【誤訳訂正書】
【提出日】令和2年5月28日(2020.5.28)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２６】
例えば、コンピュータは、絶対位相に基づいてサンプルに関連する構造内の動きを決定または補正するための少なくとも１つのパラメータを決定するようにさらに構成されてもよい。構造は身体または身体の一部であってもよい。コンピュータは、第２のアレンジメントが位置し得るイメージングプローブと、身体との間の動きを補正するための少なくとも１つのパラメータを決定または補正するようにさらに構成されてもよい。第２のアレンジメントは、第１の放射線に関連する少なくとも１つの第３の放射線と、第２の放射線に関連する少なくとも１つの第４の放射線との間で第１の干渉および第２の干渉を検出するようにさらに構成されてもよく、第１の干渉および第２の干渉は互いに異なってもよい。コンピュータは、第１の干渉の振幅と第２の干渉の振幅との差に基づいてさらなる情報を決定するようにさらに構成されてもよい。コンピュータはまた、絶対位相およびさらなる情報に基づいてサンプルに関連する構造または液体の速度分布を決定するようにさらに構成されてもよい。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２７】
本開示のさらに別の例示的な実施形態（本明細書に記載される全ての他の例示的な実施形態と共に使用され得る）によれば、放射線を提供し、スプリッタ構造を備える少なくとも１つの第１のアレンジメントであって、スプリッタ構造は、放射線を、サンプルに方向付けられる少なくとも１つの第１の電磁放射線および参照に方向付けられる少なくとも１つの第２の電磁放射線に分離する、第１のアレンジメントを備えることができる装置が提供され得る。第１のアレンジメントによって提供される放射線の周波数は第１のアレンジメントによって経時的に変化できる。装置はまた、第１の放射線に関連する少なくとも１つの第３の放射線と、第２の放射線に関連する少なくとも１つの第４の放射線との間で第１の干渉および第２の干渉を検出するように構成され、第１の干渉および第２の干渉は互いに異なってもよい、少なくとも１つの検出器の第２のアレンジメントを備えることができる。第２のアレンジメントは、第１の干渉の振幅と第２の干渉の振幅との差に基づいて情報を決定するように構成されるコンピュータを備えてもよい。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＯＦＤＩ（光周波数領域イメージング）装置であって、
電磁放射を提供する掃引ソースを有し、該掃引ソースによって提供される電磁放射の周波数は、経時的な変化を伴い制御され、スプリッタ構造を備えて前記電磁放射を、サンプルに向けられる少なくとも１つの第１の電磁放射と、参照アームに向けられる少なくとも１つの第２の電磁放射とに分離する少なくとも１つの第１のアレンジメントと、
前記少なくとも１つの第１の電磁放射に基づく前記サンプルから反射される戻りの少なくとも１つの第３の電磁放射と、時間の関数としての前記少なくとも１つの第２の電磁放射に基づく前記参照アームから反射される戻りの少なくとも１つの第４の電磁放射との間のそれぞれの干渉を検出するように構成される検出器を有する少なくとも１つの第２のアレンジメントと、を備え、
前記少なくとも１つの第２のアレンジメントはコンピュータを含み、前記コンピュータは、前記それぞれの干渉の振幅の差に基づいて前記サンプルに関連する構造または液体の速度分布を決定するように構成されると共に、前記サンプルの乱流プロファイルを決定するために、ドップラー分析とスペックル振幅統計分析の組み合わせを用いる、装置。
【請求項２】
前記コンピュータは、前記それぞれの干渉に基づいて、またはk-空間フィルタを使用して前記サンプルに関連する構造内の動きを決定または補正するための少なくとも１つのパラメータを決定するようにさらに構成される、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記構造は身体を含む、請求項２に記載の装置。
