(57)【要約】【課題】パルス幅の微小な差による画質への悪影響を改善する。【解決手段】画像データの各画素に対応する画像処理クロックを参照して画像データに応じて画像形成用にパルス幅変調された作像信号を生成するＰＷＭ処理部と、作像信号のパルス幅を測定する測定部と、ＰＷＭ処理部と測定部とを制御する制御部と、を備え、測定部は、画像を出力する領域において、画像データ中の所定の画素値を有する画素に対応する作像信号のパルス幅を測定し、画像を出力しない領域において、疑似作像信号を生成して当該疑似作像信号のパルス幅を測定し、制御部は、測定部の測定結果を参照し、作像信号のパルス幅を所定の画素値に対応した適正なパルス幅に合致させる補正値を定めるようＰＷＭ処理部を制御し、ＰＷＭ処理部は、補正値を用いつつ、画像データに応じた作像信号を生成する。【選択図】図１
2018058293.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像データの各画素に対応する画像処理クロックを参照して前記画像データに応じて画像形成用にパルス幅変調された作像信号を生成するＰＷＭ処理部と、
前記作像信号のパルス幅を測定する測定部と、
前記ＰＷＭ処理部と前記測定部とを制御する制御部と、
を備え、
前記測定部は、
画像を出力する領域において、画像データ中の所定の画素値を有する画素に対応する作像信号の前記パルス幅を測定し、
画像を出力しない領域において、所定の画素値に相当する疑似作像信号を生成して、当該疑似作像信号の前記パルス幅を測定し、
前記制御部は、前記測定部の測定結果を参照し、前記作像信号の前記パルス幅を前記所定の画素値に対応した適正なパルス幅に合致させる補正値を定めるよう前記ＰＷＭ処理部を制御し、
前記ＰＷＭ処理部は、前記補正値を用いつつ、前記画像データに応じた前記作像信号を生成する、
ことを特徴とする信号処理装置。
【請求項２】
前記ＰＷＭ処理部で生成される前記作像信号のパルス幅が所定周期で複数状態に変化する場合に、
前記測定部は、
画像を出力する領域において、画像データ中の所定の画素値を有すると共に前記複数状態を含む画素に対応する作像信号のパルス幅を測定し、
画像を出力しない領域において、所定の画素値を有すると共に前記複数状態を含む画素に相当する疑似作像信号を生成して、当該疑似作像信号のパルス幅を測定する、
ことを特徴とする請求項１に記載の信号処理装置。
【請求項３】
前記測定部は、前記所定周期内における特定順番の前記作像信号を複数連続して測定することを、前記複数状態それぞれに繰り返して、前記複数状態での前記作像信号の前記パルス幅をそれぞれ測定する、
ことを特徴とする請求項２に記載の信号処理装置。
【請求項４】
前記制御部は、前記複数状態に含まれる各状態それぞれについて得られた複数所定数の測定結果に基づいて前記補正値を定めるよう前記ＰＷＭ処理部を制御する、
ことを特徴とする請求項２−３のいずれか一項に記載の信号処理装置。
【請求項５】
前記ＰＷＭ処理部は、前記測定部の測定結果を参照し、前記パルス幅の前記所定周期における基準値を定め、前記作像信号が前記所定周期におけるどの順番であるかに応じて、当該パルス幅を前記基準値になるように補正する前記補正値を定めて適用する、
ことを特徴とする請求項２−４のいずれか一項に記載の信号処理装置。
【請求項６】
前記ＰＷＭ処理部は、前記所定周期における前記パルス幅の測定結果の平均により前記基準値を定める、
ことを特徴とする請求項５に記載の信号処理装置。
【請求項７】
前記制御部は、前記所定周期に含まれる前記パルス幅の前記複数状態中の同一状態について複数の前記作像信号が含まれる場合、前記同一状態について少なくとも１の前記作像信号について、前記測定部が前記パルス幅の測定を行うよう制御する、
ことを特徴とする請求項２−請求項６のいずれか一項に記載の信号処理装置。
【請求項８】
前記測定部は、
前記画像処理クロックと非同期の測定クロックの供給を受け、
前記作像信号のパルスの有効状態と無効状態とを、前記測定クロックを用いて所定期間にわたってカウントし、カウント結果に含まれる有効状態と無効状態との比率により、前記パルス幅を測定する、
ことを特徴とする請求項１−請求項７のいずれか一項に記載の信号処理装置。
【請求項９】
前記画像データ中において所定の画素値に等しいか否かを比較する比較部を更に備え、
前記測定部は、前記比較部において所定の画素値に等しいと認められた画素について、前記作像信号の前記パルス幅を測定する、
ことを特徴とする請求項１−請求項８のいずれか一項に記載の信号処理装置。
【請求項１０】
前記測定部は、画像データ中において所定の画素値として第１所定画素値を有する画素に対応する前記作像信号の前記パルス幅を測定し、
前記制御部は、前記測定部の測定結果に基づいて、前記作像信号の前記パルス幅を、第１所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第１補正値を定めるよう前記ＰＷＭ処理部を制御し、
前記ＰＷＭ処理部は、前記第１補正値を用いつつ、前記画像データに応じた前記作像信号を生成する、
ことを特徴とする請求項１−請求項９のいずれか一項に記載の信号処理装置。
【請求項１１】
前記測定部は、画像データ中において所定の画素値として第１所定画素値を有する画素と第２所定画素値を有する画素に対応する前記作像信号の前記パルス幅を測定し、
前記制御部は、前記測定部の測定結果に基づいて、前記作像信号の前記パルス幅を、前記第１所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第１補正値と、前記第２所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第２補正値と、前記第１補正値と前記第２補正値とから補間により他の画素値について生成される補間補正値と、を定めるよう前記ＰＷＭ処理部を制御し、
前記ＰＷＭ処理部は、前記第１補正値と前記第２補正値と前記補間補正値とを用いつつ、前記画像データに応じた前記作像信号を生成する、
ことを特徴とする請求項１−請求項９のいずれか一項に記載の信号処理装置。
【請求項１２】
前記測定部は、画像データ中において画素値が前記所定画素値として第１所定画素値を有する画素と第２所定画素値を有する画素と第３所定画素値を有する画素に対応する前記作像信号の前記パルス幅を測定し、
前記制御部は、前記測定部の測定結果に基づいて、前記作像信号の前記パルス幅を、前記第１所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第１補正値と、前記第２所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第２補正値と、前記第３所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第３補正値と、前記第１補正値と前記第２補正値と前記第３補正値とのいずれか近接する２つの補正値から補間により他の画素値について生成される補間補正値と、を定めるよう前記ＰＷＭ処理部を制御し、
前記ＰＷＭ処理部は、前記第１補正値と前記第２補正値と前記第３補正値と前記補間補正値とを用いつつ、前記画像データに応じた前記作像信号を生成する、
ことを特徴とする請求項１−請求項９のいずれか一項に記載の信号処理装置。
【請求項１３】
測定部でパルス幅が測定される作像信号に対応する画素を画素値毎に計数する計数部を備えて構成され、
前記測定部は、
画像を出力する領域において、画像データ中の所定の画素値を有する画素に対応する作像信号の前記パルス幅を測定し、
画像を出力しない領域において、画像を出力する領域における計数結果が測定必要量に満たない所定の画素値に相当する疑似作像信号を生成して、当該疑似作像信号の前記パルス幅を測定する、
ことを特徴とする請求項１−請求項１２のいずれか一項に記載の信号処理装置。
【請求項１４】
主走査方向の露光を副走査方向に繰り返して画像を形成する画像形成部に使用される信号処理装置であって、
前記測定部は、画像を出力しない領域として、画像を出力する領域の主走査方向の領域外と、画像を出力する領域の副走査方向の領域外と、画像を出力する領域の主走査方向及び副走査方向の領域外と、のいずれかを用いて測定を行う、
ことを特徴とする請求項１−請求項１３のいずれか一項に記載の信号処理装置。
【請求項１５】
前記測定部により、画像を出力する領域における測定結果と、画像を出力しない領域における測定結果との両方が得られた場合に、
前記制御部は、画像を出力する領域で算出された補正値を、画像を出力しない領域で算出された補正値よりも高い重み付けによって用いつつ、前記画像データに応じた前記作像信号を生成する、
ことを特徴とする請求項１−請求項１３のいずれか一項に記載の信号処理装置。
【請求項１６】
請求項１乃至請求項１５のいずれか一項に記載の信号処理装置と、
画像データに応じて前記信号処理装置で生成された作像信号により画像を形成する画像形成部と、
を備えたことを特徴とする画像形成装置。 
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像データに基づいて信号処理を行う信号処理装置及び画像形成装置において作像信号の理想状態との差分を解消可能な技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像形成装置として、画像データに応じて作像信号を生成し、この作像信号を用いて主走査方向の１ライン又は数ラインの画像形成を行うと共に、この主走査方向のライン毎の画像形成を副走査方向に繰り返して１頁分の画像形成を行うものが知られている。
その一例として、電子写真方式の画像形成装置では、画像データから作像信号（ＰＷＭ回路によるＰＷＭ信号）を生成し、ＰＷＭ信号に応じて変調したレーザビームを主走査方向に走査し、これと並行して、副走査方向に回転する像担持体上に、前記レーザビームによって画像を形成している。
【０００３】
ところで、このＰＷＭ信号等の作像信号は、温度変化などの環境要因や回路素子の個体差等の各種の要因により変動が生じ、本来予定していた値（理想値）とは異なる値になることがある。この作像信号の変動により、画像の濃度変化となって現れる。
この画像データに応じた主走査方向の画像形成は、形成する画素の基準となるクロック、「画像処理クロック」あるいは「ドットクロック」と呼ばれる画像処理用のクロックを基準として位置決めがなされている。
