(57)【要約】ソーラスリット装置は、Ｘ線またはＥＵＶ輻射等、高エネルギー輻射の視準のために提供され、発散角が低く（０．１°未満）、透過効率が高い（６０から８０％以上）。ソーラスリット装置はガラス、雲母等の低密度材料から成る多数のブレードで構成され、これらブレードは反射率を低下させるよう処理されている。本発明のソーラスリット装置は、有利なことに、Ｘ線回折装置等、高エネルギー回折用途で生成される回折パターンのピーク強度を大きくし、ピーク幅を小さくする。
2005534024.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
高エネルギー輻射を視準するソーラスリットであって：
密度が６ｇ／ｃｍ３未満の少なくとも第１の材料から形成される複数のブレードを備え、
前記ブレードが前記ブレードに実質的に平行な輻射を透過し、発散輻射を吸収するよう位置決めされる、
ソーラスリット。
【請求項２】
前記第１の材料は密度が６ｇ／ｃｍ３未満である、請求項１に記載のソーラスリット。
【請求項３】
発散角が０．１°未満であり、透過効率が少なくとも６０％である、請求項１または２に記載のソーラスリット。
【請求項４】
前記第１の材料はガラスである、請求項１〜３のいずれか１項に記載のソーラスリット。
【請求項５】
前記第１の材料は雲母である、請求項１〜３のいずれか１項に記載のソーラスリット。
【請求項６】
前記透過効率は少なくとも８０％である、請求項１〜５のいずれか１項に記載のソーラスリット。
【請求項７】
各ブレードの長さは５ｃｍを超える、請求項１〜６のいずれか１項に記載のソーラスリット。
【請求項８】
各ブレードの長さは少なくとも１２ｃｍである、請求項７に記載のソーラスリット。
【請求項９】
各ブレードの長さは少なくとも１５ｃｍである、請求項８に記載のソーラスリット。
【請求項１０】
各ブレードの厚みは７０μｍ未満である、請求項１〜９のいずれか１項に記載のソーラスリット。
【請求項１１】
各ブレードの厚みは５０μｍ未満である、請求項１０に記載のソーラスリット。
【請求項１２】
前記ブレードのそれぞれの表面は高エネルギー輻射に対して無反射である、請求項１〜１１のいずれか１項に記載のソーラスリット。
【請求項１３】
前記ブレードのそれぞれの表面はＸ線に対して無反射である、請求項１２に記載のソーラスリット。
【請求項１４】
前記ブレードはそれぞれ無反射被膜を有する、請求項１２または１３に記載のソーラスリット。
【請求項１５】
前記ブレードのそれぞれの表面は反射を防ぐようにエッチングされる、請求項１２または１３に記載のソーラスリット。
【請求項１６】
高エネルギー輻射回折を行うシステムであって：
高エネルギー輻射線源と、
１つ以上の高エネルギー輻射視準装置と、
高エネルギー輻射が試験サンプルに当たった後に、前記高エネルギー輻射を集める１つ以上の装置と
を備え、
前記各高エネルギー視準装置は、密度が６ｇ／ｃｍ３未満の少なくとも第１の材料で形成される複数の視準部材を備える、システム。
【請求項１７】
前記または各高エネルギー視準装置は、発散角が０．１°未満であり、透過効率が少なくとも６０％である、請求項１６に記載の回折システム。
【請求項１８】
前記高エネルギー輻射はＸ線輻射を備える、請求項１６または１７に記載の回折システム。
【請求項１９】
前記高エネルギー輻射は極紫外線（ＥＵＶ）輻射を備える、請求項１６または１７に記載の回折システム。
【請求項２０】
前記高エネルギー輻射視準装置は１つ以上のソーラスリット装置から成る、請求項１６〜１９のいずれか１項に記載の回折システム。
【請求項２１】
前記第１の材料はガラスである、請求項１６〜２０のいずれか１項に記載の回折システム。
【請求項２２】
前記低密度材料は雲母を備える、請求項１６〜２０のいずれか１項に記載の回折システム。
【発明の詳細な説明】
【発明の分野】
【０００１】
本発明はＸ線計測学に関する。特に、本発明はＸ線ビームの発散制御に使用する吸収素子に関する。
