(57)【要約】【課題】印鑑の劣化を自動検出して、オペレータに届出印影の再登録を促すことを可能とする印鑑劣化判定プログラムを提供する。【解決手段】前記登録印影画像の画素と、前記画素に対応する前記読取印影画像の画素とを比較し、比較結果に応じて所定の値を前記画素の値として画素ごとに設定するステップと、前記画素の値を画素ごとに蓄積した蓄積値に前記設定された画素の値を画素ごとに加算し、加算された前記蓄積値と所定の閾値を画素ごとに比較し、比較結果に基づいて劣化の有無を示す劣化フラグを設定するステップと、設定された前記劣化フラグに基づいて前記印鑑が劣化しているか否かを判定するステップとをコンピュータに実行させる。【選択図】図９
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
登録印影画像と読取印影画像の照合により印鑑の劣化を判定する印鑑劣化判定プログラムであって、
前記登録印影画像の画素と、前記画素に対応する前記読取印影画像の画素とを比較し、比較結果に応じて所定の値を前記画素の値として画素ごとに設定するステップと、
前記画素の値を画素ごとに蓄積した蓄積値に前記設定された画素の値を画素ごとに加算し、加算された前記蓄積値と所定の閾値を画素ごとに比較し、比較結果に基づいて劣化の有無を示す劣化フラグを設定するステップと、
設定された前記劣化フラグに基づいて前記印鑑が劣化しているか否かを判定するステップとを、
コンピュータに実行させることを特徴とする印鑑劣化判定プログラム。
【請求項２】
前記登録印影画像を複数の画素を含むグリッドに分け、前記グリッド内における劣化有りを示す前記劣化フラグの数に基づいて前記印鑑が劣化しているか否かを判定することを特徴とする請求項１に記載の印鑑劣化判定プログラム。
【請求項３】
前記設定された画素の値が画素不一致を示す値である場合、前記蓄積値に前記設定された画素の値を加算することを特徴とする請求項１又は２に記載の印鑑劣化判定プログラム。
【請求項４】
前記蓄積値に前記設定された画素の値を加算する際、前記設定された画素の値と同じ値を有する周辺画素の数が所定の加算閾値以上の場合、前記蓄積値に前記設定された画素の値を加算することを特徴とする請求項１から３のいずれか１つに記載の印鑑劣化判定プログラム。
【請求項５】
前記印鑑が劣化していると判定された場合、前記画素ごとに蓄積した前記蓄積値に基づいて印鑑劣化注意喚起画像を生成し、表示装置へ表示させるステップを更に有することを特徴とする請求項１から４のいずれか１つに記載の印鑑劣化判定プログラム。
【請求項６】
登録印影画像と読取印影画像の照合により印鑑の劣化を判定する印影照合装置であって、
前記登録印影画像の画素と、前記画素に対応する前記読取印影画像の画素とを比較し、比較結果に応じて所定の値を前記画素の値として画素ごとに設定する比較設定部と、
前記画素の値を画素ごとに蓄積した蓄積値に前記設定された画素の値を画素ごとに加算し、加算された前記蓄積値と所定の閾値を画素ごとに比較し、比較結果に基づいて劣化の有無を示す劣化フラグを設定する設定部と、
設定された前記劣化フラグに基づいて前記印鑑が劣化しているか否かを判定する判定部とを、
備えることを特徴とする印影照合装置。
【請求項７】
登録印影画像と読取印影画像の照合により印鑑の劣化を判定する印鑑劣化判定方法であって、
前記登録印影画像の画素と、前記画素に対応する前記読取印影画像の画素とを比較し、比較結果に応じて所定の値を前記画素の値として画素ごとに設定するステップと、
前記画素の値を画素ごとに蓄積した蓄積値に前記設定された画素の値を画素ごとに加算し、加算された前記蓄積値と所定の閾値を画素ごとに比較し、比較結果に基づいて劣化の有無を示す劣化フラグを設定するステップと、
設定された前記劣化フラグに基づいて前記印鑑が劣化しているか否かを判定するステップとを、
有することを特徴とする印鑑劣化判定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、印影画像を照合する印影照合装置における印鑑劣化判定プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
印鑑照合システムでは、二値イメージの登録印影（届出印影）と二値イメージの読取印影を重ね合わせることで印鑑の照合を行う（下記の特許文献１を参照）。印鑑照合システムでは、プログラム処理によって二つの印影画像が最も重なる条件を探し出し、自動で印影の重ね合わせを行う。また、印鑑照合システムでは、その重なり具合を数値化した一致率を算出し、算出された一致率に基づいて印鑑の照合を行うことも可能である。
【０００３】
一度登録した登録印影は電子情報として印影データベースに保管されるため、いつ参照しても同じ印影画像が得られる。一方、登録印影と照合を行う読取印影の画像は、帳票等に捺された印影を読取機器(スキャナ、ＯＨＲ等)で読み取ることによって取得される。そのため、押印の仕方(濃い、薄い、擦れ、滲みなど)や印鑑の劣化(欠け、目詰まり、破損など)により読取印影画像は都度変化する。押印の仕方が悪い場合や印鑑が劣化している場合、読取印影の状態は悪くなるため、照合精度の低下や一致率の低下を引き起こし、読取印影の再取得が生じる等、業務オペレーションの効率が悪化する問題がある。特に印鑑の劣化は恒久的な照合精度の低下を招いてしまう。印鑑の劣化による照合精度の低下を防ぐには登録印影の再登録させる必要がある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０００−３００５９号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、一致率による照合は、画像全体で画素がどれだけ重なっているかを算出した一致率に基づいて登録印影と読取印影が一致しているか否かを判定するものであり、印鑑のどの部分に欠けなどの劣化があるかの検出は業務オペレーションの中では困難であった。
【０００６】
本発明は、上記課題に鑑み、印鑑の劣化を自動検出して、オペレータに登録印影の再登録を促すことを可能とする印鑑劣化判定プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明は、登録印影画像と読取印影画像の照合により印鑑の劣化を判定する印鑑劣化判定プログラムであって、前記登録印影画像の画素と、前記画素に対応する前記読取印影画像の画素とを比較し、比較結果に応じて所定の値を前記画素の値として画素ごとに設定するステップと、前記画素の値を画素ごとに蓄積した蓄積値に前記設定された画素の値を画素ごとに加算し、加算された前記蓄積値と所定の閾値を画素ごとに比較し、比較結果に基づいて劣化の有無を示す劣化フラグを設定するステップと、設定された前記劣化フラグに基づいて前記印鑑が劣化しているか否かを判定するステップとを、コンピュータに実行させることを特徴とする。
【０００８】
また、本発明の印鑑劣化判定プログラムにおいて、前記登録印影画像を複数の画素を含むグリッドに分け、前記グリッド内における劣化有りを示す前記劣化フラグの数に基づいて前記印鑑が劣化しているか否かを判定することは、好ましい態様である。
【０００９】
また、本発明の印鑑劣化判定プログラムにおいて、前記設定された画素の値が画素不一致を示す値である場合、前記蓄積値に前記設定された画素の値を加算することは、好ましい態様である。
【００１０】
また、本発明の印鑑劣化判定プログラムにおいて、前記蓄積値に前記設定された画素の値を加算する際、前記設定された画素の値と同じ値を有する周辺画素の数が所定の加算閾値以上の場合、前記蓄積値に前記設定された画素の値を加算することは、好ましい態様である。
【００１１】
また、本発明の印鑑劣化判定プログラムにおいて、前記印鑑が劣化していると判定された場合、前記画素ごとに蓄積した前記蓄積値に基づいて印鑑劣化注意喚起画像を生成し、表示装置へ表示させるステップを更に有することは、好ましい態様である。
【００１２】
