(57)【要約】【課題】被検査物の搬送部に付いた異物が、被検査物に付着することを効率よく防止可能な光検査装置を提供する。【解決手段】光検査装置１００は、搬送部と、光照射部４０と、光検出部５０と、画像生成部６２と、処理部６３と、を備える。搬送部は、検査領域において、戴置面上に戴置された被検査物を搬送する。光照射部は、検査領域において、戴置面に向かって異物に蛍光を発生させるための励起光を照射する。光検出部は、蛍光を検出し、検出結果に応じた信号を出力する。画像生成部は、光検出部から出力された信号に応じた画像を生成する。処理部は、画像生成部が生成する画像に基づいて、異物検出処理を行う。処理部は、被検査物に含まれる異物を検出する被検査物異物検出処理、及び、戴置面に付いた異物を検出する戴置面異物検出処理を行う。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査領域において、戴置面上に戴置された被検査物を搬送する搬送部と、
前記検査領域において、前記戴置面に向かって異物に蛍光を発生させるための励起光を照射する光照射部と、
前記蛍光を検出し、検出結果に応じた信号を出力する光検出部と、
前記光検出部から出力された信号に応じた画像を生成する画像生成部と、
前記画像生成部が生成する前記画像に基づいて、異物検出処理を行う処理部と、
を備え、
前記処理部は、前記被検査物に含まれる前記異物を検出する被検査物異物検出処理、及び、前記戴置面に付いた前記異物を検出する戴置面異物検出処理を行うことを特徴とする、
光検査装置。
【請求項２】
前記処理部は、前記被検査物が前記検査領域を搬送されていないタイミングにおける前記光検出部による前記蛍光の検出結果に応じて生成された前記画像に基づき、前記戴置面異物検出処理を行う、
請求項１に記載の光検査装置。
【請求項３】
前記処理部は、前記被検査物が前記検査領域を搬送されているタイミングにおける前記光検出部による前記蛍光の検出結果に応じて生成された前記画像に基づき、前記被検査物異物検出処理及び前記戴置面異物検出処理を並行して行う、
請求項１又は２に記載の光検査装置。
【請求項４】
前記処理部は、前記戴置面異物検出処理の結果に基づき、前記戴置面に付いた前記異物の量に関する値を算出する、
請求項１から３のいずれか１項に記載の光検査装置。
【請求項５】
前記処理部は、前記戴置面に付いた前記異物の量の累積値を、前記戴置面に付いた前記異物の量に関する値として算出する、
請求項４に記載の光検査装置。
【請求項６】
前記搬送部は、前記戴置面を有するコンベアベルトを含み、
前記処理部は、前記コンベアベルトの有する前記戴置面全体の前記異物の量を、前記戴置面に付いた前記異物の量に関する値として算出する、
請求項４に記載の光検査装置。
【請求項７】
前記処理部が算出した前記異物の量に関する値が第１閾値を超過する場合に、警告を出力する出力部、を更に備える、
請求項４から６のいずれか１項に記載の光検査装置。
【請求項８】
前記第１閾値の変更を受け付ける受付部、を更に備える、
請求項７に記載の光検査装置。
【請求項９】
前記光検査装置は、前記処理部が算出した前記異物の量に関する値が第２閾値を超過する場合に停止する、
請求項４から８のいずれか１項に記載の光検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、搬送される被検査物の異物を励起光の照射により蛍光させ、蛍光の検知結果に基づいて被検査物に異物が含まれているか否かの検査を行う光検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、搬送装置により搬送される被検査物に励起光を照射し、励起光により被検査物に含まれる異物が発生する蛍光を検出し、その検出結果に基づいて被検査物に異物が含まれているか否かを検査する光検査装置が知られている。
【０００３】
例えば、引用文献１（特開平１−３１１２５３号公報）には、コンベアにより搬送される魚等の切り身に励起光を照射し、励起光により切り身に含まれる寄生虫等の異物が発生する蛍光を検出し、その検出結果に基づいて切り身に異物が含まれているか否かを検査する光検査装置が開示されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
このような検査装置で検査を行う場合、被検査物に付いていた異物が、被検査物を搬送する搬送装置に付着する場合がある。そして、搬送装置に付着した異物は、例えば、もともと異物を含んでいなかった被検査物に付着して、その被検査物を異物で汚染しまう可能性がある。また、例えば、搬送装置に付着した異物は、検査済みの被検査物に付着し、被検査物の異物の含有状態が検査結果と一致しなくなる可能性がある。
【０００５】
異物が搬送装置にいつ付着するかは分からないため、上記のような事態を防止するためには搬送装置の清掃頻度をできるだけ高くするしかなく、検査装置が頻繁に停止されて検査効率が低下するという問題がある。
【０００６】
本発明の課題は、搬送される被検査物の異物を励起光の照射により蛍光させ、蛍光の検知結果から被検査物に異物が含まれているか否かの検査を行う光検査装置であって、被検査物の搬送部に付いた異物が、被検査物に付着することを効率よく防止可能な光検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の第１観点に係る光検査装置は、搬送部と、光照射部と、光検出部と、画像生成部と、処理部と、を備える。搬送部は、検査領域において、戴置面上に戴置された被検査物を搬送する。光照射部は、検査領域において、戴置面に向かって異物に蛍光を発生させるための励起光を照射する。光検出部は、蛍光を検出し、検出結果に応じた信号を出力する。画像生成部は、光検出部から出力された信号に応じた画像を生成する。処理部は、画像生成部が生成する画像に基づいて、異物検出処理を行う。処理部は、被検査物に含まれる異物を検出する被検査物異物検出処理、及び、戴置面に付いた異物を検出する戴置面異物検出処理を行う。
【０００８】
本発明の第１観点に係る光検査装置では、搬送部の戴置面に付着した異物が検出されるため、適切なタイミングで戴置面の清掃等を行うことができ、搬送部に付いた異物が被検査物に付着することを効率よく防止できる。
【０００９】
本発明の第２観点に係る光検査装置は、第１観点に係る光検査装置であって、処理部は、被検査物が検査領域を搬送されていないタイミングにおける光検出部による蛍光の検出結果に応じて生成された画像に基づき、戴置面異物検出処理を行う。
【００１０】
本発明の第２観点に係る光検査装置では、被検査物が搬送されていない状態の戴置面の検査が行われるため、被検査物に遮蔽されること無く、戴置面全体の異物検査を行うことができる。
【００１１】
本発明の第３観点に係る光検査装置は、第１観点又は第２観点に係る光検査装置であって、処理部は、被検査物が検査領域を搬送されているタイミングにおける光検出部による蛍光の検出結果に応じて生成された画像に基づき、被検査物異物検出処理及び戴置面異物検出処理を並行して行う。
【００１２】
なお、ここで、被検査物異物検出処理及び戴置面異物検出処理を並行して行うとは、同一の画像に基づいて両方の処理が行うことを意味しており、両方の処理が時間的に同時に行われなくてもよい。
【００１３】
本発明の第３観点に係る光検査装置では、被検査物が搬送されている状態において、被検査物及び戴置面の検査が並列的に行われるため、被検査物の検査を（一時的に中断すること無く）効率よく行いながら、戴置面の状態についても検査することができる。
【００１４】
本発明の第４観点に係る光検査装置は、第１観点から第３観点のいずれかに係る光検査装置であって、処理部は、戴置面異物検出処理の結果に基づき、戴置面に付いた異物の量に関する値を算出する。
