(57)【要約】【課題】テスト中のデバイスの端部表面上に小さい圧力を及ぼす接触機を提供すること。【解決手段】  転がり接触機(1)であって、テスト中のデバイス(15)と転がり接触機のための支持構造との間に電気的な信号を提供する。転がり接触機は、導電性の円形ローラ(3)であってテスト中のデバイスを横切る転がりのための２つの間隔をおかれた側壁間に部転がり面(5)及び内部中心穴(9)とを有するローラと、ローラの側壁の一つに近接して配置されこれと接する少なくとも１つの導電性の円形スプールと、ローラ及びスプールに設けられた穴を軸線方向へ貫通するようにされた支持車軸(7)と、車軸を回転配置するように支持された導電性の車軸ブラケット(25)と、回転の間にスプールと接触するように車軸ブラケットから伸びる導電性のブラシ(59)と、車軸ブラケット及び支持構造間を伸び、テスト中のデバイスとローラの表面とスプールととの間に電気路を完成する導電性の細長いスプリングアームと(27)を備える。
2005514605.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト中の小形電子デバイスの伝導端部表面と転がり接触機のための支持構造との間に電気信号伝達を与えるための前記転がり接触機であって、
ａ）限定された厚さ寸法を有する導電性の円形ローラであって、１又はそれ以上の信号を伝達するために前記デバイスの伝導性の端部表面を横切って転動するための２つの間隔をおかれた側壁間の外部転がり面及び内部中心穴を有するローラと、
ｂ）前記ローラより小さい外径の少なくとも１つの導電性を有するスプールであって、前記ローラの両側壁の一方に近接しかつこれと接するように配置され、貫通するように設けられた中心穴を有するスプールと、
ｃ）前記ローラ及び前記スプールに形成された中心穴を同心にかつこれらを超えて伸びる支持車軸と、
ｄ）前記ローラの表面が前記デバイスの端部表面に対して転がり及び押圧することを許すように前記車軸の周りの回転配列で前記車軸を支持するようにされた導電性の車軸ブラケットと、
ｅ）前記車軸ブラケットから、回転中の前記スプールと線接触するように伸びる導電性のブラシと、
ｆ）前記車軸ブラケット及び前記支持構造間を伸びる導電性の細長いスプリングアームであって、前記デバイスの端部表面と、前記転がり面と、前記導電性ブラシを介して前記車軸ブラケットと接触するスプールとの間の電気路を形成し、また前記端部表面に対して前記ローラを押圧するスプリング圧を及ぼすスプリングアームとを含む、転がり接触機。
【請求項２】
さらに、他のローラ側壁に近接してかつこれに接して配置された、前記ローラより小さい外径を有する追加のスプールであってこれを貫通するように形成された中心穴を有するスプールと、該追加のスプールとその回転の間に線接触するように前記車軸ブラケットから伸びる追加の導電性のブラシとを含む、請求項１に記載の転がり接触機。
【請求項３】
前記円形ローラは、これが接触する前記デバイスの端部表面の幅より大きくない厚さを有する、請求項１に記載の転がり接触機。
【請求項４】
前記外部転がり面は前記対の円形スプールの外面と同心である、請求項１に記載の転がり接触機。
【請求項５】
前記ローラの２つの間隔をおかれた側壁は平坦でありかつ互いに平行である、請求項１に記載の転がり接触機。
【請求項６】
前記ローラの内部中心穴と前記円形スプールの内部中心穴とは、前記ローラの外部表面と前記スプールの外部表面とが同心配置におかれるように前記車軸上に整列されている、請求項１に記載の転がり接触機。
【請求項７】
さらに、前記ローラの表面から該ローラを通過する電気信号を取る前記導電性ブラシの滑動受け入れのための、前記円形ローラの外部転がり面に平行に形成された平坦な周面を含む、請求項１に記載の転がり接触機。
【請求項８】
