(57)【要約】【課題】分配回路からデータ供給が行われるデータ線の検査に適した電気光学装置、電子機器、および電気光学装置用基板の検査方法を提供すること。【解決手段】電気光学装置１の素子基板１０において、ｎ（ｎは２以上の整数）列毎に複数のブロックＢにブロック化されたデータ線１１４は、デマルチプレクサー１５０を介してデータ信号ｄ１、ｄ２・・・ｄ４８８が供給される。素子基板１０には、複数のブロックＢをｍ個（ｍは２以上の整数）毎の複数のグループＴにグループ分けしてデータ線１１４を検査する検査回路１６０が設けられている。検査回路１６０は、同一グループＴ内の各ブロックＢに属するデータ線１１４に接続するｎ×ｍ個のスイッチ１６４を順次、排他的に導通状態とさせるシフトレジスター１６２を有している。【選択図】図２
2018185415.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
素子基板の一方面側に、
複数行の走査線と、
ｎ（ｎは２以上の整数）列毎に複数のブロックにブロック化された複数列のデータ線と、
前記複数行の走査線と前記複数列のデータ線との各交差に対応して設けられた複数の画素電極と、
前記ブロックに対応して設けられた複数のデータ信号線と、
前記ブロックで、前記ｎ列のデータ線のうち、ｎ種類の選択信号によって指定されたデータ線と前記データ信号線とを導通させる分配回路と、
前記ブロックをｍ個（ｍは２以上の整数）毎のグループにグループ分けして前記データ線を検査する検査回路と、
を備えることを特徴とする電気光学装置。
【請求項２】
請求項１に記載の電気光学装置において、
前記検査回路は、
ｎ×ｍ本の検査線と、
前記データ線の一方端が接続され、他方端が前記ｎ×ｍ本の検査線のいずれかに接続される検査用スイッチと、
前記グループ内の各ブロックに属する前記データ線に前記一方端が接続するｎ×ｍ個の前記検査用スイッチを同時に制御するシフト信号を順次出力するシフトレジスターと、
を有することを特徴とする電気光学装置。
【請求項３】
請求項２に記載の電気光学装置において、
前記グループ内の各ブロックに属する前記データ線に前記一方端が接続された前記検査用スイッチは、異なる前記検査線に前記他方端が接続され、かつ、異なるグループ同士では、共通の前記選択信号が供給される前記データ線に前記一方端が接続された前記検査用スイッチは、前記他方端が共通の前記検査線に接続されていることを特徴とする電気光学装置。
【請求項４】
請求項１から３までの何れか一項に記載の電気光学装置において、
ｍは、２から４までの何れかであることを特徴とする記載の電気光学装置。
【請求項５】
請求項１から４までの何れか一項に記載の電気光学装置を備えていることを特徴とする電子機器。
【請求項６】
一方面側に、複数行の走査線と、ｎ（ｎは２以上の整数）列毎に複数のブロックにブロック化された複数列のデータ線と、前記ブロックに対応して設けられた複数のデータ信号線と、前記ブロックで、前記ｎ列のデータ線のうち、ｎ種類の選択信号によって指定されたデータ線と前記データ信号線とを導通させる分配回路と、が設けられた電気光学装置用基板の検査方法であって、
前記ブロックをｍ個（ｍは２以上の整数）毎のグループにグループ分けして前記データ線を検査する検査工程を含むことを特徴する電気光学装置用基板の検査方法。
【請求項７】
請求項６に記載の電気光学装置用基板の検査方法において、
前記電気光学装置用基板の前記一方面側に、
ｎ×ｍ本の検査線と、
前記データ線の一方端が接続され、他方端が前記ｎ×ｍ本の検査線のいずれかに接続された複数の検査用スイッチと、
同一グループ内の各ブロックに属する前記データ線に前記一方端が接続するｎ×ｍ個の前記検査用スイッチを同時に制御するシフト信号を順次出力するシフトレジスターと、
を設け、
同一グループ内の各ブロックに属する前記データ線に前記一方端が接続された前記検査用スイッチの前記他方端を各々、異なる前記検査線に接続し、かつ、異なるグループ同士では、共通の前記選択信号が供給される前記データ線を前記一方端が接続された前記検査用スイッチの前記他方端を各々、共通の前記検査線に接続しておき、
前記分配回路では、前記選択信号に基づいて前記データ線と前記データ信号線とを導通させ、かつ、前記シフトレジスターでは、前記シフト信号に基づいて同一グループ内の各ブロックに属する前記データ線に前記一方端が接続する前記検査用スイッチを全て導通させた状態で、前記検査線および前記データ信号線のうちの一方の配線から印加した電圧を他方の配線で検出する検査工程を、前記シフトレジスターから前記シフト信号が出力されるタイミングに対応して前記グループ毎に行うことを特徴とする電気光学装置用基板の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気光学装置用基板に検査回路が設けられた電気光学装置、電子機器、および電気光学装置用基板の検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
液晶装置等の電気光学装置では、延在する複数行の走査線と、複数列のデータ線と、複数行の走査線と複数列のデータ線との各交差に対応して設けられた複数の画素電極と、各種回路とが形成された電気光学装置用基板が用いられている。また、電気光学装置の製造工程では、電気光学装置用基板に走査線およびデータ線等を形成した後、データ線等の欠陥の有無を判別する検査が行われる。かかる検査を行うにあたって、電気光学装置用基板に検査回路を予め、形成しておく技術が提案されている。
【０００３】
一方、デマルチプレクサー方式の電気光学装置においては、複数列のデータ線をｎ（ｎは２以上の整数）列毎にブロック化し、各ブロックに対応して設けられたデータ信号線から供給されたデータ信号（データ信号）を各データ線に分配する。従って、デマルチプレクサー方式の電気光学装置は、シフトレジスターを備えたデータ線駆動回路が電気光学装置用基板に形成されていないため、データ線駆動回路を利用してデータ線等を検査することができない。そこで、検査回路に、ｎ本の検査線と、ｎ段のシフトレジスターを設けておき、各ブロック毎にデータ線の検査を行う技術が提案されている（特許文献１参照）。
