(57)【要約】      （修正有）【課題】フィルムの周期欠点の原因となる搬送用金属ロール表面の凹凸欠陥の位置を特定することができる検査システム、検査方法、及び該検査システムを用いたフィルムの製造方法を提供する。【解決手段】検査システムは、製造工程中に存在する鏡面ロールｂのフィルムと接する面における凹凸欠陥の位置データと、鏡面ロールより後の工程におけるフィルム欠点の位置データとを、比較する比較手段ｏを備える。【選択図】図１
2018040792.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
フィルムと接する面が鏡面反射性を有するロール（鏡面ロール）を少なくとも一つ有するフィルム製造装置によりフィルムを製造する際に、フィルムに発生する欠点の原因を検査するための検査システムであって、
任意に選択した少なくとも一つの前記鏡面ロール（鏡面ロールＡ）のフィルムと接する面に光を照射する光照射手段と、
前記鏡面ロールＡのフィルムと接する面からの反射光を撮像する撮像手段と、
前記撮像手段で撮像した画像により、前記鏡面ロールＡのフィルムと接する面における凹凸欠陥を検出する検出手段１と、
前記鏡面ロールＡの回転軸と平行な方向をＸａ方向、前記鏡面ロールＡの回転方向をＹａ方向としたときに、前記検出手段１により検出された凹凸欠陥の位置データを、Ｘａ−Ｙａ座標データに変換する変換手段１と、
フィルム製造工程の最も上流に位置する前記鏡面ロールＡよりも下流において、フィルムの欠点を検出する検出手段２と、
フィルムの幅方向をＸｂ方向、長手方向をＹｂ方向としたときに、前記検出手段２により検出された欠点の位置データを、Ｘｂ−Ｙｂ座標データに変換する変換手段２と、
前記Ｘａ−Ｙａ座標データと前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データを比較する比較手段１とを備えることを特徴とする、検査システム。
【請求項２】
前記比較手段１が、前記Ｘａ−Ｙａ座標データにおける点の個数をｎａ個、前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおける点の個数をｎｂ個、前記Ｘａ−Ｙａ座標データにおける各点をａｉ（ｉは１〜ｎａの整数）、前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおける各点をｂｊ（ｊは１〜ｎｂの整数）、ｂｊを一次変換した各点をｂｊ’、ｂｊ’にＸｂ方向と平行なベクトル（ＳｈｉｆｔＸｂ（ｍｍ））とＹｂ方向と平行なベクトル（ＳｈｉｆｔＹｂ（ｍｍ））を加えた各点をｂｊ’’、ａｉとｂｊ’’間の距離をＬ−ａｉｂｊ’’（ｍｍ）としたときに、
Ｌ−ａｉｂｊ’’が合致判定距離関数ｄ＜１（ｍｍ）を満たす点が３点以上となるようにＳｈｉｆｔＸｂ及びＳｈｉｆｔＹｂを決定する手段であることを特徴とする、請求項１に記載の検査システム。
【請求項３】
前記Ｌ−ａｉｂｊ’’が合致判定距離関数ｄ＜１（ｍｍ）を満たす点の個数をｎ個としたときに、前記比較手段１が、ｎが最大となるＳｈｉｆｔＸｂ及びＳｈｉｆｔＹｂを決定する手段であることを特徴とする、請求項２に記載の検査システム。
【請求項４】
前記鏡面ロールＡと延伸工程の間に位置する前記検出手段２を検出手段２Ａとしたときに、検出手段２Ａを有し、前記変換手段２により得られた前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおいて、Ｙｂ方向に周期性がある点におけるＹｂ方向の値を前記鏡面ロールＡの円周長で除したときの剰余値を、位置座標Ｙｂ座標データに変換する変換手段を変換手段３としたときに、さらに変換手段３を備えることを特徴とする、請求項１〜３のいずれかに記載の検査システム。
【請求項５】
前記鏡面ロールＡと縦延伸工程の下流に位置する前記検出手段２を検出手段２Ｂとしたときに、検出手段２Ｂを有し、前記変換手段２により得られた前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおいて、Ｙｂ方向に周期性がある点におけるＹｂ方向の値を（前記鏡面ロールＡの円周長×縦延伸倍率）で除したときの剰余値を、位置座標Ｙｂ’座標データに変換する変換手段を変換手段４としたときに、さらに変換手段４を備えることを特徴とする、請求項１〜４のいずれかに記載の検査システム。
【請求項６】
前記鏡面ロールＡと横延伸工程の下流に位置する前記検出手段２を検出手段２Ｃとしたときに、検出手段２Ｃを有し、前記変換手段２により得られた前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおける各点について、Ｘｂ方向の値を横延伸倍率で除した値を、位置座標Ｘｂ’座標データに変換する手段を変換手段５としたときに、さらに変換手段５を備えることを特徴とする、請求項１〜５のいずれかに記載の検査システム。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれかに記載の検査システムを用いることを特徴とする、検査方法。
【請求項８】
請求項１〜６のいずれかに記載の検査システムにてフィルムを検査する工程を有することを特徴とする、フィルムの製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、フィルムの欠点の原因となる搬送用ロール表面の凹凸欠陥の位置を特定することができる検査システム、検査方法、及び該検査システムを用いたフィルムの製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
フィルム製造工程において、フィルムの搬送、延伸、加熱、及び冷却等をする目的で、金属ロールが使用される。この金属ロール表面に凹凸状の欠陥が存在すると、この欠陥がフィルムに転写され、金属ロール円周長に依存する周期欠点が発生することがある。
【０００３】
金属ロール表面の凹凸状の欠陥を検査する方法としては、被検体に光を照射し、その反射光の状態を参照することで表面の凹凸欠陥などを検出する方法（例えば、特許文献１、２）が知られている。
【０００４】
