(57)【要約】【課題】面の反射特性を評価するのに有利な計測装置を提供する。【解決手段】計測装置は、面に対して斜めに光を照射する照射部と、前記面からの反射光の強度分布を検出する検出部と、前記強度分布に基づいて前記面の二次元のＢＲＤＦを得る処理部と、前記処理部により得られた前記ＢＲＤＦを表示する表示部と、を含み、前記検出部は、前記面からの正反射光の方向としての第１方向を含み、前記第１方向と前記面に直交する第２方向とのなす角度以上の角度を前記第１方向となす方向を含まない方向の範囲において前記強度分布を検出する。【選択図】図５
2018112532.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
計測装置であって、
面に対して斜めに光を照射する照射部と、
前記面からの反射光の強度分布を検出する検出部と、
前記強度分布に基づいて前記面の二次元のＢＲＤＦを得る処理部と、
前記処理部により得られた前記ＢＲＤＦを表示する表示部と、
を含み、
前記検出部は、前記面からの正反射光の方向としての第１方向を含み、前記第１方向と前記面に直交する第２方向とのなす角度以上の角度を前記第１方向となす方向を含まない方向の範囲において前記強度分布を検出することを特徴とする計測装置。
【請求項２】
前記範囲は、前記反射光の反射角の範囲としての０度より大きく９０度より小さい範囲に対応する範囲であることを特徴とする請求項１に記載の計測装置。
【請求項３】
前記範囲は、前記正反射光を含む入射平面と、前記正反射光を含み且つ前記入射平面に直交する平面とのそれぞれにおける範囲であることを特徴とする請求項１又は２に記載の計測装置。
【請求項４】
前記処理部は、前記ＢＲＤＦを二次元の階調分布として前記表示部に表示させることを特徴とする請求項１乃至３のうちいずれか１項に記載の計測装置。
【請求項５】
前記処理部は、予め定められた方向に前記階調分布を投影して得られる一次元の階調分布を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項４に記載の計測装置。
【請求項６】
前記処理部は、前記二次元の階調分布の積算または代表値抽出により前記投影を行うことを特徴とする請求項５に記載の計測装置。
【請求項７】
前記処理部は、前記二次元の階調分布を横切る線上の階調分布としての一次元の階調分布を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項５又は６に記載の計測装置。
【請求項８】
前記処理部は、色の変化により前記階調分布を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項４乃至７のうちいずれか１項に記載の計測装置。
【請求項９】
前記処理部は、パターンの変化により前記階調分布を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項４乃至７のうちいずれか１項に記載の計測装置。
【請求項１０】
前記処理部は、前記強度分布に基づいて前記面の鏡面光沢度、ヘイズ、ＤＯＩ、写像性のうち少なくとも１つを得、前記少なくとも１つを前記表示部に表示させることを特徴とする請求項１乃至９のうちいずれか１項に記載の計測装置。
【請求項１１】
前記照射部と前記検出部とが設けられた筐体を含み、
前記表示部は、前記筐体の外部に設けられていることを特徴とする請求項１乃至１０のうちいずれか１項に記載の計測装置。
【請求項１２】
面に対して斜めに光を照射して得られた前記面からの反射光の強度分布の情報を処理する情報処理装置であって、
前記情報に基づいて前記面の二次元のＢＲＤＦを得る第１処理部と、
前記ＢＲＤＦを二次元の階調分布として表示部に表示させる第２処理部と、
を含み、
前記強度分布は、前記面からの正反射光の方向としての第１方向を含み、かつ前記第１方向と前記面に直交する第２方向とのなす角度以上の角度を前記第１方向となす方向を含まない方向の範囲において得られたものであることを特徴とする情報処理装置。
