(57)【要約】【課題】複数の導体についての絶縁検査の検査時間を短縮し得る絶縁検査方法を提供する。【解決手段】相互に絶縁された状態で並設されている導体パターン３１−１〜３１−ｎについての絶縁を検査する絶縁検査方法であって、導体パターン３１−１〜３１−ｎのうちの端から数えて奇数番目の各導体パターン３１−１，３１−３，・・・を共通接続した組と偶数番目の各導体パターン３１−２，３１−４，・・・を共通接続した組との間に電圧を印加し、この電圧の印加に応じて両組の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、この測定した電気的パラメータに基づいてｎ本の導体パターン３１−１〜３１−ｎについての絶縁を検査する。【選択図】図１
2006105795.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
相互に絶縁された状態で並設されているｎ本（ｎは３以上の整数）の導体についての絶縁を検査する絶縁検査方法であって、
前記ｎ本の導体のうちの端から数えて奇数番目の各導体を共通接続した組と偶数番目の各導体を共通接続した組との間に電圧を印加し、当該電圧の印加に応じて前記両組の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、当該測定した電気的パラメータに基づいて前記ｎ本の導体についての絶縁を検査する絶縁検査方法。
【請求項２】
前記ｎ本の導体のうちの互いに隣接する一対の導体の間に電圧を印加し、当該電圧の印加に応じて前記一対の導体の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、当該測定した電気的パラメータに基づいて前記一対の導体についての絶縁を検査する請求項１記載の絶縁検査方法。
【請求項３】
前記導体の一端および他端の間に電圧を印加し、当該電圧の印加に応じて前記導体を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、当該測定した電気的パラメータに基づいて前記導体についての導通を検査する請求項１または２記載の絶縁検査方法。
【請求項４】
相互に絶縁された状態で並設されているｎ本（ｎは３以上の整数）の導体についての絶縁を検査する絶縁検査装置であって、
前記ｎ本の導体のうちの端から数えて奇数番目の各導体が共通接続された組と偶数番目の各導体が共通接続された組との間に電圧を印加可能な第１の電圧源と、当該第１の電圧源による前記電圧の印加に応じて前記両組の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定する第１の測定部と、当該第１の測定部によって測定される前記電気的パラメータに基づいて前記ｎ本の導体についての絶縁を検査する検査部とを備えている絶縁検査装置。
【請求項５】
前記ｎ本の導体のうちの互いに隣接する一対の導体の間に電圧を印加可能な第２の電圧源と、当該第２の電圧源による前記電圧の印加に応じて前記一対の導体の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定する第２の測定部とを備え、
前記検査部は、前記第２の測定部によって測定される前記電気的パラメータに基づいて前記一対の導体についての絶縁を検査する請求項４記載の絶縁検査装置。
【請求項６】
前記導体の一端および他端の間に電圧を印加可能な第３の電圧源と、当該第３の電圧源による前記電圧の印加に応じて前記導体を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定する第３の測定部とを備え、
前記検査部は、前記第３の測定部によって測定される前記電気的パラメータに基づいて前記導体についての導通を検査する請求項４または５記載の絶縁検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の導体についての絶縁を検査する絶縁検査方法および絶縁検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の絶縁検査装置として、特開２０００−１９３７０２号公報に開示された基板の絶縁検査装置が知られている。この絶縁検査装置による絶縁検査では、基板に形成されている互いに絶縁された配線パターンの個数をＭとしたときに、Ｍ個の配線パターンにそれぞれ第１番目〜第Ｍ番目のヘッドピンを接触させる。次いで、第１回の検査として、第１番目および第２番目のヘッドピンを正極に接続すると共に第３番目〜第Ｍ番目のヘッドピンを負極に接続して絶縁状態を判定する。