(57)【要約】【課題】回転式フィーダなどから供給される、直方体形状の菓子片、電気部品などの外形的形状において欠けなどの形状異常を自動的に安価に検査し、正常品を選別することを実現する装置を提供する。【解決手段】側面と下面からなるＬ型状体の一対からなるガイドと、ガイドの側面と下面に切り欠き部と、４組の投光部と受光部と、形状検査手段からなる検査装置。ガイド上で形状異常無き被検査物が搬送された場合の下辺付近側面と、上辺付近側面位置に、投光部から光を投光する。下辺付近側面は切り欠け部を通じて投光する。投光部からの光が遮光される場合に形状正常、投光部いずれかの光が遮光されなければ、形状異常とする。【選択図】図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
直方体形状の被検査物の形状を検査する検査装置であって、
側面と下面からなるＬ型状体の一対からなるガイドと、
前記ガイド上を被検査物が整列状態で等速で移動する搬送手段と、
前記ガイドの側面と下面に切り欠きを有する一対の切り欠き部と、
前記ガイド上で被検査物が搬送された場合の搬送方向に平行な被検査物の下面２辺それぞれの付近の被検査物側面通過位置を、前記切り欠き部を通じて光照射する投光部と、前記投光部に対向して設置される受光部と、
前記ガイド上で被検査物が搬送された場合の搬送方向に平行な被検査物の上面２辺それぞれの付近の被検査物側面通過位置に光照射する投光部と、前記投光部に対向して設置される受光部と、
前記ガイド上で被検査物通過時に、前記投光部の光を被検査物が遮光し前記受光部で前記投光部の光を検出しなかった場合に被検査物は形状異常なしと判断し、前記投光部いずれかの光を被検査物が遮光することなく前記受光部で前記投光部の光を検出した場合に被検査物は形状異常と判断する形状検査手段と、
を備えることを特徴とする検査装置。
【請求項２】
前記ガイド上の、前記切り欠き部は、Ｌ型状体の側面部に半円状と下面部に半円状の切りかきで、連続していることを特徴とする請求項１記載の検査装置。
【請求項３】
前記投光部の光のスポット径が、０．１ｍｍ以上１．０ｍｍ以下であることを特徴とする、請求項１または請求項２に記載の検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は菓子片や電子部品などの形状検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
回転式フィーダなどから供給される、直方体形状の菓子片、電気部品などにおいて、外形的形状を自動的に検査し、形状正常品を選別することが行われてきた。特許文献１や特許文献２では、搬送中の被検査物を、カメラによって撮像し、形状の検査を行っている。
【０００３】
しかしながら、これらの方法では、直方体の各面を検査するには、各面毎の検査が必要であり、また、被検査物は隣接することはできなく、被検査物の間は間隙が必要であった。
したがってシステムが高価でありコスト高になっていた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特許第２５１９５８８号公報
【特許文献２】特許第４１４３８６９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
回転式フィーダなどから供給される、直方体形状の菓子片、電気部品などの外形的形状において欠けなどの形状異常を自動的に安価に検査し、正常品を選別することを実現する装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は上記課題を解決するためになされたもので、請求項１に係る発明は、直方体形状の被検査物の形状を検査する検査装置であって、側面と下面からなるＬ型状体の一対からなるガイドと、前記ガイド上を被検査物が整列状態で等速で移動する搬送手段と、前記ガイドの側面と下面に切り欠きを有する一対の切り欠き部と、前記ガイド上で被検査物が搬送された場合の搬送方向に平行な被検査物の下面２辺それぞれの付近の被検査物側面通過位置を、前記切り欠き部を通じて光照射する投光部と、前記投光部に対向して設置される受光部と、前記ガイド上で被検査物が搬送された場合の搬送方向に平行な被検査物の上面２辺それぞれの付近の被検査物側面通過位置に光照射する投光部と、前記投光部に対向して設置される受光部と、前記ガイド上で被検査物通過時に、前記投光部の光を被検査物が遮光し前記受光部で前記投光部の光を検出しなかった場合に被検査物は形状異常なしと判断し、前記投光部いずれかの光を被検査物が遮光することなく前記受光部で前記投光部の光を検出した場合に被検査物は形状異常と判断する形状検査手段と、を備えることを特徴とする検査装置である。
