(57)【要約】      （修正有）【課題】従来の蛍光法によって計測対象分子の濃度を計測する技術では、計測濃度範囲が制限されていたが、照射光の強度、光検出器の感度を変化させることなく、計測できる計測対象分子の濃度範囲を拡大できる方法を提供する。【解決手段】計測対象分子と結合した蛍光標識された抗体の表面増強蛍光を観測してその濃度を計測する濃度計測方法であって、表面増強蛍光を検出する手段の出力信号が飽和した場合、光を照射し続けると供に表面増強蛍光を断続的に検出し続け、表面増強蛍光が低下し、表面増強蛍光を検出する手段の出力信号が飽和しなくなって以降、表面増強蛍光を所定回数（Ｎ回）検出して、表面増強蛍光の強度と、検出された時点での光の照射時間とからなるデータ組をＮ個取得し、表面増強蛍光の低下特性を表す所定の回帰曲線のパラメーターを算出した上で、当該パラメーターから回帰曲線に基づき計測対象分子の濃度を算出する。【選択図】図８
2018179739.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
計測対象分子と結合した蛍光標識された抗体の表面増強蛍光を観測し、計測対象分子の濃度を計測する濃度計測方法であって、
（１）計測対象分子と蛍光標識された抗体とを含む領域に光を照射する工程、
（２）前記領域で発生した表面増強蛍光を断続的に検出する工程、
（３）前記工程（２）において、表面増強蛍光を検出する手段の出力信号が飽和した場合、前記光を照射し続けると供に表面増強蛍光を断続的に検出し続け、
表面増強蛍光が低下し、前記表面増強蛍光を検出する手段の出力信号が飽和しなくなって以降、表面増強蛍光を所定回数（Ｎ回）検出して、表面増強蛍光の強度と、検出された時点での光の照射時間とからなるデータ組をＮ個取得する工程、
（４）前記工程（３）において、取得したＮ個のデータ組から前記表面増強蛍光の低下特性を表す所定の回帰曲線のパラメーターを算出する工程、
（５）前記工程（３）において算出するパラメーターから前記回帰曲線に基づき前記計測対象分子の濃度を算出する工程、
（６）前記工程（２）において、前記表面増強蛍光を検出する手段の出力信号が飽和しなかった場合、検出された前記表面増強蛍光の強度より、前記計測対象分子の濃度を算出する工程、
を有することを特徴とする表面増強蛍光法による濃度計測方法。
【請求項２】
表面増強蛍光の低下特性を表す前記回帰曲線と前記パラメーターが、以下の（数１）に示されることを特徴とする請求項１に記載の表面増強蛍光法による濃度計測方法。
（数１）
y=A1×exp(-t/t1)+ A2×exp(-t/t2)+y0
ここで、
y:表面増強蛍光の強度
t:照射時間
A1,A2,t1,t2,y0：表面増強蛍光の低下特性を表すパラメーター
【請求項３】
前記表面増強蛍光のスペクトルを取得し、前記表面増強蛍光のスペクトルのピークを前記表面増強蛍光の強度とし、前記表面増強蛍光のスペクトルのピークが飽和した際に飽和したとすることを特徴とする請求項１〜２に記載の表面増強蛍光法による濃度計測方法。
【請求項４】
計測対象分子と結合した蛍光標識された抗体の表面増強蛍光を発生する金属ナノ構造を有するセンサデバイスと、前記センサデバイスに前記蛍光標識された抗体が表面増強蛍光を発生させる波長の光を照射する光源と, 前記センサデバイスで発生した前記表面増強蛍光を平行光にするレンズと、
前記照射光を透過させず前記表面増強蛍光を透過させるロングパスフィルターと、前記
ロングパスフィルター透過した光を検出する光検出器と、
前記光源を制御し、前記光検出器の出力信号の飽和を検知し、前記光検出器の出力信号と前記光源の照射時間から、請求項１〜３に記載の方法で前記計測対象分子の濃度を算出するコンピューターと
を備えたことを特徴とする表面増強蛍光法による濃度計測装置。
【請求項５】
