(57)【要約】【課題】副走査方向複数ライン同時露光を行う際の走査を跨ぐ部分で発生する副走査ビームピッチ誤差と相反則不軌の影響を正確に補正する。【解決手段】複数Ｎの発光部を有する光源を駆動し、複数Ｎの光ビームが第１方向に走査される像担持体を第２方向に駆動して画像形成する際に、１＜Ｍ＜Ｎ、ｍ１＋ｍ２＝ｍ３＋ｍ４＝ｍ５＋ｍ６＝Ｍ、複数Ｍの光ビームの１走査による可視像の濃度Ｄａ、末尾側ｍ１と次の走査における先頭側ｍ２との可視像の濃度Ｄｂ、末尾側ｍ３と次の走査における先頭側ｍ４とにより、第２方向端部が相反則不軌影響領域内に位置しない可視像の濃度Ｄｃ、末尾側ｍ５と次の走査における先頭側ｍ６とにより、第２方向の一方の端部が相反則不軌影響領域内に位置する可視像の濃度Ｄｄ、について、Ｄａ＝Ｄｂ、Ｄｄ＝Ｄｃとすべく複数Ｎの発光部の補正値を求める。【選択図】図１
2018154098.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１から第Ｎまでの複数Ｎの発光部から複数Ｎの光ビームを発生可能な光源と、
画像データに応じて複数Ｎの発光部それぞれを発光駆動する発光駆動部と、
複数Ｎの発光部の整列方向と直交する第１方向に複数Ｎの光ビームを走査する光走査部と、
複数Ｎの光ビームが第１方向に走査される像担持体を第１方向と直交する第２方向に駆動して光ビームの走査により該像担持体上に生じる潜像を可視像に変換して用紙に転写する画像形成部と、
前記発光駆動部による前記光源の発光駆動の際に複数Ｎの光ビームそれぞれの光量を補正値に基づいて制御する制御部と、を備え、
前記制御部は、
１＜Ｍ＜Ｎ、ｍ１＋ｍ２＝Ｍ、ｍ３＋ｍ４＝Ｍ、ｍ５＋ｍ６＝Ｍ、とした場合に、
複数Ｍの連続した光ビームの走査により生成される可視像ａの濃度Ｄａ、
ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ１と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ２とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成される可視像ｂの濃度Ｄｂ、
ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ３と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ４とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成され、第２方向の端部が相反則不軌の影響領域内に位置しないように構成される可視像ｃの濃度Ｄｃ、
ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ５と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ６とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成され、第２方向の一方の端部が相反則不軌の影響領域内に位置するように構成される可視像ｄの濃度Ｄｄ、
ついて、
濃度Ｄａと濃度Ｄｂとが等しくなるように、かつ、濃度Ｄｄと濃度Ｄｃとが等しくなるよう、複数Ｎの発光部の発光における補正値を求める、
ことを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記制御部は、
前記可視像ａ、前記可視像ｂ、前記可視像ｃ、前記可視像ｄを形成する際に、像担持体に照射される光ビームのビーム径をａ、画像形成におけるドットサイズをｂ、相反則不軌の影響領域内ドット数をｃ、定数：ｅ、但しｃの値が小数点のときは値を切り上げて整数にする場合であって、
ｃ＝（（ａ−ｂ）／２）／ｂ、Ｍ＝（ｃ＋１）×２、ｅ：１，２，…，ｃ、複数Ｎの発光部のそれぞれをＬＤ＃１〜ＬＤ＃Ｎ、と定義し、
同じ走査におけるＬＤ＃１，ＬＤ＃２，…，ＬＤ＃Ｍを使用して、副走査方向に繰り返し走査して描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターンにより前記可視像ａを生成し、
同じ走査におけるＬＤ＃（Ｎ＋１−Ｍ／２），…，ＬＤ＃Ｎと次の走査におけるＬＤ＃１，…，ＬＤ＃（Ｍ／２）を使用して２回に跨がる走査で描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターンにより前記可視像ｂと前記可視像ｃを生成し、
同じ走査におけるＬＤ＃（Ｎ＋１−（Ｍ／２）±ｅ），…，ＬＤ＃Ｎと次の走査におけるＬＤ＃１，…，ＬＤ＃（Ｍ／２±ｅ）を使用して２回に跨がる走査で描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターンにより前記可視像ｄを生成する、
ように各部を制御することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記制御部は、
前記可視像ａと前記可視像ｂとを生成して濃度Ｄａと濃度Ｄｂとを等しくする第１補正値を求める共に、前記可視像ｃと前記可視像ｄとを生成して濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとを等しくする第２補正値を求める、
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記制御部は、
前記可視像ａと前記可視像ｂとを生成し、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとを等しくする第１補正値を求め、前記第１補正値で複数Ｎの発光部の発光を補正した後に、
前記可視像ｃと前記可視像ｄとを生成し、濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとを等しくする第２補正値を求める、
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記可視像ａと前記可視像ｂのいずれか一方を複数の異なる補正値で補正し、補正した一方の可視像と補正しない他方の可視像とを隣接するように並べ、
濃度Ｄａと濃度Ｄｂとの差又は一致により、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとを等しくする第１補正値を求め、
前記可視像ｃと前記可視像ｄのいずれか一方を複数の異なる補正値で補正し、補正した一方の可視像と補正しない他方の可視像とを隣接するように並べ、
濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとの差又は一致により、濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとを等しくする第２補正値を求める、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【請求項６】
前記可視像ａの濃度Ｄａと前記可視像ｂの濃度Ｄｂとが差が存在する場合には、前記可視像ａと前記可視像ｂのいずれか一方を更に異なる複数の補正値で補正し、補正した一方の可視像と補正しない他方の可視像とを隣接するように並べ、前記可視像ａの濃度Ｄａと前記可視像ｂの濃度Ｄｂとの一致により、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとを等しくする第１補正値を求め、
前記可視像ｃの濃度Ｄｃと前記可視像ｄの濃度Ｄｄとが差が存在する場合には、前記可視像ｃと前記可視像ｄのいずれか一方を更に異なる複数の補正値で補正し、補正した一方の可視像と補正しない他方の可視像とを隣接するように並べ、前記可視像ｃの濃度Ｄｃと前記可視像ｄの濃度Ｄｄとの一致により、濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとを等しくする第２補正値を求める、
ことを特徴とする請求項５に記載の画像形成装置。
【請求項７】
前記制御部は、
画像データ中で第２方向に存在するエッジの存在を求め、
画像形成時における前記エッジと前記光源の複数Ｎの発光部との対応関係を求め、
前記エッジが前記発光部の何画素目であるかに応じて、前記第１補正値又は前記第２補正値を適用して補正するか否かを決定し、
この決定に応じて前記光源の複数Ｎの発光部のそれぞれの光量を補正するか又は前記画像データを補正する、
ことを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれか一項に記載の画像形成装置。
【請求項８】
第１から第Ｎまでの複数Ｎの発光部から複数Ｎの光ビームを発生可能な光源と、画像データに応じて複数Ｎの発光部それぞれを発光駆動する発光駆動部と、複数Ｎの発光部の整列方向と直交する第１方向に複数Ｎの光ビームを走査する光走査部と、複数Ｎの光ビームが第１方向に走査される像担持体を第１方向と直交する第２方向に駆動して光ビームの走査により該像担持体上に生じる潜像を可視像に変換して用紙に転写する画像形成部と、前記発光駆動部による前記光源の発光駆動の際に複数Ｎの光ビームそれぞれの光量を補正値に基づいて制御する制御部と、を備えた画像形成装置を制御する画像形成制御プログラムであって、
１＜Ｍ＜Ｎ、ｍ１＋ｍ２＝Ｍ、ｍ３＋ｍ４＝Ｍ、ｍ５＋ｍ６＝Ｍ、とした場合に、
複数Ｍの連続した光ビームの走査により生成される可視像ａの濃度Ｄａ、
ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ１と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ２とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成される可視像ｂの濃度Ｄｂ、
ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ３と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ４とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成され、第２方向の端部が相反則不軌の影響領域内に位置しないように構成される可視像ｃの濃度Ｄｃ、
ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ５と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ６とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成され、第２方向の一方の端部が相反則不軌の影響領域内に位置するように構成される可視像ｄの濃度Ｄｄ、について、
濃度Ｄａと濃度Ｄｂとが等しくなるように、かつ、濃度Ｄｄと濃度Ｄｃとが等しくなるよう、複数Ｎの発光部の発光における補正値を求める制御部、
として画像形成装置のコンピュータを機能させる画像形成制御プログラム。
【請求項９】
前記可視像ａ、前記可視像ｂ、前記可視像ｃ、前記可視像ｄを形成する際に、像担持体に照射される光ビームのビーム径をａ、画像形成におけるドットサイズをｂ、相反則不軌の影響領域内ドット数をｃ、定数：ｅ、但しｃの値が小数点のときは値を切り上げて整数にする場合であって、
ｃ＝（（ａ−ｂ）／２）／ｂ、
Ｍ＝（ｃ＋１）×２、
ｅ：１，２，…，ｃ、
複数Ｎの発光部のそれぞれをＬＤ＃１〜ＬＤ＃Ｎ、
と定義し、
同じ走査におけるＬＤ＃１，ＬＤ＃２，…，ＬＤ＃Ｍを使用して、副走査方向に繰り返し走査して描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターンにより前記可視像ａを生成し、
同じ走査におけるＬＤ＃（Ｎ＋１−Ｍ／２），…，ＬＤ＃Ｎと次の走査におけるＬＤ＃１，…，ＬＤ＃（Ｍ／２）を使用して２回に跨がる走査で描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターンにより前記可視像ｂと前記可視像ｃを生成し、
同じ走査におけるＬＤ＃（Ｎ＋１−（Ｍ／２）±ｅ），…，ＬＤ＃Ｎと次の走査におけるＬＤ＃１，…，ＬＤ＃（Ｍ／２±ｅ）を使用して２回に跨がる走査で描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターンにより前記可視像ｄを生成する、
ように画像形成装置のコンピュータを機能させることを特徴とする請求項８に記載の画像形成制御プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複写機やプリンタなどの画像形成装置と画像形成制御プログラムとに関し、特に、複数の光ビームを用いて複数ライン分の画像を１回の走査で感光体などの記録媒体に書き込む機能を有するマルチビーム型の画像形成装置とその制御プログラムとに関する。
【背景技術】
【０００２】
画像形成装置として、画像データに応じた主走査方向の１ラインの画像形成を行うと共に、主走査方向の１ライン毎の画像形成を副走査方向に繰り返して１頁分の画像形成を行うものが知られている。
その一例として、電子写真方式の画像形成装置では、画像データに応じて変調した光ビームを像担持体の主走査方向に走査し、これと並行して、副走査方向に回転する像担持体（感光体ドラム）上に、前記光ビームによって画像を形成している。この場合に、ドットクロックと呼ばれるクロック信号（画素クロック）を基準にして、光ビームを画像データで変調するようにしている。
【０００３】
また、画像形成を高速に、または、高解像度で行うために、ポリゴンミラーの回転数上昇や光ビームの変調周波数上昇では、装置の大型化やコスト上昇が発生する。そこで、高速あるいは高解像度の画像形成のため、２または３以上の複数の発光部を有するレーザダイオード（ＬＤ）などの光源を備え、この複数の発光部からの複数の光ビームを用いて、画像データに応じた主走査方向の複数ライン毎の画像形成を副走査方向に繰り返して１頁分の画像形成を行うものが知られている。
【０００４】
ここで、図１６に、複数の発光部としてＬＤ＃１〜ＬＤ＃６による最大６ビームを用いて、１走査で６ラインずつ画像形成を実行する画像形成装置について、具体例を示す。なお、図１６では、６発光部のうちの連続する４発光部を発光させて、副走査方向に連続した４ドットを形成した様子を示す。
【０００５】
図１６（ａ１）では予め定められた既定間隔と既定光量のＬＤ＃１〜ＬＤ＃４の発光であり、図１６（ａ２）では予め定められた既定間隔と既定光量のＬＤ＃２〜ＬＤ＃５の発光であり、図１６（ａ３）では予め定められた既定間隔と既定光量のＬＤ＃３〜ＬＤ＃６の発光であり、いずれも副走査方向の線幅は既定値である。
【０００６】
また、図１６（ｂ１）ではＬＤ＃１〜ＬＤ＃４の発光において、既定間隔であるが、ＬＤ＃１の光量が既定光量より大きいため、副走査方向の線幅が増大する。図１６（ｂ２）では予め定められた既定間隔と光量のＬＤ＃２〜ＬＤ＃５の発光であり、副走査方向の線幅は既定値である。図１６（ｂ３）ではＤ＃３〜ＬＤ＃６の発光において、既定間隔であるが、ＬＤ＃６の光量が既定光量より小さいため、副走査方向の線幅が減少する。
【０００７】
また、図１６（ｃ１）ではＬＤ＃１〜ＬＤ＃４の発光において、既定光量であるが、ＬＤ＃１の間隔が既定間隔より大きいため、副走査方向の線幅が増大する。図１６（ｃ２）では予め定められた既定間隔と光量のＬＤ＃２〜ＬＤ＃５の発光であり、副走査方向の線幅は既定値である。図１６（ｃ３）ではＤ＃３〜ＬＤ＃６の発光において、既定光量であるが、ＬＤ＃６の間隔が既定値より小さいため、副走査方向の線幅が減少する。
【０００８】
なお、図１６では、光量と間隔のいずれか一方が既定値から外れた具体例を示しているが、実際には、光量と間隔の両方が既定値から外れることもある。
また、隣接する複数ドットを同じ走査のタイミングで露光するか、あるいは、２回の走査に分けて露光するかで、相反則不軌の影響によって、画像の濃度が変化することが知られている。
【０００９】
以上のような副走査方向の各種要因による画質変化を抑えるべく、後述する特許文献では、各発光素子の光量の調整により濃度差を解消する手法が提案されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１０】
【特許文献１】特開平10-62705号公報
【特許文献２】特許第4080686公報
【特許文献３】特開2010-115904号公報
【特許文献４】特開2011-143565号公報
【特許文献５】特開2008-170888号公報
【特許文献６】特開2007-237400号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
以上の特許文献１では、副走査ビームピッチを調整するチャートを用いる点は共通するものの、相反則不軌については考慮していない。すなわち、ビームピッチだけでなく相反則不軌の影響がある場合、上記評価チャートでは副走査ビームピッチ誤差が存在しない場合でも濃度むらは発生する。これにより、上記評価チャートを用いて調整量を算出した場合、正確な副走査ビームピッチを求めることが出来ない。２画素線のみなら濃度むらは低減するように調整量を算出することは可能だが、その他の複数画素線では正確な副走査ビームピッチでないため濃度むらが残るという問題がある。
【００１２】
以上の特許文献２では、線幅の違いによる濃度差を比較している。そして、濃度によって評価する。なお、相反則不軌の露光時間の変化による濃度むらについては言及していない。
以上の特許文献３では、補正値の算出方法ではなく、補正方法が提案されている。また、補正効果が望めるのは2画素線のみである。また、副走査ビームピッチ誤差と相反則不軌の補正値を織り交ぜて決めているため、正確でない。これにより、経時変化等で補正効果がまったく望めなくなる可能性がある。
【００１３】
以上の特許文献４では、相反則不軌の補正値は、感光体上の潜像電位から計算されているが、経時変化の影響を考慮されていない。また、出力画像から求めるとも記載されているが、明確な算出方法が記載されていない。
以上の特許文献５では、副走査ビームピッチ誤差が考慮されておらず、静電潜像の測定方法であり、相違点が多い。
【００１４】
以上の特許文献６では、基本となる副走査ビームピッチ誤差が考慮されていない。
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、副走査方向複数ライン同時露光を行う際の走査を跨ぐ部分で発生する副走査ビームピッチ誤差と相反則不軌の影響による濃度むらのそれぞれの補正値を正確に算出することが可能な画像形成装置および画像形成制御プログラムを実現することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
すなわち、課題を解決する手段としての本発明は以下に説明するものである。
