(57)【要約】【課題】信号中の関心のある部分を効果的に取り込む。【解決手段】 試験測定装置には、アナログ信号を受ける入力部と、アナログ信号に対応するデジタルサンプルＸｉを生成するサンプラと、サンプルの一部分を記憶するバッファと、バッファからのサンプルを記憶するアクイジション・メモリと、第１サンプルＸ０を使って垂直レンジＸ０＋オフセット１又はＸ０−オフセット２を規定する複数の比較器とがあり、コントローラは、バッファ中の各サンプルＸｉがある期間中に垂直レンジの外へ遷移するかを判断する。もしサンプルＸＮが上記期間中に垂直レンジの外へ遷移すると、バッファされたサンプルＸ０、…、ＸＮは、２１８でアクイジション・メモリへ移動する。もし違うなら、バッファされたサンプルは、２０８で破棄される。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
アナログ信号を受けるよう構成される入力部と、
上記アナログ信号に対応するデジタルのサンプル・データを生成するよう構成されるサンプラと、
上記アナログ信号に対応する上記サンプル・データの一部分を一時的に記憶するよう構成されるバッファと、
該バッファからのサンプル・データを記憶するよう構成されるメモリと、
垂直レンジを規定するよう構成される複数の比較器と、
上記バッファ中の第１サンプル・データに基づいて複数の上記比較器が第１垂直レンジを規定するよう設定し、
上記バッファ中の上記サンプル・データのいずれかが、ある期間中に上記第１垂直レンジの外へと遷移したかを判断し、
第２サンプル・データが上記期間中に上記第１垂直レンジの外へと遷移したという判断に応じて上記バッファ中の上記サンプル・データを上記メモリへと移動させ、上記期間をリセットし、上記バッファ中の上記第２サンプル・データに基づいて複数の上記比較器が第２垂直レンジを規定するよう更に設定し、
上記バッファ中の上記サンプル・データがいずれも上記期間中に上記第２垂直レンジの外へと遷移していないという判断に応じて上記バッファ中の上記サンプル・データを破棄して上記期間をリセットする
よう構成されるコントローラと
を具える試験測定装置。
【請求項２】
上記コントローラが、上記第２サンプル・データが上記第１垂直レンジの外へ遷移したとき又は上記バッファ中の上記サンプル・データが破棄されたときに対応するタイムスタンプ情報を記憶させるよう更に構成される請求項１の試験測定装置。
【請求項３】
１つ以上のチャンネルの夫々において１つ以上のアナログ信号を受けるよう構成される入力部と、
１つ以上の上記アナログ信号の夫々に対応する上記サンプル・データを一時的に記憶するよう構成されるバッファと、
該バッファからのサンプル・データを記憶するよう構成されるメモリと、
垂直レンジを規定するよう構成される複数の比較器と、
１つ以上の上記アナログ信号のいずれかが、ある期間中に上記垂直レンジの外へと遷移したかを判断し、
１つ以上の上記アナログ信号の少なくとも１つが上記期間中に上記垂直レンジの外へと遷移したという判断に応じて上記バッファ中の上記サンプル・データを上記メモリへと移動させ、上記期間をリセットし、
１つ以上の上記アナログ信号がいずれも上記期間中に上記垂直レンジの外へと遷移していないという判断に応じて上記バッファ中の上記サンプル・データを破棄して上記期間をリセットする
よう構成されるコントローラと
を具える試験測定装置。
【請求項４】
上記コントローラが、１つ以上の上記アナログ信号の少なくとも１つが上記垂直レンジの外へ遷移したとき又は上記バッファ中の上記サンプル・データが破棄されたときに対応するタイムスタンプ情報を記憶させるよう更に構成される請求項３の試験測定装置。
【請求項５】
アナログ信号を受ける処理と、
上記アナログ信号に対応するデジタルのサンプル・データを生成する処理と、
上記アナログ信号に対応する上記サンプル・データの一部分を一時的に記憶する処理と、
バッファ中に第１垂直レンジを規定する処理と、
上記サンプル・データのいずれかが、ある期間中に上記第１垂直レンジの外へと遷移したかを判断する処理と、
