(57)【要約】【課題】周囲環境が変化しても電流の検出精度の低下を抑制することが可能な電流計測システム、及び分電盤を提供する。【解決手段】電流計測システム２は、コア５０と、コイル６０と、一次電流測定部４０と、測定電流補正部９０と、を備える。コア５０は、交流の一次電流が流れる導電部材（導電バー８４）を通すための貫通孔５００を有する。コイル６０は、コア５０に巻回される。一次電流測定部４０は、コイル６０の両端間に接続される負担抵抗１０１の両端電圧から、一次電流の測定値を求める。測定電流補正部９０は、一次電流測定部４０による一次電流の測定値を測定値の変化に応じて補正して、補正後測定値を求める。分電盤１は、この電流計測システム２を備える。【選択図】図１
2018112535.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
交流の一次電流が流れる導電部材を通すための貫通孔を有するコアと、
前記コアに巻回されるコイルと、
前記コイルの両端間に接続される負担抵抗の両端電圧から、前記一次電流の測定値を求める一次電流測定部と、
前記測定値の変化に応じて前記測定値を補正して、補正後測定値を求める測定電流補正部と、
を備える
電流計測システム。
【請求項２】
前記測定電流補正部は、
前記測定値が閾値を超えたか否かに基づいて前記コアが磁化されているか否かを判定する磁化判定部と、
前記磁化判定部で前記コアが磁化されたと判定された場合に、所定期間内における前記測定値の変化に応じて前記測定値を補正する第１補正部と、
を備える
請求項１記載の電流計測システム。
【請求項３】
前記第１補正部は、前記一次電流の半周期毎における前記測定値の極値に基づいて、前記測定値を補正する
請求項２記載の電流計測システム。
【請求項４】
前記第１補正部は、
前記一次電流の半周期毎における前記測定値の極値に基づいて、前記コア内の残留磁束密度を推定し、
推定された前記コア内の残留磁束密度に応じて前記測定値を補正する
請求項３記載の電流計測システム。
【請求項５】
前記測定電流補正部は、
前記測定値の変化に応じて前記コアの温度変化を推定する温度変化推定部と、
前記温度変化推定部で推定された前記コアの温度変化に応じて前記測定値を補正する第２補正部と、
を備える
請求項１〜４の何れか一項に記載の電流計測システム。
【請求項６】
前記導電部材の周囲温度を測定する温度センサを更に備え、
前記測定電流補正部は、前記温度センサで測定された温度と前記温度変化推定部で推定された前記コアの温度変化とから、前記コアの現在温度を推定する現在温度推定部を更に備え、
前記第２補正部は、前記現在温度推定部で推定された前記コアの現在温度に応じて前記測定値を補正する
請求項５記載の電流計測システム。
【請求項７】
前記測定値が前記閾値を超えたと前記磁化判定部で判定されたときに、報知を行う通知部を、更に備える
請求項２〜４の何れか一項に記載の電流計測システム。
【請求項８】
前記コアと、前記コイルと、を複数備え、
前記複数のコイルの各々は、前記複数のコアのうちの対応するコアに巻回され、
前記一次電流測定部は、前記複数のコイル毎に、このコイルの両端間に接続される負担抵抗の両端電圧から一次電流の測定値を求め、
前記測定電流補正部は、前記複数のコイル毎に、このコイルに対して求めた測定値の変化に応じてこの測定値を補正する
請求項１〜７の何れか一項に記載の電流計測システム。
【請求項９】
請求項１〜８のいずれか１項に記載の電流計測システムと、
前記導電部材と、
前記導電部材に接続されるブレーカと、
少なくとも前記導電部材及び前記ブレーカを収納するキャビネットと、
を備える分電盤。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電流計測システム、及び分電盤に関し、特に、電流が流れる導電部材を通すための貫通孔を有するコアを備えた電流計測システム、及びこの電流計測システムを備えた分電盤に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、主幹ブレーカと、分岐ブレーカと、端子台と、をキャビネット（筐体）に収納した分電盤が提案されている（例えば特許文献１参照）。
【０００３】
特許文献１に記載された分電盤では、端子台は、１次端子と、２次端子と、１次端子と２次端子とを電気的に接続する導電ブロックと、導電ブロックに流れる電流を測定するカレントトランスとから構成される。この端子台は、１次端子が分岐ブレーカの負荷側端子に接続される、又は２次端子が主幹ブレーカの電源端子に接続される。これにより、導電ブロックに流れる電流をカレントトランスで測定することで、分岐ブレーカ又は主幹ブレーカを流れる電流が測定可能である。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１１−３６０３４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
カレントトランスでは、温度や磁界等の周囲環境の影響によって、例えば残留磁束密度等の磁心（コア）の状態が、変化する可能性がある。カレントトランスでは、コアの状態が変化すると、導電ブロック（導電部材）を流れる電流の検出精度が低下する可能性がある。
【０００６】
本発明は上記課題に鑑みてなされ、周囲環境が変化しても電流の検出精度の低下を抑制することが可能な電流計測システム、及びこれを備えた分電盤を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様に係る電流計測システムは、コアと、コイルと、一次電流測定部と、測定電流補正部と、を備える。前記コアは、交流の一次電流が流れる導電部材を通すための貫通孔を有する。前記コイルは、前記コアに巻回される。前記一次電流測定部は、前記コイルの両端間に接続される負担抵抗の両端電圧から、前記一次電流の測定値を求める。前記測定電流補正部は、前記測定値の変化に応じて前記測定値を補正して、補正後測定値を求める。
【０００８】
本発明の一態様に係る分電盤は、前記電流計測システムと、前記導電部材と、前記導電部材に接続されるブレーカと、少なくとも前記導電部材及び前記ブレーカを収納するキャビネットと、を備える。
【発明の効果】
【０００９】
