(57)【要約】【課題】物理的に光ピックアップをチルト方向に移動させることなくチルトを要因とするジッタ変化を検出する。【解決手段】光ディスク装置１において、ＲＦアンプブロック３は、ＲＦ信号を増幅するＲＦアンプ２１と、サーボアンプ２２とを備え、ＤＳＰブロック４は、ＲＦ信号から基準クロックを抽出するＲＦＰＬＬ回路３１と、ＲＦ信号の周波数特性等を補正又は変更するＲＦイコライザ３２と、サーボ制御信号を生成するサーボ制御回路３３とを備える。そして、ＤＳＰブロック４のＲＦイコライザ３２及びＲＦＰＬＬ回路３１と分離した成分を復号する復号器３５との間に、再生されたＲＦ信号の光学伝達関数ＯＴＦの特性劣化を電気的に処理してゲイン特性、位相特性等を正常な特性に戻すフィルタ処理が行われるチルト検出部３４を設ける。【選択図】図１
2006294112.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対する光ピックアップのチルトずれを検出するチルト量検出装置において、
上記光ディスクから再生された再生信号を入力する入力手段と、
上記再生信号の光学伝達特性を補正する第１のフィルタ部と、
上記再生信号の光学伝達特性を上記第１のフィルタ部とは逆位相に補正する第２のフィルタ部と、
上記入力した再生信号から基準クロック信号を抽出する基準クロック抽出手段と、
上記第１のフィルタ部からの出力信号と上記抽出された基準クロックのジッタ量を計測し出力する第１のジッタ測定手段と、
上記第２のフィルタ部からの出力信号と上記抽出された基準クロックのジッタ量を計測し出力する第２のジッタ測定手段と、
上記第１のジッタ測定手段で測定されたジッタ量と上記第２のジッタ測定手段で測定されたジッタ量との差分を算出する差分演算手段と
を備えることを特徴とするチルト量検出装置。
【請求項２】
上記第１のフィルタ部は、上記入力手段において入力された再生信号に対して所定の遅延量を与える遅延手段が複数個直列に接続され、且つ各遅延手段の出力に対して個別の係数値を乗算する第１の乗算手段群と該第１の乗算手段群のそれぞれの出力を加算する第１の加算手段とから構成されており、
上記第２のフィルタ部は、上記入力手段において入力された再生信号に対して所定の遅延量を与える遅延手段が上記第１のフィルタ部と同数直列に接続され且つ各遅延手段の出力に対して個別の係数値を乗算する第２の乗算手段群と該第２の乗算手段群のそれぞれの出力を加算する第２の加算手段とから構成され、
上記第２の乗算手段群で上記遅延手段からの出力に対して乗算される係数値は、上記第１の乗算手段群で上記遅延手段からの出力に対して乗算される係数値の配列順に対してセンタータップを中心に対称に配置されていることを特徴とする請求項１記載のチルト量検出装置。
【請求項３】
上記第１のフィルタ部及び上記第２のフィルタ部は、上記遅延手段を共有していることを特徴とする請求項１記載のチルト量検出装置。
【請求項４】
上記入力手段の直前に上記再生信号の周波数特性を補正する周波数特性補正手段を備えることを特徴とする請求項１記載のチルト量検出装置。
【請求項５】
上記遅延手段に乗算する係数値を格納する記憶手段を備え、該記憶手段は、上記第１のフィルタ部と上記第２のフィルタ部とで共用されており、該記憶手段から上記第１のフィルタ部の各乗算手段に係数値を入力する配線と上記第２のフィルタ部の各乗算手段に係数値を入力する配線とがセンタータップを中心に対称に配置されていることを特徴とする請求項１記載のチルト量検出装置。
【請求項６】
光ディスクに対する光ピックアップのチルトずれを補正するチルト補正装置において、
上記光ディスクから再生された再生信号を入力する入力手段と、
上記再生信号の光学伝達特性を補正する第１のフィルタ部と、
上記再生信号の光学伝達特性を上記第１のフィルタ部とは逆位相に補正する第２のフィルタ部と、
上記入力した再生信号から基準クロック信号を抽出する基準クロック抽出手段と、
上記第１のフィルタ部からの出力信号と上記抽出された基準クロックのジッタ量を計測し出力する第１のジッタ測定手段と、
上記第２のフィルタ部からの出力信号と上記抽出された基準クロックのジッタ量を計測し出力する第２のジッタ測定手段と、
上記第１のジッタ測定手段で測定されたジッタ量と上記第２のジッタ測定手段で測定されたジッタ量との差分を算出する差分演算手段と、
上記差分演算手段で算出された差分をチルト量として上記光ピックアップのチルトを補正する制御信号を生成するチルト制御手段と
を備えることを特徴とするチルト補正装置。
【請求項７】
