【手続補正書】
【提出日】令和2年3月24日(2020.3.24)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体上に測定光を照射し、波面測定デバイスを用いて、前記被検体において生成された波面収差を測定し、波面補正デバイスを用いて前記波面収差を補正し、前記被検体の光学画像を取得するように構成された光学撮像装置を制御する方法であって、
前記被検体において生成された波面収差の測定値である波面データの品質を表す品質データの第１の組を受け取ることと、
前記品質データの第１の組を第１の閾値と比較することと、
前記品質データの第１の組に対して行なわれた前記比較が、前記波面データが十分な品質であることを示す第１の事例において、
前記受け取った波面データに基づいて前記波面収差を補正するように前記光学撮像装置に命令する制御情報の第１の組を前記光学撮像装置に送信すること、及び
再取得された波面データに基づいて前記波面収差を補正するように前記光学撮像装置に命令する制御情報の新たな第１の組を前記光学撮像装置に送信すること、
を含む、補償光学系のフィードバックを行うことと、
前記品質データの第１の組に対して行なわれた前記比較が、前記波面データが十分な品質でないことを示す第２の事例において、
前記測定光が前記被検体上に放射される光学経路を変更するように前記光学撮像装置に命令する制御情報の第２の組を前記光学撮像装置に送信すること、
前記光学経路が変更された後に新たな波面データに基づく品質データの新たな第１の組を受け取ること、及び
前記品質データの新たな第１の組を前記第１の閾値と比較すること、
を含む、初期調節を行うことと、
前記品質データの新たな第１の組に対して行なわれた前記比較が、前記波面データが十分な品質であることを示す第３の事例において、前記光学経路が前記制御情報の第２の組に基づいて調節されている、前記補償光学系のフィードバックを行うことと、
前記品質データの新たな第１の組に対して行なわれた前記比較が、前記波面データが十分な品質でないことを示す第４の事例において、制御情報の新たな第２の組に基づいて前記初期調節を実行することと、
を含むことを特徴とする光学撮像装置を制御する方法。
【請求項２】
前記品質データの第１の組を受け取る前に、前記波面補正デバイスは、前記被検体に関連付けられた光学処方データに基づいて既知の光学収差を補正することを特徴とする請求項１に記載の光学撮像装置を制御する方法。
【請求項３】
前記光学経路を変更することは、前記波面補正デバイス以外の第２の補正デバイスを調節することを含むことを特徴とする請求項１に記載の光学撮像装置を制御する方法。
【請求項４】
前記第２の補正デバイスは、レンズ及びミラーを含む群から選択された少なくとも１つ又は複数の合焦光学部品を含み、
前記制御情報の第２の組は、前記光学撮像装置が前記少なくとも１つ又は複数の合焦光学部品を動かすための命令を含むことを特徴とする請求項３に記載の光学撮像装置を制御する方法。
【請求項５】
前記波面補正デバイスは、形状可変ミラー又は空間光位相変調器のうちの一方であり、前記波面測定デバイスは、複数のハルトマンスポットを検出するシャックハルトマンセンサーであることを特徴とする請求項１に記載の光学撮像装置を制御する方法。
【請求項６】
前記品質データの第１の組は、前記複数のハルトマンスポットの数値カウント、前記複数のハルトマンスポットの複数の直径、前記複数のハルトマンスポットの信号強度データの少なくとも１つに基づくことを特徴とする請求項５に記載の光学撮像装置を制御する方法。
【請求項７】
前記補償光学系のフィードバックは、フィードバックループを形成するように繰り返し行われることを特徴とする請求項１に記載の光学撮像装置を制御する方法。
【請求項８】
前記補償光学系のフィードバックの繰り返しと並列に前記測定光のスポットを前記被検体上で走査することによって、前記被検体の光学画像を取得するように前記光学撮像装置を制御することを更に含むことを特徴とする請求項７に記載の光学撮像装置を制御する方法。
