(57)【要約】【課題】コンデンサの劣化の有無を精度良く判定することができるコンデンサ劣化判定ユニット、電源装置及びコンデンサ劣化判定方法を提供する。【解決手段】コンデンサ劣化判定ユニットは、コンデンサのリップル波形を抽出する抽出部と、抽出部で抽出したリップル波形を直流波形に変換する直流変換部と、直流変換部で変換した直流波形を所定の基準電圧と比較してコンデンサの劣化の有無を判定する劣化判定部とを備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンデンサのリップル波形を抽出する抽出部と、
該抽出部で抽出したリップル波形を直流波形に変換する直流変換部と、
該直流変換部で変換した直流波形を所定の基準電圧と比較して前記コンデンサの劣化の有無を判定する劣化判定部と
を備えるコンデンサ劣化判定ユニット。
【請求項２】
前記コンデンサの一端に接続され、該コンデンサのリップル波形の直流成分を遮断する直流成分遮断素子を備え、
前記抽出部は、
直流成分が遮断されたリップル波形を抽出する請求項１に記載のコンデンサ劣化判定ユニット。
【請求項３】
所定の遮断周波数を有し、前記抽出部で抽出したリップル波形から所定の周波数域の波形を低減する低周波域通過フィルタ部を備え、
前記直流変換部は、
前記低周波域通過フィルタ部が出力するリップル波形を直流波形に変換する請求項１又は請求項２に記載のコンデンサ劣化判定ユニット。
【請求項４】
前記低周波域通過フィルタ部は、
インダクタと、
前記インダクタに接続された可変容量キャパシタと
を有する請求項３に記載のコンデンサ劣化判定ユニット。
【請求項５】
前記直流変換部は、
可変容量ダイオードで構成される整流回路を有する請求項１から請求項４のいずれか一項に記載のコンデンサ劣化判定ユニット。
【請求項６】
前記劣化判定部は、
前記直流変換部で変換した直流波形が前記基準電圧より大きい場合、前記コンデンサの劣化があると判定する請求項１から請求項５のいずれか一項に記載のコンデンサ劣化判定ユニット。
【請求項７】
前記劣化判定部は、
コンパレータと、
前記コンパレータの一方の入力端に一端が接続されたキャパシタと
を備え、
前記直流変換部の出力端を前記一方の入力端に接続し、
前記基準電圧を前記コンパレータの他方の入力端に印加する請求項１から請求項６のいずれか一項に記載のコンデンサ劣化判定ユニット。
【請求項８】
前記劣化判定部は、
前記コンパレータの一方の入力端に接続された温度補償回路を備える請求項７に記載のコンデンサ劣化判定ユニット。
【請求項９】
請求項１から請求項８のいずれか一項に記載のコンデンサ劣化判定ユニットと、コンデンサを有する電源回路とを備え、
前記コンデンサ劣化判定ユニットは、
前記コンデンサの劣化の有無を判定する電源装置。
【請求項１０】
コンデンサのリップル波形を抽出部が抽出し、
抽出されたリップル波形を直流波形に直流変換部が変換し、
変換された直流波形を所定の基準電圧と比較して前記コンデンサの劣化の有無を劣化判定部が判定するコンデンサ劣化判定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コンデンサ劣化判定ユニット、電源装置及びコンデンサ劣化判定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
電源装置などの電気機器にはコンデンサ（例えば、平滑用の電解コンデンサなど）が使用されている。このようなコンデンサは、経年、印加される電圧又は流れる電流等による化学的変化によって容量低下（すなわち、性能劣化）が避けられない。そこで、電解コンデンサの電解液と陰極端子との間の陰極箔電圧を検出することにより静電容量の低下を検知し、コンデンサの劣化状態を診断する装置が開示されている（特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１５−１４９４２５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、陰極箔電圧は、コンデンサの個体差だけでなく、コンデンサの形状又は種類などによっても異なるため、予め劣化状態での陰極箔電圧を収集しておく必要があり、コンデンサの劣化を精度良く判定するには実用的ではない。
