(57)【要約】  プラズマディスプレイパネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上する。そのために、プラズマディスプレイパネルの画像表示領域を複数の領域に分け、画像信号に応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき領域毎の残像度数を算出し、現フィールドとその直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出する。そして、フィールド間輝度差が所定の輝度比較値よりも小さくなる画素の数を領域毎に計数してそれぞれの領域における第１の計数値とし、隣接する画素間の輝度の階調値の差が所定のエッジ比較値以上となるエッジの数を領域毎に計数してそれぞれの領域における第２の計数値とし、第１の計数値および第２の計数値にもとづき領域毎の残像度数を算出する。
2011030548.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
走査電極と維持電極とからなる表示電極対およびデータ電極を有する放電セルを複数備え、複数の放電セルで１つの画素が構成されたプラズマディスプレイパネルを、書込み期間とサブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを発生する維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて駆動して階調表示するプラズマディスプレイパネルの駆動方法であって、
前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域を複数の領域に分け、
画像信号に応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき前記領域毎の残像度数を算出し、
現フィールドと前記現フィールドの直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出し、前記フィールド間輝度差が所定の輝度比較値よりも小さくなる画素の数を前記領域毎に計数してそれぞれの前記領域における第１の計数値とし、
隣接する画素間の輝度の階調値の差が所定のエッジ比較値以上となるエッジの数を前記領域毎に計数してそれぞれの前記領域における第２の計数値とし、
前記第１の計数値および前記第２の計数値にもとづき前記領域毎の残像度数を
算出する
ことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項２】
前記第１の計数値が第１のしきい値以上であり、前記第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に第１の設定値を加算し、
前記第１の計数値が前記第１のしきい値未満かつ前記第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に第２の設定値を加算し、
前記第１の計数値が前記第２のしきい値未満であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に第３の設定値を加算し、
前記第２の計数値が前記第３のしきい値未満である領域では、前記領域毎の残像度数に第４の設定値を加算して、前記領域毎の残像度数を更新する
ことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項３】
前記第１の設定値は正の数値であり、前記第２の設定値は０であり、前記第３の設定値および前記第４の設定値は負の数値である
ことを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項４】
更新後の前記残像度数から所定の定数を減算する
ことを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項５】
更新後の前記残像度数を所定の上限値以下に制限する
ことを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項６】
それぞれの前記領域において、前記領域毎の残像度数を前記領域の中央に位置する中央画素の残像度数とし、
前記中央画素以外の画素に関しては、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の前記中央画素との距離、および前記中央画素の残像度数にもとづいて画素毎の残像度数を算出し、
前記画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する
ことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項７】
前記画素毎の残像度数を所定の基準値から減算し、その減算結果を前記基準値で除算した結果を各画素の輝度の階調値に乗算することで、各画素の輝度の階調値を変更する
ことを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項８】
各画素の輝度の階調値が、所定の高輝度しきい値以上になる画素においてのみ、残像度数にもとづく輝度の階調値の変更を行う
ことを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項９】
画像信号の平均輝度レベルを検出し、前記平均輝度レベルが大きいときには、前記平均輝度レベルが小さいときよりも残像度数が小さくなるように、前記平均輝度レベルにもとづき前記画素毎の残像度数を変更する
ことを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１０】
前記輝度倍率が小さいときには、前記輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、前記輝度倍率にもとづき前記画素毎の残像度数を変更する
ことを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１１】
残像度数が大きいときには、残像度数が小さいときよりも輝度の階調値が平滑化されるように、前記画素毎の残像度数にもとづき各画素の輝度の階調値を平滑化する
ことを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１２】
画像信号にもとづき各画素に設定される彩度を前記画素毎の残像度数にもとづき変更し、
残像度数が大きいときには、残像度数が小さいときよりも彩度を下げる
ことを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１３】
画素数が互いに等しくなるように、前記表示電極対が延伸する方向に複数の境界を設けるとともに前記データ電極が延伸する方向に複数の境界を設けて前記領域を設定する
ことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１４】
前記維持期間において、第１の維持パルスと、前記第１の維持パルスよりも立ち上がりを急峻にした第２の維持パルスとを発生し、
前記残像度数にもとづき、前記第１の維持パルスと前記第２の維持パルスとの発生比率を変更する
ことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１５】
前記領域毎の残像度数の最大値を検出し、前記残像度数の最大値が第１の残像度数しきい値以上となった後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に増加し、前記残像度数の最大値が前記第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値以下になってから所定の時間が経過した後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に減少することを特徴とする請求項１４に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１６】
前記残像度数の最大値が前記第１の残像度数しきい値以上となってから前記第２の残像度数しきい値以下となるまでの時間を第１の時間とし、
前記所定の時間を第２の時間とし、
前記第２の時間を、あらかじめ設定した上限時間以下の範囲で、前記第１の時間に応じて変更する
ことを特徴とする請求項１５に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１７】
前記第２の時間を前記第１の時間の３分の１の時間とする
ことを特徴とする請求項１６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１８】
前記領域毎の残像度数の平均値を算出し、前記残像度数の平均値が第１の残像度数しきい値以上となった後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に増加し、前記残像度数の平均値が前記第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値以下になってから所定の時間が経過した後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に減少することを特徴とする請求項１４に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１９】
走査電極と維持電極とからなる表示電極対を有する放電セルを複数備え、複数の放電セルで１つの画素を構成し、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて階調表示するプラズマディスプレイパネルと、
画像信号にもとづき各画素に輝度の階調値を設定するとともに、前記画像信号にもとづき前記放電セルにおける前記サブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データを作成する画像信号処理回路とを備え、
前記画像信号処理回路は、
前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域を複数の領域に分け、
画像信号に応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき前記領域毎の残像度数を算出する
ことを特徴とするプラズマディスプレイ装置。
【請求項２０】
前記画像信号処理回路は、
前記領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、
前記画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する
ことを特徴とする請求項１９に記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項２１】
前記表示電極対の電極間容量とインダクタとを共振させて維持パルスの立ち上がりまたは立ち下がりを行う電力回収回路、および前記維持パルスの電圧を所定の電圧にクランプするクランプ回路を有し、前記維持期間においてサブフィールド毎に設定された輝度重みに応じた回数の維持パルスを前記表示電極対に交互に印加する維持パルス発生回路を備え
前記維持パルス発生回路は、
第１の維持パルスと、前記第１の維持パルスよりも立ち上がりを急峻にした第２の維持パルスとを発生し、前記残像度数にもとづき前記第１の維持パルスと前記第２の維持パルスとの発生比率を変更する
ことを特徴とする請求項１９に記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項２２】
前記画像信号処理回路は、前記領域毎の残像度数の最大値を検出する残像度数最大値検出回路と、前記残像度数の最大値と第１の残像度数しきい値および前記第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値とを比較する比較回路とを有し、
前記維持パルス発生回路は、前記残像度数の最大値が前記第１の残像度数しきい値以上となった後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に増加し、前記残像度数の最大値が前記第２の残像度数しきい値以下になってから所定の時間が経過した後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に減少する
ことを特徴とする請求項２１に記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項２３】
前記画像信号処理回路は、前記領域毎の残像度数の平均値を算出する残像度数平均値算出回路と、前記残像度数の平均値と第１の残像度数しきい値および前記第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値とを比較する比較回路とを有し、
前記維持パルス発生回路は、前記残像度数の平均値が前記第１の残像度数しきい値以上となった後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に増加し、前記残像度数の平均値が前記第２の残像度数しきい値以下になってから所定の時間が経過した後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に減少する
ことを特徴とする請求項２１に記載のプラズマディスプレイ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、壁掛けテレビや大型モニターに用いられるプラズマディスプレイパネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
プラズマディスプレイパネル（以下、「パネル」と略記する）として代表的な交流面放電型パネルは、対向配置された前面板と背面板との間に多数の放電セルが形成されている。前面板は、１対の走査電極と維持電極とからなる表示電極対が前面ガラス基板上に互いに平行に複数対形成されている。そして、それら表示電極対を覆うように誘電体層および保護層が形成されている。背面板は、背面ガラス基板上に複数の平行なデータ電極が形成され、それらデータ電極を覆うように誘電体層が形成され、さらにその上にデータ電極と平行に複数の隔壁が形成されている。そして、誘電体層の表面と隔壁の側面とに蛍光体層が形成されている。【０００３】
そして、表示電極対とデータ電極とが立体交差するように前面板と背面板とを対向配置して密封する。密封された内部の放電空間には、例えば分圧比で５％のキセノンを含む放電ガスを封入し、表示電極対とデータ電極とが対向する部分に放電セルを形成する。このような構成のパネルにおいて、各放電セル内でガス放電により紫外線を発生し、この紫外線で赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）および青色（Ｂ）の各色の蛍光体を励起発光してカラー表示を行う。【０００４】
パネルを駆動する方法としては一般にサブフィールド法が用いられている。サブフィールド法では、１フィールドを複数のサブフィールドに分割し、それぞれのサブフィールドで各放電セルを発光または非発光させることにより階調表示を行う。各サブフィールドは、初期化期間、書込み期間および維持期間を有する。【０００５】
初期化期間では、各走査電極に初期化波形を印加し、各放電セルで初期化放電を発生する。これにより、各放電セルにおいて、続く書込み動作のために必要な壁電荷を形成するとともに、書込み放電を安定して発生するためのプライミング粒子（書込み放電を発生させるための励起粒子）を発生する。【０００６】
書込み期間では、走査電極に走査パルスを印加するとともに、データ電極には表示すべき画像信号にもとづき書込みパルスを印加する。そうして、発光を行うべき放電セルに書込み放電を発生し、壁電荷を形成する（以下、この動作を「書込み」とも記す）。【０００７】
維持期間では、サブフィールド毎に定められた数の維持パルスを走査電極と維持電極とからなる表示電極対に交互に印加する。これにより、書込み放電を発生した放電セルで維持放電を発生し、その放電セルの蛍光体層を発光させる。これにより、各放電セルを、サブフィールド毎に定められた輝度重みに応じた輝度で発光させる。このようにして、パネルの各放電セルを画像信号の階調値に応じた輝度で発光させて、画像表示領域に画像を表示する。【０００８】
このサブフィールド法の１つに、例えば次のような駆動方法がある。この駆動方法では、階調表示に関係しない発光を極力減らして、表示画像のコントラスト比を高めることが可能である。すなわち、複数のサブフィールドのうち、１つのサブフィールドの初期化期間においては全ての放電セルに初期化放電を発生する全セル初期化動作を行い、他のサブフィールドの初期化期間においては直前の維持期間で維持放電を発生した放電セルにのみ初期化放電を発生する選択初期化動作を行う。こうすることで、維持放電を発生しない黒を表示する領域の輝度（以下、「黒輝度」と略記する）は全セル初期化動作における微弱発光だけとなり、コントラストの高い画像表示が可能となる（例えば、特許文献１参照）。【０００９】
一方、近年のパネルの高精細化、大画面化にともない、パネルの発光効率を向上させ、輝度を向上させるための様々な取り組みがなされている。例えば、放電セル内に充填する放電ガスのキセノン分圧を高めて発光効率を高める検討が進められている。しかし、放電ガスのキセノン分圧を高めると放電の発生するタイミングのばらつきが大きくなり、放電セル毎の発光強度にばらつきを生じて表示輝度が不均一になることがある。この輝度の不均一を改善するために、維持期間において、複数回に１回の割合で立ち上がりの急峻な維持パルスを発生して維持放電のタイミングを揃え、表示輝度を均一化する駆動方法が開示されている（例えば、特許文献２参照）。【００１０】
また、維持期間において、最初に印加される維持パルスを含む第１群に属する維持パルスについて、電力回収回路からクランプ回路への切換えタイミングを、他の群に属する維持パルスよりも遅らせることで、放電セル毎の発光強度のばらつきを抑えて表示品質の向上を図る技術が開示されている（例えば、特許文献３参照）。【００１１】
しかしながら、発光効率を高めるために放電ガスのキセノン分圧を高めると、静止画像を長時間表示させたときに、その静止画像が残像として認識される、いわゆる残像現象が発生しやすくなり、画像表示品質を損なうことがある。
【先行技術文献】
【特許文献】
【００１２】
【特許文献１】特開２０００−２４２２２４号公報
【特許文献２】特開２００５−３３８１２０号公報
【特許文献３】特開２００６−１４６０３５号公報
【発明の概要】
【００１３】
本発明のパネルの駆動方法は、走査電極と維持電極とからなる表示電極対およびデータ電極を有する放電セルを複数備え、複数の放電セルで１つの画素が構成されたパネルを、書込み期間とサブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを発生する維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて駆動して階調表示するパネルの駆動方法であって、パネルの画像表示領域を複数の領域に分け、画像信号に応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき領域毎の残像度数を算出し、現フィールドと現フィールドの直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出し、フィールド間輝度差が所定の輝度比較値よりも小さくなる画素の数を領域毎に計数してそれぞれの領域における第１の計数値とし、隣接する画素間の輝度の階調値の差が所定のエッジ比較値以上となるエッジの数を領域毎に計数してそれぞれの領域における第２の計数値とし、第１の計数値および第２の計数値にもとづき領域毎の残像度数を算出することを特徴とする。
【００１４】
これにより、残像現象の発生の目安となる残像度数を輝度の階調値にもとづき算出することができるので、パネルに表示する画像が、残像現象が発生しやすい画像かどうかを、残像度数にもとづき判断することが可能となる。
【００１５】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第１の設定値を加算し、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第２の設定値を加算し、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第３の設定値を加算し、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、領域毎の残像度数に第４の設定値を加算して、領域毎の残像度数を更新してもよい。これにより、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第１の設定値を累積加算し、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第２の設定値を累積加算し、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第３の設定値を累積加算し、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、領域毎の残像度数に第４の設定値を累積加算することができる。したがって、領域毎の画像の特徴に応じて、領域毎の残像度数をフィールド毎に更新することができる。
【００１６】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、第１の設定値は正の数値であり、第２の設定値は０であり、第３の設定値および第４の設定値は負の数値であってもよい。これにより、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが増加した領域として、第１の設定値を正の数に設定して残像度数を増加させ、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域、および、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域は、残像現象の発生しやすさが減少した領域として、第３の設定値および第４の設定値を負の数に設定し、残像度数を減少させ、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが維持された領域として、第２の設定値を０に設定し、残像度数を維持することができる。
