(57)【要約】【課題】  記憶媒体から読み出したＲＦ信号からこの記憶媒体の欠陥を検出すること。【解決手段】  記憶媒体から読み出したＲＦ信号のピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号がピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号がピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、暗欠陥検出回路を制御して暗欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、制御回路は、ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも低いピークホールド信号を検出すると暗欠陥検出回路を制御して暗欠陥検出信号の出力を可とする。【選択図】  図２
2006318616.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記憶媒体から読み出したＲＦ信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、
前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、
前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、
前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、
前記制御回路は、
前記暗欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする欠陥検出回路。
【請求項２】
記憶媒体から読み出したＲＦ信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、
前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、
前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、
前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、
前記制御回路は、
前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする欠陥検出回路。
【請求項３】
記憶媒体から読み出したＲＦ信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、
前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、
前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、
前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とすると共に、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、
前記制御回路は、
前記暗欠陥検出信号又は前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第１の基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすると共に、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第２の基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする欠陥検出回路。
【請求項４】
前記制御回路は、
前記暗欠陥検出回路における前記ピークホールド信号のピークのホールドを停止させることによって、前記暗欠陥検出信号の出力を不可とすることを特徴とする請求項１又は請求項３に記載の欠陥検出回路。
【請求項５】
前記制御回路は、
前記明欠陥検出回路における前記ピークホールド信号のボトムのホールドを停止させることによって、前記明欠陥検出信号の出力を不可とすることを特徴とする請求項２又は請求項３に記載の欠陥検出回路。
【請求項６】
前記制御回路は、
前記ピークホールド信号をローパスフィルタ部へ入力することによって前記基準信号を生成することを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の欠陥検出回路。
【請求項７】
記憶媒体から読み出したＲＦ信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、
前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、
前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、
前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とすると共に、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路を設けた記憶媒体再生装置において、
前記制御回路は、
