(57)【要約】      （修正有）【課題】振動装置に取り外し可能に装着された試験装置に関し、より具体的には、冷却を提供する一または複数の機構を含む、試験品に張力負荷をかけるための試験装置を提供する。【解決手段】フレームと、上方グリップと、下方グリップと、テンショナーアセンブリと、冷却アセンブリとを備える。フレームは上部と下部を画定し、フレームの下部は、振動装置に取り外し可能に装着されるように構成されている。上方グリップはフレームの上部に接続され、下方グリップはフレームの下部に接続される。上方グリップは試験品の上部を上方接触面に沿って固定するように構成され、下方グリップは試験品の下部を下方接触面に沿って固定するように構成されている。テンショナーアセンブリは、試験装置の上部に位置している。冷却アセンブリは、上方接触面と下方接触面のうちの少なくとも１つを横切って冷却媒体を運ぶ。【選択図】なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験品（２２）を固定するための試験装置（１０）であって、
上部（７６）と下部（７４）を画定するフレーム（９８）であって、前記フレーム（９８）の前記下部（７４）が振動装置（１２）に取り外し可能に装着されるように構成されたフレーム（９８）と、
前記フレーム（９８）の前記上部（７６）に接続された上方グリップ（１１８）と前記フレーム（９８）の前記下部（７４）に接続された下方グリップ（１２８）であって、前記上方グリップ（１１８）は上方接触面（１１６）に沿って前記試験品（２２）の上部（１１０）を固定するように構成され、前記下方グリップ（１２８）は下方接触面（１１７）に沿って前記試験品（２２）の下部（１１２）を固定するように構成され、前記上方接触面（１１６）及び前記下方接触面（１１７）はいずれも、前記試験品（２２）と前記上方グリップ（１１８）又は前記下方グリップ（１２８）のいずれかと、が互いに係合する境界を画定する、上方グリップ（１１８）及び下方グリップ（１２８）と、
前記試験装置（１０）の前記上部（７６）に位置し、前記上方グリップ（１１８）に接続されたテンショナーアセンブリ（１０６）であって、前記上方グリップ（１１８）を前記フレーム（９８）の前記上部（７６）に向かって上方向に引っ張るように構成された調節機構（９０）を含むテンショナーアセンブリ（１０６）と、
前記上方接触面（１１６）及び前記下方接触面（１１７）のうちの少なくとも１つを横切って冷却媒体を運ぶように構成された冷却アセンブリ（２０４）と
を備える試験装置（１０）。
【請求項２】
前記冷却アセンブリ（２０４）は、
入口マニホルド（５２）であって、前記上方接触面（１１６）及び前記下方接触面（１１７）のうちの１つを横切って前記冷却媒体を案内する少なくとも１つの開口部（１６０）を画定する入口マニホルド（５２）と、
出口マニホルド（５４）であって、前記入口マニホルド（５２）の前記少なくとも１つの開口部（１６０）と流体連結している少なくとも１つの開口部（１８０）を画定する出口マニホルド（５４）と
を備える、請求項１に記載の試験装置（１０）。
【請求項３】
前記冷却アセンブリ（２０４）は、前記上方グリップ（１１８）と前記下方グリップ（１２８）のうちの少なくとも１つを絶縁するように位置づけされた少なくとも１つの熱シールド（５０）を含む、請求項１又は２に記載の試験装置（１０）。
【請求項４】
前記熱シールド（５０）と、前記上方グリップ（１１８）及び前記下方グリップ（１２８）のうちの少なくとも１つとの間に固定された絶縁体（２００）を備え、前記熱シールド（５０）の一部と前記上方グリップ（１１８）及び前記下方グリップ（１２８）のうちの１つは協働して、前記冷却媒体が内部を移動する通路（２０６）を画定する、請求項３に記載の試験装置（１０）。
【請求項５】
絶縁ブランケット（２１２）とビーム（２２０）とを備え、前記絶縁ブランケット（２１２）は前記熱シールド（５０）の外側（１９０）に固定され、前記ビーム（２２０）は前記試験装置（１０）に固定され且つ前記試験品（２２）の外面（２３８）に対して圧縮されて実質的に流体密封状態を形成する、請求項３又は４に記載の試験装置（１０）。
【請求項６】
前記テンショナーアセンブリ（１０６）を前記上方グリップ（１１８）に接続する上方アダプタプレート（４６）を備え、前記調節機構（９０）は前記アダプタプレート（４６）を上方向に引っ張るように構成されている、請求項１から５のいずれか一項に記載の試験装置（１０）。
【請求項７】
前記フレーム（９８）は一対の前方負荷フレーム（３６）を含み、前記前方負荷フレーム（３６）のうちの１つは前記試験装置（１０）の前記下部（７４）に沿って配置され、残りの前記前方負荷フレーム（３６）は前記試験装置（１０）の前記上部（７６）に沿って配置されている、請求項１から６のいずれか一項に記載の試験装置（１０）。
【請求項８】
試験品（２２）の試験を行うためのシステム（１４）であって、
表面（２０）を画定する振動装置（１２）と、
請求項１から７のいずれか一項に記載の試験装置（１０）と
を備え、前記フレーム（９８）の前記下部（７４）が前記振動装置（１２）の前記表面（２０）に取り外し可能に装着されるシステム（１４）。
【請求項９】
パネル（２２）の試験を行う方法（４００）であって、
振動装置（１２）の表面（２０）に試験装置（１０）を連結させること（４０２）であって、前記試験装置（１０）は、上部（７６）と下部（７４）を画定するフレーム（９８）を含み且つ前記フレーム（９８）の前記下部（７４）において前記表面（２０）に取り外し可能に装着されている、連結させること（４０２）と、
前記パネル（２２）の上部（１１０）を上方接触面（１１６）に沿って上方グリップ（１１８）に固定し、前記パネル（２２）の下部（１１２）を下方接触面（１１７）に沿って下方グリップ（１２８）に固定すること（４０４）であって、前記上方グリップ（１１８）は前記フレーム（９８）の前記上部（７６）に接続され、前記下方グリップ（１２８）は前記フレーム（９８）の前記下部（７４）に接続され、前記上方接触面（１１６）及び前記下方接触面（１１７）はいずれも、前記試験品（２２）と前記上方グリップ（１１８）又は前記下方グリップ（１２８）のいずれかと、が互いに係合する境界を画定する、固定すること（４０４）と、
テンショナーアセンブリ（１０６）の調節機構（９０）によって前記上方グリップ（１１８）を前記パネル（２２）の前記上部（７６）に向かって上方向に引っ張ること（４０６）であって、前記テンショナーアセンブリ（１０６）は前記試験装置（１０）の前記上部（７６）に位置し、前記上方グリップ（１１８）に接続されている、引っ張ること（４０６）と、
冷却アセンブリ（２０４）によって前記上方接触面（１１６）と前記下方接触面（１１７）のうちの少なくとも１つを横切って冷却媒体を運ぶこと（４０８）と
を含む方法。
【請求項１０】
入口マニホルド（５２）によって前記上方接触面（１１６）と前記下方接触面（１１７）のうちの１つを横切って前記冷却媒体を案内すること（４１０）を含み、前記入口マニホルド（５２）は少なくとも１つの開口部（１６０）を画定する、請求項９に記載の方法（４００）。
【請求項１１】
出口マニホルド（５４）によって画定された開口部（１８０）によって、前記上方接触面（１１６）と前記下方接触面（１１７）のうちの１つを横切って案内された前記冷却媒体を受け入れること（４１２）を含む、請求項９又は１０に記載の方法（４００）。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示のシステム及び方法は、振動装置に取り外し可能に装着された試験装置に関し、より具体的には、冷却を提供する一または複数の機構を含む、試験品に張力負荷をかけるための試験装置に関する。
【０００２】
航空規則では、試験パネル及び他の関連構造が特定要件に従うものであることが求められうる。例えば、幾つかの要件は現在、試験中に構成要素に負荷と振動を加えると同時に、構成要素を加熱することを含むように解釈される。試験装置を使用して、試験を施すためにパネルを振動台等の振動装置に装着することができる。試験装置には、パネルに張力をかけることができることが期待される。振動装置を選択するときには、一般に振動装置の力、剛性、及び重量の限界も考慮される。これは、幾つかの振動装置が、比較的重い又はかさばる試験装置を収容することができない可能性があるためである。したがって、現在利用可能な最も軽量で小型の試験装置を用いることが望ましい場合がある。しかしながら、周知の試験装置は３つの試験条件のうち２つしか満たすことができない（例：振動と熱は満たすが、張力は満たさない）。