【０００４】
このような画像形成装置における濃度変化の補正についての技術としては、たとえば、以下の特許文献などに記載されている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００５】
【特許文献１】特開２００６−１５０６９６号公報
【特許文献２】特開２０１３−４５０５１号公報
【特許文献３】特開平８−１５６３３０号公報
【特許文献４】特開平９−２００００８号公報
【特許文献５】特開平８−２６５５３２号公報
【特許文献６】特開平８−３３７００６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記の特許文献１−６では、パルス幅を測定し、そのパルス幅を補正することで、画像形成濃度を所定画素値に保つことを目標としている。
ところで、本件出願の発明者が、画像形成装置で用いられる信号処理装置について検証を行ったところ、各画素において最も短いパルスによって低濃度のドットを形成しようとする場合に、周期的にレーザビームが発光する／発光しないという現象が発生することを確認した。このような、低濃度のドットにおけるレーザビームの発光／非発光については、ＰＷＭパルス生成部の出力段の回路の影響等のアナログ的な要因により、作像信号のＰＷＭパルス幅が周期的に微妙に変化していることが原因であることが判明した。なお、この原因としては、アナログ的な各種の要因が組合さっている可能性がある。
【０００７】
例えば、図８に示すように、４ドット単位で、微妙なＰＷＭパルス幅の変化が、幅広・幅広・幅狭・幅狭と周期的に発生する場合がある（図８（ａ）の（ａ１），（ａ２），（ａ３），（ａ４））。
この場合には、レーザビームは周期的に発光・発光・非発光・非発光のような周期的な現象が発生する（図８（ｂ）の（ｂ１），（ｂ２），（ｂ３），…）。ここでは、幅狭の図８（ａ３）に対応した（ｂ３）が非発光の様子を示している。なお、（ｂ３）の次の発光タイミングも、図示されていないが非発光となっている。
【０００８】
このように低濃度を形成しようとする場合にレーザビームが非発光状態になることは、階調性、粒状性の悪化となり、結果として画質を劣化させる問題にもなる。
また、画像の微妙な傾き補正を行う場合、以上の周期的なレーザビームの発光／非発光が、副走査方向で若干斜めになるような方向の、周期的なムラになることが判明した。このような周期的なムラについては、微妙な濃度変化であっても空間周波数の関係で視覚的に認識されやすくなる場合があり、画質の劣化を引き起こすことになる。
【０００９】
なお、以上の不具合は、ＰＷＭパルス生成部の出力段の回路と露光部のレーザ駆動部との回路的な相性、電源電圧の変動の影響、など各種の要因が考えられるものの、具体的な原因を特定することは困難である。
また、画像処理クロックとＰＷＭパルスとの関係、すなわち、クロックパルス１パルスに対して、ＰＷＭパルスを何パルス生成するかによっても、不具合の周期が変動することが確認されているが、具体的な原因を特定することは困難である。
【００１０】
また、このような不具合が発生している場合に、実動作モードとは別に測定モードを定めて、パルス幅の周期変動を測定することも考えられる。しかし、このような測定モードを設けた場合には、専用の測定モードを実行するための時間が必要となり、画像形成を実行する時間が制限されるという問題が新たに発生する。
【００１１】
更に、以上のような不具合特定のための測定モードを設けたとしても、測定モードと実動作モードとでは、画像形成装置内の各部の動作状態や、この動作状態に起因する電源電圧の状態などが、厳密には同一でないことが予想される。このような測定モードと実動作モードとの違いによって、実動作モードで発生する誤差を測定モードでは完全に測定することができない可能性がある。従って、測定モードで測定した誤差に基づいて補正データを生成したとしても、実動作モードでは不具合を完全に打ち消すことができないことも予想される。
【００１２】
一方、画像形成実行中の実動作モードで画像形成と測定とを並行して行うようにしたとしても、出現頻度の小さい画素値や全く出現しない画素値では、そもそも測定することができないという問題が予想される。
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、その目的は、パルス幅の微小な差による画質への悪影響を改善することが可能な信号処理装置及び画像形成装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上述した目的のうち少なくとも一つを実現するために、本発明の一側面が反映された信号処理装置と画像形成装置は、以下のように構成される。
（１）本発明の一側面が反映された信号処理装置は、画像データの各画素に対応する画像処理クロックを参照して前記画像データに応じて画像形成用にパルス幅変調された作像信号を生成するＰＷＭ処理部と、前記作像信号のパルス幅を測定する測定部と、前記ＰＷＭ処理部と前記測定部とを制御する制御部と、を備え、前記測定部は、画像を出力する領域において、画像データ中の所定の画素値を有する画素に対応する作像信号の前記パルス幅を測定し、画像を出力しない領域において、疑似作像信号を生成して当該疑似作像信号の前記パルス幅を測定し、前記制御部は、前記測定部の測定結果を参照し、前記作像信号の前記パルス幅を前記所定の画素値に対応した適正なパルス幅に合致させる補正値を定めるよう前記ＰＷＭ処理部を制御し、前記ＰＷＭ処理部は、前記補正値を用いつつ、前記画像データに応じた前記作像信号を生成する、ことを特徴とする。
【００１４】
また、本発明の一側面が反映された画像形成装置は、画像データの各画素に対応する画像処理クロックを参照して前記画像データに応じて画像形成用にパルス幅変調された作像信号を生成するＰＷＭ処理部と、前記作像信号のパルス幅を測定する測定部と、前記ＰＷＭ処理部と前記測定部とを制御する制御部と、画像データに応じて前記信号処理装置で生成された前記作像信号により画像を形成する画像形成部と、を備え、前記測定部は、画像を出力する領域において、画像データ中の所定の画素値を有する画素に対応する作像信号の前記パルス幅を測定し、画像を出力しない領域において、疑似作像信号を生成して当該疑似作像信号の前記パルス幅を測定し、前記制御部は、前記測定部の測定結果を参照し、前記作像信号の前記パルス幅を前記所定の画素値に対応した適正なパルス幅に合致させる補正値を定めるよう前記ＰＷＭ処理部を制御し、前記ＰＷＭ処理部は、前記補正値を用いつつ、前記画像データに応じた前記作像信号を生成する、ことを特徴とする。
【００１５】
（２）以上の（１）において、前記ＰＷＭ処理部で生成される前記作像信号のパルス幅が所定周期で複数状態に変化する場合に、前記測定部は、画像を出力する領域において、画像データ中の所定の画素値を有すると共に前記複数状態を含む画素に対応する作像信号のパルス幅を測定し、画像を出力しない領域において、所定の画素値を有すると共に前記複数状態を含む画素に相当する疑似作像信号を生成して当該疑似作像信号のパルス幅を測定する、ことを特徴とする。
【００１６】
（３）以上の（２）において、前記測定部は、前記所定周期内における特定順番の前記作像信号を複数連続して測定することを、前記複数状態それぞれに繰り返して、前記複数状態での前記作像信号の前記パルス幅をそれぞれ測定する、ことを特徴とする。
（４）以上の（２）−（３）のいずれかにおいて、前記制御部は、前記複数状態に含まれる各状態それぞれについて得られた複数所定数の測定結果に基づいて前記補正値を定めるよう前記ＰＷＭ処理部を制御する、ことを特徴とする。
【００１７】
（５）以上の（２）−（４）のいずれかにおいて、前記ＰＷＭ処理部は、前記測定部の測定結果を参照し、前記パルス幅の前記所定周期における基準値を定め、前記作像信号が前記所定周期におけるどの順番であるかに応じて、当該パルス幅を前記基準値になるように補正する前記補正値を定めて適用する、ことを特徴とする。
【００１８】
（６）以上の（５）において、前記ＰＷＭ処理部は、前記所定周期における前記パルス幅の測定結果の平均により前記基準値を定める、ことを特徴とする。
（７）以上の（２）−（６）のいずれかにおいて、前記制御部は、前記所定周期に含まれる前記パルス幅の前記複数状態中の同一状態について複数の前記作像信号が含まれる場合、前記同一状態について少なくとも１の前記作像信号について、前記測定部が前記パルス幅の測定を行うよう制御する、ことを特徴とする。
【００１９】
（８）以上の（１）−（７）のいずれかにおいて、前記測定部は、前記画像処理クロックと非同期の測定クロックの供給を受け、前記作像信号のパルスの有効状態と無効状態とを、前記測定クロックを用いて所定期間にわたってカウントし、カウント結果に含まれる有効状態と無効状態との比率により、前記パルス幅を測定する、ことを特徴とする。
【００２０】
（９）以上の（１）−（８）のいずれかにおいて、前記画像データ中において所定の画素値に等しいか否かを比較する比較部を更に備え、前記測定部は、前記比較部において所定の画素値に等しいと認められた画素について、前記作像信号の前記パルス幅を測定する、ことを特徴とする。
【００２１】
（１０）以上の（１）−（９）のいずれかにおいて、前記測定部は、画像データ中において所定の画素値として第１所定画素値を有する画素に対応する前記作像信号の前記パルス幅を測定し、前記制御部は、前記測定部の測定結果に基づいて、前記作像信号の前記パルス幅を、第１所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第１補正値を定めるよう前記ＰＷＭ処理部を制御し、前記ＰＷＭ処理部は、前記第１補正値を用いつつ、前記画像データに応じた前記作像信号を生成する、ことを特徴とする。
【００２２】
（１１）以上の（１）−（９）のいずれかにおいて、前記測定部は、画像データ中において所定の画素値として第１所定画素値を有する画素と第２所定画素値を有する画素に対応する前記作像信号の前記パルス幅を測定し、前記制御部は、前記測定部の測定結果に基づいて、前記作像信号の前記パルス幅を、前記第１所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第１補正値と、前記第２所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第２補正値と、前記第１補正値と前記第２補正値とから補間により他の画素値について生成される補間補正値と、を定めるよう前記ＰＷＭ処理部を制御し、前記ＰＷＭ処理部は、前記第１補正値と前記第２補正値と前記補間補正値とを用いつつ、前記画像データに応じた前記作像信号を生成する、ことを特徴とする。
