(57)【要約】【課題】表示装置の検査において、表示不良があった場合にその表示不良が表示装置自体の不良に起因するものであるのか検査装置の不良に起因するものであるのかを区別することができる表示装置ならびにその検査装置および検査方法を提供する。【解決手段】表示装置の端子部３５に、複数の入力端子のうち少なくとも１つの入力端子に対応して当該対応する入力端子と接続された出力端子を備える。検査装置のプローブカードに、表示装置の出力端子から検査信号を受け取るための出力用プローブ針を備える。検査の際には、表示装置の出力端子からプローブカードの出力用プローブ針に与えられた検査信号が後続の表示装置に供給されるように、複数の表示装置と検査装置のプローブ群とを配置する。【選択図】図５
2006105719.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像を表示するための表示部と、前記表示部に前記画像を表示させるための駆動信号を出力する１又は複数の駆動回路と、外部の検査装置から入力される複数の検査信号からなる検査信号群を受け取り当該検査信号群を前記駆動回路に供給するための複数の入力端子を有する端子部とを備え、前記検査装置によって複数個が同時に検査される表示装置であって、
前記端子部は、前記複数の入力端子のうち少なくとも１つの入力端子に対応して、当該対応する入力端子と接続された出力端子を備えることを特徴とする、表示装置。
【請求項２】
前記１又は複数の駆動回路のうち少なくとも１つの駆動回路と前記表示部とが同一の基板上に形成されたドライバモノリシック型であることを特徴とする、請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記出力端子は、前記検査信号群のうち周波数の低い検査信号が与えられるべき入力端子と接続されていることを特徴とする、請求項１または２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記出力端子は、前記検査信号群のうち電源電圧が与えられるべき入力端子と接続されていることを特徴とする、請求項１から３までのいずれか１項に記載の表示装置。
【請求項５】
複数の入力端子を有するとともに当該複数の入力端子の少なくとも１つの入力端子につき当該入力端子に電気的に接続された出力端子を有する端子部を備えた表示装置を、複数個同時に検査するための検査装置であって、
検査すべき複数の表示装置のそれぞれの複数の入力端子にそれぞれ与えるべき複数の検査信号を生成する検査信号発生部と、
前記複数の表示装置にそれぞれ対応する複数のプローブカードとを備え、
各プローブカードは、
対応する表示装置の前記複数の入力端子に前記複数の検査信号をそれぞれ与えるための複数の入力用プローブ針と、
対応する表示装置の出力端子から、当該出力端子に電気的に接続された前記入力端子である中継入力端子に与えられた検査信号を受け取るための出力用プローブ針とを含み、
前記複数のプローブカードのいずれかである第１のプローブカードは、前記検査信号発生部から前記複数の検査信号が当該第１のプローブカードの前記複数の入力用プローブ針にそれぞれ供給されるように前記検査信号発生部に電気的に接続され、
前記複数のプローブカードは、
前記第１のプローブカードを先頭として予め順序付けられており、
各プローブカードにおける前記出力用プローブ針が受け取る検査信号が、次のプローブカードの前記入力用プローブ針から、当該次のプローブカードに対応する表示装置の中継入力端子に与えられるように、互いに電気的に接続されていることを特徴とする、検査装置。
【請求項６】
複数の入力端子を有するとともに当該複数の入力端子の少なくとも１つの入力端子につき当該入力端子に電気的に接続された出力端子を有する端子部を備えた表示装置を、複数個同時に検査する検査方法であって、
前記表示装置の検査のための複数の検査信号からなる検査信号群を、前記同時に検査される複数の表示装置のいずれかである第１の表示装置の前記複数の入力端子に与える検査信号群入力ステップと、
各表示装置の前記複数の入力端子に与えられる前記検査信号群のうち少なくとも１つの検査信号を前記出力端子から受け取る検査信号受け取りステップと、
前記検査信号受け取りステップで各表示装置の前記出力端子から受け取った検査信号を、他の表示装置に与える検査信号受け渡しステップとを含み、
前記同時に検査される複数の表示装置は、前記第１の表示装置を先頭として予め順序付けられ、
前記検査信号群は、前記複数の入力端子と予め対応付けられ、
前記検査信号受け渡しステップでは、前記検査信号受け取りステップで各表示装置の前記出力端子から受け取った検査信号が、次の表示装置の当該検査信号と対応付けられた入力端子に与えられることを特徴とする、検査方法。
【請求項７】
前記表示装置は、画像を表示するための表示部と、前記表示部に前記画像を表示させるための駆動信号を出力する１又は複数の駆動回路のうちの少なくとも１つの駆動回路とが、同一の基板上に形成されたドライバモノリシック型であることを特徴とする、請求項６に記載の検査方法。
【請求項８】
前記出力端子から受け取る検査信号が前記検査信号群のうち周波数の低い検査信号であることを特徴とする、請求項６または７に記載の検査方法。
【請求項９】
