(57)【要約】【課題】スパイク保護付き試験装置を提供する。【解決手段】スイッチを介して供給電圧を被試験装置に出力することに用いられる電力供給回路に結合されるスイッチと、被試験装置に結合されることに用いられ、被試験装置からの入力電圧を受け、且つ入力電圧に基づいてセンシング信号を出力することに用いられるセンシング回路と、センシング回路、電力供給回路及びスイッチに結合され、センシング信号に基づいて第１の時間供給電圧の出力を停止するように電力供給回路を制御し、且つ第２の時間にスイッチをオフするための制御回路と、を含むスパイク保護付き試験装置。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
スイッチを介して供給電圧を被試験装置に出力することに用いられる電力供給回路に結合されるスイッチと、
前記被試験装置に結合されることに用いられ、前記被試験装置からの入力電圧を受け、且つ前記入力電圧に基づいてセンシング信号を出力することに用いられるセンシング回路と、
前記センシング回路、前記電力供給回路及び前記スイッチに結合され、前記センシング信号に基づいて第１の時間に前記供給電圧の出力を停止するように前記電力供給回路を制御し、且つ第２の時間に前記スイッチをオフするための制御回路と、
を含むスパイク保護付き試験装置。
【請求項２】
前記第２の時間は、タイミングで前記第１の時間よりも遅い請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
前記センシング回路は、
前記被試験装置に結合されることに用いられ、更に前記入力電圧と第１の基準電圧とを比較することに用いられ、前記入力電圧が前記第１の基準電圧よりも小さくなる場合、前記制御回路は前記センシング信号に基づいて前記スイッチをオフする第１のコンパレータを含む請求項１又は２に記載の試験装置。
【請求項４】
前記センシング回路は、
前記被試験装置に結合されることに用いられ、更に前記入力電圧と第２の基準電圧とを比較することに用いられ、前記入力電圧が前記第２の基準電圧よりも大きくなる場合、前記制御回路は前記センシング信号に基づいて前記スイッチをオフする第２のコンパレータを更に含む請求項３に記載の試験装置。
【請求項５】
前記制御回路に結合され、試験信号を前記被試験装置に提供することに用いられる試験信号提供回路を更に含んで、前記制御回路は更に前記センシング信号に基づいて、タイミングで前記第１の時間よりも早い第３の時間に前記試験信号の出力を停止するように試験信号提供回路を制御する請求項１〜４の何れか１項に記載の試験装置。
【請求項６】
試験装置の電力供給回路によりスイッチを介して供給電圧を被試験装置に出力する工程と、
前記試験装置のセンシング回路により前記被試験装置からの入力電圧を受ける工程と、
前記センシング回路により前記入力電圧に基づいてセンシング信号を出力する工程と、
前記試験装置の制御回路により前記センシング信号に基づいて第１の時間に前記供給電圧の出力を停止するように前記電力供給回路を制御して、且つ第２の時間に前記スイッチをオフする工程と、
を含むスパイク保護付き試験方法。
【請求項７】
前記第２の時間は、タイミングで前記第１の時間よりも遅い請求項６に記載の試験方法。
【請求項８】
前記センシング回路により前記入力電圧に基づいて前記センシング信号を出力する工程は、
前記センシング回路の第１のコンパレータにより前記入力電圧と第１の基準電圧とを比較する工程と、
前記入力電圧が前記第１の基準電圧よりも小さくなる場合、前記制御回路が前記センシング信号に基づいて前記スイッチをオフする工程と、
を含む請求項６又は７に記載の試験方法。
【請求項９】
前記センシング回路により前記入力電圧に基づいて前記センシング信号を出力する工程は、
前記センシング回路の第２のコンパレータにより前記入力電圧と第２の基準電圧とを比較する工程と、
前記入力電圧が前記第２の基準電圧よりも大きくなる場合、前記制御回路が前記センシング信号に基づいて前記スイッチをオフする工程と、
を更に含む請求項８に記載の試験方法。
【請求項１０】
