(57)【要約】      （修正有）【課題】帯電性の異なる２種類のコロナ帯電器を用いて合成表面電位を形成することで感光体の帯電処理を行う構成において、帯電電位のスラスト方向の傾き調整の精度を向上させることを可能とする画像形成装置を提供する。【解決手段】第１のコロナ帯電器による第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）と、第２のコロナ帯電器による第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）と、を重畳させて合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）を形成することにより感光体の帯電処理を行う際に、Ｖｄ（Ｕ）の絶対値は、Ｖｄ（Ｌ）の絶対値よりも大きくなるように設定されており、帯電処理により形成される感光体の帯電電位のスラスト方向における傾きを調整するための調整手段と、Ｖｄ（Ｕ）のスラスト方向における傾きに関する情報を取得することを可能とするように、Ｖｄ（Ｌ）を重畳させないＶｄ（Ｕ）を感光体の表面に形成する動作を含む測定モードを実行させる制御手段と、を有する。【選択図】図１７
2018025683.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
感光体と、前記感光体の帯電処理を行う第１、第２のコロナ帯電器と、前記第１、第２のコロナ帯電器のそれぞれに独立して制御可能な電圧を印加する電圧印加手段と、を有し、前記第１のコロナ帯電器が前記感光体の表面に形成する第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）と、前記第２のコロナ帯電器が前記感光体の表面に形成する第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）と、を重畳させて合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）を形成することにより、前記帯電処理を行う画像形成装置において、
前記帯電処理において、前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の絶対値は、前記第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の絶対値よりも大きくなるように設定されており、
前記帯電処理により形成される前記感光体の帯電電位の、前記感光体の移動方向と略直交する方向であるスラスト方向における傾きを調整するための調整手段と、
前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の前記スラスト方向における傾きに関する情報を取得することを可能とするように、前記第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）を重畳させない前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）を前記感光体の表面に形成する動作を含む測定モードを実行させる制御手段と、
を有することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記感光体の表面電位を前記スラスト方向における複数箇所で検知する電位検知手段と、情報を表示する表示手段と、を有し、
前記制御手段は、前記測定モードにおいて、前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）を前記電位検知手段により検知させ、その検知結果に基づいて、前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の前記スラスト方向における傾きに関する情報、又は前記調整手段の調整量に関する情報の少なくとも一方を前記表示手段により表示させることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記感光体にトナーを供給する現像手段を有し、
前記制御手段は、前記測定モードにおいて、前記感光体の表面の前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の領域に前記現像手段によりトナーを付着させたテスト画像を形成させることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記テスト画像の濃度を前記スラスト方向における複数箇所で検知する濃度検知手段と、情報を表示する表示手段と、を有し、
前記制御手段は、前記測定モードにおいて、前記テスト画像の濃度を前記濃度検知手段により検知させ、その検知結果に基づいて、前記テスト画像の濃度の前記スラスト方向における傾きに関する情報、又は前記調整手段の調整量に関する情報の少なくとも一方を前記表示手段により表示させることを特徴とする請求項３に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の前記スラスト方向における傾きに関する情報を取得することを可能とするように、前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）とは独立して前記合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）を前記感光体の表面に形成する動作を含む前記測定モードを実行させることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記感光体の表面電位を前記スラスト方向における複数箇所で検知する電位検知手段と、情報を表示する表示手段と、を有し、
前記制御手段は、前記測定モードにおいて、前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）及び前記合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）のそれぞれを前記電位検知手段により検知させ、その検知結果に基づいて、前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）及び前記合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）のそれぞれの前記スラスト方向における傾きに関する情報、又は前記調整手段の調整量に関する情報の少なくとも一方を前記表示手段により表示させることを特徴とする請求項５に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記感光体にトナーを供給する現像手段を有し、
前記制御手段は、前記測定モードにおいて、前記感光体の表面の前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の領域及び前記合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の領域のそれぞれに前記現像手段によりトナーを付着させた第１、第２のテスト画像を形成させることを特徴とする請求項５に記載の画像形成装置。
【請求項８】
前記第１、第２のテスト画像のそれぞれの濃度を前記スラスト方向における複数箇所で検知する濃度検知手段と、情報を表示する表示手段と、を有し、
前記制御手段は、前記測定モードにおいて、前記第１、第２のテスト画像のそれぞれの濃度を前記濃度検知手段により検知させ、その検知結果に基づいて、前記第１、第２のテスト画像の濃度のそれぞれの前記スラスト方向における傾きに関する情報、又は前記調整手段の調整量に関する情報の少なくとも一方を前記表示手段により表示させることを特徴とする請求項７に記載の画像形成装置。
【請求項９】
前記制御手段は、前記第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の前記スラスト方向における傾きに関する情報を取得することを可能とするように、前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）とは独立して前記第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）を前記感光体の表面に形成する動作を含む前記測定モードを実行させることを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項１０】
前記感光体の表面電位を前記スラスト方向における複数箇所で検知する電位検知手段と、情報を表示する表示手段と、を有し、
前記制御手段は、前記測定モードにおいて、前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）及び前記第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）のそれぞれを前記電位検知手段により検知させ、その検知結果に基づいて、前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）及び前記第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）のそれぞれの前記スラスト方向における傾きに関する情報、又は前記調整手段の調整量に関する情報の少なくとも一方を前記表示手段により表示させることを特徴とする請求項９に記載の画像形成装置。
【請求項１１】
前記感光体にトナーを供給する現像手段を有し、
前記制御手段は、前記測定モードにおいて、前記感光体の表面の前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の領域及び前記第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の領域のそれぞれに前記現像手段によりトナーを付着させた第１、第２のテスト画像を形成させることを特徴とする請求項９に記載の画像形成装置。
【請求項１２】
前記第１、第２のテスト画像の濃度を前記スラスト方向における複数箇所で検知する濃度検知手段と、情報を表示する表示手段と、を有し、
前記制御手段は、前記測定モードにおいて、前記第１、第２のテスト画像のそれぞれの濃度を前記濃度検知手段により検知させ、その検知結果に基づいて、前記第１、第２のテスト画像のそれぞれの濃度の前記スラスト方向における傾きに関する情報、又は前記調整手段の調整量に関する情報の少なくとも一方を前記表示手段により表示させることを特徴とする請求項１１に記載の画像形成装置。
【請求項１３】
前記調整手段は、前記第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の前記スラスト方向における傾きを変えることなく前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の前記スラスト方向における傾きを調整可能な調整部を有することを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【請求項１４】
前記調整部は、前記第１のコロナ帯電器の放電電極とグリッド電極との間の距離を調整するものであるか、又は前記第１のコロナ帯電器のグリッド電極と前記感光体との間の距離を調整するものであることを特徴とする請求項１３に記載の画像形成装置。
【請求項１５】
前記調整手段は、
前記第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の前記スラスト方向における傾きを変えることなく前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の前記スラスト方向における傾きを調整可能な第１の調整部と、
前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の前記スラスト方向における傾きを変えることなく前記第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の前記スラスト方向における傾きを調整可能な第２の調整部と、
を有することを特徴とする請求項５〜１２のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【請求項１６】
前記第１の調整部は、前記第１のコロナ帯電器の放電電極とグリッド電極との間の距離を調整するものであるか、又は前記第１のコロナ帯電器のグリッド電極と前記感光体との間の距離を調整するものであり、
前記第２の調整部は、前記第２のコロナ帯電器の放電電極とグリッド電極との間の距離を調整するものであるか、又は前記第２のコロナ帯電器のグリッド電極と前記感光体との間の距離を調整するものであることを特徴とする請求項１５に記載の画像形成装置。
【請求項１７】
前記調整手段は、
前記第１、第２の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）、Ｖｄ（Ｌ）のそれぞれの前記スラスト方向における傾きを同時に調整して前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の前記スラスト方向における傾きを調整可能な第１の調整部と、
第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の前記スラスト方向における傾きを変えることなく前記第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の前記スラスト方向における傾きを調整可能な第２の調整部と、
を有することを特徴とする請求項５〜１２のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【請求項１８】
前記第１の調整部は、前記第１、第２のコロナ帯電器のそれぞれの放電電極とグリッド電極との間の距離を同時に調整するものであるか、又は前記第１、第２のコロナ帯電器のそれぞれのグリッド電極と前記感光体との間の距離を同時に調整するものであり、
前記第２の調整部は、前記第２のコロナ帯電器の放電電極とグリッド電極との間の距離を調整するものであるか、又は前記第２のコロナ帯電器のグリッド電極と前記感光体との間の距離を調整するものであることを特徴とする請求項１７に記載の画像形成装置。