上記第１のフィルタ部は、上記入力手段において入力された再生信号に対して所定の遅延量を与える遅延手段が複数個直列に接続され、且つ各遅延手段の出力に対して個別の係数値を乗算する第１の乗算手段群と該第１の乗算手段群のそれぞれの出力を加算する第１の加算手段とから構成されており、
上記第２のフィルタ部は、上記入力手段において入力された再生信号に対して所定の遅延量を与える遅延手段が上記第１のフィルタ部と同数直列に接続され且つ各遅延手段の出力に対して個別の係数値を乗算する第２の乗算手段群と該第２の乗算手段群のそれぞれの出力を加算する第２の加算手段とから構成され、
上記第２の乗算手段群で上記遅延手段からの出力に対して乗算される係数値は、上記第１の乗算手段群で上記遅延手段からの出力に対して乗算される係数値の配列順に対してセンタータップを中心に対称に配置されていることを特徴とする請求項６記載のチルト補正装置。
【請求項８】
上記チルト制御手段は、上記差分演算手段で算出された差分値が最小になる上記個別の係数値の各々を算出することを特徴とする請求項６記載のチルト補正装置。
【請求項９】
上記第１のジッタ測定手段及び上記第２のジッタ測定手段は、所定間隔でジッタ量を計測し、上記チルト制御手段は、上記差分演算手段で差分を算出し、上記チルト制御手段は、該差分値に応じて上記係数値の各々を更新することを特徴とする請求項８記載のチルト補正装置。
【請求項１０】
光ディスクを回転駆動し、送り手段によって該光ディスクの半径方向に移動されて所定の波長及び開口数の光ビームによって記録再生を行う光ピックアップを有し、光ディスクの回転と光ピックアップの移動とを記録及び／又は再生動作に対応して制御する光ディスク装置において、
光ビームを射出する光源と、該光ビームを上記光ディスク上に集光する対物レンズと、上記光ディスク上で反射された反射ビームを受光して電気信号に変換する受光手段とを有する光ピックアップの上記光ディスクに対するチルトずれを補正するチルト検出部として、
上記光ディスクから再生された再生信号を入力する入力手段と、
上記再生信号の光学伝達特性を補正する第１のフィルタ部と、
上記再生信号の光学伝達特性を上記第１のフィルタ部とは逆位相に補正する第２のフィルタ部と、
上記入力した再生信号から基準クロック信号を抽出する基準クロック抽出手段と、
上記第１のフィルタ部からの出力信号と上記抽出された基準クロックのジッタ量を計測し出力する第１のジッタ測定手段と、
上記第２のフィルタ部からの出力信号と上記抽出された基準クロックのジッタ量を計測し出力する第２のジッタ測定手段と、
上記第１のジッタ測定手段で測定されたジッタ量と上記第２のジッタ測定手段で測定されたジッタ量との差分を算出する差分演算手段と、
上記差分演算手段で算出された差分をチルト量として上記光ピックアップのチルトを補正する制御信号を生成するチルト制御手段と
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクから光ピックアップにより読み出される信号を処理するチルト量検出装置及びこのチルト量検出装置で検出されたチルト量に応じてチルトを補正するチルト補正装置、並びにこのチルト補正装置を適用した光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
情報化社会の発展とともに、１つのメディアに多様な形式のデータ、例えば、音楽コンテンツデータ、映像コンテンツデータ、コンピュータ用途のデータ等が自在に記録再生できることが求められている。なかでもＣＤ（Compact Disc）、ＭＤ（Mini Disc）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等のディスク状記録媒体（以下、光ディスクという）に対しては、更なる大容量化が期待されている。また、情報の高密度記録を実現した新規ディスクフォーマットも次世代の記録技術として大いに注目されている。
【０００３】
上述した光ディスクを媒体として使用する記録再生装置では、光学ピックアップから照射される光スポットに対する光ディスクの半径方向の傾きを示すラジアルチルト角、及び光ディスクの接線方向傾きを示すタンジェンシャルチルト角の制御が行われている。記録密度の向上に伴い、光ディスクのチルトずれ量を精度良く検出して光ディスクのチルト制御を行うことにより記録再生の信頼性を確保しなければならない。
【０００４】
