(57)【要約】【課題】ＲＦＩＤのリテンション期間を正確に算出する。【解決手段】ＲＦＩＤデータ管理装置１０は、ＲＦＩＤデータ取得部１２、関連データ取得部１４、および、残時間算出部１５を備える。ＲＦＩＤデータ取得部１２は、ＲＦＩＤ９０の識別情報を含むＲＦＩＤ管理データを取得する。関連データ取得部１４は、ＲＦＩＤ９０の使用開始日を含むＲＦＩＤ関連データを取得する。残時間算出部１５は、識別情報とＲＦＩＤの環境温度とに依存するデータ保証期間と、環境温度と、を用いて、ＲＦＩＤ９０のデータ保証の残時間を算出する。残時間算出部１５は、ＲＦＩＤの製造日から使用開始タイミングまでの第１期間の環境温度および該第１期間の環境温度に応じたデータ保証期間と、使用開始タイミングから確認タイミングまでの第２期間の環境温度および該第２期間の環境温度に応じたデータ保証期間と、を用いて、残時間を算出する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＲＦＩＤの識別情報を含むＲＦＩＤ管理データを取得するＲＦＩＤデータ取得部と、
前記ＲＦＩＤの使用開始日を含むＲＦＩＤ関連データを取得する関連データ取得部と、
前記識別情報と前記ＲＦＩＤの環境温度とに依存するデータ保証期間と、前記環境温度と、を用いて、前記ＲＦＩＤのデータ保証の残時間を算出する残時間算出部と、
を備え、
前記残時間算出部は、
前記ＲＦＩＤの製造日から使用開始タイミングまでの第１期間における前記ＲＦＩＤの環境温度および該第１期間におけるＲＦＩＤの環境温度に応じたデータ保証期間と、
前記使用開始タイミングから前記データ保証の残時間の確認タイミングまでの第２期間における前記ＲＦＩＤの環境温度および該第２期間におけるＲＦＩＤの環境温度に応じたデータ保証期間と、
を用いて、前記残時間を算出する、
ＲＦＩＤデータ管理装置。
【請求項２】
前記残時間算出部は、
前記環境温度に基づく前記データ保証期間の減少率を用いて、前記残時間を算出する、
請求項１に記載のＲＦＩＤデータ管理装置。
【請求項３】
前記環境温度を計測する温度計測部を備え、
前記残時間算出部は、
前記温度計測部が計測した環境温度を用いて、前記残時間を算出する、
請求項１または請求項２に記載のＲＦＩＤデータ管理装置。
【請求項４】
前記環境温度は、各環境に応じた最高温度である、
請求項１または請求項２に記載のＲＦＩＤデータ管理装置。
【請求項５】
前記ＲＦＩＤのデータの再書き込みの判定を行う判定部を備え、
前記判定部は、
前記残時間が再書き込み判定用閾値とを比較して、再書き込みが必要であるか否かと判定する、
請求項１乃至請求項４のいずれかに記載のＲＦＩＤデータ管理装置。
【請求項６】
前記ＲＦＩＤへのデータの再書き込みを実行する再書き込み実行部を備え、
前記再書き込み実行部は、
前記再書き込みが必要であると判定されると、前記ＲＦＩＤへのデータの再書き込みを実行する、
請求項５に記載のＲＦＩＤデータ管理装置。
【請求項７】
データ処理装置が、
ＲＦＩＤの識別情報を含むＲＦＩＤ管理データを取得するＲＦＩＤデータ取得工程と、
前記ＲＦＩＤの使用開始日を含むＲＦＩＤ関連データを取得する関連データ取得工程と、
前記識別情報と前記ＲＦＩＤの環境温度とに依存するデータ保証期間と、前記環境温度と、を用いて、前記ＲＦＩＤのデータ保証の残時間を算出する残時間算出工程と、
を実行し、
前記残時間算出工程では、
前記ＲＦＩＤの製造日から使用開始タイミングまでの第１期間における前記ＲＦＩＤの環境温度および該第１期間における前記ＲＦＩＤの環境温度に応じたデータ保証期間と、
前記使用開始タイミングから前記データ保証の残時間の確認タイミングまでの第２期間における前記ＲＦＩＤの環境温度および該第２期間における前記ＲＦＩＤの環境温度に応じたデータ保証期間と、
