(57)【要約】      （修正有）【課題】前眼部断層画像を好適に撮影できる断層画像撮影装置を提供する。【解決手段】被検眼の断層画像を撮影するための断層画像撮影装置であって、光源から出射され前記被検眼によって反射された測定光と、前記測定光に対応する参照光との干渉光に基づいて前記被検眼の断層画像を取得するＯＣＴ光学系と、前記測定光を前記被検眼に対して走査するための走査光学系１０８と、前記被検眼と対物レンズとの距離に応じて、前記測定光と前記参照光の少なくともいずれかの光路長を補正する光路長補正手段（たとえば１１０）と、前記走査光学系によって前記測定光を走査するときの振り角を前記光路長の補正量に基づいて制御する制御手段１０８と、を備えることを特徴とする。【選択図】図２
2018038468.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼の断層画像を撮影するための断層画像撮影装置であって、
光源から出射され前記被検眼によって反射された測定光と、前記測定光に対応する参照光との干渉光に基づいて前記被検眼の断層画像を取得するＯＣＴ光学系と、
前記測定光を前記被検眼に対して走査するための走査光学系と、
前記被検眼と対物レンズとの距離に応じて、前記測定光と前記参照光の少なくともいずれかの光路長を補正する光路長補正手段と、
前記走査光学系によって前記測定光を走査するときの振り角を前記光路長の補正量に基づいて制御する制御手段と、を備えることを特徴とする断層画像撮影装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記光路長補正手段を制御し、前記断層画像に写る被検眼の位置に応じて前記光路長を補正することを特徴とする請求項１の断層画像撮影装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記断層画像に写る被検眼の位置と、前記光路長の補正量に基づいて前記振り角を制御することを特徴とする請求項１または２の断層画像撮影装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記光路長補正手段を制御し、前記断層画像に写る被検眼の位置が一定となるように前記光路長を随時補正するとともに、前記光路長の補正に関わらず前記断層画像の撮影範囲が一定となるように前記補正量に基づいて前記振り角を随時制御することを特徴とする請求項１〜３のいずれかの断層画像撮影装置。
【請求項５】
前記測定光の集光位置を調整するためのフォーカス調整手段をさらに備え、
前記制御手段は、前記フォーカス調整手段を制御し、前記補正量に基づいて前記集光位置を調整することを特徴とする請求項１〜４のいずれかの断層画像撮影装置。
【請求項６】
前記制御手段は、前記断層画像に写る被検眼の位置と、前記光路長の補正量に基づいて前記集光位置を調整することを特徴とする請求項５の断層画像撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、被検眼の断層画像を撮影するための断層画像撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光源から出射された光束を測定光束と参照光束に分割し、測定光束を被検眼の所定部位に導き、参照光束を参照光学系に導いた後、被検眼の所定部位で反射した測定光束と参照光束との合成により得られる干渉光を受光素子に受光させる干渉光学系を持ち、被検眼眼底の断層画像を撮影する断層画像撮影装置（Optical Coherence Tomography：ＯＣＴ）が知られている。このような装置では、光軸方向の撮影位置を変更するために、所定の光路長変更部材を光軸方向に移動させることで、測定光と参照光の光路差が調整できるようになっている（特許文献１参照）。
【０００３】
また、特許文献２には、上記のような断層画像撮影装置において、前眼部撮影用のアダプタレンズを装着し、被検眼の前眼部断層画像を撮影できる装置が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−０２９４６７号公報
