(57)【要約】【課題】高温高湿環境下での使用によっても、高い放電性能が維持される電子写真用の導電性部材を提供する。【解決手段】該導電性部材は、導電性基体と、該導電性基体上に形成された網目状構造体からなる表面層と、を有し、該網目状構造体は、放射線崩壊型の樹脂を含む非導電性繊維を含む。【選択図】図１
2018055090.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
導電性基体と、該導電性基体上に形成された網目状構造体からなる表面層と、を有する電子写真用導電性部材であって、
該網目状構造体は、放射線崩壊型の樹脂を含む非導電性繊維を含むことを特徴とする電子写真用導電性部材。
【請求項２】
前記樹脂のガラス転移温度が５０℃以上２００℃以下である請求項１に記載の電子写真用導電性部材。
【請求項３】
前記樹脂が、下記式（１）で示される構成単位を有するアクリル樹脂である請求項１又は２に記載の電子写真用導電性部材。
【化１】
2018055090.tif 000014
（前記式（１）中、Ｒ１は炭素数１〜６の炭化水素基を表す。）。
【請求項４】
前記式（１）中、Ｒ１は炭素数２〜６の直鎖状または分岐鎖状のアルキル基である請求項３に記載の電子写真用導電性部材。
【請求項５】
前記式（１）中、Ｒ１は下記式（２）から（５）で示される基からなる群から選択される少なくとも１つである請求項４に記載の電子写真用導電性部材。
式（２）
−Ｃ（ＣＨ３）３；
式（３）
−ＣＨ（ＣＨ３）２；
式（４）
−ＣＨ（ＣＨ３）−Ｃ（ＣＨ３）３；
式（５）
−Ｃ（ＣＨ３）２−ＣＨ（ＣＨ３）２。
【請求項６】
前記式（１）中、Ｒ１は−Ｃ（ＣＨ３）３である請求項５に記載の電子写真用導電性部材。
【請求項７】
前記樹脂が、融点が５０℃以上３５０℃以下である結晶性の樹脂である請求項１又は２に記載の電子写真用導電性部材。
【請求項８】
前記樹脂が、多糖類、多糖類誘導体及びポリアセタールからなる群から選択される少なくとも一種である請求項１に記載の電子写真用導電性部材。
【請求項９】
前記樹脂が、セルロース及びセルロース誘導体からなる群から選択される少なくとも一種である請求項８に記載の電子写真用導電性部材。
【請求項１０】
前記樹脂が酢酸セルロースである請求項９に記載の電子写真用導電性部材。
【請求項１１】
前記樹脂がポリアセタールである請求項８に記載の電子写真用導電性部材。
【請求項１２】
前記電子写真用導電性部材の表面を観察した際に、前記網目状構造体の少なくとも一部が任意の２００μｍ四方の正方形領域内に存在する請求項１〜１１のいずれか一項に記載の電子写真用導電性部材。
【請求項１３】
前記非導電性繊維の平均繊維径が０．２μｍ以上１５μｍ以下である請求項１〜１２のいずれか一項に記載の電子写真用導電性部材。
【請求項１４】
前記導電性基体が剛体構造体からなる請求項１〜１３のいずれか一項に記載の電子写真用導電性部材。
【請求項１５】
前記非導電性繊維の体積抵抗率が１×１０８Ω・ｃｍ以上である請求項１〜１４のいずれか一項に記載の電子写真用導電性部材。
【請求項１６】
請求項１〜１５のいずれか一項に記載の電子写真用導電性部材の製造方法であって、
該放射線崩壊型の樹脂を含む表面層用の塗工液を、該導電性基体の表面に向けてエレクトロスピニング法によって噴射し、該網目状構造体を形成する工程を含むことを特徴とする電子写真用導電性部材の製造方法。
【請求項１７】
電子写真画像形成装置の本体に着脱可能に構成されているプロセスカートリッジであって、
請求項１〜１５のいずれか一項に記載の電子写真用導電性部材を具備していることを特徴とするプロセスカートリッジ。
【請求項１８】
前記プロセスカートリッジが、更に感光体ドラムを具備し、前記導電性部材が、該感光体ドラムの帯電部材である請求項１７に記載のプロセスカートリッジ。
【請求項１９】
請求項１〜１５のいずれか一項に記載の電子写真用導電性部材を具備していることを特徴とする電子写真画像形成装置。
【請求項２０】
前記電子写真画像形成装置が、感光体ドラムを更に具備し、前記電子写真用導電性部材が、該感光体ドラムの帯電部材である請求項１９に記載の電子写真画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子写真用導電性部材、プロセスカートリッジおよび電子写真画像形成装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子写真方式を採用した画像形成装置である電子写真画像形成装置においては、導電性部材が様々な用途、例えば、帯電ローラ、現像ローラ、転写ローラなどの導電性ローラとして使用されている。これらの導電性ローラは、使用環境に依存せず適正な電気抵抗値に制御する必要があり、導電層の導電性を調整するために、カーボンブラックに代表される電子導電剤や、四級アンモニウム塩化合物等のイオン導電剤が添加された導電層が設けられている。導電性ローラが帯電ローラである場合、帯電ローラが適正な抵抗領域外となることで帯電ローラから感光体への放電が安定せず、局所的に過剰な放電が発生することで画像不良が発生することがある。かかる課題に対して、特許文献１には、導電性支持層上に微細な非導電性繊維から成る網目状構造体が設けられた導電性部材が開示されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００３】
【特許文献１】特開２０１５−６８９８５号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
近年、電子写真画像形成装置に更なる高速、長寿命化を求める傾向が強まっている。本発明者らの検討によれば、特許文献１に係る導電性部材を帯電ローラとして用いた場合、放電の微細化により異常放電が有効に抑制されること、絶縁且つ大きな表面積量による表面のチャージアップに起因して放電能力が向上することを知見した。
【０００５】
しかしながら、前記導電性部材を、例えば、温度３０℃、相対湿度８０％の如き高温高湿度の環境下で使用した場合、放電能力が徐々に低下する場合があった。また、前記導電性部材を転写ローラとして使用した場合にも、同様に、高温高湿度の環境で長時間の連続使用することで、放電能力が徐々に低下する場合がある。以上のように、帯電ローラ、転写ローラの如き電子写真用の導電性ローラは、高温高湿度の環境下において、高速、長時間連続で使用する場合、放電能力が低下するという点で改善の余地がある。
【０００６】
本発明は、高温高湿環境下での使用によっても放電能力を安定に維持し得る導電性部材の提供に向けたものである。また、本発明は、高品位な電子写真画像を形成することができるプロセスカートリッジおよび電子写真画像形成装置の提供に向けたものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一態様によれば、電子写真用導電性部材は、導電性基体と、該導電性基体上に形成された網目状構造体からなる表面層と、を有する電子写真用導電性部材であって、該網目状構造体は、放射線崩壊型の樹脂を含む非導電性繊維を含む電子写真用導電性部材を得ることができる。
【０００８】
本発明の他の態様によれば、前記網目状構造体からなる表面層をエレクトロスピニング法によって形成する工程を含む電子写真用導電性部材の製造方法が提供される。
【０００９】
本発明の他の態様によれば、電子写真画像形成装置の本体に着脱可能に構成されてなり、前記電子写真用導電性部材を具備しているプロセスカートリッジが提供される。
【００１０】
本発明の更に他の態様によれば、前記電子写真用導電性部材を具備している電子写真画像形成装置が提供される。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の一態様によれば、高温高湿環境下での使用によっても高い放電性能を維持し得る電子写真用の導電性部材を得ることができる。また、本発明の他の態様によれば、高品位な電子写真画像を安定して形成し得るプロセスカートリッジおよび電子写真画像形成装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１２】
【図１】本発明に係る電子写真用の導電性部材の一例を示す断面図である。
【図２】本発明に係る電子写真用の導電性部材の作製に使用されるエレクトロスピニング装置の一例を示す概略図である。
【図３】本発明に係るプロセスカートリッジの一例を示す断面図である。
【図４】本発明に係る電子写真画像形成装置の一例を示す断面図である。
【図５】非導電性繊維の放射線崩壊性の確認において行われるコロナ放電処理の方法を示す概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１３】
（電子写真用導電性部材）
本発明の一態様に係る電子写真用導電性部材（以下、導電性部材とも示す）は、導電性基体と、該導電性基体上に形成された網目状構造体からなる表面層と、を有する。該網目状構造体は、放射線崩壊型の樹脂を含む非導電性繊維を含む。本発明者等は、該導電性部材が、安定した放電挙動を示し、更に安定した放電状態を長時間維持し、帯電不足による画像不良抑制に効果があることを見出した。この安定放電維持の検証のため、本発明に係る導電性部材で感光体を帯電させ、高温高湿度下で感光体表面の帯電電位を計測した。その結果、異常放電に起因した画像不良の発生を抑えることができ、且つ長時間使用した場合にも電位低下が抑制されることを確認した。
