(57)【要約】  本発明は、Ｘ線ビーム源と、Ｘ線ビーム源と検出器との間に配置される台上に担持された関心のオブジェクトを通過した後のＸ線ビームの検出器とを有する種類の放射線装置の入射線量を測定する方法に関り、Ｘ線ビーム源は、台の上方に配置され、Ｘ線ビーム源とオブジェクトとの間の距離は、入射線量を決定するために、オブジェクトの形態学を考慮に入れて推定される。減衰比は、Ｘ線ビーム源を出て検出器に到着するＸ線ビームのそれぞれのエネルギーレベルに依存して計算され、オブジェクトの厚さは、減衰比に依存して計算され、厚さは、台の位置と共に、Ｘ線ビーム源とオブジェクト間の距離を画成する。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線ビーム源と、前記Ｘ線ビーム源と検出器との間に配置される台上に担持された関心のオブジェクトを通過した後のＸ線ビームの検出器とを有する種類の放射線装置の入射線量を測定する方法において、
前記Ｘ線ビーム源は、前記台の上方に配置され、前記Ｘ線ビーム源と前記オブジェクトとの間の距離は、前記入射線量を決定するために、前記オブジェクトの形態学を考慮に入れて推定される方法であって、
前記Ｘ線ビーム源を出て前記検出器に到着するＸ線ビームのそれぞれのエネルギーレベルに依存して、減衰比が計算され、
前記オブジェクトの厚さは、前記減衰比に依存して計算され、
前記厚さは、前記台の位置と共に、前記Ｘ線ビーム源と前記オブジェクトとの間の距離を画成することを特徴とする方法。
【請求項２】
前記Ｘ線ビーム源のエネルギーレベルは、前記Ｘ線ビーム源のモデル概要を用いて計算される請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記オブジェクトの厚さは、前記減衰比に依存し、更に、前記関連のオブジェクトの関心の領域に関する少なくとも１つの第１の補正係数を考慮に入れて計算されることを特徴とする請求項１又は２記載の方法。
【請求項４】
前記オブジェクトの厚さを計算する際に、前記Ｘ線ビーム源の経年変化影響に関する第２の補正係数が用いることを特徴とする請求項１乃至３のうちいずれか一項記載の方法。
【請求項５】
Ｘ線ビーム源と、
検出器と、
前記Ｘ線ビーム源と前記検出器との間に配置される台と、
を有し、
前記Ｘ線ビーム源は、前記台の上方に配置され、
前記Ｘ線ビーム源と前記台上に配置されるオブジェクトの間の距離を推定するよう構成される計算ユニットは、前記入射線量を決定するために、前記オブジェクトの形態学を考慮に入れ、減衰比を計算することは、前記Ｘ線ビーム源を出て前記検出器に到着するＸ線ビームのそれぞれのエネルギーレベルに依存し、前記オブジェクトの厚さを計算することは、前記減衰比に依存し、前記厚さは、前記台の位置と共に、前記Ｘ線ビーム源と前記オブジェクトとの間の前記距離を画成することを特徴とする放射線装置。
【請求項６】
Ｘ線ビーム源と台上に配置されるオブジェクトとの間の距離を、前記入射線量を決定するために、前記オブジェクトの形態学を考慮に入れて、推定し、
前記Ｘ線ビーム源を出て前記検出器に到着するＸ線ビームのそれぞれのエネルギーレベルに依存して減衰比を計算し、
前記オブジェクトの厚さを、前記減衰比に依存して計算し、
前記厚さは、台の位置と共に、前記Ｘ線ビーム源と前記オブジェクトとの間の前記距離を画成する命令を有するコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【発明の詳細な説明】
【０００１】
本発明は、Ｘ線ビーム源と、Ｘ線ビーム源と検出器との間に配置される台上に担持された関心のオブジェクトを通過した後のＸ線ビームの検出器とを有する種類の放射線装置の入射線量を測定する方法に係り、Ｘ線ビーム源は、台の上方に配置され、Ｘ線ビーム源とオブジェクトとの間の距離は、入射線量を決定するために、オブジェクトの形態学を考慮に入れて推定される。
【０００２】
このような方法は、ＥＰ−Ａ−１  ０３５４２０から公知である。
【０００３】
このような方法では、一般的に患者であるオブジェクトが受ける実際のＸ線照射量の正確な値を導出することを意図する。その重要性は、自明である。
【０００４】
本発明は、入射線量を決定するために、オブジェクトの形態学を考慮に入れる簡単であるが信頼の置ける方法を提供することを目的とする。
【０００５】
