(57)【要約】光記録キャリアに情報を記録するための記録パルス系列のパラメータからなるセットを決定する方法が開示される。はじめに、一連のテストパターンがパラメータの値で記録キャリアに書き込まれる。テストパターンを読取り、それぞれのリード信号のジッタ値が決定される。記録パルス系列のパラメータからなるセットと相対的なジッタ値との間の線形依存からパラメータの最適な値が導出される。また、本発明は、本方法を実行するために構成される装置に関する。さらに、本発明は、本発明に係る方法により決定された最適な記録パワーを有する光記録キャリアに関する。
2005530301.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光キャリア記録のための記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値を決定する方法であって、該記録パルス系列は、光記録キャリアに光学的に読取り可能なマークのパターンを書き込むために該光記録キャリアの記録表面に印加され、該マークは、１つの記録パルス系列により形成されており、
それぞれが多数のテストパターンを含むライトテストを書き込むステップと、それぞれのテストパターンは記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する予め決定された値をもち、該値はそれぞれのテストパターンについて異なり、
該テストパターンを読取り、リード信号を形成するステップと、
それぞれのテストパターンに対応するリード信号のジッタ値を計測するステップとを有し、
該記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値は、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値と相対的なジッタ値との間の線形依存を使用して最適化される、
ことを特徴とする方法。
【請求項２】
該テストパターンの最小の数Ｎminは、式Ｎmin＝２*Ｐ＋１により多数Ｐの記録パルス系列のパラメータに依存する、
請求項１記載の方法。
【請求項３】
光学的に読取り可能なマークのパターンは、ランレングス制限されたコード系列に対応する、
請求項１記載の方法。
【請求項４】
該テストパターンは、ランダムなランレングス制限されたコード系列を含む、
請求項１記載の方法。
【請求項５】
該パラメータは、該記録パルス系列の記録パルスのうちの１つの放射電力を示す、
請求項１記載の方法。
【請求項６】
該パラメータは、該記録パルス系列の記録パルスのうちの１つの幅を示す、
請求項１記載の方法。
【請求項７】
該記録パルス系列のパラメータの該最適化された値からなるセットは、該光記録キャリアに記録される、
請求項１記載の方法。
【請求項８】
Ｔをデータ信号における基準クロックの１周期の時間長を表す場合、３Ｔマークのパラメータは、より長いマークのパラメータとは異なる、
請求項５又は６記載の方法。
【請求項９】
光記録キャリアのための記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値を決定する装置であって、
記録パルス系列で記録キャリアの記録表面に放射線を照射することで記録キャリアに光学的に読取り可能なマークであって１つの記録パルス系列により形成されるマークからなるパターンを書き込む記録手段と、
テストパターンを含むテスト信号を発生し、該テスト信号を該記録手段の入力に供給するテスト信号ジェネレータと、
該記録キャリア上のマークを読取り、リード信号を供給する読取り手段と、
該テストパターンに対応するリード信号のジッタ値を計測し、該ジッタ信号を制御手段に供給するジッタ検出器と、
該記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値を最適化し、該記録パルス系列のパラメータからなる最適化されたセットを表す制御信号を供給する制御手段と、
記録されるべき入力情報を該記録手段に供給される出力信号に変換する処理手段とを有し、
該出力信号は、放射線のパルス系列に対応し、かつ該入力情報を表し、該記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する最適化された値は制御信号により提供され、該制御手段は、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値と相対的なジッタ値との間の線形依存性を使用して、該記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する最適化された値を導出するために構成される、