前記制御回路により前記センシング信号に基づいて、タイミングで前記第１の時間よりも早い第３の時間に前記被試験装置への試験信号の出力を停止するように試験信号提供回路を制御することを更に含む請求項６〜９の何れか１項に記載の試験方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示に記載の実施例内容は、試験技術に関し、特に、スパイク保護付き試験装置及び試験方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
集積回路（ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  ｃｈｉｐ；ＩＣ）の試験では、通常、試験デバイスによって被試験装置（ｄｅｖｉｃｅ  ｕｎｄｅｒ−ｔｅｓｔ；ＤＵＴ）に対して関連試験を行う。しかしながら、試験の途中でスパイク（ｓｐｉｋｅ）が発生すると、スパイクは集積回路に有害である（例えば、特許文献1）。ある場合、スパイクが集積回路を破壊することもある。これにより、従来技術は、明らかに不都合及び欠陥を有しており、改良する必要があることが見られる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００７−０３４８３９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
これに鑑みて、本開示内容は、従来技術に記載の解題を解決するための試験装置及び試験方法を提出する。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本開示内容の実施形態は、スイッチを介して供給電圧を被試験装置に出力することに用いられる電力供給回路に結合されるスイッチと、被試験装置に結合されることに用いられ、被試験装置からの入力電圧を受け、且つ入力電圧に基づいてセンシング信号を出力することに用いられるセンシング回路と、センシング回路、電力供給回路及びスイッチに結合され、センシング信号に基づいて第１の時間に供給電圧の出力を停止するように電力供給回路を制御し、且つ第２の時間にスイッチをオフするための制御回路と、を含むスパイク保護付き試験装置に関する。
【０００６】
ある実施例において、第２の時間は、タイミングで第１の時間よりも遅い。
【０００７】
ある実施例において、センシング回路は、被試験装置に結合されることに用いられ、更に入力電圧と第１の基準電圧とを比較することに用いられ、入力電圧が第１の基準電圧よりも小さくなる場合、制御回路はセンシング信号に基づいてスイッチをオフする第１のコンパレータを含む。
【０００８】
ある実施例において、センシング回路は、被試験装置に結合されることに用いられ、更に入力電圧と第２の基準電圧とを比較することに用いられ、入力電圧が第２の基準電圧よりも大きくなる場合、制御回路は、センシング信号に基づいてスイッチをオフする第２のコンパレータを更に含む。
【０００９】
ある実施例において、試験装置は、制御回路に結合され、試験信号を被試験装置に提供することに用いられる試験信号提供回路を更に含んで、制御回路は更にセンシング信号に基づいて、タイミングで第１の時間よりも早い第３の時間に試験信号の出力を停止するように試験信号提供回路を制御する。
【００１０】
本開示内容の実施形態は、試験装置の電力供給回路によりスイッチを介して供給電圧を被試験装置に出力する工程と、試験装置のセンシング回路により被試験装置からの入力電圧を受ける工程と、センシング回路により入力電圧に基づいてセンシング信号を出力する工程と、試験装置の制御回路によりセンシング信号に基づいて第１の時間に供給電圧の出力を停止するように電力供給回路を制御して、且つ第２の時間にスイッチをオフする工程と、を含むスパイク保護付き試験方法に関する。
【００１１】
ある実施例において、第２の時間は、タイミングで第１の時間よりも遅い。
【００１２】
ある実施例において、センシング回路により入力電圧に基づいてセンシング信号を出力する工程は、センシング回路の第１のコンパレータにより入力電圧と第１の基準電圧とを比較する工程と、入力電圧が第１の基準電圧よりも小さくなる場合、制御回路はセンシング信号に基づいてスイッチをオフする工程と、を含む。
