(57)【要約】【目的】  再生信号波形と理想信号波形との信号レベルの誤差およびピーク位置ずれを検出し、それらを補正することによって多値データを正確に再生できるようにする。【構成】  ＣＰＵ５は、光ディスクにセルクロック周期に同期した記録信号に基づいて生成された記録パルス波形のレーザ光を照射して、光ディスクに記録マーク群を形成し、その記録マーク群を読み出すことによって再生信号波形を得、その再生信号波形をセルクロック周期より短い周期でサンプリングを行い、再生信号波形のサンプル点と理想信号波形との信号レベルの誤差およびピーク位置の誤差とを評価することによって、記録パルス波形のレーザ光のパルス幅、またはレーザ光の照射タイミングの補正量を決定する。【選択図】        図８
2006318594.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体に対して多値データに応じた記録マークを記録セル単位に記録する記録方法において、
前記記録媒体にセルクロック周期に同期した記録信号に基づいて生成された記録パルス波形のレーザ光を照射して、前記記録媒体に記録マーク群を形成し、前記記録マーク群を読み出すことによって再生信号波形を得、その再生信号波形をセルクロック周期より短い周期でサンプリングを行い、再生信号波形のサンプル点と理想信号波形との信号レベルの誤差およびピーク位置の誤差とを評価することによって、記録パルス波形のレーザ光のパルス幅、またはレーザ光の照射タイミングの補正量を決定することを特徴とする記録方法。
【請求項２】
請求項１記載の記録方法において、多値データ列Ｌ、Ｍ、Ｎ（Ｌ、Ｍ、Ｎは正の整数）における多値データＭのレーザ光照射条件を補正するにあたり、再生信号をサンプリングする周波数はセル周波数の４倍とし、多値データＭは４ｎ番目の記録セルに記録し、時刻ｔにおける再生信号のサンプリング値および理想波形の値を、Ｓ（ｔ）およびＩ（ｔ）とし、以下の数１〜数３で定義する各パラメータＡ（４ｎ）、Ｂ（４ｎ）、Ｃ（４ｎ）（ｎは１以上の正の整数）を演算して、前記パラメータＡ（４ｎ）が最小の場合は、記録パルス波形のレーザ光のパルス幅を補正し、前記パラメータＢ（４ｎ）またはＣ（４ｎ）が最小の場合は、記録パルス波形におけるレーザ光の照射タイミングを補正することを特徴とする記録方法。
【数１】
2006318594.tif 000014
【数２】
2006318594.tif 000015
【数３】
2006318594.tif 000016
【請求項３】
請求項２記載の記録方法において、記録パルス波形のレーザ光パルス幅の補正量ΔＴｗは、ΔＴｗ＝α・｛Ｓ（４ｎ）−Ｉ（４ｎ）｝（αは定数）により決定し、レーザ光パルス幅の補正は、パルス幅補正量ΔＴに応じたレーザ光の照射タイミングの補正により行うことを特徴とする記録方法。
【請求項４】
請求項２記載の記録方法において、記録パルス波形におけるレーザ光の照射タイミングの補正量ΔＴｐは、前記パラメータＢ（４ｎ）が最小の場合はΔＴｐ＝±β・Ｂ（４ｎ）（βは正の定数）（−：Ｍ＞Ｌの場合、＋：Ｍ≦Ｌの場合）により決定し、前記パラメータＣ（４ｎ）が最小の場合はΔＴｐ＝±γ・Ｃ（４ｎ）（γは正の定数）（−：Ｍ＞Ｌの場合、＋：Ｍ≦Ｌの場合）により決定することを特徴とする記録方法。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか一項に記載の記録方法において、前記多値データ列Ｌ、Ｍ、Ｎに応じて記録パルス波形のレーザ光のパルス幅、およびレーザ光の照射タイミングを設定することを特徴とする記録方法。
【請求項６】
請求項１乃至５のいずれか一項に記載の記録媒体記録法において、前記記録媒体に記録するテストデータは、前記各多値データ列Ｌ、Ｍ、Ｎの全組合せを含んでいることを特徴とする記録方法。
【請求項７】
請求項１乃至６のいずれか一項に記載の記録方法において、サンプル値を平均化してパルス幅もしくはパルス位置補正量を決定することを特徴とする記録方法。
【請求項８】
請求項１乃至７のいずれか一項に記載の記録方法において、テスト記録領域を、前記記録媒体のユーザデータ記録領域外に設けたことを特徴とする記録方法。
【請求項９】