【発明の背景】
【０００２】
近年、Ｘ線および極紫外線（ＥＵＶ）輻射等、高エネルギー輻射に関する技術が増えてきた。しかし、この種の輻射のまさにその性質のために、その発散制御は難しいことが多い。Ｘ線ビームの発散制御に使用する通常の光学素子の１つに、ソーラスリットと呼ばれるものがある。ソーラスリットは、一般に、アレイの開放区間を通過できない発散光線を単純に遮ったり吸収したりすることでＸ線ビームの発散を制限する、１組の平行または略平行なプレートまたはブレードを備えている。
【０００３】
一般に、ソーラスリットは、発散Ｘ線の吸収を可能にする高密度の材料で製作されていた。高エネルギー発散Ｘ線を十分に吸収するため、高密度金属（例えば、モリブデンまたは黄銅）等、高密度の材料をソーラスリットに使用する必要があると一般に考えられていた。
【０００４】
故に、ソーラスリットのブレードは従来、重金属または高吸収性金属のシートで製作されていた。これら金属シートは極薄くできるが、非常に薄いシートの機械的安定性は精密なＸ線作業には十分ではない。例えば、金属に共通して起こるシートの反りや曲がりにより、ソーラスリット装置の透過率が悪化し、結果として発散角が予測できないものとなる。
【０００５】
金属箔ソーラスリットは、比較的厚い箔（例えば、約２５０μｍのオーダー）で製作されていた。この金属箔デバイスの透過効率は比較的低い。更に、所要発散角が小さくなるにつれ、そのようなデバイスの透過効率は悪化する（すなわち、設計上の制約が大きくなるにつれ、そのようなデバイスの出力品質は悪化する）。
【０００６】
重金属以外の材料を使用してソーラスリットＸ線コリメータを製作しようとする試みのひとつに、発明者John Joseph Zolaに代わってPhilips Corp.が出願した欧州特許第０３５４６０５Ｂ１号に記載されているものがある。しかし、そこに記載されているソーラスリットは、その製作にコストがかかるセラミック材料加工が必要であり、故に、商業用途には望ましくない。
【０００７】
Ｘ線およびその他高エネルギー輻射の回折のためのソーラスリット装置には、多くの重要な商業用途がある。ソーラスリットをＸ線コリメータとして使用する商業用途のひとつに、Ｘ線回折装置がある。Ｘ線回折装置は、スリットで制限されたＸ線ビームが粉末、塵、医薬品、または粉末もしくは結晶形状の何かに当たるときそれを試験するために使用する。Ｘ線回折装置で測定する元素の例には、丸薬、キャピラリ充填粉末、およびプレート間充填粉末を含んでいるものがある。Ｘ線回折装置は、入射Ｘ線の透過測定または反射測定のいずれかに使用できる。
【０００８】
Ｘ線回折装置は、世界的に最も広く使用されるＸ線回折の形態である。従って、Ｘ線回折装置に使用できるソーラスリットは、多様な商業回折用途に非常に望ましい。更に、従来のソーラスリットを使用する多くの装置はすでにＸ線回折装置向けに開発されている。Ｘ線回折装置は非常に弱い信号を生成し、これを測定する必要があるので、回折されたＸ線信号を長期間、一般には数時間かけて測定しなければならない。従って、Ｘ線光学機器（例えば、ソーラスリット装置）の透過効率が増大すると、入射輻射が強くなるため処理時間を大幅に短縮でき、そしてまた、これに比例して強い回折信号が生成されるので、大きな商業上の利点が提供される。
【０００９】
しかし、Ｘ線回折装置等の商業用途に使用するソーラスリット装置に一般に関連する問題のひとつに、ソーラスリット装置は一般に、透過効率が比較的小さく、発散角が大きいということがある。例えば、以前から使用されている一般的なソーラスリット装置は、透過効率が３０％以下である。従って、一般に、装置を通過するＸ線輻射の優に半分以上は失われ、ソーラスリットを使用する用途での測定に使用できない。更に、以前から使用されているソーラスリット装置の一般的な発散角は、一般に０．２°から０．８°である。この一般的な発散角は大きく、Ｘ線回折装置等、多くの重要な商業用途向けにＸ線輻射を効果的に視準するソーラスリットの能力に悪影響を及ぼす。
