(57)【要約】【課題】画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる光検査装置及び光検査システムを提供する。【解決手段】Ｘ線検査装置１は、物品ＧのＸ線透過画像に対して画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、処理画像に基づいて物品Ｇの検査を行う。Ｘ線検査装置１は、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部２１と、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定する設定部２３と、設定部２３で設定された画像処理アルゴリズムを集計する集計部２７と、を備える。設定部２３は、選出部２３ａを有する。選出部２３ａは、集計部２７の集計結果に基づいて、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、設定する画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、前記処理画像に基づいて前記物品の検査を行う光検査装置であって、
複数の前記画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、前記検査時の前記画像処理に用いる前記画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、
前記設定部で設定された前記画像処理アルゴリズムを集計する集計部と、を備え、
前記設定部は、
前記集計部の集計結果に基づいて、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの中から、設定する前記画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を有する、光検査装置。
【請求項２】
前記集計部は、前記設定部で設定された頻度が多い順で上位所定数の前記画像処理アルゴリズムを求め、
前記選出部は、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの中から、前記集計部で求められた上位所定数の前記画像処理アルゴリズムを、複数の前記画像処理アルゴリズム候補として選出する、請求項１に記載の光検査装置。
【請求項３】
前記集計部は、前記物品の属性毎に、前記設定部で設定された前記画像処理アルゴリズムを集計し、
前記選出部は、前記設定部において特定物品の検査に用いる前記画像処理アルゴリズムを設定する場合、前記特定物品の属性に対応する属性の前記集計結果に基づいて、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの中から複数の前記画像処理アルゴリズム候補を選出する、請求項１又は２に記載の光検査装置。
【請求項４】
前記集計部は、前記光検査装置とは別の１又は複数の光検査装置における設定部で設定された前記画像処理アルゴリズムを、ネットワークを介して集計する、請求項１〜３の何れか一項に記載の光検査装置。
【請求項５】
前記選出部は、複数の前記画像処理アルゴリズム候補の優先順位を前記集計結果に基づいて設定する、請求項１〜４の何れか一項に記載の光検査装置。
【請求項６】
物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、前記処理画像に基づいて前記物品の検査を行う光検査装置であって、
複数の前記画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、前記検査時の前記画像処理に用いる前記画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、
前記光検査装置とは別の１又は複数の光検査装置における設定部で設定された前記画像処理アルゴリズムを、ネットワークを介して集計する集計部と、を備え、
前記設定部は、
前記集計部の集計結果に基づいて、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの中から、設定する前記画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を有する、光検査装置。
【請求項７】
物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、前記処理画像に基づいて前記物品の検査を行う１又は複数の光検査装置と、
前記光検査装置との間で、ネットワークを介して通信可能な集計装置と、を備え、
前記光検査装置は、
複数の前記画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、
前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、前記検査時の前記画像処理に用いる前記画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、を有し、
前記集計装置は、
前記光検査装置の前記設定部で設定された前記画像処理アルゴリズムを、ネットワークを介して集計する集計部と、
