(57)【要約】【課題】【解決手段】  早期合格および／又は早期不合格基準により最大許容（ビット）誤り率ＢＥＲlimitに対する装置の（ビット）誤り率ＢＥＲを試験する方法であり、これをもって早期合格および／又は早期不合格基準は試験全体について小さい確率Ｆによってのみ間違いであることが容認される。装置の出力のうちのｎｓビットが測定され、それによってこれらのｎｓビットのうちのｎｅの誤りビットが検出される。ＰＤhighおよび／又はＰＤlowが取得され、これをもってＰＤhighは最悪想定可能尤度分布であり、ＰＤlowは最良想定可能尤度分布であり、測定されたｎｅの誤りビットを試験全体についての確率Ｆより小さい単一ステップ誤決定確率Ｄで含んでいる。ＰＤhighおよびＰＤlowについての誤りビットの平均数ＮＥhighおよびＮＥlowが取得される。ＮＥhighおよびＮＥlowは、ＮＥlimit＝ＢＥＲlimit・ｎｓと比較される。ＮＥlimitがＮＥhighより大きいか又は、ＮＥlimitがＮＥlowより小さい場合、試験は停止される。連続サンプリングはポアソン分布についての両側パラメータ仮説検定による。
2005528827.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
早期合格基準により最大許容誤り率ＢＥＲlimitに対する装置の誤り率ＢＥＲを試験する方法であって、これをもって早期合格基準は試験全体について小さい確率Ｆ1によってのみ間違いであることが容認され、以下の工程、
−装置の出力のうちのｎｓビットを測定し、それによってこれらのｎｓビットのうちのｎｅの誤りビットを検出する工程と、
−固定数のサンプルのビットにおける誤りビットの数ｎｉの分布を与える尤度分布がＰＤ（ＮＥ，ｎｉ）であると仮定し、ＮＥは誤りビットの平均数であり、
【数１】
2005528827.tif 000009
からＰＤhighを取得する工程と、ここにおいてＰＤhighは、測定されたｎｅの誤りビットを事前誤り率ＢＥＲ段階についての単一ステップ誤決定確率Ｄ1で含んでいる最悪想定可能尤度分布であり、これをもって試験全体の確率Ｆ1よりも小さい単一ステップ誤決定確率Ｄ1を使用し、
−最悪想定可能尤度分布ＰＤhighについて誤りビットの平均数ＮＥhighを取得する工程と、
−ＮＥhighをＮＥlimit＝ＢＥＲlimit・ｎｓと比較する工程と、
−ＮＥlimitがＮＥhighより大きければ、試験を停止し、装置が試験に早期に合格したと決定する工程と、
−ＮＥlimitがＮＥhighより小さければ、試験を継続し、これをもってｎｓを増加させる工程とを伴う方法。
【請求項２】
単一ステップ誤決定確率Ｄ1は、
Ｆ1＞Ｄ1≧１−（１−Ｆ1）1/ne
の範囲にあることを特徴とする、請求項１に記載の誤り率ＢＥＲを試験する方法。
【請求項３】
尤度分布ＰＤ（ＮＥ，ｎｉ）はポアソン分布であることを特徴とする、請求項１項又は第２に記載の誤り率ＢＥＲを試験する方法。
【請求項４】
ｎｅ＝０についての未定義状態を回避するために、試験を人工的エラーｎｅ＝１で開始し、ｎｅを増分させず、その後に第１のエラーが生じることを特徴とする、請求項１乃至３のいずれかに記載の誤り率ＢＥＲを試験する方法。
【請求項５】
早期不合格基準により最大許容誤り率ＢＥＲlimitに対する装置の誤り率ＢＥＲを試験する方法であって、これをもって早期不合格基準は試験全体について小さい確率Ｆ2によってのみ間違いであることが容認され、以下の工程、
−装置の出力のうちのｎｓビットを測定し、それによってこれらのｎｓビットのうちのｎｅの誤りビットを検出する工程と、
−固定数のサンプルのビットにおける誤りビットの数ｎｉの分布を与える尤度分布がＰＤ（ＮＥ，ｎｉ）であると仮定し、ＮＥは誤りビットの平均数であり、
【数２】
2005528827.tif 000010
からＰＤlowを取得する工程と、ここにおいてＰＤlowは、測定されたｎｅの誤りビットを事前誤り率ＢＥＲ段階についての単一ステップ誤決定確率Ｄ2で含んでいる最良想定可能尤度分布であり、これをもって試験全体の確率Ｆ2よりも小さい単一ステップ誤決定確率Ｄ2を使用し、
−最良想定可能尤度分布ＰＤlowについて誤りビットの平均数ＮＥlowを取得する工程と、
−ＮＥlowをＮＥlimit＝ＢＥＲlimit・ｎｓと比較する工程と、
