(57)【要約】【課題】焼き付き現象の補正を優先するために、画像を大きく変化させる可能性があり、結果的に著しい画質の低下を招くおそれがあった。【解決手段】各画素について、補正前の表示信号から見積もった第１の劣化量差と、補正後の表示信号から算出した累積劣化量差との関係を判定する。第１の劣化量差と累積劣化量差との関係が劣化量差を拡大する関係にある画素のうち、比較対象画素に対して劣化が進む方向の画素数と劣化が遅れる方向の画素数との大小関係を判定し、画素数が少ない方の画素に対する補正量を、各画素の劣化量差に応じて個別に設定する。一方、画素数が少ない方の画素を除く全ての画素については同じ値の補正量を一律に適用する。【選択図】図１
2006235326.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
焼き付き補正前の表示信号に基づいて、各画素の比較対象画素に対する第１の劣化量差を見積もる処理と、
焼き付き補正後の表示信号に基づいて、各画素の比較対象画素に対する第２の劣化量差を算出する処理と、
前記第２の劣化量差を画素毎に累積加算し、各画素について発生した累積劣化量差を算出する処理と、
各画素について、前記第１の劣化量差と累積劣化量差との関係が劣化量差を拡大する関係にあるか否かを判定する処理と、
比較対象画素に対して劣化が進む方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数及び位置を取得する処理と、
比較対象画素に対して劣化が遅れる方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数及び位置を取得する処理と、
比較対象画素に対して劣化が進む方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数と、比較対象画素に対して劣化が遅れる方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数とを比較する処理と、
画素数が少ない方の画素に対する補正量を、各画素の劣化量差に応じて個別に設定し、前記画素数が少ない方の画素を除く全ての画素に対する補正量を同じ値に一律に設定する処理と、
前記補正量に基づいて、焼き付き補正前の表示信号を補正する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項２】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法であって、
前記第１の劣化量差の見積もりに使用する焼き付き補正前の表示信号と、前記補正量による補正対象とする焼き付き補正前の表示信号とは異なる信号である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項３】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法であって、
前記第１の劣化量差の見積もりに使用する焼き付き補正前の表示信号と、前記補正量による補正対象とする焼き付き補正前の表示信号とは同じ信号である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項４】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法は、
表示領域を複数のブロックエリア別に領域化し、各ブロックエリアについて前記一連の処理動作を実行する
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項５】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法は、
表示領域の全体について前記一連の処理動作を実行する
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項６】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法は、
前記一律に設定される補正量は、画質を損なわない範囲で設定される
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項７】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置であって、
焼き付き補正前の表示信号に基づいて、各画素の比較対象画素に対する第１の劣化量差を見積もる劣化量差見積もり部と、
焼き付き補正後の表示信号に基づいて、各画素の比較対象画素に対する第２の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
前記第２の劣化量差を画素毎に累積加算し、各画素について発生した累積劣化量差を算出する累積劣化量差蓄積部と、
各画素について、前記第１の劣化量差と累積劣化量差との関係が劣化量差を拡大する関係にあるか否かを判定する劣化傾向判定部と、
比較対象画素に対して劣化が進む方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数及び位置を取得する第１の画素数及び画素位置取得部と、