【００１５】
なお、ここで、異物の量とは、例えば、異物の存在する領域の面積や、異物の個数（検知数）である。ただし、異物の量は、ここに例示するものに限定されるものではなく、異物がどれだけ存在するかを定量的に表すことが可能なものであればよい。
【００１６】
本発明の第４観点に係る光検査装置では、搬送部の戴置面への異物の付着状態が定量的に把握されるため、搬送部のメンテナンスの必要度を正確に把握することができる。
【００１７】
本発明の第５観点に係る光検査装置は、第４観点に係る光検査装置であって、処理部は、戴置面に付いた異物の量の累積値を、戴置面に付いた異物の量に関する値として算出する。
【００１８】
本発明の第５観点に係る光検査装置では、戴置面に付いた異物の量の累積値が把握されるため、戴置面への異物の付着状態を定量的に把握することが容易である。
【００１９】
本発明の第６観点に係る光検査装置は、第４観点に係る光検査装置であって、搬送部は、戴置面を有するコンベアベルトを含む。処理部は、コンベアベルトの有する戴置面全体の異物の量を、戴置面に付いた異物の量に関する値として算出する。
【００２０】
本発明の第６観点に係る光検査装置では、コンベアベルトの戴置面全体に付いた異物の量が把握されるため、戴置面への異物の付着状態を定量的に把握することが容易である。
【００２１】
本発明の第７観点に係る光検査装置は、第４観点から第６観点のいずれかに係る光検査装置であって、出力部を更に備える。出力部は、処理部が算出した異物の量に関する値が第１閾値を超過する場合に、警告を出力する。
【００２２】
本発明の第７観点に係る光検査装置では、戴置面の異物による汚染が所定の状態にあることを、装置のオペレータが容易に把握できるため、搬送部の清掃等の必要なメンテナンスをタイムリーに行うことができる。
【００２３】
本発明の第８観点に係る光検査装置は、第７観点に係る光検査装置であって、第１閾値の変更を受け付ける受付部を更に備える。
【００２４】
本発明の第８観点に係る光検査装置では、ニーズに応じた適切な戴置面への異物の付着状態で、オペレータに警告を出力することができる。
【００２５】
本発明の第９観点に係る光検査装置は、第４観点から第８観点のいずれかに係る光検査装置であって、光検査装置は、処理部が算出した異物の量に関する値が第２閾値を超過する場合に停止する。
【００２６】
本発明の第９観点に係る光検査装置は、搬送部の戴置面の異物による汚染度が比較的高い場合に運転が停止させられるため、搬送される被検査物を戴置面上の異物で汚染してしまうリスクを低減できる。
【発明の効果】
【００２７】
本発明の光検査装置では、搬送部の戴置面に付着した異物が検出されるため、適切なタイミングで戴置面の清掃等を行うことができ、被検査物の搬送部に付いた異物が被検査物に付着することを効率よく防止できる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の第１実施形態の光検査装置の概略構成図である。
【図２】図１の光検査装置の概略制御ブロック図である。
【図３】図１の光検査装置の戴置面を、戴置面に垂直な方向から見た概略図である。
【図４】図１の光検査装置の画像生成部により生成される第１画像の一例である。
【図５】図１の光検査装置の画像生成部により生成される第２画像の一例である。
【図６】図１の光検査装置の戴置面状態確認運転時に実行される処理のフローチャートである。
【図７】図１の光検査装置の通常運転時に実行される処理のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２９】
本発明に係る光検査装置の実施形態を、図面を参照しながら説明する。
【００３０】
なお、以下に説明する実施形態は、本発明の具体例であって、本発明の技術的範囲を限定するものではない。以下に説明する実施形態に対し、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。
【００３１】
＜第１実施形態＞
（１）全体概要
本発明の第１実施形態に係る光検査装置１００について説明する。
【００３２】
光検査装置１００は、検査領域Ｒを搬送される被検査物Ｐに励起光を照射し、励起光により被検査物Ｐに異物Ｆが発生する蛍光を検出し、その検出結果に基づいて被検査物Ｐに異物Ｆが含まれているか否かを検査する装置である。
【００３３】
被検査物Ｐは、例えば、サバ、アジ、イカ、イワシ、サケ、サンマ、ホッケ等の魚介類の切り身である。異物Ｆは、例えば、アニサキス、ブリ線虫等の寄生虫である。
【００３４】
図１は、光検査装置１００の概略構成図である。図２は、光検査装置１００の概略制御ブロック図である。
【００３５】
光検査装置１００は、図１及び図２に示されるように、筐体１０、搬送部３０、光照射部４０、光検出部５０、コンピュータ６０、及びモニタ７０を備えている。
【００３６】
（２）詳細
光検査装置１００の各構成について詳しく説明する。
【００３７】
なお、以下では、方向や配置を説明するために「上」、「下」、「左」、「右」、「前（正面）」、「後（背面）」等の表現を用いる場合がある。これらの表現は、特に断りの無い場合、図中に矢印で示した方向に従う。なお、これらの方向の記載は、説明の便宜上用いるものであって、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
【００３８】
（２−１）筐体
筐体１０は、被検査物Ｐの検査が行われる検査領域Ｒを囲い、外部の光（屋内の人工灯や自然光等）から検査領域Ｒを遮蔽する部材である。
【００３９】
筐体１０には、検査領域Ｒに被検査物Ｐを搬入するための搬入口１２ａが形成されている（図１参照）。また、筐体１０には、検査領域Ｒから被検査物Ｐを搬出するための搬出口１２ｂが形成されている（図１参照）。
【００４０】
なお、筐体１０内には、搬入口１２ａ及び搬出口１２ｂを介して外部の光が進入し得る。しかし、検査領域Ｒは、筐体１０によって、検査を行う上で十分な程度に外部の光から遮蔽されている。つまり、筐体１０は、光検出部５０による蛍光の検出が阻害されない程度に外部の光から検査領域Ｒを遮蔽するものであればよく、外部の光から検査領域Ｒを完全に遮蔽するものでなくてもよい。
【００４１】
（２−２）搬送部
搬送部３０は、図示しないコンベアにより光検査装置１００（搬送部３０の搬入口１２ａ側の端部）まで搬送されてくる被検査物Ｐを受け取り、検査領域Ｒにおいて被検査物Ｐを搬送する機器である。
【００４２】
搬送部３０は、コンベアベルト３２と、駆動ローラ３４ａと、従動ローラ３４ｂと、コンベアモータ３６と、エンコーダ３８と、を主に含む（図１及び図２参照）。
【００４３】
コンベアベルト３２は、無端状の平ベルトである。コンベアベルト３２は、駆動ローラ３４ａと従動ローラ３４ｂとに掛け回されている（図１参照）。駆動ローラ３４ａは、コンベアモータ３６によって駆動されるローラである。コンベアモータ３６により駆動ローラ３４ａが駆動されると、コンベアベルト３２が回転し、コンベアベルト３２の戴置面３２ａ（外表面）上に戴置された被検査物Ｐが、搬送方向Ｄ１（ここでは右方）に搬送される（図１参照）。コンベアベルト３２は、筐体１０に形成された搬入口１２ａ及び搬出口１２ｂを貫通するように配置されている。被検査物Ｐは、搬送部３０により搬入口１２ａから検査領域Ｒに搬入され、検査後に搬出口１２ｂから検査領域Ｒの外に搬出される。
【００４４】
なお、被検査物Ｐが戴置されるコンベアベルト３２の戴置面３２ａには、光照射部４０の照射する励起光の反射を抑制する反射防止処理が施されている。反射防止処理は、例えば、励起光に対する光吸収性を有する染料を用いた色付け処理である。反射防止処理が施されたコンベアベルト３２は、例えばカーボンを含有させた黒色ベルトである。
