(57)【要約】【課題】方路の疎通を検証できる光伝送装置等を提供する。【解決手段】光伝送装置は、ネットワーク回線に接続される複数の回線接続ポートを備え、一の回線接続ポートに入力された波長多重信号光に含まれる何れかの波長の光信号を他の回線接続ポートから送出する。光伝送装置は、切替部と、制御部とを有する。切替部は、波長多重信号が入力される入力ポートと、波長多重信号に含まれる何れかの波長の信号が出力される第１の出力ポート及び第２の出力ポートとを有し、第１の出力ポート又は第２の出力ポートに出力する光信号を波長単位に選択して出力可能にする。制御部は、第１の出力ポートに出力される所定波長の光信号のうち、一部を検証光として第２の出力ポートに出力し、第２の出力ポートに出力された検証光により第２の出力ポートを経由する方路の疎通を検証する。【選択図】図７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ネットワーク回線に接続される複数の回線接続ポートを備え、一の前記回線接続ポートに入力された波長多重信号光に含まれる何れかの波長の光信号を他の前記回線接続ポートから送出する光伝送装置において、
前記波長多重信号が入力される入力ポートと、前記波長多重信号に含まれる何れかの波長の信号が出力される第１の出力ポート及び第２の出力ポートとを有し、前記第１の出力ポート又は前記第２の出力ポートに出力する光信号を波長単位に選択して出力可能な切替部と、  
前記第１の出力ポートに出力される所定波長の光信号のうち、一部を検証光として前記第２の出力ポートに出力し、前記第２の出力ポートに出力された前記検証光により前記第２の出力ポートを経由する方路の疎通を検証する制御部と
を有することを特徴とする光伝送装置。
【請求項２】
前記制御部は、
前記第１の出力ポートに出力される前記所定波長の光信号のうち、一部を前記検証光として前記第２の出力ポートに徐々に出力し、前記第２の出力ポートの前記所定波長の光信号の入力量が所定閾値に到達した場合に前記第２の出力ポートに対する前記所定波長の光信号の一部の出力動作を停止することを特徴とする請求項１に記載の光伝送装置。
【請求項３】
前記入力ポートからの何れかの波長の光信号を前記第１の出力ポート又は前記第２の出力ポートに分岐する分岐部を有し、
前記制御部は、
前記第１の出力ポートに出力される前記所定波長の光信号のうち、一部を前記検証光として前記第２の出力ポートに徐々に出力し、前記第２の出力ポートの前記所定波長の光信号の入力量が所定閾値に到達した場合に前記第２の出力ポートに対する前記所定波長の光信号の一部の出力動作を停止すべく、前記分岐部を制御することを特徴とする請求項１に記載の光伝送装置。
【請求項４】
前記制御部は、
前記第１の出力ポートに対する前記所定波長の光信号のうち、一部を前記検証光として前記第２の出力ポートに徐々に出力すべく、前記所定波長の光信号の信号量と前記第２の出力ポートに対する前記所定波長の光信号の入力量との前記分岐部の分岐比率を変更することを特徴とする請求項３に記載の光伝送装置。
【請求項５】
前記制御部は、
前記第２の出力ポートを通過する他の光信号に影響を与えない前記分岐比率の変動範囲内で前記分岐部の分岐比率を徐々に変更することを特徴とする請求項４に記載の光伝送装置。
【請求項６】
前記制御部は、
前記分岐部の分岐比率を変更した後、当該分岐比率の変更によって前記第２の出力ポートを透過する他の光信号に影響を与えない時間の経過後に、前記分岐部の分岐比率を変更することを特徴とする請求項５に記載の光伝送装置。
【請求項７】
前記分岐部は、
複数の液晶セルを有し、複数の液晶セルの内、何れかの液晶セルを電圧制御することで、前記第１の出力ポートに出力される前記所定波長の光信号のうち、一部を前記検証光として前記第２の出力ポートに分岐するＬＣＯＳ（Liquid  Crystal  On  Silicon）であることを特徴とする請求項３に記載の光伝送装置。
【請求項８】
前記分岐部は、
複数のミラーを有し、複数のミラーの内、何れかのミラーを駆動制御することで、前記第１の出力ポートに出力される前記所定波長の光信号のうち、一部を前記検証光として前記第２の出力ポートに分岐するＭＥＭＳ（Micro  Electro  Mechanical  System）であることを特徴とする請求項３に記載の光伝送装置。
【請求項９】
前記分岐部は、
複数のミラーを有し、複数のミラーの内、何れかのミラーを駆動制御することで、前記第１の出力ポートに出力される前記所定波長の光信号のうち、一部を前記検証光として前記第２の出力ポートに分岐するＤＭＤ（Digital  Micro-mirror  Device）であることを特徴とする請求項３に記載の光伝送装置。
【請求項１０】
前記第１の出力ポートを第１の方路に接続すると共に、前記第２の出力ポートを、前記切替部と異なる他の切替部に接続する第２の方路に接続することを特徴とする請求項１〜９の何れか一つに記載の光伝送装置。
【請求項１１】
