(57)【要約】【課題】  ホスト機器のクロックと外部デバイスからのデータの、温度変化によって発生する位相ずれを限られた時間の中でチューニングすること。【解決手段】  電子機器の起動後、最初に外部デバイスが接続された時に、取得可能な全ての位相パターンを取得してチューニングを行い、外部デバイスへのデータ記録発生する操作が行われたら、所定時間間隔で外部デバイスの温度を取得し、前回ラッチ位相の補正を実施した時からの温度変化が閾値以上になった時、前回外部デバイスへの記録を行わない休止時間に、所定の位相を中心とした前後の位相パターンを前記期間内に可能な数だけ取得し、その中からラッチ位相を選択する。【選択図】  図１
2018085662.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
外部デバイスから所定のキャリブレーションデータを受信し、前記外部デバイスへの書き込みを行わない期間に、前記受信データに対してデータラッチの位相を所定量遅延させる遅延手段と、
前記遅延手段で遅延させる遅延量を変更することで取得した複数の位相パターンそれぞれについてラッチ可否を判定し、ラッチ可の位相の一つをデータラッチ位相として設定することでクロックとデータのタイミングずれをチューニングする手段と、
前記外部デバイスの温度を取得する手段とを有し、
起動後に最初に前記外部デバイスが接続された時に、取得可能な全ての位相パターンを取得してチューニングを行い、前記外部デバイスへのデータ記録発生する操作が行われたら、所定時間間隔で前記外部デバイスの温度を取得し、前回ラッチ位相の補正を実施した時からの温度変化が閾値以上になった時、前記外部デバイスへの記録を行わない休止時間に、所定の位相を中心とした前後の位相パターンを前記期間内に可能な数だけ取得し、その中からラッチ位相を選択することを特徴とする電子機器。
【請求項２】
前記外部デバイスへの記録休止時間に取得した位相パターンの中にラッチ不可の位相領域が含まれてない場合はラッチ位相の変更は行わず、ラッチ不可の位相領域が含まれていた場合は、前記ラッチ位相不可領域から最も遠い位相をラッチ位相として設定することを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
【請求項３】
前記外部デバイスへの記録休止時間に取得する前記位相パターンの数は、前記全ての位相パターンを取得して行うチューニングにおける、取得位相数とチューニング実行時間、及び前記外部デバイスへの記録休止時間から算出することを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
【請求項４】
前記全ての位相パターンを取得して行うチューニング時に、ラッチ可位相領域とラッチ不可位相領域の範囲を記録しておき、それぞれの範囲の大きさに応じて、前記温度変化の閾値を変更することを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
【請求項５】
前記温度変化発生時のチューニング時には、現在設定されている位相を中心とした前後の位相パターンを前記期間内に可能な数だけ取得し、その中からラッチ位相を選択することを特徴とすることを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
【請求項６】
温度変化量に対する前記外部デバイスからのデータ出力タイミングのデータを有し、
前記温度変化発生時のチューニング時に位相取得の中心とする位相は、温度変化量から前記タイミングデータによって算出された量だけ、現在設定されている位相からずらした位相であることを特徴とすることを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
【請求項７】
前記外部デバイスへのデータ記録が発生する操作が終了したら前記全ての位相パターンを取得して行うチューニングを行い、その時の温度情報と位相補正量から温度変化量に対する位相ずれ量を算出し、
