(57)【要約】【課題】画像が明るいほど目立つ固体撮像素子の微小欠陥を検出し、検出された微小欠陥の画素信号を補正する撮像装置および画素信号の補正方法を提供する。【解決手段】明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で累積加算数設定回路２４により設定された枚数（複数）のフレームの画像をＣＣＤ撮像素子１３により撮像し、フレームメモリ２１に記憶して加算器２２により累積加算する。次に、微小欠陥検出回路２３により欠陥画素を検出し、欠陥画素とその周辺画素との画素信号の比率を演算し、欠陥画素のアドレスおよび比率を微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶する。そして、微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、アドレスに対応するＣＣＤ撮像素子１３により出力された欠陥画素の画素信号に比率の逆数を乗算し欠陥画素の画素信号を補正する。【選択図】        図１
2006109217.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、
前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、
前記累積加算ステップで画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出ステップと、
前記検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスを記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスを読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号を前記欠陥画素の周辺画素の画素信号に基づいて補正する補正ステップとを含む、
ことを特徴とする画素信号の補正方法。
【請求項２】
固体撮像素子と、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させ、撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算し、画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し検出された前記固体撮像素子の欠陥画素のアドレスを記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスを読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号を前記欠陥画素の周辺画素の画素信号に基づいて補正する補正手段とを備えた、
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項３】
固体撮像素子と、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力手段と、
前記入力手段により入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、
前記累積加算手段により画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスを記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスを読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号を前記欠陥画素の周辺画素の画素信号に基づいて補正する補正手段とを備えた、
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項４】
固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、
前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により出力された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、
前記累積加算ステップで画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出ステップと、
前記検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、
前記検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含む、
ことを特徴とする画素信号の補正方法。
【請求項５】
固体撮像素子と、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させ、撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算し、画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し検出された前記固体撮像素子の欠陥画素のアドレスと前記欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えた、
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項６】
固体撮像素子と、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力手段と、
前記入力手段により入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により出力された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、
前記累積加算手段により画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記検出手段により前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えた、
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項７】
複数の色のいずれか１色の色フィルタが配列された複数の画素を有する固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、
前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により出力された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、
前記累積加算ステップで累積加算された画像内の画素信号のうち同色の色フィルタが配列された画素の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出ステップと、
前記検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素と同色の色フィルタが配列された前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、
前記検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含む、
ことを特徴とする画素信号の補正方法。
【請求項８】
複数の色のいずれか１色の色フィルタが配列された複数の画素を有する固体撮像素子と、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力手段と、
前記入力手段により入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、
前記累積加算手段により累積加算された画像内の画素信号のうち同色の色フィルタが配列された画素の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素と同色の色フィルタが配列された前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、
前記記憶手段により記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えた、
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項９】
複数のズームポジションを有するレンズを通して被写体を撮像する固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記複数のズームポジション毎に前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、
前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された前記複数枚の画像の同位置の画素信号を前記複数のズームポジション毎に累積加算する累積加算ステップと、
前記累積加算ステップで前記複数のズームポジション毎に画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出ステップと、
前記検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、
前記検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付け前記複数のズームポジション毎に記憶する記憶ステップと、
前記レンズのズームポジションを設定する設定ステップと、
前記設定ステップで設定されたズームポジションに対応する前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含む、
ことを特徴とする画素信号の補正方法。
【請求項１０】
複数のズームポジションを有するレンズと、
前記レンズを通して被写体を撮像する固体撮像素子と、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記複数のズームポジション毎に前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力手段と、
前記入力手段により入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された前記複数枚の画像の同位置の画素信号を前記複数のズームポジション毎に累積加算する累積加算手段と、
前記累積加算手段により前記複数のズームポジション毎に画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付け前記複数のズームポジション毎に記憶する記憶手段と、
前記レンズのズームポジションを設定する設定手段と、
前記設定手段により設定されたズームポジションに対応する前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えた、
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項１１】
絞りにより入射光量が段階的に調節される固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記絞りにより調節される入射光量の段階毎に前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、
前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された前記複数枚の画像の同位置の画素信号を前記段階毎に累積加算する累積加算ステップと、
前記累積加算ステップで前記複数の入射光量毎に画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出ステップと、
前記検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、
前記検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付け前記段階毎に記憶する記憶ステップと、
前記段階を設定する設定ステップと、
前記設定ステップで設定された段階に対応する前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含む、
ことを特徴とする画素信号の補正方法。
【請求項１２】
固体撮像素子と、
前記固体撮像素子の入射光量を段階的に調節する絞りと、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記絞りにより調節される入射光量の段階毎に前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力手段と、
前記入力手段により入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された前記複数枚の画像の同位置の画素信号を前記段階毎に累積加算する累積加算手段と、
前記累積加算手段により前記段階毎に画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付け前記段階毎に記憶する記憶手段と、
前記段階を設定する設定手段と、
前記設定手段により設定され段階に対応する前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えた、
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項１３】
固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、
前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、
前記累積加算ステップで画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出ステップと、
前記検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、
前記検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数および０より大きい１以下の係数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含む、
