(57)【要約】放射型ディスプレイの輝度補正のための技術、装置、及びシステムの実施例を開示する。
2005506563.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
放射型ディスプレイの輝度を少なくとも部分的に補正する方法であって、
前記放射型ディスプレイに含まれる１つ以上の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）の劣化の量を推定する段階と、
少なくとも部分的に前記推定に基づいて、前記１つ以上のＯＬＥＤの前記輝度を調節する段階と、
を含む方法。
【請求項２】
前記調節段階は、前記輝度が、前記１つ以上のＯＬＥＤの前記劣化の量の実質的に関係なく、略一定に維持されるよう前記輝度を調節する段階を含む請求項１記載の方法。
【請求項３】
前記推定段階は、前記劣化に実質的に相関される特性を推定する段階を含む請求項２記載の方法。
【請求項４】
前記推定段階は、前記１つ以上のＯＬＥＤを流れる略一定の電流における前記１つ以上のＯＬＥＤの両端の電圧を測定する段階を含む請求項３記載の方法。
【請求項５】
前記１つ以上の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）の両端の前記電圧を測定する段階は、前記１つ以上のＯＬＥＤの逆バイアス抵抗を測定する段階を含む請求項２記載の方法。
【請求項６】
前記調節段階は、前記１つ以上の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）に与えられる電気エネルギー量を調節する段階を含む請求項１記載の方法。
【請求項７】
前記調節段階は、前記１つ以上のＯＬＥＤの両端に印加される電圧を増加する段階を含む請求項６記載の方法。
【請求項８】
前記増加段階は、ルックアップテーブルを利用する段階を含む請求項７記載の方法。
【請求項９】
前記ルックアップテーブルは、前記調節により達成された前記１つ以上の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）の前記輝度が、時間をかけて基本的に低下するような値を含む請求項８記載の方法。
【請求項１０】
１つ以上の他の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）の劣化の量の推定に、少なくとも部分的に基づいて、前記１つ以上の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）の前記輝度を調節する段階を更に含む請求項１記載の方法。
【請求項１１】
１つ以上の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）と、
測定回路と、
制御システムと、
を含む装置であって、
前記ＯＬＥＤと、前記測定回路と、前記制御システムは、動作時に、前記測定回路が、前記１つ以上のＯＬＥＤの劣化の量を推定し、前記制御システムが、前記推定された劣化に少なくとも部分的に基づいて、前記ＯＬＥＤの前記輝度を調節するよう接続される装置。
【請求項１２】
前記制御システムは、前記１つ以上のＯＬＥＤの前記劣化の量に実質的に関係なく、前記輝度が略一定に維持されるよう前記輝度を調節可能である請求項１１記載の装置。
【請求項１３】
前記測定回路によって行われる前記劣化の量の推定は、前記劣化に実質的に相関される特性の推定を含む請求項１記載の装置。
【請求項１４】
前記測定回路は、略一定の電流で動作する前記１つ以上の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）の逆バイアス抵抗を測定可能である請求項１３記載の装置。
【請求項１５】
前記制御システムは、前記ＯＬＥＤを流れる略瞬間的な電流を調節することにより、前記１つ以上の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）の前記輝度を調節可能である請求項１２記載の装置。
