(57)【要約】本発明は、複数の並置されｘ方向に延びた検出器行（５）を備え、各検出器行（５）が多数の並置されたシンチレータ素子（６）からなるＸ線コンピュータ断層撮影用検出器に関する。ｚ方向分解能を高め、検出器の組立を簡単化するために、本発明によれば、ｚ方向におけるアパーチャを縮小するためにシンチレータ素子（６）の表面を部分的に覆うアパーチャ縮小化手段が設けられている。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の並置されｘ方向に延びる検出器行（５）を備え、各検出器行（５）が多数の並置されたシンチレータ素子（６）からなり、入射するＸ線に関する各シンチレータ素子（６）のアパーチャが、ｚ方向に延びた長さ（Δｚ）とｘ方向に延びた幅（Δｈ）とを有する表面によって与えられているＸ線コンピュータ断層撮影用検出器において、
ｚ方向におけるアパーチャを縮小するためにシンチレータ素子（６）の表面を部分的に覆うアパーチャ縮小化手段が設けられていることを特徴とするＸ線コンピュータ断層撮影用検出器。
【請求項２】
アパーチャ縮小化手段は複数の平行に並置された帯状体（１１）からなることを特徴とする請求項１記載の検出器。
【請求項３】
帯状体（１１）はシンチレータ素子（６）のｘ方向に延びる縁部を覆うことを特徴とする請求項１又は２に記載の検出器。
【請求項４】
帯状体（１１）は、シンチレータ素子（６）がｚ方向にほぼ同じアパーチャ（Δｚ*）を有するように、ｚ方向に予め与えられた相互間隔Δｚ*で配置されていることを特徴とする請求項１乃至３の１つに記載の検出器。
【請求項５】
アパーチャ縮小化手段は、さらにシンチレータ素子（６）のｚ方向に延びる縁部を覆う横断帯状体（１３）を有することを特徴とする請求項１乃至４の１つに記載の検出器。
【請求項６】
アパーチャ縮小化手段は、シンチレータ表面によって形成された検出器表面に装着可能な絞り（１０）の形で一体形成されていることを特徴とする請求項１乃至５の１つに記載の検出器。
【請求項７】
アパーチャ縮小化手段は、Ｘ線を有効に吸収する金属、とりわけ鉛またはタングステンから作られていることを特徴とする請求項１乃至６の１つに記載の検出器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、請求項１の前文によるＸ線コンピュータ断層撮影用検出器に関する。
【０００２】
このような検出器は例えば独国特許出願公開第１９５０２５７４号明細書により公知である。公知の検出器はいわゆる複数行検出器である。この複数行検出器は、投射される対象物（例えば患者）の軸線方向に並置されている複数の検出器行を有する。上記の軸線はｚ軸とも呼ばれる。各検出器行は、ｚ軸に対して垂直に延びるｘ方向に、多数の並置されたシンチレータ素子を有する。
【０００３】
このような複数行検出器のｚ方向分解能はシンチレータ素子のｚ方向高さに依存する。シンチレータ素子のｚ方向高さは技術的理由から任意に減らすことはできない。従来の複数行検出器のｚ方向分解能はこの理由から制限されている。
【０００４】
本発明の課題は従来技術における欠点を除去することにある。本発明の課題は、とりわけ、予め与えられた行数つまり行高さにおいてｚ方向分解能の改善が可能である、できるだけ簡単かつコスト的に手頃に製造可能なＸ線コンピュータ断層撮影用検出器を提供するものである。
【０００５】
この課題は請求項１の特徴事項によって解決される。好ましい構成は請求項１乃至７の特徴事項からもたらされる。
【０００６】
本発明にしたがって、ｚ方向におけるアパーチャを縮小するためにシンチレータ素子の表面を部分的に覆うアパーチャ縮小化手段が設けられる。提案された手段は簡単かつコスト的に手頃にｚ方向分解能の向上を可能にする。提案された解決策は普遍的である。従来のシンチレータ素子を使用することができる。従来の複数行検出器の装備を後から変更することも可能である
【０００７】
アパーチャ縮小化手段は複数の平行に並置された帯状体から形成されていると望ましく、帯状体はシンチレータ素子のｘ方向に延びる縁部を覆うと好ましい。提案された手段は、縁部がｘ方向において小さな切れ目を有するシンチレータ素子を使用することも可能にする。
【０００８】