前記集計部の集計結果を、ネットワークを介して前記光検査装置へ送信する送信部と、を有し、
前記設定部は、
送信された前記集計結果に基づいて、前記記憶部に記憶された複数の前記画像処理アルゴリズムの中から、設定する前記画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を含む、光検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光検査装置及び光検査システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、この処理画像に基づいて物品の検査を行う光検査装置が知られている。このような光検査装置では、複数の画像処理アルゴリズムが記憶部に予め記憶されており、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、検査時の画像処理に用いる最適な画像処理アルゴリズムが選択されて設定される。
【０００３】
この種の技術として、例えば特許文献１には、Ｘ線検査装置が記載されている。特許文献１に記載されたＸ線検査装置では、被検査物中から検出する異物の異物検出特性を選択し、選択した異物検出特性に近似する複数の画像処理アルゴリズムを、予め記憶された複数の画像処理アルゴリズムから抽出して表示部に表示する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特許第５６３５９０３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述したような光検査装置では、画像処理アルゴリズムの設定に時間又は手間がかかってしまう可能性が未だあり、画像処理アルゴリズムを容易に設定する上で改善の余地がある。
【０００６】
そこで、本発明は、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる光検査装置及び光検査システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る光検査装置は、物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、処理画像に基づいて物品の検査を行う光検査装置であって、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、設定部で設定された画像処理アルゴリズムを集計する集計部と、を備え、設定部は、集計部の集計結果に基づいて、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、設定する画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を有する。
【０００８】
この光検査装置では、集計部の集計結果を利用して、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、有効である可能性が高い画像処理アルゴリズムを画像処理アルゴリズム候補として選出できる。その結果、画像処理アルゴリズムの設定の際、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から選択するのではなく、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から選択することが可能となる。画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる。
【０００９】
本発明に係る光検査装置では、集計部は、設定部で設定された頻度が多い順で上位所定数の画像処理アルゴリズムを求め、選出部は、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、集計部で求められた上位所定数の画像処理アルゴリズムを、複数の画像処理アルゴリズム候補として選出してもよい。この場合、有効である可能性が一層高い画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出できる。
【００１０】
本発明に係る光検査装置では、集計部は、物品の属性毎に、設定部で設定された画像処理アルゴリズムを集計し、選出部は、設定部において特定物品の検査に用いる画像処理アルゴリズムを設定する場合、特定物品の属性に対応する属性の集計結果に基づいて、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から複数の画像処理アルゴリズム候補を選出してもよい。この場合、有効である可能性が一層高い画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出できる。
【００１１】
本発明に係る光検査装置では、集計部は、光検査装置とは別の１又は複数の光検査装置における設定部で設定された画像処理アルゴリズムを、ネットワークを介して集計してもよい。これにより、集計部は、ネットワークを利用して、別の１又は複数の光検査装置における設定部で設定された画像処理アルゴリズムを更に集計できる。
【００１２】