【００２３】
（１２）以上の（１）−（９）のいずれかにおいて、前記測定部は、画像データ中において画素値が前記所定画素値として第１所定画素値を有する画素と第２所定画素値を有する画素と第３所定画素値を有する画素に対応する前記作像信号の前記パルス幅を測定し、前記制御部は、前記測定部の測定結果に基づいて、前記作像信号の前記パルス幅を、前記第１所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第１補正値と、前記第２所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第２補正値と、前記第３所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第３補正値と、前記第１補正値と前記第２補正値と前記第３補正値とのいずれか近接する２つの補正値から補間により他の画素値について生成される補間補正値と、を定めるよう前記ＰＷＭ処理部を制御し、前記ＰＷＭ処理部は、前記第１補正値と前記第２補正値と前記第３補正値と前記補間補正値とを用いつつ、前記画像データに応じた前記作像信号を生成する、ことを特徴とする。
【００２４】
（１３）以上の（１）−（１２）において、測定部でパルス幅が測定される作像信号に対応する画素を画素値毎に計数する計数部を備えて構成され、前記測定部は、画像を出力する領域において、画像データ中の所定の画素値を有する画素に対応する作像信号の前記パルス幅を測定し、画像を出力しない領域において、画像を出力する領域における計数結果が測定必要量に満たない所定の画素値に相当する疑似作像信号を生成して、当該疑似作像信号の前記パルス幅を測定する、ことを特徴とする。
【００２５】
（１４）以上の（１）−（１３）において、主走査方向の露光を副走査方向に繰り返して画像を形成する画像形成部に使用される信号処理装置であって、前記測定部は、画像を出力しない領域として、画像を出力する領域の主走査方向の領域外と、画像を出力する領域の副走査方向の領域外と、画像を出力する領域の主走査方向及び副走査方向の領域外と、のいずれかを用いて測定を行う、ことを特徴とする。
【００２６】
（１５）以上の（１）−（１３）において、前記測定部により、画像を出力する領域における測定結果と、画像を出力しない領域における測定結果との両方が得られた場合に、前記制御部は、画像を出力する領域で算出された補正値を、画像を出力しない領域で算出された補正値よりも高い重み付けによって用いつつ、前記画像データに応じた作像信号を生成する、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２７】
本発明の一側面が反映された信号処理装置と画像形成装置では、以下のような効果が得られる。
（１）本発明の一側面が反映された信号処理装置と画像形成装置では、画像を出力する領域において、画像データ中の所定の画素値を有する画素に対応する作像信号のパルス幅を測定し、画像を出力しない領域において、疑似作像信号を生成して当該疑似作像信号のパルス幅を測定し、この測定結果に基づいて、作像信号のパルス幅を所定の画素値に対応した適正なパルス幅に合致させる補正値を定めるよう制御し、この補正値を用いつつ画像データに応じた作像信号を生成する。これにより、パルス幅の微小な差による画像形成装置での画質への悪影響を改善することが可能になる。
【００２８】
（２）以上の（１）において、作像信号のパルス幅が所定周期で複数状態に変化する場合に、画像データ中において画素値が所定の値を有すると共に複数状態を含む画素に対応する作像信号のパルス幅を測定し、この測定結果に基づいて、作像信号のパルス幅を、所定の値に対応したパルス幅に合致させる補正値を定めるよう制御し、この補正値を用いつつ画像データに応じた作像信号を生成することにより、作像信号のパルス幅が所定周期で複数状態に変化する場合におけるパルス幅の微小な差による画像形成装置での画質への悪影響を改善することが可能になる。
【００２９】
（３）以上の（２）において、所定周期内における特定順番の作像信号を複数連続して測定することを、複数状態それぞれに繰り返して、複数状態での作像信号のパルス幅をそれぞれ測定することで、複数状態のそれぞれの状態について誤差の影響を抑えた適切な測定が可能になり、パルス幅の微小な差による画像形成装置での画質への悪影響を改善することが可能になる。
【００３０】
（４）以上の（２）〜（３）において、複数状態に含まれる各状態それぞれについて得られた複数所定数の測定結果に基づいて補正値を定めることで、複数状態のそれぞれの状態について誤差の影響を抑えた状態での補正値算出が可能になり、パルス幅の微小な差による画像形成装置での画質への悪影響を改善することが可能になる。
【００３１】
（５）以上の（２）〜（４）において、測定結果を参照し、パルス幅の所定周期における基準値を定め、作像信号が所定周期におけるどの順番であるかに応じて、当該パルス幅を基準値になるように補正する補正値を定めて適用することで、パルス幅の微小な差による画像形成装置での画質への悪影響を確実に改善することが可能になる。
【００３２】
（６）以上の（５）において、所定周期におけるパルス幅の測定結果の平均により基準値を定めることにより、パルス幅の微小な差による画像形成装置での画質への悪影響を改善することでき、補正後に全体の濃度も適正な値に維持される。
（７）以上の（２）〜（６）において、所定周期に含まれるパルス幅の複数状態中の同一状態について複数の作像信号が含まれる場合、同一状態について少なくとも１の作像信号について、パルス幅の測定を行うことで、パルス幅の微小な差による画像形成装置での画質への悪影響を、無駄なく確実に改善することが可能になる。
【００３３】
（８）以上の（１）〜（７）において、画像処理クロックと非同期の測定クロックの供給を受け、作像信号のパルスの有効状態と無効状態とを、測定クロックを用いて所定期間にわたってカウントし、カウント結果に含まれる有効状態と無効状態との比率によりパルス幅を測定することで、作像信号のパルス幅を正確に求めることが可能になる。
【００３４】
（９）以上の（１）〜（８）において、画像データ中において画素値が所定の値に等しいか否かを比較部で比較し、比較部において画素値が所定の値に等しいと認められた画素について測定部が作像信号のパルス幅を測定するため、測定が必要な画素値の画素を画像データの中から確実に見つけ出してパルス幅を測定することができるようになり、パルス幅の微小な差による画像形成装置での画質への悪影響を確実に改善することが可能になる。
【００３５】
（１０）以上の（１）〜（９）において、画像データ中において画素値が所定画素値として第１所定画素値を有する画素に対応する作像信号のパルス幅を測定し、この測定結果に基づいて、作像信号のパルス幅を第１所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第１補正値を定め、第１補正値を用いつつ画像データに応じた作像信号を生成するため、パルス幅の微小な差による画像形成装置での画質への悪影響を確実に改善することが可能になる。
【００３６】
（１１）以上の（１）〜（９）において、画像データ中において画素値が所定画素値として第１所定画素値を有する画素と第２所定画素値を有する画素に対応する作像信号のパルス幅を測定し、この測定結果に基づいて、作像信号のパルス幅を、第１所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第１補正値と、第２所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第２補正値と、第１補正値と第２補正値とから補間により他の画素値について生成される補間補正値と、を定め、第１補正値と第２補正値と補間補正値とを用いつつ画像データに応じた作像信号を生成するため、画素値の幅広い領域においてパルス幅の微小な差による画像形成装置での画質への悪影響を確実に改善することが可能になる。
【００３７】
（１２）以上の（１）〜（９）において、画像データ中において画素値が所定画素値として第１所定画素値を有する画素と第２所定画素値を有する画素と第３所定画素値を有する画素に対応する作像信号のパルス幅を測定し、この測定結果に基づいて、作像信号のパルス幅を、第１所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第１補正値と、第２所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第２補正値と、第３所定画素値に対応したパルス幅に合致させる第３補正値と、第１補正値と第２補正値と第３補正値とのいずれか近接する２つの補正値から補間により他の画素値について生成される補間補正値と、を定め、第１補正値と第２補正値と第３補正値と補間補正値とを用いつつ画像データに応じた作像信号を生成するため、画素値の幅広い領域においてパルス幅の微小な差による画像形成装置での画質への悪影響を確実に改善することが可能になる。
【００３８】
（１３）以上の（１）−（１２）において、測定部でパルス幅が測定される作像信号に対応する画素を画素値毎に計数し、測定部は、画像を出力する領域において、画像データ中の所定の画素値を有する画素に対応する作像信号の前記パルス幅を測定し、画像を出力しない領域において、画像を出力する領域における計数結果が測定必要量に満たない所定の画素値に相当する疑似作像信号を生成して、当該疑似作像信号の前記パルス幅を測定する。すなわち、画像を出力する領域において所定の画素値の画素のパルス幅を測定すると共に、測定結果が足りない画素値では画像を出力しない領域において所定の画素値の画素のパルス幅を測定することにより、補正値を算出しているため、実際の使用環境における十分な測定と補正値算出とが可能になり、補正残差を抑制することが可能になる。
【００３９】
