(57)【要約】本発明は、ストリップ厚さを調節するための調節要素を備えたロールスタンドと１つ以上の巻取りコイラーとを備えている、圧延中に金属ストリップの厚さを補正する装置及び方法に関する。厚さトレランスが低減された圧延ストリップの生産を保証するロールスタンドを使用して、圧延中に金属ストリップ厚さを補正するための方法及び装置を提供するという目的は、ストリップ区分の平均ストリップ厚さが、１つ以上のストリップ長測定値と、巻取りコイラーの所定の回転の測定値とから検出され、ロールスタンドの調節要素が、少なくともストリップ区分の平均ストリップ厚さに応じて制御されるという事実によって、本発明の方法により解決される。本発明による方法を用いると、ロールスタンドの周囲条件とはほとんど無関係に、調節要素を制御することができるので、圧延ストリップの厚さトレランスを効果的に低減することができる。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ストリップ厚さを調節するための調節要素を備えたロールスタンドと１つ以上の巻取りコイラーとを用いて、圧延中に金属ストリップの厚さを補正する方法において、
ストリップ区分の平均ストリップ厚さが、１つ以上のストリップ長測定値と、前記巻取りコイラーの所定の回転の測定値とから検出され、前記ロールスタンドの前記調節要素が、少なくとも前記ストリップ区分の平均ストリップ厚さに応じて制御されることを特徴とする、圧延中に金属ストリップの厚さを補正する方法。
【請求項２】
前記ストリップ厚さが付加的に放射測定され、前記ロールスタンドの前記調節要素が、平均ストリップ厚さを使用して補正された放射測定ストリップ厚さに応じて制御される、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記ストリップ長が、レーザ・ドップラー速度測定法を用いて測定される、請求項１又は２に記載の方法。
【請求項４】
前記巻取りコイラーの回転速度が、前記巻取りコイラーの軸又は巻取りコイラー・モータの軸上に設けられた高解像度増分センサを使用して測定される、請求項１〜３のいずれか１項に記載の方法。
【請求項５】
同じストリップ区分の平均ストリップ厚さに対応する複数の値が、前記平均ストリップ厚さを検出するために測定されるべき複数の異なる出発点及びストリップ長を選択することにより測定される、請求項１〜４のいずれか１項に記載の方法。
【請求項６】
同じストリップ区分の平均ストリップ厚さに対応する値が、前記巻取りコイラー上の前記ストリップの実際のコイル直径に応じて可変の重み付けで、付加的に平滑化される、請求項５に記載の方法。
【請求項７】
１つ以上のさらなる冗長ストリップ長測定が行われる、請求項１〜６のいずれか１項に記載の方法。
【請求項８】
前記平均ストリップ厚さを検出するのに用いられる第１ストリップ長測定が失敗した場合、さらなる冗長ストリップ長測定に自動切換えされる、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
ストリップ厚さを調節するための調節要素を備えた１つ以上のロールスタンド（２）と、１つ以上の巻取りコイラー（４）と、ストリップ長を測定するための手段（５）と、巻取りコイラーの所定の回転の規模を測定するための手段（６）とを使用して、圧延中に金属ストリップ（１）の厚さを補正する、特に請求項１〜８のいずれか１項に記載の方法を実施するための装置において、
前記測定されたストリップ長及び巻取りコイラー（４）の所定の回転から検出された平均ストリップ厚さに応じて前記ロールスタンド（２）の前記調節エレメントを制御するための手段（１８）が設けられていることを特徴とする、圧延中に金属ストリップの厚さを補正する装置。
【請求項１０】
前記金属ストリップ（１）の厚さを放射測定により検出するための手段（８，９）が、前記ロールスタンド（２）と巻取りコイラー（３）との間に付加的に設けられている、請求項９に記載の装置。
【請求項１１】
前記ストリップ長の冗長測定のための手段（５）が設けられている、請求項９又は１０に記載の装置。
【請求項１２】