比較対象画素に対して劣化が遅れる方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数及び位置を取得する第２の画素数及び画素位置取得部と、
比較対象画素に対して劣化が進む方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数と、比較対象画素に対して劣化が遅れる方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数とを比較する画素数比較部と、
画素数が少ない方の画素に対する補正量を、各画素の劣化量差に応じて個別に設定する第１の補正量設定部と、
前記画素数が少ない方の画素を除く全ての画素に対する補正量を同じ値に一律に設定する第２の補正量設定部と、
前記最終補正量に基づいて、焼き付き補正前の表示信号を補正する劣化補正部と
を有することを特徴とする自発光装置。
【請求項８】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する焼き付き現象補正装置であって、
焼き付き補正前の表示信号に基づいて、各画素の比較対象画素に対する第１の劣化量差を見積もる劣化量差見積もり部と、
焼き付き補正後の表示信号に基づいて、各画素の比較対象画素に対する第２の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
前記第２の劣化量差を画素毎に累積加算し、各画素について発生した累積劣化量差を算出する累積劣化量差蓄積部と、
各画素について、前記第１の劣化量差と累積劣化量差との関係が劣化量差を拡大する関係にあるか否かを判定する劣化傾向判定部と、
比較対象画素に対して劣化が進む方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数及び位置を取得する第１の画素数及び画素位置取得部と、
比較対象画素に対して劣化が遅れる方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数及び位置を取得する第２の画素数及び画素位置取得部と、
比較対象画素に対して劣化が進む方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数と、比較対象画素に対して劣化が遅れる方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数とを比較する画素数比較部と、
画素数が少ない方の画素に対する補正量を、各画素の劣化量差に応じて個別に設定する第１の補正量設定部と、
前記画素数が少ない方の画素を除く全ての画素に対する補正量を同じ値に一律に設定する第２の補正量設定部と、
前記最終補正量に基づいて、焼き付き補正前の表示信号を補正する劣化補正部と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。
【請求項９】
焼き付き補正前の表示信号に基づいて、各画素の比較対象画素に対する第１の劣化量差を見積もる処理と、
焼き付き補正後の表示信号に基づいて、各画素の比較対象画素に対する第２の劣化量差を算出する処理と、
前記第２の劣化量差を画素毎に累積加算し、各画素について発生した累積劣化量差を算出する処理と、
各画素について、前記第１の劣化量差と累積劣化量差との関係が劣化量差を拡大する関係にあるか否かを判定する処理と、
比較対象画素に対して劣化が進む方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数及び位置を取得する処理と、
比較対象画素に対して劣化が遅れる方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数及び位置を取得する処理と、
比較対象画素に対して劣化が進む方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数と、比較対象画素に対して劣化が遅れる方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数とを比較する処理と、
画素数が少ない方の画素に対する補正量を、各画素の劣化量差に応じて個別に設定し、前記画素数が少ないと方の画素を除く全ての画素に対する補正量を同じ値に一律に設定する処理と、
前記補正量に基づいて、焼き付き補正前の表示信号を補正する処理と
をコンピュータに実行させることにより、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正することを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
発明の一つの形態は、自発光装置に発生する焼き付き現象の補正方法に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置及びこれを搭載した自発光装置に関する。また、発明の一つの形態は、コンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主に液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
