(57)【要約】  タッチスクリーン校正システムおよび方法が、信号をタッチスクリーンの端子に加え、校正インピーダンスをそれらの端子に適用する。端子に適用される校正インピーダンスの影響が感知される。各端子に対するＸ、Ｙ位置が校正インピーダンスの適用によって計算され、各端子に対するオフセット誤りが計算され、適用されて、測定されたタッチ位置に対する補正済みのタッチ位置を得る。また、利得誤りが各端子に対して計算され、適用されて、補正済みのタッチ位置を得ることができる。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の端子を備えるタッチスクリーンと、
少なくとも１つの信号を前記端子に加え、前記タッチスクリーン上のタッチに因る前記信号への影響を感知するための制御回路と、
校正インピーダンスを前記タッチスクリーンに適用するためのスイッチング回路と、
前記校正インピーダンスの適用によって測定誤りを計算し、タッチに応答して、前記測定誤りを適用して、測定されたタッチ位置から補正済みのタッチ位置を得るように構成されるマイクロプロセッサと、
を備える、タッチスクリーン校正システム。
【請求項２】
前記マイクロプロセッサが、前記測定されたタッチ位置の相対Ｘ、Ｙ位置の関数としてオフセットを内挿するようにさらに構成される、請求項１に記載の校正システム。
【請求項３】
前記マイクロプロセッサが、二次テーラー級数展開から導出される連立方程式を解くことによって計算される係数を含む誤り補正式を用いて、前記オフセットを内挿するように構成される、請求項２に記載の校正システム。
【請求項４】
前記マイクロプロセッサが、前記スイッチング回路を周期的に動作させるようにさらに構成される、請求項１に記載の校正システム。
【請求項５】
前記マイクロプロセッサが、感知量の所定の変化に応答して、前記スイッチング回路を動作させる周期性を変化させるようにさらに構成される、請求項４に記載の校正システム。
【請求項６】
前記感知量が温度である、請求項５に記載の校正システム。
【請求項７】
少なくとも前記タッチスクリーンが能動的に使用されている間に、前記マイクロプロセッサが、前記スイッチング回路を動作させないようにさらに構成される、請求項１に記載の校正システム。
【請求項８】
前記複数の端子が４つの端子を含む、請求項１に記載の校正システム。
【請求項９】
前記４つの端子が前記タッチスクリーンの各隅に１つ設置される、請求項８に記載の校正システム。
【請求項１０】
同じ校正インピーダンスが各端子に適用される、請求項１に記載の校正システム。
【請求項１１】
前記タッチスクリーンが容量性タッチスクリーンである、請求項１に記載の校正システム。
【請求項１２】
前記タッチスクリーンが抵抗性タッチスクリーンである、請求項１に記載の校正システム。
【請求項１３】
信号をタッチスクリーンの端子に加える工程と、
校正インピーダンスを前記端子に適用する工程と、
前記端子に適用された前記校正インピーダンスの前記信号への影響を感知する工程と、
前記校正インピーダンスの適用によって各端子に対して表示されるＸ、Ｙ位置を計算する工程と、
各端子に対する誤りを計算し、前記誤りを適用して、測定されたタッチ位置から補正済みのタッチ位置を得る工程と、
を含む、タッチスクリーンを校正する方法。
【請求項１４】
前記測定されたタッチ位置の相対Ｘ、Ｙ位置の関数として前記誤りを内挿する工程をさらに含む、請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
前記内挿する工程が、スクリーン誤りを二次テーラー級数として模擬する、連立方程式を解くことによって計算される係数を含む誤り補正式を用いる、請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
複数の端子を備えるタッチスクリーンと、
信号を少なくとも１つの端子に加え、前記タッチスクリーン上のタッチに因る前記信号への影響を感知するための制御回路と、
校正インピーダンスを少なくとも１つの端子に適用するためのスイッチング回路と、
前記校正インピーダンスの適用によって各端子に対して表示される利得誤りを計算し、前記利得誤りに応答して、前記利得誤りを適用して、測定されたタッチ位置から補正済みのタッチ位置を得るように構成されるマイクロプロセッサと、
を備える、タッチスクリーン校正システム。
【請求項１７】
前記マイクロプロセッサが、前記利得誤りを正規化するようにさらに構成される、請求項１６に記載の校正システム。
【請求項１８】
前記マイクロプロセッサが、前記正規化利得誤りを格納するようにさらに構成される、請求項１７に記載の校正システム。
【請求項１９】
前記マイクロプロセッサが、前記正規化利得誤りを前記測定されたタッチ位置に適用するようにさらに構成される、請求項１７に記載の校正システム。
【請求項２０】
信号をタッチスクリーンに加える工程と、