【請求項１６】
前記制御システムは、前記１つ以上のＯＬＥＤの前記推定される劣化に、所望の輝度を相関させる一連のデータを含む請求項１１記載の装置。
【請求項１７】
前記制御システムは、前記１つ以上のＯＬＥＤの前記輝度を調節するために前記一連のデータを使用する請求項１６記載の装置。
【請求項１８】
前記制御システムは、前記１つ以上のＯＬＥＤの前記推定される劣化が増加するに従い所望の輝度が低下するよう前記１つ以上のＯＬＥＤの前記推定される劣化に前記所望の輝度を相関させる一連のデータを含む請求項１７記載の装置。
【請求項１９】
前記制御システムは、複数の機械アクセス可能な命令を有する記憶媒体を含み、
前記命令が前記制御システムによって実行されると、前記命令は、
前記測定回路からの信号を使用し、
前記ＯＬＥＤの所望の輝度を推定し、
前記信号に少なくとも部分的に基づいて、前記ＯＬＥＤの印加される電流を調節する請求項１２記載の装置。
【請求項２０】
システムから物理的に遠隔にあるソースからデジタル形式のビデオ信号を受信する受信器と、
１つ以上の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）からなるアレイと、
測定回路と、
制御システムと、
を含むシステムであって、
前記受信器は、前記デジタル信号を、前記ＯＬＥＤのアレイに分散し、
前記ＯＬＥＤのアレイと、前記測定回路と、前記制御システムは、動作時に、前記測定回路が、前記１つ以上のＯＬＥＤの劣化の量を推定し、前記制御システムが、前記ＯＬＥＤの前記輝度を、前記推定された劣化に少なくとも部分的に基づいて調節するよう接続されるシステム。
【請求項２１】
前記制御システムは、前記ＯＬＥＤのアレイの前記劣化の量とは実質的に関係なく、前記輝度が略一定に維持されるよう前記輝度を調節可能である請求項２０記載のシステム。
【請求項２２】
前記測定回路によって行われる前記劣化の量の推定は、前記劣化に実質的に相関される特性の推定を含む請求項２０記載のシステム。
【請求項２３】
前記測定回路は、実質的に所定の電流で動作する少なくとも１つのＯＬＥＤの逆バイアス抵抗を測定可能である請求項２２記載のシステム。
【請求項２４】
前記制御システムは、前記有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）のアレイを流れる略瞬間的な電流を調節することにより前記ＯＬＥＤのアレイの前記輝度を調節可能である請求項２２記載のシステム。
【請求項２５】
前記制御システムは、複数の機械アクセス可能な命令を含む記憶媒体を含み、
前記命令は、前記制御システムにより実行されると、
前記測定回路からの信号を使用し、
前記ＯＬＥＤの所望の輝度を推定し、
前記信号に少なくとも部分的に基づいて、前記ＯＬＥＤに印加される電流を調節する請求項２４記載のシステム。
【請求項２６】
前記制御システムは、前記ＯＬＥＤのアレイの前記推定される劣化に所望の輝度を相関させる一連のデータを含み、
前記制御システムは、前記ＯＬＥＤのアレイの前記輝度を調節するために、前記一連のデータを使用する請求項２４記載のシステム。
【請求項２７】
前記制御システムは、前記１つ以上のＯＬＥＤの前記劣化が増加するに従い所望の輝度が低下するよう前記１つ以上のＯＬＥＤの推定される劣化に所望の輝度を相関させる一連のデータを含む請求項２６記載のシステム。
【請求項２８】
前記制御システムは、複数の制御サブシステムを含み、
各サブシステムは、１つ以上の有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）からなる前記アレイの特定のそれぞれのサブセットの出力輝度を調節する請求項２１記載のシステム。
【請求項２９】
