(57)【要約】フラッシュランプ回路（１３０）は外部電源から第１の電圧を受け入れる電荷リザーバ（１３６）を有する。電荷リザーバ（１３６）は共振器および複数の放電コンデンサ（１４０，１４２）に接続されて第１の電圧より高い第２の電圧を複数の放電コンデンサ（１４０，１４２）に供給する。スイッチ（１４４）が放電コンデンサ（１４０，１４２）およびグラウンド間に配置され、スイッチ（１４４）に対する入力に基づいて放電コンデンサ（１４０，１４２）のうち少なくとも一つを選択的に充電する。放電エネルギは放電コンデンサ（１４０，１４２）から放電バンクを介してなんらの誘導素子を通過することなく通される。停止時にリザーバ（１３６）を放電するため、電源（１３２）およびリザーバ（１３６）間にブリーダ回路（１３４）を設けることができる。
2005524927.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
フラッシュランプと、
第１の電圧を受け入れてその電荷を蓄積する電荷リザーバと、
前記電荷リザーバおよび複数の放電コンデンサに接続されて前記複数の放電コンデンサに前記第１の電圧より高い第２の電圧を供給する共振器を備えるとともに、
放電エネルギが少なくとも一つの放電コンデンサからいかなる誘導素子をも通過することなく放電バンクを介して前記フラッシュランプに通させるフラッシュランプ回路。
【請求項２】
前記放電コンデンサのうち少なくとも一つとグラウンドとの間に配置されたスイッチを備え、
該スイッチに対する入力に基づいて少なくとも一つの放電コンデンサを選択的に充電する請求項１記載のフラッシュランプ回路。
【請求項３】
前記放電バンクが複数の絶縁ゲートバイポーラトランジスタからなる請求項１記載のフラッシュランプ回路。
【請求項４】
前記複数の絶縁ゲートバイポーラトランジスタが、少なくとも四つの絶縁ゲートバイポーラトランジスタからなる請求項３記載のフラッシュランプ回路。
【請求項５】
前記複数の放電コンデンサが、一対の放電コンデンサであって、該放電コンデンサのうちの一つが所望の放電エネルギに基づいて選択的に充電されるよう前記スイッチに接続されている請求項１記載のフラッシュランプ回路。
【請求項６】
接地されて電源およびリザーバ間に配置されたブリーダ回路であって、該ブリーダ回路が、動作中は前記リザーバを接地させず、システム停止時に選択的に電流をグラウンドに流出させる請求項１記載のフラッシュランプ回路。
【請求項７】
前記ブリーダ回路が、システム停止後約５秒以内に前記リザーバを放電させるように適合されている請求項６記載のフラッシュランプ回路。
【請求項８】
前記ブリーダ回路が、通常動作中は第１の方向に、システム停止時には反対方向にバイアスされるトランジスタを含む請求項６記載のフラッシュランプ回路。
【請求項９】
放電インタロックをさらに備えた請求項１記載のフラッシュランプ回路。
【請求項１０】
共振充電インタロックをさらに備えた請求項１記載フラッシュランプ回路。
【請求項１１】
前記スイッチが、絶縁ゲートバイポーラトランジスタを有する請求項２記載のフラッシュランプ回路。
【請求項１２】
前記フラッシュランプが、複数回トリガされ、少なくとも２回の間隔がおおよそ１ミリ秒より短いか同じである請求項１記載のフラッシュランプ回路。
【請求項１３】
前記フラッシュランプが３回トリガされ、第１回および第２回の間、ならびに第２回および第３回の間隔が、おおよそ１ミリ秒より短いか同じである請求項１２記載のフラッシュランプ回路。
【請求項１４】
フラッシュランプと、
第１の電圧を受け入れてその電荷を蓄積する電荷リザーバと、
前記電荷リザーバおよび複数の放電コンデンサに接続されて前記複数の放電コンデンサに前記第１の電圧より高い第２の電圧を供給する共振器と、
前記放電コンデンサのうちの少なくとも一つとグラウンドとの間に配置されたスイッチであって、該スイッチに対する入力に基づいて少なくとも一つの放電コンデンサを選択的に充電するためのスイッチとを備え、
少なくとも一つの放電コンデンサからいかなる誘導素子をも通過することなく放電バンクを介してフラッシュランプに放電エネルギが通されるフラッシュランプ回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光学画像処理に関し、特に、物体に対するストロボ照明用のフラッシュランプ回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
