(57)【要約】      （修正有）【課題】電気二重層コンデンサの製造時間を短くする検査方法を提供する。【解決手段】電気二重層コンデンサの検査工程において、電気二重層コンデンサを０．４Ｖ以上且つ１．２Ｖ未満の定電圧で充電し、充電時における電流値が電流の閾値以下のとき、若くは、電気抵抗値が電気抵抗の閾値以上のときに良品と判断し、測定した電流値が電力の閾値より大きいとき、若くは、電気抵抗値が電気抵抗の閾値未満のときに不良品と判断する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気二重層コンデンサを作製する工程と、
前記電気二重層コンデンサを検査する検査工程と、
を備え、
前記検査工程において、前記電気二重層コンデンサを１．２Ｖ未満の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定する、電気二重層コンデンサの製造方法。
【請求項２】
前記検査工程において、前記電気二重層コンデンサを１．０Ｖ以下の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定する、請求項１に記載の電気二重層コンデンサの製造方法。
【請求項３】
前記検査工程において、前記測定した電流値が電流の閾値以下のとき、若しくは、前記測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値以上のときに良品と判断し、前記測定した電流値が電流の閾値より大きいとき、若しくは、前記測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値未満のときに不良品と判断する、請求項１又は２に記載の電気二重層コンデンサの製造方法。
【請求項４】
前記検査工程において、前記電気二重層コンデンサを０．４Ｖ以上の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定する、請求項１〜３のいずれか一項に記載の電気二重層コンデンサの製造方法。
【請求項５】
電気二重層コンデンサを１．２Ｖ未満の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定する、電気二重層コンデンサの検査方法。
【請求項６】
前記電気二重層コンデンサを１．０Ｖ以下の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定する、請求項５に記載の電気二重層コンデンサの検査方法。
【請求項７】
前記測定した電流値が電流の閾値以下のとき、若しくは、前記測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値以上のときに良品と判断し、前記測定した電流値が電流の閾値より大きいとき、若しくは、前記測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値未満のときに不良品と判断する、請求項５又は６に記載の電気二重層コンデンサの検査方法。
【請求項８】
前記電気二重層コンデンサを０．４Ｖ以上の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定する、請求項５〜７のいずれか一項に記載の電気二重層コンデンサの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気二重層コンデンサの製造方法及び電気二重層コンデンサの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電源の一種として電気二重層コンデンサが知られている。電気二重層コンデンサを製造するに際しては、短絡不良等の不良品を検査し、選別する必要がある。例えば、特許文献１，２には、漏れ電流が発生するか否かの検査方法、すなわち、短絡不良の検査方法が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−１３３１８９号公報
【特許文献２】特開２００５−１０８９５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１，２に記載の検査方法では、電気二重層コンデンサを充電した後に放電する必要がある。従って、短絡不良の検査に長時間を要する。従って、検査工程に長時間を要する分、電気二重層コンデンサの製造に長時間を要するという問題がある。
【０００５】
本発明の主な目的は、電気二重層コンデンサの製造時間を短くすることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る電気二重層コンデンサの製造方法は、電気二重層コンデンサを作製する工程と、電気二重層コンデンサを検査する検査工程とを備える。本発明に係る電気二重層コンデンサの製造方法では、検査工程において、電気二重層コンデンサを１．２Ｖ未満の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定する。電気二重層コンデンサの充電電圧を１．２Ｖ未満とすることにより、短時間の充電時間においても電流値及び電気抵抗値が良品と不良品とで大きく異なる。このため、検査工程において、定格電圧になるまで充電した後に放電する必要が必ずしもなく、充電工程において早期に良品と不良品との判別を行うことができる。従って、電気二重層コンデンサの製造に要する時間を短くすることができる。
