(57)【要約】  チルト補正方法は、予めトラックが形成されたガイド層（２１）と、該ガイド層上に積層された複数の記録層（２２）とを有する光ディスク（２０）に係るチルト補正を行うチルト補正方法である。該チルト補正方法は、トラッキング用の第１光ビーム（Ｌ２）のガイド層からの戻り光に基づいて、第１光ビームに係るコマ収差が補正されるように第１収差補正手段（ＬＣ２）の駆動量である第１駆動量を演算する第１駆動量演算工程と、該演算された第１駆動量及び複数の記録層のうち一の記録層に係る記録層情報に基づいて、記録再生用の第２光ビーム（Ｌ１）に係るコマ収差が補正されるように第２収差補正手段（ＬＣ１）の駆動量である第２駆動量を演算する第２演算工程と、該演算された第１駆動量に応じて第１収差補正手段を制御しつつ、該演算された第２駆動量に応じて第２収差補正手段を制御する制御工程とを備える。
2011151909.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
予めトラックが形成されたガイド層と、前記ガイド層上に積層された複数の記録層とを有する光ディスクの前記ガイド層に対して、対物レンズを介して、トラッキング用の第１光ビームを照射する第１光源と、前記複数の記録層のうち一の記録層に対して、前記対物レンズを介して、記録再生用の第２光ビームを照射する第２光源と、前記第１光ビームの光路上に配置され、前記第１光ビームに係るコマ収差を補正可能な第１収差補正手段と、前記第２光ビームの光路上に配置され、前記第２光ビームに係るコマ収差を補正可能な第２収差補正手段とを備えるチルト補正装置におけるチルト補正方法であって、
前記第１光ビームの前記ガイド層からの戻り光に基づいて、前記第１光ビームに係るコマ収差が補正されるように前記第１収差補正手段の駆動量である第１駆動量を演算する第１駆動量演算工程と、
前記演算された第１駆動量及び前記一の記録層に係る記録層情報に基づいて、前記第２光ビームに係るコマ収差が補正されるように前記第２収差補正手段の駆動量である第２駆動量を演算する第２演算工程と、
前記演算された第１駆動量に応じて前記第１収差補正手段を制御しつつ、前記演算された第２駆動量に応じて前記第２収差補正手段を制御する制御工程と
を備えることを特徴とするチルト補正方法。
【請求項２】
予めトラックが形成されたガイド層と、前記ガイド層上に積層された複数の記録層とを有する光ディスクに係るチルト補正を行うチルト補正装置であって、
前記ガイド層に対して、対物レンズを介して、トラッキング用の第１光ビームを照射する第１光源と、
前記複数の記録層のうち一の記録層に対して、前記対物レンズを介して、記録再生用の第２光ビームを照射する第２光源と、
前記第１光ビームの光路上に配置され、前記第１光ビームに係るコマ収差を補正可能な第１収差補正手段と、
前記第２光ビームの光路上に配置され、前記第２光ビームに係るコマ収差を補正可能な第２収差補正手段と、
前記第１光ビームの前記ガイド層からの戻り光に基づいて、前記第１光ビームに係るコマ収差が補正されるように前記第１収差補正手段の駆動量である第１駆動量を演算する第１駆動量演算手段と、
前記演算された第１駆動量及び前記一の記録層に係る記録層情報に基づいて、前記第２光ビームに係るコマ収差が補正されるように前記第２収差補正手段の駆動量である第２駆動量を演算する第２演算手段と、
前記演算された第１駆動量に応じて前記第１収差補正手段を制御しつつ、前記演算された第２駆動量に応じて前記第２収差補正手段を制御する制御手段と
を備えることを特徴とするチルト補正装置。
【請求項３】
前記第１光ビーム及び前記第２光ビームの一方を反射させることにより前記対物レンズに導くと共に、前記第１光ビーム及び前記第２光ビームの他方を透過させることにより前記対物レンズに導く導光手段を更に備え、
前記第１収差補正手段は、前記第１光源と前記導光手段との間に配置され、
前記第２収差補正手段は、前記第２光源と前記導光手段との間に配置されている
ことを特徴とする請求項２に記載のチルト補正装置。
【請求項４】
前記第１光ビーム及び前記第２光ビームの一方を反射させることにより前記対物レンズに導くと共に、前記第１光ビーム及び前記第２光ビームの他方を透過させることにより前記対物レンズに導く導光手段を更に備え、
前記第１収差補正手段及び前記第２収差補正手段の各々は、前記導光手段と前記対物レンズとの間に配置されている
ことを特徴とする請求項２に記載のチルト補正装置。
【請求項５】
前記第１光ビームの偏光方向と、前記第２光ビームの偏光方向とは互いに異なっていることを特徴とする請求項４に記載のチルト補正装置。
【請求項６】
前記第１収差補正手段及び前記第２収差補正手段は液晶パネル内に一体的に形成され、
前記液晶パネルは、
前記第１光ビームに係るコマ収差を補正するための電極パターンを有する第１電極と、
前記第２光ビームに係るコマ収差を補正するための電極パターンを有し、前記第１電極から電気的に分離された第２電極と
を備え、
