(57)【要約】【課題】設計者の経験則に依存することなく、過電圧防護素子の保護デバイスとして、電気安全面を考慮した低い定格電流値を有しかつ雷サージ耐力も不足の無い適切なヒューズを選定できるようにする。【解決手段】バリスタ２を通過する雷サージに相当する試験電流の離散的な電流値を表す測定データをオシロスコープ３から取得する。測定データが表す離散的な電流値の各々の２乗の値と当該電流値の測定間隔の時間の値との積を合計してジュール積分値を算出する。算出されたジュール積分値が保護用ヒューズの最低限必要な耐力値であると決定する。ヒューズカタログデータから、決定された保護用ヒューズの最低限必要な耐力値に基づいて、当該最低限必要な耐力値に対応する保護用ヒューズを選定する。選定された保護用ヒューズの中から、定格電流値が予め定められた条件を満たす保護用ヒューズを特定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
過電圧防護素子と、
前記過電圧防護素子に接続され、前記過電圧防護素子に雷サージに相当する試験電流を印加する雷サージ発生器と、
前記過電圧防護素子を通過する前記試験電流の離散的な電流値を測定する電流測定器と、
前記電流測定器に接続された保護デバイス選定装置とを具備し、
前記保護デバイス選定装置は、
前記試験電流の離散的な電流値を表す測定データを前記電流測定器から取得する雷サージデータ取得部と、
前記取得された測定データに基づいて前記過電圧防護素子の保護デバイスを選定するデバイス選定部と
を備える保護デバイス選定システム。
【請求項２】
過電圧防護素子を通過する雷サージに相当する試験電流の離散的な電流値を表す測定データを電流測定器から取得する雷サージデータ取得部と、
前記取得された測定データに基づいて前記過電圧防護素子の保護デバイスを選定するデバイス選定部と
を備える保護デバイス選定装置。
【請求項３】
前記デバイス選定部は、
前記取得された測定データに基づいて、保護デバイスの最低限必要な耐力値を決定する耐力値決定部と、
前記決定された最低限必要な耐力値に基づいて保護用ヒューズを選定するヒューズ選定部と
を備える、請求項２に記載の保護デバイス選定装置。
【請求項４】
前記耐力値決定部は、前記取得された測定データが表す離散的な電流値の各々の２乗の値と前記電流値の測定間隔の時間の値との積を合計してジュール積分値を算出し、当該算出されたジュール積分値を保護デバイスの最低限必要な耐力値とする、請求項３に記載の保護デバイス選定装置。
【請求項５】
前記ヒューズ選定部は、前記決定された最低限必要な耐力値に基づいて、複数のヒューズの各々に対応する耐力値および定格電流値を定義したヒューズカタログデータから、前記最低限必要な耐力値に対応する保護用ヒューズを選定する、請求項３または４に記載の保護デバイス選定装置。
【請求項６】
前記ヒューズ選定部は、前記選定された保護用ヒューズの中から、定格電流値が予め定められた条件を満たす保護用ヒューズを特定する請求項５に記載の保護デバイス選定装置。
【請求項７】
過電圧防護素子の保護デバイスを選定する保護デバイス選定装置が実行する保護デバイス選定方法であって、
前記保護デバイス選定装置が、前記過電圧防護素子を通過する雷サージに相当する試験電流の離散的な電流値を表す測定データを電流測定器から取得する過程と、
前記保護デバイス選定装置が、前記取得された測定データに基づいて前記過電圧防護素子の保護デバイスを選定する過程と
を備える保護デバイス選定方法。
【請求項８】
請求項２乃至６のいずれかに記載の保護デバイス選定装置が備える各部としてコンピュータを機能させる保護デバイス選定プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、過電圧防護素子を保護するための保護デバイスを選定する保護デバイス選定システム、装置、方法およびプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、雷サージ等の高電圧から電気電子機器を防護するため、電気電子機器の電源ラインにはバリスタ等の過電圧防護素子が配置される。このように構成することで、雷サージによる過大な電流を当該過電圧防護素子側にバイパスさせることにより、電気電子機器を雷サージから防護することができる。