【請求項９】
前記初期調節は、前記品質データの新たな第１の組と前記第１の閾値とで行なわれる前記比較が、前記波面データが十分な品質であることを示すまで繰り返し行われ、前記品質データの新たな第１の組と前記第１の閾値とで行なわれる前記比較が、前記波面データが十分な品質であることを示した後、前記補償光学系のフィードバックの繰り返しの使用と並列に前記測定光のスポットを前記被検体上で走査することによって、前記被検体の前記光学画像を取得するように前記光学撮像装置を制御することを特徴とする請求項１に記載の光学撮像装置を制御する方法。
【請求項１０】
前記初期調節は繰り返し行われ、
前記初期調節は、
前記品質データの新たな第１の組と前記第１の閾値との前記比較が、前記波面データが十分な品質であることを示すまで、１つ又は複数の合焦光学部品の位置についてフォーカスを変更するように調節することによって前記光学経路を変更する第１の部分と、
前記品質データの新たな第１の組と第２の閾値との前記比較が、前記波面データが十分な品質であることを示すまで、１つ又は複数の合焦光学部品の位置について非点収差を変更するように調節することによって前記光学経路を変更する第２の部分と、
を含み、
前記品質データの新たな第１の組と前記第１の閾値及び前記第２の閾値との前記比較が、前記波面データが十分な品質であることを示した後、前記補償光学系のフィードバックの連続使用と並列に前記測定光のスポットを前記被検体上で走査することによって、前記被検体の前記光学画像を取得するように前記光学撮像装置を制御することを特徴とする請求項１に記載の光学撮像装置を制御する方法。
【請求項１１】
前記品質データの第１の組は、前記波面データの異なる質的側面を表す複数の要素を含み、
前記第１の閾値は、前記波面データの異なる質的側面のために異なる閾値を与える複数の要素を含み、
前記品質データの第１の組を前記第１の閾値と比較することは、前記波面データの特定の質的側面に関連付けられた前記品質データの第１の組の前記要素を、前記波面データの前記質的側面に関連付けられた閾値と比較することを含むことを特徴とする請求項１に記載の光学撮像装置を制御する方法。
【請求項１２】
請求項１乃至１１の何れか１項に記載の光学撮像装置を制御するための命令を符号化して記憶する非一時的記録媒体。
【請求項１３】
被検体上に測定光を照射し、波面測定デバイスを用いて、前記被検体において生成された波面収差を測定し、波面補正デバイスを用いて前記波面収差を補正し、前記被検体の光学画像を取得するように構成された光学撮像装置を制御するためのコントローラーであって、
プロセッサと、
メモリと、
を備え、
前記プロセッサが、前記被検体において生成された前記波面収差の測定値である波面データの品質を表す品質データの第１の組を受け取り、
前記プロセッサが、前記品質データの第１の組を第１の閾値と比較し、
前記品質データの第１の組に対して行なわれた前記比較が、前記波面データが十分な品質であることを示す第１の事例において、
前記プロセッサが、受け取った波面データに基づいて前記波面収差を補正するように前記光学撮像装置に命令する制御情報の第１の組を前記光学撮像装置に送信すること、及び
再取得された波面データに基づいて波面収差を補正するように前記光学撮像装置に命令する制御情報の新たな第１の組を前記光学撮像装置に送信すること、を含む補償光学系のフィードバックを行い、
前記品質データの第１の組に対して行なわれた前記比較が、前記波面データが十分な品質でないことを示す第２の事例において、
前記プロセッサが、前記測定光が前記被検体上に放射される光学経路を変更するように前記光学撮像装置に命令する制御情報の第２の組を前記光学撮像装置に送信すること、    前記光学経路が変更された後に新たな波面データに基づく品質データの新たな第１の組を受け取ること、及び
前記品質データの新たな第１の組を前記第１の閾値と比較することと、
