(57)【要約】【課題】  光ディスク装置の回転軸に軸振れがあることでディスクの面振れ量が大きい場合に、光ディスク装置内の温度上昇に伴いスピンドルモータの回転速度を下げることで面振れ量が更に大きくなりデータ読取り誤りが多くなってしまう。【解決手段】  光ディスク装置は、ディスクを回転駆動するディスク回転駆動部と、ディスクの記録データを読取るピックアップと、ピックアップをディスクの径方向へ駆動するピックアップ搬送部と、ディスクの温度又はディスクの周辺温度を取得する温度取得部と、温度取得部が取得したディスクの温度又はディスクの周辺温度が第一の温度以下の場合、ディスク回転駆動部の回転速度は第一の回転速度とし、温度取得部が取得したディスクの温度又はディスクの周辺温度が第一の温度より高い場合、ディスク回転駆動部の回転速度はディスクの温度又はディスクの周辺温度の上昇に伴い速くなる第二の回転速度とする回転速度決定部とを備える。【選択図】図１
2018152149.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクを回転駆動するディスク回転駆動部と、
前記ディスクの記録データを読み取るピックアップと、
前記ピックアップを前記ディスクの径方向へ駆動するピックアップ搬送部と、
前記ディスクの温度又は前記ディスクの周辺温度を取得する温度取得部と、
前記温度取得部が取得した前記ディスクの温度又は前記ディスクの周辺温度が第一の温度以下の場合、前記ディスク回転駆動部の回転速度は第一の回転速度とし、前記温度取得部が取得した前記ディスクの温度又は前記ディスクの周辺温度が前記第一の温度より高い場合、前記ディスク回転駆動部の回転速度は前記ディスクの温度又は前記ディスクの周辺温度の上昇に伴い速くなる第二の回転速度とする回転速度決定部と、
を備える光ディスク装置。
【請求項２】
前記ディスクの径外周方向への前記ピックアップ搬送部の駆動量を取得する駆動量取得部を備え、
前記回転速度決定部は、
前記温度取得部が取得した前記ディスクの温度又は前記ディスクの周辺温度が前記第一の温度より高く、かつ、前記駆動量取得部が取得した前記駆動量が予め定められた駆動量より大きい場合、前記ディスク回転駆動部の回転速度は前記第二の回転速度に対して前記駆動量の増加に伴い速くなる第三の回転速度とする
ことを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記第二の回転速度は前記ディスクの温度又は前記ディスクの周辺温度の上昇に伴いステップ状に速くなることを特徴とする請求項１又は請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記第三の回転速度は前記駆動量の増加に伴いステップ状に速くなることを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記ピックアップにより読み取られた前記データの読み取りエラー率を算出するエラー率算出部と、
前記エラー率算出部が算出した前記エラー率を記憶するエラー率記憶部と、
前記回転速度決定部により前記ディスク回転駆動部の回転速度を変更した場合に、前記エラー率算出部が算出したエラー率と前記エラー率記憶部に記憶されたエラー率との大小を比較するエラー率比較部と、
を備え、
前記回転速度決定部は、
前記エラー率比較部が前記エラー率記憶部に記憶されたエラー率より前記エラー率算出部が算出したエラー率の方が大きいと判定した場合、前記ディスク回転駆動部の回転速度は前記エラー率記憶部にエラー率が記憶されたときの回転速度とする
ことを特徴とする請求項１又は請求項２記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば、データが記録されたディスクをスピンドルモータにより回転駆動させ、ピックアップによりディスクに記録されたデータを読み取るように構成された光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
