(57)【要約】【課題】クランクシャフトのピンへ偏心が生じた場合に、ピンへ加わる荷重に対して高さ方向などの一方向のみの荷重を調整するだけでなく、他の方向への偏心に対しても荷重を調整することができる高周波焼入方法を提供する。【解決手段】クランクシャフト１のピン２の外周面２ａ上に、通電により加熱されるコイル２０を追従させ、ピン２の軸心Ｊを中心としてクランクシャフト１のジャーナル３を回転軌跡Ｋ上で円運動させることでピン２の焼入を行う高周波焼入方法において、検出された偏心量からピン２の軸心ＪのＸ方向のＸ偏差およびＺ方向のＺ偏差を算出し、算出されたＸ偏差およびＺ偏差と予め算出したピン２の軸心Ｊの基準値との差が小さくなるように回転軌跡Ｋを調整するよう構成する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
クランクシャフトのピンの外周面上に、通電により加熱されるコイルを追従させ、前記ピンの軸心を中心として前記クランクシャフトのジャーナルを所定の回転軌跡上で円運動させることで前記ピンの焼入を行う高周波焼入方法であって、
前記ピンの軸心の偏心量を検出し、該検出した前記偏心量と予め算出した前記ピンの軸心の基準値との差が小さくなるように前記回転軌跡を調整することを特徴とする高周波焼入方法。
【請求項２】
クランクシャフトのピンの外周面上に、通電により加熱されるコイルを追従させ、前記ピンの軸心を中心として前記クランクシャフトのジャーナルを所定の回転軌跡上で円運動させることで前記ピンの焼入を行う高周波焼入装置であって、
前記円運動させる駆動機構と、
該駆動機構を制御する制御部と、
前記ピンの軸心の一方向の第１偏心量を検出する第１センサと、
前記ピンの軸心の一方向に直交する方向の第２偏心量を検出する第２センサと、
前記第１偏心量から前記ピンの軸心の一方向の第１偏差を算出し、前記第２偏心量から前記ピンの軸心の一方向に直交する方向の第２偏差を算出し、前記第１偏差及び前記第２偏差のいずれかが予め算出した基準値を超えている場合に、前記第１偏差及び前記第２偏差の値を前記制御部に出力する演算部と、を有し、
前記制御部は、前記第１偏差及び前記第２偏差の値を用いて前記駆動機構を制御し、前記第１偏差及び前記第２偏差が小さくなるように前記円運動の回転軌跡を調整することを特徴とする高周波焼入装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、クランクシャフトのピンの焼入を行う高周波焼入方法及び高周波焼入装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の高周波焼入方法は、クランクシャフトに連結したモータを駆動してクランクシャフトを回転させてピンを円運動させ、熱処理ユニットのコイルをピンの上に置くことでコイルをピンの外周面上でピンに追従させて熱処理している（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
特許文献１に記載の高周波焼入方法においては、コイルがシリンダと連結して吊り下げられており、シリンダの作動圧力を制御することで、ピンに加わる荷重を調整している。シリンダは、熱処理ユニットのコイルの自重をピンに直接に作用させないため、コイルを吊り上げる方向に力を発生させている。
【０００４】
この高周波焼入方法においては、回転角度検出器により検出されたピンの回転角度および電流検出器により検出されたモータの入力電流に基づいて、シリンダ制御部により制御がなされる。シリンダ制御部は、ピンの回転角度の変化によって生ずるピンに加わる荷重の変動が小さくなるよう、ピンの回転角度に応じてシリンダの作動圧力を制御している。この制御により、ピンの回転角度に関係なくピンに加わる荷重の均一化を図ることができる。