（１４）以上の（１）−（１３）において、主走査方向の露光を副走査方向に繰り返して画像を形成する際に、画像を出力しない領域として、画像を出力する領域の主走査方向の領域外と、画像を出力する領域の副走査方向の領域外と、画像を出力する領域の主走査方向及び副走査方向の領域外と、のいずれかを用いて測定を行うことで、実際の使用環境における十分な測定と補正値算出とが可能になり、補正残差を抑制することが可能になる。
【００４０】
（１５）以上の（１）−（１３）において、画像を出力する領域における測定結果と、画像を出力しない領域における測定結果との両方が得られた場合に、画像を出力する領域で算出された補正値を、画像を出力しない領域で算出された補正値よりも高い重み付けによって用いつつ、画像データに応じた作像信号を生成することで、実際の使用環境における十分な測定と補正値算出とが可能になり、かつ、正確に補正残差を抑制することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明の実施形態の信号処理装置の構成を示す構成図である。
【図２】本発明の実施形態の信号処理装置の構成を示す構成図である。
【図３】本発明の実施形態の信号処理装置の構成を示す構成図である。
【図４】本発明の実施形態の動作を説明するフローチャートである。
【図５】画像形成装置の信号処理の様子を示す説明図である。
【図６】画像形成装置の信号処理の様子を示す説明図である。
【図７】本発明の実施形態の信号処理装置の他の構成を示す構成図である。
【図８】従来の信号処理と、その状態での発光の様子を示す説明図である。
【発明を実施するための形態】
【００４２】
以下、図面を参照して本発明の信号処理装置及び画像形成装置を実施するための形態（実施形態）を詳細に説明する。
〔信号処理装置、画像形成装置の構成（１）〕
ここで、図１〜図３に基づいて、画像形成における信号処理に使用可能な信号処理装置１００の構成を詳細に説明する。なお、信号処理装置１００として既知であって、本実施形態の特徴的な動作や制御に直接に関係しない一般的な部分についての説明は省略してある。
【００４３】
なお、本実施形態において、作像信号に基づいて像担持体に形成した画像を用紙に転写して出力する領域を「画像出力領域」、作像信号に基づいた露光をしないため像担持体から用紙に転写せずに画像を出力しない領域を「非画像出力領域」、と呼ぶ。
また、作像信号に基づいて露光することで像担持体に画像を形成して出力する領域における露光タイミング（または、この露光タイミングにおける信号処理タイミング）を「画像出力タイミング」、作像信号に基づいた露光をしないため像担持体で画像を出力しない領域における露光しないタイミング（または、この露光しないタイミングにおける信号処理タイミング）を「非画像出力タイミング」、と呼ぶ。
【００４４】
また、ここでは、画像形成装置に使用される信号処理装置１００として、画像形成装置に含まれるクロック生成部５０と、信号処理装置１００で生成された作像信号により画像形成の露光を行う露光部２１０についても併せて図示している。なお、画像形成装置として一般的な部分については説明を省略している。
【００４５】
クロック生成部５０は、画像形成により生成されるドットに対応した画像処理クロックPXLCLKと、画像処理クロックPXLCLKとは位相と周波数とが非同期の関係であって測定に使用される測定クロックMSRCLKとを生成している。
信号処理装置１００は、信号処理装置１００の各部を制御する制御部１０１、各種データを記憶する記憶部１０５と、画像データに各種処理を施す画像処理部１１０と、画像データに応じて１画素単位のパルス信号を生成するＰＷＭ処理部１２０と、画像出力タイミングと非画像出力タイミングでＰＷＭ処理部１２０の入力側において選択を切り替えるセレクタ１３０ａと、画像出力タイミングと非画像出力タイミングでＰＷＭ処理部１２０の出力側において選択を切り替えるセレクタ１３０ｂと、ＰＷＭ処理部１２０で生成されたパルス信号を所定の電圧の信号波形として出力するバッファ１５０と、ＰＷＭ処理部１２０の出力を測定クロックMSRCLKにより測定する測定部１６０と、画像データの着目画素の画素値を所定の画素値（所定画素値）と比較する比較部１７０と、測定結果数を計数する計数部１８０と、を有して構成されている。
【００４６】
画像形成部２００は、画像データに応じて信号処理装置１００で生成された作像信号により画像を形成するもので、露光部２１０を備えて構成される。露光部２１０は、バッファ１５０から作像信号を受けた露光部２１０は、図示されない感光体ドラム等の像担持体に対して、レーザ駆動部２１１でＬＤ２１２を発光駆動することで露光を行って、作像（画像形成）を行う。なお、画像形成部２００としては電子写真方式で画像形成を行う一般的な装置であり、その詳細な内部構造については省略する。
【００４７】
なお、入力側のセレクタ１３０ａは、画像出力タイミングでは画像処理部１１０からの画像データ、非画像出力タイミングでは制御部１０１からの測定用データ、をセレクト信号に応じて選択して通過させる。また、出力側のセレクタ１３０ｂは、画像出力タイミングでは画像データをＰＷＭ処理して生成された作像信号、非画像出力タイミングではダミー信号、をセレクト信号に応じて選択して通過させる。このため、画像出力タイミングでは画像データにＰＷＭ処理を施して生成した作像信号が測定部１６０で測定され、非画像出力タイミングでは測定用データにＰＷＭ処理を施して生成した疑似作像信号が測定部１６０で測定される。
【００４８】
また、以上の構成において、ＰＷＭ処理部１２０は、処理部１２１と、演算部１２２と、分周部１２３と、遅延素子列１２４と、タイミング調整部１２５と、同期演算部１２６と、出力部１２８と、を備えて構成されている。
ここで、ＰＷＭ処理部１２０の内部について説明する。処理部１２１は、画像データ中の各画素の画素値に対してＰＷＭ処理に必要な画像処理を施して、処理済みの画像データを演算部１２２に向けて出力する。
【００４９】
演算部１２２は、処理部１２１からの画像データの各画素の画素値に基づいて、必要なタイミングを演算して、タイミング指示値をタイミング調整部１２５と出力部１２８に供給する。
遅延素子列１２４は、画像処理クロックPXLCLKが分周部１２３で分周された分周画像処理クロックPXLCLK’の１周期分（画像処理クロックPXLCLKの２周期分）について、数百段に細かく遅延させるように遅延素子が数百段接続されていて、遅延信号群を出力する。例えば、遅延素子列１２４は、分周画像処理クロックPXLCLK’の１周期分について４００〜５００段程度に細かく遅延させるように、遅延素子が５１２段接続されている。
【００５０】
同期演算部１２６は画像処理クロックPXLCLKを参照して、遅延信号群の何段が画像処理クロックPXLCLKの１クロックと同期するかの同期情報を求めて、遅延素子１段あたりの遅延時間を演算により求める。
タイミング調整部１２５は、図２〜図３に示されるように、複数のタイミング調整回路１２５ａ〜１２５ｅを備えて構成されている。
【００５１】
これら複数のタイミング調整回路１２５ａ〜１２５ｅは、作像信号とすべき複数のパルス信号のパルス幅について、立ち上がりタイミングと立ち下がりタイミングとを、それぞれ制御するものである。
ここでは、第１パルスと第２パルスの２つのパルスで周期的にパルス幅の幅広／幅狭が発生する場合を想定して、第１パルスの立ち上がりタイミング調整、第１パルスの立ち下がりタイミング調整、第２パルスの立ち上がりタイミング調整、第２パルスの立ち下がりタイミング調整、タイミング切り替え、で合計５つのタイミング調整回路を設けている。この場合、所定周期が２パルスであり、複数状態としては、パルス幅の幅広／幅狭が該当する。
【００５２】
なお、第１パルス〜第４パルスの４つのパルスで周期的にパルス幅の幅広／幅狭が発生する場合では、各４パルスの立ち上がりと立ち下がり、タイミング切り替え、で合計９つのタイミング調整回路を設ければ良い。すなわち、ｎ個のパルスで周期的にパルス幅の幅広／幅狭が発生する場合では、各ｎパルスの立ち上がりと立ち下がり、タイミング切り替え、で合計２ｎ＋１個のタイミング調整回路を設ければ良い（後述する図７参照）。
【００５３】
なお、タイミング調整回路１２５ａ〜１２５ｅはそれぞれ、図３に示されるように、セレクタ１２５_1、遅延列１２５_2、セレクタ１２５_3、を備えて構成されている。
ここで、セレクタ１２５_1は、演算部１２２からの指示により、遅延素子列１２４からの遅延信号群の中から、生成すべきパルス信号の立ち上がり又は立ち下がりについての調整前のタイミングを選択する。遅延列１２５_2は、複数段の遅延素子列で構成され、セレクタ１２５_1で選択されたタイミング信号から遅延時間の異なるタイミング信号を生成する。なお、遅延列１２５_2は、作像信号とすべきパルス信号の立ち上がり又は立ち下がりのタイミングの調整に必要な程度に、数十段程度の遅延素子が接続されて構成される。セレクタ１２５_3は、演算部１２２からの指示により、遅延列１２５_2からの遅延信号の中から、生成すべきパルス信号の立ち上がり又は立ち下がりの微調整後のタイミングを選択する。
【００５４】
出力部１２８は、タイミング調整部１２５で生成された各パルスの立ち上がりと立ち下がりとを受けて、微調整されたパルス幅のパルス信号を生成して出力する。
〔動作説明〕
以下、図４のフローチャート、図５以降のタイムチャートを参照して、信号処理装置１００の動作、及びこの信号処理装置１００を備える画像形成装置の動作を説明する。なお、本実施形態では、画像出力タイミングにおいて、画像形成動作と、測定・補正値算出動作とを並行して行っている。また、非画像出力タイミングにおいても、測定・補正値算出動作を行っている。
【００５５】
このため、共通動作、画像出力タイミングの測定・補正値算出動作、非画像出力タイミングの測定・補正値算出動作、画像形成動作（補正値を適用した画像形成動作）、の順に説明する。
〔共通動作（開始）〕
まず、画像形成装置の操作表示部（図示せず）や外部ＰＣ（操作せず）等において、画像形成の実行指示と、実行する画像形成の画像データの選択とが行われる（図４中のステップＳ１００）。なお、この画像形成実行指示と画像データの選択とは、操作表示部や外部ＰＣから制御部１０１に通知される。
【００５６】