【請求項１３】
面に対して斜めに光を照射して得られた前記面からの反射光の強度分布の情報を処理する情報処理方法であって、
前記情報に基づいて前記面の二次元のＢＲＤＦを得る第１工程と、
前記ＢＲＤＦを二次元の階調分布として表示部に表示させる第２工程と、
を含み、
前記強度分布は、前記面からの正反射光の方向としての第１方向を含み、かつ前記第１方向と前記面に直交する第２方向とのなす角度以上の角度を前記第１方向となす方向を含まない方向の範囲において得られたものであることを特徴とする情報処理方法。
【請求項１４】
請求項１３に記載の情報処理方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項１５】
計測装置であって、
面に対して斜めに光を照射する照射部と、
前記面からの反射光の強度分布を検出する検出部と、
前記強度分布に基づいて前記面の二次元のＢＲＤＦを得、予め定められた方向に前記二次元のＢＲＤＦを投影して一次元の階調分布を得る処理部と、
前記処理部により得られた前記一次元の階調分布を表示する表示部と、
を含むことを特徴とする計測装置。
【請求項１６】
前記処理部は、前記二次元のＢＲＤＦの積算または代表値抽出により前記投影を行うことを特徴とする請求項１５に記載の計測装置。
【請求項１７】
前記処理部は、前記二次元のＢＲＤＦを横切る線上の階調分布としての一次元の階調分布を前記表示部に表示させることを特徴とする請求項１５又は１６に記載の計測装置。
【請求項１８】
面に対して斜めに光を照射して得られた前記面からの反射光の強度分布の情報を処理する情報処理装置であって、
前記情報に基づいて前記面の二次元のＢＲＤＦを得る第１処理部と、
予め定められた方向に前記二次元のＢＲＤＦを投影して得られる一次元の階調分布を表示部に表示させる第２処理部と、
を含むことを特徴とする情報処理装置。
【請求項１９】
面に対して斜めに光を照射して得られた前記面からの反射光の強度分布の情報を処理する情報処理方法であって、
前記情報に基づいて前記面の二次元のＢＲＤＦを得る第１工程と、
予め定められた方向に前記二次元のＢＲＤＦを投影して得られる一次元の階調分布を表示部に表示させる第２工程と、
を含むことを特徴とする情報処理方法。
【請求項２０】
請求項１９に記載の情報処理方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
印刷面や塗装面、製品外面などの面の評価は、当該面の複数種類の反射特性（指標値）に基づいて行われる。当該複数種類の反射特性は、ＪＩＳやＩＳＯで規定されており、例えば鏡面光沢度、ヘイズ、ＤＯＩ（Distinctness of Image）、写像性などを含みうる。特許文献１には、上記のような複数種類の反射特性を計測する計測装置が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１４−１２６４０８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
面の反射特性（反射特性を示す）指標の１つとして、双方向反射率分布関数（Bidirectional Reflectance Distribution Function、以下ＢＲＤＦ）がある。ＢＲＤＦは、面に入射した光がどのような強度分布で反射するのか（反射光の強度分布）を示す指標であり、被計測面での光の反射特性を評価または確認するのに有用である。しかし、従来は、面の反射特性に係る外観を評価するのに当該ＢＲＤＦが有効には利用されていなかった。
【０００５】
そこで、本発明は、面の反射特性を評価するのに有利な計測装置を提供することを例示的目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本発明の一側面としての計測装置は、面に対して斜めに光を照射する照射部と、前記面からの反射光の強度分布を検出する検出部と、前記強度分布に基づいて前記面の二次元のＢＲＤＦを得る処理部と、前記処理部により得られた前記ＢＲＤＦを表示する表示部と、を含み、前記検出部は、前記面からの正反射光の方向としての第１方向を含み、前記第１方向と前記面に直交する第２方向とのなす角度以上の角度を前記第１方向となす方向を含まない方向の範囲において前記強度分布を検出することを特徴とする。
