(57)【要約】【課題】検査用プローブ１０を小型化しつつ，検査用プローブの操作性を向上させることを目的とする。【解決手段】歯周ポケットの深さを検査する装置に用いられる検査用プローブには，出射部１０Ａと把持部１０Ｂとが含まれている。出射部１０Ａには低干渉光から分岐された測定光を，特定の方向に偏向させる結晶偏向素子および偏向させられた測定光を平行化するｆ−θレンズが含まれている。平行化された測定光Ｂ１などが出射部１０Ａの開口１６から出射し，被験者の歯茎または歯に照射される。反射光にもとづいて得られる干渉信号から歯茎または歯の光断層画像が得られ，歯周ポケットの深さが分かる。出射部１０Ａは把持部１０Ｂよりも測定光Ｂ１などの出射方向に突出しているから，把持部１０Ｂをもっても手が歯茎などに接触せずに，歯周ポケットの深さ方向に対して垂直に測定光Ｂ１などを照射できる。【選択図】図４
2018149223.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
低干渉光を測定光と参照光とに分岐する光分岐器，
上記光分岐器によって分岐された測定光を入射し，偏向後の光が特定の方向に出射されるように，入射した測定光を印加電圧に応じて偏向させて出射する結晶偏向素子，
上記結晶偏向素子から出射した測定光を平行光とする平行化素子，
上記平行化素子によって平行化された測定光が歯茎または歯に照射されることにより歯茎または歯から反射された反射光と，上記光分岐器によって分岐された参照光が参照面によって反射された反射光と，を検出して干渉信号を出力する光検出器，
上記光検出器から出力した干渉信号にもとづいて歯周ポケットの深さについてのデータを生成する歯周ポケット・データ生成手段，および
上記結晶偏向素子と上記平行化素子とを含み，上記平行化素子によって平行光とされた測定光を開口から出射する出射部の一側面から把持部が伸びており，上記把持部よりも上記出射部が上記測定光の出射方向に突出している検査用プローブ，
を備えた歯周ポケット検査装置。
【請求項２】
上記検査用プローブの上記出射部に対して，上記測定光の出射方向と反対方向に力が加えられた場合に上記検査用プローブの上記出射部が変形し，かつ，上記検査用プローブの上記出射部に加えられる力が解放された場合に，上記検査用プローブの上記出射部が変形前の形状に戻るように，上記検査用プローブの上記出射部が変形自在に構成されている，
請求項１記載の歯周ポケット検査装置。
【請求項３】
上記検査用プローブは，上記出射部の上記開口の上部および下部が幅方向の少なくとも一部分にわたって上記測定光の出射方向と反対方向に力が加えられた場合に上記検査用プローブの上記出射部が変形し，上記検査用プローブの上記出射部に加えられる力が開放された場合に変形前の形状に戻るように変形自在である，
請求項２に記載の歯周ポケット検査装置。
【請求項４】
上記上部および上記下部の少なくとも一部が，上記出射部の前面が歯茎または歯に密着可能に弾性部材により構成されている，
請求項３に記載の歯周ポケット検査装置。
【請求項５】
上記検査用プローブのピッチ角，ロール角およびヨー角のうち少なくとも１つを検出する角度センサ，
をさらに備えた請求項１から４のうち，いずれか一項に記載の歯周ポケット検査装置。
【請求項６】
上記結晶偏向素子は，上記検査用プローブの出射部から出射する測定光の振れ幅が，一度の走査において歯周ポケットの深さの測定が十分な振れ幅となるように，入射した測定光を偏向させる，
請求項１から５のうち，いずれか一項に記載の歯周ポケット検査装置。
【請求項７】
上記歯周ポケット・データ生成手段は，
上記検査用プローブの出射部から出射する測定光の振れ幅が，一度の走査において歯周ポケットの深さの測定が十分な振れ幅未満の場合に，上記検査用プローブを用いて上下の異なる位置で少なくとも２箇所測定することにより上記光検出器から出力した干渉信号にもとづいて，歯周ポケットの深さについてのデータを生成する，
請求項１から５のうち，いずれか一項に記載の歯周ポケット検査装置。
【請求項８】
上記検査用プローブの出射部から出射する測定光の振れ幅が，一度の走査において歯周ポケットの深さの測定が十分な振れ幅未満の場合に，上記検査用プローブを用いて上下の異なる位置で少なくとも２箇所測定することにより上記光検出器から出力した干渉信号にもとづいて少なくとも２つの光断層画像を生成する光断層画像生成手段をさらに備え，
上記歯周ポケット・データ生成手段は，
上記光断層画像生成手段により生成された少なくとも２つの光断層画像を合成処理することにより歯周ポケットの深さについてのデータを生成する，
請求項７に記載の歯周ポケット検査装置。
【請求項９】
上記出射部の外面において，上記出射部から出射する測定光の出射位置に対応する位置にマークが付されている，
請求項１から８のうち，いずれか一項に記載の歯周ポケット検査装置。
【請求項１０】
上記検査用プローブの開口または上記検査用プローブの出射部の前面が，正方形，円形，長手方向の辺よりも短手方向の辺の方が短い矩形，または長手方向が長径であり上下方向が短径の楕円である，
請求項１から９のうち，いずれか一項に記載の歯周ポケット検査装置。
【請求項１１】
上記把持部は，基端部および頸部を含み，
上記頸部を介して上記検査用プローブの上記出射部の一側面から上記基端部が伸びており，
上記頸部が上記出射方向と反対方向に湾曲して上記出射方向と反対方向に突出している，上記頸部よりも上記出射部が上記出射方向に突出している，上記頸部の一端部が上記出射部の一側面の後端部に固定され，上記頸部の他端部が上記頸部の一端部よりも上記出射方向に突出している，あるいは，上記頸部の上端部および下端部の少なくとも一方を欠いている，
請求項１から１０のうち，いずれか一項に記載の歯周ポケット検査装置。
【請求項１２】
上記検査用プローブは，
上記検査用プローブの上記把持部が伸びている長手方向の直線と上記結晶偏向素子による偏向前の測定光の方向の直線とが非平行である，
請求項１から１１のうち，いずれか一項に記載の歯周ポケット検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は，歯周ポケット検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
歯周病の検査の一つとして歯周ポケットの深さを測ることが行われている。歯周ポケットの深さは，歯科医師等がポケット・プローブという棒状の測定器具を歯周ポケットの中に挿入して目視で測るのが一般的である。しかしながら，歯科医師等の力の加減，ポケット・プローブの挿入角度，目視誤差などにより測定結果が必ずしも正確でないことがある。また，検査時の歯茎からの出血等で，歯周病で無い患部への歯周病感染等も懸念される。このために，光干渉断層画像診断装置を用いて歯周ポケットの深さを非侵襲で測定することが考えられている（特許文献１，２）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００９―１３１３１３号公報
【特許文献２】特開２００９―１４８３３７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