前記出力端子から受け取る検査信号が電源電圧であることを特徴とする、請求項６から８までのいずれか１項に記載の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示装置ならびにその検査装置および検査方法に関し、例えば、ドライバモノリシック型の液晶表示装置ならびにその検査装置および検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、液晶表示装置やＥＬ（Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）表示装置等の表示装置において、走査信号線や映像信号線を駆動する駆動回路と画像を表示する表示部とがひとつの基板上に形成されたドライバモノリシック型と呼ばれる表示装置が知られている。このドライバモノリシック型表示装置の製造コストを低減するために、例えば、次のようにして製造や点灯検査と呼ばれる検査が行われている。複数の表示装置を１枚の大型のガラス基板上に作製した後、所定数の表示装置毎にガラス基板を切断する。そして、切断後の１枚のガラス基板に含まれる所定数の表示装置をひとつの検査装置によって同時に検査する。
【０００３】
図１２は、従来のドライバモノリシック型液晶表示装置の検査について説明するための図である。図１２に示すように、ｎ個の液晶表示装置ＭＰ１〜ＭＰｎが上述した切断後の１枚のガラス基板３００上に作製されている。各液晶表示装置ＭＰ１〜ＭＰｎは複数の端子を含む端子部３５を有しており、画像表示のための映像信号等が外部から各端子に与えられる。そして、各端子に与えられた映像信号等に応じて液晶表示装置内の駆動回路が動作し、画像が表示される。一方、この液晶表示装置の動作を検査する検査装置は、検査信号発生装置１００とプローブ群２００とから構成される。検査信号発生装置１００には、信号生成回路１１と信号分配回路１２とが含まれている。プローブ群２００には、複数のプローブ針からなるｎ個のプローブカードＰＲ１〜ＰＲｎが含まれている。また、プローブカードＰＲ１〜ＰＲｎは、信号分配回路１２と接続されている。
【０００４】
上記のような検査装置によって液晶表示装置の検査が行われる際、図１３に示すようにプローブカードのプローブ針とそのプローブカードに対応する液晶表示装置の端子部３５の入力端子とがそれぞれ接触するように、検査装置のプローブ群２００が配置される。検査が開始すると、検査装置の信号生成回路１１から液晶表示装置の検査のための各種信号（以下、「検査信号群」という。）が出力される。信号分配回路１２は、信号生成回路１１から出力された検査信号群を受け取り、それら検査信号群がプローブカードＰＲ１〜ＰＲｎのそれぞれに供給されるように検査信号群を分配する。これにより、信号生成回路１１から出力された検査信号群は、各プローブカードＰＲ１〜ＰＲｎのプローブ針を介して各液晶表示装置ＭＰ１〜ＭＰｎの端子部３５の入力端子に与えられる。このようにして、ｎ個の液晶表示装置がひとつの検査装置によって同時に検査される。
【特許文献１】特開平７−２４８４７９号公報
【特許文献２】特開平９−９６８２５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、上述した検査装置において、プローブ針に異物が付着したり、プローブ針が変形することがある。このような場合に、プローブ針と液晶表示装置の端子部３５の入力端子との間で接触不良が生じることがある。例えば、図１４に示すようにプローブ針が変形すると、変形したプローブ針とそれに対応する入力端子とは接触しなくなる。従来の検査においては、このようなプローブ針の不良があると、液晶表示装置自体は不良品ではないにもかかわらず表示不良が生じ、不良品として検出される。また、プローブカードと端子部３５との間に位置ずれが生じた場合にも、プローブ針と端子部３５との間で接触不良が生じ、液晶表示装置自体が不良品ではないにもかかわらず不良品として検出される。以上のような検査装置の欠陥等に起因する表示不良が生じた場合、検査対象の液晶表示装置は本来不良品として検出されるべきではない。このため、上記のような接触不良等に起因する誤検査を防止するために検査員による目視での確認作業が行われており、検査が非効率的なものとなりコストも要している。
【０００６】
そこで、本発明では、表示装置の検査において、検査員の目視での確認作業の軽減や検査の効率化を図るために、表示不良があった場合にその表示不良が表示装置自体の欠陥に起因するものであるのか検査装置の欠陥等に起因するものであるのかを区別することができる表示装置ならびにその検査装置および検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
第１の発明は、画像を表示するための表示部と、前記表示部に前記画像を表示させるための駆動信号を出力する１又は複数の駆動回路と、外部の検査装置から入力される複数の検査信号からなる検査信号群を受け取り当該検査信号群を前記駆動回路に供給するための複数の入力端子を有する端子部とを備え、前記検査装置によって複数個が同時に検査される表示装置であって、
前記端子部は、前記複数の入力端子のうち少なくとも１つの入力端子に対応して、当該対応する入力端子と接続された出力端子を備えることを特徴とする。
【０００８】
