(57)【要約】【課題】ISIの除去性能を向上させることが可能な判定帰還型等化器及びインターコネクト回路を提供すること。【解決手段】比較回路と、前記比較回路の比較結果をラッチするラッチ回路と、制御信号に応じて前記比較回路の判定閾値を設定する設定回路と、前記ラッチ回路の出力信号によりオンオフ制御されるスイッチ回路とを備え、前記設定回路は、前記比較回路の入力段に前記スイッチ回路を介して並列に接続されており、前記比較回路を駆動するクロック信号に同期して動作する、判定帰還型等化器。当該判定帰還型等化器を備えたインターコネクト回路。【選択図】図２
2018125682.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
比較回路と、
前記比較回路の比較結果をラッチするラッチ回路と、
制御信号に応じて前記比較回路の判定閾値を設定する設定回路と、
前記ラッチ回路の出力信号によりオンオフ制御されるスイッチ回路とを備え、
前記設定回路は、前記比較回路の入力段に前記スイッチ回路を介して並列に接続されており、前記比較回路を駆動するクロック信号に同期して動作する、判定帰還型等化器。
【請求項２】
前記設定回路は、前記入力段に前記スイッチ回路を介して並列に接続された閾値調整トランジスタを前記制御信号に応じて制御する、請求項１に記載の判定帰還型等化器。
【請求項３】
前記設定回路は、前記制御信号に対して電圧値が線形に変化する制御電圧によって、前記閾値調整トランジスタを制御する、請求項２に記載の判定帰還型等化器。
【請求項４】
前記設定回路は、デジタルの前記制御信号をアナログの前記制御電圧に変換するデジタルアナログ変換器を有する、請求項３に記載の判定帰還型等化器。
【請求項５】
前記比較回路は、前記入力段に接続されたオフセット調整回路を有し、
前記オフセット調整回路は、前記判定閾値のオフセットを調整する、請求項１から４のいずれか一項に記載の判定帰還型等化器。
【請求項６】
前記比較回路は、２ｎ（ｎは、自然数）値のパルス振幅変調信号を比較する比較器を（２ｎ−１）個又は２×（２ｎ−１）個有し、
前記ラッチ回路は、前記比較器の比較結果をラッチするラッチ部を（２ｎ−１）個又は２×（２ｎ−１）個有し、
前記設定回路は、前記比較器の判定閾値を設定する閾値設定回路を（２ｎ−１）個又は２×（２ｎ−１）個有し、
前記スイッチ回路は、前記ラッチ部の出力信号によりオンオフ制御されるスイッチ部を（２ｎ−１）個又は２×（２ｎ−１）個有する、請求項１から５のいずれか一項に記載の判定帰還型等化器。
【請求項７】
送信装置と受信装置とを備えたインターコネクト回路であって、
前記受信装置は、前記送信装置から送信される信号を整形する判定帰還型等化器を有し、
前記判定帰還型等化器は、
比較回路と、
前記比較回路の比較結果をラッチするラッチ回路と、
制御信号に応じて前記比較回路の判定閾値を設定する設定回路と、
前記ラッチ回路の出力信号によりオンオフ制御されるスイッチ回路とを備え、
前記設定回路は、前記比較回路の入力段に前記スイッチ回路を介して並列に接続されており、前記比較回路を駆動するクロック信号に同期して動作する、インターコネクト回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、判定帰還型等化器及びインターコネクト回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、サーバーやコンピュータなどの情報処理装置において、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）などの部品の性能（特に、バンド幅）は、大きく向上している。情報処理装置全体の総バンド幅の向上のため、ＣＰＵなどのチップ間、チップ内の複数の素子間、又は複数の回路ブロック間で、データを送受信する送受信回路の高速化が要求されることがある。また、ボード間や筐体間でデータを送受信する送受信回路の高速化が要求されることもある。このように、電気通信又は光通信で高速なデータ通信が要求される送受信回路では、通信路において発生するデータ信号の劣化を補償するため、例えば、信号等化器（イコライザ）が用いられる。
【０００３】
イコライザの一つに、判定帰還型等化器（Decision  Feedback  Equalizer，DFE）がある（例えば、非特許文献１を参照）。DFEは、データ信号に重畳される符号間干渉（Inter  Symbol  Interference，  ISI）の影響を低減するイコライザである。DFEは、入力されるデータ信号を比較器が判定する度に、「過去の判定結果」と「外部から設定される係数（DFE係数）」とによる重み付き和に応じて決まる量だけ比較器の判定閾値を変化させることで、データ信号からISIを直接差し引く。したがって、DFE係数がISIの値に近い値であるほど、アイ（eye）開口量は大きくなり、ISIの影響を低減することが可能となる。
【０００４】
ここで、従来技術として、比較器の内部に重み付き加算器を組み込んだDFEが提案されている（例えば、非特許文献２を参照）。非特許文献２では、比較器に含まれるラッチと電源とを接続するトランジスタをオンさせる個数を、外部からのデジタル制御信号に応じて変えることによって、DFE係数は設定される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００５−３４１５８２号公報
【特許文献２】国際公開第２００９／１１３４６２号
【非特許文献】
【０００６】
【非特許文献１】Sam  Palermo，ECEN689：Special  Topics  in  High-Speed  Links  Circuits  and  Systems，Spring  2010，Class  Notes  Lecture  19，Texas  A&M  University
【非特許文献２】T．Shibasaki，et  al．，“A  56-Gb/s  Receiver  Front-End  with  a  CTLE  and  1-Tap  DFE  in  20-nm  CMOS”，IEEE  Symp．VLSI  Circuits，  pp．112-113，Jun．2014．
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、非特許文献２では、本質的にはラッチを構成するインバータのオン抵抗（インバータのＲＣ時定数のＲ）を外部からのデジタル制御信号に応じて変えているため、インバータのＲＣ時定数は、インバータのオン抵抗に対して非線形に変化する。そのため、比較器の判定閾値は、オンさせたトランジスタの個数に対して非線形に変化する。つまり、DFE係数は、外部からのデジタル制御信号に対して非線形に変化してしまう。その結果、外部からのデジタル制御信号に応じて設定されるDFE係数の分解能が比較的大きな箇所では、DFE係数をISIと同じ値にすることが難しくなるので、DFEによるISIの除去性能が低下する場合がある。
【０００８】
そこで、本開示の一態様は、ISIの除去性能を向上させることが可能な判定帰還型等化器及びインターコネクト回路の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するため、本開示の一態様では、
比較回路と、
前記比較回路の比較結果をラッチするラッチ回路と、
制御信号に応じて前記比較回路の判定閾値を設定する設定回路と、
前記ラッチ回路の出力信号によりオンオフ制御されるスイッチ回路とを備え、
