【手続補正書】
【提出日】令和3年11月12日(2021.11.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ガラスセラミックス物品であって、
二ケイ酸リチウム結晶相と、
ペタライト結晶相と、
残留ガラス相と
を含み、
撓み（μｍ）＜（３．６５×１０−９／μｍ×対角線２）（式中、対角線は、μｍ単位の前記ガラスセラミックス物品の対角線測定値である）と、
ガラスセラミックス物品厚さ１ｍｍ当たり３０ｎｍ未満のリタデーションの応力と、
ヘイズ（％）＜０．０９９４ｔ＋０．１２（式中、ｔは、ｍｍ単位の前記ガラスセラミックス物品の前記厚さである）と、
４５０ｎｍ〜８００ｎｍの電磁放射波長の光透過（％）＞０．９１×１０（２−０．０３ｔ）（式中、ｔは、ｍｍ単位の前記ガラスセラミックス物品の前記厚さである）と
を有する、ガラスセラミックス物品。
【請求項２】
１．０ＭＰａ√ｍ〜２．０ＭＰａ√ｍの範囲内の破壊靭性を有する、請求項１記載のガラスセラミックス物品。
【請求項３】
荷重２００ｇにおいてビッカース圧子により測定された６８０ｋｇｆ（約６．６７ｋＮ）超の硬度を有する、請求項１記載のガラスセラミックス物品。
【請求項４】
強化されており、かつ１７５ＭＰａ超の圧縮応力を有する、請求項１記載のガラスセラミックス物品。
【請求項５】
８０ＭＰａ以上の中央張力を有する、実施形態４記載のガラスセラミックス物品。
【請求項６】
０＊ｔ〜０．３＊ｔ（式中、ｔは、前記ガラスセラミックス物品の厚さである）の圧縮深さを有する、請求項４記載のガラスセラミックス物品。
【請求項７】
２０質量％超の前記二ケイ酸リチウム結晶相を含む、請求項１記載のガラスセラミックス物品。
【請求項８】
２０質量％超の前記ペタライト結晶相を含む、請求項１記載のガラスセラミックス物品。
【請求項９】
５質量％〜３０質量％の前記残留ガラス相を含む、請求項１記載のガラスセラミックス物品。
【請求項１０】
１５６ｍｍ×７６ｍｍガラス物品について測定された１００μｍ未満の撓みを有する、請求項１記載のガラスセラミックス物品。
【請求項１１】
ガラスセラミックス物品厚さ１ｍｍ当たり２５ｎｍ未満のリタデーションの応力を有する、請求項１記載のガラスセラミックス物品。
【請求項１２】
厚さ０．８ｍｍにおいて測定された０．２０未満のヘイズを有する、請求項１記載のガラスセラミックス物品。
【請求項１３】
厚さ０．８ｍｍにおいて測定された４５０ｎｍ〜８００ｎｍの電磁放射波長の８５％超の光透過を有する、請求項１記載のガラスセラミックス物品。
【請求項１４】
０．３ｍｍ〜１．０ｍｍの厚さを有する、請求項１記載のガラスセラミックス物品。
【請求項１５】
リン酸リチウム結晶相を含む、請求項１記載のガラスセラミックス物品。
【請求項１６】
透明な表面を備える電子デバイスであって、前記透明な表面が、０．３ｍｍ〜１．０ｍｍの厚さを有するガラスセラミックス物品を含み、前記ガラスセラミックス物品が、
二ケイ酸リチウム結晶相と、
ペタライト結晶相と、
残留ガラス相と
を含み、前記ガラスセラミックス物品が、
撓み（μｍ）＜（３．６５×１０−９／μｍ×対角線２）（式中、対角線は、μｍ単位の前記ガラスセラミックス物品の対角線測定値である）と、
ガラスセラミックス物品厚さ１ｍｍ当たり３０ｎｍ未満のリタデーションの応力と、
ヘイズ（％）＜０．０９９４ｔ＋０．１２（式中、ｔは、ｍｍ単位の前記ガラスセラミックス物品の前記厚さである）と、
４５０ｎｍ〜８００ｎｍの電磁放射波長の光透過（％）＞０．９１×１０（２−０．０３ｔ）（式中、ｔは、ｍｍ単位の前記ガラスセラミックス物品の前記厚さである）と
を有する、電子デバイス。