図１２は従来の光ディスク装置におけるスピンドルモータ駆動時のディスク状態を示す図である。図１２（ａ）に示すように、ディスク１に記録されたデータを読み取る際、ディスク１をスピンドルモータ４及び回転軸５により回転させることで高速にデータ読み取りが可能になるが、スピンドルモータ４を高速回転させると熱が多く発生し、図１２（ｂ）に示すように、その熱によりディスク１に反りが発生し、データ読み取り誤りが多くなってしまう。また、ディスク１の反りによる影響はディスク１の外周に近づくほど大きくなり、データ読み取り誤りも多くなってしまう。
これに対し、光ディスク装置内の温度が予め定められた温度になるとスピンドルモータ４の回転速度を下げるものが提案されている。（特許文献１）
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００２―５６５５８号公報（第３頁）
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記した従来の光ディスク装置では、図１２（ｃ）に示すように、回転軸５に軸振れがあることによりディスク１の面振れ量が大きい場合に、光ディスク装置内の温度上昇に伴いスピンドルモータ４の回転速度を下げることで面振れ量が更に大きくなり、データ読み取り誤りが多くなってしまうという問題があった。
【０００５】
本発明は上記した問題点を解決するためになされたものであり、光ディスク装置内の温度が予め定められた温度以上になると、温度に応じてスピンドルモータの回転速度を上げることで遠心力によりディスクの反りを抑え、かつ、ディスクの面振れを抑え、データ読み取り性能を向上することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る光ディスク装置は、ディスクを回転駆動するディスク回転駆動部と、ディスクの記録データを読み取るピックアップと、ピックアップをディスクの径方向へ駆動するピックアップ搬送部と、ディスクの温度又はディスクの周辺温度を取得する温度取得部と、温度取得部が取得したディスクの温度又はディスクの周辺温度が第一の温度以下の場合、ディスク回転駆動部の回転速度は第一の回転速度とし、温度取得部が取得したディスクの温度又はディスクの周辺温度が第一の温度より高い場合、ディスク回転駆動部の回転速度はディスクの温度又はディスクの周辺温度の上昇に伴い速くなる第二の回転速度とする回転速度決定部とを備える。
【発明の効果】
【０００７】
上記のように構成された光ディスク装置は、光ディスク装置内の温度が予め定められた温度以上になると、温度に応じてスピンドルモータの回転速度を上げることでデータ読み取り性能を向上することができるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【０００８】
【図１】本発明の実施の形態１による光ディスク装置のＨ／Ｗ構成図である。
【図２】本発明の実施の形態１による光ディスク装置における制御を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施の形態１による光ディスク装置におけるスピンドルモータの回転速度の特性図である。
【図４】本発明の実施の形態１による光ディスク装置における動作を示すフローチャートである。
【図５】本発明の実施の形態２による光ディスク装置における制御を示すブロック図である。
【図６】本発明の実施の形態２による光ディスク装置におけるスピンドルモータの回転速度の特性図である。
【図７】本発明の実施の形態２による光ディスク装置における動作を示すフローチャートである。
【図８】本発明の実施の形態３による光ディスク装置における制御を示すブロック図である。
【図９】本発明の実施の形態３による光ディスク装置における動作を示すフローチャートである。
【図１０】本発明の実施の形態４による光ディスク装置における制御を示すブロック図である。
【図１１】本発明の実施の形態４による光ディスク装置における動作を示すフローチャートである。
【図１２】従来の光ディスク装置におけるスピンドルモータ駆動時のディスク状態を示す図である。
【図１３】従来の光ディスク装置におけるスピンドルモータの回転速度の特性図である。
【発明を実施するための形態】
【０００９】
以下、本発明の実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
