(57)【要約】  例示的システムは、その上で信号が試験機器と被試験装置（ＤＵＴ）との間で伝送されるチャネルと、チャネル上の電圧を制限する制限回路構成と、を含む。制限回路構成は、チャネル上の電圧が限界を超えたことに応答して接続されて通電するＰＮ接合装置を含む。
2019534447.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
システムであって、
試験機器と被試験装置（ＤＵＴ）との間で信号が伝送されるチャネルと、
前記チャネルにおいて電圧を制限する制限回路構成と
を含み、
前記制限回路構成は、前記チャネルの前記電圧が限界を超えたことに応答して通電するべく接続されるＰＮ接合装置を含むシステム。
【請求項２】
前記制限回路構成は、前記ＤＵＴを保護するための正側の制限回路を含み、
前記正側の制限回路は、
第一のアノード及び第一のカソードを有する第一のダイオードであって、前記第一のアノードは前記チャネルに電気的に接続される第一のダイオードと、
前記ＰＮ接合装置を含む第二のダイオードであって、第二のアノード及び第二のカソードを有し、前記第二のアノードは前記第一のカソードに電気的に接続される第二のダイオードと、
前記第二のアノードに電気的に接続される第一の入力と、前記第二のカソードに電気的に接続される第二の入力とを有する増幅器と
を含む、請求項１のシステム。
【請求項３】
前記第二のカソードが第一の電圧であり、
前記第二のアノードが第二の電圧であり、
前記第二の電圧は前記チャネル上の前記電圧に基づき、
前記第二のダイオードは、前記第二の電圧が前記第一の電圧を超えたことに応答して導通する、請求項２のシステム。
【請求項４】
前記第二のダイオードの導通により当該ダイオードに電流が流れる結果、前記ダイオードに電圧降下が生じ、これが前記第一及び第二の入力を介して前記増幅器に中継され、
前記増幅器は前記電圧降下に基づく信号を出力する、請求項３のシステム。
【請求項５】
第三の入力及び第四の入力を含む比較器をさらに含み、
前記第三の入力は閾値を受信し、
前記第四の入力は前記増幅器から前記信号を受信し、
前記比較器は前記信号と前記閾値の比較に基づいて故障の表示を出力する、請求項４に記載のシステム。
【請求項６】
前記第一の電圧を前記第二のカソードに与える電圧発生器をさらに含み、
前記第一の電圧は調節可能である、請求項３のシステム。
【請求項７】
前記制限回路構成は、前記試験機器を保護する負側の制限回路を含み、
前記負側の制限回路は、
第一のアノード及び第一のカソードを有する第一のダイオードであって、前記第一のカソードは前記チャネルに電気的に接続される第一のダイオードと、
前記ＰＮ接合装置を含む第二のダイオードであって、第二のアノード及び第二のカソードを有し、前記第二のカソードは前記第一のアノードに電気的に接続される第二のダイオードと、
前記第二のアノードに電気的に接続される第一の入力と、前記第二のカソードに電気的に接続される第二の入力とを有する増幅器と
を含む、請求項１のシステム。
【請求項８】
前記第二のアノードが第一の電圧であり、
前記第二のカソードが第二の電圧であり、
前記第二の電圧は前記チャネル上の前記電圧に基づき、
前記第二のダイオードは、前記第一の電圧が前記第一の電圧を超えたことに応答して導通する、請求項７のシステム。
【請求項９】
前記第二のダイオードの導通により当該ダイオードに電流が流れる結果、前記ダイオードに電圧降下が生じ、これが前記第一及び第二の入力を介して前記増幅器に中継され、
前記増幅器は前記電圧降下に基づく信号を出力する、請求項８のシステム。
【請求項１０】
第三の入力及び第四の入力を含む比較器をさらに含み、
前記第三の入力は閾値を受信し、
前記第四の入力は前記増幅器からの前記信号を受信し、
前記比較器は前記信号と前記閾値の比較に基づいて故障の表示を出力する、請求項９のシステム。
【請求項１１】
前記第一の電圧を前記第二のカソードに提供する電圧発生器をさらに含み、
前記第一の電圧は調節可能である、請求項８のシステム。
【請求項１３】
前記チャネルが第一のチャネルであり、
前記システムは、
試験機器と被試験装置（ＤＵＴ）との間で信号が伝送される第二のチャネルと、
前記第二のチャネルにおいて電圧を制限する第二の制限回路構成と
をさらに含み、
前記第二のチャネルの前記電圧が限界を超えたことに応答して通電するべく接続される第二のＰＮ接合装置を含む、請求項１のシステム。
【請求項１４】
システムであって、
被試験装置（ＤＵＴ）に電気的に接続されるチャネルにおいて信号を送受信することによって前記ＤＵＴを試験する試験機器と、
前記ＤＵＴを前記チャネルにおける第一の過電圧から保護する第一の制限回路であって、前記チャネルの前記第一の過電圧に応答して通電する第一のＰＮ接合装置を含む第一の制限回路と、