しかしながら、特許文献１や２の方法で検出された被検体の表面の凹凸欠陥の全てを解消するには、金属鍍金の硬度、表面粗さ、鍍金厚さの観点で、目の細かい砥石で長時間掛け研磨する必要があり、全ての金属ロール表面を研磨することは生産性の観点で現実的ではない。また、特許文献１や２の方法では、フィルムの周期欠点の原因となる凹凸欠陥を精度良く識別することができないという問題もある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００７−７１５６２号公報
【特許文献２】特開２０１２−１７３１９４号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は、従来技術の問題を解消し、フィルムの周期欠点の原因となる搬送用金属ロール表面の凹凸欠陥の位置を特定することができる検査システム、検査方法、及び該検査システムを用いたフィルムの製造方法を提供することをその課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、本発明は、下記の構成からなる。
（１）  フィルムと接する面が鏡面反射性を有するロール（鏡面ロール）を少なくとも一つ有するフィルム製造装置によりフィルムを製造する際に、フィルムに発生する欠点の原因を検査するための検査システムであって、任意に選択した少なくとも一つの前記鏡面ロール（鏡面ロールＡ）のフィルムと接する面に光を照射する光照射手段と、前記鏡面ロールＡのフィルムと接する面からの反射光を撮像する撮像手段と、前記撮像手段で撮像した画像により、前記鏡面ロールＡのフィルムと接する面における凹凸欠陥を検出する検出手段１と、前記鏡面ロールＡの回転軸と平行な方向をＸａ方向、前記鏡面ロールＡの回転方向をＹａ方向としたときに、前記検出手段１により検出された凹凸欠陥の位置データを、Ｘａ−Ｙａ座標データに変換する変換手段１と、フィルム製造工程の最も上流に位置する前記鏡面ロールＡよりも下流において、フィルムの欠点を検出する検出手段２と、フィルムの幅方向をＸｂ方向、長手方向をＹｂ方向としたときに、前記検出手段２により検出された欠点の位置データを、Ｘｂ−Ｙｂ座標データに変換する変換手段２と、前記Ｘａ−Ｙａ座標データと前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データを比較する比較手段１とを備えることを特徴とする、検査システム。
（２）  前記比較手段１が、前記Ｘａ−Ｙａ座標データにおける点の個数をｎａ個、前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおける点の個数をｎｂ個、前記Ｘａ−Ｙａ座標データにおける各点をａｉ（ｉは１〜ｎａの整数）、前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおける各点をｂｊ（ｊは１〜ｎｂの整数）、ｂｊを一次変換した各点をｂｊ’、ｂｊ’にＸｂ方向と平行なベクトル（ＳｈｉｆｔＸｂ（ｍｍ））とＹｂ方向と平行なベクトル（ＳｈｉｆｔＹｂ（ｍｍ））を加えた各点をｂｊ’’、ａｉとｂｊ’’間の距離をＬ−ａｉｂｊ’’（ｍｍ）としたときに、Ｌ−ａｉｂｊ’’が合致判定距離関数ｄ＜１（ｍｍ）を満たす点が３点以上となるようにＳｈｉｆｔＸｂ及びＳｈｉｆｔＹｂを決定する手段であることを特徴とする、（１）に記載の検査システム。
（３）  前記Ｌ−ａｉｂｊ’’が合致判定距離関数ｄ＜１（ｍｍ）を満たす点の個数をｎ個としたときに、前記比較手段１が、ｎが最大となるＳｈｉｆｔＸｂ及びＳｈｉｆｔＹｂを決定する手段であることを特徴とする、（２）に記載の検査システム。
（４）  前記鏡面ロールＡと延伸工程の間に位置する前記検出手段２を検出手段２Ａとしたときに、検出手段２Ａを有し、前記変換手段２により得られた前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおいて、Ｙｂ方向に周期性がある点におけるＹｂ方向の値を前記鏡面ロールＡの円周長で除したときの剰余値を、位置座標Ｙｂ座標データに変換する変換手段を変換手段３としたときに、さらに変換手段３を備えることを特徴とする、（１）〜（３）のいずれかに記載の検査システム。
（５）  前記鏡面ロールＡと縦延伸工程の下流に位置する前記検出手段２を検出手段２Ｂとしたときに、検出手段２Ｂを有し、前記変換手段２により得られた前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおいて、Ｙｂ方向に周期性がある点におけるＹｂ方向の値を（前記鏡面ロールＡの円周長×縦延伸倍率）で除したときの剰余値を、位置座標Ｙｂ’座標データに変換する変換手段を変換手段４としたときに、さらに変換手段４を備えることを特徴とする、（１）〜（４）のいずれかに記載の検査システム。
（６）  前記鏡面ロールＡと横延伸工程の下流に位置する前記検出手段２を検出手段２Ｃとしたときに、検出手段２Ｃを有し、前記変換手段２により得られた前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおける各点について、Ｘｂ方向の値を横延伸倍率で除した値を、位置座標Ｘｂ’座標データに変換する手段を変換手段５としたときに、さらに変換手段５を備えることを特徴とする、（１）〜（５）のいずれかに記載の検査システム。
（７）  （１）〜（６）のいずれかに記載の検査システムを用いることを特徴とする、検査方法。
（８）  （１）〜（６）のいずれかに記載の検査システムにてフィルムを検査する工程を有することを特徴とする、フィルムの製造方法。
【発明の効果】
【０００８】
本発明により、フィルムの周期欠点の原因となる搬送用ロール表面の凹凸欠陥の位置を特定することができる検査システム、検査方法、及び該検査システムを用いたフィルムの製造方法を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の一実施態様に係る鏡面ロールＡ、光照射手段、撮像手段、及び検出手段１を、鏡面ロールＡの回転軸と平行な方向から観察した概略図である。
【図２】本発明の一実施態様に係る検査システムにおける、近接センサの取り付け例を示す概略図である。