【０００５】
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、コンデンサの劣化の有無を精度良く判定することができるコンデンサ劣化判定ユニット、電源装置及びコンデンサ劣化判定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係るコンデンサ劣化判定ユニットは、コンデンサのリップル波形を抽出する抽出部と、該抽出部で抽出したリップル波形を直流波形に変換する直流変換部と、該直流変換部で変換した直流波形を所定の基準電圧と比較して前記コンデンサの劣化の有無を判定する劣化判定部とを備える。
【０００７】
本発明に係る電源装置は、本発明に係るコンデンサ劣化判定ユニットと、コンデンサを有する電源回路とを備え、前記コンデンサ劣化判定ユニットは、前記コンデンサの劣化の有無を判定する。
【０００８】
本発明に係るコンデンサ劣化判定方法は、コンデンサのリップル波形を抽出部が抽出し、抽出されたリップル波形を直流波形に直流変換部が変換し、変換された直流波形を所定の基準電圧と比較して前記コンデンサの劣化の有無を劣化判定部が判定する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、コンデンサの劣化の有無を精度良く判定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００１０】
【図１】実施の形態のコンデンサ劣化判定ユニットの構成の一例を示す回路図である。
【図２】コンデンサ劣化判定ユニットの入力波形の一例を示す模式図である。
【図３】直流成分を除去した後のリップル波形の一例を示す模式図である。
【図４】本実施の形態の低周波域通過フィルタ部の周波数特性の一例を示す模式図である。
【図５】低周波域通過フィルタ部から出力されるリップル波形の一例を示す模式図である。
【図６】コンパレータの入力波形の一例を示す模式図である。
【図７】本実施の形態の温度補償回路による温度補償の一例を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００１１】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図１は本実施の形態のコンデンサ劣化判定ユニット１００の構成の一例を示す回路図である。コンデンサ劣化判定ユニット１００は、電源装置２００の出力端に接続することができる。電源装置２００は、スイッチング回路２１０、コンデンサ２２０（例えば、平滑用の電解コンデンサ）などを備え、入力側の電圧（交流又は直流）を電圧変換して所要の直流電圧を出力側へ出力する。コンデンサ２２０は、例えば、スイッチング回路２１０で生成した高周波の交流を整流して得られた直流を平滑するものである。従って、コンデンサ２２０には、直流成分とスイッチング回路２１０のスイッチング周波数に対応する周波数のリップル成分とが印加される。なお、図１では、コンデンサ２２０が電源装置２００に組み込まれた構成であるが、電源装置２００は、他の電気機器であってもよい。
【００１２】
コンデンサ劣化判定ユニット１００は、直流成分遮断部及びリップル成分抽出部１０、増幅部２０、低周波域通過フィルタ部３０、直流変換部４０、劣化判定部５０などを備える。コンデンサ劣化判定ユニット１００は、コンデンサ２２０の劣化の有無を判定する。
【００１３】