【００１０】
実施の形態１．
本発明の実施の形態１における光ディスク装置について図１、図２、図３、図４、及び図１３を用いて説明する。
図１は本発明の実施の形態１による光ディスク装置のＨ／Ｗ構成図である。スピンドルモータ４と回転軸５により構成されるディスク回転駆動部はディスク１を回転させる。つまり、スピンドルモータ４の回転が回転軸５に伝えられることで、回転軸５に載せられたディスク１が回転する。ピックアップ搬送部３は図１（ｂ）に示すように、ピックアップレンズ６ａによりディスク１の記録面からデータを読み取るピックアップ６をディスク１の径方向へ搬送するピックアップ搬送機構７とピックアップ搬送機構７を駆動させるステッピングモータ８により構成される。ピックアップレンズ６ａで読み取られたデータはＣＰＵ１１に入力され、ＣＰＵ１１により信号処理されたデータがスピーカーやディスプレイに出力される（図示していない）。サーボ１２はＣＰＵ１１からの指示に応じてスピンドルモータ４の回転速度を制御する制御信号を出力し、増幅器１３はサーボ１２により出力された制御信号をスピンドルモータ４へのドライブ信号に変換する。ＣＰＵ１１によるスピンドルモータ４の回転速度の決定方法については図２及び図３を用いて後述する。また、ＣＰＵ１１は所望位置のデータを読み取るために、ステッピングモータ８にピックアップ搬送機構７の駆動量を出力する。
【００１１】
図１３は従来の光ディスク装置におけるスピンドルモータの回転速度の特性図である。ステッピングモータ８の駆動量つまりピックアップレンズ６ａによるディスク１のデータを読み取る位置とスピンドルモータ４の回転速度との関係は図１３（ａ）に示すように読み取り位置の線速度が一定となるように外周ほど回転速度を下げるＣＬＶ制御や図１３（ｂ）に示すように読み取り位置に依らず回転速度を一定とするＣＡＶ制御が一般的に用いられている。本実施の形態ではＣＡＶ制御を基本として説明するが、これに限らない。
【００１２】
ディスク１の周辺に配置された温度センサ９により取得されたディスク１の周辺温度は、ＡＤＣ１０によりディジタル値に変換されＣＰＵ１１に入力される。尚、温度センサ９はディスク１そのものの温度を取得してもよい。また、以降では、ディスク1の周辺温度として説明するが、ディスク１そのものの温度としてもよい。
【００１３】
図２は本発明の実施の形態１による光ディスク装置における制御を示すブロック図である。温度取得部１４はＡＤＣ１０からＣＰＵ１１に入力されたディスク１の周辺温度を取得し、回転速度決定部１５へ出力する。回転速度決定部１５はディスク１の周辺温度に基づいてスピンドルモータ４の回転速度を決定し、サーボ１２に出力する。
図３は本発明の実施の形態１による光ディスク装置におけるスピンドルモータの回転速度の特性図である。図３（ａ）に示すように、ディスク１の周辺温度が第一の温度であるＴｐより大きくなると、温度上昇に伴い回転速度を速くするような特性とする。ここで、図３（ａ）では一次関数的に回転速度を速くする特性にしているが、これに限らず、例えば二次関数としてもよい。また、図３（ｂ）に示すようにステップ的に回転速度を速くする特性としてもよい。
尚、Ｔｐは例えばディスク１に反りが生じることでピックアップレンズ６ａによるディスク１のデータ読み取り誤りが増加すると想定される温度とする。
【００１４】
次に、フローチャートを用いてスピンドルモータ４の回転速度の制御について説明する。図４は本発明の実施の形態１による光ディスク装置における動作を示すフローチャートである。ＣＰＵ１１によりスピンドルモータ４の回転開始が決定されると温度取得部１４はディスク１の周辺温度を取得する（ステップＳＴ１）。回転速度決定部１５は予め決められたディスク１の周辺温度とスピンドルモータ４の回転速度の特性を用いて、ステップＳＴ１で得られたディスク１の周辺温度からスピンドルモータ４の回転速度を決定し、スピンドルモータ４を決定した回転速度で回転させる（ステップＳＴ２）。次に、ユーザーの停止操作やタイマー機能によりスピンドルモータ４への停止命令が出ていないかを確認し、停止命令が出ていなければステップＳＴ１に戻り、停止命令が出ていれば処理を終了する（ステップＳＴ３）。
【００１５】