【００１７】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、更新後の残像度数から所定の定数を減算してもよい。これにより、残像度数にもとづく制御の開始タイミング、例えば、後述する輝度の階調値への補正を開始するタイミングや、後述する第１の維持パルスと第２の維持パルスとの発生比率の変更を開始するタイミング、を制御することが可能になる。
【００１８】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、更新後の残像度数を所定の上限値以下に制限してもよい。これにより、残像度数にもとづき後述する制御を行う際に、過補正が生じることを防止することが可能になる。
【００１９】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、それぞれの領域において、領域毎の残像度数を領域の中央に位置する中央画素の残像度数とし、中央画素以外の画素に関しては、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離、および中央画素の残像度数にもとづいて画素毎の残像度数を算出し、画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更してもよい。これにより、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出することが可能となり、算出した残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更することで、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上することが可能となる。
【００２０】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、画素毎の残像度数を所定の基準値から減算し、その減算結果をその基準値で除算した結果を各画素の輝度の階調値に乗算することで、各画素の輝度の階調値を変更するようにしてもよい。これにより、残像度数にもとづく輝度の階調値の補正を適切に行うことが可能となる。
【００２１】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、各画素の輝度の階調値が、所定の高輝度しきい値以上になる画素においてのみ、残像度数にもとづく輝度の階調値の変更を行うようにしてもよい。これにより、例えば、輝度の階調値が高く、隣接画素との輝度差が大きい画素においてのみ、残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を補正するようにプラズマディスプレイ装置を動作させることが可能となる。
【００２２】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、画像信号の平均輝度レベルを検出し、平均輝度レベルが大きいときには、平均輝度レベルが小さいときよりも残像度数が小さくなるように、平均輝度レベルにもとづき画素毎の残像度数を変更してもよい。これにより、検出した平均輝度レベルにもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更することができる。したがって、残像現象が比較的発生しにくいと考えられる平均輝度レベルが高い画像では、平均輝度レベルが低い画像と比較して残像度数の大きさを小さくすることができ、例えば、平均輝度レベルが高い画像における表示画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【００２３】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、輝度倍率が小さいときには、輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率にもとづき画素毎の残像度数を変更してもよい。これにより、輝度倍率にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更することができる。したがって、輝度倍率が小さく残像現象が比較的発生しにくいと考えられるときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像度数の大きさを小さくすることができる。したがって、例えば、輝度倍率が小さいときに表示される画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【００２４】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、残像度数が大きいときには、残像度数が小さいときよりも輝度の階調値が平滑化されるように、画素毎の残像度数にもとづき各画素の輝度の階調値を平滑化してもよい。これにより、隣接する画素間の輝度の変化を低減し、残像現象の発生をさらに低減することができる。
【００２５】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、画像信号にもとづき各画素に設定される彩度を画素毎の残像度数にもとづき変更し、残像度数が大きいときには、残像度数が小さいときよりも彩度を下げてもよい。彩度が高い画像、すなわち、色が濃い画像は、彩度が低く色が薄い画像と比較して、１画素を構成するＲＧＢの各放電セルの階調値の差が大きくなりやすい。したがって、残像度数の大きさに応じて彩度を下げることで、ＲＧＢの各放電セルの階調値の差を小さくし、残像現象の発生をさらに低減することが可能となる。
【００２６】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、画素数が互いに等しくなるように、表示電極対が延伸する方向に複数の境界を設けるとともにデータ電極が延伸する方向に複数の境界を設けて領域を設定してもよい。
【００２７】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、維持期間において、第１の維持パルスと、第１の維持パルスよりも立ち上がりを急峻にした第２の維持パルスとを発生し、残像度数にもとづき、第１の維持パルスと第２の維持パルスとの発生比率を変更してもよい。これにより、算出した残像度数にもとづき、基準となる第１の維持パルスと、第１の維持パルスよりも立ち上がりを急峻にして残像現象の抑制効果を高めた第２の維持パルスとの発生比率を変更することができるので、消費電力を削減しつつ維持放電を安定に発生させ、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減して、画像表示品質を向上させることが可能となる。
【００２８】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、領域毎の残像度数の最大値を検出し、残像度数の最大値が第１の残像度数しきい値以上となった後に第２の維持パルスの発生比率を徐々に増加し、残像度数の最大値が第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値以下になってから所定の時間が経過した後に第２の維持パルスの発生比率を徐々に減少するようにしてもよい。これにより、領域毎の残像度数の最大値に応じて第１の維持パルスと第２の維持パルスとの発生比率を変更することが可能となる。
【００２９】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、残像度数の最大値が第１の残像度数しきい値以上となってから第２の残像度数しきい値以下となるまでの時間を第１の時間とし、所定の時間を第２の時間とし、第２の時間を、あらかじめ設定した上限時間以下の範囲で、第１の時間に応じて変更してもよい。これにより、残像度数の最大値が第２の残像度数しきい値以下になってから第２の時間の期間は、第２の維持パルスの発生比率を増加した状態を維持することができる。
【００３０】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、第２の時間を第１の時間の３分の１の時間としてもよい。
【００３１】
また、本発明のパネルの駆動方法においては、領域毎の残像度数の平均値を算出し、残像度数の平均値が第１の残像度数しきい値以上となった後に第２の維持パルスの発生比率を徐々に増加し、残像度数の平均値が第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値以下になってから所定の時間が経過した後に第２の維持パルスの発生比率を徐々に減少するようにしてもよい。これにより、領域毎の残像度数の平均値に応じて第１の維持パルスと第２の維持パルスとの発生比率を変更することが可能となる。
【００３２】
また、本発明のプラズマディスプレイ装置は、走査電極と維持電極とからなる表示電極対を有する放電セルを複数備え、複数の放電セルで１つの画素を構成し、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて階調表示するパネルと、画像信号にもとづき各画素に輝度の階調値を設定するとともに、画像信号にもとづき放電セルにおけるサブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データを作成する画像信号処理回路とを備え、画像信号処理回路は、パネルの表示領域を複数の領域に分け、画像信号に応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき領域毎の残像度数を算出することを特徴とする。
【００３３】
これにより、残像現象の発生の目安となる残像度数を輝度の階調値にもとづき算出することができるので、パネルに表示する画像が、残像現象が発生しやすい画像かどうかを、残像度数にもとづき判断することが可能となる。
【００３４】
また、本発明のプラズマディスプレイ装置において、画像信号処理回路は、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する構成であってもよい。これにより、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出することが可能となり、算出した残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更することで、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、画像表示品質を向上することが可能となる。
【００３５】
また、本発明のプラズマディスプレイ装置は、表示電極対の電極間容量とインダクタとを共振させて維持パルスの立ち上がりまたは立ち下がりを行う電力回収回路、および維持パルスの電圧を所定の電圧にクランプするクランプ回路を有し、維持期間においてサブフィールド毎に設定された輝度重みに応じた回数の維持パルスを表示電極対に交互に印加する維持パルス発生回路を備え、維持パルス発生回路は、第１の維持パルスと、第１の維持パルスよりも立ち上がりを急峻にした第２の維持パルスとを発生し、残像度数にもとづき第１の維持パルスと第２の維持パルスとの発生比率を変更する構成であってもよい。これにより、算出した残像度数にもとづき、基準となる第１の維持パルスと、第１の維持パルスよりも立ち上がりを急峻にして残像現象の抑制効果を高めた第２の維持パルスとの発生比率を変更することができるので、消費電力を削減しつつ維持放電を安定に発生させ、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減して、画像表示品質を向上させることが可能となる。
【００３６】
また、本発明のプラズマディスプレイ装置において、画像信号処理回路は、領域毎の残像度数の最大値を検出する残像度数最大値検出回路と、残像度数の最大値と第１の残像度数しきい値および第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値とを比較する比較回路とを有し、維持パルス発生回路は、残像度数の最大値が第１の残像度数しきい値以上となった後に第２の維持パルスの発生比率を徐々に増加し、残像度数の最大値が第２の残像度数しきい値以下になってから所定の時間が経過した後に第２の維持パルスの発生比率を徐々に減少する構成としてもよい。これにより、領域毎の残像度数の最大値に応じて第１の維持パルスと第２の維持パルスとの発生比率を変更することが可能となる。
【００３７】
また、本発明のプラズマディスプレイ装置において、画像信号処理回路は、領域毎の残像度数の平均値を算出する残像度数平均値算出回路と、残像度数の平均値と第１の残像度数しきい値および第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値とを比較する比較回路とを有し、維持パルス発生回路は、残像度数の平均値が第１の残像度数しきい値以上となった後に第２の維持パルスの発生比率を徐々に増加し、残像度数の平均値が第２の残像度数しきい値以下になってから所定の時間が経過した後に第２の維持パルスの発生比率を徐々に減少する構成としてもよい。これにより、領域毎の残像度数の平均値に応じて第１の維持パルスと第２の維持パルスとの発生比率を変更することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】図１は、本発明の実施の形態１におけるパネルの構造を示す分解斜視図である。
【図２】図２は、本発明の実施の形態１におけるパネルの電極配列図である。
【図３】図３は、本発明の実施の形態１におけるパネルの各電極に印加する駆動電圧波形図である。
【図４】図４は、本発明の実施の形態１におけるプラズマディスプレイ装置の回路ブロック図である。
【図５】図５は、本発明の実施の形態１におけるパネルの画像表示領域に設けた複数の領域の一例を概略的に示す図である。
【図６】図６は、本発明の実施の形態１における画像信号処理回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図７】図７は、本発明の実施の形態１における残像度数算出回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図８】図８は、本発明の実施の形態１における残像度数補間回路において行う演算を概略的に示す図である。
【図９】図９は、本発明の実施の形態１における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１０】図１０は、本発明の実施の形態２における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１１】図１１は、本発明の実施の形態３における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１２】図１２は、本発明の実施の形態４における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１３】図１３は、本発明の実施の形態５における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１４】図１４は、本発明の実施の形態６における補正回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１５】図１５は、本発明の実施の形態７におけるプラズマディスプレイ装置の回路ブロック図である。
【図１６】図１６は、本発明の実施の形態７における画像信号処理回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【図１７】図１７は、本発明の実施の形態７における維持パルス発生回路の回路図である。
【図１８】図１８は、同維持パルス発生回路の動作を説明するためのタイミングチャートである。
【図１９】図１９は、本発明の実施の形態７における２種類の維持パルスを比較して示した概略波形図である。
【図２０】図２０は、本発明の実施の形態７における維持パルスの「立ち上がり期間」と放電のばらつきとの関係を示す特性図である。
【図２１】図２１は、本発明の実施の形態７における維持パルスの「立ち上がり期間」と放電のばらつきとの関係を示す特性図である。
【図２２】図２２は、本発明の実施の形態７における維持パルスの「立ち上がり期間」と発光効率との関係を示す特性図である。
【図２３】図２３は、本発明の実施の形態７における維持パルスの「立ち上がり期間」と無効電力との関係を示す特性図である。
【図２４】図２４は、本発明の実施の形態７における残像度数の最大値の時間変化の一例を示す概略図である。
【図２５】図２５は、本発明の実施の形態７における第２の維持パルスの発生比率の変更の一例を示す概略図である。
【図２６】図２６は、本発明の実施の形態７における第２の維持パルスの発生比率の変更の他の一例を示す概略図である。
【図２７】図２７は、本発明の実施の形態７における残像度数の最大値の時間変化の他の一例を示す概略図である。
【図２８】図２８は、本発明の実施の形態７における第２の維持パルスの発生比率の変更の他の一例を示す概略図である。
【図２９】図２９は、本発明の実施の形態７における第２の維持パルスの発生比率が２０％のときの第１の維持パルスおよび第２の維持パルスの発生の一例を示す概略波形図である。
【図３０】図３０は、本発明の実施の形態７における第２の維持パルスの発生比率が４０％のときの第１の維持パルスおよび第２の維持パルスの発生の一例を示す概略波形図である。
【図３１】図３１は、本発明の実施の形態８における画像信号処理回路の一構成例を示す回路ブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００３９】
以下、本発明の実施の形態におけるプラズマディスプレイ装置について、図面を用いて説明する。
【００４０】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の構造を示す分解斜視図である。ガラス製の前面板２１上には、走査電極２２と維持電極２３とからなる表示電極対２４が複数形成されている。そして走査電極２２と維持電極２３とを覆うように誘電体層２５が形成され、その誘電体層２５上に保護層２６が形成されている。また、保護層２６は、酸化マグネシウム（ＭｇＯ）を主成分とする材料で形成されている。
【００４１】
背面板３１上にはデータ電極３２が複数形成され、データ電極３２を覆うように誘電体層３３が形成され、さらにその上に井桁状の隔壁３４が形成されている。そして、隔壁３４の側面および誘電体層３３上には赤色（Ｒ）、緑色（Ｇ）および青色（Ｂ）の各色に発光する蛍光体層３５が設けられている。
【００４２】
これら前面板２１と背面板３１とを、微小な放電空間を挟んで表示電極対２４とデータ電極３２とが交差するように対向配置する。そして、その外周部をガラスフリット等の封着材によって封着する。そして、内部の放電空間には、ネオンとキセノンの混合ガスを放電ガスとして封入する。なお、本実施の形態では、発光効率を向上するためにキセノン分圧を約１０％にした放電ガスを用いている。放電空間は隔壁３４によって複数の区画に仕切られており、表示電極対２４とデータ電極３２とが交差する部分に放電セルが形成されている。そしてこれらの放電セルを放電、発光することによりパネル１０に画像を表示する。
【００４３】
なお、パネル１０においては、表示電極対２４が延伸する方向に配列された連続する３つの放電セル、すなわち、赤色（Ｒ）に発光する放電セルと緑色（Ｇ）に発光する放電セルと青色（Ｂ）に発光する放電セルの３つの放電セルで１つの画素が構成される。
【００４４】
なお、パネル１０の構造は上述したものに限られるわけではなく、例えばストライプ状の隔壁を備えたものであってもよい。また、放電ガスの混合比率も上述した数値に限られるわけではなく、その他の混合比率であってもよい。
【００４５】
図２は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の電極配列図である。パネル１０には、行方向に長いｎ本の走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ（図１の走査電極２２）およびｎ本の維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ（図１の維持電極２３）が配列され、列方向に長いｍ本のデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍ（図１のデータ電極３２）が配列されている。そして、１対の走査電極ＳＣｉ（ｉ＝１〜ｎ）および維持電極ＳＵｉと１つのデータ電極Ｄｋ（ｋ＝１〜ｍ）とが交差した部分に放電セルが形成され、放電セルは放電空間内にｍ×ｎ個形成されている。そして、ｍ×ｎ個の放電セルが形成された領域がパネル１０の画像表示領域となる。例えば、画素数が１９２０×１０８０個のパネルでは、ｍ＝１９２０×３となり、ｎ＝１０８０となる。
【００４６】
次に、パネル１０を駆動するための駆動電圧波形とその動作の概要について説明する。なお、本実施の形態におけるプラズマディスプレイ装置は、サブフィールド法によって階調表示を行う。サブフィールド法では、１フィールドを時間軸上で複数のサブフィールドに分割し、各サブフィールドに輝度重みをそれぞれ設定する。そして、サブフィールド毎に各放電セルの発光・非発光を制御する。
【００４７】
本実施の形態では、１フィールドを８つのサブフィールド（第１ＳＦ、第２ＳＦ、・・・、第８ＳＦ）で構成し、時間的に後のサブフィールドほど輝度重みが大きくなるように、各サブフィールドはそれぞれ（１、２、４、８、１６、３２、６４、１２８）の輝度重みを有する構成とする例を説明する。なお、複数のサブフィールドのうち、１つのサブフィールドの初期化期間においては全ての放電セルに初期化放電を発生する全セル初期化動作を行い、他のサブフィールドの初期化期間においては直前の維持期間で維持放電を発生した放電セルに対して選択的に初期化放電を発生する選択初期化動作を行う。こうすることで、維持放電を発生しない黒の領域の発光を極力減らし、パネル１０に表示する画像のコントラスト比を向上することが可能である。以下、全セル初期化動作を行うサブフィールドを「全セル初期化サブフィールド」と呼称し、選択初期化動作を行うサブフィールドを「選択初期化サブフィールド」と呼称する。
