(57)【要約】【課題】  明るい輝点も正確に検出する。【解決手段】  カメラに対応した輝度値をカメラ座標Ａ（ｉ，ｊ）として取得し（Ｓ１）、フラットパネルディスプレイに対応する対応座標Ｂ（ｘ，ｙ）に変換する（Ｓ２）。対応座標Ｂ（ｘ，ｙ）での輝度値を二値化して二値化座標Ｃ（ｘ，ｙ）を形成し（Ｓ３）、輝点とされた二値化座標Ｃ（ｘ，ｙ）の二値化座標位置に対応する対応座標Ｂ（ｘ，ｙ）での対応座標位置（ｘ，ｙ）における輝度値と、対応座標位置に隣接した隣接座標位置（ｘ−ｐ，ｙ−ｑ）（ｐ＝−１〜＋１，ｑ＝−１〜＋１）での輝度値とを比較し、各隣接座標位置Ｂ（ｘ−ｐ，ｙ−ｑ）での輝度値が対応座標位置での輝度値に所定値γを乗算した乗算値γ・Ｂ（ｘ，ｙ）以上の場合に、対象座標位置（ｘ，ｙ）に対応する二値化座標Ｃ（ｘ，ｙ）の二値化座標位置を輝点「１」から暗点「０」に変更する（Ｓ４）。【選択図】        図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
カメラで撮像したフラットパネルディスプレイの映像から点欠陥を検出し、該点欠陥の位置を、前記フラットパネルディスプレイの各画素位置に対応するＦＤＰ座標のＦＤＰ座標位置として出力するフラットパネルディスプレイ検査装置において、
検査対象のフラットパネルディスプレイの映像をカメラで撮像し、当該カメラにおける各画素位置に対応したカメラ座標での輝度値を取得する撮像手段と、
前記カメラ座標での輝度値を前記フラットパネルディスプレイの各画素位置に対応する対応座標に変換する座標変換手段と、
前記対応座標での輝度値を輝点（ＮＧ）及び暗点（ＯＫ）に二値化して二値化座標を形成する二値化手段と、
前記輝点とされた前記二値化座標の二値化座標位置に対応する前記対応座標での対応座標位置における輝度値と、当該対応座標位置に隣接した隣接座標位置での輝度値とを比較し、該隣接座標位置での輝度値が前記対応座標位置での輝度値に所定値を乗算した乗算値以上の場合に、当該対象座標位置に対応する前記二値化座標の二値化座標位置を輝点から暗点に変更する変更手段と、
該変更手段完了後に前記輝点とされた前記二値化座標位置に対応する前記ＦＤＰ座標の前記ＦＤＰ座標位置を欠陥画素として検出する検出手段と、
を備えたことを特徴とするフラットパネルディスプレイ検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラズマディスプレイや液晶ディスプレイ等のフラットパネルディスプレイに発生する点欠陥を検査するフラットパネルディスプレイ検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、プラズマディスプレイや液晶ディスプレイ等のフラットパネルディスプレイを検査する際には、フラットパネルディスプレイ検査装置が用いられていた。
【０００３】
このフラットパネルディスプレイ検査装置で点欠陥を検査する際には、カメラにて撮像したフラットパネルディスプレイの画像をシューディング補正して二値化し、明るい点を輝点欠陥として検出していた。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、このようなフラットパネルディスプレイ検査装置にあっては、比較的暗い輝点を検出しようとして二値化レベルを設定すると、図５に示すように、明るい輝点７０１の場合、撮像画像７０２において、その周囲部７０３も明るく撮像されてしまう。
【０００５】
これにより、二値化画像７１１において、その周囲を含んだ全体を輝点欠陥７１２として検出してしまうという問題があった。
【０００６】