−ＮＥlimitがＮＥlowより小さければ、試験を停止し、装置が試験に早期に不合格になったと決定する工程と、
−ＮＥlimitがＮＥlowより大きければ、試験を継続し、これをもってｎｓを増加させる工程とを伴う方法。
【請求項６】
単一ステップ誤決定確率Ｄ2は、
Ｆ2＞Ｄ2≧１−（１−Ｆ2）1/ne
の範囲にあることを特徴とする請求項５に記載の誤り率ＢＥＲを試験する方法。
【請求項７】
尤度分布ＰＤ（ＮＥ，ｎｉ）はポアソン分布であることを特徴とする請求項５項又は第６に記載の誤り率ＢＥＲを試験する方法。
【請求項８】
ｋがエラーの小さい数であるｎｅ＜ｋについての未定義状態を回避するために、ｎｅがｋより小さい限り、試験を停止しないことを特徴とする請求項５乃至７に記載の誤り率ＢＥＲを試験する方法。
【請求項９】
ｋは５であることを特徴とする請求項８項に記載の誤り率ＢＥＲを試験する方法。
【請求項１０】
付加的な早期合格基準によって特徴づけられ、これをもって早期合格基準は試験全体について小さい確率Ｆ1によってのみ間違いであることが容認され、以下の付加的な工程、
−固定数のサンプルのビットにおける誤りビットの数ｎｉの分布を与える尤度分布がＰＤ（ＮＥ，ｎｉ）であると仮定し、ＮＥは誤りビットの平均数であり、
【数３】
2005528827.tif 000011
からＰＤhighを取得する工程と、ここにおいてＰＤhighは、測定されたｎｅの誤りビットを事前誤り率ＢＥＲ段階についての単一ステップ誤決定確率Ｄ1で含んでいる最悪想定可能尤度分布であり、これをもって試験全体の確率Ｆ1よりも小さい単一ステップ誤決定確率Ｄ1を使用し、
−最悪想定可能尤度分布ＰＤhighについて誤りビットの平均数ＮＥhighを取得する工程と、
−ＮＥhighをＮＥlimit＝ＢＥＲlimit・ｎｓと比較する工程と、
−ＮＥlimitがＮＥhighより大きければ、試験を停止し、装置が試験に早期に合格したと決定する工程と、
−ＮＥlimitがＮＥhighより小さければ、試験を継続し、これをもってｎｓを増加させる工程とを伴う、請求項５乃至９のいずれかに記載の誤り率ＢＥＲを試験する方法。
【請求項１１】
ｎｅ＝０についての未定義状態を回避するために、試験を人工的エラーｎｅ＝１で開始し、ｎｅを増分させず、その後に第１のエラーが生じることを特徴とする請求項１０項に記載の誤り率ＢＥＲを試験する方法。
【請求項１２】
間違った早期合格基準についての確率Ｆ1および間違った早期不合格基準Ｆ2についての確率は等しい（Ｆ1＝Ｆ2）ことを特徴とする、請求項１０又は１１に記載の誤り率ＢＥＲを試験する方法。
【請求項１３】
付加的な早期合格基準によって特徴づけられ、これをもって早期合格基準は試験全体について小さい確率Ｆ1によってのみ間違いであることが容認され、以下の付加的な工程、
−固定数のサンプルのビットにおける誤りビットの数ｎｉの分布を与える尤度分布がＰＤ（ＮＥ，ｎｉ）であると仮定し、ＮＥは誤りビットの平均数であり、
【数４】
2005528827.tif 000012
からＰＤhighを取得する工程と、ここにおいてＰＤhighは、測定されたｎｅの誤りビットを事前誤り率ＢＥＲ段階についての単一ステップ誤決定確率Ｄ1で含んでいる最悪想定可能尤度分布であり、これをもって試験全体の確率Ｆ1よりも小さい単一ステップ誤決定確率Ｄ1を使用し、
−最悪想定可能尤度分布ＰＤhighについて誤りビットの平均数ＮＥhighを取得する工程と、
−ＮＥhighを、Ｍ＞１であるＮＥlimit,M＝ＢＥＲlimit・Ｍ・ｎｓと比較する工程と、
−ＮＥlimit,MがＮＥhighより大きければ、試験を停止し、装置が試験に早期に合格したと決定する工程と、
−ＮＥlimit,MがＮＥhighより小さければ、試験を継続し、これをもってｎｓを増加させる工程とを伴う、請求項５項〜第９項のいずれかに記載の誤り率ＢＥＲを試験する方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願は、移動電話用ディジタル受信器といった装置の（ビット）誤り率の試験に関する。
【背景技術】
【０００２】