（１）本発明の一側面が反映された画像形成装置の一態様は、第１から第Ｎまでの複数Ｎの発光部から複数Ｎの光ビームを発生可能な光源と、画像データに応じて複数Ｎの発光部それぞれを発光駆動する発光駆動部と、複数Ｎの発光部の整列方向と直交する第１方向に複数Ｎの光ビームを走査する光走査部と、複数Ｎの光ビームが第１方向に走査される像担持体を第１方向と直交する第２方向に駆動して光ビームの走査により該像担持体上に生じる潜像を可視像に変換して用紙に転写する画像形成部と、前記発光駆動部による前記光源の発光駆動の際に複数Ｎの光ビームそれぞれの光量を補正値に基づいて制御する制御部と、を備え、前記制御部は、１＜Ｍ＜Ｎ、ｍ１＋ｍ２＝Ｍ、ｍ３＋ｍ４＝Ｍ、ｍ５＋ｍ６＝Ｍ、とした場合に、複数Ｍの連続した光ビームの走査により生成される可視像ａの濃度Ｄａ、ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ１と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ２とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成される可視像ｂの濃度Ｄｂ、ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ３と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ４とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成され、第２方向の端部が相反則不軌の影響領域内に位置しないように構成される可視像ｃの濃度Ｄｃ、ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ５と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ６とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成され、第２方向の一方の端部が相反則不軌の影響領域内に位置するように構成される可視像ｄの濃度Ｄｄ、について、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとが等しくなるように、かつ、濃度Ｄｄと濃度Ｄｃとが等しくなるよう、複数Ｎの発光部の発光における補正値を求める、ことを特徴とする。
【００１６】
また、本発明の一側面が反映された画像形成制御プログラムの一態様は、第１から第Ｎまでの複数Ｎの発光部から複数Ｎの光ビームを発生可能な光源と、画像データに応じて複数Ｎの発光部それぞれを発光駆動する発光駆動部と、複数Ｎの発光部の整列方向と直交する第１方向に複数Ｎの光ビームを走査する光走査部と、複数Ｎの光ビームが第１方向に走査される像担持体を第１方向と直交する第２方向に駆動して光ビームの走査により該像担持体上に生じる潜像を可視像に変換して用紙に転写する画像形成部と、前記発光駆動部による前記光源の発光駆動の際に複数Ｎの光ビームそれぞれの光量を補正値に基づいて制御する制御部と、を備えた画像形成装置を制御する画像形成制御プログラムであって、１＜Ｍ＜Ｎ、ｍ１＋ｍ２＝Ｍ、ｍ３＋ｍ４＝Ｍ、ｍ５＋ｍ６＝Ｍ、とした場合に、複数Ｍの連続した光ビームの走査により生成される可視像ａの濃度Ｄａ、ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ１と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ２とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成される可視像ｂの濃度Ｄｂ、ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ３と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ４とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成され、第２方向の端部が相反則不軌の影響領域内に位置しないように構成される可視像ｃの濃度Ｄｃ、ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ５と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ６とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成され、第２方向の一方の端部が相反則不軌の影響領域内に位置するように構成される可視像ｄの濃度Ｄｄ、について、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとが等しくなるように、かつ、濃度Ｄｄと濃度Ｄｃとが等しくなるよう、複数Ｎの発光部の発光における補正値を求める制御部、として画像形成装置のコンピュータを機能させる。
【００１７】
（２）以上の（１）において、前記制御部は、前記可視像ａ、前記可視像ｂ、前記可視像ｃ、前記可視像ｄを形成する際に、像担持体に照射される光ビームのビーム径をａ、画像形成におけるドットサイズをｂ、相反則不軌の影響領域内ドット数をｃ、定数：ｅ、但しｃの値が小数点のときは値を切り上げて整数にする場合であって、ｃ＝（（ａ−ｂ）／２）／ｂ、Ｍ＝（ｃ＋１）×２、ｅ：１，２，…，ｃ、複数Ｎの発光部のそれぞれをＬＤ＃１〜ＬＤ＃Ｎ、と定義し、同じ走査におけるＬＤ＃１，ＬＤ＃２，…，ＬＤ＃Ｍを使用して、副走査方向に繰り返し走査して描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターンにより前記可視像ａを生成し、同じ走査におけるＬＤ＃（Ｎ＋１−Ｍ／２），…，ＬＤ＃Ｎと次の走査におけるＬＤ＃１，…，ＬＤ＃（Ｍ／２）を使用して２回に跨がる走査で描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターンにより前記可視像ｂと前記可視像ｃを生成し、同じ走査におけるＬＤ＃（Ｎ＋１−（Ｍ／２）±ｅ），…，ＬＤ＃Ｎと次の走査におけるＬＤ＃１，…，ＬＤ＃（Ｍ／２±ｅ）を使用して２回に跨がる走査で描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターンにより前記可視像ｄを生成する、ように各部を制御する。
【００１８】
（３）以上の（１）〜（２）において、前記制御部は、前記可視像ａと前記可視像ｂとを生成して濃度Ｄａと濃度Ｄｂとを等しくする第１補正値を求める共に、前記可視像ｃと前記可視像ｄとを生成して濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとを等しくする第２補正値を求める、ことを特徴とする。
【００１９】
（４）以上の（２）において、前記制御部は、前記可視像ａと前記可視像ｂとを生成し、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとを等しくする第１補正値を求め、前記第１補正値で複数Ｎの発光部の発光を補正した後に、前記可視像ｃと前記可視像ｄとを生成し、濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとを等しくする第２補正値を求める、ことを特徴とする。
【００２０】
（５）以上の（１）〜（４）において、前記可視像ａと前記可視像ｂのいずれか一方を複数の異なる補正値で補正し、補正した一方の可視像と補正しない他方の可視像とを隣接するように並べ、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとの差又は一致により、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとを等しくする第１補正値を求め、前記可視像ｃと前記可視像ｄのいずれか一方を複数の異なる補正値で補正し、補正した一方の可視像と補正しない他方の可視像とを隣接するように並べ、濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとの差又は一致により、濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとを等しくする第２補正値を求める、ことを特徴とする。
【００２１】
（６）以上の（５）において、前記可視像ａの濃度Ｄａと前記可視像ｂの濃度Ｄｂとが差が存在する場合には、前記可視像ａと前記可視像ｂのいずれか一方を更に異なる複数の補正値で補正し、補正した一方の可視像と補正しない他方の可視像とを隣接するように並べ、前記可視像ａの濃度Ｄａと前記可視像ｂの濃度Ｄｂとの一致により、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとを等しくする第１補正値を求め、前記可視像ｃの濃度Ｄｃと前記可視像ｄの濃度Ｄｄとが差が存在する場合には、前記可視像ｃと前記可視像ｄのいずれか一方を更に異なる複数の補正値で補正し、補正した一方の可視像と補正しない他方の可視像とを隣接するように並べ、前記可視像ｃの濃度Ｄｃと前記可視像ｄの濃度Ｄｄとの一致により、濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとを等しくする第２補正値を求める、ことを特徴とする。
【００２２】
（７）以上の（１）〜（６）において、前記制御部は、画像データ中で第２方向に存在するエッジの存在を求め、画像形成時における前記エッジと前記光源の複数Ｎの発光部との対応関係を求め、前記エッジが前記発光部の何画素目であるかに応じて、前記第１補正値又は前記第２補正値を適用して補正するか否かを決定し、この決定に応じて前記光源の複数Ｎの発光部のそれぞれの光量を補正するか又は前記画像データを補正する、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２３】
本発明の一側面が反映された画像形成装置と画像形成制御プログラムの一態様によると、以下のような効果が得られる。
