(57)【要約】質量分析の分野における前駆イオンを維持しつつフラグメントイオンを増加させた質量スペクトルを得る方法。この技術は、フラグメント化の範囲が生じるような前駆イオンが与えられる衝突エネルギーを変化させることを含む。フラグメントイオンが増加したMS、MS2、MS3、MSｎスペクトルを得るための関連する方法も開示されている。
2005524211.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
イオンをフラグメント化する方法であって、
イオン流を生成するステップと、
前記流れを一定時間にわたって衝突セルに注入し、衝突誘起解離を促進させるステップと、
前記セルに注入を行っているあいだ前記イオン流が受ける衝突エネルギーを変化させるステップと、を含む方法。
【請求項２】
請求項１記載の方法において、前記衝突エネルギーを予め定められたエネルギー範囲で前記衝突エネルギーを変化させる、方法。
【請求項３】
請求項２記載の方法であって、前記エネルギー範囲は、ユーザが予め選択する、方法。
【請求項４】
請求項２記載の方法であって、前記エネルギー範囲を、ユーザが選択した名目衝突エネルギーと予め定めた偏差をもとに決定する、方法。
【請求項５】
請求項１記載の方法であって、前記衝突エネルギーを、予め定めた時間間隔において、最低値と最高値の間で、段階的な形で離散的に変化させる、方法。
【請求項６】
請求項１記載の方法であって、前記衝突エネルギーを、予め決めた一定時間にわたって最低値と最高値の間で、あるいはその逆の値の間で、連続して変化させる、方法。
【請求項７】
請求項１記載の方法であって、前記衝突エネルギーを、前記セルに導入されるイオンの慣性を変えることにより変化させる、方法。
【請求項８】
請求項７記載の方法であって、前記慣性を、前記イオンに与える電位を変えることにより変化させる、方法。
【請求項９】
請求項８記載の方法であって、前記電位を、予め定めたエネルギー範囲にわたって変化させる、方法。
【請求項１０】
請求項９記載の方法であって、前記エネルギー範囲を、ユーザが前もって選択する、方法。
【請求項１１】
請求項９記載の方法であって、前記エネルギー範囲を、ユーザが選択した名目電位および予め定めた偏差をもとに決定する、方法。
【請求項１２】
請求項８記載の方法であって、前記電位を、予め定めた時間間隔で、最低値と最高値の間で、あるいはその逆の値の間で、段階的な形で離散的に変化させる、方法。
【請求項１３】
請求項８記載の方法であって、前記電位を、予め定めた時間にわたって最低値と最高値の間で、あるいはその逆の値の間で、連続して変化させる、方法。
【請求項１４】
請求項７記載の方法であって、前記慣性を、前記衝突セルの前記イオン流に対する圧力勾配を変えることにより変化させる、方法。
【請求項１５】
請求項１４記載の方法であって、前記圧力勾配を、予め定めた圧力範囲にわたって変化させる、方法。
【請求項１６】
請求項１５記載の方法であって、前記圧力範囲を、ユーザが予め選択する、方法。
【請求項１７】
請求項１５記載の方法であって、前記圧力範囲を、ユーザが選択した名目圧力勾配と予め定めた偏差をもとに決定する、方法。
【請求項１８】
請求項１記載の方法であって、前記衝突エネルギーを、前記一定時間にわたって前記セル内の背景ガス圧力を変えることにより変化させる、方法。
【請求項１９】
請求項１８記載の方法であって、前記背景ガス圧力を、予め定めた圧力範囲にわたって変化させる、方法。
【請求項２０】
請求項１９記載の方法であって、前記圧力範囲は、ユーザが予め選択する、方法。
【請求項２１】
請求項１９記載の方法であって、前記圧力範囲を、ユーザが選択した名目背景ガス圧力および予め定めた偏差をもとに決定する、方法。
【請求項２２】
イオンフラグメント化装置であって、該装置は、
イオン流を生成する手段と、
一定時間にわたって前記イオン流を衝突セルに注入し、前記イオンの衝突誘起解離を促進する手段と、
