(57)【要約】【課題】赤外線カメラ較正における、または、赤外線カメラ較正に関する改良【解決手段】ここに説明するのは、基準表面を使用して高くなった温度における赤外線カメラを較正するための方法および装置である。方法は、正常動作温度および凝視時間に従ってカメラにおけるピクセルのための正常ウェルフィル条件を選択すること（３０、３２、３４）、選択された不均一較正係数が決定される、選択された凝視時間／表面温度の組み合わせを計算するために正常ウェルフィル条件を使用すること（３６、３８）、調整および再調整された不均一較正係数をそれぞれ得るために凝視時間／表面温度を調整および再調整すること（４０、４２、４４、４６）、および、選択され、調整され、再調整された不均一較正係数を使用して、カメラのための最終不均一較正係数を決定すること（４８）、を含む。
2005530129.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
温度調整可能な基準表面を使用する赤外線カメラの較正方法であって、
ａ）カメラのための凝視時間／表面温度の組み合わせを選択する工程と、
ｂ）選択された組み合わせのための不均一較正係数を決定する工程と、
ｃ）凝視時間／表面温度の組み合わせを調整する工程と、
ｄ）調整された組み合わせのための不均一較正係数を決定する工程と、
ｅ）凝視時間／表面温度の組み合わせを再調整する工程と、
ｆ）再調整された組み合わせのための不均一較正係数を決定する工程と、
ｇ）カメラのための最終不均一較正係数を得るために、選択され、調整され、再調整された不均一較正係数を使用する工程とを具備する方法。
【請求項２】
前記工程ａ）は、
（ｉ）ウェルフィルを、動作するシーン温度および凝視時間の関数として決定する工程と、
（ｉｉ）決定されたウェルフィルに従って、凝視時間／表面温度の組み合わせを選択する工程とを有する、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記工程（ｉ）は、約５０％のウェルフィルを選択することを有する、請求項２に記載の方法。
【請求項４】
前記工程ｃ）は、
（ｉｖ）付加のウェルフィルを生じさせるために動作凝視時間のための表面温度を選択する工程を有する、請求項２または３に記載の方法。
【請求項５】
前記付加のウェルフィルは、１００％近くになるように選択される、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記工程ｅ）は、
（ｉｖ）再調整された表面温度を生じさせるために、前記工程（ｉｉ）の選択された凝視時間および付加のウェルフィルを使用する工程を有する、請求項４または５に記載の方法。
【請求項７】
前記工程ｇ）は、選択された不均一較正係数および再調整された不均一較正係数の合計から調整された不均一較正係数を減じたものに従って、最終不均一較正係数を決定することを有する、前記全ての請求項のいずれか１項に記載の方法。
【請求項８】
赤外線カメラを較正するための装置であって、
基準表面を見るためにカメラが装置内に置かれる、温度制御された基準表面と、
所定の判定基準に従って、基準表面の温度およびカメラの凝視時間を制御するための制御手段と、
所定の判定基準に応じ凝視時間／表面温度の組み合わせそれぞれに従ってカメラからの出力信号を受信し、凝視時間／表面温度の組み合わせそれぞれに対応する不均一較正係数を生じ、所定の判定基準に従って決定された不均一較正係数から、カメラのための最終不均一較正係数を決定するための処理手段と、を具備する装置。
【請求項９】
添付の図面を参照にここに実質的に説明される、温度調整可能な基準表面を使用して赤外線カメラを較正する方法。
【請求項１０】
添付の図面の図１を参照にここに実質的に説明される、赤外線カメラを較正するための装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、赤外線カメラ較正における、または、赤外線カメラ較正に関する改良に関し、限定されるものではないが、特に不均一較正に関係する。
【背景技術】
【０００２】
