(57)【要約】  被検査体の被検査端子と検査回路の検査端子とを電気的に連結する検査装置を提供する。検査装置は、信号用プローブと、接地用プローブと、前記信号用プローブが電気的に非接触状態で通過するように形成された信号用プローブ孔、及び前記接地用プローブが電気的に接触状態で通過するように形成された接地用プローブ孔を有する導電性ブロックと、該導電性ブロックを収容し、前記信号用プローブの両端を支持する絶縁ハウジングとを備える。これによれば、信号用プローブ及び信号端子間のノイズを効果的に遮蔽することができる。
2019537707.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
カメラモジュール検査装置であって、
信号用プローブと、
接地用プローブと、
前記信号用プローブが電気的に非接触状態で通過するように形成された信号用プローブ孔、及び前記接地用プローブが電気的に接触状態で通過するように形成された接地用プローブ孔を有する導電性ブロックと、
前記導電性ブロックを収容し、前記信号用プローブの両端を支持する絶縁ハウジングと、
を備えることを特徴とするカメラモジュール検査装置。
【請求項２】
前記導電性ブロックは、前記導電性ブロックから上方に突出し、前記絶縁ハウジングの上部プレートを通過してカメラモジュールの端子の列の間に延長する上部ノイズ遮蔽部を有することを特徴とする、請求項１に記載のカメラモジュール検査装置。
【請求項３】
前記カメラモジュールを収容する被検査体収容部と、前記信号用プローブの第１端部及び前記接地用プローブの第１端部が通過する多数のプローブ通過孔が設けられた底部とを有し、前記絶縁ハウジング上に弾性的にフローティングされたインサートをさらに備えることを特徴とする、請求項２に記載のカメラモジュール検査装置。
【請求項４】
前記絶縁ハウジングの上部プレート及び前記インサートの底部はそれぞれ、前記上部ノイズ遮蔽部が通過する第１遮蔽部通過部及び第２遮蔽部通過部を有することを特徴とする、請求項３に記載のカメラモジュール検査装置。
【請求項５】
前記信号用プローブの第２端部及び前記接地用プローブの第２端部が通過する多数の第２プローブ通過孔を有する下部カバーをさらに備えることを特徴とする、請求項１に記載のカメラモジュール検査装置。
【請求項６】
前記導電性ブロックは、前記導電性ブロックから下方に突出し及び前記多数の信号用プローブの列の間に延長する下部ノイズ遮蔽部を有し、
前記下部カバーは、前記下部ノイズ遮蔽部が通過する第３遮蔽部通過部を有することを特徴とする、請求項５に記載のカメラモジュール検査装置。
【請求項７】
前記下部ノイズ遮蔽部は、前記接地プローブが接触する検査回路の接地端子に接触する少なくとも一つの接地突起を有することを特徴とする、請求項６に記載のカメラモジュール検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被検査体、例えば、カメラモジュールの電気的特性を検査するための検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、モバイル装置、例えばスマートフォン、ＰＤＡ、タブレットＰＣなどが広く普及されている。それらのモバイル装置に使われる小型カメラモジュールは、３相（ＭＩＰＩ  Ｃ−ＰＨＹ）インターフェース１０を備えている。図１は３相インターフェース１０を示す図であり、複数の被検査端子１２が２列に並んで突出して配列されたコネクター形状である。
【０００３】
カメラモジュールを検査するための検査装置は、２列に並んで配列された多数の信号用プローブ及び接地用プローブがそれぞれ、３相インターフェース１０の信号用端子１２及び接地用端子１４に接触することによってテストを行う。しかし、高周波テスト動作時には各列の信号用プローブの間にノイズが多く発生し、テストができないという問題があった。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