ネットワーク回線に接続される複数の回線接続ポートを備え、一の前記回線接続ポートに入力された波長多重信号光に含まれる何れかの波長の光信号を他の前記回線接続ポートから送出すると共に、前記波長多重信号が入力される入力ポートと、前記波長多重信号に含まれる何れかの波長の信号が出力される第１の出力ポート及び第２の出力ポートとを有し、前記第１の出力ポート又は前記第２の出力ポートに出力する光信号を波長単位に選択して出力可能にする切替部を有する光伝送装置が実行する疎通検証方法であって、
前記光伝送装置は、
前記第１の出力ポートに出力される所定波長の光信号のうち、一部を検証光として前記第２の出力ポートに出力し、前記第２の出力ポートに出力された前記検証光により前記第２の出力ポートを経由する方路の疎通を検証する
処理を実行することを特徴とする疎通検証方法。
【請求項１２】
ネットワーク回線に接続される複数の回線接続ポートを備え、一の前記回線接続ポートに入力された波長多重信号光に含まれる何れかの波長の光信号を他の前記回線接続ポートから送出する光伝送装置において、
前記波長多重信号が入力される入力ポートと、前記波長多重信号に含まれる何れかの波長の信号が出力される第１の出力ポート及び第２の出力ポートとを有し、前記第１の出力ポート又は前記第２の出力ポートに出力する光信号を波長単位に選択して出力可能な切替部と、  
前記第１の出力ポートに出力される所定波長の光信号のうち、一部を検証光として前記第２の出力ポートに出力させる制御部と、
前記第２の出力ポートに出力された前記検証光により前記第２の出力ポートを経由する方路の疎通を検証する検証部と
を有することを特徴とする光伝送装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光伝送装置及び疎通検証方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、波長多重された光信号、例えば、ＷＤＭ(Wavelength  Division  Multiplexer)信号を伝送する光伝送装置としてＷＤＭ装置が知られている。ＷＤＭ装置は、光分岐挿入装置(ＲＯＡＤＭ:Reconfigurable  Optical  Add-Drop  Multiplexer)を有する。ＲＯＡＤＭは、光信号を波長単位に挿入（ＡＤＤ）、分岐（ＤＲＯＰ）又は透過（ＴＲＯＵＧＨ）する波長選択スイッチ（ＷＳＳ:Wavelength  Selective  Switch）を有する。
【０００３】
また、光伝送装置は、複数の方路を有し、運用中の回線を切断せずに方路を切替える場合、その切替前に“切替後の光信号の方路”が正常であるか否かを検証する必要がある。そこで、光伝送装置では、例えば、光増幅器で発生する自然放出光（ＡＳＥ：Amplified  Spontaneous  Emission）を用いて検証対象方路の疎通を検証する方法がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１１−１５５６１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、光伝送装置では、光入力信号に複数波長の光信号が多重されているため、信号帯域内でＡＳＥ光が十分に確保できず、検証対象方路の疎通を検証するのは困難である。
【０００６】
しかも、光伝送装置では、光信号以外の信号帯域のＡＳＥ光を使用する場合、疎通を検証する波長がシステム毎のネットワーク構成で制限されるため、検証対象方路の波長特性に依存した疎通検証を実現できない。
【０００７】
一つの側面では、方路の疎通を検証できる光伝送装置及び疎通検証方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
一つの案の光伝送装置は、ネットワーク回線に接続される複数の回線接続ポートを備え、一の回線接続ポートに入力された波長多重信号光に含まれる何れかの波長の光信号を他の回線接続ポートから送出する。光伝送装置は、切替部と、制御部とを有する。切替部は、波長多重信号が入力される入力ポートと、波長多重信号に含まれる何れかの波長の信号が出力される第１の出力ポート及び第２の出力ポートとを有し、第１の出力ポート又は第２の出力ポートに出力する光信号を波長単位に選択して出力可能にする。制御部は、第１の出力ポートに出力される所定波長の光信号のうち、一部を検証光として第２の出力ポートに出力し、第２の出力ポートに出力された検証光により第２の出力ポートを経由する方路の疎通を検証する。
【発明の効果】
【０００９】
一つの側面として、方路の疎通を検証できる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】図１は、本実施例の光伝送システムの一例を示す説明図である。
【図２】図２は、ノード内の構成の一例を示す説明図である。
【図３】図３は、第１のＲＯＡＤＭ及び第２のＲＯＡＤＭの構成の一例を示す説明図である。
【図４】図４は、第１のＷＳＳ内の構成の一例を示す説明図である。
【図５】図５は、制御ユニット内の機能構成の一例を示す説明図である。
