(57)【要約】【課題】電子モジュールを正確に位置決めして確実な導通を得ることができる測定用ソケットおよびコンタクト装置を提供すること。【解決手段】本発明は、電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、電子モジュールを載置する凹部を有するベースと、ベースに対して回動可能に取り付けられた第１カバーと、ベースに対して回動可能に取り付けられた第２カバーと、第１カバーに設けられ、電子モジュールとの導通を得るためのコンタクトピンと、を備え、電子モジュールをベースに載置した状態で第１カバーを閉じる際に、第１カバーよりも先に第２カバーが電子モジュールの上に被せられるよう構成された、ことを特徴とする。【選択図】図１
2018040678.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、
前記電子モジュールを載置する凹部を有するベースと、
前記ベースに対して回動可能に取り付けられた第１カバーと、
前記ベースに対して回動可能に取り付けられた第２カバーと、
前記第１カバーに設けられ、前記電子モジュールとの導通を得るためのコンタクトピンと、
を備え、
前記電子モジュールを前記ベースに載置した状態で前記第１カバーを閉じる際に、前記第１カバーよりも先に前記第２カバーが前記電子モジュールの上に被せられるよう構成された、ことを特徴とする測定用ソケット。
【請求項２】
前記第２カバーは、前記第１カバーの回動動作と連動して回動するよう構成された、請求項１記載の測定用ソケット。
【請求項３】
前記第１カバーと前記第２カバーとの間にはバネが設けられた、請求項２記載の測定用ソケット。
【請求項４】
前記ベースと前記第１カバーおよび前記第２カバーとの間に設けられ、前記第１カバーおよび前記第２カバーの回動動作の支点となるヒンジと、
前記第１カバーを前記ベースに固定するためのラッチと、
をさらに備え、
前記第１カバーを前記ラッチによって前記ベースに固定することで、前記第２カバーが前記第１カバーと前記ベースとの間で挟持される、請求項１〜３のいずれか１つに記載の測定用ソケット。
【請求項５】
前記電子モジュールは、フレキシブル基板と、前記フレキシブル基板に接続された電子部品およびコネクタとを有し、
前記第２カバーを閉じると前記第２カバーが前記電子部品および前記フレキシブル基板の少なくともいずれかの上に被せられ、
前記第１カバーを閉じると前記コンタクトピンと前記コネクタとが接触する、請求項１〜４のいずれか１つに記載の測定用ソケット。
【請求項６】
前記第２カバーは、前記第２カバーを閉じた際に前記電子部品の上に被せられる第１押さえ部と、前記フレキシブル基板の上に被せられる第２押さえ部と、を有する、請求項５記載の測定用ソケット。
【請求項７】
前記第２カバーを閉じた際、前記第２押さえ部は前記フレキシブル基板および前記電子部品の両方の上に被せられる、請求項６記載の測定用ソケット。
【請求項８】
電子モジュールを測定対象とするコンタクト装置であって、
前記電子モジュールを載置する凹部を有するベースと、
前記ベースの上に被せられる第１カバーと、
前記ベースと前記第１カバーとの間に設けられる第２カバーと、
前記第１カバーに設けられ、前記電子モジュールとの導通を得るためのコンタクトピンと、
を備え、
前記電子モジュールを前記ベースに載置した状態で前記第１カバーを被せる際に、前記第１カバーよりも先に前記第２カバーが前記電子モジュールの上に被せられるよう構成された、ことを特徴とするコンタクト装置。
【請求項９】
前記電子モジュールは、フレキシブル基板と、前記フレキシブル基板に接続された電子部品およびコネクタとを有し、
前記第２カバーを被せると前記第２カバーが前記電子部品および前記フレキシブル基板の少なくともいずれかの上に被せられ、
前記第１カバーを被せると前記コンタクトピンと前記コネクタとが接触する、請求項８記載のコンタクト装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子モジュールの導通検査や特性測定などを行う際に用いられる測定用ソケットおよびコンタクト装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＩＣ等の電子部品の電気的な測定を行う際に用いられる測定用ソケット（以下、単に「ソケット」とも言う。）として、電子部品を一方向に押圧して位置決めするソケットが開示されている。例えば、特許文献１では、ＩＣパッケージの表面を押圧して位置決めを行う半導体装置用ソケットが開示される。
