(57)【要約】【課題】撮影時の適切な調光を行うことができる撮像装置を提供する。【解決手段】カメラ１００は、テスト発光において、所定の強さ以上の発光を行う必要が無い場合、フラット発光を行う。【選択図】図６
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体を照明するための発光手段によりテスト発光を行って得られる輝度情報を用いて撮影のための前記発光手段の発光量を決定する撮像装置であって、
前記輝度情報を取得するために蓄積された電荷の測光を行う測光手段と、
前記電荷を蓄積する期間のうち一部の期間のみ発光する第１の発光、及び前記電荷を蓄積する間中発光する第２の発光のいずれかを選択して前記テスト発光の制御を行う制御手段とを備え、
前記制御手段は、前記テスト発光において所定の強さ以上の発光を行う必要が無い場合、前記第２の発光を選択することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記第２の発光は、高速で連続発光することを特徴とする請求項１記載の撮像装置。
【請求項３】
前記制御手段は、前記測光手段の測光によって得られた測光値が予め設定された閾値以上である場合、前記第２の発光を選択することを特徴とする請求項１又は２記載の撮像装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記撮影が前記発光手段から前記被写体に光を間接的に照射して撮影を行うバウンス撮影でない場合、前記第２の発光を選択することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記制御手段は、前記被写体までの距離が予め設定された基準距離より近い場合、前記第２の発光を選択することを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項６】
前記制御手段は、前記発光手段と同期して発光する他の発光手段が前記撮像装置に設けられている場合、前記第２の発光を選択することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項７】
前記発光手段は、キセノン管及びＬＥＤを備え、前記第１の発光は前記キセノン管によって行われ、前記第２の発光はＬＥＤによって行われることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の撮像装置。
【請求項８】
被写体を照明するための発光手段によりテスト発光を行って得られる輝度情報を用いて撮影のための前記発光手段の発光量を決定する撮像装置の制御方法であって、
前記輝度情報を取得するために蓄積された電荷の測光を行う測光ステップと、
前記電荷を蓄積する期間のうち一部の期間のみ発光する第１の発光、及び前記電荷を蓄積する間中発光する第２の発光のいずれかを選択して前記テスト発光の制御を行う制御ステップとを有し、
前記制御ステップは、前記テスト発光において所定の強さ以上の発光を行う必要が無い場合、前記第２の発光を選択することを特徴とする撮像装置の制御方法。
【請求項９】
被写体を照明するための発光手段によりテスト発光を行って得られる輝度情報を用いて撮影のための前記発光手段の発光量を決定する撮像装置の制御方法をコンピュータに実行させるプログラムであって、
前記撮像装置の制御方法は、
前記輝度情報を取得するために蓄積された電荷の測光を行う測光ステップと、
前記電荷を蓄積する期間のうち一部の期間のみ発光する第１の発光、及び前記電荷を蓄積する間中発光する第２の発光のいずれかを選択して前記テスト発光の制御を行う制御ステップとを有し、
