(57)【要約】【課題】不具合箇所を容易に特定する。【解決手段】出荷試験時の試験項目の測定値と、出荷時の出荷項目の調整値とを記録する記録部８１と、起動後の試験項目に対応するデータと出荷項目に対応するデータとを収集する収集部８２、８３と、試験項目に対応するデータと記録部に記録された試験項目の測定値とを比較する出荷試験値比較部６１２と、出荷項目に対応するデータと記録部８１に記録された出荷項目の調整値とを比較する出荷時調整値比較部６１３と、起動後の試験項目に対応するデータが、試験項目の測定値と比較して変動している、又は、起動後の出荷項目に対応するデータが、出荷項目の調整値と比較して変動しているとき、試験項目に対応するデータを決めるデバイス、又は出荷項目に対応するデータを決めるデバイスの特性が変化していると判断する特性変動判断部６１６と、を備える。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定数のデバイスを有する装置の出荷試験を行ったときの試験項目の測定値と、前記装置を出荷するときの出荷項目の調整値とを記録する記録手段と、
前記装置の起動後の前記試験項目に対応するデータを収集する測定値収集手段と、
前記試験項目に対応するデータと前記記録手段に記録された試験項目の測定値とを比較する出荷試験値比較手段と、
前記装置の起動後の前記出荷項目に対応するデータを収集する調整値収集手段と、
前記出荷項目に対応するデータと前記記録手段に記録された出荷項目の調整値とを比較する出荷時調整値比較手段と、
前記起動後の前記試験項目に対応するデータが、前記記録手段に記録された試験項目の測定値と比較して変動しているとき、又は前記起動後の前記出荷項目に対応するデータが、前記記録手段に記録された出荷項目の調整値と比較して変動しているとき、前記試験項目に対応するデータを決定するデバイス、又は前記出荷項目に対応するデータを決定するデバイスにおいて特性が変化していると判断する特性変動判断手段と、
を備える不良判別装置。
【請求項２】
前記記録手段は、前記装置の起動前に設定する設定項目の設定値を記録し、
前記装置の前記起動後の前記設定項目に対応するデータを収集する設定値収集手段と、
前記設定項目に対応するデータと前記記録手段に記録された設定項目の設定値とを比較する設定値比較手段と、
前記出荷試験値比較手段と前記出荷時調整値比較手段とにおいて前記変動が生じておらず、前記起動後の前記設定項目に対応するデータが、前記記録手段に記録された設定項目の設定値と比較して変動しており、
前記起動前に設定する設定項目に関連する前記試験項目に対応するデータと前記記録手段に記録された試験項目の測定値との間に変動がないとき、又は
前記起動前に設定する設定項目に関連する前記出荷項目に対応するデータと前記記録手段に記録された出荷項目の調整値との間に変動がないとき、
前記起動後の前記設定項目に対応するデータと、前記記録手段に記録された設定項目の設定値との間の差分が、前記設定項目に対応するデータを決定するデバイスの特性値の許容範囲内であるか否かを判断する経時変化判断手段と、を備え、
前記経時変化判断手段が、前記差分が前記デバイスの特性値の許容範囲内でないと判断すると、前記特性変動判断手段は、前記起動前に設定する設定項目の設定値において、又は前記起動前に設定値が設定されたデバイスにおいて特性が変化していると判断する、請求項１に記載の不良判別装置。
【請求項３】
前記起動前に設定する設定項目に関連する前記試験項目に対応するデータと前記記録手段に記録された試験項目の測定値との間に変動があるとき、又は
前記起動前に設定する設定項目に関連する前記出荷項目に対応するデータと前記記録手段に記録された出荷項目の調整値との間に変動があるとき、
前記経時変化判断手段が、前記起動後の前記設定項目に対応するデータと、前記記録手段に記録された設定項目の設定値との間の差分に対応する、前記起動前に設定する設定項目に関連する前記試験項目に対応するデータと前記記録手段に記録された試験項目の測定値との間の差分、又は前記起動前に設定する設定項目に関連する前記出荷項目に対応するデータと前記記録手段に記録された出荷項目の調整値との間の差分が、前記試験項目に対応するデータを決定するデバイス、又は前記出荷項目に対応するデータを決定するデバイスの特性値の許容範囲内でないと判断すると、前記特性変動判断手段は、前記デバイスと無関係に特性が変化していると判断する、請求項２に記載の不良判別装置。
【請求項４】
前記測定値収集手段、前記調整値収集手段、及び前記設定値収集手段は、前記装置の起動後から所定のタイミングで前記データを収集し、前記所定のタイミングで収集した前記データに変動がないとき、前記測定値収集手段、前記調整値収集手段、及び前記設定値収集手段は、前記所定のタイミングよりも長いタイミングで前記データを収集する、請求項２又は３に記載の不良判別装置。
【請求項５】
前記測定値収集手段、前記調整値収集手段、及び前記設定値収集手段が収集するデータは、ＩＴＬＡ（Integrable Tunable Laser Assembly）波長、ＩＴＬＡ出力パワー、ＶＯＡ（Variable Optical Attenuator）設定、変調器バイアス電圧、変調器ドライバゲイン、変調器ドライバ出力電圧モニタ、光出力パワーモニタのうち、何れか１つを少なくとも含む、請求項２から４の何れか１項に記載の不良判別装置。
【請求項６】