【００１０】
従って、重金属製装置等、以前の装置に関連する問題を伴わずに、発散Ｘ線を十分に吸収する材料でソーラスリットのブレードを製作することが望まれる。特に、従来の金属ブレードの場合と同じように、曲がらない材料を使用するソーラスリット装置の提供が望まれる。また、比較的低密度の材料を使用するソーラスリットの提供が望まれる。更に、金属ブレードまたは金属箔ブレードよりも断面が薄く、結果として装置の透過効率を良好にするブレードを有するソーラスリット装置の製作が望まれる。低発散角を保ちながら、透過効率をこのように増大させるのが望ましい。更に、上記目的を提供するとともに、商業上の利点が確保されるよう比較的廉価なソーラスリットＸ線コリメータを提供するのが望ましい。
【００１１】
更に、上記低密度材料を用いたソーラスリットを使用するＸ線回折計、すなわち回折システムを提供するのが望ましい。特に、そのようなソーラスリットの高透過効率と低発散角を利用する、高エネルギー輻射回折を行うシステムの提供が望まれる。
【発明の概要】
【００１２】
本発明によれば、比較的廉価で、軽量かつ低密度の材料を用いるＸ線ソーラスリット視準装置により上記目的が達成される。使用材料の密度は６ｇ／ｃｍ３未満である。本発明のソーラスリット装置は、０．１°未満の低い発散角を保持しながら、６０％超の高い透過時スループット効率を提供する。
【００１３】
本発明の一実施の形態によれば、本発明は、ブレードが低密度材料で製作されるソーラスリット装置を提供する。本発明のソーラスリットのブレードに使用する低密度材料の例には、ガラスおよび雲母を含んでいるものがある。有利なことに、そのような低密度材料でソーラスリット装置を製作することにより、本発明の装置のブレードを、従来のソーラスリットブレードよりもはるかに薄くすることができる。例えば、本発明の一実施の形態によれば、厚みの測定値が略５０μｍのガラスブレードを使用してもよい。そのような薄いブレードにより、ソーラスリット装置のスループット効率を大幅に増大できる。更に、本発明のソーラスリット装置のブレードは、ブレード間の間隔を広くして離間させてもよく、それによっても透過効率が増大する。
【００１４】
更に、本発明のソーラスリット装置のブレードは長さを長くして製作してもよく、それにより、装置を通って透過されるビームの発散角が小さくなる。本発明のブレードは、先行装置の金属ブレードのように曲がらないので、このように長さを長くすることが可能である。本発明の一実施の形態によれば、ソーラスリット装置の発散角は０．１°未満である。
【００１５】
ブレードの長さが長いため、ブレードの構成にはより低密度な材料を使用してもよい。これは、本発明のソーラスリット装置の発散角を超える（例えば、０．１°を超える）発散ビームが、各ブレードの吸収能力を大いに高める傾斜角でソーラスリット装置のブレードに突き当たるからである。例えば、本発明の一実施の形態によれば、各ブレードの吸収能力は約６００倍向上する。この大きい吸収率のため、ガラス、雲母、およびその他低密度材料は、Ｘ線を含む発散高エネルギー輻射を十分に吸収する。
【００１６】
また、本発明は、上記ソーラスリットを使用する回折計、すなわちＸ線またはその他高エネルギー輻射の回折システムを提供する。特に、本発明が提供する回折システムは、システム内での、視準素子としてのソーラスリットの使用を可能にする。ソーラスリットは、発散角を大幅に小さくし、透過効率を有利に大きくする。特に、回折システムが使用するソーラスリットは、０．１°未満の発散角を保持しながら、少なくとも６０％、好ましくは略８０％の透過効率を可能にする。このことは、比較的低密度の材料で製作されたソーラスリットの使用により達成される。
【００１７】
本発明の上記特長とそれにより達成される利点を、添付図面に示す特定の実施の形態を参照して、以下詳細に説明する。
【本発明の詳細な説明】
【００１８】
