(57)【要約】【課題】リアルタイムクロック装置から読み出した計時データが、不正な計時データでないかを確認することが可能な回路装置、リアルタイムクロック装置、電子機器、移動体及び検証方法等を提供すること。【解決手段】回路装置１００は、発振子ＸＴＡＬを用いて発振信号を生成する発振回路８０と、発振信号に基づいて、リアルタイムクロック情報である計時データを生成する計時部３０と、発振信号に基づいて、計時データを検証するための検証用データを生成する検証用データ生成部４０と、計時データと検証用データを出力するインターフェース部６０と、を含む。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
発振子を用いて発振信号を生成する発振回路と、
前記発振信号に基づいて、リアルタイムクロック情報である計時データを生成する計時部と、
前記発振信号に基づいて、前記計時データを検証するための検証用データを生成する検証用データ生成部と、
前記計時データと前記検証用データを出力するインターフェース部と、
を含むことを特徴とする回路装置。
【請求項２】
請求項１に記載の回路装置において、
前記検証用データ生成部は、
前記インターフェース部を介した書き込みアクセスが制限又は禁止されていることを特徴とする回路装置。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の回路装置において、
前記検証用データ生成部は、
前記発振信号に基づくクロック信号をカウントするカウンターを有し、
前記検証用データは、前記カウンターのカウント値に基づくことを特徴とする回路装置。
【請求項４】
請求項３に記載の回路装置において、
前記検証用データ生成部は、
前記カウント値を前記検証用データとして出力することを特徴とする回路装置。
【請求項５】
請求項３に記載の回路装置において、
前記検証用データ生成部は、
前記計時データを基準時からの経過時間に変換した値と、前記カウンターのカウント値との差分を、前記検証用データとして出力することを特徴とする回路装置。
【請求項６】
請求項１又は２に記載の回路装置において、
前記検証用データ生成部は、
前記発振信号に基づいて第２の計時データを生成する第２の計時部を有し、
前記検証用データは、前記第２の計時データに基づくことを特徴とする回路装置。
【請求項７】
請求項６に記載の回路装置において、
前記検証用データ生成部は、
前記第２の計時データを前記検証用データとして出力することを特徴とする回路装置。
【請求項８】
請求項６に記載の回路装置において、
前記検証用データ生成部は、
前記計時データと前記第２の計時データの差分を前記検証用データとして出力することを特徴とする回路装置。
【請求項９】
請求項１乃至８のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記計時部は、
前記発振信号を分周したクロック信号でカウント動作を行って前記計時データを生成し、
前記検証用データ生成部は、
前記発振信号を分周した、前記クロック信号と同じ周波数のクロック信号でカウント動作を行って前記検証用データを生成することを特徴とする回路装置。
【請求項１０】
請求項１乃至８のいずれか一項に記載の回路装置において、
前記計時部は、
前記発振信号を分周した第１の周波数の第１のクロック信号でカウント動作を行って前記計時データを生成し、
前記検証用データ生成部は、
前記発振信号を分周した、前記第１の周波数より低い第２の周波数の第２のクロック信号でカウント動作を行って前記検証用データを生成することを特徴とする回路装置。
【請求項１１】
請求項１乃至１０のいずれか一項に記載の回路装置と、
前記発振子と、
を含むことを特徴とするリアルタイムクロック装置。
【請求項１２】
請求項１乃至１０のいずれか一項に記載の回路装置と、
前記計時データと前記検証用データを受信するデバイスと、
を含むことを特徴とする電子機器。
【請求項１３】
請求項１２に記載の電子機器において、
前記デバイスは、
前記計時データと前記検証用データに基づいて、前記計時データの検証処理を行うことを特徴とする電子機器。
【請求項１４】
請求項１乃至１０のいずれか一項に記載の回路装置を含むことを特徴とする移動体。
【請求項１５】
リアルタイムクロック装置が出力する計時データの検証方法であって、
前記リアルタイムクロック装置は、発振信号に基づいて前記計時データを生成する計時部と、前記発振信号に基づいて、前記計時データを検証するための検証用データを生成する検証用データ生成部と、を有し、
前記計時部に現在時刻の設定処理を行い、
前記計時データ及び前記検証用データを前記リアルタイムクロック装置から読み出し、
読み出した前記計時データ及び前記検証用データに基づいて前記計時データの検証処理を行うことを特徴とする検証方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路装置、リアルタイムクロック装置、電子機器、移動体及び検証方法等に関する。
【背景技術】
【０００２】
システムの主電源がオフになった場合であっても、例えば電池等のバックアップ電源により動作し、計時（現実時間の計測）を続けるリアルタイムクロック装置が知られている。リアルタイムクロック装置が生成する計時データは、システムの現在時刻として用いられており、システムの現在時刻が不正な時刻とならないように、リアルタイムクロック装置の計時データの不正な書き替えに対する対策が必要な場合がある。
【０００３】
例えば特許文献１には、外部デバイスがリアルタイムクロック装置にアクセスしようとした際に、外部デバイスがアクセスコードをリアルタイムクロック装置に送信し、リアルタイムクロック装置がアクセスコードを期待値と照合し、アクセスコードが期待値に一致する場合にはリアルタイムクロック装置がアクセスを許可し、一致しない場合にはアクセスを禁止する手法が開示されている。
【０００４】
或いは特許文献２には、電子機器が標準電波を受信して時刻補正を実施する際に、受信手段が出力する時刻情報と時計手段の現在時刻とを比較照合し、当該時刻情報と当該現在時刻とが所定の時間差を越えるときは時刻補正の実施を中止して不正な時刻書き換えを防止する手法が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１０−２２５００９号公報
【特許文献２】特開２００２−０２２８６３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
リアルタイムクロック装置を含むシステムでは、リアルタイムクロック装置から読み出した計時データが、不正な計時データでないかを確認したいという課題がある。
【０００７】
例えば、特許文献１では、通信時にアクセスコード照合による認証を行っている。また、特許文献２では、時刻補正の際に、受信した時刻情報と現在時刻との比較に基づいて時刻補正を行うか否かを決定している。これらの手法では、リアルタイムクロック装置から計時データを読み出した際に、その計時データが不正なものか否かを判断することはできない。
【０００８】
本発明の幾つかの態様によれば、リアルタイムクロック装置から読み出した計時データが、不正な計時データでないかを確認することが可能な回路装置、リアルタイムクロック装置、電子機器、移動体及び検証方法等を提供できる。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、上記の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態又は態様として実現することが可能である。
【００１０】