他の構成によれば、帯状体は、シンチレータ素子がｚ方向にほぼ同じアパーチャを有するように、ｚ方向に予め与えられた相互間隔で配置されている。これは検出器の製造を容易にする。さらに、アパーチャ縮小化手段は、さらにシンチレータ素子のｚ方向に延びる縁部を覆う横断帯状体を有する。これにより、アパーチャはｘ方向においても縮小化される。この場合、シンチレータ素子のｚ方向に延びた縁部も従来技術に基づいて必要とされた品質をもはや持たなくてもよい。
【０００９】
アパーチャ縮小化手段は、シンチレータ表面によって形成された検出器表面に装着可能な絞りの形で一体形成されていると好ましい。これは従来の検出器の装備を後から変更することを可能にする。絞りはｚ方向に対して垂直に延びる対称平面に関して対称的に形成されている。
【００１０】
有利な構成によれば、アパーチャ縮小化手段は、Ｘ線を有効に吸収する金属、とりわけ鉛またはタングステンから作られている。
【００１１】
以下において図面に基づいて本発明の実施例を詳細に説明する。
図１は従来技術による検出器装置の斜視図、
図２は検出器の平面図、
図３は本発明による絞りを備えた図２による検出器、
図４は本発明による他の絞りを備えた図３による検出器を示す。
【００１２】
図１には、図示されていない絞りによって絞り込まれたファン状のＸ線ビーム束２を発するＸ線源の焦点１が示されている。Ｘ線ビーム束２は被検体３を透過して検出器４に入射する。検出器４は複数の平行な検出器行５を有し、これらの各検出器行５は多数の並置されたシンチレータ素子６から構成されている。投射される被検体３の軸線に平行に延びるｚ軸は符号７を付されている。ｚ軸は検出器４を含む測定システムの回転軸線に平行である。この測定システムは回転軸線７の周りを回転するので、被検体３は種々の投影角度で投射される。その際に形成された検出器信号からコンピュータ８が被検体３の画像を算出し、その画像がモニタ９において再生される。
【００１３】
図２は検出器４の平面図を示す。検出器４はｚ方向に並置された複数の検出器行５からなる。各行は、ｚ方向に対して垂直に延びるｘ方向において、並置されたシンチレータ素子６からなる。シンチレータ素子６は、それぞれ等しい高さΔｚおよび均一の幅Δｈを有する。各検出器素子６のアパーチャは、ｚ方向に高さΔｚおよびｘ方向に幅Δｈを有する表面によって与えられている。
【００１４】
図３では検出器素子６の全ての表面から生じる検出器表面が部分的に絞り１０によって覆われている。絞り１０はｘ方向に延びる複数の帯状体１１からなり、これらの帯状体１１の両側はｚ方向に延びる帯状体１２に固定されている。絞り１０は鉛またはタングステンから作られていると好ましい。絞り１０は検出器素子６のｘ方向に延びる縁部を覆うように配置されている。絞り１０により、簡単に、検出器素子６のアパーチャをｚ方向において縮小化することができる。検出器表面上への絞りの１０の取付け後、ｚ方向において狭くなったアパーチャΔｚ*が生じる。提案された絞り１０は簡単にｚ方向分解能の改善を可能にする。
【００１５】
図４に示された実施例の場合、図３に示された絞り１０が付加的に横断帯状体１３を有する。横断帯状体１３は検出器素子６のｚ方向の縁部を覆うように取付けられている。横断帯状体１３および帯状体１１は格子を形成している。格子によって形成されたアパーチャは矩形に形成されている。この提案された他の絞り１０は、シンチレータ素子の予め与えられた大きさにおいて、ｘ方向にもｚ方向にも分解能を改善することができる。従来の検出器は大きな費用なしにこのような絞りを備えることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】従来技術による検出器装置の斜視図
【図２】検出器の平面図
【図３】本発明による絞りを備えた図２による検出器を示す平面図
【図４】本発明による他の絞りを備えた図３による検出器を示す平面図
【符号の説明】
【００１７】
１        焦点
２        Ｘ線ビーム束
３        被検体
４        検出器
５        検出器行
６        シンチレータ素子、検出器素子
７        回転軸線
８        コンピュータ
９        モニタ
１０        絞り
１１        帯状体
１２        帯状体
１３        横断帯状体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【国際調査報告】
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