請求項１乃至７のいずれか一項に記載の記録方法において、前記記録媒体は記録材料に書き換え可能な相変化材料を用いたことを特徴とする記録方法。
【請求項１０】
請求項１乃至７のいずれか一項に記載の記録方法において、前記記録媒体は記録材料に追記可能な無機材料を用いたことを特徴とする記録方法。
【請求項１１】
記録媒体に対して多値データに応じた記録マークを記録セル単位に記録する記録装置において、
前記記録媒体にセルクロック周期に同期した記録信号に基づいて生成された記録パルス波形のレーザ光を照射して、前記記録媒体に記録マーク群を形成する手段と、前記記録マーク群を読み出すことによって再生信号波形を得、その再生信号波形をセルクロック周期より短い周期でサンプリングを行う手段と、前記再生信号波形のサンプル点と理想信号波形との信号レベルの差およびピーク位置の誤差とを評価する手段と、該手段による評価結果から記録パルス波形のレーザ光のパルス幅、またはレーザ光の照射タイミングの補正量を決定する手段とを設けたことを特徴とする記録装置。
【請求項１２】
請求項１１記載の記録装置において、多値データ列Ｌ、Ｍ、Ｎ（Ｌ、Ｍ、Ｎは正の整数）における多値データＭのレーザ光照射条件を補正するにあたり、再生信号をセル周波数の４倍でサンプリングする手段と、前記多値データＭは４ｎ番目の記録セルに記録し、時刻ｔにおける再生信号のサンプリング値および理想波形の値を、Ｓ（ｔ）およびＩ（ｔ）とし、以下の数１〜数３で定義する各パラメータＡ（４ｎ）、Ｂ（４ｎ）、Ｃ（４ｎ）（ｎは１以上の正の整数）を演算して、前記パラメータＡ（４ｎ）が最小の場合は、記録パルス波形のレーザ光のパルス幅を補正し、前記パラメータＢ（４ｎ）またはＣ（４ｎ）が最小の場合は、記録パルス波形におけるレーザ光の照射タイミングを補正する手段を設けたことを特徴とする記録装置。
【数１】
2006318594.tif 000017
【数２】
2006318594.tif 000018
【数３】
2006318594.tif 000019
【請求項１３】
請求項１２記載の記録装置において、記録パルス波形のレーザ光パルス幅の補正量ΔＴｗは、ΔＴｗ＝α・｛Ｓ（４ｎ）−Ｉ（４ｎ）｝（αは定数）により決定する手段と、前記レーザ光パルス幅の補正は、パルス幅補正量ΔＴに応じたレーザ光の照射タイミングの補正を行う手段を設けたことを特徴とする記録装置。
【請求項１４】
請求項１２記載の記録装置において、記録パルス波形におけるレーザ光の照射タイミングの補正量ΔＴｐは、前記パラメータＢ（４ｎ）が最小の場合はΔＴｐ＝±β・Ｂ（４ｎ）（βは正の定数）（−：Ｍ＞Ｌの場合、＋：Ｍ≦Ｌの場合）により決定し、前記パラメータＣ（４ｎ）が最小の場合はΔＴｐ＝±γ・Ｃ（４ｎ）（γは正の定数）（−：Ｍ＞Ｌの場合、＋：Ｍ≦Ｌの場合）により決定する手段を設けたことを特徴とする記録装置。
【請求項１５】
請求項１１乃至１４のいずれか一項に記載の記録装置において、テスト記録領域を、前記記録媒体のユーザデータ記録領域外に設けたことを特徴とする記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、記録媒体に対して多値データに応じた記録マークを記録セル単位に記録する記録方法と記録装置とに関する。
【背景技術】
【０００２】
書換え型光ディスクでは、光ディスクおよび光ディスク記録装置の個体差や使用環境条件の影響があるため、各々の組合せにおいて記録条件を最適化する必要がある。また、相変化型の光ディスクでは、所望の記録マークを形成するために、記録レーザの発光時間幅と記録パワーおよび消去パワーを制御している。
従来、多値記録したデータを確実に再生するために、試し書きを行い、所望の再生信号が得られるまでテスト記録を行う記録方法があった。
その記録補正は以下の手順で行う。
（１）試験用データを記録再生する。
（２）理想波形と再生信号波形との比較
（３）収束しているか否かを判断し、収束しているならば、終了。
（４）レーザ照射条件を補正する。
（５）（１）へ戻る。
【０００３】
従来の多値記録方式について図１０を用いて説明する。
多値データに対応して再生信号レベルが変化するように、一定の長さをもつ記録セル毎に多値データを記録する。その多値データの再生は、記録セル周波数で再生信号をサンプリングし、サンプル値から多値データを判別する。
