物品Ｇについては、例えば、２種類の食品が互いに隔てられた状態で１つのパッケージに収容されているような場合に、一方の種類の食品を第１部分Ｐ１と捉え、他方の種類の食品を第２部分Ｐ２と捉えることができる。つまり、第１物性を有する第１部分Ｐ１及び第２物性を有する第２部分Ｐ２は、物品Ｇにおいて一体として存在する場合に限定されず、例えば１つのパッケージ内において、別々に存在する場合もある。
【００３８】
なお、第１部分Ｐ１及び第２部分Ｐ２が別々に存在する場合には、第２部分Ｐ２に対応する第２領域にマスク処理を施した状態で、第１部分Ｐ１に対応する第１領域について第１処理を実施することにより、第１部分Ｐ１に異物Ｆが含まれているか否かを判定し、第１部分Ｐ１に対応する第１領域にマスク処理を施した状態で、第２部分Ｐ２に対応する第２領域について第２処理を実施することにより、第２部分Ｐ２に異物Ｆが含まれているか否かを判定することが、有効である。また、例えば、Ｘ線の減衰特性が内容物とは異なる容器内に当該内容物が検査対象として収容されているような場合には、当該容器の縁、仕切り等に相当する領域にマスク処理を施した上で、当該内容物に異物Ｆが含まれているか否かを判定することができる。
【００３９】
また、制御部１０は、等しい度数Ｆにおいて、低エネルギー帯のＸ線の輝度値ＬＬを高エネルギー帯のＸ線の輝度値ＬＨに合わせるための乗数を算出し、当該乗数の算出を全ての度数について実施することにより、低エネルギー帯のＸ線の輝度値と乗数との関係を取得し、当該関係を記憶してもよい。その場合、制御部１０は、第１部分Ｐ１について取得された低エネルギー帯のＸ線の検出結果に対し輝度値ごとに乗数を掛けて輝度値を補正し、補正した低エネルギー帯のＸ線の検出結果と、第１部分Ｐ１について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果との差分を画素ごとに取る第１処理を実施する。また、制御部１０は、第２部分Ｐ２について取得された低エネルギー帯のＸ線の検出結果に対し輝度値ごとに乗数を掛けて輝度値を補正し、補正した低エネルギー帯のＸ線の検出結果と、第２部分Ｐ２について取得された高エネルギー帯のＸ線の検出結果との差分を画素ごとに取る第２処理を実施する。
【００４０】
また、互いに異なる３つ以上の物性を有する３つ以上の部分を含む物品Ｇを検査対象とすることも可能である。その場合にも、それぞれの部分について、高エネルギー帯のＸ線の検出結果及び低エネルギー帯のＸ線の検出結果を合わせ込む処理を予め準備すればよい。
【符号の説明】
【００４１】
１…Ｘ線検査装置、６…Ｘ線照射部、７…Ｘ線検出部、１０…制御部（処理部）、Ｇ…物品、Ｐ１…第１部分、Ｐ２…第２部分、Ｆ…異物。
【図１】
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【図２】
2018155544.tif 000004
【図３】
2018155544.tif 000005
【図４】
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【図５】
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