(57)【要約】  制御ステム（４）と磁化リング（１８）を有する携行可能な物である。制御ステム（４）を回転させて作動させることによって、当該携行可能な物の少なくとも１つの電子的又は機械的な機能を制御することができ、磁化リング（１８）は、制御ステム（４）によって回転駆動される。磁化リング（１８）の回転と位置は、空間における互いに平行である２つの方向のみにおける磁気誘導の変化を検知するように構成している２つの誘導性センサー（１５０）によって検出される。【選択図】  図１８
2019525207.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
制御ステム（４）と磁化リング（１８）を有する携行可能な物であって、
前記制御ステム（４）を回転させて作動させることによって、当該携行可能な物の少なくとも１つの電子的又は機械的な機能を制御することができ、
前記磁化リング（１８）は、前記制御ステム（４）によって回転駆動され、
前記制御ステム（４）の回転と位置が、空間における互いに平行な２つの方向のみにおける前記磁化リング（１８）の回転によって発生する磁気誘導の変化を検知するように構成している２つの誘導性センサー（１５０）によって検出される
携行可能な物。
【請求項２】
前記２つの誘導性センサー（１５０）は、前記磁化リング（１８）の回転中心（Ｏ）から等しい距離にて、前記磁化リング（１８）の前記回転中心（Ｏ）を通り抜ける平面（Ｐ）に対して対称的に配置されている
請求項１に記載の携行可能な物。
【請求項３】
前記２つの誘導性センサー（１５０）は、鉛直方向のみにおける磁気誘導の変化を検知する
請求項１又は２に記載の携行可能な物。
【請求項４】
前記２つの誘導性センサー（１５０）は、前記制御ステム（４）が作動することによって前記磁化リング（１８）が回転するときに前記２つの誘導性センサー（１５０）が６０〜１２０°の値の分、互いに対して位相ずれしている信号を生成するように、前記制御ステム（４）に対して構成している
請求項１〜３のいずれかに記載の携行可能な物。
【請求項５】
当該携行可能な物は、前記制御ステム（４）のための受け台としてはたらくように構成しているフレーム（２）を有し、
前記誘導性センサー（１５０）は、前記フレーム（２）内に配置された少なくとも１つのハウジング（１５６）内に配置されており、かつ、前記フレーム（２）内にて弾性手段によって保持される
請求項１〜４のいずれかに記載の携行可能な物。
【請求項６】
前記２つの誘導性センサー（１５０）は、前記フレーム（２）内において構成している２つの別個のハウジング（１５６）内に配置される
請求項５に記載の携行可能な物。
【請求項７】
当該携行可能な物は、少なくとも１つの弾性フィンガー（１６０）を備える保持プレート（１５８）を有し、
前記弾性フィンガー（１６０）は、前記誘導性センサー（１５０）が中に配置された少なくとも１つのハウジング（１５６）内に、前記誘導性センサー（１５０）を、前記誘導性センサー（１５０）に対する圧力によって保持する
請求項５又は６に記載の携行可能な物。
【請求項８】
前記保持プレート（１５８）には、２つの弾性フィンガー（１６０）があり、
前記誘導性センサー（１５０）は、プリント回路シート（１２８）に固定され、
このプリント回路シート（１２８）に対して前記誘導性センサー（１５０）が固定されている箇所にて前記弾性フィンガー（１６０）が押す
請求項７に記載の携行可能な物。
【請求項９】
前記プリント回路シート（１２８）はフレキシブルであり、
前記プリント回路シート（１２８）は、曲げられて前記フレーム（２）に接触し、
前記誘導性センサー（１５０）は、前記ハウジング（１５６）内に配置される
請求項８に記載の携行可能な物。
【請求項１０】
前記弾性フィンガー（１６０）は、前記誘導性センサー（１５０）を鉛直方向にて不動化する
請求項９に記載の携行可能な物。
【請求項１１】
前記弾性フィンガー（１６０）は、前記誘導性センサー（１５０）が中に配置される前記ハウジング（１５６）の底部に前記誘導性センサー（１５０）を押しつけるように構成している
請求項１０に記載の携行可能な物。
【請求項１２】
制御ステム（４）の位置を検出する方法であって、
前記制御ステム（４）が回転して作動することによって、前記制御ステム（４）を備える携行可能な物の電子的又は機械的な機能を制御し、
前記制御ステム（４）によって磁化リング（１８）が回転駆動され、
前記制御ステム（４）の回転と位置が、空間における１つの方向のみにおける前記磁化リング（１８）の回転によって発生する磁気誘導の変化を検知するように構成している２つの誘導性センサー（１５０）によって検出され、
当該方法は、前記誘導性センサー（１５０）のそれぞれによって作られる信号の間の比のアークタンジェント関数を計算して、前記制御ステム（４）の回転方向と位置を判断するステップを有する方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、自身の少なくとも１つの電子的又は機械的な機能を制御する回転型制御ステムを有する計時器のような小型の携行可能な物に関する。より詳細には、本発明は、このような携行可能な物であって、回転型制御ステムの作動が２つの誘導性センサーによって磁気誘導を測定することによって検出されるものに関する。
【背景技術】
【０００２】
本発明は、腕時計のような小型の携行可能な物に関し、これは、回転型制御ステムを有し、この回転型制御ステムを作動させることによって、この回転型制御ステムが配置される携行可能な物の機械的又は電子的機能が制御される。
【０００３】
関連する機械的又は電子的機能を適切に実行するために、回転型制御ステムの作動を検出することができなければならない。様々な手法のうち、制御ステムと一体的な磁石の回転によって作られる磁気誘導の変化を測定するものがある。このような磁気誘導の変化を検出するために、位置している環境の磁気誘導の値を測定することができるホール効果センサーのような磁気センサーを用いることができる。
【０００４】
磁気誘導を測定することによって制御ステムの回転を検出する分野においては、制御ステムがどれくらいの量、そして、どの方向に回転したかを正確に知ることがしばしば課題となる。この課題を克服するために、マグネトレジスターやホール効果センサーのような１対の磁気センサーを有するシステムが既に提案されている。これらの既知のシステムにおいて、磁気センサーは、空間における２つの直交する方向における制御ステムと一体化された磁石の回転によって発生する磁気誘導の変化を検出する。
【０００５】
このようなシステムにおいては、磁気センサーが２つの直交する方向における磁気誘導の変化を測定するので、これらの磁気センサーによって作られる測定信号から、携行可能な物の外側の磁気擾乱に起因する影響を、このような磁気擾乱が２つの磁気センサーのうちの一方のみの測定軸に沿った方向を向いている場合に、減らすことができないということに基づく課題がある。実際に、この場合において、他方の磁気センサーは外部磁気擾乱を検知せず、このために２つの測定信号に対するこの磁気擾乱の影響は対称的ではなく、したがって、なくすことができない。したがって、携行可能な物に電磁遮蔽を設けることが必要となり、このことは、非常に厄介であり、コストがかかる。他の手法も知られているが、地球磁場の測定のために特に意図されているものである。このような用途においては、高感度である一又は複数の磁気センサーを用いる。なぜなら、測定される地球磁場が非常に弱く、典型的には、２０〜６０μＴのオーダーであるからである。しかし、これらの磁気センサーは、通常、５ｍＴを超える磁気誘導を測定することができず、これに対して、小型の磁石の値はしばしば１００ｍＴに達する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は、自身の少なくとも１つの機械的又は電子的機能を制御する回転型ステムを有する携行可能な物であって、この回転型ステムの作動が誘導性センサーによって信頼性が高く再現可能に検出されるものを提供することによって、前記課題などを解決することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
このために、本発明は、制御ステムと磁化リングを有する携行可能な物に関し、前記制御ステムを回転させて作動させることによって、当該携行可能な物の少なくとも１つの電子的又は機械的な機能を制御することができ、前記磁化リングは、前記制御ステムによって回転駆動され、前記制御ステムの回転と位置が、空間における互いに平行な２つの方向のみにおける前記磁化リングの回転によって発生する磁気誘導の変化を検知するように構成している２つの誘導性センサーによって検出される。
【０００８】
従属請求項の主題を形成する本発明の他の特徴によると、
−  前記２つの誘導性センサーは、前記磁化リングの回転中心から等しい距離にて、前記磁化リングの前記回転中心を通り抜ける平面に対して対称的に配置されている。
−  前記２つの誘導性センサーは、鉛直方向のみにおける磁気誘導の変化を検知する。
−  前記２つの誘導性センサーは、前記制御ステムが作動することによって前記磁化リングが回転するときに前記２つの誘導性センサーが６０〜１２０°の値の分、互いに対して位相ずれしている信号を生成するように、前記制御ステムに対して構成している。
−  当該携行可能な物は、前記制御ステムのための受け台としてはたらくように構成しているフレームを有し、前記誘導性センサーは、前記フレーム内に配置された少なくとも１つのハウジング内に配置されており、かつ、前記フレーム内にて弾性手段によって保持される。
−  前記２つの誘導性センサーは、前記フレーム内において構成している２つの別個のハウジング内に配置される。
−  当該携行可能な物は、少なくとも１つの弾性フィンガーを備える保持プレートを有し、前記弾性フィンガーは、前記誘導性センサーが中に配置された少なくとも１つのハウジング内に、前記誘導性センサーを、前記誘導性センサーに対する圧力によって保持する。
−  前記保持プレートには、２つの弾性フィンガーがあり、前記誘導性センサーは、プリント回路シートに固定され、このプリント回路シートに対して前記誘導性センサーが固定されている箇所にて前記弾性フィンガーが押す。
−  前記プリント回路シートはフレキシブルであり、前記プリント回路シートは、曲げられて前記フレームに接触し、前記誘導性センサーは、前記ハウジング内に配置される。
−  前記弾性フィンガーは、前記誘導性センサーを鉛直方向にて不動化する。
−  前記弾性フィンガーは、前記誘導性センサーが中に配置される前記ハウジングの底部に前記誘導性センサーを押しつけるように構成している。
【０００９】
「誘導性センサー」とは、レンツの法則とファラデーの法則によって定められる誘導の現象によって自身を通る磁場を電圧に変換するセンサーを意味している。例えば、誘導性センサーは、ホール効果センサー、又はＡＭＲ（異方性磁気抵抗）、ＧＭＲ（巨大磁気抵抗）又はＴＭＲ（トンネル磁気抵抗）のタイプの磁気抵抗を利用する部品であることができる。
【００１０】
これらの特徴の結果、本発明は、制御ステムによって駆動される磁石の回転によって発生する磁気誘導の変化を２つの誘導性センサーによって測定することによって、携行可能な物の少なくとも１つの機械的又は電子的機能を制御する制御ステムの回転を検出することができるような携行可能な物を提供する。これらの２つの誘導性センサーは、空間における一方向のみにおける磁気誘導の変化を検知するように構成している。携行可能な物が位置する環境によって作られる磁気誘導が磁化リングによって発生する磁気誘導に付加されることは明らかである。本発明は、１対の誘導性センサーが一方向のみにおける磁気誘導を検知することに基づいて、適切な信号処理によって、携行可能な物が位置する環境の磁気誘導の影響を測定結果から完全に除去することを可能にする。実際に、このような測定の結果、携行可能な物が位置する環境によって発生する磁気擾乱が２つの誘導性センサーのうちの一方のみの測定軸に沿うような向きを有するような状況が発生することはない。したがって、２つの誘導性センサーのうちの一方が外部磁気擾乱を検知しない状況はなくなり、これによって、測定信号に対する外部磁気擾乱の影響は、両方の誘導性センサーに対して同じであり、したがって、なくすことができる。したがって、携行可能な物を磁気的に遮蔽して携行可能な物の外側の磁気誘導の影響を避けることは必要ではなくなり、このことによって、空間を節約することができる。このことは、利用可能な空間が必然的に非常に制限されるような小型の携行可能な物の場合において非常に有利である。また、遮蔽をしなくてもいいことによって、携行可能な物の製造を単純化し、したがって、確実に信頼性を向上させてコストを低くすることができる。
【００１１】
本発明は、さらに、制御ステムの位置を検出する方法に関し、前記制御ステムが回転して作動することによって、前記制御ステムを備える携行可能な物の電子的又は機械的な機能を制御し、前記制御ステムによって磁化リングが回転駆動され、前記制御ステムの回転と位置が、空間における１つの方向のみにおける前記磁化リングの回転によって発生する磁気誘導の変化を検知するように構成している２つの誘導性センサーによって検出され、当該方法は、前記誘導性センサーのそれぞれによって作られる信号の間の比のアークタンジェント関数を計算して、前記制御ステムの回転方向と位置を判断するステップを有する。
【００１２】
このような特徴の結果、制御ステムの回転の向きにかかわらず、制御ステムの絶対位置を判断することができる。すなわち、いつでもステムの角位置を知ることができる。したがって、制御ステムの位置検出測定の分解能は高く、大規模製造の場合にも、１つの物の製造から別の物の製造へと移行しても再現可能である。
【００１３】
添付図面を参照しながら本発明に係る携行可能な物の例示的な実施形態についての下記の詳細な説明を読むことで、本発明の他の特徴や利点についても明確に理解することができるであろう。このような例は、純粋に非限定的な説明用である。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】小型の携行可能な物の少なくとも１つの電子的機能を制御するデバイスについての組み立てられていない状態の斜視図である。
【図２】下側フレームを上方から見た斜視図である。
【図３】制御ステムの斜視図であり、この図における右側から左側に、この制御ステムの後ろ側端から前側端が延在している。
【図４】スムースなベアリング及び支持リングと磁化リングによって形成された磁性アセンブリーについての組み立てられていない状態の斜視図である。
【図５】制御デバイスの鉛直面に沿った長手方向の断面図であり、この制御デバイス内に、スムースなベアリング及び支持リングと磁化リングによって形成された磁性アセンブリーが配置されている。
【図６】上側フレームについての下方から見た斜視図である。
【図７】図７Ａは、制御ステムの位置をインデクシングするプレートについての上方から見た斜視図である。図７Ｂは、図７Ａの円領域の詳細図である。