従来、サンプル値と理想信号の値とを比較し、それらの誤差に基づいて記録レーザ光の照射条件を補正する記録装置（例えば、特許文献１参照）があった。
【特許文献１】特開平１０−１３４３５３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、従来の記録装置では、符号間干渉および記録時の熱干渉による再生信号波形のピーク位置ずれまでは補正できなかった。その再生信号波形のピーク位置ずれを考慮しないで、信号レベルだけを補正すると、次のような問題が生じる。
その問題の現象について、図１１を使って説明する。
図１１は、４（ｎ−１）、４ｎ、４（ｎ＋１）番目の記録セルに多値データ０、４、０を記録したときの再生信号波形と、その理想信号波形を示す図である。図中に破線で示す波形は理想信号波形、実線で示す波形は再生信号波形である。
この例では、再生信号波形のピーク値は、理想信号波形と一致しているが、ピーク位置がずれているため、時刻４ｎにおける理想信号波形とサンプル値との誤差はΔだけあることになる。
【０００５】
従来の記録装置によってその誤差を補正すると、図１１にａで示す（図中太線でも示す）再生信号波形が得られる。ピーク位置のずれを補正しないで、信号レベルだけで補正をすると、時刻４ｎにおいては理想信号レベルに近づくが、その前後の時刻４（ｎ−１）および４（ｎ＋１）における信号レベルは、補正によってむしろ理想信号レベルからの誤差が大きくなってしまうことになる。
この時刻４（ｎ−１）および４（ｎ＋１）における誤差を補正すると、再び時刻４ｎのサンプル値がずれてしまい、ピーク位置のずれを補正しないといつまでたっても理想信号波形に近づかず、テスト記録を終了できないという問題があった。
この発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、再生信号波形と理想信号波形との信号レベルの誤差およびピーク位置ずれを検出し、それらを補正することによって多値データを正確に再生できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明は上記の目的を達成するため、次の記録方法と記録装置を提供する。
（１）記録媒体に対して多値データに応じた記録マークを記録セル単位に記録する記録方法において、上記記録媒体にセルクロック周期に同期した記録信号に基づいて生成された記録パルス波形のレーザ光を照射して、上記記録媒体に記録マーク群を形成し、上記記録マーク群を読み出すことによって再生信号波形を得、その再生信号波形をセルクロック周期より短い周期でサンプリングを行い、再生信号波形のサンプル点と理想信号波形との信号レベルの誤差およびピーク位置の誤差とを評価することによって、記録パルス波形のレーザ光のパルス幅、またはレーザ光の照射タイミングの補正量を決定する記録方法。
【０００７】
（２）上記（１）の記録方法において、多値データ列Ｌ、Ｍ、Ｎ（Ｌ、Ｍ、Ｎは正の整数）における多値データＭのレーザ光照射条件を補正するにあたり、再生信号をサンプリングする周波数はセル周波数の４倍とし、多値データＭは４ｎ番目の記録セルに記録し、時刻ｔにおける再生信号のサンプリング値および理想波形の値を、Ｓ（ｔ）およびＩ（ｔ）とし、以下の数１〜数３で定義する各パラメータＡ（４ｎ）、Ｂ（４ｎ）、Ｃ（４ｎ）（ｎは１以上の正の整数）を演算して、上記パラメータＡ（４ｎ）が最小の場合は、記録パルス波形のレーザ光のパルス幅を補正し、上記パラメータＢ（４ｎ）またはＣ（４ｎ）が最小の場合は、記録パルス波形におけるレーザ光の照射タイミングを補正する記録方法。
【０００８】
【数１】
2006318594.tif 000003
【０００９】
【数２】
2006318594.tif 000004
【００１０】
【数３】
2006318594.tif 000005
【００１１】
（３）上記（２）の記録方法において、記録パルス波形のレーザ光パルス幅の補正量ΔＴｗは、ΔＴｗ＝α・｛Ｓ（４ｎ）−Ｉ（４ｎ）｝（αは定数）により決定し、レーザ光パルス幅の補正は、パルス幅補正量ΔＴに応じたレーザ光の照射タイミングの補正により行う記録方法。