前記制御手段は、前記演算された第１駆動量に応じて前記第１電極を制御しつつ、前記演算された第２駆動量に応じて前記第２電極を制御する
ことを特徴とする請求項４に記載のチルト補正装置。
【請求項７】
請求項２に記載のチルト補正装置を備えることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項８】
請求項７に記載の光ピックアップを備えることを特徴とする情報記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えばサーボエラー信号検出用のサーボガイド層と、複数の記録層とを含んでなる多層光ディスクのディスクチルトを検出し、該検出されたディスクチルトに基づいてチルト補正を行うチルト補正方法及び装置、該チルト補正装置を備える光ピックアップ、並びに、該光ピックアップを備える情報記録再生装置の技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の方法が適用される装置として、例えば、対物レンズの横に設けられた傾きセンサによって検出された多層光ディスクの傾き量を示す信号、多層光ディスクの記録若しくは再生される層の基材厚さに応じて、対物レンズが必要とする傾け量に対応する信号を出力し、該出力された信号に応じて対物レンズが必要量だけ傾けられる装置が提案されている（特許文献１参照）。【０００３】
或いは、複数の記録／再生層を持つ光ディスクの該複数層のうち、レーザ光の照射側から最も遠い距離にある記録／再生層の所定の半径位置において、所定の範囲内においてチルト量を段階的に設定し、該設定されたチルト量に対して光ディスクから得られる所定信号の演算値に基づいて最適のチルト補正量を取得し、該得取得された最適チルト補正量を、他の記録／再生層においても適用する装置が提案されている（特許文献２参照）。【０００４】
或いは、光ディスクの径方向における所定の移動範囲内において検出された該光ディスクの径方向の傾きの最大値及び最小値の中間値に基づいて、コマ収差補正の補正量を決定し、該補正量に応じて光ビームの径方向のコマ収差を補正した後に、球面収差を補正する装置が提案されている（特許文献３参照）。【０００５】
或いは、光源から出力された照射光が光学系を通過中に生じる光学系波面収差を補正する電極パターンを有する第１電極と、光ディスクの被照射面と照射光とのなす角に基づいて生じる媒体波面収差を補正する電極パターンを有する第２電極と、第１電極及び第２電極間に配置され、第１電極及び第２電極間に印加される電圧値に応じて屈折率が変化する液晶材料とを有する液晶パネルを備える装置が提案されている（特許文献４参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特許０４２５６７８８号公報
【特許文献２】特許０４０６９０８７号公報
【特許文献３】特許０４３３０６２９号公報
【特許文献４】特開２００５−１２２８２８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上述の背景技術は、サーボガイド層が記録層とは別に設けられていない光ディスクを対象としているため、サーボガイド層が記録層とは別に設けられている光ディスクに適用することは極めて困難であるという技術的問題点がある。特に、サーボガイド層が記録層とは別に設けられている光ディスクでは、記録層には物理的な構造（例えばピット、グルーブ等）が予め形成されていないので、該光ディスクに情報を記録する際には、一旦試し記録を行い、該試し記録に起因する信号に基づいてチルト補正量を決定しなければならない。すると、ユーザが情報の記録を指示してから、実際に記録が開始されるまでの時間が比較的長くなるという技術的問題点がある。【０００８】
本発明は、例えば上記問題点に鑑みてなされたものであり、サーボガイド層が記録層とは別に設けられている光ディスクに係るチルト補正を適切に行うことができるチルト補正方法及び装置、光ピックアップ並びに情報記録再生装置を提案することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明のチルト補正方法は、上記課題を解決するために、予めトラックが形成されたガイド層と、前記ガイド層上に積層された複数の記録層とを有する光ディスクの前記ガイド層に対して、対物レンズを介して、トラッキング用の第１光ビームを照射する第１光源と、前記複数の記録層のうち一の記録層に対して、前記対物レンズを介して、記録再生用の第２光ビームを照射する第２光源と、前記第１光ビームの光路上に配置され、前記第１光ビームに係るコマ収差を補正可能な第１収差補正手段と、前記第２光ビームの光路上に配置され、前記第２光ビームに係るコマ収差を補正可能な第２収差補正手段とを備えるチルト補正装置におけるチルト補正方法であって、前記第１光ビームの前記ガイド層からの戻り光に基づいて、前記第１光ビームに係るコマ収差が補正されるように前記第１収差補正手段の駆動量である第１駆動量を演算する第１駆動量演算工程と、前記演算された第１駆動量及び前記一の記録層に係る記録層情報に基づいて、前記第２光ビームに係るコマ収差が補正されるように前記第２収差補正手段の駆動量である第２駆動量を演算する第２演算工程と、前記演算された第１駆動量に応じて前記第１収差補正手段を制御しつつ、前記演算された第２駆動量に応じて前記第２収差補正手段を制御する制御工程とを備える。【００１０】