さらに、各円形スプールの周囲に形成され、また前記ローラの表面から該ローラを通過する電気信号を取る前記導電性ブラシの滑動受け入れのための溝の面を含む、請求項１に記載の転がり接触機。
【請求項９】
前記円形スプールと前記ローラとは単一のユニットに形成されている、請求項１に記載の転がり接触機。
【請求項１０】
さらに、２つの前記導電性ブラシは間隔をおいて配置され、前記車軸ブラケットから並列配置で伸び、回転の間に線接触状態で各スプールに接する、請求項１に記載の転がり接触機。
【請求項１１】
前記スプリングアームは、間隔をおいて配置された第１の端部及び第２の端部を含む、請求項１に記載の転がり接触機。
【請求項１２】
前記スプリングアームの第１の端部は、
ａ）前記スプリングアームの相対する側部から直交して突出する一対のフランジと、
ｂ）前記アームに垂直に配置された前記車軸の両端部をそれぞれ支承するために前記フランジにより規定された一対の整列した溝と、
ｃ）前記デバイスにより転がるときに前記転がり接触機の撓みに応じて曲がるようにするため、前記支持構造から前記転がり接触機を弾性的に片持ち梁支持するための手段とを含む、請求項１０に記載の転がり接触機。
【請求項１３】
素子の端部と転がり接触機との間の電気信号伝達を行うための前記転がり接触機であって、
ａ）並列に配置される複数の導電性円形ローラであって、各ローラは限定された厚さであり、１又はそれ以上の信号を伝達するために並列に配置された、テスト中のデバイスの伝導性の端部表面を横切って転がるように、２つの間隔をおかれた側壁間に形成された外部転がり面及び内部中心穴を有する複数のローラと、
ｂ）各ローラのための少なくとも１つの導電性の円形スプールであって前記ローラより小さい外径を有し、前記ローラの側壁の１つに近接してかつ接して配置され、貫通するように形成された中心穴を有する円形スプールと、
ｃ）前記ローラ及び前記スプールに形成された前記穴を経て軸線方向へ通るようにされ、前記穴を経て伸びる各ローラのための支持車軸と、
ｄ）導電性の車軸ブラケットであって前記ローラの表面が前記デバイスの端部表面を転がりかつ押圧することを許すように前記車軸の周りの回転配列にあるように各車軸を支持するようにされた車軸ブラケットと、
ｅ）前記スプールの回転の間に線接触で前記スプールに接するように各支持車軸ブラケットから伸びる導電性のブラシと、
ｆ）前記デバイスの端部表面と、前記ローラの表面と、前記導電性ブラシを介して前記車軸ブラケットと接触する前記スプールとの間の電気路を形成し、また前記端部表面に対して前記ローラを押し付けるためのスプリング圧を与えるための各車軸ブラケットと前記支持構造との間を伸びる導電性の細長いスプリングアームとを含む、転がり接触機。
【請求項１４】
さらに、他のローラ側壁に近接してかつこれに接して配置された、前記ローラより小さい外径を有する追加のスプールであってこれを貫通するように形成された中心穴を有するスプールと、該追加のスプールとその回転の間に線接触するように前記車軸ブラケットから伸びる追加の導電性のブラシとを含む、請求項１３に記載の転がり接触機。
【請求項１５】
前記円形ローラは、これが接触する前記デバイスの端部表面の幅より大きくない厚さを有する、請求項１３に記載の転がり接触機。
【請求項１６】
前記外部転がり面は前記対の円形スプールの外面と同心である、請求項１３に記載の転がり接触機。
【請求項１７】
前記ローラの２つの間隔をおかれた側壁は平坦でありかつ互いに平行である、請求項１３に記載の転がり接触機。
【請求項１８】
前記ローラの内部中心穴と前記円形スプールの内部中心穴とは、前記ローラの外部表面と前記スプールの外部表面とが同心配置におかれるように前記車軸上に整列されている、請求項１３に記載の転がり接触機。
【請求項１９】
さらに、前記ローラの表面から該ローラを通過する電気信号を取る前記導電性ブラシの滑動受け入れのための、各円形スプールの周囲に形成された平坦な周面を含む、請求項１３に記載の転がり接触機。
【請求項２０】