本発明は、周囲環境が変化しても電流の検出精度の低下を抑制することが可能な電流計測システム、及びこれを備えた分電盤を提供できるという利点がある。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】図１は、一実施形態に係る電流計測システムの概略構成図である。
【図２】図２は、同上の電流計測システム及び分電盤の正面図である。
【図３】図３は、同上の電流計測システム及び分電盤の構成を示す概略構成図である。
【図４】図４は、同上の電流計測システムが備えるカレントトランス、及び導電部材を示す斜視図である。
【図５】図５は、カレントトランスのコアにかかる磁界とコア内に生じる磁束密度との関係を説明するためのコアのＢ−Ｈ曲線図である。
【図６】図６は、コア内に生じる磁束密度の時間変化を説明するための説明図である。
【図７】図７は、コア内の残留磁束密度と補正係数との関係を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下に説明する実施形態は、本発明の種々の実施形態の一つに過ぎない。本発明の実施形態は、下記実施形態に限定されることはなく、この実施形態以外も含み得る。また、下記の実施形態は、本発明の目的を達成できる範囲であれば、設計等に応じて種々の変更が可能である。
【００１２】
（１）実施形態
以下、本実施形態に係る電流計測システム２、及びそれを備えた分電盤１について、図１〜図７に基づいて説明する。
【００１３】
本実施形態の電流計測システム２は、需要家施設において消費電力と消費電力量との少なくとも一方を計測するための電力計測システムに用いられる。電流計測システム２は、分電盤１内の導電バー８４（後述する）を流れる電流（一次電流）を計測する。電力計測システムは、電流計測システム２で計測された一次電流と、２本の電力線８１（後述する）の線間電圧と、に基づいて、消費電力と消費電力量との少なくとも一方を求める演算を行う。ここでいう「需要家施設」は、電力の需要家の施設を意味しており、電力会社等の電気事業者から電力の供給を受ける施設だけでなく、太陽光発電設備等の自家発電設備から電力の供給を受ける施設も含む。本実施形態では、店舗や事務所等の非住宅施設を需要家施設の一例として説明する。ただし、この例に限らず、需要家施設は集合住宅や戸建て住宅、集合住宅の各住戸等であってもよい。
【００１４】
（１．１）分電盤
ここではまず、電流計測システム２を備えた分電盤１の基本構成について、図２、図３を参照して説明する。本実施形態では、交流１００〔Ｖ〕／２００〔Ｖ〕を取り出し可能な単相三線式配線の分電盤１を例に説明する。
【００１５】
分電盤１はキャビネット７０を備える。分電盤１は、主幹ブレーカ１０と、複数個（図２の例では１８個）の分岐ブレーカ（回路遮断器）２０と、３個の導電バー８４と、少なくとも１個（図２の例では３個）の電流センサ３０とを、キャビネット７０内に備えている。以下では、分電盤１が設置された状態における上下、左右、前後（図２等に矢印で示した上下、左右、前後）を上下、左右、前後として説明する。ただし、分電盤１及び電流センサ３０の取付方向は、図２の矢印で示す方向に限定されない。また、各図において、上下、左右、前後を付した矢印は、方向を示すための矢印であって実体は伴わない。
【００１６】
キャビネット７０は、前面に開口７１を有する箱状に形成されている。キャビネット７０は、正面視が（すなわち前方から見て）上下方向に長い矩形状に形成されている。キャビネット７０の底板７２の左右両側には、それぞれ、上下方向に延びるレール部材７３が設置されている。一対のレール部材７３には、第１取付板７４及び第２取付板７５が固定されている。第１取付板７４及び第２取付板７５の各々は、一対のレール部材７３間に架け渡されるように設置されている。第１取付板７４は第２取付板７５の上方に配置されている。第２取付板７５の前面には、合成樹脂製の取付ベース７６が固定されている。取付ベース７６には、分電盤１内の温度（導電部材の周囲温度）を測定するための温度センサ９９が取り付けられている。
【００１７】
主幹ブレーカ１０は、第１取付板７４の前面に取り付けられることで、キャビネット７０に収納される。複数個の分岐ブレーカ２０は、取付ベース７６に取り付けられることで、キャビネット７０に収納される。キャビネット７０は、開口７１を塞ぐ扉を備えていてもよい。
【００１８】
主幹ブレーカ１０の一次側端子１１は、３線式の電力線（幹線）８１を介して、交流電源２００（図３参照）に電気的に接続されている。主幹ブレーカ１０の二次側端子１２には、Ｌ１相、Ｌ２相、Ｎ相の３本の母線導体８２（図２及び図３参照）が電気的に接続されている。Ｌ１相、Ｌ２相、Ｎ相の母線導体８２は、３本の電力線８１の各々と一対一に電気的に接続される。３本の母線導体８２の各々は、主幹ブレーカ１０に直接接続される連結部材（ジョイントバー）８３と、連結部材８３を介して主幹ブレーカ１０に接続される上記の導電バー８４とで構成されている。
【００１９】
３本の導電バー８４の各々は、例えば銅等の導電性材料にて長尺の平板状（帯状）に形成されている。ここで、３本の導電バー８４はそれぞれＬ１相、Ｌ２相、Ｎ相に相当する。３本の導電バー８４は、各々の長手方向を上下方向と一致させ、かつ各々の厚み方向を前後方向に一致させる向きで、取付ベース７６に保持されている。３本の導電バー８４は、取付ベース７６の前方において、前後方向（各々の厚み方向）に適当な間隔を空けて並ぶように、取付ベース７６の左右方向の中央部に取り付けられている。本実施形態では、３本の導電バー８４が取付ベース７６の左右方向の中央部に取り付けられているが、導電バー８４の取付位置は上記の位置に限定されない。３本の導電バー８４は、取付ベース７６において左右方向の中央位置からずれた位置に取り付けられてもよい。
【００２０】
本実施形態では、３本の導電バー８４は、前後方向において、前方からＬ１相、Ｎ相、Ｌ２相の順に並んでいる。ここで、取付ベース７６の前方において、取付ベース７６の上下方向の両端間に亘って３本の導電バー８４が位置するように、３本の導電バー８４の各々は、取付ベース７６の上下方向の寸法よりも長く形成されている。
【００２１】