【図３】本発明の一実施態様に係る検出手段２の概略図である。
【図４】本発明におけるＸａ−ＹａとＸｂ−Ｙｂの一次式を算出する手段の具体例を説明する図である。
【図５】本発明の一実施態様に係る比較手段１の概略図である。
【図６】本発明の比較手段１の一例を示す説明図である。
【図７】本発明の一実施態様に係る合致判定距離関数のパラメーターα、βの説明図である。
【図８】実施例１における、Ｌ−ａｉｂｊ’’（ｍｍ）がｄ＜１となる点が３つ以上であるＳｈｉｆｔＸｂ−ＳｈｉｆｔＹｂ及び点の数を示す図である。
【図９】実施例１における、最も点数が高いときのＳｈｉｆｔＸｂ−ＳｈｉｆｔＹｂにてＸａ−Ｙａ座標とＸｂ−Ｙｂ座標が式３を満たした凹凸欠陥位置を示した図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下に、本発明を実施するための望ましい形態について図面を参照しながら説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
【００１１】
本発明の検査システムは、フィルムと接する面が鏡面反射性を有するロール（鏡面ロール）を少なくとも一つ有するフィルム製造装置によりフィルムを製造する際に、フィルムに発生する欠点の原因を検査するための検査システムであって、任意に選択した少なくとも一つの前記鏡面ロール（鏡面ロールＡ）のフィルムと接する面に光を照射する光照射手段と、前記鏡面ロールＡのフィルムと接する面からの反射光を撮像する撮像手段と、前記撮像手段で撮像した画像により、前記鏡面ロールＡのフィルムと接する面における凹凸欠陥を検出する検出手段１と、前記鏡面ロールＡの回転軸と平行な方向をＸａ方向、前記鏡面ロールＡの回転方向をＹａ方向としたときに、前記検出手段１により検出された凹凸欠陥の位置データを、Ｘａ−Ｙａ座標データに変換する変換手段１と、フィルム製造工程の最も上流に位置する前記鏡面ロールＡよりも下流において、フィルムの欠点を検出する検出手段２と、フィルムの幅方向をＸｂ方向、長手方向をＹｂ方向としたときに、前記検出手段２により検出された欠点の位置データを、Ｘｂ−Ｙｂ座標データに変換する変換手段２と、前記Ｘａ−Ｙａ座標データと前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データを比較する比較手段１とを備えることを特徴とする。
【００１２】
ここで、フィルムと接する面とは、フィルム製造工程において、吐出された溶融樹脂組成物やフィルムが接する面をいい、通常、円柱形状をしたロールの側面がこれに該当する。なお、以下フィルムと接する面を表面ということがある。鏡面反射とは、一方向から照射された光が正反射されて別の一方向に出て行くことをいう。フィルムと接する面が鏡面反射性を有するロール（鏡面ロール）の例としては、例えば、中心軸を回転軸とする円柱形状の金属ロールであって、フィルムと接する面を、光が反射して物が映るように仕上げたもの等が挙げられる。
【００１３】
本発明の検査システムは、任意に選択した少なくとも一つの鏡面ロール（鏡面ロールＡ）のフィルムと接する面に光を照射する光照射手段と、前記鏡面ロールＡのフィルムと接する面からの反射光を撮像する撮像手段と、前記撮像手段で撮像した画像により、前記鏡面ロールＡのフィルムと接する面における凹凸欠陥を検出する検出手段１を備えることが重要である。このような態様とすることにより、鏡面ロールＡの表面に位置する凹凸欠陥を検出することができる。
【００１４】
図１に、本発明の一実施態様に係る鏡面ロールＡ、光照射手段、撮像手段、及び検出手段１を、鏡面ロールＡの回転軸と平行な方向から観察した図を示す。以下、図１を参照しながら各手段について説明する。本発明の検査システムにおいては、光照射手段ａより鏡面ロールＡｂのフィルムと接する面に入射光ｃを照射し、その反射光ｄを撮像手段ｅにより撮像する。撮像により得られた画像データは検出手段１ｆへ転送され、検出手段１ｆは鏡面ロールＡｂにおける凹凸欠陥を検出し、そのデータをデータ処理装置ｏに転送する。
【００１５】
光照射手段は、幅方向から見てフィルム全体に、鏡面ロールＡの回転軸と平行に光を照射することができるものであれば、本発明の効果を損なわない限り特に制限されない。このような光照射手段としては、例えば、鏡面ロールＡの回転軸と平行な方向に移動できる光照射装置や、幅方向から見て鏡面ロールＡ全体にその回転軸と平行に光を照射することができる光照射装置を用いることができる。このような光照射手段を用いることにより、鏡面ロールＡのフィルムが触れる部分全体の凹凸欠陥を検出することができる。
【００１６】
ここで、光の照射点の中心ｈを含み、回転軸と直交する平面（平面ｑ）と回転軸との交点（点ｇ）を取る。この点ｇと光の照射点の中心ｈを通る直線ｉ（以下、単に直線ｉということがある。）と入射光ｃが成す角（入射角ｊ）は、検出精度の観点から１０°以上３０°以下であることが好ましい。入射角が３０°を超える場合は、被写界深度が浅くなって焦点が合いづらくなり、入射角が１０°未満である場合は、光照射手段ａと撮像手段ｅが干渉しやすくなるため各手段の設置が複雑となる。また、光の照射点の中心ｈと撮像手段ｅの受光部の中心ｋを結んだ直線ｌ（以下、直線ｌということがある。）と直線ｉの成す角ｍ（角ｍ）は、凹凸欠陥と付着物の凸状の判断の観点から、入射角ｊと１°以上の差があることが好ましい。鏡面ロールに凹凸欠陥がなければ、通常、直線ｉと反射光ｄの成す角（反射角ｎ）と入射角ｊは等しくなり、反射光ｄが受光部の中心ｋに入射しないことになる。すわわち、角ｍが入射角ｊと１°以上の差を有することにより、凹凸欠陥に光が照射されて光の散乱が生じたときのみ反射光ｄが撮像手段ｅの受光部の中心ｋに入射することとなるため、鏡面ロールＡｂのフィルムと接する面上の凹凸欠陥の検出が容易となる。
【００１７】
鏡面ロールＡは、凹凸欠陥検出の必要性に応じてフィルムの製造工程中から適宜選択することができ、その個数についても特に制限されない。鏡面ロールＡの回転速度は、本発明の効果を損なわない限り特に制限されないが、撮像容易性及び撮像手段により得られる画像の解像度の観点から、０ｍ／分より大きく１０ｍ／分以下であることが好ましく、３ｍ／分以上１０ｍ／分以下であることがより好ましい。０ｍ／分より大きくすることにより、光照射手段及び撮像手段を三次元に稼動させることなく鏡面ロールＡ全体を撮像することができ、３ｍ／分以上とすることで撮影時間を短く抑えることができる。また、１０ｍ／分以下とすることで長手方向の分解能低下を抑えることができる。
