(57)【要約】【課題】製品に対する測定によって得られる測定値が予め設定された要件を満たすか否かを判断し、その測定値が予め設定された要件を満たさない場合にその原因を診断し、かつ、その診断の能力を向上させる。【解決手段】製品診断装置２０は、測定値受付部６０と、製品診断部６２と、診断結果出力部６４とを備える。製品診断部６２が、要件記憶部８０と、測定値判断部１００と、判断出力部１０２と、指標作成部１０４と、原因記憶部８６と、原因判断部１０６と、原因出力制御部１０８とを備える。診断結果出力部６４は、原因情報を製品の診断結果を示す情報として出力する。製品診断装置２０は、原因受付部６６と、受付制御部１１０と、指標要件設定部１１２と、原因記憶制御部１１４とをさらに備える。原因記憶制御部１１４は、原因受付部６６が受付けた情報が、指標要件に対応付けられ原因情報の一種となるよう、原因記憶部８６を制御する。【選択図】図２
2018055315.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
製品に対する測定によって得られる値である測定値を受付けるための測定値受付部と、
前記測定値に基づいて前記製品を診断する製品診断部と、
前記測定値に基づいた前記製品の診断結果を示す情報を出力する診断結果出力部とを備え、
前記製品診断部が、
前記測定値について予め設定された要件である設定要件を示す情報を記憶するための要件記憶部と、
前記測定値が前記設定要件を満たすか否かを判断する測定値判断部と、
前記測定値が前記設定要件を満たすと前記測定値判断部が判断した場合、前記測定値が前記設定要件を満たすことを示す情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記診断結果出力部を制御する判断出力部と、
前記測定値が前記設定要件を満たさないと前記測定値判断部が判断した場合、前記測定値に基づいて、予め定められた手順により、前記測定値が前記設定要件を満たさない原因への指標を示す指標情報を作成する指標作成部と、
前記測定値が前記設定要件を満たさない原因を示す原因情報を前記指標情報について予め設定された要件である指標要件に対応付けて記憶する原因記憶部と、
前記原因記憶部が記憶した前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成部が作成した前記指標情報が満たすか否かを判断する原因判断部と、
前記原因記憶部が記憶した前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成部が作成した前記指標情報が満たすと前記原因判断部が判断した場合、前記指標作成部によって作成された前記指標情報が満たす前記指標要件に対応付けられた前記原因情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記診断結果出力部を制御する原因出力制御部とを備える製品診断装置であって、
前記原因情報として記憶される情報を受け付ける原因受付部と、
前記原因記憶部が記憶した前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成部が作成した前記指標情報が満たさないと前記原因判断部が判断した場合に前記原因情報として記憶される情報を受け付けるよう前記原因受付部を制御する受付制御部と、
前記原因記憶部が記憶した前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成部が作成した前記指標情報が満たさないと前記原因判断部が判断した場合に、前記原因受付部が受付ける前記情報に対応付けられて前記指標作成部が作成した前記指標情報が満たす前記指標要件を、予め定められた手順により前記測定値に基づいて設定する指標要件設定部と、
前記原因受付部が受付けた前記情報が、前記指標要件設定部が設定した前記指標要件に対応付けられ、かつ、前記原因情報の一種として前記原因記憶部が記憶する情報に含まれるよう、前記原因記憶部を制御する原因記憶制御部とをさらに備えることを特徴とする製品診断装置。
【請求項２】
製品に対する測定の結果に基づいてコンピュータが前記製品を診断する製品診断方法であって、
前記コンピュータが、
情報を記憶するためのメモリと、
前記製品に対する測定の結果を示す測定値を受付けるためのＩ／Ｏと、
前記メモリが記憶する情報および前記Ｉ／Ｏが受付ける前記測定値を処理する制御部と、
ユーザからの情報入力を受付ける入力受付部と、
情報を出力する情報出力部とを備え、
前記メモリが、前記測定値について予め設定された要件である設定要件を示す情報、および、前記測定値が前記設定要件を満たさない原因への指標についての予め設定された要件である指標要件に対応付けられ前記測定値が前記設定要件を満たさない原因を示す原因情報を予め記憶しており、
前記製品診断方法が、
前記Ｉ／Ｏが前記測定値の入力を受付ける測定値入力受付工程と、
前記Ｉ／Ｏが前記測定値を受付けると前記測定値が前記設定要件を満たすか否かを前記制御部が判断する測定値判断工程と、
前記測定値が前記設定要件を満たす場合、前記測定値が前記設定要件を満たすことを示す情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記制御部が前記情報出力部を制御する判断出力工程と、
前記測定値が前記設定要件を満たさない場合、前記測定値に基づいて、予め定められた手順により、前記測定値が前記設定要件を満たさない原因への前記指標を示す指標情報を前記制御部が作成する指標作成工程と、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たすか否かを前記制御部が判断する原因判断工程と、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たす場合、前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たす前記指標要件に対応付けられた前記原因情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記制御部が前記情報出力部を制御する原因出力工程と、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たさない場合、前記原因情報として前記メモリに記憶される情報を受け付けるよう前記入力受付部を前記制御部が制御する原因受付工程と、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たさない場合に、前記原因受付工程において受付けられた前記情報に対応付けられて前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たす前記指標要件を、予め定められた手順により前記測定値に基づいて設定する指標要件設定工程と、
前記原因受付工程において受付けられた前記情報が、前記指標要件設定工程において設定された前記指標情報に対応付けられ、かつ、前記原因情報の一種として記憶されるよう、前記制御部が前記メモリを制御する原因記憶工程とを備えることを特徴とする製品診断方法。
【請求項３】
製品に対する測定の結果に基づいて前記製品を診断する製品診断方法をコンピュータに実施させる製品診断プログラムであって、
前記コンピュータが、
情報を記憶するためのメモリと、
前記製品に対する測定の結果を示す測定値を受付けるためのＩ／Ｏと、
前記メモリが記憶する情報および前記Ｉ／Ｏが受付ける前記測定値を処理する制御部と、
ユーザからの情報入力を受付ける入力受付部と、
情報を出力する情報出力部とを備え、
前記メモリが、前記測定値について予め設定された要件である設定要件を示す情報、および、前記測定値が前記設定要件を満たさない原因への指標についての予め設定された要件である指標要件に対応付けられ前記測定値が前記設定要件を満たさない原因を示す原因情報を予め記憶しており、
前記製品診断方法が、
前記Ｉ／Ｏが前記測定値の入力を受付ける測定値入力受付工程と、
前記Ｉ／Ｏが前記測定値を受付けると前記測定値が前記設定要件を満たすか否かを前記制御部が判断する測定値判断工程と、
前記測定値が前記設定要件を満たす場合、前記測定値が前記設定要件を満たすことを示す情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記制御部が前記情報出力部を制御する判断出力工程と、
前記測定値が前記設定要件を満たさない場合、前記測定値に基づいて、予め定められた手順により、前記測定値が前記設定要件を満たさない原因への前記指標を示す指標情報を前記制御部が作成する指標作成工程と、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たすか否かを前記制御部が判断する原因判断工程と、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たす場合、前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たす前記指標要件に対応付けられた前記原因情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記制御部が前記情報出力部を制御する原因出力工程と、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たさない場合、前記原因情報として前記メモリに記憶される情報を受け付けるよう前記入力受付部を前記制御部が制御する原因受付工程と、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たさない場合に、前記原因受付工程において受付けられた前記情報に対応付けられて前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たす前記指標要件を、予め定められた手順により前記測定値に基づいて設定する指標要件設定工程と、
前記原因受付工程において受付けられた前記情報が、前記指標要件設定工程において設定された前記指標情報に対応付けられ、かつ、前記原因情報の一種として記憶されるよう、前記制御部が前記メモリを制御する原因記憶工程とを備えることを特徴とする製品診断プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、製品診断装置、製品診断方法、および、製品診断プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１はプロセス異常分析装置を開示する。このプロセス異常分析装置は、１台または複数台の製造装置からなる製造システムにおいて、プロセス実行時に得られるプロセスデータに基づきプロセスの異常を単位対象品毎に検出するものである。このプロセス異常分析装置は、プロセスデータ記憶部と、プロセスデータ編集部と、異常分析ルールデータ記憶部と、異常判定部とを備える。プロセスデータ記憶部は、時系列のプロセスデータを記憶する。プロセスデータ編集部はそのプロセスデータ記憶部に格納されたプロセスデータからプロセス特徴量を抽出する。異常分析ルールデータ記憶部は、異常分析ルールを記憶する。この異常分析ルールは、プロセス特徴量から製造システムで製造される製品の異常検出を行なうためのものである。異常判定部は、プロセス特徴量と異常分析ルールデータから設計値と実測値の差分を求める。異常判定部は、求めた差分に単位対象品の設計値を加算することによりプロセス処理結果を算出する。異常判定部は、その算出結果から製品の異常の有無を判定する。特許文献１に開示されているプロセス異常分析装置によれば、サンプル数が少なくても精度の高いモデルを作成することができる。
【０００３】
特許文献２は要因分析装置を開示する。この要因分析装置は、データ収集部と、予測演算部と、要因分析部とを備える。データ収集部は、次に述べられる計測値を収集する。この計測値は、プロセス装置の運転条件およびプロセス装置のプロセス条件を含むプロセス装置に関するものである。このデータ収集部は、次に述べられる生産工程において、その計測値を収集する。その生産工程は、プロセス装置によってプロセス処理が行われる製造プロセスと、検査装置によって抜き取り検査が行われる検査工程とを含む。予測演算部は、データ収集部によって収集された計測値に基づいて、検査予測値を演算する。検査予測値とは、検査装置における検査項目の測定値の予測値のことである。要因分析部は、生産工程における不良発生の要因分析を行う。その際、要因分析部は、予測演算部によって演算された検査予測値を分析対象とする。また、要因分析部は、生産工程から収集されたプロセス装置に関する計測値を要因候補とする。特許文献２に開示されている要因分析装置によれば、検査データ数が十分に取得できない生産工程であっても、不良発生時に、より高精度な要因分析を行うことができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−７２０４７号公報
【特許文献２】特開２０１０−２３１３３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に開示されたプロセス異常分析装置には、異常の原因の分析能力を向上させることに関し特段の対策が講じられていないという問題点がある。その能力が向上しなければ、製品に異常が発見された時からその異常の原因が特定される時までの時間をそのプロセス異常分析装置によって短縮することはできない。
【０００６】
特許文献２に開示された要因分析装置は、生産工程から収集されたプロセス装置に関する計測値を要因候補とすることにより、不良発生時に、より高精度な要因分析を行うことができる。しかしながら、特許文献２に開示された要因分析装置には、不良が実際に発生するまで想定されていなかった不良発生要因を検出することに関し特段の対策が講じられていないという問題点がある。そのような不良発生要因を一度検出した後は、ただちにその要因を検出できるようにならなければ、その要因に起因する不良の発生を抑制できない。
【０００７】
本発明は、このような問題を解消するものである。その目的は、製品に対する測定によって得られる測定値が予め設定された要件を満たすか否かを判断でき、その測定値が予め設定された要件を満たさない場合にその原因を診断でき、かつ、その診断の能力を向上させることができる製品診断装置、製品診断方法、および、製品診断プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
図面を参照して本発明の診断装置、診断方法、および、診断プログラムを説明する。なお、この欄で図中の符号を使用したのは、発明の内容の理解を助けるためであって、内容を図示した範囲に限定する意図ではない。
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明のある局面に従うと、製品診断装置２０は、測定値受付部６０と、製品診断部６２と、診断結果出力部６４とを備える。測定値受付部６０は測定値を受付ける。この測定値は、製品に対する測定によって得られる値である。製品診断部６２は、測定値に基づいて製品を診断する。診断結果出力部６４は、測定値に基づいた製品の診断結果を示す情報を出力する。製品診断部６２が、要件記憶部８０と、測定値判断部１００と、判断出力部１０２と、指標作成部１０４と、原因記憶部８６と、原因判断部１０６と、原因出力制御部１０８とを備える。要件記憶部８０は、設定要件を示す情報を記憶する。設定要件は、測定値について予め設定された要件である。測定値判断部１００は、測定値が設定要件を満たすか否かを判断する。判断出力部１０２は、次に述べられる場合、測定値が設定要件を満たすことを示す情報を製品の診断結果を示す情報として出力するよう診断結果出力部６４を制御する。その場合とは、測定値が設定要件を満たすと測定値判断部１００が判断した場合である。指標作成部１０４は、次に述べられる場合、測定値に基づいて、予め定められた手順により、指標情報を作成する。指標情報は、測定値が設定要件を満たさない原因への指標を示す。指標情報が作成される場合とは、測定値が設定要件を満たさないと測定値判断部１００が判断した場合である。原因記憶部８６は、原因情報を指標要件に対応付けて記憶する。原因情報とは測定値が設定要件を満たさない原因を示す情報のことである。指標要件とは指標情報について予め設定された要件のことである。原因判断部１０６は、次に述べられる指標要件を指標作成部１０４が作成した指標情報が満たすか否かを判断する。その指標要件は、原因記憶部８６が記憶した原因情報に対応付けられた指標要件である。原因出力制御部１０８は、次に述べられる場合、診断結果出力部６４を制御する。その場合とは、次に述べられる指標要件を次に述べられる指標情報が満たすと原因判断部１０６が判断した場合である。その指標要件は、原因記憶部８６が記憶した原因情報に対応付けられた指標要件である。その指標情報は、指標作成部１０４が作成した指標情報である。この制御により、診断結果出力部６４は、製品の診断結果を示す情報として次に述べられる原因情報を出力する。その原因情報は、指標作成部１０４によって作成された指標情報が満たす指標要件に対応付けられた原因情報である。製品診断装置２０は、原因受付部６６と、受付制御部１１０と、指標要件設定部１１２と、原因記憶制御部１１４とをさらに備える。原因受付部６６は、原因情報として記憶される情報を受け付ける。受付制御部１１０は、次に述べられる場合に、原因情報として記憶される情報を受け付けるよう原因受付部６６を制御する。その場合とは、原因記憶部８６が記憶した原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成部１０４が作成した指標情報が満たさないと原因判断部１０６が判断した場合である。指標要件設定部１１２は、次に述べられる指標要件を、予め定められた手順により測定値に基づいて設定する。その指標要件は、原因受付部６６が受付ける情報に対応付けられる。その指標要件は、指標作成部１０４が作成した指標情報が満たす。指標要件が設定されるのは、次に述べられる場合である。その場合とは、原因記憶部８６が記憶した原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成部１０４が作成した指標情報が満たさないと原因判断部１０６が判断した場合である。原因記憶制御部１１４は、原因受付部６６が受付けた情報が、指標要件設定部１１２が設定した指標要件に対応付けられ、かつ、原因情報の一種として原因記憶部８６が記憶する情報に含まれるよう、原因記憶部８６を制御する。
