(57)【要約】【課題】  高精度で波長分散の測定が可能な波長分散測定装置を実現する。【解決手段】  群遅延時間や波長分散を測定する波長分散測定装置において、発振波長が可変な連続光を出力すると共に出力光の差周波数が常に一定になるように同期制御された第１及び第２の可変波長光源と、第１及び第２の可変波長光源の出力光をそれぞれ合波して差周波数の光強度変動を有する光信号に変換して２つに分岐させる光合波分波手段と、分岐され被測定対象を透過した一方の光信号を取り込み、分岐された他方の光信号をトリガ信号として波形表示させる光サンプリングオシロスコープとを備え、第１及び第２の可変波長光源の出力光の波長をそれぞれ変化させながら各波長における波形を観測し、観測されたそれぞれの波形から群遅延時間を求める。【選択図】                    図１
2006003262.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
群遅延時間や波長分散を測定する波長分散測定装置において、
発振波長が可変な連続光を出力すると共に出力光の差周波数が常に一定になるように同期制御された第１及び第２の可変波長光源と、
前記第１及び第２の可変波長光源の出力光をそれぞれ合波して前記差周波数の光強度変動を有する光信号に変換して２つに分岐させる光合波分波手段と、
分岐され被測定対象を透過した一方の前記光信号を取り込み、分岐された他方の前記光信号をトリガ信号として波形表示させる超広帯域の時間波形観測手段とを備え、
前記第１及び第２の可変波長光源の出力光の波長をそれぞれ変化させながら各波長における波形を観測し、観測されたそれぞれの波形から群遅延時間を求めることを特徴とする波長分散測定装置。
【請求項２】
分岐された他方の前記光信号を分周して前記超広帯域の時間波形観測手段のトリガ信号として印加する光分周手段を備えたことを特徴とする
請求項１記載の波長分散測定装置。
【請求項３】
前記光分周手段が、
前記光信号を分周した信号を出力する発振器と、
この発振器の出力の周波数を逓倍する逓倍器と、
入射される光信号を前記逓倍器の出力で光強度変調する光強度変調器と、
この光強度変調器の出力光を受光して電気信号に変換する受光器と、
この受光器の出力と前記逓倍器の出力を乗算するミキサと、
このミキサの出力から位相差成分を取り出し周波数制御信号として前記発振器に印加するローパスフィルタ手段とから構成されたことを特徴とする
請求項２記載の波長分散測定装置。
【請求項４】
前記光分周手段が、
入射される光信号に基づき位相同期した光信号を出射する注入モード同期レーザであることを特徴とする
請求項２記載の波長分散測定装置。
【請求項５】
前記被測定対象を透過しないそのままの光信号を前記超広帯域の時間波形観測手段で波形観測して群遅延時間を測定しておき、前記被測定対象を透過した場合の群遅延時間から差し引くことを特徴とする
請求項１乃至請求項４のいずれかに記載の波長分散測定装置。
【請求項６】
前記超広帯域の時間波形観測手段が、
光サンプリングオシロスコープであることを特徴とする
請求項１、請求項２、若しくは、請求項５記載の波長分散測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ファイバ通信のための光ファイバ、光導波路や光フィルタ等の光学部品の群遅延時間や波長分散を測定する波長分散測定装置に関し、特に高精度で波長分散の測定が可能な波長分散測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ファイバ通信のための光ファイバ、光導波路や光フィルタ等の光学部品の群遅延時間や波長分散を測定する波長分散測定装置に関連する先行技術文献としては次のようなものがある。
【０００３】
【特許文献１】特開平０６−１７４５９２号公報
【特許文献２】特開平０７−２４８２７６号公報
【特許文献３】特開２００２−０７１５１２号公報
【特許文献４】特開２００２−２５７６３２号公報
【０００４】