【請求項１９】
前記第１のコロナ帯電器は、前記感光体の移動方向において前記第２のコロナ帯電器よりも上流側に配置されていることを特徴とする請求項１〜１８のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子写真方式の複写機、プリンター、ファクシミリ装置などの画像形成装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電子写真方式の画像形成装置では、感光体（電子写真感光体）の帯電処理を行う帯電手段として、コロナ帯電器（以下、単に「帯電器」ともいう。）が広く用いられている。また、コロナ帯電器を用いた構成において、画像形成の高速化に対応するなどのために、複数のコロナ帯電器や複数のグリッド電極を用いる技術が提案されている（特許文献１）。
【０００３】
ところで、コロナ帯電器を用いた構成の場合、感光体の表面の移動方向と略直交する方向における、感光体の静電容量や、帯電器と感光体との間の距離などに傾きがあると、その方向における感光体の帯電電位に傾きが発生することがある。以下、感光体の表面の移動方向と略直交する方向（ドラム型の感光体の回転軸線方向）を「スラスト方向」ともいう。また、「傾き」は、単に傾斜を意味するものではなく、スラスト方向の複数箇所間での「差異」を含む概念である。
【０００４】
このスラスト方向における帯電電位の傾きを抑制する方法や調整する方法が提案されている。例えば、帯電器のグリッド電極と感光体との間の距離のスラスト方向における傾きを調整するために、帯電器の位置を調整する方法が提案されている（特許文献２）。また、帯電電位の傾きの調整を精度よく行うために、形成した帯電電位の領域を現像するモ−ドを実行する方法が提案されている（特許文献３）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−８４６８８号公報
【特許文献２】特開２００７−２１２８４９号公報
【特許文献３】特許第５３１７５４６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、帯電性の異なる帯電器によりそれぞれ形成した帯電電位を重畳させて合成表面電位を形成することで感光体の帯電処理を行う構成の場合、次のような問題があることがわかった。
【０００７】
なお、帯電器の「帯電性」とは、合成表面電位を形成する際の個々の帯電器が形成する帯電電位の絶対値の違いを指し、該絶対値が相対的に大きい帯電器の帯電性は、該絶対値が相対的に小さい帯電器の帯電性よりも「高い」ものとする。
【０００８】
つまり、このような構成の場合、相対的に帯電性の高い帯電器による帯電電位が合成表面電位の傾きに与える影響が大きいため、特に該相対的に帯電性の高い帯電器による帯電電位を精度よく調整することが重要となる。しかし、従来の方法では、各帯電器、特に、相対的に帯電性の高い帯電器による帯電電位の傾きを個別に把握して、適正な調整を行うことができない。
【０００９】
したがって、本発明の目的は、帯電性の異なるコロナ帯電器を用いて合成表面電位を形成することで感光体の帯電処理を行う構成において、感光体の帯電電位の傾きの調整の精度を向上させることを可能とする画像形成装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的は本発明に係る画像形成装置にて達成される。要約すれば、本発明は、感光体と、前記感光体の帯電処理を行う第１、第２のコロナ帯電器と、前記第１、第２のコロナ帯電器のそれぞれに独立して制御可能な電圧を印加する電圧印加手段と、を有し、前記第１のコロナ帯電器が前記感光体の表面に形成する第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）と、前記第２のコロナ帯電器が前記感光体の表面に形成する第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）と、を重畳させて合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）を形成することにより、前記帯電処理を行う画像形成装置において、前記帯電処理において、前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の絶対値は、前記第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の絶対値よりも大きくなるように設定されており、前記帯電処理により形成される前記感光体の帯電電位の、前記感光体の移動方向と略直交する方向であるスラスト方向における傾きを調整するための調整手段と、前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の前記スラスト方向における傾きに関する情報を取得することを可能とするように、前記第２の帯電電位Ｖｄ（Ｌ）を重畳させない前記第１の帯電電位Ｖｄ（Ｕ）を前記感光体の表面に形成する動作を含む測定モードを実行させる制御手段と、を有することを特徴とする画像形成装置である。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、帯電性の異なるコロナ帯電器を用いて合成表面電位を形成することで感光体の帯電処理を行う構成において、感光体の帯電電位の傾きの調整の精度を向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】画像形成装置の概略断面図である。
【図２】帯電装置の模式的な断面図である。
【図３】コロナ帯電器のグリッド電極の配置を示す模式的な断面図である。
【図４】画像形成装置の要部の制御態様を示すブロック図である。
【図５】上流帯電器の帯電電圧と感光体の帯電電位との関係を示すグラフ図である。
【図６】下流帯電器の帯電電圧と感光体の帯電電位との関係を示すグラフ図である。
【図７】上流、下流帯電器による感光体の帯電電位の推移を示すグラフ図である。
【図８】帯電電位の傾きの調整機構の一例を示す模式図である。
【図９】ワイヤー高さと感光体の帯電電位との関係を示すグラフ図である。
【図１０】帯電電位の傾きの調整機構の他の例を示す模式図である。
【図１１】グリッドギャップと感光体の帯電電位との関係を示すグラフ図である。
【図１２】帯電電位の傾きの調整機構の更に他の例を示す模式図である。
【図１３】帯電モードの選択などを行う設定画面の模式図である。
【図１４】第１の帯電モードのタイミングチャート図である。
【図１５】第２の帯電モードのタイミングチャート図である。
【図１６】第３の帯電モードのタイミングチャート図である。
【図１７】帯電電位の傾きの調整手順の一例を示すフローチャート図である。
【図１８】帯電電位の傾きの調整手順の他の例を示すフローチャート図である。
【図１９】帯電電位の傾きの調整手順の更に他の例を示すフローチャート図である。
【図２０】帯電電位の傾きの調整手順の更に他の例を示すフローチャート図である。
【図２１】帯電電位の傾きを調整するためのテスト画像の模式図である。
【図２２】テスト画像の測定結果などを表示する結果画面の模式図である。
【図２３】画像濃度の傾きとワイヤー高さの調整量との関係を示すグラフ図である。
【図２４】帯電電位の傾きの測定に用い得る電位センサーの例を示す模式図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
以下、本発明に係る画像形成装置を図面に則して更に詳しく説明する。
【００１４】
［実施例１］
＜１．画像形成装置の説明＞
＜１−１．画像形成装置の全体的な構成及び動作＞
図１は、本実施例の画像形成装置１００の概略断面図である。画像形成装置１００及びその要素について、図１の紙面の手前側を「手前側」、紙面奥側を「奥側」とする。この手前側と奥側とを結ぶ方向は、後述する感光体１の表面の移動方向と略直交する方向（スラスト方向）と略平行である。
【００１５】
画像形装置１００は、像担持体としての感光体１を有する。感光体１は、図中矢印Ｒ１方向（時計回り）に所定の周速度（プロセススピード）で回転駆動される。回転する感光体１の表面は、帯電手段としての帯電装置３によって所定の極性（本実施例では負極性）の所定の電位に帯電処理される。つまり、帯電装置３は、感光体１の表面に帯電電位（非露光部電位）を形成する。帯電処理された感光体１の表面は、画像情報に応じて露光手段としての露光装置１０によって走査露光され、感光体１上に静電像（静電潜像）が形成される。本実施例では、露光装置１０が照射する光の波長は６７０ｎｍであり、露光装置１０による感光体１の表面の露光量は、０．１〜０．５μＪ／ｃｍ２の範囲で可変である。露光装置１０は、現像条件に応じて露光量を調整して、感光体１の表面に所定の露光部電位を形成することが可能である。
【００１６】
感光体１上に形成された静電像は、現像手段としての現像装置６によって現像剤としてのトナーを用いて現像（可視化）され、感光体１上にトナー像が形成される。本実施例では、帯電処理された後に露光されることで電位の絶対値が低下した感光体１上の露光部に、感光体１の帯電極性（本実施例では負極性）と同極性に帯電したトナーが付着する（反転現像）。
【００１７】
なお、画像形成装置１００は、感光体１の表面電位を検知する電位検知手段としての電位センサー５を有する。この電位センサー５は、感光体１の回転方向における、露光装置１０による感光体１上の露光位置Ｓと、現像装置６による現像位置Ｇと、の間の検知位置（センサー位置）Ｄにおいて感光体１の表面電位を検知できるように配置されている。電位センサー５を用いた制御については後述する。
【００１８】
感光体１と対向するように、記録材担持体としての転写ベルト８が配置されている。転写ベルト８は、複数の張架ローラ（支持ローラ）に巻き掛けられて張架されており、該複数の張架ローラのうちの駆動ローラ９により駆動力が伝達されて、図中矢印Ｒ２方向に感光体１と同等の周速度で回転（周回移動）する。転写ベルト８の内周面側において、感光体１と対向する位置には、転写手段としてのローラ型の転写部材である転写ローラ７が配置されている。転写ローラ７は、転写ベルト８を介して感光体１に向けて押圧され、感光体１と転写ベルト８とが接触する転写部Ｎを形成する。上述のように感光体１上に形成されたトナー像は、転写部Ｎにおいて、転写ベルト８に担持されて搬送される紙などの記録材Ｐに転写される。転写工程時に、転写ローラ７には、転写電源（高圧電源回路）Ｓ６（図４）から、現像時のトナーの帯電極性とは逆極性（本実施例では正極性）の転写電圧（転写バイアス）が印加される。
【００１９】
トナー像が転写された記録材Ｐは、定着手段としての定着装置５０へと搬送され、該定着装置５０によって加熱及び加圧されることによってトナー像が表面に定着（溶融固着）された後に、画像形成装置１００の装置本体１１０の外部に排出（出力）される。
【００２０】
一方、転写工程後の感光体１上に残留したトナー（転写残トナー）は、クリーニング手段としてのクリーニング装置２０によって感光体１上から除去されて回収される。また、クリーニング装置２０によってクリーニングされた後の感光体１の表面は、除電手段としての光除電器４０によって光（除電光）が照射されて、残留電荷の少なくとも一部が除去される。本実施例では、光除電器４０は、光源としてＬＥＤチップアレイを有する。また、本実施例では、光除電器４０が照射する光の波長は６３５ｎｍであり、光除電器４０による感光体１の表面の露光量は、１．０〜７．０μＪ／ｃｍ２の範囲で可変である。本実施例では、この光除電器４０による露光量の初期値は、４．０μＪ／ｃｍ２に設定されている。
【００２１】
画像形成装置１００の各部の動作は、装置本体１１０に設けられた制御手段としてのＣＰＵ２００によって統括的に制御される。また、画像形成装置１００は、印刷動作や装置の調整動作に関する各種指示や設定などを入力するための入力手段、及び各種情報を表示するための表示手段としての機能を備えた操作部３００を有する。本実施例では、操作部３００は、タッチ操作可能な画面（タッチパネル）を有して構成される。さらに、画像形成装置１００は、紙などの媒体上の画像を光学的に読み取り、電気信号に変換してＣＰＵ２００に入力するための読み取り部２５０を有する。
【００２２】
＜１−２．感光体＞
本実施例では、感光体１は、アルミニウムなどで形成された導電性基体１ａと、その外周に形成された光導電層（感光層）１ｂと、を有する、円筒状の電子写真感光体（感光ドラム）である。感光体１は、駆動手段としての駆動モータ（図示せず）によって回転駆動される。本実施例では、感光体１の帯電極性は負極性である。また、本実施例では、感光体１は、外径８４ｍｍのアモルファスシリコン感光体であり、感光層の厚みは４０μｍ、感光層の比誘電率は１０である。
【００２３】
なお、感光体は、本実施例のものに限定されるものではなく、例えば、ＯＰＣ（有機感光体）であってもよく、また帯電極性が本実施例とは異なるものであってもよい。
【００２４】
＜１−３．帯電装置＞
図２、図３は、本実施例における帯電装置３の模式的な断面図である。本実施例では、帯電装置３は、感光体１の上方に配置されている。
【００２５】
帯電装置３は、複数のコロナ帯電器として、感光体１の表面の移動方向において上流側に配置された上流帯電器（第１の帯電器）３１と、該方向において下流側に配置された下流帯電器（第２の帯電器）３２と、を有する。上流帯電器３１、下流帯電器３２は、感光体１の表面の移動方向に沿って隣接して配置されている。上流帯電器３１、下流帯電器３２は、それぞれスコロトロン帯電器であり、それぞれに印加される帯電電圧（帯電バイアス、帯電高圧）が独立に制御されるようになっている。本実施例では、上流帯電器３１を主帯電側として、帯電性は上流帯電器３１の方が下流帯電器３２よりも高く設定されている。また、本実施例では、下流側の帯電器３２ｂを電位収束側として、帯電性は下流帯電器３２の方が上流帯電器３１よりも低く設定されている。以下、上流帯電器３１、下流帯電器３２に関する要素を、それぞれ語頭に「上流」、「下流」を付して区別することがある。
【００２６】