【図６】図６は、第１のＲＯＡＤＭから第２のＲＯＡＤＭへの廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。
【図７】図７は、第１のＷＳＳの廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。
【図８】図８は、ＬＣＯＳの廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。
【図９】図９は、ＬＣＯＳの廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。
【図１０】図１０は、第１の出力ポートに対する廃棄量と第２の出力ポートに対する入力量との波長λ１の変動推移の一例を示す説明図である。
【図１１】図１１は、ＬＣＯＳの廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。
【図１２】図１２は、検証処理に関わる制御ユニットの処理動作の一例を示すフローチャートである。
【図１３】図１３は、他の実施例のＬＣＯＳの廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。
【図１４】図１４は、他の実施例のＭＥＭＳの廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。
【図１５】図１５は、他の実施例のＤＭＤの廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、図面に基づいて、本願の開示する光伝送装置及び疎通検証方法の実施例を詳細に説明する。尚、本実施例により、開示技術が限定されるものではない。また、以下に示す各実施例は、矛盾を起こさない範囲で適宜組み合わせても良い。
【実施例１】
【００１２】
図１は、本実施例の光伝送システム１の一例を示す説明図である。図１に示す光伝送システム１は、複数のノード２と、複数のＩＬＡ（Optical  In-Line  Amplifier  Equipment）３とを有し、各ノード２は、例えば、メッシュ構成で接続している。ノード２は、波長多重の光信号をネットワーク回線に伝送する、例えば、ＷＤＭ（Wavelength  Division  Multiplexer）装置である。ＩＬＡ３は、光ファイバ等の光伝送路上の光信号を増幅する中継アンプである。
【００１３】
図２は、ノード２内の構成の一例を示す説明図である。各ノード２は、複数のＲＯＡＤＭ（Reconfigurable  Optical  Add/Drop  Multiplexer）を有する。ノード２は、第１及び第２のＲＯＡＤＭ１１Ａ、１１Ｂと、第１〜第４のＭＵＸ／ＤＥＭＵＸ１２Ａ〜１２Ｄと、複数のＴＲＰ（Transponder）１３と、制御ユニット１４とを有する。
【００１４】
第１及び第２のＲＯＡＤＭ１１Ａ、１１Ｂは、ＷＤＭの光信号を波長単位に挿入（ＡＤＤ）、分岐（ＤＲＯＰ）及び透過（ＴＨＲＯＵＧＨ）する光挿入分岐装置である。第１のＲＯＡＤＭ１１Ａは、入力アンプ２１と、第１のＷＳＳ（Wavelength  Selective  Switch）２２Ａと、第２のＷＳＳ２２Ｂと、出力アンプ２３とを有する。入力アンプ２１は、入力段の光信号を増幅するアンプである。出力アンプ２３は、出力段の光信号を増幅するアンプである。第２のＲＯＡＤＭ１１Ｂは、入力アンプ２１と、第３のＷＳＳ２２Ｃと、第４のＷＳＳ２２Ｄと、出力アンプ２３とを有する。
【００１５】
図３は、第１のＲＯＡＤＭ１１Ａ及び第２のＲＯＡＤＭ１１Ｂの構成の一例を示す説明図である。第１及び第３のＷＳＳ２２Ａ、２２Ｃは、波長単位で光信号を切替出力する切替部に相当し、入力ポート３１と、複数の出力ポート３２とを有する。尚、第１及び第３のＷＳＳ２２Ａ、２２Ｃ内の出力ポート３２は、例えば、第１〜第４の出力ポート３２Ａ〜３２Ｄを有する。第２及び第４のＷＳＳ２２Ｂ、２２Ｄは、波長単位で光信号を切替出力する切替部に相当し、複数の入力ポート３１と、出力ポート３２とを有する。尚、第２及び第４のＷＳＳ２２Ｂ、２２Ｄ内の入力ポート３１は、例えば、第１〜第４の入力ポート３１Ａ〜３１Ｄを有する。第１のＷＳＳ２２Ａ内の第１の出力ポート３２Ａは、例えば、スルーポートであって、第２のＷＳＳ２２Ｂ内の第１の入力ポート３１Ａと接続する。第３のＷＳＳ２２Ｃ内の第１の出力ポート３２Ａは、例えば、スルーポートであって、第４のＷＳＳ２２Ｂ内の第１の入力ポート３１Ａと接続する。また、第１のＷＳＳ２２Ａ内の第２の出力ポート３２Ｂは、例えば、ドロップポートであって、第４のＷＳＳ２２Ｄ内の第４の入力ポート３１Ｄと接続する。
【００１６】
第１〜第４のＷＳＳ２２Ａ〜２２Ｄは、各出力ポート３２に出力する光信号の入力量を波長単位で測定する光モニタ２４を有する。ＴＲＰ１３は、データを送受信する通信ユニットである。制御ユニット１４は、ノード２全体を制御する。
【００１７】
