【誤訳訂正書】
【提出日】令和3年12月3日(2021.12.3)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スカラー、ベクトル、又はこれらの組合せであり得る横電界を有する光ビームのビーム品質要因（ＶＱＦ）を決定する方法であって、前記ＶＱＦは純粋なスカラーと純粋なベクトルとの間で変化する前記光ビームのベクトル性の度合いの測定値であり、
前記方法は、
光ビームを受光することと、
前記受光した光ビームを２つの直交成分に分割することと、
直交成分当たり所定の数のモード又は状態を検出することであって、分割された一方の直交成分に対して検出された前記所定の数のモード又は状態が分割された他方の直交成分に対して検出された所定の数のモード又は状態と同一又は実質的に同様であるように検出することと、
検出された各モード又は状態の軸上強度を測定することと、
少なくとも１つの量子力学エンタングルメント測定を用いて前記測定された軸上強度に関して前記ＶＱＦを算出することと、を含む方法。
【請求項２】
前記光ビームはレーザビームであり、前記測定された軸上強度は正規化された軸上強度である、
請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記受光した光ビームを２つの直交成分に分割することは、前記受光した光ビームを２つの直交偏光成分に分割すること、又は２つの直交空間モード成分に分割することを含む、
請求項１又は２に記載の方法。
【請求項４】
前記受光したビームを前記２つの直交偏光成分に分割することは、偏光格子、偏光ビームスプリッタ、幾何学的位相要素（単数及び複数）及び複屈折プリズム（単数及び複数）を含む群から選択される偏光スプリッタによって行われる、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記受光したビームは、前記２つの直交偏光成分に分割される場合において、前記２つの直交偏光成分は、水平及び垂直に偏光された成分、左回り及び右回り円偏光成分、又は斜め及び反斜め偏光成分である、
請求項３又は４のいずれかに記載の方法。
【請求項６】
前記直交成分当たり検出された所定の数のモード又は状態は、６つのモード又は状態のセットを含み、前記６つのモード又は状態は直交モード又は状態の対と、４つの関連する相互にバイアスされていないモード又は状態とを含む、
請求項１〜５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項７】
前記４つの関連する相互にバイアスされていないモード又は状態は、それらの間に相対的な位相遅延を有する直交基準モード又は状態の重ね合わせである、
請求項６に記載の方法。
【請求項８】
直交成分当たり前記所定の数のモード又は状態を検出することは、モード分解により行われる、
請求項１〜７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項９】
前記直交成分当たりの前記所定の数のモード又は状態を検出することは、前記直交モード又は状態の対及び前記４つの関連する相互にバイアスされていないモード又は状態をそれぞれ検出するのに好適な直交及び相互にバイアスされていない関連する関数で符号化されたホログラムの形態の整合フィルタを含む整合フィルタ配置によって行われる、
請求項６又は請求項７のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１０】
前記整合フィルタ配置は、前記直交モード又は状態の対、及び前記４つの関連する相互にバイアスされていないモード又は状態を検出するのに好適なホログラムの重ね合わせでそれぞれ、符号化又はプログラムされた２つの領域を有する光学素子を含み、前記方法は、前記直交成分の対を前記２つの領域にそれぞれ導き、同時に、かつリアルタイムで、直交成分当たり前記直交モード又は状態の対及び前記４つの関連する相互にバイアスされていないモード又は状態を検出することを含む、
請求項９に記載の方法。
【請求項１１】
前記光学素子は、デジタルホログラムで符号化された空間光変調器、回折光学素子、メタマテリアル、屈折構造、非球面光学素子及びデジタルマイクロミラーデバイスを含む群から選択される、
請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
検出器を介してフーリエ面における前記検出されたモード又は状態の軸上強度を測定することを含む、請求項１〜１１のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１３】
前記直交成分当たり検出されたモード又は状態を、フーリエレンズを介して前記検出器に投影することを含み、前記検出器は光検出器である、請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
少なくとも１つの量子力学エンタングルメント測定の測定値は、レーザビームの状態トモグラフィにより測定されたコンカレンス（concurrence）、エンタングルメントエントロピー及び量子的ディスコード（discord）を含む群から選択される、請求項１〜１３のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１５】
前記ＶＱＦを算出することは、