最近のデジタル計算技術は、常に増加する種々のタスクを実行するために必要とされている。かつては純粋に手動指示に応答していた機械が、今では、コンピュータ処理装置が備えられて、操作する人を補助することができるようになっている。大量の標準化された組み立て部品を製造する生産ラインには、コンピュータ制御された処理機械が設けられている。産業ロボットは、その動きの機械的限度内で多くの異なったタスクを実施するために、プログラムし直されることができる能力を有している。
【０００３】
捕捉された光学画像の自動解析はデジタル制御システムのために非常に有用である。例えば、光学画像生成は、自動化された製造環境において非常に有利に使用されることができるが、必ずしもこれだけが可能な用途ではない。通常、光学画像取得では、その他の測定手段のように、傷つきやすい部品や製造プロセスと干渉しない。製造された物の光学画像は、検査目的のため、または産業ロボット等の処理機械の動きを被加工物に対してガイドするために捕捉されて解析される。
【０００４】
多くの用途において、表面高さの二次元マップを生成するため、対象物の高さ画像もしくは輪郭を創り出すことが望まれる。この具体的な一例は、電子印刷された回路基板もしくはカードの半田溶着部の検査である。この産業において知識を有する人が良く認識しているように、製造の中間段階において、これらの基板は、基板内に印刷された回路パスに電気的に接続される数百もしくは数千の小さな半田溶着部を有することがある。後でこの基板上に電子部品が装着されたときに半田が溶かされて、基板内の回路パスと、部品からのピン、線、その他の導体との間に電気的接続部を形成する。情報時代の複雑さの増大は、通常、ますます小さくなる面積内にますます多数の接続部を設けることを要求する。接続場所の不十分な半田量は、接続部の形成に失敗するか、間欠的な故障や現場である程度経った後の故障をもたらす。半田の過剰や半田の位置ずれも、同様に生産された製品にトラブルを生じさせる。接続部の寸法や数は製造プロセスの一貫性において大きい要望として位置づけられる。これら寸法や数はまた基板の欠陥検査を困難にさせる。さらに、検出されなかった欠陥のコストは大きくなる。したがって、基板を損傷させることなく高速で正確に半田溶着部を検査することができる自動化されたプロセスは実質的に潜在的利益がある。光学的測定によって得られる半田溶着部を有する基板の高さ形状は、各接続場所における半田の量を判断するのに使用できる。
【０００５】
光学的測定結果から目標物の高さ形状を発生させる一つの技術は、位相差プロファイル測定法として知られる。この技術においては、光は目標物を照射し、それぞれ異なる位相の光、または目標物の異なった位置で得られる、目標物の少なくとも２つの画像が得られる。どの場合にも、二つの画像間に位相差が導入される。これらの画像が画像処理技術によって合成され、高さ画像を再構成する。種々の位相差プロファイル測定法が米国特許第４，６５７，３９４号、第４，６４１，９７２号、第５，６３６，０２５号、第５，６４６，７３３号、および第６，０４９，３８４号に開示されている。
【０００６】
少なくとも目標物の二つの画像を捕捉する技術的課題は些細なものではない。異なる露光間における非所望の動きに起因する誤記録を低減するために画像の高速連続捕捉、および画像の捕捉・解析の高スループットの確保が望まれる。特に、合成されるべき二つの連続画像間は１ミリ秒以上にはならないことが望ましい。既存の技術を使うことによって約１ミリ秒もしくはそれ以下で連続画像を生成することができるが、この技術は過大な電力消費および／または過大なハードウェアを必要とするか、その他、非所望の弊害を伴う。例えば、３位相差プロファイル測定法において、三つの分離した画像を取得するために、三つの分離したランプ、回路、および関連のハードウェアを複製できるが、これは、相当なハードウェア支出を伴い、異なる光源からの照射が同一でない場合に付加的な変動要因を誘引する。さらに、約１ミリ秒間隔で単一のフラッシュランプを放電させる公知回路のピークの電力消費は具体的には２００ワット級であり、これは公知の小型高電圧（ＨＶ）電源の能力を超える。
【０００７】
