(57)【要約】【課題】画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能な光検査装置及び光検査方法を提供する。【解決手段】Ｘ線検査装置１は、記憶部２１と設定部２３と画像処理部２５とを備える。記憶部２１は、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶する。設定部２３は、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定する。画像処理部２５は、記憶部２１に記憶された一の画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を良品透過画像に施して良品処理画像を生成する処理を、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムについて行う。設定部２３は、画像処理部２５で生成した複数の良品処理画像における濃淡に基づいて、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部２３ａを有する。【選択図】図１
2018048846.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、前記処理画像に基づいて前記物品の検査を行う光検査装置であって、
複数の前記画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、前記検査時の前記画像処理に用いる前記画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、
良品の前記物品に光を透過させることにより得られた良品透過画像に対して、前記記憶部に記憶された一の前記画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して良品処理画像を生成する処理を、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムについて行う画像処理部と、を備え、
前記設定部は、
前記画像処理部で生成した複数の前記良品処理画像における画素の明るさに関する情報に基づいて、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの中から、設定する前記画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を有する、光検査装置。
【請求項２】
前記選出部は、
複数の前記良品処理画像それぞれにおける物品検査領域内の画素値の合計又はバラツキに基づいて、複数の前記良品処理画像の中から１又は複数の良品処理画像を選出し、
選出した１又は複数の前記良品処理画像の生成に用いられた前記画像処理アルゴリズムを、前記画像処理アルゴリズム候補として選出する、請求項１に記載の光検査装置。
【請求項３】
前記選出部は、
複数の前記良品処理画像の中から、前記画素値の合計が大きい順又は小さい順で上位所定数の前記良品処理画像を選出し、
選出した上位所定数の前記良品処理画像の生成に用いられた前記画像処理アルゴリズムを、前記画像処理アルゴリズム候補として選出する、請求項２に記載の光検査装置。
【請求項４】
前記選出部は、複数の前記画像処理アルゴリズム候補の優先順位を、前記画像処理アルゴリズム候補に対応する前記良品処理画像における画素の明るさに関する情報に基づいて設定する、請求項１〜３の何れか一項に記載の光検査装置。
【請求項５】
物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、前記処理画像に基づいて前記物品の検査を行う光検査方法であって、
複数の前記画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップで記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、前記検査時の前記画像処理に用いる前記画像処理アルゴリズムに設定する設定ステップと、
良品の前記物品に光を透過させることにより得られた良品透過画像に対して、前記記憶ステップで記憶された一の前記画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して良品処理画像を生成する処理を、前記記憶ステップで記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムについて行う画像処理ステップと、を備え、
前記設定ステップは、
前記画像処理ステップで生成した複数の前記良品処理画像における画素の明るさに関する情報に基づいて、前記記憶ステップで記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの中から、設定する前記画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出ステップを有する、光検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光検査装置及び光検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、この処理画像に基づいて物品の検査を行う光検査装置が知られている。このような光検査装置では、複数の画像処理アルゴリズムが記憶部に予め記憶されており、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、検査時の画像処理に用いる最適な画像処理アルゴリズムが選択されて設定される。
【０００３】