上流帯電器３１、下流帯電器３２は、それぞれ放電電極であるワイヤー電極（放電ワイヤー、放電線）３１ａ、３２ａと、制御電極であるグリッド電極３１ｂ、３２ｂと、遮蔽部材（筐体）であるシールド電極３１ｃ、３２ｃと、を有する。また、上流帯電器３１と下流帯電器３２との間には、電気絶縁性の材料で形成された絶縁部材である絶縁板３３が配置されている。これにより、上流シールド電極３１ｃと下流シールド電極３２ｃとに異なる電圧が印加された際に、上流シールド電極３１ｃと下流シールド電極３２ｃとの間でリークが生じるのが防止される。この絶縁板３３は、上流シールド電極３１ｃと下流シールド電極３２ｃとの隣接方向（略感光体１の表面の移動方向）の厚さが約２ｍｍの板状部材で構成されている。
【００２７】
帯電装置３の放電領域（感光体１を帯電させる放電を発生させることが可能な領域）の感光体１の表面の移動方向の幅は４４ｍｍであり、該放電領域のスラスト方向の長さは３４０ｍｍである。また、上流帯電器３１、下流帯電器３２の放電領域の感光体１の表面の移動方向の幅は、それぞれ２０ｍｍで同じである。
【００２８】
上流ワイヤー電極３１ａ、下流ワイヤー電極３２ａは、それぞれ酸化処理されたタングステンワイヤーで構成されたワイヤー電極である。このワイヤー電極の材料としては、線径（直径）６０μｍの、一般的に電子写真方式の画像形成装置で用いられるものを用いた。上流ワイヤー電極３１ａ、下流ワイヤー電極３２ａは、それぞれ軸線方向がスラスト方向と略平行、すなわち、感光体１の回転軸線方向と略平行になるように配置されている。
【００２９】
上流グリッド電極３１ｂ、下流グリッド電極３２ｂは、それぞれエッヂング処理によりメッシュ状に開口部が形成された、一方向に長い略矩形の略平板形状のグリッド電極である。このグリッド電極の材料としては、ＳＵＳ（ステンレススチール）にニッケルメッキなどの腐食防止層が形成された、一般的に電子写真方式の画像形成装置で用いられるものを用いた。上流グリッド電極３１ｂ、下流グリッド電極３２ｂは、それぞれ長手方向がスラスト方向と略平行、すなわち、感光体１の回転軸線方向と略平行になるように配置されている。また、図３に示すように、上流グリッド電極３１ｂ、下流グリッド電極３２ｂは、それぞれの平面方向が感光体１の曲率に沿うように配置角度（傾斜角）を変えて配置されている。上流、下流グリッド電極３１ｂ、３２ｂの配置角度は、それぞれ上流、下流ワイヤー電極３１ａ、３２ａと感光体１の回転中心とを結んだ直線に対して略直角である。また、上流グリッド電極３１ｂ、下流グリッド電極３２ｂのそれぞれと、感光体１との最近接距離（以下、「グリッドギャップ」ともいう。）ＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）は、１．３±０．２ｍｍの範囲に設定されている。また、上流ワイヤー電極３１ａ、下流ワイヤー電極３２ｂと、上流グリッド電極３１ｂ、下流グリッド電極３２ｂとの間の距離（以下、「ワイヤー高さ」ともいう。）Ｈｐｇ（Ｕ）、Ｈｐｇ（Ｌ）は、それぞれ８．０±１ｍｍの範囲に設定されている。また、上流グリッド電極３１ｂ、下流グリッド電極３２ｂの開口率は、それぞれ９０％、８０％に設定されている。なお、開口率の値は、本実施例の値に限定されるものではなく、例えば、感光体１の種類、感光体１の回転速度、帯電条件などに応じて適宜変更することができる。
【００３０】
上流シールド電極３１ｃ、下流シールド電極３２ｃは、それぞれ導電性材料で形成された略箱状部材であり、感光体１と対向する位置に開口部が設けられており、この開口部に位置して上流グリッド電極３１ｂ、下流グリッド電極３２ｂが配置されている。
【００３１】
＜１−４．帯電電圧＞
図２に示すように、上流ワイヤー電極３１ａ、下流ワイヤー電極３２ａは、それぞれ直流電源（高圧電源回路）である上流ワイヤー電源Ｓ１、下流ワイヤー電源Ｓ２に接続されている。これにより、上流ワイヤー電極３１ａ、下流ワイヤー電極３２ａに印加する電圧を独立に制御できるようになっている。また、上流グリッド電極３１ｂ、下流グリッド電極３２ｂは、それぞれ直流電源（高圧電源回路）である上流グリッド電源Ｓ３、下流グリッド電源Ｓ４に接続されている。これにより、上流グリッド電極３１ｂ、下流グリッド電極３２ｂに印加する電圧を独立に制御できるようになっている。以下、上流ワイヤー電源Ｓ１、下流ワイヤー電源Ｓ２、上流グリッド電源Ｓ３、下流グリッド電源Ｓ４を、「帯電電源」と総称することがある。帯電電源Ｓ１〜Ｓ４は、上流帯電器３１、下流帯電器３２のそれぞれに独立して制御可能な電圧を印加する電圧印加手段の一例である。
【００３２】
また、上流シールド電極３１ｃ、下流シールド電極３２ｃは、それぞれ上流グリッド電源Ｓ３、下流グリッド電源Ｓ４に接続され、それぞれ上流グリッド電極３１ｂ、下流グリッド電極３２ｂと同電位とされる。
【００３３】
なお、上流、下流シールド電極３１ｃ、３２ｃは、それぞれ上流、下流グリッド電極３１ｂ、３２ｂと同電位とされることに限定されるものではなく、それぞれ装置本体１１０のアース電極に接続して電気的に接地するなどしてもよい。上流帯電器３１、下流帯電器３２のそれぞれによって感光体１の表面に形成する帯電電位を、独立して制御できる構成であればよい。
【００３４】
図４は、画像形成装置１００の要部の概略制御態様を示すブロック図である。ＣＰＵ２００には、読み取り部２５０、操作部３００、タイマー４００、環境センサー５００、表面電位測定部７００、高圧出力制御部８００、記憶部６００などが接続されている。タイマー４００は、時間を計測する。環境センサー５００は、装置本体１１０の内部又は外部の少なくとも一方の温度又は湿度の少なくとも一方を測定する。表面電位測定部７００は、ＣＰＵ２００の制御のもとで、電位センサー５の動作を制御する制御回路である。高圧出力制御部８００は、ＣＰＵ２００の制御のもとで、帯電電源Ｓ１〜Ｓ４、後述する現像電源Ｓ５、転写電源Ｓ６の動作を制御する制御回路である。記憶部６００は、プログラムや各種検知手段の検知結果などを記憶する記憶手段たるメモリであり、例えば帯電電圧の制御データや感光体１の表面電位の測定結果を記憶する。ＣＰＵ２００は、環境センサー５００の測定結果や、記憶部６００に記憶された情報などに基づいて処理を行い、高圧出力制御部８００に命令し、帯電電源Ｓ１〜Ｓ４を制御する。
【００３５】
上流ワイヤー電極３１ａ、下流ワイヤー電極３２ａに印加される直流電圧（以下、「ワイヤー電圧」）は、上流ワイヤー電極３１ａ、下流ワイヤー電極３２ａに流れる電流（以下、「ワイヤー電流」）の値が目標電流値で略一定になるように定電流制御される。本実施例では、ワイヤー電流（一次電流）の目標電流値は、−２０００〜０（μＡ）の範囲で変更可能である。また、上流グリッド電極３１ｂ、下流グリッド電極３２ｂに印加される直流電圧（以下、「グリッド電圧」）は、該グリッド電圧の値が目標電圧値で略一定となるように定電圧制御される。本実施例では、グリッド電圧の目標電圧値は、−１３００〜０（Ｖ）の範囲で変更可能である。
【００３６】
＜１−５．現像装置＞
本実施例では、現像装置６は、二成分磁気ブラシ方式の現像装置である。現像装置６は、現像剤担持体としての中空円筒状の現像スリーブ６ａを有する。現像スリーブ６ａは、駆動手段としての駆動モータ（図示せず）によって回転駆動される。現像スリーブ６ａの内部（中空部）には、磁界発生手段としてのマグネットローラ６ｂが配置されている。現像スリーブ６ａは、マグネットローラ６ｂの発生する磁力によりトナー（非磁性トナー粒子）とキャリア（磁性キャリア粒子）とを含む二成分現像剤を担持して、回転駆動されることで感光体１との対向部（現像位置）Ｇへと搬送する。また、現像動作時に、現像スリーブ６ａには、現像電源（高圧電源回路）Ｓ５（図４）から、所定の現像電圧（現像バイアス）が印加される。ＣＰＵ２００は、感光体１の帯電電位（非露光部電位）と露光部電位とをそれぞれ電位センサー５によって検知した結果に基づいて、現像電源Ｓ５を制御する。本実施例では、現像電源Ｓ５の直流電圧出力は、−１０００Ｖ〜０Ｖの範囲で変更可能である。
【００３７】
ここで、ＣＰＵ２００は、画像形成条件に応じて、感光体１の表面の露光部電位、又は帯電電位（非露光部電位）に対してトナーを付着させてトナー像を形成するように、現像電源Ｓ５を制御することができる。ＣＰＵ２００は、通常の画像形成時には、感光体１の表面の露光部電位に対してトナーを付着させるように現像電源Ｓ５を制御する。また、ＣＰＵ２００は、後述する帯電電位の傾きを調整するためのテスト画像を形成する場合には（実施例４）、感光体１の表面の帯電電位に対してトナーを付着させるように現像電源Ｓ５を制御する。
【００３８】
なお、現像装置６は、感光体１の表面の露光部電位、更には帯電電位（実施例４）に対してトナーを付着させることが可能であればよい。現像方式、現像剤の帯電極性、及び感光体１の帯電極性との関係などは、本実施例のものに限定されるものではない。また、本実施例では、現像電圧は直流電圧であるが、直流電圧（直流成分）と交流電圧（交流成分）とが重畳された振動電圧を用いることもできる。
【００３９】
＜２．帯電電位の制御＞
本実施例では、帯電装置３は、上流帯電器３１と下流帯電器３２とに印加する帯電電圧をそれぞれ独立に制御して形成した帯電電位を重畳させて合成表面電位を形成することで、感光体１の帯電処理を行う。以下、帯電装置３による帯電処理について更に説明する。
【００４０】
なお、電位、電圧、電流、部材、寸法などを示す符号について、上流帯電器３１に関する符号には「Ｕ」、下流帯電器３２に関する符号には「Ｌ」を付して区別することがある。また、電位を示す符号について、感光体１の回転方向におけるセンサー位置Ｄに関するものには「ｓｅｎｓ」、現像位置Ｇに関するものには「ｄｅｖ」を付して区別することがある。
【００４１】
＜２−１．上流帯電器による帯電電位＞
まず、上流帯電器３１により感光体１の表面に形成する帯電電位である第１の帯電電位（以下、「上流帯電電位」ともいう。）Ｖｄ（Ｕ）について説明する。
【００４２】
上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）は、次のようにして制御される。上流ワイヤー電源Ｓ１により上流ワイヤー電極３１ａに上流ワイヤー電圧が印加され、所定の上流ワイヤー電流Ｉｐ（Ｕ）が供給された状態で、上流グリッド電源Ｓ３により上流グリッド電極３１ｂに印加される上流グリッド電圧Ｖｇ（Ｕ）が制御される。
【００４３】
図５は、感光体１の周速度が７００ｍｍ／ｓの場合の、上流グリッド電圧Ｖｇ（Ｕ）と、センサー位置Ｄ及び現像位置Ｇでの上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）ｓｅｎｓ、Ｖｄ（Ｕ）ｄｅｖと、の関係を示している。図５に示すように、上流グリッド電圧Ｖｇ（Ｕ）に応じて、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）は変わる。例えば、上流ワイヤー電流Ｉｐ（Ｕ）が−１６００μＡの場合、上流グリッド電圧Ｖｇ（Ｕ）を−７５０Ｖとすると、センサー位置Ｄでの上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）ｓｅｎｓは−４８０Ｖ、現像位置Ｇでの上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）ｄｅｖは−４５０Ｖとなる。本実施例では、上流グリッド電圧Ｖｇ（Ｕ）は、現像位置Ｇでの上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）ｄｅｖが目標電位になるように、感光体１の暗減衰量を考慮したうえでセンサー位置Ｄでの上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）ｓｅｎｓが制御される。本実施例では、上流グリッド電圧Ｖｇ（Ｕ）は、上流帯電器３１の単独で感光体１の帯電処理を行った際に、現像位置Ｇでの上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）ｄｅｖが目標電位に対して±１０Ｖになるように制御される。
【００４４】
＜２−２．下流帯電器による帯電電位＞
次に、下流帯電器３２により感光体１の表面に形成する帯電電位である第２の帯電電位（以下、「下流帯電電位」ともいう。）Ｖｄ（Ｌ）について説明する。
【００４５】
下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）は、次のようにして制御される。下流ワイヤー電源Ｓ２により下流ワイヤー電極３２ａに下流ワイヤー電圧が印加され、所定の下流ワイヤー電流Ｉｐ（Ｌ）が供給された状態で、下流グリッド電源Ｓ４により下流グリッド電極３２ｂに印加される下流グリッド電圧Ｖｇ（Ｌ）が制御される。これにより、下流帯電器３２は、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）に下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）を重畳させた合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）を感光体１の表面に形成する。
【００４６】
図６は、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）に下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）を重畳させた場合の、下流グリッド電圧Ｖｇ（Ｌ）と、センサー位置Ｄ及び現像位置Ｇでの合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）と、の関係を示す。例えば、現像位置Ｇでの上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）ｄｅｖが−４６０Ｖの場合、下流ワイヤー電流Ｉｐ（Ｌ）が−１６００μＡ、下流グリッド電圧Ｖｇ（Ｌ）が−６２０Ｖとすると、現像位置Ｇでの合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）ｄｅｖは−５００Ｖとなる。
【００４７】
＜２−３．合成表面電位＞
次に、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）と下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）と合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）との関係について説明する。
【００４８】