（１）この発明では、複数Ｎの発光部の整列方向と直交する第１方向に複数Ｎの光ビームを像担持体上で第１方向に走査しつつ、像担持体を第２方向に駆動して画像を形成する際に、１＜Ｍ＜Ｎ、ｍ１＋ｍ２＝Ｍ、ｍ３＋ｍ４＝Ｍ、ｍ５＋ｍ６＝Ｍ、とした場合に、複数Ｍの連続した光ビームの走査により生成される可視像ａの濃度Ｄａ、ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ１と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ２とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成される可視像ｂの濃度Ｄｂ、ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ３と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ４とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成され、第２方向の端部が相反則不軌の影響領域内に位置しないように構成される可視像ｃの濃度Ｄｃ、ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ５と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ６とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成され、第２方向の一方の端部が相反則不軌の影響領域内に位置するように構成される可視像ｄの濃度Ｄｄ、について、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとが等しくなるように、かつ、濃度Ｄｄと濃度Ｄｃとが等しくなるよう、複数Ｎの発光部の発光における補正値を求める。
【００２４】
この結果、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとを等しくすることで副走査ビームピッチ誤差による濃度むらの補正値を正確に算出でき、濃度Ｄｄと濃度Ｄｃとを等しくすることで相反則不軌の影響による濃度むらの補正値を正確に算出することが可能になる。
（２）以上の（１）において、可視像ａ、可視像ｂ、可視像ｃ、可視像ｄを形成する際に、像担持体に照射される光ビームのビーム径をａ、画像形成におけるドットサイズをｂ、相反則不軌の影響領域内ドット数をｃ、定数：ｅ、但しｃの値が小数点のときは値を切り上げて整数にする場合であって、ｃ＝（（ａ−ｂ）／２）／ｂ、Ｍ＝（ｃ＋１）×２、ｅ：１，２，…，ｃ、複数Ｎの発光部のそれぞれをＬＤ＃１〜ＬＤ＃Ｎ、と定義し、同じ走査におけるＬＤ＃１，ＬＤ＃２，…，ＬＤ＃Ｍを使用して、副走査方向に繰り返し走査して描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターンにより可視像ａを生成し、同じ走査におけるＬＤ＃（Ｎ＋１−Ｍ／２），…，ＬＤ＃Ｎと次の走査におけるＬＤ＃１，…，ＬＤ＃（Ｍ／２）を使用して２回に跨がる走査で描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターンにより可視像ｂと可視像ｃを生成し、同じ走査におけるＬＤ＃（Ｎ＋１−（Ｍ／２）±ｅ），…，ＬＤ＃Ｎと次の走査におけるＬＤ＃１，…，ＬＤ＃（Ｍ／２±ｅ）を使用して２回に跨がる走査で描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターンにより可視像ｄを生成することにより、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとを等しくすることで副走査ビームピッチ誤差による濃度むらの補正値を正確に算出でき、濃度Ｄｄと濃度Ｄｃとを等しくすることで相反則不軌の影響による濃度むらの補正値を正確に算出することが可能になる。
【００２５】
（３）以上の（１）〜（２）において、可視像ａと可視像ｂとを生成して濃度Ｄａと濃度Ｄｂとを等しくする第１補正値を求める共に、可視像ｃと可視像ｄとを生成して濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとを等しくする第２補正値を求めることにより、副走査ビームピッチ誤差による濃度むらの補正値と相反則不軌の影響による濃度むらの補正値とをそれぞれ算出することが可能になる。
【００２６】
（４）以上の（２）において、可視像ａと可視像ｂとを生成し、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとを等しくする第１補正値を求め、第１補正値で複数Ｎの発光部の発光を補正した後に、可視像ｃと可視像ｄとを生成し、濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとを等しくする第２補正値を求めることにより、副走査ビームピッチ誤差による濃度むらを補正した状態で、相反則不軌の影響による濃度むらの補正値を正確に算出することが可能になる。
【００２７】
（５）以上の（１）〜（４）において、可視像ａと可視像ｂのいずれか一方を複数の異なる補正値で補正し、補正した一方の可視像と補正しない他方の可視像とを隣接するように並べ、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとの差又は一致により、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとを等しくする第１補正値を求め、可視像ｃと可視像ｄのいずれか一方を複数の異なる補正値で補正し、補正した一方の可視像と補正しない他方の可視像とを隣接するように並べ、濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとの差又は一致により、濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとを等しくする第２補正値を求めることにより、副走査ビームピッチ誤差による濃度むらの補正値と相反則不軌の影響による濃度むらの補正値とをそれぞれ適確に算出することが可能になる。
【００２８】
（６）以上の（５）において、可視像ａの濃度Ｄａと可視像ｂの濃度Ｄｂとが差が存在する場合には、可視像ａと可視像ｂのいずれか一方を更に異なる複数の補正値で補正し、補正した一方の可視像と補正しない他方の可視像とを隣接するように並べ、可視像ａの濃度Ｄａと可視像ｂの濃度Ｄｂとの一致により、濃度Ｄａと濃度Ｄｂとを等しくする第１補正値を求め、可視像ｃの濃度Ｄｃと可視像ｄの濃度Ｄｄとが差が存在する場合には、可視像ｃと可視像ｄのいずれか一方を更に異なる複数の補正値で補正し、補正した一方の可視像と補正しない他方の可視像とを隣接するように並べ、可視像ｃの濃度Ｄｃと可視像ｄの濃度Ｄｄとの一致により、濃度Ｄｃと濃度Ｄｄとを等しくする第２補正値を求めることにより、副走査ビームピッチ誤差による濃度むらの補正値と相反則不軌の影響による濃度むらの補正値とをそれぞれ適確に算出することが可能になる。
【００２９】
（７）以上の（１）〜（６）において、画像データ中で第２方向に存在するエッジの存在を求め、画像形成時におけるエッジと光源の複数Ｎの発光部との対応関係を求め、エッジが発光部の何画素目であるかに応じて、第１補正値又は第２補正値を適用して補正するか否かを決定し、この決定に応じて光源の複数Ｎの発光部のそれぞれの光量を補正するか又は画像データを補正することにより、副走査ビームピッチ誤差による濃度むらの補正値と相反則不軌の影響による濃度むらの補正値とをそれぞれ適確に算出して、それぞれの濃度むらを適切に補正することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明の実施形態の画像形成装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態の処理の様子を示す説明図である。
【図３】本発明の一実施形態の処理の様子を示す説明図である。
【図４】ビームピッチ誤差による濃度むらの発生原理を示す説明図である。
【図５】相反則不軌による濃度むらの発生原理を示す説明図である。
【図６】相反則不軌による濃度むらの発生原理を示す説明図である。
【図７】本発明の一実施形態の補正値算出の処理手順を示すフローチャートである。
【図８】本発明の一実施形態の処理の様子を示す説明図である。
【図９】本発明の一実施形態の処理の様子を示す説明図である。
【図１０】本発明の一実施形態の処理の様子を示す説明図である。
【図１１】本発明の一実施形態の処理の様子を示す説明図である。
【図１２】本発明の一実施形態の処理の様子を示す説明図である。
【図１３】本発明の一実施形態の処理の様子を示す説明図である。
【図１４】本発明の一実施形態の処理の様子を示す説明図である。
【図１５】本発明の他の実施形態の補正値算出の手順を示すフローチャートである。
【図１６】濃度むらの発生原理を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００３１】
以下、図面を参照して、副走査方向複数ライン同時露光を行う際の走査を跨ぐ部分で発生する副走査ビームピッチ誤差と相反則不軌の影響による濃度むらのそれぞれの補正値を正確に算出可能な本発明を実施するための最良の形態（実施形態）を詳細に説明する。
なお、この実施形態では、光ビームの走査方向である第１方向を画像形成における主走査方向、複数Ｎの発光部の整列方向と像担持体の駆動方向である第２方向を副走査方向、として定めることにする。
【００３２】
〔構成〕
本実施形態が適用される画像形成装置は、複数Ｎの発光部を有する光源からの複数Ｎ本の光ビームを像担持体の主走査方向に走査して、最大で複数Ｎライン分の露光を並行して行うマルチビーム型の画像形成装置である。
【００３３】
以下、本実施形態のマルチビーム型の画像形成装置１００の第１の実施形態の構成を、図１に基づいて詳細に説明する。
なお、この実施形態では、副走査方向複数ライン同時露光で発生しうる副走査ビームピッチ誤差と相反則不軌の影響による濃度むらの補正値を算出する場合の画像形成装置１００の基本的な構成要件を中心に説明する。したがって、画像形成装置として一般的であり、周知となっている構成要件については説明を省略している。
【００３４】
この図１において、１０１は画像形成装置１００の各部を制御するためにＣＰＵやプロセッサなどで構成された、画像データや所定の命令データに応じてレーザの発光の制御を行う制御部である。この実施形態では、制御部１０１は、光源の発光駆動の際に複数Ｎの光ビームそれぞれの光量を補正値に基づいて制御する。