この種の技術として、例えば特許文献１には、Ｘ線検査装置が記載されている。特許文献１に記載されたＸ線検査装置では、被検査物中から検出する異物の異物検出特性を選択し、選択した異物検出特性に近似する複数の画像処理アルゴリズムを、予め記憶された複数の画像処理アルゴリズムから抽出して表示部に表示する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特許第５６３５９０３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述したような光検査装置では、画像処理アルゴリズムの設定に時間又は手間がかかってしまう可能性が未だあり、画像処理アルゴリズムを容易に設定する上で改善の余地がある。
【０００６】
そこで、本発明は、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる光検査装置及び光検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る光検査装置は、物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、処理画像に基づいて物品の検査を行う光検査装置であって、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、良品の物品に光を透過させることにより得られた良品透過画像に対して、記憶部に記憶された一の画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して良品処理画像を生成する処理を、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムについて行う画像処理部と、を備え、設定部は、画像処理部で生成した複数の良品処理画像における画素の明るさに関する情報に基づいて、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、設定する画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を有する。
【０００８】
本発明に係る光検査方法は、物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、処理画像に基づいて物品の検査を行う光検査方法であって、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶ステップと、記憶ステップで記憶された複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定する設定ステップと、良品の物品に光を透過させることにより得られた良品透過画像に対して、記憶ステップで記憶された一の画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して良品処理画像を生成する処理を、記憶ステップで記憶された複数の画像処理アルゴリズムについて行う画像処理ステップと、を備え、設定ステップは、画像処理ステップで生成した複数の良品処理画像における画素の明るさに関する情報に基づいて、記憶ステップで記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、設定する画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出ステップを有する。
【０００９】
適切な画像処理アルゴリズムを用いた画像処理の必要条件の一つとして、処理画像に物品が写らないことが見出される。そして、物品が良品である場合には、処理画像の画素の明るさに関する情報に基づくことで、複雑な演算を要さずに当該処理画像に物品が映っていないかどうかを把握でき、ひいては、用いた画像処理アルゴリズムが有効かどうかを簡便に判断できることが見出される。そこで、本発明に係る光検査装置及び光検査方法では、複数の良品処理画像における画素の明るさに関する情報に基づいて、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する。これにより、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、有効である可能性が高い画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として簡便に選出できる。その結果、画像処理アルゴリズムの設定の際、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から選択するのではなく、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から選択することが可能となる。したがって、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる。
【００１０】
本発明に係る光検査装置では、選出部は、複数の良品処理画像それぞれにおける物品検査領域内の画素値の合計又はバラツキに基づいて、複数の良品処理画像の中から１又は複数の良品処理画像を選出し、選出した１又は複数の良品処理画像の生成に用いられた画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出してもよい。この場合、良品処理画像の画素値の合計又はバラツキを利用して、画像処理アルゴリズム候補を選出できる。
【００１１】