２８℃以上の周囲温度において赤外線カメラの内部２点不均一較正（ｔｗｏ−ｐｏｉｎｔ  ｎｏｎ−ｕｎｉｆｏｒｍｉｔｙ）を実施することが知られている。しかしながら、熱基準表面温度（ｔｈｅｒｍａｌ  ｒｅｆｅｒｅｎｃｅ  ｓｕｒｆａｃｅ  ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ）が、選択された凝視時間（ｓｔａｒｅ  ｔｉｍｅ）に基づいてカメラの動作温度範囲のための所望の設定点に達するのを制御できないため、このような較正を達成するのは困難である。所望の設定点は、代表的には５℃であるが、達成可能な基準表面温度はおよそ２５℃より低い周囲温度である。このことは、広い視野を有する赤外線カメラが５５℃に相当する周囲温度で使用される適用において、達成可能な基準表面温度は約３０℃（５５〜２５℃）に予測されるという不都合を有する。これは所望の設定点と、１０℃に相当する特定されたシーン温度（ｓｃｅｎｅ  ｔｅｍｐｅｒａｔｕｒｅ）との両方よりも実質的に高い。
【０００３】
「最良の達成可能な」基準表面温度を使用して、カメラ較正が実行できるように、較正技術を修正することが可能であるが、カメラ較正がその理想設定点温度を使用して実行される場合に得られる性能に関し、カメラの性能における著しい欠損が起こる。その上、１点較正工程が、シーンの背景に存する温度と著しく異なる温度において実施される場合、実際の較正温度と所望の較正温度との間の違いの結果として、このような較正工程の利点および利益は実質的に失われるであろう。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従って、本発明の目的は、理想基準表面温度よりもむしろ達成可能な基準表面温度を使用すると同時に、実質的に回復される１点および２点較正の両方の利益を与える較正方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の一態様によれば、温度調整可能な基準表面を使用する赤外線カメラの較正方法が提供され、この方法は、
ａ）カメラのための凝視時間／表面温度の組み合わせを選択する工程と、
ｂ）選択された組み合わせのための不均一較正係数を決定する工程と、
ｃ）凝視時間／表面温度の組み合わせを調整する工程と、
ｄ）調整された組み合わせのための不均一較正係数を決定する工程と、
ｅ）凝視時間／表面温度の組み合わせを再調整する工程と、
ｆ）再調整された組み合わせのための不均一較正係数を決定する工程と、
ｇ）カメラのための最終不均一較正係数を得るために、選択され、調整され、再調整された不均一較正係数を使用する工程と、を具備している。
【０００６】
前記工程ａ）は、
（ｉ）ウェルフィル（ｗｅｌｌ−ｆｉｌｌ）を、動作シーン温度と凝視時間との関数として決定する工程と、
（ｉｉ）決定されたウェルフィルに従って、凝視時間／表面温度の組み合わせを選択する工程とを有利に有する。
好ましくは、前記ウェルフィルは、約５０％になるよう選択されるが、他の適当なウェルフィル値が、較正される赤外線カメラの特性に従って使用され得ることが、認識されよう。
【０００７】
その上、前記工程ｃ）は、
（ｉｉｉ）付加のウェルフィルを生じさせるために動作凝視時間のための表面温度を選択する工程を有する。
前記付加のウェルフィルは、１００％近くになるように選択されてよいが、適当なウェルフィル値は、また、較正される赤外線カメラの特性に従って使用されてもよい。
【０００８】
前記工程ｅ）は、再調整された表面温度を生じさせるために、前記工程（ｉｉ）の選択された凝視時間および付加のウェルフィルを使用することを有してもよい。
本発明に係われば、前記工程ｇ）は、選択された不均一較正係数および再調整された不均一較正係数の合計から調整された不均一較正係数を減じたものに従って、最終不均一較正係数を決定することを含む。それぞれ凝視時間／表面温度の組み合わせのための不均一較正係数が最終較正のために使用される方法は、較正されるカメラの特性に従って変更されてよいことは当然である。
【０００９】
本発明の別の態様によれば、赤外線カメラを較正するための装置が提供され、この装置は、
基準表面を見るためにカメラが装置内に置かれる、温度制御された基準表面と、
所定の判定基準に従って、基準表面の温度およびカメラの凝視時間を制御するための制御手段と、
所定の判定基準に応じ凝視時間／表面温度の組み合わせそれぞれに従ってカメラからの出力信号を受信し、凝視時間／表面温度の組み合わせそれぞれに対応する不均一較正係数を生じ、所定の判定基準に従って決定された不均一較正係数から、カメラのための最終不均一較正係数を決定するための処理手段と、を具備する。
【００１０】
