(57)【要約】【課題】計数式の平面形画像検出器において大幅にノイズを低減した最大限の画像鮮明度のディジタルＸ線画像を得る。【解決手段】Ｘ線からのＸ線像を撮影するためにそのＸ線のＸ線量子１によって発生された電荷パルス１２；１３を測定して計数するマトリックス状に隣接配置されたピクセル読取ユニット９；１０を有する計数式平面形画像検出器を備えたディジタルＸ線撮影装置において、Ｘ線像の改善のために、１つのピクセル読取ユニット９の電荷パルス１２と少なくとも１つの隣接するピクセル読取ユニット１０の電荷パルス１３との、定められた時間間隔内に発生するコインシデンスを検出する検出手段と、当該電荷パルス１２；１３を加算して他の評価のための基礎量としての合計電荷パルス１５を形成する加算手段とが設けられている。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線からのＸ線像を撮影するためにそのＸ線のＸ線量子によって発生された電荷パルスを測定して計数するマトリックス状に隣接配置されたピクセル読取ユニットを有する計数式平面形画像検出器を備えたディジタルＸ線撮影装置において、
１つのピクセル読取ユニット（９）の電荷パルス（１２）と少なくとも１つの隣接するピクセル読取ユニット（１０）の電荷パルス（１３）との、定められた時間間隔内に発生するコインシデンスを検出する検出手段と、当該電荷パルス（１２；１３）を加算して他の評価のための基礎量としての合計電荷パルス（１５）を形成する加算手段とが設けられている
ことを特徴とするディジタルＸ線撮影装置。
【請求項２】
コインシデンスが存在する場合、１つのＸ線量子（１）と合計電荷パルス（１５）に相当するエネルギーとを有するＸ線（Ｒ）が基礎になっていることを特徴とする請求項１記載のＸ線撮影装置。
【請求項３】
コインシデンスが存在しかつ合計電荷パルス（１５）が背景ノイズを規定する下側閾値（Ｓ１）を下回る場合、Ｘ線量子がないことが基礎になっていることを特徴とする請求項２記載のＸ線撮影装置。
【請求項４】
コインシデンスが存在しかつ合計電荷パルス（１５）が上側閾値（Ｓ２）を上回る場合、２つのＸ線量子を有するＸ線（Ｒ）が基礎になっていることを特徴とする請求項２又は３記載のＸ線撮影装置。
【請求項５】
時間間隔の開始は最初の電荷パルス（１２）を記録するピクセル読取ユニット（９）に依存することを特徴とする請求項１乃至４の１つに記載のＸ線撮影装置。
【請求項６】
時間間隔を開始させるピクセル読取ユニット（９）は、その都度の最初のＸ線量子（１）を測定して計数するために設けられていることを特徴とする請求項５記載のＸ線撮影装置。
【請求項７】
計数式平面形画像検出器を用いて、Ｘ線量子によって発生された電荷パルスを、マトリックス状に隣接配置されたピクセル読取ユニットにより測定して計数するディジタルＸ線撮影装置におけるＸ線像の撮影方法において、
１つのピクセル読取ユニット（９）の電荷パルス（１２）と少なくとも１つの隣接するピクセル読取ユニット（１０）の電荷パルス（１３）との、定められた時間間隔内に発生するコインシデンスを測定し、当該電荷パルス（１２；１３）を加算して合計電荷パルス（１５）を形成し、コインシデンス測定および合計電荷パルス（１５）を他の評価のための基礎量として用いる
ことを特徴とするディジタルＸ線撮影装置におけるＸ線像の撮影方法。
【請求項８】
コインシデンスが存在する場合、Ｘ線量子（１）が読取られ、合計電荷パルス（１５）に相当するエネルギーと共にＸ線像のための画像情報として用いられることを特徴とする請求項７記載の方法。
【請求項９】
コインシデンスが存在しかつ合計電荷パルス（１５）が背景ノイズを規定する下側閾値（Ｓ１）を下回る場合、Ｘ線量子なしが読取られ、Ｘ線像のための画像情報として用いられることを特徴とする請求項８記載の方法。
【請求項１０】
コインシデンスが存在しかつ合計電荷パルス（１５）が上側閾値（Ｓ２）を上回る場合、２つのＸ線量子が読取られ、Ｘ線像のための画像情報として用いられることを特徴とする請求項８又は９記載の方法。
【請求項１１】
時間間隔は最初の電荷パルス（１２）を記録するピクセル読取ユニット（９）によって開始させられることを特徴とする請求項７乃至１０の１つに記載の方法。
【請求項１２】
