(57)【要約】複数の基本的に同心のトラック（３）を画定するらせん状または環状パターンの形で光学的に読取り可能な情報を記憶するタイプの光ディスク用の信号品質試験装置が開示されている。該装置は、レーザ光源（２１）と、このレーザ光源からのレーザビームスポットを光ディスクの表面上に投射し、投射されたレーザビームスポットをトラックの少なくともいくつかを横断し、ディスク表面の一部分全体にわたり半径方向に移動させる駆動機構（２２）とを有している。光検出器（２１）が、投射されたレーザビームスポットからの反射を、その移動中（６４）に検出する。光検出器は、それぞれのトラックを横断して移動するレーザビームスポットの通過に関連づけられた時間変化型測定信号（ＨＦ）を生成する。処理デバイス（４０）は、光ディスクの選択された部分の信号振幅を測定し、ピットおよびランドの環状パターンについての相対的信号強度および対称性といったような主要パラメータからなる出力を送出する。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の同心トラック（３）を画定するらせん状または環状パターン（２）の形で光学的に読取り可能な情報を記憶するタイプの光ディスク（１）用の信号品質試験装置において、
光学読取りデバイス（２１）と、
前記トラック（３）の少なくともいくつかを横断してディスク（１）の表面の一部分全体にわたり半径方向に光学読取りデバイス（２１）を移動させるように適合された駆動機構（２２）と、
前記光学読取りデバイスから受信した時間変化型測定信号の部分を選択するように適合された処理デバイス（４０）であって、該測定信号はそれぞれのトラックを横断する移動式光学読取りデバイスの通過に関連づけられているデバイスと、
を特徴とする信号品質試験装置。
【請求項２】
処理デバイス（４０）が、前記トラック内の前記信号情報に関連する少なくとも１つの信号パターンを識別すべく、前記部分の中の信号振幅を測定するように適合されている請求項１に記載の信号品質試験装置。
【請求項３】
処理デバイス（４０）が、光学読取りデバイス（２１）と該処理デバイスとの間に動作的に結合されたアナログ−デジタル変換器（３０）から前記測定信号を受信する請求項１または２に記載の信号品質試験装置。
【請求項４】
前記処理デバイスが、プログラム命令および／または測定データを記憶するためのメモリ手段（４５ａ，ｂ，ｃ）をさらに含んでなる請求項１〜３のいずれか一項に記載の信号品質試験装置。
【請求項５】
前記処理デバイス（４０）が、ＦＰＧＡ型のコントローラ（４１）を含んでなる請求項１〜４のいずれか一項に記載の信号品質試験装置。
【請求項６】
前記処理デバイス（４０）が、ＡＳＩＣ型のコントローラ（４１）を含んでなる請求項１〜４のいずれか一項に記載の信号品質試験装置。
【請求項７】
前記処理デバイス（４０）が、マイクロプロセッサ型のコントローラ（４１）を含んでなる請求項１〜４のいずれか一項に記載の品質試験装置。
【請求項８】
複数の同心トラック（３）を画定するらせん状または環状パターン（２）をもって光学的に読取り可能な情報を記憶するタイプの光ディスク（１）の信号品質を試験するための方法において、
前記トラック（３）の少なくともいくつかを横断して光ディスク（１）の表面の少なくとも一部分全体にわたり半径方向に光学読取りデバイス（２１）をスキャンする段階（６０）と、
それぞれのトラックを横断する光学読取りデバイスの通過に関連づけられた時間変化型測定信号を生成する段階（６４）と、
信号トラックに関係する情報を含む前記測定信号の少なくとも一部分を選択する段階（６６）と、
を特徴とする方法。
【請求項９】
前記トラック内の情報に関連づけられた少なくとも１つのビットパターンを識別すべく、前記部分の中の信号振幅を測定する段階（６８）をさらに含んでなる請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記測定信号の前記部分が、ラジアルスキャンに関連する効果について補償されている請求項８または９に記載の方法。
【請求項１１】
前記補償は、前記測定信号に対し逆包絡線信号を適用する段階（６８）を含む請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記ビットパターンが、少なくとも第１のＩ3ビットパターンである請求項８〜１１のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１３】
前記ビットパターンが、少なくとも第１のＩ11またはＩ14ビットパターンである請求項８〜１１のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１４】
