(57)【要約】【課題】視覚表示装置の電圧設定値を最適化する。【解決手段】単調性を維持しつつ、黒及び白のガンマ電圧間でガンマ電圧範囲を最大化し（７０４）、副画素をガンマ電圧範囲の中間グレー・レベルに駆動しつつ（７０５）、共通電圧を調節することによって、ちらつきを最小化する（７０６）。次いで、各ガンマ・レベルにおいて、共通電圧を一定に保持しつつ副画素電圧を調節することによって、ちらつきを最小化し（７０７）、視覚表示装置に印加する電圧設定値を調節して、透過度をガンマ曲線に対応させ（７０８）、対応時の電圧設定値を最適値とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
共通電圧を有し、黒ガンマ電圧から白ガンマ電圧までに及ぶ範囲のガンマ電圧を有する視覚表示パネルであって、副画素を備えかつ該副画素が副画素電圧を有している視覚表示パネルの表示特性を最適化する方法において、
単調性を維持しつつ、前記黒ガンマ電圧と前記白ガンマ電圧との間で前記ガンマ電圧範囲を最大化するステップと、
前記副画素を前記ガンマ電圧範囲の中間グレー・レベルに駆動しつつ、前記共通電圧を調節することによって、ちらつきを最小化するステップと、
各ガンマ・レベルにおいて、前記共通電圧を一定に保持しつつ、前記副画素電圧を調節することによって、ちらつきを最小化するステップと
からなることを特徴とする方法。
【請求項２】
共通電圧を有し、黒ガンマ電圧から白ガンマ電圧までに及ぶ範囲のガンマ電圧を有する視覚表示パネルであって、副画素を備えかつ該副画素が副画素電圧を有している視覚表示パネルの表示特性を最適化しかつ個別変更する方法において、
単調性を維持しつつ、前記黒ガンマ電圧と前記白ガンマ電圧との間で前記ガンマ電圧範囲を最大化するステップと、
前記副画素を前記ガンマ電圧範囲の中間グレー・レベルに駆動しつつ、前記共通電圧を調節することによって、ちらつきを最小化するステップと、
各ガンマ・レベルにおいて、前記共通電圧を一定に保持しつつ、前記副画素電圧を調節することによって、ちらつきを最小化するステップと、
所望の光透過レベルが得られたとき、前記視覚表示パネルの光透過レベルを測定し、前記副画素電圧を固定しつつ、各特定のガンマ・レベルにおいて、前記副画素電圧を調節するステップと
からなることを特徴とする方法。
【請求項３】
請求項２記載の方法において、前記副画素電圧を調節してちらつきの最小化を達成するステップは、同様の表示装置に対する過去のデータを利用して行うステップであることを特徴とする方法。
【請求項４】
請求項２記載の方法において、該方法はさらに、前記視覚表示パネルに配置したメモリ上の参照テーブルに、前記共通電圧及び副画素調節係数調和パラメータを格納するステップを含むことを特徴とする方法。
【請求項５】
請求項４記載の方法において、前記副画素調節係数調和パラメータは、前記共通電圧を基準とする高副画素電圧と低副画素電圧とを含んでいることを特徴とする方法。
【請求項６】
共通電圧を有し、黒ガンマ電圧から白ガンマ電圧までに及ぶ範囲のガンマ電圧を有する視覚表示パネルであって、副画素を備え、該副画素が副画素電圧を有している視覚表示パネルの表示特性を、当該視覚表示パネルの電圧設定値を測定し調和させることによって、最適化するシステムにおいて、
前記視覚表示パネルの少なくとも１つの光電特性を測定する光学計器と、
前記視覚表示パネルの電圧設定値を調和させるコントローラと、
前記共通電圧及び前記副画素電圧を調節し、調和した表示性能を得る少なくとも１つの電圧調節器と、
前記光学計器を、前記視覚表示パネルに対して、３つのほぼ直交する方向の少なくとも１つの方向に移動させる並進ステージであって、前記光学計器が取り付けられた、並進ステージと、
前記視覚表示パネルを、２つのほぼ直交する軸の少なくとも１つを中心として回転させる回転ステージであって、前記視覚表示パネルが取り付けられた回転ステージと、
前記並進ステージ及び前記回転ステージを制御し、前記光学計器を前記視覚表示パネルに対して所望の位置に配置し、前記視覚表示パネルを前記光学計器に対して所望の視角に配置する、少なくとも１つのコントローラと
を備えているシステム。