前記暗欠陥検出信号又は前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第１の基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすると共に、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第２の基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする記憶媒体再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記憶媒体再生装置の欠陥検出回路に関し、さらに詳しくは、光ディスクなどの記憶媒体から読み出したＲＦ信号からこの記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路及びそれを有する記憶媒体再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、大量のデータを記録することができる大容量の記録媒体として、光ディスクが広く用いられており、このような光ディスクに記録されたデータは、光ディスク再生装置を用いて再生される。
【０００３】
光ディスク再生装置は、まず光ディスクに読み取り用の光を照射し、その反射光から光ピックアップを用いてＲＦ信号を生成する。続いて、このＲＦ信号に基づいて入力信号を生成した後、この入力信号を信号処理回路で処理することによって光ディスクに記録させたデータを再生する。
【０００４】
ところで、光ディスク再生装置において再生する光ディスク上にキズや汚れ等などがある場合、光ディスクからの光の反射量が著しく小さくなる暗欠陥や、光ディスクからの光の反射量が著しく大きくなる明欠陥が発生することがある。このような暗欠陥や明欠陥が発生すると、光ディスク再生装置は、光ディスクからデータを正確に読み取ることができないことがある。
【０００５】
そのため、光ディスク再生装置は、光ディスク上の欠陥を検出する欠陥検出回路を有しており、この欠陥検出回路から出力される信号に基づいて光ピックアップのフォーカス制御やトラッキング制御等のサーボ制御を行うことによりデータを正確に再生するようにしている（たとえば、特許文献１参照。）。
【０００６】
この欠陥検出回路100は、図４に示すように、光ピックアップを用いて光ディスクに読み取り用として照射された光の反射光からＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成器101と、第１のピークホールド回路102と、この第１のピークホールド回路102の時定数よりも大きい時定数を有する第２のピークホールド回路103と、第２のピークホールド回路103の出力レベルを調整するレベル調整回路104と、第１のピークホールド回路102の出力とレベル調整回路104の出力とを比較する比較回路105とから構成される。
【０００７】
このように構成した欠陥検出回路100では、第１のピークホールド回路102は、ＲＦ信号S100に対する信号追従性が早い回路構成となっており、ＲＦ信号S100をピークホールドしたピークホールド信号S101（以下、「ＲＦＰＨ信号」ということもある。）を出力する。
【０００８】
一方、第２のピークホールド回路103は、第１のピークホールド回路102よりも時定数が大きく信号追従性の遅い回路構成となっている。従って、入力されたピークホールド信号は、第２のピークホールド回路103によって、ピークホールド信号S101よりも緩慢に変動する中間信号S102を出力するように構成されている。
【０００９】
レベル調整回路104は、中間信号S102の信号レベルを所定値だけ下げて、中間信号S102の信号レベルが暗欠陥発生部分以外でピークホールド信号S101の信号レベルよりも低くなるようにレベル調整した閾値信号S103（以下、「ＤＦＰＢＳＬＶ信号」ということもある。）を生成する。
【００１０】
比較回路105は、ピークホールド信号S101の信号レベルが閾値信号S103の信号レベルよりも低い場合に、「Ｈ」レベルとなるＤＦＣＴ信号Ｓ104（以下、「欠陥検出信号」とする。）を出力する。
【００１１】
そして、光ピックアップは、この欠陥検出回路100が欠陥検出信号を出力する間、トラッキングの動作を停止させたトラッキングホールド状態なる。その後、ＤＦＣＴ信号Ｓ104が再び「Ｌ」レベルとなったときに、トラッキングホールド状態を解除することによって光ディスク上の欠陥に対処する。
【００１２】
つまり、光ディスク再生装置は、図５に示すように、ＤＦＣＴ信号Ｓ104を生成する際に、入力信号Ｓ100に対する信号追従性が早いピークホールド信号Ｓ101と、このピークホールド信号Ｓ101よりも信号追従性の遅い閾値信号Ｓ103とを比較することによって、ピークホールド信号Ｓ101のレベルが閾値信号Ｓ103のレベルよりも低くなったとき（図５のＴ101〜Ｔ102の期間）に「Ｈ」レベルとなる欠陥検出信号Ｓ104を生成し、この欠陥検出信号Ｓ104を用いて光ディスク上の欠陥に対処するようにしている。
【００１３】
以上の欠陥検出回路100は、暗欠陥の発生を検出するものであるが、明欠陥の発生を検出することも同様の回路を用いることによって行なうことができる。
【００１４】
すなわち、ＲＦ信号のピークホールド信号と、このピークホールド信号のボトムをホールドしたボトムホールド信号をレベル調整した信号とを比較し、その結果を出力する明欠陥検出回路を用いることによって明欠陥を検出することができる。
【特許文献１】特開２０００−９０４４６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