図４は、第１のＷＳＳ２２Ａ内の構成の一例を示す説明図である。尚、第３のＷＳＳ２２Ｃは、第１のＷＳＳ２２Ａと同一の構成であるため、その重複する構成及び動作の説明については省略する。また、第２のＷＳＳ２２Ｂ及び第４のＷＳＳ２２Ｄも、入力ポート３１及び出力ポート３２の数は異なるが、その他は、第１のＷＳＳ２２Ａとほぼ同一の構成であるため、その重複する構成及び動作の説明については省略する。図４に示す第１のＷＳＳ２２Ａは、入力ポート３１と、第１〜第４の出力ポート３２Ａ〜３２Ｄと、第１〜第４の光モニタ２４Ａ〜２４Ｄと、分離部３３と、レンズ３４と、ＬＣＯＳ３５と、駆動制御部３６とを有する。
【００１８】
第１の光モニタ２４Ａは、第１の出力ポート３２Ａに出力する光信号の入力量を波長単位で測定する。第２の光モニタ２４Ｂは、第２の出力ポート３２Ｂに出力する光信号の入力量を波長単位で測定する。第３の光モニタ２４Ｃは、第３の出力ポート３２Ｃに出力する光信号の入力量を波長単位で測定する。第４の光モニタ２４Ｄは、第４の出力ポート３２Ｄに出力する光信号の入力量を波長単位で測定する。
【００１９】
分離部３３は、入力ポート３１からの光信号を波長単位に分離する、例えば、ＡＷＧ（Arrayed  Waveguide  Grating）である。レンズ３４は、分離部３３にて分離された波長毎にＬＣＯＳ３５面の特定箇所に光信号の焦点を調整する。ＬＣＯＳ３５は、格子状に配置された複数の液晶セルで構成され、液晶セルの電圧値をセル単位で変更することで液晶セルの屈折率を変更する。ＬＣＯＳ３５は、液晶セル毎の屈折率を変更して入射光を任意の角度に反射することで、入力ポート３１からの光信号を波長単位に分岐して第１〜第４の出力ポート３２Ａ〜３２Ｄに出力できる分岐部である。また、ＬＣＯＳ３５は、波長毎に光信号を廃棄（散乱）して光信号のレベルを調整する機能を有し、例えば、波長間の光パワー差や、部品バラツキや経年劣化による光パワー差を調整する。ＬＣＯＳ３５は、出力ポート３２の中心軸に対して光信号の光軸の位置を調整し、一部の光信号を散乱（廃棄）させて光信号のレベルを調整する。
【００２０】
駆動制御部３６は、制御ユニット１４からの制御信号に応じてＬＣＯＳ３５内の液晶セルの電圧をセル単位で制御する。駆動制御部３６は、ＬＣＯＳ３５内の液晶セルの屈折率をセル単位に徐々に変更する。例えば、１：９→２：８→３：７等のように光分岐比率を徐々に変更することで、出力段での光信号の急峻な変動を抑制できる。駆動制御部３６は、例えば、ＬＣＯＳ３５内の液晶セルの電圧値をセル単位で制御することで、運用中の出力ポート３２の波長λ１の散乱光（廃棄量）の一部を検証光として検証対象方路の出力ポート３２に徐々に分岐する。そして、駆動制御部３６は、検証対象方路の出力ポート３２の入力量が検証対象方路の検証可能量に到達した場合に廃棄量の一部を検証光として検証対象方路の出力ポート３２に徐々に分岐する廃棄量の分岐動作を停止する。
【００２１】
図５は、制御ユニット１４内の機能構成の一例を示す説明図である。図５に示す制御ユニット１４は、収集部４１と、検証部４２と、設定部４３と、出力部４４と、記憶部４５と、制御部４６とを有する。収集部４１は、第１〜第４の光モニタ２４Ａ〜２４Ｄにて測定された第１〜第４の出力ポート３２Ａ〜３２Ｄの光信号の入力量を波長単位で収集する。検証部４２は、検証対象方路に対する検証波長の疎通を検証する。尚、検証対象方路は、検証対象の方路である。検証波長は、検証対象方路に使用する光信号の光波長である。検証部４２は、検証対象方路に対する検証波長のＯＮ／ＯＦＦを確認できた場合、疎通ＯＫを出力部４４に出力する。検証部４２は、検証対象方路に対する検証波長のＯＮ／ＯＦＦが確認できなかった場合、疎通ＮＧを出力部４４に出力する。
【００２２】
設定部４３は、ＬＣＯＳ３５を駆動制御するための制御情報を駆動制御部３６に設定する。出力部４４は、検証結果やエラー情報等を出力する。記憶部４５は、例えば、ＲＡＭ（Random  Access  Memory）、ＲＯＭ（Read  Only  Memory）、フラッシュメモリ（Flash  Memory）等の半導体メモリ素子等の記憶装置であって、各種情報を記憶する領域である。記憶部４５には、第１〜第４のＷＳＳ２２Ａ〜２２Ｄ内の各出力ポート３２Ａ〜３２Ｄを識別する出力ポート番号毎に使用波長及び設定廃棄量を格納する設定情報テーブル４５Ａを有する。使用波長は、出力ポート３２に出力する光信号の波長である。設定廃棄量は、出力ポート３２で散乱する光信号の該当波長の散乱光のレベルである。制御部４６は、制御ユニット１４全体を制御する。
【００２３】
制御部４６は、検証要求を検出した場合、検証要求内の検証対象方路及び検証波長で運用中の検証波長の設定廃棄量を設定情報テーブル４５Ａから取得する。制御部４６は、検証波長の廃棄量が検証対象方路の出力ポート３２の検証可能量以上であるか否かを判定する。尚、検証可能量は、方路の疎通の検証に必要な入力量である。制御部４６は、検証波長の廃棄量が検証対象方路の出力ポート３２の検証可能量以上の場合、検証可能量を１回分の分岐量ΔＶで除算することでループ回数Ｎを算出する。尚、１回分の分岐量ΔＶは、１回の分岐動作で実行する廃棄量の分岐量である。１回分の分岐量ΔＶは、１回の分岐動作による出力ポート３２の入力量の変動で運用中の他の波長に影響を与えない、例えば、後段の出力アンプ２３のダイナミックレンジから外れない程度の変動量である。