本発明のチルト補正方法によれば、当該チルト補正方法は、予めトラックが形成されたガイド層と、該ガイド層上に積層された複数の記録層とを有する光ディスクに係るチルト補正を行うチルト補正装置におけるチルト補正方法である。【００１１】
該チルト補正装置は、光ディスクのガイド層に対して、対物レンズを介して、トラッキング用の第１光ビームを照射する第１光源と、光ディスクの複数の記録層のうち一の記録層に対して、対物レンズを介して、記録再生用の第２光ビームを照射する第２光源と、第１光ビームの光路上に配置され、第１光ビームに係るコマ収差を補正可能な第１収差補正手段と、第２光ビームの光路上に配置され、第２光ビームに係るコマ収差を補正可能な第２収差補正手段とを備えている。【００１２】
第１駆動量演算工程において、第１光ビームの光ディスクのガイド層からの戻り光に基づいて、第１光ビームに係るコマ収差が補正されるように第１収差補正手段の駆動量である第１駆動量が演算される。【００１３】
「第１光ビームの光ディスクのガイド層からの戻り光に基づく」とは、第１光ビームの光路上に配置され、該第１光ビームのガイド層からの戻り光を受光する受光素子の出力に基づくことを意味する。ここで、「受光素子の出力」は、具体的には例えば、ガイド層に予め形成されたグルーブ構造に起因するトラッキングエラー信号や、ガイド層に予め形成されたチルトエラー検出マークに起因するチルトエラー信号等である。【００１４】
第２駆動量演算工程において、演算された第１駆動量及び一の記録層に係る記録層情報に基づいて、第２光ビームに係るコマ収差が補正されるように第２収差補正手段の駆動量である第２駆動量が演算される。「記録層情報」とは、例えば、一の記録層が第何層目の記録層であるかを示す情報、光ディスクの表面（即ち、照射面）から一の記録層までの距離（即ち、カバー層の厚み）を示す情報等、一の記録層の位置を示す情報を意味する。【００１５】
「コマ収差が補正されるように」とは、コマ収差が完全に補正されることに限らず、コマ収差の程度が大なり小なり低減されることを含んでよい。つまり、コマ収差の程度が低減される方向に補正されれば、本発明に係る「コマ収差が補正されるように」とみなしてよい。【００１６】
制御工程において、演算された第１駆動量に応じて第１収差補正手段が制御されつつ、演算された第２駆動量に応じて第２収差補正手段が制御される。尚、当該制御工程は、上述した第１駆動量演算工程及び第２駆動量演算工程が終了した後に実行されなくてもよい。具体的には例えば、第１駆動量演算工程が終了した後に、第２駆動量演算工程と並行して当該制御工程が実行されてもよい。この場合、第２駆動量演算工程が終了した後に、遅滞なく、演算された駆動量に応じて第２収差補正手段が制御される。【００１７】
本発明では特に、第１光ビームのガイド層からの戻り光に基づいて、第１駆動量が演算され、該演算された第１駆動量、及び記録又は再生対象の一の記録層に係る記録層情報に基づいて第２駆動量が演算される。このため、光ディスクの複数の記録層にチルト補正を行うための物理的な構造が形成されていなくても、記録再生用の第２光ビームに係るチルト補正を適切に行うことができる。【００１８】
本発明のチルト補正装置は、上記課題を解決するために、予めトラックが形成されたガイド層と、前記ガイド層上に積層された複数の記録層とを有する光ディスクに係るチルト補正を行うチルト補正装置であって、前記ガイド層に対して、対物レンズを介して、トラッキング用の第１光ビームを照射する第１光源と、前記複数の記録層のうち一の記録層に対して、前記対物レンズを介して、記録再生用の第２光ビームを照射する第２光源と、前記第１光ビームの光路上に配置され、前記第１光ビームに係るコマ収差を補正可能な第１収差補正手段と、前記第２光ビームの光路上に配置され、前記第２光ビームに係るコマ収差を補正可能な第２収差補正手段と、前記第１光ビームの前記ガイド層からの戻り光に基づいて、前記第１光ビームに係るコマ収差が補正されるように前記第１収差補正手段の駆動量である第１駆動量を演算する第１駆動量演算手段と、前記演算された第１駆動量及び前記一の記録層に係る記録層情報に基づいて、前記第２光ビームに係るコマ収差が補正されるように前記第２収差補正手段の駆動量である第２駆動量を演算する第２演算手段と、前記演算された第１駆動量に応じて前記第１収差補正手段を制御しつつ、前記演算された第２駆動量に応じて前記第２収差補正手段を制御する制御手段とを備える。【００１９】
本発明のチルト補正装置によれば、当該チルト補正装置は、予めトラックが形成されたガイド層と、該ガイド層上に積層された複数の記録層とを有する光ディスクに係るチルト補正を行う。【００２０】