前記光検出器が表面増強蛍光のスペクトルを取得できる分光機能を有し、請求項３に記載の方法で前記計測対象分子の濃度を算出することを特徴とする請求項４に記載の表面増強蛍光法による濃度計測装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、金属ナノ構造により増強された計測対象分子と結合する蛍光標識抗体の蛍光を検出する表面増強蛍光分光法（Surface Enhanced Fluorescence Spectroscopy）により、計測対象分子の濃度を計測する方法及び装置に関する。特に、溶液中に存在するタンパク質が計測対象分子である。
【背景技術】
【０００２】
タンパク質の濃度を計測する技術としては、蛍光法が広く用いられている。これは、計測対象分子を蛍光分子で標識して、蛍光分子を励起できる光を照射し発生する蛍光を検出して、蛍光の強度より、計測対象分子の濃度を計測する方法である。
【０００３】
より具体的な例として免疫クロマトグラフ法がある。これは、ニトロセルロース膜などを基材とした平板状の試験片を用いた技術である。試験片には計測対象分子と結合する抗体を基材に固定化されている。この試験片に、計測対象分子と蛍光標識された抗体（標識抗体）を含むサンプル溶液を滴下すると、標識抗体と結合した計測対象分子が固定化された抗体（固定化抗体）に捕捉させる。ここに、光を照射すると、当該計測対象分子の濃度に応じた強度の蛍光が発生する。この蛍光を検出することで計測対象分子の濃度を計測することができる。（特許文献１参照）。
【０００４】
また、免疫クロマトグラフ法を高感度化するために、表面増強蛍光を利用する技術もある。これは溶液を流す流路内に金属ナノ構造を形成した領域を設け、この金属ナノ構造上に計測対象分子と結合する抗体を固定化する。この流路に、計測対象分子と蛍光標識された抗体（標識抗体）を含むサンプル溶液を滴下すると、標識抗体と結合した計測対象分子が固定化された抗体（固定化抗体）に捕捉させる。ここに、金属ナノ構造が局在化表面プラズモン共鳴を起こす波長の光を照射すると、標識抗体で発生した蛍光が増強され表面増強蛍光となる。この表面増強蛍光の強度も、当該計測対象分子の濃度に応じたて増加する。表面増強蛍光は、通常の蛍光よりも１〜３桁程度高い強度を示す。従って、通常の蛍光としては、計測できないような低濃度の計測対象分子も計測できる。（特許文献２参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００１−１３３４５５号公報
【特許文献２】特開２０１０−０１９７６５公報
【特許文献３】特開２０１２−０１３４２９号公報（特に段落番号００３８）
【特許文献４】国際公開第２０１２／０７３３２２号
【特許文献５】特開２０１０−０２５７４９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述した従来の蛍光法により、計測対象分子の濃度を計測する技術では、計測濃度範囲が制限されていた。即ちダイナミックレンジに課題があった。
【０００７】
より、詳細に以下に説明する。
【０００８】
蛍光法においては、計測対象分子の濃度が高くなると蛍光強度も高くなる。一方、蛍光を検出する光検出器のダイナミックレンジには制限がある。計測対象分子の濃度が高く蛍光強度が光検出器のダイナミックレンジを超えると、光検出器の出力信号が飽和して一定値（飽和値）になる。
【０００９】
上記の様に、出力信号が飽和値に到達するまでは、出力信号より濃度を算出できるが、飽和値に到達すると濃度は算出できないという課題がある。
【００１０】
できるだけ高濃度まで光検出器の出力信号を飽和させないために照射光の強度を低下すると蛍光強度も低下し光検出器の出力信号も低下するので、低濃度での濃度が算出できなくなる。できるだけ高濃度まで光検出器の出力信号を飽和させないために光検出器の感度を低下させても、同様に光検出器の出力信号も低下するので、低濃度での濃度が算出できなくなる。
【００１１】
以上のように、照射光の強度、光検出器の感度を調整するだけでは、計測対象分子の計測濃度範囲を拡大することはできなかった。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、計測対象分子と結合した蛍光標識された抗体の表面増強蛍光を観測し、計測対象分子の濃度を計測する濃度計測方法であって、