ところで、上述の暗欠陥の発生を検出する欠陥検出回路においては、ＲＦ信号のピークホールド信号を用いて暗欠陥の検出をすることができるが、明欠陥が発生したときにまで、上述の第２のピークホールド回路103のピークホールド動作が行なわれると、図６に示すように、Ｔ105とＴ108との間において、暗欠陥がないにもかかわらず欠陥検出信号を出力、すなわち誤検出することになる。このことは、明欠陥を検出する回路の場合でも同様である。
【００１６】
このような誤検出を防止するためには、再生中のＲＦ信号に明欠陥が発生している間、特に発生した明欠陥の終わり初め（図６中のＴ104時点）から明欠陥の終了（図６中のＴ107時点）までの間、上述の第２のピークホールド回路103のピークホールド動作を停止する必要がある。
【００１７】
そこで、明欠陥の発生を検出する明欠陥回路を設ける必要があるが、ディスク上の明欠陥は、種々の原因で発生するため、その欠陥状態も多種多様であり、そのために明欠陥の終わり初めやその終了（すなわち、図６のＴ104、Ｔ107）を完全に検出することは極めて困難である。
【００１８】
そのため、上述の第２のピークホールド回路103のピークホールドを停止する信号（以下、「ＰＨＯＦＦ」とする。）として、上述の明欠陥検出回路で検出された明欠陥検出信号を使用しても、図７に示すように、Ｔ106の後、暗欠陥検出回路による暗欠陥の誤検出が行なわれることになる。
【００１９】
したがって、図８に示すように、明欠陥検出回路による明欠陥検出時及びその後一定期間αをＰＨＯＦＦ信号とすることによって、上述の暗欠陥検出回路の誤検出を防止しなければならなかった。なお、上記一定期間とは、種々の欠陥状態に対応できるようにマージンを考慮した一定期間である。
【００２０】
ところが、図９に示すように、明欠陥と暗欠陥の間隔が短く、明欠陥検出後一定期間α内に暗欠陥が発生してしまうことがある。明欠陥検出後一定期間α内は第２のピークホールド回路のピークホールド動作が停止しているため、図９に示すように、図中Ｔ109〜Ｔ111において検出すべき暗欠陥を検出できないという問題が生じる。同様の問題は、明欠陥検出の場合でも発生する。
【課題を解決するための手段】
【００２１】
かかる課題を解決するため、請求項１に記載の発明は、記憶媒体から読み出したＲＦ信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、前記制御回路は、前記暗欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする。
【００２２】
また、請求項２に記載の発明は、記憶媒体から読み出したＲＦ信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、前記制御回路は、前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする。
【００２３】
また、請求項３に記載の発明は、記憶媒体から読み出したＲＦ信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とすると共に、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、前記制御回路は、前記暗欠陥検出信号又は前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第１の基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすると共に、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第２の基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする。
【００２４】
また、請求項４に記載の発明は、請求項１又は請求項３に記載の発明において、制御回路は、暗欠陥検出回路におけるピークホールド信号のピークのホールドを停止させることによって、暗欠陥検出信号の出力を不可とすることを特徴とする
【００２５】
また、請求項５に記載の発明は、請求項２又は請求項３に記載の発明において、制御回路は、明欠陥検出回路におけるピークホールド信号のボトムのホールドを停止させることによって、明欠陥検出信号の出力を不可とすることを特徴とする。
【００２６】
また、請求項６に記載の発明は、請求項１〜請求項５のいずれかに記載の発明において、制御回路は、ピークホールド信号をローパスフィルタ部へ入力することによって基準信号を生成することを特徴とする。
【００２７】
また、請求項７に記載の発明は、記憶媒体から読み出したＲＦ信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とすると共に、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路を設けた記憶媒体再生装置において、前記制御回路は、前記暗欠陥検出信号又は前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第１の基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすると共に、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第２の基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とすることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２８】
