(57)【要約】【課題】  次の基板が外観検査装置に到着するまでの時間を作業者が把握可能にする製造装置を実現する。【解決手段】  第１のコンベアの上で回路基板をリフロー処理するリフロー炉と、前記リフロー炉で処理された前記回路基板を搬送する第２のコンベアと、前記第２のコンベアによって搬送された前記回路基板の外観を検査する外観検査装置と、前記第１のコンベアの長さを前記第１のコンベアの搬送速さで除して第１の時間を計算し、前記第２のコンベアの長さを前記第２のコンベアの搬送速さで除して第２の時間を計算し、前記第１のコンベアに前記回路基板が投入された時刻に前記第１の時間と前記第２の時間を加算した時刻から現在時刻を減じた第３の時間を計算する制御手段と、前記第３の時間を表示する表示部とを備える。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１のコンベアの上で回路基板をリフロー処理するリフロー炉と、
前記リフロー炉で処理された前記回路基板を搬送する第２のコンベアと、
前記第２のコンベアによって搬送された前記回路基板の外観を検査する外観検査装置と、
前記第１のコンベアの長さを前記第１のコンベアの搬送速さで除して第１の時間を計算し、前記第２のコンベアの長さを前記第２のコンベアの搬送速さで除して第２の時間を計算し、前記第１のコンベアに前記回路基板が投入された時刻に前記第１の時間と前記第２の時間を加算した時刻から現在時刻を減じた第３の時間を計算する制御手段と、
前記第３の時間を表示する表示部とを備える
ことを特徴とする製造装置。
【請求項２】
前記外観検査装置は前記回路基板が前記外観検査装置の前記投入口に投入されたことを検知すると、前記外観検査装置は制御手段に対して前記回路基板が投入されたことを伝える信号を発信し、前記制御手段は前記信号を受信すると、前記表示部に表示される前記第３の時間のうち最も小さい値を消去する
ことを特徴とする請求項１に記載の製造装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記第１のコンベアに前記回路基板が投入された時刻に前記第１の時間と前記第２の時間を加算した時刻から所定の時間を減じた時刻を現在時刻が超えると前記表示部に警告を表示する
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の製造装置。
【請求項４】
回路基板をリフロー処理するリフロー炉内の第１のコンベアの長さを前記第１のコンベアの搬送速さで除して第１の時間を計算し、前記リフロー炉で処理された前記回路基板を外観検査装置の投入口に搬送する第２のコンベアの長さを前記第２のコンベアの搬送速さで除して第２の時間を計算し、前記第１のコンベアに前記回路基板が投入された時刻に前記第１の時間と前記第２の時間を加算した時刻から現在時刻を減じた第３の時間を計算して、前記第３の時間を表示する
ことを特徴とする製造方法。
【請求項５】
前記回路基板が前記外観検査装置の前記投入口に投入されたことを検知すると、前記第３の時間の表示のうち最も小さい値を消去する
ことを特徴とする請求項４に記載の製造方法。
【請求項６】
前記第１のコンベアに前記回路基板が投入された時刻に前記第１の時間と前記第２の時間を加算した時刻から所定の時間を減じた時刻を現在時刻が超えると前記表示部に警告を表示する
ことを特徴とする請求項４または請求項５に記載の製造方法。
【請求項７】
回路基板をリフロー処理するリフロー炉内の第１のコンベアの長さを前記第１のコンベアの搬送速さで除して第１の時間を計算し、前記リフロー炉で処理された前記回路基板を外観検査装置の投入口に搬送する第２のコンベアの長さを前記第２のコンベアの搬送速さで除して第２の時間を計算し、前記第１のコンベアに前記回路基板が投入された時刻に前記第１の時間と前記第２の時間を加算した時刻から現在時刻を減じた第３の時間を計算して、前記第３の時間を表示する
ことをコンピュータに実行させるプログラム。
【請求項８】
前記回路基板が前記外観検査装置の前記投入口に投入されると、前記第３の時間の表示のうち最も小さい値を消去する
ことを特徴とする請求項７に記載のプログラム。
【請求項９】
前記第１のコンベアに前記回路基板が投入された時刻に前記第１の時間と前記第２の時間を加算した時刻から所定の時間を減じた時刻を現在時刻が超えると前記表示部に警告を表示する
