(57)【要約】本発明はチルト制御を実行するための方法及び装置に関する。フォーカス及びチルト制御出力が生成され、光記録／再生ビームのフォーカス及びチルト状態が、光ディスク（１）の種々の半径において得られるフォーカス制御値の微分に基づいてラジアルチルト値を決定することにより制御される。例えば３Ｄアクチュエータのｄｚ／ｄｒチルト測定との組み合わせが、フォーカス及びチルト調節が同一の素子中で実行されることができるという利点を提供する。これにより、周囲の状況及び／又は回路特性によって引き起こされる影響又は測定の変化は、補正の要求を減少させるために最小化される。更に、スプリットコイル構成を持つ３Ｄアクチュエータ（１１）が、３次元フォーカス調節を提供するために利用されても良い。これにより、３Ｄアクチュエータ（１１）は、オフセット又はゲインの誤りなしに、及びいずれの付加的なセンサなしに、フィードフォワードチルト補正のために利用されることができる。
2005521985.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録／再生ビームに対する光ディスクの記録面のラジアルチルトを制御するチルト制御装置であって、
２つのフォーカス制御出力を生成する制御手段と、
前記２つのフォーカス制御出力に基づいて前記光記録／再生ビームのフォーカス状態を制御し及び前記ラジアルチルトを制御するアクチュエート手段と
を有するチルト制御装置において、
前記制御手段は、前記光ディスクの種々の半径において得られたフォーカス制御値の微分に基づいて前記ラジアルチルト値を決定するように構成されることを特徴とするチルト制御装置。
【請求項２】
前記アクチュエート手段は、フォーカス及びチルト調節を提供するように構成されたスプリットフォーカスコイル装置を有し、前記制御手段は、前記スプリットフォーカスコイル装置のそれぞれのコイルに、前記２つのフォーカス制御出力を供給するように構成されることを特徴とする、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記フォーカス制御出力はＰＩＤコントローラ出力であることを特徴とする、請求項１又は２に記載の装置。
【請求項４】
前記制御手段は、少なくとも２つの異なる径方向の位置にスレッジを配置して、前記フォーカスを調節するために前記アクチュエート手段を制御し、前記少なくとも２つの異なる径方向の位置における前記フォーカス制御出力を測定するように構成されることを特徴とする、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の装置。
【請求項５】
前記制御手段は、チルトレジスタに平均ディスクチルト値を設定するように構成されることを特徴とする、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の装置。
【請求項６】
前記制御手段は、測定された平均フォーカス制御出力と２つの測定の間の対応する径方向のステップとに基づいて前記チルト制御出力を生成するように構成されることを特徴とする、請求項１乃至５のいずれか一項に記載の装置。
【請求項７】
前記チルトレジスタ値は、
【数１】
2005521985.tif 000010
に基づいて得られ、ここでΔｒｆは初期化において測定された２つの平均フォーカス積算値の間の差であり、ΔＲは２つの測定の間の径方向におけるスレッジのステップであり、Ｇｃはコマ収差が最適に補正されるアクチュエータチルトとディスクチルトとの間の係数であり、ｃｆはフォーカスの動きに対して作用するバネ定数であり、ｃｔはチルトの動きに対して作用するバネ定数であり、ａ１は対称線に対する前記スプリットコイル装置の第１のコイルの距離であり、ａ２は前記対称線に対する前記スプリットコイル装置の第２のコイルの距離であることを特徴とする、請求項５に記載の装置。
【請求項８】
平均ディスクチルト値及び対応する径方向の位置を示す情報を保存するチルトテーブルを更に有する、請求項１乃至７のいずれか一項に記載の装置。
【請求項９】
請求項１乃至８のいずれか一項に記載されたチルト制御装置を有する光ディスクプレイヤ。
