(57)【要約】  接触不良測定方法及び接触不良測定装置（１４）では、測定対象のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に外力を作用させたときのハーネス（８０）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを磁気センサ（７０）により検出して端子嵌合部（５０）の接触状態の良否の指標として表示する。
2011105363.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
配線経路中のハーネス（８０、３００）の端子嵌合部（５０、３０２）における接触不良の有無を測定する接触不良測定方法であって、
測定対象のハーネス（８０、３００）に近接させて磁気センサ（７０、２３０）を配置し、
前記測定対象のハーネス（８０、３００）の端子嵌合部（５０、３０２）に外力を作用させ、この外力が作用したときの前記ハーネス（８０、３００）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記磁気センサ（７０、２３０）により検出して前記端子嵌合部（５０、３０２）の接触状態の良否の指標として表示する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項２】
請求項１記載の接触不良測定方法において、
前記外力を作用させたときの前記ハーネス（８０、３００）の周囲における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさが、接触不良の発生を判定するための閾値を超えているかどうかを判定し、その判定結果を前記接触状態の良否の指標として表示する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項３】
請求項２記載の接触不良測定方法において、
前記磁気センサ（７０、２３０）は、前記ハーネス（８０、３００）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを連続的に検出して、この値が前記閾値を超えるかどうかを判定し、
前記閾値を超えたとき、その判定結果を前記接触状態の良否の指標として表示装置（１０２、１５０、２２２）に表示する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項４】
請求項３記載の接触不良測定方法において、
前記磁気センサ（２３２）が連続的に検出した前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを一時的記憶手段（２７８）に記憶し、
前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさが前記閾値を超えたと判定したとき、前記一時的記憶手段（２７８）に記憶されている、当該判定時の前後における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを保存手段（２８０）に保存する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項５】
請求項１記載の接触不良測定方法において、
前記磁気センサ（２３２）は、前記ハーネス（３００）を把持状態に固定する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項６】
請求項１記載の接触不良測定方法であって、
前記測定対象のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に付与される外力を検出する外力検出センサ（９０）を用いて、前記外力が付与されたタイミングを検出し、
前記外力を付与させたときの前記ハーネス（８０）の周囲での誘導磁界の過渡応答変動の大きさを用いて接触不良の発生状態を表示部（１０２、１５０）に表示する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項７】
請求項６記載の接触不良測定方法において、
前記磁気センサ（７０、２３０）は、前記ハーネス（８０、３００）の周囲における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを連続的に検出し、
前記端子嵌合部（５０、３０２）に前記外力を作用させたときの前記過渡応答変動の大きさが、接触不良の発生を判定するための閾値を超えているかどうかを判定部（１５４、２５２）により判定し、
その判定結果を接触状態の良否の指標として前記表示部（１０２、１５０、２２２）に表示する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項８】
請求項６記載の接触不良測定方法において、
前記ハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に前記外力を作用させる加振ツール（１２０）を設け、この加振ツール（１２０）に前記外力検出センサ（９０）を取り付けた
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項９】
請求項６記載の接触不良測定方法において、
前記外力検出センサ（９０）は加速度センサである
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項１０】
配線経路中のハーネス（８０、３００）の端子嵌合部（５０、３０２）における接触不良の有無を測定する接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ、２１２）であって、
測定対象のハーネス（８０、３００）に近接する位置に着脱自在に固定可能な磁気センサ（７０、２３０）と、
前記測定対象のハーネス（８０、３００）の端子嵌合部（５０、３０２）に外力を作用させた時に前記磁気センサ（７０、２３０）の出力が示す前記ハーネス（８０、３００）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記測定対象のハーネス（８０、３００）の端子嵌合部（５０、３０２）の接触状態の良否の指標として表示する表示部（１０２、１５０、２２２）と
を有することを特徴とする接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ、２１２）。
【請求項１１】
請求項１０記載の接触不良測定装置（１４Ｂ、２１２）において、
前記磁気センサ（７０、２３０）の出力が示す前記ハーネス（８０、３００）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさが、前記端子嵌合部（５０、３０２）における接触不良の発生を判定するための閾値を超えたかどうかを判定する判定部（１５４、２５２）を有し、
前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさが前記閾値を超えたとき、その旨を前記表示部（１０２、１５０、２２２）に表示する
ことを特徴とする接触不良測定装置（１４Ｂ、２１２）。
【請求項１２】
請求項１０記載の接触不良測定装置（２１２）において、
前記接触不良測定装置（２１２）は、さらに、
前記磁気センサ（２３２）の出力信号のうち、前記接触不良の発生に伴って発生し得る周波数帯域の成分以外の成分を除去する周波数フィルタ（１６０、２７０）と、
前記周波数フィルタ（２７０）からの出力信号が示す値のピーク値をホールドするピークホールド回路（２７２）と
を備え、
前記表示部（２２２）は、前記ピーク値が前記閾値を超えたとき、その旨を表示する
ことを特徴とする接触不良測定装置（２１２）。
【請求項１３】
請求項１１記載の接触不良測定装置（２１２）において、
前記磁気センサ（２３２）の出力を連続的且つ一時的に記憶する一時的記憶手段（２７８）と、
前記磁気センサ（２３２）の出力を保存する保存手段（２８０）と
を有し、
前記磁気センサ（２３２）が連続的に検出した前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記一時的記憶手段（２７８）に記憶し、
前記ピーク値が前記閾値を超えたとき、前記一時的記憶手段（２７８）に記憶されている、その前後における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記保存手段（２８０）に保存する
ことを特徴とする接触不良測定装置（２１２）。
【請求項１４】
配線経路中のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）における接触不良の有無を測定する接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ）であって、
測定対象のハーネス（８０）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを検出する磁気センサ（７０）と、
前記測定対象のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に外力を作用させたタイミングを検出する外力検出センサ（９０）と、
前記外力検出センサ（９０）が検出した前記外力を作用させたタイミングと前記磁気センサ（７０）の出力が示す前記ハーネス（８０）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを表示する表示部（１０２）と
を有することを特徴とする接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ）。
【請求項１５】
配線経路中のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）における接触不良の有無を測定する接触不良測定装置（１４Ｂ）であって、
測定対象のハーネス（８０）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを検出する磁気センサ（７０）と、
前記測定対象のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に外力を作用させたタイミングを検出する外力検出センサ（９０）と、
前記磁気センサ（７０）の出力が示す前記ハーネス（８０）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさが、前記端子嵌合部（５０）における接触不良の発生を判定するための閾値を超えたかどうかを判定する判定部（１５４）と、
前記外力検出センサ（９０）が検出した前記外力を作用させたタイミングに基づいて、前記判定部（１５４）の判定結果を表示する表示部（１５０）と
を有することを特徴とする接触不良測定装置（１４Ｂ）。
【請求項１６】
請求項１４又は１５記載の接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ）において、
さらに、前記ハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に前記外力を作用させる加振ツール（１２０）を備え、この加振ツール（１２０）に前記外力検出センサ（９０）を取り付けた
ことを特徴とする接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ）。
【請求項１７】
請求項１４又は１５記載の接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ）において、
前記外力検出センサ（９０）は加速度センサである
ことを特徴とする接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ）。
【請求項１８】
配線経路中のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）における接触不良の有無を測定する接触不良測定方法であって、
測定対象のハーネス（８０）の周囲における誘導磁界の強度を磁気センサ（７０）により検出し、
前記測定対象のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に付与される外力を外力検出センサ（９０）により検出し、
前記磁気センサ（７０）の出力波形及び前記外力検出センサ（９０）の出力波形を表示部（１０２）に同時に表示し、
前記外力が付与される前の前記磁気センサ（７０）の出力波形に対する前記外力が付与された直後の前記磁気センサ（７０）の出力波形の変動の大きさ、又は前記外力が付与された直後の前記磁気センサ（７０）の出力波形の傾きに基づいて接触不良の発生状態を測定する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項１９】
配線経路中のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）における接触不良の有無を測定する接触不良測定方法であって、
測定対象のハーネス（８０）の周囲における誘導磁界の強度を磁気センサ（７０）により検出して判定部（１５４）に出力し、