【００３５】
１０３は予め測定された濃度むらのデータ、各種補正に必要なデータなどを記憶する記憶部である。１０５はユーザからの操作や設定を受け付けると共に装置の各種情報を表示する操作表示部である。１０７は外部機器や図示されないスキャナなどからの画像データを受ける画像入力部である。１１０は原稿の画像を読み取る画像読み取り部である。１２０は画像データを記憶する画像データ記憶部である。１３０は画像データに応じて所定の画像処理を実行する画像処理部である。１４０は制御部１０１の制御に基づいて、複数Ｎの発光部を有する光源を駆動する発光駆動部である。１５０は複数Ｎ本の光ビームで走査を行う露光ユニットである。この露光ユニット１５０は、後述する各種の光学部品で構成されている。
【００３６】
１６１は画像形成部１６０（図示省略）に含まれる像担持体としての感光体ドラムであり、複数Ｎの光ビームが第１方向（主走査方向）に走査され、第１方向（主走査方向）と直交する第２方向に駆動される。以上のような主走査方向の光ビームの走査と、副走査方向の駆動とにより、感光体ドラム１６１表面には静電潜像が形成される。この静電潜像は、画像形成部１６０によりトナーによる可視像に変換され、用紙に転写される。なお、カラー画像形成装置の場合には、ここに示した露光ユニット１５０と画像形成部１６０とを色数分に応じて配置する。
【００３７】
この図１において、露光ユニット１５０は、複数光ビームを発生させる複数の発光部を有する半導体レーザ等の光源１５１、光ビームを光学的に各種補正をするコリメータレンズ１５２とシリンドリカルレンズ１５３、光ビームを主走査方向に走査するポリゴンミラー１５４、光学的に走査角度の補正を行うｆθレンズ１５５、光学的な補正を行うシリンドリカルレンズ１５６、水平同期信号検出のためのミラー１５７、水平同期信号検出のための水平同期センサ１５８とを備えて構成されている。
【００３８】
なお、この図１で光源１５１として示した部分は、１素子で構成されて複数Ｎの光ビームを発生するものでも良いし、複数素子で構成されて合計で複数Ｎの光ビームを発生するものでも良い。
なお、この図１では紙面の都合で４ラインの光ビームが生成される状態を示しているが、後述する光量補正の具体例では６ライン又は８ラインの光ビームの具体例で示している。なお、複数Ｎについては、４や８等の数値に限定されるものではない。また、光源１５１において複数Ｎの発光部は、第２方向（副走査方向）に向かって配列されている。なお、光源１５１の複数発光部の配列方向は完全に第２方向に一致していなくても良い。
【００３９】
なお、以上の構成において、画像処理部１３０は画像形成に必要な各種の画像処理を施す画像処理部であり、この実施形態では複数の発光部を有する光源１５１で同時露光を行うために、複数の発光部を有する光源１５１に対応して、各ライン分の画像データを並行して出力する。
【００４０】
または、画像処理部１３０からは１ライン分ずつの画像データが出力されていて、発光駆動部１４０において複数ライン分の画像データを蓄積して、複数ライン分並行して光源１５１を駆動するようにしてもよい。
なお、以上の構成において、この画像形成装置において生じる濃度むらについては、テストチャートを用いて補正値が算出される毎に、記憶部１０３に記憶されるものとする。
【００４１】
また、以上の構成において、制御部１０１が複数Ｎラインの光ビームについての光量の補正値を定め、それぞれの補正値に基づいて、発光駆動部１４０による複数Ｎの発光部を有する光源１５１の光量を補正するようになっている。
なお、制御部１０１から発光駆動部１４０に対して各光ビームの補正値を指示する際に、必要に応じて、制御部１０１の制御出力と発光駆動部１４０の制御入力との間にＤ−Ａ変換器を配置しても良い。
【００４２】
すなわち、この実施形態では、複数Ｎの発光部を有する光源１５１からの複数Ｎの光ビームを感光体ドラム１６１の主走査方向に走査することで１回の走査で複数Ｎライン分の露光を行い、感光体ドラム１６１を主走査方向と直交する副走査方向に駆動して画像形成する際に、副走査方向複数ライン同時露光を行う際の走査を跨ぐ部分で発生する副走査ビームピッチ誤差と相反則不軌の影響による濃度むらのそれぞれの補正値を正確に算出するよう制御する制御部１０１、を備えたことを特徴としている。
【００４３】
〔ビームピッチ誤差による濃度むら（１）〕
複数Ｎの発光部の発光位置における既定位置（予想される本来の各発光部の発光位置）との差をビームピッチ誤差と呼び、このビームピッチ誤差について説明する。
図２では、複数Ｎ＝８として、ＬＤ＃１〜ＬＤ＃８の８発光部を備えた光源１５１を用いた場合における、各発光部の位置や間隔を示している。ここで、各発光部ＬＤ＃１〜ＬＤ＃８の間隔は一定であるため、中心付近（ＬＤ＃４，ＬＤ＃５付近）と端部付近（ＬＤ＃１，ＬＤ＃８付近）とで、本来の位置である既定位置からの位置ずれ量は異なり、先端付近ほど位置ずれ量が累積して大きくなる。
【００４４】
図２（ａ）は、ビームピッチ誤差が存在せず、各発光部は既定位置に存在しており、各発光部間は既定間隔である。
・各発光部（ＬＤ＃１〜ＬＤ＃８）の間隔が既定間隔未満の場合：
図２（ｂ）に示すように、ＬＤ＃４とＬＤ＃５のそれぞれが中心に向かってｘだけ近づいたとする。すなわち、ＬＤ＃４−ＬＤ＃５間の間隔は、既定間隔−２ｘとなる。同様に、他の発光部間の間隔も、既定間隔−２ｘとなる。
【００４５】
この結果、既定間隔からの相対的な間隔ずれ量ΔＰは、
ΔＰ＃４＝ΔＰ＃５＝−ｘ，
ΔＰ＃３＝ΔＰ＃６＝−３ｘ，
ΔＰ＃２＝ΔＰ＃７＝−５ｘ，
ΔＰ＃１＝ΔＰ＃８＝−７ｘ，と表すことができる。
【００４６】
・各発光部（ＬＤ＃１〜ＬＤ＃８）の間隔が既定間隔超過の場合の位置ずれ量：
図２（ｃ）に示すように、ＬＤ＃４とＬＤ＃５のそれぞれが中心からｘ離れたとする。すなわち、ＬＤ＃４−ＬＤ＃５間の間隔は、既定間隔＋２ｘとなる。同様に、他の発光部間の間隔も、既定間隔＋２ｘとなる。
【００４７】
この結果、既定間隔からの間隔ずれ量ΔＰは、
ΔＰ＃４＝ΔＰ＃５＝ｘ，
ΔＰ＃３＝ΔＰ＃６＝３ｘ，
ΔＰ＃２＝ΔＰ＃７＝５ｘ，
ΔＰ＃１＝ΔＰ＃８＝７ｘ，と表すことができる。
【００４８】
また、以上のような間隔ずれ量ΔＰは相対的な間隔であるが、既定位置からのずれ量（絶対値）をグラフにすると図３のようになる。
すなわち、各発光部（ＬＤ＃１〜ＬＤ＃８）の間隔が既定間隔未満（図２（ｂ））の場合には、光源の中心位置より副走査方向で下流側である発光部ＬＤ＃５，ＬＤ＃６，ＬＤ＃７，ＬＤ＃８では、下流の位置になるほど＋方向（上流側向き）の位置ずれが大きくなる。また、各発光部（ＬＤ＃１〜ＬＤ＃８）の間隔が既定間隔未満の場合には、光源の中心位置より副走査方向で上流側である発光部ＬＤ＃４，ＬＤ＃３，ＬＤ＃２，ＬＤ＃１では、上流の位置になるほど−方向（下流側向き）の位置ずれが大きくなる。
【００４９】
一方、各発光部（ＬＤ＃１〜ＬＤ＃８）の間隔が既定間隔超過（図２（ｃ））の場合には、光源の中心位置より副走査方向で下流側である発光部ＬＤ＃５，ＬＤ＃６，ＬＤ＃７，ＬＤ＃８では、下流の位置になるほど−方向（下流側向き）の位置ずれが大きくなる。また、各発光部（ＬＤ＃１〜ＬＤ＃８）の間隔が既定間隔超過の場合には、光源の中心位置より副走査方向で上流側である発光部ＬＤ＃４，ＬＤ＃３，ＬＤ＃２，ＬＤ＃１では、上流の位置になるほど＋方向（上流側向き）の位置ずれが大きくなる。
【００５０】
そして、以上のように発光部の副走査方向の位置に変化が生じると、副走査方向の線幅が変化し、結果として画像の濃度が変化することになる。
〔ビームピッチ誤差による濃度むら（２）〕
複数Ｎの発光部のこのビームピッチ誤差の他の例について説明する。ここで、図４に、複数の発光部としてＬＤ＃１〜ＬＤ＃６による最大６ビームを用いて、１走査で６ラインずつ画像形成を実行する画像形成装置について、具体例を示す。なお、図４では、６発光部のうちの連続する４発光部を発光させて、副走査方向に連続した４ドットを形成した様子を示す。
【００５１】
図４では、第Ｎラインのみでの発光（図４（ａ１），（ｂ１），（ｃ１））と、第Ｎラインと第Ｎ＋１ラインに跨る２回に分けた発光（図４（ａ２），（ｂ２），（ｃ２））において、既定光量かつ既定間隔の発光部での発光（図４（ａ１），（ａ２））と、既定光量であるが既定間隔より小さい間隔の発光部での発光（図４（ｂ１），（ｂ２））と、既定光量であるが既定間隔より大きい間隔の発光部での発光（図４（ｃ１），（ｃ２））、の場合を例示している。
【００５２】
図４（ａ１）では既定間隔の第ＮラインのＬＤ＃１〜ＬＤ＃４の発光であり、図４（ａ２）では既定間隔の第ＮラインのＬＤ＃４〜ＬＤ＃５の発光と既定間隔の第Ｎ＋１ラインのＬＤ＃１〜ＬＤ＃２の発光であり、いずれも副走査方向の線幅は既定値である。
図４（ｂ１）では既定間隔より大きい間隔の第Ｎラインの発光部ＬＤ＃１〜ＬＤ＃４の発光であり、副走査方向の線幅は既定値より増大する。図４（ｂ２）では既定間隔より大きい間隔の発光部での第ＮラインのＬＤ＃４〜ＬＤ＃５の発光と、既定間隔より大きい間隔の発光部での第Ｎ＋１ラインのＬＤ＃１〜ＬＤ＃２との発光である。ここで、隣接する各発光部が既定間隔より大きいが、第Ｎラインの末端側の発光部の発光（Ｎ_ＬＤ＃６）と第Ｎ＋１ラインの始端側の発光部の発光（Ｎ＋１_ＬＤ＃１）とは互いにはみ出した部分で重なり合いが大きくなっており、副走査方向の線幅は既定値より減少する。
【００５３】
図４（ｃ１）では既定間隔より小さい間隔の第Ｎラインの発光部ＬＤ＃１〜ＬＤ＃４の発光であり、副走査方向の線幅は既定値より減少する。図４（ｃ２）では既定間隔より小さい間隔の発光部での第ＮラインのＬＤ＃４〜ＬＤ＃５の発光と、既定間隔より小さい間隔の発光部での第Ｎ＋１ラインのＬＤ＃１〜ＬＤ＃２との発光である。ここで、隣接する各発光部が既定間隔より小さいが、第Ｎラインの末端側の発光部の発光（Ｎ_ＬＤ＃６）と第Ｎ＋１ラインの始端側の発光部の発光（Ｎ＋１_ＬＤ＃１）とは互いに内側に寄ったことで、接する部分が離れ具合が大きくなっており、副走査方向の線幅は既定値より増大する。