ことを特徴とする画素信号の補正方法。
【請求項１４】
前記係数は、前記比率に応じて変わるように設定されていることを特徴とする請求項１３記載の画素信号の補正方法。
【請求項１５】
前記係数は、前記固体撮像素子の複数の画素の位置に応じて変わるように設定されていることを特徴とする請求項１３記載の画素信号の補正方法。
【請求項１６】
固体撮像素子と、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力手段と、
前記入力手段により入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、
前記累積加算手段により画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数および０より大きい１以下の係数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えた、
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項１７】
固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、
前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出ステップと、
前記明るさ検出ステップで検出された前記最大値に基づいて前記前記固体撮像素子により撮像する画像の枚数を設定する撮像枚数設定ステップと、
前記撮像枚数設定ステップで設定された枚数の画像を前記条件と同じ条件で前記固体撮像素子により撮像させる制御ステップと、
前記制御ステップで撮像された画像の同位置の画素信号を前記入力ステップで撮像された画像の同位置の画素信号に累積加算する累積加算ステップと、
前記累積加算ステップで累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出ステップと、
前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、
前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含む、
ことを特徴とする画素信号の補正方法。
【請求項１８】
固体撮像素子と、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる第１の制御命令を入力する入力手段と、
前記入力手段により入力された第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出手段と、
前記明るさ検出手段により検出された前記最大値に基づいて前記前記固体撮像素子により撮像する画像の枚数を設定する撮像枚数設定手段と、
前記撮像枚数設定手段により設定された枚数の画像を前記条件と同じ条件下で前記固体撮像素子により撮像させる第２の制御命令を出力する制御手段と、
前記制御手段により出力された第２の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の同位置の画素信号を前記入力手段により入力された第１の制御命令に基づいて撮像された画像の同位置の画素信号に累積加算する累積加算手段と、
前記累積加算手段により画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、
前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えた、
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項１９】
絞りにより入射光量が調節される固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、
前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出ステップと、
前記明るさ検出ステップで検出された明るさの最大値に基づいて前記絞りにより調節される入射光量、前記固体撮像素子の露光時間および前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を設定する撮像条件設定ステップと、
前記撮像条件設定ステップで設定された前記入射光量および前記露光時間、かつ、前記明るさ検出ステップと同じ明るさの一様な光のもとで前記撮像条件設定ステップで設定された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる制御ステップと、
前記制御ステップで撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、
前記累積加算ステップで累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出ステップと、
前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、
前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含む、
ことを特徴とする画素信号の補正方法。
【請求項２０】
固体撮像素子と、
前記固体撮像素子の入射光量を調節する絞りと、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる第１の制御命令を入力する入力手段と、
前記入力手段により入力された第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出手段と、
前記明るさ検出手段により検出された明るさの最大値に基づいて前記絞りにより調節される入射光量、前記固体撮像素子の露光時間および前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を設定する撮像条件設定手段と、
前記撮像条件設定手段により設定された前記入射光量および前記露光時間、かつ、前記第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により画像が撮像されたときと同じ明るさの一様な光のもとで前記撮像条件設定手段により設定された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる第２の制御命令を出力する制御手段と、
前記制御手段により出力された第２の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、
前記累積加算手段により累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、
前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えた、
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項２１】
絞りにより入射光量が調節される固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、
前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を入力する枚数入力ステップと、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる制御命令を入力する制御命令入力ステップと、
前記制御命令入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出ステップと、
前記明るさ検出ステップで検出された明るさの最大値および前記枚数入力ステップで入力された２以上の枚数に基づいて前記絞りにより調節される入射光量および前記固体撮像素子の露光時間を設定する撮像条件設定ステップと、
前記撮像条件設定ステップで設定された前記入射光量および前記露光時間、かつ、前記明るさ検出ステップと同じ明るさの一様な光のもとで前記枚数入力ステップで入力された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる制御ステップと、
前記制御ステップで撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、
前記累積加算ステップで累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出ステップと、
前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、
前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含む、
ことを特徴とする画素信号の補正方法。
【請求項２２】
固体撮像素子と、
前記固体撮像素子の入射光量を調節する絞りと、
前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を入力する枚数入力手段と、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる第１の制御命令を入力する入力手段と、
前記入力手段により入力された第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出手段と、
前記明るさ検出手段により検出された明るさの最大値に基づいて前記絞りにより調節される入射光量および前記固体撮像素子の露光時間を設定する撮像条件設定手段と、
前記撮像条件設定手段により設定された前記入射光量および前記露光時間、かつ、前記第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により画像が撮像されたときと同じ明るさの一様な光のもとで前記枚数入力手段により入力された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる第２の制御命令を出力する制御手段と、
前記制御手段により出力された第２の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、
前記累積加算手段により累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、
前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えた、
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項２３】
絞りにより入射光量が調節される固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、
前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を入力する枚数入力ステップと、
前記絞りにより調節される入射光量を入力する入射光量入力ステップと、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下、かつ、前記入射光量入力ステップで入力された入射光量で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる制御命令を入力する制御命令入力ステップと、
前記制御命令入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出ステップと、
前記明るさ検出ステップで検出された明るさの最大値に基づいて前記固体撮像素子の露光時間を設定する露光時間設定ステップと、
前記露光時間設定ステップで設定された露光時間、かつ、前記明るさ検出ステップと同じ明るさの一様な光のもとで前記枚数入力ステップで入力された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる制御ステップと、
前記制御ステップで撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、
前記累積加算ステップで累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出ステップと、
前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、
前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含む、
ことを特徴とする画素信号の補正方法。
【請求項２４】
固体撮像素子と、
前記固体撮像素子の入射光量を調節する絞りと、
前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を入力する枚数入力手段と、
前記絞りにより調節される入射光量を入力する入射光量入力手段と、
前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下、かつ、前記入射光量入力手段により入力された入射光量で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる第１の制御命令を入力する入力手段と、
前記入力手段により入力された第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出手段と、
前記明るさ検出手段により検出された明るさの最大値に基づいて前記固体撮像素子の露光時間を設定する露光時間設定手段と、
前記露光時間設定手段により設定された露光時間、かつ、前記第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により画像が撮像されたときと同じ明るさの一様な光のもとで前記枚数入力手段により入力された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる第２の制御命令を出力する制御手段と、
前記制御手段により出力された第２の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、
前記累積加算手段により累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、