前記ビットパターンが、少なくとも第１のＩTOPビットパターンである請求項８〜１１のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１５】
ラジアルスキャンを実施する速度が、トラック速度より遅い請求項８〜１４のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１６】
Ｉ3／ＩTOPとＩ11／ＩTOPの比を計算する段階をさらに含んでなる請求項８〜１５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１７】
Ｉ3およびＩ11信号成分の対称性のレベルを決定する段階をさらに含んでなる請求項８〜１６のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１８】
プロセッサ（４１）に付随する内部メモリ（４５ａ，ｂ，ｃ）に直接ロードできるコンピュータプログラムプロダクトにおいて、前記プロセッサは、光学読取りデバイス（２１）と、時間変化型測定信号を生成すべく少なくともいくつかの前記トラックを横断してディスク（１）の表面の一部分全体にわたり半径方向に光学読取りデバイス（２１）を移動させるように適合された駆動機構（２２）とに結合されており、前記ディスクは、複数の同心トラック（３）を画定するらせん状または環状パターン（２）をもって光学的に読取り可能な情報を記憶するタイプのものであり、前記メモリは、前記プロセッサによって実行されたとき、時間変化型測定信号の少なくとも一部分を選択するためのプログラムコードを含んでなるコンピュータプログラムプロダクト。
【請求項１９】
コンピュータ読取り可能媒体上に実現された請求項１８に記載のコンピュータプログラムプロダクト。
【請求項２０】
メモリ（４５ａ，ｂ，ｃ）とプロセッサ（４１）とを有するコンピュータにおいて、前記プロセッサは、光学読取りデバイス（２１）と、時間変化型測定信号を生成すべく前記トラック（３）の少なくともいくつかを横断してディスク（１）の表面の一部分全体にわたり半径方向に光学読取りデバイス（２１）を移動させるように適合された駆動機構（２２）とに結合されていて、前記メモリは、前記プロセッサによって実行されたとき、時間変化型測定信号の少なくとも一部分を選択するためのプログラムコードを収納するコンピュータ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
一般に、本発明は、光学的データキャリヤのための試験機器、より特定的には、基本的に同心の複数のトラックを画定するらせん状または環状パターンの形で光学的に読取り可能な情報を記憶するタイプの光ディスク用の、異なるトラックを読取ることにより受信した振幅パラメータを測定するための装置および方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えばプログラムファイルおよびデータファイルといったようなコンピュータ用の音楽、画像またはデジタルデータを表わす極めて大容量のデジタル情報を記憶するためには、光学的データ担体が使用される。最も一般的なタイプの光学的データキャリヤは、複数の異なるデータフォーマットで利用可能なコンパクトディスクであり、その中でもＣＤ−Ａｕｄｉｏ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−ＲＯＭ  ＸＡ、ＣＤ−Ｉ、ＣＤ−Ｒ、およびＣＤ−ＲＷが最も一般的なものである。コンパクトディスクのための規格は、数十年前に確立されており、それ以来ずっと使用されている。近年では、より精巧なタイプの光学的データ担体が導入された。すなわちＤＶＤ（デジタル多用途ディスク）およびＳＡＣＤ（スーパーオーディオＣＤ）である。
【０００３】
以上のコンパクトディスクの一般的な特徴は、それらが、小さい表面上に非常に大量の情報を記憶するという点にある。デジタル情報はレーザビームを用いて高い精度で読取られ、情報が誤り訂正符号化方法に従ってコンパクトディスク上に記憶される場合であっても、コンパクトディスクの生産における品質検査を可能にする大きい需要が、コンパクトディスクのメーカーおよび販売業者の間に存在している。コンパクトディスク間で、主としてその情報担持層の中において、誤りおよび欠陥の数を確実に最小限におさえるためには、ＣＤについてはフィリップスおよびソニーから、そしてＤＶＤについてはＤＶＤグループからの仕様を履行することが絶対必要条件となっている。
【０００４】
コンパクトディスクの品質検査をする場合、物理的パラメータ（例えば歪度、偏心度、クロストークなど）と論理的誤り（さまざまなビットレート誤り、ブロック誤りおよびバースト誤り）との両方を含めさまざまなパラメータが測定され、記録される。その他の重要なパラメータは、コンパクトディスクの透明なプラスチック層内の複屈折度およびいわゆるジッタすなわちコンパクトディスクを読取りまたは再生している時に得られる信号内の統計的時間変動である。その上、光ディスクの品質に関連した非常に重要なパラメータは、光ディスクを読取るときに得られる信号振幅である。