前記セルへ注入している間、前記流れが受ける衝突エネルギーを変化させる手段と、を有するイオンフラグメント化装置。
【請求項２３】
請求項２２記載の装置であって、前記衝突エネルギーを変化させる前記手段は、前記セルに導入されるイオンの慣性を変化させる手段を含む、装置。
【請求項２４】
請求項２３記載の装置であって、前記慣性は、前記イオンに与える電位を変えることにより変化させる、装置。
【請求項２５】
請求項２４記載の装置であって、前記電圧は、予め定めたエネルギー範囲わたって変化させる、装置。
【請求項２６】
質量分析装置であって、該装置は、
線形構成として配置された第１と、第２の四重極ロッドセット、該第１のロッドセットは選択された前駆イオンを分離するように制御し、該第２のロッドセットは、前記第１のロッドセットの周囲よりもかなり高い背景ガス圧力となった衝突室に収容しており、と、
物質をイオン化し、イオン流を第１のロッドセットに注入するイオン化デバイスと、
予め定めたエネルギー範囲にわたって前記イオンに与える衝突エネルギーを変化させるように、イオン流を衝突セルに注入する際に前記イオン流に加える電圧を変化させる手段と、
前記第２のロッドセットから放射されるイオンの質量スペクトルを得るための質量フィルタと、を有する質量分析装置。
【請求項２７】
トリプルステージ四重極質量分析装置であって、該装置は、
線形構成として配置された第１、第２、第３の四重極ロッドセットであって、該第１の四重極ロッドセットは選択された前駆イオンを分離するように制御され、該第２の四重極ロッドセットは前記第１、第２のロッドセットの周囲よりもかなり高い背景ガス圧力となっている衝突室に収容し、該第３のロッドセットはリニアイオントラップとして制御される、第１、第２および第３の四重質量分析装置と、
物質をイオン化し、イオン流を前記第１のロッドセットに注入するイオン化デバイスと、
予め定めたエネルギー範囲にわたって前記イオンが受ける衝突エネルギーを変化させるように前記イオン流を衝突セルに注入する際に該イオン流に加える電圧を変化させる手段と、を有するトリプルステージ四重極質量分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、質量分析装置に関し、特に、すぐれたイオンフラグメント化スペクトルを得ることができる質量分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
質量分析技術は、一般に質量分析計において物理的変化を経たイオンの検出を含む。物理的変化は、しばしば選択した前駆イオンをフラグメント化し、生成されたフラグメントイオンの質量スペクトルを記録することを含む。フラグメントイオン質量スペクトルにおける情報は、前駆イオンの構造を明らかにすることに有用な手がかりとなることがある。タンデム質量分析装置（MS/MSもしくはMS2）のスペクトルを得るために使用される通常の手法は、適切なm/z分析部によって選択した前駆イオンを分離し、解離を誘起させるために、先駆ガスを中性ガスにエネルギーもって衝突させ、フラグメントイオンを質量分析し質量スペクトルを生成するというものである。
【０００３】
三連四重極質量分析装置（TQMS）は、衝突セルと呼ぶフラグメント化ステップ用の加圧された反応領域で隔てられた２台の四重極質量分析部を用いてこれらのステップを実行する。試料混合物として、第１の四重極質量分析部は、所定のイオン、すなわち前駆イオンを背景不活性ガスが封じこめられた衝突セルに選択的に送り込む。フラグメントは、中性ガスあるいは分子との衝突による衝突誘起解離（CID）によって生成される。これらのフラグメントは、第３の四重極質量分析部に送られて質量分析が実施される。前駆イオンの構造を含む化学情報は、これらのフラグメントから得られる。
【０００４】
第１の質量分析器で選択された前駆イオンのフラグメント化の性質は、衝突セル内の前駆イオンが受ける衝突エネルギー（CE）に依存する。CEは、衝突セルに入り、衝突セル内のバックグランドガス圧力をイオンが有しているモーメントの関数、即ち注入エネルギーである。