【０００７】
請求項２に係る発明は、前記ガイド上の、前記切り欠き部は、Ｌ型状体の側面部に半円状と下面部に半円状の切りかきで、連続していることを特徴とする請求項１記載の検査装置である。
【０００８】
請求項３に係る発明は、前記投光部の光のスポット径が、０．１ｍｍ以上１．０ｍｍ以下であることを特徴とする、請求項１または請求項２に記載の検査装置である。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、回転式フィーダなどから供給される、直方体形状の菓子片、電気部品などの外形的形状において形状異常を自動的に安価に検査し、正常品を選別することを実現する装置を提供することが出来る。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】本発明の検査装置の一実施例において被検査物のガイドを示す模式的斜視図である。
【図２】（ａ）は図１におけるＡ−Ａ断面図、（ｂ）は図１におけるＢ−Ｂ断面図である。
【図３】図３は図１の本発明の検査装置の一実施例において対象物を運ぶガイドにおいて、被検査物が載っている場合を説明する模式的斜視図である。
【図４】（ａ）は図３におけるＡ−Ａ断面図、（ｂ）は図３におけるＢ−Ｂ断面図である。
【図５】図５は本発明の検査装置の概略構成を示す図である。
【図６】（ａ）は本発明の検査装置において、被検査物が形状正常である場合の、検査時の挙動を説明する図、（ｂ）は本発明の検査装置において、被検査物が不良である場合の、検査時の挙動を説明する図である。
【図７】（ａ）は本発明の検査装置に被検査物を投入する回転式フィーダとガイドを示す概略図、（ｂ）はガイドに並ぶ被検査物の様子を模式的に示す上面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
【００１２】
本発明は、直方体形状の被検査物の形状を検査する検査装置であり、デクスタなどの回転式フィーダなどから被検査物が、回転式フィーダに接続されたガイドに供給され、隣接して整列状態で等速で移動するものを光学的に検査するものである。
【００１３】
図７（ａ）は本発明の検査装置に被検査物を投入する回転式フィーダとガイドを示す概略図、（ｂ）はガイドに並ぶ被検査物の様子を模式的に示す上面図である。
【００１４】
図１は本発明の検査装置の一実施例において被検査物のガイドを示す模式的斜視図である。図２（ａ）は図１におけるＡ−Ａ断面図、（ｂ）は図１におけるＢ−Ｂ断面図である。
【００１５】
デクスタなどの回転式フィーダ１００は、排出ガイド１０１を通じて、被検査物Ｄを押せ押せの状態で、ガイド１５、１６に供給し、ガイド１５、１６上で被検査物Ｄが隣接して整列状態で等速で移動する搬送手段を提供する。
【００１６】
回転式フィーダ１００から被検査物Ｄが供給されるガイド１５、１６は、側面と下面からなるＬ型状体の一対からなる。
【００１７】
ガイド１５の側面１５１と下面１５２には切り欠き部１０があり、ガイド１６の側面１６１と下面１６２には切り欠き部１１があり、ガイド１５の切り欠き部１０とガイド１６の切り欠き部１１は相対している。
【００１８】
図５は本発明の検査装置の概略構成を示す図である。
【００１９】
ガイド１５、１６上で形状異常無き被検査物が搬送された場合の被検査物Ｄの下面の辺で搬送方向に平行な２辺それぞれの付近の被検査物Ｄの側面が通過する位置を、切り欠き部１０、１１を通じて光照射する投光部２０、２４と、これら投光部それぞれに対向して
設置される受光部２１、２５がある。
