【手続補正書】
【提出日】平成19年10月5日(2007.10.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線不透過性要素を含む少なくとも１つの被検体での画像形成用のＸ線装置であって、
ａ．少なくとも１つのＸ線ビーム源と、
ｂ．少なくとも１つのエネルギ分散検出器と、
ｃ．少なくとも１つの相関ユニットと、
ｄ．少なくとも１つの出力ユニットを有しており、
前記Ｘ線ビーム源は、連続スペクトルの、ほぼ多色のＸ線ビームを放射し、
前記エネルギ分散検出器は、被検体を透過したＸ線ビームの強度を第１のエネルギＥ１及び第２のエネルギＥ２で検出することができ、
前記相関ユニットは、前記第１のエネルギＥ１での前記被検体の１つの画素により検出されたＸ線ビームの強度を、前記第２のエネルギＥ２での、前記画素と同じ画素により検出されたＸ線ビームの強度と相関することができ、
前記出力ユニットは、前記各強度の相関によって含まれる各画素信号から、前記被検体を表示するように構成されている
画像形成用のＸ線装置において、
連続スペクトルのＸ線ビームを検出するための手段がエネルギ分散検出器に設けられていることを特徴とするＸ線装置。
【請求項２】
請求項１記載のＸ線装置であって、相関ユニットは、
ａ．被検体の個別画素の各強度を記憶することができる第1のメモリユニットと、
ｂ．前記被検体の画素の、第１のエネルギＥ１で検出されたＸ線ビームの強度を、前記被検体の画素の、第２のエネルギＥ２で検出されたＸ線ビームの強度と相関することができる計算ユニットと、
ｃ．前記相関によって前記各個別画素の各強度から得られた各値を一時記憶することができる第２のメモリユニット
を有するＸ線装置。
【請求項３】
１つの画素の検出されたＸ線ビームの各強度は、相関ユニットを用いて、事前に対数化せずに、又は、事前に対数化した後、相互に減算することができるか、又は、相互に除算することができ、又は、エネルギに関して微分を形成することができる請求項１又は２記載のＸ線装置。
【請求項４】
検出器は、フラットベッド検出器である請求項１から３迄の何れか１記載のＸ線装置。
【請求項５】
検出器は、個別画素を検出するように構成されていて、全ての画素を検出するように動かすことができる請求項１から３迄の何れか１記載のＸ線装置。
【請求項６】
検出器は、各々１つの画素の検出のために構成された各検出センサの1つのアレイを有していて、全ての画素を検出するように動かすことができる請求項１から３迄の何れか１記載のＸ線装置。
【請求項７】
検出器のエネルギ解像度は、高々５ｋｅＶである請求項１から６迄の何れか１記載のＸ線装置。
【請求項８】
第１のエネルギＥ１及び第２のエネルギＥ２は、Ｘ線不透過性要素のＫ又はＬ吸収端のエネルギの下側に５ｋｅＶに至るところから上側に５ｋｅＶのところに至る迄の範囲内に位置している請求項１から７迄の何れか１記載のＸ線装置。
【請求項９】
第１のエネルギＥ１及び第２のエネルギＥ２は、当該第１のエネルギＥ１及び第２のエネルギＥ２が、Ｘ線不透過性要素のＫ吸収端又はＬ吸収端のエネルギを含むように選択されている請求項１から８迄の何れか１記載のＸ線装置。
【請求項１０】
Ｘ線不透過性要素は、Ｘ線造影剤であり、該Ｘ線造影剤は、臭素、ヨード、バリウム、ランタノイド、ビスマスを含むグループから選択された少なくとも１つの要素を含む請求項１から９迄の何れか１記載のＸ線装置。
【請求項１１】
Ｘ線ビームを用いた、少なくとも１つのＸ線不透過性要素の画像表示用の請求項１から１０迄の何れか１記載のＸ線装置の使用であって、以下の方法ステップ、
ａ．連続スペクトルの、ほぼ多色のＸ線ビームを被検体に照射するステップ、
ｂ．第１のエネルギＥ１及び第２のエネルギＥ２で、前記被検体を透過するＸ線ビームの強度をエネルギ分散により検出するステップ、
ｃ．前記第１のエネルギＥ１で前記被検体の１つの画素を検出するＸ線ビームの強度を、前記第２のエネルギＥ２で前記被検体の前記１つの画素を検出するＸ線ビームの強度と相関するステップと、
ｄ．各強度の相関によって得られる各画素信号から前記被検体を表示するステップ
を実行するＸ線装置の使用において、
エネルギ分散検出器を用いて、連続スペクトルのＸ線ビームが検出されることを特徴とするＸ線装置の使用。
【請求項１２】
１つの画素のＸ線ビームの各強度は、相関ユニットを用いて、事前に対数化せずに、又は、事前に対数化した後、相互に減算されるか、又は、相互に除算され、又は、エネルギに関して微分される請求項１１記載のＸ線装置の使用。