【００４５】
搬送部３０による被検査物Ｐの搬送速度（コンベアベルト３２の回転速度）は、コンピュータ６０によるコンベアモータ３６のインバータ制御によって細かく制御される。コンベアモータ３６には、搬送部３０による搬送速度を検出してコンピュータ６０に送るエンコーダ３８が装着されている（図２参照）。
【００４６】
（２−３）光照射部
光照射部４０は、検査領域Ｒにおいて、異物Ｆに蛍光を発生させるための励起光を照射する機器である。光照射部４０は、搬送部３０の上方に配置され、筐体１０の内壁面に取り付けられている。ここでは、光照射部４０は、筐体１０の搬入口１２ａ側の内側面に取り付けられている。ただし、光照射部４０の取り付け位置は例示であって、光照射部４０は、筐体１０の搬出口１２ｂ側の内側面に取り付けられていてもよい。光照射部４０は、コンベアベルト３２の戴置面３２ａに向かって励起光を照射する。
【００４７】
光照射部４０が照射する励起光は、例えば、紫外域の波長帯を有する光である。励起光の照射によって異物Ｆが発生する蛍光は、励起光の波長と異なる波長を有する。例えば、励起光の照射によって異物Ｆが発生する蛍光は、可視域の波長帯を有する光である。
【００４８】
なお、光照射部４０が照射する励起光と、励起光の照射によって異物Ｆが発生する蛍光とは、少なくとも励起光の中心波長（ピーク波長）と蛍光の中心波長（ピーク波長）とが互いにずれた関係にあればよい。つまり、励起光と蛍光とは、互いの中心波長がずれていれば、互いの波長帯が重ならないようにずれている必要はない。ただし、励起光の波長帯と蛍光の波長帯とは、重ならないようにずれていることが好ましい。
【００４９】
光照射部４０は、光源４２、集光部４４及び第１光学フィルタ４６を主に有する（図１参照）。
【００５０】
光源４２は、直交方向Ｄ２に配列された複数の発光素子を有する（図３参照）。ここで、直交方向Ｄ２とは、戴置面３２ａに垂直な方向から見た時に、搬送部３０による被検査物Ｐの搬送方向Ｄ１と直交する方向（図中では前後方向）である（図３参照）。発光素子は、励起光を出射する。光源４２が有する発光素子は、例えば発光ダイオードである。
【００５１】
集光部４４は、光学素子（例えば、シリンドリカルレンズ）である。集光部４４は、光源４２から出射された励起光を、直交方向Ｄ２（図３参照）に延びる検査領域Ｒ内の所定の範囲に集光するための部材である。集光部４４を設け、被検査物Ｐに対し、光検出部５０が蛍光を検出する位置（図１及び図３中の検出基準面５０ａの近傍、以下では蛍光検出位置と呼ぶ場合がある）に強い強度の励起光が照射されるように光照射部４０を構成することで、被検査物Ｐが含む異物Ｆの検出精度を向上させることができる。
【００５２】
第１光学フィルタ４６は、励起光を透過させる一方で、励起光の波長帯よりも長波長側の光を減衰させる。例えば、励起光が紫外域の波長帯を有する場合、第１光学フィルタ４６は、可視域の波長帯を有する光を減衰させる。
【００５３】
（２−４）光検出部
光検出部５０は、異物Ｆが発生する蛍光を検出し、検出結果に応じた信号を出力する機器である。光検出部５０が出力する検出結果に応じた信号は、光検出部５０が検出した蛍光の強度（明るさ）を示す信号である。
【００５４】
光検出部５０は、搬送部３０の上方に配置され、筐体１０の内壁面に取り付けられている。光検出部５０は、検出基準面５０ａ（被検査物Ｐの搬送方向Ｄ１と交差する平面、特にここでは被検査物Ｐの搬送方向Ｄ１と直交する平面）の近傍（蛍光検出位置）において発せられる蛍光を検出する（図１及び図３参照）。
【００５５】
光検出部５０は、第２光学フィルタ５２と、複数の光検出素子５４と、を主に有する（図１参照）。
【００５６】
第２光学フィルタ５２は、蛍光を透過させる一方で、蛍光の波長帯よりも短波長側の光を減衰させる。例えば、蛍光が可視域の波長帯を有する場合には、第２光学フィルタ５２は、紫外域の波長帯を有する光を減衰させる。
【００５７】
複数の光検出素子５４は、直交方向Ｄ２に沿って配列される複数の受光素子である。光検出素子５４は、例えばフォトダイオードである。各光検出素子５４は、第２光学フィルタ５２を透過する光を検出し、検出した光の強度を示す信号を出力する。各光検出素子５４の出力する信号は、コンピュータ６０に送信され、後述する第１画像Ｇ１（図４参照）及び第２画像Ｇ２（図５参照）を含む検査用の画像を作成するために用いられる。
【００５８】
光検出部５０は、以下のように、被検査物Ｐが、光検出部５０の蛍光検出位置に到達したタイミングを検知するセンサとしても機能する。
【００５９】
上記のように、搬送部３０のコンベアベルト３２の戴置面３２ａには、励起光の反射を抑制する反射防止処理が施されている。そのため、戴置面３２ａに励起光が入射する場合に、戴置面３２ａで反射され、第２光学フィルタ５２を通過して光検出素子５４に入射する励起光の割合は低い。これに対し、被検査物Ｐの表面では戴置面３２ａに比べて励起光が反射しやすい。そのため、被検査物Ｐの表面に励起光が入射する場合、被検査物Ｐの表面で反射され、第２光学フィルタ５２を通過して光検出素子５４に入射する励起光の割合は比較的高い。そのため、被検査物Ｐが光検出部５０の蛍光検出位置に到達した時に光検出部５０が受光する励起光の強度は、それ以前に光検出部５０が受光する励起光の強度とは変化する。その結果、光検出部５０がコンピュータ６０に対し送信する信号も、被検査物Ｐが光検出部５０の蛍光検出位置に到達した時と、それ以前とでは変化する。コンピュータ６０は、光検出部５０から送信されてくる信号の変化により、被検査物Ｐが光検出部５０の蛍光検出位置に到達したタイミングを検知できる。
【００６０】
なお、光検出部５０を、被検査物Ｐが光検出部５０の蛍光検出位置に到達したタイミングを検知するセンサとして利用する代わりに、例えばコンベアベルト３２を挟んで配置される一対の投光器及び受光器からなる光電センサが、被検査物Ｐが光検出部５０の蛍光検出位置に到達したタイミングを検知するセンサとして利用されてもよい。
【００６１】
（２−５）コンピュータ
コンピュータ６０は、光検査装置１００の各構成の動作を制御し、光検出部５０による蛍光の検出結果に基づき検査を行うコンピュータである。
【００６２】
コンピュータ６０は、搬送部３０のコンベアモータ３６及びエンコーダ３８、光照射部４０、光検出部５０、モニタ７０等に接続されている（図２参照）。
【００６３】
コンピュータ６０は、ＣＰＵ（中央演算処理装置）、ＲＯＭ（リードオンリーメモリ）、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）、ＨＤＤ（ハードディスク）等を有している。また、コンピュータ６０は、モニタ７０の表示を制御する表示制御回路、タッチパネル機能を有するモニタ７０から入力されたキー入力データを取り込むキー入力回路、プリンタ等の外部機器やＬＡＮ等のネットワークとの接続を可能にする通信ポート等も有する。
【００６４】
ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、及びＨＤＤは、アドレスバスやデータバス等のバスラインを介して相互に接続されている。ＣＰＵは、ＲＯＭやＨＤＤに記憶されている各種プログラムを実行することで、光検査装置１００の各構成の動作を制御し、被検査物Ｐや搬送部３０の戴置面３２ａに関し、異物Ｆの検査を行う。ＨＤＤには、例えば検査に用いられる検査パラメータや検査結果が記憶される。
【００６５】
以下にコンピュータ６０の機能部としての記憶部６１、画像生成部６２及び処理部６３について説明する。
【００６６】
（２−５−１）記憶部