【００１０】
測定値判断部１００は、測定値が設定要件を満たすか否かを判断する。測定値が設定要件を満たすと測定値判断部１００が判断した場合、判断出力部１０２は診断結果出力部６４を制御する。これにより、診断結果出力部６４は、測定値が設定要件を満たすことを示す情報を製品の診断結果を示す情報として出力する。測定値が設定要件を満たさないと測定値判断部１００が判断した場合、指標作成部１０４は、測定値に基づいて、予め定められた手順により、指標情報を作成する。原因判断部１０６は、次に述べられる指標要件を指標作成部１０４が作成した指標情報が満たすか否かを判断する。その指標要件は、原因記憶部８６が記憶した原因情報に対応付けられた指標要件である。その指標要件を指標作成部１０４が作成した指標情報が満たす場合、原因出力制御部１０８は、診断結果出力部６４を制御する。その制御により、診断結果出力部６４は、製品の診断結果を示す情報としてその原因情報を出力する。これにより、本発明にかかる製品診断装置２０は、製品に対する測定によって得られる測定値が予め設定された要件を満たすか否かを判断でき、かつ、その測定値が予め設定された要件を満たさない場合にその原因を診断できる。原因記憶部８６が記憶した原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成部１０４が作成した指標情報が満たさない場合、受付制御部１１０は、原因情報として記憶される情報を受け付けるよう原因受付部６６を制御する。この場合、指標要件設定部１１２は、測定値に基づいて予め定められた手順により指標要件を設定する。原因記憶制御部１１４は、原因受付部６６が受付けた情報が、指標要件設定部１１２が設定した指標要件に対応付けられ、かつ、原因情報の一種として原因記憶部８６が記憶する情報に含まれるよう、原因記憶部８６を制御する。これにより、原因受付部６６が受付けた情報は、指標要件設定部１１２が設定した指標要件に対応付けられる。原因受付部６６が受付けた情報は、原因情報の一種として原因記憶部８６が記憶する情報に含まれる。原因出力制御部１０８の制御により、診断結果出力部６４は、指標要件に対応付けられた原因情報を製品の診断結果を示す情報として出力する。これにより、本発明にかかる製品診断装置２０は、測定値が設定要件を満たさない原因を診断する能力を向上させることができる。その結果、本発明にかかる製品診断装置２０は、製品に対する測定によって得られる測定値が予め設定された要件を満たすか否かを判断でき、その測定値が予め設定された要件を満たさない場合にその原因を診断でき、かつ、その診断の能力を向上させることができる。
【００１１】
本発明の他の局面に従うと、製品診断方法は、製品に対する測定の結果に基づいてコンピュータ１０が製品を診断するものである。このコンピュータ１０は、メモリ３２と、Ｉ／Ｏ４４，４６，４８と、制御部３０と、入力受付部３６，３８と、情報出力部４２とを備える。メモリ３２は、情報を記憶する。Ｉ／Ｏ４４，４６，４８は、測定値を受付ける。この測定値は、製品に対する測定の結果を示す。制御部３０は、メモリ３２が記憶する情報およびＩ／Ｏ４４，４６，４８が受付ける測定値を処理する。入力受付部３６，３８は、ユーザからの情報入力を受付ける。情報出力部４２は、情報を出力する。メモリ３２が、設定要件を示す情報、および、原因情報を予め記憶している。設定要件は、測定値について予め設定された要件である。原因情報は、測定値が設定要件を満たさない原因を示す。原因情報は、指標要件に対応付けられる。指標要件は、測定値が設定要件を満たさない原因への指標について予め設定された要件である。この製品診断方法は、測定値入力受付工程Ｓ２００と、測定値判断工程Ｓ２０２と、判断出力工程Ｓ２０４と、指標作成工程Ｓ２０６と、原因判断工程Ｓ２０８と、原因出力工程Ｓ２１０と、原因受付工程Ｓ２３０と、指標要件設定工程Ｓ２３２と、原因記憶工程Ｓ２３４とを備える。測定値入力受付工程Ｓ２００は、Ｉ／Ｏ４４，４６，４８が測定値の入力を受付ける工程である。測定値判断工程Ｓ２０２は、Ｉ／Ｏ４４，４６，４８が測定値を受付けると測定値が設定要件を満たすか否かを制御部３０が判断する工程である。判断出力工程Ｓ２０４は、測定値が設定要件を満たす場合、制御部３０が情報出力部４２を制御する工程である。この制御により、情報出力部４２は、測定値が設定要件を満たすことを示す情報を製品の診断結果を示す情報として出力する。指標作成工程Ｓ２０６は、測定値が設定要件を満たさない場合、測定値に基づいて、予め定められた手順により、指標情報を制御部３０が作成する工程である。指標情報は、測定値が設定要件を満たさない原因への指標を示す。原因判断工程Ｓ２０８は、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たすか否かを制御部３０が判断する工程である。原因出力工程Ｓ２１０は、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす場合、制御部３０が情報出力部４２を制御する工程である。この制御により、情報出力部４２は、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす指標要件に対応付けられた原因情報を製品の診断結果を示す情報として出力する。原因受付工程Ｓ２３０は、入力受付部３６，３８を制御部３０が制御する工程である。この制御により、入力受付部３６，３８は、次に述べられる場合、原因情報としてメモリ３２に記憶される情報を受け付ける。その場合とは、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たさない場合である。指標要件設定工程Ｓ２３２は、次に述べられる指標要件を、予め定められた手順により測定値に基づいて設定する工程である。その指標要件は、原因受付工程Ｓ２３０において受付けられた情報に対応付けられる。その指標要件は、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす。指標要件が設定されるのは、次に述べられる場合である。その場合とは、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たさない場合である。原因記憶工程Ｓ２３４は、制御部３０がメモリ３２を制御する工程である。この制御により、原因受付工程Ｓ２３０において受付けた情報が、指標要件設定工程Ｓ２３２において設定された指標情報に対応付けられ、かつ、原因情報の一種として記憶される。
【００１２】
本発明の他の局面に従うと、製品診断プログラムは、製品診断方法をコンピュータ１０に実施させる。この製品診断方法は、製品に対する測定の結果に基づいて製品を診断するものである。このコンピュータ１０は、メモリ３２と、Ｉ／Ｏ４４，４６，４８と、制御部３０と、入力受付部３６，３８と、情報出力部４２とを備える。メモリ３２は、情報を記憶する。Ｉ／Ｏ４４，４６，４８は、測定値を受付ける。この測定値は、製品に対する測定の結果を示す。制御部３０は、メモリ３２が記憶する情報およびＩ／Ｏ４４，４６，４８が受付ける測定値を処理する。入力受付部３６，３８は、ユーザからの情報入力を受付ける。情報出力部４２は、情報を出力する。メモリ３２が、設定要件を示す情報、および、原因情報を予め記憶している。設定要件は、測定値について予め設定された要件である。原因情報は、測定値が設定要件を満たさない原因を示す。原因情報は、指標要件に対応付けられる。指標要件は、測定値が設定要件を満たさない原因への指標について予め設定された要件である。この製品診断方法は、測定値入力受付工程Ｓ２００と、測定値判断工程Ｓ２０２と、判断出力工程Ｓ２０４と、指標作成工程Ｓ２０６と、原因判断工程Ｓ２０８と、原因出力工程Ｓ２１０と、原因受付工程Ｓ２３０と、指標要件設定工程Ｓ２３２と、原因記憶工程Ｓ２３４とを備える。測定値入力受付工程Ｓ２００は、Ｉ／Ｏ４４，４６，４８が測定値の入力を受付ける工程である。測定値判断工程Ｓ２０２は、Ｉ／Ｏ４４，４６，４８が測定値を受付けると測定値が設定要件を満たすか否かを制御部３０が判断する工程である。判断出力工程Ｓ２０４は、測定値が設定要件を満たす場合、制御部３０が情報出力部４２を制御する工程である。この制御により、情報出力部４２は、測定値が設定要件を満たすことを示す情報を製品の診断結果を示す情報として出力する。指標作成工程Ｓ２０６は、測定値が設定要件を満たさない場合、測定値に基づいて、予め定められた手順により、指標情報を制御部３０が作成する工程である。指標情報は、測定値が設定要件を満たさない原因への指標を示す。原因判断工程Ｓ２０８は、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たすか否かを制御部３０が判断する工程である。原因出力工程Ｓ２１０は、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす場合、制御部３０が情報出力部４２を制御する工程である。この制御により、情報出力部４２は、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす指標要件に対応付けられた原因情報を製品の診断結果を示す情報として出力する。原因受付工程Ｓ２３０は、入力受付部３６，３８を制御部３０が制御する工程である。この制御により、入力受付部３６，３８は、次に述べられる場合、原因情報としてメモリ３２に記憶される情報を受け付ける。その場合とは、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たさない場合である。指標要件設定工程Ｓ２３２は、次に述べられる指標要件を、予め定められた手順により測定値に基づいて設定する工程である。その指標要件は、原因受付工程Ｓ２３０において受付けられた情報に対応付けられる。その指標要件は、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす。指標要件が設定されるのは、次に述べられる場合である。その場合とは、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たさない場合である。原因記憶工程Ｓ２３４は、制御部３０がメモリ３２を制御する工程である。この制御により、原因受付工程Ｓ２３０において受付けた情報が、指標要件設定工程Ｓ２３２において設定された指標情報に対応付けられ、かつ、原因情報の一種として記憶される。
【発明の効果】
【００１３】
本発明にかかる製品診断装置、製品診断方法、および、製品診断プログラムによれば、製品に対する測定によって得られる測定値が予め設定された要件を満たすか否かを判断でき、その測定値が予め設定された要件を満たさない場合にその原因を診断でき、かつ、その診断の能力を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】周知のコンピュータのハードウェア構成を示す概念図である。
【図２】本発明の一実施形態にかかる仮想製品診断装置の機能ブロック図である。
【図３】本発明の一実施形態にかかる要件記憶部が記憶する情報の構造を示す概念図である。
【図４】本発明の一実施形態にかかる測定値記憶部が記憶する情報のうち経過時間に対応付けられているものの構造を示す概念図である。
【図５】本発明の一実施形態にかかる測定値記憶部が記憶する情報のうち最大値と最小値と平均値とに関するものの構造を示す概念図である。
【図６】本発明の一実施形態にかかる原因記憶部が記憶する情報の構造を示す概念図である。
【図７】本発明の一実施形態にかかる製品診断方法の制御の手順を示すフローチャートである。
【図８】本発明の一実施形態にかかる指標原因追加工程における制御の手順を示すフローチャートである。
【図９】本発明の一実施形態において測定値受付部が測定値を受付けている間に情報出力部に出力される画像の一例を示す概念図である。
【図１０】本発明の一実施形態において判断出力部の制御にしたがい情報出力部が出力する画像の一例を示す概念図である。
【図１１】本発明の一実施形態において判断出力部および原因出力制御部の制御にしたがい情報出力部が出力する画像の一例を示す概念図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同一である。したがって、それらについての詳細な説明は繰返さない。
【００１６】
［コンピュータのハードウェア構成の説明］
以下、本発明の一実施形態について説明する。図１は、周知のコンピュータ１０のハードウェア構成を示す概念図である。図１に基づいて、コンピュータ１０のハードウェア構成が説明される。本実施形態にかかるコンピュータ１０は、制御部３０と 、メモリ３２と、固定ディスク３４と、キーボード３６と、マウス３８と、コネクタ４０と、表示装置４２と、第１Ｉ／Ｏ（Input/Output）４４と、第２Ｉ／Ｏ４６と、第３Ｉ／Ｏ４８とを有する。制御部３０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）などによって実現される。制御部３０は、メモリ３２から読出したプログラムを実行することにより、そのプログラムにおいて定められた手順に従ってコンピュータ１０を構成する各装置を制御する。メモリ３２は、ＲＯＭ（Read only memory）およびＲＡＭ（Random access memory）などによって実現される。メモリ３２は、プログラムとデータとを記憶する。固定ディスク３４は、プログラムを記録する。キーボード３６およびマウス３８は、オペレータの入力に応じて信号を生成する。これにより、コンピュータ１０に情報が入力される。本実施形態においては、キーボード３６およびマウス３８が入力受付部に相当する。「入力受付部」とは、コンピュータ１０のうち、ユーザからの情報入力を受付ける部分を意味する。コネクタ４０にはＵＳＢ（Universal Serial Bus）メモリ１８が接続される。ＵＳＢメモリ１８に記録されたプログラムおよび情報はコネクタ４０を介して制御部３０に読み込まれる。表示装置４２は、画像を表示することにより情報を出力する。本実施形態の場合、表示装置４２が情報出力部に相当する。本実施形態の場合、第１Ｉ／Ｏ４４は、電流計１２に接続される。第１Ｉ／Ｏ４４は、電流計１２が出力した信号を受付ける。これにより、第１Ｉ／Ｏ４４は、その信号が示す測定値を受付けることとなる。第２Ｉ／Ｏ４６は、圧力計１４に接続される。第２Ｉ／Ｏ４６は、圧力計１４が出力した信号を受付ける。これにより、第２Ｉ／Ｏ４６は、その信号が示す測定値を受付けることとなる。第３Ｉ／Ｏ４８は、回転計１６に接続される。第３Ｉ／Ｏ４８は、回転計１６が出力した信号を受付ける。これにより、第３Ｉ／Ｏ４８は、その信号が示す測定値を受付けることとなる。
【００１７】
［仮想製品診断装置の機能の説明］
図２は、仮想製品診断装置２０の機能ブロック図である。図２に基づいて、本実施形態にかかる仮想製品診断装置２０の構成とその機能とが説明される。上述されたコンピュータ１０の、制御部３０と 、メモリ３２と、固定ディスク３４と、キーボード３６と、マウス３８と、コネクタ４０と、表示装置４２と、第１Ｉ／Ｏ４４と、第２Ｉ／Ｏ４６と、第３Ｉ／Ｏ４８とは、仮想製品診断装置２０を構成する。仮想製品診断装置２０は、製品に対する測定の結果に基づいて製品を診断するものである。
【００１８】
仮想製品診断装置２０は、測定値受付部６０と、製品診断部６２と、診断結果出力部６４と、原因受付部６６とを備える。測定値受付部６０は測定値を受付ける。「測定値」とは、製品に対する測定によって得られる数値のことである。測定値受付部６０が受付け得る測定値は、物理量および工業量のいずれかを示す値である。なお、「物理量」とは、物理学における一定の体系の下で次元が確定し、定められた物理単位の倍数として表すことができる量のことである。「工業量」とは、複数の物理的性質に関係する量で、測定方法によって定義されている工業的に有用な量のことである。本実施形態の場合、測定値受付部６０は、次に述べられる３種類の測定値を受付ける。それらは、電流値、圧力値、および、回転数である。製品診断部６２は、測定値に基づいて製品を診断する。診断結果出力部６４は測定値に基づいた製品の診断結果を示す情報を出力する。すなわち、診断結果出力部６４が出力するのは製品の診断結果を示す情報である。その診断結果は、測定値に基づいたものである。製品の診断結果を示す情報のより具体的内容は後述される。なお、本実施形態の場合、診断結果出力部６４は、製品の診断結果を示す情報だけでなく、測定値も出力する。原因受付部６６は、記憶部７０が記憶する情報の入力を受け付ける。入力される情報の具体的内容は後述される。
【００１９】
製品診断部６２は、記憶部７０と、情報処理部７２とを有する。記憶部７０は、後述される情報を記憶する。情報処理部７２は、記憶部７０が記憶する情報および測定値受付部６０が受付ける測定値を処理する。処理の具体的内容は後述される。
【００２０】
