(57)【要約】【課題】システム構築が容易でありつつも高精度な波長多重型光トランシーバ用の検査システムを実現可能な光学装置及び検査システムを提供する。【解決手段】波長多重型光トランシーバ１１の検査に用いる光学装置１であって、互いに波長の異なる光信号が入力され当該入力された光信号の光強度を調整して出力可能な複数の光アッテネータ２と、複数の光アッテネータ２から出力された光信号を合波して波長多重型光トランシーバ１１に出力する光合波器３と、複数の光アッテネータ２と光合波器３とを一体に収容する筐体７と、を備えた。【選択図】図１
2018031612.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
波長多重型光トランシーバの検査に用いる光学装置であって、
互いに波長の異なる光信号が入力され当該入力された光信号の光強度を調整して出力可能な複数の光アッテネータと、
前記複数の光アッテネータから出力された光信号を合波して前記波長多重型光トランシーバに出力する光合波器と、
前記複数の光アッテネータと前記光合波器とを一体に収容する筐体と、を備えた、
光学装置。
【請求項２】
前記複数の光アッテネータと前記光合波器との間にそれぞれ設けられ、対応する前記光アッテネータから出力される光信号の光強度を検出可能な複数の光モニタ機構をさらに備えた、
請求項１に記載の光学装置。
【請求項３】
互いに波長の異なる光信号がそれぞれ入力され、前記複数の光アッテネータの入力とそれぞれ光学的に接続されている複数の入力ポートを備えた、
請求項１または２に記載の光学装置。
【請求項４】
前記波長の異なる複数の光信号を多重化した光信号が入力される１つの入力ポートと、
前記筐体に収容されており、前記入力ポートからの光信号を波長毎に分波して前記複数の光アッテネータに出力する光分波器と、を備えた、
請求項１または２に記載の光学装置。
【請求項５】
請求項１乃至４の何れか１項に記載の光学装置と、
検査用の光信号を出力する光源と、を備え、
前記光源から出力された光信号が、前記光学装置を介して検査対象となる前記波長多重型光トランシーバに出力される、
検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、波長多重型光トランシーバの検査用の光学装置及び検査システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光トランシーバとして、１０Ｇｂｉｔ／ｓｅｃから４０Ｇｂｉｔ／ｓｅｃの大容量信号を伝送可能なものが広く使用されている。また、光トランシーバとして、波長の異なる複数の光信号を多重化して１本の光ファイバで信号伝送を行う波長多重型光トランシーバが知られている。
【０００３】
波長多重型光トランシーバの受信感度特性を検査する際には、パルスパタンジェネレータ（ＰＰＧ）により駆動された光源から入射された特定の光パワーの入力光に対する符号誤り率をエラーディテクタ（ＥＤ）により計算し、その結果を符号誤り率曲線としてプロット、外挿することにより受信感度特性を求めることが一般的である。
【０００４】
波長多重型光トランシーバの受信感度特性を検査に用いる検査システムとして、１つの波長の光信号を発光する単波長光源を用い、単波長光源からの光信号を光アッテネータに入力し、光アッテネータにより光信号の光強度の減衰、調整を行い被測定（ＤＵＴ、Ｄｅｖｉｃｅ  Ｕｎｄｅｒ  Ｔｅｓｔ）光トランシーバに入力するシステムが知られている。
【０００５】
また、他の検査システムとして、ＤＵＴ光トランシーバとは別の波長多重型光トランシーバ、あるいは波長多重型光トランシーバと同等の性能を有する波長多重型光源を光源として用い、当該光源からの光信号（波長多重された光信号）を光アッテネータに入力し、光アッテネータにより光信号のレベル調整を行いＤＵＴ光トランシーバに入力するシステムが知られている。
【０００６】
なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、特許文献１がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２００３−１３９６５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、単波長光源と１台の光アッテネータとを用いた検査システムでは、波長の異なる単波長光源を用いて複数回（波長多重型光トランシーバで多重される波長の数と同じ回数）繰り返して検査を行う必要があり、多大な時間と労力が必要となってしまう。複数の単波長光源と光スイッチ、あるいは光合波器等を用いて検査時間の短縮を図ることも考えられるが、この場合、検査システムが複雑となりシステム構築が容易ではなくなる。