【図８】制御ステムの位置をインデクシングするプレートと連係するように構成しているポジショニングばねについての斜視図である。
【図９】制御ステムの位置インデクシングプレートの変位を制限するばねについての上方から見た斜視図である。
【図１０】分解プレートの斜視図である。
【図１１】位置インデクシングプレートから制御ステムを解放するために尖った道具が挿入される穴を示している制御デバイスの一部についての長手方向の断面図である。
【図１２】図１２Ａは、位置インデクシングプレートとポジショニングばねと連係しており安定位置Ｔ１にある制御ステムを示している斜視図である。図１２Ｂは、制御ステムが不安定な押し込まれ位置Ｔ０にある図１２Ａと同様な図である。図１２Ｃは、制御ステムが安定な引き出し位置Ｔ２にある図１２Ａと同様な図である。
【図１３】接触ばねＴ０及びＴ２の斜視図である。
【図１４】図１４Ａ及び１４Ｂは、制御ステムの位置インデクシングプレートのフィンガーと接触ばねＴ２の間の連係を示している概略図である。
【図１５】接触ばねＴ０及びＴ２の接触パッドが配置されているフレキシブルなプリント回路シートの部分的な斜視図である。
【図１６】誘導性センサーが固定されているフレキシブルなプリント回路シートの自由部分についての斜視図である。
【図１７】図１７Ａは、制御デバイスの斜視図であり、この制御デバイスの裏面上にフレキシブルなプリントシートの自由部分が曲げられる。図１７Ｂは、制御デバイスの斜視図であり、この制御デバイスの裏面上に、フレキシブルなプリント回路シートの自由部分が曲げられ、この自由部分がこの制御デバイスにねじによって固定された保持プレートによって保持される。
【図１８】２つの誘導性センサーによって磁化リングの位置を検出するシステムについての立面図である。
【図１９】単一の誘導性センサーによって磁化リングの回転を検出するシステムについての立面図である。
【図２０】携行可能な物に設けられた制御デバイスについての斜視図である。
【図２１】制御ステムが携行可能な物から取り除かれている図２０と同様な図である。
【図２２】誘導性センサーの検知要素と、この検知要素が磁気誘導の変動を検知する方向についての概略斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
本発明は、概して、信頼性が高く、特に、大量生産の場合に１つの携行可能な物から別の携行可能な物へと移行しても再現可能な手法で、計時器のような小型の携行可能な物にマウントされた制御ステムの回転を検出することを伴う創造性のある考えから進展したものである。この課題を克服するために、制御ステムを介して磁化リングを回転駆動し、１対の誘導性センサーによってこの磁化リングの回転によって発生する磁気誘導の変化を検出することを提案する。これらの２つの誘導性センサーは、空間における一方向のみにおける磁気誘導の変動を検知するように構成している。したがって、両方の誘導性センサーの測定信号に対する携行可能な物の外側の磁気誘導の影響は同じであり、これによって、適切な信号処理プロセスを介して、測定結果から携行可能な物が位置する環境の磁気誘導の影響を完全になくすことができる。
【００１６】
本発明は、さらに、空間における一方向のみにおける磁気誘導の変動を検知するように構成している２つの誘導性センサーによって作られる信号の間の比のアークタンジェント関数を計算することを伴うような回転型制御ステムの位置及び回転の向きを検出する方法に関する。携行可能な物が位置する環境の磁気誘導が空間における一方向のみにて２つの誘導性センサーの検知要素に影響を及ぼすために、これらの２つの誘導性センサーによって作られる信号の間の比のアークタンジェント関数を計算することによって、携行可能な物の外側の磁気誘導の影響に起因する信号成分をなくすことができる。
【００１７】
この後のすべてにおいて、後ろ側から前側への方向とは、制御ステムの長手方向の対称軸Ｘ−Ｘに沿って外側の作動用リュウズから制御デバイスを備える携行可能な物の内側の方へと水平方向に延在している直線状の方向である。したがって、制御ステムは、後ろ側から前側へと押され、前側から後ろ側へと引かれる。また、鉛直方向は、制御ステムが延在している平面に対して垂直に延在している。
【００１８】
図１は、腕時計のような小型の携行可能な物の少なくとも１つの電子的機能を制御するデバイスについての組み立てられていない状態の斜視図である。この制御デバイスには、全体に対して参照符号１を割り当てており、この制御デバイスは、例えば、射出成形されたプラスチック材料や黄銅のような非磁性の金属性材料で作られた、下側フレーム２を有しており、そして、長手方向の対称軸Ｘ−Ｘがある、好ましくは、細長い形の実質的に円筒状の形である、制御ステム４の受け台としてはたらく。この制御ステム４は、その長手方向の対称軸Ｘ−Ｘに沿って前側から後ろ側へ、そして、後ろ側から前側へと摺動すること、及び／又は前記と同じ長手方向の対称軸Ｘ−Ｘのまわりを時計回りと反時計回りの方向に回転すること、を行うように構成している。
【００１９】
後ろ側端６は、携行可能な物に制御デバイス１を装着した後にこの携行可能な物の外側に位置することとなり、この後ろ側端６において、制御ステム４が作動用リュウズ８を受けることとなる（図２０を参照）。
【００２０】
前側端１０は、制御デバイス１が組み立てられた後にはその制御デバイス１の内側に位置することとなり、この前側端１０においては、制御ステム４には、例えば、正方形区画１２があり、磁性アセンブリー１４とスムースなベアリング１６を順次的に受ける。
【００２１】
磁性アセンブリー１４は、磁化リング１８と支持リング２０を有し、典型的には接着結合によって、支持リング２０に磁化リング１８が固定される（図４を参照）。支持リング２０は、全体として見ると概して円筒状の部品である。図５に示しているように、支持リング２０には、後ろ側から前側へと、第１の区画２２ａと第２の区画２２ｂがあり、第１の区画２２ａは、第１の外径Ｄ１を有しており、この第１の区画２２ａ上に磁化リング１８が係合しており、第２の区画２２ｂは、第１の外径Ｄ１よりも大きい第２の外径Ｄ２を有し、肩部２４の境界を形成しており、この肩部２４に対して磁化リング１８が動いて当接する。支持リング２０の第１の区画２２ａには、正方形の穴２６が形成されており、この正方形の穴２６は、制御ステム４の正方形区画１２に形と大きさが適応しており、制御ステム４とともに摺動ピニオン型システムを形成している。すなわち、制御ステム４が軸方向に摺動するように作られている場合、支持リング２０と磁化リング２８は不動のままである。しかし、制御ステム４が回転するときに、制御ステム４は駆動リング２０と磁化リング１８を回転駆動する。前記から、支持リング２０によって担持される磁化リング１８が、制御ステム４に接触していないことは明らかである。このことによって、制御デバイス１を備える携行可能な物が衝撃を受けたときに磁化リング１８を保護することが可能になる。
【００２２】
スムースなベアリング１６は、円筒状のハウジング２８を形成しており、このハウジング２８の第１の内径Ｄ３は、制御ステム４の正方形区画１２が内接する円の直径よりもごくわずかだけ大きく（図５を参照）、これによって、制御ステム４が、この円筒状のハウジング２８内にて、軸方向に摺動すること及び／又は回転することを行うことが可能になる。このように、スムースなベアリング１６は、制御ステム４の完全な軸方向のガイドを確実にする。
【００２３】
なお、支持リング２０の第１の区画２２ａに形成された正方形の穴２６が、環状の穴３０によって制御デバイス１の前側の方へと延在しており、この環状の穴３０の第２の内径Ｄ４が、スムースなベアリング１６の第３の外径Ｄ５に嵌められることには留意すべきである。このように、支持リング２０は、スムースなベアリング１６に対して自由回転するように嵌められており、スムースなベアリング１６に当接するように軸方向に動く。このことによって、これらの２つの部品の完全な軸方向の整列が確実になり、摺動ピニオンタイプの連結によって発生することがあるいずれの同心性の問題をも修正することができる。
【００２４】
スムースなベアリング１６には、その軸方向の不動化のために、その外側表面上に環状のカラー３２があり、この環状のカラー３２は、それぞれ下側フレーム２（図２を参照）と上側フレーム３６（図６を参照）にある第１の溝３４ａと第２の溝３４ｂ内に入り込んでおり、下側フレーム２によって覆われるように構成しており、例えば、射出成形されたプラスチック材料や黄銅のような非磁性材料で作られている。これら２つの下側フレーム２と上側フレーム３６については下にて詳細に説明する。
【００２５】
上述の磁性アセンブリー１４とスムースなベアリング１６が説明のみのために示されているものであることに留意することは重要である。実際に、例えば、鋼又は黄銅で作られた、スムースなベアリング１６は、鋼などで作られた制御ステム４が下側フレーム２及び上側フレーム３６をこすることを防ぎ、また、これら２つの下側フレーム２及び上側フレーム３６の材料として典型的に用いられるプラスチック材料の磨耗を発生させることを防ぐように構成している。しかし、簡素化された実施形態において、このようなスムースなベアリング１６を使用せずに、制御ステム４が下側フレーム２によって直接担持されるようにすることを考えることができる。
【００２６】
同様に、磁化リング１８、及び磁化リング１８が固定されている支持リング２０は、制御ステム４の回転が、磁化リング１８の回転によって誘導された磁場における局所変動によって検出される場合のために意図されている。しかし、磁性アセンブリー１４全体を、例えば、摺動ピニオンに置き換えることを考えることができる。摺動ピニオンは、その位置に応じて、例えば、メインばねの巻きか、制御デバイス１を備える腕時計の時刻設定かを制御する。
【００２７】
また、長さの一部に正方形区画があるこの制御ステム４の例が説明のみのために与えられていることに留意することは重要である。実際に、磁性アセンブリー１４を回転駆動するために、制御ステム４には、円形の断面以外の任意のタイプ、例えば、三角形又は楕円形、の断面の区画があることができる。
【００２８】
下側フレーム２と上側フレーム３６の組み合わさったアセンブリーは、制御デバイス１の外側の幾何学的形状を形成しており、これらの下側フレーム２と上側フレーム３６は、例えば、全体として見ると概して平行六面体に対応する形である。下側フレーム２は、制御ステム４を受ける受け台を形成している。このために（図２を参照）、下側フレーム２には、前側に、部分円状の輪郭を有する第１の受け面３８があり、この第１の受け面３８は、スムースなベアリング１６の台座としてはたらき、この第１の受け面３８には、環状のカラー３２を受ける第１の溝３４ａが形成されている。このようにして、スムースなベアリング１の軸方向と回転方向の両方の不動化が確実になる。
【００２９】
下側フレーム２には、さらに、後ろ側に、第２の受け面４０があり、その部分円状の輪郭は、制御ステム４の長手方向の対称軸Ｘ−Ｘを中心としているが、その直径は制御ステム４の直径よりも大きい。組み立てられた制御デバイス１が携行可能な物に搭載される前に検査される段階において制御ステム４が第２の受け面４０のみに載ることを理解することは重要である。この組み立て段階において、制御ステム４が検査のために制御デバイス１に挿入され、水平方向に延在するようになり、制御ステム４の前側端１０においてスムースなベアリング１６によって、そして、制御ステム４の後ろ側端６において第２の受け面を介して、支持され、軸方向にガイドされる。しかし、制御デバイス１が携行可能な物に搭載された後には、制御ステム４は、携行可能な物のケースミドル部４８に設けられた穴４２を通り抜け、この穴４２内にてガイドされ支持される（図２１を参照）。
【００３０】
また、下側フレーム２には、部分円状の輪郭を有する第３及び第４のクリアランス面４４ａ及び４６ａがあり、上側フレーム３６には、相補的なクリアランス面４４ｂ及び４６ｂ（図６を参照）があり、磁化リング１８とその支持リング２０で形成されている磁性アセンブリー１４を受ける。なお、制御デバイス１が携行可能な物にて組み立てられマウントされているときには、磁化リング１８とその支持リング２０は、第３及び第４のクリアランス面４４ａ及び第４のクリアランス面４６ａ及び相補的なクリアランス面４４ｂ及び４６ｂと接触していない。また、第３のクリアランス面４４ａとその対応する相補的なクリアランス面４４ｂは、磁性アセンブリー１４を軸方向にロックする環状のカラー５０によって境界が形成されることにも留意すべきである。
【００３１】
図３に示しているように、制御ステム４には、正方形区画１２の後ろ側に円筒状区画５２がある。この円筒状区画５２の直径は、制御ステム４の正方形区画１２が内接している円の直径と前記制御ステム４の後ろ側区画５４の原直径の間であり、この制御ステム４の端には作動用リュウズ８が固定される。この小径の円筒状区画５２は、凹み５６を形成しており、この凹み５６内には、制御ステム４のための位置インデクシングプレート５８が配置される。このために、位置インデクシングプレート５８には、小径の円筒状区画５２の輪郭に対応する形を有する曲がった部分６０がある。位置インデクシングプレート５８は、例えば、薄い導電性の金属板に対してスタンピングをすることによって得ることができる。しかし、例えば、導電性微粒子を含有する硬いプラスチック材料を成型することによって、位置インデクシングプレート５８を作ることも考えることができる。凹み５６に位置インデクシングプレート５８が係合することによって、前側から後ろ側及び後ろ側から前側へと並進運動するような制御ステム４と位置インデクシングプレート５８の間の連結が確実になる。しかし、下において明確になるように、位置インデクシングプレート５８は、制御ステム４の長手方向の対称軸Ｘ−Ｘに垂直な鉛直方向ｚにおいては、制御ステム４に対して自由である。
【００３２】
図７Ａに示しているように、位置インデクシングプレート５８は実質的に平坦であり、全体として見ると概してＵ字型の部品である。この位置インデクシングプレート５８は、互いに平行に延在しており曲がった部分６０によって互いに接続している２つの実質的に直線状のガイドアーム６２を有する。これらの２つのガイドアーム６２は、例えば、下側フレーム２に配置された２つのスタッド６４に対向しつつ軸方向にガイドされる（特に図２を参照）。位置インデクシングプレート５８は、その２つのガイドアーム６２によってガイドされて、上側フレーム３６にあるリム６８に沿って摺動し、このリム６８の周部は、位置インデクシングプレート５８の周部に対応している（図６を参照）。位置インデクシングプレート５８は、さらに、２つのガイドアーム６２全体の両側にて鉛直方向下方に延在している２つのフィンガー６６ａ、６６ｂを有する。位置インデクシングプレート５８は、リム６８に沿って摺動する際に、前側から後ろ側へ及び後ろ側から前側へと並進運動するような制御ステム４のガイドを確実にする機能を有する。フィンガー６６ａ、６６ｂは、特に、位置インデクシングプレート５８が並進運動するときに位置インデクシングプレート５８が支えられることを防ぐように意図されている。
【００３３】