校正インピーダンスを前記タッチスクリーンの少なくとも１つの端子に適用する工程と、
少なくとも１つの端子に適用された前記校正インピーダンスの前記信号への影響を感知する工程と、
前記校正インピーダンスの適用によって各端子に対して表示される利得誤りを計算する工程と、
前記利得誤りを適用して、測定されたタッチ位置から補正済みのタッチ位置を得る工程と、
を含む、タッチスクリーン校正方法。
【請求項２１】
前記タッチスクリーンが容量性タッチスクリーンを備える、請求項２０に記載のタッチスクリーン校正方法。
【請求項２２】
前記タッチスクリーンが抵抗性タッチスクリーンを備える、請求項２０に記載のタッチスクリーン校正方法。
【請求項２３】
信号をタッチスクリーンに加える工程と、
校正インピーダンスを前記タッチスクリーンに適用する工程と、
前記校正インピーダンスの前記信号への影響を感知する工程と、
前記校正インピーダンスの適用によって表示される誤りを計算する工程と、
前記誤りを適用して、測定されたタッチ位置から補正済みのタッチ位置を得る工程と、
を含む、タッチスクリーン校正方法。
【請求項２４】
前記タッチスクリーンが容量性タッチスクリーンを備える、請求項２３に記載のタッチスクリーン校正方法。
【請求項２５】
前記タッチスクリーンが抵抗性タッチスクリーンを備える、請求項２３に記載のタッチスクリーン校正方法。
【請求項２６】
信号をタッチスクリーンに加える工程と、
校正インピーダンスを前記タッチスクリーンに適用する工程と、
前記校正インピーダンスの前記信号への影響を感知する工程と、
前記校正インピーダンスの適用によって表示される誤りを計算する工程と、
前記誤りを適用して、前記タッチスクリーンが所定の限界内で機能しているかどうかを判定する工程と、
を含む、タッチスクリーン校正方法。
【請求項２７】
前記タッチスクリーンが容量性タッチスクリーンを備える、請求項２６に記載のタッチスクリーン校正方法。
【請求項２８】
前記タッチスクリーンが抵抗性タッチスクリーンを備える、請求項２６に記載のタッチスクリーン校正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般的にタッチスクリーンを校正するためのタッチスクリーン校正システムおよび方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
通常のタッチスクリーンが、各隅に１つ、４つの端子接続を備える、インジウムスズ酸化物のような導電性被膜を施した１枚のガラスを用いる。タッチスクリーンはまた、導電性材料から作られる電極パターンを備える、容量性または抵抗性タッチスクリーンである。指、スタイラス、または導電性表面シートが、接触点で電流を引き込むか、または注入することができる。そのとき、電流は接触点の位置に比例してタッチパネル端子へ分散する。従って、タッチスクリーンの精度が、電流の端子間分配が接触位置をどれほど良く表すかに依存する。接触点信号を正しい位置データと互いに関係付けるのを助けるために、タッチスクリーンは校正される。通常校正は製造中に行われ、時には再校正が、例えば、エンドユーザによって実行され得る。校正はまた、補正不能の誤りを見つけ、かつ非動作状態を表示することができる診断機能も含む。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
タッチスクリーンの頻繁な校正および再校正が多くの状況で望ましい。タッチスクリーンが容量性タッチスクリーンであろうと抵抗性タッチスクリーンであろうと、線形化パターンのインピーダンス、ならびに感知・制御回路の能動および受動部品が、特に経年および環境状態に因って経時変化し得る。そのような状態変化は電流の端子間分配に誤りを引き起こして、間違った接触点情報を報告するという結果になる。電流分配の誤りはまた、回路の利得の差、または各端子に関連するインピーダンスの差に因っても起こり得る。
【０００４】
通常のオペレータが実行する再校正において、個々のタッチが、位置が知られている、いくつかの所定の試験点で行われる。知られている位置と測定された位置との間のどんな差も、その後のタッチ位置測定中に考慮される誤りを表す。そのような手動再校正は、オペレータの人が作業を中断し、校正手順を実行する必要があるので、たぶん効率を低下させる。校正が必要とされる頻度が、周囲の状態が変化するにつれて、例えば、温度が規定量を超えて変化するにつれて、増加する傾向がある。さらに、再校正が実行されるたびに試験点を同じ方法で、かつ同じインピーダンスでタッチするのにかかわる困難さに因って、オペレータ校正の繰り返し精度が劣化する。