大規模リザーバコンデンサから放電コンデンサを充電する共振充電回路を設けることによって電力消費および／または過大なハードウェアを低減する技術が提案されている。かかる教示の一例がヘリック(Herrick)の米国特許第３，９５３，７６３号に記載されている。ヘリックの回路の固有能力は、放電コンデンサがリザーバコンデンサのおおよそ２倍の電圧に充電されるのを可能にする。この共振充電は無駄を少なくして実施される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ヘリックの回路にはいくつかの有利な点があるけれども改良の必要がないわけではない。例えば、ヘリック回路の特徴は、試験されるフラッシュランプの寿命をはなはだしく短くすると考えられる。ヘリックの回路は、回路中に適当なインダクタンスがないと、回路のｄｉ／ｄｔが商業的に入手可能な多くのＳＣＲの最大許容値を超えて内部ホットスポットによるＳＣＲの故障を引き起こすので、インダクタ無しには使用できない。ここで、ｉは電流を、ｔは時間を示す。放電電位をｖ、インダクタンスをＬとしたとき、ｄｉ／ｄｔはほぼｖ／Ｌに制限されるので、インダクタの追加はこの問題を解消することができる。典型的なＳＣＲに対する、４５０Ｖの放電電位のもとでの２００Ａ／μｓのｄｉ／ｄｔの制限は、少なくとも２μＨのインダクタが必要とされることを示している。このインダクタンスの値は放電の後引きをかなり長くし、ランプの寿命を短くする欠点を有する。ＳＣＲ素子は通常の２００Ａ／μｓより高いｄｉ／ｄｔ割合で適用可能であり、高価でかつ非常に大きい。
【０００９】
また、前記回路は、回路の取り扱いおよび修理の安全のためにリザーバコンデンサを高速・簡便に放電できない。最後に、ヘリックの回路は選択可能な放電エネルギを提供することができない。共振充電するとともに前記制限に取り組む高速点火フラッシュランプ放電回路は、従って意味のある改良を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
フラッシュランプ回路は外部電源から第１の電圧を受け入れる電荷リザーバを含む。電荷リザーバは共振器および複数の放電コンデンサに接続され、複数の放電コンデンサに前記第１の電圧より高い第２の電圧を供給する。前記放電コンデンサの少なくとも一つとグラウンドとの間にスイッチが設けられ、少なくとも一つの放電コンデンサがこのスイッチに対する入力に基づいて選択される。放電エネルギが、放電コンデンサからいかなる誘導素子をも通過することなく放電バンクを介してフラッシュランプまで通される。停止時にリザーバを放電するため、電源およびリザーバ間にブリーダ回路が配置される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
図１は本発明による好ましい実施形態に係るフラッシュランプ装置の使用環境を示す。この実施形態では、印刷回路基板の画像が、電子部品組み立て製造プロセス中の印刷回路基板検査の１段階として捕捉されて解析される。この解析は、基板上の半田ペースト溶着部の適切さをペースト溶着部の高さおよび容積を判断することによって評価するためのものである。図１に示すように、検査される印刷回路基板１０１が可動キャリッジ１０２の上に装着される。可動キャリッジ１０２は電動モータ１０３によって駆動される。光パルスがフラッシュランプ１１０によって発生され、レチクル１１１および光源レンズ１１２を通って指向され、角度を有して印刷回路基板１０１の表面に当たる。反射された縞状の光は、反射画像をデジタル化する電荷結合素子（ＣＣＤ）列カメラ１１４上のカメラレンズ１１３によって撮像される。カメラ１１４からのデジタル画像は解析のため、具体的には半田ペースト溶着部の容積判断のために、データ解析器１２１に送信される。制御装置１２０は、モータ１０３、フラッシュランプ１１０、カメラ１１４およびデータ解析器１２１の同時運転を制御する。
【００１２】
レチクル１１１はそこを通過する光を、正弦的に変化する強度パターンに形成する。レチクル１１１は、不透明さが正弦的に変化するように、比較的暗い縞と比較的明るい縞とが交互する領域を有している。形成された光は基板１０１の上に異なる時間に少なくとも２回投射される。
【００１３】
