(57)【要約】【課題】測定値がばらついたとしても的確な判定を実行し得る測定装置を提供する。【解決手段】入力信号を所定周期で測定して測定値を出力する測定部と、測定値および判定用基準値に基づいて入力信号が所定条件（合格条件）を満たしているか否かを判定する判定処理（ステップ２４）、および判定処理の判定結果に基づく最終判定処理（ステップ２９）を実行する判定部とを備え、判定部は、判定処理を複数回に亘って実行し、最終判定処理時において、所定条件を満たすとの判定結果数（ＯＫ判定またはＮＧ判定の判定結果数）が予め規定された判定結果確定条件を満たすときに判定結果確定条件に関連付けられている判定結果（合格または不合格）を入力信号についての最終判定結果とする。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号を所定周期で測定して測定値を出力する測定部と、前記測定値および判定用基準値に基づいて前記入力信号が所定条件を満たしているか否かを判定する判定処理、および当該判定処理の判定結果に基づく最終判定処理を実行する判定部とを備え、
前記判定部は、前記判定処理を複数回に亘って実行し、前記最終判定処理時において、前記所定条件を満たすとの判定結果数、および当該所定条件を満たさないとの判定結果数の一方の判定結果数が予め規定された判定結果確定条件を満たすときに当該判定結果確定条件に関連付けられている判定結果を前記入力信号についての最終判定結果とする測定装置。
【請求項２】
前記判定部は、予め規定された回数の前記判定処理を実行した後に前記最終判定処理を実行する請求項１記載の測定装置。
【請求項３】
前記判定部は、前記判定処理の都度、前記最終判定処理を実行する請求項１記載の測定装置。
【請求項４】
前記判定部は、予め規定された回数の前記入力信号が前記測定部に入力されたときに前記複数回に亘る前記判定処理を開始する請求項１から３のいずれかに記載の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、入力信号を所定周期で測定した測定値と判定用基準値とに基づいて入力信号が所定条件を満たしているか否かを判定する判定部を備えた測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の測定装置として、出願人は、特開２００４−６９５９０号公報に波形判定装置を開示している。この波形判定装置を用いて、例えば電子機器の電気的特性（一例として、規定電圧入力時における出力信号の電圧）を測定して合否を判定するときには、電子機器の信号出力部に波形判定装置を接続した状態で、波形判定装置および電子機器の双方を起動させる。この際に、波形判定装置では、電子機器から出力された信号（波形判定装置に入力された信号：以下、「入力信号」ともいう）について、Ａ／Ｄ変換部がＡ／Ｄ変換処理を実行して波形データを生成すると共に、制御部が生成された波形データをＲＡＭに記憶させる。また、波形データのＲＡＭへの記憶処理が完了した際には、制御部が入力信号の信号波形についての平均値、最大値および最小値（特性値）を演算してＲＡＭに記憶させる。次いで、制御部は、各特性値と、対応する基準値（基準範囲）とを順次比較することによって信号波形の合否を判定して判定結果（合否結果）を記憶させる。続いて、制御部は、入力信号についての信号波形および基準範囲と共に判定結果（一例として「合格」という文字列）を表示部に表示させる。これにより、電子機器の合否判定が完了する。
【特許文献１】特開２００４−６９５９０号公報（第２−１０頁）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところが、出願人が開示している波形判定装置には、以下の改善すべき課題がある。すなわち、この波形判定装置では、波形データに基づいて演算した各特性値が基準範囲内の値であるか否かを判別することによって入力信号（電子機器）の合否が判定される。この場合、合否判定の対象となる入力信号のなかには、サンプリング周期毎に信号波形にばらつきが生じる傾向のある信号も存在する。このため、良品の電子機器から出力された入力信号であっても、各特性値が判定処理時に基準範囲を僅かに外れることがある。しかし、出願人が開示している波形判定装置では、各特性値が基準範囲を僅かに外れたときにも、その入力信号を出力した電子機器が不合格と判定する。