を用いて、前記残時間を算出する、
ＲＦＩＤデータ管理方法。
【請求項８】
ＲＦＩＤの識別情報を含むＲＦＩＤ管理データを取得するＲＦＩＤデータ取得処理と、
前記ＲＦＩＤの使用開始日を含むＲＦＩＤ関連データを取得する関連データ取得処理と、
前記識別情報と前記ＲＦＩＤの環境温度とに依存するデータ保証期間と、前記環境温度と、を用いて、前記ＲＦＩＤのデータ保証の残時間を算出する残時間算出処理と、
を含み、
前記残時間算出処理において、
前記ＲＦＩＤの製造日から使用開始タイミングまでの第１期間における前記ＲＦＩＤの環境温度および該第１期間における前記ＲＦＩＤの環境温度に応じたデータ保証期間と、
前記使用開始タイミングから前記データ保証の残時間の確認タイミングまでの第２期間における前記ＲＦＩＤの環境温度および該第２期間における前記ＲＦＩＤの環境温度に応じたデータ保証期間と、
を用いて、前記残時間を算出する処理を、
データ処理装置に実行させる、ＲＦＩＤデータ管理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、製造ライン等の特殊な温度環境で使用されるＲＦＩＤのデータの管理技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
製造ライン等の通常よりも過酷な温度環境において、装置等のストレスを監視する方法が考案されている。例えば、特許文献１の方法では、対象装置に温度センサを装着し、当該温度センサで検出した温度に応じて、対象装置に対するストレスをカウントしている。
【０００３】
このような過酷な温度環境での利用を前提としない電子部品として、ＲＦＩＤを備えた電子タグ（ＲＦＩＤタグ）がある。ＲＦＩＤは、ＩＣチップとアンテナとを備え、ＩＣチップにはシリアル番号等の各種のデータを記憶させておくことができる。このため、ＲＦＩＤは、当該ＲＦＩＤタグが装着される物品の管理に多く利用されている。
【０００４】
特許文献２の方法は、ＲＦＩＤには、ＲＦＩＤが装着される物品に対する物流情報が記憶されている。管理装置は、ＲＦＩＤの物流情報を読み取ることによって、物品の管理を行っている。
【０００５】
特許文献３の方法では、ＲＦＩＤは、治工具に装着されている。ＲＦＩＤには、治工具の稼働履歴が記憶されている。管理装置は、ＲＦＩＤの稼働履歴を読み取ることによって、治工具の管理を行っている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開２０１１−２２７７５６号公報
【特許文献２】特開２００５−２２８０２６号公報
【特許文献３】特開２０１２−６９７３３号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、ＲＦＩＤは、長期間における熱履歴によって、書き込まれているデータが消えたり、データ化けを生じたりしてしまう。このＲＦＩＤにおけるデータの書き込みから当該データに変化が生じるまでの期間は、リテンション期間と言われている。
【０００８】
特に、高温の温度環境では、２５℃等の一般的な温度環境と比較して、リテンション期間が短くなってしまう。このため、一般的な温度環境と同じ管理を行っていると、データの変化が生じて、ＲＦＩＤに元々書き込まれていた正確なデータを読み出すことができなくなってしまう。
【０００９】
したがって、本発明の目的は、リテンション期間を正確に算出するＲＦＩＤデータの管理技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