本発明に係る光検査装置では、選出部は、複数の画像処理アルゴリズム候補の優先順位を集計結果に基づいて設定してもよい。複数の画像処理アルゴリズム候補を順序付けすることで、画像処理アルゴリズムの設定の際、複数の画像処理アルゴリズム候補の中から画像処理アルゴリズムを容易に選択することが可能となる。
【００１３】
本発明に係る光検査装置は、物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、処理画像に基づいて物品の検査を行う光検査装置であって、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、光検査装置とは別の１又は複数の光検査装置における設定部で設定された画像処理アルゴリズムを、ネットワークを介して集計する集計部と、を備え、設定部は、集計部の集計結果に基づいて、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、設定する画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を有する。
【００１４】
この光検査装置においても、画像処理アルゴリズムの設定に際し、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から選択するのではなく、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から選択することが可能となる。したがって、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる。また、集計部は、ネットワークを利用して、別の１又は複数の光検査装置における設定部で設定された画像処理アルゴリズムを集計することができる。
【００１５】
本発明に係る光検査システムは、物品に光を透過させることで得られた透過画像に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成し、処理画像に基づいて物品の検査を行う１又は複数の光検査装置と、光検査装置との間で、ネットワークを介して通信可能な集計装置と、を備え、光検査装置は、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶する記憶部と、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定する設定部と、を有し、集計装置は、光検査装置の設定部で設定された画像処理アルゴリズムを、ネットワークを介して集計する集計部と、集計部の集計結果を、ネットワークを介して光検査装置へ送信する送信部と、を有し、設定部は、送信された集計結果に基づいて、記憶部に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、設定する画像処理アルゴリズムの候補である複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部を含む。
【００１６】
この光検査システムにおいても、光検査装置における画像処理アルゴリズムの設定に際し、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から選択するのではなく、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から選択することが可能となる。したがって、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる。また、集計装置は、ネットワークを利用して、光検査装置における設定部で設定された画像処理アルゴリズムを集計すると共に、当該集計結果を光検査装置へ送信することができる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる光検査装置及び光検査システムを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】第１実施形態に係るＸ線検査装置の外観を示す斜視図である。
【図２】図１のＸ線検査装置のシールドボックス内の構成を示す斜視図である。
【図３】図１のＸ線検査装置の機能ブロック図である。
【図４】第２実施形態に係るＸ線検査装置の機能ブロック図である。
【図５】第３実施形態に係るＸ線検査システムの機能ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
【００２０】
［第１実施形態］
図１及び図２に示されるＸ線検査装置（光検査装置）１は、食品等の物品Ｇの生産ラインに設置されている。Ｘ線検査装置１は、物品ＧにＸ線（光）を透過させることで得られたＸ線透過画像（透過画像）に対して、画像処理アルゴリズムを用いた画像処理を施して処理画像を生成する。Ｘ線検査装置１は、生成した処理画像に基づいて、物品Ｇに含まれる異物の有無を検査する。
【００２１】
物品Ｇ及び異物としては、特に限定されず、様々な物品及び異物を検査対象とすることができる。例えば物品Ｇは、フィルム包装材等のパッケージ内に食品等の内容物が収容された製品であってもよい。例えば物品Ｇはブロック肉であってもよく、検出すべき異物はＳＵＳ（ステンレス鋼）線であってもよい。Ｘ線検査装置１は、シールドボックス３と、コンベア５と、Ｘ線照射器７と、Ｘ線ラインセンサ９と、モニタ１１と、を備えている。