【００１８】
鏡面ロールＡの回転速度が０ｍ／分であるとは、鏡面ロールＡが回転せずに静止している状態をいう。鏡面ロールＡの回転速度が０ｍ／分であると、三次元に稼動する光照射手段及び撮像手段を用いない限り鏡面ロールＡの表面全体を撮像することができないため、撮像が困難になることがある。また、鏡面ロールＡの回転速度が１０ｍ／分を超えると、撮像された画像の解像度が下がり、凹凸欠陥の判断に誤差を生じることがある。
【００１９】
撮像手段は、鏡面ロールＡからの反射光を撮像できるものであれば、本発明の効果を損なわない限り特に制限されず、例えば、光照射手段の移動に伴い回転軸と平行に移動するカメラ等を用いることができる。また、検出精度の観点から、カメラはズーム機能やオートフォーカス機能を有することが好ましく、撮像手段のシャッター速度は、５，０００分の１秒以上、２００分の１秒以下であることが好ましい。また、カメラはインターレース、ノンインターレースのいずれでもよく、撮像手段の撮像周期は１ミリ秒以上２００ミリ秒以下であることが好ましい。さらに、工程の簡便性や検出精度の観点から、撮像手段は検出手段１へ画像データを転送できるものであることが好ましく、リアルタイムで自動的に転送できるものであることがより好ましい。
【００２０】
検出手段１は、撮像手段により得られた画像データより、鏡面ロールＡ上の凹凸欠陥を検出可能なものであれば、本発明の効果を損なわない限り特に制限されない。但し、撮像手段で取得された各画像について画像処理を行い、得られた画像処理後のデータから問題となる欠陥を高精度で抽出できるものであることが好ましい。通常、鏡面ロールには様々な凹凸欠陥、付着物などが存在し、照射光が散乱されるものは全て検知されるため、検出手段１には問題となる欠陥を高精度で抽出することが求められる。問題となる欠陥を高精度で抽出する方法としては、例えば、問題となる欠陥の画像とそうでない欠陥の画像を用いて事前に機械学習させ、検出手段の検出精度を向上させる方法が挙げられる。また、機械学習の方法としては、一般的に正解率の高いサポートベクタマシンやディープラーニングの方法を好適に用いることができる。画像処理に関しては、検出精度向上の観点から、撮像した画像に対するノイズ除去や凹凸欠陥のみを抽出するための２値化処理を行うことが好ましい。
【００２１】
本発明の検査システムは、前記鏡面ロールＡの回転軸と平行な方向をＸａ方向、前記鏡面ロールＡの回転方向をＹａ方向としたときに、前記検出手段１により検出された凹凸欠陥の位置データを、Ｘａ−Ｙａ座標データに変換する変換手段１を備えることが重要である。このような態様とすることにより、凹凸欠陥の位置が鏡面ロールＡの回転軸と平行な方向（Ｘａ方向）と鏡面ロールＡの回転方向（Ｙａ方向）の二次元座標系で表され、鏡面ロールＡの表面における凹凸欠陥の位置を予測することができる。このとき、座標のＸａ方向は鏡面ロールＡの幅方向上の位置となり、座標のＹａ方向は鏡面ロールＡの回転速度と時間を掛け合わせた値となる。なお、このときＸａ及びＹａの基点は任意に選択することができる。
【００２２】
Ｙａ方向の基点の取り方の好適な一例について、図２を用いて具体的に説明する。鏡面ロールＡを円柱とみなしたときに、上面もしくは底面に相当する少なくとも一方の面に近接センサの発信器ｐ（以下、単に発信器ｐということがある。）を取り付け、鏡面ロールＡの上面又は底面の近傍にあって鏡面ロールＡの回転と独立している構造物に、回転軸と平行な方向から観察したときの発信器ｐの軌跡上に位置するように近接センサの受信器ｒ（以下、単に受信器ｒということがある。）を取り付ける。その後、鏡面ロールＡが回転して受信器ｒと発信器ｐが最近接する瞬間に信号がデータ解析装置ｏに転送され、この位置を基点と設定することができる。このとき、データ解析装置ｏには、鏡面ロールＡの表面に存在する凹凸欠陥の画像データ及び鏡面ロールＹａの基点データが転送されるように設定することにより、基点データの受信時刻と凹凸欠陥の受信時刻との差、鏡面ロールＡの回転速度、及び鏡面ロールの半径から、凹凸欠陥のＹａ位置を計算することができる。なお、より簡易なＹａ方向の基点の取り方として、鏡面ロールＡの回転軸と平行にひもを張り、撮像手段ｅが撮影した画像を解析し、ひもを検知した位置をＹａ方向の基点とする方法もある。前述の近接センサによる方法に代えて、本方法を用いてもよい。
【００２３】
変換手段１は、検出手段１により検出された凹凸欠陥の位置データを、Ｘａ−Ｙａ座標データに変換することができるものであれば、本発明の効果を損なわない限り特に制限されない。変換手段１としては、例えば、プログラミングと数値計算が可能なソフトウェアを用いることができる。このようなソフトウェアの具体例としては、例えば、マイクロソフト社の“Ｅｘｃｅｌ”（登録商標）や“Ｖｉｓｕａｌ  Ｃ＋＋”（登録商標）を用いることができる。
【００２４】
本発明の検査システムは、フィルム製造工程の最も上流に位置する前記鏡面ロールＡよりも下流において、フィルムの欠点を検出する検出手段２を備えることが重要である。このような態様とすることにより、フィルムの欠点を検出することができる。検出手段２は、本発明の効果を損なわない限り特に制限されず、公知の欠点検出手段を用いることができる。
【００２５】
欠点検出手段としては、例えば、図３に示すような手段を好ましく用いることができる。図３に示す例は、光照射装置ｔ、受光装置ｕ、画像処理装置ｖ、及びロータリーエンコーダーｗを有する。この例においては、走行しているフィルムsの片側に設置した光照射装置ｔより可視光領域の波長の光を照射し、その透過光又は反射光の光量の変化を受光装置ｕで検出し（図３に示すのは透過光を検出する態様のみ。）、検出された光量に応じたデジタル信号を画像処理装置ｖに画像データが転送される。また、フィルムの長手方向の走行距離を表すロータリーエンコーダーｗのパルス信号も画像処理装置ｖに転送される。得られた画像データやパルス信号より、画像処理装置ｖは欠点を検出することができる。
