(57)【要約】  本発明による高密度デュアルレイヤ光ディスクで透過基板の光入射表面から前記第１記録層までの第１基板厚さは、高密度シングルレイヤ光ディスクで透過基板の光入射表面から記録層までの基板厚さから、前記第１記録層と第２記録層との離隔間隔の半分を減算して求めた値と同じで、前記透過基板の光入射表面から前記第２記録層までの第２基板厚さは、前記高密度シングルレイヤ光ディスクで透過基板の光入射表面から記録層までの基板厚さに、前記第１記録層と第２記録層との離隔間隔の半分を加算して求めた値と同じである。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１記録層と第２記録層がディスク厚さ方向の中央から一面に片寄って形成された高密度デュアルレイヤ光ディスクにおいて、
透過基板の光入射表面から前記第１記録層までの第１厚さは最小７０μm以上であって、
前記透過基板の光入射表面から前記第２記録層までの第２厚さは最大１０８μm以下であって、前記透過基板の屈折率はｎであることを特徴とする高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項２】
前記第１厚さと第２厚さは前記透過基板の屈折率ｎが１．６０であるとして設定されることを特徴とする請求項１記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項３】
前記第１記録層と第２記録層間の距離は１９μm±５μm範囲内にあることを特徴とする請求項１記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項４】
前記第１厚さと第２厚さは前記透過基板の屈折率ｎが１．４５ないし１．７０範囲内で可変設定されることを特徴とする請求項１記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項５】
前記透過基板の屈折率ｎが１．６０である時、前記第１厚さと第２厚さはそれぞれ７９．５μm±５μmと９８．５μm±５μmに設定されることを特徴とする請求項１記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項６】
光記録媒体にデータを記録したり再生する光ピックアップと、
前記光記録媒体の第１記録層または第２記録層にデータを記録したり再生するように前記光ピックアップを制御する制御器とを含み、
前記記録媒体は、透過基板の光入射表面からそれぞれ７０μm以上の厚さ値を有する前記第１記録層と、１０８μm以下の厚さ値を有する前記第２記録層の２つの記録層を含み、前記透過基板の屈折率はｎであることを特徴とする光記録媒体への記録または再生装置。
【請求項７】
透過基板の光入射表面から前記第１記録層までの第１厚さは最小７０μmであって、透過基板の光入射表面から前記第２記録層までの第２厚さは最大１０８μmであることを特徴とする請求項６記載の光記録媒体記録または再生装置。
【請求項８】
前記第１基板厚さと第２基板厚さは前記透過基板の屈折率ｎが１．６０であるとして設定されることを特徴とする請求項６記載の光記録媒体記録または再生装置。
【請求項９】
第１記録層と第２記録層がディスク厚さ方向の中央から光入射表面に近い一面に片寄って形成された高密度デュアルレイヤ光ディスクにおいて、
透過基板の光入射表面から前記第１記録層までの第１厚さは６８．５μm以上であって、
前記透過基板の光入射表面から前記第２記録層までの第２厚さは１１０．５μm以下であって、
前記６８．５μmないし１１０．５μmの範囲は１．４５ないし１．７０の屈折率を基礎にすることを特徴とする高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項１０】
透過基板の光入射表面から前記第１記録層まで６８．５μm以上の値を有する第１厚さは前記透過基板の屈折率ｎが１．４５であるとして設定されることを特徴とする請求項９記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項１１】
透過基板の光入射表面から前記第２記録層まで最大１１０．５μm以下の値を有する第２厚さは前記透過基板の屈折率ｎが１．７０であるとして設定されることを特徴とする請求項９記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項１２】
