【手続補正書】
【提出日】平成19年6月4日(2007.6.4)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料を光測定するための方法であって：
第１伝搬モードの案内された光の一ビームを試料へ導き；
前記第１伝搬モードの前記案内された光の第１部分を、前記第１部分が前記試料へ達する前に、前記試料に隣接する位置で前記試料から離れる方向に反射する一方、前記第１伝搬モードの第２部分が前記試料へ到達可能とし；
前記試料からの前記第２部分の反射光を、前記第１伝搬モードと異なる第２伝搬モードになるように制御して、前記第１部分が反射する位置で前記第１部分と空間的に互いに重なりあって共に伝播する反射第２部分を生成し；かつ、
前記第１伝搬モードの第１部分および前記第２伝搬モードの前記反射第２部分の両方を、共通導波路を通じて検出モジュールへ導いて、前記反射第２部分から前記試料の情報を抽出するようにした方法。
【請求項２】
第１伝搬モードおよび第２の異なる伝搬モードの両方の光放射を、光導波路を通じて試料に向けて案内し；
前記第１伝搬モードの放射光を、前記試料へ達せずに前記試料から離れる方向へ導き；
前記第２伝搬モードの放射光を、前記試料と相互作用するように導いて、前記相互作用による戻り放射光を生成し；
前記第２伝搬モードの前記戻り放射光および前記第１伝搬モードの前記放射光の両方を前記光導波路に入れて結合して、前記試料から離れる方向に共に伝播させ；かつ、
前記第２伝搬モードの前記戻り放射光および前記光導波路からの前記第１伝搬モードの前記放射光を用いて、前記試料の情報を抽出するようにした方法。
【請求項３】
前記第１伝搬モードおよび前記第２伝搬モードは、互いに直交する２つの偏光モードである請求項１又は２の方法。
【請求項４】
前記第１伝搬モードおよび前記第２伝搬モードは、直交する２つの直線偏光モードである請求項３の方法。
【請求項５】
更に、偏光回転器を用いて、前記反射第２部分を前記第２伝搬モードとするようにした請求項３の方法。
【請求項６】
更に、ファラデー回転子を用いて、前記反射第２部分を前記第２伝搬モードとするようにした請求項３の方法。
【請求項７】
更に、１／４波長プレートを用いて、前記反射第２部分を前記第２伝搬モードとするようにした請求項３の方法。
【請求項８】
前記導波路は偏光保持導波路である請求項１又は２の方法。
【請求項９】
更に、前記第１部分と前記反射第２部分との間の相対位相遅延をある変調周波数で変調し；かつ、
前記変調周波数および前記変調周波数の高調波での差の振幅に関する情報を用いて、前記試料の情報を抽出するようにした請求項１又は２の方法。
【請求項１０】
更に、前記共通導波路とは異なる入力導波路を用いて、前記案内された光を前記試料へ導くようにした請求項１の方法。
【請求項１１】
更に、前記反射第１部分と前記反射第２部分との間の相対位相遅延を調整するようにした請求項１又は２の方法。
【請求項１２】
更に、前記検出モジュール内で前記第１伝搬モードおよび前記第２伝搬モードのエネルギーを混合して、第１光信号および第２光信号を生成し：かつ、
前記第１および第２光信号を検出して、前記試料の情報を抽出するようにした請求項１又は２の方法。
【請求項１３】
更に、前記第１光信号と前記第２光信号との差を用いて、前記試料の情報を抽出するようにした請求項１２の方法。
【請求項１４】
更に、前記反射第１部分と前記反射第２部分との間の相対位相遅延をある変調周波数で変調し；かつ、
前記変調周波数および前記変調周波数の高調波での前記差の振幅に関する情報を用いて、前記試料の情報を抽出するようにした請求項１３の方法。
【請求項１５】
更に、前記第１光信号の異なる光スペクトル成分を分離し；
前記第１光信号の前記異なる光スペクトル成分を測定し；
前記第２光信号の異なる光スペクトル成分を分離し；
前記第２光信号の前記異なる光スペクトル成分を測定し；かつ、
前記異なる光スペクトル成分から選択したスペクトル成分での前記測定信号を用いて、前記試料のスペクトル応答を得るようにした請求項１２の方法。
【請求項１６】
更に、光回折格子を用いて、前記第１光信号の前記異なる光スペクトル成分を光回折により分離するようにした請求項１５の方法。
【請求項１７】
更に、前記試料への前記案内された光のスペクトル特性を制御して、前記試料の情報を得るようにした請求項１又は２の方法。
【請求項１８】
更に、同調式光バンドパスフィルタを用いて、前記試料への前記案内された光のスペクトル範囲の中心波長を選択して、前記スペクトル範囲内の前記試料のスペクトル応答を得るようにした請求項１又は２の方法。
【請求項１９】
更に、前記反射第１部分と前記反射第２部分との間の相対位相遅延を第１の値に調整して、前記試料中の第１層と関係付けられた第１信号を測定し；