３本の連結部材８３の各々は、例えば銅等の導電性材料にて形成されている。３本の連結部材８３は、それぞれ３本の導電バー８４と主幹ブレーカ１０の二次側端子１２とを電気的に接続する。
【００２２】
複数個の分岐ブレーカ２０は、導電バー８４に接続されることにより、母線導体８２を介して主幹ブレーカ１０の二次側端子１２に電気的に接続される。各分岐ブレーカ２０は、取付ベース７６の前面のうち、導電バー８４の短手方向（左右方向）の両側（左側と右側）に設けられた取付スペースに取り付けられる。取付ベース７６の取付スペースには、複数の分岐ブレーカ２０をそれぞれ保持するための複数の取付構造が設けられている。
【００２３】
各分岐ブレーカ２０は２つの電源端子と２つの負荷端子とを備えている。各分岐ブレーカ２０の電源端子が導電バー８４に電気的に接続され、各分岐ブレーカ２０の負荷端子には分岐回路が接続される。各分岐ブレーカ２０は、３本の導電バー８４が差し込まれるスリットを、左右方向における中央側の面に有している。スリットは３本の導電バー８４に対応するように３個設けられている。各分岐ブレーカ２０の２つの電源端子は、これら３個のスリットのうち２個のスリット内に露出するように設けられている。これにより、各分岐ブレーカ２０は、取付ベース７６に取り付けられた状態で、スリットに導電バー８４が差し込まれ、電源端子が導電バー８４と電気的に接続される。
【００２４】
Ｎ相及びＬ１相に接続される１００〔Ｖ〕用の分岐ブレーカ２０には、Ｎ相の導電バー８４及びＬ１相の導電バー８４に対応する２つのスリットの各々に電源端子が設けられている。Ｎ相及びＬ２相に接続される１００〔Ｖ〕用の分岐ブレーカ２０には、Ｎ相の導電バー８４及びＬ２相の導電バー８４に対応する２つのスリットの各々に電源端子が設けられている。Ｌ１相及びＬ２相に接続される２００〔Ｖ〕用の分岐ブレーカ２０には、Ｌ１相の導電バー８４及びＬ２相の導電バー８４に対応する２つのスリットの各々に電源端子が設けられている。
【００２５】
本実施形態においては、電流センサ３０は、複数個の分岐ブレーカ２０と同様に、取付ベース７６に取り付けられる。そして、取付ベース７６が第２取付板７５の前面に取り付けられることで、電流センサ３０がキャビネット７０内に収納される。
【００２６】
（１．２）電流センサ
次に、電流計測システム２が備える電流センサ３０について、図２〜図４に基づいて説明する。
【００２７】
電流計測システム２は、少なくとも１個の電流センサ３０を備えている。図２に示すように、本実施形態では、電流計測システム２は複数個（具体的には、３個）の電流センサ３１〜３３を備えている。
【００２８】
本実施形態においては、１８個の分岐ブレーカ２０は、複数のブレーカ群Ｇ１〜Ｇ３に分かれている。具体的には、１８個の分岐ブレーカ２０は、導電バー８４の長手方向（上下方向）において６個単位でブレーカ群Ｇ１〜Ｇ３に分かれている。ブレーカ群Ｇ１〜Ｇ３のうちブレーカ群Ｇ１が主幹ブレーカ１０に最も近く、ブレーカ群Ｇ３が主幹ブレーカ１０から最も遠くなるように、ブレーカ群Ｇ１〜Ｇ３は、導電バー８４の主幹ブレーカ１０側から順に並んでいる。
【００２９】
電流センサ３１は主幹ブレーカ１０とブレーカ群Ｇ１との間に配置され、電流センサ３２はブレーカ群Ｇ１とブレーカ群Ｇ２との間に配置され、電流センサ３３はブレーカ群Ｇ２とブレーカ群Ｇ３との間に配置されている。これにより、電流センサ３１は、ブレーカ群Ｇ１〜Ｇ３に流れる電流を測定可能となる。一方、電流センサ３２は、ブレーカ群Ｇ２，Ｇ３に流れる電流を測定可能となり、電流センサ３３は、ブレーカ群Ｇ３に流れる電流を測定可能となる。
【００３０】
電流計測システム２においては、２本の母線導体８２の各々を流れる電流を１個の電流センサ３０で測定できるように、コア５０及びコイル６０を２個ずつ有した複極（２極）用の電流センサ３０が用いられる。複極用の電流センサ３０の各々は、コア５０及びコイル６０を１個ずつ有した単極用の電流センサを２つ備えている、といえる。
【００３１】
単極用の電流センサは、３本の導電バー８４のうちの１つを電流測定対象とし、電流測定対象である導電バー８４を流れる電流（一次電流）を非接触で検出する。つまり、電流センサにおける１個のコイル６０からは、導電バー８４を流れる電流に応じた電気信号が出力される。ここで、３本の導電バー８４のうち、電流センサの電流測定対象となる導電バー８４を「導電部材」と定義する。例えば、導電部材となる電流測定対象の導電バー８４は、Ｌ１相の導電バー８４である。
【００３２】
コア５０は、例えばフェライト等の磁性材料により形成されている。図４に示すように、コア５０は、１本の導電部材（導電バー８４）が通される貫通孔５００を有しており、コア５０には、貫通孔５００に通される導電バー８４を囲む閉磁路が形成される。コア５０は、例えば、上下方向に直交する断面形状が、左右方向に長い矩形枠状となるように形成されている。言い換えれば、コア５０は前後方向の寸法よりも左右方向の寸法が大きな形状に形成されている。
【００３３】
コア５０は、本実施形態では左右方向において第１コア５１と第２コア５２とに分割されている。第１コア５１は、前後方向に延びる中央片５１２と、中央片５１２の前後方向の両端部からそれぞれ右方に向けて突出する第１脚片５１３及び第２脚片５１４と、を有している。第２コア５２は、前後方向に延びる中央片５２２と、中央片５２２の前後方向の両端部からそれぞれ左方に向けて突出する第１脚片５２３及び第２脚片５２４と、を有している。
【００３４】
左右方向において、第１コア５１の第１及び第２脚片５１３，５１４の端面と、第２コア５２の第１及び第２脚片５２３，５２４の端面と、をそれぞれ互いに突き合わせることによって、第１コア５１と第２コア５２との間に貫通孔５００が形成される。貫通孔５００には電流測定対象の導電部材（導電バー８４）が通され、第１コア５１と第２コア５２とで導電部材（導電バー８４）を囲む閉磁路が形成される。
【００３５】
コア５０の少なくとも一部には、コイル６０が巻き付けられている。これにより、コイル６０の巻き数をｎとした場合、コア５０と導電部材（導電バー８４）とコイル６０とにより、巻き数比が１対ｎのトランスが構成される。すなわち、電流センサ３０は、貫通孔５００に通された導電バー８４を流れる電流に応じた電気信号をコイル６０から出力するＣＴ（Current Transformer）センサとして機能する。