前記設定回路は、前記比較回路の入力段に前記スイッチ回路を介して並列に接続されており、前記比較回路を駆動するクロック信号に同期して動作する、判定帰還型等化器が提供される。
【発明の効果】
【００１０】
本開示の一態様によれば、ISIの除去性能を向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】一実施形態に係るインターコネクト回路の構成の一例を示す図である。
【図２】第１の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。
【図３】第１の実施形態に係る比較器、スイッチ部及び閾値設定回路の各構成の一例を示す図である。
【図４】ＤＡＣの構成の一例を示す図である。
【図５】比較器の入力段にトランジスタを並列接続した構成の一例を示す図である。
【図６】並列接続したトランジスタのゲートに印加する電圧値と比較器の判定閾値電圧のオフセットとの関係の一例を示す図である。
【図７】外部からの制御信号とDFE係数との変化の一例を示す図である。
【図８】第２の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。
【図９】第２の実施形態に係る比較器の構成の一例を示す図である。
【図１０】第２の実施形態に係るスイッチ部及び閾値設定回路の各構成の一例を示す図である。
【図１１】第３の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。
【図１２】第３の実施形態に係る各判定閾値の一例を示す図である。
【図１３】第３の実施形態に係るスイッチ部及び閾値設定回路の各構成の一例を示す図である。
【図１４】第３の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の他の一例を示す図である。
【図１５】第３の実施形態に係るスイッチ部及び閾値設定回路の各構成の他の一例を示す図である。
【図１６】第４の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。
【図１７】第４の実施形態に係る各判定閾値の一例を示す図である。
【図１８】第４の実施形態に係るスイッチ部及び閾値設定回路の各構成の一例を示す図である。
【図１９】第５の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。
【図２０】第５の実施形態に係る各判定閾値の一例を示す図である。
【図２１】第５の実施形態に係るスイッチ部及び閾値設定回路の各構成の一例を示す図である。
【図２２】第６の実施形態に係る比較器の構成の一例を示す図である。
【図２３】第６の実施形態に係るスイッチ部及び閾値設定回路の各構成の一例を示す図である。
【図２４】第７の実施形態に係るスイッチ部及び閾値設定回路の各構成の一例を示す図である。
【図２５】第８の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。
【図２６】第９の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。
【図２７】第１０の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１２】
以下、本実施形態を図面に従って説明する。
【００１３】
＜インターコネクト回路＞
図１は、インターコネクト回路１０００の構成の一例を示す図である。インターコネクト回路１０００は、送信装置１１００と受信装置１２００との間で伝送線路１３００を介して送受されるデータ信号を高速シリアル伝送で伝送する。インターコネクト回路１０００は、ＣＰＵなどのチップ間、チップ内の複数の素子間、又は複数の回路ブロック間で、データを送受信する送受信回路の一例である。伝送線路１３００は、有線通信路であるが、無線通信路でもよい。
【００１４】
インターコネクト回路１０００は、送信装置１１００と、受信装置１２００と、伝送線路１３００とを備える。送信装置１１００と受信装置１２００とは、伝送線路１３００によって接続される。送信装置１１００は、マルチプレクサ回路（ＭＵＸ）１１０１と、出力ドライバ１１０２とを備える。受信装置１２００は、イコライザ１２０２と、受信処理部１２０３と、デマルチプレクサ回路（ＤＥＭＵＸ）１２０４とを備える。受信処理部１２０３は、比較器１２０５と、クロック再生回路（ＣＲ）１２０６とを備える。
【００１５】
入力データ７１を送信基準クロック７２に従ってセットするＭＵＸ１１０１の出力は、出力ドライバ１１０２に入力される。出力ドライバ１１０２は、出力信号７３を伝送線路１３００を介して受信装置１２００に送信する。出力信号７３は、イコライザ１２０２によって整形され、比較器１２０５に入力される。
【００１６】
比較器１２０５は、イコライザ１２０２の出力信号７４を一定の閾値と比較して受信データ７５を出力する。ＤＥＭＵＸ１２０４は、受信データ７５を直並列変換する。ＣＲ１２０６は、ＤＥＭＵＸ１２０４の出力信号８０から、イコライザ１２０２の出力信号７４と同期したクロック信号７６を生成し、クロック信号７６を比較器１２０５に供給する。
【００１７】
イコライザ１２０２は、本実施形態に係る判定帰還型等化器の一例である。以下、本実施形態に係る判定帰還型等化器について説明する。
【００１８】
＜第１の実施形態＞
図２は、第１の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。図２に示される等化器１は、等化器１に入力される差動のデータ信号Ｐ，Ｎに重畳されるISIの影響を軽減する判定帰還型等化器の一例である。等化器１は、比較回路１００、ラッチ回路２００、設定回路３００及びスイッチ回路４００を備える。閾値制御信号Ｖｃ、クロック信号CLK及びクロック信号CLKXは、等化器１の外部から供給される。
【００１９】
なお、説明を簡単にするため、比較回路１００内の各比較器１０およびラッチ回路２００内の各ラッチ部２０の動作を以下のように定義する。
【００２０】
・比較器１０は、入力信号および出力信号が差動信号となる、差動入力−差動出力の構成を有する。
【００２１】
・比較器１０は、評価期間では、比較器１０に入力される入力信号に応じて、比較器１０から出力される２つの出力信号のうち、一方の出力信号のレベルをハイレベルとし、他方の出力信号のレベルをローレベルとする。また、比較器１０は、リセット期間では、比較器１０から出力される２つの出力信号の値をいずれも同じ値とする。
【００２２】
・偶数（even）側の比較器（図２の場合、上側の比較器１０）では、比較器１０に入力されるクロック信号CLKがローレベルの期間がリセット期間となり、クロック信号CLKがハイレベルの期間が評価期間になるものとする。even側のラッチ部（図２の場合、上側のラッチ部２０）も同様である。
【００２３】
・奇数（odd）側の比較器（図２の場合、下側の比較器１０）では、比較器１０に入力されるクロック信号CLKXがローレベルの期間がリセット期間となり、クロック信号CLKXがハイレベルの期間が評価期間になるものとする。odd側のラッチ部（図２の場合、下側のラッチ部２０）も同様である。
【００２４】
・クロック信号CLKとクロック信号CLKXは、互いに反転したクロック信号である。すなわち、クロック信号CLKがローレベルのときクロック信号CLKXがハイレベルであり、クロック信号CLKがハイレベルのときクロック信号CLKXはローレベルである。