【特許文献２】特開２０１１−１４７６１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、上記のような装置において、アダプタレンズを使用せずに前眼部を撮影しようとした場合、対物レンズと被検眼との間の光路が非テレセントリックとなりうる。この場合、作動距離のばらつきは前眼部観察光学系の光学性能に依存するため、作動距離が設計値からずれてしまうと、光軸に対して垂直方向の測定光の走査距離が変化してしまい、所望の撮影範囲で断層画像を撮影することができない場合があった。
【０００６】
本開示は、従来の問題点に鑑み、前眼部断層画像を好適に撮影できる断層画像撮影装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本開示は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００８】
（１）  被検眼の断層画像を撮影するための断層画像撮影装置であって、光源から出射され前記被検眼によって反射された測定光と、前記測定光に対応する参照光との干渉光に基づいて前記被検眼の断層画像を取得するＯＣＴ光学系と、前記測定光を前記被検眼に対して走査するための走査光学系と、前記被検眼と対物レンズとの距離に応じて、前記測定光と前記参照光の少なくともいずれかの光路長を補正する光路長補正手段と、前記走査光学系によって前記測定光を走査するときの振り角を前記光路長の補正量に基づいて制御する制御手段と、を備えることを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】眼科撮影装置を構成する眼科撮影装置の外観構成図である。
【図２】眼科撮影装置の光学系を示す図である。
【図３】前眼部画像の一例を示す図である。
【図４】前眼部断層画像の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
＜実施形態＞
実施形態について説明する。本実施形態の断層画像撮影装置は、被検眼の断層画像を撮影する。断層画像撮影装置は、例えば、ＯＣＴ光学系（例えば、ＯＣＴ光学系１００）と、走査光学系（例えば、走査部１０８）と、光路長補正部（例えば、参照光学系１１０）と、制御部（例えば、制御部７０）を備える。
【００１１】
ＯＣＴ光学系は、いわゆる光干渉断層計（Optical Coherence Tomography：ＯＣＴ）である。ＯＣＴ光学系は、例えば、被検眼の断層画像を撮影する。
【００１２】
走査光学系は、被検眼に対して測定光を走査する。走査光学系は、例えば、光学部材（例えば、ガルバノミラー１０８ａ）と、光学部材を駆動させる第１駆動部（例えば、駆動部１０８ｂ）を備え、第１駆動部によって光学部材の角度を変更することによって測定光を走査する。走査光学系は、被検眼の左右方向（Ｘ軸方向）に測定光を走査するＸ走査部と、被検眼の上下方向（Ｙ軸方向）に測定光を走査するＹ走査部を備えてもよい。
【００１３】
光路長補正部は、作動距離（被検眼と対物レンズとの距離）に応じて、測定光と参照光の少なくともいずれかの光路長を補正し、測定光と参照光の光路差を変化させる。光路長補正部は、例えば、光路長変更部材（例えば、参照ミラー３１）と、光路長変更部材を光軸方向に移動させる第２駆動部（例えば、駆動部５０）を備える。第２駆動部によって光路長補正部材が光軸方向に移動されることによって、参照光の光路長が変化する。
【００１４】
制御部は、例えば、断層画像撮影装置の制御を司る。例えば、制御部は、走査光学系によって測定光を走査するときの振り角を制御する。振り角は、例えば、ガルバノミラーを傾ける角度である。
【００１５】
また、制御部は、光路長補正部を制御し、作動距離に応じて光路長を補正する。例えば、制御部は、断層画像に写る被検眼の位置に応じて光路長を補正する。例えば、制御部は、断層画像の所定位置に被検眼が写るように光路長を補正する。光路長を補正すると、制御部は、光路長補正部の補正量に応じて走査光学系の振り角を制御する。例えば、光路長が補正された場合（つまり、作動距離が所定値と異なる場合）、所定の振り角に対する撮影範囲の大きさが変化してしまう。例えば、作動距離が遠くなると所定の振り角に対する撮影範囲が広がり、作動距離が近くなると所定の振り角に対する撮影範囲が狭くなる。したがって、制御部は、光路長の補正量に応じて走査光学系の振り角を制御することによって、作動距離が所定値からずれている場合であっても撮影範囲の変化を抑制することができる。
【００１６】