第２の発明は、第１の発明において、
前記１又は複数の駆動回路のうち少なくとも１つの駆動回路と前記表示部とが同一の基板上に形成されたドライバモノリシック型であることを特徴とする。
【０００９】
第３の発明は、第１の発明および第２の発明において、
前記出力端子は、前記検査信号群のうち周波数の低い検査信号が与えられるべき入力端子と接続されていることを特徴とする。
【００１０】
第４の発明は、第１から第３の発明において、
前記出力端子は、前記検査信号群のうち電源電圧が与えられるべき入力端子と接続されていることを特徴とする。
【００１１】
第５の発明は、複数の入力端子を有するとともに当該複数の入力端子の少なくとも１つの入力端子につき当該入力端子に電気的に接続された出力端子を有する端子部を備えた表示装置を、複数個同時に検査するための検査装置であって、
検査すべき複数の表示装置のそれぞれの複数の入力端子にそれぞれ与えるべき複数の検査信号を生成する検査信号発生部と、
前記複数の表示装置にそれぞれ対応する複数のプローブカードとを備え、
各プローブカードは、
対応する表示装置の前記複数の入力端子に前記複数の検査信号をそれぞれ与えるための複数の入力用プローブ針と、
対応する表示装置の出力端子から、当該出力端子に電気的に接続された前記入力端子である中継入力端子に与えられた検査信号を受け取るための出力用プローブ針とを含み、
前記複数のプローブカードのいずれかである第１のプローブカードは、前記検査信号発生部から前記複数の検査信号が当該第１のプローブカードの前記複数の入力用プローブ針にそれぞれ供給されるように前記検査信号発生部に電気的に接続され、
前記複数のプローブカードは、
前記第１のプローブカードを先頭として予め順序付けられており、
各プローブカードにおける前記出力用プローブ針が受け取る検査信号が、次のプローブカードの前記入力用プローブ針から、当該次のプローブカードに対応する表示装置の中継入力端子に与えられるように、互いに電気的に接続されていることを特徴とする。
【００１２】
第６の発明は、複数の入力端子を有するとともに当該複数の入力端子の少なくとも１つの入力端子につき当該入力端子に電気的に接続された出力端子を有する端子部を備えた表示装置を、複数個同時に検査する検査方法であって、
前記表示装置の検査のための複数の検査信号からなる検査信号群を、前記同時に検査される複数の表示装置のいずれかである第１の表示装置の前記複数の入力端子に与える検査信号群入力ステップと、
各表示装置の前記複数の入力端子に与えられる前記検査信号群のうち少なくとも１つの検査信号を前記出力端子から受け取る検査信号受け取りステップと、
前記検査信号受け取りステップで各表示装置の前記出力端子から受け取った検査信号を、他の表示装置に与える検査信号受け渡しステップとを含み、
前記同時に検査される複数の表示装置は、前記第１の表示装置を先頭として予め順序付けられ、
前記検査信号群は、前記複数の入力端子と予め対応付けられ、
前記検査信号受け渡しステップでは、前記検査信号受け取りステップで各表示装置の前記出力端子から受け取った検査信号が、次の表示装置の当該検査信号と対応付けられた入力端子に与えられることを特徴とする。
【００１３】
第７の発明は、第６の発明において、
前記表示装置は、画像を表示するための表示部と、前記表示部に前記画像を表示させるための駆動信号を出力する１又は複数の駆動回路のうちの少なくとも１つの駆動回路とが、同一の基板上に形成されたドライバモノリシック型であることを特徴とする。
【００１４】
第８の発明は、第６の発明および第７の発明において、
前記出力端子から受け取る検査信号が前記検査信号群のうち周波数の低い検査信号であることを特徴とする。
【００１５】
第９の発明は、第６から第８の発明において、
前記出力端子から受け取る検査信号が電源電圧であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
上記第１の発明によれば、表示装置に入力される複数の検査信号のうち所定の検査信号が表示装置から出力される。このため、予め順序付けられて配置された複数の表示装置を同時に検査する際に、所定の検査信号を複数の表示装置にシリアルに入力することができる。これにより、検査信号を表示装置に入力する検査装置とその検査信号を受け取る表示装置の入力端子との間に接触不良が生じた場合に、予め順序付けられて配置された複数の表示装置のうち接触不良が生じた表示装置以降に配置された全ての表示装置に所定の検査信号が供給されなくなり、その検査信号が供給されない全ての表示装置が表示不良や動作不良として検出される。表示装置自体に不良がある場合には当該不良がある表示装置のみが表示不良や動作不良として検出されるので、検査装置の不良に起因する表示不良、動作不良と表示装置自体の不良に起因する表示不良、動作不良とを区別することができる。
【００１７】
上記第２の発明によれば、ドライバモノリシック型の表示装置について、表示装置に入力される複数の検査信号のうち所定の検査信号が表示装置から出力される。このため、１枚の大型のガラス基板上に形成された複数の表示装置を同時に検査する際に、所定の検査信号を複数の表示装置にシリアルに入力することができる。これにより、第１の発明と同様、表示装置の検査の際に検査装置の不良に起因する表示不良、動作不良と表示装置自体の不良に起因する表示不良、動作不良とを区別することができる。