本発明の基礎となる原理の理解を容易にするために、本発明を特にその実施の形態と、本発明を使用する特定用途を参照して以下説明する。しかし、本発明の実際の用途が、本明細書に記載する特定の実施の形態に限定されないことは、当業者には言うまでもない。それどころか、本発明は透過時スループット効率の高い、および／またはそれに関連して発散角の小さいソーラスリットＸ線コリメータが望まれる各種用途において有用である。本発明のソーラスリット装置は、Ｘ線回折装置等、高エネルギー輻射用途で使用する従来の高エネルギー放射線またはＸ線光学機器に関連付けられたソーラスリット装置よりも、透過効率がはるかに高く、また発散角がはるかに小さいので、本発明は多様な用途において商業上の利点を提供する。
【００１９】
図１は代表的なソーラスリットの構成を示し、この構成を変更して本発明の一実施の形態を形成できる。図１において、１００はソーラスリット装置を示している。ソーラスリット装置は多数の平行ブレード１０２ａ，１０２ｂ，１０２ｃ，１０２ｄ，１０２ｅ，１０２ｆで構成されている。図１には限られた数のブレードのみ示されているが、ソーラスリット装置１００を、すべては図示していないものの、多数のブレードで構成できることは当業者には言うまでもない。ソーラスリット装置の左側には、４つの長い矢印で表されたいくつかのＸ線が示されている。ソーラスリットＸ線視準装置１００は、発散Ｘ線（例えば、図示の上から２つのＸ線の方向に輻射されるＸ線）の通過を妨げるとともに、非発散Ｘ線（例えば、図示の一番下のＸ線）の通過を許容することにより機能する。従って、多数のＸ線がソーラスリット装置１００に入射するものの、ソーラスリット装置のブレードに平行または略平行な（すなわち、僅かに発散する）Ｘ線のみがこれを通過できる。一方、発散Ｘ線はすべてブレード１０２により吸収される。
【００２０】
ソーラスリット装置１００の主要な性能パラメータは、その発散角と透過効率である。いずれのソーラスリット装置１００の理論上の発散角も、下の数式１により与えられる：
【数１】
2005534024.tif 000003
ここで、ΔΘはソーラスリット装置１００の理論上の発散角であり、ｄはソーラスリット装置１００のブレード１０２間の間隔であり、そして、ｌはソーラスリット装置１００の各ブレード１０２の長さである。しかし、注意すべきは、式１で書き表される発散角は理論上のものにすぎず、製造上の瑕疵があるソーラスリット装置に関して発散角は悪化する点である。従って、例えば、正しく離間していなかったり、適当に位置合わせされていないブレードを有するソーラスリット装置は、先の式１で算出される発散角よりも発散角が大きくなる（すなわち、ほとんどの用途において悪化する）。
【００２１】
透過効率は、以下に示す数式２により算出できる：
【数２】
2005534024.tif 000004
ここで、Ｔはソーラスリット装置１００の透過効率を表し、ｄはソーラスリット装置１００のブレード１０２間の距離であり、そして、ｔはソーラスリット装置の各ブレード１０２の厚みである。先の式１で定義される理論上の発散角と同じように、式２で定義される透過効率は理論上のものにすぎず、製造上の瑕疵により大きな影響を及ぼされる。例えば、完全には平坦でない、または曲がるブレードや、発散Ｘ線を適当に吸収しないブレードは、ソーラスリット装置の全体の透過効率を低下させる。
【００２２】
式１および式２に関して注意すべきは、これらの式において材料は全く考慮されない点である。しかし、これら式は共に、ソーラスリット装置１００のブレード１０２に使用する材料は、発散Ｘ線が反射したり、そうでなければソーラスリット装置を通過するのを防ぐに足る十分なＸ線吸収を提供するものであると仮定している。
【００２３】