【請求項１０】
光記録／再生ビームに対する光ディスクの記録面のラジアルチルトを制御するチルト制御方法であって、
フォーカス及びチルト制御出力を生成するステップと、
前記フォーカス及びチルト制御出力に基づいて、前記光記録／再生ビームのフォーカス状態及び前記ラジアルチルトを制御するステップと
を有するチルト制御方法において、
前記光ディスクの種々の半径において得られたフォーカス制御値の微分に基づいて前記ラジアルチルト値を決定するステップを有することを特徴とするチルト制御方法。
【請求項１１】
フォーカス調節を提供するように構成されたスプリットコイル装置を利用することにより前記フォーカス状態を制御するフォーカス制御ステップと、前記スプリットコイル装置のそれぞれのコイルに、前記フォーカス及びチルト制御出力を供給するステップとを更に有することを特徴とする、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記フォーカス制御ステップは、チルト制御のために平均フォーカス制御出力を利用するステップを有することを特徴とする、請求項１０乃至１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記フォーカス制御ステップは、少なくとも２つの異なる径方向の位置において前記フォーカス制御出力を測定するステップと、前記少なくとも２つの異なる径方向の位置の間において前記２つの所定のチルト角について得られた平均ラジアルチルトに基づいて前記チルト制御出力を生成するステップとを有することを特徴とする、請求項１０乃至１２のいずれか一項に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば３Ｄアクチュエータのような多次元アクチュエータを利用することにより、例えば記録可能ディスク又は読み取り専用ディスクのような光ディスクの記録面のチルトを補正する、チルト制御装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスク装置は、大量のデータを記録及び再生するために発展させられてきた。
【０００３】
原則的に光ディスクは、記録及び再生動作の間光ピックアップユニットが該ユニットの光軸を前記ディスクの記録面に垂直に維持することができるように、ディスクモータにセットされたときに平らなディスク形状に保たれるべきである。記録トラックの走査のため、前記光ピックアップユニットは前記光ディスクの径に沿った径方向に移動する。
【０００４】
しかしながら、ディスクモータにセットされた光ディスクは、主に製造工程のために平らではない。前記光ディスクは径方向と円周方向との両方において湾曲している。更に、種々のドライブトレランス（drive tolerance）が直面され得る。それ故、光ピックアップユニットは、前記ディスクの記録面に垂直な該ユニットの光軸を用いて記録トラックを走査することができない。更に、前記光ディスクに対する前記光ピックアップユニットの位置に従って、角度が変化する。前記光軸と、径方向における記録面との間に形成される角度は、ラジアルチルト角として定義される。加えて、前記光軸と、前記光ディスクの記録トラックに対して接線方向の（即ち径に対して垂直な）線との間に形成される角度は、タンジェンシャルチルトと呼ばれる。一般に、光ディスクのラジアルチルトの量は、±１０ｍｒａｄの範囲内である。
【０００５】
ユーザデータは、ＨＦ信号から抽出される。例えばＨＦ信号における時間誤差のため、光ディスクの読み出しの際には一定量のジッタ（jitter）が常に存在する。かようなジッタの原因の幾つかは、符号間干渉、隣接するトラック間のクロストーク、ディスク製造の欠陥のみならず、全ての電子回路中に存在する通常のノイズも含む。前記ディスクと対物レンズとの間のチルト角は、２つの主要な原因の結果である。即ち、前記ディスク（製造誤差及び環境変化による寄与）及びドライブ（対物レンズアクチュエータ、ターンテーブルモータの調節、軸調節等による寄与）である。結果の角度のずれは、コマ収差即ち前記ディスク上の光読み出しスポットの歪みに導く。この歪んだ読み出しスポットは直接、歪んだＨＦ信号、従ってタイミング誤り即ちジッタに帰着する。一般に、ラジアルチルトが大きくなるにつれてジッタはより早く増大する。