光干渉断層画像診断装置を用いて歯周ポケットの深さを測定するためには被験者の口腔内に検査用プローブを入れる必要があるために，小型化が必要である。しかしながら，特許文献１および２に記載のものは，ガルバノ・ミラーを用いているために検査用プローブ自体が大きくなってしまうことを，本発明者は認識した。また，ガルバノ・ミラーの駆動系を駆動する際に発生する振動等に起因するノイズによって，測定の正確性の担保が困難になることを，本発明者は認識した。さらに，歯周ポケットの深さを正確に測定するためには歯周ポケットの深さ方向に対して垂直に測定光を照射することが好ましいため，検査用プローブの操作性の向上も望まれていることを，本発明者は認識した。
【０００５】
この発明は，検査用プローブを小型化しつつ，検査用プローブの操作性を向上することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明による歯周ポケット検査装置は，低干渉光を測定光と参照光とに分岐する光分岐器，上記光分岐器によって分岐された測定光を入射し，偏向後の光が特定の方向（または方向側）に出射されるように，入射した測定光を印加電圧に応じて偏向させて出射する結晶偏向素子，上記結晶偏向素子から出射した測定光を平行光とする平行化素子，上記平行化素子によって平行化された測定光が歯茎または歯に照射されることにより歯茎または歯から反射された反射光と，上記光分岐器によって分岐された参照光が参照面によって反射された反射光と，を検出して干渉信号を出力する光検出器，上記光検出器から出力した干渉信号にもとづいて歯周ポケットの深さについてのデータを生成する歯周ポケット・データ生成手段，および上記結晶偏向素子と上記平行化素子とを含み，上記平行化素子によって平行光とされた測定光を開口から出射する出射部の一側面から把持部が伸びており，上記把持部よりも上記出射部が上記測定光の出射方向に突出している検査用プローブを備えていることを特徴とする。
【０００７】
上記検査用プローブの上記出射部に対して，上記測定光の出射方向と反対方向に力が加えられた場合に上記検査用プローブの上記出射部が変形し，かつ，上記検査用プローブの上記出射部に加えられる力が解放された場合に，上記検査用プローブの上記出射部が変形前の形状に戻るように，上記検査用プローブの上記出射部が変形自在に構成されていてもよい。
【０００８】
上記検査用プローブは，上記出射部の上記開口の上部および下部が幅方向の少なくとも一部分にわたって上記測定光の出射方向と反対方向に力が加えられた場合に上記検査用プローブの上記出射部が変形し，上記検査用プローブの上記出射部に加えられた力が開放された場合に上記検査用プローブの上記出射部が変形前の形状に戻るように変形自在であってもよい。
【０００９】
上記上部および上記下部の少なくとも一部が，上記出射部の前面が歯茎または歯に密着可能に弾性部材により構成されていてもよい。
【００１０】
上記検査用プローブのロール角，ピッチ角およびヨー角のうち少なくとも１つを検出する角度センサをさらに備えてもよい。
【００１１】
上記結晶偏向素子は，たとえば，上記検査用プローブの出射部から出射する測定光の振れ幅が，一度の走査において歯周ポケットの深さの測定が十分な振れ幅となるように，入射した測定光を偏向させる。
【００１２】
上記歯周ポケット・データ生成手段は，たとえば，上記検査用プローブの出射部から出射する測定光の振れ幅が，一度の走査において歯周ポケットの深さの測定が十分な振れ幅未満の場合に，上記検査用プローブを用いて上下の異なる位置で少なくとも２箇所測定することにより上記光検出器から出力した干渉信号にもとづいて，歯周ポケットの深さについてのデータを生成する。
【００１３】
上記検査用プローブの出射部から出射する測定光の振れ幅が，一度の走査において歯周ポケットの深さの測定が十分な振れ幅未満の場合に，上記検査用プローブを用いて上下の異なる位置で少なくとも２箇所測定することにより上記光検出器から出力した干渉信号にもとづいて少なくとも２つの光断層画像を生成する光断層画像生成手段をさらに備えてもよい。この場合，上記歯周ポケット・データ生成手段は，たとえば，上記光断層画像生成手段により生成された少なくとも２つの光断層画像を合成処理することにより歯周ポケットの深さについてのデータを生成する。
【００１４】
上記出射部の前面を除く外面において，上記出射部から出射する測定光の出射位置に対応する位置にマークが付されていることが好ましい。
【００１５】
上記検査用プローブの開口または上記検査用プローブの出射部の前面は，たとえば，正方形，円形，長手方向の辺よりも短手方向の辺の方が短い矩形，または長手方向が長径であり上下方向が短径の楕円である。
【００１６】
上記把持部は頸部および基端部を含み，上記頸部を介して上記検査用プローブの上記出射部の一側面から上記基端部が伸びている場合には，たとえば，上記頸部が上記出射方向と反対方向に湾曲して上記出射方向と反対方向に突出している，上記頸部よりも上記出射部が上記出射方向に突出している，上記頸部の一端部が上記出射部の一側面の後端部に固定され，上記頸部の他端部が上記頸部の一端部よりも上記出射方向に突出している，あるいは，上記頸部の上端部および下端部の少なくとも一方を欠いている。
【００１７】
上記検査用プローブは，たとえば，上記検査用プローブの上記把持部が伸びている長手方向の直線と上記結晶偏向素子による偏向前の測定光の方向の直線とが非平行である。
【発明の効果】
【００１８】
この発明によると，測定光は，結晶偏向素子によって偏向させられるから駆動部が必要なガルバノ・ミラーを用いて偏向させる場合に比べて検査用プローブを小型化できる。また，検査用プローブにおいては，把持部よりも，平行化された測定光を開口から出射する出射部が測定光の出射方向に突出しているから，歯科医師等のユーザは，把持部をもって検査用プローブを患者等の被測定者の口腔内に挿入する場合に，把持部をもつ指が被験者の歯などに接触してしまうことが未然に防止でき，検査用プローブの操作性も向上できる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】歯周ポケット検査装置の構成を示すブロック図である。
【図２】歯茎および歯に測定光が照射されている様子を示している。
【図３】測定光が偏向させられる様子を示している。
【図４】検査用プローブの斜視図である。
【図５】歯茎および歯に測定光が照射されている様子を示している。
【図６】（Ａ）から（Ｅ）は，干渉信号の一例である。
【図７】歯茎と歯の光断層画像の一例である。
【図８】結晶偏向素子により偏向させられた測定光の一例である。
【図９】歯茎および歯に測定光が照射されている様子を示している。
【図１０】(Ａ)および(Ｂ)は，干渉信号の一例である。
【図１１】（Ａ）は検査用プローブの斜視図，（Ｂ）はＸＩＢ−ＸＩＢ線から見た断面図である。
【図１２】（Ａ）は検査用プローブの斜視図，（Ｂ）はＸＩＩＢ−ＸＩＩＢ線から見た断面図である。
【図１３】（Ａ）および（Ｂ）は検査用プローブの斜視図である。
【図１４】（Ａ）はロール角を検出する様子を示し，（Ｂ）はヨー角を検出する様子を示し，（Ｃ）はピッチ角を検出する様子を示している。
【図１５】（Ａ）から（Ｄ）は，検査用プローブの斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
図１は，この発明の実施例を示すもので，歯周ポケット検査装置の構成を示すブロック図である。
【００２１】