【請求項４】
前記コンピュータは、少なくとも１つのパラメータを決定または補正するようにさらに構成され、前記コンピュータは、前記少なくとも１つの第２のアレンジメントにある前記少なくとも１つのパラメータを使用してイメージングプローブと身体との間の動きまたは方向のうちの少なくとも１つを補正するようにさらに構成される、請求項３に記載の装置。
【請求項５】
前記決定される乱流プロファイルの情報は、前記サンプルに関連する構造または液体の速度プロファイルの複数の成分に対応する、請求項１〜４のいずれかに記載の装置。
【請求項６】
前記コンピュータは、フィルタした動きに基づいて前記サンプルに関するさらなる測定を行う、請求項２に記載の装置。
【請求項７】
ＳＤ−ＯＣＴ（スペクトルドメインＯＣＴ）装置であって、
電磁放射を提供するソースを有し、スプリッタ構造を備えて前記電磁放射を、サンプルに向けられる少なくとも１つの第１の電磁放射と、参照アームに向けられる少なくとも１つの第２の電磁放射とに分離する少なくとも１つの第１のアレンジメントと、
（ａ）前記少なくとも１つの第１の電磁放射に基づく前記サンプルから反射される戻りの少なくとも１つの第３の電磁放射と、前記少なくとも１つの第２の電磁放射に基づく前記参照アームから反射される戻りの少なくとも１つの第４の電磁放射との間のそれぞれの干渉を受け取るように構成され、（ｂ）前記それぞれの干渉をスペクトル的に異なる干渉に分離する、少なくとも１つのスペクトルを分離する第２のアレンジメントと、
分離された前記スペクトル的に異なる干渉を時間の関数として検出するように構成された複数の検出器を含む少なくとも１つの第３のアレンジメントと、を備え、
前記少なくとも１つの第３のアレンジメントは、コンピュータを含み、前記コンピュータは、それぞれの前記スペクトル的に異なる干渉の振幅および位相変化に基づいて前記サンプルに関連する構造または液体の速度分布を決定するように構成されると共に、前記サンプルの乱流プロファイルを決定するために、ドップラー分析とスペックル振幅統計分析の組み合わせを用いる、装置。
【請求項８】
ＯＦＤＩ（光周波数領域イメージング）方法であって、
提供される電磁放射を、サンプルに向けられる少なくとも１つの第１の電磁放射と、参照アームに向けられる少なくとも１つの第２の電磁放射とに分離するステップであって、提供される前記電磁放射の周波数は、経時的な変化を伴い制御されるステップと、
前記少なくとも１つの第１の電磁放射に基づく前記サンプルから反射される戻りの少なくとも１つの第３の電磁放射と、時間の関数としての前記少なくとも１つの第２の電磁放射に基づく前記参照アームから反射される戻りの少なくとも１つの第４の電磁放射との間のそれぞれの干渉を検出するステップと、
前記それぞれの干渉の振幅の差に基づいて前記サンプルに関連する構造または液体の速度分布を決定すると共に、前記サンプルの乱流プロファイルを決定するために、ドップラー分析とスペックル振幅統計分析の組み合わせを用いるステップと、
を含む方法。
【請求項９】
スペクトルドメインＯＣＴ方法であって、
提供される電磁放射を、サンプルに向けられる少なくとも１つの第１の電磁放射と、参照アームに向けられる少なくとも１つの第２の電磁放射とに分離するステップと、
前記少なくとも１つの第１の電磁放射に基づく前記サンプルから反射される戻りの少なくとも１つの第３の電磁放射と、前記少なくとも１つの第２の電磁放射に基づく前記参照アームから反射される戻りの少なくとも１つの第４の電磁放射との間のそれぞれの干渉を受け取るステップと、
前記それぞれの干渉をスペクトル的に異なる干渉に分離するステップと、
複数の検出器を有して、分離された前記スペクトル的に異なる干渉を時間の関数として検出するステップと、
それぞれの前記スペクトル的に異なる干渉の振幅および位相変化に基づいて前記サンプルに関連する構造または液体の速度分布を決定すると共に、前記サンプルの乱流プロファイルを決定するために、ドップラー分析とスペックル振幅統計分析の組み合わせを用いるステップと、
を含む方法。