請求項１に記載の発明によれば、記憶媒体から読み出したＲＦ信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、前記制御回路は、前記暗欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とするので、明欠陥が発生した後すぐに暗欠陥が発生した場合であってもその暗欠陥の発生を検出することができ、より確実な欠陥検出を行うことが可能となる。
【００２９】
また、請求項２に記載の発明によれば、記憶媒体から読み出したＲＦ信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、前記制御回路は、前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とするので、暗欠陥が発生した後すぐに明欠陥が発生した場合であってもその明欠陥の発生を検出することができ、より確実な欠陥検出を行うことが可能となる。
【００３０】
また、請求項３に記載の発明によれば、記憶媒体から読み出したＲＦ信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とすると共に、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路において、前記制御回路は、前記暗欠陥検出信号又は前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第１の基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすると共に、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第２の基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とするので、明欠陥が発生した後すぐに暗欠陥が発生した場合であってもその暗欠陥の発生を検出することができ、更に暗欠陥が発生した後すぐに明欠陥が発生した場合であってもその明欠陥の発生を検出することができ、より確実な欠陥検出を行うことが可能となる。
【００３１】
また、請求項４に記載の発明によれば、制御回路は、暗欠陥検出回路におけるピークホールド信号のピークのホールドを停止させることによって、暗欠陥検出信号の出力を不可とすることで、暗欠陥検出回路の動作の停止を容易に行うことができる。
【００３２】
また、請求項５に記載の発明によれば、制御回路は、明欠陥検出回路におけるピークホールド信号のボトムのホールドを停止させることによって、明欠陥検出信号の出力を不可とすることで、暗欠陥検出回路の動作の停止を容易に行うことができる。
【００３３】
また、請求項６に記載の発明によれば、制御回路は、ピークホールド信号をローパスフィルタ部へ入力することによって基準信号を生成することで、明欠陥及び暗欠陥が発生しても、ピークホールド信号に基づいて安定した一定の信号レベルの基準信号を容易に生成することができる。
【００３４】
また、請求項７に記載の発明によれば、記憶媒体から読み出したＲＦ信号のピークをホールドしてピークホールド信号を生成するピークホールド回路と、前記ピークホールド信号のピークをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも高いレベルのときに暗欠陥検出信号を出力する暗欠陥検出回路と、前記ピークホールド信号のボトムをホールドすると共にレベルを調整した信号が前記ピークホールド信号よりも低いレベルのときに明欠陥検出信号を出力する明欠陥検出回路と、前記明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を不可とすると共に、前記暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を不可とする制御回路とを備えることにより前記記憶媒体上の欠陥を検出する欠陥検出回路を設けた記憶媒体再生装置において、前記制御回路は、前記暗欠陥検出信号又は前記明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第１の基準信号よりも低いレベルのピークホールド信号を検出すると前記暗欠陥検出回路を制御して前記暗欠陥検出信号の出力を可とすると共に、前記ピークホールド信号に基づいて生成した第２の基準信号よりも高いレベルのピークホールド信号を検出すると前記明欠陥検出回路を制御して前記明欠陥検出信号の出力を可とするので、明欠陥が発生した後すぐに暗欠陥が発生した場合であってもその暗欠陥の発生を検出することができ、更に暗欠陥が発生した後すぐに明欠陥が発生した場合であってもその明欠陥の発生を検出することができ、より確実な欠陥検出を行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３５】
以下に、本発明に係る記録媒体再生装置である光ディスク再生装置Ａについて図面を参照しながら具体的に説明する。図１は光ディスク再生装置Ａにおけるブロック構成図であり、特に再生制御に関する部位を表している。
【００３６】