ソーラスリット装置のブレードがＸ線を確実に吸収できるように、ブレードは従来、重金属または高吸収性金属のシートで製作されていた。ソーラスリット装置の構成において一般に使用する金属には、モリブデン（Ｍｏ）または黄銅を含んでいるものがある。金属シートは極薄くできるが、非常に薄い金属シートの機械的安定性は一般に精密Ｘ線作業には十分でない。これはシートが反ったり、曲がったりする（よくあることだが）ことにより、先の式２で定義される透過効率が低下し、予測できない発散角（先の式１で定義される）が生じるからである。
【００２４】
式２において分かるように、ソーラスリット装置１００のブレード１０２のそれぞれの厚みが大きくなるにつれ、透過効率は低下する。これは、許容発散角度内での（すなわち、ブレードに略平行な）Ｘ線輻射がブレードの縁部によってより多く吸収されるからである。従って、比較的厚い箔（例えば、約２５０μｍ）を用いて製作されたソーラスリット装置用金属箔ブレードは、透過効率が低く、所要発散角が小さくなるにつれ透過効率は更に悪化する。同様の問題は金属ブレードにもある。金属ブレードは薄くできるが、先の式２で定義されるように高透過効率を生むための必要な厚みに制御できない。更に、金属で構成されるブレードは、一般に、曲がらないようにするため長さが約３から４ｃｍであり、これにより式１による装置の理論上の発散角は大きくなる。
【００２５】
一方、本発明はガラス、雲母等の低密度材料で製作されるブレード１０２を、改良されたソーラスリット装置１００内で使用する。材料の密度は一般に６ｇ／ｃｍ３未満である。有利なことに、ブレード１０２を製作する本発明のガラスおよびその他材料は、安定した非常に薄い長尺シートに形成できる。例えば、ガラスは厚みがわずか約５０μｍのシートに形成できる。このシートは、以前のソーラスリット装置のブレード形成に従来使用されてきた金属シートと同じように曲がらない。ガラスブレードは曲がらないので、ソーラスリット装置１００のブレード１０２の長さを５ｃｍ超にでき、そして、１２から１５ｃｍの範囲内、すなわち従来の金属製ブレードの長さの約４から５倍の長さまで長くできる。
【００２６】
このように、本発明のソーラスリット装置１００のブレード１０２の長さを長くしたため、先の式１で書き表される発散角は大幅に小さくなる。例えば、本発明により０．１°未満の発散角が容易に得られる。本発明の一実施の形態によれば、０．０７°の発散角が可能である。これにより、一般に０．２°から０．８°の発散角を生成する標準ソーラスリット装置１００に優る大きな商業上の利点が提供される。
【００２７】
更に、本発明のソーラスリット装置１００のブレード１０２の断面（ｔ）は薄いため、先の式２から分かるように透過効率は大幅に向上する。例えば、本発明により８０％超の透過効率が得られる。本発明の一実施の形態によれば、ガラスブレード１０２を使用すると６０％の透過効率が容易に得られるのに対し、金属ブレードを使用する従来ソーラスリット装置では、一般に、透過効率は３０％以下である。
【００２８】
本発明の実施の形態に関連して使用する「ガラス」という用語は、原子が結晶格子を持たないにもかかわらず互いに容易に動くことができない堅固な物質を含んでいる。本発明の実施の形態に関連して使用するほとんどのタイプのガラスは、一般に砂に含まれるシリカ（ＳｉＯ２）を基としている。軟化温度を約１２００°Ｃから作業に都合の良い温度まで下げるために、シリカに材料類を加えることが多い。シリカ基ガラスに通常加えられる添加剤には、ナトリウム（Ｎａ２Ｏ）およびカルシウム（ＣａＯ）を含んでいるものがある。更に、通常は窓ガラスやビンに使用され、成形および造形が容易なソーダ石灰ガラスを使用してソーラスリット装置のブレードを形成してもよい。高い高温強度、低い膨張係数、または良好な耐熱衝撃性が必要な場合には、パイレックス等、ホウ珪酸ガラスを使用してソーラスリット装置のブレードを形成してもよい。
【００２９】