【００１３】
ある実施例において、センシング回路により入力電圧に基づいてセンシング信号を出力する工程は、センシング回路の第２のコンパレータにより入力電圧と第２の基準電圧とを比較する工程と、入力電圧が第２の基準電圧よりも大きくなる場合、制御回路は、センシング信号に基づいてスイッチをオフする工程と、を更に含む。
【００１４】
ある実施例において、試験方法は、制御回路によりセンシング信号に基づいて、第３の時間に被試験装置への試験信号の出力を停止するように試験信号提供回路を制御することを更に含む。第３の時間は、タイミングで第１の時間よりも早い。
【発明の効果】
【００１５】
以上をまとめると、試験装置は、第１の時間に供給電圧の出力を停止するように電力供給回路を制御して、且つ第２の時間に供給電圧を被試験装置に提供するためのスイッチをオフする。これにより、スパイクによる被試験装置への不良な影響を避けることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
下記の添付図面についての説明は、本開示の上記及び他の目的、特徴、メリット及び実施例をより分かりやすくするためのものである。
【図１】本開示のある実施例に係る試験システムを示す模式図である。
【図２】本開示のある実施例に係る図１の試験システムを示す詳細模式図である。
【図３】本開示のある実施例に係る図１における制御信号を示すタイミング図である。
【図４】本開示のある実施例に係る試験方法を示す工程フロー図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
以下、図面に合わせて実施例としては詳しく説明するが、提供された実施例は、本開示に含まれる範囲を限定するものではなく、構造や動作についての記述は、その実行の手順を限定するためのものではない。素子から新たに組み合わせられた構造により生じる等価な効果を持つ装置であれば、何れも本開示の範囲に含まれる。なお、図面は、説明するためのものであり、原寸で作図されたものではない。理解しやすくするために、下記説明において、同一又は同様な素子に同一の符号を付けて説明する。
【００１８】
全体の明細書と特許請求範囲に用いられる用語（ｔｅｒｍｓ）は、特に明記される以外、通常、用語ごとにこの分野、この開示の内容と特殊内容に使用される一般的な意味を持つ。
【００１９】
本文に使用される「第１の」、「第２の」、「第３の」等については、次序又は順位を特定する意味ではなく、本発明を限定するためのものでもなく、同一の技術用語で記述される素子又は操作を区別するためのものだけである。
【００２０】
次に、本文に使用される「含む」、「備える」、「有する」、「含有」等は、何れも開放的な用語であり、つまり、含むがそれに限定されないことを指す。
【００２１】
本文に用いられる「結合」とは、「電気的結合」を指してもよく、且つ「接続」とは、「電気的接続」を指してもよい。「結合」及び「接続」とは、２つ又は複数の素子が互いに合わせて操作又は交互することを指してもよい。
【００２２】
図１を参照されたい。図１は、本開示のある実施例に係る試験システム１００を示す模式図である。ある実施例において、試験システム１００は、被試験装置１２０と、試験装置１４０と、を備える。
【００２３】
ある実施例において、被試験装置１２０は、被試験回路を含む。被試験回路を達成可能な様々な回路は、何れも本開示内容の範囲に含まれる。
【００２４】
ある実施例において、試験装置１４０は、被試験装置１２０に対して各種の試験を行うように、試験信号ＶＤＲＩＶＥを被試験装置１２０に出力することに用いられる。ある実施例において、試験信号ＶＤＲＩＶＥは、デジタル試験信号である。ある実施例において、試験装置１４０は、スパイク保護付き試験装置である。
【００２５】
ある実施例において、試験装置１４０は、電力供給回路１４２、センシング回路１４４、制御回路１４６及びスイッチＳＷ１を含む。ある更なる実施例において、試験装置１４０は、試験信号提供回路１４８を更に含む。
【００２６】
