(57)【要約】複数のプリントモジュールを備えたプリンティング装置のための較正パラメータを生成する際に使用する装置及び方法が開示される。該方法は、該複数のプリントモジュールの各プリントモジュール毎に第１の複数のテストパッチをプリントし、該第１の複数のテストパッチを分析して複数のプリントモジュールからなる少なくとも２つのクラスタを識別することを含み、その各クラスタが、実質的に同様の性能を有する複数のプリントモジュールからなるサブグループを含み、複数のプリントモジュールの各クラスタ毎に拡張された一組の較正テストパッチを含む第２の複数のテストパッチをプリントし、該第２の複数のテストパッチが前記クラスタの複数のプリントモジュールにわたって分配され、各クラスタ毎の拡張された一組の較正テストパッチを分析して前記プリンティング装置のための較正パラメータを決定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のプリントモジュールを備えたプリンティング装置を較正する方法であって、
該複数のプリントモジュールの各プリントモジュール毎に第１の複数のテストパッチをプリントし、
該第１の複数のテストパッチを分析して複数のプリントモジュールの少なくとも２つのクラスタを識別し、その各クラスタが、実質的に同様の性能を有する複数のプリントモジュールのサブグループを含み、
複数のプリントモジュールの各クラスタ毎に第２の複数のテストパッチをプリントし、該第２の複数のテストパッチが、それぞれのクラスタの複数のプリントモジュールにわたって分配されており、
各クラスタ毎に該第２の複数のテストパッチを分析して前記プリンティング装置のための較正パラメータを決定する
ことを含む、複数のプリントモジュールを備えたプリンティング装置を較正する方法。
【請求項２】
前記第２の複数のテストパッチが、前記第１の複数のテストパッチよりも多数のテストパッチを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記第１の複数のテストパッチを分析して複数のプリントモジュールの少なくとも２つのクラスタを識別することが、
該第１の複数のテストパッチの分析に基づいて前記複数のプリントモジュールの各プリントモジュール毎に差分メトリックを決定する
ことを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
２つ以上の前記プリントモジュールの各々毎の差分メトリックが所定の差分閾値未満だけ異なることに基づいて該２つ以上のプリントモジュールが実質的に同様の性能を有することを決定することを更に含む、請求項３に記載の方法。
【請求項５】
前記差分閾値が、前記プリントモジュールのプリント及び測定の再現性レベルに対応する、請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記複数のプリントモジュールの各プリントモジュール毎に第１の複数のテストパッチをプリントすることが、各プリントモジュール毎に、該プリントモジュールの各原色インク毎の１つのテストパッチと１つのブランク基体参照パッチとをプリントすることを更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記第１の複数のテストパッチの前記分析に基づいて、所定の基準性能レベルと実質的に同様の性能を示す複数のプリントモジュールの更なるクラスタを決定することを更に含む、請求項１に記載の方法。
【請求項８】
前記複数のプリントモジュールの前記更なるクラスタのために第２の複数のパッチをプリントすることをやめ、又は、
制御データとして使用するために前記複数のプリントモジュールの前記更なるクラスタにわたって分配された第２の複数のテストパッチをプリントする
ことを更に含む、請求項７に記載の方法。
【請求項９】
前記プリンティング装置がページ幅アレイを含み、前記複数のプリントモジュールが該ページ幅アレイを形成する複数のプリントダイを含む、請求項１に記載の方法。
【請求項１０】
前記第２の複数のテストパッチが所定数のテストパッチを含み、該所定数のテストパッチの各テストパッチがターゲット色値を有し、
前記クラスタの前記複数のプリントモジュールにわたって前記第２の複数のテストパッチを分配することが、該クラスタの該複数のプリントモジュール間で前記所定数のテストパッチを分割してプリントすることを更に含む、
請求項１に記載の方法。
【請求項１１】
各クラスタ毎に前記第２の複数のテストパッチを分析して前記プリンティング装置のための較正パラメータを決定することが、前記少なくとも２つのクラスタの各々毎にクラスタ較正パラメータを決定することを含み、該クラスタ較正パラメータの各々が、関連するクラスタにおける全てのプリントモジュールに適用される、請求項１に記載の方法。