前記アレイの前記有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）は、各ＯＬＥＤの前記劣化を測定することが可能であり、各ＯＬＥＤの前記輝度を調節可能な測定回路及び制御システムに接続される請求項２８記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【０００１】
背景
１．分野
本開示は、放射型ディスプレイの輝度の少なくとも部分的な補正に関連し、より具体的には、そのような画素輝度を調節する方法に係る。
【０００２】
２．背景情報
発光ダイオード（ＬＥＤ）は、低抵抗の導電路を与える極性を有する電圧、又は、順方向バイアスがダイオードの両端に印加されると光を放出するよう特別に設計される半導体デバイスとして特徴付けられ得る。この光は、一般的に、例えば、赤、緑、青といった可視スペクトル、又は、例えば、赤外線色スペクトルにおける光といった不可視スペクトルにおける狭い波長群から略構成される１つの色として放出される。従来のダイオードと同様に、ＬＥＤは、一般的に、比較的低い順方向電圧閾値を有する。この電圧閾値が一度越えられると、ＬＥＤは、一般的に、低いインピーダンスを有し、容易に電流を通す。有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）は、ＬＥＤの１つの特定のタイプであり、有機化合物に基づいた一連の炭素ベースの薄膜が、２つ以上の電極の間に挟まれる。
【０００３】
多数のＬＥＤ又はＯＬＥＤが共に、１つのアレイに構成されて、ディスプレイシステムを形成し得る。一部の状況において、ＯＬＥＤのアレイを含むこのようなディスプレイシステムは、放射型ディスプレイを構成し得る。
【０００４】
このコンテキストにおいて、放射型ディスプレイは、放出光線を少なくとも部分的に生成するディスプレイ技術の広い範疇を意味する。幾つかの例として、ＯＬＥＤディスプレイ、電界発光ディスプレイ、電界放射ディスプレイ、プラズマディスプレイ、及び、真空蛍光ディスプレイが挙げられる。反対に、非放射型ディスプレイは、一般的に、例えば、液晶ディスプレイのバックライトといったように別個の外部光源を用いる。
【０００５】
幾つかの放射型ディスプレイに共通する特徴は、エミッタの出力信号が、使用に応じて低下することである。例えば、最も一般的な放射型ディスプレイの１つである陰極線管（ＣＲＴ）は、テレビジョンやパーソナルコンピュータのモニタに一般的に用いられるが、一般的に、蛍光体を含み、その光を出力する能力は、ディスプレイの経年数により低下する。従って、放射型ディスプレイの有用な耐用年数は、ディスプレイの輝度が、５０％低下するまでにかかる時間として測定される。
【０００６】
この現象は、１つの画像が、画面の一部上に、異常に長い時間の間表示されると明らかである。その画像が画面から取り除かれた後、その画像が表示されていた領域は、画面の他の領域よりも際立って暗い場合がある。もとの画像は、ディスプレイに「焼き付けられた」と言われ、しばしば、画面の同じ領域に表示され得る次の画像と重ね合わされたように見える「ゴースト」画像として現れる。「焼き付けられた」画像を表示するために用いられるエミッタは、少なくとも部分的に磨耗し、その当該のエミッタほど磨耗していない他のエミッタと同じ様に明るく次の画像を表示することができていないと考えられる。
【０００７】
しかし、放射型ディスプレイの光度又は輝度の低下は、この極端な例に制限されない。放射型ディスプレイの１つ以上のエミッタの長時間に亘る使用は、一般的に、これらのエミッタの輝度を減少する。１つの例として、テレビジョンのＣＲＴ上の画像が頻繁に変化するのにも関らず、テレビジョンのＣＲＴは、一般的に、１年間使用した後では、それが最初に用いたときと同様には明るくはない。
【０００８】
この全体的な低下現象は、しばしば容認可能であり、ある範囲内に維持された場合又は比較的長時間発生した場合は、おそらく認識されない、又は、ほとんど認識されない。
【０００９】