（１）計測対象分子と蛍光標識された抗体とを含む領域に光を照射する工程
（２）前記領域で発生した表面増強蛍光を断続的に検出する工程
（３）前記工程（２）において、表面増強蛍光を検出する手段の出力信号が飽和した場合、前記光を照射し続けると供に表面増強蛍光を断続的に検出し続け、
表面増強蛍光が低下し、前記表面増強蛍光を検出する手段の出力信号が飽和しなくなって以降、表面増強蛍光を所定回数（Ｎ回）検出して、表面増強蛍光の強度と、検出された時点での光の照射時間とからなるデータ組をＮ個取得する工程、
（４）前記工程（３）において、取得したＮ個のデータ組から前記表面増強蛍光の低下特性を表す所定の回帰曲線のパラメーターを算出する工程
（５）前記工程（３）において算出するパラメーターから前記回帰曲線に基づき前記計測対象分子の濃度を算出する工程
（６）前記工程（２）において、前記表面増強蛍光を検出する手段の出力信号が飽和しな
かった場合、検出された前記表面増強蛍光の強度より、前記計測対象分子の濃度を算出する工程
を有する濃度計測方法である。さらに、この方法を用いた濃度計測装置もまた、本発明の趣旨に含まれる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明は、蛍光法により計測対象分子の濃度を計測する技術で、照射光の強度、光検出器の感度を変化させることなく、計測できる計測対象分子の濃度範囲を拡大できる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】本発明に係る表面増強蛍光法による濃度計測方法及び装置の構成図
【図２】本発明に係るセンサデバイスの断面を示す概略図
【図３】表面増強蛍光スペクトルの飽和の例を示すグラフ
【図４】各計測対象分子濃度の被検溶液に対する表面増強蛍光スペクトルを示したグラフ
【図５】照射時間が増えるに従い低下する表面増強蛍光スペクトルを示したグラフ
【図６】照射時間と表面増強蛍光スペクトルのピークの強度を示したグラフ
【図７】計測対象分子（ＮＰ）の濃度と表面増強蛍光スペクトルのピークの強度との関係を示したグラフ
【図８】本発明に係る動作を示したフローチャート
【発明を実施するための形態】
【００１５】
（実施の形態）
以下、本発明の実施の形態に関して図１、２を用いて説明する。
【００１６】
図１は、本発明の実施の形態における、表面増強蛍光法による濃度計測方法及び装置の全体を示す説明図である。
【００１７】
１１は金属ナノ構造を有するセンサデバイスで、その詳細は図２を用いて説明する。１２は光源で略平行光１３をセンサデバイス１１へ照射する。１４はセンサデバイス１１で発生した計測対象分子の濃度に応じた強度で発生する表面増強蛍光。１５はレンズで表面増強蛍光１４を集めて光検出器１７へ入射させる。１６はロングパスフィルターで、略平行光１３の波長の光は遮断し、表面増強蛍光は透過させる。光検出器１７は、表面増強蛍光１４を分光して検出できるので、その出力信号は表面増強蛍光のスペクトルである。１８はコンピューターで、光検出器１７の出力信号である表面増強蛍光のスペクトルを解析し、さらに経時機能や、光検出器１７や光源１３の設定、制御機能を有している。
【００１８】
図２はセンサデバイス１１の断面の一部を示す図である。２１はオレフィン等の樹脂の表面に直径が１００〜２０００nm程度の半円状の突起を有する基板で、ナノインプリント法で形成される。２２は金、銀、アルミ等の金属からなる膜厚が３０〜１０００nm程度の金属薄膜である。金属薄膜２２は基板２１の表面の突起上に成膜されているので、直径が１００〜２０００nm程度の半円状の突起構造、即ち金属ナノ構造を形成する。この金属ナノ構造に特定の波長の光を照射すると局在化表面プラズモン共鳴が発生する。
【００１９】
２３は金属薄膜２２上に固定化された固定化抗体。２４は計測対象分子で、固定化抗体２３と結合する。２５は蛍光分子、２６は蛍光分子２５で標識された標識抗体である。センサデバイス１１に、ナノ構造で局在化表面プラズモン共鳴を発生し、かつ蛍光分子２５を励起できる波長の略平行光１３を照射すると、表面増強蛍光１４が発生する。
【００２０】