先に指摘したように本発明以前には、ソーラスリット装置１００のブレード１０２は、重金属等の高密度材料で製作する必要があると考えられていた。従って、低密度材料でブレードを形成してソーラスリット装置を製作することはなかった。しかし、先の式１を参照して分かるように、ソーラスリット装置のブレード１０２（ｄ）間の間隔が比較的大きい場合には、長さ（ｌ）の長いブレードにより発散角（ΔΘ）は大幅に小さくなる。本発明に一義性を与えているのは、長さ（ｌ）が長く薄い無反射ブレードと比較的大きな間隔の組合わせである。従来の金属箔を使用してこれらを実現することは不可能と考えられていたが、本明細書に記載する低密度材料の使用によりこの組合わせを実現できる。先に述べたように、本発明のソーラスリット装置１００の発散角は、０．１°未満である。従って、ソーラスリット装置１０２を通る、発散Ｘ線の斜め経路の長さは、下の数式３で定義されなければならない：
【数３】
2005534024.tif 000005
ここで、Ｐはブレード１０２を通る斜め経路、本質的には低角度入射Ｘ線に有効な厚みを表し、ｔは各ブレード１０２の厚みを表し、そして、ΔΘはソーラスリット装置１００の発散角である。従って、発散角が略０．１°以下である本発明のソーラスリット装置１００では、有効厚はブレード厚（ｔ）と比較すると略６００倍大きくなる。演算と実験が共に示したのは、そのようなソーラスリット装置では、ガラスおよびその他低密度材料がＸ線輻射を完全かつ十分に吸収することである。
【００３０】
ソーラスリット装置１００のブレード１０２は無反射であるのがよいが、本発明のソーラスリット装置１００のブレード１０２を形成するため本発明の実施の形態に従って使用する薄いガラスブレードは、Ｘ線およびＥＵＶ輻射等、高エネルギー輻射を含むほとんどの輻射を自然に反射する。しかし、このことは無反射被膜を施したり、ブレードの表面にエッチングすることで容易に改良できる。薄いガラスブレードに被膜する場合には、本来高粗度のいくつかの金属をガラス表面上へ蒸着させることができる。ガラスブレード上への無反射被膜の形成に使用できるそのような金属には、多数ある中でも、金およびプラチナを含んでいるものがある。本発明の一実施の形態によれば、被膜は硫酸バリウム（ＢａＳＯ４）で形成できる。これは、厚みがわずか１０〜１５μｍの安定した確実な被膜を形成できるため有益である。また、金、プラチナ、タングステン、および硫酸バリウムも大気中で腐食しないため有益であり、よって腐食による取替えの必要なく長期間使用できる。更に、金、プラチナ、および硫酸バリウムは、ブレードのそれぞれの吸収能力を高める比較的高密度の材料である。しかし、吸収の目的で、ブレード１０２に被膜するための重材料は更に何も必要でない。従って、無反射被膜は、ガラスブレード１０２からのＸ線の反射を適当に防ぐその他の要素で製作できる。そのような無反射被膜は、例えば、ガラスブレードのエッチング表面を含むことができる。
【００３１】
本発明の一実施の形態によれば、ソーラスリット装置１００は、０．５〜１．０μｍの金またはタングステンの表面被膜を有する、厚みが７０μｍ以下のいくつかのガラスブレード１０２を備えることができる。本発明のソーラスリット装置１００のガラスブレード１０２には、ブレード間の間隔を調整するため、精度よく重ね合わせたガラス片をスペーサとして使用してもよい。ガラスブレードの間隔は重要であり、先の式１および２で定義される発散角または透過効率のパラメータに悪影響を及ぼさないようほぼ厳密な精度に保たなければならない。
【００３２】
本発明のソーラスリット装置１００は、Ｘ線回折システム等、高エネルギー輻射画像システムの光学素子として使用してもよい。図２には、本発明を使用してもよい基本的なＸ線回折システム２００のブロック図が示されている。図２は基本的なＸ線回折システムに関するが、これに関連付けられた基本的な設定およびコンポーネントは、高エネルギー輻射の別の形態を使用する他の回折システムにも関連付けられる。従って、図２のＸ線回折システム内へのソーラスリットコリメータ実装に関する検討事項は、他の高エネルギー輻射回折システムにも当てはまる。
【００３３】