【０００４】
【特許文献１】特許第４５６１６４７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に記載の技術では、検査回路に設けたシフトレジスターの段数が、データ線のブロック数と同数であり、段数が多い。このため、検査に要する時間が長いとともに、検査回路が広い面積を占めるという問題点がある。これらの問題は、電気光学装置の高精細化および小型化において、さらに顕著となる。
【０００６】
以上の問題点に鑑みて、本発明の課題は、分配回路からデータ供給が行われるデータ線の検査に適した電気光学装置、電子機器、および電気光学装置用基板の検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明に係る電気光学装置は、素子基板の一方面側に、複数行の走査線と、ｎ（ｎは２以上の整数）列毎に複数のブロックにブロック化された複数列のデータ線と、前記複数行の走査線と前記複数列のデータ線との各交差に対応して設けられた複数の画素電極と、前記ブロックに対応して設けられた複数のデータ信号線と、前記ブロックで、前記ｎ列のデータ線のうち、ｎ種類の選択信号によって指定されたデータ線と前記データ信号線とを導通させる分配回路と、前記ブロックをｍ個（ｍは２以上の整数）毎のグループにグループ分けして前記データ線を検査する検査回路と、を備えることを特徴とする。
【０００８】
また、本発明は、一方面側に、複数行の走査線と、ｎ（ｎは２以上の整数）列毎に複数のブロックにブロック化された複数列のデータ線と、前記ブロックに対応して設けられた複数のデータ信号線と、前記ブロックで、前記ｎ列のデータ線のうち、ｎ種類の選択信号によって指定されたデータ線と前記データ信号線とを導通させる分配回路と、が設けられた電気光学装置用基板の検査方法であって、前記ブロックをｍ個（ｍは２以上の整数）毎のグループにグループ分けして前記データ線を検査する検査工程を含むことを特徴する。
【０００９】
本発明では、分配回路からデータ線にデータ供給が行われる方式であるため、分配回路では、選択信号に基づいて、各ブロックのｎ列のデータ線を各々、所定のデータ信号線と導通させる。従って、分配回路を利用したデータ線等の検査を行うことができる。ここで、複数のブロックは、ｍ個（ｍは２以上の整数）毎の複数のグループにグループ分けされており、かかるグループ毎に検査を行う。このため、ブロック毎に検査を行う場合と比較して、検査を短い時間で行うことができる。また、検査を行うための回路が占める面積を狭くすることができる等、高精細化および小型化を図った電気光学装置のデータ線の検査に適している。
【００１０】
本発明に係る電気光学装置において、前記検査回路は、ｎ×ｍ本の検査線と、前記データ線の一方端が接続され、他方端が前記ｎ×ｍ本の検査線のいずれかに接続される検査用スイッチと、前記グループ内の各ブロックに属する前記データ線に前記一方端が接続するｎ×ｍ個の前記検査用スイッチを同時に制御するシフト信号を順次出力するシフトレジスターと、を有する態様を採用することができる。かかる態様を採用した場合でも、グループ毎に検査を行うため、シフトレジスターの段数がブロック数の１／ｍ倍の段数で済む。従って、検査を短い時間で行うことができるとともに、検査回路が占める面積を狭くすることができる等、高精細化および小型化を図った電気光学装置のデータ線の検査に適している。
【００１１】
本発明において、前記グループ内の各ブロックに属する前記データ線に前記一方端が接続された前記検査用スイッチは、異なる前記検査線に前記他方端が接続され、かつ、異なるグループ同士では、共通の前記選択信号が供給される前記データ線に前記一方端が接続された前記検査用スイッチは、前記他方端が共通の前記検査線に接続されている態様を採用することができる。かかる態様によれば、検査回路に設けたシフトレジスターから出力されるシフト信号によって検査用スイッチを駆動して各ブロックのｎ列のデータ線を各々、所定の検査線と導通させ、分配回路では、選択信号に基づいて、各ブロックのｎ列のデータ線を各々、所定のデータ信号線と導通させることができる。従って、検査線およびデータ信号線のうちの一方の配線から印加した電圧を他方の配線で検出することによって、データ線等の検査をグルーブ毎に行うことができる。
【００１２】
本発明に係る電気光学装置用基板の検査方法において、前記電気光学装置用基板の前記一方面側に、ｎ×ｍ本の検査線と、前記データ線の一方端が接続され、他方端が前記ｎ×ｍ本の検査線のいずれかに接続された複数の検査用スイッチと、同一グループ内の各ブロックに属する前記データ線に前記一方端が接続するｎ×ｍ個の前記検査用スイッチを同時に制御するシフト信号を順次出力するシフトレジスターと、を設け、同一グループ内の各ブロックに属する前記データ線に前記一方端が接続された前記検査用スイッチの前記他方端を各々、異なる前記検査線に接続し、かつ、異なるグループ同士では、共通の前記選択信号が供給される前記データ線を前記一方端が接続された前記検査用スイッチの前記他方端を各々、共通の前記検査線に接続しておき、前記分配回路では、前記選択信号に基づいて前記データ線と前記データ信号線とを導通させ、かつ、前記シフトレジスターでは、前記シフト信号に基づいて同一グループ内の各ブロックに属する前記データ線に前記一方端が接続する前記検査用スイッチを全て導通させた状態で、前記検査線および前記データ信号線のうちの一方の配線から印加した電圧を他方の配線で検出する検査工程を、前記シフトレジスターから前記シフト信号が出力されるタイミングに対応して前記グループ毎に行う態様を採用することができる。
【００１３】
本発明において、ｍは、２から４までの何れかである態様を採用することができる。ｍ（グループ数）が多い程、シフトレジスターの段数を減らすことができる一方、検査線の数を増やす必要がある。従って、グループ数（ｍ）については、２から４までが適正である。
【００１４】