【０００６】
ＤＶＤ及びＤＶＤ＋ＲＷのようなシステムにおける堅固なシステム耐性は、減少された最大許容チルト誤差を必要とする。これらの最大許容チルト誤差は、径方向に例えば±８ｍｒａｄであり得るチルトウィンドウ内に規定される。該チルトウィンドウは、一定の必要とされるレベル（典型的には１５％）より小さなジッタを達成するために定義される。読み出しシステム中の全体のチルトが該ウィンドウより大きい場合、ジッタが高くなりすぎ、アクティブなチルト補正が必要とされる。それ故、かような変動要因の下で前記記録トラックから元の信号を再生するためには、ラジアルチルト及び／又はタンジェンシャルチルトのような物理的な変動に対して前記光ディスク装置を調節することが必要である。
【０００７】
特開２０００−１９５０８０の文献は、チルト制御が適用される従来の光ディスク装置を開示している。動作において、チルト検出手段が、記録及び再生に利用される光ヘッドに対する前記光ディスクのチルト量に対応する電圧を持つチルト信号を出力する。前記チルト制御手段は、チルト制御信号がゼロとなるように、チルトアクチュエータ手段又はラジアルチルト調節器を駆動する。かくして、前記光ヘッドは前記光ディスクに平行な位置に維持されることができ、そのため優れた質を持つ信号が該光ディスクに記録、又は該光ディスクから再生されることができる。
【０００８】
更に、国際特許公開ＷＯ−Ａ−００／１６３２１の文献は、チルト制御装置及び方法を開示している。ここでは、光ピックアップユニットのスレッジがチルトユニットに配置され、該チルトユニットは前記光ディスクに対して径方向にチルトする即ち傾くことが可能である。ラジアルチルト角における変化に応じて、前記ピックアップユニットの光軸の角度が、前記ディスクの記録面に対して変化する。結果として、再生される信号のジッタもまた変化する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
所定の較正データトラックエリアにおけるジッタ測定に基づいて、チルトセンサが較正されても良い。ラジアルチルト角における変化に応じて、前記ディスクの記録面に対する前記ピックアップユニットの光軸の角度も変化する。結果として、前記較正データトラックから再生される信号のジッタも変化する。前記再生される信号のジッタが最小値を示す位置は、前記ラジアルチルトについて最適位置である。しかしながら、ジッタに基づくセンサの較正は、ＤＶＤ＋ＲＷディスクのような書き込まれていない光ディスクについては不可能である。
【００１０】
コストを低減するため、前記チルトセンサは省略されても良い。このとき、チルト測定はｄｚ／ｄｒ法に基づくものであっても良い。ここでは、ラジアルチルトのＤＣ成分が、光読み取りシステムのアクチュエータを利用して測定される。とりわけ、ＤＣラジアルチルトが、ＤＣアクチュエータ電圧即ちディスクの１回転にわたる平均のアクチュエータ電圧の半径ｒについての微分を、前記アクチュエータのＤＣ感度倍したものを利用して測定される。しかしながら、このチルト測定はフォーカスＤＣ感度に非常に影響され易く、それ故較正される必要がある。かような較正は、チルティングフレーム（tilting frame）を持つドライブにおいて容易に実行されることができる。不運にも、この較正はチルトを補正するために３Ｄアクチュエータを利用するドライブについては不可能である。
【００１１】
それ故本発明の目的は、センサのない正確なチルト測定が３Ｄアクチュエータに備えられることができる、チルト制御装置及び方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本目的は、それぞれ請求項１及び１０に記載のチルト制御装置及び方法によって達成される。
【００１３】
