【手続補正書】
【提出日】平成19年7月4日(2007.7.4)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定体積の物質を検査して検査対象の物質の型を特徴付ける方法であって、
検査対象の所定体積の物質に偏向磁界を局所的に印加し、偏向軸を画定すること、
検査対象の所定体積の物質の電気インピーダンス（ＥＩ）に対応する電気応答信号と、検査対象の所定体積の物質の磁気共鳴（ＭＲ）特性に対応するＭＲ応答信号とを引き起こすように、検査対象の所定体積の物質に偏向軸に直交するＢ成分を有するＲＦパルスを局所的に印加すること、
ＥＩ応答信号を局所的に検出すること、
ＭＲ応答信号を局所的に検出すること、および
検査対象の所定体積の物質中の物質の型を特徴付けるために、検査対象の所定体積の物質の電気インピーダンスおよび磁気共鳴特性に基づいて、検出された応答信号を利用すること、
を含む方法。
【請求項２】
検査対象の所定体積の物質から引き起こされるＥＩ応答信号およびＭＲ応答信号を変化させるように、偏向磁界は変化され、また応答信号の変化は検出され、検査対象の物質の型の特徴付けに利用される請求項１に記載の方法。
【請求項３】
ＲＦパルスによって引き起こされる検出されたＥＩ応答信号は、検査対象の所定体積の物質の実効電気インピーダンスを算出するために処理され、その算出された電気インピーダンスは検査対象の物質の型の特徴付けに利用される請求項１に記載の方法。
【請求項４】
ＲＦパルスは、平衡に戻るときの検査対象の所定体積の物質における励起スピンからのエコーに対応するＭＲ自由誘導減衰（ＦＩＤ）信号を引き起こし、そのＦＩＤ信号は検出され、検査対象の物質の型の特徴付けに利用される請求項１に記載の方法。
【請求項５】
ＲＦパルスは、検査対象の所定体積の物質に近接して配置されるセンシングヘッドを介して局所的に印加され、ＲＦパルスは、検出されかつ検査対象の物質の型の特徴付けに利用される反射パルスを引き起こし、センシングヘッドは、電気制御および処理システムとの通信を提供する専用の伝送線に接続される、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
ＲＦパルスは、検査対象の所定体積の物質の一方の側に近接して配置される第一センシングヘッドを介して局所的に印加され、一方第二センシングヘッドは検査対象の所定体積の物質のもう一方の側に近接して配置され、
第一および第二のセンシングヘッドの両方は、電気制御および処理システムとの通信を提供するために、それぞれ、専用の第一および第二の伝送線に接続され、
さらに、第一センシングヘッドからのＲＦパルスは、検査対象の所定体積の物質を通って伝達され、第二センシングヘッドによって検出され、かつ電気制御および処理システムによって検査対象の物質の型の特徴付けに利用される請求項１に記載の方法。
【請求項７】
検出された応答信号は、検査対象の物質の型を特徴付ける予め定められたパラメータについて検出された応答信号を解析し、かつ予め定められたパラメータを既知の検査対象の物質の型の対応するパラメータと比較して最良一致を生成することによって、検査対象の物質の型を特徴付けるために利用される請求項１に記載の方法。
【請求項８】
ＲＦパルスは、一部のパルスがＥＩ測定用に最適化され、その他のパルスがＭＲ測定用に最適化された、一連のパルスとして印加される請求項１に記載の方法。
【請求項９】
検出されたＭＲ応答信号は、検査対象の所定体積の物質のスピン密度、縦緩和時間（Ｔ１）、および横緩和時間（Ｔ２）のうちの少なくとも一つについて解析される請求項１に記載の方法。
【請求項１０】
ＥＩおよびＭＲ応答信号の検出は、
（ａ）ＥＩ応答信号およびＭＲ応答信号を収集し、
（ｂ）検査対象の物質の型を特徴付ける予め定められたパラメータについて、収集された応答信号を解析し、
（ｃ）信号パラメータを一組のパラメータにモデル化し、かつ
（ｄ）既知の検査対象の物質の型の既知のパラメータの組に従って、パラメータの組を分類することを含む請求項１に記載の方法。
【請求項１１】