記憶部６１は、ＲＯＭやＨＤＤから構成される。記憶部６１には、ＣＰＵによって実行される各種プログラムや、検査に用いられる検査パラメータや検査結果等の各種情報が記憶されている。
【００６７】
記憶部６１は、検査に関する情報の記憶領域として、積算値記憶領域６１ａ及び閾値記憶領域６１ｂを有する。
【００６８】
（２−５−１−１）積算値記憶領域
積算値記憶領域６１ａは、処理部６３が算出する面積積算値Ｓｔを記憶する記憶領域である。面積積算値Ｓｔは、例えばコンベアベルト３２の清掃が行われた時に、オペレータがモニタ７０で所定の操作を行うことでリセットされる。面積積算値Ｓｔについて説明は後述する。
【００６９】
（２−５−１−２）閾値記憶領域
閾値記憶領域６１ｂは、処理部６３が、被検査物Ｐに異物Ｆが含まれているか否かの判断や、コンベアベルト３２の戴置面３２ａへの異物Ｆの付着の状態を判断するために使用する閾値が記憶されている。
【００７０】
閾値記憶領域６１ｂに記憶される閾値には、清浄度基準値Ｘ、第１基準値Ｙ１、第２基準値Ｙ２、及び被検査物基準値Ｚを含む。なお、第１基準値Ｙ１は、第２基準値Ｙ２より小さな値である。清浄度基準値Ｘ、第１基準値Ｙ１、第２基準値Ｙ２、及び被検査物基準値Ｚについては後述する。
【００７１】
なお、これらの閾値は、光検査装置１００のオペレータが、モニタ７０から入力可能な（更新可能な）値である。ただし、これに限定されるものではなく、閾値記憶領域６１ｂに記憶される閾値は、デフォルト値であってもよい。
【００７２】
（２−５−２）画像生成部
コンピュータ６０のＣＰＵが記憶部６１に記憶されている画像生成用のプログラムを実行することで、画像生成部６２として機能する。
【００７３】
画像生成部６２は、光検出部５０から出力される信号、より具体的には、光検出部５０の各光検出素子５４から出力される、その光検出素子５４が検出した光の強度を示す信号、に応じた画像を生成する。言い換えれば、画像生成部６２は、光検出素子５４が検出した光の強度に応じた画像を生成する。画像生成部６２により生成される画像では、光検出素子５４が検出した光の強度が強い部分ほど明るく（淡く）表示される。
【００７４】
画像生成部６２が生成する画像には、第１画像Ｇ１と、第２画像Ｇ２と、を含む。第１画像Ｇ１は、被検査物Ｐが検査領域Ｒを搬送されているタイミングにおける光検出部５０による蛍光の検出結果に応じて生成される画像である。言い換えれば、第１画像Ｇ１は、被検査物Ｐの写っている画像である（図４参照）。第２画像Ｇ２は、被検査物Ｐが検査領域Ｒを搬送されていないタイミングにおける光検出部５０による蛍光の検出結果に応じて生成される画像である。言い換えれば、第２画像Ｇ２は、被検査物Ｐの写っていない画像である（図５参照）。第１画像Ｇ１は、通常運転時に生成される画像である。第２画像Ｇ２は、戴置面状態確認運転時に生成される画像である。通常運転と戴置面状態確認運転とについては後述する。
【００７５】
画像生成部６２は、第１画像Ｇ１を以下の様にして生成する。
【００７６】
画像生成部６２は、光検出部５０の蛍光検出位置に被検査物Ｐが到達する直前から第１所定時間が経過するまでの間に、各光検出素子５４から出力される信号を細かい時間間隔で取得し、取得した信号に基づいて第１画像Ｇ１を生成する。画像生成部６２は、各光検出素子５４から得られる蛍光の強度に関する細かい時間間隔毎のデータをマトリクス状に時系列につなぎ合わせることにより、被検査物Ｐの写っている第１画像Ｇ１を生成する。なお、光検出部５０の蛍光検出位置に被検査物Ｐが到達するタイミングは、上述のように光検出部５０が出力する信号に基づいて把握される。上記の第１所定時間は、生成される第１画像Ｇ１に被検査物Ｐ全体が映るように決定される。
【００７７】
画像生成部６２は、第２画像Ｇ２を以下の様にして生成する。
【００７８】
画像生成部６２は、モニタ７０に戴置面状態確認運転の開始要求が入力されると、第２所定時間の間、各光検出素子５４から出力される信号を細かい時間間隔で取得し、取得した信号に基づいて第２画像Ｇ２を生成する。画像生成部６２は、各光検出素子５４から得られる蛍光の強度に関する細かい時間間隔毎のデータをマトリクス状に時系列につなぎ合わせることにより、被検査物Ｐの写っていない第２画像Ｇ２（回転するコンベアベルト３２の戴置面３２ａだけが写っている画像）を１枚以上生成する。上記の第２所定時間は、コンベアベルト３２の有する戴置面３２ａ全体について画像を生成することができるように決定される。言い換えれば、第２所定時間は、無端状のコンベアベルト３２が一周する時間と概ね等しい時間に決定される。なお、画像生成部６２が戴置面状態確認運転時に生成する第２画像Ｇ２の枚数は、各第２画像Ｇ２が映し出す、搬送部３０の搬送方向における戴置面３２ａの長さにより異なる。
【００７９】
（２−５−３）処理部
コンピュータ６０のＣＰＵは、記憶部６１に記憶されている異物Ｆの検出処理用のプログラムを実行することで、処理部６３としても機能する。
【００８０】
処理部６３は、画像生成部６２が生成する画像に基づいて、異物Ｆの検出処理を行う。処理部６３は、異物Ｆの検出処理として、被検査物異物検出処理と、戴置面異物検出処理と、を行う。被検査物異物検出処理は、被検査物Ｐに含まれる異物Ｆを検出する処理である。戴置面異物検出処理は、搬送部３０のコンベアベルト３２の戴置面３２ａに付いた異物Ｆを検出する処理である。
【００８１】
処理部６３は、戴置面状態確認運転時に、画像生成部６２の生成する第２画像Ｇ２に基づいて戴置面異物検出処理を行う。処理部６３は、通常運転時に、画像生成部６２の生成する第１画像Ｇ１に基づいて被検査物異物検出処理及び戴置面異物検出処理を並行して行う。
【００８２】
処理部６３による処理の内容については、戴置面状態確認運転及び通常運転についての説明と合わせて後述する。
【００８３】
（２−６）モニタ
モニタ７０は、フルドット表示の液晶ディスプレイである。
【００８４】
モニタ７０は、コンピュータ６０による被検査物Ｐの検査の結果（被検査物Ｐに異物Ｆを含んでいると判断されたか否か）や、コンピュータ６０の画像生成部６２によって生成された被検査物Ｐの画像（第１画像Ｇ１）や第２画像Ｇ２（コンベアベルト３２の戴置面３２ａだけが写っている画像）等を表示する。
【００８５】
また、モニタ７０は出力部の一例である。モニタ７０は、後述するように、処理部６３が算出するコンベアベルト３２の戴置面３２ａに付いた異物Ｆの量に関する値（後述する面積積算値Ｓｔ）が第１基準値Ｙ１を超過する場合に警告を出力する。また、モニタ７０は、後述するように、処理部６３が算出するコンベアベルト３２の戴置面３２ａに付いた異物Ｆの量に関する値（後述する異物検知総面積Ｓall）が清浄度基準値Ｘを超過する場合に警告を出力する。モニタ７０に出力される警告は、例えば、光検査装置１００のオペレータにコンベアベルト３２の清掃を促すメッセージである。
【００８６】
また、モニタ７０は、光検査装置１００を用いた検査に必要な各種パラメータ等の入力をオペレータに促す画面を表示する。
【００８７】
モニタ７０は、受付部の一例であり、タッチパネル機能を有している。モニタ７０は、オペレータによる検査に必要な各種パラメータの入力を受け付ける。例えば、モニタ７０は、被検査物Ｐに異物Ｆが含まれているか否か、コンベアベルト３２の戴置面３２ａへの異物Ｆの付着状況等を判断するために使用する閾値（清浄度基準値Ｘ、第１基準値Ｙ１、第２基準値Ｙ２、及び被検査物基準値Ｚ）の入力（変更）を受け付ける。モニタ７０から入力された閾値は、記憶部６１の閾値記憶領域６１ｂに記憶される。
【００８８】
また、モニタ７０は、オペレータによる戴置面状態確認運転の開始要求の入力を受け付ける。また、モニタ７０は、オペレータによる通常運転の開始要求の入力を受け付ける。