【００１４】
電子写真分野における帯電を目的とした放電においては、帯電部材に対して、数百から数千ボルトの高い電圧が印加される。また、帯電部材と、該帯電部材に接触して配置されている被帯電部材との間に生じる放電のサイズは、大きくても１ｍｍ２程度である。そのため、放電時には、帯電部材の表面には、局所的に極めて大きなエネルギーが加わることになる。従って、特許文献１に記載の導電性部材を帯電部材に用いた場合、該導電性部材の表面を構成している繊維が受ける単位面積あたりのエネルギーは、極めて大きくなる。
【００１５】
本発明者らは、繊維に大きなエネルギーが加わったときに、該繊維の示す挙動が、繊維を構成する樹脂の放射線に対する性質によって異なることを見出した。すなわち、放射線崩壊型の樹脂を含む非導電性繊維を含む、網目状構造体からなる表面層を設けた導電性部材は、長時間に亘って高電圧が印加された場合でも、繊維の劣化が抑制されていることを見出した。なお、本明細書において、「放電劣化」とは、帯電部材の帯電性能が、使用に共なって低下する現象を意味する。また、「放電劣化の抑制」とは、帯電部材の帯電性能が、使用によっても低下しにくく、被帯電部材の帯電量の低下が抑制されることを意味する。
【００１６】
感光体の如き被帯電部材の帯電のメカニズムは、以下の通りである。導電性部材に電圧を印加した際、表面より放電が生じ、印加電圧と同符号（マイナスまたはプラス）の電荷は被帯電部材の表面へ電界に従って進む。一方、その逆極性（プラスまたはマイナス）の電荷は表面層へ進む。このとき、表面層は非導電性であるため、電荷を捕捉し、表面層はチャージアップする（本明細書中で、この電荷をチャージアップ電荷と呼ぶ）。このチャージアップ電荷が低下すると、対となる被帯電部材側の電荷量の低下、すなわち帯電量の低下が発生し、放電劣化が生じる。
【００１７】
本発明の一態様に係る導電性部材が放電劣化を抑制する理由は以下のように考えられる。網目状構造体を形成する繊維に放電エネルギーが継続的に印加されると、分子化学構造における高分子骨格中の炭素−水素など一部結合が外れ、ラジカルが生成する。通常、このラジカルとなった部分が空気中に存在する酸素や水と反応することで、化学構造内に酸素を取り込むこととなり、酸化が進む。且つ／または、分子周辺に存在する他のラジカルと新たな結合を形成し、副生成物が生じる。特に、高温高湿条件では該酸化が促進され、該副生成物の発生量が増加する。高温では樹脂分子の運動性が増して周囲分子との反応が進み、高湿では水分子が増加することによる酸化が促進されるためである。酸化の促進や副生成物により、網目状構造体の抵抗値低下が生じる。網目状構造体からなる表面層の非導電性が低下すると、チャージアップ電荷が導電性基体に漏えいし、チャージアップが妨げられるようになり、放電劣化が生じる。
【００１８】
一方、本発明に係る導電性部材における網目状構造体を形成する非導電性繊維は、放射線崩壊型の樹脂を含み、生成されるラジカルが非常に不安定である。このため、ラジカルは高分子の主鎖骨格上を移動し、その際主鎖骨格を切断する分子切断が起きる。この分子切断は骨格末端近傍で起こりやすく、切断が起こることで切断後の主骨格（分子鎖が長い方の骨格）のラジカル反応は終息する。切断後に主骨格から離れた骨格（非常に短くなった方の骨格）は、更なる反応で分解が進み、ガス化により消失して全体のラジカル反応が終息する。切断後の主骨格は僅かながら分子量が低下するが、それ以外はもとの高分子骨格構造と比較して大きな変化がないため、放電能力は維持される。このようにラジカル発生から反応終息までが即座に起こるために、使用条件に関わらず酸化が進行しにくく、副生成物の発生が抑制される。これにより、網目状構造体からなる表面層の非導電性が低下せず、チャージアップ電荷および被帯電部材への帯電が維持され、放電劣化が抑制される。
【００１９】
以上のことから、本発明に係る導電性部材では、高温高湿環境でも、長時間の放電後において材料の変質が抑制され、放電劣化が抑制されると考えられる。以下、本発明を詳細に説明する。なお、以下、電子写真用導電性部材を、その代表例である帯電部材によって説明する場合があるが、本発明に係る導電性部材の用途は帯電部材に限定されない。
【００２０】
本発明に係る導電性部材は、導電性基体上に網目状構造体からなる表面層を有する。図１に、本発明に係る導電性部材の一例を示す。本発明に係る導電性部材は、例えば図１（ａ）に示されるように、導電性基体としての導電性の軸芯体１２と、その外周に設けられた網目状構造体からなる表面層１１とからなることができる。また、本発明に係る導電性部材は、例えば図１（ｂ）に示されるように、導電性基体として、導電性の軸芯体１２とその外周に設けられた導電性樹脂層１３を用い、さらにその外周に網目状構造体からなる表面層１１を設けた構成であることができる。なお、必要に応じて本発明の一態様効果を阻害しない範囲で、導電性樹脂層１３を複数配置した多層構成であってもよい。
【００２１】
本発明に係る導電性部材は、図１（ａ）に示されるように、導電性基体としての導電性の軸芯体１２と、その外周に設けられた網目状構造体からなる表面層１１とからなることが好ましい。放電時にエネルギーが印加された際、導電性樹脂層を含まない構成の方が、界面反応による副生成物の発生が抑制できるため、本発明に係る効果をより発揮しやすい。
【００２２】
＜導電性基体＞
導電性基体は、前述したように、導電性の軸芯体からなってもよく、導電性の軸芯体の外周に導電性樹脂層が設けられた構成であってもよい。本発明に係る導電性基体は、形状安定化の観点から剛体構造体からなることが好ましい。
【００２３】
〔導電性の軸芯体〕
導電性の軸芯体としては、電子写真用の導電性部材の分野で公知なものから適宜選択して用いることができる。好ましくは、金属製の軸芯体である。例えば炭素鋼合金の表面に５μｍ程度の厚さのニッケルメッキを施した円柱が挙げられる。放電時のエネルギーが一部熱エネルギーに変換される場合、熱伝導率の高い金属製軸芯体では熱エネルギーを逃がしやすく、導電性部材へのダメージが減少して、耐久性が高くなる。
【００２４】
〔導電性樹脂層〕
導電性樹脂層を構成する材料としては、ゴム材料、樹脂材料等を用いることが可能である。ゴム材料としては特に限定されるものではなく、電子写真用の導電性部材の分野において公知のゴムを用いることができる。ゴム材料としては具体的には以下のものが挙げられる。エピクロルヒドリンホモポリマー、エピクロルヒドリン−エチレンオキサイド共重合体、エピクロルヒドリン−エチレンオキサイド−アリルグリシジルエーテル３元共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン共重合体、アクリロニトリル−ブタジエン共重合体の水素添加物、シリコーンゴム、アクリルゴム及びウレタンゴム等。樹脂材料としては、電子写真用の導電性部材の分野において公知の樹脂を用いることができる。具体的には、ポリウレタン、ポリアミド、ポリエステル、ポリオレフィン、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂等が挙げられる。これらの材料は一種を用いてもよく、二種以上を併用してもよい。
【００２５】
これらの中でも、導電性樹脂層を構成する材料としてはアクリロニトリル系ゴムが好ましい。該材料がアクリロニトリル系ゴムである場合、放電に際してエネルギーが印加された場合にも、本発明に係る網目状構造体を構成する非導電性繊維との反応性が乏しく、副生成物の発生、それに伴う放電劣化が起こりにくいためである。
【００２６】
前記導電性樹脂層を形成する材料に対して、電気抵抗値の調整のため、必要に応じて電子導電剤やイオン導電剤を配合することができる。電子導電剤としては、例えば電子導電性を示すカーボンブラック、グラファイト；酸化錫等の酸化物；銅、銀等の金属；酸化物や金属を粒子表面に被覆して導電性を付与した導電性粒子等が挙げられる。イオン導電剤としては、例えばイオン導電性を示す第四級アンモニウム塩、スルホン酸塩等のイオン交換性能を有するイオン導電剤が挙げられる。これらは一種を用いてもよく、二種以上を併用してもよい。
【００２７】
また、本発明の一態様効果を損なわない範囲で、樹脂の配合剤として一般的に用いられている充填剤、軟化剤、加工助剤、粘着付与剤、粘着防止剤、分散剤、発泡剤、粗し粒子等を添加することができる。
【００２８】
導電性樹脂層の電気抵抗値の目安としては、例えばその体積抵抗率が１×１０３Ω・ｃｍ以上１×１０９Ω・ｃｍ以下であることができる。なお、本発明に係る網目状構造体からなる表面層は、導電性基体の電気抵抗値が十分に低い場合においても、余剰な放電に起因する画像弊害を抑制できることが確認されている。
【００２９】
＜網目状構造体からなる表面層＞
網目状構造体からなる表面層は、異常放電を抑制し、且つ長時間の使用でも放電安定性を維持する観点から以下の構成を有することができる。
【００３０】
〔網目状構造体からなる表面層における非導電性繊維の性質〕