以上述べたように、この実施の形態１にて示した光ディスク装置にあっては、光ディスク装置内の温度が予め定められた温度以上になると、温度に応じてスピンドルモータ４の回転速度を上げることで遠心力によりディスク１の反りを抑え、かつ、ディスク１の面振れを抑え、データ読み取り性能を向上することができるという効果を有する。
また、光ディスク装置内の温度に応じてスピンドルモータ４の回転速度を上げてディスク１の反り及び面振れを抑えることでディスク１が光ディスク装置内部の部品や筐体２と接触し、異音を発生したり、ディスク１が傷ついたりすることを防止できるという効果を有する。
【００１６】
実施の形態２．
本発明の実施の形態２における光ディスク装置について図５、図６及び図７を用いて説明する。図５及び図７において、それぞれ図２及び図４と同一符号は同一又は相当部分を示す。実施の形態１ではディスク１の周辺温度に応じてスピンドルモータ４の回転速度を決定するが、実施の形態２では、ディスク１の周辺温度に加えてピックアップ搬送機構７の駆動量に応じてスピンドルモータ４の回転速度を決定する。以下、実施の形態１と異なる動作について説明する。
【００１７】
図５は本発明の実施の形態２による光ディスク装置における制御を示すブロック図である。駆動量取得部１９はＣＰＵ１１で決定したピックアップ搬送機構７の駆動量を取得し、回転速度決定部１５ａへ出力する。回転速度決定部１５ａは温度取得部１４から入力されたディスク１の周辺温度と駆動量取得部１９から入力されたピックアップ搬送機構７の駆動量に基づいてスピンドルモータ４の回転速度を決定し、サーボ１２に出力する。
図６は本発明の実施の形態２による光ディスク装置におけるスピンドルモータの回転速度の特性図である。温度上昇に伴いディスク１に反りが生じるが、ディスク１の外周方向へいくほど反りが大きくなり、ピックアップレンズ６ａによるディスク１のデータ読み取り誤りが多くなる。これに対して、図６（ａ）に示すように、ディスク１のデータを読み取る位置、つまり、ピックアップ搬送機構７の駆動量の増加に伴い回転速度を速くするようにすれば、ディスク読み取り位置におけるディスク１の反りを小さくでき、読み取り誤りを抑えることができる。ここで、図６（ａ）では一次関数的に回転速度を速くする特性にしているが、これに限らず、例えば二次関数としてもよい。また、図６（ｂ）に示すようにステップ的に回転速度を速くする特性としてもよい。更に、上記特性はディスク１の周辺温度毎に持つようにする。読み取り位置がＲｐ以下である場合の回転速度Ｖｐは図３に対応する値とすればよい。
尚、読み取り位置の増加に伴い回転速度を速くする読み取り位置の閾値Ｒｐは例えば反りが生じることでピックアップレンズ６ａによるディスク１のデータ読み取り誤りが増加すると想定される位置とする。
【００１８】
次に、フローチャートを用いてスピンドルモータ４の回転速度の制御について説明する。図７は本発明の実施の形態２による光ディスク装置における動作を示すフローチャートである。ＣＰＵ１１によりスピンドルモータ４の回転開始が決定されると温度取得部１４はディスク１の周辺温度を取得する（ステップＳＴ１）。駆動量取得部１９はピックアップ搬送機構７の駆動量を取得する（ステップＳＴ４）。回転速度決定部１５ａは予め決められたディスク１の周辺温度毎のピックアップ搬送機構７の駆動量（読み取り位置）とスピンドルモータ４の回転速度の特性を用いて、ステップＳＴ１で得られたディスク１の周辺温度とステップＳＴ４で得られたピックアップ搬送機構７の駆動量からスピンドルモータ４の回転速度を決定し、スピンドルモータ４を決定した回転速度で回転させる（ステップＳＴ５）。次に、ユーザーの停止操作やタイマー機能によりスピンドルモータ４への停止命令が出ていないかを確認し、停止命令が出ていなければステップＳＴ１に戻り、停止命令が出ていれば処理を終了する（ステップＳＴ３）。
【００１９】
以上述べたように、この実施の形態２にて示した光ディスク装置にあっては、光ディスク装置内の温度が予め定められた温度以上になると、温度に応じてスピンドルモータ４の回転速度を上げることで遠心力によりディスク１の反りを抑え、かつ、ディスク１の面振れを抑え、データ読み取り性能を向上することができるという効果を有する。