【００２５】
・ラッチ部２０は、そのラッチ部２０の前段に接続される比較器１０から評価期間に出力される出力信号をラッチする（取り込む）。つまり、ラッチ部２０は、評価期間では、そのラッチ部２０の前段に接続される比較器１０の比較結果をラッチし、そのラッチした比較結果に応じたラッチ出力信号を出力する。また、ラッチ部２０は、そのラッチ部２０の前段に接続される比較器１０のリセット期間では、比較器１０から出力される出力信号にかかわらず、前回の評価期間にラッチした比較結果に応じたラッチ出力信号の出力を継続する。つまり、ラッチ部２０は、リセット期間では、前回の評価期間に取り込んだ比較器１０の比較結果を保持し続ける。
【００２６】
これらの定義は、特に断りの無い限り、後述の他の実施形態にも同様に適用される。
【００２７】
図２に示される等化器１は、２並列のタイムインターリーブ構成を有するハーフレートDFEである。
【００２８】
等化器１は、比較回路１００、ラッチ回路２００、スイッチ回路４００及び設定回路３００を備える。比較回路１００は、互いに同一構成のeven側の比較器１０及びodd側の比較器１０を有する。ラッチ回路２００は、互いに同一構成のeven側のラッチ部２０及びodd側のラッチ部２０を有する。スイッチ回路４００は、互いに同一構成のeven側のスイッチ部４０及びodd側のスイッチ部４０を有する。設定回路３００は、互いに同一構成のeven側の閾値設定回路３０及びodd側の閾値設定回路３０を有する。
【００２９】
以下、even側の比較器１０、odd側の比較器１０、even側のラッチ部２０、odd側のラッチ部２０を、それぞれ、比較器１０ｅ、比較器１０ｏ、ラッチ部２０ｅ、ラッチ部２０ｏと称することがある。同様に、even側のスイッチ部４０、odd側のスイッチ部４０、even側の閾値設定回路３０、odd側の閾値設定回路３０を、それぞれ、スイッチ部４０ｅ、スイッチ部４０ｏ、閾値設定回路３０ｅ、閾値設定回路３０ｏと称することがある。
【００３０】
比較回路１００は、クロック信号CLK，CLKXに同期して動作する比較器１０ｅと、クロック信号CLKX，CLKに同期して動作する比較器１０ｏとを有する。比較器１０ｅは、クロック信号CLKがハイレベルになる評価期間にデータ信号Ｐとデータ信号Ｎとの大小関係を比較し、その比較結果の出力を次の評価期間（クロック信号CLKが次にハイレベルになる期間）が始まるまで継続する。比較器１０ｏは、クロック信号CLKXがハイレベルになる評価期間にデータ信号Ｐとデータ信号Ｎとの大小関係を比較し、その比較結果の出力を次の評価期間（クロック信号CLKXが次にハイレベルになる期間）が始まるまで継続する。
【００３１】
ラッチ回路２００は、比較回路１００の比較結果をラッチする。ラッチ回路２００は、クロック信号CLK，CLKXに同期して動作するラッチ部２０ｅと、クロック信号CLKX，CLKに同期して動作するラッチ部２０ｏとを有する。ラッチ部２０ｅは、クロック信号CLKがハイレベルになる評価期間に比較器１０ｅの比較結果をラッチし、そのラッチした比較結果に応じた一対のラッチ出力信号（出力_P_EV，出力_N_EV）の出力を次の評価期間が始まるまで継続する。ラッチ部２０ｏは、クロック信号CLKXがハイレベルになる評価期間に比較器１０ｏの比較結果をラッチし、そのラッチした比較結果に応じた一対のラッチ出力信号（出力_P_OD，出力_N_OD）の出力を次の評価期間が始まるまで継続する。
【００３２】
スイッチ回路４００は、ラッチ回路２００の出力信号によりオンオフ制御される。スイッチ回路４００は、ラッチ出力信号（出力_P_OD，出力_N_OD）によりオンオフ制御されるスイッチ部４０ｅと、ラッチ出力信号（出力_P_EV，出力_N_EV）によりオンオフ制御されるスイッチ部４０ｏとを有する。
【００３３】
設定回路３００は、等化器１の外部から供給される閾値制御信号Ｖｃに応じて比較回路１００の判定閾値を設定する。閾値制御信号Ｖｃは、制御信号の一例である。設定回路３００は、比較器１０ｅを駆動するクロック信号CLKに同期して動作する閾値設定回路３０ｅと、比較器１０ｏを駆動するクロック信号CLKXに同期して動作する閾値設定回路３０ｏとを有する。閾値設定回路３０ｅは、閾値制御信号Ｖｃに応じて比較器１０ｅの判定閾値を設定する。閾値設定回路３０ｏは、閾値制御信号Ｖｃに応じて比較器１０ｏの判定閾値を設定する。
【００３４】
設定回路３００は、比較回路１００の入力段にスイッチ回路４００を介して並列に接続されている。閾値設定回路３０ｅは、比較器１０ｅの入力段にスイッチ部４０ｅを介して並列に接続されている。閾値設定回路３０ｏは、比較器１０ｏの入力段にスイッチ部４０ｏを介して並列に接続されている。
【００３５】
図３は、第１の実施形態に係る比較器、スイッチ及び閾値設定回路の各構成の一例を示す図である。比較器１０Ａは、比較器１０の一例であり、スイッチ部４０Ａは、スイッチ部４０の一例であり、閾値設定回路３０Ａは、閾値設定回路３０の一例である。
【００３６】
ただし、even側の構成（比較器１０ｅ、スイッチ部４０ｅ及び閾値設定回路３０ｅ）では、クロック信号CLKとクロック信号CLKXとの入力は、図３に示される通りである。これに対し、odd側の構成（比較器１０ｏ、スイッチ部４０ｏ及び閾値設定回路３０ｏ）では、図３に示されるクロック信号CLKは、クロック信号CLKXに置換され、図３に示されるクロック信号CLKXは、クロック信号CLKに置換される。
【００３７】
以下の説明では、特に断りの無い限り、even側の構成についての説明を行い、odd側の構成についての説明はeven側の構成についての説明を援用することで省略する。後述の他の実施形態でも同様に省略する。
【００３８】
図３において、比較器１０Ａは、ダブルテールラッチ型コンパレータである。比較器１０Ａは、入力段１１と、出力段１５とを有する。
【００３９】
入力段１１は、データ信号Ｐ，Ｎがそれぞれに入力される一対のトランジスタ１２と、クロック信号CLKが入力されるトランジスタ１３と、クロック信号CLKが入力される一対のトランジスタ１４とを有する。トランジスタ１３は、一対のトランジスタ１２とグランドとの間に接続される。一対のトランジスタ１４は、一対のトランジスタ１２と電源電位Ｖｄｄとの間に接続される。
【００４０】
出力段１５は、入力段１１での比較結果をラッチして出力する。出力段１５は、一対のトランジスタ１６と、一対のインバータ１７と、トランジスタ１８とを有する。一対のトランジスタ１６の入力部（具体的には、ゲート）は、一対のトランジスタ１２と一対のトランジスタ１４との間の各ノードにそれぞれ接続される。一対のトランジスタ１６は、比較器１０Ａの一対の出力部とグランドとの間に接続される。比較器１０Ａの一対の出力部は、ラッチを形成する一対のインバータ１７に接続される。クロック信号CLKXが入力されるトランジスタ１８は、一対のインバータ１７と電源電位Ｖｄｄとの間に接続される。比較器１０Ａの一対の出力部は、ラッチ部２０（図２参照）に接続される。
【００４１】
図３において、スイッチ部４０Ａは、比較器１０Ａの入力段１１に並列に接続された一対のトランジスタ４１を有する。ラッチ出力信号（出力_P_OD）が入力されるトランジスタ４１の一端は、一方のトランジスタ１４と一方のトランジスタ１２との間のノードに接続される。ラッチ出力信号（出力_N_OD）が入力されるトランジスタ４１の一端は、他方のトランジスタ１４と他方のトランジスタ１２との間のノードに接続される。
【００４２】