前記相対位相遅延を第２の異なる値に調整して、前記試料中の第２層と関係付けられた第２信号を測定し；かつ、
前記第１信号と前記第２信号との間の比を得て、前記第１層と前記第２層との間に位置する、前記試料の層についての情報を抽出するようにした請求項１又は２の方法。
【請求項２０】
更に、同調式光バンドパスフィルタを用いて、前記試料への前記案内された光のスペクトル範囲の中心波長を選択して、前記スペクトル範囲内の前記第１層と前記第２層との間に位置する、前記試料の層のスペクトル応答を得るようにした請求項１９の方法。
【請求項２１】
更に、前記比を用いて、皮膚組織の真皮層中のグルコース濃度を測定するようにした請求項１９の方法。
【請求項２２】
更に、前記反射第１部分と前記反射第２部分との間の相対位相遅延をある値に調整して、前記反射第２部分の反射成分が、前記反射第１部分と位相で実質的に一致する層を選択し；
前記値周辺の前記相対位相をある変調周波数で変調して測定値を得；かつ、
前記測定値を処理して前記層の情報を得るようにした請求項１又は２の方法。
【請求項２３】
更に、光遅延装置を用いて前記相対位相遅延を生成するとともに調整し；かつ、
光遅延変調器を用いて前記相対位相を変調するようにした請求項２２の方法。
【請求項２４】
更に、前記第２部分と前記試料との間の相対横位置を調整して、前記試料上の異なる位置へ達するように前記第２部分を導いて、前記異なる位置での情報を得るようにした請求項１又は２の方法。
【請求項２５】
更に、前記試料から離れる方向で前記光導波路中に導かれた、前記第１伝搬モードの前記放射光と、前記第２伝搬モードの前記放射光との間の相対位相遅延を調整して、前記試料の層を選択して測定するようにした請求項１又は２の方法。
【請求項２６】
更に、前記試料を測定する際に、前記相対位相遅延をある変調周波数で変調するようにした請求項２５の方法。
【請求項２７】
更に、同調式光バンドパスフィルタを用いて、前記試料から離れた前記導波路を通じて導かれる前記放射光のスペクトル範囲の中心波長を選択し、前記スペクトル範囲での前記試料のスペクトル応答を得るようにした請求項１又は２の方法。
【請求項２８】
更に、前記第１伝搬モードの前記放射光と、前記光導波路内を前記試料から離れる方向へ導かれる前記第２伝搬モードの前記放射光との間の相対位相遅延をある値に調整して、前記第２伝搬モードの前記戻り放射光の反射成分が、前記第１伝搬モードの前記放射光と位相でほぼ一致する層を選択し；
前記値周辺の前記相対位相をある変調周波数で変調して測定値を得；かつ、
前記測定値を処理して前記層の情報を得るようにした請求項１又は２の方法。
【請求項２９】
更に、光遅延装置を用いて前記相対位相遅延を生成するとともに調整し；かつ、
光遅延変調器を用い、前記相対位相を変調するようにした請求項２８の方法。
【請求項３０】
更に、前記第１および前記第２伝搬モードの前記光放射を少なくとも一部、一対の新規伝搬モードに変換し；かつ、
一対の前記新規伝搬モードの前記光強度を検出して、前記試料についての情報を抽出するようにした請求項１又は２の方法。
【請求項３１】
前記第１および前記第２伝搬モードは、直交する２つの直線偏光モードであり、
前記方法は：更に、
偏光器を用いて前記第１および第２伝搬モードを部分的に混合し、新規直線偏光モードの光信号を生成し；かつ、
前記光信号を検出して前記試料の情報を得るようにした請求項１又は２の方法。
【請求項３２】
試料を光測定するための装置であって：
第１伝搬モードの入力ビームを受取りかつ案内する導波路；
前記導波路に結合されて前記入力ビームを受取り、前記入力ビームの第１部分を前記第１伝搬モードで前記導波路へ反射して返し、前記入力ビームの第２部分を試料へ導くプローブヘッドであって、前記試料から前記第２部分の反射を集光し、かつ前記第１伝搬モードとは異なる第２伝搬モードの反射第２部分として前記反射を前記導波路へ送り出して、前記第１部分と共に伝播させるプローブヘッド；および、
前記導波路の反射第１部分および前記反射第２部分を受取り、前記反射第２部分により搬送される、前記試料の情報を抽出する検出モジュールを備えた装置。
【請求項３３】
試料を光測定するための装置であって：
第１伝搬モードおよび第２の異なる伝搬モードをサポートして、前記第１伝搬モードおよび第２伝搬モードの両方の入力ビームを受取り、案内する導波路；
前記導波路に結合されて前記入力ビームを受取り、前記第１伝搬モードの前記入力ビームの第１部分を反射して前記第１伝搬モードで前記導波路へ返し、前記第２伝搬モードで前記入力ビームの第２部分を試料へ導くプローブヘッドであって、前記試料からの前記第２部分の反射を集光し、前記第２伝搬モードの反射第２部分として前記反射を前記導波路へ送り出して、前記試料から離れる方向に前記第１部分と共に伝播させるプローブヘッド；および、