【０００７】
本発明の更なる目的又はその他の側面は、以下、添付図面を参照して説明される好ましい実施形態によって明らかにされるであろう。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、例えば、面の反射特性を評価するのに有利な計測装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】計測システムの外観図である。
【図２】計測システムの構成を示すブロック図である。
【図３】計測部の構成を示す図である。
【図４】ＢＲＤＦを説明するための図である。
【図５】二次元画像を示す図である。
【図６】二次元画像を示す図である。
【図７】二次元画像と一次元画像とを示す図である。
【図８】一覧ウィンドウを示す図である。
【図９】詳細ウィンドウを示す図である。
【図１０】反射光の方向を説明するための図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施の形態について説明する。なお、各図において、同一の部材ないし要素については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。
【００１１】
［計測システムの構成］
本発明に係る計測システム１００（計測装置）の構成について、図１および図２を参照しながら説明する。図１は、計測システム１００の外観図であり、図２は、計測システム１００の構成を示すブロック図である。計測システム１００は、例えば、計測装置１０と情報処理装置１８（コンピュータ）とを含みうる。情報処理装置１８は、例えば、ＣＰＵ等を有する処理部１８ａ（第１処理部）と、メモリ等を有する記憶部１８ｂと、画像を出力する出力部１８ｃ（第２処理部）と、マウスやキーボード等を有する入力部１８ｄと、通信Ｉ／Ｆ１８ｅを含みうる。出力部１８ｃは、ＬＣＤなどの表示部１８ｆに画像を出力する（表示させる）表示制御部としての機能も有する。情報処理装置１８は、無線やケーブルにより通信Ｉ／Ｆ１８ｅを介して計測装置１０（制御部１５）と接続され、計測装置１０で計測された計測結果（反射特性）を取得しうる。
【００１２】
計測装置１０は、例えば、計測部１２、出力部１３、入力部１４（操作部）および制御部１５を含み、被計測面２０の反射特性を計測する。計測部１２は、筐体１１の内部（筐体内）に設けられており、筐体１１により外光を遮断した状態で、筐体１１の下面に設けられた開口部を介して被計測面２０の反射特性を計測する。出力部１３は、筐体の上面に設けられたＬＣＤなどの表示部１３ａに画像を出力する。即ち、出力部１３は、被計測面の反射特性などを表示部１３ａに表示させる表示制御部として機能しうる。入力部１４は、筐体１１の上面に設けられた複数のボタン１４ａを介して、ユーザからの各種設定を受け付ける。本実施形態の入力部１４は、複数のボタン１４ａを有するが、それに限られず、例えば、筐体１１の上面に設けられた表示部１３ａ（ディスプレイ）をタッチパネル式とし、当該タッチパネル式の表示部１３ａを含んでもよい。制御部１５は、例えば、ＣＰＵ等を有する処理部１５ａと、メモリ等を有する記憶部１５ｂとを含み、計測部１２、出力部１３および入力部１４を制御する。また、計測装置１０には、電源ボタン１６および通信Ｉ／Ｆ１７（ＵＳＢポート）が筐体１１（の側面）に設けられうる。
【００１３】
次に、計測部１２の構成、および計測部１２により被計測面２０の反射特性（複数種類の指標値）を計測する方法について、図３を参照しながら説明する。図３は、計測部１２の構成を示す図である。計測部１２は、被計測面２０に対して斜めに光を照射する照射部と、被計測面２０で反射された光（反射光）を検出する検出部とを含みうる。例えば、照射部は、光源１２ａ、レンズ１２ｂ、スリット１２ｃおよびレンズ１２ｄを含み、検出部は、レンズ１２ｅおよびセンサ１２ｆを含みうる。
