(57)【要約】本開示は、材料試験システムにおける歪みの非接触測定に用いられるシステム等の、カメラベースの３次元光学計測システムを較正する方法及びツールに関する。較正プレートを、材料試験装置の負荷フレームの試験空間内に保持するツールが提供される。このツールは、回転軸線の周りで、一連のデテント回転位置まで回転するスピンドルを備える。このスピンドルは、較正プレートの傾斜角を変化させることを可能にする軸受構成によって較正プレートに係合する。スピンドルの回転及び傾動角の変化により、試験空間内の動きの２自由度が提供される。結果として得られる較正プレート位置のシーケンスは、一貫しており、かつ再現可能である。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
材料試験装置の試験空間内の視覚的較正画像を提供する装置において、
較正試験パターンと、
前記較正試験パターンに係合するマウントであって、前記較正試験パターンを傾動軸線に沿って傾動させることができる旋回軸を含むマウントと、
前記マウントに係合する回転装置であって、回転軸線の周りで回転する回転装置とを具備する装置。
【請求項２】
前記回転装置は、フレーム上に回転するように取り付けられたスピンドルである請求項１に記載のデバイス。
【請求項３】
前記フレームは、材料試験装置の把持部材による係合のための取り付けタブを備える請求項２に記載のデバイス。
【請求項４】
前記スピンドルは、前記回転軸線の周りでデテント位置まで回転する請求項２に記載のデバイス。
【請求項５】
前記較正試験ターゲットの傾斜角を第１の傾斜角において固定する、少なくとも第１の停止部材を更に備える請求項４に記載のデバイス。
【請求項６】
前記較正試験ターゲットの傾斜角を第２の傾斜角において固定する、第２の停止部材を更に備える請求項５に記載のデバイス。
【請求項７】
前記傾動軸線は、前記回転軸線に対して垂直である請求項６に記載のデバイス。
【請求項８】
前記較正試験ターゲットは、平面である請求項６に記載のデバイス。
【請求項９】
前記較正試験ターゲットは、視覚的ドットアレイパターン又はチェッカーボードパターンを含む請求項８に記載のデバイス。
【請求項１０】
前記第１と第２の停止部材は、前記較正試験ターゲットに磁気的に係合する第１と第２の磁石を備える請求項６に記載のデバイス。
【請求項１１】
材料試験装置のためのオブジェクト空間内の共通３次元測定体積を画定する較正データセットを提供する方法において、
較正試験パターンと、該較正試験パターンに係合し該較正試験パターンを傾動軸線に沿って傾動させることができる旋回軸を含むマウントと、該マウントに係合し回転軸線の周りで複数の回転角まで回転させる回転装置とを準備するステップと、
前記較正試験パターンの画像を記録する少なくとも１つの撮像装置を準備するステップと、
一連の傾斜角及び回転角に前記較正試験パターンを位置決めするステップと、
前記較正試験パターンを位置決めするステップの間、前記少なくとも１つの撮像装置を操作して前記較正試験パターンの画像を記録するステップを実行するステップとを含む方法。
【請求項１２】
前記少なくとも１つの撮像装置を準備するステップは、少なくとも２つの撮像装置を準備することを含む請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
前記方法は、前記回転装置を回転するように取り付けるフレームを準備するステップを更に含み、前記回転装置は複数のデテント回転位置を有するスピンドルである請求項１１に記載の方法。
【請求項１４】
前記回転装置を取り付けるフレームを準備するステップ、及び材料試験装置の把持部材によってフレームを挟持するステップを更に含む請求項１２に記載の方法。
【請求項１５】
前記較正試験ターゲットの傾斜角を第１の傾斜角において固定する、少なくとも第１の停止部材を準備するステップを更に含む請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
前記較正試験ターゲットの傾斜角を第２の傾斜角において固定する、第２の停止部材を準備するステップを更に含む請求項１５に記載の方法。
【請求項１７】
前記較正試験ターゲットを準備するステップは、平面較正試験ターゲットを準備することを含む請求項１６に記載の方法。
【請求項１８】
前記較正試験ターゲットを準備するステップは、視覚的ドットアレイパターン又はチェッカーボードパターンを含む平面較正試験ターゲットを準備することを含む請求項１７に記載の方法。
【請求項１９】