ことを特徴とする装置。
【請求項１０】
該記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値と相対的なジッタ値との間の線形依存性に関する係数を記憶する記憶手段を有する、
請求項９記載の装置。
【請求項１１】
該記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する最適化された値を記憶する記憶手段を有する請求項１０又は１１記載の装置。
【請求項１２】
基板と制御情報を含む該基板上の手段とを有する、放射線ビームにより書き込み可能な光記録キャリアであって、
該制御情報は、該記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値と相対的なジッタ値との間の線形依存に関する予め決定された係数の値を含む、
ことを特徴とする光記録キャリア。
【請求項１３】
該制御情報は、該記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する最適化された値を含む、
請求項１２記載の光記録キャリア。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光キャリア記録のための記録パルス系列のパラメータからなるセットの値を決定する方法に関し、ここで、記録パルス系列は、記録キャリア上に光学的に読取り可能なマークからなるパターンを書き込むために光記録キャリアの記録表面に印加され、マークは、１つの記録パルス系列により形成されており、該方法は、ライトテストを書き込むことを含んでおり、それぞれのライトテストは、多数Ｎのテストパターンを含み、それぞれのテストパターンは、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する予め決定された値をもち、該値は、それぞれのテストパターンについて異なる。また、該方法は、テストパターンを読取ること、読取り信号を形成すること、及びそれぞれのテストパターンに対応する読取り信号のジッタ値を計測することを含んでいる。
【０００２】
また、本発明は、光キャリア記録のための記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値を決定する装置に関し、記録パルス系列で記録キャリアの記録表面に放射線を照射することで記録キャリア上に光学的に読取り可能なマークであって、１つの記録パルス系列により形成されるマークからなるパターンを書き込む記録手段、テストパターンを含むテスト信号を発生し、該テスト信号を該記録手段の入力に供給するテスト信号ジェネレータ、記録キャリア上のマークを読み取り、リード信号を供給する読取り手段、テストパターンに対応するリード信号のジッタ値を計測し、制御手段にジッタ信号を供給するジッタ検出器、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値を最適化し、記録パルス系列のパラメータからなる最適化されたセットを表す制御信号を供給する制御手段、及び記録されるべき入力情報を該記録手段に供給される出力信号に変換する処理手段を有しており、出力信号は、放射線からなるパルス系列に対応し、かつ入力情報を表しており、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する最適化された値は、制御信号で提供される。
【０００３】
さらに、本発明は、放射線ビームにより書き込み可能な光記録キャリアに関し、基板と、制御情報を含む該基板上の手段とを有している。
【背景技術】
【０００４】
日本国特許出願第11005244号は、最適化された記録パルスのパラメータで光記録キャリアに書き込むための方法を開示している。公知の方法によれば、標準的な値の書込みパルスのパラメータによるライトテストが実施される。続いて、評価パラメータ（たとえばジッタ）によりライトテストが評価され、評価パラメータについて近似式の特性が決定される。最後に、最適化された記録パルスのパラメータ値は、近似式を使用して計算される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、公知の方法は、それぞれ特定のセットのライトテストに関する標準的な値について複雑な計算を必要とし、スケーラブルかつ一般的ではない近似式を使用している。