本発明に係る電気光学装置は、直視型表示装置や投射型表示装置等の各種電子機器に用いることができる。電子機器が投射型表示装置である場合、投射型表示装置は、前記電気光学装置に供給される光を出射する光源部と、前記電気光学装置によって変調された光を投射する投射光学系と、を有している。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】本発明を適用した電気光学装置の一態様を示す説明図である。
【図２】図１に示す電気光学装置の電気的構成を示す説明図である。
【図３】図２に示す画素の電気的構成を示す説明図である。
【図４】図１に示す電気光学装置において表示を行う際のタイミングチャートである。
【図５】図１に示す電気光学装置の製造工程においてデータ線等の検査を行う際の電気光学装置用基板の構成を示す説明図である。
【図６】図５に示す電気光学装置用基板に検査工程を行う際のタイミングチャートである。
【図７】本発明を適用した電気光学装置を用いた投射型表示装置の概略構成図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。なお、以下の説明で参照する図においては、各部材等を図面上で認識可能な程度の大きさとするため、各部材毎に縮尺を異ならしめてある。以下の説明では、例えば、複数行の走査線１１２および複数列のデータ線１１４として、１２００行の走査線１１２、および１９２０列のデータ線１１４が形成されている場合を例示する。
【００１７】
［電気光学装置１の構成］
図１は、本発明を適用した電気光学装置１の一態様を示す説明図である。図１に示す電気光学装置１は、後述するライトバルブ等として用いられる液晶装置であり、電気光学装置１は、電気光学パネル１００として液晶パネルを備えている。電気光学パネル１００は、複数の画素電極１１８等が一方面１０ａ側に形成された素子基板１０に対して、共通電極（図示せず）等が形成された対向基板２０がシール材（図示せず）によって貼り合わされている。電気光学パネル１００において、シール材で囲まれた領域には液晶層（図示せず）が設けられている。
【００１８】
電気光学装置１は、電気光学パネル１００の中央領域に、画素電極１１８を備えた画素１１０がマトリクス状に複数配置された表示領域１０１を有しており、素子基板１０では、表示領域１０１に対して第１方向Ｘの一方側Ｘ１または両側に走査線駆動回路１３０が設けられている。また、素子基板１０では、表示領域１０１に対して第２方向Ｙの一方側Ｙ１に、後述するデマルチプレクサー１５０（分配回路）が構成されており、表示領域１０１に対して第２方向Ｙの他方側Ｙ２に、後述する検査回路１６０が構成されている。デマルチプレクサー１５０は、本発明の分配回路の１例である。本実施形態の電気光学パネル１００は、例えば、透過型液晶パネルである。従って、素子基板１０および対向基板２０には、耐熱ガラスや石英基板等の透光性基板が用いられている。透過型の電気光学装置１では、矢印Ｌａで示すように、対向基板２０の側から入射した光が素子基板１０の側から出射される間に変調される
【００１９】
本実施形態の電気光学装置１において、素子基板１０の対向基板２０から第２方向Ｙの一方側Ｙ１に張り出した張出領域１０ｃには、駆動用ＩＣ（駆動用集積回路）２が実装された配線基板３が接続されている。駆動用ＩＣ２は、後述するデータ信号を出力するデータ信号供給回路２１、後述する選択信号を出力する選択信号供給回路２２、後述する制御信号を出力する制御信号供給回路２３等を備えており、駆動用ＩＣ２から電気光学パネル１００には配線基板３を介してデータ信号、選択信号、制御信号等が出力される。従って、配線基板３の端部において、素子基板１０と重なる位置には、複数の出力電極３１が形成されている一方、素子基板１０の端部には、複数の出力電極３１が各々接続されるデータ信号入力端子１９１、選択信号入力端子１９２、制御信号入力端子１９３等の複数の端子１９が形成されている。本実施形態において、配線基板３は、フレキシブル配線基板からなる。それ故、配線基板３は、いわゆるＣＯＦ（Chip On Film）である。
【００２０】
（電気光学装置１の電気的構成）
図２は、図１に示す電気光学装置１の電気的構成を示す説明図である。図３は、図２に示す画素１１０の電気的構成を示す説明図である。なお、図２および後述する図５には、第１方向Ｘおよび第２方向Ｙを示す矢印が表されているが、かかる矢印は、走査線１１２、データ線１１４、検査線１６９の延在方向等を示しているが、端子１９の位置等を示すものではない。すなわち、図２および図５では、選択信号入力端子１９２および制御信号入力端子１９３が、データ信号入力端子１９１と素子基板１０の異なる辺に配置されているように表されているが、図１に示すように、選択信号入力端子１９２および制御信号入力端子１９３は、データ信号入力端子１９１と素子基板１０の同一の辺に配置されている。
【００２１】
図２に示すように、素子基板１０の一方面１０ａ側には、表示領域１０１において第１方向Ｘに延在する複数行の走査線１１２と、表示領域１０１において第２方向Ｙに延在する複数列のデータ線１１４とが形成されており、複数行の走査線１１２と複数列のデータ線１１４との各交差に対応して画素電極１１８を備えた画素１１０が複数構成されている。本実施形態において、素子基板１０には、１２００行（１２００本）の走査線１１２、および１９５２列（１９５２本）のデータ線１１４が形成されている。
【００２２】
図３に示すように、複数の画素１１０は各々、Ｎチャネル型の薄膜トランジスター等からなる画素トランジスター１１６を有している。画素トランジスター１１６のゲートは、例えば、ｉ行目の走査線１１２に接続され、画素トランジスター１１６のソースは、ｊ列目のデータ線１１４に接続され、画素トランジスター１１６のドレインは、ｉ行目かつｊ列目のデータ線１１４の画素電極１１８に接続されている。画素トランジスター１１６のドレインおよび画素電極１１８は、蓄積容量１２５を介して容量線１０９に接続されている。容量線１０９には、例えば、共通電位ＬＣcomが印加されている。対向基板２０の素子基板１０と対向する面には共通電極１０８が形成されており、画素電極１１８は、共通電極１０８との間に液晶容量１０５を構成している。共通電極１０８は、全ての画素１１０に対して共通であって、共通電位ＬＣcomが印加される。