【０００５】
一般に知られているように、通常のオーディオＣＤは、直径１２ｃｍで、厚み約１．２ｍｍのプラスチックディスクをベースにしている。このプラスチックディスクは通常、透明ポリカーボネートプラスチックの射出成形部品として製造される。製造中、プラスチックディスクには、ＣＤ上に記憶された情報を表わす単一の連続したらせんパターンとして配置された微視的なバンプが施される。この微視的バンプのらせん状パターンを施すためには、スタンパが用いられる。ポリカーボネートディスクの透明部品がひとたび形成されると、薄い反射性のアルミニウム層がディスク上にスパッタリングされ、かくしてバンプのらせんパターンをカバーする。次に、薄い感光性重合体層がアルミニウムに塗布されてこれを保護する。最後に、感光性重合体層の上にＣＤラベルが印刷される。
【０００６】
らせんパターン内のバンプは、アルミニウム層から見たときそのように見えることから通常ピットと呼ばれている。隣接するピット間の領域は、通常、ランドまたは平面領域と呼ばれる。
【０００７】
連続するらせんパターンの各回旋または回転が円形トラックを形成し、このトラックは、らせんパターンの後続する回旋または回転と同心である。従って、ＣＤは、実際には単一の連続するらせんパターンで互いに結合されているとしても、複数の円形トラックを有するものとして描写されることがよくある。ＣＤは約２２，０００本のトラックを有し、一方ＤＶＤは約５０，０００本のトラックを有する。
【０００８】
図１は、そのピットおよび平面領域の単一の連続らせんパターン２を伴う、ＣＤまたはＤＶＤといった光ディスク１を例示している。記述したとおり、らせんパターンは複数の基本的に同心の円形トラック３を形成している。光ディスク１は、光ディスク１を回転させるべくドライブスピンドルと係合するための中心開口部５を有する。
【０００９】
図２は、いくつかのトラック３をさらに詳細に例示している。ピット（またはバンプ）は６として表わし、一方中間平面領域（またはランド）は７として示す。
【００１０】
すでに言及した通り、ＣＤを製造する際にはスタンパが用いられる。ディスクマスターがスタンパの幾何学的原点であり、ガラスディスク上にフォトレジストまたはその他の除去可能な材料の薄層を塗布することにより製造可能である。マスター製造デバイスが、ガラスディスクの中心からその周囲に向かって半径方向に連続して移動させられ、最終製品、すなわちＣＤ上のピットおよび平面領域の所望のらせんパターンに対応するパターンでフォトレジスト層を露出させる。明らかに、ピットが光ディスク上のランドから明確に区別可能であることがきわめて重要である。より具体的には、光ディスクを読取る場合に、異なるサイズのピットを適切に識別することが必要である。
【００１１】
スタンパのピットは、読取りのために最適化されていないことから、スタンパを読取るときに生成されるＨＦ信号は、結果としてディスクから得られるＨＦ信号とは異なっている。
【００１２】
光ディスクを製造するとき、各生産ラインは、スタンパとディスクとの間でいかにピット構造が影響されるかということに関してそれぞれの特性を有している。従って、信号出力の関係は、これら生産ライン間で異なっている。ＣＤについては、信号レベルに関する仕様が存在する。上述の通りの異なる生産ライン特性に起因して、規格を確立することがほぼ不可能であることから、スタンパについては対応する規格は全く存在しない。従って、製造されたディスクを読取るときに得られる信号レベルを、スタンパのみを検査することによって予測するのは困難である。
【００１３】
従って、光ディスクの正しい読取りには相当微弱な信号レベルを検出できることが強く望まれている。
【００１４】
今日、異なるピット長に伴う信号レベルを測定するために、ディスク全体が読取られている。特に、いわゆるＩ3およびＩ11レベルが重要である。Ｉ3およびＩ11レベルが低すぎる場合には、光ディスク上に記憶された情報の正しい読取りを得ることがむずかしくなるために、復号器の問題が生じるであろう。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
本発明は、光ディスク用の異なるピットサイズに関係する信号振幅パラメータを測定する、高速で自動化された方法を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
この目的は、特許請求の範囲の独立請求項による装置および方法によって達成される。
【００１７】
