(57)【要約】      （修正有）【課題】光ディスクを直接入手できない場合でも、個々の光ディスクの状態等についての情報を入手する光ディスク装置を提供する。【解決手段】光ディスク装置は、光ディスクへ光学的にアクセスする光ディスクドライブユニットが、光ディスクへ光学的にアクセスした際のアクセス結果と、光ディスク上でのアクセス位置（欠陥位置）の情報とを取得する制御部と、制御部が取得した情報を保存する記憶部と、を備える。【選択図】図２
2018147550.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクへ光学的にアクセスする光ディスクドライブユニットが、前記光ディスクへ光学的にアクセスした際のアクセス結果と、当該光ディスク上でのアクセス位置の情報とを取得する制御部と、
前記制御部が取得した情報を保存する記憶部と、
を備える光ディスク装置。
【請求項２】
前記制御部は、さらに前記光ディスクドライブユニットに挿入された光ディスクを識別する光ディスク識別子の情報も取得する、
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記光ディスクは、複数の光ディスクを組としてマガジンに収納されている複数の光ディスクの一部であり、
前記制御部は、前記光ディスクが収納されているマガジンを識別するマガジン識別子の情報と、前記光ディスクが前記マガジン内で収納されている位置を示す光ディスク収納位置の情報と、をさらに取得する、
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記マガジンが格納されるマガジンストッカー内での位置を示すマガジン格納位置の情報をさらに取得する、
請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記光ディスクの代替領域残量の情報を、さらに取得する、
請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記アクセス位置の情報は、前記光ディスクにおける記録面の位置を示す記録面情報、記録層の位置を示す記録層情報、トラック位置を示すトラック番号、セクタ位置を示すセクタ番号、を含む情報により構成される、
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
前記制御部は、前記光ディスクのあるトラックへの光学的アクセスにおいてエラーが生じた際には、当該トラックから所定数だけ隣接するトラックについても光学的にアクセスし、そのアクセス結果をさらに取得する、
請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
前記制御部は、前記光ディスクのある記録層への光学的にアクセスにおいてエラーが生じた際には、当該記録層に隣接する別の層への光学的にアクセスし、そのアクセス結果をさらに取得する、
請求項１または７に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は光ディスクへ情報を記録する光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクへの情報の記録、光ディスクからの情報の読み出しは一般に光ディスク装置を用いて行われる。その際、光ディスクの情報記録面に埃や傷等が付着すると、情報の書込みや読み出しが正常に行われない可能性がある。
【０００３】
特許文献１から３には、光ディスクの記録面に付着した埃や傷等について、その位置や形状をわかりやすく表示する技術が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−２６２６２４号公報
【特許文献２】特開２００８−２３４６９５号公報
【特許文献３】特開平１０−０２７４４８号公報
【発明の概要】
【０００５】
上記に示した先行技術文献では、問題となる光ディスクを入手することで当該光ディスクを解析し、記録面に付着した埃や傷等の形状をわかりやすく表示することを可能とするものである。
【０００６】
しかし、産業的な利用面において、分析対象となる光ディスクを必ずしも入手できるとは限らない。例えば、光ディスクに記録されている情報の機密を理由として、第三者となる分析者に光ディスクが提供されないケースが考えられる。
【０００７】
本開示では上記のような課題を踏まえ、記録媒体としての光ディスクを直接入手できない場合でも、個々の光ディスクの状態等についての情報を入手することを目的とする。
【０００８】
本開示の一態様における光ディスク装置は、光ディスクへ光学的にアクセスする光ディスクドライブユニットが、光ディスクへ光学的にアクセスした際のアクセス結果と、光ディスク上でのアクセス位置の情報とを取得する制御部と、制御部が取得した情報を保存する記憶部と、を備える。
【０００９】
本開示の一態様により、分析対象となる光ディスクを入手できない場合でも、光ディスクの状態等についての情報を入手することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】光ディスク装置の構成を示す図
【図２】光ディスク装置における制御ユニットのブロック図
【図３】マガジンの構成を示す図
【図４】光ディスクの構成層を示す図
【図５】記録面に傷を有する光ディスクの例を示す図
【図６】記憶部に保持される情報例を示す図
【図７】光ディスク装置と分析装置との接続例を示す図
【図８】分析装置が表示する出力例を示す図