さらに、各円形スプールの周囲に形成され、また前記ローラの表面から該ローラを通過する電気信号を取る前記導電性ブラシの滑動受け入れのための溝を含む、請求項１３に記載の転がり接触機。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般的には、カンチレバー型の電気接触機の分野に関し、より詳細には、テスト中のあるデバイスに接触させて該デバイスの端部表面又は端部領域を横切るように拭く（「拭く」については後に定義する。）電気接触機に関する。
【背景技術】
【０００２】
小形の電子デバイスの分野では、電子的特性を保証するためのテストを要求する、伝導終端部を有する小形のコンデンサのような多くのデバイスがある。これらのデバイスは、現在、２つの型の接触機の１つを用いてテストされ、これらの接触機は電気測定を目的として伝導端部に一時的に接続するように使用される。第１の型は「拭く」もの又はカンチレバー接触機であり、また第２は「被動作」接触機である。
【０００３】
カンチレバー型接触機は、典型的に、接触されるデバイスに関して傾けられた又は角度をなすようにされた薄板スプリングの金属アームを有する。前記アームの自由端に接触機がある。テスト中のデバイス（以下「ＤＵＴ」という。）の接触領域は、前記接触機が前記領域を横切ってこすり又は通過しすなわち「拭き」、また前記カンチレバーアームがわずかに反るように、実際に又は相対的に動かされる。前記アームのスプリングは、前記ＤＵＴの接触領域に、圧力、すなわち良好な電気的接触のために十分な圧力を及ぼす。この拭く技術は、１つのカンチレバーアーム及び１つの反対側の静止接触点、又は２つのカンチレバーアームであって１つが前記ＤＵＴの各端部にある２つのカンチレバーアームを使用することができる。
【０００４】
拭く方法は、単純で信頼性はあるが、ある欠点を有する。前記カンチレバーにより加えられる圧力は、慎重に制御される必要がある。小さすぎる圧力は不十分な電気的接触を生じさせ、大きすぎる圧力は、前記端部すなわち特に該端部がスズ又はスズ／鉛の半田メッキで被覆されているときは、接触を受ける前記デバイスの接触領域を損傷するおそれがある。前記デバイスに対する端部損傷は、典型的には１００−２００マイクロインチほどの厚さである前記半田メッキの任意の剥離又は該半田メッキに対する重大な外傷と定義される。相対的に静止状態にある前記カンチレバー接触端は前記デバイスの端部の完全露出長さにわたって拭き、前記端部に比較的大きい印を付け、前記端部の損傷の機会を非常に増大させる。
【０００５】
また、電子デバイスの小形化を進めるため、前記ＤＵＴを保持するために必要とされる保持固定具の表面と前記デバイスの端部との間に最小限の隙間が存する。その結果、前記カンチレバー端が前記保持固定具と周期的に接触する。前記カンチレバー端は相対的に静止しているため、適度な又は高い研磨性を有しやすい典型的にはＦＲ−４ガラスエポキシ又は同様の非導電性材料であるテスト固定材料により、それは摩耗する。前記カンチレバー端はこの接触から粗くなり、前記ＤＵＴ端部をさらに損傷させやすい。また、前記接触機端は、酸化、前記接触端への汚染物質の付着、又はこれらの組み合わせのいずれかによって汚れてくる。前記接触端への清掃のためのアクセスは、前記接触端が前記ＤＵＴ及び前記デバイス保持固定具に非常に近接しているため、困難である。
【０００６】
