(57)【要約】【課題】残留応力が生じている箇所を特定すること。【解決手段】電極材料の検査装置８０は、電極材料１４の切断面１４ａに対してＸ線を照射するＸ線源８１と、回折Ｘ線のピーク強度（回折Ｘ線の強度）を測定するＸ線強度測定部８２と、制御装置８３と、を備える。Ｘ線源８１は、一定の照射角度でＸ線を照射している。Ｘ線強度測定部８２は、測定したピーク強度を制御装置８３に出力する。制御装置８３は、ピーク強度が閾値未満の場合、Ｘ線が照射された位置に残留応力が生じていると判定する。閾値は、残留応力が生じていない箇所に対してＸ線を照射したときの回折Ｘ線のピーク強度に許容差を加味した値である。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
活物質合剤が塗布された帯状金属箔を長手方向に切断することで得られた電極材料の切断面を検査し、残留応力が生じている箇所を特定する電極材料の検査装置であって、
前記電極材料の前記切断面に対して一定の照射角度でＸ線を照射するＸ線源と、
前記切断面における回折Ｘ線のピーク強度を測定するＸ線強度測定部と、
残留応力が生じていない箇所に前記Ｘ線が照射された場合のピーク強度よりも低く定められた閾値よりも、前記Ｘ線強度測定部によって測定されたピーク強度が低い場合、前記Ｘ線が照射された箇所には残留応力が生じていると判定する判定部と、を備える電極材料の検査装置。
【請求項２】
活物質合剤が塗布された帯状金属箔を長手方向に切断することで得られた電極材料の切断面を検査し、残留応力が生じている箇所を特定する電極材料の検査方法であって、
前記電極材料の前記切断面に対して一定の照射角度でＸ線を照射し、
前記切断面における回折Ｘ線のピーク強度を測定し、
残留応力が生じていない箇所に前記Ｘ線が照射された場合のピーク強度よりも低く定められた閾値よりも、測定されたピーク強度が低い場合、前記Ｘ線が照射された箇所には残留応力が生じていると判定する電極材料の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電極材料の検査装置、及び、電極材料の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
蓄電装置の一種である二次電池としては、リチウムイオン二次電池や、ニッケル水素二次電池などが知られている。例えば、リチウムイオン二次電池は、ケースと、ケースに収容された正極の電極及び負極の電極とを備える。各極の電極は、金属箔と、金属箔に設けられた活物質層とを備える。
【０００３】
各極の電極の製造は、長尺状の電極材料を所定の形状に切断することで行われる。電極材料を製造するときには、活物質、導電剤、溶剤及びバインダを混合した活物質合剤を長尺状の帯状金属箔の表面に塗布する。その後、スリット装置によって活物質合剤が塗布された帯状金属箔を長手方向に切断することで所定の幅の電極材料が得られる。
【０００４】
スリット装置によって帯状金属箔を切断すると、電極材料の切断面には残留応力が生じる場合がある。残留応力は、例えば、帯状金属箔の一部が塑性変形することを原因として生じる。残留応力が解放されると、帯状金属箔の変形などを招く。
【０００５】
特許文献１では、撮像装置によって切断面を撮像し、撮像した画像データに基づいてバリを検出している。バリは、帯状金属箔の一部が塑性変形したものであることから、バリの存在する箇所には残留応力が生じていることとなる。このため、バリを検出し、その位置を特定することで、残留応力が生じている箇所も特定することができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１３−１１３５８５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、電極材料の切断面に塑性変形のような形状の変化がない場合であっても、切断面に残留応力が生じている場合があり、この切断面に形状の変化がない場合には、画像データに基づいて残留応力が生じている箇所を特定することができない。
【０００８】