前記所定数のデバイスは基板上に実装されており、前記デバイスの間は光ファイバで接続されている、請求項１から５の何れか１項に記載の不良判別装置。
【請求項７】
所定数のデバイスを有する装置の出荷試験を行ったときの試験項目の測定値と、前記装置を出荷するときの出荷項目の調整値とを記録手段に記録する工程と、
前記装置の起動後の前記試験項目に対応するデータを収集する工程と、
前記試験項目に対応するデータと前記記録手段に記録された試験項目の測定値とを比較する工程と、
前記装置の起動後の前記出荷項目に対応するデータを収集する工程と、
前記出荷項目に対応するデータと前記記録手段に記録された出荷項目の調整値とを比較する工程と、
前記起動後の前記試験項目に対応するデータが、前記記録手段に記録された試験項目の測定値と比較して変動しているとき、又は前記起動後の前記出荷項目に対応するデータが、前記記録手段に記録された出荷項目の調整値と比較して変動しているとき、前記試験項目に対応するデータを決定するデバイス、又は前記出荷項目に対応するデータを決定するデバイスにおいて特性が変化していると判断する工程と、を備える、不良判別方法。
【請求項８】
コンピュータに、
所定数のデバイスを有する装置の出荷試験を行ったときの試験項目の測定値と、前記装置を出荷するときの出荷項目の調整値とを記録手段に記録する処理と、
前記装置の起動後の前記試験項目に対応するデータを収集する処理と、
前記試験項目に対応するデータと前記記録手段に記録された試験項目の測定値とを比較する処理と、
前記装置の起動後の前記出荷項目に対応するデータを収集する処理と、
前記出荷項目に対応するデータと前記記録手段に記録された出荷項目の調整値とを比較する処理と、
前記起動後の前記試験項目に対応するデータが、前記記録手段に記録された試験項目の測定値と比較して変動しているとき、又は前記起動後の前記出荷項目に対応するデータが、前記記録手段に記録された出荷項目の調整値と比較して変動しているとき、前記試験項目に対応するデータを決定するデバイス、又は前記出荷項目に対応するデータを決定するデバイスにおいて特性が変化していると判断する処理と、を実行させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、不良判別装置、不良判別方法、及びプログラムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光通信ネットワークの終端に設置され、光信号と電気信号と間の変換と、光信号の多重・分離とを行う光通信装置において、近年、長距離大容量伝送を実現するために、光デジタルコヒーレント方式が用いられている。光デジタルコヒーレント方式では、光の強度だけでなく、波としての性質を利用することで、長距離大容量伝送を効率的に実現することが可能である。
そして、光デジタルコヒーレント方式を採用する光通信装置のコストダウンを図るため、以下のような実装が行われている。例えば、電気信号と光信号とを相互に変換するデバイスである光トランシーバを実装することに代えて、光源、変調器、受信器、光減衰器、及び光ファイバアンプなどのデバイスを光通信装置のオンボードに個々に実装することが行われている。そして、個々に実装されたデバイスを、光ファイバで接続する実装形態を採用する光通信装置が増加してきている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−１１７４１６号公報
【特許文献２】特開２０１４−１０７６７６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
光通信装置のオンボードに実装されたデバイスの各々は光ファイバで接続されている。このような実装形態を採用する光通信装置において、通信不良が発生した場合、各デバイス及び光ファイバの１つ１つについて不具合箇所を突き止めていかなければない。したがって、不具合箇所を特定することに対して多大な手間と時間を要する。その結果、不具合箇所を突き止めることが非常に困難であるという問題があった。そして、仮に、不良解析を行ったとしても不具合の原因となる箇所を発見することができない場合は、ボードを丸ごと交換しなければならないという問題があった。
【０００５】
特許文献１には、以下に説明する技術が開示されている。光トランシーバの内部に備えられている各部の動作状況や環境状況に関するデータが所定の閾値範囲外の場合、動作状況や環境状況が正常である場合に取得された最新の各状況データを格納する履歴情報の更新を停止している。
特許文献２には、以下に説明する技術が開示されている。光トランシーバの各部が故障状態にあるかどうかを示すモニタリング情報を所定の頻度で取得し、当該モニタリング情報と推定される機器の故障原因との対応を示す対応表とに基づいて、推定された故障原因を分析している。
【０００６】
しかしながら、特許文献１及び特許文献２に記載された技術は、何れも光トランシーバの故障の原因を把握することを対象とするものである。したがって、光源、変調器、受信器、光減衰器、及び光ファイバアンプなどをオンボードに個々に実装し、これらを光ファイバで接続する実装形態を有する光通信装置の不具合箇所の発見に、そのまま適用することはできない。
【０００７】