前記第１と第２の停止部材を準備するステップは、前記較正試験ターゲットに磁気的に係合する第１と第２の磁石を準備するステップを含む請求項１６に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願は、２０１６年５月２４日に出願された米国仮特許出願第６２／３４０，７６６号の米国特許法第１１９条（ｅ）項に基づく優先権を主張する。この米国仮特許出願の内容は、引用することによって、その全内容があらゆる目的で本明細書の一部をなす。
【０００２】
本開示は、材料試験システムにおける歪みの非接触測定に用いられるシステム等の、カメラベース３次元光学計測システムを較正する方法及びツールに関する。
【背景技術】
【０００３】
材料試験中のサンプルの歪みの非接触測定を実行するために、３次元光学計測システムは、典型的には、オブジェクトの単一の３次元ビューを提供するのに必要な奥行き情報を得るために、同じオブジェクトの異なる視点のビューからの複数のカメラ画像を合成する。各カメラの視点は、被試験オブジェクトの正確な３次元測定値を生成するために、３次元において精密に較正されなくてはならない。視点ごとに、又はカメラごとに、較正は、以下のアクションを実行しなくてはならない。
【０００４】
１．３次元空間内のカメラの視点の有向ベクトル（pointing vector）を配置決めする。これは、カメラの位置及びそのビューの方向を確立する。
【０００５】
２．カメラ内の、そのビューの方向（有向ベクトル）に対する２次元画像センサーの配向を規定する。これは、画像センサーの任意の傾斜又は回転を確立する。
【０００６】
３．レンズのディストーションを含む、カメラの光学系によって生成される２次元カメラ画像のディストーション、画像センサーに対するレンズの位置合わせ、及び、画像センサーの任意の非均一効果を較正する。
【０００７】
４．奥行き軸方向へのオブジェクト位置の変化によって生成される２次元カメラ画像に対する変化を較正する。
【０００８】
各カメラがこのように較正されると、合成された較正データセットにより、オブジェクト空間内の共通３次元測定体積が画定される。その後、計測システムは、この共通体積内の任意の箇所で較正された３次元測定を行うことができる。
【０００９】
この較正プロセスは、典型的には、各カメラから、オブジェクト空間内の複数の配置及び配向において保持された平坦較正プレートの一連の写真を取得することによって達成される。この平坦較正プレートは、例えば、事前較正済みの既知の直径及び間隔を有するドット等の、マークのアレイを提供する。このプロセスは、以下の通りである。
【００１０】
１．較正プレートが３次元測定体積内の所与の位置において静止保持されているときに、各カメラの視点からのこのプレートの画像が取得される。
【００１１】
２．較正プレートは、次に、測定体積内の新たな３次元位置に動かされ、各カメラから１画像ずつというようにして、画像の追加のセットが取得される。新たな配置は、典型的には、プレートを傾斜させること及び／又は回転させること、及び、このプレートを奥行き軸方向に並進させることを含むことができる。
【００１２】
３．このプロセスは反復され、意図される測定体積中を通して較正プレートが漸進される。較正プレートは、代替的に、この較正プレートを用いて体積全体をサンプリングすることに注意を払いながら、体積内のランダムな配置及び配向に動かすことができる。
【００１３】
４．このプロセスは、体積の十分なサンプリング（典型的には、体積内の６〜１２の異なる較正プレート位置を必要とする）が行われると終了する。
【００１４】
較正のために用いられる装置はいずれも、測定体積に対する挿入及び取り外しが容易でなくてはならない。この装置は、較正が完了した後には、ユーザーが同じ体積内で任意の試験片の３次元測定を行うのを可能にするために取り外されなくてはならない。したがって、単純、コンパクトかつ自己完結型である、較正プレートを動かす動力手段を有することは困難である。この理由で、較正プレートの必要な位置変更を提供する典型的な方法は、カメラが間隔を置いてスナップショットを取得する間、操作者がプレートを手で保持して手動で動かし、それにより、ターゲット体積内の多くの一意の配置及び配向においてプレートを捕捉する、というものである。
【００１５】
一般的に、測定体積内の較正プレートの正確な配置／配向は、知る必要がない。その代わり、較正方法は、各カメラからの画像のアレイを較正するのに必要な情報を提供するために、較正プレート上の特徴部の既知の幾何形状に依拠する。
【００１６】
