(57)【要約】  【課題】  ユーザに与える違和感を少なくしながら画面の焼き付きを防止するプラズマディスプレイを提供することである。  【解決手段】  プラズマディスプレイ１０は、ＰＤＰ２５と、輝度制御部２８と、画素単位の電圧を検出する画素電圧検出部３０と、時間を計測する計時部２６とを備え、画素電圧検出部３０は、画素単位の経時的な電圧変化を検出し、輝度制御部２８は、電圧が所定時間以上一定である画素の輝度を経時的であって段階的に所定の輝度まで低下させ、前記所定時間は、検出される画素の電圧の高低に応じて決定する構成とする。【選択図】      図１
2006011082.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
プラズマディスプレイパネルと輝度制御部とを有するプラズマディスプレイにおいて、
画素単位の電圧を検出する画素電圧検出部と、時間を計測する計時部とを備え、
前記画素電圧検出部は、所定電圧より高い電圧の画素について経時的な電圧変化を検出
し、
前記輝度制御部は、画素単位の経時的な電圧変化を検出し、
ＯＳＤ表示されている画素の電圧が第１の所定時間以上一定である場合は、該画素の輝
度を経時的であって段階的に前記所定の輝度まで低下させ、
映像信号が表示されている画素の電圧が第２の所定時間以上一定である場合は、全画素
の輝度を経時的であって段階的に前記所定の輝度まで低下させ、
前記第１の所定時間は、検出される画素の電圧の高低に応じて決定し、
前記第２の所定時間は、ユーザにより設定された輝度レベルの高低に応じて決定するこ
とを特徴とするプラズマディスプレイ。
【請求項２】
プラズマディスプレイパネルと輝度制御部とを有するプラズマディスプレイにおいて、
画素単位の電圧を検出する画素電圧検出部と、時間を計測する計時部とを備え、
前記画素電圧検出部は、画素単位の経時的な電圧変化を検出し、
前記輝度制御部は、電圧が所定時間以上一定である画素の輝度を低下させることを特徴
とするプラズマディスプレイ。
【請求項３】
前記輝度の低下は、経時的であって段階的に所定の輝度まで低下させることを特徴とす
る請求項２記載のプラズマディスプレイ。
【請求項４】
前記電圧変化が検出される画素は、ＯＳＤ表示されている画素であることを特徴とする
請求項２又は３記載のプラズマディスプレイ。
【請求項５】
前記電圧変化が検出される画素は、映像信号が表示されている画素であることを特徴と
する請求項２又は３記載のプラズマディスプレイ。
【請求項６】
前記所定時間は、検出される画素の電圧の高低に応じて決定することを特徴とする請求
項２〜５の何れかに記載のプラズマディスプレイ。
【請求項７】
ユーザにより複数の輝度レベルの中から所望の輝度レベルが設定されている場合、前記
所定時間は、該輝度レベルの高低に応じて決定することを特徴とする請求項２〜５の何れ
かに記載のプラズマディスプレイ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラズマディスプレイパネルと輝度制御部とを有するプラズマディスプレイ
に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、プラズマディスプレイが、大型化、広視野角という点から注目されている。この
プラズマディスプレイは、長時間表示をすると蛍光体の劣化等が原因で画面の焼き付きが
生じる。プラズマディスプレイは放電により発生する真空紫外線を利用した蛍光体のフォ
トルミネッセンスを利用している。このため、放電による電極表面の劣化並びにイオン衝
撃及び真空紫外線暴露等による蛍光体の劣化が起こる。このような電極表面の劣化及び蛍
光体の劣化は放電回数に依存する。即ち、表示の輝度が高いほど、つまり単位時間あたり
の放電回数が多いほど、蛍光体の劣化が早く、部分的に高輝度で発光させると、周囲の部
分との輝度に差が生じ、短時間で焼き付きが発生しやすい。この焼き付きを防止するため
に以下のような方法が提案されている。
【０００３】