【発明の概要】
【０００３】
一例では、試験品を固定するための試験装置が開示されている。試験装置は、フレーム、上方グリップ、下方グリップ、テンショナーアセンブリ、及び冷却アセンブリを備える。フレームは上部と下部を画定し、フレームの下部は、振動装置に取り外し可能に装着されるように構成されている。上方グリップはフレームの上部に接続され、下方グリップはフレームの下部に接続されている。上方グリップは、試験品の上部を上方接触面に固定するように構成され、下方グリップは、試験品の下部を下方接触面に固定するように構成されている。上方接触面と下方接触面はいずれも、試験品と、上方グリップ又は下方グリップのいずれかが互いに係合する境界を画定する。テンショナーアセンブリは、試験装置の上部に位置している。テンショナーアセンブリは上方グリップに接続され、上方グリップをフレームの上部に向けて上方向に引っ張るように構成された調節機構を含む。冷却アセンブリは、上方接触面及び下方接触面の少なくとも１つを横切って冷却媒体を運ぶ。
【０００４】
別の例では、試験品の試験を行うためのシステムが開示されている。本システムは、表面を画定する振動装置と、試験装置とを含む。試験装置は、フレームと、上方グリップと、下方グリップと、テンショナーアセンブリと、冷却アセンブリとを備える。フレームは上部と下部を画定し、フレームの下部は、振動装置の表面に取り外し可能に装着される。上方グリップはフレームの上部に接続され、下方グリップはフレームの下部に接続されている。上方グリップは、試験品の上部を上方接触面に固定するように構成され、下方グリップは、試験品の下部を下方接触面に固定するように構成されている。上方接触面と下方接触面はいずれも、試験品と、上方グリップ又は下方グリップのいずれかが互いに係合する境界を画定する。テンショナーアセンブリは、試験装置の上部に位置している。テンショナーアセンブリは上方グリップに接続され、上方グリップをフレームの上部に向けて上方向に引っ張るように構成された調節機構を含む。冷却アセンブリは、上方接触面及び下方接触面の少なくとも１つを横切って冷却媒体を運ぶ。
【０００５】
更に別の例では、パネルの試験を行う方法が開示されている。本方法は、試験装置を振動装置の表面に結合させることを含み、試験装置は、上部と下部を画定するフレームを含む。試験装置は、フレームの下部で表面に取り外し可能に装着される。本方法は更に、試験品の上部を上方接触面で上方グリップに固定し、試験品の下部を下方接触面で下方グリップに固定することを含み、上方グリップはフレームの上部に接続され、下方グリップはフレームの下部に接続される。上方接触面と下方接触面はいずれも、試験品と、上方グリップ又は下方グリップのいずれかが互いに係合する境界を画定する。本方法は更に、テンショナーアセンブリの調節機構によって、上方グリップを試験品の上部に向かって上方向に引っ張ることを含む。テンショナーアセンブリは、試験装置の上部に位置し、上方グリップに接続される。最後に、本方法は、冷却アセンブリによって、上部接触面と下部接触面の少なくとも１つを横切って冷却媒体を運ぶことを含む。
【０００６】
開示の方法及びシステムの他の目的及び利点は、下記の説明、添付図面、及び添付の特許請求の範囲から明らかとなろう。
【図面の簡単な説明】
【０００７】
【図１】振動装置の表面に装着された開示の試験装置の例示的な図であり、この図において、試験装置は試験品を固定し、試験装置の一対の熱シールド、絶縁体、及びファスナの一部は省略されている。
【図２】図１に示す試験装置の後面斜視図であり、この図では下方後面グリッププレートは省略されている。
【図３】図１に示す試験装置の側面図である。
【図４】図１に示す試験装置の後面図である。
【図５】図１に示す試験装置の上部を示し、この図では、上部アダプタ板と入口マニホルドのうちの１つを完全に見えるようにするために、前部水平負荷フレーム、垂直負荷フレーム部材、及びグリッププレートは省略されている。
【図６】図１のセクションＡ−Ａに沿って切り取った試験装置の断面図である。
【図７】図１の試験装置に供給される冷却媒体の流れを示す前面図であり、この図において、試験装置、一対の前方グリッププレート、及び一対の後方グリッププレートは省略されている。
【図８】試験装置の入口マニホルドの内側の拡大図である。
【図９】入口マニホルドの外側に沿って見た、図８に示す入口マニホルドの拡大図である。
【図１０】試験装置の出口マニホルドの内側の拡大図である。
【図１１】出口マニホルドの外側に沿って見た、図１０に示す出口マニホルドの拡大図である。
【図１２】試験装置の下部に隣接して配置された出口マニホルド及び取付ボルトの分解立面図である。
【図１３】熱シールドの外側を示す図である。
【図１４】図１３に示す熱シールドの内側を示す図である。
【図１５】図１３〜１４に示す熱シールドを含む試験装置の下部の断面図であり、この図では、熱シールドの内側と前方グリッププレートとの間に絶縁シートが配置され、外側絶縁ブランケットは省略されている。
【図１６】熱シールドの外面に沿って配置された絶縁ブランケットを含む、図１５に示す試験装置の図である。
【図１７】図１６に示す絶縁ブランケットを含む、試験装置の下部の外側を示す図である。
【図１８】試験装置の一対の前方垂直フレーム部材、流入管、排出管、及び熱シールドの上に配置された絶縁体を示す図である。
【図１９】２つの個別のセクションを有する試験品を固定する試験装置の前面図である。
【図２０】図１９に示す試験品の２つのセクションの後面斜視図であり、この図では、試験装置に支持部材が取り付けられている。
【図２１】図２０に示す試験品の一部と支持部材の拡大断面図であり、この図では、バイアス要素が試験品の２つのセクションに力を加えている。
【図２２】試験パネルを冷却する例示的な方法を示すプロセスフロー図である。
【発明を実施するための形態】
【０００８】
本書に記載される試験装置は、振動及び張力条件を満たすことに加えて、冷却フィーチャ及び絶縁フィーチャを組み込んでいる。更に、本書に記載される試験装置は比較的軽量で小型の試験装置であり、試験パネルに同時に張力、振動、及び熱を加えることができる。
【０００９】
図１は、本開示の一実施形態に係る、開示の試験装置１０の例示的な図である。試験装置１０は、振動装置１２とともに使用可能である。図１に示す例において、試験装置１０は、振動装置１２の上面２０に取り外し可能に装着されている。図１には、振動装置１２の上面２０のみが図示されている。振動装置１２は、例えば振動台等のような、試験装置１０及び試験品２２の重量を支持し、軸振動又は多軸振動を生成するいかなる種類の装置であってもよい。試験装置１０は、試験品２２を固定するように構成されている。試験品２２の試験を行うためのシステム１４は、振動装置１２と試験装置１０とを含む。
【００１０】
図１及び図２の両方に示す例示的な実施形態では、試験装置１０は、一対の前方足パッド２４、一対の後側ストラップ２６、一対の後方足パッド２８、複数の装着ブラケット３０、一対の垂直に配向した前方フレーム部材３２、一対の垂直に配向した後方フレーム部材３４、一対の水平に配向した前方負荷フレーム３６、一対の水平に配向した後方負荷フレーム３８（図２）、一対の前方グリッププレート４０、一対の後方グリッププレート４２（図４参照）、静的張力プレート４４、上方アダプタプレート４６、下方アダプタプレート４８、一対の熱シールド５０（図１３〜１６及び１９に示す）、２つの入口マニホルド５２（図２参照）、及び２つの出口マニホルド５４（図１参照）を含む。簡素化及び明確化のために、熱シールド５０は図１〜図７には図示していない。
【００１１】