ことを特徴とする請求項７または請求項８に記載のプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、製造装置、製造方法、およびプログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電子部品を回路基板に実装する際に、リフロー（reflow）装置が用いられる。リフロー装置は、一定速度で搬送するコンベア（conveyor）上に基板を載せて、所定の温度に設定された複数のエリア（area）を通過させることによって基板を加熱して、はんだ付けを行う。
【０００３】
リフロー装置の搬送コンベアは常に一定の速さで運転し、停止することが出来ない。従って、リフロー装置から排出されたプリント基板が、リフロー装置の下流にあるリフロー後コンベアで停滞すると、リフロー後コンベアは上流のリフロー装置が排出する次の基板を受け取ることが出来ない。その結果、リフロー装置の出口で基板が滞留してしまう。
【０００４】
リフロー後コンベアが停滞する原因として、リフロー後コンベアの下流にある外観検査装置の検査時間が、リフロー装置の排出間隔よりも上回る場合がある。
【０００５】
一般的なリフロー装置は、基板詰まりを防止するために、基板の投入間隔を一定に制御するタクトタイマー（takt timer）を備えていて、リフロー装置下流の外観検査装置のタクト（takt；工程作業時間）に合わせて投入間隔の時間を設定する。
【０００６】
外観検査装置における検査では、一般的に検査装置が自動で行う検査に加え、検査装置が不良と判断した画像を作業者が目視で確認して良否判定を行う。そのため、検査時間は、目視確認する作業者の熟練度や目視確認を行う回数（検査装置が不良と判断した数）等によりばらつきが生じる。
【０００７】
この様な作業工程で、リフロー装置のタクトタイマーに設定された基板投入間隔が、外観検査時間より短いと、リフロー装置の出口と外観検査装置の入口の間で基板詰まりが発生する。また、タクトタイマーに設定された基板投入間隔が外観検査時間より長いと、外観検査待ちの時間が発生するため生産性が悪くなる。
【０００８】
そこで、特許文献１では実装ラインを構成する各設備のタクトを理論値から計算して、タクトが最大となる設備のタクトに合わせて各設備のタクトを調整する最適化方法が記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００９】
【特許文献１】特開平８−１８２９９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかし、特許文献１に示される技術では、外観検査を行う作業者は、次の基板が外観検査装置に到着するまでの時間を把握できない。そのため、作業者は外観検査に費やす時間を最適化できず、作業の精度が低下する問題点があった。
【００１１】
本発明の目的は、上述した課題を鑑み、次の基板が外観検査装置に到着するまでの時間を作業者が把握可能とする製造装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記の目的を達成するために、本発明の製造装置は、第１のコンベアの上で回路基板をリフロー処理するリフロー炉と、前記リフロー炉で処理された前記回路基板を搬送する第２のコンベアと、前記第２のコンベアによって搬送された前記回路基板の外観を検査する外観検査装置と、前記第１のコンベアの長さを前記第１のコンベアの搬送速さで除して第１の時間を計算し、前記第２のコンベアの長さを前記第２のコンベアの搬送速さで除して第２の時間を計算し、前記第１のコンベアに前記回路基板が投入された時刻に前記第１の時間と前記第２の時間を加算した時刻から現在時刻を減じた第３の時間を計算する制御手段と、前記第３の時間を表示する表示部とを備える。
【００１３】
上記の目的を達成するために、本発明の製造方法は、回路基板をリフロー処理するリフロー炉内の第１のコンベアの長さを前記第１のコンベアの搬送速さで除して第１の時間を計算し、前記リフロー炉で処理された前記回路基板を外観検査装置の投入口に搬送する第２のコンベアの長さを前記第２のコンベアの搬送速さで除して第２の時間を計算し、前記第１のコンベアに前記回路基板が投入された時刻に前記第１の時間と前記第２の時間を加算した時刻から現在時刻を減じた第３の時間を計算して、前記第３の時間を表示する。
【００１４】
