【誤訳訂正書】
【提出日】平成19年8月21日(2007.8.21)
【誤訳訂正１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００２０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００２０】
技術者によるＩＥＥＥ１１４９．１境界走査、内部走査、及び組み込み自己走査（ＢＩＳＴ）を含む検査性能デザイン（ＤＦＴ）の利用は、ＩＣ、ＰＣＢ及びシステムの複雑化にともなって増加している。このようなＤＦＴの利用の増加により高質な検査が行われ、検査に要する時間と費用の低減が果たされ、デバッグの手間が省かれ、かつ販売開始までの時間も短縮されてきた。しかしながら、電子回路が成長複雑化し続けるにつれて、検査は猶も難題であり、高度な電子システムのデザイン及び製造におけるボトルネックとなる可能性がある。デザイン上の複雑化の増大に寄与し検査及びデバッグ操作において取り扱われるべき技術の例としては、埋め込みコア、埋め込みメモリ、アナログ／複合信号処理、及びプログラム可能論理（例えばＣＰＬＤ及びＦＰＧＡ）及び非揮発性メモリ（例えばＦＬＡＳＨメモリ）のシステム内配列（ＩＳＣ）がある。さらに、このような製品に対する需要の増大と加えて市場における競合の増大により電子システムメーカーにはコスト削減とその販売するまでの時間の改善が求められ続けている。従って、コストを削減でき、かつ検査、デバッグ、及び複雑なＩＣ、ＰＣＢ及びシステム配列に要する時間を最小限にできる新たな方法が求められている。
【誤訳訂正２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００５８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００５８】
マスク及び比較回路６０４にはさらにＡＴＬ６０２へのインターフェースを介して制御される機能性能が備えられていてもよい。図示した実施態様では、マスク及び比較回路６０４の作動可／作動不可機能がある。この機能により、比較走査及びＰＴＢコントローラ５０８における合格／不合格状態のラッチが手動ではできなくなる。さらに、マスク及び比較回路６０４に誤比較を検出した際に一定の動作を行うようにしてもよい。図示した実施態様では、誤比較があるとそれが検出された時にＵＵＴは検査論理リセット状態とされる。かかる動作はＰＴＢコントローラ５０８よりＴＭＳ＿ＵＵＴを強制的にＴＬＲモードにすることによって自動的に行われる。さらに、ＰＴＢコントローラ５０８によって現在のスキャン操作をＵＵＴが検査論理リセット状態にされる前に完了させることが可能となる。これにより、現在のスキャン操作の更新ＤＲあるいは更新ＩＲに後続してＴＬＲモードが確立される。これにより、予測走査データの誤比較によって検出される製造時の欠陥によってＵＵＴに起こり得る損傷を回避できる。
【誤訳訂正３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００７０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００７０】
実行時、ＬＯＡＤ＿ＡＴＬ＿ＡＤＤＲ命令によって、ＡＴＬアドレスがＡＴＬのＡＴＬ＿ＡＤＤＲ入力からＡＴＬ＿アドレスレジスター中へ取得されるようにする。前記実行によって、該ＡＴＬアドレスは連続的にロードされるか（例えばＡＴＬのＴＡＰコントローラのラン・テスト／アイドル状態における場合）、あるいはＡＴＬ＿ＡＤＤＲ入力から直接取得される。いずれの場合においても、ＡＴＬ＿アドレスレジスターは並列ＡＴＬ＿ＡＤＤＲ入力を用いる実行の場合に必要とされると思われる同一サイズすなわちｎ＋１ビットである。検査コントローラ５０２は、もしＡＴＬ６０２が選択されたならば、ＡＴＬ＿アドレスレジスター中に取得されたＡＴＬアドレスを検査することができる。
【誤訳訂正４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００７４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００７４】
