(57)【要約】本発明は、乱数発生器によって生成される乱数をリアルタイムにテストする方法及び装置である。ランダムビットのストリームは、前記乱数発生器を使用して生成され、生成されたランダムビットは、同一のビットパターンを有するすべてのサブシーケンスが識別されるギャップ長計算演算を受け、結果として得られるギャップ長は、同一のビットパターンの間の平均ギャップ長を得るために指数平均化に適用される。平均ギャップ長は、少なくとも１つの予め決められた受容レンジと比較され、それによって平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが、予め決められた回数より多く繰り返し予め決められた受容レンジ外となる場合、生成されたランダムビットは不十分にランダムであると決定される。
2005521155.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
乱数のストリームのランダム性をテストする方法であって、
ランダムな２進ビットの連続するストリームを生成するステップと、
少なくとも２つの同一のビットパターンの間の平均ギャップ長を計算するために、生成された前記ランダムビットを、指数平均ギャップ計算に適用するステップと、
前記指数ギャップ演算の出力を予め決められた受容レンジと比較することによって、前記生成されたランダムビットが十分にランダムであるかどうかを決定するステップと、
を含む方法。
【請求項２】
前記平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが、予め規定された回数より多く繰り返し前記予め決められた受容レンジ外となる場合、前記生成されたランダムビットが不十分にランダムであると決定するステップを更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが、予め規定された回数より多く繰り返し前記予め決められた受容レンジ外となる場合、前記生成されたランダムビットが不十分にランダムであることを知らせるステップを更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが、予め規定された回数より多く繰り返し前記予め決められた受容レンジ外となる場合、ランダムビットの新しい組を生成するステップを更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記同一のビットパターンは、前記生成されたランダムビットからの固定の数の連続するビットを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが、予め規定された回数より多く繰り返し前記予め決められた受容レンジ外となる場合、後続のアプリケーションに対して前記生成されたランダムビットを否定するステップを更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
乱数発生器によって生成された乱数を評価する方法であって、
（ａ）前記乱数発生器を使用してランダムビットのストリームを生成するステップと、
（ｂ）生成された前記ランダムビットをギャップ長計算に適用するステップと、
（ｃ）少なくとも２つの同一のビットパターンの間の平均ギャップ長を得るために、前記ギャップ長計算の出力を指数平均化に適用するステップと、
（ｄ）前記平均ギャップ長を予め決められた受容レンジと比較するステップと、
（ｅ）前記平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが、予め規定された回数より多く前記予め決められた受容レンジ外となるかどうかを決定するステップと、
を含む方法。
【請求項８】
前記平均ギャップ長のいずれかが前記予め規定された回数より多く前記予め決められた受容レンジ外となる場合、前記生成されたランダムビットが不十分にランダムであると決定するステップを更に含む、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
それぞれの前記平均ギャップ長が前記予め決められた受容レンジ内にある場合、前記平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが前記予め決められた受容レンジ外となるまで、前記ステップ（ａ）−（ｅ）を繰り返すステップを更に含む、請求項７に記載の方法。
【請求項１０】
前記ステップ（ａ）−（ｅ）が前記予め規定された回数より多く繰り返される場合、不十分にランダムな数が生成されることを知らせるステップを更に含む、請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
前記ステップ（ａ）−（ｅ）が前記予め規定された回数より多く繰り返される場合、乱数の新しい組を生成するステップを更に含む、請求項９に記載の方法。
