【手続補正書】
【提出日】令和2年4月20日(2020.4.20)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プロセッサによって、スキャン入力ポート、スキャン経路、及びスキャン出力ポートを有するＩＣチップの前記スキャン入力ポートにスキャンパターンを入力し、前記スキャン出力ポートから出力される出力値を所定の予測値と比較し、比較結果に基づいて正常（ＰＡＳＳ）はたは失敗（ＦＡＩＬ）を判断するスキャンテストで、前記スキャン入力ポートに入力される少なくとも一つ以上のスキャンパターンの一部または全部で構成されるスキャンセクションに対して使用可能なシフト周波数を検索するための初期スキャンテストデータを格納するコンピューター読み取り可能な記録媒体であって、
前記初期スキャンテストデータは、前記スキャン入力ポートに順次入力される複数のスキャンセクションを含む第１データと前記第１データに含まれるそれぞれのスキャンセクションのタイミング情報を含む第２データを含み、
前記タイミング情報は、前記スキャン入力ポートにそれぞれのスキャンセクションをシフトするためのシフト周波数またはシフトクロックの周期を制御するための情報であり、
前記使用可能なシフト周波数を検索する対象である対象スキャンセクションのタイミング情報と前記対象スキャンセクションの直前または直後に位置する少なくとも一つ以上のスキャンセクションのタイミング情報は互いに異なり、
前記対象スキャンセクションの前記タイミング情報は、前記ＩＣチップの実際のスキャンテストを行う際に前記対象スキャンセクションの直前または直後に位置する少なくとも一つ以上のスキャンセクションとは独立的に制御可能に構成される、
コンピューター読み取り可能な記録媒体。
【請求項２】
前記第１データは、複数の対象スキャンセクションを含み、
前記第２データ内の前記複数の対象スキャンセクションのタイミング情報は互いに異なる、
請求項１に記載のコンピューター読み取り可能な記録媒体。
【請求項３】
前記タイミング情報は、前記プロセッサによって前記対象スキャンセクションに対して前記使用可能なシフト周波数を検索する際に、前記対象スキャンセクションのシフト周波数またはシフトクロックの周期を、前記スキャン入力ポートにシフトされるスキャンセクションのうち前記対象スキャンセクションの直前または直後に位置する少なくとも一つ以上のスキャンセクションのシフト周波数またはシフトクロックの周期とは異なるように増加または減少し、または異なるシフト周波数またはシフトクロックの周期に設定して、前記スキャンテストの結果が正常であるシフト周波数または失敗であるシフト周波数を検索するように構成される、
請求項１に記載のコンピューター読み取り可能な記録媒体。
【請求項４】
前記第１データは、一つの入力スキャンパターンと、前記一つの入力スキャンパターンの直前の入力スキャンパターンに対する予測パターンをペアーで含む、
請求項１に記載のコンピューター読み取り可能な記録媒体。
【請求項５】
前記第１データ内の最初に位置するスキャンパターンが前記スキャン入力ポートに入力された際に前記スキャン出力ポートから出力される出力パターンに対する予測パターンはドンケア（Ｄｏｎ‘ｔ  Ｃａｒｅ）パターンであり、
前記ドンケアパターンは、前記スキャン出力ポートから出力される出力パターンを特定の予測パターンと比較しないようにするパターンである、
請求項４に記載のコンピューター読み取り可能な記録媒体。
【請求項６】
前記対象スキャンセクションに対して前記使用可能なシフト周波数を検索するために用いられるスキャンパターンの数は、前記ＩＣチップをテストするための全スキャンパターンの数より小さい、
請求項１に記載のコンピューター読み取り可能な記録媒体。
【請求項７】
プロセッサによって、スキャン入力ポート、スキャン経路、及びスキャン出力ポートを有するＩＣチップの前記スキャン入力ポートにスキャンパターンを入力し、前記スキャン出力ポートから出力される出力値を所定の予測値と比較し、比較結果に基づいて正常（ＰＡＳＳ）はたは失敗（ＦＡＩＬ）を決めるスキャンテストで、前記スキャン入力ポートに入力される少なくとも一つ以上のスキャンパターンの一部または全部で構成されるスキャンセクションに対して使用可能なシフト周波数を検索するための初期スキャンテストデータを生成する方法であって、