【００２２】
シールドボックス３は、コンベア５、Ｘ線照射器７及びＸ線ラインセンサ９を収容している。シールドボックス３の両側面には、一対の開口部３ａが設けられている。各開口部３ａは、例えば鉛を含むゴムからなる遮蔽カーテン（図示省略）によって塞がれている。これにより、各開口部３ａを介してシールドボックス３外にＸ線が漏洩することが抑制されている。
【００２３】
コンベア５は、一対の開口部３ａ間に掛け渡されるように、シールドボックス３内に配置されている。コンベア５は、コンベアモータ（図示省略）によって無端状のベルト５ａを回転させることで、ベルト５ａ上に載置された物品Ｇを搬送する。これにより、物品Ｇは、一方の開口部３ａを介してシールドボックス３内に搬入され、他方の開口部３ａを介してシールドボックス３外に搬出される。
【００２４】
Ｘ線照射器７は、ベルト５ａの上方に位置するように、シールドボックス３内に配置されている。Ｘ線照射器７は、ベルト５ａの幅方向に沿ってベルト５ａを横切るようにＸ線を照射する。これにより、Ｘ線照射器７は、コンベア５によって搬送される物品ＧにＸ線を照射する。Ｘ線照射器７は、物品Ｇに光を照射する光照射部を構成する。
【００２５】
Ｘ線ラインセンサ９は、ベルト５ａの下方に位置するように、シールドボックス３内に配置されている。Ｘ線ラインセンサ９は、ベルト５ａの幅方向に沿って一列に配置された複数の画素センサ９ａを有している。これにより、Ｘ線ラインセンサ９は、コンベア５によって搬送される物品Ｇを透過したＸ線を検出する。Ｘ線ラインセンサ９は、物品Ｇを透過した光を検出する光検出部を構成する。
【００２６】
モニタ１１は、処理画像等の各種情報を表示する表示部である。モニタ１１は、例えば液晶ディスプレイである。モニタ１１は、タッチパネル機能を有している。モニタ１１は、オペレータによる各種条件の入力等を受け付けるマンマシンインタフェースとして機能する。
【００２７】
図３に示されるように、Ｘ線検査装置１は、制御部２０を更に備えている。制御部２０は、例えばコンピュータである。制御部２０は、プロセッサであるＣＰＵ（Central Processing Unit）、記録媒体であるＲＡＭ（RandomAccess Memory）、及びＲＯＭ（Read Only Memory）等を含んで構成される。制御部２０は、ＣＰＵ及びＲＡＭ等のハードウェア上にプログラム等を読み込ませることにより動作する。制御部２０は、記憶部２１、設定部２３、画像処理部２５及び集計部２７を有している。記憶部２１、設定部２３、画像処理部２５及び集計部２７は、制御部２０において機能ブロックとして構成される。
【００２８】
記憶部２１は、複数の画像処理アルゴリズムを予め記憶する。例えば記憶部２１は、２００以上の画像処理アルゴリズムを予め記憶する。画像処理アルゴリズムとは、Ｘ線透過画像に施す画像処理の処理手順を示す型である。画像処理アルゴリズムは、例えば、１つの画像処理フィルタ、又は、複数の画像処理フィルタの組み合わせによって構成される。
【００２９】
記憶部２１に予め記憶する複数の画像処理アルゴリズムは、インターネット等のネットワークを介して外部から取得することができる。記憶部２１に予め記憶する複数の画像処理アルゴリズムは、ＵＳＢメモリ又はリムーバブルハードディスク等の外部記憶媒体から取得することができる。記憶部２１に予め記憶する複数の画像処理アルゴリズムは、生物界における遺伝及び進化のメカニズムを応用した手法である遺伝的アルゴリズム（GA=Genetic Algorithms）を採用して、Ｘ線検査装置１の仕様又は検査条件等に基づき複数の画像処理フィルタから自動生成することができる。なお、記憶部２１に予め記憶する複数の画像処理アルゴリズムは、遺伝的アルゴリズムを採用して生成されたアルゴリズム以外に、複数の画像処理フィルタを人手で適宜組み合わせたアルゴリズム等でもよい。
【００３０】
設定部２３は、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの少なくとも１つを、物品検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定（予約）する。設定部２３は、複数種（例えば２００〜３００種）の物品Ｇそれぞれについて、複数の画像処理アルゴリズムを複数の感度レベルに分けて設定する。例えば設定部２３は、物品Ｇが「ハム」の場合の検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムを、感度レベル１〜７毎に設定することができる。
【００３１】
本実施形態の設定部２３は、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する選出部２３ａを有する。画像処理アルゴリズム候補とは、設定部２３で設定する画像処理アルゴリズムの候補であって、物品検査に有効である可能性が高いと判断された画像処理アルゴリズムである。画像処理アルゴリズム候補の数は、記憶部２１に記憶された画像処理アルゴリズムの数が絞り込まれて、例えば５〜１０程度とされる。選出部２３ａの詳細な処理については、後述する。
