(57)【要約】      （修正有）【課題】サンプルホールド回路への書き込み電圧の精度と、高周波ノイズの検出精度とを低コストで確保することができる光書き込み装置及び画像形成装置を提供する。【解決手段】ＴＦＴ基板３００において、ＤＡＣ４００が出力する輝度信号を選択回路４０１を経由して各発光画素回路４０２に書き込むことによって、ＯＬＥＤ２０１の発光量が制御される。ＤＡＣ４００が出力する輝度信号には高周波ノイズに起因するノイズ成分が重畳する。ノイズ検出用ＡＤＣ５００はノイズ成分が重畳した輝度信号をＡＤ変換する。ラッチ回路５０２は画像データ中で所定画素数だけＯＬＥＤ２０１の点灯状態又は消灯状態が継続する箇所の輝度信号を保持する。この輝度信号に含まれたノイズ成分に応じて、次のラインにおいてＤＡＣ４００が出力する輝度信号を補正する。【選択図】図５
2018118481.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ライン状に配列された複数の発光素子と、前記複数の発光素子に１対１に対応して設けられ、対応する発光素子を発光させる複数の駆動手段と、画像データに応じて前記発光素子の発光量を前記駆動手段に指示する輝度信号を出力する設定手段と、を有し、前記発光素子の出射光によって感光体表面を１ラインずつ露光する光書き込み装置であって、
前記設定手段が輝度信号を出力している状態で、前記設定手段から前記駆動手段に至る前記輝度信号の伝達回路上で、前記輝度信号に重畳するノイズ成分を検出する検出手段と、
前記検出手段がノイズ成分を検出したラインに後続するラインについて、前記設定手段が出力する輝度信号を、前記検出手段が検出したノイズ成分に応じて補正する補正手段と、を備える
ことを特徴とする光書き込み装置。
【請求項２】
前記駆動手段は、薄膜トランジスターであって、ソース端子に定電圧を印加され、ゲート−ソース電圧Ｖｇｓに応じたドレイン電流を供給して前記発光素子を発光させ、
前記検出手段は、前記駆動手段のゲート電圧に含まれるノイズ成分を検出する
ことを特徴とする請求項１に記載の光書き込み装置。
【請求項３】
前記設定手段から前記駆動手段に至る前記輝度信号の伝達回路上に設けられ、前記輝度信号の伝達先となる前記駆動手段を切り替える切り替え手段と、を備え、
前記検出手段は、前記設定手段から前記切り替え手段に至る前記輝度信号の伝達回路上で前記ノイズ成分を検出する
ことを特徴とする請求項１に記載の光書き込み装置。
【請求項４】
前記切り替え手段配下の発光素子の点灯状態が、当該発光素子が露光する画像領域において、所定画素数以上連続して同一であるか否かを前記画像データから判定する判定手段と、
前記判定手段による判定が否定的である場合に、前記検出手段による検出を禁止する禁止手段と、を備える
ことを特徴とする請求項３に記載の光書き込み装置。
【請求項５】
前記検出手段は、前記設定手段が出力する輝度信号と、前記伝達回路上で検出された信号との差分を求めることによって、前記ノイズ成分を検出する
ことを特徴とする請求項１から４の何れかに記載の光書き込み装置。
【請求項６】
前記補正手段は、前記検出手段が前記ノイズ成分を検出したときの当該ノイズ成分の位相と、次に輝度信号を出力するときに当該輝度信号に重畳するノイズ成分の位相との差に応じて前記輝度信号を補正する
ことを特徴とする請求項１から５の何れかに記載の光書き込み装置。
【請求項７】
前記伝達回路は複数設けられており、
前記検出手段は、前記複数の伝達回路のうちの一部の伝達回路についてのみ前記ノイズ成分を検出し、
前記補正手段は、前記検出手段が検出したノイズ成分を用いて、前記検出手段が前記ノイズ成分を検出しない伝達回路によって伝達される輝度信号を補正する
ことを特徴とする請求項１から６の何れかに記載の光書き込み装置。
【請求項８】
前記伝達回路から前記検出手段に至る配線は、前記伝達回路を構成する配線よりも配線インピーダンスが低い
ことを特徴とする請求項１から７の何れかに記載の光書き込み装置。
【請求項９】
請求項１から８の何れかに記載の光書き込み装置を備える
ことを特徴とする画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光書き込み装置及び画像形成装置に関し、特に、高周波ノイズに起因する濃度むらを抑制する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、画像形成装置に対する小型化の要求が一層強まっている。このため、光書き込み装置（PH: Print Head）においては、従来のレーザーダイオード（LD: Laser Diode）を発光源とした光走査型から微小ドットの発光素子をライン状に配置したライン光学型に切替わりつつある。ライン光学型の光書き込み装置としては、発光部に発光ダイオード（LED: Light Emitting Diode）を用いた光書き込み装置（LPH: LED PH）が開発されている。
【０００３】
ＬＰＨでは、発光部（ＬＥＤアレイ）と各発光素子を制御するための駆動ＩＣ（Integrated Circuit）等を含む駆動回路部を、製造上の理由から、ＬＥＤを実装した光源基板と別基板にせざるを得ない。このため、部品コスト並び製造コストが高くなる。
そこで、低コスト化が可能なライン光学型の光書き込み装置として、発光部に有機ＬＥＤ（OLED: Organic LED）を用いたＯＬＥＤ−ＰＨが提案されている。ＯＬＥＤ−ＰＨでは、発光部と薄膜トランジスタ（TFT: Thin Film Transistor）を同一基板上に形成することができるので、駆動回路部を発光部と同一基板上に形成して低コスト化を図ることができる。
【０００４】
しかしながら、図２６に示すように、光書き込み装置２６００の露光対象である感光体ドラム２６０１の直近には、感光体ドラム２６０１の外周面に沿って順に帯電装置２６０２、光書き込み装置２６００、現像装置２６０３、一次転写ローラー２６０４及びクリーニング装置２６０５が配置されている。これらの中には高周波ノイズを発生させる帯電装置２６０２や現像装置２６０３といったノイズ源があり、また、ライン光学型の光書き込み装置２６００もまた感光体ドラムの直近に設置されるため、ノイズの影響を受け易い。
【０００５】
ＬＰＨは、多層化の容易なガラスエポキシ基板を使用しているため、ＬＥＤの発光量を指示する輝度信号の書き込みを行うための信号線を安定した電源層で挟むことによって、信号線にノイズが乗るのを防止し、画像品質を安定させることができる。
一方、ＯＬＥＤ−ＰＨは、多層化が難しいガラス基板を使用しており、高々２層までしか多層化することができない。このため、ＯＬＥＤの発光量を指示する輝度信号を入力するための信号線をノイズから保護する構造をとることができない（図２７）。帯電装置等が発生させる高周波ノイズは周期的なノイズであるため、信号線にノイズ（図２８（ａ）））が乗ると副走査方向に周期的な濃度むらが発生する（図２８（ｂ））。このように、耐ノイズ性ではＯＬＥＤ−ＰＨはＬＰＨに劣っている。
【０００６】
ＯＬＥＤ−ＰＨのこのような問題に対して、例えば、発光素子ごとにＡＤＣ（Analogue to Digital Converter）を設置してノイズを検出し、検出結果に応じて輝度信号を補正する対策１が考えられる。また、アンテナを設置してノイズを検出し、輝度信号を補正する対策２も考えられる。輝度信号を適切に補正することができれば、ノイズに起因する濃度むらを解消して、高い画像品質を得ることができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００７】
【特許文献１】特開２０１３−１９５２８５号公報
【特許文献２】特開２０１５−１３５４０８号公報
【特許文献３】特開２０１６−１２０５２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、ＯＬＥＤ−ＰＨでは、例えば、１５，０００個など多数のＯＬＥＤを使用するため、対策１のようにＯＬＥＤと同数のＡＤＣを搭載するとＯＬＥＤ−ＰＨのパネル幅を副走査方向に拡大せざるを得ず、高コストになる。
また、ＯＬＥＤ−ＰＨでは、輝度信号をＤＡＣ（Digital to Analogue Converter）からサンプルホールド回路に入力して、サンプルホール回路に保持されている輝度信号に応じた駆動電流をＯＬＥＤに供給することによって、ＯＬＥＤの発光量を調整する。この輝度信号をＤＡＣからサンプルホールド回路に書き込み時間に余裕がないのに、ＡＤＣと配線とをサンプルホールド回路に接続すると配線容量が増大するので、輝度信号の書き込み時間内に書き込みが完了しなくなってしまう、という問題がある。
【０００９】
また、対策２では、ＤＡＣからサンプルホールド回路へ延設されたＤＡＣ配線やサンプルホールド回路そのものから直接ノイズを検出するわけではないので、ノイズの検出精度が低い。このため、輝度信号を精度よく補正することができないので、画像品質を改善する上で限界がある。
本発明は、上述のような問題に鑑みて為されたものであって、サンプルホールド回路への書き込み電圧の精度と、高周波ノイズの検出精度とを低コストで確保することができる光書き込み装置及び画像形成装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するため、本発明に係る光書き込み装置は、ライン状に配列された複数の発光素子と、前記複数の発光素子に１対１に対応して設けられ、対応する発光素子を発光させる複数の駆動手段と、画像データに応じて前記発光素子の発光量を前記駆動手段に指示する輝度信号を出力する設定手段と、を有し、前記発光素子の出射光によって感光体表面を１ラインずつ露光する光書き込み装置であって、前記設定手段が輝度信号を出力している状態で、前記設定手段から前記駆動手段に至る前記輝度信号の伝達回路上で、前記輝度信号に重畳するノイズ成分を検出する検出手段と、前記検出手段がノイズ成分を検出したラインに後続するラインについて、前記設定手段が出力する輝度信号を、前記検出手段が検出したノイズ成分に応じて補正する補正手段と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