前記導波路内の反射第１部分および前記反射第２部分を受取り、前記反射第２部分が搬送する前記試料の情報を抽出する検出モジュールを備えた装置。
【請求項３４】
前記反射第１部分および第２部分の光路内に設けられて、前記反射第１部分と第２部分との間の相対位相遅延を生成する光遅延装置；および、
前記反射第１部分および第２部分の前記光路内に設けられて、前記相対位相を変調する光遅延変調器を更に備えた請求項３２又は３３の装置。
【請求項３５】
前記反射第１部分および第２部分の光路内に設けられて、前記反射第１部分と第２部分との間の相対位相遅延を生成するとともに、前記相対位相を変調する光遅延変調器を更に備えた請求項３２又は３３の装置。
【請求項３６】
前記反射第１部分および第２部分の光路内に設けられて、前記反射第１部分と第２部分との間の可変相対位相遅延を生成する可変光遅延ユニットを更に備え、
前記可変光遅延ユニットが：
前記第１伝搬モードの前記反射第１部分および前記第２伝搬モードの前記第２部分をそれぞれ、第１光路および第２光路へ分離するモード分割ユニット；および、
前記第１光路および第２光路の一方に設けられて、光路長を調整する可変光遅延素子を備えた請求項３２又は３３の装置。
【請求項３７】
前記可変光遅延素子が：
遅延すべき入力光ビームを受取り、前記入力光ビームの一部を透過させるビームスプリッタ；
前記ビームスプリッタからの透過光を受取り、前記透過光の光路長を変えるように回転する透明プレート；および、
前記透明プレートを透過した光を反射させて前記透明プレートへ返し、前記透明プレートからの光を遅延出力として反射させる前記ビームスプリッタに到達させるミラーを備えた請求項３６の装置。
【請求項３８】
前記可変光遅延素子が：
遅延すべき入力光ビームを第１ポートで受取り、前記入力光ビームを第２ポートへ導く光サーキュレータ；
前記光サーキュレータの前記第２ポートからの光を受取るとともに、回転して、通過する前記透過光の光路長を変える透明プレート；および、
前記透明プレートを透過した光を反射させて前記透明プレートへ返し、前記第２ポートからの光を遅延出力として第３ポートへ導く前記光サーキュレータの前記第２光ポートに到達させるミラーを備えた請求項３６の装置。
【請求項３９】
前記可変光路長素子は、ファイバと、前記ファイバに組み合わされて前記ファイバの長さを変えるファイバ伸張器とを備えた請求項３６の装置。
【請求項４０】
前記可変光路長素子は、２つの光コリメータと、前記２つの光コリメータを接続する光路内に設けられた可動再帰反射器とを備えた請求項３６の装置。
【請求項４１】
前記可変光路長素子は、２つの光コリメータと、前記２つの光コリメータを接続する光路内に設けられた光学プレートおよび反射器とを備え、前記光学プレートは回転して、光の光路長を変更する請求項３６の装置。
【請求項４２】
前記反射第１部分と第２部分との間の可変相対位相遅延を生成する可変光遅延ユニットを、前記反射第１部分および第２部分の光路内に更に設け、前記可変光遅延ユニットが、少なくとも一つの同調複屈折材料および固定された複屈折材料を含む請求項３２又は３３の装置。
【請求項４３】
前記同調複屈折材料は液晶を含む請求項４２の装置。
【請求項４４】
前記同調複屈折材料は光電複屈折材料を含む請求項４２の装置。
【請求項４５】
前記検出モジュールは光検出器を備えた請求項３２又は３３の装置。
【請求項４６】
前記検出モジュールは、前記反射第１部分および第２部分を受取り、かつ混合して、前記光検出器への光出力を生成する光偏光器を更に備えた請求項４５の装置。
【請求項４７】
前記光検出器からの出力を処理するとともに、前記出力を処理して前記試料の情報を抽出する電子ユニットを更に備えた請求項４６の装置。
【請求項４８】
前記検出モジュールは：
それぞれが前記第１および第２伝搬モードである前記反射第１部分および第２部分を受取り、かつ混合して、第１光信号および第２光信号を生成する光偏光ビームスプリッタ；
前記第１光信号を受取る第１光検出器；
前記第２光信号を受取る第２光検出器；および、
前記第１および第２光検出器からの出力を受取り、かつ処理して、前記試料の情報を抽出する電子ユニットを備えた請求項３２又は３３の装置。
【請求項４９】
前記第１および第２光検出器は、それぞれ第１および第２検出器アレイであり、
前記装置は：
前記第１光信号を受取り、かつ回折する第１回折格子；
前記第１光信号の異なる回折成分を前記第１検出器アレイ上の異なる位置に収束させる第１レンズ；
前記第２光信号を受取り、かつ回折する第２回折格子；および、
前記第２光信号の異なる回折成分を前記第２検出器アレイ上の異なる位置に収束させる第２レンズを更に備えた請求項４８の装置。
【請求項５０】
前記プローブヘッドは、前記試料からの反射を前記第２伝搬モードに設定する部分モード変換器を備えた請求項３２の装置。