続いて、絶縁状態が不良でないときに、第２回の検査として、第２番目〜第４番目のヘッドピンを正極に接続すると共に第１番目および第５番目〜第Ｍ番目のヘッドピンを負極に接続して絶縁状態を判定する。次いで、絶縁状態が不良でないときに、第３回以降の検査として、正極に接続するヘッドピンの番号を第Ｍ番目に向けて２個分だけそのままスライドさせると共に、この正極に接続したヘッドピンに対して第１番目側に隣接する１個のヘッドピンおよび第Ｍ番目側のすべてのヘッドピンを負極に接続して絶縁状態を判定する。なお、正極に接続するヘッドピンの個数が３個未満になったときに、この絶縁検査を終了する。この場合、Ｍ個の配線パターンがすべて良品であると検査するのに（基板が良品であると検査するのに）必要な検査回数Ｃは、絶縁検査対象の配線パターンの個数Ｍ（ヘッドピンの個数Ｍ）が偶数のときに、以下の式によって表される。
Ｃ＝Ｍ／２＋１
また、配線パターンの個数Ｍが奇数のときに、検査回数Ｃは、以下の式によって表される。
Ｃ＝（Ｍ−１）／２＋１
したがって、この絶縁検査装置によれば、配線パターンの個数に対して約半分の検査回数で絶縁検査を実行することが可能となっている。
【特許文献１】特開２０００−１９３７０２号公報（第６−８頁）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところが、従来の絶縁検査装置には、以下の問題点がある。すなわち、従来の絶縁検査装置では、基板（検査対象体）が良品であるときに、配線パターン（導体）数の約半分の検査回数で絶縁検査を終了する。しかしながら、一例として、複数の基板と装置とを接続するバックボード基板の配線パターン、バス配線ケーブル、およびプラズマディスプレイにおける数百を超える走査線電極についての絶縁検査に従来の絶縁検査装置を適用したときには、導体数が多いため、検査回数が導体数の約半分になったとしても依然として検査回数が多く、このことに起因して検査時間が長引くという問題点がある。
【０００４】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、複数の導体についての絶縁検査の検査時間を短縮し得る絶縁検査方法および絶縁検査装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成すべく請求項１記載の絶縁検査方法は、相互に絶縁された状態で並設されているｎ本（ｎは３以上の整数）の導体についての絶縁を検査する絶縁検査方法であって、前記ｎ本の導体のうちの端から数えて奇数番目の各導体を共通接続した組と偶数番目の各導体を共通接続した組との間に電圧を印加し、当該電圧の印加に応じて前記両組の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、当該測定した電気的パラメータに基づいて前記ｎ本の導体についての絶縁を検査する。
【０００６】
また、請求項２記載の絶縁検査方法は、請求項１記載の絶縁検査方法において、前記ｎ本の導体のうちの互いに隣接する一対の導体の間に電圧を印加し、当該電圧の印加に応じて前記一対の導体の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、当該測定した電気的パラメータに基づいて前記一対の導体についての絶縁を検査する。
【０００７】
また、請求項３記載の絶縁検査方法は、請求項１または２記載の絶縁検査方法において、前記導体の一端および他端の間に電圧を印加し、当該電圧の印加に応じて前記導体を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、当該測定した電気的パラメータに基づいて前記導体についての導通を検査する。
【０００８】
また、請求項４記載の絶縁検査装置は、相互に絶縁された状態で並設されているｎ本（ｎは３以上の整数）の導体についての絶縁を検査する絶縁検査装置であって、前記ｎ本の導体のうちの端から数えて奇数番目の各導体が共通接続された組と偶数番目の各導体が共通接続された組との間に電圧を印加可能な第１の電圧源と、当該第１の電圧源による前記電圧の印加に応じて前記両組の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定する第１の測定部と、当該第１の測定部によって測定される前記電気的パラメータに基づいて前記ｎ本の導体についての絶縁を検査する検査部とを備えている。
【０００９】