従来技術の方法は、典型的には、図１で示すように、ターゲット較正体積中でランダムに動かされる、手持ち式較正プレート２００を用いる。これにより、手動操作の不確実性に起因して、配置／配向のランダムなセットが生成され、３次元体積の十分なサンプリングを確立するための負担が操作者に直接かかる。これにより、第１に、より高度な操作者のトレーニングが必要となり、第２に、較正の実行の都度、異なる配置のサンプリングによって３次元較正マップが生成されるという結果に至る。これらの問題の双方が、計測システムの再現性及び使用の簡便性に影響を及ぼす。
【００１７】
以下の参照文献は、本開示に記載されるような較正プレート画像の類似セットから３次元較正マップを生成するのに一般的に用いられる数学的アルゴリズムの例を提供する。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【００１８】
【非特許文献１】Z. Zhang, "A flexible new technique for camera calibration," IEEE Trans. Pattern Anal. Mach. Intell. 22(11), 1330-1334 (2000)
【非特許文献２】R. Tsai, "A versatile camera calibration technique for high accuracy three-dimensional machine vision metrology using off-the-shelf TV cameras and lenses," IEEE J. Robot. Autom. 3(4), 323-344 (1987)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【００１９】
本開示の目的は、較正プレートの手動移動の必要性をなくし、より再現可能でかつ一貫した較正結果を提供する３次元光学計測システムを較正する方法を提供することである。これにより、使用のより一層の簡便性がもたらされ、較正のための操作者のトレーニングのレベルが低減され、かつ、最終結果の要因としての操作者側の変動性が低減される。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
この目的及び他の目的は、典型的には、周期的なデテント回転位置を有するスピンドルを支持する、材料試験装置内の把持部材によって係合又は挟持される機械的デバイスを提供することによって達成される。スピンドルは、所望の角度位置のために平面視覚ターゲット（較正プレート等）を傾動させる支持部材を更に備える。スピンドルの回転により、所定のデテント位置までの軸線の周りの回転がもたらされ、それにより、視覚ターゲットの位置決めの際の動きの第１の自由度がもたらされ、その一方で、視覚ターゲットの傾動により動きの第２の自由度がもたらされる。典型的には、２つのカメラが用いられることで視覚ターゲットの位置の範囲全体を通して視覚ターゲットの画像が捕捉され、それにより、後続して行われる材料試験におけるサンプルの歪みの非接触測定のために、オブジェクト空間内の共通３次元測定体積が画定される。
【００２１】
本開示の更なる目的及び利点は、以下の説明及び添付図面から明らかになる。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】従来技術を例示する一連の図である。
【図２】本開示の一実施形態による回転楔部材を示す斜視図である。
【図３】本開示の一実施形態によるステレオ３次元測定値を提供する２つのカメラに対する楔部材回転軸線の一例を示す概略図である。
【図４】本開示の一実施形態による引張試験負荷フレームに設置された較正ツールの斜視図である。
【図５】本開示の一実施形態による傾斜した較正プレートが４５度のインクリメントで回転されているカメラビューを示し、各位置は、機械的デテントによって保持されている、一連の図である。
【図６】本開示の一実施形態による負荷フレームの下側把持部材によって係合又は挟持された較正ツールの斜視図である。
【図７】本開示の一実施形態による調整可能な磁気停止部材によって確立された較正プレートの傾斜の斜視図である。
【図８】本開示の一実施形態による上側把持部材への接続鋼線を示すスピンドルの詳細の斜視図である。
【図９】較正ツールが負荷フレームの上側把持部材によって係合又は挟持された、本開示の一実施形態の設置された装置の平面図である。
【発明を実施するための形態】
【００２３】
ここで、いくつかの図面を通して同様の符号が同様の要素を示しているこれらの図面を詳細に参照すると、本方法及び本装置の開示された実施形態が見て取られる。図２に示すように、開示された実施形態の方法及び装置は、自身の中心軸線１２の周りで回転する楔部材１０を用いて、較正プレートの必要な範囲の運動を生み出す。楔部材１０は、高コントラストのチェッカーボードパターン又はドットアレイパターン等の較正特徴部を有する傾斜した較正プレート１４によって表されている。この特徴部を有するプレートは、ここでは較正プレート１４と称される。