【００１８】
上記第３の発明によれば、予め順序付けられて配置された複数の表示装置を同時に検査する際に、複数の検査信号のうち周波数の低い検査信号が複数の表示装置にシリアルに入力される。複数の表示装置にシリアルに入力される検査信号の周波数が低いため、波形の鈍りが動作上、問題とはならない。これにより、表示装置の検査の際に検査装置の不良に起因する表示不良、動作不良と表示装置自体の不良に起因する表示不良、動作不良とを区別することができるとともに、より正確な検査結果を得ることができる。
【００１９】
上記第４の発明によれば、予め順序付けられて配置された複数の表示装置を同時に検査する際に、電源電圧が複数の表示装置にシリアルに入力される。このため、検査装置と表示装置の端子との間に接触不良が生じた場合、予め順序付けられて配置された複数の表示装置のうち接触不良が生じた表示装置以降に配置された全ての表示装置に電源電圧が供給されなくなり、電源電圧が供給されない全ての表示装置に動作不良が生じる。これにより、検査装置の不良に起因する動作不良と表示装置自体の不良に起因する動作不良とを区別することができる。
【００２０】
上記第５の発明によれば、検査装置の各プローブカードは、検査対象である表示装置の入力端子に与えた複数の検査信号のうち所定の検査信号を表示装置の出力端子から受け取る。このため、複数の表示装置を予め順序付けて配置し、各プローブカードが表示装置から受け取った所定の検査信号がその次に配置された表示装置に入力される検査信号となるような構成にすることができる。検査装置と表示装置の端子との間に接触不良が生じた場合、予め順序付けられて配置された複数の表示装置のうち接触不良が生じた表示装置以降に配置された全ての表示装置に所定の検査信号が供給されなくなり、その検査信号が供給されない全ての表示装置が表示不良あるいは動作不良として検出される。これにより、検査装置の不良に起因する表示不良、動作不良と表示装置自体の不良に起因する表示不良、動作不良とを区別することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
＜１．第１の実施形態＞
＜１．１  液晶表示装置の構成および動作＞
図１は、本発明の第１の実施形態に係る液晶表示装置の構成を示すブロック図である。この液晶表示装置は、走査信号線や映像信号線や画素電極等を含み画像を表示する表示部３１と、走査信号線を駆動する走査信号線駆動回路３２と、映像信号線を駆動する映像信号線駆動回路３３と、画素電極との間に電圧を印加するための共通電極３４と、複数の端子を含む端子部３５とを備えている。表示部３１、走査信号線駆動回路３２、映像信号線駆動回路３３および端子部３５は１枚のガラス基板上に形成されている。すなわち、この液晶表示装置はドライバモノリシック型と呼ばれる表示装置である。共通電極３４は、上述のガラス基板と対向して配置されたガラス基板上に形成されている。端子部３５の各端子は、走査信号線駆動回路３２、映像信号線駆動回路３３もしくは共通電極３４と接続されている。外部からこの液晶表示装置に供給される信号は、端子部３５の各端子に与えられる。これにより、外部から各端子に与えられた信号に応じて走査信号線駆動回路３２、映像信号線駆動回路３３および共通電極３４が動作し、表示部３１に画像が表示される。
【００２２】
図２は、本実施形態における信号波形図である。映像信号線駆動回路３３には、１水平走査期間の開始を示すソーススタート信号ＳＳＰと、映像信号線駆動回路３３内のシフトレジスタでシフト動作を行うためのソースクロック信号ＳＣＫと、表示すべき画像を示す映像信号ＶＩＤＥＯとが入力される。走査信号線駆動回路３２には、１垂直走査期間の開始を示すゲートスタート信号ＧＳＰと、走査信号線駆動回路３２内のシフトレジスタでシフト動作を行うためのゲートクロック信号ＧＣＫ１、ＧＣＫ２とが入力される。共通電極３４には、共通電極電圧ＴＣＯＭが入力される。これら各信号は、上述のとおり端子部３５の各端子に外部から与えられる。各端子に与えられた信号は、走査信号線駆動回路３２、映像信号線駆動回路３３および共通電極３４に供給され、これら入力信号に応じた画像表示が行われる。
【００２３】
＜１．２  液晶表示装置の検査のための構成＞
次に、本実施形態に係る液晶表示装置の検査について説明する。この液晶表示装置は、次のようにして製造や検査が行われる。まず、１枚の大型のガラス基板上に複数の液晶表示装置が作製される。その後、それら複数の液晶表示装置がｎ個ずつの液晶表示装置となるようにガラス基板が切断される。そして、切断後のガラス基板に含まれるｎ個の液晶表示装置がひとつの検査装置によって同時にまとめて検査される。
【００２４】