また、請求項５記載の絶縁検査装置は、請求項４記載の絶縁検査装置において、前記ｎ本の導体のうちの互いに隣接する一対の導体の間に電圧を印加可能な第２の電圧源と、当該第２の電圧源による前記電圧の印加に応じて前記一対の導体の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定する第２の測定部とを備え、前記検査部は、前記第２の測定部によって測定される前記電気的パラメータに基づいて前記一対の導体についての絶縁を検査する。
【００１０】
また、請求項６記載の絶縁検査装置は、請求項４または５記載の絶縁検査装置において、前記導体の一端および他端の間に電圧を印加可能な第３の電圧源と、当該第３の電圧源による前記電圧の印加に応じて前記導体を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定する第３の測定部とを備え、前記検査部は、前記第３の測定部によって測定される前記電気的パラメータに基づいて前記導体についての導通を検査する。
【発明の効果】
【００１１】
請求項１記載の絶縁検査方法および請求項４記載の絶縁検査装置では、相互に絶縁された状態で並設されているｎ本の導体のうちの端から数えて奇数番目の各導体を共通接続した組と偶数番目の各導体を共通接続した組との間に電圧を印加し、この電圧の印加に応じて両組の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、測定した電気的パラメータに基づいてｎ本の導体についての絶縁を検査することにより、絶縁不良が生ずる可能性のある奇数番目の導体と偶数番目の導体とについての絶縁検査を確実に実行できるため、１回の絶縁検査の実行によってｎ本の導体についての絶縁を検査することができる。この結果、導体の数に対して約半分の検査回数で導体についての絶縁を検査する従来の絶縁検査装置と比較して、絶縁検査の検査時間を大幅に短縮することができる。
【００１２】
また、請求項２記載の絶縁検査方法および請求項５記載の絶縁検査装置によれば、互いに隣接する一対の導体の間に電圧を印加し、この電圧の印加に応じて一対の導体の間を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、測定した電気的パラメータに基づいて一対の導体についての絶縁を検査することにより、絶縁不良箇所が生じる可能性のあるｎ本の導体のうちの互いに隣接する一対の導体のすべてについて絶縁検査が実行されるため、絶縁不良が生じている一組の導体を具体的に特定することができる。
【００１３】
また、請求項３記載の絶縁検査方法および請求項６記載の絶縁検査装置では、導体の一端および他端の間に電圧を印加し、この電圧の印加に応じて導体を流れる電流の電流値に応じて変化する電気的パラメータを測定し、測定した電気的パラメータに基づいて導体についての導通を検査することにより、導体の断線有無を検査することができるため、例えば、導体のいずれかの部位に断線および絶縁不良の両方が存在して、この断線によって電圧を絶縁不良部位に印加できないことに起因して絶縁検査を合格と検査するおそれのあるときであっても、導体の断線や絶縁不良を確実に検査することができる。また、この絶縁検査装置によれば、導通検査用の装置を別に用いることなく１つの装置で導体についての導通検査および絶縁検査の両方を実行することができるため、異なる装置を用いて導通検査および絶縁検査を実行するのとは異なり、回路基板などの検査対象体を異なる装置にセットし直すことなく検査できる結果、導通検査および絶縁検査の検査時間を一層短縮することができる。また、１つの装置で導通検査および絶縁検査の両方を実行することができるため、２つの検査装置を用いるのと比較して、検査装置のコストも十分に低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明に係る絶縁検査方法および絶縁検査装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１５】
最初に、回路基板検査装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１６】
