【誤訳訂正書】
【提出日】平成19年10月17日(2007.10.17)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】特許請求の範囲
【訂正対象項目名】全文
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
連続するロッド入口及び出口を有する処理区画を備える質量分析計システムの動作方法において、
ａ) イオンの進行のための経路を定め、前記経路に沿ってイオンを誘導するための手段を備える前記処理区画の前記入口にイオン流を与える工程、
ｂ) 前記イオン流に、中性粒子とのイオンの衝突を可能にする条件の下で作動される前記処理区画を通過させる工程、
ｃ) 前記処理区画を通過するイオンを減速するために、前記処理区画の前記経路の少なくとも一部分に沿って広がる内部減速電場であって、当該内部減速電場が、前記経路に沿う前記イオンを誘導するための手段に沿ってその電位が変化するものを与える工程、及び
ｄ) 所望の検体イオンより低い運動エネルギーを有する不要イオンに前記所望の検体イオンより大きな減速を与え、よって前記不要イオンの減速及び前記不要イオンの選択的減損を促進し、前記不要イオンに対する前記検体イオンの比を高めるように、前記内部減速電場を選択する工程、
を含むことを特徴とする方法。
【請求項２】
前記不要イオンが、イオン源で生成されたイオン、前記中性粒子との反応により前記処理区画内で生成されたイオン、及び前記処理区画内でその他の過程により生成されたイオン、の内の少なくとも１つを含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記不要イオンが、前記内部電場を与える際に、前記所望の検体イオンとは異なる減速の度合いを有する多原子ソースイオンを含むことを特徴とする請求項１または２に記載の方法。
【請求項４】
前記内部電場を静電場として与える工程を含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記内部電場を動電場として与える工程を含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項６】
前記イオンを誘導するための手段として前記処理区画内に多重極子ロッドセットを備える工程、及び前記経路に沿うイオンの誘導を実施するために前記多重極子ロッドセットに電圧を印加する工程を含むことを特徴とする請求項１，４または５に記載の方法。
【請求項７】
前記多重極子ロッドセットにＲＦ電圧を印加する工程を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項８】
通過帯域を生じさせるために、前記多重極子ロッドセットにＲＦ電圧及びＤＣ電圧を印加する工程を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項９】
所望の検体イオンに対して所望の通過帯域を選択するため、前記所望のイオンに前記処理区画を通過させるため、及び前記所望のイオンとの干渉体を形成する傾向を有する前駆体イオンの排除を促進するために、前記ＲＦ電圧及び前記ＤＣ電圧またはＲＦ周波数を調節する工程を含むことを特徴とする請求項８に記載の方法。
【請求項１０】
前記多重極子ロッドセットとして四重極子ロッドセットを備える工程を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項１１】
前記四重極子ロッドセットにＲＦ電圧を印加する工程を含むことを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記四重極子ロッドセットにＲＦ電圧及びＤＣ電圧のいずれをも印加する工程を含むことを特徴とする請求項１０に記載の方法。
【請求項１３】
所望の検体イオンに対して所望の通過帯域を選択するため、前記所望のイオンに前記処理区画を通過させるため、及び前記所望のイオンとの干渉体を形成する傾向を有する前駆体イオンの排除を促進するために、前記ＲＦ電圧及び前記ＤＣ電圧またはＲＦ周波数を調節する工程を含むことを特徴とする請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記内部電場を発生させるために補助電極を設ける工程を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項１５】
多重極子ロッドセットのロッド間で前記補助電極を少なくとも部分的に突き出させ、よって前記ロッド内に前記内部電場を発生させる工程を含むことを特徴とする請求項１４に記載の方法。
【請求項１６】
前記内部電場を発生させるために、前記多重極子ロッドセットにセグメント分割電極を設ける工程を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項１７】
前記内部電場を発生させるために、前記多重極子ロッドセットに傾斜配置電極及びテーパ付電極の内の一方を設ける工程を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項１８】
前記内部電場を発生させるために、前記多重極子ロッドセットの外部にある電極を設ける工程を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【請求項１９】
前記処理区画から出てくるイオンを検出する工程を含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
【請求項２０】
前記処理区画から出てくるイオンを検出する工程を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００１４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００１４】
すなわち、本発明にしたがえば、入口及び出口を有する処理区画を備える質量分析計システムの動作方法が提供され、本方法は、
ａ) イオンの進行経路を定め、経路に沿ってイオンを誘導するための手段を備える、処理区画の入口にイオン流を与える工程、
ｂ) イオン流に、中性粒子とのイオンの衝突を可能にする条件の下で動作する処理区画を通過させる工程、
ｃ) 処理区画を通過するイオンを減速するため、処理区画の経路の少なくとも一部に沿って広がる内部減速電場であって、当該内部減速電場が、経路に沿うイオンを導入するための手段に沿ってその電位が変化するものを与える工程、及び
ｄ) 所望の検体イオンより低い運動エネルギーを有する不要イオンに所望の検体イオンより大きな減速を与え、よって、不要イオンの減速及び不要イオンの選択的減損を促進し、検体イオン対不要イオンの比を高めるように、内部減速電場を選択する工程、
を含む。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２３】
次に、内部電場を発生するための好ましい配置を示す図２Ａ及び２Ｂを参照する。(図２では円形断面で示され、図１のロッドセット３４と同等の)多重極子のＲＦ／ＤＣ電場を確立するロッド１１２に加えて、それぞれがほぼＴ字形の断面を有する複数本の細長補助電極１１４が設けられている。すなわち、それぞれの補助電極１１４は、多重極子ロッド１１２の間で多重極子の軸に向かい径方向で内側に伸び出している刃状区画を有する。この刃状区画の径方向長さは軸に沿って変化し、よって補助電極１１４の断面は軸に沿って変化する。図示されるように、刃状区画の形状プロファイルは、細長電極１１２に印加されるＤＣ電圧または複数の電圧が、多重極子に沿って変化し、よって内部電場を与える、軸上または軸近傍の電位を確立するようなプロファイルである。例えば、図２Ａに与えられる断面は、ロッド１１２間でより奥まで径方向に突き出している刃状区画１１６を示し、一方図２Ｂの断面は、ロッド１１２間で径方向にそれほど突き出してはいない、比較的短い刃状区画１１７を示す。より奥まで突き出している細長電極１１２の末端１１６を衝突／反応セル４１の入口近くに配置し、比較的突き出しの小さい末端１１７を衝突／反応セル４１の出口近くに配置して、ロッド１１２のＤＣオフセット電位に対して負の電位を細長補助電極１１４に印加することにより、入口から出口に向かう正イオンの運動の減速に役立つ、セルに沿う静電場を確立することができる。補助電極１１４の構成を反転すること、すなわちより奥まで突き出している末端を出口近くに配置し、比較的突き出しの小さい末端を入口に配置して、正のＤＣ電圧を用いることも可能である。多重極子に沿う電位分布は線形であること、すなわち、多重極子を通してイオンを出口に向けて押す力が等しくなるように、内部電場が実質的に一様であることが好ましい。しかし、細長電極１１４の形状プロファイル及び／または多重極子ロッド１１２間の突き出し長さを適切に調整することにより、電位分布を線形から変えることができる。ほぼ線形の電位分布を与えるには、刃状区画１１６，１１７に曲線プロファイルが必要であることがわかっている。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】図面
【訂正対象項目名】図３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【図３】
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