したがって、この波形判定装置では、判定対象の入力信号を出力した電子機器等が実際には良品と扱ってよいときにも、不良品（不合格）と判定する可能性があり、この点を改善するのが好ましい。また、電子機器のなかには、例えば、起動直後において上記の信号波形のばらつきが大きく、起動から所定時間を経過した後にばらつきが小さくなる機器が存在する。したがって、この種の機器からの入力信号に基づいて的確な合否判定を行うためには、オペレータが対象機器の起動時から所定時間を経過したか否かを判断して波形判定装置に判定処理を開始させる必要がある。このため、この点を改善するのが好ましい。
【０００４】
本発明は、かかる改善すべき課題に鑑みてなされたものであり、測定値がばらついたとしても的確な判定を実行し得る測定装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成すべく請求項１記載の測定装置は、入力信号を所定周期で測定して測定値を出力する測定部と、前記測定値および判定用基準値に基づいて前記入力信号が所定条件を満たしているか否かを判定する判定処理、および当該判定処理の判定結果に基づく最終判定処理を実行する判定部とを備え、前記判定部は、前記判定処理を複数回に亘って実行し、前記最終判定処理時において、前記所定条件を満たすとの判定結果数、および当該所定条件を満たさないとの判定結果数の一方の判定結果数が予め規定された判定結果確定条件を満たすときに当該判定結果確定条件に関連付けられている判定結果を前記入力信号についての最終判定結果とする。
【０００６】
また、請求項２記載の測定装置は、請求項１記載の測定装置において、前記判定部が予め規定された回数の前記判定処理を実行した後に前記最終判定処理を実行する。
【０００７】
さらに、請求項３記載の測定装置は、請求項１記載の測定装置において、前記判定部が前記判定処理の都度、前記最終判定処理を実行する。
【０００８】
また、請求項４記載の測定装置は、請求項１から３のいずれかに記載の測定装置において、前記判定部が予め規定された回数の前記入力信号が前記測定部に入力されたときに前記複数回に亘る前記判定処理を開始する。
【発明の効果】
【０００９】
請求項１記載の測定装置では、判定部が判定処理を複数回に亘って実行して所定条件を満たしているとの判定結果数、および所定条件を満たしていないとの判定結果数の一方の判定結果数が判定結果確定条件を満たすときに関連付けられている判定結果を入力信号についての最終判定結果とする。したがって、この測定装置によれば、入力信号についての１回の判定処理によって判定対象の電子機器の合否を判定する従来の波形判定装置とは異なり、判定対象の電子機器（入力信号の特性）に応じて判定結果確定条件を設定するだけで、複数回のうちの数回の判定処理時に入力信号の電気的パラメータにばらつきが生じたとしても、この電子機器の合否を的確に判定することができる。
【００１０】
また、請求項２記載の測定装置によれば、予め規定された回数の判定処理を実行した後に最終判定処理を実行することにより、最終判定処理において合格と判定したときには、所定条件を満たさないとの判定結果数を特定することができ、不合格と判定したときには、所定条件を満たすとの判定結果数を特定することができる。したがって、最終判定処理におけるより具体的な判定内容を把握させることができる。
【００１１】
さらに、請求項３記載の測定装置によれば、判定処理の都度、最終判定処理を実行することにより、例えば、不良品の電子機器では、複数回に亘る判定処理の開始時点から早い段階で所定条件を満たさないとの判定結果が連続的に発生するため、設定された複数回の判定処理のすべてを完了した後にこれらの各判定処理の判定結果数に基づいて電子機器の合否を判定する波形判定装置の構成とは異なり、その電子機器が不合格との最終判定結果を短時間で確定することができる。
【００１２】
また、請求項４記載の測定装置によれば、予め規定された回数の入力信号が測定部に入力されたときに判定部が複数回に亘る判定処理を開始することにより、起動直後において入力信号のばらつきが大きく、ある程度以上の時間を作動させることによってばらつきが小さくなる電子機器についても、オペレータの手を煩わせることなく、電子機器の動作が安定した後に、複数回に亘る判定処理を開始することができる。したがって、より的確な合否判定を容易に実行することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、添付図面を参照して、本発明に係る測定装置の最良の形態について説明する。