前記制御ステップは、前記テスト発光において所定の強さ以上の発光を行う必要が無い場合、前記第２の発光を選択することを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ストロボを発光させて撮影を行う撮像装置及びその制御方法、並びにプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ストロボを発光させて撮影を行う撮像装置としてのカメラが知られている。カメラは、例えば、撮影を行う前にテスト発光を行い、テスト発光した際に被写体から反射した反射光を測光し、測光した結果に基づいて撮影時のストロボの調光を行う（例えば、特許文献１参照）。テスト発光では被写体までの距離に応じてストロボの発光の強さが制御される。カメラは、例えば、遠くの被写体を撮影する際のテスト発光では強い発光、具体的に、発光量が大きく且つ発光時間が長い発光を行う一方、近くの被写体を撮影する際のテスト発光では弱い発光、具体的に、発光量が小さく且つ発光時間が短い発光を行う。
【０００３】
ストロボの調光を適切に行うために、カメラでは、テスト発光において発光量がピークとなるタイミングで測光するのが好ましいが、ストロボの発光制御において或る程度のばらつきが生じてしまうので、発光量がピークとなるタイミングの予測が困難となる。このため、従来では、カメラは、テスト発光した際の被写体の反射光に応じた電荷を、ストロボの発光の強さに関わらず一定の長さであって且つテスト発光期間を含む所定の期間蓄積し、蓄積された電荷に対して測光する。つまり、テスト発光における測光結果にはストロボが発光していない期間の測光結果も含まれる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００４】
【特許文献１】特開２０１４−１２６７１２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、テスト発光における測光結果にストロボが発光していない期間の測光結果も含まれると、ストロボが発光していない期間に生じた環境光成分等のノイズも含まれてしまう。特に、弱い発光では測光結果にストロボが発光していない期間の情報が多く含まれるので、該ノイズの影響が顕著に表れ、その結果、従来のカメラは撮影時の調光を適切に行うことができない。
【０００６】
本発明の目的は、撮影時の適切な調光を行うことができる撮像装置及びその制御方法、並びにプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明の撮像装置は、被写体を照明するための発光手段によりテスト発光を行って得られる輝度情報を用いて撮影のための前記発光手段の発光量を決定する撮像装置であって、前記輝度情報を取得するために蓄積された電荷の測光を行う測光手段と、前記電荷を蓄積する期間のうち一部の期間のみ発光する第１の発光、及び前記電荷を蓄積する間中発光する第２の発光のいずれかを選択して前記テスト発光の制御を行う制御手段とを備え、前記制御手段は、前記テスト発光において所定の強さ以上の発光を行う必要が無い場合、前記第２の発光を選択することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、撮影時の適切な調光を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【０００９】
【図１】本発明の実施の形態に係る撮像装置としてのカメラの側面図である。
【図２】図１のカメラによって実行される撮像制御処理の手順を示すフローチャートである。
【図３】図２のステップＳ２０５の発光量決定処理の手順を示すフローチャートである。
【図４】図１のストロボによる閃光発光を説明するための図である。
【図５】図１のストロボによるフラット発光を説明するための図である。
【図６】図３のステップＳ３０１のパラメータ決定処理の手順を示すフローチャートである。
【図７】図１のカメラにおける本発光の到達距離を説明するための図である。
【図８】図１のカメラで用いられるパラメータリストの一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００１０】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しながら詳述する。
【００１１】
図１は、本発明の実施の形態に係る撮像装置としてのカメラ１００の側面図である。
【００１２】
