(57)【要約】【課題】発振回路を具備するＬＳＩの出荷検査において、ＡＣ検査をより高精度で行い、かつ同じ検査工程内でＤＣ検査を短時間で安定して行うことを実現する。【解決手段】検査ボード１に、発振停止回路２１を備えた発振回路２と、その出力バッファ３を搭載したＬＳＩ４を搭載し、発振回路２の入力側端子５と出力側端子６間に水晶振動子７の端子をそれぞれ直接接続する。さらに発振回路２の入力側端子５と出力側端子６の各々に近接して高抵抗１９，２０の一端子を接続し、この高抵抗１９，２０の他端子を検査ボード１のＤＣ測定端子１４，１５に接続する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
発振停止機能を備えた発振回路の入力側端子に第１の抵抗の一端子と水晶振動子の一端子とを接続し、前記発振回路の出力側端子に第２の抵抗の一端子と前記水晶振動子の他端子とを接続し、前記各抵抗の他端子を検査測定器の各測定端子にそれぞれ接続したことを特徴とする発振回路の検査回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、発振回路を搭載している半導体集積回路における発振回路の検査回路に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
携帯電話に搭載されるＴＣＸＯのような発振回路のあるＬＳＩの出荷時には、その機能チェックとして、各端子のＤＣバイアス，回路電流，出力信号の周波数・振幅特性・ＡＦＣ（Automatic Frequency Control）特性を検査実施した後に製品出荷が行われている。その際、短時間でより安定かつ高精度な検査が行われることが要望されている。
【０００３】
図２は従来の発振回路の検査回路の構成を示すブロック図であり、検査ボード１に、発振回路２とその出力バッファ３を備えたＬＳＩ４を搭載し、その入力側端子５と出力側端子６に検査ボード上に設けられたリレースイッチ１１，１２をそれぞれ接続し、このリレースイッチ１１，１２を介して水晶振動子７とＤＣ測定端子１４，１５が接続している。そして、複数のＤＣあるいはＡＣ測定端子１４〜１８が、ケーブルを介して検査測定器１３の各ＤＣあるいはＡＣ測定モジュールに接続されている。
【０００４】
通常の発振動作では、発振回路２の入力側端子５と出力側端子６に接続しているリレースイッチ１１，１２を水晶振動子７を接続する側にオンすると、その水晶振動子７により決定された周波数で発振回路２が発振して、出力バッファ３より出力信号端子８へ信号出力される。その際、水晶振動子７の切り替え用のリレースイッチ１１，１２をＬＳＩ４の発振回路２の入力側端子５と出力側端子６とに近接配置しているが、どうしてもリレースイッチ１１，１２を介在して水晶振動子７が発振回路ループに接続されるため、リレースイッチ１１，１２分の寄生容量の影響を受ける。
【０００５】
そのため、出力信号をＡＣ測定端子１８によって検査測定器１３により測定すると、ＬＳＩの単独評価時と比較して周波数ずれが生じて信号振幅は小さく、また、ＡＦＣ端子１０によって周波数制御するＡＦＣ特性では、その周波数変動幅が狭くなって高精度な検査が困難な場合が発生していた。
【０００６】
また、同じ検査工程で実施するＤＣ測定端子１５〜１７による機能チェック検査は、発振回路２が動作したままでは、発振によるＶｃｃ（基準電圧）・ＧＮＤ（接地電圧）の揺らぎ、あるいは出力信号そのものの回り込みの影響によって安定して実施することができない。例えば、Ｖｃｃ端子９における回路消費電流の測定、発振回路２の入力側端子５と出力側端子６、およびＡＦＣ端子１０を含む全端子のＤＣバイアス測定などについて、発振したままでは短時間に安定した検査をすることができない。
【特許文献１】特開平７−２３９３７１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
そこで、現状ではＤＣ検査時には、リレースイッチ１１，１２で水晶振動子７を発振ループから切り離して発振回路２の出力信号を停止した状態で、ＤＣバイアスなどを測定している。このように、水晶振動子７の発振回路２への接続をリレースイッチ１１，１２で切り替えることにより、安定したＤＣ検査と発振回路のＡＣ検査とを同じ検査工程内で実現している。
【０００８】
しかし、前述したようにリレースイッチ１１，１２の寄生容量の影響により、出力信号には周波数ずれが生じ、信号振幅は小さく、ＡＦＣ特性では周波数変動幅が狭くなり、発振回路２の周波数感度が低下し、高精度な検査を実施することができない。
【０００９】
本発明は、前記のような問題を解決するものであり、発振回路を具備するＬＳＩの出荷検査において、ＡＣ検査をより高精度に実施できるようにし、かつ同じ検査工程内でＤＣ検査も短時間で安定して行うことができる発振回路の検査回路を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
前記目的を達成するため、本発明は、発振停止機能を備えた発振回路の入力側端子に第１の抵抗の一端子と水晶振動子の一端子とを接続し、前記発振回路の出力側端子に第２の抵抗の一端子と前記水晶振動子の他端子とを接続し、前記各抵抗の他端子を検査測定器の各測定端子にそれぞれ接続したことを特徴とし、この構成によって、水晶振動子を発振回路の入出力側端子間に近接接続し、検査ボード上の配線、さらには検査測定器を含む測定系につく寄生容量の影響を低減するため抵抗を付加してＡＣ検査を実施し、検査モードで発振回路を停止させてＤＣ検査をも可能にするものである。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、発振回路の入出力側端子に対して水晶振動子をリレースイッチなしの直接接続にすることにより寄生容量を削減することができ、また検査ボード上および検査ボード・検査測定器間のケーブルに付加してしまう測定系の寄生容量を、発振回路の入出力端子に近接配置した抵抗でフィルタを形成して排除することにより、発振回路の周波数測定などのＡＣ検査をより高精度に実施することができる。またＤＣ検査では検査モードで発振回路を停止することにより、全端子のＤＣバイアス・回路電流の測定が可能となる。