好ましい実施形態によると、複数の基本的に同心のトラックを画定するらせん状または環状パターンをもって光学的に読取り可能な情報を記憶するタイプの光ディスク用の信号品質試験装置が提供される。該装置は、レーザ光源と、このレーザ光源からのレーザビームスポットを光ディスクの表面上に投射する駆動機構と、を有する。さらに、駆動機構は、投射されたレーザビームスポットを、トラックを横断してディスク表面の全体にわたり半径方向に移動させる。光検出器が、その移動中に、投射されたレーザビームスポットからの反射または１次回折を検出するように配置されている。光検出器は、それぞれのトラックを横断して移動するレーザビームスポットの通過に関連づけられた時間変化型測定信号を生成する。付随するソフトウェアを有するマイクロプロセッサ（ＣＰＵ）といったような処理デバイスまたはコントローラが、全ての時刻に測定信号の振幅を決定し、これに応答して、ピットおよびランドの環状パターンについての相対的信号強度および対称性といったような主要パラメータを表わす出力を提供する。
【００１８】
本発明のその他の目的、特徴および利点は、以下の好ましい実施形態の詳細な開示からより明確になることだろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
本発明の好ましい実施形態について、添付の図面を参照しながら記述する。
【００２０】
図３は、好ましい実施形態による品質試験装置の概覧を示す。スピンドルモータ９および回転可能なスピンドル１０の形をしたディスクドライブ９，１０が、当該技術分野において周知の要領で図３中１１で示された方向に光ディスク１を回転させるようになっている。レーザスキャンユニット２０が光ディスク１の一方の表面の近くに配置され、図３中に１２で示す通り、光ディスク１の半径方向に移動可能である。レーザスキャンユニット２０は、光ディスク１の表面にレーザ光の半径方向に掃引するビームを照射し、光ディスクの表面からの反射を検出し、それに応答して時間変化型測定信号を生成し、図中にＨＦ、つまり高周波と図示された信号を提供するように動作する。ラジアルスキャン（半径方向走査）中、光ディスク１はディスクドライブ（スピンドルモータ９およびスピンドル１０）によって回転状態に保たれることになる。
【００２１】
上述のように、レーザスキャンユニット２０は、図３に示す方向１２に光ディスク１の表面に沿ってレーザスキャンユニット２０の光学アセンブリまたは光学読取りデバイス２１を半径方向に移動させるための機械的駆動手段２２を収納している。しかしながら、かかる機械的駆動手段２２はそれ自体、本技術分野では周知のものであり、実際の利用分野に応じて（電動モータおよび機械的キャリッジ装置といったような）適切な機械的および電気的コンポーネントを選択することは当業者の手に委ねられる。基本的に、所望の半径方向で高い精度でレーザスキャンユニット２０の光学コンポーネント２１を移動させる能力をもつあらゆる機器が使用できる。さらに、さまざまな市販のコンポーネントの中からレーザ源を選択することができ、このレーザ源は、例えば約８００ｎｍという所望の波長範囲内で動作することができる。
【００２２】
レーザスキャンユニット２０からの時間変化型出力信号ＨＦは、図４ａに見られるような２つの主信号成分からなる。第１の低周波包絡線信号は、光ディスク１のトラックを交叉する表面全体にわたり半径方向に移動する時にレーザスキャンユニット２０が投映するスポットに由来する反射ビームの強度変動から発生する。スポットがピット６の中心にあるとき、反射ビームの強度は最小となり、スポットが隣接するピット６またはトラック３との間の中間平坦領域の中心にあるとき、反射ビームの強度は最大となる。
【００２３】
第２の高周波情報信号は、トラック３の中に存在する実際のピット６およびランド７領域の吸収および反射から発生する。
【００２４】
図４ａを見れば分かるように、高周波情報信号は、低周波包絡線信号によってＡＭ変調される。この変調は、高周波情報信号が低周波信号により対称的に変調されずむしろ、振幅についてのほぼ固定された上限４０１と、包絡線信号により変調される振幅下源４０２とを有する、という意味で特殊である。
【００２５】
図５は、複合ＨＦ−信号を生成するための基礎をなす原理のより詳細な図である。レーザスキャンユニット２０のラジアルスキャン機構が光ディスク１の表面を横断してラジアルスキャン方向５４に光学読取りデバイス２１を移動させる場合、レーザスキャンユニット２０から結果として得られる出力信号ＨＦは、図４ａおよび図５に見い出される２つの主として正弦波の信号成分を含むことになる。上述のように、低周波包絡線信号は、スキャンレーザビームがピット６の中心を横断して通過する毎に局所的最小に達し、レーザビームが隣接ピット６間のランド領域を通過するとき局所的最大に達することになる。トラック全体を通過する間、包絡線信号は、上述のようにピットおよびランド領域を通過することによって生じる高周波信号をＡＭ変調することになる。レーザスポットが実際のトラック３よりも大きい直径をもつという事実に起因して、２つの隣接するトラック３間をスポットが通過すると不適切な高周波信号が生成されることになる、すなわち高周波信号は両方の隣接するトラック３からの情報を含むことになる。