前記ストリップ長を測定するために、レーザ・ドップラー速度測定システム（５）が設けられている、請求項９〜１１のいずれか１項に記載の装置。
【請求項１３】
前記巻取りコイラー（７）の軸又は巻取りコイラー・モータの軸上に、高解像度増分センサ（６）が設けられている、請求項９〜１２のいずれか１項に記載の装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ストリップ厚さを調節するための調節要素を備えたロールスタンドと１つ以上の巻取りコイラーとを備えている、圧延中に金属ストリップの厚さを補正する装置及び方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
金属ストリップ、例えばアルミニウム又はアルミニウム合金から形成されたストリップの圧延中、ロールスタンドを通過後のストリップの厚さを低減するために、圧延された金属ストリップは、コイルとして巻取りコイラー上に巻取られる。コイルとして巻取られた圧延ストリップの１つの重要な品質特性は何よりも、ストリップの厚さ及びそのばらつきである。
【０００３】
従来、金属ストリップの厚さは、放射測定法を用いて測定され、その値に応じて、ロールスタンドの調節要素が制御されている。放射測定法の場合、金属ストリップの一方の側に配置された検出器を使用することにより、金属ストリップの他方の側に配置されたエミッタから金属ストリップを透過した輻射線を測定する。検出器によって測定された輻射線は、この場合、金属ストリップにおける吸収に依存する。この吸収は金属ストリップの厚さによって特に決定される。ストリップ厚さの所期値に対する、放射測定により検出されたストリップ厚さの偏差は、金属ストリップの厚さに影響を与えるための、ロールスタンドの調節要素を制御するための入力量として使用される。しかし、放射線測定により検出された厚さは、さらなる変数、例えばストリップの合金の組成、例えば加熱された空気中での吹出し又は吸込み中の測定経路内の空気密度及び空気温度、測定経路内の冷却剤及び潤滑剤ミストの画分、並びに、圧延材料の温度、及び厚さを検出するためのシステム構成部分に依存する。従って、変数を検出し、放射測定法をさらなる変数に対して標準化することが絶対に不可欠である。
【０００４】
圧延中に金属ストリップのストリップ厚さを補正するための従来周知の方法の欠点は、変数の検出、及びこれらの変数に対する放射測定法の標準化を、圧延条件下で包括的に行うことができないことである。従って、金属ストリップの合金依存吸収特性を補正するために、スパーク分光分析によってキャスティング試料上の合金組成物を測定し、その値から、合金に対応する吸収係数を計算し、この吸収係数を放射測定法において考慮することが必要である。サンプリング中に変動が生じ、スパーク分光分析中に測定不確実性が生じる結果、放射測定により検出される厚さの信頼インターバルを、製品要件に応じて考慮しなければならないことになる。
【０００５】
放射測定された値を標準化するために、一方では、エミッタ・アパーチャが閉じられた検出器信号の電気的ゼロ点を使用し、他方では、測定経路内に試料を有さない全輻射下で、この時の測定区分内の吸収条件を考慮するバランシング・ファクタを検出する。これはコイルの変化中、或いは測定される材料を有さない状態でエミッタ・アパーチャが開いているときはその都度自動的に行われる。圧延された材料を有する測定経路内の温度変化は、温度変動及び温度変動から検出される経験的重み係数を測定することにより検出される。圧延中に著しい変動を示す測定経路内の一体的温度プロフィールを、熱間圧延ストリップの結果として記録することは不可能である。従って、一体的温度プロフィールは、放射測定による厚さ測定中に考慮に入れることはできない。
【０００６】
さらに、放射測定による測定点を検証するための従来技術から周知のシステムの場合、制御基準が、エミッタのすぐ近く、すなわち金属シートのすぐ近くの、気密にカプセル化された領域内に位置する。これらの金属シートの吸収特性は温度変動の結果として変動する以外は変動しない。これらの制御基準の測定された厚さ値を検証することにより、測定システム内に入力された吸収曲線を補正することができる。しかし、この調節も、圧延プロセスが中断された時に行われるのにすぎない。