記憶部７０は、要件記憶部８０と、測定値記憶部８２と、結果文記憶部８４と、原因記憶部８６とを有している。要件記憶部８０は、設定要件情報を記憶する。「設定要件情報」とは、設定要件を示す情報のことである。「設定要件」とは、測定値について予め設定された要件のことである。本実施形態の場合、この設定要件は、測定値受付部６０が受付ける測定値の種類ごとに定められる。測定値記憶部８２は、測定値受付部６０が受付けた測定値を記憶する。結果文記憶部８４は、診断結果を示す情報（診断結果情報）を記憶する。本実施形態の場合、診断結果情報は、「ＮＧ」という文字列情報、および、「ＯＫ」という文字列情報の２種類である。原因記憶部８６は、原因情報と指標要件情報とを互いに対応付けて記憶する。原因情報および指標要件情報については後述される。
【００２１】
図３は、本実施形態にかかる要件記憶部８０が記憶する情報の構造を示す概念図である。図３に基づいて、本実施形態にかかる要件記憶部８０が記憶する情報が説明される。上述されたとおり、本実施形態においては、要件記憶部８０は、設定要件情報を記憶する。上述されたとおり、本実施形態においては、設定要件は、測定値受付部６０が受付ける測定値の種類ごとに定められる。本実施形態の場合、測定値受付部６０が受付ける測定値には「上限許容値以下であること」および「下限許容値以上であること」という２種類の設定要件が予め設定されている。したがって、図３からも明らかな通り、本実施形態の場合、電流値については「３．０００アンペア以下であること」という設定要件と「２．５００アンペア以上であること」という設定要件とが設定されている。圧力値については「２００メガパスカル以下であること」という設定要件と「１９０メガパスカル以上であること」という設定要件とが設定されている。回転数については「毎分２２９８回転以下であること」という設定要件と「毎分２２９２回転以上であること」という設定要件とが設定されている。なお、本実施形態においては、要件記憶部８０は、周知のデータファイルという形態で設定要件情報を記憶している。
【００２２】
図４は、本実施形態にかかる測定値記憶部８２が記憶する情報のうち経過時間に対応付けられているものの構造を示す概念図である。図４に基づいて、本実施形態にかかる測定値記憶部８２が記憶する情報が説明される。上述されたとおり、測定値記憶部８２は、測定値受付部６０が受付けた測定値を記憶する。本実施形態の場合、電流計１２は、０．１秒ごとに電流を測定する。電流計１２はその測定によって得られた電流値を示す信号を測定値受付部６０に送信する。測定値受付部６０はその信号を受信することにより、測定値としての電流値を受付けることとなる。測定値記憶部８２は、その電流値を計測開始時点からの経過時間および電流値が測定される製品の識別番号に対応付けて記憶する。本実施形態の場合、測定値受付部６０は、電流値と共に、測定される製品の識別番号を示す情報（図４および図５においては「番号」欄に示されている値がこれにあたる）を受信している。測定値記憶部８２は、計測開始時点からの経過時間を示す情報を電流値と共に測定値判断部１００から受信している。これにより、電流値をそれらの情報に対応付けて記憶することが可能になる。圧力値および回転数についても同様である。なお、本実施形態においては、測定値記憶部８２は、周知のデータファイルという形態で上述された測定値を記憶している。
【００２３】
図５は、本実施形態にかかる測定値記憶部８２が記憶する情報のうち最大値と最小値と平均値とに関するものの構造を示す概念図である。本実施形態においては、測定値記憶部８２は、測定値受付部６０が受付けた測定値に加え、その測定値に基づいて特定される値（例えば、最大値、最小値、および、平均値）を記憶する。これらの値は、測定値記憶部８２が記憶する測定値に基づいて、測定値判断部１００が算出する。測定値記憶部８２は、これらの値を、測定される製品の識別番号（図４および図５においては「番号」欄に示されている値がこれにあたる）に対応付けて記憶する。なお、本実施形態においては、測定値記憶部８２は、周知のデータファイルという形態で上述された最大値と最小値と平均値とを記憶している。
【００２４】
図６は、本実施形態にかかる原因記憶部８６が記憶する情報の構造を示す概念図である。上述されたように、原因記憶部８６は、原因情報と指標要件情報とを互いに対応付けて記憶する。本実施形態の場合、「原因情報」は、測定値が設定要件（その測定値について設定されたもの）を満たさない原因を示す。後述されるように、本実施形態の場合、この原因情報はユーザによって入力される情報である。「指標要件情報」は、指標要件を示す。「指標要件」とは、指標情報について予め設定された要件を示す。これにより、原因情報は、指標要件情報を介して、指標要件に対応付けられていることとなる。「指標情報」とは、測定値受付部６０が受付けた測定値が何らかの点で設定要件を満たさないとき、その原因への指標となる情報である。指標情報の具体的な内容は後述される。
【００２５】
本実施形態の場合、指標要件情報は、９個の自然数から構成される。これらの自然数は、測定値における異常の具体的内容（測定値が設定要件をどのように満たしていないかということ）に対応付けられている。本実施形態の場合、指標情報を構成する９個の自然数のうち最初の自然数は電流値が設定要件を満たしているか否かを示す。この自然数が「０」であることは電流値が上限許容値以下で下限許容値以上であることを意味する。この自然数が「１」であることは電流値が上限許容値を超えることを意味する。この自然数が「２」であることは電流値が下限許容値未満であることを意味する。指標情報を構成する９個の自然数のうち２番目の自然数は、圧力値が設定要件を満たしているか否かを示す。この自然数が「０」であることは圧力値が上限許容値以下で下限許容値以上であることを意味する。この自然数が「１」であることは圧力値が上限許容値を超えることを意味する。この自然数が「２」であることは圧力値が下限許容値未満であることを意味する。指標情報を構成する９個の自然数のうち３番目の自然数は、回転数が設定要件を満たしているか否かを示す。この自然数が「０」であることは回転数が上限許容値以下で下限許容値以上であることを意味する。この自然数が「１」であることは回転数が上限許容値を超えることを意味する。この自然数が「２」であることは回転数が下限許容値未満であることを意味する。指標情報を構成する９個の自然数のうち４番目の自然数は、次に述べられる差の最大値を示す。その差は、測定値受付部６０が受付けた電流値と上限許容値又は下限許容値との差（測定値受付部６０が受付けた電流値が上限許容値を超えているならその上限許容値との差、測定値受付部６０が受付けた電流値が下限許容値を下回っているならその下限許容値との差）である。指標情報を構成する９個の自然数のうち５番目の自然数は、その差の最小値を示す。ただし、指標情報を構成する９個の自然数のうち１番目の自然数が「０」のとき、４番目の自然数と５番目の自然数とは「０」になる。指標情報を構成する９個の自然数のうち６番目の自然数は、次に述べられる差の最大値を示す。その差は、測定値受付部６０が受付けた圧力値と上限許容値又は下限許容値との差（測定値受付部６０が受付けた圧力値が上限許容値を超えているならその上限許容値との差、測定値受付部６０が受付けた圧力値が下限許容値を下回っているならその下限許容値との差）を示す。指標情報を構成する９個の自然数のうち７番目の自然数は、その差の最小値を示す。ただし、指標情報を構成する９個の自然数のうち２番目の自然数が「０」のとき、６番目の自然数と７番目の自然数とは「０」になる。指標情報を構成する９個の自然数のうち８番目の自然数は、次に述べられる差の最大値を示す。その差は、測定値受付部６０が受付けた回転数と上限許容値又は下限許容値との差（測定値受付部６０が受付けた回転数が上限許容値を超えているならその上限許容値との差、測定値受付部６０が受付けた回転数が下限許容値を下回っているならその下限許容値との差）を示す。指標情報を構成する９個の自然数のうち９番目の自然数は、その差の最小値を示す。ただし、指標情報を構成する９個の自然数のうち３番目の自然数が「０」のとき、８番目の自然数と９番目の自然数とは「０」になる。
【００２６】
本実施形態の場合、原因情報として原因記憶部８６に記憶されるのは、製品のうち異常が発生した部位を示す文字列情報（図６における「部位」欄に示される文字列情報）、その部位を示すイラストの画像ファイル（図６における「イラストファイル」欄に示されるファイル名）、その部位を写した写真の画像ファイル（図６における「写真ファイル」欄に示されるファイル名）、および、製品における異常の内容を示す情報（図６における「異常内容」欄に示される文字列情報）である。原因記憶部８６は、原因情報に加え、処置内容すなわち発生した異常を解消するための対策の内容を示す情報（図６における「処置内容」欄に示される文字列情報）を記憶する。この情報も指標情報に対応付けられている。なお、本実施形態においては、原因記憶部８６は、周知のデータファイルという形態で上述された情報を記憶している。
【００２７】
図２に基づいて、本実施形態にかかる情報処理部７２の構成とその機能とが説明される。情報処理部７２が、測定値判断部１００と、判断出力部１０２と、指標作成部１０４と、原因判断部１０６と、原因出力制御部１０８と、受付制御部１１０と、指標要件設定部１１２と、原因記憶制御部１１４と、情報出力制御部１１６とを有している。測定値判断部１００は、測定値が設定要件を満たすか否かを判断する。判断出力部１０２は、測定値が設定要件を満たす場合、そのことを示す情報（本実施形態の場合、「ＯＫ」という文字列情報）を製品の診断結果を示す情報として出力するよう診断結果出力部６４を制御する。指標作成部１０４は、測定値が設定要件を満たさない場合、測定値に基づいて、指標情報を作成する。本実施形態における指標情報の具体的内容、および、その指標情報を作成するための具体的な手順は後述される。原因判断部１０６は、指標作成部１０４によって作成された指標情報が原因記憶部８６に記憶されている指標要件情報のいずれかが示す指標要件を満たすか否かを判断する。指標作成部１０４によって作成された指標情報が原因記憶部８６に記憶されている指標要件情報のいずれかが示す指標要件を満たす場合、原因出力制御部１０８は、診断結果出力部６４を制御する。診断結果出力部６４は、その制御に従い、その指標要件情報に対応付けられた原因情報を出力する。その指標情報が指標要件（原因記憶部８６に記憶されている指標要件情報が示すもの）のいずれも満たさない場合、受付制御部１１０は、原因情報として記憶される情報を受け付けるよう原因受付部６６を制御する。指標要件設定部１１２は、原因受付部６６が受付ける原因情報に対応付けられる指標要件情報を設定する。原因記憶制御部１１４は、原因受付部６６が受付けた原因情報と指標要件設定部１１２が設定した指標要件情報とが互いに対応付けられ、かつ、原因記憶部８６に記憶されるよう、原因記憶部８６を制御する。情報出力制御部１１６は、測定値受付部６０が受付けた情報を出力するように診断結果出力部６４を制御する。
【００２８】
［プログラムの説明］
上述されたとおり、コンピュータ１０の、制御部３０と 、メモリ３２と、固定ディスク３４と、キーボード３６と、マウス３８と、コネクタ４０と、表示装置４２と、第１Ｉ／Ｏ４４と、第２Ｉ／Ｏ４６と、第３Ｉ／Ｏ４８とが、仮想製品診断装置２０を構成する。これは、制御部３０がメモリ３２から読出したプログラムを実行することにより実現される。一般的にこうしたプログラムは、ＵＳＢメモリ１８などのコンピュータ読取可能な記録媒体に記録された状態で流通する。こうしたプログラムは図示されないインターネットを介して流通することもある。こうしたプログラムは、固定ディスク３４にいったん記録される。制御部３０が実行するプログラムは、その固定ディスク３４に記録されたプログラムをメモリ３２が記憶したものである。したがって、本発明の最も本質的な部分は、ＵＳＢメモリ１８などのコンピュータ読取可能な記録媒体に記録されたソフトウェアである。
【００２９】
［フローチャートの説明］
図７は、上述されたプログラムのフローチャートである。図７に示されるように、このプログラムは、次に述べられる複数の工程をコンピュータ１０に実行させるものである。それら複数の工程は、測定値入力受付工程Ｓ２００、測定値判断工程Ｓ２０２、判断出力工程Ｓ２０４、指標作成工程Ｓ２０６、原因判断工程Ｓ２０８、原因出力工程Ｓ２１０、および、指標原因追加工程Ｓ２１２である。プログラムを実行した結果、コンピュータ１０は、それら複数の工程を備える製品診断方法を実施することとなる。以下、これらの各工程の具体的な内容が説明される。
【００３０】
測定値入力受付工程Ｓ２００にて、測定値受付部６０（現実には、第１Ｉ／Ｏ４４、第２Ｉ／Ｏ４６、および、第３Ｉ／Ｏ４８）は、所定期間（本実施形態の場合は、計測が開始されてから３０秒間以内の期間）、測定値の入力を受付ける。本実施形態においては、電流値、圧力値、および、回転数の入力が受付けられる。これら３種類の測定値を受付けるための具体的な方法は周知である。したがってここではその詳細な説明は繰り返されない。
【００３１】
測定値判断工程Ｓ２０２にて、測定値判断部１００（現実には制御部３０）は、測定値受付部６０が所定期間（本実施形態の場合は測定開始から２５秒以上３０秒以下の期間）受付けた測定値に基づき、その最大値と最小値と平均値とを算出する。それらが算出されると、測定値判断部１００（現実には制御部３０）は、その最大値と最小値との双方が設定要件を満たすか否かを判断する。その最大値と最小値との双方が設定要件を満たす場合（Ｓ２０２にてＹＥＳ）、処理は判断出力工程Ｓ２０４へと移される。そうでない場合すなわちその最大値と最小値とのうち少なくとも一方が設定要件のうち少なくとも一方を満たさない場合（Ｓ２０２にてＮＯ）、処理は指標作成工程Ｓ２０６へと移される。
【００３２】
判断出力工程Ｓ２０４にて、判断出力部１０２（現実には制御部３０）は、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）を制御する。この制御にしたがって、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）は、製品の診断結果を示す情報を出力する。その情報は、「ＯＫ」という文字列情報である。これにより、測定値が設定要件を満たす情報が示されることとなる。
【００３３】
指標作成工程Ｓ２０６にて、指標作成部１０４（現実には制御部３０）は、指標情報を作成する。上述されたように、「指標情報」とは、測定値受付部６０が受付けた測定値が何らかの点で設定要件を満たさないとき、その原因への指標となる情報である。本実施形態の場合、測定値が設定要件を満たさない原因への指標とは、測定値が設定要件を満たさない原因を特定するための印のことである。本実施形態においては、指標情報は、以下の手順により作成される。まず、指標作成部１０４は、測定値判断部１００の判断に基づいて、測定値のうち設定要件を満たすものと満たさないものとを特定する。それらが特定されると、指標作成部１０４は、測定値のうち設定要件を満たさないものが、上限許容値を超えたのか下限許容値を下回ったのかを特定する。それが特定されると、指標作成部１０４は、設定要件を満たさなかった測定値と許容値（測定値が上限許容値を上回った場合にはその上限許容値、測定値が下限許容値を下回った場合にはその下限許容値）との差を算出する。指標作成部１０４は、測定値のうち設定要件を満たさないものと、それが上限許容値を超えたのか下限許容値を下回ったのかという点と、設定要件を満たさなかった測定値と許容値との差とから、指標情報を作成する。このようにして作成された指標情報は、電流値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と、圧力値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と、回転数が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と、測定値受付部６０が受付けた電流値と上限許容値又は下限許容値との差を示す自然数と、測定値受付部６０が受付けた圧力値と上限許容値又は下限許容値との差を示す自然数と、測定値受付部６０が受付けた回転数と上限許容値又は下限許容値との差を示す自然数とを含むこととなる。本実施形態の場合、原因記憶部８６に記憶された指標情報と同様に、電流値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数が「０」であることは電流値が上限許容値以下で下限許容値以上であることを意味する。この自然数が「１」であることは電流値が上限許容値を超えることを意味する。この自然数が「２」であることは電流値が下限許容値未満であることを意味する。圧力値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数が「０」であることは圧力値が上限許容値以下で下限許容値以上であることを意味する。この自然数が「１」であることは圧力値が上限許容値を超えることを意味する。この自然数が「２」であることは圧力値が下限許容値未満であることを意味する。回転数が設定要件を満たしているか否かを示す自然数が「０」であることは回転数が上限許容値以下で下限許容値以上であることを意味する。この自然数が「１」であることは回転数が上限許容値を超えることを意味する。この自然数が「２」であることは回転数が下限許容値未満であることを意味する。これが、本実施形態にかかる指標情報の具体的な内容である。
【００３４】