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、適宜図面を参照しながら、実施の形態を詳細に説明する。但し、必要以上に詳細な説明は省略する場合がある。例えば、既によく知られた事項の詳細説明や実質的に同一の構成に対する重複説明を省略する場合がある。これは、以下の説明が不必要に冗長になるのを避け、当業者の理解を容易にするためである。
【００１２】
なお、発明者（ら）は、当業者が本開示を十分に理解するために添付図面および以下の説明を提供するのであって、これらによって特許請求の範囲に記載の主題を限定することを意図するものではない。
【００１３】
（実施の形態１）
図１は光ディスク装置の構成を示す図である。なお、本実施形態においては、図１の左下側を「装置前方」といい、図１の右上側を「装置後方」という。
【００１４】
本実施形態に係る光ディスク装置１００は、２つのマガジンストッカー１０１を備えている。２つのマガジンストッカー１０１は、底シャシー１０８上において、装置幅方向Ｙに互いに対向するように設けられている。なお、図１では、一方（手前側）のマガジンストッカー１０１の図示を省略している。また、図１では、マガジンストッカー１０１の天板及び仕切板の図示を省略している。
【００１５】
各マガジンストッカー１０１には、複数のマガジン１０２が収納されている。各マガジン１０２は、複数枚（例えば、１２枚）の光ディスクを収納するマガジントレイ１１１を有している。２つのマガジンストッカー１０１の間には、複数のマガジン１０２の中から選択された１つのマガジン１０２からマガジントレイ１１１を引き出し、当該マガジントレイ１１１を保持するピッカー１０３が設けられている。
【００１６】
ピッカー１０３は、当該保持したマガジントレイ１１１を、装置後方に配置された複数の光ディスクドライブユニット１０４の近傍まで搬送するように構成されている。ピッカー１０３には、マガジントレイ１１１から複数枚の光ディスクを押し出すリフター１０５が一体的に設けられている。
【００１７】
光ディスクドライブユニット１０４は、光ディスクに対して情報の記録又は再生を行う装置である。また、光ディスクドライブユニット１０４は、トレイを用いて光ディスクをローディングするトレイ方式の光ディスクドライブユニットである。複数の光ディスクドライブユニット１０４は、装置高さ方向Ｚに積層され、装置後方において各マガジンストッカー１０１に隣接して配置されている。一方のマガジンストッカー１０１に隣接して積層配置された複数の光ディスクドライブユニット１０４と、他方のマガジンストッカー１０１に隣接して積層配置された複数の光ディスクドライブユニット１０４との間には、キャリア１０６が設けられている。
【００１８】
なお、図１の例では、光ディスク装置１００は、光ディスクドライブユニット１０４を片側に６台ずつ備え、全体として１２台の光ディスクドライブユニット１０４備えるものとして以下説明する。
【００１９】
キャリア１０６は、リフター１０５により押し出された複数枚の光ディスクを積層状態で保持し、任意の光ディスクドライブユニット１０４から排出されたトレイの上方で、保持した複数枚の光ディスクから１枚の光ディスクを分離し、分離した1枚の光ディスクをトレイに載置するように構成されている。
【００２０】
キャリア１０６及び複数の光ディスクドライブユニット１０４より更に装置後方には、制御ユニット１０７が設けられている。図２は、光ディスク装置１００内の制御ユニット１０７のブロック図である。制御ユニット１０７は、ピッカー１０３、光ディスクドライブユニット１０４、キャリア１０６などの各装置の動作（モータ等）を制御する制御部１２０と電源（図示せず）を備える。制御部１２０は、ＣＰＵまたはＭＰＵを含み、制御プログラムを実行することで所定の機能を実現する。制御ユニット１０７は、さらに、各種の情報を保持する記憶部１２１を備える。記憶部１２１は、揮発性あるいは不揮発性のメモリや、ＨＤＤ等の記録モジュールによって実現される。
【００２１】
光ディスクドライブユニット１０４は、光ディスクの埃や傷等を検出する。制御部１２０は、光ディスクの埃や傷等の情報を光ディスクドライブユニット１０４から取得し、記憶部１２１に保持する。
【００２２】
制御ユニット１０７は、例えば、データを管理するホストコンピュータ、あるいは本実施の形態で説明する光ディスクの分析装置に接続されている。ホストコンピュータは、オペレータの指示に基づき、指定のマガジン１０２へのデータの書き込み又は読み出し等の動作を行うように制御ユニット１０７に指令を送る。分析装置は、光ディスク装置１００から収集した情報に基づいて光ディスクの記録面等に付着した埃や傷等を分析するとともにその状態を利用者にわかりやすく表示する。制御ユニット１０７は、ホストコンピュータや分析装置等の指令に従い、ピッカー１０３、光ディスクドライブユニット１０４、キャリア１０６などの各装置の動作を制御する。
【００２３】
マガジンストッカー１０１は、ピッカー１０３を摺動自在にガイドするガイドレール１０９に沿って設けられている。ガイドレール１０９は、装置奥行き方向Ｘ（マガジンストッカー１０１の長手方向）に延在するように設けられている。マガジンストッカー１０１の装置前方側の側面には把手１１０が設けられている。把手１１０を引くことにより、マガジンストッカー１０１を装置前方に移動させることができる。各マガジンストッカー１０１は、装置幅方向Ｙから見て格子状に形成された仕切板（図示せず）を備えている。仕切板に囲まれたそれぞれの空間にマガジン１０２が収納されている。
【００２４】
ピッカー１０３は、走行ベース１１２を備えている。走行ベース１１２の一方のマガジンストッカー１０１側には、ガイドレール１０９を摺動自在に移動する台車（図示せず）が取り付けられている。また、走行ベース１１２の他方のマガジンストッカー１０１側には、ローラ（図示せず）が取り付けられている。
【００２５】