【０００７】
圧延中に金属ストリップの厚さを補正するための、上述した従来周知の方法の欠点の結果として、目下必要とされる厚さ誤差を満たすには必ず困難が伴う。
【発明の開示】
【０００８】
上述の従来技術から出発して、本発明の目的は、厚さ誤差が低減された圧延ストリップの生産を可能にするロールスタンドを使用して、圧延中に金属ストリップの厚さを補正する方法及び装置を提供することである。
【０００９】
本発明の第１の教示内容によれば、上述のように導き出され提示された目的は、ストリップ区分の平均ストリップ厚さが、１つ以上のストリップ長測定値と、巻取りコイラーの所定の回転の測定値とから検出され、ロールスタンドの調節要素が、少なくともストリップ区分の検出された平均ストリップ厚さに応じて制御される方法に従って解決される。この場合、巻取りコイラー上のストリップの平均層スペースは、測定されたストリップ長と巻取りコイラーの回転とに関連しており、これらの値から、充填率によって平均ストリップ長を検出できるという事実が利用される。ストリップ長及び巻取りコイラー回転の所要の測定は、この場合、放射測定による厚さ測定の変数とはほぼ無関係なので、ストリップ区分の平均ストリップ厚さの測定値は、ロールスタンドの周囲条件とは無関係に提供される。短いストリップ長の後でも、平均ストリップ長の十分に正確な値を検出することができる。少なくとも、ストリップ区分の検出された平均厚さに応じて、調節エレメントを制御することにより、圧延ストリップの厚さ誤差を低減することができる。
【００１０】
ストリップ厚さが付加的に放射測定され、ロールスタンドの調節要素が、平均ストリップ厚さを使用して補正された放射測定ストリップ厚さに応じて制御される場合、検出された平均ストリップ厚さを使用して、放射測定により検出された厚さを動的に補正すること、及び、動的に補正されたストリップ厚さ値に応じて、ロールスタンドの調節要素を制御することが、本発明の次のさらなる実施態様に基づいて可能である。従って、金属ストリップの圧延中にストリップ厚さを制御するために、入力量を利用することができる。この入力量は、一方では、調節要素にほとんど瞬時に影響を与えることを可能にし、また他方では、圧延プロセス中のストリップ厚さの放射測定による検出の典型的な変数に応じて、補正することができる。
【００１１】
本発明による方法の、有利にさらに展開された実施態様によれば、レーザ・ドップラー速度測定法を用いてストリップ長を測定することにより、圧延中のストリップ長の測定精度が特に高くなる。レーザ・ドップラー速度測定法（ＬＤＶ法）は、流速を測定するための標準的な方法である。その原理は、レーザ源によって生成された干渉縞系を通る粒子の散乱光を分析することにある。この場合、受信された信号の周波数は、粒子速度に対して比例する。干渉縞系が圧延ストリップ上に画像形成されると、散乱光を分析することにより、圧延ストリップの速度を極めて正確に検出することができる。こうして、ストリップ区分の平均ストリップ厚さを検出するために、高精度ストリップ長測定を利用することができる。
【００１２】
さらに展開された次の実施態様に従って、巻取りコイラーの回転速度が、巻取りコイラーの軸又は巻取りコイラー・モータの軸上に設けられた高解像度増分センサを使用して測定されると、平均ストリップ厚さを検出するのに必要な、巻取りコイラーの回転速度を、十分な精度で簡単に検出することができる。
【００１３】
同じストリップ区分の平均ストリップ厚さに対応する複数の値が、平均ストリップ厚さを検出するために測定されるべき複数の異なる出発点及びストリップ長を選択することにより測定される、本発明による方法の有利な実施態様が得られる。この測定手段によって、ストリップ区分の平均ストリップ厚さ値を統計的に評価し、ストリップ区分の平均ストリップ厚さを検出する際の測定誤差を低減するので、圧延ストリップの厚さ誤差をさらに低減することができる。
【００１４】