例えばＬＤ（Ｌａｓｅｒ  Ｄｉｏｄｅ）等である第１光源は、光ディスクのガイド層に対して、対物レンズを介して、トラッキング用の第１光ビームを照射する。他方、第２光源は、光ディスクの複数の記録層のうち一の記録層に対して、対物レンズを介して、記録再生用の第２光ビームを照射する。尚、第１光ビームの波長は、例えば６６０ｎｍ（ナノメートル）であり、第２光ビームの波長は、例えば４０５ｎｍである。【００２１】
例えば液晶パネル等である第１収差補正手段は、第１光ビームの光路上に配置され、該第１光ビームに係るコマ収差を補正可能である。他方、第２収差補正手段は、第２光ビームの光路上に配置され、該第２光ビームに係るコマ収差を補正可能である。【００２２】
例えばメモリ、プロセッサ等を備えてなる第１駆動量演算手段は、第１光ビームの光ディスクのガイド層からの戻り光に基づいて、第１光ビームに係るコマ収差が補正されるように第１収差補正手段の駆動量である第１駆動量を演算する。尚、第１駆動量は、第１収差補正手段が、例えば液晶パネルである場合、該液晶パネルの駆動（制御）電圧等である。【００２３】
他方、例えばメモリ、プロセッサ等を備えてなる第２駆動量演算手段は、演算された第１駆動量及び一の記録層に係る記録層情報に基づいて、第２光ビームに係るコマ収差が補正されるように第２収差補正手段の駆動量である第２駆動量を演算する。【００２４】
例えばメモリ、プロセッサ等を備えてなる制御手段は、演算された第１駆動量に応じて第１収差補正手段を制御しつつ、演算された第２駆動量に応じて第２収差補正手段を制御する。【００２５】
本発明のチルト補正装置によれば、上述した本発明のチルト補正方法と同様に、光ディスクの複数の記録層にチルト補正を行うための物理的な構造が形成されていなくても、記録再生用の第２光ビームに係るチルト補正を適切に行うことができる。【００２６】
本発明のチルト補正装置の一態様では、前記第１光ビーム及び前記第２光ビームの一方を反射させることにより前記対物レンズに導くと共に、前記第１光ビーム及び前記第２光ビームの他方を透過させることにより前記対物レンズに導く導光手段を更に備え、前記第１収差補正手段は、前記第１光源と前記導光手段との間に配置され、前記第２収差補正手段は、前記第２光源と前記導光手段との間に配置されている。【００２７】
この態様によれば、例えばダイクロイックミラー、ダイクロイックプリズム等である導光手段は、第１光ビーム及び第２光ビームの一方を、当該導光手段において反射させることにより対物レンズに導くと共に、第１光ビーム及び第２光ビームの他方を、当該導光手段を透過させることにより対物レンズに導く。このため、第１光ビーム及び第２光ビームは、導光手段を経た後は、同一の光路を進むこととなる。【００２８】
第１収差補正手段は、第１光源と導光手段との間に配置され、第２収差補正手段は、第２光源と導光手段との間に配置されている。従って、第１収差補正手段は、第１光ビームのみが透過し、第２収差補正手段は、第２光ビームのみが透過することとなる。従って、第１収差補正手段が第２光ビームに影響を及ぼしたり、第２収差補正手段が第１光ビームに影響を及ぼしたりすることを回避することができる。【００２９】
或いは、本発明のチルト補正装置の他の態様では、前記第１光ビーム及び前記第２光ビームの一方を反射させることにより前記対物レンズに導くと共に、前記第１光ビーム及び前記第２光ビームの他方を透過させることにより前記対物レンズに導く導光手段を更に備え、前記第１収差補正手段及び前記第２収差補正手段の各々は、前記導光手段と前記対物レンズとの間に配置されている。【００３０】
この態様によれば、第１光ビーム及び第２光ビームの各々は、第１収差補正手段及び第２収差補正手段の両方を透過することとなる。この態様では、第１収差補正手段及び第２収差補正手段を、例えば重ねて配置することができるので、光学系の設計の自由度を増加することがでる。【００３１】
尚、例えば、第１光ビームの偏光方向と、第２光ビームの偏光方向とが互いに異なるようにし、第１収差補正手段が第１光ビームの偏光方向にのみ対応するようにし、第２収差補正手段が第２光ビームの偏光方向のみに対応するようにすれば、第１収差補正手段が第２光ビームに影響を及ぼしたり、第２収差補正手段が第１光ビームに影響を及ぼしたりすることを回避することができる。【００３２】
この第１収差補正手段及び第２収差補正手段の各々が、導光手段と対物レンズとの間に配置されている態様では、前記第１光ビームの偏光方向と、前記第２光ビームの偏光方向とは互いに異なっていてもよい。【００３３】
このように構成すれば、比較的容易にして、第１収差補正手段が第２光ビームに影響を及ぼしたり、第２収差補正手段が第１光ビームに影響を及ぼしたりすることを回避することができる。【００３４】
この第１収差補正手段及び第２収差補正手段の各々が、導光手段と対物レンズとの間に配置されている態様では、前記第１収差補正手段及び前記第２収差補正手段は液晶パネル内に一体的に形成され、前記液晶パネルは、前記第１光ビームに係るコマ収差を補正するための電極パターンを有する第１電極と、前記第２光ビームに係るコマ収差を補正するための電極パターンを有し、前記第１電極から電気的に分離された第２電極とを備え、前記制御手段は、前記演算された第１駆動量に応じて前記第１電極を制御しつつ、前記演算された第２駆動量に応じて前記第２電極を制御してよい。【００３５】