【００１２】
よって、発振回路を搭載しているＬＳＩのＡＣ・ＤＣ機能検査を、同じ出荷検査工程内において高精度に短時間で安定して実施することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【００１４】
図１は本発明の実施形態を説明するための発振回路の検査回路における構成を示すブロック図であり、１は検査ボード、２は発振回路、３は出力バッファ、４はＬＳＩ、５は発振回路２の入力側端子、６は発振回路２の出力側端子、７は水晶振動子、８は出力信号端子、９はＶｃｃ端子、１０はＡＦＣ端子、１３はＤＣあるいはＡＣ測定モジュールを具備した検査測定器、１４，１５，１６，１７，２３はＤＣ測定端子、１８はＡＣ測定端子、１９，２０は第１，第２の抵抗としての高抵抗、２１は発振停止回路、２２は制御端子である。
【００１５】
検査ボード１に、発振停止回路２１を備えた発振回路２と、その出力バッファ３を搭載したＬＳＩ４を搭載し、発振回路２の入力側端子５と出力側端子６間に水晶振動子７の端子をそれぞれ直接接続する。さらに発振回路２の入力側端子５と出力側端子６の各々に近接して高抵抗１９，２０の一端子を接続し、この高抵抗１９，２０の他端子を検査ボード１のＤＣ測定端子１４，１５に接続する。
【００１６】
ＬＳＩ４の他の端子８〜１０，２２は、検査ボード１における対応する各測定端子１６〜１８，２３に接続し、検査ボード１の各測定端子１４〜１８，２３はケーブルを介して検査測定器１３のＤＣあるいはＡＣ測定モジュールに接続している。
【００１７】
次に、前記構成の本実施形態における動作について説明する。
【００１８】
通常の発振動作では、制御端子２２に発振停止回路２１がオフになるように、ＤＣ測定端子２３からロジック信号を印加した状態（発振回路は発振可能な状態）で、発振回路２の入力側端子５と出力側端子６間に直接接続している水晶振動子７によって決定された周波数で発振回路２は発振する。その発振信号を出力バッファ３から出力信号端子８に出力し、さらにＡＣ測定端子１８へ出力し、ケーブルを介して検査測定器１３が具備している各測定モジュールにて周波数・振幅測定を実施する。
【００１９】
発振回路２のＡＦＣ特性はＤＣ測定端子１７を介してＡＦＣ端子１０に電圧印加して、電圧制御することによって、出力信号端子８とＡＣ測定端子１８との出力信号の周波数を可変させて、その変動幅を検査測定している。
【００２０】
その際、従来のような発振回路の入力側・出力側端子にリレースイッチを介さないため、そのリレースイッチの寄生容量２ｐＦ程度分が発振ループからなくなる。また、近接した高抵抗１９，２０が、検査ボード１上と検査ボード１と検査測定器１３間のケーブルに付加している寄生容量のフィルタを形成することにより、検査測定系の寄生容量の発振回路２への影響を大きく低減することができる。
【００２１】
よって、従来よりもＬＳＩ４における単独評価からの周波数ズレは小さく、信号振幅が大きくなり、さらに、ＡＦＣ特性は周波数変動の幅が大きくなり、発振回路２の周波数感度が数十％向上する。このように従来より高精度に発振回路２のＡＣ検査を実施することが可能となる。
【００２２】
次に、本実施形態におけるＤＣ検査について説明する。
【００２３】
まず、制御端子２２に発振停止回路２１がオンするようにロジック信号をＤＣ測定端子２３から入力した状態（検査モード）で発振回路２と出力バッファ３を停止させる。次に検査ボード１上のＤＣ測定端子と検査測定器１３を測定可能に接続オンし、各端子に必要に応じた電圧・電流を印加して、回路電流，ＤＣバイアスを測定する。例えば発振回路２の入力側端子５と出力側端子６のＤＣバイアスは高抵抗１９，２０を介して電圧を測定することができる。また発振回路２が停止しているので、Ｖｃｃ端子９により回路の消費電流を安定して短時間で測定することが可能となる。
【００２４】
よって、従来のようなリレースイッチを介さずに発振周波数などのＡＣ測定が高精度に実施可能となり、検査モードにて発振回路２を停止させることで、ＤＣ検査を同じ検査工程内で実現することが可能となる。
【産業上の利用可能性】
【００２５】
本発明は、発振回路を具備するＬＳＩの出荷検査に適用され、特にＡＣ検査をより高精度に行い、かつ同じ検査工程内でＤＣ検査を短時間で安定して行うことが要求される発振回路の検査回路に実施して有効である。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明の実施形態を説明するための発振回路の検査回路における構成を示すブロック図
【図２】従来の発振回路の検査回路の構成を示すブロック図
【符号の説明】
【００２７】
１  検査ボード
２  発振回路
３  出力バッファ
４  ＬＳＩ
５  発振回路の入力側端子
６  発振回路の出力側端子
７  水晶振動子
８  出力信号端子
９  Ｖｃｃ端子
１０  ＡＦＣ端子
１３  検査測定器
１４〜１７，２３  ＤＣ測定端子
１８  ＡＣ測定端子
１９，２０  高抵抗
２１  発振停止回路
２２  制御端子
【図１】
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【図２】
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