(57)【要約】【課題】  ＢＧＡなどの裏面に複数の電極を有する電子部品が回路基板にリフロー半田付けされる際に電子部品に反りが発生して、反りにより回路基板から遠くなる電極で半田付け不良が発生する場合がある。【解決手段】  裏面に複数の電極３を有する電子部品２と、電子部品２が半田付けされた回路基板１とを備える。回路基板１の一面には、電極３に対応して設けられて電極３が半田付けされた複数のパッド６と、パッド６が露出するように設けられたソルダレジスト７と、１個のパッド６を囲むようにソルダレジスト７の上に印刷されたシンボルプリント８とが設けられる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
裏面に複数の電極を有する電子部品と、
前記電子部品が半田付けされた回路基板とを備え、
前記回路基板の一面に、
前記電極に対応して設けられて前記電極が半田付けされた複数のパッドと、
前記パッドが露出するように設けられたソルダレジストと、
１個の前記パッドを囲むように前記ソルダレジストの上に印刷されたシンボルプリントとが設けられた回路基板装置。
【請求項２】
互いに隣接する複数の前記パッドの集合に属するそれぞれの前記パッドを囲む複数の前記シンボルプリントが設けられた、請求項１に記載の回路基板装置。
【請求項３】
前記電子部品の裏面の中央部に配置された前記電極が半田付けされた前記パッドを含み互いに隣接する複数の前記パッドである第１のパッド群、または、前記第１のパッド群に属さない複数の前記パッドである第２のパッド群のどちらか一方に属するそれぞれの前記パッドを囲む複数の前記シンボルプリントが設けられた請求項２に記載の回路基板装置。
【請求項４】
前記シンボルプリントが設けられた前記パッドの中での前記パッドと前記電子部品との間隔の最大値が、前記シンボルプリントが設けられていない前記パッドの中での前記パッドと前記電子部品との間隔の最大値よりも大きい、
請求項１から請求項３の何れか１項に記載の回路基板装置。
【請求項５】
前記シンボルプリントが１つの輪である、
請求項１から請求項４の何れか１項に記載の回路基板装置。
【請求項６】
前記シンボルプリントが複数に分けて設けられた、
請求項１から請求項４の何れか１項に記載の回路基板装置。
【請求項７】
前記ソルダレジストが前記パッドと間隔をあけて設けられた、
請求項１から請求項６の何れか１項に記載の回路基板装置。
【請求項８】
前記ソルダレジストが前記パッドの上にも設けられた、
請求項１から請求項６の何れか１項に記載の回路基板装置。
【請求項９】
前記電子部品がＢＧＡである、
請求項１から請求項８の何れか１項に記載の回路基板装置。
【請求項１０】
基板と、
裏面に複数の電極を有する電子部品の電極に対応して基板の一面に設けられた、前記電極が半田付けされる複数のパッドと、
前記パッドが露出するように設けられたソルダレジストと、
１個の前記パッドを囲むように前記ソルダレジストの上に印刷されたシンボルプリントとを備えた回路基板。
【請求項１１】
互いに隣接する複数の前記パッドの集合に属するそれぞれの前記パッドを囲む複数の前記シンボルプリントを備えた請求項１０に記載の回路基板。
【請求項１２】
前記電子部品の裏面の中央部に配置された前記電極が半田付けされる前記パッドを含み互いに隣接する複数の前記パッドである第１のパッド群、または、前記第１のパッド群に属さない複数の前記パッドである第２のパッド群のどちらか一方に属するそれぞれの前記パッドを囲む複数の前記シンボルプリントを備えた請求項１１に記載の回路基板。
【請求項１３】
前記シンボルプリントが１つの輪である、
請求項１０から請求項１２の何れか１項に記載の回路基板。
【請求項１４】
前記シンボルプリントが複数に分けて設けられた、
請求項１０から請求項１２の何れか１項に記載の回路基板。
【請求項１５】
前記ソルダレジストが前記パッドと間隔をあけて設けられた、
請求項１０から請求項１４の何れか１項に記載の回路基板。
【請求項１６】
前記ソルダレジストが前記パッドの上にも設けられた、
請求項１０から請求項１４の何れか１項に記載の回路基板。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、裏面に複数の電極を有する電子部品が半田付けされた回路基板装置、電子部品が半田付けされる回路基板に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＢＧＡ(Ball Grid Array)やＬＧＡ(Land Grid Array)などで、その裏面にある複数の電極を基板上のパッドに半田付けするには、クリーム半田印刷工法が一般的である。クリーム半田印刷工法では、開口を設けたメタルマスクを用いてクリーム半田をパッドに印刷し、リフロー炉での加熱によって電極をパッドに半田付けする。この方法には、リフロー時の高温下で電子部品が反ることによって、半田の未接合が発生し、半田付け不良を引き起こす場合があるという課題がある。
【０００３】
半田付け不良を少なくするために、厚みがある半田バンプを形成する方法として、基板へクリーム半田を印刷し、リフローにより半田バンプを形成し、押圧処理による半田バンプの上面を平坦にする処理を繰り返す方法がある（特許文献１）。
【０００４】
基板のランド径およびクリーム半田印刷用のメタルマスクの開口径を部分的に変更することで、半田の高さを調整し、部品の反りに起因する半田付け不良を対策する方法がある（特許文献２）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特許第３６３１２３０号
【特許文献２】特開２００３−２４３８１８
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
特許文献１の方法では、基板に厚みのある半田バンプを形成するためにクリーム半田の印刷、リフロー、平坦化という工程を複数回行う必要があり、製造コストが増大する。
【０００７】
部品の高集積化が進むとリードピッチが狭くなる。リードピッチが狭くなると、基板のランド（パッド）サイズやマスク開口の変更が難しくなり、特許文献２の方法だけでは半田付けに十分な半田を供給できなくなる。
【０００８】
本発明の目的は、回路基板を製造する上でプロセスを増やすことなく、電子部品を実装するためにパッドへ供給する半田の量を増やすことができる回路基板とし、電子部品に反りがあっても回路基板に良好に半田付けできることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この発明に係る回路基板装置は、裏面に複数の電極を有する電子部品と、電子部品が半田付けされた回路基板とを備える。回路基板の一面に、電極に対応して設けられて電極が半田付けされた複数のパッドと、パッドが露出するように設けられたソルダレジストと、１個のパッドを囲むようにソルダレジストの上に印刷されたシンボルプリントとが設けられる。