【０００９】
また、波長多重型光源と１台の光アッテネータとを用いた検査システムでは、システム構築が容易ではあるものの、光アッテネータにて各波長の光信号の光パワーを等しくすることが困難であり、検査の精度の観点から課題がある。
【００１０】
そこで、本発明は、システム構築が容易でありつつも高精度な波長多重型光トランシーバ用の検査システムを実現可能な光学装置及び検査システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明は、上記課題を解決することを目的として、波長多重型光トランシーバの検査に用いる光学装置であって、互いに波長の異なる光信号が入力され当該入力された光信号の光強度を調整して出力可能な複数の光アッテネータと、前記複数の光アッテネータから出力された光信号を合波して前記波長多重型光トランシーバに出力する光合波器と、前記複数の光アッテネータと前記光合波器とを一体に収容する筐体と、を備えた、光学装置を提供する。
【００１２】
また、本発明は、上記課題を解決することを目的として、前記光学装置と、検査用の光信号を出力する光源と、を備え、前記光源から出力された光信号が、前記光学装置を介して検査対象となる前記波長多重型光トランシーバに出力される、検査システムを提供する。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、システム構築が容易でありつつも高精度な波長多重型光トランシーバ用の検査システムを実現可能な光学装置及び検査システムを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明の一実施の形態に係る光学装置を用いた検査システムの概略構成図である。
【図２】本発明の一変形例に係る光学装置を用いた検査システムの概略構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
［実施の形態］
以下、本発明の実施の形態を添付図面にしたがって説明する。
【００１６】
（検査システムの全体構成）
図１は、本実施の形態に係る光学装置を用いた検査システムの概略構成図である。
【００１７】
図１に示すように、検査システム１０は、波長多重型光トランシーバ１１の受信感度特性の検査を行うためのものであり、本実施の形態に係る光学装置１と、検査用の光信号を出力する光源１２と、を備えている。検査システム１０では、光源１２から出力された光信号が、光学装置１を介して検査対象となる波長多重型光トランシーバ１１に出力されるように構成されている。
【００１８】
本実施の形態では、光源１２として、１つの波長（波長帯）の光信号を発光する複数の単波長光源１２ａを用いた。各単波長光源１２ａは、互いに波長（波長帯）の異なる光信号を出力するものであり、かつ、検査対象となる波長多重型光トランシーバ１１において各チャンネルで使用されている波長（波長帯）の光信号（つまり検査対象となる波長の光信号）を出力するものである。
【００１９】
図示していないが、各単波長光源１２ａには、単波長光源１２ａを駆動し検査用の光信号を生成するパルスパタンジェネレータが接続されている。
【００２０】
また、図示していないが、検査システム１０は、パルスパタンジェネレータの制御等を行う制御装置１３を備えている。制御装置１３は、例えばパーソナルコンピュータで所定のソフトウェアを実行することにより実現される。
【００２１】
制御装置１３は、図示しないパルスパタンジェネレータの制御を行うことで光源１２から出力される光信号を制御する光源制御部１３ａを有している。
【００２２】
また、制御装置１３は、光源１２から出力した光信号に対する、波長多重型光トランシーバ１１が受信した信号の符号誤り率を演算するエラーディテクタ１３ｂを有している。エラーディテクタ１３ｂで求めた符号誤り率を符号誤り率曲線としてプロット、外挿することにより、受信感度特性を求めることができる。制御装置１３には、波長多重型光トランシーバ１１から出力された電気信号（光学装置１から受信した光信号を光電変換した電気信号）が入力される。
【００２３】
さらに、制御装置１３は、後述する光学装置１の各光アッテネータ２における減衰量を制御する光強度制御部１３ｃを有している。光強度制御部１３ｃの詳細については後述する。
【００２４】
（光学装置１の説明）
光学装置１は、光源１２から入力された各波長の光信号の光強度を所望の光強度（例えば、検査で規定された光強度）に調整し、その光強度が調整された各波長の光信号を合波し多重化して、検査対象となる波長多重型光トランシーバ１１に出力する装置である。
【００２５】