このようにすれば、輝度信号に重畳するノイズ成分を検出し、検出されたノイズ成分に応じて、後続するラインの輝度信号を補正するので、高周波ノイズに起因する濃度むらを抑制することができる。
この場合において、前記駆動手段は、薄膜トランジスターであって、ソース端子に定電圧を印加され、ゲート−ソース電圧Ｖｇｓに応じたドレイン電流を供給して前記発光素子を発光させ、前記検出手段は、前記駆動手段のゲート電圧に含まれるノイズ成分を検出するのが望ましい。
【００１２】
また、前記設定手段から前記駆動手段に至る前記輝度信号の伝達回路上に設けられ、前記輝度信号の伝達先となる前記駆動手段を切り替える切り替え手段と、を備え、前記検出手段は、前記設定手段から前記切り替え手段に至る前記輝度信号の伝達回路上で前記ノイズ成分を検出してもよい。
また、前記切り替え手段配下の発光素子の点灯状態が、当該発光素子が露光する画像領域において、所定画素数以上連続して同一であるか否かを前記画像データから判定する判定手段と、前記判定手段による判定が否定的である場合に、前記検出手段による検出を禁止する禁止手段と、を備えてもよい。
【００１３】
また、前記検出手段は、前記設定手段が出力する輝度信号と、前記伝達回路上で検出された信号との差分を求めることによって、前記ノイズ成分を検出してもよい。
また、前記補正手段は、前記検出手段が前記ノイズ成分を検出したときの当該ノイズ成分の位相と、次に輝度信号を出力するときに当該輝度信号に重畳するノイズ成分の位相との差に応じて前記輝度信号を補正してもよい。
【００１４】
また、前記伝達回路は複数設けられており、前記検出手段は、前記複数の伝達回路のうちの一部の伝達回路についてのみ前記ノイズ成分を検出し、前記補正手段は、前記検出手段が検出したノイズ成分を用いて、前記検出手段が前記ノイズ成分を検出しない伝達回路によって伝達される輝度信号を補正してもよい。
また、前記伝達回路から前記検出手段に至る配線は、前記伝達回路を構成する配線よりも配線インピーダンスが低いのが望ましい。
【００１５】
本発明に係る画像形成装置は、本発明に係る光書き込み装置を備えることを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の実施の形態に係る画像形成装置の主要な構成を示す図である。
【図２】光書き込み装置１００の主要な構成を示す図である。
【図３】ＯＬＥＤパネル２００の概略平面図、Ｂ−Ｂ´断面図及びＣ−Ｃ´断面図である。
【図４】ＴＦＴ基板３００の回路構成の概略を示すブロック図である。
【図５】ＴＦＴ基板３００の回路構成の詳細を示すブロック図である。
【図６】ＴＦＴ基板３００の動作を説明するタイミングチャートである。
【図７】ＡＳＩＣ３０６の主要な機能構成を示すブロック図である。
【図８】ｎ番目のＤＡＣ配下の画像領域に着目して画像データを例示する図である。
【図９】ＴＦＴのＶｓｄ−Ｉｄ特性を説明する図である。
【図１０】経年劣化等に対する輝度信号の補正動作を説明するフローチャートである。
【図１１】Ｉｄ補正係数テーブル７２３のデータ構造を説明する表である。
【図１２】Ｉｄ初期データテーブル７２２のデータ構造を説明する表である。
【図１３】Ｖｓｄ検出データテーブル７２４のデータ構造を説明する表である。
【図１４】Ｖｓｄ−Ｉｄ特性テーブル７２１のデータ構造を説明するグラフである。
【図１５】（ａ）は、算出した駆動電流Ｉｄと検出したソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄとの組み合わせに対応するゲート−ソース間電圧Ｖｇｓとして電圧Ｖｂが見つかった場合を例示するグラフであり、（ｂ）は、Ｖｓｄ−Ｉｄ特性テーブル７２１に対応するゲート−ソース間電圧Ｖｇｓがない場合を例示するグラフである。
【図１６】高周波ノイズに対する輝度信号の補正動作を説明するフローチャートである。
【図１７】ＤＣ成分及びゲイン成分テーブル７２５のデータ構造を説明する表である。
【図１８】高周波ノイズデータテーブル７２６のデータ構造を説明する表である。
【図１９】ノイズ成分Ａｘを例示するグラフである。
【図２０】ノイズ成分Ａｘを検出するための回路構成を説明する図である。
【図２１】（ａ）は期間＃３において位相誤差Ｂの範囲が位相９０度を含む位相Ｐａ−から位相Ｐａ＋までの範囲に亘る場合を例示するグラフであり、（ｂ）は位相誤差Ｂの範囲が位相２７０度を含む位相Ｐａ−から位相Ｐａ＋までの範囲に亘る場合を例示するグラフである。
【図２２】本発明の変形例に係るＴＦＴ基板３００の回路構成の詳細を示すブロック図である。
【図２３】複数のＤＡＣ配下の画像領域に着目して画像データを例示する図である。
【図２４】本発明の変形例に係る高周波ノイズデータテーブル７２６のデータ構造を説明する表である。
【図２５】本発明の変形例に係るＴＦＴ基板３００の回路構成の詳細を示すブロック図である。
【図２６】従来技術に係る作像部の主要な構成を例示する図である。
【図２７】ＬＰＨとＯＬＥＤ−ＰＨとの特徴を整理した表である。
【図２８】（ａ）は印刷画像に影響を与える高周波ノイズの強度を例示するグラフであり、（ｂ）は高周波ノイズによって生じた濃度むらを例示する図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、本発明に係る光書き込み装置及び画像形成装置の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。
［１］画像形成装置
まず、本実施の形態に係る画像形成装置の主要な構成について説明する。
図１に示されるように、画像形成装置１は、所謂タンデム型のカラープリンターである。画像形成装置１が備える作像部１１０Ｙ、１１０Ｍ、１１０Ｃ及び１１０Ｋは、制御部１０１の制御の下、Ｙ（イエロー）、Ｍ（マゼンタ）、Ｃ（シアン）、Ｋ（ブラック）各色のトナー像を形成する。
【００１８】
例えば、作像部１１０Ｙにおいては、感光体ドラム１１１Ｙの外周面に沿って順に帯電装置１１２Ｙ、光書き込み装置１００Ｙ、現像装置１１３Ｙ、１時転写ローラー１１４Ｙ及びクリーニング装置１１５Ｙが配置されている。作像部１１０Ｙは感光体ドラム１１１Ｙを回転駆動しながら、帯電装置１１２Ｙに感光体ドラム１１１Ｙの外周面を一様に帯電させる。
【００１９】
光書き込み装置１００Ｙは、感光体ドラム１１１Ｙの外周面を露光して、静電潜像を形成する。現像装置１１３Ｙは、感光体ドラム１１１Ｙの外周面にトナーを供給して、静電潜像を現像（顕像化）してＹ色のトナー像を形成する。１次転写ローラー１１４Ｙは、感光体ドラム１１１Ｙの外周面上から中間転写ベルト１０２の外周面上へトナー像を静電転写（１次転写）する。１次転写後に感光体ドラム１１１Ｙの外周面上に残留するトナーはクリーニング装置１１５Ｙによって廃棄され、残留電荷は除電される。
【００２０】
中間転写ベルト１０２は、２次転写ローラー対１０３と従動ローラー１０４に張架されており、トナー像を担持した状態で矢印Ａ方向に回転走行する。
同様にして、作像部１１０Ｍ、１１０Ｃ及び１１０Ｋが形成したＭＣＫ各色のトナー像が、Ｙ色のトナー像に重なるようにタイミングを合わせて中間転写ベルト１０２の外周面上に１次転写され、カラートナー像が形成される。中間転写ベルト１０２はカラートナー像を２次転写ローラー対１０３まで搬送する。
【００２１】
給紙カセット１２０には記録シートＳの束が収容されており、ピックアップローラー１２１は、記録シートＳを１枚ずつ送り出す。記録シートＳは、タイミングローラー１２２に達すると搬送が一旦停止された後、中間転写ベルト１０２によるカラートナー像の搬送にタイミングを合せて、２次転写ローラー対１０３まで搬送される。
２次転写ローラー対１０３は、中間転写ベルト１０２上のトナー像を記録シートＳ上に静電転写（２次転写）する。トナー像を転写された記録シートＳは、定着装置１０５でトナー像を熱定着された後、排紙ローラー１０６によって排紙トレイ１０７上に排出される。
【００２２】
なお、制御部１０１には不図示の操作パネルが接続されており、画像形成装置１のユーザーに対する情報提示を行ったり、ユーザーから指示入力を受け付けたりする。
以下においては、ＹＭＣＫ各色の作像部１１０Ｙ、１１０Ｍ、１１０Ｃ及び１１０Ｋに共通する構成について説明するので、ＹＭＣＫの文字を省略する。
［２］光書き込み装置１００
次に、光書き込み装置１００について説明する。
（２−１）光書き込み装置１００の構成
図２に示されるように、光書き込み装置１００は、ＯＬＥＤパネル２００とレンズアレイ２０２をホルダー２０３にて保持した構成を備えており、主走査方向（図２における紙面垂直方向）に長尺になっている。ＯＬＥＤパネル２００においては、多数のＯＬＥＤ２０１が１列又は千鳥配置された複数列で主走査方向に沿ってライン状に配設されている。
【００２３】
ＯＬＥＤ２０１が出射した光ビームＬは、レンズアレイ２０２によって感光体ドラム１１１Ｙの外周面上に集光される。レンズアレイ２０２は、多数のレンズ（本実施の形態においてはロッドレンズ）を集積した光学素子である。レンズアレイ２０２としては、ＳＬＡ（Selfoc Lens Array。Selfocは日本板硝子株式会社の登録商標。）を用いてもよいし、ＭＬＡ（Micro Lens Array）を用いてもよい。