前記被動作接触機の技術は、前記ＤＵＴとの接触に至る通常は往復運動状態にある移動接触端を用いる。前記接触端はテストサイクル毎に作動され、これらの端部が前記ＤＵＴに接触するまで移動され、次いで、測定プロセスの間、静止状態に維持される。測定後、前記接触子は前記ＤＵＴから離れる方向へ移動され、前記保持プレート又は固定具が指示され、次のＤＵＴを次の測定のための場所に運ぶ。被動作の接触子は、前記払く接触技術と異なり、前記テスト中のデバイスの端部に対するいかなる印付けをも少なくするため、非常に小さいサイズの端部をもって形成される。製造検査装置の高スループットのため、この動作サイクルは、非常に速い速度で行われなければならない。例えば、パロマモデル３３００（Ｐａｌｏｍａｒ  Ｍｏｄｅｌ  ３３００）のような素子テスターは、毎時３７，５００接触子動作サイクルを必要とし、毎時１５０，０００のパーツを処理する。動作機構に使用される要素が３０，０００，０００サイクル続くときは、これらは、一日当たりの機械の動作時間を２０時間とすると、４０日毎に交換されなければならない。前記動作時間が各動作方向においてわずかに１０マイクロ秒のときは、前記システムのスループットは毎時１０，０００パーツまでに減少する。また、動作される接触子はその保持プレート／固定具に対して前記ＤＵＴを押し又は引くことができ、また、前記接触端は、金メッキのスプリング又は非常に撓みやすいワイヤセグメントのようなより高価で、移動又は可撓の導電要素を必要とするものになりやすい。
【０００７】
また、従来のカンチレバー型接触機は、一対の間隔をおかれたフランジ間に収容されかつ転がり接触機を形成するようにオーバヘッド車軸により前記フランジ間に保持された車軸により支持されたローラを含む。前記フランジは前記カンチレバーアームにより支持され、またテストが進行中のとき、前記アーム及び前記フランジは、前記ローラが前記デバイスの端部の頂面に接触されることとなる点まで下降される。前記ＤＵＴは前記ローラの下方に移動され、これと接触され、他の端部（又は逆の）から前記デバイスを通過する信号が前記ローラに受け入れられ、前記車軸を上方へ向けて通され、次いで前記フランジに至り、前記カンチレバーアームの遠い方の端部に配置されたテスト装置への伝達のために前記アームへと至る。このように設定された、前記ローラと前記ＤＵＴの端部との間の接触は、３つの別個の下方向力、すなわち前記カンチレバースプリングアームの下方向力と、前記車軸のクランプの下方向力と、前記ローラの内部リムに対する前記車軸の下方向力との産物である。測定が始まると、これらの３つの下方向力は、前記ＤＵＴの端部表面と前記ローラの外部表面との間の接触を介して前記ＤＵＴの上方向力により、釣り合わされる。
【０００８】
これらのローラの使用が一般的な改良において高速デバイステストの従来技術を超えるようになってきたが、前記３つの組み合わせ力は、しばしば、前記ＤＵＴの端部には過酷に過ぎ、また前記端部の表面に損傷を与えることが判明した。一旦、前記表面が損傷を受けると、そのデバイスはもはや高質電子環境下でその電気的機能を発揮することができず、他の低質用途に格下げされる。したがって、前記端部表面に損傷を生じさせる顕著な下方向力でない、前記ＤＵＴとの迅速で実際的な接触を与えるテスト接触機の要請がずっとある。
【０００９】
加えて、前記従来の接触機は、４つの異なるＤＵＴが前記機械のスループットを増大させるために１組の４つの接触機と同時に接触し得るように、４つ又はそれ以上のグループに並べてまとめられかつ設定されることがあった。この従来技術は、複数のローラのレベルに対して、１又はそれ以上のローラが他のローラの上又は下にあるようにさせる適切な制御を与えない。最高位にあるローラとの実際的な接触を保証するため、他のローラは下方に向けて押され、前記最高位のローラを含めて、全てのローラをそれぞれ前記ＤＵＴの端部表面との実際的な接触に至らせることは困難であり、その結果、異なる圧力が種々のデバイス上に与えるようにされる。この圧力の相違は、しばしば、テストに誤った読みを与え、また前記ＤＵＴの端部表面に損傷を与える。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