本発明をより理解するために、これより参照符号が例示としてのみ添付の図面に付される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
本発明によれば、理想的な基準表面温度の代わりに達成可能な基準表面温度を使用して、実質的に回復される１点と、ひいては２点較正方法の利益をもたらす方法が説明される。
最初に図１に、較正装置１０が示されている。この装置は、温度制御装置１４により温度が制御される基準表面１２を有している。較正される赤外線検出器アレイ１６が、赤外線検出器１８がその視野内に基準表面を有するように、位置されている。この検出器は、従来技術のように冷却装置２０、処理装置２２、および記憶装置２６を有する。この処理装置２２は、検出器１８へ入射する放射線を表示する出力信号２４を出力する。
【００１２】
この較正装置１０は、また、検出器アレイ１６からの出力信号２４を受信して、前記温度制御装置１４および記憶装置２６に制御信号を与えるよう接続された制御装置２８を有している。
赤外線検出器１８が較正される場合、基準表面１２のそれぞれの温度に対して、出力信号２４が制御装置２８の温度と比較されるように、上に説明した接続が成される。このことは、検出器１８が正常動作の場合の使用のために記憶装置２６に記憶されている特定の温度のための較正係数を与える。
【００１３】
本発明によれば、較正されなければならない誤差の主原因は、オフセットおよびスケールファクタにおけるピクセルごとの変動であるということが、想定されている。２点、または、可能であれば３点の較正技術を使用して、オフセットおよびスケールファクタに対して較正することが可能である。
【００１４】
赤外線検出器、即ち、カメラが、入射放射線を収集するピクセルのアレイを有することと、各ピクセルが、オフセット値およびスケールファクタとして規定される独自の特性を有する傾向にあることが、容易に理解されよう。
理想的な２点較正のために、最初に、基準表面の温度が、等価シーン温度動作点に近いか、またはそれに同等の値を有するように制御される。選択される凝視時間が選ばれ、選択された凝視時間全体にわたり、検出器からデータが収集される。検出器は、基準表面の焦点がずれた画像を、凝視時間全体にわたって、受信することが、認識されるであろう。収集されたデータは、等価シーン温度で、補正値、例えばピクセルのオフセット値を決定するように処理される。そして、基準表面の温度は、最初の温度と異なるように、即ち、等価シーン温度と異なるように変えられる。
【００１５】
同じ放射線および凝視時間条件の下でオフセットと感度とを較正するために、最初の温度でのデータが理想的に使用され、その条件の下で検出器が使用され、検出器がシーンから検出するであろう同じ「ウェルフィル」条件を与えることが容易に理解されよう。用語「ウェルフィル（ｗｅｌｌ−ｆｉｌｌ）」は入射放射線に従ってピクセルそれぞれによって得られる電荷量を表す。
【００１６】
しかしながら、所望の放射線値を与えるために基準表面の温度を減少させることが不可能なので、本発明は、凝視時間と、等価ウェルフィルを与える基準表面温度との組み合わせの選択を与える。このことは、高い基準表面温度での増加したスペクトル放射線をオフセットするたように、凝視時間を短くする必要がある。この関係は、プランクの法則により規定され、非線形である。
【００１７】
凝視時間と基準表面温度との適当な組み合わせの選択は、実施される等価ウェルフィルにおける較正を可能とする。しかし、このような較正の適正は、凝視時間における、無視できるか、更に較正されるかの変化に関連した不均一性の影響に依存している。一般的に、凝視時間の変化に関連した不均一性の影響は、無視できなく、見積もられる必要があることを想定されたい。これは、等価ウェルフィル値を互いに与える凝視時間と基準表面温度との組み合わせで、２またはそれ以上の較正を実施することにより、達成されることができる。
【００１８】
本発明によれば、３ステップ較正プロセスが、実際に使用されるであろう凝視時間とウェルフィルとの組み合わせに対してピクセルのオフセットとスケールファクタ値とが推定されるのを可能にするように、凝視時間と基準表面温度の３つの組み合わせを本質的に有している。このことは図２に示されている。
【００１９】
赤外線検出器、即ち、画像装置が、Ｗａｃｔｕａｌのウェルフィルを与えるために凝視時間Ｓａｃｔｕａｌ、（ステップ３２）およびシーン温度Ｔａｃｔｕａｌ、（ステップ３０）と共に使用されることと仮定する。従って、