【請求項５１】
前記プローブヘッドは：
前記入力ビームの前記反射第１部分を反射するとともに、前記試料への前記入力ビームの前記第２部分を透過させる部分反射器；および、
前記部分反射器と前記試料との間に位置して、前記反射第２部分が前記第２伝搬モードになるように制御するに際に、前記反射第２部分の偏光を変える偏光回転器を備えた請求項３２の装置。
【請求項５２】
前記プローブヘッドは：
前記入力ビームの前記反射第１部分を反射するとともに、前記試料への前記入力ビームの前記第２部分を透過させる部分反射器；および、
前記部分反射器と前記試料との間に位置して、前記反射第２部分が前記第２伝搬モードになるように制御するに際に、前記反射第２部分の偏光を変えるファラデー回転子を備えた請求項３２の装置。
【請求項５３】
前記プローブヘッドは：
前記入力ビームの前記反射第１部分を反射するとともに、前記試料への前記入力ビームの前記第２部分を透過させる部分反射器；および、
前記部分反射器と前記試料との間に位置して、前記反射第２部分が前記第２伝搬モードになるように制御するに際に、前記反射第２部分の偏光を変える１／４波長プレートを備えた請求項３２の装置。
【請求項５４】
前記導波路は偏光保持導波路である請求項３２又は３３の装置。
【請求項５５】
前記導波路は偏光保持ファイバである請求項３２又は３３の装置。
【請求項５６】
前記入力ビームを生成する光源；
前記光源からの前記入力ビームを受取り、前記第１伝搬モードで前記入力ビームを案内する入力導波路；
前記導波路から前記反射第１部分および第２部分を受取り、前記反射第１部分および第２部分を前記検出モジュールへ導く出力導波路；および、
前記入力導波路と、前記導波路と、前記出力導波路とに結合され、前記入力導波路から来る光を前記導波路へ導き、前記導波路から来る光を前記出力導波路へ導くように動作可能な光ルータを更に備えた請求項３２の装置。
【請求項５７】
前記光ルータは：
光サーキュレータ；
前記導波路内に設けられて、前記第１伝搬モードの光を透過させ、かつ前記第２伝搬モードの光を反射する第１偏光ビームスプリッタ；
前記出力導波路内に設けられて、前記第１伝搬モードの光を透過させ、かつ前記第２伝搬モードの光を反射する第２偏光ビームスプリッタ；および、
前記第１と第２偏光ビームスプリッタとの間に結合されて、前記第１偏光ビームスプリッタにより反射された前記反射第２部分を、反射により前記反射第２部分を前記出力導波路に導く前記第２偏光ビームスプリッタへ導く、バイパス導波路を備えた請求項５６の装置。
【請求項５８】
前記入力導波路と、前記導波路と、前記出力導波路とのうちの一つに配置されて、前記試料のスペクトル応答の一部を選択して測定するための同調式光フィルタを更に備えた請求項５６の装置。
【請求項５９】
前記入力ビームをフィルタ処理して、前記試料のスペクトル応答の一部を選択して測定するための同調式光フィルタを更に備えた請求項３２又は３３の装置。
【請求項６０】
前記反射第１部分および第２部分をフィルタ処理して、前記試料のスペクトル応答の一部を選択して測定するための同調式光フィルタを更に備えた請求項３２又は３３の装置。
【請求項６１】
前記プローブヘッドは、
前記第１伝搬モードの前記入力ビームの前記第１部分を選択して反射させ、前記第２伝搬モードの前記入力ビームの前記第２部分を選択して前記試料に透過させる、モード選択反射器を備えた請求項３３の装置。
【請求項６２】
前記第１および第２伝搬モードは、直交する直線偏光モードであり、
前記モード選択反射器は：
前記第２伝搬モードの光を前記試料に透過させ、前記第１伝搬モードの光を反射させる偏光ビームスプリッタ；および、
前記第１伝搬モードの前記光を前記偏光ビームスプリッタに反射して返すように配置される反射器を備えた請求項６１の装置。
【請求項６３】
前記プローブヘッドは、前記導波路と前記モード選択反射器との間にレンズ系を更に備えた請求項６１の装置。
【請求項６４】
前記入力ビームを生成する光源；
前記光源から前記入力ビームを受取り、前記入力ビームを案内する入力導波路；
前記導波路から前記反射第１部分および第２部分を受取り、前記反射第１部分および第２部分を前記検出モジュールへ導く出力導波路；および、
前記入力導波路と、前記導波路と、前記出力導波路とに結合され、前記入力導波路から来る光を前記導波路へ導き、前記導波路から来る光を前記出力導波路へ導くよう動作可能な光ルータを更に備えた請求項３２又は３３の装置。
【請求項６５】
前記光ルータが光サーキュレータである請求項６４の装置。
【請求項６６】
前記光ルータが偏光保存光サーキュレータである請求項６４の装置。
【請求項６７】
前記入力導波路と、前記導波路と、前記出力導波路とのうちの一つに配置され、前記試料のスペクトル応答の一部を選択して測定するための同調式光フィルタを更に備えた請求項６４の装置。