図１において、カメラ１００は、本体１０１、レンズ部１１３、及びストロボ１１６（発光手段）を備える。なお、図１では理解を容易にするために内部の構成が透過して示される。本体１０１は、ＣＰＵ１０２、メモリ１０３、撮像部１０４、シャッター１０５、ハーフミラー１０６、ピント板１０７、測光センサ１０８、ペンタプリズム１０９、光学ファインダー１１０、ＡＦミラー１１１、及びＡＦ用センサ１１２を備える。レンズ部１１３はＬＰＵ１１４及びレンズ群１１５を備える。ストロボ１１６はＳＣＰＵ１１７、光量制御装置１１８、ズーム光学系１１９、反射傘１２０、及び光源１２１を備える。
【００１３】
ＣＰＵ１０２は本体１０１における各制御を行う。メモリ１０３はＣＰＵ１０２に接続されたＲＡＭやＲＯＭ等のメモリであり、ＣＰＵ１０２によって実行されるプログラムや各データを格納する。撮像部１０４は赤外カットフィルタやローパスフィルタ等を含むＣＣＤやＣＭＯＳ等の撮像素子であり、撮像部１０４ではレンズ部１１３から入射した光が被写体の像として結像される。シャッター１０５は開閉駆動可能であり、非撮影時には閉じて撮像部１０４を遮光し、撮影時には開いて撮像部１０４へ光を通過させる。ハーフミラー１０６は非撮影時にレンズ部１１３から入射した光の一部を反射させてピント板１０７に結像させる。測光センサ１０８はＣＣＤやＣＭＯＳ等の撮像素子を備え、測光演算、顔検出演算、追跡演算、及び光源検知等の被写体認識処理（以下、「ＡＥ処理」という。）を行う。例えば、測光センサ１０８はペンタプリズム１０９から導かれた光を電荷に変換し、設定された期間中電荷を蓄積する。測光センサ１０８は蓄積された電荷に基づいて画像信号を生成し、該画像信号に基づいてＡＥ処理を行う。ペンタプリズム１０９はピント板１０７を通過した光を測光センサ１０８及び光学ファインダー１１０に反射させる。ＡＦミラー１１１はハーフミラー１０６から導かれた光の一部をＡＦ用センサ１１２に反射させる。ＡＦ用センサ１１２はＡＦミラー１１１から導かれた光に応じた信号をＣＰＵ１０２に出力し、ＣＰＵ１０２は該信号に基づいてＡＦ処理を行う。また、ＣＰＵ１０２は該信号に基づいてカメラ１００から被写体までの距離を測定する。
【００１４】
ＬＰＵ１１４はレンズ部１１３におけるレンズ群１１５を移動させる制御を行う。例えば、ＬＰＵ１１４は、ピントのずれ量を示すデフォーカス量をＣＰＵ１０２から受信すると、該デフォーカス量に基づいてレンズ群１１５をピントが合う位置（以下、「フォーカシング位置」という。）に移動させる。ＳＣＰＵ１１７はストロボ１１６における各制御を行う。光量制御装置１１８は光源１２１の発光の制御を行う。ズーム光学系１１９はパネル状のフレネルレンズ等で構成され、ストロボ１１６の照射角を変更する。反射傘１２０は光源１２１の発光による光束を集光し、被写体に照射する。光源１２１は被写体を照明するための発光手段であり、キセノン管等である。
【００１５】
図２は、図１のカメラ１００によって実行される撮像制御処理の手順を示すフローチャートである。
【００１６】
図２の処理は、ＣＰＵ１０２がメモリ１０３に格納されたプログラムを実行することによって行われ、カメラ１００が起動している場合を前提とする。
【００１７】
図２において、まず、ＣＰＵ１０２は、撮影を指示する図示しないシャッタスイッチの半押しがユーザによって行われたか否かを示すオンオフ通知（以下、「ＳＷ１」という。）を受信し、ＳＷ１がオンであると（ステップＳ２０１でＹＥＳ）、測光センサ１０８を制御してＡＥ処理を行う（ステップＳ２０２）。これにより、定常光における被写体の輝度情報を含む測光値（以下、「定常光における測光値」）が得られる。また、定常光における測光値に基づいて撮影時の絞り値やＩＳＯ感度等の露出制御値が決定される。次いで、ＣＰＵ１０２はＡＦ用センサ１１２を制御して位相差方式のＡＦ（オートフォーカス）処理を行う（ステップＳ２０３）。ＡＦ処理では、ＣＰＵ１０２が測光センサ１０８で生成された画像に基づいて被写体の顔を検知し、ＡＦ用センサ１１２の出力に基づいて該顔までの距離を測定し、測定した結果に基づいてデフォーカス量を算出する。ＣＰＵ１０２は算出したデフォーカス量をＬＰＵ１１４に送信する。これにより、ＬＰＵ１１４が受信したデフォーカス量に基づいてレンズ群１１５をフォーカシング位置に移動させる。次いで、ＣＰＵ１０２は図示しないシャッタスイッチの全押しがユーザによって行われたか否かを示すオンオフ通知（以下、「ＳＷ２」という。）を受信し、ＳＷ２がオン及びオフのいずれであるかを判別する（ステップＳ２０４）。