【００２６】
光照射装置ｔとしては、ＬＥＤや蛍光灯、ハロゲンやメタルハライド照明を伝送ロッドや光ファイバから照射するものなどを用いることができる。
【００２７】
受光装置ｕとしては、ラインセンサカメラや、受光素子を２次元に配列したエリアセンサカメラを用いることができる。連続搬送されるフィルムsを検査する観点からは、ラインセンサカメラを用いることが好ましい。なお、これらのカメラはモノクロのものであってもカラーのものであってもよい。受光装置ｕは、本発明の効果を損なわない限り、フィルムから観察したときに光照射装置ｔと同じ側に配置しても、反対側に配置してもよい。光照射装置ｔと同じ側に配置した受光装置ｕは反射光を、図３のように光照射装置の反対側に配置した受光装置ｕは透過光を検知することができる。
【００２８】
受光装置ｕは、フィルムに発生した欠点によって散乱した光を受光するように配設することが好ましい。このような態様とすることにより、欠点の有無により受光装置ｕが検知する光量が変化するため、フィルム上の欠点の有無を容易に判別することができる。受光装置ｕはフィルムに発生した欠点によって散乱した光を受光するように配設する例としては、例えば、欠点がない場合の透過光は受光装置ｕに入射しないが、欠点により散乱したときの透過光は受光装置ｕに入射するように、受光装置ｕを入射光の方向から外れるように位置を調整する例が挙げられる。
【００２９】
画像処理装置ｖは、受光装置ｕが検出した透過光又は反射光の光量の変化よりフィルム表面の欠点を検出する。より具体的には、受光装置ｕが検出した透過光又は反射光の光量は、受光装置ｕにおいてその大きさに応じたデジタル信号に変換され、画像処理手段ｖがデジタル信号を検出して画像処理し、画像処理結果に基づいてフィルムの表面の欠点を検出する。なお、受光装置ｕが発する信号がデジタル信号ではなくアナログ信号である場合、画像処理装置ｖはアナログ信号をデジタル信号に変換する。
【００３０】
本発明の検査システムは、フィルムの幅方向をＸｂ方向、長手方向をＹｂ方向としたときに、検出手段２により検出された欠点の位置データを、Ｘｂ−Ｙｂ座標データに変換する変換手段２を備えることが重要である。欠点検出手段が図３に示す態様のものである場合、変換手段２において、Ｘｂは受光装置ｕの検出位置から、Ｙｂはフィルムの走行長を計測しているロータリーエンコーダーのパルス信号から求めることができる。
【００３１】
本発明の検査システムは、前記Ｘａ−Ｙａ座標データと前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データを比較する比較手段１を備えることが重要である。鏡面ロールＡと検出手段２との間に延伸工程がなければ、Ｘａ−Ｙａ座標とＸｂ−Ｙｂ座標との比較は延伸の影響を考慮せずに直接行うことができる。しかしながら、鏡面ロールＡと検出手段２との間に延伸工程がある場合は、延伸による影響を考慮する必要がある。
【００３２】
延伸の影響を考慮してＸａ−Ｙａ座標とＸｂ−Ｙｂ座標との比較を行う手段の一例について、図４を用いて説明する。先ず、ロール表面全面に辺の長さがａである正方形のマス目が刻印されたロール（以下、刻印ロールと呼ぶことがある。）の表面にインクを付け、延伸前の段階で該刻印ロールによりフィルム上に正方形のマス目を転写する。転写されたマス目より任意に１つのマス目を選択し、その４つの頂点のうちＸａ方向及びＹａ方向の値が最小である点を０点（Ｘａ及びＹａが共に０である点）とする（図４Ａ）。続いて、フィルムを延伸した後、長手方向及び幅方向各位置にけるマス目の変形度合いを計測し、０点を基準として他の３点の座標を得る（図４Ｂ）。延伸前の正方形と延伸後の平行四辺形形状（二軸方向に延伸した場合）における座標から、Ｘａ−ＹａからＸｂ−Ｙｂへの変換するための一次変換の式を得ることができる。こうして得られた一次変換の式を用いて一次変換を行うことにより、延伸の影響を考慮してＸａ−Ｙａ座標とＸｂ−Ｙｂ座標との比較を行うことができる。
【００３３】
比較手段１は両者を比較することができるものであれば特に制限されないが、比較手段１においては、例えば図５における前記Ｘａ−Ｙａ座標データ及び延伸を考慮した前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおいて、Ｘａ方向の原点をｘ、Ｘｂ方向の原点をｙとして、これらを重ね合わせる。さらに、Ｙａ方向にあたる鏡面ロールＡの回転方向と、Ｙｂ方向にあたるフィルムの搬送方向を重ね合わせることで、前記Ｘａ−Ｙａ座標データと前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データを比較することができる。
【００３４】
本発明の検査システムは、比較手段１が、Ｘａ−Ｙａ座標データにおける点の個数をｎａ個、Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおける点の個数をｎｂ個、Ｘａ−Ｙａ座標データにおける各点をａｉ（ｉは１〜ｎａの整数）、Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおける各点をｂｊ（ｊは１〜ｎｂの整数）、ｂｊを一次変換した各点をｂｊ’、ｂｊ’にＸｂ方向と平行なベクトル（ＳｈｉｆｔＸｂ（ｍｍ））とＹｂ方向と平行なベクトル（ＳｈｉｆｔＹｂ（ｍｍ））を加えた各点をｂｊ’’、ａｉとｂｊ’’間の距離をＬ−ａｉｂｊ’’（ｍｍ）としたときに、Ｌ−ａｉｂｊ’’が合致判定距離関数ｄ＜１（ｍｍ）を満たす点が３点以上となるようにＳｈｉｆｔＸｂ及びＳｈｉｆｔＹｂを決定する手段であることが好ましい。
【００３５】
ここで、ａｉ（ｉは１〜ｎａの整数）及びｂｊ（ｊは１〜ｎｂの整数）のｉ及びｊは重複しないことを条件に任意に選択することができる。以後、ｎａ＝５、ｎｂ＝５の場合を例に説明する。Ｘａ−Ｙａ座標データにおける５つの点は、任意にａ１〜ａ５とすることができる。Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおける５つの点についても同様である。ｂｊを一次変換するとは、ｂｊとして認定した点（この例においてはｂ１〜ｂ５）全てを前記の方法で得られる式で一次変換することをいう。こうして得られた点がｂｊ’（この例においては順にｂ１’〜ｂ５’）となる。