回転台１１３には、装置高さ方向Ｚに延在し且つ互いに対向するように一対の昇降レール１１４が設けられている。一対の昇降レール１１４の間には、昇降台１１５が設けられている。また、回転台１１３には、昇降台１１５を昇降させる駆動力を発生させる昇降台モータ（図示せず）が設けられている。
【００２６】
昇降台１１５には、マガジントレイ１１１の係合凹部に係合可能な一対のフック（図示せず）の開閉動作を行う機構を有すると共に前後へ移動させるチャック１１６とが設けられている。一対の昇降レール１１４は、Ｕ字状のアングル１１７の両側面に取り付けられている。
【００２７】
入出力デバイス１１８は、光ディスク装置１００を利用する利用者が光ディスク装置１００へ指示をする、あるいは光ディスク装置１００からの出力を確認するためのインタフェースである。具体的には光ディスク装置１００へ指示をするデバイスとしてキーボードやマウスが、光ディスク装置１００からの出力を確認するためのデバイスとしてディスプレイ等が代表的な例として示される。
【００２８】
本実施の形態では、利用者が光ディスク装置１００へのインタフェースとして機能するものであればデバイスを特定するものではなく、上記以外に例示したデバイスを利用するものであってもよい。光ディスク装置１００へ指示をするデバイスは入力部として捉えることができる。また、光ディスク装置１００からの出力を確認するためのデバイスは表示部として捉えることができる。
【００２９】
上記の説明では、ピッカー１０３、リフター１０５、キャリア１０６、ガイドレール１０９、走行ベース１１２、回転台１１３、昇降レール１１４、昇降台１１５、チャック１１６等を用いてマガジンストッカー１０１に格納されたマガジン１０２から光ディスクドライブユニット１０４へ光ディスクが搬送される具体例を説明した。しかし、本開示の内容はこれに限定されるものではない。他の方法でマガジン１０２から光ディスクドライブユニット１０４へ搬送されるものであってもよい。
【００３０】
図３はマガジン１０２の構成を示す図である。複数の光ディスク３００が厚み方向に相互に積層されて、積層された複数の光ディスク２０４を形成する。積層された複数の光ディスク２０４は、その状態でマガジントレイ１１１に格納される。積層される光ディスク３００の数は、いずれの枚数であってもよい。マガジントレイ１１１は積層された複数の光ディスク２０４の中心穴に挿入される芯棒２０２を有する。芯棒２０２は、積層された複数の光ディスク２０４を保持するとともに、それぞれの光ディスク３００が面方向に移動することを抑止する。積層された複数の光ディスク２０４を保持したマガジントレイ１１１は、トレイホルダ２０３に収納される。マガジントレイ１１１とトレイホルダ２０３との両者によりマガジン１０２が構成される。
【００３１】
図４は光ディスク３００の構成層を示す図である。光ディスク３００は、基板層３０１と、Ａ面側の記録層と、Ｂ面側の記録層と、の３つの主要な層から構成される。基板層３０１は、光ディスク３００のベースとなる層であり、光ディスク３００全体の機械的強度を確保し、Ａ面側およびＢ面側の記録層を支持する。
【００３２】
Ａ面側の記録層およびＢ面側の記録層は、いずれも光ディスク３００において情報を記録する記録層である。Ａ面側の記録層およびＢ面側の記録層ともそれぞれ記録層を３層有している。Ａ面側には、基板層３０１側からＬ０層３０２、Ｌ１層３０３、Ｌ２層３０４と、がある。Ｂ面側には、同様に基板層３０１側からＬ０層３０５と、Ｌ１層３０６と、Ｌ２層３０７とがある。
【００３３】
なお、本実施の形態ではＡ面側、Ｂ面側の記録層ともそれぞれ３層の記録層を保持する場合を例として説明するが、本開示の内容はこれに限定されるものではない。４層以上の記録層を持つものであってもよいし、２層以下の記録層の場合でもよい。また、上記の説明では光ディスク３００がＡ面側とＢ面側との両方に記録層を持つ場合を例として説明したが、本開示の内容はこれに限定されない。片側のみに記録層を持つ光ディスク３００であってもよい。さらに、Ａ面側とＢ面側の記録層の数が異なるものであってもよい。
【００３４】
なお、「Ａ面」「Ｂ面」という呼称は説明のために便宜上使用しているものでありこの呼称に限定されるものではない。基板層３０１を中心に光ディスク３００の厚み方向の両側に記録層を持ち、それぞれの面を区別するものであればいずれの識別手段であってもよい。
【００３５】
光ディスク３００は、Ｌ０層３０２、Ｌ１層３０３、Ｌ２層３０４、Ｌ０層３０５、Ｌ１層３０６及びＬ２層３０７において、それぞれの記録層に情報を記録するための案内溝を有している。この案内溝を形成した場合、Ａ面側、Ｂ面側ともにレーザ光が入射される方から近い側の面を「グルーブ」と呼び、遠い側の面を「ランド」と呼ぶ。グルーブとランドとの両方に情報を記録することで光ディスク３００への情報の記録密度を高めることができる。
【００３６】
図５は記録面に傷を有する光ディスクの例を示す図である。図５では、光ディスク３００のＢ面側の最も外側にあるＬ２層３０７に埃または傷等４０１がある場合を例示している。
【００３７】
情報が記録される記録層に傷や埃等が付着していると、光ディスク装置１００が当該部分への情報の記録や情報の読み出しを行うことができない。より具体的には、光ディスク３００へ情報を記録するためのビーム光が、埃または傷等４０１により光ディスク３００の所定の記録層へ十分に照射されないため記録マークが正しく形成されない。あるいは、光ディスク３００から情報を読み出すためのビーム光が、埃または傷等４０１により想定通りに反射されず十分に反射光を得ることができない。このようなことにより情報の記録または読み出しができなくなる。
【００３８】