本発明の目的は、上述した課題を鑑み、オンボードに複数のデバイスが搭載された装置に発生した不具合箇所を容易に特定するという課題を解決する不良判別装置、不良判別方法、及びプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の不良判別装置は、所定数のデバイスを有する装置の出荷試験を行ったときの試験項目の測定値と、前記装置を出荷するときの出荷項目の調整値とを記録する記録手段と、前記装置の起動後の前記試験項目に対応するデータを収集する測定値収集手段と、前記試験項目に対応するデータと前記記録手段に記録された試験項目の測定値とを比較する出荷試験値比較手段と、前記装置の起動後の前記出荷項目に対応するデータを収集する調整値収集手段と、前記出荷項目に対応するデータと前記記録手段に記録された出荷項目の調整値とを比較する出荷時調整値比較手段と、前記起動後の前記試験項目に対応するデータが、前記記録手段に記録された試験項目の測定値と比較して変動しているとき、又は前記起動後の前記出荷項目に対応するデータが、前記記録手段に記録された出荷項目の調整値と比較して変動しているとき、前記試験項目に対応するデータを決定するデバイス、又は前記出荷項目に対応するデータを決定するデバイスにおいて特性が変化していると判断する特性変動判断手段と、を備える。
【０００９】
また、本発明の不良判別方法は、所定数のデバイスを有する装置の出荷試験を行ったときの試験項目の測定値と、前記装置を出荷するときの出荷項目の調整値とを記録手段に記録する工程と、前記装置の起動後の前記試験項目に対応するデータを収集する工程と、前記試験項目に対応するデータと前記記録手段に記録された試験項目の測定値とを比較する工程と、前記装置の起動後の前記出荷項目に対応するデータを収集する工程と、前記出荷項目に対応するデータと前記記録手段に記録された出荷項目の調整値とを比較する工程と、前記起動後の前記試験項目に対応するデータが、前記記録手段に記録された試験項目の測定値と比較して変動しているとき、又は前記起動後の前記出荷項目に対応するデータが、前記記録手段に記録された出荷項目の調整値と比較して変動しているとき、前記試験項目に対応するデータを決定するデバイス、又は前記出荷項目に対応するデータを決定するデバイスにおいて特性が変化していると判断する工程と、を備える。
【００１０】
さらに、本発明のプログラムは、コンピュータに、所定数のデバイスを有する装置の出荷試験を行ったときの試験項目の測定値と、前記装置を出荷するときの出荷項目の調整値とを記録手段に記録する処理と、前記装置の起動後の前記試験項目に対応するデータを収集する処理と、前記試験項目に対応するデータと前記記録手段に記録された試験項目の測定値とを比較する処理と、前記装置の起動後の前記出荷項目に対応するデータを収集する処理と、前記出荷項目に対応するデータと前記記録手段に記録された出荷項目の調整値とを比較する処理と、前記起動後の前記試験項目に対応するデータが、前記記録手段に記録された試験項目の測定値と比較して変動しているとき、又は前記起動後の前記出荷項目に対応するデータが、前記記録手段に記録された出荷項目の調整値と比較して変動しているとき、前記試験項目に対応するデータを決定するデバイス、又は前記出荷項目に対応するデータを決定するデバイスにおいて特性が変化していると判断する処理と、を実行させる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、オンボードに複数のデバイスが搭載された装置に発生した不具合箇所を容易に特定することが可能な不良判別装置、不良判別方法、及びプログラムを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明の第１実施形態における不良判別装置が不具合箇所を判別する光通信装置の一例を示す概略ブロック図である。
【図２】第１実施形態の不良判別装置の分析部と記録装置の一例を示す概略ブロック図である。
【図３】第１実施形態の不良判別装置の記録装置に格納されている特性値（測定値）の一例を示す図である。
【図４】第１実施形態の不良判別装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図５】第１実施形態の不良判別装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【図６】本発明の第２実施形態の不良判別装置の一例を示す概略ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
（第１実施形態）
本発明の第１実施形態を説明する。図１は、本発明の第１実施形態における不良判別装置が不具合箇所を判別する光通信装置の一例を示す概略ブロック図である。なお、以下説明する図における一方向性の矢印は、ある信号（データ）の流れを端的に示したもので、双方向性を排除するものではない。
図１を参照すると、本実施形態の不良判別装置が不具合箇所を判別する光通信装置１０は、基板（オンボード）２０上に、光送信部３０と、光受信部４０と、ドライバ５０と、制御部６０と、記録装置（メモリ）７０とを有する。そして、制御部６０は、分析部６１を有する。