前記温度変化発生時のチューニング時に位相取得の中心とする位相は、前記温度変化量に対する位相ずれ量から算出された量だけ、現在設定されている位相からずらした位相であることを特徴とすることを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタル電子機器が扱うデータ量が益々増加しており、それに伴いデータを保存するための外部デバイスとのデータ通信の更なる高速化が必要とされている。ホスト側の機器から外部デバイスに対して供給したクロックに同期して外部デバイスが出力したデータをホスト側の機器が取り込む場合、外部デバイス外部デバイスが出力したクロックとデータの位相ずれがあるとデータの有効タイミングでラッチできない可能性がある。データ通信の高速化が進むと、従来は問題とならなかったわずかな遅延で通信エラーとなることが懸念される。
【０００３】
静止画や動画データをＳＤカードに保存する撮像装置を例にすると、ＳＤカードへの書き込み時にホストである撮像装置からＳＤカードに対してデータとＣＲＣ信号を送信した後のＳＤカード側からのレスポンス応答出力が遅く、クロックとの位相ずれが大きくなりホスト側でラッチできず、カードへの書き込みに失敗する可能性が高まる。また、カードからのデータ出力タイミングは、使用するカードの種類や温度条件によって異なるため、条件によっては書き込みエラーの可能性はより高くなる。
【０００４】
この問題に対して、特許文献１では、外部デバイスからのデータ位相を解析し、ラッチタイミングを補正する手段が開示されている。外部デバイスに所定のキャリブレーションデータを出力させたデータに対して、位相設定を変更しながら予め保存してあるキャリブレーションデータの期待値と一致するかを判定し、期待値と一致した時点での位相設定をチューニング結果として使用する。 
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１１−１３５５３１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、チューニングは外部デバイスから所定のキャリブレーションデータを読み込む必要があるため、外部デバイスに対して書き込みを行っている間は行うことができない。また、撮像装置による動画撮影中などカード温度が上昇するような状況ではリアルタイムのチューニングが必要となる。その場合、機器内部のバッファメモリにデータが所定量蓄積されるまでの、ＳＤカードに記録を行っていない時間でしかチューニングを行うことでできない。この時間はカード記録が高速になればなるほど短くなる。
【０００７】
上述の特許文献に開示された従来技術によるチューニングは、期待値と一致するまで位相設定が決定しないため、位相のずれ量が大きい場合はチューニングに時間がかかってしまい温度変化による位相ずれをリアルタイムにチューニングできず、高速書き込みを行うことができない。
【０００８】
そこで、本発明の目的は、ホスト機器のクロックと外部デバイスからのデータの、温度変化によって発生する位相ずれを限られた時間の中でチューニングし、高速書き込みを可能にする方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、本発明は、外部デバイスから所定のキャリブレーションデータを受信し、前記外部デバイスへの書き込みを行わない期間に、前記受信データに対してデータラッチの位相を所定量遅延させる遅延手段と、前記遅延手段で遅延させる遅延量を変更することで取得した複数の位相パターンそれぞれについてラッチ可否を判定し、ラッチ可の位相の一つをデータラッチ位相として設定することでクロックとデータのタイミングずれをチューニングする手段と、前記外部デバイス部の温度を取得する手段とを有する電子機器であって、前記電子機器の起動後、最初に前記外部デバイスが接続された時に、取得可能な全ての位相パターンを取得してチューニングを行い、前記外部デバイスへのデータ記録発生する操作が行われたら、所定時間間隔で前記外部デバイス部の温度を取得し、前回ラッチ位相の補正を実施した時からの温度変化が閾値以上になった時、前回外部デバイスへの記録を行わない休止時間に、所定の位相を中心とした前後の位相パターンを前記期間内に可能な数だけ取得し、その中からラッチ位相を選択することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、温度変化に伴う外部デバイスからのデータの位相ずれを短い時間でチューニングし、外部デバイスへの高速書き込みを行うことが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】撮像装置の処理動作を示すフローチャートである。
【図２】撮像装置の構成を示すブロック図である。