更に、ピックアップ搬送機構７の駆動量が予め定められた駆動量以上になると、駆動量に応じてスピンドルモータ４の回転速度を更に上げることで遠心力によりディスク１の反り及び面振れが更に抑えられ読み取り性能を向上することができるという効果を有する。
また、光ディスク装置内の温度及びピックアップ搬送機構７の駆動量に応じてスピンドルモータ４の回転速度を上げてディスク１の反り及び面振れを抑えることでディスク１が光ディスク装置内部の部品や筐体２と接触し、異音を発生したり、ディスク１が傷ついたりすることを防止できるという効果を有する。
【００２０】
実施の形態３．
本発明の実施の形態３における光ディスク装置について図８及び図９を用いて説明する。図８及び図９において、それぞれ図２及び図４と同一符号は同一又は相当部分を示す。実施の形態１ではディスク１の周辺温度に応じてスピンドルモータ４の回転速度を決定するが、実施の形態３では、更に、スピンドルモータ４の回転速度が変更されたことでディスク１のデータ読み取り誤り率が上昇した場合、変更前の回転速度に戻す。以下、実施の形態１と異なる動作について説明する。
【００２１】
図８は本発明の実施の形態３による光ディスク装置における制御を示すブロック図である。エラー率算出部１６はディスク１に書き込まれたパイロットデータ（予め決められた箇所に書き込まれた予め決められたデータ）のピックアップレンズ６ａによる読み取り誤り率を算出し、エラー率記憶部１７及びエラー率比較部１８へ出力する。エラー率記憶部１７はエラー率算出部１６から入力されたエラー率を記憶し、エラー率比較部１８から要求があると記憶したエラー率をエラー率比較部１８へ出力する。エラー率比較部１８は回転速度決定部１５ｂからスピンドルモータ４の回転速度を変更したことが通知されるとエラー率算出部１６から回転速度を変更した後のエラー率を取得し、また、エラー率記憶部１７に記憶されている回転速度を変更する前のエラー率を取得する。そして、回転速度を変更する前のエラー率と変更した後のエラー率を比較し、比較結果を回転速度決定部１５ｂに出力する。回転速度決定部１５ｂは実施の形態１と同様に温度取得部１４から入力されたディスク１の周辺温度に基づいてスピンドルモータ４の回転速度を決定するが、エラー率比較部１８から入力されたエラー率の比較結果が回転速度を変更する前のエラー率に比べて変更した後のエラー率の方が大きい場合、スピンドルモータ４の回転速度を変更前の回転速度に戻す。
【００２２】
次に、フローチャートを用いてスピンドルモータ４の回転速度の制御について説明する。図９は本発明の実施の形態３による光ディスク装置における動作を示すフローチャートである。ステップＳＴ１、ステップＳＴ２及びステップＳＴ３は実施の形態１と同様である。回転速度決定部１５ｂはステップＳＴ２においてスピンドルモータ４の回転速度を変更した場合、エラー率比較部１８から回転速度の変更前後のエラー率の比較結果を取得し、回転速度を変更する前のエラー率に比べて変更した後のエラー率の方が大きい場合は回転速度を変更前のものに戻す（ステップＳＴ６、ステップＳＴ７）。一方、回転速度を変更する前のエラー率に比べて変更した後のエラー率の方が小さい又は等しい場合は変更した回転速度を維持する（ステップＳＴ６）。
【００２３】
以上述べたように、この実施の形態３にて示した光ディスク装置にあっては、光ディスク装置内の温度が予め定められた温度以上になると、温度に応じてスピンドルモータ４の回転速度を上げることで遠心力によりディスク１の反りを抑え、かつ、ディスク１の面振れを抑え、データ読み取り性能を向上することができるという効果を有する。
更に、スピンドルモータ４の回転速度の変更によりディスク１の読み取り誤りが大きくなる場合は変更前の回転速度に戻すことでデータ読み取り性能をより向上することができるという効果を有する。
また、光ディスク装置内の温度に応じてスピンドルモータ４の回転速度を上げてディスク１の反り及び面振れを抑えることでディスク１が光ディスク装置内部の部品や筐体２と接触し、異音を発生したり、ディスク１が傷ついたりすることを防止できるという効果を有する。
【００２４】
実施の形態４．