実行時、ＬＯＡＤ＿ＵＵＴ＿ＩＤ命令は、ＡＴＬのＵＵＴ＿ＩＤ［ｎ：０］入力からのＵＵＤのＩＤをＵＵＴ＿ＩＤレジスター中に取得させる。実行によっては、該ＩＤは（例えばＡＴＬのＴＡＰコントローラのラン・テスト／アイドル状態で）連続的にロードされるか、あるいはＵＵＴ＿ＩＤ［ｎ：０］入力から直接ロードされる。検査コントローラ５０２は、もしＡＴＬ６０２が選択される場合、ＵＵＴ＿ＩＤレジスター中に取得されたＵＵＴのＩＤを検査することができる。
【誤訳訂正５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００８３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００８３】
ＵＮＳＥＬＥＣＴ＿ＡＬＬ：ＡＴＬ６０２のＩＲ中へのＵＮＳＥＬＥＣＴ＿ＡＬＬ命令のローディングによってＰＴＢコントローラは選択されていない状態となる。これにより現在のアドレス指定モード、すなわちＡＴＬアドレスモード、ＵＵＴタイプモード、グループモードあるいは別名アドレスモードで為されたいずれの選択も「選択されない」。ＵＮＳＥＬＥＣＴ＿ＡＬＬ命令後は、いずれのＰＴＢコントローラもＴＤＯをＰＴＢ５０４上において運ぶことはできない。ＵＮＳＥＬＥＣＴ＿ＡＬＬ命令はバイパスレジスターを選択し、もしＩＤＣＯＤＥ命令が実行されていれば装置＿ＩＤレジスターを選択する。
【誤訳訂正６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００８４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００８４】
ＤＩＯ＿ＡＣＣＥＳＳ：ＤＩＯ＿ＡＣＣＥＳＳ命令はＤＩＯ＿ＵＵＴ［ｎ：０］ラインを制御するデータレジスターへアクセスするために用いられる。本命令はＰＴＢ５０４のＴＤＩ及びＴＤＯ間のデジタルＩ／Ｏ回路６０６中にあるＤＩＯ＿ＵＵＴレジスターを選択する。この命令ゆえに、ＡＴＬ６０２は、そのＡＴＬアドレスあるいはユニークな別名アドレスで事前に選択されていなければ、ＰＴＢ５０４上へそのＴＤＯを運び出すことはできない。さらに、もしＰＴＢコントローラ５０８が事前に選択されていれば、ＡＴＬアドレス、ＵＵＴタイプ、グループアドレスあるいは別名アドレスの適合によって、ＤＩＯ＿ＵＵＴレジスターはデータを捕獲し、シフトし、かつ更新する。従って、もしＰＴＢコントローラ５０８だけが選択されていれば、該コントローラはそのＴＤＯをＰＴＢ５０４上において運ぶことができ、現在のＤＩＯ＿ＵＵＴレジスター内容をスキャンアウトして検査コントローラ５０２によって検査することができる。もしＰＴＢコントローラ５０８が未だ選択されていなければ、ＤＩＯ＿ＵＵＴレジスターのシフト、更新及び捕獲は不能とされる。
【誤訳訂正７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００８９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００８９】
ＲＴＩ＿モード：ＴＭＳ＿ＵＵＴをＴＭＳ＿制御レジスターの更新ＤＲ期間中にＴＣＫの下降端上で論理０へと強要する。ＵＵＴのＴＡＰコントローラは（ＴＣＫの次の上昇端上での）ラン・テスト／アイドルへと移動し、ＵＵＴのＴＭＳがＴＭＳ＿モードあるいはＴＬＲ＿モードへ戻るまでそこに留まる。ＲＴＩ＿モードへは、ＴＬＲ＿モードあるいはＴＭＳ＿モードから、あるいはＲＴＩポーズ＿モード中、あるいはＵＵＴのＴＡＰがポーズＤＲあるいはポーズＩＲ状態で待機していない時に入ることができる。
【誤訳訂正８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００９０
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００９０】
ＲＴＩポーズ＿モード：ＲＴＩポーズ＿モードは、ＡＴＬ６０２が代わる代わる選択／非選択される時に、ＵＵＴのＴＡＰコントローラがラン・テスト／アイドル中の残りと、ポーズＤＲまたはポーズＩＲのいずれかとの間を交替するようにＴＭＳ＿ＵＵＴを制御する。ＲＴＩポーズ＿モードへは、ＴＬＲ＿モードから、あるいはＴＭＳ＿モードから、あるいはＲＴＩポーズ＿モードにある間に、及びＵＵＴのＴＡＰがポーズＤＲあるいはポーズＩＲ状態で待機している時に入ることができる。