【００１０】
この発明に係る回路基板は、基板と、裏面に複数の電極を有する電子部品の電極に対応して基板の一面に設けられた電極が半田付けされる複数のパッドと、パッドが露出するように設けられたソルダレジストと、１個のパッドを囲むようにソルダレジストの上に印刷されたシンボルプリントとを備える。
【発明の効果】
【００１１】
この発明によれば、回路基板を製造する上でプロセスを増やすことなく、電子部品を実装するためにパッドへ供給する半田の量を増やすことができる回路基板を得ることができ、電子部品に反りがあっても回路基板に良好に半田付けできる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】この発明の実施の形態１に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。
【図２】実施の形態１および実施の形態５に係る回路基板装置で半田付けされる電子部品の形状を示す図である。
【図３】実施の形態１に係る回路基板装置で使用する回路基板でクリーム半田を印刷するためにマスクを回路基板の上に置いた状態での断面図である。
【図４】実施の形態１に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。
【図５】実施の形態１に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。
【図６】比較例としての従来の回路基板の平面図と断面図である。
【図７】比較例としての従来の回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。
【図８】比較例としての従来の回路基板に図２に示す電子部品を半田付けした状態を示す断面図である。
【図９】実施の形態１に係る回路基板装置で使用する回路基板に設けられるパッドを囲むシンボルプリントの変形例を説明する図である。
【図１０】この発明の実施の形態２に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。
【図１１】実施の形態２および実施の形態６に係る回路基板装置で半田付けされる電子部品の形状を示す図である。
【図１２】実施の形態２に係る回路基板装置で使用する回路基板でクリーム半田を印刷するためにマスクを回路基板の上に置いた状態での断面図である。
【図１３】実施の形態２に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。
【図１４】実施の形態２に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。
【図１５】比較例としての従来の回路基板に図１１に示す電子部品を半田付けした状態を示す断面図である。
【図１６】この発明の実施の形態３に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。
【図１７】実施の形態３および実施の形態７に係る回路基板装置で半田付けされる電子部品の形状を示す図である。
【図１８】実施の形態３に係る回路基板装置で使用する回路基板でクリーム半田を印刷するためにマスクを回路基板の上に置いた状態での断面図である。
【図１９】実施の形態３に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。
【図２０】実施の形態３に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。
【図２１】この発明の実施の形態４に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。
【図２２】実施の形態４および実施の形態８に係る回路基板装置で半田付けされる電子部品の形状を示す図である。
【図２３】実施の形態４に係る回路基板装置で使用する回路基板でクリーム半田を印刷するためにマスクを回路基板の上に置いた状態での断面図である。
【図２４】実施の形態４に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。
【図２５】実施の形態４に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。
【図２６】この発明の実施の形態５に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。
【図２７】実施の形態５に係る回路基板装置で使用する回路基板でクリーム半田を印刷するためにマスクを回路基板の上に置いた状態での断面図である。
【図２８】実施の形態５に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。
【図２９】実施の形態５に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。
【図３０】この発明の実施の形態６に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。
【図３１】実施の形態６に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。
【図３２】実施の形態６に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。
【図３３】この発明の実施の形態７に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。
【図３４】実施の形態７に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。
【図３５】実施の形態７に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。
【図３６】この発明の実施の形態８に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。
【図３７】実施の形態８に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。
【図３８】実施の形態８に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
実施の形態１．