【００２４】
レンズアレイ２０２を構成する個々のレンズと個々のＯＬＥＤ２０１と位置関係はさまざまであり、ＯＬＥＤ２０１毎の結像効率が一定しない。このため、すべてのＯＬＥＤ２０１を同一の発光量で発光させると、感光体ドラム１１１Ｙの外周面上でのＯＬＥＤ２０１毎の露光量にムラが生じる。本実施の形態においては、初期状態（工場出荷時）において露光量にムラを発生させない光量（以下、「設定光量」という）がＯＬＥＤ２０１毎に設定される。
【００２５】
光書き込み装置１００は、画像形成装置１内の他の装置との接続するためのケーブル等、図示していないが必要な構成要素を備えている。
（２−２）ＯＬＥＤパネル２００の構成
図３は、ＯＬＥＤパネル２００の概略平面図であり、併せてＢ−Ｂ´線における断面図とＣ−Ｃ´線における断面図が示されている。また、概略平面図には、ＯＬＥＤパネル２００が後述する封止板３０４を取り外した状態で示されている。
【００２６】
図３に示されるように、ＯＬＥＤパネル２００は、ＴＦＴ（TFT: Thin Film Transistor）基板３００、駆動ＩＣ（Integrated Circuit）３０２等を備えている。ＴＦＴ基板３００は、ガラス基板３０１上に形成されており、１５，０００個のＯＬＥＤ２０１が搭載されている。これらのＯＬＥＤ２０１は、感光体ドラム１１１Ｙの外周面上で集光点が２１．２μｍピッチ（１２００ｄｐｉ）になるように配列されている。
【００２７】
ガラス基板３０１のＴＦＴ基板３００が形成されている主面には、スペーサー枠体３０５を挟んで封止板３０４が取着されている。これによって、ＴＦＴ基板３００上に実装されたＯＬＥＤ２０１等が、外気に触れないように乾燥窒素等を封入した状態で封止される。なお、吸湿剤を併せて封入してもよい。また、封止板３０４は、封止ガラスであってもよいし、ガラス以外の材料からなっていてもよい。
【００２８】
ガラス基板３０１の封止領域外には駆動ＩＣ３０２が実装されている。制御部１０１はＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）３０６を内蔵しており、ＡＳＩＣ３０６は並列多芯電線（FFC: Flexible Flat Cable）３１０を介して駆動ＩＣ３０２に画像データを入力する。駆動ＩＣ３０２は画像データから輝度信号を生成する。ＯＬＥＤ２０１は、輝度信号に応じた駆動電流の供給を受けて、輝度信号に応じた発光量で発光する。輝度信号は、電流信号であってもよいし電圧信号であってもよい。
【００２９】
駆動ＩＣ３０２には、温度センサー３０３が内蔵されている。温度センサー３０３は、ＯＬＥＤ２０１の環境温度を検出する。
（２−３）ＴＦＴ基板３００の構成
次に、ＴＦＴ基板３００の構成について説明する。
図４は、ＴＦＴ基板３００の回路構成の概略を示すブロック図である。
【００３０】
図４に示されるように、ＴＦＴ基板３００においては、１５，０００個のＯＬＥＤ２０１が１００個ずつ、１５０個の発光ブロック４０２に組分けされている。１５０個の発光ブロック４０２は主走査方向に沿って列設されている。個々の発光ブロック４０２に１対１に対応して、駆動ＩＣ３０２には１５０個のＤＡＣ４００が内蔵されている。制御部１０１は、駆動ＩＣ３０２に内蔵されている温度センサー３０３の検出温度を参照することができる。
【００３１】
制御部１０１が駆動ＩＣ３０２に画像データを入力すると、駆動ＩＣ３０２は画像データを１走査期間毎に１００画素分ずつ各ＤＡＣ４００に入力する。ＤＡＣ４００は、１００画素分の画像データを順次輝度信号に変換して選択回路４０１に入力する。選択回路４０１は、輝度信号に応じて発光ブロック４０２の各ＯＬＥＤ２０１を発光させる。
ＴＦＴ基板３００の回路構成について更に詳細に説明する。なお、以下においては、駆動用ＴＦＴ５２２がｐチャンネルである場合を例にとって説明しているが、言うまでもなくｎチャンネルの駆動用ＴＦＴ５２２を用いてもよい。
（２−３−１）ＯＬＥＤ２０１を発光させるための回路構成
ＴＦＴ基板３００は、画像データに応じた駆動電流をＯＬＥＤ２０１に供給することによって、ＯＬＥＤ２０１を所望の光量で発光させる。
（２−３−１−１）発光ブロック４０２
図５に示すように、ＴＦＴ基板３００には、１５，０００個の発光画素回路５２０が実装されており、１００個の発光画素回路５２０を１組として１５０個の発光ブロック４０２に区分されている。各発光ブロック４０２に１対１に対応して選択回路４０１が設けられている。選択回路４０１はＯＬＥＤ選択用シフトレジスター５１１と１００個のＯＬＥＤ選択用ＴＦＴ５１２とを備えている。
【００３２】
ＯＬＥＤ選択用ＴＦＴ５１２は発光画素回路５２０に１対１に対応している。ＯＬＥＤ選択用シフトレジスター５１１が、主走査期間毎にＯＬＥＤ選択用ＴＦＴ５１２を順次選択すると、選択されたＯＬＥＤ選択用ＴＦＴ５１２に対応する発光画素回路５２０に駆動ＩＣ３０２のＤＡＣ４００からの画素信号を入力される。発光ブロック４０２と１対１対応して１５０個のＤＡＣ４００が、駆動ＩＣ３０２に内蔵されている。このように、１００個の発光画素回路５２０が１つのＤＡＣ４００を時間共有している。
（２−３−１−２）発光画素回路５２０
発光画素回路５２０は、ＯＬＥＤ２０１を発光させるための回路である。
【００３３】
１５，０００個の発光画素回路５２０は、いずれも同様の構成を備えており、ＯＬＥＤ２０１とＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２が直列接続されている。ＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２のソース端子は、電源配線５３２を介して定電圧源Ｖｐｗｒに接続されるととともに、キャパシター５２１の一方の端子にも接続されている。ＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２のゲート端子はＯＬＥＤ選択用ＴＦＴ５１２のドレイン端子並びにキャパシター５２１の他方の端子に接続されている。
【００３４】
ＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２のドレイン端子は、ＯＬＥＤ２０１のアノード端子並びにＶｓｄ検出用ＴＦＴ５２３のソース端子に接続されている。このように接続すれば、ＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２が、キャパシター５２１の保持電圧に応じたドレイン電流を駆動電流としてＯＬＥＤ２０１に供給する。定電圧源Ｖｐｗｒは、ＯＬＥＤ２０１に供給される駆動電流の供給源となっている。
【００３５】
駆動用ＴＦＴ５２２は、キャパシター５２１の保持電圧、言い換えると駆動用ＴＦＴ５２２のゲート−ソース電圧Ｖｇｓに応じたドレイン電流を駆動電流としてＯＬＥＤ２０１に供給する。言うまでもなく、ゲート−ソース電圧Ｖｇｓが高いほど、駆動用ＴＦＴ５２２は多くの駆動電流を供給し、ＯＬＥＤ２０１の発光量が増大する。
例えば、キャパシター５２１にＨｉに相当する輝度信号が書き込まれると、駆動用ＴＦＴ５２２がオンして、駆動電流に応じた光量でＯＬＥＤ２０１が発光する。また、キャパシター５２１にＬｏｗに相当する輝度信号が書き込まれると、駆動用ＴＦＴ５２２はオフして、ＯＬＥＤ２０１は発光しない。このように、ＤＡＣ４００が出力する輝度信号を変更することによって、ＯＬＥＤ２０１の発光量を制御することができる。
【００３６】
ＯＬＥＤ選択用ＴＦＴ５１２のソース端子は、当該ＯＬＥＤ選択用ＴＦＴ５１２が属する発光ブロック４０２に対応するＤＡＣ４００に接続されている。ＯＬＥＤ選択用ＴＦＴ５１２のゲート端子は、ＯＬＥＤ選択用シフトレジスター５１１に接続されている。ＯＬＥＤ選択用ＴＦＴ５１２のドレイン端子はキャパシター５２１の一方の端子に接続されている。
【００３７】
このように接続すれば、ＯＬＥＤ選択用シフトレジスター５１１がＯＬＥＤ選択用ＴＦＴ５１２をオンすると、ＤＡＣ４００の出力信号に応じた電圧がキャパシター５２１に印加される。キャパシター５２１は、印加された電圧をホールド期間中保持し続ける。
ＯＬＥＤ２０１のアノード端子は、ＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２のドレイン端子に接続されている。ＯＬＥＤ２０１のカソード端子は、電源配線５３３を介して定電圧源Ｖｏｌｅｄに接続されている。ＯＬＥＤ２０１は電流駆動型の発光素子であり、ＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２から供給される駆動電流の電流量に応じた光量で発光し又は消灯する。上述のように、駆動電流量はキャパシター５２１の保持電圧に対応し、キャパシター５２１の保持電圧はＤＡＣ４００の出力信号に対応するので、ＯＬＥＤ２０１はＤＡＣ４００の出力信号に対応する光量で発光することになる。
【００３８】
Ｖｓｄ検出用ＴＦＴ５２３のソース端子は、ＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２のドレイン端子並びにＯＬＥＤ２０１のアノード端子に接続されている。Ｖｓｄ検出用ＴＦＴ５２３のゲート端子は、Ｖｓｄ検出用シフトレジスター５５０に接続されている。Ｖｓｄ検出用ＴＦＴ５２３のドレイン端子は、駆動ＩＣ３０２のＶｓｄ検出用ＡＤＣ（Analogue to Digital Converter）５０１に接続されている。Ｖｓｄ検出用シフトレジスター５５０がＶｓｄ検出用ＴＦＴ５２３をオンすると、当該発光ブロック４０２のＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２のドレイン電圧ＶｄがＶｓｄ検出用ＡＤＣ５０１に入力される。