【００２４】
制御部４６は、検証波長が第１の出力ポート３２Ａで運用中の波長λ１、検証対象方路が第２の出力ポート３２Ｂの場合、第１の出力ポート３２Ａの波長λ１の廃棄量から１回分の分岐量を第２の出力ポート３２Ｂに分岐する制御信号を駆動制御部３６に入力する。駆動制御部３６は、制御信号に応じて廃棄量から１回分の分岐量を第２の出力ポート３２Ｂに分岐する。制御部４６は、廃棄量から１回分の分岐量を第２の出力ポート３２Ｂに分岐する制御信号の出力に応じて所定時間タイマを起動し、所定時間経過後に廃棄量から１回分の分岐量の分岐動作を完了する。尚、所定時間タイマは、１回分の分岐量の分岐動作による第２の出力ポート３２Ｂの入力量の変動で運用中の他の波長に影響を与えないように廃棄量の分岐動作が完了するまでの待ち時間である。制御部４６は、検証波長の廃棄量から１回分の分岐量を分岐して検証対象方路の出力ポート３２の入力量が検証可能量に到達した場合に廃棄量の分岐動作を停止する。
【００２５】
図６は、第１のＲＯＡＤＭ１１Ａから第２のＲＯＡＤＭ１１Ｂへの廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図、図７は、第１のＷＳＳ２２Ａの廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。尚、検証対象方路は、第１のＷＳＳ２２Ａ内の第２の出力ポート３２Ｂと第４のＷＳＳ２２Ｄ内の第４の入力ポート３１Ｄとを接続する方路、検証波長は、第１のＷＳＳ２２Ａで運用中の光信号の波長λ１とする。
【００２６】
第１のＲＯＡＤＭ１１Ａは、波長λ１、λ２及びλ３の光信号を入力し、入力アンプ２１、第１のＷＳＳ２２Ａ、第２のＷＳＳ２２Ｂ及び出力アンプ２３を経由して波長λ１、λ２及びλ３の光信号を出力する。第１のＷＳＳ２２Ａ内の第１の出力ポート３２Ａは、波長λ１、λ２及びλ３の光信号を第２のＷＳＳ２２Ｂ内の第１の入力ポート３１Ａに出力する。
【００２７】
第２のＲＯＡＤＭ１１Ｂは、波長λ４及びλ５の光信号を入力し、入力アンプ２１、第３のＷＳＳ２２Ｃ、第４のＷＳＳ２２Ｄ及び出力アンプ２３を経由して波長λ４及びλ５の光信号を出力する。第３のＷＳＳ２２Ｃ内の第１の出力ポート３２Ａは、波長λ４及びλ５の光信号を第４のＷＳＳ２２Ｄ内の第１の入力ポート３１Ａに出力する。
【００２８】
更に、第１のＷＳＳ２２Ａは、ＬＣＯＳ３５を駆動制御し、第１の出力ポート３２Ａに対する波長λ１の廃棄量の一部を第２の出力ポート３２Ｂに徐々に光分岐する。駆動制御部３６は、第１の出力ポート３２Ａの波長λ１の廃棄量と第２の出力ポート３２Ｂの波長λ１の入力量との分岐比率を徐々に変更する。そして、第４のＷＳＳ２２Ｄ内の後段の出力アンプ２３の入力ダイナミックレンジから外れないように光信号の急変を抑制している。その結果、図７に示す第１のＷＳＳ２２Ａ内のＬＣＯＳ３５は、第１の出力ポート３２Ａの波長λ１の廃棄量の一部を第２の出力ポート３２Ｂに徐々に光分岐し、第２の出力ポート３２Ｂの入力量が検証可能量に到達することになる。そして、第１のＷＳＳ２２Ａ内の第２の出力ポート３２Ｂから波長λ１の分岐光を第４のＷＳＳ２２Ｄ内の第４の入力ポート３１Ｄに入力する。第２のＲＯＡＤＭ１１Ｂ内の第４のＷＳＳ２２Ｄは、波長λ４及びλ５の他に、波長λ１の光信号を出力することになる。
【００２９】
図８は、ＬＣＯＳ３５の廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。図８（Ａ）に示すＬＣＯＳ３５は、第１の出力ポート３２Ａに対する波長λ１の光信号の入力量を維持しながら、波長λ１の散乱光が発生している状態にある。図８（Ｂ）に示すＬＣＯＳ３５は、第１の出力ポート３２Ａに対する波長λ１の入力量を維持しながら、第１の出力ポート３２Ａに対する散乱光（廃棄量）の一部を第２の出力ポート３２Ｂに徐々に分岐している状態である。図８（Ｃ）に示すＬＣＯＳ３５は、第１の出力ポート３２Ａの波長λ１の廃棄量の一部を第２の出力ポート３２Ｂに分岐して第２の出力ポート３２Ｂの波長λ１の入力量が検証可能量に到達した状態にある。
【００３０】
図９は、ＬＣＯＳ３５の廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。図９（Ａ）に示すＬＣＯＳ３５は、波長λ１の入力量を４ｄＢｍ、第１の出力ポート３２Ａに対する入力量を２ｄＢｍ、その波長λ１の廃棄量を２ｄＢｍ、第２の出力ポート３２Ｂに対する入力量を０ｄＢｍとした廃棄量分岐前の状態にある。図９（Ｂ）に示すＬＣＯＳ３５は、第１の出力ポート３２Ａに対する入力量の２ｄＢｍを維持し、波長λ１の廃棄量の一部を第２の出力ポート３２Ｂに光分岐し、第２の出力ポート３２Ｂに対する入力量を１ｄＢｍ、波長λ１の廃棄量を１ｄＢｍとした状態にある。図９（Ｃ）に示すＬＣＯＳ３５は、第１の出力ポート３２Ａに対する入力量の２ｄＢｍを維持し、波長λ１の廃棄量の一部を第２の出力ポート３２Ｂに光分岐し、第２の出力ポート３２Ｂに対する入力量を２ｄＢｍ、波長λ１の廃棄量を０ｄＢｍとした状態にある。