図３において、閾値設定回路３０Ａは、比較器１０Ａの入力段１１にスイッチ部４０Ａを介して並列に接続されている。閾値設定回路３０Ａは、例えば、トランジスタ３２と、一対の閾値調整トランジスタ３１と、一対のＤＡＣ（digital-to-Analog  Converter）５０とを有する。
【００４３】
トランジスタ３２は、クロック信号CLKが入力される。トランジスタ３２は、一対の閾値調整トランジスタ３１とグランドとの間に接続されている。
【００４４】
一対の閾値調整トランジスタ３１は、スイッチ部４０Ａに直列に接続され、比較器１０Ａの入力段１１にスイッチ部４０Ａを介して並列に接続されている。一対の閾値調整トランジスタ３１は、閾値制御信号Ｖｃに応じて一対のＤＡＣ５０を介して制御される。一方の閾値調整トランジスタ３１は、一方のトランジスタ４１に直列に接続されており、閾値制御信号Ｖｃに応じて一方のＤＡＣ５０を介して制御される。一方の閾値調整トランジスタ４１は、一方のトランジスタ４１を介して、一方のトランジスタ１４と一方のトランジスタ１２との間のノードに接続される。他方の閾値調整トランジスタ３１は、他方のトランジスタ４１に直列に接続されており、閾値制御信号Ｖｃに応じて他方のＤＡＣ５０を介して制御される。他方の閾値調整トランジスタ４１は、他方のトランジスタ４１を介して、他方のトランジスタ１４と他方のトランジスタ１２との間のノードに接続される。
【００４５】
一対のＤＡＣ５０は、一対の閾値調整トランジスタ３１を閾値制御信号Ｖｃに応じて制御するデジタルアナログ変換器の一例である。一対のＤＡＣ５０は、デジタルの閾値制御信号Ｖｃをアナログの閾値制御電圧に変換し、変換後の閾値制御電圧によって一対の閾値調整トランジスタ３１のゲートを制御する。閾値制御電圧は、制御信号に対して電圧値が線形に変化する制御電圧の一例である。
【００４６】
なお、図３において、トランジスタ１２，１３，１６，３１，３２，４１は、それぞれ、例えば、Ｎチャネル型のＭＯＳＦＥＴ（Metal  Oxide  Semiconductor  Field  Effect  Transistor）である。また、トランジスタ１４，１８は、それぞれ、例えば、Ｐチャネル型のＭＯＳＦＥＴである。
【００４７】
図４は、ＤＡＣの構成の一例を示す図である。ＤＡＣ５０Ａは、ＤＡＣ５０の一例である。ＤＡＣ５０Ａは、定電流源５１と、カレントミラー回路５５と、負荷抵抗５４とを有する。カレントミラー回路５５は、参照元の電流（定電流源５１により生成される定電流）に対してコピー先の出力電流を閾値制御信号Ｖｃに応じて比例関係で変化させる。カレントミラー回路５５は、閾値制御信号Ｖｃに対して電圧値が線形に変化する閾値制御電圧を出力する。
【００４８】
カレントミラー回路５５は、例えば、入力側の少なくとも一つのトランジスタ５２と、出力側の複数のトランジスタ５３とを有する。カレントミラー回路５５は、トランジスタ５３がオンする個数がデジタルの閾値制御信号Ｖｃに応じて線形で変化することにより、デジタルの閾値制御信号Ｖｃに対して電圧値が線形に変化する閾値制御電圧を出力する。
【００４９】
ここで、図５は、比較器１０Ａの入力段１１に一対のトランジスタ３１を並列接続した構成の一例を示す図である。図６は、入力段１１に並列接続した一対のトランジスタ３１のゲートに印加する電圧値と比較器１０Ａの判定閾値のオフセット（ＩＰ−ＩＮ）との関係の一例を示す図である。
【００５０】
Ｖｃｍは、比較器１０Ａに入力される差動信号の動作点である。図５，６に示されるように、比較器１０Ａの入力段１１に一対のトランジスタ３１が並列接続された構成では、比較器１０Ａの判定閾値のオフセット（ＩＰ−ＩＮ）は、一対のトランジスタ３１のゲートに印加する電圧値ΔＶｂに比例する。
【００５１】
したがって、図３のように、閾値設定回路３０Ａが比較器１０Ａの入力段１１に並列に接続されている構成では、閾値制御信号Ｖｃに応じて比較器１０Ａの判定閾値を線形に変化させることが可能となる。例えば、閾値設定回路３０Ａは、デジタルの閾値制御信号Ｖｃに対して電圧値が線形に変化する閾値制御電圧を出力するＤＡＣ５０を用いる。閾値設定回路３０Ａは、入力段１１に並列に接続された各トランジスタ３１のゲートを各ＤＡＣ５０から出力される閾値制御電圧によって制御する。これにより、比較器１０ＡのDFE係数は、デジタルの閾値制御信号Ｖｃに対して線形に変化するので、比較器１０Ａの判定閾値を線形に変化させることができる。
【００５２】
図７は、外部からの制御信号とDFE係数との変化の一例を示す図である。図７において、「従来例」は、非特許文献２の場合の一例を示し、「本実施形態」は、第１の実施形態の場合の一例を示す。
【００５３】
「従来例」では、外部からのデジタル制御信号（オンさせたトランジスタの個数）に対して、DFE係数は非線形に変化する。よって、DFE係数の分解能が比較的大きな箇所（デジタル制御信号が比較的小さなとき）では、DFE係数をISIと同じ値にすることが難しい。そのため、DFEによるISIの除去性能が低下する場合がある。
【００５４】
これに対し、「本実施形態」では、外部からのデジタル制御信号（ＤＡＣ５０の出力電圧）に対するDFE係数の線形性は、「従来例」に比べて向上する。このように、DFE係数を決める外部からの制御信号に対して、実際に設定されるDFE係数の線形性が向上する。その結果、DFE係数の分解能が大きな箇所がなくなる。よって、ISIをより除去することができ、ISIの除去性能を向上させることができる。
【００５５】
＜第２の実施形態＞
図８は、第２の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。第２の実施形態の構成及び効果のうち上述の実施形態と同様の構成及び効果についての説明は、上述の説明を援用することで省略する。
【００５６】
図８に示される等化器２は、等化器２に入力される差動のデータ信号Ｐ，Ｎに重畳されるISIの影響を軽減する判定帰還型等化器の一例である。閾値制御信号Ｖｃ０、閾値制御信号Ｖｃ１、クロック信号CLK及びクロック信号CLKXは、等化器２の外部から供給される。
【００５７】
図９は、第２の実施形態に係る比較器の構成の一例を示す図である。比較器１０Ｂは、比較器１０の一例である。
【００５８】
ただし、even側の比較器１０ｅでは、クロック信号CLKとクロック信号CLKXとの入力は、図９に示される通りである。これに対し、odd側の比較器１０ｏでは、図９に示されるクロック信号CLKは、クロック信号CLKXに置換され、図９に示されるクロック信号CLKXは、クロック信号CLKに置換される。
【００５９】
比較器１０Ｂは、入力段１１に並列に接続されたオフセット調整回路６４を有する点で、比較器１０Ａ（図３参照）と異なる。オフセット調整回路６４は、比較器１０Ｂの判定閾値のオフセットを調整する。オフセット調整回路６４は、例えば、トランジスタ６２と、一対の閾値補正トランジスタ６１と、一対のＤＡＣ（digital-to-Analog  Converter）６３とを有する。
【００６０】
トランジスタ６２は、クロック信号CLKが入力される。トランジスタ６２は、一対の閾値補正トランジスタ６１とグランドとの間に接続されている。
【００６１】
一対の閾値補正トランジスタ６１は、比較器１０Ｂの入力段１１に並列に接続されている。一対の閾値補正トランジスタ６１は、閾値制御信号Ｖｃ０に応じて一対のＤＡＣ６３を介して制御される。一方の閾値補正トランジスタ６１は、閾値制御信号Ｖｃ０に応じて一方のＤＡＣ６３を介して制御される。一方の閾値補正トランジスタ６１は、一方のトランジスタ１４と一方のトランジスタ１２との間のノードＳＰに接続される。他方の閾値補正トランジスタ６１は、閾値制御信号Ｖｃ０に応じて他方のＤＡＣ６３を介して制御される。他方の閾値補正トランジスタ６１は、他方のトランジスタ１４と他方のトランジスタ１２との間のノードＳＮに接続される。