前記測定対象のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に付与される外力を外力検出センサ（９０）により検出して前記判定部（１５４）に出力し、
前記判定部（１５４）において、前記外力が付与される前の前記誘導磁界の強度に対する前記外力が付与された直後の前記誘導磁界の強度の変化量、又は前記外力が付与された直後の前記誘導磁界の強度の変化率に基づいて接触不良の発生状態を測定する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、配線経路中のハーネスの端子嵌合部における接触不良の有無を測定可能な接触不良測定方法及び接触不良測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、車両の電子制御系統に異常が発生した場合において、車両内の電子制御装置（ＥＣＵ）に記録された故障コードを読み出すことによって故障箇所を特定する診断装置が知られている｛米国特許第５４９１６３１号公報（以下「ＵＳ５４９１６３１Ａ」）という。）。ＵＳ５４９１６３１Ａでは、車両のＥＣＵ（１）に接続された周辺機器に故障が発生すると、自己診断手段（５２）により故障情報が作成されて故障コード記憶手段（５３）に記憶される（例えば、第１３欄３１〜３５行目）。そして、例えば、周辺機器としてのセンサ（４Ａ）の故障が検知された場合、故障情報としての故障コード及び故障情報に基づいて故障診断装置（２）に検査手順を表示する等により故障箇所（故障の系統等）を特定する（例えば、第１８欄３２行目〜第２２欄３８行目、図２１〜図２４）。
【発明の概要】
【０００３】
ＵＳ５４９１６３１Ａに示されるような従来の故障診断装置を使用した故障診断方法は、比較的容易に異常系統（異常が発生している電気回路）を特定することができるため有用である。しかしながら、実際の故障修理のためには、単に異常系統を特定するだけではなく具体的な故障部品や不良箇所を特定し、対象部品を交換する等の処置が必要であり、この修理対象箇所の特定は困難であったり、大変手間がかかったりする場合が多い。
【０００４】
具体的には、修理対象箇所としてＥＣＵ本体、センサ、アクチュエータ、配線、カプラ等が考えられるが、安易に部品交換を試す方法では、ハーネスのカプラ（端子嵌合部）の接触不良が故障の原因である場合、部品交換に伴うカプラの着脱操作で一時的に正常に戻ってしまい、カプラの接触不良であったことがわからないまま、正常な部品を交換してしまうという誤診断につながる上に、どの部分に不具合があったのかの故障の証拠を残すことができない。
【０００５】
このような診断又は修理がなされた場合、カプラの脱着によって接触不良が解消されたとしても、修理が本質的なものとなっていないため、故障が再発し易く、再発により顧客の信頼を失いかねない。また、正常な部品が「不良品」として扱われるという不利益が発生すると同時に、メーカーとして正確な品質解析ができないという問題が生じる。
【０００６】
さらに、走行中に起きる振動等で一時的に起こる接触不良の診断は非常に困難であり、故障が再現するまでテスト走行をしながら故障診断を行うなどの対応が必要になる。
【０００７】
この発明は、このような問題を考慮してなされたものであり、異常が発生したときの接続状態のままで、ハーネスの端子嵌合部における接触不良の有無を測定することが可能な接触不良測定方法及び接触不良測定装置を提供することを目的とする。
【０００８】
この発明に係る接触不良測定方法は、配線経路中のハーネスの端子嵌合部における接触不良の有無を測定するものであって、測定対象のハーネスに近接させて磁気センサを配置し、前記測定対象のハーネスの端子嵌合部に外力を作用させ、この外力が作用したときの前記ハーネスの周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記磁気センサにより検出して前記端子嵌合部の接触状態の良否の指標として表示することを特徴とする。
【０００９】
この発明によれば、異常が発生したときの接続状態のままで、ハーネスの端子嵌合部における接触不良の有無を測定することができる。すなわち、端子嵌合部の接続状態が不安定であるものの、一時的に接触不良が収まっている場合においては、端子嵌合部に外力を加える前は端子嵌合部に電流が流れていても、外力を加えることによって接続状態が不安定な部分で接触不良が再現して瞬間的に電流が流れなくなったり、再接続の瞬間には、端子嵌合部を含むハーネスの周囲における誘導磁界の過渡応答変動が一時的に大きくなる。端子嵌合部が帯電状態にある場合等も同様である。この発明によれば、外力を作用させたときのハーネスの周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを検出して端子嵌合部の接触状態の良否の指標として表示する。このため、端子嵌合部を分離せずに、すなわち、異常が発生したときの接続状態のままで、当該表示を用いて端子嵌合部における接触不良の有無を測定することが可能となる。
【００１０】
また、上記のように誘導磁界の過渡応答変動が一時的に大きくなる現象は、端子嵌合部から多少離れたハーネス部分の周囲においても検出することができる。このため、例えば、車両のエンジンルーム内のように配線機器が込み入った場所でも、磁気センサを取り付けやすい場所を選んで測定することもできるので、測定作業を容易に行うことが可能となる。
【００１１】
前記外力を作用させたときの前記ハーネスの周囲における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさが、接触不良の発生を判定するための閾値を超えているかどうかを判定し、その判定結果を前記接触状態の良否の指標として表示してもよい。
【００１２】
これにより、接触不良を判定するための誘導磁界の過渡応答変動の大きさの閾値として、例えば、端子嵌合部に電流が流れ続けた場合に受ける範囲のノイズ程度では発生し得ない大きさの誘導磁界の過渡応答変動を閾値として設定しておけば、仮に、端子嵌合部の周囲に定常的なノイズ又は磁界を発生させるものが存在したとしても、当該ノイズ又は磁界の影響をほとんど受けることなく、接触不良の有無を判定して表示することが可能となる。従って、車両のエンジンルーム等の配線機器が込み入った場所でも測定が可能となる。
【００１３】
前記磁気センサは、前記ハーネスの周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを連続的に検出して、この値が前記閾値を超えるかどうかを判定し、前記閾値を超えたとき、その判定結果を前記接触状態の良否の指標として表示装置に表示してもよい。これにより、外力を作用させたときにおける誘導磁界の過渡応答変動の大きさが閾値を超えたとき、その旨が表示装置に表示される。従って、ユーザは、当該表示により接触不良の発生を容易に確認することが可能となる。
【００１４】
前記磁気センサが連続的に検出した前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを一時的記憶手段に記憶し、前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさが前記閾値を超えたと判定したとき、前記一時的記憶手段に記憶されている、当該判定時の前後における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを保存手段に保存してもよい。これにより、保存手段の保存容量を過度に大きくせずに、接触不良があった際の前後における誘導磁界の過渡応答変動のデータを記憶することが可能となる。
【００１５】
前記磁気センサは、前記ハーネスを把持状態に固定してもよい。これにより、磁気センサの検出素子とハーネスの相対位置関係を固定したまま、誘導磁界の過渡応答変動を検出することが可能となる。従って、端子嵌合部に外力を作用させても安定的に誘導磁界の過渡応答変動を検出することが可能となる。
【００１６】
前記測定対象のハーネスの端子嵌合部に付与される外力を検出する外力検出センサを用いて、前記外力が付与されたタイミングを検出し、前記外力を付与させたときの前記ハーネスの周囲での誘導磁界の過渡応答変動の大きさを用いて接触不良の発生状態を表示部に表示してもよい。これにより、端子嵌合部に外力を作用させたときのハーネスの周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを用いて接触不良の発生状態を表示部に表示する。従って、外乱ノイズ、電磁波による磁場ノイズ等の影響を排除することが可能となる。
【００１７】
前記磁気センサは、前記ハーネスの周囲における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを連続的に検出し、前記端子嵌合部に外力を作用させたときの前記過渡応答変動の大きさが、接触不良の発生を判定するための閾値を超えているかどうかを判定部により判定し、その判定結果を接触状態の良否の指標として前記表示部に表示してもよい。これにより、端子嵌合部に外力を作用させたタイミングでの誘導磁界の過渡応答変動の大きさを確実に検出することが可能となる。
【００１８】
前記ハーネスの端子嵌合部に前記外力を作用させる加振ツールを設け、この加振ツールに前記外力検出センサを取り付けてもよい。上記によれば、加振ツールに外力検出センサを取り付けたことにより、ハーネス側の変位に関係なしに、端子嵌合部に外力を作用させるタイミングを検出することが可能になり、測定作業が簡単になる。
【００１９】
前記外力検出センサは、例えば、加速度センサとすることができる。外力検出センサとして加速度センサを用いることにより、外力付与の瞬間における振動を検出し易くなるため、外力付加の有無を好適に検出することが可能となる。
【００２０】
この発明に係る接触不良測定装置は、配線経路中のハーネスの端子嵌合部における接触不良の有無を測定するものであって、測定対象のハーネスに近接する位置に着脱自在に固定可能な磁気センサと、前記測定対象のハーネスの端子嵌合部に外力を作用させた時に前記磁気センサの出力が示す前記ハーネスの周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記測定対象のハーネスの端子嵌合部の接触状態の良否の指標として表示する表示部とを有することを特徴とする。
【００２１】
この発明によれば、異常が発生したときの接続状態のままで、ハーネスの端子嵌合部における接触不良の有無を測定することができる。すなわち、端子嵌合部の接続状態が不安定であるものの、一時的に接触不良が収まっている場合においては、端子嵌合部への外力を作用させることによって接続状態が不安定な部分で接触不良が再現して瞬間的に電流が流れなくなると、端子嵌合部を含むハーネスの周囲における誘導磁界の過渡応答変動が一時的に大きくなる。この発明によれば、端子嵌合部に外力が作用したときのハーネスの周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさが検出され、端子嵌合部の接触状態の良否の指標として表示される。このため、端子嵌合部を分離せずに、すなわち、異常が発生したときの接続状態のままで、当該表示を用いて端子嵌合部における接触不良の有無を測定することが可能となる。
【００２２】
また、上記のように誘導磁界の過渡応答変動が一時的に大きくなる現象は、端子嵌合部から多少離れたハーネス部分の周囲においても検出することができる。このため、例えば、車両のエンジンルーム内のように配線機器が込み入った場所でも、磁気センサを取り付けやすい場所を選んで測定することもできるので、測定作業を容易に行うことが可能となる。
【００２３】
加えて、磁気センサの検出素子とハーネスの相対位置関係を固定したまま、誘導磁界の過渡応答変動の大きさを検出することが可能となる。従って、端子嵌合部に外力が作用しても安定的に誘導磁界の過渡応答変動の大きさを検出することが可能となる。
【００２４】
前記磁気センサの出力が示す前記ハーネスの周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさが、前記端子嵌合部における接触不良の発生を判定するための閾値を超えたかどうかを判定する判定部を有し、前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさが前記閾値を超えたとき、その旨を前記表示部に表示してもよい。
【００２５】
さらに、接触不良を判定するための誘導磁界の過渡応答変動の閾値として、例えば、外力を作用させる前後で端子嵌合部に電流が流れ続けた場合には発生し得ないほど大きな誘導磁界の過渡応答変動の値を閾値として設定しておけば、仮に、端子嵌合部の周囲に定常的なノイズ又は磁界を発生させるものが存在したとしても、当該ノイズ又は磁界の影響をほとんど受けることなく、接触不良の有無を測定することが可能となる。従って、車両のエンジンルーム等の配線機器が込み入った場所でも測定が可能となる。
【００２６】
さらにまた、ハーネスの周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさが閾値を超えたとき、その旨が表示される。従って、ユーザは、当該表示により接触不良の発生を容易に確認することが可能となる。
【００２７】