図１は、この発明の実施の形態１に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。図１(a)に平面図を示す。図１(b)は、図１(a)に示すＡ−Ａ断面での断面図である。図１(c)は、図１(a)に示すＢ−Ｂ断面での断面図である。図２は、実施の形態１に係る回路基板装置で半田付けされる電子部品の形状を示す図である。図１に示す回路基板１は、図２に示すＢＧＡ(Ball Grid Array)２を半田付け不良が少なく半田付けできるものである。図２(a)は、ＢＧＡ２の基板側から見た平面図である。図２(b)は、図２(a)に示すＣ−Ｃ断面での断面図である。図２(c)は、図２(a)に示すＤ−Ｄ断面での断面図である。図２(b)は、平面図における左右方向での断面図である。図２(c)は、平面図における上下方向での断面図である。図２などでは、分かりやすくするために、切断面上での電子部品の形状だけを図に書く。図では、反りを強調して表現している。
【００１４】
ＢＧＡ２には、その裏面に格子状に複数の電極３が設けられる。各電極３には、パッド６への半田付けを容易にするために、球状の半田である半田ボール４が取り付けられている。半田ボール４は同じ大きさである。ＢＧＡ２の裏面には、複数の半田ボール４が格子状に並ぶ。この明細書では、９行９列の合計８１個の電極３を有するＢＧＡ２を例として、発明を説明する。任意の個数の電極が任意の間隔で任意の配置で設けられたＢＧＡなどの電子部品に、この発明は適用できる。
【００１５】
図２に示すＢＧＡ２は、リフロー半田付けのために加熱される際に、半田ボール４が設けられた裏面の中央がくぼむように変形する特性を持つものである。ＢＧＡ２は、その縦および横でほぼ同じように変形する。図２に示すようなＢＧＡ２の変形を、上反り（Convex）変形と呼ぶ。
【００１６】
電子部品の反りは、裏面側からみて中央部が窪む場合だけでなく、中央部が出る場合もある。縦方向と横方向で反りの度合いが異なる場合もある。縦方向と横方向で反りの向きが反対になる鞍型に反る場合もある。反りによる窪みまたは凸部の中心が電子部品の中心からずれる場合もある。また、反りの中心線の方向が電子部品の側面の方向に対して斜めになる場合もある。反りの曲率が位置によって変化する場合もある。複数の窪みや凸部ができるように反る場合もある。
【００１７】
電子部品は、種類によりその内部構造は決まる。電子部品に反りが発生する際にはどのような反りが発生しやすいかは、その内部構造すなわち電子部品の種類により決まる。電子部品の種類ごとに、リフロー加熱するとどのように反りやすいか、すなわち反りの特徴を、予め実験などにより調べておくものとする。
【００１８】
回路基板１は、一面に回路配線が設けられた基板５を有する。基板５の一方の面に電子部品であるＢＧＡ２の半田ボール４が半田付けされる複数の円形のパッド６が形成される。パッド６はすべて同じ大きさである。それぞれのパッド６の周囲には、間隔を持たせてソルダレジスト７が設けられる。パッド６は、ＮＳＭＤ(Non Solder Mask Defined)パッドである。ソルダレジスト７は、それぞれのパッド６を囲みパッド６が露出するように設けられる。パッド６は、ＢＧＡ２の裏面に格子状に設けられた複数の半田ボール４に対応させて設けられる。図１では、回路基板１のＢＧＡ２が搭載される範囲３０を含む部分だけを表示する。図１などでは、ＢＧＡ搭載範囲３０を破線で示す。実際には、回路基板１に他の電子部品も実装される。以降の図でも同様である。なお、基板５の両面にＢＧＡ２を半田付けする場合もある。多層基板が使用される場合もある。
【００１９】
ＢＧＡ搭載範囲３０の中央部に存在する複数のパッド６には、それぞれ１個のパッド６を囲むようにソルダレジスト７の上に輪の形のシンボルプリント(Symbol Print)８が印刷される。シンボルプリント８は、ソルダレジスト７の縁に沿って決められた一定の幅および厚さで設けられる。最も遠い位置でのパッドからの距離が決められた範囲に入るように、シンボルプリント８が印刷される。シンボルプリント８は、一定の厚さでその上面ができるだけ平らであるようにする。そうすることで、各パッドに供給するクリーム半田１０の量を均一にできる。
【００２０】
シンボルプリント８が設けられた複数のパッド６は、互いに隣接する。シンボルプリント８が設けられた複数のパッド６の集合を、ＳＰありパッド群と呼ぶ。ＢＧＡ搭載範囲３０の内部でシンボルプリント８が設けられていない複数のパッド６の集合を、ＳＰなしパッド群と呼ぶ。
【００２１】
ＳＰありパッド群に属するパッド６は、パッド６Ａ（図３に図示）と表記することにする。ＳＰなしパッド群に属するパッド６の中でパッド６Ａに隣接するパッド６を、パッド６Ｂと表記することにする。パッド６Ａとは隣接しないＳＰなしパッド群に属するパッド６を、パッド６Ｃと表記することにする。パッド６Ａは、ＢＧＡ搭載範囲３０の中央部分に四辺に対して斜めの線で囲まれる範囲に存在する。パッド６Ｂおよびパッド６Ｃは、ＢＧＡ搭載範囲３０の内部でパッド６Ａよりも外側の範囲に設けられる。パッド６Ａは、互いに隣接する。
【００２２】
ＢＧＡ２の裏面の中央部に配置された電極３が半田付けされるパッド６を含み互いに隣接する複数のパッド６を、第１のパッド群と呼ぶ。ＢＧＡ搭載範囲３０に含まれ第１のパッド群に属さない複数のパッドを第２のパッド群と呼ぶ。この実施の形態１では、第１のパッド群に属する複数のパッド６Ａのそれぞれを囲む複数のシンボルプリント８を、ソルダレジスト７の上に設ける。そうすることで、ＢＧＡ２の全体が大きく反る場合でも半田付け不良の発生を防止できる。
【００２３】
シンボルプリントは、一般的には、回路基板に電子部品を実装する際のガイドとなるような印字のために使用される。シンボルプリント８で挟まれる位置には、本来の目的のためのシンボルプリントを設けてもよい。パッド６Ｂおよびパッド６Ｃに供給されるクリーム半田１０の量が増えることが無いように、シンボルプリント８とパッド６Ｂの間には、シンボルプリントを設けない。パッド６Ｂとパッド６Ｃの間とパッド６Ｃ同士の間にも、シンボルプリントを設けない。
【００２４】
ＢＧＡ２などの表面実装部品を半田付けする際には、マスク９を使用してパッド６の上にクリーム半田１０を印刷する。マスク９は、パッド６に対応する位置に開口９Ａを設けた金属のプレートである。マスク９の厚さは、クリーム半田１０をパッド６に印刷した後に、クリーム半田１０をそのまま残して外すことができるように、適切な厚さとする。マスク９の材質は、適度にたわむように決める。開口９Ａを設けたマスク９と回路基板１を密着させ、適度な圧力をかけながら開口９Ａにクリーム半田１０を充填する。その後で、マスク９を回路基板１から遠ざける方向に移動させて、パッド６の上にクリーム半田１０を残す。こうして、表面実装部品用のパッド６へクリーム半田１０を転写する。このようなクリーム半田印刷工法が、一般的に使用される。この発明に係る回路基板装置でもクリーム半田印刷工法が適用されるものとする。マスク９の開口９Ａは、すべて同じ大きさと形状を有する。
【００２５】