【００６２】
一対のＤＡＣ６３は、一対の閾値補正トランジスタ６１を閾値制御信号Ｖｃ０に応じて制御するデジタルアナログ変換器の一例である。一対のＤＡＣ６３は、デジタルの閾値制御信号Ｖｃ０をアナログの閾値補正制御電圧に変換し、変換後の閾値補正制御電圧によって一対の閾値補正トランジスタ６１のゲートを制御する。
【００６３】
なお、図９において、トランジスタ６１，６２は、それぞれ、例えば、Ｎチャネル型のＭＯＳＦＥＴである。
【００６４】
オフセット調整回路６４は、デジタルの閾値制御信号Ｖｃ０に対して電圧値が線形に変化する閾値補正制御電圧を出力するＤＡＣ６３を用いる。オフセット調整回路６４は、入力段１１に並列に接続された各トランジスタ６１のゲートを各ＤＡＣ６０から出力される閾値補正制御電圧によって制御する。これにより、比較器１０Ｂの判定閾値の製造上の個々のばらつきによるオフセットを低減する補正をすることができる。
【００６５】
図１０は、第２の実施形態に係るスイッチ部及び閾値設定回路の各構成の一例を示す図である。スイッチ部４０Ｂは、スイッチ部４０の一例であり、閾値設定回路３０Ｂは、閾値設定回路３０の一例である。
【００６６】
ただし、even側の閾値設定回路３０ｅでは、クロック信号CLKの入力は、図１０に示される通りである。これに対し、odd側の閾値設定回路３０ｏでは、図１０に示されるクロック信号CLKは、クロック信号CLKXに置換される。
【００６７】
閾値設定回路３０Ｂは、デジタルの閾値制御信号Ｖｃ１に対して電圧値が線形に変化する閾値制御電圧を出力するＤＡＣ５０を用いる。閾値設定回路３０Ｂは、入力段１１に並列に接続された各トランジスタ３１のゲートを各ＤＡＣ５０から出力される閾値制御電圧によって制御する。これにより、比較器１０ＢのDFE係数は、デジタルの閾値制御信号Ｖｃ１に対して線形に変化するので、比較器１０Ｂの判定閾値を線形に変化させることができる。よって、ISIをより除去することができ、ISIの除去性能を向上させることができる。
【００６８】
＜第３の実施形態＞
図１１は、第３の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。第３の実施形態の構成及び効果のうち上述の実施形態と同様の構成及び効果についての説明は、上述の説明を援用することで省略する。
【００６９】
図１１に示される等化器３は、等化器３に入力される差動のデータ信号Ｐ，Ｎに重畳されるISIの影響を軽減する判定帰還型等化器の一例である。閾値制御信号Ｖｃ０〜Ｖｃ３、クロック信号CLK及びクロック信号CLKXは、等化器３の外部から供給される。
【００７０】
等化器３は、４値のパルス振幅変調（Pulse  Amplitude  Modulation，ＰＡＭ）の信号の各値を検出する構成を有する。以下、４値のパルス振幅変調信号を、「ＰＡＭ４信号」と称することがある。等化器３は、比較回路１００、ラッチ回路２００、スイッチ回路４００及び設定回路３００を備える。
【００７１】
比較回路１００は、データ信号Ｐ，Ｎを比較する比較器１０を６個有する。データ信号Ｐ，Ｎのそれぞれが、ＰＡＭ４信号である。
【００７２】
ラッチ回路２００は、６個の比較器１０のうち対応する１個の比較器１０の比較結果をラッチするラッチ部２０を６個有する。６個のラッチ部２０は、それぞれ、６個の比較器１０のうち自身に接続される１個の比較器１０の比較結果をラッチする。
【００７３】
スイッチ回路４００は、６個のラッチ部２０のうち対応する３個のラッチ部２０の出力信号によりオンオフ制御されるスイッチ部４０を６個有する。even側の３個のスイッチ部４０ｅは、odd側の３個のラッチ部２０ｏの４つのラッチ出力信号（出力1_P_OD，  出力2_P_OD，  出力2_N_OD，  出力3_N_OD）によりオンオフ制御される。odd側の３個のスイッチ部４０ｏは、even側の３個のラッチ部２０ｅの４つのラッチ出力信号（出力1_P_EV，  出力2_P_EV，  出力2_N_EV，  出力3_N_EV）によりオンオフ制御される。
【００７４】
設定回路３００は、等化器３の外部から供給される閾値制御信号Ｖｃ１〜Ｖｃ３に応じて、６個の比較器１０のうち対応する１個の比較器１０の判定閾値を設定する閾値設定回路３０を６個有する。閾値制御信号Ｖｃ１〜Ｖｃ３は、それぞれ、制御信号の一例である。
【００７５】
図１２は、第３の実施形態に係る各判定閾値の一例を示す図である。等化器３に含まれる各比較器１０の判定閾値は、図１２に示されるように、各比較器１０に入力されるＰＡＭ４信号が形成する各アイ（eye）の中間部にそれぞれ設定される。例えば、even側の第１の比較器１０及びodd側の第１の比較器１０の各々の判定閾値１は、eye１に設定される。even側の第ｋの比較器１０及びodd側の第ｋの比較器１０の各々の判定閾値ｋは、eyeｋに設定される（ｋは、１から３までの自然数）。
【００７６】
図１３は、第３の実施形態に係るスイッチ部及び閾値設定回路の各構成の一例を示す図である。スイッチ部４０Ｃは、スイッチ部４０の一例であり、閾値設定回路３０Ｃは、閾値設定回路３０の一例である。なお、第３の実施形態に係る比較器１０は、例えば、上述の比較器１０Ａ又は比較器１０Ｂである。
【００７７】
ただし、even側の比較器１０ｅでは、クロック信号CLKとクロック信号CLKXとの入力は、図３又は図９に示される通りである。これに対し、odd側の比較器１０ｏでは、図３又は図９に示されるクロック信号CLKは、クロック信号CLKXに置換され、図３又は図９に示されるクロック信号CLKXは、クロック信号CLKに置換される。また、even側の閾値設定回路３０ｅでは、クロック信号CLKの入力は、図１３に示される通りである。これに対し、odd側の閾値設定回路３０ｏでは、図１３に示されるクロック信号CLKは、クロック信号CLKXに置換される。
【００７８】
図１３において、スイッチ部４０Ｃは、比較器１０の入力段１１に並列に接続された４個のトランジスタ４１を有する。閾値設定回路３０Ｃは、３個のトランジスタ３２と、４個の閾値調整トランジスタ３１と、４個のＤＡＣ５０とを有する。
【００７９】
閾値設定回路３０Ｃは、デジタルの閾値制御信号Ｖｃ１〜Ｖｃ３に対して電圧値が線形に変化する閾値制御電圧を出力するＤＡＣ５０を用いる。閾値設定回路３０Ｃは、入力段１１に並列に接続された各トランジスタ３１のゲートを各ＤＡＣ５０から出力される閾値制御電圧によって制御する。これにより、比較器１０のDFE係数は、デジタルの閾値制御信号Ｖｃ１〜Ｖｃ３に対して線形に変化するので、比較器１０の判定閾値を線形に変化させることができる。よって、ISIをより除去することができ、ISIの除去性能を向上させることができる。
【００８０】
図１４は、第３の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の他の一例を示す図である。図１４に示される等化器３−１は、等化器３の一変形例であり、ＰＡＭ４信号の各値を検出する構成を有する。
【００８１】
