(57)【要約】      （修正有）【課題】真空計を用いずに、ソフトウェアの処理のみで赤外線撮像素子の劣化を判定することができる赤外線撮影装置を提供する。【解決手段】赤外線撮影装置における赤外線撮像素子の経年劣化に伴う感度低下を、筐体内温度変化が生じた時に所定時間だけシャッタを閉じるという、赤外線撮影装置特有の動作を利用して、温度センサから取得する筐体内温度データと、対応する赤外線画像データ平均値の組を、筐体内温度が変動した際に複数回取得して、平均値傾きＬ４０１、Ｌ４０３を算出する。この平均値傾きを傾き閾値Ｌ４０２と比較することで、赤外線撮像素子の感度の低下を把握することができる。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
赤外線撮像素子と、
前記赤外線撮像素子に赤外線を集光するレンズと、
前記赤外線撮影素子が収容される筐体内の温度を測定する温度センサと、
前記赤外線撮像素子から出力される信号に基づいて生成された
赤外線画像データの平均値である赤外線画像データ平均値を算出する平均値演算部と、
前記温度センサから得られる前記筐体内の温度データが格納される筐体内温度フィールドと、前記赤外線画像データ平均値が格納される赤外線画像データ平均値フィールドとを有する平均値リストと、
複数個のレコードが記録された前記平均値リストに基づいて、温度変化に対する前記筐体内のデータの傾きである平均値傾きを算出する傾き演算部と、
前記平均値傾きを所定の傾き閾値と比較して、前記赤外線撮像素子の劣化を判定する撮像素子劣化判定処理部と
を具備する赤外線撮影装置。
【請求項２】
更に、
前記赤外線撮像素子に対して前記レンズによって集光される赤外線の照射を防ぐシャッタと、
前記シャッタを開閉駆動するシャッタ駆動部と
を具備し、
前記撮像素子劣化判定処理部は、前記シャッタ駆動部を制御して前記シャッタを閉じた状態で、前記平均値演算部を制御して前記赤外線画像データ平均値を算出させて、前記平均値リストにレコードを追記録する、
請求項１に記載の赤外線撮影装置。
【請求項３】
前記平均値演算部に入力される前記赤外線画像データは、前記赤外線撮像素子から出力される信号に基づいてデジタル変換した赤外線撮像素子生データに対し、感度及びオフセットの補正処理を施したものである、
請求項２に記載の赤外線撮影装置。
【請求項４】
赤外線撮像素子と、
前記赤外線撮像素子に赤外線を集光するレンズと、
前記赤外線撮影素子が収容される筐体内の温度を測定する温度センサと、
前記赤外線撮像素子から出力される信号に基づいて生成された赤外線撮像素子生データの平均値である赤外線撮像素子平均値を算出する平均値演算部と、
前記温度センサから得られる前記筐体内の温度データが格納される筐体内温度フィールドと、前記赤外線撮像素子平均値が格納される赤外線撮像素子平均値フィールドとを有する平均値リストと、
複数個のレコードが記録された前記平均値リストに基づいて、温度変化に対する前記筐体内のデータの傾きである平均値傾きを算出する傾き演算部と、
前記平均値傾きを所定の傾き閾値と比較して、前記赤外線撮像素子の劣化を判定する撮像素子劣化判定処理部と
を具備する赤外線撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、赤外線撮像素子の劣化判定機能を有する赤外線撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
本出願人が開発し、製造販売している赤外線撮影装置は、離れた対象物の温度を測定することが可能であり、様々な現場や用途に利用されている。
例えば製鉄所では、レールにぶら下げられ、溶融した鉄が充填されている取鍋の表面温度を遠距離から非接触で計測することで、コンクリートの内鍋の削れ具合を監視する。
また建造物の外壁を赤外線撮影装置で撮影し、外壁の温度上昇のムラが生じている箇所から、建造物の外壁の剥離箇所を推測することが行われつつある。
【０００３】
本発明に関係すると思われる先行技術文献として、特許文献１が挙げられる。この特許文献１には、発熱体の移動方向を確実に検出し、自動的に撮影のための信号を生成する熱画像撮影システム及び熱画像撮影装置に関する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００９−１９８２５４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
