【手続補正書】
【提出日】平成19年3月12日(2007.3.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】  負荷付き回路を動的にテストする回路であって、前記負荷付き回路の素子と交換されて電圧計の入力間に連結されるためのテスト負荷と、前記テスト負荷を介して前記電圧計のテストリード線を短絡させるためのスイッチとを備えることを特徴とする回路。
【請求項２】  請求項１記載の回路において、前記スイッチは前記負荷付き回路を完成するために閉じるためであることを特徴とする回路。
【請求項３】  請求項１記載の回路において、前記スイッチは閉じるとき前記負荷付き回路の動的テストを実行可能にするためであることを特徴とする回路。
【請求項４】  請求項１記載の回路において、前記テスト負荷と前記スイッチが前記電圧計に組み込まれていることを特徴とする回路。
【請求項５】  請求項１記載の回路において、前記テストリード線が従来のテストリード線により構成されることを特徴とする回路。
【請求項６】  請求項１記載の回路において、前記テスト負荷が抵抗性負荷により構成されることを特徴とする回路。
【請求項７】  請求項１記載の回路において、前記テスト負荷は前記負荷付き回路から取り外された素子と同等の電圧降下をさせる負荷により構成されていることを特徴とする回路。
【請求項８】  負荷付き回路の動的テストを実行する方法において、
前記負荷付き回路から素子を取り外すことと、
前記素子を取り外した後に前記回路に残っている端子に電圧計のリード線を連結することと、
テスト負荷を介して前記電圧計の入力の回路を短絡するためにスイッチを閉じることと、
前記電圧計と前記負荷付き回路を完成させている前記テスト負荷を使いながら負荷付き回路の動的テストを実行すること、とを特徴とする方法。
【請求項９】  請求項８記載の方法において、さらに、取り外された前記素子と比較できるほどの抵抗性負荷の値をもつテスト負荷を使用することを特徴とする方法。
【請求項１０】  請求項８記載の方法において、前記負荷付き回路を完成するときの前記負荷付き回路の最大電流が負荷付き回路の最高許容値より低い状態に確実に保つようにすることを特徴とする方法。
【請求項１１】  機能を強化された電圧計において、
負荷付き回路の素子と交換されて電圧計の入力間に連結されるためのテスト負荷と、
前記テスト負荷を介して前記電圧計のテストリード線を短絡するためのスイッチとにより構成される、
前記負荷付き回路を動的にテストするための回路を備えることを特徴とする電圧計。
【請求項１２】  請求項１１記載の機能強化電圧計において、さらに、前記負荷付き回路に連結されるためと、かつ、前記テスト負荷を前記負荷付き回路に連結するためのテストリード線を備えることを特徴とする電圧計。
【請求項１３】  電圧計の機能を強化する方法において、
負荷付き回路の素子と交換されて電圧計の入力間に連結されるためのテスト負荷を組み込むことと、
前記テスト負荷を介して前記電圧計のテストリード線を短絡するためのスイッチを組み込むことにより、
前記負荷付き回路に動的なテストを行う回路を前記電圧計に組み込むことを特徴とする方法。
【請求項１４】  請求項１３記載の方法において、さらに、前記負荷付き回路に前記電圧計のテストリード線を連結することを特徴とする方法。
【請求項１５】  請求項１４記載の方法において、さらに、前記負荷付き回路の回路障害の種類と位置を確認するために、動的なテストを前記負荷付き回路に対して実行することを特徴とする方法。
【請求項１６】  請求項１４記載の方法において、さらに、前記リード線を共に前記テスト負荷を飛び越えさせることを特徴とする方法。
【請求項１７】  請求項１３記載の方法において、さらに、負荷付きの異なる回路を適用可能にするために前記電圧計に可変テスト負荷を組み込むことを特徴とする方法。
【請求項１８】  請求項１３記載の方法において、さらに、電流を制限するヒューズまたは回路遮断器を組み込むことを特徴とする方法。
【請求項１９】  請求項１３記載の方法において、さらに、ユーザーや技術者が操作できるように前記スイッチを組み込むことを特徴とする方法。