【０００７】
本発明に係る電気二重層コンデンサの製造方法では、検査工程において、電気二重層コンデンサを１．０Ｖ以下の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定することが好ましい。
【０００８】
本発明に係る電気二重層コンデンサの製造方法では、検査工程において、測定した電流値が電流の閾値以下のとき、若しくは、測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値以上のときに良品と判断し、測定した電流値が電流の閾値より大きいとき、若しくは、測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値未満のときに不良品と判断してもよい。
【０００９】
本発明に係る電気二重層コンデンサの製造方法では、検査工程において、電気二重層コンデンサを０．４Ｖ以上の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定することが好ましい。
【００１０】
本発明に係る電気二重層コンデンサの検査方法では、電気二重層コンデンサを１．２Ｖ未満の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定する。電気二重層コンデンサの充電電圧を１．２Ｖ未満とすることにより、短時間の充電時間においても電流値及び電気抵抗値が良品と不良品とで大きく異なる。このため、定格電圧になるまで充電した後に放電する必要が必ずしもなく、充電工程において早期に良品と不良品との判別を行うことができる。
【００１１】
本発明に係る電気二重層コンデンサの検査方法では、電気二重層コンデンサを１．０Ｖ以下の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定する。
【００１２】
本発明に係る電気二重層コンデンサの検査方法では、測定した電流値が電流の閾値以下のとき、若しくは、測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値以上のときに良品と判断し、測定した電流値が電流の閾値より大きいとき、若しくは、測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値未満のときに不良品と判断してもよい。
【００１３】
本発明に係る電気二重層コンデンサの検査方法では、電気二重層コンデンサを０．４Ｖ以上の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定することが好ましい。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、電気二重層コンデンサの製造時間を短くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】実験例１（２．２５Ｖで充電）におけるの充電時間と電気抵抗値との関係を表すグラフである。
【図２】実験例１（０．７Ｖで充電）における充電時間と電気抵抗値との関係を表すグラフである。
【図３】実験例２における充電電圧と１０分間充電した後の電気抵抗値との関係を表すグラフである。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、本発明を実施した好ましい形態の一例について説明する。但し、下記の実施形態は、単なる例示である。本発明は、下記の実施形態に何ら限定されない。
【００１７】
本実施形態において説明する電気二重層コンデンサの製造方法は、種々の電気二重層コンデンサの製造に適用することができる。具体的には、本実施形態において説明する電気二重層コンデンサの製造方法は、パッケージ型の電気二重層コンデンサの製造、表面実装型の電気二重層コンデンサの製造、シリンダー型の電気二重層コンデンサの製造等に好適である。
【００１８】
まず、電気二重層コンデンサを作製する。電気二重層コンデンサの作製は、例えば、公知の方法を用いて行うことができる。
【００１９】
次に、電気二重層コンデンサを検査する検査工程を行う。ここで、検査工程とは、電気二重層コンデンサの良品と不良品とを分別するための検査を行う工程である。具体的には、例えば、電気二重層コンデンサの短絡不良品等を選別する工程である。
【００２０】