【請求項１２】
前記同一のビットパターンは、前記生成されたランダムビットからの固定の数の連続するビットを含む、請求項７に記載の方法。
【請求項１３】
乱数発生器によって生成される乱数を評価する装置であって、
２進ビットを含むランダムシーケンスを生成する手段と、
指数平均ギャップ演算に基づいて、生成された前記ランダムシーケンスが不十分にランダムであるかどうかを検出する手段と、
前記生成されたランダムシーケンスが不十分にランダムであると決定される場合、後続のアプリケーションに対する前記生成されたランダムシーケンスのフローを制御する手段と、を有し、
前記指数平均ギャップ演算は、少なくとも２つの同一のビットパターン間の平均ギャップ長を計算するために実施され、前記平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが、予め規定された回数より多く繰り返し予め決められた受容レンジ外となる場合、前記生成されたランダムシーケンスが不十分にランダムであると決定する、装置。
【請求項１４】
前記平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが、前記予め規定された回数より多く繰り返し前記予め決められた受容レンジ外となる場合、前記生成されたランダムシーケンスが不十分にランダムであるとのアラーム信号を送信する手段を更に有する、請求項１３に記載の装置。
【請求項１５】
前記平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが、前記予め規定された回数より多く繰り返し前記予め決められた受容レンジ外となる場合、ランダムビットの新しい組を生成する手段を更に有する、請求項１３に記載の装置。
【請求項１６】
命令のシーケンスを表すデータが記憶された機械読み取り可能な媒体であって、
前記命令のシーケンスは、プロセッサによって実行される場合、該プロセッサに、
ランダムな２進ビットの連続するストリームを処理し、
少なくとも２つの同一のビットパターンの間の平均ギャップ長を計算するために、生成された前記ランダムビットを指数ギャップ長演算に適用し、
前記指数ギャップ長演算の出力を予め決められた受容レンジと比較することによって、前記生成されたランダムビットが不十分にランダムであるかどうかを決定するようにさせる、
機械読み取り可能な媒体。
【請求項１７】
前記平均ギャップ長の少なくとも１つが前記予め決められた受容レンジ外にある場合、前記生成された乱数が不十分にランダムであると決定される、請求項１６に記載の機械読み取り可能な媒体。
【請求項１８】
前記プロセッサは更に、前記平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが前記予め決められた受容レンジ外にある場合、ランダムビットの新しい組を処理するように動作する、請求項１６に記載の機械読み取り可能な媒体。
【請求項１９】
前記プロセッサは更に、前記平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが予め規定された回数より多く繰り返し前記予め決められた受容レンジ外となる場合、後続のアプリケーションに対して前記生成されたランダムビットを否定するように動作する、請求項１６に記載の機械読み取り可能な媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、乱数発生器の分野に関し、特に真の２進ランダムシーケンスを生成するデジタルデータ処理装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
乱数発生器は、このコンピュータ時代において根本的に重要である。真にランダムなシーケンスは、実アプリケーションにおいて生成するのが困難である。例えば、乱数発生器のハードウェアコンポーネントにおいて、それがある時間期間にわたって一連の１及び０を生成するとき、一般に熱が生成される。１のビットを生成することは、０のビットよりも多くのパワーを消費しうる。このように、１のビットの長いシーケンスが生成される場合、電気回路は熱くなる。こうして、回路が熱いときにその回路が１のビットを生成する場合、回路は、「ラッチアップ」し、たいていは１のビットを生成するが、まれに０のビットを生成する。回路が熱いときに０のビットが生成される場合、異なる効果が生じることがある。この場合、１のビットの長いサブシーケンスは、非常に珍しくなり、非ランダムな特性を構成する。時折生じる長いサブシーケンスが長い０又は１の等しいビットからなるランダムシーケンスにおいて、偏った０／１頻度のエラーは、セキュリティを侵すカタストロフィックな結果をもたらす。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