【００１４】
最初に、波形判定装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１５】
図１に示す波形判定装置１は、本発明に係る測定装置の一例であって、判定対象体（一例として、電子機器：図示せず）からの入力信号Ｓ１の電気的パラメータ（例えば、交流信号における電圧）を所定周期で測定した測定値ＶＳに基づき、入力信号Ｓ１についての信号波形ＷＳ（図３参照）の表示や入力信号Ｓ１についての合否判定（入力信号Ｓ１を出力した電子機器の合否判定：以下、「電子機器の合否判定」ともいう）などを実行する。具体的には、波形判定装置１は、測定部２、操作部３、制御部４、表示部５、ＶＲＡＭ６、ＲＯＭ７およびＲＡＭ８，９を備えて構成されている。測定部２は、Ａ／Ｄ変換器を備えて構成され、予め設定された所定条件が満たされたときに（一例として、予め設定された電圧を超える電圧の入力信号Ｓ１を入力したときに）、入力信号Ｓ１の電圧を所定周期で所定時間だけ測定（サンプリング）して２値データの測定値ＶＳを出力する。以下、予め設定された電圧を超える電圧の入力信号Ｓ１を「トリガ信号」ともいう。操作部３は、波形判定装置１の動作条件を設定操作するための複数の操作キーを備えて構成され、各操作キーのキー操作に応じた操作信号Ｓ２を出力する。
【００１６】
制御部４は、波形判定装置１を総括的に制御すると共に、予め設定された動作条件に従って各種の処理を実行する。具体的には、制御部４は、測定部２からの測定値ＶＳをＲＡＭ８に記録させる。また、制御部４は、本発明における判定用基準値の一例としてＲＡＭ９に予め記憶されている上限値ＶＵおよび下限値ＶＬをＲＡＭ９から読み出すと共に、その上限値ＶＵおよび下限値ＶＬに挟まれた帯状の許容範囲画像Ｆ、電圧スケールＶ、時間スケールＴ等（図３参照）、および測定値ＶＳに基づく入力信号Ｓ１の信号波形ＷＳをＶＲＡＭ６内に仮想的に描画することにより、これらを表示部５に表示させるための表示用データＤをＶＲＡＭ６内に生成する。この場合、許容範囲画像Ｆは、入力信号Ｓ１の電圧に対して許容される範囲を表し、その上側境界線ＬＵは、入力信号Ｓ１の電圧に対して許容される範囲の上限（つまり許容上限値）を表し、下側境界線ＬＬは、その範囲の下限（つまり許容下限値）を表している。なお、制御部４が入力信号Ｓ１の電圧に対して許容される範囲の上限値ＶＵおよび下限値ＶＬ（本発明における判定用基準値の一例）を測定値ＶＳに基づいて自動算出する構成を採用することもできる。また、制御部４は、本発明における判定部に相当し、図４に示す合否判定処理２０を実行して電子機器の合否を判定する。この場合、この波形判定装置１では、後述するように、制御部４が入力信号Ｓ１について複数回に亘って合否判定を実行し、例えば所定回数以上だけ良好と判定したときに、その電子機器を合格と判定する。
【００１７】
表示部５は、一例としてカラー液晶パネルを備えて構成され、図３に示すように、制御部４の制御に従い、信号波形ＷＳ、上側境界線ＬＵ、下側境界線ＬＬ、許容範囲画像Ｆ、電圧スケールＶおよび時間スケールＴや、合否判定処理２０の判定結果を現す判定結果表示Ａなどをカラー表示する。ＶＲＡＭ６は、制御部４によって生成された表示用データＤを記憶する。ＲＯＭ７は、制御部４の動作プログラムや、後述するように設定される波形判定装置１の動作条件などを記憶する。ＲＡＭ８は、測定部２から出力されて制御部４の制御下で転送された測定値ＶＳ，ＶＳ・・を記憶する。ＲＡＭ９は、操作部３を操作して予め入力された上限値ＶＵおよび下限値ＶＬや、合否判定処理２０の判定結果などを記憶する。
【００１８】
次に、波形判定装置１の全体的な動作について、図面を参照して説明する。
【００１９】
この波形判定装置１を用いて、例えば、電子機器の合否を判定する際には、まず、操作部３を操作して上限値ＶＵおよび下限値ＶＬを入力する。この際に、制御部４は、入力された上限値ＶＵおよび下限値ＶＬをＲＡＭ９に記憶させると共に、その上限値ＶＵおよび下限値ＶＬに基づく上側境界線ＬＵ、下側境界線ＬＬおよび許容範囲画像Ｆと、電圧スケールＶおよび時間スケールＴとをＶＲＡＭ６の仮想平面上に仮想的に描画することにより、これらを表示させるための表示用データＤをＶＲＡＭ６内に生成する。これに応じて、表示部５は、ＶＲＡＭ６から表示用データＤを読み出して、図３に示すように、表示用データＤに基づく波形表示画面を表示させる。なお、同図に示す信号波形ＷＳおよび判定結果表示Ａについては、この段階では表示されない。