【０００５】
前駆イオンからより多くの情報を得るため、MSの更に別のステージをさきに概説したMS/MS手法に適用して、三連質量分析装置MS/MS/MS、別称MS３が構成される。例えば、衝突セルはイオントラップとして作動させることができる。イオントラップでは、フラグメントイオンを共鳴により励起し、衝突誘起解離を促進させる。一例として、ダグラス他によって２０００年６月８日に公開されたWO00/33350を参照されたい。この場合、第３の四重極セットは、生成されたフラグメント化スペクトルを記録する質量分析部として機能する。
【０００６】
MS/MSシステムとMS3システムの技術において、最適衝突エネルギーを前駆イオンの帯電状態と質量をもとに選択する。例えば、１９９６年７月発行の米国質量分析学会機関紙６７７−６８１頁に掲載されたHaller他による報告を参照されたい。この情報は理論としては知られているが、最適衝突エネルギーの近似値を求めることは困難とみられ、時間とイオン試料を費やして有用なスペクトルの生成を繰り返し試みることが必要となる。あまりにも高い衝突エネルギーを用いた場合、不必要なフラグメント化が過剰に発生し、前駆イオンが全滅することがある。得られたスペクトルの中に前駆イオンを維持できれば、有用な参照イオンとなる。
【０００７】
フラグメント化ステップを実施する前に、イオンの混合物から前駆イオンを選び出すために質量分析部が普通に使われるようになって、結果として得られる質量スペクトルの分解度が向上した。しかし、前駆イオンの高い分離度は、前駆イオンのフラグメント化のために選択した最適衝突エネルギーを使用することもあって、過度に簡略なスペクトルとなり、そのため有用な情報が得られないことがある。
【発明の開示】
【０００８】
総じて、本発明は、前駆イオンに与える衝突エネルギー（CE）を変化させて前駆イオンの比較的広いフラグメント化範囲を得るシステムおよび方法に関する。１つの値を使用する固定したCEではなく、ある範囲もしくは広がりのCE値が使用される。前駆イオンを維持しながら広い範囲のフラグメントイオンが生成されるように各種の技術を使用することができる。
【０００９】
一面において、本発明では、イオンのフラグメント化方法が提供される。該方法は、（ａ）イオン流を生成し；（ｂ）ある一定時間にわたって前記イオン流を衝突セルに注入してフラグメント化を促進し；前記衝突セルに注入する間にイオン流に与える衝突エネルギーを変化させることを含む。衝突エネルギーは、ユーザが選択することができる予め定めたエネルギー範囲にわたって変化させてもよい。あるいは、ユーザは、名目衝突エネルギーと該名目値のプラスもしくはマイナスサイドの偏差を選択してもよい。衝突エネルギーは、ある一定時間において連続して、あるいは離散的に変化させてもよい。
【００１０】
好適実施例において、衝突エネルギーを、イオンが衝突セルに導入される慣性を変えることにより変化させる。これは前記セルにイオンを注入するためにイオンに印加する電位を変化させることによって達成できる。これに代えて、前記慣性を衝突セルの上流側の圧力勾配を変えることにより変化させることができる。
【００１１】
あるいは、衝突エネルギーは、電位または上流圧力勾配定数を維持しながら、ある一定時間にわたって衝突セル内の背景ガス圧力を変化させることによりコントロールされる。この技術は、きわめて短いタイムフレームにおいて圧力を変化させる実施上の困難があるため目下のところ使用されていない。
【００１２】
別の面において、本発明では、四重極質量分析計は、線形構成で配置した少なくとも第１と第２の四重極ロッドセットと第２のロッドセットに作動的に連結された質量分析部を搭載して提供される。第１の四重極ロッドセットは、選択されたイオンを分離するように構成される。第２の四重極ロッドは、第１のロッドセットよりもかなり高い背景ガス圧力を有する衝突チャンバ内に収容される。衝突チャンバに流入するイオンに与える注入エネルギーを変化させ、それによってイオンに与える衝突エネルギーを変化させるように、第１の四重極ロッドセットと第２の四重極ロッドセット（すなわち衝突チャンバ）の間の電位を変化させる手段が設けられる。前記質量分析部は、飛行時間（ＴＯＦ）型デバイス、四重マスフィルタ、リニアイオントラップ、あるいはこの他の質量スペクトルを得るための手段であってもよい。