【００２６】
この状況下で、トラック速度、すなわちディスク１が回転しているときに読取りデバイス２１を通過してピットが移動する速度は、ディスク１の半径方向に移動するときのレーザスキャンユニット２０の速度（すなわちラジアルスキャン速度）よりもはるかに高いということが分かる。この速度差により、読取りデバイス２１は、ピットおよびランドのシーケンスを検出するのに十分な時間、トラック３上に集中させられる。従って検出されたピットの量は、ラジアルスキャン速度ならびにトラック速度に大きく依存するものとなる。好ましい実施形態においては、５〜２０ピットのシーケンスが、以下に記述する測定手順を実施するのに十分である。
【００２７】
好ましい実施形態においては、複合信号は、サンプリングされ、さらなる処理の前にアナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）３０によりデジタル形態に変換される。こうすることにより、ハードウェアの修正なしにデジタル領域内で新しい機能および計算アルゴリズムを実施できるため、アナログ相当のものではなくむしろデジタル領域で複合信号のその後の処理がより容易に行われることから、システムの柔軟性は増大する。
【００２８】
このとき、複合信号は、図３に示すように、コントローラ４１と、ＲＡＭメモリ４５ａと、ＲＯＭメモリ４５ｂと、ハードディスク４５ｃと、からなる処理デバイス４０の中に受信される。コントローラ４１はまた、キーボード４６およびマウス４７といったような入力デバイス、ならびに表示装置４８といったような出力デバイスにも接続されている。以下でさらに詳細に記述するように、コントローラ４１は、好ましい実施形態において、メモリ４５ａ、４５ｂまたは４５ｃのいずれかに記憶されているプログラム命令を実行することによって、品質試験アルゴリズムを実行することになる。品質試験アルゴリズムは、レーザスキャンユニット２０によって得られる時間変化型測定信号（ＨＦ）に応答して、振幅パラメータについて光ディスク１の品質に関する尺度を決定することになる。
【００２９】
コントローラ４１は、任意の市販のマイクロプロセッサによって実現され得る。代替的には、例えば特定用途向け集積回路（ＡＳＩＣ）またはフィールドプログラマブルゲートアレイ（ＦＰＧＡ）といった別の適切なタイプの電子論理回路が、コントローラ４１に置換しうる。これに対応して、メモリ４５ａ、４５ｂ、４５ｃ、入力デバイス４６、４７および出力デバイス４８は全て、市販のコンポーネントにより実現できるので、ここでは詳述しない。
【００３０】
分かりやすいように、以下で記述する品質試験アルゴリズムは、異なる機能ブロックに分割される。しかしながら、これらのブロックは、ハードウェアでもソフトウェアでも実現可能であるという点を強調しておく。
【００３１】
正確な測定を行うために、光ディスク１の回転速度は光学読取りデバイス２１の半径方向位置に適合されなくてはならない。これは、光学読取りデバイス２１がディスク１の中心から外側に移動するにつれて、ピットがより高速に光学読取りデバイスを通過していくからである（ピットの接線速度はディスクが回転している速度×半径に等しい）。一変形形態として、接線速度と半径方向位置との関係が分かっていることから、処理デバイス４０は異なる半径位置での読取り値から生じた効果をその後補償することができる。
【００３２】
ＡＤＣ３０からの信号は、選択ブロック４２内に供給され、ここで複合信号から関連情報信号の部分が抽出される。信号包絡線は、レーザスポットがトラック３の中心にあるかまたは２つのトラック３の間（すなわち、ランド）のどこかにあるかについての情報を提供することから、選択ブロック４２は、関連情報が存在している時間ウィンドウを画定することができる。図４ａは、包絡線信号により画定されたタイムスロットｔR1−ｔRiのシーケンス内に単一のトラックに関係する関連情報が存在している複合信号を例示している。タイムスロットｔN1−ｔNiにより画定された信号の残りの部分は、２つの隣接するトラックからの情報の混合である信号情報を含む、すなわち、該信号のこの部分にはいかなる関連情報も存在しない。
【００３３】