赤外線撮影装置の中核的存在である赤外線撮像素子は、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）デバイスに分類される。赤外線撮像素子の構造は、微細な赤外線検出素子の一つ一つをセラミックや金属等のパッケージ素材で囲み、更にシリコンやゲルマニウム等の窓材で封入している。そして、窓材とパッケージ素材で封入された赤外線検出素子の空間が真空を形成している。このようにするのは、赤外線検出素子の空間に空気が介在すると、入射する赤外線による赤外線の温度上昇量が空気への熱伝導により低下してしまい、赤外線検出感度が低下してしまうからである。
【０００６】
赤外線撮像素子は厳密な製造工程で製造されているが、その真空度が経年劣化に伴い、徐々に低下する場合がある。真空度が低下すると赤外線撮像素子の赤外線検出感度が低下してしまう。この赤外線検出感度の低下は、例えば、暗視野でのセキュリティー用途において人を感知するような目的で使用される場合、感知すべき人が感知できなくなってしまうという問題が生じる。
【０００７】
赤外線撮像素子の劣化を検出するには、従来では赤外線撮像素子に真空計を封入する、という技術が提案されていた。しかし、真空計は非常に高価であり、また真空計を封入することで、赤外線撮像素子が大きくなってしまうことも問題であった。
【０００８】
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、真空計を用いずに、赤外線撮像素子の劣化を判定することができる赤外線撮影装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明の赤外線撮影装置は、赤外線撮像素子と、赤外線撮像素子に赤外線を集光するレンズと、赤外線撮影素子が収容される筐体内の温度を測定する温度センサと、赤外線撮像素子から出力される信号をデジタル化して赤外線画像データを生成する信号処理部と、信号処理部から得られる生赤外線画像データの平均値を算出する平均値演算部とを具備する。更に、温度センサから得られる筐体内の温度データが格納される筐体内温度フィールドと、平均値演算部から得られる赤外線画像データ平均値が格納される赤外線画像データ平均値フィールドとを有する平均値リストと、複数個のレコード が記録された平均値リストに基づいて、温度変化に対する筐体内の赤外線画像データの傾きである平均値傾きを算出する傾き演算部と、平均値傾きを所定の傾き閾値と比較して、赤外線撮像素子の劣化を判定する撮像素子劣化判定処理部とを具備する。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の赤外線撮影装置によれば、真空計を用いずに、赤外線撮像素子の劣化を判定することができる。
上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の実施形態の例である、赤外線撮影装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
【図２】制御部のソフトウェア機能を示すブロック図である。
【図３】撮像素子劣化判定処理部が実行する撮像素子劣化判定処理の流れを示すフローチャートである。
【図４】温度変化に対する赤外線撮像素子の平均値の変化を模式的に示すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
［赤外線撮影装置：ハードウェア構成］
図１は、本発明の実施形態の例である、赤外線撮影装置１０１のハードウェア構成を示すブロック図である。
レンズ１０２で集光される赤外線は、赤外線撮像素子１０３によってアナログ電圧信号に変換される。赤外線撮像素子１０３はアナログ回路基板１０４上に形成される。このアナログ回路基板１０４には赤外線撮像素子１０３の他に、赤外線撮像素子１０３のアナログ電圧信号を増幅するバッファアンプ１０５と、バッファアンプ１０５の出力信号をデジタルの赤外線撮像素子生データに変換するＡ／Ｄ変換器１０６も設けられている。
【００１３】