Ｗａｃｔｕａｌ＝関数（Ｔａｃｔｕａｌ、Ｓａｃｔｕａｌ）
となる。ここで、Ｗａｃｔｕａｌは５０％の代表的な数値を有する（ステップ３４）。
【００２０】
最初の不均一較正ステップＣａｌ１が、可能な限り冷たい基準表面温度でウェルフィルＷａｃｔｕａｌを与えるために、Ｔ１およびＳ１において実施される（ステップ３６）。このことは、Ｓ１が実際に使用された凝視時間Ｓａｃｔｕａｌよりも短い凝視時間であることを意味する。
【００２１】
得られた補償（即ち、不均一較正係数（ステップ３８））は、ウェルフィルに関して正しいが、検出器が、ＳａｃｔｕａｌからＳ１までの凝視時間における変化に対して不均一感度を有する場合、誤りである。これらの感度は、更に２つの較正ステップにより測定および補償されることが可能である。
【００２２】
第２較正ステップＣａｌ２が、Ｔ２の中間表面温度およびＳａｃｔｕａｌの凝視時間において実施される。このことは、例えば１００％に近いウェルフィルであるＷ２のウェルフィルを与える（ステップ４０）。また、不均一較正係数が、ステップ４２において決定される。
【００２３】
第３較正ステップＣａｌ３が、Ｗ２のウェルフィルを与えるためにＳ１の凝視時間を使用してＴ３の表面温度で実施され（ステップ４４）、また、不均一較正係数が、ステップ４６において決定される。
前記第２較正ステップと第３較正ステップとの各々が、不均一較正係数を与え、そして、これらの不均一較正係数は、最初の（第１）不均一較正ステップに対して調整が必要か否かを決定するために使用可能であることが認識されよう。この例において、第２較正ステップと第３不均一較正係数との間の差は、第１不均一較正の調整をもたらすよう使用される（ステップ４８）。しかしながら、第２および第３較正係数が、第１不均一較正係数の調整を達成するために異なる方法において使用されてよいことが理解されよう。
【００２４】
３つの較正ステップ全てが、達成可能な温度および凝視時間において実施されることが予期される。
最終不均一較正係数ｃｏｅｆｆｆｉｎａｌは、
ｃｏｅｆｆｆｉｎａｌ＝ｃｏｅｆｆＣａｌ１＋ｃｏｅｆｆＣａｌ３−ｃｏｅｆｆＣａｌ２
として表すことができる。
【００２５】
いくつかの新しい表面温度設定点および対応する凝視時間は、等価ウェルフィルを達成するために計算され、検査される必要があるが、本発明による方法は実際に極めて単純である。その上、３つの検査からの不均一較正係数は上に説明したように組み合わせられる必要がある。
【００２６】
本発明による方法は、従来技術で要求された温度よりも高い表面温度が、較正の間利用可能であるという利点を有する。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】本発明による較正装置を図解するブロック線図である。
【図２】本発明による較正プロセスを図解するフローチャートである。
【図１】
2005530129.tif 000003
【図２】
2005530129.tif 000004
【手続補正書】
【提出日】平成16年7月12日(2004.7.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
温度調整可能な基準表面（１２）をその視野内において使用する赤外線検出器の較正方法であって、
ａ）基準表面（１２）の温度を第１表面温度（Ｔ１）に制御し、第１温度（Ｔ１）と凝視時間（Ｓ１）が基準表面（１２）の可能な限り低い温度において検出器のピクセルの所定の第１ウェルフィル（Ｗａｃｔｕａｌ）を達成するために選択されて、第１凝視時間（Ｓ１）全体にわたり検出器（１８）の出力を測定する工程と、
ｂ）第１較正係数（ｃｏｅｆｆＣａｌ１）を得るために前記検出器（１８）の測定出力を処理する工程と、
ｃ）前記基準表面（１２）の温度を第２表面温度（Ｔ２）に調整し、第２温度（Ｔ２）と凝視時間（Ｓａｃｔｕａｌ）とが検出器のピクセルの第２所定ウェルフィル（Ｗ２）を達成するために選択されて、第２凝視時間期間（Ｓａｃｔｕａｌ）全体にわたり検出器（１８）の出力を測定する工程と、
ｄ）第２較正係数（ｃｏｅｆｆＣａｌ２）を得るために前記検出器（１８）の測定出力を処理する工程と、
ｅ）前記基準表面（１２）の温度を第３表面温度（Ｔ３）に再調整し、第３温度（Ｔ３）が第１凝視時間期間（Ｓ１）全体にわたり検出器のピクセルの第２所定ウェルフィル（Ｗ２）を達成するために選択されて、第１凝視時間期間（Ｓ１）全体にわたり検出器（１８）の出力を測定する工程と、