本発明による方法のさらに展開された実施態様によれば、同じストリップ区分の平均ストリップ厚さに対応する値が、巻取りコイラー上のストリップの実際のコイル直径に応じて可変の重み付けで付加的に平滑化されることで、充填率に対するコイリング・プロセスの影響を考慮に入れることができる。これにより、特にコイリング・プロセス開始時に、コイル直径のばらつきが平均ストリップ厚さの検出に対してより大きな影響を及ぼすのを防止することができる。
【００１５】
１つ以上のさらなる冗長ストリップ長測定を実施することにより、本発明による方法の有利な実施態様に従って、平均ストリップ厚さの検出プロセス信頼性をさらに高めることができる。
【００１６】
平均ストリップ厚さを検出するのに用いられる第１ストリップ長測定が失敗した場合、さらなる冗長ストリップ長測定に自動切換えされると、ストリップ長測定システムが故障しても、動的厚さ補正を確実に連続的に行うことができる。従って圧延プロセスを中断する必要はない。
【００１７】
本発明の第２の教示内容によれば、上述のように導き出され提示された目的は、ストリップ厚さを調節するための調節要素を備えた１つ以上のロールスタンドと、１つ以上の巻取りコイラーと、ストリップ長を測定するための手段と、巻取りコイラーの所定の回転の規模を測定するための手段とを使用して、圧延中に金属ストリップの厚さを補正する装置であって、測定されたストリップ長及び巻取りコイラーの所定の回転から検出された平均ストリップ厚さに応じてロールスタンドの調節エレメントを制御するための手段が設けられている装置によって解決される。上述のようにこの測定手段によって、ロールスタンドの周囲環境とはほぼ無関係に、圧延中の金属ストリップのストリップ厚さを測定することが可能である。
【００１８】
本発明による装置のさらに展開された実施態様によれば、金属ストリップの厚さを放射測定により検出するためのさらなる手段が、ロールスタンドと巻取りコイラーとの間に付加的に設けられていると、ストリップの圧延直後に、調節要素を制御するための入力パラメータが利用可能である。加えて、平均ストリップ厚さを使用して動的補正された放射測定検出ストリップ厚さ値を使用して、ロールスタンドの調節要素を制御することにより、ストリップ全体のストリップ厚さ誤差をさらに低減することが可能である。
【００１９】
ストリップ長の冗長測定のための手段を設けることにより、本発明による装置の有利な実施態様が得られる。一方では、圧延中のプロセス信頼性を、ストリップ長測定システムの故障に関連して高めることができ、他方では、冗長ストリップ長測定によって、それぞれのストリップ長測定を検証して、その精度を向上させることができる。
【００２０】
加えて、本発明による装置のさらに展開された実施態様に従って、ストリップ長の測定のために、レーザ・ドップラー速度測定システムが設けられると、ストリップ長測定精度をさらに高めることができる。
【００２１】
本発明による装置の次のさらに展開された実施態様に従って、巻取りコイラーの軸又は巻取りコイラー・モータの軸上に、高解像度増分センサが設けられていると、特定のストリップ長に対して所定の巻取りコイラー回転を簡単に極めて精密に検出することが可能である。
【００２２】
本発明の第１の教示内容に基づく方法、及び本発明の第２の教示内容に基づく装置の双方を有利に構成し、さらに展開する複数の可能性が今や存在する。このことを目的として、例えば、一方では請求項１及び１０に従属する請求項、及び他方では図面と関連する好ましい実施態様の説明が参照される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
図１に示す、本実施態様の、圧延中の金属ストリップ１の厚さを補正する装置は、ストリップ１の厚さを調節するための図示していない調節要素を有するロール・スタンド２と、偏向ロール３と、巻取りコイラー４とを備えている。また、ストリップ厚さを検出するために、ストリップ長を測定するＬＤＶシステム５と、巻取りコイラー７の軸に設けられた増分センサ６と、ストリップ厚さの放射測定のためのエミッタ８及び検出器９とが示されている。圧延中、金属ストリップ１がロールスタンド２から離れた後、金属ストリップ１は、偏向ロール３の周りを案内され、巻取りコイラー４上に巻取られる。巻取りコイラー４の回転速度及び所定のストリップ長から、平均ストリップ厚さが計算される。