【００２４】
図２、３に示すように、固定回転軸線１２の周りで回転する楔部材１０は、較正の実行の都度、較正プレート１４に対して、第１及び第２のカメラ又は画像センサー又は撮像装置２０、２２（図３を参照）への、再現可能かつ一貫した配向のセットを提供する。例えば、楔部材１０は、回転角１７による１回転を８回の４５度インクリメントにおいて行うことができ、各インクリメントは、精密な機械的又は電子機械的デテントによって適所に保持され、それにより、デテント間の単純な手動回転により、較正プレート１４の再現可能なビューを第１と第２のカメラ２０、２２に提供することができるようになっている。較正プレート１４の傾斜角は、精密に維持され、楔部材較正ツール３０（図４を参照）を較正することによって高い正確度で知ることができる。更なる安定したビューを提供するために、楔部材較正ツール３０は、いくつかの異なる固定傾斜角１６の選択を可能にするように設計することができる。例えば、図４の楔部材較正ツール３０は、較正プレート１４の３０度の傾斜及び０度の傾斜の双方のための機械的傾斜デテントを提供することができる。この例において、操作者は、０度及び３０度の双方の傾斜角１６において、回転角１７の４段階の４５度回転を通じて、再現可能かつ一貫した方法で、較正プレート１４を動かすことができる。楔部材１０は、較正プレート１４の傾斜角１６を示すのに用いられ、この傾斜角１６は、物理的な楔部材１０以外の他の構造によって実現することができることに留意されたい。
【００２５】
典型的には、重要となる要素は、軸線１４の周りの回転角１７と傾斜角１６との双方が、回転角１７又は傾斜角１６に影響を及ぼす操作者による手動入力から独立した、較正された値に保たれ、それにより、プロセス及び方法に再現性及び予測可能性を提供することができるということである。較正プレート１４の全てのカメラビューが、較正プレート１４の制御されない手動の移動によってカメラ画像の片側に対して較正プレート１４をスキューさせるリスクを伴わずに、カメラの視野を最適に満たすことができる。
【００２６】
図３は、回転楔部材１０の典型的なセットアップを示している。図示するように、第１と第２のカメラ２０、２２は、試験空間内のオブジェクトの３次元測定値を提供することが可能なステレオビジョンシステムを含む。回転楔部材１０は、システムの較正のためにこの試験空間内に配置される。一般的に、回転軸線１２の配置は、任意である。しかしながら、この図示された例において、回転軸線１２は、第１と第２のカメラ２０、２２が較正プレート１４のおよそ同じ範囲の傾斜及び回転を視野に収めるように、各カメラ２０、２２の中間視野軸線に概ね配向される。
【００２７】
図４に示すように、回転楔部材較正ツール３０は、引張試験負荷フレーム１００における応用のために提供される。この要件は、負荷フレーム１００の一体コンポーネントとして設計された３次元計測システムを較正することである。ビデオカメラベースの３次元測定システムは、試験片（図示せず）のステレオビューを利用して、この試験片が、負荷フレーム１００の上側把持部材１０２と下側把持部材１０４との間の試験空間１０６内で引張応力を受ける際の、この試験片の３次元ビデオ歪みマップを生成する。
【００２８】
典型的には、較正ツール３０は、迅速かつ容易に設置され、完全な自己完結型であり、精密な位置合わせを必要とせず、操作者が使用するのに単純であることが更に重要である。図４〜図８に示すように、楔部材較正ツール３０は、負荷フレーム１００の上側把持部材１０２と下側把持部材１０４との間の試験片測定試験空間１０６内に取り付けられる。楔部材較正ツール３０は、垂直取り付けタブ３２を備え、それにより、下側把持部材１０４（又は代替的に、図９に示すように、上側把持部材１０２）を、この下側取り付けタブ３２の部分で単に閉じる又は挟持することによって、この楔部材較正ツールを適所に固定保持することができる。各々の視点が図４に示されている第１と第２のカメラ２０、２２は、各々異なる視点から較正プレート１４を視野に収めており、この場合、第１と第２のカメラ２０、２２の視線を隔てる角度は、典型的には約２０度である。回転較正プレート１４の回転軸線が、この隔たりの角度を概ね半分に分割する。
【００２９】