光ディスク再生装置Ａは、図１に示すように、光ディスク１に記録されたデータを光学的に読み取るための光ピックアップ２と、光ディスク１の再生制御用のアナログＲＦ（Radio Frequency）信号やアナログＴＥ（Tracking Error）信号を生成するＲＦアンプ３と、ＲＦ信号やＴＥ信号をデジタルデータへ変換するＡ／Ｄコンバータ４，５と、ＴＥ信号からトラッキング制御信号を生成するループフィルタ６と、トラッキングをホールドするための信号を生成するホールドフィルタ７と、ＲＦ信号から光ディスク上の欠陥を検出する欠陥検出回路８と、光ピックアップにトラッキング制御信号を出力するトラッキング駆動回路９と、切替部10とを有している。
【００３７】
なお、Ａ／Ｄコンバータ４，５、ループフィルタ６、ホールドフィルタ７、欠陥検出回路８は、ＤＳＰ（Digital Ｓignal Processor）などのデジタル処理回路によって構成される。
【００３８】
光ピックアップ２は、光ディスク１にデータ読み取り用の光を照射し、この光の反射量に応じたアナログデータ信号Ｓ１を生成してＲＦアンプ３に入力する。
【００３９】
ＲＦアンプ３は、光ピックアップ２から入力されたアナログデータ信号Ｓ１を増幅させることによりＲＦ（Radio Frequency）信号Ｓ２を生成して、Ａ／Ｄコンバータ５にＲＦ信号Ｓ２を入力する。また、光ピックアップ２から入力されたアナログデータ信号Ｓ１よりＴＥ信号Ｓ２´を生成してＡ／Ｄコンバータ４にこのＴＥ信号Ｓ２´を入力する。
【００４０】
Ａ／Ｄコンバータ４は、ＲＦアンプ３で生成されたアナログＴＥ信号Ｓ２´をデジタルＴＥ信号Ｓ３に変換し、このデジタルＴＥ信号Ｓ３をループフィルタ６とホールドフィルタ７にそれぞれ入力する。また、Ａ／Ｄコンバータ５は、ＲＦアンプ３で生成されたアナログＲＦ信号をデジタルＲＦ信号に変換し、このデジタルＲＦ信号Ｓ４を欠陥検出回路８に入力する。
【００４１】
ループフィルタ６は、このデジタルＴＥ信号Ｓ３からトラッキング制御信号を生成し、このように生成されたトラッキング制御信号Ｓ５は、後述の欠陥検出回路８からの出力信号Ｓ７に応じて選択的にトラッキング駆動回路９へ入力される。
【００４２】
ホールドフィルタ７は、デジタルＴＥ信号Ｓ３の低域成分を抽出した信号Ｓ６を生成し、このように生成された信号Ｓ６は、後述の欠陥検出回路８からの出力信号Ｓ７に応じて選択的にトラッキング駆動回路９へ入力される。
【００４３】
欠陥検出回路８は、その内部で暗欠陥検出信号及び明欠陥検出信号をそれぞれ生成すると共に、これらの信号の論理和をとって欠陥検出信号（「Ｈ」レベルのＤＦＣＴ信号）Ｓ７を生成して、この欠陥検出信号Ｓ７を切替部10へ入力する。
【００４４】
なお、明欠陥検出信号は、データ記録時に光ディスク１上に付着していたゴミや汚れがデータ再生時に取れたこと等によって、光ピックアップ２が読み取る光の反射量が著しく大きくなる明欠陥の検出を示すための信号であり、後述の明欠陥検出回路51から出力される「Ｈ」レベルの信号である。
【００４５】
また、暗欠陥検出信号は、データを再生する際に、光ディスク１上にゴミや汚れ等が付着していること等によって光ピックアップ２が読み取る光の反射量が著しく小さくなる暗欠陥の検出を示す信号であり、後述の暗欠陥検出回路50から出力される「Ｈ」レベルの信号である。
【００４６】
また、切替部10は、ＤＦＣＴ信号Ｓ７が「Ｌ」レベルで出力されている状態では、ループフィルタ６からのトラッキング制御信号をトラッキング駆動回路９へ出力する一方、ＤＦＣＴ信号Ｓ７が「Ｈ」レベルで出力されている状態では、ホールドフィルタ７からの信号Ｓ６をトラッキング駆動回路９へ出力する。
【００４７】
トラッキング駆動回路９は、通常、ループフィルタ６からトラッキング制御信号に基づいて、光ディスク１からデータをピックアップするスポットの位置を光ディスク１上のトラックの真ん中になるように信号Ｓ８によって光ピックアップ２を制御するトラッキング制御を行う一方、欠陥検出回路８が「Ｈ」レベルのＤＦＣＴ信号を出力している間は、ホールドフィルタ７からの信号Ｓ６に基づいて一定の駆動信号を出力し、光ピックアップ２のトラッキング制御をホールド状態とする。
【００４８】
すなわち、トラッキング駆動回路９は、欠陥検出回路８から欠陥検出信号が入力されていない期間においては、通常のトラッキング制御を行うためのトラッキング制御信号Ｓ５に基づいて光ピックアップ２を制御する一方、欠陥検出回路８から欠陥検出信号が入力されている期間においては、ＴＥ信号Ｓ３の低域成分のみを抽出することにより生成した信号Ｓ６に基づいて光ピックアップ２を制御することにより、トラッキング制御をホールド状態にするように構成している。
【００４９】
以下に、本実施の形態に係る光ディスク再生装置Ａに内蔵している欠陥検出回路８について、図２、図３を参照しながら、具体的に説明する。
【００５０】
図２に示すように、欠陥検出回路８は、デジタルＲＦ信号Ｓ４のピークをホールドしてピークホールド信号（以下、「ＲＦＰＨ信号」とする。）を生成して出力するピークホールド回路30と、デジタルＲＦ信号Ｓ４に発生する暗欠陥を検出する暗欠陥検出回路50と、同じくデジタルＲＦ信号Ｓ４に発生する明欠陥を検出する明欠陥検出回路51と、暗欠陥検出回路50及び明欠陥検出回路51とを制御する制御回路52と、明欠陥検出回路51の出力と明欠陥検出回路51の出力の論理和を演算する論理和回路49とから構成されている。
【００５１】
ピークホールド回路30は、入力信号であるデジタルＲＦ信号Ｓ４に対する信号追従性が早い回路構成としており、デジタルＲＦ信号Ｓ４のピークの変化を敏感にホールドしたピークホールド信号を生成する。