前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えた、
ことを特徴とする撮像装置。
【請求項２５】
撮像装置に装着されたＮＤ（Neutral Density）フィルタにより入射光量が減らされ、絞りにより前記入射光量が調節される固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、
前記ＮＤフィルタの前記撮像装置への装着を表すＮＤフィルタ情報を入力する第１のＮＤフィルタ情報入力ステップと、
前記第１のＮＤフィルタ情報入力ステップでＮＤフィルタ情報が入力されたとき、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる制御命令を入力する制御命令入力ステップと、
前記制御命令入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出ステップと、
前記明るさ検出ステップで検出された明るさの最大値に基づいて前記絞りにより調節される入射光量、前記固体撮像素子の露光時間および前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を設定する撮像条件設定ステップと、
前記撮像条件設定ステップで設定された前記入射光量および前記露光時間、かつ、前記明るさ検出ステップと同じ明るさの一様な光のもとで前記撮像条件設定ステップで設定された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる制御ステップと、
前記制御ステップで撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、
前記累積加算ステップで累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出ステップと、
前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、
前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率と前記第１のＮＤフィルタ情報入力ステップで入力されたＮＤフィルタ情報とを対応付けて記憶する記憶ステップと、
前記記憶ステップの後、前記ＮＤフィルタ情報を入力する第２のＮＤフィルタ情報入力ステップと、
前記第２のＮＤフィルタ情報入力ステップで前記ＮＤフィルタ情報が入力されたとき、入力された前記ＮＤフィルタ情報に対応する前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含む、
ことを特徴とする画素信号の補正方法。
【請求項２６】
固体撮像素子と、
前記固体撮像素子の入射光量を調節する絞りとを有する撮像装置であって、
前記撮像装置に着脱自在に装着され、前記絞りにより調節される前記固体撮像素子の入射光量を減らすＮＤフィルタと、
前記ＮＤフィルタの前記撮像装置への装着を表すＮＤフィルタ情報を入力する第１のＮＤフィルタ情報入力手段と、
前記第１のＮＤフィルタ情報入力手段によりＮＤフィルタ情報が入力されたとき、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる第１の制御命令を入力する制御命令入力手段と、
前記制御命令入力手段により入力された第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出手段と、
前記明るさ検出手段により検出された明るさの最大値に基づいて前記絞りにより調節される入射光量、前記固体撮像素子の露光時間および前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を設定する撮像条件設定手段と、
前記撮像条件設定手段により設定された前記入射光量および前記露光時間、かつ、前記第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により画像が撮像されたときと同じ明るさの一様な光のもとで前記撮像条件設定手段により設定された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる第２の制御命令を出力する制御手段と、
前記制御手段により出力された第２の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、
前記累積加算手段により累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、
前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、
前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率と前記第１のＮＤフィルタ情報入力手段により入力されたＮＤフィルタ情報とを対応付けて記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率と前記第１のＮＤフィルタ情報入力手段により入力されたＮＤフィルタ情報とが対応付けて記憶された後、前記ＮＤフィルタ情報を入力する第２のＮＤフィルタ情報入力手段と、
前記第２のＮＤフィルタ情報入力手段により前記ＮＤフィルタ情報が入力されたとき、入力された前記ＮＤフィルタ情報に対応する前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えた、
ことを特徴とする撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、欠陥画素の画素信号を補正する撮像装置および画素信号の補正方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＣＤ（Charge Coupled Device）イメージセンサやＣＭＯＳイメージセンサ等の固体撮像素子を搭載したビデオカメラ、デジタルカメラ等の撮像装置は広く普及し、近年においては、パーソナルコンピュータ、携帯電話、自動車等の安全装置にも搭載されるようになり、ますます普及が拡大している。一方、固体撮像素子は、さらなる高集積化（多画素化）、高密度化が図られているが、これに伴い固体撮像素子のノイズの問題も大きくなった。画素等の各部を構成する半導体集積回路の線幅のばらつきやパターンの合わせずれが固体撮像素子のノイズに影響する。
【０００３】
固体撮像素子のノイズは、固定パターンノイズ（fixed pattern noise；ＦＰＮ）とランダムノイズとに大別される。固定パターンノイズは、固体撮像素子の特定の画素に現れる空間的なノイズである。ランダムノイズは、時間的に不規則に発生するノイズである。固定パターンノイズとしては、例えば白点、黒点がある。ランダムノイズとしては、例えば光ショットノイズがある。
白点は、画素（光電変換素子、センサともいう）を構成する半導体基板中に結晶欠陥や金属イオンが存在する場合に暗電流が発生し、画像上で白い点と認識される。黒点は、画素上にゴミがあったり、遮光膜の開口が正常に形成されない場合に画素への入射光量が低下し、画像上で黒い点と認識される。光ショットノイズは、画素の光電変換（量子効率）のばらつきにより発生し、ざらついた画像と認識される。
【０００４】
従来の撮像装置では、固体撮像素子のノイズを固体撮像素子により出力された画素信号に基づいて補正している。白点および黒点は、欠陥画素のアドレスを記憶しておき、記憶されたアドレスに対応する欠陥画素の画素信号をその周辺画素の画素信号で置き換え、ノイズを除去する処理が一般に行われる。暗電流によるノイズは、遮光状態で撮像された黒い画像を通常状態で撮像された画像から減算することによりノイズを除去する処理が一般に行われる。
白点の画素信号は、固体撮像素子の動作温度の上昇に伴い増大する。このため、固体撮像素子の動作温度を検出し、検出された動作温度に基づいて固体撮像素子により出力される白点の画素信号を補正する撮像装置が開示されている（例えば、特許文献１および２参照）。
【０００５】
光ショットノイズは、各画素の画素信号を周辺画素の画素信号と比較してノイズを検出し、ノイズが検出された画素の画素信号をその周辺画素の画素信号により置き換えるノイズリダクション処理が行われる。
また、固体撮像素子により出力された複数の画像を累積加算することにより固体撮像素子のダイナミックレンジを広げ、ランダム雑音を相対的に減少させる制御回路が開示されている（例えば、特許文献３）
【特許文献１】特開平９−２３３５８号公報
【特許文献２】特開平１１−３１７５１６号公報
【特許文献３】特開２０００−３５８１９０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、上記の固体撮像素子のノイズの他に固定パターンノイズとして周辺画素に対し画素信号が数％程度低い微小欠陥が現れることがある。この微小欠陥は、撮像装置の出力画像を良く見ると小さな暗い点として認識される。また、稀に周辺画素に対し画素信号が数％程度高い微小欠陥が現れることがある。この微小欠陥は、撮像装置の出力画像を良く見ると、小さな明るい点として認識される。これらの微小欠陥は、固体撮像装置により出力される画像が明るくなるほど目立つことが判明した。このことから、これらの微小欠陥は、固体撮像素子の各画素の入射光量のばらつきによるものと考えられる。
【０００７】
この微小欠陥は、上記のノイズリダクション処理によりある程度低減することができるものの、格段に低減する術は開示されておらず、また、ノイズリダクション処理を行うと、画像の解像度が低下してしまうといった問題を残していた。
【０００８】
本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、その目的は、画像が明るいほど目立つ固体撮像素子の微小欠陥を検出し、検出された微小欠陥の画素信号を補正する撮像装置および画素信号の補正方法を提供するにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するため、請求項１記載の画素信号の補正方法は、固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、前記累積加算ステップで画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出ステップと、前記検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスを記憶する記憶ステップと、前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスを読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号を前記欠陥画素の周辺画素の画素信号に基づいて補正する補正ステップとを含むことを特徴とする。
【００１０】
請求項２記載の撮像装置は、固体撮像素子と、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させ、撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算し、画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し検出された前記固体撮像素子の欠陥画素のアドレスを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスを読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号を前記欠陥画素の周辺画素の画素信号に基づいて補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。
請求項３に記載の撮像装置は、固体撮像素子と、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力手段と、前記入力手段により入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、前記累積加算手段により画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスを記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスを読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号を前記欠陥画素の周辺画素の画素信号に基づいて補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。
【００１１】
請求項４記載の画素信号の補正方法は、固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により出力された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、前記累積加算ステップで画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出ステップと、前記検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、前記検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶ステップと、前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含むことを特徴とする。
【００１２】
請求項５記載の撮像装置は、固体撮像素子と、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させ、撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算し、画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し検出された前記固体撮像素子の欠陥画素のアドレスと前記欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。