制御部１０１は、選択された画像データについて画像形成するページを選択し（図４中のステップＳ１０１）、画像データ記憶部等から読み出して画像処理部１１０に供給する。なお、画像形成する画像データについては、画像形成装置内の画像データ記憶部等に格納されており、制御部１０１の指示により、開始ページから終了ページに至るまで順次読み出されて繰り返し処理される。そして、制御部１０１の指示に従って、各ページの画像データに対して画像形成に必要な各種画像処理を画像処理部１１０が施し、更に、画像データ中の各画素の画素値に対してＰＷＭ処理に必要な画像処理を処理部１２１が施す。
【００５７】
〔タイミングによるセレクタ切り替え動作〕
入力側のセレクタ１３０ａは、画像出力タイミングでは画像処理部１１０からの画像データ、非画像出力タイミングでは制御部１０１からの測定用データ、をセレクト信号に応じて選択して通過させる。
【００５８】
また、出力側のセレクタ１３０ｂは、画像出力タイミングでは画像データをＰＷＭ処理して生成された作像信号、非画像出力タイミングでは測定用データをＰＷＭ処理して生成された疑似作像信号の代わりにダミー信号、をセレクト信号に応じて選択して通過させる。
このため、画像出力タイミングでは画像データにＰＷＭ処理を施して生成した作像信号が測定部１６０で測定され、非画像出力タイミングでは測定用データにＰＷＭ処理を施して生成した疑似作像信号が測定部１６０で測定される。従って、非画像出力タイミングでは、疑似作像信号は測定されるが、外部に出力されない。
【００５９】
また、画像処理部１１０と処理部１２１とにより画像処理が施された画像データ又は測定用データは、演算部１２２と比較部１７０とに供給される。以下、画像処理が施された画像データ又は測定用データは、演算部１２２以降のＰＷＭ処理においてパルス幅信号（作像信号又は疑似作像信号）が生成される。
【００６０】
そして、画像出力タイミングであれば、この作像信号により、画像形成が実行されると共に（後述する〔画像形成動作〕：ステップＳ１０４〜Ｓ１０９）、比較部１７０以降の処理において画像データ中の所定の画素の抽出と作像信号のパルス幅測定が実行される（後述する〔画像出力タイミングでの測定・補正値算出動作〕：ステップＳ１１０〜Ｓ１１９）。
【００６１】
一方、非画像出力タイミングであれば、画像形成は実行されず、疑似作像信号により、比較部１７０以降の処理において測定用データ中の所定の画素値による疑似作像信号のパルス幅測定が実行される（後述する〔非画像出力タイミングでの測定・補正値算出動作〕：ステップＳ１２１〜Ｓ１２９）。
【００６２】
なお、本実施形態において、「画像出力タイミング」とは、第１頁の画像形成を開始してから最終頁の画像形成を完了するまでの間であって、像担持体での露光タイミングが、主走査方向と副走査方向との両方で画像出力領域内であるタイミングを言う。また、本実施形態において、「非画像出力タイミング」とは、第１頁の画像形成を開始してから最終頁の画像形成を完了するまでの間で、像担持体での露光タイミングが、主走査方向と副走査方向との少なくとも一方で画像出力領域外であるタイミングを言う。
【００６３】
〔画像出力タイミングでの測定・補正値算出動作〕
制御部１０１は、実行しているページの画像形成（図４中のステップＳ１０４〜Ｓ１０９）が、測定・補正値算出タイミングであるかを、設定を参照して確認する（図４中のステップＳ１１０）。例えば、測定・補正値算出を全ページで実行する設定であれば、全ページの画像形成中が測定・補正値算出タイミングに該当する。また、測定・補正値算出を１０ページに１頁の割合で実行する設定であれば、１０ページ目、２０ページ目、３０ページ目等の画像形成中が測定・補正値算出タイミングに該当する。
【００６４】
以下、実行中の画像形成が、画像出力タイミングに該当しており、測定・補正値算出タイミングに該当している（図４中のステップＳ１１０でＹＥＳ）として説明を続ける。
画像処理部１１０と処理部１２１とで画像処理が施された画像データは、画像出力タイミング用に切り替えられたセレクタ１３０ａを通過し（図４中のステップＳ１０３）、演算部１２２に供給されると共に比較部１７０にも供給されている。ここで、比較部１７０は、処理部１２１から出力される画像データの画素を着目画素として（図４中のステップＳ１１１）、その着目画素の画素値を、制御部１０１から供給される所定画素値と比較する（図４中のステップＳ１１２）。
【００６５】
ここで、所定画素値は、図８に示したレーザビームの発光／非発光のような現象が発生する低濃度の画素値の値に設定する。なお、所定画素値は、１個（第１所定画素値）のみだけでなく、２個（第１所定画素値と第２所定画素値）、３個（第１所定画素値と第２所定画素値と第３所定画素値）、のいずれであっても良い。ここで、所定画素値を２個に設定する場合には、図８に示したレーザビームの発光／非発光のような周期的な現象が発生する低濃度の画素値の値の範囲内において、最低値を第１所定画素値として、最大値を第２所定画素値とする。また、所定画素値を３個に設定する場合には、図８に示したレーザビームの発光／非発光のような周期的な現象が発生する低濃度の画素値の値の範囲内において、最低値を第１所定画素値、最大値を第３所定画素値、最低値と最大値の中間の値を第２所定画素値、とする。
【００６６】
比較部１７０で比較した結果、着目画素の画素値が所定画素値と一致しなければ（図４中のステップＳ１１３で「不一致」）、比較部１７０は次の着目画素の画素値を所定画素値と比較し（図４中のステップＳ１１１、Ｓ１１２）、ページ内の全画素について繰り返し比較を行う（図４中のステップＳ１１３で「ページ終了」）。
【００６７】
比較部１７０で比較した結果、着目画素の画素値がいずれかの所定画素値と一致すれば（図４中のステップＳ１１３で「一致」）、比較部１７０はトリガ信号を生成して測定部１６０に供給する。このトリガ信号を受けた測定部１６０は、ＰＷＭ処理部１２０の出力（ＰＷＭ信号）のパルス幅を、測定クロックMSRCLKにより測定する（図４中のステップＳ１１４）。
【００６８】
ここで、ＰＷＭ信号のパルス幅が所定周期で複数状態に変化する場合に、その１周期分の画素を連続して測定できることが望ましい。例えば、図８に示すように、４ドット単位でＰＷＭパルス幅の変化が、幅広・幅広・幅狭・幅狭と周期的に変化するのであれば、４画素分の連続した測定を実行することが望ましい。なお、実際には、２パルス周期で１パルス毎に幅広／幅狭となる場合、４パルス周期で２パルス毎に幅広・幅広／幅狭・幅狭となる場合、などであるため、数十パルス程度を測定して、幅広／幅狭の発生有無や発生周期を求めることが望ましい。また、パルス幅の幅広／幅狭の出方が既に求められている場合には、求められた周期の画素について測定を行えば良い。
【００６９】
また、ＰＷＭ処理部１２０内のＰＷＭ信号の生成については、後述する〔画像形成動作：ステップＳ１０４〜Ｓ１０９〕において詳しく説明する。
そして、測定部１６０によるパルス幅測定結果を、制御部１０１は記憶部１０４に記憶する（図４中のステップＳ１１５）。
【００７０】
ここで、測定部１６０は、パルス幅測定結果が予め定められた必要数を得られるまで、パルス幅測定と記憶（図４中のステップＳ１１４〜Ｓ１１５）を繰り返す（図４中のステップＳ１１６）。
一方、計数部１８０は、測定部１６０で得られたパルス幅測定結果について、測定対象となった画素値毎に測定結果数を計数する（図４中のステップＳ１１６）。これにより、制御部１０１は、計数部１８０での計数結果を参照し、測定結果が必要数だけ得られたかを判断することができる。なお、必要数は、所定周期の複数画素分の測定結果を１と数え、１でも良いし、２以上でも良い。同一の所定画素値について２以上の測定結果が存在すれば、平均して誤差を低減することができる。また、必要に応じて誤差低減のために、測定結果の最大値や最小値を除いた上で平均しても良い。
【００７１】
また、パルス幅測定と測定結果の記憶（図４中のステップＳ１１４〜Ｓ１１５）を必要数得た場合（図４中のステップＳ１１７でＹＥＳ）、制御部１０１は、測定結果から誤差時間を算出して、記憶部１０５に記憶する（図４中のステップＳ１１８）。
なお、必要数の測定結果が得られれば（図４中のステップＳ１１７でＹＥＳ）、ページ中の残りの画素についての測定は終了して良いが、ページ中の残りの画素についても測定を続けて、測定結果を更に得るようにしても構わない。
【００７２】
また、以上の測定を連続して実行することが可能な場合、パルス幅変化の発生周期が２画素であれば、発生周期２画素中の１画素目を連続して測定し、続いて、発生周期２画素中の２画素目を連続測定する、といった手法をとることも望ましい。
また、パルス幅の変化が、幅広，幅広，幅狭，幅狭と同じ状態を繰り返すのであれば、発生周期４画素中の１画素目を測定し、４画素中の３画素目（幅狭）を測定する、というように、２画素目と４画素目の測定を省略することも可能である。すなわち、パルス幅変化発生周期に含まれるパルス幅の複数状態中の同一状態について複数の作像信号が含まれる場合、同一状態について少なくとも１の作像信号について、パルス幅の測定を行うようにしても良い。
【００７３】
なお、測定部１６０は、画像処理クロックPXLCLKとは周波数と位相とが非同期の測定クロックMSRCLKをクロック生成部５０から供給されている。そして、測定部１６０は、測定対象パルス（作像信号のパルス）の有効状態と無効状態とを、測定クロックMSRCLKを用いて所定期間にわたってカウントし、カウント結果に含まれる有効状態と無効状態との比率により、測定対象パルス（作像信号のパルス）のパルス幅を測定することが可能である。なお、測定クロックMSRCLKの周波数ｆ2［Ｈｚ］は、画像処理クロックPXLCLKの周波数をｆ1［Ｈｚ］とした場合に、0.5ｆ1＜ｆ2＜ｆ1、であることが望ましい。すなわち、非同期とは、画像処理クロックの周波数と測定クロックの周波数とが整数比の関係にないことを意味している。また、非同期として更に望ましくは、画像処理クロックの周波数と測定クロックの周波数とが整数比の関係になく、かつ、立ち上がりと立ち下がりの位相ができるだけ一致しない状態であることを意味している。
【００７４】
ここで、測定クロックMSRCLKの立ち上がり又は立ち下がりのいずれか一方のタイミングで、測定対象パルスがハイかローか（有効状態か無効状態か）のサンプリングを、所定回数、例えば、１０００回繰り返して実行する。これにより、測定クロックが画像処理クロックより低い周波数であっても、非同期であるためランダムな位相のサンプリングが可能になり、さらに回数を増やすことで誤差を小さくして、測定対象パルス（作像信号のパルス）のパルス幅を測定することができる。