なお、光路長補正部によって光路長を補正しても断層画像の所定位置に被検眼が写らない場合、制御部は、画像上の所定位置と、被検眼の位置とのずれ量（例えば、ピクセル数）と、光路長の補正量に応じて走査光学系の振り角を制御してもよい。この場合も、作動距離のずれによる撮影範囲の変化を抑制することができる。
【００１７】
なお、制御部は、断層画像に写る被検眼の位置が一定となるように光路長を随時補正してもよい。この場合、光路長の補正に関わらず断層画像の撮影範囲が一定となるように、光路長の補正量に基づいて走査光学系の振り角を随時調整してもよい。これによって、被検眼が動いた場合であっても良好な断層画像を撮影できる。
【００１８】
なお、本装置は、フォーカス調整部を備えてもよい。フォーカス調整部は、ＯＣＴ光学系の測定光の集光位置を調整する。フォーカス調整部は、例えば、フォーカシングレンズ（例えば、フォーカシングレンズ１２４）と、フォーカシングレンズを光軸方向に移動させる第３駆動部（例えば、駆動部１２５）を備える。
【００１９】
制御部は、フォーカス調整部を制御し、光路長補正部による光路長の補正量に基づいて、測定光の集光位置を調整してもよい。例えば、制御部は、光路長の補正量に基づいて作動距離を算出し、算出された作動距離に応じた位置に測定光が集光するようにフォーカス光学系を制御してもよい。これによって、制御部は、鮮明な画像を容易に撮影できる。また、制御部は、光路長の補正と連動してフォーカスを調整することで、鮮明な画像をスムーズに撮影できる。
【００２０】
＜実施例＞
以下、本発明に係る実施例を図面に基づいて説明する。図１は本実施例に係る眼科撮影装置を構成する眼科撮影装置の外観構成図である。
【００２１】
眼科撮影装置は、基台１と、基台１に対して左右方向（Ｘ方向）及び前後（作動距離）方向（Ｚ方向）に移動可能な移動台２と、移動台２に対して三次元方向に移動可能に設けられ後述する光学系を収納する撮影部（装置本体）３と、被検者の顔を支持するために基台１に固設された顔支持ユニット５を備える。また、本装置には、アクチュエータを有し被検者眼に対して撮影部３を相対移動させる自動移動機構が設けられている。より具体的には、撮影部３は、移動台２に設けられた電動駆動のＸＹＺ駆動部６により、被検者眼Ｅに対して左右方向、上下方向（Ｙ方向）及び前後方向に移動される。
【００２２】
また、本装置には、操作部材（ジョイスティック４）の操作によって被検者眼に対して撮影部３を相対的に移動させる手動移動機構が設けられている。より具体的には、基台１上で移動台２をＸＺ方向に摺動させる図示無き摺動機構が設けられており、ジョイスティック４が操作されると、移動台２が基台１上をＸＺ方向に摺動される。また、ジョイスティックに設けられた回転ノブを回転操作することにより、ＸＹＺ駆動部６がＹ駆動し撮影部３がＹ方向に移動される。なお、撮影部３の検者側には、眼底観察像、眼底撮影像、眼底断層像及び前眼部観察像等を表示するモニタ８が設けられている。
【００２３】
図２は、撮影部３に収納（内蔵）される光学系及び制御系の概略構成図である。なお、本実施形態においては、被検者眼（眼Ｅ）の軸方向をＺ方向、水平方向をＸ方向、鉛直方向をＹ方向として説明する。眼底の表面方向をＸＹ方向として考えても良い。
【００２４】
装置構成の概略を説明する。本装置は、被検者眼Ｅの眼底Ｅｆの断層像を撮影するための光コヒーレンストモグラフィーデバイス（ＯＣＴデバイス）１０である。ＯＣＴデバイス１０は、アライメント指標投影光学系６０と、前眼部観察光学系８０、干渉光学系（ＯＣＴ光学系）１００と、正面観察光学系２００と、固視標投影ユニット３００と、演算制御部（ＣＰＵ）７０と、を含む。
【００２５】
ＯＣＴ光学系１００は、眼底に測定光を照射する。ＯＣＴ光学系１００は、眼底から反射された測定光と，参照光との干渉状態を受光素子（検出器１２０）によって検出する。ＯＣＴ光学系１００は、眼底Ｅｆ上の撮像位置を変更するため、眼底Ｅｆ上において測定光を走査する走査部（光スキャナともいう）１０８を備える。制御部７０は、設定されたスキャンパターンに基づいて走査部１０８の動作を制御し、検出器１２０からの受光信号に基づいて断層画像を取得する。
【００２６】
＜ＯＣＴ光学系＞