図３は、本実施形態において、液晶表示装置の検査について説明するための図である。本実施形態においては、検査装置は、検査信号発生装置１００とプローブ群２００とから構成される。検査信号発生装置１００には、信号生成回路１１が含まれている。なお、図１２に示す従来の構成とは異なり、検査信号発生装置１００には、信号分配回路１２は含まれていない。図４は、プローブ群２００の詳細な構成を模式的に示した図である。プローブ群２００には、ｎ個のプローブカードＰＲ１〜ＰＲｎ（以下、「第１〜第ｎのプローブカード」ともいう。）が含まれている。各プローブカードＰＲ１〜ＰＲｎは、検査対象である液晶表示装置ＭＰ１〜ＭＰｎの端子部３５の入力端子に検査信号群を与えるための複数のプローブ針（以下、「入力用プローブ針」という。）と、端子部３５の出力端子から出力される検査信号群を受け取るための複数のプローブ針（以下、「出力用プローブ針」という。）とを有している。なお、液晶表示装置ＭＰ１〜ＭＰｎの端子部３５の構成については後述する。各プローブカードＰＲ１〜ＰＲｎは、それぞれ隣接するプローブカードと接続されている。また、第１のプローブカードＰＲ１は信号生成回路１１と接続されている。一方、検査対象である液晶表示装置については、図３に示すようにｎ個の液晶表示装置ＭＰ１〜ＭＰｎ（以下、「第１〜第ｎの液晶表示装置」ともいう。）が上述した切断後のガラス基板３００に含まれている。検査の際には、ｎ個のプローブカードＰＲ１〜ＰＲｎとｎ個の液晶表示装置ＭＰ１〜ＭＰｎとがそれぞれ１対１で対応するように配置される。
【００２５】
図５は、本実施形態に係る液晶表示装置の端子部３５の構成図である。この端子部３５には、検査信号群を受け取るための複数の入力端子に加え、各入力端子と電気的に接続された出力端子が設けられている。検査の際には、端子部３５の入力端子とプローブカードの入力用プローブ針とが接触し、端子部３５の出力端子とプローブカードの出力用プローブ針とが接触するように、検査装置のプローブ群２００が配置される。これにより、液晶表示装置の端子部３５において、外部から供給される検査信号群が入力端子に与えられるとともに、その入力端子に与えられた検査信号群が出力端子から外部に出力される。また、入力端子に与えられた検査信号群は、上述のとおり、走査信号線駆動回路３２、映像信号線駆動回路３３もしくは共通電極３４にも供給され、画像表示が行われる。
【００２６】
＜１．３  検査時の動作＞
次に、検査装置および液晶表示装置の検査時の動作について説明する。図３に示すとおり、検査の際にはｎ個のプローブカードＰＲ１〜ＰＲｎとｎ個の液晶表示装置ＭＰ１〜ＭＰｎとがそれぞれ１対１で対応するように配置される。また、プローブカードＰＲ１〜ＰＲｎのプローブ針と液晶表示装置ＭＰ１〜ＭＰｎの端子部３５の端子とがそれぞれ１対１で対応して接触するように配置される。
【００２７】
液晶表示装置の検査が開始すると、信号生成回路１１は、共通電極電圧ＴＣＯＭとゲートスタート信号ＧＳＰとゲートクロック信号ＧＣＫ１、ＧＣＫ２と映像信号ＶＩＤＥＯとソーススタート信号ＳＳＰとソースクロック信号ＳＣＫと高電源電圧ＶＤＤと低電源電圧ＶＳＳとを出力する。これら信号生成回路１１から出力された検査信号群は、第１のプローブカードＰＲ１に入力される。第１のプローブカードＰＲ１に入力された検査信号群は、入力用プローブ針によって第１の液晶表示装置ＭＰ１の端子部３５の入力端子に与えられる。
【００２８】
ここで、互いに隣接するプローブカードの接続関係について説明する。図６は、本実施形態における第１のプローブカードＰＲ１と第２のプローブカードＰＲ２との接続関係を示す図である。なお、便宜上、以下の説明では、液晶表示装置ＭＰ１〜ＭＰｎの各端子部３５について、入力端子に与えられる検査信号については「ＴＣＯＭｉｎ」のように各検査信号を示す符号の語尾に「ｉｎ」を付して表すとともに「入力共通電極電圧」のように語頭に「入力」を付して説明する。一方、出力端子から出力される検査信号については「ＴＣＯＭｏｕｔ」のように各検査信号を示す符号の語尾に「ｏｕｔ」を付して表すとともに「出力共通電極電圧」のように語頭に「出力」を付して説明する。
【００２９】
図６に示すように、第１のプローブカードＰＲ１から液晶表示装置とは反対側に出力される検査信号群が第２のプローブカードＰＲ２に入力されるように、第１のプローブカードＰＲ１の出力用プローブ針と第２のプローブカードＰＲ２の入力用プローブ針とが接続されている。これにより、例えば共通電極電圧ＴＣＯＭについて説明すると、第１のプローブカードＰＲ１の出力用プローブ針から出力される出力共通電極電圧ＴＣＯＭｏｕｔは、第２のプローブカードＰＲ２の入力用プローブ針に入力共通電極電圧ＴＣＯＭｉｎとして入力される。同様に、共通電極電圧ＴＣＯＭ以外の検査信号についても、第１のプローブカードＰＲ１の出力用プローブ針から出力され、第２のプローブカードＰＲ２の入力用プローブ針に入力される。
【００３０】
上述のとおり第１のプローブカードＰＲ１は信号生成回路１１と接続されており、第１のプローブカードＰＲ１に入力される入力検査信号群については信号生成回路１１から供給される。また、第３のプローブカード以降のプローブカードＰＲ３〜ＰＲｎについては、第２のプローブカードＰＲ２と同様に、先行するプローブカードの出力用プローブ針から表示装置とは反対側に出力された出力検査信号群が、入力検査信号群として表示装置とは反対側から入力用プローブ針に入力され、後続のプローブカードに供給するための出力検査信号群が出力用プローブ針から表示装置とは反対側に出力される。
【００３１】