本発明に係る光検査装置では、選出部は、複数の良品処理画像の中から、画素値の合計が大きい順又は小さい順で上位所定数の良品処理画像を選出し、選出した上位所定数の良品処理画像の生成に用いられた画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出してもよい。物品が良品である場合には、適切な画像処理であると、処理画像における物品検査領域内が真っ白又は真っ黒に近くなる場合があることが見出される。そこで、画素値の合計が大きい順又は小さい順で上位所定数の良品処理画像を選出し、これらに対応した画像処理アルゴリズムを選出することで、有効である可能性が一層高い画像処理アルゴリズムを画像処理アルゴリズム候補として選出できる。
【００１２】
本発明に係る光検査装置では、選出部は、複数の画像処理アルゴリズム候補の優先順位を、画像処理アルゴリズム候補に対応する良品処理画像における画素の明るさに関する情報に基づいて設定してもよい。複数の画像処理アルゴリズム候補を順序付けすることで、画像処理アルゴリズムの設定の際、複数の画像処理アルゴリズム候補の中から画像処理アルゴリズムを容易に選択することが可能となる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる光検査装置及び光検査方法を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】一実施形態に係るＸ線検査装置の外観を示す斜視図である。
【図２】図１のＸ線検査装置のシールドボックス内の構成を示す斜視図である。
【図３】図１のＸ線検査装置の機能ブロック図である。
【図４】図１のＸ線検査装置において画像処理アルゴリズムを設定する場合の一例を示すフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００１６】
図１及び図２に示されるＸ線検査装置（光検査装置）１は、食品等の物品Ｇの生産ラインに設置されている。Ｘ線検査装置１は、物品ＧにＸ線（光）を透過させることで得られたＸ線透過画像（透過画像）に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成する。Ｘ線検査装置１は、生成した処理画像に基づいて、物品Ｇに含まれる異物の有無を検査する。
【００１７】
物品Ｇ及び異物としては、特に限定されず、様々な物品及び異物を検査対象とすることができる。例えば物品Ｇは、フィルム包装材等のパッケージ内に食品等の内容物が収容された製品であってもよい。例えば物品Ｇはブロック肉であってもよく、検出すべき異物はＳＵＳ（ステンレス鋼）線であってもよい。Ｘ線検査装置１は、シールドボックス３と、コンベア５と、Ｘ線照射器７と、Ｘ線ラインセンサ９と、モニタ１１と、を備えている。
【００１８】
シールドボックス３は、コンベア５、Ｘ線照射器７及びＸ線ラインセンサ９を収容している。シールドボックス３の両側面には、一対の開口部３ａが設けられている。各開口部３ａは、例えば鉛を含むゴムからなる遮蔽カーテン（図示省略）によって塞がれている。これにより、各開口部３ａを介してシールドボックス３外にＸ線が漏洩することが抑制されている。
【００１９】
コンベア５は、一対の開口部３ａ間に掛け渡されるように、シールドボックス３内に配置されている。コンベア５は、コンベアモータ（図示省略）によって無端状のベルト５ａを回転させることで、ベルト５ａ上に載置された物品Ｇを搬送する。これにより、物品Ｇは、一方の開口部３ａを介してシールドボックス３内に搬入され、他方の開口部３ａを介してシールドボックス３外に搬出される。
【００２０】
Ｘ線照射器７は、ベルト５ａの上方に位置するように、シールドボックス３内に配置されている。Ｘ線照射器７は、ベルト５ａの幅方向に沿ってベルト５ａを横切るようにＸ線を照射する。これにより、Ｘ線照射器７は、コンベア５によって搬送される物品ＧにＸ線を照射する。Ｘ線照射器７は、物品Ｇに光を照射する光照射部を構成する。
【００２１】
Ｘ線ラインセンサ９は、ベルト５ａの下方に位置するように、シールドボックス３内に配置されている。Ｘ線ラインセンサ９は、ベルト５ａの幅方向に沿って一列に配置された複数の画素センサ９ａを有している。これにより、Ｘ線ラインセンサ９は、コンベア５によって搬送される物品Ｇを透過したＸ線を検出する。Ｘ線ラインセンサ９は、物品Ｇを透過した光を検出する光検出部を構成する。
【００２２】
モニタ１１は、処理画像等の各種情報を表示する表示部である。モニタ１１は、例えば液晶ディスプレイである。モニタ１１は、タッチパネル機能を有している。モニタ１１は、オペレータによる各種条件の入力等を受け付けるマンマシンインタフェースとして機能する。
【００２３】
図３に示されるように、Ｘ線検査装置１は、制御部２０を更に備えている。制御部２０は、例えばコンピュータである。制御部２０は、プロセッサであるＣＰＵ（Central Processing Unit）、記録媒体であるＲＡＭ（RandomAccess Memory）、及びＲＯＭ（Read Only Memory）等を含んで構成される。制御部２０は、ＣＰＵ及びＲＡＭ等のハードウェア上にプログラム等を読み込ませることにより動作する。制御部２０は、記憶部２１、設定部２３、及び画像処理部２５を有している。記憶部２１、設定部２３及び画像処理部２５は、制御部２０において機能ブロックとして構成される。
【００２４】
記憶部２１は、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶する。例えば記憶部２１は、２００以上の画像処理アルゴリズムを予め記憶する。画像処理アルゴリズムとは、Ｘ線透過画像に施す画像処理の処理手順を示す型である。画像処理アルゴリズムは、例えば、１つの画像処理フィルタ、又は、複数の画像処理フィルタの組み合わせによって構成される。
【００２５】