【００２４】
図２ａは、ＬＤＶシステム５及び巻取りコイラー４を使用して、金属ストリップ１の平均ストリップ厚さを原理的に検出するための方法のシーケンスを示している。この場合、ＬＤＶシステム５は、ストリップ１の巻取りコイラー４上への巻取り中に、ストリップ長を測定する。ストリップ１の第１層は、巻取り中に巻取りコイラー４によって固定的に予め決められた半径ｒを有している。
【００２５】
図２ｂは、金属ストリップ１の複数の巻き層を備えた巻取りコイラー４を示す断面図である。巻取られたストリップ１の平均層スペースｈは、半径ｒｍとｒｎとの差、及び半径間の巻き層の数、すなわち、巻取りコイラー４の所定の回転の数から得られる。２つの任意の巻き半径ｒｍとｒｎとの間の平均層スペースｈに関しては、
【数１】
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が当てはまる。上記式中、Ｌｎは任意の出発点からの走行長さであり、ｎは巻取りコイラー４の所定の回転の数であり、Ｌｍは同じ出発点からの固定的な長さであり、ｍは固定的な長さＬｍに対応する巻取りコイラー４の所定の回転の数である。
【００２６】
図１に示すように、ストリップ長Ｌｎ又はＬｍを測定するために、原理的には偏向ロール３を使用することもできるが、しかしＬＤＶシステム５を使用した非接触型且つ非スリップ型の測定が好ましい。それというのも、ストリップ長が極めてより正確に測定されるからである。巻取りコイラー７上に配置された高解像度増分センサ６が、巻取りコイラーの所定の回転の数ｎ又はｍをもたらす。これらの測定値は先ず、上記式を使用して平均層スペースｈを計算するのに使用される。次いで、充填率を用いてｈからストリップ区分の平均ストリップ厚さを計算することができる。コンピュータ１０を使用して、調節可能なストリップの後で平均ストリップ厚さが計算される。コンピュータは、一方では、測定された平均ストリップ厚さをディスプレイ１１を介して表示し、他方では、動的厚さ補正に対応する値を第１のコンパレーター１２に送る。コンパレーター１２において、平均ストリップ厚さ値は、ストリップ１の所期厚さ１３と比較され、その差は動的厚さ変化量として次のコンパレーター１４に送られる。コンパレータ１４におけるエミッタ８及び検出器９を使用して検出された放射測定ストリップ厚さ１５に、動的厚さ変化量値が加えられ、その値が動的に補正された実際の厚さ１６としてさらなるコンパレーター１７に送られる。前記コンパレーターは、所期厚さ１３に対する動的に補正された実際の厚さ１６の偏差から、調節要素１８を制御するための制御変数を検出する。動的厚さ補正値は、短いストリップ長の後、例えば巻取り長さ約５０ｍの後の圧延プロセス中に十分に正確に検出することができる。このことは、圧延プロセス開始時には当てはまらない。それというのも、この場合、巻取りプロセスの結果としてのばらつきがまだ余りにも大きいからである。しかし、圧延プロセスがさらに経過すると、放射測定によるストリップ厚さ測定の変数とは無関係に、放射測定により検出されたストリップ厚さ１５を補正することができる。これらの変数を除外することにより、ロールスタンドの調節要素１８を極めてより正確に制御することができ、その結果、ストリップ厚さトレランスが有意に低減される。
【００２７】
ある特定のパラメータ化可能な条件下でのみ補正計算を行うこともできる。圧延中の金属ストリップ厚さを補正する装置の対応実施態様の制御システムのブロック線図が図３に示されている。下記に特定したパラメータ、量及び条件は、制御システムの１つの構成例とみなされるにすぎない。制御システムの構成は、製造されるべき圧延材料に応じて変化することができる。
【００２８】
図３において、ブロック線図は、先ず、６つの入力２０，２１， ２２， ２３， ２４， ２５と１つの出力２６とを備えた論理ＡＮＤゲート１９を示している。入力２０〜２４を介して、レーザは作動しているか、所期厚さは例えば０．８ｍｍを上回っているか否か、合金の合金化に関するデータがテーブルに挿入されているか否か、手動操作又は自動操作のどちらが選択されるか、ストリップ速度は例えば１００ｍ／分よりも高いか否かに関する条件を問い合わせ、これらの条件を使用することにより、厚さ補正を行うことができる。ＡＮＤゲート１９におけるさらなる入力を介して、さらなる条件を考慮に入れることができる。