引き起こされかつ検出された磁気共鳴（ＭＲ）応答信号は、核磁気共鳴（ＮＭＲ）応答信号である請求項１に記載の方法。
【請求項１２】
ＮＭＲ応答信号は、造影剤の先行する注入によって増強される請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
引き起こされかつ検出された磁気共鳴（ＭＲ）応答信号は、電子磁気共鳴（ＥＭＲ）応答信号である請求項１に記載の方法。
【請求項１４】
ＥＭＲ応答信号は、造影剤の先行する注入によって増強される請求項１３に記載の方法。
【請求項１５】
検査対象の所定体積の物質は生検組織試料であり、それを病理学的評価について特徴付けするために検査される請求項１に記載の方法。
【請求項１６】
検査対象の所定体積の物質は、死亡組織試料である請求項１に記載の方法。
【請求項１７】
検査対象の所定体積の物質は、植物（ｖｅｇｅｔａｔｉｏｎ）試料、非生物的有機試料、および無機試料からなる群から選択される請求項１に記載の方法。
【請求項１８】
ＭＲ応答信号を局所的に検出することは、ＲＦパルスのＢ成分の方向の成分を有する方向のＭＲ応答信号を局所的に検出することを含む請求項１に記載の方法。
【請求項１９】
ＲＦパルスのＢ成分に直交しかつ偏向軸に直交する成分を有する方向のＭＲ応答信号を局所的に検出することをさらに含む請求項１８に記載の方法。
【請求項２０】
ＭＲ応答信号は、核磁気共鳴（ＮＭＲ）応答信号である請求項１に記載の方法。
【請求項２１】
ＭＲ応答信号は、電子磁気共鳴（ＥＭＲ）応答信号である請求項１に記載の方法。
【請求項２２】
所定体積の物質を検査して検査対象の物質の型を特徴付けるための装置であって、
検査対象の所定体積の物質に偏向磁界を局所的に印加し、偏向軸を画定するための手段、
長手方向軸および物質に近接する一方の側の遠位端を画定する第一センシングヘッドであって、第一センシングヘッドに電気制御および処理システムとの通信を与える第一伝送線に接続される、第一センシングヘッド、および
（ａ）検査対象の所定体積の物質の電気インピーダンスに対応する電気インピーダンス（ＥＩ）応答信号および検査対象の所定体積の物質のＭＲ特性に対応する磁気共鳴（ＭＲ）応答信号を引き起こすように、検査対象の所定体積の物質に第一センシングヘッドを介して偏向軸に直交するＢ成分を有するＲＦパルスを局所的に印加し、
（ｂ）第一センシングヘッドを介してＥＩおよびＭＲ応答信号を局所的に検出し、かつ
（ｃ）検出された応答信号を、検査対象の所定体積の物質の電気インピーダンスおよび磁気共鳴特性に基づいて、検査対象の物質の型の特徴付けに利用する
ための電気制御及び処理システム、
を備えた装置。
【請求項２３】
電気制御および処理システムはまた、検査対象の所定体積の物質から引き起こされるＥＩ応答信号およびＭＲ応答信号を変化するように偏向磁界を変化するために手段を制御し、応答信号における変化を検出し、かつ応答信号において検出された変化を検査対象の物質の型を特徴付けるのに利用する請求項２２に記載の装置。
【請求項２４】
電気制御および処理システムは、検査対象の所定体積の物質の実効電気インピーダンスを算出するためにＲＦパルスによって引き起こされる検出されたＥＩ応答信号を処理し、算出された電気インピーダンスを検査対象の物質の型を特徴付けるのに利用する請求項２２に記載の装置。
【請求項２５】
電気制御および処理システムは、平衡に戻るときの検査対象の所定体積の物質における励起スピンからのエコーに対応するＭＲ自由誘導減衰（ＦＩＤ）信号を引き起こすことができるＲＦパルスを印加し、ＦＩＤ信号を検出し、検出されたＦＩＤ信号を検査対象の物質の型を特徴付けるのに利用する請求項２２に記載の装置。
【請求項２６】
第一センシングヘッドの遠位端は、開口端、ダイポール、Ｖ字形アンテナ、コニカルアンテナ、表面コイルまたは片側漏洩端からなる群から選択される構造を有する請求項２２に記載の装置。
【請求項２７】
第一センシングヘッドの遠位端は、開口空洞の構造を有する請求項２２に記載の装置。
【請求項２８】