また、本発明は、登録印影画像と読取印影画像の照合により印鑑の劣化を判定する印影照合装置であって、前記登録印影画像の画素と、前記画素に対応する前記読取印影画像の画素とを比較し、比較結果に応じて所定の値を前記画素の値として画素ごとに設定する比較設定部と、前記画素の値を画素ごとに蓄積した蓄積値に前記設定された画素の値を画素ごとに加算し、加算された前記蓄積値と所定の閾値を画素ごとに比較し、比較結果に基づいて劣化の有無を示す劣化フラグを設定する設定部と、設定された前記劣化フラグに基づいて前記印鑑が劣化しているか否かを判定する判定部とを、備えることを特徴とする。
【００１３】
また、本発明は、登録印影画像と読取印影画像の照合により印鑑の劣化を判定する印鑑劣化判定方法であって、前記登録印影画像の画素と、前記画素に対応する前記読取印影画像の画素とを比較し、比較結果に応じて所定の値を前記画素の値として画素ごとに設定するステップと、前記画素の値を画素ごとに蓄積した蓄積値に前記設定された画素の値を画素ごとに加算し、加算された前記蓄積値と所定の閾値を画素ごとに比較し、比較結果に基づいて劣化の有無を示す劣化フラグを設定するステップと、設定された前記劣化フラグに基づいて前記印鑑が劣化しているか否かを判定するステップとを、有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、印鑑の劣化を自動検出して、オペレータに届出印影の再登録を促すことを可能とする。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】実施の形態における印鑑劣化判定プログラムを実装する印影照合装置を含む印鑑照合システムの構成の一例を示す図である。
【図２】実施の形態における印影照合装置の機能ブロックの一例を示す図である。
【図３Ａ】印鑑劣化注意喚起画像の一例を示す図である。
【図３Ｂ】印鑑劣化注意喚起画像の一例を示す図である。
【図４】印影画像管理テーブルの一例を示す図である。
【図５】照合結果情報テーブルの一例を示す図である。
【図６】照合結果画素管理テーブルの一例を示す図である。
【図７】不一致情報テーブルの一例を示す図である。
【図８】動作環境テーブルの一例を示す図である。
【図９】実施の形態における印影制御装置における印鑑劣化判定のフローを示すフローチャートである。
【図１０】実施の形態における印影画像重ね合わせ処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１１Ａ】実施の形態における印影照合結果画像生成処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１１Ｂ】実施の形態における印影照合結果画像生成処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１２】実施の形態における不一致フラグの値の格納順を説明するための図である。
【図１３Ａ】実施例１における不一致情報集計処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１３Ｂ】実施例１における不一致情報集計処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１４Ａ】実施例２における不一致情報集計処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１４Ｂ】実施例２における不一致情報集計処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１５Ａ】実施の形態における印鑑劣化判定処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１５Ｂ】実施の形態における印鑑劣化判定処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１６Ａ】実施の形態におけるグリッドの一例を説明するための図である。
【図１６Ｂ】実施の形態における他のグリッドの一例を説明するための図である。
【図１７】実施の形態における印鑑劣化注意喚起画像生成処理のサブルーチンを示すフローチャートである。
【図１８Ａ】印鑑劣化未検出時における登録印影二値画像、読取印影多値画像、印影照合結果画像の表示例を示す図である。
【図１８Ｂ】印鑑劣化検出時における登録印影二値画像、読取印影多値画像、印影照合結果画像の表示例を示す図である。
【図１８Ｃ】印鑑劣化検出時における登録印影二値画像、読取印影多値画像、印影照合結果画像の表示例を示す図である。
【図１９】実施の形態における印影照合装置を実現するためのハードウェア構成の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１６】
以下、実施の形態について図面を参照して説明する。まず、実施の形態における印鑑劣化判定プログラムを実装する印影照合装置を含む印鑑照合システムの一例について図１を用いて説明する。印鑑照合システム１は、印影制御装置２と、画像読取装置３と、印影データベース４と、表示装置５から構成されている。印影制御装置２は、画像読取装置３及び印影データベース４に接続されている。印影制御装置２は印影検索装置２０と印影照合装置２１をさらに備える。
【００１７】
画像読取装置３は、印影照合（印鑑照合とも言う）を行う際に、帳票などに押印された読取印の印影を読み取るものである。画像読取装置３としては、例えば不図示の読取台に置かれた帳票の読取印を上部から不図示のカメラで撮影してカラーイメージデータとして読み取るＯＨＲ（オーバーヘッドリーダ）やスキャナなどである。
【００１８】
印影データベース４は、顧客名、住所、口座番号、店番号などを含む顧客の口座識別情報に、あらかじめ登録された登録印の印影画像を関連付けて記憶している。なお、印影データベース４は、印影制御装置２内にあってもよい。
【００１９】
表示装置５は、各種情報を表示するものであって、例えば印鑑劣化の判定結果（図１８Ａから図１８Ｃや図３Ａ、図３Ｂに示す画像）など表示する。また、表示装置５は、印影制御装置２を操作するために必要な情報（ＩＤ番号及びパスワードなど）を入力させるための入力画面などを表示するようにしてもよい。なお、表示装置５は印影制御装置２と一体であってもよく、一体ではなく接続可能であってもよい。
【００２０】
印影制御装置２は、印影照合を行う際にオペレータ（例えば、金融機関の職員など）が使用する端末で、印影照合を行う主要な装置であり、上述したように印影検索装置２０、印影照合装置２１から構成されている。
【００２１】
印影検索装置２０は、例えば印影照合装置２１の不図示の入力部（キーボードなど）を介して入力された帳票上の口座番号をキーとして、口座番号と登録印の印影画像とを関連付けて記憶する印影データベース４を検索する。印影検索装置２０は、検索して該当する登録印の印影画像があった場合、その登録印の印影画像を印影データベース４から読み出す。印影検索装置２０は、読み出した登録印の印影画像（登録印影二値画像）を後述する記憶部２１ｆに格納された印影画像管理テーブル４０に印影画像バイナリデータとして記録する。印影画像管理テーブル４０については後述する。
【００２２】
印影照合装置２１は、画像読取装置３によって読み取られた読取印の印影画像と、印影検索装置２０によって取得された登録印の印影画像とを照合し、照合結果を表示装置５に表示させる。また、印影照合装置２１は、照合した結果に基づいて印鑑の劣化があるか否かを判定する。印鑑の劣化の判定方法については後述する。
【００２３】
ここで、実施の形態における印影照合装置２１の機能ブロックの一例について図２を用いて説明する。印影照合装置２１は、印影多値画像取得部２１ａ、印影画像重ね合わせ処理部２１ｂ、印影照合画像生成部（比較設定部とも言う）２１ｃ、不一致情報集計部（設定部及び判定部とも言う）２１ｄ、印鑑劣化注意喚起画像生成部２１ｅ、記憶部２１ｆから構成されている。これらの機能ブロックの連携によって印鑑の劣化の判定が行われる。
【００２４】
印影多値画像取得部２１ａは、画像読取装置３によって読み取られた読取印の印影画像を取得する。より具体的には、印影多値画像取得部２１ａは画像読取装置３によって読み取られた読取印の印影多値画像（読取印影多値画像）を取得し、記憶部２１ｆの印影画像管理テーブル４０に印影画像バイナリデータとして格納する。