【００１８】
ステップＳ２０４の判別の結果、ＳＷ２がオフであるとき、ＣＰＵ１０２はステップＳ２０１の処理に戻る。一方、ステップＳ２０４の判別の結果、ＳＷ２がオンであるとき、ＣＰＵ１０２は後述する図３の発光量決定処理を実行し（ステップＳ２０５）、撮影時のストロボ１１６の発光量及び発光時間を決定する。次いで、ＣＰＵ１０２はステップＳ２０５で決定した発光量及び発光時間に基づいてストロボ１１６を発光させ、該ストロボ１１６の発光を伴う撮影を行い（ステップＳ２０６）、本処理を終了する。
【００１９】
図３は、図２のステップＳ２０５の発光量決定処理の手順を示すフローチャートである。
【００２０】
図３において、ＣＰＵ１０２は後述する図４のパラメータ決定処理を実行し（ステップＳ３０１）、テスト発光を行うためのパラメータを決定する。次いで、ＣＰＵ１０２は測光センサ１０８による第１の測光処理を実行する（ステップＳ３０２）。第１の測光処理はテスト発光を行う直前のタイミングで行われる。第１の測光処理では、測光センサ１０８は、第１の測光処理の実行をＣＰＵ１０２に指示されてから、テスト発光パラメータに設定された蓄積時間が経過するまでの間電荷を蓄積し、蓄積した電荷に基づいてＡＥ処理を行う。これにより、テスト発光直前の被写体の輝度情報を含む画像データ（以下、「テスト発光直前の画像データ」という。）が生成され、テスト発光直前の画像データは第１の測光処理の測光結果としてメモリ１０３に格納される。次いで、ＣＰＵ１０２はステップＳ３０１で決定したパラメータに基づいてストロボ１１６を発光させ、測光センサ１０８による第２の測光処理を実行する（ステップＳ３０３）。第２の測光処理はテスト発光中のタイミングで行われる。第２の測光処理では、測光センサ１０８は、第２の測光処理の実行をＣＰＵ１０２に指示されてから、テスト発光パラメータに設定された蓄積時間が経過するまでの間電荷を蓄積し、蓄積した電荷に基づいてＡＥ処理を行う。これにより、テスト発光中の被写体の輝度情報を含む画像データ（以下、「テスト発光中の画像データ」という。）が生成され、テスト発光中の画像データは第２の測光処理の測光結果としてメモリ１０３に格納される。
【００２１】
次いで、ＣＰＵ１０２はテスト発光中の画像データ及びテスト発光直前の画像データの差に基づいて反射光画像データを生成し（ステップＳ３０４）、反射光画像データをメモリ１０３に格納する。反射光画像データは定常光による影響が取り除かれ、ストロボ１１６の光による被写体の輝度成分のみを含む。次いで、ＣＰＵ１０２は反射光画像データを用いて反射光の平均演算を行い、反射光平均値Ｙsを算出する（ステップＳ３０５）。例えば、撮影画像の中央の領域に対する調光を優先する中央重点調光モードがカメラ１００に設定されている場合、ＣＰＵ１０２は画像の中央付近の領域に対する重み付け係数を画像の中央付近以外の領域に対する重み付け係数よりも大きい値に設定する。また、カメラ１００に搭載された特徴領域検出機能を用いて撮像を行う場合、ＣＰＵ１０２は検出された特徴領域に対する重み付け係数を特徴領域以外の他の領域に対する重み付け係数よりも大きい値に設定する。ＣＰＵ１０２は設定された重み付け係数に基づいて反射光平均値Ｙsを算出する。
【００２２】
次いで、ＣＰＵ１０２は反射光平均値Ｙsを対数変換して反射光輝度値Ｙslogを算出し、反射光輝度値Ｙslog及び適輝度値Ｙt（対数）の差ＤＦ＝Ｙslog−Ｙtを算出する。適輝度値Ｙt（対数）は撮影時に適正露出となる値を対数に変換したデータである。ＣＰＵ１０２はテスト発光の発光量及びＤＦに基づいて撮影時のストロボ１１６の発光量ＦＬＡＳＨを決定する（ステップＳ３０６）。