【請求項７】
請求項６記載のシステムにおいて、前記調和は、ちらつきを測定しつつ前記共通電圧を調節し記録して、各ガンマ・レベルにおいてちらつきを最小化するステップによって実行されることを特徴とするシステム。
【請求項８】
請求項６記載のシステムにおいて、前記調和は、ちらつきを測定しつつ前記副画素電圧を調節し記録して、各ガンマ・レベルにおいてちらつきを最小化するステップによって実行されることを特徴とするシステム。
【請求項９】
請求項６記載のシステムにおいて、前記調和は、
単調性を維持しながら、前記黒ガンマ電圧と前記白ガンマ電圧との間で前記ガンマ電圧範囲を最大化するステップと、
前記副画素を前記ガンマ電圧範囲の中間グレー・レベルに駆動しつつ、前記共通電圧を調節することによって、ちらつきを最小化するステップと、
前記共通電圧を一定に保持しつつ、前記副画素電圧を調節することにより、各ガンマ・レベルにおいてちらつきを最小化するステップと
を含むことを特徴とするシステム。
【請求項１０】
請求項６記載のシステムにおいて、前記視角表示特性も個別変更し、前記調和及び個別変更は、
単調性を維持しつつ、前記黒ガンマ電圧と前記白ガンマ電圧との間で前記ガンマ電圧範囲を最大化するステップと、
前記副画素を前記ガンマ電圧範囲の中間グレー・レベルに駆動つつ、前記共通電圧を調節することによって、ちらつきを最小化するステップと、
各ガンマ・レベルにおいて、前記共通電圧を一定に保持しつつ、前記副画素電圧を調節することによって、ちらつきを最小化するステップと、
所望の光透過レベルが得られたとき、前記視覚表示パネルの光透過レベルを測定し、前記副画素電圧を固定しつつ、各特定のガンマ・レベルにおいて、前記副画素電圧を調節するステップと
からなることを特徴とするシステム。
【請求項１１】
請求項６記載のシステムにおいて、前記少なくとも１つの電圧調節器は、１０ビットのＤ／Ａ変換器であることを特徴とするシステム。
【請求項１２】
請求項６記載のシステムにおいて、前記少なくとも１つの電圧アダプタは、電圧補正係数を利用して、前記調和表示性能を得るよう構成されていることを特徴とするシステム。
【請求項１３】
請求項１２記載のシステムにおいて、前記視覚表示パネルを調和させるコントローラは、前記電圧補正係数を、メモリ内の参照表に格納するよう構成されていることを特徴とするシステム。
【請求項１４】
請求項１３記載のシステムにおいて、前記メモリは、前記視覚表示パネルに取り付けられたＥＰＲＯＭであることを特徴とするシステム。
【請求項１５】
請求項６記載のシステムにおいて、前記少なくとも１つの電圧調節器は、前記視覚表示パネルに取り付けられていることを特徴とするシステム。
【請求項１６】
請求項６記載のシステムにおいて、前記光学計器は、光電子倍増管（ＰＭＴ）フォトメータであることを特徴とするシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本出願は、２００１年９月１４日に出願された米国予備特許出願第６０／３２２，０８６号の優先権を主張し、この引用により、その実体が本願にも含まれることとする。
本発明は、一般的に、視覚表示装置の性能測定の検査、最適化及び調和の自動化に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、視覚表示装置の表示特性（例えば、輝度、透過レベル、コントラスト比、輝度均一性、色度均一性、視角依存性、及び光源効率）を測定することによって、視覚表示装置を自動的に検査するシステムが入手可能である。現行のシステムでは、表示特性を測定し、収集し、比較することができる。中には、輝度均一性のようなある表示特性の値を、コントラスト比のような別の特性の悪影響に対して改善するものもある。これらは、しかしながら、本発明によって行うことができるような、あらゆる表示特性の最適化を自動的に行えるのではない。本発明は、いかなる標準的な自動又は非自動のディジタル平面パネル表示装置検査システムであっても、これと共に用いることができる。このような、検査対象の視覚表示装置の最適性能を測定するための自動システムの１つが、米国特許第６，１７７，９５５号に記載されている方法であり（その内容は、この引用により全てが本願にも含まれることとする）、ミズーリ州St. Louisに所在するWestar Corporationが製造するDisplay Tuning Systemにおいて実施されている。