技術的現状に関して、特許文献１について言及する。この文献は、チャネルで伝送される一組のデータ内でビット誤りが発生した場合（チャネルエラー事象）を指示するチャネルパリティエラーデータを受け取ることと、連続する累積期間にわたってチャネルエラー事象データを連続的に積分することと、積分されたチャネルエラー事象データを閾値と比較することと、積分されたチャネルエラー事象データが閾値を超えた場合に警報を指示することとよりなる、データチャネルの誤り水準を決定する方法を開示している。
【０００３】
ディジタル受信器の試験は２つの部分からなる。受信器は、通常ある特定のストレス条件を伴って信号が付与される。受信器は、この信号を復調し復号化しなければならない。ストレス条件のために、結果はある程度誤りがあり得る。全部の復調ビットに対する誤って復調されたビットの比率は、誤り率試験において測定される。ビット誤り率ＢＥＲ試験又は、各々ビット誤り試験を含む例えばフレーム誤り率ＦＥＲ、ブロック誤り率ＢＬＥＲといったより一般的ないずれかの誤り率試験が、本願の主題である。
【０００４】
ＢＥＲ試験は時間がかかる。これは以下の例によって例証される。頻繁に使用されるＢＥＲ限界は０．００１である。この試験に頻繁に使用されるビットレートは約１０ｋｂｉｔ／秒である。統計的妥当性のために、１０００ビットにおいて１つのエラーを観測することでは十分でない。２０００００ビットにおいて約２００のエラーを観測することが通常である。この単一のＢＥＲ試験は２０秒間続く。この単一のＢＥＲ試験を何度か含む組合せ試験、例えば受信器妨害試験が存在する。この試験の範囲内で、単一のＢＥＲ試験は、異なるストレス条件により１２７５０回繰り返される。この場合、合計試験時間は７０時間を超える。２０００００ビットが適用される前に２００エラーのように一定数のエラーが観測された場合、ＤＵＴ（被試験装置）をごく早期に不合格にすることが技術的現状において知られている。（数は上記の例による）。
【特許文献１】米国特許第５，６０６，５６３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本願の目的は、統計的妥当性を保ちつつ、低減した試験時間により装置のビット誤り率を試験する方法を提案することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
その目的は、請求項１又は請求項５の特徴によって解決される。
【０００７】
本発明によれば、最悪想定可能尤度分布ＰＤhighおよび／又は最良想定可能尤度分布ＰＤlowは、それぞれ、請求項１項および第５項で与えられた式によって取得される。これらの尤度分布から、平均数ＮＥhigh又はＮＥlowが取得され、それぞれ、限界ＮＥlimitと比較される。限界ＮＥlimitが平均数ＮＥhighより大きいか又は、平均数ＮＥlowより小さければ、試験は停止され、それぞれ、装置が早期に合格にされたか又は、早期に不合格にされたと決定される。試験の間に、事前ＢＥＲ段階についての単一ステップ誤決定確率が使用され、それは試験全体についての確率より小さい。
【０００８】
従属クレームは本発明のさらなる発展を含む。
【０００９】
本発明に好適に使用されるポアソン分布は、ＢＥＲ問題に最良に適応されている。ビット誤り生起の性質は、二項分布によって理想的に記述される。しかしこの分布は、少ない数のビットおよびエラーについて取り扱われ得るにすぎない。大きいビット数および低ビット誤り率の場合、二項分布はポアソン分布によって近似される。この前提条件（大きいビット数、低ＢＥＲ）は、ＤＵＴが完全に破壊されていない限り（ＢＥＲ０．５）、通常のビット誤り率試験（ＢＥＲ限界０．００１）について理想的に満たされる。本願は、ポアソン分布の離散的性質により課題を克服することを提案する。同じ方法により、早期合格条件および早期不合格条件が導出される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
本発明の実施形態を以下に説明する。
【００１１】
以下において、試験手順が早期不合格条件および早期合格条件とともに数学的方法により導出される。
【００１２】