しかし、ディスプレイの様々な場所において一貫性無く発生した場合の影響は、厄介である、又は、望ましくない。このことは、上述の例におけるように、例えば、ロゴの表示といったようにディスプレイの１つの領域が、その他の領域より頻繁に使用されることによって発生する。そのような場合、その領域は、より早く経年変化し、恐らく、上述した焼き付け現象を示す。或いは、このことは、ディスプレイがタイルで埋め尽くされることにより発生し得る。というのは、フラットディスプレイパネルにおいて、一般的に発生するように、ディスプレイのタイルが異なる経年変化特性を示すからである。従って、この表示劣化問題に対処するアプローチ又は技術が必要である。
【００１０】
以下に説明する対象は、明細書の結論部に、特に指摘し、且つ、はっきりとクレームしてある。クレームする対象は、その構成及び動作の方法に関して、クレームする対象の目的、特徴、及び利点と共に、添付図面と一緒に以下の詳細な説明を参照することにより、最適に理解し得るであろう。
【００１１】
以下の詳細な説明において、クレームする対象の完全な理解を与えるために、多数の詳細を記載する。しかし、クレームする対象は、これらの特定の詳細無しに実施し得ることを、当業者は理解するであろう。他の場合において、クレームする対象を曖昧にしないために、周知の方法、手順、構成要素、及び、回路は、詳細には記載しない。
【００１２】
ＯＬＥＤエミッタに基づいたディスプレイは、略一定の電流駆動で動作され得る。このような状況下において、ＯＬＥＤの劣化は、略一定の電流駆動を維持するために使用される電圧の増加、及び／又は、ＯＬＥＤにより生成される輝度の減少により示され得る。この劣化は、ダイオードの耐用年数の間にダイオードに流される電流の総量に比例し得、従って、装置の生活年齢の増加には比較的鈍感である。別に、一部のダイオード構造では、温度が、装置の劣化を加速し得る。少なくとも一部の状況では、この加速は、温度と共に指数関数的である。
【００１３】
ＯＬＥＤデバイスの一般的な出力信号特性を、図１及び２に示す。このコンテキストにおいて、「若い」又は「新しい」という用語は、デバイスの耐用年数にデバイスに流される総電流の比較的低いレベルにあるダイオードを意味する。同様に、このコンテキストにおける「経年変化した」、「古い」、又は「劣化した」という用語は、デバイスに、総電流のうちの比較的相当な量が流されたデバイスを意味する。これらの用語は、時間的に厳しく又は主に測定されるＯＬＥＤの生活年齢は意味しない。図１は、新しいＯＬＥＤの一般的な電流及び輝度特性を示す。
【００１４】
図１において、新しいＯＬＥＤの特性を説明する基線曲線を示す。例えば、曲線１１０は、比較的新しいダイオードの瞬間電流（Ｉ）と電圧（Ｖ）との可能な関係を示す。更に、曲線１２０は、ここでは、平方メートル当たりのカンデラ（ｃｄ／ｍ２）で測定される輝度（Ｌ）と電圧（Ｖ）との一般的な関係を示す。曲線１１０を曲線１２０と比較することは、この若いダイオードを流れる電流と、このＯＬＥＤにより生成される輝度との直接的な関係が示される。
【００１５】
図２には、少なくとも部分的に劣化したＯＬＥＤの同様の一般的な特性を示す。図１と比較するに、少なくとも部分的にＯＬＥＤの劣化により、曲線は、右に移動している。曲線１１０（図１）を曲線２１０と比較することにより、少なくとも部分的に劣化したデバイスに比較的一定の電流を維持するためには、新しいデバイスと比較して、より高い電圧が印加されることが示される。同様に、輝度曲線２２０も、新しい輝度曲線１２０から移動している。このことは、ＯＬＥＤが経年変化するにつれて、より多くの電圧及び電流が、略一定の輝度を維持するために、デバイスに印加され得ることを示す。
【００１６】
１つの実施例において、例えば、少なくとも部分的に、ＯＬＥＤの推定される劣化に基づいて、ＯＬＥＤを流れる略一定の電流又はＯＬＥＤの両端の電圧を増加するといったように、ＯＬＥＤの輝度の低下を実質的に補正する技術を用い得る。
【００１７】