【００２５】
印影画像重ね合わせ処理部２１ｂは、印影多値画像取得部２１ａによって格納された読取印影多値画像と、読取印影多値画像に対応する登録印影二値画像とを印影画像管理テーブル４０から取得する。印影画像重ね合わせ処理部２１ｂは、取得した読取印影多値画像を二値化処理、すなわち濃淡のある読取印影多値画像を白と黒の２階調に変換処理して読取印影二値画像を生成し、印影画像管理テーブルにバイナリデータとして格納する。階調とは濃淡のレベル（度合い）を示すものであり、二値画像の場合には階調は白と黒の２階調となる。ここでの二値化処理は、上述したように読取印影多値画像を白と黒の２階調に変換処理するものであり、公知の二値化技術を用いて行うものであるため詳細な説明は省略する。
【００２６】
また、印影画像重ね合わせ処理部２１ｂは、登録印影二値画像と読取印影二値画像を重ね合わせ、一致率が最大となる場合の読取印影二値画像の中心座標（読取印影画像照合中心座標（Xdo、Ydo））を算出する。このとき、登録印影二値画像の中心座標（Xgo、Ygo）も同時に算出する。また、印影画像重ね合わせ処理部２１ｂは、上記一致率が最大となる場合の読取印影二値画像の回転角度rdoを算出する。この回転角度rdoは読取印影二値画像の読取時の位置を基準にしてどの程度回転したかを示すものである。なお、中心座標や回転角度の算出は従来の画像重ね合わせ技術における手法によるものであるため、詳細については説明を省略する。
【００２７】
算出された読取印影画像照合中心座標（Xdo、Ydo）、読取印影二値画像回転角度rdo、登録印影二値画像の中心座標（Xgo、Ygo）は、記録部２１ｆに格納された後述する照合結果情報テーブル５０に格納される。
【００２８】
印影照合画像生成部２１ｃは、照合結果情報テーブル５０に記録された登録印影二値画像の中心座標（Xgo、Ygo）と、読取印影画像照合中心座標（Xdo、Ydo）及び読取印影画像回転角度rdoとを取得する。印影照合画像生成部２１ｃは、取得した登録印影二値画像の中心座標（Xgo、Ygo）に、印影画像管理テーブルから取得した読取印影二値画像の中心座標（Xdo、Ydo）を合わせ、取得した回転角度rdoだけ読取印影二値画像を回転させて照合用読取印影二値画像を生成する。生成された照合用読取印影二値画像は、印影画像管理テーブル４０にバイナリデータとして格納される。
【００２９】
印影照合画像生成部２１ｃは、さらに、登録印影二値画像と読取印影二値画像の対応する画素（対比する画素）同士において、黒画素又は白画素で一致するか否かを判定する。すなわち、画素間で階調が相違しているか否かを判定している。
【００３０】
黒画素又は白画素で一致する（階調が一致する）場合には、印影照合画像生成部２１ｃは後述する照合結果画素管理テーブル６０の不一致フラグに０を格納する。一方、黒画素又は白画素で一致しない（階調が一致しない）場合、印影照合画像生成部２１ｃは読取印影二値画像の画素が黒画素であるか否かを判定する。黒画素である場合、照合結果画素管理テーブル６０の不一致フラグに１を格納する。この場合、登録印影二値画像の画素が白画素であるため、印鑑の目詰まり（印鑑の劣化）や滲みが原因と思われる。
【００３１】
また、印影照合画像生成部２１ｃが白画素であると判定した場合には、照合結果画素管理テーブル６０の不一致フラグに−１を格納する。この場合、登録印影二値画像の画素が黒画素であるため、印鑑の欠け・破損（印鑑の劣化）や擦れが原因と思われる。なお、ここでは、階調が一致しない場合、読取印影二値画像の画素が黒画素であるか否かを判定しているが、読取印影二値画像の画素が白画素であるか否かを判定するようにしてもよい。
【００３２】
不一致フラグとは、登録印影二値画像の画素の階調と読取印影二値画像の対比する画素の階調とを比較し、比較結果を数値化したものである。例えば、登録印影二値画像の画素が黒画素であり、対比する読取印影二値画像の画素が白画素である場合には不一致フラグの値を負の値（例えば、−１）とする。負の値は印鑑の欠け・破損や擦れに相当する。また、登録印影二値画像の画素が白画素であり、対比する読取印影二値画像の画素が黒画素である場合には不一致フラグの値を正の値（例えば、＋１）とする。正の値は印鑑の目詰まりや滲みに相当する。また、対比する画素が黒画素又は白画素で一致する場合には不一致フラグの値を０とする。不一致フラグに格納（設定）される上記値（−１、＋１、０）を所定の値とも言う。
【００３３】
印影照合画像生成部２１ｃは、すべての画素の不一致フラグを格納すると、登録印影二値画像と照合用読取印影二値画像を重ね合わせ、格納された不一致フラグに基づいて印影照合結果画像を生成する。具体的には、印影照合画像生成部２１ｃは、不一致フラグの値が０でない画素については白でも黒でもない他の色、例えば灰色（グレー）とし、不一致フラグの値が０の画素については一致した階調（白又は黒）とした印影照合結果画像を生成する。生成された印影照合結果画像は印影画像管理テーブル４０にバイナリデータとして格納される。
【００３４】
不一致情報集計部２１ｄは後述する実施例１と実施例２において動作内容が一部異なるため、異なる動作について実施例ごとに説明する。
【００３５】
（実施例１）
不一致情報集計部２１ｄは、照合結果画素管理テーブル６０の不一致フラグに０以外の値があるか否か判断し、０以外の値がある場合、後述する不一致情報テーブル７０の対応する画素（座標）の不一致情報に不一致フラグの値を加算する。対応する画素（座標）がない場合には不一致情報テーブル７０に新たな座標データを生成し、不一致フラグの値を格納する。
【００３６】
不一致情報集計部２１ｄは、不一致情報テーブル７０の不一致情報の値が不一致判定閾値Ｔｊ以上であるか、又は不一致情報の値が−Ｔｊ以下であるかを判断する。不一致判定閾値Ｔｊは後述する動作環境テーブル８０に記録されており、印鑑の劣化判定の基準となるもので所定の閾値である。
【００３７】
上記判断した結果、不一致情報の値が不一致判定閾値Ｔｊ以上である又は不一致情報の値が−Ｔｊ以下である場合、不一致情報集計部２１ｄは不一致情報テーブル７０の劣化フラグにｔｒｕｅを設定する。一方、不一致情報の値が不一致判定閾値Ｔｊ以上でない又は不一致情報の値が−Ｔｊ以下でない場合、不一致情報集計部２１ｄは不一致情報テーブル７０の劣化フラグにｆａｌｓｅを設定する。
【００３８】
（実施例２）
不一致情報集計部２１ｄは、照合結果画素管理テーブル６０の不一致フラグに０以外の値があるか否かを判断する。０以外の値がある場合、不一致情報集計部２１ｄは、当該画素（座標）の周辺画素（周辺座標）において当該画素の不一致フラグの値と一致する値を有する周辺画素の数（周辺座標の不一致数Ｆｃ）をカウントする。周辺画素とは例えば当該画素と隣接する画素を言う。
【００３９】
不一致情報集計部２１ｄは、カウントしたＦｃが動作環境テーブル８０に記録された不一致カウント閾値Ｔｃ以上であるか否かを判断し、Ｔｃ以上の場合、不一致情報テーブル７０の対応する画素（座標）の不一致情報に不一致フラグの値を加算する。
【００４０】
以上、実施例１と実施例２で異なる不一致情報集計部２１ｄの動作について説明した。以下に説明する不一致情報集計部２１ｄの動作はそれぞれの実施例において共通する。
【００４１】
不一致情報集計部２１ｄは、印影画像を複数のグリッド（セグメントとも言う）に分け、グリッドごとの劣化フラグ＝ｔｒｕｅの数をカウントし、カウントした劣化フラグ数が動作環境テーブル８０に格納された劣化判定閾値Ｔｒより小さいか否かを判断する。小さい場合には、照合結果情報テーブル５０の印鑑劣化フラグにｆａｌｓｅを設定し、小さくない場合には、照合結果情報テーブル５０の印鑑劣化フラグにｔｒｕｅを設定する。印鑑劣化フラグがｔｒｕｅに設定されるということは印鑑に劣化があることを意味する。
【００４２】
なお、不一致情報集計部２１ｄは、印影画像をグリッドに分けることなく、画素ごとにみて、不一致情報テーブル７０の劣化フラグにｔｒｕｅが格納されている場合、照合結果情報テーブル５０の印鑑劣化フラグにｔｒｕｅを設定するようにしてもよい。
【００４３】