従って、センサのないチルト測定のための改善された精度を提供するため、特定の多次元アクチュエータ設計が、ｄｚ／ｄｒチルト測定と組み合わせて利用される。例えば３Ｄアクチュエータのｄｚ／ｄｒチルト測定との組み合わせは、フォーカス及びチルト調節が同一の素子において実行されることができるという利点を提供する。これにより、周囲の状況及び／又は回路特性によって引き起こされる影響又は測定の変動が最小化されることができ、補正の要求を低減させる。
【００１４】
好ましくは、前記アクチュエータ設計はフォーカスコイルの分割に基づく。これにより、アクチュエータチルトＤＣ感度は、直接フォーカスＤＣ感度に関連付けられることができ、前記センサの感度がチルト補正器感度によって相殺される。ここで、前記アクチュエータは、オフセット又はゲイン誤差がなく、かついずれの付加的なセンサのないフィードフォワードチルト補正のために利用されることができ、非常に正確なチルト制御機能が達成されることができる。
【００１５】
有利な更なる発展例は従属請求項において定義される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
本発明は、添付する図を参照しながら好適な実施例に基づいて説明される。
【００１７】
ここで好適な実施例が光ディスクプレイヤにおけるチルト制御動作に基づいて説明される。
【００１８】
図１において、光ディスク１に対するチルトを補正するためのチルト制御機構又は装置が示されている。前記チルト制御装置は、可動のキャリッジ又はスレッジ４を有する光ピックアップユニットを有する。前記可動のキャリッジ又はスレッジ４は、プラットフォーム５上を径方向に前記光ピックアップユニットを移動させるためのものである。前記ピックアップユニットは、３Ｄアクチュエータ１１を介して放射ビームを光ディスク１に導く及び光ディスク１から受ける光ヘッド２を有する。３Ｄアクチュエータ１１は、スプリットフォーカスコイルに基づいて３次元アクチュエート機能により該３Ｄアクチュエータのフォーカス、チルト及び径方向の位置を制御するように構成される。３Ｄアクチュエータ１１の前記スプリットフォーカスコイルのそれぞれは、プロセッサ１０から受信された各コイル用のフォーカス制御信号に基づいて駆動される。
【００１９】
更に、光ヘッド２の得られたビーム反射信号に基づいてフォーカス誤り信号を生成する、フォーカス評価器６が備えられる。好適な実施例によれば、平均ラジアルディスクチルトは最初に、ディスク１における異なる半径における平均フォーカス電圧により測定される。このことを達成するために、２つの半径の間の平均ラジアルチルトは、コントローラ１０において算出及び保存される。前記算出された平均チルトは次いで、ディスクトラッキング動作の間、前記３Ｄアクチュエータを制御するために利用されるチルト制御出力信号を生成又は算出するために利用される。
【００２０】
図２は、３Ｄアクチュエータ１１の構成のより詳細化された模式的な図を示す。図２において、前記３Ｄアクチュエータはバネ機構Ｓ１乃至Ｓ３によりスレッジ４に固定され、これによりスレッジ４及び前記光ディスク１の記録面に対する３Ｄアクチュエータ１１の３次元の動きを可能とする。これにより、前記放射ビームが光ディスク１の記録面に当たる点、及び前記記録面に対する前記放射ビームの当たる角度が制御されることができる。前記放射ビームは、ミラー４１及び対物レンズ１１０を介して、光ヘッド２と光ディスク１との間を誘導される。光ヘッド２は、例えばレーザビームのような前記放射ビームを生成するための例えばレーザのような放射源（図示されていない）を有する。光ヘッド２はまた、光ディスク１の記録面において反射され、対物レンズ１１０及びミラー４１を介して光ヘッド２に誘導されて戻された光を受信するための検出器（図示されていない）を有する。光ヘッド２において検出された反射光信号に基づいて、径方向及びフォーカストラッキング誤り信号が生成され得る。
【００２１】
更に、３Ｄアクチュエータ１１は、３Ｄアクチュエータ１１のフォーカス及びチルトを制御するためのスプリットフォーカスコイルＣ１及びＣ２、並びに３Ｄアクチュエータ１１の径方向の位置を制御するためのラジアルコイルＣｒを有する。前記スプリットフォーカスコイルは、３Ｄアクチュエータ１１の中央対称線からそれぞれ径方向の距離ａ１及びａ２だけ離れた位置に配置される。電圧が前記コイルに印加され、前記コイルが磁界中に配置されると、スプリットフォーカスコイルＣ１及びＣ２並びにラジアルコイルＣｒの各々は、前記コイルの巻線を流れる電流Ｉに依存して、それぞれ各コイルの力Ｆｆ１、Ｆｆ２及びＦｒを生成する。前記コイルの各々により生成される力は、知られたローレンツ方程式：