上記バッファ中の第２サンプル・データが上記期間中に上記第１垂直レンジの外へと遷移したという判断に応じて一時的に記憶された上記サンプル・データをメモリへと移動させる処理と、上記期間をリセットする処理と、上記第２サンプル・データに基づいて第２垂直レンジを更に規定する処理と、
上記バッファ中の上記サンプル・データがいずれも上記期間中に上記第２垂直レンジの外へと遷移していないという判断に応じて一時的に記憶された上記サンプル・データを破棄させる処理と、上記期間をリセットする処理とを具えるアナログ信号を取込む方法。
【請求項６】
上記サンプル・データが上記垂直レンジの外へ遷移したとき又は上記バッファ中の上記サンプル・データが破棄されたときに対応するタイムスタンプ情報を記憶させる処理を更に具える請求項４の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、大まかに言えば、電気試験測定装置に関し、特に、デジタル・オシロスコープのための信号アクイジション（取込み）に関する。
【背景技術】
【０００２】
最新のデジタル・オシロスコープは、被試験電気信号を取込み、取り込んだ信号に対応するデジタル・データをデータ・レコードとして蓄積できる。こうしたオシロスコープは、被試験電気信号を取込みながら、１つ又は複数の波形を表示するのに利用できる。加えて、被試験電気信号の取込みが既に止まっていても、データ・レコードから以前蓄積されたデジタル・データをオシロスコープの表示装置上で波形として見ることができる。古いオシロスコープは、表示可能な時間の長さに対応して、一般に比較的小さいデータ・レコードを取り込むものであったが、メモリ速度、メモリ容量、プロセッサ速度の分野における進歩によって、オシロスコープは、新しいほど、こうした分野における機能が改善されている。ほとんどのオシロスコープが今や非常に大きなデータ・レコードを蓄積する容量を持っており、これは一度に無理なく表示できる時間よりも長い時間に対応するものとなっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特許第６０８３９２２号公報
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】トランジスタ技術ＳＰＥＣＩＡＬ編集部編、「ディジタル・オシロスコープ活用ノート」、「５−２  トリガ回路のしくみ」、第８５〜８７頁、図２（回路ブロック図）、トランジスタ技術ＳＰＥＣＩＡＬ  ｆｏｒ  フレッシャーズ  Ｎｏ．９９、ＣＱ出版株式会社、２００７年７月１日発行
【非特許文献２】「トリガ入門（第３版）」、文書番号55Z-17291-3、テクトロニクス、２０１０年６月発行、［online］、［２０１８年４月１６日検索］、インターネット<http://jp.tek.com/>
【非特許文献３】「Wave Inspector による優れた波形解析機能（第５版）」、文書番号48Z-19039-5、テクトロニクス、２０１０年１月発行、［online］、［２０１８年４月１６日検索］、インターネット<http://jp.tek.com/>
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
例えば、デジタル・オシロスコープ上で、入ってくる信号の欠陥を観測し、記録するのは、その原因と結果が非常に大きな時間離れていると、困難なことがある。この問題に取り組む様々な手法が試みられてきたが、どれも成功していない。
【０００６】
これらイベントを捕捉するのに十分な程度にメモリのサイズを増加させる試みは、多くはうまくいっていない。原因と結果の分離が、１０秒より大きいということも良く起きる。こうした状況では、最大のメモリでさえ、最大サンプル・レートでは十分な時間を捕捉できない。更に、これらイベントを捕捉するのに十分なメモリ・サイズを利用できるとしても、そうした状況で生成されるサンプル・レコード数を考えると、処理されるデータの量自身が、合理性のある時間の長さで処理するには実用的でない。最新のオシロスコープは、１ギガ・サンプル・レコード程度を有しているが、そうした長いレコード全体の分析をユーザが実行するには、あまりにも長い時間が必要となる（非特許文献３の第２頁参照）。