【０００３】
本発明を用いて検査し、最適化し、調和させることができる視覚表示装置の一種に、アクティブ・マトリクス液晶表示装置（ＡＭＬＣＤ）がある。ＡＭＬＣＤは、当技術分野では周知であり、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）及びコンデンサによって、各副画素毎に隔離された電荷を、次のリフレッシュ・サイクルまで維持するようにしている。これらは、ガラス・パネルの一方の上に、マトリクス状に配列され、ガラス・パネルの間に液晶材料が挟持されている。特定の副画素にアドレシングするには、ゲート電圧を行ラインに印加して、その行のトランジスタをオンに切り替えることによって、その行の副画素に電荷を受け入れさせる。該当する列及び行の交差点にある個々の副画素エレメントにおいて望まれる光透過レベルに対応する電圧（「グレイ・レベル電圧」）を列ラインに印加する。列が交差するその他の行はオフになっているので、指定した副画素のコンデンサのみが、特定の列から電荷を受ける。
【０００４】
前面ガラス・パネルと副画素のＴＦＴとの間の電位差が、当該副画素エレメントにおけるツイステット・ネマティック液晶材料によって得られる「解撚(untwisting)」量を制御する。一方、この解撚レベルは、材料が前面ガラス・パネルを通過させる光量を決定する。副画素に印加する電圧を制御することによって、ＬＣＤはグレー・スケール(gray scale)を生成することができる。ＬＣＤモニタの一種では、液晶は、電圧差がないときには、副画素が透過性となるような構造に編成されている。
【０００５】
ガラス・パネル間のセル・ギャップには、知覚し得る時間にわたって正味の電圧電位を維持してはならず、さもなければ液晶材料の電気めっき(electroplating)が生じ、画像が焼き付く結果となる。当分野では、前記電気めっき現象を回避するための様々な駆動方式が知られている。電気めっきを回避する１つの方法は、セル・ギャップ間に維持する電圧電位を最小化することである。このためには、各副画素ＴＦＴに、対向するプレートの共通電圧（Ｖcom)に対して、極性が交番する電圧電位を供給する。
【０００６】
所与の副画素ＴＦＴに印加する電圧、及び対向するプレートの共通電圧（Ｖcom）がわかっても、直ちに各副画素エレメントにある実際の電圧電位は決められない。様々の要因の中でもとりわけ、ＴＦＴの電気的歪み及び閾値のずれが原因で、副画素ＴＦＴにある電荷が、印加された電圧とは異なってしまい、その量も一定ではない。ＴＦＴに存在するこの電荷を直接測定する方法がないのであれば、副画素エレメントの実際の電圧電位を決定する唯一の方法は、得られた光透過レベルを測定することによる等、間接的な手段によるものとなる。
【０００７】
副画素のＴＦＴに印加する交流電圧電位に関して、Ｖcomに対する副画素における正及び負電位の大きさが異なる場合、パネルがリフレッシュする毎に、光透過レベルがちらつくように見える。このちらつきが発生するのは、液晶が電位の極性に応じて一方の方位から逆の方位に切り替わるため、そして、光透過強度がその電位の大きさによって決定されるからである。正電位の大きさが負電位の大きさとは異なる場合、波形が正から負に、そしてその逆に変化するに連れて、光透過度が変化する。このちらつきの原因となる「不平衡」状態によって、電気めっきの確度が高くなる。何故なら、セル・ギャップ間には事実上非ゼロの電圧電位が維持されているからである。ＬＣＤ表示装置を「調和させる」とは、この不平衡状態を平衡化させること、即ち、補正することである。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は、高い精度でパネルを電気的に均衡化即ち調和させることによって、前述のような画像の焼き付きを防止し、最適又は最大の電圧電位範囲の設定を可能とし、様々な特性の中でもとりわけ、最大コントラスト比及び最大輝度、又は光透過レベルが得られる。単調性を維持し、ちらつきを極少化する。自動化によって、本発明は、電圧設定補正係数を発生し、表示パネルに組み込まれているメモリにこれらを格納することによって、パネルを調和させる、時間効率的で、反復性が高い方法を提供する。調和によって、視角には無関係に、パネルの視覚特性が最適化する。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