印鑑劣化注意喚起画像生成部２１ｅは、不一致情報テーブル７０の情報（座標、不一致情報）を取得し、座標ごとに不一致情報の値をプロットし、印鑑劣化注意喚起画像（３次元画像）を生成し、印影画像管理テーブル４０にバイナリデータとして格納する。具体的には、印鑑劣化注意喚起画像生成部２１ｅは、不一致情報テーブル７０のｘ座標及びｙ座標に対応する不一致情報の値をＺ座標の値としてプロットする。
【００４４】
印鑑劣化注意喚起画像の一例を図３Ａ、図３Ｂに示す。不一致情報テーブル７０の座標（−５０、−５０）の場合、対応する不一致情報の値は０である。よって、座標（−５０、−５０）ではＺ＝０となる。また、座標（−４２、−１０）の場合、対応する不一致情報の値は１１である。よって、座標（−４２、−１０）ではＺ＝１１となる。このように、すべての座標について不一致情報の値をプロットすることによって図３Ａに示すような凹凸形状を有する３次元画像が生成される。
【００４５】
図３Ａに示す画像例は“中”という文字の印影であり、右上部分に凸形状があり、中央下部分に凹形状がある。凸形状が示していることは、登録印影二値画像の該当画素が白画素であり、読取印影二値画像の該当画素が黒画素であることを示している。すなわち、印鑑の目詰まりによる滲みがあることを示している。一方、凹形状が示していることは、登録印影二値画像の該当画素が黒画素であり、読取印影二値画像の該当画素が白画素であることを示している。すなわち、印鑑の欠けによる擦れがあることを示している。
【００４６】
なお、図３Ａに示すような画像を生成する際、不一致情報テーブル７０の劣化フラグのｔｒｕｅに対応する不一致情報の値のプロットと、ｆａｌｓｅに対応する不一致情報の値のプロットで色を変えるなど、より視覚的に把握することができるようにしてもよい。
【００４７】
このように、印影画像を３次元的に表示することで、高さ方向の描画により印鑑の劣化箇所及び劣化内容を表現することが可能となる。また、高さ方向の大きさにより被疑箇所の大きさを表現可能としており、オペレータが印鑑のどの部分がどのように劣化しているのかを直観的に把握することが可能となる。なお、図３Ｂのような画像を生成し、表示するようにしてもよい。図３Ｂに示す画像は平面画像（２次元画像）であって、図３Ａに示す画像の３次元の凹凸部分を色の濃淡を用いて示されている。
【００４８】
記憶部２１ｆは、印鑑劣化判定に必要な各種情報（例えば、印影画像管理テーブル４０など）を記憶する。
【００４９】
ここで、記憶部２１ｆに記憶される上述した各テーブルについて説明する。
印影画像管理テーブル４０は各種画像をバイナリデータとして記録するテーブルであり、例えば、図４に示すように、インデックス、印影画像種類、印影画像バイナリデータの項目から構成されている。インデックスは画像を識別するための識別情報であって、例えばインデックスを指定することによって所望の画像を印影画像管理テーブル４０から取得することが可能である。印影画像種類は格納される画像の種類を示すものである。例えば印影検索装置２０によって印影データベース４から読み出された登録印影二値画像が格納される場合、印影画像種類には登録印影二値画像という名称が記録される。印影画像バイナリデータは格納される画像のバイナリデータを示すものである。なお、印影画像管理テーブル４０の構成はこれに限定されるものではなく、他の項目が含まれるものであってもよい。
【００５０】
照合結果情報テーブル５０は印影画像重ね合わせ処理部２１ｂによって算出された読取印影画像照合中心座標などの値を記録するテーブルであり、図５に示すように項目名と設定値から構成されている。項目名は、印影画像重ね合わせ処理部２１ｂによって算出された読取印影画像照合中心のＸ座標Xdo及びＹ座標Ydo、読取印影二値画像の回転角度（読取印影画像回転角度）rdo、登録印影二値画像の中心のＸ座標Xgo及びＹ座標Ygo、印鑑劣化フラグから構成されている。設定値は項目名に格納された項目が保持する値である。ここでは、読取印影画像回転角度rdoの設定値が９となっているため、読取印影二値画像の読取時の位置に対して９度回転したことを示している。また、印鑑劣化フラグの設定値にｔｒｕｅが格納されているため、この例では印鑑に劣化があると判定されたことを示している。なお、不一致情報集計部２１ｄによって印鑑に劣化がないと判定された場合にはｆａｌｓｅが格納される。
【００５１】
照合結果画素管理テーブル６０は、登録印影二値画像の画素と対比する読取印影二値画像の画素が黒画素又は白画素で一致するか、一致しない場合にはどちらの画像の画素が黒画素又は白画素かを画素ごとに示すテーブルである。照合結果画素管理テーブル６０は図６に示すように画素の座標（Ｘ座標、Ｙ座標）と不一致フラグから構成されている。例えば、ある画素（Ｘ座標が−５０、Ｙ座標が−５０）においては登録印影二値画像及び読取印影二値画像ともに黒画素又は白画素で一致したことを示しており、不一致フラグには０が格納されている。一方、ある画素（Ｘ座標が−５０、Ｙ座標が−４９）においては、登録印影二値画像の画素が黒画素、読取印影二値画像の画素が白画素であって、一致していないことを示しており不一致フラグには１が格納されている。なお、照合結果画素管理テーブル６０は印鑑劣化判定が１回終了すると初期化（オールクリア）されるようにしてもよい。
【００５２】
不一致情報テーブル７０は、印影照合するごとに不一致フラグの値が不一致情報の値に加算されるテーブルである。不一致情報テーブル７０は、図７に示すように画素の座標（Ｘ座標、Ｙ座標）、不一致情報、劣化フラグから構成されている。不一致情報テーブル７０では照合対象画像のすべての画素における不一致情報が記録されている。
【００５３】
不一致情報は、印影照合されるごとに不一致フラグの値が加算されるものである。すなわち、不一致情報は不一致フラグの値が加算され続けた結果（蓄積値）を示している。例えば、ある画素（Ｘ座標が−５０、Ｙ座標が−５０）においては不一致情報が０となっている。これは過去に画素が一致すると判断されたことしかないか、又は一致する及び一致しないと判断されたことがそれぞれあったが加算した結果、不一致情報が０となったかを示している。また、ある画素（Ｘ座標が−４２、Ｙ座標が−１０）においては不一致情報が１１となっている。これは過去に画素が一致しないと判断されたことが多くあったことを示している。
【００５４】
劣化フラグは、不一致情報の値と動作環境テーブル８０の不一致判定閾値Ｔｊとの比較結果を示している。具体的には、不一致情報の値が不一致判定閾値Ｔｊ以上又は−Ｔｊ以下の場合にｔｒｕｅが設定され、それ以外はｆａｌｓｅが設定される。劣化フラグがｔｒｕｅの場合には該当画素部分に劣化が生じている可能性があることを示している。図７に示す例では、ある画素（Ｘ座標が−４２、Ｙ座標が−１０）部分とある画素（Ｘ座標が−４２、Ｙ座標が−９）部分において劣化が生じている可能性があることを示している。
【００５５】
動作環境テーブル８０は各種判定を行う際に用いられる閾値などを記録するテーブルである。動作環境テーブル８０は、図８に示すように項目名と設定値から構成されている。項目名は、不一致判定閾値Ｔｊ、不一致カウント閾値Ｔｃ、不一致判定グリッド幅ｌｇ、印鑑劣化判定閾値Ｔｒ、登録印影二値画像の幅Ｗｇ、登録印影二値画像の高さＨｇから構成されている。設定値は項目名に格納された項目が保持する値である。
【００５６】
不一致判定閾値Ｔｊは不一致情報テーブル７０の劣化フラグにｔｒｕｅ又はｆａｌｓｅを設定するために用いられる閾値である。
【００５７】
不一致カウント閾値Ｔｃは実施例２において使用する閾値（加算閾値とも言う）であって、当該画素の周辺画素を加味して不一致フラグの値を不一致情報に加算するか否かを判定するための閾値である。
【００５８】
不一致判定グリッド幅は印鑑劣化フラグを設定する際に分けるグリッドの幅である。この例では不一致判定グリッド幅はｌｇのみであるため、グリッドは縦幅も横幅も同じとなる。すなわち、グリッドの形状は正方形となる。なお、グリッドの形状は正方形に限定されるものではなく、長方形などであってもよい。この場合、グリッド幅は縦幅と横幅の２つの値を用意する必要がある。
【００５９】