【０００７】
より長い時間のデータを捕捉するために、オシロスコープのサンプル・レートを低くする試みも成功しておらず、これは、問題を観測するのに必要とされる帯域幅又は高周波数をサポートするには、あまりに低いことがあるからである。ユーザは、多くの場合、信号を観測するまで、必要な帯域幅がわからないのである。更に、ある信号の狭いグリッチを見たいことがあるが、これは、低いサンプル・レートでは見分けられない。複数のトリガ・イベントの周辺のサンプルのブロックを記録するという試みも、重要なインベントの全てが定義したトリガの近くで起きるわけではなく、それどころか、他の時点で生じることがあるので、大部分は失敗している。
【０００８】
本発明の実施形態は、これらやその他の課題に取り組むものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
説明に有益な本発明の実施例を以下に示す。本発明の実施形態は、後述の実施例のいずれか及び任意の組み合わせを含んでも良い。
【００１０】
実施例１は、試験測定装置に関し、アナログ信号を受けるよう構成される入力部と、上記アナログ信号に対応するデジタルのサンプル・データを生成するよう構成されるサンプラと、上記アナログ信号に対応する上記サンプル・データの一部分を一時的に記憶するよう構成されるバッファと、該バッファからのサンプル・データを記憶するよう構成されるメモリと、垂直レンジを規定するよう構成可能な複数の比較器と、コントローラとを具え、該コントローラが、上記バッファ中の第１サンプル・データに基づいて複数の上記比較器が第１垂直レンジを規定するよう設定し、上記バッファ中の上記サンプル・データのいずれかが、ある期間中に上記第１垂直レンジの外へと遷移したかを判断し、第２サンプル・データが上記期間中に上記第１垂直レンジの外へと遷移したという判断に応じて上記バッファ中の上記サンプル・データを上記メモリへと移動させ、上記期間をリセットし、上記バッファ中の上記第２サンプル・データに基づいて複数の上記比較器が第２垂直レンジを規定するよう更に設定し、上記バッファ中の上記サンプル・データがいずれも上記期間中に上記第２垂直レンジの外へと遷移していないという判断に応じて上記バッファ中の上記サンプル・データを破棄して上記期間をリセットするよう構成される。
【００１１】
実施例２は、実施例１の要旨を含み、このとき、複数の上記比較器が、上側しきい値及び下側しきい値のいずれか又は両方を規定するよう構成される。
【００１２】
実施例３は、実施例１〜２の要旨を含み、このとき、上記コントローラは、上記第２サンプル・データがその垂直レンジの外へ遷移したときに対応するタイムスタンプ情報を記憶させるよう更に構成されている。
【００１３】
実施例４は、実施例１〜３の要旨を含み、上記試験測定装置が、表示装置を更に具え、このとき、上記コントローラは、上記メモリに記憶された上記サンプル・データ及び記憶された上記タイムスタンプ情報から再構築される波形を、上記表示装置上で表示するよう更に構成される。
【００１４】
実施例５は、実施例１〜４の要旨を含み、このとき、上記コントローラは、上記バッファ中の破棄されるサンプル・データに対応するタイムスタンプ情報を記憶させるよう更に構成される。
【００１５】
実施例６は、実施例５の要旨を含み、上記試験測定装置が表示装置を更に具え、このとき、上記コントローラが、上記メモリに記憶された上記サンプル・データ及び記憶された上記タイムスタンプ情報から再構築される波形を、上記表示装置上で表示するよう更に構成される。
【００１６】
実施例７は、実施例１〜６の要旨を含み、このとき、上記垂直レンジは、ユーザによって設定されるよう構成される。
【００１７】