【００１３】
更に別の面において、本発明では、四重極質量分析計は、線形構成に配置された第１、第２、第３の四重極ロッドセットを具備して提供される。第１の四重極ロッドセットは、選択されたイオンを分離するように構成される。第２の四重極ロッドセットは、第１と第３のロッドセットよりもかなり高い背景ガス圧力を有する衝突チャンバ内に収容される。第３の四重極ロッドセットは、リニアイオントラップとして構成される。衝突チャンバに流入するイオンに与える注入エネルギーを変化させ、それによってイオンに与える衝突エネルギーを変化させるように、第１の四重極ロッドセットと第２の四重極ロッドセット（すなわち衝突チャンバ）の間の電位を変化させる手段が設けられる。
本発明の上記のおよびそのほかの点は、単に例を示すために、かつ本発明の原理を制限することを意図するものではなく、特定の実施例の以下の説明および添付の図面からより明白になるであろう。
【実施例】
【００１４】
図１は、第１の実施例による質量分析装置１０を示す。周知のように、装置１０は、電気スプレイ、イオンスプレイ、コロナ放電デバイス、あるいはその他の周知のイオン源１２を有している。イオン源１２から供給されたイオンは、開口を設けたプレート１６の開口１４を通るように方向付けされる。前記プレート１６の反対側には、供給源（図示せず）から送られるガスカーテンが供給されるカーテンガスチャンバ１８が設けられている。前記カーテンガスは、適切なイオンスプレイデバイスを開示しているコーネルリサーチファンデーションに付与された米国特許Ｎｏ．４，８６１，９８８に記載されているように、アルゴン、窒素、その他の不活性ガスでよい。この特許の内容は、ここに引用することによって本文書中に取り込まれる。
【００１５】
イオンは、オリフィスプレート２０のオリフィス１９を通って真空チャンバ２１に差動排気される。イオンは更にスキマー（穴あき杓子）プレート２４の開口２２を通って第２の差動排気チャンバ２６に入る。一般的に、差動排気チャンバ２１の圧力は、１−２Ｔｏｒｒほどであり、しばしば質量分析計の第１チャンバと考えられる第２の差動排気チャンバ２６の圧力は、排気により約７−８ｍＴｏｒｒとなっている。
【００１６】
前記チャンバ２６では、従来の高周波オンリー多極イオンガイドＱ０が設けられており、その機能は、イオンを冷却し、収束させるものであり、この機能は、チャンバ２６内の比較的高いガス圧力によってアシストされる。このチャンバ２６は、大気圧イオン源１２と低圧力真空チャンバの間のインターフェースの働きをし、以後の処理に向かう前にイオン源からいっそう多くのガスを除去する働きをする。
【００１７】
インタカッドアパーチャＩＱ１は、第２のメーン真空チャンバ３０からチャンバ２６を分離する。第２のチャンバ３０には、ブルベーカーレンズの役目をするＳＴ（軸方向長さが短いことを示すstubbies−切り株−の略）と名づけた高周波オンリーロッドがある。四重極ロッドセットQ1は、約１〜３×１０−５Torrまで排気した真空チャンバに配置されている。第２の四重極ロッドセットQ2は、符号３４で表示された衝突ガスが供給される衝突チャンバ内に配置されている。衝突セル３２は、内容を本文書に引例として紹介した米国特許NO.６，１１１，２５０でトンプソンとジョリフェが教示する出口端寄りに伸びる軸方向電界を設けるように設計されている。セル３２は、チャンバ３０内にあり、両端にインタカッドアパーチャIQ2とIQ3を有しており、一般的にその内部圧力は５×１０−４〜８×１０−３Torr の範囲に、望ましくは約５×１０−３Torrに保たれている。Q2の次には、３５で示した第３の四重極ロッドセットQ3と、出口レンズ４０が設けられている。Q3内の対向するロッドは、約８．５ｍｍの間隔で隔てられることが望ましい。ただし、実際には、それ以外の間隔も検討されて、使用されている。Q3領域内の圧力は、通常Q1と同じ、即ち１〜３×１０−５Torrである。検出器７６が出口レンズ４０を通って出てゆくイオンを検出するために設けられている。