網目状構造体からなる表面層は、放射線崩壊型の樹脂を含む非導電性繊維を含む。網目状構造体からなる表面層は非導電性繊維からなってもよい。また、非導電性繊維は放射線崩壊型の樹脂からなってもよい。放射線崩壊型の樹脂は、放射線の照射が行われた際に、架橋反応に比べて分子鎖の切断が起こりやすい樹脂である。本発明に係る放射線崩壊型の樹脂を含む非導電性繊維を用いることにより、前述したように放電劣化が抑制される。一方、放射線の照射に対し、分子架橋など新たな結合が形成され、分子構造が大きくなる傾向が強い樹脂として、放射線架橋型の樹脂が挙げられる。放射線架橋型の樹脂は安定ラジカルを生成するため、周囲の酸素、水等と反応する機会が増え、酸化や副生成物の形成が進む。よって、放電中に抵抗値が低下していき、放電劣化が生じる。特に、高温高湿下では、樹脂分子の運動性が増して周囲分子との反応が進みやすい。なお、特許文献１の実施例で繊維として用いられている樹脂材料は、放射線架橋型の樹脂であるため、放電劣化が起こる。
【００３１】
放射線崩壊型の樹脂の例は、例えば、篠原健一ほか著「放射線と高分子」（槇書店，１９６８年発行）の第８９〜９１ページに紹介されている。本発明においては、放射線崩壊型の樹脂に該当するか否かは、放射線、またはそれに相当するエネルギーを印加する処理前後での分子量変化を測定することで、判定が可能である。例えば対象樹脂に対してコロナ放電を実施し、ゲル浸透クロマトグラフィー（ＧＰＣ）測定による分析を行う。ＧＰＣ測定は、対象樹脂を溶媒に溶解させて溶液にして行う。ここで、溶媒としては、トルエン、テトラヒドロフラン（ＴＨＦ）、トリフロロ酢酸、１，１，１，３，３，３−ヘキサフルオロ−２−プロパノール（ＨＦＩＰ）、ギ酸などの中から、対象樹脂が最も溶解しやすい溶媒を適宜選択することができる。
【００３２】
判定の第一段階として溶解の確認を行う。コロナ放電で架橋反応が進行し、分子量が非常に大きくなっている場合、どの溶媒を用いても溶解しないため、ＧＰＣ測定で分子量測定が出来ない。このように、不溶成分が樹脂全量に対して１０質量％以上である場合、不溶成分以外でも架橋成分が多く、放射線架橋型の樹脂と判断される。
【００３３】
続いて、判定の第二段階として、不溶成分が樹脂全量に対して１０質量％未満の場合には、溶液側を用いて溶解している樹脂成分のＧＰＣ測定を行う。分子量がコロナ放電処理前の分子量以下となっている場合には、分子骨格の切断が優先して起こっていることを示しており、放射線崩壊型の樹脂と判断される。一方、分子量が増加している場合には、放射線架橋型の樹脂と判断される。
【００３４】
放射線崩壊型の樹脂のガラス転移温度は、５０℃以上２００℃以下であることが好ましい。該ガラス転移温度は、より好ましくは８０℃以上２００℃以下であり、さらに好ましくは１００℃以上１５０℃以下である。該ガラス転移温度が５０℃以上２００℃以下である場合、放電による大きなエネルギーが熱エネルギーとして長時間にわたって印加される場合でも、繊維形状の変化による網目状構造変化が抑制され、放電能力が維持される。この範囲内では、ガラス転移温度が高いほど該構造変化が抑制される。特に、該ガラス転移温度が８０℃以上であることにより、更に高い放電エネルギーが加わった場合、すなわち導電性部材側により高い電圧が加えられた場合でも、繊維形状の変化など網目状構造変化が微小となり、放電能力が維持される。なお、該ガラス転移温度が５０℃未満の場合、室温でも分子運動が活発になり、放電によるエネルギーが加わることで繊維形状が変化して表面積量が小さくなるため、放電劣化が発生する場合がある。一方、該ガラス転移温度が２００℃を上回る場合、室温付近での硬度は増すが、微細繊維のため脆くなり、僅かな応力で網目状構造の破壊をもたらす原因となり、安定的な放電を長時間維持できない場合がある。
【００３５】
なお、網目状構造体からなる表面層に含まれる非導電性繊維の樹脂のガラス転移温度は、導電性部材から網目状構造体からなる表面層を、ピンセット等を用いて回収し、例えば、示差走査熱量分析（ＤＳＣ）により測定可能である。また、導電性部材から網目状構造体からなる表面層を回収し、加熱、又は溶剤を用いて溶融し、シート化した後に、ＤＳＣ測定を行っても良い。
【００３６】
前記ガラス転移温度の範囲を有する放射線崩壊型の樹脂としては、下記式（１）で示される構成単位を有するアクリル樹脂が好ましい。
【００３７】
【化１】
2018055090.tif 000003
【００３８】
前記式（１）中、Ｒ１は炭素数１〜６の炭化水素基を表す。Ｒ１は炭素数２〜６の炭化水素基が好ましく、炭素数２〜６の直鎖状または分岐鎖状のアルキル基がより好ましい。Ｒ１が炭素数２〜６の直鎖状または分岐鎖状のアルキル基である場合、環状構造でないため、共鳴等による安定ラジカル形成が防止される。また、炭素が複数となり立体的な障害が増えることでこの部分における放電生成物との反応機会が少なくなり、酸化が抑制される。Ｒ１は下記式（２）から（５）で示される基からなる群から選択される少なくとも１つであることがさらに好ましい。
【００３９】
式（２）
−Ｃ（ＣＨ３）３
式（３）
−ＣＨ（ＣＨ３）２
式（４）
−ＣＨ（ＣＨ３）−Ｃ（ＣＨ３）３
式（５）
−Ｃ（ＣＨ３）２−ＣＨ（ＣＨ３）２
【００４０】
Ｒ１が前記式（２）から（５）で示される基からなる群から選択される少なくとも１つである場合、Ｒ１上にラジカルとなりやすい２級炭素がなく、立体障害が大きくなることで酸化が抑制される。特に、Ｒ１は−Ｃ（ＣＨ３）３であることが好ましい。Ｒ１が−Ｃ（ＣＨ３）３である場合、３級炭素がなくなり、Ｒ１は４級および１級炭素からなるため、安定ラジカルがより形成されにくくなり、酸化による放電劣化が抑制される。なお、Ｒ１の炭素数が７以上である場合、放電時にラジカル化し得る部分が多くなるために、周囲の酸素や水と反応する酸化や副生成物の形成が、進行しやすくなる場合がある。
【００４１】
前記式（１）で示される構成単位を有するアクリル樹脂としては、具体的にはポリメタクリル酸メチル、ポリメタクリル酸エチル、ポリメタクリル酸プロピル、ポリメタクリル酸イソプロピル、ポリメタクリル酸ブチル、ポリメタクリル酸ターシャリーブチル、ポリメタクリル酸イソブチル、ポリメタクリル酸ベンジル、および、これらのアクリル樹脂を構成するモノマー単位の２種以上の組み合わせからからなる共重合体が挙げられる。
【００４２】
前記放射線崩壊型の樹脂として、前記式（１）で示される構成単位を有するアクリル樹脂を用いる場合に考えられる反応機構について、下記式（ａ）を用いて説明する。下記式（ａ）中、ｎは繰り返し数を表し、ドットはラジカルを表す。放電によるエネルギーが加えられると、主鎖となる高分子骨格に結合するメチル基上の水素が離れて、ラジカルが発生する。このラジカル発生は骨格の末端近傍で起こりやすい。発生したラジカルはエステル結合の電子吸引的な作用による影響により、非常に不安定である。このため、次の反応として、ラジカルが他の部分に移動しようとする。その際、エステル結合の影響により、ラジカルは主鎖骨格方向へ動く。メチル基の結合している４級炭素と、主鎖骨格方向に隣接する炭素との間の結合が切れ、該隣接する炭素がラジカル化することで、分子切断が起こる。分子切断後は、主骨格と分子鎖が非常に短くなった骨格となり、主骨格側は反応が終息し、短くなった骨格側にラジカルが残る。ラジカルが残った側の骨格では、更なる反応で分解が進み、ガス化によりラジカルが消失して、全体のラジカル反応が終息する。すなわち、不安定なラジカルが発生した場合にも、反応終息が急速に行われるため、周囲の酸素や水と反応する機会がより少なくなり、酸化が抑制されると考えられる。
【００４３】
【化２】
2018055090.tif 000004
【００４４】
前記放射線崩壊型の樹脂は、融点が５０℃以上３５０℃以下である結晶性の樹脂であることが好ましい。該融点は、好ましくは１００℃以上３５０℃以下であり、より好ましくは１５０℃以上３５０℃以下である。結晶性の樹脂であっても非晶部分を含むため、樹脂のガラス転移温度は高いことが好ましい。しかし、樹脂のガラス転移温度が低い場合であっても、結晶性で融点が５０℃以上３５０℃以下である場合、放電により熱エネルギーが加えられても、結晶性部分が形状維持することで、網目状構造変化が抑制され、放電能力が維持される。特に、該融点が１５０℃以上である場合、非晶部分の影響をほぼ無視できる。なお、前記融点が３５０℃を上回る場合、室温下で高硬度となる一方で、微細繊維のため脆くなり、僅かな応力で網目状構造の破壊をもたらす原因となり、安定的な放電を長時間維持できない場合がある。
【００４５】
なお、前記融点は、示差走査熱量分析（ＤＳＣ）や熱重量・示差熱分析（ＴＧ−ＤＴＡ）で測定できる。また、樹脂が結晶性を有することは、前記融点が明確に観測されるか、または、エックス線回折分析（ＸＲＤ）で結晶ピークが現れるかによって判断できる。
【００４６】
前記結晶性を有する放射線崩壊型の樹脂の中でも、多糖類、多糖類誘導体及びポリアセタールからなる群から選択される少なくとも一種が好ましい。多糖類とは、グリコシド結合によって単糖分子が多数重合した物質である。多糖類誘導体とは、グリコシド結合と単糖分子骨格を有しながら、その他の箇所の一部で官能基の導入や原子の置換が行われた分子構造を有する物質である。多糖類、多糖類誘導体及びポリアセタールは、分子構造における主鎖骨格上で、規則的に炭素、酸素によるＣ−Ｏ−Ｃ結合を有し、Ｃ−Ｏ−Ｃを介して繰り返し単位が形成されている。このため、ラジカルが発生して反応進行する際に、いずれかのＣ−Ｏ結合が容易に切断されて反応終息に向かうため、反応全体の時間がより短縮されて酸化進行が抑制される。