【０００３】
ところで、過電圧防護素子は、想定より電流値の大きな雷サージが通過したり、雷サージの電流が幾度にもわたってバイパスされると、素子が劣化して絶縁特性が低下し、電気電子機器を防護するという機能を十分に果たせなくなることがある。このような絶縁特性の低下を補償するために、当該過電圧防護素子の保護デバイスとして、例えばヒューズを当該過電圧防護素子に直列に接続する技術が知られている（例えば、非特許文献１を参照）。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【０００４】
【非特許文献１】日本規格協会「ＪＩＳ  Ｃ  ５３８１−１２：２０１４  低圧サージ防護デバイス−第１２部：低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの選定及び適用基準」、ｐ６４２−６４３
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記のような目的で使用されるヒューズには、雷サージの電流に対して溶断しないような雷サージ耐力が要求される。一方、常時電圧がかかる回路に用いられる過電圧防護素子は、短絡、部分短絡時に電流が流れ続けて発熱・発火を起こすため、電気安全面から、上記ヒューズには故障時の電流を遮断すること、すなわち、故障電流に対して溶断する性能も要求される。すなわち、ヒューズは、雷サージに対しては不溶断、故障電流に対しては溶断という、ヒューズの特性上トレードオフにある性能が求められている。
【０００６】
雷サージに対する不溶断を優先してヒューズの雷サージ耐力を必要以上に大きく見積もると、ヒューズの定格電流値も雷サージ耐力にしたがって大きくなる。このような大きな定格電流値を有するヒューズは、過電圧防護素子が劣化して抵抗値が低下した状態で短絡する故障が発生した場合に、溶断せずに故障電流を速やかに遮断できない。一方、故障電流に対する溶断を優先すると、雷サージ耐力が小さくなるので、雷サージに対して過電圧防護素子が通常動作を行っている際にヒューズが溶断してしまうことがある。
【０００７】
ところが、ヒューズの選定は設計者の経験則に大きく依存していることが多い。
【０００８】
この発明は上記事情に着目してなされたもので、設計者の経験則に依存することなく、過電圧防護素子の保護デバイスとして、電気安全面を考慮した低い定格電流値を有しかつ雷サージ耐力も不足の無い適切なヒューズを選定できるようにした保護デバイス選定システム、装置、方法およびプログラムを提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題を解決するために、この発明の第１の態様は、保護デバイス選定装置において、過電圧防護素子を通過する雷サージに相当する試験電流の離散的な電流値を表す測定データを電流測定器から取得する雷サージデータ取得部と、前記取得された測定データに基づいて前記過電圧防護素子の保護デバイスを選定するデバイス選定部とを備えるようにしたものである。
【００１０】
この発明の第２の態様は、前記デバイス選定部が、前記取得された測定データに基づいて、保護デバイスの最低限必要な耐力値を決定する耐力値決定部と、前記決定された最低限必要な耐力値に基づいて保護用ヒューズを選定するヒューズ選定部とを備えるようにしたものである。
【００１１】
この発明の第３の態様は、前記耐力値決定部が、前記取得された測定データが表す離散的な電流値の各々の２乗の値と前記電流値の測定間隔の時間の値との積を合計してジュール積分値を算出し、当該算出されたジュール積分値を保護デバイスの最低限必要な耐力値とするようにしたものである。
【００１２】
この発明の第４の態様は、前記ヒューズ選定部が、前記決定された最低限必要な耐力値に基づいて、複数のヒューズの各々に対応する耐力値および定格電流値を定義したヒューズカタログデータから、前記最低限必要な耐力値に対応する保護用ヒューズを選定するようにしたものである。