そのため、従来の記録再生装置では、チルトずれ量を知るために実際に光ディスクと光ピックアップとの間の角度をプラス或いはマイナス方向に傾けて、その都度チルトずれ量を測定することによって最良となるチルト位置を検出していた。したがって、ジッタ値が優良な光ピックアップのチルト角を知るためには光ピックアップを傾けてこれを検出する物理的な機構が必要であった。また、このような機構をもたない装置では、光ピックアップを取り付けた後に、チルトずれを知ることはできなかった。
【０００５】
図７に一般的な光ディスク装置の一部構成を示す。光ディスク装置１００は、光ピックアップブロック１０１と、ＲＦアンプブロック１０２と、ＤＳＰブロック１０３と、ドライバアンプブロック１０４とを有し、マイクロコンピュータ１０５によって統括制御されている。
【０００６】
光ピックアップブロック１０１は、光ディスクに対して所定の記録再生レーザ光を照射するレーザダイオード（ＬＤ）１１１と、光ビームを複数ビームに分割するグレーティング１１２と、ＬＤ１１１からの往路光を光路変更するとともに光ディスクからの反射光を透過するビームスプリッタ１１３と、平行光に変更するコリメータレンズ１１４と、光ディスクの記録面に集光する対物レンズ１１５と、反射ビームを光検出器に集光するためのマルチレンズ１１６と、光ディスク記録面で反射された光ビームを光電変換する光検出器１１７とを備える。また、光ピックアップブロック１０１には、光ディスク９０に対する当該光ピックアップブロック１０１のチルト角を検出するチルトセンサ１１８が設けられている。
【０００７】
ＬＤ１１１から出射されたレーザ光は、グレーティング１１２によって複数ビームに分割された後、ビームスプリッタ１１３、コリメータレンズ１１４を通過し、対物レンズ１１５によって光ディスクの情報記録面に集光される。光ディスク表面で反射された光ビームは、上述した光ピックアップブロック１０１の復路光学系を通過し、光検出器１１７へと入射する。反射ビームは、光検出器１１７で光電変換され、得られた信号が次に続くＲＦアンプブロック１０２に送られる。
【０００８】
ＲＦアンプブロック１０２は、ＲＦ信号を増幅するＲＦアンプ１２１と、サーボアンプ１２２と、チルトセンサから検出された信号を増幅するアンプ１２３とを備える。また、ＤＳＰブロック１０３は、ＲＦ信号の周波数特性等を補正又は変更するＲＦイコライザ１３１と、分離した成分を復号する復号器１３２と、サーボ制御信号を生成するサーボ制御回路１３３と、チルトセンサで検出された信号からチルトモータの駆動を制御する制御信号を生成するチルト制御回路１３４とを備えている。
【０００９】
光検出器１１７から出力された信号は、ＲＦアンプ１２１、サーボアンプ１２２に送られて、ＲＦ信号演算、サーボ信号演算が行われる。そして、前者の出力は、光ディスクに記録された信号をデコードするためのＤＳＰブロック１０３へ送られ、後者の出力であるサーボ信号は、ドライバアンプブロック１０４に送られる。サーボ信号は、ドライバアンプブロック１０４のアンプ１４１、アンプ１４２で増幅されて２軸アクチュエータ、ＬＤ、チルトモータに送られる。また、チルトセンサ１１８から検出された信号は、アンプ１２３で増幅されてチルト制御回路１３４に送られる。チルト制御回路１３４は、図示しないチルトモータを駆動制御するチルトモータ制御信号を生成している。チルトモータ制御信号は、アンプ１４３で増幅されてチルトモータに送られる。
【００１０】
以上の動作は、マイクロコンピュータ１０５によって制御されており、ＤＳＰブロック１０３、ＲＦアンプブロック１０４の各回路に対するオンオフ等の指示、係数演算の指示、諸設定値の指示等をシリアル／パラレル信号で行っている。
【００１１】
このうち図７における光ピックアップブロック１０１は、一般的には光ピックアップ（以下、ＯＰという）とよばれ、光ディスクの回転駆動手段としてのスピンドルモータ、スレッドモータ、シャーシとともに光ディスクドライブ用メカデッキを構成する１部品になっている。
【００１２】
一般的に、このＯＰをメカデッキへ取り付ける場合、取付位置、取付角度等には、非常に厳しい精度が要求されている。特に、本明細書で問題としてあげるチルト方向に関する取付精度は、非常に厳密である。チルトずれは、その量に応じて信号再生性能の悪化が引き起こされる要因になる。ＯＰのチルト調整は、一般的にＲＦ信号の評価値であるジッタを観測しジッタ値に応じて行われている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
図８（ａ）〜（ｃ）には、光ディスク９０の記録面に対するＯＰ出射光軸の傾き、すなわちタンジェンシャルチルトが表されている。それぞれのチルト角に対するジッタ値が図９のｊａ、ｊｂ、ｊｃとして示されている。図８及び図９に示すように、チルト調整は、ＯＰにチルト角を与えて、ＲＦ信号のジッタ値が最も小さくなる位置を最適位置としてチルトモータの駆動を制御することになる。