【００３１】
図１０は、第１の出力ポート３２Ａに対する廃棄量と第２の出力ポート３２Ｂに対する入力量との波長λ１の変動推移の一例を示す説明図である。図１０に示す第２の出力ポート３２Ｂに対する入力量は、第１の出力ポート３２Ａの波長λ１の廃棄量の一部の第２の出力ポート３２Ｂに対する分岐に応じて上昇する。そして、第２の出力ポート３２Ｂの入力量が第２の出力ポート３２Ｂの検証可能量に到達したタイミングで廃棄量の分岐を停止する。
【００３２】
図１１は、ＬＣＯＳ３５の廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。駆動制御部３６は、図１１（Ａ）に示すように、第１の出力ポート３２Ａに対する波長λ１の光信号を出力すべく、ＬＣＯＳ３５を駆動制御する。駆動制御部３６は、図１１（Ｂ）に示すように、ＬＣＯＳ３５内の３個の液晶セルＷ１〜Ｗ３の電圧を制御することで、第１の出力ポート３２Ａに対する波長λ１の廃棄量の一部を第２の出力ポート３２Ｂに分岐する。駆動制御部３６は、図１１（Ｃ）に示すように、ＬＣＯＳ３５内の６個の液晶セルＷ１〜Ｗ６の電圧を制御することで、第１の出力ポート３２Ａに対する波長λ１の廃棄量の一部を第２の出力ポート３２Ｂに分岐する。駆動制御部３６は、図１１（Ｄ）に示すようにＬＣＯＳ３５内の９個の液晶セルＷ１〜Ｗ９の電圧を制御することで、第１の出力ポート３２Ａに対する波長λ１の廃棄量の一部を第２の出力ポート３２Ｂに分岐する。つまり、駆動制御部３６は、ＬＣＯＳ３５内の液晶セルを縦方向に３個単位で徐々に電圧制御することで、第１の出力ポート３２Ａに対する波長λ１の廃棄量の一部を第２の出力ポート３２Ｂに徐々に分岐する。その結果、第２の出力ポート３２Ｂの入力量が急峻に変動するような事態を回避できる。
【００３３】
次に本実施例の光伝送システム１の動作について説明する。図１２は、検証処理に関わる制御ユニット１４の処理動作の一例を示すフローチャートである。尚、説明の便宜上、検証対象方路を第２の出力ポート３２Ｂ、検証波長を第１の出力ポート３２Ａの運用中の波長λ１とする。
【００３４】
図１２において制御ユニット１４内の制御部４６は、検証要求を検出したか否かを判定する（ステップＳ１１）。尚、検証要求は、検証対象方路及び検証波長を指定して検証対象方路の検証波長による疎通検証の要求コマンドである。
【００３５】
制御部４６は、検証要求を検出した場合（ステップＳ１１肯定）、検証波長を運用中の第１の出力ポート３２Ａに関わる設定廃棄量を設定情報テーブル４５Ａから取得する（ステップＳ１２）。尚、設定廃棄量は、設計情報に基づき、事前に指定波長の設定廃棄量が設定情報テーブル４５Ａに記憶されているものとする。
【００３６】
制御ユニット１４内の収集部４１は、第１の光モニタ２４Ａにて測定された第１の出力ポート３２Ａで運用中の検証波長の入力量を収集する（ステップＳ１３）。制御部４６は、検証波長の設定廃棄量が検証対象方路である第２の出力ポート３２Ｂの検証可能量以上であるか否かを判定する（ステップＳ１４）。尚、検証可能量は、検証対象方路において疎通検証可能なレベルである。
【００３７】
制御部４６は、検証波長の設定廃棄量が検証可能量以上の場合（ステップＳ１４肯定）、第１の出力ポート３２Ａで運用中の検証波長の廃棄量を光分岐して第２の出力ポート３２Ｂの疎通検証が可能と判断する。そして、制御部４６は、検証可能量Ｚ及び１回分の分岐量ΔＶに基づき、ループ回数Ｎを算出する（ステップＳ１５）。尚、制御部４６は、検証可能量Ｚ／１回分の分岐量ΔＶでループ回数Ｎを算出する。
【００３８】
制御部４６は、算出したループ回数を設定し（ステップＳ１６）、実行回数ｉを１回とし（ステップＳ１７）、ＬＣＯＳ３５に対する１回分の分岐量ΔＶの分岐動作を実行する（ステップＳ１８）。尚、１回分の分岐量ΔＶの分岐動作は、第１の出力ポート３２Ａの波長λ１の廃棄量から１回分の分岐量ΔＶを第２の出力ポート３２Ｂに分岐するための廃棄量の分岐動作である。制御部４６は、第１の出力ポート３２Ａの廃棄量から１回分の分岐量ΔＶを差し引き、１回分の分岐量ΔＶを第２の出力ポート３２Ｂの入力量に分岐する。
【００３９】
更に、制御部４６は、廃棄量の１回分の分岐量ΔＶの分岐動作を実行した後、所定時間タイマを開始し（ステップＳ１９）、実行回数を＋１インクリメントする（ステップＳ２０）。収集部４１は、第２の光モニタ２４Ｂにて測定された検証対象方路の第２の出力ポート３２Ｂの検証波長λ１の入力量を収集する（ステップＳ２１）。更に、制御部４６は、所定時間タイマがタイムアップしたか否かを判定する（ステップＳ２２）。制御部４６は、所定時間タイマがタイムアップした場合（ステップＳ２２肯定）、検証対象方路の第２の出力ポート３２Ｂの検証波長λ１の入力量が検証可能量に到達したか否かを判定する（ステップＳ２３）。制御部４６は、所定時間タイマがタイムアップしていない場合（ステップＳ２２否定）、所定時間タイムがタイムアップするまでステップＳ２２に移行する。