【００１４】
光源１２ａから射出された光束は、レンズ１２ｂによりスリット１２ｃに集光される。スリット１２ｃには、光源１２ａの像がいったん結像されて矩形の２次光源となる。スリット１２ｃから射出された光束は、再び発散光束となり、レンズ１２ｄにより平行光とされて被計測面２０を照射する。被計測面２０からの反射光は、被計測面２０の反射特性による特有の反射パターンとなり、レンズ１２ｅにより集束されて、センサ１２ｆの受光面により受光される。センサ１２ｆは、例えば、ＣＣＤやＣＭＯＳなどで構成された光電変換素子が二次元的に配列されたエリアセンサを含み、センサ１２ｆの受光面に形成される反射光の強度分布は、図３の破線内に示すように、角度に応じて強度が変化する反射パターンとなる。このようにセンサ１２ｆによって検出された反射光の強度分布に基づいて被計測面２０の反射特性を示す複数種類の指標値が求められる。
【００１５】
被計測面２０の反射特性を示す指標の１つとして、双方向反射率分布関数（Bidirectional Reflectance Distribution Function、以下ＢＲＤＦ）がある。検出部により検出された反射光の強度分布に基づいてＢＲＤＦを求める１つの方法が、例えば特開２０１６−２１１９９９号公報に記載されている。制御部１５（処理部１５ａ）は、検出部により検出された反射光の強度分布のフーリエ変換からスリット情報のフーリエ変換を除算してＢＲＤＦのフーリエ変換を求める。これを逆フーリエ変換することで、被計測面２０のＢＲＤＦを求めることができる。ＢＲＤＦとは、被計測面の反射率の分布を表す関数であり、入射光の照度に対する反射光の輝度の比率を表す。より厳密には、物体表面上のある点でのＢＲＤＦは、入射および反射の双方向に依存し、照射方向からの入射光の強度に対する反射光（拡散光）の強度の比として定義される。つまり、ＢＲＤＦは、図４に示すように、被計測面上のある点に入射した光がどのような強度分布で反射するのか（反射光の強度分布）を示す指標である。
【００１６】
また、被計測面２０の反射特性を示す指標としては、ＢＲＤＦの他に、鏡面光沢度、ヘイズ、ＤＯＩ（Distinctness of Image）、写像性、反射率およびうねりなどがある。これらの指標のうちの幾つかについて説明すると、鏡面光沢度は正反射成分の光量を示し、ヘイズは正反射成分周辺の光の分布を示し、ＤＯＩおよび写像性は写り込み像のコントラストの低下を示している。鏡面光沢度、ヘイズ、ＤＯＩおよび写像性は、点像分布関数としてのＢＲＤＦではなく矩形スリットのボケ像としての強度分布に基づいて取得または生成（算出）されうる。そのため、制御部１５（処理部１５ａ）は、検出部により検出された反射光の強度分布に基づいて、テーブルを参照したり、装置情報をコンボリューションしたりすることで、それらの指標値を求めることができる。
【００１７】
ここで、被計測面２０の反射特性を計測する際に照射部により被計測面２０に照射される光の入射角θ（被計測面２０からの反射光の反射角θ’）は、ＪＩＳやＩＳＯなどに従って、反射特性の指標（規格）ごとに規定される。そのため、例えば、反射特性の指標として鏡面光沢度を計測する場合では、入射角θは、２０度、４５度、６０度、７５度および８５度のいずれかに設定される。また、反射特性の指標としてヘイズを計測する場合では、入射角θは、２０度および３０度のいずれかに設定される。反射特性の指標として写像性を計測する場合では、入射角θは、４５度および６０度のいずれかに設定される。反射特性の指標としてＤＯＩを計測する場合では、入射角θは、２０度および３０度のいずれかに設定される。計測部１２では、入射角θが互いに異なるように照射部と検出部との対が複数設けられてもよいし、入射角θを変更することができるように照射部および検出部を駆動する駆動部が設けられてもよい。
【００１８】