このように構成すれば、例えば、光学系の小型化、当該チルト補正装置の製造コストの低減等を図ることができ、実用上非常に有利である。尚、ここでは、第１駆動量及び第２駆動量は、例えば制御電圧値、電圧変更量等として表わされる。【００３６】
本発明の光ピックアップは、上記課題を解決するために、本発明のチルト補正装置（但し、その各種態様を含む）を備える。【００３７】
本発明の光ピックアップは、上述した本発明のチルト補正装置を備えてなるので、光ディスクの複数の記録層にチルト補正を行うための物理的な構造が形成されていなくても、記録再生用の第２光ビームに係るチルト補正を適切に行うことができる。【００３８】
本発明の情報記録再生装置は、上記課題を解決するために、本発明の光ピックアップを備える。【００３９】
本発明の情報記録再生装置は、上述した本発明の光ピックアップを備えてなるので、光ディスクの複数の記録層にチルト補正を行うための物理的な構造が形成されていなくても、記録再生用の第２光ビームに係るチルト補正を適切に行うことができる。【００４０】
本発明の作用及び他の利得は次に説明する実施するための形態から明らかにされる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】第１実施形態に係る情報記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】第１実施形態に係る液晶パネルの電極パターンの一例を示す概念図である。
【図３】第２実施形態に係る情報記録再生装置の一部を示すブロック図である。
【図４】第３実施形態に係る情報記録再生装置の一部を示すブロック図である。
【図５】第３実施形態に係る液晶パネルの電極パターンの一例を示す概念図である。
【図６】チルト補正の効果の一例を示すシミュレーション結果である。
【図７】液晶パネルの印加電圧と位相差との関係の一例を波長毎に示す特性図である。
【発明を実施するための形態】
【００４２】
以下、本発明の情報記録再生装置に係る実施形態について、図面に基づいて説明する。
【００４３】
＜第１実施形態＞
本発明の情報記録再生装置に係る第１実施形態について、図１及び図２を参照して説明する。図１は、本実施形態に係る情報記録再生装置の構成を示すブロック図であり、図２は、本実施形態に係る液晶パネルの電極パターンの一例を示す概念図である。
【００４４】
図１において、光ディスク２０は、スパイラル状又は同心円状のトラックが予め形成されたガイド層２１と、該ガイド層２１の上に積層された複数の記録層２２とを有している。即ち、光ディスク２０は、所謂、サーボ層分離型多層光ディスクである。
【００４５】
ガイド層２１には、例えばトラッキングエラー信号を得るためのグルーブ構造、或いはチルトエラー信号を得るためのチルトエラー検出マーク等が予め形成されている。尚、光ディスク２０は、該光ディスク２０を着脱自在且つ回転自在に保持するターンテーブルを有するスピンドルモータ（図示せず）に装着されている。
【００４６】
情報記録再生装置１は、光ピックアップ１０、コントローラー１０１、トラッキングサーボ演算部１０２、サーボ光チルト補正量演算部１０３、記録光チルト補正量演算部１０４、及びフォーカスサーボ演算部１０５を備えて構成されている。
【００４７】
光ピックアップ１０は、光ディスク２０の複数の記録層２２のうち一の記録層に対して、記録光Ｌ１を照射する、例えば青色レーザーダイオード等である光源ＬＤ１と、記録光Ｌ１の前記一の記録層からの戻り光を受光する受光素子ＰＤ１と、記録光Ｌ１に係るコマ収差を補正可能な液晶パネルＬＣ１と、光ディスク２０のガイド層２１に対して、サーボ光Ｌ２を照射する、例えば赤色レーザーダイオード等である光源ＬＤ２と、サーボ光Ｌ２のガイド層２１からの戻り光を受光する受光素子ＰＤ２と、サーボ光Ｌ２に係るコマ収差を補正可能な液晶パネルＬＣ２と、対物レンズ１１を駆動可能なレンズアクチュエータ１３と、レンズＲＬ１を駆動可能なレンズアクチュエータ１４とを備えて構成されている。
【００４８】
光源ＬＤ１から出射された、例えば４０５ｎｍ等の波長を有する記録光Ｌ１は、偏光ビームスプリッタＰＢＳ１、液晶パネルＬＣ１及びレンズＲＬ１等を介して、ダイクロイックプリズムＤＰに入射する。該ダイクロイックプリズムＤＰは記録光Ｌ１を反射するように設計されており、記録光Ｌ１は、ダイクロイックプリズムＤＰ１の反射面で反射され、光ディスク２０方向へと９０度光路が曲げられる。記録光Ｌ１は、４分の１波長板１２を透過して円偏光となった後、対物レンズ１１により光ディスク２０の複数の記録層２２のうち一の記録層上に集光される。
【００４９】