時間間隔を開始させるピクセル読取ユニット（９）によって、その都度の最初のＸ線量子（１）が測定されて計数されることを特徴とする請求項１１記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線からのＸ線像を撮影するためにそのＸ線のＸ線量子によって発生された電荷パルスを測定して計数するマトリックス状に隣接配置されたピクセル読取ユニットを有する計数式平面形画像検出器を備えたディジタルＸ線撮影装置、および、計数式平面形画像検出器を用いて、Ｘ線量子によって発生された電荷パルスを、マトリックス状に隣接配置されたピクセル読取ユニットにより測定して計数するディジタルＸ線撮影装置におけるＸ線像の撮影方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種のディジタルＸ線撮影装置およびディジタルＸ線撮影装置におけるＸ線像の撮影方法は知られている（例えば、非特許文献１参照）。
【０００３】
Ｘ線画像形成において対象物のディジタルＸ線像を撮影するためのいわゆる平面形画像検出器は知られている。この公知の平面形画像検出器においては、Ｘ線が、直接的または間接的な手段で電荷に変換され、引続いていわゆる能動的な読取マトリックスにより電子的に読取られ、画像作成のために継続処理される。
【０００４】
直接変換の場合、Ｘ線のＸ線量子が、例えばアモルファスセレンからなる直接変換層に衝突した際に高エネルギーの電子を発生し、この電子が直接変換層を通る経路において電荷キャリアを発生する。電荷キャリアは、電界により、ピクセルに区分された電極へ運ばれ、そこに電荷として蓄積される。間接変換の場合、Ｘ線のＸ線量子が、シンチレータ層に衝突した際に高エネルギーの電子を発生し、この電子が再びシンチレータ層を通る経路において光を発生する。シンチレータ層の下側に配置されかつピクセルに区分されたフォトダイオードにおいて、光が電荷に変換されて同様に蓄積される。引続いて、最初のＸ線量子のエネルギーに依存する相応の電荷パルスが、ピクセル読取ユニットにおける電極ピクセルもしくはフォトダイオードピクセルに付設された能動スイッチ素子により読取られる。
【０００５】
平面形画像検出器は計数式と積分式とに区別されている。計数式検出器の場合、１つのピクセル読取ユニットにおける１つの電荷パルスが個々のＸ線量子として評価される、これに対して、積分式検出器の場合、１つのピクセル読取ユニットにおける全部の電荷パルスが積分される。計数式検出器においては、実際に存在するＸ線量子に由来する電荷パルスから背景ノイズを区別することを可能にするために、一般に下側閾値が定められ、その下側閾値よりも上において電荷パルスがＸ線量子の信号として解釈される。
【非特許文献１】２００４年発行の「ｄｅｒ  Ｚｅｉｓｃｈｒｉｆｔ  Ｒａｄｉｏｌｏｇｅ  ４３」の第３４０〜３５０頁に掲載されたＭ．Ｓｐａｈｎ，Ｖ．Ｈｅｅｒ，Ｒ．Ｆｒｅｙｔａｇの論文「“Ｆｌａｃｈｂｉｌｄｄｅｔｅｃｔｏｒｅｎ  ｉｎ  ｄｅｒ  ＲｏｅｎｔｇｅｎｄｉａｇＮＯｓｔｉｋ”（Ｘ線診断における平面形画像検出器）」
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明の課題は、計数式の平面形画像検出器において大幅にノイズを低減した最大限の画像鮮明度のディジタルＸ線画像を得ることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この課題は、本発明によれば、冒頭で述べたディジタルＸ線撮影装置において、１つのピクセル読取ユニットの電荷パルスと少なくとも１つの隣接するピクセル読取ユニットの電荷パルスとの、定められた時間間隔内に発生するコインシデンスを検出する検出手段と、当該電荷パルスを加算して他の評価のための基礎量としての合計電荷パルスを形成する加算手段とが設けられていることによって解決される。
【０００８】
ディジタルＸ線撮影装置に関する実施態様は次の通りある。
（１）コインシデンスが存在する場合、１つのＸ線量子と合計電荷パルスに相当するエネルギーとを有するＸ線が基礎になっている（請求項２）。
（２）コインシデンスが存在しかつ合計電荷パルスが背景ノイズを規定する下側閾値を下回る場合、Ｘ線量子がないことが基礎になっている（請求項３）。
（３）コインシデンスが存在しかつ合計電荷パルスが上側閾値を上回る場合、２つのＸ線量子を有するＸ線が基礎になっている（請求項４）。