垂直取り付けタブ３２は、下側水平支持部材３４に取り付けられ、この下側水平支持部材は、垂直スピンドル支持部材３６に取り付けられ、それにより、スピンドル３８の回転可能な取り付けのためのフレーム３９（典型的には、射出成形プラスチック又は金属で作製される）が提供される。スピンドル３８は、回転軸受によって支持され、垂直スピンドル支持部材３６の上端に回転可能に取り付けられる。垂直支持部材３６上のスピンドル３８の回転可能な取り付けには、スピンドル３８が再現可能な段階的回転位置（それにより、図２、３における軸線１２の周りの回転角１７の変化を実現する）、典型的には、４５度のインクリメント、又は３６０度の他の何らかの整数除算分だけ離間した回転位置に回転可能に動くように、デテント機能部が含まれる。スピンドル３８は、このスピンドルの周縁部から長手方向に（回転軸線１２に概ね平行に）延びる第１の支持マウント４０及び第２の支持マウント４２を更に備え、そして、それぞれ第１の回転軸受４１及び第２の回転軸受４３を備えることで、図２、３に示すような物理的な楔部材１０を用いる必要なく、第１の回転軸受４１と第２の回転軸受４３との間に形成される傾動軸線に沿って較正プレート１４の傾斜角（図２、３の要素１６を参照）を旋回又は傾動させる旋回マウントを提供する。さらに、図７で最も明確に示されるように、第１の磁気停止部材５０及び第２の磁気停止部材５２が、較正プレート１４の傾斜角を固定するために、スピンドル３８の周縁部から概ね長手方向に延びる。第１の回転軸受４１及び第２の回転軸受４３によって提供される傾動軸線は、スピンドル３４の回転軸に垂直であり、それにより、較正プレート１４の動きの直交する２自由度が提供される。
【００３０】
第１と第２のカメラ２０、２２のうちの一方の概ねの視点からの回転楔部材較正ツール３０のビューが図５に示されている。例示のために、示されている画像視野は、計測システムカメラの実視野よりも大幅に広い。実用において、較正プレート１４の画像は、計測カメラの実視野の大部分を満たし、それにより、カメラ視野の大半にわたって較正データが提供される。示されている傾斜した較正プレート１４を保持するスピンドル３８は、このスピンドル３８の回転軸の周りで４５度のインクリメントで回転され（図２、３の軸線１２を参照）、操作者が各較正の実行において同じ回転位置を繰り返し見出すことができるように、各位置は機械的デテントによって保持される。
【００３１】
この実施形態において、スピンドル３８は、ユーザーによってこのスピンドルの軸の周りに手動で回転させることができる。しかしながら、図８に示すように、較正ツール３０は、スピンドル３８の外周面４６の周りに巻き付けた鋼線４４を、上側把持部材１０２に接続し、負荷フレーム１００の直線クロスヘッド運動を利用してスピンドル３８を低速で回転させることによる、自動回転の利便性の高い手段も提供する。この構成において、スピンドル３８は、較正ツール３０それ自体にいかなる形態の電子機械的要素も必要とすることなく自動的に回転させることができ、それにより、ツールコスト、物理的サイズ及び複雑度が抑えられる。
【００３２】
図６は、下側把持部材１０４において挟持された較正ツール３０の拡大図を示している。傾斜した較正プレート１４は、黒地に白色ドットのアレイを有する薄い金属プレートから構成される。較正プレート１４は、プレート１４を中央で二等分する軸上で傾斜する。較正プレート１４は、自身の縁部によって較正プレート１４を保持するとともに、傾斜の軸を画定する第１の回転軸受４１及び第２の回転軸受４３を備える、小さな剛性フレームを用いてスピンドル３８に取り付けられる。
【００３３】
図７は、回転較正ツール３０の更なる詳細を示している。較正プレート３０の傾斜は、第１の磁気停止部材５０又は第２の磁気停止部材５２によって固定位置（図２、３の傾斜角１６）に保持される。それぞれの第１の磁気停止部材５０及び第２の磁気停止部材５２内の第１のねじ切り停止ピン５１及び第２のねじ切り停止ピン５３により、傾斜角を既知の値に精密に固定することが可能になる。較正プレート１４は、この較正プレート１４上の小さい磁石（図示せず）によって、第１の停止ピン５１又は第２の停止ピン５３の先端に保持される。第１のねじ切り停止ピン５１及び第２のねじ切り停止ピン５３は、各々が、精密な傾斜角度設定（停止ピン５１が３０度の傾斜及び停止ピン５３が０度の傾斜）を提供している様子が示されている。これにより、適切な停止ピン５１又は５３が磁気的に係合するまで較正プレート１４を傾動することによって、操作者が複数の傾斜角の間を容易に切り替えることが可能になる。他の応用は、停止ピン５１、５３の異なる長さ又は配置によって提供される異なる角度を用いる場合がある。
【００３４】