原因判断工程Ｓ２０８にて、原因判断部１０６（現実には制御部３０）は、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が指標要件（原因記憶部８６に記憶された指標要件情報が示す要件）のいずれかと一致するか否かを判断する。これまでの記述から明らかなように、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報は、測定値受付部６０が受付けた電流値と圧力値と回転数とについての、上限許容値又は下限許容値との差を示す自然数を含む。これに対し、原因記憶部８６に記憶された指標要件情報は、測定値受付部６０が受付けた測定値と上限許容値又は下限許容値との差の最大値と最小値とを示す。指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が含む自然数のうち、電流値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と、圧力値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と、回転数が設定要件を満たしているか否かを示す自然数とが、指標要件情報が含む自然数のうち電流値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と、圧力値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と、回転数が設定要件を満たしているか否かを示す自然数とに一致しており、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報のうち測定値受付部６０が受付けた測定値（設定要件が満たされていないもの）と上限許容値又は下限許容値との差が指標要件情報のうちその差の最大値と最小値との間にあるならば、その指標要件情報が示す指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たしている。指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が指標要件のいずれかと一致する場合（Ｓ２０８にてＹＥＳ）、処理は原因出力工程Ｓ２１０へと移される。そうでない場合（Ｓ２０８にてＮＯ）、処理は指標原因追加工程Ｓ２１２へと移される。
【００３５】
原因出力工程Ｓ２１０にて、判断出力部１０２（現実には制御部３０）は、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）を制御する。この制御にしたがって、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）は、製品の診断結果を示す情報を出力する。その情報は、「ＮＧ」という文字列情報である。原因出力制御部１０８（現実には制御部３０）は、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）を制御する。その制御に応じて、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）は、製品の診断結果を示す情報を出力する。その情報は、次に述べられる原因情報である。その原因情報は、次に述べられる指標要件情報に対応付けられたものである。その指標要件情報は、原因記憶部８６に記憶された指標要件情報のうち指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす指標要件を示すものである。
【００３６】
指標原因追加工程Ｓ２１２にて、情報処理部７２（現実には制御部３０）は、原因記憶部８６が記憶する原因情報を更新する。
【００３７】
図８は、本実施形態にかかる指標原因追加工程Ｓ２１２における制御の手順を示すフローチャートである。図８に示されるように、この工程は、次に述べられる複数の工程をコンピュータ１０に実行させるものである。それら複数の工程は、原因受付工程Ｓ２３０、指標要件設定工程Ｓ２３２、および、原因記憶工程Ｓ２３４である。プログラムを実行した結果、コンピュータ１０は、それら複数の工程を実施することとなる。以下、これらの各工程の具体的な内容が説明される。
【００３８】
原因受付工程Ｓ２３０にて、受付制御部１１０（現実には制御部３０）は、原因情報となる情報を受け付けるよう原因受付部６６（現実にはキーボード３６およびマウス３８）を制御する。
【００３９】
指標要件設定工程Ｓ２３２にて、指標要件設定部１１２（現実には制御部３０）は、次に述べられる手順に従って指標要件情報ひいては指標要件を設定する。まず、指標要件設定部１１２は、指標作成工程Ｓ２０６にて指標作成部１０４が作成した指標情報のうち、測定値受付部６０が受付けた電流値と圧力値と回転数と（ただし設定要件が満たされなかったものに限られる）についての、上限許容値又は下限許容値との差に対し、予め定められた定数を加減する。この定数の具体的な値は本実施形態にかかる製品診断装置を設計する者が任意に設定する。この定数が大きすぎると、そうでない場合に比べ、本来の異常原因とは異なる異常原因が出力される可能性が高くなる。この定数が小さすぎると、ユーザが頻繁に異常原因を入力しなければならなくなる。この定数の加減によって得られた値のうち大きい値が、測定値受付部６０が受付けた電流値又は圧力値又は回転数についての、上限許容値又は下限許容値との差の最大値を示す。加減によって得られた値のうち小さい値が（ただしこの値が負の値であった場合は「０」が）、測定値受付部６０が受付けた電流値又は圧力値又は回転数についての、上限許容値又は下限許容値との差の最小値を示す。これらの値が算出されると、指標要件設定部１１２は、次に述べられる３つの基準に従って指標要件情報を設定する。第１の基準は、指標作成工程Ｓ２０６にて指標作成部１０４が作成した指標情報のうち電流値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と圧力値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と回転数が設定要件を満たしているか否かを示す自然数とを、指標要件設定部１１２によって設定される指標要件情報において、電流値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と圧力値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と回転数が設定要件を満たしているか否かを示す自然数とにするという基準である。第２の基準は、指標要件設定部１１２が算出した最大値と最小値とを、測定値受付部６０が受付けた電流値と圧力値と回転数とについての、上限許容値又は下限許容値との差の最大値と最小値とにするという基準である。第３の基準は、測定値受付部６０が受付けた電流値と圧力値と回転数とのうち設定要件が満たされたものについての上限許容値又は下限許容値との差の最大値および最小値を「０」にするという基準である。
【００４０】
原因記憶工程Ｓ２３４にて、原因記憶制御部１１４（現実には制御部３０）は、原因受付工程Ｓ２３０において受付けられた情報が、指標要件設定工程Ｓ２３２において設定された指標要件情報に対応付けられ、かつ、原因情報として記憶されるよう、原因記憶部８６（現実にはメモリ３２）を制御する。
【００４１】
［動作の説明］
ポンプに電力を供給することによってそのポンプを検査する場合を例にとって、本実施形態にかかる仮想製品診断装置２０の動作が説明される。
【００４２】
（ポンプに異常がない場合）
電流計１２が図示されないポンプ（これが検査される製品である）に流れる電流を測定する。圧力計１４はそのポンプの吐出口における圧力を測定する。回転計１６はそのポンプに内蔵されるモータの回転数を測定する。電流計１２と圧力計１４と回転計１６とは、測定によって得られた測定値を測定値受付部６０に送信する。測定値受付部６０は測定値を受付ける（Ｓ２００）。図９は、その間に表示装置４２に表示される画像の一例を示す。
【００４３】
測定値判断部１００は、電流計１２、圧力計１４、および、回転計１６による計測が開始されてから２５秒以上３０秒間以下の期間に測定値受付部６０が受付けた測定値が設定要件を満たすか否かを判断する（Ｓ２０２）。ポンプに異常がない場合、測定値が設定要件を満たすので（Ｓ２０２にてＹＥＳ）、判断出力部１０２（現実には制御部３０）は、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）を制御する。この制御にしたがって、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）は、製品の診断結果を示す情報を出力する。その情報は、測定値が設定要件を満たすことを示す。図１０は、その際に表示装置４２に表示される画像の一例を示す。判定結果欄２５０に示された「ＯＫ」という文字列情報が、この場合における製品の診断結果を示す情報である。
【００４４】
（過去に発生したことのある異常がポンプに生じた場合）
測定値受付部６０が測定値を受付けた後（Ｓ２００）、測定値判断部１００は、測定値受付部６０が受付けた測定値が設定要件を満たすか否かを判断する（Ｓ２０２）。この場合、測定値が設定要件を満たさないので（Ｓ２０２にてＮＯ）、指標作成部１０４は指標情報を作成する（Ｓ２０６）。指標情報が作成されると、原因判断部１０６は、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が指標要件のいずれかと一致するか否かを判断する（Ｓ２０８）。この場合、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が指標要件のいずれかと一致するので（Ｓ２０８にてＹＥＳ）、判断出力部１０２と原因出力制御部１０８とは、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）を制御する。この制御にしたがって、診断結果出力部６４は、製品の診断結果を示す情報を出力する（Ｓ２１０）。その情報は、「ＮＧ」という文字列情報と、原因記憶部８６に記憶された原因情報のうち次に述べられるものとである。それは、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす指標要件に対応付けられたものである。図１１は、その際に表示装置４２に表示される画像の一例を示す。判定結果欄２５０に「ＮＧ」という文字列情報が示される。処置部位欄２５２に「カバー部」という文字列情報が示される。異常内容欄２５４に「部品破損」という文字列情報が示される。写真欄２５６に図示されない写真の画像（図６に示された写真ファイルが示すもの）が示される。イラスト欄２５８にイラストの画像（図６に示されたイラストファイルが示すもの）が示される。また、これらの原因情報ばかりでなく、処置内容欄２６０に「部品交換」という文字列情報が示される。
【００４５】
（過去に発生したことのない異常がポンプに生じた場合）
測定値受付部６０が測定値を受付けた後（Ｓ２００）、測定値判断部１００は、測定値受付部６０が受付けた測定値が設定要件を満たすか否かを判断する（Ｓ２０２）。この場合、測定値が設定要件を満たさないので（Ｓ２０２にてＮＯ）、指標作成部１０４は指標情報を作成する（Ｓ２０６）。指標情報が作成されると、原因判断部１０６は、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が指標要件のいずれかと一致するか否かを判断する（Ｓ２０８）。この場合、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が指標要件のいずれとも一致しないので（Ｓ２０８にてＮＯ）、受付制御部１１０は、原因情報を受け付けるよう原因受付部６６を制御する（Ｓ２３０）。次に、指標要件設定部１１２は、指標要件情報を設定する（Ｓ２３２）。指標要件情報が設定されると、原因記憶制御部１１４は、原因記憶部８６を制御する。これにより、原因受付部６６が受付けた情報が、指標要件設定工程Ｓ２３２において設定された指標要件情報に対応付けられるよう、原因記憶部８６に記憶される（Ｓ２３４）。
【００４６】
［効果の説明］
本実施形態にかかる仮想製品診断装置２０においては、製品に対する測定によって得られる測定値が予め設定された要件を満たすか否かを判断でき、その測定値が予め設定された要件を満たさない場合にその原因を診断でき、かつ、その診断の能力を向上させることができる。
【００４７】
今回開示された実施形態はすべての点で例示である。本発明の範囲は上述した実施形態に基づいて制限されるものではない。もちろん、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の設計変更をしてもよい。
【００４８】
例えば、測定値受付部６０が受付ける測定値は、製品に対する測定により得られる値であれば、その具体的内容は特に限定されない。測定値受付部６０がその測定値をどのような形式で受付けるかという点も特に限定されない。それはパルスであってもよいし、光学機器によって認識される画像であってもよい。また、測定値の種類数は特に限定されない。
【００４９】
また、設定要件は、上限許容値および下限許容値のいずれかによって作成されるものに限定されない。例えば、設定要件は、基準値と許容幅との組み合わせによって作成されても良い。設定要件の具体的内容は、測定値について予め設定された要件である限り、特に限定されない。設定要件を特定する者も特に限定されない。本発明にかかる製品診断装置の設計者でもよいし、本発明にかかる製品診断装置のユーザでもよいし、その他の者であってもよい。また、設定要件はコンピュータによって特定されてもよい。
【００５０】
また、測定値が設定要件を満たさない原因を特定するための印となり得る限り、指標情報の内容は特に限定されない。指標情報は、測定値受付部６０が受付けた測定値が何らかの点で設定要件を満たさないとき、その原因への指標となる情報であればよい。例えば、指標情報は、ベクトルとして示されてもよい。本発明において、指標作成部１０４が指標情報を作成するための具体的な手順は特に限定されない。指標作成部１０４は、製品に対する測定によって得られる測定値からまず指標となる情報を作成しその指標に基づいてその製品に生じた現象の原因を特定するための任意の手法を用い得る。
【００５１】
また、指標要件の具体的内容は、指標について予め設定された要件である限り、特に限定されない。本発明において、指標要件設定部１１２は、指標要件を測定値に基づいて設定するための任意の手法を用い得る。
【００５２】
また、本発明において、原因情報がどのような形態で指標要件に対応付けられるかは特に限定されない。
【００５３】
また、上述された実施形態において、データファイル特に原因記憶部８６が記憶する情報を示すデータファイルは、周知の手法によりその内容を修正可能なものであってもよい。
【符号の説明】
【００５４】
１０…コンピュータ
１２…電流計
１４…圧力計
１６…回転計
１８…ＵＳＢメモリ
２０…仮想製品診断装置
３０…制御部
３２…メモリ
３４…固定ディスク
３６…キーボード
３８…マウス
４０…コネクタ
４２…表示装置
４４…第１Ｉ／Ｏ
４６…第２Ｉ／Ｏ
４８…第３Ｉ／Ｏ
６０…測定値受付部
６２…製品診断部
６４…診断結果出力部
６６…原因受付部
７０…記憶部
７２…情報処理部
８０…要件記憶部
８２…測定値記憶部
８４…結果文記憶部
８６…原因記憶部
１００…測定値判断部
１０２…判断出力部
１０４…指標作成部
１０６…原因判断部
１０８…原因出力制御部
１１０…受付制御部
１１２…指標要件設定部
１１４…原因記憶制御部
１１６…情報出力制御部
２５０…判定結果欄
２５２…処置部位欄
２５４…異常内容欄
２５６…写真欄
２５８…イラスト欄
２６０…処置内容欄
【図１】
2018055315.tif 000003
【図２】
2018055315.tif 000004
【図３】
2018055315.tif 000005
【図４】
2018055315.tif 000006
【図５】
2018055315.tif 000007
【図６】
2018055315.tif 000008
【図７】
2018055315.tif 000009
【図８】
2018055315.tif 000010
【図９】
2018055315.tif 000011
【図１０】
2018055315.tif 000012
【図１１】
2018055315.tif 000013
【手続補正書】
【提出日】平成29年10月24日(2017.10.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、製品診断装置、製品診断方法、および、製品診断プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１はプロセス異常分析装置を開示する。このプロセス異常分析装置は、１台または複数台の製造装置からなる製造システムにおいて、プロセス実行時に得られるプロセスデータに基づきプロセスの異常を単位対象品毎に検出するものである。このプロセス異常分析装置は、プロセスデータ記憶部と、プロセスデータ編集部と、異常分析ルールデータ記憶部と、異常判定部とを備える。プロセスデータ記憶部は、時系列のプロセスデータを記憶する。プロセスデータ編集部はそのプロセスデータ記憶部に格納されたプロセスデータからプロセス特徴量を抽出する。異常分析ルールデータ記憶部は、異常分析ルールを記憶する。この異常分析ルールは、プロセス特徴量から製造システムで製造される製品の異常検出を行なうためのものである。異常判定部は、プロセス特徴量と異常分析ルールデータから設計値と実測値の差分を求める。異常判定部は、求めた差分に単位対象品の設計値を加算することによりプロセス処理結果を算出する。異常判定部は、その算出結果から製品の異常の有無を判定する。特許文献１に開示されているプロセス異常分析装置によれば、サンプル数が少なくても精度の高いモデルを作成することができる。
【０００３】
