(57)【要約】【課題】  半導体集積回路装置のレジスタ構成にあわせてレジスタライブラリを変更することにより、汎用のソフトウェアにより短期間で、効率よくサンプル評価を行う。【解決手段】  サンプル評価を行うレジスタ設定プログラムＲＰは、レジスタ制御に関する製品依存のない標準機能を有したサンプル評価を行うすべての半導体集積回路装置に対応する汎用プログラムであるレジスタ設定メインプログラムＲＰＭと、特定のレジスタを指定するアドレスと、そのレジスタに格納されるデータとを示したワードなどを含む、半導体集積回路装置２の製品毎に設けられるレジスタライブラリＲＰＬ１〜ＲＰＬｎとからなる。評価の際には、汎用のレジスタ設定メインプログラムＲＰＭと分離した任意のレジスタライブラリを選択する。【選択図】  図２
2006133865.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レジスタ制御に関する製品依存のない標準機能を有したサンプル評価を行うすべての半導体集積回路装置に対応する汎用プログラムであるレジスタ設定プログラム本体と、半導体集積回路装置の製品毎に個々に対応したレジスタ構成に合わせて用意されるデータよりなる複数のレジスタライブラリとを有し、
前記レジスタライブラリは、少なくとも前記半導体集積回路装置における任意のレジスタを指定するアドレスと、前記レジスタに格納されるデータとを示したワード情報を製品毎にそれぞれ備え、
任意の前記半導体集積回路装置の試作評価を行う際には、前記複数のレジスタライブラリのうち、試作評価を行う前記半導体集積回路装置のレジスタ構成に対応した前記レジスタライブラリを選択することを特徴とする半導体集積回路装置の設計方法。
【請求項２】
請求項１記載の半導体集積回路装置の設計方法において、
前記レジスタライブラリは、前記ワード情報のビット長が格納されていることを特徴とする半導体集積回路装置の設計方法。
【請求項３】
請求項１または２記載の半導体集積回路装置の設計方法において、
前記レジスタ設定プログラム本体は、
ＧＵＩパーツやレジスタマップなどの表示を行うＧＵＩ制御機能を有し、
前記レジスタライブラリは、前記ＧＵＩ制御機能によりＧＵＩ表示された操作機能の構成、および表示などを変更するＧＵＩ情報を有し、
ＧＵＩ表示された操作機能により、前記ワード情報を変更することを特徴とする半導体集積回路装置の設計方法。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか１項に記載の半導体集積回路装置の設計方法において、
前記レジスタライブラリは、
シリアル信号の出力するシリアル通信パターン情報を有し、
前記シリアル通信パターン情報は、
前記ワード情報をシリアル信号の通信パターンに変換して出力することを特徴とする半導体集積回路装置の設計方法。
【請求項５】
請求項４記載の半導体集積回路装置の設計方法において、
前記シリアル通信パターン情報は、
前記シリアル信号の通信パターンを出力する際の通信用インタフェースにおける送受信用端子を割り付ける情報を有したことを特徴とする半導体集積回路装置の設計方法。
【請求項６】
請求項１〜５のいずれか１項に記載の半導体集積回路装置の設計方法において、
前記レジスタライブラリは、前記データの関連づけを行うデータ関連づけ機能を有し、
前記データ関連づけ機能は、任意のレジスタのワード情報が任意の設定条件に変更された際に、前記データ関連づけ情報に基づいて前記任意のレジスタに関連するすべてのレジスタのワード情報に含まれるデータを、前記任意のレジスタの設定条件に関連するように自動的に変更することを特徴とする半導体集積回路装置の設計方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体集積回路装置の試作評価技術に関し、特に、ソフトウェアによる半導体集積回路装置の試作評価に適用して有効な技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
移動体通信の１つである携帯電話などに広く用いられているＲＦ（高周波）処理用の半導体集積回路装置に代表されるアナログ／デジタル混載の半導体集積回路装置などにおいては、製品の多様性や開発期間の短縮化などに伴い、該半導体集積回路装置の試作品を早期に顧客に提供することが重要となっている。
【０００３】