以下に、計測対象分子２４の濃度を必要する手順を簡単に説明する。固定化抗体２３を固定化した状態のセンサデバイス１１に、計測対象分子を含む被検溶液を接触させる。そして、センサデバイスを、緩衝液、純水等で洗浄する。この洗浄により、固定化抗体２３と結合しなかった計測対象分子２４や共存物質が除去され、計測対象分子２４が固定化抗体２３と結合した状態になる。次に、標識抗体２６を含む溶液をセンサデバイス１１と接触させる。そして、再度センサデバイスを、緩衝液、純水等で洗浄する。この洗浄により、計測対象分子２４と結合しなかった標識抗体２６は除去され、図２に示す様に標識抗体２６は、計測対象分子２４を介して固定化抗体２３に捕捉される。捕捉される標識抗体２６の数は、計測対象分子の濃度に応じて増加する。発生する表面増強蛍光１４の強度は標識抗体２６の数に比例するので、表面増強蛍光１４の強度を計測することで、計測対象分子２４の濃度を計測することができる。このように、計測対象分子２４を固定化抗体２３と標識抗体２６に挟んで捕捉して、計測対象分子２４の濃度を計測する方法をサンドイッチ法という。なお、センサデバイス１１に接触させるとしたが、これはセンサデバイス１１を被検溶液に浸す、又は、被検溶液をセンサデバイス１１へ滴下する、又は、センサデバイスを流路中に配置して流路中に被検溶液を流すことによって実現できる。
【００２１】
次に、上記の様に処理され、計測対象分子２４の濃度に応じた数の標識抗体２６が捕捉されてセンサデバイス１１より計測対象分子１４の濃度を計測する方法を述べる。
【００２２】
コンピューター１８が光源１２に制御信号を送り、略平行光１３をセンサデバイス１１に照射する。これによりセンサデバイス１１の金属ナノ構造において局在化表面プラズモン共鳴が発生すると同時に、標識抗体２６の表面増強蛍光１４が発生する。この表面増強蛍光１４の強度は、金属ナノ構造が無かった場合の標識抗体２６の通常の蛍光の強度よりも１〜３桁程度高い強度を示す。表面増強蛍光１４の強度は計測対象分子２４の濃度に応じて高くなる。光検出器１７が表面増強蛍光１４を受光してスペクトルを出力信号としてコンピューター１８へ送る。コンピューター１８は、スペクトルのピークを示す波長の強度を抽出して、この強度から計測対象分子２４の濃度を算出する。ここで、事前に濃度が既知の被検溶液を用いて表面増強蛍光の強度と濃度の関係を示す検量線を作成しておき、計測したスペクトルのピークを示す波長の強度とこの検量線を参照して濃度を算出する。
【００２３】
ただし、計測対象分子２４が高濃度の場合は、光検出器１７のダイナミックレンジには制限があるので、光検出器１７の出力信号が飽和する。即ち、スペクトルのピーク付近が一定である飽和値になり平坦な領域が現れる。図３を用いて以下にさらに詳細に説明する。
【００２４】
図３は光検出器１７の出力信号である表面増強蛍光のスペクトルの例である。横軸は波長、縦軸は強度を示す。濃度が高く無い場合、図３の実線に示す様に、８００nmにスペクトルのピークが認められ、スペクトル全体を表わしている。濃度が高くなるに従い、スペクトルの強度が高くなり、まずピークが飽和値に到達し、さらに、濃度が高くなると図３の点線の様にピーク周辺が飽和値に到達し、平坦な領域が現れる。この様にスペクトルのピークが飽和値に達すると、これ以上高濃度の被検溶液の濃度を算出できなくなる。
【００２５】
そこで、スペクトルが飽和値に到達するような高濃度の被検溶液の場合は、次の様にする。
【００２６】
蛍光分子は、光を照射され蛍光を発生し続けると次第に蛍光強度が低下するいわゆる光退色が発生する。表面増強蛍光においてもこの光退色は起こる。光退色が起こるとスペクトルの強度は次第に低下する。従って、スペクトルが飽和値に到達するような高濃度の被検溶液の場合、略平行光１３を照射し続けると、スペクトルの強度が低下しやがてピークも飽和値を下回り、スペクトル全体が現れる。このスペクトルのピークが飽和値を下回るまでの略平行光１３の照射時間と、被検溶液の濃度に一定の相関があるので、照射時間より濃度を算出する。
【００２７】
以上の様に、本実施の形態によって、光検出器の出力信号が飽和するような高濃度の飽和の濃度を計測することができる。