例えば特許文献１には、入力信号が変化している場合の輝度より入力信号が変化してい
ない場合の輝度を低く制御するプラズマディスプレイ装置が開示されている。
【０００４】
また特許文献２は、ＣＲＴディスプレイ装置において、画面上有効となる部分の画素を
デジタルデータとして取り出し、フレーム又はフィールド間の同一が素管でデータを比較
し、データに変化がないかどうかを判定する。そして、現在ＣＲＴ蛍光体上に映し出して
いる映像が静止画であるかを検出し、且つ、前記で取り出された画素の信号振幅値をデジ
タルデータとして取り扱うことにより、デジタルデータの最小値と最大値を取り出し、現
在の映像の高輝度部分と低輝度部分のコントラストがＣＲＴ焼き付きの可能性が予想され
るほど大きいことを検出し、映像が静止画で且つ、高輝度部分と低輝度部分のコントラス
トがＣＲＴ焼き付きの可能性が予想されるほど大きいという前記二つの検出結果が同時に
成り立つ状態の継続時間を常に計測し、継続時間が任意の保護動作を行うことにより、Ｃ
ＲＴ蛍光体の焼き付きを防止するという作用を有する。
【０００５】
また特許文献３には、静止画が継続される場合輝度を抑制する方向で制御し、パネル温
度上昇を抑制してパネル信頼性を向上させるプラズマディスプレイパネルの駆動方法が開
示されている。
【特許文献１】特開２００１−３０６０２６号公報
【特許文献２】特開２００２−４４５６９号公報
【特許文献３】特開２００１−１２５５３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１〜３では焼き付き防止のために輝度を下げる場合に画面全体
の輝度を下げており、これは焼き付きの心配がない動画部分の輝度も一緒に下げることに
なる。例えばＯＳＤ表示で受信中のチャンネル番号を表示している場合には、静止画があ
ると判断して画面全体の輝度を下げてしまい、見づらい画面となる。またこの現象を回避
するために画面のＯＳＤ表示されない一部分を検出して静止画か動画かを判断すると、映
像の一部分が静止し、他の部分が動いている場合は、必ずしも検出部分が静止画であると
は限らず、適切に輝度を下げることができない。
【０００７】
本発明は、ユーザに与える違和感を少なくしながら画面の焼き付きを防止するプラズマ
ディスプレイを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために本発明は、プラズマディスプレイパネルと輝度制御部とを有
するプラズマディスプレイにおいて、画素単位の電圧を検出する画素電圧検出部と、時間
を計測する計時部とを備え、前記画素電圧検出部は、所定電圧より高い電圧の画素につい
て経時的な電圧変化を検出し、前記輝度制御部は、画素単位の経時的な電圧変化を検出し
、ＯＳＤ表示されている画素の電圧が第１の所定時間以上一定である場合は、該画素の輝
度を経時的であって段階的に前記所定の輝度まで低下させ、映像信号が表示されている画
素の電圧が第２の所定時間以上一定である場合は、全画素の輝度を経時的であって段階的
に前記所定の輝度まで低下させ、前記第１の所定時間は、検出される画素の電圧の高低に
応じて決定し、前記第２の所定時間は、ユーザにより設定された輝度レベルの高低に応じ
て決定することを特徴とする。
【０００９】
また本発明は、プラズマディスプレイパネルと輝度制御部とを有するプラズマディスプ
レイにおいて、画素単位の電圧を検出する画素電圧検出部と、時間を計測する計時部とを
備え、前記画素電圧検出部は、画素単位の経時的な電圧変化を検出し、前記輝度制御部は
、電圧が所定時間以上一定である画素の輝度を低下させることを特徴とする。
【００１０】
なお、前記輝度の低下は、経時的であって段階的に所定の輝度まで低下させるものとす
ることができる。
【００１１】
また、前記電圧変化が検出される画素は、ＯＳＤ表示されている画素又は映像信号が表
示されている画素とすることができる。
【００１２】
また、前記所定時間は、検出される画素の電圧の高低に応じて決定することができる。
【００１３】
また、ユーザにより複数の輝度レベルの中から所望の輝度レベルが設定されている場合