前記第１記録層と第２記録層間の距離は１９μm±５μm範囲内にあることを特徴とする請求項９記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項１３】
前記透過基板の屈折率ｎが１．６０である時、前記第１厚さと第２厚さはそれぞれ７９．５μm±５μmと９８．５μm±５μmに設定されることを特徴とする請求項１２記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項１４】
光記録媒体にデータを記録したり再生する光ピックアップと、
前記光記録媒体の第１記録層または第２記録層にデータを記録したり再生するように前記光ピックアップを制御する制御器とを含み、
前記記録媒体は、透過基板の光入射表面からそれぞれ６８．５μm以上の厚さ値を有する前記第１記録層と１１０．５μm以下の厚さ値を有する前記第２記録層の２つの記録層を含み、前記透過基板の屈折率はｎであることを特徴とする光記録媒体記録または再生装置。
【請求項１５】
前記屈折率は１．４５ないし１．７０であることを特徴とする請求項１４記載の光記録媒体記録または再生装置。
【請求項１６】
前記透過基板の屈折率ｎが１．６０である時、透過基板の光入射表面から前記第１記録層までの第１厚さは７０μm以上であって、透過基板の光入射表面から前記第２記録層までの第２厚さは１０８μm以下であることを特徴とする請求項１４記載の光記録媒体記録または再生装置。
【請求項１７】
第１記録層と第２記録層がディスク厚さ方向の中央から光入射表面に近い一面に片寄って形成された高密度デュアルレイヤ光ディスクにおいて、
前記第１記録層と第２記録層は透明基板の光入射表面から６８．５μmないし１１０．５μm範囲内に位置し、前記透明基板の屈折率ｎは１．４５ないし１．７０であることを特徴とする高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項１８】
透過基板の光入射表面から前記第１記録層と第２記録層まで６８．５μmないし１０６．５μm範囲の値を有する第１及び第２厚さは前記透過基板の屈折率ｎが１．４５であるとして設定されることを特徴とする請求項１７記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項１９】
透過基板の光入射表面から前記第１記録層と第２記録層まで７０．０μmないし１０８．０μm範囲の値を有する第１及び第２厚さは前記透過基板の屈折率ｎが１．６０であるとして設定されることを特徴とする請求項１８記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項２０】
透過基板の光入射表面から前記第１記録層と第２記録層まで７１．４μmないし１１０．５μm範囲の値を有する第１及び第２厚さは前記透過基板の屈折率ｎが１．７０であるとして設定されることを特徴とする請求項１８記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項２１】
第１記録層と第２記録層がディスク厚さ方向の中央から光入射表面に近い一面に片寄って形成された高密度デュアルレイヤ光ディスクにおいて、
前記第１記録層と第２記録層は透明基板の光入射表面から７０．０μmないし１０８．０μm範囲内に位置して、前記透明基板の屈折率ｎは１．６０であることを特徴とする高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項２２】
前記第１基板厚さと第２基板厚さは７９．５μm±５μmと９８．５μm±５μmに設定されることを特徴とする請求項２１記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項２３】
光記録媒体にデータを記録したり再生する光ピックアップと、
前記光記録媒体の第１記録層または第２記録層にデータを記録したり再生するように前記光ピックアップを制御する制御器とを含み、
前記記録媒体は、透明基板の光入射表面から６８．５μmないし１１０．５μm範囲内に位置する前記第１記録層と第２記録層の２個の記録層を含み、前記透過基板の屈折率ｎは１．４５ないし１．７０であることを特徴とする光記録媒体への記録または再生装置。
【請求項２４】
前記透過基板の屈折率ｎが１．６０である時、透過基板の光入射表面から前記第１記録層までの第１基板厚さは７０μm以上であって、透過基板の光入射表面から前記第２記録層までの第２基板厚さは１０８μm以下であることを特徴とする請求項２３記載の光記録媒体記録または再生装置。