このように処理部１５ａによって求められた複数種類の指標値（ＢＲＤＦ、鏡面光沢度、ヘイズ、ＤＯＩ、写像性など）は、互いに対応付けられて記憶部１５ｂに記憶される。
【００１９】
ユーザは、被計測面２０に入射した光がどのような強度分布で反射するのか（反射光の強度分布）を示すＢＲＤＦを参照することにより、被計測面２０での光の反射の傾向を確認する。このとき、ユーザがＢＲＤＦの表示を一見するだけで、被計測面２０の反射の傾向を容易に且つ迅速に確認することができるように当該ＢＲＤＦを表示することが、ユーザの利便性の点で好ましい。そこで、計測システム１００は、計測部１２（検出部）で検出された反射光の強度分布に基づいて被計測面２０の二次元のＢＲＤＦを求め、求めた二次元のＢＲＤＦを表示部１３ａ（または表示部１８ｆ）に表示する。
【００２０】
ここで、計測部１２（検出部）は、被検面２０からの反射光の方向のうち、被計測面２０からの正反射光の方向としての第１方向２１を含む所定の方向の範囲において反射光の強度分布を検出する。所定の方向の範囲とは、図１０に示すように、第１方向２１と被計測面２０に直交する第２方向２２（法線方向）とのなす角度θ１以上（角度以上）の角度θ２を第１方向２１となす方向２３を含まない方向の範囲のことである。つまり、所定の方向の範囲とは、被計測面２０からの反射光の方向のうち、正反射光の方向（第１方向２１）とのなす角度θ２が角度θ１以上（正反射光の反射角以上（θ２≧θ１））となる方向２３を含まない方向の範囲である。
【００２１】
また、所定の方向の範囲は、被計測面２０からの反射光の反射角の範囲としての０度より大きく９０度より小さい範囲に対応する範囲である。つまり、所定の方向の範囲は、反射角が０度より大きく９０度より小さい反射光の方向の範囲である。更に、所定の方向の範囲は、正反射光を含む第１平面（入射平面（例えば紙面））と、正反射光を含み且つ第１平面に直交する第２平面（例えば、紙面に直交する平面）とのそれぞれにおける範囲である。つまり、所定の方向の範囲は、第１平面上および第２平面上のそれぞれにおいて規定される。
以下に、具体的な実施形態について説明する。
【００２２】
＜第１実施形態＞
本実施形態の処理部１５ａは、前述のように検出部による検出結果（反射光の強度分布）に基づいて求めたＢＲＤＦを二次元の階調分布として表した画像（以下、二次元画像）を生成する。そして、出力部１３が、処理部１５ａで生成された二次元画像を表示部１３ａに出力する（表示させる）。
【００２３】
ここで、ユーザは、正反射光近傍におけるＢＲＤＦを詳細に確認したいことが多い。したがって、処理部１５ａは、求めたＢＲＤＦのうち正反射方向に対応する箇所が二次元画像の中央部に配置されるように、当該二次元画像を生成するとよい。このとき、処理部１５ａは、反射光の反射角が０度以上９０度以下となる範囲内で二次元画像を生成するとよい。正反射光とは、被計測面に照射される光の入射角θと同じ角度の反射角θ’を有する反射光のことである（即ち、正反射光の反射角θ’は入射角θと等しい）。また、二次元画像の中央部とは、二次元画像の中心を含む領域のことである。
【００２４】
本実施形態では、計測装置１０の処理部１５ａが二次元画像を生成するが、それに限られず、情報処理装置１８の処理部１８ａが、検出部による検出結果を制御部１５（記憶部１５ｂ）から取得して二次元画像を生成してもよい。また、本実施形態では、計測装置１０の出力部１３が、表示部１３ａに二次元画像を出力するが、それに限られるものではない。例えば、出力部１３が、計測装置１０（筐体１１）の外部に設けられた表示部１８ｆに二次元画像を出力してもよいし、情報処理装置１８の出力部１８ｃが、表示部１３ａまたは表示部１８ｆに二次元画像を出力してもよい。
【００２５】