選択ブロック４２内での処理後、信号は、図４ｂで示す波形を有している。図４ｂから分かるように、タイムスロットｔR内に存在する複合信号のその後の処理および評価のために、タイムスロットｔNを使用することができる。関連信号部分の選択は、デジタル領域内でもアナログ領域内でも実行できるということを、ここで強調しておく。後者の例としては、制御可能なスイッチが、ＡＤＣ３０内に信号を供給する前に、信号の関連部分を選択することができる。
【００３４】
次のブロックである測定ブロック４３は、選択ブロック４２から関連信号情報のシーケンスを受信する。関連信号部分の信号レベルの測定を単純化するため、情報信号に対し逆包絡線関数が適用される。この手順により、タイムスロットｔR内の信号レベルは、タイムスロット内のどこで測定が行われるかとは無関係に同じ基準電圧をもつことになる。図４ｃは、包絡線補償後の関連信号情報を示す。ここにおいて、アナログ領域からデジタル領域への変換が、信号の処理前になされることから、好ましい実施形態による図４ａ〜４ｃ中に示す信号は２進数の形態をしている、ということが分かる。しかしながら、明確さのために、信号はアナログ信号として例示する。
【００３５】
包絡線補償の後、処理デバイス４０は、サンプリングおよび補償を受けた情報信号の値を全ての時刻について調査することによって、信号振幅を測定する。情報信号は、好ましくはＲＡＭメモリ４５ａ内またはハードディスク４５ｃに記憶される。
【００３６】
処理デバイス内の識別ブロック４４は、長さ３Ｔ、１１Ｔまたは１４Ｔ（ＤＶＤ）レベルのピット間距離またはピットにより生成されたいずれかのＩ3またはＩ11信号成分が実際のタイムスロットｔR内に存在するか否かを、決定する。最上値ＩTOPもまた、Ｉ3／ＩTOPおよびＩ11／ＩTOPの比を生成するために、決定される。信号レベルＩ3／ＩTOPＩ11／ＩTOPは、複数のタイムスロットからの情報に基づいている。
【００３７】
信号の中間点レベルに対するＩ3およびＩ11信号レベルの対称性も、（Ｉ3MID−Ｉ11MID）／Ｉ11という式によって決定される。対称性＝０は、Ｉ3およびＩ11信号の中間点が同じレベルにある場合に、得られる。信号が非対称である場合に復号器の問題が生じることになるため、信号の対称性は不可欠である。
【００３８】
図６を参照すると、図３のコントローラ４１は、好ましい実施形態において、メモリ４５ａ、４５ｂまたは４５ｃのいずれかに記憶されたプログラム命令セットを読取り、かつそのプログラム命令を逐次実行することによって、品質試験アルゴリズムを実施するようにプログラミングされている。図６のフローチャートにおいては、導入ステップ６０、６２および６４は、上述のように、レーザスキャンユニット２０およびアナログ−デジタル変換器３０により実施される動作を表わしている。
【００３９】
次に、ステップ６６では、選択ブロック４２は、複合信号を検査し、レーザスポットが１つのトラック上または２つの隣接トラック間のいずれで集束させられるかを判断する。情報信号を遮断し包絡線信号を通過させることになる複合信号のローパスフィルタリングの結果、複合信号から包絡線信号が抽出されることになる。例えば、包絡線信号の導関数を検査することにより、選択ブロック４２は、関連する高周波情報が見い出される、包絡線信号の最低値にあるか否かを判断することができる。包絡線信号の周波数は一定であるか、または少なくとも既知であることから、選択ブロック４２は、最低値をとり囲む複合信号の一部分を選択するウィンドウ関数を複合信号に適用することができるようになる。
【００４０】
ステップ６８では、複合測定信号の選択された部分は、測定ブロック４３に供給され、このブロックは、全ての時刻における信号の振幅を決定するため、サンプリングしアナログ−デジタル変換した信号を検査することになる。情報信号の処理は、Ｉ3、Ｉ11およびＩTOPの信号レベルの検出を単純化するため、信号の選択された部分に対して逆包絡線信号を適用することによって開始する。
【００４１】
次に、ステップ７０では、測定ブロック４３は、識別ブロック４４に、情報信号内に発見された異なる振幅値に関する情報を提供する。上述したとおり、振幅値は、トラック３内に見い出される異なるピット長に直接関係する。このとき、識別ブロック４４は、シーケンス内に発見される異なる振幅値を識別する。
【００４２】
ステップ７２では、識別ブロック４４が、シーケンス内にＩ3、Ｉ11またはＩTOPのいずれかの成分値が存在するか否かを判断する。好ましい実施形態においては、識別ブロックは、ピットおよびランドの１またはそれ以上のシーケンスからの情報すなわち複数のトラックからの情報、を使用する。
【００４３】