光ディスクドライブユニット１０４は、挿入された光ディスク３００へレーザ光を照射する。光ディスク３００上で反射されたレーザ光は光ディスクドライブユニット１０４の受光部で電気信号に変換される。この電気信号から生成されたＲＦ信号をベースとしてｉＭＬＳＥ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ−Ｍａｘｉｍｕｍ  Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ  Ｓｅｑｕｅｎｃｅ  Ｅｓｔｉｍａｔｉｏｎ）等の評価値を利用することができる。評価値は光ディスク３００上に埃または傷等４０１等がある部分で影響を受ける。この評価値に基づいて光ディスク３００の状態を判断することができる。
【００３９】
なお埃または傷等４０１の検出として上記のｉＭＬＳＥ以外の方法を利用してもよい。例えば、ＳＥＲ（Ｓｙｍｂｏｌ  Ｅｒｒｏｒ  Ｒａｔｅ）をベースとした評価値を用いるものであってもよい。また、光ディスク３００へ光学的にアクセスするため制御上取得しているフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号等のサーボ信号に基づいた評価値やＢＤＯ（Ｂｌａｃｋ  Ｄｏｔ  Ｏｕｔ）等の評価方法を利用するものであってもよい。本開示は、具体的な評価方法について新たな技術を開示するものではない。すでに公知となっている各種の評価方法を利用して本開示の内容を実現することができる。
【００４０】
異なる複数の評価方法を利用することで、光ディスク３００で生じるエラーの種類を識別することが可能となる。例えば、フォーカスエラー信号や、トラッキングエラー信号の評価値を利用することで、ピットやウォブル等の光ディスク３００に予め形成されているアドレス信号の取得ができないことがわかる。また、フォーカスエラー信号や、トラッキングエラー信号は取得できるものの、他の評価値が悪い場合には、光ディスク上に構成される信号のマークが適切に構成されていない、あるいはマークが形成される記録層の品質が低い可能性があること等がわかる。すなわち、これらの複数の評価方法による評価値を用いることで光ディスク３００に生じているエラー等の種別の概略を取得することも可能である。
【００４１】
また、光ディスク３００をどの時点で評価するかについては本開示で特定するものではないが幾つかの評価タイミングがある。例えば、データがまだ記録されていない新しい光ディスク３００について、データ記録前に記録面全体を一度評価（検査）するものであってもよい。また、光ディスク３００へデータを記録しているとき、あるいは、光ディスク３００からデータ読み出しているときに、記録エラーや再生エラーが発生した場合にその部分について所定の検査方法で評価値を取得するものであってもよい。また別の例では、光ディスク装置１００に接続された外部のホスト装置から指示を受けて、光ディスク３００を光ディスクドライブユニット１０４へ挿入して検査をするものであってもよい。
【００４２】
例えば、未記録の新しい光ディスク３００が挿入された場合、光ディスクドライブユニット１０４は光ディスク３００へデータ等を記録する前に、すべての記録領域を一度評価する。このことで、光ディスク３００に付着している埃や傷等が光ディスク３００の納品前から存在していたものか、納品後に発生したものか等を判別することができる。また、光ディスク３００へのデータ記録時やデータ読み出し時のエラー発生時に光ディスク３００を評価することで、光ディスク３００納品後のどの段階で埃や傷等が発生するかを識別することができる。また、ホストコンピュータから指示を受けての光ディスク３００の検査は、任意の必要なタイミングで光ディスク３００の評価を可能にする。すなわち、光ディスク３００の検査を様々なタイミングで実施することで、光ディスク３００のエラーが生じたタイミングを識別することが可能となる。
【００４３】
図６は、記憶部１２１に保持される情報例を示す図である。図６に例示する情報は、制御部１２０が光ディスクドライブユニット１０４から取得した光ディスク３００へのアクセス結果等に関する情報である。制御部１２０は、これらの情報を記憶部１２１に保持する。以下に、記憶部１２１に保持される情報の種類やその内容例について説明する。
【００４４】
なお本明細書において「欠陥」とは、光ディスク３００へ情報を記録するためのマークを正常に形成できない、あるいは光ディスク３００から情報を読み出すために記録されたマークを正常に識別できない、といった光ディスク３００への物理的なアクセスが正常にできないケースを意味する。光ディスク３００の技術分野におけるＥＣＣ（ＥｒｒｏｒＣｏｒｒｅｃｔｉｎｇ  Ｃｏｄｅ）を利用したクラスタ単位でデータが正常に記録・読み出しができない場合の「欠陥クラスタ」等と称される「欠陥」とは意味が異なる。本明細書においてＥＣＣ等を利用した所定クラスタ等の単位で「欠陥」を意図する場合は、別途「欠陥クラスタ」と明示的に記載して区別する。
【００４５】
情報取得日時５０１は、制御部１２０または光ディスクドライブユニット１０４が埃または傷等４０１の評価を実施した際の日付、時間の情報である。
【００４６】
情報取得日時５０１を備えることにより、情報の解析者は具体的にいつ光ディスク３００に対して評価が実施されたかを特定することが可能となる。
【００４７】
光ディスク装置識別子５０２は、光ディスク３００に対する評価を実施した光ディスクドライブユニット１０４を備える光ディスク装置１００を識別するための情報である。光ディスク装置１００を識別するための情報とは、例えば光ディスク装置１００の製品番号とシリアル番号の両番号から構成させるものである。
【００４８】
光ディスク装置識別子５０２を備えることにより、情報の解析者は具体的にどの光ディスク装置１００で光ディスク３００が評価されたかを特定することが可能となる。