【００５２】
暗欠陥検出回路50は、ピークホールド回路30よりも時定数が大きく、ＲＦＰＨ信号よりも信号追従性の遅いピークホールド信号Ｓ11を生成するピークホールド回路41と、ピークホールド回路41で生成された信号Ｓ11の信号レベルを所定値ｘ１だけ低くなるように調整する第１の信号レベル調整回路42と、第１の信号レベル調整回路42でレベル調整された信号Ｓ12とＲＦＰＨ信号とを比較する第１の比較回路43とによって構成される。
【００５３】
また、ピークホールド回路41は、後述の第２のパルス延長回路66から「Ｌ」レベルの信号Ｓ18が出力されている状態では、ピークホールド制御を行う一方、第２のパルス延長回路66から「Ｈ」レベルの信号Ｓ18が出力されると、ピークホールド制御を停止し、入力されるＲＦＰＨ信号をそのまま出力する。
【００５４】
明欠陥検出回路51は、ピークホールド回路41のピークホールドの時定数と同等のボトムホールドの時定数をもち、ＲＦＰＨ信号のボトムホールドを行ってボトムホールド信号Ｓ14を生成するボトムホールド回路45と、ボトムホールド回路45で生成された信号Ｓ14の信号レベルを所定値ｘ２だけ高くなるように調整する第２の信号レベル調整回路46と、第２の信号レベル調整回路46でレベル調整された信号Ｓ15とＲＦＰＨ信号とを比較する第２の比較回路47とによって構成される。
【００５５】
また、ボトムホールド回路45は、後述の第１のパルス延長回路63から「Ｌ」レベルの信号Ｓ17が出力されている状態では、ボトムホールド制御を行う一方、第１のパルス延長回路63から「Ｈ」レベルの信号Ｓ17が出力されると、ボトムホールド制御を停止し、入力されるＲＦＰＨ信号をそのまま出力する。
【００５６】
制御回路52は、フィルタ部60と、第３の信号レベル調整回路61と、第４の信号レベル調整回路64と、第３の比較回路62と、第４の比較回路65と、第１のパルス延長回路63と、第２のパルス延長回路66とから構成されている。
【００５７】
フィルタ部60は、内部にフィルタを有しており、この内部フィルタへのクロック供給を行うことによりフィルタ機能を作動させる。このフィルタ機能は、入力されるＲＦＰＨ信号の高周波成分を減衰し、低周波領域を通過させる機能を有し、代数的に平均値をとることと等価である。
【００５８】
また、このフィルタ部60へは論理和回路49の出力であるＤＦＣＴ信号Ｓ７が接続されており、このＤＦＣＴ信号Ｓ７によってフィルタ部60のフィルタ機能の制御が行われる。
【００５９】
すなわち、フィルタ部60は、ＤＦＣＴ信号のレベルが「Ｌ」となっている間は、内部フィルタへのクロック供給を行うことによってＲＦＰＨ信号の高周波領域を減衰させる一方、ＤＦＣＴ信号のレベルが「Ｈ」になっている間、すなわち欠陥検出信号が出力されている間、ノイズ耐性を強化するために、内部フィルタへのクロック供給を停止すると共に、フィルタ出力を固定する。
【００６０】
このように、暗欠陥や明欠陥を検出しているときにはフィルタ動作を停止すると共にフィルタ出力を固定するので、フィルタ部60は、ＲＦＰＨ信号に高周波成分である明欠陥や暗欠陥が発生しているときであっても、これら暗欠陥や明欠陥に影響されることなく変動の少ない信号Ｓ21を生成し、出力することができる。
【００６１】
また、第３の信号レベル調整回路61は、フィルタ部60から出力される信号Ｓ21の信号レベルを所定値ｘ３だけ高くなる信号Ｓ22を出力するように調整する。
【００６２】
また、第４の信号レベル調整回路64はフィルタ部60から出力される信号Ｓ21の信号レベルを所定値ｘ４だけ低くなる信号Ｓ23を出力するように調整する。
【００６３】
第３の比較回路62は、第３の信号レベル調整回路61から出力される信号Ｓ22とＲＦＰＨ信号との信号レベルの比較を行い、信号Ｓ22のレベルがＲＦＰＨよりも高いときには、「Ｌ」レベルの信号を出力し、一方、信号Ｓ22のレベルがＲＦＰＨよりも低いときには、「Ｈ」レベルの信号を出力する。
【００６４】
また、第４の比較回路65は、第４の信号レベル調整回路64から出力される信号Ｓ23とＲＦＰＨ信号との信号レベルの比較を行い、信号Ｓ23のレベルがＲＦＰＨ信号のレベルよりも低いときには、「Ｌ」レベルの信号を出力し、一方、信号Ｓ23のレベルがＲＦＰＨよりも高いときには、「Ｈ」レベルの信号を出力する。
【００６５】
第１のパルス延長回路63は、暗欠陥検出回路50の出力信号Ｓ13が「Ｈ」レベルとなったときに動作を開始し、ボトムホールド回路45のボトムホールド制御を停止させるために「Ｈ」レベルの信号Ｓ17をボトムホールド回路45へ出力する。このようにボトムホールド制御を停止することによって、明欠陥検出回路51からの明欠陥検出信号の出力を不可とする状態にしている。
【００６６】
また、第１のパルス延長回路63は、暗欠陥検出回路50の出力信号Ｓ13が「Ｈ」レベルを維持している状態では、ボトムホールド回路45への「Ｈ」レベルの信号Ｓ17の出力を継続すると共に、暗欠陥検出回路50の出力信号Ｓ13が「Ｈ」レベルから「Ｌ」レベルになった後であっても、期間αだけ「Ｈ」レベルの信号Ｓ17の出力を継続し、期間αが経過すると、信号Ｓ17のレベルを「Ｌ」とする。
【００６７】
また、第１のパルス延長回路63は、ボトムホールド回路45への「Ｈ」レベルの信号Ｓ17の出力を継続している状態であっても、第３の比較回路62から「Ｈ」レベルの信号が入力されると、信号Ｓ17のレベルを「Ｌ」へ変更する。すなわち、明欠陥検出回路51からの明欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、第３の比較回路62から「Ｈ」レベルの信号が入力されると、明欠陥検出回路51からの明欠陥検出信号の出力を可とする。