【００４８】
そして、本実施の形態では、第１ＳＦの初期化期間では全セル初期化動作を行い、第２ＳＦ〜第８ＳＦの初期化期間では選択初期化動作を行う例を説明する。これにより、画像の表示に関係のない発光は第１ＳＦにおける全セル初期化動作の放電にともなう発光のみとなる。したがって、維持放電を発生しない黒表示領域の輝度である黒輝度は全セル初期化動作における微弱発光だけとなり、パネル１０にコントラストの高い画像を表示することが可能となる。また、各サブフィールドの維持期間においては、それぞれのサブフィールドの輝度重みに所定の比例定数を乗じた数の維持パルスを表示電極対２４のそれぞれに印加する。この比例定数が輝度倍率である。
【００４９】
しかし、本実施の形態は、サブフィールド数や各サブフィールドの輝度重みが上記の値に限定されるものではない。また、画像信号等にもとづいてサブフィールド構成を切換える構成であってもよい。
【００５０】
図３は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の各電極に印加する駆動電圧波形図である。図３には、書込み期間において最初に書込み動作を行う走査電極ＳＣ１、書込み期間において最後に書込み動作を行う走査電極ＳＣｎ（例えば、走査電極ＳＣ１０８０）、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ、およびデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍの駆動電圧波形を示す。
【００５１】
また、図３には、２つのサブフィールドの駆動電圧波形を示す。この２つのサブフィールドとは、全セル初期化サブフィールドである第１サブフィールド（第１ＳＦ）と、選択初期化サブフィールドである第２サブフィールド（第２ＳＦ）である。なお、他のサブフィールドにおける駆動電圧波形は、維持期間における維持パルスの発生数が異なる以外は第２ＳＦの駆動電圧波形とほぼ同様である。また、以下における走査電極ＳＣｉ、維持電極ＳＵｉ、データ電極Ｄｋは、各電極の中から画像データ（サブフィールド毎の発光・非発光を示すデータ）にもとづき選択された電極を表す。
【００５２】
まず、全セル初期化サブフィールドである第１ＳＦについて説明する。
【００５３】
第１ＳＦの初期化期間前半部では、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍ、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎには、それぞれ０（Ｖ）を印加する。走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎには、電圧Ｖｉ１を印加する。電圧Ｖｉ１は、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに対して放電開始電圧未満の電圧に設定する。さらに、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに、電圧Ｖｉ１から電圧Ｖｉ２に向かって緩やかに上昇する傾斜電圧を印加する。以下、この傾斜電圧を、「上りランプ電圧Ｌ１」と呼称する。電圧Ｖｉ２は、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに対して放電開始電圧を超える電圧に設定する。なお、この上りランプ電圧Ｌ１の勾配の一例として、約１．３Ｖ／μｓｅｃという数値を挙げることができる。
【００５４】
この上りランプ電圧Ｌ１が上昇する間に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとの間、および走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎとデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍとの間に、それぞれ微弱な初期化放電が持続して発生する。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ上部に負の壁電圧が蓄積されるとともに、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍ上部および維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ上部には正の壁電圧が蓄積される。この電極上部の壁電圧とは、電極を覆う誘電体層上、保護層上、蛍光体層上等に蓄積された壁電荷により生じる電圧を表す。
【００５５】
初期化期間後半部では、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎには正の電圧Ｖｅ１を印加し、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍには０（Ｖ）を印加する。走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎには、電圧Ｖｉ３から負の電圧Ｖｉ４に向かって緩やかに下降する傾斜電圧を印加する。以下、この傾斜電圧を、「下りランプ電圧Ｌ２」と呼称する。電圧Ｖｉ３は、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに対して放電開始電圧未満となる電圧に設定し、電圧Ｖｉ４は放電開始電圧を超える電圧に設定する。なお、この下りランプ電圧Ｌ２の勾配の一例として、例えば、約−２．５Ｖ／μｓｅｃという数値を挙げることができる。
【００５６】
走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに下りランプ電圧Ｌ２を印加する間に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとの間、および走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎとデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍとの間に、それぞれ微弱な初期化放電が発生する。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ上部の負の壁電圧および維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ上部の正の壁電圧が弱められ、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍ上部の正の壁電圧は書込み動作に適した値に調整される。以上により、全ての放電セルに対して初期化放電を発生する全セル初期化動作が終了する。
【００５７】
続く書込み期間では、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに対しては、順次走査パルス電圧Ｖａを印加する。データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに対しては、発光するべき放電セルに対応するデータ電極Ｄｋ（ｋ＝１〜ｍ）に正の書込みパルス電圧Ｖｄを印加する。こうして、各放電セルに選択的に書込み放電を発生する。
【００５８】
具体的には、まず維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに電圧Ｖｅ２を印加し、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに電圧Ｖｃ（電圧Ｖｃ＝電圧Ｖａ＋電圧Ｖｓｃ）を印加する。
【００５９】
そして、１行目の走査電極ＳＣ１に負の走査パルス電圧Ｖａを印加するとともに、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍのうちの１行目において発光するべき放電セルのデータ電極Ｄｋ（ｋ＝１〜ｍ）に正の書込みパルス電圧Ｖｄを印加する。このときデータ電極Ｄｋと走査電極ＳＣ１との交差部の電圧差は、外部印加電圧の差（電圧Ｖｄ−電圧Ｖａ）にデータ電極Ｄｋ上の壁電圧と走査電極ＳＣ１上の壁電圧との差が加算されたものとなる。これによりデータ電極Ｄｋと走査電極ＳＣ１との電圧差が放電開始電圧を超え、データ電極Ｄｋと走査電極ＳＣ１との間に放電が発生する。
【００６０】
また、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに電圧Ｖｅ２を印加しているため、維持電極ＳＵ１と走査電極ＳＣ１との電圧差は、外部印加電圧の差である（電圧Ｖｅ２−電圧Ｖａ）に維持電極ＳＵ１上の壁電圧と走査電極ＳＣ１上の壁電圧との差が加算されたものとなる。このとき、電圧Ｖｅ２を、放電開始電圧をやや下回る程度の電圧値に設定することで、維持電極ＳＵ１と走査電極ＳＣ１との間を、放電には至らないが放電が発生しやすい状態とすることができる。これにより、データ電極Ｄｋと走査電極ＳＣ１との間に発生する放電を引き金にして、データ電極Ｄｋと交差する領域にある維持電極ＳＵ１と走査電極ＳＣ１との間に放電を発生することができる。こうして、発光するべき放電セルに書込み放電が発生し、走査電極ＳＣ１上に正の壁電圧が蓄積され、維持電極ＳＵ１上に負の壁電圧が蓄積され、データ電極Ｄｋ上にも負の壁電圧が蓄積される。
【００６１】
このようにして、１行目において発光するべき放電セルで書込み放電を発生して各電極上に壁電圧を蓄積する書込み動作を行う。一方、書込みパルス電圧Ｖｄを印加しなかったデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍと走査電極ＳＣ１との交差部の電圧は放電開始電圧を超えないので、書込み放電は発生しない。以上の書込み動作をｎ行目の放電セルに至るまで行い、書込み期間が終了する。
【００６２】
続く維持期間では、輝度重みに所定の輝度倍率を乗じた数の維持パルスを表示電極対２４に交互に印加して、書込み放電を発生した放電セルに維持放電を発生し、その放電セルを発光させる。
【００６３】
この維持期間では、まず走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに正の維持パルス電圧Ｖｓを印加するとともに維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎにベース電位となる接地電位、すなわち０（Ｖ）を印加する。すると書込み放電を発生した放電セルでは、走査電極ＳＣｉと維持電極ＳＵｉとの電圧差が、維持パルス電圧Ｖｓに走査電極ＳＣｉ上の壁電圧と維持電極ＳＵｉ上の壁電圧との差が加算されたものとなる。これにより、走査電極ＳＣｉと維持電極ＳＵｉとの電圧差が放電開始電圧を超え、走査電極ＳＣｉと維持電極ＳＵｉとの間に維持放電が発生する。
【００６４】
そして、この放電により発生した紫外線により蛍光体層３５が発光する。そして走査電極ＳＣｉ上に負の壁電圧が蓄積され、維持電極ＳＵｉ上に正の壁電圧が蓄積される。さらにデータ電極Ｄｋ上にも正の壁電圧が蓄積される。書込み期間において書込み放電が発生しなかった放電セルでは維持放電は発生せず、初期化期間の終了時における壁電圧が保たれる。
【００６５】
続いて、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎにはベース電位となる０（Ｖ）を、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎには維持パルス電圧Ｖｓをそれぞれ印加する。維持放電を発生した放電セルでは、維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの電圧差が放電開始電圧を超える。これにより、再び維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの間に維持放電が発生し、維持電極ＳＵｉ上に負の壁電圧が蓄積され、走査電極ＳＣｉ上に正の壁電圧が蓄積される。
【００６６】
以降同様に、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとに、輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを交互に印加する。こうすることで、書込み期間において書込み放電を発生した放電セルで維持放電が継続して発生する。
【００６７】
そして、維持期間における維持パルスの発生後に、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎおよびデータ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍには０（Ｖ）を印加したまま、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに、０（Ｖ）から電圧Ｖｅｒｓに向かって緩やかに上昇する傾斜電圧を印加する。以下、この傾斜電圧を、「消去ランプ電圧Ｌ３」と呼称する。
【００６８】
消去ランプ電圧Ｌ３は、上りランプ電圧Ｌ１よりも急峻な勾配に設定する。消去ランプ電圧Ｌ３の勾配の一例として、例えば、約１０Ｖ／μｓｅｃという数値を挙げることができる。電圧Ｖｅｒｓを放電開始電圧を超える電圧に設定することにより、維持放電を発生した放電セルの維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの間で、微弱な放電が発生する。この微弱な放電は、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎへの印加電圧が放電開始電圧を超えて上昇する期間、持続して発生する。そして、上昇する電圧があらかじめ定めた電圧Ｖｅｒｓに到達したら、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する電圧をベース電位となる０（Ｖ）まで下降する。
【００６９】
このとき、この微弱な放電で発生した荷電粒子は、維持電極ＳＵｉと走査電極ＳＣｉとの間の電圧差を緩和するように、維持電極ＳＵｉ上および走査電極ＳＣｉ上に蓄積されていく。したがって、維持放電が発生した放電セルにおいて、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ上と維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎ上との間の壁電圧は、走査電極ＳＣｉに印加した電圧と放電開始電圧の差、すなわち（電圧Ｖｅｒｓ−放電開始電圧）の程度まで弱められる。これにより、維持放電が発生した放電セルにおいて、データ電極Ｄｋ上の正の壁電荷を残したまま、走査電極ＳＣｉおよび維持電極ＳＵｉ上の、壁電圧の一部または全部が消去される。すなわち、消去ランプ電圧Ｌ３によって発生する放電は、維持放電が発生した放電セル内に蓄積された不要な壁電荷を消去する「消去放電」として働く。以下、消去ランプ電圧Ｌ３によって発生する維持期間の最後の放電を「消去放電」と呼称する。
【００７０】
その後、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎの印加電圧を０（Ｖ）に戻し、維持期間における維持動作が終了する。
【００７１】
第２ＳＦの初期化期間では、第１ＳＦにおける初期化期間の前半部を省略した駆動電圧波形を各電極に印加する。維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎには電圧Ｖｅ１を、データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍには０（Ｖ）を、それぞれ印加する。走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎには放電開始電圧未満となる電圧Ｖｉ３’（例えば、０（Ｖ））から放電開始電圧を超える負の電圧Ｖｉ４に向かって緩やかに下降する下りランプ電圧Ｌ４を印加する。この下りランプ電圧Ｌ４の勾配の一例として、例えば、約−２．５Ｖ／μｓｅｃという数値を挙げることができる。
【００７２】
これにより、直前のサブフィールド（図３では、第１ＳＦ）の維持期間で維持放電を発生した放電セルでは微弱な初期化放電が発生する。そして、走査電極ＳＣｉ上部および維持電極ＳＵｉ上部の壁電圧が弱められ、データ電極Ｄｋ（ｋ＝１〜ｍ）上部の壁電圧も書込み動作に適した値に調整される。一方、直前のサブフィールドの維持期間で維持放電を発生しなかった放電セルでは初期化放電は発生しない。このように、第２ＳＦにおける初期化動作は、直前のサブフィールドの維持期間で維持放電を発生した放電セルに対して初期化放電を発生する選択初期化動作となる。
【００７３】
第２ＳＦの書込み期間および維持期間では、維持パルスの発生数を除き、各電極に対して第１ＳＦの書込み期間および維持期間と同様の駆動電圧波形を印加する。また、第３ＳＦ以降の各サブフィールドでは、維持パルスの発生数を除き、各電極に対して第２ＳＦと同様の駆動電圧波形を印加する。
【００７４】
以上が、パネル１０の各電極に印加する駆動電圧波形の概要である。
【００７５】
次に、本実施の形態におけるプラズマディスプレイ装置の構成について説明する。図４は、本発明の実施の形態１におけるプラズマディスプレイ装置１の回路ブロック図である。プラズマディスプレイ装置１は、パネル１０、画像信号処理回路４１、データ電極駆動回路４２、走査電極駆動回路４３、維持電極駆動回路４４、タイミング発生回路４５および各回路ブロックに必要な電源を供給する電源回路（図示せず）を備えている。
【００７６】
画像信号処理回路４１は、入力された画像信号ｓｉｇにもとづき、各放電セルに階調値を割り当てる。そして、階調値を、サブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データに変換する。
【００７７】
例えば、入力された画像信号ｓｉｇが輝度信号（Ｙ信号）および彩度信号（Ｃ信号、またはＲ−Ｙ信号およびＢ−Ｙ信号、またはｕ信号およびｖ信号等）を含むときには、その輝度信号および彩度信号にもとづき、各画素に輝度の階調値および彩度の階調値を設定する。そして、各画素に設定した輝度および彩度の階調値から、各放電セルにＲ、Ｇ、Ｂの各階調値（１フィールドで表現される階調値）を割り当てる。
【００７８】
入力された画像信号ｓｉｇがＲ信号、Ｇ信号、Ｂ信号を含むときには、そのＲ信号、Ｇ信号、Ｂ信号にもとづき、各放電セルにＲ、Ｇ、Ｂの各階調値を割り当てる。
【００７９】
そして、各放電セルに割り当てたＲ、Ｇ、Ｂの階調値を、サブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データに変換する。
【００８０】
なお、本実施の形態では、画像信号処理回路４１において、画像信号ｓｉｇに応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき、残像現象の発生の目安となる「残像度数」と呼称する数値を画素毎に算出する。そして、算出した画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する。この詳細については後述する。
【００８１】
そして、画像信号処理回路４１では、この変更を行った後の輝度の階調値にもとづき、各放電セルに割り当てるＲ、Ｇ、Ｂの各階調値を算出する。
【００８２】
なお、画像信号ｓｉｇがＲ信号、Ｇ信号、Ｂ信号を含むときには、そのＲ信号、Ｇ信号、Ｂ信号にもとづき、各画素の輝度の階調値を一旦算出し、その輝度の階調値にもとづき残像度数を算出する。そして、算出した画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更し、変更を行った後の輝度の階調値にもとづき、各放電セルに割り当てるＲ、Ｇ、Ｂの各階調値を算出する。
【００８３】
タイミング発生回路４５は、水平同期信号Ｈおよび垂直同期信号Ｖにもとづき各回路ブロックの動作を制御する各種のタイミング信号を発生する。そして、発生したタイミング信号をそれぞれの回路ブロック（画像信号処理回路４１、データ電極駆動回路４２、走査電極駆動回路４３および維持電極駆動回路４４等）へ供給する。
【００８４】
データ電極駆動回路４２は、画像データを構成するサブフィールド毎のデータを、各データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍに対応する信号に変換する。そして、タイミング発生回路４５から供給されるタイミング信号にもとづいて各データ電極Ｄ１〜データ電極Ｄｍを駆動する。
【００８５】
走査電極駆動回路４３は、初期化波形発生回路（図示せず）、維持パルス発生回路５０（図１７に示す）、走査パルス発生回路（図示せず）を有する。初期化波形発生回路は、初期化期間に走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する初期化波形を発生する。維持パルス発生回路５０は、維持期間に走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する維持パルスを発生する。走査パルス発生回路は、複数の走査電極駆動ＩＣ（走査ＩＣ）を備え、書込み期間に走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加する走査パルスを発生する。そして、走査電極駆動回路４３は、タイミング発生回路４５から供給されるタイミング信号にもとづいて走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎのそれぞれを駆動する。
【００８６】
維持電極駆動回路４４は、維持パルス発生回路６０（図１７に示す）および電圧Ｖｅ１、電圧Ｖｅ２を発生する回路（図示せず）を備え、タイミング発生回路４５から供給されるタイミング信号にもとづいて維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎを駆動する。