【請求項１２】
実行時にプリンティング装置の処理リソースに較正プロセスを実行させる命令を格納したメモリリソースであって、該命令が、
プリントモジュールに、前記プリンティング装置の複数のプリントモジュールの各プリントモジュール毎に第１の複数のテストパッチをプリントさせ、
テストパッチ測定モジュールに、前記第１の複数のテストパッチの各々に関連する色値を測定させ、
クラスタリングモジュールに、該測定された色値に基づいて前記複数のプリントモジュールの少なくとも２つのクラスタを識別させ、該少なくとも２つのクラスタの各々が、実質的に同様の性能を有する複数のプリントモジュールのサブグループを含み、
前記プリントモジュールに更に、前記複数のプリントモジュールの各クラスタについて各原色毎に所定数の階調を含む第２の複数のテストパッチをプリントさせ、該第２の複数のテストパッチが、それぞれのクラスタの複数のプリントモジュールにわたって分配されており、
較正モジュールに、各クラスタ毎に拡張された一組の較正テストパッチを分析させて、前記プリンティング装置のための較正パラメータを決定させる、
実行時にプリンティング装置の処理リソースに較正プロセスを実行させる命令を格納したメモリリソース
【請求項１３】
複数のプリントモジュールと、
該複数のプリントモジュールに接続されたコントローラと
を備えたプリンティング装置であって、
前記コントローラが、
前記複数のプリントモジュールに第１の複数のテストパッチをプリントさせ、
該プリントされた該第１の複数のテストパッチに基づき所定の基準プリントモジュールと比較した各プリントモジュール毎の差分メトリックを決定し、
該決定した差分メトリックに基づいて複数のプリントモジュールの少なくとも２つのクラスタを識別し、該少なくとも２つのクラスタの各々が、実質的に同様の性能を有する複数のプリントモジュールのサブグループを含み、
前記複数のプリントモジュールの各クラスタに第２の複数のテストパッチをプリントさせ、該第２の複数のテストパッチが所定数のテストパッチを含み、該各クラスタの各プリントモジュールが、前記第２の複数のテストパッチの前記所定数のテストパッチのサブセットをプリントし、
各クラスタ毎に前記第２の複数のテストパッチを分析して、前記プリンティング装置のための較正パラメータを決定する、
プリンティング装置。
【請求項１４】
前記プリンティング装置がページ幅アレイを含み、前記複数のプリントモジュールが該ページ幅アレイを形成する複数のプリントダイを含む、請求項１３に記載のプリンティング装置。
【請求項１５】
前記制御装置が更に、
前記第１の複数のテストパッチの分析に基づいて前記複数のプリントモジュールの各プリントモジュール毎の差分メトリックを決定し、
２つ以上の前記プリントモジュールの各々毎の差分メトリックが所定の差分閾値未満だけ異なることに基づいて該２つ以上のプリントモジュールが実質的に同様の性能を有することを判定する、
請求項１３に記載のプリンティング装置。
【発明の詳細な説明】
【背景技術】
【０００１】
プリント媒体上でのプリンティング装置による一定のカラー再現を確実にするために、該プリンティング装置上で構成プロセスを実行するのが一般的である。プリンティング装置を実施するための様々な技術（例えば、インクジェットプリンタ、オフセットプリンティングなど）が知られているが、全ての技術は、時間の経過と共に較正された状態から離れていく傾向を有する。
【図面の簡単な説明】
【０００２】
【図１】複数のプリントモジュールを備えた例示的なプリンティング装置を示すブロック図である。
【図２】一例による複数のプリントダイ間で95パーセンタイルCIE DE2000誤差（95th percentile CIE DE2000 error）に従う同様の性能を有する複数のプリントダイのクラスタリングを示す階層的凝縮型クラスタツリー（hierarchical agglomerative cluster tree）の系統樹（dendrogram）である。
【図３】一例による複数のプリントダイ間でメジアン（median）CIE DE2000誤差に従う同様の性能を有する複数のプリントダイのクラスタリングを示す階層的凝縮型クラスタツリーの系統樹である。
【図４ａ】クラスタリングを使用しない複数のプリントモジュールための例示的な拡張された較正チャートである。
【図４ｂ】幾つかの実施形態によるクラスタリングを使用した複数のプリントモジュールための例示的な拡張された較正チャートである。