該一の記録層で反射された記録光Ｌ１は、対物レンズ１１を介して、４分の１波長板１２を透過することで、入射光に対して偏光方向が９０度回転した直線偏光となる。記録光Ｌ１は、入射時とは逆の光路を辿り、偏光ビームスプリッタＰＢＳ１の反射面で反射されて、受光素子ＰＤ１へと導かれる。
【００５０】
他方、光源ＬＤ２から出射された、例えば６５０ｎｍ等の波長を有するサーボ光Ｌ２は、偏光ビームスプリッタＰＢＳ２、液晶パネルＬＣ２及びレンズＲＬ２等を介して、ダイクロイックプリズムＤＰに入射する。該ダイクロイックプリズムＤＰはサーボ光Ｌ２を透過するように設計されており、サーボ光Ｌ２は、ダイクロイックプリズムＤＰを透過し、４分の１波長板１２を透過して円偏光となった後、対物レンズ１１により光ディスク２０のガイド層２１上に集光される。
【００５１】
該ガイド層２１で反射されたサーボ光Ｌ２は、対物レンズ１１を介して、４分の１波長板１２を透過することで、入射光に対して偏光方向が９０度回転した直線偏光となる。サーボ光Ｌ２は、入射時とは逆の光路を辿り、偏光ビームスプリッタＰＢＳ２の反射面で反射されて、受光素子ＰＤ２へと導かれる。
【００５２】
コントローラー１０１は、例えば受光素子ＰＤ１及びＰＤ２等の、光ピックアップ１０及びスピンドルモータの各々に設けられている各種センサから夫々出力される各種出力データに基づいて、光ピックアップ１０及びスピンドルモータを夫々制御すると共に、該各種出力データを処理する。
【００５３】
具体的には例えば、コントローラー１０１は、回転制御されている光ディスク２０のガイド層２１に対して、サーボ光Ｌ２を用いてそのスポット位置をサーボ制御しつつ、複数の記録層２２のうち一の記録層に対して、記録光Ｌ１を集光させることにより、該記録光Ｌ１が集光された部分の光学的特性を変化させ、記録マークを形成（即ち、情報を記録）するように、光ピックアップ１０を制御する。或いは、コントローラー１０は、サーボ制御しつつ、複数の記録層２２のうち記録マークの形成された記録層に対して、比較的強度の弱い記録光Ｌ１を照射するように、光ピックアップ１０制御しつつ、記録光Ｌ１の戻り光から生成される信号を受光素子ＰＤ１から取得して、該取得された信号を復号処理して、例えば、ここでは図示しない、表示装置や音響装置等に出力する。
【００５４】
トラッキングサーボ演算部１０２は、例えば４分割受光素子等である受光素子ＰＤ２からの出力に基づいて、適切なトラッキングエラー信号が得られるようなレンズアクチュエータ１３の駆動量を演算して、該演算された駆動量に応じて、対物レンズ１１が光ディスク２０の表面に沿って移動するように、レンズアクチュエータ１３を制御する。
【００５５】
他方、フォーカスサーボ演算部１０５は、例えば４分割受光素子等である受光素子ＰＤ１からの出力に基づいて、適切なフォーカスエラー信号が得られるようなレンズアクチュエータ１３の駆動量を演算して、該演算された駆動量に応じて、対物レンズ１１が光ディスク２０の表面の法線方向に沿って移動するように、レンズアクチュエータ１３を制御する。
【００５６】
サーボ光チルト補正量演算部１０３は、例えば、受光素子ＰＤ２から出力されたトラッキングエラー信号に基づいて、該トラッキングエラー信号の振幅が最大となるように、或いは、受光素子ＰＤ２から出力されたチルトエラー信号に基づいて、液晶パネルＬＣ２に印加すべき電圧であるＬＣ２制御電圧を演算して、該演算されたＬＣ２制御電圧を液晶パネルＬＣ２に印加する。尚、ＬＣ２制御電圧は、サーボ光Ｌ２に係るコマ収差が補正されるような電圧である。
【００５７】
ここで、液晶パネルＬＣ２の透明電極の電極パターンは、例えば図２（ｂ）のように形成されている。ここで、電極パターンは、サーボ光Ｌ２の光束（図２（ｂ）において一点鎖線で囲まれた領域）の開口に応じて最適化されている。尚、図２（ｂ）中の“Ｖｓ１”、“Ｖｓ２”及び“ＧＮＤ”は、透明電極に印加される電圧を示している。
【００５８】
記録光チルト補正量演算部１０４は、演算されたＬＣ２制御電圧と、コントローラー１０１から出力され、光ディスク２０の複数の記録層２２のうち記録又は再生しようとする一の記録層に係る情報である記録層情報と、に基づいて、液晶パネルＬＣ１に印加すべき電圧であるＬＣ１制御電圧を演算して、該演算されたＬＣ１制御電圧を液晶パネルＬＣ１に印加する。尚、ＬＣ１制御電圧は、記録光Ｌ１に係るコマ収差が補正されるような電圧である。
【００５９】
ここで、液晶パネルＬＣ１の透明電極の電極パターンは、例えば図２（ａ）のように形成されている。上述した液晶パネルＬＣ２と同様に、液晶パネルＬＣ１の透明電極の電極パターンは、記録光Ｌ１の光束（図２（ａ）において破線鎖線で囲まれた領域）の開口に応じて最適化されている。尚、図２（ａ）中の“Ｖｒ１”、“Ｖｒ２”及び“ＧＮＤ”は、透明電極に印加される電圧を示している。
【００６０】
チルト補正装置１００は、光源ＬＤ１及びＬＤ２、液晶パネルＬＣ１及びＬＣ２、コントローラー１０１、サーボ光チルト補正量演算部１０３並びに記録光チルト補正量演算部１０４を備えて構成されている。
【００６１】