図１を例として言えば、電力供給回路１４２は、スイッチＳＷ１に結合される。制御回路１４６は、スイッチＳＷ１、電力供給回路１４２、センシング回路１４４及び試験信号提供回路１４８に結合される。スイッチＳＷ１は、被試験装置１２０に結合されることに用いられる。センシング回路１４４は、被試験装置１２０に結合されることに用いられる。試験信号提供回路１４８は、被試験装置１２０に結合されることに用いられる。
【００２７】
このように、電力供給回路１４２は、スイッチＳＷ１を介して供給電圧ＶＦＯＲＣＥを被試験装置１２０に出力することができる。センシング回路１４４は、被試験装置１２０からの入力電圧ＶＩＮを受けることができる。試験信号提供回路１４８は、試験信号ＶＤＲＩＶＥを被試験装置１２０に提供することができる。
【００２８】
ある実施例において、被試験装置１２０は、供給電圧ＶＦＯＲＣＥを受け、且つ供給電圧ＶＦＯＲＣＥに基づいて動作する。ある実施例において、被試験装置１２０は、供給電圧ＶＦＯＲＣＥに基づいて入力電圧ＶＩＮを発生させる。例としては、被試験装置１２０の被試験回路に、抵抗素子を含む。供給電圧ＶＦＯＲＣＥは、前記抵抗の一端に伝送され、抵抗の他端が対応的に入力電圧ＶＩＮを発生させる。ある実施例において、供給電圧ＶＦＯＲＣＥと入力電圧ＶＩＮとの電圧差は、前記抵抗の抵抗値と関連する。例としては、供給電圧ＶＦＯＲＣＥと入力電圧ＶＩＮとの電圧差は、前記抵抗の抵抗値と比例する。
【００２９】
上記供給電圧ＶＦＯＲＣＥと入力電圧ＶＩＮとの関係は、例示ためのものだけである。各種の供給電圧ＶＦＯＲＣＥと入力電圧ＶＩＮとの関係は、何れも本開示内容の範囲に含まれる。
【００３０】
ある実施例において、センシング回路１４４は、入力電圧ＶＩＮに基づいてセンシング信号Ｃ１を発生させる。続いて、制御回路１４６は、センシング信号Ｃ１に基づいて電力供給回路１４２、スイッチＳＷ１及び試験信号提供回路１４８を制御する。ある実施例において、制御回路１４６は、センシング信号Ｃ１に基づいて制御信号Ｃ２を出力する。電力供給回路１４２は、制御信号Ｃ２に基づいて第１の時間（例えば、図３における第１の時間Ｔ１）に供給電圧ＶＦＯＲＣＥの出力を停止する。ある実施例において、制御回路１４６は、センシング信号Ｃ１に基づいて制御信号Ｃ３を出力する。スイッチＳＷ１は、制御信号Ｃ３に基づいて第２の時間（例えば、図３における第２の時間Ｔ２）にオフされる。ある実施例において、第２の時間Ｔ２は、タイミングで第１の時間Ｔ１よりも遅い。
【００３１】
試験装置１４０により、電力供給回路１４２の電源が第１の時間Ｔ１に切られ、且つスイッチＳＷ１が第２の時間Ｔ２にオフされる。このように、スパイクによる被試験装置１２０への不良な影響を避けることができる。
【００３２】
ある実施例において、制御回路１４６は、更に、センシング信号Ｃ１に基づいて制御信号Ｃ４を出力する。試験信号提供回路１４８は、制御信号Ｃ４に基づいて被試験装置１２０への試験信号ＶＤＲＩＶＥの出力を停止する。
【００３３】
ある実施例において、制御回路１４６は、制御チップ、コントローラ又は制御機能を持つ他のハードウェア回路によって達成される。制御回路１４６を達成可能な各種の回路は、何れも本開示内容の範囲に含まれる。
【００３４】
図２及び図３を参照されたい。図２は、本開示のある実施例に係る図１の試験システム１００を示す詳細模式図である。容易に理解させるために、図２中と図１における類似な素子は、同一の符号を指定する。
【００３５】
ある実施例において、センシング回路１４４は、基準電圧供給回路１４４２、基準電圧供給回路１４４４、第１のコンパレータＣＯＭ１及び第２のコンパレータＣＯＭ２を含む。第１のコンパレータＣＯＭ１の２つの入力端は、それぞれ基準電圧供給回路１４４２及び被試験装置１２０に結合される。第１のコンパレータＣＯＭ１の出力端は、制御回路１４６に結合される。第２のコンパレータＣＯＭ２の２つの入力端は、それぞれ基準電圧供給回路１４４４及び被試験装置１２０に結合される。第２のコンパレータＣＯＭ２の出力端は、制御回路１４６に結合される。
【００３６】