また、この例では登録印影二値画像の幅Ｗｇの値と登録印影二値画像の高さＨｇの値が同じ１００となっているが、異なる値であっても実施可能である。
【００６０】
また、この例では登録印影二値画像の幅Ｗｇの値と登録印影二値画像の高さＨｇの値を動作環境テーブル８０から取得しているが、プログラム処理で登録印影二値画像のバイナリデータから取得してもよい。
【００６１】
次に、実施の形態における印影制御装置における印鑑劣化判定のフローについて図９を用いて説明する。
【００６２】
まず、印影検索装置２０は、例えば口座番号をキーとして、口座番号と登録印の印影二値画像（登録印影二値画像）とを関連付けて記憶する印影データベース４を検索し、印影二値画像を取得し、印影画像管理テーブル４０に格納する（ステップＳ９０１）。
【００６３】
印影多値画像取得部２１ａは、画像読取装置３によって読み取られた読取印影多値画像を取得し、印影画像管理テーブル４０に格納する（ステップＳ９０２）。
【００６４】
印影画像重ね合わせ処理部２１ｂは印影画像重ね合わせ処理を行う（ステップＳ９０３）。印影画像重ね合わせ処理については後述する。
【００６５】
印影照合画像生成部２１ｃは印影照合結果画像生成処理を行う（ステップＳ９０４）。印影照合結果画像生成処理については後述する。
【００６６】
不一致情報集計部２１ｄは不一致情報集計処理を行う（ステップＳ９０５）。不一致情報集計処理については後述する。
【００６７】
また、不一致情報集計部２１ｄは印鑑劣化判定処理を行う（ステップＳ９０６）。印鑑劣化判定処理については後述する。
【００６８】
また、不一致情報集計部２１ｄは上記印鑑劣化判定処理後に印鑑劣化フラグを照合結果情報テーブル５０から取得する（ステップＳ９０７）。
【００６９】
また、印鑑劣化注意喚起画像生成部２１ｅは登録印影二値画像、読取印影多値画像、印影照合結果画像を印影画像管理テーブル４０から取得し、表示装置５に表示する（ステップＳ９０８）。ここで、取得された印鑑劣化フラグがｆａｌｓｅの場合（印鑑劣化未検出時）に表示装置５に表示される登録印影二値画像、読取印影多値画像、印影照合結果画像の一例を図１８Ａに示す。図１８Ａでは印鑑劣化が検出されず、劣化箇所の確認が不要であるため劣化箇所確認アイコン１８００は押下できないように薄い表示となっている。
【００７０】
一方、取得された印鑑劣化フラグがｔｒｕｅの場合（印鑑劣化検出時）に表示装置５に表示される登録印影二値画像、読取印影多値画像、印影照合結果画像の一例を図１８Ｂ及び図１８Ｃに示す。図１８Ｂ及び図１８Ｃでは印鑑劣化が検出され、劣化箇所の確認ができるよう劣化箇所確認アイコン１８０１、１８０２が押下できるように濃い表示となっている。図１８Ｂと図１８Ｃの異なる点は印鑑劣化を伝える表示（印鑑劣化あり）がダイアログ表示となっているか、画面上へのテキスト表示になっているかである。ダイアログ表示の場合は、ＯＫアイコン１８０３を押下すると、印鑑劣化注意喚起画像に遷移する。なお、印鑑劣化検出時の印影照合結果画像では印鑑劣化が検出された箇所については後述するように例えばグレー（灰色）になっており、視覚的に劣化箇所を把握することが可能となっている。
【００７１】
不一致情報集計部２１ｄは取得した印鑑劣化フラグがｔｒｕｅ（印鑑劣化がある）か否かを判断する（ステップＳ９０９）。
【００７２】
印鑑劣化フラグがｔｒｕｅの場合（ステップＳ９０９でＹｅｓ）、印鑑劣化注意喚起画像生成部２１ｅは印鑑劣化注意喚起画像生成処理を行う（ステップＳ９１０）。その後、劣化箇所確認アイコン１８０１、１８０２が押下されると、印鑑劣化が疑われる箇所の確認画面（印鑑劣化被疑箇所確認画面）、すなわち図３Ａや図３Ｂに示す印影劣化注意喚起画像が印影画像管理テーブル４０から取得され、表示装置５に表示される（ステップＳＳ９１１）。なお、印鑑劣化フラグがｔｒｕｅでない（ステップＳ９０９でＮｏ）、すなわちｆａｌｓｅの場合、印鑑劣化はないとして印鑑劣化注意喚起画像生成処理を行うことなく印鑑劣化判定を終了する。
【００７３】
次に、上記印影画像重ね合わせ処理のサブルーチンについて図１０を用いて説明する。
印影画像重ね合わせ処理部２１ｂは、登録印影二値画像を印影画像管理テーブル４０から取得する（ステップ１００１）。例えば、インデックスの値（値＝０）を指定し、指定されたインデックスの値に対応する登録印影二値画像を取得する。なお、印影画像管理テーブル４０から他の画像を取得する際も同様にインデックスの値を指定することによって取得するようにしてもよい。
【００７４】
また、印影画像重ね合わせ処理部２１ｂは、読取印影多値画像を印影画像管理テーブル４０から取得する（ステップＳ１００２）。印影画像重ね合わせ処理部２１ｂは取得した読取印影多値画像を二値化処理して読取印影二値画像を生成し（ステップＳ１００３）、生成した読取印影二値画像を印影画像管理テーブル４０に格納する（ステップＳ１００４）。
【００７５】
印影画像重ね合わせ処理部２１ｂは、印影画像管理テーブル４０に格納された登録印影二値画像及び読取印影二値画像を取得し、それぞれの画像を一致率が最大となるように重ね合わせる。印影画像重ね合わせ処理部２１ｂは、重ね合わせた後の読取印影二値画像の照合中心座標（Xdo、Ydo）を算出するとともに、登録印影二値画像の中心座標（Xgo、Ygo）を算出し（ステップＳ１００５）、それぞれの座標を照合結果情報テーブル５０に格納する（ステップＳ１００６）。
【００７６】
また、印影画像重ね合わせ処理部２１ｂは、一致率が最大となるように重ね合わされた状態における読取印影二値画像の読取印影画像回転角度rdoを算出し（ステップＳ１００７）、算出した読取印影画像回転角度rdoを照合結果情報テーブル５０に格納する（ステップＳ１００８）。具体的には、印影画像重ね合わせ処理部２１ｂは、重ね合わせる前の読取印影二値画像の読取時の読取位置を基準にし、一致率が最大となるように登録印影二値画像に重ね合わせることによって読取印影二値画像がどの程度回転するか、すなわち回転角度を算出する。
【００７７】
次に、印影照合結果画像生成処理のサブルーチンについて図１１Ａ、図１１Ｂを用いて説明する。
【００７８】
印影照合画像生成部２１ｃは、登録印影二値画像を印影画像管理テーブル４０から取得するとともに（ステップＳ１１０１）、読取印影二値画像を印影画像管理テーブル４０から取得する（ステップＳ１１０２）。
【００７９】
印影照合画像生成部２１ｃは、照合結果情報テーブル５０から登録印影二値画像の中心座標（Xgo、Ygo）を取得し（ステップＳ１１０３）、読取印影二値画像照合中心座標（Xdo、Ydo）を取得し（ステップＳ１１０４）、読取印影画像回転角度rdoを取得する（ステップＳ１１０５）。
【００８０】
印影照合画像生成部２１ｃは、取得した登録印影二値画像の中心座標（Xgo、Ygo）に読取印影二値画像照合中心座標（Xdo、Ydo）を合わせて読取印影画像回転角度rdoだけ読取印影二値画像を回転させ、照合用読取印影二値画像を生成する（ステップＳ１１０６）。印影照合画像生成部２１ｃは生成した照合用読取印影二値画像を印影画像管理テーブル４０に格納する（ステップＳ１１０７）。
【００８１】
ここで、印影照合画像生成部２１ｃは、登録印影二値画像の画素と、その画素に対応する読取印影二値画像の画素とを対比し、不一致画素フラグの値を画素ごとに格納する処理を行うため、登録印影二値画像の幅Ｗｇと高さＨｇを動作環境テーブル８０から取得する（ステップＳ１１０８）。
【００８２】
対比方法の一例について図１２を用いて説明する。印影照合画像生成部２１ｃは、登録印影二値画像の左下の画素１２００（例えばＸ座標が−５０、Ｙ座標が−５０）から矢印方向（Ｙ座標が増加する方向）へ垂直に移動しながら判定して不一致フラグの値を順に格納する。この例では登録印影二値画像の幅Ｗｇ、高さＨｇともに１００とし、原点の座標を（０、０）としているため、Ｘ座標の範囲は−５０から５０、Ｙ座標の範囲も−５０から５０となっている。
【００８３】
登録印影二値画像の左上の画素１２０１（例えばＸ座標が−５０、Ｙ座標が５０）の不一致フラグの値が格納し終わると、登録印影二値画像の一番下（直下）の画素１２００（Ｘ座標が−５０、Ｙ座標が−５０）に戻る。戻った画素１２００の右隣の画素１２０２（Ｘ座標が−４９、Ｙ座標が−５０）から同様に矢印方向へ垂直に移動しながら不一致フラグの値を格納する。これを最後の画素１２０３（Ｘ座標が５０、Ｙ座標が５０）まで繰り返す。