ＢＥＲ試験手順は反復過程である。サンプルの数およびエラーの数は、事前ＢＥＲ（（ビット）誤り率）を計算するために試験の初めから累積される。次のエラーまでのサンプルが、次の事前ＢＥＲを計算するために過去のサンプルとともに使用される。すべての事前ＢＥＲは早期合格又は早期不合格境界に対して試験される。早期合格又は早期不合格条件を導出するための式は、単一ステップ誤決定確率Ｄを含む。これは、１つの特定の事前ＢＥＲ段階についてのみ妥当である。しかし、試験全体についての誤決定確率Ｆを持つことは意味がある（Ｆ＞Ｄ）。本願は、試験全体の確率より小さい単一ステップ誤決定確率Ｄを使用することを提案し、また、所与のＦからＤを導出するための方法を提案する。
【００１３】
試験の性質、すなわち離散的なエラー事象のために、早期停止条件は、早期停止限界を計算するためにフラクショナルエラー＜１が使用される場合、妥当ではないと宣言される。本願は、この未定義領域で試験を行う方法の提案を含む。提案は、保守的である（危険ではない）。限界上のＤＵＴは、いかなる早期停止条件も達成しない。本願は、特定の数Ｋ（例えば２００ビット）エラー時に無条件で試験を停止することを提案する。この提案は疑似パラドックスを含んでいるので、この疑似パラドックスを解決する付加的な提案が追加される。
【００１４】
事前ＢＥＲ段階（ｐＢｓ）での測定値に基づき、この測定値前後の信頼範囲ＣＲが導出される。それは、高い確率で実際の結果がこの範囲において求められ得るという特性を有する。
【００１５】
信頼範囲ＣＲは、指定のＢＥＲ限界と比較される。その結果から、早期不合格および早期合格条件を含む図表が導出される。
【００１６】
測定されたビットの有限数のサンプルｎｓでは、最終ビット誤り率ＢＥＲは正確には決定され得ない。有限数のサンプルｎｓを適用して、エラーの数ｎｅが測定される。ｎｅ／ｎｓ＝ｂｅｒが事前ビット誤り率である。
【００１７】
事前ＢＥＲ段階（ｐＢｓ）での試験において、有限数の測定ビットｎｓが適用され、エラーの数ｎｅが測定される。ｎｅは、ポアソン分布における特定の微分確率と関係づけられる。事前ＢＥＲ段階（ｐＢｓ）でのただ１つの試験を実行する分布における確率および位置は未知である。
【００１８】
この試験をこの事前ＢＥＲ段階まで無限回繰り返し、同じｎｓを繰り返し適用して、完全なポアソン分布は得られる。エラーの平均数（中間値）はＮＥである。Ｎｅ／ｎｓは、ＤＵＴにおける実際のＢＥＲである。ポアソン分布は変数ｎｅを有しており、平均又は中間値であるパラメータＮＥによって特徴づけられる。２つの限界間でｎｅを見出す実際の確率は、そのような限界間で積分することによって計算される。ポアソン分布の幅はＳＱＲ（ＮＥ）に比例して増加し、すなわち、それは絶対的には増加するが、相対的には減少する。
【００１９】
事前ＢＥＲ段階（ｐＢｓ）での試験において、ｎｓのサンプルが適用され、ｎｅのエラーが測定される。その結果は、各々が別のパラメータＮｅによって特徴づけられる異なるポアソン分布の要素となり得る。それらのうちの２つは以下の通り与えられる。
【００２０】
測定されたｎｅを確率Ｄ1で含む、最悪想定可能分布ＮＥhighは、以下によって与えられる。
【００２１】
【数５】
2005528827.tif 000003
【００２２】
この例において、Ｄ1は０．００２＝０．２％である。ＰＤhighは、変数ｎｉを備える所望のポアソン分布である。ｎｅはエラーの測定数である。
【００２３】
測定されたｎｅを確率Ｄ2で含む、最良想定可能分布ＮＥlowは、以下によって与えられる。
【００２４】
【数６】
2005528827.tif 000004
【００２５】
この例において、Ｄ2はＤ1に等しく、それはＤ＝Ｄ1＝Ｄ2＝０．００２＝０．２％である。
【００２６】
ＮＥlowとＮＥhighとの間における範囲の意味を例証するために、図１を参照されたい。図１は、尤度密度ＰＤをエラーの測定数ｎｅの関数として示している。この例において、ｎｓビットの測定されたサンプル内でのエラーの実際の検出数ｎｅは、１０である。エラーの尤度分布は未知である。全部の想定可能尤度分布の下での最悪想定可能尤度分布ＰＤhighとともに全部の想定可能尤度分布の下での最良想定可能尤度分布ＰＤlowが図示されている。最悪想定可能尤度分布ＰＤhighは、０からｎｅ＝１０までの積分がＤ1＝０．００２という全確率を与えるということで特徴づけられる。最良想定可能尤度分布ＰＤlowは、ｎｅ＝１０から∞までの積分がＤ2＝０．００２の全確率を与えるということで特徴づけられる。好ましい実施形態において、Ｄ1はＤ2と等しく、すなわち、Ｄ1＝Ｄ2＝０．００２＝０．２％である。式（１）および（２）から尤度分布ＰＤhighおよびＰＤlowを得た後、尤度分布ＰＤhighについて平均値又は中間値ＮＥhighおよび、尤度分布ＰＤlowについてＮＥlowが得ることができる。中間値ＮＥlowとＮＥhighとの間の範囲は、図１において指示された信頼範囲ＣＲである。