【請求項６８】
試料を光測定する装置であって：
少なくとも光の入力伝搬モードをサポートして、前記入力伝搬モードの入力ビームを受取り、案内する入力導波路；
前記入力ビームを受取って、前記入力ビームの第１部分を反射させて前記入力伝搬モードで前記導波路へ返すとともに、前記入力ビームの第２部分を前記入力伝搬モードで試料へ導くように前記導波路に結合されるプローブヘッドであって、前記試料からの前記第２部分の反射を集光し、前記反射を前記入力伝搬モードの反射第２部分として前記導波路へ送り出すプローブヘッド；および、
前記導波路から前記入力伝搬モードで反射第１部分および前記反射第２部分を受取り、前記反射第２部分が搬送する前記試料の情報を抽出する検出モジュールを備えた装置。
【請求項６９】
前記検出モジュールは：
受取った光を第１ビームおよび第２ビームに分割するビームスプリッタ；
前記第１ビームを受取る第１光路；
前記第２ビームを受取る第２光路；
前記第１光路および前記第２光路に光結合して、前記第１および第２ビームを結合し、前記結合されたビームを、第１伝搬モードの第１出力ビームと第２伝搬モードの第２出力ビームとに分割するビームコンバイナ；
前記第１出力ビームを受取る第１光検出器；および、
前記第２出力ビームを受取る第２検出器を備えた請求項３２、３３および６８のうちのいずれか一つの装置。
【請求項７０】
前記検出モジュールは、前記第２光路に設けられて、前記ビームコンバイナでの前記第１ビームと前記第２ビームとの間の相対遅延を調整する可変光遅延素子を備えた請求項６９の装置。
【請求項７１】
前記ビームコンバイナは偏光ビームスプリッタであり、前記第１および第２伝搬モードは直交する２つの偏光モードである請求項６９の装置。
【請求項７２】
前記光プローブヘッドは、前記入力ビームの第１部分を反射して前記導波路へ返す光部分反射器を備えた請求項６８の装置。
【請求項７３】
光の光路内に設けられて、前記第１および第２出力ビームの周波数を同調して、前記フィルタのスペクトルバンド幅で前記試料を測定するための同調式光フィルタを更に備えた請求項６８の装置。
【請求項７４】
前記光プローブヘッドと前記試料との間の相対横方向位置を調整するように結合されて、前記第２部分を前記試料上の異なる位置に達するように導いて、前記異なる位置で前記試料の情報を得る位置決めメカニズムを更に備えた請求項３２、３３および６８のうちのいずれか一つの装置。
【請求項７５】
前記可変光遅延素子は、ある変調周波数で前記相対遅延を変調する可変光遅延素子を備えた請求項７０の装置。
【請求項７６】
前記可変光遅延素子が：
遅延すべき入力光ビームを受取り、前記入力光ビームの一部を透過させるビームスプリッタ；
前記ビームスプリッタからの透過光を受取り、前記透過光の光路長を変えるように回転する透明プレート；および、
前記透明プレートを透過した光を反射させて前記透明プレートへ返し、前記透明プレートからの光を遅延出力として反射させる前記ビームスプリッタに到達させるミラーを備えた請求項７０の装置。
【請求項７７】
前記可変光遅延素子が：
遅延すべき入力光ビームを第１ポートで受取り、前記入力光ビームを第２ポートへ導く光サーキュレータ；
前記光サーキュレータの前記第２ポートからの光を受取るとともに、回転して、通過する前記透過光の光路長を変える透明プレート；および、
前記透明プレートを透過した光を反射させて前記透明プレートへ返し、前記第２ポートからの光を遅延出力として第３ポートへ導く前記光サーキュレータの前記第２光ポートに到達させるミラーを備えた請求項７０の装置。
【請求項７８】
前記可変光路長素子は、ファイバと、前記ファイバに組み合わされて前記ファイバの長さを変えるファイバ伸張器とを備えた請求項７０の装置。
【請求項７９】
前記可変光路長素子は、２つの光コリメータと、前記２つの光コリメータを接続する光路内に設けられた可動再帰反射器とを備えた請求項７０の装置。
【請求項８０】
前記可変光路長素子は、２つの光コリメータと、前記２つの光コリメータを接続する光路内に設けられた光学プレートおよび反射器とを備え、前記光学プレートは回転して、光の光路長を変更する請求項７０の装置。
【請求項８１】
前記第１および第２光検出器からの出力を処理するとともに、前記出力を処理して前記試料の情報を抽出する電子ユニットを更に備えた請求項６９の装置。
【請求項８２】
前記第１および第２光検出器は、それぞれ第１および第２検出器アレイであり、
前記装置は：
前記第１光信号を受取り、かつ回折する第１回折格子；
前記第１光信号の異なる回折成分を前記第１検出器アレイ上の異なる位置に収束させる第１レンズ；
前記第２光信号を受取り、かつ回折する第２回折格子；および、