Ａ／Ｄ変換器１０６から出力される赤外線撮像素子生データはＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）１１０に入力される。ＦＰＧＡ１１０は、入力された１フレーム分の赤外線撮像素子生データをフレームバッファ１０８に蓄積して、補正処理等の演算処理を行い、１フレーム分の赤外線画像データを外部に出力する。赤外線撮像素子１０３の出力は素子毎に感度がばらついていたり、出力オフセットが異なっているため、均一な出力を得るための補正処理が必要になる。
【００１４】
周知のマイコンである制御部１０７には、シャッタ１１７の温度を測定する温度センサ１０９が接続される。
制御部１０７には、シャッタ１１７を駆動するプランジャソレノイド等の電磁機構よりなるシャッタ駆動部１１８を駆動するためのシャッタドライバ１１２が接続されている。また、制御部１０７から、赤外線撮像素子１０３の劣化を判定した結果が、図示しないパソコン等の外部の情報処理装置へ出力される。
【００１５】
制御部１０７は、温度センサ１０９を通じてシャッタ１１７の温度を常時監視し続ける。そして、シャッタ１１７の温度に所定の温度閾値２０６（図２参照）以上の変化があった場合には、シャッタ駆動部１１８を制御して一旦シャッタ１１７を閉じて、赤外線撮像素子１０３から生データを取得する。
赤外線撮像素子１０３がシャッタ１１７を撮影すると、本来なら均一な温度データが得られる筈である。しかし、実際の赤外線撮像素子１０３を構成するピクセル毎の赤外線センサには、感度やオフセットにばらつきがある。そこで、シャッタ１１７を撮影し、一旦フレームバッファ１０８に記憶することで、赤外線センサ毎のばらつき補正値を取得する。更に、シャッタ１１７の温度を温度センサ１０９から得ることで、赤外線撮像素子１０３の較正処理もできる。このような較正処理をＮＵＣ（Non-Uniformity Correction）という。
そして、所定時間経過後、シャッタ１１７を再度開けて、被写体が発する赤外線を計測する。このように、赤外線撮影装置１０１は適切なタイミングでＮＵＣを実行することで、正確な赤外線画像データを得ることができる。
本発明は、この赤外線撮影装置１０１が本来の機能として備えている、ＮＵＣにおけるシャッタ１１７の撮影処理を、赤外線撮像素子１０３の劣化判定処理に用いている。
【００１６】
［制御部１０７：ソフトウェア機能］
図２は、制御部１０７のソフトウェア機能を示すブロック図である。
Ａ／Ｄ変換器１０６から出力される赤外線撮像素子生データはＦＰＧＡ１１０の補正処理部２１０に入力される。補正処理部２１０は、入力された１フレーム分の赤外線撮像素子生データに対し、オフセット補正及び感度ばらつき補正等の演算処理を行い、赤外線画像データを生成する。そして補正処理部２１０は、この赤外線画像データをフレームバッファ１０８に格納する。
赤外線撮像素子１０３の出力は素子毎に感度がばらついていたり、出力オフセットが異なっているため、補正処理部２１０によって均一な出力を得るための補正処理を施す必要がある。
ＦＰＧＡ１１０の温度値変換処理部２１１は、フレームバッファ１０８に格納された赤外線画像データを読み出して、温度値データに変換する。こうして、温度値変換処理部２１１は１フレーム分の温度値データを外部に出力する。
【００１７】
一方、フレームバッファ１０８に格納された赤外線画像データは、ＦＰＧＡ１１０の平均値演算部２０２にも読み込まれる。
平均値演算部２０２は、フレームバッファ１０８から赤外線画像データを１フレーム分取得すると、その平均値（以下「赤外線画像データ平均値」と呼ぶ）を演算する。そして、得られた赤外線画像データ平均値を制御部１０７へ出力する。
制御部１０７の一機能である撮像素子劣化判定処理部２０１は、傾き演算部２０３、シャッタ制御部２０４を含む。
傾き演算部２０３は、平均値リスト２０５のレコードから、温度センサ１０９から得られる温度センサデータ、すなわちシャッタ１１７の温度と、平均値演算部２０２から得られる赤外線画像データ平均値の組を複数得て、筐体内温度変化に対する赤外線画像データ平均値の傾き（図４参照、以下「平均値傾き」と呼ぶ）を算出する。
平均は全画素間で取っても良いが、より安定した出力が得られる中央付近の画素間のみで取っても良い。
シャッタ制御部２０４は、シャッタ駆動部１１８を通じてシャッタ１１７の開閉を制御する。
【００１８】
ＲＡＭ１１２内に形成される平均値リスト２０５は、日時情報フィールドと、筐体内温度フィールドと、赤外線画像データ平均値フィールドを有するリスト（テーブル）である。