本発明の一態様は、発振子を用いて発振信号を生成する発振回路と、前記発振信号に基づいて、リアルタイムクロック情報である計時データを生成する計時部と、前記発振信号に基づいて、前記計時データを検証するための検証用データを生成する検証用データ生成部と、前記計時データと前記検証用データを出力するインターフェース部と、を含む回路装置に関係する。
【００１１】
本発明の一態様によれば、発振回路からの発振信号に基づいて計時データ及び検証用データが生成される。即ち、検証用データが、計時データと同一の発振信号に基づいて生成されている。これにより、例えば計時データとの差分が経時的に変化しないデータ、或いは計時データと同様な経時変化をするデータと経時データとの差分等を、検証用データとして生成することが可能になる。そして、このような検証用データを用いることで、リアルタイムクロック装置から読み出した計時データが、不正な計時データでないかを確認することが可能になる。
【００１２】
また本発明の一態様では、前記検証用データ生成部は、前記インターフェース部を介した書き込みアクセスが制限又は禁止されていてもよい。
【００１３】
このように、インターフェース部を介した検証用データ生成部への書き込みアクセスが制限又は禁止されていることで、検証用データが書き替えられるおそれを低減できる。これにより、外部デバイスが読み出した検証用データの信頼性が向上するので、その検証用データを用いて計時データを高い信頼性で検証できる。
【００１４】
また本発明の一態様では、前記検証用データ生成部は、前記発振信号に基づくクロック信号をカウントするカウンターを有し、前記検証用データは、前記カウンターのカウント値に基づいてもよい。
【００１５】
このように、カウンターのカウント値に基づく検証用データが出力されることで、外部デバイスが計時データを検証可能になる。即ち、計時データは、基準時からの経過時間（例えば経過秒数等）に変換できる。この経過時間とカウンターのカウント値は同じ発振信号に基づいてカウントされているので、計時データを経過時間に変換した値とカウント値との差分は、経時的に変化しないと期待される。一方、計時データが不正に書き替えられた場合には、経過時間とカウンターのカウント値の差分が変化する。外部デバイスは、この差分の変化を検出することで、不正な書き替えが行われた可能性があると判断できる。
【００１６】
また本発明の一態様では、前記検証用データ生成部は、前記カウント値を前記検証用データとして出力してもよい。
【００１７】
このようにすれば、外部デバイスが、回路装置の初期化時等に読み出した計時データと検証用データから算出した差分と、システムの時刻設定時（再起動時）に読み出した計時データと検証用データから算出した差分とを比較し、不一致である場合には不正な書き替えが行われた可能性があると判断できる。
【００１８】
また本発明の一態様では、前記検証用データ生成部は、前記計時データを基準時からの経過時間に変換した値と、前記カウンターのカウント値との差分を、前記検証用データとして出力してもよい。
【００１９】
このようにすれば、外部デバイスが、回路装置の初期化時等に読み出した検証用データと、システムの時刻設定時（再起動時）等に読み出した検証用データとを比較し、不一致である場合には不正な書き替えが行われた可能性があると判断できる。
【００２０】
また本発明の一態様では、前記検証用データ生成部は、前記発振信号に基づいて第２の計時データを生成する第２の計時部を有し、前記検証用データは、前記第２の計時データに基づいてもよい。
【００２１】
このように、第２の計時データに基づく検証用データが出力されることで、外部デバイスが計時データを検証可能になる。即ち、計時データと第２の計時データは同じ発振信号に基づいてカウントされているので、計時データと第２の計時データの差分は、経時的に変化しないと期待される。一方、計時データが不正に書き替えられた場合には、計時データと第２の計時データの差分が変化する。外部デバイスは、この差分の変化を検出することで、不正な書き替えが行われた可能性を判断できる。
【００２２】
また本発明の一態様では、前記検証用データ生成部は、前記第２の計時データを前記検証用データとして出力してもよい。
【００２３】
このようにすれば、外部デバイスが、回路装置の初期化時等に読み出した計時データと検証用データから算出した差分と、システムの時刻設定時（再起動時）に読み出した計時データと検証用データから算出した差分とを比較し、不一致である場合には不正な書き替えが行われた可能性があると判断できる。
【００２４】
また本発明の一態様では、前記検証用データ生成部は、前記計時データと前記第２の計時データの差分を前記検証用データとして出力してもよい。
【００２５】
このようにすれば、外部デバイスが、回路装置の初期化時等に読み出した検証用データと、システムの時刻設定時（再起動時）等に読み出した検証用データとを比較し、不一致である場合には不正な書き替えが行われた可能性があると判断できる。
【００２６】
また本発明の一態様では、前記計時部は、前記発振信号を分周したクロック信号でカウント動作を行って前記計時データを生成し、前記検証用データ生成部は、前記発振信号を分周した、前記クロック信号と同じ周波数のクロック信号でカウント動作を行って前記検証用データを生成してもよい。
【００２７】
このようにすれば、同一の発振信号から生成される同じ周波数のクロック信号で計時データと検証用データが生成される。これにより、計時データと検証用データは、クロック信号の１クロック毎に１カウントずつ値が変化し、差分が一定に保たれるようになる。
【００２８】
また本発明の一態様では、前記計時部は、前記発振信号を分周した第１の周波数の第１のクロック信号でカウント動作を行って前記計時データを生成し、前記検証用データ生成部は、前記発振信号を分周した、前記第１の周波数より低い第２の周波数の第２のクロック信号でカウント動作を行って前記検証用データを生成してもよい。
【００２９】
このようにすれば、同一の発振信号から生成される異なる周波数のクロック信号で計時データと検証用データが生成される。この場合、周波数の比で計時データを除算したデータと、検証用データとの差分が一定に保たれるようになる。
【００３０】
また本発明の他の態様は、上記のいずれかに記載の回路装置と、前記発振子と、を含むリアルタイムクロック装置に関係する。
【００３１】
また本発明の更に他の態様は、上記のいずれかに記載の回路装置と、前記計時データと前記検証用データを受信するデバイスと、を含む電子機器に関係する。
【００３２】
また本発明の更に他の態様では、前記デバイスは、前記計時データと前記検証用データに基づいて、前記計時データの検証処理を行ってもよい。
【００３３】
また本発明の更に他の態様は、上記のいずれかに記載の回路装置を含む移動体に関係する。
【００３４】
また本発明の更に他の態様は、リアルタイムクロック装置が出力する計時データの検証方法であって、前記リアルタイムクロック装置は、発振信号に基づいて前記計時データを生成する計時部と、前記発振信号に基づいて、前記計時データを検証するための検証用データを生成する検証用データ生成部と、を有し、前記計時部に現在時刻の設定処理を行い、前記計時データ及び前記検証用データを前記リアルタイムクロック装置から読み出し、読み出した前記計時データ及び前記検証用データに基づいて前記計時データの検証処理を行う検証方法に関係する。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本実施形態の回路装置、及び回路装置を含むシステムの構成例。
【図２】本実施形態の回路装置を含むシステムの動作の手順を示すフローチャート。
【図３】本実施形態の回路装置を含むシステムの動作の手順を示すフローチャート。
【図４】本実施形態の回路装置、及び回路装置を含むシステムの第１の詳細な構成例。