【００７５】
以上のようにして測定部１６０によるパルス幅測定が完了すると（図４中のステップＳ１１７でＹＥＳ）、測定部１６０から測定結果を得た制御部１０１は、後述する補正をする場合のパルス幅の基準値を定める（図４中のステップＳ１１８）。なお、この基準値としては、パルス幅変化発生周期におけるパルス幅の測定結果の平均により基準値を定めることにより、全体の濃度変化が発生しないため望ましい。
【００７６】
そして、制御部１０１は、以上のようにして得た測定結果について、各画素のパルス幅の測定結果と前述した基準値との差分を誤差時間として算出する。なお、この差分（誤差時間）が補正すべき量に該当する。制御部１０１は、パルス幅発生周期における各画素のパルスについて算出した基準値との差分である誤差時間について、演算部１２２に供給する。演算部１２２は、制御部１０１から供給された各パルスについての誤差時間を補正値に変換して記憶する（図４中のステップＳ１１９）。
【００７７】
なお、演算部１２２では、制御部１０１から供給される誤差時間から、各パルスの立ち上がりと立ち下がりにおいて、タイミング調整部１２５におけるタイミング調整値（補正値）を算出する。この補正値としては、既に説明した遅延列１２５_2における遅延時間の選択によるタイミングの微調整のための値である。すなわち、パルス幅変化発生周期中のそれぞれのパルスに対してそれぞれのタイミング調整値（補正値）を必要に応じて算出して記憶しておく。
【００７８】
なお、上述したように、測定を行う際の画素値の所定画素値として、第１所定画素値に加えて第２所定画素値を設定している場合には、第１所定画素値をＸ１、第２所定画素値をＸ２、Ｘ１＜Ｘ２、第１測定値Ｘ１に対応する第１補正値をＣＲ１、第２測定値Ｘ２に対応する第２補正値をＣＲ２、と定め、Ｘ１とＸ２の中間の画素値をＸｉ、Ｘｉにおける補間補正値をＣＲｉとすると、ＣＲｉ＝ＣＲ１＋（（Ｘｉ−Ｘ１）／（Ｘ２−Ｘ１））・（ＣＲ２−ＣＲ１）として補間補正値を算出することができる。
【００７９】
なお、上述したように、測定を行う際の画素値の所定画素値として、第１所定画素値に加えて第２所定画素値と第３所定画素値を設定している場合には、第１所定画素値をＸ１、第２所定画素値をＸ２、第３所定画素値をＸ３、Ｘ１＜Ｘ２＜Ｘ３、第１測定値Ｘ１に対応する第１補正値をＣＲ１、第２測定値Ｘ２に対応する第２補正値をＣＲ２、第３測定値Ｘ３に対応する第３補正値をＣＲ３、と定め、Ｘ１とＸ２の中間の画素値をＸｉ12、Ｘｉ12における補間補正値をＣＲｉ12とすると、ＣＲｉ12＝ＣＲ１＋（（Ｘｉ−Ｘ１）／（Ｘ２−Ｘ１））・（ＣＲ２−ＣＲ１）、として補間補正値ＣＲｉ123を算出することができる。同様に、Ｘ２とＸ３の中間の画素値をＸｉ23、Ｘｉ23における補間補正値をＣＲｉ23とすると、ＣＲｉ23＝ＣＲ１＋（（Ｘｉ−Ｘ２）／（Ｘ３−Ｘ２））・（ＣＲ３−ＣＲ２）、として補間補正値ＣＲｉ123を算出することができる。
【００８０】
但し、以上の補正値が従来の値より著しく異なる、例えば、±５０％を超える変化があるときなどは、測定か補正算出に問題が発生していると考えられるため、補正値として採用しないようにすることが望ましい。
〔非画像出力タイミングでの測定・補正値算出動作〕
制御部１０１は、実行しているページの画像形成（図４中のステップＳ１０４〜Ｓ１０９）について、非画像出力タイミング（像担持体での露光タイミングが、主走査方向と副走査方向との少なくとも一方で画像出力領域外であるタイミング）であるかを確認する（図４中のステップＳ１０２）。
【００８１】
また、制御部１０１は、この非画像出力タイミング（図４中のステップＳ１０２でＮＯ）において、測定・補正値算出タイミングであるかを、設定を参照して確認する（図４中のステップＳ１２０）。この場合、ページ毎の設定については、ステップＳ１１０と同じである。更に、制御部１０１は、計数部１８０での計数結果を参照し、所定の画素値について、必要数の測定結果が得られているかを確認することで、測定・補正値算出タイミングであるか確認する（図４中のステップＳ１２０）。
【００８２】
上述した画像出力タイミングにおいて必要数の測定結果が得られていれば、この非画像出力タイミングにおける測定・補正値算出は必要ないため終了する（図４中のステップＳ１２０でＮＯ）。一方、上述した画像出力タイミングにおいて必要数の測定結果が得られていなければ、この非画像出力タイミングにおける測定・補正値算出を実行する（図４中のステップＳ１２０でＹＥＳ）。
【００８３】
以下、実行中の画像形成について、非画像出力タイミングに該当しており、測定・補正値算出タイミングに該当している（図４中のステップＳ１０２でＮＯ、Ｓ１２０でＹＥＳ）として説明を続ける。
ここで、制御部１０１は、非画像出力タイミング用にセレクタ１３０ａを切り替える（図４中のステップＳ１２１）。そして、制御部１０１は、計数部１８０での計数結果を参照し、上述した画像出力タイミングにおいて必要数の測定結果が得られていない画素値に相当する測定用データを生成する（図４中のステップＳ１２２）。なお、この場合の画素値としては、既に図８等で説明した画素値であって、計数部１８０での計数結果によれば、計数結果が予め定められた測定必要量を満たしておらず、十分な測定結果が得られていない画素値である。
【００８４】
ここで、計数結果が予め定められた測定必要量を満たしていないとは、平均することで誤差を低減できる量を測定必要量とした場合、ある画素の測定結果が、この測定必要量に達していない、又は、全く存在していない、などが該当する。
そして、制御部１０１からの測定用データは、非画像出力タイミング用に切り替えられたセレクタ１３０ａを通過して、ＰＷＭ処理部１２０でＰＷＭ処理される（図４中のステップＳ１２３）。
【００８５】
そして、ＰＷＭ処理部１２０の出力部１２８から測定部１４０に対して、以上のような所定のパルス幅のＰＷＭ信号（疑似作像信号）を測定信号として供給し、ステップＳ１１４と同様にして、そのパルス幅に周期的な差異が生じているか否かを測定部１４０が測定する（図４中のステップＳ１２４）。
【００８６】
なお、この際に、この疑似作像信号が画像形成部２００側に出力されないように、セレクタ１３０ｂは、制御部１０１からのダミー信号（露光しないゼロレベルの信号）を通過させている。
そして、測定部１６０によるパルス幅測定結果を、制御部１０１は記憶部１０４に記憶する（図４中のステップＳ１２５）。
【００８７】
ここで、測定部１６０は、パルス幅測定結果が予め定められた必要数を得られるまで、パルス幅測定と記憶（図４中のステップＳ１２４〜Ｓ１２５）を繰り返す（図４中のステップＳ１１６）。
一方、計数部１８０は、測定部１６０で得られたパルス幅測定結果について、測定対象となった画素値毎に測定結果数を計数する（図４中のステップＳ１２６）。これにより、制御部１０１は、計数部１８０での計数結果を参照し、測定結果が必要数だけ得られたかを判断することができる。
【００８８】
また、パルス幅測定と測定結果の記憶（図４中のステップＳ１２４〜Ｓ１２５）を必要数得た場合（図４中のステップＳ１２７でＹＥＳ）、制御部１０１は、測定結果から誤差時間を算出して、記憶部１０５に記憶する（図４中のステップＳ１２８）。なお、必要数の測定結果が得られれば（図４中のステップＳ１２７でＹＥＳ）、非画像出力タイミングにおける残りの画素についての測定は終了して良い。
【００８９】
なお、測定部１６０は、既に説明したように、画像処理クロックPXLCLKとは周波数と位相とが非同期の測定クロックMSRCLKをクロック生成部５０から供給されており、測定対象パルス（作像信号のパルス）の有効状態と無効状態とを、測定クロックMSRCLKを用いて所定期間にわたってカウントし、カウント結果に含まれる有効状態と無効状態との比率により、測定対象パルス（作像信号のパルス）のパルス幅を測定することが可能である。
【００９０】
以上のようにして、非画像出力タイミングにおける測定部１６０によるパルス幅測定が完了すると（図４中のステップＳ１２７でＹＥＳ）、測定部１６０から測定結果を得た制御部１０１は、後述する補正をする場合のパルス幅の基準値を定める（図４中のステップＳ１２８）。なお、この基準値としては、パルス幅変化発生周期におけるパルス幅の測定結果の平均により基準値を定めることにより、全体の濃度変化が発生しないため望ましい。
【００９１】
そして、制御部１０１は、以上のようにして得た測定結果について、各画素のパルス幅の測定結果と前述した基準値との差分を誤差時間として算出する。なお、この差分（誤差時間）が補正すべき量に該当する。制御部１０１は、パルス幅発生周期における各画素のパルスについて算出した基準値との差分である誤差時間について、演算部１２２に供給する。演算部１２２は、制御部１０１から供給された各パルスについての誤差時間を補正値に変換して記憶する（図４中のステップＳ１２９）。なお、誤差時間と補正値との関係は既にステップＳ１１９で説明した通りである。
【００９２】
また、測定を行う際の画素値の所定画素値についても、既に説明した通り、中間の画素値を使用して、補間補正値を得ることが可能である。また、以上のようにして求められた補正値が従来の値より著しく異なる、例えば、±５０％を超える変化があるときなどは、測定か補正算出に問題が発生していると考えられるため、補正値として採用しないようにすることが望ましい。
【００９３】
〔画像形成動作〕
制御部１０１は、以下に説明する画像形成実行（図４中のステップＳ１０４〜Ｓ１０９）中に、以上の測定・補正値算出動作（図４中のステップＳ１１０〜Ｓ１１９）を並行して実行するように、信号処理装置１００を有する画像形成装置内の各部を制御している。
【００９４】
また、既に、共通動作（図４中のステップＳ１００〜Ｓ１０２）で説明したように、制御部１０１は、選択された画像データについて画像形成するページを選択し、画像データ記憶部等から読み出して画像処理部１１０に供給する。なお、画像形成する画像データについては、画像形成装置内の画像データ記憶部等に格納されており、制御部１０１の指示により、開始ページから終了ページに至るまで順次読み出される。そして、制御部１０１の指示に従って、各ページの画像データに対して画像形成に必要な各種画像処理を画像処理部１１０が施し、更に、画像データ中の各画素の画素値に対してＰＷＭ処理に必要な画像処理を処理部１２１が施す。