この技術の少なくとも１つの所望の結果は、全てのＯＬＥＤ画素から略一貫した量の輝度の生成であり得る。輝度の所望の量に基づいて、例えば、ＯＬＥＤの逆バイアスの抵抗といった測定された特性を用いて、そのような結果を生成するためにデバイスに印加される電流又は電圧を、効果的に推定し得る。このアプローチは、例えば、逆バイアス抵抗といったインジケータの値と、所望のレベルの輝度を維持するために用いられる電流（又は電圧）との前に決められた関係を使用する。
【００１８】
図３は、所望の略一定な輝度を達成するために、ＯＬＥＤに印加される電圧を推定するために、この実施例に用い得る比率を示す。ＯＬＥＤの特定の特性を測定することにより、デバイスの実効年数を推定し、一貫性のある輝度を供給するよう電流を補正し得る。例えば、長時間の使用に亘っての一定電流を維持するために必要な順方向電圧を測定し得る。この情報は、ＯＬＥＤを流れるオリジナルの電流を生成するために現在用いられる電圧を、略同じ電流を生成するために用いるオリジナルの電圧で割った比、即ち、
【数１】
2005506563.tif 000003
を示す曲線３１０上の場所を識別する。この情報から、初期の値Ｌ０と略同じ輝度を生成するために、デバイスの耐用年数のその時点で用いられる電圧を決定することができる。曲線３２０は、そのような決定のための検量線（working curve）
【数２】
2005506563.tif 000004
である。このアプローチは、使用時のダイオードの順方向抵抗の測定し、この値における変化を、一貫性のある輝度を維持するために必要な補正電圧及び電流を決定するために用いることに類似する。
【００１９】
デバイスの実効年数を推定するために別のパラメータも用い得る。例えば、ＯＬＥＤの逆バイアス抵抗を、デバイスが動作している間に測定し得る。しかし、当業者は、ＯＬＥＤの多くの他の特性も測定して使用し得ることを認識するであろう。順方向バイアス抵抗、又は、ＯＬＥＤの両端の電圧といった特性を使用し得る。更に、他にも、測定又は推測され得る可能な特性が多くある。また、関心の所望の特性は、直接的に測定される必要がなく、代わりに、デバイスの実効年数の指示は、所望の特性に相関される又は関連する測定を得ることにより推定し得る。
【００２０】
更に、特性が測定され得る度合い又は頻度は、可能な度合いの大きな連続体に沿って様々である。１つの極端では、測定は、略連続的に、又は、連続的に行われ得る。別の例では、測定は、一部のトリガ、又は、略所定のイベントが発生した後に行われ得る。例えば、特性は、ディスプレイが、オンにされたとき又はリセットされたときに測定され得る。しかし、これらは、特性が測定され得る可能な度合いのほんの一部の例であり、当然ながら、クレームする対象は、任意の特定のサンプリングレート又は任意のサンプリングのアプローチに制限されない。同様に、複数の特性を測定する及び／又は組合わして、一組の測定から利用可能となるよりもより信頼の置ける劣化及び必要とされる補正の指示を与え得る。
【００２１】
デバイスにより生成される実効積分輝度が推定されると、所望の輝度を生成するために用いる電圧が、例えば、３２０のような曲線を使用することにより推定され、この曲線は、所望の輝度を生成するために現在使用される電圧を、その輝度を生成するためにもともと使用される電圧で割った比、即ち、
【数３】
2005506563.tif 000005
を示す。当然ながら、曲線は、所望される特定の輝度に応じて変化し得、従って、クレームする対象は、図３に記載する曲線の使用に制限されない。電圧、電流、輝度、抵抗、又は、多数の他の関連するパラメータのうちの任意のパラメータの他の曲線、関数、及び比率が考えられ、代替の実施例に用い得る。
【００２２】
尚、図３において、その使用時にデバイスを流れる積分電流、又は、総電荷は、デバイスの「径年数」の尺度を与え得る。このパラメータは、直接測定されて、所望の輝度を維持するために必要とされる電圧補正を決定するために用い得る。しかし、順方向又は逆方向抵抗の変化といった特定のダイオードの径年数の間接的なインジケータは、追跡するのがより好都合なパラメータである。図３では、曲線３１０は、順方向抵抗の変化と「径年数」との関係についての情報を与え、これは、所望の輝度を維持するために電圧に必要な変化を計算することを可能にする。