図７は、感光体１の表面のある位置を上流帯電器３１及び下流帯電器３２により帯電処理した際の、上流帯電器３１の位置（放電領域）に到達してから現像位置Ｇに到達するまでの表面電位の変化を示したモデル図である。図７中の破線は、上流帯電器３１の単独で帯電処理した場合の表面電位を示す。また、図７中の実線は、上流帯電器３１及び下流帯電器３２により帯電処理した場合における、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）に下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）を重畳させた合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）を示す。
【００４９】
図７中の破線で示すように、上流帯電器３１の単独で帯電処理した場合、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）は、上流帯電器３１を通過した直後から減衰を開始して、現像位置Ｇでの上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）ｄｅｖは、例えば、−４５０Ｖとなる。また、図７中の実線で示すように、下流帯電器３２によって形成された合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）は、下流帯電器３２を通過した直後から減衰を開始して、現像位置Ｇでの合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）ｄｅｖは、例えば、−５００Ｖとなる。
【００５０】
図７に示すように、本実施例では、上流帯電器３１と下流帯電器３２とで帯電性が異なっており、上流帯電器３１の帯電性の方が下流帯電器３２の帯電性よりも高い。
【００５１】
＜３．帯電電位の傾きの調整方法＞
次に、上流帯電器３１、下流帯電器３２によって形成される感光体１の帯電電位のスラスト方向における傾きの調整方法について説明する。
【００５２】
感光体１の帯電電位に傾きが発生した場合、ワイヤー高さＨｐｇ、グリッドギャップＧＡＰ、又はその両方を調整することで、該傾きを調整（補正）することができる。
【００５３】
なお、説明の便宜上、帯電電位の傾きの調整方法の例として、第１、第２、第３の調整方法についてここで説明するが、後述するように本実施例ではこのうちの第１の方法を用いる。
【００５４】
＜３−１．第１の調整方法＞
第１の調整方法では、ワイヤー高さＨｐｇを調整する。図８は、第１の調整方法を実現する調整機構２の模式的な側面図である。この調整機構２は、上流帯電器３１及び下流帯電器３２による帯電処理により形成される感光体１の帯電電位の、感光体１の移動方向と略直交する方向であるスラスト方向における傾きを調整するための調整手段の一例である。本例の調整機構２は、上流帯電器３１、下流帯電器３２におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）、Ｈｐｇ（Ｌ）をそれぞれ独立して調整する。なお、本例の調整機構２は、上流帯電器３１と下流帯電器３２とで実質的に同じであるため、上流帯電器３１を例として説明する。
【００５５】
上流帯電器３１は、スラスト方向の両端部において上流ワイヤー電極３１ａ、上流グリッド電極３１ｂ、及びシールド電極３１ｃ（図２）を支持する支持部材としての、奥側ブロック３４Ｒ及び手前側ブロック３４Ｆを有する。上流ワイヤー電極３１ａは、軸線方向の両端部がそれぞれ奥側ブロック３４Ｒ、手前側ブロック３４Ｆに付勢手段によって張力が付与された状態で支持されている。また、奥側ブロック３４Ｒ、手前側ブロック３４Ｆの感光体１と対向する位置に、それぞれ上流グリッド電極３１ｂを支持する支持部３５が設けられており、上流グリッド電極３１ｂの長手方向の両端部がそれぞれこの支持部３５に固定されている。
【００５６】
奥側ブロック３４Ｒ、手前側ブロック３４Ｆに、それぞれ調整機構２を構成するワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）を調整するための調整部６０が設けられている。調整部６０は、帯電電位の傾き方向に応じて、上流ワイヤー電極３１ａの軸線方向における奥側と手前側とで独立にワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）を調整して、スラスト方向におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）の傾きを調整することが可能である。奥側、手前側の調整部６０は、それぞれ調整ネジ６１と、位置決め部材６２と、を有する。上流ワイヤー電極３１ａは、奥側、手前側の位置決め部材６２に下方から当接させられて軸線方向に張られている。調整ネジ６１を回転させることにより、位置決め部材６２を図８中の矢印Ｚで示すように感光体１に対し近づく方向又は遠ざかる方向に移動させて、ワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）を調整することができる。
【００５７】
上流グリッド電極３１ｂは、上述のように支持部３５により支持されており、ワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）が調整されても、グリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）は変わらない。
【００５８】
なお、本例では、奥側ブロック３４Ｒ、手前側ブロック３４Ｆは、それぞれ上流帯電器３１と下流帯電器３２とで一体（共通）の部材とされていてよい。
【００５９】
図９は、ワイヤー高さＨｐｇと感光体１の帯電電位との関係を示すグラフ図である。図９の横軸はワイヤー高さＨｐｇ（ｍｍ）を示し、縦軸は感光体１の帯電電位を示す。また、図９中の実線は、上流帯電器３１におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）と、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）との関係を示す。また、図９中の破線は、下流帯電器３２におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｌ）と、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）との関係を示す。
【００６０】
図９に示すように、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の、上流帯電器３１におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）に対する傾きは、２５Ｖ／ｍｍである。また、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）に下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）を重畳させた合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の、下流帯電器３２におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｌ）に対する傾きは、１０Ｖ／ｍｍである。このようにＨｐｇ（Ｕ）に対する上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きよりも、Ｈｐｇ（Ｌ）に対する合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きの方が小さいのは、上流帯電器３１の帯電性が相対的に高く、下流帯電器３２の帯電性が相対的に低いためである。
【００６１】
第１の調整方法では、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）に傾きが発生した場合に、図９に示す関係に基づいて、上流、下流帯電器３１、３２におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）、Ｈｇｐ（Ｌ）をそれぞれ独立して調整することができる。これにより、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きと、下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の傾きと、を独立して調整することができる。
【００６２】
なお、上流帯電器３１、下流帯電器３２におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）、Ｈｐｇ（Ｌ）を独立して調整する構成は、上記本例の構成に限定されるものではない。上流帯電器３１、下流帯電器３２におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）をそれぞれ一定に保持したまま、ワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）、Ｈｐｇ（Ｌ）を独立して調整可能な構成であればよい。
【００６３】
＜３−２．第２の調整方法＞
第２の調整方法では、グリッドギャップＧＡＰを調整する。図１０は、調整手段の他の例としての、第２の調整方法を実現する調整機構２の模式的な側面図である。本例では、調整機構２は、上流帯電器３１、下流帯電器３２におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）を同時に調整する。本例では、奥側ブロック３４Ｒ、手前側ブロック３４Ｆは、それぞれ上流帯電器３１と下流帯電器３２とで一体（共通）の部材とされている。図１０は、上流帯電器３１の側面側から見た様子を示している。
【００６４】
帯電装置３の奥側は、奥側ブロック３４Ｒに設けられた奥側位置決め部３６が装置本体１１０の奥側の側板７０Ｒと係合することによって位置決めされている。手前側ブロック６０Ｆには、調整機構２を構成するグリッドギャップＧＡＰを調整するための手前側位置決め部６５が設けられている。手前側位置決め部６５は、装置本体１１０の手前側の側板７０Ｆに取り付けられた調整部材６６に上方から当接する（載置される）ようになっている。調整部材６６は、ネジ部を備えており、回転させることにより図１０中の矢印Ｘで示すようにスラスト方向に沿って奥側又は手前側に移動させることができる。そして、手前側位置決め部６５は、調整部材６５が上記矢印Ｘ方向に移動すると、図１０中の矢印Ｙで示すように感光体１に対し近づく方向又は遠ざかる方向に移動する。これにより、調整部材６６で手前側位置決め部６６を移動させることで、手前側ブロック３４Ｆを図１０中の矢印Ｙ方向に移動させて、上流帯電器３１、下流帯電器３２におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）を同時に調整することができる。
【００６５】
上流ワイヤー電極３１ａ、下流ワイヤー電極３２ａは、本例ではそれぞれ第１の調整方法について説明したのと同様にして奥側ブロック３４Ｒ、手前側ブロック３４Ｆに支持されている。そして、グリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）が調整されても、ワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）、Ｈｐｇ（Ｌ）は変わらない。
【００６６】
図１１は、グリッドギャップＧＡＰと感光体１の帯電電位との関係を示すグラフ図である。図１１の横軸はグリッドギャップＧＡＰ（ｍｍ）を示し、縦軸は感光体１の帯電電位を示す。また、図１１中の実線は、上流帯電器３１におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）と、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）との関係を示す。また、図１１中の破線は、下流帯電器３２におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｌ）と、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）との関係を示す。
【００６７】
図１１に示すように、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の、上流帯電器３１におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）対する傾きは、１５０Ｖ／ｍｍである。また、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）に下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）を重畳させた合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の、下流帯電器３２におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｌ）に対する傾きは、７５Ｖ／ｍｍである。このようにＧＡＰ（Ｕ）に対する上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きよりも、ＧＡＰ（Ｌ）に対する合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きの方が小さいのは、上流帯電器３１の帯電性が相対的に高く、下流帯電器３２の帯電性が相対的に低いためである。
【００６８】
第２の調整方法では、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）に傾きが発生した場合に、図１１に示す関係に基づいて、上流、下流帯電器３１、３２におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）を同時に調整することができる。これにより、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きと、下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の傾きと、を同時に調整することができる。
【００６９】