【００８９】
（３）光検査装置の動作
光検査装置１００が行う２つの運転動作（戴置面状態確認運転及び通常運転）について説明する。
【００９０】
（３−１）戴置面状態確認運転
戴置面状態確認運転について図６のフローチャートを参照しながら説明する。
【００９１】
戴置面状態確認運転は、戴置面３２ａの異物Ｆによる汚染状態（異物Ｆの付着状態）を確認するための運転である。戴置面状態確認運転は、例えば、光検査装置１００の運転開始前（１日の操業開始前）や、コンベアベルト３２の清掃後等に実行される。ただし、戴置面状態確認運転が実行されるタイミングは例示であって、これに限定されるものではない。
【００９２】
なお、戴置面状態確認運転の実行時には、光検査装置１００へと被検査物Ｐを搬送してくるコンベア（図示せず）の運転は停止されている。そのため、戴置面状態確認運転時には、被検査物Ｐが検査領域Ｒを搬送されることがない。
【００９３】
戴置面状態確認運転は、モニタ７０がオペレータによる戴置面状態確認運転の開始要求の入力を受け付けると開始される。なお、戴置面状態確認運転は、例えば光検査装置１００の電源投入時（１日の操業の開始時等）に自動的に開始されてもよい。また、戴置面状態確認運転は、例えば後述する通常運転中に、定期的に（例えば連続して通常運転が行われた時間が所定時間に達した時等に）、自動的に開始されてもよい。
【００９４】
戴置面状態確認運転が開始されると、光照射部４０が励起光を照射している状態で搬送部３０のコンベアベルト３２が回転させられ、光検出部５０による蛍光の検出が行われる。そして、コンピュータ６０の画像生成部６２は、上述のように光検出部５０が出力する信号に応じて第２画像Ｇ２（図５参照）を生成する（ステップＳ１０１）。画像生成部６２は、コンベアベルト３２の有する戴置面３２ａの全体がいずれかの第２画像Ｇ２に写るよう、１枚以上の第２画像Ｇ２を生成する。なお、ここでは説明の簡略化のため、画像生成部６２は、１枚だけ第２画像Ｇ２を生成すると仮定して以下の説明を行う。
【００９５】
次に、ステップＳ１０２では、コンピュータ６０の処理部６３が戴置面異物検出処理を行う。処理部６３は、具体的には、以下の様な処理を行う。
【００９６】
第２画像Ｇ２には、暗く（濃く）表示されるコンベアベルト３２の戴置面３２ａそのものを写した画素（戴置面画素）と、明るく（淡く）表示されるコンベアベルト３２の戴置面３２ａに付いた異物Ｆが発生する蛍光を写した画素（異物画素）と、が存在し得る。なお、戴置面画素は、戴置面３２ａが反射した光を受光した光検出素子５４が出力する信号に基づいた画素である。異物画素は、戴置面３２ａに付いた異物Ｆが発生する蛍光を受光した光検出素子５４が出力する信号に基づく画素である。
【００９７】
そこで、処理部６３は、戴置面画素と異物画素とを判別するための適切な閾値を用いて、第２画像Ｇ２の二値化処理を行う。処理部６３は、このように二値化処理された第２画像Ｇ２に基づいて、戴置面３２ａに付いた異物Ｆを検出可能である。
【００９８】
次に、ステップＳ１０３では、処理部６３が、二値化処理された第２画像Ｇ２に基づいて、コンベアベルト３２の有する戴置面３２ａ全体の異物Ｆの量を、戴置面３２ａについた異物Ｆの量に関する値として算出する。ここでの戴置面３２ａ全体の異物Ｆの量は、二値化処理された第２画像Ｇ２中の、蛍光を写した画素の数に基づいて求められる異物検知総面積Ｓallである。異物検知総面積Ｓallは、戴置面３２ａ全体の中で、異物Ｆの存在する（蛍光を発している）領域の面積である。
【００９９】
なお、ここでは、説明を簡略化するため第２画像Ｇ２を１枚だけとしているが、第２画像Ｇ２が複数生成される場合には、各第２画像Ｇ２中の異物Ｆの存在する領域の面積を足し合わせることで、異物検知総面積Ｓallを算出する。
【０１００】
次に、ステップＳ１０４では、コンピュータ６０が、ステップＳ１０３で算出された異物検知総面積Ｓallが、記憶部６１の閾値記憶領域６１ｂに記憶された清浄度基準値Ｘ以下であるか否かを判断する。戴置面状態確認運転が、操業前や、コンベアベルト３２の清掃完了後等に行われる場合、清浄度基準値Ｘには比較的小さな値が選択されることが好ましい。
【０１０１】
なお、ここでは、異物検知総面積Ｓallを閾値と比較しているが、これに代えて、異物検知総面積Ｓallのコンベアベルト３２の戴置面３２ａの総面積に対する割合が、閾値と比較されてもよい。
【０１０２】
ステップＳ１０４で、異物検知総面積Ｓallが清浄度基準値Ｘ以下であると判定されると、コンピュータ６０は、異常なし（通常運転の開始準備が完了した）と判断する（ステップＳ１１０）。そして、例えば、モニタ７０に、戴置面３２ａの清浄度が適切な基準を満たしている旨が表示される。
【０１０３】
ステップＳ１０４で、異物検知総面積Ｓallが清浄度基準値Ｘより大きいと判定されると、異常有りと判断され、モニタ７０に警告が出力される（ステップＳ１２０）。モニタ７０に出力される警告は、例えばコンベアベルト３２の清掃を要求するメッセージである。
【０１０４】
なお、コンピュータ６０は、ステップＳ１２０で異常有りと判断された場合に、モニタ７０に警告を出力するだけではなく、戴置面状態確認運転を再度実行して異常なしと判断されるまで、通常運転の開始要求を受け付けないように構成されてもよい。
【０１０５】
（３−２）通常運転
通常運転について、図７のフローチャートを参照しながら説明する。
【０１０６】
通常運転は、被検査物Ｐの異物Ｆによる汚染状態を確認することを主な目的とする運転である。つまり、通常運転時には、被検査物Ｐに対し異物Ｆの検出処理（被検査物異物検出処理）が実行される。また、通常運転時には、戴置面異物検出処理に用いられる第１画像Ｇ１を用いて、被検査物異物検出処理と並行して、戴置面異物検出処理が実行される。
【０１０７】
なお、通常運転の実行時には、光検査装置１００へと被検査物Ｐを搬送してくるコンベア（図示せず）が運転される。そのため、通常運転時には、被検査物Ｐが検査領域Ｒを搬送される。
【０１０８】
通常運転は、モニタ７０がオペレータによる通常運転の開始要求を受け付けると開始される。
【０１０９】
ステップＳ２０１では、光検出部５０から信号を受信するコンピュータ６０が、光検出部５０が被検査物Ｐを検知したか否かを判断する。言い換えれば、コンピュータ６０は、光検出部５０から受信した信号に基づき、被検査物Ｐが光検出部５０の蛍光検出位置に到達したか（被検査物Ｐが光検出部５０の蛍光検出位置を通過し始めたか）を判断する。コンピュータ６０は、光検出部５０が被検査物Ｐを検知したと判断するまで、ステップＳ２０１の処理を繰り返す。
【０１１０】
次に、ステップＳ２０２では、コンピュータ６０の画像生成部６２が、第１画像Ｇ１（図４参照）を生成する。画像生成部６２は、光検出部５０が被検査物Ｐを検知したと判断する直前から第１所定時間が経過するまでの間に、各光検出素子５４から出力される信号を細かい時間間隔で取得し、取得した信号に基づいて第１画像Ｇ１を生成する。
【０１１１】
この後、コンピュータ６０は、戴置面異物検出処理と被検査物異物検出処理とを並行して実行する。なお、ここで両処理を並行して実行するとは、同一の第１画像Ｇ１に基づいて両方の処理を行うことを意味しており、両方の処理が時間的に同時に行われなくてもよい。例えば、コンピュータ６０は、非検査物異物検出処理を実行した後に、戴置面異物検出処理を行ってもよい。
【０１１２】
初めに、通常運転中の戴置面異物検出処理（ステップＳ２１１）について説明する。
【０１１３】
ステップＳ２１１では、コンピュータ６０の処理部６３は、以下の様な処理を行う。
【０１１４】