【０００３】
ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子は、その発光量や発光時間に応じて劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
【０００４】
現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。以下、その幾つかを列記する。
【特許文献１】特開２００３−２２８３２９号公報  この文献には、表示パネルを構成する各画素に対する入力データを一定周期で画素毎に積算し、それらの最大値から各画素の積算値を減算して各画素についての補正量を設定する方法が開示されている。また、非使用状態において補正量の大きさに比例する時間だけ各画素を一定輝度で発光することで各画素の表示特性を揃える方法が開示されている。
【０００５】
【特許文献２】特開２００３−２９５８２７号公報  この文献には、静止画の表示時にのみ表示データと表示時間を記憶し、その表示データと最大輝度との差ΔＹと、静止画が表示された時間Ｔとの積算量ΔＹ・Ｔを補正データに設定する方法が開示されている。また、この文献には、蓋が閉じられた状態や非使用状態の場合にのみ補正用の表示を実行することで、焼き付き現象を補正する方法が開示されている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、既存の補正方法は、焼き付き現象の補正を優先する方法であるため、画像を大きく変化させる可能性があった。すなわち、結果的に著しく画質を低下させる可能性があった。
もっとも、画質への影響を考慮して補正量を微小に留めると、劣化量差の補正に膨大な時間を要したり、補正が間に合わずに補正自体が不可能になる可能性がある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
発明者らは、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に生じた焼き付き現象の補正処理方法として、以下の技術手法を提案する。
すなわち、
（１）焼き付き補正前の表示信号に基づいて、各画素の比較対象画素に対する第１の劣化量差を見積もる処理と、
（２）焼き付き補正後の表示信号に基づいて、各画素の比較対象画素に対する第２の劣化量差を算出する処理と、
（３）第２の劣化量差を画素毎に累積加算し、各画素について発生した累積劣化量差を算出する処理と、
（４）各画素について、第１の劣化量差と累積劣化量差との関係が劣化量差を拡大する関係にあるか否かを判定する処理と、
（５）比較対象画素に対して劣化が進む方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数及び位置を取得する処理と、
（６）比較対象画素に対して劣化が遅れる方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数及び位置を取得する処理と、
（７）比較対象画素に対して劣化が進む方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数と、比較対象画素に対して劣化が遅れる方向に劣化量差が拡大する関係にある画素の数とを比較する処理と、
（８）画素数が少ない方の画素に対する補正量を、各画素の劣化量差に応じて個別に設定し、画素数が少ない方の画素を除く全ての画素に対する補正量を同じ値に一律に設定する処理と、
（９）補正量に基づいて、焼き付き補正前の表示信号を補正する処理と
を有する技術手法を提案する。
【０００８】
なお、これら技術手法は、自発光装置そのものに適用できるだけでなく、出力装置に出力する画像信号を処理する各種の電子機器に対しても適用できる。また、これらの技術手法は、ハードウェアとして実現できる他、ソフトウェアとしても実現できる。勿論、処理の実行は、一部処理をハードウェアとして実行し、残る処理をソフトウェアとして実行することもできる。
因みに、自発光装置は、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＣＲＴ（cathode ray tube）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、プロジェクターを含む。
【発明の効果】
【０００９】
この発明は、劣化量差が拡大する２種類の画素群のうち画素数が少ない方についてのみ個別の劣化量差に応じた補正量を適用し、他方の画素群と劣化量差が縮小する関係にある画素群については全て一律の補正量を適用する。
従って、大幅な階調変化が発生する可能性が高い画素群を全画素の一部に限定できる。一方、他の大部分の画素群に対しては同じ補正量の適用により、階調変化を均一化でき、視覚上の画質の低下を視認され難くできる。結果的に、画素全体の画質を従来技術に比して向上できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。