請求項６記載の撮像装置は、固体撮像素子と、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力手段と、前記入力手段により入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により出力された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、前記累積加算手段により画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記検出手段により前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。
【００１３】
請求項７記載の画素信号の補正方法は、複数の色のいずれか１色の色フィルタが配列された複数の画素を有する固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により出力された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、前記累積加算ステップで累積加算された画像内の画素信号のうち同色の色フィルタが配列された画素の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出ステップと、前記検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素と同色の色フィルタが配列された前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、前記検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶ステップと、前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含むことを特徴とする。
請求項８記載の撮像装置は、複数の色のいずれか１色の色フィルタが配列された複数の画素を有する固体撮像素子と、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力手段と、前記入力手段により入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、前記累積加算手段により累積加算された画像内の画素信号のうち同色の色フィルタが配列された画素の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素と同色の色フィルタが配列された前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、前記記憶手段により記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。
【００１４】
請求項９記載の画素信号の補正方法は、複数のズームポジションを有するレンズを通して被写体を撮像する固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記複数のズームポジション毎に前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された前記複数枚の画像の同位置の画素信号を前記複数のズームポジション毎に累積加算する累積加算ステップと、前記累積加算ステップで前記複数のズームポジション毎に画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出ステップと、前記検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、前記検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付け前記複数のズームポジション毎に記憶する記憶ステップと、前記レンズのズームポジションを設定する設定ステップと、前記設定ステップで設定されたズームポジションに対応する前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含むことを特徴とする。
請求項１０記載の撮像装置は、複数のズームポジションを有するレンズと、前記レンズを通して被写体を撮像する固体撮像素子と、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記複数のズームポジション毎に前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力手段と、前記入力手段により入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された前記複数枚の画像の同位置の画素信号を前記複数のズームポジション毎に累積加算する累積加算手段と、前記累積加算手段により前記複数のズームポジション毎に画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付け前記複数のズームポジション毎に記憶する記憶手段と、前記レンズのズームポジションを設定する設定手段と、前記設定手段により設定されたズームポジションに対応する前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする撮像装置。
【００１５】
請求項１１記載の画素信号の補正方法は、絞りにより入射光量が段階的に調節される固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記絞りにより調節される入射光量の段階毎に前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された前記複数枚の画像の同位置の画素信号を前記段階毎に累積加算する累積加算ステップと、前記累積加算ステップで前記複数の入射光量毎に画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出ステップと、前記検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、前記検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付け前記段階毎に記憶する記憶ステップと、前記段階を設定する設定ステップと、前記設定ステップで設定された段階に対応する前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含むことを特徴とする。
また、請求項１２記載の撮像装置は、固体撮像素子と、前記固体撮像素子の入射光量を段階的に調節する絞りと、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記絞りにより調節される入射光量の段階毎に前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力手段と、前記入力手段により入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された前記複数枚の画像の同位置の画素信号を前記段階毎に累積加算する累積加算手段と、前記累積加算手段により前記段階毎に画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付け前記段階毎に記憶する記憶手段と、前記段階を設定する設定手段と、前記設定手段により設定され段階に対応する前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。
【００１６】
請求項１３記載の画素信号の補正方法は、固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、前記累積加算ステップで画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出ステップと、前記検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、前記検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶ステップと、前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数および０より大きい１以下の係数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含むことを特徴とする。
請求項１４記載の画素信号の補正方法は、請求項１３記載の画素信号の補正方法において、前記係数は、前記比率に応じて変わるように設定されていることを特徴とする。
請求項１５記載の画素信号の補正方法は、請求項１３記載の画素信号の補正方法において、前記係数は、前記固体撮像素子により撮像される画像内の位置に応じて変わるように設定されていることを特徴とする。
請求項１６に記載の撮像装置は、固体撮像素子と、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力手段と、前記入力手段により入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、前記累積加算手段により画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数および０より大きい１以下の係数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。
【００１７】
請求項１７記載の画素信号の補正方法は、固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出ステップと、前記明るさ検出ステップで検出された前記最大値に基づいて前記前記固体撮像素子により撮像する画像の枚数を設定する撮像枚数設定ステップと、前記撮像枚数設定ステップで設定された枚数の画像を前記条件と同じ条件で前記固体撮像素子により撮像させる制御ステップと、前記制御ステップで撮像された画像の同位置の画素信号を前記入力ステップで撮像された画像の同位置の画素信号に累積加算する累積加算ステップと、前記累積加算ステップで累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出ステップと、前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶ステップと、前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含むことを特徴とする。
請求項１８記載の撮像装置は、固体撮像素子と、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる第１の制御命令を入力する入力手段と、前記入力手段により入力された第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出手段と、前記明るさ検出手段により検出された前記最大値に基づいて前記前記固体撮像素子により撮像する画像の枚数を設定する撮像枚数設定手段と、前記撮像枚数設定手段により設定された枚数の画像を前記条件と同じ条件下で前記固体撮像素子により撮像させる第２の制御命令を出力する制御手段と、前記制御手段により出力された第２の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の同位置の画素信号を前記入力手段により入力された第１の制御命令に基づいて撮像された画像の同位置の画素信号に累積加算する累積加算手段と、前記累積加算手段により画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する検出手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。
【００１８】
請求項１９記載の画素信号の補正方法は、絞りにより入射光量が調節される固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる制御命令を入力する入力ステップと、前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出ステップと、前記明るさ検出ステップで検出された明るさの最大値に基づいて前記絞りにより調節される入射光量、前記固体撮像素子の露光時間および前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を設定する撮像条件設定ステップと、前記撮像条件設定ステップで設定された前記入射光量および前記露光時間、かつ、前記明るさ検出ステップと同じ明るさの一様な光のもとで前記撮像条件設定ステップで設定された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる制御ステップと、前記制御ステップで撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、前記累積加算ステップで累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出ステップと、前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶ステップと、前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含むことを特徴とする。
請求項２０記載の撮像装置は、固体撮像素子と、前記固体撮像素子の入射光量を調節する絞りと、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる第１の制御命令を入力する入力手段と、前記入力手段により入力された第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出手段と、前記明るさ検出手段により検出された明るさの最大値に基づいて前記絞りにより調節される入射光量、前記固体撮像素子の露光時間および前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を設定する撮像条件設定手段と、前記撮像条件設定手段により設定された前記入射光量および前記露光時間、かつ、前記第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により画像が撮像されたときと同じ明るさの一様な光のもとで前記撮像条件設定手段により設定された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる第２の制御命令を出力する制御手段と、前記制御手段により出力された第２の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、前記累積加算手段により累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。