ＳＬＤ (Super luminescent diode)などのような光源１から低干渉光(低コヒーレント光)Ｌが出射される。低干渉光 Ｌは，ビーム・スプリッタ２（光分岐器）によって測定光ＬＭと参照光ＬＲとに分岐させられる。光源１からは低干渉光Ｌが出射されればよく，ガス・レーザ，半導体レーザ，レーザ・ダイオードなどの他の光源を用いてもよい。
【００２２】
ビーム・スプリッタ２によって分岐させられた測定光ＬＭは，検査用プローブ１０に入射する。検査用プローブ１０には，結晶偏向素子１１，凹レンズ１２およびｆ-θレンズ１３（ｆ-θレンズが平行化素子に相当するが，結晶偏向素子１１の出射光を平行化できれば他の素子でもよい）が含まれている。
【００２３】
検査用プローブ１０に入射した測定光ＬＭは，結晶偏向素子１１に入射する。結晶偏向素子１１の上面には電極１１Ａが形成されており，結晶偏向素子１１の下面には電極１１Ｂが形成されている。これらの電極１１Ａおよび１１Ｂに電圧回路１５からの電圧が印加されると，結晶偏向素子１１は，偏向後の光が特定の方向に出射されるように，入射する測定光ＬＭを印加電圧に応じて偏向させて出射する(偏向後の光が特定の一方向に出射されるのではなく，偏向後の光が特定の方向側に出射されればよい)。特定の方向（または方向側）とは，偏向前の測定光の方向と直交する方向であり，図１において，左右方向をＸ軸，図面に対して垂直な方向をＹ軸，上下方向をＺ軸とすると，結晶偏向素子１１に入射する測定光ＬＭの方向はＸ軸正方向であり，結晶偏向素子１１により偏向させられる特定の方向はＸ軸−Ｚ軸平面上における任意の方向である。この実施例では，Ｚ軸正方向および負方向に偏向させられるものとする。偏向後の光が特定の方向となるとは，偏向後の光が特定の方向と平行となる方向に限らず，偏向後の光が特定の方向に少しでも偏向していればよい。たとえば，Ｘ軸正方向に進む測定光ＬＭが偏向角９０度（実際には偏向角が９０度となると偏向後の測定光ＬＭは測定対象である歯茎または歯に照射されないことがあるので，偏向角は−９０度より大きく９０度未満の間となろう）で偏向させられるとＺ軸と平行な方向に偏向するが，そのような場合に限らず，偏向角９０度未満であっても（たとえ偏向角が１度であっても）Ｘ軸よりもＺ軸が示す方向に傾くように測定光ＬＭが偏向させられればよい。
【００２４】
結晶偏向素子１１とは，結晶に電圧を印加し，入射する光を印加される電圧に応じて偏向するもので，音響光学効果によって入射する光を偏向する音響光学素子，電気光学効果によって入射する光を偏向する電気光学素子のいずれを用いることもできる。音響光学素子としては，たとえば，カルコゲナイトガラス，石英などの結晶を利用した素子があり，電気光学素子としては，たとえば，カリウム（Ｋ），タンタル（Ｔａ）およびニオブ（Ｎｂ）からなる酸化物結晶であるＫＴＮ結晶，バリウム・ボーレート結晶を利用した素子などがある。ＫＴＮ結晶による光の偏向効果は内部電界方向の偏光成分に影響を与える。したがって，結晶偏向素子１１としてＫＴＮ結晶を利用する場合，ＫＴＮ結晶に印加される電圧により生じる電界方向と，光源１から出射される低干渉光Ｌの偏光方向とが一致するように，光源１から出射する低干渉光Ｌの偏光方向およびＫＴＮ結晶に印加される電圧により生じる電界方向が規定される。この実施例では，結晶偏向素子１１としてＫＴＮ結晶が利用されているものとする。
【００２５】
結晶偏向素子１１によって偏向させられた測定光ＬＭは，凹レンズ１２に入射する。ＫＴＮ結晶自体が凸レンズの機能を有するため，凸レンズ効果が生じてしまう。この凸レンズ効果を相殺するために凹レンズ１２が設けられている。
【００２６】
凹レンズ１２を透過した測定光ＬＭはｆ-θレンズ１３（平行化素子）によって平行光とされ，測定対象である歯茎ＧＵおよび歯ＴＯに照射させられる。歯茎ＧＵおよび歯ＴＯから反射した測定光ＬＭは，検査用プローブ１０内を通り，ビーム・スプリッタ２において反射してフォトダイオード４（光検出器）に入射する。
【００２７】
また，ビーム・スプリッタ２において分岐させられた参照光ＬＲは，参照光ＬＲの進む方向およびその逆方向（図１に示す実施例においてはＺ軸正方向および負方向）に移動自在な参照用ミラー３（参照面）において反射する。反射した参照光ＬＲは，ビーム・スプリッタ２を透過してフォトダイオード４に入射する。
【００２８】
参照用ミラー３が移動させられて，測定光ＬＭが被検査対象である歯茎ＧＵおよび歯ＴＯに照射するまでの伝播距離と被検査対象である歯茎ＧＵおよび歯ＴＯからの反射光がフォトダイオード４に入射するまでの伝播距離との総和の伝播距離と，参照光ＬＲが参照用ミラー３を照射するまでの伝播距離と参照用ミラーからの反射光がフォトダイオード４に入射するまでの伝播距離との総和の伝播距離と，が等しくなると，測定光ＬＭと参照光ＬＲとの干渉が生じ，フォトダイオード４から干渉信号が出力される。
【００２９】
フォトダイオード４から出力した干渉信号は，信号処理回路５（歯周ポケット・データ生成手段）に入力し，歯茎ＧＵおよび歯ＴＯの光断層画像(断層画像)を表す信号（歯周ポケットの深さについてのデータ）が生成される。生成された光断層画像を表す信号が表示装置６に入力することにより，表示装置６の表示画面に歯茎ＧＵおよび歯ＴＯの光断層画像が表示される。光断層画像の輪郭抽出処理が信号処理回路５において行われることにより，歯茎ＧＵと歯ＴＯとの間にある歯周ポケットの深さが算出される。算出された歯周ポケットの深さも表示装置６の表示画面に表示される。光断層画像を生成し，生成された光断層画像から歯周ポケットの深さを算出しているが，光断層画像を生成することなく，歯周ポケットの深さを表す数値データ（そのような数値データも歯周ポケットの深さについてのデータと考えられる）を信号処理回路５において算出し，歯周ポケットの深さを表示装置６の表示画面に表示するようにしてもよい。
【００３０】
図２は，結晶偏向素子１１によって測定光ＬＭが偏向させられる様子を示している。図２においては，凹レンズ１２が省略されている。
【００３１】
結晶偏向素子１１に電圧回路１５によって電圧が印加されていると，結晶偏向素子１１に入射した測定光ＬＭが偏向させられる。結晶偏向素子１１における測定光ＬＭの偏向角は，結晶偏向素子１１に印加される電圧に応じて異なり，その電圧が大きいほど大きく偏向させられる。たとえば，正電圧を印加することによって測定光ＬＭは符号Ｂ１で示すようにＺ軸正方向に偏向する（測定光Ｂ１）。測定光Ｂ１が得られた場合の正電圧よりも小さな正電圧が印加されると測定光ＬＭは符号Ｂ２で示すようにＺ軸正方向に測定光Ｂ１よりも小さい偏向角で偏向する（測定光Ｂ２）。印加される電圧がなければ，測定光ＬＭは符号Ｂ３で示すように偏向しない（測定光Ｂ３）。さらに，印加される電圧を負とすることにより，測定光ＬＭは符号Ｂ５で示すようにＺ軸負方向に偏向する（測定光Ｂ５）。測定光Ｂ５が得られた場合より小さな負電圧が印加されると，測定光ＬＭは符号Ｂ４に示すように，Ｚ軸負方向に測定光Ｂ５よりも小さい偏向角で偏向する（測定光Ｂ４）。結晶偏向素子１１により偏向して得られる測定光は無数に存在するが，わかりやすくするために５つの測定光Ｂ１からＢ５が図示されているのはいうまでもない。
【００３２】
このように，結晶偏向素子１１により偏向後の測定光が，図２に示される測定光Ｂ１からＢ５のように特定方向（図２ではＺ軸正方向および負方向であり，偏向前の測定光ＬＭの方向であるＸ軸の方向と直交する方向）に偏向させられる。また，偏向前の測定光ＬＭおよび偏向後の測定光Ｂ１からＢ５がいずれも同一平面上に沿うように，結晶偏向素子１１により偏向させられるということもできる。