パウリのオペレータの３つの期待値σ１、σ２、σ３を算出することであって、第１の期待値σ１は直交成分の両方に関連付けられた相互にバイアスされていない第１のモード又は状態に対応する前記測定された軸上強度の合計と、直交成分の両方に関連付けられた相互にバイアスされていない第２のモード又は状態に対応する前記測定された軸上強度の合計との差として算出され、第２の期待値σ２は直交成分の両方に関連付けられた相互にバイアスされていない第３のモード又は状態に対応する前記測定された軸上強度の合計と、直交成分の両方に関連付けられた相互にバイアスされていない第４のモード又は状態に対応する前記測定された軸上強度の合計との差として算出され、かつ第３の期待値σ３は、直交成分の両方に関連付けられた第１の直交モード又は状態に対応する前記測定された軸上強度の合計と、直交成分の両方に関連付けられた第２の直交モード又は状態に対応する前記測定された軸上強度の合計との差として算出されることと、
次式への入力値として前記算出された期待値σ１、σ２、σ３を用いてブロッホベクトルの長さｓを算出することと、
【数１】
2019519781.tif 000001
次式を用い、前記ブロッホベクトルの長さｓの算出値を用いて、前記ＶＱＦを算出することであって、
【数２】
2019519781.tif 000002
、前記算出されたＶＱＦは純粋なスカラーに対しては０であり、純粋なベクトルに対しては１であり、ベクトル品質の変化する度合いに対しては中間値であるようにすること、
を含む、請求項６に記載の方法。
【請求項１６】
前記光ビームを受光することは、前記光ビームの一部を受光することを含み、前記光ビームの一部のＶＱＦの算出は、前記光ビームのＶＱＦを示すものである、請求項１〜１５のいずれか一項に記載の方法。
【請求項１７】
スカラー、ベクトル、又はこれらの組合せであり得る横電界を有する光ビームのビーム品質要因（ＶＱＦ）を決定するシステムであって、前記ＶＱＦは純粋なスカラーと純粋なベクトルとの間で変化する前記光ビームのベクトル性の度合いの測定値であり、
受光した光ビームを、２つの直交成分に分割し、２つの光路を進行させるように構成されたビームスプリッタと、
前記２つの光路と交差している整合フィルタ配置であって、直交成分当たりの所定の数のモード又は状態を検出し、分割された一方の直交成分に対して検出された所定の数のモード又は状態が、分割された他方の直交成分に対して検出された所定の数のモード又は状態と同一又は実質的に同様であるように構成された整合フィルタ配置と、
前記整合フィルタ配置により検出された各モード又は状態の軸上強度を測定するように構成された検出器と、
前記検出器により測定された前記軸上強度、又はそれを示すデータを受信し、前記軸上強度、又はそれを示すデータを処理して、少なくとも１つの量子力学エンタングルメント測定を用いて前記測定された軸上強度に関して前記ＶＱＦを算出するように構成されたプロセッサと、
を備える、システム。
【請求項１８】
前記光ビームはレーザビームであり、
前記検出器は正規化された軸上強度を測定するように構成されている、請求項１７に記載のシステム。
【請求項１９】
前記ビームスプリッタは、前記受光した光ビームを２つの直交偏光成分を分割するように構成された偏光スプリッタ、又は前記ビーム又は光を２つの直交空間モード成分に分割するように構成された空間モードスプリッタである、
請求項１７又は１８に記載のシステム。
【請求項２０】
前記偏光スプリッタは、偏光格子、偏光ビームスプリッタ、幾何学的位相要素（単数及び複数）及び複屈折プリズム（単数及び複数）を含む群から選択される、請求項１９に記載のシステム。
【請求項２１】
前記２つの直交偏光成分は、水平及び垂直偏光成分、左回り及び右回り円偏光成分、又は斜め及び反斜め偏光成分である、請求項１９又は２０のいずれかに記載のシステム。
【請求項２２】
前記直交成分当たり検出された所定の数のモード又は状態は、６つのモード又は状態のセットを含み、前記６つのモード又は状態は、一対の直交モード又は状態と、相互にバイアスされていない関連する４つのモード又は状態とを含む、請求項１７〜２１のいずれか一項に記載のシステム。
【請求項２３】
前記相互にバイアスされていない関連する４つのモード又は状態は、それらの間に相対的な位相遅延を有する直交基準モード又は状態の重ね合わせである、
請求項２２に記載のシステム。
【請求項２４】
前記整合フィルタ配置は、モード分解により、前記直交成分当たり所定の数のモード又は状態を検出するように構成されている、請求項１７〜２３のいずれか一項に記載のシステム。
【請求項２５】
前記整合フィルタ配置は、直交及び相互にバイアスされていないモード又は状態を検出するのに好適な直交及び相互にバイアスされていない関数で符号化されたホログラムの形態の整合フィルタを含む、請求項２２又は請求項２３のいずれかに記載のシステム。
【請求項２６】
前記整合フィルタ配置は２つの領域を有する光学素子を含み、各領域は、２つの直交モード又は状態と、相互にバイアスされていない関連する４つのモード又は状態とを、同時に、リアルタイムで、使用中に検出するのに好適なホログラムの重ね合わせで符号化又はプログラムされている、
請求項２５に記載のシステム。
【請求項２７】
前記光学素子はデジタルホログラムで符号化された空間光変調器、回折光学素子、メタマテリアル、屈折構造、非球面光学素子、及びデジタルマイクロミラーデバイスを含む群から選択される、
請求項２６に記載のシステム。
【請求項２８】
前記システムはそれぞれ前記整合フィルタ配置から光路下流に配置された一対のフーリエレンズを含み、各フーリエレンズは、フーリエ面において、前記直交成分当たり検出されたモード又は状態を前記検出器に投影する、
請求項１７〜２７のいずれか一項に記載のシステム。
【請求項２９】
前記検出器は光検出器である、請求項１７〜２８のいずれか一項に記載のシステム。
【請求項３０】
前記光検出器は電荷結合素子（ＣＣＤ）、相補型金属酸化膜半導体（ＣＭＯＳ）デバイス及びフォトダイオードアレイを含む群から選択される、請求項２９に記載のシステム。