【００１９】
請求項２１記載の画素信号の補正方法は、絞りにより入射光量が調節される固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を入力する枚数入力ステップと、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる制御命令を入力する制御命令入力ステップと、前記制御命令入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出ステップと、前記明るさ検出ステップで検出された明るさの最大値に基づいて前記絞りにより調節される入射光量および前記固体撮像素子の露光時間を設定する撮像条件設定ステップと、前記撮像条件設定ステップで設定された前記入射光量および前記露光時間、かつ、前記明るさ検出ステップと同じ明るさの一様な光のもとで前記枚数入力ステップで入力された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる制御ステップと、前記制御ステップで撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、前記累積加算ステップで累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出ステップと、前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶ステップと、前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含むことを特徴とする。
請求項２２記載の撮像装置は、固体撮像素子と、前記固体撮像素子の入射光量を調節する絞りと、前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を入力する枚数入力手段と、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる第１の制御命令を入力する入力手段と、前記入力手段により入力された第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出手段と、前記明るさ検出手段により検出された明るさの最大値に基づいて前記絞りにより調節される入射光量および前記固体撮像素子の露光時間を設定する撮像条件設定手段と、前記撮像条件設定手段により設定された前記入射光量および前記露光時間、かつ、前記第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により画像が撮像されたときと同じ明るさの一様な光のもとで前記枚数入力手段により入力された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる第２の制御命令を出力する制御手段と、前記制御手段により出力された第２の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、前記累積加算手段により累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。
【００２０】
請求項２３記載の画素信号の補正方法は、絞りにより入射光量が調節される固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を入力する枚数入力ステップと、前記絞りにより調節される入射光量を入力する入射光量入力ステップと、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下、かつ、前記入射光量入力ステップで入力された入射光量で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる制御命令を入力する制御命令入力ステップと、前記制御命令入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出ステップと、前記明るさ検出ステップで検出された明るさの最大値に基づいて前記固体撮像素子の露光時間を設定する露光時間設定ステップと、前記露光時間設定ステップで設定された露光時間、かつ、前記明るさ検出ステップと同じ明るさの一様な光のもとで前記枚数入力ステップで入力された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる制御ステップと、前記制御ステップで撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、前記累積加算ステップで累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出ステップと、前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶ステップと、前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含むことを特徴とする。
請求項２４記載の撮像装置は、固体撮像素子と、前記固体撮像素子の入射光量を調節する絞りと、前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を入力する枚数入力手段と、前記絞りにより調節される入射光量を入力する入射光量入力手段と、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下、かつ、前記入射光量入力手段により入力された入射光量で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる第１の制御命令を入力する入力手段と、前記入力手段により入力された第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出手段と、前記明るさ検出手段により検出された明るさの最大値に基づいて前記固体撮像素子の露光時間を設定する露光時間設定手段と、前記露光時間設定手段により設定された露光時間、かつ、前記第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により画像が撮像されたときと同じ明るさの一様な光のもとで前記枚数入力手段により入力された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる第２の制御命令を出力する制御手段と、前記制御手段により出力された第２の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、前記累積加算手段により累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。
【００２１】
請求項２５記載の画素信号の補正方法は、撮像装置に装着されたＮＤ（Neutral Density）フィルタにより入射光量が減らされ、絞りにより前記入射光量が調節される固体撮像素子により出力された画素信号を補正する画素信号の補正方法であって、前記ＮＤフィルタの前記撮像装置への装着を表すＮＤフィルタ情報を入力する第１のＮＤフィルタ情報入力ステップと、前記第１のＮＤフィルタ情報入力ステップでＮＤフィルタ情報が入力されたとき、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる制御命令を入力する制御命令入力ステップと、前記制御命令入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出ステップと、前記明るさ検出ステップで検出された明るさの最大値に基づいて前記絞りにより調節される入射光量、前記固体撮像素子の露光時間および前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を設定する撮像条件設定ステップと、前記撮像条件設定ステップで設定された前記入射光量および前記露光時間、かつ、前記明るさ検出ステップと同じ明るさの一様な光のもとで前記撮像条件設定ステップで設定された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる制御ステップと、前記制御ステップで撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算ステップと、前記累積加算ステップで累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出ステップと、前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算ステップと、前記欠陥画素検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率と前記第１のＮＤフィルタ情報入力ステップで入力されたＮＤフィルタ情報とを対応付けて記憶する記憶ステップと、前記記憶ステップの後、前記ＮＤフィルタ情報を入力する第２のＮＤフィルタ情報入力ステップと、前記第２のＮＤフィルタ情報入力ステップで前記ＮＤフィルタ情報が入力されたとき、入力された前記ＮＤフィルタ情報に対応する前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正ステップとを含むことを特徴とする。
請求項２６記載の撮像装置は、固体撮像素子と、前記固体撮像素子の入射光量を調節する絞りとを有する撮像装置であって、前記撮像装置に着脱自在に装着され、前記絞りにより調節される前記固体撮像素子の入射光量を減らすＮＤフィルタと、前記ＮＤフィルタの前記撮像装置への装着を表すＮＤフィルタ情報を入力する第１のＮＤフィルタ情報入力手段と、前記第１のＮＤフィルタ情報入力手段によりＮＤフィルタ情報が入力されたとき、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に１枚の画像を撮像させる第１の制御命令を入力する制御命令入力手段と、前記制御命令入力手段により入力された第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された画像の明るさの最大値を検出する明るさ検出手段と、前記明るさ検出手段により検出された明るさの最大値に基づいて前記絞りにより調節される入射光量、前記固体撮像素子の露光時間および前記固体撮像素子により撮像する画像の２以上の枚数を設定する撮像条件設定手段と、前記撮像条件設定手段により設定された前記入射光量および前記露光時間、かつ、前記第１の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により画像が撮像されたときと同じ明るさの一様な光のもとで前記撮像条件設定手段により設定された２以上の枚数の画像を前記固体撮像素子に撮像させる第２の制御命令を出力する制御手段と、前記制御手段により出力された第２の制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された２以上の枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する累積加算手段と、前記累積加算手段により累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出手段と、前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算する比率演算手段と、前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率と前記第１のＮＤフィルタ情報入力手段により入力されたＮＤフィルタ情報とを対応付けて記憶する記憶手段と、前記記憶手段に前記欠陥画素検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率と前記第１のＮＤフィルタ情報入力手段により入力されたＮＤフィルタ情報とが対応付けて記憶された後、前記ＮＤフィルタ情報を入力する第２のＮＤフィルタ情報入力手段と、前記第２のＮＤフィルタ情報入力手段により前記ＮＤフィルタ情報が入力されたとき、入力された前記ＮＤフィルタ情報に対応する前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する補正手段とを備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００２２】
請求項１記載の画素信号の補正方法によれば、入力ステップで前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力すると、累積加算ステップで前記入力ステップで入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算し、検出ステップで前記累積加算ステップで画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出し、記憶ステップで前記検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスを記憶する。そして、補正ステップで前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスを読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号を前記検出ステップで前記欠陥画素の周辺画素の画素信号に基づいて補正する。
したがって、固体撮像素子により出力される複数の画像を累積加算して固体撮像素子のランダムノイズを相対的に低減した後、累積加算された画像に基づいて固体撮像素子の欠陥画素を検出するので、明るさが所定値以上の一様な光が入射された固体撮像素子の微小欠陥を精度良く検出することができる。
また、欠陥画素のアドレスを記憶しておき、アドレスに対応する欠陥画素の画素信号を補正するので、微小欠陥のない画質が良好な画像を出力することができる。
【００２３】