【図３】位相調整部の構成を示すブロック図である。
【図４】全位相取得によるチューニングを示す図である。
【図５】動画記録時のデータ記録サイクルを示す図である。
【図６】温度変化による位相ずれチューニングを示す図である。
【図７】温度に応じたチューニング開始位置変更有無の差異を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。
［実施例］
図２は、本発明の第１の実施形態に係るタッチパネル機能付表示装置を備えたレンズユニット交換式撮像装置１００の構成を示すブロック図である。
【００１３】
１２１は撮像素子であり、レンズ２１０、絞り２１１、レンズマウント１０２及び２０２、シャッター１４４を介して不図示の被写体の光学像が結像し、その光学像を電気信号に変換する。１２２はＡ／Ｄ変換部であり、撮像素子１２１のアナログ信号出力をデジタル信号に変換する。Ａ／Ｄ変換部１２２でＡ／Ｄ変換されたデジタル信号は、メモリ制御部１２４及びシステム制御部１２０により制御され、メモリ１２７に格納される。
【００１４】
１２３は画像処理部であり、Ａ／Ｄ変換部１２２でＡ／Ｄ変換されたデジタル信号のデータ或いはメモリ制御部１２４からのデータに対して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。画像処理部１２３は、適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）等により画像データを圧縮伸長する圧縮・伸長回路も備える。メモリ１２７に格納された画像を読み込んで圧縮処理或いは伸長処理を行い、処理を終えたデータをメモリ１２７に書き込むことも可能である。
【００１５】
また、画像演算部１２９では、撮像画像のコントラスト値を算出し、コントラスト値から撮影画像の合焦状態を測定することができる。メモリ１２７に格納された画像データと現在の撮像画像の相関値を算出し、最も相関の高い領域を探索することが可能である。１２４はメモリ制御部であり、Ａ／Ｄ変換部１２２、画像処理部１２３、表示装置１１０、外部着脱メモリ部１３０とメモリ１２７間のデータの送受を制御する。Ａ／Ｄ変換部１２２のデータが画像処理部１２３、メモリ制御部１２４を介して、或いはＡ／Ｄ変換部１２２のデータが直接メモリ制御部１２４を介して、メモリ１２７に書き込まれる。
【００１６】
１３７は位相調整部であり、外部着脱メモリ１３０からデータを読み込む際、クロックに対してデータを適切なタイミングで取り込むようにデータラッチ位相の調整を行う。１１０はタッチパネル機能付の液晶ディスプレイ型表示装置であり、液晶パネル表示部１２５、バックライト照明部１２６及びタッチパネル部１５１により構成される。
【００１７】
１２５は液晶パネル表示部であり、システム制御部１２０の指示により、メモリ１２７の画像表示データ用領域に格納されたメニュー画面、又は外部着脱メモリ部１３０に格納された画像ファイルを表示することが可能である。また、撮像素子から得られた撮像データを逐次リアルタイムにスルー画像表示することで、「ライブビュー」撮影を行うことができる。ライブビュー撮影中は、ＡＦ対象の被写体の位置を操作者が認識できるよう、表示装置１１０に対して、ＡＦ領域を示すＡＦ枠を画像に重畳して表示することができる。
【００１８】
１２６はバックライト照明であり、液晶パネル表示部１２５に対して背面照射する。バックライト照明の光源素子としては、ＬＥＤ、有機ＥＬ、蛍光管等がある。システム制御部１２０の指示により、照明を任意に点灯或いは消灯することが可能である。１５１はタッチパネル部であり、タッチ検出方式としては、抵抗膜方式や静電容量方式等がある。このタッチパネル部１５１により、操作者がタッチした位置に合焦させるタッチＡＦなど、直感的な機器の操作が可能になる。
【００１９】
１２０は撮像装置１００全体を制御するシステム制御部である。１２７は撮影した静止画像及び動画像、再生用表示のための画像のデータを格納するためのメモリであり、所定枚数の静止画像や動画像を格納するのに十分な記憶量を備える。なお、メモリ１２７はシステム制御部１２０のプログラムスタック領域、ステータス記憶領域、演算用領域、ワーク用領域、画像表示データ用領域が確保されている。各種の演算は、メモリ１２７の演算用領域を利用し、システム制御部１２０により実行される。
【００２０】