図１を再度参照すると、試験品２２は、試験を実施するために試験装置１０のグリッププレート４０、４２の間に固定されたいずれかの比較的平坦な構成要素である。グリッププレート４０、４２による試験品２２の固定を、以下に更に詳細に説明する。ある非限定的な実施形態では、試験品２２は航空機で使用される炭素繊維パネルである。しかしながら、この実施形態は単なる例であり、例えば金属ベースの材料、ガラス繊維ベースの材料、有機ベースの材料、又は金属、ガラス繊維、又は有機ベースの材料の組み合わせで構成される構成要素等の、他の様々な構成要素を試験品２２として用いることができる。更に、図１では、試験品２２を原型の加工されていない試験パネルとして示したが、別の実施形態では、パネルは再加工又は修復パッチ（図示せず）も含みうる。
【００１２】
以下に更に詳しく説明するように、試験品２２は、試験装置１０によって張力負荷がかけられる。一実施形態では、試験品２２には、振動装置１２によって生じる単軸又は多軸振動、高温、及び張力負荷が同時に加えられる。図１及び図２に示す実施形態では、試験品２２は単一部品である。しかしながら、この実施形態は非限定的であり、試験品２２は様々な構成を含んでいてよい。例えば、一実施形態では、試験品２２は、図１９及び図２０に示す互いに接合された複数の個別のパネルを含む。様々な構成の試験品２２を、以下に更に詳細に説明する。更に、図１に示す試験品２２は、垂直に配向した前方フレーム部材３２の間に全体的に延びているが、この図は非限定的である。実際は、別の方法において、試験品２２は、２つの垂直に配向した前方フレーム部材３２の間に部分的に延びていてよい。
【００１３】
ここで、図３を参照すると、試験品２２の前側４９は加熱装置５３に面している。図示した実施形態では、加熱装置５３は、試験品２２の中央エリア又は部分５１（図１参照）に対向しうる。しかしながら、この実施形態は単なる例であり、別の実施形態では加熱装置５３は、エリアＡ内の試験品２２のいずれかの部分に対向しうる（図１参照）。エリアＡは、グリッププレート４０のうちの１つに直接隣接していない試験品２２の中央部分を表す。加熱装置５３は、試験品２２の中央部分５１から所定の距離に位置づけされ、熱を試験品２２に伝達する。一実施形態では、試験品２２の中央部分５１から所定の距離は約１０．１センチメートル（４インチ）であるが、試験品２２と加熱装置５３との間のこの距離は、実施される試験に基づいて予め決定される。加熱装置５３は、例えば炎を生じさせるバーナー、オーブン、又は石英ランプ等の熱を生じさせるいずれかの装置であってよい。
【００１４】
加熱装置５３によって生じた高温は、試験品２２の特定の試験と材料に基づいて変動しうる。一実施形態では、高温は、試験品２２の材料を変形させるために必要な負荷を削減するのに要求される最低温度以上の任意の温度として定義されうる。例えば、一実施形態では、加熱装置５３は約１０９３度（摂氏）（２０００度（華氏））以上の温度を生じうる。しかしながら、この温度は単なる例であり、実施される特定の試験に応じて他の温度を生じさせる場合がある。
【００１５】
図１及び図２の両方を参照すると、対の前方足パッド２４及び後方足パッド２８は、例えばファスナ等のいずれかの固定方法によって、振動装置１２の表面２０に取り外し可能に固定されうる。図１及び図２では、対の前方足パッド２４内の開孔５６と後方足パッド２８の開孔５８を示したが、開孔５６、５８によって受け入れられうるファスナは図面から省略されている。装着ブラケット３０は、いずれかの固定方法によって対の前方足パッド２４に取り外し可能に取付けることも可能である。図１に、対応するファスナを受け入れるための装着ブラケット３０内の開孔５９を示したが、ファスナは図示していない。
【００１６】
後方足パッド２８は各々、後側ストラップ２６のうちの１つの第１の端部６２に取り付けることができる。後側ストラップ２６は、後方フレーム部材３４に対して角度をつけて位置づけされうる。図２に示すように、後側ストラップ２６の第２の端部６４は各々、対応するエンドプレート６６に取り外し可能に取付けられうる。各エンドプレート６６は、後方フレーム部材３４のうちの１つに取り外し可能に取付けられうる。後側ストラップ２６は、振動装置１２の表面２０に装着されたときに試験装置１０の安定性を高めるために配設されうる。
【００１７】
図１及び図２の両方を続けて参照すると、前方フレーム部材３２は各々、試験装置１０の対向側７０に位置づけされる。同様に、後方フレーム部材３４は、試験装置１０の対向側７０に位置づけされる。前方フレーム部材３２及び後方フレーム部材３４は、加熱装置５３によって生じる高温に耐えることができる材料で構成されている（図３）。例えば、一実施形態では、前方フレーム部材３２及び後方フレーム部材３４は、鋼鉄で構成され、おおむね三角形の断面を含む。別の非限定的な実施形態では、前方フレーム部材３２及び後方フレーム部材３４は、鋼鉄で構成され、おおむねＣ字形の断面（すなわち、弓形部分の端部の間に画定された直線部分を有する少なくとも部分的に弓形の断面形状）を含みうる。
【００１８】
図１を参照すると、前方負荷フレーム３６のうちの１つが試験装置の下部７４に沿って配置され、残りの前方負荷フレーム３６が試験装置１０の上部７６に沿って配置されている。前方負荷フレーム３６はいずれも、各々が対応するファスナ８０を受け入れるような形をした一連の開孔７８を含む。図１には、上部７６に沿って配置された前方負荷フレーム３６をファスナ８０とともに示したが、この図において、試験装置１０の下部７４に沿って配置された前方負荷フレーム３６からはファスナ８０が省略されている。したがって、下部７４に沿って配置された前方負荷フレーム３６の開孔７８を見ることができる。
【００１９】
ここで図２を参照すると、後方負荷フレーム３８のうちの１つが試験装置１０の下部７４に沿って配置され、残りの後方負荷フレーム３８が試験装置１０の上部７６に沿って配置されている。下方グリッププレート４２は、明確化のために図２から省略されている。後方負荷フレーム３８はいずれも、各々が図１に示すファスナ８０（すなわち、前方負荷フレーム３６によって受け入れられるファスナ８０）を受け入れるような形をした一連の開孔１１９を含む。図１と同様に、上部７６に沿って配置された後方負荷フレーム３８はファスナ８０で取付けられているが、試験装置１０の下部７４に沿って配置された後方負荷フレーム３８ではファスナは省略されている。したがって、下部７４に沿って後方負荷フレーム３８に位置する開孔１１９を見ることができる。図１〜３に示す非限定的な実施形態では、前方負荷フレーム３６と後方負荷フレーム３８はいずれもおおむねＣ字形の断面を含むが、フレームは、フレーム３６、３８が本書に記載したように機能することを可能にするいかなる適切な断面形状を有していてもよい。
【００２０】
ここで図１〜３を参照すると、前方フレーム部材３２、後方フレーム部材３４、前方負荷フレーム３６、及び後方負荷フレーム３８は各々互いに協働して、試験装置１０のフレーム９８を画定する。フレーム９８は一対の前方負荷フレーム３６を備え、前方負荷フレーム３６のうちの１つは、試験装置１０の下部７４に沿って配置され、残りの前方負荷フレーム３６は試験装置１０の上部７６に沿って配置されている。試験装置１０のフレーム９８は、試験品２２が試験装置１０のグリッププレート４０、４２内に配置され、グリッププレート４０、４２によって固定されたときに、試験品２２に支持を提供する。更に、試験装置１０のフレーム９８は、振動装置１２が試験装置１０と試験品２２の両方に振動をかけたときに試験品２２に支持を提供するのに要する必須の強度及び剛性を有する。フレーム９８は、試験装置１０の上部７６及び下部７４を画定し、フレーム９８の下部７４は振動装置１２に取り外し可能に装着されるように構成されている。
【００２１】