（４）時間間隔の開始は最初の電荷パルスを記録するピクセル読取ユニット、特に中央のピクセル読取ユニットに依存する（請求項５）。
（６）時間間隔を開始させるピクセル読取ユニットは、その都度の最初のＸ線量子を測定して計数するために設けられている（請求項６）。
【０００９】
さらに、この課題は、冒頭で述べたディジタルＸ線撮影装置におけるＸ線像の撮影方法において、１つのピクセル読取ユニットの電荷パルスと少なくとも１つの隣接するピクセル読取ユニットの電荷パルスとの、定められた時間間隔内に発生するコインシデンスを測定し、当該電荷パルスを加算して合計電荷パルスを形成し、コインシデンス測定および合計電荷パルスを他の評価のための基礎量として用いることによっても解決される。
【００１０】
ディジタルＸ線撮影装置におけるＸ線像の撮影方法に関する実施態様は次の通りである。
（１１）コインシデンスが存在する場合、Ｘ線量子が読取られ、合計電荷パルスに相当するエネルギーと共にＸ線像のための画像情報として用いられる（請求項８）。
（１２）コインシデンスが存在しかつ合計電荷パルスが背景ノイズを規定する下側閾値を下回る場合、Ｘ線量子なしが読取られ、Ｘ線像のための画像情報として用いられる（請求項９）。
（１３）コインシデンスが存在しかつ合計電荷パルスが上側閾値を上回る場合、２つのＸ線量子が読取られ、Ｘ線像のための画像情報として用いられる（請求項１０）。
（１４）時間間隔は最初の電荷パルスを記録するピクセル読取ユニット、特に中央のピクセル読取ユニットによって開始させられる（請求項１１）。
（１５）時間間隔を開始させるピクセル読取ユニットによって、その都度の最初のＸ線量子が測定されて計数される（請求項１２）。
【００１１】
隣接するピクセル読取ユニット同士の電荷パルスの、定められた時間間隔内に発生するコインシデンスを検出し、当該電荷パルスを加算して相応の信号高さを持つ合計電荷パルスを形成し、合計電荷パルスを他の評価のための基礎量として利用することによって、計数式平面形画像検出器を備えたディジタルＸ線撮影装置、および、ディジタルＸ線撮影装置におけるＸ線像の撮影方法において、２つ以上のピクセル読取ユニットに分散して発生する電荷を有しそれによりＸ線像を悪化させる個々のＸ線量子の多重計数または無視が回避されることにより、明白に誤差を低減されたディジタルＸ線撮影が可能となる。改善されたＸ線像は、とりわけＸ線線量が少ない場合またはＸ線が垂直に入射しない検出器領域において特に重要である。なぜならば、これらのケースでは画質低下のおそれが特に高いからである。
【００１２】
改善されたＸ線像の特に簡単な評価において、コインシデンスが存在する場合、１つのＸ線量子と合計電荷パルスに相当するエネルギーとを有するＸ線が基礎になっている。それによって、複数のピクセル読取ユニットにわたって分散するＸ線量子が全く計数されないあるいは重複して計数されることが回避される。一方では、この評価の更なる継続において、複数のピクセル読取ユニットに対して同時に起こるノイズがＸ線量子の電荷パルスとして計数されることを回避するために、コインシデンスが存在しかつ合計電荷パルスが背景ノイズを規定する下側閾値を下回る場合、Ｘ線量子がないことが基礎になっていると有利である。しかしながら、他方では、２つのＸ線量子の同時発生を、誤って唯一のＸ線量子として評価することがないようにするためには、コインシデンスが存在しかつ合計電荷パルスが上側閾値を上回る場合、２つのＸ線量子を有するＸ線が基礎になっていると有利である。
【００１３】
本発明の実施態様によれば、時間間隔の開始は最初の電荷パルスを記録するピクセル読取ユニット、特に中央のピクセル読取ユニットに依存する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下において、図面に概略的に示された実施例に基づいて、本発明並びに従属請求項の特徴事項による他の有利な構成を更に詳細に説明する。本発明はこれらの実施例に限定されない。
【００１５】
図１は従来技術による直接変換器を備えたディジタルＸ線撮影装置を示し、
図２は中央のピクセル評価ユニットに限られて入射するＸ線量子および従来技術による閾値を有する図１によるディジタルＸ線撮影装置を示し、
