(57)【要約】【課題】ユーザーが、溶接チップ検査装置におけるカメラモジュールの交換作業を迅速かつ簡単に処理できるようにする。【解決手段】  本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置は、検査空間の周囲に複数のカメラ照明用の光源を設置し、メイン回路モジュールとケーブル接続部とカメラモジュール接続部が形成されるメイン回路基板と;検査しようとする溶接チップが通過する第１貫通部と、前記溶接チップから反射される光が通過する第１の光通過部が形成される加圧プレートと、上記のメイン回路基板に着脱可能に結合され、メイン回路基板のカメラモジュールの接続部と対応する位置にカメラモジュールが搭載された回路基板を挿入する挿入部が形成され、前記加圧プレートの第１貫通部と接続する第２の貫通部と前記第２貫通部に延長され、カメラ照明用の光源から放射し、溶接チップから反射される光が通過する第２の光通過部と、前記加圧プレートが安着する安着部が形成されるハウジングを含む。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査空間の周囲に複数のカメラ照明用の光源が設置され、
前記検査空間に挿入した溶接チップの先端部を撮影した映像を介して前記溶接チップの汚染度を分析するメイン回路モジュールと外部装置との接続ケーブルが接続されているケーブル接続部と、カメラモジュールが着脱可能に接続されるカメラモジュール接続部とが形成されているメイン回路基板と;
検査しようとする溶接チップが通過する第１貫通部と、前記溶接チップから反射された光が通過する第１の光通過部が形成されている加圧プレートと;
上記の加圧プレートの第１貫通口と対応する位置に溶接チップが挿入される挿入部が形成されている保護ケースと;
上記の保護ケースから突出して、前記メイン回路基板のカメラモジュール接続部に装着したカメラモジュールを保護し、上記の加圧プレートの第１の光通過部を通過した前記溶接チップから反射された光を前記カメラモジュールに反射する反射鏡が装着される突出部と、
上記のメイン回路基板に着脱可能に結合され、前記メイン回路基板のカメラモジュール接続部と対応する位置に、上記のカメラモジュールが搭載された回路基板が挿入する挿入部が形成され、前記加圧プレートの第１貫通部と接続される第２の貫通部と、前記第２貫通部に延長して、上記のカメラ照明用の光源から放射され、溶接チップで反射される光が通過する第２の光通過部と、前記加圧プレートが安着される安着部とが形成されているハウジング;
を含むスポット溶接ガンの溶接チップの検査装置。
【請求項２】
上記の保護ケースは、前記ハウジングに着脱可能に結合されていることを特徴とする、請求項１に記載のスポット溶接ガンの溶接チップの検査装置。
【請求項３】
上記の加圧プレートが内部に装着する装着部が形成されているセンターガイド部;
をさらに含むことを特徴とする、請求項１に記載のスポット溶接ガンの溶接チップの検査装置。
【請求項４】
上記のセンターガイド部は、弾性力を有する物質で実装されることを特徴とする、請求項３に記載のスポット溶接ガンの溶接チップの検査装置。
【請求項５】
前記ハウジングに着脱可能に結合され、エアシリンダにより前進する際に回転して、前記保護ケースの挿入部を保護する保護部材;
をさらに含むことを特徴とする、請求項１に記載のスポット溶接ガンの溶接チップの検査装置。
【請求項６】
上記のメイン回路基板には、上記のメイン回路モジュールから溶接チップ汚染度判定結果に対応する表示制御信号の入力を受け駆動する表示装置
をさらに含むことを特徴とする、請求項１に記載のスポット溶接ガンの溶接チップの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、スポット溶接ガンの溶接チップ検査装置として、より詳細には、ユーザーがカメラモジュールの交換作業を迅速かつ簡単に処理できるスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般的にスポット溶接（Ｓｐｏｔ  Ｗｅｌｄｉｎｇ）は、抵抗溶接技術の一種で、溶接する金属板材を二枚または三枚重ねて、一対のスポット溶接ガンの間に配置した状態で、スポット溶接ガンで加圧した後、スポット溶接ガンに電流を流し、それから発生される抵抗熱を利用して、金属板材を溶接する方式である。これらのスポット溶接は、点溶接とも呼ばれ、溶接時間が短いという利点があり、薄板溶接（Ｔｈｉｎｅｐｌａｔｅ  Ｗｅｌｄｉｎｇ）に広く用いられている。
【０００３】
スポット溶接による金属接合の際、溶接後に母材の一部がスポット溶接ガンの端に挟まれ、スポット溶接ガンの長期間にわたる使用を不可能にする。それを防ぐため、スポット溶接ガンの端に銅素材の溶接チップを付着してスポット溶接ガンを保護している。