少なくとも一つ以上のスキャンパターンの入力を受ける入力工程と、
前記少なくとも一つ以上のスキャンパターンをスキャンセクションに分割する分割工程と、
コンピューター読み取り可能な記録媒体に、前記分割工程で得られたスキャンセクションのうち複数のスキャンセクションを含む第１データを格納する第１格納工程と、
前記コンピューター読み取り可能な記録媒体に、前記第１データに含まれたそれぞれのスキャンセクションのタイミング情報を含む第２データを格納する第２格納工程と、
を備え、
前記タイミング情報は、前記スキャン入力ポートにそれぞれのスキャンセクションをシフトするためのシフト周波数またはシフトクロックの周期を制御するための情報であり、
前記使用可能なシフト周波数を検索する対象である対象スキャンセクションのタイミング情報と前記対象スキャンセクションの直前または直後に位置する少なくとも一つ以上のスキャンセクションのタイミング情報は互いに異なり、
前記対象スキャンセクションの前記タイミング情報は、前記ＩＣチップの実際のスキャンテストを行う際に前記対象スキャンセクションの直前または直後に位置する少なくとも一つ以上のスキャンセクションとは独立的に制御可能に構成される、
スキャンテストデータ生成方法。
【請求項８】
前記第１データは、複数の対象スキャンセクションを含み、
前記第２データ内の前記複数の対象スキャンセクションのタイミング情報は互いに異なる、
請求項７に記載のスキャンテストデータ生成方法。
【請求項９】
前記タイミング情報は、前記プロセッサによって前記対象スキャンセクションに対して前記使用可能なシフト周波数を検索する際に、前記対象スキャンセクションのシフト周波数またはシフトクロックの周期を、前記スキャン入力ポートにシフトされるスキャンセクションのうち前記対象スキャンセクションの直前または直後に位置する少なくとも一つ以上のスキャンセクションのシフト周波数またはシフトクロックの周期とは異なるように増加または減少し、または異なるシフト周波数またはシフトクロックの周期に設定して、前記スキャンテストの結果が正常であるシフト周波数または失敗であるシフト周波数を検索するように構成される、
請求項７に記載のスキャンテストデータ生成方法。
【請求項１０】
前記第１データは、一つの入力スキャンパターンと、前記一つの入力スキャンパターンの直前の入力スキャンパターンに対する予測パターンをペアーで含む、
請求項７に記載のスキャンテストデータ生成方法。
【請求項１１】
前記第１データ内の最初に位置するスキャンパターンが前記スキャン入力ポートに入力された際に前記スキャン出力ポートから出力される出力パターンに対する予測パターンはドンケア（Ｄｏｎ‘ｔ  Ｃａｒｅ）パターンであり、
前記ドンケアパターンは、前記スキャン出力ポートから出力される出力パターンを特定の予測パターンと比較しないようにするパターンである、
請求項１０に記載のスキャンテストデータ生成方法。
【請求項１２】
前記対象スキャンセクションに対して前記使用可能なシフト周波数を検索するために用いられるスキャンパターンの数を、前記ＩＣチップをテストするための全スキャンパターンの数より小さく設定する設定工程をさらに備える、
請求項７に記載のスキャンテストデータ生成方法。
【請求項１３】
前記分割工程は、前記少なくとも一つ以上のスキャンパターンを、スキャンセクションのビットの長さ、一つまたは複数のスキャンパターンから分割するスキャンセクションの数、スキャンパターンでビットの値が変わる境界ビット、及び最適なシフト周波数の検索にかかる予想所要時間の少なくとも一つを基準にスキャンセクションに分割する工程を含む、
請求項７に記載の初期スキャンテストデータ生成方法。
【請求項１４】
コンピューターによって実行されると、コンピューターに請求項７に記載のスキャンテストデータ生成方法を実行させるコンピューター実行可能な命令を含むプルグラムを格納する、
コンピューター読み取り可能な記録媒体。
【請求項１５】