ＲＦＩＤデータ管理装置は、ＲＦＩＤデータ取得部、関連データ取得部、および、残時間算出部を備える。ＲＦＩＤデータ取得部は、ＲＦＩＤの識別情報を含むＲＦＩＤ管理データを取得する。関連データ取得部は、ＲＦＩＤの使用開始日を含むＲＦＩＤ関連データを取得する。残時間算出部は、識別情報とＲＦＩＤの環境温度とに依存するデータ保証期間と、環境温度と、を用いて、ＲＦＩＤのデータ保証の残時間を算出する。この際、残時間算出部は、ＲＦＩＤのデータ保証の確認タイミングが、ＲＦＩＤの使用開始タイミングよりも後である場合に、ＲＦＩＤの製造日から使用開始タイミングまでの第１期間におけるＲＦＩＤの環境温度および該第１期間におけるＲＦＩＤの環境温度に応じたデータ保証期間と、使用開始タイミングから確認タイミングまでの第２期間におけるＲＦＩＤの環境温度および該第２期間におけるＲＦＩＤの環境温度に応じたデータ保証期間と、を用いて、残時間を算出する。
【００１１】
この構成では、使用開始前（第１期間）の環境温度と、使用開始後（第２期間）の環境温度とを用いて、ＲＦＩＤのデータ保証の残時間が算出される。
【００１２】
また、この発明のＲＦＩＤデータ管理装置では、残時間算出部は、環境温度に基づくデータ保証期間の減少率を用いて残時間を算出する。
【００１３】
この構成では、１週間当たりの減少量、１ヶ月当たりの残時間の減少量等を用いて、残時間が算出される。
【００１４】
また、この発明のＲＦＩＤデータ管理装置は、環境温度を計測する温度計測部を備える。残時間算出部は、温度計測部が計測した環境温度を用いて、残時間を算出する。
【００１５】
この構成では、実使用の温度で残時間が算出される。
【００１６】
また、この発明のＲＦＩＤデータ管理装置では、環境温度は、各環境に応じた最高温度である。
【００１７】
この構成では、考え得る最も短い時間で残時間が算出される。
【発明の効果】
【００１８】
この発明によれば、ＲＦＩＤのリテンション期間を正確に算出できる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の第１の実施形態に係るＲＦＩＤデータ管理装置の機能ブロックを示す図である。
【図２】本発明の実施形態に係るＲＦＩＤデータ管理装置を含むシステムの概略構成図である。
【図３】リテンション期間の温度依存性の一例を示すグラフである。
【図４】ＲＦＩＤの関連データの内容例を示す表である。
【図５】（Ａ）、（Ｂ）は、残日数の算出概念を説明する図である。
【図６】本発明の第１の実施形態に係るＲＦＩＤデータ管理方法のフローチャートである。
【図７】再書き込みを行った場合の残日数の算出概念を説明する図である。
【図８】再書き込みを自動で行う場合のＲＦＩＤデータ管理方法のフローチャートである。
【図９】本発明の第２の実施形態に係るＲＦＩＤデータ管理装置の機能ブロックを示す図である。
【図１０】本発明の第２の実施形態に係るＲＦＩＤデータ管理方法のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２０】
本発明の第１の実施形態に係るＲＦＩＤデータ管理技術について、図を参照して説明する。図１は、本発明の第１の実施形態に係るＲＦＩＤデータ管理装置の機能ブロックを示す図である。図２は、本発明の実施形態に係るＲＦＩＤデータ管理装置を含むシステムの概略構成図である。
【００２１】
図１に示すように、ＲＦＩＤデータ管理装置１０は、無線通信部１１、ＲＦＩＤデータ取得部１２、通信部１３、関連データ取得部１４、残時間算出部１５、判定部１６、および、通知部１７を備える。ＲＦＩＤデータ管理装置１０は、例えば、ＲＦＩＤリーダライタであり、図１、図２示すように、ＲＦＩＤ９０と無線通信する。また、図１、図２に示すように、ＲＦＩＤデータ管理装置１０は、通信ネットワークを介して、システムサーバ２０に接続されている。