、前記所定時間は、該輝度レベルの高低に応じて決定することができる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によると、静止画か否かを画素単位で判断し、長時間静止画を表示している画素
の輝度を徐々に下げることにより、ユーザに与える違和感を少なくしながら画面の焼き付
きを防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、デジタルテレビジョン放送に対応したプラズマディスプレイを例に説明する。図
１は、プラズマディスプレイ１０の構成を示すブロック図である。１１はユーザが電源の
オン／オフ操作、選局操作、音量や輝度レベルの調整操作等の各種操作を行う操作部であ
る。なお、操作部１１は遠隔操作可能なリモコンとしてもよい。１２はデジタル放送波を
受信するアンテナ部であり、１３はアンテナ部１２で受信したデジタル放送波から所望の
チャンネルの放送を選局するチューナ部、１４はチューナ部１３からの出力波をデジタル
信号に変換するＡ／Ｄ変換部、１５はその出力をデータに復調する復調部である。
【００１６】
また、１６は復調部１５で復調されたデータを種別毎に分離して出力するＴＳデマルチ
プレクサであり、１７はその分離されたデータを記憶するＲＡＭ、１８はデジタルテレビ
１０の動作に必要な情報を記憶しているＲＯＭである。なお、ＲＯＭ１８には後述するＯ
ＳＤ制御のためのＯＳＤデータも記憶されている。１９はＲＡＭ１７に記憶されたデータ
中の音声データをアナログ化するＤ／Ａ変換部であり、２０はＤ／Ａ変換部１９によりア
ナログ化された音声データを出力する音声信号出力部、２１は音声を放音するスピーカで
ある。
【００１７】
また、２２はＲＡＭ１７に記憶されたデータ中の映像データを圧縮前の映像データに復
号化するＭＰＥＧ２デコード部であり、２３はその復号化された映像データをＮＴＳＣ復
号テレビジョン信号に復号化するＮＴＳＣエンコード部、２４はそのＮＴＳＣ復号テレビ
ジョン信号を出力したり、後述するＯＳＤ表示を出力したりする映像信号・ＯＳＤ出力部
、２５は映像を表示するＰＤＰ（Plasma Display Panel）である。
【００１８】
また、２６は時間を計測する計時部である。２７は音量などの音声信号を制御する音声
制御部であり、２８はＰＤＰ２５の輝度を制御する輝度制御部、２９はＰＤＰ２５へのメ
ニューの表示、又は音声や輝度レベル調整の表示を制御するＯＳＤ（On Screen Display
）制御部、３０は画素単位の電圧を検出する画素電圧検出部、３１はプラズマディスプレ
イ１０の動作を制御するＭＰＵである。
【００１９】
図２は、各画素に対するプラズマディスプレイ１０の動作を示すフローチャートである
。ＰＤＰ２５の駆動中に、ステップＳ１０において画素電圧検出部３０は各画素の印加電
圧を検出し、ステップＳ１１へ進んで各電圧が予め設定された所定電圧（例えば最大電圧
の５０％）より高いか否かを判別する。ステップＳ１１において画素の電圧が所定電圧以
下の場合は、輝度が低く焼き付き防止の処理が必要ないと判断して、ステップＳ１０に戻
る。一方、ステップＳ１１において画素の電圧が所定電圧よりも高い場合は、ステップＳ
１２へ進んで計時部２６で電圧が変化するまでの時間を計測する。電圧が変化した場合は
時間をリセットしてから計測する。
【００２０】
次にステップＳ１２からステップＳ１３へ進んで計時部２６の計測時間が所定時間以上
であるか否かを判別する。つまり静止画が所定時間以上表示されているか否かを判別する
。ステップＳ１３において所定時間未満である場合は、まだ焼き付きの心配はないと判断
して、ステップＳ１０に戻る。一方、ステップＳ１３において所定時間以上である場合は
、ステップＳ１４へ進んで焼き付き防止処理を実行する。その後、ステップＳ１０に戻る
。
【００２１】
この焼き付き防止処理は、焼き付きが起こりにくい低電圧（例えば最大電圧の５０％）
に下げる処理とすることができる。また、静止画が続く限り経時的であって段階的に所定