【００４７】
前記多糖類及び前記多糖類誘導体は、それぞれセルロース、セルロース誘導体であることが好ましい。セルロース、セルロース誘導体は４級炭素上のメチル基を有し、該４級炭素に隣接して３級炭素を有する。このため、放電によりエネルギーが印加されると、メチル基上にラジカルが発生して該３級炭素上に移動する、または直接該３級炭素上にラジカルが発生し、即座にグリコシド結合の分子切断に至る。特に、構成単位がグリコシド結合を介して互い違いに接続しているため、エネルギーがどのように印加されても上述の反応が選択的に進む。よって、反応時間の更なる短縮が起こり、酸化による放電劣化が抑制される。
【００４８】
前記結晶性を有する放射線崩壊型の樹脂の中でも、酢酸セルロースが更に好ましい。ヒドロキシ基の一部または全部がアセチル基になることによって、この部分のラジカル化が起きにくくなり、グリコシド結合の分子切断に至るラジカル移動が迅速になり、酸化による放電劣化が抑制される。
【００４９】
前記結晶性を有する放射線崩壊型の樹脂の中でも、ポリアセタールが好ましい。ポリアセタールは、嵩高い官能基を有さず、放電によるエネルギーが分子主鎖骨格に集中するため、分子切断にかかる時間が短縮され、より酸化されにくくなる。
【００５０】
前記網目状構造体は、非導電性繊維に加えてラジカル捕捉剤を含んでも良い。ラジカル捕捉剤が添加されると、放電エネルギーが印加されてラジカルが発生する際、ラジカル反応が早期に終息に向かう。そのため、分子切断の機会が減少し、分子量の低下が抑制される。ラジカル捕捉剤としては、好ましくは、ｐ−ヒドロキノン、３，５−ジブチル−４−ヒドロキシトルエン等の、空気酸化などにより過酸化物が生成されることを防止する効果も有する酸化防止剤である。放射線崩壊型の樹脂に対するラジカル捕捉剤の添加量は、１０質量％以下であることが好ましい。該添加量が該範囲内であることにより、ラジカル捕捉剤の、網目状構造体の機械的強度への影響が小さくなり、放電劣化抑制に対してのみ効果をもたらすことができる。
【００５１】
前記放射線崩壊型の樹脂の重量平均分子量（Ｍｗ）は、５万以上２５０万以下であることが好ましく、１５万以上２５０万以下であることがより好ましく、３０万以上２５０万以下であることがさらに好ましい。該重量平均分子量が５万以上２５０万以下である場合、該樹脂は分子量が高いことによる硬さを有するため、長時間使用した場合にも網目状構造が変化し難くなり、安定的な放電を維持できる。特に、該重量平均分子量が１５万以上である場合、他部材と接触しながら長時間使用した場合にも、網目状構造の破壊が抑制される。
【００５２】
なお、前記重量平均分子量は、導電性部材から網目状構造体からなる表面層を、ピンセット等を用いて回収し、例えば、マイクロサンプリング質量分析（μ−ＭＳ）、ゲル浸透クロマトグラフィー分析（ＧＰＣ）により測定可能である。また、導電性部材から網目状構造体からなる表面層を回収し、加熱、又は溶剤を用いて溶融し、シート化した後に前記質量分析を行っても良い。
【００５３】
前記網目状構造体は、前記放射線崩壊型の樹脂として、上記高分子量の樹脂に加えて、さらにＭｗが５万未満の低分子量の樹脂を含んでも良い。上述のように、放電によりエネルギーが印加されると、ラジカル発生箇所は分子骨格の末端近傍となりやすく、分子切断も末端近傍で起こりやすい。添加された低分子量の樹脂は、網目状構造体を主として形成する高分子量の樹脂（母材樹脂）に比べ、分子骨格の末端を多く有する。このため、放電によるエネルギーが加えられると、添加された低分子量の分子骨格上で選択的に分子切断が起こる。よって、網目状構造体を主として形成する樹脂の分子切断が抑制されて分子構造を維持することができ、放電劣化がより抑制される。低分子量の樹脂の重量平均分子量は、前記放電劣化抑制効果が高くなる観点から、１万以下であることが好ましい。また、低分子量の樹脂の繰り返し単位は、母材樹脂の繰り返し単位と同じであることが好ましい。低分子量の樹脂と母材樹脂との相溶性が高まり、網目状構造体内に低分子量の樹脂が均一に分散するためである。低分子量の樹脂の含有量は、母材樹脂に対して１０質量％以下であることが好ましい。該含有量が該範囲内であることにより、低分子量の樹脂による、網目状構造体の機械的強度への影響が小さく、放電劣化抑制にのみ効果をもたらす。
【００５４】
非導電性繊維とは、体積抵抗率が１×１０８Ω・ｃｍ以上である繊維を示す。該体積抵抗率は、好ましくは１×１０８〜１×１０１６Ω・ｃｍ、より好ましくは１×１０１１〜１×１０１６Ω・ｃｍ、さらに好ましくは１×１０１３〜１×１０１６Ω・ｃｍである。
【００５５】
該体積抵抗率が１×１０８Ω・ｃｍ未満である場合、チャージアップ電荷が導電性基体に漏えいし、チャージアップが妨げられるようになり、放電劣化が生じる。また、繊維内での局所的な放電エネルギー集中が発生する場合があり、熱エネルギーに変換されると繊維が熱破壊されて放電劣化が生じる。一方、該体積抵抗率が１×１０８以上である場合、チャージアップ電荷が導電性基体に漏えいせず、放電劣化が抑制される。また、網目状構造体からなる表面層自身が放電の起点となった突発的な異常放電が発生しにくくなり、繊維内での局所的な放電エネルギー集中が起こらないため、放電劣化が抑制される。
【００５６】
また、該体積抵抗率が１×１０１６Ω・ｃｍ以下である場合、網目状構造体からなる表面層自身の高抵抗化に起因する放電不良が抑えられる。尚、該体積抵抗率が１×１０８Ω・ｃｍ以上であれば、本発明に係る非導電性繊維は、放射線崩壊型の樹脂１００質量部に対してイオン導電剤を０．１〜５質量部含んでもよい。また、該体積抵抗率が１×１０１１Ω・ｃｍ以上であれば、網目状構造体からなる表面層自身からの突発的な異常放電を十分に抑えることができる。さらに、該体積抵抗率が１×１０１３Ω・ｃｍ以上であれば、網目状構造体からなる表面層自身からの突発的な異常放電はほとんど確認されない。
【００５７】
なお、非導電性繊維の体積抵抗率は以下の方法で測定できる。導電性部材から網目状構造体からなる表面層を、ピンセット等を用いて回収し、繊維１本に対して走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）のカンチレバーを接触させ、カンチレバーと導電性基板との間に繊維１本を挟むことで、該体積抵抗率を測定できる。また、導電性部材から網目状構造体からなる表面層を回収し、加熱、又は溶剤を用いて溶融し、シート化した後に体積抵抗率を測定してもよい。
【００５８】
導電性部材では、高温高湿度の条件下で長時間の放電処理を行った場合でも、体積抵抗値の低下が抑制される。このため、網目状構造体からなる表面層の帯電能力が維持されるため、放電能力も維持され、放電劣化が抑制される。
【００５９】
〔網目状構造体層における非導電性繊維の形態〕
本発明に係る網目状構造体からなる表面層を形成する非導電性繊維は、繊維径に対して１００倍以上の長さを有するものであることが好ましい。尚、網目状構造体からなる表面層を光学顕微鏡等で観察することで、繊維径に対して繊維長が１００倍以上であるか否かを確認できる。繊維の断面形状は特に限定されず、円形、楕円形、四角形、多角形、半円形等であることができる。また、任意の断面で形状が異なっていてもよい。尚、繊維径とは、繊維の断面が円柱状の場合においては、その断面の円の直径であり、非円柱状の場合においては、繊維断面における重心を通る最長直線の長さである。
【００６０】
前記非導電性繊維の繊維径としては、平均繊維径ｄが０．２μｍ以上１５μｍ以下であることが好ましい。該平均繊維径ｄが１５μｍ以下であることにより、繊維を構成する樹脂量に対して表面積が大きく確保されるため、帯電量が多くなり、放電能力が大きくなる。また、表面積が十分に確保されることで、放電エネルギーが熱に変換された場合にも、繊維外への熱拡散が進みやすく、熱の異常蓄積による繊維の変形や構成材料の劣化が抑制される。該平均繊維径ｄは２．５μｍ以下であることがより好ましく、１．５μｍ以下であることがさらに好ましい。該平均繊維径ｄが２．５μｍ以下であることにより、熱の異常蓄積が小さくなる。また、該平均繊維径ｄが１．５μｍ以下であることにより、熱の異常蓄積はほぼ無視できるようになる。一方、平均繊維径ｄが０．２μｍ以上であることにより、繊維表面部分を構成する高分子の著しい分子量低下が起こった場合にも、繊維中心部を構成する樹脂の分子量が維持されることで、繊維の変形が抑制され、放電劣化が抑制される。平均繊維径ｄは０．３μｍ以上であることがより好ましく、０．４μｍ以上であることがさらに好ましい。
【００６１】
なお、平均繊維径ｄは、光学顕微鏡、レーザー顕微鏡、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）測定等による直接観察により確認できる。本発明では、本発明に係る網目状構造体からなる表面層を表面よりＳＥＭで観察し、任意の１００本の繊維の繊維径を計測する。任意の１００本の繊維の繊維径の平均値が、本発明における平均繊維径ｄである。