ＦＬＡＳＨ＝（テスト発光の発光量）−ＤＦ    …（式１）
【００２３】
ＣＰＵ１０２は決定した発光量ＦＬＡＳＨをＳＣＰＵ１１７に出力し、ステップＳ２０６以降の処理を行う。発光量ＦＬＡＳＨを受信したストロボ１１６は、撮影時に発光量ＦＬＡＳＨの発光を行う。
【００２４】
次に、ストロボ１１６における発光処理について説明する。
【００２５】
ストロボ１１６は、ＣＰＵ１０２から発光を指示する信号（以下、「ストロボトリガ」という。）を受信すると、発光処理を開始し、図４に示すような閃光発光及び図５に示すようなフラット発光のいずれかを行う。
【００２６】
閃光発光では設定された発光量に応じた発光が瞬間的に行われる。例えば、ストロボ１１６は波形４０１のように、設定された発光量４０２の発光（以下、「ピーク発光」という。）を行った後消灯する。通常、測光処理において、ストロボ１１６が発光している期間だけ電荷を蓄積するだけで十分であるが、閃光発光では、ピーク発光となるタイミングのバラつきを考慮して、測光センサ１０８が発光量の大きさに関わらず一定の長さであって且つストロボ１１６の発光期間を含む図４の期間４０３電荷を蓄積する。すなわち、閃光発光は電荷を蓄積する期間４０３のうち一部の期間のみ発光する。閃光発光では、例えば、波形４０４のように、発光量を小さくすると、測光センサ１０８による測光結果に、期間４０５に示すようにストロボ１１６が発光していない期間の情報が多く含まれてしまう。ストロボ１１６が発光していない期間にノイズが発生すると、測光結果に該ノイズが含まれてしまい、撮影時のストロボ１１６の調光を適切に行うことができなくなってしまう。このため、閃光発光は発光量が小さい発光に適してない。
【００２７】
フラット発光では発光量の他に、発光時間によっても発光の強さが制御される。例えば、同じ発光量でも、発光時間を半分にすることで、半分の発光量に相当する発光を実現可能である。また、フラット発光ではストロボ１１６が高速で連続発光する。これにより、ストロボ１１６による光の照射時間が擬似的に長くなり、ストロボ１１６において、波形５０１のように、所定の期間ほぼ一定の発光量の発光が行われる。このため、測光処理において、ストロボ１１６の発光期間中であればいずれのタイミングでも安定した測光結果を取得可能である。フラット発光は電荷の蓄積が行われている間中発光しているが、電荷の蓄積が行われていない期間もストロボ１１６が発光し続け、特に、発光量の大きい発光を行う場合では、ストロボ１１６の発光による電力の消費量が増大してしまう。このため、フラット発光は発光量が大きい発光に適してない。
【００２８】
閃光発光及びフラット発光の各特性を考慮し、本実施の形態では、所定の強さ以上の発光を行う必要がある場合のみ閃光発光を行い、所定の強さ以上の発光を行う必要が無い場合にはフラット発光を行う。
【００２９】
図６は、図３のステップＳ３０１のパラメータ決定処理の手順を示すフローチャートである。
【００３０】
図６において、ＣＰＵ１０２は、ステップＳ２０２で取得した定常光における測光値をメモリ１０３に予め格納された所定の閾値と比較し、定常光における測光値が所定の閾値以上であるか否かを判別する（ステップＳ６０１）。
【００３１】
ステップＳ６０１の判別の結果、定常光における測光値が所定の閾値未満であるとき、ＣＰＵ１０２は、撮影がバウンス撮影であるか否かを判別する（ステップＳ６０２）。バウンス撮影はストロボ１１６の光を被写体に直接当てるのではなく、天井や壁等に向けて発光し、反射させた光を被写体に当てる撮影である。なお、バウンス撮影であるか否かは、ＣＰＵ１０２がＳＣＰＵ１１７と通信して得た、ストロボ１１６の光源１２１の向き等を示すバウンス情報に基づいて判別すればよい。
【００３２】