【００８７】
次に、残像現象について説明する。パネルにおける発光効率を高めるために、放電セル内に充填する放電ガスのキセノン分圧を高めたパネル１０では、静止画像を長時間表示させたときに、その静止画像が残像として認識される、いわゆる残像現象が発生しやすくなる。これは次のような理由によると思われる。
【００８８】
静止画が連続してパネル１０に表示されると、単位時間（例えば、１フィールド）あたりの点灯回数が比較的多い放電セル（点灯状態が連続する放電セル）と、単位時間あたりの点灯回数が比較的少ない放電セル（非点灯状態が連続する放電セル）とが生じやすい。それらの放電セル間には、放電ガスの成分濃度に偏り（例えば、水蒸気を含む不純ガス等の濃度の偏り）が生じて、放電開始電圧に差が生じる。また、点灯状態が連続する放電セルと非点灯状態が連続する放電セルとでは放電セル内の温度に差が生じ、この温度差も放電開始電圧に差を生じさせる一因となる。そして、放電開始電圧に差が生じることで放電の発生するタイミングに差が生じる。これにより、発光強度に差が生じ、点灯状態が連続する放電セルと非点灯状態が連続する放電セルとに輝度差が生じる。これが、残像現象が発生する理由と考えられる。
【００８９】
そこで、本実施の形態では、静止領域が多く、かつ隣接する画素間で輝度変化が大きい領域が多い画像かどうかを判定し、その結果にもとづき輝度の階調値を変更する。具体的には、画像信号処理回路４１において、残像現象の発生の目安となる「残像度数」を画素毎に算出し、算出した残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する。次に、この詳細について説明する。
【００９０】
まず、残像度数の検出について説明する。本実施の形態では、パネル１０の画像表示領域を複数の領域に分け、領域毎の残像度数を算出し、算出した領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出する。この領域の一例を、図５に示す。
【００９１】
図５は、本発明の実施の形態１におけるパネル１０の画像表示領域に設けた複数の領域の一例を概略的に示す図である。なお、図５では、各領域を「ブロック（ｘ，ｙ）」（ｘ、ｙは自然数）と記し、以下の説明では、領域を「ブロック」とも呼称する。また、図５において、パネル１０の画像表示領域内に示す線は、各領域を区別しやすいように補助的に示したものであり、この線が実際にパネル１０に表示されるわけではない。
【００９２】
本実施の形態では、図５に示すように、パネル１０の画像表示領域を、表示電極対２４が延伸する方向に複数の境界を設けるとともにデータ電極３２が延伸する方向に複数の境界を設け、画素数が互いに等しくなるように分割して、各領域を設定する。
【００９３】
図５には、パネル１０を、表示電極対２４が延伸する方向にＮ分割し、データ電極３２が延伸する方向にＭ分割（Ｎ、Ｍは自然数）して、各領域を設定する例を示す。この場合、パネル１０には、ブロック（１，１）からブロック（Ｍ，Ｎ）までのＭ×Ｎ個の領域が設定される。
【００９４】
例えば、パネル１０の画素数が１９２０×１０８０であり、１つの領域の画素数を６０×６０個に設定する場合には、Ｎは３２となり、Ｍは１８となる。
【００９５】
そして、本実施の形態では、ブロック（１，１）からブロック（Ｍ，Ｎ）までのＭ×Ｎ個の各領域について、領域毎に残像度数を算出する。そして、算出した領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出する。
【００９６】
図６は、本発明の実施の形態１における画像信号処理回路４１の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、図６には、残像度数の算出および残像度数にもとづく輝度の階調値の変更に関する回路ブロックのみを示し、その他の回路ブロックは省略する。
【００９７】
画像信号処理回路４１は、１フィールド遅延回路７０、減算回路７１、比較回路７２、１画素遅延回路７３、減算回路７４、比較回路７５、ブロックタイミング発生回路７６、計数回路７７（１，１）〜計数回路７７（Ｍ，Ｎ）、計数回路７８（１，１）〜計数回路７８（Ｍ，Ｎ）、残像度数算出回路７９（１，１）〜残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）、残像度数補間回路８０、遅延回路８１、補正回路８２を有する。
【００９８】
１フィールド遅延回路７０は、各画素に設定された輝度の階調値を１フィールドに相当する時間だけ遅延する。
【００９９】
減算回路７１は、各画素に設定された輝度の階調値と、１フィールド遅延回路７０から出力される１フィールド前の各画素の輝度の階調値との減算を行い、その減算結果の絶対値を「フィールド間輝度差」として出力する。すなわち、減算回路７１は、現フィールドと現フィールドの直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出する。
【０１００】
比較回路７２は、減算回路７１から出力されるフィールド間輝度差と、あらかじめ設定された輝度比較値とを比較し、フィールド間輝度差が輝度比較値よりも小さいときに「１」を出力し、フィールド間輝度差が輝度比較値以上のときに「０」を出力する。
【０１０１】
計数回路７７は、各領域において、比較回路７２から出力される「１」の数を計数し、その計数結果を、それぞれの領域における「第１の計数値」として出力する。例えば、計数回路７７（１，１）は、比較回路７２から出力される「１」の数をブロック（１，１）において計数し、その計数結果をブロック（１，１）における第１の計数値として出力する。計数回路７７（Ｍ，Ｎ）は、比較回路７２から出力される「１」の数をブロック（Ｍ，Ｎ）において計数し、その計数結果をブロック（Ｍ，Ｎ）における第１の計数値として出力する。
【０１０２】
すなわち、計数回路７７は、フィールド間輝度差が輝度比較値よりも小さくなる画素の数を領域毎に計数し、その計数結果をそれぞれの領域における第１の計数値として出力する。
【０１０３】
１画素遅延回路７３は、各画素に設定された輝度の階調値を１画素に相当する時間だけ遅延する。
【０１０４】
減算回路７４は、各画素に設定された輝度の階調値と、１画素遅延回路７３から出力される１画素前の輝度の階調値との減算を行い、その減算結果の絶対値を「隣接画素間輝度差」として出力する。
【０１０５】
比較回路７５は、減算回路７４から出力される隣接画素間輝度差と、あらかじめ設定されたエッジ比較値とを比較し、隣接画素間輝度差がエッジ比較値よりも大きいときに「１」を出力し、隣接画素間輝度差がエッジ比較値以下のときに「０」を出力する。
【０１０６】
計数回路７８は、各領域において、比較回路７５から出力される「１」の数を計数し、その計数結果を、それぞれの領域における「第２の計数値」として出力する。例えば、計数回路７８（１，１）は、比較回路７５から出力される「１」の数をブロック（１，１）において計数し、その計数結果をブロック（１，１）における第２の計数値として出力する。計数回路７８（Ｍ，Ｎ）は、比較回路７５から出力される「１」の数をブロック（Ｍ，Ｎ）において計数し、その計数結果をブロック（Ｍ，Ｎ）における第２の計数値として出力する。
【０１０７】
すなわち、計数回路７８は、隣接する画素間の輝度の階調値の差がエッジ比較値以上となる「エッジ」の数を領域毎に計数し、その計数結果をそれぞれの領域における第２の計数値として出力する。
【０１０８】
ブロックタイミング発生回路７６は、タイミング発生回路４５から供給される水平同期信号Ｈおよび垂直同期信号Ｖにもとづき、各領域を識別するためのブロックタイミング信号を発生し、各計数回路７７、計数回路７８に供給する。例えば、計数回路７７（１，１）および計数回路７８（１，１）には、ブロック（１，１）の期間だけ「Ｈｉ」になるブロック（１，１）タイミング信号を供給し、計数回路７７（Ｍ，Ｎ）および計数回路７８（Ｎ，Ｎ）には、ブロック（Ｍ，Ｎ）の期間だけ「Ｈｉ」になるブロック（Ｍ，Ｎ）タイミング信号を供給する。
【０１０９】
残像度数算出回路７９は、第１の計数値および第２の計数値にもとづき、領域毎の残像度数を算出する。例えば、残像度数算出回路７９（１，１）は、ブロック（１，１）における第１の計数値および第２の計数値にもとづきブロック（１，１）の残像度数を算出し、残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）は、ブロック（Ｍ，Ｎ）における第１の計数値および第２の計数値にもとづきブロック（Ｍ，Ｎ）の残像度数を算出する。この詳細は後述する。
【０１１０】
そして、本実施の形態では、領域毎の残像度数を、各領域における領域の中央に位置する画素（以下、「中央画素」と呼称する）の残像度数としている。「中央画素」を除く画素については、領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出している。
【０１１１】
残像度数補間回路８０は、「中央画素」を除く画素について、画素毎の残像度数を算出する。具体的には、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離、および中央画素の残像度数にもとづいて画素毎の残像度数を算出する。この詳細は後述する。
【０１１２】
遅延回路８１は、各画素に設定された輝度の階調値を適切な時間（例えば、画素毎の残像度数を算出するのに要した時間）だけ遅延する。
【０１１３】
そして、補正回路８２は、遅延回路８１において適切に遅延された各画素の輝度の階調値を、残像度数補間回路８０において算出された画素毎の残像度数にもとづき、変更する。
【０１１４】
なお、上述した輝度比較値、エッジ比較値の具体的な数値としては、例えば、１つの領域の画素数の５０％に相当する数値を挙げることができる。例えば、１つの領域を６０×６０画素としたときには、１つの領域の画素数は３６００になるので、その５０％に相当する数値は１８００となる。しかし、本発明は何らこの数値に限定されるものではなく、各数値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１１５】
図７は、本発明の実施の形態１における残像度数算出回路７９の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、図７には、ブロック（１，１）の残像度数を算出する残像度数算出回路７９（１，１）を例に挙げて示しているが、その他の残像度数算出回路７９（１，２）〜残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）も図７と同様の構成である。
【０１１６】
残像度数算出回路７９は、比較回路６３、比較回路６４、比較回路６５、セレクター６６、セレクター６７、セレクター６８、累積加算回路８９、減算回路９０、制限回路９１を有する。
【０１１７】
比較回路６３は、計数回路７７から出力される第１の計数値（図７に示す例では、計数回路７７（１，１）から出力されるブロック（１，１）の第１の計数値）と、あらかじめ設定された第１のしきい値とを比較し、第１の計数値が第１のしきい値以上のときには「１」を出力し、第１の計数値が第１のしきい値未満のときには「０」を出力する。
【０１１８】
比較回路６４は、第１の計数値（図７に示す例では、ブロック（１，１）の第１の計数値）と、第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値とを比較し、第１の計数値が第２のしきい値以上のときには「１」を出力し、第１の計数値が第２のしきい値未満のときには「０」を出力する。
【０１１９】
比較回路６５は、計数回路７８から出力される第２の計数値（図７に示す例では、計数回路７８（１，１）から出力されるブロック（１，１）の第２の計数値）と、あらかじめ設定された第３のしきい値とを比較し、第２の計数値が第３のしきい値以上のときには「１」を出力し、第２の計数値が第３のしきい値未満のときには「０」を出力する。
【０１２０】
セレクター６６は、比較回路６３の出力が「１」のときには第１の設定値として、例えば「＋１」を、比較回路６３の出力が「０」のときには第２の設定値として、例えば「０」を、後段のセレクター６７に出力する。
【０１２１】
セレクター６７は、比較回路６４の出力が「１」のときにはセレクター６６の出力を、比較回路６４の出力が「０」のときには第３の設定値として、例えば「−４」を、後段のセレクター６８に出力する。
【０１２２】
セレクター６８は、比較回路６５の出力が「１」のときにはセレクター６７の出力を、比較回路６５の出力が「０」のときには第４の設定値として、例えば「−４」を、後段の累積加算回路８９に出力する。
【０１２３】
累積加算回路８９は、セレクター６８から出力される数値を累積加算して出力する。
【０１２４】
例えば、あるフィールドにおいて、ブロック（１，１）における累積加算回路８９の累積加算結果が「１０」であれば、続くフィールドでは、その「１０」に対して、セレクター６８から出力される数値を累積加算する。
【０１２５】
すなわち、セレクター６６、セレクター６７、セレクター６８、累積加算回路８９は、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第１の設定値を累積加算する。また、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第２の設定値を累積加算する。また、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、領域毎の残像度数に第３の設定値を累積加算する。そして、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域では、領域毎の残像度数に第４の設定値を累積加算する。こうして、領域毎の残像度数をフィールド毎に更新する。
【０１２６】
なお、本実施の形態では、第１の計数値が第１のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが増加した領域として、第１の設定値を正の数（例えば、「＋１」）に設定し、残像度数を増加させている。また、第１の計数値が第２のしきい値未満であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域、および、第２の計数値が第３のしきい値未満である領域は、残像現象の発生しやすさが減少した領域として、第３の設定値および第４の設定値を負の数（例えば、「−４」）に設定し、残像度数を減少させている。また、第１の計数値が第１のしきい値未満かつ第２のしきい値以上であり、第２の計数値が第３のしきい値以上である領域は、残像現象の発生しやすさが維持された領域として、第２の設定値を「０」に設定し、残像度数が維持されるようにしている。
【０１２７】
減算回路９０は、累積加算回路８９から出力される累積加算結果、すなわち、セレクター６８から出力される数値が累積加算されて更新された残像度数から、所定の定数（例えば、「５０」）を減算する。これは、残像現象が発生しやすい画像が表示されても、すぐに残像が発生するわけではなく、残像現象が発生しやすい画像がある程度継続して表示されることで残像が発生しやすくなる、ということを考慮してのことである。
【０１２８】
制限回路９１は、減算回路９０から出力される累積加算結果、すなわち、セレクター６８から出力される数値が累積加算されて更新され、さらに所定の定数が減算された残像度数を、所定の上限値（例えば、「１００」）以下に制限する。したがって、図７に示す残像度数算出回路７９から出力される最も大きい数値は、この上限値となる。これは、残像度数を用いて行う補正が過補正になることを防止するためである。これにより、例えば、本実施の形態では、補正回路８２における輝度の階調値の過補正を防止することができる。
【０１２９】
なお、上述した具体的な各数値は、単なる一実施例を示したものに過ぎず、本発明は何らこれらの数値に限定されるものではない。各数値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１３０】
こうして、残像度数算出回路７９から各領域の残像度数が出力される。図７に示す例では、残像度数算出回路７９（１，１）からブロック（１，１）の残像度数が出力される。
【０１３１】
図８は、本発明の実施の形態１における残像度数補間回路８０において行う演算を概略的に示す図である。図８には、パネル１０の一部を拡大して示しており、破線は各領域の境界を示し、白抜きの丸印は各領域における中央に位置する中央画素を示す。また、図８では、中央画素同士を結ぶ線を一点鎖線で示す。また、図８には、残像度数の算出対象となる画素として、画素Ａ１２と画素Ａ３４とを黒の丸印で示す。なお、図８に示す破線等は、各領域等を区別しやすいように補助的に示したものであり、この線が実際にパネル１０に表示されるわけではない。
【０１３２】
本実施の形態では、領域毎の残像度数は、各領域の中央に位置する中央画素の残像度数とする。例えば、残像度数算出回路７９（１，１）において算出されるブロック（１，１）の残像度数は、ブロック（１，１）の中央画素の残像度数とする。そして「中央画素」を除く画素毎の残像度数については、領域毎の残像度数、すなわち中央画素の残像度数にもとづき算出する。
【０１３３】
具体的には、次のような手順で領域毎の残像度数を算出する。
【０１３４】
まず、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離を算出する。例えば、残像度数の算出対象となる画素を画素Ａ３４とすると、画素Ａ３４の周囲の４つの中央画素と画素Ａ３４との距離を算出する。
【０１３５】
図８には、画素Ａ３４の周囲の中央画素を画素Ａ１、画素Ａ２、画素Ａ３、画素Ａ４とし、画素Ａ３４と画素Ａ１との距離をＬ１、画素Ａ３４と画素Ａ２との距離をＬ２、画素Ａ３４と画素Ａ３との距離をＬ３、画素Ａ３４と画素Ａ４との距離をＬ４として示す。
【０１３６】
そして、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の中央画素との距離に応じた割合で、各中央画素の残像度数を加算する。
【０１３７】
例えば、画素Ａ３４の残像度数をａ３４、画素Ａ１の残像度数をａ１、画素Ａ２の残像度数をａ２、画素Ａ３の残像度数をａ３、画素Ａ４の残像度数をａ４とすると、画素Ａ３４の残像度数ａ３４は以下の式で表すことができる。
【０１３８】
ａ３４＝（ａ１×（Ｌ２＋Ｌ３＋Ｌ４）＋ａ２×（Ｌ１＋Ｌ３＋Ｌ４）＋ａ３×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ４）＋ａ４×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ３）／（３×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ３＋Ｌ４））
なお、中央画素同士を結ぶ線上に位置する画素に関しては、その画素を挟む２つの中央画素にもとづき残像度数を算出する。例えば、残像度数の算出対象となる画素を画素Ａ１２が、画素Ａ１と画素Ａ２とを結ぶ線上にある画素であれば、画素Ａ１２の残像度数は、画素Ａ１および画素Ａ２の残像度数にもとづき算出する。
【０１３９】
例えば、画素Ａ１２と画素Ａ１との距離をＬ５、画素Ａ１２と画素Ａ２との距離をＬ６とし、画素Ａ１２の残像度数をａ１２とすると、画素Ａ１２の残像度数ａ１２は以下の式で表すことができる。
【０１４０】
ａ１２＝（ａ１×Ｌ６＋ａ２×Ｌ５）／（Ｌ５＋Ｌ６）
これらの演算が残像度数補間回路８０において行われ、画素毎の残像度数が算出される。
【０１４１】
図９は、本発明の実施の形態１における補正回路８２の一構成例を示す回路ブロック図である。
【０１４２】
補正回路８２は、乗算計数算出回路９２と乗算回路９３とを有し、残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を変更する。
【０１４３】
乗算計数算出回路９２は、画素毎の残像度数から、輝度の階調値に乗算するための乗算計数を算出する。具体的には、画素毎の残像度数を所定の基準値（例えば、「２５５」）から減算し、その減算結果をその基準値（例えば、「２５５」）で除算した結果を輝度の階調値に乗算するための乗算計数とする。
【０１４４】
そして、乗算回路９３は、乗算計数算出回路９２において算出された乗算計数を輝度の階調値に乗算する。
【０１４５】
図８に示した画素Ａ３４を例に挙げて補正回路８２の動作を説明すると、例えば、画素Ａ３４の残像度数をａ３４、画素Ａ３４の輝度の階調値をＹ３４、所定の基準値を「２５５」としたとき、画素Ａ３４の補正後の輝度の階調値Ｙ３４’は以下の式で表される。
【０１４６】
Ｙ３４’＝（（２５５−ａ３４）／２５５）×Ｙ３４
これにより、残像現象が発生しやすいと考えられる画素において、残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を補正することができる。したがって、残像度数が大きい画素では、隣接画素との輝度差を小さくし、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【０１４７】
なお、上述した所定の基準値は、輝度の最大階調値「２５５」にもとづき設定した数値であるが、本発明は所定の基準値が何らこの数値に限定されるものではない。所定の基準値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１４８】
以上示したように、本実施の形態では、輝度の階調値にもとづき、残像現象の発生の目安となる「残像度数」を画素毎に算出し、算出した残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する。これにより、残像現象が発生しやすいと考えられる画像、すなわち、エッジの数が多く静止領域が継続して表示される画像において、残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を補正して隣接画素との輝度差を小さくし、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【０１４９】