図６はこのような従来の波長分散測定装置の一例を示す構成ブロック図である。図６において１は発振波長が可変な連続（ＣＷ：Continuous Wave）光を出力する可変波長光源、２は入射光の光強度を変調信号に基づき変調する光強度変調器、３は正弦波信号を出力する信号発生器、４は光ファイバ通信のための光ファイバ、光導波路や光フィルタ等の光学部品である被測定対象、５は光信号を電気信号に変換する受光器、６は２つの入力信号の位相差を比較して出力する位相比較器、７はコンピュータ等の演算制御手段である。
【０００５】
可変波長光源１の出力光は光強度変調器２の入射端に入射され、光強度変調器２の変調信号入力端子には信号発生器３の出力が接続される。光強度変調器２の出射光は被測定対象４を透過して受光器５に入射される。
【０００６】
受光器５の出力は位相比較器６の一方の入力端子に接続され、信号発生器３の出力は位相比較器６の他方の入力端子に接続される。また、位相比較器６の出力は演算制御手段７に接続される。
【０００７】
ここで、図６に示す従来例の動作を説明する。図６中”ＰＨ０１”に示す可変波長光源１の出力光である連続（ＣＷ）光は光強度変調器２において変調信号である図６中”ＭＳ０１”に示す正弦波信号により光強度変調される。すなわち、図６中”ＰＨ０１”に示す出力光の光強度が正弦波状に変化するように変調される。
【０００８】
図６中”ＭＰ０１”に示すこのように光強度変調された光は被測定対象４荷入射され、図６中”ＴＰ０１”に示す透過光は受光器５に入射され、図６中”ＳＷ０１”に示す透過光の光強度変化に比例した電気信号に変換される。すなわち、当該電気信号は正弦波状の信号として取り出される。
【０００９】
そして、図６中”ＳＷ０１”に示す受光器５の出力である被測定対象４の透過光を電気信号に変換した信号は、図６中”ＭＳ０１”に示す変調信号と同一の図６中”ＲＦ０１”に示す基準信号との間で位相差が比較される。
【００１０】
このような測定を可変波長光源１の連続光の波長を変化させながら繰り返すことにより、各波長における図６中”ＲＦ０１”に示す基準信号に対する被測定対象４の透過光の位相差を測定する。
【００１１】
２つの波長間の波長差を”Δλ”、それぞれの波長間における位相差を”φλ ”、変調周波数を”ｆｍ ”とした場合、群遅延時間”Δτ（λ）”は、
【数１】
2006003262.tif 000003
となる。但し、”φλ ”は”ｄｅｇｒｅｅ”表記である。
【００１２】
また、波長分散特性を”Ｄ（λ）”は群遅延時間”Δτ（λ）”を波長微分して、
【数２】
2006003262.tif 000004
として求めることができる。但し、”Ｌ”は被測定対象４の光学的長さである。
【００１３】
この結果、可変波長光源１の連続（ＣＷ）光を基準信号で強度変調し、被測定対象４の透過光を電気信号に変換して基準信号との位相差を求めると共に、連続（ＣＷ）光の波長を変化させて２つの波長間の波長差並びに位相差及び変調周波数から群遅延時間を求めて波長微分することにより、波長分散の測定が可能になる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
しかし、図６に示す従来例では、式（１）から群遅延時間を求める場合には、変調周波数”ｆｍ ”が大きいほど式（１）の右辺分子である位相差が大きくなるため、変調周波数”ｆｍ ”が大きいほど高い精度で群遅延時間を測定することが可能になる。
【００１５】
但し、従来の技術では変調周波数”ｆｍ ”は、光強度変調器の周波数帯域の限界に近い”数ＧＨｚ”〜”２０ＧＨｚ”程度であり、波長分散（群遅延時間）の高精度測定には限界があると言った問題点があった。
【００１６】
また、変調周波数”ｆｍ ”が”ＧＨｚ”を越えると位相比較器における位相比較も高周波のため困難になってしまうといった問題点があった。
従って本発明が解決しようとする課題は、高精度で波長分散の測定が可能な波長分散測定装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
群遅延時間や波長分散を測定する波長分散測定装置において、
発振波長が可変な連続光を出力すると共に出力光の差周波数が常に一定になるように同期制御された第１及び第２の可変波長光源と、前記第１及び第２の可変波長光源の出力光をそれぞれ合波して前記差周波数の光強度変動を有する光信号に変換して２つに分岐させる光合波分波手段と、分岐され被測定対象を透過した一方の前記光信号を取り込み、分岐された他方の前記光信号をトリガ信号として波形表示させる超広帯域の時間波形観測手段とを備え、前記第１及び第２の可変波長光源の出力光の波長をそれぞれ変化させながら各波長における波形を観測し、観測されたそれぞれの波形から群遅延時間を求めることにより、高精度で波長分散の測定が可能になる。