【０００５】
また、シリンダ制御部は、モータの入力電流の大きさをピンに加わる荷重の大きさとして検出し、大きな荷重が検出されると、シリンダの作動圧力を高めてコイルを吊り上げる方向の力が大きくなるよう制御している。即ち、シリンダ制御部は、コイルに加わる荷重が小さくなるよう制御している。この制御により、熱処理ユニットのコイルの重量に関係なくピンに加わる荷重の低減化を図ることができる。その結果、ピンに加わる荷重の均一化および低減化が図られ、高周波焼入の際に生ずるピンの傷付きが防止されるとともに、ピンの外周面部が均一に熱処理される。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２００１−２７１１２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１に記載の高周波焼入方法においては、ピンへ加わる荷重が大きくなると、シリンダの作動圧力を高めてコイルを吊り上げることで、ピンへ加わる荷重を小さくしている。そのため、コイルの吊り上げる方向以外の方向へピンが偏心した場合においても、ピンへ加わる荷重が大きくなると、コイルを吊り上げる制御が実行される。その結果、ピンに加わる荷重が均一ではなくなり、焼入の不均一が生じてしまう恐れがあった。
【０００８】
コイルを吊り上げる方向以外の方向、例えばコイルを吊り上げる方向に対して直交する方向へピンが偏心してしまうことがある。このようなピンの偏心は、次のような場合に生ずることがある。回転機構や焼入のコイルの載せ替え時の組み付け誤差により、コイルの中心とピンの回転中心とがずれる場合、焼入の際の回転時に、ベアリングやシャフトなどの構成要素の摩耗から発生する振動により、回転にぶれが生ずる場合、加熱前後にピン、コイルおよび回転機構などの構成要素の熱膨張による変形が生ずる場合、加減速時にピンにたわみが生ずる場合、などである。
【０００９】
特許文献１に記載の高周波焼入方法においては、コイルを吊り上げることでピンへ加わる荷重を調整している。しかし、コイルを吊り上げる方向以外への調整を行うことができないため、他の方向へピンが偏心した場合に、焼入の不均一が生じてしまう恐れがある。
【００１０】
本発明は、このような問題を解決するためになされたもので、クランクシャフトのピンへ偏心が生じた場合に、ピンへ加わる荷重に対して高さ方向などの一方向のみの荷重を調整するだけでなく、他の方向への偏心に対しても荷重を調整することのできる高周波焼入方法及び高周波焼入を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明に係る高周波焼入方法は、クランクシャフトのピンの外周面上に、通電により加熱されるコイルを追従させ、前記ピンの軸心を中心として前記クランクシャフトのジャーナルを所定の回転軌跡上で円運動させることで前記ピンの焼入を行う高周波焼入方法であって、前記ピンの軸心の偏心量を検出し、該検出した前記偏心量と予め算出した前記ピンの軸心の基準値との差が小さくなるように前記回転軌跡を調整するよう構成する。
【００１２】
この構成により、本発明に係る高周波焼入方法は、クランクシャフトのピンの外周面上に、通電により加熱されるコイルを追従させ、ピンの軸心を中心としてクランクシャフトのジャーナルを所定の回転軌跡上で円運動させるので、ピンの外周面部の全体が均一に焼入される。ここで、所定の回転軌跡とは、ピンの軸心を中心としてクランクシャフトを回転させたときにジャーナルの円運動により描かれる回転軌跡を意味し、クランクシャフトの構造、形状、大きさなどの設定諸元により適宜最適値が選択される。ピンの軸心の偏心量とは、回転しているピンが振れる振れ量を意味し、非接触センサなどのセンサで検出することができる。