【００１１】
（Ａ）焼き付き現象補正装置の形態例
（Ａ−１）形態例１
（ａ）装置構成
図１に、焼き付き現象補正装置の一つの形態例を示す。以下、焼き付き現象補正装置を「補正装置」という。
この形態例の場合、補正装置１は、同色で発光する画素毎に配置する。なお、発光色は、一般に赤、青、緑の三色をいう。もっとも、三色以外の補色を用いる場合には、各色について配置する。
この補正装置１は、劣化量差見積部３、劣化量差算出部５、累積劣化量差蓄積部７、劣化量差推移判定部９、補正領域／補正量決定部１１、輝度劣化補正部１３を主要な構成要素とする。
【００１２】
劣化量差見積部３は、補正処理前の表示信号に基づいて、比較対象画素に対する各画素の劣化量差を見積もる処理デバイスである。「見積もり」の用語を使用するのは、補正処理の内容が反映されない限り、劣化量差を正確には算出できないためである。従って、この劣化量差見積部３は、原画像（フレーム）を無補正のまま表示させる場合に、どのような劣化量差を発生させるかを予測するために使用される。
劣化量差算出部５は、補正処理後の表示信号に基づいて、比較対象画素に対する各画素の劣化量差を算出する処理デバイスである。補正処理後の表示信号（すなわち、実際の表示画像を形成する表示信号）を使用できるため、劣化量差の実値を正確に算出できる。
【００１３】
このように、劣化量差見積部３と劣化量差算出部５は、いずれも劣化量差を算出する点で共通する。
ここで、劣化量差見積部３と劣化量差算出部５には、同じ算出手法を適用することも可能であるし、別々の算出手法を適用することもできる。
発明者らが提案する方法は、劣化量差の算出手法に影響されないためである。
劣化量差の算出方法には、前述した既存の技術を含め、様々な手法が提案されている。この形態例に係る劣化量差見積部３と劣化量差算出部５にも、既知の方法を含む任意の手法を適用できる。
【００１４】
例えば、表示信号を階調データとする場合には、以下の算出手法を適用できる。
（１）各画素の階調データ値と比較対象画素の階調データ値との差分を算出する手法
（２）階調データと劣化の進行度合いとの間に比例関係が成立しない場合、実測結果を反映した換算係数を用いて劣化量差を算出する手法
発明者らは、（２）に示す算出手法で使用する換算係数を、「劣化率」という概念で規定する。
【００１５】
発明者らは、「劣化率」を、ある階調データで自発光素子を継続的に発光させた場合における発光輝度の低下率として規定する。
図２に、階調データと劣化率との対応関係を示す変換テーブルの一例を示す。この場合、劣化量差は、各画素の劣化率と比較対象画素の劣化率との差として算出する手法もある。また、劣化量差は、劣化率Ｒに発光期間Ｔを乗算した値の差として算出することもできる。
【００１６】
ところで、劣化量差の算出に使用する比較対象画素の選択にも幾つかの方法が考えられる。通常、補正方法に応じて最適な画素を指定する。
例えば、最も輝度劣化の進んだ画素、最も輝度劣化の遅れた画素、画面中央の画素、固定表示に対応する画素その他を指定する。これらは、実在する画素である。
また例えば、平均輝度値を与える画素その他を指定する。これらは、仮想的に定める画素である。
【００１７】
累積劣化量差蓄積部７は、劣化量差算出部５から与えられる劣化量差を継続的に積算し、積算結果を保存するメモリである。ここで、比較対象画素に対して劣化が進んでいる画素の累積劣化量差は正値で表される。また、比較対象画素に対して劣化が遅れている画素の累積劣化量差は負値で表される。
劣化量差推移判定部９は、各画素に対応する見積もり劣化量差の符号と累積劣化量差の符号の組み合わせより、各画素の劣化量差の推移傾向を判定する処理デバイスである。
図３に、劣化量差推移判定部９の内部構成例を示す。
劣化傾向判定部９Ａは、画素毎に、見積もり劣化量差と累積劣化量差との関係が劣化量差を拡大する関係にあるか否かを判定する処理デバイスである。この判定は、２つの劣化量差の符号を比較することで実現する。判定パターンは、以下の４つである。
【００１８】
（１）累積劣化量差が正値で、見積もり劣化量差が正値の場合
この場合、画素の劣化は、比較対象画素に対して更に進行することを意味する。
（２）累積劣化量差が正値で、見積もり劣化量差が負値の場合
この場合、画素の劣化は、比較対象画素に対して改善されることを意味する。
（３）累積劣化量差が負値で、見積もり劣化量差が負値の場合
この場合、画素の劣化は、比較対象画素に対して更に遅延することを意味する。
（４）累積劣化量差が負値で、見積もり劣化量差が正値の場合
この場合、画素の劣化は、比較対象画素に対して改善されることを意味する。
【００１９】
画素数及び画素位置取得部９Ｂは、前述した４つの判定パターンのうち劣化が進行するパターン（すなわち、（１）の場合）に対応する画素の数Ｎａと位置Ｐａを取得する処理デバイスである。
画素数及び画素位置取得部９Ｃは、前述した４つの判定パターンのうち劣化が遅延するパターン（すなわち、（３）の場合）に対応する画素の数Ｎｂと位置Ｐｂを取得する処理デバイスである。