直流成分遮断部及びリップル成分抽出部１０は、抽出部としての機能を有し、コンデンサ２２０の一端（正極側端）に接続された直流成分遮断素子及びリップル成分抽出素子としてのキャパシタ１１を備え、コンデンサ２２０のリップル波形の直流成分を遮断し、直流成分を除去したリップル波形を増幅部２０へ出力する。
【００１４】
図２はコンデンサ劣化判定ユニット１００の入力波形の一例を示す模式図である。コンデンサ劣化判定ユニット１００の入力波形は、キャパシタ１１とコンデンサ２２０の正極側端との接続点の電圧Ｖａの電圧波形である。すなわち、電圧Ｖａは、コンデンサ２２０の電圧波形であり、直流成分（ＤＣ成分）にリップル成分が重畳している。図２において、破線で示す波形は、コンデンサ２２０の劣化がない場合を示し、実線の波形は、コンデンサ２２０の劣化がある場合を示す。図２に示すように、コンデンサ２２０が劣化すると、コンデンサ２２０の容量が低下し、等価直列抵抗が増加するので、リップル波形のピークも大きくなる。
【００１５】
直流成分遮断部及びリップル成分抽出部１０によって、直流成分に重畳したリップル波形から直流成分を除去することができるので、コンデンサ２２０の劣化に応じて変化するリップル波形の増加分だけを抽出することができ、コンデンサ２２０の劣化の有無を精度良く判定することが可能となる。
【００１６】
増幅部２０は、絶縁トランス２１を備え、回路との絶縁と増幅機能を有し、直流成分遮断部及びリップル成分抽出部１０が出力したリップル波形を増幅して、低周波域通過フィルタ部３０へ出力する。絶縁トランス２１の一次巻線と二次巻線の巻線比は、例えば、１：Ｎ（Ｎ≧１）とすることができ、巻線比は、コンデンサ２２０に印加される電圧に応じて適宜設定することができる。巻線比を大きくすることにより、リップル成分を大きくすることができ、コンデンサ２２０の劣化判定の精度を高めることができる。
【００１７】
図３は直流成分を除去した後のリップル波形の一例を示す模式図である。図３に示す波形は、増幅部２０と低周波域通過フィルタ部３０との接続点の電圧Ｖｂの電圧波形である。図３に示すように、直流成分が除去されている。図３においても、破線で示す波形は、コンデンサ２２０の劣化がない場合を示し、実線の波形は、コンデンサ２２０の劣化がある場合を示す。
【００１８】
低周波域通過フィルタ部３０は、所定の遮断周波数を有し、直流成分遮断部及びリップル成分抽出部１０で抽出したリップル波形から所定の周波数域の波形を低減する。
【００１９】
図４は本実施の形態の低周波域通過フィルタ部３０の周波数特性の一例を示す模式図である。図４において、縦軸はゲインを示し、横軸は周波数を示す。遮断周波数は、例えば、ゲインが−３ｄＢとなる周波数であり、遮断周波数を、スイッチング回路２１０の固有の高周波ノイズ周波数（スイッチング周波数よりも高い周波数）に設定することができる。
【００２０】
コンデンサ２２０のリップル波形に、当該リップル波形の周波数よりも高い高周波ノイズが重畳する場合がある。このような高周波ノイズは、例えば、電源装置又は電気機器内のスイッチング回路によって発生する。そこで、例えば、所定の遮断周波数を高周波ノイズの所定の周波数域とすることにより、リップル波形に重畳する不要な高周波ノイズを低減することができ、コンデンサ２２０の劣化の有無を精度良く判定することが可能となる。
【００２１】
また、低周波域通過フィルタ部３０は、増幅部２０の出力端に一端が接続されたインダクタ３１と、インダクタ３１の他端に接続された可変容量キャパシタ３２とを有する。すなわち、低周波域通過フィルタ部３０は、ＬＣ同調回路を構成するので、ＬＣにより設定された動作周波数をリップル波形の周波数に同調させることによって、リップル波形の周波数に関わらず正弦波状のリップル波形を抽出することができ、直流変換部によって得られる直流波形は信頼性、安定性の高いものとなる。
【００２２】