ＯＣＴ光学系１００は、いわゆる眼科用光断層干渉計（ＯＣＴ：Optical coherence tomography）の装置構成を持ち、患者眼の断層画像を撮像する。ＯＣＴ光学系１００は、測定光源１０２から出射された光をカップラー（光分割器）１０４によって測定光（試料光）と参照光に分割する。そして、ＯＣＴ光学系１００は、測定光学系１０６によって測定光を眼Ｅの眼底Ｅｆに導き，また、参照光を参照光学系１１０に導く。その後、眼底Ｅｆによって反射された測定光と，参照光との合成による干渉光を検出器（受光素子）１２０に受光させる。
【００２７】
検出器１２０は、測定光と参照光との干渉状態を検出する。フーリエドメインＯＣＴの場合では、干渉光のスペクトル強度が検出器１２０によって検出され、スペクトル強度データに対するフーリエ変換によって所定範囲における深さプロファイル（Ａスキャン信号）が取得される。例えば、Spectral-domain OCT（ＳＤ−ＯＣＴ）、Swept-source OCT（ＳＳ−ＯＣＴ）が挙げられる。また、Time-domain OCT（ＴＤ−ＯＣＴ）であってもよい。
【００２８】
ＳＤ−ＯＣＴの場合、光源１０２として低コヒーレント光源（広帯域光源）が用いられ、検出器１２０には、干渉光を各周波数成分（各波長成分）に分光する分光光学系（スペクトルメータ）が設けられる。スペクトルメータは、例えば、回折格子とラインセンサからなる。
【００２９】
ＳＳ−ＯＣＴの場合、光源１０２として出射波長を時間的に高速で変化させる波長走査型光源（波長可変光源）が用いられ、検出器１２０として、例えば、単一の受光素子が設けられる。光源１０２は、例えば、光源、ファイバーリング共振器、及び波長選択フィルタによって構成される。そして、波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、ファブリー・ペローエタロンを用いたものが挙げられる。
【００３０】
光源１０２から出射された光は、カップラー１０４によって測定光束と参照光束に分割される。そして、測定光束は、光ファイバーを通過した後、空気中へ出射される。その光束は、コリメートレンズ１２２、フォーカシングレンズ１２４、光スキャナ１０８、及び測定光学系１０６の他の光学部材を介して眼底Ｅｆに集光される。そして、眼底Ｅｆで反射された光は、同様の光路を経て光ファイバーに戻される。
【００３１】
光スキャナ１０８は、眼底上でＸＹ方向（横断方向）に測定光を走査させる。光スキャナ１０８は、瞳孔と略共役な位置に配置される。光スキャナ１０８は、例えば、２つのガルバノミラー１０８ａであり、その反射角度が駆動部１０８ｂによって任意に調整される。
【００３２】
これにより、光源１０２から出射された光束はその反射（進行）方向が変化され、眼底上で任意の方向に走査される。これにより、眼底Ｅｆ上における撮像位置が変更される。光スキャナ１０８としては、光を偏向させる構成であればよい。例えば、反射ミラー（ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ）の他、光の進行（偏向）方向を変化させる音響光学素子（ＡＯＭ）等が用いられる。
【００３３】
参照光学系１１０は、眼底Ｅｆでの測定光の反射によって取得される反射光と合成される参照光を生成する。参照光学系１１０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。参照光学系１１０は、例えば、反射光学系（例えば、参照ミラー）によって形成され、カップラー１０４からの光を反射光学系により反射することにより再度カップラー１０４に戻し、検出器１２０に導く。他の例としては、参照光学系１１０は、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって形成され、カップラー１０４からの光を戻さず透過させることにより検出器１２０へと導く。
【００３４】
参照光学系１１０は、参照光路中の光学部材を移動させることにより、測定光と参照光との光路長差を変更する構成を有する。例えば、駆動部５０によって参照ミラー３１が光軸方向に移動される。本実施例において、参照光学系１１０は、光路長補正光学系として機能する。なお、光路長差を変更するための構成は、測定光学系１０６の測定光路中に配置されてもよい。
【００３５】
＜正面観察光学系＞
正面観察光学系２００は、眼底Ｅｆの正面画像を得るために設けられている。観察光学系２００は、例えば、光源から発せられた測定光（例えば、赤外光）を眼底上で二次元的に走査させる光スキャナと、眼底と略共役位置に配置された共焦点開口を介して眼底反射光を受光する第２の受光素子と、を備え、いわゆる眼科用走査型レーザ検眼鏡（ＳＬＯ）の装置構成を持つ。