位置インデクシングプレート５８のガイドアーム６２に、おおまかに長方形の輪郭を有している２つの開口７０が形成されている（特に図７Ｂを参照）。これらの２つの開口７０は、制御ステム４の長手方向の対称軸Ｘ−Ｘの両側にて対称的に延在している。２つの開口７０の側面のうちの制御ステム４の長手方向の対称軸Ｘ−Ｘに最も近い側の側面には、ピーク７６によって分離された第１及び第２の凹部７４ａ、７４ｂを形成している実質的にシヌソイド状のカム路７２がある。
【００３４】
ガイドアーム６２に形成されている２つの開口７０は、ポジショニングばね８０の２つの端７８を受けるように意図されている（図８を参照）。このポジショニングばね８０は、全体として見ると概してＵ字状であり、水平面内にて延在しており基部８４によって互いに接続される２つのアーバー８２がある。これらの２つのアーバー８２は、それらの自由端側において、上方に立ち上がっている２つの実質的に直線状のアーム８６によって延びている。ポジショニングばね８０は、アーム８６の端７８が位置インデクシングプレート５８の開口７０内へと入り込むように、下側フレーム２の底部を通して制御デバイス１にマウントされるように意図されている。下を読むことで、位置インデクシングプレート５８とポジショニングばね８０の間の連係によって、制御ステム４の位置を不安定な押し込まれ位置Ｔ０と２つの安定位置Ｔ１及びＴ２の間にてインデクシングすることが可能になることがわかるであろう。
【００３５】
位置インデクシングプレート５８は、並進運動するように制御ステム４と連結しているが、鉛直方向ｚにて制御ステム４に対して自由であることを上で言及した。したがって、重力の影響下などの通常の使用状態において、位置インデクシングプレート５８が制御ステム４との係合を解除することを防ぐ方策が必要である。このために（図９及び１１を参照）、鉛直方向ｚにおける位置インデクシングプレート５８の変位を制限するばね８８が、この位置インデクシングプレート５８の上におけるこの位置インデクシングプレート５８から短い距離しか離れていない位置に配置される。変位制限ばね８８は、制御デバイス１の下側フレーム２と上側フレーム３６の間で逃げることができないようにされているが、通常の使用状態にて位置インデクシングプレート５８に接触しない。このことによって、制御ステム４上にて寄生摩擦力が発生することを防ぐことができる。このような寄生摩擦力が制御ステム４上にて発生すると、制御ステム４を操作することが難しくなり磨耗の問題が発生する。ただし、変位制限ばね８８は、位置インデクシングプレート５８が制御ステム４から不用意に分離してしまうことを防ぐように十分に位置インデクシングプレート５８の近くにされる。
【００３６】
変位制限ばね８８には、実質的に直線状の中心部９０があり、この中心部９０の端から２対の弾性アーム９２及び９４が延在している。これらの弾性アーム９２及び９４は、変位制限ばね８８の中心部９０の両側にて、この中心部９０が延在している水平面から上方へと離れるように延在している。これらの弾性アーム９２及び９４は、上側フレーム３６が下側フレーム２に接合するときに圧縮するために、変位制限ばね８８に対して鉛直方向ｚに沿った弾性を与える。また、この弾性アーム９２及び９４の対の間には、少なくとも１対、好ましくは、２対の堅い突起９６があり、この突起９６は、変位制限ばね８８の中心部９０の両側にて鉛直方向下方に延びている。これらの堅い突起９６は、上側フレーム３６が下側フレーム２上に配置されているときに下側フレーム２上にて当接するように動き、この突起９６は、制御デバイス１の通常の動作状態において位置インデクシングプレート５８と変位制限ばね８８の間に最小限の空間が形成されることを確実にする。
【００３７】
変位制限ばね８８によって、制御デバイス１を分解することができることが確実になる。実際に、変位制限ばね８８がないと、位置インデクシングプレート５８は制御ステム４と一体化されることとなって、したがって、もはや制御ステム４を分解することができなくなる。制御ステム４を分解することができなければ、制御デバイス１を備える計時器のムーブメントも分解することができない。このことは、特に、高価な計時器の場合に、受け入れがたい。したがって、下側及び上側フレーム２及び３６を連結することによって形成された制御デバイス１が携行可能な物内にてマウントされ、制御ステム４が携行可能な物の外側から制御デバイス１内に挿入されると、制御ステム４は、変位制限ばね８８の弾性力に対抗するように位置インデクシングプレート５８をわずかに持ち上げる。制御ステム４が押されて前進し続けると、重力の影響の下で位置インデクシングプレート５８が凹み５６に落ちる時が訪れる。そして、制御ステム４と位置インデクシングプレート５８が並進運動するように連結する。
【００３８】
制御ステム４を分解できるようにするために分解プレート９８が設けられる（図１０を参照）。この分解プレート９８は、全体として見ると概してＨ字形であり、制御ステム４の長手方向の対称軸Ｘ−Ｘと平行に延在している直線状の区画１００を有しており、この直線状の区画１００に第１及び第２の横片１０２及び１０４が付いている。また、第１の横片１０２には、その２つの自由端において、実質的に直角に曲げられて立ち上がっている２つの突起１０６がある。下側フレーム２にて形成され制御ステム４の下に位置するハウジング１０８内にて、分解プレート９８が受けられる。このハウジング１０８は、制御デバイス１の下面１１２へと開いている穴１１０を介して制御デバイス１の外側と連通している（図１１を参照）。穴１１０に尖った道具を挿入することによって、分解プレート９８に推進力を与えることができる。これを受けて、分解プレート９８は、その２つの突起１０６を介して、変位制限ばね８８の弾性力に対抗するように位置インデクシングプレート５８を押す。そして、位置インデクシングプレート５８は、制御ステム４に形成された凹み５６を離れ、後ろの方へのわずかな牽引力を制御ステム４に対して与える。これは、制御ステム４を制御デバイス１から取り除くために十分である。
【００３９】
制御ステム４は、その安定した待機位置Ｔ１から前側へと押し込まれて不安定な位置Ｔ０となることができ、また、引かれて安定位置Ｔ２となることができる。制御ステム４のこれらの３つの位置Ｔ０、Ｔ１及びＴ２は、位置インデクシングプレート５８とポジショニングばね８０の間の連係によってインデクシングされる。より正確には（図１２Ａを参照）、安定な待機位置Ｔ１においては、制御デバイス１を備える携行可能な物に指示を入力することができず、この安定な待機位置Ｔ１は、位置インデクシングプレート５８のガイドアーム６２に形成された２つの開口７０にある第１の凹部７４ａに、ポジショニングばね８０のアーム８６の端７８が入り込んでいる位置に対応している。制御ステム４をこの安定な待機位置Ｔ１から不安定な位置Ｔ０へと前の方に押すことができる（図１２Ｂを参照）。この変位の間に、ポジショニングばね８０のアーム８６の端７８は、第１の凹部７４ａを離れて、第１の傾斜輪郭１１４を追従する。この第１の傾斜輪郭１１４は、第１の急な傾きαで、制御ステム４の長手方向の対称軸Ｘ−Ｘから徐々に離れる（図７Ｂを参照）。したがって、ポジショニングばね８０のアーム８６の端７８を第１の凹部７４ａから離れさせ、また、これらの端７８を互いに離れさせて第１の傾斜輪郭１１４にて連係させるために、ユーザーは大きな抵抗力を克服しなければならない。
【００４０】
アーム８６の端７８は、転換点１１６に到達すると、第２の傾斜輪郭１１８上にて連係する。この第２の傾斜輪郭１１８は、第１の傾斜輪郭１１４に続いており、第１の傾斜輪郭１１４の第１の傾きαよりも低い第２の傾きβを有する。ポジショニングばね８０のアーム８６の端７８が転換点１１６を通り抜けて第２の傾斜輪郭１１８と連係するようになる時点にて、制御ステム４を動かし続けるためにユーザーに要求される力はシャープに落ち、位置Ｔ１と位置Ｔ０の間の制御ステム４の移行を表すクリックをユーザーは感じる。これらの端７８が第２の傾斜輪郭１１８を追従するにしたがって、ポジショニングばね８０のアーム８６は、それらの待機位置からわずかに離れるように動き続け、ユーザーによって制御ステム４に与えられる推進力に対抗するそれらの弾性復帰力の影響の下で、再び互いに近づこうと試みる傾向がある。ユーザーが制御ステム４上の圧力を解放するとすぐに、ポジショニングばね８０のアーム８６は、第１の傾斜輪郭１１４に自発的に戻り、ポジショニングばね８０の端７８は、位置インデクシングプレート５８のガイドアーム６２に形成された２つの開口７０の第１の凹部７４ａに再び収容される。このように、制御ステム４は、その不安定な位置Ｔ０からその第１の安定位置Ｔ１まで自動的に戻される。
【００４１】
第１及び第２の接触ばね１２０ａ及び１２０ｂは、下側フレーム２にある第１及び第２の空洞１２２ａ及び１２２ｂ内にて圧縮されているように構成している。これらの第１及び第２の接触ばね１２０ａ及び１２０ｂは、渦巻き状の接触ばね、細長材ばね又は他のばねであることができる。２つの空洞１２２ａ、１２２ｂは、好ましくは、水平方向に延在している。ただし、必須ではない。２つの接触ばね１２０ａ、１２０ｂが圧縮状態で設置されているので、それらのポジショニングの精度は、下側フレーム２の製造許容誤差に依存する。下側フレーム２の製造精度は、これらの第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂの製造精度よりも高い。したがって、制御ステム４の位置Ｔ０を検出する精度は高くなる。
【００４２】
図１３及び１５に示しているように、第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂの一方の端は、曲げられて２つの接触ラグ１２４を形成し、この接触ラグ１２４は、フレキシブルなプリント回路シート１２８の表面に設けられた２つの対応する第１の接触パッド１２６上にて当接するように動く。ポジショニングばね８０のアーム８６の端７８が位置インデクシングプレート５８に形成された２つの開口７０の第２の傾斜輪郭１１８に係合する時点は、位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａ、６６ｂが第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂと接触するようになる時点と一致する。この位置インデクシングプレート５８が導電性であるので、フィンガー６６ａ、６６ｂが第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂと接触するときに位置インデクシングプレート５８に電流が流れ、第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂの間の電気接触が閉じられたことが検出される。
【００４３】
第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂは同じ長さである。しかし、好ましくは、第１の空洞１２２ａは、特に許容誤差の問題を考慮して、例えば、第２の空洞１２２ｂよりも長くされる（２つの空洞１２２ａ、１２２ｂの間の長さの差は１ミリメートルの数十分の一である）。したがって、制御ステム４が前側に押し込まれて位置Ｔ０となると、最長の第１の空洞１２２ａに収容された第１の接触ばね１２０ａと整列している位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａは、第１の接触ばね１２０ａと接触し第１の接触ばね１２０ａを圧縮し始める。制御ステム４は、前側に動き続け、位置インデクシングプレート５８の第２のフィンガー６６ｂは、最短の第２の空洞１２２ｂに収容された第２の接触ばね１２０ｂと接触する。この時点にて、位置インデクシングプレート５８は第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂに接触しており、位置インデクシングプレート５８に電流が流れる。このことによって、第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂの間の電気接触が閉じたことを検出することができる。なお、位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａ、６６ｂは、第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂと当接接触するように動く。したがって、制御ステム４が前側へと押し込まれて位置Ｔ０になり第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂの間の回路を閉じるときに、摩擦や磨耗が発生しない。また、第１及び第２の空洞１２２ａ、１２２ｂに長さの差があることによって、電気接触が閉じられること、そして、制御デバイス１を備える携行可能な物への対応する指示の入力がクリックを感じた後にのみ発生することが確実になる。
【００４４】
位置インデクシングプレート５８の２つのフィンガー６６ａ、６６ｂが第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂに接触しているときに、最長の第１の空洞１２２ａに収容された第１の接触ばね１２０ａは圧縮状態となっている。したがって、ユーザーが制御ステム４に対する圧力を解放すると、この第１の接触ばね１２０ａは緩和し、制御ステム４をその不安定な押し込まれ位置Ｔ０からその第１の安定位置Ｔ１まで戻させる。したがって、第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂは、第１の安定位置Ｔ１における制御ステム４のための電気接触部品と弾性戻し手段と同時にはたらく。
【００４５】
第１の安定位置Ｔ１から、制御ステム４を後ろ側に引いて第２の安定位置Ｔ２にすることができる（図１２Ｃを参照）。この運動の間、ポジショニングばね８０のアーム８６の端７８は、第１の凹部７４ａから第２の凹部７４ｂへと移行するために弾性変形し、その際、位置インデクシングプレート５８のガイドアーム６２に形成された２つの開口７０にあるピーク７６をまたがる。制御ステム４がその第２の安定位置Ｔ２に到達すると、位置インデクシングプレート５８の２つのフィンガー６６ａ、６６ｂは、下側フレーム２に形成された第３及び第４の空洞１３２ａ、１３２ｂに収容されている第３及び第４の接触ばね１３０ａ、１３０ｂ（図１３を参照）に当接するように動く。これらの第３及び第４の接触ばね１３０ａ、１３０ｂは、渦巻き状の接触ばね、細長材ばね又は他のばねであることができる。第３及び第４の空洞１３２ａ、１３２ｂは、好ましくは、制御デバイス１における空間のために、鉛直方向に延在している。位置インデクシングプレート５８が導電性であるので、フィンガー６６ａ、６６ｂが第３及び第４の接触ばね１３０ａ、１３０ｂと接触すると、位置インデクシングプレート５８に電流が流れ、これらの接触ばね１３０ａ、１３０ｂの間の電気接触Ｔ２が閉じたことが検出される。
【００４６】