図５は低周波域通過フィルタ部３０から出力されるリップル波形の一例を示す模式図である。図５に示す波形は、低周波域通過フィルタ部３０と直流変換部４０との接続点の電圧Ｖｃの電圧波形である。図５に示す正弦波状のリップル波形の周波数は、例えば、ＬＣ同調回路の動作周波数ｆ＝１／（２π√（Ｌ・Ｃ））に等しい。ここで、Ｌはインダクタ３１のインダクタンス、Ｃは可変容量キャパシタ３２のキャパシタンスである。図５においても、破線で示す波形は、コンデンサ２２０の劣化がない場合を示し、実線の波形は、コンデンサ２２０の劣化がある場合を示す。
【００２３】
なお、図１においては、低周波域通過フィルタ部３０は、インダクタ３１、可変容量キャパシタ３２を備える構成であったが、低周波域通過フィルタ部３０の構成は図１の例に限定されない。例えば、インダクタ３１の一端側に絶縁トランス２１の二次巻線と並列に接続されたキャパシタをさらに備える構成であってもよい。また、低周波域通過フィルタ部３０は、チェビシェフ型のローパスフィルタでもよい。
【００２４】
直流変換部４０は、増幅部２０が出力したリップル波形を直流波形に変換する。より具体的には、直流変換部４０は、低周波域通過フィルタ部３０が出力するリップル波形を直流波形に変換する。
【００２５】
直流変換部４０は、例えば、ダイオード４１、４２、４３、４４を有する整流回路で構成することができる。リップル波形のリップルが大きい場合には、直流変換部４０で変換した直流波形のピーク（又は平均値）も大きくなる。
【００２６】
また、直流変換部４０は、ダイオード４１、４２、４３、４４に代えて、可変容量ダイオードを有する整流回路で構成してもよい。可変容量ダイオードは、逆方向電圧が大きくなると容量が小さくなる特性を有する。電源装置２００又は電気機器の負荷変動により、例えば、コンデンサ２２０のリップル電圧が大きくなったとすると、直流変換部４０の整流回路を構成する可変容量ダイオードのうち、逆バイアスとなる可変容量ダイオードに印加される逆方向電圧も大きくなり、逆バイアスの可変容量ダイオードの容量が小さくなる。このため、整流回路から出力される直流電圧を大きくすることができ、コンデンサ２２０の劣化の有無を精度良く判定することが可能となる。
【００２７】
劣化判定部５０は、直流変換部４０で変換した直流波形を所定の基準電圧と比較してコンデンサ２２０の劣化の有無を判定する。直流変換部４０で変換した直流波形（直流電圧）が所定の基準電圧以下の場合には、コンデンサ２２０の劣化がないと判定することができ、直流波形（直流電圧）が所定の基準電圧より大きい場合には、コンデンサ２２０の劣化があると判定することができる。上述の構成により、コンデンサ２２０の劣化の有無を精度良く判定することができる。また、リップル波形を直流波形に変換することにより、耐ノイズ性を高めることができる。
【００２８】
より具体的には、劣化判定部５０は、コンパレータ５１と、コンパレータ５１の一方の入力端に一端が接続されたキャパシタ５２とを備える。直流変換部４０の出力端を一方の入力端（例えば、非反転入力端）に接続し、基準電圧５４をコンパレータ５１の他方の入力端（例えば、反転入力端）に印加する。
【００２９】
コンパレータ５１は、非反転入力端に入力されたリップル波形の電圧が基準電圧５４より大きい場合、出力端からハイレベル［１］の信号（コンデンサ２２０の劣化があるとの判定結果）を出力する。また、コンパレータ５１は、非反転入力端に入力されたリップル波形の電圧が基準電圧５４以下である場合、出力端からローレベル［０］の信号（コンデンサ２２０の劣化がないとの判定結果）を出力する。これにより、簡単な構成でコンデンサ２２０の劣化の有無を精度良く判定することができる。
【００３０】
図６はコンパレータ５１の入力波形の一例を示す模式図である。図６は、コンパレータ５１の非反転入力端の電圧Ｖｄと、反転入力端の基準電圧Ｖｒｅｆを示す。電圧Ｖｄは、キャパシタ５２によって、リップル波形のピーク電圧の大小が、直流電圧の大小に変換されるようになっている。図６においても、破線で示す波形は、コンデンサ２２０の劣化がない場合を示し、実線の波形は、コンデンサ２２０の劣化がある場合を示す。