【００５４】
以上のように、発光部の間隔が既定間隔より大きい場合でも異なるラインを跨ぐ場合には線幅が減少したり、発光部の間隔が既定間隔より小さい場合でも異なるラインを跨ぐ場合には線幅が増大したり、といった状態になるため、既定間隔だけから線幅の変化を予想することは困難である。
【００５５】
〔相反則不軌による濃度むら〕
図５のような、１画素を意味するドットサイズより大きいビーム径の光ビームを露光に使用する場合を想定する。
まず、１走査で露光される図６（ａ）では相反則不軌の影響は発生しない。一方、図６（ｂ）のようにＮラインの末尾側（図６中のＮ＿ＬＤ＃６）のドットのビームとＮ＋１ラインの先頭側（図６中のＮ＋１＿ＬＤ＃１）のドットのビームとで別タイミングで同じ位置が露光されることになる。
【００５６】
この場合に、感光体ドラムの特性によって、相反則不軌の影響が発生することになる。すなわち、同一タイミングでの露光と別タイミングの露光では、トータルで同じ光量であったとしても、感光体ドラムにおける電位の変化が異なり、画像の濃度が異なることがある。
【００５７】
すなわち、図６（ｂ）の下側端部であるＮ＋１＿ＬＤ＃１では、上側端部のＮ＿ＬＤ＃４や、図６（ａ）のＮ＿ＬＤ＃１とＮ＿ＬＤ＃５と比較して、濃度が変化し、結果として線幅が変化することになる。なお、図６（ｃ）では、２回の走査で露光がなされるものの、端部が相反則不軌影響領域を外れているため、相反則不軌の影響で線幅が変化することはない。
【００５８】
〔ビームピッチ誤差と相反則不軌について〕
すなわち、以上の図３のように各発光部におけるビームピッチ誤差に基づく濃度むらや、図４のように各発光部におけるビームピッチ誤差で走査を跨ぐ場合の濃度むらや、図５〜図６のように相反則不軌による濃度むらなど、それぞれ異なった状況で濃度むらが発生する。従って、濃度むら補正を行うためには、それぞれの濃度むらの発生要因に応じて適切に求めた補正値が必要となることを、本件出願の発明者が見出した。
【００５９】
〔具体的説明〕
以下、副走査ビームピッチ誤差と相反則不軌とを検出するチャートについて、具体的に説明する。
図５において、ビーム径：ａ、ドットサイズ：ｂ、とする。また、光源中の発光部の数：Ｎ、本実施形態の調整でチャートに使用する光ビーム数：Ｍ、相反則不軌影響領域内ドット数：ｃ、とする。なお、ｃの値が小数点のときは、値を切り上げる。また、定数：ｅ、とする。
【００６０】
この場合、
ｃ＝（（ａ−ｂ）／２）／ｂ、
Ｍ＝（ｃ＋１）×２、
ｅ：１，２，…，ｃ、
と定義する。
【００６１】
そして、以下の３種のパターン群を生成する。
・第１パターン群：
同じ走査におけるＬＤ＃１，ＬＤ＃２，…，ＬＤ＃Ｍを使用して、副走査方向に繰り返し走査して描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターン。
・第２パターン群：
同じ走査におけるＬＤ＃（Ｎ＋１−Ｍ／２），…，ＬＤ＃Ｎと次の走査におけるＬＤ＃１，…，ＬＤ＃（Ｍ／２）を使用して２回に跨がる走査で描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターン。
・第３パターン群：
同じ走査におけるＬＤ＃（Ｎ＋１−（Ｍ／２）±ｅ），…，ＬＤ＃Ｎと次の走査におけるＬＤ＃１，…，ＬＤ＃（Ｍ／２±ｅ）を使用して２回に跨がる走査で描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターン。
【００６２】
但し、以上の第３パターン群を、以下の第３パターン群（１）と第３パターン群（２）との２つにすることも可能である。
・第３パターン群（１）：
同じ走査におけるＬＤ＃（Ｎ＋１−（Ｍ／２）−ｅ），…，ＬＤ＃Ｎと次の走査におけるＬＤ＃１，…，ＬＤ＃（Ｍ／２−ｅ）を使用して２回に跨がる走査で描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターン。
・第３パターン群（２）：
同じ走査におけるＬＤ＃（Ｎ＋１−（Ｍ／２）＋ｅ），…，ＬＤ＃Ｎと次の走査におけるＬＤ＃１，…，ＬＤ＃（Ｍ／２＋ｅ）を使用して２回に跨がる走査で描画された、Ｍオン・Ｎ−Ｍオフのパターン。
【００６３】
なお、この実施形態において、第１パターン群は後述する可視像ａに該当し、第２パターン群は後述する可視像ｂと可視像ｃに該当し、第３パターン群は後述する可視像ｄに該当する。
〔具体的説明の実施例〕
以下、副走査ビームピッチ誤差と相反則不軌について、上述した第１パターン群〜第３パターン群について、具体的数値を当て嵌めて具体的に説明する。なお、ここで使用する具体的数値は一例であって、他の数値を用いることも可能である。
【００６４】
ビーム径：ａ＝６０μm 、ドットサイズ：ｂ＝２０μm 、とする。また、光源中の発光部の数：Ｎ＝８、と定義する。
この場合、
本実施形態の調整でチャートに使用する光ビーム数：Ｍ、
とする。なお、ｃの値が小数点のときは、値を切り上げる。また、定数：ｅ、とする。
【００６５】
この場合、
相反則不軌影響領域内ドット数ｃは、
ｃ＝（（ａ−ｂ）／２）／ｂ＝（（６０−２０）／２）／２０＝１、
光ビーム数Ｍは、
Ｍ＝（ｃ＋１）×２＝（１＋１）×２＝４、
定数ｅは、
ｅ＝１，２，…，ｃ＝１、
と定まる。
【００６６】
この場合、
・第１パターン群：
同じ走査におけるＬＤ＃１，…，ＬＤ＃４を使用して、副走査方向に繰り返し走査して描画された、４オン・４オフのパターン。
・第２パターン群：
同じ走査におけるＬＤ＃７，ＬＤ＃８と、次の走査におけるＬＤ＃１，ＬＤ＃２を使用して、２回に跨がる走査で描画された、４オン・４オフのパターン。
・第３パターン群（１）：
同じ走査におけるＬＤ＃６，ＬＤ＃７，ＬＤ＃８と次の走査におけるＬＤ＃１を使用して２回に跨がる走査で描画された、４オン・４オフのパターン。
・第３パターン群（２）：
ある走査におけるＬＤ＃８と次の走査におけるＬＤ＃１，ＬＤ＃２，ＬＤ＃３を使用して２回に跨がる走査で描画された、４オン・４オフのパターン。
【００６７】
なお、この説明において、第１パターン群は上述した説明における可視像ａ（後述する図８中のパターン（１））に該当し、第２パターン群は上述した説明における可視像ｂ（後述する図８中のパターン（２））と可視像ｃ（後述する図１０中のパターン（２））に該当し、第３パターン群（１）は上述した説明における可視像ｄ（後述する図１０中のパターン（１））に該当し、第３パターン群（２）は上述した説明における可視像ｄ（後述する図１０中のパターン（３））に該当する。
【００６８】
〔処理（１）〕
以下、図７のフローチャートと図８以降の説明図を参照して、本実施形態における補正値算出処理の説明を行う。
制御部１０１は画像形成装置１００の動作を開始する際に、動作すべきモードを判定する（図７中のステップＳ１００）。なお、電源オン直後や一定の画像形成を続けた後のタイミングでは補正値算出モード、それ以外のタイミングでは通常モードとなる。
【００６９】
動作モードが通常モードであれば（図７中のステップＳ１００で「通常モード」）、制御部１０１は、操作表示部１０５での操作や、図示されない外部装置からの指示に従い、指定された画像データについての画像形成を実行する（図７中のステップＳ１２０）。
一方、動作モードが補正値算出モードであれば（図７中のステップＳ１００で「補正値算出モード」）、制御部１０１は、以下に説明するステップに従って、各発光部におけるビームピッチ誤差に基づく濃度むら、各発光部におけるビームピッチ誤差で走査を跨ぐ場合の濃度むら、相反則不軌による濃度むらなど、それぞれ異なった状況での濃度むらを補正する補正値を算出する処理を実行するよう各部を制御する。
【００７０】
補正値算出モードにおいて、制御部１０１は、初期設定として、後述する補正値算出用チャートを生成するためのチャートデータや、既に算出された補正値などを記憶部１０３から読み出す（図７中のステップＳ１０１）。既に算出された補正値が存在していれば（図７中のステップＳ１０２でＹＥＳ）、その補正値によって光源の各発光部の光量を補正する（図７中のステップＳ１０３）。なお、補正値算出モードの初回の動作においては、既に算出された補正値は存在していないため、補正はスキップする（図７中のステップＳ１０２でＮＯ）。
【００７１】
そして、制御部１０１は、記憶部１０３から読み出したチャートデータを用いて画像形成部１６０により補正値算出用チャートを用紙上に画像形成して出力する（図７中のステップＳ１０４）。
本実施形態における補正値算出用チャートには、後述する副走査ビームピッチ誤差検出用チャート（図８，図９参照）と、後述する相反則不軌検出用チャート（図１０，図１１参照）とが含まれることを特徴としている。
【００７２】
ここで、本実施形態において使用する補正値算出用チャートの内容について、まず図８と図９を用いて副走査ビームピッチ誤差検出用チャートを説明し、次に図１０と図１１を用いて相反則不軌検出用チャートについて説明する。
副走査ビームピッチ誤差の影響は、図４で既に説明したように、１回の走査内では副走査ビームピッチ誤差に応じて線幅が増減し、２回の走査に跨る場合は副走査ビームピッチ誤差と反対の傾向に線幅が増減する特性がある。
【００７３】
すなわち、１回の走査でＭの光ビームを用いたチャートａ（可視像ａ）の濃度Ｄａと、２回の走査に分けて合計Ｍの光ビームを用いたチャートｂ（可視像ｂ）の濃度Ｄｂとが等しくなるように、副走査ビームピッチ誤差についての補正値を求めれば良い。