【００２７】
測定された値ｎｅがかなり非典型的な結果である（この例ではわずか０．２％の確率）の場合、それにもかかわらず、実際の結果ＮＥは依然としてこの範囲、いわゆる信頼範囲ＣＲにおいて求められ得る。
【００２８】
（１）および（２）における確率Ｄ1およびＤ2は独立であり得るが、好ましくは、それらは従属であり、かつ等しい（Ｄ＝Ｄ1＝Ｄ2）。
【００２９】
ポアソン分布について、ＮＥlowおよびＮＥhighが得られ得る。それぞれ式（３）および（４）により、入力は、この試験において測定されたエラーの数ｎｅならびに、確率ＤおよびＣ＝１−Ｄである。出力は、ポアソン分布の平均を記述するパラメータ、ＮＥである。
【００３０】
以下の例は、図１（Ｄ＝Ｄ1＝Ｄ2）において例証される。
【００３１】
【数７】
2005528827.tif 000005
【００３２】
【数８】
2005528827.tif 000006
【００３３】
例：
エラーの数：ｎｅ＝１０
確率：Ｄ＝０．００２    Ｃ＝０．９９８
【００３４】
結果：
ＮＥlow＝３．２６
ＮＥhigh＝２２．９８
【００３５】
解釈：
事前ＢＥＲ段階（ｐＢｓ）による試験においてｎｅ＝１０のエラーを測定したとすれば、低い確率Ｄ＝０．００２時に、この試験におけるエラーの平均の数ＮＥは、３．２６から２２．９８までの範囲外にあるか又は、高い確率Ｃ＝０．９９８では、３．２６から２２．９８までのこの範囲内にある。
【００３６】
ポアソン分布の幅と同様、信頼範囲ＣＲはＳＱＲ（ｎｅ）に比例して増加し、すなわち、それは絶対的には増加するが、相対的には減少する。
【００３７】
単一の結果ｎｅから計算された信頼範囲ＣＲ全体が、指定の限界ＮＥlimitの良好側（ＮＥlimit＞ＮＥhigh）で求められた場合、次のように述べることができる。高い確率Ｃで、最終結果ＮＥは限界ＮＥlimitよりも良好である。よって、ＮＥlimitは、
【００３８】
ＮＥlimit＝ＢＥＲlimit・ｎｓ      （５）
【００３９】
によって与えられ、ＢＥＲlimitは装置について許容できるビット誤り率であり、無限に大きい数のビットサンプルｎｓでの理想的な長期試験によって得られる。
【００４０】
単一の結果ｎｅから計算された信頼範囲ＣＲ全体が指定された限界ＮＥlimitの不良側（ＮＥlimit＜ＮＥlow）で求められた場合、次のように述べることができる。高い確率Ｃで、最終結果ＮＥは限界よりも不良である。
【００４１】
各々の新しいサンプルおよび／又はエラーに関し、全部の先行結果を再使用して、新しい試験が考慮される。個々の新しい試験に関し、ｎｓ、ｎｅおよびｂｅｒについての事前データは更新される。個々の新しい試験について、信頼範囲ＣＲは計算され、試験限界ＮＥlimitと照合される。
【００４２】
信頼範囲ＣＲ全体が指定の限界の良好側で求められると（ＮＥlimit＞ＮＥhigh）、早期合格が許される。信頼範囲ＣＲ全体が指定の限界の不良側で求められると（ＮＥlimit＜ＮＥlow）、早期不合格が許される。信頼範囲ＣＲが指定の限界の両側で求められた場合（ＮＥlow＜ＮＥlimit＜ＮＥhigh）、ＤＵＴを早期に合格にすることも不合格にすることもないことは明白である。
【００４３】
図１は、上記の条件を例証している。当然ながら、ＮＥlimitは試験中に変化しない固定値であるが、ＮＥlowおよびＮＥhighだけでなく信頼範囲ＣＲは試験中に変化する。しかし例証のために、一定の限界ＮＥlimitに関する信頼範囲ＣＲの想定位置の３つの可能性は、図１において同じ例について描かれている。
【００４４】
上述のことは、以下の式によって記述され得る。
【００４５】
サンプルの現在数ｎｓは、事前ビット誤り率ｂｅｒおよび事前エラー数ｎｅから計算される。
【００４６】
ｂｅｒ＝ｎｅ／ｎｓ      （６）
【００４７】
サンプルの数ｎｓおよびエラーの数ＮＥにより表現される指定のＢＥＲは、
【００４８】
ＢＥＲlimit＝ＮＥlimit／ｎｓ      （７）
【００４９】