前記接触不良測定装置は、さらに、前記磁気センサの出力信号のうち、前記接触不良の発生に伴って発生し得る周波数帯域の成分以外の成分を除去する周波数フィルタと、前記周波数フィルタからの出力信号が示す値のピーク値をホールドするピークホールド回路とを備え、前記表示部は、前記ピーク値が前記閾値を超えたとき、その旨を表示してもよい。
【００２８】
上記構成によれば、磁気センサの出力信号のうち、端子嵌合部における接触不良の発生に伴って発生し得る周波数帯域の成分以外の成分が除去される。従って、前記接触不良以外の要因に起因した誤判定を避けることが可能となる。このため、配線が込み入った場所や磁気ノイズが大きな環境下であっても、端子嵌合部における接触不良の発生に伴うその旨の表示やデータの記憶を確実に行うことが可能となる。
【００２９】
前記接触不良測定装置は、さらに、前記磁気センサの出力を連続的且つ一時的に記憶する一時的記憶手段と、前記磁気センサの出力を保存する保存手段とを有し、前記磁気センサが連続的に検出した前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記一時的記憶手段に記憶し、前記ピーク値が前記閾値を超えたとき、前記一時的記憶手段に記憶されている、その前後における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記保存手段に保存してもよい。
【００３０】
これにより、不揮発性メモリ等の保存手段の記憶容量を過度に大きくせずに、接触不良があった際の前後における誘導磁界の過渡応答変動のデータを効果的に記憶することが可能となる。
【００３１】
この発明に係る接触不良測定装置は、配線経路中のハーネスの端子嵌合部における接触不良の有無を測定するものであって、測定対象のハーネスの周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを検出する磁気センサと、前記測定対象のハーネスの端子嵌合部に外力を作用させたタイミングを検出する外力検出センサと、前記外力検出センサが検出した前記外力を作用させたタイミングと前記磁気センサの出力が示す前記ハーネスの周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを表示する表示部とを有することを特徴とする。
【００３２】
この発明に係る接触不良測定装置は、配線経路中のハーネスの端子嵌合部における接触不良の有無を測定するものであって、測定対象のハーネスの周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを検出する磁気センサと、前記測定対象のハーネスの端子嵌合部に外力を作用させたタイミングを検出する外力検出センサと、前記磁気センサの出力が示す前記ハーネスの周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさが、前記端子嵌合部における接触不良の発生を判定するための閾値を超えたかどうかを判定する判定部と、前記外力検出センサが検出した前記外力を作用させたタイミングに基づいて、前記判定部の判定結果を表示する表示部とを有することを特徴とする。
【００３３】
この発明に係る接触不良測定方法は、配線経路中のハーネスの端子嵌合部における接触不良の有無を測定するものであって、測定対象のハーネスの周囲における誘導磁界の強度を磁気センサにより検出し、前記測定対象のハーネスの端子嵌合部に付与される外力を外力検出センサにより検出し、前記磁気センサの出力波形及び前記外力検出センサの出力波形を表示部に同時に表示し、前記外力が付与される前の前記磁気センサの出力波形に対する前記外力が付与された直後の前記磁気センサの出力波形の変動の大きさ、又は前記外力が付与された直後の前記磁気センサの出力波形の傾きに基づいて接触不良の発生状態を測定することを特徴とする。
【００３４】
この発明に係る接触不良測定方法は、配線経路中のハーネスの端子嵌合部における接触不良の有無を測定するものであって、測定対象のハーネスの周囲における誘導磁界の強度を磁気センサにより検出して判定部に出力し、前記測定対象のハーネスの端子嵌合部に付与される外力を外力検出センサにより検出して前記判定部に出力し、前記判定部において、前記外力が付与される前の前記誘導磁界の強度に対する前記外力が付与された直後の前記誘導磁界の強度の変化量、又は前記外力が付与された直後の前記誘導磁界の強度の変化率に基づいて接触不良の発生状態を測定することを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】この発明の第１実施形態に係る接触不良測定装置の概略的な構成を示すブロック図である。
【図２】前記接触不良測定装置を用いて接触不良測定を行う際の概略的な様子を示す図である。
【図３】前記第１実施形態における修理作業全体のフローチャートである。
【図４】前記第１実施形態における故障診断案内装置の案内表示の一例を示す図である。
【図５】前記第１実施形態において一時的な接触不良の発生を確認するためのユーザの作業及び接触不良測定装置の処理のフローチャートである。
【図６】一時的な接触不良の発生を確認するために、前記第１実施形態に係る接触不良測定装置を車両に取り付けた状態を示す図である。
【図７】ウィグルテストを行う前（一時的な接触不良が生じていない場合）の磁界検出部及び外力検出部の出力（オシロスコープの表示部に表示される波形）の一例を示す図である。
【図８】ウィグルテストを行っている様子を示す図である。
【図９】ウィグルテストにおいてカプラに振動を与えても接触不良が発生しない場合（一時的な接触不良が生じていない場合）の磁界検出部及び外力検出部の出力（オシロスコープの表示部に表示される波形）の一例を示す図である。
【図１０】ウィグルテストにおいてカプラに振動を与えることで接触不良が発生（再現）した場合（一時的な接触不良が生じている場合）の磁界検出部及び外力検出部の出力（オシロスコープの表示部に表示される波形）の一例を示す図である。
【図１１】この発明の第２実施形態に係る接触不良測定装置を用いて接触不良測定を行う際の概略的な様子を示す図である。
【図１２】この発明の第３実施形態に係る接触不良測定装置を用いて接触不良測定を行う際の概略的な様子を示す図である。
【図１３】前記第３実施形態に係る接触不良測定装置のコントローラのブロック構成図である。
【図１４】前記第３実施形態において一時的な接触不良の発生を確認するためのユーザの作業及び接触不良測定装置の処理のフローチャートである。
【図１５】一時的な接触不良の発生を確認するために、前記第３実施形態に係る接触不良測定装置を車両に取り付けた状態を示す図である。
【図１６】前記第３実施形態における各種信号の一例を示す図である。
【図１７】この発明の第４実施形態に係る接触不良測定装置としての診断装置を備える接触不良診断システムと、その測定対象としてのハーネスの概観を簡略的に示す図である。
【図１８】前記第４実施形態において、前記接触不良診断システムの概略的なブロック構成と、前記ハーネスの概略的な内部構成とを示す図である。
【図１９】前記第４実施形態のクランプが閉じた状態におけるピックアップ部を示す図である。
【図２０】前記第４実施形態において、前記ハーネスと前記ハーネスが接続される部位とを簡略的に示す図である。
【図２１】前記第４実施形態において、一時的な接触不良の発生を確認するために、前記診断装置を車両に取り付けた状態を示す図である。
【図２２】前記第４実施形態において、前記診断装置を用いてユーザが前記端子嵌合部に接触不良が発生しているかどうかを測定する際の前記診断装置の動作を示すフローチャートである。
【図２３】前記第４実施形態において、接触不良が発生しない状態が続く場合における磁界変化率信号の波形の一例を示す図である。
【図２４】前記第４実施形態において、接触不良が発生した場合における磁界変化率信号の波形の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【００３６】
Ａ．第１実施形態
１．構成
（１）接触不良測定装置１４及びその周辺の全体構成
図１は、この発明の一実施形態に係る接触不良測定装置１４（以下「測定装置１４」とも称する。）とその周辺の概略的な構成を示すブロック図である。図１では、測定装置１４に加え、測定対象としての車両１０と、車両１０の検査を行うテスタ１２とが示されている。なお、図１では、車両１０、テスタ１２及び測定装置１４をそれぞれ１つのみ示しているが、それぞれ複数設けることができる。
【００３７】
（２）車両１０
車両１０は、電子制御装置２０（以下「ＥＣＵ２０」という。）と、ＥＣＵ２０のオンオフを制御するイグニションスイッチ２２（以下「ＩＧＳＷ２２」という。）と、各種センサ２４とを有する。ＥＣＵ２０は、エンジン、トランスミッション、ブレーキなどの制御を行うものであり、図１に示すように、入出力部３０と、演算部３２と、記憶部３４とを有する。
【００３８】
（３）テスタ１２
テスタ１２は、販売店、整備工場等において車両１０のＥＣＵ２０に接続して車両１０のデータを読み出したりするための通信用インターフェースとして各部の検査に用いるものである。テスタ１２は、ケーブル４０を介してＥＣＵ２０に接続され、故障診断の際に必要となる故障コードをＥＣＵ２０から読み出すことができる。
【００３９】
（４）接触不良測定装置１４
（ａ）測定装置１４の全体構成
図２は、測定装置１４を用いて接触不良測定を行う際の概略的な様子を示す図である。測定装置１４は、車両１０における複数のカプラ５０（端子嵌合部）における一時的な接触不良を測定する。図１及び図２に示すように、測定装置１４は、磁界検出部６０と、外力検出部６２と、オシロスコープ６４とを有する。
【００４０】
（ｂ）磁界検出部６０
磁界検出部６０は、検出コイル７０と、信号増幅回路７２と、リング状のフェライトコア７４と、第１ケーブル７６とを有する。検出コイル７０は、ハーネス８０の周囲における誘導磁界の過渡応答変動を検出するものであり、フェライトコア７４に１回巻きされたコイル線から構成される。信号増幅回路７２は、検出コイル７０の出力信号（磁界変化率信号Ｓｍ）を所定の増幅率（例えば、１０倍）で増幅して、第１ケーブル７６を介してオシロスコープ６４に送信する。磁界変化率信号Ｓｍは、直接的には、検出コイル７０の検出値Ｄ１（誘導磁界の強度）を示すが、当該検出値Ｄ１が連続することで過渡応答変動（磁界変化率）をも示す。フェライトコア７４は、２つの分割コアからなり、両者を組み合わせた状態でその内部にハーネス８０を貫通させるように配置され、検出コイル７０に対する外乱ノイズの侵入を好適に防止することができる。
【００４１】
（ｃ）外力検出部６２
外力検出部６２は、加速度センサ９０と、加速度センサ９０用の駆動回路９２と、加速度センサ９０と駆動回路９２を連結する第２ケーブル９４と、駆動回路９２とオシロスコープ６４を連結する第３ケーブル９６とを有する。
【００４２】
加速度センサ９０は、測定対象のカプラ５０に取り付けられ、当該カプラ５０における振動を検出する。加速度センサ９０は、外力を付与する方向の加速度を検出可能なものであり、少なくとも１軸方向の加速度を検出する。複数の軸の加速度を検出する場合、当該複数の軸の検出値を加算又は乗算して出力してもよい。なお、加速度センサ９０の取り付けについて、図２ではカプラ５０に貼り付けた状態で示しているが、クリップ部材と一体に設けることでカプラ５０の側面を挟持するように取り付ける等、いろいろな公知手段が適用可能である。
【００４３】
駆動回路９２は、加速度センサ９０に電力を供給すると共に、加速度センサ９０の出力信号（加速度信号Ｓａ）を増幅してオシロスコープ６４に出力する。
【００４４】
（ｄ）オシロスコープ６４
オシロスコープ６４は、市販のものであり、複数の入力端子１００と、表示部１０２と、操作部１０４とを有する。また、オシロスコープ６４は、複数の入力端子１００からの入力信号を同じ時間軸で上下平行に表示することができる（例えば、図７参照）。
【００４５】
２．修理作業の流れ
（１）全体の流れ
図３には、第１実施形態における修理作業全体のフローチャートが示されている。ステップＳ１において、車両１０に異常が発生すると、ＥＣＵ２０は、メータの警告灯（図示せず）を点灯させると共に、故障コード（ＤＴＣ：Diagnostic Trouble Code）を保存する。当該点灯を見た顧客は、異常の発生を認識し、車両１０を販売店等の修理拠点に持ち込む。故障コードは、故障事象（例えば、あるセンサの出力値に異常が発生している場合、その異常の内容）を示す。
【００４６】
ステップＳ２において、修理拠点の修理担当者（ユーザ）は、ケーブル４０を介してテスタ１２をＥＣＵ２０に接続し、図示しない操作部を操作して故障コードを読み出す。
【００４７】
ステップＳ３において、ユーザは、読み出した故障コードに対応する診断作業及び修理作業に関する記載をサービスマニュアルから探し出し、これから行う診断作業を行う部位（故障部位）を特定する。例えば、ステップＳ２で読み出した故障コードが、エアフローメータの電圧が低いとの故障事象を示す「Ｐ０１０２」である場合、サービスマニュアルには、図４に示すような記載１１０が存在する。図４において、「ＤＴＣ  Ｐ０１０２：エアフローメータの電圧が低い」との記載が故障コードの説明であり、「注記：故障診断を始める前に〜を確認する」及び「再現テスト  −１．イグニションスイッチを〜テスタで確認する」との記載が診断作業及び故障部位の詳細であり、「約０．１Ｖ以下を示すか〜一時的な接触不良」との記載が診断結果に応じたその後の処理を示す。