前記試験機器を前記チャネルにおける第二の過電圧から保護する第二の制限回路であって、前記チャネルの前記第二の過電圧に応答して通電する第二のＰＮ接合装置を含む第二の制限回路と
を含むシステム。
【請求項１５】
前記第一のＰＮ接合装置はダイオードを含み、
前記第二のＰＮ接合装置はダイオードを含む、請求項１４のシステム。
【請求項１６】
前記第一のＰＮ接合装置はダイオードであり、
前記第二のＰＮ接合装置はダイオードである、請求項１４のシステム。
【請求項１７】
前記第一のＰＮ接合装置はトランジスタを含み、
前記第二のＰＮ接合装置はトランジスタを含む、請求項１４のシステム。
【請求項１８】
前記第一の制限回路は、
第一のアノード及び第一のカソードを有する第一のダイオードであって、前記第一のアノードは前記チャネルに電気的に接続される第一のダイオードと、
前記ＰＮ接合装置を含む第二のダイオードであって、第二のアノード及び第二のカソードを有し、前記第二のアノードは前記第一のカソードに電気的に接続される第二のダイオードと、
前記第二のアノードに電気的に接続される第一の入力と、前記第二のカソードに電気的に接続される第二の入力とを有する増幅器と、
第三の入力及び第四の入力を含む比較器であって、前記第三の入力は閾値を受け、前記第四の入力は前記増幅器からの信号を受信し、前記信号と前記閾値の比較に基づいて故障の表示を出力する比較器と
を含む、請求項１４のシステム。
【請求項１９】
前記第二の制限回路は、
第一のアノード及び第一のカソードを有する第一のダイオードであって、前記第一のカソードは前記チャネルに電気的に接続されている第一のダイオードと、
前記ＰＮ接合装置を含む第二のダイオードであって、第二のアノード及び第二のカソードを有し、前記第二のカソードは前記第一のアノードに電気的に接続される第二のダイオードと、
前記第二のアノードに電気的に接続される第一の入力と、前記第二のカソードに電気的に接続される第二の入力とを有する増幅器と、
第三の入力及び第四の入力を含み、前記第三の入力は閾値を受信し、前記第四の入力は前記増幅器からの信号を受信し、前記信号と前記閾値との比較に基づいて故障の表示を出力する比較器と
を含む、請求項１４のシステム。
【請求項２０】
前記試験機器はピンエレクトロニクスを含み、
前記第二の制限回路は前記ピンエレクトロニクスを保護する、請求項１４のシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本明細書は一般に、信号レベル又は通信チャネル上の信号レベルを制限するように構成可能な、クランプ回路等の保護回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
自動試験装置（ＡＴＥ：Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｔｅｓｔ  Ｅｑｕｉｐｍｅｎｔ）は装置を試験するための、自動化された、通常はコンピュータ駆動型のシステムを指す。ＡＴＥにより試験される装置は一般に、被試験装置（ＤＵＴ：ｄｅｖｉｃｅ  ｕｎｄｅｒ  ｔｅｓｔ）と呼ばれる。ＡＴＥは典型的に、コンピュータシステムと、１つ若しくは複数の試験機器、又はそれに対応する機能を有する単独の装置と、を含む。ＡＴＥは、ＤＵＴに試験信号を提供し、ＤＵＴから応答信号を受信し、これらの応答信号をＤＵＴが試験適格性基準を満たすか否かを特定するための処理へと送ることができる。例えば、幾つかの実施形態において、ＡＴＥはＤＵＴに電圧を印加し、ＤＵＴに電流を供給することができてもよい。
【０００３】
信号は、ＡＴＥとＤＵＴとの間で１つ又は複数の通信チャネル（又は、単に「チャネル」）上で送信される。保護回路は、チャネル上の、電流又は電圧等の信号の量を制限して、ＡＴＥ又はＤＵＴが損傷を受けないように保護するために使用されてよい。抵抗器を使用して電流を検出する保護回路が知られている。
【発明の概要】
【課題を解決するための手段】
【０００４】
例示的システムは、その上で試験機器と被検査装置（ＤＵＴ）との間で信号が送信されるチャネルと、チャネル上の電圧を制限する制限回路構成と、を含む。制限回路構成は、チャネル上の電圧が限界を超えたことに応答して接続されて通電するＰＮ接合装置を含む。例示的システムは、以下の特徴の１つ又は複数を単独で、又は組み合わせて含んでいてもよい。
【０００５】