ｆ）第３較正係数（ｃｏｅｆｆＣａｌ３）を得るために前記検出器（１８）の測定出力を処理する工程と、
ｇ）得られた第２および第３較正係数（ｃｏｅｆｆＣａｌ２、ｃｏｅｆｆＣａｌ３）に基づき第１較正係数（ｃｏｅｆｆＣａｌ１）を調整する工程と、を具備することを特徴とする方法。
【請求項２】
前記ピクセルの前記第１所定ウェルフィルは、約５０％である、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記ピクセルの前記第２所定ウェルフィルは、約１００％である、請求項１または２に記載の方法。
【請求項４】
前記工程ｇ）は、第１較正係数（ｃｏｅｆｆＣａｌ１）と第３較正係数（ｃｏｅｆｆＣａｌ３）較正係数との合計から第２（ｃｏｅｆｆＣａｌ２）較正係数を減じたものに従って、最終較正係数を決定することを有する、前記全ての請求項のいずれか１項に記載の方法。
【請求項５】
基準表面（１２）を見るために検出器（１８）が装置内に置かれる、温度制御された基準表面（１２）と、
前記基準表面（１２）の温度（Ｔ）と検出器（１２）の凝視時間（Ｓ）とを制御するための制御手段（１４、２８）と、
第１、第２、および第３所定検出器凝視時間と基準表面温度の組み合わせにおいて検出器（１２）からの出力信号を受信し、第１、第２、および第３所定検出器凝視時間と基準表面温度の組み合わせそれぞれに対応する較正係数を生じ、凝視時間と基準表面温度の組み合わせそれぞれのために決定された較正係数から、検出器のための最終較正係数を決定するための処理手段（２８）と、を具備する赤外線検出器を較正するための装置であって、
第１凝視時間および基準表面温度の組み合わせにおいて第１温度（Ｔ１）および凝視時間（Ｓ１）は、基準表面（１２）の可能な限り低い温度において検出器のピクセルの所定の第１ウェルフィル（Ｗａｃｔｕａｌ）を達成するために選択され、
第２凝視時間および基準表面温度の組み合わせにおいて第２温度（Ｔ２）および凝視時間（Ｓａｃｔｕａｌ）は、検出器のピクセルの第２所定ウェルフィル（Ｗ２）を達成するために選択され、
第３凝視時間および基準表面温度の組み合わせにおいて第３温度（Ｔ３）は第１凝視時間期間（Ｓ１）にわたり検出器のピクセルの第２所定ウェルフィル（Ｗ２）を達成するために選択されることを特徴とする装置。
【請求項６】
前記ピクセルの前記第１所定ウェルフィルは、約５０％である、請求項５に記載の装置。
【請求項７】
前記ピクセルの前記第２所定ウェルフィルは、約１００％である、請求項５または６に記載の装置方法。
【請求項８】
前記第１較正係数（ｃｏｅｆｆＣａｌ１）と第３較正係数（ｃｏｅｆｆＣａｌ３）の合計から第２（ｃｏｅｆｆＣａｌ２）較正係数を減じたものに従って、最終較正係数が決定される、請求項５ないし７のいずれか１項に記載の装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００３】
「最良の達成可能な」基準表面温度を使用して、カメラ較正が実行できるように、較正技術を修正することが可能であるが、カメラ較正がその理想設定点温度を使用して実行される場合に得られる性能に関し、カメラの性能における著しい欠損が起こる。その上、１点較正工程が、シーンの背景に存する温度と著しく異なる温度において実施される場合、実際の較正温度と所望の較正温度との間の違いの結果として、このような較正工程の利点および利益は実質的に失われるであろう。
米国特許第６，１２７，６７９号は、較正された所定放射輝度と、光子検出素子のアレイと、観測されたシーンまたは基準ＩＲ  ＬＥＤのいずれかからの検出素子放射輝度のアレイに制御可能に焦点を合わせるための少なくとも２つの位置決め光学システムと、前記光学システムを２つの位置の間に制御可能に移動するための切替え装置と、シーン観測から生じる検出素子のアレイからの信号を、基準ＩＲ  ＬＥＤから生じる信号と共に較正するための前記光学システムの位置に反応するコンピュータ、とを提供する基準ＩＲ  ＬＥＤを含む放射輝度を生じるシーンを観測するための熱感知システムを開示している。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００５】
本発明の一態様によれば、温度調整可能な基準表面（１２）をその視野内において使用する赤外線検出器の較正方法が提供され、この方法は、