【００４８】
ステップＳ４において、ユーザは、当該記載１１０に基づいて再現テストを行う。続くステップＳ５において、ユーザは故障が再現するか（＝約０．１Ｖ以下を示すか）否かを確認する。例えば、図４の記載１１０に従って、ＩＧＳＷ２２をオンにし、データリスト内のエアフローセンサ（図１の各種センサ２４に含まれる）をテスタ１２で確認する。そして、テスタ１２の出力が、約０．１Ｖ以下を示さない場合、故障が再現していないので、ＥＣＵ２０とエアフローメータ（図示せず）間のカプラ５０の一時的な接触不良の可能性があると判定する。
【００４９】
ステップＳ５において、故障が再現している場合（＝約０．１Ｖ以下を示している場合）（Ｓ５：ＹＥＳ）、ステップＳ６において、再現している故障症状に対応する、通常の更なる診断作業及び修理作業を、測定装置１４を用いずに実行する。
【００５０】
ユーザによる再現テストの結果、故障が再現していない場合（Ｓ５：ＮＯ）、ステップＳ７において、ユーザは、測定装置１４を用いて、一時的な接触不良の発生の有無を確認する。例えば、ＥＣＵ２０とエアフローメータ（図示せず）間のカプラ５０の一時的な接触不良の可能性がある場合（図４参照）、ＥＣＵ２０とエアフローメータとの間に存在する複数のカプラ５０それぞれについて、一時的な接触不良の発生の有無を確認する（一時的な接触不良の発生の有無を確認する方法については後述する。）。
【００５１】
ステップＳ７の作業の結果、いずれかのカプラ５０において一時的な接触不良が再現した場合（Ｓ８：ＹＥＳ）、ステップＳ９において、ユーザは、一時的な接触不良が再現したカプラ５０の端子を修理又は交換する。ステップＳ１０において、ユーザは、正常動作（一時的な接触不良が解消されたこと）を確認する。なお、ステップＳ９において修理又は交換をしたにもかかわらず、故障事象が解消しない場合又は他の故障事象がある場合には、ステップＳ２から作業をやり直す。
【００５２】
また、ステップＳ８において、いずれのカプラ５０でも一時的な接触不良が再現しなかった場合（Ｓ８：ＮＯ）、測定装置１４による診断作業を終了してステップＳ６に進み、通常の他の診断作業を実行する。
【００５３】
（２）一時的な接触不良の発生の有無の確認方法
図５は、一時的な接触不良の発生を確認するためのユーザの作業及び接触不良測定装置１４の処理のフローチャートである。換言すると、図５に示される各作業及び各処理は、図３のステップＳ７に対応する作業及び処理である。図６は、一時的な接触不良の発生を確認するために、測定装置１４を車両１０に取り付けた状態を示す図である。
【００５４】
ステップＳ１１において、ユーザは、一時的な接触不良の発生を確認するための事前準備として測定装置１４を設置する。具体的には、図２及び図６に示すように、磁界検出部６０の検出コイル７０及びフェライトコア７４を、例えば、測定対象となる配線経路が含まれているハーネス８０のいずれかの位置に選択的に配置する。換言すると、検出コイル７０及びフェライトコア７４の配置は、測定対象の配線と電気的に接続されている位置であれば、ハーネス８０のいずれの位置であってもよい。また、フェライトコア７４を配置する際、フェライトコア７４の中にハーネス８０を通すようにする。さらに、ユーザは、加速度センサ９０を測定対象のカプラ５０に固定する。さらにまた、ユーザは、第１ケーブル７６及び第３ケーブル９６を、オシロスコープ６４の入力端子１００に接続する。
【００５５】
ステップＳ１２において、ユーザはＩＧＳＷ２２をオンにする。これにより、車両１０の各回路（ＥＣＵ２０及びハーネス８０を含む。）が通電される。但し、エンジン（図示せず）は始動させない。これにより、接触不良による一時的な断線、或いは再接触の瞬間には過渡応答電流による磁界が、検出コイル７０周辺のハーネス８０においても発生可能となる。
【００５６】
ステップＳ１３において、ユーザは、信号増幅回路７２及び駆動回路９２の図示しない電源スイッチを操作して検出コイル７０及び加速度センサ９０をオンさせると共に、オシロスコープ６４の図示しない電源スイッチを操作してオシロスコープ６４をオンさせる。
【００５７】
続くステップＳ１４において、磁界検出部６０は、ハーネス８０の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさ（直接的には、誘導磁界の強度）の検出を開始すると共に、外力検出部６２は、測定対象のカプラ５０の加速度の検出を開始する。その結果、磁界検出部６０からオシロスコープ６４に対し、ハーネス８０の周囲における誘導磁界の過渡応答変動を示す信号（磁界変化率信号Ｓｍ）が出力されると共に、外力検出部６２からオシロスコープ６４に対し、測定対象のカプラ５０の加速度を示す信号（加速度信号Ｓａ）が出力される。そして、オシロスコープ６４の表示部１０２には、磁界変化率信号Ｓｍ及び加速度信号Ｓａの波形が表示される。
【００５８】
ここで、ハーネス８０において正常な信号伝達又は完全な断線状態であれば、ハーネス８０における誘導磁界の強度が略一定であり、過渡応答変動はほとんど生じない。また、特段の振動が付与されていなければ、加速度センサ９０は静止状態にある。このため、この時点における磁界変化率信号Ｓｍ及び加速度信号Ｓａの波形は、例えば、図７のようになる。
【００５９】
図７では、磁界変化率信号Ｓｍ及び加速度信号Ｓａはいずれも比較的変動が小さい。磁界変化率信号Ｓｍの変動が比較的小さいのは、上記のように、ハーネス８０における誘導磁界の強度が略一定であるためである。なお、加速度信号Ｓａの変動が比較的小さいのは、上記のように、測定対象のカプラ５０が静止しているためである。
【００６０】
ステップＳ１５において、ユーザは、測定対象のカプラ５０に対してウィグルテストを行う。この際、１つの故障コードに対応して、測定対象となる配線経路中に接触不良の可能性があるカプラ５０が複数ある場合、測定対象となるカプラ５０を順次切り替えてウィグルテストを行う。ウィグルテストとは、カプラ５０又はハーネス８０を振動させて接触不良を再現させるテストを意味する（図８参照）。第１実施形態では、振動を発生させるために、ユーザが手でカプラ５０又はハーネス８０を叩くが、後述するように、樹脂ハンマー等の手動器具又はアクチュエータを用いた自動機器により振動を発生させることもできる。
【００６１】
ウィグルテストにおいてカプラ５０に振動を与えても接触不良が発生しない場合（一時的な接触不良が生じていない場合）、カプラ５０は変位するが、ハーネス８０の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさはほとんど変わらない。このため、カプラ５０に振動を付与した時点における磁界変化率信号Ｓｍ及び加速度信号Ｓａの波形は、例えば、図９のようになる。図９では、加速度信号Ｓａの過渡応答変動は大きくなるが、磁界変化率信号Ｓｍの過渡応答変動は小さいままである。
【００６２】
一方、ウィグルテストにおいてカプラ５０に振動を与えることで接触不良が発生（再現）した場合、カプラ５０が変位すると共に、ハーネス８０の周囲における誘導磁界の強度が大きく変動する。このため、カプラ５０に振動を付与した時点における磁界変化率信号Ｓｍ及び加速度信号Ｓａの波形は、例えば、図１０のようになる。図１０では、磁界変化率信号Ｓｍ及び加速度信号Ｓａのいずれも一時的に過渡応答変動が大きくなる。
【００６３】
従って、ユーザは、ウィグルテストにより加速度信号Ｓａの過渡応答変動の大きさ｛ここでは、例えば、振幅、ピーク値、ボトム値、波形（例えば、平均値又は包絡線）の傾き及び波形の形状自体の少なくとも１つ｝が大きく変動した時点における磁界変化率信号Ｓｍの過渡応答変動の大きさ｛ここでは、例えば、振幅、ピーク値、ボトム値、波形（例えば、平均値又は包絡線）の傾き及び波形の形状自体の少なくとも１つ｝を見ることで一時的な接触不良の有無を判定することができる。
【００６４】
図５に戻り、ステップＳ１５のウィグルテストによりいずれかのカプラ５０で接触不良が再現した場合（Ｓ１６：ＹＥＳ）、今回の処理を終え、図３のＳ９に進む。ステップＳ１５のウィグルテストにより測定対象のカプラ５０で接触不良が再現しなかった場合（Ｓ１６：ＮＯ）、ステップＳ１７において、ユーザは、接触不良の発生の有無を確認すべき全てのカプラ５０について確認作業が終了したかどうかを判定する。未確認のカプラ５０が存在する場合（Ｓ１７：ＮＯ）、ステップＳ１８において、ユーザは、測定対象のカプラ５０を切り替える。より具体的には、ユーザは、加速度センサ９０を、新たに測定対象となったカプラ５０に取り付ける。そして、ステップＳ１５に戻る。
【００６５】
なお、測定対象のカプラ５０を切り替える場合、加速度センサ９０は移動させる必要があるが、検出コイル７０は移動させる必要がない。これは、検出コイル７０が近接しているハーネス８０が、測定対象のカプラ５０と電気的につながってさえいれば、測定対象のカプラ５０で接触不良が再現した際、当該ハーネス８０の周囲における誘導磁界の強度も変化し、過渡応答変動が大きくなるためである。
【００６６】
ステップＳ１７において、接触不良の発生の有無を確認すべき全てのカプラ５０について確認作業が終了した場合（Ｓ１７：ＹＥＳ）、今回の処理を終え、図３のＳ６に進む。
【００６７】
３．第１実施形態の効果
以上のように、第１実施形態によれば、異常が発生したときの接続状態のままで、カプラ５０（端子嵌合部）における接触不良の有無を測定することができる。すなわち、カプラ５０の接続状態が不安定であるものの、一時的に接触不良が収まっている場合においては、カプラ５０に外力を加える前はカプラ５０に電流が流れていても、外力を加えることによって接続状態が不安定な部分で接触不良が再現して瞬間的に電流が流れなくなると、カプラ５０を含むハーネス８０の周囲における誘導磁界の強度が一時的に大きく変動する（過渡応答変動が大きくなる）。第１実施形態によれば、外力を作用させたときのハーネス８０の周囲における誘導磁界の過渡応答変動を検出し、オシロスコープ６４の表示部１０２に磁界変化率信号Ｓｍの波形を表示する。このため、カプラ５０を分離せずに、すなわち、異常が発生したときの接続状態のままで、当該表示を用いてカプラ５０における接触不良の有無を測定することが可能となる。
【００６８】
また、上記のように誘導磁界の過渡応答変動が一時的に大きくなる現象は、カプラ５０から多少離れたハーネス８０の部分の周囲においても検出することができる。このため、例えば、車両１０のエンジンルーム内のように配線機器が込み入った場所でも、磁界検出部６０の検出コイル７０及びフェライトコア７４を取り付けやすい場所を選んで測定することもできるので、測定作業を容易に行うことが可能となる。
【００６９】
さらに、第１実施形態では、磁界変化率信号Ｓｍの波形に加えて、加速度信号Ｓａの波形も表示部１０２に表示する。このため、カプラ５０に外力を作用させたときのハーネス８０の周囲における誘導磁界の過渡応答変動を確実に識別することが可能となる。加えて、外乱ノイズ、光束パルス信号による磁場ノイズ等の影響を排除することが可能となる。
【００７０】
第１実施形態において、カプラ５０に対する外力を検出するセンサとして、加速度センサ９０を用いる。これにより、外力付与の瞬間における振動を検出し易くなるため、カプラ５０への外力付加の有無を好適に検出することが可能となる。
【００７１】
Ｂ．第２実施形態
１．構成
図１１は、この発明の第２実施形態に係る接触不良測定装置１４Ａ（以下「測定装置１４Ａ」とも称する。）を用いて接触不良測定を行う際の概略的な様子を示す図である。以下では、第１実施形態と同一の構成要素には同一の参照符号を付して説明を省略する。
【００７２】
第１実施形態と第２実施形態の相違点として、第１実施形態ではユーザの指を用いてカプラ５０に外力を付与したのに対し（図８参照）、第２実施形態では加振ツール１２０を用いてカプラ５０に外力を付与する。また、第１実施形態では加速度センサ９０をカプラ５０に固定したのに対し（図２参照）、第２実施形態では加速度センサ９０を加振ツール１２０に固定する。
【００７３】
加振ツール１２０は、一般的な樹脂ハンマーを小さくしたような形状であり、ユーザが把持するための把持部１２２と、その先端に配置され、カプラ５０と接触する頭部１２４とからなる。図１１に示すように、加速度センサ９０は、頭部１２４の一端に固定されている（その他の位置であってもよい）。また、加振ツール１２０は軽量プラスチックから構成される。このため、加振ツール１２０の頭部１２４をカプラ５０に衝突させると、加振ツール１２０の把持部１２２がしなり、頭部１２４は比較的大きく振動する。これにより、加速度センサ９０は、加振ツール１２０による外力の付与を高精度に検出することが可能となる。
【００７４】
２．第２実施形態の効果
以上のような第２実施形態によれば、第１実施形態による効果に加え、さらに以下の効果を奏することができる。
【００７５】
すなわち、第２実施形態では、加速度センサ９０を取り付けた加振ツール１２０を用いてカプラ５０に外力を付与する。このように、加振ツール１２０に加速度センサ９０を取り付けたことにより、カプラ５０又はハーネス８０側の変位に関係なしに、カプラ５０に外力を作用させるタイミングを検出することが可能になり、測定作業が簡単になる。
【００７６】
Ｃ．第３実施形態
１．構成
（１）第１実施形態及び第２実施形態との相違