【００１３】
この発明の第５の態様は、前記ヒューズ選定部が、前記選定された保護用ヒューズの中から、定格電流値が予め定められた条件を満たす保護用ヒューズを特定するようにしたものである。
【発明の効果】
【００１４】
この発明の第１の態様によれば、過電圧防護素子を通過する雷サージに相当する試験電流の離散的な電流値を表す測定データに基づいて、当該過電圧防護素子の保護デバイスが選定される。このため、当該過電圧防護素子が避雷素子として使用される際に当該過電圧防護素子に印加されることが想定される雷サージに相当する試験電流の実データに基づいて、当該過電圧防護素子のオン抵抗も考慮した、過電圧防護素子の保護デバイスの選定を設計者の経験則に依存することなく行うことができる。
【００１５】
この発明の第２の態様によれば、取得された測定データに基づいて決定された最低限必要な耐力値に基づいて、保護用ヒューズが選定される。このため、雷サージに対する耐力値という基準で保護用ヒューズを選定することができる。
【００１６】
この発明の第３の態様によれば、取得された測定データから算出されたジュール積分値が保護デバイスの最低限必要な耐力値とされる。このため、取得された電流値から正確かつ簡便な方法で算出されたジュール積分値に基づいて、上記の保護用ヒューズの選定を行うことができる。
【００１７】
この発明の第４の態様によれば、決定された最低限必要な耐力値に基づいて、複数のヒューズの各々に対応する耐力値および定格電流値を定義したヒューズカタログデータから、前記最低限必要な耐力値に対応する保護用ヒューズが選定される。このため、想定される雷サージに対して溶断しない雷サージ耐力を有する保護用ヒューズを選定することができる。
【００１８】
この発明の第５の態様によれば、選定された保護用ヒューズの中から、定格電流値が予め定められた条件を満たす保護用ヒューズが特定される。このため、想定される雷サージに対する不溶断と故障電流に対する溶断というヒューズの特性上トレードオフにある性質を有するヒューズを特定することができる。
【００１９】
すなわちこの発明の各態様によれば、設計者の経験則に依存することなく、過電圧防護素子の保護デバイスとして、電気安全面を考慮した低い定格電流値を有しかつ雷サージ耐力も不足の無い適切なヒューズを選定できるようにした保護デバイス選定システム、装置、方法およびプログラムを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】この発明の第１の実施形態に係る、バリスタの保護用ヒューズを選定するためのシステムの概略構成図。
【図２】図１に示したシステム中のヒューズ選定装置の機能構成を示すブロック図。
【図３】図２に示した制御ユニットによって実行される、バリスタの保護用ヒューズの選定処理の例示的なフロー図。
【図４】図２に示した制御ユニットにおいて実行される、ジュール積分値を算出する表計算の一例を示す図。
【図５】図２に示した制御ユニットにおいて使用されるヒューズカタログデータの一例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、図面を参照してこの発明に係わる実施形態を説明する。  
［第１の実施形態］
（構成）
図１は、この発明の第１の実施形態に係る、過電圧防護素子としてのバリスタの保護用ヒューズを選定するためのシステムの概略構成図である。バリスタ２は、例えば、酸化亜鉛からなり、避雷素子として用いられる。
【００２２】
このシステムでは、雷サージに相当する試験電流の、バリスタのオン抵抗を考慮した電流値を取得して、取得された電流値に基づいてバリスタの保護用ヒューズを選定することができる。
【００２３】
本実施形態のシステムは、バリスタ２の特性を検出する検出装置と、ヒューズ選定装置５とから構成される。検出装置は、雷サージ発生器１の印加端子１１，１２に電線１３，１４を介してバリスタ２を接続し、雷サージ発生器１からバリスタ２に対し雷サージに相当する試験電流を供給して、このとき電線１３に流れる電流に対応する電圧をカレントプローブ４により検出してその検出電圧をオシロスコープ３の計測端子３１に入力するように構成されている。