【００１８】
請求項２記載の発明は、
請求項１記載の発明である波長分散測定装置において、
分岐された他方の前記光信号を分周して前記超広帯域の時間波形観測手段のトリガ信号として印加する光分周手段を備えたことにより、超広帯域の時間波形観測手段のトリガ入力の帯域が狭い場合であっても測定が可能になる。
【００１９】
請求項３記載の発明は、
請求項２記載の発明である波長分散測定装置において、
前記光分周手段が、
前記光信号を分周した信号を出力する発振器と、この発振器の出力の周波数を逓倍する逓倍器と、入射される光信号を前記逓倍器の出力で光強度変調する光強度変調器と、この光強度変調器の出力光を受光して電気信号に変換する受光器と、この受光器の出力と前記逓倍器の出力を乗算するミキサと、このミキサの出力から位相差成分を取り出し周波数制御信号として前記発振器に印加するローパスフィルタ手段とから構成されたことにより、超広帯域の時間波形観測手段のトリガ入力の帯域が狭い場合であっても測定が可能になる。
【００２０】
請求項４記載の発明は、
請求項２記載の発明である波長分散測定装置において、
前記光分周手段が、
入射される光信号に基づき位相同期した光信号を出射する注入モード同期レーザであることにより、超広帯域の時間波形観測手段のトリガ入力の帯域が狭い場合であっても測定が可能になる。
【００２１】
請求項５記載の発明は、
請求項１乃至請求項４のいずれかに記載の発明である波長分散測定装置において、
前記被測定対象を透過しないそのままの光信号を前記超広帯域の時間波形観測手段で波形観測して群遅延時間を測定しておき、前記被測定対象を透過した場合の群遅延時間から差し引くことにより、超広帯域の時間波形観測手段の群遅延時間を相殺することが可能になる。
【００２２】
請求項６記載の発明は、
請求項１、請求項２、若しくは、請求項５記載の発明である波長分散測定装置において、
前記超広帯域の時間波形観測手段が、
光サンプリングオシロスコープであることにより、前記差周波数の光強度変動を有する光信号の周波数をテラヘルツ程度まで高くでき、高精度で波長分散の測定が可能になる。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば次のような効果がある。
請求項１及び請求項６の発明によれば、出力光の差周波数が常に一定になるように同期制御された２つの可変波長光源の出力光を合波して前記差周波数の光強度変動を有する光信号に変換し、被測定対象を透過した当該光信号を光サンプリングオシロスコープで波形観測し、２つの可変波長光源の出力光の波長をそれぞれ変化（出力光の差周波数が常に一定になるように同期制御）させながら各波長における波形を観測し、観測されたそれぞれの波形から群遅延時間を求めることにより、高精度で波長分散（群遅延時間）の測定が可能になる。
【００２４】
また、請求項２，３及び請求項４の発明によれば、光合波分波手段と光サンプリングオシロスコープとの間に光分周手段を設けて光分周により周波数を低減してトリガ信号の帯域に適合させることにより、光サンプリングオシロスコープのトリガ入力の帯域が狭い場合であっても測定が可能になる。
【００２５】
た、請求項５の発明によれば、光サンプリングオシロスコープに群遅延時間の波長依存性が存在する場合には、被測定対象を透過しないそのままの光信号を光サンプリングオシロスコープで波形観測して群遅延時間を測定しておき、被測定対象を透過した場合の群遅延時間から差し引くことにより、光サンプリングオシロスコープの群遅延時間を相殺することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明に係る波長分散測定装置の一実施例を示す構成ブロック図である。図１において８及び９は発振波長が可変な連続（ＣＷ）光を出力する可変波長光源、１０は光信号を合波、或いは、分波する光合波分波手段、１１は光ファイバ通信のための光ファイバ、光導波路や光フィルタ等の光学部品である被測定対象、１２は超広帯域の時間波形観測手段である光サンプリングオシロスコープである。