図５は、処理部１５ａにより生成されて出力部１３により表示部１３ａに表示された二次元画像３０を示す図である。図５に示す二次元画像３０は、計測部１２の照射部により被計測面２０に照射される光の入射角θを６０度としたときのＢＲＤＦを表しており、縦軸を照射角とし、横軸を方向角としている。ここで、図５に示す二次元画像３０における縦軸の「照射角」は、反射角θ’を表しており、正反射光の反射角θ’（即ち、被計測面２０への入射角θ）である６０度を基準として６０±１０度の範囲に設定されている。また、図５に示す二次元画像３０における横軸の「方向角」は、照射角（反射角θ’）が規定される方向と正反射光の光軸とに直交する方向における、正反射光に対する反射光の角度差β（図４参照）を表しており、図５では０±５度の範囲に設定されている。即ち、「照射角」および「方向角」は、正反射光の光軸にそれぞれ直交する２つの方向における角度を示しており、照射角が規定される方向と方向角が規定される方向とは互いに直交する。なお、本実施形態では、縦軸を「照射角」および横軸を「方向角」としたが、縦軸を「方向角」および横軸を「照射角」というように縦軸と横軸とを逆にしてもよい。
【００２６】
また、図５に示す二次元画像３０では、ＢＲＤＦの値の範囲が互いに異なる複数の階調レベルにより、ＢＲＤＦが二次元の階調分布として表わされている。複数の階調レベルは、色やパターン（ドットやストライプなどのパターン）などによって識別可能に表示される。具体的には、図５に示す二次元画像３０は、ＢＲＤＦの値の範囲が互いに異なる４つの階調レベルに区分けされ、パターンが互いに異なる４つの階調レベルによってＢＲＤＦを二次元の階調分布として表している。ここで、複数の階調レベルは、互いに異なるパターン以外にも、例えば、互いに異なる色によって表わされてもよいし、図６に示すように、等高線によって表わされてもよい。また、複数の階調レベルを用いずに、色やパターンの変化（グラデーション）によってＢＲＤＦを二次元の階調分布として表してもよい。
【００２７】
次に、処理部１５ａによる二次元画像の生成方法について説明する。ここでは、複数の階調レベルによってＢＲＤＦを二次元の階調分布として表した二次元画像を生成する方法について説明する。処理部１５ａは、検出部（センサ１２ｆ）による検出結果（反射光の強度分布）に基づいて求めたＢＲＤＦの最大値と最小値とを決定する。このとき、処理部１５ａは、検出部（センサ１２ｆ）による検出結果（反射光の強度分布）に基づいて求めたＢＲＤＦの値を、校正用のサンプル面を用いて得られたＢＲＤＦの最大値および最小値に基づいて正規化してもよい。即ち、校正用のサンプル面を用いて得られたＢＲＤＦの最大値を「１０」とし、最小値を「０」として正規化してもよい。
【００２８】
そして、処理部１５ａは、入力部１４を介してユーザにより設定された設定値に基づいて、ＢＲＤＦを二次元の階調分布として表した二次元画像を生成する。このとき、処理部１５ａは、ＢＲＤＦのうち正反射方向に対応する箇所が二次元画像の中央部に配置されるように、当該二次元画像を生成するとよい。例えば、正反射光の反射角θ’は、計測部１２の照射部により被計測面２０に照射される光の入射角θによって決まる。そのため、照射角の範囲と方向角の範囲とが設定されていれば、正反射方向に対応する箇所が中央部に配置されるように二次元画像を生成することができる。
【００２９】
ここで、ユーザにより設定される設定値とは、「階調レベルの数」、「各階調レベルの範囲」、「照射角の範囲（例えば±１０度）」および「方向角の範囲（例えば±５度）」などを含みうる。また、本実施形態の処理部１５ａは、求めたＢＲＤＦのうち正反射方向に対応する箇所が二次元画像の中央部に配置されるように当該二次元画像を生成した。しかしながら、それに限られず、例えば、求めたＢＲＤＦの最大値が二次元画像の中央部（好ましくは中心）に配置されるように当該二次元画像を生成してもよい。
【００３０】
上述したように、本実施形態の計測システム１００は、検出部による検出結果に基づいて求められたＢＲＤＦを二次元の階調分布として表した二次元画像を生成する。そして、生成した二次元画像を表示部１３ａ（または表示部１８ｆ）に出力する。これにより、ユーザは、当該二次元画像を一見しただけで、被計測面２０の反射の傾向を容易に且つ迅速に確認することができる。ここで、本実施形態では、ＢＲＤＦを二次元の階調分布として表した二次元画像を生成する方法について説明したが、ＢＲＤＦを三次元の階調分布として表した画像を同様の方法によって生成してもよい。また、ＢＲＤＦに限られず、検出部によって検出された反射光の強度分布を二次元の階調分布として表した画像を生成する際にも、同様の方法を用いることができる。