図３は２つのピクセル評価ユニットに配分されて入射するＸ線量子および従来技術による閾値を有する図１によるディジタルＸ線撮影装置を示し、
図４は直接変換器を備え２つのピクセル評価ユニットに配分されたＸ線量子および２つの閾値を有する本発明によるディジタルＸ線撮影装置を示し、
図５は隣接する２つのピクセル評価ユニットの電荷パルスのコインシデンスを検査する方法経過を示し、
図６は隣接する２つのピクセル評価ユニットの電荷パルスの閾値条件と共にコインシデンスを検査する他の方法経過を示し、
図７は図６に対する代替としての閾値条件を検査する方法を示し、
図８は図６に対する代替としての閾値条件を検査する他の方法を示す。
【００１６】
図１は、直接変換器２を備えた公知の直接変換方式の計数式平面形画像検出器を示す。直接変換の場合、Ｘ線ＲのＸ線量子１が直接変換器２に衝突した際に高エネルギーの電子ｅを発生する。高エネルギーの電子ｅは直接変換器２を通過する経路上において電荷キャリア７を発生する。電荷キャリア７は、電界により、ピクセルに区分された電極４へ運ばれ、そこに電荷１１として蓄積される。引続いてそれぞれのピクセル読取ユニット９から、最初のＸ線量子１のエネルギーに依存する相応の電荷パルスが、互いに電気的に接続されている能動スイッチ素子６により読取られる。ピクセル読取ユニット９は、例えばＣＣＤチップ、ＡＰＳチップあるいはＣＭＯＳチップの如き半導体デバイスとして作ることができる。本発明は、直接変換器２を備えた直接変換方式の平面形画像検出器と同様に、シンチレータを備えた間接変換方式の通常の平面形画像検出器にも有効である。
【００１７】
図２は図１による平面形画像検出器を示す。ここでは、Ｘ線量子１によって発生されて中央のピクセル読取ユニット９から読取可能である電荷パルス１２が、背景ノイズを規定する下側閾値Ｓ１を上回っている。電荷パルス１２は例えばエネルギーＥの単位で表示可能である。電荷パルス１２はこの場合唯一のＸ線量子１の信号として解釈される。図３には、Ｘ線量子１によって惹き起こされて２つの隣接するピクセル読取ユニット９に分散された電荷１１が示されている。電荷１１は、中央のピクセル読取ユニット９において第１の電荷パルス１２を発生し、隣接するピクセル読取ユニット１０において第２の電荷パルス１３を発生する。両電荷パルスは下側閾値Ｓ１を下回っているために、両電荷パルスは無視され、Ｘ線量子１はこの公知のケースでは誤って評価されて計数されない。
【００１８】
図４は、中央のピクセル読取ユニット９の電荷パルス１２と隣接するピクセル読取ユニット１０の電荷パルス１３とのコインシデンスが検出され、電荷パルス１２；１３が加算されて合計電荷パルス１５が形成される本発明による平面形画像検出器を示す。この場合に、合計電荷パルス１５は、個々の電荷パルス１２；１３から生じるエネルギーであると理解すべきである。コインシデンス回路は、例えば次に記載するように実現することができる。中央のピクセル評価ユニット９は電荷パルス１２を記録し、それによって時間カウンタを始動させる。この時間カウンタの時間カウントは予め与えられた時間間隔にしたがって経過する。この時間間隔内で隣接するピクセル読取ユニット１０において電荷パルス１３が記録されると、第１の電荷パルス１２と第２の電荷パルス１３とはコインシデンス（同時）とみなされる。
【００１９】
最も簡単な場合コインシデンス発生時に合計電荷パルス１５がＸ線量子１の代表として中央のピクセル読取ユニット９に割り当てられる。しかしながら、コインシデンスに加えて更に他の条件、例えばノイズを規定する下側閾値Ｓ１を上回ること、あるいは２個のＸ線量子を規定する上側閾値Ｓ２を下回ることが満たされることを設定することもできる。例えば、合計電荷パルス１５が背景ノイズを規定する下側閾値Ｓ１を上回りかつ第２の上側閾値Ｓ２を下回っている場合、合計電荷パルス１５は唯一のＸ線量子１のエネルギーとして評価され、合計電荷パルス１５を有するＸ線量子１は中央のピクセル読取ユニット９の位置に計数される。
【００２０】