【００１４】
ところが、ジッタには、チルトずれ以外の要因による影響も含まれており、ジッタ値が必ずしもスキューずれ量に相当するとは限らない。図１０は、光ディスク記録面に対するＯＰ光軸のチルト角に対するジッタ値を示したものである。図１０に示す破線曲線は、ＯＰから出射された光ビームが記録トラック上において焦点ずれ（デフォーカス）を起こした場合である。図１０に示すように、例えば、ＯＰから出射された光ビームが記録トラック上においてデフォーカスした場合もジッタ値が劣化するため、チルトずれが起きていなくてもチルトずれがあるかのようなジッタ値が検出されることがある。
【００１５】
したがって、チルトの最良位置を調整するには、チルト量を検出可能なセンサ等を設け、ＯＰを実際にチルトさせながらジッタ値の劣化状態を観測することで、チルトを要因とするジッタ変化を観測し、ジッタ最小値を探索するしかなかった。
【００１６】
この方法では、チルト検出センサ自体の取付誤差を最小にする必要があるため取付工程の精密度が増し、製造コスト増につながっていた。また、例えば、電源オン後にチルト調整を行う必要がある光ディスク装置では、システム立ち上げに時間がかかる、すなわち記録再生の準備が整うまでの時間が長くなるといった問題があった。
【００１７】
そこで、本発明は、上述した従来の実情に鑑みて提案されたものであり、物理的に光ピックアップをチルト方向に移動させることなくチルトを要因とするジッタ変化を検出することのできるチルト量検出装置及びこのチルト量検出装置によって検出されたチルト量を最適値に補正するチルト補正装置を提供することを目的とする。また、上述したチルト補正装置を適用してチルト補正を行う光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
上述した目的を達成するために、本発明に係るチルト量検出装置は、光ディスクから再生された再生信号を入力する入力手段と、再生信号の光学伝達特性を補正する第１のフィルタ部と、再生信号の光学伝達特性を第１のフィルタ部とは逆位相に補正する第２のフィルタ部と、入力した再生信号から基準クロック信号を抽出する基準クロック抽出手段と、第１のフィルタ部からの出力信号と抽出された基準クロックのジッタ量を計測し出力する第１のジッタ測定手段と、第２のフィルタ部からの出力信号と抽出された基準クロックのジッタ量を計測し出力する第２のジッタ測定手段と、第１のジッタ測定手段で測定されたジッタ量と第２のジッタ測定手段で測定されたジッタ量との差分を算出する差分演算手段とを備える。
【００１９】
本発明に係るチルト量検出装置は、特に、入力手段において入力された再生信号に対して所定の遅延量を与える遅延手段が複数個直列に接続され、且つ各遅延手段の出力に対して個別の係数値を乗算する第１の乗算手段群と該第１の乗算手段群のそれぞれの出力を加算する第１の加算手段とから構成された第１のフィルタ部を有し、また、入力手段において入力された再生信号に対して所定の遅延量を与える遅延手段が第１のフィルタ部と同数直列に接続され且つ各遅延手段の出力に対して個別の係数値を乗算する第２の乗算手段群と該第２の乗算手段群のそれぞれの出力を加算する第２の加算手段とから構成された第２のフィルタ部を有する。
【００２０】
そして、第２の乗算手段群で遅延手段からの出力に対して乗算される係数値は、第１の乗算手段群で遅延手段からの出力に対して乗算される係数値の配列順に対してセンタータップを中心に対称に配置される。
【００２１】
また、第１のフィルタ部及び第２のフィルタ部は、遅延手段を共有していてもよい。光ディスクを回転駆動し、送り手段によって該光ディスクの半径方向に移動されて所定の波長及び開口数の光ビームによって記録再生を行う光ピックアップを有し、光ディスクの回転と光ピックアップの移動とを記録及び／又は再生動作に対応して制御する光ディスク装置に対して、上述したチルト量検出装置を適用してチルト補正を行う。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、物理的に光ピックアップをチルト方向に移動させることなくチルトを要因とするジッタ変化を検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