日時情報フィールドには、現在日時情報を出力するリアルタイムクロック（以下「ＲＴＣ」と略す）２０９から得られる現在日時情報が格納される。
筐体内温度フィールドには、温度センサ１０９から得られる温度センサデータ、すなわち赤外線撮影装置１０１の筐体内温度情報が格納される。
赤外線画像データ平均値フィールドには、平均値演算部２０２から得られる赤外線画像データ平均値が格納される。
【００１９】
傾き演算部２０３は、平均値リスト２０５のレコードが規定の数に至ったら、平均値リスト２０５を読み込んで、最小二乗法等を用いて、平均値傾きを算出する。
撮像素子劣化判定処理部２０１は、赤外線撮影装置１０１の筐体内温度情報が温度閾値２０６以上の変動を生じたことを検出すると、シャッタ制御部２０４を制御して一旦シャッタ１１７を閉じて、赤外線撮像素子１０３から赤外線画像データを取得する。この時、撮像素子劣化判定処理部２０１は平均値演算部２０２から赤外線画像データ平均値を取得する。そして、平均値リスト２０５に新たなレコードを追記録する。
撮像素子劣化判定処理部２０１は、傾き演算部２０３が算出した平均値傾きを、固定値である傾き閾値２０７と比較して、平均値傾きが傾き閾値２０７未満である場合は、赤外線撮像素子１０３の真空度が低下して、所定の性能を発揮し得ない状態に至ったと判定する。判定した結果は、図示しない不揮発性ストレージ内に形成された赤外線撮像素子劣化フラグ２０８として記憶し、外部の情報処理装置へ赤外線撮像素子劣化判定結果として出力する。なお、この判定処理は閾値２０７との絶対比較判定ではなく、正常値からの減少率で判定しても良い。
【００２０】
［撮像素子劣化判定処理部２０１：動作］
図３は、撮像素子劣化判定処理部２０１が実行する、赤外線撮像素子劣化判定処理の流れを示すフローチャートである。
処理を開始すると（Ｓ３０１）、撮像素子劣化判定処理部２０１は先ず温度センサ１０９から温度データを取得する（Ｓ３０２）。
次に、撮像素子劣化判定処理部２０１は平均値リスト２０５を参照して、平均値リスト２０５にレコードが存在するか否か、すなわち現在の筐体内温度における赤外線画像データ平均値を取得しているか否かを確認する（Ｓ３０３）。平均値リスト２０５に有効なレコードが１レコードもないなら（Ｓ３０３のＹＥＳ）、撮像素子劣化判定処理部２０１は、シャッタ制御部２０４を通じてシャッタ１１７を閉じて、所定時間経過後、赤外線撮像素子１０３の赤外線画像データを取得する。赤外線画像データのS/Nは必ずしも高くないので、例えば16回程度の平均加算を行った方がS/Nが改善でき、安定な劣化判断が可能となる。ここで必要となる所定時間とは、１フレームの時間×平均加算回数である。そして、平均値演算部２０２から赤外線画像データ平均値を取得する（Ｓ３０４）。次に撮像素子劣化判定処理部２０１は、ステップＳ３０２で取得した筐体内温度データと、ステップＳ３０４で取得した赤外線画像データ平均値を、ＲＴＣ２０９から得た現在日時情報と共に平均値リスト２０５へ１レコードとして追記録する（Ｓ３０５）。そして、一連の処理を終了する（Ｓ３０６）。
なお、この処理はステップＳ３０６で終了すると、再びステップＳ３０１から処理を繰り返す、無限ループである。
【００２１】
ステップＳ３０３において、平均値リスト２０５に有効なレコードが１レコード以上存在するなら（Ｓ３０３のＮＯ）、次に撮像素子劣化判定処理部２０１は、平均値リスト２０５の日時情報フィールドを見て、最新のレコードを特定する。そして、当該レコードの筐体内温度フィールドに格納されている、直近の筐体内温度データを取得する。そして、現在の筐体内温度データと、直近の筐体内温度データとの差の絶対値が温度閾値２０６よりも大きいか否か、すなわち、現在の筐体内温度データは直近の筐体内温度データから温度閾値２０６以上の変化があったか否かを確認する（Ｓ３０７）。もし、現在の筐体内温度データが直近の筐体内温度データから温度閾値２０６以上の変化がないのであれば（Ｓ３０７のＮＯ）、一連の処理を終了する（Ｓ３０６）。
【００２２】