【００６２】
〔網目状構造体の繊維間距離〕
導電性部材は、該導電性部材の表面を観察した際に、網目状構造体の少なくとも一部が任意の２００μｍ四方の正方形領域内に存在することが好ましい。
【００６３】
網目状構造体からなる表面層の繊維間距離が適切である場合、導電性部材に電圧が印加された際の帯電量が増加し、放電能力が確保される。また、網目状構造体からの放電が基本となる上、放電が行われる箇所が分散して小さくなるため、放電が安定する。一方、繊維間距離が大きすぎると、導電性基体からの放電機会が増大し、導電性基体と網目状構造体との界面に過大な放電エネルギーが加わることとなり、密着性が低下する場合がある。この密着性の低下が一か所で起こると、その影響により、更に導電性基体からの放電機会が増大し、多くの箇所で密着性が低下していく。結果的に、網目状構造が変化して表面積低下が起こり、放電劣化が起こる場合がある。したがって、網目状構造体からなる表面層における繊維間距離は２００μｍ以下であることが好ましい。該繊維間距離が２００μｍ以下となるためには、導電性部材の表面を観察した際に、網目状構造体の少なくとも一部が任意の２００μｍ四方の正方形領域内に存在すればよい。具体的には、網目状構造体からなる表面層の表面に対して垂直方向から、光学顕微鏡又はレーザー顕微鏡等を用い、任意の２００μｍ四方（縦２００μｍ、横２００μｍ）の正方形領域を１００箇所測定し、観察する。１００箇所の測定点すべてにおいて、網目状構造体の少なくとも一部が確認できれば前記要件を満たす。なお、観察される像は、網目状構造体からなる表面層の厚み方向の情報をすべて積算した情報になるが、厚み方向の情報を含んだ網目状構造体からなる表面層の表面における繊維間距離が、放電劣化抑制効果に影響するため、該判断方法で問題ないと考えられる。
【００６４】
また、導電性部材の表面を観察した際に、網目状構造体の少なくとも一部が任意の１００μｍ四方の正方形領域内に存在することがより好ましい。１００μｍ四方の正方形領域内に網目状構造体の少なくとも一部が観察されることで、網目状構造体の導電性基体との密着性低下が抑制されるだけでなく、網目状構造を形成する繊維同士の相互補完により網目状構造の変化が抑制され、放電劣化がより抑制される。
【００６５】
〔網目状構造体からなる表面層の厚み〕
網目状構造体からなる表面層の厚みについて、網目状構造体からなる表面層の平均層厚ｔが１μｍ以上５０μｍ以下であることが好ましい。該平均層厚ｔが１μｍ以上の場合、放電により繊維表面を構成する高分子が低分子化した場合にも繊維内部を構成する高分子が分子量を維持できるため、繊維形状が維持される。これにより、網目状構造体が維持され、放電劣化が抑制される。一方、該平均層厚ｔが大きい場合、網目状構造体のある一部分が空隙のない膜と同様の作用を示し、その周囲で局所的に大きな放電が起こる場合があり、エネルギーの部分集中が発生して分子量の急激な低下が起こり得る。この導電性部材の絶縁化による放電不良に起因する急激な分子量の低下が、網目状構造の変形、そして放電劣化につながる場合がある。しかし、該平均層厚ｔが５０μｍ以下であることにより、これらの発生を抑制することができる。該平均層厚ｔは、１μｍ以上３０μｍ以下であることがより好ましく、２μｍ以上２０μｍ以下であることがさらに好ましい。特に、該平均層厚ｔが３０μｍ以下であることにより、空隙の維持効果がより高まり、局所的な分子量の低下が抑制される。
【００６６】
なお、網目状構造体からなる表面層の厚みとは、導電性基体の表面に対して垂直方向に測定される網目状構造体からなる表面層の厚みである。該厚みは、他部材と接触、非接触であることに関わらず、部材として使用する際、非導電性繊維が存在している部分の厚みを示す。該厚みは、導電性部材から導電性基体及び網目状構造体からなる表面層を含む切片を切り出し、Ｘ線ＣＴ測定を行うことで測定することができる。また、平均層厚ｔとは、導電性部材の長手方向を５等分し、各分割における任意の５箇所において該厚みを測定した時の、計２５箇所の厚みの平均値である。
【００６７】
〔網目状構造体からなる表面層の形成方法〕
網目状構造体からなる表面層の形成方法としては、特に限定されないが、例えば以下の方法が挙げられる。エレクトロスピニング法（電界紡糸法・静電紡糸法）、複合紡糸法、ポリマーブレンド紡糸法、メルトブロー紡糸法、フラッシュ紡糸法等によって、繊維用の原料液体から繊維を生成し、生成された繊維を導電性基体表面に積層していく方法が挙げられる。このようにして生成された繊維はすべて繊維径に対して十分な長さを有する。なお、エレクトロスピニング法とは、シリンジに入った原料液体とコレクター電極間に高電圧を印加することで、シリンジから押出された溶液が電荷を帯びて電界中に飛散して細線化し、繊維となってコレクターに付着する繊維の製造方法である。
【００６８】
これらの中でも、網目状構造体からなる表面層の形成方法としてはエレクトロスピニング法が好ましい。すなわち、本発明に係る電子写真用導電性部材の製造方法は、網目状構造体からなる表面層をエレクトロスピニング法によって形成する工程を含むことができる。エレクトロスピニング法による網目状構造体からなる表面層の形成方法の一例を、図２を用いて説明する。図２に示されるように、エレクトロスピニング装置は高圧電源２５、原料液体の貯蔵タンク２１、紡糸口２６を備えており、この装置に取り付けられたコレクター２３は、通常地面２４にアースされる。原料液体はタンク２１から紡糸口２６まで一定の速度で押し出される。紡糸口２６には１〜５０ｋＶの電圧が印加されており、電気引力が原料液体の表面張力を超える時、原料液体のジェット２２がコレクター２３に向けて噴射される。原料液体としては、溶媒を含む原料液体、及び、樹脂材料を融点以上に加熱した溶融樹脂等を用いることができる。原料液体が溶媒を含む原料液体である場合は、ジェット２２中の溶媒は徐々に揮発する。この過程で、原料液体内の単位体積当たりの電荷が増加するため、溶液が更に細かく分裂してコレクターに向かうこともある。コレクター２３に到達する際には、ジェットサイズがナノレベルまで減少する。
【００６９】
図２に示されるように、導電性基体をコレクター２３とすることにより、導電性基体の外周面に網目状構造体からなる表面層が形成された導電性部材を直接的に作製することが可能である。また、導電性基体がアース接続される場合、表面の局所的な電位ムラが起きにくく、均質な網目状構造体が形成される。このように、導電性基体の表面に直接網目状構造体からなる表面層を形成する方法は、繊維状堆積物を巻きつける方法よりも、形成される網目状構造体に疎密、厚みの偏りが起きにくく、均質となるため好ましい。また、エレクトロスピニング法にて繊維を作製する場合、コレクターに向かう繊維は、電荷を帯びている。そのため、複数の繊維は、互いの電荷による静電力により、角度をなして堆積されていく。このことは、繊維径の維持、空隙の形成に有利であるため好ましい。
【００７０】
なお、エレクトロスピニング法にて用いられる原料液体を調製する方法としては特に限定されず、公知の方法を適宜用いることができる。原料液体に含まれる溶媒の種類や溶液の濃度も特に限定されるものではなく、エレクトロスピニング法に最適な条件であればよい。また、導電性基体の外周面に均一に網目状構造体からなる表面層を形成するために、紡糸口と導電性基体とは任意の方向に相対的に移動させてもよく、また導電性基体を回転させてもよい。その際、紡糸口と紡糸口に対向する導電性基体の表面との相対的な移動速度よりも、繊維形成速度を速く設定することで、繊維の配向性が低下する。これにより、網目状構造体からなる表面層の柔軟性が向上し、温度や湿度により膨張収縮した際にも、高い接着性を示すことが出来る。なお、繊維形成速度とは、単位時間当たりに導電性基体上に形成される繊維長のことを示す。
【００７１】
（プロセスカートリッジ）
本発明の一態様に係るプロセスカートリッジは、電子写真画像形成装置の本体に着脱可能に構成されており、本発明の一態様に係る導電性部材を具備している。該プロセスカートリッジの一例を図３に示す。図３に示されるプロセスカートリッジは、現像装置と帯電装置を備えている。該現像装置は、現像ローラ３３、トナー３９を収容するトナー容器３６を具備している。また、必要に応じてトナー供給ローラ３４、現像ブレード３８、攪拌羽３１０を備えていても良い。該帯電装置は、感光体ドラム３１、クリーニングブレード３５及び帯電ローラ３２を具備している。さらに、廃トナー容器３７を備えていても良い。帯電ローラ３２、現像ローラ３３、トナー供給ローラ３４及び現像ブレード３８は、それぞれ電圧が印加されるようになっている。本発明の一態様に係る導電性部材は、帯電ローラ３２、現像ローラ３３、およびトナー供給ローラ３４のいずれにも適用することができる。特に、帯電ローラ３２への用途に適している。
【００７２】
（電子写真画像形成装置）
本発明の一態様に係る電子写真画像形成装置は、本発明の一態様に係る導電性部材を具備した電子写真画像形成装置である。該電子写真画像形成装置の一例を図４に示す。図４に示される電子写真画像形成装置は、ブラック（ＢＫ）、マゼンダ（Ｍ）、イエロー（Ｙ）、シアン（Ｃ）の各色トナーについて、図３に示されるプロセスカートリッジがそれぞれ設けられ、このカートリッジが着脱可能に装着されたカラー画像形成装置である。