ステップＳ６０２の判別の結果、バウンス撮影でないとき、ＣＰＵ１０２はステップＳ２０２の処理によって決定された撮影時の露出制御値を設定した際のストロボ１１６の発光（以下、「本発光」という。）の到達距離を取得する。なお、到達距離とは、光の到達する被写体距離ではなく、被写体に到達した光の反射光を受光した結果が所定のレベル以上となる距離を表す。カメラ１００では、図７に示すように、露出制御値毎に本発光の到達距離が異なる。例えば、露出制御値としての絞り値が小さく且つＩＳＯ感度が高い程本発光の到達距離が長く、また、露出制御値としての絞り値が大きく且つＩＳＯ感度が低い程本発光の到達距離が短い。ＣＰＵ１０２は取得した本発光の到達距離に基づいて図８のパラメータリスト８０１の中からテスト発光のパラメータを決定する（ステップＳ６０３）。パラメータリスト８０１は複数のテスト発光のパラメータを含み、各テスト発光のパラメータは、閃光発光及びフラット発光のいずれかを示す情報、発光量、及び電荷の蓄積時間の組み合わせ情報である。各テスト発光のパラメータには各テスト発光のパラメータを設定した際のストロボ１１６の発光の到達距離（以下、「テスト発光到達距離」）が設定されている。本実施の形態では、一例として、パラメータリスト８０１において、最も強い発光のパラメータのみ閃光発光であり、それ以外の強さの発光はフラット発光である場合を前提とする。ステップＳ６０３では、ＣＰＵ１０２はパラメータリスト８０１の中から、本発光の到達距離に相当するテスト発光到達距離に対応するテスト発光のパラメータを決定する。例えば、露出制御値が、図７の（ａ）の絞り値Ｆ２及びＩＳＯ感度８００である場合、本発光の到達距離は４〜４５ｍである。ＣＰＵ１０２は、該露出制御値に対するテスト発光のパラメータをテスト発光到達距離が２〜９１ｍのパラメータ（ａ１）に決定する。次いで、ＣＰＵ１０２はレンズ部１１３からフォーカシング位置を取得できたか否かを判別する（ステップＳ６０４）。
【００３３】
ステップＳ６０４の判別の結果、フォーカシング位置を取得できないとき、ＣＰＵ１０２はステップＳ３０２以降の処理を行う。一方、ステップＳ６０４の判別の結果、フォーカシング位置を取得できたとき、ＣＰＵ１０２は取得したフォーカシング位置に基づいて被写体の距離情報を取得し、該被写体の距離情報に基づいてステップＳ６０３で決定したテスト発光のパラメータを変更する（ステップＳ６０５）。例えば、被写体までの距離が、ステップＳ６０３で決定したパラメータ（ａ１）におけるテスト発光到達距離２．０ｍ（基準距離）より近い距離である場合、ＣＰＵ１０２はパラメータ（ａ１）からフラット発光の（ｂ１）に変更する。その後、ＣＰＵ１０２はステップＳ３０２以降の処理を行う。
【００３４】
なお、ステップＳ６０４では、フォーカシング位置に基づいて被写体の距離情報を取得しているが、ＡＦ用センサ１１２から出力された信号に基づいて被写体の距離情報を取得してもよい。
【００３５】
ステップＳ６０２の判別の結果、バウンス撮影であるとき、ＣＰＵ１０２はテスト発光のパラメータを決定する（ステップＳ６０６）。ここで、ストロボ１１６の発光を伴う撮影を行う場合、カメラ１００はストロボ１１６を発光するための電力を充電し、充電した電力をテスト発光及び本発光に分散して用いる。このため、テスト発光で電力を消費し過ぎると、本発光時に電力が不足して所望の強さの発光を行うことができなくなる。一方、バウンス撮影は被写体に間接的に光を照射するので、比較的強い発光を行う必要がある。比較的強い発光には或る程度の電力が必要となるので、本発光に電力を温存するためにテスト発光では可能な限り電力の消費を低減するのが好ましい。これに対し、本実施の形態では、ステップＳ６０６において、フラット発光より電力の消費を低減可能な閃光発光の選択肢を多く含む他のパラメータリストの中からテスト発光のパラメータを決定する。その後、ＣＰＵ１０２はステップＳ３０２以降の処理を行う。
【００３６】
ステップＳ６０１の判別の結果、定常光における測光値が所定の閾値以上であるとき、ＣＰＵ１０２はテスト発光のパラメータを決定する（ステップＳ６０７）。定常光における測光値が所定の閾値以上である場合は、被写体が比較的明るい場合に該当する。この場合、ストロボ１１６が強い発光を行うと、測光処理を行う測光センサ１０８では被写体の反射光に相当する電荷が飽和してしまい、その結果、適切な調光を行うことができない。このため、定常光における測光値が所定の閾値以上である場合には発光が弱いテスト発光を行うのが好ましい。つまり、閃光発光よりフラット発光を行うのが好ましい。これに対し、ステップＳ６０７では、フラット発光の選択肢のみを含むパラメータリストの中からテスト発光のパラメータを決定する。すなわち、本実施の形態では、定常光における測光値が所定の閾値以上である場合、フラット発光が選択される。その後、ＣＰＵ１０２はステップＳ３０２以降の処理を行う。