本発明の目的は、上述した問題を解決するためのものであり、高周波テスト動作時に信号用プローブ間にノイズを遮断し、検査の信頼性を向上させることができるカメラモジュール検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記の本発明の課題を解決するための、被検査体の被検査端子と検査回路の検査端子とを電気的に連結する検査装置が開示される。検査装置は、信号用プローブと、接地用プローブと、前記信号用プローブが電気的に非接触状態で通過するように形成された信号用プローブ孔、及び前記接地用プローブが電気的に接触状態で通過するように形成された接地用プローブ孔を有する導電性ブロックと、前記導電性ブロックを収容し、前記信号用プローブの両端を支持する絶縁ハウジングとを備えることを特徴とする。これによれば、信号用プローブ列の間のノイズを接地状態の導電性ブロックで遮断し、信頼性ある高周波テストを行うことができる。
【０００６】
前記導電性ブロックは、前記絶縁ハウジングを通過して被検査端子の間に向かって突出及び延長するノイズ遮蔽部を有し、より確実なノイズ遮蔽が可能である。
【０００７】
前記検査装置は、前記カメラモジュールを収容する被検査体収容部、及び前記信号用プローブの一端部と前記接地用プローブの一端部が通過する多数のプローブ通過孔を設けられた底部を有し、前記絶縁ハウジングの上部に弾性的にフローティングされたインサートをさらに備えることができる。
【０００８】
前記底部は、前記ノイズ遮蔽部が通過する開孔を有することができる。
【０００９】
前記検査装置は、前記信号用プローブの他端部と前記接地用プローブの他端部が通過する多数の第２プローブ通過孔が設けられた下部カバーをさらに備えることができる。
【００１０】
前記導電性ブロックは、前記下部カバーを通過して検査端子に向かって突出及び延長する第２ノイズ遮蔽部を有し、より確実な接地状態を維持することができる。
【００１１】
第２ノイズ遮蔽部は検査回路の接地端子（パッド）に接触する接地突起を有する。
【発明の効果】
【００１２】
本発明のカメラモジュール検査装置は、高周波テストにおいて信号プローブ間のノイズを効果的に遮蔽することができ、検査の信頼性を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００１３】
【図１】カメラモジュールの３相インターフェースを示す斜視図である。
【図２】本発明の実施例に係る検査装置を示す斜視図である。
【図３】図２のカメラモジュール検査装置を示す分解斜視図である。
【図４】図２のカメラモジュール検査装置を示す平面図である。
【図５】図２のカメラモジュール検査装置のＩ−Ｉ線に沿う断面図である。
【図６】図２のカメラモジュール検査装置のＩＩ−ＩＩ線に沿う断面図である。
【発明を実施するための形態】
【００１４】
以下、本発明の一実施例を、添付の図面を参照して述べる。
【００１５】
カメラモジュール検査装置１００は、被検査体、例えばスマートフォン用小型カメラモジュールの電気的特性を検査する。カメラモジュール検査装置１００は、図１に示したようなカメラモジュールの３相インターフェース１０の多数の端子に信号用プローブ１１０及び接地用プローブ１２０を接触させて検査し、例えば信号端子１２に信号用プローブ１１０を接触させて、そして接地端子１４に接地用プローブ１２０を接触させて検査を行う。
【００１６】
図２〜図５は、本発明の実施例に係るカメラモジュール検査装置１００の斜視図、分解斜視図、平面図、及び断面図である。図示のように、カメラモジュール検査装置１００は、信号用プローブ１１０、接地用プローブ１２０、信号用プローブ１１０及び接地用プローブ１２０が通過する導電性ブロック１３０、該導電性ブロックを収容する絶縁ハウジング１４０、該絶縁ハウジング１４０上にフローティング状態で配置されたインサート１５０、及び前記絶縁ハウジング１４０の下部に配置される下部カバー１６０を備える。
【００１７】
信号用プローブ１１０及び接地用プローブ１２０は、ポゴタイプ（ｐｏｇｏ  ｔｙｐｅ）ピン、カンチレバータイプ（ｃａｎｔｉｌｅｖｅｒ  ｔｙｐｅ）ピン、バーチカルタイプ（ｖｅｒｔｉｃａｌ  ｔｙｐｅ）ピン、ＭＥＭＳ（ｍｉｃｒｏｅｌｅｃｔｒｏｍｅｃｈａｎｉｃａｌ  ｓｙｓｔｅｍｓ）ピンなどによって具現することができる。以下、信号用プローブ１１０及び接地用プローブ１２０は、ポゴタイプピンを取り上げて説明する。
【００１８】