したがって、本発明の主な目的は、従来に比べて、下にあるＤＵＴの端部表面に小さい圧力を及ぼす接触機にある。他の目的は、長期間にわたり繰り返して使用可能であり、かつ取り替えなければならないときまでに他の従来の装置よりも多くのＤＵＴをテストすることができる接触機、従来の接触機より一貫して使用されかつより正確に能力を発揮する接触機、及びテスト装置のスループット及び出力を増大させるように複数のＤＵＴに対するテストを提供するようにより確実な一団となり得る接触機にある。
【００１１】
本発明は、様々なタイプのＤＵＴの端部表面に損傷又は印をほとんど又は全く付けることなしに、前記ＤＵＴの端部に対する迅速かつ繰り返しの電気的接続をなし得る接触機である。本発明による電気接触機は従来の技術を凌駕している。それは、前記カンチレバー型接触機の「拭く」動作のため、デバイスの端部上の半田メッキに与える損傷を除去し、またより簡素であり、さらに被動作型の接触機より長い寿命を有する。それは、電気回路素子、例えばセラミックコンデンサの処理及びテストのための素子の操作子（ハンドラー）及びテスターにおいて非常に有用である。（ここで使用する用語「素子」は、本発明による接触を許す形態を有するセラミックコンデンサ及び他の任意の電気デバイスを指す。）
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明は、素子の端部と前記転がり接触機のための支持機構との間に電気信号伝達を付与するための前記転がり接触機であって、限定された厚さの円形ローラを含み、該円形ローラは、ＤＵＴの前記端部表面を横切る転がりのための２つの間隔をおかれた側壁間に外部転がり面と内部中心穴とを形成する。前記ローラより小さい外径の一対の円形スプールがそれぞれ前記ローラの両側壁に近接してかつこれと同心的に配置され、各スプールには支持車軸のための貫通する中心穴が形成されている。車軸ブラケットがその上方に車軸締付具を受け入れ、前記車軸を回転位置に支持するようにされ、前記ローラは前記素子の端部表面を転がりかつ押圧することができる。前記ローラの表面から前記信号を拾い上げるように線接触配置で前記スプールの一方と接触するように伸びる少なくとも１つの伝導ブラシが設けられている。最後に、細長いスプリングアームが前記車軸ブラケットと前記支持構造との間を伸び、前記ＤＵＴの端部表面と前記ローラと前記伝導ブラシを介して前記車軸ブラケットと接する前記スプールとの間に電気路を完成し、かつ前記端部表面に対して前記ローラを押圧するためのスプリング圧を与える。
【００１３】
従来における前記ＤＵＴへの接触力は、常に、前記車軸と前記ローラの内縁部との電気的な接続又は前記ローラと前記ＤＵＴとの間の接続に求められる力より大きいが、本発明にあっては、前記ＤＵＴに対する前記ローラの確かな接続に必要とされる力とのみ出会うことを可能とする。本発明に内在する電気的接触に必要とされる接触力、すなわち前記スプールに対する伝導ブラシの力は前記ＤＵＴに対して及ぼされない。加えて、前記伝導ブラシは前記スプールに対して上方向へ押圧し、次いで、前記車軸に対して上方向へ前記ローラを押圧する。これは、前記カンチレバーアームが前記ローラに下方向力を及ぼしているか否かに拘わらず、全ての状態において、前記車軸の底部が前記ローラの内縁底部と接触するようにさせる。これにより、前記車軸と前記ローラの内縁部との間の任意の隙間が除去される。これは、前記車軸に対するローラの内縁部の嵌合における任意の「遊び」が効果的に除去されるため、初めに前記接触が前記ＤＵＴへ向けて下方に移動し、前記ＤＵＴに対する前記ローラの底部の最初の接触点を決定するときに特に貴重である。
【００１４】
これは、新たな配列が最高位及び最低位にあるローラ間の全ての相違を除去し、これにより前記したように並列に配置された４つのＤＵＴに平均圧力以上を与えるように一団の接触機がより容易に整列されることを可能とすることにより、前記一団の接触機に対して有意義である。
【００１５】