キャリッジ１０２は印刷回路基板１０１の面内で、つまりカメラに入る光の経路に垂直に動く。回路基板の高さの特徴は反射された光から測定されるので、キャリッジ１０２が、カメラ１１４およびランプ１１０からの距離を一定にして基板１０１を維持することは重要である。本発明を使用する他のシステムは他の動作をさせることができ、プリント回路基板検査ビジネス以外で用いられることができる。キャリッジ１０２はｘ−ｙ方向の動きが可能であり、基板１０１のいかなる任意の範囲の検査も許容する。しかし、基板の単一走査における基板部分上での高さ情報を提供する目的のためには、単に一方向の動きが必要とされる。この場合は照射縞に垂直な構成部分を有するべきである。図１は簡単のため一個のモータ１０３を示すが、実際には、基板を二次元で動かすために二つのモータが使用される。
【００１４】
好ましい実施形態では、基板（つまり目標物）が動くが、フラッシュランプ、レチクル、レンズ類、およびカメラを（これらの装置を共通の移動キャリッジに搭載することによって）一緒に動かし、基板１０１をそのままにしておいても同様の効果を生じさせることができる。さらに、レチクル１１１を動かすことによって位相の異なる画像を発生することも可能である。
【００１５】
制御装置１２０は次のように種々の装置の動作を制御する。制御装置１２０は、基板１０１上の対象領域がレンズ１１３およびカメラ１１４の視野内に入るように、モータ１０３によってキャリッジ１０２を位置決めさせる。与えられた位置において、制御装置１２０は一連の少なくとも２回（好ましくは３回）のフラッシュランプ放電信号列をフラッシュランプ１１０に対して発生する。各放電は異なる位相の光を発生し、各信号は約１ミリ秒の間隔を有する。フラッシュランプ１１０の放電と同時に、制御装置１２０は、それぞれの画像がフラッシュランプの放電のそれぞれに対応する別個の三つの画像をカメラ１１４に捉えさせる。カメラ１１４はこれら別個の三つの画像をデータ解析器１２１に送信する。制御装置１２０は解析器１２１に、受信した画像を記憶させるとともに、基板１０１上の対象領域内の半田溶着部の高さ（および結果的に容積）を解析させる。具体的には、制御装置１２０は、単一の基板上のいくつかの異なる対象領域の画像を装置に捕捉・解析させる。
【００１６】
制御装置１２０およびデータ解析器１２１は、図１においては概念を示す目的で分離されたブロックで記載されているが、実際にはこれらは単一の汎用目的デジタルコンピュータシステムのプログラマブルプロセッサ上で実行されるソフトウェア機能として実施されることができる。
【００１７】
位相の異なる複数画像から目標物の高さによる特徴解析に関するさらなる背景情報は、共通に承継された「複数位相差に構成された光を使った３次元撮像用方法および装置」という名称の、１９９６年２月２７日出願の米国特許第６，０４９，３８４号に記載されており、参照してここに組み入れる（二つの別個のランプ光源を使って二つの位相を有する画像を生成する。この画像は、簡単化された特定の仮説を使って解析することができる）。
【００１８】
図２は、本発明の一実施形態に係るフラッシュランプ放電回路のシステムブロック図である。回路１３０は、図１に記載された制御装置１２０内に配置されるのが好ましいが、適当ないかなる位置にあってもよい。回路１３０はブリーダ回路１３４、リザーバ１３６、共振充電回路１３８、放電コンデンサ１４０，１４２、スイッチ１４４、放電バンク１４６およびフラッシュランプ１４８を有する。ブリーダ回路１３４はリザーバ１３６の入力およびグラウンド１５０間に置かれる。通常動作中はブリーダ回路１３４は単に電荷がそこを通過してリザーバ１３６内に蓄積されるのを許容する。しかし、回路１３０が停止したとき、もしくはそれ以外で動作不能になったときには、ブリーダ回路１３４はリザーバ１３６からグラウンド１５０への電流経路を造り、リザーバ１３６を放電する。
【００１９】
共振充電回路１３８が、リザーバ１３６および放電コンデンサ１４０，１４２間に配置されている。回路１３８は１／２サイクルについて約ゼロボルト（Ｖ）および約５００Ｖの間で共振し、そのときにＳＣＲが開いてコンデンサ１４０，１４２にかかる電位を維持する。図示のように、回路１３０はコンデンサ１４０，１４２のような複数の放電コンデンサを有するのが望ましい。これら複数の放電コンデンサが使用される場合、一つのコンデンサを除く全てはスイッチ１４４のようなスイッチを有し、該スイッチはコンデンサおよびグラウンド１５０間に配置されて、所定の放電コンデンサが所定の充電周期内に充電されるかどうかを決定する。図２では一対の放電コンデンサ１４０，１４２を示しているが、当業者は放電エネルギを追加供給するために放電コンデンサを追加して設けることを認識できる。図示のように、放電コンデンサ１４２は充電サイクルの間ずっと充電される。しかし、放電コンデンサ１４０はスイッチ１４４がコンデンサ１４０をグラウンド１５０に接続したときにだけ充電される。したがって、レベル選択信号１５２はエネルギレベルの切り替えを可能にする。