第１画像Ｇ１には、暗く（濃く）表示されるコンベアベルト３２の戴置面３２ａそのものを写した画素（戴置面画素）と、比較的明るく（淡く）表示されるコンベアベルト３２の戴置面３２ａ上の被検査物Ｐを写した画素（被検査物画素）と、が存在する。戴置面画素は、戴置面３２ａが反射した光を受光した光検出素子５４が出力する信号に基づいた画素である。被検査物画素は、被検査物Ｐが反射した光を受光した光検出素子５４が出力する信号に基づいた画素である。
【０１１５】
そこで、処理部６３は、戴置面画素と被検査物画素とを判別するための適切な閾値を用いて、第１画像Ｇ１の二値化処理を行う。処理部６３は、このように二値化処理された第１画像Ｇ１に基づいて、第１画像Ｇ１の被検査物画素のマスク処理を行う。
【０１１６】
被検査物画素がマスク処理された第１画像Ｇ１には、暗く（濃く）表示される戴置面画素と、明るく（淡く）表示されるコンベアベルト３２の戴置面３２ａに付いた異物Ｆが発生する蛍光を写した画素（異物画素）と、が存在し得る。異物画素は、戴置面３２ａに付いた異物Ｆが発生する蛍光を受光した光検出素子５４が出力する信号に基づく画素である。
【０１１７】
そこで、処理部６３は、戴置面画素と異物画素とを判別するための適切な閾値を用いて、被検査物画素がマスク処理された第１画像Ｇ１の二値化処理を行う。処理部６３は、このように二値化処理された画像に基づいて、戴置面３２ａに付いた異物Ｆを検出可能である。
【０１１８】
次に、ステップＳ２１２では、処理部６３が、被検査物画素がマスク処理された第１画像Ｇ１を二値化処理した画像から、異物Ｆの量を算出する。ここでの異物Ｆの量は、被検査物画素がマスク処理され、更に二値化処理された第１画像Ｇ１中の、蛍光を写した画素の数に基づいて求められる異物Ｆの検知面積Ｓである。検知面積Ｓは、第１画像Ｇ１に写された戴置面３２ａの中の、異物Ｆの存在する（蛍光を発している）領域の面積である。
【０１１９】
次に、ステップＳ２１３では、処理部６３は、ステップＳ２１２で算出された異物Ｆの量（検知面積Ｓ）を、コンピュータ６０の記憶部６１の積算値記憶領域６１ａに記憶された面積積算値Ｓｔに加算する。この処理により、処理部６３は、戴置面３２ａに付いた異物Ｆの量の累積値（面積積算値Ｓｔ）を、戴置面３２ａに付いた異物Ｆの量に関する値として算出する。記憶部６１の積算値記憶領域６１ａには、算出された面積積算値Ｓｔが記憶される。
【０１２０】
次に、ステップＳ２１４では、ステップＳ２１３で算出された面積積算値Ｓｔが記憶部６１の閾値記憶領域６１ｂに記憶された第２基準値Ｙ２より大きいか否かが、コンピュータ６０により判断される。面積積算値Ｓｔが第２基準値Ｙ２より大きい場合（ステップＳ２１５）、光検査装置１００は停止する。具体的には、コンピュータ６０が、搬送部３０、光照射部４０、及び光検出部５０の運転を停止する。一方、面積積算値Ｓｔが第２基準値Ｙ２以下の場合、ステップＳ２１６へと進む。
【０１２１】
ステップＳ２１６では、ステップＳ２１３で算出された面積積算値Ｓｔが記憶部６１の閾値記憶領域６１ｂに記憶された第２基準値Ｙ２以下であって、かつ、第１基準値Ｙ１より大きいかが、コンピュータ６０により判断される。この条件が満たされる場合、モニタ７０が警告を出力する（ステップＳ２１７）。一方、この条件を満たさない場合、ステップＳ２１２に戻る。ステップＳ２１７においてモニタ７０に出力される警告は、例えばコンベアベルト３２の清掃を要求するメッセージである。なお、ステップＳ２１７において、モニタ７０への警告の出力が完了すると、処理フローはステップＳ２１２へと戻る。
【０１２２】
次に、被検査物異物検出処理（ステップＳ２２１）について説明する。
【０１２３】
ステップＳ２２１では、コンピュータ６０の処理部６３は、以下の様な処理を行う。
【０１２４】
まず、処理部６３は、前述のステップＳ２１１と同様に、戴置面画素と被検査物画素とを判別するための適切な閾値を用いて、第１画像Ｇ１の二値化処理を行う。
【０１２５】
その後、処理部６３は、二値化処理された第１画像Ｇ１に基づいて、第１画像Ｇ１の戴置面画素のマスク処理を行う。
【０１２６】
戴置面画素がマスク処理された第１画像Ｇ１には、比較的暗く（濃く）表示される被検査物画素と、明るく（淡く）表示される被検査物Ｐが含む異物Ｆが発生する蛍光を写した画素（含有異物画素）と、が存在し得る。含有異物画素は、被検査物Ｐが含む異物Ｆが発生する蛍光を受光した光検出素子５４が出力する信号に基づく画素である。
【０１２７】
そこで、処理部６３は、被検査物画素と含有異物画素とを判別するための適切な閾値を用いて、戴置面画素がマスク処理された第１画像Ｇ１の二値化処理を行う。処理部６３は、このように二値化処理された画像に基づいて、被検査物Ｐが含む異物Ｆを検出可能である。
【０１２８】
次に、ステップＳ２２２では、処理部６３が、戴置面画素がマスク処理された第１画像Ｇ１を二値化処理した画像から、異物Ｆの量を算出する。ここでの異物Ｆの量は、戴置面画素がマスク処理され、更に二値化処理された第１画像Ｇ１中の、蛍光を写した画素の数に基づいて求められる異物Ｆの検知面積Ａである。検知面積Ａは、第１画像Ｇ１に写された被検査物Ｐ上の、異物Ｆの存在する（蛍光を発している）領域の面積である。
【０１２９】
次に、ステップＳ２２３では、コンピュータ６０は、ステップＳ２２２で算出された異物Ｆの量（検知面積Ａ）が、記憶部６１の閾値記憶領域６１ｂに記憶された被検査物基準値Ｚ以下であるか否かを判断する。被検査物基準値Ｚには比較的小さな値（例えば０）が選択されることが好ましい。
【０１３０】
ステップＳ２２３で、検知面積Ａが被検査物基準値Ｚ以下であると判定されると、検査対象の被検査物Ｐは合格品と判断され（ステップＳ２２４）、検知面積Ａが被検査物基準値Ｚより大きいと判断されると、検査対象の被検査物Ｐは不合格品と判断される（ステップＳ２２５）。これらの検査結果は、モニタ７０に表示される。
【０１３１】
ステップＳ２２４で合格品と判断された被検査物Ｐは、検査領域Ｒ外へと出た後、図示しないコンベアで下流側の工程へと運ばれる。一方、ステップＳ２２５で不合格品と判断された被検査物Ｐは、検査領域Ｒ外へと出た後、図示しない振り分け機構により合格品の搬送される経路から排出され、被検査物Ｐから異物Ｆを取り除く工程へと移送される。
【０１３２】
（４）特徴
（４−１）
本実施形態に係る光検査装置１００は、搬送部３０と、光照射部４０と、光検出部５０と、画像生成部６２と、処理部６３と、を備える。搬送部３０は、検査領域Ｒにおいて、戴置面３２ａ上に戴置された被検査物Ｐを搬送する。光照射部４０は、検査領域Ｒにおいて、搬送部３０の戴置面３２ａに向かって異物Ｆに蛍光を発生させるための励起光を照射する。光検出部５０は、蛍光を検出し、検出結果に応じた信号を出力する。画像生成部６２は、光検出部５０から出力された信号に応じた画像を生成する。処理部６３は、画像生成部６２が生成する画像に基づいて、異物検出処理を行う。処理部６３は、被検査物Ｐに含まれる異物Ｆを検出する被検査物異物検出処理、及び、戴置面３２ａに付いた異物Ｆを検出する戴置面異物検出処理を行う。
【０１３３】
本実施形態に係る光検査装置１００では、搬送部３０の戴置面３２ａに付着した異物Ｆが検出されるため、適切なタイミングで戴置面３２ａの清掃等を行うことができ、搬送部３０に付いた異物Ｆが被検査物Ｐに付着することを効率よく防止できる。
【０１３４】
（４−２）
本実施形態に係る光検査装置１００では、処理部６３は、戴置面状態確認運転時に生成される第２画像Ｇ２に基づき、戴置面異物検出処理を行う。つまり、本実施形態に係る光検査装置１００では、処理部６３は、被検査物Ｐが検査領域Ｒを搬送されていないタイミングにおける光検出部５０による蛍光の検出結果に応じて生成された画像に基づき、戴置面異物検出処理を行う。
【０１３５】