ある実施例において、基準電圧供給回路１４４２は、第１の基準電圧Ｖ１を第１のコンパレータＣＯＭ１の第１の入力端（例えば、正入力端）に提供する。第１のコンパレータＣＯＭ１の第２の入力端（例えば、負入力端）は、被試験装置１２０からの入力電圧ＶＩＮを受ける。これにより、第１のコンパレータＣＯＭ１は、第１の基準電圧Ｖ１と入力電圧ＶＩＮとを比較する。ある実施例において、第１の基準電圧Ｖ１は、負電圧である。ある実施例において、入力電圧ＶＩＮが第１の基準電圧Ｖ１よりも小さくなる（例えば、スパイク）場合、第１のコンパレータＣＯＭ１は、論理値１を有するセンシング信号Ｃ１２をその出力端によって制御回路１４６に出力する。
【００３７】
ある実施例において、第２のコンパレータＣＯＭ２の第１の入力端（例えば、正入力端）は、被試験装置１２０からの入力電圧ＶＩＮを受ける。基準電圧供給回路１４４４は、第２の基準電圧Ｖ２を第２のコンパレータＣＯＭ２の第２の入力端（例えば、負入力端）に提供する。これにより、第２のコンパレータＣＯＭ２は、第２の基準電圧Ｖ２と入力電圧ＶＩＮとを比較する。ある実施例において、第２の基準電圧Ｖ２は、正電圧である。ある実施例において、入力電圧ＶＩＮが第２の基準電圧Ｖ２よりも大きくなる（例えば、スパイク）場合、第２のコンパレータＣＯＭ２は、論理値１を有するセンシング信号Ｃ１３をその出力端によって制御回路１４６に出力する。
【００３８】
上記センシング回路１４４の達成形態は、例示ためのものだけである。センシング回路１４４の各種の達成形態は、何れも本開示内容の考量範囲に含まれる。また、ある実施例において、上記第１の基準電圧Ｖ１又は第２の基準電圧Ｖ２の電圧値は、要求に応じて動的に調整されてよい。
【００３９】
ある実施例において、制御回路１４６は、電力供給回路１４２を制御するために、論理値１を有するセンシング信号Ｃ１２又はセンシング信号Ｃ１３に基づいて制御信号Ｃ２を電力供給回路１４２に出力する。ある実施例において、制御回路１４６は、スイッチＳＷ１を制御するために、論理値１を有するセンシング信号Ｃ１２又はセンシング信号Ｃ１３に基づいて制御信号Ｃ３をスイッチＳＷ１の制御端（例えば、ゲート端）に出力する。これにより、スイッチＳＷ１は、制御信号Ｃ３によってオン又はオフになるように制御される。ある実施例において、制御回路１４６は、論理値１を有するセンシング信号Ｃ１２又はＣ１３に基づいて制御信号Ｃ４を試験信号提供回路１４８に出力して、試験信号提供回路１４８を制御する。
【００４０】
ある実施例において、電力供給回路１４２は、電力供給器１４２０及びスイッチＳＷ２を含む。スイッチＳＷ２は、電力供給器１４２０の出力端と接地端との間に結合される。電力供給器１４２０は、供給電圧ＶＦＯＲＣＥを発生させることに用いられる。スイッチＳＷ２は、制御信号Ｃ２によってオンまたはオフになるように制御される。
【００４１】
ある実施例において、スイッチＳＷ１は、Ｎ型金属酸化物半導体電界効果トランジスタによって達成される。これにより、制御信号Ｃ３が高電圧ＶＨ（例えば、論理値１）である場合、スイッチＳＷ１はオンされる。制御信号Ｃ３が低電圧ＶＬ（例えば、論理値０）である場合、スイッチＳＷ１はオフされる。
【００４２】
ある実施例において、スイッチＳＷ２は、Ｐ型金属酸化物半導体電界効果トランジスタ（Ｍｅｔａｌ−Ｏｘｉｄｅ−Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ  Ｆｉｅｌｄ−Ｅｆｆｅｃｔ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ；ＭＯＳＦＥＴ）によって達成される。これにより、制御信号Ｃ２が高電圧ＶＨである場合、スイッチＳＷ２はオフされる。制御信号Ｃ２が低電圧ＶＬである場合、スイッチＳＷ２はオンされる。
【００４３】