【００７３】
感光体ドラム４１は矢印方向に回転し、帯電バイアス電源から電圧が印加された帯電ローラ４２によって一様に帯電され、露光光４１１により、その表面に静電潜像が形成される。一方トナー容器４６に収納されているトナー４９は、攪拌羽４１０によりトナー供給ローラ４４へと供給され、現像ローラ４３上に搬送される。そして現像ローラ４３と接触配置されている現像ブレード４８により、現像ローラ４３の表面上にトナー４９が均一にコーティングされると共に、摩擦帯電によりトナー４９へと電荷が与えられる。該静電潜像は、感光体ドラム４１に対して接触配置される現像ローラ４３によって搬送されるトナー４９が付与されて現像され、トナー像として可視化される。可視化された感光体ドラム４１上のトナー像は、一次転写バイアス電源により電圧が印加された一次転写ローラ４１２によって、テンションローラ４１３と中間転写ベルト駆動ローラ４１４によって駆動される中間転写ベルト４１５に転写される。各色のトナー像が順次重畳されて、中間転写ベルト４１５上にカラー像が形成される。
【００７４】
転写材４１９は、給紙ローラにより装置内に給紙され、中間転写ベルト４１５と二次転写ローラ４１６の間に搬送される。二次転写ローラ４１６は、二次転写バイアス電源から電圧が印加され、中間転写ベルト４１５上のカラー像を、転写材４１９に転写する。カラー像が転写された転写材４１９は、定着器４１８により定着処理され、装置外に廃紙されプリント動作が終了する。
【００７５】
一方、転写されずに感光体ドラム４１上に残存したトナーは、感光体ドラム４１の表面からクリーニングブレード４５により掻き取られて、廃トナー収容容器４７に収納され、クリーニングされた感光体ドラム４１は上述した工程を繰り返し行う。また転写されずに中間転写ベルト４１５上に残存したトナーもクリーニング装置４１７により掻き取られる。
【実施例】
【００７６】
＜実施例１＞
〔１．導電性基体の作製〕
導電性基体として、以下の導電性の軸芯体（芯金）を作製した。段階的に外径が異なっている全長２５２ｍｍの快削鋼からなる丸棒を用意した。前記丸棒の両端部１１ｍｍずつを除く中央２３０ｍｍの範囲は外径が８．５ｍｍであり、両端部１１ｍｍの部分は外径が６ｍｍであった。本実施例では、前記導電性の軸芯体（芯金）を導電性ローラとした。
【００７７】
〔２．網目状構造体からなる表面層用の塗工液の調製〕
＜塗工液１の調製＞
非導電性繊維用の材料として、ポリメタクリル酸ターシャリーブチル（ＰｔＢＭＡ）（シグマアルドリッチ製、重量平均分子量１７００００）を用意した。ＰｔＢＭＡを、溶剤であるＮ，Ｎ−ジメチルアセトアミド（ＤＭＡＣ）（キシダ化学製、特級）に溶解させ、固形分が２０質量％となるよう調整して、表面層形成用の塗工液１を調製した。
【００７８】
＜塗工液２〜２５の調製＞
非導電性繊維用の材料、溶剤および固形分濃度を下記表１−１、及び表１−２に記載したように変更した以外は、塗工液１と同様にして塗工液２〜２５を調製した。
【００７９】
【表１】
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【００８０】
ＰｔＢＭＡ：ポリメタクリル酸ターシャリーブチル（Ｒ１：−Ｃ（ＣＨ３）３）；
ＰＭＭＡ：ポリメタクリル酸メチル（Ｒ１：−ＣＨ３）；
ＰＥＭＡ：ポリメタクリル酸エチル（Ｒ１：−ＣＨ２ＣＨ３）
ＰＢＭＡ：ポリメタクリル酸ブチル（Ｒ１：−ＣＨ２ＣＨ２ＣＨ２ＣＨ３）；
ＰｉＢＭＡ：ポリメタクリル酸イソブチル（Ｒ１：−ＣＨ２ＣＨ（ＣＨ３）２）；
ＰｉＰＭＡ：ポリメタクリル酸イソプロピル（Ｒ１：−ＣＨ（ＣＨ３）２）；
Ｐ（Ｂ−ｉＢ）ＭＡ：メタクリル酸ブチル−メタクリル酸イソブチル共重合体；
Ｐ（Ｂ−Ｅ）ＭＡ：メタクリル酸ブチル−メタクリル酸エチル共重合体；
ＰＣＭＡ：ポリメタクリル酸シクロヘキシル（Ｒ１：−Ｃ６Ｈ１１）；
ＰＩＢ：ポリイソブチレン；
ＰＭＳ：ポリαメチルスチレン；
ＰＯＭ：ポリアセタール；
ＰＳ：ポリスチレン；
ＰＢｅｎＭＡ：ポリメタクリル酸ベンジル；
ＤＭＡＣ：Ｎ，Ｎ−ジメチルアセトアミド；
ＨＦＩＰ：１，１，１，３，３，３−ヘキサフルオロ−２−プロパノール。
【００８１】
〔３．導電性部材の製造〕
次にエレクトロスピニング法により前記塗工液１を噴射し、得られる微細繊維をコレクターとして取り付けた前記導電性基体である導電性ローラに直接巻きとることで、導電性基体の外周面に網目状構造体からなる表面層を有する導電性部材１を作製した。
【００８２】
すなわち、まずエレクトロスピニング装置（メック社製、商品名：ＮＡＮＯＮ−０１）のコレクターとして、導電性ローラを備え付けた。次に、塗工液１をタンクに充填した。タンクの先端から導電性ローラまでの距離を１７ｃｍとした。また、温度、相対湿度はそれぞれ３３℃、２０％とした。そして紡糸口に２２ｋＶの電圧を印加しながら左右に１０ｍｍ／ｓで移動させながら、塗工液１を導電性ローラに向けて噴射した。その際、コレクターである導電性ローラは５０ｒｐｍで回転させた。塗工液１を２００秒間噴射することにより、網目状構造体からなる表面層を有する導電性部材１を得た。併せて、評価用に同様の導電性部材１を複数本作製した。尚、表５において、コレクターの回転数（ｒｐｍ）を「ＥＳ回転数（ｒｐｍ）」と表示し、塗工液の噴射時間を「ＥＳ処理時間（秒）」と表示する。以上の条件は表５にまとめた。
【００８３】
〔４．特性評価〕
次に、得られた導電性部材を以下の評価試験に供した。評価結果は表５にまとめた。
【００８４】
（評価４−１．非導電性繊維の放射線崩壊性の確認）
この評価は、本発明に係る表面層を構成する樹脂粒子が、放射線崩壊型の樹脂で形成されているか否かを判定するものである。放射線崩壊型の樹脂であることの確認は、まず、コロナ放電に曝されていない製造直後の電子写真用導電性部材から、表面層を構成している樹脂粒子をサンプリングした。該樹脂粒子を構成する樹脂の分子量を、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー（ＧＰＣ）によって測定した。次いで、所定の方法で、該電子写真用導電性部材について、コロナ放電処理を施した後、該電子写真用導電性部材の表面層を構成する樹脂粒子をサンプリングし、ＧＰＣにて分子量を測定した。そして、コロナ王電の前後における分子量の差異から、樹脂粒子中の樹脂が、放射線崩壊型であるか否かを判定した。以下、詳細に述べる。
【００８５】
まず、製造直後のコロナ放電に一度も曝されていない導電性部材Ａ１の表面層から、５ｍｇの試料を採取した。該試料を、トルエン、クロロベンゼン、テトラヒドロフラン（ＴＨＦ）、トリフルオロ酢酸、１，１，１，３，３，３−ヘキサフルオロ−２−プロパノール（ＨＦＩＰ）のうち、溶解しやすい溶媒を選択して、濃度が１質量％の試料溶液を調製した。実施例１に係る導電性部材１の網目状構造体からサンプリングした試料に関しては、溶媒としてトルエンを用いた。
【００８６】
調製した試料溶液を用いて以下の条件にて分子量を測定した。温度４０℃のヒートチャンバー中でカラムを安定させ、この温度におけるカラムに溶離液として、試料の溶解に用いた溶媒を毎分１ｍＬの流速で流した。該試料溶液の１００μＬをカラムに注入した。試料の分子量は、試料の有する分子量分布を数種の単分散ポリスチレン標準試料（商品名：ＴＳＫｇｅｌ標準ポリスチレン「０００５２０２」〜「０００５２１１」、東ソー社製）により作成された検量線の対数値とリテンションタイムとの関係から算出した。また、ＧＰＣ装置には、ＧＰＣゲル浸透クロマトグラフ装置（商品名：ＨＬＣ−８１２０、東ソー社製）を用いた。検出器には、示差屈折率検出器（商品名：ＲＩ−８０２０、東ソー社製）を用いた。カラムには、市販のポリスチレンゲルカラム（商品名：ＴＳＫ−ＧＥＬ  ＳＵＰＥＲ  ＨＭ−Ｍ、東ソー社製）を３本組み合わせて用いた。コロナ放電処理前の導電性部材１に係る網目状構造体からサンプリングされた試料のＭｗは１７．０万であった。
【００８７】
続いて、導電性部材Ａ１のコロナ放電処理は、コロナ放電表面処理装置（春日電機社製）を用いて行った。実施環境はＨ／Ｈ環境（温度３０℃、相対湿度８０％の環境）であった。
【００８８】
コロナ放電の詳細な方法を、図５を用いて説明する。導電性部材５１の両端部５２を支持部５３で固定し、アルミニウム製のコロナ電極５４の長手方向が、導電性部材５１の長手方向と平行になるように、かつコロナ電極５４の表面が導電性部材５１の表面に向くように位置調整した。コロナ電極５４の表面と導電性部材５１の表面との最近接部分の距離は導電性部材１では１ｍｍであった。支持部５３を毎分３０回転の速度で回転させることで導電性部材５１を回転させ、電極側に電源５５から８ＫＶ印加した状態を２時間継続した。その後、導電性部材５１の網目状構造体から５ｍｇの試料をサンプリングし、上記と同じ方法にてＧＰＣによって重量平均分子量（Ｍｗ）を測定した。そして、コロナ放電後に係る導電性部材からサンプリングした試料のＭｗが、コロナ放電前の導電性部材からサンプリングした試料のＭｗと同一又は低下していれば放射線崩壊型と判定した。一方、重量平均分子量Ｍｗがコロナ放電前後で上昇している場合には放射線架橋型と判定した。導電性部材１の網目状構造体では、不溶成分の割合は０質量％であった。また、重量平均分子量Ｍｗは１６．５万であった。したがって、導電性部材１の網目状構造体を形成する非導電性繊維は放射線崩壊型であった。なお、後述する表５〜９において、本評価の結果、放射線崩壊型樹脂と判定された場合は、「Ｙ」、放射線崩壊型樹脂でないと判定された場合は「Ｎ」と表記した。