ここで、第１のプローブカードＰＲ１について入力映像信号ＶＩＤＥＯｉｎのための入力用プローブ針が変形した場合の動作を、図７を参照しつつ説明する。図７に示すように入力映像信号ＶＩＤＥＯｉｎのための入力用プローブ針が変形すると、その入力用プローブ針と液晶表示装置の入力端子との間に接触不良が生じる。このため、第１の液晶表示装置ＭＰ１についての入力映像信号ＶＩＤＥＯｉｎ用の入力端子には入力映像信号ＶＩＤＥＯｉｎは与えられない。したがって、第１の液晶表示装置ＭＰ１には表示不良が生じる。一方、第１の液晶表示装置ＭＰ１の入力映像信号ＶＩＤＥＯｉｎ用の入力端子に接続されている出力映像信号ＶＩＤＥＯｏｕｔ用の出力端子にも入力映像信号ＶＩＤＥＯｉｎは与えられない。第１の液晶表示装置ＭＰ１の出力映像信号ＶＩＤＥＯｏｕｔは、第２の液晶表示装置ＭＰ２の入力映像信号ＶＩＤＥＯｉｎとなるが、第１の液晶表示装置ＭＰ１の出力映像信号ＶＩＤＥＯｏｕｔ用の出力端子に入力映像信号ＶＩＤＥＯｉｎが与えられていないので、第２の液晶表示装置ＭＰ２の入力映像信号ＶＩＤＥＯｉｎ用の入力端子にも入力映像信号ＶＩＤＥＯｉｎは与えられない。このため、第２の液晶表示装置ＭＰ２についても表示不良が生じる。さらに、第３の液晶表示装置以降の液晶表示装置ＭＰ３〜ＭＰｎについても第２の液晶表示装置ＭＰ２と同様の理由により表示不良が生じる。このように、プローブ針と入力端子との接触不良に起因して表示不良が生じた場合、その表示不良が生じた液晶表示装置以降に配置された液晶表示装置についても表示不良が生じる。一方、例えば液晶表示装置内の或るひとつのＴＦＴに欠陥がある場合のようにプローブ針と入力端子との接触不良に起因する表示不良でない場合には、検査信号群は各液晶表示装置ＭＰ１〜ＭＰｎの端子部３５の各入力端子に正常に供給される。このため、欠陥があるＴＦＴを有する液晶表示装置のみに表示不良が生じる。
【００３２】
＜１．４  効果＞
本実施形態によれば、予め順序付けられて配置された複数の表示装置の検査がひとつの検査装置によって同時に行われ、検査装置のプローブ針と表示装置の入力端子との間の接触不良に起因して表示不良が生じた場合、その接触不良が生じた表示装置およびその表示装置以降に配置された全ての表示装置が表示不良であるものとして検出される。一方、表示装置自体の不良に起因する表示不良は、それ以外の表示装置の検査結果には影響を及ぼさない。このため、検査によって表示不良が検出された場合に、その原因が検査装置の不良によるものであるのかあるいは表示装置自体の不良によるものであるのかを区別することができる。これにより、検査装置に不良が生じていないかを検査員が確認する作業が不要となる。その結果、表示装置の検査が従来よりも効率的となり、検査時間の短縮やコストダウンを図ることができる。
【００３３】
＜２．第２の実施形態＞
＜２．１  検査のための構成＞
図８は、本発明の第２の実施形態における第１のプローブカードＰＲ１と第２のプローブカードＰＲ２との接続関係を示す図である。本実施形態においては、検査信号群のうち共通電極電圧ＴＣＯＭについてのみ各プローブカードＰＲ１〜ＰＲｎに出力用プローブ針が設けられている。このため、各液晶表示装置ＭＰ１〜ＭＰｎの端子部３５の出力端子についても、入力共通電極電圧ＴＣＯＭｉｎ用の入力端子に対応する出力端子のみが設けられている。図９は、本実施形態において、液晶表示装置の検査装置の構成を示すブロック図である。本実施形態においては、検査信号発生装置１００には、図１２に示す従来例と同様、信号生成回路１１と信号分配回路１２とが含まれている。
【００３４】
＜２．２  検査時の動作＞
検査が開始すると、信号生成回路１１は、共通電極電圧ＴＣＯＭとゲートスタート信号ＧＳＰとゲートクロック信号ＧＣＫ１、ＧＣＫ２と映像信号ＶＩＤＥＯとソーススタート信号ＳＳＰとソースクロック信号ＳＣＫと高電源電圧ＶＤＤと低電源電圧ＶＳＳとを出力する。信号分配回路１２は、信号生成回路１１から出力された検査信号群を受け取り、共通電極電圧ＴＣＯＭ以外の検査信号についてはプローブカードＰＲ１〜ＰＲｎのそれぞれに供給されるように検査信号群を分配する。第１のプローブカードＰＲ１には、検査信号群に含まれる検査信号は全て検査信号発生装置１００から供給される。第２〜第ｎのプローブカードＰＲ２〜ＰＲｎには、検査信号群のうち共通電極電圧ＴＣＯＭは先行するプローブカードから供給され、共通電極電圧ＴＣＯＭ以外の検査信号は検査信号発生装置１００から供給される。
【００３５】
ここで、いずれかのプローブカードＰＲ１〜ＰＲｎについて液晶表示装置の端子部３５との間に位置ずれが生じた場合の動作を説明する。プローブカードと端子部３５との間に位置ずれが生じると、各プローブ針と端子部３５の入力端子および出力端子との間に接触不良が生じる。したがって、入力共通電極電圧ＴＣＯＭｉｎのための入力用プローブ針とそれに対応する入力端子との間にも接触不良が生じる。このため、接触不良が生じている液晶表示装置の入力共通電極電圧ＴＣＯＭｉｎ用の入力端子には入力共通電極電圧ＴＣＯＭｉｎは与えられない。したがって、接触不良が生じている液晶表示装置には表示不良が生じる。一方、接触不良が生じている液晶表示装置の入力共通電極電圧ＴＣＯＭｉｎ用の入力端子に接続されている出力共通電極電圧ＴＣＯＭｏｕｔ用の出力端子にも入力共通電極電圧ＴＣＯＭｉｎは与えられない。接触不良が生じている液晶表示装置の出力共通電極電圧ＴＣＯＭｏｕｔは、後続の液晶表示装置の入力共通電極電圧ＴＣＯＭｉｎとなるが、接触不良が生じている液晶表示装置の出力共通電極電圧ＴＣＯＭｏｕｔ用の出力端子に入力共通電極電圧ＴＣＯＭｉｎが与えられていないので、後続の液晶表示装置の入力共通電極電圧ＴＣＯＭｉｎ用の入力端子にも入力共通電極電圧ＴＣＯＭｉｎは与えられない。このため、後続の液晶表示装置についても表示不良が生じる。このように、プローブカードと液晶表示装置の端子部３５との間の位置ずれに起因して表示不良が生じた場合、その表示不良が生じた液晶表示装置以降に配置された液晶表示装置についても表示不良が生じる。