【請求項２５】
第１記録層と第２記録層がディスク厚さ方向の中央から光入射表面に近い一面に片寄って形成された高密度デュアルレイヤ光ディスクにおいて、
透過基板の光入射表面から前記第１記録層までの第１厚さは、高密度シングルレイヤ光ディスクで透過基板の光入射表面から記録層までの基板厚さから、前記第１記録層と第２記録層との離隔間隔の半分を減算して求めた値にし、
前記透過基板の光入射表面から前記第２記録層までの第２厚さは、前記高密度シングルレイヤ光ディスクで透過基板の光入射表面から記録層までの基板厚さに、前記第１記録層と第２記録層との離隔間隔の半分を加算して求めた値にすることを特徴とする高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項２６】
前記高密度シングルレイヤ光ディスクで透過基板の光入射表面から記録層までの基板厚さは０．１ｍｍであることを特徴とする請求項２５記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項２７】
前記第１記録層と第２記録層との離隔間隔は０．０２ｍｍであることを特徴とする請求項２５記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【請求項２８】
前記第１及び第２基板厚さはそれぞれ０．０９ｍｍと０．１１ｍｍであることを特徴とする請求項２５記載の高密度デュアルレイヤ光ディスク。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は第１記録層と第２記録層がディスク厚さ方向の中央から一方の側に片寄って形成された高密度デュアルレイヤ光ディスクに関する。
【背景技術】
【０００２】
図１は一般的なＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ）に対する構造を示したものである。ＤＶＤ１０は、厚さが１．２ｍｍ直径が１２０ｍｍであって、光ディスク装置に具備されたターンテーブル及びクランパによりクランピングされるように１５ｍｍ直径の中央ホールと４４ｍｍ直径のクランピング領域が形成されている。
【０００３】
ＤＶＤ１０にはピットパターンでデータが記録される記録層がある。記録層は光ディスク装置に含まれる光ピックアップの対物レンズ１に向かったディスク表面から約０．６ｍｍ程度離れた位置に形成されている。ＤＶＤ１０用光ピックアップの対物レンズは開口数（ＮＡ）が０．６である。
【０００４】
図２は高密度シングルレイヤＤＶＤの構造２０を示したものである。高密度シングルレイヤＤＶＤ２０は、厚さが１．２ｍｍ、直径が１２０ｍｍであって、光ディスク装置に具備されたターンテーブル及びクランパによりクランピングされるように１５ｍｍ直径の中央ホールと４４ｍｍ直径のクランピング領域が形成されている。高密度シングルレイヤＤＶＤ２０にはデータ記録層があるが、その記録層は光ディスク装置に含まれる光ピックアップの対物レンズ２に向かったディスク表面から約０．１ｍｍ程度離れた位置に形成されている。
【０００５】
高密度シングルレイヤＤＶＤ２０用光ピックアップの対物レンズ２は通常のＤＶＤ１０用対物レンズに比べて相対的に大きい０．８５の開口数値を有する。光ピックアップは、高密度データの再生または記録のために、通常のＤＶＤ１０に比べて短い波長のレーザービームを用いる。
【０００６】
すなわち、一般的なＤＶＤ１０は６５０ｎｍ波長のレーザービームを用いるが、高密度シングルレイヤＤＶＤ２０は、高密度データの再生または記録のために、４０５ｎｍ波長のレーザービームを用いる。
【０００７】
光ピックアップの対物レンズ２を高密度シングルレイヤＤＶＤ２０の記録層により近接させた状態で短波長のレーザービームを発光させると共に対物レンズの開口数を大きくすることによって、高密度のピットにさらに多くの光量のレーザービームを小さいビームスポットで形成させることができ、かつ短波長のレーザービームが透過する透過層を短縮させることができる。したがって、レーザービームの性質変化や収差の発生を最小化させることができるようになる。
【０００８】
最近、高密度シングルレイヤＤＶＤに比べて約２倍のビデオ及びオーディオデータを記録することができる高密度デュアルレイヤ光ディスク、例えば高密度デュアルレイヤＤＶＤ（ＨＤ−ＤＶＤ  Ｄｕａｌ  Ｌａｙｅｒ）または高密度デュアルレイヤブルーレイディスク（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ  Ｄｕａｌ  Ｌａｙｅｒ、以下、'高密度デュアルレイヤＢＤ'という。）が開発されている。