【００３１】
＜第２実施形態＞
第２実施形態の計測システムでは、処理部１５ａは、生成した二次元画像における二次元の階調分布に基づいて、予め定められた方向（所定方向）に当該二次元の階調分布を投影して得られる一次元の階調分布を表示部１３ａに出力する（表示させる）。当該二次元の階調分布の投影は、二次元の階調分布の積算または代表値抽出によって行われる。例えば、処理部１５ａは、生成した二次元画像に基づいて、当該二次元画像（二次元の階調分布）における所定方向の一次元分布を示す画像（以下、一次元画像）を生成し、生成した一次元画像と二次元画像とを表示部１３ａに出力する。第２実施形態の計測システムは、第１実施形態の計測システム１００と構成が同様であるため、構成についての説明を省略する。
【００３２】
図７は、二次元画像３０と一次元画像３１、３２とを示す図である。一次元画像３１、３２はそれぞれ、二次元画像（二次元の階調分布）における所定方向の最大値分布を階調分布として表した画像（第２画像）である。処理部１５ａは、二次元画像３０における各照射角についてのＢＲＤＦの最大値を求める（代表値を抽出する）ことにより、当該最大値（代表値）を横軸とし、照射角を縦軸とした最大値分布を生成する。そして、処理部１５ａは、二次元画像３０を生成する際に用いた複数の階調レベルに従って最大値分布を区分けする（階調化する）ことにより、照射角に対する最大値分布を階調分布として表した一次元画像３１を生成することができる。
【００３３】
同様に、処理部１５ａは、二次元画像３０における各方向角についてのＢＲＤＦの最大値を求めることにより、当該最大値を縦軸とし、方向角を横軸とした最大値分布を生成する。そして、処理部１５ａは、二次元画像３０を生成する際に用いた複数の階調レベルに従って最大値分布を区分けする（階調化する）ことにより、方向角に対する最大値分布を階調分布として表した一次元画像３２を生成することができる。このように処理部１５ａによって生成された一次元画像３１、３２は、二次元画像３０に隣り合うように出力部１３によって表示部１３ａに出力される。このように一次元画像を生成し、表示部１３ａに出力することにより、ユーザは、二次元画像３０の中で最も反射光の強度が高い箇所がどこなのか、およびＢＲＤＦの外形がどうなっているのかを容易に確認することができる。
【００３４】
ここで、本実施形態では、二次元画像における所定方向の最大値分布を階調分布として表した一次元画像を生成する方法について説明したが、それに限られるものではない。例えば、二次元画像におけるＢＲＤＦの最大値を求める代わりに、二次元画像におけるＢＲＤＦの積算値を求めてもよい。この場合、処理部１５ａは、二次元画像３０（二次元の階調分布）における各照射角（または各方向角）についてのＢＲＤＦの積算値を求めて積算値分布を生成する。そして、処理部１５ａは、照射角（または方向角）に対する積算値分布を階調分布として表した一次元画像を生成する。また、処理部１５ａは、最大値分布や積算値分布を階調分布として表した一次元画像の代わりに、二次元画像３０（二次元の階調分布）を横切る線上におけるＢＲＤＦの分布を階調分布として表した一次元画像を生成してもよい。例えば、処理部１５ａは、照射角が所定の角度（例えば６０度）のときのＢＲＤＦの分布を階調分布として表した一次元画像を生成してもよい。さらに、本実施形態では、二次元画像３０と一次元画像３１、３２とを出力部１３により表示部１３ａに出力したが、一次元画像３１、３２のみを出力部により表示部１３ａに出力してもよい。
【００３５】
＜第３実施形態＞