【００６８】
第２のパルス延長回路66は、明欠陥検出回路51の出力信号Ｓ16が「Ｈ」レベルとなったときに動作を開始し、ピークホールド回路41のピークホールド制御を停止させるために「Ｈ」レベルの信号Ｓ18をピークホールド回路41へ出力する。このようにピークホールド制御を停止することによって、暗欠陥検出回路50からの暗欠陥検出信号の出力を不可とした状態としている。
【００６９】
また、第２のパルス延長回路66は、明欠陥検出回路51の出力信号Ｓ16が「Ｈ」レベルを維持している状態では、ピークホールド回路41への「Ｈ」レベルの信号Ｓ18の出力を継続すると共に、明欠陥検出回路51の出力信号Ｓ16が「Ｈ」レベルから「Ｌ」レベルになった後であっても、期間βだけ「Ｈ」レベルの信号Ｓ18の出力を継続し、期間βが経過すると、信号Ｓ18レベルを「Ｌ」とする。
【００７０】
また、第２のパルス延長回路66は、ピークホールド回路41への「Ｈ」レベルの信号Ｓ18の出力を継続している状態であっても、第４の比較回路65から「Ｈ」レベルの信号が入力されると、信号Ｓ18レベルを「Ｌ」へ変更する。すなわち、暗欠陥検出回路50からの暗欠陥検出信号の出力を不可としている状態であっても、第４の比較回路65から「Ｈ」レベルの信号が入力されると、暗欠陥検出回路50からの暗欠陥検出信号の出力を可とする。
【００７１】
以上のように構成された欠陥検出回路８について、光ディスク１上で暗欠陥、明欠陥、暗欠陥と、欠陥部同士が近接して連続的に存在した場合のその動作を、図３を用いて具体的に説明する。
【００７２】
まず、図３の期間（ａ）において、ＲＦ信号に暗欠陥が発生することによってＲＦＰＨ信号のレベルが急激に低下する。一方、第１の信号レベル調整回路42からの出力信号Ｓ12はＲＦＰＨ信号に比べレベルの低下に対しての追従速度が遅いため、図３に示すT11のタイミングで、ＲＦＰＨ信号のレベルが信号Ｓ12のレベルよりも低くなる。
【００７３】
ＲＦＰＨ信号のレベルが信号Ｓ12のレベルよりも低くなると、第１の比較回路43の出力Ｓ13の信号レベルが「Ｌ」から「Ｈ」へと切り替わり、暗欠陥検出信号が出力される。この暗欠陥検出信号が第１の比較回路43によって出力されることにより、論理和回路49から「Ｈ」レベルの出力、すなわち欠陥信号の出力が行なわれると共に、第１のパルス延長回路63の出力信号Ｓ17が「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルへ移行し、それによってボトムホールド回路45のボトムホールド制御が停止する。
【００７４】
その後、ＲＦ信号の暗欠陥位置から無欠陥位置へ移行するときに、ＲＦＰＨ信号のレベルは急激に上昇する。一方、第１の信号レベル調整回路42からの出力信号Ｓ12はＲＦＰＨ信号よりも調整値ｘ１分小さくならないとＲＦＰＨ信号のレベル上昇への追従は行なわれないため、図３に示すT12のタイミングで、ＲＦＰＨ信号の信号レベルが出力信号Ｓ12の信号レベルを超えてしまう。
【００７５】
ＲＦＰＨ信号の信号レベルが出力信号Ｓ12の信号レベルを超えると、第１の比較回路43の出力Ｓ13の信号レベルが「Ｈ」から「Ｌ」へと切り替わり、暗欠陥検出信号として出力が終了する。なお、第１のパルス延長回路63は、ボトムホールド回路45のボトムホールド制御の停止を維持するために、「Ｈ」レベルの信号Ｓ17の出力を、暗欠陥検出信号の終了タイミングから一定期間αだけ継続する。
【００７６】
次に、図３の期間（ｂ）においては、この図３に示すように、ＲＦ信号に暗欠陥が発生した後、すぐに明欠陥が発生しているため、ＲＦＰＨ信号のレベルが急激に上昇する。そして、第３の信号レベル調整回路61からの出力信号Ｓ22をＲＦＰＨ信号のレベルが超える（図３のT13）と、第１のパルス延長回路63がリセットされ、この第１のパルス延長回路63からの出力信号Ｓ17の信号レベルは「Ｈ」から「Ｌ」に切り替わる。
【００７７】
第１のパルス延長回路63から出力される信号レベルが「Ｌ」に切り替わると、ボトムホールド回路45のボトムホールド動作の停止が解除され、ボトムホールド回路45によってＲＦＰＨ信号のボトムホールド動作が再開される（図３のT13）。
【００７８】
このボトムホールド動作が再開によって、ボトムホールド回路45の出力信号Ｓ14はＲＦＰＨ信号の急激なレベルの上昇に比べ、緩慢なレベル上昇の信号となり、ＲＦＰＨ信号の信号レベルが信号Ｓ15の信号レベルを超える（図３のT14）。
【００７９】
このようにＲＦＰＨ信号の信号レベルが信号Ｓ15の信号レベルを超えることによって、第２の比較回路47は、「Ｈ」レベルの出力、すなわち明欠陥検出信号を出力する。
【００８０】
この明欠陥検出信号によって、論理和回路49から「Ｈ」レベルの出力が行なわれると共に、第２のパルス延長回路66の出力信号Ｓ18が「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルへ移行し、それによってピークホールド回路41のピークホールド制御が停止する。
【００８１】
その後、ＲＦ信号の明欠陥位置から無欠陥位置へ移行するときに、ＲＦＰＨ信号のレベルは急激に下降する。一方、第２の信号レベル調整回路46からの出力信号Ｓ15はＲＦＰＨ信号よりも調整値ｘ２分だけ大きくならないとＲＦＰＨ信号のレベル下降への追従は行なわれないため、図３のT15のタイミングで、ＲＦＰＨ信号の信号レベルが出力信号Ｓ15の信号レベルを下回ってしまう。