【０００９】
しかし、高密度デュアルレイヤ光ディスクにおいて、透過基板の入射表面から第１及び第２記録層までの透過厚さの変化による球面収差と光ピックアップに含まれた対物レンズのチルトによるコマ収差によりディスク全体の波面収差（ＷＦＥ：Ｗａｖｅ  Ｆｒｏｎｔ  Ｅｒｒｏｒ）が発生する。これを效率的に抑制することができる案がまだ用意されておらず、解決策が至急要求されているのが実情である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明は前記のような実情を勘案して創作されたものであって、本発明の目的は、透過基板の入射表面から第１及び第２記録層まで基板の透過厚さの変化による波面収差の発生を最少化する、高密度デュアルレイヤＤＶＤまたは高密度デュアルレイヤブルーレイディスクのような第１及び第２記録層を有する新しい高密度デュアルレイヤ光ディスクを提供することである。
【００１１】
本発明の他の目的は、透過基板の入射表面から第１及び第２記録層までの透過厚さの変化による球面収差と光ピックアップに含まれた対物レンズのチルトによるコマ収差により発生する波面収差を最小化する、第１及び第２記録層を有する新しい高密度デュアルレイヤ光ディスクを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
前記の目的を達成するための本発明による高密度デュアルレイヤ光ディスクは、第１記録層と第２記録層がディスク厚さ方向の中央から光入射表面に近い一面側に片寄って形成されて、透過基板の光入射表面から前記第１記録層までの第１透過厚さが、高密度シングルレイヤ光ディスクで透過基板の光入射表面から記録層までの透過厚さから、前記第１記録層と第２記録層との離隔間隔の半分を減算して求めた値に該当し、前記透過基板の光入射表面から前記第２記録層までの第２透過厚さは、前記高密度シングルレイヤ光ディスクで透過基板の光入射表面から記録層までの透過厚さに、前記第１記録層と第２記録層との離隔間隔の半分を加算して求めた値に該当することを特徴とする。
【００１３】
本発明による高密度デュアルレイヤ光ディスクは、第１記録層と第２記録層がディスク厚さ方向の中央から光入射表面に近い一面側に片寄って形成されて、透過基板の光入射表面から前記第１記録層までの第１透過厚さは最小７０μm以上であって、前記透過基板の光入射表面から前記第２記録層までの第２透過厚さは最大１０８μm以下であって、前記第１記録層と第２記録層間の距離は１９μm±５μm範囲内にあることを特徴とする。
【００１４】
前記高密度シングルレイヤ光ディスクの記録層までの基板の透過厚さは０．１ｍｍであって、前記第１及び第２記録層間の離隔間隔は０．０２ｍｍであって、前記第１及び第２記録層までの基板の透過厚さはそれぞれ０．０９ｍｍと０．１１ｍｍであることを特徴とする。
【００１５】
前記第１記録層までの基板の透過厚さと前記第２記録層までの透過厚さが前記透過基板の屈折率ｎ＝１．４５〜１．７０範囲内で可変設定され、前記透過基板の屈折率がｎ＝１．６０である場合、前記第１及び第２記録層までの透過厚さはそれぞれ７９．５±５μmと９８．５±５μmに設定されることを特徴とする。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
本発明による新しい高密度デュアルレイヤ光ディスクを説明するに先立ち、一般的な高密度デュアルレイヤＤＶＤと高密度デュアルレイヤＢＤに対して先に説明する。
【００１７】
一般的な高密度デュアルレイヤＤＶＤ３０は、厚さが１．２ｍｍ、直径が１２０ｍｍであって、そして光ディスク装置に具備されたターンテーブル及びクランパによりクランピングされるように１５ｍｍ直径の中央ホールと４４ｍｍ直径のクランピング領域が形成されている。高密度デュアルレイヤＤＶＤ３０は一般的な高密度シングルレイヤＤＶＤの記録層を基にして形成された第１記録層と、第１記録層から０．０２ｍｍ離隔間隔で形成された第２記録層とを有している。具体的に、図３に示したように、高密度デュアルレイヤＤＶＤ３０の第１記録層は光ディスク装置に含まれた光ピックアップの対物レンズに向かったディスク表面から０．１ｍｍ離隔された位置に形成されて、第２記録層はディスク表面から０．１２ｍｍ離隔された位置に形成される。
【００１８】