上記スイッチＳＷ１及びスイッチＳＷ２の形態は、例示ためのものだけである。スイッチＳＷ１及びスイッチＳＷ２を達成可能な各種の素子は、何れも本開示内容の範囲に含まれる。例としては、前記トランジスタは、バイポーラ接合トランジスタ（Ｂｉｐｏｌａｒ  Ｊｕｎｃｔｉｏｎ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ；ＢＪＴ）又は絶縁ゲートバイポーラトランジスタ（Ｉｎｓｕｌａｔｅｄ  Ｇａｔｅ  Ｂｉｐｏｌａｒ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ；ＩＧＢＴ）であってよい。また、制御信号Ｃ３及び制御信号Ｃ２の論理値は、それぞれスイッチＳＷ１及びスイッチＳＷ２の形態に基づいて対応的に調整されてよい。
【００４４】
上記電力供給回路１４２の達成形態は、例示ためのものだけである。電力供給回路１４２の各種の達成形態は、何れも本開示内容の考量範囲に含まれる。
【００４５】
図３を参照されたい。図３は、本開示のある実施例に係る図１における制御信号Ｃ２及びＣ３を示すタイミング図である。容易に理解させるために、図３については、図２に合わせて説明するが、本開示内容はこれに限定されない。
【００４６】
時間Ｔ４に、制御信号Ｃ３は、低電圧ＶＬから高電圧ＶＨに変わる。これにより、スイッチＳＷ１はオンされる。
【００４７】
時間Ｔ４〜時間Ｔ５に、制御信号Ｃ２は低電圧ＶＬであり、且つ制御信号Ｃ３は高電圧ＶＨである。これにより、スイッチＳＷ２はオンされ、且つスイッチＳＷ１もオンされる。このように、電力供給器１４２０から出力された供給電圧ＶＦＯＲＣＥは、スイッチＳＷ２を介して接地される。つまり、電力供給回路１４２は、供給電圧ＶＦＯＲＣＥを被試験装置１２０に出力しない。
【００４８】
時間Ｔ５に、制御信号Ｃ２は、低電圧ＶＬから高電圧ＶＨに変わる。時間Ｔ５〜第１の時間Ｔ１に、制御信号Ｃ２は高電圧ＶＨであり、且つ制御信号Ｃ３も高電圧ＶＨである。これにより、スイッチＳＷ２はオフされ、且つスイッチＳＷ１はオンされる。このように、電力供給器１４２０から出力された供給電圧ＶＦＯＲＣＥは、スイッチＳＷ１を介して被試験装置１２０に伝送される。つまり、時間Ｔ５〜第１の時間Ｔ１は、試験システム１００の動作期間である。
【００４９】
試験装置１４０により、スイッチＳＷ１は、時間Ｔ４にオンされ、且つ電力供給回路１４２は、時間Ｔ５に供給電圧ＶＦＯＲＣＥを被試験装置１２０に出力する。このように、スパイクによる被試験装置１２０への不良な影響を避けることができる。ある実施例において、時間Ｔ４と時間Ｔ５との時間間隔は、０．４ｍｓ〜０．６ｍｓである。
【００５０】
第１の時間Ｔ１に、制御信号Ｃ２は、高電圧ＶＨから低電圧ＶＬに変わる。第１の時間Ｔ１〜第２の時間Ｔ２に、制御信号Ｃ２は低電圧ＶＬであり、且つ制御信号Ｃ３は高電圧ＶＨである。これにより、スイッチＳＷ２はオンされ、且つスイッチＳＷ１もオンされる。このように、電力供給器１４２０から出力された供給電圧ＶＦＯＲＣＥは、スイッチＳＷ２を介して接地される。このように、電力供給回路１４２は、被試験装置１２０への供給電圧ＶＦＯＲＣＥの出力を停止する。
【００５１】
第２の時間Ｔ２に、制御信号Ｃ３は、高電圧ＶＨから低電圧ＶＬに変わる。これにより、スイッチＳＷ１はオフされる。
【００５２】
試験装置１４０により、電力供給回路１４２は、第１の時間Ｔ１に被試験装置１２０への供給電圧ＶＦＯＲＣＥの出力を停止し、且つスイッチＳＷ１が第２の時間Ｔ２にオフされる。このように、試験装置１４０のスパイクによる被試験装置１２０への不良な影響を避けることができる。ある実施例において、第１の時間Ｔ１と第２の時間Ｔ２との時間間隔は、１ｍｓ〜１０ｍｓである。
【００５３】
ある実施例において、試験信号提供回路１４８は、被試験装置１２０に対して様々な試験を行うために、試験信号ＶＤＲＩＶＥを被試験装置１２０に出力する。ある実施例において、試験信号提供回路１４８は、制御信号Ｃ４に基づいて第３の時間Ｔ３に試験信号ＶＤＲＩＶＥの出力を停止する。ある実施例において、第３の時間Ｔ３は、タイミングで第１の時間Ｔ１よりも早い。つまり、制御回路１４６は、まず試験信号ＶＤＲＩＶＥの出力を停止するように試験信号提供回路１４８（例えば、第３の時間Ｔ３）を制御してから、供給電圧ＶＦＯＲＣＥの出力を停止するように電力供給回路１４２を制御する（例えば、第１の時間Ｔ１）。続いて、制御回路１４６は、スイッチＳＷ１をオフするように制御する（例えば、第２の時間Ｔ２）。タイミングにおける隔離により、スパイクによる被試験装置１２０への不良な影響を避けることができる。