光ディスクに対してデータを記録する及び／又は光ディスクからデータ再生する光ディスク装置では、光学ピックアップから照射される光スポットに対する光ディスクの半径方向の傾きを示すラジアルチルト角、又は光ディスクの接線方向傾きを示すタンジェンシャルチルト角に応じて光ディスク記録面上の光スポットに偏りが生じる。
【００２４】
偏った光スポットで光ディスク上の情報信号を再生しようとすると、本来再生すべきチルト位置で取得されるＲＦ信号以外に、このＲＦ信号に前後した成分も再生され、結果としてＲＦ信号に歪みが生じて信号再生性能が劣化する。この再生性能は、一般に光学系の伝達関数（ＯＴＦ：Optical Transfer Function）で表すことができるが、この伝達関数ＯＴＦがタンジェンシャルチルト角に応じて特性変化を起こすからであると考えられている。したがって、この伝達関数ＯＴＦの特性変化を電気的な処理で補えば、タンジェンシャル方向のチルトずれによって劣化した信号を回復することができる。この電気的な信号処理は、変化した信号特性（ゲイン特性、位相特性）を正常な特性に戻すようなフィルタ処理によって実現することができる。
【００２５】
以下、本発明の具体例について図面を参照して詳細に説明する。図１に示す光ディスク装置１は、光ピックアップブロック２と、ＲＦアンプブロック３と、ＤＳＰブロック４と、ドライバアンプブロック５とを有し、マイクロコンピュータ６によって統括制御されており、光ディスク９０の表面にピット等により記録されたデータを再生する、又は光ディスク９０の表面にデータを記録することができる。
【００２６】
光ディスク９０としては、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＣＤ（Compact Disc）等があげられる。また、光ディスク装置１は、これら複数の光ディスクに対応した、いわゆるコンビドライブであってもよい。
【００２７】
光ピックアップブロック２は、光ディスクに対して所定の記録再生レーザ光を照射するレーザダイオード（ＬＤ）１１と、光ビームを複数ビームに分割するグレーティング１２と、ＬＤ１１からの往路光を光路変更するとともに光ディスクからの反射光を透過するビームスプリッタ１３と、平行光に変更するコリメータレンズ１４と、光ディスクの記録面に集光する対物レンズ１５と、反射ビームを光検出器に集光するためのマルチレンズ１６と、光ディスク記録面で反射された光ビームを光電変換する光検出器１７とを備える。
【００２８】
ＬＤ１１から出射されたレーザ光は、グレーティング１２によって複数ビームに分割された後、ビームスプリッタ１３、コリメータレンズ１４を通過し、対物レンズ１５によって光ディスクの情報記録面に集光される。光ディスク表面で反射された光ビームは、上述した光ピックアップブロック２の復路光学系を通過し、光検出器１７へと入射する。反射ビームは、光検出器１７で光電変換され、得られた信号が次に続くＲＦアンプブロック３に送られる。
【００２９】
ＲＦアンプブロック３は、ＲＦ信号を増幅するＲＦアンプ２１と、サーボアンプ２２とを備える。また、ＤＳＰブロック４は、ＲＦ信号から基準クロックを抽出するＲＦＰＬＬ（Phase Lock Loop）回路３１と、ＲＦ信号の周波数特性等を補正又は変更するＲＦイコライザ３２と、サーボ制御信号を生成するサーボ制御回路３３とを備えている。
【００３０】
そして、本発明の具体例として示す光ディスク装置１は、ＤＳＰブロック４のＲＦイコライザ３２及びＲＦＰＬＬ回路３１と分離した成分を復号する復号器３５との間に、再生されたＲＦ信号の光学伝達関数ＯＴＦの特性劣化を電気的に処理してゲイン特性、位相特性等を正常な特性に戻すフィルタ処理が行われるチルト検出部３４を備えることを特徴としている。
【００３１】
光検出器１７から出力されたＲＦ信号は、ＲＦアンプ２１、サーボアンプ２２に送られて、ＲＦ信号演算、サーボ信号演算が行われる。そして、前者の出力は、光ディスクに記録された信号をデコードするためのＤＳＰブロック４へ送られて信号処理され、後者の出力であるサーボ信号は、ＤＳＰブロック４のサーボ制御回路３３でサーボを駆動するための制御信号に変換されてドライバアンプブロック５に送られる。サーボ信号は、ドライバアンプブロック５のアンプ４１、アンプ４２で増幅されて図示しない２軸アクチュエータ、ＬＤ１１に送られる。
【００３２】
一方、チルト検出部３４では、ＲＦ信号からチルト量が求められ、チルトモータを駆動制御するチルトモータ制御信号が生成されて、アンプ４３で増幅され、図示しないチルトモータへ供給される。
【００３３】
上記一連の動作は、マイクロコンピュータ６によって制御されており、ＤＳＰブロック４、ＲＦアンプブロック５の各回路に対するオンオフ等の指示、係数演算の指示、諸設定値の指示等をシリアル／パラレル信号で行っている。