特許文献２は要因分析装置を開示する。この要因分析装置は、データ収集部と、予測演算部と、要因分析部とを備える。データ収集部は、次に述べられる計測値を収集する。この計測値は、プロセス装置の運転条件およびプロセス装置のプロセス条件を含むプロセス装置に関するものである。このデータ収集部は、次に述べられる生産工程において、その計測値を収集する。その生産工程は、プロセス装置によってプロセス処理が行われる製造プロセスと、検査装置によって抜き取り検査が行われる検査工程とを含む。予測演算部は、データ収集部によって収集された計測値に基づいて、検査予測値を演算する。検査予測値とは、検査装置における検査項目の測定値の予測値のことである。要因分析部は、生産工程における不良発生の要因分析を行う。その際、要因分析部は、予測演算部によって演算された検査予測値を分析対象とする。また、要因分析部は、生産工程から収集されたプロセス装置に関する計測値を要因候補とする。特許文献２に開示されている要因分析装置によれば、検査データ数が十分に取得できない生産工程であっても、不良発生時に、より高精度な要因分析を行うことができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２００８−７２０４７号公報
【特許文献２】特開２０１０−２３１３３８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献１に開示されたプロセス異常分析装置には、異常の原因の分析能力を向上させることに関し特段の対策が講じられていないという問題点がある。その能力が向上しなければ、製品に異常が発見された時からその異常の原因が特定される時までの時間をそのプロセス異常分析装置によって短縮することはできない。
【０００６】
特許文献２に開示された要因分析装置は、生産工程から収集されたプロセス装置に関する計測値を要因候補とすることにより、不良発生時に、より高精度な要因分析を行うことができる。しかしながら、特許文献２に開示された要因分析装置には、不良が実際に発生するまで想定されていなかった不良発生要因を検出することに関し特段の対策が講じられていないという問題点がある。そのような不良発生要因を一度検出した後は、ただちにその要因を検出できるようにならなければ、その要因に起因する不良の発生を抑制できない。
【０００７】
本発明は、このような問題を解消するものである。その目的は、製品に対する測定によって得られる測定値が予め設定された要件を満たすか否かを判断でき、その測定値が予め設定された要件を満たさない場合にその原因を診断でき、かつ、その診断の能力を向上させることができる製品診断装置、製品診断方法、および、製品診断プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
図面を参照して本発明の診断装置、診断方法、および、診断プログラムを説明する。なお、この欄で図中の符号を使用したのは、発明の内容の理解を助けるためであって、内容を図示した範囲に限定する意図ではない。
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明のある局面に従うと、製品診断装置２０は、測定値受付部６０と、製品診断部６２と、診断結果出力部６４とを備える。測定値受付部６０は測定値を受付ける。この測定値は、製品に対する測定によって得られる値である。製品診断部６２は、測定値に基づいて製品を診断する。診断結果出力部６４は、測定値に基づいた製品の診断結果を示す情報を出力する。製品診断部６２が、要件記憶部８０と、測定値判断部１００と、判断出力部１０２と、指標作成部１０４と、原因記憶部８６と、原因判断部１０６と、原因出力制御部１０８とを備える。要件記憶部８０は、設定要件を示す情報を記憶する。設定要件は、測定値について予め設定された要件である。測定値判断部１００は、測定値が設定要件を満たすか否かを判断する。判断出力部１０２は、次に述べられる場合、測定値が設定要件を満たすことを示す情報を製品の診断結果を示す情報として出力するよう診断結果出力部６４を制御する。その場合とは、測定値が設定要件を満たすと測定値判断部１００が判断した場合である。指標作成部１０４は、次に述べられる場合、測定値に基づいて、予め定められた手順により、指標情報を作成する。指標情報は、測定値が設定要件を満たさない原因への指標を示す。指標情報が作成される場合とは、測定値が設定要件を満たさないと測定値判断部１００が判断した場合である。原因記憶部８６は、原因情報を指標要件に対応付けて記憶する。原因情報とは測定値が設定要件を満たさない原因を示す情報のことである。指標要件とは指標情報について予め設定された要件のことである。原因判断部１０６は、次に述べられる指標要件を指標作成部１０４が作成した指標情報が満たすか否かを判断する。その指標要件は、原因記憶部８６が記憶した原因情報に対応付けられた指標要件である。原因出力制御部１０８は、次に述べられる場合、診断結果出力部６４を制御する。その場合とは、次に述べられる指標要件を次に述べられる指標情報が満たすと原因判断部１０６が判断した場合である。その指標要件は、原因記憶部８６が記憶した原因情報に対応付けられた指標要件である。その指標情報は、指標作成部１０４が作成した指標情報である。この制御により、診断結果出力部６４は、製品の診断結果を示す情報として次に述べられる原因情報を出力する。その原因情報は、指標作成部１０４によって作成された指標情報が満たす指標要件に対応付けられた原因情報である。測定値受付部６０が、所定期間に複数種類の測定値を複数個ずつ受け付ける。設定要件が、測定値の種類ごとに予め定められた要件である。測定値判断部１００は、複数個ずつ受け付けられた複数種類の測定値が測定値の種類ごとに予め定められた設定要件を満たすか否かを判断する。判断出力部１０２は、複数個ずつ受け付けられた複数種類の測定値のいずれもが設定要件を満たすと測定値判断部１００が判断した場合、測定値が設定要件を満たすことを示す情報を製品の診断結果を示す情報として出力するよう診断結果出力部６４を制御する。指標作成部１０４が、複数個ずつ受け付けられた複数種類の測定値のいずれかが設定要件を満たさないと測定値判断部１００が判断した場合、設定要件を満たさない測定値に基づいて、指標情報を作成する。製品診断装置２０は、原因受付部６６と、受付制御部１１０と、指標要件設定部１１２と、原因記憶制御部１１４とをさらに備える。原因受付部６６は、原因情報として記憶される情報を受け付ける。受付制御部１１０は、次に述べられる場合に、原因情報として記憶される情報を受け付けるよう原因受付部６６を制御する。その場合とは、原因記憶部８６が記憶した原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成部１０４が作成した指標情報が満たさないと原因判断部１０６が判断した場合である。指標要件設定部１１２は、次に述べられる指標要件を、予め定められた手順により設定要件を満たさない測定値に基づいて設定する。その指標要件は、原因受付部６６が受付ける情報に対応付けられる。その指標要件は、指標作成部１０４が作成した指標情報が満たす。指標要件が設定されるのは、次に述べられる場合である。その場合とは、原因記憶部８６が記憶した原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成部１０４が作成した指標情報が満たさないと原因判断部１０６が判断した場合である。原因記憶制御部１１４は、原因受付部６６が受付けた情報が、指標要件設定部１１２が設定した指標要件に対応付けられ、かつ、原因情報の一種として原因記憶部８６が記憶する情報に含まれるよう、原因記憶部８６を制御する。
【００１０】
測定値判断部１００は、複数個ずつ受け付けられた複数種類の測定値が測定値の種類ごとに予め定められた設定要件を満たすか否かを判断する。複数個ずつ受け付けられた複数種類の測定値が測定値の種類ごとに予め定められた設定要件を満たすと測定値判断部１００が判断した場合、判断出力部１０２は診断結果出力部６４を制御する。これにより、診断結果出力部６４は、複数個ずつ受け付けられた複数種類の測定値が測定値の種類ごとに予め定められた設定要件を満たすことを示す情報を製品の診断結果を示す情報として出力する。複数個ずつ受け付けられた複数種類の測定値のいずれかが設定要件を満たさないと測定値判断部１００が判断した場合、指標作成部１０４は、設定要件を満たさない測定値に基づいて、予め定められた手順により、指標情報を作成する。原因判断部１０６は、次に述べられる指標要件を指標作成部１０４が作成した指標情報が満たすか否かを判断する。その指標要件は、原因記憶部８６が記憶した原因情報に対応付けられた指標要件である。その指標要件を指標作成部１０４が作成した指標情報が満たす場合、原因出力制御部１０８は、診断結果出力部６４を制御する。その制御により、診断結果出力部６４は、製品の診断結果を示す情報としてその原因情報を出力する。これにより、本発明にかかる製品診断装置２０は、製品に対する測定によって得られる測定値が予め設定された要件を満たすか否かを判断でき、かつ、その測定値が予め設定された要件を満たさない場合にその原因を診断できる。原因記憶部８６が記憶した原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成部１０４が作成した指標情報が満たさない場合、受付制御部１１０は、原因情報として記憶される情報を受け付けるよう原因受付部６６を制御する。この場合、指標要件設定部１１２は、設定要件を満たさない測定値に基づいて予め定められた手順により指標要件を設定する。原因記憶制御部１１４は、原因受付部６６が受付けた情報が、指標要件設定部１１２が設定した指標要件に対応付けられ、かつ、原因情報の一種として原因記憶部８６が記憶する情報に含まれるよう、原因記憶部８６を制御する。これにより、原因受付部６６が受付けた情報は、指標要件設定部１１２が設定した指標要件に対応付けられる。原因受付部６６が受付けた情報は、原因情報の一種として原因記憶部８６が記憶する情報に含まれる。原因出力制御部１０８の制御により、診断結果出力部６４は、指標要件に対応付けられた原因情報を製品の診断結果を示す情報として出力する。これにより、本発明にかかる製品診断装置２０は、測定値が設定要件を満たさない原因を診断する能力を向上させることができる。その結果、本発明にかかる製品診断装置２０は、製品に対する測定によって得られる測定値が予め設定された要件を満たすか否かを判断でき、その測定値が予め設定された要件を満たさない場合にその原因を診断でき、かつ、その診断の能力を向上させることができる。
【００１１】
本発明の他の局面に従うと、製品診断方法は、製品に対する測定の結果に基づいてコンピュータ１０が製品を診断するものである。このコンピュータ１０は、メモリ３２と、Ｉ／Ｏ４４，４６，４８と、制御部３０と、入力受付部３６，３８と、情報出力部４２とを備える。メモリ３２は、情報を記憶する。Ｉ／Ｏ４４，４６，４８は、測定値を受付ける。この測定値は、製品に対する測定の結果を示す。制御部３０は、メモリ３２が記憶する情報およびＩ／Ｏ４４，４６，４８が受付ける測定値を処理する。入力受付部３６，３８は、ユーザからの情報入力を受付ける。情報出力部４２は、情報を出力する。メモリ３２が、設定要件を示す情報、および、原因情報を予め記憶している。設定要件は、測定値について予め設定された要件である。原因情報は、測定値が設定要件を満たさない原因を示す。原因情報は、指標要件に対応付けられる。指標要件は、測定値が設定要件を満たさない原因への指標について予め設定された要件である。この製品診断方法は、測定値入力受付工程Ｓ２００と、測定値判断工程Ｓ２０２と、判断出力工程Ｓ２０４と、指標作成工程Ｓ２０６と、原因判断工程Ｓ２０８と、原因出力工程Ｓ２１０と、原因受付工程Ｓ２３０と、指標要件設定工程Ｓ２３２と、原因記憶工程Ｓ２３４とを備える。測定値入力受付工程Ｓ２００は、Ｉ／Ｏ４４，４６，４８が測定値の入力を受付ける工程である。測定値判断工程Ｓ２０２は、Ｉ／Ｏ４４，４６，４８が測定値を受付けると測定値が設定要件を満たすか否かを制御部３０が判断する工程である。判断出力工程Ｓ２０４は、測定値が設定要件を満たす場合、制御部３０が情報出力部４２を制御する工程である。この制御により、情報出力部４２は、測定値が設定要件を満たすことを示す情報を製品の診断結果を示す情報として出力する。指標作成工程Ｓ２０６は、測定値が設定要件を満たさない場合、測定値に基づいて、予め定められた手順により、指標情報を制御部３０が作成する工程である。指標情報は、測定値が設定要件を満たさない原因への指標を示す。原因判断工程Ｓ２０８は、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たすか否かを制御部３０が判断する工程である。原因出力工程Ｓ２１０は、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす場合、制御部３０が情報出力部４２を制御する工程である。この制御により、情報出力部４２は、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす指標要件に対応付けられた原因情報を製品の診断結果を示す情報として出力する。測定値入力受付工程Ｓ２００において、Ｉ／Ｏ４４，４６，４８が所定期間に複数種類の測定値を複数個ずつ受け付ける。設定要件が、測定値の種類ごとに予め定められた要件である。測定値判断工程Ｓ２０２において、複数個ずつ受け付けられた複数種類の測定値が測定値の種類ごとに予め定められた設定要件を満たすか否かを制御部３０が判断する。判断出力工程Ｓ２０４において、複数個ずつ受け付けられた複数種類の測定値のいずれもが設定要件を満たす場合、測定値が設定要件を満たすことを示す情報を製品の診断結果を示す情報として出力するよう制御部３０が情報出力部４２を制御する。指標作成工程Ｓ２０６において、複数個ずつ受け付けられた複数種類の測定値のいずれかが設定要件を満たさない場合、設定要件を満たさない測定値に基づいて、指標情報を制御部３０が作成する。原因受付工程Ｓ２３０は、入力受付部３６，３８を制御部３０が制御する工程である。この制御により、入力受付部３６，３８は、次に述べられる場合、原因情報としてメモリ３２に記憶される情報を受け付ける。その場合とは、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たさない場合である。指標要件設定工程Ｓ２３２は、次に述べられる指標要件を、予め定められた手順により設定要件を満たさない測定値に基づいて設定する工程である。その指標要件は、原因受付工程Ｓ２３０において受付けられた情報に対応付けられる。その指標要件は、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす。指標要件が設定されるのは、次に述べられる場合である。その場合とは、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たさない場合である。原因記憶工程Ｓ２３４は、制御部３０がメモリ３２を制御する工程である。この制御により、原因受付工程Ｓ２３０において受付けた情報が、指標要件設定工程Ｓ２３２において設定された指標情報に対応付けられ、かつ、原因情報の一種として記憶される。
【００１２】
本発明の他の局面に従うと、製品診断プログラムは、製品診断方法をコンピュータ１０に実施させる。この製品診断方法は、製品に対する測定の結果に基づいて製品を診断するものである。このコンピュータ１０は、メモリ３２と、Ｉ／Ｏ４４，４６，４８と、制御部３０と、入力受付部３６，３８と、情報出力部４２とを備える。メモリ３２は、情報を記憶する。Ｉ／Ｏ４４，４６，４８は、測定値を受付ける。この測定値は、製品に対する測定の結果を示す。制御部３０は、メモリ３２が記憶する情報およびＩ／Ｏ４４，４６，４８が受付ける測定値を処理する。入力受付部３６，３８は、ユーザからの情報入力を受付ける。情報出力部４２は、情報を出力する。メモリ３２が、設定要件を示す情報、および、原因情報を予め記憶している。設定要件は、測定値について予め設定された要件である。原因情報は、測定値が設定要件を満たさない原因を示す。原因情報は、指標要件に対応付けられる。指標要件は、測定値が設定要件を満たさない原因への指標について予め設定された要件である。この製品診断方法は、測定値入力受付工程Ｓ２００と、測定値判断工程Ｓ２０２と、判断出力工程Ｓ２０４と、指標作成工程Ｓ２０６と、原因判断工程Ｓ２０８と、原因出力工程Ｓ２１０と、原因受付工程Ｓ２３０と、指標要件設定工程Ｓ２３２と、原因記憶工程Ｓ２３４とを備える。測定値入力受付工程Ｓ２００は、Ｉ／Ｏ４４，４６，４８が測定値の入力を受付ける工程である。測定値判断工程Ｓ２０２は、Ｉ／Ｏ４４，４６，４８が測定値を受付けると測定値が設定要件を満たすか否かを制御部３０が判断する工程である。判断出力工程Ｓ２０４は、測定値が設定要件を満たす場合、制御部３０が情報出力部４２を制御する工程である。この制御により、情報出力部４２は、測定値が設定要件を満たすことを示す情報を製品の診断結果を示す情報として出力する。指標作成工程Ｓ２０６は、測定値が設定要件を満たさない場合、測定値に基づいて、予め定められた手順により、指標情報を制御部３０が作成する工程である。指標情報は、測定値が設定要件を満たさない原因への指標を示す。原因判断工程Ｓ２０８は、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たすか否かを制御部３０が判断する工程である。原因出力工程Ｓ２１０は、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす場合、制御部３０が情報出力部４２を制御する工程である。この制御により、情報出力部４２は、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす指標要件に対応付けられた原因情報を製品の診断結果を示す情報として出力する。測定値入力受付工程Ｓ２００において、Ｉ／Ｏ４４，４６，４８が所定期間に複数種類の測定値を複数個ずつ受け付ける。設定要件が、測定値の種類ごとに予め定められた要件である。測定値判断工程Ｓ２０２において、複数個ずつ受け付けられた複数種類の測定値が測定値の種類ごとに予め定められた設定要件を満たすか否かを制御部３０が判断する。判断出力工程Ｓ２０４において、複数個ずつ受け付けられた複数種類の測定値のいずれもが設定要件を満たす場合、測定値が設定要件を満たすことを示す情報を製品の診断結果を示す情報として出力するよう制御部３０が情報出力部４２を制御する。指標作成工程Ｓ２０６において、複数個ずつ受け付けられた複数種類の測定値のいずれかが設定要件を満たさない場合、設定要件を満たさない測定値に基づいて、指標情報を制御部３０が作成する。原因受付工程Ｓ２３０は、入力受付部３６，３８を制御部３０が制御する工程である。この制御により、入力受付部３６，３８は、次に述べられる場合、原因情報としてメモリ３２に記憶される情報を受け付ける。その場合とは、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たさない場合である。指標要件設定工程Ｓ２３２は、次に述べられる指標要件を、予め定められた手順により設定要件を満たさない測定値に基づいて設定する工程である。その指標要件は、原因受付工程Ｓ２３０において受付けられた情報に対応付けられる。その指標要件は、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす。指標要件が設定されるのは、次に述べられる場合である。その場合とは、メモリ３２が記憶する原因情報に対応付けられた指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たさない場合である。原因記憶工程Ｓ２３４は、制御部３０がメモリ３２を制御する工程である。この制御により、原因受付工程Ｓ２３０において受付けた情報が、指標要件設定工程Ｓ２３２において設定された指標情報に対応付けられ、かつ、原因情報の一種として記憶される。