【０００４】
良質の溶接が行われるためには、溶接チップの状態が重要である。ところが通常１００〜２００回の溶接を行うと溶接チップの先端が汚染され、使用できなくなる。この時、ドレッサー（ＡＴＤ：Ａｕｔｏ  Ｔｉｐ  Ｄｒｅｓｓｏｒ）を用いて、溶接チップの先端を研磨する。
ドレッサー（ＡＴＤ）を用いて、汚染された溶接チップの先端を削り落とした後、溶接チップ検査装置を用いて、溶接チップの断面に異物が残っていないか確認する。検査の結果、不良であれば溶接チップの移送ガン（ＧＵＮ）により溶接チップをドレッサー（ＡＴＤ）に移送し、溶接チップを研磨する。通常ドレッサー（ＡＴＤ）と溶接チップの検査装置は、一つのパッケージに結合して設置される。
【０００５】
一方、溶接チップ検査装置は、カラーセンサーを用いる検査装置とカメラを用いる検査装置が知られている。カラーセンサーを用いる検査装置は、白色のＬＥＤを照射した後、溶接チップ先端面に反射して戻ってくる光のスペクトルを測定し、溶接チップが汚染されているかを判断する。測定の速度は速いが、溶接チップの距離および角度などの環境的な要因に応じて適切に測定できないという問題があった。
【０００６】
カメラを用いる検査装置は、溶接チップの断面を２Ｄカメラで撮影し、映像処理を行い、溶接チップの断面が汚染されているかを判断する装置である。韓国登録特許第１０-１３８５９２２号公報（発明の名称：スポット溶接用の電極検査装置）においては、固定プレート（７）の固定用の穴（７２ａ）に溶接チップを固定した状態で、ミラー（Ｍｉｒｒｏｒ）に反射して投影された溶接チップの断面を正面から２台のカメラモジュールでそれぞれ撮影を行う。２台のカメラモジュールは、左右対称に設置されたカメラモジュールの後には、検査空間に光を照射する照明が設置される。
【０００７】
しかし、韓国登録特許第１０-１３８５９２２号公報（発明の名称：スポット溶接用の電極検査装置）によると、２台のカメラモジュールを修理したり、交換したりするためには、デバイスの全体を分解しなければならない短所がある。また、２台のカメラモジュールの間にミラー（Ｍｉｒｒｏｒ）が設置されており、ミラー（Ｍｉｒｒｏｒ）は、上部と下部それぞれの方向に挿入される二つの溶接チップと対向するように設けることにより、ミラー（Ｍｉｒｒｏｒ）の表面に異物が付着する場合、溶接チップの画像解析が正確でない場合がある。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は、上記のような背景から提案されたもので、ユーザーがカメラモジュールの交換作業を迅速かつ簡単に処理できるスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置を提供する。
【０００９】
また、本発明は、ミラー（Ｍｉｒｒｏｒ）に異物がべたつかず、ミラー（Ｍｉｒｒｏｒ）の掃除と交換作業を迅速かつ簡単に処理できる照明スポット溶接ガンの溶接チップ検査装置を提供する。
【００１０】
本発明の他の目的は、以下の実施例による説明を通じて、より簡単に理解できるだろう。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記の技術的課題を達成するために、本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置は、検査空間の周囲に複数のカメラ照明用の光源を設置し、メイン回路モジュールとケーブル接続部とカメラモジュール接続部が形成されるメイン回路基板と;検査しようとする溶接チップが通過する第１貫通部と、前記溶接チップから反射される光が通過する第１の光通過部が形成される加圧プレートと;
【００１２】
上記の加圧プレートの第１貫通口と対応する位置に溶接チップが挿入される挿入部が形成する保護ケースと;上記の保護ケースから突出してカメラモジュールを保護し、溶接チップから反射される光を前記カメラモジュールに反射する反射鏡が装着する突出部、
【００１３】
上記のメイン回路基板に着脱可能に結合され、メイン回路基板のカメラモジュールの接続部と対応する位置にカメラモジュールが搭載された回路基板を挿入する挿入部が形成され、前記加圧プレートの第１貫通部と接続する第２の貫通部と前記第２貫通部に延長され、カメラ照明用の光源から放射し、溶接チップから反射される光が通過する第２の光通過部と、前記加圧プレートが安着する安着部が形成されるハウジングを含んで実現できる。
【００１４】
本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置の保護ケースは、ハウジングに着脱可能に結合されることを特徴とする。
【００１５】