半導体集積回路装置の試作評価（サンプル）の１つとして、評価用ソフトウェアによってパーソナルコンピュータなどから発生させたテスト信号を半導体集積回路装置のロジック部を構成する各種レジスタにマッピングし、ロジック部を様々な状態に遷移させる技術がある。半導体集積回路装置に格納された情報を読み出す技術がある。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところが、上記のようなソフトウェアによる半導体集積回路装置のサンプル評価技術では、次のような問題点があることが本発明者により見い出された。
【０００５】
すなわち、評価用ソフトウェアは、半導体集積回路装置の品種毎にレジスタの仕様などが異なるために１つの評価用ソフトウェアによって汎用的に複数の品種の半導体集積回路装置に対して利用することができない。
【０００６】
そのために、新規の専用プログラム（評価プログラム）を品種毎に開発しなければならず、該プログラムの設計期間が長期化するとともに、コストが大きくなってしまうという問題がある。
【０００７】
また、半導体集積回路装置の開発においては、たとえば、顧客の要求などによって回路変更やレジスタの仕様変更などが発生する場合があり、それに伴い、開発した専用プログラムの修正などが生じると、プログラムの修正工数が新たに必要となり、該プログラム設計要求に対する即時対応ができない恐れが生じてしまう。
【０００８】
さらに、複数のプログラム開発依頼が同時期に発生した際には、対応する複数品種の半導体集積回路装置の中からその開発優先度を決めて品種毎にプログラム開発を行う必要があるが、プログラム修正などが発生した場合、複数の品種の半導体集積回路装置への即時対応ができなくなってしまう恐れがある。
【０００９】
本発明の目的は、半導体集積回路装置が有する各種の制御レジスタの構成、および機能にあわせてレジスタライブラリを変更・選択することにより、基本となるソフトウェアとレジスタライブラリとの組み合わせにより短期間で、効率よく、かつ低コストで半導体集積回路装置のサンプル評価を行うことのできる技術を提供することにある。
【００１０】
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次のとおりである。
【００１２】
本発明による半導体集積回路装置の設計方法は、レジスタ制御に関する製品依存のない標準機能を有し、サンプル評価を行うすべての半導体集積回路装置に対応する汎用プログラムであるレジスタ設定プログラム本体と、半導体集積回路装置の製品毎に個々に対応したレジスタ構成に合わせて用意されるデータよりなる複数のレジスタライブラリとを有し、該レジスタライブラリは、少なくとも半導体集積回路装置における任意のレジスタを指定するアドレスと、レジスタに格納されるデータとを示したワード情報製品毎にそれぞれ備え、任意の半導体集積回路装置の試作評価を行う際には、複数のレジスタライブラリのうち、試作評価を行う半導体集積回路装置のレジスタ構成に対応したレジスタライブラリを選択するものである。レジスタライブラリに格納されたワード情報は、たとえば、任意の半導体集積回路装置が有する制御レジスタへ格納されるべき情報である。
【００１３】
また、本願のその他の発明の概要を簡単に示す。
【００１４】
本発明による半導体集積回路装置の設計方法は、レジスタライブラリにワード情報のビット長が格納されているものである。
【００１５】
また、本発明による半導体集積回路装置の設計方法は、レジスタ設定プログラム本体が、ＧＵＩパーツやレジスタマップなどの表示を行うＧＵＩ（Ｇｒａｐｈｉｃａｌ  Ｕｓｅｒ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）制御機能を有し、レジスタライブラリは、ＧＵＩ制御機能によりＧＵＩ表示された操作機能の構成、および表示などを変更するＧＵＩ情報を有し、ＧＵＩ表示された操作機能により、ワード情報を変更するものである。
【００１６】
さらに、本発明による半導体集積回路装置の設計方法は、レジスタライブラリが、半導体集積回路装置に対して出力すべきシリアル信号の出力パターンであるシリアル通信パターン情報を有する。シリアル通信パターン情報とは、ワード情報をシリアル信号の通信パターンに変換して半導体集積回路装置に対して出力するときの出力パターンである。レジスタ設定プログラムは、シリアル通信パターン情報に基づいて、試作評価の対象となる製品のワード情報をシリアル信号へ変換するものである。
【００１７】