図１２は、この発明の第３実施形態に係る接触不良測定装置１４Ｂ（以下「測定装置１４Ｂ」とも称する。）を用いて接触不良測定を行う際の概略的な様子を示す図である。以下では、第１実施形態又は第２実施形態と同一の構成要素には同一の参照符号を付して説明を省略する。
【００７７】
第１実施形態及び第２実施形態と第３実施形態との相違点として、第１実施形態及び第２実施形態では表示部１０２の波形（図９及び図１０参照）に基づいて、ユーザが接触不良の発生の有無を判定したのに対し、第３実施形態では測定装置１４Ｂ自身が行う。
【００７８】
測定装置１４Ｂは、第１実施形態と同様の磁界検出部６０及び外力検出部６２に加え、コントローラ１３０を有する。
【００７９】
（２）コントローラ１３０
図１３は、コントローラ１３０及びその周辺のブロック構成図である。コントローラ１３０は、磁界検出部６０（検出コイル７０及び信号増幅回路７２）からの磁界変化率信号Ｓｍ及び外力検出部６２（加速度センサ９０及び駆動回路９２）からの加速度信号Ｓａを処理して所定の出力を行うと共に、磁界検出部６０及び外力検出部６２の動作を制御する。
【００８０】
図１２及び図１３に示すように、コントローラ１３０は、電源１４０と、電源スイッチ１４２と、リセットスイッチ１４４と、ノイズ調整用ボリューム１４６（以下「ボリューム１４６」ともいう。）と、電源ＬＥＤ１４８（ＬＥＤ：Light-Emitting Diode）と、判定ＬＥＤ１５０（表示部）と、オシロスコープ接続端子１５２ａ、１５２ｂと、判定制御部１５４と、消磁制御部１５６とを有する。
【００８１】
電源スイッチ１４２は、シーソー式であり、コントローラ１３０のオンオフを切り替えるために用いる。リセットスイッチ１４４は、プッシュ式であり、判定制御部１５４及び消磁制御部１５６に対するリセット信号Ｓｒを出力する。ノイズ調整用ボリューム１４６は、ロータリ式であり、後述する閾値ＴＨ＿Ｓｍを手動調整するために用いる。電源ＬＥＤ１４８は、測定装置１４Ｂがオンのとき点灯し、測定装置１４Ｂがオフのとき消灯する。判定ＬＥＤ１５０は、磁界検出部６０の検出状態等に応じて点灯又は消灯する（詳細は後述する。）。オシロスコープ接続端子１５２ａ、１５２ｂは、コントローラ１３０の出力をオシロスコープ６４に伝搬するための端子である。
【００８２】
図１３に示すように、判定制御部１５４は、ローパスフィルタ（ＬＰＦ）とハイパスフィルタ（ＨＰＦ）を組み合わせたことで過渡応答周波数帯のみを通過させるフィルタ１６０と、信号増幅回路１６２と、閾値設定部１６４と、比較器１６６と、第１ワンショット回路１６８（以下「第１ＯＳＣ１６８」という。）と、第２ワンショット回路１７０（以下「第２ＯＳＣ１７０」という。）と、論理積回路１７２と、第１所定値発生回路１７４と、第１フリップフロップ回路１７６とを有する。
【００８３】
フィルタ１６０は、一時的な接触不良の発生に伴って発生する可能性がある磁界変化率信号Ｓｍの周波数帯（過渡応答周波数帯）以外の周波数をカットする。信号増幅回路１６２は、フィルタ１６０からの出力を増幅する。閾値設定部１６４は、ボリューム１４６の回転角度に応じて閾値ＴＨ＿Ｓｍを設定して比較器１６６に出力する。
【００８４】
なお、この閾値設定部１６４は、図１３中に破線矢印で記入しているようにフィルタ１６０（又は信号増幅回路１６２）からの出力を入力させ、フィルタ１６０（又は信号増幅回路１６２）の出力のノイズレベルを検知して自動的に閾値ＴＨ＿Ｓｍを設定するように構成してもよい。
【００８５】
この場合、閾値設定部１６４は、ノイズレベルを検知して自動的に閾値ＴＨ＿Ｓｍを設定する。例えば、所定期間、当該出力の振幅を監視し、その中の最大振幅に所定値（一時的な接触不良が発生した場合にのみ超える値）を加えた値を閾値ＴＨ＿Ｓｍとして設定する。また、判定制御部１５４には第２フリップフロップ回路１８０及び第２所定値発生回路１８２を設けておく。
【００８６】
閾値設定部１６４が閾値ＴＨ＿Ｓｍの設定を終えた際、そのことを通知するオン信号Ｓｏｎを閾値設定部１６４から第２フリップフロップ回路１８０のトリガ端子Ｔに入力する。また、第２フリップフロップ回路１８０のデータ端子Ｄには、第２所定値発生回路１８２から所定値Ｐ２が入力されており、トリガ端子Ｔにオン信号Ｓｏｎが入力されると、第２フリップフロップ回路１８０の出力端子Ｑから出力Ｓｆｆ２（所定値Ｐ２）が送出される。出力Ｓｆｆ２は、比較器１６６及び準備完了通知ＬＥＤ１８４に送信される。
【００８７】
出力Ｓｆｆ２を受信した比較器１６６は、その時点で閾値設定部１６４から受信した値を新たな閾値ＴＨ＿Ｓｍとして設定する（出力Ｓｆｆ２を受信していない状態では、比較器１６６は閾値ＴＨ＿Ｓｍを更新しない。）。また、出力Ｓｆｆ２を受信している準備完了通知ＬＥＤ１８４は、点灯し続ける。これにより、ユーザは、閾値ＴＨ＿Ｓｍの更新が終了したことを知ることができる。その後、ユーザがリセットスイッチ１４４を押すと、第２フリップフロップ回路１８０のリセット端子ＲＳＴにリセット信号Ｓｒが入力され、出力Ｓｆｆ２の送出が終了され、準備完了通知ＬＥＤ１８４が消灯する。
【００８８】
比較器１６６は、信号増幅回路１６２からの出力値（磁界変化率信号Ｓｍをフィルタ１６０及び信号増幅回路１６２で信号処理したもの）と閾値設定部１６４からの閾値ＴＨ＿Ｓｍとを比較し、両者の差がゼロ未満であるとき、出力を「Ｌ」（論理０）とし、両者の差がゼロ以上であるとき、出力を「Ｈ」（論理１）とする。
【００８９】
第１ＯＳＣ１６８及び第２ＯＳＣ１７０は、いわゆるワンショットパルス発生器である。具体的には、第１ＯＳＣ１６８は、比較器１６６からの出力が「Ｌ」であるとき、その出力Ｓｏｓｃ１を「Ｌ」とし、比較器１６６からの出力が「Ｈ」になったとき、その出力を所定時間ｔｏｓｃ１、「Ｈ」にする。第２ＯＳＣ１７０は、駆動回路９２からの出力（加速度信号Ｓａの振幅）が閾値ＴＨ＿Ｓａ未満であるとき、その出力Ｓｏｓｃ２を「Ｌ」（論理０）とし、駆動回路９２からの出力が閾値ＴＨ＿Ｓａ以上になったとき、その出力Ｓｏｓｃ２を所定時間ｔｏｓｃ２、「Ｈ」にする。所定時間ｔｏｓｃ１と所定時間ｔｏｓｃ２は、磁界検出部６０が一時的な断線による変動を検出するタイミングと、外力検出部６２が振動を検出するタイミングとのずれを十分吸収できる長さに設定する。所定時間ｔｏｓｃ１と所定時間ｔｏｓｃ２は同一の長さに設定してもよい。
【００９０】
論理積回路１７２は、第１ＯＳＣ１６８の出力Ｓｏｓｃ１及び第２ＯＳＣ１７０の出力Ｓｏｓｃ２がいずれも「Ｈ」になったときにその出力Ｓａｎｄが「Ｈ」となり、それ以外のときは出力Ｓａｎｄが「Ｌ」となる。所定値発生回路１７４は、判定ＬＥＤ１５０をオンにするための値Ｐ１（固定値）を出力する。
【００９１】
第１フリップフロップ回路１７６は、トリガ端子Ｔに所定値以上の電圧が入力されると、その時点におけるデータ端子Ｄの入力値を出力端子Ｑから出力する。従って、論理積回路１７２の出力Ｓａｎｄが「Ｈ」になった場合、データ端子Ｄの入力値（すなわち、所定値発生回路１７４からの値Ｐ１）が出力端子Ｑから出力される。これにより、第１フリップフロップ回路１７６は、磁界検出部６０が一時的な断線による磁界の変動（過渡応答変動）を検出し且つ加速度センサ９０が振動を検出した場合にのみ、所定値発生回路１７４からの値Ｐ１を出力する。第１フリップフロップ回路１７６から値Ｐ１が出力されると、判定ＬＥＤ１５０が点灯する。従って、カプラ５０に外力を加えた際に自動的に一時的な断線による磁界の変動（過渡応答変動）を検出し、ユーザは、判定ＬＥＤ１５０の点灯により一時的な断線の発生を特定することが可能となる。加えて、磁界検出部６０とコントローラ１３０を結ぶ第１ケーブル７６にノイズが発生しても、誤検出を防止することができる。
【００９２】
消磁制御部１５６は、検出コイル７０の着磁が検出性能に影響を来たす場合に消磁する。
【００９３】
２．一時的な接触不良の発生を確認するためのユーザの作業及び接触不良測定装置１４Ｂの処理
図１４は、一時的な接触不良の発生を確認するためのユーザの作業及び接触不良測定装置１４Ｂの処理のフローチャートである。換言すると、図１４に示される各作業及び各処理は、第１実施形態の図３のステップＳ７に対応する作業及び処理である。図１５は、一時的な接触不良の発生を確認するために、接触不良測定装置１４Ｂを車両１０に取り付けた状態を示す図である。なお、図１５に示すように、必要に応じて、コントローラ１３０とオシロスコープ６４とをケーブル１９０で接続し、コントローラ１３０からの出力波形（磁界変化率信号Ｓｍ及び加速度信号Ｓａ）をオシロスコープ６４の表示部１０２に表示することもできる。
【００９４】
ステップＳ２１において、ユーザは、一時的な接触不良の発生を確認するための事前準備として測定装置１４Ｂを設置する。具体的には、図１２及び図１５に示すように、磁界検出部６０の検出コイル７０及びフェライトコア７４を、例えば、測定対象となるカプラ５０が連結されているハーネス８０のいずれかの位置に選択的に取り付ける。また、ユーザは、必要に応じて、コントローラ１３０のオシロスコープ接続端子１５２ａ、１５２ｂと、オシロスコープ６４の入力端子１００とをケーブル１９０で接続することができる。
【００９５】
ステップＳ２２において、ユーザは、ＩＧＳＷ２２をオンにする。これにより、車両１０の各回路（ＥＣＵ２０及びハーネス８０を含む。）が通電される。但し、エンジン（図示せず）は始動させない。これにより、検出コイル７０周辺のハーネス８０においても磁界が発生する。
【００９６】
ステップＳ２３において、ユーザは、コントローラ１３０の電源スイッチ１４２を操作して測定装置１４Ｂをオンさせる。その結果、測定装置１４Ｂでは、電源１４０から電源ＬＥＤ１４８に電力が供給されて電源ＬＥＤ１４８が点灯する。また、判定制御部１５４は、磁界検出部６０からの磁界変化率信号Ｓｍと外力検出部６２からの加速度信号Ｓａを受信し、判定結果を判定ＬＥＤ１５０に出力する。なお、判定制御部１５４の比較器１６６で用いる閾値ＴＨ＿Ｓｍは、ノイズ調整用ボリューム１４６を介して適宜手動調整することができる。また、第２フリップフロップ回路１８０、第２所定値発生回路１８２及び準備完了通知ＬＥＤ１８４を設けること等により、閾値ＴＨ＿Ｓｍを自動調整することもできる。
【００９７】
さらに、測定装置１４Ｂとオシロスコープ６４とを接続している場合、磁界変化率信号Ｓｍ及び加速度信号Ｓａがオシロスコープ接続端子１５２ａ、１５２ｂからオシロスコープ６４に送信される。そして、磁界変化率信号Ｓｍ及び加速度信号Ｓａの波形が、オシロスコープ６４の表示部１０２に表示される。この際、ユーザは、オシロスコープ６４の操作部１０４を操作して、表示部１０２に出力される表示（時間軸、振幅など）を適宜調整することができる。
【００９８】
ステップＳ２４において、ユーザは、各カプラ５０にウィグルテストを行う。第３実施形態では、ユーザが加振ツール１２０を操作して、測定対象のカプラ５０に振動を発生させる（外力を付与する）。これにより、外力検出部６２からの加速度信号Ｓａは、例えば、図１６のようになり、閾値ＴＨ＿Ｓａを超える（図１６の時点ｔ２）。このため、第２ＯＳＣ１７０は、閾値ＴＨ＿Ｓａを超えたとき（時点ｔ２）から所定期間ｔｏｓｃ２だけ出力Ｓｏｓｃ２を「Ｈ」にする。
【００９９】
ここで、ユーザが加振ツール１２０を操作して測定対象のカプラ５０に振動を発生させても、一時的な接触不良（断線）が再現しなかった場合、磁界検出部６０からの磁界変化率信号Ｓｍの振幅に大きな変化はなく、磁界変化率信号Ｓｍの振幅（フィルタ１６０によりフィルタ処理され且つ信号増幅回路１６２により増幅されたもの）は閾値ＴＨ＿Ｓｍを超えない。このため、比較器１６６の出力は「Ｌ」のままであり、第１ＯＳＣ１６８の出力Ｓｏｓｃ１も「Ｌ」のままである。従って、論理積回路１７２の出力Ｓａｎｄは「Ｌ」のままであり、フリップフロップ回路１７６からの出力Ｓｆｆが「Ｌ」であるため、判定ＬＥＤ１５０は消灯したままである。これにより、ユーザは、接触不良が再現していないことを知ることができる。
【０１００】
一方、ユーザが加振ツール１２０を操作して、測定対象のカプラ５０に振動を発生させる（外力を付与する）ことにより、一時的な接触不良（断線）が再現すると、磁界検出部６０からの磁界変化率信号Ｓｍは、例えば、図１６のようになり、閾値ＴＨ＿Ｓｍを超える（図１６の時点ｔ１）。このため、第１ＯＳＣ１６８は、閾値ＴＨ＿Ｓｍを超えたとき（時点ｔ１）から所定期間ｔｏｓｃ１だけ出力Ｓｏｓｃ１を「Ｈ」にする。
【０１０１】
論理積回路１７２は、第１ＯＳＣ１６８の出力Ｓｏｓｃ１と第２ＯＳＣ１７０の出力Ｓｏｓｃ２の両方が「Ｈ」になっているとき、その出力Ｓａｎｄを「Ｈ」にする（図１６の時点ｔ２〜ｔ３）。論理積回路１７２の出力Ｓａｎｄが「Ｈ」になると、フリップフロップ回路１７６のトリガ端子Ｔに所定値以上の電圧信号が入力される。その結果、フリップフロップ回路１７６の出力Ｓｆｆは「Ｈ」（値Ｐ１）となり、判定ＬＥＤ１５０が点灯する。これにより、ユーザは、接触不良が再現したことを知ることができる。
【０１０２】
判定ＬＥＤ１５０が点灯している状態でリセットスイッチ１４４を押すと、フリップフロップ回路１７６の出力Ｓｆｆが「Ｌ」となり、判定ＬＥＤ１５０が消灯する（時点ｔ４）。
【０１０３】
第１実施形態で説明したように、ウィグルテストの対象となるカプラ５０又はハーネス８０を順次切り替えていくことで、複数のカプラ５０について接触不良の発生を確認することができる。
【０１０４】
３．第３実施形態の効果
以上のような第３実施形態によれば、第１実施形態及び第２実施形態における効果に加え、以下の効果を奏することができる。