本実施の形態に係る光学装置１は、互いに波長の異なる光信号が入力され当該入力された光信号の光強度を調整して出力可能な複数の光アッテネータ２と、複数の光アッテネータ２から出力された光信号を合波して波長多重型光トランシーバ１１に出力する光合波器３と、複数の光アッテネータ２と光合波器３とを一体に収容する筐体７と、を備えている。
【００２６】
また、本実施の形態では、光学装置１は、複数の単波長光源１２ａと同数の複数の入力ポート５と、１つの出力ポート６と、を備えている。複数の単波長光源１２ａは、光学装置１の複数の入力ポート５とそれぞれ光学的に接続されている。また、出力ポート６は、検査対象となる波長多重型光トランシーバ１１の入力と光学的に接続されている。
【００２７】
入力ポート５及び出力ポート６は、例えば、筐体７に固定されたＳＣコネクタ等の光コネクタからなる。単波長光源１２ａと入力ポート５との接続、及び出力ポート６と波長多重型光トランシーバ１１との接続には、光ケーブル（光ファイバ）を用いることができる。
【００２８】
各入力ポート５は、筐体７内にて、光アッテネータ２の入力とそれぞれ光学的に接続されている。筐体７内には、入力ポート５と同数（単波長光源１２ａと同数）の光アッテネータ２が収容されている。各単波長光源１２ａから出力された光信号は、それぞれ入力ポート５を経て光アッテネータ２に入力される。
【００２９】
各光アッテネータ２の出力は、筐体７内にて、光合波器３の入力にそれぞれ光学的に接続されている。また、光合波器３の出力は、筐体７内にて、出力ポート６に光学的に接続されている。なお、筐体７内での各部材間の光学的な接続には、光ファイバを用いることができる。
【００３０】
光アッテネータ２は、入力された光信号を減衰することで、所望の光強度（例えば、検査で規定された光強度）に調整するものである。本実施の形態では、各光アッテネータ２の減衰量は、制御装置１３の光強度制御部１３ｃによって制御されている。
【００３１】
また、本実施の形態に係る光学装置１は、複数の光アッテネータ２と光合波器３との間にそれぞれ設けられ、対応する光アッテネータ２から出力される光信号の光強度を検出可能な複数の光モニタ機構４をさらに備えている。
【００３２】
各光モニタ機構４は、対応する光アッテネータ２から出力される光信号の一部を分岐させるモニタ用光分波器４ａと、モニタ用光分波器４ａで分岐された光の光強度を検出する光センサ４ｂと、をそれぞれ有している。本実施の形態では、各光センサ４ｂの出力は、制御装置１３に出力される。
【００３３】
制御装置１３の光強度制御部１３ｃは、各光センサ４ｂの出力（各光センサ４ｂで検出した光強度）を基に、各光アッテネータ２から出力されている光信号の光強度（あるいは、光モニタ機構４のモニタ用光分波器４ａを通過して光合波器３に入力される光信号の光強度）を演算し、当該光強度が予め設定した目標光強度（例えば、検査にて規定された光強度）となるように、各光アッテネータ２の減衰量を制御する。
【００３４】
本実施の形態では、制御装置１３の光強度制御部１３ｃは、各光アッテネータ２から出力されている光信号の光強度が等しくなるように、各光アッテネータ２の減衰量を制御する。つまり、本実施の形態では、各光アッテネータ２の目標光強度が同じ値に設定されている。この場合、例えば、各光アッテネータ２から出力されている光信号の光強度のうち最も小さい光強度（あるいは当該最も小さい光強度以下の所定の光強度）を目標光強度に設定して、各光アッテネータ２の減衰量を制御してもよい。
【００３５】
（実施の形態の作用及び効果）
以上説明したように、本実施の形態に係る光学装置１は、互いに波長の異なる光信号が入力され当該入力された光信号の光強度を調整して出力可能な複数の光アッテネータ２と、複数の光アッテネータ２から出力された光信号を合波して波長多重型光トランシーバ１１に出力する光合波器３と、複数の光アッテネータ２と光合波器３とを一体に収容する筐体７と、を備えている。
【００３６】
光学装置１では、複数の光アッテネータ２により、波長多重型光トランシーバ１１に出力する各波長の光信号の光強度を個別に調整できるため、従来のように多重化した光信号の光信号を一括して調整する場合と比較して、各波長の光信号の光強度を等しくすることができ、検査の精度を高めることができる。
【００３７】
また、光学装置１では、複数の光アッテネータ２と光合波器３とを筐体７に一体に収容しているため、複数の光アッテネータ２と光合波器３とを別体で用いた場合と比較して、検査システム１０の構築が容易になる。つまり、本実施の形態に係る光学装置１を用いることで、システム構築が容易でありつつも高精度な波長多重型光トランシーバ１１用の検査システム１０を実現できる。