次に、基板２０上に実装されている各デバイスの機能について説明する。光送信部３０は、光通信装置１０との間で通信を行う図示しない対向側装置に対して光信号を送信する。光受信部４０は、光通信装置１０との間で通信を行う図示しない対向側装置から光信号を受信する。ドライバ５０は、光送信部３０の光信号を駆動する。制御部６０は、光通信装置１０全体の動作を制御する。分析部６１は、光通信装置１０を構成する基板２０上に実装された各デバイスに発生した不具合を分析する。この点については後述する。記録装置（メモリ）７０は、制御部６０が光通信装置１０の動作を制御するコンピュータプログラムを格納する。また、記録装置（メモリ）７０は、本実施形態の光通信装置１０の各デバイスや装置全体の特性値（測定値）を格納する。この点についても後述する。
【００１４】
次に、本実施形態の光通信装置１０の各デバイスの動作について詳細に説明する。
本実施形態の基板２０上に実装されている光送信部３０は、光源となるＩＴＬＡ（Integrable Tunable Laser Assembly）変調器を有する。光受信部４０は、局発光の光源となるＩＴＬＡ、ＩＣＲ（Integrated Coherent Receiver）とを有する。なお、光送信部３０の光源と光受信部４０の光源とは、同一のものを使用してもよい。そして、光送信部３０と、光受信部４０と、ドライバ５０と、制御部６０と、記録装置（メモリ）７０とは、それぞれ光ファイバ同士で接続されている。そして、基板２０は、これらの各デバイスを電気的に接続して制御する。制御部６０は、光通信装置１０の動作制御用のマイコンやＣＰＵ（Central Processing Unit）を有する。記録装置（メモリ）７０は、各種データを保持のためのメモリを有する。データ保持用のメモリは、初期調整値、出荷試験データなどを格納する。また、データ保持用のメモリは、各種設定値と特性値（測定値）との経時的変化に基づく許容変動幅を格納する。
【００１５】
データ保持用メモリに格納される各種設定値と特性値（測定値）とは、制御用ＦＷ（firmware）を一例とする分析部６１において逐次分析が行われる。分析部６１が行った逐次分析結果に基づいて、不良が発生したと判断される場合、当該不良原因が記録装置（メモリ）７０内に格納される。
光通信装置１０の基板２０に実装されている記録装置（メモリ）７０には、光通信装置１０の出荷試験を行った時の測定値、出荷時の調整値、光通信装置１０を構成する各デバイスの起動前の設定値、光通信装置１０を構成する各デバイスの特性値の許容変動幅などが格納されている。
【００１６】
次に、第１実施形態の不良判別装置を構成する分析部と記録装置の機能について説明する。図２は、第１実施形態の不良判別装置の分析部と記録装置の一例を示す概略ブロック図である。
本実施形態の不良判別装置を構成する分析部６１は、データ収集部６１１と、出荷試験値比較部６１２と、出荷時調整値比較部６１３と、設定値比較部６１４と、経時変化判断部６１５と、特性変動判断部６１６とを有する。
また、記録装置（メモリ）７０は、光通信装置１０の出荷試験時の測定値７０１と、出荷時の調整値７０２と、起動前設定値７０３と、特性値の許容変動幅７０４とを有する。さらに、記録装置（メモリ）７０は、データ収集部６１１で収集された各設定値（測定値）を格納する収集データ格納部７０５を有する。
【００１７】
データ収集部６１１は、不良判別装置が不良を判別する対象装置である光通信装置１０の各デバイスから、所定のタイミングで、各デバイスにおける特性値（測定値）を取得する。データ収集部６１１が取得する特性値（測定値）のパラメータの具体例として、光通信装置１０の光送信部３０におけるＩＴＬＡ波長、ＩＴＬＡ出力パワー、ＶＯＡ（Variable Optical Attenuator）設定、変調器バイアス電圧、変調器ドライバゲイン、変調器ドライバ出力電圧モニタ、光出力パワーモニタなどが挙げられる。データ収集部６１１で収集された特性値（測定値）は、収集データ格納部７０５に格納される。
出荷試験時の測定値７０１は、光通信装置１０の出荷試験を行ったときの試験項目の測定値である。出荷時の調整値７０２は、光通信装置１０を出荷するときの調整項目（以下、出荷項目ともいう。）の調整値である。起動前設定値７０３は、光通信装置１０の起動前に設定する設定項目の設定値である。特性値の許容変動幅７０４は、出荷試験時の測定値７０１、出荷時の調整値７０２、起動前設定値７０３の各値が変動した場合、光通信装置１０の性能を満足するために許容される範囲である。
【００１８】
出荷試験値比較部６１２は、測定項目（以下、パラメータともいう。）が同一であるデータ収集部６１１で収集された測定値と出荷試験時の測定値７０１とを比較する。このとき、データ収集部６１１は、光通信装置１０の出荷試験を行ったときの試験項目に対応する、光通信装置１０の起動後のデータを収集する測定値収集手段として機能する。
出荷時調整値比較部６１３は、パラメータが同一であるデータ収集部６１１で収集された特性値（測定値）と出荷時の調整値７０２とを比較する。このとき、データ収集部６１１は、光通信装置１０を出荷するときの出荷項目に対応する、光通信装置１０の起動後のデータを収集する調整値収集手段として機能する。
設定値比較部６１４は、パラメータが同一であるデータ収集部６１１で収集された特性値（測定値）と起動前設定値７０３とを比較する。このとき、データ収集部６１１は、光通信装置１０の起動前に設定する設定項目に対応する、光通信装置１０の起動後のデータを収集する設定値収集手段として機能する。
経時変化判断部６１５は、設定値比較部６１４において比較された結果、データ収集部６１１で収集された特性値（測定値）が起動前設定値７０３に対して変動していた場合、以下のような動作を行う。例えば、経時変化判断部６１５は、出荷試験値比較部６１２と出荷時調整値比較部６１３との比較結果に応じて、出荷試験時の測定値の変動幅、出荷時の調整値の変動幅、及び起動前設定値の変動幅が、特性値の許容変動幅７０４の範囲内にあるか否かを判断する。