図１に示す回路基板検査装置１は、本発明における絶縁検査装置の一例であって、プローブ２−１，２−２・・・２−ｎ（ｎは３以上の整数であって、一例として、ｎが９以上の例を図示すると共にｎが偶数であるものとする）、プローブ３−１，３−２・・・３−ｎ、測定部４、切換部５、制御部６、操作部７、ＲＡＭ８およびＲＯＭ９を備えて構成されている。ｎ本のプローブ２−１，２−２・・・２−ｎ（以下、プローブ２−１〜２−ｎを区別しないときにはプローブ２ともいう）およびｎ本のプローブ３−１，３−２・・・３−ｎ（以下、プローブ３−１〜３−ｎを区別しないときにはプローブ３ともいう）は、一例として、ジグ型の接触式プローブであって、切換部５に接続されると共に、回路基板３０を回路基板検査装置１にセットすることで、回路基板３０の表面における複数の測定ポイントに各プローブ２，３の各先端部が接触されるように予め固定配置されている。
【００１７】
測定部４は、図１に示すように、可変電圧源１１、電流計１２、電圧計１３および演算回路１４を備えて構成されている。可変電圧源１１は、本発明における第１〜第３の電圧源に相当し、制御部６から出力される制御信号Ｓｂに応じた電圧値の電圧を出力する。電流計１２は、可変電圧源１１から検査用電圧が出力された際にその出力電流の電流値を測定して演算回路１４に出力する。電圧計１３は、可変電圧源１１から出力される検査用電圧の電圧値を測定して演算回路１４に出力する。演算回路１４は、電流計１２から出力される電流値および電圧計１３から出力される電圧値に基づいて抵抗値（本発明における電気的パラメータの一例）を演算して、この演算した抵抗値を制御部６に出力する。なお、電流計１２、電圧計１３および演算回路１４が相俟って本発明における第１〜第３の測定部を構成する。
【００１８】
切換部５は、スキャナ装置であって、図１に示すように、制御部６から出力される制御信号Ｓｃに従って開閉制御される複数の切換スイッチを備えて構成されている。具体的には、切換部５は、切換スイッチ２１−１ａ，２１−２ａ・・・２１−ｎａ（以下、切換スイッチ２１−１ａ〜２１−ｎａを区別しないときには切換スイッチ２１ａともいう）、切換スイッチ２１−１ｂ，２１−２ｂ・・・２１−ｎｂ（以下、切換スイッチ２１−１ｂ〜２１−ｎｂを区別しないときには切換スイッチ２１ｂともいう）、切換スイッチ２２−１ａ，２２−２ａ・・・２２−ｎａ（以下、切換スイッチ２２−１ａ〜２２−ｎａを区別しないときには切換スイッチ２２ａともいう）、および切換スイッチ２２−１ｂ，２２−２ｂ・・・２２−ｎｂ（以下、切換スイッチ２２−１ｂ〜２２−ｎｂを区別しないときには切換スイッチ２２ｂともいう）を備えて構成されている。
【００１９】
また、切換スイッチ２１−１ａ，２１−２ａ・・・２１−ｎａは、それぞれの一端同士が相互に接続されると共にこの各一端が可変電圧源１１の正電圧端子に接続されて、閉状態に制御されたときに、それぞれの他端に接続されているプローブ２−１，２−２・・・２−ｎと可変電圧源１１の正電圧端子とを接続する。また、切換スイッチ２２−１ａ，２２−２ａ・・・２２−ｎａは、それぞれの一端同士が相互に接続されると共にこの各一端が可変電圧源１１の正電圧端子に接続されて、閉状態に制御されたときに、それぞれの他端に接続されているプローブ３−１，３−２・・・３−ｎと可変電圧源１１の正電圧端子とを接続する。また、切換スイッチ２１−１ｂ，２１−２ｂ・・・２１−ｎｂは、それぞれの一端同士が相互に接続されると共にこの各一端が可変電圧源１１の負電圧端子に電流計１２を介して接続され、閉状態に制御されたときに、それぞれの他端に接続されているプローブ２−１，２−２・・・２−ｎと可変電圧源１１の負電圧端子とを電流計１２を介して接続する。また、切換スイッチ２２−１ｂ，２２−２ｂ・・・２２−ｎｂは、それぞれの一端同士が相互に接続されると共にこの各一端が可変電圧源１１の負電圧端子に電流計１２を介して接続され、閉状態に制御されたときに、それぞれの他端に接続されているプローブ３−１，３−２・・・３−ｎと可変電圧源１１の負電圧端子とを電流計１２を介して接続する。
【００２０】
制御部６は、本発明における検査部に相当し、可変電圧源１１に対する電圧制御、切換部５に対する切換制御、並びに後述する導通検査処理、絶縁検査処理および絶縁不良箇所特定処理などを実行する。操作部７は、各処理で用いる条件を設定する条件設定キーおよび数値入力キーなどを備えて構成され、各操作キーのキー操作に応じた操作信号Ｓｉを出力する。ＲＡＭ８は、導通検査処理に用いる導通検査用電圧の電圧値や導通基準抵抗値、並びに絶縁検査処理および絶縁不良箇所特定処理に用いる絶縁検査用電圧の電圧値や絶縁基準抵抗値を記憶すると共に、制御部６の演算結果などを一時的に記憶する。ＲＯＭ９は、制御部６の動作プログラムを記憶する。
【００２１】