【００３６】
ｂｊ’にＸｂ方向と平行なベクトル（ＳｈｉｆｔＸｂ（ｍｍ））とＹｂ方向と平行なベクトル（ＳｈｉｆｔＹｂ（ｍｍ））を加えるとは、全てのｂｊ’に同じＳｈｉｆｔＸｂと同じＳｈｉｆｔＹｂを加えることをいう。ＳｈｉｆｔＸｂはＸａ方向と平行であれば向きはどちらでもよく、また０であってもよい。ＳｈｉｆｔＹｂも同様である。ｂｊ’にＳｈｉｆｔＸｂとＳｈｉｆｔＹｂを加えて得られた点がｂｊ’’（この例においては順にｂ１’’〜ｂ５’’）となる。
【００３７】
ａｉとｂｊ’’間の距離（Ｌ−ａｉｂｊ’’）とは、各ｂｊ’’から最も近接するａｉまでの距離をいう。この例においては、ｂ１’’とａ１、ａ２、ａ３、ａ４、及びａ５との距離のうち最短のものを求め、同様にｂ２’’〜 ｂ５’’についてもａ１、ａ２、ａ３、ａ４、及びａ５との距離のうち最短のものを求める。こうして得られた５つの距離がａｉとｂｊ’’間の距離となる。Ｌ−ａｉｂｊ’’が合致判定距離関数ｄ＜１（ｍｍ）を満たす点が３点以上となるとは、Ｌ−ａｉｂｊ’’の少なくとも３つが合致判定距離関数ｄ＜１（ｍｍ）の範囲にあることをいう。この例において、ａ１とｂ１’’間の距離、ａ２とｂ２’’間の距離、ａ３とｂ３’’間の距離、ａ４とｂ４’’間の距離、及びａ５とｂ５’’間の距離がａｉとｂｊ’’間の距離であるとすれば、これらのうち少なくとも３つが合致判定距離関数ｄ＜１（ｍｍ）の範囲にあることをいう。
【００３８】
Ｌ−ａｉｂｊ’’が合致判定距離関数ｄ＜１（ｍｍ）を満たす点が３点以上となるようにＳｈｉｆｔＸｂ及びＳｈｉｆｔＹｂを決定する手順の一例について図６を用いて説明する。図６の例においては、Ｘａ−Ｙａ座標の点及びＸｂ−Ｙｂ座標の点がそれぞれ３点である。先ず、Ｘｂ−Ｙｂ座標の点ｂ１、ｂ２、及びｂ３に対してそれぞれ一次変換を施し、順にｂ１’、ｂ２’、及びｂ３’とする。このとき、ＳｈｉｆｔＸｂの分解能をΔＸ、ＳｈｉｆｔＹｂの分解能をΔＹとすると、ＳｈｉｆｔＸｂはΔＸの整数倍、ＳｈｉｆｔＹｂはΔＹの整数倍で表すことができる。ここで、Ｘｂ方向に平行なベクトル成分をｎｘ×ΔＸ（ｎｘは任意の整数）、Ｙｂ方向に平行なベクトル成分をｎｙ×ΔＹ（ｎｙは任意の整数）とすると、ｂ１’’のＸ座標は、ｂ１’のＸｂ座標Ｘｂ１’にｎｘ×ΔＸを加えた値となり、ｂ１’’のＹ座標は、ｂ１’のＹｂ座標Ｙｂ１’にｎｙ×ΔＹを加えた値となる。ｂ２’’及びｂ３’’の座標も同様に表現できる。その後、各点についてａｉとｂｊ’’の距離Ｌ−ａｉｂｊ’’を計算し、合致判定距離関数（図６中に破線で表示）ｄ＜１（ｍｍ）を満たすか否かを判断する。図６の例においては、ｎｘ＝２ｍｍ、ｎｙ＝−１ｍｍのときに３点とも合致判定距離関数ｄ＜１（ｍｍ）を充足することとなり、このときのＳｈｉｆｔＸｂは２ΔＸ、ＳｈｉｆｔＹｂは−ΔＹとなる。
【００３９】
次に、合致判定距離関数ｄについて、図７を用いて説明する。合致判定距離関数ｄは、様々な数学上の関数を用いて定めることができる。代表的な距離関数として、ダイヤモンド型（式１）、長方形型（式２）、楕円型（式３）等がある。合致判定距離関数内のα、βは探索範囲の大きさを表し、α、βを大きく設定すると探索範囲も大きくなる。重なりなくエリア全体を探索する点から、合致判定距離関数ｄは長方形型（式２  図７Ａ）が好ましい。合致判定距離関数がダイヤモンド型（式１  図７Ｂ）や楕円型（式３）の場合、全エリアを探索させるためには重なりが生じ、重なり部分に点がある場合は複数の点でｄ＜１を満たすことになる。全エリアを効率良く探索させるためには、合致判定距離関数内のα、βは、ΔＸ、ΔＹの関数となる。合致判定距離関数が長方形型（式２）の場合、αはΔｘ／２、βはΔｙ／２とすることが重なりなく全エリアを探索する観点から好ましい。
【００４０】
【数１】
2018040792.tif 000003
【００４１】
【数２】
2018040792.tif 000004
【００４２】
【数３】
2018040792.tif 000005
【００４３】
本発明の検査システムにおける比較手段１が、前記Ｘａ−Ｙａ座標データにおける点の個数をｎａ個、前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおける点の個数をｎｂ個、前記Ｘａ−Ｙａ座標データにおける各点をａｉ（ｉは１〜ｎａの整数）、前記Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおける各点をｂｊ（ｊは１〜ｎｂの整数）、ｂｊを一次変換した各点をｂｊ’、ｂｊ’にＸｂ方向と平行なベクトル（ＳｈｉｆｔＸｂ（ｍｍ））とＹｂ方向と平行なベクトル（ＳｈｉｆｔＹｂ（ｍｍ））を加えた各点をｂｊ’’、ａｉとｂｊ’’間の距離をＬ−ａｉｂｊ’’（ｍｍ）としたときに、Ｌ−ａｉｂｊ’’が合致判定距離関数ｄ＜１（ｍｍ）を満たす点が３点以上となるようにＳｈｉｆｔＸｂ及びＳｈｉｆｔＹｂを決定する手段である場合、Ｌ−ａｉｂｊ’’が合致判定距離関数ｄ＜１（ｍｍ）を満たす点の個数をｎ個としたときに、比較手段１が、ｎが最大となるＳｈｉｆｔＸｂ及びＳｈｉｆｔＹｂを決定する手段であることが好ましい。
【００４４】
通常、ｎａやｎｂの個数が増加するにつれ、合致判定距離関数ｄ＜１（ｍｍ）を満たす点が３点以上となるパターンの数も増加する。そして、該パターンが増加するにつれ、問題となる鏡面ロールの欠陥を特定することも困難となる。そのため、比較手段１が、ｎが最大となるＳｈｉｆｔＸｂ及びＳｈｉｆｔＹｂを決定することにより、検出手段１で得られた欠陥と検出手段２で得られた欠点が対応する可能性が高くなり、鏡面ロールＡに起因するフィルムの欠点を特定し易くなる。
【００４５】
本発明の検査システムは、前記鏡面ロールＡ、検出手段２、及び延伸工程の位置関係に応じて、異なった変換手段を有することが好ましい。鏡面ロールＡと検出手段２の間に延伸工程がない場合、鏡面ロールＡに欠陥があり、その欠陥がフィルムに転写すると、前記変換手段２により得られたＸｂ−Ｙｂ座標データにおいて、Ｙｂ方向に鏡面ロールＡの円周長ピッチで周期的に発生する。
【００４６】