【０００６】
本発明の目的は、光キャリア記録のための記録パルスのパラメータに関する値を決定するための一般的な方法及び装置を提供することにある。
また、本発明の目的は、かかる方法を実行ために動作可能である装置を提供することにある。
本発明の目的は、本方法に関する情報が記録される光記録キャリアを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
第一の目的は、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値が、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値と相対的なジッタ値との間の線形依存を使用して最適化されることを、プリアンブルに記載された方法が特徴とするときに達成される。本発明の別の特徴は、最少の数Ｎminのテストパターンは、式Ｎmin＝２＊Ｐ＋１により多数Ｐの記録パルス系列のパラメータに依存することである。光学的に読取り可能なマークのパターンは、たとえば、ランレングス制限されたコード系列に対応している場合がある。さらに、記録パルス系列のパラメータの最適化された値が光記録キャリアに記録される場合がある。本発明はその実施の形態において、テストパターンがランダムなランレングス制限されたコード系列を有することを特徴としている。別の実施の形態では、パラメータは、記録パルス系列の記録パルスのうちの１つの放射電力、又は記録パルス系列の記録パルスのうちの１つの幅を示している。好適な実施の形態では、３Ｔマークのパラメータは、より長いマークのパラメータとは異なり、ここでＴはデータ信号における基準クロックの１周期の時間長を表している。
【０００８】
本発明の第二の目的は、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値と相対的なジッタ値との間の線形依存を使用して、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する最適化された値を導出するために制御手段が構成されることを、プリアンブルに記載された装置が特徴とするときに達成される。さらに、本装置は、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値と相対的なジッタ値との間の線形依存に関する係数を記録するための記憶手段を有している場合がある。また、記憶手段は、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する最適化された値を記憶するために作用可能である場合がある。
【０００９】
本発明の第三の目的は、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する値と相対的なジッタ値との間の線形依存の係数に関する予め決定された値を制御情報が含むことを、プリアンブルに記載された光記録キャリアが特徴とするときに達成される。さらに、制御情報は、記録パルス系列のパラメータからなるセットに関する最適化された値を含んでいる場合がある。
【００１０】
本発明の目的、特徴及び効果は、添付図面に例示されるように本発明の実施の形態に関する更に詳細な説明から明らかとなるであろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
図１は、本発明に係る装置、及び光記録型の記録キャリア１を示している。ディスク状の記録キャリア１は、透明な基板３と該基板に配置された記録層５を有している。記録層５は、放射線ビームにより情報を書き込むために適切な材料を含んでいる。記録材料は、位相変化、色素、又は光記録に適したいずれか他の材料である場合がある。情報は、記録キャリア上で光学的に検出可能なマーク及びランドの形式で記録キャリア１に記録される場合がある。
【００１２】