信号用プローブ１１０は、円筒形のバレル、バレルの一側に部分挿入されてスライディング移動する上部プランジャー、バレルの他側に部分挿入されてスライディング移動する下部プランジャー、及び該上部プランジャー及び下部プランジャーの少なくとも一つを付勢するように前記バレル内に挿入されたバネを備える。前記上部プランジャー及び下部プランジャーのいずれか一方は信号端子１２に接触し、いずれか他方は検査回路の信号端子（パッド）（図示せず）に接触する。信号用プローブ１１０は導電性ブロック１３０に電気的に接触することなく通過するよう、全体的に絶縁材質である、例えばテフロン（登録商標）のような絶縁材質からなるチューブでバレルを包んだり、絶縁スぺーサをバレルに取り付けることができる。また、前記上部プランジャー及び下部プランジャーのいずれか一方はスライディング移動せず、バレルに固定されてもよい。また、信号用プローブ１１０は、バレルがなく、バネ内で上部プランジャーと下部プランジャーとが交差スライディングする外付バネタイプのポゴピンが適用されてもよい。
【００１９】
接地用プローブ１２０は、基本的な構造が信号用プローブ１１０と同様であり、その説明を省略する。勿論、接地用プローブ１２０は、信号用プローブ１１０と異なる大きさであってもよく、導電性ブロック１３０に接触しても構わないので絶縁チューブや絶縁スペーサは不要である。
【００２０】
導電性ブロック１３０は、黄銅のような導電性材質で作製したり、非導電性ブロックに導電物質をコート又はメッキして作製することができる。導電性ブロック１３０は、多数の信号用プローブ１１０が電気的に非接触状態で通過する多数の信号プローブ孔１３２と、多数の接地用プローブ１２０が電気的に接触状態で通過する多数の接地プローブ孔１３４が平行に設けられている。信号用プローブ１１０と接地用プローブ１２０は、導電性ブロック１３０内に挿入される時、上部プランジャー及び下部プランジャーの両端部の少なくとも一部が露出される。実施例では１５個の信号プローブ孔１３２と２個の接地プローブ孔１３４がそれぞれ２列に並んで配置されている。すなわち、第１列には１〜５番目の信号プローブ孔１３２、６番目の接地プローブ孔１３４、７〜１１番目の信号プローブ孔１３２、１２番目の接地プローブ孔１３４、及び１３〜１７番目の信号プローブ孔１３２が配置され、第２列には第１列と同様に、１〜５番目の信号プローブ孔１３２、６番目の接地プローブ孔１３４、７〜１１番目の信号プローブ孔１３２、１２番目の接地プローブ孔１３４、及び１３〜１７番目の信号プローブ孔１３２が配置されている。仮に、信号用プローブ１１０が絶縁チューブや絶縁スペーサで囲まれていれば、絶縁チューブや絶縁スペーサが信号プローブ孔１３２の内壁に接触するようになる。このような信号用プローブ１１０及び接地用プローブ１２０の構造は単に説明のための例であり、様々な構造を適用することができる。
【００２１】
導電性ブロック１３０は、上部面に、２列のプローブ孔１３２，１３４の間から上方に突出する上部ノイズ遮蔽部１３６を備える。ノイズ遮蔽部１３６は、検査時に２列の被検査端子１２，１４の間を遮蔽することによって、より確実にノイズを遮蔽することができる。
【００２２】
導電性ブロック１３０は、下部面に、第１列の信号及び接地プローブ孔１３２，１３４と第２列の信号及び接地プローブ孔１３２，１３４との間から下方延長して突出する下部ノイズ遮蔽部１３７を備える。下部ノイズ遮蔽部１３７には、第１列の２個の接地プローブ孔１３４からそれぞれ第２列の２個の接地プローブ孔１３４に向かって横に延びる、限定されない形態の接地突起１３８を有する。１対の接地突起１３８は、接地用プローブ１２０が接触する検査回路の接地端子（パッド）（図示せず）に接触するためのものである。接地突起１３８は、検査回路の接地パッドの形状やデザインに応じて１個又は３個以上でよく、その形状が互いに異なってもよい。
【００２３】
絶縁ハウジング１４０は、導電性ブロック１３０を収容する導電性ブロック収容部１４１と、インサート１５０を収容するインサート収容部１４２を備える。導電性ブロック１３０は、信号用プローブ１１０と接地用プローブ１２０が挿入された状態で絶縁ハウジング１４０に収容される。導電性ブロック収容部１４１は、上側には、信号用プローブ１１０と接地用プローブ１２０の上部プランジャーが通過する上部プランジャー通過孔１４３と、ノイズ遮蔽部１３６が通過する遮蔽部通過部とが形成された遮断壁１４５が設けられている。上部プランジャー通過孔１４３は、バレルが収容される大口径部１４６、及びプランジャーが通過する小口径部１４７で構成されている。このため、バレルは遮断壁１４５を通過せず遮断壁１４５に支持される。ここで、遮断壁１４５は、絶縁ハウジング１４０と分離されている状態で絶縁ハウジング１４０に結合することができる。導電性ブロック収容部１４１は、下方から導電性ブロック１３０自体が入るように開放されている。インサート収容部１４２は、上部プランジャー通過孔１４３と第１遮蔽部通過部１４４が形成された遮断壁１４５に相応する位置の上側に形成されている。