【００５４】
ある実施例において、試験装置１４０は、複数の被試験装置に対する試験に用いられる。例としては、試験装置１４０は、第１の被試験装置（例えば、被試験装置１２０）及び第２の被試験装置（未図示）に対して試験を行う。ある実施例において、試験装置１４０は、時間Ｔ６に第２の被試験装置への試験信号ＶＤＲＩＶＥの出力を停止し、且つ時間Ｔ７に第２の被試験装置への供給電圧ＶＦＯＲＣＥの出力を停止する。ある実施例において、時間Ｔ６は、タイミングで第２の時間Ｔ２よりも遅く、且つ時間Ｔ７は、タイミングで時間Ｔ６よりも遅い。タイミングにおける隔離により、スパイクによる前記被試験装置への不良な影響を避けることができる。
【００５５】
図４を参照されたい。図４は、本開示のある実施例に係る試験方法４００を示すフロー図である。ある実施例において、試験方法４００は、図１の試験システム１００に適用される。試験方法４００は、工程Ｓ４１０、工程Ｓ４２０、工程Ｓ４３０及び工程Ｓ４４０を含む。優れた形態により本開示内容を理解させるために、試験方法４００については、図１の試験システム１００に合わせて検討するが、本開示内容はこれに限定されない。
【００５６】
工程Ｓ４１０において、試験装置１４０の電力供給回路１４２は、スイッチＳＷ１を介して供給電圧ＶＦＯＲＣＥを被試験装置１２０に出力する。
【００５７】
工程Ｓ４２０において、試験装置１４０のセンシング回路１４４は、被試験装置１２０からの入力電圧ＶＩＮを受ける。
【００５８】
工程Ｓ４３０において、センシング回路１４４は、入力電圧ＶＩＮに基づいてセンシング信号Ｃ１を出力する。
【００５９】
工程Ｓ４４０において、試験装置１４０の制御回路１４６は、センシング信号Ｃ１に基づいて第１の時間Ｔ１に供給電圧ＶＦＯＲＣＥの出力を停止するように電力供給回路１４２を制御し、且つ第２の時間Ｔ２にスイッチＳＷ１をオフする。ある実施例において、第２の時間Ｔ２は、タイミングで第１の時間Ｔ１よりも遅い。
【００６０】
上記試験方法４００についての記述は例示的な操作を含むが、試験方法４００の前記操作は示された手順に従って実行される必要がない。試験方法４００の前記操作の手順が変更され、又は前記操作が適切な場合で同時に実行され、部分的に同時に実行され又は部分的に省略されることは、何れも本開示の実施例の精神や範囲内に含まれる。
【００６１】
以上をまとめると、試験装置は、第１の時間に供給電圧の出力を停止するように電力供給回路を制御し、且つ第２の時間に供給電圧を被試験装置に提供するためのスイッチをオフする。これにより、スパイクによる被試験装置への不良な影響を避けることができる。
【００６２】
本開示を実施形態により前述の通りに開示したが、これは本開示を限定するものではなく、当業者なら誰でも、本開示の精神と領域から逸脱しない限り、多様の変更や修飾を加えることができる。従って、本開示の保護範囲は、後の特許請求の範囲で指定した内容を基準とするものである。
【符号の説明】
【００６３】
１００…試験システム、
１２０…被試験装置、
１４０…試験装置、
１４２…電力供給回路、
１４２０…電力供給器、
１４４…センシング回路、
１４４２、１４４４…基準電圧供給回路、
ＣＯＭ１…第１のコンパレータ、
ＣＯＭ２…第２のコンパレータ、
１４６…制御回路、
１４８…試験信号提供回路、
ＳＷ１、ＳＷ２…スイッチ、
Ｃ１、Ｃ１２、Ｃ１３…センシング信号、
ＶＦＯＲＣＥ…供給電圧、
ＶＩＮ…入力電圧、
ＶＤＲＩＶＥ…試験信号、
４００…試験方法、
Ｓ４１０、Ｓ４２０、Ｓ４３０、Ｓ４４０…工程、
Ｔ１…第１の時間、
Ｔ２…第２の時間、
Ｔ３…第３の時間、
Ｔ４、Ｔ５、Ｔ６、Ｔ７…時間、
Ｖ１…第１の基準電圧、
Ｖ２…第２の基準電圧、
Ｃ２、Ｃ３、Ｃ４…制御信号、
ＶＨ…高電圧、
ＶＬ…低電圧。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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