【００２０】
次に、操作部３を操作して図２に示す合否判定条件の設定用画面（以下、「設定用画面」ともいう）を表示部５に表示させる。この設定用画面には、「トリガ回数」、「判定の対象」および「合格条件」の各数値入力項目についての数値入力部と「確定」および「キャンセル」のボタンとが表示される。この場合、「トリガ回数」には、後述する合否判定処理２０の対象とする入力信号Ｓ１の入力回数を数値入力する。また、「判定の対象」には、上記の「トリガ回数」に数値入力した入力回数のうちの何回目（判定開始回数）から何回目（判定終了回数）までの入力信号Ｓ１を判定の対象とするかを数値入力する。また、「合格条件」には、判定対象の電子機器を最終的に合格または不合格と判定する条件となる判定回数（本発明における判定結果確定条件）を数値入力する。具体的には、「合格条件」には、「ＯＫ回数」および「ＮＧ回数」の２種類の数値入力項目が存在し、いずれかに判定回数が数値入力されることで、電子機器の合否判定の条件が設定される。この場合、「ＯＫ回数」に判定回数が数値入力されたときには、合否判定処理２０においてこの回数分だけ合格と判定したときに（ＯＫ判定の判定結果数がこの回数に達したときに）、電子機器を最終的に合格と判定する。また、「ＮＧ回数」に判定回数が数値入力されたときには、合否判定処理２０においてこの回数分だけ不合格と判定したときに（ＮＧ判定の判定結果数がこの回数に達したときに）、電子機器を最終的に不合格と判定する。この場合、例えば、同図に示すように、「トリガ回数」として「３０回」、「判定の対象」として「判定開始回数である１１回と判定終了回数である３０回」、「合格条件」として「ＯＫ回数：１５回以上」を数値入力した後に、「確定のボタンを操作する。以上の処理により、合否判定処理２０の実行条件が確定して制御部４によって実行条件についての条件データがＲＡＭ９に記憶される。
【００２１】
次いで、判定対象の電子機器における信号出力部と波形判定装置１の測定部２とを相互に接続した状態で電子機器を起動させる。この際には、制御部４が図４に示す合否判定処理２０を開始する。この合否判定処理２０では、電子機器からトリガ信号が出力されたとき、すなわち、測定部２が所定電圧を超える入力信号Ｓ１を入力したときに（ステップ２１）、測定部２が電子機器からの入力信号Ｓ１を所定周期でサンプリングすることにより、所定時間に亘って入力信号Ｓ１についての測定値ＶＳ，ＶＳ・・を順次測定して出力する。また、制御部４は、測定部２から出力された測定値ＶＳ，ＶＳ・・をＲＡＭ８に順次記憶させると共に、トリガ信号の入力回数を１つ加算してＲＡＭ９に記憶させる（ステップ２２）。また、制御部４は、ＲＡＭ８に記憶させた測定値ＶＳ，ＶＳ・・に基づいて信号波形ＷＳ等を表示させる波形表示処理を実行する。この波形表示処理では、制御部４は、ＲＡＭ９から読み出した測定値ＶＳ，ＶＳ・・に基づく信号波形ＷＳと、上側境界線ＬＵ、下側境界線ＬＬ、許容範囲画像Ｆ、電圧スケールＶおよび時間スケールＴとをＶＲＡＭ６の仮想平面上に重ね合わせて仮想的に描画することにより、これらを表示させるための表示用データＤをＶＲＡＭ６内に生成する。これに応じて、表示部５は、ＶＲＡＭ６から表示用データＤを読み出して、図３に示すように、表示用データＤに基づく波形表示画面を表示させる。なお、同図に示す判定結果表示Ａについては、この段階では表示されない。
【００２２】
続いて、制御部４は、トリガ信号の入力回数が判定開始回数（前述した設定用画面における「判定の対象」における判定開始回数）の１１回に達したか否か（本発明における「予め規定された回数の入力信号が測定部に入力されたとき」が満たされたか否か）を判別する（ステップ２３）。この際に、判定開始回数に達していないと判別したときには、ステップ２１に戻り、トリガ信号を入力したときに、上記の測定値ＶＳ，ＶＳ・・の記憶、入力回数の加算、および波形表示処理を実行する。したがって、この波形判定装置１では、設定用画面における「判定の対象」における判定開始回数の欄に数値入力した回数（１１回）だけトリガ信号が入力されるまで、後述するステップ２４の判定処理が実行されないため、例えば、電子機器の起動直後であって入力信号Ｓ１の信号波形にばらつきが生じている状態において、その入力信号Ｓ１に基づいて電子機器の合否が判定される事態が回避される。