また、ユーザが再校正を実行する必要があることに気付く前に、多くの間違ったタッチ点が登録される可能性がある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、ユーザが試験点をタッチする必要がなく、かつ例えば、周期的に、定期的に、ある事象が起きる時に（例えば、起動時に、またはユーザ不活動の規定期間後に）、閾値が検出される時に（例えば、規定度数の温度変化後に）など、自動的に実行され得る校正システムおよび方法を提供する。本発明によって、有効な自動タッチスクリーン校正システムおよび方法が、校正インピーダンスをタッチスクリーンの端子に適用し、校正インピーダンスの各端子に及ぼす影響を感知し、次いで各端子に対して表示されるＸ、Ｙ位置を計算することによって実現され得る。この模擬タッチ情報は、各端子に対するオフセットを計算し、それらのオフセットを適用して、測定されたタッチ位置から補正済みのタッチ位置を得る、および／または各端子に対して表示される利得誤りを計算し、利得誤りを適用して、測定されたタッチ位置から補正済みのタッチ位置を得るために使用され得る。
【０００６】
本発明は、複数の端子と、信号を端子に加え、タッチスクリーン上の模擬タッチに因る信号への影響を感知するための制御回路とを備える、タッチスクリーンを含むタッチスクリーン校正システムを特色にする。スイッチング回路が、校正インピーダンスを端子に適用するために設けられ得る。マイクロプロセッサが、校正インピーダンスの適用によって各端子に対して表示される校正Ｘ、Ｙ位置を計算し、校正位置に応じて各端子に対するオフセットを計算し、それらのオフセットを適用して、測定されたタッチ位置から補正済みのタッチ位置を得るために構成され得る。診断機能が、校正中に測定される信号が所定の限度の外にある場合、誤り状態を報告するために備えられ得る。
【０００７】
例示的な実施形態において、マイクロプロセッサはまた、測定されるタッチ位置の相対Ｘ、Ｙ位置の関数としてオフセットを内挿し、スイッチング回路を周期的に動作させ、少なくともタッチスクリーンが能動的に使用されている間に、スイッチング回路を動作させないように構成される。タイミング期間が感知される量の所定の変化に応じて変更される。センサ回路が温度を感知する。４つの端子がある。同じ校正インピーダンスが各端子に適用される。タッチスクリーンは容量性タッチスクリーンか、または抵抗性タッチスクリーンである。
【０００８】
本発明はまた、信号をタッチスクリーンの端子に加え、校正インピーダンスを端子に適用し、端子に適用された校正インピーダンスの信号への影響を感知することを含む、タッチスクリーン校正の方法を特色にする。校正Ｘ、Ｙ位置は校正インピーダンスの適用によって各端子に対して計算され、各端子に対するオフセットは計算され、適用されて、測定されたタッチ位置から補正済みのタッチ位置を得る。
【０００９】
例示的な実施形態において、オフセットは、スクリーン誤りを２次元テーラー級数として模擬する連立微分方程式への入力として使用される。別の実施形態において、オフセットは測定されるタッチ位置の相対Ｘ、Ｙ位置の関数として内挿される。
【００１０】
本発明はまた、信号をタッチスクリーンの端子に加え、校正インピーダンスをタッチスクリーンの中心に適用し、校正インピーダンスの信号への影響を感知することを含む、タッチスクリーン校正の方法を特徴とする。校正Ｘ、Ｙ位置は校正インピーダンスの適用によって計算され、位置誤りは計算され、適用されて、測定されたタッチ位置から補正済みのタッチ位置を得る。診断機能が、校正中に測定される信号が所定の限度の外にある場合、誤り状態を報告するために備えられ得る。
【００１１】
この発明はまた、信号を端子に加え、タッチスクリーン上のタッチに因る信号への影響を感知するための制御回路内に、複数の端子を備えるタッチスクリーンを含む、タッチスクリーン校正システムを特徴とする。スイッチング回路は校正インピーダンスを端子に適用し、マイクロプロセッサが、校正インピーダンスの適用によって各端子に対して表示される利得誤りを計算するように構成され、それらの利得誤りを適用して、測定されたタッチ位置から補正済みのタッチ位置を得る。好ましい実施形態において、マイクロプロセッサはまた、利得誤りを正規化し、正規化利得誤りを格納し、正規化利得誤りを続いて測定されるタッチ位置に適用するように構成される。
【００１２】
この発明はまた、信号をタッチスクリーンの端子に加え、校正インピーダンスを端子に適用し、次いで端子に適用される校正インピーダンスの信号への影響を感知することを含む、タッチスクリーン校正の方法を特徴とする。各端子に対して表示される利得誤りが校正インピーダンスの適用によって計算され、利得誤りが適用されて、測定されたタッチ位置から補正済みのタッチ位置を得る。
【００１３】
本発明は、添付図面と関連付けた、本発明の種々の実施形態の次の詳細な説明を考慮して完全に理解される。
【００１４】