式中の省略のために、
【００５０】
ｂｅｒnorm＝ｂｅｒ／ＢＥＲlimit＝ｎｅ／ＮＥlimit      （８）
（正規化ｂｅｒ）
【００５１】
早期合格は以下を要する。
【００５２】
ＮＥhigh＜ＮＥlimit      （９）
【００５３】
早期不合格は以下を要する。
【００５４】
ＮＥlow＞ＮＥlimit      （１０）
【００５５】
早期合格限界の式は、
【００５６】
【数９】
2005528827.tif 000007
【００５７】
これは、ｂｅｒnormをｎｅの関数として示す、図２における下側の曲線（ｂｅｒｎｏｒｍpass（ｎｅ，Ｃ））である。
【００５８】
早期不合格限界の式は、
【００５９】
【数１０】
2005528827.tif 000008
【００６０】
これは、図２における上側の曲線（ｂｅｒｎｏｒｍfail（ｎｅ，Ｄ）である。
【００６１】
早期合格限界はｎｅ＝０については定義されないので（通常、良好なＤＵＴに対する試験のまさに開始時のケース）、最初のサンプルによる人工的エラー事象が導入され得る。最初の実際のエラー事象が生起すると、人工的エラーはこの実際のものと置換される。これは、理想的な良好なＤＵＴに最短の想定測定時間を与える。例えば、ＢＥＲlimit＝０．００１および確率Ｄ＝Ｄ1＝Ｄ2＝０．２％の場合、ｎｓ＝５０００である。
【００６２】
早期不合格限界はフラクショナルエラー時の決定問題のために小さいｎｅ＜ｋ（下記の例ではｋ＝５）にＮＥlow＜１を使用するので、ｎｅ＝ｋ時の早期不合格限界は上方への垂直線で拡張される。これは、壊れたＤＵＴがいずれの場合も数サンプル、この例では約１０の後、早期不合格限界に達することを保証する。言い換えれば、試験は、ｎｅがｋより小さい限り停止されない。
【００６３】
個々の新しいサンプルおよび／又はエラーにより、全部の先行結果を再使用して、新しい試験が考慮される。個々の新しい試験により、ｎｓ、ｎｅ、ｂｅｒおよびｂｅｒnormの事前データが更新され、ｂｅｒnorm／ｎｅ座標がｂｅｒnorm図表に記入される。これは、図３に示されている。軌線が早期不合格限界（ｂｅｒnorm（ｎｅ，Ｄ）又は早期合格限界（ｂｅｒnorm（ｎｅ，Ｃ）と交差すると、試験は停止され得て、この時点に基づいて早期不合格又は早期合格の結論が引き出され得る。
【００６４】
図３は、早期不合格および早期合格についての曲線を示している。ｂｅｒnormはエラーの数ｎｅの関数として示されている。図３に例示された単純な例の場合、それはＢＥＲlimit＝０．２＝１／５であり、最終ビット誤り率ＢＥＲ＝０．２５（１／４）である。試験は最初のビットサンプルから始まり、それについてはいかなるエラーも検出されない。第２のサンプルについて、第１のエラーが検出され、事前ビット誤り率ｂｅｒ＝ｎｅ／ｎｓ＝１／２であり、ｂｅｒnorm＝ｂｅｒ／ＢＥＲlimitは１／２：１／５＝５／２になる。第２のサンプルの後のｂｅｒnormは、図３において×印ａでマークされている。第３、第４および第５のサンプルについて、さらなるエラーはまったく生じず、以後ｂｅｒnormはそれぞれ、５／３、５／４および５／５になり、それは図３においてそれぞれ、×印ｂ、ｃおよびｄでマークされている。第６のサンプルは新しいエラーを生じ、ｎｅは２になる。その結果、ｂｅｒ＝ｎｅ／ｎｓは２／６になり、ｂｅｒnormは１０／６になる。この状態は、図３において×印ｅでマークされている。第７、第８および第９のサンプルについては、さらなるエラーはまったく生じず、第７、第８および第９のサンプルの後の状態は図３においてそれぞれ、×印ｆ、ｇ、ｈでマークされている。第１０のサンプルは第３のエラーを生じる。その結果、ｂｅｒは３／１０になり、ｂｅｒnormは１５／１０になる。この状態は、図３において×印ｉでマークされている。図３からわかるように、軌線は、試験の初めには早期不合格曲線と早期合格曲線との間にあるが、約４０エラーの後に早期不合格曲線と交差する線Ｚに収束する。このように、４０エラーの後、試験されたＤＵＴは早期に試験に不合格になることが決定され得る。
【００６５】
早期停止がまったく生起しなければ、ＢＥＲ試験は、以下の条件、
ｎｅ＞＝Ｋ      （１３）
が有効になった後、停止され得て、ｎｓが十分に大きければ、ＤＵＴは合格にされる。Ｋはエラーの最大数である。例えば、Ｋは２００とすることができる。