【図５】第１の詳細な構成例における検証処理の例。
【図６】第１の詳細な構成例における検証処理の例。
【図７】本実施形態の回路装置、及び回路装置を含むシステムの第２の詳細な構成例。
【図８】第２の詳細な構成例における検証処理の例。
【図９】第２の詳細な構成例における検証処理の例。
【図１０】本実施形態の回路装置、及び回路装置を含むシステムの第３の詳細な構成例。
【図１１】第３の詳細な構成例における検証処理の例。
【図１２】第３の詳細な構成例における検証処理の例。
【図１３】本実施形態の回路装置の詳細な構成例。
【図１４】リアルタイムクロック装置の構成例。
【図１５】電子機器の構成例。
【図１６】移動体の構成例。
【発明を実施するための形態】
【００３６】
以下、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお以下に説明する本実施形態は特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではなく、本実施形態で説明される構成の全てが本発明の解決手段として必須であるとは限らない。
【００３７】
１．回路装置、システム
上述したように、リアルタイムクロック装置は、システムの主電源がオフになった場合であってもバックアップ電源により計時（現実時間の計測）を続ける装置である。システムの最初の電源投入時や、リアルタイムクロック装置の時刻補正を行う場合には、リアルタイムクロック装置が計時する時刻（計時データ）を書き替える必要があるため、リアルタイムクロック装置の計時データは外部デバイスから書き換え可能になっている。そのため、例えば不正な通信等によってリアルタイムクロック装置の計時データが不正に書き替えられるおそれがある。
【００３８】
例えば、自動車等の移動体ではモバイル通信やブルートゥース（登録商標）通信、有線通信等の種々の通信を介して移動体の内部ネットワークと外部ネットワーク（又は外部デバイス）が通信を行う。このような通信を介して、内部ネットワークに接続されたシステムのリアルタイムクロック装置に不正にアクセスされ、時刻が書き替えられるおそれがある。
【００３９】
このような不正な時刻書き替えに対するセキュリティー対策として、例えば上述した特許文献１、２のような従来技術では、計時データの書き込み時に認証を行っている。しかしながら、この従来技術では、読み出し時に時刻データが正常か否か（過去に不正な時刻データの書き替えが行われたか否か）を判断できない。
【００４０】
また、読み出し時に時刻データが正常か否かを判定する手法として、リアルタイムクロック装置外の時刻情報（例えばネットワーク経由で取得した時刻情報等）と、リアルタイムクロック装置から読み出した時刻データを比較する手法が考えられる。しかしながら、比較される２つの時刻が別の源振に基づいて計時されている場合には、時刻のズレを生じうるため、どちらの時刻が正しいかを判定する手段がない。
【００４１】
また、読み出し時かどうかに関わらず不正な時刻書き替えに対するセキュリティー対策として考えた場合、例えば特許文献１の手法では、アクセスコード照合などの複雑な処理が必要となるという課題がある。また、特許文献２では、時刻補正を行うか否かが、受信手段からの時刻情報と時計手段の時刻の実際の差に依存するため、例えば時刻の差が小さかった場合等において、不正な時刻書き換えであるか否かの判断が実質的に難しい等のおそれもある。
【００４２】
図１は、上記のような課題を解決することが可能な本実施形態の回路装置、及び回路装置を含むシステムの構成例である。図１のシステムは、デバイス（外部デバイス２００）、回路装置１００を含む。なお、回路装置の外部に設けられるという意味でデバイスを外部デバイスと呼ぶ。外部デバイス２００は、処理部２１０、インターフェース部２２０を含む。回路装置１００は、発振回路８０、計時部３０（計時回路）、検証用データ生成部４０（検証用データ生成回路）、インターフェース部６０（インターフェース回路）を含む。なお回路装置やシステムは図１の構成に限定されず、これらの一部の構成要素を省略したり、他の構成要素を追加するなどの種々の変形実施が可能である。
【００４３】
外部デバイス２００は例えばＳＯＣ（System On Chip）である。或いはＣＰＵ、ＭＰＵ等の処理装置であってもよい。回路装置１００は、例えば集積回路装置により実現できる。例えば、図１の回路装置１００と発振子ＸＴＡＬを組み合わせることでリアルタイムクロック装置が構成される。
【００４４】
発振回路８０は、発振子を用いて発振信号を生成する。計時部３０は、発振信号に基づいて、リアルタイムクロック情報である計時データを生成する。検証用データ生成部４０は、発振信号に基づいて、計時データを検証するための検証用データを生成する。インターフェース部６０は、計時データと検証用データを出力する。具体的には、インターフェース部６０は、計時データと検証用データを外部デバイス２００に出力する。
【００４５】
計時データは、リアルタイムクロック情報としての時間を表すデータである。即ち、計時部３０がリアルタイムクロック情報として計測した時間のデータである。例えば、計時データは日時を示すデータであり、カレンダーデータ、時刻データを含むことができる。例えば、カレンダーデータは、年、月、週、日などのデータであり、時刻データは、時、分、秒などのデータである。例えば、計時部３０は、発振信号を分周して１秒周期のクロック信号を生成し、そのクロック信号をカウントすることで時間を計測する。
【００４６】
検証用データは、回路装置１００から読み出した計時データが正常な計時データであるか否か（即ち、過去に不正な時刻書き替えが行われていないか）を検証するためのデータである。即ち、外部デバイス２００が検証用データを用いた検証処理を行うことによって、計時データが正常であるか否かを検証することが可能なデータである。具体的には、検証用データは、計時データと検証用データの差分が経時的に変化しないデータである。この場合、外部デバイス２００は、計時データと検証用データの差分が変化していた場合に計時データが正常でないと判定する。或いは、検証用データは、計時データと同様な経時変化をするデータと経時データとの差分であり、経時的に変化しないデータである。この場合、外部デバイス２００は、検証用データが変化していた場合に計時データが正常でないと判定する。例えば、検証用データは、発振信号に基づくクロック信号でカウント動作（例えば計時動作や、単純なカウンター動作等を含む）を行うことで生成できる。
【００４７】
本実施形態では、発振回路８０からの発振信号に基づいて計時データ及び検証用データが生成される。即ち、検証用データが、計時と同一の源振に基づいて生成されている。これにより、検証用データの差分が経時的に変化しないデータ、或いは計時データと同様な経時変化をするデータと経時データとの差分を検証用データとして生成することが可能になる。そして、このような検証用データを用いることで外部デバイス２００が、回路装置１００から読み出した計時データを検証できるようになる。
【００４８】
また本実施形態では、検証用データ生成部４０は、インターフェース部６０を介した書き込みアクセスが制限又は禁止されている。
【００４９】