本発明は種々の変更態様および他の形に適用できるが、それの詳細が図面に例証として示され、詳細に説明されるであろう。また一方、その意図は、本発明を説明される特定の実施形態に限定するものではないことを理解する必要がある。それどころか、その意図は、本発明の精神および範囲に含まれる、全ての変更態様、等価物、および代案を対象として含むことである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
タッチスクリーン校正は、校正インピーダンスのセンサの端子への接続と、校正インピーダンスを用いる誤りの測定と、誤りの補正、または誤りを補正できない故障状態の報告と、を含む。誤り補正は任意の適当な方法によって達成され得る。例示的な誤り補正方式が、スクリーン誤りを２次元テーラー級数として模擬する連立微分方程式によって生成される係数に基づく双一次内挿、測定された端子誤りに基づく双一次内挿、および利得補正に基づく誤り補正による位置補正を含む。
【００１６】
タッチスクリーン１０の上面の上にある抵抗性面１１と接触する、４つの隅端子１２、１４、１６、および１８を備えるタッチスクリーン１０が、図１に示される。５番目の端子１３がタッチスクリーン１０の導電性裏面１５と接触する。裏面１５は通常前面１１上の端子と同じＡＣ電圧で駆動され、従って前面１１と裏面１５との間の実効容量がほぼゼロに低減させられる。裏面１５はまた電気的雑音に対するシールドとしても作用する。これらの端子の各々に、ドライバセンサ回路２０、２２、２４、２６、および２１がそれぞれ接続され、そのうちの１つ回路２０だけが詳細に示される。
【００１７】
示すように、回路２０は、駆動信号電流をフィードバック抵抗３４を経由して隅端子１２へ加える増幅器３２と、端子１２へ流れる電流ｉ20を測定する差動増幅器３６に接続されるＡＣ電圧源３０と、を含む。源３０は選択的に切られて、ゼロボルトが端子に加えられる。ＡＣ検出回路３８が増幅器３６によって測定される電流信号を復調し、結果として生じる信号のアナログ-ディジタル変換を実行する。回路３８からのディジタルデータがマイクロプロセッサ５０に送られる。各ドライバーセンサ回路２０、２１、２２、２４、および２６からの出力が、マイクロプロセッサ５０に送り出される。
【００１８】
４つのスイッチ５２、５４、５６、および５８（例えば、通常半導体スイッチまたは他の集積回路スイッチングデバイス）が使用されて、校正インピーダンス６０を端子１２、１４、１６、および１８に、一つずつ、それぞれ接続する。校正インピーダンス６０は容量性インピーダンスであるか、またはそれは抵抗性インピーダンスである。図１に示すように、同じインピーダンスが端子の各々に順々に接続され得る。より一般に、個々のインピーダンスが、必要に応じてスイッチの各々と関連付けられる。端子の全てに対して単一のインピーダンスを用いることによって、同じインピーダンスが各々に接続されることが可能であり、それによって起こり得る誤り源を減らす。スイッチ５２、５４、５６、および５８は、制御接続５５を介してマイクロプロセッサ５０によって動作させられることが可能であり、このマイクロプロセッサは、例えば、図２を参照してさらに詳細に以下に説明されるであろうように、温度センサ６４に応答する。
【００１９】
いくつかのプロセスが本発明のシステムおよび方法によって実行されるタイミングが、図２のフローチャート７０によって示すように規定パラメータによって変化し得る。例えば、より大きい温度変化がステップ８０などによって検出された後に、迷走電流を測定するステップ７４、およびタッチスクリーンを校正するステップ８２が、ステップ７２および７６によるユーザ無活動の期間中に、正常な動作に先立って実行され得る。マイクロプロセッサ５０は、或る周期性でときどき校正を周期的に実行し、周期性は、例えば、ステップ７６および８０によって示すように、温度センサ６４からの出力に応答して変更させられる。所定量を超える温度変化の割合が起きる場合、ステップ８２によって示すように、マイクロプロセッサ５０は、本明細書に説明される再校正モードの動作周波数を増大させる。校正および浮遊インピーダンス測定が、ユーザのタッチング動作中に自動的に休止、または打ち切るために行われることが可能であり、必要に応じて、タッチ動作後に、すこし後に、または動作の正常な過程中に、直ぐに再開するために行われることが可能である。
【００２０】
図３Ａおよび図３Ｂに示すプロセスが使用されて、電流測定を行い、増分タッチ信号を計算することができる。図３Ａは本発明の方法の全ての測定で使用され得る基本プロセス１００を示す。プロセス１００は、全てのタッチスクリーン端子に加えられるか、または抵抗性タッチスクリーンの表面にだけ加えられる駆動信号を加えるステップ１０２と、各端子に流入する電流を測定するステップ１０４と、電流信号を２進数形式に変換するステップ１０５と、信号値をマイクロプロセッサ５０に格納するステップ１０６と、を含む。プロセス１００のステップ１０７において、測定電流、マイナス迷走電流の和が試験されて、それが所定の閾値ｉTHを超えるかどうかを判定する。そうでない場合、プロセスはステップ１０２で再始動させられる。そうである場合、信号の大きさが有効な測定に十分なほど大きく、これによりＵＬ、ＵＲ、ＬＬ、およびＬＲをステップ１０８で計算することが可能であり、そしてそこで迷走電流が、例えば、プロセス１１０によって決定される。そのときに式１および式２（下に詳述）が用いられて、ステップ１０８によってＵＬ、ＵＲ、ＬＬ、およびＬＲ値を与えるＸ、Ｙ位置を計算することができる。