【００２９】
ＡＮＤゲート１９の入力２５は、この場合、論理ＯＲゲート２７の出力に接続されている。論理ＯＲゲート２７は２つの入力２８及び２９を有している。これらの入力２８、２９は、それぞれ比較要素３０及び３１の出力に接続されている。比較要素３０において、ストリップ長３２の実際値は、関数構成要素３４によって所期厚さ３３から計算されたストリップ長３５の出発値と比較され、ストリップ長３２の実際値がストリップ長３５の或る特定の出発値を上回るとすぐに、出力信号がＯＲゲート２７に送られる。他方において比較要素３１は絶対値構成要素３８を用いて、所期厚さ３３と、ＬＤＶ法を用いて検出された平均ストリップ厚さ３７との、差要素３６を用いて検出された差３９の絶対値を、所期厚さ３３に依存する値と比較する。絶対偏差が例えば所期厚さの１％よりも小さい場合、比較要素３１の出力は作動され、信号がＯＲゲート２７の入力２９に印加される。
【００３０】
従って、所期厚さ３３に対する平均ストリップ厚さ３７の偏差が、所期厚さの１％未満である場合、又はストリップ長３２の実際値がストリップ長３５の出発値よりも大きい場合、ＡＮＤゲート１９の入力２５に信号が印加される。ＡＮＤゲート１９の入力２０〜２５が作動されると、論理回路の出力４１は、設定要素４０によって、ＡＮＤゲート１９の出力２６を介して「自動補正スイッチ・オン」に設定される。同時に、ＰＩＤ要素４３の入力４２には信号が印加される。ＰＩＤ要素４３は次いで、制御偏差から、放射測定されたストリップ実際厚さ４６の動的厚さ補正値４４を検出する。この制御偏差は、所期厚さ３３と、ＬＤＶ法を用いて検出された平均ストリップ厚さ３７との間の差３９の形で印加される。しかし、制御偏差３９が例えば所期厚さ３３の１％未満である場合には、ＰＩＤ要素４３に接続された比較要素４６は、ＰＩＤ要素４３の調節を阻止することができる。
【００３１】
加算要素４７において、動的厚さ補正４４は、ここで、測定された実際厚さ４５に加えられ、スイッチ５０の入力４９に、補正された実際厚さ４８として印加される。スイッチ５０の出力５１は、ロールスタンドの調節要素の制御システムの入力に直接的に接続されている（図示せず）。
【００３２】
論理回路の出力４１が「自動補正オン」に切換えられ、こうして信号がＰＩＤ要素４３に印加されると、スイッチ５０は入力４９を出力５１に接続し、ロールスタンドの調節要素は、補正された実際厚さ４８で制御される。この場合、図示されていない調節要素の制御システムにおいて、出力５１を介した値出力は所期厚さ３３と再び比較され、ロールスタンド２の調節要素が相応に制御される。
【００３３】
さらに、スイッチ５０を使用して、調節要素の制御システムを実際厚さ４６に手動で切換えることも可能である。このことは、スイッチ５０の出力５１をスイッチ５０の入力５２に接続することにより行われる。或る特定の環境下では、実際厚さ４６を使用した制御への自動切換えを行うことができる。すなわち、このことは、出力４１がリセット要素５４のＯＲゲート５３を介してリセットされる場合に当てはまる。このことは、ＯＲゲート５３の出力５５が信号を運ぶ場合に当てはまる。この出力５５は、最小値を下回るストリップ速度を監視するＯＲゲート５３の出力又は入力５６に設けられたエミッタの作動状態を検証する。この手段により、例えば、エミッタ８がストリップ１の出口でスイッチオフされているのにもかかわらず自動厚さ補正が行われるのを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】圧延中の金属ストリップの厚さを補正するための、本発明の第１実施態様の装置を示す概略図である。
【図２ａ】ストリップ長測定から平均ストリップ厚さを検出するための、第１実施態様において用いられる方法を示す概略図である。
【図２ｂ】金属ストリップの複数の巻き層を備えた巻取りコイラーを示す断面図である。
【図３】圧延中の金属ストリップの厚さを補正する装置の次の実施態様の制御を示すブロック線図である。