【００２４】
インサート１５０は、前記遮断壁１４５に相応する位置に、第２上部プランジャー通過孔１５３と第２遮蔽部通過部１５４が形成された底部１５５を有する。インサート１５０は、インサート１５０の底部１５５と絶縁ハウジング１４０の遮断壁１４５との間には４個のバネ１７０が介在されてフローティング状態を維持する。インサート１５０は両側面に、垂直に延在し、係止突段１５８を有する溝部１５９が形成されている。インサート１５０はバネ１７０の弾性力によって離脱しないように離脱防止ピン１８０によって拘束される。すなわち、インサート１５０は、離脱防止ピン１８０の頭が前記溝部１５９にはめ込まれた状態で、バネ１７０によって弾性的に溝部１５９内で上下運動する。
【００２５】
下部カバー１６０は、絶縁ハウジング１４０の導電性ブロック収容部１４１の開放された下部をカバーする。下部カバー１６０は、信号用プローブ１１０及び接地用プローブ１２０の下部プランジャーが通過する下部プランジャー通過孔１６３と、下部ノイズ遮蔽部１３７が通過する第３遮蔽部通過部１６４が形成されている。下部プランジャー通過孔１６３は、バレルが収容される第２大口径部１６６、及び下部プランジャーが通過する第２小口径部１６７で構成されている。このため、バレルは下部カバー１６０を通過せず下部カバー１６０に支持される。
【００２６】
図６は、検査時の検査装置１００の状態を示す断面図である。検査時にはインサート１５０に挿入された被検査体、例えば３相インターフェース１０を押下すれば、インサート１５０がバネ１７０を圧縮しながら下方移動する。したがって、３相インターフェース１０の２列端子間の空間にノイズ遮蔽部１３６が収容され、２列端子のうち信号端子１２の列と列の間を遮蔽することができる。図６で、信号用プローブ１１０は、テフロンのような絶縁チューブで包まれて導電性ブロック１３０に接触している状態が示されている。
【００２７】
接地プローブ１２０は導電性ブロック１４０に電気的に接触するので、導電性ブロック１４０は全体的に接地状態を維持する。その結果、導電性ブロック１４０を電気的に非接触状態で通過する信号用プローブ１１０の間にノイズ遮蔽のための環境を作ることができる。
【００２８】
上述によれば、本発明の検査装置は、被検査体の端子に、例えば、モバイル装置に使われる小型カメラモジュールの３相インターフェース１０に、高周波テスト動作時のノイズを効果的に遮蔽することができる。
【００２９】
以上、本発明を限られた例示的実施例及び図面を用いて説明したが、本発明は上記の例示的実施例に限定されるものではなく、本発明の属する分野における通常の知識を有する者にとっては、以上の記載から様々な修正及び変形が可能である。
【００３０】
したがって、本発明の範囲は、説明された例示的実施例に限定されてはならず、後述する特許請求の範囲及びその同等物によって定められるべきである。
【符号の説明】
【００３１】
１００    検査装置
１１０    信号用プローブ
１２０    接地用プローブ
１３０    導電性ブロック
１３６    上部ノイズ遮蔽部
１３７    下部ノイズ遮蔽部
１３８    接地突起
１４０    絶縁ハウジング
１５０    インサート
１６０    下部カバー
【図１】
2019537707.tif 000003
【図２】
2019537707.tif 000004
【図３】
2019537707.tif 000005
【図４】
2019537707.tif 000006
【図５】
2019537707.tif 000007
【図６】
2019537707.tif 000008
2019537707.tif 000009
2019537707.tif 000010
2019537707.tif 000011
2019537707.tif 000012
2019537707.tif 000013
2019537707.tif 000014
【国際調査報告】
2019537707.tif 000015
2019537707.tif 000016