具体的には、検証用データ生成部４０は、検証用データを記憶する記憶部（例えばレジスターやメモリー等）を有している。そして、回路装置１００の外部からインターフェース部６０を介して検証用データ生成部４０の記憶部から検証用データを読み出すことは可能であるが、その記憶部にデータを書き込むことは制限又は禁止されている。書き込みアクセスの制限とは、任意のデータの書き込みは禁止されており、特定のデータの書き込み（又は設定）のみが許可されていることである。例えば、検証用データを“０”にリセットすることのみ許可されている。書き込みアクセスの禁止とは、検証用データの書き替えが禁止されていることである。書き込みアクセスの制限又は禁止は、例えば、インターフェース部６０の出力と記憶部の入力（例えばメモリーの書き込みポート）を接続せず、インターフェース部６０から記憶部にデータを転送できないように構成することで実現できる。特定のデータの書き込みを許可する場合は、例えば、その書き込みの制御信号（例えばコマンド、リセット信号等）が入力された場合に、特定のデータを記憶部に書き込むように構成しておけばよい。
【００５０】
このように、インターフェース部６０を介した検証用データ生成部４０への書き込みアクセスが制限又は禁止されていることで、検証用データが書き替えられる（改竄される）おそれを低減できる。これにより、外部デバイス２００が読み出した検証用データの信頼性が向上するので、その検証用データを用いて計時データを高い信頼性で検証できる。
【００５１】
また本実施形態では、検証用データ生成部４０は、発振信号に基づくクロック信号をカウントするカウンター（例えば図７のカウンター４２）を有する。検証用データは、そのカウンターのカウント値に基づくデータである。
【００５２】
上述のように、計時部３０は、発振信号を分周した１秒周期のクロック信号をカウントすることで時間を計測するので、計時データを、基準時（基準日時）からの経過時間に変換できる。この経過時間とカウンターのカウント値は同じ発振信号に基づいてカウントされているので、比較可能である。例えば、計時データと同様に１秒周期のクロック信号でカウンターがカウントする場合、計時データを経過秒数（例えばユニックス時間）に変換した値とカウント値との差分は、経時的に変化しないものとなる。或いは、１分周期のクロック信号でカウンターがカウントする場合、計時データを経過分数（経過した分の数）に変換した値とカウント値との差分は、経時的に変化しないものとなる。このようなカウンターのカウント値に基づく検証用データが出力されることで、外部デバイス２００が計時データを検証可能になる。
【００５３】
具体的には、検証用データ生成部４０は、カウンターのカウント値を検証用データとして出力する。
【００５４】
カウント値と、計時データを経過時間に変換した値との差分は、計時データが不正に書き替えられると変化する。そのため、カウンターのカウント値を検証用データとして出力することで、外部デバイス２００が計時データを検証できる。即ち、外部デバイス２００は、回路装置１００の初期化時等に読み出した計時データと検証用データから算出した差分と、システムの時刻設定時（再起動時）に読み出した計時データと検証用データから算出した差分とを比較し、不一致である場合には不正な書き替えが行われた可能性があると判断できる。
【００５５】
或いは、検証用データ生成部４０は、計時データを基準時からの経過時間に変換した値と、カウンターのカウント値との差分を、検証用データとして出力してもよい。
【００５６】
例えば、計時データと同様に１秒周期のクロック信号でカウンターがカウントする場合、検証用データ生成部４０は、計時データを経過秒数（例えばユニックス時間）に変換した値とカウント値との差分を検証用データとして出力する。或いは、１分周期のクロック信号でカウンターがカウントする場合、検証用データ生成部４０は、計時データを経過分数に変換した値とカウント値との差分を検証用データとして出力する。
【００５７】
このようにすれば、検証用データは、計時データが不正に書き替えられない限り、経時的に変化することがない。そのため、外部デバイス２００が検証用データに基づいて計時データを検証できる。即ち、外部デバイス２００は、回路装置１００の初期化時等に読み出した検証用データと、システムの時刻設定時（再起動時）等に読み出した検証用データとを比較し、不一致である場合には不正な書き替えが行われた可能性があると判断できる。
【００５８】
また本実施形態では、検証用データ生成部４０は、発振信号に基づいて第２の計時データを生成する第２の計時部（例えば図４の第２の計時部４１）を有する。検証用データは、第２の計時データに基づくデータである。
【００５９】
このようにすれば、計時部３０が生成する計時データと、検証用データ生成部４０が生成する第２の計時データは、同じ発振信号に基づいて計時されたものになるので、比較可能である。例えば、計時データと同様に１秒周期のクロック信号で第２の計時データが生成され、計時データと第２の計時データの差分は経時的に変化しないものとなる。このような第２の計時データに基づく検証用データが出力されることで、外部デバイス２００が計時データを検証可能になる。
【００６０】
具体的には、検証用データ生成部４０は、第２の計時データを検証用データとして出力する。
【００６１】
計時部３０が出力する計時データと、検証用データ生成部４０が出力する第２の計時データの差分は、計時データが不正に書き替えられると変化する。そのため、第２の計時データを検証用データとして出力することで、外部デバイス２００が計時データを検証できる。即ち、外部デバイス２００は、回路装置１００の初期化時等に読み出した計時データと検証用データから算出した差分と、システムの時刻設定時（再起動時）に読み出した計時データと検証用データから算出した差分とを比較し、不一致である場合には不正な書き替えが行われた可能性があると判断できる。外部デバイス２００は、例えば秒精度の差分（年月日時分秒の差分）に基づいて検証してもよいし、分精度の差分（年月日時分の差分）に基づいて検証してもよい。
【００６２】
或いは、検証用データ生成部４０は、計時データと第２の計時データの差分を検証用データとして出力してもよい。
【００６３】
例えば、検証用データ生成部４０は、計時データと第２の計時データの秒精度の差分（年月日時分秒の差分）を出力する。或いは、計時データと第２の計時データの分精度の差分（年月日時分の差分）を出力する。
【００６４】
このようにすれば、検証用データは、計時データが不正に書き替えられると変化する。そのため、外部デバイス２００が検証用データに基づいて計時データを検証できる。即ち、外部デバイス２００は、回路装置１００の初期化時等に読み出した検証用データと、システムの時刻設定時（再起動時）等に読み出した検証用データとを比較し、不一致である場合には不正な書き替えが行われた可能性があると判断できる。
【００６５】
また本実施形態では、計時部３０は、発振信号を分周したクロック信号でカウント動作を行って計時データを生成する。検証用データ生成部４０は、そのクロック信号と同じ周波数の、発振信号を分周したクロック信号でカウント動作を行って検証用データを生成する。
【００６６】
具体的には、計時部３０と検証用データ生成部４０は、発振信号を分周した１秒周期（周波数１Ｈｚ）のクロック信号でカウント動作を行う。このカウント動作は、例えば上述したカウンターのカウント動作であり、或いは上述した第２の計時部の計時動作（計時データを生成するためのカウント動作）である。
【００６７】
このようにすれば、同一の源振（発振信号）から生成される同じ周波数のクロック信号で計時データと検証用データ（例えばカウンターのカウント値、第２の計時部の第２の計時データ）が生成される。これにより、計時データと検証用データは毎秒１カウント（１秒）ずつ値が変化し、差分が一定に保たれるようになる。
【００６８】
また本実施形態では、計時部３０は、発振信号を分周した第１の周波数の第１のクロック信号でカウント動作を行って計時データを生成してもよい。そして、検証用データ生成部４０は、発振信号を分周した、第１の周波数より低い第２の周波数の第２のクロック信号でカウント動作を行って検証用データを生成してもよい。
【００６９】