本装置は、放射線ビームを放出するための放射線源、たとえば半導体レーザ１１を有している。本実施の形態では記録電力レベルである記録パルスパラメータにより特徴付けされる、放射線の単一の記録パルスに記録キャリア１の記録層５がさらされたとき、マークが形成される。また、マークは、同じ又は異なる長さであって、１以上の記録パワーレベルの一連の放射パルスにより書き込まれる場合がある。放射線ビームは、ビームスプリッタ１３、対物レンズ１５及び基板３を介して記録層５に集束される。また、記録キャリア１は、エアインシデントである場合があり、この場合、放射線ビームは、基板３を通り抜けることなく記録層５に直接集束される。半導体層１１、ビームスプリッタ１３及び対物レンズ１５は、記録ユニット１７を全体として形成する。
【００１３】
また、本装置は、処理ユニット２１を有しており、この処理ユニットは、たとえば、処理ユニット２１のプロセッサから構成されており、この場合、プロセッサは、たとえばマイクロプロセッサ又はデジタルシグナルプロセッサといった計算を実行するために適した如何なる手段をも意味することが理解される。信号Ｓ（たとえば、情報信号又はテスト信号）は、記録キャリア１に書き込まれるべき信号を表しており、処理ユニット２１のプロセッサに供給される。処理ユニット２１は、記録キャリア１に情報を記録するための記録パルス系列のパラメータからなるセットを決定する。特定の実施の形態では、記録パルス系列のパラメータからなるセットは、記録パルスの記録パワーレベルをから構成される。記録パワーレベルの決定は、制御ユニット６１により計算される最適な記録パワーレベルＰoptを考慮して実行される。制御ユニット６１の制御信号ＳCは、処理ユニット２１に供給される。特定の記録キャリア１について最適な記録パワーレベルＰoptがひとたび計算されると、この最適な記録パワーレベルは、記録キャリア１に記録されている情報から処理ユニット２１に供給される場合がある。処理ユニット２１の出力は、半導体レーザ１１及び制御ユニット６１と接続される。
【００１４】
本装置は、テスト信号ジェネレータを更に有している。テスト信号ジェネレータ３１は、テスト信号ＳTを発生するのに適しているテスト信号ジェネレータのプロセッサから構成される場合がある。テスト信号ＳTは、テストパターンを好ましくは表しており、このテストパターンは、いわゆる８−１４変調（ＥＦＭ）で符号化されたとき、全てのレングスのマークを有している。テスト信号ＳTは、ランダム信号である場合がある。テスト信号ＳTは、処理ユニット２１の入力に供給される。
【００１５】
本装置は、読取りユニット４１を更に有しており、この読取りユニットは、半導体レーザ１１、ビームスプリッタ１３、対物レンズ１５、検出システム４３及び読取りユニットの回路（図示せず）により形成されている。記録された記録キャリア１は、半導体レーザ１１から放出される読取りパワーレベルＰreadでの放射線ビームにさらされる。記録キャリア１から反射された放射線は、対物レンズ１５により集束され、ビームスプリッタ１３を通過した後、検出システム４３に落ち、この検出システムは、入射した放射線を電気の検出器信号に変換する。検出器信号は、読取りユニットの回路に入力され、この読取りユニットの回路は、記録キャリア１から読み取られた情報を表すリード信号ＳRのような、検出器信号から幾つかの信号を引き出す。リード信号ＳRは、ジッタ検出器５１に更に供給される。ジッタ検出器５１は、リード信号ＳRのジッタ値を計測する。ジッタは、あるタイミングエラーの分散として定義される。これは、データ−クロック間又はデータ−データ間のタイミングエラーのいずれかとすることができる。その観点から、データ−データ間のジッタは、相関されていないジッタのデータ−クロック間のエッジではない２つの結果として生じているため、データ−データ間のジッタはデータ−クロック間のジッタの√2倍大きいことが容易に理解される。これは、この違いにも係らず、全てのタイプのジッタは、来るべき議論に類似して扱うことができる。
【００１６】
ジッタ値は、制御ユニットのプロセッサを有する制御ユニット６１に供給され、この制御ユニットは、単なるマイクロプロセッサである場合がある。また、制御ユニット６１には、このレベルによいテストパターンが記録される記録パワーレベルＰの値を含む処理ユニット６１からの信号ＳPが供給される。制御ユニット６１の役割は、記録キャリア１について記録パワーレベルＰoptの最適値を導出すること、及び制御信号ＳCを処理ユニット２１に供給することである。
【００１７】
記録キャリアに情報を記録する前に、本装置は、以下の手順を実行することで、その記録パワーレベルＰを最適値に設定する。はじめに、一連のテストパターンが記録キャリア１に記録され、それぞれのテストパターンは、異なる予め決定された記録パワーレベルＰをもつ。
【００１８】