【００２８】
（実施例）
本実施の形態における実施例を以下に説明する。
【００２９】
以下、本実施例に関して図１〜７を用いて説明する。
【００３０】
本実施例は、金属薄膜２２として金を、基板２１として厚さ１８８μｍのオレフィンフィルムを用いた例である。また、計測対象分子２４としてはインフルエンザウイルスの核タンパク（Nucleoprotein  以降ＮＰと略する）、蛍光分子２５としては、DyLight 800（サーモフィッシャーサイエンティフィック株式会社製）である。略平行光１３の波長は７８５ｎｍでセンサデバイス１１上のパワーは５ｍＷである。被検溶液は、リン酸緩衝生理食塩水Phosphate buffered saline, 以降ＰＢＳと略する）に、ＮＰを溶解させて作成した。ＮＰの濃度が、１０ｎＭ、１ｎＭ、１００ｐＭ、０ｐＭの被検溶液を調整した。これらの被検溶液を上述したようにセンサデバイス１１に接触させて、ＮＰ濃度に応じた標識抗体が固定化されたセンサデバイスを作成した。これらセンサデバイス１１に略平行光１３を照射し、表面増強蛍光のスペクトルを約０．０５秒で取得した。そのスペクトルを図４に示す。図４の横軸は波長、縦軸は強度を示す。黒塗り四角はＮＰ濃度が１０ｎＭ、黒塗り丸はＮＰ濃度が１ｎＭ、黒塗り三角はＮＰ濃度が１００ｐＭ、白抜き四角はＮＰ濃度が０ｐＭのセンサデバイス１１の表面増強蛍光スペクトルを示す。図４で明らかの様に、ＮＰ濃度が１０ｎＭの表面増強蛍光スペクトルが飽和しており、ピークの強度を判読できない。即ち７９５〜８２５ｎｍのスペクトル強度は飽和値である６５５３６カウントを示し、ピーク値を示す８００ｎｍの強度とその周辺の強度が同じでの平坦部を示し、本来のピーク値が不明になる。この様に高濃度である１０ｎＭの被検溶液では、表面増強蛍光のスペクトルのピーク付近が飽和値になり、本来のピークの強度が不明になる。
【００３１】
そこで、コンピューター１８が光検出器１７の出力信号であるスペクトルのピークが飽和値を示した際の動作を、図５および図６を用いて説明する。
【００３２】
図５は、ＮＰ濃度が１０ｎＭのセンサデバイス１１の表面増強蛍光スペクトルを２秒毎に１００回計測した表面増強蛍光スペクトルの推移を示す。この間、略平行光１３はセンサデバイス１１を照射し続けている。図５の横軸は略平行光１３の照射時間、縦軸は検出した表面増強蛍光スペクトルの強度を示す。黒塗り四角は１回目、黒塗り丸は２回目、黒塗り上三角は３回目、黒塗り下三角は４回目、白抜き四角は５回目、白抜き丸は６回目、白抜き三角は７回目に計測した表面増強蛍光スペクトルである。以降の実線は、１０回目、２０回目、３０回目、４０回目、５０回目、６０回目、７０回目、８０回目、９０回目、１００回目に計測した表面増強蛍光スペクトルである。その他の表面増強蛍光スペクトルは図示していない。図５で明らかな様に、表面増強蛍光スペクトルに強度は、光退色により、次第に低下する。１〜６回目は表面増強蛍光スペクトルが飽和値に到達していたが、白抜き三角で示す７回目で初めて表面増強蛍光スペクトルは飽和値には届かず、ピークの強度を判読できる。８回目以降も飽和値に届かず順次スペクトル強度は低下する。
【００３３】
図６において、横軸は略平行光１３の照射時間、縦軸は表面増強蛍光スペクトルのピークの強度で、黒塗り四角が７回目以降の計測点（合計９４個）を示す。点線は、７回目以降の計測点から以下の（数１）に基づき作成した回帰曲線を示す。
（数１）
y=A1×exp(-t/t1)+ A2×exp(-t/t2)+y0
ここで、
y:表面増強蛍光スペクトルのピーク強度
t:照射時間
A1,A2,t1,t2,y0：表面増強蛍光スペクトルのピーク強度の低下特性を表すパラメーター
本実施例では、図６の７回目以降の計測点から、A1,A2,t1,t2,y0は、以下の様に算出できた。
【００３４】
A1＝89745
A2＝38804
t1＝9.7618
t2＝54.962
y0=6089
これらを（数１）へ代入し、さらに１回目の照射に相当するt=0を代入すると、
y=134638