（４）上記（２）の記録方法において、記録パルス波形におけるレーザ光の照射タイミングの補正量ΔＴｐは、上記パラメータＢ（４ｎ）が最小の場合はΔＴｐ＝±β・Ｂ（４ｎ）（βは正の定数）（−：Ｍ＞Ｌの場合、＋：Ｍ≦Ｌの場合）により決定し、上記パラメータＣ（４ｎ）が最小の場合はΔＴｐ＝±γ・Ｃ（４ｎ）（γは正の定数）（−：Ｍ＞Ｌの場合、＋：Ｍ≦Ｌの場合）により決定する記録方法。
（５）上記（１）〜（４）のいずれかの記録方法において、上記多値データ列Ｌ、Ｍ、Ｎに応じて記録パルス波形のレーザ光のパルス幅、およびレーザ光の照射タイミングを設定する記録方法。
【００１２】
（６）上記（１）〜（５）のいずれかの記録媒体記録法において、上記記録媒体に記録するテストデータは、上記各多値データ列Ｌ、Ｍ、Ｎの全組合せを含んでいる記録方法。
（７）上記（１）〜（６）のいずれかの記録方法において、サンプル値を平均化してパルス幅もしくはパルス位置補正量を決定する記録方法。
（８）上記（１）〜（７）のいずれかの記録方法において、テスト記録領域を、上記記録媒体のユーザデータ記録領域外に設けた記録方法。
（９）上記（１）〜（７）のいずれかの記録方法において、上記記録媒体は記録材料に書き換え可能な相変化材料を用いた記録方法。
（１０）上記（１）〜（７）のいずれかの記録方法において、上記記録媒体は記録材料に追記可能な無機材料を用いた記録方法。
【００１３】
（１１）記録媒体に対して多値データに応じた記録マークを記録セル単位に記録する記録装置において、上記記録媒体にセルクロック周期に同期した記録信号に基づいて生成された記録パルス波形のレーザ光を照射して、上記記録媒体に記録マーク群を形成する手段と、上記記録マーク群を読み出すことによって再生信号波形を得、その再生信号波形をセルクロック周期より短い周期でサンプリングを行う手段と、上記再生信号波形のサンプル点と理想信号波形との信号レベルの差およびピーク位置の誤差とを評価する手段と、その手段による評価結果から記録パルス波形のレーザ光のパルス幅、またはレーザ光の照射タイミングの補正量を決定する手段を設けた記録装置。
【００１４】
（１２）上記（１１）の記録装置において、多値データ列Ｌ、Ｍ、Ｎ（Ｌ、Ｍ、Ｎは正の整数）における多値データＭのレーザ光照射条件を補正するにあたり、再生信号をセル周波数の４倍でサンプリングする手段と、上記多値データＭは４ｎ番目の記録セルに記録し、時刻ｔにおける再生信号のサンプリング値および理想波形の値を、Ｓ（ｔ）およびＩ（ｔ）とし、以下の数１〜数３で定義する各パラメータＡ（４ｎ）、Ｂ（４ｎ）、Ｃ（４ｎ）（ｎは１以上の正の整数）を演算して、上記パラメータＡ（４ｎ）が最小の場合は、記録パルス波形のレーザ光のパルス幅を補正し、上記パラメータＢ（４ｎ）またはＣ（４ｎ）が最小の場合は、記録パルス波形におけるレーザ光の照射タイミングを補正する手段を設けた記録装置。
【００１５】
【数１】
2006318594.tif 000006
【００１６】
【数２】
2006318594.tif 000007
【００１７】
【数３】
2006318594.tif 000008
【００１８】
（１３）上記（１２）の記録装置において、記録パルス波形のレーザ光パルス幅の補正量ΔＴｗは、ΔＴｗ＝α・｛Ｓ（４ｎ）−Ｉ（４ｎ）｝（αは定数）により決定する手段と、上記レーザ光パルス幅の補正は、パルス幅補正量ΔＴに応じたレーザ光の照射タイミングの補正を行う手段を設けた記録装置。
（１４）上記（１２）の記録装置において、記録パルス波形におけるレーザ光の照射タイミングの補正量ΔＴｐは、上記パラメータＢ（４ｎ）が最小の場合はΔＴｐ＝±β・Ｂ（４ｎ）（βは正の定数）（−：Ｍ＞Ｌの場合、＋：Ｍ≦Ｌの場合）により決定し、上記パラメータＣ（４ｎ）が最小の場合はΔＴｐ＝±γ・Ｃ（４ｎ）（γは正の定数）（−：Ｍ＞Ｌの場合、＋：Ｍ≦Ｌの場合）により決定する手段を設けた記録装置。
（１５）上記（１１）〜（１４）のいずれかの記録装置において、テスト記録領域を、上記記録媒体のユーザデータ記録領域外に設けた記録装置。
【発明の効果】
【００１９】