具体的には、計時部３０は、発振信号を分周した１秒周期（周波数１Ｈｚ）のクロック信号でカウント動作を行う。そして、検証用データ生成部４０は、発振信号を分周した、１秒周期よりも長い周期（１Ｈｚより低い周波数）のクロック信号でカウント動作を行う。例えば、１０秒周期（１／１０Ｈｚ）や１分周期（１／６０Ｈｚ）のクロック信号でカウント動作を行う。このカウント動作は、例えば上述したカウンターのカウント動作であり、或いは上述した第２の計時部の計時動作（計時データを生成するためのカウント動作）である。
【００７０】
このようにすれば、同一の源振（発振信号）から生成される異なる周波数のクロック信号で計時データと検証用データ（例えばカウンターのカウント値、第２の計時部の第２の計時データ）が生成される。この場合、周波数の比で計時データを除算したデータと、検証用データとの差分が一定に保たれるようになる。例えば、１分周期のクロック信号で検証用データを生成する場合、周波数の比６０で計時データを除算すると分精度の計時データになるので、そのデータと検証用データは共に毎分１カウント（１分）ずつ値が変化し、差分が一定に保たれるようになる。外部デバイス２００は、この差分に基づいて計時データを検証できる。
【００７１】
本実施形態では、検証用データが、計時データを生成する第１のクロック信号よりも低い周波数の第２のクロック信号で生成されるので、検証用データのデータサイズを小さくできる。これにより、計時データと検証用データの差分のデータサイズが小さくなり、メモリーサイズの節約や、処理負荷の低減が可能になる。
【００７２】
なお、以上で説明した回路装置１００（リアルタイムクロック装置）の動作と、その回路装置１００を含むシステムの動作は、リアルタイムクロック装置が出力する計時データの検証方法として実行することが可能である。
【００７３】
即ち、リアルタイムクロック装置（回路装置１００と発振子ＸＴＡＬを含むリアルタイムクロック装置）は、発振信号に基づいて計時データを生成する計時部３０と、発振信号に基づいて、計時データを検証するための検証用データを生成する検証用データ生成部４０と、を有する。そして、検証方法は、計時部３０に現在時刻の設定処理（計時データの書き替え）を行い、計時データ及び検証用データをリアルタイムクロック装置から読み出し、読み出した計時データ及び検証用データに基づいて計時データの検証処理を行う方法である。
【００７４】
この検証方法は、例えば外部デバイス２００が実行する。即ち、外部デバイス２００の処理部２１０がインターフェース部２２０を介して計時部３０に現在時刻の設定処理（計時データの書き替え）を行い（例えば図２のＳ３）、処理部２１０がインターフェース部２２０を介して計時データ及び検証用データをリアルタイムクロック装置から読み出し（図３のＳ１１）、処理部２１０が、読み出した計時データ及び検証用データに基づいて計時データの検証処理を行う（図３のＳ１３〜Ｓ１５）。
【００７５】
２．動作
図２、図３は、本実施形態の回路装置１００（リアルタイムクロック装置）を含むシステムの動作の手順を示すフローチャートである。
【００７６】
図２に示すように、システムに最初に電源が投入されると（ステップＳ１）、外部デバイス２００の処理部２１０がインターフェース部２２０を介して回路装置１００にアクセスし、回路装置１００の初期化処理を行う。ステップＳ１は、具体的にはリアルタイムクロック装置に最初に電源が投入するステップであり、以降はシステムの主電源がオフになってもバックアップ電源によりリアルタイムクロック装置が計時を行う。初期化処理は、検証用データを初期化する処理である。例えば検証用データを所定の値（例えば“０”）に初期化する。また、初期化処理では、回路装置１００の種々の動作設定を行う。
【００７７】
次に、処理部２１０は、インターフェース部２２０を介して回路装置１００の計時部３０に現在時刻（計時データの初期値）を設定する（Ｓ３）。計時部３０は、この現在時刻を初期値として計時を行い、計時データを生成する。次に、処理部２１０は、インターフェース部２２０を介して計時部３０から計時データを読み出し、検証用データ生成部４０から検証用データを読み出す（Ｓ４）。次に、処理部２１０は、読み出された計時データと検証用データの差分を求め、記憶部に記憶させる。この最初に求めて記憶部に記憶させた差分をＸＡとする。記憶部は、外部デバイス２００に含まれるメモリー（例えば不揮発性メモリー）等であってもよし、或いは外部デバイス２００とは別にシステム内に設けられるメモリーや磁気記憶装置等であってもよい。
【００７８】
ステップＳ２で検証用データを初期化し、ステップＳ３で現在時刻（初期値）を設定し、ステップＳ４で計時データと検証用データを読み出すタイミングは、任意である。例えばステップＳ２で検証用データを初期化した後、１秒以内にステップＳ４まで実行すれば、読み出した検証用データと計時データは初期値であり、その差分がＸＡとなる。以後は、検証用データと計時データの差分はＸＡと同じであると期待される。一方、１秒以内にステップＳ４まで実行しなかった場合、読み出した計時データと検証用データは初期値ではないが、その差分をＸＡとする。この場合も、計時データと検証用データは同じ源振で生成されているので、その差分は最初のＸＡから変化しないと期待される。
【００７９】
図３は、既にリアルタイムクロック装置が動作している状態でシステムの主電源がオフからオンになった場合、或いは現在使われているシステムの時刻を補正する場合等において、リアルタイムクロック装置から時刻を読み出す際のフローチャートである。
【００８０】
図３に示すように、外部デバイス２００の処理部２１０は、インターフェース部２２０を介して回路装置１００の計時部３０から計時データを読み出し、検証用データ生成部４０から検証用データを読み出す（Ｓ１１）。次に、処理部２１０は、読み出された計時データと検証用データの差分を求める（Ｓ１２）。この差分をＸＢとする。次に、処理部２１０は、図２のステップＳ５で記憶部に記憶させた差分ＸＡと、今回求めた差分ＸＢとが同じか否かを判定する（Ｓ１３）。ＸＡ＝ＸＢである場合には、処理部２１０は、計時データが不正に書き替えられていないと判断し、読み出した計時データを採用する（Ｓ１４）。例えば、その計時データでシステムの時刻を更新する。一方、ＸＡ＝ＸＢでない場合には、処理部２１０は、計時データが不正に書き替えられた可能性があると判断し、異常処理を行う。例えば、計時データではなく、ネットワーク等から取得した時刻情報でシステムの時刻を更新する。或いは、リアルタイムクロック装置（回路装置１００）のリセット処理等を行う。
【００８１】
３．詳細な構成例
図４は、本実施形態の回路装置、及び回路装置を含むシステムの第１の詳細な構成例である。図４では、回路装置１００が分周回路３５（分周部）を更に含む。また検証用データ生成部４０が第２の計時部４１（第２の計時回路）を含む。また外部デバイス２００が記憶部２３０を更に含む。なお、記憶部２３０は外部デバイス２００とは別の構成要素として設けられてもよい。ここで、図１で説明した構成要素と同一の構成要素については同一の符号を付し、適宜説明を省略する。
【００８２】
分周回路３５は、発振回路８０からの発振信号ＯＳＣを分周し、１秒周期（周波数１Ｈｚ）のクロック信号ＣＫＡを計時部３０と検証用データ生成部４０に出力する。計時部３０と第２の計時部４１はクロック信号ＣＫＡで計時（カウント動作）を行い、年月日時分秒の計時データを生成する。
【００８３】
図５、図６は、第１の詳細な構成例における検証処理の例である。図５には、最初の差分ＸＡを求める処理（図２のＳ４、Ｓ４）を示し、図６には、検証時の差分ＸＢを求める処理（図３のＳ１１、Ｓ１２）を示す。
【００８４】