本発明は、このような従来の課題に鑑みてなされたものであり、比較的明るい輝点であっても、その点欠陥を正確に検出することができるフラットパネルディスプレイ検査装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記課題を解決するために本発明のフラットパネルディスプレイ検査装置にあっては、カメラで撮像したフラットパネルディスプレイの映像から点欠陥を検出し、該点欠陥の位置を、前記フラットパネルディスプレイの各画素位置に対応するＦＤＰ座標のＦＤＰ座標位置として出力するフラットパネルディスプレイ検査装置において、検査対象のフラットパネルディスプレイの映像をカメラで撮像し、当該カメラにおける各画素位置に対応したカメラ座標での輝度値を取得する撮像手段と、前記カメラ座標での輝度値を前記フラットパネルディスプレイの各画素位置に対応する対応座標に変換する座標変換手段と、前記対応座標での輝度値を輝点及び暗点に二値化して二値化座標を形成する二値化手段と、前記輝点とされた前記二値化座標の二値化座標位置に対応する前記対応座標での対応座標位置における輝度値と、当該対応座標位置に隣接した隣接座標位置での輝度値とを比較し、該隣接座標位置での輝度値が前記対応座標位置での輝度値に所定値を乗算した乗算値以上の場合に、当該対象座標位置に対応する前記二値化座標の二値化座標位置を輝点から暗点に変更する変更手段と、該変更手段完了後に前記輝点とされた前記二値化座標位置に対応する前記ＦＤＰ座標の前記ＦＤＰ座標位置を欠陥画素として検出する検出手段と、を備えている。
【０００８】
すなわち、フラットパネルディスプレイを検査する際には、検査対象となるフラットパネルディスプレイの映像をカメラで撮像し、当該カメラにおける各画素位置に対応したカメラ座標での輝度値を取得する。次に、このカメラ座標での輝度値を前記フラットパネルディスプレイの各画素位置に対応する対応座標に変換し、該対応座標での輝度値を輝点及び暗点に二値化して二値化座標を形成するとともに、前記輝点とされた前記二値化座標の二値化座標位置に対応する前記対応座標での対応座標位置における輝度値と、当該対応座標位置に隣接した隣接座標位置での輝度値とを比較して、該隣接座標位置での輝度値が前記対応座標位置での輝度値に所定値を乗算した乗算値以上の場合に、当該対象座標位置に対応する前記二値化座標の二値化座標位置を輝点から暗点に変更する。
【０００９】
これにより、輝度値が高く二値化後に輝点とされた箇所であっても、これを比較基準位置とするとともに、その周囲部の比較対象位置において前記比較基準位置より輝度値が所定倍高い箇所があった場合には、前記比較基準位置が輝点から暗点に変更される。これにより、これらを含む所定範囲において、輝度値が他より所定倍高い箇所のみが輝点とされる。
【００１０】
このとき、前記輝点から前記暗点に変更する際には、前記比較基準位置の輝点より輝度値が所定倍高いことが変更条件とされている。このため、比較基準点での輝度値と比較対象位置での輝度値とが同程度の場合には、両者とも輝点とされる。
【００１１】
そして、前記輝点とされた前記二値化座標位置に対応する前記ＦＤＰ座標の前記ＦＤＰ座標位置が欠陥画素として検出される。
【発明の効果】
【００１２】
以上説明したように本発明のフラットパネルディスプレイ検査装置にあっては、所定範囲において輝度値が大きく異なる場合に、輝度値が低い方を暗点とすることができる。
【００１３】
このため、比較的明るい輝点の欠陥を検出する際に、撮像時において輝点の周囲部が明るく撮像されてしまた場合であっても、この周囲部が欠陥とされる誤検出を回避することができる。また、前記所定範囲において輝度値が同程度の場合には、両者とも輝点として検出することができる。
【００１４】
したがって、比較的明るい輝点であっても、その点欠陥の位置を正確に検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の一実施の形態を図に従って説明する。図１は、本実施の形態にかかるフラットパネルディスプレイ検査装置１を示すブロック図であり、該フラットパネルディスプレイ検査装置１は、プラズマディスプレイや液晶ディスプレイ等のフラットパネルディスプレイ２に発生する点欠陥を検査する装置である。
【００１６】