【０１０５】
すなわち、第３実施形態では、カプラ５０に外力を付与する前の誘導磁界の強度を基準として閾値ＴＨ＿Ｓｍを設定した上で、外力を付与させたタイミングでの誘導磁界の強度が閾値ＴＨ＿Ｓｍを超えているかどうかを判定し、その判定結果を判定ＬＥＤ１５０に表示する。これにより、カプラ５０に外力を作用させたタイミングでの誘導磁界の過渡応答変動の大きさを確実に検出することが可能となる。
【０１０６】
また、第３実施形態では、第２フリップフロップ回路１８０、第２所定値発生回路１８２及び準備完了通知ＬＥＤ１８４を設けること等により、閾値ＴＨ＿Ｓｍを自動的に調整することができる。従って、一時的な接触不良が発生したときにおいて、誘導磁界の過渡応答変動が大きくなったことを精度よく判定することが可能となる。
【０１０７】
Ｄ．第４実施形態
１．接触不良診断システム２１０及びハーネス３００の構成
（１）概要
図１７は、この発明の第４実施形態に係る接触不良測定装置としての診断装置２１２を備える接触不良診断システム２１０（以下「診断システム２１０」ともいう。）と、その測定対象としてのハーネス３００の外観を簡略的に示す図である。図１８は、診断システム２１０の概略的なブロック構成と、ハーネス３００の概略的な内部構成とを示す図である。以下では、第１〜第３実施形態と同一の構成要素には同一の参照符号を付して説明を省略する。
【０１０８】
第４実施形態における診断装置２１２は、車両用であり、測定対象としてのハーネス３００が通電状態であるときに、ハーネス３００の周囲における過渡応答変動を検出し、検出した過渡応答変動の大きさに基づいて、ハーネス３００のカプラユニット３０１の端子嵌合部３０２における端子間の接触不良を判定することができる。なお、他の実施形態にも共通するが、ここにいう端子間の接触不良の原因としては、例えば、酸化被膜の発生、端子を構成するピンの折れ若しくは抜け、油や埃の付着を挙げることができる。
【０１０９】
また、図１７に示すハーネス３００は、カプラユニット３０１に加え、配線束３０５と、配線束３０５を被覆する被覆部材３０７とを有する（それ以外の部位については、図２０を参照して後述する。）。
【０１１０】
（２）診断システム２１０
診断システム２１０は、基本的に、前記診断装置２１２と、この診断装置２１２に対してユニバーサル・シリアル・バス・ケーブル２１６（以下「ＵＳＢケーブル２１６」という。）により接続されるパーソナルコンピュータ２１４（以下「ＰＣ２１４」という。）とを備える。
【０１１１】
診断装置２１２は、ハーネス３００の周囲における誘導磁界の過渡応答変動（直接的には、誘導磁界の強度）を検出するピックアップ部２２０と、各種の制御及び演算を行う本体部２２２と、本体部２２２とピックアップ部２２０を連結するケーブル２２４とを有する。
【０１１２】
ピックアップ部２２０は、検出素子２３２及び信号処理部２３４を有する磁気センサ２３０と、磁気センサ２３０を支持するクランプ２３６とを備える。第４実施形態における検出素子２３２は、アモルファス磁性体素子であり、ハーネス３００の周囲に発生する誘導磁界の過渡応答変動を検出し、その過渡応答変動の大きさに応じた電流を発生させる。信号処理部２３４は、検出素子２３２からの出力信号に対して増幅処理等の処理を行って過渡応答変動の大きさを示す信号（磁界変化率信号Ｓｍ）を本体部２２２に出力する。
【０１１３】
第４実施形態のクランプ２３６は、例えば、髪の毛を束ねるヘアクリップのような形状をしている。すなわち、クランプ２３６は、ピン２４２によりヒンジ結合された２つのクランプ部材２４０ａ、２４０ｂを有する。ピン２４２の周囲にはコイルばね２４４が配置されており、その一端はクランプ部材２４０ａに、他端はクランプ部材２４０ｂに連結されている。このため、ユーザがクランプ部材２４０ａ、２４０ｂのグリップ部２４６ａ、２４６ｂ（力点）を掴むと、ピン２４２を支点としてクランプ部材２４０ａ、２４０ｂのフィンガ２４８ａ、２４８ｂが拡がる（図１７参照）。そして、ユーザがグリップ部２４６ａ、２４６ｂを離すと、フィンガ２４８ａ、２４８ｂが接近する。第４実施形態において、磁気センサ２３０は、フィンガ２４８ｂの内側（フィンガ２４８ａと対向する側）に固定されている。
【０１１４】
図１９に示すように、第４実施形態で、ハーネス３００の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを検出する際は、フィンガ２４８ａ、２４８ｂの間にハーネス３００を把持する。従って、磁気センサ２３０は、ハーネス３００に接して固定される。
【０１１５】
なお、図１７に示すように、検出素子２３２の向きは、ハーネス３００の軸線に直交するように配置される。これにより、検出素子２３２は、ハーネス３００が通電している際に発生する磁場の方向（ハーネス３００の同心円の接線方向）と一致する又は平行となる。その結果、検出素子２３２の検出感度が最大となる。
【０１１６】
また、クランプ２３６は、上記のような構成であるため、ハーネス３００の太さが変化しても対応可能である。
【０１１７】
図１８に示すように、本体部２２２は、入力部２５０と、制御部２５２と、記憶部２５４と、表示部２５６と、ＵＳＢポート２５８とを備える。入力部２５０は、例えば、複数のボタン２６０、２６２、２６４（図１７）を備え、接触不良の判定に関するユーザから制御部２５２への指令を入力することができる。制御部２５２は、入力部２５０への入力等に応じて、記憶部２５４及び表示部２５６を制御する。また、第４実施形態の制御部２５２は、フィルタリング機能２７０、ピークホールド機能２７２、表示制御機能２７４及び合否判定機能２７６を有する。これらの機能については後述する。記憶部２５４は、揮発性メモリ２７８及び不揮発性メモリ２８０を有する。
【０１１８】
ＰＣ２１４は、制御部２９０、記憶部２９２及びＵＳＢポート２９４を有し、ＵＳＢケーブル２１６を介して本体部２２２との間で通信可能である。これにより、本体部２２２でデータを取得した後、ＰＣ２１４において当該データの詳細な解析や報告書の作成、データベースの作成等を行うことができる。
【０１１９】
（３）ハーネス３００及びその周辺
図２０は、ハーネス３００及びハーネス３００が接続される部位を簡略的に示す図である。
【０１２０】
ハーネス３００は、例えば、エンジンルーム内に配置され、車両２１８（図２１）の電子制御装置４００（以下「ＥＣＵ４００」という。）と車両２１８のセンサ（吸気圧センサ５００）とを接続する。ハーネス３００の一端には上記カプラユニット３０１が設けられており、他端には、別のカプラユニット３０１ａが設けられている。カプラユニット３０１、３０１ａは、配線束３０５を構成する配線３２２で接続されている。
【０１２１】
図１８に示すように、カプラユニット３０１、３０１ａは、オス端子側カプラ３０４とメス端子側カプラ３０６とからなる防水型のカプラユニットである。
【０１２２】
オス端子側カプラ３０４は、オス端子３０８と、防水ラバー３１２を介してオス端子３０８をその内部に固定する樹脂製のハウジング３１０と、オス端子３０８をＥＣＵ４００又は吸気圧センサ５００に接続する配線３１４とを有する。同様に、メス端子側カプラ３０６は、メス端子３１６と、防水ラバー３２０を介してメス端子３１６をその内部に固定するハウジング３１８と、カプラユニット３０１のメス端子３１６とカプラユニット３０１ａのメス端子３１６との間を接続する配線３２２とを有する。なお、図２０では、ハウジング３１０、３１８及び防水ラバー３１２、３２０は省略されている。
【０１２３】
吸気圧センサ５００は、インテークマニホールド内の吸気の圧力である吸気圧Ｐｓ［ｋＰａ］を測定する。吸気圧センサ５００は、コンパレータ５０２及び抵抗器５０４を有し、電源電圧の＋５［Ｖ］の抵抗器５０６と分圧回路を構成し、吸気圧Ｐｓに対応する電圧Ｖｐｓ［Ｖ］をＥＣＵ４００が検出できるようになっている。
【０１２４】
２．接触不良の測定
第４実施形態において、端子嵌合部３０２での端子間の接触不良を測定するためのユーザの作業手順は、第１実施形態（図３）と同様である。第４実施形態においても、故障コードに応じた故障が再現するか否かを判定し（図３のＳ５）、当該故障が再現しない場合（Ｓ５：ＮＯ）に一時的な接触不良の発生の有無を確認する。
【０１２５】
図２１は、一時的な接触不良の発生を確認するために、診断装置２１２を車両２１８に取り付けた状態を示す図である。第４実施形態では、一時的な接触不良の発生を確認する際、測定対象のハーネス３００の配線束３０５をクランプ２３６で把持して配線束３０５に対して磁気センサ２３０を固定する（図２１参照）。その際、クランプ２３６は、取り付け易い部分に取り付けることができる。そして、ＩＧＳＷ２２をオンにして、測定対象のカプラユニット３０１が連結されたハーネス３００（対象ハーネス）を通電させる。この状態で診断装置２１２を作動させると共に、ユーザがカプラユニット３０１や配線束３０５を揺すったり、叩いたりすることにより直接的又は間接的に端子嵌合部３０２に外力を加える。例えば、ユーザは、各カプラユニット３０１（図２１）に対して順番にウィグルテストを行う（例えば、図８参照）。
【０１２６】
例えば、異常系統として特定した配線経路中にある各カプラユニット３０１に対して順番にウィグルテストを行いながら、磁気センサ２３０により配線束３０５の周囲における過渡応答変動の大きさを検出し、各カプラユニット３０１の端子嵌合部３０２における接触不良の有無を測定する。
【０１２７】
図２２は、診断装置２１２を用いてユーザが端子嵌合部３０２に接触不良が発生しているかどうかを測定する際の診断装置２１２の動作を示すフローチャートである。
【０１２８】
本体部２２２の図示しない電源がオンにされた状態で、ステップＳ３１において、診断装置２１２の制御部２５２は、ユーザに対し、測定開始の要否を問い合わせる。具体的には、制御部２５２は、測定の準備（ピックアップ部２２０の位置合わせを含む。）が完了した場合、入力部２５０の所定のボタンを押すことを要求するメッセージを表示部２５６に表示させる。
【０１２９】
また、上述の通り、ピックアップ部２２０の位置合わせに際しては、必ずしもピックアップ部２２０の検出素子２３２を端子嵌合部３０２に位置合わせする必要はなく、測定対象の異常系統として特定された配線３２２又は配線束３０５に対して位置合わせできればよい。
【０１３０】
また、ハーネス３００を特定したら、把持しやすい位置を選定して当該場所をクランプ２３６で把持する。これにより、クランプ２３６のフィンガ２４８ａ、２４８ｂの内側に配置された磁気センサ２３０をハーネス３００に対して固定することができる。
【０１３１】
ステップＳ３２において、制御部２５２は、測定開始を要するかどうか（前記所定のボタンが押されたかどうか）を確認する。未だ測定を開始しない場合（Ｓ３２：ＮＯ）、ステップＳ３１に戻る。測定を開始する場合（Ｓ３２：ＹＥＳ）、ステップＳ３３に進む。なお、以後の処理では、任意のタイミングで、ユーザがカプラユニット３０１や配線束３０５、クランプ２３６等に外力を加えることで、端子嵌合部３０２に外力が加えられる。これにより、当初、端子嵌合部３０２が正常に接触していても接触状態が不安定な箇所について、当該外力により接触不良が再発した場合を検出することができる。
【０１３２】
ステップＳ３３において、制御部２５２は、図示しない電源から磁気センサ２３０に対して電力を供給させる。そして、磁気センサ２３０が検出した過渡応答変動の大きさ（検出値）を示す磁界変化率信号Ｓｍを受信し、磁気センサ２３０の検出値に対して、データのアナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）変換を行う。
【０１３３】
続くステップＳ３４において、制御部２５２は、フィルタリング機能２７０を用いて、Ａ／Ｄ変換された磁界変化率信号Ｓｍに対してフィルタリング処理を行う。ここでのフィルタリング処理は、バンドパス処理であり、通過させる周波数帯域は、端子嵌合部３０２における接触不良の発生に伴って発生し得る周波数帯域である。或いは、フィルタリング処理は、仕様に応じて、ハイパス処理やローパス処理として機能させることもできる。
【０１３４】
ステップＳ３５において、制御部２５２は、ピークホールド機能２７２を用いて、フィルタリング処理後の磁界変化率信号Ｓｍに対してピークホールド処理を行う。ここでのピークホールド処理は、磁界変化率信号Ｓｍの振幅のピーク値をホールドする処理である。
【０１３５】
ステップＳ３６において、制御部２５２は、表示制御機能２７４を用いて、磁界変化率信号Ｓｍの振幅の波形を表示部２５６に表示させる波形表示処理を行う。この波形表示処理では、１制御周期（例えば、数マイクロ秒〜数ミリ秒）分の振幅の波形を随時更新する。このため、ステップＳ３６の処理を繰り返すことにより、振幅の波形は連続して表示される。また、表示する磁界変化率信号Ｓｍの振幅は、Ａ／Ｄ変換処理（Ｓ３３）後のもの、フィルタリング処理（Ｓ３４）後のもの及びピークホールド処理後のもの（Ｓ３５）の少なくとも１つを選択することができる。当該選択は、入力部２５０を介して行う。
【０１３６】
ステップＳ３７において、制御部２５２は、合否判定機能２７６を用いて、接触不良の発生の有無を判定する。ここでは、接触不良が発生していなければ合格であり、接触不良が発生していれば不合格である。
【０１３７】