なお、安定位置Ｔ２の場合には、位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａ、６６ｂも第３及び第４の接触ばね１３０ａ、１３０ｂと当接接触するようになり、これによって、摩擦に起因する磨耗のリスクをいずれも避けることができる。また、第３及び第４の接触ばね１３０ａ、１３０ｂは、これと位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａ、６６ｂが衝突したときに曲がることができ、したがって、位置インデクシングプレート５８のポジショニングにおけるいずれの精度不足をも吸収することができる。
【００４７】
好ましくは、第３及び第４の接触ばね１３０ａ、１３０ｂは、屈曲するように動作するように構成している（図１４Ａ及び１４Ｂを参照）。ただし、必須ではない。実際に、直径が一定である接触ばね１３０ａ、１３０ｂを用いるために、位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａ、６６ｂは、下側フレーム２と上側フレーム３６におけるそれらの取り付け箇所の近くの大きな表面にて、接触ばね１３０ａ、１３０ｂと接触する。その接触面が接触ばね１３０ａ、１３０ｂの取り付け箇所の近くであるために、接触ばね１３０ａ、１３０ｂにおいてせん断応力を発生させて、このことは、接触ばね１３０ａ、１３０ｂの早い磨耗や損傷を発生させることがある。この課題を克服するために、接触ばね１３０ａ、１３０ｂには、好ましくは、中間的な高さにて、直径増大部１３４があり、この直径増大部１３４は、制御ステム４がその安定位置Ｔ２まで引かれたときに位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａ、６６ｂと接触する。第３及び第４の接触ばね１３０ａ、１３０ｂは、それらの上端にて、上側フレーム３６に形成された２つの穴１３６内にガイドされ、フレキシブルなプリント回路シート１２８の表面に設けられた第２の接触パッド１３８と接触する。制御ステム４が後ろ側に引かれてその安定位置Ｔ２にあるときに、位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａ、６６ｂは、第３及び第４の接触ばね１３０ａ及び１３０ｂとそれらの最大直径部１３４にて小さい表面上で接触する。このことによって、接触ばね１３０ａ、１３０ｂが下側フレーム２と上側フレーム３６におけるそれらの２つの取り付け箇所の間にて曲がることができる。
【００４８】
図１５において、図面についての理解を容易にするために、下側及び上側フレーム２及び３６を意識的に省略している。図１５に示しているように、フレキシブルなプリント回路シート１２８は、携行可能な物の表盤側にあるプレート１４０上に固定される。フレキシブルなプリント回路シート１２８は、特に、上側フレーム３６を受けるように形と大きさが構成しているカットアウト１４２の形態である。フレキシブルなプリント回路シート１２８の１つの部分１４４は、自由なままである（図１６を参照）。フレキシブルなプリント回路シート１２８のこの自由部分１４４は、第３の接触パッド１４８に加えて、複数の電子部品１４６を担持しており、この第３の接触パッド１４８上には、少なくとも１つ、図示している例においては２つ、の誘導性センサー１５０が固定されている。第３の接触パッド１４８に誘導性センサー１５０を固定することによって、これらの誘導性センサー１５０を、フレキシブルなプリント回路シート１２８を介して、携行可能な物内に収容された電源やマイクロプロセッサー（図示せず）に接続することが可能になる。電源は、動作に必要なエネルギーを誘導性センサー１５０に供給し、マイクロプロセッサーは、誘導性センサー１５０によって供給される信号を受けて処理する。
【００４９】
フレキシブルなプリント回路シート１２８の自由部分１４４は、２つの細長材１５２によってフレキシブルなプリント回路シート１２８の残りの部分に接続され、このことによって、上側フレーム３６と下側フレーム２のアセンブリーのまわりを通るように自由部分１４４を曲げて、そして、下側フレーム２の下面１１２まで曲げて下ろすことが可能になる。これによって、誘導性センサー１５０は、下側フレーム２の下面１１２に形成されている２つのハウジング１５６に入り込む。誘導性センサー１５０は、このようにしてそれらのハウジング１５６内に配置され、磁化リング１８の正確に下に配置される。このことによって、制御ステム４の回転の向きを信頼性が高く検出できることが確実になる。
【００５０】
フレキシブルなプリント回路シート１２８の自由部分１４４が下側フレーム２に対向するように曲げて下ろされると（図１７Ａを参照）、当該アセンブリーは、少なくとも１つ（図示している例において２つ）の弾性フィンガー１６０がある保持プレート１５８によってカバーされる。この弾性フィンガー１６０は、誘導性センサー１５０に対して鉛直方向上方の弾性圧力を与えて、これらの誘導性センサー１５０をそれらのハウジング１５６の底部の方に押す（図１７Ｂを参照）。弾性フィンガー１６０は、好ましくは、誘導性センサー１５０が固定されている箇所にて、フレキシブルなプリント回路１２８を押す。保持プレート１５８は、例えば、２つのねじ１６２によって、プレート１４０に固定される。
【００５１】
制御ステム４は、受け台としてはたらく下側フレーム２によって担持される。同様に、２つの誘導性センサー１５０は、前記下側フレーム２に形成された２つのハウジング１５６内に配置され、これらのハウジング１５６の底部の方に１つ又は２つの弾性フィンガー１６０によって押される（図１８を参照）。したがって、誘導性センサー１５０と、回転可能に制御ステム４に対して固定マウントされる磁化リング１８との相対的なポジショニング精度は、下側フレーム２が作られる精度のみによって決まる。射出成形されたプラスチックなどで作られる下側フレーム２の製造精度は、大規模製造の場合においても、誘導性センサー１５０と磁化リング１８の適切なポジショニングを確実にするために十分である。また、誘導性センサー１５０が一又は複数の弾性フィンガー１６０によってハウジング１５６の底部の方に弾性力を与えられるために、製造許容誤差に起因する任意の遊びをも補償することが可能になる。このような製造許容誤差は、特に、フレキシブルなプリント回路シート１２８上にホール効果部品１５０を結合するステップに起因することがある。この結合する操作は、例えば、フレキシブルなプリント回路シート１２８の接触パッド１４８上に堆積されたはんだペーストを用いて炉内で行われる。
【００５２】
一又は複数の誘導性センサー１５０はそれぞれ、検知要素１５４を有する。この検知要素１５４は、単純化された形態において、平行六面体状の要素の形態であり、これは、この平行六面体状の要素の大きい面に垂直な方向Ｓにおける磁気誘導の変動を検知する（図２２を参照）。図１８に示している例において、誘導性センサー１５０は、好ましくは、これらの検知要素１５４が鉛直方向ｚのみにおける磁気誘導の変動を検出するような方向を向いている。すなわち、誘導性センサーは、磁気誘導の直交するｘ及びｙ軸に沿った水平成分に対して完全に感受性がない。
【００５３】
単一の誘導性センサー１５０を用いる場合（図１９を参照）、制御ステム４の回転振幅と位置は、単に平均的な精度で決められる。実際に、制御ステム４の作動の結果、磁化リング１８が回転すると、誘導性センサー１５０は、変動の振幅が関連する角度の値に応じて変動するようなシヌソイド信号を生成する。例えば、値π／２に近い領域において、シヌソイド信号はほとんど変わらない、これによって、制御ステム４は、誘導性センサー１５０によって供給される信号に対して大きな改変をせずに大きな範囲まで回転することができる。したがって、平均的な精度しかなくても制御ステム４の位置と変位を検出することができる。しかし、シヌソイド信号は、値πに近い領域内において、回転の量と制御ステム４の位置を高精度で決めることができるようにシャープに変動する。制御ステム４の位置と回転量の検出において平均的な精度で満足することができる場合、上記のシステムはまったく適している。しかし、非常に高い測定の精度が必要な場合においては、本発明に係る携行可能な物が２つの誘導性センサー１５０を備えることが好ましい（図１８を参照）。実際に、２つの誘導性センサー１５０を用いるようにすることによって、制御ステム４の回転の振幅と向きの両方を高い精度で決めることができる。このように、磁化リング１８の回転中心Ｏから等しい距離に、磁化リング１８の回転中心Ｏを通り抜ける平面Ｐに対して対称的に、２つの誘導性センサー１５０が配置される。好ましくは、２つの誘導性センサー１５０は、制御ステム４に対して、制御ステム４の作動に起因して磁化リング１８が回転するときに６０〜１２０°であり、好ましくは９０°である角度δの分、互いに位相外れのシヌソイド信号ｓｉｎ（ｘ）とｓｉｎ（ｘ＋δ）を２つの誘導性センサー１５０が作るように構成している。２つの誘導性センサーと磁化リング１８の相対的構成を計算するために、例えば、有限要素法の計算ソフトウェアによって連続的な繰り返しを行うことができる。
【００５４】
２つの誘導性センサー１５０によって作られるシヌソイドの測定信号ｓｉｎ（ｘ）とｓｉｎ（ｘ＋δ）の間の位相ずれδのおかげで、これらの２つの測定信号の間の比のアークタンジェント関数を計算すると、直線が得られる。したがって、制御ステム４の回転運動から、制御ステム４、磁化リング１８及び２つの誘導性センサー１５０によって形成されるシステムから線形応答を得ることができる。制御ステム４の回転のこの線形化によって、好ましいことに、制御ステム４の位置の絶対的な検出が可能になる。すなわち、いつでも制御ステム４の回転の向きと位置を知ることができる。また、位相ずれδのおかげで、２つの誘導性センサー１５０のうちの一方によって作られるシヌソイドの測定信号ｓｉｎ（ｘ）がわずかに変わったときに、他方のシヌソイド信号ｓｉｎ（ｘ＋δ）がよりシャープに逆に変動し、その逆も成り立ち、これらの２つの信号の間の比が制御ステム４の回転に関する精度の高い情報を常に与えるというような状況が常にある。
【００５５】
上において、誘導性センサー１５０が、好ましくは、それらの検知要素が鉛直方向の軸ｚに沿った磁気誘導の変動のみを検出するような方向を向いていることを言及した。この磁気誘導の成分は、磁化リング１８及び携行可能な物の外側の磁場によって発生する軸ｚに沿った誘導どうしの和である。しかし、誘導性センサー１５０が互いに非常に近いのであれば、これに外側磁場が及ぼす影響は、両方の誘導性センサー１５０に対して実質的に同じである。したがって、２つのシヌソイド信号ｓｉｎ（ｘ）とｓｉｎ（ｘ＋δ）の間の比を計算することによって、携行可能な物の外側の磁場に起因する磁気誘導の成分がなくなる。このように、制御ステム４、磁化リング１８及び誘導性センサー１５０によって形成されるシステムの応答は、外側磁場にまったく依存せず、携行可能な物を磁気的に遮蔽する対策をすることは必要ではない。同様に、このシステムの応答は、両方の誘導性センサーが同じように温度の影響を受けるかぎり温度に依存しない。
【００５６】
当然、本発明は上記実施形態に限定されず、当業者であれば添付の請求の範囲によって定められる本発明の範囲から逸脱せずに様々な単純な変更や変種を考えることができる。具体的には、ここで関心事の磁化リングは、好ましくは、バイポーラーのリングであるが、多極の磁化リングであることができる。また、磁化リングの寸法構成が中空の円筒に対応するものであるように延在するようにすることができる。
【符号の説明】
【００５７】
１：制御デバイス
２：下側フレーム
４：制御ステム
Ｘ−Ｘ：長手方向の対称軸
６：後ろ側端
８：作動用リュウズ
１０：前側端
１２：正方形区画
１４：磁性アセンブリー
１６：スムースなベアリング
１８：磁化リング
２０：支持リング
２２ａ：第１の区画
Ｄ１：第１の外径
２２ｂ：第２の区画
Ｄ２：第２の外径
２４：肩部
２６：正方形の穴
２８：円筒状のハウジング
Ｄ３：第１の内径
３０：環状の穴
Ｄ４：第２の内径
Ｄ５：第３の外径
３２：環状のカラー
３４ａ：第１の溝
３４ｂ：第２の溝
３６：上側フレーム
３８：第１の受け面
４０：第２の受け面
４２：穴
４４ａ、４６ａ：第３及び第４のアンダーカット面
４４ｂ、４６ｂ：相補的なアンダーカット面
４８：ケースミドル部
５０：環状のカラー
５２：円筒状区画
５４：後ろ側区画
５６：凹み
５８：位置インデクシングプレート
６０：曲がった部分
６２：ガイドアーム
６４：スタッド
６６ａ、６６ｂ：フィンガー
６８：リム
７０：開口
７２：輪郭
７４ａ：第１の凹部
７４ｂ：第２の凹部
７６：ピーク
７８：端
８０：ポジショニングばね
８２：アーム
８４：基部
８６：アーバー
８８：変位制限ばね
９０：中心部
９２：弾性アームの対
９４：弾性アームの対
９６：堅い突起
９８：分解プレート
１００：直線状の区画
１０２：第１の横片
１０４：第２の横片
１０６：突起
１０８：ハウジング
１１０：穴
１１２：下面
１１４：第１の傾斜輪郭
α：第１の傾き
１１６：転換点
１１８：第２の傾斜輪郭
β：第２の傾き
１２０ａ、１２０ｂ：第１及び第２の接触ばね
１２２ａ、１２２ｂ：第１及び第２の空洞
１２４：接触ラグ
１２６：第１の接触パッド
１２８：フレキシブルなプリント回路シート
１３０ａ、１３０ｂ  第３及び第４の接触ばね
１３２ａ、１３２ｂ  第３及び第４の空洞
１３４：直径増大部
１３６：穴
１３８：第２の接触パッド
１４０：プレート
１４２：カットアウト
１４４：自由部分
１４６：電子部品
１４８：第３の接触パッド
１５０：誘導性センサー
１５２：細長材
１５４：検知要素
１５６：ハウジング
１５８：保持プレート
１６０：弾性フィンガー
１６２：ねじ
【図１】
2019525207.tif 000003
【図２】
2019525207.tif 000004
【図３】
2019525207.tif 000005
【図４】
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【図５】
2019525207.tif 000007
【図６】
2019525207.tif 000008
【図７Ａ−７Ｂ】
2019525207.tif 000009
【図８】
2019525207.tif 000010
【図９】
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【図１０】
2019525207.tif 000012
【図１１】
2019525207.tif 000013
【図１２Ａ】
2019525207.tif 000014
【図１２Ｂ】
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【図１２Ｃ】
2019525207.tif 000016
【図１３】
2019525207.tif 000017
【図１４Ａ】
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【図１４Ｂ】
2019525207.tif 000019
【図１５】
2019525207.tif 000020
【図１６】
2019525207.tif 000021