【００２１】
浮遊インピーダンスが図３Ｂに示すプロセス１１０を用いて測定され得る。ステップ１１２で、スイッチ５２、５４、５６、および５８が開かれ、ステップ１１４で、ドライバセンサ回路が動作させられ、タッチスクリーン１０に流入する電流ｉ20、ｉ22、ｉ24、およびｉ26の測定が行われる。ステップ１１６で、これらの電流測定値は、ステップ１１４に示すように、２進数形式に変換され、マイクロプロセッサ５０に格納され、名称ｉS20、ｉS22、ｉS24、およびｉS26が、スクリーン１０およびその相互接続ケーブルを接地に結合させる、浮遊容量性および抵抗性インピーダンス５７に流入する電流を表す。タッチスクリーンの電源を最初にオンする場合、浮遊インピーダンスによって生じる信号の測定が行われ、その後にそれらはプロセス７０の制御下で周期的に行われる。
【００２２】
マイクロプロセッサ５０は、端子１２、１４、１６、および１８の各々からの計算値を示すＵＲ（右上）、ＬＲ（右下）、ＬＬ（左下）、およびＵＬ（左上）をそれぞれ用いて、位置を計算し、校正インピーダンス６０がその時に接続される端子の１つに対するＸ、Ｙ校正因子を計算する。位置を計算するために、マイクロプロセッサ５０はＸおよびＹ位置に対するタッチ式を実行する。
【数１】
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ここで、ＵＲ＝ｉ20−ｉS20、ＬＲ＝ｉ22−ｉS22、ＵＬ＝ｉ26−ｉS26、およびＬＬ＝ｉ24−ｉS24である。このようにして得られるタッチ位置がマイクロプロセッサ５０で用いられて、タッチ位置座標、Ｘ誤り、Ｙ誤り、および続いて測定されるタッチ位置に適用されて誤り補正済みの位置を達成するローカル誤りオフセットを生成する。
【００２３】
位置校正因子は、図３Ｃに示すプロセス１２０によって測定され、計算されることが可能であり、図１および図４を参照してさらに理解される。ステップ１２２で、校正インピーダンス６０は端子１２に適用されることが可能であり、それによりステップ１２４で信号が測定され得る。ステップ１２６で、これらの測定値を所与として、ＵＬ、ＵＲ、ＬＬ、ＬＲを計算できる。次いでステップ１２８で、Ｘ、Ｙ位置を計算できる。次いでステップ１３０で、誤りベクトルβ＝ＸUR、ＹURが端子１２に対して計算されることが可能であり、そしてそこで補正因子はＸUR＝１−Ｘ52およびＹUR＝１−Ｙ52と定義される。次いでステップ１３２〜１４２によって示すように、１２２〜１３０に類似したプロセスが、タッチスクリーンの残りの各端子に対して繰り返されて、タッチスクリーンの各端子に対するＸおよびＹ校正因子を生じ、残りの誤りベクトルα＝ＸUL、ＹUL、χ＝ＸLR、ＹLR、およびδ＝ＸLL、ＹLLを規定する。
【００２４】
ステップ１４３で、タッチスクリーン１０の中央部における誤りが測定され、そしてそこでドライバセンサ回路２１内のＡＣ電圧源が切られ、次いでステップ１２４、１２６、および１２８が実行される。端子１３へのＡＣ信号をオフするか、または小さくすることが、前面１１と裏面１５との間の容量によって導通を著しく増大させる効果があり、従って校正コンデンサがタッチスクリーン１０の中央部に設けられる。次いで中央誤りがステップ１４４に示す式によって計算される。ステップ１４５で、ステップ１２２〜１４４で生成される値が評価されて、それらが所定の限界を超えているかどうかを判定する。そうである場合、ステップ１４６で、誤りは報告され、値は格納される。そうでない場合、ステップ１４７で、値は格納される。誤りは、タッチスクリーンシステムにおける開放または短絡された接続、故障した電子回路、あるいは規定の限界よりも大きいか、または小さいタッチスクリーンインピーダンスを含む。
【００２５】
プロセス１２０のいくつかのステップが他と無関係に使用され、例えば、中央タッチ校正ステップ１４３および１４４は省かれるか、またはそれらは別に実行される。診断ステップ１４５および１４６は省かれ得るか、あるいはそれらはステップ１４３および１４４と組み合わせて、またはステップ１２２〜１４２と組み合わせて実行される。
【００２６】
補正オフセットα、β、χ、δは、タッチスクリーン１０の座標限界（例えば、４つの隅）に有効である。そして補正アルゴリズムを使用して、これらの補正オフセットをタッチスクリーンの全ての領域に比例して適用できる。任意の適当な誤り補正アルゴリズムを使用して、校正のためにタッチスクリーン全体にわたって適切な方法で補正オフセットを適用できる。例示的な方法が、双一次内挿に基づくそれら、および利得補正に基づくそれらを含む。中央オフセットが、本明細書に示す例で誤り補正のために使用されないけれども、中央タッチオフセットが、診断を実行するために補正アルゴリズムに取り入れられ得る。