本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置は、加圧プレートが内部に装着する装着部が形成されるセンターガイド部と、ハウジングに着脱可能に結合され、エアシリンダにより前進の際回転して、保護ケースの挿入部を保護する保護部材をさらに含んで実現できる。
【００１６】
本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置のメイン回路基板には、メイン回路モジュールから溶接チップの汚染度判定結果に対応する表示制御信号の入力を受けて、駆動する表示装置をさらに含んで実現できる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明に従うと、ユーザーがカメラモジュールの交換作業を迅速かつ簡単に処理できる。
【００１８】
また、本発明に従うと、ミラー（ Ｍｉｒｒｏｒ）に異物がべたつかず、ミラー（ Ｍｉｒｒｏｒ）の掃除や交換作業を迅速かつ簡単に処理できる。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置を説明するための例示図である。
【００２０】
【図２ａ】本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置用の保護部材を説明するための例示図である。
【図２ｂ】本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置用の保護部材を説明するための例示図である。
【００２１】
【図３】本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置の構成部品を分解した例示図である。
【００２２】
【図４】本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置の断面を示した実施例である。
【００２３】
【図５ａ】本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置の加圧プレート位置の変更について説明するための例示図である。
【図５ｂ】本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置の加圧プレート位置の変更について説明するための例示図である。
【００２４】
【図６】本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置のカメラモジュールを交換する過程を説明するための例示図である。
【００２５】
【図７】本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置に用いられるカメラモジュールと反射鏡を介して溶接チップの断面を撮影する過程を図示している。
【００２６】
【図８】溶接チップの断面をカメラモジュールで撮影して画像処理を行い、溶接チップ断面の汚染を判断する過程を説明するための例示図である。
【００２７】
【図９】従来のスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置を説明するための例示図である。
【発明を実施するための形態】
【００２８】
以下、添付された図面を参照して、本明細書に開示された実施例を詳細に説明するが、図面符号に関係なく、同一または類似の構成要素は、同じ参照番号を付与してこれに対する重複される説明は省略することにする。また、本明細書に開示された実施例を説明するにあたって、関連する公知技術に対する具体的な説明が本明細書に開示された実施例の要旨を逸脱する恐れがあると判断した場合、その詳細な説明を省略する。
【００２９】
また、添付された図面は、本明細書に開示された実施例を簡単に理解できるようにするためのもので、添付された図面によって本明細書に開示された技術的思想が制限されず、本発明の思想及び技術範囲に含まれるすべての変更、均等物ないし代替物を含むものと理解されるべきである。
【００３０】
第１、第２などのように序数を含む用語は、様々な構成要素を説明するのに用いられるが、上記の構成要素は、上記の用語によって限定されない。上記の用語は、１つの構成要素を他の構成要素から区別する目的のみ用いられるのである。
【００３１】
【００３２】
図１は、本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置を説明するための例示図であり、図２ａ、図２ｂは、本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置用の保護部材を説明するための例示図であり、図３は、本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置の構成部品を分解した例示図であり、図４は、本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置の断面を図示の実施例である。