エンド・ユーザは、彼らの用途にしたがって、光透過レベル対グレー・スケール電圧曲線（「ガンマ曲線」）を思い通りに作成したい場合が多い。前述のように調和を取る一方、本発明は、ユーザの要求に合わせるために、補正係数によって、ガンマ曲線の調節を思い通りに行わせることもできる。
本発明の実施形態の一例は、表示装置の電圧設定値を調和し、思い通りに変更し、視覚表示装置毎に電圧レベル補正係数をメモリに格納することによって、視覚表示装置の表示性能特性を自動的に最適化するシステム及び方法である。
ここに開示する実施形態例は、それだけで全てであることも、本発明の範囲を不当に限定することも意図してはいない。実施形態例を選択し記載したのは、本発明の原理を説明し、当業者が本発明を実施できるようにするためである。本発明の実施形態例について示しかつ記載したが、多くの変形や変更を行って、ここに記載する発明に作用させることが可能であることは、当業者には理解できるであろう。これら変形及び変更の多くは、同じ結果をもたらし、特許請求する発明の主題に該当する。したがって、本発明は、特許請求の範囲に示す通りに限定されるものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
前述の概要にしたがい、以下に、現在最良の態様であると思われる、本発明の実施形態例について、詳細な説明を行う。
図１は、本発明にしたがって構成した視覚表示装置検査及び調和システム１００のブロック図であり、ａ）検査対象表示装置（ＤＵＴ）に、検査手順の標準的なバッテリを加え、表示装置の性能を測定して合否判定を行い、ｂ）本発明の最適化プロセスを実行する。
【００１１】
図１において、ＤＵＴ１０１が、「チムニー」装置(chimney apparatus)１０２にとりつけられている。「チムニー」装置自体は、角度計１０３に取り付けられている。チムニー装置は、一般に、方形管枠であり、一端にバックライトを有し、他端に取り付けられたＤＵＴを照明するようになっている。４つの側面は不透明であり、光が拡散して検査エリア内に入ることを防止し、ＤＵＴをバックライトからある距離のところに設定するように機能する。
【００１２】
角度計１０３、即ち、回転ステージは、図２に示すように、仰角回転テーブル２０１及び方位角回転テーブル２０２を含み、２本のほぼ直交する軸の少なくとも一方を中心として、ＤＵＴ１０１を回転させることができる。図１における並進運動ステージ１０４は、図２に示した３つの直進テーブル２０３、２０４、２０５を含むことができ、これらは各々、３つのほぼ直交する方向の１つに位置付けられている。計器デッキ、図２における２０６は、並進運動ステージに取り付けられ、検査及び調和ルーチンを実行するために必要な光測定デバイス１０５を保持する。このようなデバイスの１つに、輝度を測定する光電子倍増管（ＰＭＴ）フォトメータ２０７がある。
【００１３】
図１における「ｚｉｆ」コネクタ１０６、又は適宜の形式のコネクタのいずれかが、角度計１０３に取り付けられ、ＤＵＴ１０１をＤＵＴ刺激体(DUT stimulus)１０７に容易に結合することができる。ＤＵＴ刺激体１０７の実施形態の一例は、Westar Display Tuning System（米国特許第６，１７７，９５５号）である。ＤＵＴ刺激体１０７は、ＤＵＴを駆動する。
【００１４】