【００２３】
印加する電圧の推定は、様々なアプローチによって達成され得ることが考えられる。例えば、比率曲線の近似は、アナログ制御システムを介して達成し得る。同様に、「曲線」は、デジタルルックアップテーブルとして実施されるか、又は、一連の機械アクセス可能な命令によって実質的に計算され得る。
【００２４】
所望の輝度を生成するために印加される電圧が効果的に推定されると、ＯＬＥＤを通る電圧又は電流は、その輝度を達成する又は略達成するよう調節され得る。しかし、クレームする対象は、デバイスに印加される電流又は電圧の取り扱いのみに、その範囲において制限されない。
【００２５】
所望の輝度の選択は、デバイスの最初の輝度に必ずしも制限されない。例えば、１つの実施例では、ＯＬＥＤの輝度は、デバイスが経年変化するに従い、緩やかに（gracefully）低下することが可能にされ得る。図３の曲線３３０は、経年変化の関数としての輝度の緩やかな低下を示す。輝度比曲線３３０は、現在所望される輝度を、オリジナルの輝度で割った比、即ち、
【数４】
2005506563.tif 000006
を示す。
【００２６】
上述した実施例は、デバイスの所望の輝度が、略一定であり、ＯＬＥＤのオリジナルの又は初期の輝度に略同等である例を詳細した。所望の輝度が、一定でなくても、ＯＬＥＤのオリジナルの又は初期の輝度に略同等でなくてもよい他の実施例も考えられる。例えば、ＯＬＥＤの所望の輝度が、ＯＬＥＤの径年数の関数として低下する１つの実施例を形成し得ることが考えられる。そのような実施例の一例を以下に説明する。
【００２７】
ＯＬＥＤの劣化、従って、耐用年数は、一般的に、デバイスの積分輝度の関数であるので、デバイスの瞬間輝度を減少することにより、デバイスの耐用年数を増加し得る。放射型ディスプレイの耐用年数は、一般的に、ディスプレイの輝度が５０％低下するまでかかる時間として測定される。多くの放射型ディスプレイの共通の特徴は、エミッタの出力信号が、使用と共に劣化することであるので、ディスプレイの耐用年数を増加しながらのディスプレイの管理された劣化は、容認可能であり得る。
【００２８】
このような実施例に用いる技術は、例えば、所望の輝度が略一定であり、ＯＬＥＤのオリジナルの又は初期の輝度と略同等である上述した実施例に関して説明した技術に類似し得る。この実施例において、所望の輝度は、径年数の関数として低下するので、比率曲線３１０と３２０を計算するのに用いられる所望の輝度は、径年数の関数として変化し得る。従って、所望の輝度比が、
【数５】
2005506563.tif 000007
であるこの実施例では、曲線３２０は、
【数６】
2005506563.tif 000008
ではなく、
【数７】
2005506563.tif 000009
と示され得る。
【００２９】
この実施例では、所望の被制御劣化は、様々な形式を取り得る。幾つかの、しかし、網羅的に示すものではない例として、劣化を制御するために用いる曲線は、線形、指数関数的で、非連続的で、数的に生成され得る。被制御劣化は、実質的に事前に決められた点まで緩やかに起き、その後、より高速に劣化することが可能にされることが考えられる。例えば、放射型ディスプレイの耐用年数は、一般的に、輝度が５０％下がるまでかかる時間として測定されるので、この実施例は、５０％時点までの緩やかな劣化を可能にし得る。しかし、他の点を選択することもできる。その後、デバイスは、ＯＬＥＤに動力を与えることをやめるか、又は、ＯＬＥＤは、上述した実施例のうちの１つにおけるように、補正されることなく劣化することが可能にされ得る。
【００３０】