【００１３】
また、本発明に係る高周波焼入方法は、ピンの軸心の偏心量が検出され、検出された偏心量と予め算出したピンの軸心の基準値とが比較され、偏心量と基準値との差が大きい場合に、差が小さくなるよう、ジャーナルの回転軌跡が調整される。その結果、クランクシャフトのピンが一方向だけでなく、他の方向へ偏心した場合であっても、ピンが均一に焼入されるようピンへ加わる荷重を調整することができる。
【００１４】
本発明に係る高周波焼入装置は、クランクシャフトのピンの外周面上に、通電により加熱されるコイルを追従させ、前記ピンの軸心を中心として前記クランクシャフトのジャーナルを所定の回転軌跡上で円運動させることで前記ピンの焼入を行う高周波焼入装置であって、前記円運動させる駆動機構と、該駆動機構を制御する制御部と、前記ピンの軸心の一方向の第１偏心量を検出する第１センサと、前記ピンの軸心の一方向に直交する方向の第２偏心量を検出する第２センサと、前記第１偏心量から前記ピンの軸心の一方向の第１偏差を算出し、前記第２偏心量から前記ピンの軸心の一方向に直交する方向の第２偏差を算出し、前記第１偏差及び前記第２偏差のいずれかが予め算出した基準値を超えている場合に、前記第１偏差及び前記第２偏差の値を前記制御部に出力する演算部とを有する。そして、前記制御部は、前記第１偏差及び前記第２偏差の値を用いて前記駆動機構を制御し、前記第１偏差及び前記第２偏差が小さくなるように前記円運動の回転軌跡を調整する構成を有する。
【００１５】
本発明によれば、クランクシャフトのピンが一方向だけでなく、他の方向へ偏心した場合であっても、ピンの外周面部の全体が均一に焼入されるようピンへ加わる荷重を調整することができる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、ピンの軸心の偏心量を検出することで、ジャーナルの回転軌跡を調整し、ピンへ加わる荷重を調整している。このため、高さ方向などの一方向への荷重の調整だけでなく、他の方向へのピンの偏心に対してもピンへ加わる荷重を調整することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１７】
【図１】本発明の実施形態に係る高周波焼入方法を行う高周波焼入装置の概略構成を示す構成図。
【図２】本発明の実施形態に係るクランクシャフトのピンの軸心の偏心量と時間との関係を示す波形図。
【図３】本発明の実施形態に係るクランクシャフトのピンの中心の偏差の算出を説明する説明図。
【図４】本発明の実施形態に係る高周波焼入方法を示すフローチャート。
【発明を実施するための形態】
【００１８】
本発明の実施形態に係る高周波焼入方法及び高周波焼入装置について図面を参照して説明する。
【００１９】
実施形態に係る高周波焼入方法は、図１に示すように、クランクシャフト１のピン２の外周面２ａ上に、ピン２を加熱するコイル２０を追従させ、ピン２の軸心Ｊを中心としてクランクシャフト１のジャーナル３を所定の回転軌跡Ｋ上で円運動させることでクランクシャフト１を回転させ、ピン２に対して高周波により焼入を行う方法で構成されている。
【００２０】
さらに、実施形態に係る高周波焼入方法は、後述するピン２の軸心ＪのＸ方向のＸ偏差およびＺ方向のＺ偏差を算出し、算出されたＸ偏差およびＺ偏差と予め算出したピン２の軸心Ｊの基準値との差が小さくなるように回転軌跡Ｋを調整するよう構成されている。
【００２１】
本実施形態に係る高周波焼入方法は、高周波焼入装置１０により行われる。図１に示す高周波焼入装置１０は、コイル２０と、クランクシャフト１を回転させるロボット３０と、センサ４０と、抽出部５０と、演算部６０とを有している。