【００２３】
一方、ステップ２３において、トリガ信号の入力回数が判定開始回数に達したと判別したとき（この例では、トリガ信号を１１回入力したとき）には、制御部４は、波形表示処理によって表示部５に表示させている信号波形ＷＳが合格条件を満たすか否かを判別する（ステップ２４：本発明における「複数回に亘る判定処理」の開始）。具体的には、制御部４は、信号波形ＷＳのすべてが許容範囲画像Ｆ内に表示されているときには、信号波形ＷＳが合格条件を満たすと判定し（「ＯＫ判定」：ステップ２５）、その判定結果をＲＡＭ９に記憶させる（ステップ２６）。また、信号波形ＷＳのいずれかの部位が許容範囲画像Ｆから外れているときには、信号波形ＷＳが合格条件を満たさないと判定し（「ＮＧ判定」：ステップ２７）、その判定結果をＲＡＭ９に記憶させる（ステップ２６）。この場合、信号波形ＷＳのすべてが許容範囲画像Ｆ内に表示されているか否かが本発明における所定条件に相当する。また、「ＯＫ判定」が「所定条件を満たしているとの判定結果」に相当し、「ＮＧ判定」が「所定条件を満たしていないとの判定結果」に相当する。
【００２４】
次いで、制御部４は、ステップ２４の実行回数、すなわち、入力信号Ｓ１についての判定回数が設定用画面において「判定の対象」の欄に数値入力された判定回数（この例では、判定終了回数３０回から判定開始回数１１を差し引いた２０回）に達したか否か（本発明における「予め規定された回数の判定処理」を実行したか否か）、つまりトリガ信号の入力回数が判定終了回数（この例では３０回）に達したか否かを判別する（ステップ２８）。この際に、判定終了回数に達していないと判別したときには、ステップ２１に戻り、トリガ信号を入力したときに上記の測定値ＶＳ，ＶＳ・・の記憶、入力回数の加算、波形表示処理、およびステップ２４〜２６の一連の処理を実行する。また、ステップ２８において、トリガ信号の入力回数が予め設定された判定終了回数に達したと判別したときには、制御部４は、ＲＡＭ９に記憶させた各判定結果（２０回に亘るステップ２４の実行によってＲＡＭ９に記憶させられている２０回分の判定結果）に基づいて、電子機器の最終的な合否を判定する（本発明における最終判定処理）。
【００２５】
具体的には、制御部４は、ＲＡＭ９に記憶させた２０回分の判定結果のうちのＯＫ判定の判定結果数を計数し、この計数結果が、設定用画面において合格条件に数値入力した回数（この例では、ＯＫ回数が１５回以上）に達しているときには、電子機器を最終的に合格と判定して（本発明における最終判定結果の一例）、図３に示すように、「判定ＯＫ」という文字列からなる判定結果表示Ａを表示部５に表示させる（ステップ２９）。一方、２０回分の判定結果のうちのＯＫ判定の判定結果数が、合格条件に数値入力した回数に達していないとき（すなわち、ＯＫ判定が１４回以下のとき）には、電子機器を最終的に不合格と判定して（本発明における最終判定結果の他の一例）、「判定ＮＧ」との文字列からなる判定結果表示Ａ（図示せず）を表示部５に表示させる（ステップ２９）。これにより、電子機器についての合否判定処理２０が完了する。
【００２６】
このように、この波形判定装置１では、制御部４が合否判定処理２０におけるステップ２４の判定処理を複数回（この例では、２０回）に亘って実行してＯＫ判定の判定結果数が本発明における判定結果確定条件（この例では、１５回以上）を満たすときに最終判定結果として電子機器が合格であると判定する。したがって、この波形判定装置１によれば、入力信号についての１回の判定処理によって電子機器の合否を判定する従来の波形判定装置とは異なり、判定対象の電子機器（入力信号Ｓ１の特性）に応じて判定結果確定条件を設定するだけで、例えば２０回のうちの数回の判定処理時に入力信号Ｓ１の電圧にばらつきが生じたとしても、この電子機器の合否を的確に判定することができる。
【００２７】