となる。これが本来のＮＰ＝１０ｎｍの被検溶液と接触させたセンサデバイス１１の表面増強蛍光スペクトルのピーク強度になる。
【００３５】
図７に、横軸にＮＰ濃度、縦軸に表面増強蛍光スペクトルのピーク強度を示す。黒塗り四角が本実施例で算出された表面増強蛍光スペクトルのピーク強度で、白抜き三角が従来の方法で算出された表面増強蛍光スペクトルのピーク強度である。
【００３６】
上記までに説明した本実施例の動作を図８にフローチャートとして表す。本実施例は、図８のＴ秒を２秒とし、Ｎを９４とした例である。図８に示した様に、１回目の計測において表面増強蛍光のスペクトルのピーク強度が飽和値未満の場合は、そのピーク強度より濃度を算出して計測を終了する。また、１回目の計測において表面増強蛍光のスペクトルのピーク強度が飽和値以上の場合は、略平行光１３を照射し続けると供に、Ｔ秒毎に表面増強蛍光スペクトルを検出し続ける。そして、表面増強蛍光スペクトルのピーク強度が飽和値未満になった時点で、表面増強蛍光スペクトルのピーク強度とその表面増強蛍光スペクトルを検出した時点までの略平行光１３の照射時間を記録し始める。このように記録された表面増強蛍光スペクトルのピーク強度の数がＮ個に到達した時点で、Ｎ個の表面増強蛍光スペクトルのピーク強度と照射時間より、（数１）に基づいた回帰曲線の各パラメーターである、A1、A2、t1、t2、y0を算出する。次に、これらのパラメーターを（数１）に代入して、t=0の表面増強蛍光スペクトルのピーク強度、即ち最初の表面増強蛍光スペクトルのピークの強度を算出する。最後に、事前に求めた検量線と、この最初の表面増強蛍光スペクトルのピークの強度より、濃度を算出して計測を終了する。なお、Ｎは大きければ大きいほど、濃度の計測精度が向上するが、計測結果が出るまでの時間（計測時間）がかかる。従って、計測精度を重視する場合はＮを大きくとり、計測時間を重視する場合はＮを小さくとれば良い。
【００３７】
また、待機時間Ｔは、表面増強蛍光スペクトル強度の低下速度も考慮する必要がある。例えば、低下速度が非常に高い場合、待機時間Ｔが大きいと、すぐに表面増強蛍光スペクトルの強度が光検出器１７の検出限界以下に低下してしまい、ピーク強度が計測できなくなる。これにより、得られる表面増強蛍光スペクトルのピーク強度と照射時間のデータ数が少なくなり精度が低下する。従って、低下速度が非常に高い場合、待機時間Ｔを小さくと、精度の観点からも、計測時間の観点からも有利である。
【００３８】
以上の様に、本実施例によれば、計測対象分子の濃度が高く、光検出器１７の出力信号が飽和値に到達していても計測対象分子の濃度を計測するができる。これにより、低濃度域の感度を低下させることなく計測濃度域を拡大できる。
【００３９】
なお、事前に、十分広い濃度範囲即ち、実際に有りえる濃度よりも高い濃度の溶液及び、実際に有りえる濃度よりも低い濃度の溶液を作成して、これらの溶液を、本実施例で示した方法で計測し、濃度と表面増強蛍光スペクトルの強度との関係を表す曲線を検量線として作成しておく。
【００４０】
本実施例では、光検出器１７は分光機能を有しているので表面増強蛍光スペクトルを取得してスペクトルのピーク強度を抽出していた。だた、ピークを示す波長を一定と見なせる場合は、その波長を透過する分光フィルターと、透過した光の強度を検出する光センサ
で構成した光検出器でも良い。
【００４１】
上記の様に、本実施例によれば、広い濃度域での高精度な計測を実現できる。
【産業上の利用可能性】
【００４２】
本発明は、広い濃度域において高精度に計測対象分子の濃度を計測するために用いられる。
【符号の説明】
【００４３】
１１  センサデバイス
１２  光源
１３  略平行光
１４  表面増強蛍光
１５  レンズ
１６  ロングパスフィルター
１７  光検出器
１８  コンピューター
２１  基板
２２  金属薄膜
２３  固定化抗体
２４  計測対象分子
２５  蛍光分子
２６  標識抗体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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