図５に示すように、計時部３０に計時データの初期値２０１６年１２月１日１０時２０分３０秒が設定され、第２の計時部４１に第２の計時データの初期値２０００年１月１日０時０分０秒が設定されるとする。外部デバイス２００の処理部２１０は、この計時データと第２の計時データとを読み出す。この例では、第２の計時データが検証用データである。処理部２１０は、計時データと第２の計時データをユニックス時間に変換する。ユニックス時間は、世界協定時（ＵＴＣ）の１９７０年１月１日０時０分０秒からの経過秒数である。処理部２１０は、ユニックス時間に変換された計時データと第２の計時データの差分をＸＡとして求め、その差分ＸＡを記憶部２３０に記憶させる。図５の例ではＸＡ＝５３３９０２８３０となる。
【００８５】
図６に示すように、図５から１月後には、計時部３０の計時データは２０１７年１月１日１０時２０分３０秒となり、第２の計時部４１の第２の計時データは２０００年２月１日０時０分０秒となる。このとき、外部デバイス２００の処理部２１０が計時データと検証用データを読み出したとする。処理部２１０は、計時データと第２の計時データをユニックス時間に変換し、ユニックス時間に変換された計時データと第２の計時データの差分をＸＢとして求める。図６の例ではＸＢ＝５３３９０２８３０となる。処理部２１０は、差分ＸＢと、記憶部２３０から読み出した差分ＸＡとを比較する。図６は、計時データの不正な書き換えが無かった場合の例であり、ＸＢ＝ＸＡとなっている。これは、計時データと第２の計時データが同じ源振に基づいて、１月の間、ちょうど同じ秒数だけカウントし、誤差が生じないからである。もし、ＸＢ＝ＸＡでない場合、計時データの不正な書き換えが行われた可能性があると判断できる。
【００８６】
なお、変形例として、検証用データ生成部４０が、計時部３０の計時データと第２の計時部４１の第２の計時データとの差分（図５のＸＡ、図６のＸＢ）を求め、その差分を検証用データとして出力してもよい。この場合、外部デバイス２００の処理部２１０は、検証用データである差分ＸＡを記憶部２３０に記憶させ、その後に読み出した検証用データである差分ＸＢと、記憶部２３０から読み出した差分ＸＡとを比較して、計時データを検証する。
【００８７】
図７は、本実施形態の回路装置、及び回路装置を含むシステムの第２の詳細な構成例である。図７では、検証用データ生成部４０がカウンター４２を含む。ここで、図１、図４で説明した構成要素と同一の構成要素については同一の符号を付し、適宜説明を省略する。
【００８８】
計時部３０は、分周回路３５からの１秒周期のクロック信号ＣＫＡで計時（カウント動作）を行い、年月日時分秒の計時データを生成する。カウンター４２は、同じクロック信号ＣＫＡでカウント動作を行い、カウント値を１秒毎にインクリメントする。
【００８９】
図８、図９は、第２の詳細な構成例における検証処理の例である。図８には、最初の差分ＸＡを求める処理（図２のＳ４、Ｓ４）を示し、図９には、検証時の差分ＸＢを求める処理（図３のＳ１１、Ｓ１２）を示す。
【００９０】
図８に示すように、計時部３０に計時データの初期値２０１６年１２月１日１０時２０分３０秒が設定されるとする。カウンター４２は初期値“０”にリセットされるとする。外部デバイス２００の処理部２１０は、この計時データとカウント値とを読み出す。この例では、カウント値が検証用データである。処理部２１０は、計時データをユニックス時間に変換する。カウント値は、そのままユニックス時間とみなす。処理部２１０は、ユニックス時間に変換された計時データとカウント値の差分をＸＡとして求め、その差分ＸＡを記憶部２３０に記憶させる。図８の例ではＸＡ＝１４８０５５５２３０となる。
【００９１】
図９に示すように、図８から１月後には、計時部３０の計時データは２０１７年１月１日１０時２０分３０秒となり、カウンター４２のカウント値は２６７８４００となる。このとき、外部デバイス２００の処理部２１０が計時データと検証用データを読み出したとする。処理部２１０は、計時データをユニックス時間に変換し、ユニックス時間に変換された計時データとカウント値の差分をＸＢとして求める。図９の例ではＸＢ＝１４８０５５５２３０となる。処理部２１０は、差分ＸＢと、記憶部２３０から読み出した差分ＸＡとを比較する。図９は、計時データの不正な書き換えが無かった場合の例であり、ＸＢ＝ＸＡとなっている。これは、計時データとカウント値が同じ源振に基づいて、１月の間、ちょうど同じ秒数だけカウントし、誤差が生じないからである。もし、ＸＢ＝ＸＡでない場合、計時データの不正な書き換えが行われた可能性があると判断できる。
【００９２】
なお、変形例として、検証用データ生成部４０が、計時部３０の計時データをユニックス時間に変換した値とカウンター４２のカウント値との差分（図８のＸＡ、図９のＸＢ）を求め、その差分を検証用データとして出力してもよい。この場合、外部デバイス２００の処理部２１０は、検証用データである差分ＸＡを記憶部２３０に記憶させ、その後に読み出した検証用データである差分ＸＢと、記憶部２３０から読み出した差分ＸＡとを比較して、計時データを検証する。
【００９３】
図１０は、本実施形態の回路装置、及び回路装置を含むシステムの第３の詳細な構成例である。図１０では、検証用データ生成部４０がカウンター４３を含む。ここで、図１、図４、図７で説明した構成要素と同一の構成要素については同一の符号を付し、適宜説明を省略する。
【００９４】
分周回路３５は、発振回路８０からの発振信号ＯＳＣを分周し、１秒周期（周波数１Ｈｚ）のクロック信号ＣＫＡを計時部３０に出力する。また、分周回路３５は、発振回路８０からの発振信号ＯＳＣを分周し、１分周期（周波数１／６０Ｈｚ）のクロック信号ＣＫＢを検証用データ生成部４０に出力する。計時部３０は、分周回路３５からの１秒周期のクロック信号ＣＫＡで計時（カウント動作）を行い、年月日時分秒の計時データを生成する。カウンター４３は、分周回路３５からの１分周期のクロック信号ＣＫＢでカウント動作を行い、カウント値を１分毎にインクリメントする。
【００９５】
図１１、図１２は、第２の詳細な構成例における検証処理の例である。図１１には、最初の差分ＸＡを求める処理（図２のＳ４、Ｓ４）を示し、図１２には、検証時の差分ＸＢを求める処理（図３のＳ１１、Ｓ１２）を示す。
【００９６】
図１１に示すように、計時部３０に計時データの初期値２０１６年１２月１日１０時２０分３０秒が設定されるとする。カウンター４２は初期値“０”にリセットされるとする。外部デバイス２００の処理部２１０は、この計時データとカウント値とを読み出す。この例では、カウント値が検証用データである。処理部２１０は、計時データをユニックス時間に変換し、その変換したユニックス時間を１／６０する。カウント値は、そのままユニックス時間を１／６０した値とみなす。処理部２１０は、ユニックス時間／６０の値に変換された計時データとカウント値の差分をＸＡとして求め、その差分ＸＡを記憶部２３０に記憶させる。図１１の例ではＸＡ＝２４６７５９２１となる。
【００９７】
図１２に示すように、図１１から１月後には、計時部３０の計時データは２０１７年１月１日１０時２０分３０秒となり、カウンター４３のカウント値は４４６４０となる。このとき、外部デバイス２００の処理部２１０が計時データと検証用データを読み出したとする。処理部２１０は、計時データをユニックス時間／６０の値に変換し、ユニックス時間／６０の値に変換された計時データとカウント値の差分をＸＢとして求める。図１２の例ではＸＢ＝２４６７５９２１となる。処理部２１０は、差分ＸＢと、記憶部２３０から読み出した差分ＸＡとを比較する。図１２は、計時データの不正な書き換えが無かった場合の例であり、ＸＢ＝ＸＡとなっている。これは、計時データとカウント値が同じ源振に基づいて、１月の間、ちょうど同じ分数だけカウントし、誤差が生じないからである。もし、ＸＢ＝ＸＡでない場合、計時データの不正な書き換えが行われた可能性があると判断できる。