【図１】
2005537932.tif 000004
2005537932.tif 000005
【図３】
2005537932.tif 000006
【手続補正書】
【提出日】平成16年9月4日(2004.9.4)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ストリップ厚さを調節するための調節要素を備えたロールスタンドと１つ以上の巻取りコイラーとを用いて、圧延中に金属ストリップの厚さを補正する方法であって、ストリップ区分の平均ストリップ厚さが、１つ以上のストリップ長測定値と、前記巻取りコイラーの所定の回転の測定値とから検出され、前記ロールスタンドの前記調節要素が、少なくとも前記ストリップ区分の平均ストリップ厚さに応じて制御される、ストリップ厚さを調節するための調節要素を備えたロールスタンドと１つ以上の巻取りコイラーとを用いて、圧延中に金属ストリップの厚さを補正する方法において、
前記ストリップ厚さが付加的に放射測定され、前記ロールスタンドの前記調節要素が、平均ストリップ厚さを使用して補正された放射測定ストリップ厚さに応じて制御される、ことを特徴とする圧延中に金属ストリップの厚さを補正する方法。
【請求項２】
前記ストリップ長が、レーザ・ドップラー速度測定法を用いて測定される、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記巻取りコイラーの回転速度が、前記巻取りコイラーの軸又は巻取りコイラー・モータの軸上に設けられた高解像度増分センサを使用して測定される、請求項１又は２に記載の方法。
【請求項４】
同じストリップ区分の平均ストリップ厚さに対応する複数の値が、前記平均ストリップ厚さを検出するために測定されるべき複数の異なる出発点及びストリップ長を選択することにより測定される、請求項１〜３のいずれか１項に記載の方法。
【請求項５】
同じストリップ区分の平均ストリップ厚さに対応する値が、前記巻取りコイラー上の前記ストリップの実際のコイル直径に応じて可変の重み付けで、付加的に平滑化される、請求項５に記載の方法。
【請求項６】
１つ以上のさらなる冗長ストリップ長測定が行われる、請求項１〜５のいずれか１項に記載の方法。
【請求項７】
前記平均ストリップ厚さを検出するのに用いられる第１ストリップ長測定が失敗した場合、さらなる冗長ストリップ長測定に自動切換えされる、請求項６に記載の方法。
【請求項８】
ストリップ厚さを調節するための調節要素を備えた１つ以上のロールスタンド（２）と、１つ以上の巻取りコイラー（４）と、ストリップ長を測定するための手段（５）と、巻取りコイラーの所定の回転の規模を測定するための手段（６）とを使用して、圧延中に金属ストリップ（１）の厚さを補正し、前記測定されたストリップ長及び巻取りコイラー（４）の所定の回転から検出された平均ストリップ厚さに応じて前記ロールスタンド（２）の前記調節エレメントを制御するための手段（１８）が設けられており、特に請求項１〜７のいずれか１項に記載の方法を実施するための、圧延中に金属ストリップの厚さを補正する装置において、
前記金属ストリップ（１）の厚さを放射測定により検出するための手段（８，９）が、前記ロールスタンド（２）と巻取りコイラー（３）との間に付加的に設けられている、圧延中に金属ストリップの厚さを補正する装置。
【請求項９】
前記ストリップ長の冗長測定のための手段（５）が設けられている、請求項８に記載の装置。
【請求項１０】
前記ストリップ長を測定するために、レーザ・ドップラー速度測定システム（５）が設けられている、請求項８又は９に記載の装置。
【請求項１１】
前記巻取りコイラー（７）の軸又は巻取りコイラー・モータの軸上に、高解像度増分センサ（６）が設けられている、請求項８〜１０のいずれか１項に記載の装置。
【国際調査報告】
2005537932.tif 000007
2005537932.tif 000008
2005537932.tif 000009
2005537932.tif 000010
2005537932.tif 000011
2005537932.tif 000012