【００６６】
Ｋ（例えば２００）のエラーが生起した後に軌線が早期不合格曲線も早期合格曲線もどちらとも交差しない場合、ＤＵＴは最終的に合格にされ得る。しかし、ＤＵＴがかなり良好か又はかなり不良である場合、試験は、Ｋ＝２００のエラーが生起する相当以前に、極めて早期に停止され得る。これは、全体の試験時間を著しく短縮する。
【００６７】
上記の実施形態において、早期不合格は以下を意味する。特定の事前ＢＥＲ段階まで耐え抜いたＤＵＴが不合格にされ、それが限界よりも実際に良好である０．２％の確率が容認される。さらに、早期合格は以下を意味する。特定の事前ＢＥＲ段階まで耐え抜いたＤＵＴは合格にされ、それが限界よりも実際に不良である０．２％の確率が容認される。試験が２００エラーで停止された場合、ＤＵＴは、いずれの早期不合格又は早期合格条件も伴わず任意に合格にされる。それは図２における垂直の２００エラー線と異なる高さで交差することができ、個々の高さは特定の統計的解釈と関係づけられる。限界よりも良好な（不良な）ＤＵＴを有する確率は、図５において指示されている。図５における垂直線は、試験の終了時の図２における位置を示す。図５における水平線はそれぞれの確率を示す。
【００６８】
この実施形態は、試験の統計性質および限られた試験時間のために、以下の例により例示される疑似パラドックスを含む。早期停止限界を拡大することによって誤決定の確率が低減されていれば、早期不合格にされたＤＵＴが合格にされたかもしれないし又は、試験が２００エラーで停止され、ＤＵＴが任意に不合格にされた場合、その逆もあり得る。誤決定の確率が低減されていれば、早期合格にされたＤＵＴが不合格にされたかもしれない。
【００６９】
以下の実施形態は、この疑似パラドックスを解決し、試験をさらに加速する。これは、早期不合格限界を維持しつつ早期合格限界の有意な再定義によって行われる。この時、早期合格は以下を意味する。特定の事前ＢＥＲ段階まで耐え抜いたＤＵＴは合格にされ、それが指定の限界（Ｍ＞１）よりも実際にＭ倍不良である０．２％の確率が容認される。これは、より不良なＤＵＴ限界である。これは、図４に示されたように、図２において早期合格限界を上方に移動させる。図２におけるｂｅｒｎｏｒｍpass（ｎｅ，Ｃ）は、図４におけるｂｅｒｎｏｒｍｂａｄpass（ｎｅ，Ｃ）になる。ｂｅｒｎｏｒｍfail（ｎｅ，Ｄ）は変わらない。この時、それは、
ＮＥlimit,M＝ＢＥＲlimit・Ｍ・ｎｓ      （１４）
であり、早期合格は、ＮＥlimit・Ｍ＝ＮＥlimit,M＞ＮＥhighならば許容される。
【００７０】
試験のための３つの高水準パラメータが存在する。
−単一ステップにおいて誤決定をする確率（提案：Ｄ＝０．２％）
−最終停止（提案：Ｋ＝２００エラー））
−不良ＤＵＴの定義（ＢＥＲlimit・Ｍ）
【００７１】
これらのパラメータは相互依存している。それらのうちの２つを入力し、第３のものを計算することが可能である。試験を透過的にするために、単一ステップ誤決定確率Ｄおよび最終停止条件Ｋを入力し、不良ＤＵＴ因子Ｍを導出することが提案される。これは以下のように行われる。早期合格限界は、早期不合格および早期合格限界が図４に示すように例において２００エラーで交わるように、因子Ｍだけ上方に移動される。図４はまた、Ｍtestに対応する、早期不合格曲線および容易合格曲線による交点から得られる試験限界も示している。
【００７２】
上述のパラドックスを解決するための無限の可能性が存在する。
【００７３】
上記の例において、限界間の開端は元々合格と宣言されており、時間は、早期合格限界をＭ（Ｍ＞１）で掛けて、それを早期不合格および早期合格曲線が２００エラー（２００：上記による例）で交わるように上方に移動させることによって節約された。高い確率で不良な、そうしたＤＵＴだけが、不合格にされる（顧客危険）。
【００７４】
補完的な方法は以下の通りである。限界間の開端は不合格と宣言されており、時間は、早期不合格限界をｍ（０＜ｍ＜１）で掛けて、それを早期不合格および早期合格曲線が２００エラー（２００：上記による例）で交わるように下方に移動させることによって節約される。高い確率で良好な、そうしたＤＵＴだけが、合格にされる（製造者危険）。
【００７５】