電源コントローラ１０８は、携帯型コンピュータによって実現化することができ、マルチチャネル電源１０９及びミリオメータ(milliometer)１１０を制御することができる。一方、これらは、ＤＵＴに給電し、ＤＵＴを駆動するために用いられる電圧を監視する。システム・コントローラ１１１は、携帯型コンピュータによって実現することができ、検査シーケンスを開始し、位置決めステージ１０４及び１０３を制御し、そして結果を記録することによって、構成機器を互いに連結することができ、キーボードやモニタ・インターフェース１１２のような、外部インターフェースを設けることができる。また、システム・コントローラ１１１は、得られた調和係数を、ＥＰＲＯＭチップ１１３によって具現化される携帯型メモリに格納する。ＥＰＲＯＭチップ１１３は、この実施形態例では、ＤＵＴに取り付けることができる。Ｄ／Ａ変換器１１４も、ＤＵＴに取り付け、ＤＵＴが後にエンド・ユーザによって駆動されるときに、調和を実行することができる。
【００１５】
図２は、この装置の実施形態例の正面図である。この装置は、ベンチトップ(bench-top)構成とし、周囲の３側面及びカーテンが、検査進行中に周囲光を遮断する。しかしながら、本発明において具現化される調和及び最適化方法は、自動性があるので、組立ラインに配することも可能である。
【００１６】
図３は、ＡＭＬＣＤ副画素３００を示す。ＴＦＴ３０４が、背面ガラス・パネル３０７とセル・ギャップ３０６との間に配置されている。セル・ギャップ３０６には、液晶材料が充填されている。前面ガラス・パネル３０８の内面側には、透過性で導電性の材料が被覆されており、前面ガラス・パネルを、事実上１つの電極に変え、Ｖcom３０３で示す１つの電圧電位を維持することができるようになっている。行電極、即ち、ゲート電極３０２によりＴＦＴ３０４がオンに切り替えられると、ＴＦＴ３０４は、列電極、即ち、データ電極３０１からの電荷を格納する。グレー・シェード電圧が、列電極を駆動する。ＴＦＴ３０４と直列のコンデンサ３０５が、次のリフレッシュ・サイクルまで、電荷を維持する。荷電したＴＦＴ３０４及びＶcom３０３によって生じるセル・ギャップ３０６間の電位差が、液晶材料を駆動し、方位を変化させる、即ち、解撚して液晶材料の光学特性を変化させることによって、前面パネル３０８を通過する光量を変化させる。
【００１７】
図４のＡ及びＢは、本発明の実施形態の一例の駆動方式のあらましを示すグラフである。これらの図における横軸は、９個の「ガンマ」電圧レベル、即ち、グレー・スケール電圧の９個の増分値であるが、ガンマ・レベルの数は、個々の駆動システムやビデオ・コントローラに応じて、任意の整数ｎとすることもできることは言うまでもない。したがって、この実施形態では、１のガンマ・レベルは、最大グレー・スケール電圧の１／９に対応する。
【００１８】
図４のＡ及びＢに示すように、本発明の実施形態例のグレー・スケール電圧（ＡＭＬＣＤ列に印加される電圧）は、対向するプレートの共通電圧Ｖcom（３０３，４０２及び４０９）を基準とする、逆極性の電圧対である。極性は、既知の周波数４０１で反転する。Ｖcomよりも高い電圧を「Ｖhigh」４０３及び４０７で示し、一方Ｖcomよりも低い電圧を「Ｖlow」４０４及び４０８で示す。完全に平衡なシステムでは、副画素に実際に存在するＶhigh及びＶlowの平均電圧は、Ｖcomに等しくなる。尚、副画素に実際に存在する電圧は、先に論じたＴＦＴの問題のために、副画素に印加される電圧とは異なるものである。図４のＡ及びＢは、副画素に印加される電圧を示している。
【００１９】
図４のＡは、ガンマ電圧のデフォルト電圧を示している。デフォルト電圧は任意であるが、本実施形態では、システムは、ほぼ約５Ｖに等しいデフォルトのＶcom（４０２）を中心として、線形的にこれらの電圧対を設定する。即ち、各ガンマ対−Ｖhigh（４０３）及びＶlow（４０４）の異なる極性同士は、Ｖcomから等距離にあり、ガンマ対は、ガンマ１（４０５）からガンマ９（４０６）にむかってほぼ線形的に減少する。
【００２０】