【００３３】
これらの測定光Ｂ１からＢ５が，結晶偏向素子１１によって偏向させられる前の測定光ＬＭと平行となるようにｆ-θレンズ１３によって平行光とされる。平行光とされた測定光Ｂ１１，Ｂ２１，Ｂ３１，Ｂ４１およびＢ５１が，検査対象である歯茎ＧＵおよび歯ＴＯに照射され(測定光Ｂ１１，Ｂ２１，Ｂ３１，Ｂ４１およびＢ５１のそれぞれの測定光が歯茎ＧＵと歯ＴＯとの両方に必ず照射されるというものではなく，照射位置によっては歯ＴＯには照射されるが歯茎ＧＵには照射されない測定光もある。たとえば，測定光Ｂ１１の照射位置には歯茎ＧＵは存在しないため，測定光Ｂ１１は歯ＴＯには照射されるが歯茎ＧＵには照射されない。)，それらの反射光にもとづいて歯周ポケットＰＰの深さΔｄが算出される。図２に示すように結晶偏向素子１１により偏向させられた測定光を符号Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４およびＢ５で示し，ｆ−θレンズ１３によって平行化された測定光を符号Ｂ１１，Ｂ２１，Ｂ３１，Ｂ４１およびＢ５１で示す。
【００３４】
図２においては，結晶偏向素子１１への印加電圧を大きくすることにより，偏向角を大きくしているが，偏向可能な角度範囲を向上するための手法の例として結晶偏向素子１１の長さ（測定光ＬＭが通る方向であるＸ軸方向の長さ）を長くすることもできる。
【００３５】
図３は，結晶偏向素子１４の変形例を示している。
【００３６】
図３に示す結晶偏向素子１４においては，測定光ＬＭの入射面側に第１の反射ミラー１４Ｃが形成されており，測定光ＬＭの出射面側に第２の反射ミラー１４Ｄが形成されている。結晶偏向素子１４の入射面（図３において左側の面）の下端部には第１の反射ミラー１４Ｃは形成されずに窓１４Ｅとなっている。結晶偏向素子１４の出射面（図３においとて右側の面）の状端部には第２の反射ミラー１４Ｄは形成されずに窓１４Ｆとなっている。
【００３７】
結晶偏向素子１１の上面および下面に形成されている電極１４Ａおよび１４Ｂに電圧が印加されると，入射面の窓１４Ｅから結晶偏向素子１４に入射した測定光ＬＭは結晶偏向素子１４内部において偏向させられ，出射面側に形成されている第２の反射ミラー１４Ｄによって反射する。第２の反射ミラー１４Ｄによって反射した測定光ＬＭは，結晶偏向素子１４内部において偏向させられ，入射面側に形成されている第１の反射ミラー１４Ｃによって反射する。このように第１の反射ミラー１４Ｃおよび第２の反射ミラー１４Ｄによる反射が繰り返されながら，偏向させられて，出射側の窓１４Ｆから出射する。結晶偏向素子１４内の伝播距離が多くなるので，偏向角が大きくなる。
【００３８】
図３に示す結晶偏向素子１４においても印加電圧を変えることにより，偏向角が変化するのはいうまでもない。
【００３９】
図４は，検査用プローブ１０を前方から見た斜視図である。
【００４０】
上述のように検査用プローブ１０には，結晶偏向素子１１，凹レンズ１２およびｆ-θレンズ１３が含まれているが，凹レンズ１２を設ける代わりに，ｆ−θレンズ１３が凹レンズ１２の機能を有しているような非球面レンズ等のレンズでもよい。すなわち，凹レンズ１２およびｆ−θレンズ１３は，結晶偏向素子１１の特性を補正するともに，平行光が得られるような構成であればよい。
【００４１】
検査用プローブ１０には，出射部１０Ａと把持部１０Ｂとが含まれている。出射部１０Ａの右側面２６（一側面）から把持部１０Ｂが伸びている。
【００４２】
出射部１０Ａの前面２１（図２を参考にして説明したように，測定光Ｂ１１からＢ５１が出射する側）には，開口１６が形成されている。開口１６には透明板１７がはめられている。開口１６は，正面（図４において前面２１側が正面とする）から見て長方形（矩形）であり，長手方向（Ｙ軸方向）の辺よりも上下方向（Ｚ軸方向）の辺の方が短い。開口１６から，偏向され，かつ平行化された測定光Ｂ１からＢ５が出射する。
【００４３】
把持部１０Ｂよりも出射部１０Ａの方が測定光Ｂ１からＢ５の出射方向（Ｘ軸正方向）に突出している。このために，歯科医師等のユーザが把持部１０Ｂを持って検査用プローブ１０を患者等の被験者の口腔内に挿入し，出射部１０Ａの前面２１を検査対象の歯茎ＧＵおよび歯ＴＯに接触しようとした場合であっても把持部１０Ｂを持ったユーザの指が検査対象の歯茎ＧＵおよび歯ＴＯに接触しにくい。出射部１０Ａの前面２１を検査対象に接触させる場合には，接触させない場合と比較して，測定光Ｂ１１，Ｂ２１，Ｂ３１，Ｂ４１およびＢ５１を歯ＴＯおよび歯茎ＧＵに対して垂直に照射されるよう出射角度（方向）を調整し易い。
【００４４】
図５は，測定光Ｂ１１，Ｂ２１，Ｂ３１，Ｂ４１およびＢ５１が検査対象である歯茎ＧＵおよび歯ＴＯに照射される様子を示すものである。図５は，図２に比べて拡大されている。
【００４５】
図５において，歯茎ＧＵおよび歯ＴＯを側面から見たものであり，図５の左側が身体の外側および内側の一方，右側が身体の外側および内側の他方に相当する。
【００４６】
上述のように歯茎ＧＵと歯ＴＯとの間に歯周ポケットＰＰが形成されている。重度の歯周病の場合，歯周ポケットＰＰの深さは６ｍｍ以上となるから，測定光Ｂ１１からＢ５１の振れ幅ΔＬ（歯周ポケットＰＰの深さ方向における測定光Ｂ１１からＢ５１の振れ幅）が６ｍｍ以上あれば，重度の歯周病の歯周ポケットＰＰかどうかが判断できる。したがって，測定光Ｂ１１からＢ５１の振れ幅ΔＬが６ｍｍ以上となるように，結晶偏向素子１１の選択および印加電圧が決定される。このように，一度の走査で歯周ポケットの深さを測定するのに十分な振れ幅があることが好ましい。
【００４７】
図６（Ａ）から図６（Ｅ）は，干渉信号の一例である。
【００４８】
図６（Ａ），図６（Ｂ），図６（Ｃ），図６（Ｄ）および図６（Ｅ）は，それぞれ測定光Ｂ１１，Ｂ２１，Ｂ３１，Ｂ４１およびＢ５１にもとづいて得られる干渉信号の一例である。
【００４９】
測定光Ｂ１１は，歯茎ＧＵが無い歯ＴＯの部分に直接照射されており（図５参照），歯ＴＯの表面からの反射光強度が高くなる。このために，図６（Ａ）に示すように，歯ＴＯの表面からの反射光にもとづいて図６（Ａ）に示すように時刻ｔ１１において干渉信号が発生する。
【００５０】
測定光Ｂ２１は，歯周ポケットＰＰの上端部を照射するから（図５参照），歯茎ＧＵの表面からの反射光強度，歯茎ＧＵと歯周ポケットＰＰとの境界からの反射光強度および歯茎ＧＵの表面からの反射光強度が高くなる。このために，図６（Ｂ）に示すように，歯茎ＧＵの表面からの反射光，歯茎ＧＵと歯周ポケットＰＰとの境界からの反射光および歯ＴＯの表面からの反射光にもとづいて図６（Ｂ）に示すように時刻ｔ２１，ｔ２２およびｔ２３において干渉信号が発生する。時刻ｔ２１から時刻ｔ２２までの時間差Δｔ２１は測定光Ｂ２１が照射される部分の歯茎ＧＵの厚さΔ２１を示し，時刻ｔ２２から時刻ｔ２３までの時間差Δｔ２２は測定光Ｂ２１が照射される部分の歯周ポケットＰＰのギャップ間距離（歯ＴＯと歯茎ＧＵとの隙間の距離）Δ２２を示している。
【００５１】
同様に，測定光Ｂ３１による歯茎ＧＵの表面からの反射光，歯茎ＧＵと歯周ポケットＰＰとの境界からの反射光および歯ＴＯの表面からの反射光にもとづいて図６（Ｃ）に示すように時刻ｔ３１，ｔ３２およびｔ３３において干渉信号が発生する。時刻ｔ３１から時刻ｔ３２までの時間差Δｔ３１は測定光Ｂ３１が照射される部分の歯茎ＧＵの厚さΔ３１を示し，時刻ｔ３２から時刻ｔ３３までの時間差Δｔ３２は測定光Ｂ３１が照射される部分の歯周ポケットＰＰのギャップ間距離Δ３２を示している。