even側の３個のスイッチ部４０ｅは、odd側の３個のラッチ部２０ｏの６つのラッチ出力信号（出力_upp_P_OD，  出力_upp_N_OD，  出力_mid_P_OD，  出力_mid_N_OD，  出力_low_P_OD，  出力_low_N_OD）によりオンオフ制御される。odd側の３個のスイッチ部４０ｏは、even側の３個のラッチ部２０ｅの６つのラッチ出力信号（出力_upp_P_EV，  出力upp_N_EV，  出力_mid_P_EV，  出力_mid_N_EV，  出力_low_P_EV，  出力_low_N_EV）によりオンオフ制御される。
【００８２】
図１５は、第３の実施形態に係るスイッチ部及び閾値設定回路の各構成の他の一例を示す図である。スイッチ部４０Ｃ−１は、スイッチ部４０の一例であり、閾値設定回路３０Ｃ−１は、閾値設定回路３０の一例である。
【００８３】
図１５において、スイッチ部４０Ｃ−１は、比較器１０の入力段１１に並列に接続された６個のトランジスタ４１を有する。閾値設定回路３０Ｃ−１は、３個のトランジスタ３２と、６個の閾値調整トランジスタ３１と、６個のＤＡＣ５０とを有する。
【００８４】
＜第４の実施形態＞
図１６は、第４の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。第４の実施形態の構成及び効果のうち上述の実施形態と同様の構成及び効果についての説明は、上述の説明を援用することで省略する。
【００８５】
図１６に示される等化器４は、等化器４に入力される差動のデータ信号Ｐ，Ｎに重畳されるISIの影響を軽減する判定帰還型等化器の一例である。閾値制御信号Ｖｃ０〜Ｖｃ７、クロック信号CLK及びクロック信号CLKXは、等化器４の外部から供給される。
【００８６】
等化器４は、８値のパルス振幅変調の信号の各値を検出する構成を有する。以下、８値のパルス振幅変調信号を、「ＰＡＭ８信号」と称することがある。等化器４も、上記同様、比較回路１００、ラッチ回路２００、スイッチ回路４００及び設定回路３００を備える。回路５００〜５０３に関して、同じ符号に囲まれた回路は、互いに同一の構成を有する。
【００８７】
比較回路１００は、データ信号Ｐ，Ｎを比較する比較器１０を１４個有する。データ信号Ｐ，Ｎのそれぞれが、ＰＡＭ８信号である。
【００８８】
ラッチ回路２００は、１４個の比較器１０のうち対応する１個の比較器１０の比較結果をラッチするラッチ部２０を１４個有する。１４個のラッチ部２０は、それぞれ、１４個の比較器１０のうち自身に接続される１個の比較器１０の比較結果をラッチする。
【００８９】
スイッチ回路４００は、１４個のラッチ部２０のうち対応する７個のラッチ部２０の出力信号によりオンオフ制御されるスイッチ部４０を１４個有する。even側の７個のスイッチ部４０ｅは、odd側の７個のラッチ部２０ｏの８つのラッチ出力信号（出力1_P_OD，  出力2_P_OD，  出力3_P_OD，出力4_P_OD，  出力4_N_OD  出力5_N_OD，  出力6_N_OD，  出力7_N_OD）によりオンオフ制御される。odd側の７個のスイッチ部４０ｏは、even側の７個のラッチ部２０ｅの８つのラッチ出力信号（出力1_P_EV，  出力2_P_EV，  出力3_P_EV，  出力4_P_EV，  出力4_N_EV，  出力5_N_EV，  出力6_N_EV，  出力7_N_EV）によりオンオフ制御される。
【００９０】
設定回路３００は、等化器４の外部から供給される閾値制御信号Ｖｃ１〜Ｖｃ７に応じて、１４個の比較器１０のうち対応する１個の比較器１０の判定閾値を設定する閾値設定回路３０を１４個有する。閾値制御信号Ｖｃ１〜Ｖｃ７は、それぞれ、制御信号の一例である。
【００９１】
図１７は、第４の実施形態に係る各判定閾値の一例を示す図である。等化器４に含まれる各比較器１０の判定閾値は、図１７に示されるように、各比較器１０に入力されるＰＡＭ８信号が形成する各アイ（eye）の中間部にそれぞれ設定される。例えば、even側の第１の比較器１０及びodd側の第１の比較器１０の各々の判定閾値１は、eye１に設定される。even側の第ｋの比較器１０及びodd側の第ｋの比較器１０の各々の判定閾値ｋは、eyeｋに設定される（ｋは、１から７までの自然数）。
【００９２】
図１８は、第４の実施形態に係るスイッチ部及び閾値設定回路の各構成の一例を示す図である。スイッチ部４０Ｄは、スイッチ部４０の一例であり、閾値設定回路３０Ｄは、閾値設定回路３０の一例である。なお、第４の実施形態に係る比較器１０は、例えば、上述の比較器１０Ａ又は比較器１０Ｂである。
【００９３】
ただし、even側の比較器１０ｅでは、クロック信号CLKとクロック信号CLKXとの入力は、図３又は図９に示される通りである。これに対し、odd側の比較器１０ｏでは、図３又は図９に示されるクロック信号CLKは、クロック信号CLKXに置換され、図３又は図９に示されるクロック信号CLKXは、クロック信号CLKに置換される。また、even側の閾値設定回路３０ｅでは、クロック信号CLKの入力は、図１８に示される通りである。これに対し、odd側の閾値設定回路３０ｏでは、図１８に示されるクロック信号CLKは、クロック信号CLKXに置換される。
【００９４】
図１８において、スイッチ部４０Ｄは、比較器１０の入力段１１に並列に接続された８個のトランジスタ４１を有する。閾値設定回路３０Ｄは、７個のトランジスタ３２と、８個の閾値調整トランジスタ３１と、８個のＤＡＣ５０とを有する。
【００９５】
閾値設定回路３０Ｄは、デジタルの閾値制御信号Ｖｃ１〜Ｖｃ７に対して電圧値が線形に変化する閾値制御電圧を出力するＤＡＣ５０を用いる。閾値設定回路３０Ｄは、入力段１１に並列に接続された各トランジスタ３１のゲートを各ＤＡＣ５０から出力される閾値制御電圧によって制御する。これにより、比較器１０のDFE係数は、デジタルの閾値制御信号Ｖｃ１〜Ｖｃ７に対して線形に変化するので、比較器１０の判定閾値を線形に変化させることができる。よって、ISIをより除去することができ、ISIの除去性能を向上させることができる。
【００９６】
＜第５の実施形態＞
図１９は、第５の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。第５の実施形態の構成及び効果のうち上述の実施形態と同様の構成及び効果についての説明は、上述の説明を援用することで省略する。
【００９７】
第５の実施形態は、第３の実施形態及び第４の実施形態を一般化したものである。図１９に示される等化器５は、２ｎ（ｎは、自然数）値のパルス振幅変調信号の各値を検出する構成を有する。以下、２ｎ値のパルス振幅変調信号を、「ＰＡＭ２ｎ信号」と称することがある。
【００９８】
比較回路１００は、ＰＡＭ２ｎ信号を比較する比較器１０を２×（２ｎ−１）個有する。ラッチ回路２００は、２×（２ｎ−１）個の比較器１０の比較結果をラッチするラッチ部２０を２×（２ｎ−１）個の比較器１０のそれぞれに対して有する。スイッチ回路４００は、２×（２ｎ−１）個のラッチ部２０の出力信号によりオンオフ制御されるスイッチ部４０を２×（２ｎ−１）個のラッチ部２０のそれぞれに対して有する。設定回路３００は、等化器５の外部から供給される閾値制御信号Ｖｃ１〜Ｖｃ２ｎ−１に応じて、２×（２ｎ−１）個の比較器１０の判定閾値を設定する閾値設定回路を２×（２ｎ−１）個の比較器１０のそれぞれに対して有する。閾値制御信号Ｖｃ１〜Ｖｃ２ｎ−１は、それぞれ、制御信号の一例である。
【００９９】
図２０は、第５の実施形態に係る各判定閾値の一例を示す図である。等化器５に含まれる各比較器１０の判定閾値は、図２０に示されるように、各比較器１０に入力されるＰＡＭ２ｎ信号が形成する各アイ（eye）の中間部にそれぞれ設定される。例えば、even側の第１の比較器１０及びodd側の第１の比較器１０の各々の判定閾値１は、eye１に設定される。even側の第ｋの比較器１０及びodd側の第ｋの比較器１０の各々の判定閾値ｋは、eyeｋに設定される（ｋは、１から２ｎ−１までの自然数）。