図２の回折システム２００では、サンプルの分析に使用するＸ線を生成するためＸ線線源２０２を使用する。この線源２０２は、例えば、レーザー光線を蒸発させ、かつＸ線輻射を放出する多数の荷電イオンを生成する、銅箔等の金属箔を備えていてもよい。図２に示す線源２０２は、図２の紙面に対して垂直である。
【００３４】
線源２０２からのＸ線輻射は、上下方向発散制御ユニット２０４を通過する。この上下方向発散制御ユニット２０４は、一般に、一群の軸方向ソーラスリットである。これらソーラスリットは、図２の紙面に対して平行であり、低発散ソーラスリットではない。本発明のソーラスリット装置を上下方向発散制御ユニット２０４として使用できることに当業者は気付くであろう。しかし、低発散が必要でない場合、本発明のソーラスリット装置に関連する高品質および低発散は必要とされない。
【００３５】
上下方向発散制御ユニット２０４を通過した後、次いでＸ線輻射は、スリット開口部として機能する入射ビーム発散スリット２０６を通過する。入射ビーム発散スリット２０６を通過した後、Ｘ線輻射は試料２０８に当たる。図２に示すＸ線回折システムで試験するのはこの試料２０８である。次いで、試料は入射Ｘ線輻射を回析させ、これにより回折Ｘ線輻射が生じる。回折Ｘ線輻射はＸ線視準光学機器２１０を通過する。
【００３６】
本発明の一実施の形態によれば、Ｘ線視準光学機器２１０には、本明細書に記載する低密度材料製ブレードを有するソーラスリット装置を使用してもよい。ソーラスリット装置２１０のブレードは、図２の紙面に対して垂直なものとして示されている。先に記載したように、ソーラスリット装置２１０は、０．１°以下の発散角と略８０％の高透過効率を備える低発散Ｘ線輻射を生成するという有益な効果を有する。
【００３７】
回析されたＸ線輻射がソーラスリット装置２１０で視準されると、次いで、Ｘ線輻射は結晶モノクロメータ２１２で反射され、検出器２１４へと向かう。結晶モノクロメータ２１２は、回折Ｘ線の所望波長を回折により分離するのに用い、例えば、黒鉛を含むいずれの適当な結晶モノクロメータでもよい。検出器２１４は、回析Ｘ線輻射の検出に適当ないずれの検出器を備えていてもよい。例えば、本発明の一実施の形態はシンチレーション検出器を使用する。
【００３８】
本発明は視準光学機器２１０として使用する場合、高エネルギー（例えば、Ｘ線またはＥＵＶ）回折計で生成される回折パターンのピーク幅とピーク強度を共に向上させるという点において、従来の高エネルギー輻射光学機器に優る特異な利点を示す。先ず、本発明はＸ線回折計に使用する場合、より狭い回折ピーク幅を提供するため、商業上有利である。一般に、回折計上で計測されるピーク幅は、サンプル品質および装置幅の２つのパラメータに依存する。サンプル品質はサンプル異常、熱振動、粒径、格子内歪み／応力、および結晶格子を備える回折面同士の整合品質等の要素を含んでいる。これら要素は、一般に、改良されたＸ線光学機器では改善されない。しかし、装置幅は、主にＸ線光学機器により調整され、特に、本発明のようなソーラスリット装置をＸ線回折システム内で使用する場合にはこれにより調整される。従って、ピーク幅を大きくする装置幅は、効率的かつ効果的なソーラスリットの使用により最小化できる。
【００３９】
Ｘ線は本来発散性である。回折計は、Ｘ線を線源からサンプル内へ、次いで検出器内へと案内して、散乱角の関数として散乱強度を計測するよう設計されている。Ｘ線ビームは、最も基本的なものがスリットである光学素子、またはより複雑な多層光学機器、すなわちソーラスリットにより方向づけられる。従って、Ｘ線光学機器の使用によりビーム発散を制御できるものの、発散を完全になくすことはほとんどできない。最小発散角を提供する本発明は全体の装置幅を小さくし、故に、ピーク幅がより狭くなる。
【００４０】