この点に関し、本発明の方法は、Ｘ線ビーム源を出て検出器に到着するＸ線ビームのそれぞれのエネルギーレベルに依存して、減衰比が計算され、オブジェクトの厚さは、減衰比に依存して計算され、厚さは、台の位置と共に、Ｘ線ビーム源とオブジェクトとの間の距離を画成することを特徴とする。
【０００６】
Ｘ線ビーム源からオブジェクトへの距離が分かると、患者に到達するＸ線ビームの入射線量が、従来技術から周知の適用可能な方法に従って、容易に計算することが可能である。
【０００７】
患者に到達するＸ線ビームの入射線量計算の容易さは、Ｘ線ビーム源を出るＸ線ビームのエネルギーレベルがＸ線ビーム源のモデル概要を用いて計算される手段によって支持される。このようなＸ線ビーム源のモデル概要は、例えば、ＵＳ−Ａ−４  １５８１３８といった従来技術から、それ自体は公知である。
【０００８】
オブジェクトの厚さは、減衰比に依存し、更に、関連のオブジェクトの関心の領域に関する少なくとも１つの補正係数を考慮に入れて計算されることが好適である。このようにすると、オブジェクトの厚さの決定は、患者の検査される部位がそのような患者の通常検査される水のような組織から中程度よりずれても、必要な精度に維持されることが可能である。このようにすると、頭部、胸部、及び、骨盤も好適に検査し得る。
【０００９】
オブジェクトの厚さを計算する際に、Ｘ線ビーム源の経年変化影響に関する第２の補正係数が用いることが更に好適である。このことは、用いる関心の放射線装置の定期的な較正に照らして行われ得る。
【００１０】
当然ながら、シャッタ、ウェッジ、及びフィルタの適用の場合には、特別な予防措置が取られなければならない。これらのオブジェクトが測定フィールド内に入れられる場合、それらの位置と減衰値は、既知でなければならず、従って、患者の厚さを導出する際に、常に考慮に入れられなければならない。特別な予防措置を取り、装置のコリメータ筐体のフィルタ保持スリットにおける外部フィルタの適用に気が付かないことを阻止する。
【００１１】
本発明は更に、放射線装置に関する。請求項５に記載されるような本発明の放射線装置は、本発明の方法に従って動作することが可能である。本発明は更に、コンピュータプログラムにも関する。本発明のコンピュータプログラムは、請求項６に記載する。本発明のコンピュータプログラムが、放射線装置の動作を制御するよう放射線装置内のプロセッサの作業メモリ内にロードされると、放射線装置が、本発明の方法を実行することが可能にされる。
【００１２】
本発明は、以下に、図面を参照しながら、更に説明する。
【００１３】
図１は、矢印１５によって示す高さで可動なＸ線ビーム源１を有する放射線装置を示す。
【００１４】
Ｘ線ビーム源１は、監視される人５が横たわる台１０の上方に配置される。台１０の下には、Ｘ線ビーム源１により放出されたＸ線ビームを、人５の体を通過した後に受ける検出器６が配置される。
【００１５】
人５の皮膚における入射線量を測定するには、Ｘ線ビーム源１を出て検出器６に到着するＸ線ビームのそれぞれのエネルギーレベルに依存する減衰比が計算される。
【００１６】
この減衰比は、人５の厚さを推定するよう用いられ、また、Ｘ線ビーム源１に向かい合う台１０の実際の位置と共にこの厚さを用いて、Ｘ線ビーム源１と人５との間の距離を決定する。
【００１７】
図１に示す装置は、Ｘ線ビーム源１は固定され、台１０が特定の所望の高さレベルまで垂直方向に可動であるよう実施することも可能であることは明らかである。
【００１８】
本発明の１つの好適な実施例では、Ｘ線ビーム源１を出るＸ線ビームのエネルギーレベルは、Ｘ線ビーム源１の所定のモデル概要を用いて計算される。
【００１９】
更に、監視される人５の体の部位に応じて、測定された減衰比に依存する人５の厚さの導出に、補正係数を適用することが好適である。
【００２０】
更に、Ｘ線ビーム源１の経年変化影響を考慮に入れるよう第２の補正係数が用いられることが望ましい。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の方法に用いる放射線装置を示す図である。
【図１】
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【国際調査報告】
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