もしいずれの値も存在しない場合、実行は始めのステップ６２に戻される。一方、シーケンス内に関連する振幅値のいずれかが発見された場合、計算ブロック４９は、Ｉ3／ＩTOPおよびＩII／ＩTOP値を計算する。計算ブロック４９はまた、信号が共通バイアスレベルに対して対称であるか否かを決定するために、Ｉ3およびＩ11値も検査する。信号が対称性を示さない場合、コントローラ４１は警報を発生するか、またはステップ７４で例えば表示装置４８を通して別のタイプの出力を送出してもよい。代替的には、コントローラ４１は、このような検出された全ての対称性誤りおよびその他の出力データを後にオフライン使用できるようハードディスク４５ｃに単にログオンすることもできる。
【００４４】
以上の記述は、基本的に多数の同心相互接続トラックを形成する、ピットおよび平面領域の単一の連続したらせんパターンを有する光ディスクについて言及しているものの、本発明はまた、単一のらせんパターンではなく複数の連結されていない円形または環状の情報トラックを含むその他の光学媒体にも適用され得るということを想定している。
【００４５】
また、（光ディスクまたは光磁気ディスク、磁気ハードディスク、電子メモリといった）適切な記録媒体上にコンピュータ読取り可能な形で記憶されかつ／またはコンピュータ化されたネットワークを横断して光学、電気または電磁信号として伝送され、かつコンピュータによって読取られ実行された場合に本発明による方法を実施することになる複数のプログラム命令を含むコンピュータプログラムプロダクトとして本発明の品質試験方法を実施することもできるということも想定している。
【００４６】
本発明は、好ましい実施形態を基準にして以上で記述されてきた。しかしながら、上述のもの以外の実施形態も同じく、添付の請求項により定義されているような本発明の範囲内で可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】光ディスクおよび複数の同心トラックを形成する連続らせんパターンの概略を示す図である。
【図２】図１の光ディスク上のトラックのうちの数本の小さい領域の概略を示す図である。
【図３】本発明による光ディスクのための品質試験装置の概略ブロック図である。
【図４ａ】処理チェーン内の異なる部分で測定された信号の外形を示す図である。
【図４ｂ】処理チェーン内の異なる部分で測定された信号の外形を示す図である。
【図４ｃ】処理チェーン内の異なる部分で測定された信号の外形を示す図である。
【図５】本発明の好ましい実施形態にて使用可能である１ビーム・ラジアルスキャン検出の原理を示す図である。
【図６】本発明による品質試験方法の概略フローチャートである。
【図３】
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【図５】
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【図６】
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【国際公開パンフレット】
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【手続補正書】
【提出日】平成15年11月5日(2003.11.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の同心トラック（３）を画定するらせん状または環状パターン（２）の形で光学的に読取り可能な情報を記憶するタイプの光ディスク（１）用の信号品質試験装置において、
光学読取りデバイス（２１）と、
前記トラック（３）の少なくともいくつかを横断してディスク（１）の表面の一部分全体にわたり半径方向に光学読取りデバイス（２１）を移動させるように適合された駆動機構（２２）と、
前記光学読取りデバイスから受信した時間変化型測定信号の部分を選択するように適合された処理デバイス（４０）であって、該測定信号はそれぞれのトラックを横断する移動式光学読取りデバイスの通過に関連づけられ、ここに該処理デバイスは前記部分の中の信号振幅を測定するように適合されているデバイスと、
を特徴とする信号品質試験装置。
【請求項２】
前記トラック内の前記信号情報に関連する少なくとも１つの信号パターンを識別すべく、前記部分の中の信号振幅を測定するように適合されている請求項１に記載の信号品質試験装置。
【請求項３】
処理デバイス（４０）が、光学読取りデバイス（２１）と該処理デバイスとの間に動作的に結合されたアナログ−デジタル変換器（３０）から前記測定信号を受信する請求項１または２に記載の信号品質試験装置。
【請求項４】
前記処理デバイスが、プログラム命令および／または測定データを記憶するためのメモリ手段（４５ａ，ｂ，ｃ）をさらに含んでなる請求項１〜３のいずれか一項に記載の信号品質試験装置。
【請求項５】
前記処理デバイス（４０）が、ＦＰＧＡ型のコントローラ（４１）を含んでなる請求項１〜４のいずれか一項に記載の信号品質試験装置。
【請求項６】