前記第２光信号の異なる回折成分を前記第２検出器アレイ上の異なる位置に収束させる第２レンズを更に備えた請求項６９の装置。
【請求項８３】
前記導波路は偏光保持導波路である請求項６８の装置。
【請求項８４】
前記入力ビームを生成する光源；
前記光源からの前記入力ビームを受取り、前記第１伝搬モードで前記入力ビームを案内する入力導波路；
前記導波路から前記反射第１部分および第２部分を受取り、前記反射第１部分および第２部分を前記検出モジュールへ導く出力導波路；および、
前記入力導波路と、前記導波路と、前記出力導波路とに結合され、前記入力導波路から来る光を前記導波路へ導き、前記導波路から来る光を前記出力導波路へ導くように動作可能な光ルータを更に備えた請求項６８の装置。
【請求項８５】
試料を光測定するための方法であって：
導波路によってサポートされる入力伝播モードの入力ビームを前記導波路内に試料に向けて導き；
前記入力ビームの第１部分を、前記第１部分が前記試料へ達する前に、前記導波路と前記試料との間の位置で、前記入力伝播モードで前記導波路に反射して返し；
前記第１部分の反射後、前記入力伝播モードの入力ビームの第２部分を前記試料と相互作用するように前記試料に導き；
前記試料からの第２部分の反射を前記入力伝播モードの反射第２部分として前記導波路内に導いて、前記第１部分と共に伝播させ；
前記導波路からの前記入力伝播モードの前記反射第１部分および前記反射第２部分を検出モジュールへ導き；かつ
前記反射第２部分によって搬送された前記試料の情報を抽出するように前記検出モジュールを作動させるようにした方法。
【請求項８６】
前記導波路から受取った光を第１光路の第１ビームと第２光路の第２ビームに分割し；
前記第１および第２光路の前記第１ビームと第２ビームとの間の相対遅延をそれぞれ調整し；
前記第１光路からの第１ビームと前記第２光路からの第２ビームとを混合して、混合されたビームを生成し；
前記混合されたビームを、第１伝播モードの第１出力ビームと第２伝播モードの第２出力ビームに分割し；
前記第１出力ビームを受取る第１光検出器、および前記第２出力ビームを受取る第２光検出器を用い、かつ
前記第１および第２光検出器からの出力信号を処理して、前記反射第２部分によって搬送された前記試料の情報を抽出するように前記検出モジュールを作動させる請求項８５の方法。
【請求項８７】
前記第１および第２部ビームの間の相対遅延をある変調周波数で変調し；かつ、
前記変調周波数および前記変調周波数の高調波での差の振幅に関する情報を用いて、前記試料の情報を抽出するようにした請求項８６の方法。
【請求項８８】
前記第１出力ビームの異なる光スペクトル成分を分離し；
前記第１出力ビームの前記異なる光スペクトル成分を測定し；
前記第２出力ビームの異なる光スペクトル成分を分離し；
前記第２出力ビームの前記異なる光スペクトル成分を測定し；かつ、
前記測定結果を用いて、前記異なる光スペクトル成分から選択したスペクトル成分での前記試料のスペクトル応答を得るようにした請求項８６の方法。
【請求項８９】
同調式光バンドパスフィルタを用いて、前記試料への前記入力ビームのスペクトル範囲の中心波長を選択して、前記スペクトル範囲内の前記試料のスペクトル応答を得るようにした請求項８５の方法。
【請求項９０】
前記第１および第２ビームの間の相対遅延を第１の値に調整して、前記試料内の第１の層に関連した、前記第１および第２光検出器からの第１信号を測定し；
前記第１および第２ビームの間の相対遅延を前記第１の値と異なる第２の値に調整して、前記試料内の第２の層に関連した、前記第１および第２光検出器からの第２信号を測定し；かつ
前記第１および第２信号の間の比を得て、前記第１および第２の層の間に位置する前記試料の層についての情報を抽出するようにした請求項８６の方法。
【請求項９１】
同調式光バンドパスフィルタを用いて、前記試料への前記入力ビームのスペクトル範囲の中心波長を選択して、前記スペクトル範囲内の、前記第１および第２の層の間に位置する前記試料の層のスペクトル応答を得るようにした請求項９０の方法。
【請求項９２】
前記比を用いて、皮膚組織の真皮層中のグルコース濃度を測定するようにした請求項９０の方法。
【請求項９３】
前記第２部分と前記試料との間の相対横位置を調整して、前記試料上の異なる位置へ達するように前記第２部分を導いて、前記異なる位置での情報を得るようにした請求項８５の方法。
【請求項９４】
試料を光測定するための方法であって、
測定下で、プローブ光を試料の近傍に導き；
前記プローブ光の第１部分を、前記試料へ達せずに前記試料近傍で前記試料から離れる方向に伝播させるように導き；
前記プローブ光の第２部分を前記試料に導いて、前記試料で反射させ、
前記試料からの反射光を、前記第１部分が発生される位置で前記第１部分と重ねあわせるとともに、前記位置から始まる共通の光路に沿って前記第１部分と共に伝播させるように導き；