【００２７】
可変波長光源８及び９の出力光はそれぞれ光合波分波手段１０の入射端にそれぞれ入射され、光合波分波手段１０の一方の出射端からの出射光は被測定対象１１を透過して光サンプリングオシロスコープ１２の光信号入力端子に入射される。
【００２８】
また、光合波分波手段１０の他方の出射端からの出射光は光トリガ信号として光サンプリングオシロスコープ１２の光トリガ信号入力端子に入射される。さらに、可変波長光源８及び９の制御端子間は同期制御にために互いに接続される。
【００２９】
ここで、図１に示す実施例の動作を図２を用いて説明する。図２は可変波長光源８及び９の出力光の波長を変化させた場合の光強度と時間との関係を示す特性曲線図である。
【００３０】
可変波長光源８及び９はそれぞれの出力光の差周波数が常に一定になるように、図１中”ＳＹ１１”に示すような同期信号を用いて同期制御されている。
【００３１】
このように差周波数が常に一定になるように同期制御された可変波長光源８及び９の出力光は光合波分波手段１０において合波され、光の干渉性の特性から可変波長光源８の出力光の光周波数と可変波長光源９の出力光の光周波数との差周波数の光強度変動を有する光信号に変換される。
【００３２】
例えば、図１中”ＰＨ１１”に示す可変波長光源８の出力光の波長を”λａ”、図１中”ＰＨ１２”に示す可変波長光源９の出力光の波長を”λｂ”、差周波数を”ｆｍ”とした場合、図１中”ＭＰ１１”或いは”ＴＲ１１”に示す光信号は、
【数３】
2006003262.tif 000005
という差周波数の光強度変動を有する光信号になる。但し、”ｃ”は光速、また、”λａ＜λｂ”である。
【００３３】
このように変換された図１中”ＭＰ１１”に示す一方の光信号は、被測定対象１１を透過して図１中”ＳＰ１１”に示すように光サンプリングオシロスコープ１２の光信号入力端子に入射され、図１中”ＴＲ１１”に示す他方の光信号は、光トリガ信号として光サンプリングオシロスコープ１２の光トリガ信号入力端子に入射される。
【００３４】
そして、可変波長光源８及び９の出力光の波長をそれぞれ変化（出力光の差周波数が常に一定になるように同期制御）させながら各波長における波形を観測し、観測されたそれぞれの波形から波長”λ”における群遅延時間”Δτ（λ）”を求める。
【００３５】
例えば、図２中”ＳＷ２１”に示す特性曲線は、図１中”ＰＨ１１”に示す可変波長光源８の出力光の波長が”λａ＝λｉ ”、図１中”ＰＨ１２”に示す可変波長光源９の出力光の波長が”λｂ＝λｉ＋１ ”である場合の観測波形の一例を示し、図２中”ＳＷ２２”に示す特性曲線は、図１中”ＰＨ１１”に示す可変波長光源８の出力光の波長が”λａ＝λｉ＋１ ”、図１中”ＰＨ１２”に示す可変波長光源９の出力光の波長が”λｂ＝λｉ＋２ ”である場合の観測波形の一例を示している。
【００３６】
但し、
【数４】
2006003262.tif 000006
なる関係を満足している。
【００３７】
この場合、図２中”ＧＤ２１”に示す位相差が波長”λ”における群遅延時間”Δτ（λ）”に相当するので、波形解析から群遅延時間”Δτ（λ）”を得ることができる。また、波長分散特性””Ｄ（λ）は従来例と同様に式（２）に示すように群遅延時間”Δτ（λ）”を波長微分することにより得られる。
【００３８】
すなわち、従来例における変調周波数に相当する差周波数は、２つの可変波長光源８及び９の出力光の周波数（波長）の差で容易に設定できるため、”数１０ＧＨｚ”〜”１ＴＨｚ”程度までの高い周波数に設定可能になる。このため、差周波数が大きくなるほど式（１）の右辺分子である位相差が大きくなるため、高精度で波長分散（群遅延時間）の測定が可能になる。
【００３９】
この結果、出力光の差周波数が常に一定になるように同期制御された２つの可変波長光源の出力光を合波して前記差周波数の光強度変動を有する光信号に変換し、被測定対象を透過した当該光信号を光サンプリングオシロスコープで波形観測し、２つの可変波長光源の出力光の波長をそれぞれ変化（出力光の差周波数が常に一定になるように同期制御）させながら各波長における波形を観測し、観測されたそれぞれの波形から群遅延時間を求めることにより、高精度で波長分散（群遅延時間）の測定が可能になる。
【００４０】