本発明の実施の形態４における光ディスク装置について図１０及び図１１を用いて説明する。図１０において、図５及び図８と同一符号は同一又は相当部分を示す。図１１において、図７及び図９と同一符号は同一又は相当部分を示す。実施の形態２ではディスク１の周辺温度及びピックアップ搬送機構７の駆動量に応じてスピンドルモータ４の回転速度を決定するが、実施の形態４では、更に、スピンドルモータ４の回転速度が変更されたことでディスク１のデータ読み取り誤り率が上昇した場合、変更前の回転速度に戻す。以下、実施の形態２と異なる動作について説明する。
【００２５】
図１０は本発明の実施の形態４による光ディスク装置における制御を示すブロック図である。回転速度決定部１５ｃは実施の形態２と同様に温度取得部１４から入力されたディスク１の周辺温度と駆動量取得部１９から入力されたピックアップ搬送機構７の駆動量に基づいてスピンドルモータ４の回転速度を決定するが、エラー率比較部１８から入力されたエラー率の比較結果が回転速度を変更する前のエラー率に比べて変更した後のエラー率の方が大きい場合、スピンドルモータ４の回転速度を変更前の回転速度に戻す。
【００２６】
次に、フローチャートを用いてスピンドルモータ４の回転速度の制御について説明する。図１１は本発明の実施の形態４による光ディスク装置における動作を示すフローチャートである。ステップＳＴ１、ステップＳＴ３、ステップＳＴ４及びステップＳＴ５は実施の形態２と同様である。ステップＳＴ６及びステップＳＴ７は実施の形態３と同様である。
【００２７】
以上述べたように、この実施の形態４にて示した光ディスク装置にあっては、光ディスク装置内の温度が予め定められた温度以上になると、温度に応じてスピンドルモータ４の回転速度を上げることで遠心力によりディスク１の反りを抑え、かつ、ディスク１の面振れを抑え、データ読み取り性能を向上することができるという効果を有する。
更に、ピックアップ搬送機構７の駆動量が予め定められた駆動量以上になると、駆動量に応じてスピンドルモータ４の回転速度を更に上げることで遠心力によりディスク１の反り及び面振れが更に抑えられ読み取り性能を向上することができるという効果を有する。
また、スピンドルモータ４の回転速度の変更によりディスク１の読み取り誤りが大きくなる場合は変更前の回転速度に戻すことでデータ読み取り性能をより向上することができるという効果を有する。
また、光ディスク装置内の温度及びピックアップ搬送機構７の駆動量に応じてスピンドルモータ４の回転速度を上げてディスク１の反り及び面振れを抑えることでディスク１が光ディスク装置内部の部品や筐体２と接触し、異音を発生したり、ディスク１が傷ついたりすることを防止できるという効果を有する。
【００２８】
以上、光ディスク装置について説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。また、各部の構成は、同様の機能を有する任意の構成のものに置き換えてもよい。
【符号の説明】
【００２９】
１  ディスク、  ２  筐体、  ３  ピックアップ搬送部、  ４  スピンドルモータ、  ５  回転軸、  ６  ピックアップ、  ６ａ  ピックアップレンズ、  ７  ピックアップ搬送機構、  ８  ステッピングモータ、  ９  温度センサ、  １０  ＡＤＣ、  １１  ＣＰＵ、  １２  サーボ、  １３  増幅器、  １４  温度取得部、  １５、１５ａ、１５ｂ、１５ｃ  回転速度決定部、  １６  エラー率算出部、  １７  エラー率記憶部、  １８  エラー率比較部、  １９  駆動量取得部。
【図１】
2018152149.tif 000003
【図２】
2018152149.tif 000004
【図３】
2018152149.tif 000005
【図４】
2018152149.tif 000006
【図５】
2018152149.tif 000007
【図６】
2018152149.tif 000008
【図７】
2018152149.tif 000009
【図８】
2018152149.tif 000010
【図９】
2018152149.tif 000011
【図１０】
2018152149.tif 000012
【図１１】
2018152149.tif 000013
【図１２】
2018152149.tif 000014
【図１３】
2018152149.tif 000015