図５はコインシデンス回路の方法経過の例をフローチャートとして示す。中央のピクセル読取ユニット９の出力２０および隣接するピクセル読取ユニット１０の出力２１に基づいて、ＡＮＤゲート１９によって、両者においてそれぞれ１つの信号つまりそれぞれ１つの電荷パルスが記録されたかどうかが検査される。それぞれ１つの電荷パルスが記録されたことが確認されたならば、それに続く第１の分岐２２において両ピクセル読取ユニットの電荷パルスが前もって決定された時間間隔内に発生したかどうか、すなわちコインシデンス条件が満たされているかどうかが検査される。この条件が満たされているならば、第１の分岐２２の「ＹＥＳ」出力２３から第１の加算器２５に通知信号が与えられる。そこで、中央のピクセル読取ユニットの電荷パルスと隣接するピクセル読取ユニット１０の電荷パルスとの和すなわち合計エネルギーが加算される。第１の加算器２５は第１のカウンタ２６に導かれ、このカウンタ２６において、合計電荷パルスを有するＸ線量子が合計エネルギーとしてピクセル読取ユニット９；１０の一方のために計数される。時間間隔を開始させるピクセル読取ユニット９；１０が、その都度の最初のＸ線量子１を測定して計数するために設けられていると有利である。Ｘ線量子１は例えば中央のピクセル読取ユニット９に対して計数される。条件が満たされない場合、第１の分岐２２の「ＮＯ」出力２４から通知信号がバイパス２７へ与えられ、電荷パルスが別々に、一方は第２のカウンタ２８において、他方は第３のカウンタ２９において継続処理される。その場合に中央のピクセル読取ユニット９の電荷パルスは中央のピクセル読取ユニット９の相応のエネルギーを有するＸ線量子１として計数され、隣接するピクセル読取ユニット１０の電荷パルスは隣接するピクセル読取ユニット１０の相応のエネルギーを有するＸ線量子１として計数される。
【００２１】
図６は付加的に閾値条件を備えたコインシデンス回路の方法経過の例をフローチャートとして示す。分岐２２においてコインシデンス条件が満たされているかどうかを検査することのほかに、同時に第２の分岐３０において、閾値条件、例えば背景ノイズを規定する下側閾値を上回ることが満たされているかどうかが検査される。第３の分岐３１においては、両条件すなわちコインシデンス条件と閾値条件とが同時に満たされているかどうかが検査され、その後結果に応じて第３の分岐３１の「ＮＯ」出力２４または「ＹＥＳ」出力２３の通報が発信される。
【００２２】
図７は、図６における第２の分岐３０に対する代替としての閾値条件の例をフローチャートとして示す。中央のピクセル読取ユニット９の電荷パルスと隣接するピクセル読取ユニット１０の電荷パルスとが第２の加算器４５において加算される。それにしたがって、合計電荷パルス１５すなわち合計エネルギーが、第４の分岐３２において、同時に背景ノイズを規定する下側閾値Ｓ１を上回りかつ上側閾値Ｓ２を下回っているかどうかが検査される。上側閾値Ｓ２は、典型的な１つの個別の電荷パルスよりも大きくかつ２つの個別の電荷パルスよりも小さくなるように選ばれると好ましい。閾値条件が満たされている場合、第４の分岐３２の「ＹＥＳ」出力３８を介する第３の分岐３１への接続が、既に図６により説明したように用意されている。閾値条件が満たされていない場合、第４の分岐３２の「ＮＯ」出力３９が、中央のピクセル読取ユニット９の電荷パルスと隣接するピクセル読取ユニット１０の電荷パルスとの共通の考察を中断させる。
【００２３】
図８は、図６における第２の分岐３０に対する代替としての閾値条件の他の例をフローチャートとして示す。これによれば、中央のピクセル読取ユニット９の電荷パルスは、第５の分岐３３において、背景ノイズを規定する下側閾値Ｓ１を上回っているどうかを検査される。隣接するピクセル読取ユニット１０の電荷パルスは、第６の分岐３４において、同じく下側閾値Ｓ１を上回っているどうかを検査される。同時に、第２の加算器４５において加算された合計電荷パルス１５は、下側閾値Ｓ１を上回ると同時に上側閾値Ｓ２を下回っているかどうか検査される。第７の分岐３５においては、３つの全ての閾値条件が同時に満たされているかどうかの検査が行なわれる。３つの全ての閾値条件が同時に満たされている場合、第７の分岐３５の「ＹＥＳ」出力５３が第３の分岐３１に導かれ、分岐３１においては、既に図６により説明したように、コインシデンス条件および閾値条件が同時に満たされているかどうかが検査される。３つの閾値条件のうちの１つまたは複数が満たされていない場合、第７の分岐３５の「ＮＯ」出力５４が、中央のピクセル読取ユニット９の電荷パルスと隣接するピクセル読取ユニット１０の電荷パルスとの共通の考察を中断させる。
【００２４】