なお、上流帯電器３１、下流帯電器３２におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）を同時に調整する構成は、上記本例の構成に限定されるものではない。上流帯電器３１、下流帯電器３２におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）、Ｈｐｇ（Ｌ）をそれぞれ一定に保持したまま、グリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）を同時に調整可能な構成であればよい。
【００７０】
＜３−３．第３の調整方法＞
第３の調整方法では、第２の調整方法と同様にグリッドギャップＧＡＰを調整するが、上流帯電器３１、下流帯電器３２におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）をそれぞれ独立して調整する。図１２は、調整手段の更に他の例としての、第３の調整方法を実現する調整機構２の模式的な側面図である。本例では、奥側ブロック３４Ｒ、手前側ブロック３４Ｆは、上流帯電器３１と下流帯電器３２とで分割されている。本例では、調整機構２は、上流帯電器３１の手前側ブロック３４Ｆ（Ｌ）と下流帯電器３２の手前側ブロック３４Ｆ（Ｌ）の位置を独立に調整して、上流帯電器３１、下流帯電器３２におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）を独立して調整する。なお、本例の調整機構２は、上流帯電器３１と下流帯電器３２とで実質的に同じであるため、上流帯電器３１を例として説明する。
【００７１】
上流帯電器３１の奥側は、奥側ブロック３４Ｒ（Ｕ）に設けられた奥側位置決め部３６（Ｕ）が装置本体１１０の奥側の側板７０Ｒと係合することによって位置決めされている。上流帯電器３１の手前側ブロック６０（Ｆ）には、調整機構２を構成するグリッドギャップＧＡＰを調整するための手前側位置決め部６５（Ｕ）が設けられている。手前側位置決め部６５（Ｕ）は、装置本体１１０の手前側の側板７０Ｆに取り付けられた調整部材６６（Ｕ）に上方から当接する（載置される）ようになっている。手前側位置決め部６５（Ｕ）、調整部材６６（Ｕ）は、それぞれ図１０を参照して説明したものと同様の構成、機能を有し、調整部材６６を矢印Ｘ方向に移動させることで手前側位置決め部６５（Ｕ）を矢印Ｙ方向に移動させることができる。これにより、上流帯電器３１、下流帯電器３１におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）を独立して調整することができる。
【００７２】
上流ワイヤー電極３１ａ、下流ワイヤー電極３２ａは、本例ではそれぞれ第１の調整方法について説明したのと同様にして奥側ブロック３４Ｒ、手前側ブロック３４Ｆに支持されている。そして、グリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）が調整されても、ワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）、Ｈｐｇ（Ｌ）は変わらない。
【００７３】
なお、上流帯電器３１、下流帯電器３２におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）を独立して調整する構成は、上記本例の構成に限定されるものではない。上流帯電器３１、下流帯電器３２におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）、Ｈｐｇ（Ｌ）をそれぞれ一定に保持したまま、グリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）を独立して調整可能な構成であればよい。
【００７４】
＜４．帯電電位の傾き測定用の帯電モード＞
次に、上流帯電器３１、下流帯電器３２による帯電電位の傾きを調整するための測定モードにおいて行われる、感光体１の帯電処理について説明する。ここでは、測定モードにおける帯電処理のモードとして、上流帯電器３１、下流帯電器３２のそれぞれによる帯電電位の傾きと、合成表面電位の傾きと、を個別に測定するための帯電モードについて説明する。
【００７５】
なお、説明の便宜上、帯電モードの例として、第１、第２、第３の帯電モードについてここで説明するが、後述するように本実施例ではこのうちの第１、第２の帯電モードを用いる。
【００７６】
＜４−１．帯電モードの設定＞
まず、測定モードにおける帯電モードの設定方法について説明する。本実施例では、画像形成装置１００は、操作者による指示に応じて測定モードを実行するようになっている。操作者は、測定モードを実行させる際に操作部３００により帯電モードを選択して、感光体１の帯電処理を実行させる。図４に示すように、操作部３００はＣＰＵ２００に接続されており、ＣＰＵ２００は操作部３００により操作者が設定した条件に従って各帯電モードでの感光体１の帯電処理を実行させる。
【００７７】
図１３は、測定モードにおける帯電モードを選択し実行させるための操作部３００における表示（以下、「設定画面」ともいう。）の一例を示す模式図である。操作者は、操作部３００を操作して、操作部３００に図１３に示すような設定画面を表示させる。操作者は、操作部３００に表示された帯電モード一覧３０３を参照して、帯電モード選択欄３０２に実行させる帯電モードの番号（「１」、「２」又は「３」）を入力し、スタートボタン３０１を押す。これにより、ＣＰＵ２００は、選択された帯電モードで感光体１の帯電処理を実行させる。
【００７８】
なお、説明の便宜上、図１３中には、各帯電モードで形成した帯電電位に対してトナーを付着さてテスト画像を形成する場合（実施例４）に用いる、画像形成選択欄３０４を示しているが、実施例１〜３ではこれは用いないので無くてよい。
【００７９】
また、操作部３００における表示内容や画面の構成は、上述した内容に限定されるものではなく、他の形態に変更してもよい。
【００８０】
＜４−２．第１の帯電モード＞
第１の帯電モードは、まず上流帯電器３１による帯電電位Ｖｄ（Ｕ）を形成し、その後上流帯電器３１及び下流帯電器３２による合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）を形成する帯電モードである。
【００８１】
図１４は、第１の帯電モードのタイミングチャート図である。ＣＰＵ２００は、前述のようにして第１の帯電モードが選択された場合、図１４のタイミングチャート図に従って感光体１の帯電処理を実行させる。なお、図１４（ａ）は測定モードにおいて現像位置Ｇに配置した調整用の電位計（後述）を用いて感光体１の帯電電位を測定する場合（実施例１〜３）のタイミングチャート図である。また、図１４（ａ）は測定モードにおいてテスト画像を形成する場合（実施例４）のタイミングチャート図である。ここでは、図１４（ａ）を参照して第１の帯電モードについて説明する。
【００８２】
まず、タイミングＴ０において、感光体１の駆動が開始される。ことのき、感光体１の駆動の開始と同期して、光除電器４０の点灯も開始される。次に、タイミングＴ１において、上流帯電器３１への上流グリッド電圧の印加と上流ワイヤー電流の供給とが、所定の間隔（図示せず）を開けて開始される。その後、感光体１の帯電電位が安定したタイミングＴ２からタイミングＴ４までの帯電電位を測定するための所定時間Δｔの間、上流帯電器３１による帯電電位Ｖｄ（Ｕ）が形成される。次に、タイミングＴ４において、下流帯電器３２への下流グリッド電圧の印加と下流ワイヤー電流の供給とが、所定の間隔（図示せず）を開けて開始される。その後、感光体１の帯電電位が安定したタイミングＴ５からタイミングＴ６までの帯電電位を測定するための所定時間Δｔの間、上流帯電器３１及び下流帯電器３２による合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）が形成される。その後、タイミングＴ７において上流帯電器３１、下流帯電器３２への帯電電圧の印加が停止され、タイミングＴ８において感光体１の駆動が停止される。
【００８３】
このように、第１の帯電モードでは、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）と、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）と、が独立して形成され、各電位の測定が可能となる。
【００８４】
＜４−３．第２の帯電モード＞
第２の帯電モードは、上流帯電器３１による帯電電位Ｖｄ（Ｕ）を単独で形成する帯電モードである。
【００８５】
図１５は、第２の帯電モードのタイミングチャート図である。ＣＰＵ２００は、前述のようにして第２の帯電モードが選択された場合、図１５のタイミングチャート図に従って感光体１の帯電処理を実行させる。図１４の場合と同様、図１５（ａ）は実施例１〜３、図１５（ｂ）は実施例４に対応するタイミングチャート図であり、ここでは図１５（ａ）を参照して第２の帯電モードについて説明する。
【００８６】
まず、タイミングＴ０において、感光体１の駆動が開始される。このとき、感光体１の駆動の開始と同期して、光除電器４０の点灯も開始される。次に、タイミングＴ１において、上流帯電器３１への上流グリッド電圧の印加と上流ワイヤー電流の供給とが、所定の間隔（図示せず）を開けて開始される。その後、感光体１の帯電電位が安定したタイミングＴ２からタイミングＴ４までの帯電電位を測定するための所定時間Δｔの間、上流帯電器３１による帯電電位Ｖｄ（Ｕ）が形成される。その後、タイミングＴ５において上流帯電器３１への帯電電圧の印加が停止され、タイミングＴ８において感光体１の駆動が停止される。
【００８７】
このように、第２の帯電モードでは、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）が独立して形成され、該電位の測定が可能となる。
【００８８】
＜４−４．第３の帯電モード＞
第３の帯電モードは、下流帯電器３２による帯電電位Ｖｄ（Ｌ）を単独で形成する帯電モードである。
【００８９】
図１６は、第３の帯電モードのタイミングチャート図である。ＣＰＵ２００は、前述のようにして第３の帯電モードが選択された場合、図１６のタイミングチャート図に従って感光体１の帯電処理を実行させる。図１４の場合と同様、図１６（ａ）は実施例１〜３、図１６（ｂ）は実施例４に対応するタイミングチャート図であり、ここでは図１６（ａ）を参照して第３の帯電モードについて説明する。
【００９０】
まず、タイミングＴ０において、感光体１の駆動が開始される。このとき、感光体１の駆動の開始と同期して、光除電器４０の点灯も開始される。次に、タイミングＴ４において、下流帯電器３２への下流グリッド電圧の印加と下流ワイヤー電流の供給とが、所定の間隔（図示せず）を開けて開始される。その後、感光体１の帯電電位が安定したタイミングＴ５からタイミングＴ６までの帯電電位を測定するための所定時間Δｔの間、下流帯電器３２による帯電電位Ｖｄ（Ｌ）が形成される。その後、タイミングＴ７において下流帯電器３２への帯電電圧の印加が停止され、タイミングＴ８において感光体１の駆動が停止される。
【００９１】
このように、第３のモードでは、下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）が独立して形成され、該電位の測定が可能となる。
【００９２】
＜４−５．測定時間、帯電モードの種類＞
各帯電モードでの帯電電位の測定のための上述の所定時間（測定時間）Δｔは、帯電電位の所望の測定精度などに応じて任意に設定することができる。例えば、現像位置Ｇに調整用の電位計を配置して帯電電位を測定する場合には、測定精度の観点などから、所定時間Δｔは感光体１の１回転以上の時間に設定することが望ましい。また、図１３に示した操作部３００において、この所定時間Δｔを調整することが可能な構成としてもよい。
【００９３】
また、帯電モードの種類は、上記の３種類に限定されるものではなく、帯電器の数や画像形成装置１００の構成などに応じて、より多くてもより少なくてもよい。ただし、複数の帯電器のうち少なくとも、帯電電位の傾きに最も影響の大きい、最も帯電性の高い帯電器による帯電電位を独立して測定できる帯電モードを有していることが望まれる。また、相対的に帯電性の低い帯電器による帯電電位、あるいはすべての帯電器による合成表面電位を独立して測定できる帯電モードを更に有していることが望まれる。
【００９４】
＜５．帯電電位の傾きの調整手順＞
次に、本実施例における測定モードを実行して感光体１の帯電電位の傾きを調整する手順について説明する。本実施例では、測定モードにおける帯電モードとして、図１４（ａ）、図１５（ａ）を参照して説明した第１、第２の帯電モードを用いる。また、本実施例では、帯電電位の傾きの調整方向として、図８を参照して説明した第１の調整方法を用いる。
【００９５】
図１７は、本実施例における帯電電位の傾きを調整する手順を示すフローチャート図である。帯電電位の傾きを調整する場合、操作者は図１７（ａ）〜（ｃ）に示す手順に従って、帯電電位の傾きの測定、帯電電位の傾きの調整を順次実施する。
【００９６】
まず、操作者は、図１７（ａ）の手順において、操作部３００に表示された帯電モード選択欄３０２で第１の帯電モードを選択し、スタートボタン３０１を押して、第１の帯電モードでの感光体１の帯電処理を実行させる（Ｓ１０１）。そして、操作者は、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾き、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きをそれぞれ測定する（Ｓ１０２、Ｓ１０３）。
【００９７】
ここで、操作者は、この帯電電位の傾きを、予め現像位置Ｇに配置した電位検知手段としての調整用の電位計を用いて測定する。この電位計は、帯電電位の傾きを測定できるものであればよく、具体的には、スラスト方向における画像形成領域（トナー像を担持することが可能な領域）内の複数箇所で感光体１の表面電位を検知できるものを用いることができる。この電位計としては、例えば、現像装置６の代わりに装置本体１１０に装着され、現像位置Ｇにおいて感光体１の表面電位を検知できるように構成された電位測定治具を用いることができる。なお、この電位計は、スラスト方向における複数の検知位置で表面電位を検知する検知部を有するものであっても、一の検知部をスラスト方向における複数の検知位置へ移動させるものであってもよい。複数の検知位置の数は任意であるが、帯電電位の傾きを十分な精度で測定するためには、スラスト方向における画像形成領域の中央よりも奥側と手前側の２箇所以上であることが望ましい。本実施例では、電位計は、スラスト方向の中央より手前側と奥側との２箇所で感光体１の表面電位を検知するものとする。