【００３６】
なお、観察光学系２００の構成としては、いわゆる眼底カメラタイプの構成であってもよい。また、ＯＣＴ光学系１００は、観察光学系２００を兼用してもよい。すなわち、正面画像は、二次元的に得られた断層画像を形成するデータを用いて取得されるようにしてもよい（例えば、三次元断層画像の深さ方向への積算画像、ＸＹ各位置でのスペクトルデータの積算値等）。
【００３７】
＜固視標投影ユニット＞
固視標投影ユニット３００は、眼Ｅの視線方向を誘導するための光学系を有する。投影ユニット３００は、眼Ｅに呈示する固視標を有し、複数の方向に眼Ｅを誘導できる。
【００３８】
例えば、固視標投影ユニット３００は、可視光を発する可視光源を有し、視標の呈示位置を二次元的に変更させる。これにより、視線方向が変更され、結果的に撮像部位が変更される。例えば、撮影光軸と同方向から固視標が呈示されると、眼底の中心部が撮像部位として設定される。また、撮影光軸に対して固視標が上方に呈示されると、眼底の上部が撮像部位として設定される。すなわち、撮影光軸に対する視標の位置に応じて撮影部位が変更される。
【００３９】
固視標投影ユニット３００としては、例えば、マトリクス状に配列されたＬＥＤの点灯位置により固視位置を調整する構成、光スキャナを用いて光源からの光を走査させ、光源の点灯制御により固視位置を調整する構成、等、種々の構成が考えられる。また、投影ユニット３００は、内部固視灯タイプであってもよいし、外部固視灯タイプであってもよい。
【００４０】
＜アライメント指標＞
アライメント用指標光束を投影するアライメント指標投影光学系６０には、図２の左上の点線Ａ内の図に示すように、撮影光軸Ｌ１を中心として同心円上に４５度間隔で赤外光源が複数個配置されており、撮影光軸Ｌ１を通る垂直平面を挟んで左右対称に配置された赤外光源６１とコリメーティングレンズ６２を持つ第１指標投影光学系（０度、及び１８０）と、第１指標投影光学系とは異なる位置に配置され６つの赤外光源６３を持つ第２指標投影光学系と、を備える。この場合、第１指標投影光学系は被検者眼Ｅの角膜に無限遠の指標を左右方向から投影し、第２指標投影光学系は被検者眼Ｅの角膜に有限遠の指標を上下方向もしくは斜め方向から投影する構成となっている。なお、図２の本図には、便宜上、第１指標投影光学系（０度、及び１８０度）と、第２指標投影光学系の一部のみ（４５度、１３５度）が図示されている。
【００４１】
＜前眼部観察光学系＞
被検者眼の前眼部を撮像する前眼部観察（撮影）光学系８０は、ダイクロイックミラー２４の反射側に、リレーレンズ８４、赤外域の感度を持つ二次元撮像素子（受光素子）８５を備える。また、二次元撮像素子８５（以下、撮像素子８５と記載）はアライメント指標検出用の撮像手段を兼ね、中心波長９４０ｎｍの赤外光を発する前眼部照明光源６８により照明された前眼部とアライメント指標が撮像される。前眼部照明光源６８により照明された前眼部は、ダイクロイックミラー２４、リレーレンズ８４の光学系を介して撮像素子８５により受光される。また、アライメント指標投影光学系６０が持つ光源から発せられたアライメント光束は被検者眼角膜に投影され、その角膜反射像はダイクロイックミラー２４、リレーレンズ８４の光学系を介して撮像素子８５に受光（投影）される。撮像素子８５の出力は制御部７０に入力され、モニタ８には撮像素子８５によって撮像された前眼部像が表示される。
【００４２】
＜制御部＞
制御部７０は、装置の各部材を制御する。また、制御部７０は、取得された画像を処理する画像処理部、取得された画像を解析する画像解析部などとして兼用される。制御部７０は、一般的なＣＰＵ（Central Processing Unit）等で実現される。
【００４３】
制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００の検出器１２０から出力される受光信号に基づいて画像処理により断層画像（ＯＣＴ画像）を取得すると共に、正面観察光学系２００の受光素子から出力される受光信号に基づいて正面画像（ＳＬＯ画像）を取得する。
【００４４】
また、制御部７０は、撮像素子８５の受光結果に基づいて、眼Ｅに対する撮影部３のアライメントずれを検出し、その検出結果に基づいて駆動部６を駆動させて自動アライメントを行う。この場合、例えば、制御部７０は前眼部観察光学系８０に撮像された前眼部画像からアライメント指標を検出処理する。また、制御部７０は、固視標投影ユニット３００を制御して固視位置を変更する。