また、本発明による半導体集積回路装置の設計方法は、シリアル通信パターン情報が、シリアル信号の通信パターンを出力する際の通信用インタフェースにおける送受信用端子を割り付ける情報を有したものである。レジスタ設定プログラムは、シリアル信号へ変換されたワード情報を送受信用端子を割り付ける情報に基づいて半導体集積回路装置に対して出力することが可能である。
【００１８】
さらに、本発明による半導体集積回路装置の設計方法は、レジスタライブラリが、データの関連づけを行うデータ関連づけ機能を有し、該データ関連づけ機能は、任意のレジスタのワード情報が任意の設定条件に変更された際に、関連づけ情報に基づいて任意のレジスタに関連するすべてのレジスタのワード情報を、任意のレジスタの設定条件に関連するように自動的に変更するものである。
【発明の効果】
【００１９】
本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以下のとおりである。
【００２０】
（１）設計対象となる製品毎にその製品の情報を有するレジスタライブラリを変更・選択することにより、該レジスタライブラリと組み合わせるべきレジスタ設定プログラムを変更することなく容易に異なる製品の半導体集積回路装置のサンプル評価を行うことが可能となり、試作評価用のプログラムの開発コストを大幅に削減し、開発期間を短縮することができる。
【００２１】
（２）また、半導体集積回路装置の回路変更やレジスタの仕様変更などが発生しても、その製品毎に特有なレジスタライブラリの情報を変更・選択するのみであるため、短期間でフレキシブルに対応することができる。
【００２２】
（３）上記（１）、（２）により、半導体集積回路装置の信頼性を向上させながら、該半導体集積回路装置のコストを小さくすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の部材には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。
【００２４】
図１は、本発明の一実施の形態によるサンプル評価システムの説明図、図２は、図１のサンプル評価システムを構成するホストにインストールされたレジスタ設定プログラムのプログラム構成の一例を示した説明図、図３は、図２のレジスタ設定プログラムに備えられたレジスタライブラリの内容の一例を示した説明図、図４は、図３のレジスタライブラリを構成するレジスタマップ情報の説明図、図５は、図３のレジスタライブラリを構成するシリアル通信パターン情報におけるライト時の一例を示す信号タイミングチャート、図６は、図３のレジスタライブラリを構成するシリアル通信パターン情報におけるリード時の一例を示す信号タイミングチャート、図７は、図３のレジスタライブラリを構成する送受信ピン情報の一例を示した説明図、図８は、図１のサンプル評価システムに設けられたホストのモニタに表示された製品毎のＧＵＩ画面の表示例をそれぞれ示した説明図、図９は、図１のサンプル評価システムによるレジスタ設定プログラムの処理例を示すフローチャートである。
【００２５】
本実施の形態において、サンプル評価システム１は、たとえば、アナログ／デジタル混載の半導体集積回路装置２のサンプル評価を行う。サンプル評価システム１は、図１に示すように、パーソナルコンピュータなどのホスト３、および評価用ボード４から構成されている。
【００２６】
ホスト３と評価用ボード４とは、たとえばシリアル通信ケーブル５を介して接続されている。ホスト３においては、該ホスト３の通信用インタフェース（たとえば、プリンタポート）によってシリアル通信ケーブル５が接続されている。このシリアル通信ケーブル５とホスト３との接続は、プリンタポート以外であってもよく、半導体集積回路装置へデータを通信するために必要な端子数（例えば３端子以上）を備えたシリアル信号を出力することのできるインタフェースであればよい。
【００２７】
また、ホスト３と評価用ボードとの接続はシリアル信号に限らず、パラレル信号を出力可能な通信用インタフェースを介して接続されていてもよい。更に、ＵＳＢインタフェースや、無線通信を利用して半導体集積回路装置へデータを送信させるようにしていてもよい。サンプル評価に必要なデータを送受信可能であれば、何れの汎用インタフェースを利用してもよい。
【００２８】
ホスト３には、レジスタ設定プログラムＲＰ（図２）がインストールされており、評価用ボード４に実装された半導体集積回路装置２のサンプル評価を行う。
【００２９】