高密度デュアルレイヤ光ディスク用光ピックアップは、高密度シングルレイヤＤＶＤ２０の場合と同じように、第１及び第２記録層に高密度データを記録または再生するために、対物レンズ２の開口数（ＮＡ）は０．８５であって、４０５ｎｍ波長のレーザービーム４を用いる。
【００１９】
開口数０．８５の対物レンズと４０５ｎｍ波長のレーザービームを用いる光ピックアップを利用して記録層にデータを記録して再生する場合、記録層まで透過する基板の厚さによるデフォーカシングマージン（ＤＦＭ：Ｄｅ−Ｆｏｃｕｓｉｎｇ  Ｍａｒｇｉｎ）は次の式１によって大きく減少する。
ＤＦＭ＝λ／（ＮＡ）4Δｔ                     （１）
λ：波長、ＮＡ：開口数、Δｔ：記録層までの透過厚さの変化量。
【００２０】
すなわち、波長が短くなって開口数が大きくなるほど、記録層までの基板の透過厚さの変化量によるデフォーカシングマージンは一般ＤＶＤに比べて大きく減少し、これが結局システムノイズとして作用する。
【００２１】
一方、第１記録層がディスク表面から０．１ｍｍ、第２記録層が０．０８ｍｍ離隔された位置に形成される場合は、第１記録層がディスク表面から０．１ｍｍ、第２記録層が０．１２ｍｍ離隔された位置に形成される場合より大きいデフォーカシングマージンを保障する。
【００２２】
したがって、デフォーカシングマージン観点では第２記録層が第１記録層よりディスク表面で近いことが有利である。
【００２３】
すなわち、第２記録層がディスク表面から０．１ｍｍ以内に位置することが有利である。
【００２４】
また、各記録層の厚さ、すなわちディスク表面からの位置を考慮する時、デフォーカシングマージンに加えて、球面収差、コマ収差、波面収差も考慮されなければならない。
【００２５】
第１記録層までの透過厚さを０．１ｍｍにしてその記録層に形成されるビームスポットの波面収差（ＷＦＥ）を零と仮定した状態で、第２記録層までの透過厚さによる波面収差は、図４に示したようなグラフ特性を有するようになる。例えば第２記録層までの透過厚さが０．０８ｍｍまたは０．１２ｍｍである場合、波面収差（ＷＦＥ）は約０．１８λｒｍｓの収差値を有することになる。
【００２６】
一般的に、光システムでエラーが発生しないためには、全体の収差が０．０７λｒｍｓ以下にならなければならない。実験的なシステムではピックアップの全体収差が０．０７５λｒｍｓ以下である場合には問題がない。
【００２７】
以後では本発明は０．０７５λｒｍｓ以下の状態とみなされる。
【００２８】
図４に示したように、第２記録層までの基板の厚さが０．０８ｍｍまたは０．１２ｍｍである場合、実際システムで許すことができる０．０７５λｒｍｓの最大波面収差値をはるかに超過する。
【００２９】
前述したように、第１及び第２記録層までの基板の透過厚さがそれぞれ０．１ｍｍと０．１２ｍｍに設定されるか、または０．０８ｍｍと０．１ｍｍに設定されると、実際システムでは許されない約０．１８λｒｍｓの収差値を有するようになる。
【００３０】
一方、波面収差を補償するためのいくつの方法のうち、光ディスク装置に含まれたコリメーターレンズ３の位置を微細調節したりまたは収差補償用液晶素子などをさらに設置して補償する場合、第２記録層までの透過厚さが０．０８ｍｍまたは０．１２ｍｍである状態での波面収差を約０．０４５λｒｍｓに減少させることができる。
【００３１】
図５は本発明による高密度デュアルレイヤ光ディスクの構造を示したものであって、本発明による高密度デュアルレイヤ光ディスク４０は、第１記録層までの基板の透過厚さｔ１を、図５に示したように、一般的な高密度シングルレイヤ光ディスクで記録層までの透過厚さから第１記録層と第２記録層との離隔間隔の１／２を減算した値に設定した。
【００３２】
第２記録層までの透過厚さｔ２を、一般的な高密度シングルレイヤ光ディスクの記録層までの透過厚さに、第１記録層と第２記録層との離隔間隔の１／２を加えた値に設定した。
【００３３】
すなわち、本発明による高密度デュアルレイヤＤＶＤまたは高密度デュアルレイヤＢＤは、厚さが１．２ｍｍ、直径が１２０ｍｍであって、そして光ディスク装置に具備されたターンテーブル及びクランパによりクランピングされるように１５ｍｍ直径の中央ホールと４４ｍｍ直径のクランピング領域が形成されて、第１記録層は光ディスク装置に含まれる光ピックアップの対物レンズ２に向かったディスク表面から０．０９ｍｍ離れた位置に形成されて、第２記録層は光ピックアップの対物レンズ２に向かったディスク表面から０．１１ｍｍ離隔された位置に形成される。
【００３４】