【０００３】
また、特許文献２には、ソケットカバーの電気部品を押圧する押圧動作に伴って操作され、収容部に収容された電気部品の位置決め部と反対側の隅角部にて直交する側面にそれぞれ点接触し、電気部品を位置決め部に対して片寄せする片寄せ手段を備えた電気部品用ソケットが開示される。
【０００４】
また、特許文献３には、ソケット本体に、電気部品が押圧部材で押圧される前に、載置部の周縁部の一部に設けられた固定ガイド部に当接される電気部品の側面と反対側の側面を固定ガイド部の方向に押し、電気部品を固定ガイド部に当接させて所定の載置位置に位置決めする手段を備えた電気部品用ソケットが開示される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２０１１−０２３１６４号公報
【特許文献２】特開２００５−０６１９４８号公報
【特許文献３】特開２００４−２９６１５５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、測定用ソケットのベースに電子モジュールを載置してカバーを閉める場合、ベース上で電子モジュールに位置ずれが生じていると、カバーを閉めた際に電子モジュール側のコネクタとカバー側のコンタクトピンとの接触不良が発生しやすくなる。特に、フレキシブル基板に電子部品およびコネクタが接続されている電子モジュールでは、フレキシブル基板の弾性力、曲がり、捩れなどによって電子部品やコネクタが浮き上がって配置されることがある。電子モジュールが浮き上がったままカバーを閉めると、導通不良の原因となる。近年では、コネクタの端子間ピッチが狭くなってきており、測定用ソケットにおいて電子モジュールの位置決め精度の向上は、確実な導通を得るために重要な技術要素となっている。
【０００７】
本発明は、電子モジュールを正確に位置決めして確実な導通を得ることができる測定用ソケットおよびコンタクト装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するため、本発明は、電子モジュールを測定対象とする測定用ソケットであって、電子モジュールを載置する凹部を有するベースと、ベースに対して回動可能に取り付けられた第１カバーと、ベースに対して回動可能に取り付けられた第２カバーと、第１カバーに設けられ、電子モジュールとの導通を得るためのコンタクトピンと、を備え、電子モジュールをベースに載置した状態で第１カバーを閉じる際に、第１カバーよりも先に第２カバーが電子モジュールの上に被せられるよう構成された、ことを特徴とする。
【０００９】
このような構成によれば、電子モジュールをベースに載置した状態で第１カバーを閉じる際に、先に第２カバーが電子モジュールの上に被せられ、その後で第１カバーが電子モジュールの上に被せられる。これにより、ベースの凹部に載置された電子モジュールの位置によって第２カバーが規制された後、第１カバーを被せてコンタクトピンにより電子モジュールとの導通を得ることができる。
【００１０】
本発明の測定用ソケットにおいて、第２カバーは、第１カバーの回動動作と連動して回動するよう構成されていてもよい。これにより、第１カバーを開閉することで、これに合わせて第２カバーも開閉することができる。
【００１１】
本発明の測定用ソケットにおいて、第１カバーと第２カバーとの間にバネが設けられていてもよい。これにより、バネによって第１カバーと第２カバーとが連結され、第１カバーの回動動作と連動して第２カバーも回動するようになる。また、第２カバーが電子モジュールの上に被せられた後、第１カバーを被せることで、バネの付勢力によって第２カバーから電子モジュールの方向へ押圧力を与えることができる。
【００１２】