【誤訳訂正９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００９２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００９２】
ＴＭＳ＿制御レジスターは、もしＰＴＢコントローラ５０８が前もって選択されたならば、ＡＴＬアドレス、ＵＵＴタイプ、グループアドレス、あるいは別名アドレス適合によってデータを捕獲し、シフトし、及び更新する。従って、もしＰＴＢコントローラ５０８が未だ選択されていなければ、ＴＭＳ＿ＵＵＴ出力はＴＭＳ＿制御レジスター中のコード毎のその最終制御数値に留まる。同様に、ＴＭＳ＿ＵＵＴは、ＡＴＬ６０２が選択されていない限り、ＲＴＩポーズ＿モードにおける状態を変えずにラン・テスト／アイドルあるいはポーズＤＲ／ポーズＩＲから離れて同期する。
【誤訳訂正１０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００９３
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００９３】
ＰＴＢ５０４上でのＰＴＢコントローラ５０８のリセット後、ＴＭＳ＿制御レジスターがＴＬＲ＿モードを用いてＴＭＳ＿ＵＵＴ信号を制御するように該レジスターをリセットする。従って、ＵＵＴのＴＡＰコントローラは、ＴＭＳ制御コードが後にＴＭＳ＿ＣＯＮＴＲＯＬ命令によって変えられるまで検査論理リセット状態に留まる。さらに、ＰＴＢ上のＴＲＳＴＮ全体から独立して、ＵＵＴのＴＡＰコントローラあるいはＵＵＴのＴＡＰコントローラのグループをリセットすることが可能である。例えば、ＧＲＯＵＰ＿ＳＥＬＥＣＴ命令を用いて、残っている（すなわち非選択の）ＵＵＴのＴＡＰコントローラがラン・テスト／アイドル状態で待機しているうちに特定グループのＵＵＴをＴＭＳリセットを用いて検査コントローラ５０２によってリセットすることができる。選択されたグループ中のＴＭＳ＿制御レジスターをＴＬＲ＿モードへ設定することによって、ＡＴＬ６０２がラン・テスト／アイドルへ移動しＴＣＫを計っているうちにＵＵＴの前記グループについてＴＭＳリセットを行うことができる。ＴＭＳ制御モード間の移行については以下に説明する。
【誤訳訂正１１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００９４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００９４】
ＲＴＩポーズ＿モードは、２以上のＵＵＴが別個に走査される一方で、それらの更新ＤＲあるいは更新ＩＲを同時に実行できるように２以上のＵＵＴを効率的に制御することを可能とする。このモードは例えばシステムにおけるボード間相互連結検査を行うために用いることができる。ＲＴＩポーズ＿モード及びラン・テスト／アイドル中のＵＵＴのＴＡＰコントローラへ設定されたＴＭＳ制御モードを用いれば、選択されたＡＴＬは、ＡＴＬのＴＡＰがラン・テスト／アイドル中を通過しながらＵＵＴのＴＡＯコントローラと同期された状態になる。次いで、ＴＭＳ＿ＵＵＴは、ＡＴＬ６０２がポーズＤＲあるいはポーズＩＲのいずれかの状態に入るまでＰＴＢのＴＭＳに従う。ポーズＤＲ／ＩＲ状態のいずれか一方へ入ることにより、ＴＭＳ＿ＵＵＴは、ＵＵＴのＴＡＰコントローラがポーズＤＲ／ＩＤ状態のそれぞれに留まるように強いる論理０へと制御される。ＡＴＬ６０２が選択され、次いでポーズＤＲあるいはポーズＩＲ状態へ入った場合、ＡＴＬ６０２とＵＵＴのＴＡＰコントローラは同期化された状態となり、ＴＭＳ＿ＵＵＴは再びＰＴＢ５０４のＴＭＳに従う。次いで、ＡＴＬ６０２が次にラン・テスト／アイドルに入る時、ＡＴＬによってＴＭＳ＿ＵＵＴは論理０へと制御され、ＵＵＴのＴＡＰをもう一度ラン・テスト／アイドル状態に留まることを強いる。このようなラン・テスト／アイドルあるいはポーズＤＲ／ＩＲにおける同期化／残留の連続はＲＴＩポーズ＿モードが実行されている限り継続する。
【誤訳訂正１２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００９５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００９５】