【００３６】
本実施形態では、コイル６０は、第１コイル６１と第２コイル６２とを有している。第１コイル６１は第２コア５２の第１脚片５２３に巻き付けられ、第２コイル６２は第２コア５２の第２脚片５２４に巻き付けられている。第１コイル６１と第２コイル６２とは電気的に直列に接続されている。
【００３７】
ここで、コイル６０は、導電部材（導電バー８４）を流れる電流に起因して第１コイル６１に生じる誘導電流と第２コイル６２に生じる誘導電流とが加算されるように、第１コイル６１及び第２コイル６２の巻き方向及び接続関係が設定されている。つまり、導電バー８４を流れる電流（一次電流）に起因して生じる誘導電流（二次電流）の流れる向きは、コイル６０の両端間において、第１コイル６１と第２コイル６２とで同じ向きになる。具体的には、導電バー８４を流れる電流によって生じる磁束は、第１脚片５２３と第２脚片５２４とで逆向きになる。そのため、例えば、第１コイル６１の巻き終わりに第２コイル６２の巻き始めがつながるように第１コイル６１及び第２コイル６２が接続される場合には、第１コイル６１と第２コイル６２とでは、右側面視における巻き方向が逆向きになる。第１コイル６１と第２コイル６２とは、例えば電線によって電気的に接続されていてもよいし、プリント配線板等を経由して電気的に接続されていてもよい。
【００３８】
（１．３）電流計測システム
次に、電流センサ３０を用いた電流計測システム２の構成について、図１〜図３を参照して説明する。
【００３９】
電流計測システム２は、少なくとも１個の電流センサ３０（本実施形態では、３個の電流センサ３１〜３３）に加えて、計測装置１００を備えている。図３に示すように、計測装置１００には、電流センサ３１〜３３の各々が複数（４本）の電線６４を介して電気的に接続されている。また、計測装置１００は、温度センサ９９に接続されている。計測装置１００は、例えばプロセッサとメモリとを有するマイクロコンピュータを備えている。マイクロコンピュータのプロセッサがメモリに記録されたプログラムを実行することによって、計測装置１００が備える種々の機能が実現される。計測装置１００のプロセッサが実行するプログラムは、あらかじめマイクロコンピュータのメモリに記録されていてもよいし、メモリカードのような記録媒体に記録されて提供されてもよいし、電気通信回線を通して提供されてもよい。
【００４０】
図１に示すように、計測装置１００は、少なくとも一つの負担抵抗１０１と、一次電流測定部４０と、測定電流補正部９０と、を備えている。計測装置１００は、コア５０の数（コイル６０の数）と同数の負担抵抗１０１を備えている。図１では、電流計測システム２が備える６個のコア５０のうちの一つのコア５０と、このコア５０に対応する負担抵抗１０１と、を図示している。
【００４１】
図１に示すように、一次電流測定部４０は、電圧検出部４１と、二次電流算出部４２と、一次電流算出部４３と、を備えている。
【００４２】
導電バー８４に電流（一次電流）が流れると、導電バー８４の周りに、一次電流に応じた磁界が生じる。コア５０の貫通孔５００に導電バー８４が通されている状態で、導電バー８４の周りに磁界が生じると、コア５０内には、磁界に応じた磁束が生じる。コイル６０には、コア５０内に生じた磁束の時間変化に応じた電圧が生じ、この電圧によって、コイル６０には誘導電流（二次電流）が流れる。なお、二次電流は、一次電流によりコア５０内に生じる磁束とは反対向き（一次電流により生じる磁束を打ち消す向き）の磁束をコア５０内に生じさせる向きで、コイル６０を流れる。
【００４３】
導電バー８４を流れる一次電流は交流の電流であるため、一次電流により生じる磁界の大きさ及び向きは時間に応じて変化し、コア５０内の磁束も時間に応じて変化する。したがって、コア５０内に生じる磁束（一次電流により生じる磁束と二次電流により生じる磁束との和）も、時間に応じて変化する。コア５０が磁化されていないとき、コア５０内の磁界Ｈと磁束密度Ｂとの時間変化をプロットすると、原点を中心とする閉曲線（図５に、概略的に二点鎖線Ａ１で示す）となる。なお、図５において、横軸はコア５０にかかる磁界Ｈを示し、縦軸はコア５０内の磁束密度Ｂを示している。また、図５における実線の矢印は、磁界Ｈの時間変化に対する磁束密度Ｂの変化の向きを示す。図５に示すように、磁界Ｈの大きさが増加するときと減少するときとで、同じ磁界Ｈの値に対するコア５０の磁束密度Ｂの値は互いに異なる。すなわち、コア５０の磁束密度Ｂは磁界Ｈに対してヒステリシスを示す。
【００４４】
コア５０が磁化されていないときには、二次電流の大きさは一次電流の大きさに比例し、具体的には一次電流の大きさをコイル６０の巻き数ｎで割った値で与えられる。コイル６０に二次電流が流れると、負担抵抗１０１の両端間には、二次電流に比例する電圧が生じる。
【００４５】
本実施形態の一次電流測定部４０において、電圧検出部４１は、負担抵抗１０１の両端に接続されている。電圧検出部４１は、負担抵抗１０１の両端間の電圧を、検出電圧として検出する。二次電流算出部４２は、負担抵抗１０１の電気抵抗値を記憶している。二次電流算出部４２は、検出電圧を負担抵抗１０１の電気抵抗値で割った値を、二次電流の測定値として算出する。一次電流算出部４３は、コア５０に対するコイル６０の巻き数ｎを記憶している。一次電流算出部４３は、二次電流の測定値とコイル６０の巻き数ｎとの積を、一次電流の測定値として算出する。これにより、一次電流測定部４０は、コイル６０の両端間に接続されている負担抵抗１０１の両端電圧（検出電圧）から、一次電流の測定値を求めることができる。
【００４６】
上記のように、本実施形態の一次電流測定部４０は、コイル６０に流れる二次電流の測定値から、導電部材（導電バー８４）を流れる一次電流を算出している。この二次電流は、コア５０内に生じた磁束の時間変化によって生じる。しかし、コア５０の周囲環境によっては、導電部材に流れる一次電流からの磁界によらない残留磁束が、コア５０内に生じることがある。コア５０内に残留磁束が生じると、コア５０内に残留磁束がないときと比べて、コア５０内の磁束の時間変化によって生じる二次電流が変化する可能性がある。
【００４７】