上記の目的を達成するために、本発明のプログラムは、回路基板をリフロー処理するリフロー炉内の第１のコンベアの長さを前記第１のコンベアの搬送速さで除して第１の時間を計算し、前記リフロー炉で処理された前記回路基板を外観検査装置の投入口に搬送する第２のコンベアの長さを前記第２のコンベアの搬送速さで除して第２の時間を計算し、前記第１のコンベアに前記回路基板が投入された時刻に前記第１の時間と前記第２の時間を加算した時刻から現在時刻を減じた第３の時間を計算して、前記第３の時間を表示する
ことをコンピュータに実行させる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、製造装置、製造方法、およびプログラムは、次の基板が外観検査装置に到着するまでの時間を作業者が把握可能とする。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】第１の実施形態の構成例を示す図である。
【図２】第２の実施形態の構成例を示す図である。
【図３】第２の実施形態の動作を説明する図である。
【図４】第２の実施形態の動作を説明する図である。
【図５】第３の実施形態の構成例を示す図である。
【図６】第３の実施形態の動作を説明する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
［第１の実施形態］
次に、本発明の実施の形態について図１を参照して詳細に説明する。
【００１８】
図１は、本実施形態の製造装置１００の構成例である。
【００１９】
製造装置１００は、第１のコンベア１０１の上で回路基板をリフロー処理するリフロー炉１０２と、第２のコンベア１０３と、外観検査装置１０４と、制御手段１０５と、表示部１０６とを備える。第２のコンベア１０３は、前記リフロー炉１０２で処理された前記回路基板を搬送する。外観検査装置１０４は、前記第２のコンベアによって搬送された前記回路基板の外観を検査する。制御手段１０５は、前記第１のコンベア１０１の長さを前記第１のコンベア１０１の搬送速さで除して第１の時間を計算し、前記第２のコンベアの長さ１０３を前記第２のコンベア１０３の搬送速さで除して第２の時間を計算する。そして、制御手段１０５は、前記第１のコンベア１０１に前記回路基板が投入された時刻に前記第１の時間と前記第２の時間を加算した時刻から現在時刻を減じた第３の時間を計算する。表示部１０６は、前記第３の時間を表示する。
【００２０】
この様にすることで、本実施形態の製造装置１００は、次の基板が外観検査装置１０４に到着するまでの時間を作業者が把握可能となる。
【００２１】
その結果、作業者が現在行っている外観検査の終了が、次の基板の到着予想時間を超過しそうな場合に、外観検査装置の投入口での基板の滞留を防ぐ様に、作業者が事前に対処することができる。
［第２の実施形態］
次に、第２の実施形態について図２乃至図４を参照して説明する。
［構成の説明］
図２に第２の実施形態の製造装置２００の構成を示す。
【００２２】
製造装置２００は、リフロー炉２０２、第２のコンベア２０３、外観検査手段２０４、制御手段２０５、表示手段２０８によって構成される。
【００２３】
リフロー炉２０２は、一定の速さで搬送する第１のコンベア２０１の上に回路基板を載せて、所定の温度に設定された複数のエリアを通過させることによって基板を加熱して、はんだ付けを行う装置である。図２で第１のコンベア２０１は、左から右に向かって回路基板を搬送する。
【００２４】
第２のコンベア２０３は、リフロー炉２０２で処理を終えてリフロー炉２０２から排出された回路基板を搬出するための搬送装置である。第２のコンベア２０３は、図２の左から右に向かって、回路基板を一定の速さで搬送する。
【００２５】
外観検査手段２０４は、リフロー処理を終えた基板の外観を自動で検査する他に、自動検査で不良となった基板を、更に作業者が目視確認できる様に、拡大表示などの機能を備える装置である。
【００２６】
制御手段２０５は、ＣＰＵ（Central Processing Unit；中央処理装置）を含み、製造装置２００のハードウェアを制御し、ソフトウェア処理を行う。また、制御手段２０５は、キーボード（key board）などの入力手段２０６を備える。更に、制御手段２０５は記憶素子からなる情報の記憶手段である記憶手段２０７を備える。
【００２７】
表示手段２０８は、液晶画面などに情報を表示する手段である。表示手段２０８は、外観検査手段２０４、または制御手段２０５に組み込まれていてもよい。
［動作の説明］
次に、本実施形態の動作について図３と図４を参照して説明する。
【００２８】