【００２２】
コイル２０は、焼入による硬化層が形成されるピン２の外周面２ａ上に追従するよう、昇降可能に上方から下方に向かって吊り下げられている。コイル２０は、図１に示す横方向のＸ方向および高さ方向のＺ方向に移動可能な、いわゆるフローティング構造で支持され、図示しない加熱ユニットにより加熱されるようになっている。
【００２３】
加熱ユニットは、コイル加熱制御部と、交流電源とインバータとを有するコイル加熱電源供給部とを備え、コイル加熱制御部の制御により加熱電源供給部からコイル２０を加熱するようコイル２０に高周波の誘導電流が供給されるようになっている。 
【００２４】
クランクシャフト１は、図示しないエンジンのピストンにコネクティングロッドを介して連結されるピン２と、エンジンのクランクケースに回転可能に支持されるジャーナル３と、ピン２とジャーナル３を連結するクランクアーム４で構成される。ピン２、ジャーナル３およびクランクアーム４は、エンジンの気筒数に対応して複数個設けられている。高周波焼入装置１０において、ピン２は軸心Ｊを中心として回転可能に保持されており、ジャーナル３はロボット３０により把持されている。
【００２５】
ロボット３０は、水平多関節のロボット、いわゆるスカラー構造のロボットで構成され、
ジャーナル３を把持する把持部１１と、関節部１２、１３と、関節部１２と関節部１３とを連結するアーム部１４と、把持部１１と関節部１２とを連結するアーム部１５を有している。  
【００２６】
また、ロボット３０は、マニピュレータ１６と、サーボアンプ１７とを有しており（制御部）、把持部１１、関節部１２、１３、アーム部１４、１５の各構成要素を制御するようになっている。関節部１２、１３には、それぞれサーボモータなどの駆動機構が設けられており、駆動機構によりアーム部１４、１５がそれぞれ水平面内で揺動するようになっている。
【００２７】
マニピュレータ１６は、サーボアンプ１７から出力される信号に基づいて駆動機構を制御し、把持部１１で把持したクランクシャフト１のジャーナル３を円運動させ、ジャーナル３により回転軌跡Ｋが描かれるようになっている。
【００２８】
サーボアンプ１７は、演算部６０からピン２の回転中心に関する信号を受け、算出されたＸ偏差およびＺ偏差と、予め算出したピン２の軸心Ｊの基準値との差が小さくなるように、回転軌跡Ｋを調整する。また、サーボアンプ１７は、図１に示す調整後の回転軌跡Ｋｈを描くようにクランクシャフト１のジャーナル３を円運動させるよう、マニピュレータ１６に調整信号として、パルス幅変調（ＰＷＭ）などの電流信号を出力するようになっている。
【００２９】
センサ４０は、レーザセンサや超音波センサなどの非接触センサで構成され、センサ４０ａ（第１センサ）とセンサ４０ｂ（第２センサ）とを有しており、センサ４０ａがピン２の横方向のＸ方向の偏心量（第１偏心量）（ｍｍ）を検出し、センサ４０ｂがピン２のＸ方向と直交する高さ方向のＺ方向の偏心量（第２偏心量）（ｍｍ）を検出する。センサ４０ａおよびセンサ４０ｂは、それぞれ検出した偏心量の信号を抽出部５０に出力するようになっている。
【００３０】
センサ４０ａにより検出されたピン２のＸ方向の偏心量（ｍｍ）は、縦軸に偏心量（ｍｍ）、横軸に時間（ｓｅｃ）で表される図２の細線の曲線からなる生波形で示される。ピン２の１回転のぶれの状態は、図２の生波形の１周期で示される。ピン２のＺ方向の偏心量（ｍｍ）も、Ｘ方向の偏心量（ｍｍ）と同様に検出され、同様の生波形で表される。
【００３１】
抽出部５０は、この生波形の高周波成分からなるノイズ成分をローパスなどのフィルタで除去し、ノイズ成分の少ない基本波形を抽出するよう構成されている。抽出部５０で抽出されたノイズ成分の少ない基本波形は図２の太線の曲線で示される。この基本波形の信号は演算部６０に出力される。