本発明の測定用ソケットにおいて、ベースと第１カバーおよび第２カバーとの間に設けられ、第１カバーおよび第２カバーの回動動作の支点となるヒンジと、第１カバーをベースに固定するためのラッチと、をさらに備え、第１カバーをラッチによってベースに固定することで、第２カバーが第１カバーとベースとの間で挟持されるようになっていてもよい。これにより、第１カバーおよび第２カバーが同じ支点を中心として回動動作することになる。また、ラッチによって第１カバーがベースに固定されると、第２カバーも固定される状態になる。
【００１３】
本発明の測定用ソケットにおいて、電子モジュールは、フレキシブル基板と、フレキシブル基板に接続された電子部品およびコネクタとを有し、第２カバーを閉じると第２カバーが電子部品およびフレキシブル基板の少なくともいずれかの上に被せられ、第１カバーを閉じるとコンタクトピンとコネクタとが接触するようになっていてもよい。このような構成によれば、電子部品およびフレキシブル基板の少なくともいずれかの位置が第２カバーによって規制される。そして、第２カバーで規制した状態で第１カバーを被せることで、コンタクトピンとコネクタとの確実な導通を得ることができる。
【００１４】
本発明の測定用ソケットにおいて、第２カバーは、第２カバーを閉じた際に電子部品の上に被せられる第１押さえ部と、フレキシブル基板の上に被せられる第２押さえ部と、を有していてもよい。これにより、第２カバーを閉じた際に、第１押さえ部および第２押さえ部によって電子部品およびフレキシブル基板の位置を規制することができる。
【００１５】
本発明の測定用ソケットにおいて、第２カバーを閉じた際、第２押さえ部はフレキシブル基板および電子部品の両方の上に被せられるようになっていてもよい。これにより、第２押さえ部によって電子部品およびフレキシブル基板の両方の位置を規制することができる。
【００１６】
本発明は、電子モジュールを測定対象とするコンタクト装置であって、電子モジュールを載置する凹部を有するベースと、ベースの上に被せられる第１カバーと、ベースと第１カバーとの間に設けられる第２カバーと、第１カバーに設けられ、電子モジュールとの導通を得るためのコンタクトピンと、を備え、電子モジュールをベースに載置した状態で第１カバーを被せる際に、第１カバーよりも先に第２カバーが電子モジュールの上に被せられるよう構成された、ことを特徴とする。
【００１７】
このような構成によれば、電子モジュールをベースに載置した状態で第１カバーを被せる際に、先に第２カバーが電子モジュールの上に被せられ、その後で第１カバーが電子モジュールの上に被せられる。これにより、ベースの凹部に載置された電子モジュールの位置が第２カバーによって規制された後、第１カバーを被せてコンタクトピンにより電子モジュールとの導通を得ることができる。
【００１８】
本発明のコンタクト装置において、電子モジュールは、フレキシブル基板と、フレキシブル基板に接続された電子部品およびコネクタとを有し、第２カバーを被せると第２カバーが電子部品およびフレキシブル基板の少なくともいずれかの上に被せられ、第１カバーを被せるとコンタクトピンとコネクタとが接触するようになっていてもよい。このような構成によれば、電子部品およびフレキシブル基板の少なくともいずれかの位置が第２カバーによって規制される。そして、第２カバーで規制した状態で第１カバーを被せることで、コンタクトピンとコネクタとの確実な導通を得ることができる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、電子モジュールを正確に位置決めして確実な導通を得ることができる測定用ソケットを提供することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本実施形態に係る測定用ソケットを例示する斜視図である。
【図２】（ａ）および（ｂ）は、カバーを閉じる動作を説明する斜視図である。
【図３】（ａ）〜（ｃ）は、カバーを閉じる動作を説明する側面図である。
【図４】第２カバーによる押さえについて説明する斜視図である。
【図５】本実施形態に係るコンタクト装置を例示する斜視図である。
【図６】本実施形態に係るコンタクト装置を例示する正面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２１】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。なお、以下の説明では、同一の部材には同一の符号を付し、一度説明した部材については適宜その説明を省略する。