【請求項１７】
１．０ＭＰａ√ｍ〜２．０ＭＰａ√ｍの範囲内の破壊靭性を有する、請求項１６記載のガラスセラミックス物品。
【請求項１８】
荷重２００ｇにおいてビッカース圧子により測定された６８０ｋｇｆ（約６．６７ｋＮ）超の硬度を有する、請求項１６記載のガラスセラミックス物品。
【請求項１９】
強化されており、かつ１７５ＭＰａ超の圧縮応力を有する、請求項１６記載のガラスセラミックス物品。
【請求項２０】
８０ＭＰａ以上の中央張力を有する、請求項１９記載のガラスセラミックス物品。
【請求項２１】
０＊ｔ〜０．３＊ｔ（式中、ｔは、前記ガラスセラミックス物品の厚さである）の圧縮深さを有する、請求項１９記載のガラスセラミックス物品。
【請求項２２】
２０質量％超の前記二ケイ酸リチウム結晶相を含む、請求項１６記載のガラスセラミックス物品。
【請求項２３】
２０質量％超の前記ペタライト結晶相を含む、請求項１６記載のガラスセラミックス物品。
【請求項２４】
５質量％〜３０質量％の前記残留ガラス相を含む、請求項１６記載のガラスセラミックス物品。
【請求項２５】
１５６ｍｍ×７６ｍｍシートについて測定された１００μｍ未満の撓みを有する、請求項１６記載のガラスセラミックス物品。
【請求項２６】
シート厚さ１ｍｍ当たり２５ｎｍ未満のリタデーションの応力を有する、請求項１６記載のガラスセラミックス物品。
【請求項２７】
厚さ０．８ｍｍにおいて測定された０．２０未満のヘイズを有する、請求項１６記載のガラスセラミックス物品。
【請求項２８】
厚さ０．８ｍｍにおいて測定された４５０ｎｍ〜８００ｎｍの電磁放射波長の８５％超の光透過を有する、請求項１６記載のガラスセラミックス物品。
【請求項２９】
０．３ｍｍ〜１．０ｍｍの厚さを有する、請求項１６記載のガラスセラミックス物品。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００５
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００５】
第１の態様は、ガラスセラミックス物品であって、二ケイ酸リチウム結晶相と、ペタライト結晶相と、残留ガラス相とを含み、撓み（μｍ）＜（３．６５×１０−９／μｍ×対角線２）（式中、対角線は、μｍ単位のガラスセラミックス物品の対角線測定値である）と、ガラスセラミックス物品厚さ１ｍｍ当たり３０ｎｍ未満のリタデーションの応力と、ヘイズ（％）＜０．０９９４ｔ＋０．１２（式中、ｔは、ｍｍ単位のガラスセラミックス物品の厚さである）と、４５０ｎｍ〜８００ｎｍの電磁放射波長の光透過（％）＞０．９１×１０（２−０．０３ｔ）（式中、ｔは、ｍｍ単位のガラスセラミックス物品の厚さである）とを有する、ガラスセラミックス物品を含む。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２０】
第１６の態様は、透明な表面を備える電子デバイスであって、透明な表面が、０．３ｍｍ〜１．０ｍｍの厚さを有するガラスセラミックス物品を含み、ガラスセラミックス物品が、二ケイ酸リチウム結晶相と、ペタライト結晶相と、残留ガラス相とを含み、ガラスセラミックス物品が、撓み（μｍ）＜（３．６５×１０−９／μｍ×対角線２）（式中、対角線は、μｍ単位のガラスセラミックス物品の対角線測定値である）と、ガラスセラミックス物品厚さ１ｍｍ当たり３０ｎｍ未満のリタデーションの応力と、ヘイズ（％）＜０．０９９４ｔ＋０．１２（式中、ｔは、ｍｍ単位のガラスセラミックス物品の厚さである）と、４５０ｎｍ〜８００ｎｍの電磁放射波長の光透過（％）＞０．９１×１０（２−０．０３ｔ）（式中、ｔは、ｍｍ単位のガラスセラミックス物品の厚さである）とを有する、電子デバイスを含む。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０３７０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０３７０】