【００３４】
続いて、光学伝達関数ＯＴＦの特性劣化を補って劣化した信号を回復するフィルタ処理を実現するチルト検出部３４の具体例を図２に示す。
【００３５】
チルト検出部３４は、図２に示すように、ＲＦイコライザ３２からの出力信号をアナログデジタル変換するＡ／Ｄ変換器５１と、Ａ／Ｄ変換器５１を通ってデジタル信号に変換された再生信号の光学伝達特性を補正する第１のフィルタ部５２と、同様にＡ／Ｄ変換器５１を通ってデジタル信号に変換された再生信号の光学伝達特性を第１のフィルタ部５１とは逆位相に補正する第２のフィルタ部５３と、第１のフィルタ部５２からの出力信号と基準クロックのジッタ量を計測する第１のジッタ測定手段としてのジッタメータ５４と、第２のフィルタ部５３からの出力信号と基準クロックのジッタ量を計測する第２のジッタ測定手段としてのジッタメータ５５と、各ジッタメータで測定されたジッタ量の差分を算出する差分演算手段としての減算器５６とを備える。
【００３６】
なお、第１のフィルタ部５２及び第２のフィルタ部５３としては、ＦＩＲフィルタ、ＩＩＲフィルタを使用可能であるが、ＦＩＲフィルタの方がタップ係数を共通化しやすいため、以下ではＦＩＲフィルタを用いる。また、このチルト検出部３４には、ＲＦＰＬＬ回路３１の後段であってＡ／Ｄ変換器５１の直前にＲＦＰＬＬ回路３１で抽出された基準クロックに任意の遅延量を与えるクロック遅延回路を設けてもよい。
【００３７】
以下、第１のフィルタ部５２及び第２のフィルタ部５４の構成例について具体的に説明する。第１のフィルタ部５２及び第２のフィルタ部５４は、入力したＲＦ信号の光学伝達関数ＯＴＦに対してその前後の信号波形成分を含むような特性変更を与えるフィルタであり、入力したＲＦ信号を適量遅延し、遅延された信号に適切な係数値を乗算し、順次遅延されて係数値が乗算された信号を加算する回路構成になっている。
【００３８】
典型的なチルト検出部３４のフィルタ部に適用できる典型的な回路構成を図３に示す。この回路では、フィルタをディジタルフィルタの一種であるトランスバーサルフィルタで構成し、信号歪みを補正するゲイン特性と位相特性をもつ。
【００３９】
このフィルタは、Ａ／Ｄ変換されデジタル化されたＲＦ信号に対して、所定の遅延量を与える遅延回路６１１〜６１３が直列に接続されて１遅延回路群Ｄ１をなし、また遅延回路６１４〜６１７が直列に接続されて遅延回路群Ｄ２をなし、且つ各遅延回路群の出力信号に対して個別の係数値を乗算する乗算器６２１、６２２と、ここで遅延回路群を通過して順次遅延された信号を重み付けする乗算器６３と、重み付けされた信号を遅延された信号とを加算する加算器６４とから構成されている。
【００４０】
図３に示すフィルタ構成中のスイッチ６６を切り換えることによって、Ａ／Ｄ変換された元のＲＦ信号に対して任意のチルト角が加わった状態と同等の光学伝達関数ＯＴＦの特性で変化した信号を出力することができる。光学伝達関数ＯＴＦは、チルト角によって影響を受けるため、このときフィルタで与えた振幅・位相の周波数特性により特性変化（場合によっては補正）されたＲＦ信号は、あるチルト角が与えられたときのＲＦ信号に相当する。そこでプラスとマイナス方向に同量のチルトが与えられたＯＴＦと同じ状態のフィルタをそれぞれ構成し、これらを通ったＲＦ信号の劣化度合いを比較することでチルト量を知ることができる。図３に示すフィルタにおいて、現在のチルト位置を対称とするプラスとマイナス方向のチルト量の振り幅を同程度とすれば、重み付け係数Ｋは、極性によらず同じでよく、センタータップ６５を中心として対称配置のフィルタ構成にすることができる。
【００４１】
このように、図３に示した回路構成によって、同じ係数Ｋとして上述のスイッチ６６を切り替えた２種のフィルタから出力される各ＲＦ信号のジッタ値の差分演算を行えば、チルト量を検出することができる。
【００４２】
図４には、タンジェンシャルチルト角に対するジッタ量が表されている。例えば、スイッチ６６切り替えて２種のフィルタからそれぞれ出力されるＲＦ信号のジッタ値がｊ１、ｊ２であれば、両者の差分より、現在のチルト位置がスキュー角Ｓ１にあることがわかる。同様に、ｊ３、ｊ４であればチルト位置Ｓ２が、またｊ５、ｊ６であればチルト位置Ｓ３が検出できる。
【００４３】
続いて、図３に示した本発明の典型的なフィルタ構成を更に具体化したチルト検出部３４について図５に示す。
【００４４】