Ｆ＝ｋＩ［Ｎ／Ａ］                                                  (1)
に基づいて算出されることができる。かくして、係数ｋは、電流Ｉによって生成される力の量を示す。スプリットフォーカスコイルＣ１及びＣ２の偏心した構成のため、Ｆｆ１＝−Ｆｆ２である場合にチルトβが生成されることができる。一方Ｆｆ１＝Ｆｆ２である場合には、光ディスク１の面に垂直な前記中央対称線ｄに沿った鉛直方向の動き（ｚ方向）が生成されることができる。
【００２２】
図３は、制御電圧Ｕｆ１、Ｕｆ２及びＵｒを生成するための制御部を示す模式的なブロック図を示す。制御電圧Ｕｆ１、Ｕｆ２及びＵｒはそれぞれ、それぞれの制御レジスタＲｆ、Ｒβ及びＲｒ、又は他の種類のメモリに保存された制御データに基づいて、それぞれのアクチュエータコイルの一方の端と、接地端子又は他の一定の参照電圧との間に印加される。前記制御部は、プロセッサ１０又は３Ｄアクチュエータ１１に備えられた別個の制御装置に配置されても良い。
【００２３】
とりわけ、（例えばＰＩＤコントローラ機能に基づいて）フォーカス評価器６及びプロセッサ１０ｄから得られたフォーカス制御データｒｆはフォーカス制御レジスタＲｆに保存され、チルト制御データｒβはチルト制御レジスタＲβに保存され、ラジアル制御データｒｒはラジアル制御レジスタＲｒに保存される。アクチュエータコイルＣ１、Ｃ２及びＣｒは、図３に示されるように星型接続に配置されても良い。ラジアルコイルＣｒを制御するためのラジアル制御電圧Ｕｒは、ゲインＧｄａ３を持つディジタル／アナログ変換器（ＤＡＣ）にラジアル制御データｒｒを入力し、前記変換されたアナログ信号をゲインＧＥ３を持つパワーアンプ又は端末段に供給することにより生成される。加えて、フォーカス制御電圧Ｕｆ１及びＵｆ２が、フォーカス制御データｒｆとチルト制御データｒβとの所定の組み合わせに基づいて生成される。とりわけ、第１のフォーカス制御電圧Ｕｆ１は、フォーカス制御データｒｆとチルト制御データｒβを加算し、結果をゲインＧｄａ１を持つ専用のＤＡＣを介してゲインＧＥ１を持つ専用のパワー端末段に供給することにより生成される。更に、第２のフォーカス制御電圧Ｕｆ２は、フォーカス制御データｒｆからチルト制御データｒβを減算し、結果をゲインＧｄａ２を持つ専用のＤＡＣを介してゲインＧＥ２を持つ専用のパワー端末段に供給することにより生成される。かくして、３Ｄアクチュエータ１１のフォーカス、チルト及び径方向の位置が、制御レジスタＲｆ、Ｒβ及びＲｒに制御データを保存することにより制御されることができる。フォーカス制御データｒｆ及びチルト制御データｒβがＵｆ１＝−Ｕｆ２となるように選択された場合、チルトβが３Ｄアクチュエータ１１に適用される。一方、フォーカス制御データｒｆ及びチルト制御データｒβがＵｆ１＝Ｕｆ２となるように選択された場合、ｚ方向の動きが３Ｄアクチュエータ１１において生成される。フォーカス制御データｒｆ及びラジアル制御データｒｒは、従来のＰＩＤコントローラによって制御されても良い。一方、チルト制御データｒβは、平均チルト値が保存されたチルトテーブルを利用して、フィードフォワードアルゴリズムにより制御されても良い。
【００２４】
好適な実施例による３Ｄアクチュエータの設計のため、以下のフィードフォワードアルゴリズムが利用されることができる。該アルゴリズムは、フォーカスとチルトとのＤＣ感度の変化、及びいずれの端末段及びディジタル−アナログ変換のゲイン変化に対しても不変性が高い。
【００２５】
異なる半径におけるフォーカス評価器６から得られたフォーカス制御値に基づいて、平均ラジアルディスクチルトは以下の式（２）を利用して算出されることができる。
【数２】
2005521985.tif 000003