画素数比較部９Ｄは、比較対象画素に対して劣化が進行する方向に拡大する画素数Ｎａと比較対象画素に対して劣化が遅延する方向に拡大する画素数Ｎｂとを比較し、その大小関係を比較出力ＣＯとして出力する処理デバイスである。この形態例の場合、比較出力ＣＯは、画素数が少ない方向の組み合わせを与える情報を出力する。
【００２０】
補正領域／補正量決定部１１は、劣化量差が拡大する方向に推移する２つの判定パターンのうち画素数が少ない方の画素位置に対してのみ、各画素の劣化量差に応じて算出される個別の補正量を適用し、その他の画素位置については、予め定めた補正値を一律に適用する処理デバイスである。
例えば、比較対象画素に対して劣化が進む画素の数Ｎａが、劣化が遅れる画素の数Ｎｂより少ない場合、補正領域／補正量決定部１１は、画素位置Ｐａで与えられる各画素について個々の累積劣化量差が縮小されるように補正量を算出する。
また例えば、比較対象画素に対して劣化が遅れる画素の数Ｎｂが、劣化が進む画素の数Ｎａより少ない場合、補正領域／補正量決定部１１は、画素位置Ｐｂで与えられる各画素について個々の累積劣化量差が縮小されるように補正量を算出する。
【００２１】
ここで、補正量の決定方法には任意の手法を適用できる。図１は、見積もり劣化量差を用いる場合について表している。すなわち、劣化量差見積部３から見積もり劣化量差を入力する様子を表している。
言うまでもないが、補正量は、累積劣化量差の絶対値が小さくなるように算出される。すなわち、見積もり劣化量差が正値の場合には、補正後の発光輝度が比較対象画素の発光輝度よりも小さくなるように補正量を決定する。また、見積もり劣化量差が負値の場合には、補正後の発光輝度が比較対象画素の発光輝度よりも大きくなるように補正量を決定する。
算出される補正量の符号や大きさは、画素毎に異なる。また、この補正量は、焼き付き現象の原因である劣化量差を確実に縮小できるものである。ただし、劣化量差を縮小する観点から算出される値のため、大幅な階調変化を引き起こす可能性がある。すなわち、画質の低下を引き起こす可能性がある。
もっとも、この補正手法が適用される画素は、多くとも全画素の半分以下であり、実用上は更に低い割合となる。従って、発光輝度が原画像に対して大幅に変更する可能性は既存の技術に対して大幅に低減されることになる。
【００２２】
一方、補正領域／補正量決定部１１は、劣化量差が拡大する方向に推移する２つの判定パターンのうち画素数が多い方の画素と、劣化量差が拡大する累積劣化量差と見積もり劣化量差の符号が異なる画素については、予め定めた補正値を一律に適用する。
これらの画素の補正に使用される補正量は、画質の低下が視認されない範囲で規定する。補正量の許容範囲は、画質低下が視認されない範囲で、最も大きな補正効果が得られる値である。例えば、一定数の階調ステップ数で与えられる。
ここで、補正領域／補正量決定部１１は、比較対象画素に対して劣化の進んだ画素が補正対象画素に含まれるか、比較対象画素に対して劣化の遅れた画素が補正対象画素に含まれるかに応じて補正量の符号を決定する。
【００２３】
例えば、比較対象画素に対して劣化が進行した画素を補正対象画素に含む場合、補正領域／補正量決定部１１は、補正量の符号を負値とする。すなわち、対象画素の全てについて、補正後の表示信号における発光輝度が補正前の表示信号における発光輝度よりも小さくなるように補正量の符号を決定する。
この場合、大多数の画素の発光輝度は、一律に低下される。このとき、原画像の輝度が同じ領域は、輝度低下の効果は同じである。従って、階調のバラつきが視認され易い単調階調部分でも、画質の低下は視認され難い。
【００２４】
反対に、比較対象画素に対して劣化が遅延した画素を補正対象画素に含む場合、補正領域／補正量決定部１１は、補正量の符号を正値とする。すなわち、対象画素の全てについて、補正後の表示信号における発光輝度が補正前の表示信号における発光輝度よりも大きくなるように補正量の符号を決定する。
この場合、大多数の画素の発光輝度は、一律に上昇する。このとき、原画像の輝度が同じ領域は、輝度上昇の効果は同じである。従って、階調のバラつきが視認され易い単調階調部分でも、画質の低下は視認され難い。
輝度劣化補正部１３は、各画素について決定された補正量に基づいて、補正前の表示信号を補正する処理デバイスである。なお、補正後の階調データは、不図示の自発光パネルモジュールへ出力される。
【００２５】
（ｂ）補正処理動作
続いて、補正装置による一連の補正動作を説明する。
図４に、条件別の補正動作例を示す。条件は次の条件１と２の２つである。
（１）条件１
この条件は、ある時点までに補正対象画素と比較対照画素の間に発生した劣化量差を評価する判定動作である。すなわち、累積劣化量差が正値（補正対象画素が比較対照画素に対して劣化が進んでいる状態）か、負値（補正対象画素が比較対照画素に対して劣化が遅れている状態）かの判定動作である。
【００２６】
（２）条件２
この条件は、現在の入力表示信号について、補正対象画素と比較対象画素との間に発生する見積もり劣化量差を評価する判定動作である。この判定には、次の３つの状態が考えられる。
（ｉ）  比較対象画素に対して補正対象画素の劣化率が高い条件で発光する状態。すなわち、見積もり劣化量差が正値となる状態。
（ii）  比較対象画素と補正対象画素とが同じ劣化率で発光する状態。すなわち、見積もり劣化量差が０（ゼロ）となる状態。