第一センシングヘッドの遠位端は、第一センシングヘッドのインピーダンスの変化を可能にし、それによって印加されたＲＥパルスの反射率を変化する同調回路に電気接続される請求項２２に記載の装置。
【請求項２９】
同調回路はまた、ＲＦパルスによって発生する磁界の強度を変化させることができる請求項２４に記載の装置。
【請求項３０】
第一センシングヘッドは、ＲＦパルスのＢ成分の方向の成分を有する方向のＭＲ応答信号を局所的に検出するために構成される請求項２２に記載の装置。
【請求項３１】
第一センシングヘッドは、ＲＦパルスのＢ成分に直交しかつ偏向軸に直交する成分を有する方向のＭＲ応答信号を局所的に検出するためにさらに構成される請求項３０に記載の装置。
【請求項３２】
第一センシングヘッドは、遠位端に少なくとも一つのコイルをさらに含み、コイルはＲＦパルスのＢ成分に直交しかつ偏向軸に直交する成分を有する方向のＭＲ信号を検出するために構成される、請求項２２に記載の装置。
【請求項３３】
第一センシングヘッドは、
長手方向軸に平行に延びる内側導電性ストリップ、および内側導電性ストリップに平行にかつ内側導電性ストリップの対向する側上に延び、かつ絶縁体によってそれから分離される、互いに電気接続された一対の外側導電性ストリップ；
内側導電性ストリップと外側導電性ストリップの一方との間に位置され、かつ長手方向軸に垂直に延びる第１ＲＦコイル；および
内側導電性ストリップと外側導電性ストリップの他方との間に位置され、かつ長手方向軸に垂直に延びる第２ＲＦコイル
を含む請求項２２に記載の装置。
【請求項３４】
第一センシングヘッドは、
長手方向軸に平行に延びる第１導電性ストリップ；
第１導電性ストリップに平行に延びかつ絶縁体によってそれから分離される第２導電性ストリップ；および
第１と第２導電性ストリップの間に位置されかつ伝送線の長手方向軸に垂直に延びるＲＦコイル
を含む請求項２２に記載の装置。
【請求項３５】
偏向磁界を局所的に印加するための手段は、検査対象の所定体積の物質を通る偏向磁界を振幅および深さのうちの少なくとも一つに関して変化するために電気制御および処理システムによって制御可能である請求項２２に記載の装置。
【請求項３６】
手段は、検査対象の所定体積の物質を通る偏向磁界を振幅および深さのうちの少なくとも一つに関して変化するために第一センシングヘッド上に可動に装着された永久磁石を含む請求項２２に記載の装置。
【請求項３７】
永久磁石は、エアシリンダーによって可動に装着される請求項３６に記載の装置。
【請求項３８】
手段は、検査対象の所定体積の物質を通る偏向磁界を振幅および深さのうちの少なくとも一つに関して変化するために第一センシングヘッドに関して可動に装着された一つ以上の電磁コイルを含む請求項２２に記載の装置。
【請求項３９】
手段は、検査対象の所定体積の物質を通る偏向磁界を振幅および深さのうちの少なくとも一つに関して変化するために電気制御および処理システムによって制御可動でありかつ第一センシングヘッドによって支持される一つ以上の電磁コイルを含む請求項２２に記載の装置。
【請求項４０】
手段は、検査対象の所定体積の物質を通る偏向磁界を振幅および深さのうちの少なくとも一つに関して変化するために電気制御および処理システムによって制御可動でありかつ前記伝送線によって支持される常磁性コアを包囲する一つ以上の電磁コイルを含む請求項２２に記載の装置。
【請求項４１】
第一および第二センシングヘッドのいずれか一つから送信されたＲＦパルスが、検査対象の所定体積の物質を通って送信され、第一および第二センシングヘッドの他方によって検出されるように、検査対象の所定体積の物質のもう一方の側に配置される第二センシングヘッドであって、第二センシングヘッドに電気制御および処理システムとの通信を与える第二伝送線に接続される、第二センシングヘッド、
検査対象の物質の型の特徴付けにおいて検出された送信されたＲＦパルスを利用するための電気制御及び処理システム、
をさらに含む請求項２２に記載の装置。
【請求項４２】
第二センシングヘッドは、ＲＦパルスのＢ成分の方向の成分を有する方向のＭＲ応答信号を局所的に検出するために構成される請求項４１に記載の装置。