図３は、実施の形態１に係る回路基板装置で使用する回路基板でクリーム半田を印刷するためにマスクを回路基板の上に置いた状態での断面図である。図３(a)が、図１(a)に示すＢ−Ｂ断面での断面図である。図３(b)は、図３(a)において楕円で示す範囲５１を拡大した断面図である。範囲５１は、１個のパッド６Ｃを含む範囲である。図３(c)は、図３(a)において楕円で示す範囲５２を拡大した断面図である。範囲５２は、１個のパッド６Ｂを含む範囲である。図３(d)は、図３(a)において楕円で示す範囲５３を拡大した断面図である。範囲５３は、１個のパッド６Ａを含む範囲である。
【００２６】
図３(d)に示すように、パッド６Ａの周囲に設けたシンボルプリント８の上面にマスク９が密着する。図３(b)に示すように、パッド６Ｃでは、その周囲のソルダレジスト７の上面とマスク９とが密着する。図３(c)に示すように、パッド６Ｂの付近ではマスク９がたわみ、パッド６Ａを囲むシンボルプリント８からパッド６Ｃとの間でマスク９が斜めになる。
【００２７】
マスク９の厚さをＤmとする。ソルダレジスト７のパッド６の上面よりも上側に存在する部分の厚さをＤrとする。シンボルプリント８の厚さをＤpとする。また、パッド６Ａとマスク９との間隔をＴＨとし、パッド６Ｃとマスク９との間隔をＴＬとする。図３(b)から分るように、ＴLは以下のようになる。
ＴＬ＝Ｄm＋Ｄr                              (1)
図３(d)から分るように、ＴＨは以下のようになる。
ＴＨ＝Ｄm＋Ｄr＋Ｄp＝ＴＬ＋Ｄp               (2)
シンボルプリント８があるので、ＴＨ＞ＴＬである。つまり、シンボルプリント８で囲まれているパッド６Ａとマスク９との間隔ＴＨは、シンボルプリント８で囲まれていないパッド６Ｃとマスク９との間隔ＴＬよりも大きい（ＴＨ＞ＴＬ）。
パッド６Ｂでは、マスク９との間隔ＴＭは、ＴＨからＴＬの間で変化する（ＴＨ≧ＴＭ≧ＴＬ）。
【００２８】
図４は、実施の形態１に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。図４(a)は、図１(a)に示すＡ−Ａ断面での断面図である。図４(b)は、図１(a)に示すＢ−Ｂ断面での断面図である。シンボルプリント８で囲まれているパッド６Ａには、間隔ＴＨの厚さでクリーム半田１０が印刷される。シンボルプリント８で囲まれていないパッド６Ｃには、間隔ＴＬの厚さでクリーム半田１０が印刷される。パッド６Ｂでは、クリーム半田１０の厚さＴＭが間隔ＴＨとＴＬとの間で変化する。
【００２９】
ＢＧＡ搭載範囲３０の中央部に存在する複数のパッド６Ａでは、各パッド６Ａがその周囲をシンボルプリント８で囲まれているので、シンボルプリント８で囲まれていないＢＧＡ搭載範囲３０の周辺部に存在する複数のパッド６Ｃよりも、シンボルプリント８の厚さＤpだけ厚くクリーム半田１０を印刷できる。パッド６とマスク９の開口９Ａの大きさはすべてのパッド６で同じなので、パッド６Ｂおよびパッド６Ｃよりも、多くのクリーム半田１０をパッド６Ａに供給できる。パッド６Ｂでは、パッド６Ａとパッド６Ｃの中間の量の半田が印刷される。
【００３０】
図５は、実施の形態１に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。図５(a)は、図１に示すＡ−Ａ断面での断面図である。図５(b)は、図１に示すＢ−Ｂ断面での断面図である。ＢＧＡ２は、リフロー炉の中で加熱される際に、図２に示すように反る。ＢＧＡ２の中央部ではパッド６Ａとの間隔が大きくなるが、パッド６Ａにクリーム半田１０を多く印刷するので、ＢＧＡ２をパッド６Ａに半田付けする際に、不良は発生しにくい。回路基板装置２０では、ＢＧＡ２の裏面の複数の電極３がそれぞれ対応するパッド６に半田１１により良好に半田付けできている。
【００３１】
シンボルプリント８が周囲に設けられたパッド６ＡとＢＧＡ２との間隔の最大値は、シンボルプリント８が設けられていないパッド６Ｂおよびパッド６ＣのＢＧＡ２との間隔の最大値よりも大きい。逆に言うと、ＢＧＡ２との間隔が大きくなる位置のパッド６の周囲にシンボルプリント８を設ける。
【００３２】
パッド６Ｃでは、ＢＧＡ２が反ってもＢＧＡ２との間隔の変化が小さいので、パッド６Ａよりも少量のクリーム半田１０で良好に半田付けできる。パッド６Ｂでは、ＢＧＡ２との平均間隔がパッド６Ａよりも小さくパッド６Ｃよりも大きい。印刷されたクリーム半田１０の量も、パッド６Ａへの量よりも小さくパッド６Ｃへの量よりも大きい。したがって、パッド６Ｂでも良好に半田付けができる。
【００３３】
比較例として、従来の回路基板１Ｘを使用する場合に、半田付け不良が発生する状況を説明する。図６は、比較例としての従来の回路基板の平面図と断面図である。図６(a)に平面図を示す。図６(b)は、図６(a)に示すＥ−Ｅ断面での断面図である。他の位置でも同じ断面図である。回路基板１Ｘには、回路基板１と同様にパッド６とソルダレジスト７が設けられる。回路基板１Ｘには、パッド６を囲むシンボルプリントは設けられていない。
【００３４】
図７は、比較例としての従来の回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。すべてのパッド６に同じ厚さＴＬでクリーム半田１０が印刷される。図８は、比較例としての従来の回路基板に図２に示す電子部品を半田付けした状態を示す断面図である。回路基板装置２０Ｘにおいて、中央部のパッド６ではクリーム半田１０の量が不足する。そのため、パッド６側の半田１２と電極３側の半田１３（半田ボール４が溶融して固化したもの）とが分離しており、電極３がパッド６に半田付けできていない。
【００３５】
回路基板１は、半田付けされるＢＧＡ２の反りに合わせて、回路基板１とＢＧＡ２の裏面との間隔が大きくなる領域では、パッド６に印刷するクリーム半田１０の量を多くできる。そのため、回路基板１にＢＧＡ２を半田付けする際に、半田付け不良になる確率を小さくできる。また、シンボルプリントという、従来から回路基板に対して実施される処理を利用するので、回路基板を製造する上で新たな工程を追加することは不要である。
【００３６】
パッド６の周囲に設けるシンボルプリント８は、図１などに示すような１つの輪でなくてもよい。図９は、実施の形態１に係る回路基板装置で使用する回路基板に設けられるパッド６を囲むシンボルプリントの変形例を説明する図である。図９(a)に示すシンボルプリント８Ａは、輪に２個の切れ目を設けた場合である。図９(b)に示すシンボルプリント８Ｂは、輪に３個の切れ目を設けた場合である。図９(c)は、パッド６の周囲に１６個の円形のシンボルプリント８Ｃを設けた場合である。図９(d)は、パッド６の周囲に６個の長方形のシンボルプリント８Ｄを設けた場合である。シンボルプリント８Ａとシンボルプリント８Ｂでは、輪の切れ目の方向を隣り合うものでは変えているが、すべて同じ方向を向くようにしてもよい。パッド６を囲むようにシンボルプリントを設ければ、シンボルプリントの形状はどのようなものでもよい。図１などのように、１つの輪のシンボルプリント８の方が望ましいが、複数に分けて設けられていてもよい。