図５は、試験装置１０の上方アダプタプレート４６の図であり、この図において、上方アダプタプレート４６、入口マニホルド５２、及び関連する管１４０を露わにするために、試験装置１０の上部７６に沿って配置された前方負荷フレーム３６、及び左側の前方フレーム部材３２は省略されている。前方負荷フレーム３６の開孔７８と係合しているファスナ８０（図１）は、上方アダプタプレート４６内の対応する開孔１０８とも係合している。上方アダプタプレート４６の開孔１０８は、細長い又は長方形の輪郭を含む。前方負荷フレーム３６はフレーム９８の上部７６に位置し、前方負荷フレーム３６は、各々が対応するファスナ８０を受け入れるような形をした複数の開孔７８を画定する。上方アダプタプレート４６は、対応するファスナ８０のうちの１つを受け入れるための複数の細長い開孔１０８を画定する。開孔１０８の細長い輪郭により、試験品２２に張力が加わったときに、上方アダプタプレート４６が上向きに引っ張られることが可能になる。張力は、静的張力プレート４４に装着された複数の垂直引っ張りボルト９０を調節することによって生じ、以下に更に詳細に説明する。上方アダプタプレート４６は細長い開孔１０８を含み、下方アダプタプレート４８（図４参照）はファスナ８０を受け入れるための従来の（すなわち実質的に丸い）輪郭を有する開孔（図４に図示せず）を含む。これは、試験品２２に張力が加わっても、下方アダプタプレート４８は実質的に固定されたままであるためである。
【００２２】
図１及び図３の両方を参照すると、静的張力プレート４４は試験装置１０の上部７６に沿って位置づけされる。具体的には、静的張力プレート４４の底面８４は前方負荷フレーム３６の上面８６、及び後方負荷フレーム３８の上面８８に当接している、又は他の場合には置かれている。一連の垂直静的引っ張りボルト９０は、静的張力プレート４４によって受け入れられる。具体的には、静的引っ張りボルト９０は、静的張力プレート４４の上面９２に沿って配置された開孔（開孔は図示せず）によって受け入れられる。図１に示す非限定的な実施形態では、８つの静的引っ張りボルト９０が静的張力プレート４４に沿って配置されているが、静的引っ張りボルト９０の数は特定の用途に応じて変更されうる。
【００２３】
図３に示すように、各引っ張りボルト９０は、静的張力プレート４４の上面８６と第２の端部１０２に沿って配置された第１の端部１００を含む。各引っ張りボルト９０の第２の端部１０２は、上方アダプタプレート４６の上面９２に沿って配置された対応する開孔（図示せず）によって受け入れられる。これにより、各引っ張りボルト９０の第２の端部１０２は、上方アダプタプレート４６に取り付けられる。引っ張りボルト９０は、ねじ山付胴部９１（ねじ山は図示せず）を含み得、静的張力プレート４４は、対応する引っ張りボルト９０の胴部を垂直方向に受け入れるための対応する貫通孔又は開孔（これも図示せず）を含みうる。これにより、引っ張りボルト９０は各々、静的張力プレート４４内の対応する開孔と係合する。一実施形態では、引っ張りボルト９０と静的張力プレート４４内の対応する開孔は、１インチあたり約３２から約４０の範囲の超微細のねじ山を含みうる。調節機構９０は胴部９１を各々画定する複数の引っ張りボルト９０であり、各引っ張りボルト９０の胴部９１は上方アダプタプレート４６に接続されている。
【００２４】
引っ張りボルト９０と静的張力プレート４４は協働して、テンショナーアセンブリ１０６を形成する。テンショナーアセンブリ１０６は、上方アダプタプレート４６と上方グリッププレート４０、４２を上方向に、試験装置１０の上部７６に向かって引っ張ることによって、試験品２２に張力を加える。具体的には、各引っ張りボルト９０は調節機構として機能する。引っ張りボルト９０を静的張力プレート４４の対応する開孔（図示せず）内で締めると、上方アダプタプレート４６が上方向に、試験装置１０の上部７６に向かって引っ張られる。以下に更に詳細に説明するように、上方アダプタプレート４６は試験品２２に接続されている。したがって、上方アダプタプレート４６が上方向に引っ張られると、今度は試験品２２も上方向に引っ張られ、これにより試験品２２に張力負荷がかかる。
【００２５】
図１〜４を参照すると、試験装置１０の上部７６に位置する前方グリッププレート４０と後方グリッププレート４２（図２）はおおむね互いに対向し、試験品２２の負荷均衡を取るために使用される。同様に、試験装置１０の下部７４に位置する前方グリッププレート４０と後方グリッププレート４２もおおむね互いに対向している。試験装置１０の上部７６のグリッププレート４０、４２は試験品２２の上部１１０に連結され、試験装置１０の下部７４のグリッププレート４０、４２は試験品２２の下部１１２に連結されている。前方グリッププレート４０（図１）はいずれも、各々が対応するファスナ（図示せず）を受け入れるような形の一連の開孔１０４を含む。後方グリッププレート４２（図２及び図４）は各々、前方グリッププレート４０と係合する各々ファスナの胴部を受け入れるような形の対応する開孔１０３を含む。
【００２６】
図６は、図１に示すセクションＡ−Ａに沿って切り取った、試験装置１０の断面図である。図１及び図６の両方を参照すると、試験装置１０は、フレーム９８の上部７６に接続された上方グリップ１１８と、フレーム９８の下部７４に接続された下方グリップ１２８とを含む。上方グリップ１１８は、上方接触面１１６に沿って試験装置２２の上部１１０に固定されるように構成され、下方グリップ１２８は、下方接触面１１７に沿って試験品２２の下部１１２に固定されるように構成される。テンショナーアセンブリ１０６は、試験装置１０の上部７６に位置し、上方グリップ１１８に接続されている。テンショナーアセンブリ１０６は、上方グリップ１１８を上方向にフレーム９８の上部７６に向かって引っ張るように構成された調節機構９０（すなわち引っ張りボルト）を含む。上方グリップ１１８と下方グリップ１２８は各々、互いにおおむね対向する前方グリッププレート４０と後方グリッププレート４２とを含む。上方アダプタプレート４６はテンショナーアセンブリ１０６を上方グリップ１１８に接続し、調節機構９０は、アダプタプレート４６を上方向に引っ張るように構成される。
【００２７】
試験品２２の上部１１０は、試験装置１０の上部７６に位置するグリッププレート４０、４２の下部１１３、１１４の間に圧縮される。したがって、試験装置１０の上部７６に位置するグリッププレート４０、４２の下部１１３、１１４は、上方接触面１１６に沿って試験品２２を適所に固定し保持する。上方接触面１１６は、グリッププレート４０、４２の下部１１３、１１４と試験品２２が互いに係合する境界を画定する。試験装置１０の上部７６に位置するグリッププレート４０、４２は協働して、試験品２２の上部１１０を上方接触面１１６に固定するクランプ又はグリップ１１８を形成する。
【００２８】
同様に、試験品２２の下部１１２は、試験装置１０の下部７４に位置するグリッププレート４０、４２の上方端部１２０、１２２の間に締め付けられる。したがって、試験装置１０の下部７４に位置するグリッププレート４０、４２の上方端部１２０、１２２は、試験品２２を下方接触面１１７に沿って適所に固定し保持する。試験装置１０の下部７４に位置するグリッププレート４０、４２は協働してクランプ又はグリップ１２８を形成し、試験品２２の下部１１２を下方接触面１１７に固定する。下方接触面１１７は、グリッププレート４０、４２の上方端部１２０、１２２と試験品２２が互いに係合する境界を画定する。
【００２９】
図４、図５、及び図６を参照すると、上方アダプタプレート４６の下方端部１３０は、試験装置１０の上部７６に位置するグリッププレート４０、４２の上方端部１２４、１２６によって締め付けられる又は固定される。それに応じて、試験装置１０の上部７６に位置するグリッププレート４０、４２の上方端部１２４、１２６は、開孔１０３ａによって図４に示すように、上方アダプタプレート４６を適所に固定し保持する。同様に、下方アダプタプレート４８の上方端部１３２は、試験装置１０の下部７４に位置するグリッププレート４０、４２の下方端部１３６、１３８の間に締め付けられる。したがって、試験装置１０の下部７４に位置するグリッププレート４０、４２の下方端部１３６、１３８は、下方アダプタプレート４８を適所に固定し保持する。
【００３０】
図１及び６の両方を参照すると、引っ張りボルト９０を締めたときに、上方アダプタプレート４６が上に向かって実質的に垂直方向に引っ張られる。試験装置１０の上部７６に位置するグリッププレート４０、４２は、上方アダプタプレート４６だけでなく、試験品２２の上部１１０も締め付ける。したがって、上方アダプタプレート４６が上方向へ移動すると、試験品２２の上部１１０も上に向かって引っ張られる。更に、試験装置１０の下部７４に位置するグリッププレート４０、４２は、試験品２２の下部１１２を締め付けることにより、試験品２２を適所にしっかり保持する。試験品２２の下部１１２が動かないように保持されている間に試験品２２の上部１１０が上に向かって引っ張られるために、試験品２２は張力下に置かれる。
