【手続補正書】
【提出日】令和2年5月21日(2020.5.21)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
トナー粒子と、
該トナー粒子の表面に存在するチタン酸ストロンチウム粒子と、
を有するトナーであって、
該チタン酸ストロンチウム粒子は、
（ｉ）一次粒子の個数平均粒径が１０ｎｍ以上８０ｎｍ以下であり、
（ｉｉ）メタノール濡れ性試験において、波長７８０ｎｍの光の透過率が５０％のときのメタノール濃度が４０．０％以上６０．０％以下であり、
（ｉｉｉ）チタン酸ストロンチウム母粒子と、該チタン酸ストロンチウム母粒子の表面に存在する表層と、を有する粒子であり、
該表層が、下記式（１）で表される部分構造ａを有し、
Ｒ１−Ｓｉ−Ｏ３／２          式（１）
（式（１）中、Ｒ１は、末端にハメットの置換基定数σｍ（メタ）が０．２５以上である置換基を持つ官能基である。）
Ｘ線光電子分光法（ＥＳＣＡ）を用いて測定される、該チタン酸ストロンチウム粒子の表面における該部分構造ａの存在割合が、０．１１０以上０．２２０以下である
ことを特徴とするトナー。
【請求項２】
前記チタン酸ストロンチウム粒子は、一次粒子の個数平均粒径が１０ｎｍ以上６０ｎｍ以下である請求項１に記載のトナー。
【請求項３】
前記Ｒ１は、末端にハメットの置換基定数σｍ（メタ）が０．４０以上である置換基を持つ官能基である請求項１または２に記載のトナー。
【請求項４】
前記Ｒ１は、末端にＣＦ３を持つ官能基である請求項１〜３のいずれか１項に記載のトナー。
【請求項５】
前記表層が、さらに下記式（２）で表される部分構造ｂを有する請求項１〜４のいずれか１項に記載のトナー。
Ｒ２−Ｓｉ−Ｏ３／２          式（２）
（式（２）中、Ｒ２は、アルキル基である。）
【請求項６】
トナー粒子と、
該トナー粒子の表面に存在するチタン酸ストロンチウム粒子と、
を有するトナーを製造するトナーの製造方法であって、
該製造方法が、
チタン酸ストロンチウム母粒子の表面を、下記式（３）で表される化合物で処理してチタン酸ストロンチウム粒子を得る工程（ａ）、および、
【化１】
2018200395.tif 000001
（式（３）中、Ｒ１は、式（１）のＲ１と同じ官能基であって、末端にハメットの置換基定数σｍ（メタ）が０．２５以上である置換基を持つ官能基である。Ｒａ〜Ｒｃは、アルキル基である。
該チタン酸ストロンチウム粒子をトナー粒子に外添する工程（ｂ）
を有し、
該チタン酸ストロンチウム粒子は、
（ｉ）一次粒子の個数平均粒径が１０ｎｍ以上８０ｎｍ以下であり、
（ｉｉ）メタノール濡れ性試験において、波長７８０ｎｍの光の透過率が５０％のときのメタノール濃度が４０．０％以上６０．０％以下であり、
（ｉｉｉ）チタン酸ストロンチウム母粒子と、該チタン酸ストロンチウム母粒子の表面に存在する表層と、を有する粒子であり、
該表層が、下記式（１）で表される部分構造ａを有し、
Ｒ１−Ｓｉ−Ｏ３／２          式（１）
（式（１）中、Ｒ１は、式（３）のＲ１と同じ官能基であって、末端にハメットの置換基定数σｍ（メタ）が０．２５以上である置換基を持つ官能基である。）
Ｘ線光電子分光法（ＥＳＣＡ）を用いて測定される、該チタン酸ストロンチウム粒子の表面における該部分構造ａの存在割合が、０．１１０以上０．２２０以下である
ことを特徴とするトナーの製造方法。
【請求項７】
前記工程（ａ）が、前記チタン酸ストロンチウム母粒子の表面を、前記式（３）で表される化合物および下記式（４）で表される化合物で処理して前記チタン酸ストロンチウム粒子を得る工程であり、
【化２】
2018200395.tif 000002
（式（４）中、Ｒ２は、式（２）のＲ２と同じ官能基であって、アルキル基である。Ｒｄ〜Ｒｆは、アルキル基である。）