例えば、導電バー８４に接続された負荷回路における負荷が短絡する等して、導電バー８４に一方向（例えば交流電源２００から負荷に向かう向き）の大電流（例えば、瞬時値が５ｋＡ程度の電流）が流れると、導電バー８４の周りにこの電流に応じた磁界が発生する。コア５０内の磁束密度Ｂは、この磁界によって増大して（図５の点線Ａ２参照）、コア５０が磁化され（磁気飽和し）、コア５０内に残留磁束が生じることになる。このときのコア５０内の磁束密度Ｂは、コア５０にかかる磁界Ｈにより生じる成分と残留磁束密度との足し合わせとなる。例えば、コア５０内の磁界Ｈと磁束密度Ｂとの時間変化をプロットすると、原点とは異なる点を中心とする閉曲線（図５に、概略的に一点鎖線Ａ３で示す）となる。
【００４８】
また、コア５０の透磁率等は、コア５０の温度の影響を受ける。したがって、例えば導電部材（導電バー８４）を流れる一次電流によって導電部材（導電バー８４）が発熱し、コア５０の温度が変化（上昇）すると、一次電流測定部４０で測定される一次電流の測定値が、実際の一次電流の大きさとは異なる可能性がある。
【００４９】
そこで、本実施形態の電流計測システム２は、測定電流補正部９０を備えている。測定電流補正部９０は、一次電流測定部４０による一次電流の測定値を測定値の変化に応じて補正して、補正後測定値を求める。すなわち、測定電流補正部９０は、一次電流の測定値の変化から推定されるコア５０の周囲環境の変化に応じて、一次電流測定部４０による一次電流の測定値を補正する。本実施形態の電流計測システム２では、測定電流補正部９０で求めた補正後測定値を、一次電流の実測値として外部に出力する。
【００５０】
以下、測定電流補正部９０について、図１を参照して説明する。
【００５１】
一次電流測定部４０は、所定の時間間隔で、一次電流の測定値を測定電流補正部９０に送信する。所定の時間間隔は、一次電流の一周期（例えば、交流電源２００が商用電源であれば、１／５０又は１／６０秒）よりも十分短い時間に設定される。測定電流補正部９０は、所定期間（一次電流測定部４０が測定値を送信する時間間隔よりも十分長い期間、例えば一次電流の一周期）内に一次電流測定部４０から取得する一次電流の測定値を用いて、一次電流の測定値を補正する。
【００５２】
本実施形態の測定電流補正部９０は、第１補正部９１と第２補正部９２とを備える。第１補正部９１は、コア５０内の残留磁束密度に応じて一次電流の測定値を補正する。第１補正部９１は、例えば、コア５０内の残留磁束密度に応じた補正係数で、一次電流の測定値を補正する。第２補正部９２は、コア５０の温度変化に応じて一次電流の測定値を補正する。第２補正部９２は、例えば、コア５０の温度変化量に応じた補正係数で、一次電流の測定値を補正する。
【００５３】
また、本実施形態の測定電流補正部９０は、磁化判定部９３と温度変化推定部９４と現在温度推定部９５とを更に備える。磁化判定部９３は、コア５０が磁化されているか否かを判定する。温度変化推定部９４は、コア５０の温度変化量を推定する。現在温度推定部９５は、温度変化推定部９４で推定されたコア５０の温度変化量と、温度センサ９９で測定された温度とをもとに、コア５０の現在温度を推定する。
【００５４】
まず、第１補正部９１及び磁化判定部９３について説明する。
【００５５】
磁化判定部９３は、一次電流測定部４０による一次電流の測定値が所定の閾値を超えたか否かに基づいて、コア５０が磁化されたか否かを判定する。上記の閾値は、一次電流測定部４０による一次電流の測定に影響する程度の残留磁束密度がコア５０内に生じる一次電流の大きさ、として設定される。上記の閾値は、例えば、一次電流の所望の検出精度、コア５０の材料及び形状、導電部材（導電バー８４）とコア５０との距離、等に応じて設定される。磁化判定部９３は、一次電流測定部４０による一次電流の測定値が上記の閾値を超えた（コア５０が磁化された）と判定すると、その旨を第１補正部９１に通知する。
【００５６】
第１補正部９１は、コア５０内の残留磁束密度に応じて、一次電流測定部４０による一次電流の測定値を補正する。第１補正部９１は、コア５０内の残留磁束密度に応じた補正係数で、一次電流測定部４０による一次電流の測定値を補正する。第１補正部９１は、磁化判定部９３で、一次電流測定部４０による一次電流の測定値が閾値を超えたと判定された場合、それ以降に一次電流測定部４０で測定された一次電流の測定値を、所定期間内における測定値の変化に応じて補正する。
【００５７】
第１補正部９１は、一次電流の半周期毎における一次電流の測定値の極値に基づいて、測定値を補正する。より詳細には、第１補正部９１は、一次電流の半周期毎における一次電流の測定値の極値に基づいて、コア５０内の残留磁束密度を求める（推定する）。第１補正部９１は、求めたコア５０内の残留磁束密度に応じて、一次電流測定部４０による一次電流の測定値を補正する。
【００５８】
例えば、第１補正部９１は、各半周期における一次電流の測定値の極値から、一次電流の一周期におけるコア５０内の磁束密度中央値を求め（推定し）、求めた磁束密度中央値に応じて一次電流の測定値を補正する。磁束密度中央値は、Ｂ−Ｈ曲線図（図５，図６参照）において、コア５０内の磁界Ｈと磁束密度Ｂとの時間変化のプロットで表される閉曲線（図５のＡ１，Ａ３参照）の、中心の座標の縦軸方向の成分に相当する。すなわち、磁束密度中央値は、コア５０の磁化の程度（偏磁状態の程度）を示している。
【００５９】
コア５０内の磁束密度Ｂは、コア５０にかかる磁界Ｈの時間変化に応じて、図５のＡ１，Ａ３等で示される閉曲線に沿って変化する。コア５０にかかる磁界Ｈは、一次電流による磁界と二次電流による磁界との和であって一次電流にほぼ比例するので、一次電流の一周期の間に、コア５０内の磁束密度Ｂは図５のＢ−Ｈ曲線図の閉曲線（例えば、Ａ３参照）を一周する。コア５０内の磁束密度Ｂの一周期は、一次電流の一周期に相当し、横軸に時間ｔ、縦軸にコア５０内の磁束密度Ｂをとると、コア５０内の磁束密度Ｂは、図６の右図の実線のように変化する。すなわち、周期的に変化するコア５０内の磁束密度Ｂの、ある周期Ｔｉ（ｉは自然数）における磁束密度Ｂは、極大値Ｂ（ｉ）ｍａｘと極小値Ｂ（ｉ）ｍｉｎとを持つ。
【００６０】