【００３１】
図７は、試験品２２、対の前方グリッププレート４０、及び後方グリッププレート４２が省略されている、試験装置１０の前面図である。入口マニホルド５２と出口マニホルド５４はいずれも、図５及び図７の両方で見ることができる。図５及び図７の両方を参照すると、入口マニホルド５２と出口マニホルド５４は、試験品２２に連結された試験装置１０の部分に冷却を施す（図１参照）。具体的には、冷却媒体は、熱を取り去って冷却を施すために、入口マニホルド５２と出口マニホルド５４との間を運ばれる（冷却媒体が流れる方向を矢印２１０で示す）。使用可能な冷却媒体の幾つかの例には、例えば窒素ガス又は水等の冷却ガス又は空気、冷却液、又は液体−ガス相変化冷却剤が挙げられる。以下に説明するように、冷却管（図示せず）が配設される場合には、冷却液又は液体−ガス相変化冷却剤が使用可能である。
【００３２】
図１及び図７を参照すると、入口マニホルド５２の１つが試験装置１０の上部７６に隣接して配置され、前方フレーム部材３２の１つに取り付けられ又は固定され得、残りの入口マニホルド５２が試験装置１０の下部７４に隣接して配置され、残りの前方フレーム部材３２に固定されうる。同様に、出口マニホルド５４の１つが試験装置１０の上部７６に隣接して配置され、前方フレーム部材３２の１つに固定され得、残りの出口マニホルド５４が試験装置１０の下部７４に隣接して配置され、残りの前方フレーム部材３２に固定されうる。以下に更に詳細に説明するように、試験装置１０の上部７６に隣接して位置づけされた入口マニホルド５２は、試験装置１０の上部７６に隣接してこれも位置している出口マニホルド５４と流体連結し、これにより冷却媒体が移動する。同様に、試験装置１０の下部７４に隣接して位置づけされた入口マニホルド５２は、試験装置１０の下部７４に隣接してこれも位置している出口マニホルド５４と流体連結している。
【００３３】
２つの流入管１４０、１４２は入口マニホルド５２のうちの対応する入口マニホルドに流体連結され、供給源（図示せず）から試験装置１０まで冷却媒体を運ぶ。同様に、２つの排出管１４４、１４６は、出口マニホルド５４のうちの対応する出口マニホルドに流体連結される。排出管１４４、１４６は、試験装置１０から外へ冷却媒体を運ぶ。
【００３４】
図８は、入口マニホルド５２の内側１５０に沿って見た、入口マニホルド５２のうちの１つの拡大図である。図９は、入口マニホルド５２の外側１５２に沿って見た、図８に示す入口マニホルド５２の拡大図である。図８及び図９の両方を参照すると、入口マニホルド５２は外側１５２に沿って配置された取付具１５４を含みうる。取付具１５４は、流入管１４０、１４２のうちの１つと連結するような形であってよい（図７参照）。取付具１５４は、流入管１４０、１４２のうちの対応する流入管から冷却媒体を受け入れる開口部１５６を画定する。開口部１５６は、入口マニホルド５２の内側１５０に沿って配置された複数の流入開口部１６０に流体連結されている。したがって、冷却媒体は流入管１４０、１４２のうちの１つから入口マニホルド５２の開口部１５６へ流れうる。冷却媒体は次に、開口部１６０の１つから入口マニホルドを出ていく。
【００３５】
図８に示す実施形態では、３つのおおむね円形の流入開口部１６０が図示されている。しかしながら、この実施形態は単なる例であり、入口マニホルド５２に含まれる開口部１６０の数は幾つであってもよい。更に、開口部１６０は、例えば楕円形の又はスロット状の輪郭等のいかなる種類の形状又は輪郭も含んでいてよい。１つの代替実施形態では、流入開口部１６０を一連の小さい開口部として形成することにより、比較的高圧の冷却媒体の流れを作ることができる。更に、入口マニホルド５２の選択された開口部１６０ａは、入口マニホルド５２の残りの開口部１６０と比べてサイズが大きくすることができる。開口部１６０ａは、比較的低圧の冷却媒体の流れを作るために配設されうる。入口マニホルド５２は、入口マニホルド５２を試験装置１０に固定するファスナを受け入れるための一または複数の開孔１６２も画定しうる。
【００３６】
図１０は、内側１７０に沿って見た出口マニホルド５４の１つの拡大図である。図１１は、出口マニホルド５４の前側１７２に沿って見た、図１０に示す出口マニホルド５４の拡大図である。図１０及び１１の両方を参照すると、出口マニホルド５４は、外側１７６に沿って配置された取付具１７４を含みうる。取付具１７４は、排出管１４４、１４６（図７参照）のうちの１つと連結するような形であってよい。取付具１７４は、入口マニホルド５２のうちの対応する入口マニホルドから冷却媒体を受け入れる開口部（図示せず）を画定する。取付具１７４の開口部は、出口マニホルド５４の内側１７０に沿って配置された開口部１８０に流体連結されている。したがって、冷却媒体は出口マニホルド５４の開口部１８０へ流れ込み、その後取付具１７４内の開口部から出口マニホルド５４を出ていく。図１０に示す非限定的実施形態では、開口部１８０はおおむねスロット状の又は楕円形の輪郭を含む。しかしながら、例えば台形の輪郭等の他の輪郭も使用可能である。開口部１８０の全体的なサイズ又はエリアは、冷却媒体の特殊な目的流量特性に基づくものであってもよい。更に、図１０に単一の開口部１８０を示したが、出口マニホルド５４は複数の開口部を含んでいてもよい。
【００３７】
図１２は、試験装置１０の下部７４に隣接して配置された出口マニホルド５４の１つの分解立面図である。出口マニホルド５４は、対応するファスナ１８４を受け入れるための一または複数の開孔１８２を画定する。出口マニホルド５４は、一式のブラケット１９６によって前方フレーム部材３２のうちの１つに固定されうる。図１２には出口マニホルド５４を１つだけ図示したが、残りの出口マニホルド５４も同様の方法で試験装置１０に固定されうる。入口マニホルド５２（図８〜９）はまた、ファスナ及びブラケットを使用して試験装置１０に固定することも可能である。最後に、図１２にはブラケット１９６によって前方フレーム部材３２のうちの１つに取り付けられた出口マニホルド５４を示したが、この実施形態は単なる例である。実際は、流入及び出口マニホルド５２、５４を、様々な異なる方法で試験装置１０に取り付けることができる。
【００３８】
図１３〜１４は、熱シールド５０のうちの１つの図であり、図１３は熱シールド５０の外側１９０の図であり、図１４は熱シールド５０の内側１９２の図である。図１３に示す実施形態では、一又は複数のタイピン１９４が、熱シールド５０の外側１９０に沿って配置されうる。タイピン１９４を使用して、外側絶縁ブランケット２１２を固定することができる（図１６参照）。熱シールド５０の内側１９２は、一又は複数のルーバ１９８を含みうる。ルーバ１９８は、熱シールド５０の内側から離れるように突出し、熱シールド５０に補強を提供しうる。ルーバ１９８によって付与された剛性は、試験装置１０が振動試験を行うときに特に有益でありうる。以下に更に詳細に説明するように、熱シールド５０は前方グリッププレート４０（図１）と、前方グリッププレート４０と係合したファスナ（図示せず）と、前方グリッププレート４０によって画定されたファスナの開孔１０４とを絶縁する。具体的には、熱シールド５０は、加熱装置５３（図３参照）によって生じる高温からの絶縁を提供する。熱シールド５０は、平坦部１９７と、角度がついた部分１９９とを画定する形であってよい。熱シールド５０の角度がついた部分１９９は、熱シールド５０の平坦部１９７に対して角度をなして突出するへり又はエッジとして形成されうる。
【００３９】
図１５は、熱シールド５０を含む試験装置１０の下部７４の断面図である。図示した実施形態では、熱シールド５０は、前方グリッププレート４０全体を覆い絶縁するように位置づけされる。しかしながら、別の方法では、前方グリッププレート４０の上方端部１２０だけが熱シールド５０によって絶縁されうる。図１５に示すように、絶縁シート２００が、熱シールド５０の内側１９２と前方グリッププレート４０との間に配置されうる。熱シールド５０のルーバ１９８は絶縁材２００をつまむ、又は圧縮することにより、絶縁材２００を熱シールド５０と前方グリッププレート４０との間の適所に固定する。絶縁材２００は、例えば高温セラミック繊維のブランケット等の、ルーバ１９８によって圧縮されるいかなる種類の絶縁材であってもよい。熱シールド５０と絶縁材２００はいずれも、試験中に加熱装置５３（図３）によって生じる高温から前方グリッププレート４０と、前方グリッププレート４０に関連付けられたファスナを保護し絶縁する。絶縁材２００は、選択された補強材１９８ａによって圧縮された一部分に沿って実質的な流体密封状態も形成する。