以上説明したように、本実施形態では、サーボ光Ｌ２の光ディスク２０のガイド層２１からの戻り光に基づいて、ＬＣ２制御電圧が演算され、該演算されたＬＣ２制御電圧と、光ディスク２０の複数の記録層２２のうち、記録又は再生対象である一の記録層に係る記録層情報と、に基づいてＬＣ１制御電圧が演算される。このため、光ディスク２０の複数の記録層２２にチルト補正を行うための物理的な構造が形成されていなくても、記録光Ｌ１に係るチルト補正を適切に行うことができる。
【００６２】
尚、本実施形態に係る「ダイクロイックプリズムＤＰ」、「記録光Ｌ１」、「サーボ光Ｌ２」、「光源ＬＤ１」、「光源ＬＤ２」、「液晶パネルＬＣ１」、「液晶パネルＬＣ２」、「コントローラー１０１」、「サーボ光チルト補正量演算部１０３」、「記録光チルト補正量演算部１０４」、「ＬＣ１制御電圧」及び「ＬＣ２制御電圧」は、夫々、本発明に係る「導光手段」、「第２光ビーム」、「第１光ビーム」、「第２光源」、「第１光源」、「第２収差補正手段」、「第１収差補正手段」、「制御手段」、「第２演算手段」、「第１演算手段」、「第２駆動量」及び「第１駆動量」の一例である。
【００６３】
＜第２実施形態＞
本発明の情報記録再生装置に係る第２実施形態を、図３を参照して説明する。第２実施形態では、主に液晶パネルＬＣ１及びＬＣ２の配置が異なっている以外は、第１実施形態の構成と同様である。よって、第２実施形態について、第１実施形態と重複する説明を省略すると共に、図面上における共通箇所には同一符号を付して示し、基本的に異なる点についてのみ、図３を参照して説明する。
【００６４】
図３は、本実施形態に係る情報記録再生装置の一部を示すブロック図である。尚、図３では、本実施形態に直接関係する部材のみを示しており、図１に示した他の部材については適宜省略している。
【００６５】
図３に示すように、本実施形態では、液晶パネルＬＣ１及びＬＣ２が、ダイクロイックプリズムＤＰと４分の１波長板１２との間に配置されている。従って、本実施形態では、記録光Ｌ１及びサーボ光Ｌ２は、液晶パネルＬＣ１及びＬＣ２の両方を透過することとなる。尚、液晶パネルＬＣ１及びＬＣ２は、液晶パネルＬＣ２が液晶パネルＬＣ１よりも対物レンズ１１側になるように配置されてもよい。
【００６６】
本実施形態では特に、液晶パネルＬＣ１がサーボ光Ｌ２と干渉しないように、及び液晶パネルＬＣ２が記録光Ｌ１と干渉しないように、記録光Ｌ１の偏光方向とサーボ光Ｌ２の偏光方向とが互いに９０度異なるように設定されると共に、液晶パネルＬＣ１に含まれる液晶分子が記録光Ｌ１の偏光方向と一致する方向に配向されるように液晶パネルＬＣ１の配向膜が形成され、液晶パネルＬＣ２に含まれる液晶分子がサーボ光Ｌ２の偏光方向と一致する方向に配向されるように液晶パネルＬＣ２の配向膜が形成されている。
【００６７】
液晶パネルＬＣ１及びＬＣ２を情報記録再生装置１に組み込む前に、該液晶パネルＬＣ１及びＬＣ２のお互いの位置合わせを行っておけば、液晶パネルＬＣ１及びＬＣ２を情報記録再生装置１に組み込んだ際の位置合わせの回数を低減することができるので、組立工程の省力化を図ることができる。加えて、光ピックアップ１０の設計の自由度を増加させることができ、実用上非常に有利である。
【００６８】
＜第３実施形態＞
本発明の情報記録再生装置に係る第３実施形態を、図４乃至図７を参照して説明する。第３実施形態では、液晶パネルＬＣ１及びＬＣ２に代えて液晶パネルＬＣ３が設けられている以外は、第１実施形態の構成と同様である。よって、第３実施形態について、第１実施形態と重複する説明を省略すると共に、図面上における共通箇所には同一符号を付して示し、基本的に異なる点についてのみ、図４乃至図７を参照して説明する。
【００６９】
図４は、本実施形態に係る情報記録再生装置の一部を示すブロック図である。尚、図４では、本実施形態に直接関係する部材のみを示しており、図１に示した他の部材については適宜省略している。
【００７０】
液晶パネルＬＣ３は、記録光Ｌ１に係るコマ収差を補正可能であると共に、サーボ光Ｌ２に係るコマ収差を補正可能である。該液晶パネルＬＣ３は、図４に示すように、ダイクロイックプリズムＤＰと４分の１波長板１２との間に配置されている。また、液晶パネルＬＣ３は、サーボ光チルト補正量演算部１０３及び記録光チルト補正量演算部１０４が電気的に接続されている。
【００７１】
ここで、液晶パネルＬＣ３の透明電極の電極パターンは、例えば図５のように形成されている。図５は、本実施形態に係る液晶パネルの電極パターンの一例を示す概念図である。
【００７２】
サーボ光Ｌ２の光束（図５において一点鎖線で囲まれた領域）内に形成された透明電極には、サーボ光チルト補正量演算部１０３が電気的に接続されており、該サーボ光チルト補正量演算部１０３により演算され、サーボ光Ｌ２に係るコマ収差を補正するための制御電圧（ここでは、“Ｖｒ１”及び“Ｖｒ２”）が印加される。
【００７３】
他方、サーボ光Ｌ２の光束の周辺領域に形成された透明電極には、記録光チルト補正量演算部１０４が電気的に接続されており、該記録光チルト補正量演算部１０４により演算され、記録光Ｌ１（図５において破線で囲まれた領域）に係るコマ収差を補正するための制御電圧（ここでは、“Ｖｒ１´”及び“Ｖｒ２´”）が印加される。