【発明の効果】
【００１３】
本発明にかかる製品診断装置、製品診断方法、および、製品診断プログラムによれば、製品に対する測定によって得られる測定値が予め設定された要件を満たすか否かを判断でき、その測定値が予め設定された要件を満たさない場合にその原因を診断でき、かつ、その診断の能力を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】周知のコンピュータのハードウェア構成を示す概念図である。
【図２】本発明の一実施形態にかかる仮想製品診断装置の機能ブロック図である。
【図３】本発明の一実施形態にかかる要件記憶部が記憶する情報の構造を示す概念図である。
【図４】本発明の一実施形態にかかる測定値記憶部が記憶する情報のうち経過時間に対応付けられているものの構造を示す概念図である。
【図５】本発明の一実施形態にかかる測定値記憶部が記憶する情報のうち最大値と最小値と平均値とに関するものの構造を示す概念図である。
【図６】本発明の一実施形態にかかる原因記憶部が記憶する情報の構造を示す概念図である。
【図７】本発明の一実施形態にかかる製品診断方法の制御の手順を示すフローチャートである。
【図８】本発明の一実施形態にかかる指標原因追加工程における制御の手順を示すフローチャートである。
【図９】本発明の一実施形態において測定値受付部が測定値を受付けている間に情報出力部に出力される画像の一例を示す概念図である。
【図１０】本発明の一実施形態において判断出力部の制御にしたがい情報出力部が出力する画像の一例を示す概念図である。
【図１１】本発明の一実施形態において判断出力部および原因出力制御部の制御にしたがい情報出力部が出力する画像の一例を示す概念図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明する。以下の説明では、同一の部品には同一の符号を付してある。それらの名称および機能も同一である。したがって、それらについての詳細な説明は繰返さない。
【００１６】
［コンピュータのハードウェア構成の説明］
以下、本発明の一実施形態について説明する。図１は、周知のコンピュータ１０のハードウェア構成を示す概念図である。図１に基づいて、コンピュータ１０のハードウェア構成が説明される。本実施形態にかかるコンピュータ１０は、制御部３０と 、メモリ３２と、固定ディスク３４と、キーボード３６と、マウス３８と、コネクタ４０と、表示装置４２と、第１Ｉ／Ｏ（Input/Output）４４と、第２Ｉ／Ｏ４６と、第３Ｉ／Ｏ４８とを有する。制御部３０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）などによって実現される。制御部３０は、メモリ３２から読出したプログラムを実行することにより、そのプログラムにおいて定められた手順に従ってコンピュータ１０を構成する各装置を制御する。メモリ３２は、ＲＯＭ（Read only memory）およびＲＡＭ（Random access memory）などによって実現される。メモリ３２は、プログラムとデータとを記憶する。固定ディスク３４は、プログラムを記録する。キーボード３６およびマウス３８は、オペレータの入力に応じて信号を生成する。これにより、コンピュータ１０に情報が入力される。本実施形態においては、キーボード３６およびマウス３８が入力受付部に相当する。「入力受付部」とは、コンピュータ１０のうち、ユーザからの情報入力を受付ける部分を意味する。コネクタ４０にはＵＳＢ（Universal Serial Bus）メモリ１８が接続される。ＵＳＢメモリ１８に記録されたプログラムおよび情報はコネクタ４０を介して制御部３０に読み込まれる。表示装置４２は、画像を表示することにより情報を出力する。本実施形態の場合、表示装置４２が情報出力部に相当する。本実施形態の場合、第１Ｉ／Ｏ４４は、電流計１２に接続される。第１Ｉ／Ｏ４４は、電流計１２が出力した信号を受付ける。これにより、第１Ｉ／Ｏ４４は、その信号が示す測定値を受付けることとなる。第２Ｉ／Ｏ４６は、圧力計１４に接続される。第２Ｉ／Ｏ４６は、圧力計１４が出力した信号を受付ける。これにより、第２Ｉ／Ｏ４６は、その信号が示す測定値を受付けることとなる。第３Ｉ／Ｏ４８は、回転計１６に接続される。第３Ｉ／Ｏ４８は、回転計１６が出力した信号を受付ける。これにより、第３Ｉ／Ｏ４８は、その信号が示す測定値を受付けることとなる。
【００１７】
［仮想製品診断装置の機能の説明］
図２は、仮想製品診断装置２０の機能ブロック図である。図２に基づいて、本実施形態にかかる仮想製品診断装置２０の構成とその機能とが説明される。上述されたコンピュータ１０の、制御部３０と 、メモリ３２と、固定ディスク３４と、キーボード３６と、マウス３８と、コネクタ４０と、表示装置４２と、第１Ｉ／Ｏ４４と、第２Ｉ／Ｏ４６と、第３Ｉ／Ｏ４８とは、仮想製品診断装置２０を構成する。仮想製品診断装置２０は、製品に対する測定の結果に基づいて製品を診断するものである。
【００１８】
仮想製品診断装置２０は、測定値受付部６０と、製品診断部６２と、診断結果出力部６４と、原因受付部６６とを備える。測定値受付部６０は測定値を受付ける。「測定値」とは、製品に対する測定によって得られる数値のことである。測定値受付部６０が受付け得る測定値は、物理量および工業量のいずれかを示す値である。なお、「物理量」とは、物理学における一定の体系の下で次元が確定し、定められた物理単位の倍数として表すことができる量のことである。「工業量」とは、複数の物理的性質に関係する量で、測定方法によって定義されている工業的に有用な量のことである。本実施形態の場合、測定値受付部６０は、次に述べられる３種類の測定値を受付ける。それらは、電流値、圧力値、および、回転数である。製品診断部６２は、測定値に基づいて製品を診断する。診断結果出力部６４は測定値に基づいた製品の診断結果を示す情報を出力する。すなわち、診断結果出力部６４が出力するのは製品の診断結果を示す情報である。その診断結果は、測定値に基づいたものである。製品の診断結果を示す情報のより具体的内容は後述される。なお、本実施形態の場合、診断結果出力部６４は、製品の診断結果を示す情報だけでなく、測定値も出力する。原因受付部６６は、記憶部７０が記憶する情報の入力を受け付ける。入力される情報の具体的内容は後述される。
【００１９】
製品診断部６２は、記憶部７０と、情報処理部７２とを有する。記憶部７０は、後述される情報を記憶する。情報処理部７２は、記憶部７０が記憶する情報および測定値受付部６０が受付ける測定値を処理する。処理の具体的内容は後述される。
【００２０】
記憶部７０は、要件記憶部８０と、測定値記憶部８２と、結果文記憶部８４と、原因記憶部８６とを有している。要件記憶部８０は、設定要件情報を記憶する。「設定要件情報」とは、設定要件を示す情報のことである。「設定要件」とは、測定値について予め設定された要件のことである。本実施形態の場合、この設定要件は、測定値受付部６０が受付ける測定値の種類ごとに定められる。測定値記憶部８２は、測定値受付部６０が受付けた測定値を記憶する。結果文記憶部８４は、診断結果を示す情報（診断結果情報）を記憶する。本実施形態の場合、診断結果情報は、「ＮＧ」という文字列情報、および、「ＯＫ」という文字列情報の２種類である。原因記憶部８６は、原因情報と指標要件情報とを互いに対応付けて記憶する。原因情報および指標要件情報については後述される。
【００２１】
図３は、本実施形態にかかる要件記憶部８０が記憶する情報の構造を示す概念図である。図３に基づいて、本実施形態にかかる要件記憶部８０が記憶する情報が説明される。上述されたとおり、本実施形態においては、要件記憶部８０は、設定要件情報を記憶する。上述されたとおり、本実施形態においては、設定要件は、測定値受付部６０が受付ける測定値の種類ごとに定められる。本実施形態の場合、測定値受付部６０が受付ける測定値には「上限許容値以下であること」および「下限許容値以上であること」という２種類の設定要件が予め設定されている。したがって、図３からも明らかな通り、本実施形態の場合、電流値については「３．０００アンペア以下であること」という設定要件と「２．５００アンペア以上であること」という設定要件とが設定されている。圧力値については「２００メガパスカル以下であること」という設定要件と「１９０メガパスカル以上であること」という設定要件とが設定されている。回転数については「毎分２２９８回転以下であること」という設定要件と「毎分２２９２回転以上であること」という設定要件とが設定されている。なお、本実施形態においては、要件記憶部８０は、周知のデータファイルという形態で設定要件情報を記憶している。
【００２２】
図４は、本実施形態にかかる測定値記憶部８２が記憶する情報のうち経過時間に対応付けられているものの構造を示す概念図である。図４に基づいて、本実施形態にかかる測定値記憶部８２が記憶する情報が説明される。上述されたとおり、測定値記憶部８２は、測定値受付部６０が受付けた測定値を記憶する。本実施形態の場合、電流計１２は、０．１秒ごとに電流を測定する。電流計１２はその測定によって得られた電流値を示す信号を測定値受付部６０に送信する。測定値受付部６０はその信号を受信することにより、測定値としての電流値を受付けることとなる。測定値記憶部８２は、その電流値を計測開始時点からの経過時間および電流値が測定される製品の識別番号に対応付けて記憶する。本実施形態の場合、測定値受付部６０は、電流値と共に、測定される製品の識別番号を示す情報（図４および図５においては「番号」欄に示されている値がこれにあたる）を受信している。測定値記憶部８２は、計測開始時点からの経過時間を示す情報を電流値と共に測定値判断部１００から受信している。これにより、電流値をそれらの情報に対応付けて記憶することが可能になる。圧力値および回転数についても同様である。なお、本実施形態においては、測定値記憶部８２は、周知のデータファイルという形態で上述された測定値を記憶している。
【００２３】
図５は、本実施形態にかかる測定値記憶部８２が記憶する情報のうち最大値と最小値と平均値とに関するものの構造を示す概念図である。本実施形態においては、測定値記憶部８２は、測定値受付部６０が受付けた測定値に加え、その測定値に基づいて特定される値（例えば、最大値、最小値、および、平均値）を記憶する。これらの値は、測定値記憶部８２が記憶する測定値に基づいて、測定値判断部１００が算出する。測定値記憶部８２は、これらの値を、測定される製品の識別番号（図４および図５においては「番号」欄に示されている値がこれにあたる）に対応付けて記憶する。なお、本実施形態においては、測定値記憶部８２は、周知のデータファイルという形態で上述された最大値と最小値と平均値とを記憶している。
【００２４】
図６は、本実施形態にかかる原因記憶部８６が記憶する情報の構造を示す概念図である。上述されたように、原因記憶部８６は、原因情報と指標要件情報とを互いに対応付けて記憶する。本実施形態の場合、「原因情報」は、測定値が設定要件（その測定値について設定されたもの）を満たさない原因を示す。後述されるように、本実施形態の場合、この原因情報はユーザによって入力される情報である。「指標要件情報」は、指標要件を示す。「指標要件」とは、指標情報について予め設定された要件を示す。これにより、原因情報は、指標要件情報を介して、指標要件に対応付けられていることとなる。「指標情報」とは、測定値受付部６０が受付けた測定値が何らかの点で設定要件を満たさないとき、その原因への指標となる情報である。指標情報の具体的な内容は後述される。
【００２５】
本実施形態の場合、指標要件情報は、９個の自然数から構成される。これらの自然数は、測定値における異常の具体的内容（測定値が設定要件をどのように満たしていないかということ）に対応付けられている。本実施形態の場合、指標情報を構成する９個の自然数のうち最初の自然数は電流値が設定要件を満たしているか否かを示す。この自然数が「０」であることは電流値が上限許容値以下で下限許容値以上であることを意味する。この自然数が「１」であることは電流値が上限許容値を超えることを意味する。この自然数が「２」であることは電流値が下限許容値未満であることを意味する。指標情報を構成する９個の自然数のうち２番目の自然数は、圧力値が設定要件を満たしているか否かを示す。この自然数が「０」であることは圧力値が上限許容値以下で下限許容値以上であることを意味する。この自然数が「１」であることは圧力値が上限許容値を超えることを意味する。この自然数が「２」であることは圧力値が下限許容値未満であることを意味する。指標情報を構成する９個の自然数のうち３番目の自然数は、回転数が設定要件を満たしているか否かを示す。この自然数が「０」であることは回転数が上限許容値以下で下限許容値以上であることを意味する。この自然数が「１」であることは回転数が上限許容値を超えることを意味する。この自然数が「２」であることは回転数が下限許容値未満であることを意味する。指標情報を構成する９個の自然数のうち４番目の自然数は、次に述べられる差の最大値を示す。その差は、測定値受付部６０が受付けた電流値と上限許容値又は下限許容値との差（測定値受付部６０が受付けた電流値が上限許容値を超えているならその上限許容値との差、測定値受付部６０が受付けた電流値が下限許容値を下回っているならその下限許容値との差）である。指標情報を構成する９個の自然数のうち５番目の自然数は、その差の最小値を示す。ただし、指標情報を構成する９個の自然数のうち１番目の自然数が「０」のとき、４番目の自然数と５番目の自然数とは「０」になる。指標情報を構成する９個の自然数のうち６番目の自然数は、次に述べられる差の最大値を示す。その差は、測定値受付部６０が受付けた圧力値と上限許容値又は下限許容値との差（測定値受付部６０が受付けた圧力値が上限許容値を超えているならその上限許容値との差、測定値受付部６０が受付けた圧力値が下限許容値を下回っているならその下限許容値との差）を示す。指標情報を構成する９個の自然数のうち７番目の自然数は、その差の最小値を示す。ただし、指標情報を構成する９個の自然数のうち２番目の自然数が「０」のとき、６番目の自然数と７番目の自然数とは「０」になる。指標情報を構成する９個の自然数のうち８番目の自然数は、次に述べられる差の最大値を示す。その差は、測定値受付部６０が受付けた回転数と上限許容値又は下限許容値との差（測定値受付部６０が受付けた回転数が上限許容値を超えているならその上限許容値との差、測定値受付部６０が受付けた回転数が下限許容値を下回っているならその下限許容値との差）を示す。指標情報を構成する９個の自然数のうち９番目の自然数は、その差の最小値を示す。ただし、指標情報を構成する９個の自然数のうち３番目の自然数が「０」のとき、８番目の自然数と９番目の自然数とは「０」になる。
【００２６】
本実施形態の場合、原因情報として原因記憶部８６に記憶されるのは、製品のうち異常が発生した部位を示す文字列情報（図６における「部位」欄に示される文字列情報）、その部位を示すイラストの画像ファイル（図６における「イラストファイル」欄に示されるファイル名）、その部位を写した写真の画像ファイル（図６における「写真ファイル」欄に示されるファイル名）、および、製品における異常の内容を示す情報（図６における「異常内容」欄に示される文字列情報）である。原因記憶部８６は、原因情報に加え、処置内容すなわち発生した異常を解消するための対策の内容を示す情報（図６における「処置内容」欄に示される文字列情報）を記憶する。この情報も指標情報に対応付けられている。なお、本実施形態においては、原因記憶部８６は、周知のデータファイルという形態で上述された情報を記憶している。
【００２７】