従って、ランダム性テストを行う場合、ハードウェアのタンパリング及びコンポーネント不良の双方の検出が必要である。従来のランダム性テストは、例えばカイ２乗テスト、デルタテストなどの幅広い統計的なテストを通じて、生成された乱数のシーケンスに対して実施される。しかしながら、このようなテストは、大量の計算処理パワーを必要とするので、リアルタイムに実施されるには非常に高価である。
【０００４】
本発明は、上述の問題を克服するとともに、生成された乱数への認可されないパーティによる暗号解析の影響を少なくすることを確実にするために、オンラインランダム性テストを行う方法及び装置を提供することによって更なる利益をもたらす。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の１つの見地によれば、乱数のストリームのランダム性をテストする方法は、ランダムな２進ビットの連続するストリームを生成するステップと、同一のビットパターンの出現の間の平均ギャップ長を計算するために、生成されたランダムビットを指数平均ギャップ計算に適用するステップと、指数ギャップ演算の出力を、予め決められた受容レンジと比較することによって、生成されたランダムビットが十分にランダムであるかどうかを決定するステップと、を含む。方法は更に、平均ギャップ長の少なくとも１つが、予め規定された回数より多く繰り返し予め決められた受容レンジ外となる場合、生成されたランダムビットが不十分にランダムであると決定するステップと、平均ギャップ長の少なくとも１つが、予め規定された回数より多く繰り返し予め決められた受容レンジ外となる場合、生成されたランダムビットが不十分にランダムであることを知らせるステップと、平均ギャップ長の少なくとも１つが、予め規定された回数より多く繰り返し予め決められた受容レンジ外となる場合、ランダムビットの新しい組を生成するステップと、代替として、平均ギャップ長の少なくとも１つが、予め規定された回数より多く繰り返し予め決められた受容レンジ外となる場合、後続のアプリケーションに対して生成されたランダムビットを否定するステップと、を含む。本実施例において、同一のビットパターンは、生成されたランダムビットからの固定の数の連続するビットを含む。
【０００６】
本発明の別の見地において、乱数発生器によって生成される乱数を評価する方法は、（ａ）乱数発生器を使用してランダムビットのストリームを生成するステップと、（ｂ）生成されたランダムビットをギャップ長計算に適用するステップと、（ｃ）同一のビットパターンの出現の間の平均ギャップ長を得るために、ギャップ長計算の出力を指数平均化に適用するステップと、（ｄ）平均ギャップ長を、予め決められた受容レンジと比較するステップと、（ｅ）平均ギャップ長の少なくとも１つが、予め規定された回数より多く予め決められた受容レンジ外となるかどうかを決定し、そうである場合、平均ギャップ長のいずれかが、予め規定された回数より多く予め決められた受容レンジ外となる場合、生成されたランダムビットが不十分にランダムであると決定するステップと、を含む。それぞれの平均ギャップ長が、予め決められた受容レンジ内にある場合、平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが予め決められた受容レンジ外となるまでステップ（ａ）−（ｅ）が繰り返され、ステップ（ａ）−（ｅ）が予め規定された回数より多く繰り返されると、不十分にランダムな数が生成されることが通知される。実施例において、ステップ（ａ）−（ｅ）が予め規定された回数より多く繰り返される場合、乱数の新しい組が生成される。
【０００７】
本発明の別の見地によれば、乱数発生器によって生成される乱数を評価する装置は、２進ビットを含むランダムシーケンスを生成する手段と、指数平均ギャップ長演算に基づいて、生成されたランダムシーケンスが不十分にランダムであるかどうか検出する手段と、生成されたランダムシーケンスが不十分にランダムであると決定される場合、後続のアプリケーションに対して生成されたランダムシーケンスのフローを制御する手段と、を有し、指数平均ギャップ演算は、同一のビットパターンの間の平均ギャップ長を計算するために実施され、平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが、予め規定された回数より多く繰り返し予め決められた受容レンジ外となる場合、生成されたランダムシーケンスが不十分にランダムであると決定される。装置は更に、平均ギャップ長のうちの少なくとも１つが、予め規定された回数より多く繰り返し予め決められた受容レンジ外となる場合、生成されたランダムシーケンスが不十分にランダムであるというアラーム信号を送信する手段と、平均ギャップ長のうち少なくとも１つが、予め規定された回数より多く繰り返し予め決められた受容レンジ外となる場合、ランダムビットの新しい組を生成する手段と、を有する。
【０００８】