記憶部２１に予め記憶する複数の画像処理アルゴリズムは、インターネット等のネットワークを介して外部から取得することができる。記憶部２１に予め記憶する複数の画像処理アルゴリズムは、ＵＳＢメモリ又はリムーバブルハードディスク等の外部記憶媒体から取得することができる。記憶部２１に予め記憶する複数の画像処理アルゴリズムは、生物界における遺伝及び進化のメカニズムを応用した手法である遺伝的アルゴリズム（GA=Genetic Algorithms）を採用して、Ｘ線検査装置１の仕様又は検査条件等に基づき複数の画像処理フィルタから自動生成することができる。なお、記憶部２１に予め記憶する複数の画像処理アルゴリズムは、遺伝的アルゴリズムを採用して生成されたアルゴリズム以外に、複数の画像処理フィルタを人手で適宜組み合わせたアルゴリズム等でもよい。
【００２６】
設定部２３は、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、物品検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定（予約）する。設定部２３は、複数種（例えば２００〜３００種）の物品Ｇそれぞれについて、複数の画像処理アルゴリズムを複数の感度レベルに分けて設定する。例えば設定部２３は、物品Ｇが「ハム」の場合の検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムを、感度レベル１〜７毎に設定することができる。
【００２７】
本実施形態の設定部２３は、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部２３ａを有する。画像処理アルゴリズム候補とは、設定部２３で設定する画像処理アルゴリズムの候補であって、物品検査に有効である可能性が高いと判断された画像処理アルゴリズムである。画像処理アルゴリズム候補の数は、記憶部２１に記憶された画像処理アルゴリズムの数が絞り込まれて、例えば５〜１０程度とされる。選出部２３ａの詳細な処理については、後述する。
【００２８】
設定部２３は、選出部２３ａで選出された複数の画像処理アルゴリズム候補のうち、オペレータによって選択された画像処理アルゴリズム候補を、物品検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定する。オペレータによる画像処理アルゴリズム候補の選択は、インタフェースとして機能するモニタ１１を介して行うことができる。
【００２９】
画像処理部２５は、Ｘ線ラインセンサ９から出力された信号に基づいて、物品ＧのＸ線透過画像を生成する。画像処理部２５は、物品Ｇの検査時において、設定部２３で設定した画像処理アルゴリズムを用いた画像処理をＸ線透過画像に施して、多階調で表現された濃淡画像である処理画像を生成する。画像処理部２５は、生成した当該処理画像をモニタ１１に表示させる。処理画像は、画像の濃淡を２５６階調で表した濃淡画像である。処理画像では、各画素の明るさに関する情報である濃淡が画素値（濃淡値）で表される。画素値は、０〜２５５の値を有している。画素値が０に近づくほど画素の濃淡は黒に近づく一方、画素値が２５５に近づくほど画素の濃淡は白に近づく。ここでは、異物が白く写り（つまり、異物に対応する領域の画素値が２５５に近く）、且つ、異物以外が黒く写る（つまり、異物以外の領域の画素値が０に近い）状態が、適切な処理画像とされる。
【００３０】
また、画像処理部２５は、良品の物品ＧのＸ線透過画像である良品透過画像を生成する。画像処理部２５は、良品透過画像に対して、記憶部２１に記憶された一の画像処理アルゴリズム（任意の何れか一つの画像処理アルゴリズム）を用いた画像処理を施して良品処理画像を生成する画像処理を、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムについて繰り返し実行する。つまり、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムそれぞれ毎に良品画像処理を実行し、複数の良品処理画像を取得する。
【００３１】
良品の物品Ｇとは、異物が含まれていない物品Ｇである。良品透過画像は、良品の物品ＧにＸ線を透過させることにより得られたＸ線透過画像である。良品透過画像は、良品の物品ＧにＸ線照射器７からＸ線を照射し、良品の物品Ｇを透過したＸ線をＸ線ラインセンサ９で検出した場合において、当該Ｘ線ラインセンサ９から出力された信号に基づき生成される。良品処理画像は、良品透過画像に画像処理が施されて成る処理画像である。
【００３２】
さらにまた、画像処理部２５は、設定部２３による画像処理アルゴリズムの設定時において、複数の画像処理アルゴリズム候補のうちの一つを用いた画像処理をＸ線透過画像に施して処理画像を生成する処理を、複数の画像処理アルゴリズム候補全てについて行う。画像処理部２５は、生成した複数の当該処理画像の少なくとも何れかを、オペレータによる選択操作に応じてモニタ１１に表示させる。
【００３３】
ここで、設定部２３は、前述したように、選出部２３ａを有している。選出部２３ａは、画像処理部２５で生成した複数の良品処理画像における濃淡に基づいて、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する。
【００３４】
選出部２３ａは、複数の良品処理画像それぞれにおける物品検査領域内の画素値の合計に基づいて、複数の良品処理画像の中から１又は複数の良品処理画像を選出し、選出した１又は複数の良品処理画像の生成に用いられた画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出する。具体的には、選出部２３ａは、複数の良品処理画像の中から、物品検査領域内の画素値（以下、単に「画素値」ともいう）の合計が小さい順で上位所定数の良品処理画像を選出し、選出した上位所定数の良品処理画像の生成に用いられた画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出する。