ステップＳ３０７において、現在の筐体内温度データが直近の筐体内温度データから温度閾値２０６以上の変化があったならば（Ｓ３０７のＹＥＳ）、次に撮像素子劣化判定処理部２０１はシャッタ制御部２０４を通じてシャッタ１１７を閉じて、赤外線撮像素子１０３の赤外線画像データを取得する。そして、平均値演算部２０２から赤外線画像データ平均値を取得する（Ｓ３０８）。次に撮像素子劣化判定処理部２０１は、ステップＳ３０２で取得した筐体内温度データと、ステップＳ３０８で取得した赤外線画像データ平均値を、ＲＴＣ２０９から得た現在日時情報と共に平均値リスト２０５へ１レコードとして追記録する（Ｓ３０９）。この、ステップＳ３０８とＳ３０９は、ステップＳ３０４とＳ３０５と同じである。
【００２３】
次に、撮像素子劣化判定処理部２０１は、平均値リスト２０５に傾き演算部２０３が平均値傾きを算出するに十分なレコード数（サンプル数）が揃ったか否かを確認する（Ｓ３１０）。傾きを演算するだけなら、最低２個のデータがあればよいが、一般に測定データにはばらつきやノイズ等の変動要因があるので、より多くのサンプルデータを用意して、最小二乗法等で傾きの平均値を算出することが望ましい。例えば、傾き演算部２０３が平均値傾きを演算するに必要なサンプル数（レコード数）を５個とする。もし、平均値リスト２０５に傾き演算部２０３が平均値傾きを算出するに十分なレコード数が揃っていないのであれば（Ｓ３１０のＮＯ）、一連の処理を終了する（Ｓ３０６）。
【００２４】
ステップＳ３１０において、平均値リスト２０５に傾き演算部２０３が平均値傾きを算出するに十分なレコード数が揃っているのであれば（Ｓ３１０のＹＥＳ）、撮像素子劣化判定処理部２０１は傾き演算部２０３を制御して、平均値傾きを算出させる（Ｓ３１１）。
次に撮像素子劣化判定処理部２０１は、傾き演算部２０３が算出した平均値傾きを傾き閾値２０７と比較して、平均値傾きが傾き閾値２０７を下回っているか否か、すなわち赤外線撮像素子１０３の性能が傾き閾値２０７で定義される感度を満たしていないか否かを確認する（Ｓ３１２）。もし、平均値傾きが傾き閾値２０７以上である、すなわち赤外線撮像素子１０３の性能が傾き閾値２０７で定義される感度を満たしているのであれば（Ｓ３１２のＮＯ）、一連の処理を終了する（Ｓ３０６）。
【００２５】
ステップＳ３１２において、平均値傾きが傾き閾値２０７未満である、すなわち赤外線撮像素子１０３の性能が傾き閾値２０７で定義される感度を満たしていないのであれば（Ｓ３１２のＹＥＳ）、撮像素子劣化判定処理部２０１は赤外線撮像素子劣化フラグ２０８を論理の真に設定して（Ｓ３１３）、一連の処理を終了する（Ｓ３０６）。
この赤外線撮像素子劣化フラグ２０８は、制御部１０７の他のプログラム処理において読み出され、外部に赤外線撮像素子劣化判定結果として出力される。
【００２６】
赤外線撮影装置１０１の電源を投入すると、最初にステップＳ３０１、Ｓ３０２、Ｓ３０３のＹＥＳ、Ｓ３０４、Ｓ３０５と辿って、Ｓ３０６に至る。この時、ステップＳ３０５において平均値リスト２０５には１レコードが記録されている。
その後は、赤外線撮影装置１０１の筐体内温度に変化がないうちは、ステップＳ３０１、Ｓ３０２、Ｓ３０３のＮＯ、Ｓ３０７のＮＯと辿って、ステップＳ３０６に至る。
そして、赤外線撮影装置１０１の筐体内温度に変化が生じると、ステップＳ３０１、Ｓ３０２、Ｓ３０３のＮＯ、Ｓ３０７のＹＥＳ、Ｓ３０８、Ｓ３０９と辿る。
その後、平均値リスト２０５に必要なレコード数が揃っていないうちは、ステップＳ３１０のＮＯと辿って、ステップＳ３０６に至る。
その後、平均値リスト２０５に必要なレコード数が揃うと、ステップＳ３１０のＹＥＳ、Ｓ３１１と辿る。
赤外線撮像素子１０３が劣化していなければ、ステップＳ３１２のＮＯと辿って、ステップＳ３０６に至る。
赤外線撮像素子１０３が劣化していれば、ステップＳ３１２のＹＥＳ、Ｓ３１３と辿って、ステップＳ３０６に至る。
【００２７】
図４は、温度変化に対する赤外線撮像素子１０３の平均値の変化を模式的に示すグラフである。グラフの横軸は筐体内温度であり、縦軸は赤外線画像データ平均値である。なお、図４は、傾向を比較するためのグラフなので、スケールは示されていない。
また、斜線に付されている黒点は、平均値リスト２０５のレコードをプロットしたものである。直線Ｌ４０１は、工場出荷時の赤外線撮像素子１０３の平均値を示し、直線Ｌ４０３は、使用により劣化した赤外線撮像素子１０３の平均値を示している。Ｌ４０２は傾き閾値２０７を示す。
【００２８】
図４に示すように、工場出荷時等の新しい状態の赤外線撮影装置１０１の赤外線撮像素子１０３は、温度変化に対する感度が高い。このため、平均値リスト２０５から算出した平均値傾きＬ４０１は、傾き閾値Ｌ４０２よりも傾きが急峻である。