【００８２】
出力信号Ｓ15の信号レベルがＲＦＰＨ信号の信号レベルを超えると、第２の比較回路47の出力Ｓ16の信号レベルが「Ｈ」から「Ｌ」へと切り替わり、明欠陥検出信号として出力が終了する。なお、第２のパルス延長回路66は、ピークホールド回路41のピークホールド制御の停止を維持するために、「Ｈ」レベルの信号Ｓ18を、明欠陥検出信号の終了タイミングから一定期間βだけ継続する。
【００８３】
次に、図３の期間（ｃ）においては、この図３に示すように、ＲＦ信号に明欠陥が発生した後、すぐに暗欠陥が発生しているため、ＲＦＰＨ信号のレベルが急激に下降する。そして、第４の信号レベル調整回路64からの出力信号Ｓ23がＲＦＰＨ信号のレベルを超える（図３のT16）と、第２のパルス延長回路66がリセットされ、第２のパルス延長回路66から出力される信号S18のレベルは「Ｈ」から「Ｌ」に切り替わる。
【００８４】
第２のパルス延長回路66から出力される信号S18のレベルが「Ｌ」に切り替わると、ピークホールド回路41のピークホールド動作の停止が解除され、ピークホールド回路41によってＲＦＰＨ信号のピークホールド動作が再開される。
【００８５】
このピークホールド動作の再開によって、ピークホールド回路41の出力信号Ｓ11はＲＦＰＨ信号の急激なレベルの下降に比べ、緩慢なレベル下降の信号となり、ＲＦＰＨ信号の信号レベルが信号Ｓ12の信号レベルを下回る（図３のT17）。
【００８６】
このようにＲＦＰＨ信号の信号レベルが信号Ｓ12の信号レベルを下回ることによって、第１の比較回路43は、「Ｈ」レベルの出力、すなわち暗欠陥検出信号を出力する。この暗欠陥検出信号によって、論理和回路49から「Ｈ」レベルの出力が行なわれると共に、第１のパルス延長回路63の出力信号Ｓ17が「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルへ移行し、それによってボトムホールド回路45のボトムホールド制御が停止する。
【００８７】
以上説明したように、本発明によれば、ＲＦ信号に明欠陥が発生した後すぐに暗欠陥が発生した場合、又は暗欠陥が発生した後すぐに明欠陥が発生した場合であっても、それらの欠陥の検出漏れを防止することができる欠陥検出回路および記憶媒体再生装置が提供できる。
【００８８】
なお、本実施の形態においては、明欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、暗欠陥検出回路を制御して暗欠陥検出信号の出力を不可とする方法として、ピークホールド回路のピークホールド動作を停止して、ＲＦＰＨ信号をそのまま通過させることとしたが、暗欠陥検出回路の出力を「Ｌ」レベルに固定するよう制御して、暗欠陥検出信号の出力を不可とするようにしてもよい。
【００８９】
また同様に、暗欠陥検出信号が出力されている期間及びその出力後一定期間、明欠陥検出回路を制御して明欠陥検出信号の出力を不可とする方法として、ボトムホールド回路のボトムホールド動作を停止して、ＲＦＰＨ信号をそのまま通過させることとしたが、明欠陥検出回路の出力を「Ｌ」レベルに固定するよう制御して、明欠陥検出信号の出力を不可とするようにしてもよい。
【００９０】
なお、本実施形態においては、ＲＦ信号をデジタル化して欠陥検出回路へ入力するようにしたが、欠陥検出回路にＡ／Ｄコンバータを設けることによってアナログＲＦ信号をそのまま欠陥検出回路を入力するようにしてもよい。
【００９１】
また、本実施の形態においては、欠陥検出回路をデジタル処理回路によって構成するようにしたが、アナログ回路で構成するようにしてもよい。
【００９２】
また、本実施の形態においては、ピークホールド回路30に位置をＡ／Ｄコンバータ５の後段に配置したが、Ａ／Ｄコンバータ５の前段（例えば、ＲＦアンプ３への内蔵）に配置するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００９３】
【図１】本発明の一実施の形態における記憶媒体再生装置のブロック図。
【図２】本発明の一実施の形態の欠陥検出回路のブロック図。
【図３】本発明の一実施の形態の欠陥検出回路の動作説明図。
【図４】従来の欠陥検出回路のブロック図。
【図５】図４の欠陥検出回路における信号波形を示す図。
【図６】欠陥検出回路の信号波形を示す図。
【図７】欠陥検出回路の信号波形を示す図。
【図８】欠陥検出回路の信号波形を示す図。
【図９】欠陥検出回路の信号波形を示す図。
【符号の説明】
【００９４】
１  光ディスク
２  光ピックアップ
３  ＲＦアンプ
４  Ａ／Ｄコンバータ
５  Ａ／Ｄコンバータ
８  欠陥検出回路
９  トラッキング駆動回路
３０  ピークホールド回路
５０  暗欠陥検出回路
５１  明欠陥検出回路
５２  制御回路
６０  フィルタ部
【図１】
2006318616.tif 000003
【図２】
2006318616.tif 000004
【図３】
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【図４】
2006318616.tif 000006
【図５】
2006318616.tif 000007
【図６】
2006318616.tif 000008
【図７】
2006318616.tif 000009
【図８】
2006318616.tif 000010
【図９】
2006318616.tif 000011