【００３２】
設定部２３は、選出部２３ａで選出された複数の画像処理アルゴリズム候補のうち、オペレータによって選択された画像処理アルゴリズム候補を、物品検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定する。オペレータによる画像処理アルゴリズム候補の選択は、インタフェースとして機能するモニタ１１を介して行うことができる。
【００３３】
画像処理部２５は、Ｘ線ラインセンサ９から出力された信号に基づいて、物品ＧのＸ線透過画像を生成する。画像処理部２５は、物品Ｇの検査時において、設定部２３で設定した画像処理アルゴリズムを用いた画像処理をＸ線透過画像に施して、多階調で表現された濃淡画像である処理画像を生成する。画像処理部２５は、生成した当該処理画像をモニタ１１に表示させる。
【００３４】
また、画像処理部２５は、設定部２３による画像処理アルゴリズムの設定時において、複数の画像処理アルゴリズム候補のうちの一つを用いた画像処理をＸ線透過画像に施して処理画像を生成する処理を、複数の画像処理アルゴリズム候補全てについて行う。画像処理部２５は、生成した複数の当該処理画像の少なくとも何れかを、オペレータによる選択操作に応じてモニタ１１に表示させる。
【００３５】
集計部２７は、設定部２３で設定された画像処理アルゴリズムを集計する。集計部２７は、設定部２３において現在設定されている複数の画像処理アルゴリズムを集計し、集計した複数の画像処理アルゴリズムの中で、設定された頻度が多い順で上位所定数の画像処理アルゴリズムを求める。例えば集計部２７は、装置起動時又は設定部２３による画像処理アルゴリズムの設定変更時において、複数種の物品Ｇそれぞれの感度レベル毎に設定部２３で設定（予約）されている画像処理アルゴリズムの全てを集計する。そして、集計部２７は、集計した画像処理アルゴリズムを設定頻度が多い順にソートし、上位所定数の画像処理アルゴリズムを求める。
【００３６】
なお、所定数は、予め又はオペレータの操作により定められた数であり、５〜１０程度である。集計部２７は、設定部２３に現在設定されている複数の画像処理アルゴリズムに代えてもしくは加えて、設定部２３に過去に設定されていた複数の画像処理アルゴリズムを集計してもよい。
【００３７】
集計部２７は、物品Ｇの属性毎に、設定部２３で設定された画像処理アルゴリズムを集計する。物品Ｇの属性は、物品Ｇの種類、特性、形状、大きさ及びカテゴリー等の少なくとも何れかを含む。例えば集計部２７は、物品Ｇが肉類の場合にて設定されている画像処理アルゴリズムと、物品Ｇが魚類の場合にて設定されている画像処理アルゴリズムと、を分けて集計する。
【００３８】
ここで、設定部２３は、前述したように、選出部２３ａを有している。選出部２３ａは、集計部２７の集計結果に基づいて、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する。選出部２３ａは、集計部２７で求められた画像処理アルゴリズム（つまり、設定部２３における設定頻度が上位所定数の画像処理アルゴリズム）を、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、複数の画像処理アルゴリズム候補として選出する。
【００３９】
選出部２３ａは、設定部２３において特定物品の検査に用いる画像処理アルゴリズムを設定する場合、この特定物品の属性に対応する属性の集計結果に基づいて、複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する。例えば選出部２３ａは、特定物品が「ハム」である場合、物品Ｇの属性毎に集計された集計結果の中から、「ハム」又は「ソーセージ」等の肉類として分類された集計結果を抽出する。選出部２３ａは、抽出した集計結果において設定頻度が上記所定数の画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出する。特定物品とは、設定部２３で画像処理アルゴリズムを設定する際に対象となる物品Ｇである。特定物品の属性は、インタフェースとして機能するモニタ１１を介して、オペレータにより入力あるいは選択できる。
【００４０】
選出部２３ａは、複数の画像処理アルゴリズム候補の優先順位を、集計部２７の集計結果に基づいて設定する。選出部２３ａは、設定部２３における設定頻度が上位所定数の画像処理アルゴリズムを画像処理アルゴリズム候補に設定する場合、設定頻度が多いほど優先度が高くなるような優先順位を当該画像処理アルゴリズム候補に設定する。例えば選出部２３ａは、最も設定頻度が多い画像処理アルゴリズムを、優先順位が最上位の画像処理アルゴリズム候補として選出する。
【００４１】
以上に説明したＸ線検査装置１を用いて物品Ｇを検査する場合、まず、Ｘ線照射器７から物品Ｇに対してＸ線を照射し、物品Ｇを透過したＸ線をＸ線ラインセンサ９で検出する。Ｘ線ラインセンサ９から出力された信号に基づいて、画像処理部２５によりＸ線透過画像を生成する。画像処理部２５により、設定部２３で設定した画像処理アルゴリズムを用いた画像処理をＸ線透過画像に施して処理画像を生成し、当該処理画像をモニタ１１に表示させる。これにより、オペレータは、モニタ１１に表示させた処理画像をチェックすることで、物品Ｇに含まれる異物の有無を検査する。