【００４５】
制御部７０には、ジョイスティック４、ＸＹＺ駆動部６、メモリ（記憶部）７２、モニタ（表示部）８、操作部７６がそれぞれ電気的に接続されている。制御部７０は、モニタ８の表示画面を制御する。取得された眼底像は、モニタ８に静止画又は動画として出力される他、メモリ７２に記憶される。メモリ７２は、例えば、撮影された断層画像、正面画像、撮影に係る各種情報（例えば、断層画像の撮影位置情報、識別番号、等）を記録する。制御部７０は、操作部７６から出力される操作信号に基づいて、ＯＣＴ光学系１００、正面観察光学系２００、固視標投影ユニット３００の各部材を制御する。また、モニタ７５としては、タッチパネルが使用されている。なお、上記ＯＣＴデバイス１０の詳しい構成については、例えば、特開２００８−２９４６７号公報を参考にされたい。
【００４６】
図３は、ＯＣＴ光学系の光路の一部を示す簡略図である。本装置は、対物レンズ２１と被検眼Ｅとの間において、非テレセントリック系（光軸と主光線が平行ではない）である。この場合、アライメント誤差などによって作動距離ＷＤがずれると走査距離ＳＷが変化してしまう。例えば、図３（ａ）は適正な作動距離の位置でアライメントされた時の様子を示しており、図３（ｂ）は、適正な作動距離よりも離れた位置でアライメントされた時の様子を示す。図３（ａ）、（ｂ）に示すように、作動距離ＷＤが異なる場合、所定の振り角θで測定光を振ったときの走査距離ＳＷは変化する。つまり、作動距離ＷＤが所定値からずれた場合、光路長を補正することで被検眼を断層画像上に写すことはできるが、撮影範囲は変化してしまう。
【００４７】
例えば、図４（ａ）は、適正な作動距離で撮影された断層画像を示しており、図４（ｂ）は、適正な作動距離よりも離れた位置で撮影された断層画像を示している。図４（ａ）、（ｂ）に示すように、作動距離の変動に伴い、断層画像の撮影範囲およびベストフォーカス位置がずれるため、正確な計測ができず、コントラストの低い画像になる可能性がある。
【００４８】
そこで、本実施例の断層画像撮影装置は、作動距離がずれた場合であっても、作動距離に応じたガルバノミラーの振り角を設定することで所望の走査距離を実現する。
【００４９】
＜制御動作＞
以下、作動距離に応じた振り角の設定について、本装置の制御動作とともに説明する。例として、眼底モードによって眼底の断層画像を撮影した後に、前眼部モードによって前眼部の断層画像を撮影する場合について説明する。
【００５０】
＜眼底モード＞
まず、制御部７０は、眼底モードによって眼底の断層画像を撮影する。制御部７０は、前眼部観察光学系８０において撮影された前眼部画像からアライメント輝点を検出し、眼底に対するアライメントを行う。アライメントが完了すると、制御部７０は、検出器１２０から出力される受光信号に基づいて駆動部５０の駆動を制御し、眼底断層画像が取得されるように測定光と参照光との光路差を調整する。この場合、参照ミラー３１は、被検眼の眼軸長の違いに対応した所定の移動範囲内で移動される。
【００５１】
その後、検者が所望する走査位置／パターンが設定され、所定のトリガ信号が出力されると、制御部７０は、設定された走査位置／パターンに基づいて断層画像を取得し、取得された画像データをメモリ７２に記憶する。また、制御部７０は、これに合わせて、ＳＬＯ光学系２００によって取得される眼底正面像をメモリ７２に記憶する。
【００５２】
＜前眼部モード＞
眼底断層画像を撮影すると、制御部７０は、撮影モードを眼底モードから前眼部モードに切り換える。前眼部モードに切り換わると、制御部７０は、例えば、所定駆動量（例えば、平均的な眼軸長）だけ駆動部６を駆動させ、撮影部３を後退させる。これによって、撮影部３は、前眼部に対してラフにアライメントが合った状態となる。もちろん、前眼部観察光学系８０によって撮影された前眼部画像の輝点検出によってラフにアライメントを行ってもよい。
【００５３】
前眼部に対してラフにアライメントが合った状態で、制御部７０は、参照ミラー３１を光軸方向に任意に移動させ、検出器１２０によって得られる断層画像に角膜Ｅｃが写るように光路長を調整する。断層画像に角膜Ｅｃが写ると、制御部７０は、断層画像上の角膜Ｅｃの位置と、参照ミラー３１の位置（または、移動量）に基づいて作動距離を算出する。例えば、制御部は、断層画像上における角膜Ｅｃの所定位置からのずれ量と、参照ミラー３１の所定位置からの移動量（補正量）を求める。