（iii） 比較対象画素に対して補正対象画素の劣化率が低い条件で発光する状態。すなわち、見積もり劣化量差が負値となる状態。
【００２７】
図５に、具体的なイメージを示す。なお、図５は、全表示画面のうち５画素×５画素で与えられる部分領域を抜き出した図である。図５中の符号は、比較対象画素に対する劣化が進んでいるか遅れているかを示している。
図４の条件は、劣化量差が０（ゼロ）の場合を含めた６通りの場合を表したものである。すなわち、「＋＋」、「＋０」、「＋−」、「−＋」、「−０」、「−−」の６つである。
このうち、「＋＋」と「−−」の２つが、ある時点までの劣化量差が入力表示信号によって更に広がるパターンを表している。一方、他のパターンの画素は、たとえ補正動作を行っても、劣化量差を大きく広げる要因にはならない。すなわち、この形態例の場合、補正動作による画質の低下を抑制する観点からは特に注視する必要はないものとして扱う。
【００２８】
そこで、劣化量差推移判定部９は、「＋＋」と「−−」のパターンに該当する画素数をカウントする。前述のように、「＋＋」を満たす画素の数をＮａ、「−−」を満たす画素の数をＮｂとする。
次に、劣化量差推移判定部９は、画素数ＮａとＮｂを比較し、比較結果に応じた補正動作を補正領域／補正量決定部１１に指示する。
考えられる比較結果は、Ｎａ＞Ｎｂ、Ｎａ＝Ｎｂ、Ｎａ＜Ｎｂの３つである。なお、図５（Ｃ）は、Ｎａ＝６、Ｎｂ＝４であるので、Ｎａ＞Ｎｂに対応する補正動作が実行される。
【００２９】
（１）Ｎａ＞Ｎｂの場合
この場合、輝度劣化補正部１３は、劣化量差が拡大する２つのパターンのうち「−−」の画素についてのみ、表示階調を大きく変化させるが、劣化量差を確実に縮小できる補正を実行する。図５（Ｄ）では、網掛けで示す４つ画素が対応する。
なお、輝度劣化補正部１３は、それ以外の全画素については、階調ステップ数を一律に減少させる補正動作を実行する。図５（Ｄ）では、白地で示す２１個の画素が対応する。
この結果、このフレームについては、「−−」以外の多数の領域においては、画質をほとんど低下させない状態で補正動作を実行できる。
【００３０】
（２）Ｎａ＜Ｎｂの場合
この場合、輝度劣化補正部１３は、劣化量差が拡大する２つのパターンのうち「＋＋」の画素についてのみ、表示階調を大きく変化させるが、劣化量差を確実に縮小できる補正を実行する。
なお、輝度劣化補正部１３は、それ以外の全画素については、階調ステップ数を一律に増加させる補正動作を実行する。
この結果、このフレームについては、「＋＋」以外の多数の領域においては、画質をほとんど低下させない状態で補正動作を実行できる。
（３）Ｎａ＝Ｎｂの場合
この場合、輝度劣化補正部１３は、全ての画素について補正処理を実行しない。
【００３１】
（ｃ）形態例の効果
この補正装置１を用いれば、入力表示信号をそのまま表示すると焼き付き現象の悪化を招く画素（劣化量差が拡大する画素）のうち、画素数が相対的に少ない方の画素に対してのみ個々の劣化量差に応じた補正量による補正処理を適用できる。そして、その他全ての画素については、画質を損なわない範囲で設定された一律の補正値による補正処理を適用できる。
この結果、画質の低下を伴い易い補正処理が実行される画素数を全画素の一部に限定できる。よって、画面全体としての画質を、従来技術に比して大きく改善できる。
【００３２】
また、一律に同じ補正値を加算又は減算する補正方法は、補正量（階調ステップ数）を増やしてもその影響が視認され難い。従って、画質を維持したまま、比較的大きな補正量による補正動作を実現することができる。
また、この補正方法は、同じ補正量による一律の補正動作により、わずかながらも焼き付き現象の改善が並行して実行されるため、大きな階調変換を伴う補正動作が必要になる画素数を潜在的に低減できる。また同時に、大きな階調変換を伴う補正動作の回数自体も潜在的に低減できる。
このことは、画質を改善する上でも効果的である。
【００３３】
（Ａ−２）形態例２
図６に、補正装置の他の形態例を示す。なお、図６には、図１との対応部分に同一符号を付して示す。補正装置２１の基本的な構成及び処理動作は、形態例１の場合と同様である。
違いは、この補正装置２１の場合、劣化量差の見積もりに使用する補正前表示信号１と、補正対象とする補正前表示信号２とが異なる点である。
この補正装置で必要なのは、比較対象画素に対して補正対象画素の劣化が進んでいるか遅れているかの情報、すなわち劣化量差の方向を表す符号であるためである。
従って、補正装置２１を用いる場合にも、形態例１と同様の効果を実現できる。
なお、補正前表示信号１を階調データ、補正前表示信号２を自発光素子に印加される駆動電流とすることができる。また、補正前表示信号２を自発光素子のアノード・カソード間に印加される駆動電圧値としても良い。
【００３４】
（Ｂ）自発光装置への搭載例
図７に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置３１は、筐体３３に焼き付き現象補正装置３５と表示デバイス３７を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置３５は、前述した形態例のいずれかに対応する。焼き付き現象補正装置３５は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように入力信号の補正動作を実行する。