を含む初期調節を行い、
前記品質データの新たな第１の組に対して行なわれた前記比較が、前記波面データが十分な品質であることを示す第３の事例において、
前記プロセッサが、前記光学経路が前記制御情報の第２の組に基づいて調節されている、前記補償光学系のフィードバックを行い、
前記品質データの新たな第１の組の前記比較が、前記波面データが十分な品質でないことを示す第４の事例において、前記プロセッサは、制御情報の新たな第２の組に基づいて前記初期調節を実行することを特徴とするコントローラー。
【請求項１４】
前記光学撮像装置と、
請求項１３に記載のコントローラーと、
を備えることを特徴とする装置。
【請求項１５】
被検体上に測定光を照射し、波面測定デバイスを用いて、前記被検体において生成された波面収差を測定し、波面補正デバイスを用いて前記波面収差を補正し、前記被検体の光学画像を取得するように構成された光学撮像装置であって、
前記波面測定デバイスが測定した波面データの品質が所定の基準を満たすかどうか判断する判断手段と、
前記判断手段により満たさないと判断された場合はあらかじめ定められた制御値に基づいて前記被検体と前記測定光との関係を制御し、満たすと判断された場合は前記測定した前記波面データに基づいて前記波面補正デバイスを制御する制御手段とを有することを特徴とする光学撮像装置。
【請求項１６】
前記制御手段は、前記判断手段により満たさないと判断された場合は、前記制御値を変更して行う前記関係の制御は、前記所定の基準を満たすまで繰り返し実行されることを特徴とする請求項１５に記載の光学撮像装置。
【請求項１７】
前記関係の制御は、前記測定光の前記被検体でのフォーカスの調節であることを特徴とする請求項１５又は１６に記載の光学撮像装置。
【請求項１８】
被検体上に測定光を照射し、波面測定デバイスを用いて、前記被検体において生成された波面収差を測定し、波面補正デバイスを用いて前記波面収差を補正し、前記被検体の光学画像を取得するように構成された光学撮像装置を制御する方法であって、
前記被検体において生成された波面収差の測定値である波面データの品質を表す品質データの第１の組を受け取ることと、
前記光学撮像装置で通常の補償光学フィードバックが開始される前の状態において、前記品質データの第１の組を第１の閾値と比較することと、
前記品質データの第１の組の前記比較が、前記波面データが十分な品質であることを示している場合、次の構成の前記通常の補償光学フィードバックを開始することと、
前記波面データを受け取ることと、
前記受け取った波面データに基づいて、前記波面収差を補正するように前記光学撮像装置を指示する１組の制御情報を、前記光学撮像装置に送信することと、
前記品質データの第１の組の前記比較が、前記波面データが充分な品質ではないことを示している場合は、前記測定光が前記被検体に照射される光学経路を修正するように前記光学撮像装置を制御する１組の制御情報を、前記光学撮像装置へ送信することと、
を含むことを特徴とする光学撮像装置を制御する方法。
【請求項１９】
前記光学経路を修正することは、前記光学撮像装置により照射又は受信された光を制御するために、前記波面補正デバイス以外の、レンズとミラーを含んだグループから選択された少なくとも１以上のフォーカス光学要素を含む第２の補正デバイスの位置を調整することを特徴とする請求項１８に記載の光学撮像装置を制御する方法。
【請求項２０】
前記波面補正デバイスは、デフォーマブルミラー又は空間光位相変調器の１つであり、前記波面測定デバイスは、複数のハルトマンスポットを検出するシャックハルトマンセンサーであることを特徴とする請求項１８又は１９に記載の光学撮像装置を制御する方法。
【請求項２１】
前記通常の補償光学フィードバックの連続処理に並行して、前記測定光を走査することにより前記被検体の前記光学画像を取得するように、前記光学撮像装置を制御することを特徴とする請求項１８乃至２０の何れか１項に記載の光学撮像装置を制御する方法。