【００３８】
さらに、光学装置１では、複数の光アッテネータ２と光合波器３との間にそれぞれ設けられ、対応する光アッテネータ２から出力される光信号の光強度を検出可能な複数の光モニタ機構４をさらに備えている。
【００３９】
光モニタ機構４を備えることで、光アッテネータ２から出力されている光信号の光強度を常時モニタすることが可能になり、モニタされた光強度を基に、より精密に光アッテネータ２での減衰量を制御し、波長多重型光トランシーバ１１に出力される各波長の光信号の光強度をより精密に調整することが可能になる。
【００４０】
（変形例）
上記実施の形態では、光源１２として複数の単波長光源１２ａを用いたが、図２に示す検査システム１０ａのように、光源１２として、波長の異なる複数の光信号を多重化した光信号（多重化光信号という）を出力する波長多重型光源１２ｂを用いてもよい。なお、図２では制御装置１３を省略して示している。
【００４１】
波長多重型光源１２ｂとしては、検査対象となる波長多重型光トランシーバ１１と同等の性能を有するものを用いるとよく、波長多重型光トランシーバ１１とは別の波長多重型光トランシーバ（例えば、送信側の光特性が検査済みの波長多重型光トランシーバ）を波長多重型光源１２ｂとして用いてもよい。
【００４２】
検査システム１０ａに用いられる光学装置１ａには、波長多重型光源１２ｂからの多重化光信号が入力される１つの入力ポート５が備えられる。また、光学装置１ａは、入力ポート５からの多重化光信号を波長毎に分波して複数の光アッテネータ２に出力する光分波器８を備える。光分波器８は、筐体７内に収容される。
【００４３】
検査システム１０ａでは、光源１２の数が１つとなるため、筐体７内に光分波器８を収容した光学装置１ａを用いることで、より簡素で構築し易い検査システム１０ａを実現できる。
【００４４】
（実施の形態のまとめ）
次に、以上説明した実施の形態から把握される技術思想について、実施の形態における符号等を援用して記載する。ただし、以下の記載における各符号等は、特許請求の範囲における構成要素を実施の形態に具体的に示した部材等に限定するものではない。
【００４５】
［１］波長多重型光トランシーバ（１１）の検査に用いる光学装置（１）であって、互いに波長の異なる光信号が入力され当該入力された光信号の光強度を調整して出力可能な複数の光アッテネータ（２）と、前記複数の光アッテネータ（２）から出力された光信号を合波して前記波長多重型光トランシーバ（１１）に出力する光合波器（３）と、前記複数の光アッテネータ（２）と前記光合波器（３）とを一体に収容する筐体（７）と、を備えた、光学装置（１）。
【００４６】
［２］前記複数の光アッテネータ（２）と前記光合波器（３）との間にそれぞれ設けられ、対応する前記光アッテネータ（２）から出力される光信号の光強度を検出可能な複数の光モニタ機構（４）をさらに備えた、［１］に記載の光学装置（１）。
【００４７】
［３］互いに波長の異なる光信号がそれぞれ入力され、前記複数の光アッテネータ（２）の入力とそれぞれ光学的に接続されている複数の入力ポート（５）を備えた、［１］または［２］に記載の光学装置（１）。
【００４８】
［４］前記波長の異なる複数の光信号を多重化した光信号が入力される１つの入力ポート（５）と、前記筐体（７）に収容されており、前記入力ポート（２）からの光信号を波長毎に分波して前記複数の光アッテネータ（２）に出力する光分波器（８）と、を備えた、［１］または［２］に記載の光学装置（１ａ）。
【００４９】
［５］［１］乃至［４］の何れか１項に記載の光学装置（１）と、検査用の光信号を出力する光源（１２）と、を備え、前記光源（１２）から出力された光信号が、前記光学装置（１）を介して検査対象となる前記波長多重型光トランシーバ（１１）に出力される、検査システム（１０）。
【００５０】
以上、本発明の実施の形態を説明したが、上記に記載した実施の形態は特許請求の範囲に係る発明を限定するものではない。また、実施の形態の中で説明した特徴の組合せの全てが発明の課題を解決するための手段に必須であるとは限らない点に留意すべきである。
【００５１】
本発明は、その趣旨を逸脱しない範囲で適宜変形して実施することが可能である。
【符号の説明】
【００５２】
１…光学装置
２…光アッテネータ
３…光合波器
４…光モニタ機構
４ａ…モニタ用光分波器
４ｂ…光センサ
５…入力ポート
６…出力ポート
７…筐体
１０…検査システム
１１…波長多重型光トランシーバ
１２…光源
１３…制御装置
１３ａ…光源制御部
１３ｂ…エラーディテクタ
１３ｃ…光強度制御部
【図１】
2018031612.tif 000003
【図２】
2018031612.tif 000004