本実施形態に係る光検査装置１００では、被検査物Ｐが搬送されていない状態の戴置面３２ａの検査が行われるため、被検査物Ｐに遮蔽されること無く、戴置面３２ａ全体の異物検査を行うことができる。
【０１３６】
（４−３）
本実施形態に係る光検査装置１００では、処理部６３は、通常運転時に生成される第１画像Ｇ１に基づき、被検査物異物検出処理及び戴置面異物検出処理を並行して行う。つまり、本実施形態に係る光検査装置１００では、処理部６３は、被検査物Ｐが検査領域Ｒを搬送されているタイミングにおける光検出部５０による蛍光の検出結果に応じて生成された画像に基づき、被検査物異物検出処理及び戴置面異物検出処理を並行して行う。
【０１３７】
本実施形態に係る光検査装置１００では、被検査物Ｐが搬送されている状態において、被検査物Ｐ及び戴置面３２ａの検査が並列的に行われるため、被検査物Ｐの検査を（一時的に中断すること無く）効率よく行いながら、戴置面３２ａの状態についても検査することができる。
【０１３８】
（４−４）
本実施形態に係る光検査装置１００では、処理部６３は、戴置面異物検出処理の結果に基づき、戴置面３２ａに付いた異物Ｆの量に関する値を算出する。
【０１３９】
具体的には、処理部６３は、戴置面状態確認運転時に、搬送部３０のコンベアベルト３２の戴置面３２ａ全体の異物Ｆの量（異物検知総面積Ｓall）を、戴置面３２ａに付いた異物Ｆの量に関する値として算出する。
【０１４０】
また、処理部６３は、通常運転時に、戴置面３２ａの異物Ｆの量の累積値（面積積算値Ｓｔ）を、戴置面３２ａに付いた異物Ｆの量に関する値として算出する。
【０１４１】
本実施形態に係る光検査装置１００では、搬送部３０の戴置面３２ａへの異物Ｆの付着状態が定量的に把握されるため、搬送部３０のメンテナンス（コンベアベルト３２の清掃等）の必要度を正確に把握することができる。
【０１４２】
（４−５）
本実施形態に係る光検査装置１００は、出力部の一例としてのモニタ７０を備える。モニタ７０は、処理部６３が算出した異物Ｆの量に関する値が第１閾値を超過する場合に、警告を出力する。
【０１４３】
具体的には、モニタ７０は、戴置面状態確認運転時に、処理部６３が算出した異物検知総面積Ｓallが第１閾値の一例としての清浄度基準値Ｘを超過する場合に、警告を出力する。
【０１４４】
また、モニタ７０は、通常運転時に、処理部６３が算出した面積積算値Ｓｔが第１閾値の一例としての第１基準値Ｙ１を超過する場合に、警告を出力する。
【０１４５】
ここでは、戴置面３２ａの異物Ｆによる汚染が所定の状態にあることを、装置のオペレータが容易に把握することができるため、搬送部３０の清掃等の必要なメンテナンスをタイムリーに行うことができる。
【０１４６】
（４−６）
本実施形態に係る光検査装置１００は、処理部６３が算出した異物Ｆの量に関する値が第２閾値を超過する場合に停止する。
【０１４７】
具体的には、光検査装置１００は、通常運転時に、処理部６３が算出した面積積算値Ｓｔが第２閾値の一例としての第２基準値Ｙ２を超過する場合に、運転を停止する。
【０１４８】
本実施形態に係る光検査装置１００は、搬送部３０の戴置面３２ａの異物Ｆによる汚染度が比較的高い場合に運転が停止させられるため、搬送される被検査物Ｐを戴置面３２ａ上の異物Ｆで汚染してしまうリスクを低減できる。
【０１４９】
（４−７）
本実施形態に係る光検査装置１００は、受付部の一例としてのモニタ７０を備える。モニタ７０は、閾値（第１閾値の一例としての清浄度基準値Ｘ及び第１基準値Ｙ１や、第２閾値の一例としての第２基準値Ｙ２）の変更を受け付ける。
【０１５０】
本実施形態に係る光検査装置１００では、ニーズに応じた適切な戴置面３２ａへの異物Ｆの付着状態で、オペレータに警告を出力したり、光検査装置１００の運転を停止したりすることができる。
【０１５１】
＜第２実施形態＞
本発明の第２実施形態に係る光検査装置１００について説明する。
【０１５２】
第２実施形態に係る光検査装置１００の物理的構成は、第１実施形態の光検査装置１００と同様である。第２実施形態に係る光検査装置１００は、通常運転時の光検査装置１００の動作だけが第１実施形態と異なるため、この相違点についてのみ説明し、他の説明は省略する。
【０１５３】
第１実施形態の光検査装置１００では、通常運転時に、第１画像Ｇ１に基づいて、被検査物異物検出処理及び戴置面異物検出処理が並行して実行される。
【０１５４】
これに対し、第２実施形態の光検査装置１００では、通常運転時に、第１画像Ｇ１に基づいて被検査物異物検出処理だけを行う。また、第２実施形態の光検査装置１００は、通常運転時に、以下の様にして戴置面異物検出処理を行う。
【０１５５】
第２実施形態の光検査装置１００では、画像生成部６２が、被検査物Ｐが検査領域Ｒを搬送されていないタイミングにおける光検出部５０による蛍光の検出結果に応じて画像（以後、第３画像と呼ぶ）を生成する。つまり、画像生成部６２は、１の第１画像Ｇ１を生成した後、次の第１画像Ｇ１を生成するまでの間に光検出部５０から送信されてくる信号に基づいて、戴置面３２ａだけを写した第３画像を１つ以上生成する。第３画像は、第２画像Ｇ２と同様の画像であるため図示は省略する。そして、第２実施形態の光検査装置１００では、コンピュータ６０が、第３画像を用いて図７のフローチャートにおけるステップＳ２１１からステップＳ２１７と同様の処理を行い、戴置面３２ａへの異物Ｆの付着状態を判断する。
【０１５６】
なお、第２実施形態の光検査装置１００は、図７のフローチャートにおけるステップＳ２１１からステップＳ２１７と同様の処理を行う代わりに、以下のような処理を行ってもよい。
【０１５７】
コンピュータ６０は、搬送部３０のエンコーダ３８からの信号に基づいて、生成される各第３画像がコンベアベルト３２の戴置面３２ａのどの部分の画像であるかを特定する。また、コンピュータ６０は、複数の第３画像において算出された戴置面３２ａに付いた異物Ｆの量（異物Ｆの検知面積）に基づき、コンベアベルト３２の戴置面３２ａ全体の異物Ｆの量を、戴置面３２ａに付いた異物Ｆの量に関する値として算出する。そして、コンピュータ６０は、この算出結果に基づき、モニタ７０への警告の出力や、光検査装置１００の停止を行う。
【０１５８】
以上のように、第２実施形態の光検査装置１００では、通常運転時に被検査物Ｐが搬送されていない状態の戴置面３２ａの検査が行われるため、被検査物Ｐに遮蔽されること無く、戴置面３２ａ全体の異物検査を行うことができる。
【０１５９】
＜変形例＞
上記実施形態の変形例を以下に示す。なお、変形例は、互いに矛盾しない範囲で適宜組み合わされてもよい。
【０１６０】
（１）変形例Ａ
上記実施形態では、被検査物Ｐは魚介類の切り身であるが、被検査物Ｐは魚介類の切り身に限定されるものではない。被検査物Ｐは、例えば食肉等であってもよい。
【０１６１】
（２）変形例Ｂ
上記実施形態では、異物Ｆは寄生虫であるが、異物Ｆの種類は寄生虫に限定されるものではない。異物Ｆは、例えば、骨、鱗、内臓等であってもよい。
【０１６２】
（３）変形例Ｃ
上記実施形態では、光照射部４０の照射する励起光は紫外域の波長帯を有するが、励起光は、紫外域以外の波長帯を有するものであってもよい。光照射部４０の照射する励起光は、異物Ｆに蛍光を発生させ得る波長を有する光であればよい。
【０１６３】
なお、異物Ｆの種類ごとに、好適な励起光の波長の範囲及び励起光により発生する蛍光の波長の範囲を例示する。
【０１６４】
異物Ｆがアニサキスである場合、好適な励起光の波長の範囲は、３００〜４００ｎｍ（より好ましくは、３３０〜３５０ｎｍ）であり、それにより発生する蛍光の波長の範囲は、３８０〜５００ｎｍ（より好ましくは、４２０〜４５０ｎｍ）である。
【０１６５】