前記共通の光路からの光を、第１光ビームと第２光ビームに分割し；
前記第１光ビームと前記第２光ビームとの間の相対位相遅延を変え、
前記相対位相遅延を変えた後に、前記第１光ビームと前記第２光ビームとを混合して、混合された光を生成し；
前記混合された光を検出および処理して、前記相対位相遅延を変えたことによってもたらされる異なる相対位相遅延に対応した異なる深さにおける前記試料の測定結果を得るようにした方法。
【請求項９５】
更に、前記試料上における前記第２部分のビームスポットの横方向位置を調整して、前記試料上の異なる位置へ前記第２部分を導いて、前記異なる位置での前記試料の異なる深さにおける前記試料の測定結果を得るようにした請求項９４の方法。
【請求項９６】
更に、前記試料の測定結果から、前記異なる位置での前記試料の異なる深さにおける前記試料の測定画像を形成するようにした請求項９５の方法。
【請求項９７】
更に、前記案内された光の異なる波長での異なる深さにおける前記試料の測定結果を得て、前記第２部分の各ビーム位置で、前記試料の応答のスペクトル分布を測定するようにした請求項９６の方法。
【請求項９８】
更に、広帯域光源を用いて、前記異なる波長をカバーするスペクトル範囲をもつ前記プローブ光を生成し；
前記プローブ光を、前記異なる波長のうちの一つを選択するようにフィルタ処理して、前記試料へ到達させるようにした請求項９７の方法。
【請求項９９】
更に、広帯域光源を用いて、前記異なる波長をカバーするスペクトル範囲をもつ前記プローブ光を生成し；
光フィルタ処理を行うことなく、前記スペクトル範囲内にある全ての波長の光を前記試料に導き；
前記試料からの反射光を、前記位置で前記第１部分と重ねあわせるとともに、前記共通の光路に沿って前記第１部分と共に伝播させるように導いて、光フィルタ処理を行って異なる波長での異なる深さにおける前記試料の測定結果を得るようにした請求項９７の方法。
【請求項１００】
更に、偏光保持ファイバを前記共通の光路として用いるようにした請求項９４の方法。
【請求項１０１】
試料を光測定するための装置であって：
入力ビームを受取りかつ案内する導波路；
前記導波路に結合されて前記入力ビームを受取り、前記入力ビームの第１部分を前記導波路へ反射して返し、前記入力ビームの第２部分を試料へ導くプローブヘッドであって、前記試料から前記第２部分の反射を前記第１部分と重ねあわせて前記反射を反射第２部分として前記導波路に送り出すように構成されたプローブヘッド；
前記導波路に結合されて前記第１部分および前記反射第２部分を受取り、前記第１部分と前記反射第２部分との間の可変相対位相遅延を生成する光遅延装置；および、
前記光遅延装置からの前記第１部分および前記反射第２部分の光を処理して、前記反射第２部分によって搬送された前記試料の情報を抽出する検出モジュールを備えた装置。
【請求項１０２】
前記プローブヘッドは：
前記入力ビームの前記第１部分を反射して前記導波路に戻し、前記試料への前記入力ビームの前記第２部分を透過させ、かつ前記反射第２部分を集光して前記第１部分と重ねあわせる部分反射器を備えた請求項１０１の装置。
【請求項１０３】
前記光遅延装置が：
前記導波路からの光を第１光路に沿った第１光ビームと第２光路に沿った第２光ビームとに分割するビームスプリッタ；
前記第１および第２光路の一方に設けられて前記第１光ビームと前記第２光ビームとの間の相対位相遅延をもたらす可変光遅延素子；および、
前記第１光ビームと前記第２光ビームとを混合して混合された光を生成するビームコンバイナを備えた請求項１０１の装置。
【請求項１０４】
前記可変光遅延素子が：
遅延すべき入力光ビームを受取り、前記入力光ビームの一部を透過させるビームスプリッタ；
前記ビームスプリッタからの透過光を受取り、前記透過光の光路長を変えるように回転する透明プレート；および、
前記透明プレートを透過した光を反射させて前記透明プレートへ返し、前記透明プレートからの光を遅延出力として反射させる前記ビームスプリッタに到達させるミラーを備えた請求項１０３の装置。
【請求項１０５】
前記可変光遅延素子が：
遅延すべき入力光ビームを第１ポートで受取り、前記入力光ビームを第２ポートへ導く光サーキュレータ；
前記光サーキュレータの前記第２ポートからの光を受取るとともに、回転して、通過する前記透過光の光路長を変える透明プレート；および、
前記透明プレートを透過した光を反射させて前記透明プレートへ返し、前記第２ポートからの光を遅延出力として第３ポートへ導く前記光サーキュレータの前記第２光ポートに到達させるミラーを備えた請求項１０３の装置。
【請求項１０６】
前記可変光遅延素子は、ファイバと、前記ファイバに組み合わされて前記ファイバの長さを変えるファイバ伸張器とを備えた請求項１０３の装置。