【００８９】
（評価４−２．非導電性繊維の繊維径の測定）
網目状構造体からなる表面層を形成する非導電性繊維の繊維径の測定には、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）（日立ハイテク社製、商品名：Ｓ−４８００、２０００倍で観察）を用いた。先ず、導電性部材１から網目状構造体からなる表面層を微小量はぎ取り、はぎ取った網目状構造体からなる表面層の表面を白金蒸着した。次に、白金蒸着した網目状構造体からなる表面層をエポキシ樹脂で包埋し、ミクロトームを用いて断面出しを行った後に、ＳＥＭ観察を行った。ＳＥＭ観察において、円形状に近い断面形状を有する繊維を１００本任意に選択し、それぞれの繊維の直径を計測した。測定した１００本の繊維の繊維径の平均値を平均繊維径ｄとした。
【００９０】
（評価４−３．非導電性繊維の体積抵抗率の測定）
網目状構造体からなる表面層を形成する非導電性繊維の体積抵抗率は、走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）（Ｑｕｅｓａｎｔ  Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔ  Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ社製、商品名：Ｑ−Ｓｃｏｐｅ２５０）を用い、コンタクトモードにて測定した。先ず、導電性部材１から網目状構造体からなる表面層をピンセットで回収し、ステンレス鋼製の金属プレート上に設置した。測定環境は温度２５℃、湿度５０％であった。次に、前記ステンレス鋼製のプレートに直接接触している繊維を一本選び、該繊維一本に対して、ＳＰＭのカンチレバーを接触させ、カンチレバーに５０Ｖの電圧を印加し、電流値を測定した。該電流値から抵抗値を計算した。次に、前記（４−２）に記載の方法で求めた平均繊維径ｄとカンチレバーの接触面積から体積値を計算し、抵抗値を体積抵抗率に変換した。以上の測定を任意の５点で行い、その平均値を非導電性繊維の体積抵抗率とした。
【００９１】
（評価４−４．網目状構造体の繊維間距離）
網目状構造体からなる表面層における繊維間距離は、以下の方法で評価した。レーザー顕微鏡（キーエンス社製、商品名：ＶＸ１００）を用い、導電性部材１について、網目状構造体からなる表面層の外表面に対して垂直方向から観察を行った。レーザー顕微鏡観察時に、１００μｍ四方又は２００μｍ四方の正方形領域を１００箇所任意で選択し、それぞれの正方形領域について、繊維の一部が観察されるか否かの確認を行った。網目状構造体からなる表面層における繊維間距離は、以下の基準で評価した。
ランクＡ：１００μｍ四方の正方形領域（１００箇所）のすべてにおいて繊維の一部が観察される。
ランクＢ：２００μｍ四方の正方形領域（１００箇所）のすべてにおいて繊維の一部が観察される。
【００９２】
（評価４−５．網目状構造体からなる表面層の平均層厚ｔ）
網目状構造体からなる表面層の平均層厚ｔは以下の方法で評価した。導電性基体が表面から見えるように、導電性部材１の網目状構造体からなる表面層の一部をミクロトームにより取り除いた。レーザー顕微鏡（キーエンス社製、商品名：ＶＫ−Ｘ１００）に２００倍対物レンズを装着して、導電性部材１を観察し、導電性基体表面と網目状構造体からなる表面層表面のそれぞれの焦点位置を得た。この位置の差から網目状構造体からなる表面層の厚みを算出した。導電性部材１の任意の１０箇所において前記操作を行い、得られた１０箇所の平均値を網目状構造体からなる表面層の平均層厚ｔとした。
【００９３】
（評価４−６．ガラス転移温度の測定）
網目状構造体からなる表面層を構成する非導電性繊維の樹脂のガラス転移温度は以下の方法で評価した。先ず、導電性部材１の網目状構造体からなる表面層からガラス転移温度を直接評価するためには、必要とする非導電性繊維の本数が多くなるため、簡易評価として、塗工液１を８０℃で加熱して溶媒を揮発させることで、３ｍｇのサンプルを得た。前記サンプルについて、示差走査熱量測定装置（ヤマト科学社製、商品名：ＤＳＣ７０２０ＡＳ）を用いて、示差走査熱量測定を行った。−１３０℃にて３０分間放置した後、１０℃／分の昇温速度にて２５０℃まで変化させながら熱エネルギーの出入りを測定した。装置付属の解析ソフトにより、測定データよりガラス転移温度を得た。ここで得られたガラス転移温度の妥当性を調べるため、複数本の導電性部材１から１ｍｇの網目状構造体からなる表面層をはぎ取り、同様の測定を行ったところ、同じガラス転移温度が得られた。このことから、網目状構造体からなる表面層を構成する非導電性繊維の原料である塗工液１の溶媒を揮発させて得られたサンプルについて、示差走査熱量測定することにより得られたガラス転移温度を、導電性部材１における非導電性繊維の樹脂のガラス転移温度とした。後述の実施例についても同様の操作よりガラス転移温度を得た。
【００９４】
（評価４−７．結晶性樹脂の判定と融点の測定）
網目状構造体からなる表面層を構成する非導電性繊維の結晶性の判定は、熱重量・示差熱（ＴＧ−ＤＴＡ）分析装置（リガク社製、商品名：ＴＧ８１２０）を用いて、融点測定を行うことで行った。すなわち、該測定において融点が得られた樹脂を結晶性樹脂とした。具体的には、導電性部材１から網目状構造体からなる表面層をはぎ取り、アルミニウム製の専用サンプルフォルダに入れて、分析装置に投入した。室温から５００℃まで１０℃／分の速度で温度上昇させて、樹脂の質量変化から、融点を確認した。明確な融点が得られないまま分解まで至る場合は、結晶性でないと判定した。なお、この場合、評価結果を示す表５では、融点の値について斜線（／）で示す。
【００９５】
〔評価５．放電劣化の耐久評価〕
導電性部材１の帯電能の耐久性を以下の方法で評価した。電子写真画像形成装置として、レーザープリンタ（ＨＰ社製、商品名：ＬａｓｅｒＪｅｔ  Ｅｎｔｅｒｐｒｉｓｅ  Ｃｏｌｏｒ  Ｍ５５３ｄｎ）を用意した。その際、記録メディアの出力スピードは３００ｍｍ／ｓｅｃ、画像解像度は１２００ｄｐｉに変更した。
【００９６】
まず、上記レーザープリンタ用のプロセスカートリッジから帯電ローラを取り外し、導電性部材１を帯電ローラとして装着した。なお、導電性部材１と感光体ドラムとの対向距離は、最近接部で１００μｍとなるように調整した。また、該プロセスカートリッジには、感光体ドラムの表面電位を測定可能な装置を組み込んだ。該装置は、表面電位計（トレックジャパン社製、商品名：Ｍｏｄｅｌ３４７）に接続されたプローブ（トレックジャパン社製、商品名：Ｍｏｄｅｌ５５５Ｐ−１）を備え、該プローブの測定部分を感光体ドラムの表面に対して、距離１．０ｍｍで対向配置させた。このプロセスカートリッジを、Ｈ／Ｈ環境（温度３０℃、相対湿度８０％の環境）下に４８時間放置した。次いで、このプロセスカートリッジを、前記レーザープリンタに装着した。
【００９７】
評価は以下の方法で行った。Ｈ／Ｈ環境（温度３０℃、相対湿度８０％の環境）下で、外部電源（商品名：Ｍｏｄｅｌ６１５；トレックジャパン社製）を使用して、導電性部材１の芯金に、１２００Ｖの直流電圧を印加し、べた白画像を出力した。１日当り、２０００枚の画像を出力し、１枚目の出力開始から２４時間後に、再び２０００枚の画像を出力した。この操作を５日間行って、合計１００００枚の画像を出力した。この間、感光体ドラムの表面電位を継続して測定し１枚目の画像出力時の感光体ドラムの表面電位と、１００００枚目の画像出力時の感光体ドラムの表面電位との差（ΔＶｄ１２００）を劣化電位量として求めた。
【００９８】
なお、評価結果を示す後述の表９において、１枚目の画像出力時点で、導電性部材からの放電が不十分で、感光体ドラムの表面を帯電させることができない場合には、「ＮＷ」（Ｎｏｔ  Ｗｏｒｋｅｄ）と評価した。
【００９９】
印加電圧を１２００Ｖとした上記評価にて、ΔＶｄ１２００が１０Ｖ以下であった場合には、引き続いて、印加電圧を１５００Ｖとした以外は、上記と同様の評価を実施して、劣化電位量（ΔＶｄ１５００）を求めた。なお、評価結果を示す後述の表９において、ΔＶｄ１５００の測定を実施しなかった比較例については、「−」（ハイフン）で示す。
【０１００】
〔評価６．耐久評価における体積抵抗率変化の評価〕
網目状構造体の材料変質を確認するために、前記〔５〕の１２００Ｖでの耐久評価前後での体積抵抗率変化について測定した。１２００Ｖでの耐久評価後、前記〔４−３〕と同様に、温度２５℃、湿度５０の環境下で、体積抵抗率を測定した。その結果から、前記〔４−３〕での評価からの低下率をパーセント（％）で算出した。なお、体積抵抗率が２ケタ以上落ちる場合、低下率を９９％以上とする。評価結果を示す後述の表９においては、「９９−」と表記した。
【０１０１】
〔評価７．耐久評価における表面積量変化の評価〕