【００３１】
コンデンサ２２０の劣化がない場合、電圧Ｖｄは基準電圧Ｖｒｅｆより低いので、コンパレータ５１は、出力端からローレベル［０］の信号（コンデンサ２２０の劣化がないとの判定結果）を出力する。コンデンサ２２０の劣化がある場合、電圧Ｖｄは基準電圧Ｖｒｅｆより高くなるので、コンパレータ５１は、出力端からハイレベル［１］の信号（コンデンサ２２０の劣化があるとの判定結果）を出力する。
【００３２】
劣化判定部５０は、コンパレータ５１の非反転入力端に接続された温度補償回路を備えることもできる。例えば、図１に示すように、温度補償回路は、コンパレータ５１の非反転入力端に接続されたキャパシタ５２に並列に接続された抵抗５３とすることができる。
【００３３】
図７は本実施の形態の温度補償回路による温度補償の一例を示す説明図である。図７において縦軸は電圧を示し、横軸は温度（例えば、劣化判定部５０の周囲温度）を示す。コンパレータ５１の非反転入力端に一端が接続されたキャパシタ５２は、周囲の温度が高くなると、容量が小さくなるので、抵抗５３が接続されていないとすると、コンパレータ５１の非反転入力端に印加される電圧ＶＣ５２（Ｖｄ）は温度が高くなるにつれて高くなる。
【００３４】
一方、コンパレータ５１の非反転入力端に一端が接続された抵抗５３は、周囲の温度が高くなると、抵抗値が小さくなるので、キャパシタ５２が接続されていないとすると、コンパレータ５１の非反転入力端に印加される電圧ＶＲ５３（Ｖｄ）は温度が高くなるにつれて低くなる。
【００３５】
本実施の形態では、コンパレータ５１の非反転入力端に、キャパシタ５２と抵抗５３の並列回路の一端が接続されているので、周囲の温度が変化した場合でも、キャパシタ５２による電圧変化と抵抗５３による電圧変化とが相殺されるので、コンパレータ５１の非反転入力端に印加される電圧Ｖｄを一定にすることができる。あるいは、抵抗５３が接続されていない場合に比べて、コンパレータ５１の非反転入力端に印加される電圧Ｖｄの温度変化の割合を小さくすることができる。これにより、コンデンサの劣化の有無を精度良く判定することができる。
【００３６】
本実施の形態では、コンデンサ劣化判定ユニット１００を、電源装置２００の出力端に接続する構成であったが、これに限定されるものではなく、コンデンサ劣化判定ユニット１００を、電源装置２００又は電気機器に内蔵する構成であってもよい。また、コンデンサ２２０は、電源装置２００の出力端に設けられたものに限定されない。
【００３７】
本実施の形態によれば、電源装置２００又は電気機器を実際に稼働させながら、コンデンサ２２０の劣化の有無をリアルタイムで判定（診断）することができる。
【００３８】
本実施の形態において、コンパレータ５１の出力側には、例えば、ＬＥＤ、ブザー、カウンタ等を接続し、コンデンサ２２０の劣化がありと判定された場合、劣化ありの旨を通知することができるようにしてもよい。
【００３９】
本実施の形態において、低周波域通過フィルタ部は、オペアンプ等による他のデバイスで構成することもできる。
【００４０】
本実施の形態において、コンパレータ５１の反転入力端に印加する基準電圧は、外部から供給してもよい。例えば、コンデンサ劣化判定ユニット１００の入力電圧に応じてＡＤ変換後の電圧、あるいは周波数変動に追従するＦＶ変換後の電圧を用いることができる。基準電圧を可変することができるので、コンデンサ劣化判定ユニット１００による劣化判定の基準を、例えば、用途に応じて変更することができる。
【００４１】
上述の実施の形態では、コンパレータ５１の非反転入力端にリップル電圧を印加し、コンパレータ５１の反転入力端に基準電圧を印加する構成であったが、これに限定されるものではない。例えば、コンパレータ５１の反転入力端にリップル電圧を印加し、コンパレータ５１の非反転入力端に基準電圧を印加する構成でもよい。この場合、コンパレータは、コンデンサ２２０の劣化がある場合、出力端からローレベル［０］の信号（コンデンサ２２０の劣化があるとの判定結果）を出力する。