したがって、図４を参照しながら前述したような条件で、第１及び第２記録層までの基板の透過厚さ０．０９ｍｍと０．１１ｍｍに対する波面収差（ＷＦＥ）が実際のシステムで用いることができる最大波面収差値０．０７５λｒｍｓに近接した約０．０８λｒｍｓになる。その上、コリメーターレンズ３の位置を微細調節したりまたは液晶素子によってさらに補償する場合、波面収差が約０．０２５λｒｍｓにまで減少する。すなわち、基板の透過厚さによる波面収差の発生を效率的に抑制させることができる。
【００３５】
図６Ａないし図６Ｃは高密度デュアルレイヤ光ディスクの記録層までの透過厚さの変化と対物レンズのチルトによる波面収差値をグラフで示したのである。光ピックアップに含まれた対物レンズのチルトがない状態で、記録層までの透過厚さの変化による球面収差は図６Ａないし図６Ｃの線（１）の値を有する。
【００３６】
光ピックアップの対物レンズが最大０．６度にチルトされた状態でのコマ収差は図６Ａないし図６Ｃの線（２）の値を有するようになり、、球面収差とコマ収差によるディスク全体の波面収差は図６Ａないし図６Ｃの線（３）の値を有する。
【００３７】
図６Ａないし図６Ｃで、線（１）は図４のグラフに該当して、線（２）は次の式２により求められる。
（２）＝ｔ（ｎ2−１／２ｎ2）ＮＡ3α                      式２
ｔは厚さ、ｎは屈折率、ＮＡは開口数、αはチルト量。
【００３８】
通常、一般的な光システムは最大チルト角度で０．６度を考慮するので、この値を式２に適用してコマ収差を求める。
【００３９】
また、波面収差は次の数学式３により算出される。
（３）＝√｛（１）2＋（２）2｝                              式３
上記で
（１）：チルトがない状態での基板の透過厚さの変化による球面収差、
（２）：チルトが最大０．６度である状態でのコマ収差
（３）：球面収差とコマ収差によるディスク全体の波面収差
【００４０】
したがって、図６Ａに示したように、実際のシステムで用いることができる最大波面収差値０．０７５λｒｍｓを満足させるためには、第１及び第２記録層までの透過厚さを約７０〜１０８μmに設定しなければならない。
【００４１】
この結果は光ディスクの屈折率を考慮して得られた値であって、特にこの結果は屈折率１．６を基礎にしている。
【００４２】
また、図６Ｂでは、実際のシステムで用いることができる最大波面収差値０．０７５λｒｍｓを満足させるためには、屈折率１．４５で第１及び第２記録層までの透過厚さを約６８．５〜１０６．５μmに設定しなければならない。
【００４３】
また、図６Ｃでは、実際のシステムで用いることができる最大波面収差値０．０７５λｒｍｓを満足するためには、屈折率１．７０で第１及び第２記録層までの透過厚さを約７１．４〜１１０．５μmに設定しなければならない。
【００４４】
これに対して下記で詳細に説明する。
図７は本発明による高密度デュアルレイヤ光ディスクに適用可能な第１及び第２記録層までの透過厚さの範囲を示したグラフである。基板の透過厚さは、図６Ａないし図６Ｃに示したように、透過基板の屈折率によって可変設定される。
【００４５】
例えば、透過基板の屈折率がｎ＝１．６０である場合、最大波面収差値０．０７５λｒｍｓを満足させるための記録層までの透過厚さは約７０〜１０８μm範囲となる。
【００４６】
透過基板の屈折率がｎ＝１．４５である場合、図６Ｂに示したように、最大波面収差値０．０７５λｒｍｓを満足させるための記録層までの透過厚さは約６８．５〜１０６．５８μm範囲となる。
【００４７】
また、透過基板の屈折率がｎ＝１．７０である場合、図６Ｃに示したように、最大波面収差値０．０７５λｒｍｓを満足させるための記録層までの透過厚さは約７１．４〜１１０．５範囲となる。
【００４８】
結局、第２記録層までの透過厚さは約１０８±２．５（または−１．５）μmになって、第１記録層までの透過厚さは約７０±１．４（または−１．５）μmになる。
【００４９】
したがって、本発明による高密度デュアルレイヤ光ディスクの構造を図示した図８のように、第１記録層までの透過厚さは最小７０μmに設定し、第２記録層までの透過最大厚さは１０８μmに設定すると共に、第１記録層と第２記録層の離隔距離を１９±５μmに設定する。
【００５０】
これに対してさらに詳細に説明する。
第１及び第２記録層はこのような値の平均、すなわち８９μmを境界として分離させられる。例えば、第１記録層までの厚さが最小値である７０μmである場合、第２記録層までの厚さは境界値である８９μmでなければならず、第２記録層までの厚さが最大値である１０８μmである場合第１記録層までの厚さは境界値である８９μmでなければならない。