特性変動判断部６１６は、出荷試験値比較部６１２、出荷時調整値比較部６１３、設定値比較部６１４、及び経時変化判断部６１５において比較が行われた結果、特性値（測定値）が妥当でない場合、当該妥当でない特性値（測定値）を決定するデバイスにおいて特性変動が発生したと判断する。
なお、特性変動判断部６１６において特性変動が発生したと判断されたデバイスをユーザに認知してもらうために、記録装置（メモリ）７０に格納された不良原因を、光通信装置１０の図示しない表示部などが表示してもよい。
【００１９】
次に、本実施形態の不良判別装置の記録装置に格納されている特性値（測定値）の一例について、図３を参照して説明する。
図３に示すように、記録装置（メモリ）７０は、出荷試験時の測定値７０１と、出荷時の調整値７０２と、起動前設定値７０３と、特性値の許容変動幅７０４とを格納している。
出荷試験時の測定値７０１には、ＩＴＬＡ、変調器、ＩＣＲなどが格納されている。
出荷時の調整値７０２には、光送信部、光受信部、ＶＯＡ（Variable Optical Attenuator）などが格納されている。
起動前設定値７０３には、光出力パワー、変調器バイアス電圧、光送信部、光受信部などが格納されている。
特性値の許容変動幅７０４には、光出力パワー、変調バイアス電圧、光送信部、光受信部などが格納されている。
なお、図３に示す特性値（測定値）は一例であって、これ以外の特性値（測定値）を、記録装置（メモリ）７０に格納することも可能である。
【００２０】
次に、本実施形態の不良判別装置の動作について説明する。
光通信装置１０の動作開始後のデータ収集は、次のように行われる。例えば、光通信装置１０の使用者から、光通信装置１０の動作を有効にするためのドリガ信号が入力される。このトリガ信号は、例えば、制御部６０内のＣＰＵの図示しないレジスタに対して入力される。トリガ信号が入力されると、分析部６１は、光通信装置１０を構成する各デバイスの測定値のデータ収集を行う。また、分析部６１は、光通信装置１０の基板２０に実装されている各デバイスに対して外部からの指示に基づいて設定された設定値（調整値）の収集を開始する。収集された各値（測定値、設定値、調整値）は、記録装置（メモリ）７０に格納される。
光通信装置１０の各デバイスからデータ収集部６１１がデータを収集するタイミングは、例えば、次のようなタイミングで行う。１つは、データ収集部６１１は、一定間隔のタイミングでデータ収集を実施する。２つ目は、データ収集部６１１は、各デバイスの設定値を変更したタイミングでデータ収集を実施する。この２つのタイミングでデータ収集を行うことで、特性変動判断部６１６は、光通信装置１０各デバイスの経時的な変化に加え、外部から行われる設定変更に基づいてもたらされる特性変動を判断することができる。
【００２１】
また、記録装置（メモリ）７０の記憶容量は有限である。そのため、データ収集部６１１は、収集した各データの取捨選択を行う必要がある。例えば、光通信装置１０の各デバイスの長期的な経時変化を観測する場合、データ収集部６１１は、光通信装置１０の起動直後から所定のタイミングでデータ収集を開始する。そして、データ収集部６１１は、収集した各設定値（測定値）を収集データ格納部７０５に格納する。分析部６１は、収集データ格納部７０５に格納した各設定値（測定値）の変化量を確認する。そして、所定のタイミングで収集した各設定値（測定値）に変化が無い場合、分析部６１は、データ収集のタイミングを、所定のタイミングよりも長期間のタイミングに変更する。そして、分析部６１は、変動が無い所定のタイミングで収集したで各設定値（測定値）を破棄する。
【００２２】
例えば、分析部６１が、所定のタイミングとして、１ｓ間隔で各設定値（測定値）を取得した場合、０ｓ、１ｓ、２ｓ、３ｓ、４ｓ、・・・といったタイミングで各設定値（測定値）が収集データ格納部７０５に格納される。分析部６１は、これらの各設定値（測定値）を分析した結果、各値に変動が無いと判断した場合、例えば、６０ｓ間隔で各設定値（測定値）を収集すればよいと判断する。そして、分析部６１は、０ｓ、６０ｓ、１２０ｓ、・・・といったタイミングで各設定値（測定値）を取得する。さらに、分析部６１は、６１ｓ、６２ｓ、・・・の間隔で取得した各設定値（測定値）と、１ｓ〜５９ｓの間に取得した各設定値（測定値）とを破棄する。
【００２３】
また、所定のタイミングで各設定値（測定値）を取得した結果、一部の設定値（測定値）に変動が観測された場合、分析部６１は、設定値（測定値）に変動が観測された時点付近の設定値（測定値）を収集するタイミングを細かくする。これにより、分析部６１は、詳細に各設定値（測定値）の変動を取得することができる。その結果、分析部６１は、取得された設定値（測定値）を活用することで、光通信装置１０のデバイスに発生した不良箇所を容易に判別することができる。
これら取得した各設定値（測定値）の分析は、分析部６１を構成する各部が逐次実行する。各設定値（測定値）を分析する際に、分析部６１が如何なるパラメータを使用して光通信装置１０が正常であるか否かを判断するかは、光通信装置１０の製品設計に応じて異なるものになる。すなわち、光通信装置１０毎に内部構成（基板２０に実装されている各デバイスの構成）は異なるものとなっている。したがって、取得した各設定値（測定値）と比較するためのパラメータとして如何なるパラメータを設定するかは、製品設計に依存する。
