【手続補正書】
【提出日】令和2年1月9日(2020.1.9)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料の試料タイプを同定するための装置であって、
少なくとも格子および１つまたは複数の光ファイバを含むスペクトル符号化内視鏡検査（「ＳＥＥ」）プローブと、
分光計と、
１つまたは複数の強度を取得するように動作する検出器と、
モータと、
前記モータの速度を変更するように動作する運動コントローラと、
スペックル強度自己相関関数を計算し、および／またはレーザスペックル撮像（ＬＳＩ）を処理もしくは実行するように動作する少なくとも１つのプロセッサと、
を備える、装置。
【請求項２】
光源と、
前記ＳＥＥプローブの遠位端に配置されるスペーサ素子であって、前記スペーサ素子および前記格子が隣接し、および／または接続されるようになっている、スペーサ素子と、
前記ＳＥＥプローブを収容するシースと、
のうちの１つまたは複数を更に備え、
前記モータは、前記ＳＥＥプローブを回転させるように動作する回転接合部を含むか、前記回転接合部に接合されるか、または前記回転接合部である、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記装置は、前方ビューＳＥＥ装置である、請求項２に記載の装置。
【請求項４】
前記装置は、側方ビューＳＥＥ装置である、請求項１に記載の装置。
【請求項５】
前記モータは、ステッピングモータまたはサーボモータである、請求項１に記載の装置。
【請求項６】
（ｉ）前記運動コントローラが、前記検出器が前記１つまたは複数の強度を取得する間に前記モータを停止する、および（ｉｉ）前記運動コントローラが、前記検出器が前記１つまたは複数の強度を取得する間に前記モータの速度を変更する、のうちの１つまたは複数である、請求項２に記載の装置。
【請求項７】
前記運動コントローラは、前記検出器が前記１つまたは複数の強度を取得する間に少なくとも２回、異なるモータ位置において前記モータを停止するか、または、前記検出器が強度を取得するときに少なくとも２回、異なるモータ位置において前記モータの速度を変更する、請求項６に記載の装置。
【請求項８】
前記運動コントローラは、前記検出器が前記１つまたは複数の強度を取得する間に、連続走査における各モータ位置で前記モータを停止する、請求項６に記載の装置。
【請求項９】
前記少なくとも１つのプロセッサに結合されたメモリを更に備え、前記メモリは、スペックル強度自己相関関数によって計算されたβ値および減衰時間を含むルックアップテーブルを記憶するように動作し、前記試料タイプを含む、請求項１に記載の装置。
【請求項１０】
前記装置のオペレータまたはユーザが、前記１つまたは複数の強度を得る１つもしくは複数の位置、１つもしくは複数のラインまたは１つもしくは複数の関心領域を選択する際に介するユーザインタフェースを表示するように動作するディスプレイまたはスクリーンを更に備える、請求項１に記載の装置。
【請求項１１】
前記ディスプレイまたはスクリーンは、特徴付けられ、診断され、および／または検査されている前記試料の形態学的特徴および粘性または前記試料タイプの重なり合った画像を表示するように更に動作する、請求項１０に記載の装置。
【請求項１２】
前記格子に光学的に接続され、前記少なくとも１つのプロセッサに接続されたフォトダイオードを更に備え、前記フォトダイオードは、前記分光計と別個の１つまたは複数の時間と共に変動するスペックル強度を検出するように動作する、請求項１に記載の装置。
【請求項１３】
波長の全体範囲または波長のウィンドウ範囲が、前記フォトダイオードが強度データを得るときに平均化される、
前記フォトダイオードが、ファイバカプラを通じて前記１つまたは複数の光ファイバのうちの少なくとも１つに接続される、
前記フォトダイオードによって得られる前記強度データが、１つまたは複数のメモリに記憶される、
前記フォトダイオードによって得られる前記記憶された強度データが、前記スペックル強度自己相関関数を計算するためにのみ用いられ、それによって、前記少なくとも１つのプロセッサが、前記ＳＥＥ撮像および試料特徴付けを分離して、前記装置を安定化することができる、および、
前記フォトダイオードによって達成可能なＨｚが、前記検出器を用いるときよりも高いため、各走査ラインにおいて取得される１つまたは複数の前記スペックル強度自己相関関数が、試料特徴付けのためにより区別可能である、
のうちの１つまたは複数である、請求項１２に記載の装置。
【請求項１４】
前記１つまたは複数の光ファイバは、（ｉ）光源から前記モータを通って前記格子に光を送り、前記試料を光で照明するように動作する１つまたは複数の照明ファイバと、（ｉｉ）前記試料から反射された光を受けるように動作する１つまたは複数の検出ファイバであって、前記光は、前記格子を通過して前記１つまたは複数の検出ファイバ内に戻る、検出ファイバと、を含む、請求項１に記載の装置。
【請求項１５】
試料を特徴付けるためのシステムであって、前記システムは、
前記試料を特徴付けるための装置であって、
（ｉ）光誘導コンポーネントおよびモータを含むインタフェース、
（ｉｉ）光合焦コンポーネントおよび光分散コンポーネントを含むスペクトル符号化器、ならびに
（ｉｉｉ）モータの速度を変更するように動作する運動コントローラと、スペックル強度自己相関関数を計算しおよび／またはレーザスペックル撮像（ＬＳＩ）を処理もしくは実行するように動作する１つまたは複数のプロセッサとを備えるスペックル検出器、
を備える、装置と、
前記試料を特徴付けるために光を前記装置の前記光誘導コンポーネントに送るように動作する光源と、
前記装置の前記インタフェースに接続され、または前記装置の前記インタフェースに関連する回転接合部と、
１つまたは複数の検出器を含む分光計と、
を備える、システム。
【請求項１６】
内部に複数のテンドンを有するシースを更に備え、前記複数のテンドンは、前記シースの運動を制御するように動作する、請求項１５に記載のシステム。
【請求項１７】
前記複数のテンドンは、４つのテンドンを含み、前記４つのテンドンのうちの２つは、前記シースの上から下および下から上の移動を制御し、前記４つのテンドンのうちの他の２つは、前記シースの左から右および右から左の移動を制御する、請求項１６に記載のシステム。
【請求項１８】
スペクトル符号化内視鏡検査（「ＳＥＥ」）システムを使用してスペックル検出を用いて試料を特徴付けるための方法であって、
前記試料のＳＥＥ画像を形成することと、
前記ＳＥＥ画像における少なくとも部分的な領域またはラインを指定することと、
スペックル強度自己相関関数を計算して、前記指定された領域もしくはラインにおける試料タイプを判断し、および／またはレーザスペックル撮像（ＬＳＩ）を実行もしくは処理することと、
前記ＳＥＥシステムのディスプレイに、前記試料タイプ情報を、前記ＳＥＥ画像と共に表示させることと、
を含む、方法。
【請求項１９】
試料情報を設定することと、
１つまたは複数の撮像条件を指定することと、
前記ＳＥＥ画像の前記撮像もしくは前記形成を開始し、および／または１つもしくは複数の前記ＳＥＥ画像の再構成もしくは形成を開始することと、
ＳＥＥ画像を構築するための強度を調節することと、
ｇ２（ｔ）関数を計算して、前記試料タイプを決定することと、
走査された画像の中心または他の所定のロケーションにおいて前記試料タイプを表示することと、
前記ライン、部分的な領域または関心領域（ＲＯＩ）を変更するか否かを決定することと、
を更に含む、請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
累積されたスペックル変動を用いて前記試料の粘性を計算することを更に含む、請求項１８に記載の方法。