【００４２】
次に、Ｘ線検査装置１において、検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムを設定する方法を説明する。ここでは、例えば２００〜３００種類の物品Ｇ毎に画像処理アルゴリズムが設定部２３に既に設定されているＸ線検査装置１において、新たな物品Ｇ（特定物品）の検査時の画像処理に用いる画像処理アルゴリズムを追加設定する例を説明する。
【００４３】
まず、集計部２７により、物品Ｇの属性毎に、設定部２３に設定されている画像処理アルゴリズムが集計される。集計部２７により、設定頻度が多い順で上位所定数の画像処理アルゴリズムが取得される。オペレータは、設定対象となる新たな物品Ｇの属性を、インタフェースとして機能するモニタ１１を介して入力あるいは選択する。
【００４４】
これにより、選出部２３ａにより、集計部２７の集計結果に基づいて、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、複数の画像処理アルゴリズム候補が選出される。具体的には、新たな物品Ｇの属性に対応し且つ設定頻度が多い上位所定数の画像処理アルゴリズムが、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から複数の画像処理アルゴリズム候補として選出される。このとき、複数の画像処理アルゴリズム候補には、当該設定頻度が多いほど上位となる優先順位が設定される。
【００４５】
選出された複数の画像処理アルゴリズム候補は、その識別子（番号又は名称等）が優先順位の順序で並べられてモニタ１１に表示される。オペレータは、表示された複数の識別子のうちの何れかを、モニタ１１を介して適宜選択する。その結果、オペレータによって選択された識別子に対応する画像処理アルゴリズム候補が、新たな物品Ｇの検査に用いる画像処理アルゴリズムに設定されることとなる。
【００４６】
以上、Ｘ線検査装置１では、集計部２７の集計結果を利用して、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、有効である可能性が高い画像処理アルゴリズムを画像処理アルゴリズム候補として選出できる。その結果、画像処理アルゴリズムの設定の際、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から選択するのではなく、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から選択することが可能となる。したがって、Ｘ線検査装置１によれば、画像処理アルゴリズムの設定にかかる手間及び時間を低減でき、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる。
【００４７】
Ｘ線検査装置１では、集計部２７は、設定部２３で設定された設定頻度が多い順で上位所定数の画像処理アルゴリズムを求める。選出部２３ａは、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から、集計部２７で求められた上位所定数の画像処理アルゴリズムを、複数の画像処理アルゴリズム候補として選出する。この場合、有効である可能性が一層高い画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出できる。
【００４８】
Ｘ線検査装置１では、集計部２７は、設定部２３で設定された画像処理アルゴリズムを物品Ｇの属性毎に集計する。選出部２３ａは、設定部２３において特定物品の検査に用いる画像処理アルゴリズムを設定する場合、特定物品の属性に対応する属性の集計結果に基づいて、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する。これにより、有効である可能性が一層高い画像処理アルゴリズムを、画像処理アルゴリズム候補として選出できる。
【００４９】
Ｘ線検査装置１では、選出部２３ａは、複数の画像処理アルゴリズム候補の優先順位を集計結果に基づいて設定する。複数の画像処理アルゴリズム候補を順序付けすることで、画像処理アルゴリズムの設定の際、複数の画像処理アルゴリズム候補の中から画像処理アルゴリズムを容易に選択することが可能となる。
【００５０】
［第２実施形態］
図４に示されるＸ線検査装置１Ａは、集計部２７（図３参照）に代えて集計部２７Ａを備えた点で上記第１実施形態と異なる。集計部２７Ａは、Ｘ線検査装置１Ａとは別の複数のＸ線検査装置１Ｂにおける設定部２３Ｂで設定された画像処理アルゴリズムを、インターネット等のネットワークＮを介して集計する。集計部２７Ａは、複数のＸ線検査装置１Ｂとの間で、ネットワークＮを介して通信可能に構成されている。Ｘ線検査装置１Ｂは、Ｘ線検査装置１Ａと同様に構成されている。Ｘ線検査装置１Ｂの設定部２３Ｂは、設定された画像処理アルゴリズムに関する情報を、ネットワークＮへ送信する。
【００５１】