【００２４】
本実施形態では、光送信部３０が正常であるか否かを判断するためのパラメータとして、例えば次のようなものが挙げられる。ＩＴＬＡ波長、ＩＴＬＡ出力パワー、ＶＯＡ設定、変調器バイアス電圧、変調器ドライバゲイン、変調器ドライバ出力電圧モニタ、光出力パワーモニタなどである。
分析部６１は、これらのパラメータに対して、次に示すような手順を使用して光送信部３０が正常であるか否かを分析することができる。手順（１）は、収集された測定値と出荷試験測定値との比較である。手順（２）は、収集された調整値と出荷時の調整値との比較である。手順（３）は、収集された設定値（測定値）と各デバイスに対して起動前に設定された設定値との変動比較である。手順（４）は、手順（３）において設定値の変動があった場合の変動比較である。例えば、手順（３）において発生した設定値の変動と手順（１）（２）において発生した測定値（調整値）の変動とが、各デバイスの特性値の許容変動幅の範囲内にあるか否かを判断する。
【００２５】
次に、本実施形態の不良判別装置の動作の一例について図４、図５を参照しつつ説明する。図４、図５は、本実施形態の不良判別装置の動作の一例を示すフローチャートである。
まず、ステップＳ１の処理において、データ収集部６１１は、光通信装置１０の起動後から、各デバイスの特性を示すデータ（以下、測定値、設定値、調整値を単にデータともいう。）を収集する。ステップＳ２の処理において、出荷試験値比較部６１２は、ステップＳ１の処理で収集したデータと記録装置（メモリ）７０に格納された出荷試験時の測定値７０１とを比較する。これは、上記した手順（１）に対応する。
ステップＳ３の処理において、分析部６１は、データ収集部６１１で収集したデータを収集データ格納部７０５に格納する際に、ステップＳ１の処理で収集したデータと出荷試験時の測定値７０１との間に変動があるか否かを判断する。分析部６１が、変動が無い（ステップＳ３：Ｎｏ）と判断すると、ステップＳ４の処理へ移行する。分析部６１が、変動がある（ステップＳ３：Ｙｅｓ）と判断すると、ステップＳ９の処理へ移行する。
ステップＳ９の処理において、特性変動判断部６１６は、変動があるデータの特性を決定する要因となる箇所（デバイス）において特性の変動が生じていると判断して処理を終了する。
【００２６】
ステップＳ４の処理において、出荷時調整値比較部６１３は、ステップＳ１の処理で収集したデータと記録装置（メモリ）７０に格納された出荷時の調整値７０２とを比較する。これは、上記した手順（２）に対応する。
ステップＳ５の処理において、分析部６１は、データ収集部６１１で収集したデータを収集データ格納部７０５に格納する際に、ステップＳ１の処理で収集したデータと出荷時の調整値７０２との間に変動があるか否かを判断する。分析部６１が、変動が無い（ステップＳ５：Ｎｏ）と判断すると、ステップＳ６の処理へ移行する。分析部６１が、変動がある（ステップＳ５：Ｙｅｓ）と判断すると、ステップＳ９の処理へ移行する。
【００２７】
ステップＳ６の処理において、設定値比較部６１４は、ステップＳ１の処理で収集したデータと記録装置（メモリ）７０に格納された起動前設定値７０３とを比較する。これは、上記した手順（３）に対応する。
ステップＳ７の処理において、分析部６１は、データ収集部６１１で収集したデータを収集データ格納部７０５に格納する際に、ステップＳ１の処理で収集したデータと起動前設定値７０３との間に変動があるか否かを判断する。分析部６１が、変動が無い（ステップＳ７：Ｎｏ）と判断すると、ステップＳ８の処理へ移行する。分析部６１が、変動がある（ステップＳ７：Ｙｅｓ）と判断すると、図５のステップＳ１０の処理へ移行する。ステップＳ８の処理において、分析部６１は、出荷時と起動時との間において
光通信装置１０の各デバイスの特性に変化がないと判断して処理を終了する。
【００２８】
ステップＳ１０の処理において、分析部６１は、次の処理を行う。分析部６１は、出荷試験時の測定項目（パラメータ）のうち、起動前設定値７０３と関連があるパラメータに対応するデータの変動について調査する。すなわち、分析部６１は、ステップＳ２の処理で比較対象とされなかった起動前設定値７０３と関連があるパラメータについて収集されたデータと、出荷試験時の測定値７０１との間の変動の有無を判断する。
ここで、「関連がある」とは、例えば、起動前に設定した設定値が変化すると、それに伴い、出荷試験時の測定値も変化するような関係をいう。
また、ステップＳ１０の処理において、分析部６１は、次の処理を行う。分析部６１は、出荷時の調整項目（パラメータ）のうち、起動前設定値７０３と関連があるパラメータに対応するデータの変動について調査する。すなわち、分析部６１は、ステップＳ４の処理で比較対象とされなかった起動前設定値７０３と関連があるパラメータについて収集されたデータと、出荷時の調整値７０２との間の変動の有無を判断する。
【００２９】
ステップ１１の処理において、分析部６１が、変動がある（ステップＳ１１：Ｙｅｓ）と判断すると、ステップＳ１５の処理へ移行する。分析部６１が、変動が無い（ステップＳ１１：Ｎｏ）と判断すると、ステップＳ１２の処理へ移行する。