１２８は電気的に消去・記録可能な不揮発性メモリであり、例えばフラッシュメモリやＥＥＰＲＯＭ等が用いられる。不揮発性メモリ１２８には、撮影状態の保存や、撮像装置１００を制御するプログラムが格納されている。
【００２１】
１３０はコンパクトフラッシュ（登録商標）やＳＤカードといった記録媒体に画像ファイル記録や読出を行うための外部着脱メモリ部である。１３１は電源部であり、電池、電池検出回路、ＤＣ-ＤＣコンバータ、通電するブロックを切り替えるスイッチ回路等により構成されており、電池の装着の有無、電池の種類、電池残量の検出を行う。また、検出結果及びシステム制御部１２０の指示に基づいてＤＣ-ＤＣコンバータを制御し、必要な電圧を必要な期間、各ブロック部へ供給する。
【００２２】
１４１はシャッター制御部であり、測光部１４２からの測光情報に基づいて、絞り２１１を制御するレンズ制御部２０３と連携しながら、シャッター１４４を制御する。１４２はＡＥ（自動露出）処理を行うための測光部である。レンズ２１０に入射した光線を、絞り２１１、レンズマウント２０２及び１０２、そして不図示の測光用レンズを介して、測光部１４２に入射させることにより、光学像として結像された画像の露出状態を測定することができる。
【００２３】
１４３はＡＦ処理を行うための測距部である。レンズ２１０に入射した光線を、絞り２１１、レンズマウント２０２及び１０２、そして不図示の測距用ミラーを介して、測距部１４３に入射させることにより、光学像として結像された画像の合焦状態を測定することができる。尚、ライブビュー撮影中は、画像演算部１２９より出力された画像データから求められたコントラスト値に応じて、撮影画像の合焦状態を測定することも可能である。
【００２４】
１４０はカメラ制御部であり、シャッター制御部１４１、測光部１４２、測距部１４３との送受通信によりカメラとしての一連の動作を制御する。また、カメラ制御部１４０は、レンズユニット２００を制御することも可能である。
【００２５】
１３２、１３３はモード切替スイッチ及び、操作部であり、システム制御部１２０に各種の動作指示を入力するための操作手段である。モード切替スイッチ１３２は、システム制御部１２０の動作モードを静止画記録モード、動画記録モード、再生モード等のいずれかに切り替える。静止画記録モードに含まれるモードとして、オート撮影モード、マニュアルモード、撮影シーン別の撮影設定となる各種シーンモード、プログラムＡＥモード、撮像素子１２１から得られた撮像データをリアルタイムにスルー画像表示するライブビューモード等がある。操作部１３３の各操作部材は、表示装置１１０に表示される種々の機能アイコンを選択操作することなどにより、場面ごとに適宜機能が割り当てられ、各種機能ボタンとして作用する。
【００２６】
１３４はレリーズスイッチであり、レリーズボタンの半押し（ＳＷ１）及び全押し（ＳＷ２）で各々ＯＮとなるスイッチである。半押し状態ではＡＦ処理、ＡＥ処理、ＡＷＢ（オートホワイトバランス）処理、ＥＦ（フラッシュ調光）処理等の動作開始を指示する。全押し状態では、撮像素子１２１から読み出した信号をＡ／Ｄ変換部１２２、メモリ制御部１２４を介してメモリ１２７に画像データを書き込む撮像処理、画像処理部１２３やメモリ制御部１２４での演算を用いた現像処理を行う。
【００２７】
さらに、メモリ１２７から画像データを読み出し、画像処理部１２３で圧縮を行い、外部着脱メモリ部１３０に装着された不図示の記録媒体に画像データを書き込む記録処理という一連の処理の動作開始を指示する。１３５は電源スイッチであり、撮像装置１００の電源オン、電源オフの各モードを切り替え設定することができる。また、撮像装置１００に接続されたレンズユニット２００、記録媒体等の各種付属装置の電源オン、電源オフの設定も合わせて切り替え設定することができる。
【００２８】
１３６はタイマーであり、時計機能、カレンダー機能、タイマーカウンター機能、アラーム機能があり、スリープモードへの移行時間や、アラーム通知等のシステム管理に用いられる。１０２及び２０２はレンズマウントであり、撮像装置１００をレンズユニット２００と接続するためのインターフェースである。１０１及び２０１は撮像装置１００をレンズユニット２００と電気的に接続するコネクタであり、カメラ制御部１４０により制御される。
【００２９】