なお、本実施の形態では、減算回路７４において、各画素に設定された輝度の階調値と、１画素遅延回路７３から出力される１画素前の輝度の階調値との減算を行って、表示電極対２４が延伸する方向に隣接する２つの画素（水平隣接画素）間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成を説明したが、本発明は何らこの構成に限定されるものではない。例えば、各画素に設定された輝度の階調値と、１水平期間前の輝度の階調値との減算を行って、データ電極３２が延伸する方向に隣接する２つの画素（垂直隣接画素）間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成であってもよい。あるいは、各画素に設定された輝度の階調値と、（１水平期間＋１画素）前の輝度の階調値との減算、および（１水平期間−１画素）前の輝度の階調値との減算を行って、パネル１０において斜め方向に隣接する２つの画素間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成であってもよい。あるいは、水平隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差、垂直隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差、および斜め方向の隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差のうちの最大値を用いる構成であってもよい。
【０１５０】
（実施の形態２）
実施の形態１では、画素毎の残像度数に応じて輝度の階調値を変更する構成を説明したが、例えば、残像現象が発生したときに、より目立ちやすい輝度の階調値が高い画素（所定の高輝度しきい値以上になる画素）だけに残像度数に応じた輝度の階調値の変更を行う構成としてもよい。
【０１５１】
図１０は、本発明の実施の形態２における補正回路８３の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、本実施の形態において画素毎の残像度数を算出するまでの手順は実施の形態１と同様であるので、本実施の形態では、実施の形態１と構成が異なる補正回路８３についてのみ説明する。
【０１５２】
補正回路８３は、乗算計数算出回路９４と比較回路９５と乗算回路９３とを有し、輝度の階調値が高い画素に関してのみ、残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を変更する。
【０１５３】
比較回路９５は、各画素の輝度の階調値と、あらかじめ設定された高輝度しきい値（例えば、最大階調値に対して約６０％となる数値。最大階調値が「２５５」のときには、例えば「１５０」）とを比較し、その結果を乗算計数算出回路９４に出力する。
【０１５４】
乗算計数算出回路９４は、画素毎の残像度数および比較回路９５における比較結果にもとづき、輝度の階調値に乗算するための乗算計数を算出する。具体的には、輝度の階調値が高輝度しきい値以下のときには、輝度の階調値に補正が加わらないように「１」を出力する。また、輝度の階調値が高輝度しきい値よりも大きいときには、輝度の階調値が高輝度しきい値を超えた分に対して、実施の形態１と同様に、画素毎の残像度数にもとづき輝度の階調値に乗算するための乗算計数を算出する。
【０１５５】
そして、乗算回路９３は、実施の形態１に示した乗算回路９３と同様に、乗算計数算出回路９４において算出された乗算計数を輝度の階調値に乗算する。
【０１５６】
図８に示した画素Ａ３４を例に挙げて補正回路８３の動作を説明する。例えば、画素Ａ３４の残像度数をａ３４、画素Ａ３４の輝度の階調値をＹ３４、所定の基準値を「２５５」、高輝度しきい値を「１５０」とすると、画素Ａ３４の補正後の輝度の階調値Ｙ３４’’は以下の式で表される。ただし、階調値Ｙ３４は高輝度しきい値よりも大きい数値であるものとする（階調値Ｙ３４が高輝度しきい値以下のときには、補正後の輝度の階調値Ｙ３４’’は階調値Ｙ３４に等しい）。
【０１５７】
Ｙ３４’’＝（（２５５−ａ３４）／２５５）×（Ｙ３４−１５０）＋１５０
これにより、例えば、輝度の階調値が高く、隣接画素との輝度差が大きい画素において、残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を補正することができる。
【０１５８】
なお、上述した高輝度しきい値は、輝度の最大階調値「２５５」にもとづき設定した数値であるが、本発明は所定の基準値が何らこの数値に限定されるものではない。高輝度しきい値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１５９】
以上示したように、本実施の形態では、輝度の階調値にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数を画素毎に算出し、算出した残像度数および輝度の階調値の大きさにもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する。これにより、残像現象が発生しやすいと考えられる画像、すなわち、エッジの数が多く静止領域が継続して表示される画像において、残像度数の大きさ、および輝度の階調値の大きさに応じて輝度の階調値を補正して隣接画素との輝度差を小さくし、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【０１６０】
（実施の形態３）
表示画像の平均輝度レベル（Ａｖｅｒａｇｅ  Ｐｉｃｔｕｒｅ  Ｌｅｖｅｌ、以下、「ＡＰＬ」と略記する）が高い画像は、全体的に輝度が高く、その分、隣接する画素間の輝度の変化が少なく、エッジの数も少なくなると考えられる。すなわち、ＡＰＬが低い画像と比較して残像現象が発生しにくいと考えられる。そこで、画像信号のＡＰＬを検出し、ＡＰＬが大きいときにはＡＰＬが小さいときよりも残像度数が小さくなるようにＡＰＬに応じて残像度数を変更する構成としてもよい。
【０１６１】
図１１は、本発明の実施の形態３における補正回路８４の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、本実施の形態において画素毎の残像度数を算出するまでの手順は実施の形態１と同様であるので、本実施の形態では、実施の形態１と構成が異なる補正回路８４についてのみ説明する。
【０１６２】
補正回路８４は、ＡＰＬ検出回路９７と残像度数補正回路９６と乗算計数算出回路９２と乗算回路９３とを有する。そして、ＡＰＬが大きいときにはＡＰＬが小さいときよりも残像度数が小さくなるようにＡＰＬの大きさに応じて残像度数を変更し、変更後の残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を変更する。
【０１６３】
ＡＰＬ検出回路９７は、全画素の輝度の階調値を加算する等の一般に知られた手法を用いることによってＡＰＬを検出する。
【０１６４】
残像度数補正回路９６は、ＡＰＬ検出回路９７において検出されたＡＰＬに応じ、ＡＰＬが大きいときにはＡＰＬが小さいときよりも残像度数が小さくなるように画素毎の残像度数を変更する。
【０１６５】
残像度数補正回路９６は、ＡＰＬ検出回路９７において検出されたＡＰＬの値をａｐｌとすると、例えば、１００％−（ａｐｌ−４０％）（ただし、ａｐｌ−４０％が０以下になったときはａｐｌ−４０％＝０とする）で得られる数値を残像度数に乗算して、残像度数を変更する。
【０１６６】
乗算計数算出回路９２は、実施の形態１に示した乗算計数算出回路９２と同様の動作を行い、残像度数補正回路９６において変更された残像度数にもとづき、輝度の階調値に乗算するための乗算計数を算出する。
【０１６７】
そして、乗算回路９３は、実施の形態１に示した乗算回路９３と同様に、乗算計数算出回路９２において算出された乗算計数を輝度の階調値に乗算する。
【０１６８】
これにより、ＡＰＬに応じて残像度数を変更し、変更後の残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を補正することができる。
【０１６９】
なお、上述したＡＰＬから減算する「４０％」という数値は単なる一実施例を示したものに過ぎない。この数値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１７０】
以上示したように、本実施の形態では、検出したＡＰＬにもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する。これにより、残像現象が比較的発生しにくいと考えられるＡＰＬが高い画像では、ＡＰＬが低い画像と比較して残像度数の大きさを小さくすることができる。例えば、ＡＰＬが高い画像における表示画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【０１７１】
（実施の形態４）
輝度倍率に応じて維持パルスの発生数は変化し、輝度倍率が下がるほど、維持パルスの発生数が減少して表示画像の輝度が下がり、コントラスト比も低くなる。すなわち、輝度倍率が小さいときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像現象が発生しにくいと考えられる。そこで、輝度倍率が小さいときには輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率に応じて残像度数を変更する構成としてもよい。
【０１７２】
図１２は、本発明の実施の形態４における補正回路８７の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、本実施の形態において画素毎の残像度数を算出するまでの手順は実施の形態１と同様であるので、本実施の形態では、実施の形態１と構成が異なる補正回路８７についてのみ説明する。
【０１７３】
補正回路８７は、残像度数補正回路１０１と乗算計数算出回路９２と乗算回路９３とを有する。
【０１７４】
残像度数補正回路１０１は、輝度倍率が小さいときには輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、輝度倍率の大きさに応じて画素毎の残像度数を変更する。
【０１７５】
残像度数補正回路１０１は、例えば、輝度倍率が１倍のときには０．５を、輝度倍率が２倍のときには０．７を、輝度倍率が３倍のときには０．９を、輝度倍率が４倍のときには１．０を、といったように、輝度倍率が大きくなるにつれて増加する数値を残像度数に乗算して、残像度数を変更する。
【０１７６】
乗算計数算出回路９２は、実施の形態１に示した乗算計数算出回路９２と同様の動作を行い、残像度数補正回路１０１において変更された残像度数にもとづき、輝度の階調値に乗算するための乗算計数を算出する。
【０１７７】
そして、乗算回路９３は、実施の形態１に示した乗算回路９３と同様に、乗算計数算出回路９２において算出された乗算計数を輝度の階調値に乗算する。
【０１７８】
これにより、輝度倍率に応じて残像度数を変更し、変更後の残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を補正することができる。
【０１７９】
なお、上述した輝度倍率に応じて変化する数値は単なる一実施例を示したものに過ぎない。この数値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０１８０】
以上示したように、本実施の形態では、輝度倍率にもとづき、残像現象の発生の目安となる残像度数に変更を加え、変更後の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する。これにより、輝度倍率が小さく残像現象が比較的発生しにくいと考えられるときには、輝度倍率が大きいときと比較して残像度数の大きさを小さくすることができる。したがって、例えば、輝度倍率が小さいときに表示される画像の輝度低下を防止しつつ、残像現象の発生を低減することが可能となる。
【０１８１】
（実施の形態５）
例えば、輝度信号を平滑化することで、隣接する画素間の輝度の変化を低減し、残像現象の発生をさらに低減することができる。そこで、本実施の形態では、補正後の輝度信号を残像度数に応じて平滑化する構成について説明する。
【０１８２】
図１３は、本発明の実施の形態５における補正回路８５の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、本実施の形態において画素毎の残像度数を算出するまでの手順は実施の形態１と同様であるので、本実施の形態では、実施の形態１と構成が異なる補正回路８５についてのみ説明する。
【０１８３】
補正回路８５は、乗算計数算出回路９２と乗算回路９３と平滑化回路９８とを有し、補正後の輝度信号に対して残像度数に応じた平滑化をかける。
【０１８４】
乗算計数算出回路９２は、実施の形態１に示した乗算計数算出回路９２と同様の動作を行い、画素毎の残像度数にもとづき、輝度の階調値に乗算するための乗算計数を算出する。
【０１８５】
そして、乗算回路９３は、実施の形態１に示した乗算回路９３と同様に、乗算計数算出回路９２において算出された乗算計数を輝度の階調値に乗算する。
【０１８６】
平滑化回路９８は、乗算回路９３から出力される輝度の階調値に対して、残像度数に応じた平滑化をかける。平滑化の手段としては、例えば、一般に知られたメディアンフィルタを挙げることができる。そして、残像度数が小さいときには平滑化を軽くし、残像度数が大きくなるにつれて平滑化を重くする。例えば、残像度数が小さいときにはメディアンフィルタの領域を１画素×１画素とし、残像度数が大きくなるにつれて、メディアンフィルタの領域を、２画素×２画素、３画素×３画素、４画素×４画素、５画素×５画素と広げる。
【０１８７】
これにより、残像度数に応じた重さの平滑化を輝度信号にかけ、平滑化により隣接する画素間の輝度の変化を低減し、残像現象の発生をさらに低減することが可能となる。
【０１８８】
なお、平滑化回路９８における平滑化の手段は、何らメディアンフィルタに限定されるものではなく、一般に知られた他の画像用２次元フィルタ、例えば、移動平均フィルタ、ガウシアンフィルタ、平均値フィルタ等、残像度数の大きさに応じて平滑化の重さを変更できるフィルタであればどのようなものであってもよい。ただし、平滑化回路９８における平滑化の手段は、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様、平滑化後の表示画像の品質等に応じて最適なものに設定することが望ましい。
【０１８９】
以上示したように、本実施の形態では、算出した残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更するとともに、補正後の輝度信号に対して残像度数に応じた平滑化をかける。これにより、残像度数の大きさに応じて輝度の階調値を補正するとともに、残像度数の大きさに応じて補正後の輝度信号を平滑化することができる。したがって、隣接する画素間の輝度の変化をさらに低減し、残像現象の発生をさらに低減することが可能となる。
【０１９０】
（実施の形態６）
実施の形態１から実施の形態５では、算出した残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する構成を説明した。しかし、算出した残像度数にもとづき、彩度の階調値を変更することで、残像現象の発生を低減することもできる。そこで、本実施の形態では、算出した残像度数にもとづき、彩度の階調値を変更する構成について説明する。
【０１９１】
図１４は、本発明の実施の形態６における補正回路８６の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、本実施の形態において画素毎の残像度数を算出するまでの手順は実施の形態１と同様であるので、本実施の形態では、実施の形態１と構成が異なる補正回路８６についてのみ説明する。
【０１９２】
補正回路８６は、実施の形態４に示した乗算計数算出回路９２、乗算回路９３、平滑化回路９８に加え、乗算計数算出回路９９および乗算回路１００を有し、輝度の階調値に加え、彩度の階調値（Ｃ信号、またはＲ−Ｙ信号およびＢ−Ｙ信号、またはｕ信号およびｖ信号等にもとづく階調値）にも残像度数の大きさに応じて補正を加える。
【０１９３】
乗算計数算出回路９２、乗算回路９３、平滑化回路９８は実施の形態４と同様の動作を行うので、説明を省略する。
【０１９４】
乗算計数算出回路９９は、画素毎の残像度数から、彩度の階調値に乗算するための乗算計数を算出する。なお、乗算計数算出回路９９は、乗算計数算出回路９２と同様の動作であってもよいが、乗算計数算出回路９２と同様の動作により算出した数値に、さらに所定の彩度用定数を乗算する構成であってもよい。
【０１９５】
乗算回路１００は、乗算計数算出回路９９において算出された乗算計数を彩度の階調値に乗算する。
【０１９６】
図８に示した画素Ａ３４を例に挙げて補正回路８６の動作を説明すると、例えば、画素Ａ３４の残像度数をａ３４、画素Ａ３４の彩度の階調値をＣ３４、所定の基準値を「２５５」、彩度用定数をＣａとしたとき、画素Ａ３４の補正後の彩度の階調値Ｃ３４’は以下の式で表される。
【０１９７】
Ｃ３４’＝（（２５５−ａ３４）／２５５）×Ｃａ×Ｃ３４
これにより、画素毎の残像度数の大きさに応じて彩度の階調値を補正することができる。彩度が高い画像、すなわち、色が濃い画像は、彩度が低く色が薄い画像と比較して、１画素を構成するＲＧＢの各放電セルの階調値の差が大きくなりやすい。したがって、残像度数の大きさに応じて彩度を下げることで、ＲＧＢの各放電セルの階調値の差を小さくし、残像現象の発生をさらに低減することが可能となる。
【０１９８】
なお、上述した彩度用定数Ｃａは、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様、補正後の表示画像の品質等に応じて最適なものに設定することが望ましい。
【０１９９】
また、本実施の形態に示す補正回路８６においては、残像度数の大きさに応じて、輝度の階調値の補正、輝度の階調値の平滑化、彩度の階調値の補正をそれぞれ同時に行う構成であってもよいが、例えば、残像度数が小さいときは輝度の階調値の平滑化だけを行い、残像度数が中くらいの大きさのときは彩度の階調値の補正だけを行い、残像度数が大きいときは輝度の階調値の補正だけを行う、というように、残像度数の大きさに応じて、上述のいずれかを選択的に行う構成としてもよい。あるいは、残像度数の大きさに応じて、上述のいずれか２つを組み合わせて行う構成としてもよい。
【０２００】
（実施の形態７）
実施の形態１では、画素毎の残像度数に応じて輝度の階調値を変更する構成を説明したが、例えば、残像度数に応じて維持パルスの波形形状を変更することで、残像現象の発生を低減することもできる。本実施の形態では、残像度数に応じて維持パルスの波形形状を変更する構成を説明する。
【０２０１】
本実施の形態では、維持パルスを立ち上げるために後述する電力回収回路を動作させる期間（以下、「立ち上がり期間」と呼称する）の長さが異なる２種類の維持パルスを発生する。具体的には、維持期間において、基準となる第１の維持パルスと、第１の維持パルスよりも「立ち上がり期間」を短くして立ち上がりを急峻にし、残像現象の抑制効果を高めた第２の維持パルスとの２種類の維持パルスを発生する。そして、残像度数の最大値を算出し、その最大値にもとづき、第１の維持パルスと第２の維持パルスとの発生比率を変更する。
【０２０２】
これにより、パネル１０における消費電力を削減しつつ維持放電を安定に発生し、パネル１０における表示画像の残像現象を軽減する。
【０２０３】
以下、駆動回路の構成について説明し、続いて維持期間における動作の詳細について説明する。
【０２０４】
なお、本実施の形態において、画素毎の残像度数を算出するまでの手順は、実施の形態１と同様である。したがって、本実施の形態では、実施の形態１と同様の動作を行う回路ブロックには、実施の形態１に示した符号と同じ符号を付与し、説明を省略する。また、駆動電圧波形も、維持パルスの波形形状を除き、図３に示した駆動電圧波形と同様であるので、説明を省略する。本実施の形態では、実施の形態１で説明を省略した動作、および実施の形態１と構成が異なる部分について説明する。
【０２０５】
図１５は、本発明の実施の形態７におけるプラズマディスプレイ装置２の回路ブロック図である。プラズマディスプレイ装置２は、パネル１０、画像信号処理回路１４１、データ電極駆動回路４２、走査電極駆動回路４３、維持電極駆動回路４４、タイミング発生回路１４５および各回路ブロックに必要な電源を供給する電源回路（図示せず）を備えている。
【０２０６】
画像信号処理回路１４１は、実施の形態１に示した画像信号処理回路４１とほぼ同様の動作を行うが、「残像度数」を算出した後、算出した残像度数の最大値を検出し、タイミング発生回路１４５に送信する。この詳細については後述する。
【０２０７】
タイミング発生回路１４５は、水平同期信号Ｈ、垂直同期信号Ｖおよび画像信号処理回路１４１から出力される残像度数の最大値にもとづき各回路ブロックの動作を制御する各種のタイミング信号を発生し、それぞれの回路ブロック（画像信号処理回路１４１、データ電極駆動回路４２、走査電極駆動回路４３および維持電極駆動回路４４）へ供給する。そして、本実施の形態においては、維持パルスの「立ち上がり期間」の長さが異なる２種類の維持パルス、すなわち第１の維持パルスと第１の維持パルスよりも立ち上がりが急峻な第２の維持パルスとを残像度数の最大値に応じて発生する。そのために、タイミング発生回路１４５は、残像度数の最大値に応じたタイミング信号を走査電極駆動回路４３および維持電極駆動回路４４に出力する。
【０２０８】
図１６は、本発明の実施の形態７における画像信号処理回路１４１の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、図１６には、残像度数の算出に関する回路ブロックのみを示し、その他の回路ブロックは省略する。
【０２０９】
画像信号処理回路１４１は、１フィールド遅延回路７０、減算回路７１、比較回路７２、１画素遅延回路７３、減算回路７４、比較回路７５、ブロックタイミング発生回路７６、計数回路７７（１，１）〜計数回路７７（Ｍ，Ｎ）、計数回路７８（１，１）〜計数回路７８（Ｍ，Ｎ）、残像度数算出回路７９（１，１）〜残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）、残像度数最大値検出回路１８０、比較回路１８３を有する。