図４のＢは、典型的な最適化した電圧対の設定値を示す。図示のように、電圧対は、全体的にみてＶcomから等距離にはなく、かつ、ガンマ１（４０５）からガンマ９（４０６）に向かって線形的に減少していない。最適化したＶhigh（４０７）及びＶlow（４０８）の、最適化したＶcom（４０９）に対する非対称性は、通常、副画素に存在する実際の電圧が、ＴＦＴのずれや歪みに応じて、印加される電圧とは異なってしまうという事実によって生じ、このずれ及び歪みは、印加する電圧レベルによって異なる。ガンマ１からガンマ９まで段階的に増大する際の全体的な非線形性は、概して個々のエンド・ユーザのために行われる光透過性の個別変更によるものである。あるエンド・ユーザが光透過レベルを、例えば、ガンマ・レベル３にしたい場合、ガンマ・レベル４及び５において必要な光透過レベルとは異なり、前記光透過レベルを達成するために必要なこの電圧対は、全体的に、線形的にガンマ・レベル毎に上昇して行かない。
【００２１】
図５は、本発明の実施形態例の駆動方式によって得られる、相対的な副画素極性の図である。プラス記号５０１は、該当する副画素が現在Ｖhigh組の電圧係数で駆動されていることを示し、この組はメモリに格納されている。マイナス記号５０２は、該当する副画素が現在Ｖlow組の電圧係数で駆動されていることを示し、この組もメモリに格納されている。図示のように、副画素の極性は行５０３及び列５０４毎変化し、極性は、例えば、チェッカーボードの配列のようになる。
【００２２】
電気的に均衡化する、即ち、ちらつきを極少化するプロセスを図６に示す。ちらつきは、前述のように、前面及び背面ＡＭＬＣＤパネルが平衡を失うときに発生する現象である。ちらつきを測定するために必要な機器は、一般に入手可能であり、このような装置の１つが、Westar Corporation（米国特許第６，１７７，９５５号）が製造するDisplay Tuning Systemである。図６に示すプロセスは、ガンマ・レベル毎に実行することができ、デフォルト電圧（Ｖcom４０２又はガンマ・レベル電圧対４０３／４０４）に近い初期電圧６０１を選択すること、ちらつきを測定すること（６０２）、及び、前記電圧を徐々に増加するように変化させて行き別のちらつき測定値を得ることから成る。このプロセスは、電圧増分ステップが所定回数に達するまで、又は十分な測定を行いちらつきの最小値６０３を判定したとの確証が得られるまで、繰り返すことができる。尚、ちらつきの最小値に達したときを判定するために必要なステップ数を削減するために、本発明では、曲線のはめ込みを想定していることは理解されよう。また、前記曲線のはめ込み、及び前記初期デフォルト電圧設定値の選択は、ＤＵＴ１０１と同様の表示パネルについて実行したちらつき最少化ルーチンからの履歴データによって補助することができる。
【００２３】
本発明の実施形態例が想定するプロセスは、図７のステップ７０１において開始する。ここで、Ｖcom（４０２）及び完全白（ガンマ９）から完全黒（ガンマ１）までのガンマ電圧対（４０３及び４０４）にデフォルト値を設定する。ステップ７０２において、グレー・スケール範囲に沿った光透過度の単調性をチェックする。単調性がない場合（７０３）、単調曲線が得られるまで（７０４）、白及び黒の終点を互いに近づけていく。
単調性が得られた後、パネルを中央のグレー・レベル（７０５）に駆動し、ステップ７０６において、図６に開示したプロセスによってちらつきを最小化することによって、Ｖcomを最適化する。次いで、残りの最適化プロセスの間、Ｖcomをこのレベルで一定に保持する。
【００２４】
ステップ７０７において、図６に概略的に記載したプロセスによってちらつきを最小化することによって、特定のガンマ・レベルにおける高及び低電圧対を平衡化することができる。この場合、図６の横軸上の電圧は一般にＶhigh及びＶlow対の平均電圧を示す。対を同じ方向に同じ大きさだけ徐々に増加又は減少させることによって、平均値を変化させることができる。尚、本発明では、履歴データを使用して、平衡化した対に到達するのに必要な電圧の段階的変化の回数及び大きさが早く求められるようにすることを想定している。
【００２５】