一方、図１に示すように、回路基板３０には、相互に絶縁された状態で並設されているｎ本の導体パターン３１−１，３１−２・・・３１−ｎ（本発明におけるｎ本の導体）がこの順番（回路基板３０の端から数えてこの順番）で形成されている。なお、以下、導体パターン３１−１，３１−２・・・３１−ｎを区別しないときには導体パターン３１ともいう。この場合、各導体パターン３１の一端および他端には、プローブ２，３が接触させられる測定ポイントがそれぞれ形成されている。
【００２２】
次に、回路基板３０に形成された導体パターン３１に対する回路基板検査装置１による絶縁検査について図面を参照して説明する。
【００２３】
まず、導体パターン３１についての導通検査処理、絶縁検査処理および絶縁不良箇所特定処理の各処理の事前準備として、各処理で用いられる条件を設定する。この場合、操作部７の条件設定キーおよび数値入力キーを操作することで、導通検査用電圧の電圧値、導通基準抵抗値、絶縁検査用電圧の電圧値および絶縁検査用基準抵抗を示す数値を入力する。この際に、制御部６が、この操作に従って操作部７から出力された操作信号Ｓｉに応じた数値をＲＡＭ８に記憶させる。以上により、各処理で用いられる条件が設定されて、各処理の事前準備が終了する。
【００２４】
次に、回路基板３０を回路基板検査装置１にセットする。この際には、一例として、図１に示すように、各プローブ２，３と回路基板３０の各測定ポイントとがそれぞれ接触させられる。具体的には、一例として、同図に示すように、導体パターン３１−１，３１−２・・・３１−ｎの一端の測定ポイントとプローブ２−１，２−２・・・２−ｎとがそれぞれ接触させられると共に、導体パターン３１−１，３１−２・・・３１−ｎの他端の測定ポイントとプローブ３−１，３−２・・・３−ｎとがそれぞれ接触させられる。次いで、制御部６が、各導体パターン３１についての導通を検査（導通検査）する導通検査処理を実行する。この導通検査処理では、最初に、制御部６が、制御信号Ｓｃを出力して、切換スイッチ２１−１ａ，２２−１ｂを閉状態に移行させると共に他の切換スイッチ（切換スイッチ２１−１ａ，２２−１ｂを除いた切換スイッチ２１ａ，２１ｂ，２２ａ，２２ｂ）を開状態に移行させる。これにより、導体パターン３１−１の一端が、プローブ２−１および切換スイッチ２１−１ａを介して可変電圧源１１の正極端子に接続されると共に、導体パターン３１−１の他端が、プローブ３−１、切換スイッチ２２−１ｂおよび電流計１２を介して可変電圧源１１の負極端子に接続される。
【００２５】
次いで、制御部６は、導通検査用電圧の電圧値および導通基準抵抗値をＲＡＭ８から読み込む。続いて、制御部６は、導通検査用電圧（一例として直流１０Ｖ）を所定期間だけ出力させる制御信号Ｓｂを可変電圧源１１に出力する。次いで、可変電圧源１１が、制御部６から出力された制御信号Ｓｂに従い、プローブ２−１，３−１を介して導体パターン３１−１の両端の間に導通検査用電圧を印加する。続いて、電流計１２が、導体パターン３１−１を流れる電流の電流値を測定して演算回路１４に出力する。また、電圧計１３が、測定部４から出力される導通検査用電圧の電圧値を測定して演算回路１４に出力する。続いて、演算回路１４が、電流計１２から出力された電流値および電圧計１３から出力された電圧値に基づいて抵抗値を演算して、この演算した抵抗値を制御部６に出力する。次いで、制御部６は、演算回路１４から出力された抵抗値に基づいて、導体パターン３１−１についての導通を検査する。具体的には、制御部６は、測定された抵抗値が導通基準抵抗値以下であるか否かを判別して、導通基準抵抗値以下のときには合格と検査し、導通基準抵抗値を超えるときには不合格と検査する。続いて、制御部６は、導体パターン３１−１を合格と検査したときは、上記と同様にして、順次、導体パターン３１−２，３１−３・・・３１−ｎに対しても導通検査を実行する。以上により、導通検査処理が終了する。
【００２６】
次に、制御部６は、すべての導体パターン３１を導通検査処理で合格と検査したときに、導体パターン３１についての絶縁を検査（絶縁検査）する絶縁検査処理を実行する。この絶縁検査処理では、制御部６は、制御信号Ｓｃを出力して、切換スイッチ２１ａ，２１ｂ，２２ａ，２２ｂのすべてを開状態に移行させる。次いで、制御部６は、制御信号Ｓｃを出力して、切換スイッチ２１−１ａ，２１−３ａ，２１−５ａ・・・２１−（ｎ−１）ａのように切換スイッチ２１ａにおける各切換スイッチの符号２１−の後ろの数字が奇数のものを閉状態に移行させると共に切換スイッチ２１−２ｂ，２１−４ｂ，２１−６ｂ・・・２１−ｎｂのように切換スイッチ２１ｂにおける各切換スイッチの符号２１−の後ろの数字が偶数のものを閉状態に移行させる。