【００３７】
シンボルプリントで囲むパッドの集合であるＳＰありパッド群の配置は、ＢＧＡなどの電子部品の変形に応じて適切に決める。電子部品が反る形状に合わせて回路基板から遠くなる位置のパッドに、１個のパッドを囲むようにシンボルプリントを設ければよい。１個のパッドを囲む複数のシンボルプリントを設けたが、電子部品の反り具合によっては１個のパッドにだけシンボルプリントを設ける場合もありうる。パッドからの距離が遠くなる電子部品の範囲が広ければ、隣接する複数のパッドにシンボルプリントを設けることになる。電子部品に短い間隔で凹凸が発生する場合には、シンボルプリントが設けられたパッドの複数の集合が離れて存在する場合もある。
【００３８】
この発明に係る回路基板は、ＢＧＡだけではなくＬＧＡにも適用できる。裏面に複数の電極を有する電子部品を、複数の電極に対応して回路基板に設けられた複数のパッドに電極を半田付けした回路基板装置であればよい。回路基板では、パッドの周辺部を覆うようにソルダレジストを設けてもよい。
【００３９】
マスクを厚くする場合には、すべてのパッドに供給されるクリーム半田の量が多くなる。電子部品が反る際に電子部品の裏面との間隔が短いパッドでは、必要量を越えてクリーム半田が供給される。そのため、パッド間を半田が結ぶような半田付け不良が発生しやすくなる。
【００４０】
パッドの形状はどのパッドでも同じなので、回路基板の設計の工数は増加しない。また、従来と同様なマスクを使用することができる。マスクの開口の形状も、どのパッドに対応するものでも同じである。電子部品の反り方が変化しても同じマスクを使用でき、クリーム半田を印刷する工程が複雑になることはない。
以上のことは、他の実施の形態にもあてはまる。
【００４１】
実施の形態２．
実施の形態２は、半田ボール４が設けられる裏面の中央が出るように変形する特性を持つＢＧＡ２Ａを対象とする場合である。図１０は、この発明の実施の形態２に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。図１０(a)に平面図を示す。図１０(b)は、図１０(a)に示すＦ−Ｆ断面での断面図である。図１０(c)は、図１０(a)に示すＧ−Ｇ断面での断面図である。図１１は、実施の形態２および実施の形態６に係る回路基板装置で半田付けされる電子部品の形状を示す図である。図１１(a)は、ＢＧＡ２Ａの基板側から見た平面図である。図１１(b)は、図１１(a)に示すＨ−Ｈ断面での断面図である。図１１(c)は、図１１(a)に示すＪ−Ｊ断面での断面図である。図１１(b)は、平面図における左右方向での断面図である。図１１(c)は、平面図における上下方向での断面図である。
【００４２】
図１１に示すＢＧＡ２Ａは、リフロー半田付けのために加熱される際に、半田ボール４が設けられる裏面の中央が出るように変形する特性を持つものである。ＢＧＡ２Ａは、その縦および横でほぼ同じように変形する。図１１に示すようなＢＧＡ２Ａの変形を、下反り（Concave）変形と呼ぶ。
【００４３】
回路基板１Ａには、実施の形態１での回路基板１と同様にパッド６とソルダレジスト７が設けられる。周囲にシンボルプリントが設けられていないパッド６Ｂおよびパッド６Ｃが、ＢＧＡ搭載範囲３０の中央部分に四辺に対して斜めの線で囲まれる範囲に存在する。周囲にシンボルプリント８が設けられたパッド６Ａは、ＢＧＡ搭載範囲３０の内部でパッド６Ｂおよびパッド６Ｃよりも外側の範囲に設けられる。
【００４４】
この実施の形態２では、ＢＧＡ２Ａの裏面の中央部に配置された電極３が半田付けされるパッド６を含み互いに隣接する複数のパッド６である第１のパッド群に属するパッド６にはシンボルプリント８を設けない。第１のパッド群に属さない複数のパッドである第２のパッド群のそれぞれを囲む複数のシンボルプリント８を、ソルダレジスト７の上に設ける。電子部品の反り方に応じて、第１のパッド群または第２のパッド群のどちらか一方の電子部品の裏面との間隔が大きくなる方に属する複数のパッドのそれぞれを囲むように、シンボルプリントをソルダレジストの上に設ければよい。
【００４５】
図１２は、実施の形態２に係る回路基板装置で使用する回路基板でクリーム半田を印刷するためにマスクを回路基板の上に置いた状態での断面図である。実施の形態１で使用するのと同じマスク９を使用する。図１２(a)が、図１０(a)に示すＦ−Ｆ断面での断面図である。図１２(b)は、図１２(a)において楕円で示す範囲５４を拡大した断面図である。範囲５４は、１個のパッド６Ａを含む範囲である。図１２(c)は、図１２(a)において楕円で示す範囲５５を拡大した断面図である。範囲５５は、１個のパッド６Ｂを含む範囲である。図１２(d)は、図１２(a)において楕円で示す範囲５６を拡大した断面図である。範囲５６は、１個のパッド６Ｃを含む範囲である。
【００４６】
パッド６Ａの周囲に設けられたシンボルプリント８の上面と、マスク９が密着する。パッド６Ｃの周囲のソルダレジスト７と、マスク９が密着する。パッド６Ｂの付近では、マスク９がたわみ、パッド６Ａを囲むシンボルプリント８からパッド６Ｃの周囲のソルダレジスト７との間でマスク９が斜めになる。
【００４７】
シンボルプリント８で囲まれているパッド６Ａとマスク９との間隔ＴＨは、式(2)で計算できる。シンボルプリント８で囲まれていないパッド６Ｃとマスク９との間隔ＴＬは、式(1)で計算できる。シンボルプリント８があるので、ＴＨ＞ＴＬである。パッド６Ｂでは、マスク９との間隔ＴＭは、ＴＨとＴＬとの間で変化する。
【００４８】
図１３は、実施の形態２に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。シンボルプリント８で囲まれているパッド６Ａには、間隔ＴＨの厚さでクリーム半田１０が印刷される。シンボルプリント８で囲まれていないパッド６Ｃには、間隔ＴＬの厚さでクリーム半田１０が印刷される。パッド６Ｂでは、クリーム半田１０の厚さが間隔ＴＨからＴＬの間で変化する。
【００４９】
ＢＧＡ搭載範囲３０の周辺部に存在する複数のパッド６Ａでは、各パッド６Ａがその周囲をシンボルプリント８で囲まれているので、ＢＧＡ搭載範囲３０の中央部に存在する複数のパッド６Ｃよりも、シンボルプリント８の厚さＤpだけ厚くクリーム半田１０を印刷できる。パッド６とマスク９の開口９Ａの大きさは同じなので、パッド６Ａではパッド６Ｂおよびパッド６Ｃよりも、多くのクリーム半田１０を供給できる。パッド６Ｂでは、パッド６Ａとパッド６Ｃの中間の量の半田が印刷される。
【００５０】
図１４は、実施の形態２に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。ＢＧＡ２Ａは、リフロー炉の中で加熱される際に、図１１に示すように反る。ＢＧＡ２Ａの周辺部ではパッド６Ａとの間隔が大きくなるが、パッド６Ａにクリーム半田１０を多く印刷するので、ＢＧＡ２Ａをパッド６Ａに半田付けする際に、不良は発生しにくい。回路基板装置２０Ａでは、ＢＧＡ２Ａの裏面の複数の電極３がそれぞれ対応するパッド６に半田１１により良好に半田付けできている。