【請求項２０】  請求項１３記載の方法において、さらに、前記負荷付き回路から取り外された素子と同等の負荷として前記テスト負荷を提供することを特徴とする方法。
【請求項２１】  請求項１３記載の方法において、さらに、前記負荷付き回路の人工の負荷として前記テスト負荷を提供することを特徴とする方法。
【請求項２２】  テスト回路の障害を確認するために使用される回路において、
電圧計のテストリード線間に連結されるためのテスト負荷と、
閉じたときに前記テストリード線間に前記テスト負荷を連結するためのスイッチとにより構成されることを特徴とする回路。
【請求項２３】  請求項２２記載の回路において、さらに、前記テスト回路に障害がさらに発生することを防止することに役立たせるためのヒューズまたは回路遮断器を備えることを特徴とする回路。
【請求項２４】  請求項２２記載の回路において、前記テスト負荷が前記電圧計の入力抵抗に並列に適用されていることを特徴とする回路。
【請求項２５】  請求項２２記載の回路において、前記テスト回路のテスト中に前記電圧計により表示される前記テスト負荷の両端の電圧が、前記テスト回路の障害の種類と位置を確認することに役立つことを特徴とする回路。
【請求項２６】  請求項２５記載の回路において、前記テスト負荷が連結されていないときに表示される電圧もまた障害の種類と位置を確認することに役立つことを特徴とする回路。
【請求項２７】  請求項２２記載の回路において、従来のテストリード線が前記電圧計に使用可能であることを特徴とする回路。
【請求項２８】  請求項２２記載の回路において、前記テスト負荷と前記スイッチが前記電圧計と一体化されていることを特徴とする回路。
【請求項２９】  請求項２８記載の回路において、従来のテストリード線が前記電圧計に使用可能であることを特徴とする回路。
【請求項３０】  請求項２２記載の回路において、前記テスト負荷が抵抗器により構成されることを特徴とする回路。
【請求項３１】  請求項２２記載の回路において、前記テスト負荷は、前記テスト回路の素子が取り外されている状態で前記テスト回路を完成するために連結されるものであることを特徴とする回路。
【請求項３２】  請求項２２記載の回路において、前記テスト回路に前記テストリード線が連結されている場所を含めたテスト回路と、前記負荷が前記テストリード線間に連結されているかどうかを調べる系統的な手順に従うことにより、前記テスト負荷と前記スイッチは前記障害の種類と位置を確定するために役立つものであることを特徴とする回路。
【請求項３３】  請求項２２記載の回路において、前記テスト負荷が前記テストリード線間に連結された状態で前記電圧計に表示される電圧は、前記テスト回路の公称システム電圧か公称システム電圧とほぼ同等値、または前記テスト回路の接地が失われたことに起因するふらつき電圧であることを特徴とする回路。
【請求項３４】  請求項２２記載の回路において、前記テスト負荷は、前記テスト回路の素子と交換されるためであることを特徴とする回路。
【請求項３５】  請求項２２記載の回路において、前記テスト負荷は、前記テスト回路のヒューズまたは回路遮断器と交換されるためであることを特徴とする回路。
【請求項３６】  請求項２２記載の回路において、前記テスト負荷は、前記テスト回路に連結されるためと、前記テスト回路の静的な電圧テストではなく動的な電圧降下テストを実行することに使用されるためであることを特徴とする回路。
【請求項３７】  請求項２２記載の回路において、前記テスト負荷は、前記電圧計に並列電圧降下を提供するためであることを特徴とする回路。
【請求項３８】  請求項２２記載の回路において、前記テストリード線間に連結されている前記テスト負荷が存在状態または存在しない状態での前記電圧計の表示電圧を解釈することにより、前記テスト回路の前記障害の位置と種類が確認可能になることを特徴とする回路。
【請求項３９】  電圧計により負荷付き回路をテストするテストリード線において、
第一のテストリード線と、
第二のテストリード線と、
一つの切り替え状態で、前記負荷が前記テスト回路の素子と交換されて前記テスト回路を完成させるように切り替えできるように、前記第一と第二のテストリード線の間に連結されるための負荷とにより構成されることを特徴とするリード線。