【００７４】
このように構成すれば、光ピックアップ１０（更には、情報記録再生装置１）の小型化、製造コストの低減等を図ることができる。尚、本実施形態に係る「液晶パネルＬＣ３」は、本発明に係る「第１収差補正手段」及び「第２収差補正手段」の他の例である。
【００７５】
次に、本実施形態に係るチルト補正の効果について、図６を参照して説明する。図６は、チルト補正の効果の一例を示すシミュレーション結果である。尚、図６において“×”で示す「中央領域に対する周辺領域の比率」は、図６の右側の縦軸と横軸（即ち、カバー層厚み）との関係で表わされている。図６における他のデータは、図６の左側の縦軸（即ち、ＷＦＡ：Ｗａｖｅ  Ｆｒｏｎｔ  Ａｂｅｒｒａｔｉｏｎ）と横軸との関係で表わされている。
【００７６】
図６において、「補正無し」とは、記録光Ｌ１に係るチルト補正を行わなかった場合の結果であり、カバー層厚みが増加（即ち、光ディスク２０における記録層の位置が下層側に移動）するに従って、記録光Ｌ１の波面収差（ＷＦＡ）が増加することがわかる。尚、ここでは図示しないが、サーボ光Ｌ２の波面収差は一定である。
【００７７】
「記録光における最適補正」とは、上述した第１及び第２実施形態における記録光Ｌ１に係るチルト補正の結果であり、「補正無し」と比べて、記録光Ｌ１の波面収差の値が顕著に小さくなっていることがわかる。
【００７８】
「中央領域はサーボ光最適で固定＋記録光で周辺領域可変」とは、本実施形態における記録光Ｌ１に係るチルト補正の結果である。図６に示すように、カバー層厚みが比較的小さい領域（即ち、光ディスク２０の表面近傍の記録層）では、「補正無し」と比べて、記録光Ｌ１の波面収差の値が大きいが、記録光Ｌ１の波面収差を広範囲にわたりほぼ一定とすることができることがわかる。
【００７９】
尚、「中央領域」とは、図５において、電圧“Ｖｒ１”及び“Ｖｒ２”が夫々印加される透明電極を意味し、「周辺領域」とは、図５において、電圧“Ｖｒ１´”及び“Ｖｒ２´”が夫々印加される透明電極を意味する。また、「記録光で周辺領域可変」とは、記録光Ｌ１が集光される記録層（即ち、カバー層厚み）に応じて、周辺領域に印加される電圧を変更することを意味する。具体的には例えば、記録光チルト補正量演算部１０４で演算される周辺領域に係る制御量（即ち、制御電圧）を、サーボ光チルト補正量演算部１０３で演算された中央領域に係る制御量に対して、図６において“×”で示すように変更することを意味する。
【００８０】
「全領域サーボ光最適で固定」とは、液晶パネルＬＣ３を、例えば第１実施形態における液晶パネルＬＣ２と同様に制御した場合の記録光Ｌ１に係るチルト補正の結果である。尚、サーボ光Ｌ２におけるチルト補正を最適とする制御を行っているにもかかわらず、記録光Ｌ１の波面収差があるカバー層厚み（ここでは０．１６μｍ）で最適な補正を行った場合と等しくなるのは、図７に示すように、液晶素子（液晶パネル）の特性として記録光Ｌ１（図７における実線参照）の位相差（即ち、屈折率差）が、サーボ光Ｌ２（図７における破線参照）の位相差よりも大きくなり、あるカバー層厚み（ここでは０．１６μｍ）で、サーボ光Ｌ２におけるチルト補正を最適とする制御電圧が記録光Ｌ１の波面収差を補正するために最適な電圧とほぼ等しくなるからである。図７は、液晶パネルの印加電圧と位相差との関係の一例を波長毎に示す特性図である。
【００８１】
尚、本実施形態において、例えば、カバー層厚みが０．０７μｍ（マイクロメートル）程度までは、記録光Ｌ１に係るチルト補正を行わず、カバー層厚みが約０．０７μｍより大きくなった場合に記録光Ｌ１に係るチルト補正を行うようにしてもよい。
【００８２】
本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴うチルト補正方法及び装置、光ピックアップ並びに情報記録再生装置もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。
【符号の説明】
【００８３】
１…情報記録再生装置、１０…光ピックアップ、１１…対物レンズ、１２…４分の１波長板、１３、１４…レンズアクチュエータ、２０…光ディスク、２１…ガイド層、２２…複数の記録層、１００…チルト補正装置、１０１…コントローラー、１０２…トラッキングサーボ演算部、１０３…サーボ光チルト補正量演算部、１０４…記録光チルト補正量演算部、１０５…フォーカスサーボ演算部、ＤＰ…ダイクロイックプリズム、Ｌ１…記録光、Ｌ２…サーボ光、ＬＣ１、ＬＣ２、ＬＣ３…液晶パネル、ＬＤ１、ＬＤ２…光源、ＰＢＳ１、ＰＢＳ２…偏光ビームスプリッタ、ＰＤ１、ＰＤ２…受光素子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【国際調査報告】
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