【００５１】
比較例として、従来の回路基板１Ｘを使用する場合に、半田付け不良が発生する状況を説明する。図１５は、比較例としての従来の回路基板に図１１に示す電子部品を半田付けした状態を示す断面図である。回路基板装置２０Ｙにおいて、周辺部のパッド６では、クリーム半田１０の量が不足して、パッド６側の半田１２と電極３側の半田１３とが分離しており、電極３がパッド６に半田付けできていない。
【００５２】
回路基板１Ａは、半田付けされるＢＧＡ２Ａの反りに合わせて、回路基板１ＡとＢＧＡ２Ａとの裏面との間隔が大きくなる領域では、パッド６に印刷するクリーム半田１０の量を多くできる。そのため、回路基板１ＡにＢＧＡ２Ａを半田付けする際に、半田付け不良になる確率を小さくできる。また、シンボルプリント８という、従来から回路基板に対して実施される処理を利用するので、回路基板１Ａを製造する上で新たな工程は不要である。
【００５３】
実施の形態３．
実施の形態３は、半田ボール４が設けられる裏面の中央が筒状にへこむように変形する特性を持つＢＧＡ２Ｂを対象とする場合である。図１６は、この発明の実施の形態３に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。図１６(a)に平面図を示す。図１６(b)は、図１６(a)に示すＫ−Ｋ断面での断面図である。図１７は、実施の形態３および実施の形態７に係る回路基板装置で半田付けされる電子部品の形状を示す図である。図１７(a)は、ＢＧＡ２Ａの基板側から見た平面図である。図１７(b)は、図１７(a)に示すＬ−Ｌ断面での断面図である。図１７(c)は、図１７(a)に示すＭ−Ｍ断面での断面図である。図１７(b)は、平面図における左右方向での断面図である。図１７(c)は、平面図における上下方向での断面図である。
【００５４】
図１７に示すＢＧＡ２Ｂは、リフロー半田付けのために加熱される際に、半田ボール４が設けられる裏面の中央が筒状にへこむように変形する特性を持つものである。ＢＧＡ２Ｂは、図における左右方向で上下方向よりも大きく変形する。図１７に示すようなＢＧＡ２Ｂの変形を、上筒反り変形と呼ぶ。
【００５５】
回路基板１Ｂには、実施の形態１での回路基板１と同様にパッド６とソルダレジスト７が設けられる。周囲にシンボルプリント８が設けられたパッド６Ａが、ＢＧＡ搭載範囲３０の中央部分に図における上下方向に平行な線で囲まれる範囲に存在する。周囲にシンボルプリント８が設けられていないパッド６Ｂおよびパッド６Ｃは、ＢＧＡ搭載範囲３０の内部でパッド６Ａよりも図における左右方向の外側の範囲に設けられる。
【００５６】
図１８は、実施の形態３に係る回路基板装置で使用する回路基板でクリーム半田を印刷するためにマスクを回路基板の上に置いた状態での断面図である。実施の形態１で使用するのと同じマスク９を使用する。図１８(a)が、図１６(a)に示すＫ−Ｋ断面での断面図である。
【００５７】
マスク９は、図における左右方向にたわみ、図における上下方向ではほとんどたわまない。パッド６Ａの周囲のシンボルプリント８とマスク９とが密着すること、パッド６Ｃの周囲のソルダレジスト７とマスク９とが密着することは、実施の形態１および２の場合と同様である。
【００５８】
図１９は、実施の形態３に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。実施の形態１および２の場合と同様に、パッド６Ａには厚く、パッド６Ｃには薄く、パッド６Ｂには中間の厚さでクリーム半田１０を印刷できる。
【００５９】
図２０は、実施の形態３に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。ＢＧＡ２Ｂは、リフロー炉の中で加熱される際に、図１７に示すように反る。ＢＧＡ２Ｂの図における左右方向の中央ではパッド６Ａとの間隔が大きくなるが、パッド６Ａにクリーム半田１０を多く印刷するので、ＢＧＡ２Ｂをパッド６Ａに半田付けする際に、不良は発生しにくい。回路基板装置２０Ｂでは、ＢＧＡ２Ｂの裏面の複数の電極３がそれぞれ対応するパッド６に半田１１により良好に半田付けできている。
【００６０】
回路基板１Ｂは、半田付けされるＢＧＡ２Ｂの反りに合わせて、回路基板１ＢとＢＧＡ２Ｂとの裏面との間隔が大きくなる領域では、パッド６に印刷するクリーム半田１０の量を多くできる。そのため、回路基板１ＢにＢＧＡ２Ｂを半田付けする際に、半田付け不良になる確率を小さくできる。また、シンボルプリントという、従来から回路基板に対して実施される処理を利用するので、回路基板を製造する上で新たな工程は不要である。
【００６１】
実施の形態４．
実施の形態４は、半田ボール４が設けられる裏面の中央が筒状に出るように変形する特性を持つＢＧＡ２Ｃを対象とする場合である。図２１は、この発明の実施の形態３に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。図２１(a)に平面図を示す。図２１(b)は、図２１(a)に示すＮ−Ｎ断面での断面図である。図２２は、実施の形態４および実施の形態８に係る回路基板装置で半田付けされる電子部品の形状を示す図である。図２２(a)は、ＢＧＡ２Ｃの基板側から見た平面図である。図２２(b)は、図２２(a)に示すＰ−Ｐ断面での断面図である。図２２(c)は、図２２(a)に示すＱ−Ｑ断面での断面図である。図２２(b)は、平面図における左右方向での断面図である。図２２(c)は、平面図における上下方向での断面図である。
【００６２】
図２２に示すＢＧＡ２Ｃは、リフロー半田付けのために加熱される際に、半田ボール４が設けられる裏面の中央が筒状に出るように変形する特性を持つものである。ＢＧＡ２Ｃは、図における左右方向で上下方向よりも大きく変形する。図２２に示すようなＢＧＡ２Ｃの変形を、下筒反り変形と呼ぶ。
【００６３】
回路基板１Ｃには、実施の形態１での回路基板１と同様にパッド６とソルダレジスト７が設けられる。周囲にシンボルプリント８が設けられたパッド６Ａが、ＢＧＡ搭載範囲３０の図における上下方向に平行な線よりも外側の範囲に存在する。周囲にシンボルプリント８が設けられていないパッド６Ｂおよびパッド６Ｃは、ＢＧＡ搭載範囲３０の図における左右方向の中央部分に設けられる。
【００６４】
図２３は、実施の形態４に係る回路基板装置で使用する回路基板でクリーム半田を印刷するためにマスクを回路基板の上に置いた状態での断面図である。実施の形態１で使用するのと同じマスク９を使用する。図２３(a)が、図２１(a)に示すＮ−Ｎ断面での断面図である。
【００６５】