【００２２】
（測定用ソケットの構成）
図１は、本実施形態に係る測定用ソケットを例示する斜視図である。
本実施形態に係る測定用ソケット１は、電子モジュール１００の電気的な測定を行う際に用いられるソケットである。測定用ソケット１は、測定対象となる電子モジュール１００を搭載して、電子モジュール１００との電気的な接触を得る。本実施形態では、測定対象となる電子モジュール１００として、フレキシブル基板１０２に電子部品１０１およびコネクタ１０３が接続されたものが適用される。
【００２３】
フレキシブル基板１０２には配線パターンが形成され、電子部品１０１とコネクタ１０３との間の通電がなされる。したがって、本実施形態の測定用ソケット１では、後述するコンタクトピン４１をコネクタ１０３の端子と接触させることによって、電子部品１０１に対する電気的な導通を得ることができる。
【００２４】
本実施形態に係る測定用ソケット１は、ベース１０と、第１カバー２０と、第２カバー３０と、コンタクトピン４１とを備えている。ベース１０は、電子モジュール１００を搭載する凹部１１を有する。凹部１１は、電子部品１０１およびフレキシブル基板１０２の配置位置を決めるためのガイドの役目を果たす。凹部１１の開口側には、上に広がるテーパ部が設けられ、テーパ部の下方にはストレート部が設けられている。凹部１１に載置された電子モジュール１００はテーパ部で呼び込まれて、ストレート部に収納される。
【００２５】
第１カバー２０は、ベース１０に対して回動可能に取り付けられる。本実施形態では、ベース１０の一端に設けられたヒンジ５０を介して第１カバー２０が取り付けられる。第１カバー２０は、ヒンジ５０の軸５５を中心として開閉動作可能に設けられる。
【００２６】
測定用ソケット１の例えばベース１０にはラッチ６０が設けられる。第１カバー２０を閉じた状態でラッチ６０を第１カバー２０の爪２５に引っ掛けることで、第１カバー２０を閉じた状態が維持される。第１カバー２０は、ヒンジ５０の軸５５に取り付けられたバネ５６によって開く方向に付勢されている。したがって、ラッチ６０を外すことで、バネ５６の付勢力によって第１カバー２０は開くことになる。
【００２７】
第２カバー３０は、ベース１０に対して回動可能に取り付けられる。本実施形態では、第１カバー２０が取り付けられるヒンジ５０を介して第２カバー３０も取り付けられている。第２カバー３０は、ヒンジ５０の軸５５を中心として開閉動作可能に設けられる。すなわち、本実施形態では、第１カバー２０および第２カバー３０は、同じヒンジ５０を介して開閉動作可能にベース１０に取り付けられる。
【００２８】
第２カバー３０は、第１カバー２０よりもベース１０側に配置されるため、第１カバー２０を閉じると、第１カバー２０よりも先に第２カバー３０がベース１０側に閉じるようになる。第１カバー２０を閉じてラッチ６０で固定されると、第２カバー３０は第１カバー２０とベース１０との間で挟持されることになる。
【００２９】
第１カバー２０と第２カバー３０との間にはバネ６５が設けられていてもよい。バネ６５によって第１カバー２０と第２カバー３０とが連結されていることで、第１カバー２０の回動動作と連動して第２カバー３０も回動するようになる。
【００３０】
第２カバー３０には、第１押さえ部３１と、第２押さえ部３２とが設けられる。第１押さえ部３１は、第２カバー３０を閉じた際に電子部品１０１の上に被せられる。第２押さえ部３２は、第２カバー３０を閉じた際にフレキシブル基板１０２の上に被せられる。第２押さえ部３２は、フレキシブル基板１０２とともに電子部品１０１の上に被せられてもよい。
【００３１】
本実施形態では、互いに向かい合う一対の第１押さえ部３１が設けられており、第２カバー３０を閉じた際に、電子部品１０１を間にして一対の第１押さえ部３１が上から被せられるようになっている。
【００３２】
このような構成を有する本実施形態の測定用ソケット１においては、電子モジュール１００をベース１０に載置した状態で第１カバー２０を閉じる際に、第１カバー２０よりも先に第２カバー３０が電子モジュール１００の上に被せられることになる。これにより、ベース１０の凹部１１に電子モジュール１００を載置した際、電子モジュール１００に浮きや位置ずれが生じていても、第２カバー３０によって規制される。
