(57)【要約】【課題】電気二重層コンデンサの製造時間を短くする。【解決手段】電気二重層コンデンサを作製する。電気二重層コンデンサを検査する検査工程を行う。検査工程は、充電工程と、放置工程とを含む。充電工程では、電気二重層コンデンサを充電する。放置工程では、充電工程の後に電気二重層コンデンサを放置する。【選択図】なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気二重層コンデンサを作製する工程と、
前記電気二重層コンデンサを検査する検査工程と、
を備え、
前記検査工程は、
前記電気二重層コンデンサを充電する充電工程と、
前記充電工程の後に前記電気二重層コンデンサを放置する放置工程と、
を含む、電気二重層コンデンサの製造方法。
【請求項２】
前記検査工程において、前記充電工程及び前記放電工程をそれぞれ複数回行う、請求項１に記載の電気二重層コンデンサの製造方法。
【請求項３】
前記検査工程において、前記充電工程及び放電工程をそれぞれ２回以上１０回以下行う、請求項２に記載の電気二重層コンデンサの製造方法。
【請求項４】
前記充電工程において、１．２Ｖ未満の定電圧で充電する、請求項１〜３のいずれか一項に記載の電気二重層コンデンサの製造方法。
【請求項５】
前記検査工程において、前記充電工程を１回行った場合は、放電工程の後の電流値又は電気抵抗値を測定し、前記充電工程を複数回行った場合は、最後に行った充電工程の後の電流値又は電気抵抗値を測定し、
前記測定した電流値が電流の閾値以下のとき、若しくは、前記測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値以上のときに良品と判断し、前記測定した電流値が電流の閾値より大きいとき、若しくは、前記測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値未満のときに不良品と判断する、請求項１〜４のいずれか一項に記載の電気二重層コンデンサの製造方法。
【請求項６】
前記検査工程において、前記電気二重層コンデンサを０．４Ｖ以上の定電圧で充電する、請求項１〜５のいずれか一項に記載の電気二重層コンデンサの製造方法。
【請求項７】
電気二重層コンデンサを充電する充電工程と、
前記充電工程の後に前記電気二重層コンデンサを放置する放置工程と、
を備える、電気二重層コンデンサの検査方法。
【請求項８】
前記充電工程及び前記放電工程をそれぞれ複数回行う、請求項７に記載の電気二重層コンデンサの検査方法。
【請求項９】
前記充電工程及び放電工程をそれぞれ２回以上１０回以下行う、請求項８に記載の電気二重層コンデンサの製造方法。
【請求項１０】
前記充電工程において、１．２Ｖ未満の定電圧で充電する、請求項７〜９のいずれか一項に記載の電気二重層コンデンサの検査方法。
【請求項１１】
前記充電工程を１回行った場合は、放電工程の後の電流値又は電気抵抗値を測定し、前記充電工程を複数回行った場合は、最後に行った充電工程の後の電流値又は電気抵抗値を測定し、
前記測定した電流値が電流の閾値以下のとき、若しくは、前記測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値以上のときに良品と判断し、前記測定した電流値が電流の閾値より大きいとき、若しくは、前記測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値未満のときに不良品と判断する、請求項７〜１０のいずれか一項に記載の電気二重層コンデンサの検査方法。
【請求項１２】
前記電気二重層コンデンサを０．４Ｖ以上の定電圧で充電する、請求項７〜１１のいずれか一項に記載の電気二重層コンデンサの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気二重層コンデンサの製造方法及び電気二重層コンデンサの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電源の一種として電気二重層コンデンサが知られている。電気二重層コンデンサを製造するに際しては、短絡不良等の不良品を検査し、選別する必要がある。例えば、特許文献１，２には、漏れ電流が発生するか否かの検査方法、すなわち、短絡不良の検査方法が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−１３３１８９号公報
【特許文献２】特開２００５−１０８９５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１，２に記載の検査方法では、電気二重層コンデンサを充電した後に放電する必要がある。従って、短絡不良の検査に長時間を要する。従って、検査工程に長時間を要する分、電気二重層コンデンサの製造に長時間を要するという問題がある。
【０００５】