の電圧まで低下させる処理とすることができる。例えば、５分毎に電圧を１０％ずつ低下
させ、最大電圧の５０％まで低下させる方法とすることができる。なお、５分毎に輝度を
１０％ずつ低下させ、最大輝度の５０％まで低下させるように電圧を制御しても効果は同
じである。
【００２２】
上記ステップＳ１３における所定時間は、検出される画素の電圧の高低に応じて決定す
ることができる。つまり、電圧が予め設定された基準値より高ければ、焼き付きが早く起
こりやすいので、上記所定時間を短くする（例えば３分）。一方、電圧が上記基準値より
低ければ焼き付きが起こりにくいので上記所定時間を長くする（例えば５分）。なお、所
定時間の切り替えは上記のように２段階とするだけでなく、３段階以上としてもよい。
【００２３】
また上記ステップＳ１３における所定時間は、ユーザにより複数の輝度レベルの中から
所望の輝度レベルが設定されている場合、該輝度レベルの高低に応じて決定することがで
きる。つまり、設定された輝度レベルが予め設定された基準値より高ければ、焼き付きが
早く起こりやすいので、上記所定時間を短くする（例えば３分）。一方、設定された輝度
レベルが上記基準値より低ければ焼き付きが起こりにくいので上記所定時間を長くする（
例えば５分）。なお、所定時間の切り替えは上記のように２段階とするだけでなく、３段
階以上としてもよい。例えば、ユーザが設定可能な輝度レベルが１０段階ある場合は、１
０段階の所定時間を設けることができる。
【００２４】
なお、上記ステップＳ１０で検出する各画素に現在表示されている画像が、チューナ部
１３からの映像信号か、又はＲＯＭ１８から読み出されたＯＳＤ表示かをＭＰＵ３１が判
断することは可能である。
【００２５】
そこで、ＯＳＤ表示されている画素の電圧が第１の所定時間以上一定である場合は、該
画素の輝度を経時的であって段階的に所定の輝度まで低下させ、一方、映像信号が表示さ
れている画素の電圧が第２の所定時間以上一定である場合は、全画素の輝度を経時的であ
って段階的に所定の輝度まで低下させるように制御してもよい。更に、第１の所定時間は
、検出される画素の電圧の高低に応じて決定し、第２の所定時間は、ユーザにより設定さ
れた輝度レベルの高低に応じて決定してもよい。
【００２６】
このＯＳＤ表示されている画素の焼き付き防止処理は図２と同様の動作とすることがで
きる。これにより、静止画であるＯＳＤ表示部分のみの輝度を低下させ、テレビジョン放
送の映像は変化させないので、ユーザに違和感を与えることなく画面の焼き付きを防止で
きる。
【００２７】
一方、映像信号が表示されている画素の焼き付き防止処理は、全画素の輝度を低下させ
ることにより行うので、映像の一部が静止画である場合でも全画素の輝度を低下させるこ
とになる。換言すれば映像の一部が静止画である場合でも静止している画素のみの輝度を
低下させることがない。従って、映像のコントラストを変えずに輝度を下げるので、映像
の奥行きを保つことができる。
【００２８】
なお、本発明において静止画の検出は画素の電圧の変化を検出する以外の手段を用いて
もよい。
【産業上の利用可能性】
【００２９】
本発明のプラズマディスプレイは、デジタルやアナログ放送対応のプラズマディスプレ
イをはじめ、映像を表示するプラズマディスプレイに広く利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】プラズマディスプレイの構成を示すブロック図である。
【図２】各画素に対するプラズマディスプレイの動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００３１】
１０    プラズマディスプレイ
２５    ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）
２６    計時部
２８    輝度制御部
３０    画素電圧検出部
【図１】
2006011082.tif 000003
【図２】
2006011082.tif 000004