【００２４】
なお、バリスタ２は極性を持たないため、接続の順序は問わない。また、雷サージ発生器１は、波形の異なる複数種類の雷サージに相当する試験電流を発生させることができ、各波形は、試験対象の外部接続ポートごとに規定される。例えば、国際規格であるＩＥＣ６１０００−４−５およびＩＥＥＥ  Ｓｔｄ  Ｃ６２．４１．２で規定されている１．２／５０マイクロ秒（８／２０マイクロ秒）及び１０／７００マイクロ秒（５／３２０マイクロ秒）コンビネーション波形を発生する。雷サージ発生器１は、試験対象の外部接続ポートが選択されるごとに、当該選択された外部接続ポートに対応する試験波形を選択的に発生させ出力することができる。
【００２５】
カレントプローブ４は、バリスタ２の接続端子２１に接続された電線１３をその中空部に通しており、カレントプローブ４の計測端子４１が、同軸ケーブル３３を介してオシロスコープ３の計測端子３１に接続されている。これにより、カレントプローブ４は、バリスタ２を通過する試験電流を検出電圧に変換し、変換された検出電圧を同軸ケーブル３３を介してオシロスコープ３に入力する。
【００２６】
オシロスコープ３は、上記カレントプローブ４から同軸ケーブル３３を介して入力された検出電圧から、バリスタ２を通過する雷サージに相当する試験電流の離散的な電流値を測定する。また、オシロスコープ３の接続端子３２には、信号線３４を介してヒューズ選定装置５が接続されており、これにより、オシロスコープ３により測定された上記離散的な電流値の測定データがヒューズ選定装置５に入力される。
【００２７】
ヒューズ選定装置５は次のように構成される。図２はその機能構成を示すブロック図である。
【００２８】
先ず、ヒューズ選定装置５は、外部インタフェースユニット５２と、入出力インタフェースユニット５３と、制御ユニット５４と、記憶ユニット５５とを備えている。
【００２９】
外部インタフェースユニット５２は、上記オシロスコープ３から出力された上記離散的な電流値の測定データを受信して、制御ユニット５４に入力する。入出力インタフェースユニット５３は、例えば、キーボードやマウス等を含む入力部６により入力された操作信号等を制御ユニット５４に入力すると共に、制御ユニット５４から出力された表示データを表示部７に表示させる。
【００３０】
記憶ユニット５５は、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）またはＳＳＤ（Solid State Drive）等の随時書き込みおよび読み出しが可能な不揮発メモリを記憶媒体に使用するものであり、本実施形態を実施するために使用される記憶領域として、雷サージデータ記憶部５５１と、算出結果記憶部５５２と、ヒューズカタログ記憶部５５３とを備えている。
【００３１】
雷サージデータ記憶部５５１は、オシロスコープ３から外部インタフェースユニット５２を介して取得された試験電流の離散的な電流値の測定データを記憶するために使用される。
【００３２】
算出結果記憶部５５２は、制御ユニット５４において上記測定データから算出されたジュール積分値等の計算結果を記憶するために使用される。
【００３３】
ヒューズカタログ記憶部５５３は、複数のヒューズの各々に対応する耐力値および定格電流値を定義したヒューズカタログデータを記憶するために使用される。
【００３４】
制御ユニット５４は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を含み、本実施形態における処理機能を実行するために、雷サージデータ取得部５４１と、ジュール積分値算出部５４２と、耐力値決定部５４３と、ヒューズ選定部５４４とを備えている。これらの各部における処理機能はいずれも、図示しないプログラムメモリに格納されたプログラムを上記ＣＰＵに実行させることにより実現される。
【００３５】
雷サージデータ取得部５４１は、オシロスコープ３から外部インタフェースユニット５２を介して、バリスタ２を通過する雷サージに相当する試験電流の離散的な電流値を表す測定データを取得し、取得された測定データを上記記憶ユニット５５の雷サージデータ記憶部５５１に記憶させる処理を実行する。