【００５１】
したがって、第１記録層と第２記録層間の距離は１９μmに設定される。そして、製造エラーマージンを考慮するならばその距離は現在のシステムで収容することができる１９μm±５μmに設定される。
【００５２】
厚さをより広い範囲の値で考慮することができるが、基板製造技術を考慮してエラーマージンが±５μmになることが望ましい。また、各記録層までの厚さの平均値は記録層間の距離が代表値である１９μmである場合が最も安定的である。すなわち、各記録層まで厚さの範囲の平均を計算してみれば、それぞれ７９．５μmと９８．５μmである。このような結果によって、透過基板の入射表面から第１及び第２記録層まで厚さはそれぞれ７９．５μm±５μmと９８．５μm±５μmに設定される。
【００５３】
図８に示したように、透過基板の屈折率ｎ＝１．６０である場合、第１記録層までの厚さと第２記録層までの厚さをそれぞれ７９．５μmと９８．５μmに設定して、第１及び第２記録層の離隔距離を１９±５μmに設定することができるが、この場合離隔距離の許容範囲±５μmによって、第１記録層までの厚さと第２記録層までの厚さをそれぞれ７９．５μm±５μmと９８．５μm±５μmに設定することができる。
【００５４】
上述した本高密度デュアルレイヤ光ディスクの構造により、第１及び第２記録層までの透過厚さの変化による球面収差と対物レンズのチルトによるコマ収差により発生するディスク全体の波面収差を效率的に抑制させることができる。
【００５５】
以上前述した本発明の望ましい実施形態は例示の目的のために開示されたものであって、当業者ならば添付された特許請求範囲に開示された本発明の技術的思想とその技術的範囲内で、多様な他の実施形態を改良、変更、代替または付加などが可能である。
【００５６】
前記のように構成される本発明による高密度デュアルレイヤ光ディスクは、第１及び第２記録層までの透過厚さの変化による球面収差と対物レンズのチルトによるコマ収差により発生するディスク全体の波面収差を最小化でき、光ディスクに信号をより正確に記録したり、ディスクからより正確に再生することができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】一般的なＤＶＤの構造を示したものである。
【図２】一般的な高密度シングルレイヤＤＶＤの構造を示したものである。
【図３】本発明を説明するための高密度デュアルレイヤ光ディスクの構造に対する例を示したものである。
【図４】高密度デュアルレイヤ光ディスクの記録層までの透過基板厚さによる球面収差により発生する波面収差値をグラフで示したのである。
【図５】本発明による高密度デュアルレイヤ光ディスクの構造を示したものである。
【図６Ａ】高密度デュアルレイヤ光ディスクの記録層までの透過基板厚さ変化と対物レンズのチルトによる波面収差値をグラフで示したのである。
【図６Ｂ】高密度デュアルレイヤ光ディスクの記録層までの透過基板厚さ変化と対物レンズのチルトによる波面収差値をグラフで示したのである。
【図６Ｃ】高密度デュアルレイヤ光ディスクの記録層までの透過基板厚さ変化と対物レンズのチルトによる波面収差値をグラフで示したのである。
【図７】本発明による高密度デュアルレイヤ光ディスクに適用可能な第１及び第２記録層までの透過基板厚さ範囲をグラフで示したのである。
【図８】本発明による高密度デュアルレイヤ光ディスクの構造の実施形態を示したものである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６Ａ】
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【図６Ｂ】
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【図６Ｃ】
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【図７】
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【図８】
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【国際調査報告】
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