実施例８は、実施例１〜７の要旨を含み、このとき、上記コントローラは、プロセッサ及びステート・マシンのいずれか又は両方を含んでいる。
【００１８】
実施例９は、実施例１〜８の要旨を含み、上記試験測定装置が、表示装置を更に具え、このとき、上記コントローラが、上記表示装置によって上記垂直レンジが視覚的に提示されるように更に構成される。
【００１９】
実施例１０は、試験測定装置に関し、アナログ信号を受けるよう構成される入力部と、上記アナログ信号に対応するデジタルのサンプル・データを生成するよう構成されるサンプラと、上記アナログ信号に対応する上記サンプル・データの一部分を一時的に記憶するよう構成されるバッファと、該バッファからのサンプル・データを記憶するよう構成されるメモリと、垂直レンジを規定するよう構成可能な複数の比較器と、コントローラとを具え、該コントローラが、上記バッファ中の上記サンプル・データのいずれかが、ある期間中に上記垂直レンジの外へと遷移したかを判断し、上記サンプル・データが上記期間中に上記垂直レンジの外へと遷移したという判断に応じて上記バッファ中の上記サンプル・データを上記メモリへと移動させ、上記期間をリセットし、上記バッファ中の上記サンプル・データがいずれも上記期間中に上記垂直レンジの外へと遷移していないという判断に応じて上記バッファ中の上記サンプル・データを破棄して上記期間をリセットするよう構成される。
【００２０】
実施例１１は、実施例１０の要旨を含み、このとき、複数の上記比較器が、１つ以上のチャンネルの夫々について、上側しきい値及び下側しきい値のいずれか又は両方を規定するよう構成される。
【００２１】
実施例１２は、実施例１０〜１１の要旨を含み、このとき、上記コントローラは、１つ以上の上記アナログ信号の少なくとも１つが上記垂直レンジの外へ遷移したときに対応するタイムスタンプ情報を記憶させるよう更に構成されている。
【００２２】
実施例１３は、実施例１２の要旨を含み、上記試験測定装置が、表示装置を更に具え、このとき、上記コントローラは、上記メモリに記憶された上記サンプル・データ及び記憶された上記タイムスタンプ情報から再構築される波形を、上記表示装置上で表示するよう更に構成される。
【００２３】
実施例１４は、実施例１０〜１３の要旨を含み、このとき、上記コントローラは、上記バッファ中の破棄されるサンプル・データに対応するタイムスタンプ情報を記憶させるよう更に構成される。
【００２４】
実施例１５は、実施例１０〜１４の要旨を含み、上記試験測定装置が、表示装置を更に具え、このとき、上記コントローラが、上記表示装置によって上記垂直レンジが視覚的に提示されるように更に構成される。
【００２５】
実施例１６は、マシンで実現される方法に関し、アナログ信号を受ける処理と、上記アナログ信号に対応するデジタルのサンプル・データを生成する処理と、上記アナログ信号に対応する上記サンプル・データの一部分を一時的に記憶する処理と、第１垂直レンジを規定する処理と、バッファ中の上記サンプル・データのいずれかが、ある期間中に上記第１垂直レンジの外へと遷移したかを判断する処理と、上記バッファ中の第２サンプル・データが上記期間中に上記第１垂直レンジの外へと遷移したという判断に応じて一時的に記憶された上記サンプル・データをメモリへと移動させる処理と、上記期間をリセットする処理と、上記第２サンプル・データに基づいて第２垂直レンジを更に規定する処理と、上記バッファ中の上記サンプル・データがいずれも上記期間中に上記第２垂直レンジの外へと遷移していないという判断に応じて一時的に記憶された上記サンプル・データを破棄する処理と、上記期間をリセットする処理とを具えている。
【００２６】
実施例１７は、実施例１６の要旨を含み、このとき、上記垂直レンジには、１つ以上の垂直しきい値がある。
【００２７】
実施例１８は、実施例１６〜１７の要旨を含み、この方法が、上記サンプル・データが上記垂直レンジの外へ遷移したときに対応するタイムスタンプ情報を記憶させる処理を更に具えている。
【００２８】