【００９５】
そして、画像処理部１１０で画像処理された画像データは、画像出力タイミング用に切り替えられたセレクタ１３０ａを通過し（図４中のステップＳ１０３）、処理部１２１で処理され、演算部１２２に供給される。
ここで、制御部１０１は、画像データにおいて現在処理中のページ以前（前ページ、または、それより前のページ）の測定に基づいた誤差時間が、演算部１２２に供給されているか否かを確認する（図４中のステップＳ１０４）。
【００９６】
画像データにおいて現在処理中のページ以前（前ページ、または、それより前のページ）の測定に基づいた誤差時間が演算部１２２に供給されていれば（図４中のステップＳ１０４でＹＥＳ）、処理部１２１から供給された画像データについて、後述するタイミング調整部１２５におけるタイミング選択において誤差時間から算出された補正値を適用する。
【００９７】
なお、補正値の適用について、現在のページ以前の測定にかかるものとしたのは、画像形成を実行しているページの途中で補正値が変わってしまうことによる影響が出ないようにするためである。なお、このような影響が微小である場合には、リアルタイムで同じページ内の直前で得られた誤差時間に基づいて補正値を算出して、その補正値を適用するようにしてもかまわない。
【００９８】
演算部１２２では、上述の補正値を適用しつつ、画像データに応じて、所定のパルス幅のＰＷＭ信号を生成するため、タイミング調整部１２５において適切なパルス立ち上がりタイミングとパルス立ち下がりタイミングとを選択するための指示を与える（図４中のステップＳ１０５）。なお、算出された補正値の適用としては、非補正状態で露光部２１０の発光が所定周期で発光／非発光となるような低濃度領域に対応するパルス幅のみで補正する手法と、低濃度領域に加えて高濃度領域でも測定した測定結果を用いて各濃度全域のパルス幅を補正する手法との、２種類が考えられる。また、画像データにおいて現在処理中のページ以前（前ページ、または、それより前のページ）の測定に基づいた誤差時間が演算部１２２に供給されていなければ（図４中のステップＳ１０４でＮＯ）、演算部１２２は、補正値の適用を行わない。
【００９９】
演算部１２２からの指示を受けたタイミング調整部１２５は、所定のパルス幅の立ち上がりと立ち下がりとに対応したタイミングの遅延信号を、遅延素子列１２４からの遅延信号群の中からセレクトして、出力部１２８に出力する。ここで、演算部１２２から補正値の適用のあるタイミング選択指示が与えられていれば（図４中のステップＳ１０４でＹＥＳ、Ｓ１０５）、タイミング調整部１２５において、セレクタ１２５_3は、演算部１２２からの補正値に基づく指示により、遅延列１２５_2からの遅延信号の中から、生成すべきパルス信号の立ち上がり又は立ち下がりの微調整後のタイミングを選択する。また、演算部１２２から補正値の適用のないタイミング選択指示が与えられていれば（図４中のステップＳ１０４でＮＯ）、タイミング調整部１２５において、セレクタ１２５_3は、演算部１２２からの補正値の適用の無い指示により、遅延列１２５_2からの遅延信号について、生成すべきパルス信号の立ち上がり又は立ち下がりの微調整しないタイミングを選択する。
【０１００】
出力部１２８では、タイミング調整部１２５から出力される遅延信号の立ち上がりや立ち下がりのエッジを利用し、所定のパルス幅のＰＷＭ信号を生成してバッファ１５０に供給する（図４中のステップＳ１０６）。
バッファ１５０はＰＷＭ信号を作像信号として露光部２１０に供給する（図４中のステップＳ１０７）。なお、バッファ１５０と露光部２１０との間は、ＬＶＤＳ（Low Voltage Differential Signaling：小振幅差動信号方式）等で信号伝送を行うことが好ましい。
【０１０１】
バッファ１５０から作像信号を受けた露光部２１０は、図示されない感光体ドラム等の像担持体に対して露光を行い作像（画像形成）を行う（図４中のステップＳ１０９）。なお、画像形成については、既知の各種の手法を用いることができるため、具体例は省略する。
【０１０２】
〔共通動作（継続・終了）〕
あるページに対する画像形成が終了した場合に残りのページの画像形成をすべきであれば（図４中のＳ１３０でＮＯ）、制御部１０１は、ステップＳ１０１に戻り、画像出力タイミングにおいては、別のページの画像データについて、画像形成（図４中のステップＳ１０４〜Ｓ１０９）と測定・補正値算出（図４中のステップＳ１１０〜Ｓ１１９）とを上述したように繰り返し、非画像出力タイミングにおいては、測定補正値算出動作（図４中のステップＳ１２１〜Ｓ１２９）を上述したように繰り返す。
【０１０３】
あるページに対する画像形成が終了した場合であって残りのページの画像形成が存在しなければ（図４中のＳ１３０でＹＥＳ）、制御部１０１は、以上の画像形成動作と測定・補正値算出動作を終了するよう各部を制御する（図４中のエンド）。
〔測定補正値算出動作の拡張例（１）〕
以上の説明では、非補正状態で露光部２１０の発光が所定周期で発光／非発光となるような低濃度領域に対応するパルス幅で補正する手法を具体例に説明してきた。これ以外に、全ての濃度に対応する画素値について、全ての濃度に対応する範囲の一定値毎の画素値について、測定結果を用いて全濃度全域のパルス幅を補正する手法も可能である。これにより、高精度な補正が可能になる。すなわち、画像形成装置において、階調補正、ガンマ補正などに応用することが可能になる。
【０１０４】
〔測定補正値算出動作の拡張例（２）〕
以上の説明では、画像出力領域における計数結果が測定必要量に満たない場合、非画像出力領域において、所定の画素値に相当する疑似作像信号を生成して、当該疑似作像信号のパルス幅を測定するようにしていた。これに対し、測定必要量による判断をせずに、画像出力領域における測定と、非画像出力領域における測定とを実行するようにしても良い。
【０１０５】
〔測定補正値算出動作の拡張例（３）〕
以上の説明では、画像出力領域における計数結果が測定必要量に満たない場合、非画像出力領域において、所定の画素値に相当する疑似作像信号を生成して、当該疑似作像信号のパルス幅を測定するようにしていた。この場合、画像出力領域における計数結果が測定必要量に満たしていれば、非画像出力領域における測定を実行しないことも可能である。
【０１０６】
〔測定補正値算出動作の拡張例（４）〕
画像出力領域における測定と、非画像出力領域における測定とを実行する場合において、画像出力領域における測定結果と、非画像出力領域における測定結果との両方が得られた場合に、画像出力領域で算出された補正値を、非画像出力領域で算出された補正値よりも高い重み付けによって用いつつ、画像データに応じた作像信号を生成することが望ましい。これにより、実際の使用環境における十分な測定と補正値算出とが可能になり、かつ、正確に補正残差を抑制することが可能になる。
【０１０７】
ここで、非画像出力領域として、画像出力領域の主走査方向の領域外（主走査方向領域外）と、画像出力領域の副走査方向の領域外（副走査方向領域外）と、画像出力領域の主走査方向及び副走査方向の領域外（主・副走査方向領域外）と、で測定が可能である。
ここで、複数の領域で測定がなされた場合の場合補正係数は、画像出力領域内補正値：重み＝１．０、主走査方向領域外補正値：重み＝０．７、副走査方向領域外補正値：重み＝０．３、主・副走査方向領域外補正値：重み＝０．１、のように定めて補正を行うことで、正確に補正残差を抑制することが可能になる。
【０１０８】
〔測定補正値算出動作の拡張例（５）〕
画像形成装置で使用する用紙の厚みに応じて定着性確保のために、信号処理装置１００を含む画像形成装置全体の動作周波数を変更する場合がある。その場合、動作周波数の数通りそれぞれ別のモードとみなして測定し、それぞれ別の補正値を算出して補正を行うことが最も望ましい。
【０１０９】
一方、周波数が高い順に、第１周波数、第２周波数、第３周波数、である場合には、第１周波数と第３周波数では別モードとしてそれぞれの補正値を算出する。そして、第２周波数では、第１周波数と第２周波数と第３周波数との違いに比例するように、中間の第２週端数の補正値を比例関係に基づいて算出するようにしても良い。
【０１１０】
〔処理時における波形の具体例（１）〕
なお、以上の図１〜図３の構成のＰＷＭ処理部１２０における、上述した動作時の各部の動作波形を示すと、以下の図５のようになる。なお、ここでは、パルス幅変化発生周期として、２パルス毎にパルス幅に差異が生じている場合を想定している。
【０１１１】
ここで、図５のタイムチャートにおいて、図５（ａ）は、画像形成動作と測定・補正値算出動作とに並行して使用される画像データである。
図５（ｂ１）は、クロック生成部５０から供給される画像処理クロックPXLCLK、図５（ｂ２）は分周部１２３で画像処理クロックPXLCLKを２分周して生成した分周画像処理クロックPXLCLK’である。
【０１１２】
図５（ｃ）は、タイミング調整回路１２５ａにおいて遅延信号群からセレクトされて生成された遅延信号であり、切替信号として、パルス幅変化発生周期中のパルスの順番の識別等に使用される。なお、パルスの順番の識別には、この切替信号の他に必要に応じてインデックス信号（図示せず）を用いることも望ましい。
【０１１３】
図５（ｄ）は、第１１セレクタとしてのタイミング調整回路１２５ｂにおいて遅延信号群からセレクトされて生成された遅延信号であり、パルス幅変化発生周期中の第１番目のパルスの立ち上げタイミング（図５（ｈ）中のｔ１１）に使用される遅延信号である。図５（ｅ）は、第１２セレクタとしてのタイミング調整回路１２５ｃにおいて遅延信号群からセレクトされて生成された遅延信号であり、パルス幅変化発生周期中の第１番目のパルスの立ち下げタイミング（図５（ｈ）中のｔ１２）に使用される遅延信号である。
【０１１４】
図５（ｆ）は、第２１セレクタとしてのタイミング調整回路１２５ｄにおいて遅延信号群からセレクトされて生成された遅延信号であり、パルス幅変化発生周期中の第２番目のパルスの立ち上げタイミング（図５（ｈ）中のｔ２１）に使用される遅延信号である。図５（ｇ）は、第２２セレクタとしてのタイミング調整回路１２５ｅにおいて遅延信号群からセレクトされて生成された遅延信号であり、パルス幅変化発生周期中の第２番目のパルスの立ち下げタイミング（図５（ｈ）中のｔ２２）に使用される遅延信号である。
【０１１５】