【００８４】
すなわち、ループ１ではカウンタｉの初期値を−Ｗｇ／２とし、ループ条件をｉがＷｇ／２以下の間としてループ処理がされ、ループ２ではカウンタｊの初期値を−Ｈｇ／２とし、ループ条件をｊがＨｇ／２以下の間としてループ処理がされる。
【００８５】
印影照合画像生成部２１ｃは、登録印影二値画像の座標（Xgo＋ｉ、Ygo＋ｊ）の画素と読取印影二値画像の座標（Xdo＋ｉ、Ydo＋ｊ）の画素が一致するか否かを判定する（ステップＳ１１０９）。画素が一致するとは対比するそれぞれの画素が共に黒画素である又は白画素であることを言う。印影照合画像生成部２１ｃは、対比する画素が一致する場合（ステップＳ１１０９でＹｅｓ）、照合結果画素管理テーブル６０の登録印影二値画像の座標（Xgo＋ｉ、Ygo＋ｊ）の不一致フラグに０を格納（設定）する（ステップＳ１１１０）。不一致フラグに０が格納されるということは対比する画素が共に黒画素又は白画素であることを示す。
【００８６】
一方、対比する画素が一致しない場合（ステップＳ１１０９でＮｏ）、印影照合画像生成部２１ｃは読取印影二値画像の画素が黒画素であるか否かを判断する（ステップＳ１１１１）。読取印影二値画像の画素が黒画素である場合（ステップＳ１１１１でＹｅｓ）、印影照合画像生成部２１ｃは、照合結果画素管理テーブル６０の登録印影二値画像の座標（Xgo＋ｉ、Ygo＋ｊ）の不一致フラグに１を格納（設定）する（ステップＳ１１１２）。不一致フラグに１が格納されるということは対比する画素は白画素であることを示す。
【００８７】
一方、読取印影二値画像の画素が黒画素でない場合（ステップＳ１１１１でＮｏ）、印影照合画像生成部２１ｃは、照合結果画素管理テーブル６０の登録印影二値画像の座標（Xgo＋ｉ、Ygo＋ｊ）の不一致フラグに−１を格納（設定）する（ステップＳ１１１３）。不一致フラグに−１が格納されるということは対比する画素は黒画素であることを示す。
【００８８】
印影照合画像生成部２１ｃは、格納が終わるとループ２のカウンタｊのカウントアップを行い（ステップＳ１１１４）、ループ２のループ条件を満たす間は上記処理を繰り返す。一方、ループ２のループ条件を満たさなくなった場合には、印影照合画像生成部２１ｃはループ１のカウンタｉのカウントアップを行い（ステップＳ１１１５）、ループ１のループ条件を満たす間は上記処理を繰り返す。一方、ループ１のループ条件を満たさなくなった場合、印影照合画像生成部２１ｃは、登録印影二値画像と照合用読取印影二値画像を重ね合わせ、照合結果画素管理テーブル６０の情報（座標、不一致フラグ）に基づいて印影照合結果画像を生成する（ステップＳ１１１６）。
【００８９】
具体的には、印影照合画像生成部２１ｃは、登録印影二値画像と照合用読取印影二値画像を重ね合わせて印影照合結果画像を生成する際、不一致フラグの値が１又は−１の画素についてはグレー（灰色）の画素とする。また、不一致フラグの値が０の画素については、黒画素で一致した場合には黒画素とし、白画素で一致した場合には白画素として印影照合結果画像を生成する。これにより、不一致箇所を視覚的に把握可能となる。そして、印影照合画像生成部２１ｃは、生成した印影照合結果画像を印影画像管理テーブル４０に格納する（ステップＳ１１１７）。
【００９０】
次に、不一致情報集計処理のサブルーチンについて図１３Ａ、図１３Ｂ、図１４Ａ、図１４Ｂを用いて説明する。
【００９１】
図１３Ａ及び図１３Ｂに示す不一致情報集計処理フローは実施例１の処理フローであって、図１４Ａ及び図１４Ｂに示す不一致情報集計処理フローは実施例２の処理フローである。
【００９２】
まず、実施例１の不一致情報集計処理のサブルーチンについて図１３Ａ及び図１３Ｂを用いて説明する。
【００９３】
不一致情報集計部２１ｄは、不一致情報テーブル７０の劣化フラグを設定するため、動作環境テーブル８０から不一致判定閾値Ｔｊを取得する（ステップＳ１３０１）とともに、登録印影二値画像の幅Ｗｇと高さＨｇを取得する（ステップＳ１３０２）。
【００９４】
不一致情報集計部２１ｄは、ループ１ではカウンタｉの初期値を−Ｗｇ／２とし、ループ条件をｉがＷｇ／２以下の間としてループ処理を行い、ループ２ではカウンタｊの初期値を−Ｈｇ／２とし、ループ条件をｊがＨｇ／２以下の間としてループ処理を行う。このループ処理におけるカウンタ、ループ条件、カウントアップは上述した印影照合結果画像生成処理におけるループ処理のものと同様である。
【００９５】
不一致情報集計部２１ｄは、座標（ｉ、ｊ）の不一致フラグの値を照合結果画素管理テーブル６０から取得する（ステップＳ１３０３）。不一致情報集計部２１ｄは取得した不一致フラグの値が０でないか否かを判断する（ステップＳ１３０４）。不一致フラグの値が０でない場合（ステップＳ１３０４でＹｅｓ）、すなわち対比する画素が一致しない場合（画素不一致を示す値の場合）、不一致情報集計部２１ｄは不一致情報テーブル７０の座標（ｉ、ｊ）の不一致情報の値に座標（ｉ、ｊ）の不一致フラグの値を加算する（ステップＳ１３０５）。一方、不一致フラグの値が０である場合（ステップＳ１３０４でＮｏ）、すなわち対比する画素が一致する場合、ステップＳ１３０６へ進む。
【００９６】
なお、ここでは、不一致フラグの値が０以外の場合に不一致フラグの値を不一致情報に加算するようにしているが、ステップＳ１３０４の判定処理をなくし、取得した不一致フラグの値をそのまま不一致情報の値に加算するようにしてもよい。不一致フラグの値が０の場合、不一致情報の値に加算しても不一致情報の値は変わらないためである。なお、後述する図１４ＡのステップＳ１４０５においても同様に、ステップＳ１４０５の判定処理をなくし、ステップＳ１４０４で不一致フラグを取得後、ステップＳ１４０６の処理を行うようにしてもよい。
【００９７】
不一致情報集計部２１ｄは不一致情報テーブル７０の座標（ｉ、ｊ）の不一致情報の値が不一致判定閾値Ｔｊ以上か又は−Ｔｊ以下かを判断する（ステップＳ１３０６）。すなわち、対比する画素が不一致であると判断されたことが多いか否かを判断する。なお、不一致情報の値は、不一致フラグの値（０、１、−１）の加算によって増減するため、必ずしも対比する画素が不一致であると判断された回数の値と同じであるとは限らない。例えば、不一致と判断された回数が１０回であって、そのうち５回が不一致フラグの値が１の場合であり、残りの５回が不一致フラグの値が−１の場合には不一致情報の値は０となる。このように、不一致情報の値は必ずしも不一致と判断された回数と同じではない。
【００９８】
不一致情報の値が不一致判定閾値Ｔｊ以上又は−Ｔｊ以下である場合（ステップＳ１３０６でＹｅｓ）、不一致情報集計部２１ｄは不一致情報テーブル７０の座標（ｉ、ｊ）の劣化フラグにｔｒｕｅを設定する（ステップＳ１３０７）。一方、不一致情報の値が不一致判定閾値Ｔｊ以上又は−Ｔｊ以下でない場合（ステップＳ１３０６でＮｏ）、不一致情報集計部２１ｄは不一致情報テーブル７０の座標（ｉ、ｊ）の劣化フラグにｆａｌｓｅを設定する（ステップＳ１３０８）。
【００９９】
不一致情報集計部２１ｄは、劣化フラグの設定が終わるとループ２のカウンタｊのカウントアップを行い（ステップＳ１３０９）、ループ２のループ条件を満たす間は上記処理を繰り返す。一方、ループ２のループ条件を満たさなくなった場合には、不一致情報集計部２１ｄはループ１のカウンタｉのカウントアップを行い（ステップＳ１３１０）、ループ１のループ条件を満たす間は上記処理を繰り返す。一方、ループ１のループ条件を満たさなくなった場合には、不一致情報集計部２１ｄは不一致情報集計処理を終了する。
【０１００】
次に、実施例２の不一致情報集計処理のサブルーチンについて図１４Ａ及び図１４Ｂを用いて説明する。実施例２の不一致情報集計処理は、不一致情報の集計処理の対象となる画素（座標）の周辺画素（座標）の不一致フラグの値を考慮して不一致フラグの値を不一致情報の値に加算する処理である。実施例１の不一致情報集計処理は、不一致情報の集計処理の対象となる画素の不一致フラグの値を不一致情報の値に加算する処理であって、周辺画素の不一致フラグの値は考慮されていない。実施例２の不一致情報集計処理により、微細なゴミを拾わず劣化判定の精度を高めることが可能となる。