本発明の主な目的は、電気二重層コンデンサの製造時間を短くすることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る電気二重層コンデンサの製造方法では、電気二重層コンデンサを作製する。電気二重層コンデンサを検査する検査工程を行う。検査工程は、充電工程と、放置工程とを含む。充電工程では、電気二重層コンデンサを充電する。放置工程では、充電工程の後に電気二重層コンデンサを放置する。このようにすることにより、電気二重層コンデンサの不良品を検査工程において短時間で判別することができる。従って、本発明に係る電気二重層コンデンサの製造方法によれば、短い製造時間で電気二重層コンデンサを製造することができる。
【０００７】
本発明に係る電気二重層コンデンサの製造方法では、検査工程において、充電工程を複数回行うことが好ましい。
【０００８】
本発明に係る電気二重層コンデンサの製造方法では、検査工程において、充電工程及び放電工程をそれぞれ２回以上１０回以下行うことが好ましい。
【０００９】
本発明に係る電気二重層コンデンサの製造方法では、充電工程において、１．２Ｖ未満の定電圧で充電することが好ましい。
【００１０】
本発明に係る電気二重層コンデンサの製造方法では、検査工程において、充電工程を１回行った場合は、放電工程の後の電流値又は電気抵抗値を測定し、充電工程を複数回行った場合は、最後に行った充電工程の後の電流値又は電気抵抗値を測定し、測定した電流値が電流の閾値以下のとき、若しくは、測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値以上のときに良品と判断し、測定した電流値が電流の閾値より大きいとき、若しくは、測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値未満のときに不良品と判断してもよい。
【００１１】
本発明に係る電気二重層コンデンサの製造方法では、検査工程において、電気二重層コンデンサを０．４Ｖ以上の定電圧で充電することが好ましい。
【００１２】
本発明に係る電気二重層コンデンサの検査方法は、充電工程と、放置工程とを備る。充電工程では、電気二重層コンデンサを充電する。放置工程では、充電工程の後に電気二重層コンデンサを放置する。
【００１３】
本発明に係る電気二重層コンデンサの検査方法では、充電工程を複数回行うことが好ましい。
【００１４】
本発明に係る電気二重層コンデンサの検査方法では、充電工程及び放電工程をそれぞれ２回以上１０回以下行うことが好ましい。
【００１５】
本発明に係る電気二重層コンデンサの検査方法では、充電工程において、１．２Ｖ未満の定電圧で充電することが好ましい。
【００１６】
本発明に係る電気二重層コンデンサの検査方法では、充電工程を１回行った場合は、放電工程の後の電流値又は電気抵抗値を測定し、充電工程を複数回行った場合は、最後に行った充電工程の後の電流値又は電気抵抗値を測定し、測定した電流値が電流の閾値以下のとき、若しくは、測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値以上のときに良品と判断し、測定した電流値が電流の閾値より大きいとき、若しくは、測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値未満のときに不良品と判断してもよい。
【００１７】
本発明に係る電気二重層コンデンサの検査方法では、電気二重層コンデンサを０．４Ｖ以上の定電圧で充電することが好ましい。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、電気二重層コンデンサの製造時間を短くすることができる。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明を実施した好ましい形態の一例について説明する。但し、下記の実施形態は、単なる例示である。本発明は、下記の実施形態に何ら限定されない。
【００２０】
本実施形態において説明する電気二重層コンデンサの製造方法は、種々の電気二重層コンデンサの製造に適用することができる。具体的には、本実施形態において説明する電気二重層コンデンサの製造方法は、パッケージ型の電気二重層コンデンサの製造、表面実装型の電気二重層コンデンサの製造、シリンダー型の電気二重層コンデンサの製造等に好適である。
【００２１】
まず、電気二重層コンデンサを作製する。電気二重層コンデンサの作製は、例えば、公知の方法を用いて行うことができる。
【００２２】
次に、電気二重層コンデンサを検査する検査工程を行う。ここで、検査工程とは、電気二重層コンデンサの良品と不良品とを分別するための検査を行う工程である。具体的には、例えば、電気二重層コンデンサの短絡不良品等を選別する工程である。
【００２３】