【００３３】
【００３４】
本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置（１００）は、図１、図２ａ、図２ｂ、図３、図４に示すように、ＰＬＣケーブルポート（１１０）とイーサネットポート（１２０）と保護ケース（１３０、１７０）と上部ハウジング（１４０）と下部ハウジング（１５０）と保護ケース（１３０、１７０）の挿入部（１３１、１７１）を介して異物が侵入することを防止する保護部材（１６０）を含んで実装される。
【００３５】
【００３６】
保護部材（１６０）は、図２ａ、図２ｂに示すように、上部ハウジング（１４０）と下部ハウジング（１５０）に着脱可能に結合される。保護部材（１６０）は、エアシリンダ（１６１）によって前進する際、ヒンジ部材が回転して保護ケース（１３０、１７０）の挿入部（１３１、１７１）を開閉するカバー部（１６２）を含む。
【００３７】
【００３８】
本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置（１００）は、保護ケース（１３０、１７０）から突出してカメラモジュール（図３の参照符号３３０、３６０）を保護し、反射鏡（図３の参照符号３４０、３７０）が装着する突出部（１３５、１７５）が形成される。図３に理解を深めるために、カメラモジュール（３３０、３６０）のレンズの前に反射鏡（３４０、３７０）を図示したが、実際には、図４に示すように突出部（１３５、１７５）の内側面に装着される。
【００３９】
【００４０】
本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置の内部構成部品は、図３に図示したように、メイン回路基板（３５０）、検査しようとする溶接チップが通過する第１貫通部（３１１、３９１）と溶接チップから反射される光が通過する第１の光通過部（３１２、３９２）が形成される加圧プレート（３１０、３９０）、カメラモジュール（３３０、３６０）、反射鏡（３４０、３７０）、上部ハウジング（１４０）、下部ハウジング（１５０）、およびセンターガイド部（３２０、３８０）を含む。
【００４１】
【００４２】
センターガイド部（３２０、３８０）には、加圧プレート（３１０、３９０）が内部に装着する装着部（３２１、３８１）が形成されている。センターガイド部（３２０、３８０）は、弾性力を有する物質（例えば、ゴム）で実装される。センターガイド部（３２０、３８０）は、溶接チップ移送ガンによって移送される溶接チップが基準の挿入位置から数ｍｍの誤差を持って挿入し、加圧されても部品が破損しないようにしてくれる。センターガイド部（３２０、３８０）は、例えばウレタン素材を用い、金型で製作することができる。
【００４３】
【００４４】
図３で上部ハウジング（１４０）と下部ハウジング（１５０）は、着脱可能に結合される。上部ハウジング（１４０）には、加圧プレート（３１０）とセンターガイド部（３２０）が安着される安着部（１４１）と、加圧プレート（３１０）の第１貫通部（３１１）と接続される第２貫通部（１４２）と、第２貫通部（１４２）に延長され、カメラ照明用の光源（図４の参照符号３９１）から放射して、溶接チップから反射される光が通過する第２の光通過部（１４３）が形成されている。
【００４５】
下部ハウジング（１５０）には、上部ハウジング（１４０）と同様にセンターガイド部（３８０）が安着される安着部と、加圧プレート（３９０）の第１貫通部（３９１）と接続される第２貫通部（１５２）と、第２貫通部（１５２）に延長され、カメラ照明用の光源（図４の参照符号３５１）から放射して、溶接チップから反射される光が通過する第２の光通過部（１５３）が形成されている。
【００４６】
【００４７】
図３でメイン回路基板（３５０）には、検査空間の周囲に複数のカメラ照明用の光源（３５１）が設置され、メイン回路モジュールから溶接チップの汚染度判定結果に対応する表示制御信号の入力を受け、駆動する表示装置（３５２）を含んでいる。表示装置（３５２）は、３色のＬＥＤ素子で実装されており、汚染度判定結果が「正常」である場合は緑、「注意」である場合は黄色、「不良」である場合は赤色が表示されることにより、外部からの作業者が直ちに溶接チップの汚染検査結果を確認できるようにしてくれる。
【００４８】
【００４９】