この種の方法順序は各ピクセル読取ユニットおよびそれにそれぞれ隣接するピクセル読取ユニットに適用することができる。「隣接する」とは、側縁により隣接する近隣とみなしてもよいし、角を介して隣接する近隣とみなしてもよい。矩形のピクセル読取ユニットは一般に８個までの隣接するピクセル読取ユニットを持つ。その他の、例えば３角形または８角形のピクセル読取ユニットについては、それぞれ相応の隣接するピクセル読取ユニットが規定可能である。類似の方法が２つよりも多い隣接するピクセル読取ユニットについても適用可能である。
【００２５】
本発明は要約すれば次のとおりである。Ｘ線からのＸ線像を撮影するためにそのＸ線のＸ線量子によって発生された電荷パルスを測定して計数するマトリックス状に隣接配置されたピクセル読取ユニットを有する計数式平面形画像検出器を備えたディジタルＸ線撮影装置において、Ｘ線像の改善のために、１つのピクセル読取ユニットの電荷パルスと少なくとも１つの隣接するピクセル読取ユニットの電荷パルスとの、定められた時間間隔内に発生するコインシデンスを検出する検出手段と、当該電荷パルスを加算して他の評価のための基礎量としての合計電荷パルスを形成する加算手段とが設けられている。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】従来技術による直接変換器を備えたディジタルＸ線撮影装置を示す概略図
【図２】中央のピクセル評価ユニットに限られて入射するＸ線量子および従来技術による閾値を有する図１によるディジタルＸ線撮影装置を示す概略図
【図３】２つのピクセル評価ユニットに配分されて入射するＸ線量子および従来技術による閾値を有する図１によるディジタルＸ線撮影装置を示す概略図
【図４】直接変換器を備え２つのピクセル評価ユニットに配分されたＸ線量子および２つの閾値を有する本発明によるディジタルＸ線撮影装置を示す概略図
【図５】隣接する２つのピクセル評価ユニットの電荷パルスのコインシデンスを検査する方法経過を示すフローチャート
【図６】隣接する２つのピクセル評価ユニットの電荷パルスの閾値条件と共にコインシデンスを検査する他の方法経過を示すフローチャート
【図７】図６に対する代替としての閾値条件を検査する方法を示すフローチャート
【図８】図６に対する代替としての閾値条件を検査する他の方法を示すフローチャート
【符号の説明】
【００２７】
１        Ｘ線量子
２        直接変換器
４        電極
６        スイッチ素子
７        電荷キャリア
９        中央のピクセル読取ユニット
１０        隣接するピクセル読取ユニット
１１        電荷
１２        中央のピクセル読取ユニットの電荷パルス
１３        隣接するピクセル読取ユニットの電荷パルス
１５        合計電荷パルス
１９        ＡＮＤゲート
２０        中央のピクセル読取ユニットの出力
２１        隣接するピクセル読取ユニットの出力
２２        第１の分岐
２３        「ＹＥＳ」出力
２４        「ＮＯ」出力
２５        第１の加算器
２６        第１のカウンタ
２７        バイパス
２８        第２のカウンタ
２９        第３のカウンタ
３０        第２の分岐
３１        第３の分岐
３２        第４の分岐
３３        第５の分岐
３４        第６の分岐
３５        第７の分岐
３８        「ＹＥＳ」出力
３９        「ＮＯ」出力
４５        第２の加算器
５３        「ＹＥＳ」出力
５４        「ＮＯ」出力
Ｒ          Ｘ線
Ｅ          エネルギー
Ｓ１        下側閾値
Ｓ２        上側閾値
【図１】
2006105995.tif 000003
【図２】
2006105995.tif 000004
【図３】
2006105995.tif 000005
【図４】
2006105995.tif 000006
【図５】
2006105995.tif 000007
【図６】
2006105995.tif 000008
【図７】
2006105995.tif 000009
【図８】
2006105995.tif 000010