図２に基づいて、本実施形態にかかる情報処理部７２の構成とその機能とが説明される。情報処理部７２が、測定値判断部１００と、判断出力部１０２と、指標作成部１０４と、原因判断部１０６と、原因出力制御部１０８と、受付制御部１１０と、指標要件設定部１１２と、原因記憶制御部１１４と、情報出力制御部１１６とを有している。測定値判断部１００は、測定値が設定要件を満たすか否かを判断する。判断出力部１０２は、測定値が設定要件を満たす場合、そのことを示す情報（本実施形態の場合、「ＯＫ」という文字列情報）を製品の診断結果を示す情報として出力するよう診断結果出力部６４を制御する。指標作成部１０４は、測定値が設定要件を満たさない場合、測定値に基づいて、指標情報を作成する。本実施形態における指標情報の具体的内容、および、その指標情報を作成するための具体的な手順は後述される。原因判断部１０６は、指標作成部１０４によって作成された指標情報が原因記憶部８６に記憶されている指標要件情報のいずれかが示す指標要件を満たすか否かを判断する。指標作成部１０４によって作成された指標情報が原因記憶部８６に記憶されている指標要件情報のいずれかが示す指標要件を満たす場合、原因出力制御部１０８は、診断結果出力部６４を制御する。診断結果出力部６４は、その制御に従い、その指標要件情報に対応付けられた原因情報を出力する。その指標情報が指標要件（原因記憶部８６に記憶されている指標要件情報が示すもの）のいずれも満たさない場合、受付制御部１１０は、原因情報として記憶される情報を受け付けるよう原因受付部６６を制御する。指標要件設定部１１２は、原因受付部６６が受付ける原因情報に対応付けられる指標要件情報を設定する。原因記憶制御部１１４は、原因受付部６６が受付けた原因情報と指標要件設定部１１２が設定した指標要件情報とが互いに対応付けられ、かつ、原因記憶部８６に記憶されるよう、原因記憶部８６を制御する。情報出力制御部１１６は、測定値受付部６０が受付けた情報を出力するように診断結果出力部６４を制御する。
【００２８】
［プログラムの説明］
上述されたとおり、コンピュータ１０の、制御部３０と 、メモリ３２と、固定ディスク３４と、キーボード３６と、マウス３８と、コネクタ４０と、表示装置４２と、第１Ｉ／Ｏ４４と、第２Ｉ／Ｏ４６と、第３Ｉ／Ｏ４８とが、仮想製品診断装置２０を構成する。これは、制御部３０がメモリ３２から読出したプログラムを実行することにより実現される。一般的にこうしたプログラムは、ＵＳＢメモリ１８などのコンピュータ読取可能な記録媒体に記録された状態で流通する。こうしたプログラムは図示されないインターネットを介して流通することもある。こうしたプログラムは、固定ディスク３４にいったん記録される。制御部３０が実行するプログラムは、その固定ディスク３４に記録されたプログラムをメモリ３２が記憶したものである。したがって、本発明の最も本質的な部分は、ＵＳＢメモリ１８などのコンピュータ読取可能な記録媒体に記録されたソフトウェアである。
【００２９】
［フローチャートの説明］
図７は、上述されたプログラムのフローチャートである。図７に示されるように、このプログラムは、次に述べられる複数の工程をコンピュータ１０に実行させるものである。それら複数の工程は、測定値入力受付工程Ｓ２００、測定値判断工程Ｓ２０２、判断出力工程Ｓ２０４、指標作成工程Ｓ２０６、原因判断工程Ｓ２０８、原因出力工程Ｓ２１０、および、指標原因追加工程Ｓ２１２である。プログラムを実行した結果、コンピュータ１０は、それら複数の工程を備える製品診断方法を実施することとなる。以下、これらの各工程の具体的な内容が説明される。
【００３０】
測定値入力受付工程Ｓ２００にて、測定値受付部６０（現実には、第１Ｉ／Ｏ４４、第２Ｉ／Ｏ４６、および、第３Ｉ／Ｏ４８）は、所定期間（本実施形態の場合は、計測が開始されてから３０秒間以内の期間）、測定値の入力を受付ける。本実施形態においては、電流値、圧力値、および、回転数の入力が受付けられる。これら３種類の測定値を受付けるための具体的な方法は周知である。したがってここではその詳細な説明は繰り返されない。
【００３１】
測定値判断工程Ｓ２０２にて、測定値判断部１００（現実には制御部３０）は、測定値受付部６０が所定期間（本実施形態の場合は測定開始から２５秒以上３０秒以下の期間）受付けた測定値に基づき、その最大値と最小値と平均値とを算出する。それらが算出されると、測定値判断部１００（現実には制御部３０）は、その最大値と最小値との双方が設定要件を満たすか否かを判断する。その最大値と最小値との双方が設定要件を満たす場合（Ｓ２０２にてＹＥＳ）、処理は判断出力工程Ｓ２０４へと移される。そうでない場合すなわちその最大値と最小値とのうち少なくとも一方が設定要件のうち少なくとも一方を満たさない場合（Ｓ２０２にてＮＯ）、処理は指標作成工程Ｓ２０６へと移される。
【００３２】
判断出力工程Ｓ２０４にて、判断出力部１０２（現実には制御部３０）は、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）を制御する。この制御にしたがって、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）は、製品の診断結果を示す情報を出力する。その情報は、「ＯＫ」という文字列情報である。これにより、測定値が設定要件を満たす情報が示されることとなる。
【００３３】
指標作成工程Ｓ２０６にて、指標作成部１０４（現実には制御部３０）は、指標情報を作成する。上述されたように、「指標情報」とは、測定値受付部６０が受付けた測定値が何らかの点で設定要件を満たさないとき、その原因への指標となる情報である。本実施形態の場合、測定値が設定要件を満たさない原因への指標とは、測定値が設定要件を満たさない原因を特定するための印のことである。本実施形態においては、指標情報は、以下の手順により作成される。まず、指標作成部１０４は、測定値判断部１００の判断に基づいて、測定値のうち設定要件を満たすものと満たさないものとを特定する。それらが特定されると、指標作成部１０４は、測定値のうち設定要件を満たさないものが、上限許容値を超えたのか下限許容値を下回ったのかを特定する。それが特定されると、指標作成部１０４は、設定要件を満たさなかった測定値と許容値（測定値が上限許容値を上回った場合にはその上限許容値、測定値が下限許容値を下回った場合にはその下限許容値）との差を算出する。指標作成部１０４は、測定値のうち設定要件を満たさないものと、それが上限許容値を超えたのか下限許容値を下回ったのかという点と、設定要件を満たさなかった測定値と許容値との差とから、指標情報を作成する。このようにして作成された指標情報は、電流値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と、圧力値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と、回転数が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と、測定値受付部６０が受付けた電流値と上限許容値又は下限許容値との差を示す自然数と、測定値受付部６０が受付けた圧力値と上限許容値又は下限許容値との差を示す自然数と、測定値受付部６０が受付けた回転数と上限許容値又は下限許容値との差を示す自然数とを含むこととなる。本実施形態の場合、原因記憶部８６に記憶された指標情報と同様に、電流値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数が「０」であることは電流値が上限許容値以下で下限許容値以上であることを意味する。この自然数が「１」であることは電流値が上限許容値を超えることを意味する。この自然数が「２」であることは電流値が下限許容値未満であることを意味する。圧力値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数が「０」であることは圧力値が上限許容値以下で下限許容値以上であることを意味する。この自然数が「１」であることは圧力値が上限許容値を超えることを意味する。この自然数が「２」であることは圧力値が下限許容値未満であることを意味する。回転数が設定要件を満たしているか否かを示す自然数が「０」であることは回転数が上限許容値以下で下限許容値以上であることを意味する。この自然数が「１」であることは回転数が上限許容値を超えることを意味する。この自然数が「２」であることは回転数が下限許容値未満であることを意味する。これが、本実施形態にかかる指標情報の具体的な内容である。
【００３４】
原因判断工程Ｓ２０８にて、原因判断部１０６（現実には制御部３０）は、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が指標要件（原因記憶部８６に記憶された指標要件情報が示す要件）のいずれかと一致するか否かを判断する。これまでの記述から明らかなように、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報は、測定値受付部６０が受付けた電流値と圧力値と回転数とについての、上限許容値又は下限許容値との差を示す自然数を含む。これに対し、原因記憶部８６に記憶された指標要件情報は、測定値受付部６０が受付けた測定値と上限許容値又は下限許容値との差の最大値と最小値とを示す。指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が含む自然数のうち、電流値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と、圧力値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と、回転数が設定要件を満たしているか否かを示す自然数とが、指標要件情報が含む自然数のうち電流値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と、圧力値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と、回転数が設定要件を満たしているか否かを示す自然数とに一致しており、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報のうち測定値受付部６０が受付けた測定値（設定要件が満たされていないもの）と上限許容値又は下限許容値との差が指標要件情報のうちその差の最大値と最小値との間にあるならば、その指標要件情報が示す指標要件を指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たしている。指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が指標要件のいずれかと一致する場合（Ｓ２０８にてＹＥＳ）、処理は原因出力工程Ｓ２１０へと移される。そうでない場合（Ｓ２０８にてＮＯ）、処理は指標原因追加工程Ｓ２１２へと移される。
【００３５】
原因出力工程Ｓ２１０にて、判断出力部１０２（現実には制御部３０）は、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）を制御する。この制御にしたがって、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）は、製品の診断結果を示す情報を出力する。その情報は、「ＮＧ」という文字列情報である。原因出力制御部１０８（現実には制御部３０）は、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）を制御する。その制御に応じて、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）は、製品の診断結果を示す情報を出力する。その情報は、次に述べられる原因情報である。その原因情報は、次に述べられる指標要件情報に対応付けられたものである。その指標要件情報は、原因記憶部８６に記憶された指標要件情報のうち指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす指標要件を示すものである。
【００３６】
指標原因追加工程Ｓ２１２にて、情報処理部７２（現実には制御部３０）は、原因記憶部８６が記憶する原因情報を更新する。
【００３７】
図８は、本実施形態にかかる指標原因追加工程Ｓ２１２における制御の手順を示すフローチャートである。図８に示されるように、この工程は、次に述べられる複数の工程をコンピュータ１０に実行させるものである。それら複数の工程は、原因受付工程Ｓ２３０、指標要件設定工程Ｓ２３２、および、原因記憶工程Ｓ２３４である。プログラムを実行した結果、コンピュータ１０は、それら複数の工程を実施することとなる。以下、これらの各工程の具体的な内容が説明される。
【００３８】
原因受付工程Ｓ２３０にて、受付制御部１１０（現実には制御部３０）は、原因情報となる情報を受け付けるよう原因受付部６６（現実にはキーボード３６およびマウス３８）を制御する。
【００３９】
指標要件設定工程Ｓ２３２にて、指標要件設定部１１２（現実には制御部３０）は、次に述べられる手順に従って指標要件情報ひいては指標要件を設定する。まず、指標要件設定部１１２は、指標作成工程Ｓ２０６にて指標作成部１０４が作成した指標情報のうち、測定値受付部６０が受付けた電流値と圧力値と回転数と（ただし設定要件が満たされなかったものに限られる）についての、上限許容値又は下限許容値との差に対し、予め定められた定数を加減する。この定数の具体的な値は本実施形態にかかる製品診断装置を設計する者が任意に設定する。この定数が大きすぎると、そうでない場合に比べ、本来の異常原因とは異なる異常原因が出力される可能性が高くなる。この定数が小さすぎると、ユーザが頻繁に異常原因を入力しなければならなくなる。この定数の加減によって得られた値のうち大きい値が、測定値受付部６０が受付けた電流値又は圧力値又は回転数についての、上限許容値又は下限許容値との差の最大値を示す。加減によって得られた値のうち小さい値が（ただしこの値が負の値であった場合は「０」が）、測定値受付部６０が受付けた電流値又は圧力値又は回転数についての、上限許容値又は下限許容値との差の最小値を示す。これらの値が算出されると、指標要件設定部１１２は、次に述べられる３つの基準に従って指標要件情報を設定する。第１の基準は、指標作成工程Ｓ２０６にて指標作成部１０４が作成した指標情報のうち電流値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と圧力値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と回転数が設定要件を満たしているか否かを示す自然数とを、指標要件設定部１１２によって設定される指標要件情報において、電流値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と圧力値が設定要件を満たしているか否かを示す自然数と回転数が設定要件を満たしているか否かを示す自然数とにするという基準である。第２の基準は、指標要件設定部１１２が算出した最大値と最小値とを、測定値受付部６０が受付けた電流値と圧力値と回転数とについての、上限許容値又は下限許容値との差の最大値と最小値とにするという基準である。第３の基準は、測定値受付部６０が受付けた電流値と圧力値と回転数とのうち設定要件が満たされたものについての上限許容値又は下限許容値との差の最大値および最小値を「０」にするという基準である。
【００４０】
原因記憶工程Ｓ２３４にて、原因記憶制御部１１４（現実には制御部３０）は、原因受付工程Ｓ２３０において受付けられた情報が、指標要件設定工程Ｓ２３２において設定された指標要件情報に対応付けられ、かつ、原因情報として記憶されるよう、原因記憶部８６（現実にはメモリ３２）を制御する。
【００４１】
［動作の説明］
ポンプに電力を供給することによってそのポンプを検査する場合を例にとって、本実施形態にかかる仮想製品診断装置２０の動作が説明される。
【００４２】
（ポンプに異常がない場合）
電流計１２が図示されないポンプ（これが検査される製品である）に流れる電流を測定する。圧力計１４はそのポンプの吐出口における圧力を測定する。回転計１６はそのポンプに内蔵されるモータの回転数を測定する。電流計１２と圧力計１４と回転計１６とは、測定によって得られた測定値を測定値受付部６０に送信する。測定値受付部６０は測定値を受付ける（Ｓ２００）。図９は、その間に表示装置４２に表示される画像の一例を示す。
【００４３】
測定値判断部１００は、電流計１２、圧力計１４、および、回転計１６による計測が開始されてから２５秒以上３０秒間以下の期間に測定値受付部６０が受付けた測定値が設定要件を満たすか否かを判断する（Ｓ２０２）。ポンプに異常がない場合、測定値が設定要件を満たすので（Ｓ２０２にてＹＥＳ）、判断出力部１０２（現実には制御部３０）は、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）を制御する。この制御にしたがって、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）は、製品の診断結果を示す情報を出力する。その情報は、測定値が設定要件を満たすことを示す。図１０は、その際に表示装置４２に表示される画像の一例を示す。判定結果欄２５０に示された「ＯＫ」という文字列情報が、この場合における製品の診断結果を示す情報である。
【００４４】
（過去に発生したことのある異常がポンプに生じた場合）
測定値受付部６０が測定値を受付けた後（Ｓ２００）、測定値判断部１００は、測定値受付部６０が受付けた測定値が設定要件を満たすか否かを判断する（Ｓ２０２）。この場合、測定値が設定要件を満たさないので（Ｓ２０２にてＮＯ）、指標作成部１０４は指標情報を作成する（Ｓ２０６）。指標情報が作成されると、原因判断部１０６は、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が指標要件のいずれかと一致するか否かを判断する（Ｓ２０８）。この場合、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が指標要件のいずれかと一致するので（Ｓ２０８にてＹＥＳ）、判断出力部１０２と原因出力制御部１０８とは、診断結果出力部６４（現実には表示装置４２）を制御する。この制御にしたがって、診断結果出力部６４は、製品の診断結果を示す情報を出力する（Ｓ２１０）。その情報は、「ＮＧ」という文字列情報と、原因記憶部８６に記憶された原因情報のうち次に述べられるものとである。それは、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が満たす指標要件に対応付けられたものである。図１１は、その際に表示装置４２に表示される画像の一例を示す。判定結果欄２５０に「ＮＧ」という文字列情報が示される。処置部位欄２５２に「カバー部」という文字列情報が示される。異常内容欄２５４に「部品破損」という文字列情報が示される。写真欄２５６に図示されない写真の画像（図６に示された写真ファイルが示すもの）が示される。イラスト欄２５８にイラストの画像（図６に示されたイラストファイルが示すもの）が示される。また、これらの原因情報ばかりでなく、処置内容欄２６０に「部品交換」という文字列情報が示される。