本発明の目的は、残留応力が生じている箇所を特定することができる電極材料の検査装置、及び、電極材料の検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決する電極材料の検査装置は、活物質合剤が塗布された帯状金属箔を長手方向に切断することで得られた電極材料の切断面を検査し、残留応力が生じている箇所を特定する電極材料の検査装置であって、前記電極材料の前記切断面に対して一定の照射角度でＸ線を照射するＸ線源と、前記切断面における回折Ｘ線のピーク強度を測定するＸ線強度測定部と、残留応力が生じていない箇所に前記Ｘ線が照射された場合のピーク強度よりも低く定められた閾値よりも、前記Ｘ線強度測定部によって測定されたピーク強度が低い場合、前記Ｘ線が照射された箇所には残留応力が生じていると判定する判定部と、を備える。
【００１０】
残留応力が生じている箇所と、残留応力が生じていない箇所では、結晶粒の格子間隔が異なる。格子間隔が異なると、回折Ｘ線にピークシフトが生じる（回折Ｘ線のピークに違いが生じる）。
【００１１】
電極材料の切断面のうち残留応力が生じていない箇所に対して、Ｘ線源から一定の照射角度でＸ線が照射されていると、Ｘ線強度測定部によって測定されるピーク強度は一定の値となる。厳密には、残留応力が生じていない箇所同士でも結晶粒の格子間隔が若干異なる場合があり、一定の値からずれたピーク強度が測定される場合もある。このため、残留応力が生じていない箇所に対してＸ線を照射したときの回折Ｘ線のピーク強度に許容差を加味した値を閾値とする。
【００１２】
電極材料の切断面のうち残留応力が生じている箇所に対してＸ線が照射されると、ピークシフトを原因として、ピーク強度に違いが生じる。判定部は、ピーク強度が閾値よりも低くなると、Ｘ線が照射されている箇所には、残留応力が生じていると判定する。これにより、切断面に形状の変化がない場合であっても、残留応力が生じている箇所を特定することができる。
【００１３】
上記課題を解決する電極材料の検査方法は、活物質合剤が塗布された帯状金属箔を長手方向に切断することで得られた電極材料の切断面を検査し、残留応力が生じている箇所を特定する電極材料の検査方法であって、前記電極材料の前記切断面に対して一定の照射角度でＸ線を照射し、前記切断面における回折Ｘ線のピーク強度を測定し、残留応力が生じていない箇所に前記Ｘ線が照射された場合のピーク強度よりも低く定められた閾値よりも、測定されたピーク強度が低い場合、前記Ｘ線が照射された箇所には残留応力が生じていると判定する。
【００１４】
これによれば、上記した電極材料の検査装置によって得られる効果と同様の効果を得ることができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、残留応力が生じている箇所を特定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】電極の斜視図。
【図２】電極材料製造装置を示す概略図。
【図３】電極材料の検査装置を示す概略図。
【図４】電極材料の検査装置を示す概略図。
【図５】Ｘ線の照射位置を示す拡大図。
【図６】残留応力が生じていない箇所の結晶粒を示す模式図。
【図７】残留応力が生じている箇所の結晶粒を示す模式図。
【図８】ピーク強度と回折角との関係を示す図。
【図９】塗工部の厚みが異なる場合の電極材料を示す拡大図。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、電極材料の検査装置、及び、電極材料の検査方法の一実施形態について説明する。
二次電池は、図示しないが、ケースと、ケースに収容された電極組立体と、を備える。電極組立体は、複数の正極の電極と、複数の負極の電極と、両者の間を絶縁するセパレータと、を備える。二次電池は、リチウムイオン電池である。
【００１８】
図１に示すように、正極及び負極の電極１１は、それぞれ集電体である矩形状の金属箔（正極はアルミニウム箔、負極は銅箔）１２と、金属箔１２の両面に設けられた活物質層１３と、を備える。電極１１は、長尺状の電極材料を所定の形状に切断することで製造される。以下、電極材料製造装置について説明する。
【００１９】
図２に示すように、電極材料１４を製造する電極材料製造装置２０は、長尺状の帯状金属箔１５を供給する供給装置３１と、帯状金属箔１５に活物質合剤１６を塗布して、活物質合剤１６の層である塗工部１７を形成する塗工装置４１と、塗工部１７を乾燥させる乾燥装置５１と、を備える。
【００２０】