【００５２】
同様に，測定光Ｂ４１による歯茎ＧＵの表面からの反射光，歯茎ＧＵと歯周ポケットＰＰとの境界からの反射光および歯ＴＯの表面からの反射光にもとづいて図６（Ｄ）に示すように時刻ｔ４１，ｔ４２およびｔ４３において干渉信号が発生する。時刻ｔ４１から時刻ｔ４２までの時間差Δｔ４１は測定光Ｂ４１が照射される部分の歯茎ＧＵの厚さΔ４１を示し，時刻ｔ４２から時刻ｔ４３までの時間差Δｔ４２は測定光Ｂ４１が照射される部分の歯周ポケットＰＰのギャップ間距離Δ４２を示している。
【００５３】
測定光Ｂ５１が照射される歯茎ＧＵの部分には歯周ポケットＰＰができていないから（図５参照），測定光Ｂ５による歯茎ＧＵからの反射光および歯ＴＯの表面からの反射光にもとついて，図６（Ｅ）に示すように時刻ｔ５１およびｔ５２において干渉信号が発生する。時刻ｔ５１から時刻ｔ５２までの時間差Δｔ５１は測定光Ｂ５が照射される部分の歯茎ＧＵの厚さΔ５１を示す。
【００５４】
図６（Ａ）から図６（Ｅ）の干渉信号のピーク値をプロットすることにより図７に示す歯茎ＧＵと歯ＴＯとの光断層画像が生成される。
【００５５】
図７は，歯茎ＧＵの光断層画像Ｉｇｕと歯ＴＯの光断層画像Ｉｔｏとの一例である。
【００５６】
歯茎ＧＵの光断層画像Ｉｇｕと歯ＴＯの光断層画像Ｉｔｏとは表示装置６の表示画面に表示される。歯茎ＧＵの光断層画像Ｉｇｕと歯ＴＯの光断層画像Ｉｔｏとが信号処理回路５において輪郭抽出されることにより，歯周ポケットＰＰの深さΔｄが信号処理回路５において算出される。
【００５７】
上述の実施例では，歯茎ＧＵと歯ＴＯとの光断層画像ＩｇｕとＩｔｏとを生成し，生成された光断層画像ＩｇｕとＩｔｏとの輪郭を抽出することにより歯周ポケットＰＰの深さΔｄを算出しているが，次に述べるように光断層画像ＩｇｕとＩｔｏとを生成することなく(光断層画像ＩｇｕとＩｔｏとを生成してもよい)，計算により歯周ポケットＰＰの深さΔｄを算出してもよい。
【００５８】
図８は，結晶偏向素子１１によって偏向させられた測定光ＢＢ１およびＢＢ２を示している。
【００５９】
測定光ＢＢ１およびＢＢ２は，結晶偏向素子１１による最大の偏向角を有するものとする。測定光ＢＢ１またはＢＢ２の偏向角をθとすると，偏光前の基準点ｘ０から出射方向に距離ｍだけ離れた箇所での測定光ＢＢ１とＢＢ２との振れ幅ΔＬは，ΔＬ＝２ｍ・ｔａｎθで得られる。
【００６０】
図９は，測定光ＢｔおよびＢｂが検査対象である歯茎ＧＵおよび歯ＴＯに照射される様子を示すものである。図９は，図５に対応している。
【００６１】
測定光Ｂｔは，歯周ポケットＰＰの上端に対応する位置を照射しており，測定光Ｂｂは歯周ポケットＰＰの下端に対応する位置を照射している。測定光Ｂｔが照射する位置から測定光Ｂｂが照射する位置までの距離が歯周ポケットＰＰの深さΔｄに対応する。
【００６２】
図１０(Ａ)は，測定光Ｂｔにもとづいて得られる干渉信号の一例であり，図１０(Ｂ)は，測定光Ｂｔおよび測定光Ｂｃにもとづいて得られる干渉信号の一例である。
【００６３】
測定光Ｂｔは，歯茎ＧＵには照射されずに歯ＴＯを照射するから，歯ＴＯからの反射により時刻ｔｔ１に干渉信号が発生する。測定光Ｂｂは，歯茎ＧＵおよび歯ＴＯに照射されるから，歯茎ＧＵの反射により時刻ｔｂ１に干渉信号が発生し，歯ＴＯの反射により時刻ｔｂ２に干渉信号が発生する。
【００６４】
ここで，図８を参照して説明したように，最大の偏向角をもつ測定光ＢＢ１が出射される時間から測定光ＢＢ２が出射されるまでの時間(この時間を１周期とする)をＴとすると，Ｔ：ΔＬ＝(ｔｂ２−ｔｔ１)：Δｄが成立するから，歯周ポケットΔｄは，Δｄ＝｛ΔＬ・(ｔｂ２−ｔｔ１)｝／Ｔから算出される。このように必ずしも歯茎ＧＵの光断層画像Ｉｇｕおよび歯ＴＯの光断層画像Ｉｔｏを生成しなくとも，歯周ポケットΔｄを算出できる。歯周ポケットΔｄの算出は信号処理回路５により行うことができるのはいうまでもない。
【００６５】
上述の実施例では，測定光Ｂ１１からＢ５１の振れ幅は，重度の歯周病であっても一度の走査において歯周ポケットＰＰの深さΔｄが測定できる程度のものとされている。しかしながら，一度の走査において歯周ポケットの深さΔｄを測定できる程度の十分な振れ幅が無い場合に，検査用プローブ１０を用いて上下の異なる位置で複数回（少なくとも２箇所）測定することにより，フォトダイオード４から出力された干渉信号にもとづいて歯周ポケットの深さΔｄについてのデータを信号処理回路（歯周ポケット・データ生成手段）５において生成するようにしてもよい。
【００６６】
たとえば，検査用プローブ１０が，一回の走査（測定）により図５に示される測定光Ｂ１１からＢ３１の範囲（Ｂ３１からＢ５１の範囲と同等）に相当する振れ幅の，測定光を出射できるとする。まず，図５に示される測定光Ｂ１１からＢ３１に相当する範囲に，測定光を出射可能な位置で，検査用プローブ１０による一度目の走査（測定）が実施されるとする。この場合，たとえば，一度目の走査において図５に示される測定光Ｂ１１からＢ３１の範囲に出射される測定光にもとづいて得られる干渉信号から，図５に示す歯茎ＧＵおよび歯ＴＯの上半分の光断層画像ＩｇｕおよびＩｔｏが得られる。次に検査用プローブ１０を下方向に動かす。動かした後の位置で実施される二度目の走査により，図５に示される測定光Ｂ３１からＢ５１に相当する範囲に，検査用プローブ１０から測定光が出射されるとする。この場合，二度目の走査において図５に示される測定光Ｂ３１からＢ５１の範囲に出射される測定光にもとづいて得られる干渉信号から，図５に示す歯茎ＧＵおよび歯ＴＯの下半分の光断層画像ＩｇｕおよびＩｔｏが得られる。上下の異なる２箇所の位置に対する測定によって得られた２つの光断層画像が信号処理回路５において合成処理されることにより，図５に示す歯茎ＧＵおよび歯ＴＯの光断層画像が得られる。歯茎ＧＵおよび歯ＴＯの上半分の光断層画像ＩｇｕおよびＩｔｏと下半分の光断層画像ＩｇｕおよびＩｔｏとは重複部分については重複するように合成し，一度の走査により得られる光断層画像ＩｇｕおよびＩｔｏと同じ光断層画像が得られるように，上下方向における光断層画像の連続性が担保されていることはいうまでもない。
【００６７】
図１１（Ａ）および図１１（Ｂ）は，検査用プローブの変形例を示している。
【００６８】
図１１（Ａ）は，図４に対応するもので，検査用プローブ３０を正面から見た斜視図，図１１（Ｂ）は，図１１（Ａ）のＸＩＢ−ＸＩＢ線から見た断面図である。
【００６９】
検査用プローブ３０には，出射部３０Ａと把持部３０Ｂとが含まれている。
【００７０】
出射部３０Ａは，正面から見て矩形の枠体であり，その矩形の枠体に出射部３０Ａから出射する測定光の出射方向およびその反対方向にスライド自在なカバー４１が取り付けられている。カバー４１の前面の開口３６からＸ軸負方向側の奥まった位置に透明板３７が固定されている。上述のように，透明板３７を介して開口３６から平行化された測定光がＸ軸正方向に出射する。
【００７１】