【請求項１０７】
前記可変光遅延素子は、２つの光コリメータと、前記２つの光コリメータを接続する光路内に設けられた可動再帰反射器とを備えた請求項１０３の装置。
【請求項１０８】
前記可変光遅延素子は、２つの光コリメータと、前記２つの光コリメータを接続する光路内に設けられた光学プレートおよび反射器とを備え、前記光学プレートは回転して、光の光路長を変更する請求項１０３の装置。
【請求項１０９】
前記可変光遅延素子は、光学複屈折材料を含む請求項１０３の装置。
【請求項１１０】
前記検出モジュールは、前記第１部分および前記反射第２部分の光を処理して、前記可変光遅延素子によってもたらされる相対位相遅延に対応した深さにおける前記試料の測定を行い、異なる相対位相遅延に対応した異なる深さにおける前記試料の測定結果を得るように動作する請求項１０１の装置。
【請求項１１１】
更に、前記試料上における前記第２部分のビームスポットの横方向位置を調整して、前記試料上の異なる位置へ前記第２部分を導いて、前記異なる位置での前記試料の異なる深さにおける前記試料の測定結果を得るメカニズムを備えた請求項１０１の装置。
【請求項１１２】
前記検出モジュールは、前記試料の測定結果から、前記異なる位置での前記試料の異なる深さにおける前記試料の測定画像を形成するように動作する請求項１１１の方法。
【請求項１１３】
更に、異なる波長をカバーするスペクトル範囲をもつ入力ビームを生成する広帯域光源；および、
前記入力ビームの光路に置かれて、前記入力ビームを、前記異なる波長のいずれか一つにおける中心波長をもつようにフィルタ処理する同調式光フィルタを備え、
前記試料に到達する前記第２部分は、前記同調式光フィルタの中心波長にあり、かつ、
前記検出モジュールは、前記異なる波長での前記試料の測定結果を得て、前記第２部分の各ビーム位置での前記試料の応答のスペクトル分布を測定するように動作する請求項１０１の装置。
【請求項１１４】
更に、異なる波長をカバーするスペクトル範囲をもつ入力ビームを生成する広帯域光源；および、
前記プローブヘッドによって出力された前記第１部分および前記反射第２部分の光路に置かれて、前記第１部分および前記反射第２部分の両方の光を、前記異なる波長のいずれか一つにおける中心波長をもつようにフィルタ処理する同調式光フィルタを備え、
前記試料に到達する前記第２部分は、前記異なる波長における光をもち、かつ、
前記検出モジュールは、前記異なる波長での前記試料の測定結果を得て、前記第２部分の各ビーム位置での前記試料の応答のスペクトル分布を測定するように動作する請求項１０１の装置。
【請求項１１５】
前記導波路は、偏光保持ファイバを含む請求項１０１の装置。
【請求項１１６】
前記光遅延装置が：
前記導波路からの光を第１光路に沿った第１光ビームと第２光路に沿った第２光ビームとに分割するビームスプリッタ；
前記第１および第２光路の一方に設けられて前記第１光ビームと前記第２光ビームとの間の相対位相遅延をもたらす可変光遅延素子；および、
前記第１ビームと前記第２ビームとを混合して混合された光を生成し、前記混合された光を第１光信号と第２光信号とに分割するビームコンバイナを備え；さらに、
前記光検出モジュールが：
前記第１光信号を受取る第１光検出器；
前記第２光信号を受取る第２光検出器；および
前記第１および第２光検出器からの出力を受取り、かつ処理して、前記試料の情報を抽出する電子ユニットを備えた請求項１０１の装置。
【請求項１１７】
前記第１および第２光検出器は、それぞれ第１および第２検出器アレイであり、
前記装置は：
前記第１光信号を受取り、かつ回折する第１回折格子；
前記第１光信号の異なる回折成分を前記第１検出器アレイ上の異なる位置に収束させる第１レンズ；
前記第２光信号を受取り、かつ回折する第２回折格子；および、
前記第２光信号の異なる回折成分を前記第２検出器アレイ上の異なる位置に収束させる第２レンズを更に備えた請求項１１６の装置。
【請求項１１８】
前記入力ビームを生成する光源；
前記光源からの前記入力ビームを受取り、前記第１伝搬モードで前記入力ビームを案内する入力導波路；
前記導波路から前記第１部分および前記反射第２部分を受取り、前記第１部分および前記反射第２部分を前記光遅延装置および前記検出モジュールへ導く出力導波路；および、
前記入力導波路と、前記導波路と、前記出力導波路とに結合され、前記入力導波路から来る光を前記導波路へ導き、前記導波路から来る光を前記出力導波路へ導く光ルータを更に備えた請求項１０１の装置。
【請求項１１９】
前記光ルータは、光サーキュレータである請求項１１８の装置。
【請求項１２０】
前記入力導波路と、前記導波路と、前記出力導波路とのうちの一つに配置されて、前記試料のスペクトル応答の一部を選択して測定するための同調式光フィルタを更に備えた請求項１１８の装置。