【００２２】
図２に示すように、ＲＦＩＤ９０は、製造ラインに配置されたＦＡ（ファクトリーオートメーション）の制御機器９０１に装着されている。制御機器９０１は、ガイドレール９０２を介して、制御装置９００に固定されている。製造ラインにおいては、環境温度は、常温よりも高いことがあり、例えば、約５０℃を超える環境温度となる。このため、ＲＦＩＤ９０の環境温度は、例えば、約１００℃の高温となることがある。
【００２３】
ＲＦＩＤ９０には、リテンション期間が存在する。リテンション期間は、新規に記憶したデータが消失または変化することなく維持できる時間長であり、所謂、データ保証期間である。リテンション期間は、予めＲＦＩＤ９０の種類（型式等）毎に決まっている。また、リテンション期間は、図３に示すような温度依存性を有する。図３は、リテンション期間の温度依存性の一例を示すグラフである。図３における縦軸はリテンション期間であり、横軸はＲＦＩＤ９０の環境温度である。なお、リテンション期間が温度依存性を有することは、ＲＦＩＤの種類によらず同様である。そして、図３に示すように、ＲＦＩＤ９０の環境温度が高くなるほど、ＲＦＩＤ９０のリテンション期間は、短くなる。
【００２４】
ＲＦＩＤデータ管理装置１０の無線通信部１１は、ＲＦＩＤ９０と無線通信を行う。ＲＦＩＤデータ取得部１２は、無線通信によってＲＦＩＤ９０から送信されたＲＦＩＤ管理データを取得する。ＲＦＩＤ管理データは、ＲＦＩＤ９０のシリアル番号等の識別番号を含んでいる。
【００２５】
通信部１３は、システムサーバ２０との間でデータ通信を行う。関連データ取得部１４は、データ通信によってシステムサーバ２０から送信されたＲＦＩＤ関連データを取得する。図４は、ＲＦＩＤの関連データの内容例を示す表である。図４に示すように、ＲＦＩＤ関連データは、ＲＦＩＤ９０のシリアル番号等の識別番号、ＲＦＩＤ９０の型式、ＲＦＩＤ９０の製造日、ＲＦＩＤ９０に対する過去のリード回数、ＲＦＩＤ９０のアクティベーション日を含む。アクティベーション日は、ＲＦＩＤデータ管理装置１０がＲＦＩＤ９０に対して初めて送受信を行った日である。通常は、アクティベーション日は、ＲＦＩＤ９０の実使用環境での使用開始日である。
【００２６】
残時間算出部１５は、ＲＦＩＤ管理データと関連データとから、温度毎のリテンション期間を取得または算出する。なお、残時間算出部１５は、全ての温度のリテンション期間を取得または算出する必要はなく、少なくともＲＦＩＤ９０の保管時の環境温度および使用時の環境温度に応じたリテンション期間を取得または算出すればよい。
【００２７】
残時間算出部１５は、詳細は後述するが、データ保証の確認タイミングにおいて、リテンション期間と環境温度とを用いて、ＲＦＩＤ９０のデータ保証の残時間を算出する。この際、残時間算出部１５は、ＲＦＩＤ９０のデータ保証の確認タイミングが、ＲＦＩＤの使用開始タイミングよりも後である場合に、第１期間と第２期間とを設定し、残日数を算出する。
【００２８】
判定部１６は、残日数と再書き込み判定閾値とを比較する。再書き込み判定閾値は、温度とリテンション期間によって決定されており、データが消失または変化するとされる日時よりも所定時刻（日数）だけ時間軸上において前の値（数日前等）に設定されている。判定部１６は、残日数が再書き込み判定閾値に達していると判定すると、無線通信部１１を介して、ＲＦＩＤ９０に対するデータの再書き込みを実行する。判定部１６は、残日数が再書き込み判定閾値に達していないと判定すると、再書き込み処理を実行しない。また、判定部１６は、この判定結果を通知部１７に出力する。通知部１７は、判定結果を、画像、発光、音等の少なくとも１種類によって外部に通知する。これにより、作業者は、ＲＦＩＤ９０のデータの再書き込みの有無を認識できる。