図１１（Ｂ）に示すように，カバー４１内部には出射部３０Ａの枠体の前面３８が入り込むようにくりぬかれている凹所４２が形成されている。出射部３０Ａの枠体の前面３８と凹所４２の内壁４４との間に圧縮ばね４３が固定されている。カバー４１にＸ軸負方向に力が加わると圧縮ばね４３によりＸ軸正方向に反発力が働く。このように図１１(Ａ)および(Ｂ)に示す検査用プローブ３０の出射部３０Ａに対して，平行化された測定光の出射方向であるＸ軸正方向と反対方向であるＸ軸負方向に力が加えられた場合に変形し，出射部３０Ａに加えられる力が開放された場合に変形前の形状に戻るように変形自在となっている。カバー４１は，出射部３０Ａの外側よりも出射部３０Ａの内側の方がＸ軸負方向に短い。カバー４１がＸ軸負方向に動いても，透明板３７とカバー４１とが接触しないため，透明板３７がカバー４１の動きを邪魔しない。
【００７２】
図１１に示す実施例では，カバー４１に，平行化された測定光の出射方向と反対方向に力が加えられることによりカバー４１の全体が反対方向に変形する。すなわち，カバー４１を出射部３０Ａの一部と捉えた場合に，出射部３０Ａ（検査用プローブ３０）が平行化された測定光の出射方向と反対方向に力が加えられた場合に出射部３０Ａの枠体の全体が変形すると考えられる。これに対して，出射部３０Ａの上部および下部の一部にカバーを取り付け，その一部分に取り付けられたカバーが変形するようにしてもよい。このように，出射部３０Ａの開口３６の上部（上部とは，検査用プローブ３０の長手方向および測定光の出射方向のいずれも水平方向とした場合における上部をいう）および下部（下部とは，検査用プローブ３０の長手方向および測定光の出射方向のいずれも水平方向とした場合における下部をいう）が，幅方向（図１１（Ａ）では，Ｙ軸正方向であり，検査用プローブ３０の長手方向を幅方向という）の少なくとも一部分（例えば，歯ＴＯの幅方向以上の長さ）にわたって，平行化された測定光の出射方向（Ｘ軸正方向）と反対方向（Ｘ軸負方向）に，力が加えられた場合に変形し，力が開放された場合に変形前の形状に戻るように変形自在であってもよい。
【００７３】
このように出射部３０Ａの一部が，変形自在であることにより，出射部３０Ａ（カバー４１）の前面を被験者の歯茎ＧＵおよび歯ＴＯに密着させることができる。
【００７４】
図４に示す検査用プローブ１０では，把持部１０Ｂの長手方向は，開口１６から出射する測定光の出射方向（Ｘ軸正方向）に対して垂直方向（Ｙ軸正方向）とされているが，図１１（Ａ）および図１１（Ｂ）に示す実施例では，把持部３０Ｂの長手方向は，開口３６から出射する測定光の出射方向（Ｘ軸正方向）に対して垂直方向（Ｙ軸正方向）ではなく，開口３６から出射する測定光の出射方向（Ｘ軸正方向）の反対方向（Ｘ軸負方向）に傾いている。このように把持部３０Ｂが測定光の出射方向と反対方向に傾いているので，把持部３０Ｂをもった場合に把持部３０Ｂをもった指が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯにより接触しにくくなり，出射部３０Ａの前面を歯茎ＧＵおよび歯ＴＯに密着させやすくなる。
【００７５】
図１２（Ａ）および図１２（Ｂ）は，検査用プローブの他の一例であり，図１２（Ａ）は，検査用プローブ６０の斜視図，図１２（Ｂ）は，図１２（Ａ）のＸＩＩＢ-ＸＩＩＢ線から見た断面図である。
【００７６】
出射部６０Ａは枠体でできており，その前面部の全体が変形自在なゴムなどのような樹脂部６８によってできている。樹脂部６８も平行化された測定光の出射方向（Ｘ軸正方向）と反対方向（Ｘ軸負方向）に力が加えられた場合に変形し，加えられた力が開放された場合に変形前の形状に戻るように変形自在である。樹脂部６８の前面の開口６６からＸ軸負方向側の奥まった位置に透明板６７が固定されている。その結果，透明板６７によって樹脂部６８の変形が制限されることがない。
【００７７】
図１２（Ａ）および図１２（Ｂ）に示す検査用プローブ６０においても，出射部６０Ａの開口６６の上部および下部の一部を樹脂部６８としてもよい。このように幅方向（Ｙ軸方向）の少なくとも一部分（例えば，歯ＴＯの幅方向以上の長さ）にわたって樹脂部６８を形成し，平行化された測定光の出射方向（Ｘ軸正方向）と反対方向（Ｘ軸負方向）に，力が加えられた場合に変形し，加えられた力が開放された場合に変形前の形状に戻るように変形自在としてもよい。
【００７８】
出射部６０Ａの一部に樹脂を利用した場合にも出射部６０Ａの前面を歯茎ＧＵおよび歯ＴＯに密着させることができる。
【００７９】
図１１（Ａ）および図１１（Ｂ）では，圧縮ばね４３を利用し，図１２（Ａ）および図１２（Ｂ）では，樹脂を利用しているが，力が加えられた場合に変形し，力が開放された場合に変形前の形状に戻るような弾性部材であれば，他の材料などを利用できるのはいうまでもない。
【００８０】
また，図１１（Ａ）および図１１（Ｂ）の出射部３０Ａならびに図１２（Ａ）および図１２（Ｂ）の出射部６０Ａは，いずれも正面から見て矩形であるが，円形であってもよい。正面から見て円形の出射部の場合であっても，上述したのと同様にして，測定光の出射光と反対方向に力が加わると変形し，力が開放されると変形前の形状に戻るようにできる。出射部の正面または出射部に形成されている開口が円形の場合には，円の中心を通る水平面よりも上側が出射部または開口の上部であり，その水平面よりも下側が出射部または開口の下部である。
【００８１】
図１３（Ａ）および図１３（Ｂ）は，他の実施例を示すもので，検査用プローブ７０の斜視図である。図１３（Ａ）は，正面側から見た斜視図であり，図１３（Ｂ）は，背面側から見た斜視図である。
【００８２】
検査用プローブ７０にも出射部７０Ａおよび把持部７０Ｂが含まれている。出射部７０Ａの上面板７２，側面板７３および背面板７４のそれぞれには第１の角度センサ８１，第２の角度センサ８２および第３の角度センサ８３が埋め込まれている。Ｘ軸回りの角度をロール角θｒ，Ｙ軸回りの角度をピッチ角θｐ，Ｚ軸回りの角度をヨー角θｙとした場合に，第１の角度センサ８１はヨー角θｙを検出し，第２の角度センサ８２はピッチ角θｐを検出し，第３の角度センサ８３はロール角θｒを検出する。
【００８３】
図１４（Ａ）は，ロール角θｒを検出する様子を示し，図１４（Ｂ）は，ヨー角θｙを検出する様子を示し，図１４（Ｃ）は，ピッチ角θｐを検出する様子を示している。
【００８４】
図１４（Ａ）は，検査用プローブ７０の正面図である。
【００８５】
実線で示すように検査用プローブ７０の長手方向がＹ軸方向と一致している場合には，検査用プローブ７０のロール角θｒは０度である。鎖線で示すように検査用プローブ７０がＸ軸を中心に傾くとロール角θｒが発生する。検査用プローブ７０の出射部７０Ａの前面７１が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯと平行に面する場合には、歯茎ＧＵおよび歯ＴＯによって反射された測定光によって干渉信号が発生する。その結果、歯周ポケットＰＰの深さΔｄを正確に測定できる。その一方で、検査用プローブ７０の出射部７０Ａの前面７１が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯと平行に面しない場合には、歯茎ＧＵおよび歯ＴＯによって反射された測定光を用いて干渉信号を生成できない可能性がある。その結果、誤った深さの歯周ポケットの深さΔｄを測定してしまう等、歯周ポケットの深さΔｄを正確に測定できない可能性がある。また，検査用プローブ７０の上下方向と歯周ポケットの深さΔｄの方向とが一致していないと，歯周ポケットの深さΔｄを正確に測定できない可能性がある。
【００８６】