２００は交換レンズタイプのレンズユニットであり、不図示の被写体の光学像をレンズ２１０から、絞り２１１、レンズマウント２０２及び１０２、シャッター１４４を介して導き、撮像素子１２１上に結像することができる。２０３はレンズユニット２００全体を制御するレンズ制御部である。レンズ制御部２０３は、動作用の定数、変数、プログラム等を記憶するメモリやレンズユニット２００固有の番号等の識別情報、管理情報、開放絞り値や最小絞り値、焦点距離等の機能情報、現在や過去の各設定値等を保持する不揮発メモリの機能も備える。
【００３０】
レンズ制御部２０３は、測定距部１４３或いは画像処理部１２３より測定された画像の合焦状態に応じて、レンズ２１０のフォーカシングを制御し、撮像素子１２１に入射する被写体像の結像位置を変更することでＡＦ動作を行うことが可能である。また、レンズ制御部２０３は絞り２１１の制御や、レンズ２１０のズーミングを制御する機能も兼ね備える。
【００３１】
次に、位相調整部１３７の構成について説明する。図３は位相調整部のブロック図である。３０１は分周器であり、クロック生成部からラッチ位相調整部に入力されるＰＬＬクロックを分周してＳＤクロックを生成する。３０２及び３０５はフリップフロップであり、３０２はＳＤクロックをＰＬＬクロックで１周期分だけ遅延させる。３０５はセレクタ３０３出力のクロック信号に遅延回路３０４で所定の遅延を付けた信号によってＳＤデータ信号をラッチする。３０３はセレクタであり、ＳＤクロックとフリップフロップ３０３出力のどちらかを出力する。
【００３２】
どちらを出力するかはシステム制御部１２０からの指示によって選択される。３０４は遅延回路である。ＳＤクロックの１周期より短い所定時間だけ遅延させる遅延素子が複数搭載されており、これによってセレクタ３０３の出力信号に所定の遅延を付ける。遅延量は信号を通す遅延素子の段数を変更することで任意に設定可能である。本実施例では、遅延回路の最大段数を１００として説明を行う。
【００３３】
システム制御部１２０からの指示によってＳＤカード１３０から所定のテストパターン信号を受信し、その受信データをセレクタ３０３と遅延回路３０４の設定を変えた様々な遅延量でラッチした時のデータ化けの有無を判定し、ラッチ可能な位相の中から最適なラッチ位相を選定し、設定することによってチューニングを行う。
【００３４】
以下、図１のフローチャートを参照して、本発明の第1の実施例による、撮像装置１００におけるＳＤカード１３０のラッチタイミングチューニング手法について説明する。ステップＳ１０１では、撮像装置１００の電源オン後にＳＤカード１３０が装着されたかを判定する。ＳＤカード１３０が装着されたことを検出したらステップＳ１０２に進む。
【００３５】
ステップＳ１０２では、ＳＤカード１３０のマウントを行った後、ラッチ位相のチューニングを行う。ここでは、取得可能な全ての位相パターンを取得し、その中から最適なラッチ位相を設定する。このような全位相取得によるチューニングを、以後「フルチューニング」と呼称する。図４に、クロック信号とＳＤデータ信号、及び取得される全位相パターンの関係を表す。位相パターンはセレクタからの２通りの出力に対してそれぞれ遅延回路１００段分、合計２００個の位相パターンを取得する。実線で囲んだ４０１、４０３、４０５、４０７で示すエリアがラッチ可能のエリアである。
【００３６】
データが安定している箇所であり、このエリアでラッチすればデータ化けが発生しない。破線で囲んだ４０２、４０４、４０６で示すエリアがラッチ不可となるエリアである。データの切替りの部分であり、このエリアでラッチするとデータ化けしてしまう可能性がある。図４に示す例の場合、ラッチ可能エリアの中で最も広いエリア４０３の中央の位相４０８が最適なラッチ位相として設定される。この時のＳＤカード１３０部の温度Ｔｏを温度センサ１３９にて取得しておく。また、フルチューニングにかかった時間も記録しておく。
【００３７】
ステップＳ１０３では、撮像装置１００が動画記録を開始する。ステップＳ１０４では、符号レート、ＳＤカード１３０への記録速度、記録単位から、動画撮影時においてＳＤカード１３０への記録を行わない時間を算出する。符号レートは撮像装置１００が動画のコーデックを行う速度であり、ユーザーによって設定された解像度、フレームレートに応じて決定される。記録速度は、コーデックされた動画データをＳＤカード１３０に書き込む速度であり、ＳＤカード１３０のＳＰＥＥＤ  ＣＬＡＳＳに応じて設定される。
【００３８】