第３実施形態では、計測部１２による複数回の反射特性の計測によって得られた複数の計測結果を、情報処理装置１８において処理する方法について説明する。図８は、複数回（５回）にわたる反射特性の計測により得られた複数の計測結果の一覧が表示された表示部１８ｆの画面（一覧ウィンドウ４０）の一例を示す図である。処理部１８ａは、複数の計測結果の一覧を出力部１８ｃによって表示部１８ｆに表示する機能を有したソフトウェアを含みうる。ここで、本実施形態では、複数の計測結果を情報処理装置１８において処理する方法について説明するが、例えば、複数の計測結果を計測装置１０の制御部１５において処理する場合にも同様の方法を適用することができる。
【００３６】
処理部１８ａは、一覧ウィンドウ４０のデータ受信ボタン４１が入力部１８ｄを介してユーザにより押下されると、計測部１２による複数回の反射特性の計測により得られ且つ制御部１５の記憶部１５ｂに記憶された複数のデータを制御部１５から取得する。そして、処理部１８ａは、制御部１５から取得した複数のデータを記憶部１８ｂに記憶させる。各データは、被計測面２０の反射特性の計測結果（指標値）と、計測装置１０の制御部１５（処理部１５ａ）により得られた二次元画像３０（第２実施形態で説明した一次元画像を含んでもよい）とを含みうる。
【００３７】
次いで、処理部１８ａは、記憶部１８ｂに記憶された複数のデータに基づいて、複数の計測結果の一覧を一覧ウィンドウ４０の領域４２に出力部１８ｃによって表示する。ここで、図８に示す一覧ウィンドウ４０には、被計測面２０の反射特性の計測結果として、指標Ａ、指標Ｂおよび指標Ｃが表示されている。一覧ウィンドウ４０に表示される指標値は、鏡面光沢度、ヘイズ、ＤＯＩ、写像性、反射率およびうねりのいずれかであり、ユーザによって任意に設定されうる。また、処理部１８ａは、複数の計測結果の一覧の中から入力部１８ｄを介してユーザによって１つの計測結果が選択されると、ユーザによって選択された計測結果（図８ではＮｏ．１）を強調表示する（例えば、選択マーク４３を表示する）。
【００３８】
ここで、ユーザは、選択した計測結果についてのＢＲＤＦの二次元画像３０を確認したい場合には、選択マーク４３が表示された計測結果を、入力部１８ｄを介して更に押下する（例えばダブルクリックする）。このとき、処理部１８ａは、表示タブを切り替え、図９に示すように、ユーザにより選択された計測結果に対応付けて記憶されたＢＲＤＦの二次元画像３０（一次元画像を含んでもよい）を表示する。図９は、ＢＲＤＦの二次元画像３０が表示された表示部１８ｆの画面（詳細ウィンドウ５０）を示す図である。詳細ウィンドウ５０では、ユーザにより選択された計測結果に対応付けられたＢＲＤＦの二次元画像３０が領域５１に表示され、当該計測結果（反射特性の指標値）や計測日時の情報が領域５２に表示される。詳細ウィンドウ５０の戻るボタン５３または進むボタン５４が入力部１８ｄを介してユーザにより押下されると、処理部１８ａは、詳細ウィンドウ５０に表示したデータ（ＢＲＤＦの二次元画像、および反射特性の指標値）を、別のデータに切り替えて表示する。更に、ユーザによって画面上の一覧タブ５５が押下されると、処理部１８ａは、詳細ウィンドウ５０から一覧ウィンドウ４０に切り替えて表示する。本実施形態では、図８および図９に示すように、一覧ウィンドウ４０と詳細ウィンドウ５０とを同一のウィンドウにてタブを分けて表示しているが、それぞれ異なるウィンドウに表示してもよい。
【００３９】
＜その他の実施形態＞
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【００４０】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。
【符号の説明】
【００４１】
１０：計測装置、１１：筐体、１２：計測部、１３：表示部、１４：入力部、１５：制御部、１８：情報処理装置、１００：計測システム
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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