制限回路構成は、ＤＵＴを保護するための正側の制限回路を含んでいてもよい。正側の制限回路は、第一のアノード及び第一のカソードを有する第一のダイオードであって、第一のアノードはチャネルに電気的に接続されている第一のダイオードと、ＰＮ接合装置を含む第二のダイオードであって、第二のアノード及び第二のカソードを有し、第二のアノードは第一のカソードに電気的に接続されている第二のダイオードと、第二のアノードに電気的に接続されている第一の入力と、第二のカソードに電気的に接続されている第二の入力とを有する増幅器と、を含み得る。第一の電圧は第二のカソードにあり、第二の電圧は第二のアノードにあり、第二の電圧はチャネル上の電圧に基づき、第二のダイオードは第二の電圧が第一の電圧を超過したことに応答して導通する。第二のダイオードの導通により、そのダイオードの中に電流が流れ、その結果、ダイオードで電圧降下が起こり、それが第一及び第二の入力を介して増幅器に中継され、増幅器は電圧降下に基づく信号を出力する。システムは、第三の入力及び第四の入力を含む比較器を含んでいてもよく、第三の入力は閾値を受け、第四の入力は増幅器からの信号を受信する。比較器は、信号と閾値との比較に基づいて故障の表示を出力することになる。システムは、第一の電圧を第二のカソードに提供する電圧発生器を含んでいてもよい。第一の電圧は調節可能であってよい。
【０００６】
制限回路構成は、試験機器を保護するための負側の制限回路を含んでいてもよい。負側の制限回路は、第一のアノード及び第一のカソードを有する第一のダイオードであって、第一のカソードはチャネルに電気的に接続されている第一のダイオードと、ＰＮ接合装置を含む第二のダイオードであって、第二のアノード及び第二のカソードを有し、第二のカソードは第一のアノードに電気的に接続されている第二のダイオードと、第二のアノードに電気的に接続されている第一の入力と、第二のカソードに電気的に接続されている第二の入力とを有する増幅器と、を含む。第一の電圧は第二のアノードにあり、第二の電圧は第二のカソードにあり、第二の電圧はチャネル上の電圧に基づき、第二のダイオードは第一の電圧が第一の電圧を超過したことに応答して導通する。第二のダイオードの導通により、そのダイオードに電流が流れ、その結果、ダイオードで電圧降下が起こり、それが第一及び第二の入力を介して増幅器に中継され、増幅器は電圧降下に基づく信号を出力する。例示的システムは、第三の入力及び第四の入力を含む比較器を含んでいてもよく、第三の入力は閾値を受け、第四の入力は増幅器からの信号を受信する。比較器は、信号と閾値との比較に基づいて故障の表示を出力することになる。例示的システムは、第一の電圧を第二のカソードに提供する電圧発生器を含んでいてもよい。第一の電圧は調節可能であってよい。
【０００７】
ある例において、チャネルは第一のチャネルであり、システムは、その上で信号が試験機器と被試験装置（ＤＵＴ）との間で送信される第二のチャネルと、第二のチャネル上の電圧を制限するための第二の制限回路構成と、をさらに含み、第二の制限回路構成は、第二のチャネルの電圧が限界を超えたことに応答して、接続されて通電する第二のＰＮ接合装置を含む。
【０００８】
ある例示的システムは、被試験装置（ＤＵＴ）を、ＤＵＴに電気的に接続されているチャネル上で信号を送受信することによって試験する試験機器と、ＤＵＴをチャネル上の第一の過電圧から保護するための第一の制限回路であって、チャネル上の第一の過電圧に応答して通電する第一のＰＮ接合装置を含む第一の制限回路と、試験機器をチャネル上の第二の過電圧から保護するための第二の制限回路であって、チャネル上の第二の過電圧に応答して通電する第二のＰＮ接合装置を含む第二の制限回路と、を含む。この例示的システムは、以下の特徴の１つ若しくは複数を単独で、又は組み合わせて含んでいてもよい。
【０００９】
第一のＰＮ接合装置はダイオードを含むか、ダイオードであってもよく、第二のＰＮ接合装置はダイオードを含むか、ダイオードであってもよい。第一のＰＮ接合装置はトランジスタを含むか、トランジスタであってもよく、第二のＰＮ接合装置はトランジスタを含むか、トランジスタであってもよい。
【００１０】
第一の制限回路は、第一のアノード及び第一のカソードを有する第一のダイオードであって、第一のアノードはチャネルに電気的に接続されている第一のダイオードと、ＰＮ接合装置を含む第二のダイオードであって、第二のアノード及び第二のカソードを有し、第二のアノードは第一のカソードに電気的に接続されている第二のダイオードと、第二のアノードに電気的に接続されている第一の入力と、第二のカソードに電気的に接続されている第二の入力とを有する増幅器と、第三の入力及び第四の入力を含む比較器であって、第三の入力は閾値を受け、第四の入力は増幅器からの信号を受信する比較器と、を含み、比較器は信号と閾値の比較に基づいて故障の表示を出力する。
【００１１】