具体的には、ピークホールド処理後のピーク値Ｐ１が、閾値ＴＨ＿Ｐ１以上であるかどうかを判定する。閾値ＴＨ＿Ｐ１は、端子嵌合部３０２における接触不良の発生を判定するための閾値である。すなわち、接触不良が発生していない場合（導通状態から非導通状態に変化しない場合）、ハーネス３００の誘導磁界強度に変化はないため、ピーク値Ｐ１は閾値ＴＨ＿Ｐ１を超えない。一方、接触不良が発生した場合（導通状態から非導通状態に変化する場合又はその後に非導通状態から導通状態に変化する場合）、ハーネス３００における誘導磁界の過渡応答変動が一時的に大きくなるため、ピーク値Ｐ１は閾値ＴＨ＿Ｐ１を超える。これにより、接触不良の発生の有無を判定することが可能となる。
【０１３８】
接触不良が発生していない場合（Ｓ３７：ＮＯ）、ステップＳ３８において、制御部２５２は、合否判定機能２７６を用いて、磁界変化率信号Ｓｍの振幅のデータを揮発性メモリ２７８に一時的に記憶する。ここでの振幅の値は、Ａ／Ｄ変換処理（Ｓ３３）後のもの、フィルタリング処理（Ｓ３４）後のもの及びピークホールド処理後のもの（Ｓ３５）の少なくとも１つを選択することができる。当該選択は、入力部２５０を介して行う。また、揮発性メモリ２７８は、ファースト・イン・ファースト・アウト方式（シリアル・イン・シリアル・アウト方式）で、当該振幅の値を所定時間（例えば、数秒〜数十分間）記憶する。
【０１３９】
接触不良が発生しない状態が続く場合、例えば、図２３に示すような波形を取得することができる。図２３に示す磁界変化率信号Ｓｍは、Ａ／Ｄ変換処理（Ｓ３３）後のものである。
【０１４０】
ステップＳ３７において接触不良が発生した場合（Ｓ３７：ＹＥＳ）、ステップＳ３９において、制御部２５２は、合否判定機能２７６を用いて、表示部２５６を介して接触不良の発生を通知する。例えば、その旨のメッセージを表示部２５６に表示させる、警告音又は音声を表示部２５６に出力させる、波形表示処理（Ｓ３６）で表示中の磁界変化率信号Ｓｍの振幅の波形を示す画面を点滅させる等の処理を行うことができる。
【０１４１】
ステップＳ４０において、制御部２５２は、合否判定機能２７６を用いて、所定時間（例えば、数秒間）、磁界変化率信号Ｓｍの振幅のデータを取得し揮発性メモリ２７８に記憶し続けた後、揮発性メモリ２７８に記憶されているデータを不揮発性メモリ２８０に保存（セーブ）させる（オートトリガ機能）。その結果、例えば、図２４に示すような波形を取得することができる。図２４では、時点ｔ１１において端子嵌合部３０２での接触不良が再発し、これに伴って誘電磁界強度が一時的に大きく変動するため、その後、暫くの間、過渡応答変動が大きくなる。なお、オートトリガ機能の代わりに、ユーザの操作により当該データを消去せずにそのまま保存することもできる（マニュアルトリガ機能）。
【０１４２】
また、上記において、本体部２２２が時計機能を有していた場合、時刻情報も併せて保存（セーブ）させる。さらに、記憶したデータは、ＵＳＢケーブル２１６を介してＰＣ２１４に転送し、ＰＣ２１４において加工することができる。
【０１４３】
ステップＳ３８又はステップＳ４０の後、ステップＳ４１において、制御部２５２は、測定を終了するかどうかを判定する。当該判定は、例えば、入力部２５０の所定のボタンが押されたかどうかにより行う。測定を終了する場合（Ｓ４１：ＹＥＳ）、これまでのデータを記憶部２５４の不揮発性メモリ２８０に保存（セーブ）し、測定を終了する。但し、ステップＳ４０直後の場合、当該保存は行わない。測定を終了しない場合（Ｓ４１：ＮＯ）、ステップＳ３３に戻り、次の制御周期について各処理を行う。ステップＳ３３〜Ｓ３８、Ｓ４１の処理は、例えば数マイクロ秒〜数ミリ秒間で行う。
【０１４４】
３．第４実施形態の効果
以上のような第４実施形態によれば、第１〜第３実施形態による効果に加え又はこれに代えて、以下の効果を奏することができる。
【０１４５】
第４実施形態によれば、外力を作用させたときにおけるピーク値Ｐ１が閾値ＴＨ＿Ｐ１を超えているかどうかの判定結果を出力する。より具体的には、ピーク値Ｐ１が閾値ＴＨ＿Ｐ１を超えていない場合、表示部２５６において磁界変化率信号Ｓｍの波形を更新し続けることでそのことをユーザに通知する。また、ピーク値Ｐ１が閾値ＴＨ＿Ｐ１を超えた場合、表示部２５６にその旨のメッセージを表示させること等によりそのことをユーザに通知する。このため、端子嵌合部３０２を分離せずに、すなわち、異常が発生したときの状態のままで、当該判定結果を用いて端子嵌合部３０２における接触不良の有無を測定することが可能となる。
【０１４６】
さらに、接触不良を判定するための誘導磁界の強度の閾値として、外力を作用させる前後で端子嵌合部３０２に電流が流れ続けた場合には発生し得ないほど大きな誘導磁界の変動の値を閾値ＴＨ＿Ｐ１として設定しておくことで、仮に、端子嵌合部３０２の周囲に定常的なノイズ又は磁界を発生させるものが存在したとしても、当該ノイズ又は磁界の影響をほとんど受けることなく、接触不良の有無を測定することが可能となる。従って、車両のエンジンルーム等の配線機器が込み入った場所でも測定が可能となる。
【０１４７】
さらにまた、カプラユニット３０１が防水性であるために気密性が高い場合であっても、カプラユニット３０１の分解を要することがないので、防水性を損なうことがない。
【０１４８】
第４実施形態において、磁気センサ２３０は、通電状態にあるハーネス３００の周囲における誘導磁界の過渡応答変動を連続的に検出し、その間、診断装置２１２は、外力を作用させたときにおけるピーク値Ｐ１が閾値ＴＨ＿Ｐ１を超えているかどうかを判定し続け、ピーク値Ｐ１が閾値ＴＨ＿Ｐ１を超えたとき、診断装置２１２は、その旨を示す表示を表示部２５６に表示させる。従って、ユーザは、当該表示により接触不良の発生を容易に確認することが可能となる。
【０１４９】
第４実施形態では、磁気センサ２３０が連続的に検出した誘導磁界の過渡応答変動を揮発性メモリ２７８に一時的に記憶し、制御部２５２が、外力を作用させたときにおけるピーク値Ｐ１が閾値ＴＨ＿Ｐ１を超えていると判定したとき、その前後における誘導磁界の過渡応答変動のデータを不揮発性メモリ２８０に記憶する。これにより、不揮発性メモリ２８０の記憶容量を過度に大きくせずに、接触不良があった際の前後における誘導磁界の過渡応答変動のデータを効果的に記憶することが可能となる。
【０１５０】
磁気センサ２３０は、検出素子２３２としてアモルファス磁性体素子を有する磁気インピーダンス効果形であり、且つハーネス３００を把持するクランプ２３６に固定され、検出素子２３２が測定対象のハーネス３００に対して直交するようにクランプ２３６がハーネス３００を把持した状態で、ピックアップ部２２０に誘導磁界の過渡応答変動を検出させる。これにより、検出素子２３２の感度が最大となる状態で、クランプ２３６を介して検出素子２３２とハーネス３００の相対位置関係を固定したまま、誘導磁界の過渡応答変動を検出することが可能となる。従って、端子嵌合部３０２に外力を作用させても安定的に誘導磁界の過渡応答変動を検出することが可能となる。
【０１５１】
診断装置２１２の制御部２５２は、磁界変化率信号Ｓｍのうち、接触不良の発生に伴って発生し得る周波数帯域の成分のみを通過させるフィルタリング機能２７０を備える。従って、磁界変化率信号Ｓｍのうち、端子嵌合部３０２における接触不良の発生に伴って発生し得る周波数帯域の成分のみが抽出され、当該成分におけるピーク値Ｐ１に基づいて記憶部２５４での記憶や表示部２５６での表示を行う。このため、接触不良以外の要因に起因した誤判定を避けることが可能となり、配線が込み入った場所や磁気ノイズが大きな環境下であっても、端子嵌合部３０２における接触不良の発生に伴うその旨の表示やデータの記憶を確実に行うことが可能となる。
【０１５２】
Ｅ．変形例
なお、この発明は、上記各実施形態に限らず、この明細書の記載内容に基づき、種々の構成を採り得ることはもちろんである。例えば、以下に示す構成を採ることができる。
【０１５３】
上記第１〜第３実施形態では、接触不良測定装置１４、１４Ａ、１４Ｂを車両用に用いたが、これに限らず、カプラ５０を用いるその他の用途に適用してもよい。同様に、上記第４実施形態では、診断装置２１２を車両用に用いたが、これに限らず、カプラユニット３０１、３０１ａを用いるその他の用途に適用してもよい。
【０１５４】
上記第１〜第３実施形態では、１回巻きの検出コイル７０を用い、上記第４実施形態では、磁気センサ２３０を用いたが、過渡応答変動の検出素子はこれに限らない。例えば、１回巻きの検出コイル７０の代わりに、巻き数を増加させた検出コイルを用いることもできる。また、上記第１〜第３実施形態では、リング状のフェライトコア７４を用いたが、これに限らず、フェライトコア７４の代わりに、フェライト棒を用いてもよい。この場合、検出コイルをフェライト棒に巻き付けた上、フェライト棒の軸線方向がハーネス８０と垂直になるようにフェライト棒を配置する。或いは、フェライトコア７４を用いず、複数回巻いた検出コイルを空芯コイルとしてハーネス８０に隣接配置することもできる。さらに、フェライトコア７４の大きさを調整することにより、検出コイル７０の検出感度を高めることもできる。
【０１５５】
上記第１〜第３実施形態では、ＩＧＳＷ２２をオンにし、測定対象のカプラ５０が連結されたハーネス８０（対象ハーネス）を通電した。しかし、対象ハーネスを通電せずとも、隣接するハーネス８０を通電することで対象ハーネスが帯電した状態である場合でも、測定対象のカプラ５０の接触不良を測定することが可能である。同様に、暗電流（ある程度一定のノイズ）により対象ハーネスが帯電した状態でも同様である。さらに、対象ハーネスの外部に対象ハーネスを帯電させる装置を配置し、これにより、対象ハーネスを帯電させた状態であっても同様である。さらにまた、空中イオンにより、対象ハーネスが自然帯電した場合であっても同様である。上記第４実施形態も同様である。
【０１５６】
第１実施形態ではカプラ５０への外力の付与をユーザの指で行い、第２及び第３実施形態では、カプラ５０への外力の付与を加振ツール１２０により行い、第４実施形態ではカプラユニット３０１、３０１ａへの外力の付与をユーザの指等で行った。しかし、これに限らず、例えば、ハーネス８０を自動的に振動させる振動付与機構を設け、当該振動付与機構により直接的又は間接的にカプラ５０を振動させながら、外力が作用するタイミングと磁界検出部６０の検出値Ｄ１を連続的に監視することにより、接触不良の発生を確認してもよい。このような用途は、特に自動車などの生産ラインでの完成検査に有用である。
【０１５７】
上記第１〜第３実施形態ではカプラ５０への外力の付与を加速度センサ９０により検出したが、別の方法により検出することもできる。例えば、加速度センサ９０の変わりに圧力センサを設け、当該圧力センサにも外力が加わるように外力を付与してもよい。
【０１５８】
第３実施形態では、接触不良の判定に誘電磁界の強度（ピーク値）に関する閾値ＴＨ＿Ｓｍを用いたが、これに限らず、例えば、磁界変化率信号Ｓｍの振幅、ボトム値、平均値又は包絡線に関する閾値を用いることもできる。また、検出値Ｄ１と閾値ＴＨ＿Ｓｍを比較することで接触不良の発生の有無を判定したが、これに限らず、例えば、検出値Ｄ１の移動平均が単位時間当たりに所定割合変化した場合（すなわち、磁界変化率信号Ｓｍの変化率又は傾きが所定値を超える場合）に接触不良が発生していると判定することもできる。第４実施形態の閾値ＴＨ＿Ｐ１も同様である。
【０１５９】
上記第３実施形態では、一時的な接触不良が発生した場合、判定ＬＥＤ１５０からの出力を行い、上記第４実施形態では、一時的な接触不良が発生した場合、表示部２５６からの出力を行ったが、その他の方法で接触不良の発生を通知してもよい。例えば、測定装置１４Ｂ又は診断装置２１２を自動化システムに搭載する場合、当該接触不良の発生を通知する電気信号を当該システムの制御部に出力し、これを受けた制御部が、システムの停止等をすることもできる。
【０１６０】
上記以外にも第１〜第４実施形態の構成又は方法を相互に適用することができる。
【図１】
2011105363.tif 000003
【図２】
2011105363.tif 000004
【図３】
2011105363.tif 000005
【図４】
2011105363.tif 000006
【図５】
2011105363.tif 000007
【図６】
2011105363.tif 000008
【図７】
2011105363.tif 000009
【図８】
2011105363.tif 000010
【図９】
2011105363.tif 000011
【図１０】
2011105363.tif 000012
【図１１】
2011105363.tif 000013
【図１２】
2011105363.tif 000014
【図１３】
2011105363.tif 000015
【図１４】
2011105363.tif 000016
【図１５】
2011105363.tif 000017
【図１６】
2011105363.tif 000018
【図１７】
2011105363.tif 000019
【図１８】
2011105363.tif 000020
【図１９】
2011105363.tif 000021
【図２０】
2011105363.tif 000022
【図２１】
2011105363.tif 000023
【図２２】
2011105363.tif 000024
【図２３】
2011105363.tif 000025
【図２４】