そのため、本発明の検査システムは、鏡面ロールＡと延伸工程の間に位置する検出手段２を検出手段２Ａとしたときに、検出手段２Ａを有し、変換手段２により得られたＸｂ−Ｙｂ座標データにおいて、Ｙｂ方向に周期性がある点におけるＹｂ方向の値を鏡面ロールＡの円周長で除したときの剰余値を、位置座標Ｙｂ座標データに変換する変換手段を変換手段３としたときに、さらに変換手段３を備えることが好ましい。
【００４７】
鏡面ロールＡと縦延伸工程の下流に検出手段２を有する場合、鏡面ロールＡに欠陥があり、その欠陥がフィルムに転写すると、変換手段２により得られたＸｂ−Ｙｂ座標データにおいて、Ｙｂ方向に鏡面ロールＡの円周長と縦延伸倍率を掛けたピッチで周期的に発生する。
【００４８】
そのため、本発明の検査システムは、鏡面ロールＡと縦延伸工程の下流に位置する検出手段２を検出手段２Ｂとしたときに、検出手段２Ｂを有し、変換手段２により得られたＸｂ−Ｙｂ座標データにおいて、Ｙｂ方向に周期性がある点におけるＹｂ方向の値を（鏡面ロールＡの円周長×縦延伸倍率）で除したときの剰余値を、位置座標Ｙｂ’座標データに変換する変換手段を変換手段４としたときに、さらに変換手段４を備えることが好ましい。通常、鏡面ロールＡと検出手段２の間に延伸工程が存在する場合、毎回、前述の刻印ロールを用いた方法により一次変換の式を得る必要があるが、このような態様とすることにより、鏡面ロールＡと検出手段２の間に延伸工程が存在する場合において、一次変換の式を得る工程を省略することができる。
【００４９】
鏡面ロールＡと横延伸工程の下流に検出手段２を有する場合、鏡面ロールＡに欠陥があり、その欠陥がフィルムに転写すると、前記変換手段２により得られたＸｂ−Ｙｂ座標データにおいて、鏡面ロールＡのＸａ方向に延伸される。
【００５０】
そのため、本発明の検査システムは、鏡面ロールＡと横延伸工程の下流に位置する検出手段２を検出手段２Ｃとしたときに、検出手段２Ｃを有し、変換手段２により得られ記Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおける各点について、Ｘｂ方向の値を横延伸倍率で除した値を、位置座標Ｘｂ’座標データに変換する手段を変換手段５としたときに、さらに変換手段５を備えることを特徴とすることが好ましい。
【００５１】
なお、検出手段２Ａ〜２Ｃは全て並存させることが可能であり、変換手段３〜５も同様である。
【実施例】
【００５２】
以下、実施例に沿って本発明を説明するが、本発明はこれらの実施例によって制限されるものではない。
【００５３】
（実施例１）
ジカルボン酸成分としてテレフタル成分が１００モル％、グリコール成分としてエチレングリコール成分が１００モル％であるポリエチレンテレフタレート樹脂（固有粘度０．６５）を、酸素濃度を０．２体積％としたベント二軸押出機に供給し、押出機にて２８０℃の溶融状態とし、ギヤポンプにてフィルタを介し、Ｔダイより２５℃に温度制御した後述する鏡面ロールＡ上にシート状に吐出した。その際、直径０．１ｍｍのワイヤー状電極を使用して静電印加し、冷却ドラムに密着させ未延伸フィルムを得た。次いで、長手方向への延伸前に加熱ロールにてフィルム温度を上昇させ、予熱温度を８５℃、延伸温度を９０℃で長手方向に３倍延伸し、すぐに４０℃に温度制御した金属ロールで冷却した。次いでテンター式横延伸機にて予熱温度９５℃、延伸温度１００℃で幅方向に３．１倍延伸し、そのままテンター内にて幅方向に４％のリラックスを掛けながら温度２３０℃で５秒間の熱処理を行った。次いで後述の検出手段２  フィルム欠点検査にて、フィルム搬送速度４０ｍ／ｍｉｎでフィルムの欠点の検査を行い、フィルム厚み１８８μｍの二軸配向積層ポリエステルフィルムのフィルムの欠点Ｘｂ−Ｙｂ座標データを得て、評価した。
【００５４】
＜光照射手段、撮像手段、検出手段１、及びロールの表面凹凸欠陥測定＞
鏡面ロールＡとしては、直径１，４００ｍｍ、幅１，０００ｍｍの鏡面仕上げ金属ロールを用いた。鏡面ロールＡの測定時における回転速度は５ｍ／分とした。光照射手段として、アイテックシステム社製  型番ＬＬＲＶ４５０ｘ３０−７５  照射寸法幅４００ｍｍ、照射寸法高さ１８ｍｍの光源ユニットを用いた。撮像手段として、インターレース形式で４８０画素×６４０画素の栃木ニコン社製、Ｎｉｋｏｎ  “Ｒａｙｆａｃｔ”（登録商標）  ＭＪ９５ｍｍＦ４  ＣＣＤエリアセンサカメラを使用し、鏡面ロールＡの回転軸の中心と光の照射点の中心を通る直線と光照射手段から発せられる入射光が成す角を２０°とし、また、鏡面ロールＡの回転軸の中心と、光の照射点の中心と撮像手段の受光部の中心を結んだ直線の成す角を２１°とし、カメラ分解能０．５ｍｍとなるようトラバース機構付の架台に設置した。次に、トラバース架台に設置した光源ユニットとＣＣＤエリアカメラを使い、鏡面ロールＡの回転軸と平行なＸａ方向における端部を原点に、＋２００ｍｍの位置を、また、鏡面ロールＡの回転方向であるＹａの原点として、鏡面ロールＡの回転軸と平行に一本のひもを張った。この光源ユニットより鏡面ロールＡの表面に光を照射し、その反射光をラインカメラで鏡面ロールＡを一周分撮影し、得られた画像を二値化して凹凸欠陥の判定をした。同様に、トラバース架台に設置した光源ユニットとＣＣＤエリアカメラを使い、鏡面ロールＡの回転軸と平行なＸａ方向における端部を原点に、＋４０ｍｍ間隔で原点と対象方向に＋８００ｍｍの位置まで撮影し、得られた画像を二値化して凹凸欠陥の判定をした。
【００５５】
＜変換手段１＞
凹凸欠陥の判定で、凹凸欠陥と判定された座標のＸａ方向位置として、トラバース架台に設置した光源ユニットとＣＣＤエリアカメラの位置とし、座標のＹａ方向として、鏡面ロールＡの回転軸と平行に張られたひもを基点に、鏡面ロールＡの回転速度と撮影された時間より算出された値とした。以上により鏡面ロールＡｂにおける凹凸欠陥１０６９点をＸａ−Ｙａ座標データとして得た。
【００５６】
＜検出手段２＞