第二の制限回路は、第一のアノード及び第一のカソードを有する第一のダイオードであって、第一のカソードはチャネルに電気的に接続されている第一のダイオードと、ＰＮ接合装置を含む第二のダイオードであって、第二のアノード及び第二のカソードを有し、第二のカソードは第一のアノードに電気的に接続されている第二のダイオードと、第二のアノードに電気的に接続されている第一の入力と、第二のカソードに電気的に接続されている第二の入力とを有する増幅器と、第三の入力及び第四の入力を含む比較器であって、第三の入力は閾値を受け、第四の入力は増幅器からの信号を受信する比較器と、を含み、比較器は信号と閾値の比較に基づいて故障の表示を出力する。
【００１２】
試験機器はピンエレクトロニクスを含んでいてもよく、ピンエレクトロニクスを保護するための第二の制限回路を備える。
【００１３】
この概要の項を含む本明細書に記載されている何れの２つ又はそれ以上の特徴も、本明細書に具体的に記載されていない実施形態を形成するために組み合わせることができる。
【００１４】
本明細書に記載の試験システム及び技術又はその一部は、１つ又は複数の非一時的機械可読記憶媒体上に記憶され、本明細書に記載の動作を制御する（例えば、調整する）ために１つ又は複数の処理装置上で実行可能な命令を含むコンピュータプログラム製品として実装され／それによって制御されることができる。本明細書に記載の試験システム及び方法又はそれらの一部は、１つ又は複数の処理装置及び各種の動作を実現するために実行可能な命令を記憶するためのメモリを含むことのできる装置、方法、又は電子システムとして実装できる。
【００１５】
１つ又は複数の実施形態の詳細が、添付の図面と以下の説明の中に示されている。その他の特徴と利点は、説明文と図面及び特許請求の範囲から明らかとなるであろう。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】例示的な保護回路構成を示す。
【図２】ダイオードの例示的な電流を示すグラフである。
【図３】ダイオードの例示的な電圧を示すグラフである。
【図４】図１の例示的な保護回路構成を含んでいてもよい例示的な試験機器を示すブロック図である。
【発明を実施するための形態】
【００１７】
異なる図中の同様の参照番号は、同様の要素を示す。
【００１８】
コンポーネントを試験するために、製造者は一般にＡＴＥ（又は「テスタ」）を使用する。ＡＴＥにより試験されてもよい装置、いわゆる被試験装置（ＤＵＴ）の例には、回路やエレクトロニクスを含む電子機器、コンピュータハードウェアとソフトウェア、コンピュータメモリ（例えば、ダイナミックランダムアクセスメモリ）、デジタルカメラセンサ、その他が含まれるが、これらに限定されない。
【００１９】
試験プログラムセット（ＴＰＳ：ｔｅｓｔ  ｐｒｏｇｒａｍ  ｓｅｔ）の中の命令に応答して、一部のＡＴＥは自動的に、ＤＵＴに印加されることになる入力信号を生成し、出力信号をモニタする。ＡＴＥは出力信号を想定される応答と比較して、ＤＵＴに欠陥があるか否かを特定する。ＡＴＥは典型的に、コンピュータシステムと、１つ若しくは複数の試験機器又はそれに対応する機能を有する単独の装置と、を含む。幾つかの場合に、１つ又は複数の試験チャネル上で、試験機器は電圧及び／又は電流をＤＵＴに出力し、ＤＵＴからの電圧及び／又は電流を受け取る。各試験チャネルは、ＤＵＴ及び／又はＡＴＥを保護するための保護回路構成を含んでいてもよく、その例はクランプ又は制限回路構成である。
【００２０】
幾つかの実施形態において、動作中、ＡＴＥ内の回路構成、例えばピンエレクトロニクス（ＰＥ）は、ＡＴＥとＤＵＴとの間の１つ又は複数のチャネル上でＤＵＴに電圧を印加し、電流を吐き出す、又は吸い込むように構成される。各チャネルは、保護回路構成を含んでいてもよい。図１は、チャネル１１のための保護回路構成１０の一例を示す。この例において、保護回路構成１０は正側の制限（例えば、クランプ）回路１３と負側の制限（例えば、クランプ）回路１４を含む。正側の制限回路１３は、ＤＵＴをチャネル上の過電圧から保護するように構成され、負側の制限回路１４は、ＡＴＥをチャネル上の低電圧から保護するように構成される。他の実施形態は示されているものとは異なる構成を有していてもよい。
【００２１】
幾つかの実施形態において、保護回路構成は、チャネル上の電圧を制限し、それによってＤＵＴ及びＡＴＥをチャネル上の過電圧の影響から保護する回路構成を含む。回路構成は、チャネル上の電圧が限界を超えたことに基づいて接続されて通電する、ダイオード又はトランジスタ等のＰＮ接合装置を含む。ＰＮ接合装置はモニタされ、その中に流れる電流、ひいてはチャネル上に存在するのが過電圧か低電圧かが決定される。
【００２２】