【００３５】
物品検査領域は、良品処理画像内において物品Ｇが存在するとされた領域である。物品検査領域は、予め設定することができる。選出部２３ａは、良品処理画像に対して物品検査領域外（背景領域）のマスク領域をマスクする処理を施し、物品検査領域内の画素値の合計を算出してもよい。所定数は、予め又はオペレータの操作により定められた数であり、５〜１０程度である。
【００３６】
選出部２３ａは、画素値の合計が小さい順で上位所定数の良品処理画像の生成に用いられた画像処理アルゴリズムを画像処理アルゴリズム候補として選出する場合、画素値の合計が小さいほど優先度が高くなるような優先順位を当該画像アルゴリズム候補に設定する。例えば選出部２３ａは、画素値の合計が最小の良品処理画像の生成に用いられた画像処理アルゴリズムを、優先順位が最上位の画像処理アルゴリズム候補として選出する。
【００３７】
以上に説明したＸ線検査装置１を用いて物品Ｇを検査する場合、まず、Ｘ線照射器７から物品Ｇに対してＸ線を照射し、物品Ｇを透過したＸ線をＸ線ラインセンサ９で検出する。Ｘ線ラインセンサ９から出力された信号に基づいて、画像処理部２５によりＸ線透過画像を生成する。画像処理部２５により、設定部２３で設定した画像処理アルゴリズムを用いた画像処理をＸ線透過画像に施して処理画像を生成し、当該処理画像をモニタ１１に表示させる。これにより、オペレータは、モニタ１１に表示させた処理画像をチェックすることで、物品Ｇに含まれる異物の有無を検査する。
【００３８】
次に、Ｘ線検査装置１で実施される検査方法（光検査方法）において、検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムを設定する場合の一例を説明する。
【００３９】
図４に示されるように、Ｘ線検査装置１の記憶部２１に、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶させる（ステップＳ１：記憶ステップ）。なお、上記ステップＳ１は、画像処理アルゴリズムの設定に先立って実施してもよいし、設定の都度に実施してもよい。続いて、良品の物品Ｇを用意し、良品の物品Ｇに対してＸ線を照射する（ステップＳ２）。良品の物品Ｇを透過したＸ線をＸ線ラインセンサ９で検出する。Ｘ線ラインセンサ９の検出結果に基づいて、画像処理部２５により良品透過画像を生成する（ステップＳ３）。
【００４０】
画像処理部２５により、良品透過画像に対して、記憶部２１に記憶されたｉ番目の画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して、良品処理画像を生成する（ステップＳ４）。なお、ｉは、１以上でＮ（記憶部２１に記憶された画像処理アルゴリズムの総数）以下の整数である。ｉの初期値は１に設定されている。
【００４１】
選出部２３ａにより、良品処理画像における画素値の合計を算出し、記憶部２１に記憶する（ステップＳ５）。上記ステップＳ５において、画素値の合計は、例えば次の演算により算出できる。すなわち、良品処理画像の全域（幅Ｗ，高さＨ）のうちの予め設定されたマスク領域以外において、各画素（ｘ，ｙ）の画素値ｃ（ｘ，ｙ）を足し合わせることで、画素値の合計Ｃを算出できる。
【００４２】
上記ステップＳ４及び上記ステップＳ５の処理について、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズム全てを用いて実施した（ｉ＝Ｎ）か否かを判定する（ステップＳ６）。上記ステップＳ６でＮＯの場合、ｉをカウントアップすると共に、上記ステップＳ４の処理に戻る。なお、上記ステップＳ４及び上記ステップＳ６の処理が、画像処理ステップを構成する。
【００４３】
上記ステップＳ６でＹＥＳの場合、選出部２３ａにより、算出した画素値の合計が小さい順で上位所定数（ここでは、小さい順に５つ）の良品処理画像を選出する（ステップＳ７）。上記ステップＳ７では、バブルソートを用いたソートアルゴリズムにより上位所定数の良品処理画像を選出することができる。続いて、選出部２３ａにより、上位所定数の良品処理画像の生成に用いられた画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出する（ステップＳ８：選出ステップ）。このとき、複数の画像処理アルゴリズム候補には、対応する良品処理画像の画素値の合計が小さいほど上位となる優先順位を設定する。
【００４４】
選出された複数の画像処理アルゴリズム候補は、その識別子（番号又は名称等）が優先順位の順序で並べられてモニタ１１に表示される。オペレータは、表示された複数の識別子のうちの何れかを、モニタ１１を介して適宜選択する。その結果、オペレータによって選択された識別子に対応する画像処理アルゴリズム候補が、物品Ｇの検査に用いる画像処理アルゴリズムに設定されることとなる（ステップＳ９：設定ステップ）。
【００４５】
ところで、適切な画像処理アルゴリズムを用いた画像処理の必要条件として、処理画像に物品Ｇが写らないこと、及び、処理画像に異物が明確に写ることが挙げられる。異物が明確に処理画像に写ることを判定するには、複雑な演算が必要となり、多くの時間が必要になってしまう。一方、物品Ｇが良品であると、処理画像の濃淡に基づくことで、複雑な演算を要さずに当該処理画像に物品Ｇが映っていないかどうかを把握でき、ひいては、用いた画像処理アルゴリズムが有効かどうかを簡便に判断できることが見出される。
【００４６】