前記処理デバイス（４０）が、ＡＳＩＣ型のコントローラ（４１）を含んでなる請求項１〜４のいずれか一項に記載の信号品質試験装置。
【請求項７】
前記処理デバイス（４０）が、マイクロプロセッサ型のコントローラ（４１）を含んでなる請求項１〜４のいずれか一項に記載の品質試験装置。
【請求項８】
複数の同心トラック（３）を画定するらせん状または環状パターン（２）をもって光学的に読取り可能な情報を記憶するタイプの光ディスク（１）の信号品質を試験するための方法において、
前記トラック（３）の少なくともいくつかを横断して光ディスク（１）の表面の少なくとも一部分全体にわたり半径方向に光学読取りデバイス（２１）をスキャンする段階（６０）と、
それぞれのトラックを横断する光学読取りデバイスの通過に関連づけられた時間変化型測定信号を生成する段階（６４）と、
信号トラックに関係する情報を含む前記測定信号の少なくとも一部分を選択する段階（６６）と、
前記部分の中の信号振幅を測定する段階（６８）と、
を特徴とする方法。
【請求項９】
前記部分の中の信号振幅から、前記トラック内の情報に関連づけられた少なくとも１つのビットパターンを識別する段階（７０）をさらに含んでなる請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記測定信号の前記部分が、ラジアルスキャンに関連する効果について補償されている請求項８または９に記載の方法。
【請求項１１】
前記補償は、前記測定信号に対し逆包絡線信号を適用する段階（６８）を含む請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記ビットパターンが、少なくとも第１のＩ3ビットパターンである請求項８〜１１のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１３】
前記ビットパターンが、少なくとも第１のＩ11またはＩ14ビットパターンである請求項８〜１１のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１４】
前記ビットパターンが、少なくとも第１のＩTOPビットパターンである請求項８〜１１のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１５】
ラジアルスキャンを実施する速度が、トラック速度より遅い請求項８〜１４のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１６】
Ｉ3／ＩTOPとＩ11／ＩTOPの比を計算する段階をさらに含んでなる請求項８〜１５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１７】
Ｉ3およびＩ11信号成分の対称性のレベルを決定する段階をさらに含んでなる請求項８〜１６のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１８】
プロセッサ（４１）に付随する内部メモリ（４５ａ，ｂ，ｃ）に直接ロードできるコンピュータプログラムプロダクトにおいて、前記プロセッサは、光学読取りデバイス（２１）と、時間変化型測定信号を生成すべく少なくともいくつかの前記トラックを横断してディスク（１）の表面の一部分全体にわたり半径方向に光学読取りデバイス（２１）を移動させるように適合された駆動機構（２２）とに結合されており、前記ディスクは、複数の同心トラック（３）を画定するらせん状または環状パターン（２）をもって光学的に読取り可能な情報を記憶するタイプのものであり、前記メモリは、前記プロセッサによって実行されたとき、時間変化型測定信号の少なくとも一部分を選択するためのプログラムコードと、該プロセッサによって実行されたとき、前記部分の中の信号振幅を測定するためのプログラムコードとを含んでなるコンピュータプログラムプロダクト。
【請求項１９】
コンピュータ読取り可能媒体上に実現された請求項１８に記載のコンピュータプログラムプロダクト。
【請求項２０】
メモリ（４５ａ，ｂ，ｃ）とプロセッサ（４１）とを有するコンピュータにおいて、前記プロセッサは、光学読取りデバイス（２１）と、時間変化型測定信号を生成すべく前記トラック（３）の少なくともいくつかを横断してディスク（１）の表面の一部分全体にわたり半径方向に光学読取りデバイス（２１）を移動させるように適合された駆動機構（２２）とに結合されていて、前記メモリは、前記プロセッサによって実行されたとき、時間変化型測定信号の少なくとも一部分を選択するためのプログラムコードを収納し、かつ、該メモリは、前記部分の中の信号振幅を測定するためのプログラムコードを収納するコンピュータ。
【国際調査報告】
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