第１補正部９１は、磁束密度Ｂのある周期Ｔｉにおける、一次電流測定部４０による一次電流の測定値を補正するために、この周期Ｔｉの磁束密度中央値Ｂ０（ｉ）を求める。第１補正部９１は、磁束密度中央値Ｂ０（ｉ）を求めるために、この周期Ｔｉの直前の周期Ｔｉ−１の負の半周期におけるコア５０内の磁束密度Ｂの極値（極小値Ｂ（ｉ−１）ｍｉｎ）を求める。また、第１補正部９１は、この周期Ｔｉのうちの正の半周期におけるコア５０内の磁束密度Ｂの極値（極大値Ｂ（ｉ）ｍａｘ）と、負の半周期における磁束密度Ｂの極値（極小値Ｂ（ｉ）ｍｉｎ）と、を求める。なお、周期Ｔｉの正の半周期は、周期Ｔｉのうちでコア５０内の磁束密度Ｂが極大となる時点を含む半周期を意味する。また、周期Ｔｉの負の半周期は、コア５０内の磁束密度Ｂが極小となる時点を含む半周期を意味する。
【００６１】
ある周期Ｔｉにおける正の半周期のコア５０内の磁束密度Ｂの極値は、例えば、直前の周期Ｔｉ−１において一次電流の補正後測定値を求めるために用いた補正係数と、この周期Ｔｉのうちの正の半周期における一次電流の測定値と、から推定される。同様に、ある周期Ｔｉにおける負の半周期のコア５０内の磁束密度Ｂの極値は、直前の周期Ｔｉ−１において一次電流の補正後測定値を求めるために用いた補正係数と、この周期Ｔｉのうちの負の半周期における一次電流の測定値と、から推定される。そして、第１補正部９１は、直前の周期Ｔｉ−１の負の半周期におけるコア５０の磁束密度Ｂの極小値Ｂ（ｉ−１）ｍｉｎと、周期Ｔｉのうちの正の半周期におけるコア５０の磁束密度Ｂの極大値Ｂ（ｉ）ｍａｘと、の差（変化量：増加量ΔＢ＋（ｉ）＝｜Ｂ（ｉ）ｍａｘ−Ｂ（ｉ−１）ｍｉｎ｜）を求める。また、第１補正部９１は、周期Ｔｉのうちの正の半周期におけるコア５０の磁束密度Ｂの極大値Ｂ（ｉ）ｍａｘと、周期Ｔｉのうちの負の半周期におけるコア５０の磁束密度Ｂの極小値Ｂ（ｉ）ｍｉｎと、の差（変化量：減少量ΔＢ−（ｉ）＝｜Ｂ（ｉ）ｍｉｎ−Ｂ（ｉ）ｍａｘ｜）を求める。第１補正部９１は、増加量ΔＢ＋（ｉ）と減少量ΔＢ−（ｉ）との差と、直前の周期Ｔｉ−１に関して求めた磁束密度中央値Ｂ０（ｉ−１）と、の和を、この周期Ｔｉの磁束密度中央値Ｂ０（ｉ）として算出する。したがって、周期Ｔｉにおける磁束密度中央値Ｂ０（ｉ）は、
Ｂ０（ｉ）＝Ｂ０（ｉ−１）＋｛ΔＢ＋（ｉ）−ΔＢ−（ｉ）｝（ｉは、自然数）
で与えられる。
【００６２】
第１補正部９１は、求めた磁束密度中央値Ｂ０（ｉ）に応じて、一次電流の測定値を補正するための補正係数を決定する。
【００６３】
一例において、第１補正部９１は、磁束密度中央値Ｂ０（ｉ）と補正係数とを対応付けたテーブル（第１テーブル）を備えている。第１補正部９１は、求めた磁束密度中央値Ｂ０（ｉ）に対応する補正係数を第１テーブルから読み出し、一次電流測定部４０で測定された一次電流の測定値と読み出した補正係数との積を求めることで、補正後測定値を算出する。
【００６４】
別例において、第１補正部９１は、磁束密度中央値Ｂ０（ｉ）と補正係数とを対応付けた補正式（第１補正式）を備えている。第１補正部９１は、求めた磁束密度中央値Ｂ０（ｉ）に対応する補正係数を第１補正式から求め、一次電流測定部４０で測定された一次電流の測定値と得られた補正係数との積を求めることで、補正後測定値を算出する。
【００６５】
磁束密度中央値Ｂ０（ｉ）と補正係数との対応関係は、図７に示すように、例えば、磁束密度中央値Ｂ０（ｉ）の大きさが所定の閾値Ｂ０ｔｈ以下の範囲では、補正係数は磁束密度中央値Ｂ０（ｉ）によらずに“１”であり、測定値に対する補正は行われない。また、磁束密度中央値Ｂ０（ｉ）の大きさが閾値Ｂ０ｔｈより大きい範囲では、補正係数は、磁束密度中央値Ｂ０（ｉ）の大きさに対して線形に増加する。
【００６６】
すなわち、第１補正部９１が、コア５０の磁化の程度に応じて決まる補正係数で、一次電流測定部４０による一次電流の測定値を補正するので、電流計測システム２は、一次電流の検出精度の低下を抑制することが可能となる。
【００６７】
図１に示すように、電流計測システム２は、通知部１０２と消磁部１０３とを更に備えていることが好ましい。
【００６８】
通知部１０２は、例えば計測装置１００に設けられている。通知部１０２は、磁化判定部９３で一次電流測定部４０により一次電流の測定値が閾値を超えたと判定されたときに、報知を行う。通知部１０２は、例えばＬＥＤ（Light emitting diode）とＬＥＤを点灯させるための駆動回路とを備える。通知部１０２の駆動回路は、磁化判定部９３で一次電流の測定値が閾値を超えたと判定されると、ＬＥＤを点灯させる。或いは、通知部１０２は、スピーカと、スピーカを駆動するための駆動回路とを備えてもよい。通知部１０２の駆動回路は、磁化判定部９３で一次電流の測定値が閾値を超えたと判定されると、スピーカを動作させてスピーカから所定の音（例えば、「ピー」という音）を出力させる。
【００６９】
消磁部１０３は、例えば計測装置１００に設けられている。消磁部１０３は、例えば使用者の操作を受け付ける操作部（例えば押し釦）と、コイル６０の両端間に介在して負担抵抗１０１と直列に接続された可変抵抗と、可変抵抗を制御して可変抵抗の電気抵抗値を変化させる駆動回路と、を備える。消磁部１０３は、操作部が操作されると、可変抵抗の電気抵抗値を増加させた後に減少させる。可変抵抗の電気抵抗値が増加すると、コイル６０に流れる二次電流が小さくなるから、二次電流によりコア５０にかかる磁界も小さくなる。したがって、コア５０内の磁束密度Ｂは、二次電流によりコア５０にかかる磁界によらず、交流の一次電流による磁界の時間変化に応じて変化することになる。例えば、コア５０内の磁界Ｈと磁束密度Ｂとの時間変化をプロットすると、原点を中心とし曲線Ａ１，Ａ３を内部に含む大きな閉曲線（図５に、概略的に点線Ａ４で示す）となる。この後、可変抵抗の電気抵抗値を徐々に減少させれば、二次電流及びそれによりコア５０内に生じる磁束が徐々に大きくなり、コア５０内の残留磁束密度はゼロに近づく。これにより、コア５０を消磁することが可能となる。或いは、消磁部１０３は、コア５０の近くに設けられてコア５０の温度をキュリー温度以上に上昇させるための熱源を備えていてもよい。
【００７０】
次に、第２補正部９２、温度変化推定部９４、及び現在温度推定部９５について説明する。
【００７１】
温度変化推定部９４は、一次電流測定部４０による一次電流の測定値の変化に応じて、コア５０の温度変化量を推定する。導電部材（導電バー８４）に一次電流が流れると、流れた一次電流に応じて導電部材が発熱し、導電部材の周りに配置されたコア５０の温度も上昇する。温度変化推定部９４は、この、導電部材に流れた一次電流により生じるコア５０の温度変化量を、推定する。