【００４９】
マガジン種別５０３は、評価が実施された光ディスク３００を格納していたマガジン１０２の種類を識別するための情報である。具体的にはマガジン１０２の製品番号等をこの情報として利用することができる。
【００５０】
マガジン種別５０３によって保持できる光ディスク３００の最大枚数を特定することができる。また、この情報によりどの種別のマガジン１０２に評価が実施された光ディスク３００が収納されていたかを特定することが可能となる。
【００５１】
マガジン識別子５０４は、このマガジン１０２を識別するための情報である。この情報としては例えばマガジン１０２それぞれのシリアル番号等を利用することができる。
【００５２】
上記のマガジン種別５０３とマガジン識別子５０４とを利用することで、評価が実施された光ディスク３００が収納されているマガジン１０２を一意に特定することが可能となる。
【００５３】
マガジン格納位置５０５は、評価が実施された光ディスク３００を格納していたマガジン１０２が、例えば図１等で示したマガジンストッカー１０１のどこに格納されているかを示す情報である。
【００５４】
これにより、評価が実施された光ディスク３００を格納していたマガジン１０２が実際に格納されているマガジンストッカー１０１の位置を特定することができる。
【００５５】
光ディスク枚数５０６は、評価が実施された光ディスク３００と同じマガジン１０２に実際に収納されている光ディスク３００の枚数を示す情報である。この情報は例えばキャリア１０６がマガジン１０２から搬送した光ディスク３００の枚数を算出する、あるいは、マガジン１０２個々に貼付されマガジン１０２の各種情報を保持しているＲＦＩＤ（図示せず）をピッカー１０３が読み出すことで取得可能である。
【００５６】
光ディスク枚数５０６を備えることにより、情報の解析者は実際にマガジン１０２にどれだけの光ディスク３００が収納されていたかと特定することが可能となる。
【００５７】
以下に説明する図６の光ディスク種別５０７〜ＮｏＹ欠陥位置(論理位置)５１７は、マガジン１０２に収納されている一枚目の光ディスク３００に関する情報である。
【００５８】
光ディスク種別５０７は、一枚目の光ディスク３００の種別を示す情報である。製品番号等がある場合にはそれを当該情報として利用することがある。光ディスク３００には、その種別によって片面記録／両面記録等、記録層の数、記録方式（例えば、ランドへの記録、グルーブへの記録、ランド・グルーブ両方への記録等）、記録容量等が異なる。光ディスク種別５０７はこれらの種別を識別するための情報である。
【００５９】
光ディスク種別５０７を備えることにより、情報の解析者は評価が実施された光ディスク３００の種別を特定することが可能となる。
【００６０】
光ディスク識別子５０８は、個々の光ディスク３００を識別する情報である。光ディスク３００のシリアル番号を、例えば本情報として使用することができる。光ディスク３００のシリアル番号等は、一般的に光ディスク３００のＢＣＡ（Ｂｕｒｓｔ  Ｃｕｔｔｉｎｇ  Ａｒｅａ）に記録されているので、光ディスクドライブユニット１０４がこの領域を読み出すことで取得可能である。
【００６１】
光ディスク識別子５０８を備えることにより、情報の解析者は評価が実施された光ディスク３００の個体を特定することが可能となる。
【００６２】
挿入ドライブ識別子５０９は、評価が実施された光ディスク３００が挿入された光ディスクドライブユニット１０４を特定する情報である。図１で例示したような光ディスク装置１００では複数の光ディスクドライブユニット１０４を備えている。
【００６３】
挿入ドライブ識別子５０９により、光ディスク装置１００が複数の光ディスクドライブユニット１０４を備えている場合等に、いずれの光ディスクドライブユニット１０４が光ディスク３００の評価を実施したかを特定することが可能となる。
【００６４】
欠陥数５１０は、同一の光ディスク３００で検出された欠陥の数を示す情報である。光ディスク３００が挿入された光ディスクドライブユニット１０４が、当該光ディスク３００において検出した欠陥の数を示す情報である。光ディスクドライブユニット１０４は、この欠陥数５１０の情報を光ディスク３００のすべての記録領域を検査することで特定してもよい。また、別の方法として光ディスクドライブユニット１０４は、制御部１２０等から指示のあった記録領域へのアクセスを実行する際に検出できた欠陥のみの合計数を欠陥数５１０として特定するものであってもよい。
【００６５】
欠陥数５１０を備えることにより、情報の解析者は一つの光ディスク３００に幾つの欠陥が認められたかを特定することが可能となる。
【００６６】
一般に光ディスク３００はその記録領域に欠陥があった場合、その欠陥があった領域へ本来記録すべきであった情報は別の記録領域へ代替的に記録される。この代替的に情報が記録される領域は代替領域といわれる。代替領域は、光ディスク３００に事前に用意されている。代替領域残量５１１は、予め設けられている代替領域の使用可能な残量を示す情報である。
【００６７】
代替領域残量５１１を備えることにより、情報の解析者は光ディスク３００に設けられた代替領域の残量を把握することができる。代替領域残量５１１は、光ディスク３００にあとどれだけの欠陥に対応できるかを示している。
【００６８】
Ｎｏ１欠陥位置(物理位置)５１２〜ＮｏＹ欠陥位置(論理位置)５１７は、マガジン１０２に収納されている一枚目の光ディスク３００上に認められた欠陥数５１０で示されるＹ個の欠陥それぞれについての詳細な情報を示す。
【００６９】