このようなＸ線検査装置１Ａにおいても、画像処理アルゴリズムの設定に際し、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から選択するのではなく、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から選択することが可能となる。したがって、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる。また、集計部２７Ａは、ネットワークＮを利用して、別の複数のＸ線検査装置１Ｂにおける設定部２３Ｂで設定された画像処理アルゴリズムを集計できる。
【００５２】
なお、集計部２７Ａは、１つのＸ線検査装置１Ｂにおける設定部２３Ｂで設定された画像処理アルゴリズムのみを、ネットワークＮを介して集計してもよい。集計部２７Ａは、Ｘ線検査装置１Ａの設定部２３で設定された画像処理アルゴリズムを更に集計してもよい。
【００５３】
［第３実施形態］
図５に示されるＸ線検査システム（光検査システム）１００は、複数のＸ線検査装置１Ｃと、集計装置２７Ｃと、を含んで構成されている。Ｘ線検査装置１Ｃは、集計部２７（図３参照）を備えていない点以外は上記Ｘ線検査装置１（図３参照）と同様に構成されている。Ｘ線検査装置１Ｃの設定部２３Ｃは、設定された画像処理アルゴリズムに関する情報を、ネットワークＮへ送信する。
【００５４】
集計装置２７Ｃは、例えばコンピュータである。集計装置２７Ｃは、ＣＰＵ、ＲＡＭ及びＲＯＭ等を含んで構成され、ＣＰＵ及びＲＡＭ等のハードウェア上にプログラム等を読み込ませることにより動作する。集計装置２７Ｃは、複数のＸ線検査装置１Ｃとの間で、ネットワークＮを介して通信可能に構成されている。集計装置２７Ｃは、Ｘ線検査装置１Ｃの設定部２３Ｃで設定された画像処理アルゴリズムをネットワークＮを介して集計する集計部３１と、集計部３１の集計結果をネットワークＮを介して複数のＸ線検査装置１Ｃへ送信する送信部３２と、を有する。送信部３２により集計結果がＸ線検査装置１Ｃへ送信された結果、当該Ｘ線検査装置１Ｃの選出部２３ａは、送信された集計結果に基づいて、記憶部２１に記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から複数の画像処理アルゴリズム候補を選出する。
【００５５】
このようなＸ線検査システム１００においても、Ｘ線検査装置１Ｃにおける画像処理アルゴリズムの設定に際し、記憶された複数の画像処理アルゴリズムの中から選択するのではなく、数が絞り込まれた画像処理アルゴリズム候補の中から選択することが可能となる。したがって、画像処理アルゴリズムを容易に設定することが可能となる。また、集計装置２７Ｃは、ネットワークＮを利用して、Ｘ線検査装置１Ｃにおける設定部２３Ｃで設定された画像処理アルゴリズムを集計すると共に、当該集計結果をＸ線検査装置１Ｃへ送信することができる。なお、Ｘ線検査システム１００は、複数のＸ線検査装置１Ｃを含んでいるが、１つのＸ線検査装置１Ｃのみを含んでいてもよい。
【００５６】
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。
【００５７】
上記実施形態において、記憶部２１、設定部２３，２３Ｂ，２３Ｃ、選出部２３ａ、画像処理部２５、集計部２７，２７Ａ，３１及び送信部３２は、機能ブロックとして構成されるものに限定されず、ハード構成として構成されていてもよい。記憶部２１、設定部２３，２３Ｂ，２３Ｃ、選出部２３ａ、画像処理部２５、集計部２７，２７Ａ，３１及び送信部３２の少なくとも何れかは、外部の情報処理センター等の施設のコンピュータが有していてもよい。
【００５８】
上記実施形態では、選出部２３ａで選出された複数の画像処理アルゴリズム候補の少なくとも１つが、オペレータによってモニタ１１を介して選択されて、物品検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定されたが、これに限定されない。複数の画像処理アルゴリズム候補の少なくとも１つが、公知の演算処理によって自動的に選択されて、物品検査時における画像処理に用いる画像処理アルゴリズムに設定されてもよい。この場合には、画像処理アルゴリズムの設定にかかる演算処理時間を低減できる。
【００５９】
上記実施形態では、本発明をＸ線検査装置１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃ及びＸ線検査システム１００に適用したが、本発明は、光を利用して物品の検査を行う光検査装置又は光検査システムであればよい。本発明において、光とは、Ｘ線、近赤外線、その他の電磁波であってもよい。ただし、光としてＸ線を利用する場合には、物品Ｇが包装されている場合であっても、包材や、包材に施された印刷に影響されることなく、物品Ｇを検査することができる。
【符号の説明】
【００６０】
１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃ…Ｘ線検査装置（光検査装置）、２１…記憶部、２３，２３Ｂ，２３Ｃ…設定部、２３ａ…選出部、２７，２７Ａ，３１…集計部、２７Ｃ…集計装置、３２…送信部、１００…Ｘ線検査システム（光検査システム）、Ｇ…物品、Ｎ…ネットワーク。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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