【００３２】
演算部６０は、ノイズ成分の少ない基本波形を用いて波形近似式を算出する。図３に示すように、Ｘ方向の基本波形は、近似式、Ｘ方向基本波形≒Ｘ´ｓｉｎωｔ＋ａで表される。ここでωは、ラジアン毎秒（ｒａｄ／ｓｅｃ）を表し、ｔは時間（ｓｅｃ）、ａはピン２の軸心ＪのＸ座標を表している。Ｚ方向の基本波形は、近似式、Ｚ方向基本波形≒Ｚ´ｓｉｎωｔ＋ｂで表される。ｂはピン２の軸心ＪのＺ座標を表している。
このように、演算部６０は、近似式により、座標変換して基本波形からピン２の軸心ＪのＸ座標およびＺ座標を算出する。
【００３３】
演算部６０は、図３に示すように、初期にセットされた偏心のないピン２の軸心を中心座標（ａ，ｂ）とし、この中心座標を狙い中心ないし狙い値として、算出の基準とする。偏心のないピン２の回転による軌跡Ｋｐは、（ｘ，ｚ）＝（Ｘｓｉｎωｔ，Ｚｓｉｎωｔ）で表される略円形が描かれる。これに対し、偏心した実際のピン２の回転による軌跡Ｋｐｈは、（ｘ´，ｚ´）＝（Ｘ´ｓｉｎωｔ＋ａ，Ｚ´ｓｉｎωｔ＋ｂ）で表される略楕円形で描かれ、この軌跡Ｋｐｈの中心を、偏心したピンの実際の中心座標（ａ´，ｂ´）として算出する。算出した中心座標（ａ´，ｂ´）と、狙い中心としての中心座標（ａ，ｂ）との差、（ａ´−ａ）、（ｂ´−ｂ）がそれぞれＸ偏差（第１偏差）、Ｚ偏差（第２偏差）として算出される。
【００３４】
演算部６０においては、Ｘ偏差およびＺ偏差は、ピン２の偏心が許容される限度となる基準値と比較され、Ｘ偏差およびＺ偏差がそれぞれ基準値を超えるか否かで、クランクシャフト１のジャーナル３の回転軌跡Ｋを調整するか否かが判断される。
この基準値は、ピン２の外周面部が全周に亘って均一に焼入される範囲の限界値に基づいて予め算出されるとともに、実験値や経験値などのデータに基づいて決定される。
【００３５】
このＸ偏差およびＺ偏差は、ピン２の回転中心を、偏心した中心座標（ａ´，ｂ´）から中心座標（ａ，ｂ）に位置するように補正する補正量としても表わされる。演算部６０は、Ｘ偏差およびＺ偏差のいずれかが基準値を超えていると判断した場合は、その結果および補正量としてのＸ偏差およびＺ偏差の値をサーボアンプ１７に信号として出力する。
【００３６】
サーボアンプ１７においては、補正量としてのＸ偏差およびＺ偏差の値に基づいて、図１に示す回転軌跡Ｋから調整後の回転軌跡Ｋｈになるよう信号がマニピュレータ１６に出力され、マニピュレータ１６により、偏心のない狙い中心を中心としたピン２の回転が得られる。
【００３７】
以上のように構成された実施形態に係る高周波焼入装置１０の動作について簡単に説明する。
【００３８】
高周波焼入装置１０においては、クランクシャフト１のピン２が保持され、ジャーナル３がロボット３０の把持部１１で把持されると、コイル２０がピン２の外周面２ａ上で追従するようにセットされる。セットが完了すると、ロボット３０のマニピュレータ１６の制御により、アーム部１４、１５がそれぞれ水平面内で揺動し、把持部１１で把持されたジャーナル３が、図１に示す回転軌跡Ｋを描くようにして円運動する。これにより、ピン２が軸心Ｊを中心として回転する。
【００３９】
ピン２の回転が開始すると、コイル２０に誘導電流が供給され、コイル２０が加熱し焼入動作が開始する。コイル２０の加熱により、ピン２の外周面２ａ部が全周に亘り均一に焼入される。このピン２の焼入が完了すると、クランクシャフト１の他のピンがピン２の場合と同様にして、焼入され、すべてのピンの焼入が完了することで焼入動作は完了する。  
【００４０】
次いで、実施形態に係る高周波焼入方法について図４のフローチャートを参照して説明する。
【００４１】
コイル２０が誘導電流の供給により加熱し、焼入動作が開始する（ステップＳ１）。