【００４０】
ここで図１、７〜１１、及び１５を参照しながら、冷却媒体による前方グリッププレート４０の上方端部１２０、及び試験品２２の下部１１２の冷却をここで説明する。入口マニホルド５２、出口マニホルド５４、及び熱シールド５０は協働して、前方グリッププレート４０の上方端部１２０、及び試験品２２の下部１１２を横切って冷却媒体を運ぶための冷却アセンブリ２０４を形成している。冷却媒体は最初に、流入管１４２を通ることによって入口マニホルド５２に流れ込む（図７）。冷却媒体は次に、開口部１６０を通って入口マニホルド５２を出ていく（図８）。
【００４１】
冷却アセンブリ２０４は、上方接触面１１６と下方接触面１１７のうちの少なくとも１つを横切って冷却媒体を運ぶように構成される（図１参照）。冷却アセンブリ２０４は入口マニホルド５２を含み、入口マニホルド５２は、上方接触面１１６と下方接触面１１７のうちの１つを横切って冷却媒体を案内する少なくとも１つの開口部１６０を画定する。冷却アセンブリ２０４はまた出口マニホルド５４も含み、出口マニホルド５４は、入口マニホルド５２の開口部１６０と流体連通している少なくとも１つの開口部１８０を画定する。更に、冷却アセンブリ２０４は、上方グリップ１１８と下方グリップ１２８のうちの少なくとも１つを絶縁するように位置づけされた少なくとも１つの熱シールド５０を含む。
【００４２】
図１５に示すように、絶縁材２００が熱シールド５０の間に圧縮され、選択された前方グリッププレート４０のルーバ１９８ａと、前方グリッププレート４０の上面２０２と、熱シールド５０の内側１９２に沿った角度のついた部分１９９は協働して、点線で示す通路２０６を画定する。冷却媒体は入口マニホルド５２の開口部１６０から流れ出て、通路２０６へ流れ込む。冷却媒体は次に、出口マニホルド５４の開口部１８０に入る。図１５に示す実施形態では、通路２０６は実質的に三角形の断面を含むが、この図は単なる例であり、他のいかなる断面形状も使用可能である。絶縁材２００は熱シールド５０と、上方グリップ１１８と下方グリップ１２８（図６）のうちの少なくとも１つの間に固定され、熱シールド５０の一部と、上方グリップ１１８と下方グリップ１２８のうちの１つは協働して、冷却媒体が内部を移動する通路２０６を画定する。
【００４３】
図示した実施形態では、冷却媒体はガスである。しかしながら、冷却媒体が液体である、あるいは液体−ガス相変化冷却剤である場合、通路２０６内にパイプ又は管（図示せず）が配設される。管は、入口マニホルド５２の開口部１６０と、出口マニホルド５４の開口部１８０との間に冷却媒体を運ぶ。
【００４４】
入口マニホルド５２の開口部１６０は、冷却媒体を通路２０６内において横方向２１０（図７）に案内する。冷却媒体は、前方グリッププレート４０の上方端部１２０と、試験品２２の下部１１２に沿って移動して熱を取り去る。前方グリッププレート４０の上方端部１２０と試験品２２の下部１１２は、試験中に加熱装置５３（図３）によって生じる高温にさらされる。冷却媒体はその後通路２０６から出て、出口マニホルド５４の開口部１８０に入る。冷却媒体はその後、取付具１７４内の開口部から出口マニホルド５４を出て、排出管１４６に入る。
【００４５】
試験装置１０の下部７４に熱シールド５０と様々な冷却フィーチャが含まれる図を示したが、試験装置１０の上部７６は、実質的に同様の冷却構造も含みうる。更に、図１９に示すように、熱シールド５０はまた、試験装置１０の上部７６に沿って含まれうる。更に、前方フレーム部材３２を冷却するために別の冷却システムも使用されうる。具体的には、図１に戻って参照すると、冷却媒体が前方フレーム部材３２の内側チャネル（図示せず）内にも供給されうる。冷却媒体は、前方フレーム部材３２に沿って位置する開孔２１４によって導入される。
【００４６】
図１６は、外側絶縁ブランケット２１２が熱シールド５０の外側１９０に沿って配置された、試験装置１０の下部７４の断面図である。タイピン１９４（図１３に最もよく示す）を使用して、外側絶縁ブランケット２１２を留めることができる。外側絶縁ブランケット２１２は更に、試験中に図３に示す加熱装置５３によって生じる高温からの保護及び絶縁を提供する。外側絶縁ブランケット２１２は、絶縁押さえビーム２２０によって試験品２２に対して強く圧縮される。押さえビーム２２０は、ブラケットアセンブリ２２８のパーツであってよい。ブラケットアセンブリ２２８は更に、一対の調節ブラケット２３２（図１６には調節ブラケット２３２のうちの１つのみを示す）を含みうる。図１６及び１７の両方を参照すると、各調節ブラケット２３２は、試験品２２の外面２３８に対して押さえビーム２２０を位置づけする。
【００４７】
図１６に示すように、押さえビーム２２０は、外側絶縁ブランケット２１２と試験品２２の外面２３８との間に実質的な液体密封状態を形成するために、外側絶縁ブランケット２１２に対して圧力をかける、あるいは外側絶縁ブランケット２１２を圧縮する。絶縁ブランケット２１２と試験品２２との間が密封されることにより、炎及び／又は高温ガスが通路２０６に侵入することが実質的に防止される。したがって、実質的に液体密封状態を形成するために、絶縁ブランケット２１２は熱シールド５０の外側１９０に固定され、押さえビーム２２０は試験装置１０に固定され、試験品２２の外面２３８に対して圧縮される。一実施形態では、絶縁ブランケット２１２は更に、外側絶縁ブランケット２１２と試験品２２の外面２３８との間の接触面２１８に沿って配置された可撓性ガス密封材２１６を含みうる。可撓性ガス密封材２１６は、例えば様々な試験が行われている間に接触面２１８がさらされうる高温に耐えうる高温エラストマー等の比較的可撓性の材料で構成される。可撓性ガス密封材２１６により、外側絶縁ブランケット２１２と試験品２２の外面２３８との間に密閉状態が形成される。
【００４８】
図１７に、絶縁ブランケット２１２が含まれる試験装置１０の下部７４の外側を示す。図１６と図１７の両方を参照すると、押さえビーム２２０が試験品２２と熱シールド５０との間の継ぎ目又は間隙２２２の間で絶縁ブランケット２１２に対して固定される。押さえビーム２２０は外側絶縁ブランケット２１２の前に試験装置１０に組み立てられる。押さえビーム２２０は絶縁ブランケット２１２に沿って横方向に延び、冷却媒体が通路２０６から出るのを実質的に防止する。代替実施形態では、密封状態を付与するために、例えばシリコン等の密封材を代わりに間隙２２２に沿って配置することができる。更に、一実施形態では、絶縁ブランケット２１２の反対側２３０に沿って密封材を配置することにより、加熱装置５３によって生じる熱の侵入を実質的に防止することができる（図３）。
【００４９】
図１８は、前方フレーム部材３２、流入管１４０、１４２、及び排出管１４４、１４６の両方に沿って絶縁材が配置されている試験装置１０を示す図である。絶縁材を使用して加熱装置５３によって生じる熱から前方フレーム部材３２、流入管１４０、１４２、及び排出管１４４、１４６の両方を保護し絶縁することができる（図３）。
【００５０】
図１９及び図２０に、２つの個別のセクション３２２ａ及び３２２ｂからなる試験品を固定する試験装置１０を示す。具体的には、図１９は、絶縁ブランケット２１２が省略された試験装置１０の前面図である。２つの試験品３２２ａ及び３２２ｂは隣同士に配置される。継ぎ目又は間隙３３０が、試験品３２２ａのサイドエッジ３３２と試験品３２２ｂのサイドエッジ３３４の間に画定される。
【００５１】
図１９に示すように、一実施形態では密封ビーズ３４０が間隙３３０の一部に沿って配設される。具体的には、密封ビーズ３４０が試験装置１０の上部７６に位置づけされた熱シールド５０、及び下部７４に位置づけされた熱シールド５０に隣接する間隙３３０に沿って配設されている。密封ビーズ３４０はまた、試験装置１０の上部７６に位置づけされた熱シールド５０のエッジ３１６に沿って２つの試験品３２２ａ、３２２ｂに隣接して配設され、また試験装置１０の下部７４に位置づけされた熱シールド５０のエッジ３１８に沿って２つの試験品３２２ａ、３２２ｂに隣接して配設されうる。一実施形態では、継ぎ目又は間隙３３０に沿って配設される密封ビーズ３４０は、熱シールド５０のエッジ３１６、３１８に沿って位置する密封ビーズ３４０の物質と比較して低格温度が高い密封材で構成されていてよい。