【０１０１】
不一致情報集計部２１ｄは、不一致情報テーブル７０の劣化フラグを設定するため、動作環境テーブル８０から不一致判定閾値Ｔｊを取得する（ステップＳ１４０１）とともに、不一致カウント閾値Ｔｃを取得する（ステップＳ１４０２）。また、不一致情報集計部２１ｄは登録印影二値画像の幅Ｗｇと高さＨｇを動作環境テーブル８０から取得する（ステップＳ１４０３）。
【０１０２】
不一致情報集計部２１ｄは、ループ１ではカウンタｉの初期値を−Ｗｇ／２とし、ループ条件をｉがＷｇ／２以下の間としてループ処理を行い、ループ２ではカウンタｊの初期値を−Ｈｇ／２とし、ループ条件をｊがＨｇ／２以下の間としてループ処理を行う。このループ処理におけるカウンタ、ループ条件、カウントアップは実施例１の不一致情報集計処理におけるループ処理のものと同様である。
【０１０３】
不一致情報集計部２１ｄは、座標（ｉ、ｊ）の不一致フラグの値を照合結果画素管理テーブル６０から取得する（ステップＳ１４０４）。不一致情報集計部２１ｄは取得した不一致フラグの値が０でないか否かを判断する（ステップＳ１４０５）。不一致フラグの値が０である場合（ステップＳ１４０５でＮｏ）、ステップＳ１４１０へ進む。
【０１０４】
一方、不一致フラグの値が０でない場合（ステップＳ１４０５でＹｅｓ）、不一致情報集計部２１ｄは座標（ｉ、ｊ）の周辺座標の不一致フラグの値を取得する（ステップＳ１４０６）。ここで、周辺座標とは、例えば対象座標（ｉ、ｊ）と隣接する座標を言い、座標（ｉ−１、ｊ−１）、（ｉ、ｊ−１）、（ｉ＋１、ｊ−１）、（ｉ−１、ｊ）、（ｉ＋１、ｊ）、（ｉ−１、ｊ＋１）、（ｉ、ｊ＋１）、（ｉ＋１、ｊ＋１）である。
【０１０５】
不一致情報集計部２１ｄは、座標（ｉ、ｊ）の不一致フラグの値と一致する不一致フラグを有する周辺座標の数、すなわち不一致数Ｆｃをカウントする（ステップＳ１４０７）。不一致情報集計部２１ｄは不一致数Ｆｃが不一致カウント閾値Ｔｃ以上であるか否かを判断する（ステップＳ１４０８）。不一致数Ｆｃが取得した不一致カウント閾値Ｔｃ以上である場合（ステップＳ１４０８でＹｅｓ）、不一致情報集計部２１ｄは不一致情報テーブル７０の座標（ｉ、ｊ）の不一致情報の値に座標（ｉ、ｊ）の不一致フラグの値を加算する（ステップＳ１４０９）。一方、不一致数Ｆｃが取得した不一致カウント閾値Ｔｃ以上でない場合（ステップＳ１４０８でＮｏ）、ステップＳ１４１０へ進む。
【０１０６】
不一致情報集計部２１ｄは不一致情報テーブル７０の座標（ｉ、ｊ）の不一致情報の値が不一致判定閾値Ｔｊ以上か又は−Ｔｊ以下かを判断する（ステップＳ１４１０）。
【０１０７】
不一致情報の値が不一致判定閾値Ｔｊ以上又は−Ｔｊ以下である場合（ステップＳ１４１０でＹｅｓ）、不一致情報集計部２１ｄは不一致情報テーブル７０の座標（ｉ、ｊ）の劣化フラグにｔｒｕｅを設定する（ステップＳ１４１１）。一方、不一致情報の値が不一致判定閾値Ｔｊ以上又は−Ｔｊ以下でない場合（ステップＳ１４１０でＮｏ）、不一致情報集計部２１ｄは不一致情報テーブル７０の座標（ｉ、ｊ）の劣化フラグにｆａｌｓｅを設定する（ステップＳ１４１２）。
【０１０８】
不一致情報集計部２１ｄは、劣化フラグの設定が終わるとループ２のカウンタｊのカウントアップを行い（ステップＳ１４１３）、ループ２のループ条件を満たす間は上記処理を繰り返す。一方、ループ２のループ条件を満たさなくなった場合には、不一致情報集計部２１ｄはループ１のカウンタｉのカウントアップを行い（ステップＳ１４１４）、ループ１のループ条件を満たす間は上記処理を繰り返す。一方、ループ１のループ条件を満たさなくなった場合には、不一致情報集計部２１ｄは不一致情報集計処理を終了する。
【０１０９】
次に、印鑑劣化判定処理のサブルーチンについて図１５Ａ及び図１５Ｂを用いて説明する。
【０１１０】
不一致情報集計部２１ｄは、登録印影二値画像を複数のグリッドに分けて印鑑劣化の有無を示す印鑑劣化フラグを設定するため、動作環境テーブル８０から不一致判定グリッド幅ｌｇを取得する（ステップＳ１５０１）とともに、劣化判定閾値Ｔｒを取得する（ステップＳ１５０２）。
【０１１１】
グリッドとは一定の幅及び高さで登録印影二値画像を区切った１つの領域を言う。グリッドの一例を図１６Ａ及び図１６Ｂに示す。図１６Ａに示す例ではグリッド１６００の幅と高さは同じ値ｌｇである、すなわちグリッド１６００は正方形であるが、幅と高さを異なる値にして長方形のグリッドとしてもよい。また、図１６Ｂに示すようにグリッドの大きさを一定とせず、例えば登録印影二値画像の中央付近（印影がある部分）ではグリッド１６０１を大きくし、登録印影二値画像の端付近（印影がない部分）ではグリッド１６０２を小さくするなどしてもよい（ｌｇｚ＞ｌｇ）。
【０１１２】
不一致情報集計部２１ｄは登録印影二値画像の幅Ｗｇと高さＨｇを動作環境テーブル８０から取得する（ステップＳ１５０３）。
【０１１３】
不一致情報集計部２１ｄは、ループ１ではカウンタｉの初期値を−Ｗｇ／２とし、ループ条件をｉがＷｇ／２以下の間としてループ処理を行い、ループ２ではカウンタｊの初期値を−Ｈｇ／２とし、ループ条件をｊがＨｇ／２以下の間としてループ処理を行う。このループ処理におけるカウンタ、ループ条件、カウントアップは上記不一致情報集計処理におけるループ処理のものと同様である。
【０１１４】
不一致情報集計部２１ｄは、印鑑劣化判定用カウンタＣを０に初期化する（ステップＳ１５０４）。
【０１１５】
不一致情報集計部２１ｄはグリッド内に劣化フラグ＝ｔｒｕｅという画素（座標）がいくつあるかをカウントするためのループ処理を行う。すなわち、ループ３ではカウンタｍの初期値を０とし、ループ条件をｍがｌｇより小さい間としてループ処理を行い、ループ４ではカウンタｎの初期値を０とし、ループ条件をｎがｌｇより小さい間としてループ処理を行う。
【０１１６】
不一致情報集計部２１ｄは座標（ｉ＋ｍ、ｊ＋ｎ）の劣化フラグの値を不一致情報テーブル７０から取得する（ステップＳ１５０５）。不一致情報集計部２１ｄは取得した劣化フラグの値がｔｒｕｅであるか否かを判断し（ステップＳ１５０６）、劣化フラグの値がｔｒｕｅである場合（ステップＳ１５０６でＹｅｓ）、不一致情報集計部２１ｄはカウンタＣに１を加える（ステップＳ１５０７）。一方、劣化フラグの値がｔｒｕｅでない場合（ステップＳ１５０６でＮｏ）、すなわちｆａｌｓｅの場合、ステップＳ１５０８へ進む。
【０１１７】
不一致情報集計部２１ｄは、ループ４のカウンタｎのカウントアップを行い（ステップＳ１５０８）、ループ４のループ条件を満たす間は上記処理を繰り返す。一方、ループ４のループ条件を満たさなくなった場合には、不一致情報集計部２１ｄはループ３のカウンタｍのカウントアップを行い（ステップＳ１５０９）、ループ３のループ条件を満たす間は上記処理を繰り返す。一方、ループ３のループ条件を満たさなくなった場合には、不一致情報集計部２１ｄは印鑑劣化判定用カウンタＣが劣化判定閾値Ｔｒより小さいか否かを判断する（ステップＳ１５１０）。すなわち、後述するように、印鑑劣化判定用カウンタＣの値に基づいて印鑑が劣化しているか否かを判定する。
【０１１８】
印鑑劣化判定用カウンタＣが劣化判定閾値Ｔｒより小さい場合（ステップＳ１５１０でＹｅｓ）、不一致情報集計部２１ｄはループ２のカウンタｊのカウントアップを行い（ステップＳ１５１１）、ループ２のループ条件を満たす間は上記処理を繰り返す。ここでのカウントアップは次のグリッドについての判定を行うためグリッド幅ｌｇを加える。以下のｉのカウントアップについても同様である。
【０１１９】
一方、ループ２のループ条件を満たさなくなった場合には、不一致情報集計部２１ｄはループ１のカウンタiのカウントアップを行い（ステップＳ１５１２）、ループ１のループ条件を満たす間は上記処理を繰り返す。一方、ループ１のループ条件を満たさなくなった場合には、不一致情報集計部２１ｄは印鑑劣化フラグにｆａｌｓｅを設定し（ステップＳ１５１３）、印鑑劣化判定処理を終了する。すなわち、印鑑劣化判定用カウンタＣの値に基づいて印鑑が劣化しているか否かを判定する。