また、この波形判定装置１によれば、制御部４が予め規定された処理回数（この例では、２０回）だけステップ２４の判定処理を実行した後にＯＫ判定の判定結果数に基づいて電子機器が合格である旨を確定することにより、最終判定処理において合格と判定したときには、ＮＧ判定の回数を特定することができ、不合格と判定したときには、ＯＫ回数を特定することができる。したがって、最終判定処理におけるより具体的な判定内容を把握させることができる。
【００２８】
さらに、この波形判定装置１によれば、予め規定された回数（この例では、１１回）だけ測定部２が入力信号Ｓ１（トリガ信号）を入力したときに制御部４がステップ２４以降の処理を実行することにより、起動直後において入力信号Ｓ１のばらつきが大きく、ある程度以上の時間を作動させることによってばらつきが小さくなる電子機器についても、オペレータの手を煩わせることなく、電子機器の動作が安定した後に、合否判定処理２０におけるステップ２４の判定処理を開始することができる。したがって、より的確な合否判定を容易に実行することができる。
【００２９】
なお、本発明は、上記の波形判定装置１の構成および判定方法に限定されない。例えば、上記の波形判定装置１では、２０回分の判定結果のうちのＯＫ判定の判定結果数が１５回以上のときに電子機器を合格であると判定しているが、例えば、２０回分の判定結果のうちのＮＧ判定の判定結果数が５回以下のときに電子機器を合格であると判定させることもできる。この場合、設定用画面における「合格条件」の「ＯＫ回数：１５回以上」に代えて、「ＮＧ回数：５回以下」と数値入力する。また、例えば、２０回分の判定結果のうちのＯＫ判定の判定結果数が１５回以下のときに電子機器を不合格であると判定させることもできるし、２０回分の判定結果のうちのＮＧ判定の判定結果数が５回以上のときに電子機器を不合格であると判定させることもできる。この場合、ＯＫ判定の判定結果数およびＮＧ判定の判定結果数の双方を計数して合否を確定するように構成することもできる。
【００３０】
さらに、上記の波形判定装置１では、２０回に亘る判定処理の後に、２０回分の判定結果についてＯＫ判定の判定結果数を計数して最終的な合否判定（最終判定処理）を実行しているが、本発明はこれに限定されない。例えば、ＮＧ判定の判定結果数が５回以上のときに電子機器が不合格であると判定するように設定した場合、ＮＧ判定の判定結果数が５回に達した時点で直ちに電子機器が不合格であるとして合否判定処理を終了する構成を採用することもできる。この構成によれば、例えば、不良品の電子機器では、合否判定処理の開始時点から早い段階でＮＧ判定が連続的に発生するため、設定された２０回の判定処理のすべてを完了した後にＯＫ判定の判定結果数に基づいて電子機器の合否を判定する上記の波形判定装置１の構成とは異なり、その電子機器が不合格との最終判定結果を短時間で確定することができる。また、ＯＫ判定の判定結果数が１５回に達した時点で直ちに電子機器が合格であるとして合否判定処理を終了する構成を採用することもできる。さらに、ＯＫ判定の判定結果数が１５回に達した時点、または、ＮＧ判定の判定結果数が５回に達した時点で合否を決定して合否判定処理を終了する構成を採用することもできる。
【００３１】
また、本発明における入力信号は、上記の入力信号Ｓ１のような交流信号に限定されず、パルス信号などの各種電気信号を対象とすることができる。また、本発明における測定値についても、上記の電圧に限定されず、入力信号についての電流値等の各種電気的パラメータを含めることができる。さらに、判定処理についても、判定エリアを用いた判定処理に限らず、数値（例えば、平均値、最大値、および最小値等）との比較による判定処理を採用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】波形判定装置１の構成を示すブロック図である。
【図２】合否判定条件の設定用画面の一例を示す表示画面図である。
【図３】信号波形表示用画面の一例を示す表示画面図である。
【図４】合否判定処理２０のフローチャートである。
【符号の説明】
【００３３】
１  波形判定装置
２  測定部
３  操作部
４  制御部
５  表示部
６  ＶＲＡＭ
７  ＲＯＭ
８，９  ＲＡＭ
２０  合否判定処理
【図１】
2006125844.tif 000003
【図２】
2006125844.tif 000004
【図３】
2006125844.tif 000005
【図４】
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