【００２９】
なお、ここでは、自動で再書き込みが実行される態様を示したが、作業者からの操作を受けてから、再書き込みを実行しもよい。
【００３０】
次に、残日数算出の具体的な方法について、図５（Ａ）、図５（Ｂ）を参照して説明する。図５（Ａ）、図５（Ｂ）は、残日数の算出概念を説明する図である。図５の縦軸は、残日数ＤＲであり、横軸は経過時間ｔである。経過時間ｔは、製造日を０としている。なお、図５（Ａ）と図５（Ｂ）とでは、使用時の環境温度が異なり、図５（Ｂ）の環境温度Ｔ２は、図５（Ａ）の環境温度Ｔ１よりも高温である。
【００３１】
（Ａ）環境温度Ｔ１の場合
図５（Ａ）に示すように、残時間算出部１５は、第１期間において、製造日を基準にして、第１期間における環境温度ＴＳ（保存時環境温度：例えば２５℃）とこの環境温度ＴＳに応じたリテンション期間の減少率ＧｒＳ（第１減少率）とを用いて、第１期間における第１の残日数、すなわちアクティベーション日ＴＡでの残日数ＤＲＡを算出する。減少率ＧｒＳは、環境温度ＴＳでのリテンション期間ＲＴＳ（図３参照）から算出できる。
【００３２】
残時間算出部１５は、このアクティベーション日ＴＡを基準にして、第２期間における環境温度Ｔ１（実使用環境温度：例えば７０℃）とこの環境温度Ｔ１に応じたリテンション期間の減少率ＧｒＲ１（第２減少率）とを用いて、第２期間における第２の残日数を算出する。減少率ＧｒＲ１は、環境温度Ｔ１でのリテンション期間ＲＴＲ１（図３参照）から算出できる。減少率ＧｒＲ１は、減少率ＧｒＳよりも高い。すなわち、実使用期間は、保存期間よりも環境温度が高いので、リテンション期間は短くなる。この処理を用いることによって、このような環境温度の上昇によるリテンション期間が短くなることに対する残日数の算出への補正を正確に行える。
【００３３】
残時間算出部１５は、これら第１の残日数と第２の残日数とを積算することによって、ＲＦＩＤ９０の残日数ＤＲ１を算出する。なお、ここでは、第１の残日数と第２の残日数とを個別に算出する方法を示したが、減少率ＧｒＳ、ＧｒＲ１と、確認タイミング、製造日およびアクティベーション日による残日数の関数を設定し、当該関数によって残日数を算出してもよい。
【００３４】
このように、残時間算出部１５は、保存期間と実使用期間のように、環境温度が異なる複数の期間が存在しても、それぞれのリテンション期間を用いて、残日数を算出する。これにより、残日数を正確に算出できる。
【００３５】
例えば、従来では、保存期間も実使用期間と同様のリテンション期間が適用されて、残日数が算出されていた。この場合、残日数が実際よりも短くなってしまう。しかしながら、本実施形態の構成および処理を用いることによって、正確な残日数を算出できる。これにより、ＲＦＩＤ９０への再書き込みの不要な増加を抑制できる。
【００３６】
（Ｂ）環境温度Ｔ２（＞Ｔ１）の場合
図５（Ｂ）に示すように、残時間算出部１５は、第１期間において、製造日を基準にして、第１期間における環境温度ＴＳ（保存時環境温度：例えば２５℃）とこの環境温度ＴＳに応じたリテンション期間の減少率ＧｒＳ（第１減少率）とを用いて、第１期間における第１の残日数、すなわちアクティベーション日ＴＡでの残日数ＤＲＡを算出する。減少率ＧｒＳは、環境温度ＴＳでのリテンション期間ＲＴＳ（図３参照）から算出できる。
【００３７】