【００２３】
図２において、複数列のデータ線１１４は、ｎ（ｎは２以上の整数）列毎に複数のブロックＢにブロック化されており、素子基板１０の一方面１０ａ側には、表示領域１０１に対して第２方向Ｙの一方側Ｙ１に、複数のブロックＢの各々に対応する複数のデータ信号線１５１が設けられている。複数のデータ信号線１５１は各々、データ信号入力端子１９１に接続されている。本実施形態では、ｎ＝４の場合を例示してある。従って、複数列のデータ線１１４は、４列毎に計４８８のブロックＢにブロック化されており、データ信号線１５１の数は４８８本である。複数のデータ信号線１５１には、画像を表示する際、図１に示す駆動用ＩＣ２からデータ信号入力端子１９１を介して、画像信号を含むデータ信号ｄ１・・・ｄ４８８が各々、供給される。
【００２４】
また、素子基板１０の一方面１０ａ側には、表示領域１０１に対して第２方向Ｙの一方側Ｙ１に、複数のブロックＢの各々で、ｎ列のデータ線１１４のうち、ｎ種類の選択信号によって指定されたデータ線１１４とデータ信号線１５１とを順次導通させるデマルチプレクサー１５０が構成されている。デマルチプレクサー１５０は、データ線１１４とデータ信号線１５１との間に介在する切り換え用のスイッチ１５４と、スイッチ１５４を制御する選択信号を供給するｎ本の選択線１５９とを有しており、ｎ本の選択線１５９は各々、選択信号入力端子１９２に接続されている。本実施形態では、ｎ＝４であることから、４本の選択線１５９が設けられている。かかる４本の選択線１５９は各々、画像を表示する際、図１に示す駆動用ＩＣ２から選択信号入力端子１９２を介して選択信号ＳＥＬ１〜ＳＥＬ４が供給され、選択信号ＳＥＬ１〜ＳＥＬ４を複数のブロックＢの各々に供給する。また、検査工程では、検査プローブから選択信号入力端子１９２を介して選択信号ＳＥＬ１〜ＳＥＬ４が供給され、選択信号ＳＥＬ１〜ＳＥＬ４を複数のブロックＢの各々に供給する。
【００２５】
スイッチ１５４は、複数列のデータ線１１４の各々に設けられている。スイッチ１５４は、例えば、Ｎチャネル型の薄膜トランジスターであり、ソースがデータ信号線１５１に接続され、ドレインがデータ線１１４に接続されている。また、スイッチ１５４のゲートには選択線１５９が接続されている。ここで、４本の選択線１５９は、共通のブロックＢに属する４本のデータ線１１４に各々接続された４つのスイッチ１５４のうち、異なるスイッチ１５４のゲートに接続されている。例えば、選択信号ＳＥＬ１を供給する選択線１５９は、１つのブロックＢに属する４本のデータ線１１４のうち、第１方向Ｘの一方側Ｘ１から１番目のデータ線１１４に接続するスイッチ１５４のゲートに接続されている。選択信号ＳＥＬ２を供給する選択線１５９は、１つのブロックＢに属する４本のデータ線１１４のうち、第１方向Ｘの一方側Ｘ１から２番目のデータ線１１４に接続するスイッチ１５４のゲートに接続されている。選択信号ＳＥＬ３を供給する選択線１５９は、１つのブロックＢに属する４本のデータ線１１４のうち、第１方向Ｘの一方側Ｘ１から３番目のデータ線１１４に接続するスイッチ１５４のゲートに接続されている。選択信号ＳＥＬ４を供給する選択線１５９は、１つのブロックＢに属する４本のデータ線１１４のうち、第１方向Ｘの一方側Ｘ１から４番目のデータ線１１４に接続するスイッチ１５４のゲートに接続されている。
【００２６】
（検査回路１６０の構成）
素子基板１０の一方面１０ａ側には、表示領域１０１に対して第２方向Ｙの他方側Ｙ２（表示領域１０１に対してデマルチプレクサー１５０とは反対側）に検査回路１６０が構成されている。本実施形態において、検査回路１６０は、複数のブロックＢをｍ個（ｍは２以上の整数）毎の複数のグループＴにグループ分けして複数列のデータ線１１４の各々を検査するように構成されている。
【００２７】
より具体的には、検査回路１６０は、ｎ×ｍ本の検査線１６９と、複数列のデータ線１１４の各々に一方端が接続された複数の検査用のスイッチ１６４（検査用スイッチ）を有しており、複数のスイッチ１６４の他方端は、ｎ×ｍ本の検査線１６９のいずれかに接続されている。本実施形態において、スイッチ１６４は、例えば、Ｎチャネル型の薄膜トランジスターであり、ソースおよびドレインのうち、ソース（一方端）がデータ線１１４に接続され、ドレイン（他方端）が検査線１６９に接続されている。また、ｎ×ｍ本の検査線１６９は各々、後述する検査工程において、検査プローブから検査端子１８１を介して検査信号（検査電圧Ｃｘ）が供給される。
【００２８】
また、検査回路１６０は、複数のスイッチ１６４のうち、同一グループＴ内の各ブロックＢに属するデータ線１１４に接続するｎ×ｍ個のスイッチ１６４を同時に制御するシフト信号を複数のグループＴに順次出力するシフトレジスター１６２を有している。本実施形態においては、データ線１１４が１９５２列、ｎが４、かつ、ｍが２の場合を例示してある。従って、検査回路１６０は、４８８個のブロックＢを２個毎の計２４４個のグループＴにグループ分けして１９５２列のデータ線１１４の各々を検査するように構成されている。
【００２９】
従って、シフトレジスター１６２は、シフト信号供給線１６５を介して、第１方向Ｘの最も一方側Ｘ１に位置するグループＴに属する８つのスイッチ１６４のゲートの全てにシフト信号Ｒ１を同時に出力し、最後に、第１方向Ｘの最も他方側Ｘ２に位置するグループＴに属する８つのスイッチ１６４のゲートの全てにシフト信号Ｒ２４４を同時に出力する。かかるシフトレジスター１６２は、各段に、クロックドインバーター、インバーター、ＮＯＲ回路およびＮＯＴ回路を備えている。シフトレジスター１６２は、後述する検査工程において、検査プローブから検査端子１８２を介して転送開始パルスＤＸおよび、クロック信号ＣＬＫが供給される。
【００３０】
検査線１６９は８本（ｎ×ｍ本）であり、１つのグループＴに対して、８列（ｎ×ｍ列）のデータ線１１４、および８個（ｎ×ｍ個）のスイッチ１６４が属している。ここで、複数のスイッチ１６４のうち、同一グループＴ内の各ブロックＢに属するデータ線１１４に一方端が接続されたスイッチ１６４は各々、異なる検査線１６９に他方端が接続されている。また、異なるグループＴ同士では、共通の選択信号が供給されるデータ線１１４に一方端が接続されたスイッチ１６４は各々、他方端が共通の検査線１６９に接続されている。