異物Ｆがブリ線虫である場合、好適な励起光の波長の範囲は、３５０〜４５０ｎｍ（より好ましくは、３７０〜３９０ｎｍ）であり、それにより発生する蛍光の波長の範囲は、４２０〜５３０ｎｍ（より好ましくは、４４０〜４７０ｎｍ）である。
【０１６６】
異物Ｆがサバの骨である場合、好適な励起光の波長の範囲は、３２０〜３８０ｎｍ（より好ましくは、３２０〜３４０ｎｍ）であり、それにより発生する蛍光の波長の範囲は、３８０〜４３０ｎｍ（より好ましくは、３８０〜４００ｎｍ）である。
【０１６７】
異物Ｆがタイの鱗である場合、好適な励起光の波長の範囲は、３００〜４００ｎｍ（より好ましくは、３２０〜３４０ｎｍ）であり、それにより発生する蛍光の波長の範囲は、３８０〜５００ｎｍ（より好ましくは、３８０〜４００ｎｍ）である。
【０１６８】
異物Ｆがタイの内臓である場合、好適な励起光の波長の範囲は、３２０〜５００ｎｍ（より好ましくは、３６０〜３８０ｎｍ）であり、それにより発生する蛍光の波長の範囲は、４８０〜５８０ｎｍ（より好ましくは、５１０〜５３０ｎｍ）である。
【０１６９】
（４）変形例Ｄ
上記実施形態の光検査装置１００は、異物Ｆの量として、異物Ｆの存在する（蛍光を発生している）領域の面積を利用しているが、これに限定されるものではない。
【０１７０】
例えば、光検査装置１００は、異物Ｆの量として、異物Ｆの個数（異物Ｆの検知数）を利用してもよい。具体的には、光検査装置１００は、蛍光の検出結果に応じて生成され、二値化された図面において、エッジ検出処理等を利用して、蛍光を発生している領域の個数を計数し、これを異物Ｆの個数（検知数）としてもよい。
【０１７１】
そして、処理部６３は、通常運転時に戴置面３２ａに付いた異物Ｆの個数の累積値を戴置面３２ａに付いた異物の量に関する値として算出したり、戴置面状態確認運転時にコンベアベルト３２の戴置面３２ａ全体の異物Ｆの個数を、戴置面３２ａに付いた異物の量に関する値として算出したりしてもよい。
【０１７２】
（５）変形例Ｅ
上記実施形態では、光検査装置１００は、通常運転時に異物Ｆの量の累積値を、戴置面３２ａについた異物Ｆの量に関する値として算出し、これを閾値と比較することで、戴置面３２ａへの異物Ｆの付着状態が判断しているが、光検査装置１００は他の方法で戴置面３２ａへの異物Ｆの付着状態を判断してもよい。
【０１７３】
例えば、光検査装置１００は、通常運転時に、各第１画像Ｇ１において、戴置面３２ａに付いている異物Ｆの量を、戴置面３２ａに付いた異物Ｆの量に関する値として利用し、これを閾値と比較することで戴置面３２ａへの異物Ｆの付着状態が判断してもよい。
【０１７４】
（６）変形例Ｆ
上記実施形態では、光検査装置１００は、通常運転時に、第１基準値Ｙ１及び第２基準値Ｙ２の２つの閾値を用いて、モニタ７０への警告の出力と、光検査装置１００の停止とを行うよう構成されているが、これに限定されるものではない。
【０１７５】
例えば、光検査装置１００は、第１基準値Ｙ１を閾値として用いてモニタ７０への警告の出力だけを行うものであってもよいし、第２基準値Ｙ２を閾値として用いて光検査装置１００の停止だけを行うものであってもよい。
【０１７６】
（７）変形例Ｇ
上記実施形態では、光検査装置１００は、通常運転時に異物Ｆの量に関する値を算出し、この値を用いて、戴置面３２ａへの異物Ｆの付着状態を判断し、モニタ７０への警告の出力や、光検査装置１００の運転の停止を行っているが、これに限定されるものではない。
【０１７７】
例えば、光検査装置１００は、戴置面３２ａに付いた異物Ｆが検出された時点で（つまり、その量に関係なく）、モニタ７０への警告の出力や、光検査装置１００の運転の停止を行ってもよい。
【０１７８】
また、例えば、光検査装置１００は、上記実施形態の構成に代えて、又は、上記実施形態の構成に加えて、異物Ｆが戴置面３２ａに付いた位置に基づいて（例えば異物Ｆの検出された位置が被検査物Ｐに付着しやすい場所であった場合に）、モニタ７０への警告の出力や、光検査装置１００の運転の停止を行ってもよい。
【０１７９】
（８）変形例Ｈ
上記実施形態では、警告がモニタ７０に出力されるが、警告の出力は他の態様で行われてもよい。例えば、光検査装置１００は、警告音を出力するスピーカや、警告を伝えるランプを、警告を出力とする出力部として有してもよい。
【０１８０】
（９）変形例Ｉ
上記実施形態では、通常運転時に、被検査物Ｐが検査領域Ｒを搬送されるタイミングが検出され、そのタイミングにおける光検出部５０による蛍光の検出結果に応じて第１画像Ｇ１（少なくとも被検査物異物検出処理に使用される画像）が生成される。しかし、光検査装置１００は、このような第１画像Ｇ１を生成するものでなくてもよい。
【０１８１】
例えば、光検査装置１００は、第１画像Ｇ１を生成する代わりに、被検査物Ｐが検査領域Ｒを搬送されているタイミングとは関係なく、光検出部５０による蛍光の検出結果に応じて、被検査物Ｐの搬送方向Ｄ１に関して一定長さの戴置面３２ａの画像（以後、第４画像と呼ぶ）を連続的に生成してもよい。より具体的には、光検査装置１００の画像生成部６２は、コンベアベルト３２の戴置面３２ａが所定距離（例えば５０ｃｍ）だけ搬送される度に、戴置面３２ａが所定距離だけ搬送される間の光検出部５０による蛍光の検出結果に応じて第４画像を生成してもよい。通常、被検査物Ｐの搬送速度（コンベアベルト３２の回転速度）は一定であるため、第４画像は一定時間の光検出部５０による蛍光の検出結果に応じて生成される画像である。
【０１８２】
なお、このようにして生成される第４画像には、被検査物Ｐが（単数又は複数）写っている場合もあれば、写っていない場合もある。
【０１８３】
そこで、光検査装置１００のコンピュータ６０の処理部６３は、例えば、戴置面画素（戴置面３２ａそのものを写した画素）と被検査物画素（戴置面３２ａ上の被検査物Ｐを写した画素）とを判別するための適切な閾値を用いて第４画像の二値化処理を行う。そして処理部６３は、二値化処理された第４画像に基づいて、第４画像中に被検査物画素が存在するか否かを判定する。そして、例えば、コンピュータ６０は、第４画像に被検査物Ｐが写っていると判定される場合には、図７のフローチャートと同様の流れに沿って（第１画像Ｇ１の代わりに第４画像を用いて）、一連の処理（ステップＳ２１１〜ステップＳ２１７及びステップＳ２２１〜Ｓ２２５の処理）を行う。なお、第４画像に被検査物Ｐが複数写っていると判断される場合には、コンピュータ６０は、ステップＳ２２１〜ステップＳ２２５の処理を被検査物Ｐ別に行ってもよい。一方、第４画像に被検査物Ｐが写っていないと判定される場合には、コンピュータ６０は、第４画像を用いて、図７のフローチャートにおけるステップＳ２１１からステップＳ２１７と同様の処理を行い、戴置面３２ａへの異物Ｆの付着状態を判断する（第２実施形態の第３画像を用いた戴置面３２ａへの異物Ｆの付着状態の判断と同様）。
【符号の説明】
【０１８４】
３０  搬送部
３２  コンベアベルト
３２ａ  戴置面
４０  光照射部
５０  光検出部
６２  画像生成部
６３  処理部
７０  モニタ（出力部，受付部）
１００  光検査装置
Ｆ  異物
Ｒ  検査領域
Ｐ  被検査物
Ｘ  清浄度基準値（第１閾値、第２閾値）
Ｙ１  第１基準値（第１閾値）
Ｙ２  第２基準値（第２閾値）
【先行技術文献】
【特許文献】
【０１８５】
【特許文献１】特開平１−３１１２５３号公報
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
2018048864.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
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