図５に示すチルト検出部３４は、遅延回路６１１、・・・、６１ｋ、・・・、６１（ｎ−１）、６１ｎからなる遅延回路群と、これら各遅延回路から出力される遅延されたＲＦ信号に係数Ａ１、Ａ２、・・・、Ａｍ、・・・、Ａ（ｎ−１）、Ａｎを乗算する乗算器６２１、６２２、・・・、６２ｍ、・・・、６２（ｎ−１）、６２ｎからなる乗算器群と、各乗算器で重み付けされた信号と基準クロック信号とを加算する加算器６３１とから構成されている。また、遅延回路６１１、・・・、６１ｋ、・・・、６１（ｎ−１）、６１ｎからの出力に対して係数値Ａ１、Ａ２、・・・、Ａｍ、・・・、Ａ（ｎ−１）、Ａｎを上記乗算器群とは反対の出力信号に重畳するように配置された乗算する乗算器６２１、６２２、・・・、６２ｍ、・・・、６２（ｎ−１）、６２ｎからなる乗算器群と、各乗算器で重み付けされた信号と基準クロック信号とを加算する加算器６３２とから構成されている。また、チルト検出部３４は、乗算器に入力する係数値Ａ１、Ａ２、・・・、Ａｍ、・・・、Ａ（ｎ−１）、Ａｎを格納するレジスタ５７を備えている。
【００４５】
そして、この各々のフィルタの出力の後にＲＦ信号から抽出された基準クロックとフィルタ後のＲＦ信号のジッタを測定するジッタメータ５４、５５が接続されており、加算器６３１からの出力はジッタメータ５４に、また加算器６３２からの出力は、ジッタメータ５５に送られ、減算器５６において各ジッタメータで測定されたジッタ量の差分演算が行われる。
【００４６】
上述した構成を有するチルト検出部３４は、図２及び図３における２つのフィルタ部を構成する各遅延回路群が共通化されている。このチルト検出部３４では、係数値を格納するレジスタ５７も共通化することができる。このように、２つのフィルタ部５２、５３の構成がセンタータップを中心として対称とできることから、図５に示すチルト検出部３４は、複数の遅延回路とタップ係数値の共有化が実現されている。
【００４７】
なお、乗算器に与えられる係数値は、正、負、０の何れも選択可能であり、乗算器に対して何れかの最適値を選択することで上述した図３と同等の回路構成を実現することができる。すなわち、図５に示すチルト検出部３４は、一部の差動演算や係数Ｋの演算等を各乗算器の係数値の組合せで実現している。
【００４８】
また、レジスタ５７には、複数パターンの係数値の組合せを用意することもできる。例えば、光ディスク装置１が、ＤＶＤ、ＣＤ等、複数の光ディスクに対応した、いわゆるコンボドライブである場合には、異なるフォーマットに対応した係数値の組合せを適宜選択して乗算器に与えればよい。
【００４９】
以上説明したように、図５に示すチルト検出部３４によれば、レジスタ５７に格納された適切な係数値の組合せを乗算器に与えることにより、例えば、図４で説明したようなＲＦ信号のジッタ値が算出され、両者の差分より現在のチルト角が検出できる。
【００５０】
続いて示す図６は、図５を用いて説明したチルト検出部３４を発展させたものであり、図６の回路で検出したチルト量にしたがってこのチルトずれを補正するフィルタを備えたチルト補正部７１を示している。
【００５１】
チルト補正部７１は、Ａ／Ｄ変換されたＲＦ信号を遅延させる遅延回路６１１、・・・、６１ｋ、・・・、６１（ｎ−１）、６１ｎからなる遅延回路群と、これら各遅延回路から出力される遅延されたＲＦ信号に係数Ａ１、Ａ２、・・・、Ａｍ、・・・、Ａ（ｎ−１）、Ａｎを乗算する乗算器６２１と、各乗算器で重み付けされた信号と基準クロック信号とを加算する加算器６３１とを備え、更に、Ａ／Ｄ変換された元のＲＦ信号（光学伝達関数ＯＴＦ）の特性劣化を補正するための重み付けを行う乗算器７２１、７２２、・・・、７２ｍ、・・・、７２（ｎ−１）、７２ｎと、各乗算器で重み付けされた信号を加算する加算器７３１と、図６の回路で検出することができたチルト量から各乗算器に与えるフィルタ係数を演算するためのタップ係数演算ブロック７４とを備えている点が特徴である。
【００５２】
タップ係数演算ブロック７４は、各乗算器に与えるタップ係数を算出して決定し、決定されたタップ係数Ｂ１、Ｂ２、・・・、Ｂｍ、・・・、Ｂ（ｎ−１）、Ｂｎを乗算器７２１〜７２ｎに入力する。各乗算器で重み付けされた信号は、加算器７３で加算されてジッタ値が補正された信号として取り出される。このようにチルト補正部７１によれば、チルト検出部３４として説明した構成で検出されたチルトずれ量によるＲＦ信号の光学伝達関数ＯＴＦを補正する係数値を算出することによって、ＯＰをチルト方向にメカニカルに揺動することなくジッタ値を正常値に補正することができる。
【００５３】
なお、チルト補正部７１は、タップ係数演算ブロック７４に代わって、チルトずれ量に応じてこれを補正するための制御信号をテーブルとして有していてもよい。