別の実施例は、複数のＯＬＥＤを含み得、これらは、アレイ状、又は、他の可能な構成となるよう結合されて、放射型ディスプレイを形成する。このコンテキストにおいて、アレイは、行列からなる矩形の構成に制限されるのではなく、任意の秩序よく又は略秩序よく配置された構成を、アレイと考慮する。１つの実施例において、全てのＯＬＥＤは、定期的に又は連続的に試験されて、それらの径年数と所望の電圧補正が決定される。別の実施例では、アレイからのＯＬＥＤの代表番号又はトークン番号が測定されて、それにより、アレイ中の測定されるＯＬＥＤ及び測定されないＯＬＥＤの両方の径年数を効果的に推定する。サンプリングされたＯＬＥＤの径年数が推定された後、この径年数は、アレイ中のＯＬＥＤに印加される電流又は電圧を調節するよう制御システムによって使用される。
【００３１】
サンプリングに関連付けられるストラテジは、ＯＬＥＤの一定の一部分、又は、ディスプレイにおけるＯＬＥＤの一定の場所に制限されるものではない。測定された変化は、測定の回数及び場所を修正するインジケータを与え得ることが予想される。多くの可能な実施例の１つにおいて、最初の測定は、ディスプレイ上の可変ランダムパターンでサンプリングされた有限数のＯＬＥＤに対して行われ得る。ディスプレイの１つの領域における顕著な変化は、劣化の局所的な顕著な変化を示唆し、補正のためにより詳細な局所的なサンプリングを必要とする。
【００３２】
ディスプレイの実効年数が、サンプリングされたＯＬＥＤから推定され得る多数の方法がある。ほんの一例として、サンプリングされたＯＬＥＤの径年数は、平均化され得る。反対に、別の例として、サンプリングされたＯＬＥＤは、同じ又は略同様の局所性又は利用特性を共有するＯＬＥＤのみを制御するために用いられ得る。しかし、放射型ディスプレイを構成するＯＬＥＤの径年数を推定する他の技術も考えられ得る。
【００３３】
１つの更なる実施例において、複数のアレイが、大きい放射型ディスプレイを形成するよう共にタイル状に貼り付けられる。放射型ディスプレイの劣化特性は、一般的に、放射型ディスプレイの製造バッチ間で異なるので、一般的に、異なる製造バッチから来る個々のタイルは、異なる割合で劣化し得る。この実施例において、特定の制御システムを用いて、実効径年数と、タイル、又は、アレイの画素セットに印加する適切な補正調節を推定し得る。同様に、放射型ディスプレイの劣化補正を可能にするために複数のそのような制御システムを用いる。１つのアプローチでは、多数のこれらの制御システムは、制御システムが調節しなければならない画素の測定又は推測された特性を供給する信号を受信するだけでなく、制御システムは、制御システムが調節しない周辺画素又はタイルの測定又は推測された特性を供給する信号も受信するよう接続され得る。これらの追加の信号は、特定の制御システム下において、追加の信号の値が、実効径年数、又は、画素に印加される補正量の計算に影響を与えるよう用いられ得る。
【００３４】
以下に制限されないが、この情報が、実効径年数、又は、補正量の計算に影響を与え得る方法の１つの例は、例えば、曲線３３０といった緩やかな劣化曲線が用いられる放射型ディスプレイが関連し得る。ディスプレイ中のタイル又は画素のセットが、そのディスプレイの他のタイル又は画素のセットより頻繁に使用されると、より頻繁に使用されたタイル又は画素の積分輝度は、使用されていないタイルより高い。従って、計算された実効径年数、従って、頻繁に使用されるタイル又は画素の所望の輝度は、曲線３３０によって推定されるように、他のあまり頻繁に使用されていないタイル又は画素よりも低い。そのタイル又は画素のセットの制御システムは、他のタイル又は画素のセットからの信号無しで作動する場合には、例示目的のために、任意の比率を非制限的に選択するに、０．７５に、輝度比を調節しようと試みる。しかし、他のタイル、又は、画素のセットが、孤立される場合、それぞれの制御システムによって、非制限的に別の任意の比率を選択するに、０．８５に調節され得る。この例では、制御システムは、実質的に独立して作動するので、「焼き付け」として知られる現象は、依然として発生する。しかし、制御システムと測定システムが、上述したように、接続されると、例えば、制御システムは、タイル又は画素のセットの輝度を、例えば、０．８０又はその当たりの平均比率に、その制御下で調節し得る。