【００３９】
発光画素回路５２０は、ＯＬＥＤ選択用シフトレジスター５１１がＯＬＥＤ選択用ＴＦＴ５１２を１つずつ順番にオンすることによって、ＤＡＣ４００から画素信号を受け付ける。１主走査期間内において、ＤＡＣ４００から画素信号を受け付ける期間をサンプル期間といい、受け付けた画像信号をキャパシター５２１にて保持する期間をホールド期間という。
【００４０】
ＯＬＥＤ選択用シフトレジスター５１１の選択動作によって、１つの発光ブロック４０２に属する１００個の発光画素回路５２０は１主走査期間内において互いにサンプル期間がずれて、ローリング駆動が実行される。
（２−３−１−３）リセット回路５４０
リセット回路５４０は、１５０個のＤＡＣ４００に１対１に対応する１５０個のリセット用ＴＦＴ５４１を備えている。リセット用ＴＦＴ５４１のソース端子はリセット電源Ｖｒｓｔに接続されている。リセット用ＴＦＴ５４１のゲート端子にはリセット信号ＲＳＴが入力されている。また、リセット用ＴＦＴ５４１のドレイン端子は、対応するＤＡＣ４００からＯＬＥＤ選択用ＴＦＴ５１２のソース端子に至る配線に接続されている。
【００４１】
リセット用ＴＦＴ５４１がリセット信号ＲＳＴによってオンされると、対応するＤＡＣ４００からＯＬＥＤ選択用ＴＦＴ５１２のソース端子に至る配線がリセット電圧Ｖｒｓｔに初期化される。リセット電圧Ｖｒｓｔは定電圧源Ｖｐｗｒと同電位でもよいし、定電圧源Ｖｏｌｅｄと同電位でもよい。また、これらの中間電位Ｖｒｅｆであってもよい。リセット回路５４０は駆動ＩＣ３０２に内蔵されていてもよい。
【００４２】
また、リセット回路５４０を設ける代わりに、ＤＡＣ４００の出力電圧の極性を切り替えることによってリセットを行ってもよい。
以上のように、光書き込み装置１００は、ＤＡＣ４００から発光画素回路５２０に画素信号を入力することによって、ＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２の制御電圧であるゲート−ソース間電圧Ｖｇｓを制御し、延いてはＯＬＥＤ２０１の光量を制御する。
（２−３−２）ソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄの検出するための回路構成
次に、ＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２の出力電圧であるソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄを検出するための回路構成について説明する。
【００４３】
Ｖｓｄ検出用シフトレジスター５５０は、スタート信号ＳＴＡＲＴとしてパルス信号が入力されると、クロック信号ＣＬＫ並びに画像データと同期してシフトレジスト動作を行い、ＯＬＥＤ２０１を発光させている発光画素回路５２０毎のＶｓｄ検出用ＴＦＴ５２３を１つずつ順次オンする。これによって、Ｖｓｄ検出用ＴＦＴ５２３をオンされた発光画素回路５２０におけるＯＬＥＤ２０１の発光時のＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２のドレイン電圧ＶｄがＶｓｄ検出用ＡＤＣ５０１によって入力され、デジタル値に変換される。
【００４４】
なお、ＯＬＥＤ２０１の経時劣化による発光効率の低下速度は、ＯＬＥＤ２０１を１０時間連続して発光させても光量補正が不要である程度であり、ベタ画像を形成した場合に光量変化による濃度むらが視認できない程度である。従って、Ｖｓｄ検出用シフトレジスター５５０によって１５，０００個のＯＬＥＤ２０１すべてについて各ソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄを検出している間におけるＯＬＥＤ２０１の発光効率の低下は無視できる程度であるので、本実施の形態においてはＶｓｄ検出用ＡＤＣ５０１を１つだけドライバーＩＣに設けている。
【００４５】
しかしながら、累積発光時間の増大に伴うＯＬＥＤ２０１の発光効率の低下が無視できない場合や、高い精度でソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄを検出する必要がある場合には、Ｖｓｄ検出用ＡＤＣ５０１を複数設けて、各Ｖｓｄ検出用ＡＤＣ５０１の配下のＯＬＥＤ２０１数を減少させてもよい。また、ＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２からＶｓｄ検出用ＡＤＣ５０１までの配線長や配線インピーダンスを考慮してＶｓｄ検出用ＡＤＣ５０１の個数を決定してもよい。
【００４６】
ラッチ回路５０２は、クロック信号ＣＬＫ並びに画像データと同期して、Ｖｓｄ検出用ＡＤＣ５０１が出力したドレイン電圧Ｖｄのデジタル値をソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄとして保持する。このようにすれば、ＯＬＥＤ２０１が発光しているタイミングでソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄを確実にラッチすることができる。なお、後述のように、ラッチ回路５０２はノイズ検出用ＡＤＣ５００の出力もラッチする。
【００４７】
主走査期間中のサンプル期間においてはＤＡＣ４００からキャパシター５２１へ画像信号を書き込む途中であり、ＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２のソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄが安定しない。このため、ソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄを検出するための期間として不適切であり、ソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄはホールド期間に検出するのが望ましい。
また、各発光ブロック４０２内では、発光画素回路５２０毎にホールド期間の開始時点が異なっているので、ホールド期間にソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄを検出することができるように、ラッチ回路５０２にサンプル期間中、ラッチせずに待つための遅延回路等を設けてもよい。このようにすれば、確実にホールド期間中にソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄをラッチすることができる。ラッチしたゲート−ソース間電圧Ｖｇｓは制御部１０１のＡＳＩＣ３１０に記憶される。
【００４８】
また別法として、Ｖｓｄ検出用ＡＤＣ５０１に対し、発光中のＯＬＥＤに駆動電流を供給しているＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２のドレイン電圧Ｖｄに加えて、電源電圧Ｖｐｗｒをデジタル化した値をＶｓｄ検出用ＡＤＣ５０１に入力することによって、Ｖｓｄ検出用ＡＤＣ５０１にソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄを算出させてもよい。
また、検出用シフトレジスター４２０は、クロック信号ＣＬＫと画像データに同期してシフトレジスト動作を行っており、画像データを参照するのはソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄの検出対象となるＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２がＯＬＥＤ２０１を発光させるためにＯＬＥＤ２０１に駆動電流を供給しているか否かを判断して、駆動電流の供給中にソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄを検出するためである。
【００４９】
ＯＬＥＤ２０１を発光させるか否かは画像データに依存するため、主走査を何回繰り返しても当該ＯＬＥＤ２０１が発光しない場合には、当該ＯＬＥＤ２０１に係るＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２のソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄを検出できないのみならず、他のＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２のソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄも検出することができなくなる。
【００５０】
このため、１つの画素について画像データを参照してＯＬＥＤ２０１を発光させないと連続して判定された回数が所定回数に達したら、その画素に係るソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄの検出をスキップして、次の画素に係るソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄの検出を行ってもよい。このようにすれば、長期間に亘ってソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄが検出できなくなるという問題を防止することができる。