マスク９は、図２２(a)における左右方向にたわみ、図における上下方向ではほとんどたわまない。パッド６Ａの周囲のシンボルプリント８とマスク９とが密着すること、パッド６Ｃの周囲のソルダレジスト７とマスク９とが密着することは、実施の形態１から３の場合と同様である。
【００６６】
図２４は、実施の形態４に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。実施の形態１から３の場合と同様に、パッド６Ａには厚く、パッド６Ｃには薄く、パッド６Ｂには中間の厚さでクリーム半田１０を印刷できる。
【００６７】
図２５は、実施の形態４に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。ＢＧＡ２Ｃは、リフロー炉の中で加熱される際に、図２２に示すように反る。ＢＧＡ２Ｃの図における左右方向の外側ではパッド６Ａとの間隔が大きくなるが、パッド６Ａにクリーム半田１０を多く印刷するので、ＢＧＡ２Ｃとパッド６Ａに半田付けする際に、不良は発生しにくい。回路基板装置２０Ｃでは、ＢＧＡ２Ｃの裏面の複数の電極３がそれぞれ対応するパッド６に半田１１により良好に半田付けできている。
【００６８】
回路基板１Ｃは、半田付けされるＢＧＡ２Ｃの反りに合わせて、回路基板１ＣとＢＧＡ２Ｃとの裏面との間隔が大きくなる領域では、パッド６に印刷するクリーム半田１０の量を多くできる。そのため、回路基板１ＣにＢＧＡ２Ｃを半田付けする際に、半田付け不良になる確率を小さくできる。また、シンボルプリントという、従来から回路基板に対して実施される処理を利用するので、回路基板を製造する上で新たな工程は不要である。
【００６９】
実施の形態５．
実施の形態５は、ソルダレジスト７Ａがパッド６Ｄの上にも設けられるＳＭＤ(Solder Mask Defined)パッドを有する回路基板１Ｄを使用するように、実施の形態１を変更した場合である。図２６は、この発明の実施の形態５に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。図２６(a)に平面図を示す。図２６(b)は、図２６(a)に示すＲ−Ｒ断面での断面図である。図２６(c)は、図２６(a)に示すＳ−Ｓ断面での断面図である。回路基板１Ｄには、図２に示すような上反り変形するＢＧＡ２が半田付けされる。
【００７０】
回路基板１Ｄには、実施の形態１の場合と同様に複数の円形のパッド６が形成される。相違する点は、パッド６の周辺部も覆うように、ソルダレジスト７Ａが設けられる点である。この実施の形態５では、パッド６は、ＳＭＤ(Solder Mask Defined)パッドである。パッド６を覆うソルダレジスト７Ａの表面の基板５からの距離は、パッド６および回路パターンが存在しない部分のソルダレジスト７Ａでの距離よりも大きくなる。
【００７１】
ＢＧＡ搭載範囲３０の中央部に存在する複数のパッド６には、それぞれ１個のパッド６を囲むようにソルダレジスト７Ａの上に、実施の形態１と同様に、シンボルプリント８が印刷される。周囲にシンボルプリントが印刷されたパッド６Ａの配置は、実施の形態１の場合の図１と同じである。
【００７２】
シンボルプリント８は、ソルダレジスト７Ａの縁に沿って決められた一定の幅および厚さで設けられる。ソルダレジスト７Ａをパッド６の周辺部の上にも設けているので、実施の形態１の場合の図１と比較して、シンボルプリント８がパッド６により近い位置に設けられる。
【００７３】
図２７は、実施の形態１に係る回路基板装置で使用する回路基板でクリーム半田を印刷するためにマスクを回路基板の上に置いた状態での断面図である。図２７(a)が、図２６(a)に示すＳ−Ｓ断面での断面図である。図２７(b)は、図２７(a)において楕円で示す範囲６１を拡大した断面図である。範囲６１は、１個のパッド６Ｃを含む範囲である。図２７(c)は、図２７(a)において楕円で示す範囲６２を拡大した断面図である。範囲６２は、１個のパッド６Ｂを含む範囲である。図２７(d)は、図２７(a)において楕円で示す範囲６３を拡大した断面図である。範囲６３は、１個のパッド６Ａを含む範囲である。
【００７４】
実施の形態１の場合の図３と同様に、パッド６Ａに設けられたシンボルプリント８の上面とマスク９が密着する。パッド６Ｃとマスク９が密着する。パッド６Ｂの付近では、マスク９がたわみ、パッド６Ａを囲むシンボルプリント８からパッド６Ｃとの間でマスク９が斜めになる。
【００７５】
シンボルプリント８で囲まれているパッド６Ａとマスク９との間隔ＴＨは、式(2)で計算できる。シンボルプリント８で囲まれていないパッド６Ｃとマスク９との間隔ＴＬは、式(1)で計算できる。シンボルプリント８があるので、ＴＨ＞ＴＬである。パッド６Ｂでは、マスク９との間隔ＴＭは、ＴＨとＴＬとの間で変化する。パッド６の周辺部をソルダレジスト７Ａが被覆するので、ソルダレジスト７のパッド６の上面よりも上側にある部分の厚さＤrがＮＳＭＤパッドの場合よりも厚くでき、クリーム半田を供給する量を多くできる。
【００７６】
図２８は、実施の形態５に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。実施の形態１の場合の図４と同様に、シンボルプリント８で囲まれているパッド６Ａには、間隔ＴＨの厚さでクリーム半田１０が印刷される。シンボルプリント８で囲まれていないパッド６Ｃには、間隔ＴＬの厚さでクリーム半田１０が印刷される。パッド６Ｂでは、クリーム半田１０の厚さＴＭが間隔ＴＨからＴＬの間で変化する。
【００７７】
図２９は、実施の形態５に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。ＢＧＡ２は、リフロー炉の中で加熱される際に、図２に示すように反る。ＢＧＡ２の周辺部ではパッド６Ａとの間隔が大きくなるが、パッド６Ａにクリーム半田１０を多く印刷するので、ＢＧＡ２とパッド６Ａに半田付けする際に、不良は発生しにくい。回路基板装置２０Ｄでは、ＢＧＡ２の裏面の複数の電極３がそれぞれ対応するパッド６に半田１１により良好に半田付けできている。
【００７８】
回路基板１Ｄは、半田付けされるＢＧＡ２の反りに合わせて、回路基板１ＤとＢＧＡ２との裏面との間隔が大きくなる領域では、パッド６に印刷するクリーム半田１０の量を多くできる。そのため、回路基板１ＤにＢＧＡ２を半田付けする際に、半田付け不良になる確率を小さくできる。また、シンボルプリントという、従来から回路基板に対して実施される処理を利用するので、回路基板を製造する上で新たな工程は不要である。
【００７９】
実施の形態６．
実施の形態６は、ＳＭＤパッドを有する回路基板１Ｅを使用するように、実施の形態２を変更した場合である。図３０は、この発明の実施の形態６に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。図３０(a)に平面図を示す。図３０(b)は、図３０(a)に示すＴ−Ｔ断面での断面図である。図３０(c)は、図３０(a)に示すＵ−Ｕ断面での断面図である。周囲にシンボルプリントが印刷されたパッド６Ａの配置は、実施の形態２の場合の図１０と同じである。