【００３６】
なお、図２に示すように、共通電極電圧ＴＣＯＭの周波数は他の検査信号の周波数よりも低くなっている。ここで、検査信号群のうち周波数の高いものを各液晶表示装置にシリアルに入力する構成とした場合、検査信号の波形に鈍りが生じることがあり、液晶表示装置が所望の動作を行わないおそれがある。このため、本実施形態においては、検査信号群のうち周波数の低い検査信号である共通電極電圧ＴＣＯＭを各液晶表示装置にシリアルに入力している。これにより、検査信号の波形の鈍りが、各液晶表示装置の動作上、問題とはならない。
【００３７】
＜２．３  効果＞
本実施形態によれば、予め順序付けられて配置された複数の表示装置の検査がひとつの検査装置によって同時に行われ、検査装置のプローブ針と表示装置の入力端子との間の位置ずれに起因して表示不良が生じた場合、その位置ずれが生じた表示装置およびその表示装置以降に配置された全ての表示装置が表示不良であるものとして検出される。一方、表示装置自体の不良に起因する表示不良は、それ以外の表示装置の検査結果には影響を及ぼさない。このため、検査によって表示不良が検出された場合に、その原因が検査装置の不良によるものであるのかあるいは表示装置自体の不良によるものであるのかを区別することができる。これにより、検査装置に不良が生じていないかを検査員が確認する作業が不要となる。その結果、表示装置の検査が従来よりも効率的となり、検査時間の短縮やコストダウンを図ることができる。
【００３８】
また、検査信号群のうち共通電極電圧のように周波数の低い信号を複数の表示装置にシリアルに入力するのが好ましい。このような構成によれば、検査信号に鈍りが生じることなく、所望の動作が正しく行われるよう複数の表示装置を駆動することができる。これにより、プローブカードと液晶表示装置の端子部との間の位置ずれに起因する表示不良を検出することができるとともに、正確な検査結果をも得ることもできる。
【００３９】
＜３．第３の実施形態＞
＜３．１  プローブカードの構成＞
図１０は、本発明の第３の実施形態における第１のプローブカードＰＲ１と第２のプローブカードＰＲ２との接続関係を示す図である。本実施形態においては、検査信号群のうち高電源電圧ＶＤＤについてのみ各プローブカードＰＲ１〜ＰＲｎに出力用プローブ針が設けられている。このため、各液晶表示装置ＭＰ１〜ＭＰｎの端子部３５の出力端子についても、入力高電源電圧ＶＤＤ用の入力端子に対応する出力端子のみが設けられている。なお、検査装置の全体構成については、図９に示す第２の実施形態の構成と同様である。
【００４０】
＜３．２  検査時の動作＞
検査が開始すると、信号生成回路１１は、共通電極電圧ＴＣＯＭとゲートスタート信号ＧＳＰとゲートクロック信号ＧＣＫ１、ＧＣＫ２と映像信号ＶＩＤＥＯとソーススタート信号ＳＳＰとソースクロック信号ＳＣＫと高電源電圧ＶＤＤと低電源電圧ＶＳＳとを出力する。信号分配回路１２は、信号生成回路１１から出力された検査信号群を受け取り、高電源電圧ＶＤＤ以外の検査信号についてはプローブカードＰＲ１〜ＰＲｎのそれぞれに供給されるように検査信号群を分配する。第１のプローブカードＰＲ１には、検査信号群に含まれる検査信号は全て検査信号発生装置１００から供給される。第２〜第ｎのプローブカードＰＲ２〜ＰＲｎには、検査信号群のうち高電源電圧ＶＤＤは先行するプローブカードから供給され、高電源電圧ＶＤＤ以外の検査信号は検査信号発生装置１００から供給される。
【００４１】
ここで、いずれかのプローブカードＰＲ１〜ＰＲｎについて液晶表示装置の端子部３５との間に位置ずれが生じた場合の動作を説明する。プローブカードと端子部３５との間に位置ずれが生じると、各プローブ針と端子部３５の入力端子および出力端子との間に接触不良が生じる。したがって、入力高電源電圧ＶＤＤｉｎのための入力用プローブ針とそれに対応する入力端子との間にも接触不良が生じる。このため、接触不良が生じている液晶表示装置の入力高電源電圧ＶＤＤｉｎ用の入力端子には入力高電源電圧ＶＤＤｉｎは与えられない。したがって、接触不良が生じている液晶表示装置には表示不良が生じる。一方、接触不良が生じている液晶表示装置の入力高電源電圧ＶＤＤｉｎ用の入力端子に接続されている出力高電源電圧ＶＤＤｏｕｔ用の出力端子にも入力高電源電圧ＶＤＤｉｎは与えられない。接触不良が生じている液晶表示装置の出力高電源電圧ＶＤＤｏｕｔは、後続の液晶表示装置の入力高電源電圧ＶＤＤｉｎとなるが、接触不良が生じている液晶表示装置の出力高電源電圧ＶＤＤｏｕｔ用の出力端子に入力高電源電圧ＶＤＤｉｎが与えられていないので、後続の液晶表示装置の入力高電源電圧ＶＤＤｉｎ用の入力端子にも入力高電源電圧ＶＤＤｉｎは与えられない。このため、後続の液晶表示装置についても高電源電圧の供給が停止された状態となり動作不良が生じる。このように、プローブカードと液晶表示装置の端子部３５との間の位置ずれに起因して動作不良が生じた場合、その動作不良が生じた液晶表示装置以降に配置された液晶表示装置についても動作不良が生じる。