残時間算出部１５は、このアクティベーション日ＴＡを基準にして、第２期間における環境温度Ｔ２（実使用環境温度：例えば１００℃）とこの環境温度Ｔ２に応じたリテンション期間の減少率ＧｒＲ２（第２減少率）とを用いて、第２期間における第２の残日数を算出する。減少率ＧｒＲ２は、環境温度Ｔ２でのリテンション期間ＲＴＲ２（図３参照）から算出できる。減少率ＧｒＲ２は、減少率ＧｒＲ１よりも高い。すなわち、環境温度Ｔ２の実使用期間は、環境温度Ｔ１の実使用期間よりも環境温度が高いので、リテンション期間は短くなる。この処理を用いることによって、このような環境温度の更なる上昇によるリテンション期間が短くなることに対する残日数の算出への補正を正確に行える。
【００３８】
残時間算出部１５は、これら第１の残日数と第２の残日数とを積算することによって、ＲＦＩＤ９０の残日数ＤＲ２（＜ＤＲ１）を算出する。
【００３９】
このように、本実施形態の構成および処理を用いることによって、実使用期間の環境温度に応じた残日数を正確に算出できる。
【００４０】
なお、上述の説明では、それぞれの環境温度を適宜設定する態様を示したが、それぞれの環境における最高温度を設定してもよい。これにより、最高温度に応じた短い残日数が算出される。したがって、データの消失または変化の前に、再書き込み、通知を実行できる。
【００４１】
なお、上述の処理はプログラム化され、当該プログラムをＣＰＵ等のデータ処理装置で実行することでも実現できる。図６は、本発明の第１の実施形態に係るＲＦＩＤデータ管理方法を示すフローチャートである。
【００４２】
図６に示すように、データ処理装置は、ＲＦＩＤ９０からＲＦＩＤ管理データを取得する（Ｓ１１）。次に、データ処理装置は、ＲＦＩＤの関連データを取得する（Ｓ１２）。
【００４３】
データ処理装置は、ＲＦＩＤ９０への送受信が初回であれば（Ｓ１３：ＹＥＳ）、アクティベーションを実行する。データ処理装置は、上述のリード回数が０であれば、初回であると判定し、リード回数がそれ以外であれば初回でないと判定する。初回の場合、データ処理装置は、アクティベーション日をシステムサーバ２０に登録する（Ｓ１４）。
【００４４】
データ処理装置は、初回であれば、上述の方法において、保存期間の環境温度のみを用いて残日数を算出する（Ｓ１５）。一方、データ処理装置は、初回でなければ（Ｓ１３：ＮＯ）、上述の保存期間および実使用時間でリテンション期間を区別して残日数を算出する（Ｓ１５）。
【００４５】
図７は、再書き込みを行った場合の残日数の算出概念を説明する図である。
【００４６】
図７に示すように、ＲＦＩＤデータ管理装置１０は、再書き込みを行った場合には、再書き込み日ＴＲＲを基準にして、実使用期間の環境温度に基づくリテンション期間の減少率を用いて、残日数を算出する。
【００４７】
そして、ＲＦＩＤデータ管理装置１０は、再書き込みを自動で実行する場合、図８に示すフローチャートに基づいて処理を実行すればよい。図８は、再書き込みを自動で行う場合のＲＦＩＤデータ管理方法のフローチャートである。図８のフローチャートは、ステップＳ１５までは、図６のフローチャートと同様であり、同様の箇所の説明は省略する。
【００４８】
ＲＦＩＤデータ管理装置１０は、残日数に対する再書き込み判定閾値ＴｈＲＴ（図５参照）を記憶している。ＲＦＩＤデータ管理装置１０（データ処理装置）は、残日数が再書き込み判定閾値ＴｈＲＴに達すれば（Ｓ１６：ＹＥＳ）、ＲＦＩＤ９０に対するＲＦＩＤ管理データの再書き込みを実行する（Ｓ１７）。ＲＦＩＤ管理データは、ＲＦＩＤ９０からのＲＦＩＤ管理データの取得時に記憶しておけばよい。一方、ＲＦＩＤデータ管理装置１０（データ処理装置）は、残日数が再書き込み判定閾値ＴｈＲＴに達していなければ（Ｓ１６：ＮＯ）、今回の処理を終了する。
【００４９】
このような再書き込み処理を実行することによって、ＲＦＩＤ９０が正確なＲＦＩＤ管理データを確実に保持し続けることができる。
【００５０】