【０２１０】
１フィールド遅延回路７０、減算回路７１、比較回路７２、１画素遅延回路７３、減算回路７４、比較回路７５、ブロックタイミング発生回路７６、計数回路７７、計数回路７８、残像度数算出回路７９の各回路ブロックは、実施の形態１で説明した同回路ブロックと同様の動作を行うので説明を省略する。
【０２１１】
残像度数最大値検出回路１８０は、残像度数算出回路７９（１，１）〜残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）から出力されるＭ×Ｎ個の残像度数の最大値を検出する。
【０２１２】
なお、残像度数最大値検出回路１８０は、検出した最大値を記憶する機能を有する構成であってもよい。その場合には、プラズマディスプレイ装置２の主電源が投入されるときに、プラズマディスプレイ装置２の主電源が切られた時点で記憶した最大値を読み出して、使用することができる。
【０２１３】
そして、比較回路１８３は、残像度数最大値検出回路１８０において検出されたＭ×Ｎ個の残像度数のうちの最大値を、あらかじめ設定した第１の残像度数しきい値、および第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値と比較し、その結果をタイミング発生回路４５に出力する。
【０２１４】
なお、第１の残像度数しきい値の具体的な数値の一例としては、例えば、残像度数算出回路７９から出力される最も大きい数値の８０％に相当する数値を挙げることができる。また、第２の残像度数しきい値の一例としては、例えば、残像度数算出回路７９から出力される最も大きい数値の２０％に相当する数値を挙げることができる。しかし、本発明は各しきい値が何らこれらの数値に限定されるものではない。各しきい値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置２の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【０２１５】
続いて、本実施の形態における維持パルスについて説明する。
【０２１６】
まず、維持パルス発生回路５０、維持パルス発生回路６０について説明する。図１７は、本発明の実施の形態７における維持パルス発生回路５０、維持パルス発生回路６０の回路図である。なお、図１７にはパネル１０の電極間容量をＣｐとして示し、走査パルスおよび初期化波形を発生する回路は省略している。
【０２１７】
維持パルス発生回路５０は、電力回収回路５１とクランプ回路５２とを備えており、電力回収回路５１およびクランプ回路５２は、走査パルス発生回路（維持期間中は短絡状態となるため図示せず）を介してパネル１０の電極間容量Ｃｐの一端である走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに接続されている。
【０２１８】
電力回収回路５１は、電力回収用のコンデンサＣ１０、スイッチング素子Ｑ１１、スイッチング素子Ｑ１２、逆流防止用のダイオードＤ１１、逆流防止用のダイオードＤ１２、共振用のインダクタＬ１０を有する。そして、電極間容量ＣｐとインダクタＬ１０とをＬＣ共振させて維持パルスの立ち上がりおよび立ち下がりを行う。このように、電力回収回路５１は電源から電力を供給されることなくＬＣ共振によって走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎの駆動を行うため、理想的には消費電力が０となる。なお、電力回収用のコンデンサＣ１０は電極間容量Ｃｐに比べて十分に大きい容量を持ち、電力回収回路５１の電源として働くように、電圧値Ｖｓの半分の約Ｖｓ／２に充電されている。
【０２１９】
クランプ回路５２は、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎを電圧Ｖｓにクランプするためのスイッチング素子Ｑ１３、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎをベース電位である０（Ｖ）にクランプするためのスイッチング素子Ｑ１４を有する。そして、クランプ回路５２は、スイッチング素子Ｑ１３を介して走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎを電源ＶＳに接続して電圧Ｖｓにクランプし、スイッチング素子Ｑ１４を介して走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎを接地して０（Ｖ）にクランプする。したがって、クランプ回路５２による電圧印加時のインピーダンスは小さく、強い維持放電による大きな放電電流を安定して流すことができる。
【０２２０】
そして、維持パルス発生回路５０は、タイミング発生回路４５から出力されるタイミング信号によりスイッチング素子Ｑ１１、スイッチング素子Ｑ１２、スイッチング素子Ｑ１３、スイッチング素子Ｑ１４の導通と遮断とを切換えることによって電力回収回路５１とクランプ回路５２とを動作させ、維持パルスを発生する。
【０２２１】
例えば、維持パルスを立ち上げる際には、スイッチング素子Ｑ１１をオンにするとともにスイッチング素子Ｑ１２をオフにして電極間容量ＣｐとインダクタＬ１０とを共振させ、電力回収用のコンデンサＣ１０からスイッチング素子Ｑ１１、ダイオードＤ１１、インダクタＬ１０を通して走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに電力を供給する。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎの電圧が電圧Ｖｓに近づいた時点で、スイッチング素子Ｑ１３をオンにして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎを駆動する回路を電力回収回路５１からクランプ回路５２に切換え、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎを電圧Ｖｓにクランプする。なお、本実施の形態においては、この電力回収回路５１による駆動時間を制御することで、維持パルスの立ち上がりを制御している。
【０２２２】
逆に、維持パルスを立ち下げる際には、スイッチング素子Ｑ１２をオンにするとともにスイッチング素子Ｑ１１をオフにして電極間容量ＣｐとインダクタＬ１０とを共振させ、電極間容量ＣｐからインダクタＬ１０、ダイオードＤ１２、スイッチング素子Ｑ１２を通して電力回収用のコンデンサＣ１０に電力を回収する。そして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎの電圧が０（Ｖ）に近づいた時点で、スイッチング素子Ｑ１４をオンにして、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎを駆動する回路を電力回収回路５１からクランプ回路５２に切換え、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎをベース電位である０（Ｖ）にクランプする。
【０２２３】
このようにして、維持パルス発生回路５０は、維持パルスを発生する。なお、これらのスイッチング素子は、ＭＯＳＦＥＴ（Ｍｅｔａｌ  Ｏｘｉｄｅ  Ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ  Ｆｉｅｌｄ  Ｅｆｆｅｃｔ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）やＩＧＢＴ（Ｉｎｓｕｌａｔｅｄ  Ｇａｔｅ  Ｂｉｐｏｌａｒ  Ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）等の一般に知られた素子を用いて構成することができる。
【０２２４】
維持パルス発生回路６０は、維持パルス発生回路５０とほぼ同様の構成であり、電力回収回路６１とクランプ回路６２とを備え、パネル１０の電極間容量Ｃｐの一端である維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに接続されている。電力回収回路６１は、電力回収用のコンデンサＣ２０、スイッチング素子Ｑ２１、スイッチング素子Ｑ２２、逆流防止用のダイオードＤ２１、逆流防止用のダイオードＤ２２、共振用のインダクタＬ２０を有し、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎを駆動するときの電力を回収、再利用して、維持パルスの立ち上がりおよび立ち下がりを行う。クランプ回路６２は、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎを電圧Ｖｓにクランプするためのスイッチング素子Ｑ２３および維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎを接地電位（０（Ｖ））にクランプするためのスイッチング素子Ｑ２４を有し、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎを電圧Ｖｓまたは０（Ｖ）にクランプする。なお、維持パルス発生回路６０の動作は維持パルス発生回路５０と同様であるので説明を省略する。
【０２２５】
また、図１７には、電圧Ｖｅ１を発生する電源ＶＥ１、電圧Ｖｅ１を維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに印加するためのスイッチング素子Ｑ２６、スイッチング素子Ｑ２７、電圧ΔＶｅを発生する電源ΔＶＥ、逆流防止用のダイオードＤ３０、電圧Ｖｅ１に電圧ΔＶｅを積み上げるためのチャージポンプ用のコンデンサＣ３０、電圧Ｖｅ１に電圧ΔＶｅを積み上げて電圧Ｖｅ２とするためのスイッチング素子Ｑ２８、スイッチング素子Ｑ２９を示している。
【０２２６】
例えば、図３に示した電圧Ｖｅ１を印加するタイミングでは、スイッチング素子Ｑ２６、スイッチング素子Ｑ２７を導通し、ダイオードＤ３０、スイッチング素子Ｑ２６、スイッチング素子Ｑ２７を介して維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに正の電圧Ｖｅ１を印加する。なお、このときスイッチング素子Ｑ２８を導通し、コンデンサＣ３０の電圧が電圧Ｖｅ１になるように充電しておく。また、図３に示した電圧Ｖｅ２を印加するタイミングでは、スイッチング素子Ｑ２６、スイッチング素子Ｑ２７は導通したまま、スイッチング素子Ｑ２８を遮断するとともにスイッチング素子Ｑ２９を導通してコンデンサＣ３０の電圧に電圧ΔＶｅを重畳し、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに電圧Ｖｅ１＋ΔＶｅ、すなわち電圧Ｖｅ２を印加する。このとき、逆流防止用のダイオードＤ３０の働きにより、コンデンサＣ３０から電源ＶＥ１への電流は遮断される。
【０２２７】
なお、電圧Ｖｅ１、電圧Ｖｅ２を印加する回路については、図１７に示した回路に限定されるものではなく、例えば、電圧Ｖｅ１を発生する電源と電圧Ｖｅ２を発生する電源とそれぞれの電圧を維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに印加するための複数のスイッチング素子とを用いて、それぞれの電圧を必要なタイミングで維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに印加する構成とすることもできる。
【０２２８】
次に、維持期間における駆動電圧波形の詳細について説明する。図１８は、本発明の実施の形態７における維持パルス発生回路５０、維持パルス発生回路６０の動作を説明するためのタイミングチャートである。図１８では、維持パルスの繰り返し周期の１周期分をＴ１〜Ｔ６で示した６つの期間に分割して示し、それぞれの期間について説明する。この繰り返し周期（以下、「維持周期」と記す）とは、維持期間において表示電極対に繰り返し印加される維持パルスの間隔のことであり、例えば、期間Ｔ１〜期間Ｔ６によって繰り返される周期のことを表す。
【０２２９】
なお、以下の説明においてスイッチング素子を導通する動作をオン、遮断する動作をオフと表記し、図面にはスイッチング素子をオンする信号を「ＯＮ」、オフする信号を「ＯＦＦ」と表記する。また、図１８では、正極の波形を用いて説明をするが、本発明はこれに限られるものではない。例えば、負極の波形における実施の形態は省略するが、以下の説明の正極の波形において「立ち上がり」と表現しているものを、負極の波形においては「立ち下がり」に、正極の波形において「立ち下がり」と表現しているものを、負極の波形においては「立ち上がり」に読み替えることで、負極の波形であっても同様の効果を得ることができる。
【０２３０】
（期間Ｔ１）
時刻ｔ１でスイッチング素子Ｑ１２をオンにする。すると、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎ側の電荷はインダクタＬ１０、ダイオードＤ１２、スイッチング素子Ｑ１２を通してコンデンサＣ１０に流れ始め、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎの電圧が下がり始める。インダクタＬ１０と電極間容量Ｃｐとは共振回路を形成しているので、共振周期（例えば、２０００ｎｓｅｃ）の１／２の時間経過後の時刻ｔ２において走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎの電圧は０（Ｖ）付近まで低下する。しかし、共振回路の抵抗成分等による電力損失のため、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎの電圧は０（Ｖ）までは下がらない。
【０２３１】
なお、この間、スイッチング素子Ｑ２４はオンに保持し、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎは０（Ｖ）にクランプしておく。
【０２３２】
（期間Ｔ２）
そして、時刻ｔ２でスイッチング素子Ｑ１４をオンにする。すると、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎはスイッチング素子Ｑ１４を通して直接に接地されるため、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎの電圧は接地電位である０（Ｖ）にクランプされる。
【０２３３】
さらに、時刻ｔ２でスイッチング素子Ｑ２１をオンにする。すると、電力回収用のコンデンサＣ２０からスイッチング素子Ｑ２１、ダイオードＤ２１、インダクタＬ２０を通して維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎへ電流が流れ始め、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎの電圧が上がり始める。インダクタＬ２０と電極間容量Ｃｐとは共振回路を形成しているので、共振周期（例えば、２０００ｎｓｅｃ）の１／２の時間経過後の時刻ｔ３において維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎの電圧は電圧Ｖｓ付近まで上昇する。しかし、駆動回路の出力インピーダンスや駆動負荷の影響で、電圧Ｖｓまでは上昇しない。
【０２３４】
なお、本実施の形態では、この期間Ｔ２および期間Ｔ５の長さを制御することで維持パルスの立ち上がりを制御し、第１の維持パルスおよび第２の維持パルスを発生している。
【０２３５】
（期間Ｔ３）
そして、時刻ｔ３でスイッチング素子Ｑ２３をオンにする。すると維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎはスイッチング素子Ｑ２３を通して直接に電源ＶＳへ接続されるため、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎの電圧は電圧Ｖｓにクランプされ強制的に電圧Ｖｓまで上昇する。この期間Ｔ３では維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎの電圧は電圧Ｖｓに保たれる。
【０２３６】
（期間Ｔ４から期間Ｔ６）
走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎに印加される維持パルスと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに印加される維持パルスとは同じ波形形状であり、期間Ｔ４から期間Ｔ６までの動作は、期間Ｔ１から期間Ｔ３までの動作を走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎと維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎとを入れ替えての動作に等しいので説明を省略する。
【０２３７】
そして、本実施の形態においては、期間Ｔ１、期間Ｔ４を「立ち下がり期間」とし、期間Ｔ２、期間Ｔ５を「立ち上がり期間」とする。
【０２３８】
なお、スイッチング素子Ｑ１２は時刻ｔ２以降、時刻ｔ５までにオフすればよく、スイッチング素子Ｑ２１は時刻ｔ３以降、時刻ｔ４までにオフすればよい。また、スイッチング素子Ｑ２２は時刻ｔ５以降、次の時刻ｔ２までにオフすればよく、スイッチング素子Ｑ１１は時刻ｔ６以降、次の時刻ｔ１までにオフすればよい。また、維持パルス発生回路５０、維持パルス発生回路６０の出力インピーダンスを下げるために、スイッチング素子Ｑ２４は時刻ｔ２直前に、スイッチング素子Ｑ１３は時刻ｔ１直前にオフにすることが望ましく、スイッチング素子Ｑ１４は時刻ｔ５直前に、スイッチング素子Ｑ２３は時刻ｔ４直前にオフにすることが望ましい。
【０２３９】
維持期間においては、以上の期間Ｔ１〜期間Ｔ６の動作を、必要なパルス数に応じて繰り返す。このようにして、ベース電位である０（Ｖ）から電圧Ｖｓに変位する維持パルス電圧を、表示電極対２４のそれぞれに交互に印加して放電セルを維持放電させる。
【０２４０】
なお、電力回収回路５１のインダクタＬ１０とパネル１０の電極間容量ＣｐとのＬＣ共振の周期、および電力回収回路６１のインダクタＬ２０と同電極間容量ＣｐとのＬＣ共振の周期（以下、「共振周期」と記す）は、インダクタＬ１０、インダクタＬ２０のインダクタンスをそれぞれＬとすれば、計算式「２π√（ＬＣｐ）」によって求めることができる。本実施の形態では、電力回収回路５１、電力回収回路６１における共振周期が、例えば２０００ｎｓｅｃになるように、インダクタＬ１０、インダクタＬ２０を設定している。
【０２４１】
次に、本実施の形態における２種類の維持パルスについて説明する。まず、２種類の維持パルスの波形形状について説明し、続いて２種類の維持パルスを用いて駆動を行う理由について説明する。
【０２４２】
図１９は、本発明の実施の形態７における２種類の維持パルスを比較して示した概略波形図である。図１９の上段には第１の維持パルスを示し、図１９の下段には第２の維持パルスを示す。各維持パルスは、上述したように、維持パルス発生回路５０、維持パルス発生回路６０の各スイッチング素子の切換えのタイミングを制御して各電力回収回路および各電圧クランプ回路の駆動時間を制御することで、「立ち上がり期間」を変えている。
【０２４３】
なお、図１９には、基準となる第１の維持パルスの「立ち上がり期間」を８５０ｎｓｅｃに設定し、第２の維持パルスの「立ち上がり期間」を６５０ｎｓｅｃに設定する例を示しているが、本発明は何らこの数値に限定されるものではない。第１の維持パルスおよび第２の維持パルスの各「立ち上がり期間」は、パネルの特性やプラズマディスプレイ装置の仕様等にもとづき、また表示画像の品質等を考慮して、最適な数値に設定することが望ましい。
【０２４４】
本実施の形態において、「立ち上がり期間」が異なる２種類の維持パルスを発生するのは、次のような理由による。
【０２４５】
パネル１０においては、大画面化、高精細化等により駆動負荷が高くなると、維持パルスの立ち上がり波形にばらつきが生じやすくなり、各放電セル間の放電の発生するタイミング（放電開始時間）にばらつきが生じやすい。
【０２４６】
一方、発光効率を改善するために放電ガスのキセノン分圧を高めたパネル１０では、表示電極対間の放電開始電圧も高くなり、そのため放電の発生するタイミングのばらつきがさらに大きくなる傾向にある。
【０２４７】
このように、隣接する放電セル間において放電の発生するタイミングに差があると、先に放電が発生した放電セルと後で放電が発生した放電セルとでは発光強度が異なり、パネル１０の表示面における発光輝度のばらつきが発生するおそれがある。この原因には、例えば、先に放電する放電セルの影響を受けて後に放電する放電セルの壁電荷が減少し放電が弱くなったり、あるいは、隣接する放電セルの放電の影響を受けることによって一度開始された放電が一旦停止し、印加電圧の上昇によって再び放電を生じるために放電が弱くなる、といったことがある。
【０２４８】
また、上述したように、放電ガスのキセノン分圧を高めたパネル１０では、静止画像を長時間表示させたときに、点灯状態が連続する放電セルと非点灯状態が連続する放電セルとで放電開始電圧に差が生じやすい。
【０２４９】
維持放電１回あたりの発光強度に依存して放電セルの発光輝度は変化するので、放電開始電圧に差が生じて発光強度に差が生じると、放電セル間に輝度のばらつきが生じ、残像現象が発生する。
【０２５０】
放電開始電圧の差にもとづき生じる発光強度の差を低減するためには、電圧の変化が急峻な状態で維持放電を生じさせることが有効である。ここで、維持パルスの「立ち上がり期間」と放電のばらつきについて図面を用いて説明する。
【０２５１】
図２０、図２１は、本発明の実施の形態７における維持パルスの「立ち上がり期間」と放電のばらつきとの関係を示す特性図である。なお、ここでは、電力回収回路の共振周期を１２００ｎｓｅｃ、維持パルスの１周期の長さを２．７μｓｅｃ、「立ち下がり期間」を９００ｎｓｅｃに設定し、「立ち上がり期間」を４００ｎｓｅｃ、５００ｎｓｅｃの２通りで変えて実験を行った。そして、図２０は「立ち上がり期間」を４００ｎｓｅｃに設定したときの測定結果を示した図であり、図２１は「立ち上がり期間」を５００ｎｓｅｃに設定したときの測定結果を示した図である。また、図２０、図２１では、複数の放電セルにおける測定結果を１つのグラフに重ねて示している。
【０２５２】