電極材料製造装置２０は、帯状金属箔１５及び塗工部１７を切断して電極材料１４を製造するスリット装置６１と、電極材料１４を巻き取る巻取装置７１と、を備える。本実施形態の電極材料製造装置２０は、両面のうちの一方の面に塗工及び乾燥の完了した塗工部１７が既に形成された帯状金属箔１５の他方の面、つまり塗工部１７がまだ形成されていない面に同塗工部１７を形成する。なお、帯状金属箔１５としては、負極の電極材料１４の場合は銅箔、正極の電極材料１４の場合はアルミニウム箔が用いられる。活物質合剤１６としては、活物質、導電剤、バインダ、及び溶媒を混練したものが用いられる。
【００２１】
供給装置３１は、帯状金属箔１５が巻装された供給リール３２と、供給リール３２を回転可能な状態で支持する第１シャフト３３とを備える。帯状金属箔１５は、長手方向と供給リール３２の周方向とが一致する状態で供給リール３２に巻かれている。
【００２２】
巻取装置７１は、電極材料１４を巻き取る巻取リール７２と、巻取リール７２を回転可能な状態で支持する第２シャフト７３とを備える。電極材料１４は、長手方向と巻取リール７２の周方向が一致する状態で巻取リール７２に巻き取られる。第１シャフト３３及び第２シャフト７３の両方、あるいは、第２シャフト７３は、図示しないモータなどの駆動源が駆動することで回転する。これにより、供給リール３２及び巻取リール７２は回転する。帯状金属箔１５は搬送方向Ｘに搬送される。
【００２３】
塗工装置４１は、帯状金属箔１５の搬送方向Ｘにおける供給装置３１の下流に配置されている。塗工装置４１は、ペースト状の活物質合剤１６が蓄えられた貯留タンク４２を備える。塗工装置４１は、コーティングロール４３と、活物質合剤１６をコーティングロール４３の表面に付着させるコンマロール４４と、帯状金属箔１５を案内するバッキングロール４５と、を備える。
【００２４】
塗工装置４１は、コーティングロール４３の表面に付着したペースト状の活物質合剤１６を帯状金属箔１５の表面に転写させる。本実施形態では、帯状金属箔１５にペースト状の活物質合剤１６が間欠塗工され、帯状金属箔１５の長手方向に間隔を空けて複数の塗工部１７が形成される。
【００２５】
乾燥装置５１は、帯状金属箔１５の搬送方向Ｘにおける塗工装置４１の下流に配置されている。乾燥装置５１は乾燥機５２を備え、乾燥機５２は熱源からの熱により空気を加熱し、熱風を供給する。
【００２６】
スリット装置６１は、帯状金属箔１５の搬送方向Ｘにおける乾燥装置５１の下流に配置されている。スリット装置６１は、帯状金属箔１５を長手方向に切断する。図２及び図３に示すように、スリット装置６１は、帯状金属箔１５の短手方向の寸法である幅が所定の規定幅Ｈ１となるように、帯状金属箔１５の短手方向の両端部を切断する。スリット装置６１は、帯状金属箔１５の短手方向に対向して配設された一対のスリット刃６２を有している。各スリット刃６２は、帯状金属箔１５を厚み方向から挟み込む円盤状の上部スリット刃６３と、円盤状の下部スリット刃６４とを備える。上部スリット刃６３及び下部スリット刃６４による剪断作用によって、帯状金属箔１５の短手方向の端部は切断される。これにより、長尺状の電極材料１４が製造される。
【００２７】
巻取装置７１に巻き取られた電極材料１４は、その後、電極１１の形状に合わせて切断装置（例えば、ダイカット装置や、レーザ装置）によって切断される。これにより、電極１１が製造される。
【００２８】
スリット装置６１によって、帯状金属箔１５を切断すると、電極材料１４の切断面１４ａには残留応力が生じる場合がある。なお、切断面１４ａは、スリット装置６１によって帯状金属箔１５及び塗工部１７が切断されることで生じた面である。本実施形態では、電極材料１４の短手方向の両端面が切断面１４ａとなる。切断面１４ａには、バリが生じる場合もあれば、バリが生じずに残留応力だけが発生する場合もある。
【００２９】
残留応力は、二次電池の製造工程の一工程であるエージングによって、帯状金属箔１５の温度が再結晶温度に達することで解放される場合がある。また、残留応力は、二次電池の充放電による膨張と収縮や、二次電池が搭載される対象（例えば、車両）による振動によって解放される場合もある。残留応力が解放されると、帯状金属箔１５が変形し、帯状金属箔１５からの活物質層１３の剥離を招く。本実施形態では、電極材料１４を製造した後に、電極材料の検査装置８０（以下、検査装置８０）によって電極材料１４に生じた残留応力を検査している。そして、残留応力が発生している箇所については、後に廃棄する等する。
【００３０】