これにより、図２に示す等価回路のように、プローブ２−１，２−３，２−５・・・２−（ｎ−１）のようにプローブ２における各プローブ２−の後ろの数字が奇数のもの（以下、これらを奇数番目のプローブ２ともいう）同士が相互に接続されると共に可変電圧源１１の正極端子に接続される。また、同図に示すように、プローブ２−２，２−４，２−６・・・２−ｎのようにプローブ２における各プローブ２−の後ろの数字が偶数のもの（以下、これらを偶数番目のプローブ２ともいう）同士が相互に接続されると共に可変電圧源１１の負極端子に電流計１２を介して接続される。つまり、導体パターン３１−１，３１−３・・・３１−（ｎ−１）のように各導体パターン３１における各導体パターンの符号３１−の後ろの数字が奇数のもの（本発明における「ｎ本の導体のうちの端から数えて奇数番目の各導体」に相当し、以下、これらを奇数番目の導体パターン３１ともいう）が奇数番目のプローブ２を介して共通接続されて可変電圧源１１の正極端子に接続される。なお、この共通接続された奇数番目の導体パターン３１が本発明における奇数番目の各導体を共通接続した組に相当する。また、導体パターン３１−２，３１−４・・・３１−ｎのように各導体パターン３１における各導体パターンの符号３１−の後ろの数字が偶数のもの（本発明における偶数番目の各導体に相当し、以下、これらを偶数番目の導体パターン３１ともいう）が偶数番目のプローブ２を介して共通接続されて電流計１２を介して可変電圧源１１の負極端子に接続される。なお、この共通接続された偶数番目の導体パターン３１が本発明における偶数番目の各導体を共通接続した組に相当する。
【００２７】
次いで、制御部６は、ＲＡＭ８から絶縁検査用電圧の電圧値および絶縁基準抵抗値を読み込む。続いて、制御部６は、絶縁検査用電圧の電圧値（一例として直流１００Ｖ）を所定期間だけ出力させる制御信号Ｓｂを可変電圧源１１に出力する。これにより、可変電圧源１１が、奇数番目のプローブ２と偶数番目のプローブ２とを介して奇数番目の導体パターン３１と偶数番目の導体パターン３１との間に絶縁検査用電圧を印加する。次いで、電流計１２が、奇数番目の導体パターン３１と偶数番目の導体パターン３１との間を絶縁検査用電圧の印加に応じて流れる電流の電流値を測定して演算回路１４に出力する。また、電圧計１３が、測定部４から出力される絶縁検査用電圧の電圧値を測定して演算回路１４に出力する。続いて、演算回路１４が、電流計１２から出力された電流値および電圧計１３から出力された電圧値に基づいて抵抗値を演算して、この演算した抵抗値を制御部６に出力する。次いで、制御部６は、演算回路１４から出力された抵抗値に基づいて、導体パターン３１についての絶縁を検査する。具体的には、制御部６は、測定された抵抗値が絶縁基準抵抗値以上であるか否かを判別して、絶縁基準抵抗値以上であれば合格と検査し、絶縁基準抵抗値未満であれば不合格と検査する。以上により、絶縁検査処理が終了する。
【００２８】
この場合、導体パターン３１−１，３１−２・・・３１−ｎは、相互に絶縁された状態で並設されて（平行状態に）形成されている。したがって、この回路基板３０において絶縁不良が発生する場合、図２に示すように、同図において黒色で示す奇数番目の導体パターン３１と、同図において白色で示す偶数番目の導体パターン３１との隣接し合う部分で絶縁不良が発生することになる。このため、奇数番目の導体パターン３１同士をすべて接続し、偶数番目の導体パターン３１同士をすべて接続して、この接続した奇数番目の導体パターン３１とこの接続した偶数番目の導体パターン３１とについての絶縁検査を実行することにより、いずれかの奇数番目の導体パターン３１と、隣接するいずれかの偶数番目の導体パターン３１との間に絶縁不良が生じているときに、この絶縁不良が１回の絶縁検査で検出されて導体パターン３１（回路基板３０）が不合格と検査される。逆に、導体パターン３１に絶縁不良が生じていないときには、１回の絶縁検査で導体パターン３１（回路基板３０）が合格と検査される。
【００２９】