【００５２】
ここで図２０を参照すると、支持部材３４２は、２つの試験品３２２ａ及び３２２ｂの背面３４４に沿って位置づけされている。具体的には、支持部材３４２は縦方向に、２つの試験品３２２ａ及び３２２ｂによってできた間隙３３０の真正面に延びている。支持部材３４２は、上方ブラケット３５０と下方ブラケット３５２によって試験装置に固定されうる。上方ブラケット３５０は、支持部材３４２の上方端部３６０に固定されうる。図２０に示す例示的な実施形態では、ブラケット３５０は、試験装置１０の上部７６に位置づけされた後方負荷フレーム３８によって受け入れられるファスナ８０によって試験装置１０に固定されうる。同様に、下方ブラケット３５２は、試験装置１０の下部７４に位置づけされた後方負荷フレーム３８によって受け入れられるファスナ８０によって試験装置１０に固定されうる。図２０には上方ブラケット３５０及び下方ブラケット３５２を図示したが、他の様々な固定方法も使用可能である。
【００５３】
支持部材３４２は、間隙３３０に沿って２つの試験品３２２ａ及び３２２ｂの支持を提供する。具体的には、支持部材３４２は、縦方向にも延びるフランジ又はエッジ３４１を画定する。図２１は、試験品３２２ａの一部、及び図２０に示す支持部材３４２のエッジ３４１の拡大断面図である。ここで図２０と図２１の両方を参照すると、支持部材３４２のエッジ３４１は、２つの試験品３２２ａ及び３２２ｂによって画定される間隙３３０におおむね対向する面３５１を画定する。図２１に示すように、一または複数のバイアス要素３５４が、支持部材３４２のエッジ３４１の面３５１に沿って配置されている。図２１には単一のバイアス要素３５４を図示したが、複数のバイアス要素３５が支持部材３４２のエッジ３４１の長さＬに沿って配置されている（図２０）。更に、図２１にはバイアス要素３５４をコイルばねとして図示したが、この図は単なる例であり、試験品３２２ａ及び３２２ｂに向かう方向Ｄ１に力を加える様々なバイアス要素も使用可能である。したがって、支持部材３４２は対の前方負荷フレーム３６の間を縦方向に延び、支持部材３４２により、エッジ３４１の長さＬに沿って延びる一連のバイアス要素３５４を有するエッジ３４１が画定される。
【００５４】
続けて図２０と図２１の両方を参照すると、支持体又はフィラーパネル３７２（図２１にのみ示す）は、間隙３３０に沿って２つの試験品３２２ａ及び３２２ｂの背面３６２に沿って位置づけされうる。エッジ３４１は、エッジ３４１の長さＬに沿って延びる一連の開孔３７０を画定する（図２０）。各開孔３７０は、ボルト３７６の対応する胴部３７４を受け入れる形になっている（図２１）。ボルト３７６の胴部３７４は、第１の端部３８０と第２の端部３８２を画定する。ナット３８４は、胴部３７４の第１の端部３８０とねじ山で係合し、バイアス要素３５４は、胴部３７４の第２の端部３８２に取り付けられる。プレート３８６は、胴部３７４の第２の端部３８２を受け入れる形の開孔３８８を画定する。バイアス部材３５４の第１の端部３９０はプレート３８６に取り付けられ、バイアス要素３５４の第２の端部３９２はフィラーパネル３７２に対向する。バイアス要素３５４は、例えば溶接等の接合方法によってプレート３８６にしっかり取り付けることができる。
【００５５】
試験品３２２ａ及び３２２ｂに対するバイアス要素３５４の第２の端部３９２の位置は、調節可能である。１つの方法では、ボルト３７６を横方向に動かすために、ボルト３７６の胴部３７４の周りでナット３８４を時計回りの方向又は反時計回りの方向に回すことができる。具体的には、ボルト３７６を試験品３２２ａ及び３２２ｂに向かって方向Ｄ１に動かす、あるいは試験品３２２ａ及び３２２ｂから離れるように方向Ｄ２に動かすことができる。別の方法では、ブラケット３５０、３５２によって試験品３２２ａ、３２２ｂに対する支持部材３４２の位置を調節することによって、バイアス要素３５４の第２の端部３９２の位置を方向Ｄ１及びＤ２に移動させることができる（図２１参照）。図２１では、図示したバイアス要素３５４の第２の端部３９２はフィラーパネル３７２と接触していないが、試験中は、第２の端部３９２はフィラーパネル３７２と試験品３２２ａ及び３２２ｂと接触し、フィラーパネル３７２と試験品３２２ａ及び３２２ｂに対してバイアス力を加える。したがって、バイアス要素３５４によって２つの試験品３２２ａ及び３２２ｂに加えられた力は、間隙３３０に沿って支持及び安定性を提供する。
【００５６】
図２２は、試験パネル２２を冷却する例示的な方法４００を示すプロセスフロー図である。図１及び図２２をここで参照する。方法４００はブロック４０２において開始しうる。ブロック４０２において、試験装置１０は振動装置１２の表面２０に連結される。試験装置１０は、上部７６と下部７４とを画定するフレーム９８を含む。試験装置１０は、フレーム９８の下部７４において振動装置１２の表面２０に取り外し可能に装着されている。次いで、方法４００はブロック４０４へ進む。
【００５７】
ブロック４０４において、パネル２２の上部１１０は上方接触面１１６に沿って上方グリップ１１８に固定され、パネル２２の下部１１２は下方接触面１１７に沿って下方グリップ１２８に固定されている。上方グリップ１１８はフレーム９８の上部７６に接続され、下方グリップ１２８はフレーム９８の下部７４に接続されている。次いで、方法４００はブロック４０６へ進む。
【００５８】
ブロック４０６において、テンショナーアセンブリ１０６の調節機構９０によって、上方グリップ１１８がパネル２２の上部７６に向かって上方向に引っ張られる。テンショナーアセンブリ１０６は試験装置１０の上部７６に位置し、上方グリップ１１８に接続されている。次いで、方法４００はブロック４０８へ進む。
ブロック４０８において、冷却アセンブリ２０４によって、上方接触面１１６及び下方接触面１１７のうちの少なくとも１つを横切って冷却媒体が運ばれる。次いで、方法４００はブロック４１０へ進む。
【００５９】
ブロック４１０において、入口マニホルド５２によって冷却媒体が上方接触面１１６と下方接触面１１７のうちの１つを横切って案内される。入口マニホルド５２は、少なくとも１つの開口部１６０を画定する（図８）。次いで、方法４００はブロック４１２へ進む。
ブロック４１２において、上方接触面１１６及び下方接触面１１７のうちの１つを横切って案内された冷却媒体が、出口マニホルド５４によって画定される開口部１８０によって受け入れられる（図１０）。次いで方法４００は終了する。
【００６０】
図面を全体的に参照すると、開示の試験装置は、試験品に張力、振動、及び熱を同時に加えることに対応している。試験装置は、通常試験中に加えられる高温に耐えることができる。更に、試験装置はまた、通常試験中に加えられる振動に十分対応できる、比較的軽量で小型の形状も含みうる。例えば、一実施形態では、試験装置は、約３４０キログラム（７５０ポンド）の全体重量を含みうる。比較的軽量で小型の形状は特に、振動台等の振動装置が非常に重い又はかさばる試験装置に対応できない状況で有益でありうる。開示の試験装置はまた、試験中にかかる負荷に対応するために要求される必須の剛性及び強度も含みうる。更に、試験装置は、試験装置の様々な構成要素を絶縁する様々なフィーチャを含みうる。絶縁を付与するのに加えて、試験装置はまた、試験品を固定する試験装置の一部に能動的な冷却を提供するための冷却フィーチャも含みうる。冷却フィーチャにより、試験中に試験品に高温が加えられたときに、試験装置が試験品を固定して試験品に対する張力を維持することが可能になりうる。ある場合には、高温は、試験品の材料を変形させるために必要な負荷を削減するのに要求される最低温度よりも高い可能性がある。
【００６１】
さらに、本開示は、以下の条項による実施形態を含む。
【００６２】