【００３１】
より具体的には、いずれのグループＴにおいても、第１方向の一方側Ｘ１から１番目に位置するデータ線１１４に一方端が接続されたスイッチ１６４の他方端は、検査電圧Ｃｘ１を供給する検査線１６９に接続され、第１方向の一方側Ｘ１から２番目に位置するデータ線１１４に一方端が接続されたスイッチ１６４の他方端は、検査電圧Ｃｘ２を供給する検査線１６９に接続されている。第１方向の一方側Ｘ１から３番目に位置するデータ線１１４に一方端が接続されたスイッチ１６４の他方端は、検査電圧Ｃｘ３を供給する検査線１６９に接続され、第１方向の一方側Ｘ１から４番目に位置するデータ線１１４に一方端が接続されたスイッチ１６４の他方端は、検査電圧Ｃｘ４を供給する検査線１６９に接続されている。
【００３２】
第１方向の一方側Ｘ１から５番目に位置するデータ線１１４に一方端が接続されたスイッチ１６４の他方端は、検査電圧Ｃｘ５を供給する検査線１６９に接続され、第１方向の一方側Ｘ１から６番目に位置するデータ線１１４に一方端が接続されたスイッチ１６４の他方端は、検査電圧Ｃｘ６を供給する検査線１６９に接続されている。第１方向の一方側Ｘ１から７番目に位置するデータ線１１４に一方端が接続されたスイッチ１６４の他方端は、検査電圧Ｃｘ７を供給する検査線１６９に接続され、第１方向の一方側Ｘ１から８番目に位置するデータ線１１４に一方端が接続されたスイッチ１６４の他方端は、検査電圧Ｃｘ８を供給する検査線１６９に接続されている。
【００３３】
本実施形態において、検査回路１６０は、素子基板１０の一方面１０ａ側のうち、シフトレジスター１６２と検査線１６９との間で第１方向Ｘに延在する制御線１６８と、各グループＴに属する全てのスイッチ１６４のゲートに接続するシフト信号供給線１６５との間に設けられた制御用のスイッチ１６６とを有している。制御線１６８には、画像を表示する際、図１に示す駆動用ＩＣ２から制御信号入力端子１９３を介してスイッチ１６６に対する制御信号Ｄｓｐが供給される。これに対して、検査工程において、制御線１６８には、検査プローブから制御信号入力端子１９３を介してスイッチ１６６に対する制御信号Ｄｓｐが供給される。
【００３４】
スイッチ１６６は、例えば、Ｎチャネル型の薄膜トランジスターであり、ソースがグランド電位に接続され、ドレインがシフト信号供給線１６５に接続されている。また、スイッチ１６６のゲートには制御線１６８が接続され、制御線１６８は、抵抗１６７を介して負電源Ｖｓｓに接続されている。
【００３５】
（表示動作）
図４は、図１に示す電気光学装置１において表示を行う際のタイミングチャートである。図１、図２、および図３を参照して説明した電気光学装置１で表示を行う際には、図１に示すように、素子基板１０に、駆動用ＩＣ２が実装された配線基板３が接続される。この状態で、駆動用ＩＣ２からは、制御信号入力端子１９３を介して制御線１６８に、制御信号Ｄｓｐとして、電源電圧Ｖｄｄ（Ｈレベルの論理信号）が常に供給される。このため、スイッチ１６６が常にオン状態となる。従って、シフトレジスター１６２のシフト信号供給線１６５は、グランド電位ＧＮＤが印加されるので、フローティング状態が解消される。また、全てのスイッチ１６４がオフ状態となるので、検査回路１６０は、表示領域１０１から電気的に切り離される。また、シフトレジスター１６２に対する転送開始パルスＤＸおよびクロック信号ＣＬＫの供給や、検査線１６９に対する検査電圧Ｃｘ１〜ＣＸ４の供給は行われない。
【００３６】
この状態で、走査線駆動回路１３０は、図４に示すように、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに同期した水平同期信号Ｈｓｙｎｃによって規定される１フレーム（Ｎフレーム）期間のうちに、走査信号Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３・・Ｇ１２００を期間Ｈ毎に順次排他的にＨレベルとする。期間Ｈでは、選択信号ＳＥＬ１、ＳＥＬ２、ＳＥＬ３、ＳＥＬ４が順に排他的にＨレベルとなり、選択信号ＳＥＬ１、ＳＥＬ２、ＳＥＬ３、ＳＥＬ４に同期して、データ信号供給回路２１は、画像信号を含むデータ信号ｄ１、ｄ２、ｄ３・・・ｄ４８８を供給する。従って、例えば、走査信号Ｇ１がＨレベルとなる期間において、選択信号ＳＥＬ１がＨレベルとなったときには、第１行目の走査線１１２と、複数のブロックＢの各々において第１方向Ｘの一方側Ｘ１から第１番目に位置するデータ線１１４との交差に対応する画素１１０に対して、データ信号ｄ１、ｄ５・・・が書き込まれる。次に、選択信号ＳＥＬ２がＨレベルとなったとき、第１行目の走査線１１２と、複数のブロックＢの各々において第１方向Ｘの一方側Ｘ１から第２番目に位置するデータ線１１４との交差に対応する画素１１０に対して、データ信号ｄ２、ｄ６・・・が書き込まれる。
【００３７】
次に、選択信号ＳＥＬ３がＨレベルとなったとき、第１行目の走査線１１２と、複数のブロックＢの各々において第１方向Ｘの一方側Ｘ１から第３番目に位置する第３番目のデータ線１１４との交差に対応する画素１１０に対して、データ信号ｄ３、ｄ７・・・が書き込まれる。次に、選択信号ＳＥＬ４がＨレベルとなったとき、第１行目の走査線１１２と、複数のブロックＢの各々において第１方向Ｘの一方側Ｘ１から第４番目に位置するデータ線１１４との交差に対応する画素１１０に対して、データ信号ｄ４、ｄ８・・・が書き込まれる。
【００３８】
かかる動作は、走査信号Ｇ２、Ｇ３・・・Ｇ１２００が順にＨレベルとなる期間において同様に行われる。また、次の（Ｎ＋１）フレームにおいても、同様な書き込みが行われる。その際、各画素１１０に対する書込極性が入れ替えられることがある。すなわち、直前のＮフレームにおいて正極性書込が行われたのであれば、次の（Ｎ＋１）フレームにおいては、負極性書込が行われる一方、直前のＮフレームにおいて負極性書込が行われたのであれば、次の（Ｎ＋１）フレームにおいては、正極性書込が行われることになる。かかる極性反転を行うことにより、液晶層の劣化を防止することができる。