欠点検出装置としては、光照射手段として直線型の白色ＬＥＤ照明を、受光手段としてメック社製のＬＳＣ４５００  モノクロラインセンサカメラを備えるものを用いた。フィルム面とＬＥＤ照明の光軸がなす角度は９０°、フィルム面とＬＥＤ照明との距離は１５０ｍｍとした。また、光照射点の中心とモノクロラインセンサカメラの光検知部分の中心を結んだ直線とフィルム面が成す角が８５度、フィルム面とモノクロラインセンサカメラとの距離が２００ｍｍになるように、モノクロラインセンサカメラを設置した。画像処理手段においては、欠点を検出するために、２値化の閾値を３Ｎ（フィルム表面の地合ノイズＮ）と設定した。
【００５７】
＜変換手段２＞
前記検出手段２で得られたデータより、座標のＸｂは欠点を検出したカメラ位置と検出した位置として、座標のＹｂはフィルムの走行速度と欠点を検出した時間を掛け合わせた値により、フィルム上の欠点をＸｂ−Ｙｂ座標データとして得た。
【００５８】
＜変換手段４＞
前記フィルムの欠点Ｘｂ−Ｙｂ座標データにおいて、鏡面ロールＡ円周長として、直径１，４００ｍｍ×３．１４＝４，３９６ｍｍとし、Ｙｂ方向のフィルム縦方向延伸倍率として３倍とし、金属ロールＡの円周長の周期を鏡面ロールＡの円周長×縦延伸倍率＝１３，１８８ｍｍとし、金属ロールＡの円周長の周期で除したときの剰余値を、位置座標Ｙｂ’座標データに変換し、フィルムの周期欠点１８点をＸｂ−Ｙｂ’座標データとして得た。
【００５９】
＜変換手段５＞
前記Ｘｂ−Ｙｂ’座標データにおいて、Ｘｂ方向の値を横延伸倍率である３．１で除した値を、位置座標Ｘｂ’座標データに変換しＸｂ’−Ｙｂ’座標データを得た。
【００６０】
＜比較手段１＞
前記で得たＸａ−Ｙａ座標データの１，０６９点と、前記Ｘｂ’−Ｙｂ’座標データの１８点において、Ｘｂ’方向と平行にＸｂ’−Ｙｂ’座標の１８点を５ｍｍ間隔で−２００ｍｍから＋２００ｍｍにシフトさせ、Ｙｂ’方向と平行に１００ｍｍ間隔で０ｍから４．４ｍにシフトさせ、ａとｂ’’間の距離をＬ−ａｉｂｊ’’（ｍｍ）が１未満を満たす全点数を求めた。ここで、Ｘ方向の位置判定最大範囲α（ｍｍ）は５ｍｍとし、Ｙ方向の位置判定最大範囲β（ｍｍ）は１０ｍｍとし、合致判定距離関数は前述の式３を用いた。ａとｂ’’間の距離Ｌ−ａｉｂｊ’’（ｍｍ）がｄ＜１となる点が３つ以上であるＳｈｉｆｔＸｂ−ＳｈｉｆｔＹｂ及び点の数を図８に示す。
【００６１】
この結果より、ＳｈｉｆｔＸｂ、ＳｈｉｆｔＹｂ＝１８０ｍｍ、３，３００ｍｍのときに合致判定距離関数ｄが１未満にある点の数が１４個と最も多く、ＳｈｉｆｔＸｂ、ＳｈｉｆｔＹｂ＝１８０ｍｍ、３，３００ｍｍにおけるＸｂ−Ｙｂ座標データの各点ｂと合致判定距離関数ｄが１未満にあるＸａ−Ｙａ座標データの点ａが、フィルムの欠点の原因となる鏡面ロールＡの凹凸欠陥であると示唆された。ＳｈｉｆｔＸｂ、ＳｈｉｆｔＹｂ＝１８０ｍｍ、３，３００ｍｍにおけるＸｂ−Ｙｂ座標データの各点ｂと合致判定距離関数ｄが１未満にあるＸａ−Ｙａ座標データの点ａの凹凸欠陥位置を図９に示す。また、比較条件と結果を表１に示す。
【００６２】
（実施例２）
鏡面ロールＡの回転速度を１５ｍ／分とした以外は、実施例１と同様にして、解析を行った。比較条件と結果を表１に示す。
【００６３】
（実施例３）
鏡面ロールＡの回転軸の中心と光の照射点の中心を通る直線と光照射手段から発せられる入射光が成す角を４０°とし、また、鏡面ロールＡの回転軸の中心と、光の照射点の中心と撮像手段の受光部の中心を結んだ直線の成す角を４１°とした以外は、実施例１同様にして、解析を行った。比較条件と結果を表１に示す。
【００６４】
（実施例４）
合致判定距離関数ｄを前述の式２を用い、Ｘ方向の位置判定最大範囲αを２．５ｍｍ、β（ｍｍ）を５０ｍｍとした以外は、実施例１と同様にして、解析を行った。比較条件と結果を表１に示す。
【００６５】
（実施例５）
変換手段４、５に代えて、鏡面ロールＡを通過した後に１０ｍｍ×１０ｍｍの刻印ロールを用いてフィルムにマス目を転写させて、長手方向に３倍、幅方向に３．１倍の延伸を行った後に得られたマス目の変形度から算出した一次変換式を用いて、Ｘｂ’、Ｙｂ’を算出した以外は、実施例４と同様にして解析を行った。比較条件と結果を表１に示す。
【００６６】
【表１】
2018040792.tif 000006
【００６７】
さらに、実施例４で得られた合致判定距離関数ｄ＜１を満たす鏡面ロールＡ上の１７点の欠陥に対して研磨を行った後、その鏡面ロールを使用して実施例１と同様にフィルムを製造した。このときの欠点Ｘｂ−Ｙｂ座標データ数は１点のみとなり、実施例４で特定した１７の欠点が鏡面ロールＡの欠陥に起因することが確認できた。
【００６８】
＜比較例１＞
鏡面ロールＡを、表面粗さが５ｓである梨地表面金属ロールに変更した以外は、実施例１と同様に検出手段１にて、ロールの表面凹凸欠陥測定を実施した。結果、データがオーバーフローし、凹凸欠陥の判定に至らなかった。なお、「表面粗さが５ｓである梨地表面金属ロール」は鏡面ロールに該当しないロールである。
【産業上の利用可能性】
【００６９】
本発明により、フィルムの周期欠点の原因となる搬送用金属ロール表面の凹凸欠陥の位置を特定することができる検査システム、検査方法、及び該検査システムを用いたフィルムの製造方法を提供することができる。
【符号の説明】
【００７０】
ａ  光照射手段
ｂ  鏡面ロールＡ
ｃ  入射光
ｄ  反射光
ｅ  撮像手段
ｆ  検出手段１
ｇ  ｑと回転軸の交点
ｈ  光の照射点の中心
ｉ  ｇとｈを通る直線
ｊ  入射角
ｋ  受光部の中心
ｌ  ｈとｋを結んだ直線
ｍ  ｌとｉの成す角
ｎ  反射角
ｏ  データ処理装置
ｐ  近接センサ発信器
ｑ  ｈを通り、回転軸と直交する平面
ｒ  近接センサ受信器
ｓ  走行しているフィルム
ｔ  光照射装置
ｕ  受光装置
ｖ  画像処理装置
ｗ  ロータリーエンコーダー
ｘ  Ｘａ−Ｙａ座標データのＸａ方向の原点
ｙ  Ｘｂ−Ｙｂ座標データのＸｂ方向の原点
【図１】
2018040792.tif 000007
【図２】
2018040792.tif 000008
【図３】
2018040792.tif 000009
【図４】
2018040792.tif 000010
【図５】
2018040792.tif 000011
【図６】
2018040792.tif 000012
【図７】
2018040792.tif 000013
【図８】
2018040792.tif 000014
【図９】
2018040792.tif 000015