次いでＴＭＳ＿制御レジスターがＴＭＳ＿モード用の制御コードを用いて更新された時に、ＡＴＬのＴＡＰコントローラがラン・テスト／アイドルあるいはポーズＤＲまたはポーズＩＲ状態へ入るまで、ＴＭＳ＿ＵＵＴ出力は前の安定状態、すなわち検査論理リセット、ラン・テスト／アイドル、ポーズＤＲあるいはポーズＩＲ、から変化しない。これらの状態は同期化状態あるいはトリガー状態である。適当な同期化状態へ入った後、ＴＭＳ＿ＵＵＴ信号は前のＴＭＳモードによって決定されたＵＵＴのＴＡＰの前状態からの該ＴＡＰの移行に従って制御されてＡＴＬのＴＡＰコントローラのトリガー状態と同期化された状態となる。一旦両方のＴＡＰコントローラが同期された状態になると、ＴＭＳ＿ＵＵＴはＰＴＢ５０４のＴＭＳ及びＡＴＬ６０２中のＴＡＰコントローラに従い、ＵＵＴはＰＴＢコントローラ５０８が選択されたままである限りロック段階で作動する。同期化のためトリガー状態を与えることにより、検査コントローラ５０２が他のＰＴＢコントローラと交信し、次いでＰＴＢコントローラへの交信後にＵＵＴがＴＭＳ＿モードへ戻るように移行させることが可能となる。
【誤訳訂正１３】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】００９７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【００９７】
ＰＴＢコントローラ５０８が非選択とされる前に、（例えばＲＴＩ＿モードを用いてＴＭＳ＿制御レジスターをロードすることによって）ＵＵＴのＴＡＰコントローラがラン・テスト／アイドル状態に留まるようにＴＭＳ＿ＵＵＴ出力を制御する。これは、非選択の場合にＵＵＴがＰＴＢのＴＭＳに従い続けるようにＵＵＴがＴＭＳ制御モードのまま残らないことを確実にするためである。ここで開示したＰＴＡ５００の実施態様では、ＰＴＢコントローラ５０８はこの制御を自動的に取り扱う。ＰＴＢコントローラ５０８がＴＭＳ＿モードである間、及び該コントローラが続いて非選択状態になる場合、ＡＴＬのＴＡＰコントローラがラン・テスト／アイドル・トリガー状態に入る時にＴＭＳ＿ＵＵＴ出力がＲＴＩ＿モードへ入るように暫定的に制御される。ＰＴＢコントローラ５０８が続いて選択状態になる場合、ＴＭＳ＿ＵＵＴは、ＡＴＬのＴＡＰコントローラはラン・テスト／アイドル中を通過した後にＰＴＢ５０４のＴＭＳに従い始める。このように、ＴＭＳ＿モードにある間、ＰＴＢコントローラ５０８は、ＵＵＴが非選択状態になる時に該ＵＵＴがＡＴＬのＴＡＰコントローラのＴＭＳに従い続けないよう確保している。
【誤訳訂正１４】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０１２８
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０１２８】
ステップ１４０８に示すように、回路の並列検査あるいは配列前、接続されたＵＵＴへ検査コントローラが質問を行うかどうかに関する決定が為される。検査コントローラ質問を行う場合は、ステップ１４１０に示すように検査コントローラはＰＴＢ上の各ＡＴＬをアドレス指定する。すなわち、検査コントローラはＳＥＬＥＣＴ＿ＡＴＬ命令を用いて各ＵＵＴを選択する。検査コントローラが質問を行わない場合は、ステップ１４１２に示すように検査コントローラは該ＵＵＴの並列検査あるいは配列を開始する。すなわち、もしＬＯＡＤ＿ＵＵＴ＿ＩＤ命令が実行されていたら、この時点でＵＵＴのＵＵＴ＿ＩＤレジスターをロードすることができ、検査コントローラはそれらレジスターを検査することができる。次に、検査コントローラはＡＴＬのＴＭＳ＿ＵＵＴ出力を制御し、ＴＭＳ＿ＣＯＮＴＲＯＬ命令を用いかつＴＭＳ＿制御レジスターをＴＭＳ＿モードへ設定してＰＴＢのＴＭＳに従う。これにより、ＵＵＴ走査パスへのＡＴＬを介したアクセスが可能とされる。ここで検査コントローラは、実行可能な場合、ＵＵＴのそれぞれについてＩＤレジスター検査を行うことができ、またＵＵＴ＿ＩＤレジスターとともにＵＵＴタイプ及びバージョンを確認する。これに応じて、検査コントローラは次いでＵＵＴへグループアドレス及び別名アドレスを割り当てることができる。検査コントローラはＵＵＴのそれぞれをラン・テスト／アイドル状態のままにして、実行時にＵＮＳＥＬＥＣＴ＿ＡＬＬ命令を発する。