【図５】一例による複数のプリントモジュールを備えたプリンティング装置の較正方法を示している。
【図６】一例による複数のプリントモジュールを備えたプリンティング装置の較正方法を示している。
【発明を実施するための形態】
【０００３】
以下、添付図面を参照して単なる例示として本発明の実施形態について説明する。
【０００４】
本書における複数の例は、複数のプリントモジュールを有するプリンティング装置の較正方法であって、該較正を実行するために必要となる時間及びプリント媒体を削減する、較正方法を提供するものである。
【０００５】
プリンティング装置からの一定の出力を確実にするために、較正を定期的に実行することが可能である。これは、プリンタの出力を所定の基準と比較して、その相違を修正するように調節を行うことが可能である。
【０００６】
例えば、インクジェットプリンタは、１つ以上のノズルからインクの小滴を噴出することにより、プリント媒体上に複数のドットをプリントする。多数のインク滴からプリント媒体上に形成されるイメージにおける一貫した色再現を確実にするためには、異なるノズルによりプリントされるイメージの複数の部分が同等の比色を有することが重要である。これは、各液滴中に存在するインクの量が、全てのノズルから噴出される各液滴について同じであることを確実にすることにより、達成することが可能である。代替的には、一層小さな液滴を噴出することがわかっているプリント要素について該プリント要素により噴出される液滴の平均数を増大させることが可能である。
【０００７】
しかし、噴出される各液滴中に存在するインクの量は、ノズル間のわずかな相違、使用されるインクの変化、又はその他の理由によって変動する可能性がある。所望の基準と比較してプリンタ出力の比色を決定するために定期的な間隔で較正プロセスを実行することが可能である。該較正プロセスにより、各ノズル又はプリントヘッドの一部に供給される制御信号を、発生した変動に対して出力が補正されるように調整することが可能である。これは、較正パラメータに直接基づいて制御信号を修正することにより、又はイメージをプリントするために使用されているノズルの応答における変動を考慮してプリントすべきイメージデータを変更することにより、達成することが可能である。
【０００８】
色較正は、所定の基準に関して所与のプリンタの状態を判定し、次いで、時間、使用条件、又は環境条件による変化を補償することを可能とするために、一組のパッチをプリントし測定することにより実行することが可能である。典型的には、各原色の複数の（例えば、12以上の）階調のテストパッチをプリントすることが可能である。マルチダイ（例えば、ページ幅アレイ）較正の場合には、全てのダイを同じ基準レベルに較正することを可能にするために、各プリントヘッドダイ毎にチャートをプリントし測定することが可能である。
【０００９】
プリンタ内の複数のノズルの定期的な再較正は、プリント媒体を横切ってプリントされる色、及び一連のプリント媒体にプリントされる色の一貫性を確実にすることが可能であるが、較正プロセスの実行は一定量のプリント媒体及びインクを浪費するものとなる。
【００１０】
複数のプリントヘッドダイといった複数の別個のプリントモジュールを含むプリンティング装置の場合、各プリントモジュールにおける経時的な様々な変化をプリンタが補償することが可能となるように個々のプリントモジュール毎に較正を実行することが可能である。例えば、ページ幅アレイプリンタは、複数のインクジェットプリントヘッドダイを備えており、該複数のインクジェットプリントヘッドダイは、それぞれ異なる使用レベルを経験し、その結果として経時的にそれぞれ異なる性能をもたらすこととなり、これは、プリント媒体を横切ってプリントされるイメージの一貫性のない再現に通じるものとなる。同様に、ファウンテンローラ上に堆積するインクの量を調整するブレードを備えたアナログオフセット印刷機（該インクの量は該ブレードに沿った幾つかの位置で調整可能である）を含むプリンティング装置は、該ブレードに関する複数の調整可能な位置に対応する複数の別個に較正されるプリントモジュールを備えたものとみなすことが可能である。
【００１１】
現在、プリンタの較正を行うために、所定数のテストパッチをプリントすることが可能である。次いで、これらのテストパッチを基準レベルと比較して分析して、プリントモジュールの較正状態を決定することが可能である。複数のプリントモジュールを含むプリンタの場合、各プリントモジュール毎に別個に較正を行うことを可能とするために、各プリントモジュール毎に所定数のテストパッチをプリントする必要がある。このため、多数のプリントモジュールを含むプリンタの場合には、プリントすべきテストパッチの数が著しく増加し、これは、比較的大量のプリント媒体及びインクの浪費に通じるものとなり、及び較正プロセスの実行に要する時間を増大させるものとなる。