なお、図２０、図２１において、縦軸は発光強度を、横軸は電力回収回路の動作が開始してからの経過時間を表す。また、縦軸における単位（ａ．ｕ．）は任意単位（ａｒｂｉｔｒａｒｙ  ｕｎｉｔ）を表す。
【０２５３】
例えば、図２０に示すように「立ち上がり期間」を比較的短い４００ｎｓｅｃに設定し、維持パルスの立ち上がりを急峻にすると、ほとんどの放電セルがほぼ同じ時刻に発光し、放電のばらつきが抑えられていることが確認された。
【０２５４】
逆に、図２１に示すように「立ち上がり期間」を４００ｎｓｅｃよりも１００ｎｓｅｃ長い５００ｎｓｅｃに設定し、維持パルスの立ち上がりを緩やかにすると、放電セルの発光時刻にばらつきが生じていることが確認された。
【０２５５】
このように、維持パルスの立ち上がりを急峻にして電圧の変化が急峻な状態で放電を生じさせると、放電開始電圧のばらつきが吸収され、各放電セル間の放電の発生するタイミングのばらつきを小さくすることができ、これにより輝度のばらつきの発生を抑えることができる。
【０２５６】
また、電圧の変化が急峻な状態で放電を生じさせると、強い維持放電が発生して十分な壁電荷が放電セル内に形成されるので、以降の維持放電を安定に発生させることもできるようになる。
【０２５７】
そこで、本実施の形態では、第２の維持パルスを、図２０に示したように、各放電セル間で放電の発生するタイミングのばらつきが抑えられ、大多数の放電セルがほぼ同時刻に発光し、かつ強い放電が発生して十分な壁電荷を放電セル内に形成することができる長さに「立ち上がり期間」を設定した維持パルスとする。こうして、第２の維持パルスを、残像現象を抑制する効果を高めた維持パルスとする。
【０２５８】
しかしながら、維持パルスの「立ち上がり期間」を短くして立ち上がりを急峻にすると、電力回収回路を動作させる期間がその分だけ減って電力の回収効率が下がり、消費電力が増える、といった問題が発生する。
【０２５９】
ここで、消費電力と「立ち上がり期間」とについて説明する。なお、消費電力に影響を与える主な項目として、発光効率、無効電力が考えられるので、ここでは、それらの項目と「立ち上がり期間」との関係について記す。
【０２６０】
図２２は、本発明の実施の形態７における維持パルスの「立ち上がり期間」と発光効率との関係を示す特性図である。図２２において、縦軸は発光効率の相対比率を、横軸は「立ち上がり期間」の長さを表す。なお、縦軸における単位（％）は、発光効率（ｌｍ／Ｗ：単位電力あたりの発光輝度）の検出結果を所定の値を１００％として相対比率化したものであり、数値が大きいほど発光効率が良いことを表す。
【０２６１】
図２３は、本発明の実施の形態７における維持パルスの「立ち上がり期間」と無効電力との関係を示す特性図である。図２３において、縦軸は無効電力の相対比率を、横軸は「立ち上がり期間」の長さを表す。なお、縦軸における単位（％）は、無効電力（Ｗ）の検出結果を所定の値を１００％として相対比率化したものであり、数値が大きいほど無効電力が大きいことを表す。
【０２６２】
また、図２２、図２３では、電力回収回路の共振周期を２０００ｎｓｅｃ、維持パルスの１周期の長さを２．７μｓｅｃ、「立ち下がり期間」を９００ｎｓｅｃに設定し、「立ち上がり期間」を６００ｎｓｅｃから９００ｎｓｅｃまで５０ｎｓｅｃずつ延長して実験を行った。
【０２６３】
図２２、図２３からも明らかなように、「立ち上がり期間」の長さ、すなわち電力回収回路の動作期間を長くするほど発光効率は向上し、無効電力は低減される。これは、「立ち上がり期間」を長くすることで、電力回収回路に回収された電力が放電の発生に使用される比率が増加するためと考えられる。
【０２６４】
したがって、電力回収回路における電力の回収効率を上げて消費電力を削減するためには、電力回収回路を動作させる期間をできるだけ長くすればよい。すなわち、維持パルスの「立ち上がり期間」をできるだけ長くして立ち上がりを緩やかにすればよい。
【０２６５】
そこで、本実施の形態では、第１の維持パルスは、各放電セル間で放電の発生するタイミングのばらつきを考慮しつつ、電力回収回路における電力の回収効率を上げて消費電力を削減することができる長さに「立ち上がり期間」を設定した維持パルスとする。
【０２６６】
そして、本実施の形態においては、残像度数が高く、残像現象の発生する可能性が高いと考えられる画像を表示する際には、各放電セル間で放電の発生するタイミングのばらつきが抑えられ、残像現象の抑制効果が高い第２の維持パルスの発生比率を上げて維持パルスを発生する。また、残像度数が低く、残像現象の発生する可能性が低いと考えられる画像を表示する際には、電力回収回路における電力の回収効率を上げて消費電力を削減する効果が高い第１の維持パルスの発生比率を上げて維持パルスを発生する。
【０２６７】
図２４は、本発明の実施の形態７における残像度数の最大値の時間変化の一例を示す概略図である。また、図２５は、本発明の実施の形態７における第２の維持パルスの発生比率の変更の一例を示す概略図であり、図２６は、本発明の実施の形態７における第２の維持パルスの発生比率の変更の他の一例を示す概略図である。
【０２６８】
図２４において、縦軸は残像度数の最大値を表し、図７に示した制限回路９１に用いる上限値を１００％として示している。また、横軸は時間を表す。また、図２５、図２６において、横軸は時間を表し、図２５に示す時刻ｔａと図２４に示す時刻ｔａとは同じ時刻を表し、図２６に示す時刻ｔｃと図２４に示す時刻ｔｃとは同じ時刻を表す。また、縦軸は第２の維持パルスの発生比率を表し、例えば縦軸の５０％は、維持パルスを１０回発生するときに第１の維持パルスを５回発生し、第２の維持パルスを５回発生することを表す。
【０２６９】
本実施の形態では、第１の残像度数しきい値を適切な数値（例えば、残像度数算出回路７９から出力される最も大きい数値の８０％に相当する数値）に設定することで、残像度数の最大値が第１の残像度数しきい値以上となったときに、残像現象が発生しやすくなったと判断することができる。
【０２７０】
そこで、本実施の形態では、第１の残像度数を適切な数値に設定するとともに、残像度数最大値検出回路１８０において検出される残像度数の最大値が第１の残像度数しきい値以上となった後（図２４に示す時刻ｔａ以降）は、残像現象を抑制する効果を高めた第２の維持パルスの発生比率を増加する。これにより、残像度数の最大値が第１の残像度数しきい値以上となり残像現象が発生しやすいと判断できる画像を表示する際に、残像現象の発生を抑制することが可能となる。
【０２７１】
このとき、本実施の形態では、時刻ｔａで第２の維持パルスの発生比率を急峻に増加するのではなく、時刻ｔａ以降、第２の維持パルスの発生比率を、第２の維持パルスの発生比率の上限（例えば、５０％）に向けて、徐々に増加する。例えば、時刻ｔａまでの第２の維持パルスの発生比率を０％とする場合、図２５に示すように、時刻ｔａから時刻ｔ１までの時間Ｔｔの期間（例えば、５フィールドに相当する期間）は第２の維持パルスの発生比率を１０％にし、時刻ｔ１から時刻ｔ２までの時間Ｔｔの期間は第２の維持パルスの発生比率を２０％にする、というように、時間Ｔｔの間隔で、徐々に第２の維持パルスの発生比率を、その上限まで増加させるものとする。これにより、第２の維持パルスの発生比率を変化させることで生じる輝度変化を、使用者に知覚されにくくすることができる。
【０２７２】
また、本実施の形態では、第２の残像度数しきい値を適切な数値（例えば、残像度数算出回路７９から出力される最も大きい数値の２０％に相当する数値）に設定することで、残像度数の最大値が第２の残像度数しきい値以下となったときに、残像現象の発生しやすさが低減したと判断することができる。
【０２７３】
そこで、本実施の形態では、第２の残像度数を適切な数値に設定するとともに、残像度数最大値検出回路１８０において検出される残像度数の最大値が第２の残像度数しきい値以下となった後に、第２の維持パルスの発生比率を減少し、消費電力を削減する効果が高い第１の維持パルスの発生比率を増加する。これにより、残像度数の最大値が第２の残像度数しきい値以下となり残像現象の発生しやすさが低減したと判断できる画像を表示する際に、消費電力の削減効果を高めたパネル駆動を行うことが可能となる。
【０２７４】
このとき、残像度数の最大値が第２の残像度数しきい値以下となる時刻ｔｂで第２の維持パルスの発生比率を減少するのではなく、残像度数の最大値が第２の残像度数しきい値以下になってから所定の時間が経過した後の時刻ｔｃから第２の維持パルスの発生比率を減少する。これは、残像度数の最大値が第２の残像度数しきい値以下になった後、直ちに残像現象の発生しやすさが低減するわけではなく、残像現象の発生原因の１つと考えられる上述した放電ガスの成分濃度の偏りが解消されるまで、ある程度の時間がかかることを考慮してのことである。
【０２７５】
なお、本実施の形態では、残像度数の最大値が第１の残像度数しきい値以上となってから第２の残像度数しきい値以下となるまでの時間を「第１の時間」とし、残像度数の最大値が第２の残像度数しきい値以下になってから第２の維持パルスの発生比率を減少し始めるまでの所定の時間を「第２の時間」とする。そして、「第２の時間」を、あらかじめ設定した上限時間（例えば、１０分間）以下の範囲で、「第１の時間」に応じて変更する。例えば、「第２の時間」を「第１の時間」の３分の１の時間に設定してもよい。
【０２７６】
また、本実施の形態では、図２５と同様に、時刻ｔｃで第２の維持パルスの発生比率を急峻に減少するのではなく、時刻ｔｃ以降、第２の維持パルスの発生比率を、第２の維持パルスの発生比率の下限（例えば、０％）に向けて、徐々に減少させる。例えば、時刻ｔｃまでの第２の維持パルスの発生比率を５０％とする場合、図２６に示すように、時刻ｔｃから時刻ｔ５までの時間Ｔｔの期間（例えば、５フィールドに相当する期間）は第２の維持パルスの発生比率を４０％にし、時刻ｔ５から時刻ｔ６までの時間Ｔｔの期間は第２の維持パルスの発生比率を３０％にする、というように、時間Ｔｔの間隔で、徐々に第２の維持パルスの発生比率を、その下限まで減少させる。これにより、第２の維持パルスの発生比率を変化させることで生じる輝度変化を、使用者に知覚されにくくすることができる。
【０２７７】
図２７は、本発明の実施の形態７における残像度数の最大値の時間変化の他の一例を示す概略図であり、図２８は、本発明の実施の形態７における第２の維持パルスの発生比率の変更の他の一例を示す概略図である。なお、図２７の縦軸および横軸は図２４と同様であり、図２８の縦軸および横軸は図２５と同様である。また、図２７に示す時刻ｔｄ、時刻ｔｅ、時刻ｔｆと図２８に示す時刻ｔｄ、時刻ｔｅ、時刻ｔｆとは同じ時刻を表す。
【０２７８】
例えば、第１の残像度数しきい値と第２の残像度数しきい値の各設定値、および表示画像の図柄によっては、残像度数の最大値が第１の残像度数しきい値以上になった後、第２の維持パルスの発生比率がその上限に達する前に、残像度数の最大値が第２の残像度数しきい値以下になることもあり得る。
【０２７９】
例えば、図２７に示すように、残像度数の最大値が、第１の残像度数しきい値（図２７に示す例では、５０％）以上となった時刻ｔｄの直後に減少し始め、第２の維持パルスの発生比率がその上限に達する前の時刻ｔｅで、残像度数の最大値が第２の残像度数しきい値（図２７に示す例では、４０％）以下になったとする。
【０２８０】
そのような場合には、図２８に示すように、時刻ｔｄ以降時刻ｔｅに達するまでは、図２５に示したのと同様に第２の維持パルスの発生比率を徐々に増加し、時刻ｔｅ以降は、第２の維持パルスの発生比率を時刻ｔｅの状態で維持する。例えば、図２８に示す例では、第２の維持パルスの発生比率を３０％で維持する。
【０２８１】
そして、時刻ｔｅから「第２の時間」が経過した時刻ｔｆ以降は、図２６に示したのと同様に第２の維持パルスの発生比率を徐々に減少する。
【０２８２】
なお、図示はしないが、時刻ｔｅから「第２の時間」が経過する前に残像度数の最大値が上昇して第１の残像度数しきい値以上になったときには、その時点から、第２の維持パルスの発生比率を再度増加させていくものとする。
【０２８３】
図２９は、本発明の実施の形態７における第２の維持パルスの発生比率が２０％のときの第１の維持パルスおよび第２の維持パルスの発生の一例を示す概略波形図である。そして、図３０は、本発明の実施の形態７における第２の維持パルスの発生比率が４０％のときの第１の維持パルスおよび第２の維持パルスの発生の一例を示す概略波形図である。
【０２８４】
本実施の形態において、第２の維持パルスの発生比率が２０％のときには、図２９に示すように、維持パルスを１０回発生するうちの８回を第１の維持パルスとし、２回を第２の維持パルスとする。また、第２の維持パルスの発生比率が４０％のときには、図３０に示すように、維持パルスを１０回発生するうちの６回を第１の維持パルスとし、４回を第２の維持パルスとする。
【０２８５】
ただし、本発明において、第１の維持パルスと第２の維持パルスとの発生順序は何ら図２９、図３０に示した順序に限定されるものではない。第１の維持パルスと第２の維持パルスとをどのような順序で発生させるかは、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等にもとづき、また表示画像の品質等を考慮して、最適に設定することが望ましい。
【０２８６】
以上示したように、本実施の形態では、残像度数が高く、残像現象の発生する可能性が高いと考えられる画像を表示する際には、各放電セル間で放電の発生するタイミングのばらつきが抑えられ、残像現象の抑制効果が高い第２の維持パルスの発生比率を上げて維持パルスを発生する。また、残像度数が低く、残像現象の発生する可能性が低いと考えられる画像を表示する際には、電力回収回路における電力の回収効率を上げて消費電力を削減する効果が高い第１の維持パルスの発生比率を上げて維持パルスを発生する。これにより、プラズマディスプレイ装置２における消費電力を削減しつつ維持放電を安定に発生させ、残像現象の発生を低減して画像表示品質を向上させることが可能となる。
【０２８７】
なお、上述した第１の残像度数しきい値および第２の残像度数しきい値の具体的な数値、「第１の時間」と「第２の時間」との関係、第２の維持パルスの発生比率等は、本実施の形態における一例を示したものに過ぎず、本発明は何らこれらの例に限定されるものではない。これらは、パネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置２の仕様等にもとづき、また表示画像の品質等を考慮して、最適に設定することが望ましい。
【０２８８】
なお、本実施の形態７では、減算回路７４において、各画素に設定された輝度の階調値と、１画素遅延回路７３から出力される１画素前の輝度の階調値との減算を行って、表示電極対２４が延伸する方向に隣接する２つの画素（水平隣接画素）間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成を説明した。しかし、本発明は何らこの構成に限定されるものではない。例えば、各画素に設定された輝度の階調値と、１水平期間前の輝度の階調値との減算を行って、データ電極３２が延伸する方向に隣接する２つの画素（垂直隣接画素）間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成であってもよい。あるいは、各画素に設定された輝度の階調値と、（１水平期間＋１画素）前の輝度の階調値との減算、および（１水平期間−１画素）前の輝度の階調値との減算を行って、パネル１０において斜め方向に隣接する２つの画素間で隣接画素間輝度差を算出して用いる構成であってもよい。あるいは、水平隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差、垂直隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差、および斜め方向の隣接画素間で算出した隣接画素間輝度差のうちの最大値を用いる構成であってもよい。
【０２８９】
なお、本実施の形態では、「第２の時間」を「第１の時間」に応じて変更する構成を説明したが、この「第２の時間」をあらかじめ設定した時間（例えば、５分）とする構成としてもよい。あるいは、「第２の時間」を０とし、残像度数の最大値が第２の残像度数しきい値以下となった直後から、第２の維持パルスの発生比率を徐々に減少する構成としてもよい。
【０２９０】
（実施の形態８）
実施の形態７では、残像度数の最大値にもとづき第２の維持パルスの発生比率を変更する構成を説明した。しかし、例えば、残像度数の平均値にもとづき第２の維持パルスの発生比率を変更する構成とすることもできる。
【０２９１】
図３１は、本発明の実施の形態８における画像信号処理回路１８１の一構成例を示す回路ブロック図である。なお、図３１には、残像度数の算出に関する回路ブロックのみを示し、その他の回路ブロックは省略する。なお、本実施の形態において領域毎の残像度数を算出するまでの手順は実施の形態７と同様である。
【０２９２】
画像信号処理回路１８１は、実施の形態７において図１６に示した画像信号処理回路１４１とほぼ同様の構成であるが、残像度数最大値検出回路１８０に代えて、残像度数平均値算出回路１８２を備えている。
【０２９３】
残像度数平均値算出回路１８２は、残像度数算出回路７９（１，１）〜残像度数算出回路７９（Ｍ，Ｎ）から出力されるＭ×Ｎ個の残像度数の平均値を算出する。
【０２９４】
比較回路１８３は、残像度数平均値算出回路１８２において算出されたＭ×Ｎ個の残像度数の平均値を、あらかじめ設定した第１の残像度数しきい値、および第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値と比較し、その結果をタイミング発生回路４５に出力する。
【０２９５】
そして、タイミング発生回路４５は、比較回路１８３における比較結果に応じて、第２の維持パルスの発生比率を変更する。
【０２９６】
例えば、このような構成であっても、実施の形態７に示した効果と同様の効果を得ることが可能である。
【０２９７】
なお、本発明における実施の形態に示した各回路ブロックは、実施の形態に示した各動作を行う電気回路として構成されてもよく、あるいは、同様の動作をするようにプログラミングされたマイクロコンピュータ等を用いて構成されてもよい。
【０２９８】
なお、本発明の実施の形態１から実施の形態８に示した各構成を組み合わせて用いる構成としてもよい。
【０２９９】
なお、本発明の実施の形態では、輝度比較値およびエッジ比較値を変更する構成については特に言及していないが、例えば、輝度比較値およびエッジ比較値のいずれか一方、または双方を、パネル１０の場所によって変更する構成としてもよい。一定時間静止して表示される図柄の代表的な例として、字幕による文字や現在時刻等があるが、それらは、一般的にはパネル１０の周辺部に表示されることが多い。そこで、輝度比較値、エッジ比較値の設定値をパネル１０の中央部よりも周辺部の方で小さくし、パネル１０の中央部よりも周辺部で残像度数が大きくなりやすくなるような構成としてもよい。
【０３００】
なお、図３に示した駆動電圧波形は実施の形態における一例を示したものに過ぎず、本発明は、何らこれらの駆動電圧波形に限定されるものではない。
【０３０１】
また、本発明における実施の形態は、いわゆる２相駆動によるパネルの駆動方法にも適用させることができ、上述と同様の効果を得ることができる。この２相駆動とは、走査電極ＳＣ１〜走査電極ＳＣｎを第１の走査電極群と第２の走査電極群とに分割し、書込み期間を、第１の走査電極群に属する走査電極のそれぞれに走査パルスを印加する第１の書込み期間と、第２の走査電極群に属する走査電極のそれぞれに走査パルスを印加する第２の書込み期間とで構成する駆動方法のことである。
【０３０２】
なお、本発明における実施の形態は、走査電極と走査電極とが隣り合い、維持電極と維持電極とが隣り合う電極構造、すなわち前面板２１に設けられる電極の配列が、「・・・、走査電極、走査電極、維持電極、維持電極、走査電極、走査電極、・・・」となる電極構造のパネルにおいても有効である。
【０３０３】
なお、本発明における実施の形態において示した具体的な数値は、画面サイズが５０インチ、表示電極対２４の数が１０８０のパネル１０の特性にもとづき設定したものであって、単に実施の形態における一例を示したものに過ぎない。本発明はこれらの数値に何ら限定されるものではなく、各数値はパネルの特性やプラズマディスプレイ装置の仕様等にあわせて最適に設定することが望ましい。また、サブフィールド数や各サブフィールドの輝度重み等も本発明における実施の形態に示した値に限定されるものではなく、また、画像信号等にもとづいてサブフィールド構成を切換える構成であってもよい。また、これらの各数値は、上述した効果を得られる範囲でのばらつきを許容するものとする。
【産業上の利用可能性】
【０３０４】
本発明は、パネルにおける表示画像の残像現象を軽減し、高い画像表示品質を実現することができるので、パネルの駆動方法およびプラズマディスプレイ装置として有用である。
【符号の説明】
【０３０５】
１，２    プラズマディスプレイ装置
１０    パネル
２１    （ガラス製の）前面板
２２    走査電極
２３    維持電極
２４    表示電極対
２５，３３    誘電体層
２６    保護層
３１    背面板
３２    データ電極
３４    隔壁
３５    蛍光体層
４１，１４１，１８１    画像信号処理回路
４２    データ電極駆動回路
４３    走査電極駆動回路
４４    維持電極駆動回路
４５，１４５    タイミング発生回路
５０，６０    維持パルス発生回路
５１，６１    電力回収回路
５２，６２    クランプ回路
６３，６４，６５，７２，７５，９５，１８３    比較回路
６６，６７，６８    セレクター
７０    １フィールド遅延回路
７１，７４，９０    減算回路
７３    １画素遅延回路
７６    ブロックタイミング発生回路
７７，７８    計数回路
７９    残像度数算出回路
８０    残像度数補間回路
８１    遅延回路
８２，８３，８４，８５，８６，８７    補正回路
８９    累積加算回路
９１    制限回路
９２，９４，９９    乗算計数算出回路
９３，１００    乗算回路
９６，１０１    残像度数補正回路
９７    ＡＰＬ検出回路
９８    平滑化回路
１８０    残像度数最大値検出回路
１８２    残像度数平均値算出回路