予め決定されたパワーのレンジは、記録キャリア１に制御情報から導出された指示するパワーレベルに基づいて選択される場合がある。後続するパターンは、ステップ毎に増加されるパワーで書き込まれる場合がある。パターンは、記録キャリア１の如何なる位置であっても書き込まれ、特にテストエリアを提供する場合がある。
【００１９】
記録キャリア１からテストパターンを読み取った後、制御ユニット６１のプロセッサは、ジッタ検出器５１により提供される、それぞれのパターンのリード信号ＳRのジッタＪと、処理ユニット２１により提供される、そのパターンが記録されている予め決定された記録パワーレベルとについて、一連の値のペアを形成する。
【００２０】
図２は、ジッタＪとテストパターンの予め決定された記録パワーレベルとの値のペアをそれぞれ表している、一連のＮ＝１５ポイントを示している。ポイントは、予め決定された記録パワーレベルに関するジッタ値Ｊの依存度８１を形成している。依存度は、非線形（バスタブ）の特性を示していることが図２から明らかである。
【００２１】
記録パルスのパラメータの最適化は、以下に基づいている。所定の記録パルスパラメータにおけるパラメータｘ（書き込み方式におけるパラメータ）は、クロック細分割の間の振幅、又は時間的なエッジ位置のいずれかとすることができる。このパラメータが線形にｈｆ信号における特定のエッジでのシフトとなるレンジｘ±δｘを考える。一般に、パラメータｘがランレングス間の特定のエッジに影響を及ぼすようなやり方で、熱平衡ライト方式が定義される。ランダムＥＦＭで計測されたデータからクロックのジッタについて、パラメータｘの関数としてのジッタは、以下のように書きことができる。
【００２２】
【数１】
2005530301.tif 000003
ここで、ＪBottomはボトムジッタであり、ａxはばらつきに関するジッタの感度である。
【００２３】
国際特許出願PCT/EP01/04566号には、熱平衡ライト方式が記載されている。本実施の形態で更に説明される熱クロストークパラメータは、本出願で定義されるパラメータである。３Ｔマーク（ランド）（ｃ，ｕ）のパラメータは、より長いマーク（ｄ及びｖ）のパラメータとは異なる。パラメータｃ及びｄは、中間的なパワーレベルを示し、パラメータｕ及びｖは、記録パルスの上昇されたパワーレベルを示している。
【００２４】
パラボラは、３つの計測ポイントにより定義される。したがって、所定のパラメータｘの少なくとも３つの設定についてジッタを計測した場合、最も低いジッタとなる単一のパラメータについて最良の設定
【００２５】
（外１）
2005530301.tif 000004
を計算することができる。
【００２６】
式１は、単一のライト方式のパラメータについて線形化された領域で有効である。さらに、全てのライト方式のパラメータのためにジッタ分散が相関付けされていないという仮定を考える。この仮定の実際の影響は、ジッタに関するパラメータの最適な設定が他のパラメータの設定に依存しないことである。アイデアは、多数Ｊ（ｘ）の計測値からベクトル
【００２７】
（外２）
2005530301.tif 000005
を解くことである。なお、ベクトル
【００２８】
（外３）
2005530301.tif 000006
が（ライト方式がＰ個のパラメータを有することを意味する）サイズＰを有する場合、最小の数の計測値は、Ｎ＝２Ｐ＋１に等しい。この仮定の下で以下の式に到達する。
【００２９】
【数２】
2005530301.tif 000007
ここで、ｐはライト方式のパラメータの数、
【００３０】
（外４）
2005530301.tif 000008
はＰ個のライト方式のパラメータの値をもつベクトル、
【００３１】
（外５）
2005530301.tif 000009
は決定されるべき最適なパラメータをもつベクトル、
【００３２】
（外６）
2005530301.tif 000010
はそれぞれのパラメータの感度をもつベクトル、ＪBottomは
【００３３】
（外７）
2005530301.tif 000011
のときに最も低く達成可能なジッタ、Ｊ（ｘ）はパラメータｘについて計測されたジッタ、及びｎ＝０．．Ｎ−１は計測数である。
【００３４】
式２は、関心のある
【００３５】
（外８）
2005530301.tif 000012
のベクトルが暗黙的に定義されることがわかる行列形式で表すことができる。しかし、ボトムジッタＪBottomは、第一の例では関心のあるものではなく、計測値Ｊ0〜ＪN-2をＪN-1で減じることで除くことができる。