2011105363.tif 000026
【手続補正書】
【提出日】平成23年6月2日(2011.6.2)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
配線経路中のハーネス（８０、３００）の端子嵌合部（５０、３０２）における接触不良の有無を測定する接触不良測定方法であって、
測定対象のハーネス（８０、３００）に近接させて磁気センサ（７０、２３０）を配置し、
前記測定対象のハーネス（８０、３００）の端子嵌合部（５０、３０２）に外力を作用させ、この外力が作用したタイミングでの前記ハーネス（８０、３００）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記磁気センサ（７０、２３０）により検出して前記端子嵌合部（５０、３０２）の接触状態の良否の指標として表示する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項２】
請求項１記載の接触不良測定方法において、
前記外力を作用させたときの前記ハーネス（８０、３００）の周囲における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさが、接触不良の発生を判定するための閾値を超えているかどうかを判定し、その判定結果を前記接触状態の良否の指標として表示する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項３】
請求項２記載の接触不良測定方法において、
前記磁気センサ（７０、２３０）は、前記ハーネス（８０、３００）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを連続的に検出して、この値が前記閾値を超えるかどうかを判定し、
前記閾値を超えたとき、その判定結果を前記接触状態の良否の指標として表示装置（１０２、１５０、２２２）に表示する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項４】
請求項３記載の接触不良測定方法において、
前記磁気センサ（２３２）が連続的に検出した前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを一時的記憶手段（２７８）に記憶し、
前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさが前記閾値を超えたと判定したとき、前記一時的記憶手段（２７８）に記憶されている、当該判定時の前後における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを保存手段（２８０）に保存する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項５】
請求項１記載の接触不良測定方法において、
前記磁気センサ（２３２）は、前記ハーネス（３００）を把持状態に固定する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項６】
請求項１記載の接触不良測定方法であって、
前記測定対象のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に付与される外力を検出する外力検出センサ（９０）を用いて、前記外力が付与されたタイミングを検出し、
前記外力を付与させたときの前記ハーネス（８０）の周囲での誘導磁界の過渡応答変動の大きさを用いて接触不良の発生状態を表示部（１０２、１５０）に表示する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項７】
請求項６記載の接触不良測定方法において、
前記磁気センサ（７０、２３０）は、前記ハーネス（８０、３００）の周囲における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを連続的に検出し、
前記端子嵌合部（５０、３０２）に前記外力を作用させたときの前記過渡応答変動の大きさが、接触不良の発生を判定するための閾値を超えているかどうかを判定部（１６６、２５２）により判定し、
その判定結果を接触状態の良否の指標として前記表示部（１０２、１５０、２２２）に表示する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項８】
請求項６記載の接触不良測定方法において、
前記ハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に前記外力を作用させる加振ツール（１２０）を設け、この加振ツール（１２０）に前記外力検出センサ（９０）を取り付けた
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項９】
請求項６記載の接触不良測定方法において、
前記外力検出センサ（９０）は加速度センサである
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項１０】
配線経路中のハーネス（８０、３００）の端子嵌合部（５０、３０２）における接触不良の有無を測定する接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ、２１２）であって、
測定対象のハーネス（８０、３００）に近接する位置に着脱自在に固定可能な磁気センサ（７０、２３０）と、
前記測定対象のハーネス（８０、３００）の端子嵌合部（５０、３０２）に外力を作用させたタイミングでの前記磁気センサ（７０、２３０）の出力が示す前記ハーネス（８０、３００）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記測定対象のハーネス（８０、３００）の端子嵌合部（５０、３０２）の接触状態の良否の指標として表示する表示部（１０２、１５０、２２２）と
を有することを特徴とする接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ、２１２）。
【請求項１１】
請求項１０記載の接触不良測定装置（１４Ｂ、２１２）において、
前記磁気センサ（７０、２３０）の出力が示す前記ハーネス（８０、３００）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさが、前記端子嵌合部（５０、３０２）における接触不良の発生を判定するための閾値を超えたかどうかを判定する判定部（１５４、２５２）を有し、
前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさが前記閾値を超えたとき、その旨を前記表示部（１０２、１５０、２２２）に表示する
ことを特徴とする接触不良測定装置（１４Ｂ、２１２）。
【請求項１２】
請求項１０記載の接触不良測定装置（２１２）において、
前記接触不良測定装置（２１２）は、さらに、
前記磁気センサ（２３２）の出力信号のうち、前記接触不良の発生に伴って発生し得る周波数帯域の成分以外の成分を除去する周波数フィルタ（１６０、２７０）と、
前記周波数フィルタ（２７０）からの出力信号が示す値のピーク値をホールドするピークホールド回路（２７２）と
を備え、
前記表示部（２２２）は、前記ピーク値が前記閾値を超えたとき、その旨を表示する
ことを特徴とする接触不良測定装置（２１２）。
【請求項１３】
請求項１２記載の接触不良測定装置（２１２）において、
前記磁気センサ（２３２）の出力を連続的且つ一時的に記憶する一時的記憶手段（２７８）と、
前記磁気センサ（２３２）の出力を保存する保存手段（２８０）と
を有し、
前記磁気センサ（２３２）が連続的に検出した前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記一時的記憶手段（２７８）に記憶し、
前記ピーク値が前記閾値を超えたとき、前記一時的記憶手段（２７８）に記憶されている、その前後における前記誘導磁界の過渡応答変動の大きさを前記保存手段（２８０）に保存する
ことを特徴とする接触不良測定装置（２１２）。
【請求項１４】
配線経路中のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）における接触不良の有無を測定する接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ）であって、
測定対象のハーネス（８０）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを検出する磁気センサ（７０）と、
前記測定対象のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に外力を作用させたタイミングを検出する外力検出センサ（９０）と、
前記外力検出センサ（９０）が検出した前記外力を作用させたタイミングと前記磁気センサ（７０）の出力が示す前記ハーネス（８０）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを表示する表示部（１０２）と
を有することを特徴とする接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ）。
【請求項１５】
配線経路中のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）における接触不良の有無を測定する接触不良測定装置（１４Ｂ）であって、
測定対象のハーネス（８０）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさを検出する磁気センサ（７０）と、
前記測定対象のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に外力を作用させたタイミングを検出する外力検出センサ（９０）と、
前記磁気センサ（７０）の出力が示す前記ハーネス（８０）の周囲における誘導磁界の過渡応答変動の大きさが、前記端子嵌合部（５０）における接触不良の発生を判定するための閾値を超えたかどうかを判定する判定部（１５４）と、
前記外力検出センサ（９０）が検出した前記外力を作用させたタイミングに基づいて、前記判定部（１５４）の判定結果を表示する表示部（１５０）と
を有することを特徴とする接触不良測定装置（１４Ｂ）。
【請求項１６】
請求項１４又は１５記載の接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ）において、
さらに、前記ハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に前記外力を作用させる加振ツール（１２０）を備え、この加振ツール（１２０）に前記外力検出センサ（９０）を取り付けた
ことを特徴とする接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ）。
【請求項１７】
請求項１４又は１５記載の接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ）において、
前記外力検出センサ（９０）は加速度センサである
ことを特徴とする接触不良測定装置（１４、１４Ａ、１４Ｂ）。
【請求項１８】
配線経路中のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）における接触不良の有無を測定する接触不良測定方法であって、
測定対象のハーネス（８０）の周囲における誘導磁界の強度を磁気センサ（７０）により検出し、
前記測定対象のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に付与される外力を外力検出センサ（９０）により検出し、
前記磁気センサ（７０）の出力波形及び前記外力検出センサ（９０）の出力波形を表示部（１０２）に同時に表示し、
前記外力が付与される前の前記磁気センサ（７０）の出力波形に対する前記外力が付与された直後の前記磁気センサ（７０）の出力波形の変動の大きさ、又は前記外力が付与された直後の前記磁気センサ（７０）の出力波形の傾きに基づいて接触不良の発生状態を測定する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【請求項１９】
配線経路中のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）における接触不良の有無を測定する接触不良測定方法であって、
測定対象のハーネス（８０）の周囲における誘導磁界の強度を磁気センサ（７０）により検出して判定部（１５４）に出力し、
前記測定対象のハーネス（８０）の端子嵌合部（５０）に付与される外力を外力検出センサ（９０）により検出して前記判定部（１５４）に出力し、
前記判定部（１５４）において、前記外力が付与される前の前記誘導磁界の強度に対する前記外力が付与された直後の前記誘導磁界の強度の変化量、又は前記外力が付与された直後の前記誘導磁界の強度の変化率に基づいて接触不良の発生状態を測定する
ことを特徴とする接触不良測定方法。
【国際調査報告】
2011105363.tif 000027
2011105363.tif 000028
2011105363.tif 000029
2011105363.tif 000030