Ｎｏ１欠陥位置(物理位置)５１２は、一枚目の光ディスク３００で検出された一つ目の欠陥についての光ディスク３００上での物理的な位置を示す情報である。物理的な位置を示す情報として、例えば、光ディスク３００のそれぞれの記録領域それぞれの記録位置に一意に設定されている物理アドレスを利用するものであってもよい。物理アドレスが特定されれば、当該物理アドレスに対応する光ディスク３００上の位置を特定することができる。
【００７０】
また、物理アドレス以外でも、Ａ面側あるいはＢ面側のいずれの記録面かを示す記録面情報、Ｌ０〜Ｌ２層のいずれの記録層かを示す記録層情報、ランドかグルーブかを特定する溝情報、トラック位置を示す半径情報、セクタ位置を示す位相角度情報、など物理的な構成情報を利用した他の位置特定を利用するものでもよい。これらの情報は、光ディスクドライブユニット１０４が光ディスク３００へアクセスする際に光ピックアップ等のモジュールを制御するために利用している情報である。
【００７１】
Ｎｏ１欠陥位置(物理位置)５１２を備えることにより、情報の解析者は光ディスク３００に生じた欠陥の位置を特定することができる。
【００７２】
Ｎｏ１欠陥位置(論理位置)５１３は、Ｎｏ１欠陥位置(物理位置)５１２と同様に一枚目の光ディスク３００で検出された一つ目の欠陥についての光ディスク３００上での位置を示す情報である。Ｎｏ１欠陥位置(論理位置)５１３がＮｏ１欠陥位置(物理位置)５１２と異なるのは、位置情報の表し方が論理的な位置情報として示されることである。
【００７３】
光ディスク３００の記録領域の位置情報を論理的な位置情報として示す場合、光ディスク３００の記録領域を一つの連続した論理空間として捉え、その論理空間内で一意に割り当てられる論理アドレスおよび必要に応じて代替された領域の情報を利用する。これにより、光ディスク３００上での位置を特定する。
【００７４】
Ｎｏ１欠陥位置(論理位置)５１３を備えることにより、情報の解析者はＮｏ１欠陥位置(物理位置)５１２と同様に光ディスク３００に生じた欠陥の位置を特定することができる。
【００７５】
なお、本実施の形態では、Ｎｏ１欠陥位置(物理位置)５１２とＮｏ１欠陥位置(論理位置)５１３との両方を取得する場合を例として示しているが、本開示に記載の内容はこれに限定されるものではない。どちらか一方の情報のみを利用するものであってもよい。
【００７６】
上記の例では、欠陥のあった部分のみについて記録することを主目的としている。しかし、本開示の内容はこれに限定するものではない。例えば、あるグルーブトラックまたはランドトラックの一方のトラックで欠陥を検出した場合、当該トラックの半径方向に隣接する他方のランドトラックまたはグルーブトラックについても検査を行い、その検査結果の情報をあわせて記録しておくものであってもよい。
【００７７】
同様の考え方は、例えばＬ０層等において欠陥を検出した場合には、Ｌ０層での欠陥位置と実質的に同じ半径、位相角位置に該当する部分について、Ｌ１層、Ｌ２層等欠陥が存在した記録層よりもレーザ光の入射側に位置する記録層についても検査を行い、あわせてその検査結果の情報を記録するものであってもよい。
【００７８】
このように欠陥部分だけでなく、その欠陥の周辺部分等の構成上関連が高い部分もあわせて検査、記録をすることで分析をより詳細に実施することができる。
【００７９】
Ｎｏ２欠陥位置(物理位置)５１４やＮｏ２欠陥位置(論理位置)５１５は、Ｎｏ１欠陥位置(物理位置)５１２やＮｏ１欠陥位置(論理位置)５１３と同様にマガジン１０２に収納されている一枚目の光ディスク３００の２つ目の欠陥がある場合についてその位置情報を示すものである。詳細は、Ｎｏ１欠陥位置(物理位置)５１２やＮｏ１欠陥位置(論理位置)５１３と同様であるため説明を省略する。
【００８０】
欠陥数５１０で示されるＹ個目までについても、同様にそれぞれの欠陥位置を物理位置、論理位置を用いて示すことが可能である。
【００８１】
また、マガジン１０２に収納されている二枚目以降の光ディスク３００上について評価を実施した場合についても上記の光ディスク種別５０７〜ＮｏＹ欠陥位置(論理位置)５１７と同様の方法で情報を記録することができる。なお、一枚目、二枚目という序数は、例えば、マガジン１０２内の光ディスク３００の積層の順序に基づく。具体的には、マガジン１０２内に積層された光ディスク３００は、上から順に、それぞれ固有の通し番号を有する。これにより、光ディスク３００がマガジン１０２内のどの位置に収納されているかを特定することができる。
【００８２】
図６の例では、マガジン１０２のどの位置にそれぞれの光ディスク３００が収納されているかを示す光ディスク収納位置の情報は、記憶部１２１に記録されている複数の情報の関係から判別できる例を示した。しかし、本実施の形態はこの内容に限定するものではない。それぞれの光ディスク３００がマガジン１０２内のどの位置に収納されているかを示す光ディスク収納位置の情報が直接的に示されるものであってもよい。
【００８３】
図６では、マガジン１０２を管理単位としてそこに収納されている光ディスク３００について評価した情報を記録する方式を例示した。しかし本開示で記載する内容はこれに限定されるものではない。光ディスク３００の評価情報を、光ディスク３００を単位として記録するものであってもよい。その場合には、例えば、図７に示すような内容となる。図６と同様の項目については同じ符号を割り当て、詳細な説明を省略する。
【００８４】
図７に新たに含まれる情報としては、光ディスク格納位置６０５がある。光ディスク格納位置６０５は、評価が実施された光ディスク３００が光ディスク装置１００内で格納されている位置を示す情報である。この情報は、例えば評価が実施された光ディスク３００を格納するマガジン１０２の識別情報と、当該マガジン１０２のどの位置に光ディスク３００が格納されているかを示す位置情報と、さらにマガジンストッカー１０１のどこに当該マガジン１０２が収納されているかを示す位置情報と、で構成する方法がある。また、別の例としては、光ディスク装置１００内のすべての光ディスク３００にそれぞれの収納位置に対応する識別番号を一意に割り当てておき、その識別番号で格納位置を特定する方法もある。