【００３６】
ジュール積分値算出部５４２は、雷サージデータ記憶部５５１に記憶された上記測定データを読み出して、当該測定データが表す離散的な電流値の各々の２乗の値と当該電流値の測定間隔の時間の値との積を合計してジュール積分値を算出し、当該算出されたジュール積分値を上記記憶ユニット５５の算出結果記憶部５５２に記憶させる処理を実行する。
【００３７】
耐力値決定部５４３は、上記算出結果記憶部５５２に記憶された上記算出されたジュール積分値を読み出し、当該算出されたジュール積分値が保護用ヒューズの最低限必要な耐力値であると決定する処理を実行する。
【００３８】
ヒューズ選定部５４４は、上記記憶ユニット５５のヒューズカタログ記憶部５５３から、複数のヒューズの各々に対応する耐力値および定格電流値を定義したヒューズカタログデータを読み出す。そして、当該読み出されたヒューズカタログデータから、耐力値決定部５４３において決定された保護用ヒューズの最低限必要な耐力値に基づいて、当該最低限必要な耐力値に対応する保護用ヒューズを選定する処理を実行する。
【００３９】
さらに、ヒューズ選定部５４４は、選定された保護用ヒューズが複数ある場合に、その中から、定格電流値が予め定められた条件を満たす保護用ヒューズを特定する処理を実行する。
【００４０】
ヒューズ選定部５４４は、上記選定または特定された保護用ヒューズの情報を入出力インタフェースユニット５３を介して表示部７へ出力して表示させる。
【００４１】
（動作）
次に、以上のように構成されたヒューズ選定装置５において実行されるヒューズ選定処理の動作を説明する。図３は、図２に示したヒューズ選定装置５の主要部である制御ユニット５４によって実行される処理の手順および内容を示すフロー図である。
【００４２】
雷サージ発生器１からバリスタ２に対し雷サージに相当する試験電流が印加されると、当該バリスタ２を通過する上記雷サージに相当する試験電流の離散的な電流値がカレントプローブ４を介してオシロスコープ３で測定される。オシロスコープ３では、例えば、３×１０−７秒以下のサンプリングレートで電流値の測定が行われる。
【００４３】
ヒューズ選定装置５は、雷サージデータ取得部５４１の制御の下、ステップＳ１において、上記の試験電流の離散的な電流値を表す測定データを、オシロスコープ３から外部インタフェースユニット５２を介して取得し、取得された測定データを雷サージデータ記憶部５５１に記憶させる。
【００４４】
次に、ヒューズ選定装置５は、ジュール積分値算出部５４２の制御の下、ステップＳ２において、雷サージデータ記憶部５５１に記憶された上記測定データを読み出して、当該測定データが表す離散的な電流値の各々の２乗の値と当該電流値の測定間隔の時間の値との積を合計してジュール積分値を算出し、当該算出されたジュール積分値を算出結果記憶部５５２に記憶させる。なお、ここでは、例えばオシロスコープ３におけるサンプリングレートの値が上記の測定間隔の時間の値となる。
【００４５】
ヒューズ選定装置５は、ジュール積分値算出部５４２の制御の下、ステップＳ３において、雷サージに相当する試験電流の離散的な電流値を表す測定データから、雷サージに相当する試験電流が収束したか否かを判定する。試験電流が収束していないと判定された場合は、動作はＳ２に戻り、上記ジュール積分値を計算してその結果を算出結果記憶部５５２に記憶させる処理を実行する。このジュール積分値の計算および記憶処理は、試験電流が収束したと判定されるまで繰り返し実行される。
【００４６】
図４は、このようなジュール積分値を算出する際に実行される表計算の一例を示す図である。図４に示した表計算の例では、オシロスコープ３において０．０４マイクロ秒のサンプリングレートで測定された試験電流の離散的な電流値が示されている。図４に示した表計算の例では、４．７６マイクロ秒において電流値が立ち上がりジュール積分値の計算が始まっている。「Ｉ２ｔ［Ａ２ｓ］」の列に示されているように、測定間隔の０．０４マイクロ秒毎に、離散的な電流値の２乗の値と測定間隔の０．０４マイクロ秒とで囲まれた長方形の面積を導出することによりジュール積分値の近似計算が順に行われている。「Ｉ２ｔ［Ａ２ｓ］累積」の列では、「Ｉ２ｔ［Ａ２ｓ］」の列に示されている数値を対応する時間まで合計した数値が示されており、試験電流が収束した時間である１０マイクロ秒までのジュール積分値の累積が順に算出されている。