前述のように、幾つかの実施形態において、正側の制限回路１３はＤＵＴ１５をチャネル上の過電圧から保護するように構成される。ある例において、正側の制限回路１３は、第一のアノード１８と第一のカソード１９を有する第一のダイオード１７を含む。図のように、第一のダイオードの第一のアノードは、チャネルに電気的に接続されている。正側の制限回路１３はまた、第二のダイオード２０を含み、これは上述のＰＮ接合装置であってもよい。第二のダイオードは第二のアノード２２と第二のカソード２３を有する。図のように、第二のアノードは、第一のカソードに電気的に接続されている。正側の制限回路１３はまた、第二のダイオードを通じて接続されている増幅器２５を含む。例えば、増幅器は、第二のアノード２２に電気的に接続されているその第一の入力と、第二のカソード２３に電気的に接続されているその第二の入力とを有する。
【００２３】
動作中、ＡＴＥからＤＵＴに印加されるチャネル１１上の電圧（例えば、正の電圧）が第一のダイオード１７のアノード上に現れる。その電圧が第一のダイオード１７のカソードの電圧を超えると、第一のダイオード１７は導通状態となり、それによって電流が流れる。第一のダイオードのカソードの初期電圧は印加されても、予め規定されても、フローティング状態でもよい。導通後、電圧は第二のダイオード２０のアノードに現れる。この電圧は、チャネル電圧に基づくか、又はそれとほぼ等しい。その電圧が第二のダイオード２０のカソードの電圧を超えると、第二のダイオードも導通し、それによりチャネル１１とシンク電流発生器２６との間に導電経路が作られる。すると、電流はチャネルから第一及び第二のダイオードを通ってシンク電流発生器２６へと流れ、それによってＡＴＥに印加される電圧が制限される。
【００２４】
第二のダイオード２０のカソードの電圧は、何れの適当な値に設定されてもよい。第二のダイオード２０のカソードの電圧の値は、チャネル１１に印加される電圧に影響を与える。すなわち、第二のダイオード２０のカソードの電圧は、導電経路を有効にすることにより、チャネル上の電圧を制限するように作用する。第二のダイオード２０のカソードの電圧の具体的な値が、チャネル及び、それゆえＡＴＥが受ける最大電圧値を決定する。
【００２５】
図１の例において、正側の制限回路１３は、第二のアノードに電気的に接続されている第一の入力と、第二のカソードに電気的に接続されている第二の入力とを有する増幅器２５を含む。増幅器２５は、第二のダイオード２０を通る電流信号を、そのダイオードの電圧を検出し、増幅信号を出力することによって増幅する。その結果として得られる信号は、正側の制限回路１３の動作を示す。すなわち、信号がないことは、正側の制限回路１３が現在機能していないことを示す。この例において、これは、チャネル上の電圧がＤＵＴにとって容認可能な最大値を超えていないことを意味する。
【００２６】
正側の制限回路１３は、入力を有する比較器２６を含んでいてもよい。比較器の第一の入力は、予め規定されていてもよい閾値２７を受け、その第二の入力は増幅器からの出力信号を受信するためのものである。比較器は、出力信号を閾値信号と比較し、比較に基づく表示を出力する。幾つかの実施形態において、増幅器の出力が閾値を超える場合、比較器の出力は故障、例えばＡＴＥからＤＵＴに過剰な電圧が印加されていることを示す。幾つかの実施形態において、増幅器の出力が閾値より低い場合、比較器の出力は故障、例えばＡＴＥからＤＵＴに過剰な負の電圧が出力されていることを示す。
【００２７】
前述のように、幾つかの実施形態において、負側の制限回路１４は、ＡＴＥ２８をチャネル上の低電圧（例えば、最大絶対値を超える負の電圧）から保護するように構成される。この例において、負側の制限回路１４は、第一のアノード３０と第一のカソード３１を有する第一のダイオード２９を含む。図のように、第一のダイオードの第一のカソードはチャネル１１に電気的に接続されている。負側の制限回路１４はまた、第二のダイオード３２を含み、これは前述のＰＮ接合装置であってもよい。第二のダイオードは、第二のアノード３３と第二のカソード３４を有する。図のように、第二のカソードは第一のアノードに電気的に接続されている。第二のアノードは、ソース電流発生器３６からの電流を受け取るように電気的に接続されている。負側の制限回路１４はまた、第二のダイオードを通じて接続されている増幅器３８を含む。例えば、増幅器は、第二のカソード３４に電気的に接続されているその第一の入力と、第二のアノード３３に電気的に接続されているその第二の入力とを有する。
【００２８】
動作中、ソース電流発生器３６は電流を出力し、その結果、第二のダイオード３２のアノードに電圧が生じる。第二のダイオードのアノードにおける電圧が第二のダイオードのカソードにおける電圧を超えると、ダイオード３２は導通状態となる。その結果、第一のダイオード２９のアノードにおける電圧は、ソース電流発生器の出力における電圧に基づき、例えばそれと等しい。その一方で、ＤＵＴからＡＴＥに印加されるチャネル１１上の電圧（例えば、負の電圧）は第一のダイオード２９のカソードにある。第一のダイオード２９のアノードにおける電圧が第一のダイオード２９のカソードにおける電圧を超えると、第一のダイオード２９は導通状態となり、それによって、２つのダイオードを通るものを含むソース電流発生器３６とチャネル１１との間の経路に沿って電流が流れる。この電流の流れは、ＤＵＴからＡＴＥに印加される電圧を制限するように作用する。