この発明による記録方法と記録装置は、再生信号波形と理想信号波形との信号レベルの誤差およびピーク位置ずれを検出し、それらを補正することによって多値データを正確に再生することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、この発明を実施するための最良の形態を図面に基づいて具体的に説明する。
この発明の実施例の光ディスク記録方法におけるストラテジ補正方法では、記録媒体である光ディスクにテスト記録した再生信号結果と理想信号とを比較する際に、再生信号のサンプリング周波数をセル周波数の４倍以上にし、信号レベルの誤差および信号レベルのピーク位置ずれまたはタイミングずれ量とを検出する。
図１は、記録媒体である相変化型光ディスクにマークを記録する際のレーザ発光波形の例を示す図である。
図２は、レーザ発光波形のシフト量とピーク位置シフト量との関係を示す図である。
【００２１】
相変化型光ディスクに対してレーザパワーＰｗの記録パルスで記録材料を加熱後、バイアスパワーＰｂのオフパルスによって急冷して記録マークを形成し、消去パワーＰｅの消去パルスによって記録マークの後端を消去する。
記録マークの位置は、レーザを照射するタイミングで制御する。図１の（ａ）に示すように、レーザ発光波形全体を右側の点線で示す位置にシフトさせると、記録マークも移動する。そのときの再生信号波形のピーク位置は、点線で示す位置にシフトする。
図２に示すように、記録パルスをシフトさせる多値データＭが、直前の多値データＬより大きい場合、再生信号波形のピークシフト量は、パルス開始位置シフト量に対して右上がりの曲線になり、そうでない場合は右下がりの曲線になる。
【００２２】
記録マークの面積は、主にオフパルスの幅で制御する。図１の（ｂ）に示すように、消去パルスの立ち上がりのタイミングＴｃを右側にシフトさせると、記録マークの後端は右側に伸びていき、再生信号レベルは図のように変化する。
図３は、オフパルス幅と規格化反射光強度（マークの再生信号レベルをグルーブの再生信号レベルで割った値）との関係を示す図である。
同図に示すように、オフパルス幅を長くすると記録マークが大きくなり、その再生信号レベルは飽和値まで下がっていく。
【００２３】
［テスト記録の手順］
図４は、テスト記録によってレーザ光照射パルス幅およびレーザ光照射タイミングを設定するための処理を示すフローチャート図である。
この処理は、記録装置である光ディスク記録装置が備えるマイクロコンピュータにより実行する。例えば、図８に示す情報記録装置のＣＰＵである。
まず、ステップ（図中「Ｓ」で示す）１で表１に示すレーザ光照射条件表を読出し、ステップ２でテストデータを記録する。レーザ光照射条件は、記録パルスの立上がりＴａ、立下りＴｂおよび消去パルスの立上がりＴｃであり、それらは、多値データ３個の組合せに応じてそれぞれに設定されている。
【００２４】
【表１】
2006318594.tif 000009
【００２５】
ステップ３で上記記録したテストデータを再生し、ステップ４でセル周波数の４倍でサンプリングし、ステップ５でｎ＝１、Δ＝０を設定する。つぎに、ステップ６以降の処理でこのサンプリング結果とテストデータの理想波形とを比較し、その比較結果に基づいてストラテジを補正する。
ステップ７以降の処理について、具体的な例を用いて説明する。
図５は、多値データ列０７０における多値データ７の記録ストラテジを補正する例を示す波形図である。
多値データ０、７、０は、それぞれ４（ｎ−１）、４ｎ、４（ｎ＋１）番目のセルに記録されている。
図５に実線で示す波形は再生信号波形、破線で示す波形は理想信号波形であり、時刻ｔにおける再生信号のサンプル値を黒丸印、理想波形の値を白丸印で示している。
サンプル値と理想信号波形の値を用いて、下記のＡ（４ｎ）、Ｂ（４ｎ）、Ｃ（４ｎ）、Δ（４ｎ）について計算する（Ｓ６）。
【００２６】
【数１】
2006318594.tif 000010
【００２７】
【数２】
2006318594.tif 000011
【００２８】
【数３】
2006318594.tif 000012
【００２９】
【数４】
2006318594.tif 000013
【００３０】
再生波形と理想波形の位相が合っているか否かは、図５の（ａ）〜（ｃ）に示すような３通りの場合が想定される。
（ａ）位相が合っている場合（Ｓ７〜Ｓ９）