【００１２】
例によっては、複数の別個のプリントモジュールを含むプリンタを較正するために、２段階プロセスが適用される。
【００１３】
２段階プロセスの第１段階では、各プリントモジュールを使用して少数の初期テストパッチをプリントする。次いで該初期テストパッチを測定し分析して、較正を目的として同等と見なすだけ十分に同様の挙動を有するモジュールを識別する。次いで該複数のプリントモジュールを、初期テストパッチの分析に基づき、同様の挙動を有するプリントモジュールの複数のクラスタへと分割することが可能である。
【００１４】
複数のプリントモジュールが複数のクラスタに割り当てられると、各モジュールの性能の完全な特徴付けを可能にする拡張された一組のテストパッチをプリントし測定することにより較正プロセスが実行される。しかし、該拡張された一組のテストパッチは、モジュール毎ではなくクラスタ毎にプリントされ、これにより、較正を実行するためにＮ個のテストパッチをプリントする必要がある場合に、該Ｎ個のテストパッチが、等価な態様で実行されるものとして識別されたクラスタの複数の異なるモジュールにわたって広がるようになる。
【００１５】
例えば、10個のプリントダイ／モジュールを有するシステムでは、少数の初期パッチをプリントし分析することにより、４つが同等の挙動を有し、他の３つがそれとは異なる挙動を有するが互いに同等の挙動を有し、最後に他の３つが分析を目的として共にグループ化されるよう十分に同様の挙動を有することを決定することが可能である。次いで、拡張された一組のＮ個のテストパッチのチャートをプリントし、該チャートは、各クラスタ毎に３つのダイにわたって広がることが可能である。４つのダイを含むクラスタの場合、例えば、性能が最も近いものに基づいて３つのダイを選択することが可能であり、又は４番目のダイを使用して冗長データセットとして使用されるテストパッチをプリントすることが可能である。このため、拡張された一組のテストパッチの部分としてプリントされるテストパッチの総数は、各モジュール毎のＮ個のパッチから、各クラスタ毎の３つのモジュールにわたって分割されるＮ個のパッチへと削減され、すなわち、較正のために拡張された一組のテストパッチの部分としてプリントされ分析されるパッチの個数は、この例では３分の１に削減されることになる。
【００１６】
幾つかの例では、一組の初期テストパッチの測定値は、複数のクラスタのうちの１つが、所定のプリンタ相対（printer-relative）基準レベルから色精度が著しくドリフトしなかったダイに対応することを示すことが可能である。１クラスタをなす複数のプリントモジュールの性能が所定のプリンタ基準レベルと一致すると判定された場合には、これらのプリントモジュールについて完全な較正プロセスを実行する必要はなく、これにより較正を実行するために必要となるインク資源及び時間資源を更に節約することが可能となる。
【００１７】
２段階較正の例は、プリントされ／測定されるデータの量を削減する（時間／無駄が少ない）ことにより、及び較正チャートに冗長データを有する能力を提供することにより、利点を提供することが可能であり、これにより、一層堅牢な測定に寄与することが可能となる。
【００１８】
図１は、ページ幅アレイ（ＰＷＡ：Page Wide Array）プリンタ100のブロック図を示している。図１に示すようなＰＷＡプリンタは、該プリンタで使用するプリント媒体の全幅にわたって延びるノズルアレイを含むプリンタであり、これにより、イメージを形成するためにプリントヘッドをプリント媒体を横方向に横切って走査する必要がなくなる。幾つかの例では、該ノズルアレイは、プリントバー上に配列された、複数のノズルをそれぞれ有する複数の別個のダイから形成される。
【００１９】
プリンタ100は、複数のプリントヘッドダイ104を有するプリントバー102を含み、該プリンタ100内に第１の媒体シート106がプリントのために装填される。プリンタ制御ユニット108は、プロセッサと、該プロセッサ上で実行することが可能な命令を含む較正モジュール110及びクラスタリングモジュール112を含むメモリとを備えている。プリンタ制御ユニット108は、プリントバー102に接続され、及びプリント媒体106にプリントする際に個々のプリントダイ104の駆動を制御するためにプリントバー102に制御情報を提供する。カメラ又は分光光度計116などのモニタリング装置は、テストパッチ測定モジュール114の制御下でプリント媒体106上にプリントされたテストパッチの特性を測定するように構成される。テストパッチ測定モジュール114は、較正モジュール108に接続されて、較正プロセスで使用するために測定値をフィードバックすることを可能にする。幾つかの例では、テストパッチ測定モジュール114は、プリンタ制御ユニット108の１つの機能とすることが可能である。