【００３９】
（電気光学装置用基板１１の検査方法）
図５は、図１電気光学装置１の製造工程においてデータ線１１４等の検査を行う際の電気光学装置用基板１１の構成を示す説明図である。図１に示す電気光学装置１を製造する工程では、図５に示すように、素子基板１０より大型の電気光学装置用基板１１に対してデータ線１１４、走査線１１２、走査線駆動回路１３０、デマルチプレクサー１５０等を形成した後、データ線１１４等に対する検査工程を行う。そして、検査工程を経た電気光学装置用基板１１は、対向基板２０と貼り合わされた、一点鎖線Ｃに沿って単品サイズの素子基板１０に切断される。従って、検査工程を行う際、電気光学装置用基板１１には、駆動用ＩＣ２が実装された配線基板３が接続されていない。なお、検査工程は、画素電極１１８を含む全ての構成要素を電気光学装置用基板１１に形成した後、あるいは画素電極１１８を除く全ての構成要素を電気光学装置用基板１１に形成した後のいずれのタイミングで実施してもよい。電気光学装置用基板１１に画素電極１１８を形成する前に検査工程を行う場合、検査工程の後、電気光学装置用基板１１に画素電極１１８を形成した後、対向基板２０と貼り合わされる。
【００４０】
本実施形態において、電気光学装置用基板１１の一方面１１ａ（素子基板１０の一方面１０ａ）側には、一点鎖線Ｃで囲まれた領域（素子基板１０）の外側に、複数のデータ信号線１５１にデータ信号入力端子１９１を介して接続する検査用補助線１７０が設けられており、検査用補助線１７０は検査端子１８５に接続している。本実施形態において、検査用補助線１７０は、複数のデータ信号線１５１のうち、第１方向Ｘの一方側Ｘ１から奇数番目のデータ信号線１５１に接続された第１検査用補助線１７６と、偶数番目のデータ信号線１５１に接続された第２検査用補助線１７７とを含んでいる。第１検査用補助線１７６および第２検査用補助線１７７は各々、検査端子１８５としての第１検査端子１８６および第２検査端子１８７に接続されている。但し、検査用補助線１７０（第１検査用補助線１７６および第２検査用補助線１７７）は、電気光学装置用基板１１を一点鎖線Ｃに沿って切断した際、複数のデータ信号線１５１から分離される。
【００４１】
（検査工程）
図６は、図５に示す電気光学装置用基板１１に検査工程を行う際のタイミングチャートである。図５に示す電気光学装置用基板１１に検査工程を行う際、検査端子１８１、１８２、１８５（第１検査端子１８６および第２検査端子１８７）、および選択信号入力端子１９２の各々に検査装置の検査プローブ（図示せず）を当接させ、検査プロ−プを介して、検査電圧Ｃｘや各種信号の印加や、検査電圧の検出が行われる。
【００４２】
また、検査工程を行う際、検査プローブから制御信号入力端子１９３を介して制御線１６８に、制御信号Ｄｓｐとして、負電源Ｖｓｓ（Ｌレベルの論理信号）が常に供給される。このため、全てのスイッチ１６６がオフ状態となる。従って、シフトレジスター１６２の出力端は、スイッチ１６４のゲートに電気的に接続される。
【００４３】
この状態で、検査装置（図示せず）が、図６に示すように、検査プローブから検査端子１８２を介してシフトレジスター１６２に転送開始パルスＤＸおよびクロック信号ＣＬＫを供給すると、シフトレジスター１６２では、転送開始パルスＤＸがクロック信号ＣＬＫに従って順次シフトし、シフト信号Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３・・・Ｒ２４４が各ブロックＢに順次出力される。本実施形態において、シフトレジスター１６２は、クロック信号ＣＬＫのほぼ１周期分のパルス幅を有する転送開始パルスＤＸを、クロック信号ＣＬＫの論理レベルが変化するタイミングで順次遅延させるとともに、この遅延させた信号のうち、隣接する信号同士の論理積信号を、シフト信号Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３・・・Ｒ２４４として出力する。
【００４４】
従って、シフト信号Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３・・・Ｒ２４４のうち、Ｈレベルになったシフト信号によって選択されたグループＴ内の２つのブロックＢに属するデータ線１１４に接続するスイッチ１６４は、全て同時に導通状態となる。それ故、シフト信号Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３・・・Ｒ２４４のうち、Ｈレベルになったシフト信号によって選択されたグループＴ内の２つのブロックＢに属する計８列のデータ線１１４は各々、対応する検査線１６９にスイッチ１６４を介して導通する。
【００４５】
その際、検査装置では、転送開始パルスＤＸを出力してからクロック信号ＣＬＫを何周期分供給したかによって、いずれのシフト信号Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３・・・Ｒ２４４がＨレベルであるかを把握することができ、選択されたグループＴを把握することができる。
【００４６】
一方、検査装置は、シフト信号Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３・・・Ｒ２４４に同期して、検査プローブから選択信号入力端子１９２を介して４本の選択線１５９に選択信号ＳＥＬ１、ＳＥＬ２、ＳＥＬ３、ＳＥＬ４を各々供給する。従って、４本の選択線１５９のうち、選択信号ＳＥＬ１、ＳＥＬ２、ＳＥＬ３、ＳＥＬ４がＨレベルになった選択線１５９に対応するスイッチ１５４が導通状態となる。
【００４７】
従って、第１方向Ｘの一方側Ｘ１から奇数番目のブロックＢに属するデータ線１１４は順次、データ信号線１５１を介して第１検査用補助線１７６に導通し、第１方向Ｘの一方側Ｘ１から偶数番目のブロックＢに属するデータ線１１４は順次、データ信号線１５１を介して第２検査用補助線１７７に導通する。それ故、Ｈレベルになったシフト信号によって１つのグループＴが選択されている期間（選択期間）内において、検査電圧Ｃｘ１〜Ｃｘ４が供給された検査線１６９は各々、第１方向Ｘの一方側Ｘ１から奇数番目のブロックＢに属するデータ線１１４およびデータ信号線１５１を介して第１検査用補助線１７６に順次、排他的に接続する。また、検査電圧Ｃｘ５〜Ｃｘ８が供給された検査線１６９は各々、第１方向Ｘの一方側Ｘ１から偶数番目のブロックＢに属するデータ線１１４およびデータ信号線１５１を介して第２検査用補助線１７７に順次、排他的に接続する。