位相が合っている場合は、図５の（ａ）に示すように、Ｓ（ｔ）−Ｉ（ｔ）において、理想波形と再生波形との重なる領域が大きくなる。
よって、Ａ（４ｎ）＜Ｂ（４ｎ）＝Ｃ（４ｎ）となり、Ａ（４ｎ）が最小になる。
この場合は、位相は合っているものと判断し、セル中心における信号レベルの誤差｛Ｓ（４ｎ）−Ｉ（４ｎ）｝を補正する。
その補正すべき誤差｛Ｓ（４ｎ）−Ｉ（４ｎ）｝に比例したオフパルス幅補正量ΔＴを図３に示した曲線の演算式から求めて、オフパルス幅を補正する。
オフパルス幅を補正する際には、マーク位置をセル中心からずらさないために、図６に示すように、オフパルス幅を長くする場合は、パルス幅補正量ΔＴに対して、記録パルスの立ち上がりおよび立下りのタイミングＴａおよびＴｂは、ΔＴ／２だけ左側にシフトし、消去パルスの立ち上がりのタイミングＴｃは、ΔＴ／２だけ右側にシフトさせる。オフパルス幅を短くする場合は、これの逆の動作を行う。
【００３１】
（ｂ）位相が−側にずれている場合（理想波形のピーク位置に対して、再生信号のピーク位置左側にある場合。Ｓ１９〜Ｓ２３）
ｉ）前多値データより補正対称多値データのほうが大きい場合
この場合は、図５の（ｂ）に示すように、Ｓ（ｔ−１）−Ｉ（ｔ）において、理想波形と再生波形との重なる領域が大きくなる。よって、Ｃ（４ｎ）＜Ａ（４ｎ）＜Ｂ（４ｎ）となり、Ｃ（４ｎ）が最小になる。そこで、Ｃ（４ｎ）に比例した量だけＴａ、Ｔｂ、Ｔｃを＋側にシフトさせる。
この補正により位相の誤差は小さくなるが、信号レベルの誤差は残っている。
その信号レベルの誤差は、パルス位置を補正した後、再びテスト記録を行うことによって除去する。
したがって、再生信号を理想波形に近づける処理は、まず理想波形と再生波形の位相を一致させ、つぎに信号レベルを一致させるという処理になる。
【００３２】
ｉｉ）前多値データより補正対称多値データのほうが小さいか、もしくは等しい場合
前多値データより補正対称多値データのほうが小さいか、もしくは等しい場合、マーク位置に対して再生信号のピーク位置は、図７に示すような変化をする。
よって、Ｃ（４ｎ）に比例した量だけ、Ｔａ、Ｔｂ、Ｔｃを、上記ｉ）の処理とは逆の−側にシフトさせる。
【００３３】
（ｃ）位相が＋側にずれている場合（理想波形のピーク位置に対して、再生信号のピーク位置が右側にある場合。Ｓ１４〜Ｓ１８）
ｉ）前多値データより補正対称多値データのほうが大きい場合
この場合は、図５の（ｃ）に示すように、Ｓ（ｔ＋１）−Ｉ（ｔ）において、理想波形と再生波形との重なる領域が大きくなる。よって、Ｂ（４ｎ）＜Ａ（４ｎ）＜Ｃ（４ｎ）となり、Ｂ（４ｎ）が最小となる。そこで、Ｂ（４ｎ）に比例した量だけ、Ｔａ、Ｔｂ、Ｔｃをそれぞれ−側にシフトさせる。
ｉｉ）前多値データより補正対称多値データのほうが小さいか、もしくは等しい場合
前多値データより補正対称多値データのほうが小さいか、もしくは等しい場合、上記ｉｉ）と同様の理由から、Ｂ（４ｎ）に比例した量だけＴａ、Ｔｂ、Ｔｃを＋側にシフトさせる。
【００３４】
また、パラメータＡ（４ｎ）、Ｂ（４ｎ）、Ｃ（４ｎ）を計算することにより、再生信号波形の信号レベルがずれているのか、ピーク位置がずれているのかを判断することができる。
このようにして、ステップ８、ステップ１７、ステップ２２で決定した補正量に基づいてストラテジ表を更新し、セル中心における信号レベルの誤差の和Δ＝Δ＋Δ（４ｎ）を計算する（Ｓ１０、Ｓ１１）。
ステップ１２でｎ＞Ｎか否かを判断し、ｎ＞Ｎになるまで後に続く４（ｎ＋１）番目の多値データについて、ステップ６以降の動作を、テストデータとして記録した多値データの数だけ繰り返す。
ステップ１３ではΔ＜δか否かを判断し、サンプル点における誤差の総和Δが、所定の値δより大きい場合は、更新したストラテジ表を読出し、再度テスト記録を行う。そして、Δ＜δになるまで、上述の動作を繰り返す。
【００３５】
こうして、テストデータの先頭は、テストデータの先頭にテストデータ中には存在しないデータ列を挿入しておき、再生時にこれに相当する再生信号波形を検出することによって、容易に検出することができる。
また、テストデータに３個の多値データ列全ての組合せが含まれていれば、テスト記録によりデータ列に応じた記録レーザ照射条件を設定することができる。