請求項２記載の撮像装置によれば、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させ、撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算し、画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し検出された前記固体撮像素子の欠陥画素のアドレスを記憶手段に記憶し、補正手段により前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスを読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号を前記欠陥画素の前記周辺画素の画素信号に基づいて補正する。
したがって、欠陥画素のアドレスを記憶しておき、アドレスに対応する欠陥画素の画素信号を補正するので、微小欠陥のない画質が良好な画像を出力することができる。
請求項３記載の撮像装置によれば、入力手段により前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させる制御命令を入力すると、累積加算手段により前記入力手段により入力された制御命令に基づいて前記固体撮像素子により撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算し、検出手段により前記累積加算手段により画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出し、記憶手段により前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスを記憶する。そして、補正手段により前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスを読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号を前記検出手段により前記欠陥画素の周辺画素の画素信号に基づいて補正する。
したがって、固体撮像素子により出力される複数の画像を累積加算して固体撮像素子のランダムノイズを相対的に低減した後、累積加算された画像に基づいて固体撮像素子の欠陥画素を検出するので、明るさが所定値以上の一様な光が入射された固体撮像素子の微小欠陥を精度良く検出することができる。
また、入力手段、累積加算手段および検出手段を設け、これらにより欠陥画素を検出し、検出された欠陥画素のアドレスを記憶手段に記憶する。
したがって、いちいち専用の装置により固体撮像素子の欠陥画素を検出する必要がないので、欠陥画素の検出を容易に行うことができる。
また、補正手段により記憶手段に記憶されたアドレスを読み出し、アドレスに対応する欠陥画素の画素信号を補正するので、微小欠陥のない画質が良好な画像を出力することができる。
【００２４】
請求項４記載の画素信号の補正方法によれば、請求項１記載の画素信号の補正方法と同様の方法により欠陥画素を検出し、比率演算ステップで欠陥画素の画素信号と前記検出ステップで前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算し、記憶ステップで前記検出ステップで検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算ステップで演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する。そして、補正ステップで前記記憶ステップで記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する。
したがって、請求項１記載の画素信号の補正方法と同様の効果を有し、加えて、補正ステップで周辺画素の画素値に基づいて欠陥画素の画素信号を置き換える必要がないので、画像の解像度を低下させることなく、エッジ部分を正しく補正し、シャープな画像を得ることができる。
【００２５】
請求項５記載の撮像装置によれば、前記固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で前記固体撮像素子に複数枚の画像を撮像させ、撮像された複数枚の画像の同位置の画素信号を累積加算し、画素信号が累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し検出された前記固体撮像素子の欠陥画素のアドレスと前記欠陥画素の画素信号と前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率とを対応付けて記憶手段に記憶し、補正手段により前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する。
したがって、欠陥画素のアドレスおよび比率を記憶しておき、アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に比率の逆数を乗算して前記画素信号を補正するので、微小欠陥のない画質が良好な画像を出力することができる。また、周辺画素の画素値に基づいて欠陥画素の画素信号を置き換える必要がないので、画像の解像度を低下させることなく、エッジ部分を正しく補正し、シャープな画像を得ることができる。
請求項６記載の撮像装置によれば、請求項３の撮像装置と同様に欠陥画素を検出し、比率演算手段により前記検出手段により検出された欠陥画素の画素信号と前記検出手段により前記欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算し、記憶手段により前記検出手段により検出された欠陥画素のアドレスと前記比率演算手段により演算された対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する。そして、補正手段により前記記憶手段に記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、前記固体撮像素子により出力された前記アドレスに対応する欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する。
したがって、請求項３記載の撮像装置と同様の効果を有し、加えて、周辺画素の画素値に基づいて欠陥画素の画素信号を置き換える必要がないので、画像の解像度を低下させることなく、エッジ部分を正しく補正し、シャープな画像を得ることができる。
【００２６】
請求項７記載の画素信号の補正方法によれば、固体撮像素子の複数の画素を配列された色フィルタの色別に分け、同色の色フィルタが配列された画素同士を比較して請求項４記載の画素信号の補正方法と同様に欠陥画素を検出して補正する。
したがって、欠陥画素をいっそう精度良く検出することができる。
請求項８記載の撮像装置によれば、固体撮像素子の複数の画素を配列された色フィルタの色別に分け、同色の色フィルタが配列された画素同士を比較して請求項６記載の撮像装置と同様に欠陥画素を検出して補正する。
したがって、欠陥画素をいっそう精度良く検出して補正することができる。
【００２７】
請求項９記載の画素信号の補正方法によれば、ズームポジション毎に請求項４記載の画素信号の補正方法と同様に欠陥画素を検出して補正する。
したがって、ズームポジション毎に最適に欠陥画素を検出して補正することができるので、欠陥画素をいっそう精度良く検出して補正することができる。特に、広角レンズに相当するズームポジションを有する場合に好適である。広角レンズの場合には、固体撮像素子の中央部に対する外周部の画素には光が斜めから入射するため、画素の開口部の入射光量が低下し、欠陥画素が多くなる可能性が高いからである。
請求項１０記載の撮像装置によれば、ズームポジション毎に請求項６記載の撮像装置と同様に欠陥画素を検出して補正する。
したがって、ズームポジション毎に最適に欠陥画素を検出して補正することができるので、欠陥画素をいっそう精度良く検出して補正することができる。特に、広角レンズに相当するズームポジションを有する場合に好適である。
【００２８】
請求項１１記載の画素信号の補正方法によれば、前記絞りにより調節される入射光量の段階毎に請求項４記載の画素信号の補正方法と同様に欠陥画素を検出して補正する。
したがって、絞りの段階、例えばＦ値毎に最適に欠陥画素を検出して補正することができるので、欠陥画素をいっそう精度良く検出して補正することができる。
請求項１２記載の撮像装置によれば、前記絞りにより調節される入射光量の段階毎に請求項６記載の撮像装置と同様に欠陥画素を検出して補正する。
したがって、絞りの段階、例えばＦ値毎に最適に欠陥画素を検出して補正することができるので、欠陥画素をいっそう精度良く検出して補正することができる。
【００２９】
請求項１３記載の画素信号の補正方法によれば、請求項４記載の画素信号の補正方法と同様に欠陥画素を検出して補正するが、補正の際に前記比率に加え、０より大きい１以下の係数を乗算する。
したがって、欠陥画素の補正量を小さくし、補正を和らげることができる。
請求項１４記載の画素信号の補正方法によれば、前記係数を前記比率に応じて変わるように設定する。
したがって、例えば前記比率が大きい場合には、係数を大きくして欠陥画素の補正量を大きくし、前記比率が小さい場合には、係数を小さくして欠陥画素の補正量を小さくし、欠陥画素を目立たなくすることができる。
請求項１５記載の画素信号の補正方法によれば、前記係数は、前記固体撮像素子の複数の画素の位置応じて変わるように設定する。
したがって、例えば周辺寄りの欠陥画素に対しては、係数を大きくして欠陥画素の補正量を大きくし、中央寄りの欠陥画素に対しては、係数を小さくして欠陥画素の補正量を小さくし、欠陥画素を目立たなくすることができる。
請求項１６記載の撮像装置によれば、請求項４記載の画素信号の補正方法と同様に欠陥画素を検出して補正するが、補正の際に前記比率に加え、０より大きい１以下の係数を乗算する。
したがって、欠陥画素の補正量を小さくし、補正を和らげることができる。
【００３０】
請求項１７記載の画素信号の補正方法によれば、請求項４記載の画素信号の補正方法と同様に欠陥画素を検出して補正するが、欠陥画素を検出する際、固体撮像素子により撮像された１枚目の画像の明るさの最大値を検出し、検出された明るさの最大値に基づいて累積加算する複数の画像の枚数を設定する。
したがって、１枚目の画像の明るさの最大値に基づいて累積加算される画素信号の最大値（情報量）を規定することができる。このため、例えば画像の累積加算の際に使用する画像メモリの記憶容量を有効に利用することができる。
請求項１８記載の撮像装置によれば、請求項６記載の撮像装置と同様に欠陥画素を検出して補正するが、欠陥画素を検出する際、固体撮像素子により撮像された１枚目の画像の明るさの最大値を検出し、検出された明るさの最大値に基づいて累積加算する複数の画像の枚数を設定する。
したがって、１枚目の画像の明るさの最大値に基づいて累積加算される画素信号の最大値（情報量）を規定することができる。このため、例えば画像の累積加算の際に使用する画像メモリの記憶容量を有効に利用することができる。
【００３１】
請求項１９記載の画素信号の補正方法によれば、請求項１７記載の画素信号の補正方法と同様に欠陥画素を検出して補正するが、欠陥画素を検出する際、固体撮像素子により撮像された１枚目の画像の明るさの最大値を検出し、検出された明るさの最大値に基づいて前記絞りにより調節される入射光量、前記固体撮像素子の露光時間および前記固体撮像素子により撮像する画像の枚数（複数）を設定する。
したがって、固体撮像素子により出力される画像の画素信号が固体撮像素子のダイナミックレンジを超えないように固体撮像素子の撮像条件を設定することができるので、いっそう精度良く欠陥画素を検出して補正することができる。
請求項２０記載の撮像装置によれば、請求項１８記載の撮像装置と同様に欠陥画素を検出して補正するが、欠陥画素を検出する際、固体撮像素子により撮像された１枚目の画像の明るさの最大値を検出し、検出された明るさの最大値に基づいて前記絞りにより調節される入射光量、前記固体撮像素子の露光時間および前記固体撮像素子により撮像する画像の枚数（複数）を設定する。
したがって、固体撮像素子により出力される画像の画素信号が固体撮像素子のダイナミックレンジを超えないように固体撮像素子の撮像条件を設定することができるので、いっそう精度良く欠陥画素を検出して補正することができる。
【００３２】
請求項２１記載の画素信号の補正方法によれば、請求項１７記載の画素信号の補正方法と同様に欠陥画素を検出して補正するが、欠陥画素を検出する際、累積加算される画像の枚数を入力した後、固体撮像素子により撮像された１枚目の画像の明るさの最大値を検出し、入力された枚数と１枚目の画像の明るさの最大値とに基づいて前記絞りにより調節される入射光量および前記固体撮像素子の露光時間を設定する。
したがって、入力された枚数に応じて固体撮像素子により出力される画像の画素信号が固体撮像素子のダイナミックレンジを超えないように固体撮像素子の撮像条件を設定することができるので、いっそう精度良く欠陥画素を検出して補正することができる。
請求項２２記載の撮像装置によれば、請求項１８記載の撮像装置と同様に欠陥画素を検出して補正するが、欠陥画素を検出する際、累積加算される画像の枚数を入力した後、固体撮像素子により撮像された１枚目の画像の明るさの最大値を検出し、入力された枚数と１枚目の画像の明るさの最大値とに基づいて前記絞りにより調節される入射光量および前記固体撮像素子の露光時間を設定する。
したがって、入力された枚数に応じて固体撮像素子により出力される画像の画素信号が固体撮像素子のダイナミックレンジを超えないように固体撮像素子の撮像条件を設定することができるので、いっそう精度良く欠陥画素を検出して補正することができる。
【００３３】
請求項２３記載の画素信号の補正方法によれば、請求項１７記載の画素信号の補正方法と同様に欠陥画素を検出して補正するが、欠陥画素を検出する際、累積加算される画像の枚数と絞りにより調節される入射光量とを入力した後、固体撮像素子により撮像された１枚目の画像の明るさの最大値を検出し、入力された枚数と１枚目の画像の明るさの最大値とに基づいて前記固体撮像素子の露光時間を設定する。
したがって、入力された枚数および入射光量に応じて固体撮像素子により出力される画像の画素信号が固体撮像素子のダイナミックレンジを超えないように固体撮像素子の露光時間を設定することができるので、いっそう精度良く欠陥画素を検出して補正することができる。