【００８５】
記憶部１２１に記録、保存される情報は図６や図７に示される情報に限定されるものではない。例えば、代替領域残量５１１のように、最初に割り当てられている光ディスク３００の代替領域の大きさから代替される欠陥クラスタ等の数がわかれば、代替領域残量５１１に相当する情報は算出できる。このような情報を取得する場合には、必ずしも図６や図７等で示したすべての情報を記憶部１２１に記録、保存等する必要はない。他の情報に基づいて、同等の情報を算出できるものであれば、記憶部１２１に記録、保存等される情報に当該情報が含まれている必要はない。
【００８６】
また、図６や図７の例では評価が実施された光ディスク３００で検出された欠陥の位置等を記録する方法について説明したが、本開示に記載する内容はこれに限定されない。例えば、未記録の光ディスク３００について光ディスク３００の全体を検査した場合は、検査した領域のすべてで取得した評価値(例えば受光信号の大きさ等の光学的なアクセス結果等)をすべて記録しておくものであってもよい。このように検査した領域全体についての結果を記録することで、光ディスク３００全体としての状況を把握することが可能となる。
【００８７】
また、図６や図７の例では欠陥が生じた位置を直接的に記録する場合を例として説明したが、本開示に記載する内容はこれに限定されない。例えば、データを記録する記録領域の内、あらかじめ定められた所定の規則に従った特定領域を評価した際には、特定領域の先頭から順次取得した評価値を記録することで相対的にそれぞれの光ディスク３００上の位置を識別することができる。そのため、このようにそれぞれの位置を間接的に特定するものであってもよい。
【００８８】
ここで「あらかじめ定められた所定の規則にしたがった特定領域」とは、例えば基点となるｎ番目のトラックから、ｍトラック毎に間隔を開けたトラック等、である。すべての記録領域について評価すると処理時間が長くなる場合には、記録領域の中から一定の規則等に基づいて抽出される領域に限定して評価してもよい。
【００８９】
上記のような２つの例は、特に未記録の光ディスク３００が光ディスクドライブユニット１０４に挿入された際に、光ディスク３００のデータ記録領域全般を評価する際により有効である。
【００９０】
また、図６や図７の例では欠陥が生じた位置を記録する方法について説明したが、本開示に記載する内容はこれに限定されない。例えば、欠陥が生じた位置だけでなく、その欠陥位置での光学的なアクセス結果である評価値をともに記録しておいてもよい。これにより、その欠陥等の強弱等を識別することが可能となる。このようなアクセス結果としては、上述の各種評価値を採用することができる。具体的には、ＲＦ信号に基づいたｉＭＬＳＥ、ＳＥＲに基づいた評価値、フォーカスエラー信号またはトラッキングエラー信号等のサーボ信号に基づいた評価値、ＢＤＯ等の評価方法を利用した評価値、受光信号の大きさ、などである。１または複数の評価値がアクセス結果として記憶部１２１に記録されてもよい。
【００９１】
制御部１２０は、上記のとおり光ディスクドライブユニット１０４から取得した欠陥あるいは光ディスク３００へ光学的にアクセスしたアクセス結果等の情報を記憶部１２１に保存する。制御部１２０は、記憶部１２１に保存された情報を、当該情報を分析する分析装置へ送信するための処理を行う。ただしこの処理は、光ディスク装置１００が使用されている状況に応じて幾つかの方法がある。
【００９２】
光ディスク装置１００が、記憶部１２１に保存された情報を分析装置へ通信回線等を通じて電子的に送信することが可能な場合、制御部１２０は記憶部１２１に保存された情報を所定のフォーマット等に変換して、電子情報として指定された分析装置等へ情報を送信する。なお、この場合は必要に応じて情報を送信前に、光ディスク装置１００の表示部へ前記情報の送信に関する確認を求める旨の表示をしてもよい。
【００９３】
また、別の例として光ディスク装置１００が前記情報を分析する担当者へ通信回線等を通じて電子的に送信することができない場合、制御部１２０は、記憶部１２１に送信すべき情報が保存されたことを光ディスク装置１００の利用者へ表示部を介して通知することができる。制御部１２０は、記憶部１２１に保存された情報が第三者に容易に閲覧できないように暗号化処理や、情報量を低減させるために圧縮処理といわれる処理を施しておいてもよい。
【００９４】
暗号化処理や圧縮処理、その他所定の処理が行われた情報は、可搬可能な記憶媒体等へ複製等し、当該記憶媒体を分析装置へ接続することで情報を分析装置へ送る。この場合、光ディスク装置１００は所定の処理が行われた情報をこれらの記憶媒体へ出力する。
【００９５】
図８は分析装置が表示する出力例を示す図である。分析装置は、光ディスク装置１００から取得した情報に基づいて光ディスク３００の欠陥等をわかりやすく表示する。具体的には、光ディスク３００の形状をベースにそれぞれの欠陥位置や形状に応じた表示を行う。その際、欠陥の大きさや、発生したエラーの量、欠陥内容、に応じてそれぞれの表示の大きさや色を変えるものであってもよい。
【００９６】
また、本実施の形態で説明した光ディスク３００では両面に記録可能であってそれぞれの面には複数の記録層を備えている。そのため、分析装置の出力例でもそれぞれの記録面と記録層との位置関係がわかりやすくなるように、記録面、記録層ごとにそれぞれ独立して表示することが好ましい。図８の例では、横方向に同一の光ディスク３００における異なる記録面、記録層上に認められる欠陥を表示している。
【００９７】