【００３３】
例えば、電子モジュール１００を凹部１１に載置した際、フレキシブル基板１０２の弾性力、曲がり、捩れなどによって、電子部品１０１やコネクタ１０３に浮きが生じる場合がある。凹部１１の開口側にはテーパ部が設けられているため、電子モジュール１００の浮き上がりが生じると、テーパ部の間口サイズの範囲内で位置ずれが発生し得る。
【００３４】
この状態で第２カバー３０を閉じると、浮き上がった電子モジュール１００は第２カバー３０によって上から押さえられ、テーパ部からストレート部へ収納されることになる。つまり、第２カバー３０は、電子モジュール１００の載置位置における上側への位置ずれを規制する役目を果たす。
【００３５】
そして、第２カバー３０によって電子モジュール１００の位置が規制された状態で、第１カバー２０が被せられる。これにより、電子モジュール１００の位置が規制された状態で、コンタクトピン４１とコネクタ１０３との確実な接触が行われる。
【００３６】
第１カバー２０と第２カバー３０との間にバネ６５が設けられている場合、第２カバー３０が電子モジュール１００の上に被せられた後、第１カバー２０を被せることで、バネ６５の付勢力によって第２カバー３０から電子モジュール１００の方向へ押圧力を与えることができる。また、第１カバー２０を開く場合には、第１カバー２０と連動して第２カバー３０も開くことになる。
【００３７】
（カバーの動作）
次に、本実施形態に係る測定用ソケット１の第１カバー２０および第２カバー３０の動作の詳細について説明する。
図２（ａ）および（ｂ）は、カバーを閉じる動作を説明する斜視図である。
図３（ａ）〜（ｃ）は、カバーを閉じる動作を説明する側面図である。
なお、図３（ａ）は図１に対応した側面図、図３（ｂ）は図２（ａ）に対応した側面図、図３（ｃ）は図２（ｂ）に対応した側面図である。
図４は、第２カバーによる押さえについて説明する斜視図である。
【００３８】
先ず、図１および図３（ａ）に示すように、第１カバー２０および第２カバー３０を開いた状態で、ベース１０の凹部１１に電子モジュール１００を載置する。電子モジュール１００は、凹部１１内の所定位置に載置される場合もあれば、凹部１１の内側において僅かにずれた位置に載置される場合もある。
【００３９】
次に、図２（ａ）および図３（ｂ）に示すように、第１カバー２０を閉じる。第１カバー２０と第２カバー３０との間にはバネ６５が設けられているため、第１カバー２０と連動して第２カバー３０も閉じることになる。そして、第２カバー３０は、第１カバー２０よりも先にベース１０上の電子モジュール１００の上に被せられる。
【００４０】
図４には、第２カバー３０を電子モジュール１００の上に被せた状態が示される。なお、説明の便宜上、図４では第１カバー２０を省略している。第２カバー３０を閉じると、第２カバー３０の第１押さえ部３１が電子部品１０１の上に被せられ、第２押さえ部３２がフレキシブル基板１０２の上に被せられる。
【００４１】
ここで、電子モジュール１００が凹部１１の正常な位置に載置されている場合、第２カバー３０を閉じた状態では、第１押さえ部３１と電子部品１０１との間には僅かな隙間が設けられ、第２押さえ部３２とフレキシブル基板１０２との間には僅かな隙間が設けられる。すなわち、第１押さえ部３１は電子部品１０１と接触せず、第２押さえ部３２はフレキシブル基板１０２と接触しない。
【００４２】
一方、電子モジュール１００が凹部１１の正常な位置に載置されない場合もある。例えば、電子モジュール１００が凹部１１のテーパ部分に引っ掛かり、ストレート部分まで入っていない場合や、フレキシブル基板１０２の弾性力、曲がり、捩れなどによって、電子部品１０１やコネクタ１０３が所定位置よりも浮いている場合がある。
【００４３】
電子部品１０１が浮いている場合、第２カバー３０を閉じることで第１押さえ部３１によって電子部品１０１が上から押さえられ、凹部１１の正常な位置に修正される。また、フレキシブル基板１０２が浮いている場合、第２カバー３０を閉じることで第２押さえ部３２によってフレキシブル基板１０２が上から押さえ込まれ、凹部１１の正常な位置に修正される。電子部品１０１やフレキシブル基板１０２の浮き上がりの範囲が凹部１１のテーパ部の範囲内であれば、第２カバー３０によって上から押さえられ、電子部品１０１やフレキシブル基板１０２はテーパ部からストレート部へと落とし込まれる。