検査装置８０は、搬送方向Ｘにおけるスリット装置６１の下流に設けられる。本実施形態の検査装置８０は、スリット装置６１の下流であって、巻取装置７１の上流に設けられているが、スリット装置６１よりも下流であり、電極１１の形状に切断される前であれば、どのような位置に設けられていてもよい。
【００３１】
図３及び図４に示すように、検査装置８０は、１つの切断面１４ａ毎に１つずつ設けられている。本実施形態では、切断面１４ａが２つなので、検査装置８０も２つ設けられている。
【００３２】
検査装置８０は、電極材料１４の切断面１４ａに対してＸ線を照射するＸ線源８１と、切断面１４ａにおける回折Ｘ線のピーク強度（回折Ｘ線の強度）を測定するＸ線強度測定部８２と、制御装置８３と、を備える。Ｘ線強度測定部８２は、一定位置（一定角度）で回折Ｘ線を測定する。Ｘ線強度測定部８２は、測定したピーク強度を制御装置８３に出力する。Ｘ線源８１は、例えば、銅管やクロム管などのＸ線管球である。Ｘ線管球の材質と帯状金属箔１５の材質が同一の場合、Ｘ線源８１から照射されるＸ線と帯状金属箔１５からの回折Ｘ線の波長が同一となり、残留応力が生じている箇所を正確に特定することができない。例えば、銅管から照射されるＸ線は、銅箔からの回折Ｘ線と波長が同一となる。このため、帯状金属箔１５として銅箔を用いる場合、すなわち、負極の電極材料１４を製造する場合、Ｘ線管球としてクロム管を用いる。なお、帯状金属箔１５としてアルミニウム箔を用いる場合、Ｘ線管球として銅管を用いることもできるし、クロム管を用いることもできる。
【００３３】
Ｘ線源８１及びＸ線強度測定部８２は、図示しない支持装置に支持されている。Ｘ線源８１は、切断面１４ａに対し一定の照射角度で切断面１４ａにＸ線を照射する。なお、「照射角度」とは、Ｘ線源８１から照射されるＸ線と、切断面１４ａとのなす角である。電極材料１４の短手方向から見て、Ｘ線源８１は、切断面１４ａに対して、電極材料１４の長手方向にＸ線が延びるように照射している。
【００３４】
図５に示すように、Ｘ線は、電極材料１４の厚み方向の中央に向けて照射される。これにより、Ｘ線は、電極材料１４の切断面１４ａのうち、帯状金属箔１５に照射される。電極材料１４が搬送されていくことで、Ｘ線の照射位置は、電極材料１４（帯状金属箔１５）の長手方向に相対的に移動していく。すなわち、切断面１４ａは、帯状金属箔１５の長手方向に走査されていく。
【００３５】
切断面１４ａに入射したＸ線は、波長分散されることにより、以下の（１）に示すブラッグの式を満たすＸ線のみが回折する。
２ｄｓｉｎθ＝ｎλ・・・（１）
ここで、ｄは結晶粒の格子間隔（格子定数）、θは結晶粒へのＸ線の入射角、λはＸ線の波長、ｎは整数である。
【００３６】
ブラッグの式から把握できるように、Ｘ線強度測定部８２には、１次線（ｎ＝１の回折Ｘ線）だけでなく、高次線（ｎ＝２以上の回折Ｘ線）が混在して到達する。本実施形態では、説明の便宜上、１次線のみに着目して説明を行う。
【００３７】
Ｘ線強度測定部８２は、電極材料１４の切断面１４ａのうち、残留応力が生じていない箇所にＸ線が照射されたときの回折角２θに対応して配置されている。回折角２θは、帯状金属箔１５に入射したＸ線の回折が生じる角度（入射角の２倍の角度）であり、回折Ｘ線のピーク強度が最大になる角度である。
【００３８】
図６に示すように、残留応力が生じていない箇所では、帯状金属箔１５を構成する結晶粒１５ａは帯状金属箔１５の長手方向に延びた状態となっている。図７に示すように、残留応力が生じている箇所では、結晶粒１５ａが帯状金属箔１５の厚み方向に延びた状態となる。残留応力が生じている箇所と、残留応力が生じていない箇所では、結晶粒１５ａの格子間隔が異なる。ブラッグの式からも把握できるように、格子間隔が異なると、回折角２θが異なる。回折角２θが異なることで、回折Ｘ線にピークシフトが生じる。すなわち、残留応力が生じている箇所にＸ線が照射された場合と、残留応力が生じていない箇所にＸ線が照射された場合とで、回折Ｘ線の強度分布にずれが生じる。
【００３９】
図８では、切断面１４ａのうち残留応力が生じていない箇所に照射されたＸ線に対する回折Ｘ線のピークを実線で示している。また、図８では、切断面１４ａのうち残留応力が生じている箇所に照射されたＸ線に対する回折Ｘ線のピークを二点鎖線で示している。
【００４０】