【００２０】
動作時には、図１のプリンタ制御ユニット108、較正モジュール110、及びクラスタリングモジュール112は、以下で一層詳細に概説するように、２段階較正プロセスを実施するようにプリントダイ104を制御することが可能である。
【００２１】
段階１：ダイ領域クラスタリング：
ａ．各ダイ（モジュール）毎に少数のパッチをプリントして測定する（例えば、ｋ＊Ｎ＋１（Ｎはインクの数、ｋは１以上の整数）。これらのパッチは、例えば、システムの原色に相対参照用のブランク基体（blank substrate for relative reference）を加えたものとすることが可能である。
ｂ．差分メトリック（difference metric）（例えば、国際照明委員会（CIE）DE2000距離メトリック（distance metric））、統計（例えば、95パーセンタイル又はメジアン）、及びカットオフ値を定義する。これらは、所与のシステムのプリント及び測定の再現性に関するものとすることが可能であり、例えば、所与のシステムのプリント及び測定の再現性が0.5メジアン及び0.8 95パーセンタイル（DE2000）である場合に、（２つのダイに対応する）２組のデータが、メジアン項で0.5 DE2000未満だけ異なり、又は95パーセンタイル項で0.8 DE2000未満だけ異なる場合には、該２組のデータは、多くともプリント及び測定の再現性程度しか異ならないため、該２組のデータを互いに区別することは実際には不可能である。
ｃ．選択されたメトリック及び統計に基づいて階層的凝縮型クラスタ（Hierarchical Agglomerative Cluster：HAC）ツリーを計算して、カットオフ値を適用する。図２は、0.8のクラスタリングカットオフを有するそれぞれのダイ領域間の95パーセンタイルCIE DE2000誤差に基づくかかる計算の一例である。図２から分かるように、HACツリーは複数のプリントモジュールクラスタで終端し、この場合、単一クラスタ内の複数のプリントモジュールは、メトリックにわたる統計量に関して最大でカットオフ値だけそれらプリントモジュールの間で異なっている。図３は、0.5のクラスタリングカットオフを有するそれぞれのダイ領域間のメジアン CIE DE2000誤差に基づく同様の一例を示している。
【００２２】
幾つかの例では、HACツリーの計算は、テストパッチ測定モジュール114により提供される一組の初期テストパッチの測定に基づいてクラスタリングモジュール112により実行される。
【００２３】
幾つかの例では、複数のダイの公称状態（すなわち、較正を必要としない状態）をプリントし測定することにより所定の基準性能レベルがプリンティングシステムに設定された場合、その基準状態と一致するクラスタは、較正が不要であって第２段階の較正で無視すること又は制御データに使用することが可能な複数のダイ／領域のクラスタに対応するものとなる。場合によっては、較正が全てのダイ／領域を変更し、この場合にはこの選択肢は適用されないことになる。
【００２４】
他の例では、他のメトリック手法及び／又はクラスタリング手法を使用して同様のプリントダイのクラスタを決定することが可能である。
【００２５】
段階２：ダイ冗長較正
ａ．上記ダイ又は領域のクラスタリングを前提として較正チャートを作成する。これは、パイプラインの種類（HANS（Halftone Area Neugebauer Separation：ハーフトーン領域ノイゲバウア分解）又はインクチャネルベースのもの）並びに較正アプローチ（閉ループカラーRGB→RGB 3D較正またはNPac（Neugebauer Primaries area coverage：ノイゲバウア原色領域範囲）→NPac較正など）には依存しないものである。
ｂ．較正に使用すべきターゲット色値をそれぞれ有する一組をなすＭ個のパッチを仮定し、複数のダイ／モジュールの各クラスタ毎に、該Ｍ個のパッチが、所与の１つのクラスタ内にある複数のダイ間で分配される。例えば、図４ａは、４つのダイを有するシステムについての較正チャートと、２７個のパッチのプリント及び測定に基づく較正アプローチとを示しており、この場合、該４つのダイの各々毎に２７個のパッチ全てがプリントされて測定される。代替的に、これらのダイが２つのカテゴリにクラスタ化されて、ダイ1,3及びダイ2,4がそれぞれ同じクラスタに属する（すなわち、一組の初期テストパッチに基づきプリント及び測定再現性に関してダイ1,3を区別することができない）場合には、前記較正チャートは、図４ｂに示すように、前記２７個のパッチが同じクラスタ内の複数のダイ間で分配されるようにプリントすることが可能である。