【００２０】
コンデンサ１４０，１４２が適当に充電された場合、放電バンク１４６に供給されるトリガ信号は放電コンデンサからフラッシュランプ１４８へ放電エネルギを供給する。パルスフラッシュランプ１４８は、カリフォルニア州  ９４５３８、フレモント、クリスティ  ストリート  ４４３７０のパーキンス  エルマー  オプトエレクトニクス(Perkins Elmer Optoelectronics)から入手できるＥＧ＆ＧＦＸ−１１６０型が好ましい。当業者は放電エネルギが、放電コンデンサ１４０，１４２から、インダクタを通過することなくランプ１４８へ伝達されるのに気付くであろう。放電電流がインダクタを通過しないことによって、フラッシュランプ１４８の寿命は長くなる。
【００２１】
本発明の一実施形態に係るフラッシュランプ放電回路を図３に示す。外部電源はリザーバコンデンサ１３６を充電するために２５０Ｖを供給する。構成部品Ｑ７ならびにＲ１３〜Ｒ１５は高速ブリーダ回路１３４を形成する。このブリーダ回路は、＋２５０Ｖの直流を放電し、電気的衝撃の可能性を低減することによって、回路の修理および取り扱いを容易にするため使用される。
【００２２】
これに対して、一般的な放電回路はリザーバコンデンサ１３６を放電するためのスイッチを有しない並列抵抗を使用する。放電時定数をτ、容量をＣ、電圧をＶとし、コンデンサに蓄積されるエネルギをＥ＝ＣＶ2／２としたとき、ブリーダ抵抗内の電力消費は２Ｅ／τである。この従来技術の回路内の容量が２２０μＦであった場合、エネルギＥは６．９ジュールである。適度な高速放電のためにτを５秒に設定した場合、ブリーダ回路内での電力消費は２．７５ワットであり、過大な量の浪費熱になる。一方、本発明の一実施形態に係る放電回路は、抵抗Ｒ１５を通る電源電流を監視することによってこの問題を克服している。外部電源が電力を回路に供給しているとき、トランジスタＱ７は逆バイアスされているので、電力消費は最小である。外部電源が断たれているときは、抵抗Ｒ１３はＱ７をターンオンし、そのとき抵抗Ｒ１４を通ってＣ１は急速に放電する。好ましい実施形態において、τは５秒より短い。抵抗Ｒ１４は大きいエラーのもとでも故障しないようにピークの電力消費は３ワットに見積もられなければならない。しかし、通常の動作では、Ｒ１４は、電源が遮断された場合に短い放電期間だけこのような電力レベルを消費する。
【００２３】
共振回路はインダクタＬ１、ＳＣＲＱ２、および光結合されたＳＣＲＵ４を有する。トリガ入力からＵ４にパルスが入力されると、該ＳＣＲはトリガされ、次いでＳＣＲＱ２がトリガされる。Ｌ１およびＱ２を流れる電流はコンデンサＣ１０を（および後述するように多分Ｃ９をも）充電する。この時間中、Ｌ１およびＣ１０は、光減衰された正弦曲線を生成する高Ｑ値共振回路を形成する。この正弦曲線は負のピークがゼロＶで正のピークが＋５００Ｖである。しかし、この回路は、Ｃ１０にかかる電圧が下り始めるときにＱ２を流れる電流が反転して導通作用がなくなり、Ｃ１０にかかる電圧は約＋４５０Ｖのままであるので、１／２サイクルだけ円を描く。
【００２４】
Ｃ１０が充電された後、パルスが、絶縁ゲートバイポーラトランジスタ（ＩＧＢＴ）素子１４６のゲートにつながる“放電トリガ”ラインに印加され、その結果、フラッシュランプ１４８を通ってＣ１０およびＣ９を放電する。放電経路にＩＧＢＴ素子を使用することによって、非所望のインダクタが除去されるので、フラッシュランプ回路の動作寿命が延びる。適当なＩＧＢＴ素子として、カリフォルニア州、エル  セグンドのインタナショナル  レクティファイヤ(International Rectifier)から部品番号ＩＲＧ４ＰＣ５０Ｆのものを入手できる。
【００２５】
ＩＧＢＴ１４６は、必要に応じて複数のものを並列に使用して実施することができる。しかし、低デューティサイクルの放電ではヒートシンクが不要であるので、このような並列の構成であっても実用的である。複数のＩＧＢＴがある場合でも、放電回路Ｑ９〜Ｄ１２は単一のダイオードによって十分に電流を制御可能である。
【００２６】