【００９８】
操作者は、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾き、具体的にはスラスト方向の中央より手前側における帯電電位と奥側における帯電電位との差（ＦＲ差）が、予め設定されている所定の閾値以下（本実施例では１０Ｖ以下）か否か確認する（Ｓ１０４）。そして、操作者は、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きが閾値以下の場合はＳ１０５の手順に移行し、閾値よりも大きい場合は図１７（ｂ）のＳＵＢ−Ａの手順に移行する（Ｓ１０６、Ｓ２０１）。ＳＵＢ−Ａの手順は、図８を参照して説明した第１の調整方法により、上流帯電器３１におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）を調整する手順である。
【００９９】
図１７（ｂ）のＳＵＢ−Ａの手順に移行した後、操作者は、図９に示す上流帯電器３１におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）と上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きとの関係に基づいて、上流帯電器３１におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）を調整する（Ｓ２０２）。その後、操作者は、操作部３００に表示された帯電モード選択欄３０２で第２の帯電モードを選択し、スタートボタン３０１を押して、第２の帯電モードでの感光体１の帯電処理を実行させる（Ｓ２０３）。そして、操作者は、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾き（ＦＲ差）が閾値以下か否かを確認する（Ｓ２０４）。操作者は、Ｓ２０４で上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きが閾値以下になるまでＳ２０２〜Ｓ２０４の手順を繰り返し、閾値以下になった場合はＳＵＢ−Ａの手順を終了して図１７（ａ）のＳ１０１の手順に戻る（Ｓ２０５）。
【０１００】
その後、操作者は、Ｓ１０１〜Ｓ１０３の手順を行い、Ｓ１０４で上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きが閾値以下の場合、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾き（ＦＲ差）が予め定められている所定の閾値以下（本実施例では５Ｖ以下）か否かを確認する（Ｓ１０５）。そして、操作者は、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きが閾値以下の場合は帯電電位の傾きを調整する手順を終了する（Ｓ１０８）。一方、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きが閾値より大きい場合は、操作者は、図１７（ｃ）のＳＵＢ−Ｂの手順に移行する（Ｓ１０７、Ｓ３０１）。ＳＵＢ−Ｂの手順は、図８を参照して説明した第１の調整方法により、下流帯電器３２におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｌ）を調整する手順である。
【０１０１】
図１７（ｃ）のＳＵＢ−Ｂの手順に移行した後、操作者は、図９に示す下流帯電器３２におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｌ）と合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きとの関係に基づいて、下流帯電器３２におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｌ）を調整する（Ｓ３０２）。その後、操作者は、操作部３００に表示された帯電モード選択欄３０２で第１の帯電モードを選択し、スタートボタン３０１を押して、第１の帯電モードでの感光体１の帯電処理を実行させる（Ｓ３０３）。そして、操作者は、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾き（ＦＲ差）が閾値以下か否かを確認する（Ｓ３０４）。操作者は、Ｓ３０４で合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きが閾値以下になるまでＳ３０２〜Ｓ３０４の手順を繰り返し、閾値以下になった場合はＳＵＢ−Ｂの手順を終了して図１７（ａ）のＳ１０５の手順に戻る（Ｓ３０５）。
【０１０２】
図１７（ａ）のＳ１０５の手順に戻った後、操作者は、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾き（ＦＲ差）が閾値以下か否かを確認して、閾値以下の場合は帯電電位の傾きを調整する手順を終了する（Ｓ１０８）。
【０１０３】
調整機構２による調整は、例えば、帯電電位の絶対値が小さい方の電位を、帯電電位の絶対値が大きい方の電位に合わせるように行ったり、その逆を行ったりすることができる。いずれの場合も、図９に示す関係に基づいて、調整機構２の適切な調整量を求めることができる。
【０１０４】
本実施例では、第１、第２の帯電モードを用いることで、主帯電側の上流帯電器３１により形成した帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きと、上流帯電器３１及び下流帯電器３２により形成した合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きと、を個別に測定することができる。また、本実施例では、帯電電位の傾きの第１の調整方法を用いることで、主帯電側の上流帯電器３１により形成される帯電電位Ｖｄ（Ｕ）を個別に調整して、該電位をスラスト方向で略均一に調整することができる。また、電位収束側の下流帯電器３２により形成される帯電電位Ｖｄ（Ｌ）を個別に調整して、最終的に形成される合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）をスラスト方向で略均一に調整することができる。
【０１０５】
なお、本実施例では、第１、第２の帯電モードを用いて、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きと、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きと、測定した。そして、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）が所定の範囲内になるように上流帯電器３１のワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）を調整すると共に、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）が所定の範囲内になるように下流帯電器３２のワイヤー高さＨｐｇ（Ｌ）を調整した。これに対し、第２、第３の帯電モードを用いて、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きと、下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の傾きと、を独立して測定することもできる。この場合、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）が所定の範囲内になるように上流帯電器３１のワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）を個別に調整すると共に、下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）が所定の範囲になるように下流帯電器３２のワイヤー高さＨｐｇ（Ｌ）を個別に調整することができる。これによっても、結果的に上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）と下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）とが重畳されて形成される合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きを調整することができる。
【０１０６】
以上、本実施例によれば、帯電性の異なるコロナ帯電器３１、３２を用いて合成表面電位を形成することで感光体１の帯電処理を行う構成において、感光体１の帯電電位の傾きの調整の精度を向上させることが可能となる。
【０１０７】
［実施例２］
次に、本発明の他の実施例について説明する。本実施例の画像形成装置の基本的な構成及び動作は、実施例１のものと同じである。したがって、実施例１のものと同一又は対応する機能あるいは構成を有する要素については、同一符号を付して詳しい説明は省略する。
【０１０８】
本実施例では、帯電電位の傾きの調整方法として、図１２を参照して説明した第３の調整方法を用いる。
【０１０９】
図１８は、本実施例における帯電電位の傾きを調整する手順を示すフローチャート図である。帯電電位の傾きを調整する場合、操作者は図１８（ａ）〜（ｃ）に示す手順に従って、帯電電位の傾きの測定、帯電電位の傾きの調整を順次実施する。
【０１１０】
図１８（ａ）のＳ１１１〜Ｓ１１８の手順は、それぞれ実施例１における図１７（ａ）のＳ１０１〜Ｓ１０８の手順と同じである。また、図１８（ｂ）のＳ２１１〜Ｓ２１５の手順は、実施例１における図１７（ｂ）のＳ２０１〜Ｓ２０５の手順と同様である。ただし、本実施例では、Ｓ２１２における上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きの調整方法が、実施例１におけるＳ２０２とは異なる。また、図１８（ｃ）のＳ３１１〜Ｓ３１５の手順は、実施例１における図１７（ｃ）のＳ３０１〜Ｓ３０５の手順と同様である。ただし、本実施例では、Ｓ３１２における下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の傾きの調整による合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きの調整方法が、実施例１におけるＳ３０２とは異なる。
【０１１１】
本実施例では、図１８（ｂ）のＳ２１２において、操作者は、図１１に示す上流帯電器３１におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）と上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きとの関係に基づいて、上流帯電器３１におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）を調整する。これにより、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きを調整する。
【０１１２】
また、図１８（ｃ）のＳ３１２において、操作者は、図１１に示す下流帯電器３２におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｌ）と合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きとの関係に基づいて、下流帯電器３２におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｌ）を調整する。これにより、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きを調整する。
【０１１３】
本実施例では、第１、第２の帯電モードを用いることで、主帯電側の上流帯電器３１により形成した帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きと、上流帯電器３１及び下流帯電器３２により形成した合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きと、を個別に測定することができる。また、本実施例では、帯電電位の傾きの第３の調整方法を用いることで、主帯電側の上流帯電器３１により形成される帯電電位Ｖｄ（Ｕ）を個別に調整して、該電位をスラスト方向で略均一に調整することができる。また、電位収束側の下流帯電器３２により形成される帯電電位Ｖｄ（Ｌ）を個別に調整して、最終的に形成される合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）をスラスト方向で略均一に調整することができる。
【０１１４】
なお、本実施例のように第３の調整方法を用いる場合も、実施例１において説明したのと同様に、第２、第３の帯電モードを用いて上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きと下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の傾きとを独立して測定し、調整するようにすることができる。
【０１１５】
［実施例３］
次に、本発明の他の実施例について説明する。本実施例の画像形成装置の基本的な構成及び動作は、実施例１のものと同じである。したがって、実施例１のものと同一又は対応する機能あるいは構成を有する要素については、同一符号を付して詳しい説明は省略する。
【０１１６】
本実施例は、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きの調整方法として、図１０を参照して説明した第２の調整方法を用いる。また、本実施例では、下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の傾きの調整による合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きの調整方法として、図８を参照して説明した第１の調整方法を用いる。