ｃ．その結果として、一層小さい較正チャートが作成されることになり、この例では、元の較正チャートの紙の無駄（及び測定時間）の50％が節約される。サイズが異なるクラスタの場合、最小サイズが節約を決定し、一層大きいクラスタは、一層堅牢なデータに通じる冗長プリント／測定に使用することが可能である。
【００２６】
次いで、テストパッチ測定モジュール114により提供される拡張された一組のテストパッチの測定に基づいて、該拡張された一組のテストパッチを含むプリントされた較正チャートの分析を較正モジュール108により実行することが可能である。この分析の結果として、第１段階の較正プロセスの出力としてクラスタリングモジュール112により識別されたプリントモジュールの各クラスタ毎に較正パラメータが別個に決定されることになる。
【００２７】
図５は、図１に示すようなプリンティング装置上で実施することが可能な例に従って２段階較正プロセスを実行する方法を示している。図５の方法500によれば、第１段階502において、１つのプリントモジュールにつき比較的少数のパッチを含む第１の一組の初期テストパッチが各プリントモジュール又はダイ104毎にプリントされる（504）。例えば、該一組の初期テストパッチは、プリントダイの各原色毎のテストパッチとブランク（空白の）制御パッチとを含むことが可能である。次いで、該第１の一組のテストパッチを分析して（506）、実質的に同一の性能を有するプリントモジュールを識別する。次いで、該第１の一組のテストパッチの分析に基づいて、プリントモジュールを、同様の性能を有する複数のプリントモジュールの複数のクラスタへとグループ化する（508）ことが可能である。
【００２８】
幾つかの例によれば、同様の性能を有するプリントモジュールのクラスタを決定するために、階層的凝縮型クラスタリング手法がとられる。この手法では、各プリントモジュール毎の一組の初期テストパッチの測定値をクラスタリングモジュール112により評価して、複数のプリントモジュールについて測定された性能と所定の基準性能との間の距離メトリック（例えば、国際照明委員会（CIE）DE2000距離メトリックに基づくもの）を計算することが可能である。次いで、該距離メトリックに基づいてクラスタを漸進的に併合することにより、複数のプリントモジュールに関する個々のデータポイントから階層を漸進的に構築することが可能である。
【００２９】
例えば、第１段階で、選択された距離メトリックに従って、２つの最も近い要素が併合されてクラスタが形成される。後続の各反復で、次の２つの最も近い要素又はクラスタが、一定のクラスタ数に達するまで、又はクラスタ間の距離が一定値を超えるまで、併合される。
【００３０】
HACツリーが生成されると、距離メトリックについてのカットオフ値を適用して、第２の較正段階502で使用すべきプリントモジュールクラスタを決定することが可能である。
【００３１】
図２の例示的なHACツリーでは、95パーセンタイルCIE DE2000差分メトリックに基づいて、ツリーを生成するために組み合わせるべき複数対の要素ひいては複数のクラスタが分かる。カットオフ値0.8を適用することにより、ダイ領域6,5、ダイ領域4,10,16、及びダイ領域11,12,15,3などを含む複数のクラスタが得られることになる。
【００３２】
幾つかの例では、図３に示すようにメジアンCIE DE2000差分値などの別の差分メトリックを使用してHACツリーを生成することが可能である。
【００３３】
第２段階510では、第１段階で識別された複数のクラスタの各々毎に拡張された一組のテストパッチがプリントされ（512）、該拡張された一組のテストパッチにおけるテストパッチの個数が、各クラスタの複数のモジュールにわたって分配される。次いで、該拡張された一組のテストパッチを分析し（514）、該クラスタのプリントモジュールの実際の出力と所望の較正された出力との間の差を決定して、各クラスタ毎に較正パラメータを決定することが可能である。
【００３４】
較正パラメータが決定されると、プリンタ制御ユニット108は、プリント媒体106に出力イメージをプリントする際にプリントバー102に制御信号を提供するときに、該較正パラメータを適用することが可能である。
【００３５】