トリガ入力信号および放電トリガ信号は時間的に重複してはならない。さもなければ、コンデンサＣ１０はフラッシュランプ１４８を通って充電され、全体回路に損傷を与える。（ヘリックには、この問題を防止するためのインタロック回路が記載されている）。
【００２７】
本発明のいくつかの実施形態による放電回路もまた、ＩＧＢＴＱ９およびダイオードＤ１２を使用することによって複数の放電エネルギを許容する。低エネルギ放電の場合には、Ｑ９をターンオフするＱ９のゲートはロウに保持される。したがって、Ｃ９およびＤ１２間のノードは、Ｃ１０上の電圧に良く追従する。この電圧は放電サイクル中、正に維持されるので、Ｄ１２は正バイアスにならず、したがって、Ｃ９は効果的に回路から切り離され有る。しかし、Ｑ９のゲートがハイに保持されている場合、Ｑ９はターンオンして、充電サイクルの間Ｃ９の基底を接地に保持する。放電中は好ましい実施形態の電流レベルは数百アンペアであり、Ｑ９の動作能力電流を超える。しかし、放電によってＤ１２がオンに転じ、Ｄ１２には放電電流が流れる。したがって、全体サイクル中は、Ｃ９の基底はグラウンド近くに維持され、Ｃ９は効果的に放電回路内にある。
【００２８】
本発明は好ましい実施形態により説明されたが、当業者は形状および細部において本発明の範囲から逸脱しないで変形できることを認識できるであろう。例えば、本発明は位相差プロセスファイル測定法以外の領域、例えば、高速度写真の分野その他に使用して実施できる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の実施形態に係るフラッシュランプ装置を使用するための環境を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態に係るフラッシュランプ放電回路のシステムブロック図である。
【図３】本発明の一実施形態に係るフラッシュランプ放電回路の簡略化された図である。
【符号の説明】
【００３０】
１３０……回路
１３２……電源
１３４……ブリーダ回路
１３６……リザーバ
１３８……共振充電回路
１４０、１４２……放電コンデンサ
１４４……スイッチ
１４６……放電バンク
１４８……フラッシュランプ
１５０……グラウンド
１５２……レベル選択信号
【図１】
2005524927.tif 000003
【図２】
2005524927.tif 000004
【図３】
2005524927.tif 000005
【手続補正書】
【提出日】平成16年5月14日(2004.5.14)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
フラッシュランプと、
第１の電圧を受け入れてその電荷を蓄積する電荷リザーバと、
前記電荷リザーバおよび複数の放電コンデンサに接続されて前記複数の放電コンデンサに前記第１の電圧より高い第２の電圧を供給する共振器を備えるとともに、
放電エネルギが、少なくとも一つの放電コンデンサからいかなる誘導素子をも通過することなく放電バンクを介して前記フラッシュランプに通るフラッシュランプ回路。
【請求項２】
前記放電コンデンサのうち少なくとも一つとグラウンドとの間に配置されたスイッチを備え、
該スイッチに対する入力に基づいて少なくとも一つの放電コンデンサを選択的に充電する請求項１記載のフラッシュランプ回路。
【請求項３】
前記放電バンクが複数の絶縁ゲートバイポーラトランジスタからなる請求項１記載のフラッシュランプ回路。
【請求項４】
前記複数の放電コンデンサが、一対の放電コンデンサであり、該放電コンデンサの一つが、所望の放電エネルギに基づいて選択的充電のために前記スイッチに接続されている請求項１記載のフラッシュランプ回路。
【請求項５】
フラッシュランプと、
第１の電圧を受け入れてその電荷を蓄積する電荷リザーバと、
前記電荷リザーバおよび複数の放電コンデンサに接続されて前記複数の放電コンデンサに前記第１の電圧より高い第２の電圧を供給する共振器と、
前記放電コンデンサのうち少なくとも一つおよびグラウンド間に配置されたスイッチであって、該スイッチに対する入力に基づいて少なくとも一つの放電コンデンサを選択的に充電するためのスイッチとを備え、
少なくとも一つの放電コンデンサからいかなる誘導素子をも通過することなく放電バンクを介してフラッシュランプに放電エネルギが通されるフラッシュランプ回路。
【国際調査報告】
2005524927.tif 000006
2005524927.tif 000007
2005524927.tif 000008