次に、制御部６は、絶縁検査処理で導体パターン３１（回路基板３０）を不合格と検査したときに、操作部７による操作に従い（つまり、必要に応じて）、絶縁不良箇所を特定する絶縁不良箇所特定処理を実行する。この絶縁不良箇所特定処理では、最初に、制御部６は、導体パターン３１−１，３１−２についての絶縁検査を実行する。この場合、制御部６は、制御信号Ｓｃを出力して、切換スイッチ２１ａ，２１ｂ，２２ａ，２２ｂのすべてを開状態に移行させる。次いで、制御部６は、制御信号Ｓｃを出力して、切換スイッチ２１−１ａ，２１−２ｂを閉状態に移行させる。これにより、プローブ２−１が可変電圧源１１の正極端子に接続され、プローブ２−２が可変電圧源１１の負極端子に電流計１２を介して接続される。続いて、制御部６は、絶縁検査用電圧を所定期間だけ出力させる制御信号Ｓｂを可変電圧源１１に出力する。これにより、可変電圧源１１が、プローブ２−１，２−２を介して導体パターン３１−１，３１−２の間に絶縁検査用電圧を印加する。次いで、電流計１２が、導体パターン３１−１，３１−２の間を絶縁検査用電圧の印加に応じて流れる電流の電流値を測定して演算回路１４に出力し、電圧計１３が、測定部４から出力される絶縁検査用電圧の電圧値を測定して演算回路１４に出力する。続いて、演算回路１４が、入力した電流値および電圧値に基づいて抵抗値を演算して制御部６に出力する。次いで、制御部６は、上記した絶縁検査処理と同様にして、入力した抵抗値に基づいて、導体パターン３１−１，３１−２についての絶縁を検査する。
【００３０】
続いて、制御部６は、上記と同様にして、導体パターン３１−２，３１−３についての絶縁検査を実行する。次いで、制御部６は、導体パターン３１−３，３１−４についての絶縁検査を実行するというように、各導体パターン３１のうちの互いに隣接する一対（一組）の導体パターンを１つずつ変更して、各導体パターン３１のうちのすべての隣接し合う導体パターンの組についての絶縁検査を実行する。以上により、絶縁不良箇所特定処理を終了する。この絶縁不良箇所特定処理により、絶縁不良が生じている一組の導体パターン３１が具体的に特定される。
【００３１】
このように、この回路基板検査装置１では、相互に絶縁された状態で並設されているｎ本の導体パターン３１のうちの奇数番目の導体パターン３１を共通接続した組と偶数番目の導体パターン３１を共通接続した組との間に絶縁検査用電圧を印加し、絶縁検査用電圧の印加に応じて両組の間を流れる電流の電流値に応じて変化する抵抗値（電気的パラメータ）を測定し、この測定した抵抗値に基づいてｎ本の導体パターン３１についての絶縁を検査する。したがって、この回路基板検査装置１によれば、絶縁不良が生ずる可能性のある奇数番目の導体パターン３１と偶数番目の導体パターン３１とについての絶縁検査を確実に実行できるため、１回の絶縁検査の実行によってｎ本の導体パターン３１についての絶縁を検査することができる。この結果、導体パターン（配線パターン）の数に対して約半分の検査回数で導体パターンについての絶縁を検査する従来の絶縁検査装置と比較して、絶縁検査の検査時間を大幅に短縮することができる。
【００３２】
また、この回路基板検査装置１では、ｎ本の導体パターン３１のうちの互いに隣接する一対の導体パターン３１，３１の間に絶縁検査用電圧を印加し、この絶縁検査用電圧の印加に応じて一対の導体パターン３１，３１の間を流れる電流の電流値に応じて変化する抵抗値（電気的パラメータ）を測定し、この測定した抵抗値に基づいて一対の導体パターン３１，３１についての絶縁を検査する。したがって、この回路基板検査装置１によれば、絶縁不良箇所が生じる可能性のあるｎ本の導体パターン３１のうちの互いに隣接する一対の導体パターン３１，３１のすべてについて絶縁検査が実行されるため、絶縁不良が生じている一組の導体パターン３１，３１（絶縁不良が生じている箇所）を具体的に特定することができる。
【００３３】
また、この回路基板検査装置１では、導体パターン３１の一端および他端の間に導通検査用電圧を印加し、この導通検査用電圧の印加に応じて導体パターン３１を流れる電流の電流値に応じて変化する抵抗値（電気的パラメータ）を測定し、この測定した抵抗値に基づいて導体パターン３１についての導通を検査する。したがって、この回路基板検査装置１によれば、導体パターン３１の断線有無を検査することができるため、例えば、導体パターン３１のいずれかの部位に断線および絶縁不良の両方が存在して、断線によって絶縁検査用電圧を絶縁不良部位に印加できないことに起因して絶縁検査を合格と検査するおそれのあるときであっても、この導通検査を実行することで導体パターン３１の断線や絶縁不良を確実に検査することができる。また、この回路基板検査装置１によれば、導通検査用の装置を別に用いることなく１つの装置で導体パターン３１についての導通検査および絶縁検査の両方を実行することができるため、異なる装置を用いて導通検査および絶縁検査を実行するのとは異なり、回路基板３０を異なる装置にセットし直すことなく検査できる結果、導通検査および絶縁検査の検査時間を一層短縮することができる。また、１つの装置で導通検査および絶縁検査の両方を実行することができるため、２つの検査装置を用いるのと比較して、検査装置のコストも十分に低減することができる。