条項１．試験品を固定するための試験装置であって、上部と下部を画定するフレームであって、フレームの下部が振動装置に取り外し可能に装着されるように構成されたフレームと、フレームの上部に接続された上方グリップとフレームの下部に接続された下方グリップであって、上方グリップは上方接触面に沿って試験品の上部を固定するように構成され、下方グリップは下方接触面に沿って試験品の下部を固定するように構成され、上方接触面及び下方接触面はいずれも、試験品と上方グリップ又は下方グリップのいずれかと、が互いに係合する境界を画定する、上方グリップ及び下方グリップと、試験装置の上部に位置し、上方グリップに接続されたテンショナーアセンブリであって、上方グリップをフレームの上部に向かって上方向に引っ張るように構成された調節機構を含むテンショナーアセンブリと、上方接触面及び下方接触面のうちの少なくとも１つを横切って冷却媒体を運ぶように構成された冷却アセンブリとを備える試験装置。
【００６３】
条項２．冷却アセンブリは入口マニホルドを含み、入口マニホルドは、上方接触面及び下方接触面のうちの１つを横切って冷却媒体を案内する少なくとも１つの開口部を画定する、条項１に記載の試験装置。
【００６４】
条項３．冷却アセンブリは出口マニホルドを含み、出口マニホルドは、入口マニホルドの少なくとも１つの開口部と流体連結している少なくとも１つの開口部を画定する、条項２に記載の試験装置。
【００６５】
条項４．冷却アセンブリは、上方グリップと下方グリップのうちの少なくとも１つを絶縁するように位置づけされた少なくとも１つの熱シールドを含む、条項１から３のいずれか一項に記載の試験装置。
【００６６】
条項５．熱シールドと、上方グリップ及び下方グリップのうちの少なくとも１つとの間に固定された絶縁体を備え、熱シールドの一部と上方グリップ及び下方グリップのうちの１つは協働して、冷却媒体が内部を移動する通路を画定する、条項４に記載の試験装置。
【００６７】
条項６．絶縁ブランケットとビームとを備え、絶縁ブランケットは熱シールドの外側に固定され、ビームは試験装置に固定され且つ試験品の外面に対して圧縮されて実質的に流体密封状態を形成する、条項４又は５に記載の試験装置。
【００６８】
条項７．上方グリップ及び下方グリップは各々、おおむね互いに対向する前方グリッププレートと後方グリッププレートとを含む、条項１から６のいずれか一項に記載の試験装置。
【００６９】
条項８．テンショナーアセンブリを上方グリップに接続する上方アダプタプレートを備え、調節機構はアダプタプレートを上方向に引っ張るように構成されている、条項１から７のいずれか一項に記載の試験装置。
【００７０】
条項９．調節機構は、各々が胴部を画定する複数の引っ張りボルトであり、各引っ張りボルトの胴部は、引っ張りボルトが締められたときに上方アダプタプレートが上方向に引っ張られるように上方アダプタプレートに接続されている、条項８に記載の試験装置。
【００７１】
条項１０．フレームの上部に位置する前方負荷フレームを備え、前方負荷フレームは各々、対応するファスナを受け入れるような形をした複数の開孔を画定し、上方アダプタプレートは、対応するファスナのうちの１つを受け入れるための複数の細長い開孔を画定する、条項８又は９に記載の試験装置。
【００７２】
条項１１．冷却媒体は、冷却ガス、冷却空気、冷却液、及び液体−ガス相変化冷却剤のうちの少なくとも１つである、条項１から１０のいずれか一項に記載の試験装置。
【００７３】
条項１２．フレームは一対の前方負荷フレームを含み、前方負荷フレームのうちの１つは試験装置の下部に沿って配置され、残りの前方負荷フレームは試験装置の上部に沿って配置されている、条項１から１１のいずれか一項に記載の試験装置。
【００７４】
条項１３．対の前方負荷フレームの間に縦方向に延びる支持部材を備え、支持部材はエッジの長さに沿って延びる一連のバイアス要素を有するエッジを画定する、条項１２に記載の試験装置。
【００７５】
条項１４．試験品の試験を行うためのシステムであって、表面を画定する振動装置と、条項１から１３のいずれか一項に記載の試験装置とを備えるシステム。
【００７６】
条項１５．試験品の試験を行うためのシステムであって、表面を画定する振動装置と、試験装置であって、上部と下部を画定するフレームであって、振動装置に連結されたフレームと、フレームの上部に接続された上方グリップとフレームの下部に接続された下方グリップであって、上方グリップは上方接触面に沿って試験品の上部を固定するように構成され、下方グリップは下方接触面に沿って試験品の下部を固定するように構成され、上方接触面及び下方接触面はいずれも、試験品と上方グリップ又は下方グリップのいずれかと、が互いに係合する境界を画定する、上方グリップ及び下方グリップと、試験装置の上部に位置し、上方グリップに接続されたテンショナーアセンブリであって、上方グリップをフレームの上部に向かって上方向に引っ張るように構成された調節機構を含むテンショナーアセンブリと、上方接触面及び下方接触面のうちの少なくとも１つを横切って冷却媒体を運ぶように構成された冷却アセンブリとを備える試験装置とを備えるシステム。
【００７７】
条項１６．冷却アセンブリは入口マニホルドを含み、入口マニホルドは、上方接触面及び下方接触面のうちの１つを横切って冷却媒体を案内する少なくとも１つの開口部を画定する、条項１５に記載のシステム。
【００７８】
条項１７．冷却アセンブリは出口マニホルドを含み、出口マニホルドは入口マニホルドの少なくとも１つの開口部と流体連結している少なくとも１つの開口部を画定する、条項１６に記載のシステム。
【００７９】
条項１８．冷却アセンブリは、上方グリップと下方グリップのうちの少なくとも１つを絶縁するように位置づけされた少なくとも１つの熱シールドを含む、条項１５から１７のいずれか一項に記載のシステム。
【００８０】
条項１９．試験装置は、振動装置の表面に取り外し可能に装着される、条項１５から１８のいずれか一項に記載のシステム。
【００８１】
条項２０．振動装置は、試験装置及び試験品を支持し、軸振動又は多軸振動を生成するように構成されている、条項１５から１９のいずれか一項に記載のシステム。
【００８２】
条項２１．システムは試験品に、振動装置によって生成された単軸振動又は多軸振動と、加熱装置によって生じる高温と、試験装置によってかけられる張力負荷を同時に加える、条項１５から２０のいずれか一項に記載のシステム。
【００８３】
条項２２．パネルの試験を行う方法であって、振動装置の表面に試験装置を連結させることであって、試験装置は、上部と下部を画定するフレームを含み且つフレームの下部において表面に取り外し可能に装着されている、連結させることと、パネルの上部を上方接触面に沿って上方グリップに固定し、パネルの下部を下方接触面に沿って下方グリップに固定することであって、上方グリップはフレームの上部に接続され、下方グリップはフレームの下部に接続され、上方接触面及び下方接触面はいずれも、試験品と上方グリップ又は下方グリップのいずれかと、が互いに係合する境界を画定する、固定することと、テンショナーアセンブリの調節機構によって上方グリップをパネルの上部に向かって上方向に引っ張ることであって、テンショナーアセンブリは試験装置の上部に位置し、上方グリップに接続されている、引っ張ることと、冷却アセンブリによって上方接触面と下方接触面のうちの少なくとも１つを横切って冷却媒体を運ぶこととを含む方法。
【００８４】
条項２３．入口マニホルドによって上方接触面と下方接触面のうちの１つを横切って冷却媒体を案内することを含み、入口マニホルドは少なくとも１つの開口部を画定する、条項２２に記載の方法。
【００８５】
条項２４．出口マニホルドによって画定された開口部によって、上方接触面と下方接触面のうちの１つを横切って案内された冷却媒体を受け入れることを含む、条項２２又は２３に記載の方法。
【００８６】
本明細書に記載の装置及び方法の形態は本発明の好ましい実施例を構成しており、本発明は、装置及び方法のこれらの詳細な形態に限定されず、それらに対する変更は本発明の範囲から逸脱することなくなされ得ることを理解されたい。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【外国語明細書】
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