【００５４】
以上説明したように、本発明の具体例として示すチルト検出部３４を光ディスク装置に適用すれば、光ディスクに対してチルト方向を固定されたＯＰであってもチルトずれ量を検出することができる。また、本発明の具体例として示すチルト検出部３４では、再生されるＲＦ信号に対する信号処理でチルトずれ量を検出するため、メカニカルにＯＰを傾ける方式に比べて短期間にチルトずれ量の計測を完了させることがでる。更に、本発明の具体例として示すチルト検出部３４で算出されたチルト量を示す信号でチルト補正を行えば、ＯＰをチルト方向に揺動させる機構、またその検出センサ等を備えなくても最適なＲＦ信号を得ることができるため、小型化・軽量化に寄与できる。更に本具体例で説明したように、フィルタ部の遅延回路、タップ係数等を共通化することにより、より一層回路規模の小型化が実現できる。
【００５５】
なお、上述したチルト検出部を有する光ディスク装置１は、本発明の一実施例であって、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で種々の変更が可能である。例えば、ＲＦ信号に与えられる各フィルタ特性は、例えば、ピット記録、相変化型等の記録フォーマットや、対物レンズの開口数（ＮＡ）、使用する光ビームの波長といった光ピックアップの特性等に応じた最適な特性を設定することができる。具体的には、上述したディジタルフィルタだけでなく同様の特性をもつアナログフィルタも適用可能である。また、同じディジタルフィルタであっても上述のＦＩＲフィルタ以外にＩＩＲフィルタで構成してもよい。ただし、上述した説明で使用したＦＩＲフィルタの方がタップ係数を共通化し易いという多大な利点を有するため、実用性が高いと考えられる。
【００５６】
また、上述した説明では、ＲＦ信号評価用に２つのジッタメータを使用する例を示したが、ジッタ値を測定するものに限らず、チルトに応じてＲＦ特性が変化することを示す指標となるものであれば全て適用できる。例えば、ビットエラーレートカウンタであってもよいし、ＲＦ復号部の構成によってはＳＡＭ（Sequence Amplitude Margin）等を用いることもできる。この場合、各々の評価値の出力間隔時間が異なるが、基本的にチルト補正用のフィルタのタップ係数値はこの評価値が出力されるタイミングで更新すればよい。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明に係る光ディスク装置の一部を説明する部分構成図である。
【図２】上記光ディスク装置のチルト検出部を説明する構成図である。
【図３】上記チルト検出部のフィルタ部に適用可能な典型的な回路構成を説明する回路構成図である。
【図４】タンジェンシャルチルト角に対するジッタ量を示す図である。
【図５】上記チルト検出部の具体例を説明する回路構成図である。
【図６】上記チルト検出部を応用したチルト補正部を説明する構成図である。
【図７】従来の光ディスク装置の一部を説明する部分構成図である。
【図８】従来の光ディスク装置における光ディスクに対する光ピックアップのタンジェンシャルチルト角を説明する図である。
【図９】従来の光ディスク装置における光ピックアップのタンジェンシャルチルト角とジッタ値との関係を説明する関係図である。
【図１０】従来の光ディスク装置における光ピックアップのタンジェンシャルチルト角とジッタ値との関係とデフォーカスがある場合の両者の関係を説明する関係図である。
【符号の説明】
【００５８】
１    光ディスク装置、  ２    光ピックアップブロック、  ３    ＲＦアンプブロック、  ４    ＤＳＣブロック、  ５    ドライバアンプブロック、  ６    マイコン、  １１    レーザダイオード、  １２    グレーティング、  １３    ビームスプリッタ、  １４    コリメータレンズ、  １５    対物レンズ、  １６    マルチレンズ、    １７    光検出器、  ２１    ＲＦアンプ、  ２２    サーボアンプ、  ３１    ＲＦＰＬＬ回路、  ｆ３２    ＲＦイコライザ、  ３３    サーボ制御回路、  ３４    チルト検出部、  ３５    復号器、  ４１    アンプ、  ４２    アンプ、  ４３    アンプ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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