実施例１９は、実施例１６〜１８の要旨を含み、この方法が、破棄された上記サンプル・データに対応するタイムスタンプ情報を記憶させる処理を更に具えている。
【００２９】
実施例２０は、実施例１６〜１９の要旨を含み、この方法が、表示装置上で上記垂直レンジを視覚的に提示する処理を更に具えている。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】図１は、開示技術のある実現形態による電子試験測定装置のためのマシーンで実現される方法の例を示すフローチャートである。
【図２】図２は、開示技術のある実現形態による電子試験測定装置のためのマシーンで実現される方法の別の例を示すフローチャートである。
【図３】図３は、開示技術のある実現形態によるアナログ入力信号の遷移に応答してリセットされる垂直レンジの例を示す関係図である。
【図４】図４は、開示技術のある実現形態による特定期間内に遷移しないアナログ入力信号の例を示す関係図である。
【図５】図５は、開示技術のある実現形態による低速シリアル・バス信号の例の関係図である。
【図６】図６は、開示技術のある実現形態による電子試験測定システムの例を示すブロック図である。
【図７】図７は、帯域幅が変化し、長い電源オンのサイクルを通じて相互作用する複数の信号と共に、複雑なデバッグを示す。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
デジタル・オシロスコープは、多くの場合、デジタル・トリガ・システムを有し、これは、アナログ・デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）からのデジタル化された値をしきい値に対して比較して、オシロスコープをトリガするのに利用される。開示技術の実現形態は、大まかに言えば、こうしたデジタル・トリガ・リソースの能力を、通常行われているように、単にアクイジションの開始と終了を決めるのではなく、アクイジション（取込み）中のアナログ信号情報の蓄積をいつ開始及び終了するかを決めるように拡張する。例えば、一旦、アナログ信号のアクイジションが開始したら、最初のサンプルＸ０は、複数の比較器にロードされるのに使用されても良く、これら比較器は、Ｘ０＋オフセット１又はＸ０−オフセット２のような、最初のサンプルのレベルと選択されたオフセット（１又は複数）を将来のサンプルがいつ通過して交差するかを検出するのに利用されても良い。
【００３２】
もしこれらサンプルが特定の垂直レンジ（例えば、Ｘ０＋オフセット１及びＸ０−オフセット２）内に留まっているなら、それは、メイン・アクイジション・メモリの代わりに、バッファ（例えば、循環バッファ）に一時的に蓄積されても良い。しかし、もしサンプルが、タイムスタンプを記憶するのに必要とするよりも多数のサンプルの間、定義した垂直レンジ内に留まるなら、バッファ中のサンプルは破棄されても良く、そして、タイムスタンプがアクイジション・メモリに記憶されても良い。ある実施形態では、新たなサンプルが定義されたレンジを超えるまで、それ以上のサンプルは記憶されないとしても良い。アナログ信号が垂直レンジ外へ超えて行くようにアナログ信号が変化した後、サンプルは、再度、通常のように記憶されても良い。
【００３３】
開示技術の実現形態は、大まかに言えば、ユーザが、デジタル化された信号が変化するときだけ、１つ以上のチャンネル上の信号を記憶できるようにする。操作において、ユーザは、アナログ信号の遷移又は変化を、デジタイザの垂直レンジのパーセンテージ及び時間の長さとして定義しても良い。例えば、もしアナログ入力信号が１０マクロ秒単位の１ディビジョンの半分よりも変化しなかったら、信号は「変化なし」とみなされ、記憶が一時停止しても良い。しかし、アナログ信号が定義された範囲を超えたら、サンプル・データの記憶を再開しても良い。これによって、ユーザは、デジタル化されるアナログ信号についての詳細な知識を必要とせずに、関心のある信号データの記憶を劇的に増加させることができ、これによって、限られた条件に限定されず、広く利用される実現形態が可能になる。