さらに、理想信号波形とサンプル値との比較する工程において、サンプル値の平均値を用いることにより、ディスク周内の変動、再生信号のノイズ等の影響を除去し、測定誤差を小さくすることができるので、正確に補正量を設定することができる。
【００３６】
この実施例の光ディスク記録方法においては、理想波形と再生波形との信号レベルおよびピーク位置のずれを検出し、そのずれ量に応じて記録レーザ光の照射条件を補正後、ユーザデータを記録するので、正確に多値データを再生することができる。
また、再生信号をセル周波数の４倍でサンプリングし、その演算結果から、記録レーザ光の照射パルス幅を補正すべきか、照射タイミングを補正すべきかを容易に判断できる。
さらに、理想波形の値と再生信号のサンプル値の誤差に応じて記録パルス幅補正量を決定するので、精度良く誤差を補正することができる。
また、理想波形の値と再生信号のサンプル値の誤差に応じて記録パルス幅補正量を決定すれば、精度良く誤差を補正することができる。
さらに、テスト記録により３個の多値データ列に応じたレーザ光照射条件を設定すれば、記録時における熱干渉および再生時における符号間干渉を考慮した記録レーザ光照射条件を設定することができる。
【００３７】
また、テストデータは３個の多値データ列全ての組合せを含めば、光ディスク記録装置と光ディスクとの組合せに合った記録レーザ光照射条件を設定することができる。
さらに、サンプル値を平均化してレーザ光照射パルス幅およびレーザ光照射タイミングを決定するようにすれば、再生信号レベルの変動、ノイズの影響等を低減できるので、正確に補正量を設定することができる。
また、テスト記録をユーザ領域外で行うようにすれば、ユーザ記録容量を減らすことなく、記録条件を設定することができる。
さらに、記録材料に微細な記録マークを形成することができる相変化材料を用いれば、精度良く多値データを記録できる書き換え可能な光ディスクが得られる。
また、記録材料に微細な記録マークを形成することができる追記可能な無機材料を用いれば、精度良く多値データを記録することができる追記可能な光ディスクが得られる。
【００３８】
〔実施例１〕
図８はこの発明の実施例１の光ディスク記録装置の機能構成を示すブロック図である。
この光ディスク記録装置で使用する光ディスクは、波長４０５ｎｍのレーザ光で記録が可能な相変化型光ディスクである。基板は、直径１２０ｍｍ、厚さ０．６ｍｍのポリカーボネートからなり、基板表面上には、射出成形によりグルーブが形成されている。トラックピッチは０．４５μｍで、内周から外周まで連続したスパイラルとして形成している。
この基板上に、誘電体膜、Ｇｅ、Ｓｂ、Ｓｎを含む相変化記録膜、誘電体膜、反射膜を順次積層して作製した相変化型光ディスクである。
この光ディスク記録装置における情報の記録は、まず、多値データ発生器６から情報を出力し、これをストラテジ発生回路７に入力する。
【００３９】
ストラテジ発生回路７では、多値データに応じた記録パルスを出力する。
これをＬＤドライバ（レーザ駆動回路）８に入力し、ピックアップヘッド（ＰＵＨ）１中に備える半導体レーザからレーザ光が出射され、図示を省略した対物レンズにより光ディスク１０上に集光し、記録マークを形成する。
再生時は、光ディスク１０からの反射光がＰＵＨ１に備えられた受光器に取り込まれ、電気信号に変換される。この電気信号は図示を省略した再生信号増幅器を通って、アナログフィルタ２に入力され、フィルタ通過後の信号がＡ／Ｄ変換器３に入力され、デジタル信号に変換された後、デジタルフィルタ４に入力され、ＣＰＵ５で理想波形とサンプル値の比較、演算を行い、演算結果を記憶装置に記憶する。
【００４０】
例えば、データの記録再生に、波長４０５ｎｍ、対物レンズのＮＡ０．６５の光ディスク記録装置を用いて、記録再生線速度を６．０ｍ／ｓ、記録セルの周方向の長さを０．２４μｍにし、セル周波数を、２５ＭＨｚ、記録パワーＰｗ＝８．０ｍＷ、消去パワーＰｅ＝５．３ｍＷ、バイアスパワーＰｂ＝０．１ｍＷする。
この記録条件でテストデータを記録し、記録補正を行った結果、信号レベルだけを補正する従来の補正方法によるビットエラー率が３．４×１０−５であったのに対して、この実施例の光ディスク記録方法による補正方法でのビットエラー率は１．０×１０−５となり、ビットエラー率を約１／３に低減することができた。