（２−３−３）ノイズ成分を検出するための回路構成
次に、高周波ノイズによって輝度信号に重畳したノイズ成分を検出するための回路構成について説明する。
【００５１】
本実施の形態においては、１５０個あるＤＡＣ４００のうちｎ番目のＤＡＣ４００に対応して書き込み配線５３０に重畳するノイズ成分を検出する。このため、ｎ番目のＤＡＣ４００からは書き込み配線５３０が引き出されている。ｎ番目の選択回路４０１に属する１００個の選択用ＴＦＴ５１２は、それぞれ分岐配線によって、ソース端子が書き込み配線５３０に接続されている。
【００５２】
ｎ番目のＤＡＣ４００に最も近い分岐配線と書き込み配線５３０との接続点５３０ｐには、引き出し配線５３１も接続されている。引き出し配線５３１の先にはノイズ検出用ＡＤＣ５００が接続されている。ノイズ検出用ＡＤＣ５００は、ＤＡＣ４００が実際にサンプルホールド回路（キャパシター５２１）に書き込んでいる輝度信号を検出してデジタル値に変換する。
【００５３】
ラッチ回路５０２は、クロック信号ＣＬＫ並びに画像データと同期して、連続画像領域におけるノイズ検出用ＡＤＣ５００の出力電圧を保持する。
ノイズの検出感度を高めるために、引き出し配線５３１は書き込み配線５３０よりも配線インピーダンスが低くなるように設計されている。例えば、配線パターンの幅を広くすれば配線インピーダンスを低くすることができる。引き出し配線５３１の配線インピーダンスを低くすれば、高周波ノイズによって誘導電流が発生しても、誘導電流に起因する電圧降下（ノイズ電圧）を小さくすることができる。また、引き出し配線５３１の引き出し点が接続点５３０ｐに限定されないのは言うまでもなく、これに代えて、接続点５３０ｐ以外の個所で引き出し配線５３１を書き込み配線５３０に接続してもよい。
【００５４】
なお、複数のＤＡＣ４００と１対１に対応して、複数のノイズ検出用ＡＤＣ５００を設けてもよい。
［３］ＯＬＥＤパネル２００の動作
ＯＬＥＤパネル２００は、発光ブロック４０２毎に１００個のＯＬＥＤ２０１がＤＡＣ４００を共有し、選択回路４０１によって発光画素回路５２０を順次切り替えながらＤＡＣから輝度信号をキャパシター５２１に書き込むアクティブ駆動方式を採用している。キャパシター５２１に書き込まれた輝度信号は、主走査期間（１Ｈ期間）経過後の次の書き込みが実施されるまで保持される。ＯＬＥＤ２０１は、輝度信号に応じた発光量で約１Ｈ期間発光し続ける。
【００５５】
詳述すると、図６に示されるように、シフトレジスター５１１が、まず１番目の選択用ＴＦＴ５１２をオンすると、当該オン期間をチャージ期間として、ＤＡＣ４００からの輝度信号が１番目のキャパシター５２１に入力される。
次に、シフトレジスター５１１が１番目の選択用ＴＦＴ５１２をオフすると、１番目のキャパシター５２１が保持している電圧に応じた駆動電流が１番目のＯＬＥＤ２０１に供給され、ＯＬＥＤ２０１が点灯する（ホールド期間）。
【００５６】
１番目の選択用ＴＦＴ５１２のオフと共に、２番目の選択用ＴＦＴ５１２がオンされ、２番目のキャパシター５２１に輝度信号が入力される。このような動作を１００番目の選択用ＴＦＴ５１２まで実行すると、また、１番目の選択用ＴＦＴ５１２に戻って上記の動作を繰り返す。
このようなアクティブ駆動方式を採用すれば、ＯＬＥＤパネル２００の回路規模を削減することができる。
［４］ＡＳＩＣ３０６
次に、画像形成装置１の制御部１０１が内蔵するＡＳＩＣ３０６について説明する。図７に示すように、ＡＳＩＣ３０６はドットカウント部７００、画像検出部７１０及び駆動電流補正部７２０を備えている。
（３−１）ドットカウント部７００
ドットカウント部７００は、１５，０００個のＯＬＥＤ２０１に１対１に対応するドットカウンター７０１を備えている。ドットカウンター７０１のカウント値は、対応するＯＬＥＤ２０１が１回発光するごとに１ずつ増加する。
（３−２）画像検出部７１０
画像検出部７１０は、ノイズ検出用ＡＤＣ５００に対応するＤＡＣ４００の配下の発光ブロック４０２が担う画像領域において、点灯又は消灯の何れか一方の画像データが主走査方向に所定画素数以上連続する領域（以下、単に「連続領域」という。）を検出する。この所定画素数は、ＤＡＣ４００が当該画素数分の輝度信号を書き込むのに必要となる時間、言い換えると、当該画素数をサンプル期間に乗算した時間が、ノイズ検出用ＡＤＣ５００が輝度信号をＡＤ（Analogue to Digital）変換するために要する時間よりも長くなっているような画素数である。
【００５７】
ノイズ検出用ＡＤＣ５００がＡＤ変換を完了する前に、ＤＡＣ４００が画像データのオンオフを切り替えると、ノイズ検出用ＡＤＣ５００に入力される輝度信号（バイアス成分）が変動するので、ＡＤ変換値からバイアス成分を除いてノイズ成分を抽出することができなくなる。これに対して、画像検出部７１０が検出した領域でノイズ検出用ＡＤＣ５００が入力電圧をＡＤ変換すれば、バイアス成分の変動を回避することができる。
【００５８】
図８は画像データを例示する図であって、点灯画素が黒色で、消灯画素が白色で表されている。ｎ番目のＤＡＣ４００に対応してノイズ検出用ＡＤＣ５００が設けられており、且つ上述の所定画素数が１００画素（１発光ブロック４０２分）である場合、画像検出部７１０は、画像領域８０１は点灯画素が連続している連続領域と判定し、画像領域８０２は消灯画素が連続している連続領域と判定する。また、画像領域８０３については点灯画素も消灯画素も連続していないので非連続領域と判定する。
【００５９】
また、ノイズ検出用ＡＤＣ５００がＡＤ変換を完了するのに要する時間が１０画素分である場合には、画像検出部７１０は、画像領域８０１では１画素目から１０画素目までを参照するだけで連続領域と判定することができる。また、画像領域８０３についても領域内の何処かに１０画素連続して点灯又は消灯している領域があれば、画像検出部７１０は当該領域を連続領域として検出する。
【００６０】
ノイズ検出用ＡＤＣ５００は、画像検出部７１０が検出した連続領域を露光するＯＬＥＤ２０１の輝度信号をＤＡＣ４００が出力する期間中に輝度信号をＡＤ変換する。
（３−３）駆動電流補正部７２０
ＯＬＥＤ２０１は、ＯＬＥＤ２０１そのものが経時劣化したり、高周波ノイズの影響によって輝度信号が変動したりすると発光量が変動する。駆動電流補正部７２０は、ＯＬＥＤ２０１に供給する駆動電流量を補正することによって発光量の変動を抑制する。このため、駆動電流補正部７２０は、駆動用ＴＦＴ５１２毎のＶｓｄ−Ｉｄ特性テーブル７２１、ＯＬＥＤ２０１毎の設定光量に対応した初期の駆動電流量を記憶するＩｄ初期データテーブル７２２、ＯＬＥＤ２０１の環境温度、累積発光時間及び設定光量をパラメータとしたＩｄ補正係数テーブル７２３及びＶｓｄ検出データテーブル７２４を記憶している。
［４］経時劣化などに起因する光量変動の補正
次に、ＯＬＥＤ２０１の経時劣化に起因する発光量の変動を抑制するために、ＯＬＥＤ２０１の駆動電流量Ｉｄを補正する処理について説明する。
【００６１】
ＯＬＥＤ２０１は、累積発光時間が長いほど劣化し、高い輝度で発光させるほど（発光量が多いほど）速く劣化する。また、ＯＬＥＤ２０１は環境温度が高いほど速く劣化する。このため、累積発光時間、設定光量及び環境温度に応じて駆動電流Ｉｄを調整すれば、ＯＬＥＤ２０１の発光量の変動を調整することができる。
しかしながら、ＯＬＥＤ２０１に駆動電流Ｉｄを供給すると、ＯＬＥＤ２０１のアノード端子とカソード端子との間で電圧降下（順方向電圧Ｖｅｌ）が発生する。順方向電圧Ｖｅｌの大きさは供給される駆動電流Ｉｄに応じて変化する。一方、電源電圧Ｖｐｗｒ、Ｖｏｌｅｄは変化しないので、駆動用ＴＦＴ５１２のドレイン端子にＯＬＥＤ２０１のアノード端子を接続した直列回路の両端電圧は一定である。このため、駆動電流Ｉｄの変動によってＯＬＥＤ２０１の順方向電圧Ｖｅｌが変動すると、駆動用ＴＦＴ５１２のソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄが変動する。
【００６２】
ＴＦＴは、図９に例示するように、飽和領域においても、ソースードレイン間電圧Ｖｓｄに応じてドレイン電流Ｉｄが変化するＶｓｄ−Ｉｄ特性を有している。このため、ＯＬＥＤ２０１に供給する駆動電流Ｉｄを調整することによって順方向電圧Ｖｅｌが変動し、駆動用ＴＦＴ５１２のソースードレイン間電圧Ｖｓｄが変動すると、ドレイン電流（駆動電流）Ｉｄが変動するので、所望の発光量を得ることができなくなる。
【００６３】
このような問題に対して、本実施の形態においては、駆動用ＴＦＴ５１２毎にＶｓｄ−Ｉｄ特性テーブル７２１を参照して、ゲート−ソース電圧Ｖｇｓを決定する。
具体的には、図１０に示すように、まず、温度センサー３０３にてＯＬＥＤ２０１の環境温度を検出する（Ｓ１００１）。次に、１５，０００個すべてのＯＬＥＤ２０１についてステップＳ１００２からＳ１００９までのループ処理を実行する。
【００６４】
このループ処理においては、個々のＯＬＥＤ２０１毎に、まず当該ＯＬＥＤ２０１に対応するドットカウンター７０１を参照して、当該ＯＬＥＤ２０１の累積発光時間を取得し（Ｓ１００３）、更に、Ｉｄ補正係数テーブル７２３を参照して、環境温度、累積発光時間及び設定光量に対応するＩｄ補正係数を取得する（Ｓ１００４）。
図１１に示すように、Ｉｄ補正係数テーブル７２３は摂氏０度から摂氏８０度までの範囲内の環境温度、累積発光時間及びＬａからＬｄまでの設定光量の組み合わせ毎にＩｄ補正係数を記憶するテーブルである。環境温度は温度センサー３０３にて取得され、累積発光時間はドットカウンター７０１から取得される。