【００７２】
現在温度推定部９５は、温度センサ９９で測定された温度（分電盤１の基準温度；導電部材の周囲温度）と温度変化推定部９４で推定されたコア５０の温度変化量とから、（コア５０毎に）コア５０の現在温度を推定する。そして、第２補正部９２は、現在温度推定部９５で推定されたコア５０の現在温度に応じて、一次電流測定部４０で測定された一次電流の測定値を補正する。第２補正部９２は、コア５０の現在温度に応じた補正係数で、一次電流測定部４０による一次電流の測定値を補正する。
【００７３】
一例において、第２補正部９２は、コア５０の現在温度と補正係数とを対応付けたテーブル（第２テーブル）を備えている。第２補正部９２は、現在温度推定部９５で求めたコア５０の現在温度に対応する補正係数を、第２テーブルから読み出し、一次電流測定部４０で測定された一次電流の測定値と読み出した補正係数との積を求めることで、補正後測定値を算出する。
【００７４】
別例において、第２補正部９２は、コア５０の現在温度と補正係数とを対応付けた補正式（第２補正式）を備えている。第２補正部９２は、現在温度推定部９５で求めたコア５０の現在温度に対応する補正係数を第２補正式から求め、一次電流測定部４０で測定された一次電流の測定値と得られた補正係数との積を求めることで、補正後測定値を算出する。
【００７５】
すなわち、第２補正部９２は、一次電流測定部４０による一次電流の測定値から推定されるコア５０の温度変化に応じて、測定値を補正するので、電流計側システム２は、一次電流の検出精度の低下を抑制することが可能となる。
【００７６】
上記のように、本実施形態の電流計測システム２は、一次電流測定部４０による一次電流の測定値の変化に応じて測定値を補正する測定電流補正部９０を備えている。したがって、周囲環境の変化によってコア５０の状態が変化しても、一次電流測定部４０による一次電流の測定値からコア５０の状態を推定して測定値を補正することで、電流の検出精度の低下を抑制することが可能となる。
【００７７】
なお、第２補正部９２は、磁化判定部９３でコア５０が磁化されていないと判定されている場合に、一次電流測定部４０による一次電流の測定値を補正してもよい。
【００７８】
また、図２及び図３に示すように、本実施形態の電流計測システム２は、複数の電流センサ３０（３１〜３３）を備えており、複数（６個）のコア５０及び複数（６個）のコイル６０を備えている。複数（６個）のコイル６０のうちのいくつか（３個）のコイル６０には、同一の導電部材（Ｌ１相の導電バー８４）が通されている。複数（６個）のコイル６０のうちの別のいくつか（３個）のコイル６０には、別の導電部材（Ｌ２相の導電バー８４）が通されている。複数のコイル６０の各々は、複数のコア５０のうちの対応するコア５０に巻回されている。一次電流測定部４０は、複数のコイル６０毎に、このコイル６０の両端間に接続される負担抵抗１０１の両端電圧から、導電部材（導電バー８４）に流れる一次電流の測定値を求める。また測定電流補正部９０は、複数のコイル６０毎に（個別に）、このコイル６０に対して求めた測定値の変化に応じて測定値を補正する。
【００７９】
複数（６個）のコア５０のうちのいくつか（３個）のコア５０には、同一の導電部材（例えばＬ１相の導電バー８４）が通されている。しかし、コア５０とコア５０との間の位置において、導電部材（Ｌ１相の導電バー８４）は分岐ブレーカ２０によって分岐されているので、コア５０が位置する場所によって導電部材（Ｌ１相の導電バー８４）を流れる電流は互いに異なる。本実施形態では、コイル６０毎に、一次電流の測定値を補正しているので、検出精度の低下をより抑制することが可能となる。
【００８０】
（２）変形例
以下、変形例に係る電流計測システム２について、説明する。以下では、図１〜図４に基づいて説明した実施形態を、「基本例」と呼ぶ。各変形例の電流計測システム２は、基本例の電流計測システム２に変えて、分電盤１に設けることが可能である。
【００８１】
一変形例において、第１補正部９１は、磁束密度中央値を求めなくてもよい。例えば、第１補正部９１は、一次電流の測定値の最大値のみに応じて、測定値を補正してもよい。例えば、第１補正部９１は、一次電流の測定値の最大値と補正係数とを対応付けたテーブルを備え、このテーブルに基づいて、一次電流測定部４０による一次電流の測定値を補正する。例えば、短絡電流等の大電流が導電部材（導電バー８４）に一度のみ流れるだけの場合には、この補正方法で測定値を補正しても電流の検出精度の低下を十分に抑制することが可能である。
【００８２】
一変形例において、測定電流補正部９０は、一次電流の測定値に代えて、負担抵抗１０１の両端電圧の測定値に基づいて補正を行ってもよいし、負担抵抗１０１の両端電圧から算出される二次電流の測定値に基づいて補正を行ってもよい。
【００８３】
基本例の測定電流補正部９０は、第１補正部９１と第２補正部９２との両方を備えているが、一変形例の測定電流補正部９０は第１補正部９１と第２補正部９２とのうちの一方だけを備えていてもよい。
【００８４】
基本例の第１補正部９１は、磁化判定部９３で一次電流の測定値が閾値を超えたと判定された場合に一次電流の測定値の補正を行う構成であるが、一変形例の第１補正部９１は、磁化判定部９３の判定結果によらずに（常に）一次電流の測定値の補正を行ってもよい。すなわち、磁化判定部９３は省略可能である。
【００８５】
一変形例において、第２補正部９２は、温度変化推定部９４で推定された温度変化量と補正係数とを対応付けたテーブル又は補正式を備えていてもよい。すなわち、温度センサ９９及び現在温度推定部９５は省略可能である。
【００８６】
（３）態様
以上説明したように、第１の態様に係る電流計測システム（２）は、コア（５０）と、コイル（６０）と、一次電流測定部（４０）と、測定電流補正部（９０）と、を備える。コア（５０）は、交流の一次電流が流れる導電部材（導電バー８４）を通すための貫通孔（５００）を有する。コイル（６０）は、コア（５０）に巻回される。一次電流測定部（４０）は、コイル（６０）の両端間に接続される負担抵抗（１０１）の両端電圧から、一次電流の測定値を求める。測定電流補正部（９０）は、一次電流測定部（４０）による一次電流の測定値を測定値の変化に応じて補正して、補正後測定値を求める。