実施形態において、ガラスセラミックス物品の撓みは、撓みが決定されるべきガラスセラミックス物品の対角線測定値の関数として測定することができる。対角線は、ガラスセラミックス物品の最大表面積を有する表面上で測定される。例えば、ガラスセラミックス物品が、実質的に長方形（例えば、丸みを帯びた角を有する長方形または同種のもの）を有する場合、撓み測定において言及した対角線が、実質的に長方形の表面の対角線として測定されることになる。別の例として、ガラス物品が、円形の表面を有する場合、対角線は、円の直径である。さらなる例として、ガラス物品が、長円形の表面を有する場合、対角線は、長円形の表面の円周上の１つの点から長円形の表面上の別の点まで引くことができる最も長い直線である。したがって、本明細書に開示および記載のセラミングサイクル、ガラス前駆体成分、セッター構成、および積層構成体を使用する実施形態において、形成されたガラスセラミックス物品は、以下を満たす撓みを有することができる：
撓み（μｍ）＜（３．６５×１０−９／μｍ×対角線２）。
撓み値の単位はμｍなど、対角線が測定される単位に基づくことになることが理解されるべきである。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０４１９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０４１９】
実施形態１  
ガラスセラミックス物品であって、
二ケイ酸リチウム結晶相と、
ペタライト結晶相と、
残留ガラス相と
を含み、
撓み（μｍ）＜（３．６５×１０−９／μｍ×対角線２）（式中、対角線は、μｍ単位の前記ガラスセラミックス物品の対角線測定値である）と、
ガラスセラミックス物品厚さ１ｍｍ当たり３０ｎｍ未満のリタデーションの応力と、
ヘイズ（％）＜０．０９９４ｔ＋０．１２（式中、ｔは、ｍｍ単位の前記ガラスセラミックス物品の前記厚さである）と、
４５０ｎｍ〜８００ｎｍの電磁放射波長の光透過（％）＞０．９１×１０（２−０．０３ｔ）（式中、ｔは、ｍｍ単位の前記ガラスセラミックス物品の前記厚さである）と
を有する、ガラスセラミックス物品。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０４３４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０４３４】
実施形態１６  
透明な表面を備える電子デバイスであって、前記透明な表面が、０．３ｍｍ〜１．０ｍｍの厚さを有するガラスセラミックス物品を含み、前記ガラスセラミックス物品が、
二ケイ酸リチウム結晶相と、
ペタライト結晶相と、
残留ガラス相と
を含み、前記ガラスセラミックス物品が、
撓み（μｍ）＜（３．６５×１０−９／μｍ×対角線２）（式中、対角線は、μｍ単位の前記ガラスセラミックス物品の対角線測定値である）と、
ガラスセラミックス物品厚さ１ｍｍ当たり３０ｎｍ未満のリタデーションの応力と、
ヘイズ（％）＜０．０９９４ｔ＋０．１２（式中、ｔは、ｍｍ単位の前記ガラスセラミックス物品の前記厚さである）と、
４５０ｎｍ〜８００ｎｍの電磁放射波長の光透過（％）＞０．９１×１０（２−０．０３ｔ）（式中、ｔは、ｍｍ単位の前記ガラスセラミックス物品の前記厚さである）と
を有する、電子デバイス。