【００２９】
第二のダイオード３２のカソードにおける電圧は当初、何れの適当な値に設定されてもよい。第二のダイオード３２のアノードにおける電圧は、チャネル１１について認められる電圧に影響を与える。すなわち、第二のダイオード３２のアノードにおける電圧は、導電経路を有効にすることにより、チャネル上の電圧を制限するように作用する。第二のダイオード３２のアノードにおける電圧の具体的な値が、チャネル及び、したがってＡＴＥが受ける最大絶対電圧値を決定する。
【００３０】
図１の例において、負側の制限回路１４は、第二のアノードに電気的に接続されている第一の入力と、第二のカソードに電気的に接続されている第二の入力とを有する増幅器３８を含む。増幅器３８は、ダイオード３２の電圧を検出し、増幅信号を出力することによって、ダイオード３２を通る電流信号を増幅する。その結果得られる信号は、負側の制限回路１４の動作を示す。すなわち、信号がないことは、負側の制限回路１４が現在機能していないことを示す。この例において、これは、チャネル上の電圧がＡＴＥに関して容認可能な最大絶対値を超えていないことを意味する。
【００３１】
負側の制限回路１４は、入力を有する比較器４０を含んでいてもよい。比較器の第一の入力は、予め規定されていてもよい閾値４１を受け、その第二の入力は増幅器からの出力信号を受信する。比較器は出力信号を閾値信号と比較し、比較に基づく表示を出力する。幾つかの実施形態において、増幅器の出力が閾値を超える場合に、比較器の出力は故障、例えばＤＵＴからＡＴＥに過剰な電圧が出力されていることを示す。幾つかの例において、増幅器の出力が閾値より低い場合に、比較器の出力は故障、例えばＤＵＴからＡＴＥに過剰な電圧が出力されていることを示す。
【００３２】
幾つかの実施形態において、正側の制限回路と負側の制限回路のどちらにおいても、比較的小さい電流が検出され得る。流れる電流の実際の量は重要でないかもしれず、むしろ、重要なのは電流が実際に流れていることである。ダイオード（例えば、本明細書に記載されている制限回路の第二のダイオード）を通じて検出することにより、ダイオードの指数関数的性質から、比較的小さい電流の検出が可能となる。幾つかの実施形態において、両方の制限回路の場合、第二のダイオード（例えば、ダイオード２０、３２）には通常、その中を流れる電流がなく、そのため、このダイオードには電圧がない。クランプ動作がなく、故障を示す比較器の出力（例えば、クランプフラッグ）がない。
【００３３】
幾つかの実施形態において、第二のダイオード（例えば、ダイオード２０、３２）は、ダイオードの中を流れる比較的低い、例えば１０ｍＡ未満の電流で導通し始める。ダイオードの対数的動作により、その結果としてのダイオードの電圧は、比較的低い電流について例えば４００ｍＶ超となる。保護回路構成はそれゆえ、電流の値を測定する必要がなく、むしろ第二のダイオードに電流が流れていることを検出する必要がある。ダイオード電流検出方法によって、非線形検出が可能となり、それにより、比較的小さい電流がより高い電圧を生じさせ、これは比較的検出しやすい。これは例えば、図２及び３のグラフに示されており、図２はダイオードを通る電流４４を示し、図３は、図２の電流に応答する、それに対応するダイオードの電圧４５を示す。より大きい電流は、対数的な性質の電圧を生じさせ、電力散逸が制限される。これに対して、シャント抵抗器を使って電流を検出する場合、抵抗器の線形の性質により（例えば、電圧は電流に正比例し、直線的である）、感度と電力散逸とのトレードオフが必要となる。
【００３４】
幾つかの実施形態において、中程度〜高い電流（例えば、１０ｍＡを超え、２Ａまで）が第二のダイオードに流れる可能性がある。幾つかの実施形態において、第二のダイオードの対数的動作により、電圧は高電流に関して１０００ｍＶより大きくなり得る。これは、検出回路構成に起因する電力散逸を軽減させるのに役立ち得る。幾つかの実施形態において、１０ｍＡと２Ａとの差を検出することは難しい場合もあるが、実際の値は必要でないかもしれない。むしろ、回路構成は、実行されるある種の電圧制限動作（例えば、クランプ）があることだけを検出し、制限動作の実際のレベルは検出しないように動作してもよい。
【００３５】
したがって、幾つかの場合に、本明細書に記載されている例示的な保護回路構成は、より高い電流で比較的大きい電圧降下を生じさせずに、電流の流れについて比較的低い電流レベルの検出が可能となる。これによって、電流が流れていることを検出するための低コストの差動増幅器及び／又は比較器が実現する。これに対して、抵抗による検出には、同等の感度を得るために大きい抵抗値が必要となるかもしれず、これは、特により高い電流において現実的ではないかもしれない。