Ｑ１１，Ｑ１２，Ｑ１３，Ｑ１４，Ｑ２１，Ｑ２２，Ｑ２３，Ｑ２４，Ｑ２６，Ｑ２７，Ｑ２８，Ｑ２９    スイッチング素子
Ｃ１０，Ｃ２０，Ｃ３０    コンデンサ
Ｌ１０，Ｌ２０    インダクタ
Ｄ１１，Ｄ１２，Ｄ２１，Ｄ２２，Ｄ３０    ダイオード
【図１】
2011030548.tif 000003
【図２】
2011030548.tif 000004
【図３】
2011030548.tif 000005
【図４】
2011030548.tif 000006
【図５】
2011030548.tif 000007
【図６】
2011030548.tif 000008
【図７】
2011030548.tif 000009
【図８】
2011030548.tif 000010
【図９】
2011030548.tif 000011
【図１０】
2011030548.tif 000012
【図１１】
2011030548.tif 000013
【図１２】
2011030548.tif 000014
【図１３】
2011030548.tif 000015
【図１４】
2011030548.tif 000016
【図１５】
2011030548.tif 000017
【図１６】
2011030548.tif 000018
【図１７】
2011030548.tif 000019
【図１８】
2011030548.tif 000020
【図１９】
2011030548.tif 000021
【図２０】
2011030548.tif 000022
【図２１】
2011030548.tif 000023
【図２２】
2011030548.tif 000024
【図２３】
2011030548.tif 000025
【図２４】
2011030548.tif 000026
【図２５】
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【図２６】
2011030548.tif 000028
【図２７】
2011030548.tif 000029
【図２８】
2011030548.tif 000030
【図２９】
2011030548.tif 000031
【図３０】
2011030548.tif 000032
【図３１】
2011030548.tif 000033
【手続補正書】
【提出日】平成23年2月10日(2011.2.10)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
走査電極と維持電極とからなる表示電極対およびデータ電極を有する放電セルを複数備え、複数の放電セルで１つの画素が構成されたプラズマディスプレイパネルを、書込み期間とサブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを発生する維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて駆動して階調表示するプラズマディスプレイパネルの駆動方法であって、
前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域を複数の領域に分け、
画像信号に応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき前記領域毎の残像度数を算出し、
現フィールドと前記現フィールドの直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出し、前記フィールド間輝度差が所定の輝度比較値よりも小さくなる画素の数を前記領域毎に計数してそれぞれの前記領域における第１の計数値とし、
隣接する画素間の輝度の階調値の差が所定のエッジ比較値以上となるエッジの数を前記領域毎に計数してそれぞれの前記領域における第２の計数値とし、
前記第１の計数値および前記第２の計数値にもとづき前記領域毎の残像度数を
算出する
ことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項２】
前記第１の計数値が第１のしきい値以上であり、前記第２の計数値が第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に第１の設定値を加算し、
前記第１の計数値が前記第１のしきい値未満かつ前記第１のしきい値よりも数値の小さい第２のしきい値以上であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に第２の設定値を加算し、
前記第１の計数値が前記第２のしきい値未満であり、前記第２の計数値が前記第３のしきい値以上である領域では、前記領域毎の残像度数に第３の設定値を加算し、
前記第２の計数値が前記第３のしきい値未満である領域では、前記領域毎の残像度数に第４の設定値を加算して、前記領域毎の残像度数を更新する
ことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項３】
前記第１の設定値は正の数値であり、前記第２の設定値は０であり、前記第３の設定値および前記第４の設定値は負の数値である
ことを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項４】
更新後の前記残像度数から所定の定数を減算する
ことを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項５】
更新後の前記残像度数を所定の上限値以下に制限する
ことを特徴とする請求項２に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項６】
それぞれの前記領域において、前記領域毎の残像度数を前記領域の中央に位置する中央画素の残像度数とし、
前記中央画素以外の画素に関しては、残像度数の算出対象となる画素と、その周囲の複数の前記中央画素との距離、および前記中央画素の残像度数にもとづいて画素毎の残像度数を算出し、
前記画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する
ことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項７】
前記画素毎の残像度数を所定の基準値から減算し、その減算結果を前記基準値で除算した結果を各画素の輝度の階調値に乗算することで、各画素の輝度の階調値を変更する
ことを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項８】
各画素の輝度の階調値が、所定の高輝度しきい値以上になる画素においてのみ、残像度数にもとづく輝度の階調値の変更を行う
ことを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項９】
画像信号の平均輝度レベルを検出し、前記平均輝度レベルが大きいときには、前記平均輝度レベルが小さいときよりも残像度数が小さくなるように、前記平均輝度レベルにもとづき前記画素毎の残像度数を変更する
ことを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１０】
前記輝度倍率が小さいときには、前記輝度倍率が大きいときよりも残像度数が小さくなるように、前記輝度倍率にもとづき前記画素毎の残像度数を変更する
ことを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１１】
残像度数が大きいときには、残像度数が小さいときよりも輝度の階調値が平滑化されるように、前記画素毎の残像度数にもとづき各画素の輝度の階調値を平滑化する
ことを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１２】
画像信号にもとづき各画素に設定される彩度を前記画素毎の残像度数にもとづき変更し、
残像度数が大きいときには、残像度数が小さいときよりも彩度を下げる
ことを特徴とする請求項６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１３】
画素数が互いに等しくなるように、前記表示電極対が延伸する方向に複数の境界を設けるとともに前記データ電極が延伸する方向に複数の境界を設けて前記領域を設定する
ことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１４】
前記維持期間において、第１の維持パルスと、前記第１の維持パルスよりも立ち上がりを急峻にした第２の維持パルスとを発生し、
前記残像度数にもとづき、前記第１の維持パルスと前記第２の維持パルスとの発生比率を変更する
ことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１５】
前記領域毎の残像度数の最大値を検出し、前記残像度数の最大値が第１の残像度数しきい値以上となった後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に増加し、前記残像度数の最大値が前記第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値以下になってから所定の時間が経過した後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に減少することを特徴とする請求項１４に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１６】
前記残像度数の最大値が前記第１の残像度数しきい値以上となってから前記第２の残像度数しきい値以下となるまでの時間を第１の時間とし、
前記所定の時間を第２の時間とし、
前記第２の時間を、あらかじめ設定した上限時間以下の範囲で、前記第１の時間に応じて変更する
ことを特徴とする請求項１５に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１７】
前記第２の時間を前記第１の時間の３分の１の時間とする
ことを特徴とする請求項１６に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１８】
前記領域毎の残像度数の平均値を算出し、前記残像度数の平均値が第１の残像度数しきい値以上となった後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に増加し、前記残像度数の平均値が前記第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値以下になってから所定の時間が経過した後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に減少することを特徴とする請求項１４に記載のプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【請求項１９】
（削除）
【請求項２０】
走査電極と維持電極とからなる表示電極対を有する放電セルを複数備え、複数の放電セルで１つの画素を構成し、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて階調表示するプラズマディスプレイパネルと、
画像信号にもとづき各画素に輝度の階調値を設定するとともに、前記画像信号にもとづき前記放電セルにおける前記サブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データを作成する画像信号処理回路とを備え、
前記画像信号処理回路は、
前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域を複数の領域に分け、
画像信号に応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき前記領域毎の残像度数を算出し、
前記領域毎の残像度数にもとづき画素毎の残像度数を算出し、
前記画素毎の残像度数にもとづき、各画素の輝度の階調値を変更する
ことを特徴とするプラズマディスプレイ装置。
【請求項２１】
走査電極と維持電極とからなる表示電極対を有する放電セルを複数備え、複数の放電セルで１つの画素を構成し、書込み期間と維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて階調表示するプラズマディスプレイパネルと、
画像信号にもとづき各画素に輝度の階調値を設定するとともに、前記画像信号にもとづき前記放電セルにおける前記サブフィールド毎の発光・非発光を示す画像データを作成する画像信号処理回路と、
前記表示電極対の電極間容量とインダクタとを共振させて維持パルスの立ち上がりまたは立ち下がりを行う電力回収回路、および前記維持パルスの電圧を所定の電圧にクランプするクランプ回路を有し、前記維持期間においてサブフィールド毎に設定された輝度重みに応じた回数の維持パルスを前記表示電極対に交互に印加する維持パルス発生回路とを備え
前記画像信号処理回路は、
前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域を複数の領域に分け、
画像信号に応じて各画素に設定される輝度の階調値にもとづき前記領域毎の残像度数を算出し、
前記維持パルス発生回路は、
第１の維持パルスと、前記第１の維持パルスよりも立ち上がりを急峻にした第２の維持パルスとを発生し、前記残像度数にもとづき前記第１の維持パルスと前記第２の維持パルスとの発生比率を変更する
ことを特徴とするプラズマディスプレイ装置。
【請求項２２】
前記画像信号処理回路は、前記領域毎の残像度数の最大値を検出する残像度数最大値検出回路と、前記残像度数の最大値と第１の残像度数しきい値および前記第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値とを比較する比較回路とを有し、
前記維持パルス発生回路は、前記残像度数の最大値が前記第１の残像度数しきい値以上となった後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に増加し、前記残像度数の最大値が前記第２の残像度数しきい値以下になってから所定の時間が経過した後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に減少する
ことを特徴とする請求項２１に記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項２３】
前記画像信号処理回路は、前記領域毎の残像度数の平均値を算出する残像度数平均値算出回路と、前記残像度数の平均値と第１の残像度数しきい値および前記第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値とを比較する比較回路とを有し、
前記維持パルス発生回路は、前記残像度数の平均値が前記第１の残像度数しきい値以上となった後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に増加し、前記残像度数の平均値が前記第２の残像度数しきい値以下になってから所定の時間が経過した後に前記第２の維持パルスの発生比率を徐々に減少する
ことを特徴とする請求項２１に記載のプラズマディスプレイ装置。
【手続補正書】
【提出日】平成24年2月16日(2012.2.16)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１３８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１３８】
ａ３４＝（ａ１×（Ｌ２＋Ｌ３＋Ｌ４）＋ａ２×（Ｌ１＋Ｌ３＋Ｌ４）＋ａ３×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ４）＋ａ４×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ３））／（３×（Ｌ１＋Ｌ２＋Ｌ３＋Ｌ４））
なお、中央画素同士を結ぶ線上に位置する画素に関しては、その画素を挟む２つの中央画素にもとづき残像度数を算出する。例えば、残像度数の算出対象となる画素Ａ１２が、画素Ａ１と画素Ａ２とを結ぶ線上にある画素であれば、画素Ａ１２の残像度数は、画素Ａ１および画素Ａ２の残像度数にもとづき算出する。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０１５８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０１５８】
なお、上述した高輝度しきい値は、輝度の最大階調値「２５５」にもとづき設定した数値であるが、本発明は高輝度しきい値が何らこの数値に限定されるものではない。高輝度しきい値はパネル１０の特性やプラズマディスプレイ装置１の仕様等に応じて適切に設定することが望ましい。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２１３
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２１３】
そして、比較回路１８３は、残像度数最大値検出回路１８０において検出されたＭ×Ｎ個の残像度数のうちの最大値を、あらかじめ設定した第１の残像度数しきい値、および第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値と比較し、その結果をタイミング発生回路１４５に出力する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２２０】
そして、維持パルス発生回路５０は、タイミング発生回路１４５から出力されるタイミング信号によりスイッチング素子Ｑ１１、スイッチング素子Ｑ１２、スイッチング素子Ｑ１３、スイッチング素子Ｑ１４の導通と遮断とを切換えることによって電力回収回路５１とクランプ回路５２とを動作させ、維持パルスを発生する。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２２４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２２４】
維持パルス発生回路６０は、維持パルス発生回路５０とほぼ同様の構成であり、電力回収回路６１とクランプ回路６２とを備え、パネル１０の電極間容量Ｃｐの一端である維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎに接続されている。電力回収回路６１は、電力回収用のコンデンサＣ２０、スイッチング素子Ｑ２１、スイッチング素子Ｑ２２、逆流防止用のダイオードＤ２１、逆流防止用のダイオードＤ２２、共振用のインダクタＬ２０を有し、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎを駆動するときの電力を回収、再利用して、維持パルスの立ち上がりおよび立ち下がりを行う。クランプ回路６２は、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎを電圧Ｖｓにクランプするためのスイッチング素子Ｑ２３および維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎを接地電位（０（Ｖ））にクランプするためのスイッチング素子Ｑ２４を有し、維持電極ＳＵ１〜維持電極ＳＵｎを電圧Ｖｓまたは０（Ｖ）にクランプする。なお、維持パルス発生回路６０の動作は維持パルス発生回路５０と同様であるので説明を省略する。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２９４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２９４】
比較回路１８３は、残像度数平均値算出回路１８２において算出されたＭ×Ｎ個の残像度数の平均値を、あらかじめ設定した第１の残像度数しきい値、および第１の残像度数しきい値よりも数値が小さい第２の残像度数しきい値と比較し、その結果をタイミング発生回路１４５に出力する。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０２９５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０２９５】
そして、タイミング発生回路１４５は、比較回路１８３における比較結果に応じて、第２の維持パルスの発生比率を変更する。
【手続補正８】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】請求項１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【請求項１】
走査電極と維持電極とからなる表示電極対およびデータ電極を有する放電セルを複数備え、複数の放電セルで１つの画素が構成されたプラズマディスプレイパネルを、書込み期間とサブフィールド毎に設定された輝度重みに輝度倍率を乗じた数の維持パルスを発生する維持期間とを有するサブフィールドを１フィールド内に複数設けて駆動して階調表示するプラズマディスプレイパネルの駆動方法であって、
前記プラズマディスプレイパネルの画像表示領域を複数の領域に分け、
現フィールドと前記現フィールドの直前のフィールドとの輝度の階調値の差をフィールド間輝度差として画素毎に算出し、前記フィールド間輝度差が所定の輝度比較値よりも小さくなる画素の数を前記領域毎に計数してそれぞれの前記領域における第１の計数値とし、
隣接する画素間の輝度の階調値の差が所定のエッジ比較値以上となるエッジの数を前記領域毎に計数してそれぞれの前記領域における第２の計数値とし、
前記第１の計数値および前記第２の計数値にもとづき前記領域毎の残像度数を算出する
ことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの駆動方法。
【手続補正９】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１４】
2011030548.tif 000034
【国際調査報告】
2011030548.tif 000035
2011030548.tif 000036
2011030548.tif 000037
2011030548.tif 000038
2011030548.tif 000039
2011030548.tif 000040