【００２０】
また、ガイド１５、１６上で形状異常無き被検査物が搬送された場合の被検査物Ｄの上面の辺で搬送方向に平行な２辺それぞれの付近の被検査物Ｄの側面が通過する位置に光照射する投光部２２、２６と、これら投光部それぞれに対向して設置される受光部２３、２７がある。
【００２１】
次に、本発明を構成する形状検査手段について説明する。
【００２２】
図６（ａ）は本発明の検査装置において、被検査物Ｄが形状正常である場合の、検査時の挙動を説明する図、（ｂ）は本発明の検査装置において、被検査物Ｄが不良である場合の、検査時の挙動を説明する図である。
【００２３】
ガイド１５、１６上で被検査物Ｄの通過時に、投光部２０、２４、２２、２６の光を被検査物Ｄが遮光し受光部２１、２５、２３、２７で投光部２０、２４、２２、２６の光を検出しなかった場合、被検査物は形状異常なしと判断する。
【００２４】
投光部２０、２４、２２、２６の光を被検査物Ｄが遮光しなく受光部２１、２５、２３、２７で投光部２０、２４、２２、２６のいずれかの光を検出した場合、被検査物は形状異常と判断する。
【００２５】
ただし、この検査は、被検査物Ｄが隣接している間の、搬送方向に垂直の側面が通過するときは、行わない。被検査物は、完全な直方体形状になっておらず、各辺は、曲面になっており、被検査物Ｄの搬送方向に垂直の側面が、投光部と受光部が存在する面を通過するときは、投光部２０、２４、２２、２６の光を、側面の角の曲率のため被検査物Ｄによる遮光がなく、受光部２１、２５、２３、２７で投光部２０、２４、２２、２６の光を検出する。したがって、投光部と受光部の存在する面に、被検査物Ｄの搬送方向に垂直の側面が通過する時には、被検査物Ｄの形状検査を行わないように、タイミングを計って検査する。検査工程の前準備の時に、実際に、被検査物Ｄを搬送して、受光部２１、２５、２３、２７で投光部２０、２４、２２、２６の光を検出する事象の間隔を計測することによって、側面通過時間間隔が決められる。
【００２６】
被検査物Ｄを搬送する前は受光部２１、２５、２３、２７で投光部２０、２４、２２、２６の光を検出する。そして最初の被検査物Ｄが投光部と受光部が存在する面を通過したときに、投光部２０、２４、２２、２６の光を被検査物Ｄが遮光し受光部２１、２５、２３、２７で投光部２０、２４、２２、２６の光を検出しない。この時を検査開始時刻とする。この検査開始時刻から、側面通過時間間隔の整数倍時間が経った時刻の前後のある時間区間を除いた時間で、形状検査を行う。
【００２７】
ガイド１５の切り欠き部１０において、側面１５１の切り欠きと、下面１５２の切り欠きはそれぞれ半円状をしており、それらは連続している。ガイド１６の切り欠き部１１において、側面１６１の切り欠きと、下面１６２の切り欠きはそれぞれ半円状をしており、それらは連続している。そしてガイド１５の切り欠き部１０とガイド１６の切り欠き部１１は相対している。ただし切り欠け部の切り欠けの形状はこれに限定されない。
【００２８】
被検査物の形状異常を検出する精度のために、投光部２０、２４、２２、２６の光のスポット径は０．１ｍｍ以上１．０ｍｍ以下が望ましい。
【００２９】
本発明により、回転式フィーダから供給される、直方体形状の菓子片、電気部品などの外形的形状において形状異常を自動的に安価に検査し、正常品を選別することを実現する
装置を提供することが出来るようになった。
【符号の説明】
【００３０】
１０・・・切り欠き部
１１・・・切り欠き部
１５・・・ガイド
１６・・・ガイド
２０・・・投光部１
２１・・・受光部１
２２・・・投光部２
２３・・・受光部２
２４・・・投光部３
２５・・・受光部３
２６・・・投光部４
２７・・・受光部４
１００・・・回転式フィーダ
１０１・・・排出ガイド
１５１・・・ガイド側面
１５２・・・ガイド下面
１６１・・・ガイド側面
１６２・・・ガイド下面
Ｄ・・・被検査物
Ｆ・・・欠け部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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