ステップＳ１２の処理において、経時変化判断部６１５は、ステップＳ７の処理で判断された、収集したデータと起動前設定値７０３との間の差分が、特性値の許容変動幅７０４の範囲内にあるか否かを判断する。
ステップＳ１３の処理において、経時変化判断部６１５が、範囲内である（ステップＳ１３：Ｙｅｓ）と判断すると、処理を終了する。分析部６１が、妥当な範囲内でない（ステップＳ１３：Ｎｏ）と判断すると、ステップＳ１４の処理へ移行する。
【００３０】
ステップＳ１４の処理において、特性変動判断部６１６は、光通信装置１０を起動する前に設定された設定値を設定する側、又は設定値が設定される側（デバイス）で特性が変化していると判断し、処理を終了する。
ステップＳ１５の処理において、分析部６１は、次の処理を行う。分析部６１は、起動前設定値７０３と比較して変動ありと判断された設定値の変動に対する、起動前設定値７０３と関連がある出荷時試験のパラメータに対応するデータの変動について調査する。
また、ステップＳ１５の処理において、分析部６１は、次の処理を行う。分析部６１は、起動前設定値７０３と比較して変動ありと判断された設定値の変動に対する、起動前設定値７０３と関連がある出荷時の調整パラメータに対応するデータの変動について調査する。
そして、これらの調査に基づいて、経時変化判断部６１５は、収集されたデータの起動前設定値７０３に対する変動幅に対して、起動前設定値７０３と関連する出荷試験時の測定値７０１に対する変動幅、及び起動前設定値７０３と関連する出荷時の調整値７０２に対する変動幅が、それぞれの特性値の許容変動幅７０４の範囲内にあるか否かを判断する。この判断は、経時変化判断部６１５が、特性値の許容変動幅７０４を参照して行う。これは、上記した手順（４）に対応する。
【００３１】
ステップＳ１６の処理において、経時変化判断部６１５が、特性値の許容変動範囲内にある（ステップＳ１６：Ｙｅｓ）と判断すると、処理を終了する。経時変化判断部６１５が、特性値の許容変動範囲内にない（ステップＳ１６：Ｎｏ）と判断すると、ステップＳ１７の処理へ移行する。
ステップＳ１７の処理において、特性変動判断部６１６は、光通信装置１０の制御の問題や、制御範囲を超えた変動が起きた可能性があると判断して処理を終了する。
上記（１）から（４）の手順及び上記各ステップに基づいて、分析部６１は、光通信装置１０に発生した変動要因（変動箇所、変動デバイス）を突き止めることができる。
【００３２】
次に、具体例として、光送信器（変調器）３０の特性が変動した場合の現象について説明する。データ収集部６１１が収集する収集データは、例えば、ＩＴＬＡ波長、ＩＴＬＡ出力パワー、ＶＯＡ設定、変調器バイアス電圧、変調器ドライバゲイン、変調器ドライバ出力電圧モニタ、光出力パワーモニタであるとする。なお、光送信器（変調器）３０のバイアス（変調器バイアス電圧）は、最適な状態になっていると仮定する。
まず、出荷試験値比較部６１２は、データ収集部６１１が収集したデータと、出荷試験時の測定値７０１との比較を行う。例えば、出荷試験値比較部６１２は、設定波長の光出力パワーモニタの測定データと、出荷試験時の測定値７０１とを比較する。この場合、出荷試験値比較部６１２は、設定波長の光出力パワーモニタの測定データは、出荷試験時の測定値７０１を再現していることを確認する。これは、上記した手順（１）に対応する。
次に、出荷時調整値比較部６１３は、データ収集部６１１が収集したデータと、出荷時の調整値７０２との比較を行う。この場合、出荷時調整値比較部６１３は、ＶＯＡの調整値と、出荷時の調整値７０２とを比較する。この場合、出荷時調整値比較部６１３は、ＶＯＡの調整値は、出荷時の調整値７０２を再現していることを確認する。これは、上記した手順（２）に対応する。
【００３３】
次に、設定値比較部６１４は、データ収集部６１１が収集したデータと起動前設定値７０３との比較を実施する。設定値比較部６１４は、ＩＴＬＡ波長、ＩＴＬＡ出力パワー、ＶＯＡ設定、変調器バイアス電圧、変調器ドライバゲインの設定値が、光通信装置１０の起動時から変動している（起動前設定値７０３と比較して変動している）か否かを判断する。これは、上記した手順（３）に対応する。このとき、仮に、設定値比較部６１４は、変調器バイアス電圧の設定値のみが、光通信装置１０の起動時から変動している（起動前設定値７０３と比較して変動している）ことを確認したとする。
そして、設定値比較部６１４は、光送信器（変調器）３０の設定変動（起動前設定値７０３）と関連する光出力パワーモニタ（出荷試験時の測定値７０１）は、光通信装置１０の出荷時から測定値が変動していないことを確認する。さらに、設定値比較部６１４は、起動前設定値７０３と関連する出荷試験時の測定値７０１、起動前設定値７０３と関連する出荷時の調整値７０２も変動していないことを確認する。したかって、特性変動判断部６１６は、変調器バイアス電圧の設定値のみが変動しているという分析結果に基づいて、光送信器（変調器）３０の最適バイアス点がずれた可能性があると判断する。
【００３４】
本実施形態によれば、基板上に複数のデバイスが実装された装置において、不具合、特性値の変動などが発生した場合、不良箇所を容易に判別することが可能になる。また、複数のデバイスを組み合わせることで構成されており、不良箇所を突き止めることが困難な装置においても、不良箇所の追跡及び解析を容易にすることが可能になる。
なお、本発明の不良判別装置について、本実施形態では、基板上に光デバイスが実装された光通信装置を具体例に挙げて説明を行っている。本発明を、光部品を搭載している通信用モジュールに対して適用しても良い。