前記表層が、前記式（１）で表される部分構造ａおよび下記式（２）で表される部分構造ｂを有する
Ｒ２−Ｓｉ−Ｏ３／２          式（２）
（式（２）中、Ｒ２は、式（４）のＲ２と同じ官能基であって、アルキル基である。）
請求項６に記載のトナーの製造方法。
【請求項８】
前記チタン酸ストロンチウム粒子は、一次粒子の個数平均粒径が１０ｎｍ以上６０ｎｍ以下である請求項６または７に記載のトナーの製造方法。
【請求項９】
前記Ｒ１は、末端にハメットの置換基定数σｍ（メタ）が０．４０以上である置換基を持つ官能基である請求項６〜８のいずれか１項に記載のトナーの製造方法。
【請求項１０】
前記Ｒ１は、末端にＣＦ３を持つ官能基である請求項６〜９のいずれか１項に記載のトナーの製造方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
本発明によれば、
トナー粒子と、
該トナー粒子の表面に存在するチタン酸ストロンチウム粒子と、
を有するトナーであって、
該チタン酸ストロンチウム粒子は、
（ｉ）一次粒子の個数平均粒径が１０ｎｍ以上８０ｎｍ以下であり、
（ｉｉ）メタノール濡れ性試験において、波長７８０ｎｍの光の透過率が５０％のときのメタノール濃度が４０．０％以上６０．０％以下であり、
（ｉｉｉ）チタン酸ストロンチウム母粒子と、該チタン酸ストロンチウム母粒子の表面に存在する表層と、を有する粒子であり、
該表層が、下記式（１）で表される部分構造ａを有し、
Ｒ１−Ｓｉ−Ｏ３／２          式（１）
（式（１）中、Ｒ１は末端にハメットの置換基定数σｍ（メタ）が０．２５以上である置
換基を持つ官能基である。）
Ｘ線光電子分光法（ＥＳＣＡ）を用いて測定される、該チタン酸ストロンチウム粒子の表面における該部分構造ａの存在割合が、０．１１０以上０．２２０以下である
トナーが提供される。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１２】
また、本発明によれば、
トナー粒子と、
該トナー粒子の表面に存在するチタン酸ストロンチウム粒子と、
を有するトナーを製造するトナーの製造方法であって、
該製造方法が、
チタン酸ストロンチウム母粒子の表面を、下記式（３）で表される化合物で処理してチタン酸ストロンチウム粒子を得る工程（ａ）、および、
【化１】
2018200395.tif 000003
（式（３）中、Ｒ１は、式（１）のＲ１と同じ官能基であって、末端にハメットの置換基定数σｍ（メタ）が０．２５以上である置換基を持つ官能基である。Ｒａ〜Ｒｃは、アルキル基である。
該チタン酸ストロンチウム粒子をトナー粒子に外添する工程（ｂ）
を有し、
該チタン酸ストロンチウム粒子は、
（ｉ）一次粒子の個数平均粒径が１０ｎｍ以上８０ｎｍ以下であり、
（ｉｉ）メタノール濡れ性試験において、波長７８０ｎｍの光の透過率が５０％のときのメタノール濃度が４０．０％以上６０．０％以下であり、
（ｉｉｉ）チタン酸ストロンチウム母粒子と、該チタン酸ストロンチウム母粒子の表面に存在する表層と、を有する粒子であり、
該表層が、下記式（１）で表される部分構造ａを有し、
Ｒ１−Ｓｉ−Ｏ３／２          式（１）
（式（１）中、Ｒ１は、式（３）のＲ１と同じ官能基であって、末端にハメットの置換基定数σｍ（メタ）が０．２５以上である置換基を持つ官能基である。）
Ｘ線光電子分光法（ＥＳＣＡ）を用いて測定される、該チタン酸ストロンチウム粒子の表面における該部分構造ａの存在割合が、０．１１０以上０．２２０以下であるトナーの製造方法が提供される。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１３
【補正方法】削除
【補正の内容】