レジスタ設定プログラムＲＰは、様々な通信パターンを発生して半導体集積回路装置２のロジック部を構成する各種レジスタにワード（図４）データを書き込んでマッピングを行い、サンプル評価を実行するとともに、それらのレジスタに設定された情報や半導体集積回路中に格納されている情報などを評価中に必要に応じてホスト３へ読み込むことも可能である。
【００３０】
図２は、レジスタ設定プログラムＲＰのプログラム構成の一例を示した説明図である。
【００３１】
レジスタ設定プログラムＲＰは、図示するように、レジスタ設定メインプログラム（レジスタ設定プログラム本体）ＲＰＭ、および半導体集積回路装置２の製品（品種）毎に設けられるレジスタライブラリＲＰＬ１〜ＲＰＬｎから構成されている。
【００３２】
レジスタ設定メインプログラムＲＰＭは、レジスタ制御に関する製品依存のない標準機能を有しており、サンプル評価を行うすべての半導体集積回路装置に対応する汎用プログラムである。
【００３３】
このレジスタ設定メインプログラムＲＰＭの機能としては、たとえば、ＧＵＩ制御（ＧＵＩ制御機能）、レジスタライブラリＲＰＬ１〜ＲＰＬｎのセキュリティ制御、通信制御、プラットフォーム制御、レジスタライブラリの読み込み、レジスタライブラリ定義、半導体集積回路装置の対応、および自動計測プログラムの対応などである。
【００３４】
レジスタライブラリＲＰＬ１〜ＲＰＬｎは、該レジスタライブラリＲＰＬ１〜ＲＰＬｎを構成する情報のうち、少なくともレジスタマップ情報がユーザなどの第三者によって書き換えられない保護機能を有するようにしてもよい。これにより、レジスタライブラリＲＰＬ１〜ＲＰＬｎの転用や書き換えなどを防止し、セキュリティを向上させることができる。また、該保護機能により、レジスタライブラリの改ざんによって、各種制御レジスタに設定すべき値の変更され、それに伴う製品の誤動作を防ぐことも可能となる。
【００３５】
ＧＵＩ制御は、ＧＵＩパーツやレジスタマップなどの表示を行う機能である。所定数のビットを有する複数のレジスタ、評価用ボードとの通信制御を定義つけられる制御用ボタン、各種制御に必要とされる文字情報等、サンプル評価に必要とされる表示情報が多数含まれている。
【００３６】
レジスタライブラリのセキュリティ制御は、レジスタライブラリやレジスタマップなどを保護する機能である。
【００３７】
通信制御は、レジスタライブラリに含まれるシリアル通信パターン制御に従ったワードデータ（ワード情報）のシリアル信号変換、シリアル信号へ変換されたワードデータの送信、および半導体集積回路装置からのレジスタ情報の受信や送受信データの解析などを行う機能である。
【００３８】
プラットフォーム制御は、ホスト３における様々なＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ）に対応する機能である。
【００３９】
レジスタライブラリの読み込みは、レジスタライブラリデータファイルのホスト３が有するメモリへの読み込みやライブラリデータ記述の解析などを行う機能である。
【００４０】
レジスタライブラリ定義は、シリアル通信パターン定義、プリンタポート（通信インタフェース）の送受信定義、ホスト３の通信用インタフェースやアドレス定義、ＧＵＩの使い勝手の定義など行う機能である。
【００４１】
半導体集積回路装置の対応は、レジスタ制御操作の変更・設定履歴の記録（レジスタマクロ記録）や該設定・変更履歴に従ったレジスタ制御操作の再実行（レジスタタマクロ実行）などを行う機能である。
【００４２】
図３は、レジスタライブラリＲＰＬ１（〜ＲＰＬｎ）の内容の一例を示した説明図である。
【００４３】
レジスタライブラリＲＰＬ１〜ＲＰＬｎは、製品毎のターゲットとなる半導体集積回路装置のレジスタ構成に合わせて用意されるデータであり、該レジスタライブラリＲＰＬ１（〜ＲＰＬｎ）は、レジスタマップ情報、シリアル通信パターン情報、送受信ピン情報、ＧＵＩの使い勝手情報（ＧＵＩ情報）、ならびにレジスタ制御仕様などから構成されている。これらの情報の他に必要であれば、製品毎に有する所定の制御用データを有していてもよい。
【００４４】
レジスタマップ情報は、図４に示すように、ターゲットとなる半導体集積回路装置のレジスタに対応した複数のワード（’Ｗｏｒｄ１〜Ｗｏｒｄｎ’）から構成されている。ワードは、特定のレジスタを指定するアドレス情報と、そのレジスタに格納されるデータとを示したものである。
【００４５】