温度調整可能な基準表面（１２）をその視野内において使用する赤外線検出器の較正方法であって、
ａ）基準表面（１２）の温度を第１表面温度（Ｔ１）に制御し、第１温度（Ｔ１）と凝視時間（Ｓ１）が基準表面（１２）の可能な限り低い温度において検出器のピクセルの所定の第１ウェルフィル（Ｗａｃｔｕａｌ）を達成するために選択されて、第１凝視時間（Ｓ１）全体にわたり検出器（１８）の出力を測定する工程と、
ｂ）第１較正係数（ｃｏｅｆｆＣａｌ１）を得るために前記検出器（１８）の測定出力を処理する工程と、
ｃ）前記基準表面（１２）の温度を第２表面温度（Ｔ２）に調整し、第２温度（Ｔ２）と凝視時間（Ｓａｃｔｕａｌ）とが検出器のピクセルの第２所定ウェルフィル（Ｗ２）を達成するために選択されて、第２凝視時間期間（Ｓａｃｔｕａｌ）全体にわたり検出器（１８）の出力を測定する工程と、
ｄ）第２較正係数（ｃｏｅｆｆＣａｌ２）を得るために前記検出器（１８）の測定出力を処理する工程と、
ｅ）前記基準表面（１２）の温度を第３表面温度（Ｔ３）に再調整し、第３温度（Ｔ３）が第１凝視時間期間（Ｓ１）全体にわたり検出器のピクセルの第２所定ウェルフィル（Ｗ２）を達成するために選択されて、第１凝視時間期間（Ｓ１）全体にわたり検出器（１８）の出力を測定する工程と、
ｆ）第３較正係数（ｃｏｅｆｆＣａｌ３）を得るために前記検出器（１８）の測定出力を処理する工程と、
ｇ）得られた第２および第３較正係数（ｃｏｅｆｆＣａｌ２、ｃｏｅｆｆＣａｌ３）に基づき第１較正係数（ｃｏｅｆｆＣａｌ１）を調整する工程と、を具備することを特徴とする。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００６】
好ましくは、前記ウェルフィルは、約５０％になるよう選択されるが、他の適当なウェルフィル値が、較正される赤外線カメラの特性に従って使用され得ることが、認識されよう。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００７】
第２ウェルフィルは、１００％近くになるように選択されてよいが、いずれの適当なウェルフィル値はまた、較正される赤外線カメラの特性によって使用されてもよい。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
本発明に係われば、前記工程ｇ）は、選択された不均一較正係数および再調整された不均一較正係数の合計から調整された不均一較正係数を減じたものに従って、最終不均一較正係数を決定することを含む。それぞれ凝視時間／表面温度の組み合わせのための不均一較正係数が最終較正のために使用される方法は、較正されるカメラの特性に従って変更されてよいことは当然である。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
本発明の別の態様によれば、赤外線検出器を較正するための装置が提供され、装置は、
基準表面（１２）を見るために検出器（１８）が装置内に置かれる、温度制御された基準表面（１２）と、
前記基準表面（１２）の温度（Ｔ）と検出器（１２）の凝視時間（Ｓ）とを制御するための制御手段（１４、２８）と、
第１、第２、および第３所定検出器凝視時間と基準表面温度の組み合わせにおいて検出器（１２）からの出力信号を受信し、第１、第２、および第３所定検出器凝視時間と基準表面温度の組み合わせそれぞれに対応する較正係数を生じ、凝視時間と基準表面温度の組み合わせそれぞれのために決定された較正係数から、検出器のための最終較正係数を決定するための処理手段（２８）と、を具備する赤外線検出器を較正するための装置であって、
第１凝視時間および基準表面温度の組み合わせにおいて第１温度（Ｔ１）および凝視時間（Ｓ１）は、基準表面（１２）の可能な限り低い温度において検出器のピクセルの所定の第１ウェルフィル（Ｗａｃｔｕａｌ）を達成するために選択され、
第２凝視時間および基準表面温度の組み合わせにおいて第２温度（Ｔ２）および凝視時間（Ｓａｃｔｕａｌ）は、検出器のピクセルの第２所定ウェルフィル（Ｗ２）を達成するために選択され、
第３凝視時間および基準表面温度の組み合わせにおいて第３温度（Ｔ３）は第１凝視時間期間（Ｓ１）にわたり検出器のピクセルの第２所定ウェルフィル（Ｗ２）を達成するために選択されることを特徴とする。


【国際調査報告】
2005530129.tif 000005
2005530129.tif 000006