【００３５】
また、表示デバイス３７は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、ＣＲＴが用いられる。
図７の場合、自発光装置３１に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置３５が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。
【００３６】
（Ｃ）画像処理装置への搭載例
図８に、焼き付き補正装置４１を搭載する画像処理装置４３のシステム例を示す。画像処理装置４３は、自発光型の表示装置４５と有線路又は無線路を経由して接続されている。
このシステム例の場合、画像処理装置４３の筐体内で焼き付き補正処理が実行される。すなわち、表示装置４５に出力される画像信号は、出力インターフェースとの間に配置された焼き付き補正回路４１に入力され、前述した焼き付き補正処理が実行される。
この種の画像処理装置４３には、例えば、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置（カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。）、コンピュータ（サーバーを含む。）、各種の情報処理端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等）、各種画像の再生装置（ホームサーバーを含む。）、画像編集装置、ゲーム機の適用が可能である。
【００３７】
（Ｆ）他の形態例
（ａ）前述の形態例においては、補正処理後の表示信号から算出された劣化量差に基づいて、劣化量差が拡大する関係にある画素のうち数の少ない方に適用する補正量を算出する場合について説明した。
しかし、補正処理前の表示信号から算出される劣化量差に基づいて、劣化量差が拡大する関係にある画素のうち数の少ない方に適用する補正量を算出しても良い。もっとも、この場合には、見積もり劣化量差をそのまま使用するのではなく、実際の表示信号の情報が反映されるように各画素に与える補正量を反映させる仕組みを搭載することが望ましい。
（ｂ）前述の形態例においては、補正対象とする表示信号に補正量を加減算する場合について説明した。しかし、表示信号は、他の手法を用いて補正しても良い。例えば、表示信号に補正量を乗算して表示信号の絶対値を増減する手法を採用しても良い。
【００３８】
（ｃ）前述の形態例においては、図９（Ａ）に示すように、全画面５１を対象として「＋＋」と「−−」のパターンに該当する画素数をカウントし、その大小関係に応じて補正内容を選択的に適用する場合について説明した。
しかし、図９（Ｂ）に示すように、全画面５１を複数のブロックエリア５３に分割し、各ブロックエリアについて前述した補正動作を独立に適用しても良い。なお、ブロックエリアは正方形状の領域である必要はなく、長方形形状の領域でも良い。
【００３９】
（ｄ）前述の形態例では、焼き付き現象補正装置の機能構成を説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとして実現することも、ソフトウェアとして実現することも可能である。
また、焼き付き現象補正装置を構成する各機能の全部をハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部の機能はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現することもできる。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
（ｅ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】焼き付き現象補正装置の形態例を示す図である。
【図２】階調値と劣化率との対応関係を保持する変換テーブル例を示す図である。
【図３】劣化量差推移判定部の内部構成例を示す図である。
【図４】条件別の補正動作例を示す図表である。
【図５】補正範囲の選択動作を説明する図である。
【図６】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図７】焼き付き現象補正装置を自発光装置に搭載したシステム例を示す図である。
【図８】焼き付き現象補正装置を画像処理装置に搭載したシステム例を示す図である。
【図９】補正処理の適用範囲例を示す図である。
【符号の説明】
【００４１】
１、２１、３５、４１  焼き付き現象補正装置
３  劣化量差見積部
５  劣化量差算出部
７  累積劣化量差蓄積部
９  劣化量差推移判定部
１１  補正領域／補正量決定部
１３  輝度劣化補正部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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