図４の各ワードにおいて、’ＲＷ’（先頭ビット）は、ライト（ｗ）かリード（ｒ）かを示すビット、’Ａ６〜Ａ０’は、レジスタのアドレスを示すビットであり、’Ｄ１２〜Ｄ０’は、レジスタに格納されるデータを示すビットである。必要に応じて各制御レジスタに設定すべき初期データを送付可能な構成であってもよい。
【００４６】
シリアル通信パターン情報は、ホスト３から半導体集積回路装置２に書き込む（ライト）際、ならびに半導体集積回路装置２からホスト３に読み出される（リード）際の通信パターンの情報である。シリアル通信パターン情報は、たとえば、クロック信号、ワード（図４）データ、およびチップイネーブル信号などの半導体集積回路装置２の制御信号や評価用ボード４の制御信号などのほかに、信号の初期レベル／終了レベル、レジスタのラッチタイミング（クロック信号の立ち上がり／立ち下がり）、ワードのビット長の可変／固定、アドレスやデータのビット位置などからなる。
【００４７】
シリアル通信パターン情報は、レジスタ設定メインプログラムＲＰＭに含まれる通信制御に従って、各種信号の信号変換を行い、ホスト３と半導体集積回路装置とのデータの通信を行うものである。
【００４８】
図５は、ホスト３から半導体集積回路装置２に対するライト時のシリアル通信パターン情報における一例を示した信号タイミングチャートであり、図６は、リード時のシリアル通信パターン情報における一例を示した信号タイミングチャートである。
【００４９】
図５、図６においては、上方から下方にかけて、クロック信号、ワードデータ、その他の制御信号におけるタイミングチャートをそれぞれ示している。
【００５０】
まず、図５に示すライト時において、ワードデータは、先頭ビットがライト動作を示すＬｏ（’０’）レベル信号となり、その後、アドレス、データがホスト３から半導体集積回路装置２に対して順次出力される。
【００５１】
また、図６に示すリード時には、ワードデータの先頭ビットがリード動作を示すＨｉ（’１’）レベル信号となり、その後、アドレスが半導体集積回路装置２に対して出力される。続いて、半導体集積回路装置２から、入力されたアドレスに対応したレジスタのデータが、半導体集積回路装置２からホスト３に対して出力される。
【００５２】
ここで、半導体集積回路装置に対して送信される信号のパターンは、レジスタライブラリに含まれるシリアル通信パターン情報に従ってホスト３にて信号変換されるものであって、該シリアル通信パターン情報に応じて通信されるべき信号の組み合わせは様々に選択することが可能となる。
【００５３】
図７は、送受信ピン情報の情報例を示した説明図である。図７の上方は、ライト時における送受信ピン情報を示したものであり、その下方には、リード時における送受信ピン情報を示している。
【００５４】
送受信ピン情報は、図示するように、ライト時における信号出力ピン番号と出力信号名、およびリード時における信号受信ピン番号と読み込み信号名から構成される。信号出力ピン番号は、ライト時にホスト３から半導体集積回路装置２に対して出力される信号出力ピン番号を示したものであり、出力信号名は、出力される信号の種類を示したものである。
【００５５】
信号受信ピン番号は、リード時に半導体集積回路装置２から出力された信号をホスト３が受信する際のピン番号を示したものであり、読み込み信号名は、半導体集積回路装置２から読み込んだ信号の種類を示す情報である。
【００５６】
たとえば、ライト時において、ホスト３の通信用インタフェースの４ピンからは、半導体集積回路装置２に対するイネーブル信号が出力されることを示している。同様に、リード時にはホスト３の通信用インタフェースの７ピンによって半導体集積回路装置２からワードデータが入力されることになる。
【００５７】
ＧＵＩの使い勝手情報は、ホスト３のモニタに表示される操作機能の構成や表示などを変更する情報である。また、このＧＵＩの使い勝手情報には、データ関連づけ機能を有している。
【００５８】
データ関連づけ機能は、特定の数式に基づいて関連するレジスタの特定ビットを指定して該レジスタの値を自動的に変更する。
【００５９】
たとえば、複数の周波数（チャンネル）で動作する高周波処理用の半導体集積回路装置では、各チャンネルで該半導体集積回路装置が動作するかを確認する際に、該当するチャンネルに見合った基準周波数の変更などが必要となる。
【００６０】
このとき、あるレジスタの特定ビットに第１の条件を指定すると、その他の関連するすべてのレジスタが第１の条件に従うように関連するレジスタのビットが自動的に変更されることになる。
【００６１】