第３の角度センサ８３によりロール角θｒが検出されるから，測定者は、測定者は検査用プローブ７０の上下方向と歯周ポケットの深さΔｄの方向とが一致しているか否かを歯服できる。第３の角度センサ８３によって検出されるロール角θｒを示す信号は第３の角度センサ８３から信号処理回路５に入力し，表示装置６の表示画面に表示されるのはいうまでもない。また，音，光(たとえば，発光ダイオードを点灯させる)，振動などのような他の報知方法で最適なロール角が報知されるようにしてもよい。
【００８７】
なお，被験者の顔の角度，より具体的には歯茎ＧＵおよび歯ＴＯの角度に応じて，検査用プローブ７０の出射部７０Ａの前面７１が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯと平行に面する検査用プローブ７０のロール角θｒが異なる。そのため，例えば被験者が座る椅子の傾斜角度を検出するなどして，検査用プローブ７０の出射部７０Ａの前面７１が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯと平行に面する検査用プローブ７０のロール角θｒが算出されてもよい。代替的に，特定の検査用プローブ７０のロール角θｒが，検査用プローブ７０の出射部７０Ａの前面７１が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯと平行に面する検査用プローブ７０のロール角θｒであるとして用いられてもよい。  
【００８８】
図１４（Ｂ）は，検査用プローブ７０の上面図である。
【００８９】
実線で示すように検査用プローブ７０の長手方向がＹ軸方向と一致している場合には，検査用プローブ７０のヨー角θｙは０度である。鎖線で示すように検査用プローブ７０がＺ軸を中心に傾くとヨー角θｙが発生する。上述したのと同様に，検査用プローブ７０の出射部７０Ａの前面７１が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯと平行に面する場合には、歯茎ＧＵおよび歯ＴＯによって反射された測定光によって干渉信号が発生する。その結果、歯周ポケットＰＰの深さΔｄを正確に測定できる。その一方で，検査用プローブ７０の出射部７０Ａの前面７１が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯと平行に面しない場合には、歯茎ＧＵおよび歯ＴＯによって反射された測定光を用いて干渉信号を生成できない可能性がある。その結果、誤った深さの歯周ポケットの深さΔｄを測定してしまう等、歯周ポケットの深さΔｄを正確に測定できない可能性がある。
【００９０】
第１の角度センサ８１によりヨー角θｙが検出されるから，検査用プローブ７０の出射部７０Ａの前面７１が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯと平行に面しているか否かを把握できる。第１の角度センサ８１によって検出されるヨー角θｙを示す信号も第１の角度センサ８１から信号処理回路５に入力し，表示装置６の表示画面に表示されるのはいうまでもない。
【００９１】
図１４（Ｃ）は，検査用プローブ７０の左側面図である。
【００９２】
実線で示すように検査用プローブ７０の出射部７０Ａから出射される測定光がＸ軸正方向と一致している場合には，検査用プローブ７０のピッチ角θｐは０度である。鎖線で示すように検査用プローブ７０がＹ軸を中心に傾くとピッチ角θｐが発生する。上述したのと同様に，検査用プローブ７０の出射部７０Ａの前面７１が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯと平行に面する場合には、歯茎ＧＵおよび歯ＴＯによって反射された測定光によって干渉信号が発生する。その結果、歯周ポケットＰＰの深さΔｄを正確に測定できる。その一方で、検査用プローブ７０の出射部７０Ａの前面７１が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯと平行に面しない場合には、歯茎ＧＵおよび歯ＴＯによって反射された測定光を用いて干渉信号を生成できない可能性がある。その結果、誤った深さの歯周ポケットの深さΔｄを測定してしまう等、歯周ポケットの深さΔｄを正確に測定できない可能性がある。
【００９３】
第２の角度センサ８２によりピッチ角θｐが検出されるから，検査用プローブ７０の出射部７０Ａの前面７１が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯと平行に面しているか否かを把握できる。第２の角度センサ８２によって検出されるピッチ角θｐを示す信号も第２の角度センサ８２から信号処理回路５に入力し，表示装置６の表示画面に表示されるのはいうまでもない。
【００９４】
ヨー角θｙおよびピッチ角θｐを検出する場合も，音，光(たとえば，発光ダイオードを点灯させる)，振動などのような他の報知方法で最適なヨー角θｙおよびピッチ角θｐが報知されるようにしてもよい。
【００９５】
また，被験者の顔の角度，より具体的には歯茎ＧＵおよび歯ＴＯの角度に応じて，検査用プローブ７０の出射部７０Ａの前面７１が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯと平行に面する検査用プローブ７０のヨー角θｙおよびピッチ角θｐも異なる。そのため，上述のように，例えば被験者が座る椅子の傾斜角度を検出するなどして，検査用プローブ７０の出射部７０Ａの前面７１が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯと平行に面する検査用プローブ７０のヨー角θｙおよびピッチ角θｐが算出されてもよい。代替的に，特定の検査用プローブ７０のヨー角θｙおよびピッチ角θｐが，検査用プローブ７０の出射部７０Ａの前面７１が歯茎ＧＵおよび歯ＴＯと平行に面する検査用プローブ７０のヨー角θｙおよびピッチ角θｐであるとして用いられてもよい。  
【００９６】
図１３（Ａ）および図１３（Ｂ）に戻って，出射部７０Ａの上面板７２，背面板７４および下面板７５には，出射部７０Ａの開口７６から出射される測定光の出射位置に対応する位置にマーク９１，９２および９３が付けられている。具体的には，マーク９１，９２および９３が付されている位置は，検査用プローブ７０の長手方向（幅方向）において，測定光が出射される位置に対応している。歯科医師などのユーザは，それらのマーク９１，９２および９３を見ることにより出射部７０Ａの前面７１が見えなくとも測定光の出射位置が分かる。それらのマーク９１，９２および９３を見ることにより，検査用プローブ７０の出射部７０Ａから出射される測定光の位置を歯科医師などのユーザが把握でき，正確に歯周ポケットＰＰの深さを測定できるようになる。
【００９７】
図１３（Ａ）および図１３（Ｂ）においてはマーク９１，９２および９３は，出射部７０Ａの上面板７２，背面板７４および下面板７５に形成されているが，上面板７２，背面板７４および下面板７５のいずれかまたは任意の２か所に付けられていてもよい。また，出射部７０Ａの前面７１に，測定光の出射位置を示すマークをつけるようにしてもよい。このように出射部７０Ａの外面にマークを付与できる（出射部７０Ａの前面７１を除く外面にマークを付与してもよい）。さらに，図１３（Ａ）および図１３（Ｂ）においては測定光の出射位置に対応する位置を示すマークは三角形状であるが，他の形状でもよいし，単なる線でもよいし，単なる凹みでもよい。さらに，測定光の出射位置に対応する位置にＬＥＤ（light emitting diode）などを設けて測定光の出射位置を示すマークとしてもよい。いずれにしても測定光の出射位置が分かればよい。