ここで、Δｒｆは初期化の間に測定された２つの平均化されたフォーカス制御データ値の間の差であり、ΔＲは２つの測定の間の径方向の前記スレッジのステップであり、Ｇｄａｃは図３に示されたフィードフォワード制御パスにおけるパワー端末段と組み合わせられたＤＡＣのゲインであり、ＧＤＣ；ｆｏｃｕｓは３Ｄアクチュエータ１１のフォーカスＤＣ感度（ｍ／Ｖ）である。測定結果は、一般に未知のフォーカスＤＣ感度に線形に依存する。
【００２６】
３Ｄアクチュエータ１１を用いてディスクチルトを補正するために、チルトレジスタ制御レジスタＲβの制御データｒβは以下の式（３）に従って設定される必要がある。
【数３】
2005521985.tif 000004
ここでβｄはディスク１の平均ディスクチルトであり、Ｇｃはコマ週差が最適に補正されるアクチュエータチルトとディスクチルトとの間の係数であり、Ｇｄａｃは前記フィードフォワード制御パスのパワー端末段と組み合わせられたＤＡＣのゲインであり、ＧＤＣ；ｔｉｌｔは３Ｄアクチュエータ１１のチルトＤＣ感度（ｒａｄ／Ｖ）である。実際の結果のアクチュエータチルトは、一般に未知のチルトＤＣ感度に依存する。
【００２７】
式（２）の測定された平均ディスクチルトβｍを式（３）のアクチュエータディスクチルトβｄとして代入すると、以下の式（４）が導かれる。
【数４】
2005521985.tif 000005
【００２８】
両方のＤＣ感度（フォーカス及びチルト）が既知の場合、３Ｄアクチュエータ１１は、前記測定された平均フォーカス制御データ（Δｒｆ）及びスレッジのステップ（ΔＲ）に基づいて、チルト方向に正確に制御されることができる。
【００２９】
一般に、両方のＤＣ感度は、磁界及び前記アクチュエータコイルのコイル抵抗に依存する。これら両方の量はバッチ毎に及び温度の関数として変動し、それ故３Ｄアクチュエータを用いたフィードフォワードオープンループ制御の利用を妨げる多くの誤りをもたらす。しかしながら、３Ｄアクチュエータ１１におけるように、チルトのアクチュエートがフォーカスコイルの分割により実行されるアクチュエータが利用される場合には、両方の効果が互いを強く相殺することがわかる。図２に示された３Ｄアクチュエータ１１については、フォーカス及びチルトＤＣ感度がそれぞれ、
【数５】
2005521985.tif 000006
及び
【数６】
2005521985.tif 000007
のように表現されることができる。ここでｋｆはスプリットフォーカスコイルＣ１及びＣ２のｋファクタ（k-factor）を示し、ＲｆはスプリットコイルＣ１及びＣ２のオーム抵抗を示し、ｃｆは３Ｄアクチュエータ１１のｚ方向の動きに対するバネＳ１及びＳ２のバネ定数を示し、ｃｔは３Ｄアクチュエータ１１のチルト方向の動きに対するバネＳ１及びＳ２のバネ定数を示す。
【００３０】
これらの感度をチルトレジスタ値ｒβについての数式に代入すると、
【数７】
2005521985.tif 000008
が導かれる。この式は、コイル抵抗Ｒｆ及びアクチュエータフォーカスのｋファクタ（磁界）と完全に独立であり、それ故温度及びバッチの変化に対して独立である。（ａ１＋ａ２）のような幾何的な変動は限定されたものとみなされ、フォーカスの剛性とねじれの剛性との間のずれのみがゲイン誤りに影響を与える。
【００３１】
このチルト制御方式においてはオフセット誤りが存在しないことは留意されたい。
【００３２】
垂直方向のｚ位置（フォーカス）の関数として強く変化するフォーカスのｋファクタを持つアクチュエータであっても、測定誤りと補正誤りは互いに相殺する。例えば、公称位置ｚ＝＋０．６ｍｍにおいては、フォーカスのｋファクタはファクタ２だけ降下し得る。従って、前記アクチュエータをフォーカスさせるために、ｚ＝０の位置における結果の２倍の測定されたディスクチルトβｍに導くファクタ２だけ高いコイル電圧が必要とされる。従って、前記チルトアクチュエータのセットポイントは、ｚ＝０の位置において得られるセットポイントの２倍に等しい。しかしながら、ｚ＝＋０．６ｍｍの位置において前記チルトＤＣ感度がファクタ２だけ降下しているという事実のため、前記アクチュエータは必要とされるディスクチルトβｄに制御される。
【００３３】