妥協的な方法は以下の通りである。限界間の開端は任意の比率で区分され、上部は不合格と宣言され、下部は合格と宣言される。時間は、早期不合格限界をｍ（０＜ｍ＜１）で掛けてそれを下方に移動させ、早期合格限界をＭ（Ｍ＞１）で掛けてそれを上方に移動させることによって節約される。その結果、早期不合格および早期合格曲線は、２００エラー（２００：上記からの例）で交わる。
【００７６】
所与のＤ1およびＤ2により、図３および図２又は図４における早期不合格曲線および早期合格曲線は、試験が開始される前に計算され得る。試験中には、ｂｅｒnorm＝ｎｅ／ＮＥlimitだけが計算され、図３および図４に関して説明した通り、早期不合格限界および早期合格限界と比較されればよい。このように、いかなる集約的な計算も試験中に行われる必要はない。
【００７７】
上記のＤ1およびＤ2は、特定の事前ＢＥＲ段階まで早期停止を伴わずに耐え抜いたＤＵＴについての単一ステップ誤決定確率を記述する。実際の試験には、試験全体の誤決定確率Ｆを前もって定義することが望ましい。すべてのステップについて、ある一部分のＤＵＴは、単一ステップ誤決定確率Ｄに起因する統計的全体性を残す。これは、ある量Ｆ＞Ｄまで累積する。
【００７８】
以下の方法によってＦからＤを導出することが提案される。
【００７９】
統計的独立に基づき、限界上のＢＥＲを備えるＤＵＴ（限界ＤＵＴ）およびＭ＊ＢＥＲを備えるＤＵＴ（不良ＤＵＴ）の大きい集合がシミュレートされ、限界ＤＵＴ集合および不良ＤＵＴ集合に対する試験全体は、自由なＤパラメータ（Ｄ1およびＤ2）により、早期合格および早期不合格境界に対するシミュレーションによって実行される。シミュレーションは、大きい集合のうちの特定の部分Ｆ（Ｄ＜Ｆ＜１）が偽りに不合格になる（限界ＤＵＴ）か又は、偽りに合格する（不良ＤＵＴ）ことを示すはずである。これは、試験全体の誤決定確率Ｆを表現する。Ｄは、Ｆが既定の誤決定確率と一致するように調整される。
【００８０】
上述の全部の方法は、以下に要約される近似を使用する。
【００８１】
−それらは、いずれの場合において妥当でないとしても統計的独立を使用する。
【００８２】
−上で使用されたポアソン分布は、ＢＥＲがおおよそ０であれば（ＢＥＲ→０）、二項分布に近似する。ポアソン分布の代わりにカイ二乗分布を使用することが可能であり、数値的容易さから有意義である。連続的なカイ二乗分布は、離散的なポアソン分布の補間である。
【００８３】
−ＤＵＴが早期不合格又は早期合格に起因する統計的全体性を残すと、以降の分布は変わる。その限りにおいて、初期に選定された分布は、試験の始めにのみその意図された妥当性を有する。早期合格および早期不合格のために、分布は、試験の終わりに向けてますますトランクされる。これらのトランクされた分布はもはや分析的に取り扱うことができず、従って、ＦからＤを分析的に導出することは不可能である。数値的方法によって個々の以降の分布を導出することは可能である。その場合、ＦからＤを数値的に導出することが可能である。上記の提案した過程では、まさに独自な初期分布が、１組の正しい分布の代わりに近似として適用される。１組の正しい分布により、以下によってＦからＤを計算することが可能である。
【００８４】
Ｆ＝１−（１−Ｄ）ｎｅ      （１５）
【００８５】
一般に、それは以下を前提とし得る。
【００８６】
Ｆ＞Ｄ≧１−（１−Ｆ）1/ne      （１６）
【００８７】
この式は、方法が初期分布を用いたシミュレーションに基づく場合、Ｄについての最大下界として機能し得る。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】本発明の方法を例示するための図表を示す。
【図２】参照ビット誤り率ｂｅｒnormを、測定されたエラーｎｅの関数として示す。
【図３】本発明の方法の第１の実施形態を用いた測定を例示するための図表を示す。
【図４】本発明の方法の第２の実施形態を用いた測定を例示するための図表を示す。
【図５】本発明の方法の第１の実施形態を用いた試験終了時の位置を確率の関数として例示している図表を示す。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【国際調査報告】
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