【００９８】
図１３（Ａ）および図１３（Ｂ）に示す検査用プローブ７０の出射部７０Ａは前面から見て矩形の直方体であるが，前面から見て円形の円筒形，半球形などでもよい。出射部７０Ａが円筒形，半球形であっても出射部７０Ａの前面７１を除く外面において，出射部から出射する測定光の出射位置に対応する位置にマークを付与することができる。
【００９９】
図１５（Ａ）から図１５（Ｄ）は，検査用プローブの他の一例を示すもので，前面側からみた斜視図である。図１５（Ａ）から図１５（Ｄ）は，いずれも頸部が形成されている。図１５（Ａ）から図１５（Ｄ）のいずれにおいても開口１６から透明板１７を介して測定光が出射される。
【０１００】
図１５（Ａ）を参照して，検査用プローブ１００には出射部１００Ａと基端部１００Ｂとが含まれている。出射部１００Ａの右側面（一側面）から頸部１００Ｃを介して基端部１００Ｂが伸びている。頸部１００Ｃは，出射部１００Ａからの測定光の出射方向と反対方向に湾曲しており，測定光の出射方向と反対方向に突出している。基端部１００Ｂと頸部１００Ｃとが把持部に対応する。
【０１０１】
図１５（Ｂ）を参照して，検査用プローブ１１０にも出射部１１０Ａと基端部１１０Ｂとが含まれている。出射部１１０Ａの右側面（一側面）から頸部１１０Ｃを介して基端部１１０Ｂが伸びている。基端部１１０Ｂと頸部１１０Ｃとが把持部に対応する。頸部１１０Ｃよりも出射部１１０Ａが，出射部１１０Ａからの測定光の出射方向に突出している。このように，把持部の全体ではなく，把持部の一部よりも出射部１１０Ａが測定光の出射方向に突出している場合も，把持部よりも出射部１１０Ａが測定光の出射方向に突出していると考えられる。
【０１０２】
図１５（Ｃ）を参照して，検査用プローブ１２０にも出射部１２０Ａと基端部１２０Ｂとが含まれている。出射部１２０Ａの右側面（一側面）から頸部１２０Ｃを介して基端部１２０Ｂが伸びている。基端部１２０Ｂと頸部１２０Ｃとが把持部に対応する。頸部１２０Ｃの一端部は出射部１２０Ａの右側面において後端部側に固定されており，他端部に向かって出射部１２０Ａからの測定光の出射方向に向かって伸びている。頸部１２０Ｃの他端部が基端部１２０Ｂに固定されている。
【０１０３】
図１５（Ｄ）を参照して，検査用プローブ１３０にも出射部１３０Ａと基端部１３０Ｂとが含まれている。出射部１３０Ａの右側面（一側面）から頸部１３０Ｃを介して基端部１３０Ｂが伸びている。基端部１３０Ｂと頸部１３０Ｃとが把持部に対応する。頸部１３０Ｃの上端部および下端部は欠いており，出射部１３０Ａの右側面の後端部の中央部分に頸部１３０Ｃの一端部が固定され，基端部１３０Ｂの左側面の後端部の中央部分に頸部１３０Ｃの他端部が固定されている。図１５(Ｄ)においては，頸部１３０Ｃは，上端部および下端部のいずれも欠いているが，上端部および下端部のいずか一方が欠いていてもよい。
【０１０４】
図１５（Ａ）から図１５（Ｄ）に示すように，頸部１００Ｃ，１１０Ｃ，１２０Ｃまたは１３０Ｃを介して出射部１００Ａ，１１０Ａ，１２０Ａまたは１３０Ａから基端部１００Ｂ，１１０Ｂ，１２０Ｂおよび１３０Ｂが伸びていてもよい。
【０１０５】
図１５（Ａ）から図１５（Ｄ）においても，出射部１００Ａ，１１０Ａ，１２０Ａおよび１３０Ａは直方体の形状であるが，円筒形，半球形のものであってもよい。開口１６または出射部１００Ａ，１１０Ａ，１２０Ａおよび１３０Ａの前面は，正方形，長方形，円形，長手方向の辺よりも上下方向の辺の方が短い矩形，長手方向が長径であり上下方向が短径の楕円などでもよい。出射部１００Ａ，１１０Ａ，１２０Ａおよび１３０Ａの前面が円形または楕円形で，開口１６が矩形であってもよいし，出射部１００Ａ，１１０Ａ，１２０Ａおよび１３０Ａの前面が矩形で，開口１６が円形または楕円形でもよい。さらに，出射部１００Ａ，１１０Ａ，１２０Ａおよび１３０Ａと基端部１００Ｂ，１１０Ｂ，１２０Ｂおよび１３０Ｂとの間に頸部１００Ｃ，１１０Ｃ，１２０Ｃおよび１３０Ｃが必ずしも無くてもよい。検査用プローブの長手方向の直線と出射部１００Ａ，１１０Ａ，１２０Ａおよび１３０Ａから出射される測定光の出射方向の直線（結晶偏向素子による偏向前の測定光の方向の直線）とが非平行であればよい。また，検査用プローブの長手方向の直線と出射部１００Ａ，１１０Ａ，１２０Ａおよび１３０Ａから出射される測定光の出射方向の直線とがほぼ直交してもよいし，検査用プローブの長手方向の直線と出射部１００Ａ，１１０Ａ，１２０Ａおよび１３０Ａから出射される測定光の振れ幅方向に平行する平面とがほぼ直交してもよい。
【符号の説明】
【０１０６】
１：光源，２：ビーム・スプリッタ，３：参照用ミラー，４：フォトダイオード，５：信号処理回路，６：表示装置，１０：検査用プローブ，１０Ａ：出射部，１０Ｂ：把持部，１１：結晶偏向素子，１１Ａ：電極，１１Ｂ：電極，１２：凹レンズ，１３：ｆ−θレンズ，１４：結晶偏向素子，１４Ａ：電極，１４Ｂ：電極，１４Ｃ：第１の反射ミラー，１４Ｄ：第２の反射ミラー，１４Ｅ：窓，１４Ｆ：窓，１５：電圧回路，１６：開口，１７：透明板，２１：前面，２６：右側面，３０：検査用プローブ，３０Ａ：出射部，３０Ｂ：把持部，３６：開口，３７：透明板，３８：前面，４１：カバー，４２：凹所，４３：圧縮ばね，４４：内壁，５１：カバー，６０：検査用プローブ，６０Ａ    ：出射部，６６：開口，６７：透明板，６８：樹脂部，７０：検査用プローブ，７０Ａ：出射部，７０Ｂ：把持部，７１：前面，７２：上面板，７３：側面板，７４：背面板，７５：下面板，７６：開口，８１：第１の角度センサ，８２：第２の角度センサ，８３：第３の角度センサ，９１：マーク，９２：マーク，９３：マーク，１００：検査用プローブ，１００Ａ：出射部，１００Ｂ：把持部，１００Ｃ：頸部，１１０：検査用プローブ，１１０Ａ：出射部，１１０Ｂ：把持部，１１０Ｃ：頸部，１２０：検査用プローブ，１２０Ａ：出射部，１２０Ｂ：把持部，１２０Ｃ：頸部，１３０：検査用プローブ，１３０Ａ：出射部，１３０Ｂ：把持部，１３０Ｃ：頸部，Ｂ１：測定光，Ｂ２：測定光，Ｂ３：測定光，Ｂ４：測定光，Ｂ５：測定光，Ｂ１１：測定光，Ｂ２１：測定光，Ｂ３１：測定光，Ｂ４１：測定光，Ｂ５１：測定光，ＧＵ：歯茎，Ｌ：低干渉光，ＬＭ：測定光，ＬＲ：参照光，ＰＰ：歯周ポケット，ＴＯ：歯，θｐ：ピッチ角，θｒ：ロール角，θｙ：ヨー角
【図１】
2018149223.tif 000003
【図２】
2018149223.tif 000004
【図３】
2018149223.tif 000005
【図４】
2018149223.tif 000006
【図５】
2018149223.tif 000007
【図６】
2018149223.tif 000008
【図７】
2018149223.tif 000009
【図８】
2018149223.tif 000010
【図９】
2018149223.tif 000011
【図１０】
2018149223.tif 000012
【図１１】
2018149223.tif 000013
【図１２】
2018149223.tif 000014
【図１３】
2018149223.tif 000015
【図１４】
2018149223.tif 000016
【図１５】
2018149223.tif 000017