前述したように、Ｘ線強度測定部８２は、電極材料１４の切断面１４ａのうち、残留応力が生じていない箇所にＸ線が照射されたときの回折角２θに対応して配置されている。回折角２θは、残留応力が生じていない箇所に照射されたＸ線に対する回折Ｘ線のピーク強度の最大値（ピークの極大）Ｐ１を検出する角度である。ピークシフトが生じている場合、ピーク強度の最大値を測定できる角度（＝回折角）は変化するため、同一角度（回折角２θ）で回折Ｘ線のピーク強度を測定したとすると、残留応力が生じている箇所ではピークの最大値よりも低い値Ｐ２が測定されることになる。したがって、Ｘ線強度測定部８２によって測定されるピーク強度から残留応力が生じているか否かを検出できる。
【００４１】
残留応力が生じていなければ、Ｘ線強度測定部８２によって測定されるピーク強度は、一定の値（ピークの極大）となる。厳密には、残留応力が生じていない箇所同士でも結晶粒１５ａの格子間隔が若干異なる場合があり、一定の値からずれたピーク強度が測定される場合もある。また、電極１１の使用に支障を来たさない僅かな残留応力であれば許容することができる場合もある。これらを考慮して、照射角度を一定として残留応力が生じていない箇所にＸ線を照射したときにＸ線強度測定部８２で測定されるピーク強度に許容差を加味した値を閾値として設定する。閾値としては、照射角度を一定として残留応力が生じていない箇所にＸ線を照射したときにＸ線強度測定部８２で測定されるピーク強度よりも低い値が定められる。
【００４２】
残留応力が生じていない箇所にＸ線が照射されていれば、回折Ｘ線のピーク強度は、閾値以上になる。残留応力が生じている箇所にＸ線が照射されていれば、回折Ｘ線のピーク強度は閾値未満になる。
【００４３】
判定部としての制御装置８３は、Ｘ線強度測定部８２によって測定されたピーク強度が閾値未満か否かを判定する。
次に、本実施形態の検査装置８０の作用について電極材料の検査方法とともに説明する。
【００４４】
Ｘ線源８１は、切断面１４ａに対してＸ線を照射する。電極材料１４が搬送されていくと、Ｘ線の照射位置は、電極材料１４の長手方向に相対的に移動していく。したがって、切断面１４ａの回折Ｘ線のピーク強度が連続的にＸ線強度測定部８２によって測定されていく。
【００４５】
切断面１４ａに残留応力が生じていない場合には、Ｘ線強度測定部８２によって測定されるピーク強度は、閾値以上となる。切断面１４ａに残留応力が生じている場合には、Ｘ線強度測定部８２によって測定されるピーク強度は、閾値未満となる。
【００４６】
制御装置８３は、Ｘ線強度測定部８２によって測定されたピーク強度を監視し、ピーク強度が閾値未満か否かを判断する。制御装置８３は、回折Ｘ線のピーク強度が閾値を下回った場合、Ｘ線が照射されている箇所に残留応力が生じていると判定する。
【００４７】
したがって、上記実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
（１）検査装置８０は、一定の照射角度で切断面１４ａに対してＸ線を照射し、回折Ｘ線のピーク強度を測定している。制御装置８３は、ピーク強度が予め定められた閾値未満の場合、Ｘ線が照射された位置に残留応力が生じていると判定する。閾値は、残留応力が生じていない箇所に対してＸ線を照射したときの回折Ｘ線のピーク強度に許容差を加味した値である。回折Ｘ線のピーク強度によって残留応力が生じている箇所を特定することで、切断面１４ａに形状の変化がない場合であっても、残留応力が生じている箇所を特定することができる。
【００４８】
（２）図９に示すように、電極材料１４を製造する際に、帯状金属箔１５の両面に塗布される塗工部１７の厚みに差が生じる場合がある。すると、Ｘ線が照射される位置が、塗工部１７と帯状金属箔１５との境目となる場合がある。Ｘ線が塗工部１７にも照射されることで、Ｘ線強度測定部８２によって測定されるピーク強度は、帯状金属箔１５にのみＸ線が照射されている場合に比べて低くなる。このため、ピーク強度を監視することで、塗工部１７の厚みに差が生じていることを検出することができる。
【００４９】
（３）Ｘ線を利用した残留応力の検出方法として、ｓｉｎ２ψ法が知られている。ｓｉｎ２ψ法により残留応力の検出を行う場合、複数の照射角度でＸ線を照射する必要がある。このため、ｓｉｎ２ψ法で残留応力を検出する場合、照射角度を変更するための時間が必要になり、残留応力の検出に時間を要する。これに対して、本実施形態のように一定の照射角度でＸ線を照射することで、残留応力の検出に要する時間を短くすることができる。
【００５０】
なお、実施形態は、以下のように変更してもよい。