【００４７】
次に、ヒューズ選定装置５は、耐力値決定部５４３の制御の下、ステップＳ４において、算出結果記憶部５５２に記憶された上記算出されたジュール積分値を読み出し、当該算出されたジュール積分値が保護用ヒューズの最低限必要な耐力値であると決定する。図４の例では、１０マイクロ秒までのジュール積分値の累積である９．９８Ａ２ｓが、保護用ヒューズの最低限必要な耐力値であると決定される。
【００４８】
続いてヒューズ選定装置５は、ヒューズ選定部５４４の制御の下、ステップＳ５において、ヒューズカタログ記憶部５５３から、複数のヒューズの各々に対応する耐力値および定格電流値を定義したヒューズカタログデータを読み出し、当該読み出されたヒューズカタログデータから、ステップＳ４において決定された保護用ヒューズの最低限必要な耐力値に基づいて、当該最低限必要な耐力値に対応する保護用ヒューズを選定する。さらに、ヒューズ選定装置５は、ヒューズ選定部５４４の制御の下、ステップＳ５において、選定された保護用ヒューズが複数ある場合に、その中から、定格電流値が予め定められた条件を満たす保護用ヒューズを特定する。
【００４９】
なお、当該保護用ヒューズの選定処理では、ヒューズカタログ記憶部５５３に記憶されたヒューズカタログデータではなく、図示しない通信インタフェースユニットを介してＷｅｂ上から取得されたヒューズカタログデータを使用してもよい。
【００５０】
図５は、このように保護用ヒューズが選定および特定される際に使用されるヒューズカタログデータの一例を示す図である。図４に示した表計算の例では、９．９８Ａ２ｓが保護用ヒューズの最低限必要な耐力値であると決定されていた。図５に示されるヒューズカタログデータを使用する場合、最低限必要な耐力値９．９８Ａ２ｓに対応する保護用ヒューズとして、「公称溶断Ｉ２ｔ値［Ａ２ｓ］」が９．９８Ａ２ｓよりも大きい値を示している、形名「００５．」、「００６．」、「００７．」、「００８．」、「０１０．」のヒューズが選定される。これらの選定されたヒューズの中から、定格電流値が予め定められた条件を満たす保護用ヒューズを特定することもできる。
【００５１】
例えば、定格電流値が最も小さい値を示している「００５．」のヒューズが特定される。あるいは、「公称溶断Ｉ２ｔ値［Ａ２ｓ］」以外の他の何らかの安全マージンを考慮した上で定格電流値が最も小さい値を示す「００６．」のヒューズが特定される。そのような他の安全マージンには、例えば、パルスに対するヒューズの耐力値や、ヒューズの安全率等が含まれる。
【００５２】
その後、ヒューズ選定装置５は、ヒューズ選定部５４４の制御の下、ステップＳ６において、当該選定または特定された保護用ヒューズの情報を入出力インタフェースユニット５３へ出力し、入出力インタフェースユニット５３では上記選定された保護用ヒューズの情報を表示部７に表示させる。このとき、上記選定された保護用ヒューズが複数ある場合は、選定された複数の保護用ヒューズをすべて表示させるようにしてもよいが、これらの中から特定された最適な保護用ヒューズを１つだけ表示させるようにしてもよい。
【００５３】
（効果）
以上詳述したように、この発明の第１の実施形態に係るヒューズ選定装置５は、以下のような処理を行っている。
【００５４】
（１）雷サージデータ取得部５４１の制御の下、バリスタ２を通過する雷サージに相当する試験電流の離散的な電流値を表す測定データをオシロスコープ３から取得する。ジュール積分値算出部５４２の制御の下、当該測定データが表す離散的な電流値の各々の２乗の値と当該電流値の測定間隔の時間の値との積を合計してジュール積分値を算出する。耐力値決定部５４３の制御の下、当該算出されたジュール積分値が保護用ヒューズの最低限必要な耐力値であると決定する。ヒューズ選定部５４４の制御の下、複数のヒューズの各々に対応する耐力値および定格電流値を定義したヒューズカタログデータから、決定された保護用ヒューズの最低限必要な耐力値に基づいて、当該最低限必要な耐力値に対応する保護用ヒューズを選定する。