このフラットパネルディスプレイ検査装置１は、画像処理を行うコンピュータ１１を中心に構成されており、該コンピュータ１１には、カメラインターフェイス１２を介してカメラ１３が接続されている。前記コンピュータ１１には、検査対象となるフラットパネルディスプレイ２が接続されており、前記コンピュータ１１からの信号に応じた映像を出力できるように構成されている。
【００１７】
また、前記コンピュータ１１には、フィルタ装置２１が接続されており、該フィルタ装置２１は、前記カメラ１３のレンズ２２と前記フラットパネルディスプレイ２との間に配置されている。これにより、前記コンピュータ１１からの制御信号によって前記フィルタ装置２１を制御することによって、前記カメラ１３において減光フィルタやカラーフィルタを通した映像と、各フィルタを通さない映像とが取得できるように構成されている。
【００１８】
前記コンピュータ１１は、記憶されたプログラムに従って動作するように構成されており、前記カメラ１３で取得した画像を処理して前記フラットパネルディスプレイ２に発生した点欠陥を検出し、その位置を、他の装置やモニタに出力できるように構成されている。
【００１９】
以上の構成にかかる本実施の形態の動作を、図２〜図４に示すフローチャートに従って説明する。
【００２０】
（第１処理）
【００２１】
すなわち、フラットパネルディスプレイ２での点欠陥を検査する際には、第１処理において、検査対象となるフラットパネルディスプレイ２に所定の画像を表示させた状態でカメラ１３によってフラットパネルディスプレイ２に表示され映像を撮像し、当該カメラ１３における各画素位置（ｉ，ｊ）に対応した輝度値を、カメラ座標Ａ（ｉ，ｊ）として取得して（Ｓ１）、該カメラ座標Ａ（ｉ，ｊ）での輝度値を、前記フラットパネルディスプレイ２における各画素位置（ｘ，ｙ）に対応する対応座標Ｂ（ｘ，ｙ）に変換してカメラ１３での解像度とフラットパネルディスプレイ２での解像度とを対応させる（Ｓ２）。この方法としては、前記カメラ座標Ａ（ｉ，ｊ）での各カメラ座標位置（ｉ，ｊ）に対応する前記対応座標Ｂ（ｘ，ｙ）での対応座標位置（ｘ，ｙ）が予め定められた対応表を利用する方法が挙げられる。
【００２２】
次に、前記対応座標Ｂ（ｘ，ｙ）における各対応座標位置（ｘ，ｙ）での輝度値を、輝点を示す「１」と、暗点を示す「０」とに二値化して二値化座標Ｃ（ｘ，ｙ）を形成し（Ｓ３）、輝点「１」とされた前記二値化座標Ｃ（ｘ，ｙ）の二値化座標位置に対応する前記対応座標Ｂ（ｘ，ｙ）での対応座標位置（ｘ，ｙ）における輝度値と、当該対応座標位置に隣接した隣接座標位置（ｘ−ｐ，ｙ−ｑ）（ｐ＝−１〜＋１，ｑ＝−１〜＋１）での輝度値とを比較し、各隣接座標位置Ｂ（ｘ−ｐ，ｙ−ｑ）での輝度値が前記対応座標位置での輝度値に所定値γを乗算した乗算値γ・Ｂ（ｘ，ｙ）以上の場合に、当該対象座標位置（ｘ，ｙ）に対応する二値化座標Ｃ（ｘ，ｙ）の二値化座標位置を輝点「１」から暗点「０」に変更する（Ｓ４）。
【００２３】
これにより、輝度値が高く二値化後に輝点「１」とされた箇所であっても、これを比較基準位置とするとともに、その周囲部の比較対象位置において前記比較基準位置より輝度値が所定倍高い箇所があった場合には、前記比較基準位置を輝点「１」から暗点「０」に変更することができる。
【００２４】
このとき、前記輝点「１」から前記暗点「０」に変更する際には、前記比較基準位置の輝点より輝度値が所定値γ倍高いことが変更条件とされている。このため、比較基準点での輝度値と比較対象位置での輝度値とが同程度の場合には、両者とも輝点「１」とすることができる。
【００２５】
そして、修正が加えられた前記二値化座標Ｃ（ｘ，ｙ）の総ての二値化座標位置から輝点「１」とされた二値化座標位置を点欠陥として抽出し、抽出された総ての二値化座標位置を、フラットパネルディスプレイ２の各画素位置に対応した座標を示すＦＤＰ座標のＦＤＰ座標位置として他の装置やモニタに出力して（Ｓ５）、メインルーチンに戻る。
【００２６】