以下において、好適な実施例によるチルト制御手順が、図４乃至６を参照しながら説明される。
【００３４】
図４は、チルトした光ディスク１の記録面における対応する径方向の位置Ｒ１乃至Ｒ３における、３Ｄアクチュエータの種々のフォーカス位置ｚ１乃至ｚ３を模式的に示す図を示す。初期化の間、図６の第１のステップＳ２００において、光ディスク１の複数の異なる半径（例えばＲ１乃至Ｒ３）における、プロセッサ１０の制御関数（例えばＰＩＤ出力）より、平均フォーカス値が得られる。次いでステップＳ２０１において、式（２）に基づいて、例えばプロセッサ１０のコントローラ機能より得られる平均フォーカス値のようなフォーカス制御データｒｆより、２つの径方向の位置Ｒｉの間の平均ラジアルチルト値βｍｉが導出される。ここでΔｒｆは、２つの径方向の位置ＲｉとＲｉ＋１の間のフォーカス制御値における差に対応する。次いでステップＳ２０２において、得られた平均ラジアルチルト値βｍｉが、例えば以下のように構成されても良いチルトテーブルに保存される：
【００３５】
【表１】
2005521985.tif 000009
【００３６】
図５に示されるように、保存された平均チルト値βｍｉが次いで、以降のトラッキング（読み取り又は書き込み）動作の間に、３Ｄアクチュエータ１１のチルト角を制御するために適用される（図６のステップＳ２０３）。これを達成するため、前記保存された平均チルト値に対応するチルト制御データｒβが、式（３）、（４）及び（７）の１つに基づいて得られても良い。選択された半径間の位置については内挿が利用されても良い。
【００３７】
代替として、チルト制御データｒβが前記チルトテーブルに直接保存されても良い。従って、対物レンズ１１０と光ディスク１の記録面との間の角度のずれは、略除去されることができる。測定は少なくとも２つの半径Ｒｉにおいて実行される必要があることに留意されたい。径方向のディスクの幾何の最初の測定及び起動の後は、ディスクの幾何は、１つのディスク全体の書き込み又は読み取りのために必要とされる時間に渡って、例えば０．１ｍｍ及び１ｍｒａｄのオーダーで一定に留まるべきである。
【００３８】
上述のｄｚ／ｄｒチルト測定と３Ｄアクチュエータを用いたフィードフォワードチルト操作との組み合わせは、３Ｄアクチュエータを用いたセンサのないチルト測定における精度の問題に対する有望な解決方法を提供する。
【００３９】
本発明は、種々のタイプの記録可能ディスクを含む、いずれのタイプのディスクに対しても適用可能である。従って、請求項において定義されるような本発明の範囲から逸脱することなく、種々の変形が当業者には明らかであろう。本発明は、フォーカス及びチルトを制御するように構成されたスプリットコイル構成を備えるいずれの種類の多次元アクチュエータを持ついずれの光記録及び再生装置に対しても適用可能である。従って、径方向の面においてのみ制御を可能とする２次元タイプのアクチュエータであっても、本発明のために利用され得る。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】好適な実施例によるチルト制御装置の基本ブロック図を示す。
【図２】好適な実施例において適用されることができる３Ｄアクチュエータの模式的な構成を示す。
【図３】３Ｄアクチュエータに印加される電圧を生成するための制御部を示す模式的なブロック図を示す。
【図４】種々の径方向の位置、及び平均ラジアルチルトを決定するための初期化の間に測定される対応する種々のフォーカス位置を示す図を示す。
【図５】種々の径方向の位置、及びトラッキング動作の間に適用される対応する平均チルト値を示す図を示す。
【図６】好適な実施例によるチルト制御方法のフロー図を示す。
【図１】
2005521985.tif 000011
【図２】
2005521985.tif 000012
【図３】
2005521985.tif 000013
【図４】
2005521985.tif 000014
【図５】
2005521985.tif 000015
【図６】
2005521985.tif 000016
【国際調査報告】
2005521985.tif 000017
2005521985.tif 000018