【００９８】
なお、第１の変形例として、検証用データ生成部４０が、計時部３０の計時データをユニックス時間／６０の値に変換した値とカウンター４２のカウント値との差分（図１１のＸＡ、図１２のＸＢ）を求め、その差分を検証用データとして出力してもよい。この場合、外部デバイス２００の処理部２１０は、検証用データである差分ＸＡを記憶部２３０に記憶させ、その後に読み出した検証用データである差分ＸＢと、記憶部２３０から読み出した差分ＸＡとを比較して、計時データを検証する。
【００９９】
また、第２の変形例として、検証用データ生成部４０が、クロック信号ＣＫＢに基づいて第３の計時データを生成する第３の計時部を含み、その第３の計時データに基づいて検証用データを出力してもよい。第３の計時データは、分精度の計時データ（年月日時分の計時データ）である。例えば、第３の計時データを検証用データとして出力する場合、外部デバイス２００の処理部２１０は、計時部３０から読み出した計時データの年月日時分と、第３の計時データを比較して、計時データを検証する。
【０１００】
４．差分を回路装置に記憶する変形例
なお、上記では計時データと検証用データの差分をリアルタイムクロック装置の外部の記憶部に記憶させる場合を例に説明したが、変形例として、差分をリアルタイムクロック装置（回路装置１００）の内部の記憶部に記憶させてもよい。
【０１０１】
例えば、回路装置１００が、１回だけ書き込み可能なメモリー（例えばワンタイムＰＲＯＭ）を含み、そのメモリーに、最初に求めた差分（図２の差分ＸＡ）を記憶させておく。外部デバイス２００は、計時データと検証用データと、回路装置１００のメモリーに記憶された差分とを読み出し、計時データと検証用データの差分と、回路装置１００のメモリーから読みだした差分とを比較し、計時データを検証する。
【０１０２】
５．回路装置の詳細な構成例
図１３は、本実施形態の回路装置１００の詳細な構成例である。回路装置１００は、処理部１０（処理回路）、記憶部２０（メモリー）、計時部３０（計時回路）、分周回路３５、検証用データ生成部４０（検証用データ生成回路）を含む。また回路装置１００は、電源制御部５０（電源制御回路）、インターフェース部６０（インターフェース回路）、割り込み制御部７０（割り込み制御回路）、発振回路８０、クロック信号出力制御部９０（クロック信号出力回路）、端子ＴＶＢＡＴ、ＴＶＯＵＴ、ＴＶＤＤ、ＴＥＶＩＮ、ＴＳＣＬ、ＴＳＤＡ、ＴＩＲＱ、ＴＦＯＵＴ、ＸＩ、ＸＯを含む。なお、図１等で説明した構成要素と同一の構成要素については同一の符号を付し、適宜説明を省略する。ここで、回路装置は図１３の構成に限定されず、その構成要素の一部（例えばイベント制御部）を省略したり、他の構成要素を追加したりする等の種々の変形実施が可能である。
【０１０３】
端子ＴＶＢＡＴには、バックアップ電源から供給されるバックアップ電源電圧ＶＢＡＴが入力される。バックアップ電源は、例えば一次電池、二次電池、スーパーキャパシター等である。端子ＴＶＤＤには、主電源から供給される主電源電圧ＶＤＤが入力される。電源制御部５０は、主電源電圧ＶＤＤ又はバックアップ電源電圧ＶＢＡＴを選択し、その選択した電圧を電圧ＶＯＵＴ（回路装置１００の内部電源電圧）として回路装置１００の各部に供給する。具体的には、主電源電圧ＶＤＤが所与の電圧を超えている場合には主電源電圧ＶＤＤを選択し、主電源電圧ＶＤＤが所与の電圧を下回った場合にはバックアップ電源電圧ＶＢＡＴを選択する。例えば電源制御部５０は、主電源電圧ＶＤＤと所与の電圧を比較するコンパレーターと、コンパレーターの出力に基づいてオン及びオフが制御されるアナログスイッチ回路とで構成される。
【０１０４】
処理部１０は、回路装置１００の各部を制御する制御部１１と、イベント制御処理を行うイベント制御部１２と、を含む。
【０１０５】
具体的には、イベント制御部１２には、イベント（外部イベント）が発生したか否かを示す信号ＥＶＩＮが、回路装置１００の外部から端子ＴＥＶＩＮを介して入力される。イベント制御部１２は、信号ＥＶＩＮが非アクティブからアクティブに変化した場合に、そのことを制御部１１に通知する。制御部１１は、その通知を受けた場合に、そのイベントのタイムスタンプ（計時データ）を記憶部２０に書き込む。記憶部２０は例えばＳＲＡＭ等のＲＡＭである。
【０１０６】
発振回路８０は、端子ＸＩを介して発振子ＸＴＡＬの一端と接続され、端子ＸＯを介して発振子ＸＴＡＬの他端と接続されており、発振子ＸＴＡＬを駆動して発振させる。発振回路８０は、例えば発振子ＸＴＡＬを駆動して発振信号を生成する増幅回路と、発振信号の発振周波数を調整する可変容量回路と、を含む。或いは、発振回路８０は、更に温度センサーと、温度センサーの出力電圧に基づいて発振周波数の温度特性を補償（抑制）する温度補償回路と、を含んでもよい。
【０１０７】
発振子ＸＴＡＬは、例えば水晶振動子等の圧電振動子である。或いは発振子ＸＴＡＬは共振器（電気機械的な共振子又は電気的な共振回路）であってもよい。発振子ＸＴＡＬとしては、圧電振動子、ＳＡＷ（Surface Acoustic Wave）共振子、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）振動子等を採用できる。発振子ＸＴＡＬの基板材料としては、水晶、タンタル酸リチウム、ニオブ酸リチウム等の圧電単結晶や、ジルコン酸チタン酸鉛等の圧電セラミックス等の圧電材料、又はシリコン半導体材料等を用いることができる。発振子ＸＴＡＬの励振手段としては、圧電効果によるものを用いてもよいし、クーロン力による静電駆動を用いてもよい。
【０１０８】
分周回路３５は、発振回路８０が生成した発振信号を分周して所定周波数（例えば１ｋＨｚ）のクロック信号を生成する分周器３１と、分周器３１が生成したクロック信号を更に分周して１Ｈｚ（又は、１Ｈｚ及び１／６０Ｈｚ）のクロック信号を生成する分周器３２と、を含む。
【０１０９】
計時部３０は、分周器３２からの１Ｈｚのクロック信号をカウントして計時データを生成する。例えば、計時部３０は、１Ｈｚのクロック信号をカウントするカウンターと、そのカウンターのカウント値を計時データ（年、月、日、時、分、秒のデータ）に換算する換算部と、を含む。回路装置１００（リアルタイムクロック装置）の最初の電源投入時に計時データの初期値がインターフェース部６０を介して書き込まれ、その初期値から開始して１秒毎に計時データが更新されていく。
【０１１０】
検証用データ生成部４０は、分周回路３５からの１Ｈｚのクロック信号又は１／６０Ｈｚのクロック信号に基づいて検証用データを生成する。検証用データ生成部４０が第２の計時部を含む場合、第２の計時部は、計時部３０と同様に構成できる。或いは、検証用データ生成部４０がカウンターを含んでもよい。
【０１１１】
クロック信号出力制御部９０は、発振信号に基づく複数のクロック信号（各クロック信号は周波数が異なる）のいずれかを選択し、その選択したクロック信号をクロック信号ＦＯＵＴとして端子ＴＦＯＵＴから回路装置１００の外部へ出力する。また、クロック信号出力制御部９０は、クロック信号ＦＯＵＴを非アクティブ（非出力、停止）に設定することも可能である。
【０１１２】
インターフェース部６０は、外部デバイスと回路装置１００の間のデジタルインターフェース通信を行う。例えば、インターフェース部６０は、Ｉ２Ｃ方式やＳＰＩ方式等のシリアルインターフェース通信を行う回路である。図１３ではＩ２Ｃ方式を用いる場合を図示しており、インターフェース部６０は、端子ＴＳＣＬから入力されるクロック信号ＳＣＬに基づいて端子ＴＳＤＡを介してシリアルデータ信号ＳＤＡを入出力する。
【０１１３】