【００６５】
ＯＬＥＤ２０１の設定光量は、当該ＯＬＥＤ２０１とロッドレンズアレイ２３０との位置関係や、画像形成速度に応じて設定される。例えば、画像形成に供される記録シートＳの紙種が普通紙であるか厚紙であるかによって、当該記録シートＳにトナー像の熱定着に要する時間が異なるため、画像形成速度が切り替えられる。画像形成速度が高速である場合には露光時間が短いためＯＬＥＤ２０１の設定光量を多くし、画像形成速度が低速である場合には設定光量を少なくするといった設定がなされる。
【００６６】
次に、Ｉｄ初期データテーブル７２２を参照して、当該ＯＬＥＤ２０１の初期の駆動電流量Ｉｄ（以下、「初期Ｉｄ」という。）を取得する（Ｓ１００５）。図１２に示すように、Ｉｄ初期データテーブル７２２は１５，０００個のＯＬＥＤ２０１のそれぞれについてＬａからＬｄまでの設定光量と初期Ｉｄとを対応付けるテーブルである。初期Ｉｄを用いて、次式（１）のように駆動電流量Ｉｄを算出する（Ｓ１００６）。
【００６７】
（駆動電流量Ｉｄ）＝（Ｉｄ補正係数）×（初期Ｉｄ）  …（１）
このようにすれば、設定光量でＯＬＥＤ２０１を発光させるための駆動電流Ｉｄを得ることができる。
次に、Ｖｓｄ検出データテーブル７２４を参照して、ソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄの検出データを取得する（Ｓ１００７）。図１３に示すように、Ｖｓｄ検出データテーブル７２４は、ラッチ回路５０２がラッチしたソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄのデジタル値をＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２毎に保存するテーブルである。Ｖｓｄ検出データテーブル７２４は、ラッチ回路５０２がソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄのデジタル値をラッチするたびに最新のデータに書き換えられる。
【００６８】
更に、当該ＯＬＥＤ２０１に駆動電流Ｉｄを供給するＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２のＶｓｄ−Ｉｄ特性テーブル７２１を参照して、式（１）を用いて算出した駆動電流Ｉｄと最新のソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄの検出データとの組み合わせに対応するゲート−ソース間電圧Ｖｇｓを決定する（Ｓ１００８）。
図１４に示すように、Ｖｓｄ−Ｉｄ特性テーブル７２１は、ＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２毎のＶｓｄ−Ｉｄ特性として、ゲート−ソース間電圧Ｖｇｓ毎にソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄとドレイン電流Ｉｄとの関係を記憶する。
【００６９】
当該ＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２のＶｓｄ−Ｉｄ特性テーブル７２１を参照して、図１５（ａ）に例示するように、算出した駆動電流Ｉｄと検出したソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄとの組み合わせに対応するゲート−ソース間電圧Ｖｇｓとして電圧Ｖｂが見つかった場合には、当該電圧Ｖｂをゲート−ソース間電圧Ｖｇｓとして採用する。
また、Ｖｓｄ−Ｉｄ特性テーブル７２１に対応するゲート−ソース間電圧Ｖｇｓがない場合には、直近のゲート−ソース間電圧Ｖｇｓを用いて線形補間してもよい。図１５（ｂ）の例では、直近のゲート−ソース間電圧ＶｇｓがＶａ、Ｖｂである場合に、ソース−ゲート間電圧Ｖａ、Ｖｂとソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄとの組み合わせにそれぞれ対応するドレイン電流Ｉｄａ、Ｉｄｂを用いて、線形補間によりゲート−ソース間電圧Ｖｇｓを設定する。具体的には、
Ｖｇｓ＝｛（Ｉｄ−Ｉｄｂ）×Ｖａ＋（Ｉｄａ−Ｉｄ）×Ｖｂ｝／（Ｉｄａ−Ｉｄｂ）  …（２）
とすればよい。
【００７０】
ステップＳ１００２からＳ１００９までのループ処理を終了したら、キャパシター５２１の保持電圧が上で設定したゲート−ソース間電圧Ｖｇｓになるように、ＤＡＣ４００から画像信号を出力することによって光書き込みを行う（Ｓ１０１０）。また、これに並行してソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄを検出する（Ｓ１０１１）。これによって、Ｖｓｄ検出データテーブル７２４のソース−ドレイン間電圧Ｖｓｄが最新データに書き換えられる。その後、光書き込みを完了したら（Ｓ１０１２：ＹＥＳ）、すべての処理を終了する。
【００７１】
このようにすれば、ＯＬＥＤ駆動用ＴＦＴ５２２の飽和領域におけるソース−ドレイン間電圧ＶｓｄのシフトやＯＬＥＤ２０１の順方向電圧Ｖｅｌの変動による光量ばらつきを抑制することができる。
［５］高周波ノイズに起因する光量変動の補正
次に、高周波ノイズに起因する光量変動を抑制するための処理について説明する。
【００７２】
帯電装置や現像装置が発する高周波ノイズは定常的な周期ノイズである。周期ノイズは濃度むらによるスジノイズを印刷画像に発生させる。このようなスジノイズが視認されないようにするためには、濃度むらを１％未満に抑える必要がある。ＯＬＥＤ２０１の発光量は高周波ノイズの位相に応じて増減するため、高周波ノイズの位相を検出して駆動電流量を増減すれば、高周波ノイズに起因する光量変動を抑制することができる。従って、印刷画像における濃度むらを１％抑制して、スジノイズを視認できないようにすることができる。
【００７３】
このため、本実施の形態においては、高周波ノイズによって書き込み配線５３０に重畳するノイズ成分を検出し、ＤＡＣ４００が出力する輝度信号を予めノイズ成分に相当する分だけ補正しておく。このようにすれば、輝度信号にノイズ成分が重畳することによって、ＯＬＥＤ２０１を所望の光量で発光させることができるので、高周波ノイズに起因する濃度むらを抑制することができる。
【００７４】
高周波ノイズに起因する光量変動を補正する際には、図１６に示すように、画像のライン毎にステップＳ１６０２からＳ１６０８までの処理を実行する（Ｓ１６０１、Ｓ１６０９）。まず、画像検出部７１０が画像データの当該ラインを精査して、ｎ番目の発光画素回路５２０が露光する画像領域における連続領域を特定する（Ｓ１６０２）。そして、露光を開始して（Ｓ１６０３）、連続領域を露光する際には（Ｓ１６０４：ＹＥＳ）、ノイズ検出用ＡＤＣ５００がデジタル化した輝度信号をラッチ回路５０２にて保持する（Ｓ１６０５）。
【００７５】
制御部１０１は、ラッチ回路５０２が保持する輝度信号を参照することができる。
制御部１０１は、ノイズ検出用ＡＤＣ５００が出力する検出値Ｖｄｅｔｅｃｔからｎ番目のＤＡＣ４００の入力値（デジタル値）Ｖｄａｃを減算して、ｎ番目の発光画素回路５２０におけるノイズ成分Ａｘ（以下、単に「ｎ番目のノイズ成分Ａｘ」という。）を算出する（Ｓ１６０６）。
【００７６】
Ａｘ ＝ Ｖｄｅｔｅｃｔ − Ｖｄａｃ  …（３）
高周波ノイズに起因するノイズ成分の大きさはＤＡＣ４００毎に異なる。そこで、ｎ番目以外のＤＡＣ４００の配下のＯＬＥＤ２０１に供給する駆動電流Ｉｄを補正するために、ｎ番目のノイズ成分Ａｘからｎ番目以外のノイズ成分Ａｘを求める（Ｓ１６０７）。
具体的には、ｍ番目のノイズ成分Ａｘ＿ｍを求める場合、図１７に示すようなＤＣ成分及びゲイン成分テーブル７２５を参照して、下式（４）のように、ｎ番目のノイズ成分Ａｘからｎ番目のＤＣ成分ＤＣｎを減算し、算出した減算値にｍ番目のゲイン成分Ｇａｉｎｍを乗算する。更に、乗算値にｍ番目のＤＣ成分ＤＣｍを加算する。
【００７７】
Ａｘ＿ｍ ＝ （Ａｘ − ＤＣｎ） × Ｇａｉｎｍ ＋ ＤＣｍ  …（４）
式（４）を用いれば、１から（ｎ−１）まで及び（ｎ＋１）から１５０までの各Ａｘ＿ｍを算出することができる。
画像データ中の次のラインにおいて、ｍ番目の発光画素回路５２０へ輝度信号を出力するためにｍ番目のＤＡＣ４００が入力する入力値Ｖｉ＿ｍは、上記［４］において述べたように経時劣化等を考慮して決定されるのだが、ｍ番目のノイズ成分Ａｘ＿ｍが重畳すると予想されるので、重畳するノイズ成分Ａｘ＿ｍを相殺するために、ＤＡＣ４００の入力値Ｖｉ＿ｍを補正する（Ｓ１６０８）。
【００７８】
Ｖｄａｃ＿ｍ ＝ Ｖｉ＿ｍ − Ａｘ＿ｍ  …（５）
このようにすれば、画像データ中の次のラインにおいてＤＡＣ４００が出力する輝度信号が予めノイズ成分だけ補正されているので、輝度信号にノイズ成分が重畳することによって所望のゲート−ソース電圧Ｖｇｓがキャパシター５２１に保持される。従って、高周波ノイズに起因するＯＬＥＤ２０１の光量変動が抑制されるので、高い印刷画質を実現することができる。
［６］変形例
以上、本発明を実施の形態に基づいて説明してきたが、本発明が上述の実施の形態に限定されないのは勿論であり、以下のような変形例を実施することができる。
（１）上記実施の形態においては、ノイズ検出用ＡＤＣ５００が選択用ＴＦＴ５１２のソース電圧を検出する場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、これに代えて駆動用ＴＦＴ５１２のゲート電圧を検出してもよい。このようにしても、本発明の効果は同じである。