本発明のこれらの及び他の目的は、ここに添付の図面と共に次の明細書を読むことにより、より明らかとなろう。本発明者により求められる保護の範囲は、この明細書を含む請求の範囲の公平な読みから収集されよう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
図面を参照すると、６つの図を通して、複数のエレメントが符号で特定され、また同様のエレメントが同様の符号で特定されている。図１は、従来の形態の接触機の構造を示し、この接触機は、ローラ３の中心に形成された中心穴９を通りかつこれを超えて伸びる車軸７の周りの同心回転のために支持された円形の外部転がり面５を有する導電性のローラ３を備えるローラ接触機を含む。ローラ３は、黄銅、鋼、アルミニウムのような導電材料からなり、また、プラチナ、金又は銀のような高伝導性で、非反応性の貴金属の外面を有する。ローラ３は、好ましくは、それが２つの間隔をおかれた互いに平行な側壁（図示せず）間で接触して通過するように設定されかつ境をつけられる、前記端部の幅より厚くない。ローラ３は、前記テストプロセスにおいて他の電極として機能する底部サポート１９の頂部上の保持プレート１７内に保持された、この例ではセラミックコンデンサであるＤＵＴ１５の上方端部１３の上方を通る（転がる）。実際には、電気的なテスト信号がＤＵＴ１５に底部サポート１９を通して導かれ、前記ＤＵＴを通して上方向に通過し、端部１３から出る。前記信号は、ローラ３の外部転がり面５で拾われ、前記信号をテスト装置（図示せず）に通すための細長いスプリングアーム２７にローラ３を据え付けるローラブラケット２５上に車軸７（及びローラ３）を支持する一対の間隔をおかれたフランジ２３（１つのみを示す）に形成された一対の互いに間隔をおかれた車軸支持溝２１を介して、車軸７に通される。
【００１７】
図２、３、４ａおよび４ｂに示すように、本発明は、一対の比較的薄い、円形のスプール２９ａ，２９ｂを含み、これらは、近接して、また好ましくはローラ３の側壁３１ａ，３１ｂに相対して配置され、車軸７上のローラ３とともに回転するようにされている。最も好ましくは、スプール２９ａ，２９ｂは、ＤＵＴ１５の端部表面１３から拾われる電子信号が大きな減衰なしにローラ３とスプール２９ａ，２９ｂとを介して送られるように、ローラ３と共に、単一体で形成される。スプール２９ａ，２９ｂは、図５に示すように、複数のローラ３が並列に据えられるように、ローラ３よりも小さい外径を有し、またローラ３より薄い。スプール２９ａ，２９ｂの周面３５は、好ましくは、図４ａに示すように、ローラ３の外部転がり面５と平行に形成される。本発明の他の実施例では、図４ｂに示すように、小さい溝又は窪み３７がスプールの周面３５に形成されている。両実施例において、スプール２９ａ，２９ｂの周面３５は、この上に少なくとも１つのブラシを線接触で受け入れるように設けられている。
【００１８】
２つ指の車軸クランプ４１が設けられており、該クランプは、ローラブラケット２５上に締付具４１を保持するためのホールドダウンボルト４９を通すための穴を形成する本体４３を有する。間隔をおかれた指状部５３ａ，５３ｂが溝２１ａ，２１ｂの上方を伸びており、ここに車軸７を保持する。
【００１９】
少なくとも１つの、しかし好ましくは２つの導電性ブラシ５９がブラケット２５から外方へ伸び、ローラ３から得られた前記電気信号の受け入れのため、またブラケット２５に前記信号を通すためにスプール周面３５に接する。好ましくは、一対のブラシ５９は、図２に示すように一対の真っ直ぐなワイヤ、又は図３に示すようにＵ形状のブラシ組立体の形態で、ブラケット２５から伸び、図２及び図３に示すように、ブラシのリテーナ６１により、また周面３５（平坦面又は窪み３７）と線接触するようにこれに保持される。
【００２０】