【００１８】
RF用電源３７、RF/DC用電源３６、RF/DCおよび補助AC用電源３８が設けられ、これらの電源は、四重極Q0,Q1,Q2,Q3に接続されている。Q0は、内容が本文書中に引例として紹介されている米国特許No.４，９６３，７３６が教示するように、イオンを冷却し収束させるRFオンリー多極イオンガイドQ0として作動する。Q1は、標準分解能型RE/DC四重極である。所定の前駆イオンだけあるいはある範囲のイオンだけをQ2に送るためRF/DC電圧が選択される。第１世代のフラグメントイオンを生成するため前駆イオンを解離するか、フラグメント化する目的でソース３４から送られる衝突ガスがQ2に供給される。あるDC電圧がプレートIQ1,IQ2,IQ3および出口レンズ４０に印加される（上述の電源のどれかを使うか、別の電源から供給する）。以下に詳しく説明するように、電源３６、３７および/または３８の出力、および/または前記プレートに印加される電圧を、Q2前駆イオンがQ2に入る際に、前駆イオンの注入エネルギーを変えるために変化させてもよい。Q3は、軸方向イジェクション技術によって質量に依存する仕方でQ3においてイオンをトラップしスキャンアウトするために使用することができるリニアイオントラップとして作動させる。
【００１９】
例示した実施例において、イオン源１２から供給されるイオンは、真空チャンバ３０に導入される。真空チャンバでは、当業界では周知のように、必要に応じて、前駆イオンの質量電荷比（もしくは質量電荷比の範囲）を四重極ロッドセットに印加されるRF+DC電圧を操作することによりQ1を介して選択することができる。前駆イオンの選択に続いて、イオンは、望ましくは、Q1とIQ2との間における適切な電圧降下により加速されてQ2に送られ、米国特許No.５，２４８，８７５が教示するようにフラグメント化が誘起される。この内容はここに引用することにより取り込まれる。注入エネルギーに応じて、DC電圧がQ1とIQ2の間でおよそ０〜１５０V低下する。
【００２０】
フラグメント化の程度は、部分的に衝突セルQ2およびQ1とIQ2との間の電圧差によって制御できる。好適実施例において、Q1とIQ2の間のDC電圧差は、前駆イオンに印加される注入エネルギーを変えるために変化させる。あるいは、Q1とQ2, IQ1とIQ2, IQ1とQ1,  Q0とIQ1のそれぞれの間のDC電圧は、前駆イオンに印加された注入エネルギーを変えるために変化させる。同様に、テーパ状のロッドセットは、テーパの度合いに応じて注入エネルギーを変化させるために使用できる。イオン流が衝突セルに注入されるときにイオン流に印加される電圧を変化させるために他の手段を使うことも可能である。
【００２１】
電圧は、予め定めた一定時間にわたり、予め選択したエネルギー範囲で離散ステップ状に上昇させることが望ましい。エネルギーは、一般的にエレクトロンボルト（eV）で表され、典型的な広がりは、５０eVが可能である。ただし、２０eVのような低い広がり、あるいは高い広がりを実際に使用してもよい。Q1とIQ2の間のDC電圧差は、望ましいエネルギー範囲を準備するように制御する方が好ましい。したがって、電圧の変化は、前駆イオンの質量と帯電状態に依存する。電圧の範囲を決め、IQ2にDC電位を印加する電源を制御するために、これらの計算を実行するソフトウェアプログラムを使用することが好ましい。電圧の範囲は、ステップ状に離散的に適用してもよい。例えば、CEを５０eVの広がりとし、５０msの注入時間において、電圧は、ＣＥを１０ｍｓごとに１０eV増加するようにコントロールできる。あるいは、電圧を５０ｍｓの間に５０eVの範囲で連続的にコントロールできる。これに関して、直線状の、等比級数状の、放物線状の、あるいはその他の線図を使用してもよい。