メイン回路基板（３５０）には、レンズモジュールとイメージセンサーを含むカメラモジュールが搭載された回路基板が着脱可能に結合するカメラモジュール接続部（３５３）が形成されている。上部ハウジング（１４０）と下部ハウジング（１５０）には、メイン回路基板（３５０）のカメラモジュールの接続部（３５３）と対応する位置にカメラモジュールが搭載された回路基板が挿入する挿入部（１４４、１５４）が形成されている。これにより、ユーザーがカメラモジュールの交換作業を迅速かつ簡単に処理できる。
【００５０】
【００５１】
図４で、溶接チップは保護ケース（１３０、１７０）の挿入部（１３１、１７１）→加圧プレート（３１０、３９０）の第１貫通部（３１１、３９１）→上部ハウジング（１４０）と下部ハウジング（１５０）の第２貫通部（１４２、１５２）を順次に通過する。
【００５２】
突出部（１３５、１７５）は、保護ケース（１３０、１７０）で突出して、カメラモジュール（３３０、３６０）を保護する。突出部（１３５、１７５）の内側面には、反射鏡（３４０、３７０）が装着される。
【００５３】
【００５４】
図５ａ、図５ｂは、本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置の加圧プレート位置の変更について説明するための例示図である。センターガイド部（３２０）は、変形距離±３ｍｍを有し、加圧プレート（３１０）にセンターガイド部（３２０）が装着されることにより加圧プレート（３１０）の第１貫通部（３１１）に溶接チップが挿入される場合、加圧プレート（３１０）の位置が±３ｍｍ以上変更しないようにしてくれる。
【００５５】
【００５６】
図６は、本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置のカメラモジュールを交換する過程を説明するための例示図である。
【００５７】
突出部（１３５）は、保護ケース（１３０）から突出して、カメラモジュール（３３０）を保護する。突出部（１３５）の内側面には、反射鏡（３４０）が装着される。上部ハウジング（１４０）には、加圧プレート（３１０）とセンターガイド部（３２０）が装着される。保護ケース（１３０）と上部ハウジング（１４０）は、結合部材（６１１）によって着脱可能に結合される。
【００５８】
【００５９】
本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップの検査装置は、図７に示すように、反射鏡（３４０、３７０）とカメラモジュール（３３０、３６０）を介して一対の溶接チップ（１１、１２）の断面の映像を取得することができる。本発明に係るスポット溶接ガンの溶接チップ検査装置は、一対の溶接チップ（１１、１２）が、例えば２０ｍｍ離隔するように実装される。
【００６０】
【００６１】
本発明に係る溶接チップの断面をカメラモジュールで撮影して画像処理を行い、溶接チップの断面の汚染を判断する過程は、図８に示すように、映像取得段階（Ｓ８１１）、チャンネル分割段階（Ｓ８１２）、関心領域（ＲＯＩ）選定段階（Ｓ８１３）、投影変換段階（Ｓ８１４）、自動コントラストを改善する段階（Ｓ８１５）、エッジ検出段階（Ｓ８１６）、加圧プレート内径検出段階（Ｓ８１７）、溶接チップ端面検出段階（Ｓ８１８）、および汚染検出段階（Ｓ８１９）を含むことができる。
【００６２】
映像取得段階（Ｓ８１１）は、カメラモジュールから溶接チップ先端面のＲＧＢ映像を入力してもらう段階である。この時、入力されたＲＧＢ画像は、様々な色の情報が含まれているバー溶接チップの汚染度を分析する過程で、不必要な色情報の検討を省略するためＲＧＢ映像を輝度信号、色信号（青色や赤色差信号）を含んでいるＹＣｂＣｒ映像に変換することができる。
【００６３】
一方、本明細書では、ＲＧＢ映像を入力してもらった後、これをＹＣｂＣｒ映像に変換するものとして説明しているが、本明細書が必ずこれに限定されるものではなく、カメラモジュールからＹＣｂＣｒ映像を直接入力してもらうことができる。
【００６４】
チャンネル分割段階（Ｓ８１２）では、各輝度信号、色信号（青色や赤色差信号）に基づいてチップ領域を検出するとともに、輝度信号を含んでいるＹ映像のみ用いて、線の断面を検出するためにＹＣｂＣｒ映像を、輝度信号を含んでいるＹ映像、輝度信号と青色差信号を含むＣｂ映像、輝度信号と赤色差の信号を含むＣｒ映像に分離することができる。
【００６５】
関心領域（ＲＯＩ）の選定段階（Ｓ８１３）は、前記ＹＣｂＣｒ映像から予め設定されたチップ色信号に対応する領域を抽出して、溶接チップ領域を検出し、検出された溶接チップ領域を関心領域として指定することができる。
【００６６】
投影変換段階（Ｓ８１４）は、３次元空間の点を画像平面に投影する段階である。自動コントラストを改善する段階（Ｓ８１５）は、予め設定された基準値に基づいて、溶接チップ映像を二進化して溶接チップ二進化データを取得することができる。一例として、溶接チップ映像で予め設定された基準値より低い領域は０に数値化して、予め設定された基準値よりも高い領域は、２５５にマッピングして、溶接チップ二進化データを取得することができる。