【請求項３１】
少なくとも１つの量子力学エンタングルメント測定の測定値は、レーザビームの状態トモグラフィにより測定されたコンカレンス、エンタングルメントエントロピー及び量子的ディスコードを含む群から選択される、請求項１７〜３０のいずれか一項に記載のシステム。
【請求項３２】
前記プロセッサは、前記検出器によって測定された前記受光した軸上強度又はそれを示すデータを処理し、それによって、
パウリのオペレータの３つの期待値σ１、σ２、σ３を算出し、第１の期待値σ１は直交成分の両方に関連付けられた相互にバイアスされていない第１のモード又は状態に対応する前記測定された軸上強度の合計と、直交成分の両方に関連付けられた相互にバイアスされていない第２のモード又は状態に対応する前記測定された軸上強度の合計との間の差として算出され、第２の期待値σ２は直交成分の両方に関連付けられた相互にバイアスされていない第３のモード又は状態に対応する前記測定された軸上強度の合計と、直交成分の両方に関連付けられた相互にバイアスされていない第４のモード又は状態に対応する前記測定された軸上強度の合計との差として算出され、かつ第３の期待値σ３は、直交成分の両方に関連付けられた第１の直交モード又は状態に対応する前記測定された軸上強度の合計と、直交成分の両方に関連付けられた第２の直交モード又は状態に対応する前記測定された軸上強度の合計との差として算出され、
次式への入力値として前記算出された期待値σ１、σ２、σ３を用いて、ブロッホベクトルの長さｓを算出し、
【数３】
2019519781.tif 000003
かつ
次式を用いて前記ブロッホベクトルの長さｓの算出値を用いて前記ＶＱＦを算出することであって、
【数４】
2019519781.tif 000004
、前記算出されたＶＱＦは純粋なスカラーに対しては０で、純粋なベクトルに対しては１であり、ベクトル品質の変化する度合いに対しては中間値であるようにすることによって、
前記ＶＱＦを算出するように構成される、
請求項２２に記載のシステム。
【請求項３３】
前記システムの大部分は光学的に遮蔽された筐体内に位置しており、前記筐体は前記光ビームを受光するように構成された入力ポートを含む、
請求項１７〜３２のいずれか一項に記載のシステム。
【請求項３４】
前記システムは前記算出されたＶＱＦを出力する出力装置を含み、前記出力装置は視覚的表示及び音響出力装置を含む群から選択される、請求項１７〜３３のいずれか一項に記載のシステム。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１２】
前記方法は好適な検出器を介してフーリエ面における前記検出されたモード又は状態の軸上強度を測定することを含むことができる。前記方法は前記直交成分当たり検出されたモード又は状態を、フーリエレンズを介して前記検出器に空間的に分解された方法（spatially resolved manner）で投影することを更に含んでもよく、前記検出器は光検出器である。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１３】
前記少なくとも１つの量子力学エンタングルメント測定値はレーザビームの状態トモグラフィにより測定されたコンカレンス（concurrence）、あるいはエンタングルメントエントロピー及び量子的ディスコード（discord）を含む群から選択されてもよい。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２３】
前記システムは一対のフーリエレンズを含むことができ、それぞれ前記整合フィルタ配置の光路下流に配置され、各フーリエレンズはフーリエ面内の前記直交成分当たりの検出されたモード又は状態を前記検出器に、空間的に分解された方法で、投影するように構成される。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２５】
前記少なくとも１つの量子力学エンタングルメント測定値はレーザビームの状態トモグラフィにより測定されたコンカレンス、あるいはエンタングルメントエントロピー及び量子的ディスコードを含む群から選択されてもよい。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５１】
システム１０は、一対のフーリエレンズ１８と、整合フィルタ配置１６の光学的に下流に配置された検出器２０とを更に含み、空間的に分解された方法で直交偏光成分１４．１、１４．２の両方に対して配置１６によって検出されたモードの正規化された軸上強度を測定することができる。
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５２】
検出器２０は検出される波長及び電力レベルに応じて選択された光検出器とすることができる。好ましい例示の実施形態では、検出器２０はＣＣＤ（電荷結合素子）である。検出された１２個のモードはすべて空間的に分解された方法で、検出器２０上の所定の位置又は領域に投影され得ることに留意されたい。この点に関し、システム１０は、検出器の各領域に投影される検出されたモードに関するアプリオリ情報を有することができるので、検出器２０上の特定の領域で受光した強度を、システム１０に関連付けられた検出された特定のモードに整合することができる。例えば、一つの例示の実施形態では、検出器２０は１２個の領域にセグメント化され、区分され、又はパーティションを切られてもよく、検出された１２個のモードは、上記したように、所定の方法で、それぞれ領域内に投影される。このようにして、例えば、検出器２０の領域１〜４で測定された強度は直交成分両方の検出された２つの直行モードに対応し得るものである。