【００３６】
本明細書において提示されている例に記載のＰＮ接合装置は、ダイオード（例えば、第二のダイオード）であるか、又はこれを含むが、他のＰＮ接合装置はダイオードに追加して、又はその代わりに使用されてもよい。例えば、適切に構成されたトランジスタ（１種のＰＮ接合装置）が使用されてもよい。
【００３７】
さらに、前述のように、本明細書に記載されている例示的保護回路構成は、ＤＵＴとＡＴＥとの間の単独のチャネル上で実装されてよい。各々がそれ自体の本明細書に記載の種類の保護回路構成を含むような、複数のこのようなチャネルがあってもよい。したがって、各チャネルは、ＤＵＴをチャネル上の第一の過電圧から保護するための第一の制限回路であって、チャネル上の第一の過電圧に応答して通電する第一のＰＮ接合装置を含む第一の制限回路と、試験機器をチャネル上の第二の過電圧から保護するための第二の制限回路であって、チャネル上の第二の過電圧に応答して通電する第二のＰＮ接合装置を含む第二の制限回路と、を含んでいてもよい。
【００３８】
図４は、図１の回路構成が実装されてよい一般的なＡＴＥ構成を示す。しかしながら、本明細書に記載されている保護回路構成は、図４のそれを含め、何れの特定のＡＴＥ構成にも限定されず、回路構成は何れの適当なＡＴＥ又は非ＡＴＥシステムにも組み込まれてよい点が強調される。
【００３９】
図４を参照すると、本明細書に記載されているもの等のＤＵＴ５８を試験する例示的なＡＴＥシステム５０は、テスタ（又は、「試験機器」）５２を含む。ＤＵＴ５８はＤＩＢ６０と結合されていてもよい。
【００４０】
テスタ５２は多数のチャネルを含んでいてもよく、その各々が本明細書に記載されている種類の保護回路構成を含んでいてもよい。テスタ５２を制御するために、システム５０は、ハードワイヤ接続５６上でテスタ５２と結合されるコンピュータシステム５４を含む。ある例示的な動作において、コンピュータシステム５４はテスタ５２に対し、ＤＵＴ５８を試験するためのルーチンと機能の実行を開始させるコマンドを送信する。このような試験ルーチンの実行により、ＤＵＴ５８への試験信号の生成と送信が開始され、ＤＵＴからの応答が収集される。どのような種類のＤＵＴがシステム５０により試験されてもよい。幾つかの実施形態において、ＤＵＴは適当な半導体又はその他の装置、例えば集積回路（ＣＩ）チップ（例えば、メモリチップ、マイクロプロセッサ、アナログ−デジタル変換器、デジタル−アナログ変換器等）又はその他の装置であってよい。
【００４１】
試験信号を提供し、ＤＵＴからの応答を収集するために、テスタ５２はＤＵＴ５８の内部回路構成とのインタフェースに接続されている。例えば、ＤＵＴは、ＤＩＢ６１のソケットに挿入されてもよく、これはＤＵＴとテスタとの間の電気接続部とのインタフェースを含む。導体６０（例えば、１つ又は複数の導電経路）はインタフェースに接続され、試験信号（例えば、スイッチング又はＤＣ試験信号等）をＤＵＴ５８の内部回路構成に送達するために使用される。導体６０はまた、テスタ５２により提供された試験信号に応答する信号を検出する。例えば、試験信号に応答する電圧信号又は電流信号がピン６２で検出され、分析のために導体６０上でテスタ５２に送信されてもよい。このような単独ポート試験はまた、ＤＵＴ５８に含まれるその他のピンについて実行されてもよい。例えば、テスタ５２は試験信号を他のピンに提供し、（提供された信号を送達する）導体上で反射して戻される関連の信号を収集してもよい。反射信号を収集することにより、ピンの入力インピーダンスが、他の単独ポート試験数量と共に特徴付けられてもよい。他の試験方法では、デジタル信号は導体６０上でピン６２に送信され、ＤＵＴ５８にデジタル値が記憶されてもよい。いったん記憶されると、ＤＵＴ５８にアクセスされ、記憶されていたデジタル値が読み出され、導体６０上でテスタ５２に送信されてもよい。すると、読み出されたデジタル値が特定され、適正な値がＤＵＴ５８に記憶されたか否かが判断されてよい。
【００４２】
テスタ５２により、単独ポート測定を実行するとともに、２ポート又はマルチポート試験も実行されてよい。例えば、印加電圧モードで電圧信号が導体６０上でピン６２に注入されてよく、応答信号がＤＵＴ５８の他の１つ又は複数のピンから収集されてよい。この応答信号はテスタ５２に提供されて、ゲイン応答、位相応答、及びその他スループット測定数量等の数量が特定されてもよい。その他の試験も実行されてよい。テスタ５２は、本明細書に記載されているように、印加電圧モード中に必要な試験に基づいてＤＵＴに電流を供給してもよい。
【００４３】