【００４５】
（過去に発生したことのない異常がポンプに生じた場合）
測定値受付部６０が測定値を受付けた後（Ｓ２００）、測定値判断部１００は、測定値受付部６０が受付けた測定値が設定要件を満たすか否かを判断する（Ｓ２０２）。この場合、測定値が設定要件を満たさないので（Ｓ２０２にてＮＯ）、指標作成部１０４は指標情報を作成する（Ｓ２０６）。指標情報が作成されると、原因判断部１０６は、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が指標要件のいずれかと一致するか否かを判断する（Ｓ２０８）。この場合、指標作成工程Ｓ２０６において作成された指標情報が指標要件のいずれとも一致しないので（Ｓ２０８にてＮＯ）、受付制御部１１０は、原因情報を受け付けるよう原因受付部６６を制御する（Ｓ２３０）。次に、指標要件設定部１１２は、指標要件情報を設定する（Ｓ２３２）。指標要件情報が設定されると、原因記憶制御部１１４は、原因記憶部８６を制御する。これにより、原因受付部６６が受付けた情報が、指標要件設定工程Ｓ２３２において設定された指標要件情報に対応付けられるよう、原因記憶部８６に記憶される（Ｓ２３４）。
【００４６】
［効果の説明］
本実施形態にかかる仮想製品診断装置２０においては、製品に対する測定によって得られる測定値が予め設定された要件を満たすか否かを判断でき、その測定値が予め設定された要件を満たさない場合にその原因を診断でき、かつ、その診断の能力を向上させることができる。
【００４７】
今回開示された実施形態はすべての点で例示である。本発明の範囲は上述した実施形態に基づいて制限されるものではない。もちろん、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々の設計変更をしてもよい。
【００４８】
例えば、測定値受付部６０が受付ける測定値は、製品に対する測定により得られる値であれば、その具体的内容は特に限定されない。測定値受付部６０がその測定値をどのような形式で受付けるかという点も特に限定されない。それはパルスであってもよいし、光学機器によって認識される画像であってもよい。また、測定値の種類数は特に限定されない。
【００４９】
また、設定要件は、上限許容値および下限許容値のいずれかによって作成されるものに限定されない。例えば、設定要件は、基準値と許容幅との組み合わせによって作成されても良い。設定要件の具体的内容は、測定値について予め設定された要件である限り、特に限定されない。設定要件を特定する者も特に限定されない。本発明にかかる製品診断装置の設計者でもよいし、本発明にかかる製品診断装置のユーザでもよいし、その他の者であってもよい。また、設定要件はコンピュータによって特定されてもよい。
【００５０】
また、測定値が設定要件を満たさない原因を特定するための印となり得る限り、指標情報の内容は特に限定されない。指標情報は、測定値受付部６０が受付けた測定値が何らかの点で設定要件を満たさないとき、その原因への指標となる情報であればよい。例えば、指標情報は、ベクトルとして示されてもよい。本発明において、指標作成部１０４が指標情報を作成するための具体的な手順は特に限定されない。指標作成部１０４は、製品に対する測定によって得られる測定値からまず指標となる情報を作成しその指標に基づいてその製品に生じた現象の原因を特定するための任意の手法を用い得る。
【００５１】
また、指標要件の具体的内容は、指標について予め設定された要件である限り、特に限定されない。本発明において、指標要件設定部１１２は、指標要件を測定値に基づいて設定するための任意の手法を用い得る。
【００５２】
また、本発明において、原因情報がどのような形態で指標要件に対応付けられるかは特に限定されない。
【００５３】
また、上述された実施形態において、データファイル特に原因記憶部８６が記憶する情報を示すデータファイルは、周知の手法によりその内容を修正可能なものであってもよい。
【符号の説明】
【００５４】
１０…コンピュータ
１２…電流計
１４…圧力計
１６…回転計
１８…ＵＳＢメモリ
２０…仮想製品診断装置
３０…制御部
３２…メモリ
３４…固定ディスク
３６…キーボード
３８…マウス
４０…コネクタ
４２…表示装置
４４…第１Ｉ／Ｏ
４６…第２Ｉ／Ｏ
４８…第３Ｉ／Ｏ
６０…測定値受付部
６２…製品診断部
６４…診断結果出力部
６６…原因受付部
７０…記憶部
７２…情報処理部
８０…要件記憶部
８２…測定値記憶部
８４…結果文記憶部
８６…原因記憶部
１００…測定値判断部
１０２…判断出力部
１０４…指標作成部
１０６…原因判断部
１０８…原因出力制御部
１１０…受付制御部
１１２…指標要件設定部
１１４…原因記憶制御部
１１６…情報出力制御部
２５０…判定結果欄
２５２…処置部位欄
２５４…異常内容欄
２５６…写真欄
２５８…イラスト欄
２６０…処置内容欄
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
製品に対する測定によって得られる値である測定値を受付けるための測定値受付部と、
前記測定値に基づいて前記製品を診断する製品診断部と、
前記測定値に基づいた前記製品の診断結果を示す情報を出力する診断結果出力部とを備え、
前記製品診断部が、
前記測定値について予め設定された要件である設定要件を示す情報を記憶するための要件記憶部と、
前記測定値が前記設定要件を満たすか否かを判断する測定値判断部と、
前記測定値が前記設定要件を満たすと前記測定値判断部が判断した場合、前記測定値が前記設定要件を満たすことを示す情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記診断結果出力部を制御する判断出力部と、
前記測定値が前記設定要件を満たさないと前記測定値判断部が判断した場合、前記測定値に基づいて、予め定められた手順により、前記測定値が前記設定要件を満たさない原因への指標を示す指標情報を作成する指標作成部と、
前記測定値が前記設定要件を満たさない原因を示す原因情報を前記指標情報について予め設定された要件である指標要件に対応付けて記憶する原因記憶部と、
前記原因記憶部が記憶した前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成部が作成した前記指標情報が満たすか否かを判断する原因判断部と、
前記原因記憶部が記憶した前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成部が作成した前記指標情報が満たすと前記原因判断部が判断した場合、前記指標作成部によって作成された前記指標情報が満たす前記指標要件に対応付けられた前記原因情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記診断結果出力部を制御する原因出力制御部とを備える製品診断装置であって、
前記測定値受付部が、所定期間に複数種類の前記測定値を複数個ずつ受け付け、
前記設定要件が、前記測定値の前記種類ごとに予め定められた前記要件であり、
前記測定値判断部は、前記複数個ずつ受け付けられた前記複数種類の測定値が前記測定値の前記種類ごとに予め定められた前記設定要件を満たすか否かを判断し、
前記判断出力部は、前記複数個ずつ受け付けられた前記複数種類の測定値のいずれもが前記設定要件を満たすと前記測定値判断部が判断した場合、前記測定値が前記設定要件を満たすことを示す情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記診断結果出力部を制御し、
前記指標作成部が、前記複数個ずつ受け付けられた前記複数種類の測定値のいずれかが前記設定要件を満たさないと前記測定値判断部が判断した場合、前記設定要件を満たさない前記測定値に基づいて、前記指標情報を作成し、
前記製品診断装置が、
前記原因情報として記憶される情報を受け付ける原因受付部と、
前記原因記憶部が記憶した前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成部が作成した前記指標情報が満たさないと前記原因判断部が判断した場合に前記原因情報として記憶される情報を受け付けるよう前記原因受付部を制御する受付制御部と、
前記原因記憶部が記憶した前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成部が作成した前記指標情報が満たさないと前記原因判断部が判断した場合に、前記原因受付部が受付ける前記情報に対応付けられて前記指標作成部が作成した前記指標情報が満たす前記指標要件を、予め定められた手順により前記設定要件を満たさない前記測定値に基づいて設定する指標要件設定部と、
前記原因受付部が受付けた前記情報が、前記指標要件設定部が設定した前記指標要件に対応付けられ、かつ、前記原因情報の一種として前記原因記憶部が記憶する情報に含まれるよう、前記原因記憶部を制御する原因記憶制御部とをさらに備えることを特徴とする製品診断装置。
【請求項２】
製品に対する測定の結果に基づいてコンピュータが前記製品を診断する製品診断方法であって、
前記コンピュータが、
情報を記憶するためのメモリと、
前記製品に対する測定の結果を示す測定値を受付けるためのＩ／Ｏと、
前記メモリが記憶する情報および前記Ｉ／Ｏが受付ける前記測定値を処理する制御部と、
ユーザからの情報入力を受付ける入力受付部と、
情報を出力する情報出力部とを備え、
前記メモリが、前記測定値について予め設定された要件である設定要件を示す情報、および、前記測定値が前記設定要件を満たさない原因への指標についての予め設定された要件である指標要件に対応付けられ前記測定値が前記設定要件を満たさない原因を示す原因情報を予め記憶しており、
前記製品診断方法が、
前記Ｉ／Ｏが前記測定値の入力を受付ける測定値入力受付工程と、
前記Ｉ／Ｏが前記測定値を受付けると前記測定値が前記設定要件を満たすか否かを前記制御部が判断する測定値判断工程と、
前記測定値が前記設定要件を満たす場合、前記測定値が前記設定要件を満たすことを示す情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記制御部が前記情報出力部を制御する判断出力工程と、
前記測定値が前記設定要件を満たさない場合、前記測定値に基づいて、予め定められた手順により、前記測定値が前記設定要件を満たさない原因への前記指標を示す指標情報を前記制御部が作成する指標作成工程と、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たすか否かを前記制御部が判断する原因判断工程と、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たす場合、前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たす前記指標要件に対応付けられた前記原因情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記制御部が前記情報出力部を制御する原因出力工程とを備え、
前記測定値入力受付工程において、前記Ｉ／Ｏが所定期間に複数種類の前記測定値を複数個ずつ受け付け、
前記設定要件が、前記測定値の前記種類ごとに予め定められた前記要件であり、
前記測定値判断工程において、前記複数個ずつ受け付けられた前記複数種類の測定値が前記測定値の前記種類ごとに予め定められた前記設定要件を満たすか否かを前記制御部が判断し、
前記判断出力工程において、前記複数個ずつ受け付けられた前記複数種類の測定値のいずれもが前記設定要件を満たす場合、前記測定値が前記設定要件を満たすことを示す情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記制御部が前記情報出力部を制御し、
前記指標作成工程において、前記複数個ずつ受け付けられた前記複数種類の測定値のいずれかが前記設定要件を満たさない場合、前記設定要件を満たさない前記測定値に基づいて、前記指標情報を前記制御部が作成し、
前記製品診断方法が、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たさない場合、前記原因情報として前記メモリに記憶される情報を受け付けるよう前記入力受付部を前記制御部が制御する原因受付工程と、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たさない場合に、前記原因受付工程において受付けられた前記情報に対応付けられて前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たす前記指標要件を、予め定められた手順により前記設定要件を満たさない前記測定値に基づいて設定する指標要件設定工程と、
前記原因受付工程において受付けられた前記情報が、前記指標要件設定工程において設定された前記指標情報に対応付けられ、かつ、前記原因情報の一種として記憶されるよう、前記制御部が前記メモリを制御する原因記憶工程とをさらに備えることを特徴とする製品診断方法。
【請求項３】
製品に対する測定の結果に基づいて前記製品を診断する製品診断方法をコンピュータに実施させる製品診断プログラムであって、
前記コンピュータが、
情報を記憶するためのメモリと、
前記製品に対する測定の結果を示す測定値を受付けるためのＩ／Ｏと、
前記メモリが記憶する情報および前記Ｉ／Ｏが受付ける前記測定値を処理する制御部と、
ユーザからの情報入力を受付ける入力受付部と、
情報を出力する情報出力部とを備え、
前記メモリが、前記測定値について予め設定された要件である設定要件を示す情報、および、前記測定値が前記設定要件を満たさない原因への指標についての予め設定された要件である指標要件に対応付けられ前記測定値が前記設定要件を満たさない原因を示す原因情報を予め記憶しており、
前記製品診断方法が、
前記Ｉ／Ｏが前記測定値の入力を受付ける測定値入力受付工程と、
前記Ｉ／Ｏが前記測定値を受付けると前記測定値が前記設定要件を満たすか否かを前記制御部が判断する測定値判断工程と、
前記測定値が前記設定要件を満たす場合、前記測定値が前記設定要件を満たすことを示す情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記制御部が前記情報出力部を制御する判断出力工程と、
前記測定値が前記設定要件を満たさない場合、前記測定値に基づいて、予め定められた手順により、前記測定値が前記設定要件を満たさない原因への前記指標を示す指標情報を前記制御部が作成する指標作成工程と、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たすか否かを前記制御部が判断する原因判断工程と、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たす場合、前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たす前記指標要件に対応付けられた前記原因情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記制御部が前記情報出力部を制御する原因出力工程とを備え、
前記測定値入力受付工程において、前記Ｉ／Ｏが所定期間に複数種類の前記測定値を複数個ずつ受け付け、
前記設定要件が、前記測定値の前記種類ごとに予め定められた前記要件であり、
前記測定値判断工程において、前記複数個ずつ受け付けられた前記複数種類の測定値が前記測定値の前記種類ごとに予め定められた前記設定要件を満たすか否かを前記制御部が判断し、
前記判断出力工程において、前記複数個ずつ受け付けられた前記複数種類の測定値のいずれもが前記設定要件を満たす場合、前記測定値が前記設定要件を満たすことを示す情報を前記製品の診断結果を示す情報として出力するよう前記制御部が前記情報出力部を制御し、
前記指標作成工程において、前記複数個ずつ受け付けられた前記複数種類の測定値のいずれかが前記設定要件を満たさない場合、前記設定要件を満たさない前記測定値に基づいて、前記指標情報を前記制御部が作成し、
前記製品診断方法が、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たさない場合、前記原因情報として前記メモリに記憶される情報を受け付けるよう前記入力受付部を前記制御部が制御する原因受付工程と、
前記メモリが記憶する前記原因情報に対応付けられた前記指標要件を前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たさない場合に、前記原因受付工程において受付けられた前記情報に対応付けられて前記指標作成工程において作成された前記指標情報が満たす前記指標要件を、予め定められた手順により前記設定要件を満たさない前記測定値に基づいて設定する指標要件設定工程と、
前記原因受付工程において受付けられた前記情報が、前記指標要件設定工程において設定された前記指標情報に対応付けられ、かつ、前記原因情報の一種として記憶されるよう、前記制御部が前記メモリを制御する原因記憶工程とをさらに備えることを特徴とする製品診断プログラム。