請求項２４記載の撮像装置によれば、請求項１８記載の撮像装置と同様に欠陥画素を検出して補正するが、欠陥画素を検出する際、累積加算される画像の枚数と絞りにより調節される入射光量とを入力した後、固体撮像素子により撮像された１枚目の画像の明るさの最大値を検出し、入力された枚数と１枚目の画像の明るさの最大値とに基づいて前記固体撮像素子の露光時間を設定する。
したがって、入力された枚数および入射光量に応じて固体撮像素子により出力される画像の画素信号が固体撮像素子のダイナミックレンジを超えないように固体撮像素子の露光時間を設定することができるので、いっそう精度良く欠陥画素を検出して補正することができる。
【００３４】
請求項２５記載の画素信号の補正方法によれば、撮像装置にＮＤフィルタが装着された状態で請求項１９記載の画素信号の補正方法と同様に欠陥画素を検出して補正する。
したがって、ＮＤフィルタに合わせて精度良く欠陥画素を検出して補正することができる。
請求項２６記載の撮像装置によれば、撮像装置にＮＤフィルタが装着された状態で請求項２０記載の撮像装置と同様に欠陥画素を検出して補正する。
したがって、ＮＤフィルタに合わせて精度良く欠陥画素を検出して補正することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３５】
上記目的を達成するため、固体撮像素子に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で固体撮像素子により１枚の画像を撮像し、撮像された画像の明るさの最大値を検出する。次に、検出された明るさの最大値に基づいて絞りにより調節される入射光量、固体撮像素子の露光時間および固体撮像素子により撮像する画像の枚数（複数）を設定する。次に、１枚目の画像と同じ明るさの一様な光が入射された条件下で設定された入射光量および露光時間で設定された枚数の画像を固体撮像素子により撮像し、撮像された枚数の画像の同位置の画素信号を累積加算する。次に、累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し前記固体撮像素子の欠陥画素を検出し、欠陥画素の画素信号と欠陥画素の周辺画素の画素信号との比率を演算し、欠陥画素のアドレスと対応する欠陥画素の比率とを対応付けて記憶する。そして、記憶された欠陥画素のアドレスおよび比率を読み出し、アドレスに対応する固体撮像素子により出力された欠陥画素の画素信号に前記比率の逆数を乗算し前記欠陥画素の画素信号を補正する。
【実施例１】
【００３６】
以下、本発明の実施例１の撮像装置および画素信号の補正方法について図面を参照して説明する。
図１は、実施例１の撮像装置の概略構成を示す図である。
図１に示すように、実施例１の撮像装置は、レンズ１１、アイリス（絞り）１２、ＣＣＤ撮像素子１３、ＣＤＳ（Correlated Double Sampling）回路１４、Ａ／Ｄ（Analog to Digital）変換回路１５、欠陥補正回路１６、画像処理回路１７、記憶媒体１８、操作表示部１９、フレームメモリ２１、加算器２２、微小欠陥検出回路２３、累積加算数設定回路２４、撮像条件設定回路２５、微小欠陥ＲＯＭ２６、黒点白点ＲＯＭ２７、レンズ制御回路３１、アイリス制御回路３２およびＣＣＤ駆動回路３３を備える。
【００３７】
レンズ１１は、被写体からの光をＣＣＤ撮像素子１３に結像する。レンズ１１は、図示しない複数のレンズを有するズームレンズからなり、一部のレンズの位置を移動してレンズ１１の焦点距離を段階的に変化させる。レンズ１１は、例えば標準、望遠、広角の３つのズームポジションを有する。なお、レンズ１１は、焦点距離を連続的に変化させるように構成することができる。また、レンズ１１は、ズームレンズに限らず単焦点レンズでもよい。レンズ１１の外側には、この撮像装置に着脱自在に装着される図示しないＮＤフィルタが取り付け可能になっている。ＮＤフィルタは、従来良く知られるように、レンズ１１の入射光量を減らす。
【００３８】
アイリス１２は、その絞り量を段階的に変化させてＣＣＤ撮像素子１３の入射光量を調節するとともに、絞りを閉じてメカシャッタとなる。アイリス１２により調節される入射光量は、例えば従来良く知られるＦ値に相当する。ＣＣＤ撮像素子１３は、例えば、入射された光を信号電荷に変換し画素信号として出力する複数の画素を有し、これら複数の画素により被写体を撮像し、撮像された画像信号（画素信号）を出力する。複数の画素には、Ｒ（Red）、Ｇ（Green）およびＢ（Blue）のいずれか1色のカラーフィルタがそれぞれ規則的に配列されている。
【００３９】
ＣＤＳ回路１４は、固体撮像素子３により出力された画像信号に相関二重サンプリング処理を施し、複数の画素の信号電荷を電圧に変換するＣＣＤ撮像素子１３の図示しない出力回路により発生するノイズ成分を除去する。Ａ／Ｄ変換回路１５は、ＣＤＳ回路１４により出力されたアナログ画像信号をデジタル画像信号に変換する。
【００４０】
欠陥補正回路１６は、微小欠陥ＲＯＭ２６および黒点白点ＲＯＭ２７を参照し、Ａ／Ｄ変換回路１５により出力されたデジタル画像信号に含まれる欠陥画素（微小欠陥、白点、黒点）を補正する。微小欠陥ＲＯＭ２６には、微小欠陥のアドレスおよび比率（微小欠陥の画素信号とその周辺画素の画素信号との比率）が記憶されている。黒点白点ＲＯＭ２７には、黒点および白点のアドレスが記憶されている。欠陥補正回路１６は、微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶された微小欠陥のアドレスおよび比率を読み出し、読み出されたアドレスに対応する微小欠陥の画素信号に比率の逆数を乗算し、微小欠陥を補正する。また、欠陥補正回路１６は、黒点白点ＲＯＭ２７に記憶された白点および黒点のアドレスを読み出し、読み出されたアドレスに対応する白点または黒点の画素信号を例えば欠陥画素でない欠陥画素の周辺画素の画素信号の平均値または中央値で置き換えて補正する。
【００４１】
画像処理回路１７は、欠陥補正回路１６により欠陥画素の画素信号が補正された画像信号にガンマ補正処理、ノイズリダクション処理、輪郭強調処理等の種々の画像処理を施し、その出力画像を記憶媒体１８に記憶する。記憶媒体１８は、ビデオテープ、メモリカード等の交換可能な記憶媒体からなる。操作表示部１９は、例えば、図示しない液晶ディスプレイ、操作ボタン、操作レバー等を有し、この撮像装置の使用者により操作される操作情報を操作ボタン、操作レバーにより入力するとともに、固体撮像素子１３により撮像された画像や、この撮像装置の操作情報、設定情報、状態情報を液晶ディスプレイに表示する。
【００４２】
フレームメモリ２１は、Ａ／Ｄ変換回路１５により出力されたデジタル画像信号を一時的に記憶する。加算器２２は、フレームメモリ２１に記憶された１フレームの画像信号とＡ／Ｄ変換回路１５により出力された１フレームの画像信号との同位置の画素信号を加算する。フレームメモリ２１および加算器２２は、ＣＣＤ撮像素子１３の微小欠陥を検出する際、複数フレームの画像を累積加算するのに用いられる。
【００４３】
微小欠陥検出回路２３は、操作表示部１９により微小欠陥を検出する微小欠陥検出モードが入力されたとき、フレームメモリ２１および加算器２２により累積加算された画像信号に基づいて微小欠陥を検出する。微小欠陥検出回路２３は、累積加算された各画素の画素信号を同色のカラーフィルタが配列された複数の周辺画素の画素信号と比較して微小欠陥を検出する。また、微小欠陥検出回路２３は、検出された微小欠陥の画素信号と同色のカラーフィルタが配列された周辺画素の画素信号（例えば、複数の周辺画素の画素信号の平均値または中央値）との比率を演算し、検出された微小欠陥のアドレスおよび対応する微小欠陥の比率を対応付けて微小欠陥ＲＯＭ２５に記憶する。なお、微小欠陥の検出および比率の演算の際、周辺画素を微小欠陥として検出されない周辺画素に限定すれば、いっそう精度良く微小欠陥を検出して補正することができる。
【００４４】
累積加算数設定回路２４は、操作表示部１９により微小欠陥検出モードが入力されたとき、ＣＣＤ撮像素子１３により撮像され、フレームメモリ２１に記憶された１枚目の画像信号に基づいて画像の明るさ（例えば、画像信号の輝度成分）の最大値を検出し、検出された最大値に基づいてＣＣＤ撮像素子１３により撮像するフレーム数を設定する。累積加算数設定回路２４は、例えば、検出された画像の明るさの最大値が小さい場合には、フレーム数を大きくし、検出された画像の明るさの最大値が大きい場合には、フレーム数を小さくする。
【００４５】
撮像条件設定回路２５は、通常の撮影時には、レンズ１１のズームポジション、アイリス１２のＦ値およびＣＣＤ撮像素子１３の露光時間（実際には、ＣＣＤ撮像素子１３の電子シャッタ（露光開始）およびアイリス１２のメカシャッタ（露光終了）のタイミング）を設定する。レンズ１１のズームポジションは、デフォルトとして標準のズームポジションが設定されている。撮像条件設定回路２５は、通常の撮影時には、操作表示部１９の操作情報（ズームポジション情報）に従って標準、望遠、広角のズームポジションを設定する。
【００４６】
撮像条件設定回路２５は、操作表示部１９により微小欠陥検出モードが選択されたときには、累積加算数設定回路２４により検出された画像の明るさの最大値および累積加算数設定回路２４により設定されたフレーム数の少なくとも１つの情報に基づいてアイリス１２のＦ値およびＣＣＤ撮像素子１３の露光時間を設定する。
【００４７】
なお、累積加算数設定回路２４により設定されるフレーム数および撮像条件設定回路２５により設定されるアイリス１２のＦ値は、それぞれ操作表示部１９の操作情報（Ｆ値設定情報、フレーム数情報）に基づいて強制的に固定して設定するように構成することができる。アイリス１２のＦ値が操作表示部１９のＦ値設定情報に基づいて設定された場合には、撮像条件設定回路２５は、累積加算数設定回路２４により検出された画像の明るさの最大値、累積加算数設定回路２４により設定されたフレーム数およびアイリス１２のＦ値の少なくとも１つの情報に基づいてＣＣＤ撮像素子１３の露光時間を設定する。
【００４８】
レンズ制御回路３１は、撮像条件設定回路２５により設定されたズームポジションに従ってレンズ１１のズームレンズポジションを制御する。アイリス制御回路３２は、撮像条件設定回路２５により設定されたＦ値に従ってアイリス１２の絞り量を制御する。ＣＣＤ駆動回路３３は、撮像条件設定回路２５により設定された露光時間に従ってＣＣＤ撮像素子１３を駆動する。
【００４９】
図２は、図１に示されるＣＣＤ撮像素子１３の要部断面図である。
図２に示すように、ＣＣＤ撮像素子１３は、Ｎ型Ｓｉ基板１００中にＰ型ウェル領域１０１を形成し、Ｐ型ウェル領域１０１中にＮ型不純物領域により構成されるセンサ（画素）１０２および垂直レジスタ１０３を形成して構成される。センサ１０２と垂直レジスタ１０３との間には、Ｐ型のチャネルストップ１０４が形成され、センサ１０２の上には、高濃度のＰ型不純物からなるセンサ表面Ｐ層１０５が形成されている。垂直レジスタ１０３の上には、電極１０６が形成されている。電極１０６には、センサ１０２の信号電荷を読み出し転送するための電圧が印加される。
【００５０】
Ｎ型Ｓｉ基板１００および電極１０６の上には、金属遮光膜１０７が形成されるが、センサ１０２の上の部分には、金属遮光膜１０６の開口部１０７Ａが形成されている。金属遮光膜１０７は、垂直レジスタ１０３に光が進入するのを防止する。金属遮光膜１０７の上には、可視光の透過率が高い無機膜または有機膜の平坦化膜１０８が形成されている。平坦化膜１０８の上には、ＲＧＢのいずれかの色のカラーフィルタ１０９がセンサ１０２に対応して形成されている。カラーフィルタ１０９の上には、オンチップレンズ１１０がセンサ１０２に対応して形成されている。
【００５１】
図３は、図２に示されるＣＣＤ撮像素子１３の入射光の説明図である。
レンズ１１およびアイリス１２を通してＣＣＤ撮像素子１３に入射した光は、オンチップレンズ１１０により集光され、カラーフィルタ１０９、平坦化膜１０８を通り、開口部１０７Ａのセンサ表面Ｐ層１０５に到達し、センサ１０２により電子に変換され蓄積される。
【００５２】
しかし、入射光は、図３中、点線の矢印で示されるように、センサ１２の受光面に対し垂直方向から進入する成分ばかりでなく、図３中、実線の矢印で示されるように、センサ１０２の受光面に対し斜め方向から進入する成分を含む。このため、レンズ１１の射出瞳距離やアイリス１２のＦ値によっても異なるが、オンチップレンズ１１０により集光され入射光の全てがセンサ１０２に達するわけではなく、その一部は、センサ１０２に届かずに金属遮光膜１０７に達し遮光されてしまう。
金属遮光膜１０７の開口部１０７Ａの面積がばらつくと、画素（センサ１０２）の感度がばらつく。開口部１０７の面積が小さい場合には、画素の感度が低くなり、その画素信号が小さくなり、開口部１０７の面積が大きい場合には、画素の感度が高くなり、その画素信号が大きくなる。これらの画素は、ＣＣＤ撮像素子１３の出力画像上で微小欠陥として認識される。
また、オンチップレンズ１１０の形状のばらついた場合や、カラーフィルタ１０９の画素毎の透過率がばらついた場合にも画素の感度がばらつくため、微小欠陥が発生する。
【００５３】
図４は、画像信号およびそのノイズ成分のばらつきを示す図である。
図４において、横軸はＣＣＤ撮像素子の画素信号、縦軸は画素数（出現頻度）を表す。
ある明るさの一様な光をＣＣＤ撮像素子に与えて撮像すると、ＣＣＤ撮像素子１３の各画素の画像信号は等しくなるのが理想的ではあるが、実際には、図４に示されるように、ある出力値のピークを有する正規分布のような画像信号のばらつきが得られる。この画像信号のばらつき（ノイズ）をその要因別に分解すると、微小欠陥起因ノイズ、光ショットノイズ、暗電流起因ノイズおよびその他のノイズに分けられる。
【００５４】
図５は、画像信号のばらつきと画像の明るさとの関係を示す図である。
図５は、図４に示される画像信号のばらつきをその成分とともに標準偏差により求めたものである。なお、図４の例に示される分布は、図５のＡＡ´断面部分に相当する。
図５に示すように、光ショットノイズは、画像信号の１／２乗に比例して増大し、画像信号が明るくなるほど大きくなるが、その変化量は小さくなる。微小欠陥起因ノイズは、画像信号の増大にともない直線的に増大する。画像信号が小さい（画像が暗い）ときには、光ショットノイズが画像信号のばらつきの主要因となる一方、画像信号が大きい（画像が明るい）ときには、微小欠陥起因ノイズが画像信号のばらつきの主要因となる。暗電流起因ノイズおよびその他のノイズは、画像の明るさが変化してもほぼ一定の値を取る。
【００５５】