（２）上記実施の形態においては、画像データ中の連続領域においてノイズ検出用ＡＤＣ５００にて輝度信号をＡＤ変換する場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、これに代えて次のようにしてもよい。例えば、ノイズ検出用ＡＤＣ５００が、１つのサンプル期間内で、輝度信号のＡＤ変換を完了することができる場合には、連続領域を検出する必要はない。任意のサンプル期間内において輝度信号をＡＤ変換すれば、ノイズ成分Ａｘを算出して、輝度信号を補正することができる。
（３）上記実施の形態においては、画像データ中の先行するラインで検出したノイズ成分をそのまま用いて次のラインの輝度信号を補正する場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、これに代えて次のようにしてもよい。
【００７９】
高周波ノイズに起因するノイズ成分Ａｘは周期的に変動する。ノイズ成分Ａｘの変動周期が長い場合には、画像データ中で副走査方向に隣り合うラインどうしでのノイズ成分Ａｘの変動が小さい。このため、上記実施の形態のように、前のラインで検出したノイズ成分Ａｘをそのまま使って次のラインの輝度信号を補正することができる。
しかしながら、印刷画像は濃度むらが１％を超えるとスジノイズが視認される。このため、ノイズ成分Ａｘの変動周期が短く、隣り合うラインどうしでのノイズ成分Ａｘの変動が大きい場合に、前のラインで検出したノイズ成分Ａｘをそのまま使って次のラインの輝度信号を補正すると、高周波ノイズに起因する濃度変動を１％未満に抑制することができないおそれがある。
【００８０】
また、例えば、ＱＲコード（登録商標）のように副走査方向にＯＬＥＤ２０１の点消灯状態が頻繁に切り替わるラインが続くと、連続領域がないためにノイズ成分Ａｘを検出することができないラインが連続することになる。このような場合には、最後に検出したノイズ成分Ａｘを用いて輝度信号を補正しても濃度むらが１％を超えるおそれがある。
このような問題に対しては、次のようにすることができる。帯電装置１１２や現像装置１１３が発生させる高周波ノイズは周期や振幅が一定しているため、ノイズ成分Ａｘの周期や振幅も一定である。ノイズ成分Ａｘの周期と振幅とは、工場出荷時に計測する等すれば予め知ることができる。従って、図１８に示すような高周波ノイズデータテーブル７２６に、ノイズ成分Ａｘの位相ごとにノイズ成分Ａｘの値を対応させた高周波ノイズデータを予めＡＳＩＣ３０６に記憶させておくことができる。
【００８１】
従って、ノイズ成分Ａｘの位相は、画像形成に当たって帯電装置１１２及び現像装置１１３を始動してからの経過時間とノイズ成分Ａｘの周期とからある程度の精度で想定することができる。このため、露光タイミングにおけるノイズ成分Ａｘの位相を予想して、輝度信号を補正すれば、濃度むらを精度よく抑制することができる。なお、ノイズ成分Ａｘの想定位相Ｐａには誤差が生じる恐れがある。このような誤差を補正するためには、以下のようにすればよい。
【００８２】
まず、ノイズ成分Ａｘの位相を４種類の期間に分類する。図１９に示すように、期間＃１はノイズ成分Ａｘの位相の検出誤差Ｂの範囲内でノイズ成分Ａｘが単調減少する期間であり、具体的には、位相誤差Ｂの範囲が９０度以上で、かつ２７０度以下の範囲内に含まれる場合である。
期間＃２は位相誤差Ｂの範囲内でノイズ成分Ａｘが単調増加する期間である。具体的には、位相誤差Ｂの範囲が２７０度以上で、かつ９０度（４５０度）以下の範囲内に含まれる場合である。
【００８３】
期間＃３は位相誤差Ｂの範囲内にノイズ成分Ａｘの極大値を含む期間である。具体的には、位相誤差Ｂの範囲が（９０−Ｂ）度以上で、かつ（９０＋Ｂ）度以下の範囲内に含まれる場合である。
期間＃４は位相誤差Ｂの範囲内にノイズ成分Ａｘの極小値を含む期間である。具体的には、位相誤差Ｂの範囲が（２７０−Ｂ）度以上で、かつ（２７０＋Ｂ）度以下の範囲内に含まれる場合である。
【００８４】
なお、位相誤差Ｂは、ノイズ検出用ＡＤＣ５００のＡＤ変換速度から決まる検出誤差の範囲である。また、以下においては、位相ｐのノイズ成分Ａｘの値をＡｘ（ｐ）と表記する。
（３−１）期間＃１、＃２
期間＃１、＃２内ではノイズ成分Ａｘは単調減少または単調増加するので、ＤＡＣ４００の入力値Ｖｄａｃに想定位相Ｐａのノイズ成分Ａｘ（Ｐａ）が重畳した値Ｖｉが、ノイズ検出用ＡＤＣ５００の検出値Ｖｄｅｔｅｃｔに一致する位相は、期間＃１内で１点しかない。従って、ノイズ成分Ａｘの想定位相Ｐａの補正の要否を以下のように判定する。
（３−１−１）Ｖｉ＝Ｖｄｅｔｅｃｔである場合
図２０に示すように、ＤＡＣ４００は、経年劣化等を考慮した輝度信号値Ｖｉから想定位相Ｐａのノイズ成分Ａｘ（Ｐａ）を差し引いた輝度信号値Ｖｄａｃ（＝Ｖｉ−Ａｘ（Ｐａ））をＤＡ（Digital to Analogue）変換して出力する。ノイズ検出用ＡＤＣ５００は、ＤＡＣ４００の出力信号に高周波ノイズが重畳した信号をＡＤ変換して信号値Ｖｄｅｔｅｃｔを出力する。検出信号値Ｖｄｅｔｅｃｔには、
Ｖｄｅｔｅｃｔ ＝ Ｖｄａｃ ＋ Ａｘ（Ｐ）  …（６）
のように、実際の位相Ｐのノイズ成分Ａｘ（Ｐ）が含まれている。一方、経年劣化等を考慮した輝度信号値Ｖｉは、
Ｖｉ ＝ Ｖｄａｃ ＋ Ａｘ（Ｐａ）  …（７）
のように、ＤＡＣ４００の入力値Ｖｄａｃに想定位相Ｐａのノイズ成分Ａｘ（Ｐａ）を重畳した値になっている。
【００８５】
このため、ノイズ検出用ＡＤＣ５００の出力値Ｖｄｅｔｅｃｔが信号値Ｖｉに等しい場合には、ノイズ成分Ａｘの想定位相Ｐａが実際の位相Ｐに一致していると判断されるので、想定位相Ｐａを補正する必要はない。
（３−１−２）Ｖｉ≠Ｖｄｅｔｅｃｔである場合
この場合には、上記の式（６）、（７）から
Ａｘ（Ｐａ）＞Ａｘ（Ｐ）  …（８）
または、
Ａｘ（Ｐａ）＜Ａｘ（Ｐ）  …（９）
であると判断される。（８）である場合、期間＃１ではノイズ成分Ａｘは単調減少するため、ノイズ成分Ａｘの想定位相Ｐａは実際の位相Ｐよりも遅れていることになる。期間＃２ではノイズ成分Ａｘは単調増加するため、ノイズ成分Ａｘの想定位相Ｐａは実際の位相Ｐよりも進んでいることになる。
【００８６】
（９）である場合は、（８）である場合とは逆に、期間＃１ではノイズ成分Ａｘの想定位相Ｐａは実際の位相Ｐよりも進んでいることになり、期間＃２ではノイズ成分Ａｘの想定位相Ｐａは実際の位相Ｐよりも遅れていることになる。
いずれの場合も想定位相Ｐａが実際の位相Ｐからずれているので、想定位相Ｐａを補正する必要がある。このため、高周波ノイズデータテーブル７２６を参照して、実際のノイズ成分Ａｘ（Ｐ）に最も近いノイズ成分値Ａｘ（ｘ）、Ａｘ（ｙ）を特定する。ここで、期間＃１では、
Ａｘ（ｘ） ＞ Ａｘ（Ｐ） ＞ Ａｘ（ｙ）  …（１０）
となり、また、期間＃２では、
Ａｘ（ｘ） ＜ Ａｘ（Ｐ） ＜ Ａｘ（ｙ）  …（１０）
となるように、位相ｘは実際の位相Ｐよりも遅れた位相であり、位相ｙは実際の位相Ｐよりも進んだ位相であるものとする。これらの値を用いた補間によって、想定位相Ｐａを次式のように更新する。
【００８７】
Ｐａ ＝ ｛ｘ×（Ａｘ（Ｐ）−Ａｘ（ｙ））＋ｙ×（Ａｘ（ｘ）−Ａｘ（Ｐ））｝／（Ａｘ（ｘ）−Ａｘ（ｙ））  …（１０）
ノイズ検出用ＡＤＣ５００にて信号値Ｖｄｅｔｅｃｔを検出したラインよりも後に露光するラインについては更新後のノイズ成分Ａｘ（Ｐａ）を用いれば、高周波ノイズに起因する露光むらを補正することができる。
【００８８】
なお、ノイズ成分Ａｘの変動を振幅Ｂの正弦波形で近似できる場合には、
Ａｘ（Ｐ） ＝ Ｂ×ｓｉｎ（Ｐ）  …（１１）
と書けるので、想定位相Ｐａを
Ｐａ ＝ ｓｉｎ−１（Ａｘ（Ｐ）／Ｂ）  …（１２）
のように、更新してもよい。
（３−２）期間＃３、＃４
ノイズ成分Ａｘの想定位相Ｐａの位相誤差Ｂの範囲が期間＃３、＃４である場合には、検出されたノイズ成分Ａｘ（Ｐ）に対応する位相値が２つある場合がある。例えば、図２１（ａ）に示すように、期間＃３において位相誤差Ｂの範囲が位相９０度を含む位相Ｐａ−から位相Ｐａ＋までの範囲に亘っており、ノイズ成分Ａｘ（Ｐ−）がノイズ成分Ａｘ（Ｐ＋）よりも大きい場合には、検出されたノイズ成分Ａｘ（Ｐ）がＡｘ（Ｐ−）以上で、かつ位相が９０度であるときのノイズ成分Ａｘ（９０°）未満だと実際の位相Ｐの候補が２つあるため、実際の位相Ｐを確定することができない。
【００８９】
一方、検出されたノイズ成分Ａｘ（Ｐ）がＡｘ（Ｐ＋）以上で、かつＡｘ（Ｐ−）未満である場合には、実際の位相Ｐの候補が１つしかないので、この位相Ｐになるように想定位相Ｐａを更新すればよい。
期間＃４においても同様に、図２１（ｂ）に示すように、位相誤差Ｂの範囲が位相２７０度を含む位相Ｐａ−から位相Ｐａ＋までの範囲に亘っており、ノイズ成分Ａｘ（Ｐ＋）がノイズ成分Ａｘ（Ｐ−）よりも小さい場合には、検出されたノイズ成分Ａｘ（Ｐ）がＡｘ（Ｐ−）以下で、かつ位相が２７０度であるときのノイズ成分Ａｘ（２７０°）より大きい実際の位相Ｐの候補が２つあるため、実際の位相Ｐを確定することができない。
【００９０】
一方、検出されたノイズ成分Ａｘ（Ｐ）がＡｘ（Ｐ＋）より大きく、かつＡｘ（Ｐ−）以下である場合には、実際の位相Ｐの候補が１つしかないので、この位相Ｐになるように想定位相Ｐａを更新すればよい。
以上のような考察を進めると、位相Ｐ、Ｐ＋及びＰ−におけるノイズ成分Ａｘ（Ｐ）、Ａｘ（Ｐ＋）及びＡｘ（Ｐ−）の大小関係を次の７通りに分けて、実際の位相Ｐの確定の可否を考えることができる。
【００９１】
（ａ）Ａｘ（Ｐ＋） ＞ Ａｘ（Ｐ） ＞ Ａｘ（Ｐ−）
（ｂ）Ａｘ（Ｐ＋） ＝ Ａｘ（Ｐ） ＞ Ａｘ（Ｐ−）