また、検査対象となる光ディスク３００が複数の記録層を備えている場合、分析装置はそれぞれの記録層の位相角を自動的に調整するものであってもよい。たとえば、レーザ光が入射する最も近い側にあるＬ２層３０４、３０７に埃やごみ等が付着するとその内側にある他の記録層についても当該部分については欠陥を検出することがある。このような場合、分析装置は、図８等で結果を表示する際にそれぞれの記録層の位相関係（回転方向の位置関係）を調整して表示することが好ましい。このような調整は例えば特許文献１に記載の技術や、それぞれの記録層で検出された結果を図示した場合の欠陥形状をパターンマッチングさせることで調整が可能である。分析装置は、これらを利用者が調整できるように記録層毎の欠陥の表示を重ねて表示し、さらにそれぞれの記録層の表示角度を調整できる機能を備えるものであってもよい。
【００９８】
また、図８の例では縦方向に同一マガジン１０２に含まれる他の光ディスク３００についても同様に取得した情報からそれぞれの記録面、記録層における欠陥位置をマークしている。
【００９９】
分析装置がこのような表示を行うことで、マガジン単位で収納されている光ディスク３００についてのそれぞれの記録面、記録層における欠陥を把握しやすくなる。特に光ディスク３００の収納位置等と関連して埃や傷等がある場合に、このような表示方法は有用である。
【０１００】
例えば、同じマガジン１０２の隣接する位置に収納されている２つの光ディスク３００の隣り合う記録面において実質的に同じ位置に、類似するような形状の欠陥が検出等された場合には、当該２つの光ディスク３００に埃等が挟まっている可能性が高いと類推することが可能となる。
【０１０１】
なお、本実施の形態では制御部１２０は、評価を実施した光ディスク３００について光ディスクドライブユニット１０４から情報を取得し、記憶部１２１へ情報を保存するケースについて主に説明してきた。しかし本開示の内容はこれに限定されない。
【０１０２】
例えば、あるマガジン１０２が有する複数の光ディスク３００内の一つの光ディスク３００で欠陥等が発見されると、同じマガジン１０２に含まれる他の光ディスク３００についても評価し、その情報を取得するものであってもよい。この場合、他の光ディスク３００で欠陥が検出できなかった場合は、例えば図６で説明したそれぞれの光ディスク３００の欠陥数５１０を「０」とすることで当該光ディスク３００に欠陥がなかったことを明示することが可能となる。
【０１０３】
上記のようなケースは、特にマガジン１０２内の複数の光ディスク３００でＲＡＩＤ（Ｒｅｄｕｎｄａｎｔ  Ａｒｒａｙｓ  ｏｆ  Ｉｎｅｘｐｅｎｓｉｖｅ  Ｄｉｓｋｓ）を構成している場合に有用である。ＲＡＩＤでは複数の光ディスク３００に分散して冗長に情報が記録されているので、ＲＡＩＤを構成する複数の光ディスク３００全体で欠陥の情報を管理することが好ましいからである。
【０１０４】
なお、図１に示すように光ディスク装置１００が複数のマガジン１０２をマガジンストッカー１０１に格納している場合、図６で制御部１２０等により取得・保存される情報に、マガジン１０２がマガジンストッカー１０１のどの位置に格納されるかを示すマガジン格納位置の情報をさらに備えるものであってもよい。
【０１０５】
マガジン格納位置の情報を備えることにより、対象となるマガジン１０２の格納位置を特定することが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【０１０６】
本開示で説明した技術内容は、光ディスクへ情報を記録する光ディスク装置で利用可能である。
【符号の説明】
【０１０７】
１００    光ディスク装置
１０１    マガジンストッカー
１０２    マガジン
１０３    ピッカー
１０４    光ディスクドライブユニット
１０５    リフター
１０６    キャリア
１０７    制御ユニット
１０８    底シャシー
１０９    ガイドレール
１１０    把手
１１１    マガジントレイ
１１２    走行ベース
１１３    回転台
１１４    昇降レール
１１５    昇降台
１１６    チャック
１１７    アングル
１１８    入出力デバイス
１２０    制御部
１２１    記憶部
２０２    芯棒
２０３    トレイホルダ
２０４    積層された複数の光ディスク
３００    光ディスク
３０１    基板層
３０２    Ｌ０層
３０３    Ｌ１層
３０４    Ｌ２層
３０５    Ｌ０層
３０６    Ｌ１層
３０７    Ｌ２層
４０１    埃または傷等
５０１    情報取得日時
５０２    光ディスク装置識別子
５０３    マガジン種別
５０４    マガジン識別子
５０５    マガジン格納位置
５０６    光ディスク枚数
５０７    光ディスク種別
５０８    光ディスク識別子
５０９    挿入ドライブ識別子
５１０    欠陥数
５１１    代替領域残量
５１２    Ｎｏ１欠陥位置(物理位置)
５１３    Ｎｏ１欠陥位置(論理位置)
５１４    Ｎｏ２欠陥位置(物理位置)
５１５    Ｎｏ２欠陥位置(論理位置)
５１６    ＮｏＹ欠陥位置(物理位置)
５１７    ＮｏＹ欠陥位置(論理位置)
６０５    光ディスク格納位置
【図１】
2018147550.tif 000003
【図２】
2018147550.tif 000004
【図３】
2018147550.tif 000005
【図４】
2018147550.tif 000006
【図５】
2018147550.tif 000007
【図６】
2018147550.tif 000008
【図７】
2018147550.tif 000009
【図８】
2018147550.tif 000010