【００４０】
制御部４６は、検証対象方路の第２の出力ポート３２Ｂの検証波長λ１の入力量が検証可能量に到達しなかった場合（ステップＳ２３否定）、実行回数がループ回数に到達したか否かを判定する（ステップＳ２４）。制御ユニット１４内の検証部４２は、実行回数がループ回数に到達した場合（ステップＳ２４肯定）、検証対象方路の第２の出力ポート３２Ｂに対して検証波長の疎通を検証する（ステップＳ２５）。尚、検証部４２は、運用中の回線を維持しながら、検証対象方路の第２の出力ポート３２Ｂに対して検証波長のＯＮ／ＯＦＦで疎通を検証する。つまり、検証部４２は、ＯＮ／ＯＦＦが確認できた場合、検証対象方路の検証波長の疎通が正常と判断し、疎通ＯＫを出力部４４に出力する。また、検証部４２は、ＯＮ／ＯＦＦが確認できない場合、検証対象方路に対する検証波長の疎通が異常と判断し、疎通ＮＧを出力部４４に出力する。
【００４１】
検証部４２は、検証対象方路の第２の出力ポート３２Ｂに対する検証波長λ１の疎通検証を実行した後、前述した通り、疎通ＯＫや疎通ＮＧ等の検証結果を出力部４４に出力し（ステップＳ２６）、図１２に示す処理動作を終了する。制御部４６は、検証要求を検出しなかった場合（ステップＳ１１否定）、図１２に示す処理動作を終了する。
【００４２】
制御部４６は、検証波長λ１の廃棄量が検証対象方路の第２の出力ポート３２Ｂの検証可能量以上でないと判定された場合（ステップＳ１４否定）、検証波長λ１の廃棄量が検証可能量未満と判断し、エラーを出力部４４から出力する（ステップＳ２７）。そして、制御部４６は、図１２に示す処理動作を終了する。
【００４３】
制御部４６は、検証対象方路の第２の出力ポート３２Ｂの入力量が検証可能量に到達した場合（ステップＳ２３肯定）、検証対象方路の第２の出力ポート３２Ｂに対して検証波長λ１の疎通を検証すべく、ステップＳ２５に移行する。制御部４６は、実行回数がループ回数に到達していない場合（ステップＳ２４否定）、廃棄量の１回分の分岐量ΔＶの分岐動作を実行すべく、ステップＳ１８に移行する。
【００４４】
本実施例の制御部４６は、運用中の波長λ１による散乱光（廃棄量）の一部をＬＣＯＳ３５で検証対象方路の出力ポート３２に徐々に分岐し、検証対象方路の出力ポート３２の検証波長λ１の入力量が検証可能量になるまで分岐する。そして、制御部４６は、検証対象方路の出力ポート３２の検証波長λ１の入力量が検証可能量に到達した場合に廃棄量の分岐動作を停止する。検証部４２は、廃棄量の分岐動作を停止した後、検証波長λ１の廃棄量からの分岐光を用いて検証対象方路の疎通を検証する。その結果、運用回線を切断することなく、例えば、回線増設や回線障害等の運用回線の切り替えを行う前に検証対象方路の疎通を検証できる。
【００４５】
本実施例では、分岐部としてＬＣＯＳ３５を例示し、検証波長の廃棄量の一部を検証対象方路の出力ポート３２に徐々に分岐すべく、ＬＣＯＳ３５の液晶セルを縦方向に３セル単位で電圧制御した。しかしながら、これに限定されるものではなく。ＬＣＯＳ３５の液晶セルを横方向の３セル単位で電圧制御しても良い。図１３は、他の実施例のＬＣＯＳ３５の廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。
【００４６】
駆動制御部３６は、図１３（Ａ）に示すように、第１の出力ポート３２Ａに対する波長λ１の光信号を出力すべく、ＬＣＯＳ３５の液晶セルを電圧制御する。駆動制御部３６は、図１３（Ｂ）に示すように、ＬＣＯＳ３５内の３個の液晶セルＷ１〜Ｗ３を電圧制御することで、第１の出力ポート３２Ａに対する波長λ１の廃棄量の一部を第２の出力ポート３２Ｂに分岐する。駆動制御部３６は、図１３（Ｃ）に示すように、ＬＣＯＳ３５内の６個の液晶セルＷ１〜Ｗ６を電圧制御することで、第１の出力ポート３２Ａに対する波長λ１の廃棄量の一部を第２の出力ポート３２Ｂに分岐する。つまり、駆動制御部３６は、ＬＣＯＳ３５の液晶セルを横方向に順次３個単位で徐々に電圧制御し、第１の出力ポート３２Ａの波長λ１の入力量を維持しながら、第２の出力ポート３２Ｂの波長λ１の入力量が検証可能量に到達するまで廃棄量の分岐動作を継続する。
【００４７】
また、本実施例では、波長単位で光信号を分岐する方法としてＬＣＯＳ３５を例示したが、ＬＣＯＳ３５の代わりにＭＥＭＳ５０を使用しても良い。図１４は、他の実施例のＭＥＭＳ５０の廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。図１４に示すＭＥＭＳ５０は、波長λ１の２軸ミラー５１Ａと、波長λ２の２軸ミラー５１Ｂと、波長λ３の２軸ミラー５１Ｃとを有する。各２軸ミラー５１Ａ〜５１Ｃは６枚のミラーを有する。駆動制御部３６は、第１の出力ポート３２Ａの散乱光（廃棄量）を第２の出力ポート３２Ｂに順次分岐すべく、ＭＥＭＳ５０内の波長λ１の２軸ミラー５１Ａの減衰軸の角度で廃棄量を調整する。駆動制御部３６は、例えば、波長λ１の２軸ミラー５１Ａ内の半数（３枚）のミラーを第１の出力ポート３２Ａ、残りの半数（３枚）のミラーを第２の出力ポート３２Ｂに徐々に分岐する。つまり、駆動制御部３６は、ＭＥＭＳ５０内の波長λ１の２軸ミラー５１Ａ内の各ミラーを徐々に調整する。その結果、駆動制御部３６は、第１の出力ポート３２Ａ内の波長λ１の入力量を維持しながら、第２の出力ポート３２Ｂ内の波長λ１の入力量が検証可能量に到達するまで廃棄量の分岐動作を継続する。