はじめに、事前準備について、図３を参照して説明する。
【００２９】
はじめに、作業者は予め制御手段２０５の入力手段２０６を操作して、第１のコンベアの長さＬ１と搬送速さＶ１を入力する（Ｓ１０１）。
【００３０】
作業者は同様に、制御手段２０５の入力手段２０６を操作して、第２のコンベアの長さＬ２と搬送速さＶ２を入力する（Ｓ１０２）。
【００３１】
制御手段２０５は、ステップＳ１０１で入力されたＬ１とＶ１の値を基に、ｔ１＝Ｌ１／Ｖ１の式に従って時間ｔ１を計算する（Ｓ１０３）。
【００３２】
尚、時間ｔ１を第１の時間と称してもよい。
【００３３】
時間ｔ１は、第１のコンベアで回路基板が搬送されるのに掛かる時間を表す。
【００３４】
制御手段２０５は、ステップＳ１０１で入力されたＬ２とＶ２の値を基に、ｔ２＝Ｌ２／Ｖ２の式に従って時間ｔ２を計算する（Ｓ１０４）。
【００３５】
尚、時間ｔ２を第２の時間と称してもよい。
【００３６】
時間ｔ２は、第２のコンベアで回路基板が搬送されるのに掛かる時間を表す。
【００３７】
制御手段２０５は、以上の様にして求めた時間ｔ１と時間ｔ２の値を記憶手段２０７に記憶する。
【００３８】
以上が、事前準備の説明である。
【００３９】
次に、図４を参照して、製造装置２００の動作の説明をする。
【００４０】
第１のコンベア１０１に、回路基板が投入される（Ｓ２０１）。
【００４１】
リフロー炉１０２内の第１のコンベア１０１に回路基板が投入されると、リフロー炉１０２は回路基板の投入を伝える信号を制御手段２０５に発信する。制御手段２０５は、回路基板の投入を伝える信号を受信した時刻を取得して、この時刻を記憶手段２０７にＴ１として記憶する。ここで、制御手段２０５による時刻の取得は、制御手段２０５が一般的に備える時計機能により行うことができる。
【００４２】
制御手段２０５は、時刻Ｔ１と記憶手段２０７に記憶する時間ｔ１と時間ｔ２に基づいて、次式に従って時刻Ｔ２を計算する。そして、制御手段２０５は、時刻Ｔ２を記憶手段２０７に記憶する（Ｓ２０２）。
【００４３】
Ｔ２＝Ｔ１＋ｔ１＋ｔ２
ここで、計算されたＴ２は、時刻Ｔ１にリフロー炉に投入された回路基板が、リフロー炉から排出され、第２のコンベア２０３で搬送されて外観検査手段２０４に到着する時刻を示す。
【００４４】
ステップＳ２０４では、制御手段２０５は現在時刻Ｔ０を取得する（Ｓ２０３）。
【００４５】
そして、制御手段２０５は、記憶手段２０７に記憶する時刻Ｔ２と、ステップＳ２０３で取得した時刻Ｔ０に基づいて、時間ｔｎを次式によって計算する（Ｓ２０４）。
【００４６】
ｔｎ＝Ｔ２−Ｔ０
ここで計算したｔｎは、現在時刻Ｔ０における、次の回路基板が外観検査手段２０４に到着するまでの予定時間である。
【００４７】
尚、時間ｔｎを第３の時間と称してもよい。
【００４８】
制御手段２０５は、表示手段２０８にステップＳ２０４で計算した時間ｔｎを表示する（Ｓ２０５）。
【００４９】
尚、第１のコンベア２０１の投入口から外観検査手段２０４の投入口までの間に、複数の回路基板が存在すると、表示手段２０８には複数の時間ｔｎが表示される。
【００５０】
ステップＳ２０６で、制御手段２０５は、外観検査手段２０４に回路基板が投入されたかどうかを判断する（Ｓ２０６）。
【００５１】
ここで、外観検査手段２０４は、回路基板が投入されると制御手段２０５に対して、回路基板を投入したことを知らせる信号を発信する。そして、制御手段２０５は、外観検査手段２０４から回路基板を投入したことを知らせる信号を受信すると、外観検査手段２０４に回路基板が投入されたと判断する。また、制御手段２０５は、外観検査手段２０４から回路基板を投入したことをしらせる信号を受信しなければ、外観検査手段２０４に回路基板は投入されていないと判断する。
【００５２】
ステップＳ２０６で、回路基板が投入されたと判断されると（Ｓ２０６でＹ）、ステップＳ２０７にすすむ。
【００５３】
ステップＳ２０６で、回路基板が投入されていないと判断されると（Ｓ２０６でＮ）、ステップＳ２０３に戻る。
【００５４】
ステップＳ２０７で、制御手段２０５は、表示手段２０８に表示されているｔｎの内、最も小さいｔｎの表示を消去する（Ｓ２０７）。
【００５５】
以上が、製造装置２００の動作の説明である。
【００５６】
この様にすることで、本実施形態の製造装置２００は、次の基板が外観検査手段２０４に到着するまでの時間を作業者が把握可能となる。
【００５７】