【００４８】
よって、検査線１６９に接続する検査端子１８１、および検査用補助線１７０に接続する検査端子１８５の各々に検査プローブを接触させ、検査線１６９および検査用補助線１７０のうち、一方側から検査電圧Ｃｘを印加し、他方側から検査電圧Ｃｘに対応する出力電圧（検出電圧ｅ）を検出すれば、データ線１１４やスイッチ１５４を検査することができる。本実施形態では、検査線１６９から検査電圧Ｃｘを印加する。従って、第１検査用補助線１７６に接続する第１検査端子１８６で検出電圧ｅ１・・・ｅ４８７を検出することができるとともに、第２検査用補助線１７７に接続する第２検査端子１８７で検出電圧ｅ２、ｅ４８８・・・を検出することができるので、データ線１１４やスイッチ１５４を検査することができる。
【００４９】
（具体的な検査方法の一例）
本実施形態では、シフトレジスター１６２から出力されるシフト信号Ｒ１がＨレベルにある期間において、例えば、選択信号ＳＥＬ１、ＳＥＬ２、ＳＥＬ３、ＳＥＬ４が各々、Ｈレベルになる期間に検査電圧Ｃｘ１、Ｃｘ３、Ｃｘ５、Ｃｘ７を１２Ｖとした後、検査電圧Ｃｘ１、Ｃｘ３、Ｃｘ５、Ｃｘ７を０Ｖとし、その後、検査電圧Ｃｘ２、Ｃｘ４、Ｃｘ６、Ｃｘ８を１２Ｖとする。その間、検査端子１８５（第１検査端子１８６および第２検査端子１８７）の電圧を監視する。
【００５０】
かかる監視結果において、選択信号ＳＥＬ１がＨレベル、かつ、検査電圧Ｃｘ１が例えば１２Ｖになっているにもかかわらず、第１検査端子１８６から所定の電圧が検出されなかった場合、検査装置は、第１方向Ｘの一方側Ｘ１のブロックＢでは、第１方向Ｘの一方側Ｘ１から第１番目のデータ線１１４あるいはスイッチ１５４が断線していることを発見することができる。また、選択信号ＳＥＬ１がＨレベル、かつ、検査電圧Ｃｘ２が例えば１２Ｖになっている場合に、第１検査端子１８６から所定の電圧が検出された場合、検査装置は、第１方向Ｘの一方側Ｘ１のブロックＢでは、第１方向Ｘの一方側Ｘ１から第１番目のデータ線１１４が第２番目のデータ線と短絡していることを発見することができる。また、選択信号ＳＥＬ１がＬレベル、かつ、検査電圧Ｃｘ１が例えば１２Ｖになっている場合に、第１検査端子１８６から所定の電圧が検出された場合、検査装置は、第１方向Ｘの一方側Ｘ１のブロックＢでは、第１方向Ｘの一方側Ｘ１から第１番目のスイッチ１５４が短絡していることを発見することができる。他のデータ線１１４やスイッチ１５４についても同様な検査を行うことができる。また、他のグループＴについても、シフトレジスター１６２から出力されるシフト信号Ｒ１・・Ｒ２４４が順次、排他的にＨレベルに移行した期間において、同様な検査を行うことができる。
【００５１】
（本実施形態の主な効果）
以上説明したように、本実施形態では、デマルチプレクサー１５０を介してデータ線１１４にデータ供給が行われる方式であるが、検査回路１６０に設けたシフトレジスター１６２から出力されるシフト信号Ｒ１・・Ｒ２４４によってスイッチ１６４を駆動して各ブロックＢのｎ列のデータ線１１４を各々、所定の検査線１６９と導通させる。また、デマルチプレクサー１５０では、ｎ種類の選択信号ＳＥＬ１、ＳＥＬ２、ＳＥＬ３、ＳＥＬ４に基づいて、各ブロックＢのｎ列のデータ線１１４を各々、所定のデータ信号線１５１と導通させる。従って、検査線１６９およびデータ信号線１５１のうちの一方の配線から印加した電圧を他方の配線で検出することによって、データ線１１４等の検査を行うことができる。ここで、複数のブロックＢは、ｍ個（ｍは２以上の整数）毎の複数のグループＴにグループ分けされており、シフトレジスター１６２は、グループＴ毎に、同一グループＴ内の各ブロックＢに属するデータ線１１４に接続するスイッチ１６４を制御するので、シフトレジスター１６２の段数がブロック数の１／ｍ倍の段数で済む。従って、検査を短い時間で行うことができるとともに、検査回路１６０が占める面積を狭くすることができる等、本実施形態で用いた検査回路１６０は、デマルチプレクサー１５０を介してデータ信号ｄ１、ｄ２・・ｄ４８８が供給されるデータ線１１４等の検査に適している。
【００５２】
また、本実施形態に係る電気光学装置１の製造方法においては、図５を参照して説明したように、複数のデータ信号線１５１に接続する検査用補助線１７０を設けておき、検査工程では、検査用補助線１７０を介して検出電圧ｅの検出を行う。このため、複数のデータ信号入力端子１９１の各々に検査プローブを接触させる必要がないので、検査を効率よく行うことができるとともに、検査装置の構成を簡素化することができる。この場合でも、電気光学装置用基板１１に対する切断工程において、検査用補助線１７０を複数のデータ信号線１５１から分離するため、切断後、複数のデータ信号線１５１が各々、電気的に独立した状態となる。従って、表示動作を行う際、複数のデータ信号線１５１の各々を介して各ブロックＢにデータ信号ｄ１、ｄ２・・・ｄ４８８を適正に供給することができる。また、本実施形態では、検査用補助線１７０として、奇数番目のデータ信号線１５１に接続された第１検査用補助線１７６と、偶数番目のデータ信号線１５１に接続された第２検査用補助線１７７とが設けられている。このため、検査工程を効率よく行うことができる。
【００５３】
［他の実施の形態］
上記実施形態では、ｎを４とし、複数列のデータ線１１４を４列毎のブロックＢとしたが、例えば、ｎを８とし、複数列のデータ線１１４を８列毎のブロックＢとしてもよい。この場合、ｍが２であれば、計１６本の検査線１６９が設けられる。また、上記実施形態では、ｍを２としたため、検査回路１６０は、複数のブロックＢを２ブロック毎の複数のグループＴにグループ分けしたが、ｍについては３以上に設定してもよい。但し、選択信号ＳＥＬ１、ＳＥＬ２、ＳＥＬ３、ＳＥＬ４の数や信号周期等からみて、ｍについては２から４までのいずれかに設定することが好ましい。