検査工程において、充電工程と、放置工程とを行う。充電工程では、電気二重層コンデンサを充電する。放置工程では、充電工程の後に前記電気二重層コンデンサを放置する。なお、充電工程において、電気二重層コンデンサを完全に充電する必要は必ずしもない。充電工程を複数回行ってもよい。
【００２４】
具体的には、検査工程において、充電工程を１回行った場合は、放電工程の後の電流値又は電気抵抗値を測定し、充電工程を複数回行った場合は、最後に行った充電工程の後の電流値又は電気抵抗値を測定する。測定した電流値が電流の閾値以下のとき、若しくは、測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値以上のときに良品と判断する。測定した電流値が電流の閾値より大きいとき、若しくは、測定した電気抵抗値が電気抵抗の閾値未満のときに不良品と判断する。
【００２５】
なお、閾値は、例えば、短絡不良の検査を行う場合であれば、短絡不良が生じている場合に測定される電流値や電気抵抗値等を参酌して設定することができる。具体的には、閾値は、例えば、短絡不良の検査を行う場合であれば、短絡不良が生じている場合に測定される電流値よりも低い電流値、短絡不良が生じている場合に測定される電気抵抗値よりも高い抵抗値に設定することができる。
【００２６】
例えば、電気二重層コンデンサに定格電圧で定電圧充電した場合には、電気二重層コンデンサの正極と負極とが定格電圧と実質的に等しくなるまで電流が流れ続ける。このため、電気二重層コンデンサの充電が完了するまでは、短絡不良品でなくても電圧が流れ続け、良品と不良品との間に、電流値や電気抵抗値等の差が生じにくい。
【００２７】
本実施形態では、一旦充電工程をした後に放電工程を行う。例えば、電気二重層コンデンサが短絡不良品ではない良品である場合には、放電工程における放電量が比較的少ない。一方、電気二重層コンデンサが短絡不良品であれば、放電工程において放電量が比較的多くなる。このため、良品と不良品とで放電工程後における正極と負極との間の電圧差が異なる。よって、例えば、１回充電工程を行った後に、放電工程を行った後の電気二重層コンデンサの電気抵抗値又は電流値を測定することにより、絶縁不良品を判別することができる。このため、例えば、定格電圧で電気二重層コンデンサが完全に充電されるまで充電を続ける必要は必ずしも必要ではなく、短時間で絶縁不良品を判別することができる。その結果、電気二重層コンデンサを短時間で製造することができる。
【００２８】
本実施形態の電気二重層コンデンサの製造方法では、充電工程及び放電工程を複数回行い、最後の充電工程後における電気二重層コンデンサの電気抵抗値又は電流値を測定することが好ましい。この場合、放電工程を複数行うため、測定される電気抵抗値又は電流値の差がより大きくなる。このため、絶縁不良品をより高精度に判別することができる。従って、高い良品率で電気二重層コンデンサを製造することができる。
【００２９】
より高い良品率で電気二重層コンデンサを製造する観点からは、充電工程及び放電工程を２回以上行うことがより好ましく、４回以上行うことがさらに好ましい。但し、充電工程及び放電工程の回数が多すぎると、検査工程、ひいては電気二重層コンデンサの製造に要する時間が長くなりすぎる場合がある。従って、充電工程及び放電工程を１０回以下行うことがより好ましく、８回以下行うことがさらに好ましい。
【００３０】
充電工程において、電気二重層コンデンサを１．２Ｖ未満の定電圧で充電することが好ましい。そうすることにより、充電工程の早い段階で、電気二重層コンデンサを流れる電流値や電気二重層コンデンサの電気抵抗値に、良品と不良品とで差が生じやすい。従って、充電工程に要する時間をより短くすることができる。その結果、検査工程、ひいては電気二重層コンデンサの製造に要する時間をより短くすることができる。
【００３１】
なお、電気二重層コンデンサを１．２Ｖ未満の定電圧で充電した際に、早期に電流値や電気抵抗値に差がでる理由としては、電気二重層コンデンサ内の残留水分の電気化学反応（例えば、残留水分の分解等）に起因する電流の発生を抑制できるためであると考えられる。
【００３２】
より早期に良品と不良品との間で電流値や電気抵抗値に差が生じるようにする観点からは、検査工程において、電気二重層コンデンサを１．０Ｖ以下の定電圧で充電することが好ましい。そうすることにより、残留水分の電気化学反応をより効果的に抑制することができるためであると考えられる。
【００３３】
同様の観点からは、検査工程において、電気二重層コンデンサを充電する際の電圧を低くする方が好ましいと考えられる。しかしながら、電気二重層コンデンサの充電電圧が低すぎると、安定した電圧で電気二重層コンデンサを充電することが困難となる場合がある。よって、検査工程において、電気二重層コンデンサを０．４Ｖ以上の定電圧で充電し、充電時における電流値又は電気抵抗値を測定することが好ましく、０．５Ｖ以上の定電圧で充電することがより好ましい。