そこで、本実施形態に係るＸ線検査装置１及びＸ線検査方法では、複数の良品処理画像における濃淡に基づいて、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する。これにより、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、有効である可能性が高い画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として簡便に選出できる。その結果、画像処理アルゴリズムの設定の際、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から選択するのではなく、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から選択することが可能となる。
【００４７】
したがって、画像処理アルゴリズムの設定にかかる手間及び時間を低減でき、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる。簡便に短い時間で適切な画像処理アルゴリズムを選択することが可能となる。オペレータの勘に頼った画像処理アルゴリズムの抽出ないし選出を減らすことができるため、異物検出感度のバラツキの抑制、及び、異物検出感度の向上も可能となる。
【００４８】
Ｘ線検査装置１では、選出部２３ａは、複数の良品処理画像それぞれにおける物品検査領域内の画素値の合計に基づいて、複数の良品処理画像の中から１又は複数の良品処理画像を選出し、選出した１又は複数の良品処理画像の生成に用いられた画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出する。この場合、良品処理画像の画素値の合計を利用して、画像処理アルゴリズム候補を選出できる。
【００４９】
Ｘ線検査装置１では、選出部２３ａは、複数の良品処理画像の中から、画素値の合計が小さい順で上位所定数の良品処理画像を選出し、選出した上位所定数の良品処理画像の生成に用いられた画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出してもよい。物品Ｇが良品である場合には、適切な画像処理であると、処理画像における物品検査領域内が真っ黒（画素値が０）に近くなる場合があることが見出される。そこで、画素値の合計が小さい順で上位所定数の良品処理画像を選出し、これらに対応した画像処理アルゴリズムを選出することで、有効である可能性が一層高い画像処理アルゴリズムを画像処理アルゴリズム候補として選出することが可能となる。
【００５０】
Ｘ線検査装置１では、選出部２３ａは、複数の画像処理アルゴリズム候補の優先順位を、画像処理アルゴリズム候補に対応する良品処理画像における濃淡に基づいて設定する。複数の画像処理アルゴリズム候補を順序付けすることで、画像処理アルゴリズムの設定の際、複数の画像処理アルゴリズム候補の中から画像処理アルゴリズムを容易に選択することが可能となる。
【００５１】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。
【００５２】
上記実施形態において、記憶部２１、設定部２３、選出部２３ａ及び画像処理部２５は、機能ブロックとして構成されるものに限定されず、ハード構成として構成されていてもよい。記憶部２１、設定部２３、選出部２３ａ及び画像処理部２５の少なくとも何れかは、外部の情報処理センター等の施設のコンピュータが有していてもよい。
【００５３】
上記実施形態では、選出部２３ａで選出された複数の画像処理アルゴリズム候補の少なくとも１つが、オペレータによってモニタ１１を介して選択されて、物品検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定されたが、これに限定されない。複数の画像処理アルゴリズム候補の少なくとも１つが、公知の演算処理によって自動的に選択されて、物品検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定されてもよい。この場合、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から自動的に選択されることになるため、画像処理アルゴリズムの設定にかかる演算処理時間を低減できる。
【００５４】
上記実施形態では、異物が黒く写り（つまり、異物に対応する領域の画素値が０に近く）、且つ、異物以外が白く写る（つまり、異物以外の領域の画素値が２５５に近い）状態を、適切な処理画像としてもよい。この場合、物品Ｇが良品であると、適切な画像処理が施された処理画像は真っ白に近くなることが見出される。よってこの場合、選出部２３ａは、画素値の合計が大きい順で上位所定数の良品処理画像を選出してもよい。
【００５５】
上記実施形態では、選出部２３ａは、良品処理画像の画素値の合計に基づくことに代えてもしくは加えて、良品処理画像の画素値のバラツキに基づいて、複数の良品処理画像の中から１又は複数の良品処理画像を選出してもよい。これは、物品Ｇが良品の場合、適切な画像処理が施された処理画像の画素値は、所定のバラツキを有する場合があることが見出されるためである。ここでの「バラツキ」は、例えば均一性、不均一性、又は分布パターン等と同義である。
【００５６】
上記実施形態では、本発明をＸ線検査装置１に適用したが、本発明は、光を利用して物品の検査を行う光検査装置であればよい。本発明において、光とは、Ｘ線、近赤外線、その他の電磁波であってもよい。ただし、光としてＸ線を利用する場合には、物品Ｇが包装されている場合であっても、包材や、包材に施された印刷に影響されることなく、物品Ｇを検査することができる。
【符号の説明】
【００５７】
１…Ｘ線検査装置（光検査装置）、２１…記憶部、２３…設定部、２３ａ…選出部、Ｇ…物品。
【図１】
2018048846.tif 000003
【図２】
2018048846.tif 000004
【図３】
2018048846.tif 000005
【図４】
2018048846.tif 000006