【００３７】
上述した本実施の形態によれば、テスト発光において所定の強さ以上の発光を行う必要が無い場合、フラット発光が行われる。すなわち、発光が弱いテスト発光において測光結果にストロボ１１６が発光していない期間の情報が含まれることがない。これにより、ストロボ１１６が発光していない期間に生じたノイズを含まない測光結果を取得することができ、もって、撮影時の適切な調光を行うことができる。
【００３８】
また、上述した本実施の形態では、フラット発光は高速で連続発光する。これにより、所定の期間ほぼ一定の発光量の発光を行うことができ、ストロボ１１６の発光期間中であればいずれのタイミングでも安定した測光結果を取得することができる。
【００３９】
さらに、上述した本実施の形態では、定常光における測光値が所定の閾値以上である場合、被写体までの距離が所定の距離より近い場合、フラット発光が行われる。これにより、定常光における測光値が所定の閾値以上である場合、被写体までの距離が所定の距離より近い場合といった所定の強さ以上の発光を行う必要が無い場合において撮影時の適切な調光を確実に行うことができる。
【００４０】
以上、本発明について、上述した実施の形態を用いて説明したが、本発明は上述した実施の形態に限定されるものではない。例えば、定常光における測光値が所定の閾値以上である場合に、フラット発光の選択肢のみを含むパラメータリストの中からテスト発光のパラメータを決定しているが、これに限られない。例えば、カメラ１００がストロボ１１６に同期して発光する他のストロボを備える場合も、各ストロボでは強い発光を行う必要がない。このような場合にも、フラット発光の選択肢のみを含むパラメータリストの中からテスト発光のパラメータを決定する。これにより、カメラ１００がストロボ１１６に同期して発光する他のストロボを備える場合にも適切な調光を行うことができる。
【００４１】
また、上述した本実施の形態では、パラメータリスト８０１が閃光発光のパラメータを含んでいるが、全てフラット発光のパラメータであっても良い。すなわち、撮影がバウンス撮影である場合、フラット発光が行われる。
【００４２】
さらに、上述した本実施の形態では、ストロボ１１６が、キセノン管である光源１２１の他に、キセノン管より電力の消費量が小さいＬＥＤ等の他の光源を備え、光源１２１に閃光発光を行わせ、ＬＥＤにフラット発光を行わせても良い。これにより、閃光発光より電力の消費量が多いフラット発光における電力の消費を低減することができる。
【００４３】
本発明は、上述の実施の形態の１以上の機能を実現するプログラムをネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、該システム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサがプログラムを読み出して実行する処理でも実現可能である。また、本発明は、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。
【符号の説明】
【００４４】
１００  カメラ
１０２  ＣＰＵ
１０８  測光センサ
１１６  ストロボ
１２１  光源
【図１】
2018151464.tif 000003
【図２】
2018151464.tif 000004
【図３】
2018151464.tif 000005
【図４】
2018151464.tif 000006
【図５】
2018151464.tif 000007
【図６】
2018151464.tif 000008
【図７】
2018151464.tif 000009
【図８】
2018151464.tif 000010