【００２７】
双一次内挿補正方法を例示するために、仮想タッチ点ａ（ｘ、ｙ）、ｂ（ｘ、ｙ）、ｃ（ｘ、ｙ）、およびｄ（ｘ、ｙ）を示すタッチスクリーン１５０の図を示す図４を参照する。これらの仮想タッチ点は、プロセス１２０のステップ１４０、１２２、１３２、および１３６それぞれで、タッチインピーダンス６０の端子への適用によって生じる、隅の各々に対するＸ、Ｙ位置の例である。プロセス１２０によって生じる、対応する誤り補正ベクトルα＝ＸUL、ＹUL、β＝ＸUR、ＹUR、χ＝ＸLR、ＹLR、およびδ＝ＸLL、ＹLLもまた表示される。タッチスクリーン１５０の各隅に対して、測定結果が次式によって理想座標Ｐに補正され得る。
Ｐa＝ａ＋α                          （３）
Ｐb＝ｂ＋β                          （４）
Ｐc＝ｃ＋χ                          （５）
Ｐd＝ｄ＋δ                          （６）
より一般に、補正済みの位置Ｐを次のように示すことができる。
Ｐ＝ｐ＋ε（ｐ）                          （７）
ここで、p は制御装置によって測定される位置であり、εは誤りベクトルを与えるpのベクトル関数である。関数εは使用可能な情報から導出される必要がある。
【００２８】
簡単にするために、次のように定義される、１つのマッピング機能Ｋを検討することがより容易である。
Ｐ＝Ｋ（ｐ）                          （８）
ベクトル関数に対する二次テーラー展開が次の形をとる。
【数２】
2005512197.tif 000004
従って、Ｋは一般的な形式を有する非線形関数であるという仮定が行われる。
Ｐx＝Ｋx（ｘ）＝Ａｘ＋Ｂｙ＋Ｃｘｙ＋Ｄ                  （１０）
Ｐy＝Ｋy（ｙ）＝Ｅｘ＋Ｆｙ＋Ｇｘｙ＋Ｈ                  （１１）
未知数Ａ〜Ｈは、行列形式で表される連立方程式１２および１３を解くことによって決定され、そしてそこで上述のベクトルａの要素がａxおよびａyとして示され、ベクトルｂ、ｃ、およびｄに対しても同様である。
【００２９】
Ｋｘ（ｘ）から導出される行列は次式である。
【数３】
2005512197.tif 000005
そしてＫｙ（ｙ）から導出される行列は次式である。
【数４】
2005512197.tif 000006
タッチスクリーンシステムの通常の動作に先立って計算された項Ａ〜Ｈを有して、ＫxおよびＫyは、次の測定され、かつ計算されるタッチ点に適用されて、補正済みの位置データの報告に先立って、（−１、−１）〜（１，１）の所望の範囲に対して誤り補正および正規化を実行する。
【００３０】
図５Ａは、ステップ１５９で、校正タッチ点の測定および計算を先ず実行することを含む、係数Ａ〜Ｈを計算するためのプロセス１５８を示す。次いでステップ１６０で、係数Ａ〜Ｄが計算され、ステップ１６１で、係数Ｅ〜Ｈが計算される。タッチスシステムの起動の直後に、プロセス１５８が実行され、その後に、例えばプロセス７０に従って、周期的に実行される。次いでタッチスシステムの通常の動作中、プロセス１６４が測定が行われるたびに実行される。図５Ｂは、ステップ１６５で、タッチ事象を測定し、Ｘ、Ｙ位置を計算し、ステップ１６６で、係数を計算し、ステップ１６７で、続いて誤り調整位置を報告することを含む、プロセス１６４を示す。
【００３１】
図６は、校正オフセットベクトルα＝ＸUL、ＹUL、β＝ＸUR、ＹUR、χ＝ＸLR、ＹLR、およびδ＝ＸLL、ＹLLを測定されたタッチ位置に適用して、補正済みのタッチ位置を得るための別の方法を示す。そのような方法は、一般的な形式の式１０および式１１で表され得るが、行列反転を用いるのではなくてアルゴリズム形式で実行されて、式１０および式１１の８つの係数を計算する、双一次内挿プロセスを使用する。ステップ１７２で、測定されたタッチ位置が識別される。タッチ位置１５６が図４の例によって示される。次いでステップ１７３で、ＸおよびＹ方向におけるタッチの正規化相対位置、ＸｓおよびＹｓが決定される。これに続いてステップ１７４で、オフセットＸLL、ＹLLは、（１−Ｘｓ）*（１−Ｙｓ）に比例して測定された位置に加えられる。次いでステップ１７６で、ＵＬオフセットＸUL、ＹULは（１−Ｘｓ）*（Ｙｓ）に比例して加えられる。次いでステップ１７８で、ＬＲオフセットＸLR、ＹLRは（Ｘｓ）*（１−Ｙｓ）〕に比例して加えられる。次いでステップ１８０で、ＵＲオフセットＸUR、ＹURは（Ｘｓ）*（Ｙｓ）に比例して加えられる。次いでステップ１８２で、補正済みの位置Ｐｘ、Ｐｙが報告される。