前記〔５〕の１５００Ｖで耐久評価した導電性部材について、網目状構造体の形状耐久性を以下の方法で確認した。すなわち、１５００Ｖでの耐久評価前後での表面積量の変化を画像解析から行った。なお、前記〔５〕の評価において、１２００Ｖのみ評価を行い１５００Ｖの評価を行わない導電性部材については、この評価は実施せず、「−」（ハイフン）で示す。
【０１０２】
画像解析にはレーザー顕微鏡（キーエンス社製、商品名：ＶＫ−Ｘ１００）を用いた。前記〔５〕の評価前に、導電性部材１の表面について、５０倍対物レンズを装着した上で、２８０μｍ×２１０μｍの領域画像を１００箇所撮影した。続いて前記〔５〕の評価後に、導電性部材１の表面を同様に１００箇所撮影した。装置付属の画像解析ソフトにおいて、画像の深さ方向の情報も考慮した表面積を算出し、２８０μｍ×２１０μｍの面積に対する表面積（表面積／面積）を得た。この値をＳ／Ｓ０と呼ぶ。耐久前後で減少したＳ／Ｓ０の割合をパーセント（％）で算出した。
【０１０３】
＜実施例２〜２２＞
網目状構造体からなる表面層の形成において、塗工液及び形成条件を表５〜７のように変更したこと以外は、実施例１と同様にして導電性部材２〜２２を複数本ずつ製造し、評価した。評価結果を表５〜７に示す。
【０１０４】
＜実施例２３＞
導電性基体として、無電解ニッケルメッキ処理が施されていない銅製の丸棒を用いた以外は、実施例１と同様にして導電性部材２３を製造し評価した。評価結果を表７に示す。
【０１０５】
＜実施例２４＞
導電性基体として、無電解ニッケルメッキ処理が施されていないアルミニウム製の丸棒を用いた以外は、実施例１と同様にして導電性部材２４を製造し評価した。評価結果を表７に示す。
【０１０６】
＜実施例２５、２６＞
表３に示される種類と量の各材料を加圧式ニーダーで混合してＡ練りゴム組成物を得た。さらに、前記Ａ練りゴム組成物１６６質量部と、表２に示される種類と量の各材料をオープンロールにて混合し、Ｂ練りゴム組成物を調製した。
【０１０７】
【表２】
2018055090.tif 000006
【０１０８】
【表３】
2018055090.tif 000007
【０１０９】
快削鋼の表面に無電解ニッケルメッキ処理を施した全長２５２ｍｍ、外径６ｍｍの丸棒を用意した。次に前記丸棒の両端部１１ｍｍずつを除く２３０ｍｍの範囲に、全周にわたって接着剤を塗布した。該接着剤には、導電性のホットメルトタイプのものを使用した。また、該接着剤の塗布にはロールコーターを用いた。該接着剤を塗布した丸棒を導電性の軸芯体（芯金）として使用した。該芯金表面に、以下の方法で導電性樹脂層を設けた。導電性の軸芯体の供給機構、未加硫ゴムローラの排出機構を有するクロスヘッド押出機を用意した。該クロスヘッドには内径１２．５ｍｍのダイスを取付けた。押出機とクロスヘッドを８０℃に、導電性の軸芯体の搬送速度を６０ｍｍ／ｓｅｃに調整した。この条件で、押出機より前記Ｂ練りゴム組成物を供給して、クロスヘッド内にて前記導電性の軸芯体の外周面に前記Ｂ練りゴム組成物の層を形成し、未加硫ゴムローラを得た。次に、１７０℃の熱風加硫炉中に前記未加硫ゴムローラを投入し、６０分間加熱することで未研磨導電性ローラを得た。その後、前記層の端部を切除した。最後に、前記層の表面を回転砥石で研磨した。これによって、中央部から両端部側へ各９０ｍｍの位置における各直径が８．４ｍｍ、中央部直径が８．５ｍｍの導電性ローラを得た。
【０１１０】
前記導電性ローラを導電性基体として用いて、塗工液及び形成条件を表７のように変更したこと以外は、実施例１と同様にして導電性部材２５、２６を複数本ずつ製造し、評価した。評価結果を表７に示す。
【０１１１】
＜実施例２７、２８＞
実施例２５及び２６で用いた芯金上に導電性樹脂層を次のように作製した。表４に記載の材料をオープンロールにて混合して得られた未加硫ゴム組成物を用いて、実施例２５及び２６と同様の操作で導電性ローラを作製した。
【０１１２】
【表４】
2018055090.tif 000008
【０１１３】
前記導電性ローラを導電性基体として用いて、塗工液及び形成条件を表７のように変更したこと以外は、実施例１と同様にして導電性部材２７、２８を複数本ずつ製造し、評価した。評価結果を表７に示す。
【０１１４】
＜実施例２９〜３１＞
低分子量のポリメタクリル酸ターシャリーブチル（ＰｔＢＭＡ）を得るため、以下の操作を行った。ターシャリーブチルアクリレート（ｔＢＭＡ）２０ｇ（０．１５６ｍｏｌ）、２−ブロモプロピオン酸メチル（ＭＢｒＰ）０．０８７ｍｌ（５．２ｍｍｏｌ）、ヘキサメチレントリエチレンテトラアミン（ＨＭＴＥＴＡ）０．６３８ｍｌ（２．３４ｍｍｏｌ）、及びＮ，Ｎ−ジメチルホルムアミド（ＤＭＦ）５．４ｇを混合した。混合物に対して１０分間窒素でバブリングし溶存酸素を除いた。次いで、この溶液に臭化銅（Ｉ）０．３３６ｇ（２．３４ｍｍｏｌ）を加え、さらに１０分間窒素バブリングを行った後、三方コックを閉じ、７０℃のオイルバスで重合反応を行った。反応系は緑色均一系であり、反応の進行と共に粘度が上昇した。３時間後、フラスコをオイルバスから取り出し、液体窒素で急冷することにより、重合反応を停止した。重合生成物をアセトンで希釈（ポリマー濃度：約２０質量％）した後、アルミナカラムを通して触媒残渣を除去し、次いで０℃に冷やしたメタノール／水（１／１、ｖ／ｖ）に再沈殿させて精製した。さらに再沈殿回収物をジエチルエーテルに溶解し、メタノール／水（１／１、ｖ／ｖ）に３回再沈殿を繰り返すことにより、未反応モノマーを除去した。これにより、末端に臭素（Ｂｒ）を有するマクロイニシエーター（ＰｔＢＭＡ−Ｂｒ）を白色固体として得た。ＰｔＢＭＡ−Ｂｒの収量は１４．７ｇであり、ＧＰＣ測定による重量平均分子量（Ｍｗ）は０．５万であった。
【０１１５】
前記白色固体を塗工液１へ、塗工液１中のＰｔＢＭＡに対し、ＰｔＢＭＡ−Ｂｒの含有量がそれぞれ５、１０、１５質量％となるように添加した。この塗工液を用いて、形成条件を表８のように変更したこと以外は、実施例１と同様にして導電性部材２９、３０、３１を複数本ずつ製造し、評価した。評価結果を表８に示す。なお、放射線崩壊型の確認などにおける分子量測定（ＧＰＣ）では、分子量１万以上の成分のみに注目して分析を行った。
【０１１６】
＜実施例３２＞
塗工液４へ、重量平均分子量４０００のＰＭＭＡ（シグマアルドリッチ製）を、その含有量が樹脂成分（重量平均分子量９９．６万のＰＭＭＡ）に対して５質量％となるように添加した。この塗工液を用いて、形成条件を表８のように変更したこと以外は、実施例１と同様にして導電性部材３２を複数本ずつ製造し、評価した。評価結果を表８に示す。なお、放射線崩壊型の確認などにおける分子量測定（ＧＰＣ）では、分子量１万以上の成分のみに注目して分析を行った。
【０１１７】
＜実施例３３〜３４＞
塗工液１、塗工液１７のそれぞれへ、ラジカル捕捉剤であるｐ−ヒドロキノン（シグマアルドリッチ製）を、その含有量が樹脂成分に対して５質量％となるように添加した。この塗工液を用いて、形成条件を表８のように変更したこと以外は、実施例１と同様にして導電性部材３３、３４を複数本ずつ製造し、評価した。評価結果を表８に示す。
【０１１８】
＜比較例１〜３＞
網目状構造体からなる表面層の形成において、塗工液及び形成条件を表９のように変更したこと以外は、実施例１と同様にして導電性部材３５〜３７を複数本ずつ製造し、評価した。評価結果を表９に示す。なお、比較例１〜３で使用した塗工液に含まれる樹脂成分は放射線架橋型の樹脂であり、本発明の一態様要件を満たさない。比較例１〜３ではΔＶｄが非常に大きくなり放電劣化を示した。
【０１１９】
＜比較例４＞
導電性の軸芯体を市販の金属ワイヤー（直径１０μｍの銅線、エレクトリゾーラ社製）で被覆することで導電性部材３８を製造したこと以外は、実施例１と同様にして導電性部材３８を複数本ずつ製造し、評価した。評価結果を表９に示す。なお、比較例４における網目状構造体からなる表面層は導電性繊維で構成されており、本発明の要件を満たさない。比較例４では、放電劣化の耐久評価において放電が起きず、感光体ドラムを帯電させることができなかった。
【０１２０】
＜比較例５＞
塗工液４の固形分１００質量部に対してカーボンブラック（ＨＡＦ）を１５質量部加えた塗工液を用い、形成条件を表９のように変更したこと以外は、実施例１と同様にして導電性部材３９を複数本ずつ製造し、評価した。評価結果を表９に示す。なお、比較例５における網目状構造体からなる表面層は導電性繊維で構成されており、本発明の要件を満たさない。比較例５では感光体ドラムを帯電させることができなかった。
【０１２１】
【表５】
2018055090.tif 000009
【０１２２】
【表６】
2018055090.tif 000010
【０１２３】
【表７】
2018055090.tif 000011
【０１２４】
【表８】
2018055090.tif 000012
【０１２５】
【表９】
2018055090.tif 000013
【符号の説明】
【０１２６】
１１  網目状構造体からなる表面層
１２  導電性の軸芯体（芯金）
１３  導電性樹脂層
【図１】
2018055090.tif 000015
【図２】
2018055090.tif 000016
【図３】
2018055090.tif 000017
【図４】
2018055090.tif 000018
【図５】
2018055090.tif 000019