割り込み制御部７０は、端子ＴＩＲＱを介して外部デバイスに割り込み信号ＩＲＱを出力する制御を行う。例えば、イベント制御部１２によりイベントの発生が検出された場合に、割り込み制御部７０は割り込み信号ＩＲＱをアクティブにする。
【０１１４】
なお、上記の処理部１０、計時部３０、分周回路３５、検証用データ生成部４０、インターフェース部６０、割り込み制御部７０、クロック信号出力制御部９０は、例えばゲートアレイ等のロジック回路で構成される。
【０１１５】
６．リアルタイムクロック装置、電子機器、移動体
図１４は、本実施形態の回路装置を含むリアルタイムクロック装置４００の構成例である。リアルタイムクロック装置４００は、回路装置５００（図１等の回路装置１００に対応する）と、発振子ＸＴＡＬ（振動子、振動片）と、を含む。またリアルタイムクロック装置４００は、回路装置５００、発振子ＸＴＡＬが収容されるパッケージ４１０を含むことができる。なおリアルタイムクロック装置は図１４の構成に限定されず、これらの一部の構成要素を省略したり、他の構成要素を追加するなどの種々の変形実施が可能である。
【０１１６】
パッケージ４１０は、例えばベース部４１２とリッド部４１４により構成される。ベース部４１２は、セラミック等の絶縁材料からなる例えば箱型等の部材であり、リッド部４１４は、ベース部４１２に接合される例えば平板状等の部材である。ベース部４１２の例えば底面には外部機器と接続するための外部接続端子（外部電極）が設けられている。ベース部４１２とリッド部４１４により形成される内部空間（キャビティー）に、回路装置５００、発振子ＸＴＡＬが収容される。そしてリッド部４１４により密閉することで、回路装置５００、発振子ＸＴＡＬがパッケージ４１０内に気密に封止される。回路装置５００と発振子ＸＴＡＬは、パッケージ４１０内に実装される。そして発振子ＸＴＡＬの端子と、回路装置５００（ＩＣ）の端子（パッド）は、パッケージ４１０の内部配線により電気的に接続される。
【０１１７】
図１５は、本実施形態の回路装置を含む電子機器３００の構成例である。この電子機器３００は、回路装置５００、水晶振動子等の発振子ＸＴＡＬ、アンテナＡＮＴ、通信部５１０（通信装置）、処理部５２０（処理装置）を含む。また操作部５３０（操作装置）、表示部５４０（表示装置）、記憶部５５０（メモリー）を含むことができる。発振子ＸＴＡＬと回路装置５００によりリアルタイムクロック装置４００が構成される。なお電子機器３００は図１５の構成に限定されず、これらの一部の構成要素を省略したり、他の構成要素を追加するなどの種々の変形実施が可能である。
【０１１８】
図１５の電子機器３００としては、例えば、ＥＣＵ（Electronic Control Unit）又はメーターパネル等の車載の電子装置や、デジタルカメラ又はビデオカメラ等の映像機器や、プリンターやプリンター複合機等の印刷機器を想定できる。或いは、ＧＰＳ内蔵時計、生体情報測定機器（脈波計、歩数計等）又は頭部装着型表示装置等のウェアラブル機器や、スマートフォン、携帯電話機、携帯型ゲーム装置、ノートＰＣ又はタブレットＰＣ等の携帯情報端末（移動端末）や、コンテンツを配信するコンテンツ提供端末や、或いは基地局又はルーター等のネットワーク関連機器などの種々の機器を想定できる。
【０１１９】
通信部５１０（無線回路）は、アンテナＡＮＴを介して外部からデータを受信したり、外部にデータを送信する処理を行う。処理部５２０は、電子機器３００の制御処理や、通信部５１０を介して送受信されるデータの種々のデジタル処理などを行う。この処理部５２０の機能は、例えばマイクロコンピューターなどのプロセッサーにより実現できる。操作部５３０は、ユーザーが入力操作を行うためのものであり、操作ボタンやタッチパネルディスプレイをなどにより実現できる。表示部５４０は、各種の情報を表示するものであり、液晶や有機ＥＬなどのディスプレイにより実現できる。なお操作部５３０としてタッチパネルディスプレイを用いる場合には、このタッチパネルディスプレイが操作部５３０及び表示部５４０の機能を兼ねることになる。記憶部５５０は、データを記憶するものであり、その機能はＲＡＭやＲＯＭなどの半導体メモリーやＨＤＤ（ハードディスクドライブ）などにより実現できる。
【０１２０】
図１６は、本実施形態の回路装置を含む移動体の例である。本実施形態の回路装置（リアルタイムクロック装置）は、例えば、車、飛行機、バイク、自転車、或いは船舶等の種々の移動体に組み込むことができる。移動体は、例えばエンジンやモーター等の駆動機構、ハンドルや舵等の操舵機構、各種の電子機器（車載機器）を備えて、地上や空や海上を移動する機器・装置である。図１６は移動体の具体例としての自動車６００を概略的に示している。自動車６００は、携帯無線通信等のモバイル通信を行う通信部６１０、ブルートゥース（登録商標）通信を通信部６２０、ＵＳＢ等の有線通信を行う通信部６３０、それら通信部と内部ネットワークのゲートウェイ処理を行うゲートウェイ装置６４０、内部ネットワークに接続される制御ユニット（制御装置）ＥＣＵ１、ＥＣＵ２を含む。制御ユニットＥＣＵ１、ＥＣＵ２は、例えばエンジン制御等の走行に関わるシステムの制御を行う制御ユニットや、ドアの開閉等のボディーに関わるシステムの制御を行う制御ユニットや、カーオーディオ等の情報処理を行う制御ユニット等である。制御ユニットＥＣＵ１は、処理装置ＳＯＣ１（外部デバイス）と、処理装置ＳＯＣ１と通信するリアルタイムクロック装置ＲＴＣ１を含む。リアルタイムクロック装置ＲＴＣ１は回路装置５０１を含む。制御ユニットＥＣＵ２は、処理装置ＳＯＣ２（外部デバイス）と、処理装置ＳＯＣ２と通信するリアルタイムクロック装置ＲＴＣ２を含む。リアルタイムクロック装置ＲＴＣ２は回路装置５０２を含む。回路装置５０１、５０２は、例えば図１等の回路装置１００に対応する。
【０１２１】
なお、上記のように本実施形態について詳細に説明したが、本発明の新規事項および効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは当業者には容易に理解できるであろう。従って、このような変形例はすべて本発明の範囲に含まれるものとする。例えば、明細書又は図面において、少なくとも一度、より広義または同義な異なる用語と共に記載された用語は、明細書又は図面のいかなる箇所においても、その異なる用語に置き換えることができる。また本実施形態及び変形例の全ての組み合わせも、本発明の範囲に含まれる。また回路装置、リアルタイムクロック装置、電子機器、移動体の構成及び動作や、計時データの検証方法等も、本実施形態で説明したものに限定されず、種々の変形実施が可能である。
【符号の説明】
【０１２２】
１０…処理部、１１…制御部、１２…イベント制御部、２０…記憶部、
３０…計時部、３１，３２…分周器、３５…分周回路、４０…検証用データ生成部、
４１…第２の計時部、４２，４３…カウンター、５０…電源制御部、
６０…インターフェース部、７０…割り込み制御部、８０…発振回路、
９０…クロック信号出力制御部、１００…回路装置、２００…外部デバイス、
２１０…処理部、２２０…インターフェース部、２３０…記憶部、
３００…電子機器、４００…リアルタイムクロック装置、４１０…パッケージ、
４１２…ベース部、４１４…リッド部、５００，５０１，５０２…回路装置、
５１０…通信部、５２０…処理部、５３０…操作部、５４０…表示部、
５５０…記憶部、６００…自動車、６１０，６２０，６３０…通信部、
６４０…ゲートウェイ装置、
ＣＫＡ，ＣＫＢ…クロック信号、ＯＳＣ…発振信号、ＸＡ，ＸＢ…差分、
ＸＴＡＬ…発振子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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