【００６７】
エッジ検出段階（Ｓ８１６）は、溶接チップ二進化データに基づいて、溶接チップのエッジを抽出することができる。一例として、溶接チップ二進化データに基づいて、０〜２５５の境界領域を検出することにより、溶接チップの形状の内、外郭部分、すなわち溶接チップのエッジを抽出することができる。
【００６８】
加圧プレートの内径検出段階（Ｓ８１７）は、加圧プレート（図３の参照符号３１０）の第１貫通部（３１１）に対応する領域を検出する段階である。加圧プレート内径検出段階（Ｓ８１７）は、エッジ検出段階で検出されたエッジ情報と溶接チップ領域の型情報に基づいて楕円を検出する楕円検出の段階を実行することができる。エッジ映像では、各エッジピクセル座標を検出し、検出されたピクセルの座標と抽出した型情報に基づいて楕円を検出する場合は、公知のＨｏｕｇｈ  ｂａｓｅｄ  Ｅｌｌｉｐｓｅ  ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ  Ａｌｇｏｒｉｔｈｍを用いて楕円を検出することができる。
【００６９】
溶接チップ端面検出段階（Ｓ８１８）は、楕円検出段階で複数の楕円を検出し、検出された各楕円の直径と、検出されたチップ領域の高さの比率を予め設定した基準の比率と比較して許容範囲内に含まれる楕円を線断面に決定する先端面決定の段階を実行することができる。この場合には、検出された各楕円の直径と、検出された関心領域の高さの比率を予め設定された基準の比率と比較して、複数の楕円の内、基準率の許容範囲内に含まれる楕円の内、最小の誤差を有する楕円を線断面に決定することができる。
【００７０】
汚染検出段階（Ｓ８１９）は、検出された線断面内の各ピクセルの色信号を予め設定され基準色信号と比較して、線の断面の汚染度を測定することができる。汚染度検出段階（Ｓ８１９）は、ピクセルカウント段階と汚染度測定段階を含むことができる。二分化したチップ領域の検出画像から検出されたエッジ内側に位置する全てのピクセルの数をカウントするとともに、エッジ内側に位置するピクセルの内、輝度が低い黒ピクセルを汚染ピクセルで検出した後、これをカウントすることができる。カウントされた汚染のピクセルの数を線断面の全体ピクセル数で分けて溶接チップ先端面の汚染の割合を算出するとともに、各汚染ピクセルのレベル値に基づいて汚染度を測定することができる。
【符号の説明】
【００７１】
１１、１２：溶接チップ
１００：スポット溶接ガンの溶接チップ検査装置
１１０：ＰＬＣケーブルポート
１２０：イーサネットポート
１３０、１７０：保護ケース
１３１、１７１：挿入部
１３５、１７５：突出部
１４０：上部ハウジング
１４１：安着部
１４２：第２貫通部
１４３：第２の光通過部
１４４：挿入部
１５０：下部ハウジング
１５１：安着部
１５２：第２貫通部
１５３：第２の光通過部
１５４：挿入部
１６０：保護部材
１６１：エアシリンダ
１６２：カバー部
３１０、３９０：加圧プレート
３１１、３９１：第１貫通部
３１２、３９２：第１の光通過部
３２０、３８０：センターガイド部
３３０、３６０：カメラモジュール
３４０、３７０：反射鏡
３５０：メイン回路基板
３５１：カメラ照明用の光源
３５２：表示装置
３５３：カメラモジュール接続部
【００７２】
発明を実施するための形態は、前述したように、発明を実施するための最善の形で上述された。
【産業上の利用可能性】
【００７３】
本明細書に基づく技術は、溶接チップの検査装置で使用可能である。
【図１】
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【図２ａ】
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【図２ｂ】
2019502553.tif 000005
【図３】
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【図４】
2019502553.tif 000007
【図５ａ】
2019502553.tif 000008
【図５ｂ】
2019502553.tif 000009
【図６】
2019502553.tif 000010
【図７】
2019502553.tif 000011
【図８】
2019502553.tif 000012
【図９】
2019502553.tif 000013
【国際調査報告】
2019502553.tif 000014
2019502553.tif 000015
2019502553.tif 000016
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