図５（ｈ）は、以上のタイミング調整部１２５の各タイミング調整回路１２５ａ〜１２５ｅから出力される各遅延信号の立ち上がりや立ち下がりのエッジを利用して出力部１２８で生成された、所定のパルス幅のＰＷＭ信号である。なお、切替信号PXLCLK’（図５（ｂ２））のＨレベルとＬレベルとを利用することで、画像処理クロックPXLCLKの奇数画素／偶数画素が分かるため、タイミング調整回路１２５ａ〜１２５ｅにおける、第１番目のパルスと第２番目のパルスを生成する際の遅延信号の利用エッジの選択や、出力部１２８における第１番目のパルスと第２番目のパルスを生成する際の識別を行っている。
【０１１６】
図５において、（ｃ）〜（ｇ）は同じ波形であるが、変化のタイミングだけが異なる。ここで、遅延信号の立上りと立下りについて、信号なまりが異なることがある。ここでは、何らかの原因により、立ち下がりに比べてた、立ち上がりになまりが生じている。このような現象の原因として、遅延列で電源電圧低下が生じる場合がある。もしくは周期的に電源電圧低下することもある。更に、基板、デバイス、チャンネル、遅延列の箇所、などで、電源電圧低下の程度が異なる場合もある。そして、これらの現象が組み合わさって発生することがある。
【０１１７】
ここで、ＰＷＭ信号を生成する際の回路構成として、立ち上がりになまりが生じたセレクタ信号について正転信号と反転信号のいずれを用いるか、あるいは、なまりが生じていない立ち下がり部分のセレクタ信号を用いるかで、ＰＷＭ信号（図５（ｈ）における、ｔ１１〜ｔ１２、ｔ２１〜ｔ２２）のパルス幅が周期的に変化することになる。ここでは、ＰＷＭ信号の２パルス毎に、幅狭・幅広・…と周期的に変化している。なお、実際には、各種の要因に基づいて、図５に示した以外の各種の状態で周期的なＰＷＭ信号のパルス幅変化が生じる可能性もある。
【０１１８】
〔処理時における波形の具体例（２）〕
また、パルス幅変化発生周期として、４パルス毎にパルス幅に差異が生じている場合の場合の各部の動作波形を示すと、以下の図６のようになる。なお、このように４パルス毎にパルス幅が変化するのであれば、図７に示すように、タイミング調整部１２５に含まれるタイミング調整回路は、切替信号用、４パルス分の立ち上がりタイミング用のタイミング調整回路、４パルス分の立ち下がりタイミング用のタイミング調整回路、の合計９回路が必要となる。具体的には、図７に示すように、タイミング調整部１２５において、タイミング調整回路１２５ａ〜１２５ｉが設けられる。
【０１１９】
ここで、図６のタイムチャートにおいて、図６（ａ）は、画像形成動作と測定・補正値算出動作とに並行して使用される画像データである。
図６（ｂ１）は、クロック生成部５０から供給される画像処理クロックPXLCLK、図６（ｂ２）は分周部１２３で画像処理クロックPXLCLKを２分周して生成した分周画像処理クロックPXLCLK’である。図６（ｃ）は、タイミング調整回路１２５ａにおいて遅延信号群からセレクトされて生成された遅延信号であり、切替信号として、パルス幅変化発生周期中のパルスの順番の識別等に使用される。なお、パルスの順番の識別には、この切替信号の他に必要に応じてインデックス信号（図示せず）を用いることも望ましい。
【０１２０】
図６（ｄ１）は、第１１セレクタとしてのタイミング調整回路１２５ｂにおいて遅延信号群からセレクトされて生成された遅延信号であり、パルス幅変化発生周期中の第１番目のパルスの立ち上げタイミング（図６（ｈ）中のｔ１１）に使用される遅延信号である。図６（ｄ２）は、第１２セレクタとしてのタイミング調整回路１２５ｃにおいて遅延信号群からセレクトされて生成された遅延信号であり、パルス幅変化発生周期中の第１番目のパルスの立ち下げタイミング（図６（ｈ）中のｔ１２）に使用される遅延信号である。
【０１２１】
図６（ｅ１）は、第２１セレクタとしてのタイミング調整回路１２５ｄにおいて遅延信号群からセレクトされて生成された遅延信号であり、パルス幅変化発生周期中の第２番目のパルスの立ち上げタイミング（図６（ｈ）中のｔ２１）に使用される遅延信号である。図６（ｅ２）は、第２２セレクタとしてのタイミング調整回路１２５ｅにおいて遅延信号群からセレクトされて生成された遅延信号であり、パルス幅変化発生周期中の第２番目のパルスの立ち下げタイミング（図６（ｈ）中のｔ２２）に使用される遅延信号である。
【０１２２】
図６（ｆ１）は、第３１セレクタとしてのタイミング調整回路１２５ｆにおいて遅延信号群からセレクトされて生成された遅延信号であり、パルス幅変化発生周期中の第３番目のパルスの立ち上げタイミング（図６（ｈ）中のｔ３１）に使用される遅延信号である。図６（ｆ２）は、第３２セレクタとしてのタイミング調整回路１２５ｇにおいて遅延信号群からセレクトされて生成された遅延信号であり、パルス幅変化発生周期中の第３番目のパルスの立ち下げタイミング（図６（ｈ）中のｔ３２）に使用される遅延信号である。
【０１２３】
図６（ｇ１）は、第４１セレクタとしてのタイミング調整回路１２５ｈにおいて遅延信号群からセレクトされて生成された遅延信号であり、パルス幅変化発生周期中の第４番目のパルスの立ち上げタイミング（図６（ｈ）中のｔ４１）に使用される遅延信号である。図６（ｇ２）は、第４２セレクタとしてのタイミング調整回路１２５ｉにおいて遅延信号群からセレクトされて生成された遅延信号であり、パルス幅変化発生周期中の第４番目のパルスの立ち下げタイミング（図６（ｈ）中のｔ４２）に使用される遅延信号である。
【０１２４】
図６（ｈ）は、以上のタイミング調整部１２５の各タイミング調整回路１２５ａ〜１２５ｉから出力される各遅延信号の立ち上がりや立ち下がりのエッジを利用して出力部１２８で生成された、所定のパルス幅のＰＷＭ信号である。なお、切替信号PXLCLK’（図６（ｂ２））のＨレベルとＬレベルとを利用することで、画像処理クロックPXLCLKの奇数画素／偶数画素が分かるため、タイミング調整回路１２５ａ〜１２５ｉにおける、第１番目のパルス〜第４番目のパルスを生成する際の遅延信号の利用エッジの選択や、出力部１２８における第１番目のパルス〜第４番目のパルスを生成する際の識別を行っている。
【０１２５】
図６において、（ｃ）〜（ｇ２）は同じ波形であるが、変化のタイミングだけが異なる。遅延信号の立上りと立下りについて、図５において説明したように、信号なまりが異なることがあり、ここでは、何らかの原因により、立ち下がりに比べてた、立ち上がりになまりが生じている。
【０１２６】
ここで、ＰＷＭ信号を生成する際の回路構成として、立ち上がりになまりが生じたセレクタ信号について正転信号と反転信号のいずれを用いるか、あるいは、なまりが生じていない立ち下がり部分のセレクタ信号を用いるかで、ＰＷＭ信号（図６（ｈ）における、ｔ１１〜ｔ１２、ｔ２１〜ｔ２２、ｔ３１〜ｔ３２、ｔ４１〜ｔ４２）のパルス幅が周期的に変化することになる。ここでは、ＰＷＭ信号の４パルス毎に、幅狭・幅狭・幅広・幅広・…と周期的に変化している。なお、実際には、各種の要因に基づいて、図６に示した以外の各種の状態で周期的なＰＷＭ信号のパルス幅変化が生じる可能性もある。
【０１２７】
〔実施形態により得られる効果〕
以上の実施形態では、画像を出力する領域において、画像データ中の所定の画素値を有する画素に対応する作像信号のパルス幅を測定し、画像を出力しない領域において、疑似作像信号を生成して当該疑似作像信号のパルス幅を測定し、この測定結果に基づいて、作像信号のパルス幅を所定の画素値に対応した適正なパルス幅に合致させる補正値を定めるよう制御し、この補正値を用いつつ画像データに応じた作像信号を生成する。これにより、パルス幅の微小な差による画像形成装置での画質への悪影響を改善することが可能になる。
【０１２８】
また、画像形成の実動作中において画素値が所定の値の画素のパルス幅を測定して補正値を算出しているため、実動作とは別の専用の測定モードを用いる場合とは異なり、実際の使用環境における測定と補正値算出とが可能になり、補正残差を抑制することが可能になる。
【０１２９】
〔その他の動作（１）〕
以上の実施形態において、作像信号のパルス幅が所定周期で複数状態に変化する場合として、「幅広／幅狭」という具体例を示したが、これに限定されるものではない。測定の結果、「適正／幅狭」や「適正／幅広」といった状態になることもありうる。この場合は、適正なパルス幅を基準値と定めて補正すれば良い。
【０１３０】
〔その他の動作（２）〕
また、以上の実施形態において、作像信号のパルス幅が所定周期で複数状態に変化する場合として、「幅広／幅狭」という２状態を具体例に示したがこれに限定されるものではない。所定周期が３パルス以上である場合に、３状態や、４状態となることもある。そのような場合も、以上の実施形態と同様に基準値を定めてパルス幅の補正を行えば良い。
【０１３１】
〔その他の動作（３）〕
また、解決しようとする課題や実施形態において、低濃度のパルス幅の変化により露光部が発光する／発光しないという状態になり画質が悪化する場合を具体例にしているが、この現象に限定されるものではない。例えば、別な濃度に対応するパルス幅において、何らかの原因で周期的なパルス幅の変化が生じて画質に影響する場合であれば、その画質に影響しているパルス幅において、以上の実施形態を実行することで、画質への影響を解消することが可能になる。
【０１３２】
〔その他の動作（４）〕
なお、以上の信号処理装置１００を用いることが可能な画像形成装置は、電子写真方式の画像形成装置を想定しているが、これに限定されるものではない。すなわち、各種方式の画像形成装置や印刷装置等、又は、画像形成装置等を内蔵している複合機等に対して、以上の実施形態の信号処理装置１００を用いることが可能である。
【符号の説明】
【０１３３】
１００  信号処理装置
１０１  制御部
１０４  記憶部
１０５  クロック生成部
１１０  画像処理部
１２０  ＰＷＭ処理部
１３０  セレクタ
１５０  バッファ
１６０  測定部
１７０  比較部
１８０  計数部
２００  画像形成部
２１０  露光部
【図１】
2018058293.tif 000003
【図２】
2018058293.tif 000004
【図３】
2018058293.tif 000005
【図４】
2018058293.tif 000006
【図５】
2018058293.tif 000007
【図６】
2018058293.tif 000008
【図７】
2018058293.tif 000009
【図８】
2018058293.tif 000010