本実施形態では、検査工程において、電気二重層コンデンサを１．２Ｖ未満の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定する。具体的には、本実施形態では、検査工程において、測定した電流値が電流の閾値以下のとき、若しくは、測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値以上のときに良品と判断し、測定した電流値が電流の閾値より大きいとき、若しくは、測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値未満のときに不良品と判断する。なお、閾値は、例えば、短絡不良の検査を行う場合であれば、短絡不良が生じている場合に測定される電流値や電気抵抗値等を参酌して設定することができる。具体的には、閾値は、例えば、短絡不良の検査を行う場合であれば、短絡不良が生じている場合に測定される電流値よりも低い電流値、短絡不良が生じている場合に測定される電気抵抗値よりも高い抵抗値に設定することができる。
【００２１】
本発明者らは、鋭意研究の結果、電気二重層コンデンサの充電電圧を、１．２Ｖ未満とすることにより、充電工程の早い段階で、電気二重層コンデンサを流れる電流値や電気二重層コンデンサの電気抵抗値に、良品と不良品とで差が生じることを見出し、電気二重層コンデンサを１．２Ｖ未満の定電圧で充電することにより、良品と不良品との判別検査を行い得ることに想到した。
【００２２】
本実施形態では、上述のように、検査工程において、電気二重層コンデンサを１．２Ｖ未満の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定する。従って、検査工程に含まれる充電工程の早期において良品と不良品とを判別することができる。よって、電気二重層コンデンサの製造に要する時間を短くすることができる。
【００２３】
なお、電気二重層コンデンサを１．２Ｖ未満の定電圧で充電した際に、早期に電流値や電気抵抗値に差がでる理由としては、電気二重層コンデンサ内の残留水分の電気化学反応（例えば、残留水分の分解等）に起因する電流の発生を抑制できるためであると考えられる。
【００２４】
より早期に良品と不良品との間で電流値や電気抵抗値に差が生じるようにする観点からは、検査工程において、電気二重層コンデンサを１．０Ｖ以下の定電圧で充電することが好ましい。そうすることにより、残留水分の電気化学反応をより効果的に抑制することができるためであると考えられる。
【００２５】
同様の観点からは、検査工程において、電気二重層コンデンサを充電する際の電圧を低くする方が好ましいと考えられる。しかしながら、電気二重層コンデンサの充電電圧が低すぎると、安定した電圧で電気二重層コンデンサを充電することが困難となる場合がある。よって、検査工程において、電気二重層コンデンサを０．４Ｖ以上の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定することが好ましく、０．５Ｖ以上の定電圧で充電することがより好ましい。
【００２６】
以下、本発明について、具体的な実施例に基づいて、さらに詳細に説明するが、本発明は以下の実施例に何ら限定されるものではなく、その要旨を変更しない範囲において適宜変更して実施することが可能である。
【００２７】
（実験例１）
以下の仕様の電気二重層コンデンサであって、複数の良品サンプルと複数の不良品サンプルを作製した。
【００２８】
形態：ラミネート型
定格電圧：２．２５Ｖ
負極側集電極：アルミニウム箔
負極側分極性電極：活性炭からなる厚み２０μｍの多孔質体
正極側集電極：アルミニウム箔
正極側分極性電極：活性炭からなる厚み２０μｍの多孔質体
正極及び負極の積層数：３層
電解質：５−アゾニアスピロ［４，４］ノナンテトラフルオロボラート（ＳＢＰＢＦ４）を１．５モル／リットル含むプロピレンカーボネート（ＰＣ）
【００２９】
次に、良品サンプルと不良品サンプルとを２．２５Ｖ（定格電圧）で充電した。そのときの電気抵抗値を図１に示す。図１に示す結果から、１．２Ｖ以上の電圧で充電した場合には、良品と不良品との間に、１時間充電しても電気抵抗値に差が出ず、よって、電流値にも差が出ないことが分かる。
【００３０】
次に、良品サンプルと不良品サンプルとを、０．７Ｖで充電した。そのときの電気抵抗値を図２に示す。図２に示す結果から、１．２Ｖ未満で充電した場合には、約０．２時間経過後から、良品と不良品との間に電気抵抗値に差が生じ、よって、電流値にも差が生じることが分かる。
【００３１】
（実験例２）
実験例１で作製した電気二重層コンデンサと同様の仕様の電気二重層コンデンサ（良品）を複数作製し、種々の電圧で１０分間定電圧充電した際の電気抵抗値を測定した。結果を図３に示す。図３に示す結果から、１．２Ｖ未満で充電することにより、充電時間を１０分にした場合であっても電気抵抗値や電流値に変化が生じることが分かる。また、１．０Ｖ以下、さらには、０．９Ｖ以下で充電することにより、充電時間を１０分にした場合であっても電気抵抗値や電流値により顕著な変化が生じることが分かる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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