図８は、スピンドル３８と較正プレート１４の背面との詳細を示している。スピンドル３８の外周は、溝付きワイヤガイド６０に沿ってこのスピンドルの周りで少なくとも１回転分巻き付けられた或る長さの鋼線４４を有する。鋼線４４の他端は、負荷フレームクロスヘッドが動かされたときに鋼線４４が引張されてスピンドル３８が回転するように、上側把持部材１０２において挟持される。これは、スピンドル３８及び較正プレート１４の制御された自動回転の選択肢を提供する単純な方法である。
【００３５】
図９は、楔部材較正ツール３０が上側把持部材１０２を用いて構成及び挟持された、本開示の一実施形態の設置された装置の概略図である。
【００３６】
いくつかの実施形態は、較正された画像の第２のパターンを、較正プレート１４の背面又は裏側上に含むことができる。例えば、第２のパターンは、白地に黒色ドットである。較正ツール３０の設計により、較正プレート１４を、スピンドル３４から容易に取り外して、反転する、すなわち裏返すことが可能になり、それにより、単一の較正プレート１４が、較正画像の２つの異なるセットを提供することができるようになっている。これは、例えば、異なる３次元システムカメラの較正のために特徴部のスケール又はタイプを変更するのに有用である場合がある。
【００３７】
開示された較正ツール及び方法の典型的な利点は、以下を含むことができる。
【００３８】
１．操作者が、較正されるべき３次元画像体積に関して、手持ち式較正プレートを手動で動かす必要がなくなる。
【００３９】
２．較正の実行の都度、３次元画像体積の再現可能なサンプリングを提供する。
２．ａ．手持ち式プレートの方法に比べ、その体積のサンプリングがより制御される。
２．ｂ．位置／配向ごとにカメラ視野の最適な充足を維持するので、手持ち式プレートの制御されないスキューに起因した広い空白部分を画像が有することがない。
２．ｃ．全３次元試験体積のより完全なサンプリングを提供する。
【００４０】
３．使用の簡便性。
３．ａ．設置及び取り外しが容易である。
３．ｂ．操作者のトレーニングが最小限で済む。
３．ｃ．操作者は、較正プレート位置を選択することに関与する必要がない。
３．ｄ．操作者は、カメラ画像の品質を判定する必要も、画像を削除する必要もない。
【００４１】
４．較正精度及び再現性の改善。
４．ａ．操作者側の変動性は、較正結果の要因とはならない。
４．ｂ．３次元画像体積のより均一かつ再現可能なサンプリング。
【００４２】
５．較正プロセスにおける未知のパラメーターの数の削減が可能である。
５．ａ．既知の較正プレート傾斜角（複数の場合もある）。
５．ｂ．既知の較正プレート回転角。
【００４３】
６．追加のモーター又は複雑度を伴うことなく自動較正プレート回転を提供することが可能である。
【００４４】
７．本方法は、手持ち式の方法では実用的ではない較正プレートサイズの拡縮が可能である。
【００４５】
このように、いくつかの上述した目的及び利点は、最も効果的に達成される。本発明の好ましい実施形態が、本明細書において詳細に開示及び説明されてきたが、本発明は、それによって決して限定されるものでないことが理解されるべきである。
【符号の説明】
【００４６】
１０    回転楔部材
１２    回転軸線
１４    較正プレート
１６    傾斜角
２０    第１のカメラ
２２    第２のカメラ
３０    較正プレート
３２    タブ
３４    下側水平支持部材
３６    垂直支持部材
３８    スピンドル
３９    フレーム
４０    第１の支持マウント
４１    第１の回転軸受
４２    第２の支持マウント
４３    第２の回転軸受
４４    鋼線
４６    外周面
５０    第１の磁気停止部材
５１    第１の停止ピン
５２    第２の磁気停止部材
５３    第２の停止ピン
６０    ワイヤガイド
１００    引張試験負荷フレーム
１０２    上側把持部材
１０４    下側把持部材
１０６    試験空間
２００    式較正プレート
【図１】
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【図２】
2019517002.tif 000004
【図３】
2019517002.tif 000005
【図４】
2019517002.tif 000006
【図５】
2019517002.tif 000007
【図６】
2019517002.tif 000008
【図７】
2019517002.tif 000009
【図８】
2019517002.tif 000010
【図９】
2019517002.tif 000011
【国際調査報告】
2019517002.tif 000012
2019517002.tif 000013
2019517002.tif 000014