Ｘ線回折装置で生成される回折パターンの計測されたピーク幅は、サンプル品質の幅と装置幅の組合わせである。より具体的には、計測ピーク幅は一般に両方の幅効果のコンボリューションである。故に、サンプル品質が悪化し、ビーム発散、すなわち装置幅が大きくなるほど、計測ピーク幅は広くなる。従って、装置幅により本質的に、理論上特定装置上で計測できるピーク幅の下限が設定される。本発明は最小の装置幅を提供し、それにより、理論上所定回折計で計測できるピーク幅の下限に接近する。狭い回折ピーク幅は、サンプルの類似成分の分解能を高めるのが望ましい。従って、本発明により、より大きい発散角を生成する光学機器を使用する装置（すなわち、装置幅がより大きい装置）上で個別に分解できない類似成分を、本発明の実施の形態により個別に分解できる。すなわち、より狭いピーク分離度を保持することにより、本発明の実施の形態は、所定サンプル内でより多くの情報を得ることができる。
【００４１】
Ｘ線回折計の性能に寄与する第２パラメータは、ピーク強度である。Ｘ線回折装置では、使用するＸ線輻射の性質のため、ピーク強度を大きくするのは難しい。先に述べたように、熱雑音等、雑音を低減し得る大量のデータを収集するために、比較的長期間かけてサンプルを分析するのが一般的である。この技術により、観察されるピーク強度は大きくなる。しかし、ピーク強度が向上すれば、特定サンプルの計測値を十分に収集するための所要時間が短縮される。例えば、Ｘ線回折装置では、ピーク強度が低く、概ね周囲雑音フロア近傍にあるとき、ピーク強度を２倍向上させることは極めて重要である。
【００４２】
ピーク強度に影響を及ぼす要因のうちのいくつかは、一次ビームの強度、サンプル吸収、およびＸ線光学機器の効率を含んでいる。Ｘ線光学機器の透過効率は、本発明のソーラスリット装置１００の使用により大幅に向上する。例えば、本発明のソーラスリットの透過効率の増大は、Ｘ線回折用途におけるピーク強度に大いに寄与する。
【００４３】
このように、先に述べたことから分かるのは、本発明のソーラスリットが、Ｘ線回折装置および類似の高エネルギー輻射用途向けに狭くかつ強い回折ピークを生成できるため、大きな商業上の利点を提供することである。特に、本発明のソーラスリットをＸ線回折システムのＸ線光学機器の一部として使用すると、ピーク強度を大きく、装置幅を小さくできるので、計測されるピーク幅は結果として狭くなる。より一般的に言って、本発明は発散を最少にし、透過効率を増大させる、Ｘ線またはＥＵＶ輻射等、高エネルギー輻射専用のソーラスリット装置を提供する。
【００４４】
本発明の範囲または本質的特徴から逸脱することなく、本発明を他の特定の形態で実施できることは、当該技術分野において通常の知識を有する者には言うまでもない。例えば、本発明の実施例をＸ線視準ソーラスリットを参照して説明したが、本発明の原理は、極紫外線（ＥＵＶ）および他のタイプの高エネルギー輻射等、Ｘ線輻射に類似する他の輻射の視準に適用できる。
【００４５】
更に、本発明をＸ線回折システム内での使用と利用可能性に関連して説明したが、本発明のソーラスリット装置を、Ｘ線または他の類似輻射の視準が必要および／または望まれるいずれのシステムでも有用に使用できることは、当業者には言うまでもない。
【００４６】
従って、ここに開示した実施の形態は、すべての点において説明上のものであり、制限的なものではないと考える。本発明の範囲を、上記の説明でなく添付の請求の範囲で示すが、本発明の均等論の意味と範囲に入るすべての変更は本発明に含まれることを目的とする。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明の一実施の形態によるソーラスリットコリメータのブロック図である。
【図２】本発明を使用できる基本的な回折システムのブロック図である。
【図１】
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【図２】
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【国際調査報告】
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