記録単位は、ＳＤカード１３０に書き込む最小のデータサイズであり、システム制御部１２０によって設定される。このサイズ分だけコーデックされた動画ファイルがメモリ１２７に蓄積された時にＳＤカード１３０への書き込みを開始する。ここで、図５を用いて動画撮影時のＳＤカード１３０記録サイクルを説明する。符号レート＝１２．５ＭＢ／ｓ、記録速度＝１５ＭＢ／ｓ、記録単位＝６ＭＢとしている。図中ｔ１で示す４８０ｍｓｅｃの期間は動画撮影が開始され１２．５ＭＢ／ｓで動画データを符号化し、バメモリ１２７にデータを蓄積する期間である。
【００３９】
データがメモリ１２７に記録単位である６ＭＢ溜まった時点でデータのＳＤカード１３０への記録が開始される。ｔ２で示す４００ｍｓｅｃの期間は、ＳＤカード１３０への書き込みと符号化が同時に行われている期間である。記録速度と符号レートの差である２．５ＭＢ／ｓで動画データのメモリ蓄積量は減少していく。ＳＤカード１３０へ６ＭＢ分のデータ記録が完了すると、ＳＤカード１３０への記録を休止し、符号化のみが行われる状態となる。その期間がｔ３で示す８０ｍｓｅｃの期間である。ｔ２の期間で減少した分、メモリ１２７にデータを蓄積する期間である。
【００４０】
ｔ３の期間で再びバッファメモリの蓄積量が６ＭＢとなるため、再びＳＤカードへの記録を開始し、完了すると記録を休止してバッファメモリ蓄積量が６ＭＢになるのを待つ。後は、動画撮影が終了するまでｔ２とｔ３の期間を繰り返す。このように、ｔ３の期間がＳＤカード１３０への記録を行わない期間であり、動画撮影中におけるチューニング可能な時間となる。ステップＳ１０４では、このｔ３の時間を算出する。
【００４１】
ステップＳ１０５では、ステップＳ１０２で記録したフルチューニングに実行時間と、全位相パターン数、及びステップＳ１０４で算出したＳＤカード１３０記録休止時間からＳＤカード１３０記録休止時間内に取得可能な位相パターン数を下記式によって算出する。
ｐ１＝ｐ０×（ｔｃ１／ｔｃ０）
【００４２】
P1はＳＤカード１３０記録休止時間に取得する位相パターン数を表し、P0はステップＳ１０２でのフルチューニングにおいて取得した全位相パターン数を表す。tc0はステップＳ１０２でのフルチューニングに要した総時間、つまり全位相パターン取得および位相の選定、設定に要した時間を表し、tc1はステップＳ１０４で算出したチューニング可能時間を表す。
【００４３】
ここで、ステップＳ１０２でフルチューニングにおいて全２００の位相パターンを２００ｍｓｅｃで取得し、その中からラッチ位相の選定と設定までに５０ｍｓｅｃの計２５０ｍｓｅｃをフルチューニングに要したとする。その場合、ステップＳ１０４で算出したＳＤカード１３０記録休止時間を８０ｍｓｅｃとすると、８０ｍｓｅｃ間に取得位相パターン数は６４個と算出される。
【００４４】
ステップＳ１０６では、温度計１３９によってＳＤカード１３０部の温度を取得する。ステップＳ１０７では、ステップＳ１０６で取得した温度ＴｎとステップＳ１０２で取得した温度Ｔｏの差を算出し、動画撮影による温度上昇によってフルチューニング時からの温度上昇量が所定の閾値以上となったかを判定する。閾値以上であればステップＳ１０８に進み、閾値以下であれば、所定時間後に再度温度取得し、温度変化量が閾値以上かの判定を行う。
【００４５】
ステップＳ１０８からは、ステップＳ１０７で温度上昇が所定以上となったため、温度によって生じるＳＤクロックに対するデータタイミングのずれを補正するため、ステップＳ１０４で算出したチューニング可能時間にてラッチ位相チューニングを行う。
【００４６】
ステップＳ１０８では、ＳＤカード１３０記録休止時間になったらステップＳ１０５で算出した数だけ、現在設定されているラッチ位相前後の位相パターンの取得を行う。ステップＳ１０９では、ステップＳ１０８で取得した位相パターンの中に、ラッチ不可エリアが存在するかを判定する。ラッチ不可エリアがある場合はステップＳ１１０に進み、ラッチ不可エリアがない場合はステップＳ１１１に進む。
【００４７】
ステップＳ１１０では、ステップＳ１０８で取得した位相パターン内にラッチ不可エリアがあるため、ラッチ不可エリアに対してマージンを確保するためにラッチ不可エリアから最も遠い位相にラッチ位相を変更する。ステップＳ１１１では、ステップＳ１０８で取得した位相パターン内にＮＧエリアがないため、ラッチ位相の補正は不要と判定し、ラッチ位相の変更は行わずにチューニングを終了する。
【００４８】