【００２２】
本好適実施例において、衝突エネルギーの広がりは、ユーザが入力する仕様とすることが好ましい。当業界で周知のことだが、ソフトウェアで最適衝突エネルギーを計算し、ユーザがその値の偏差を、例えば、あるパーセントだけブラスかマイナスして入力することが好ましい。
【００２３】
さらに、電圧を変化させる代わりに、前駆イオンに与えた慣性を、Q0とQ1の間でイオンが受ける圧力勾配を変えることにより変化させてもよい。あるいは、衝突エネルギーは、衝突セル３２内の背景ガス圧力を変えることにより変化させてもよい。しかし、極めて短い時間に急速な圧力変化を設定し、コントロールするには実行上の問題があるのでこれらの方法は、現在のところ取らない方がよい。
【００２４】
慣性とQ2とQ3の間の周囲圧力勾配によって、非解離前駆イオンと共に第１世代のフラグメントイオンは、Q3に送り込まれる。内容が本文書に引例として紹介されたヘイガーが２０００年７月２１日に提出した同時出願中の米国特許出願０９/８６４，８７８で教示しているように、前駆イオンおよび/または第１世代のフラグメントが更に解離が起きる。ただし、例示された実施例では、Q2は、ヘイガーの出願において教示しているようにトラップの働きをしていないことが理解される。しかし、必要なら、前駆イオンおよびフラグメントイオンがQ3に入り、更なる解離を最小限にする運動エネルギーをできるだけ抑制するように適切な圧力の低下あるいは利得がIQ3とQ3の間で確立できる。適切な充填時間のあとで、リニアイオントラップとして機能するQ3内の前駆イオンと第１世代フラグメントをトラップするためブロッキング電圧をIQ3に印加することができる。
【００２５】
一旦Q3にトラップされのち、質量電荷比（m/z）の特定値あるいは範囲を選択するため、前駆イオンおよび第１世代のフラグメントイオンを再度質量分離してもよい。必要なら、選択されたイオンをQ3の低圧力環境において共鳴励起させて第２世代のフラグメントイオン（すなわちフラグメントのフラグメント）を生成させてもよく、あるいは即時譲受人に譲渡される、内容が本文書中に引例として紹介されている同時出願中の特許出願６０／３７０，２０５に詳細に記載されているように、選択された前駆イオンをフラグメント化してもよい。このあとイオンは、リニアイオントラップにおいて質量選択を通してスキャンアウトされ、Q3で第１世代フラグメントあるいは前駆イオンのどちらを解離するかによってMS3もしくはMS2スペクトルが得られる。トラップ、分離、フラグメント化のサイクルを一度以上行うことによりMSｎスペクトル（ｎ＞３）が得られることが理解できる。
【００２６】
内容が本文書中に引例として紹介されている米国特許No.６，１７７，６６８で概ねのところが教示されている軸方向イジェクション技術をなるべくなら使用して、質量依存の方法でイオンをQ3においてスキャンアウトする。手短にいえば、米国特許No.６，１７７，６６８に開示される技術は、ロッドセットの、例えば、四重極ロッドセットの入り口にイオンを注入し、出口部にある障壁電界を設けることにより遠端でイオンをトラップすることを基にしている。RF電界を少なくとも障壁部に隣接するロッドに印加される。該RF電界は、ロッドセットの出口端と障壁部に隣接する取り出し領域において相互に作用して端部電界をつくりだす。取り出し領域にきたイオンは、電圧をかけられて、少なくとも選択された質量電荷比の若干のイオンが障壁電界を越えてロッドセットから軸方向に質量選択的にイジェクトされる。続いてイジェクトされたイオンが検出される。イオンを軸方向にイジェクトするさまざまな技術が教示されている。即ち、端部レンズと障壁に印加される補助AC電界を走査し、一定周波数の補助電圧を端部障壁に印加しながらロッドセットに印加されたRF電圧を走査し、前記レンズにかけたAC電圧および前記ロッドにかけたRF電圧のほかにロッドセットに補助AC電圧を印加するなどである。