同様に、あるレジスタの特定ビットに第２の条件を指定すると、その他の関連するすべてのレジスタが第２の条件に従うように関連するレジスタのビットが自動的に変更されることになる。
【００６２】
図８は、ホスト３のモニタに表示された製品毎のＧＵＩ画面Ｇ１〜Ｇ３の表示例をそれぞれ示したものである。
【００６３】
この場合、図４に示したレジスタテーブルに対応したＧＵＩ画面Ｇ１〜Ｇ３が表示される。たとえば、ＧＵＩ画面Ｇ２においては、左から右にかけて、ワードＡ〜ワードＤの設定情報がそれぞれ表示されており、右端には、製品毎に最適な使い勝手となるように割り当てられたファンクションキーが表示されている。
【００６４】
また、ＧＵＩ画面Ｇ１では、高周波処理用の半導体集積回路装置において用いられる周波数の設定を行う「周波数入力欄」が専用に設けられている。
【００６５】
図８の右下は、ＧＵＩ画面Ｇ２のワードＡの設定情報を拡大した図である。
【００６６】
ワードの設定情報は、図示すように、左上方にワード名が表示され、その右側にホスト３から半導体集積回路装置にワードデータを送信する’Ｗボタン（送信ボタン）’が配置されている。
【００６７】
そして、ワード名、および’Ｗボタン’の下方には、半導体集積回路装置内に配置されるレジスタを指定するためのアドレス情報、ワードに含まれる複数のビットの機能を示すビット名、および各レジスタに格納されるデータ（ビット値）がそれぞれ表示されている。
【００６８】
これらのＧＵＩで表示される情報は、レジスタライブラリに格納されるレジスタマップ情報や、ＧＵＩの使い勝手情報に従い容易に変更可能であって、例えばワード内の入力欄の表示の制御、ファンクションキーの機能設定およびそのボタンの表示制御等について任意に設定可能である。
【００６９】
レジスタ制御仕様は、製品毎の半導体集積回路装置２における状態制御やリセット方法などの仕様に関する情報であり、たとえば、レジスタに送信するワードデータの送信順序などを制御する。
【００７０】
また、レジスタライブラリＲＰＬ１（〜ＲＰＬｎ）としては、レジスタマップ情報、シリアル通信パターン情報、送受信ピン情報、ＧＵＩの使い勝手情報、ならびにレジスタ制御仕様など以外に、必要に応じて通信用インタフェースの出力ピン名や機能説明などのヘルプ情報などの情報を備えるようにしてもよい。
【００７１】
次に、本実施の形態におけるサンプル評価システム１によるレジスタ設定プログラムＲＰの処理について、図９のフローチャートを用いて説明する。
【００７２】
図９では、ホスト３から半導体集積回路装置２に通信制御、およびシリアル通信パターン情報を用いて、シリアル通信データがライトされる際のフローチャートを示している。
【００７３】
まず、サンプル評価を行う製品の半導体集積回路装置が指定され、ホスト３にインストールされているレジスタ設定プログラムＲＰが起動し、ホスト３のハードディスクなどに格納されている指定された半導体集積回路装置に対応するレジスタライブラリ（たとえば、レジスタライブラリＲＰＬ１）のデータがホスト３のメモリに読み込まれる（ステップＳ１０１）。
【００７４】
ここでは、レジスタ設定プログラムＲＰが起動した際に、予め設定されたレジスタライブラリＲＰＬ１が読み込まれるものとしたが、レジスタ設定プログラムＲＰが起動した際に予め読み込まれるレジスタライブラリは、ホスト３によって任意に変更可能となっている。
【００７５】
続いて、ホスト３は、読み込んだレジスタライブラリＲＰＬ１に基づいて、レジスタマップ、シリアル通信パターン、および通信用インタフェースの送受信ピンなどを確定し、ホスト３のモニタに対応する半導体集積回路装置のＧＵＩ画面（図８）を表示する（ステップＳ１０２）。
【００７６】
その後、ユーザがＧＵＩ画面を操作し、ワードデータに格納されたデータを必要に応じて変更し、’全ワード送信’などの送信指示を行うと（ステップＳ１０３，Ｓ１０４）ホスト３は、レジスタライブラリのシリアル通信パターン情報とレジスタマップ情報とを合成してシリアル通信データを生成し（ステップＳ１０５）、ホスト３の通信用インタフェースから半導体集積回路装置２に対して該シリアル通信データを出力する（ステップＳ１０６）。
【００７７】
次に、ユーザへのレジスタ設定プログラムＲＰの頒布方法について説明する。
【００７８】