【００３４】
ある実現形態では、フローティング・デジタル・ウィンドウ比較器のような比較器（コンパレータ）が利用されても良く、初期のＡＤＣコードに基づいて、間隔（ギャップ）又は垂直レンジがプログラムされても良い。この間隔の最小時間長は、例えば、タイムスタンプの長さであっても良い。ＡＤＣコードは、入ってくるコードが複数のウィンドウ比較器内に収まっている限り、プログラマブル長に達するまで、循環バッファのようなバッファに記憶されても良い。入ってくるコードが、プログラマブル長に達する前に複数のウィンドウ比較器の外へと外れると、バッファされた値をアクイジション・メモリへと移動させても良い。もし入ってくるコードがプログラマブル長に達するまで複数のウィンドウ比較器内にあると、バッファされた値を破棄しても良い。次に入ってくるコードが複数のウィンドウ比較器の外へと外れると、処理は、本発明の通常動作に戻る。
【００３５】
図１は、開示技術のある実現形態による電子試験測定装置のためのマシーンで実現される方法１００の例を示すフローチャートである。１０２では、例えば、オシロスコープのような試験測定装置が、１つ以上のアナログ入力信号を受けてサンプルする。アナログ信号は、試験測定装置の入力部で受けて、試験測定装置のサンプラでサンプルされても良い。また、１０２では、１つ以上のアナログ入力信号に対応するサンプル・データが、バッファ（例えば、循環バッファ）に一時的に蓄積される。
【００３６】
１０４では、バッファ中のサンプル・データのいずれかに遷移（トランジション）があるか否かに関して判断が行われる。本願で使われるように、用語、遷移（トランジション）とは、通常、アナログ入力信号 に対応する大きさが、定義した期間内に特定のしきい値と交差する状況を言う。このしきい値は、最初（第１）のサンプル・データのレベルと、＋オフセット１又は−オフセット２によって定義できる。もし遷移したサンプル・データがなければ、方法１００は、１０２に戻り、バッファされたサンプル・データは破棄される（例えば、アクイジション・メモリに移動しない）。しかし、もしバッファされたサンプル・データのいずれかに遷移があれば、１０６で示されるように、サンプル・データは記憶され（例えば、アクイジション・メモリに移動）、方法は１０２に戻る。
【００３７】
図２は、開示技術のある実現形態による電子試験測定装置のためのマシーンで実現される別の方法２００の例を示すフローチャートである。２０２では、マシーンで実現する方法は、初期状態にあり、少なくとも少なくとも１つのアナログ入力信号が初期値である。２０４では、１つ以上のアナログ入力信号がサンプルされ、これらアナログ入力信号に関連するサンプルＸｉが循環バッファのようなバッファによって一時的に記憶される。また、２０４では、サンプル・カウントＮがリセットされて、例えば、ゼロに設定されると共に、垂直レンジが、第１サンプルX０を用いて、Ｘ０＋オフセット１，Ｘ０−オフセット２で規定される。ある実現形態では、垂直レンジは、１つ以上の比較器によって規定されても良く、これらは、夫々、アナログ入力信号に対応する大きさが、ある期間中に交差する、ある垂直しきい値（Ｘ０＋オフセット１又はＸ０−オフセット２）、例えば、定義された値を特定しても良い。
【００３８】
２０６では、サンプル・カウントＮが、例えば、定義された期間に基づく、あるしきい値を超えたかに関して判断が行われる。もしサンプル・カウントＮが、このしきい値を超えると、方法が２０８へ進む。もしサンプル・カウントＮが、このしきい値を超えていないと２０６で判断されると、方法は２１６へ進む。
【００３９】