【００５５】
（２）ヒューズ選定部５４４の制御の下、選定された保護用ヒューズの中から、定格電流値が予め定められた条件を満たす保護用ヒューズを特定する。
【００５６】
以上の各処理を実行することで、この発明の第１の実施形態によれば次のような効果が奏せられる。
【００５７】
（１）バリスタ２を通過する雷サージに相当する試験電流の離散的な電流値を表す測定データからジュール積分値が算出され、当該算出されたジュール積分値が保護用ヒューズの最低限必要な耐力値であると決定される。ヒューズカタログデータから、決定された保護用ヒューズの最低限必要な耐力値に基づいて、当該最低限必要な耐力値に対応する保護用ヒューズが選定される。このため、当該バリスタ２が避雷素子として使用される際に当該バリスタ２に印加されることが想定される雷サージに相当する試験電流の実データに基づいて、当該バリスタ２のオン抵抗も考慮した、雷サージに対して溶断しない雷サージ耐力を有する保護用ヒューズを、設計者の経験則に依存することなく選定することができる。
【００５８】
（２）選定された保護用ヒューズの中から、定格電流値が予め定められた条件を満たす保護用ヒューズが特定される。このため、例えば定格電流値ができるだけ小さい保護用ヒューズを特定することにより、想定される雷サージに対する不溶断と故障電流に対する溶断というヒューズの特性上トレードオフにある性質を有するヒューズを特定することができる。また、選定された保護用ヒューズの中から、小容量で小型のヒューズを特定することや、ヒューズの実装数を削減するようなヒューズの特定をすることもできる。
【００５９】
［他の実施形態］
なお、この発明は上記第１の実施形態に限定されるものではない。例えば、上記の第１の実施形態では、バリスタ２に印加される電流として雷サージに相当する試験電流を扱う例を説明したが、バリスタ２が他の回路中で使用される際に印加される可能性がある雷サージ以外の何らかの高電圧の信号に相当する他の試験電流を扱うようにしてもよい。また、上記の第１の実施形態では、試験電流の電流値を計測する装置としてオシロスコープ３を使用する例を説明したが、試験電流の電流値を計測する装置として、オシロスコープ３の代わりに、同様の機能を有する計測機器であるメモリハイコーダ等を使用するようにしてもよい。さらに、上記の第１の実施形態では、過電圧防護素子としてバリスタ２を扱う例を説明したが、バリスタの代わりに、アレスタ、サイリスタ等の他の何らかの過電圧防護素子を使用するようにしてもよい。さらに、上記の第１の実施形態では、バリスタ２の保護デバイスとして保護用ヒューズを選定する例を説明したが、保護用ヒューズの代わりに他の何らかの保護デバイスを選定するようにしてもよい。
【００６０】
その他、雷サージ発生器、バリスタ、およびオシロスコープの種類、ヒューズ選定処理を実行する装置の種類とその構成、処理手順と処理内容等についても、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施可能である。
【００６１】
要するにこの発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合せにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合せてもよい。
【符号の説明】
【００６２】
１…雷サージ発生器、２…バリスタ、３…オシロスコープ、４…カレントプローブ、５…ヒューズ選定装置、１１，１２…印加端子、１３，１４…電線、２１，２２…接続端子、３１…計測端子、３２…接続端子、３３…同軸ケーブル、３４…信号線、４１…計測端子、５１…接続端子。
【図１】
2018179633.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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