【００４４】
次に、図２（ｂ）および図３（ｃ）に示すように、第１カバー２０をさらに閉じて、ラッチ６０によって固定する。この状態では第２カバー３０が第１カバー２０とベース１０との間で挟持される。第１カバー２０を閉じると、第１カバー２０のガイド部４０が第２カバー３０越しに電子モジュール１００のコネクタ１０３と嵌合する。そして、ガイド部４０からコンタクトピン４１が露出して、コネクタ１０３の端子と接触する。これにより、電子部品１０１との電気的導通を得ることができる。
【００４５】
この第１カバー２０のコンタクトピン４１がコネクタ１０３に差し込まれる状態では、第２カバー３０によって電子モジュール１００の凹部１１内での載置位置が規制されている。電子モジュール１００が凹部１１内のストレート部に入っていれば、第１カバー２０を閉じた際にガイド部４０を確実にコネクタ１０３と嵌合することができる。ガイド部４０がコネクタ１０３に嵌合することで、コンタクトピン４１とコネクタ１０３の端子との確実な接触が行われる。
【００４６】
ここで、コンタクトピン４１を有する第１カバー２０がヒンジ５０の軸５５を支点として回動して閉じる構成の場合、ガイド部４０はコネクタ１０３に対して斜めに嵌まり込むようになる。このようなタイプの測定用ソケット１では、特に電子モジュール１００の浮き上がりによってガイド部４０とコネクタ１０３との嵌合の不良が顕著となる。本実施形態に係る測定用ソケット１では、第２カバー３０によって電子モジュール１００の浮きを抑制した状態で第１カバー２０を閉じるため、第１カバー２０の回動によってガイド部４０がコネクタ１０３に対して斜めに嵌まり込むタイプであっても、確実に嵌合してコンタクトピン４１とコネクタ１０３の端子との正確な導通を得ることができる。
【００４７】
また、本実施形態に係る測定用ソケット１においては、狭ピッチのコネクタ１０３であっても十分に対応可能である。例えば、複数のコンタクトピン４１を有する場合、互いに隣り合うコンタクトピン４１のピッチは、０．５ｍｍ以下である。また、コンタクトピン４１の直径は、０．４ｍｍ以下である。本実施形態に係る測定用ソケット１では、非常に小型のコネクタ１０３の端子に対して接触可能なコンタクトピン４１を有している。第２カバー３０によって電子モジュール１００の浮き上がりを抑制できる本実施形態の測定用ソケット１では、０．３ｍｍ程度以下の狭ピッチ化されたコネクタ１０３にも対応しうる。
【００４８】
また、ガイド部４０の凹部の中心と、コネクタ１０３の中心とを合わせた場合の嵌め合い公差は、片側で１／１００ｍｍ以上３／１００ｍｍ以下程度である。本実施形態では、第２カバー３０によってコネクタ１０３の浮き上がりが抑制されるため、ガイド部４０の凹部にコネクタ１０３が正確に嵌め込まれる。したがって、例えば０．３ｍｍ程度以下の狭ピッチ化された小型のコネクタ１０３であっても精度の高い位置合わせにより、コンタクトピン４１とコネクタ１０３の端子との確実な接触が行われる。
【００４９】
また、電子部品１０１としてレンズおよび撮像素子を備えた光学電子部品である場合、測定用ソケット１には電気的な導通に加え、光学的な軸合わせの精度が要求される。フレキシブル基板１０２による引っ張りの影響を受けやすい電子モジュール１００では、測定用ソケット１に収容した際のコネクタ１０３との導通と、電子部品１０１の光軸合わせを伴う位置決めとの両立は困難となる。
【００５０】
本実施形態に係る測定用ソケット１では、第１カバー２０を閉じる際、第１カバー２０よりも先に第２カバー３０が電子モジュール１００の上に被せられ、電子モジュール１００に浮きが生じていても第２カバー３０によって押し込んで正常な位置に修正することができる。そして、第２カバー３０による修正の後で第１カバー２０が被せられるため、ガイド部４０とコネクタ１０３とが正確に嵌合し、コンタクトピン４１による確実な導通を実現することができる。また、電子モジュール１００の位置も正確に修正されているため、電子部品１０１の光軸合わせも的確に行われる。したがって、電子部品１０１との電気的接続と、光学的な軸合わせとの両立を図ることができる。
【００５１】