（ｃ）Ａｘ（Ｐ）＞Ａｘ（Ｐ＋）＞Ａｘ（Ｐ−）
（ｄ）Ａｘ（Ｐ）＞Ａｘ（Ｐ＋）＝Ａｘ（Ｐ−）
（ｅ）Ａｘ（Ｐ）＞Ａｘ（Ｐ−）＞Ａｘ（Ｐ＋）
（ｆ）Ａｘ（Ｐ−）＝Ａｘ（Ｐ）＞Ａｘ（Ｐ＋）
（ｇ）Ａｘ（Ｐ−）＞Ａｘ（Ｐ）＞Ａｘ（Ｐ＋）
（３−２−１）実際の位相Ｐを確定できない場合
上記の７通りのうち、（ｂ）から（ｆ）までについては実際の位相Ｐの候補が２つあるので、実際の位相Ｐを確定することができない。このため、実際の位相Ｐを用いて想定位相Ｐａを更新することができない。
（３−２−２）実際の位相Ｐを確定できる場合
上記の７通りのうち、（ａ）及び（ｇ）については実際の位相Ｐを確定することができるので、実際の位相Ｐを用いて想定位相Ｐａを更新することができる。
（３−２−２−１）Ｖｉ＝Ｖｄｅｔｅｃｔである場合
ノイズ検出用ＡＤＣ５００の出力値Ｖｄｅｔｅｃｔが信号値Ｖｉに等しい場合には、ノイズ成分Ａｘの想定位相Ｐａが実際の位相Ｐに一致していると判断されるので、想定位相Ｐａを補正する必要はない。
（３−２−２−２）Ｖｉ≠Ｖｄｅｔｅｃｔである場合
この場合には想定位相Ｐａが実際の位相Ｐからずれているので、上記の（３−１−２）と同様にして想定位相Ｐａを補正する。
【００９２】
すなわち、高周波ノイズデータテーブル７２６を参照して、実際のノイズ成分Ａｘ（Ｐ）に最も近いノイズ成分値Ａｘ（ｘ）、Ａｘ（ｙ）を特定し、これらの値を用いた補間によって、想定位相Ｐａを式（１０）のように更新する。このように想定位相Ｐａを更新すれば、高周波ノイズに起因する露光むらを補正することができる。
（４）上記実施の形態においては、ＤＣ成分及びゲイン成分テーブル７２５を参照してｎ番目のノイズ成分Ａｘからｍ番目のノイズ成分Ａｘ＿ｍを求める場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、これに代えて次のようにしてもよい。例えば、複数の書き込み配線５３０に重畳するノイズ成分Ａｘを検出し、これらのノイズ成分Ａｘを用いた補間演算によって、他の書き込み配線５３０に重畳するノイズ成分Ａｘを算出してもよい。
【００９３】
図２２の例では、１番目、７５番目及び１５０番目の書き込み配線５３０に重畳するノイズ成分Ａｘ＿１、Ａｘ＿７５及びＡｘ＿１５０を検出するために、各書き込み配線５３０から引き出された引き出し配線５３１にそれぞれノイズ検出用ＡＤＣ５００が接続されている。各ノイズ検出用ＡＤＣ５００は、図２３に例示するように、対応する画像領域に連続領域がある場合にノイズ成分Ａｘを検出する。
【００９４】
本変形例に係るＡＳＩＣ３０６が記憶する高周波ノイズデータテーブル７２６は、１番目、７５番目及び１５０番目の書き込み配線に重畳する位相角ごとのノイズ成分Ａｘを、図２４に例示するように、記憶している。検出されたノイズ成分Ａｘ＿１、Ａｘ＿７５及びＡｘ＿１５０と高周波ノイズデータテーブル７２６とを用いて高周波ノイズの位相が特定される。
【００９５】
ｍ番目のノイズ成分Ａｘ＿ｍを求める場合、
１ ＜ ｍ ＜７５  …（１３）
ならば、１番目と７５番目のノイズ成分Ａｘ＿１、Ａｘ＿７５から、下記の式（１４）を用いて、ｍ番目のノイズ成分Ａｘ＿ｍを算出する。
Ａｘ＿ｍ ＝ ｛Ａｘ＿１×（７５−ｍ）＋Ａｘ＿７５×（ｍ−１）｝／（７５−１）  …（１４）
同様に、
７５ ＜ ｍ ＜１５０  …（１３）
ならば、７５番目と１５０番目のノイズ成分Ａｘ＿７５、Ａｘ＿１５０から、下記の式（１５）を用いて、ｍ番目のノイズ成分Ａｘ＿ｍを算出する。
【００９６】
Ａｘ＿ｍ ＝ ｛Ａｘ＿７５×（１５０−ｍ）＋Ａｘ＿１５０×（ｍ−７５）｝／（１５０−７５）  …（１５）
このようにすれば、２番目から７４番目及び７６番目から１４９番目までの各ノイズ成分Ａｘ＿ｍを算出することができる。また、本変形例では、上記実施の形態とは異なって、ｍ番目のノイズ成分Ａｘ＿ｍを算出するためにＤＣ成分及びゲイン成分テーブル７２５を必要としない。このため、ＡＳＩＣ３０６の記憶容量を削減することができるという意味でコスト低減を図ることができる。
【００９７】
なお、ノイズ成分Ａｘを検出する書き込み配線５３０の組み合わせは、１番目、７５番目及び１５０番目の組み合わせに限定されないのは言うまでもなく、他の組み合わせを用いてもよいし、４つ以上を組み合わせてもよい。
（５）上記実施の形態においては、高周波ノイズデータテーブル７２６を予め初期データとしてＡＳＩＣ３０６に記憶しておく場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、これに代えて次のようにしてもよい。
【００９８】
すなわち、予め初期データとして記憶しておいた高周波ノイズテーブル７２６が、高周波ノイズが経時変化することによって不適切になった場合、高周波ノイズデータテーブル７２６を用いてＤＡＣ４００の入力値Ｖｉ＿ｍを補正すると、ノイズ成分Ａｘを精度よく相殺することができなくなるおそれがある。また、高周波ノイズデータテーブル７２６を予め記憶させる場合、データを作成したり記憶させたりするためのコストが発生するといった問題がある。
【００９９】
これに対して、本変形例では、画像形成装置１の電源投入時、アイドリング時及び紙間時にノイズ成分Ａｘを検出することによって高周波ノイズデータテーブル７２６を作成する。なお、電源投入時、アイドリング時及び紙間時にはＯＬＥＤ２０１は消灯され続けるので、連続領域を検出する必要はなく、常にノイズ成分Ａｘを検出することができる。
このようにすれば、高周波ノイズの経時変化に合わせて高周波ノイズデータテーブル７２６を更新するので、高周波ノイズの位相を精度よく検出することができる。従って、高周波ノイズが経時変化してもノイズ成分Ａｘを精度よく相殺するようにＤＡＣ４００の入力値Ｖｉ＿ｍを補正することができる。
（６）上記実施の形態においては、ｎ番目の書き込み配線５３０に重畳するノイズ成分Ａｘを検出する場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、これに代えて次のようにしてもよい。
【０１００】
すなわち、上記実施の形態においては、ｎ番目の書き込み配線５３０に重畳するノイズ成分Ａｘのみを検出するため、ｎ番目のＤＡＣ４００に対応する画像領域に連続領域がない場合が連続すると、高周波ノイズの位相を精度よく検出することができなくなる。
これに対して、本変形例では、図２５に示すように、１番目、７５番目及び１５０番目の書き込み配線５３０に重畳するノイズ成分Ａｘ＿１、Ａｘ＿７５及びＡｘ＿１５０を検出するために、各書き込み配線５３０から引き出された引き出し配線５３１にそれぞれノイズ検出用ＡＤＣ５００が接続されている。
【０１０１】
駆動ＩＣ３０２は、セレクター２５００を制御することによって、対応する画像領域に連続領域があるノイズ検出用ＴＦＴ２５０１をオンし、連続領域がないノイズ検出用ＴＦＴ２５０１をオフする。引き出し配線５３１が接続されている場合には、ノイズ検出用ＡＤＣ５００はノイズ成分Ａｘを検出することができる。
このようにすれば、１番目のＤＡＣ４００に対応する画像領域に連続領域が無くても、他のＤＡＣ４００に対応する連続領域があれば、高周波ノイズの位相を精度よく検出することができる。
【０１０２】
なお、高周波ノイズデータテーブル７２６は、ノイズ成分Ａｘを検出するたびに更新してもよいし、予め初期データとしてＡＳＩＣ３０６に記憶しておいてもよい。また、ノイズ成分Ａｘを検出する書き込み配線５３０は、１番目、７５番目及び１５０番目の組み合わせに限定されないのは言うまでもなく、他の組み合わせを用いてもよいし、４つ以上の書き込み配線５３０についてノイズ成分Ａｘを検出してもよい。
（７）上記実施の形態においては、印字領域で輝度信号を補正する場合を例にとって説明したが、紙間領域も含めて画像検出を行い、補正を行ってもよいことは言うまでもない。
（８）上記実施の形態においては、ラッチ回路５０２が保持する輝度信号を制御部１０１が参照して輝度信号を補正する処理を行う場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、これに代えて、駆動ＩＣ３０２にて輝度信号を補正する処理を行ってもよい。この場合において、駆動ＩＣ３０２は、制御部１０１のＡＳＩＣ３０６に対して処理を要求してもよいし、ＡＳＩＣ３０６に相当する機能を駆動ＩＣ３０２に搭載してもよい。
（９）上記実施の形態においては、画像形成装置１がタンデム型のカラープリンターである場合を例にとって説明したが、本発明がこれに限定されないのは言うまでもなく、タンデム型以外のカラープリンターやモノクロプリンターに本発明を適用してもよい。また、スキャナーを備えた複写装置や、更に、ファクシミリ通信機能を備えたファクシミリ装置といった単機能、これらの機能を兼ね備えた複合機（MFP: Multi-Function Peripheral）に本発明を適用しても同様の効果を得ることができる。
【産業上の利用可能性】
【０１０３】
本発明に係る光書き込み装置及び画像形成装置は、高周波ノイズに起因する濃度むらを防止する装置として有用である。
【符号の説明】
【０１０４】
１………画像形成装置
１００…光書き込み装置
１０１…制御部
１１０…作像部
１１２…帯電装置
１１３…現像装置
２００…ＯＬＥＤパネル
３００…ＴＦＴ基板
３０２…駆動ＩＣ
３０６…ＡＳＩＣ
４００…ＤＡＣ
５００…ノイズ検出用ＡＤＣ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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