【００４２】
＜３．３  効果＞
本実施形態によれば、検査信号群のうち表示装置の電源電圧が複数の表示装置にシリアルに入力される。このため、プローブカードと液晶表示装置の端子部との間の位置ずれが生じた場合、その位置ずれが生じた表示装置およびその表示装置以降に配置された全ての表示装置への電源電圧の供給が停止される。これにより、プローブカードと液晶表示装置の端子部との間の位置ずれに起因する動作不良を検出することができる。
【００４３】
＜３．４  変形例＞
図１１は、上記第３の実施形態の変形例における第１のプローブカードＰＲ１と第２のプローブカードＰＲ２との接続関係を示す図である。本変形例においては、検査信号群のうち低電源電圧ＶＳＳについてのみ各プローブカードＰＲ１〜ＰＲｎに出力用プローブ針が設けられている。このため、各液晶表示装置ＭＰ１〜ＭＰｎの端子部３５の出力端子についても、入力低電源電圧ＶＳＳ用の入力端子に対応する出力端子のみが設けられている。なお、検査装置の全体構成については、図９に示す第２の実施形態の構成と同様である。
【００４４】
この構成によると、プローブカードと液晶表示装置の端子部３５との間に位置ずれが生じると、入力低電源電圧ＶＳＳｉｎのための入力用プローブ針と液晶表示装置の入力端子との間に接触不良が生じるため、液晶表示装置には低電源電圧の供給が停止された状態となり動作不良が生じる。さらに、上記各実施形態と同様の理由により、動作不良が生じた液晶表示装置以降に配置された液晶表示装置についても動作不良が生じる。これにより、プローブカードと液晶表示装置の端子部との間の位置ずれに起因する動作不良を検出することができる。
【００４５】
＜４．その他＞
上記各実施形態においては、ドライバモノリシック型の液晶表示装置を例に挙げて説明したが、本発明はこれに限定されるものではない。外部から供給される信号を受け取るための入力端子に対応する少なくとも１つの出力端子を有し、複数の液晶表示装置が検査装置によって同時にまとめて検査される液晶表示装置であれば、本発明を適用することができる。
【００４６】
また、本発明は液晶表示装置に限定されるものではなく、外部から供給される信号を受け取るための入力端子に対応する少なくとも１つの出力端子を有し、複数の表示装置が検査装置によって同時にまとめて検査される表示装置であれば、例えばＥＬ（Ｅｌｅｃｔｒｏ  Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ）表示装置にも適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る液晶表示装置の構成を示すブロック図である。
【図２】上記実施形態における信号波形図である。
【図３】上記実施形態において、液晶表示装置の検査について説明するための図である。
【図４】上記実施形態において、プローブ群の詳細な構成を模式的に示した図である。
【図５】上記実施形態に係る液晶表示装置の端子部の構成図である。
【図６】上記実施形態において、第１のプローブカードと第２のプローブカードとの接続関係を示す図である。
【図７】上記実施形態において、入力用プローブ針が変形した場合の動作を説明するための図である。
【図８】本発明の第２の実施形態における第１のプローブカードと第２のプローブカードとの接続関係を示す図である。
【図９】上記第２の実施形態において、液晶表示装置の検査装置の構成を示すブロック図である。
【図１０】本発明の第３の実施形態における第１のプローブカードと第２のプローブカードとの接続関係を示す図である。
【図１１】上記第３の実施形態の変形例における第１のプローブカードＰＲ１と第２のプローブカードＰＲ２との接続関係を示す図である。
【図１２】従来のドライバモノリシック型液晶表示装置の検査について説明するための図である。
【図１３】従来例において、液晶表示装置の検査について説明するための図である。
【図１４】従来例において、プローブ針と入力端子との間の接触不良を説明するための図である。
【符号の説明】
【００４８】
１１…信号生成回路
１２…信号分配回路
３１…表示部
３２…走査信号線駆動回路
３３…映像信号線駆動回路
３４…共通電極
３５…端子部
１００…検査信号発生装置
２００…プローブ群
３００…ガラス基板
ＭＰ１〜ＭＰｎ…液晶表示装置
ＰＲ１〜ＰＲｎ…プローブカード
【図１】
2006105719.tif 000003
【図２】
2006105719.tif 000004
【図３】
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【図４】
2006105719.tif 000006
【図５】
2006105719.tif 000007
【図６】
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【図７】
2006105719.tif 000009
【図８】
2006105719.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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