【００４２】
本実施の形態に係るコンデンサ劣化判定ユニットは、コンデンサのリップル波形を抽出する抽出部と、該抽出部で抽出したリップル波形を直流波形に変換する直流変換部と、該直流変換部で変換した直流波形を所定の基準電圧と比較して前記コンデンサの劣化の有無を判定する劣化判定部とを備える。
【００４３】
本実施の形態に係る電源装置は、本実施の形態に係るコンデンサ劣化判定ユニットと、コンデンサを有する電源回路とを備え、前記コンデンサ劣化判定ユニットは、前記コンデンサの劣化の有無を判定する。
【００４４】
本実施の形態に係るコンデンサ劣化判定方法は、コンデンサのリップル波形を抽出部が抽出し、抽出されたリップル波形を直流波形に直流変換部が変換し、変換された直流波形を所定の基準電圧と比較して前記コンデンサの劣化の有無を劣化判定部が判定する。
【００４５】
抽出部は、コンデンサのリップル波形を抽出する。直流変換部は、抽出部で抽出したリップル波形を直流波形に変換する。直流変換部は、例えば、整流回路で構成することができる。リップル波形のリップルが大きい場合には、直流変換部で変換した直流波形のピーク（又は平均値）も大きくなる。劣化判定部は、直流変換部で変換した直流波形を所定の基準電圧と比較してコンデンサの劣化の有無を判定する。
【００４６】
例えば、コンデンサが劣化すると、コンデンサの容量が低下し、等価直列抵抗が増加するので、リップル波形のピークも大きくなる。従って、直流変換部で変換した直流波形（直流電圧）が所定の基準電圧以下の場合には、コンデンサの劣化がないと判定することができ、直流波形（直流電圧）が所定の基準電圧より大きい場合には、コンデンサの劣化があると判定することができる。上述の構成により、コンデンサの劣化の有無を精度良く判定することができる。また、リップル波形を直流波形に変換することにより、耐ノイズ性を高めることができる。
【００４７】
本実施の形態に係るコンデンサ劣化判定ユニットは、前記コンデンサの一端に接続され、該コンデンサのリップル波形の直流成分を遮断する直流成分遮断素子を備え、前記抽出部は、直流成分が遮断されたリップル波形を抽出する。
【００４８】
直流成分遮断素子は、コンデンサの一端に接続され、コンデンサのリップル波形の直流成分を遮断する。抽出部は、直流成分が遮断されたリップル波形を抽出する。直流成分に重畳したリップル波形から直流成分を除去することができるので、コンデンサの劣化に応じて変化するリップル波形の増加分だけを抽出することができ、コンデンサの劣化の有無を精度良く判定することが可能となる。
【００４９】
本実施の形態に係るコンデンサ劣化判定ユニットは、所定の遮断周波数を有し、前記抽出部で抽出したリップル波形から所定の周波数域の波形を低減する低周波域通過フィルタ部を備え、前記直流変換部は、前記低周波域通過フィルタ部が出力するリップル波形を直流波形に変換する。
【００５０】
低周波域通過フィルタ部は、所定の遮断周波数を有し、抽出部で抽出したリップル波形から所定の周波数域の波形を低減する。直流変換部は、低周波域通過フィルタ部が出力するリップル波形を直流波形に変換する。
【００５１】
コンデンサのリップル波形に、当該リップル波形の周波数よりも高い高周波ノイズが重畳する場合がある。このような高周波ノイズは、例えば、電源装置又は電気機器内のスイッチング回路によって発生する。そこで、例えば、所定の遮断周波数を高周波ノイズの所定の周波数域とすることにより、リップル波形に重畳する不要な高周波ノイズを低減することができ、コンデンサの劣化の有無を精度良く判定することが可能となる。
【００５２】
本実施の形態に係るコンデンサ劣化判定ユニットにおいて、前記低周波域通過フィルタ部は、インダクタと、前記インダクタに接続された可変容量キャパシタとを有する。
【００５３】