【図１７Ａ】
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【図１７Ｂ】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【手続補正書】
【提出日】平成31年2月20日(2019.2.20)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、自身の少なくとも１つの電子的又は機械的な機能を制御する回転型制御ステムを有する計時器のような小型の携行可能な物に関する。より詳細には、本発明は、このような携行可能な物であって、回転型制御ステムの作動が２つの誘導性センサーによって磁気誘導を測定することによって検出されるものに関する。
【背景技術】
【０００２】
本発明は、腕時計のような小型の携行可能な物に関し、これは、回転型制御ステムを有し、この回転型制御ステムを作動させることによって、この回転型制御ステムが配置される携行可能な物の機械的又は電子的機能が制御される。
【０００３】
関連する機械的又は電子的機能を適切に実行するために、回転型制御ステムの作動を検出することができなければならない。様々な手法のうち、制御ステムと一体的な磁石の回転によって作られる磁気誘導の変化を測定するものがある。このような磁気誘導の変化を検出するために、位置している環境の磁気誘導の値を測定することができるホール効果センサーのような磁気センサーを用いることができる。
【０００４】
磁気誘導を測定することによって制御ステムの回転を検出する分野においては、制御ステムがどれくらいの量、そして、どの方向に回転したかを正確に知ることがしばしば課題となる。この課題を克服するために、マグネトレジスターやホール効果センサーのような１対の磁気センサーを有するシステムが既に提案されている。これらの既知のシステムにおいて、磁気センサーは、空間における２つの直交する方向における制御ステムと一体化された磁石の回転によって発生する磁気誘導の変化を検出する。
【０００５】
このようなシステムにおいては、磁気センサーが２つの直交する方向における磁気誘導の変化を測定するので、これらの磁気センサーによって作られる測定信号から、携行可能な物の外側の磁気擾乱に起因する影響を、このような磁気擾乱が２つの磁気センサーのうちの一方のみの測定軸に沿った方向を向いている場合に、減らすことができないということに基づく課題がある。実際に、この場合において、他方の磁気センサーは外部磁気擾乱を検知せず、このために２つの測定信号に対するこの磁気擾乱の影響は対称的ではなく、したがって、なくすことができない。したがって、携行可能な物に電磁遮蔽を設けることが必要となり、このことは、非常に厄介であり、コストがかかる。他の手法も知られているが、地球磁場の測定のために特に意図されているものである。このような用途においては、高感度である一又は複数の磁気センサーを用いる。なぜなら、測定される地球磁場が非常に弱く、典型的には、２０〜６０μＴのオーダーであるからである。しかし、これらの磁気センサーは、通常、５ｍＴを超える磁気誘導を測定することができず、これに対して、小型の磁石の値はしばしば１００ｍＴに達する。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は、自身の少なくとも１つの機械的又は電子的機能を制御する回転型ステムを有する携行可能な物であって、この回転型ステムの作動が誘導性センサーによって信頼性が高く再現可能に検出されるものを提供することによって、前記課題などを解決することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
このために、本発明は、制御ステムと磁化リングを有する携行可能な物に関し、前記制御ステムを回転させて作動させることによって、当該携行可能な物の少なくとも１つの電子的又は機械的な機能を制御することができ、前記磁化リングは、前記制御ステムによって回転駆動され、前記制御ステムの回転と位置が、空間における互いに平行な２つの方向のみにおける前記磁化リングの回転によって発生する磁気誘導の変化を検知するように構成している２つの誘導性センサーによって検出される。
【０００８】
従属請求項の主題を形成する本発明の他の実施形態によると、
−  前記２つの誘導性センサーは、前記磁化リングの回転中心から等しい距離にて、前記磁化リングの前記回転中心を通り抜ける平面に対して対称的に配置されている。
−  前記２つの誘導性センサーは、鉛直方向のみにおける磁気誘導の変化を検知する。すなわち、前記２つの誘導性センサーは、鉛直方向のみ当該携行可能な物の裏側に垂直な方向における磁気誘導の変化を検知し、制御ステムの長手方向の対称軸が前記裏側に平行に延在している。
−  前記２つの誘導性センサーは、前記制御ステムが作動することによって前記磁化リングが回転するときに前記２つの誘導性センサーが６０〜１２０°の値の分、互いに対して位相ずれしている信号を生成するように、前記制御ステムに対して構成している。
−  当該携行可能な物は、前記制御ステムのための受け台としてはたらくように構成しているフレームを有し、前記誘導性センサーは、前記フレーム内に配置された少なくとも１つのハウジング内に配置されており、かつ、前記フレーム内にて弾性手段によって保持される。
−  前記２つの誘導性センサーは、前記フレーム内において構成している２つの別個のハウジング内に配置される。
−  当該携行可能な物は、少なくとも１つの弾性フィンガーを備える保持プレートを有し、前記弾性フィンガーは、前記誘導性センサーが中に配置された少なくとも１つのハウジング内に、前記誘導性センサーを、前記誘導性センサーに対する圧力によって保持する。
−  前記保持プレートには、２つの弾性フィンガーがあり、前記誘導性センサーは、プリント回路シートに固定され、このプリント回路シートに対して前記誘導性センサーが固定されている箇所にて前記弾性フィンガーが押す。
−  前記プリント回路シートはフレキシブルであり、前記プリント回路シートは、曲げられて前記フレームに接触し、前記誘導性センサーは、前記ハウジング内に配置される。
−  前記弾性フィンガーは、前記誘導性センサーを鉛直方向にて不動化する。
−  前記弾性フィンガーは、前記誘導性センサーが中に配置される前記ハウジングの底部に前記誘導性センサーを押しつけるように構成している。
【０００９】
「誘導性センサー」とは、レンツの法則とファラデーの法則によって定められる誘導の現象によって自身を通る磁場を電圧に変換するセンサーを意味している。例えば、誘導性センサーは、ホール効果センサー、又はＡＭＲ（異方性磁気抵抗）、ＧＭＲ（巨大磁気抵抗）又はＴＭＲ（トンネル磁気抵抗）のタイプの磁気抵抗を利用する部品であることができる。
【００１０】
これらの特徴の結果、本発明は、制御ステムによって駆動される磁石の回転によって発生する磁気誘導の変化を２つの誘導性センサーによって測定することによって、携行可能な物の少なくとも１つの機械的又は電子的機能を制御する制御ステムの回転を検出することができるような携行可能な物を提供する。これらの２つの誘導性センサーは、空間における単一の方向のみにおける磁気誘導の変化を検知するように構成している。携行可能な物が位置する環境によって作られる磁気誘導が磁化リングによって発生する磁気誘導に付加されることは明らかである。本発明は、１対の誘導性センサーが一方向のみにおける磁気誘導を検知することに基づいて、適切な信号処理によって、携行可能な物が位置する環境の磁気誘導の影響を測定結果から完全に除去することを可能にする。実際に、このような測定の結果、携行可能な物が位置する環境によって発生する磁気擾乱が２つの誘導性センサーのうちの一方のみの測定軸に沿うような向きを有するような状況が発生することはない。したがって、２つの誘導性センサーのうちの一方が外部磁気擾乱を検知しない状況はなくなり、これによって、測定信号に対する外部磁気擾乱の影響は、両方の誘導性センサーに対して同じであり、したがって、なくすことができる。したがって、携行可能な物を磁気的に遮蔽して携行可能な物の外側の磁気誘導の影響を避けることは必要ではなくなり、このことによって、空間を節約することができる。このことは、利用可能な空間が必然的に非常に制限されるような小型の携行可能な物の場合において非常に有利である。また、遮蔽をしなくてもいいことによって、携行可能な物の製造を単純化し、したがって、確実に信頼性を向上させてコストを低くすることができる。
【００１１】
本発明は、さらに、制御ステムの位置を検出する方法に関し、前記制御ステムが回転して作動することによって、前記制御ステムを備える携行可能な物の電子的又は機械的な機能を制御し、前記制御ステムによって磁化リングが回転駆動され、前記制御ステムの回転と位置が、空間における１つの方向のみにおける前記磁化リングの回転によって発生する磁気誘導の変化を検知するように構成している２つの誘導性センサーによって検出され、当該方法は、前記誘導性センサーのそれぞれによって作られる信号の間の比のアークタンジェント関数を計算して、前記制御ステムの回転方向と位置を判断するステップを有する。
【００１２】
このような特徴の結果、制御ステムの回転の向きにかかわらず、制御ステムの絶対位置を判断することができる。すなわち、いつでもステムの角位置を知ることができる。したがって、制御ステムの位置検出測定の分解能は高く、大規模製造の場合にも、１つの物の製造から別の物の製造へと移行しても再現可能である。
【００１３】
添付図面を参照しながら本発明に係る携行可能な物の例示的な実施形態についての下記の詳細な説明を読むことで、本発明の他の特徴や利点についても明確に理解することができるであろう。このような例は、純粋に非限定的な説明用である。
【図面の簡単な説明】
【００１４】
【図１】小型の携行可能な物の少なくとも１つの電子的機能を制御するデバイスについての組み立てられていない状態の斜視図である。
【図２】下側フレームを上方から見た斜視図である。
【図３】制御ステムの斜視図であり、この図における右側から左側に、この制御ステムの後ろ側端から前側端が延在している。
【図４】スムースなベアリング及び支持リングと磁化リングによって形成された磁性アセンブリーについての組み立てられていない状態の斜視図である。
【図５】制御デバイスの鉛直面に沿った長手方向の断面図であり、この制御デバイス内に、スムースなベアリング及び支持リングと磁化リングによって形成された磁性アセンブリーが配置されている。
【図６】上側フレームについての下方から見た斜視図である。
【図７】図７Ａは、制御ステムの位置をインデクシングするプレートについての上方から見た斜視図である。図７Ｂは、図７Ａの円領域の詳細図である。
【図８】制御ステムの位置をインデクシングするプレートと連係するように構成しているポジショニングばねについての斜視図である。
【図９】制御ステムの位置インデクシングプレートの変位を制限するばねについての上方から見た斜視図である。
【図１０】分解プレートの斜視図である。
【図１１】位置インデクシングプレートから制御ステムを解放するために尖った道具が挿入される穴を示している制御デバイスの一部についての長手方向の断面図である。
【図１２】図１２Ａは、位置インデクシングプレートとポジショニングばねと連係しており安定位置Ｔ１にある制御ステムを示している斜視図である。図１２Ｂは、制御ステムが不安定な押し込まれ位置Ｔ０にある図１２Ａと同様な図である。図１２Ｃは、制御ステムが安定な引き出し位置Ｔ２にある図１２Ａと同様な図である。
【図１３】第１及び第２の接触ばねの斜視図である。
【図１４】図１４Ａ及び１４Ｂは、制御ステムの位置インデクシングプレートのフィンガーと第３及び第４の接触ばねの間の連係を示している概略図である。
【図１５】第１及び第２の接触ばねの接触パッドが配置されているフレキシブルなプリント回路シートの部分的な斜視図である。
【図１６】誘導性センサーが固定されているフレキシブルなプリント回路シートの自由部分についての斜視図である。
【図１７】図１７Ａは、制御デバイスの斜視図であり、この制御デバイスの裏面上にフレキシブルなプリントシートの自由部分が曲げられる。図１７Ｂは、制御デバイスの斜視図であり、この制御デバイスの裏面上に、フレキシブルなプリント回路シートの自由部分が曲げられ、この自由部分がこの制御デバイスにねじによって固定された保持プレートによって保持される。
【図１８】２つの誘導性センサーによって磁化リングの位置を検出するシステムについての立面図である。
【図１９】単一の誘導性センサーによって磁化リングの回転を検出するシステムについての立面図である。
【図２０】携行可能な物に設けられた制御デバイスについての斜視図である。
【図２１】制御ステムが携行可能な物から取り除かれている図２０と同様な図である。
【図２２】誘導性センサーの検知要素と、この検知要素が磁気誘導の変動を検知する方向についての概略斜視図である。
【発明を実施するための形態】
【００１５】
本発明は、概して、信頼性が高く、特に、大量生産の場合に１つの携行可能な物から別の携行可能な物へと移行しても再現可能な手法で、計時器のような小型の携行可能な物にマウントされた制御ステムの回転を検出することを伴う創造性のある考えから進展したものである。この課題を克服するために、制御ステムを介して磁化リングを回転駆動し、１対の誘導性センサーによってこの磁化リングの回転によって発生する磁気誘導の変化を検出することを提案する。これらの２つの誘導性センサーはそれぞれ、空間における一方向のみにおける磁気誘導の変動を検知するように構成している。したがって、両方の誘導性センサーの測定信号に対する携行可能な物の外側の磁気誘導の影響は同じであり、これによって、適切な信号処理プロセスを介して、測定結果から携行可能な物が位置する環境の磁気誘導の影響を完全になくすことができる。
【００１６】
本発明は、さらに、空間における一方向のみにおける磁気誘導の変動を検知するように構成している２つの誘導性センサーによって作られる信号の間の比のアークタンジェント関数を計算することを伴うような回転型制御ステムの位置及び回転の向きを検出する方法に関する。携行可能な物が位置する環境の磁気誘導が空間における一方向のみにて２つの誘導性センサーの検知要素に影響を及ぼすために、これらの２つの誘導性センサーによって作られる信号の間の比のアークタンジェント関数を計算することによって、携行可能な物の外側の磁気誘導の影響に起因する信号成分をなくすことができる。
【００１７】
この後のすべてにおいて、後ろ側から前側への方向とは、制御ステムの長手方向の対称軸Ｘ−Ｘに沿って外側の作動用リュウズから制御デバイスを備える携行可能な物の内側の方へと水平方向に延在している直線状の方向である。したがって、制御ステムは、後ろ側から前側へと押され、前側から後ろ側へと引かれる。また、鉛直方向は、制御ステムが延在している平面に対して垂直に延在している。
【００１８】