【００２７】
各リニアイオントラップは、厳密な幾何学的な構成に基づいた最適軸方向イジェクションのためには幾分か異なった頻度で行ってもよい。出口障壁、および各補助AC電圧を同時に増加すれば、同時出願中の特許出願６０/３７０，２０５に詳細に記述されているようにイオンの軸方向イジェクションの効率を向上させる。
【００２８】
上述の装置による実験データのいくつかを図２と図３を参照しながら以下に説明する。
【００２９】
図２は、グル−フェブリノペプチド（m/z=1570.6）のスキャン結果対CE（collision energy）値の対応に一定のCE値を使用した場合のフラグメント化パターン間の差を示す。CEの広がりをもとにしたアプローチには、２つの中心値が使用された。図２（a）のスペクトルは、CEのエネルギーの広がりを抑えてCEを３０eVに固定した場合を示す。この他のスペクトルは、CEが２０eVの広がりをもつ場合を示す。図２（ｂ）のスペクトルでは、中心値を３０eVとし、図２（ｃ）のスペクトルの中心値を４０eVとした場合を示す。図２（ｂ）と図２（ｃ）で明らかなように、CEを固定したスペクトルと比べて質量が小さいイオンも大きなイオンもともにより多く生成された。双方のケースで、有用な参考イオンや確認イオンとなるm/z=1570.6で残留前駆イオンが存在する。通常、４０eV以上のCE値において、前駆イオンは完全にフラグメント化されるはずである。構造を明確にするうえに、このアプローチは、小さな分子のメタボリズム研究に使用できるし、さらにはフルスキャンモードの定量法研究にも使用できる可能性があろう。
【００３０】
図３は、さまざまなCE値における固定CEスペクトルと比較するブロモクリプチン（m/z-654）のフラグメント化に応用したCEの広がりのスペクトルを示す。図３(a)は、１５〜６０eVの広がりを有するスペクトルをしめす。図３（ｂ）、図３（c）、図３（ｄ）は、それぞれ固定CE値が２０eV,３０eV,５５eVのスペクトルである。固定CEが増加するにつれて、に対応して、小さな質量フラグメントが増加するにつれて、図３（ｄ）の前駆イオン（m/z=654）のロスも増加する。図３（a）示すCEの広がりのスペクトルは、イオンフラグメントが増加し、前駆イオンが維持されるという利益がもたらされている。
【００３１】
CEの広がりをもとにしたアプローチは、イオンがフラグメント化されいずれの質量分析装置にも適用できることが了解されたであろう。例えば、Q3は、飛行時間（TOF）型デバイス、線形磁場型デバイス、四重極質量フィルタ、その他の質量スペクトル形成手段で代替できよう。
【００３２】
上記中性ガス圧力や印加電圧は、いずれも例として示しただけであり、本発明の性能に影響を与えることなしに上記の開示された範囲や値以外で変化させてもよいことが理解できる。本文書に開示された実施例あるいは動作パラメータは、いずれも本発明の実施に対する絶対的な限度を示すものではなく、本出願人は、そのような動作パラメータを従来例で許されるほど広く主張することを意図している。当業者は、本発明の精神から逸脱することなしに本願に開示された実施例に対して、ほかの多くの変形や変更を行うことが可能であることを理解されるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】第１の実施例にもとづく質量分析計のシステム構成図である。
【図２】固定したCE対CEの広がりとの対応を用いてグル−フィブリノペプチドのフラグメント化を示すスペクトル図である。
【図３】一連の固定CE対CEの広がりとの対応を用いてブロモクリプチンのフラグメント化を示すスペクトル図である。
【図１】
2005524211.tif 000003
【図２】
2005524211.tif 000004
【図３】
2005524211.tif 000005
【国際調査報告】
2005524211.tif 000006
2005524211.tif 000007
2005524211.tif 000008