例えば、図２および図３に示される金属遮光膜１０７の開口部１０７Ａの変形により画素（センサ１０２）に入射されるべき光量が１割減少する場合には、入射光量が２倍、３倍と増えても、光量はやはり１割減少するので、ノイズも２倍、３倍と増え、ばらつきが大きくなり、微小欠陥として認識される。前述のように、微小欠陥起因ノイズは、画像信号の増大にともない直線的に増大する。したがって、ある明るさの欠陥画素（微小欠陥）画像信号とその周辺画素の画素信号との比率を求めておけば、他の明るさの欠陥画素の画素信号をその周辺画素の画素信号と比率とにより求めることができる。
【００５６】
次に、実施例１の撮像装置の欠陥画素（微小欠陥）の検出動作を説明する。
実施例１の撮像装置は、微小欠陥を検出するときには、光の強度（輝度）が一様な被写体を選んで撮影する。ＣＣＤ撮像素子１３には、明るさが所定値以上の一様な光が与えられる。所定値以上の明るさとしては、例えば、人が暗がりと感じない程度の明るさがあればよい。一様な光は、例えばパターンボックスを使用することにより容易に得られる。ここで、レンズ１１は、標準のズームポジションに設定されているものとする。また、ＮＤフィルタは装着されていないものとする。
【００５７】
操作表示部１９により微小欠陥検出モードが入力されると、固体撮像素子１３により１フレームの撮像が行われる。固体撮像素子１３により出力された１フレームの画素信号は、ＣＤＳ回路１４によりノイズが除去され、Ａ／Ｄ変換回路５によりアナログ画素信号からデジタル画素信号に変換され、フレームメモリ２１に記憶される。次に、累積加算数設定回路２４によりフレームメモリ２１に記憶された１フレームの画素信号に基づいてこのフレームの画像の明るさの最大値が検出され、検出された最大値に基づいてＣＣＤ撮像素子１３にとり撮像するフレーム数が設定される。次に、撮像条件設定回路２５により累積加算数設定回路２４により検出された画像の明るさの最大値および累積加算数設定回路２４により設定されたフレーム数に基づいてアイリス１２のＦ値およびＣＣＤ撮像素子１３の露光時間が設定される。
【００５８】
次に、累積加算数設定回路２４により設定されたＦ値に応じてアイリス制御回路３１によりアイリス１２の絞り量が制御され、累積加算数設定回路２４により設定された露光時間に応じてアイリス制御回路３１およびＣＣＤ駆動回路３３によりＣＣＤ撮像素子１３が駆動され、ＣＣＤ撮像素子１３により累積加算数設定回路２４により設定されたフレーム数の撮像が行われる。ＣＣＤ撮像素子１３により撮像されたフレームは、加算器２２を通してフレームメモリ２１に記憶され、フレームメモリ２１および加算器２２により累積加算される。
【００５９】
次に、微小欠陥検出回路２３により累積加算されたフレームに基づいてＣＣＤ撮像素子１３の微小欠陥が検出される。微小欠陥は、累積加算された各画素の画素信号を同色のカラーフィルタが配列された複数の周辺画素の画素信号と比較して検出される。次に、微小欠陥検出回路２３により、検出された欠陥画素の画素信号とその周辺画素（同色のカラーフィルタが配列された複数の周辺画素の平均値または中央値）の画素信号との比率が演算される。次に、標準のズームポジション、欠陥画素のアドレスおよび対応する欠陥画素の比率が対応付けられ、微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶される。
【００６０】
次に、撮像条件設定回路２５によりデフォルトで設定された標準のズームポジションから望遠、広角のズームポジションが設定され、レンズ制御回路３１により撮像条件設定回路２５により設定されたズームポジションに応じてレンズ１１が制御され、望遠、広角のズームポジションに対し、上記と同様の方法により欠陥画素が検出され、設定されたズームポジション、欠陥画素のアドレスおよび比率が微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶される。
【００６１】
また、撮像装置のレンズ１１の外側にＮＤフィルタが装着され、操作表示部１９によりＮＤフィルタの識別情報が入力されたときには、上記と同様の方法により標準、望遠、広角のズームポジション毎に欠陥画素が検出され、ＮＤフィルタの識別情報、設定されたズームポジション、欠陥画素のアドレスおよび比率が対応付けられ、微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶される。
【００６２】
次に、実施例１の撮像装置の欠陥画素（微小欠陥）の補正動作を説明する。
通常の撮影時において、撮像条件設定回路２５により設定されたズームポジション、Ｆ値、露光時間に従ってＣＣＤ撮像素子１３によりフレームが撮像され出力されると、ＣＣＤ撮像素子１３により出力された画素信号はＣＤＳ回路１４によりノイズが除去され、Ａ／Ｄ変換回路５によりアナログ画素信号からデジタル画素信号に変換され、欠陥補正回路１６に入力される。
【００６３】
次に、欠陥補正回路１６により微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶された前記設定されたズームポジションの欠陥画素および比率が読みだされ、欠陥画素の画素信号に比率の逆数が乗算されて欠陥画素の画素信号が補正される。次に、欠陥補正回路１６により黒点白点ＲＯＭ２７に記憶された黒点および白点のアドレスが読み出され、これらの画素信号が補正される。そして、欠陥画素（微小欠陥、黒点、白点）が補正された画素信号は、画像処理回路１７によりガンマ補正処理、ノイズリダクション処理、輪郭強調処理等の種々の画像処理が施され、記憶媒体１８に記憶される。
【００６４】
撮像装置のレンズ１１の外側にＮＤフィルタが装着され、操作表示部１９によりＮＤフィルタの識別情報が入力されたときには、微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶されたＮＤフィルタの識別情報に対応する欠陥画素および比率が読み出され、同様に欠陥画素の補正が行われる。
【００６５】
このように実施例１によれば、ＣＣＤ撮像素子１３に明るさが所定値以上の一様な光が入射された条件下で操作表示部１９により微小欠陥検出モードを入力し、ＣＣＤ撮像素子１３により撮像された複数のフレームをフレームメモリ２１および加算器２２により累積加算し、微小欠陥検出回路２３により累積加算された画像内の画素信号を相互に比較し欠陥画素（微小欠陥）を検出し、検出された欠陥画素のアドレスを微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶する。そして、通常の撮影時には、欠陥画素のアドレスを読み出し、読み出されたアドレスに対応する欠陥画素の画素信号を欠陥補正回路２６により補正する。
したがって、欠陥画素（微小欠陥）の画素信号を補正することができるので、微小欠陥のない画質が良好な画像を出力することができる。また、ＣＣＤ撮像素子１３により出力される複数フレームを累積加算してＣＣＤ撮像素子１３のランダムノイズを相対的に低減した後、累積加算された画像に基づいてＣＣＤ撮像素子１３の欠陥画素を検出するので、明るさが所定値以上の一様な光が入射されたＣＣＤ撮像素子１３の微小欠陥を精度良く検出することができる。また、いちいち専用の装置によりＣＣＤ撮像素子１３の欠陥画素を検出する必要がないので、欠陥画素の検出を容易に行うことができる。
【００６６】
また、実施例１によれば、微小欠陥検出回路２３により欠陥画素とその周辺画素との画素信号の比率を演算し、欠陥画素のアドレスおよび対応する欠陥画素の比率を微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶する。そして、欠陥補正回路２６により欠陥画素の画素信号に微小欠陥ＲＯＭ２６に記憶された対応する比率の逆数を乗算し、欠陥画素の画素信号を補正する。
したがって、周辺画素の画素値に基づいて欠陥画素の画素信号を置き換える必要がないので、画像の解像度を低下させることなく、エッジ部分を正しく補正し、シャープな画像を得ることができる。
【００６７】
なお、実施例１では、欠陥画素の画素信号に比率を乗算して欠陥画素を補正しているが、比率に加え０より大きい１以下の係数を乗算し、補正を和らげることができる。
例えば、係数を比率に応じて変わるように設定することができる。比率が大きい場合には、係数を大きくして欠陥画素の補正量を大きくし、比率が小さい場合には、係数を小さくして欠陥画素の補正量を小さくし、欠陥画素を目立たなくすることができる。
また、係数をＣＣＤ撮像素子１３の複数の画素の位置応じて変わるように設定することができる。例えば周辺寄りの欠陥画素に対しては、係数を大きくして欠陥画素の補正量を大きくし、中央寄りの欠陥画素に対しては、係数を小さくして欠陥画素の補正量を小さくし、欠陥画素を目立たなくすることができる。
【００６８】
また、実施例１によれば、微小欠陥検出回路２３により同色のカラーフィルタが配列された画素同士を比較して欠陥画素を検出する。カラーフィルタの色の違いにより画素に入射される光量が異なるので、同色のカラーフィルタが配列された画素同士を比較すれば、欠陥画素をいっそう精度良く検出することができる。
【００６９】
また、実施例１によれば、微小欠陥検出回路２３により撮像条件設定回路２５により設定された標準、望遠、広角のズームポジション毎に欠陥画素を検出するので、標準、望遠、広角のズームポジションのそれぞれに欠陥画素をいっそう精度良く検出して補正することができる。ＣＣＤ撮像素子１３の周辺寄りの画素の場合、受光面に対し斜め方向から入射する光の成分が多くなる。このため、周辺寄りの画素は、中央寄りの画素に比べ、入射光量が小さくなるので、ＣＣＤ撮像素子の周辺寄りには、微小欠陥が増える傾向にある。ズームポジションを広角にすると、この傾向はいっそう顕著になる。したがって、広角のズームポジションに特に有効である。
【００７０】
実施例１では、標準、望遠、広角のズームポジションのそれぞれに欠陥画素を検出しているが、標準、広角の２つのズームポジションのそれぞれに欠陥画素を検出し、望遠のズームポジションときには、標準のズームポジションのときに検出された欠陥画素を補正するようにしてもよい。また、ズームポジションが連続的に変化する場合には、連続的に変化するズームポジションを標準、望遠、広角の区間に分け、それぞれを代表するズームポジションで欠陥画素を検出し補正するようにすればよい。
【００７１】
また、ズームポジションと同様の理由から、アイリス１２のＦ値のそれぞれに欠陥画素を検出して補正するように構成することができる。Ｆ値が小さいときには、広角ズームポジションと同様にＣＣＤ撮像素子１３の周辺寄りの画素の場合、受光面に対し斜め方向から入射する光の成分が多くなる。したがって、Ｆ値のそれぞれに欠陥画素をいっそう精度良く検出して補正することができる。
【００７２】
また、実施例１によれば、ＮＤフィルタの識別情報を入力し、識別情報が入力されたＮＤフィルタに対し、欠陥画素を検出して補正する。したがって、ＮＤフィルタが装着された場合にも、欠陥画素を精度良く検出し補正することができる。また、レンズ１１の外側に交換可能な望遠レンズ、広角レンズが装着される場合には、ＮＤフィルタと同様に望遠レンズ、広角レンズの識別情報を入力し、欠陥画素を検出して補正することができる。
【００７３】
また、実施例１によれば、累積加算数設定回路２４により検出された１枚目のフレームの画像の明るさの最大値に基づいて累積加算されるフレーム数を設定する。したがって、累積加算される画素信号の最大値（情報量）を規定することができる。このため、例えば画像の累積加算の際に使用するフレームメモリ２１の記憶容量を有効に利用することができる。
【００７４】
また、実施例１によれば、撮像条件設定回路２５により累積加算数設定回路２４により検出された画像の明るさの最大値および累積加算数設定回路２４により設定されたフレーム数の少なくとも１つの情報に基づいてアイリス１２のＦ値およびＣＣＤ撮像素子１３の露光時間を設定する。
したがって、ＣＣＤ撮像素子１３により出力される画像の画素信号がＣＣＤ撮像素子１３のダイナミックレンジを超えないようにＣＣＤ撮像素子１３の撮像条件を設定することができるので、いっそう精度良く欠陥画素を検出して補正することができる。
【００７５】
なお、累積加算するフレーム数を操作入力部１８により入力し、入力されたフレーム数を強制的に累積加算数設定回路２４により設定するように構成すれば、例えばＣＣＤ撮像素子１３のランダムノイズを確実に低減することができる。さらに、アイリス１２のＦ値を操作入力部１８により入力し、入力されたＦ値を強制的に累積加算数設定回路２４により設定するように構成すれば、Ｆ値を固定して欠陥画素を検出することができる。例えば、Ｆ値を小さくすれば、前述の広角ズームポジションと同様の理由により、多くの欠陥画素を検出することが可能となる。
【００７６】
また、実施例１では、１枚目の画像の明るさの最大値および累積加算のためのフレーム数に基づいてＦ値および露光時間の２つのパラメータを設定するようにしているが、画像の明るさの最大値に基づいてフレーム数、Ｆ値および露光時間の３つのパラメータを設定するように構成することができる。この場合、フレーム数、Ｆ値および露光時間の３つのパラメータの最適化を図ることができる。
【００７７】
さらに、実施例１によれば、固体撮像素子として、ＣＣＤ撮像素子を用いているが、固体撮像素子は、ＣＣＤに限るものではなく、ＣＭＯＳ撮像素子等の撮像素子でもよい。
【図面の簡単な説明】
【００７８】
【図１】実施例１の撮像装置の概略構成を示す図である。
【図２】図１に示されるＣＣＤ撮像素子１３の要部断面図である。
【図３】図２に示されるＣＣＤ撮像素子１３の入射光の説明図である。
【図４】画像信号のばらつきと画像の明るさとの関係を示す図である。
【図５】図４に示されるＡＡ´断面の画像信号のノイズ成分の分布を示す図である。
【符号の説明】
【００７９】
１１……レンズ、１２……アイリス、１３……ＣＣＤ撮像素子、１４……ＣＤＳ回路、１５……Ａ／Ｄ変換回路、１６……欠陥補正回路、１７……画像処理回路、１８……記憶媒体、１９……操作表示部、２１……フレームメモリ、２２……加算器、２３……微小欠陥検出回路、２４……累積加算数設定回路、２５……撮像条件設定回路、２６……微小欠陥ＲＯＭ、２７……黒点白点ＲＯＭ、３１……レンズ制御回路３１、３２……アイリス制御回路、３３……ＣＣＤ駆動回路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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