焼入動作が開始すると、センサ４０ａによりピン２のＸ方向の偏心量が検出され、センサ４０ｂによりピン２のＺ方向の偏心量が検出されて、抽出部５０に偏心量の信号が出力される（ステップＳ２）。
【００４２】
抽出部５０は、出力された偏心量の信号から、図２の細線で示される偏心量（ｍｍ）と時間（ｓｅｃ）で表される生波形を生成し、生波形の高周波成分からなるノイズ成分をローパスなどのフィルタで除去する。これにより、抽出部５０は、ノイズ成分の少ない基本波形を抽出して基本波形の信号を演算部６０に出力する（ステップＳ３）。
【００４３】
演算部６０は、出力された基本波形を用いて、Ｘ方向の基本波形の近似式、Ｘ方向基本波形≒Ｘ´ｓｉｎωｔ＋ａを算出し、Ｚ方向の基本波形の近似式、Ｚ方向基本波形≒Ｚ´ｓｉｎωｔ＋ｂを算出する。続いて、演算部６０は、近似式により、座標変換して基本波形から偏心したピン２の軸心ＪのＸ座標およびＺ座標を算出する。さらに、演算部６０は、算出した中心座標（ａ´，ｂ´）と、狙い中心ないし狙い値としての中心座標（ａ，ｂ）との差、（ａ´−ａ）、（ｂ´−ｂ）をそれぞれＸ偏差、Ｚ偏差として算出する（ステップＳ４）。
【００４４】
演算部６０においては、Ｘ偏差およびＺ偏差は、予め算出されピン２の偏心が許容される限度となる基準値と比較され、Ｘ偏差およびＺ偏差のいずれかが基準値を超えるか否かで、クランクシャフト１のジャーナル３の回転軌跡Ｋを調整するか否かが判断される（ステップＳ５）。
【００４５】
Ｘ偏差およびＺ偏差のいずれもが基準値を超えていないと判断した場合は、ステップＳ２に戻りセンサ４０ａにより再びピン２のＸ方向の偏心量が検出され、センサ４０ｂにより再びピン２のＺ方向の偏心量が検出されて、抽出部５０に出力される。
【００４６】
演算部６０は、Ｘ偏差およびＺ偏差のいずれかが基準値を超えていると判断した場合は、その結果および補正量としてのＸ偏差およびＺ偏差の値をサーボアンプ１７に信号として出力する。
【００４７】
サーボアンプ１７においては、入力された補正量としてのＸ偏差およびＺ偏差の値に基づいて、Ｘ偏差およびＺ偏差の値が小さくなるよう調整される。具体的には、ピン２の回転中心を、算出された実際の偏心した中心座標（ａ´，ｂ´）から、狙い中心ないし狙い値としての中心座標（ａ，ｂ）に位置するように調整する。即ち、クランクシャフト１のジャーナル３が描く実際の回転軌跡Ｋを、図１に示す回転軌跡Ｋｈになるよう調整し、マニピュレータ１６に信号を出力する（ステップＳ６）。
【００４８】
マニピュレータ１６は、ロボット３０の把持部１１で把持したクランクシャフト１のジャーナル３の円運動により、回転軌跡Ｋｈが描かれるようサーボアンプ１７から出力される信号に基づいて駆動機構を制御する（ステップＳ７）。この制御により、偏心したピン２の回転中心が、狙い値としての中心座標（ａ，ｂ）に近づき、偏心の少ないピン２の回転が得られるようになる。
【００４９】
次いで、クランクシャフト１の全てのピン２の焼入が完了したか否かが判断される（ステップＳ８）。クランクシャフト１が、例えば、４個のピン２で構成されている場合に、１個のピン２の焼入が完了するごとにカウンタなどの計数手段により計数し、計数値が４であるか否かで、全てのピン２の焼入が完了したか否かを判断することができる。
【００５０】
全てのピン２の焼入が完了していないと判断した場合は、ステップＳ２に戻りセンサ４０ａにより再びピン２のＸ方向の偏心量が検出され、センサ４０ｂにより再びピン２のＺ方向の偏心量が検出されて、抽出部５０に出力される。
【００５１】
全てのピン２の焼入が完了していると判断した場合は、他のクランクシャフト１のピン２の焼入の工程に移行する（ステップＳ９）。
【００５２】