２０８では、タイムスタンプ情報が記憶され、ＸＮより前のバッファされたサンプルが破棄される（例えば、アクイジション・メモリに移動しない）。２１０では、アナログ入力信号の最新のサンプルＸＮが垂直レンジから出たか、例えば、アナログ入力信号に対応する大きさが特定の垂直しきい値と交差したか、に関して判断が行われる。もしサンプルＸＮが垂直レンジから出ていないという判断なら、２１４で示されるように、サンプルＸＮは破棄され、方法２００は２１０に戻る。しかし、もしサンプルＸＮが垂直レンジから確かに出たという判断なら、サンプルＸＮは記憶（例えば、アクイジション・メモリに移動）されても良く、また、タイムスタンプ情報も記憶されて良い。しかし、タイミング情報は、記憶されたサンプルＸＮから求めることもできるので、タイムスタンプ情報は、２１２で記憶されなくても良い。次いで、方法２００は、２０２に戻る。
【００４０】
２１６では、サンプルＸＮが垂直レンジから出たかに関して判断が行われる。もしサンプルＸＮが垂直レンジから出ていないという判断なら、２２０で示されるように、サンプルＸＮは引き続き一時的に記憶され（例えば、バッファされ）、サンプル・カウントＮがインクリメントされ（Ｎ＝Ｎ＋１）、方法は２０６へ戻る。しかし、もしサンプルＸＮが垂直レンジから確かに出たという判断なら、２１８で示されるように、バッファされたサンプルＸ０、．．．、ＸＮは記憶（例えば、アクイジション・メモリに移動）されても良い。また、２１８では、この遷移に対応するタイムスタンプ情報も記憶されても良い。しかし、タイミング情報は、記憶されたサンプルから求めることもできるので、タイムスタンプ情報は、２１８で記憶されなくても良い。次いで、方法２００は、２０２へ戻る。このように、方法２００は、アナログ入力信号から垂直レンジから出たときのポイントに隣接する重要なデータ・ポイントを捕捉するように、バッファされたサンプルを利用できる。
【００４１】
図３は、開示技術のある実現形態によるアナログ入力信号３０２の遷移に応答してリセットされる垂直レンジの実施例３００を示す関係図である。実施例３００では、初期垂直レンジが、垂直しきい値３０４及び３０６によって規定される。ある実施形態では、垂直しきい値３０４及び３０６は、夫々に対応する比較器によって実現されても良い。最初、アナログ入力信号３０２は、垂直レンジ内に留まっている、例えば、信号３０２の大きさは、しきい値３０４及び３０６のいずれとも交差しない。しかし、時点ｔ１において、信号３０２は、この垂直レンジから出たという点において遷移している。ここでは、信号３０２の大きさは、上側しきい値３０４と交差している。時点ｔ２からは、信号３０２は安定し、例えば、垂直しきい値３０４及び３０６は新しい値へと上方向に移動することによって、垂直レンジはリセットされる。
【００４２】
図４は、開示技術のある実現形態による特定期間内に遷移しないアナログ入力信号４０２の実施例４００を示す関係図である。実施例４００では、アナログ入力信号４０２は、時点ｔ１から比較的静かに維持され、この時点で、例えば、それぞれ対応する比較器で実現しても良い２つの垂直しきい値４０４及び４０６によって垂直レンジが規定される。アナログ入力信号４０２は、時点ｔ２まで、比較的静かに維持される。よって、時点ｔ１とｔ２の間では、アナログ入力信号４０２に対応するサンプル・データの全てを記憶する必要はない。開示される実施形態によれば、時点ｔ１とｔ２の間で垂直しきい値４０４及び４０６と交差する遷移がない場合に、アナログ入力信号４０２の対応する部分を破棄することは、時点ｔ１とｔ２の間で、記憶されるデータの量を効果的に低減するのに利用できる。
【００４３】
図５は、開示技術のある実現形態による低速シリアル・バス信号の実施例５００の関係図である。実施例５００では、夫々低頻度の動き（activity：アクティビティ）のある２つの信号がある。開示技術の実現形態は、記憶される信号に対応するサンプル情報の量を効果的に低減できる。例えば、サンプル・データは、信号が遷移しない期間である図示された２つの時間セグメント（５００ｍｓ及び１ｓ）に対応して、破棄できる。
【００４４】