図６は、更なる例による方法600を示している。図６の方法によれば、図５の方法の第１段階502におけるプリントモジュールクラスタの識別に続いて、所定の基準性能レベル（すなわち、プリンティング装置の較正された状態）と実質的に一致する性能を有する複数のプリントモジュールのクラスタが識別される（602）。次いで、該識別されたクラスタが、較正プロセスの第２段階510における較正を必要としないものとしてマークされる（604）。次いで、該マークされたクラスタのプリントモジュールは、第２段階では無視されて、該クラスタについてテストパッチをプリントする必要がなく、又は、まだ較正されるべきプリントモジュールのクラスタと比較するための更なる基準制御データを提供するために使用することが可能である。
【００３６】
次いで、較正を必要としないものとしてマークされたプリントモジュールのクラスタを考慮して第２段階の較正プロセスを実行することが可能である（510）。次いで、第２の一組のテストパッチに基づいて決定された較正パラメータをプリンティング装置に適用して（606）、較正された出力を提供することが可能である。
【００３７】
複数の例をPWAプリンタに関して説明したが、その他の例もまた、個別の較正を必要とする複数の個々のプリントモジュール又はダイを含む任意のプリンシング装置と共に使用するのに適したものとなり得る。
【００３８】
本書に記載した例は、任意の適当に構成されたハードウェア及び／又はソフトウェアを使用したプリンティング装置に実施することが可能である。例えば、プリンタ制御ユニット108は、メモリに格納された命令であって上述の較正方法を実施するように構成された命令を実行するよう動作可能な１つ以上の処理リソースを含むことが可能である。
【００３９】
上記開示では、プリントモジュールについての較正パラメータの決定について説明した。該較正パラメータの適用は、イメージの色又は１ピクセルに適用されるインクの量を表すデータに適用される数学的手順（アルゴリズム又はルックアップテーブルなど）という形を取ることが可能であることが当業者には理解されよう。別の例では、較正パラメータは、特定のノズルに印加される物理的制御信号（例えば、所与のノズルに印加される制御信号の電圧、時間、又は強度）に影響を与えることが可能である。
【００４０】
本書の説明及び特許請求の範囲の全体にわたり、「備える」及び「含む」なる用語及びそれらの変種は、「含むがそれらには限定されない」ことを意味し、及びその他の部分、追加物、構成要素、完全体（integers）、又はステップを排除することを意図しない（及び排除しない）ものである。本書の説明及び特許請求の範囲全体を通して、文脈上別段の必要性がない限り、単数形は複数形を包含する。特に、不定冠詞が使用されている場合には、文脈上別段の必要性がない限り、本書は単数形だけでなく複数形も意図したものと理解されるべきである。
【００４１】
本発明の特定の態様、実施形態、又は例に関連して説明した特徴、整数、特性、複合語、化学的部分、又はグループは、適合しない場合を除き、本書に記載の他の態様、実施形態、又は例に適用可能であることが理解されるべきである。本書（特許請求の範囲、要約書、及び図面を含む）で開示した全ての特徴、及び／又はかかる開示されたあらゆる方法又はプロセスの全てのステップは、かかる特徴及び／又はステップの少なくとも幾つかが互いに排他的である組み合わせを除き、あらゆる組み合わせで組み合わせることが可能である。本発明は、既述のいかなる実施形態の詳細にも限定されない。本発明は、本書（特許請求の範囲、要約書、及び図面を含む）で開示した特徴の任意の新規のもの若しくは任意の新規の組み合わせ、又は本開示の方法若しくはプロセスの各ステップの任意の新規の１つ又は任意の新規の組み合わせに及ぶものである。
【００４２】
読者の注意は、本出願に関連して本書と同時又はそれ以前に提出され、及び本書により公衆の閲覧に供された全ての論文及び文書に向けられ、かかる全ての論文及び文書の内容は参照により本書に組み込まれる。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４ａ】
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【図４ｂ】
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【図５】
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【図６】
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【国際調査報告】
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