【００４１】
〔実施例２〕
次に、上記光ディスク記録装置において、実施例１と同じ基板の光ディスクを用い、その基板上に、Ｂｉ、Ｆｅを含む無機記録膜、誘電体膜、反射膜を順次積層して作製した追記型光ディスクに対する記録例を説明する。
図９は、追記型光ディスクの場合のレーザ発光波形、それに対応する記録マークおよび再生信号波形の例を示す図である。
図９の（ａ）に示すように、記録マークの位置は、記録パルスの立上がり立下り位置で制御する。また、記録マークの面積は、記録パワーＰｗの記録パルス幅で制御する。
記録再生線速度は６．０ｍ／ｓ、記録セルの周方向の長さは０．２４μｍであり、セル周波数は、２５ＭＨｚ、記録パワーＰｗ＝８．５ｍＷ、バイアスパワーＰｂ＝０．３ｍＷである。
【００４２】
この記録条件でテストデータを記録し、記録補正を行った結果、信号レベルだけを補正する従来補正方法によるビットエラー率が５．２×１０−５であったのに対して、この実施例の光ディスク記録方法による補正方法でのビットエラー率は１．３×１０−５となり、ビットエラー率を１／４に低減することができた。
また、相変化型光ディスクの場合は、書き換えが可能なので、光ディスク上のどの領域でテスト記録を行っても問題ないが、追記型光ディスクの場合は、ユーザデータ記録領域外の領域にテスト記録領域を設け、そこでテスト記録を行うことにより記録容量の低下を防ぐことができる。
【００４３】
こうして、この実施例の光ディスク記録装置においては、理想波形と再生波形との信号レベルおよびピーク位置のずれを検出し、そのずれ量に応じて記録レーザ光の照射条件を補正後、ユーザデータを記録するので正確に多値データを再生することができる。
また、再生信号をセル周波数の４倍でサンプリングし、その演算結果から、記録レーザ光の照射パルス幅を補正すべきか、照射タイミングを補正すべきかを容易に判断できる。
さらに、理想波形の値と再生信号のサンプル値の誤差に応じて記録パルス幅補正量を決定すれば、精度良く誤差を補正することができる。
さらにまた、テスト記録領域をユーザ領域外に設定すれば、追記型光ディスクにおいてもユーザ記録容量を減らすことなく、レーザ光照射条件を設定することができる。
【産業上の利用可能性】
【００４４】
この発明による記録方法と記録装置は、多値データに応じた記録マークを記録セル単位に記録する記録媒体に対して適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】記録媒体である相変化型光ディスクにマークを記録する際のレーザ発光波形の例を示す図である。
【図２】レーザ発光波形のシフト量とピーク位置シフト量との関係を示す図である。
【図３】オフパルス幅と規格化反射光強度との関係を示す図である。
【図４】テスト記録によってレーザ光照射パルス幅およびレーザ光照射タイミングを設定するための処理を示すフローチャート図である。
【図５】多値データ列０７０における多値データ７の記録ストラテジを補正する例を示す波形図である。
【００４６】
【図６】オフパルス幅を補正する際のシフト処理の説明に供する図である。
【図７】光ディスクに記録した多値データの再生信号のピーク位置を示す図である。
【図８】この発明の実施例１の光ディスク記録装置の機能構成を示すブロック図である。
【図９】追記型光ディスクの場合のレーザ発光波形とそれに対応する記録マークおよび再生信号波形の例を示す図である。
【図１０】従来の多値記録方式の説明に供する図である。
【図１１】同じく従来の多値記録方式の説明に供する図である。
【符号の説明】
【００４７】
１：ＰＵＨ    ２：アナログフィルタ    ３：Ａ／Ｄ変換器    ４：デジタルフィルタ    ５：ＣＰＵ    ６：多値データ発生器    ７：ストラテジ発生回路    ８：ＬＤドライバ    １０：光ディスク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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