【００３４】
なお、本発明は、上記の方法および構成に限定されない。例えば、絶縁検査処理では、奇数番目の導体パターン３１と偶数番目の導体パターン３１との間の抵抗値を本発明における電気的パラメータとして測定し、その抵抗値に基づいて導体パターン３１についての絶縁検査を実行しているが、このときに電流計１２によって測定される電流値を本発明における電気的パラメータとして用いて、その測定される電流値に基づいて絶縁検査を実行することもできる。この際には、測定される電流値が予め設定された所定値以下であるか否かを判別して、所定値以下であれば合格と検査し、所定値を超えれば不合格と検査する。この場合、電流計１２が本発明における第１の測定部に相当する。同様にして、導体パターン３１のうちの互いに隣接する一対の導体パターンについての絶縁検査についても、このときに電流計１２によって測定される電流値を本発明における電気的パラメータとして用いて実行することもできる。この場合、電流計１２が本発明における第２の測定部に相当する。また、導通検査処理では、各導体パターン３１の一端および他端のそれぞれの間の抵抗値を本発明における電気的パラメータとして測定し、この測定した抵抗値に基づいて各導体パターン３１についての導通検査を実行しているが、このときに電流計１２によって測定される電流値を本発明における電気的パラメータとして用いて、その測定される電流値に基づいて導通検査を実行することもできる。この際に、測定される電流値が予め設定された所定値以上であるか否かを判別して、所定値以上であれば合格と検査し、所定値未満であれば不合格と検査する。この場合、電流計１２が本発明における第３の測定部に相当する。さらに、奇数番目の導体パターン３１と偶数番目の導体パターン３１との間を流れる電流、および導体パターン３１のうちの一対の導体パターン３１，３１の間を流れる電流をそれぞれ電圧に変換して、測定した電圧値を本発明における電気的パラメータとして用いて絶縁検査を実行する構成を採用することもできる。同様にして、各導体パターン３１を流れる電流を電圧に変換して、測定した電圧値を本発明における電気的パラメータとして用いて導通検査を実行する構成を採用することができる。
【００３５】
また、ジグ型のプローブ２，３を用いる構成について説明したが、この構成に代えて、制御部６の制御下で複数のプローブを上下左右に移動させるプローブ移動機構を備えて、回路基板３０の表面における任意の位置に複数のプローブの先端部を移動可能に構成されているプローブを用いる構成を採用することができる。
【００３６】
また、本発明における絶縁検査装置として、回路基板３０に形成された導体パターン３１（本発明における導体）についての絶縁検査を実行する回路基板検査装置１について説明したが、例えば、プラズマディスプレイのガラス材の表面において相互に絶縁された状態で一列ずつ整然と配列（並設）されているｎ本の走査線電極（本発明における導体）についての絶縁検査を実行する走査線電極絶縁検査装置、フラットケーブルにおいて相互に絶縁された状態で一列ずつ整然と配列（並設）されているｎ本の導通線材についての絶縁検査を実行するフラットケーブル絶縁検査装置、コネクタにおいて相互に絶縁された状態で並設されているｎ本の接続ピンについての絶縁検査を実行するコネクタ絶縁検査装置に本発明を適用することができる。
【００３７】
また、導体パターン３１についての導通検査を実行した後に絶縁検査を実行する例について説明したが、絶縁検査を実行した後に導通検査を実行することもできるし、その際に、絶縁検査によって不良と検査されたときには、その後の導通検査を省略することもできる。さらに、絶縁不良箇所の特定が不要のときには、一対の導体パターン３１，３１についての絶縁検査を省略できるのは勿論である。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】回路基板検査装置１の構成を示す構成図である。
【図２】回路基板３０の導体パターン３１−１，３１−２・・・３１−ｎについての絶縁検査を実行しているときの回路基板検査装置１の等価回路図である。
【符号の説明】
【００３９】
１  回路基板検査装置
２−１，２−２・・・２−ｎ，３−１，３−２・・・３−ｎ  プローブ
４  制御部
５  切換部
６  制御部
１１  可変電圧源
１２  電流計
１３  電圧計
１４  演算回路
３０  回路基板
３１−１，３１−２・・・３１−ｎ  導体パターン
【図１】
2006105795.tif 000003
【図２】
2006105795.tif 000004