【００４８】
また、本実施例では、波長単位で光信号を分岐する方法としてＬＣＯＳ３５を例示したが、ＬＣＯＳ３５の代わりにＤＭＤ６０を使用しても良い。図１５は、他の実施例のＤＭＤ６０の廃棄量の分岐動作の一例を示す説明図である。図１５に示すＤＭＤ６０は、ＯＮ又はＯＦＦの２値の反射角度を有する微小なミラーが格子状に配置されたデバイスである。駆動制御部３６は、図１５に示すように、第１のＤＭＤ６１Ａ及び第２のＤＭＤ６１Ｂ内のミラーのＯＮ／ＯＦＦの割合を変更制御する。図１５（Ａ）に示す第１のＤＭＤ６１Ａは、１／２のミラーをＯＮにし、入力光の１／２を第２のＤＭＤ６１Ｂに反射する。第２のＤＭＤ６１Ｂは全てのミラーをＯＮにし、第１の出力ポート３２Ａに全ての光を出力する。図１５の（Ｂ）に示す第１のＤＭＤ６１Ａは、１／４のミラーをＯＦＦにし、入力光の３／４を第２のＤＭＤ６１Ｂに反射する。第２のＤＭＤ６１Ｂは、１／３のミラーをＯＦＦにし、入力光の２／４を第１の出力ポート３２Ａに出力し、入力光の１／４を第２の出力ポート３２Ｂに出力する。図１５の（Ｃ）に示す第１のＤＭＤ６１Ａは、全てのミラーをＯＮにし、入力光を全ての第２のＤＭＤ６１Ｂに反射する。第２のＤＭＤ６１Ｂは、１／２のミラーをＯＦＦにし、入力光の２／４を第１の出力ポート３２Ａに出力し、入力光の２／４を第２の出力ポート３２Ｂに出力する。つまり、駆動制御部３６は、ＤＭＤ６０内の第１のＤＭＤ６１Ａ及び第２のＤＭＤ６１Ｂのミラーの割合を徐々に調整する。その結果、駆動制御部３６は、第１の出力ポート３２Ａ内の波長λ１の入力量を維持しながら、第２の出力ポート３２Ｂ内の波長λ１の入力量が検証可能量に到達するまで廃棄量の分岐動作を継続する。
【００４９】
尚、上記実施例では、第１の出力ポート３２Ａで運用中の波長λ１を検証波長、第２の出力ポート３２Ｂと接続する方路を検証対象方路としたが、これらに限定されるものではなく、適宜変更可能である。例えば、第２の出力ポート３２Ｂで運用中の波長λ４を検証波長、第１の出力ポート３２Ａと接続する方路を検証対象方路とし、第２の出力ポート３２Ｂの波長λ４の廃棄量を第１の出力ポート３２Ａに徐々に分岐するようにしても良い。
【００５０】
上記実施例では、検証部４２及び制御部４６を別個に配置したが、制御部４６内に検証部４２の機能を持たせても良く、適宜変更可能である。
【００５１】
また、図示した各部の各構成要素は、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各部の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を、各種の負荷や使用状況等に応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。
【００５２】
更に、各装置で行われる各種処理機能は、ＣＰＵ（Central  Processing  Unit）（又はＭＰＵ（Micro  Processing  Unit）、ＭＣＵ（Micro  Controller  Unit）等のマイクロ・コンピュータ）上で、その全部又は任意の一部を実行するようにしても良い。また、各種処理機能は、ＣＰＵ（又はＭＰＵ、ＭＣＵ等のマイクロ・コンピュータ）で解析実行するプログラム上、又はワイヤードロジックによるハードウェア上で、その全部又は任意の一部を実行するようにしても良いことは言うまでもない。
【符号の説明】
【００５３】
２  ノード
２２Ａ  第１のＷＳＳ
２２Ｂ  第２のＷＳＳ
２２Ｃ  第３のＷＳＳ
２２Ｄ  第４のＷＳＳ
３１  入力ポート
３２  出力ポート
３２Ａ  第１の出力ポート
３２Ｂ  第２の出力ポート
３５  ＬＣＯＳ
４１  収集部
４２  検証部
４６  制御部
５０  ＭＥＭＳ
６０  ＤＭＤ
【図１】
2018033009.tif 000003
【図２】
2018033009.tif 000004
【図３】
2018033009.tif 000005
【図４】
2018033009.tif 000006
【図５】
2018033009.tif 000007
【図６】
2018033009.tif 000008
【図７】
2018033009.tif 000009
【図８】
2018033009.tif 000010
【図９】
2018033009.tif 000011
【図１０】
2018033009.tif 000012
【図１１】
2018033009.tif 000013
【図１２】
2018033009.tif 000014
【図１３】
2018033009.tif 000015
【図１４】
2018033009.tif 000016
【図１５】
2018033009.tif 000017