更に別の見地は、本発明が、特定のアプリケーションにとって望ましいハードウェア、ソフトウェア又はハードウェアとソフトウェアとの組み合わせにおいて実現されうることである。
【０００９】
更に、本発明は、簡単であり、信頼性が高く、安価なインプリメンテーションにおいて実現されることができる。
【００１０】
当業者には、これら及び他の利益が、添付の図面とともに以下の詳細な説明を読むことにより明らかになるであろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下の説明において、限定する目的ではなくむしろ説明の目的で、特定のアーキテクチャ、インタフェース、技法、その他のような特定の詳細が、本発明の完全な理解を与えるために記述されている。しかしながら、当業者には、本発明が、これらの特定の詳細から逸れる他の実施例において実施されうることが明らかであろう。簡潔さ及び明瞭さの目的で、不必要な詳細により本発明の説明を分かりにくくしないように、よく知られた装置、回路及び方法の詳細な説明は省かれている。
【００１２】
図１は、本発明の例示の実施例による乱数生成システム１０の簡略化されたブロック図を示している。システム１０は、一連の乱数を生成する乱数発生器（ＲＧ）１２、検出器１４及びスイッチ１６を有する。この開示において、「乱数」は、所望のランダム性を含む、２進信号の任意のシーケンス、信号のガウス分布若しくは任意の他の分布、０と１との間の数を表す信号のシーケンス、十進数を表す信号のシーケンス又は任意の他の形式を表す。このように、この開示において、乱数発生器１２は、任意の通常のやり方又は通常でないやり方で２進ビットのシーケンスに変換されることができる信号を生成するいかなる装置も意味する。スイッチ１６は、暗号システム、オーディオ又はビデオノイズ発生器、コンピュータプログラム又は他の装置及びプロセスへの入力を表すことができる。
【００１３】
動作中、乱数が乱数発生器１２によって生成されると、検出器１４は、予め決められた基準（以下に説明する）に従って、生成された乱数が真にランダムなシーケンスであるかどうかを検出する。生成された乱数が真にランダムであると決定される場合、スイッチ１６は、乱数発生器１２によって供給された乱数を使用する任意の回路、システム、プロセス、ギャンブリングアプリケーション、シミュレーション、統計サンプリング、Ｄｉｆｆｉｅ−Ｈｅｌｌｍａｎキー交換等の後続のアプリケーションに対し、生成された乱数を与える。しかしながら、生成された乱数が検出器１４によって不十分にランダムであるとみなされる場合、スイッチ１６は、生成された乱数のフローを止める。代替例として、生成された乱数が不十分にランダムであると決定される場合、乱数の新しい組が生成されることが可能である。
【００１４】
ここで、図２及び図３を参照して、生成された乱数が十分にランダムであるかどうかを決定することに関する詳細について説明する。図２を参照して、本発明の一実施例により、生成された乱数が十分にランダムであることを確実にするために、乱数発生器１２が動作している間、乱数がリアルタイムにテストされる。ランダムビットの連続するストリームが乱数発生器１２によって生成されると、検出器１４は、同じビットパターンの出現の間の平均ギャップ長を計算し、生成された乱数シーケンスが十分にランダムかどうかを決定するために、同一のビットシーケンスの平均ギャップ分布が、理想のギャップレンジ又は予め決められた受容レンジと比較される。こうして、ランダム性のテストのセンシティビティ（感度）は、受容レンジを緩め又は厳しくすることによって調整されることができる。更に以下に説明するように、平均化プロセスは、指数平均化プロセスを使用して実施される。本発明の技法によって実現されうるさまざまなカウンティング及び平均方法があることに留意すべきである。しかしながら、好適には、後述するような指数平均化が使用される。更に、正確な受容レンジは、乱数の既知の良好なソースを用いた幅広いシミュレーションを通して得られる。
【００１５】
図２に示すように、新しいランダムビットが生成されるたびに、新しいビットは、ｋ個のビットが集められるまで、前のビットのシーケンスに付け加えられる。図２は、説明の目的で、６ビットのグループを、ｋビットのユニットとして示している。しかしながら、本発明は、いかなる正数個のｋビットもサポートすることができることが理解されなければならない。こうして、図中の６ビットのグループは、本発明の範囲に制限を課すものであってはならない。指数平均アキュムレータ（Ａ）は、それぞれの起こりうるｂｎパターン（０≦ｎ＜２ｋ）ごとに初期化される。更に、このビットパターンが最後に発生したとき、時間が記録される。出現間のギャップは、最後の出現の記録された時間と現在の時間との差によって規定される。図２に示すように、パターン「００００００」に対応するギャップは、このパターンがブロックｂ１及びブロックｂ３において発生する場合は２である。パターン「００１１００」に対応するギャップは、このパターンがブロックｂ２及びブロックｂ６において発生する場合は４である。パターン「０１０１００」に対応するギャップは、このパターンがブロックｂ４及びブロックｂ７において発生する場合は３である。同じビットパターンの出現の間のギャップが決定されると、平均ギャップカウンタが更新される。対応するアキュムレータは、２進数として扱われる現在のビットパターンｂｎによってインデックスされる。