本明細書には「試験」及び「試験システム」に関する例示的実施形態が記載されているが、本明細書に記載の回路構成及び方法は、何れの適当なシステムにおいても使用されてよく、試験システムに、又は本明細書に記載されている例示的試験システムに限定されない。
【００４４】
本明細書に記載されているように実行される試験は、ハードウェア又はハードウェアとソフトウェアの組合せを使って実行されてよい。例えば、本明細書に記載されているもののような試験システムは、様々な地点に位置付けられた各種のコントローラ及び／又は処理装置を含んでいてもよい。中央コンピュータは、各種のコントローラ又は処理装置間の動作を調整してよい。中央コンピュータ、コントローラ、及び処理装置は、様々なソフトウェアルーチンを実行して、試験及び較正の制御と調整を行ってもよい。
【００４５】
試験は、少なくとも部分的に、例えば１つ又は複数のデータ処理装置、例えばプログラマブルプロセッサ、コンピュータ、複数のコンピュータ、及び／又はプログラマブルロジックコンポーネントにより実行されるための、又はその動作を制御するための１つ又は複数のコンピュータプログラム製品、例えば１つ又は複数の非一時的機械可読媒体等の１つ又は複数の情報キャリア内に有形に実施された１つ又は複数のコンピュータプログラムを使って制御できる。
【００４６】
コンピュータプログラムは、コンパイル型言語又はインタプリト型言語を含むあらゆる形態のプログラミング言語で書くことができ、独立プログラムとして、又はモジュール、コンポーネント、サブルーチン、若しくはコンピューティング環境での使用に適したその他のユニットとして等、あらゆる形態で展開できる。コンピュータプログラムは、１つのコンピュータでも、１か所の、又は複数の場所にわたり分散されてネットワークにより相互接続されている複数のコンピュータでも実行されるように展開できる。
【００４７】
試験及び較正の全部又は一部を実行することに関連する動作は、本明細書に記載されている機能を実行するために１つ又は複数のコンピュータプログラムを実行する１つ又は複数のプログラマブルプロセッサにより実行できる。試験及び較正の全部又は一部は、特定目的の論理回路構成、例えばＦＰＧＡ（ｆｉｅｌｄ  ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  ｇａｔｅ  ａｒｒａｙ）及び／又はＡＳＩＣ（特定用途集積回路）を使って実行できる。
【００４８】
コンピュータプログラムを実行するのに適したプロセッサは、例えば汎用及び特定目的のマイクロプロセッサの両方ならびに、あらゆる種類のデジタルコンピュータのあらゆる１つ又は複数のプロセッサを含む。一般に、プロセッサは、読取専用記憶領域若しくはランダムアクセス記憶領域又はその両方から命令とデータを受け取る。コンピュータの要素（サーバを含む）は、命令を実行するための１つ又は複数のプロセッサと、命令とデータを記憶するための１つ又は複数の記憶エリア装置を含む。一般に、コンピュータはまた、データを聞く記憶するためのマスＰＣＢ等の１つ又は複数の機械可読記憶媒体、例えば磁気、磁気光ディスク、若しくは光ディスクを含み、又はそこからデータを受信するか、そこにデータを送信するか、又はその両方を行うために動作的に連結される。コンピュータプログラム命令及びデータを実施するのに適した機械可読記憶媒体は、あらゆる形態の不揮発性記憶領域を含み、これには例えば半導体記憶領域装置、例えばＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、及びフラッシュ記憶領域装置、磁気ディスク、例えば内部ハードディスク若しくはリムーバブルディスク、磁気光ディスク、及びＣＤ−ＲＯＭ、ならびにＤＶＤ−ＲＯＭディスクが含まれる。
【００４９】
本明細書で使用される「電気接続」はすべて、直接的な物理接続又は、有線若しくは無線仲介コンポーネントを含むが、それでもなお接続されているコンポーネント間で電気信号（無線信号を含む）を流すことのできる接続を黙示してよい。本明細書で述べられる、電気信号がその中を流れる電気回路構成を含むあらゆる「接続」は、特に別段の明記がないかぎり、「電気的」という単語が「接続」の修飾に使用されているか否かにかかわらず、電気接続であり、必ずしも直接的な物理接続とはかぎらない。
【００５０】
本明細書に記載の異なる実施形態の要素は、具体的に前述されていないその他の実施形態と組み合わせてもよい。要素は、本明細書に記載されている構造から除外してもよく、これはそれらの動作に不利な影響を与えない。さらに、各種の別々の要素を組み合わせて１つ又は複数の個別の要素にし、本明細書に記載の機能を実行してもよい。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【国際調査報告】
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