ステップ７０８において、ステップ７０７で得られた平衡化電圧対を調節し、所与のガンマ・レベルにおける光透過度を、エンド・ユーザの要件に合わせて変更する。即ち、パネルの性質、又はシグニチャ光透過度対グレー・レベル曲線（図８）を調節し、例えば、図９のように、エンド・ユーザに合わせて変更したガンマ曲線を得る。一般に、個別変更を行うには、エンド・ユーザのシステムから、所与のグレー・レベル入力コマンドにおける副画素に印加する電圧対平均値を調節すればよい。これは、例えば、ＤＵＴに取り付けられている１０ビットのＤ／Ａ変換器（図１の１１４）によって、入力ディジタル電圧レベルを自動的に補正アナログ信号に調節することによって遂行することができる。補正係数を個々に変更するには、高又は低電圧差の大きさの絶対値を平均値から移動させる、即ち、高及び低電圧を互いに近づくように、又は遠ざかるように、ほぼ等しいステップだけ移動させればよい。尚、本発明では、履歴データの使用により、個々に変更した電圧対係数に到達するために必要なステップ数を極力抑えることを想定している。
【００２６】
ステップ７０９において、所与のガンマ・レベルに対する一対の係数に到達するために必要な平衡化及び個別変更（ステップ７０７及び７０８）を、残りの未補正のガンマ・レベルについて繰り返すことができる。ステップ７１０において、システム・コントローラ（図１の１１１）上で実行するスプレッドシート・アプリケーションによって、ＤＵＴに取り付けられているＥＰＲＯＭチップ（図１の１１３）に係数を格納する。
【００２７】
図８及び図９は、それぞれ、ＤＵＴに対するシグニチャ・ガンマ曲線の一例、及びエンド・ユーザの要求に合わせて変更した補正ガンマ曲線を示す。「透過度」は、輝度、即ち、明るさのレベルを指す。図９に示すように、変更したガンマ曲線は、自動化によって非常に反復性高く、そして必要な時間や人との双方向処理を極力抑えるようにして得ることができる。
【００２８】
ここに開示した実施形態は、それで全てであることも、本発明の範囲を不要に限定することも意図してはいない。実施形態例を選択し記載したのは、本発明の原理を説明し、当業者が本発明を実施できるようにするためである。本発明の実施形態例について示しかつ記載したが、同等のマテリアル又は構造的配列の置換、あるいは同等のプロセス・ステップの使用によって、本発明に変更又は修正を加え、本発明を実施可能となるようにすることは、当業者の能力の範囲内のことであり、添付した特許請求の範囲の反映したその主旨から逸脱するものではない。テキスト及び教示は、ここで引用したことにより、本願にも含まれるものとする。したがって、本発明は、特許請求の範囲に示す通りの範囲を有している。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の実施形態の一例による、米国特許第６，１７７，９５５号に全体的に記載されている視覚表示装置検査システムのブロック図である。
【図２】本発明の実施形態の一例による、図１の装置の正面図である。
【図３】アクティブ・マトリクス液晶表示パネルの副画素エレメントの一例の図である。
【図４】A及びBはそれぞれ、本発明の一実施形態による副画素駆動方式を示すグラフである。
【図５】本発明の一実施形態による、液晶表示パネルの副画素エレメントの相対的極性を示す図である。
【図６】本発明の一実施形態による、ちらつきを最小化するプロセスを示すグラフである。
【図７】本発明の実施形態の一例の概略図である。
【図８】ＤＵＴに対する典型的なシグニチャ・ガンマ曲線を示すグラフである。
【図９】エンド・ユーザの要求に応じて変更し、その結果得られた典型的なガンマ曲線を示すグラフである。
【図１】
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【図４】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【国際公開パンフレット】
2005503589.tif 000009
2005503589.tif 000010
2005503589.tif 000011
2005503589.tif 000012
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【国際公開パンフレット（コレクトバージョン）】
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【国際調査報告】
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