【００３６】
この演算の利点は、式（式４．５）が以下の行列表示から見ることができる最適なパラメータベクトル
【００３７】
（外９）
2005530301.tif 000013
と線形なことである。
ΔＪ＝ΔＸ・ａｘ
ここで、
【００３８】
【数３】
2005530301.tif 000014
それぞれのベクトル又は行列は、それ自身の情報を有している。差分計測ベクトル
【００３９】
（外１０）
2005530301.tif 000015
は、長さＮ−１（Ｎは計測値の数）を有し、したがって既知である。差分入力ベクトル
【００４０】
（外１１）
2005530301.tif 000016
は、オペレータによりシステムに入力され、したがって既知である。一般に
【００４１】
（外１２）
2005530301.tif 000017
は正方行列ではなく（したがって逆行列
【００４２】
（外１３）
2005530301.tif 000018
をもたない）、線形最小自乗平均パラメータの予測アルゴリズム、決定されるべきベクトルは、
【００４３】
【数４】
2005530301.tif 000019
を用いて発見することができる感度及び最適パラメータベクトル
【００４４】
（外１４）
2005530301.tif 000020
である。
【００４５】
また、式（４）はＮ＞２Ｐ＋１について使用することができる。結果ベクトル
【００４６】
（外１５）
2005530301.tif 000021
より、感度は偶数のエントリで発見することができ、最適パラメータは、奇数のエントリをこれらの感度に正規化した後に発見することができる。感度の相対的な値は、多数のファクタにより決定される（ＥＦＭ系列における対応するランレングスの発生頻度、方式におけるこのパラメータにより変調される時間における幅、振幅パラメータのケースにおけるライトパワー変化は、パラメータ値の効果的なタイムスロット倍に等しい。ＴＢＷＳにおけるパラメータｃ及びｄは、Ｔ／４のみについて続き、ｕ及びｖは、９Ｔ／４の長さであり、これはａc，ａd，ａu及びａv等に等しい）。熱クロストーク補償パラメータをもつ熱平衡ライト方式（Thermally  Balanced  Write  Strategy）を使用した特定の実施の形態では、ランドＩ３についてｃ、ランドＩ４についてｄ、ピットＩ３についてｕ、ピットＩ４についてｖである。
【００４７】
一連のパラメータ変動計測が実行される。ディスクｃは、２５ｍＷ（ディスク上のメインスポット）での１６×についてその最適なライトパワーを有するMitsui  phthalo disc（内部参照番号CDR01-001）である。自動反復最適化装置は、ライトパワーについて乗算要素として表される全てのパラメータをもつ全てのパラメータにより、３０の繰返しの後に以下の結果を与える。
【００４８】
【表１】
2005530301.tif 000022
はじめに、ランド作用のみが最適化される（パラメータ数Ｐ＝２）。パラメータｃは、それぞれのｃ値０．２５、０．５０及び０．７５での３つのステップで変化され、ｄは０．５、０．７５及び１．００での３つのステップで変化される。これらのレンジは、ＴＢＷＳの実現から、ｃについての補償はｄについての補償よりも強くなければならないことが分かっているために選択される。ｃ及びｄの両方は、１よりも低くなるべきである。５つの計測値は、このＰ＝２の状態について十分であるが、９は更に信頼性の高いフィットを与える。ｕ及びｖパラメータは、１．１０と１．０４にそれぞれ選択される。これは、これらの値がROS-DOS-TOS計測のシーケンスで観測される殆ど全てのディスクに一般的な値であるためである。ジッタは、２Ｘで読み取られる。
【００４９】
フィットアルゴリズムは、MathCad6.0ワークシートを使用してオフラインで適用される。発見された最適パラメータは、感度８．６でのｃ＝０．４９６、感度５．２でのｄ＝０．８４２である。
【００５０】
感度間の差は、感度がｃ及びｄパラメータのそれぞれにより影響されるために、比３Ｔ／４Ｔによるとされる。パラメータが発見された後、ＪBottomの期待される（最も低く達成可能な）値は、式２を使用して計算することができ、６．８％に等しい。
【００５１】