【誤訳訂正１５】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０１２９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０１２９】
次に、検査コントローラは、ステップ１４１４に示すように、複数のＰＴＢコントローラをまず選択してＵＵＴの並列検査及び／または配列を行う。この操作はＳＥＬＥＣＴ＿ＴＹＰＥ命令、ＳＥＬＥＣＴ＿ＧＲＯＵＰ命令あるいはＳＥＬＥＣＴ＿ＡＬＩＡＳ命令の一つを用いて果たされる。次に、ＴＭＳ＿ＣＯＮＴＲＯＬ命令を用いて制御モードがＴＭＳ＿モードへ設定されるので、各ＡＴＬのＴＭＳ＿ＵＵＴ出力はＰＴＢのＴＭＳに従う。その結果、前もって選択されたすべてのＵＵＴへ並列でアクセスできる。並列検査及び配列操作が完了した時、検査コントローラはＴＭＳ＿ＣＯＮＴＲＯＬをＲＴＩ＿モードへ設定することによって前記ＵＵＴをラン・テスト／アイドル状態のまま維持し、そしてＵＮＳＥＬＥＣＴ＿ＡＬＬ命令を発する。
【誤訳訂正１６】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０１３１
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０１３１】
一旦ＵＵＴのそれぞれの合格／不合格状態が分かれば、ステップ１４１８に示すように、作動しないＵＵＴについてのデバッグ及び診断が行われる。ＳＥＬＥＣＴ＿ＡＴＬ命令は作動しないＵＵＴのＰＴＢコントローラを選択するために用いられ、ＴＭＳ＿ＣＯＮＴＲＯＬ命令はＴＭＳ制御をＵＵＴへアクセスするＴＭＳモードへ設定するために用いられる。検査コントローラはここで作動しない検査を再処理し、また診断目的でＰＴＢのＴＤＯにある失敗データを調べる。ＵＵＴがアクセスされていない場合、ＵＵＴのＴＡＰコントローラはＴＭＳ＿ＣＯＮＴＲＯＬ命令を用いかつＲＴＩ＿モードを設定してラン・テスト／アイドル状態に置かれなくてはならない。次に前記コントローラはそれらが検査あるいは配列目的で再度アクセスされるまでその状態のままでいることができる。
【誤訳訂正１７】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０１３２
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０１３２】
並列検査アーキテクチャー（ＰＴＡ）５００（図５参照）を用いて複数のプリント回路板検査実行中ユニット（ＵＵＴ）上でボードからボードへの相互連結検査を行う第２の方法について図１４ｂを参照しながら説明する。ステップ１４２０に示すように、検査コントローラはＳＥＬＥＣＴ＿ＧＲＯＵＰ命令を用いてシステム中のＵＵＴのすべてを選択し、またＴＭＳ＿ＣＯＮＴＲＯＬ命令を用いてＴＭＳ出力をＲＴＩ＿モードへ制御してすべてのＵＵＴのＴＡＰコントローラをラン・テスト／アイドル・モードへ移行させる。
【誤訳訂正１８】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０１３４
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０１３４】
ステップ１４２４に示すように、検査コントローラは最初にＵＵＴのＩＲをロードする。すなわち、検査コントローラはその別名アドレスを用いてプログラムされたボードの１つを選択し、ＴＭＳ＿ＣＯＮＴＲＯＬ命令を用いてＴＭＳモードをＲＴＩポーズ＿モードへ設定する。次に、検査コントローラはＡＴＬのＴＡＰをラン・テスト／アイドルを通して移行させ、これにより選択されたＡＴＬ及びＵＵＴのＴＡＰコントローラを同期化された状態にする。次いで検査コントローラはＥＸＴＥＳＴ（あるいはＰＲＥＬＯＡＤ）命令を用いてＵＵＴのＩＲをロードし、そしてＳＥＬＥＣＴ＿ＡＬＩＡＳを用いてＡＴＬのＩＲをロードする。次に、検査コントローラはＵＵＴのＴＡＰをポーズＩＲへ移行させる。ＵＵＴのＴＡＰはポーズＩＲ状態に留まり、そしてＡＴＬはラン・テスト／アイドル状態になる。次いで相互連結検査に関わる各ボードについてステップ１４２４が反復される。したがって、ステップ１４２４に続いて、各ＵＵＴはＥＸＴＥＳＴでロードされ、ポーズＩＲ状態で待機している。