導電性のまた間隔をおかれた第１及び第２の終端部６３ａ，６３ｂにより規定された細長いスプリングアーム２７が設けられ、これにローラブラケット２５が、端部６３ａに設けられた穴６７に受け入れられかつブラケット２５の底部に形成されたねじ穴（図示せず）に挿入されたボルト６５により取り付けられている。スプリングアームの第１の端部６３ａが取り付けられると、ブラケット２５がローラ３、車軸７、スプール２９ａ，２９ｂ及びブラシ５９の組立体を動作配列状態に保持し、信号がＤＵＴの端部からローラ３で拾われ、スプール２９ａ，２９ｂに通され、さらにブラシ５９で拾われ、スプリングアーム２７に沿っての伝達のためのブラケット２５に通され、第２の端部６３ｂに至り、該第２の端部は、ＤＵＴによるローラ３の偏向に応答して曲がるように、支持構造７１から弾性的に片持ち梁支持する転がり接触機１のための支持構造７１（図５参照）内の組立体に保持される。
【００２１】
図５を参照すると、図４ａ−４ｂの複数の転がり接触機１は、複数のＤＵＴ（図示せず）と同時に接触するように支持構造７１内に平行に据え付けることができる。（この点に関して、図２及び３に示す単一の接触機が、複数の接触機のように、同じ方法で、支持構造７１内に据え付けることは理解されよう。）支持構造７１は、図５に示されており、テスト操作子治具７３（完全には示されていない）に固定される。複数のカンチレバー転がり接触機１は、支持構造７１の適当な位置に縦に保持されている。
【００２２】
前記した実施例は、本発明の接触機が素子の一端部、例えば表面実装のセラミックコンデンサの一端部と接触し、他の端部が静的接触により接触される配列において使用することができる。しかし、転がり接触機は、前記テスト操作子の配列に従って、両端部の接触に使用することができる。同様に、２つの接触機が、テストされるデバイスの単一の端部と接触するように近接する多数の接触モジュールを構成することができる。また、前記電気デバイスの他端部は静止接触により又は２つの転がり接触により接触可能である。
【００２３】
先の記載及び図面は単に説明を目的とするものであり、本発明は開示の実施例に限定されるものでなく、ここに記載した本発明の範囲内に入る要素の任意の及び全ての変更、均等物、改良及び改変を含むことは理解されよう。本発明についてその特定の実施例の一部に関して説明したが、この分野における当業者であれば、本発明の真の精神及び範囲から逸脱することなしに本発明の開示の実施例に対する種々の変更を行うこと可能である。実質的に同一の結果を得るために実質的に同じ方法で実質的に同じ作用を行う要素及びステップの全ての組み合わせはこの発明の範囲内にある。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】典型的な従来の転がり−払拭タイプの接触機の一部断面側面図である。
【図２】本発明の接触機を構成するいくつかの要素を示す本発明の好ましい実施例の分解図である。
【図３】本発明の接触機を構成するいくつかの要素を示す本発明のブラシの他の実施例の分解図である。
【図４ａ】本発明のローラ、スプール及びブラシの好ましい実施例の側面図である。
【図４ｂ】本発明のローラ、スプール及びブラシの他の実施例の側面図である。
【図５】複数のＤＵＴをテストするために互いに集められた本発明の複数のブラシの斜視図である。
【符号の説明】
【００２５】
１  転がり接触機
３  ローラ
５  外部転がり面
７  車軸
９  内部中心穴
１５  テスト中のデバイス（ＤＵＴ）
２５  ローラブラケット
２７  スプリングアーム
２９ａ，２９ｂ  スプール
３１ａ，３１ｂ  側壁
５９  ブラシ
７１  支持構造
【図１】
2005514605.tif 000003
【図２】
2005514605.tif 000004
【図３】
2005514605.tif 000005
【図４ａ】
2005514605.tif 000006
【図４ｂ】
2005514605.tif 000007
【図５】
2005514605.tif 000008
【国際調査報告】
2005514605.tif 000009
2005514605.tif 000010