【０１２０】
一方、印鑑劣化判定用カウンタＣが劣化判定閾値Ｔｒより小さくない場合（ステップＳ１５１０でＮｏ）、不一致情報集計部２１ｄは印鑑劣化フラグにｔｒｕｅを設定し（ステップＳ１５１４）、印鑑劣化判定処理を終了する。
【０１２１】
次に、印鑑劣化注意喚起画像生成処理のサブルーチンについて図１７を用いて説明する。
【０１２２】
印鑑劣化注意喚起画像生成部２１ｅは、印鑑の劣化を視覚的にオペレータに伝えるための印鑑劣化注意喚起画像を生成するため、すべての座標情報及び不一致情報を不一致情報テーブル７０から取得する（ステップＳ１７０１）。印鑑劣化注意喚起画像生成部２１ｅは、各座標（Ｘ座標、Ｙ座標）に対応する不一致情報の値をＺ座標としてプロット（３次元プロット）する（ステップＳ１７０２）。すなわち、印鑑劣化注意喚起画像生成部２１ｅは、画素ごとに蓄積した蓄積値に基づいて印鑑劣化注意喚起画像を生成する。印鑑劣化注意喚起画像生成部２１ｅは、プロットした画像を印鑑劣化注意喚起画像として印影画像管理テーブル４０に格納する（ステップＳ１７０３）。なお、印鑑劣化注意喚起画像生成部２１ｅは、印鑑劣化注意喚起画像の表示要求に基づいて、格納された印鑑劣化注意喚起画像を表示装置５へ表示させる。
【０１２３】
次に、実施の形態における印鑑劣化判定プログラムを実装する印影照合装置２１を実現するためのハードウェア構成の一例について図１９を用いて説明する。
【０１２４】
ハードウェア構成は、例えば、ＣＰＵ１９１、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）１９２、ＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）１９３、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）１９４、入力装置１９５、出力装置１９６、通信インタフェース（Ｉ／Ｆ）１９７、バス１９８を備えている。ＣＰＵ１９１、ＨＤＤ１９２、ＲＡＭ１９３、ＲＯＭ１９４、入力装置１９５、出力装置１９６、通信インタフェース（Ｉ／Ｆ）１９７は、例えば、バス１９８を介して互いに接続されている。
【０１２５】
ＣＰＵ１９１は、バス１９８を介して、ＨＤＤ１９２などに格納される印影照合装置２１の各種処理を行うためのプログラム（例えば、印鑑劣化判定プログラムなど）を読み込み、読み込んだプログラムをＲＡＭ１９３に一時的に格納し、そのプログラムにしたがって各種処理を行う。ＣＰＵ１９１は、主として、上述した印影多値画像取得部２１ａ、印影画像重ね合わせ処理部２１ｂ、印影照合画像生成部２１ｃ、不一致情報集計部２１ｄ、印鑑劣化注意喚起画像生成部２１ｅとして機能する。
【０１２６】
ＨＤＤ１９２には、印影照合装置２１の各種処理を行うためのアプリケーションプログラムや、印影照合装置２１の処理に必要なデータなどが格納される。ＨＤＤ１９２は、主として記憶部２１ｆとして機能する。
【０１２７】
ＲＡＭ１９３は、揮発性メモリであって、ＣＰＵ１９１に実行させるためのＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ）プログラムやアプリケーションプログラムの一部が一時的に格納される。また、ＲＡＭ１９３には、ＣＰＵ１９１による処理に必要な各種データが格納される。
【０１２８】
ＲＯＭ１９４は、不揮発性メモリであって、ブートプログラムやＢＩＯＳ（Ｂａｓｉｃ Ｉｎｐｕｔ／Ｏｕｔｐｕｔ Ｓｙｓｔｅｍ）などのプログラムを記憶する。
【０１２９】
入力装置１９５は、不図示のキーボードやマウスなどを介して入力される口座情報などを受け付けるものである。
【０１３０】
出力装置１９６は、表示装置５と接続可能であって、表示装置５に表示させる情報を生成するものである。
【０１３１】
通信インタフェース（Ｉ／Ｆ）１９７は、外部（画像読取装置３や印影データベース４など）とデータの送受信を行うものである。
【０１３２】
バス１９８は、各装置間の制御信号、データ信号などの授受を媒介する経路である。
上述したような印影照合装置（印鑑劣化判定プログラム）によれば、画素に着目して印鑑の欠けなどを検出するため、印鑑のどの位置にどのような問題があるかを判定できる。これにより、オペレータに登録印影の再登録を促すことを可能とする。また、印鑑の劣化だけでなく、微細な印鑑の偽造(欠け、目詰まりなど)を検出することも可能である。
【０１３３】
なお、上述した実施の形態では、印影照合装置２１の主な処理をＣＰＵによるソフトウェア処理によって実行するものとして説明したが、この処理の全部又は一部をハードウェアによって実現するようにしてもよい。
【０１３４】
また、上述した実施の形態は、上述したものに限定されるものではなく、実施の形態の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることができる。
【符号の説明】
【０１３５】
１  印鑑照合システム
２  印影制御装置
３  画像読取装置
４  印影データベース
５  表示装置
２０  印影検索装置
２１  印影照合装置
２１ａ  印影多値画像取得部
２１ｂ  印影画像重ね合わせ処理部
２１ｃ  印影照合画像生成部
２１ｄ  不一致情報集計部
２１ｅ  印鑑劣化注意喚起画像生成部
２１ｆ  記憶部
４０  印影画像管理テーブル
５０  照合結果情報テーブル
６０  照合結果画素管理テーブル
７０  不一致情報テーブル
８０  動作管理テーブル
１２００、１２０１、１２０２、１２０３  画素
１６００、１６０１、１６０２  グリッド
１８００、１８０１、１８０２  劣化箇所確認アイコン
１８０３  ＯＫアイコン
１９１  ＣＰＵ
１９２  ＨＤＤ
１９３  ＲＡＭ
１９４  ＲＯＭ
１９５  入力装置
１９６  出力装置
１９７  通信インタフェース
１９８  バス
【図１】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１Ａ】
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【図１１Ｂ】
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【図１２】
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【図１３Ａ】
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【図１３Ｂ】
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【図１４Ａ】
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【図１４Ｂ】
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【図１５Ａ】
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【図１５Ｂ】
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【図１６Ａ】
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【図１６Ｂ】
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【図１７】
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【図１８Ａ】
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【図１８Ｂ】
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【図１８Ｃ】
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【図１９】
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