このように、所定範囲において輝度値が大きく異なる場合には、輝度値が低い方を暗点「０」とすることができる。このため、比較的明るい輝点の欠陥を検出する際に、撮像時において輝点の周囲部が明るく撮像されてしまった場合であっても、この周囲部が欠陥とされる誤検出を回避することができる。また、前記所定範囲において輝度値が同程度の場合には、両者とも輝点として検出することができる。
【００２７】
したがって、比較的明るい輝点であっても、その点欠陥の位置を正確に検出することができる。
【００２８】
（第２処理）
【００２９】
図３は、第２処理を示すフローチャートであり、第１処理後において、フィルタ装置２１を動作して、フラットパネルディスプレイ２に表示された映像を減光フィルタを介さないでカメラ１３で取得し、当該カメラ１３における各画素位置（ｉ，ｊ）に対応した輝度値を、非減光時カメラ座標Ａ１（ｉ，ｊ）として取得して（ＳＢ１）、前記非減光時カメラ座標Ａ１（ｉ，ｊ）での輝度値を、前記フラットパネルディスプレイ２における各非減光時画素位置（ｘ，ｙ）に対応する非減光時対応座標Ｂ１（ｘ，ｙ）に変換してカメラ１３での解像度とフラットパネルディスプレイ２とでの解像度を対応させる（ＳＢ２）。
【００３０】
次に、前記非減光時対応座標Ｂ１（ｘ，ｙ）における各非減光時対応座標位置（ｘ，ｙ）での輝度値を、輝点を示す「１」と、暗点を示す「０」とに二値化して非減光時二値化座標Ｃ１（ｘ，ｙ）を形成し（ＳＢ３）、輝点「１」とされた前記非減光時二値化座標Ｃ１（ｘ，ｙ）の非減光時二値化座標位置に対応する前記非減光時対応座標Ａ１（ｘ，ｙ）での非減光時対応座標位置（ｘ，ｙ）における輝度値と、当該非減光時対応座標位置に隣接した非減光時隣接座標位置（ｘ−ｐ，ｙ−ｑ）（ｐ＝−１〜＋１，ｑ＝−１〜＋１）での輝度値とを比較し、該非減光時隣接座標位置（ｘ−ｐ，ｙ−ｑ）での輝度値が前記非減光時対応座標位置での輝度値に所定値γを乗算した乗算値γ・Ｂ（ｘ，ｙ）以上の場合に、当該非減光時対象座標位置（ｘ，ｙ）に対応する前記非減光時二値化座標Ｃ１（ｘ，ｙ）の非減光時二値化座標位置を輝点「１」から暗点「０」に変更する（ＳＢ４）。これにより、前述と同様の効果を得ることができる。
【００３１】
そして、修正が加えられた前記非減光時二値化座標Ｃ１（ｘ，ｙ）の総ての非減光時二値化座標位置から輝点「１」とされた非減光時二値化座標位置を点欠陥候補とする（ＳＢ５）。
【００３２】
その後、前記非減光時二値化座標Ｃ１（ｘ，ｙ）において輝点「１」とされた隣接する非減光時二値化座標位置同士を一体化してラベリングしてラベリング画像Ｄ（ｘ，ｙ）を形成するとともに（ＳＢ６）、前記第１処理で求めた減光時の前記二値化座標Ｃ（ｘ，ｙ）において輝点「１」とされた二値化座標位置を抽出し、この抽出した二値化座標位置が、前記ラベリングされたラベリング座標位置内に存在する場合には、そのラベリング画像Ｄ（ｘ，ｙ）のラベリング座標位置すべてを輝点「１」から暗点「０」に変更して（ＳＢ７）、前記二値化座標Ｃ（ｘ，ｙ）と前記ラベリング座標位置とＯＲをとって、フラットパネルディスプレイ２の各画素位置に対応した座標を示すＦＤＰ座標のＦＤＰ座標位置として他の装置やモニタに出力する（ＳＢ８）。
【００３３】
これにより、極暗い輝点と極明るい輝点との同時検出が可能となり、極明るい輝点周囲の画素の誤報を減少することができる。
【００３４】
（第３処理）
【００３５】
図４は、第３処理を示すフローチャートである。
【００３６】
すなわち、フラットパネルディスプレイ２は、Ｒ画素とＧ画素とＢ画素とが順番に並設されてなり、Ｒ画素とＧ画素とＢ画素とが一体として前記各座標位置を構成している。
【００３７】