【０１００】
図２１は、第５の実施形態に係るスイッチ部及び閾値設定回路の各構成の一例を示す図である。スイッチ部４０Ｅは、スイッチ部４０の一例であり、閾値設定回路３０Ｅは、閾値設定回路３０の一例である。なお、第５の実施形態に係る比較器１０は、例えば、上述の比較器１０Ａ又は比較器１０Ｂである。
【０１０１】
ただし、even側の比較器１０ｅでは、クロック信号CLKとクロック信号CLKXとの入力は、図３又は図９に示される通りである。これに対し、odd側の比較器１０ｏでは、図３又は図９に示されるクロック信号CLKは、クロック信号CLKXに置換され、図３又は図９に示されるクロック信号CLKXは、クロック信号CLKに置換される。また、even側の閾値設定回路３０ｅでは、クロック信号CLKの入力は、図２１に示される通りである。これに対し、odd側の閾値設定回路３０ｏでは、図２１に示されるクロック信号CLKは、クロック信号CLKXに置換される。
【０１０２】
図２１において、スイッチ部４０Ｅは、比較器１０の入力段１１に並列に接続された２ｎ個のトランジスタ４１を有する。閾値設定回路３０Ｅは、（２ｎ−１）個のトランジスタ３２と、２ｎ個の閾値調整トランジスタ３１と、２ｎ個のＤＡＣ５０とを有する。
【０１０３】
閾値設定回路３０Ｅは、デジタルの閾値制御信号Ｖｃ１〜Ｖｃ２ｎ−１に対して電圧値が線形に変化する閾値制御電圧を出力するＤＡＣ５０を用いる。閾値設定回路３０Ｅは、入力段１１に並列に接続された各トランジスタ３１のゲートを各ＤＡＣ５０から出力される閾値制御電圧によって制御する。これにより、比較器１０のDFE係数は、デジタルの閾値制御信号Ｖｃ１〜Ｖｃ２ｎ−１に対して線形に変化するので、比較器１０の判定閾値を線形に変化させることができる。よって、ISIをより除去することができ、ISIの除去性能を向上させることができる。
【０１０４】
＜第６の実施形態＞
図２２は、第６の実施形態に係る比較器の構成の一例を示す図である。第６の実施形態の構成及び効果のうち上述の実施形態と同様の構成及び効果についての説明は、上述の説明を援用することで省略する。
【０１０５】
第１から第５の実施形態では、各比較器１０の入力段１１は、Ｎチャネル型の差動対である一対のトランジスタ１２を有する。これに対し、第６の実施形態では、比較器１０Ｆの入力段１１は、Ｐチャネル型の差動対である一対のトランジスタ１２を有する。入力段１１がＰチャネル型の差動対でデータ信号Ｐ，Ｎを比較することによって、入力されるデータ信号Ｐ，Ｎの動作点が低下しても、各比較器１０が動作可能となる。
【０１０６】
なお、図２２において、トランジスタ１２，１３，１６，６１，６２は、それぞれ、Ｐチャネル型のＭＯＳＦＥＴである。また、トランジスタ１４，１８は、それぞれ、Ｎチャネル型のＭＯＳＦＥＴである。
【０１０７】
図２３は、第６の実施形態に係るスイッチ部及び閾値設定回路の各構成の一例を示す図である。第６の実施形態では、比較器１０Ｆの入力段１１がＰチャネル型の差動対でデータ信号Ｐ，Ｎを比較する構成なので、図２３に示されるように、閾値設定回路３０Ｆの各トランジスタ３１，３２及びスイッチ部４０Ｆの各トランジスタ４１も、Ｐチャネル型である。
【０１０８】
＜第７の実施形態＞
図２４は、第７の実施形態に係るスイッチ部及び閾値設定回路の各構成の一例を示す図である。第７の実施形態の構成及び効果のうち上述の実施形態と同様の構成及び効果についての説明は、上述の説明を援用することで省略する。
【０１０９】
第７の実施形態では、比較器１０と閾値設定回路３０Ｇとを接続する各トランジスタ４１が、Ｐチャネル型トランジスタとＮチャネル型トランジスタとを組み合わせた相補型スイッチである。これにより、ノードＳＮ，ＳＰや閾値設定回路３０Ｇのトランジスタ３１のドレイン電圧が中間電位であっても、比較器１０と閾値設定回路３０Ｇとを接続する各トランジスタ４１を確実にオン又はオフ動作させることが可能となる。
【０１１０】
＜第８の実施形態＞
図２５は、第８の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。第８の実施形態の構成及び効果のうち上述の実施形態と同様の構成及び効果についての説明は、上述の説明を援用することで省略する。
【０１１１】
第８の実施形態では、各ラッチ部２０は、外部からのクロック信号CLK，CLKXで制御されない構成（例えば、ＲＳラッチ回路）を有する。これにより、ラッチ回路にクロック信号が印加されない分だけ、クロック信号を分配する回路の規模を縮小することが可能である。
【０１１２】
＜第９の実施形態＞
図２６は、第９の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。第９の実施形態の構成及び効果のうち上述の実施形態と同様の構成及び効果についての説明は、上述の説明を援用することで省略する。
【０１１３】
第１から第８の実施形態では、等化器は、タイムインターリーブで動作する２並列のタイムインターリーブ構成を有するハーフレートDFEである。これに対し、第９の実施形態では、等化器９は、タイムインターリーブ構成ではないフルレートDFEである。タイムインターリーブ構成を採用しないことで、等化器９の回路規模を縮小することが可能となる。
【０１１４】
等化器９は、２ｎ（ｎは、自然数）値のパルス振幅変調信号（ＰＡＭ２ｎ信号）の各値を検出する構成を有する。等化器９は、ＰＡＭ２ｎ信号の各値を検出するため、（２ｎ−１）個の等化回路部５０４を有する。等化器９は、比較回路１００、ラッチ回路２００、スイッチ回路４００及び設定回路３００を有する。
【０１１５】
（２ｎ−１）個の等化回路部５０４は、それぞれ、一つの比較器１０を有し、比較回路１００は、（２ｎ−１）個の等化回路部５０４で合わせて（２ｎ−１）個の比較器１０を有する。各比較器１０は、互いに異なる判定閾値を有する。第１の比較器１０は、ＰＡＭ２ｎ信号の第１の値と第２の値との間に第１の判定閾値を有し、第２の比較器１０は、ＰＡＭ２ｎ信号の第２の値と第３の値との間に第２の判定閾値を有する。第（２ｎ−１）の比較器１０は、ＰＡＭ２ｎ信号の第２ｎ−１の値と第２ｎの値との間に第（２ｎ−１）の判定閾値を有する。
【０１１６】
（２ｎ−１）個の等化回路部５０４は、それぞれ、一つのラッチ部２０を有し、ラッチ回路２００は、（２ｎ−１）個の等化回路部５０４で合わせて（２ｎ−１）個のラッチ部２０を有する。ラッチ回路２００は、（２ｎ−１）個の比較器１０の比較結果をラッチするラッチ部２０を（２ｎ−１）個の比較器１０のそれぞれに対して有する。
【０１１７】
（２ｎ−１）個の等化回路部５０４は、それぞれ、一つのスイッチ部４０を有し、スイッチ回路４００は、（２ｎ−１）個の等化回路部５０４で合わせて（２ｎ−１）個のスイッチ部４０を有する。スイッチ回路４００は、（２ｎ−１）個のラッチ部２０の出力信号によりオンオフ制御されるスイッチ部４０を（２ｎ−１）個のラッチ部２０のそれぞれに対して有する。
【０１１８】
（２ｎ−１）個の等化回路部５０４は、それぞれ、一つの閾値設定回路３０を有し、設定回路３００は、（２ｎ−１）個の等化回路部５０４で合わせて（２ｎ−１）個の閾値設定回路３０を有する。設定回路３００は、等化器９の外部から供給される閾値制御信号Ｖｃ１〜Ｖｃ２ｎ−１に応じて、（２ｎ−１）個の比較器１０の判定閾値を設定する閾値設定回路を（２ｎ−１）個の比較器１０のそれぞれに対して有する。