【誤訳訂正１９】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０１３５
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０１３５】
次いで、ステップ１４２６に示すように、検査コントローラはＵＵＴのＩＲを更新する。すなわち、検査コントローラはプログラムされたグループアドレス（例えばグループアドレス１）とともにＳＥＬＥＣＴ＿ＧＲＯＵＰ命令を用いて相互連結検査に関わるすべてのボードを選択する。次に、検査コントローラはＡＴＬのＴＡＰコントローラを捕獲＿ＩＲを通して移行させ、その後前記介在なしにポーズＩＲへと移行させる。これにより、選択されたＡＴＬのＴＡＰコントローラ及び該コントローラへ接続された各ＵＵＴを同期化状態へ至らしめる。次いで検査コントローラはＡＴＬ及びＵＵＴのＴＡＰコントローラを更新ＩＲへと移行させる。これにより、すべてのＵＵＴの同期的ＩＲ更新が為される。前記更新に続いて、ラン・テスト／アイドル状態へ進み、これによりＵＵＴのＴＡＰコントローラはそのままそこに留まる。
【誤訳訂正２０】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０１３６
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０１３６】
ステップ１４２８に示すように、検査コントローラはここで検査ベクトルを働かせることができる。すなわち、検査コントローラはＳＥＬＥＣＴ＿ＡＬＩＡＳ命令を用いるＵＵＴの１つを選択し、その後にその選択＿別名アドレスレジスターをロードする。検査コントローラはＡＴＬのＴＡＰコントローラをラン・テスト／アイドルを通して移行させることを避けてラン・テスト／アイドル中にＵＵＴのＴＡＰコントローラを保持すべきだと認められる。次に、検査コントローラはＢＹＰＡＳＳ命令を用いて選択されたＵＵＴのＡＴＬをロードし、ＡＴＬのＴＡＰコントローラをラン・テスト／アイドルを通して移行させてＵＵＴのＴＡＰコントローラをＡＴＬと同期化させる。次いで検査コントローラはＡＴＬ及びＵＵＴのＴＡＰコントローラを相互連結検査ベクトルを走査する捕獲ＤＲ及びシフトＤＲを通して移行させる。検査ベクトルはポーズＤＲへ進むと終了するためＵＵＴのＴＡＰコントローラはそこに留まることになる。次いで各ＵＵＴが適当な相互連結検査ベクトルを受け取るのと同時に前記相互連結検査に関わる各ボードについてステップ１４２８が反復される。結果的に、ステップ１４２８の後、各ＵＵＴは検査ベクトルとともにロードされ、またポーズＤＲ状態で待機している。
【誤訳訂正２１】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０１３７
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０１３７】
次に、ステップ１４３０に示すように、検査コントローラはＵＵＴのＤＲを更新する。すなわち、検査コントローラはプログラムされたグループアドレス（例えばグループアドレス１）とともにＳＥＬＥＣＴ＿ＧＲＯＵＰ命令を用いて前記相互連結検査に関わるすべてのボードを選択する。次に、検査コントローラはＡＴＬのＴＡＰコントローラを捕獲ＤＲを通して移行させ、その後さらに該コントローラを直接ポーズＤＲへ移行させる。これにより、選択されたＡＴＬのＴＡＰコントローラ及び該コントローラへ接続されたＵＵＴのそれぞれは同期化状態とされる。次いで検査コントローラはＡＴＬ及びＵＵＴのＴＡＰコントローラを更新ＤＲへ移行させる。これにより、ＵＵＴのすべての同期的ＤＲ更新が行われる。前記更新に続いてラン・テスト／アイドルへと進むと、前記ＵＵＴのＴＡＰコントローラはそこにそのまま留まらされる。
【誤訳訂正２２】
【訂正対象書類名】明細書
【訂正対象項目名】０１３９
【訂正方法】変更
【訂正の内容】
【０１３９】
ボードからボードへの相互連結検査を終了させるため、検査コントローラは、ステップ１４３４に示すように、選択されたグループアドレス中のＵＵＴをＲＴＩ＿モードにする。さらに、ＵＵＴのＴＡＰコントローラが再度選択されるまで該コントローラがラン・テスト／アイドルに留まるように検査コントローラはＵＮＳＥＬＥＣＴ＿ＡＬＬ命令を発する。