【請求項４３】
第二センシングヘッドは、ＲＦパルスのＢ成分に直交しかつ偏向軸に直交する成分を有する方向のＭＲ応答信号を局所的に検出するためにさらに構成される請求項４２に記載の装置。
【請求項４４】
検査対象の所定体積の物質は二つの対向する半球を画定し、第一および第二センシングヘッドは二つの対向する半球上に配置され、検査対象の所定体積の物質を通って送信されるＲＦパルスを検出することを容易にする、請求項４１に記載の装置。
【請求項４５】
第一および第二センシングヘッドは、以下：
ある場合には、第一センシングヘッドは、信号を送信し反射信号を受信するための送信器として作用し、第二センシングヘッは、検査対象の所定体積の物質を通って送信される信号を受信するための受信器として作用し、
他の場合には、第二センシングヘッドは送信器として作用し、第一センシングヘッドは受信器として作用する
のように、役割を交代することができる請求項４１に記載の装置。
【請求項４６】
検査対象の所定体積の物質の周りの様々な場所に配置される複数のセンシングヘッドをさらに含み、ある場合において、センシングヘッドのうちの一つが送信器として作用し、残りのセンシングヘッドは受信器として作用する、請求項４１に記載の装置。
【請求項４７】
検査対象の所定体積の物質の周りの様々な場所に配置される複数のセンシングヘッドをさらに含み、全てのセンシングヘッドが同時に作用する、請求項２２に記載の装置。
【請求項４８】
電気制御および処理システムは、検査対象の物質の型を特徴付ける予め定められたパラメータについて検出された応答信号を解析し、かつ予め定められたパラメータを既知の検査対象の物質の型の対応するパラメータと比較して最良一致を生成することによって、検査対象の物質の型を特徴付けるために検出された応答信号を利用する請求項２２に記載の装置。
【請求項４９】
電気制御および処理システムは、一部のパルスがＥＩ測定用に最適化され、その他のパルスがＭＲ測定用に最適化された、一連のパルスとしてＲＦパルスを印加する請求項２２に記載の装置。
【請求項５０】
電気制御および処理システムは、検査対象の所定体積の物質のスピン密度、縦緩和時間（Ｔ１）および横緩和時間（Ｔ２）のうちの少なくとも一つについて、検出されたＭＲ応答信号を解析する請求項２２に記載の装置。
【請求項５１】
電気制御および処理システムは、
（１）ＥＩ応答信号およびＭＲ応答信号を収集し、
（２）検査対象の物質の型を特徴付ける予め定められたパラメータについて、収集された応答信号を解析し、
（３）信号パラメータを一連のパラメータにモデル化し、かつ
（４）既知の検査対象の物質の型の既知のパラメータの組に従ってパラメータの組を分類すること、
によってＥＩおよびＭＲ応答信号を検出し処理する請求項２２に記載の装置。
【請求項５２】
電気制御および処理システムは、検出されたＥＩおよびＭＲ応答信号を利用して検査対象の組織体積を病理学的評価について特徴付ける請求項２２に記載の装置。
【請求項５３】
電気制御および処理システムは、電気制御および処理システムによって決定されるような検査対象の所定体積の物質の型を表示するためのインジケータをさらに含む請求項２２に記載の装置。
【請求項５４】
装置は、検査対象の所定体積の物質を電気制御および処理システムによって決定されるようなその型に従って標識付けるためのマーキング装置をさらに含む請求項２２に記載の装置。
【請求項５５】
第一センシングヘッドは、検査対象の所定体積の物質を通る電流を感知するための電流センサをさらに含む請求項２２に記載の装置。
【請求項５６】
第一センシングヘッドは、カテーテルと組み合わされる請求項２２に記載の装置。
【請求項５７】
第一センシングヘッドは、生検芯針と組み合わされる請求項２２に記載の装置。
【請求項５８】
第一センシングヘッドは、切断ツールと組み合わされる請求項２２に記載の装置。
【請求項５９】
ＭＲ応答信号は、核磁気共鳴（ＮＭＲ）応答信号である請求項２２に記載の装置。
【請求項６０】
ＭＲ応答信号は、電磁共鳴（ＥＭＲ）応答信号である請求項２２に記載の装置。