【００５４】
例えば、角膜Ｅｃの位置は、断層画像のエッジ検出等によって求められる。角膜Ｅｃの所定位置からのずれ量は、角膜Ｅｃの位置に対応するピクセルと、所定位置のピクセルとの距離（ピクセル数）として求められる。また、参照ミラー３１の位置は、参照ミラー３１の位置を検出するセンサ（エンコーダ、ポテンショメータ等）、または、駆動部５０の駆動量（例えば、パルス数）によって取得される。角膜Ｅｃのずれ量に応じた作動距離のずれ量と、参照ミラー３１の補正量に応じた作動距離のずれ量は、装置の設計値によって決まっているため、例えば、制御部７０は、適正な作動距離からこれらの作動距離のずれ量を加えることによって作動距離の真値を算出する。
【００５５】
次に、制御部７０は、走査部１０８によって測定光をＸ方向およびＹ方向に走査させる。そして、取得されたＸ方向とＹ方向の２つの断層画像に基づいてＸＹアライメントを行う。例えば、制御部７０は、Ｘスキャン、Ｙスキャンともに、断層画像に角膜輝点が検出された場合、その位置でアライメント状態を保持し続ける。ここで、断層画像における角膜輝点とは、角膜からの反射光が検出器１２０に高い強度で検出されて飽和したときのノイズのことを示す。
【００５６】
次に、制御部７０は、算出された作動距離に基づいて適切なガルバノミラー１０８ａの振り角を取得する。例えば、制御部７０は、作動距離を変数とする振り角の関数、または、作動距離の各数値に対して、撮影距離が一定となる振り角が設定されたテーブル等をメモリ７２から読み出し、作動距離に応じたガルバノミラー１０８ａの振り角を求める。例えば、作動距離が所定値よりも大きくなるほど、ガルバノミラー１０８ａの振り角は小さくなる。
【００５７】
制御部７０は、求めた算出結果に基づいて、駆動部１０８ｂを制御し、ガルバノミラー１０８ａの振り角を自動的に調整し、検出器１２０によって断層画像を取得する。
【００５８】
以上のように、本実施例の断層画像撮影装置は、光路長の補正量（例えば、参照ミラーの移動量）から算出された作動距離に基づいてガルバノミラー１０８ａの振り角を調整することによって、非テレセントリックの光学系であっても、走査距離の変化が少ない前眼部断層画像を自動で撮影することができる。
【００５９】
なお、制御部７０は、ガルバノミラー１０８ａの振り角と同様に、作動距離に基づいてフォーカシングレンズ１２４の位置を制御してもよい。例えば、制御部７０は、作動距離を変数とするフォーカシングレンズ１２４の駆動量の関数、または、作動距離の各数値に対応するフォーカシングレンズの１２４の駆動量が設定されたテーブル等をメモリ７２から読み出し、作動距離に応じたフォーカシングレンズ１２４の駆動量を求める。これによって、制御部７０は、算出された作動距離に対応する位置に測定光が集光するようにフォーカス位置を調整できる。このように、作動距離に応じてフォーカシングレンズ１２４の位置を自動で制御することによって、鮮明な画像をスムーズに取得できる。
【００６０】
なお、参照ミラーを動かすことによって、測定光と参照光の光路差を調整したが、測定光の光路長を調整してもよい。例えば、測定光側のファイバーの端部１３９とコリメータレンズ１２２を図示無き駆動機構によって一体的に光軸方向に移動させることによって、測定光の光路長を調整してもよい。また、駆動部６によって撮影部３を移動させることによって測定光の光路長を調整してもよい。
【００６１】
なお、断層画像に関しては作動距離に応じて画像の歪みを補正する画像処理を行ってもよい。本実施例では、走査距離の変化が少ないため、歪み補正の精度を高くでき、形状解析等の解析結果の信頼性向上に繋がる。
【符号の説明】
【００６２】
６０  アライメント指標投影光学系
７０  制御部
７２  メモリ
７５  モニタ
７６  操作部
８０  前眼部観察光学系
１００  干渉光学系（ＯＣＴ光学系）
１０８  光スキャナ
２００  正面観察光学系
３００  固視標投影ユニット
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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