図１は、腕時計のような小型の携行可能な物の少なくとも１つの電子的機能を制御するデバイスについての組み立てられていない状態の斜視図である。この制御デバイスには、全体に対して参照符号１を割り当てており、この制御デバイスは、例えば、射出成形されたプラスチック材料や黄銅のような非磁性の金属性材料で作られた、下側フレーム２を有しており、そして、長手方向の対称軸Ｘ−Ｘがある、好ましくは、細長い形の実質的に円筒状の形である、制御ステム４の受け台としてはたらく。この制御ステム４は、その長手方向の対称軸Ｘ−Ｘに沿って前側から後ろ側へ、そして、後ろ側から前側へと摺動すること、及び／又は前記と同じ長手方向の対称軸Ｘ−Ｘのまわりを時計回りと反時計回りの方向に回転すること、を行うように構成している。
【００１９】
後ろ側端６は、携行可能な物に制御デバイス１を装着した後にこの携行可能な物の外側に位置することとなり、この後ろ側端６において、制御ステム４が作動用リュウズ８を受けることとなる（図２０を参照）。
【００２０】
前側端１０は、制御デバイス１が組み立てられた後にはその制御デバイス１の内側に位置することとなり、この前側端１０においては、制御ステム４には、例えば、正方形区画１２があり、磁性アセンブリー１４とスムースなベアリング１６を順次的に受ける。
【００２１】
磁性アセンブリー１４は、磁化リング１８と支持リング２０を有し、典型的には接着結合によって、支持リング２０に磁化リング１８が固定される（図４を参照）。支持リング２０は、全体として見ると概して円筒状の部品である。図５に示しているように、支持リング２０には、後ろ側から前側へと、第１の区画２２ａと第２の区画２２ｂがあり、第１の区画２２ａは、第１の外径Ｄ１を有しており、この第１の区画２２ａ上に磁化リング１８が係合しており、第２の区画２２ｂは、第１の外径Ｄ１よりも大きい第２の外径Ｄ２を有し、肩部２４の境界を形成しており、この肩部２４に対して磁化リング１８が当接する。支持リング２０の第１の区画２２ａには、正方形の穴２６が形成されており、この正方形の穴２６は、制御ステム４の正方形区画１２に形と大きさが適応しており、制御ステム４とともに摺動ピニオン型システムを形成している。すなわち、制御ステム４が軸方向に摺動するように作られている場合、支持リング２０と磁化リング２８は不動のままである。しかし、制御ステム４が回転するときに、制御ステム４は駆動リング２０と磁化リング１８を回転駆動する。前記から、支持リング２０によって担持される磁化リング１８が、制御ステム４に接触していないことは明らかである。このことによって、制御デバイス１を備える携行可能な物が衝撃を受けたときに磁化リング１８を保護することが可能になる。
【００２２】
スムースなベアリング１６は、円筒状のハウジング２８を形成しており、このハウジング２８の第１の内径Ｄ３は、制御ステム４の正方形区画１２が内接する円の直径よりもごくわずかだけ大きく（図５を参照）、これによって、制御ステム４が、この円筒状のハウジング２８内にて、軸方向に摺動すること及び／又は回転することを行うことが可能になる。このように、スムースなベアリング１６は、制御ステム４の完全な軸方向のガイドを確実にする。
【００２３】
なお、支持リング２０の第１の区画２２ａに形成された正方形の穴２６が、環状の穴３０によって制御デバイス１の前側の方へと延在しており、この環状の穴３０の第２の内径Ｄ４が、スムースなベアリング１６の第３の外径Ｄ５に嵌められることには留意すべきである。このように、支持リング２０は、スムースなベアリング１６に対して自由回転するように嵌められており、スムースなベアリング１６に当接するように軸方向に動く。このことによって、これらの２つの部品の完全な軸方向の整列が確実になり、摺動ピニオンタイプの連結によって発生することがあるいずれの同心性の問題をも修正することができる。
【００２４】
スムースなベアリング１６には、その軸方向の不動化のために、その外側表面上に環状のカラー３２があり、この環状のカラー３２は、それぞれ下側フレーム２（図２を参照）と上側フレーム３６（図６を参照）にある第１の溝３４ａと第２の溝３４ｂ内に入り込んでおり、下側フレーム２によって覆われるように構成しており、例えば、射出成形されたプラスチック材料や黄銅のような非磁性材料で作られている。これら２つの下側フレーム２と上側フレーム３６については下にて詳細に説明する。
【００２５】
上述の磁性アセンブリー１４とスムースなベアリング１６が説明のみのために示されているものであることに留意することは重要である。実際に、例えば、鋼又は黄銅で作られた、スムースなベアリング１６は、鋼などで作られた制御ステム４が下側フレーム２及び上側フレーム３６をこすることを防ぎ、また、これら２つの下側フレーム２及び上側フレーム３６の材料として典型的に用いられるプラスチック材料の磨耗を発生させることを防ぐように構成している。しかし、簡素化された実施形態において、このようなスムースなベアリング１６を使用せずに、制御ステム４が下側フレーム２によって直接担持されるようにすることを考えることができる。
【００２６】
同様に、磁化リング１８、及び磁化リング１８が固定されている支持リング２０は、制御ステム４の回転が、磁化リング１８の回転によって誘導された磁場における局所変動によって検出される場合のために意図されている。しかし、磁性アセンブリー１４全体を、例えば、摺動ピニオンに置き換えることを考えることができる。摺動ピニオンは、その位置に応じて、例えば、メインばねの巻きか、制御デバイス１を備える腕時計の時刻設定かを制御する。
【００２７】
また、長さの一部に正方形区画があるこの制御ステム４の例が説明のみのために与えられていることに留意することは重要である。実際に、磁性アセンブリー１４を回転駆動するために、制御ステム４には、円形の断面以外の任意のタイプ、例えば、三角形又は楕円形、の断面の区画があることができる。
【００２８】
下側フレーム２と上側フレーム３６の組み合わさったアセンブリーは、制御デバイス１の外側の幾何学的形状を形成しており、これらの下側フレーム２と上側フレーム３６は、例えば、全体として見ると概して平行六面体に対応する形である。下側フレーム２は、制御ステム４を受ける受け台を形成している。このために（図２を参照）、下側フレーム２には、前側に、部分円状の輪郭を有する第１の受け面３８があり、この第１の受け面３８は、スムースなベアリング１６の台座としてはたらき、この第１の受け面３８には、環状のカラー３２を受ける第１の溝３４ａが形成されている。このようにして、スムースなベアリング１の軸方向と回転方向の両方の不動化が確実になる。
【００２９】
下側フレーム２には、さらに、後ろ側に、第２の受け面４０があり、その部分円状の輪郭は、制御ステム４の長手方向の対称軸Ｘ−Ｘを中心としているが、その直径は制御ステム４の直径よりも大きい。組み立てられた制御デバイス１が携行可能な物に搭載される前に検査される段階において制御ステム４が第２の受け面４０のみに載ることを理解することは重要である。この組み立て段階において、制御ステム４が検査のために制御デバイス１に挿入され、水平方向に延在するようになり、制御ステム４の前側端１０においてスムースなベアリング１６によって、そして、制御ステム４の後ろ側端６において第２の受け面を介して、支持され、軸方向にガイドされる。しかし、制御デバイス１が携行可能な物に搭載された後には、制御ステム４は、携行可能な物のケースミドル部４８に設けられた穴４２を通り抜け、この穴４２内にてガイドされ支持される（図２１を参照）。
【００３０】
また、下側フレーム２には、部分円状の輪郭を有する第３及び第４のクリアランス面４４ａ及び４６ａがあり、上側フレーム３６には、相補的なクリアランス面４４ｂ及び４６ｂ（図６を参照）があり、磁化リング１８とその支持リング２０で形成されている磁性アセンブリー１４を受ける。なお、制御デバイス１が携行可能な物にて組み立てられマウントされているときには、磁化リング１８とその支持リング２０は、第３及び第４のクリアランス面４４ａ及び第４のクリアランス面４６ａ及び相補的なクリアランス面４４ｂ及び４６ｂと接触していない。また、第３のクリアランス面４４ａとその対応する相補的なクリアランス面４４ｂは、磁性アセンブリー１４を軸方向にロックする環状のカラー５０によって境界が形成されることにも留意すべきである。
【００３１】
図３に示しているように、制御ステム４には、正方形区画１２の後ろ側に円筒状区画５２がある。この円筒状区画５２の直径は、制御ステム４の正方形区画１２が内接している円の直径と前記制御ステム４の後ろ側区画５４の原直径の間であり、この制御ステム４の端には作動用リュウズ８が固定される。この小径の円筒状区画５２は、凹み５６を形成しており、この凹み５６内には、制御ステム４のための位置インデクシングプレート５８が配置される。このために、位置インデクシングプレート５８には、小径の円筒状区画５２の輪郭に対応する形を有する曲がった部分６０がある。位置インデクシングプレート５８は、例えば、薄い導電性の金属板に対してスタンピングをすることによって得ることができる。しかし、例えば、導電性微粒子を含有する硬いプラスチック材料を成型することによって、位置インデクシングプレート５８を作ることも考えることができる。凹み５６に位置インデクシングプレート５８が係合することによって、前側から後ろ側及び後ろ側から前側へと並進運動するような制御ステム４と位置インデクシングプレート５８の間の連結が確実になる。しかし、下において明確になるように、位置インデクシングプレート５８は、制御ステム４の長手方向の対称軸Ｘ−Ｘに垂直な鉛直方向ｚにおいては、制御ステム４に対して自由である。
【００３２】
図７Ａに示しているように、位置インデクシングプレート５８は実質的に平坦であり、全体として見ると概してＵ字型の部品である。この位置インデクシングプレート５８は、互いに平行に延在しており曲がった部分６０によって互いに接続している２つの実質的に直線状のガイドアーム６２を有する。これらの２つのガイドアーム６２は、例えば、下側フレーム２に配置された２つのスタッド６４に対向しつつ軸方向にガイドされる（特に図２を参照）。位置インデクシングプレート５８は、その２つのガイドアーム６２によってガイドされて、上側フレーム３６にあるリム６８に沿って摺動し、このリム６８の周部は、位置インデクシングプレート５８の周部に対応している（図６を参照）。位置インデクシングプレート５８は、さらに、２つのガイドアーム６２全体の両側にて鉛直方向下方に延在している２つのフィンガー６６ａ、６６ｂを有する。位置インデクシングプレート５８は、リム６８に沿って摺動する際に、前側から後ろ側へ及び後ろ側から前側へと並進運動するような制御ステム４のガイドを確実にする機能を有する。フィンガー６６ａ、６６ｂは、特に、位置インデクシングプレート５８が並進運動するときに位置インデクシングプレート５８が支えられることを防ぐように意図されている。
【００３３】
位置インデクシングプレート５８のガイドアーム６２に、おおまかに長方形の輪郭を有している２つの開口７０が形成されている（特に図７Ｂを参照）。これらの２つの開口７０は、制御ステム４の長手方向の対称軸Ｘ−Ｘの両側にて対称的に延在している。２つの開口７０の側面のうちの制御ステム４の長手方向の対称軸Ｘ−Ｘに最も近い側の側面には、ピーク７６によって分離された第１及び第２の凹部７４ａ、７４ｂを形成している実質的にシヌソイド状のカム路７２がある。
【００３４】
ガイドアーム６２に形成されている２つの開口７０は、ポジショニングばね８０の２つの端７８を受けるように意図されている（図８を参照）。このポジショニングばね８０は、全体として見ると概してＵ字状であり、水平面内にて延在しており基部８４によって互いに接続される２つのアーバー８２がある。これらの２つのアーバー８２は、それらの自由端側において、上方に立ち上がっている２つの実質的に直線状のアーム８６によって延びている。ポジショニングばね８０は、アーム８６の端７８が位置インデクシングプレート５８の開口７０内へと入り込むように、下側フレーム２の底部を通して制御デバイス１にマウントされるように意図されている。下を読むことで、位置インデクシングプレート５８とポジショニングばね８０の間の連係によって、制御ステム４の位置を不安定な押し込まれ位置Ｔ０と２つの安定位置Ｔ１及びＴ２の間にてインデクシングすることが可能になることがわかるであろう。
【００３５】
位置インデクシングプレート５８は、並進運動するように制御ステム４と連結しているが、鉛直方向ｚにて制御ステム４に対して自由であることを上で言及した。したがって、重力の影響下などの通常の使用状態において、位置インデクシングプレート５８が制御ステム４との係合を解除することを防ぐ方策が必要である。このために（図９及び１１を参照）、鉛直方向ｚにおける位置インデクシングプレート５８の変位を制限するばね８８が、この位置インデクシングプレート５８の上におけるこの位置インデクシングプレート５８から短い距離しか離れていない位置に配置される。変位制限ばね８８は、制御デバイス１の下側フレーム２と上側フレーム３６の間で逃げることができないようにされているが、通常の使用状態にて位置インデクシングプレート５８に接触しない。このことによって、制御ステム４上にて寄生摩擦力が発生することを防ぐことができる。このような寄生摩擦力が制御ステム４上にて発生すると、制御ステム４を操作することが難しくなり磨耗の問題が発生する。ただし、変位制限ばね８８は、位置インデクシングプレート５８が制御ステム４から不用意に分離してしまうことを防ぐように十分に位置インデクシングプレート５８の近くにされる。
【００３６】
変位制限ばね８８には、実質的に直線状の中心部９０があり、この中心部９０の端から２対の弾性アーム９２及び９４が延在している。これらの弾性アーム９２及び９４は、変位制限ばね８８の中心部９０の両側にて、この中心部９０が延在している水平面から上方へと離れるように延在している。これらの弾性アーム９２及び９４は、上側フレーム３６が下側フレーム２に接合するときに圧縮するために、変位制限ばね８８に対して鉛直方向ｚに沿った弾性を与える。また、この弾性アーム９２及び９４の対の間には、少なくとも１対、好ましくは、２対の堅い突起９６があり、この突起９６は、変位制限ばね８８の中心部９０の両側にて鉛直方向下方に延びている。これらの堅い突起９６は、上側フレーム３６が下側フレーム２上に配置されているときに下側フレーム２上にて当接するように動き、この突起９６は、制御デバイス１の通常の動作状態において位置インデクシングプレート５８と変位制限ばね８８の間に最小限の空間が形成されることを確実にする。
【００３７】
変位制限ばね８８によって、制御デバイス１を分解することができることが確実になる。実際に、変位制限ばね８８がないと、位置インデクシングプレート５８は制御ステム４と一体化されることとなって、したがって、もはや制御ステム４を分解することができなくなる。制御ステム４を分解することができなければ、制御デバイス１を備える計時器のムーブメントも分解することができない。このことは、特に、高価な計時器の場合に、受け入れがたい。したがって、下側及び上側フレーム２及び３６を連結することによって形成された制御デバイス１が携行可能な物内にてマウントされ、制御ステム４が携行可能な物の外側から制御デバイス１内に挿入されると、制御ステム４は、変位制限ばね８８の弾性力に対抗するように位置インデクシングプレート５８をわずかに持ち上げる。制御ステム４が押されて前進し続けると、重力の影響の下で位置インデクシングプレート５８が凹み５６に落ちる時が訪れる。そして、制御ステム４と位置インデクシングプレート５８が並進運動するように連結する。