図６を用いて、ステップＳ１０８〜ステップＳ１１０におけるチューニング制御を詳細に説明する。図６はＳＤクロックと温度変化前と後のＳＤデータ信号、及び位相パターンの関係を表す。４０８は、ステップＳ１０２でのフルチューニングによって設定されたステップＳ１１０にて変更前のラッチ位相である。６０１で示す範囲内の実線で描いた位相はステップＳ１０８でＳＤカード１３０記録休止内に取得した位相パターンである。４０８を中心として、ステップＳ１０５で算出した数だけ位相パターンをしている。６０１で示す範囲外の点線で描いた位相はステップＳ１０８では取得されない。
【００４９】
６０２、６０４はラッチ可能エリア、６０３はラッチ不可エリアを表す。６０１の範囲の現ラッチ位相４０８の近くにラッチ不可エリア６０３が存在している。そのため、取得した位相パターン範囲６０１におけるラッチ不可エリアとは逆方向の最大位相である６０５に示す位相にラッチ位相を設定する。
【００５０】
このように、温度変化による位相ずれをリアルタイムにチューニングする必要がある状況において、温度上昇前にフルチューニングを行い、そこで設定されたラッチ位相を中心に、可能な範囲で位相パターン取得を行い、その中でラッチ不可エリアに対してマージンのある方向にラッチ位相を変更する。こうすることで、フルチューニングを行う時間がない状況でも温度変化に対してタイミングマージンを確保する方向にラッチ位相を補正し、高速書き込みを行うことが可能となる。
【００５１】
なお、使用するＳＤカード１３０の種類によって、ラッチ可能エリアとラッチ不可エリアの範囲が異なる。そこで、ステップＳ１０２でのフルチューニング時にラッチ可能エリアとラッチ不可エリアの範囲を記録しておき、その範囲の広さに応じてステップＳ１０７におけるチューニング実行の有無を判定する温度変化量の閾値を変更しても良い。ラッチ可能エリアが広いＳＤカード１３０は元々タイミングマージンが大きく、それほど頻繁にチューニングを行う必要がないため、温度変化の閾値を大きくし、ラッチ可能エリアが狭いＳＤカード１３０は反対にタイミングマージンが少なく、頻繁にチューニングを行う必要があるため、温度変化の閾値を小さくする。
【００５２】
こうすることでＳＤカード１３０の特性に合わせたタイミングでチューニングを行うことが可能になる。また、予め温度変化量に応じたＳＤカード１３０のデータ位相ずれ量のデータを持たせておき、ステップＳ１０８にて位相パターンを取得する時の開始位置を、前回のチューニング位置ではなく、温度変化分だけずらした位相としてもよい。そうすることで、より取得可能な位相数が限られる短時間でのチューニングにおいてマージンを確保することが可能である。詳細を図７にて説明する。７０１はＳＤカード１３０の記録休止期間に取得する位相パターン範囲である。
【００５３】
７０２は温度変化量による位相ずれ量データを使用しない場合のチューニング開始位相、つまり前回のチューニングで設定された位相である。この場合、位相取得した範囲内にラッチ不可エリア７０４はないため、ラッチ位相は７０２から変更されないが、７０２の位置にラッチ不可エリア７０４が近く、マージンが少ない。次に７０３は、温度変化量に応じた位相ずれ量だけ７０２からずらした位相である。この場合も位相取得した範囲内にラッチ不可エリア７０４はないため、ラッチ位相は７０３から変更されないが、７０２の位置よりラッチ可能エリア７０４に対してマージンを確保できている。
【００５４】
このように、温度上昇量に応じたよる位相ずれ量を考慮した位相を中心にチューニングを行うことで、より短時間でのチューニングにおいてマージンの確保が可能になる。この時の温度変化量による位相ずれ量のデータについては、適当な値を固定値として持たせても良いし、動画記録終了時にフルチューニングを行い、その際にステップＳ１０２でのフルチューニング時からの温度変化量と設定された最適ラッチ位相の変化量を元に予測させても良い。
【００５５】
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
【符号の説明】
【００５６】
１２１  撮像素子
２１０  レンズ
２１１  絞り
１０２及び２０２  レンズマウント
１４４  シャッター
１２２  Ａ／Ｄ変換部
１４４  メモリ制御部
１２０  システム制御部
１２７  メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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