その結果、作業者が現在行っている外観検査の終了が、次の基板の到着予想時間を超過しそうな場合に、外観検査手段２０４の投入口での基板の滞留を防ぐ様に、作業者が事前に対処することができる。
［第３の実施形態］
次に、第３の実施形態について図５と図６を参照して説明する。
［構成の説明］
図５は、本実施形態の製造装置３００の構成例を示す。
【００５８】
第３の実施形態の製造装置３００は、図２に示す第２の実施形態の製造装置２００と同じ構成であるが、制御手段２０５が動作の異なる制御手段３０５に置き換えられている。他の構成は第２の実施形態の製造装置２００と同じである。
［動作の説明］
次に、第３の実施形態の動作について図６を参照して説明する。
【００５９】
はじめに、事前準備については、第２の実施形態で説明した図３と同じである。尚、本実施形態の動作の説明で図３および図４を参照する際に、制御手段２０５は制御手段３０５に置き換えるものとする。
【００６０】
図６は、第３の実施形態の製造装置３００の動作を説明する図である。
【００６１】
ステップＳ３０１からステップＳ３０５までは、第２の実施形態の動作を示す図４のステップＳ２０１からステップＳ２０５までと同じである（Ｓ３０１からＳ３０５）。
【００６２】
ステップＳ３０６では、制御手段３０５は、ステップＳ３０４で計算した時間ｔｎと予め記憶手段に記憶されている時間ｔｄが、ｔｄ＞ｔｎを満足するかどうかを判断する（Ｓ３０６）。
【００６３】
ここで、時間ｔｄは、次の回路基板が時間ｔｄの後に、外観検査手段２０４に到着することを警告するための時間である。
【００６４】
ステップＳ３０６で、ｔｄ＞ｔｎであると判断されると（Ｓ３０６でＹ）、ステップＳ３０７にすすむ。
【００６５】
ステップＳ３０６で、ｔｄ＞ｔｎでないと判断されると（Ｓ３０６でＮ）、ステップＳ３０８にすすむ。
【００６６】
ステップＳ３０７で、制御手段３０５は、表示手段２０８に警告を表示する（Ｓ３０７）。
【００６７】
ステップＳ３０７の警告は、表示手段２０８への表示だけでなく、ブザーなどの手段を併用することも可能である。
【００６８】
ステップＳ３０８は、図４のステップＳ２０６と同じであり、ステップＳ３０８で外観検査手段２０４に回路基板が投入されたと判断されると（Ｓ３０８でＹ）、ステップＳ３０９にすすむ。
【００６９】
ステップＳ３０８で、外観検査手段２０４に回路基板が投入されていないと判断されると（Ｓ３０８でＮ）、ステップＳ３０３にもどる。
【００７０】
以上が、本実施形態の製造装置３００の動作の説明である。
【００７１】
上記のステップＳ３０７で、表示手段２０８に警告が表示されたことで、次の回路基板が外観検査手段２０４に近づいていることを、第１の実施形態の製造装置２００と比べて、作業者はより確実に気づくことができる。
【００７２】
従って、本実施形態の製造装置３００は、第１の実施形態の製造装置２００と比べて、作業者はより良質な検査を行うことができる。
【００７３】
尚、ステップＳ３０６で、時間ｔｎと時間ｔｄが、ｔｄ＞ｔｎを満足すると、警告が表示されていたが、次の様に時刻Ｔ３に警告を表示するとして説明しても全く同じである。
【００７４】
制御手段３０５は、現在時刻Ｔ０が、前記第１のコンベア１０１に回路基板が投入された時刻Ｔ１に時間ｔ１と時間ｔ２を加算した時刻（即ち時刻Ｔ２）から所定の時間ｔｄを減じた時刻を超えると、表示手段２０８に警告を表示する。即ち、Ｔ０＞Ｔ１＋ｔ１＋ｔ２−ｔｄを満足すると、制御手段３０５は表示手段２０８に警告を表示する。
【００７５】
また、本発明は、実施形態の機能を実現する情報処理プログラムが、システム或いは装置に直接或いは遠隔から供給される場合にも適用可能である。
【符号の説明】
【００７６】
１００  製造装置
１０１  第１のコンベア
１０２  リフロー炉
１０３  第２のコンベア
１０４  外観検査装置
１０５  制御手段
１０６  表示部
２００  製造装置
２０１  第１のコンベア
２０２  リフロー炉
２０３  第２のコンベア
２０４  外観検査手段
２０５  制御手段
２０６  入力手段
２０７  記憶手段
２０８  表示手段
３００  製造装置
３０５  制御手段
【図１】
2018157122.tif 000003
【図２】
2018157122.tif 000004
【図３】
2018157122.tif 000005
【図４】
2018157122.tif 000006
【図５】
2018157122.tif 000007
【図６】
2018157122.tif 000008