低周波域通過フィルタ部は、インダクタと、当該インダクタに接続された可変容量キャパシタとを有する。すなわち、低周波域通過フィルタ部は、例えば、ＬＣ同調回路を構成するので、ＬＣにより設定された動作周波数をリップル波形の周波数に同調させることによって、リップル波形の周波数に関わらず正弦波状のリップル波形を抽出することができ、直流変換部によって得られる直流波形は信頼性、安定性の高いものとなる。
【００５４】
本実施の形態に係るコンデンサ劣化判定ユニットにおいて、前記直流変換部は、可変容量ダイオードで構成される整流回路を有する。
【００５５】
直流変換部は、可変容量ダイオードで構成される整流回路を有する。可変容量ダイオードは、逆方向電圧が大きくなると容量が小さくなる特性を有する。電源装置又は電気機器の負荷変動により、例えば、コンデンサのリップル電圧が大きくなったとすると、整流回路を構成する可変容量ダイオードのうち、逆バイアスとなる可変容量ダイオードに印加される逆方向電圧も大きくなり、逆バイアスの可変容量ダイオードの容量が小さくなる。このため、整流回路から出力される直流電圧を大きくすることができ、コンデンサの劣化の有無を精度良く判定することが可能となる。
【００５６】
本実施の形態に係るコンデンサ劣化判定ユニットにおいて、前記劣化判定部は、前記直流変換部で変換した直流波形が前記基準電圧より大きい場合、前記コンデンサの劣化があると判定する。
【００５７】
劣化判定部は、直流変換部で変換した直流波形が基準電圧より大きい場合、コンデンサの劣化があると判定する。上述の構成により、コンデンサの劣化の有無を精度良く判定することができる。
【００５８】
本実施の形態に係るコンデンサ劣化判定ユニットにおいて、前記劣化判定部は、コンパレータと、前記コンパレータの一方の入力端に一端が接続されたキャパシタとを備え、前記直流変換部の出力端を前記一方の入力端に接続し、前記基準電圧を前記コンパレータの他方の入力端に印加する。
【００５９】
劣化判定部は、コンパレータと、コンパレータの一方の入力端に一端が接続されたキャパシタとを備える。直流変換部の出力端を一方の入力端（例えば、非反転入力端）に接続し、基準電圧をコンパレータの他方の入力端（例えば、反転入力端）に印加する。これにより、簡単な構成でコンデンサの劣化の有無を精度良く判定することができる。
【００６０】
本実施の形態に係るコンデンサ劣化判定ユニットにおいて、前記劣化判定部は、前記コンパレータの一方の入力端に接続された温度補償回路を備える。
【００６１】
劣化判定部は、コンパレータの一方の入力端に接続された温度補償回路を備える。コンパレータの一方の入力端に一端が接続されたキャパシタは、周囲の温度が高くなると、容量が小さくなるので、コンパレータの一方の入力端に印加される電圧は高くなる。そこで、温度補償回路を設けることにより、周囲の温度が変化した場合でも、コンパレータの一方の入力端に印加される電圧を一定にする。温度補償回路は、例えば、抵抗とすることができる。抵抗は、周囲の温度が高くなると抵抗値が小さくなるので、キャパシタの容量減少を相殺することができる。これにより、コンデンサの劣化の有無を精度良く判定することができる。
【符号の説明】
【００６２】
１０  直流成分遮断部及びリップル成分抽出部（抽出部）
１１  キャパシタ
２０  増幅部
２１  絶縁トランス
３０  低周波域通過フィルタ部
３１  インダクタ
３２  可変容量キャパシタ
４０  直流変換部
４１、４２、４３、４４  ダイオード（可変容量ダイオード）
５０  劣化判定部
５１  コンパレータ
５２  キャパシタ
５３  抵抗
５４  基準電圧
１００  コンデンサ劣化判定ユニット
２００  電源装置
２１０  スイッチング回路
２２０  コンデンサ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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