次に、本発明の第２の実施形態に係るＲＦＩＤデータ管理技術について、図を参照して説明する。図９は、本発明の第２の実施形態に係るＲＦＩＤデータ管理装置の機能ブロックを示す図である。図９に示すように、第２の実施形態に係るＲＦＩＤデータ管理装置１０Ａは、第１の実施形態に係るＲＦＩＤデータ管理装置１０に対して、温度計測部１８を追加した点、および、この追加に伴う残時間算出部１５の処理において異なる。ＲＦＩＤデータ管理装置１０Ａの他の構成および処理は、ＲＦＩＤデータ管理装置１０と同様であり、同様の箇所の説明は省略する。
【００５１】
温度計測部１８は、ＲＦＩＤ９０に装着された温度センサ９５の出力から、ＲＦＩＤ９０の環境温度を計測する。温度計測部１８は、計測した環境温度を、残時間算出部１５に出力する。
【００５２】
残時間算出部１５は、計測した環境温度を用いて、上述の方法で残日数を算出する。
【００５３】
このような構成および処理を行うことによって、ＲＦＩＤデータ管理装置１０Ａは、残日数をより正確に算出できる。
【００５４】
温度計測部１８によるＲＦＩＤ９０の環境温度を取得できる場合、ＲＦＩＤデータ管理装置１０Ａを実現するデータ処理装置は、次の処理をプログラム化して記憶しておき、実行すればよい。図１０は、本発明の第２の実施形態に係るＲＦＩＤデータ管理方法のフローチャートである。図１０のフローチャートは、ステップＳ１４までは、図６のフローチャートと同様であり、同様の箇所の説明は省略する。
【００５５】
ＲＦＩＤデータ管理装置１０Ａ（データ処理装置）は、ＲＦＩＤ９０の環境温度を取得する（Ｓ１８）。ＲＦＩＤデータ管理装置１０Ａ（データ処理装置）は、この取得された環境温度を用いて、残日数を算出する（Ｓ１５）。
【００５６】
なお、上述の説明では、対象物品である制御機器９０１にＲＦＩＤ９０を１個装着する態様を示したが、複数のＲＦＩＤ９０を装着してもよい。この場合、環境温度の異なる位置に装着するとよい。これにより、ＲＦＩＤ９０毎に残日数が異なり、複数のＲＦＩＤ９０が同時にデータの消失や変更を生じることを確実に抑制できる。なお、残日数が異なるように、複数のＲＦＩＤ９０のアクティベーション日や再書き込み日を設定してもよい。
【００５７】
また、上述の説明では、リテンション期間のみを用いて残日数を算出する態様を示した。しかしながら、経年劣化も加味して残日数を算出してもよい。この場合、環境温度に応じて経年劣化の度合いを設定すれば、よりよい。
【００５８】
また、ＲＦＩＤ９０が装着される制御機器９０１（対象物品）に対して、ＲＦＩＤ管理データが記憶された画像形式のコードを貼り付けておいてもよい。これにより、当該画像形式のコードを読み込んで再書き込みすることによって、突発的等の万が一の事態によってＲＦＩＤ９０のデータが消失または変化しても、確実に再書き込みが可能である。
【００５９】
また、アクティベーション時に、ＲＦＩＤデータ管理装置１０、１０Ａまたはシステムサーバ２０は、ＲＦＩＤ管理データを保存しておいてもよい。これにより、突発的等の万が一の事態によってＲＦＩＤ９０のデータが消失または変化しても、確実に再書き込みが可能である。
【符号の説明】
【００６０】
１０、１０Ａ：ＲＦＩＤデータ管理装置
１１：無線通信部
１２：ＲＦＩＤデータ取得部
１３：通信部
１４：関連データ取得部
１５：残時間算出部
１６：判定部
１７：通知部
１８：温度計測部
２０：システムサーバ
９０：ＲＦＩＤ
９５：温度センサ
９００：制御装置
９０１：制御機器
９０２：ガイドレール
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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