【００３８】
制御ステム４を分解できるようにするために分解プレート９８が設けられる（図１０を参照）。この分解プレート９８は、全体として見ると概してＨ字形であり、制御ステム４の長手方向の対称軸Ｘ−Ｘと平行に延在している直線状の区画１００を有しており、この直線状の区画１００に第１及び第２の横片１０２及び１０４が付いている。また、第１の横片１０２には、その２つの自由端において、実質的に直角に曲げられて立ち上がっている２つの突起１０６がある。下側フレーム２にて形成され制御ステム４の下に位置するハウジング１０８内にて、分解プレート９８が受けられる。このハウジング１０８は、制御デバイス１の下面１１２へと開いている穴１１０を介して制御デバイス１の外側と連通している（図１１を参照）。穴１１０に尖った道具を挿入することによって、分解プレート９８に推進力を与えることができる。これを受けて、分解プレート９８は、その２つの突起１０６を介して、変位制限ばね８８の弾性力に対抗するように位置インデクシングプレート５８を押す。そして、位置インデクシングプレート５８は、制御ステム４に形成された凹み５６を離れ、後ろの方へのわずかな牽引力を制御ステム４に対して与える。これは、制御ステム４を制御デバイス１から取り除くために十分である。
【００３９】
制御ステム４は、その安定した待機位置Ｔ１から前側へと押し込まれて不安定な位置Ｔ０となることができ、また、引かれて安定位置Ｔ２となることができる。制御ステム４のこれらの３つの位置Ｔ０、Ｔ１及びＴ２は、位置インデクシングプレート５８とポジショニングばね８０の間の連係によってインデクシングされる。より正確には（図１２Ａを参照）、安定な待機位置Ｔ１においては、制御デバイス１を備える携行可能な物に指示を入力することができず、この安定な待機位置Ｔ１は、位置インデクシングプレート５８のガイドアーム６２に形成された２つの開口７０にある第１の凹部７４ａに、ポジショニングばね８０のアーム８６の端７８が入り込んでいる位置に対応している。制御ステム４をこの安定な待機位置Ｔ１から不安定な位置Ｔ０へと前の方に押すことができる（図１２Ｂを参照）。この変位の間に、ポジショニングばね８０のアーム８６の端７８は、第１の凹部７４ａを離れて、第１の傾斜輪郭１１４を追従する。この第１の傾斜輪郭１１４は、第１の急な傾きαで、制御ステム４の長手方向の対称軸Ｘ−Ｘから徐々に離れる（図７Ｂを参照）。したがって、ポジショニングばね８０のアーム８６の端７８を第１の凹部７４ａから離れさせ、また、これらの端７８を互いに離れさせて第１の傾斜輪郭１１４にて連係させるために、ユーザーは大きな抵抗力を克服しなければならない。
【００４０】
アーム８６の端７８は、転換点１１６に到達すると、第２の傾斜輪郭１１８上にて連係する。この第２の傾斜輪郭１１８は、第１の傾斜輪郭１１４に続いており、第１の傾斜輪郭１１４の第１の傾きαよりも低い第２の傾きβを有する。ポジショニングばね８０のアーム８６の端７８が転換点１１６を通り抜けて第２の傾斜輪郭１１８と連係するようになる時点にて、制御ステム４を動かし続けるためにユーザーに要求される力はシャープに落ち、位置Ｔ１と位置Ｔ０の間の制御ステム４の移行を表すクリックをユーザーは感じる。これらの端７８が第２の傾斜輪郭１１８を追従するにしたがって、ポジショニングばね８０のアーム８６は、それらの待機位置からわずかに離れるように動き続け、ユーザーによって制御ステム４に与えられる推進力に対抗するそれらの弾性復帰力の影響の下で、再び互いに近づこうと試みる傾向がある。ユーザーが制御ステム４上の圧力を解放するとすぐに、ポジショニングばね８０のアーム８６は、第１の傾斜輪郭１１４に自発的に戻り、ポジショニングばね８０の端７８は、位置インデクシングプレート５８のガイドアーム６２に形成された２つの開口７０の第１の凹部７４ａに再び収容される。このように、制御ステム４は、その不安定な位置Ｔ０からその第１の安定位置Ｔ１まで自動的に戻される。
【００４１】
第１及び第２の接触ばね１２０ａ及び１２０ｂは、下側フレーム２にある第１及び第２の空洞１２２ａ及び１２２ｂ内にて圧縮されているように構成している。これらの第１及び第２の接触ばね１２０ａ及び１２０ｂは、渦巻き状の接触ばね、細長材ばね又は他のばねであることができる。２つの空洞１２２ａ、１２２ｂは、好ましくは、水平方向に延在している。ただし、必須ではない。２つの接触ばね１２０ａ、１２０ｂが圧縮状態で設置されているので、それらのポジショニングの精度は、下側フレーム２の製造許容誤差に依存する。下側フレーム２の製造精度は、これらの第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂの製造精度よりも高い。したがって、制御ステム４の位置Ｔ０を検出する精度は高くなる。
【００４２】
図１３及び１５に示しているように、第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂの一方の端は、曲げられて２つの接触ラグ１２４を形成し、この接触ラグ１２４は、フレキシブルなプリント回路シート１２８の表面に設けられた２つの対応する第１の接触パッド１２６上にて当接するように動く。ポジショニングばね８０のアーム８６の端７８が位置インデクシングプレート５８に形成された２つの開口７０の第２の傾斜輪郭１１８に係合する時点は、位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａ、６６ｂが第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂと接触するようになる時点と一致する。この位置インデクシングプレート５８が導電性であるので、フィンガー６６ａ、６６ｂが第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂと接触するときに位置インデクシングプレート５８に電流が流れ、第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂの間の電気接触が閉じられたことが検出される。
【００４３】
第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂは同じ長さである。しかし、好ましくは、第１の空洞１２２ａは、特に許容誤差の問題を考慮して、例えば、第２の空洞１２２ｂよりも長くされる（２つの空洞１２２ａ、１２２ｂの間の長さの差は１ミリメートルの数十分の一である）。したがって、制御ステム４が前側に押し込まれて位置Ｔ０となると、最長の第１の空洞１２２ａに収容された第１の接触ばね１２０ａと整列している位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａは、第１の接触ばね１２０ａと接触し第１の接触ばね１２０ａを圧縮し始める。制御ステム４は、前側に動き続け、位置インデクシングプレート５８の第２のフィンガー６６ｂは、最短の第２の空洞１２２ｂに収容された第２の接触ばね１２０ｂと接触する。この時点にて、位置インデクシングプレート５８は第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂに接触しており、位置インデクシングプレート５８に電流が流れる。このことによって、第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂの間の電気接触が閉じたことを検出することができる。なお、位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａ、６６ｂは、第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂと当接接触するように動く。したがって、制御ステム４が前側へと押し込まれて位置Ｔ０になり第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂの間の回路を閉じるときに、摩擦や磨耗が発生しない。また、第１及び第２の空洞１２２ａ、１２２ｂに長さの差があることによって、電気接触が閉じられること、そして、制御デバイス１を備える携行可能な物への対応する指示の入力がクリックを感じた後にのみ発生することが確実になる。
【００４４】
位置インデクシングプレート５８の２つのフィンガー６６ａ、６６ｂが第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂに接触しているときに、最長の第１の空洞１２２ａに収容された第１の接触ばね１２０ａは圧縮状態となっている。したがって、ユーザーが制御ステム４に対する圧力を解放すると、この第１の接触ばね１２０ａは緩和し、制御ステム４をその不安定な押し込まれ位置Ｔ０からその第１の安定位置Ｔ１まで戻させる。したがって、第１及び第２の接触ばね１２０ａ、１２０ｂは、第１の安定位置Ｔ１における制御ステム４のための電気接触部品と弾性戻し手段と同時にはたらく。
【００４５】
第１の安定位置Ｔ１から、制御ステム４を後ろ側に引いて第２の安定位置Ｔ２にすることができる（図１２Ｃを参照）。この運動の間、ポジショニングばね８０のアーム８６の端７８は、第１の凹部７４ａから第２の凹部７４ｂへと移行するために弾性変形し、その際、位置インデクシングプレート５８のガイドアーム６２に形成された２つの開口７０にあるピーク７６をまたがる。制御ステム４がその第２の安定位置Ｔ２に到達すると、位置インデクシングプレート５８の２つのフィンガー６６ａ、６６ｂは、下側フレーム２に形成された第３及び第４の空洞１３２ａ、１３２ｂに収容されている第３及び第４の接触ばね１３０ａ、１３０ｂ（図１３を参照）に当接するように動く。これらの第３及び第４の接触ばね１３０ａ、１３０ｂは、渦巻き状の接触ばね、細長材ばね又は他のばねであることができる。第３及び第４の空洞１３２ａ、１３２ｂは、好ましくは、制御デバイス１における空間のために、鉛直方向に延在している。位置インデクシングプレート５８が導電性であるので、フィンガー６６ａ、６６ｂが第３及び第４の接触ばね１３０ａ、１３０ｂと接触すると、位置インデクシングプレート５８に電流が流れ、これらの接触ばね１３０ａ、１３０ｂの間の電気接触Ｔ２が閉じたことが検出される。
【００４６】
なお、安定位置Ｔ２の場合には、位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａ、６６ｂも第３及び第４の接触ばね１３０ａ、１３０ｂと当接接触するようになり、これによって、摩擦に起因する磨耗のリスクをいずれも避けることができる。また、第３及び第４の接触ばね１３０ａ、１３０ｂは、これと位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａ、６６ｂが衝突したときに曲がることができ、したがって、位置インデクシングプレート５８のポジショニングにおけるいずれの精度不足をも吸収することができる。
【００４７】
好ましくは、第３及び第４の接触ばね１３０ａ、１３０ｂは、屈曲するように動作するように構成している（図１４Ａ及び１４Ｂを参照）。ただし、必須ではない。実際に、直径が一定である接触ばね１３０ａ、１３０ｂを用いるために、位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａ、６６ｂは、下側フレーム２と上側フレーム３６におけるそれらの取り付け箇所の近くの大きな表面にて、接触ばね１３０ａ、１３０ｂと接触する。その接触面が接触ばね１３０ａ、１３０ｂの取り付け箇所の近くであるために、接触ばね１３０ａ、１３０ｂにおいてせん断応力を発生させて、このことは、接触ばね１３０ａ、１３０ｂの早い磨耗や損傷を発生させることがある。この課題を克服するために、接触ばね１３０ａ、１３０ｂには、好ましくは、中間的な高さにて、直径増大部１３４があり、この直径増大部１３４は、制御ステム４がその安定位置Ｔ２まで引かれたときに位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａ、６６ｂと接触する。第３及び第４の接触ばね１３０ａ、１３０ｂは、それらの上端にて、上側フレーム３６に形成された２つの穴１３６内にガイドされ、フレキシブルなプリント回路シート１２８の表面に設けられた第２の接触パッド１３８と接触する。制御ステム４が後ろ側に引かれてその安定位置Ｔ２にあるときに、位置インデクシングプレート５８のフィンガー６６ａ、６６ｂは、第３及び第４の接触ばね１３０ａ及び１３０ｂとそれらの最大直径部１３４にて小さい表面上で接触する。このことによって、接触ばね１３０ａ、１３０ｂが下側フレーム２と上側フレーム３６におけるそれらの２つの取り付け箇所の間にて曲がることができる。
【００４８】
図１５において、図面についての理解を容易にするために、下側及び上側フレーム２及び３６を意識的に省略している。図１５に示しているように、フレキシブルなプリント回路シート１２８は、携行可能な物の表盤側にあるプレート１４０上に固定される。フレキシブルなプリント回路シート１２８は、特に、上側フレーム３６を受けるように形と大きさが構成しているカットアウト１４２の形態である。フレキシブルなプリント回路シート１２８の１つの部分１４４は、自由なままである（図１６を参照）。フレキシブルなプリント回路シート１２８のこの自由部分１４４は、第３の接触パッド１４８に加えて、複数の電子部品１４６を担持しており、この第３の接触パッド１４８上には、少なくとも１つ、図示している例においては２つ、の誘導性センサー１５０が固定されている。第３の接触パッド１４８に誘導性センサー１５０を固定することによって、これらの誘導性センサー１５０を、フレキシブルなプリント回路シート１２８を介して、携行可能な物内に収容された電源やマイクロプロセッサー（図示せず）に接続することが可能になる。電源は、動作に必要なエネルギーを誘導性センサー１５０に供給し、マイクロプロセッサーは、誘導性センサー１５０によって供給される信号を受けて処理する。
【００４９】
フレキシブルなプリント回路シート１２８の自由部分１４４は、２つの細長材１５２によってフレキシブルなプリント回路シート１２８の残りの部分に接続され、このことによって、上側フレーム３６と下側フレーム２のアセンブリーのまわりを通るように自由部分１４４を曲げて、そして、下側フレーム２の下面１１２まで曲げて下ろすことが可能になる。これによって、誘導性センサー１５０は、下側フレーム２の下面１１２に形成されている２つのハウジング１５６に入り込む。誘導性センサー１５０は、このようにしてそれらのハウジング１５６内に配置され、磁化リング１８の正確に下に配置される。このことによって、制御ステム４の回転の向きを信頼性が高く検出できることが確実になる。
【００５０】