【００３２】
内挿技法の特別の例が図４で示され、そしてそこで１５０で示すタッチスクリーンが、ステップ１２６によってそれぞれに導出される、ＵＲ、ＬＲ、ＬＬ、およびＵＬと表記した信号と共に、その４つの隅１２ａ、１４ａ、１６ａ、および１８ａを有する。これらのＸおよびＹ方向の各々が寸法１５２および１５４として図示され、端子の各々が、例えば、ＵＲ＝（＋１＋１）、ＬＲ＝（＋１−１）、ＬＬ＝（−１−１）、ＵＬ＝（−１＋１）の名目位置値を有する。
【００３３】
例のために、端子１２ａはβ＝０．０３、０．０６の補正オフセットを有すると仮定する。端子１４ａはχ＝０．０７、−０．０４の補正オフセットを有する。端子１６ａはδ＝−０．０８、−０．０２の補正オフセットを有し、端子１８ａはα＝−０．０１、０．０７の補正オフセットを有する。タッチ点１５６は、Ｘ軸に沿った端子１６ａから端子１４ａまでの距離の８０％であり、かつＹ軸に沿った端子１６ａから端子１８ａまでの距離の６０％であると決定されるので、隅オフセットの各々に対するスケーリングは次のとおりである。
ＬＬオフセットスケール＝（１００％−８０％＝２０％）*（１００％−６０％＝４０％）＝８％
ＵＬオフセットスケール＝（１００％−８０％＝２０％）*（６０％）＝１２％
ＬＲオフセットスケール＝（８０％）*（１００％−６０％＝４０％）＝３２％
ＵＲオフセットスケール＝（８０％）*（６０％）＝４８％
次いで次を計算し、
８％*δ＝（−０．００６４、−０．００１６）
１２％*α＝（−０．００１２、０．００８４）
３２％*χ＝（０．０２２４、−０．０１２８）
４８％*β＝（０．０１４４、０．０２８８）
そしてＸおよびＹ方向の各々におけるスケール変更されたオフセットを（０．６２９２、０．２２２８）の総計に対する（０．６、０．２）の補正済みでない位置に加える。次いでこの補正済みのタッチ位置が報告される。
【００３４】
係数が比較的簡単に計算され得るので、かつこの方法は補正が施されることを明確に示すので、この方法は本文に含まれた。この方法は１％の誤りを.０１％以内に補正するであろうが、１０％の誤りは１％以内にしか結局補正されないであろう。補正済みでない誤りは、補正が計算されない場合、補正は含まれないという事実から生じる。この誤りは、反復過程によって、または適切な補正が正確に計算されるという結果になるだろう誤り値について解くことによって、取り除かれるということもあり得る。誤りを取り除いた結果は、前に説明された連立微分方程式を解く方法と本質的に等しいだろうし、これは隅において正確な補正をもたらす。使用される方法の選択が、通常、所望レベルの精度、システムの誤りに対する許容差、利用可能プロセッサ資源（例えば、速度、メモリなど）などに依存する。
【００３５】
利得補正手法もまた誤り補正方法として使用されることが可能であり、図１、図７、および図８を参照して理解され得る。先ず、プロセス１９０が実行されて、利得補正因子を生成する。ステップ１９１で、迷走電流値が定められる。次いで、ドライバセンサ回路２０が校正インピーダンス６０に接続され、ステップ１９６で、電流ｉ20が測定され、名称ｉraw20で格納される。次いでｉcal20が計算される。ステップ２００、２０２、および２０４で、スイッチ５４、５６、および５８が順次閉じられ、測定および格納ステップは繰り返され、ｉcal22、ｉcal24、およびｉcal26がそれぞれ計算される。次いでステップ２０６で、利得補正因子は、ドライバセンサ回路２０、２２、２４、および２６の各々に対して、マイクロプロセッサ５０において次式によって計算される。
ＧＣ20＝（ｉCAL20＋ｉCAL22＋ｉCAL24＋ｉCAL26）
／（４*ｉCAL20）      （１４）
ＧＣ22＝（ｉCAL20＋ｉCAL22＋ｉCAL24＋ｉCAL26）
／（４*ｉCAL22）      （１５）
ＧＣ24＝（ｉCAL20＋ｉCAL22＋ｉCAL24＋ｉCAL26）
／（４*ｉCAL24）      （１６）
ＧＣ26＝（ｉCAL20＋ｉCAL22＋ｉCAL24＋ｉCAL26）
／（４*ｉCAL26）      （１７）
【００３６】
次の電流測定動作が図８のフローチャートに示すように実行され、そしてステップ２１２でスイッチが開かれる。ステップ２１４におけるｉ20、ｉ22、ｉ24、およびｉ26の各測定がステップ２１６で格納され、次いでマイクロプロセッサ５０でステップ２１８に示す式によって、迷走補正済み、かつ利得補正済みの値に変更される。次にステップ２２０で試験が行われて、値ＵＲ、ＬＲ、ＬＬ、およびＵＬは所定の閾値よりも大きいかどうかを判定する。閾値を超えている場合、ステップ２２２で、補正済みのタッチ位置が計算される。
【００３７】