ｕ＝１．０５，１．１０，１，１５及びｖ＝１．００，１．０５及び１．１０についての計測値で（ｃ＝０．２５，０．５０，０．７５及びｄ＝０．５０，０．７５，１．００について）前のサブセクションの計測データを拡張するとき、ＴＢＷＳにおける４つの熱クロストーク補償パラメータは同時にフィットすることができる。ｕ及びｖが変化される更なる計測では、ｃ及びｄは、これらが最も一般的な設定であるので０．６５及び０．８５にそれぞれ設定される。なお、ｃ及びｄは、ｕ及びｖをフィットするためにそれらの最良の値となる必要はない。Ｐ＝４パラメータでのこの計測について、９の計測値が少なくとも必要とされる。良好なフィッティング精度のために、１８の計測値が使用される。アルゴリズム結果は、感度９．２でｃ＝０．４６４、感度５．１でｄ＝０．７９２、感度１２４９でｕ＝１．１０５、感度３００でｖ＝１．０３９である。ｃ，ｄとｕ，ｖについての感度間の比は、ｃ及びｄレベルよりも９／４倍大きいｕ及びｖレベルの幅の結果である。
【００５２】
別の実施の形態では、３Ｔランドの後のΔＴ、及び４Ｔの後のΔＴは、４つのステップで変化される。記録されたジッタ（％）は、次のテーブルにある。ΔＰについての値は、以下の表に示される。
【００５３】
【表２】
2005530301.tif 000023
フィットされた結果は、計測されたデータと共に、３Ｔ後のΔＴについて、最適設定０．１２６Ｔ、感度８．６であり、４Ｔ後のΔＴについて、最適設定０．０４０Ｔ、感度５．３である。
【００５４】
この例によれば、ＤＶＤ＋Ｒについて、熱平衡パラメータへのジッタの依存性に関する完全な楕円特性が確認される。したがって、ライトワンス型ＤＶＤプラットフォームについて、完全な最適化アルゴリズムを適用することができる。
【００５５】
図３は、本発明に係るディスク状の光記録キャリア１を示している。記録キャリアの記録層は、記録装置により光学的又は光磁気的に書き込むことができる。記録キャリア上の情報は、マークのパターンにより表されている。情報は、記録プロセスによりトラックで記録される。それぞれのマークが一定又は可変の記録パワーレベルＰからなる１以上の記録パルスにより形成される。記録パワーレベルＰ、パルス数のような記録プロセスの記録パラメータは、特にその材料の特性のために記録キャリアについて調整される。書込み可能な記録キャリアの例は、公知のＣＤライトワンスである。記録キャリアは、記録のために意図される連続トラック１０１を有している。トラック１０１は、螺旋状であり、エンボスの溝又は隆起の形態である場合がある。記録キャリアのエリアは、ユーザ情報を記録するための情報記録エリア１０３、及びユーザ情報を記録するために関連する情報を記憶するための制御エリア１０５に分割される。制御１０５は、図における破線トラックにより記録される。記録キャリアを記録するための最適な記録パワーレベルＰoptの値は、制御エリア１０５における制御情報のパターンとして記憶される場合がある。制御エリアが打出しされたとき、記録キャリア１の製造者は値を記録する必要がある。代替的に、たとえば、記録キャリア１の初期化の間に、ユーザにより値が記録される場合があり、キャリアに特定な値の記録が可能となる。
【００５６】
図４は、制御情報がエンコードされるマーク１０９のパターンを含むトラックの拡大された部分１０７を示している。
記録パラメータとして記録パワーレベルを使用した実施の形態により説明されたが、他の記録パラメータ（たとえば、マークを記録するための記録パルスパターンの特定のタイミング）が本発明で使用される場合があることは明らかである。
たとえば、DVD、Blue-Ray等のような代替的な光記録システムに本発明が適用される場合があることは、当業者にとって明らかである。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明に係る光記録装置に関する図である。
【図２】非線形曲線でフィットされるレーザ放射に記録電力レベル（記録パルスパラメータ）に依存するジッタ値を示す図である。
【図３】本発明に係る光記録キャリアを示す図である。
【図４】制御情報がエンコードされるマークのパターンを含むトラックの拡大された部分を示す図である。
【図１】
2005530301.tif 000024
【図２】
2005530301.tif 000025
【図３】
2005530301.tif 000026
【図４】
2005530301.tif 000027
【国際調査報告】
2005530301.tif 000028
2005530301.tif 000029
2005530301.tif 000030
2005530301.tif 000031