以上のように構成された実施形態に係る高周波焼入方法の効果について説明する。
本実施形態に係る高周波焼入方法は、クランクシャフト１のピン２の外周面２ａ上に、コイル２０を追従させ、ピン２の軸心Ｊを中心としてクランクシャフト１のジャーナル３を回転軌跡Ｋ上で円運動させることでピン２の焼入を行うよう構成される。
【００５３】
この構成により、コイル２０を加熱することによりピン２の外周面２ａを全周に亘って均一に焼入することができる。また、ピン２の軸心Ｊを中心としてクランクシャフト１のジャーナル３を回転軌跡Ｋ上で円運動させているので、ピン２の軸心Ｊが偏心した場合でも、回転軌跡Ｋを調整することにより、容易に偏心を少なくすることができる。その結果、ピン２に加わる荷重が小さくなり、コイル２０への負担を低減することができ、コイル２０の接触部分の摩耗を抑制することができる。
【００５４】
また、実施形態に係る高周波焼入方法は、ピン２の軸心Ｊの偏心の偏心量をピン２のＸ方向およびＺ方向の２方向で非接触センサからなるセンサ４０で検出しているので、ピン２に負荷を加えることなく高い精度で、偏心量を取得することができるという効果が得られる。
【００５５】
また、実施形態に係る高周波焼入方法は、抽出部５０により、偏心量（ｍｍ）と時間（ｓｅｃ）で表される生波形の高周波成分からなるノイズ成分がフィルタで除去され、基本波形が抽出される。この基本波形を用いて、演算部６０により、近似式が算出され、座標変換がされて偏心したピン２の軸心Ｊの中心座標（ａ´，ｂ´）が算出される。
これにより、狙い値としての中心座標（ａ，ｂ）と偏心した中心座標（ａ´，ｂ´）との差がＸ偏差およびＺ偏差として算出されるという効果が得られる。
【００５６】
また、演算部６０により、Ｘ偏差およびＺ偏差は、予め算出された基準値と比較され、Ｘ偏差およびＺ偏差が基準値を超えた場合に、クランクシャフト１のジャーナル３の回転軌跡Ｋが、回転軌跡Ｋｈに調整される。その結果、焼入の際、クランクシャフト１のクランクアーム４が図１に示す矢印ｍ方向に熱膨張などで変形してピンの軸心が一方向だけでなく他の方向に偏心しても、ピンが均一に焼入されるようピンへ加わる荷重が調整されるという効果が得られる。
【００５７】
以上、本発明の実施形態について詳述したが、本発明は、前記の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の精神を逸脱しない範囲で、種々の設計変更を行うことができるものである。例えば、前記した実施の形態は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施形態の構成の一部を他の実施形態の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施形態の構成に他の実施形態の構成を加えることも可能である。さらに、各実施形態の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。
【符号の説明】
【００５８】
１・・・クランクシャフト、２・・・ピン、２ａ・・・外周面、３・・・ジャーナル、４・・・クランクアーム、１０・・・高周波焼入装置、１１・・・把持部、１２、１３・・・関節部、１４、１５・・・アーム部、１６・・・マニピュレータ、１７・・・サーボアンプ、２０・・・コイル、３０・・・ロボット、４０、４０ａ、４０ｂ・・・センサ、５０・・・抽出部、６０演算部、Ｊ・・・ピン２の軸心、Ｋ、Ｋｈ・・・回転軌跡
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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