【００８７】
この構成によれば、測定電流補正部（９０）が、一次電流測定部（４０）による一次電流の測定値の変化に応じて、測定値を補正する。したがって、周囲環境の変化によってコア（５０）の状態が変化しても、このコア（５０）の状態の変化を反映した補正係数で一次電流の測定値を補正することで、電流の検出精度の低下を抑制することが可能となる。
【００８８】
第２の態様の電流計測システム（２）は、第１の態様において、測定電流補正部（９０）は、磁化判定部（９３）と、第１補正部（９１）と、を備える。磁化判定部（９３）は、一次電流測定部（４０）による一次電流の測定値が閾値を超えたか否かに基づいて、コア（５０）が磁化されているか否かを判定する。第１補正部（９１）は、磁化判定部（９３）でコア（５０）が磁化されたと判定された場合に、所定期間内における測定値の変化に応じて測定値を補正する。
【００８９】
この構成によれば、短絡電流等の大電流によってコア（５０）が磁化した場合であっても、磁化判定部（９３）でこれを検知し、第１補正部（９１）で一次電流の測定値を補正することで、電流の検出精度の低下を抑制することが可能となる。
【００９０】
第３の態様の電流計測システム（２）は、第２の態様において、第１補正部（９１）は、一次電流の半周期毎における測定値の極値に基づいて、一次電流測定部（４０）による一次電流の測定値を補正する。
【００９１】
コア（５０）内の磁束密度（Ｂ）は、一次電流と同じ周期で変動する。したがって、この構成によれば、コア（５０）内の磁束密度（Ｂ）の時間変化に応じて、一次電流の測定値を補正することが可能となる。
【００９２】
第４の態様の電流計測システム（２）は、第３の態様において、第１補正部（９１）は、一次電流の半周期毎における測定値の極値に基づいて、コア（５０）内の残留磁束密度を推定する。また、第１補正部（９１）は、推定されたコア（５０）内の残留磁束密度に応じて、一次電流測定部（４０）による一次電流の測定値を補正する。
【００９３】
この構成によれば、コア（５０）内の残留磁束密度に応じて一次電流の測定値を補正するので、電流の検出精度の低下をより抑制することが可能となる。
【００９４】
第５の態様の電流計測システム（２）は、第１〜第４の何れかの態様において、測定電流補正部（９０）は、温度変化推定部（９４）と、第２補正部（９２）と、を備える。温度変化推定部（９４）は、一次電流測定部（４０）による一次電流の測定値の変化に応じて、コア（５０）の温度変化を推定する。第２補正部（９２）は、温度変化推定部（９４）で推定されたコア（５０）の温度変化に応じて、一次電流測定部（４０）による一次電流の測定値を補正する。
【００９５】
この構成によれば、コア（５０）の温度変化に応じて、一次電流の測定値を補正することが可能となる。
【００９６】
第６の態様の電流計測システム（２）は、第５の態様において、導電部材（導電バー８４）の周囲温度を測定する温度センサ（９９）を更に備える。測定電流補正部（９０）は、現在温度推定部（９５）を更に備える。現在温度推定部（９５）は、温度センサ（９９）で測定された温度と温度変化推定部（９４）で推定されたコア（５０）の温度変化とから、コア（５０）の現在温度を推定する。第２補正部（９２）は、現在温度推定部（９５）で推定されたコア（５０）の現在温度に応じて、一次電流測定部（４０）による一次電流の測定値を補正する。
【００９７】
この構成によれば、コア（５０）の温度変化から求めたコア（５０）の現在温度に応じて、一次電流の測定値を補正することが可能となる。
【００９８】
第７の態様の電流計測システム（２）は、第２〜第６の何れかの態様において、一次電流測定部（４０）による一次電流の測定値が閾値を超えたと磁化判定部（９３）で判定されたときに、報知を行う通知部（１０２）を、更に備える。
【００９９】
この構成によれば、使用者に、コア（５０）の消磁を促すことができる。
【０１００】
第８の態様の電流計測システム（２）は、第１〜第７の何れかの態様において、コア（５０）と、コイル（６０）と、を複数備える。複数のコイル（６０）の各々は、複数のコア（５０）のうちの対応するコア（５０）に巻回される。一次電流測定部（４０）は、複数のコイル（６０）毎に、このコイル（６０）の両端間に接続される負担抵抗（１０１）の両端電圧から一次電流の測定値を求める。測定電流補正部（９０）は、複数のコイル（６０）毎に、このコイル（６０）に対して求めた測定値の変化に応じてこの測定値を補正する。
【０１０１】
この構成によれば、コア（５０）毎に、一次電流の測定値を補正することが可能となる。
【０１０２】
第９の態様の分電盤（１）は、第１〜第８の何れかの態様の電流計測システム（２）と、導電部材（導電バー８４）と、ブレーカ（主幹ブレーカ１０又は分岐ブレーカ２０）と、キャビネット（７０）と、を備える。ブレーカ（主幹ブレーカ１０又は分岐ブレーカ２０）は、導電部材（導電バー８４）に接続される。キャビネット（７０）は、少なくとも導電部材（導電バー８４）及びブレーカ（主幹ブレーカ１０又は分岐ブレーカ２０）を収納する。
【０１０３】
この構成によれば、周囲環境の変化によってコア（５０）の状態が変化しても、電流の検出精度の低下を抑制することが可能となる。
【符号の説明】
【０１０４】
１  分電盤
２  電流計測システム
１０  主幹ブレーカ（ブレーカ）
２０  分岐ブレーカ（ブレーカ）
４０  一次電流測定部
５０  コア
５００  貫通孔
６０  コイル
８４  導電バー（導電部材）
９０  測定電流補正部
９１  第１補正部
９２  第２補正部
９３  磁化判定部
９４  温度変化推定部
９５  現在温度推定部
９９  温度センサ
１０１  負担抵抗
１０２  通知部
【図１】
2018112535.tif 000003
【図２】
2018112535.tif 000004
【図３】
2018112535.tif 000005
【図４】
2018112535.tif 000006
【図５】
2018112535.tif 000007
【図６】
2018112535.tif 000008
【図７】
2018112535.tif 000009