○Ｘ線源８１は、切断面１４ａに対して、どのような方向から照射されてもよい。例えば、電極材料１４の短手方向から見て、Ｘ線源８１は、切断面１４ａに対して、電極材料１４の厚み方向にＸ線が延びるように照射してもよい。また、異なる方向からＸ線を照射するＸ線源８１を複数設けて、複数の検出結果から残留応力が生じている箇所を特定してもよい。
【００５１】
○電極材料１４は、塗工部１７が帯状金属箔１５の長手方向の全体に亘って設けられたものでもよい。
○電極材料１４を停止させた状態で、検査装置８０を移動させることで、Ｘ線の照射位置を変更してもよい。
【００５２】
○複数の検査装置８０を設ける場合、制御装置は検査装置８０毎に個別に設けることなく、１つのみ設けてもよい。すなわち、１つの制御装置が複数の検査装置８０で兼用されてもよい。
【００５３】
○制御装置８３は、検査装置８０専用で設けなくてもよく、電極材料製造装置２０を制御する図示しない制御装置と兼用してもよい。
○帯状金属箔１５の短手方向の中央から電極材料１４を切断した場合は、切断面１４ａは１つのみとなる。この場合、検査装置８０は１つ設けられる。
【００５４】
○スリット装置６１は、帯状金属箔１５を切断することができればどのような構成であってもよい。例えば、円盤状の刃と、刃の力を受けるガイドローラによって帯状金属箔１５を挟み込むような構成であってもよい。
【００５５】
○塗工装置として、ダイヘッドから活物質合剤を吐出するスロットダイを用いてもよい。
○電極材料製造装置２０は、帯状金属箔１５の一方の面にのみ塗工部１７を有する電極材料１４を製造してもよい。
【００５６】
○実施形態では、１枚の帯状金属箔１５から一つの電極材料を得たが、１枚の帯状金属箔１５に長手方向に延びる塗工部１７を短手方向に間隔を空けて複数設けるとともに、各塗工部１７の間を長手方向に切断することで複数の電極材料を得てもよい。
【００５７】
○残留応力が生じている箇所を特定した後は、どのような制御が行われてもよい。例えば、制御装置８３は、電極材料１４に残留応力が生じていると判断した場合、電極材料製造装置２０の制御装置（図示せず）にその旨を報知する。そして、電極材料製造装置２０の制御装置は、電極材料１４の搬送を停止させる。電極材料１４の搬送が停止すると、残留応力が生じていると判断した箇所に印が付けられる。印が付けられると、電極材料製造装置２０の制御装置は、電極材料１４の製造を再開する。そして、電極材料１４から電極を得た後に、印の付されている電極のみを廃棄するようにしてもよい。
【００５８】
また、残留応力が生じていると制御装置８３が判断した場合、帯状金属箔１５の搬送速度が変更されてもよい。これにより、帯状金属箔１５の切断速度が調整され、電極材料１４に残留応力が生じることを抑制することができる。
【００５９】
○電極材料１４は、ニッケル水素二次電池の電極や、キャパシタの電極に用いられるものであってもよい。
○図４では、１つの切断面１４ａ毎に１つずつの検査装置８０で残留応力が生じている箇所を特定しているが、１つの検査装置８０で複数の切断面１４ａにおける残留応力が生じている箇所を特定してもよい。この場合、例えば、検査装置８０を移動させたり、Ｘ線が照射される方向を変更することで、複数の切断面１４ａにＸ線が照射されるようにする。これにより、１つの検査装置８０で複数の切断面１４ａを検査できる。
【符号の説明】
【００６０】
１４…電極材料、１４ａ…切断面、１５…帯状金属箔、１６…活物質合剤、１７…塗工部、２０…電極材料製造装置、８０…電極材料の検査装置、８１…Ｘ線源、８２…Ｘ線強度測定部、８３…制御装置（判定部）。
【図１】
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【図２】
2018032518.tif 000004
【図３】
2018032518.tif 000005
【図４】
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【図５】
2018032518.tif 000007
【図６】
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【図７】
2018032518.tif 000009
【図８】
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【図９】
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