【００８０】
図３１は、実施の形態６に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。実施の形態２の場合の図１３と同様に、クリーム半田１０を印刷できる。
【００８１】
図３２は、実施の形態６に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。ＢＧＡ２Ａは、リフロー炉の中で加熱される際に、図１１に示すように反る。ＢＧＡ２Ａの周辺部ではパッド６Ａとの間隔が大きくなる。回路基板１Ｅでは、周辺部のパッド６Ａにクリーム半田１０を多く印刷できる。そのため、ＢＧＡ２Ａを回路基板１Ｄに半田付けする際に、不良は発生しにくい。回路基板装置２０Ｅでは、ＢＧＡ２Ａの裏面の複数の電極３がそれぞれ対応するパッド６に半田１１により良好に半田付けできている。
【００８２】
実施の形態７．
実施の形態７は、ＳＭＤパッドを有する回路基板１Ｆを使用するように、実施の形態３を変更した場合である。図３３は、この発明の実施の形態７に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。図３３(a)に平面図を示す。図３３(b)は、図３３(a)に示すＶ−Ｖ断面での断面図である。周囲にシンボルプリントが印刷されたパッド６Ａの配置は、実施の形態３の場合の図１６と同じである。
【００８３】
図３４は、実施の形態７に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。実施の形態３の場合の図１９と同様に、クリーム半田１０を印刷できる。
【００８４】
図３５は、実施の形態７に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。ＢＧＡ２Ｂは、リフロー炉の中で加熱される際に、図１７に示すように反る。ＢＧＡ２Ｂの図における左右方向の中央ではパッド６Ａとの間隔が大きくなる。回路基板１Ｆでは、左右方向の中央のパッド６Ａにクリーム半田１０を多く印刷できる。そのため、ＢＧＡ２Ｂを回路基板１Ｆに半田付けする際に、不良は発生しにくい。回路基板装置２０Ｆでは、ＢＧＡ２Ｂの裏面の複数の電極３がそれぞれ対応するパッド６に半田１１により良好に半田付けできている。
【００８５】
実施の形態８．
実施の形態８は、ＳＭＤパッドを有する回路基板１Ｇを使用するように、実施の形態４を変更した場合である。図３６は、この発明の実施の形態８に係る回路基板装置で使用する回路基板の平面図と断面図である。図３６(a)に平面図を示す。図３６(b)は、図３６(a)に示すＷ−Ｗ断面での断面図である。周囲にシンボルプリントが印刷されたパッド６Ａの配置は、実施の形態４の場合の図２１と同じである。
【００８６】
図３７は、実施の形態８に係る回路基板装置で使用する回路基板のクリーム半田を印刷した状態を示す断面図である。実施の形態４の場合の図２４と同様に、クリーム半田１０を印刷できる。
【００８７】
図３８は、実施の形態８に係る回路基板装置の半田付け後の断面図である。ＢＧＡ２Ｃは、リフロー炉の中で加熱される際に、図２２に示すように反る。ＢＧＡ２Ｃの図における左右方向の外側ではパッド６Ａとの間隔が大きくなる。回路基板１Ｆでは、パッド６Ａにクリーム半田１０を多く印刷できる。そのため、ＢＧＡ２Ｃを回路基板１Ｇに半田付けする際に、不良は発生しにくい。回路基板装置２０Ｇでは、ＢＧＡ２Ｃの裏面の複数の電極３がそれぞれ対応するパッド６に半田１１により良好に半田付けできている。
【００８８】
本発明はその発明の精神の範囲内において各実施の形態の自由な組み合わせ、あるいは各実施の形態の変形や省略が可能である。
【符号の説明】
【００８９】
１、１Ａ、１Ｂ、１Ｃ、１Ｄ、１Ｅ、１Ｆ、１Ｇ、１Ｘ  回路基板
２、２Ａ、２Ｂ、２Ｃ  ＢＧＡ（電子部品）
３  電極
４  半田ボール
５  基板
６、６Ａ、６Ｂ、６Ｃ  パッド
７、７Ａ  ソルダレジスト
８、８Ａ、８Ｂ、８Ｃ、８Ｄ  シンボルプリント
９  マスク
９Ａ  開口
１０  クリーム半田
１１、１２、１３  半田
２０、２０Ａ、２０Ｂ、２０Ｃ、２０Ｄ、２０Ｅ、２０Ｆ、２０Ｇ、２０Ｘ、２０Ｙ  回路基板装置
３０  ＢＧＡ搭載範囲
５１、５２、５３、５４、５５、５６、６１、６２、６３  範囲
【図１】
2018125346.tif 000003
【図２】
2018125346.tif 000004
【図３】
2018125346.tif 000005
【図４】
2018125346.tif 000006
【図５】
2018125346.tif 000007
【図６】
2018125346.tif 000008
【図７】
2018125346.tif 000009
【図８】
2018125346.tif 000010
【図９】
2018125346.tif 000011
【図１０】
2018125346.tif 000012
【図１１】
2018125346.tif 000013
【図１２】
2018125346.tif 000014
【図１３】
2018125346.tif 000015
【図１４】
2018125346.tif 000016
【図１５】
2018125346.tif 000017
【図１６】
2018125346.tif 000018
【図１７】
2018125346.tif 000019
【図１８】
2018125346.tif 000020
【図１９】
2018125346.tif 000021
【図２０】
2018125346.tif 000022
【図２１】
2018125346.tif 000023
【図２２】
2018125346.tif 000024
【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
2018125346.tif 000027
【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
2018125346.tif 000030
【図２９】
2018125346.tif 000031
【図３０】
2018125346.tif 000032
【図３１】
2018125346.tif 000033
【図３２】
2018125346.tif 000034
【図３３】
2018125346.tif 000035
【図３４】
2018125346.tif 000036
【図３５】
2018125346.tif 000037
【図３６】
2018125346.tif 000038
【図３７】
2018125346.tif 000039
【図３８】
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