ここで、Ｎは副走査方向に配列された発光部の数、Ｍはチャートで用いる光ビームの数である。また、１回の走査でＭの光ビームを発生させる場合と、２回の走査で合計Ｍの光ビームを発生させる場合とがあり、この２回の走査の場合、ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ１と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ２とによる２回の走査に分けて複数Ｍの光ビームの走査を行う。すなわち、１＜Ｍ＜Ｎ、ｍ１＋ｍ２＝Ｍ、とする。
【００７４】
具体的には、図８に示すように、１回の走査でＭの光ビームを発生させる場合には、例えば、図８中のパターン（１）を採用する。ここでは、ＬＤ＃１〜ＬＤ＃４を選択し、Ｍ＝４としている。一方、２回の走査で合計Ｍの光ビームを発生させる場合には、例えば、図８中のパターン（２）を採用する。ここでは、Ｎ＿ＬＤ＃７〜Ｎ＿ＬＤ＃８、Ｎ＋１＿ＬＤ＃１〜Ｎ＋１＿ＬＤ＃２を選択し、ｍ１＝２、ｍ２＝２、ｍ１＋ｍ２＝Ｍ＝４としている。ここで、２回の走査で合計Ｍの光ビームとする場合には、相反則不軌の影響がある部分に端部が合致しないようにする必要がある。図８では、ｍ１≧２かつｍ２≧２とすることで、相反則不軌の影響がある部分に端部が合致せず、相反則不軌の影響を受けずに測定が可能になる。
【００７５】
なお、ここでは、Ｍ＝４としたが、これに限定されない。例えば、Ｍ＝５、ｍ１＝２、ｍ２＝３としたり、Ｍ＝５、ｍ１＝３、ｍ２＝２としたり、Ｍ＝６、ｍ１＝３、ｍ２＝３とすることが可能である。なお、Ｍ＝６などとすることも可能である。
但し、Ｍ＝０．５Ｎとして、Ｍオン、Ｍオフのチャートとすることが、白と黒の中間付近のグレーのチャートを用いることになり、チャートの読み取りを正確に行いやすい利点がある。例えば、Ｎ＝１６であれば、Ｍ＝８程度とすることが、チャートの読み取りの観点からが望ましい。
【００７６】
図９が副走査ビームピッチ誤差検出用チャートの一例である。この場合、１回の走査でＭの光ビームを用いるパターン（図８中のパターン（１））と２回の走査に分けてＭの光ビームを用いるパターン（図８中のパターン（２））とを隣接させた状態の副走査ビームピッチ誤差検出用チャートを生成する。ここで、１つのチャートを20mm×20mm程度にして、１枚の用紙に複数個のチャートを並べた状態の副走査ビームピッチ誤差検出用チャートを生成することが測定の容易性から望ましい。
【００７７】
ここで、１つのチャートを20mm×20mm程度にしたのは、センサにより読み取りが容易になるためであり、他のサイズを選択しても良い。
なお、このようにパターン（１）とパターン（２）とを並べることで、画像読み取り部１１０で読み取って画像処理により濃度差を求める場合と、ユーザが視認することで濃度差を求める場合との、いずれの検出手法も可能になる。
【００７８】
相反則不軌の影響は、図６で既に説明したように、２回の走査に跨る別タイミングの露光では、トータルで同一露光タイミングの場合と同じ光量であったとしても、感光体ドラムにおける電位の変化が異なり、画像の濃度が異なる特性がある。また、２回の走査に跨る露光であっても、相反則不軌の影響が現れる図６（ｂ）の場合と、相反則不軌の影響が現れない図６（ｃ）の場合とがある。
【００７９】
ここで、Ｎは副走査方向に配列された発光部の数、Ｍはチャートで用いる光ビームの数、２回の走査で合計Ｍの光ビームを発生させる場合に、ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ３と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ４とによる２回の走査に分けて複数Ｍの光ビームの走査を行う。すなわち、１＜Ｍ＜Ｎ、ｍ３＋ｍ４＝Ｍ、とする。
【００８０】
そして、ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ３と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ４とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成され、第２方向の端部が相反則不軌の影響領域内に位置しないように構成される可視像ｃの濃度Ｄｃ、ある走査における複数Ｍ中の末尾側ｍ５と次の走査における複数Ｍ中の先頭側ｍ６とによる２回の走査に分けた複数Ｍの光ビームの走査により生成され、第２方向の一方の端部が相反則不軌の影響領域内に位置するように構成される可視像ｄの濃度Ｄｄ、とした場合に、濃度Ｄｄと濃度Ｄｃとが等しくなるよう、複数Ｎの発光部の発光における補正値を求めれば良い。
【００８１】
具体的には、図１０に示すように、２回の走査で合計Ｍの光ビームを発生させる場合に、相反則不軌の影響を含まない可視像ｃとして図１０中のパターン（２）を採用し、相反則不軌の影響を含む可視像ｄとして図１０中のパターン（１）とパターン（３）とを採用する。
【００８２】
詳しくは、相反則不軌の影響を含まない可視像ｃ（図１０中のパターン（２））として、相反則不軌影響範囲をＭ画素の端部に位置しないように、Ｎ＿ＬＤ＃７〜Ｎ＿ＬＤ＃８、Ｎ＋１＿ＬＤ＃１〜Ｎ＋１＿ＬＤ＃２を選択し、ｍ３＝２、ｍ４＝２、ｍ３＋ｍ４＝Ｍ＝４としている。
【００８３】
一方、相反則不軌の影響を含む可視像ｄ（図１０中のパターン（１））として、相反則不軌影響範囲をＭ画素の端部（ＬＤ＃１）に位置するように、Ｎ＿ＬＤ＃６〜Ｎ＿ＬＤ＃８、Ｎ＋１＿ＬＤ＃１を選択し、ｍ３＝３、ｍ４＝１、ｍ３＋ｍ４＝Ｍ＝４としている。
また、相反則不軌の影響を含む可視像ｄ（図１０中のパターン（３））として、相反則不軌影響範囲をＭ画素の端部（ＬＤ＃８）に位置するように、Ｎ＿ＬＤ＃８、Ｎ＋１＿ＬＤ＃１〜Ｎ＋１＿ＬＤ＃３を選択し、ｍ３＝１、ｍ４＝３、ｍ３＋ｍ４＝Ｍ＝４としている。
【００８４】
このようにすることで、２回の走査で合計Ｍの光ビームを発生させるようにしつつ、相反則不軌の影響がない可視像ｃと、ＬＤ＃１側に相反則不軌の影響がある可視像ｄと、ＬＤ＃８側に相反則不軌の影響がある可視像ｄと、を比較することで、副走査ビームピッチ誤差の影響を受けずに相反則不軌の影響をを測定することが可能になる。
【００８５】
なお、ここでは、Ｍ＝４としたが、これに限定されない。例えば、Ｍ＝５、可視像ｃ：ｍ１＝２，ｍ２＝３（又はｍ１＝３，ｍ２＝２）、可視像ｄ：ｍ１＝１，ｍ２＝４、可視像ｄ：ｍ１＝４，ｍ２＝１、とすることが可能である。なお、Ｍ＝６などとすることも可能である。
【００８６】
但し、Ｍ＝０．５Ｎとして、Ｍオン、Ｍオフのチャートとすることが、白と黒の中間付近のグレーのチャートを用いることになり、チャートの読み取りを正確に行いやすい利点がある。例えば、Ｎ＝１６であれば、Ｍ＝８程度とすることが、チャートの読み取りの観点からが望ましい。
【００８７】
図１１が相反則不軌検出用チャートの一例である。この場合、２回の走査で相反則不軌の影響が無いようにＭの光ビームを用いるパターン（図１０中のパターン（２））と、２回の走査で相反則不軌の影響が有るようにＭの光ビームを用いるパターン（図１０中のパターン（１））と、を隣接させた状態の相反則不軌検出用チャートを生成する。ここで、１つのチャートを20mm×20mm程度にして、１枚の用紙に複数個のチャートを並べた状態の相反則不軌検出用チャートを生成することが測定の容易性から望ましい。なお、このようにパターン（２）とパターン（１）とを並べることで、画像読み取り部１１０で読み取って画像処理により濃度差を求める場合と、ユーザが視認することで濃度差を求める場合との、いずれの検出手法も可能になる。この場合、ＬＥＤ＃１に相反則不軌の影響が現れるため、以下の説明では、相反則不軌検出用チャート（＃１）と称する。
【００８８】
また、図１２が相反則不軌検出用チャートの他の一例である。この場合、２回の走査で相反則不軌の影響が無いようにＭの光ビームを用いるパターン（図１０中のパターン（２））と、２回の走査で相反則不軌の影響が有るようにＭの光ビームを用いるパターン（図１０中のパターン（３））と、を隣接させた状態の相反則不軌検出用チャートを生成する。ここで、１つのチャートを20mm×20mm程度にして、１枚の用紙に複数個のチャートを並べた状態の相反則不軌検出用チャートを生成することが測定の容易性から望ましい。なお、このようにパターン（２）とパターン（３）とを並べることで、画像読み取り部１１０で読み取って画像処理により濃度差を求める場合と、ユーザが視認することで濃度差を求める場合との、いずれの検出手法も可能になる。この場合、ＬＥＤ＃８に相反則不軌の影響が現れるため、以下の説明では、相反則不軌検出用チャート（＃８）と称する。
【００８９】
なお、図示しないが、図１０中のパターン（１）と図１０中のパターン（２）と図１０中のパターン（３）との３パターンを隣接させた状態の相反則不軌検出用チャートを生成することも可能である。
そして、図９に示した副走査ビームピッチ誤差検出用チャート、図１１に示した相反則不軌検出用チャート（＃１）、図１２に示した相反則不軌検出用チャート（＃８）、を１枚の用紙上で含む補正値算出用チャートを用紙上に画像形成して出力し（図７中のステップＳ１０４）、それぞれのチャートの隣接パターン間の濃度差を評価して補正値を評価して算出する（図７中のステップＳ１０５）ことも可能であるが、複数段階の所定の補正値で補正された補正値算出用チャートを出力（図７中のステップＳ１０４）して隣接パターン間の濃度が一致した補正値を評価して抽出する（図７中のステップＳ１０５、Ｓ１０６ａ、Ｓ１０６ｂ）ことも可能である。なお、各ＬＥＤに対してどのような光量補正を行うかは各種の手法を採用することができる。
【００９０】
例えば、図１３のように、副走査ビームピッチ誤差検出用チャートと相反則不軌検出用チャート（＃１）と相反則不軌検出用チャート（＃８）とについて、それぞれ、−１０％、−５％、０％、５％、１０％の補正値で補正されたチャートを補正値算出用チャートとして出力する（図７中のステップＳ１０４）。
【００９１】
ここで、補正のピッチを５％としたが、ユーザが任意に定めても良いし、装置に予め定められた数値をユーザが変更するようにしても良い。