【０１１９】
各比較器１０及び各ラッチ部２０は、クロック信号CLK1とクロック信号CLKX1に同期して動作する。クロック信号CLK1とクロック信号CLKX1は、互いに反転したクロック信号である。各閾値設定回路３０は、比較器１０を駆動するクロック信号CLK1に同期して動作する。
【０１２０】
＜第１０の実施形態＞
図２７は、第１０の実施形態に係る判定帰還型等化器の構成の一例を示す図である。第９の実施形態の構成及び効果のうち上述の実施形態と同様の構成及び効果についての説明は、上述の説明を援用することで省略する。
【０１２１】
第１から第８の実施形態では、等化器は、２並列のタイムインターリーブ構成を有するハーフレートDFEである。これに対し、等化器１１０は、４並列のタイムインターリーブ構成を有するクォーターレートDFEである。４並列のタイムインターリーブ構成を採用することで、クロック信号CLK，CLKXの周波数を２並列のタイムインターリーブ構成と比較して低くすることが可能となる。
【０１２２】
等化器１１０は、２ｎ（ｎは、自然数）値のパルス振幅変調信号（ＰＡＭ２ｎ信号）の各値を検出する構成を有する。等化器１１０は、ＰＡＭ２ｎ信号の各値を検出するため、（２ｎ−１）個の等化回路部５０４を４並列分有する。等化器１１０は、比較回路１００、ラッチ回路２００、スイッチ回路４００及び設定回路３００を有する。
【０１２３】
第１群の（２ｎ−１）個の等化回路部５０４のラッチ出力信号は、第２群の（２ｎ−１）個の等化回路部５０４のスイッチ回路４００の各スイッチ部４０に帰還される。第２群の（２ｎ−１）個の等化回路部５０４のラッチ出力信号は、第３群の（２ｎ−１）個の等化回路部５０４のスイッチ回路４００の各スイッチ部４０に帰還される。第３群の（２ｎ−１）個の等化回路部５０４のラッチ出力信号は、第４群の（２ｎ−１）個の等化回路部５０４のスイッチ回路４００の各スイッチ部４０に帰還される。第４群の（２ｎ−１）個の等化回路部５０４のラッチ出力信号は、第１群の（２ｎ−１）個の等化回路部５０４のスイッチ回路４００の各スイッチ部４０に帰還される。
【０１２４】
第１群及び第３群の各比較器１０及び各ラッチ部２０は、クロック信号CLK1とクロック信号CLKX1に同期して動作する。クロック信号CLK1とクロック信号CLKX1は、互いに反転したクロック信号である。第１群の各閾値設定回路３０は、第１群の比較器１０を駆動するクロック信号CLK1に同期して動作する。第３群の各閾値設定回路３０は、第３群の比較器１０を駆動するクロック信号CLKX1に同期して動作する。
【０１２５】
第２群及び第４群の各比較器１０及び各ラッチ部２０は、クロック信号CLK2とクロック信号CLKX2に同期して動作する。クロック信号CLK2とクロック信号CLKX2は、互いに反転したクロック信号である。第２群の各閾値設定回路３０は、第２群の比較器１０を駆動するクロック信号CLK2に同期して動作する。第４群の各閾値設定回路３０は、第４群の比較器１０を駆動するクロック信号CLKX2に同期して動作する。
【０１２６】
以上、判定帰還型等化器及びインターコネクト回路を実施形態により説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。他の実施形態の一部又は全部との組み合わせや置換などの種々の変形及び改良が、本発明の範囲内で可能である。
【０１２７】
以上の実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
（付記１）
比較回路と、
前記比較回路の比較結果をラッチするラッチ回路と、
制御信号に応じて前記比較回路の判定閾値を設定する設定回路と、
前記ラッチ回路の出力信号によりオンオフ制御されるスイッチ回路とを備え、
前記設定回路は、前記比較回路の入力段に前記スイッチ回路を介して並列に接続されており、前記比較回路を駆動するクロック信号に同期して動作する、判定帰還型等化器。
（付記２）
前記設定回路は、前記入力段に前記スイッチ回路を介して並列に接続された閾値調整トランジスタを前記制御信号に応じて制御する、付記１に記載の判定帰還型等化器。
（付記３）
前記設定回路は、前記制御信号に対して電圧値が線形に変化する制御電圧によって、前記閾値調整トランジスタを制御する、付記２に記載の判定帰還型等化器。
（付記４）
前記設定回路は、デジタルの前記制御信号をアナログの前記制御電圧に変換するデジタルアナログ変換器を有する、付記３に記載の判定帰還型等化器。
（付記５）
前記比較回路は、前記入力段に接続されたオフセット調整回路を有し、
前記オフセット調整回路は、前記判定閾値のオフセットを調整する、付記１から４のいずれか一項に記載の判定帰還型等化器。
（付記６）
前記入力段は、Ｐチャネル型の差動対を有する、付記１〜５のいずれか一項に記載の判定帰還型等化器。
（付記７）
前記スイッチ回路は、前記ラッチ回路の出力信号によりオンオフ制御される相補型スイッチを有する、付記１〜６のいずれか一項に記載の判定帰還型等化器。
（付記８）
前記ラッチ回路は、クロック信号により制御されない、付記１〜７のいずれか一項に記載の判定帰還型等化器。
（付記９）
タイムインターリーブ構成を有する、付記１から８のいずれか一項に記載の判定帰還型等化器。
（付記１０）
２並列又は４並列のタイムインターリーブ構成を有する、付記９に記載の判定帰還型等化器。
（付記１１）
前記比較回路は、２ｎ（ｎは、自然数）値のパルス振幅変調信号を比較する比較器を（２ｎ−１）個又は２×（２ｎ−１）個有し、
前記ラッチ回路は、前記比較器の比較結果をラッチするラッチ部を（２ｎ−１）個又は２×（２ｎ−１）個有し、
前記設定回路は、前記比較器の判定閾値を設定する閾値設定回路を（２ｎ−１）個又は２×（２ｎ−１）個有し、
前記スイッチ回路は、前記ラッチ部の出力信号によりオンオフ制御されるスイッチ部を（２ｎ−１）個又は２×（２ｎ−１）個有する、付記１から５のいずれか一項に記載の判定帰還型等化器。
（付記１２）
ｎは、２である、付記１１に記載の判定帰還型等化器。
（付記１３）
ｎは、３である、付記１１に記載の判定帰還型等化器。
（付記１４）
送信装置と受信装置とを備えたインターコネクト回路であって、
前記受信装置は、前記送信装置から送信される信号を整形する判定帰還型等化器を有し、
前記判定帰還型等化器は、
比較回路と、
前記比較回路の比較結果をラッチするラッチ回路と、
制御信号に応じて前記比較回路の判定閾値を設定する設定回路と、
前記ラッチ回路の出力信号によりオンオフ制御されるスイッチ回路とを備え、
前記設定回路は、前記比較回路の入力段に前記スイッチ回路を介して並列に接続されており、前記比較回路を駆動するクロック信号に同期して動作する、インターコネクト回路。
【符号の説明】
【０１２８】
１〜９，１１０  判定帰還型等化器
１０  比較器
１１  入力段
１５  出力段
２０  ラッチ部
３０  閾値設定回路
３１  閾値調整トランジスタ
４０  スイッチ部
５０  ＤＡＣ
６４  オフセット調整回路
１００  比較回路
２００  ラッチ回路
３００  設定回路
４００  スイッチ回路
１０００  インターコネクト回路
１１００  送信装置
１２００  受信装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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