【請求項１３】
フラットベッド検出器が使用される請求項１１又は１２記載のＸ線装置の使用。
【請求項１４】
個別画素の撮影のために構成されていて、全ての画素の撮影のために動かすことができる検出器が使用される請求項１１又は１２記載のＸ線装置の使用。
【請求項１５】
各々１つの画素の撮影用に構成されている検出センサの1つのアレイを有していて、全ての画素の撮影用に動かすことができる１つの検出器が使用される請求項１１又は１２記載のＸ線装置の使用。
【請求項１６】
検出器のエネルギ解像度は、高々５ｋｅＶである請求項１１から１５迄の何れか１記載のＸ線装置の使用。
【請求項１７】
第１のエネルギＥ１及び第２のエネルギＥ２は、Ｘ線不透過性要素の吸収端の下側に５ｋｅＶのところから上側に５ｋｅＶのところに至る迄の範囲内に位置している請求項１１から１６迄の何れか１記載のＸ線装置の使用。
【請求項１８】
第１のエネルギＥ１及び第２のエネルギＥ２は、当該第１のエネルギＥ１及び第２のエネルギＥ２が、Ｘ線不透過性要素のＫ端又はＬ端のエネルギを含むように選択されている請求項１１から１７迄の何れか１記載のＸ線装置の使用。
【請求項１９】
Ｘ線不透過性要素として、臭素、ヨード、バリウム、ランタノイド、ビスマスを含むグループから選択された少なくとも１つの要素を含むＸ線造影剤が使用される請求項１１から１８迄の何れか１記載のＸ線装置の使用。
【請求項２０】
Ｘ線不透過性要素として、Ｘ線造影剤が使用され、該Ｘ線造影剤は、経腸又は非経腸投与される請求項１１から１９迄の何れか１記載のＸ線装置の使用。
【請求項２１】
Ｘ線不透過性要素を含む少なくとも１つの被検体で画像形成するＸ線コントラスト方法であって、
以下の方法ステップ、
ａ．連続スペクトルの、ほぼ多色のＸ線ビームを被検体に透過照射するステップ、
ｂ．第１のエネルギＥ１及び第２のエネルギＥ２で、前記被検体を透過照射されるＸ線ビームの強度をエネルギ分散により検出するステップ、
ｃ．前記第１のエネルギＥ１で前記被検体の１つの画素を検出するＸ線ビームの強度を、前記第２のエネルギＥ２で前記被検体の前記１つの画素を検出するＸ線ビームの強度と相関するステップと、
ｄ．各強度の相関によって得られる各画素信号から前記被検体を表示するステップ
を有するＸ線コントラスト方法において、
エネルギ分散検出器を用いて、連続スペクトルのＸ線ビームが検出されることを特徴とするＸ線コントラスト方法。
【請求項２２】
Ｘ線ビームの各強度を、相関ユニットを用いて、事前に対数化せずに、又は、事前に対数化した後、相互に減算するか、又は、相互に除算し、又は、エネルギに関して微分を形成する請求項２１記載のＸ線コントラスト方法。
【請求項２３】
フラットベッド検出器を使用する請求項２１又は２２記載のＸ線コントラスト方法。
【請求項２４】
個別画素の撮影のために構成されていて、全ての画素の撮影のために動かすことができる検出器を使用する請求項２１又は２２記載のＸ線コントラスト方法。
【請求項２５】
各々１つの画素の検出用に構成されている検出センサのアレイを有していて、全ての画素の検出用に動かすことができる１つの検出器が使用される請求項２１又は２２記載のＸ線コントラスト方法。
【請求項２６】
検出器のエネルギ解像度を、高々５ｋｅＶにする請求項２１から２５迄の何れか１記載のＸ線コントラスト方法。
【請求項２７】
第１のエネルギＥ１及び第２のエネルギＥ２を、Ｘ線不透過性要素の吸収端の下側に５ｋｅＶのところから上側に５ｋｅＶのところに至る迄の範囲内に位置する請求項２１から２６迄の何れか１記載のＸ線コントラスト方法。
【請求項２８】
第１のエネルギＥ１及び第２のエネルギＥ２を、当該第１のエネルギＥ１及び第２のエネルギＥ２が、Ｘ線不透過性要素のＫ吸収端又はＬ吸収端のエネルギを含むように選択する請求項２１から２７迄の何れか１記載のＸ線コントラスト方法。
【請求項２９】
Ｘ線不透過性要素として、臭素、ヨード、バリウム、ランタノイド、ビスマスを含むグループから選択した少なくとも１つの要素を含むＸ線造影剤を使用する請求項２１から２８迄の何れか１記載のＸ線コントラスト方法。
【請求項３０】
Ｘ線不透過性要素として、Ｘ線造影剤を使用し、該Ｘ線造影剤を、経腸又は非経腸投与する請求項２１から２９迄の何れか１記載のＸ線コントラスト方法。
【請求項３１】
Ｘ線不透過性要素を含む容積体の特殊画像による表示、又は、定量的な表示を行う請求項２１から３０迄の何れか１記載のＸ線コントラスト方法。