【０１１７】
図１９は、本実施例における帯電電位の傾きを調整する手順を示すフローチャート図である。帯電電位の傾きを調整する場合、操作者は図１９（ａ）〜（ｃ）に示す手順に従って、帯電電位の傾きの測定、帯電電位の傾きの調整を順次実施する。
【０１１８】
図１９（ａ）のＳ１２１〜Ｓ１２８の手順は、それぞれ実施例１における図１７（ａ）のＳ１０１〜Ｓ１０８の手順と同じである。また、図１９（ｂ）のＳ２２１〜Ｓ２２５の手順は、実施例１における図１７（ｂ）のＳ２０１〜Ｓ２０５の手順と同様である。ただし、本実施例では、Ｓ２２２における上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きの調整方法が、実施例１におけるＳ２０２とは異なる。また、図１９（ｃ）のＳ３２１〜Ｓ３２５の手順は、実施例１における図１７（ｃ）のＳ３０１〜Ｓ３０５の手順と同じである。
【０１１９】
本実施例では、図１９（ｂ）のＳ２２２において、操作者は、図１１に示すＧＡＰ（Ｕ）とＶｄ（Ｕ）の傾きとの関係に基づいて、上流帯電器３１及び下流帯電器３２におけるグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）を同時に調整する。これにより、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きを調整する。
【０１２０】
また、図１９（ｃ）のＳ３２２において、実施例１におけるＳ３０２の手順と同様に、下流帯電器３２のワイヤー高さＨｐｇ（Ｌ）を調整する。
【０１２１】
本実施例では、第１、第２の帯電モードを用いることで、主帯電側の上流帯電器３１により形成した帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きと、上流帯電器３１及び下流帯電器３２により形成した合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きと、を個別に測定することができる。また、本実施例では、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きの調整方法として第２の調整方法を用いることで、主帯電側の上流帯電器３１により形成される帯電電位Ｖｄ（Ｕ）を個別に調整して、スラスト方向で略均一に調整することができる。また、この上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の調整時に、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の微調整を同時に行うことが可能となり、帯電電位の傾きの調整にかかる時間の短縮を図ることができる。また、下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の傾きの調整方法に第１の調整方法を用いることで、電位収束側の下流帯電器３２による帯電電位Ｖｄ（Ｌ）を個別に調整して、最終的に形成される合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）をスラスト方向で略均一に調整することができる。
【０１２２】
なお、本実施例のように第１、第２の調整方法を用いる場合も、実施例１において説明したのと同様に、第２、第３の帯電モードを用いて上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の傾きと下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の傾きとを独立して測定し、調整するようにすることができる。
【０１２３】
また、本実施例で用いた第３の調整方法では、上流、下流帯電器３１、３２のグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）を同時に調整したが、代わりにワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）、Ｈｐｇ（Ｌ）を同時に調整できるようにしてもよい。また、第３の調整方法においてグリッドギャップＧＡＰ（Ｕ）、ＧＡＰ（Ｌ）を同時に調整する場合に、下流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）を調整するためにグリッドギャップＧＡＰ（Ｌ）を個別に調整できるようにしてもよい。例えば、帯電装置３の全体の傾きを調整できるようにすると共に、下流帯電器３２のブロック３４を個別に移動させるなどして下流帯電器３２のグリッドギャップＧＡＰ（Ｌ）を個別に調整できるようにすることができる。
【０１２４】
［実施例４］
次に、本発明の他の実施例について説明する。本実施例の画像形成装置の基本的な構成及び動作は、実施例１のものと同じである。したがって、実施例１のものと同一又は対応する機能あるいは構成を有する要素については、同一符号を付して詳しい説明は省略する。
【０１２５】
＜１．本実施例の概要＞
実施例１〜３では、現像位置Ｇに感光体１の表面電位を検知する電位計を装着して、帯電電位の傾きを測定した。これに対し、本実施例では、測定モードにおいて感光体１に形成した帯電電位に対してトナーを付着させてテスト画像を形成し、テスト画像の画像濃度を測定して、該画像濃度に基づいて帯電電位の傾きを求める。特に、本実施例では、テスト画像の画像濃度を、画像形成装置１００の読み取り部２５０を用いて測定して、画像濃度（帯電電位）の傾き、調整機構２の調整部位（手前側、奥側の表示）、及び調整機構２の調整量を操作部３００で表示できるようにする。これにより、本実施例では、帯電電位の傾きに関する情報の取得を簡易化し、帯電電位の傾きの調整にかかる時間の短縮を図ることが可能となる。読み取り部２５０は、テスト画像の濃度をスラスト方向における複数箇所で検知する濃度検知手段の一例である。
【０１２６】
なお、本実施例では、帯電モードとして第１の帯電モードを用い、帯電電位の傾きの調整方法として第１の調整方法を用いるものとする。ただし、画像濃度によって帯電電位の傾きに関する情報を取得する方法は、いずれの帯電モード、帯電電位の傾きの調整方法を用いる場合にも採用することができる。
【０１２７】
＜２．テスト画像の形成の設定＞
まず、測定モードにおけるテスト画像の形成の設定方法について説明する。本実施例では、画像形成装置１００は、実施例１〜３と同様、操作者の指示に応じて測定モードを実行するようになっている。操作者は、測定モードを実行させる際に、操作部３００において帯電モードを選択して、各帯電モードに応じてテスト画像を形成させる。
【０１２８】
操作者は、測定モードにおいてテスト画像を形成する場合、図１３に示す設定画面の画像形成選択欄３０４を「ＮＯ」から「ＹＥＳ」に切り替える。なお、画像形成選択欄３０４が「ＮＯ」の場合は、実施例１〜３と同様の測定モードを実行することができる。また、操作者は、帯電モード選択欄３０２で帯電モードを選択する。帯電モードの選択方法は実施例１〜３と同様である。そして、操作者は、スタートボタン３０１を押すことで、帯電モードに応じたテスト画像の形成を実行させる。本実施例では、テスト画像は記録材Ｐに印刷（転写、定着）されて出力される。
【０１２９】
＜３．テスト画像＞
図２１は、第１の帯電モードで形成されたテスト画像の一例を示す模式図である。このテスト画像は、１枚の１３×１９インチの記録材Ｐに形成されている。
【０１３０】
本実施例では、テスト画像として、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）、合成表面Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）のそれぞれに対して現像電圧（負極性）の絶対値を５０Ｖ大きい値に設定して、アナログ現像によりハーフトーン（ＨＴ）の画像を形成する。なお、アナログ現像は、露光装置１０による露光を行わずに、感光体１の表面電位と現像電圧との電位差（現像コントラスト）によって、感光体１上にトナーを付着させる現像方式である。
【０１３１】
図２１に示すように、第１の帯電モードでは、記録材Ｐの搬送方向における前半部分（先端側）に、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の領域が現像されたＨＴ画像（第１のテスト画像）が形成される。また、記録材Ｐの搬送方向の後半部分（後端側）には、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の領域が現像されたＨＴ画像（第２のテスト画像）が形成される。
【０１３２】
本実施例では、現像コントラストを５０Ｖに設定したが、帯電電位の傾きが画像濃度として確認できる濃度領域であれば、画像形成装置１００の構成などに応じて任意に設定することができる。本実施例では、反射濃度のレベルがＤ＝０．５程度のＨＴ画像の濃度となるように、現像コントラストを設定した。
【０１３３】
なお、第２、第３の帯電モードでは、それぞれ上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）、下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）に対して、例えば図２１の場合と同様に現像コントラストを５０Ｖに設定したアナログ現像によりトナーが付着させられてテスト画像が形成される。
【０１３４】
＜４．画像濃度の傾きの測定及び調整量の表示＞
図２２は、測定モードでテスト画像を形成した際の操作部３００における表示（以下、「結果画面」ともいう。）の一例を示す模式図である。
【０１３５】
本実施例では、上述のように設定画面（図１３）において帯電モードを選択してテスト画像の形成を実行させると、ＣＰＵ２００によって操作部３００における表示が図２２に示す結果画面に自動的に切り替えられる。この結果画面には、実行した帯電モードの番号（「１」、「２」又は「３」）が帯電モード欄３０５に表示される。操作者は、出力されたテスト画像を読み取り部２５０にセットし、結果画面の読み取りスタートボタン３０６を押して、テスト画像の画像濃度を読み取り部２５０によって測定させる。
【０１３６】
読み取り部２５０は、スラスト方向におけるテスト画像の複数の位置の画像濃度を検知する。この複数の位置の数は任意であるが、帯電電位の傾きを十分な精度で測定するためには、スラスト方向におけるテスト画像の中央よりも奥側と手前側の２箇所以上であることが望ましい。本実施例では、読み取り部２５０は、スラスト方向におけるテスト画像の中央より手前側と奥側との２箇所の画像濃度を検知するものとする。
【０１３７】
上述のように読み取り部２５０によるテスト画像の読み取りを実行させると、検知されたテスト画像の画像濃度に基づいてＣＰＵ２００が求めた測定結果が、測定結果欄３０７に表示される。本実施例では、測定結果欄３０７には、各帯電モードで形成されたテスト画像の画像濃度の測定値、画像濃度の傾き（スラスト方向の中央より手前側と奥側とでの画像濃度差ΔＤ）、調整機構２の調整部位、及び調整機構２の調整量が表示される。
【０１３８】
測定結果欄３０７について更に説明する。「上流側」の行には、上流帯電電位ＶＤ（Ｕ）の領域が現像されて形成されたテスト画像の手前側（Ｆ側）及び奥側（Ｒ側）における画像濃度、画像濃度差ΔＤ、調整部位、及び上流帯電器３１におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）の調整量（目安）が表示される。「合成表面電位」の行には、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の領域が現像されて形成されたテスト画像の手前側（Ｆ側）及び奥側（Ｒ側）における画像濃度、画像濃度差ΔＤ、調整機構２の調整部位が表示される。「下流側」の行には、濃度差ΔＤとして、上記「上流側」、「合成表面電位」の行にそれぞれ表示された画像濃度差ΔＤ間の差分が表示され、調整機構２の調整量として、下流帯電器３２におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｌ）の調整量（目安）が表示される。
【０１３９】
なお、図２２は第１の帯電モードを実施した場合の例であるが、第３の帯電モードを実施した場合には、「合成表面電位」の行に表示すべき測定結果が無いため、例えば「上流側」の行と同じ形態で、濃度、濃度差、調整部位、調整量が表示される。
【０１４０】
また、操作部３００における表示内容や画面の構成は、上述した内容に限定されるものではなく、他の形態に変更してもよい。帯電電位の傾きに関する情報、又は調整機構２の調整量に関する情報の少なくとも一方を表示できればよい。ただし、少なくとも画像濃度、濃度差、調整部位、傾きの調整量の表示が表示されることが望ましい。
【０１４１】
＜５．調整量＞
次に、テスト画像の画像濃度の傾きと調整機構２の調整量（本実施例ではワイヤー高さＨｐｇの調整量）との関係について説明する。
【０１４２】
図２３は、テスト画像の手前側（Ｆ側）と奥側（Ｒ側）との間の画像濃度差ΔＤ（Ｆ−Ｒ）と、ワイヤー高さＨｐｇの調整量との関係を示すグラフ図である。図２３のＸ軸は、画像濃度差ΔＤ（Ｆ−Ｒ）であり、正の値の場合は手前側の画像濃度が奥側の画像濃度よりも高く、負の値の場合は手前側の画像濃度が奥側の画像濃度よりも低いことを示す。また、図２３のＹ軸は、ワイヤー高さＨｐｇの調整量であり、正側はワイヤー高さＨｐｇを大きくし、負側はワイヤー高さＨｐｇを小さくすることを示す。図２３中の実線は、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）を現像したテスト画像における画像濃度差ΔＤと、上流帯電器３１におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）の調整量との関係を示す。また、図２３中の破線は、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）を現像したテスト画像における画像濃度差ΔＤと、下流帯電器３２におけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｌ）の調整量との関係を示す。
【０１４３】