【００３５】
接続された測定信号に重み付けする他の技術も用い得る。幾つかの、しかし、網羅的に示すものではない例として、加重平均、中央値、又は、ディスプレイにおける測定された特性又は画素の領域、局所性、位置、近接性、又は標準的な偏差に少なくとも部分的に基づいたモードを使用することが挙げられる。また、更に、依然として網羅的ではないが、例には、ディスプレイの輝度比を全ての画素により達成可能な実質的に最高予想値に上げること、又は、全ての画素の輝度比を、遭遇する最低の値に下げることを含み得る。多くの他のアプローチも可能である。
【００３６】
もう１つの実施例を、図４に示す。動作時に、ＯＬＥＤ４１０は、電流源４６０から略一定の電流を受けとる。ＯＬＥＤ４１０内に示す抵抗４１２及び理想ダイオード４１１は、例示目的のために与えるＯＬＥＤの分散された特性の便利な近似又は表現に過ぎない。測定装置４４０は、電流源４６０の出力点、又は、ＯＬＥＤ４１０の入力点のアナログ電圧を測定し、この測定をデジタル信号に変換し得る。この例において、測定装置４４０は、ＯＬＥＤ４１０の両端の電圧を測定するが、クレームする対象は、この特定の測定点又はこの電気特性の測定に制限されない。このデジタル信号は、係数修正器４２０に入力され、この修正器４２０は、係数格納アレイ４３０内に格納される係数を変更し得る。係数修正器４２０及び係数格納アレイ４３０として示される制御システムは、例えば、デジタル論理ブロック又は一連の機械実行可能な命令として実施され得る。係数格納アレイ４３０に格納される係数は、例えば、電流源４６０により供給される電流量を調節する信号を生成するよう用い得る。電流源により供給される電流量を調節することにより、ＯＬＥＤの輝度の低下は、少なくとも部分的に補正され得る。
【００３７】
更なる実施例では、以下に制限されないが、前の実施例のいずれかに記載するように、ＯＬＥＤのアレイと、測定回路と、制御システムは、スタンドアロンのビデオディスプレイシステムを生成するよう受信器に接続され得る。受信器は、別のシステムからデジタル形式の一連のビデオ信号を受信し得る。別のシステムは、上述の信号を送信する。受信器は、ディスプレイのＯＬＥＤのアレイにビデオ信号を分散し、恐らくアレイに対しビデオ信号をリフォーマット化する。
【００３８】
クレームする対象の特定の特徴を、本願にて説明したが、多くの修正、代用、変更、又は等価物が、当業者には思い付くであろう。従って、特許請求の範囲は、クレームする対象の真の精神内にある全てのそのような修正及び変更を含むものを意図することを理解するものとする。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】若い有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）の一般的な電流及び輝度特性を示すグラフである。
【図２】経年変化した有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）の一般的な電流及び輝度特性を示すグラフである。
【図３】ＯＬＥＤの輝度を調節するため用い得る、有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）に対する使用の関数としての電圧及び輝度における可能なシフトを示すグラフである。
【図４】有機発光ダイオード（ＯＬＥＤ）の輝度を調節する回路の１つの実施例を示す図である。
【国際公開パンフレット】
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【国際公開パンフレット（コレクトバージョン）】
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【国際調査報告】
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