【００５４】
上記実施形態では、検査線１６９に接続する検査端子１８１から検査電圧Ｃｘを印加し、検査端子１８５（第１検査端子１８６および第２検査端子１８７）、および検査用補助線１７０（第１検査用補助線１７６および第２検査用補助線１７７）で検出電圧ｅ１、ｅ２・・ｅ４８８を検出した。すなわち、検査線１６９から検査電圧Ｃｘを印加し、データ信号線１５１の側で検出電圧ｅ１、ｅ２・・ｅ４８８を検出した。但し、検査端子１８５（第１検査端子１８６および第２検査端子１８７）、および検査用補助線１７０（第１検査用補助線１７６および第２検査用補助線１７７）から検査電圧Ｃｘを印加し、検査線１６９に接続する検査端子１８１から検出電圧ｅ１、ｅ２・・ｅ４８８を検出してもよい。すなわち、データ信号線１５１の側から検査電圧Ｃｘを印加し、検査線１６９の側で検出電圧ｅ１、ｅ２・・ｅ４８８を検出してもよい。
【００５５】
また、上記実施形態では、電気光学装置１として液晶表示装置を例示したが、デマルチプレクサー方式を採用した電気光学装置１であれば、例えばＥＬ（Electronic Luminescence）素子、電子放出素子、電気泳動素子などを画素１１０に用いた電気光学装置や、プラズマディスプレイ等の電気光学装置等に本発明を適用してもよい。
【００５６】
［電子機器への搭載例］
上述した実施形態に係る電気光学装置１を用いた電子機器について説明する。図７は、本発明を適用した電気光学装置１を用いた投射型表示装置（電子機器）の概略構成図である。
【００５７】
図７に示す投射型表示装置２１００は、電気光学装置１を用いた電子機器の一例である。投射型表示装置２１００において、本発明を適用した電気光学装置１がライトバルブとして用いられ、装置を大きくすることなく高精細で明るい表示が可能である。この図に示されるように、投射型表示装置２１００の内部には、ハロゲンランプ等の白色光源を有するランプユニット２１０２（光源部）が設けられている。ランプユニット２１０２から射出された投射光は、内部に配置された３枚のミラー２１０６および２枚のダイクロイックミラー２１０８によってＲ（赤）色、Ｇ（緑）色、Ｂ（青）色の３原色に分離される。分離された投射光は、各原色に対応するライトバルブ１００Ｒ、１００Ｇおよび１００Ｂにそれぞれ導かれる。なお、Ｂ色の光は、他のＲ色やＧ色と比較すると光路が長いので、その損失を防ぐために、入射レンズ２１２２、リレーレンズ２１２３および出射レンズ２１２４を有するリレーレンズ系２１２１を介して導かれる。
【００５８】
投射型表示装置２１００において、電気光学装置１を含む液晶装置が、Ｒ色、Ｇ色、Ｂ色のそれぞれに対応して３組設けられている。ライトバルブ１００Ｒ、１００Ｇおよび１００Ｂの構成は、上述した電気光学パネル１００と同様であり、配線基板３を介して投射型表示装置２１００内の上位回路と接続される。Ｒ色、Ｇ色、Ｂ色のそれぞれの原色成分の階調レベルを指定するデータ信号がそれぞれ外部上位回路から供給されて、投射型表示装置２１００内の上位回路で処理され、ライトバルブ１００Ｒ、１００Ｇおよび１００がそれぞれ駆動される。ライトバルブ１００Ｒ、１００Ｇ、１００Ｂによってそれぞれ変調された光は、ダイクロイックプリズム２１１２に３方向から入射する。そして、ダイクロイックプリズム２１１２において、Ｒ色およびＢ色の光は９０度に反射し、Ｇ色の光は透過する。したがって、各原色の画像が合成された後、スクリーン２１２０には、投射レンズ群２１１４（投射光学系）によってカラー画像が投射される。
【００５９】
（他の投射型表示装置）
なお、投射型表示装置については、光源部として、各色の光を出射するＬＥＤ光源等を用い、かかるＬＥＤ光源から出射された色光を各々、別の液晶装置に供給するように構成してもよい。
【００６０】
（他の電子機器）
本発明を適用した電気光学装置１を備えた電子機器は、上記実施形態の投射型表示装置２１００に限定されない。例えば、投射型のＨＵＤ（ヘッドアップディスプレイ）、ＨＭＤ（ヘッドマウントディスプレイ）、パーソナルコンピューター、デジタルスチルカメラ、携帯電話、携帯型情報処理端末、液晶テレビ等の電子機器に用いてもよい。
【符号の説明】
【００６１】
１…電気光学装置、２…駆動用ＩＣ、３…配線基板、１０…素子基板、１１…電気光学装置用基板、１９…端子、２０…対向基板、２１…データ信号供給回路、２２…選択信号供給回路、２３…制御信号供給回路、１００…電気光学パネル、１１０…画素、１００Ｂ、１００Ｇ、１００Ｒ…ライトバルブ、１０１…表示領域、１０８…共通電極、１１２…走査線、１１４…データ線、１１６…画素トランジスター、１１８…画素電極、１３０…走査線駆動回路、１５０…デマルチプレクサー（分配回路）、１５１…データ信号線、１５４…スイッチ（切り換え用のスイッチ）、１５９…選択線、１６０…検査回路、１６２…シフトレジスター、１６４…スイッチ（検査用スイッチ）、１６５…シフト信号供給線、１６６…スイッチ（制御用のスイッチ）、１６８…制御線、１６９…検査線、１７０…検査用補助線、１７６…第１検査用補助線、１７７…第２検査用補助線、１８１、１８２、１８５…検査端子、１８６…第１検査端子、１８７…第２検査端子、１９１…データ信号入力端子、１９２…選択信号入力端子、１９３…制御信号入力端子、２１００…投射型表示装置、２１０２…ランプユニット、２１１４…投射レンズ群、Ｂ…ブロック、Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３…走査信号、Ｒ１、Ｒ２４４…シフト信号、Ｔ…グループ、ｄ１、ｄ２、ｄ３、ｄ４、ｄ６、ｄ７、ｄ８…データ信号、Ｃｘ１、Ｃｘ２、Ｃｘ３、Ｃｘ４、Ｃｘ５、Ｃｘ６、Ｃｘ７、Ｃｘ８…検査電圧、ＤＸ…転送開始パルス、ＣＬＫ…クロック信号、ＳＥＬ１、ＳＥＬ２、ＳＥＬ３、ＳＥＬ４、ＳＥＬ１〜ＳＥＬ４…選択信号、Ｄｓｐ…制御信号。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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