測定される信号の位相を測定できるタッチシステムにおいて、プロセス１００、１１０、１２０において測定される信号および実行される計算、ならびに全てのその後のプロセス計算が、複素数を使用するであろう。この場合に利得補正因子も同じく複素数である。利得補正方法は双一次内挿法とともに使用される。
【００３８】
図９は、例えば、マサチューセッツ州メシューエンのスリーエム・タッチ・システム・インク（３Ｍ  Ｔｏｕｃｈ  Ｓｙｓｔｅｍｓ，Ｉｎｃ．（Ｍｅｔｈｕｅｎ，ＭＡ））によって販売されている抵抗性タッチスクリーンのような、抵抗性タッチスクリーンを略図的に示す。電流源３３０が駆動信号を表面３１１に加える。表面３１１上の指またはスタイラスのタッチが電気的接触を生じ、電流が基板３１０に流れて、接触位置に応じて、４つの隅端子３１２、３１４、３１６、および３１８に比例して分散する。センサ回路３２０、３２２、３２４、および３２６が、それぞれにこれらの端子の各々に接続され、それらの１つ、回路３２０だけが詳細に示される。回路３２０は電流を隅端子３１２から増幅器３３２を経由して受取り、信号のアナログ-ディジタル変換を実行する検出回路３３８に送る。回路３３８からのディジタルデータがマイクロプロセッサ５０へ送られる。各センサ回路３２０、３２２、３２４、および３２６からの出力が、マイクロプロセッサ５０へ与えられる。４つのスイッチ５２、５４、５６、および５８（例えば、通常半導体スイッチまたは他の集積回路スイッチングデバイス）が使用されて、校正インピーダンス３６０を端子３１２、３１４、３１６、および３１８に、一つずつ、それぞれ接続する。校正インピーダンス３６０は容量性インピーダンスであるか、またはそれは抵抗性インピーダンスであり、それはほぼゼロのインピーダンスを有する。図９に示すように、同じインピーダンスが端子の各々に順々に接続され得る。スイッチ５２、５４、５６、および５８は、制御接続５５を介してマイクロプロセッサ５０によって動作させられることが可能であり、このマイクロプロセッサは、例えば、温度センサー６４に応答する。
【００３９】
図９に示す抵抗性タッチシステムは、プロセス７０、１００、１１０、１２０、１５８、１６４、１７０、１９０、および２１０を併用して使用されて、この発明によって校正を達成できる。４ワイヤおよび５ワイヤ型を含む抵抗性タッチシステムは、本明細書に説明した方法で校正される。
【００４０】
本発明は上述の特定の例に限定されると考えるべきではなく、むしろ添付の特許請求の範囲に適切に述べられる、本発明の全ての態様を対象とすると理解されるべきである。種々の変更態様、同等のプロセス、ならびに本発明が適用可能である多数の構成が、本発明が対象とする当業者にとって本発明の調査によって容易に明らかであろう。
【００４１】
上に引用した特許、特許文献、および出版物の各々が、あたかも全部再現されるかのように、これによってこの文書に取り込まれる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】この発明による校正システムを備えるタッチスクリーンの簡易略図である。
【図２】マイクロプロセッサによって実行される再校正タイミングアルゴリズムのフローチャートである。
【図３Ａ】この発明による信号測定プロセスを示すフローチャートである。
【図３Ｂ】この発明による迷走電流測定プロセスを示すフローチャートである。
【図３Ｃ】この発明による位置校正ベクトル測定および計算を示すフローチャートである。
【図４】誤りベクトルを示すタッチスクリーンの図である。
【図５Ａ】この発明による校正係数を計算するためのフローチャートである。
【図５Ｂ】この発明による校正係数を適用して、補正済みのタッチ位置を計算するためのフローチャートである。
【図６】この発明による校正オフセットを適用して、補正済みのタッチ位置を計算するためのフローチャートである。
【図７】利得補正因子測定および計算のフローチャートである。
【図８】利得誤り補正を用いる位置測定に使用されるアルゴリズムのフローチャートである。
【図９】この発明による校正システムを備える抵抗性タッチスクリーンの簡易略図である。
【図１】
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【図２】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図３Ｃ】
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【図４】
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【図５Ａ】
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【図５Ｂ】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【国際調査報告】
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