【００１６】
乱数発生器及びランダム性テストは連続的に走り、それゆえ特定のビットパターンが生じるときを示す時間値は無限に大きくなることに留意されたい。しかしながら、期待されるギャップ長の１０倍のギャップは非常にまれにしか発生せず、１０００倍長いギャップはほとんど生じない。従って、正確にギャップを計算するためには、ｋ＋６...１０のビットでたいていは十分である。従って、本発明において使用される記憶された時間値の最下位ビットの好ましい数は、ｋ＋６及びｋ＋１０の間の範囲にある。このデータ表現において、時間値の差であるギャップ長は、循環オーダーに基づいて計算されることを必要とする。
【００１７】
実施例において、ギャップ平均カウンティングプロセスは連続的に走る。このように、カウンタ又はアキュムレータＡは、オーバフローを避けるために周期的にクリアされなければならない。このために、本発明において指数平均化が利用される。指数平均化において、アキュムレータＡは、平均化加算が実施される前に特定の０＜α＜１ファクタにより低くされるので、大きくなりすぎることがない。すなわち、記憶及び実行時間を節約するために、本発明において、実際の平均ギャップ長を追跡するのに指数平均化が適用される。指数平均化は、平均がアキュムレータＡにおいて更新されるたびに、古い平均された値が逓減効果をもたらすという特性を有する。本発明の技法によって実現されうるさまざまなカウンティング方法があることに留意すべきである。しかしながら、後述するように、指数平均化が使用されることが好ましい。
【００１８】
指数平均化は、以下のようにして動作する。平均されなければならない数値ｂが得られるたびに、０と１との間にあるファクタα（０＜α＜１）が、アキュムレータＡに乗じられ、その値にｂが加算される：
Ａｎｅｗ＝α・Ａｏｌｄ＋ｂ
本願において、ｂは、同じビットパターンの出現の間のギャップ長を表す。有用な平均化効果を与えるために、αの値は、１に近くなるように選択される。
α ＝ １ − １／ｎ，ｎ＞＞１
この場合、
【数１】
2005521155.tif 000003
であり、平均された数の半減期は、
【数２】
2005521155.tif 000004
である。ｎステップののち、最も古い平均された値の重みは、
【数３】
2005521155.tif 000005
になる。ここで、ｅは自然対数の底（オイラー定数）であり、従ってタームｎは、平均された値の自然寿命（natural life）と呼ばれることができる。平均されるべきすべての値が１である場合、アキュムレータ値は、
１ ＋ α ＋ α２ ＋ ... ＝ １／（１−α） ＝ ｎ
であり、すべてのビットが０である場合、アキュムレータ値は０である。指数平均の期待値は、個々の確率変数の期待値の指数平均であることに留意されたい。それらが、均一に分布する２進ビットである場合、期待値は、
１／２ ＋ １／２α ＋ １／２α２ ＋ ... ＝ ｎ／２
である。
【００１９】
上述したように、アキュムレータは特定のファクタ０＜α＜によって低くされるので、指数平均化は、カウンタをクリアする役目を果たす。こうして、アキュムレータは、演算モード中に大きくなりすぎることがない。一旦指数平均化がそれぞれのアキュムレータについて実施されると、指数平均化の値は、予め決められた受容レンジと比較される。すなわち、それぞれのアキュムレータの値を予め決められた受容レンジ値と比較することによって、生成された乱数パターンが実質的にランダムであるかどうかが決定される。いずれかのアキュムレータの値が、平均化プロセス中に予め決められたレンジ値外となる場合、生成された乱数は、十分にランダムでないと推測される。ここで、テストが繰り返し失敗するときにユーザに知らせるように、閾値がセットされてもよい。正確な境界は、理想のギャップ分布が得られる乱数の既知の良好なソースによる幅広いシミュレーションから得られるデータに基づいて、選択的に調整されることができる。このようなランダムシーケンスは市販されており、例えば「www.fourmilab.ch/hotbits」及び「lavarand.sgi.com」を含むさまざまなウェブソースからダウンロードされることができる。こうして、テストにおいて使用される実際のレンジは、生成されたランダムシーケンスが認可されないパーティにとって予測可能かどうかに関して異なるセンシティビティが選択されることができるように、オペレータによって選択的にセットされる。
【００２０】