一方、工場出荷時から長い年月が経過して、真空度が低下した赤外線撮影装置１０１の赤外線撮像素子１０３は、温度変化に対する感度が低下する。このため、平均値リスト２０５から算出した平均値傾きＬ４０３は、傾き閾値Ｌ４０２よりも傾きが緩やかである。
【００２９】
なお、赤外線撮像素子１０３の劣化判定処理には、本発明の実施形態で用いた赤外線撮像素子生データの代わりに、赤外線撮像素子生データに補正処理を施した赤外線画像データを用いてもよい。
赤外線撮像素子生データを劣化判定に使用する場合は、平均値傾きデータベースを素子毎に持ち、傾きの絶対値ではなく、傾きの変化率（例えば、初期の傾きに比べて現在の傾きが５０％以下に減少）で判定すればよい。
赤外線撮像素子生データを劣化判定に使用する場合、平均値演算部２０２は赤外線撮像素子生データの平均値である赤外線撮像素子平均値を算出する。平均値リスト２０５には、赤外線画像データ平均値フィールドの代わりに赤外線撮像素子平均値が格納される赤外線撮像素子平均値フィールドを有する。
【００３０】
本発明の実施形態においては、赤外線撮影装置１０１を開示した。
赤外線撮影装置１０１における赤外線撮像素子１０３の経年劣化に伴う感度低下を、筐体内温度変化が生じた時に所定時間だけシャッタ１１７を閉じるという、赤外線撮影装置１０１特有の動作を利用して算出している。すなわち、温度センサ１０９から取得する筐体内温度データと、対応する赤外線画像データ平均値の組を、筐体内温度が変動した際に複数回取得して、平均値傾きを算出する。この平均値傾きを傾き閾値２０７と比較することで、赤外線撮像素子１０３の感度の低下を把握することができる。
真空計を用いず、ソフトウェアのみで実現できるため、低価格で赤外線撮像素子１０３の交換時期を的確に知ることができる。
【００３１】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載した本発明の要旨を逸脱しない限りにおいて、他の変形例、応用例を含む。
例えば、上記した実施形態は本発明をわかりやすく説明するために装置及びシステムの構成を詳細かつ具体的に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることは可能であり、更にはある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。また、各実施形態の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることも可能である。
【００３２】
また、上記の各構成、機能、処理部等は、それらの一部又は全部を、例えば集積回路で設計するなどによりハードウェアで実現してもよい。また、上記の各構成、機能等は、プロセッサがそれぞれの機能を実現するプログラムを解釈し、実行するためのソフトウェアで実現してもよい。各機能を実現するプログラム、テーブル、ファイル等の情報は、メモリや、ハードディスク、ＳＳＤ（Solid State Drive）等の揮発性あるいは不揮発性のストレージ、または、ＩＣカード、光ディスク等の記録媒体に保持することができる。
また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしもすべての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
【符号の説明】
【００３３】
１０１…赤外線撮影装置、１０２…レンズ、１０３…赤外線撮像素子、１０４…アナログ回路基板、１０５…バッファアンプ、１０６…Ａ／Ｄ変換器、１０７…制御部、１０８…フレームバッファ、１０９…温度センサ、１１０…ＦＰＧＡ、１１２…シャッタドライバ、１１７…シャッタ、１１８…シャッタ駆動部、２０１…撮像素子劣化判定処理部、２０２…平均値演算部、２０３…傾き演算部、２０４…シャッタ制御部、２０５…平均値リスト、２０６…温度閾値、２０７…傾き閾値、２０８…赤外線撮像素子劣化フラグ、２０９…ＲＴＣ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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