ＣＰＵ２００は、読み取り部２５０によって読み取られたテスト画像の画像濃度に基づいて、図２３の関係を用いて、画像濃度の傾き方向と、調整部位（手前側か奥側か）、及び調整量を計算する。そして、ＣＰＵ２００は、計算結果を図２３に示す結果画面の測定結果欄３０７に表示させる。なお、本実施例では、画像濃度の高い方の電位を、低い方の電位に合わせるように調整するための調整量を表示している。
【０１４４】
操作者は、図２２に示す結果画面に表示された測定結果に基づいて、上流帯電器３１、下流帯電器３２のそれぞれのワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）、Ｈｐｇ（Ｌ）の調整を実施することで、感光体１の帯電電位をスラスト方向で略均一に調整することができる。
【０１４５】
＜６．帯電電位の傾きの調整手順＞
次に、本実施例における測定モードを実行して感光体１の帯電電位の傾きを調整する手順について説明する。上述のように、本実施例では、帯電モードとしては第１の帯電モードを用い、帯電電位の傾きの調整方法としては第１の調整方法を用いる。図２０は、本実施例における帯電電位の傾きを調整する手順を示すフローチャート図である。帯電電位の傾きを調整する場合、操作者は図２０（ａ）、（ｂ）に示す手順に従って、帯電電位の傾きの測定、帯電電位の傾きの調整を順次実施する。
【０１４６】
まず、操作者は、図２０（ａ）の手順において、操作部３００の設定画面（図１３）の帯電モード選択欄３０２で第１の帯電モードを選択し、画像形成選択欄３０４を「ＹＥＳ」に切り替えて、テスト画像の形成を実行させる（Ｓ４０１、Ｓ４０２）。これにより、テスト画像が出力されると、操作部３００の表示が図２２の結果画面に切り替わる。その後、操作者は、出力されたテスト画像を読み取り部２５０にセットし、結果画面の読み取りスタートボタン３０６を押して、テスト画像の読み取りを開始させる（Ｓ４０３）。これにより、テスト画像が読み取り部２５０で読み取られ、読み取りが終了すると結果画面の測定結果欄３０７に前述のようにして測定結果が表示される。その後、操作者は、測定結果を確認し（Ｓ４０４）、帯電電位の傾きの調整の要否を判断する（Ｓ４０５）。本実施例では、上述の「合成表面電位」における画像濃度差ΔＤが０．０５以下の場合は、帯電電位の傾きを補正する必要が無いため、手順を終了する（Ｓ４０７）。一方、該画像濃度差ΔＤが０．０５より大きい場合、図２０（ｂ）のＳＵＢ−Ｃの手順に移行する（Ｓ４０６、Ｓ４１０）。
【０１４７】
図２０（ｂ）のＳＵＢ−Ｃの手順に移行した後、操作者は、測定結果欄３０７における調整部位、調整量の表示に従い、上帯電器３１、下流帯電器３２のそれぞれにおけるワイヤー高さＨｐｇ（Ｕ）、Ｈｐｇ（Ｌ）の調整を実施する（Ｓ４１１）。その後、操作者は、図２０（ａ）のＳ４０１の手順に戻る（Ｓ４１２）。
【０１４８】
なお、本実施例では、画像濃度の傾きの調整方法として第１の調整方法を用いた場合を例に説明したが、前述した第２の調整方法や第３の調整方法を用いてもよい。いずれの調整方法を用いる場合も、調整方法に対応して調整部位、調整量が求められることで、上述と同様の手順で帯電電位の傾きを調整することができる。
【０１４９】
＜７．テスト画像の形成＞
次に、図１４（ｂ）、図１５（ｂ）、図１６（ｂ）のタイミングチャート図を参照して、テスト画像を形成する場合の各帯電モードにおける動作について説明する。なお、図１４（ａ）、図１５（ａ）、図１６（ａ）を参照して説明した帯電処理に関する内容の説明は省略する。
【０１５０】
＜７−１．第１の帯電モード＞
図１４（ｂ）は、第１の帯電モードにおいてテスト画像を形成する場合のタイミングチャート図である。
【０１５１】
図１４（ｂ）に示すように、タイミングＴ１において、上流帯電器３１への帯電電圧の印加と同期して、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の領域を現像するために、現像電圧ＤＣ（Ｕ）の印加が開始され、現像装置６の駆動もこれと同期して開始される。その後、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）及び現像電圧が安定したタイミングＴ２からタイミングＴ４までの所定時間Δｔの間、現像電圧ＤＣ（Ｕ）の印加が継続される。また、トナー像が転写位置（転写部）Ｎに到達するタイミングＴ３において、転写電圧の印加が開始される。この時、１３×１９インチの記録材Ｐが転写位置Ｎに搬送されている（図示せず）。
【０１５２】
次に、タイミングＴ４において、下流帯電器３２への帯電電圧の印加と同期して、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の領域を現像するために、現像電圧がＤＣ（Ｕ＋Ｌ）に切り替えられる。この時、現像電圧のＤＣ（Ｕ）からＤＣ（Ｕ＋Ｌ）への切り替えは、図１４（ｂ）に示すように徐々に（ステップ的に）行われる。
【０１５３】
その後、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）及び現像電圧が安定したタイミングＴ５からタイミングＴ６までの所定時間Δｔの間、現像電圧ＤＣ（Ｕ＋Ｌ）の印加が継続され、タイミングＴ６において現像装置６の駆動が停止される。その後、タイミングＴ７において、上流帯電器３１、下流帯電器３２への帯電電圧の印加、現像電圧の印加、転写電圧の印加が停止され、タイミング８において感光体１の駆動が停止される。
【０１５４】
ここで、本実施例では、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の形成を行う所定時間Δｔを、それぞれ３００ｍｓに設定した。これにより、１枚の１３×１９インチの記録材Ｐ内に、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）と合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）とを現像したテスト画像を形成することができる。
【０１５５】
このように、テスト画像を形成することで、上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）、合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の傾きを、電位測定治具を用いずにテスト画像の画像濃度の傾きとして測定することができ、帯電電位の傾きの調整にかかる時間の短縮を図ることができる。
【０１５６】
＜７−２．第２、第３の帯電モード＞
図１５（ｂ）、図１６（ｂ）は、それぞれ第２、第３の帯電モードにおいてテスト画像を形成する場合のタイミングチャート図である。図１５（ｂ）、図１６（ｂ）に示すように、第２、第３の帯電モードでテスト画像を形成する場合は、それぞれ上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）、下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の領域を現像するように、現像電圧の印加、現像装置６の駆動が制御される。また、図１５（ｂ）、図１６（ｂ）に示すように、第２、第３の帯電モードでテスト画像を形成する場合は、形成されたテスト画像（トナー像）を記録材Ｐに転写するように転写電圧が制御される。図１５（ｂ）、図１６（ｂ）における各部の動作は第１の帯電モ−ドの場合と同様であるので、詳細な説明は省略する。なお、第３の帯電モードでは、図１６（ｂ）に示すように、下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の領域を現像するように設定された現像電圧ＤＣ（Ｌ）が用いられる。
【０１５７】
第２、第３の帯電モードにおいてテスト画像を形成した場合には、上流帯電電位、下流帯電電位の傾きをそれぞれ単独でテスト画像の画像濃度の傾きとして測定することができ、各電位を個別に調整することが可能となる。
【０１５８】
なお、図１５（ｂ）に従って第２の帯電モードでテスト画像を形成した場合、図２１に示すテスト画像における上流帯電電位Ｖｄ（Ｕ）の部分のみを有するテスト画像が出力される。また、図１６（ｂ）に従って第３の帯電モードでテスト画像を形成した場合、図２１に示すテスト画像における合成表面電位Ｖｄ（Ｕ＋Ｌ）の部分に代えて下流帯電電位Ｖｄ（Ｌ）の部分のみを有するテスト画像が出力される。
【０１５９】
＜８．変形例＞
次に、本実施例の変形例について説明する。
【０１６０】
本実施例では、帯電電位の傾きを画像濃度の傾きとして測定する方法について説明した。また、画像濃度の傾きは、画像形成装置１００の読み取り部２５０で測定するものとして説明した。しかし、画像形成装置１００が読み取り部２５０を有していない場合には、次のようにすることができる。例えば、出力したテスト画像の画像濃度を、別途用意した画像濃度測定器を用いて測定することができる。そして、その画像濃度の傾きに基づいて、例えば図２３に示す関係を用いて、帯電電位の傾きを調整することができる。
【０１６１】
また、画像形成装置１００に設けられる画像濃度検知手段についても、読み取り部２５０に限定されるものではない。画像濃度検知手段は、例えば、感光体上、感光体から一次転写されたトナー像を記録材に二次転写するための中間転写体上、記録材担持体上、あるいは画像形成装置から出力される前の記録材上でテスト画像の画像濃度を検知するものであってもよい。
【０１６２】
また、本実施例では、電位測定治具を用いずに帯電電位の傾きを簡易に調整する方法について説明した。特に、本実施例では、画像形成装置１００が有する画像読み取り部２５０でテスト画像の画像濃度として帯電電位の傾きを測定した。別の形態として、画像形成装置１００に設けられた電位センサーを用いて、すなわち、別途電位測定治具を画像形成装置１００に装着することなく、帯電電位の傾きを測定するようにしてもよい。例えば、図２４に示すように、装置本体１１０の内部に、感光体１の表面電位をスラスト方向の複数箇所で検知できるように複数（図示の例では２個）の電位センサー５Ｆ、５Ｒを配置することができる。電位センサー５Ｆ、５Ｒは、感光体１の表面電位をスラスト方向における複数箇所で検知する電位検知手段の一例である。そして、測定モードにおいてテスト画像は形成せずに、帯電モードに応じた感光体１の帯電電位をそれぞれその電位センサー５Ｆ、５Ｒで測定し、帯電電位の傾き、調整部位、調整量を表示して、帯電電位の傾きを調整できるようにしてもよい。この場合、電位センサー５Ｆ、５Ｒは、感光体１の回転方向において現像位置Ｇに配置することは難しい。したがって、例えば、実施例１にて説明したセンサー位置Ｄに電位センサー５Ｆ、５Ｒを配置し、センサー位置Ｄから現像位置Ｇまでの暗減衰量を考慮した制御とすればよい。なお、一の検知部をスラスト方向の複数の位置へ移動させて感光体１の表面電位を検知できる電位センサー５を用いてもよい。このように画像形成装置に設けられた電位センサーにより帯電電位の傾きに関する情報を取得する方法は、いずれの帯電モード、帯電電位の傾きの調整方法を用いる場合にも採用することができる。
【０１６３】
［その他］
以上、本発明を具体的な実施例に即して説明したが、本発明は上述の実施例に限定されるものではない。
【０１６４】
上述の実施例では、画像形成装置は、２個の帯電器を有していたが、より多くの帯電器を有していてもよい。この場合、複数の帯電器のうち最も帯電性の高い帯電器による帯電電位を個別に測定すると共に、その帯電器よりも相対的に帯電性の低い帯電器による帯電電位を個別に測定するか又はすべての帯電器による合成表面電位を測定することができる。例えば、最も帯電性の高い帯電器による帯電電位を個別に測定する。そして、この帯電器による帯電電位の傾きを、他の帯電器による帯電電位の傾きを変えることなく調整するか（上記第１、第３の調整方法など）又は他の帯電器による帯電電位の傾きも同時に調整する（上記第２の調整方法など）。また、最も帯電性の高い帯電器よりも相対的に帯電性の低い複数の帯電器による帯電電位をそれぞれ個別に測定する。そして、これらの相対的に帯電性が低い帯電器による帯電電位の傾きをそれぞれ、他の帯電器による帯電電位の傾きを変えることなく調整する（第１、第３の調整方法など）。また、例えば、最も帯電性の高い帯電器を上記実施例での第１の帯電器、その帯電器よりも相対的に帯電性の低い複数の帯電器を上記実施例での第２の帯電器と考え、第２の帯電器について、帯電電位の測定、傾きの調整を同時（一体的）に行うようにしてもよい。これらいずれの場合も、帯電電位の傾きは、電位の検知、画像濃度の検知のいずれによっても行うことができる。
【０１６５】
また、実施例４において、画像形成装置の操作部に、帯電電位の傾きに関する情報（電位の傾き、画像濃度の傾き）や調整手段の調整量に関する情報を表示することを説明した。これに対し、情報を表示する表示手段は、画像形成装置と通信可能に接続されたコンピュータなどの外部機器の表示部で構成することもできる。
【０１６６】
また、実施例４において、画像形成装置の画像濃度検知手段や電位検知手段によって取得された帯電電位の傾きに関する情報（電位の傾き、画像濃度の傾き）に基づいて、操作者が手動で調整手段によって帯電電位の傾きを調整することを説明した。これに対し、画像形成装置において取得された該情報に基づいて、画像形成装置において自動で帯電電位の傾きが調整されるように構成することもできる。この場合、例えば上述の実施例で説明したのと同様の機能あるいは構成を有する調整機構を画像形成装置に設けられた駆動手段によって駆動するようにする。そして、制御手段が、実施例４で説明したのと同様にして求めた調整量に基づいて、該駆動手段による調整機構の駆動を制御するようにすればよい。
【符号の説明】
【０１６７】
１          感光体
２          調整機構
３          帯電装置
５          電位センサー
６          現像装置
３１        コロナ帯電器（上流帯電器、第１の帯電器）
３２        コロナ帯電器（下流帯電器、第２の帯電器）
６０        調整部
１００      画像形成装置
【図１】
2018025683.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
2018025683.tif 000020
【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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