本実施形態に係る測定用ソケット１は、電子モジュール１００の測定を自動的に行う測定装置（自動測定機）への適用が好ましい。自動測定機では、測定用ソケット１の第１カバー２０および第２カバー３０が開いている状態で、電子モジュール１００をベース１０の凹部１１に自動的に載置する。この際、電子モジュール１００の載置位置に浮きが発生しやすい。電子モジュール１００の載置位置に浮きが生じていても、本実施形態に係る測定用ソケット１を用いることで、第２カバー３０によって浮き上がりが規制され、この状態で第１カバー２０を閉じることで確実な電気的導通を得ることができる。さらに、第１カバー２０と連動して第２カバー３０が回動するため、自動測定機では、第１カバー２０のみを開閉動作させる機構を設けておけば、第１カバー２０および第２カバー３０の両方を開閉動作させることができる。
【００５２】
（コンタクト装置）
図５は、本実施形態に係るコンタクト装置を例示する斜視図である。
図６は、本実施形態に係るコンタクト装置を例示する正面図である。
本実施形態に係るコンタクト装置５００は、先に説明した測定用ソケット１と同様に、ベース１０、第１カバー２０、第２カバー３０およびコンタクトピン４１を備える。コンタクト装置では、第１カバー２０および第２カバー３０がベース１０に対して上下動するよう構成される。
【００５３】
ベース１０には、電子モジュール１００を載置する凹部１１が設けられる。ベース１０には、例えば４箇所に支柱１５が設けられている。第１カバー２０は、この支柱１５によって支持され、支柱１５に沿って上下動可能に設けられる。支柱１５にはバネ１７が設けられており、第１カバー２０を上方に付勢している。第１カバー２０は、図示しない駆動機構によってバネ１７の付勢力を超えた力で押し込まれることにより、ベース１０の上に被せられる。
【００５４】
第２カバー３０は、ベース１０と第１カバー２０との間に設けられる。第２カバー３０は、第１カバー２０を下降させてベース１０上に被せる際、第１カバー２０よりも先に第２カバー３０が電子モジュール１００の上に被せられるよう構成される。
【００５５】
第２カバー３０は、第１カバー２０よりも先に電子モジュール１００の電子部品１０１およびフレキシブル基板１０２の少なくともいずれかの上に被せられる。これにより、電子部品１０１およびフレキシブル基板１０２の少なくともいずれかの位置が第２カバー３０によって規制される。その後、第１カバー２０を下降することでガイド部４０にコネクタ１０３が嵌合し、コンタクトピン４１とコネクタ１０３の端子とが接触するようになる。このように、第２カバー３０で電子部品１０１およびフレキシブル基板１０２の少なくともいずれかの位置を規制した状態で第１カバー２０を被せることで、コンタクトピン４１とコネクタ１０３との確実な導通を得ることができる。
【００５６】
以上説明したように、実施形態に係る測定用ソケット１およびコンタクト装置５００によれば、電子モジュール１００を正確に位置決めして確実な導通を得ることが可能となる。
【００５７】
なお、上記に本実施形態およびその具体例を説明したが、本発明はこれらの例に限定されるものではない。例えば、測定対象となる電子モジュール１００として、フレキシブル基板１０２に電子部品１０１およびコネクタ１０３が接続されたものを例としたが、電子モジュール１００の構成は、これに限定されない。また、前述の実施形態またはその具体例に対して、当業者が適宜、構成要素の追加、削除、設計変更を行ったものや、実施形態の特徴を適宜組み合わせたものも、本発明の要旨を備えている限り、本発明の範囲に包含される。
【符号の説明】
【００５８】
１…測定用ソケット
１０…ベース
１１…凹部
１５…支柱
１７…バネ
２０…第１カバー
２５…爪
３０…第２カバー
３１…第１押さえ部
３２…第２押さえ部
４０…ガイド部
４１…コンタクトピン
５０…ヒンジ
５５…軸
５６…バネ
６０…ラッチ
６５…バネ
１００…電子モジュール
１０１…電子部品
１０２…フレキシブル基板
１０３…コネクタ
５００…コンタクト装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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