【００３５】
本実施形態では、起動後の個々のデバイスの特性や変動を解析することとしている。これにより、不良箇所の特定を容易にする。また、個々の部品の交換を可能にする。
具体的には、個々のデバイスの調整値や出荷試験データをオンボード上の記録装置（メモリ）に格納する。また、経時的な設定値や特性の変化も記録装置（メモリ）に格納する。格納されたデータは、分析部を用いて逐次分析が行われる。
例えば、変調器のバイアス電圧設定と光源ＩＴＬＡのパワー、送信パワーモニタをある周期で取得し、分析部が逐次分析する。対象としている光通信装置を構成しているデバイスの特性が、相互のデバイスの特性に影響している。したがって、それらの特性、初期特性、調整値の組み合わせを分析することで、特定のデバイスが不良になっているかどうかを判別することとしている。
不良が発生していると考えられるデータの変動が確認された場合、外部から参照可能な記録装置（メモリ）に保存しておく。ユーザが解析を行う際に不良箇所を容易に確認することが可能となる。
【００３６】
（第２実施形態）
次に、本発明の第２実施形態を説明する。図６は、本発明の第２実施形態の不良判別装置の一例を示す概略ブロック図である。
図６を参照すると、本実施形態の不良判別装置８０は、記録部８１と、測定値収集部８２と、出荷試験値比較部６１２と、調整値収集部８３と、出荷時調整値比較部６１３と、特性変動判断部６１６とを有する。
記録部８１は、所定数のデバイスを有する装置の出荷試験を行ったときの試験項目の測定値と、装置を出荷するときの出荷項目の調整値とを記録する。
測定値収集部８２は、装置の起動後の試験項目に対応するデータを収集する。
出荷試験値比較部６１２は、試験項目に対応するデータと記録部８１に記録された試験項目の測定値とを比較する。
調整値収集部８３は、装置の起動後の出荷項目に対応するデータを収集する。
出荷時調整値比較部６１３は、出荷項目に対応するデータと記録部８１に記録された出荷項目の調整値とを比較する。
特性変動判断部６１６は、起動後の試験項目に対応するデータが、記録部８１に記録された試験項目の測定値と比較して変動しているとき、試験項目に対応するデータを決定するデバイスにおいて特性が変化していると判断する。又は、特性変動判断部６１６は、起動後の出荷項目に対応するデータが、記録部８１に記録された出荷項目の調整値と比較して変動しているとき、出荷項目に対応するデータを決定するデバイスにおいて特性が変化していると判断する。
【００３７】
本実施形態では、特性変動判断部が、起動後の試験項目に対応するデータが、出荷試験時の試験項目の測定値と比較して変動しているとき、試験項目に対応するデータを決めるデバイスの特性が変化していると判断することとしている。又は、特性変動判断部が、起動後の出荷項目に対応するデータが、出荷時の出荷項目の調整値と比較して変動しているとき、出荷項目に対応するデータを決めるデバイスの特性が変化していると判断することとしている。これにより、複数のデバイスが搭載された装置に発生した不具合箇所を容易に特定することが可能になる。
【００３８】
なお、光通信装置１０の記録装置（メモリ）７０に格納されているコンピュータプログラムは、記録媒体で提供されてもよく、また、インターネット等のネットワークを介して提供されてもよい。記録媒体は、コンピュータ使用可能媒体又はコンピュータ可読媒体であって、磁気、光、電子、電磁気、赤外線などを用いて情報の記録又は読み取りが可能な媒体を含む。そのような媒体として、例えば、半導体メモリ、半導体または固体の記憶装置、磁気テープ、取外し可能なコンピュータディスケット、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ（Random Access Memory））、読出し専用メモリ（ＲＯＭ（Read Only Memory））、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスクなどがある。
【００３９】
以上、実施形態を参照して本願発明を説明したが、本願発明は上記実施形態に限定されるものではない。本願発明の構成や詳細には、本願発明のスコープ内で当業者が理解し得る様々な変更をすることができる。
【符号の説明】
【００４０】
１０    光通信装置
２０    基板
３０    光送信部
４０    光受信部
５０    ドライバ
６０    制御部
６１    分析部
７０    記録装置（メモリ）
７１    部品出荷データ
７２    製品調整データ
７３    製品出荷データ
７４    経時データ
８０    不良判別装置
８１    記録部
８２    測定値収集部
８３    調整値収集部
６１１    データ収集部
６１２    出荷試験値比較部
６１３    出荷時調整値比較部
６１４    設定値比較部
６１５    経時変化判断部
６１６    特性変動判断部
７０１    出荷試験時の測定値
７０２    出荷時の調整値
７０３    起動前設定値
７０４    特性値の許容変動幅
７０５    収集データ格納部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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