スキャン入力ポート、スキャン経路、及びスキャン出力ポートを有するＩＣチップの前記スキャン入力ポートにスキャンパターンを入力し、前記スキャン出力ポートから出力される出力値を所定の予測値と比較し、比較結果に基づいて正常（ＰＡＳＳ）はたは失敗（ＦＡＩＬ）を決めるスキャンテストを行うためのＩＣチップのスキャンテスト装置であって、
前記スキャン入力ポートに入力される少なくとも一つ以上のスキャンパターンの一部または全部で構成されるスキャンセクションに対して使用可能なシフト周波数を検索するための初期スキャンテストデータを格納するコンピューター読み取り可能な記録媒体と、
前記コンピューター読み取り可能な記録媒体に格納された前記初期スキャンテストデータを用いて対象スキャンセクションに対して使用可能なシフト周波数を検索するプロセッサと、
を備え、
前記初期スキャンテストデータは、前記スキャン入力ポートに順次入力される複数のスキャンセクションを含む第１データと前記第１データに含まれるそれぞれのスキャンセクションのタイミング情報を含む第２データを含み、
前記タイミング情報は、前記スキャン入力ポートにそれぞれのスキャンセクションをシフトするためのシフト周波数またはシフトクロックの周期を制御するための情報であり、
前記使用可能なシフト周波数を検索する対象である前記対象スキャンセクションのタイミング情報と前記対象スキャンセクションの直前または直後に位置する少なくとも一つ以上のスキャンセクションのタイミング情報は互いに異なり、
前記対象スキャンセクションの前記タイミング情報は、前記ＩＣチップの実際のスキャンテストを行う際に前記対象スキャンセクションの直前または直後に位置する少なくとも一つ以上のスキャンセクションとは独立的に制御可能に構成される、
ＩＣチップのスキャンテスト装置。
【請求項１６】
前記第１データは、複数の対象スキャンセクションを含み、
前記第２データ内の前記複数の対象スキャンセクションのタイミング情報は互いに異なる、
請求項１５に記載のＩＣチップのスキャンテスト装置。
【請求項１７】
前記タイミング情報は、前記プロセッサによって前記対象スキャンセクションに対して前記使用可能なシフト周波数を検索する際に、前記対象スキャンセクションのシフト周波数またはシフトクロックの周期を、前記スキャン入力ポートにシフトされるスキャンセクションのうち前記対象スキャンセクションの直前または直後に位置する少なくとも一つ以上のスキャンセクションのシフト周波数またはシフトクロックの周期とは異なるように増加または減少し、または異なるシフト周波数またはシフトクロックの周期に設定して、前記スキャンテストの結果が正常であるシフト周波数または失敗であるシフト周波数を検索するように構成される、
請求項１５に記載のＩＣチップのスキャンテスト装置。
【請求項１８】
前記第１データは、一つの入力スキャンパターンと、前記一つの入力スキャンパターンの直前の入力スキャンパターンに対する予測パターンをペアーで含む、
請求項１５に記載のＩＣチップのスキャンテスト装置。
【請求項１９】
前記第１データ内の最初に位置するスキャンパターンが前記スキャン入力ポートに入力された際に前記スキャン出力ポートから出力される出力パターンに対する予測パターンはドンケア（Ｄｏｎ‘ｔ  Ｃａｒｅ）パターンであり、
前記ドンケアパターンは、前記スキャン出力ポートから出力される出力パターンを特定の予測パターンと比較しないようにするパターンである、
請求項１８に記載のＩＣチップのスキャンテスト装置。
【請求項２０】
前記対象スキャンセクションに対して前記使用可能なシフト周波数を検索するために用いられるスキャンパターンの数は、前記ＩＣチップをテストするための全スキャンパターンの数より小さい、
請求項１５に記載のＩＣチップのスキャンテスト装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】発明の名称
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の名称】コンピューター読み取り可能な記録媒体、スキャンテストデータ生成方法、及びＩＣチップのスキャンテスト装置