図３は、本発明によるランダムシーケンスの統計的な品質をテストするための演算ステップを示すフローチャートである。矩形の要素はコンピュータソフトウェア命令を示し、ひし形の要素は、矩形のブロックによって表されるコンピュータソフトウェア命令の実行に影響を及ぼすコンピュータソフトウェア命令を表す。代替例として、処理及び決定ブロックは、例えばデジタル信号プロセッサ回路又は特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）のような機能的に等価な回路によって実施されるステップを表す。多くのルーチンプログラム要素、例えばループ及び変数の初期化及び一時変数の使用は、図示されていないことに留意すべきである。ここに別段指示しない限り、記載するステップの特定のシーケンスは説明的なものにすぎず、本発明の精神から逸脱することなく変更されることができることが、当業者によって認められるであろう。
【００２１】
図３に示すように、ステップ１００にて、乱数発生器１２によってランダムな２進ビットの連続するストリームを生成すると、ランダム性テストが開始される。ステップ１２０にて、生成されたランダムビットは、ギャップ平均テストを受け、そこで、指定された長さの同一のビットパターン間のギャップ分布が計算される。同じビットパターン間のギャップが見つけられるたびに、ステップ１４０にて、指数平均ギャップ値の組が、それぞれのアキュムレータにおいて更新される。ここで、すべての以前の指数平均ギャップ値は、ファクタα（０＜α＜１）によって低減され、新しいギャップ長が、対応するアキュムレータに加えられ、これによって古い平均ギャップ値は逓減効果をもつ。
【００２２】
そののち、ステップ１６０にて、指数平均演算を受けた後の平均ギャップ値は、予め決められた受容レンジ又は個々の予め決められた受容レンジと比較される。それぞれのアキュムレータＡの値のいずれかが、予め決められた受容レンジ外にある場合、ステップ２００にて、非ランダムパターンが検出されたと決定され、カウンタが１だけ増やされる。そうでない場合、カウンタは、ステップ１８０にてリセットされ、乱数を処理するステップ１００に戻る。ステップ２２０にて、カウンタの値が閾値より大きい場合、ステップ２４０にて、生成された乱数が十分にランダムでないという通知が送信される。代替例として、スイッチ１６は、後続のアプリケーションに対する乱数のフローを止めるように非活動化されることができる。生成された乱数が捨てられ、新しい乱数を生成するプロセス全体が開始されることが可能である。ステップ２２０にて、カウンタの値が閾値を越えない場合、乱数を生成するプロセスが繰り返される。
【００２３】
上述したさまざまなステップは、アプリケーションプログラム内に組み込まれる機能にそれらのステップをプログラムすることによって実現されることができ、当分野のプログラマは、例えばＣ、Ｖｉｓｕａｌ  Ｂａｓｉｃ、Ｊａｖａ、Ｐｅｒｌ、Ｃ＋＋、などの言語の通常のプログラミング技法を使用してそれらを実現することができる。一具体例において、図３に記載する方法は、次のように（Ｃプログラミング言語を使用して）構成されることができる。説明を簡単にするため、浮動小数点演算を使用してテストが実現される。
【００２４】
付記：ＭＳ  Ｖｉｓｕａｌ  Ｃ  ｃｏｄｅ
2005521155.tif 000006
2005521155.tif 000007
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2005521155.tif 000009
【００２５】
本発明の好ましい実施例が、図示され記載されているが、本発明の真の範囲から逸脱することなく、さまざまな変更及び変形が施され、等価物がその構成要素に取って代わることができることが当業者によって理解されるであろう。更に、中心的範囲から逸脱することなく本発明の特定の状況及び教示に適応化するために、多くの変形がなされることができる。従って、本発明は、本発明を実行するために考えられる最良の形態として開示される特定の実施例に限定されるものではなく、本発明は、添付の特許請求の範囲内にあるすべての実施例を含むことが意図される。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明の一実施例による乱数生成モジュールの簡略ブロック図。
【図２】本発明の一実施例による乱数のシーケンスに実施されるランダム性テストを示す図。
【図３】本発明の一実施例による生成された乱数の統計をテストする演算ステップを示すフローチャート。
【図１】
2005521155.tif 000010
【図２】
2005521155.tif 000011
【図３】
2005521155.tif 000012
【国際調査報告】
2005521155.tif 000013
2005521155.tif 000014
2005521155.tif 000015
2005521155.tif 000016