図６は、開示技術のある実現形態による電子試験測定システム６００の実施例を示すブロック図である。この実施例では、システム６００には、オシロスコープやデジタル・マルチメータ（ＤＭＭ）のような試験測定装置６００があり、これには、被試験デバイス（ＤＵＴ）６２２からの１つ以上のアナログ信号を受けるよう構成される少なくとも１つの信号入力部６１２がある。試験測定装置６１０には、信号入力部６１２からのアナログ入力信号を受けて、サンプル・データを生成するよう構成されるサンプラ６１３もあり、サンプル・データは、バッファ６１６に一時的に記憶できる。
【００４５】
この実施例では、試験測定装置６１０には、コントローラ６１４もあり、これは、信号入力部６１２から受けた１つ以上のアナログ信号を処理するよう構成できる。例えば、コントローラは、入力されるアナログ信号に対応するサンプル・データの記憶する処理が、少なくとも一部分が入力アナログ信号のどこかが垂直レンジの外へ遷移するかどうかに依存するように、垂直レンジを規定するか、又は、垂直レンジを規定させるようにする。サンプル・データが遷移する状況において、サンプル・データは、メモリ６１８へ移動でき、そうでなければ、バッファされたデータは破棄されても良い。
【００４６】
ある実施形態では、試験測定装置６１０には、表示装置６２０もある。表示装置６２０は、アナログ信号と関連して垂直レンジをユーザに視覚的に提示するように構成されても良い。
【００４７】
図７は、本発明で有益であろう潜在的な利用ケースの別の例を示す。図７は、複雑なデバッグを示し、複数の信号は、帯域幅が変化し、長い電源オンのサイクルを通じて相互作用する。図５と同様に、サンプル・データは、信号が遷移しない期間である図示した時間セグメント（８００ｍｓ）に対応して、破棄されても良い。
【００４８】
コンピュータ可読媒体は、コンピューティング・デバイスによってアクセス可能な任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ可読媒体は、コンピュータ記憶媒体及び通信媒体を含んでも良い。
【００４９】
コンピュータ記憶媒体は、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Video Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。コンピュータ記憶媒体としては、信号そのもの及び信号伝送の一時的な形態は排除される。
【００５０】
通信媒体は、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気やその他の媒体を含むことができる。
【００５１】
説明に有益な実施形態を参照して本発明の原理を説明し、図示してきたが、説明した実施形態は、そのような原理から逸脱することなく構成及び詳細を変更し、所望のやり方に組み合わせても良いことが理解できよう。また、上述の説明は、特定の実施形態に焦点を当てているが、他の構成も考えられる。
【００５２】
特に「本発明の実施形態による」などの表現が本願で使用される場合でも、これらの言い回しは、大まかに言って、基準となる実施形態の可能性を意味し、本発明を特定の実施形態の構成に限定することを意図するものではない。本願で使用されるように、これらの用語は、他の実施形態に組み合わせ可能な同じ又は異なる実施形態を言及することがある。
【００５３】
従って、本願に記載された実施形態の多種多様な変更の観点から、この詳細な説明及び付随する資料は、説明の都合に過ぎず、本発明の範囲を限定するものとして解釈されるべきではない。従って、本発明として請求されるものは、請求項の範囲及び要旨並びにそれらの等価なものに該当する、こうした全ての変更である。
【符号の説明】
【００５４】
６００  電子試験測定システム
６１０  試験測定装置
６１２  信号入力部
６１３  サンプラ
６１４  コントローラ
６１６  バッファ
６１８  メモリ
６２０  表示装置
６２２  被試験デバイス（ＤＵＴ）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【外国語明細書】
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