レジスタ設定プログラムＲＰは、たとえば、ＣＤ−ＲＯＭ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ−Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）、ＤＶＤ―ＲＯＭ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ−ＲＯＭ）、ＤＶＤ−ＲＡＭ（ＤＶＤ−Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）などの記録媒体に記録されて頒布される。
【００７９】
これら記録媒体には、たとえば、レジスタ設定メインプログラムＲＰＭと該当する製品となる半導体集積回路装置のレジスタライブラリとの組み合わせ、レジスタ設定メインプログラムＲＰＭとレジスタライブラリＲＰＬ１〜ＲＰＬｎと対象製品専用のレジスタ設定プログラムとの組み合わせ、または、レジスタ設定メインプログラムＲＰＭとレジスタライブラリＲＰＬ１〜ＲＰＬｎとの組み合わせなどから、いずれかの組み合わせとなるレジスタ設定プログラムＲＰを格納する。
【００８０】
そして、いずれか１つの組み合わせのレジスタ設定プログラムＲＰが格納された記録媒体を１つの提供単位としてユーザに頒布することにより、最適な組み合わせを用いて半導体集積回路装置の開発に利用することが可能となる。
【００８１】
また、レジスタ設定プログラムＲＰは、記憶媒体による頒布だけではなく、たとえば、インターネットなどの通信回線を介して流通されることにより、対象製品毎にレジスタ制御の開発を容易に実現することができる。
【００８２】
それにより、本実施の形態によれば、レジスタライブラリＲＰＬ１〜ＲＰＬｎを変更するだけで、容易に半導体集積回路装置２のサンプル評価を行うことができるので、プログラムの開発コストを大幅に小さくし、開発期間を短縮することができるとともに、半導体集積回路装置の回路変更やレジスタの仕様変更などが発生してもフレキシブルに対応することができる。
【００８３】
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００８４】
本発明は、汎用のソフトウェアを用いることにより、製品毎の半導体集積回路装置のレジスタ構成にあわせたサンプル評価を、短期間で、効率よく、かつ低コストで行うことのできる技術を提供する。
【図面の簡単な説明】
【００８５】
【図１】本発明の一実施の形態によるサンプル評価システムの説明図である。
【図２】図１のサンプル評価システムを構成するホストにインストールされたレジスタ設定プログラムのプログラム構成の一例を示した説明図である。
【図３】図２のレジスタ設定プログラムに備えられたレジスタライブラリの内容の一例を示した説明図である。
【図４】図３のレジスタライブラリを構成するレジスタマップ情報の説明図である。
【図５】図３のレジスタライブラリを構成するシリアル通信パターン情報におけるライト時の一例を示す信号タイミングチャートである。
【図６】図３のレジスタライブラリを構成するシリアル通信パターン情報におけるリード時の一例を示す信号タイミングチャートである。
【図７】図３のレジスタライブラリを構成する送受信ピン情報の一例を示した説明図である。
【図８】図１のサンプル評価システムに設けられたホストのモニタに表示された製品毎のＧＵＩ画面の表示例をそれぞれ示した説明図である。
【図９】図１のサンプル評価システムによるレジスタ設定プログラムの処理例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００８６】
１  サンプル評価システム
２  半導体集積回路装置
３  ホスト
４  評価用ボード
５  シリアル通信ケーブル
ＲＰ  レジスタ設定プログラム
ＲＰＭ  レジスタ設定メインプログラム（レジスタ設定プログラム本体）
ＲＰＬ１〜ＲＰＬｎ  レジスタライブラリ
【図１】
2006133865.tif 000003
【図２】
2006133865.tif 000004
【図３】
2006133865.tif 000005
【図４】
2006133865.tif 000006
【図５】
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【図６】
2006133865.tif 000008
【図７】
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【図８】
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【図９】
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