フレキシブルなプリント回路シート１２８の自由部分１４４が下側フレーム２に対向するように曲げて下ろされると（図１７Ａを参照）、当該アセンブリーは、少なくとも１つ（図示している例において２つ）の弾性フィンガー１６０がある保持プレート１５８によってカバーされる。この弾性フィンガー１６０は、誘導性センサー１５０に対して鉛直方向上方の弾性圧力を与えて、これらの誘導性センサー１５０をそれらのハウジング１５６の底部の方に押す（図１７Ｂを参照）。弾性フィンガー１６０は、好ましくは、誘導性センサー１５０が固定されている箇所にて、フレキシブルなプリント回路１２８を押す。保持プレート１５８は、例えば、２つのねじ１６２によって、プレート１４０に固定される。
【００５１】
制御ステム４は、受け台としてはたらく下側フレーム２によって担持される。同様に、２つの誘導性センサー１５０は、前記下側フレーム２に形成された２つのハウジング１５６内に配置され、これらのハウジング１５６の底部の方に１つ又は２つの弾性フィンガー１６０によって押される（図１８を参照）。したがって、誘導性センサー１５０と、回転可能に制御ステム４に対して固定マウントされる磁化リング１８との相対的なポジショニング精度は、下側フレーム２が作られる精度のみによって決まる。射出成形されたプラスチックなどで作られる下側フレーム２の製造精度は、大規模製造の場合においても、誘導性センサー１５０と磁化リング１８の適切なポジショニングを確実にするために十分である。また、誘導性センサー１５０が一又は複数の弾性フィンガー１６０によってハウジング１５６の底部の方に弾性力を与えられるために、製造許容誤差に起因する任意の遊びをも補償することが可能になる。このような製造許容誤差は、特に、フレキシブルなプリント回路シート１２８上にホール効果部品１５０を結合するステップに起因することがある。この結合する操作は、例えば、フレキシブルなプリント回路シート１２８の接触パッド１４８上に堆積されたはんだペーストを用いて炉内で行われる。
【００５２】
一又は複数の誘導性センサー１５０はそれぞれ、検知要素１５４を有する。この検知要素１５４は、単純化された形態において、平行六面体状の要素の形態であり、これは、この平行六面体状の要素の大きい面に垂直な方向Ｓにおける磁気誘導の変動を検知する（図２２を参照）。図１８に示している例において、誘導性センサー１５０は、好ましくは、これらの検知要素１５４が鉛直方向ｚのみにおける磁気誘導の変動を検出するような方向を向いている。すなわち、誘導性センサーは、磁気誘導の直交するｘ及びｙ軸に沿った水平成分に対して完全に感受性がない。
【００５３】
単一の誘導性センサー１５０を用いる場合（図１９を参照）、制御ステム４の回転振幅と位置は、単に平均的な精度で決められる。実際に、制御ステム４の作動の結果、磁化リング１８が回転すると、誘導性センサー１５０は、変動の振幅が関連する角度の値に応じて変動するようなシヌソイド信号を生成する。例えば、値π／２に近い領域において、シヌソイド信号はほとんど変わらない、これによって、制御ステム４は、誘導性センサー１５０によって供給される信号に対して大きな改変をせずに大きな範囲まで回転することができる。したがって、平均的な精度しかなくても制御ステム４の位置と変位を検出することができる。しかし、シヌソイド信号は、値πに近い領域内において、回転の量と制御ステム４の位置を高精度で決めることができるようにシャープに変動する。制御ステム４の位置と回転量の検出において平均的な精度で満足することができる場合、上記のシステムはまったく適している。しかし、非常に高い測定の精度が必要な場合においては、本発明に係る携行可能な物が２つの誘導性センサー１５０を備えることが好ましい（図１８を参照）。実際に、２つの誘導性センサー１５０を用いるようにすることによって、制御ステム４の回転の振幅と向きの両方を高い精度で決めることができる。このように、磁化リング１８の回転中心Ｏから等しい距離に、磁化リング１８の回転中心Ｏを通り抜ける平面Ｐに対して対称的に、２つの誘導性センサー１５０が配置される。好ましくは、２つの誘導性センサー１５０は、制御ステム４に対して、制御ステム４の作動に起因して磁化リング１８が回転するときに６０〜１２０°であり、好ましくは９０°である角度δの分、互いに位相外れのシヌソイド信号ｓｉｎ（ｘ）とｓｉｎ（ｘ＋δ）を２つの誘導性センサー１５０が作るように構成している。２つの誘導性センサーと磁化リング１８の相対的構成を計算するために、例えば、有限要素法の計算ソフトウェアによって連続的な繰り返しを行うことができる。
【００５４】
２つの誘導性センサー１５０によって作られるシヌソイドの測定信号ｓｉｎ（ｘ）とｓｉｎ（ｘ＋δ）の間の位相ずれδのおかげで、これらの２つの測定信号の間の比のアークタンジェント関数を計算すると、直線が得られる。したがって、制御ステム４の回転運動から、制御ステム４、磁化リング１８及び２つの誘導性センサー１５０によって形成されるシステムから線形応答を得ることができる。制御ステム４の回転のこの線形化によって、好ましいことに、制御ステム４の位置の絶対的な検出が可能になる。すなわち、いつでも制御ステム４の回転の向きと位置を知ることができる。また、位相ずれδのおかげで、２つの誘導性センサー１５０のうちの一方によって作られるシヌソイドの測定信号ｓｉｎ（ｘ）がわずかに変わったときに、他方のシヌソイド信号ｓｉｎ（ｘ＋δ）がよりシャープに逆に変動し、その逆も成り立ち、これらの２つの信号の間の比が制御ステム４の回転に関する精度の高い情報を常に与えるというような状況が常にある。
【００５５】
上において、誘導性センサー１５０が、好ましくは、それらの検知要素が鉛直方向の軸ｚに沿った磁気誘導の変動のみを検出するような方向を向いていることを言及した。この磁気誘導の成分は、磁化リング１８及び携行可能な物の外側の磁場によって発生する軸ｚに沿った誘導どうしの和である。しかし、誘導性センサー１５０が互いに非常に近いのであれば、これに外側磁場が及ぼす影響は、両方の誘導性センサー１５０に対して実質的に同じである。したがって、２つのシヌソイド信号ｓｉｎ（ｘ）とｓｉｎ（ｘ＋δ）の間の比を計算することによって、携行可能な物の外側の磁場に起因する磁気誘導の成分がなくなる。このように、制御ステム４、磁化リング１８及び誘導性センサー１５０によって形成されるシステムの応答は、外側磁場にまったく依存せず、携行可能な物を磁気的に遮蔽する対策をすることは必要ではない。同様に、このシステムの応答は、両方の誘導性センサーが同じように温度の影響を受けるかぎり温度に依存しない。
【００５６】
当然、本発明は上記実施形態に限定されず、当業者であれば添付の請求の範囲によって定められる本発明の範囲から逸脱せずに様々な単純な変更や変種を考えることができる。具体的には、ここで関心事の磁化リングは、好ましくは、バイポーラーのリングであるが、多極の磁化リングであることができる。また、磁化リングの寸法構成が中空の円筒に対応するものであるように延在するようにすることができる。
【符号の説明】
【００５７】
１：制御デバイス
２：下側フレーム
４：制御ステム
Ｘ−Ｘ：長手方向の対称軸
６：後ろ側端
８：作動用リュウズ
１０：前側端
１２：正方形区画
１４：磁性アセンブリー
１６：スムースなベアリング
１８：磁化リング
２０：支持リング
２２ａ：第１の区画
Ｄ１：第１の外径
２２ｂ：第２の区画
Ｄ２：第２の外径
２４：肩部
２６：正方形の穴
２８：円筒状のハウジング
Ｄ３：第１の内径
３０：環状の穴
Ｄ４：第２の内径
Ｄ５：第３の外径
３２：環状のカラー
３４ａ：第１の溝
３４ｂ：第２の溝
３６：上側フレーム
３８：第１の受け面
４０：第２の受け面
４２：穴
４４ａ、４６ａ：第３及び第４のアンダーカット面
４４ｂ、４６ｂ：相補的なアンダーカット面
４８：ケースミドル部
４９：裏側
５０：環状のカラー
５２：円筒状区画
５４：後ろ側区画
５６：凹み
５８：位置インデクシングプレート
６０：曲がった部分
６２：ガイドアーム
６４：スタッド
６６ａ、６６ｂ：フィンガー
６８：リム
７０：開口
７２：輪郭
７４ａ：第１の凹部
７４ｂ：第２の凹部
７６：ピーク
７８：端
８０：ポジショニングばね
８２：アーム
８４：基部
８６：アーバー
８８：変位制限ばね
９０：中心部
９２：弾性アームの対
９４：弾性アームの対
９６：堅い突起
９８：分解プレート
１００：直線状の区画
１０２：第１の横片
１０４：第２の横片
１０６：突起
１０８：ハウジング
１１０：穴
１１２：下面
１１４：第１の傾斜輪郭
α：第１の傾き
１１６：転換点
１１８：第２の傾斜輪郭
β：第２の傾き
１２０ａ、１２０ｂ：第１及び第２の接触ばね
１２２ａ、１２２ｂ：第１及び第２の空洞
１２４：接触ラグ
１２６：第１の接触パッド
１２８：フレキシブルなプリント回路シート
１３０ａ、１３０ｂ  第３及び第４の接触ばね
１３２ａ、１３２ｂ  第３及び第４の空洞
１３４：直径増大部
１３６：穴
１３８：第２の接触パッド
１４０：プレート
１４２：カットアウト
１４４：自由部分
１４６：電子部品
１４８：第３の接触パッド
１５０：誘導性センサー
１５２：細長材
１５４：検知要素
１５６：ハウジング
１５８：保持プレート
１６０：弾性フィンガー
１６２：ねじ
【手続補正２】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
制御ステム（４）と磁化リング（１８）を有する携行可能な物であって、
前記制御ステム（４）を回転させて作動させることによって、当該携行可能な物の少なくとも１つの電子的又は機械的な機能を制御することができ、
前記磁化リング（１８）は、前記制御ステム（４）によって回転駆動され、
２つの誘導性センサー（１５０）は、前記制御ステム（４）の回転と位置を検出するように構成しており、
前記２つの誘導性センサー（１５０）は、空間における互いに平行な２つの方向のみにおける前記磁化リング（１８）の回転によって発生する磁気誘導の変化を検知するように構成している
携行可能な物。
【請求項２】
前記２つの誘導性センサー（１５０）は、前記磁化リング（１８）の回転中心（Ｏ）から等しい距離にて、前記磁化リング（１８）の前記回転中心（Ｏ）を通り抜ける平面（Ｐ）に対して対称的に配置されている
請求項１に記載の携行可能な物。
【請求項３】
前記２つの誘導性センサー（１５０）は、鉛直方向のみにおける磁気誘導の変化を検知する
請求項１又は２に記載の携行可能な物。
【請求項４】
前記２つの誘導性センサー（１５０）は、前記制御ステム（４）が作動することによって前記磁化リング（１８）が回転するときに前記２つの誘導性センサー（１５０）が６０〜１２０°の値の分、互いに対して位相ずれしている信号を生成するように、前記制御ステム（４）に対して構成している
請求項１又は３のいずれかに記載の携行可能な物。
【請求項５】
当該携行可能な物は、前記制御ステム（４）のための受け台としてはたらくように構成しているフレーム（２）を有し、
前記誘導性センサー（１５０）は、前記フレーム（２）内に配置された少なくとも１つのハウジング（１５６）内に配置されており、かつ、前記フレーム（２）内にて弾性手段によって保持される
請求項１〜４のいずれかに記載の携行可能な物。
【請求項６】
前記２つの誘導性センサー（１５０）は、前記フレーム（２）内において構成している２つの別個のハウジング（１５６）内に配置される
請求項５に記載の携行可能な物。
【請求項７】
当該携行可能な物は、少なくとも１つの弾性フィンガー（１６０）を備える保持プレート（１５８）を有し、
前記弾性フィンガー（１６０）は、前記誘導性センサー（１５０）が中に配置された少なくとも１つのハウジング（１５６）内に、前記誘導性センサー（１５０）を、前記誘導性センサー（１５０）に対する圧力によって保持する
請求項５又は６に記載の携行可能な物。
【請求項８】
前記保持プレート（１５８）には、２つの弾性フィンガー（１６０）があり、
前記誘導性センサー（１５０）は、プリント回路シート（１２８）に固定され、
このプリント回路シート（１２８）に対して前記誘導性センサー（１５０）が固定されている箇所にて前記弾性フィンガー（１６０）が押す
請求項７に記載の携行可能な物。
【請求項９】
前記プリント回路シート（１２８）はフレキシブルであり、
前記プリント回路シート（１２８）は、曲げられて前記フレーム（２）に接触し、
前記誘導性センサー（１５０）は、前記ハウジング（１５６）内に配置される
請求項８に記載の携行可能な物。
【請求項１０】
前記弾性フィンガー（１６０）は、前記誘導性センサー（１５０）を鉛直方向にて不動化する
請求項９に記載の携行可能な物。
【請求項１１】
前記弾性フィンガー（１６０）は、前記誘導性センサー（１５０）が中に配置される前記ハウジング（１５６）の底部に前記誘導性センサー（１５０）を押しつけるように構成している
請求項１０に記載の携行可能な物。
【請求項１２】
制御ステム（４）の位置を検出する方法であって、
前記制御ステム（４）が回転して作動することによって、前記制御ステム（４）を備える携行可能な物の電子的又は機械的な機能を少なくとも制御し、
前記制御ステム（４）によって磁化リング（１８）が回転駆動され、
前記制御ステム（４）の回転と位置が、空間における１つの方向のみにおける前記磁化リング（１８）の回転によって発生する磁気誘導の変化を検知するように構成している２つの誘導性センサー（１５０）によって検出され、
当該方法は、前記誘導性センサー（１５０）のそれぞれによって作られる信号の間の比のアークタンジェント関数を計算して、前記制御ステム（４）の回転方向と位置を判断するステップを有する方法。
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正の内容】
【図１】
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【図２】
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【図３】
2019525207.tif 000031
【図４】
2019525207.tif 000032
【図５】
2019525207.tif 000033
【図６】
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【図７】
2019525207.tif 000035
【図８】
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【図９】
2019525207.tif 000037
【図１０】
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【図１１】
2019525207.tif 000039
【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【国際調査報告】
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2019525207.tif 000054
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