この場合、副走査ビームピッチ誤差検出用チャートでは、画像読み取り部１１０で読み取って画像処理により評価したり、あるいは、ユーザの視認による評価により、−５％補正された部分で隣接チャートの濃度が一致していることが判明する（図７中のステップＳ１０５）。従って、副走査ビームピッチ誤差としては、−５％を補正値として抽出する（図７中のステップＳ１０６ａ）。
【００９２】
なお、隣接チャートの濃度が一致せずに、更に詳細に補正したチャートが必要な場合（図７中のステップＳ１０７ａでＹＥＳ）、０％，１％，２％，３％，４％など詳細な補正レベルのチャートを生成した補正値算出用チャートを出力し（図７中のステップＳ１０４）、評価（図７中のステップＳ１０５）、補正値の抽出（図７中のステップＳ１０６ａ）を繰り返して実行する。
【００９３】
また、抽出された補正値が予め定められた閾値以上である場合は（図７中のステップＳ１０８ａでＮＯ）、現時点で得られた補正値で補正を実行し（図７中のステップＳ１０３）、再び補正値算出用チャートを出力し（図７中のステップＳ１０４）、評価（図７中のステップＳ１０５）、補正値の抽出（図７中のステップＳ１０６ａ）を繰り返して、得られる補正値が小さくなるように処理を繰り返す。
【００９４】
そして、以上のようにして抽出された副走査ビームピッチ誤差の補正値が定まった場合には（図７中のステップＳ１０６ａ、Ｓ１０７ａでＮＯ、Ｓ１０８ａでＹＥＳ）、その副走査ビームピッチ誤差の補正値を記憶部１０３に保存する（図７中のステップＳ１０９ａ）。
【００９５】
また、同様に、相反則不軌検出用チャートでは、画像読み取り部１１０で読み取って画像処理により評価したり、あるいは、ユーザの視認による評価により、−５％補正と０％補正の中間部分で隣接チャートの濃度が反転している。すなわち、−５％補正と０％補正の中間部分で隣接チャートの濃度が一致する可能性があると評価される（図７中のステップＳ１０５）。この場合には、０％と−５％の中間であることから、−２．５％と補正値を抽出する（図７中のステップＳ１０６ｂ）ことが可能である。
【００９６】
なお、この図１３の相反則不軌検出用チャートでは、隣接チャートの濃度が一致せずに、−５％補正と０％補正の中間部分で隣接チャートの濃度が反転しているため、補正値を一義的に確定できない。すなわち、更に詳細に補正したチャートが必要である（図７中のステップＳ１０７ｂでＹＥＳ）。
【００９７】
そこで、図１４のように、０％と−５％の間を０％，−１％，−２％，−３％，−４％，−５％など詳細な複数段階の補正値で補正されたチャートを出力（図７中のステップＳ１０４）して隣接パターン間の濃度を評価（図７中のステップＳ１０５）して、隣接パターン間の濃度が一致した補正値を抽出する（図７中のステップＳ１０６ｂ）。この場合、相反則不軌検出用チャートでは、画像読み取り部１１０で読み取って画像処理により評価したり、あるいは、ユーザの視認による評価により、−２％補正された部分で隣接チャートの濃度が一致していることが判明する（図７中のステップＳ１０５）。従って、相反則不軌としては、−２％を補正値として抽出する（図７中のステップＳ１０６ｂ）。
【００９８】
なお、図１４の例では、相反則不軌検出用チャート（＃１）と相反則不軌検出用チャート（＃８）の双方で補正値を−２％となった例を示している。理想状態であれば、ＬＤ＃１とＬＤ＃８の相反則不軌の影響は同様になり、相反則不軌検出用チャート（＃１）と相反則不軌検出用チャート（＃８）における補正値が一致する。この場合、図１３と図１４において、相反則不軌検出用チャート（＃１）と相反則不軌検出用チャート（＃８）については、どちらか一方のみであっても良い。
【００９９】
但し、露光ユニット１５０内の光源や光学系などの各部の様々な個体差などの影響によっては、ＬＤ＃１とＬＤ＃８の相反則不軌の影響が異なり、補正値が異なることもあり得る。このようなことが予想される場合には、図１３と図１４において、相反則不軌検出用チャート（＃１）と相反則不軌検出用チャート（＃８）の両方を用いて、ＬＤ＃１とＬＤ＃８とのそれぞれで得られた補正値をそれぞれ適用して補正することが望ましい。
【０１００】
また、抽出された補正値が予め定められた閾値以上である場合は（図７中のステップＳ１０８ｂでＮＯ）、現時点で得られた補正値で補正を実行し（図７中のステップＳ１０３）、再び補正値算出用チャートを出力し（図７中のステップＳ１０４）、評価（図７中のステップＳ１０５）、補正値の抽出（図７中のステップＳ１０６ｂ）を繰り返して、得られる補正値が小さくなるように処理を繰り返す。
【０１０１】
そして、以上のようにして抽出された相反則不軌の補正値が定まった場合には（図７中のステップＳ１０６ｂ、Ｓ１０７ｂでＮＯ、Ｓ１０８ｂでＹＥＳ）、その相反則不軌の補正値を記憶部１０３に保存する（図７中のステップＳ１０９ｂ）。
以上のように副走査ビームピッチ誤差の補正値（第１補正値）と相反則不軌の補正値（第２補正値）を求め、双方の補正値の保存が完了した時点（図７中のステップＳ１１０でＹＥＳ）で、制御部１０１は補正値算出モードを終了する（図７中のエンド）。なお、副走査ビームピッチ誤差検出と相反則不軌検出のいずれかで、図１３の補正値算出用チャートに加え図１４の補正値算出用チャートを用いる場合もあるため、制御部１０１は、双方の補正値の保存を待って処理を終了する。
【０１０２】
以上のように処理を実行した結果、副走査ビームピッチ誤差による濃度むらの補正値と、相反則不軌の影響による濃度むらの補正値とを、正確に算出することが可能になる。
〔処理（２）〕
なお、以上の補正値算出用チャートにおいて、副走査ビームピッチ誤差検出用チャートで用いる図８中のパターン（２）と、相反則不軌検出用チャートで用いる図１０中のパターン（２）とは、共通したパターンとなっている。
【０１０３】
このように副走査ビームピッチ誤差検出用チャートと相反則不軌検出用チャートとで同じパターンを用いることで、副走査ビームピッチ誤差検出用チャートと相反則不軌検出用チャートで、同じ可視像を共通の基準とすることができるため、副走査ビームピッチ誤差による濃度むらの補正値と相反則不軌の影響による濃度むらの補正値とを正確に算出することが可能になる。
【０１０４】
〔処理（３）〕
以上の処理（１）では、副走査ビームピッチ誤差検出用チャートの出力と読み取りによる第１補正値の抽出と、相反則不軌検出用チャートの出力と読み取りによる第２補正値の抽出とを、並行して行うようにしていた（図７中のステップＳ１０６ａ〜Ｓ１０９ａと、Ｓ１０６ｂ〜Ｓ１０９ｂ）。
【０１０５】
これに対し、副走査ビームピッチ誤差による濃度むら検出・補正と、副走査ビームピッチ誤差による検出とをシーケンシャルに実行することも可能である。この様子を図１５に示す。なお、図１５において、図７と共通する処理については、同じステップ番号を付すことで重複説明を省略する。
【０１０６】
すなわち、副走査ビームピッチ誤差による濃度むらを抽出した（図１５中のステップＳ１０４ａ〜Ｓ１０９ａ）後に、副走査ビームピッチ誤差による濃度むらを補正し（図１５中のステップＳ１１０ａ）、相反則不軌の影響による濃度むらの補正値を正確に算出する（図１５中のステップＳ１０４ｂ〜Ｓ１０９ｂ）。この場合、副走査ビームピッチ誤差による濃度むらが無い状態で相反則不軌の濃度むらについて処理するため、より正確な相反則不軌の補正値の算出が可能になると考えられる。
【０１０７】
以上の場合、副走査ビームピッチ誤差による濃度むら検出・補正とを１枚目の用紙で行い、副走査ビームピッチ誤差による検出とを次の２枚目の用紙で行えば良い。
但し、画像形成された用紙を、装置内部のインラインセンサで読み取るような場合で、処理を高速に実行可能であれば、１枚の用紙の範囲内で実行しても良い。また、長尺用紙を使用する場合であって、インラインセンサを装置内に備える場合にも、同様に、連続する用紙の範囲内で、シーケンシャルに実行すれば良い。
【０１０８】
〔処理（４）〕
以上のように求めた補正値を実際の画像データに適用する際には、画像データ中で副走査方向に存在するエッジ（端部）の存在を求め、画像形成時におけるエッジと光源の複数Ｎの発光部との対応関係を求める。そして、エッジが発光部の何画素目であるかに応じて、副走査ビームピッチ誤差の補正値（第１補正値）又は相反則不軌の補正値（第２補正値）を適用して補正するか否かを決定する。更に、この決定に応じて光源の複数Ｎの発光部のそれぞれの光量を補正するか又は画像データを補正する。このように補正することにより、副走査ビームピッチ誤差による濃度むらの補正値と相反則不軌の影響による濃度むらの補正値とをそれぞれ適確に算出して、それぞれの濃度むらを適切に補正することが可能になる。
【０１０９】
〔その他の実施形態〕
以上の実施形態の説明において、各発光部の発光及び当該発光により形成されるドットを円で近似して示しているが、実際の形状は図示された円形状に限定されるものではなく、いずれの形状であっても上述した実施形態を適用して良好な結果が得られる。
【０１１０】
以上の実施形態では、光ビームを用いた電子写真方式の画像形成装置について説明してきたが、これに限定されるものではない。たとえば、光ビームを用いて印画紙に露光を行うレーザイメージャなど、各種の画像形成装置に本発明の各実施形態を適用することが可能であり、良好な結果を得ることが可能である。
【０１１１】
また、光源としては、半導体レーザ（ＬＤ）以外の他の光源を用いた場合であっても適用することが可能である。
【符号の説明】
【０１１２】
１００  画像形成装置
１０１  全体制御部
１０３  記憶部
１２０  画像データ記憶部
１３０  画像処理部
１４０  発光駆動部
１５０  露光ユニット
１６１  感光体ドラム（像担持体）
【図１】
2018154098.tif 000003
【図２】
2018154098.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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