このため、これらそれぞれを詳細に検査する際には、前記フィルタ装置２１を作動させて第１処理と同様に、それぞれの画像をカメラ１３で撮像し、当該カメラ１３のＲ画素位置（ｉ，ｊ）に対応した輝度値をカメラＲ座標Ａｒ（ｉ，ｊ）、当該カメラ１３のＧ画素位置（ｉ，ｊ）に対応した輝度値をカメラＧ座標Ａｇ（ｉ，ｊ）、当該カメラ１３のＢ画素位置（ｉ，ｊ）に対応した輝度値をカメラＢ座標Ａｂ（ｉ，ｊ）として取得する（ＳＣ１）。そして、各カメラ座標Ａｒ，ｇ，ｂ（ｉ，ｊ）での輝度値を、前記フラットパネルディスプレイ２における各画素位置（ｘ，ｙ）に対応する対応座標Ｂｒ，ｇ，ｂ（ｘ，ｙ）に変換してカメラ１３での解像度とフラットパネルディスプレイ２での解像度とを対応させる（ＳＣ２）。
【００３８】
次に、前記対応座標Ｂｒ，ｇ，ｂ（ｘ，ｙ）における各対応座標位置での輝度値を、輝点を示す「１」と、暗点を示す「０」に二値化して二値化座標Ｃｒ，ｇ，ｂ（ｘ，ｙ）を形成し（ＳＣ３）、輝点「１」とされた二値化座標Ｃｇ（ｘ，ｙ）の二値化座標位置に対応する前記対応座標Ｂｇ（ｘ，ｙ）での対応座標位置における輝度値と、当該対応座標位置に隣接したＲの対応座標Ｂｒ（ｘ，ｙ）及びＢの対応座標Ｂｂ（ｘ，ｙ）での輝度値とを比較し、隣接したＲの対応座標Ｂｒ（ｘ，ｙ）及びＢの対応座標Ｂｂ（ｘ，ｙ）での輝度値が、前記対応座標位置（ｘ，ｙ）での輝度値に所定値γを乗算した乗算値γ・Ｂｇ（ｘ，ｙ）以上の場合に、当該対象座標位置（ｘ，ｙ）に対応する二値化座標Ｃｇ（ｘ，ｙ）の二値化座標位置を輝点「１」から暗点「０」に変更する。
【００３９】
同様に、輝点「１」とされた二値化座標Ｃｒ（ｘ，ｙ）の二値化座標位置に対応する前記対応座標Ｂｒ（ｘ，ｙ）での対応座標位置における輝度値と、当該対応座標位置に隣接したＢの対応座標Ｂｂ（ｘ−１，ｙ）及びＧの対応座標Ｂｇ（ｘ，ｙ）での輝度値とを比較し、隣接したＢの対応座標Ｂｂ（ｘ−１，ｙ）及びＧの対応座標Ｂｇ（ｘ，ｙ）での輝度値が、前記対応座標位置（ｘ，ｙ）での輝度値に所定値γを乗算した乗算値γ・Ｂｒ（ｘ，ｙ）以上の場合に、当該対象座標位置（ｘ，ｙ）を輝点「１」から暗点「０」に変更する。さらに、輝点「１」とされた二値化座標Ｃｂ（ｘ，ｙ）の二値化座標位置に対応する前記対応座標Ｂｂ（ｘ，ｙ）での対応座標位置における輝度値と、当該対応座標位置に隣接したＲの対応座標Ｂｒ（ｘ＋１，ｙ）及びＧの対応座標Ｂｇ（ｘ，ｙ）での輝度値とを比較し、隣接したＲの対応座標Ｂｒ（ｘ＋１，ｙ）及びＧの対応座標Ｂｇ（ｘ，ｙ）での輝度値が、前記対応座標位置（ｘ，ｙ）での輝度値に所定値γを乗算した乗算値γ・Ｂｂ（ｘ，ｙ）以上の場合に、当該対象座標位置（ｘ，ｙ）に対応する二値化座標Ｃｂ（ｘ，ｙ）の二値化座標位置を輝点「１」から暗点「０」に変更する（ＳＣ４）。
【００４０】
そして、修正が加えられた前記二値化座標Ｃｒ，ｇ，ｂ（ｘ，ｙ）のそれぞれの二値化座標位置から輝点「１」とされた二値化座標位置を点欠陥として抽出し、抽出された総ての二値化座標位置を、フラットパネルディスプレイ２の各画素位置に対応した座標を示すＦＤＰ座標のＦＤＰ座標位置として他の装置やモニタに出力して（ＳＣ５）、メインルーチンに戻る。
【００４１】
これにより、Ｒ画素とＧ画素とＢ画素間での候補点を削減し、誤報を減少することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明の一実施の形態を示すブロック図である。
【図２】同実施の形態の動作を示すフローチャートである。
【図３】図２に続くフローチャートである。
【図４】図３に続くフローチャートである。
【図５】従来例を示す説明図である。
【符号の説明】
【００４３】
１    フラットパネルディスプレイ検査装置
２    フラットパネルディスプレイ
１１    コンピュータ
１３    カメラ
【図１】
2006125894.tif 000003
【図２】
2006125894.tif 000004
【図３】
2006125894.tif 000005
【図４】
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【図５】
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