なお、光サンプリングオシロスコープに群遅延時間の波長依存性が存在する場合には、被測定対象１１を透過しないそのままの光信号を光サンプリングオシロスコープで波形観測して群遅延時間を測定しておき、被測定対象１１を透過した場合の群遅延時間から差し引くことにより、光サンプリングオシロスコープの群遅延時間を相殺することが可能である。
【００４１】
また、光サンプリングオシロスコープのトリガ入力の帯域が狭い場合には、光分周により周波数を低減してトリガ信号の帯域に適合させることが可能である。図３はこのような本発明に係る波長分散測定装置の他の実施例を示す構成ブロック図である。
【００４２】
図３において８，９，１０及び１１は図１と同一符号を付してあり、１３は光分周手段、１４はトリガ入力の帯域が狭い光サンプリングオシロスコープである。
【００４３】
可変波長光源８及び９の出力光はそれぞれ光合波分波手段１０の入射端にそれぞれ入射され、光合波分波手段１０の一方の出射端からの出射光は被測定対象１１を透過して光サンプリングオシロスコープ１４の光信号入力端子に入射される。
【００４４】
また、光合波分波手段１０の他方の出射端からの出射光は光分周手段１３に入射され、光分周手段１３の出力である光トリガ信号（或いは、トリガ信号）として光サンプリングオシロスコープ１４の光トリガ信号（或いは、トリガ信号）入力端子に入射される。さらに、可変波長光源８及び９の制御端子間は同期制御にために互いに接続される。
【００４５】
ここで、図３に示す実施例の動作を説明する。但し、図１に示す実施例と同様の動作に関しては説明は書略する。可変波長光源８及び９はそれぞれの出力光の差周波数が常に一定になるように、図３中”ＳＹ３１”に示すような同期信号を用いて同期制御されている。
【００４６】
このように差周波数が常に一定になるように同期制御された可変波長光源８及び９の出力光は光合波分波手段１０において合波され、光の干渉性の特性から可変波長光源８の出力光の光周波数と可変波長光源９の出力光の光周波数との差周波数の光強度変動を有する光信号に変換される。
【００４７】
例えば、図３中”ＰＨ３１”に示す可変波長光源８の出力光の波長を”λａ”、図３中”ＰＨ３２”に示す可変波長光源９の出力光の波長を”λｂ”、差周波数を”ｆｍ”とした場合、図３中”ＭＰ３１”或いは”ＭＰ３２”に示す光信号は、
【数５】
2006003262.tif 000007
という差周波数の光強度変動を有する光信号になる。但し、”ｃ”は光速、また、”λａ＜λｂ”である。
【００４８】
このように変換された図３中”ＭＰ３１”に示す一方の光信号は、被測定対象１１を透過して図３中”ＳＰ３１”に示すように光サンプリングオシロスコープ１４の光信号入力端子に入射され、図３中”ＭＰ３２”に示す他方の光信号は、光分周手段１３に入射されて周波数が分周された後、図３中”ＴＲ３１”に示す光トリガ信号（或いは、トリガ信号）として光サンプリングオシロスコープ１４の光トリガ信号（或いは、トリガ信号）入力端子に入射される。
【００４９】
そして、可変波長光源８及び９の出力光の波長をそれぞれ変化（出力光の差周波数が常に一定になるように同期制御）させながら各波長における波形を観測し、観測されたそれぞれの波形から波長”λ”における群遅延時間”Δτ（λ）”を求める。
【００５０】
この場合、光合波分波手段と光サンプリングオシロスコープとの間に光分周手段を設けて光分周により周波数を低減してトリガ信号の帯域に適合させることにより、光サンプリングオシロスコープのトリガ入力の帯域が狭い場合であっても測定が可能になる。
【００５１】
また、図４及び図５は図３における光分周手段１３の具体例を示す構成ブロック図であり、図４は入力される光信号の周波数を分周した電気信号を出力する光分周手段、図５は入力される光信号の周波数を分周した光信号を出力する光分周手段である。
【００５２】
図４において１５は光強度変調器、１６は受光器、１７はミキサ、１８はローパスフィルタ手段、１９は電圧制御発振器等の発振器、２０は入力信号の周波数を任意の倍数に逓倍する逓倍器である。
【００５３】
入力光は光強度変調器１５の入射端に入射され、光強度変調器１５の出射光は受光器１６に入射される。受光器１６の出力はミキサ１７の一方の入力端子に接続され、ミキサ１７の出力はローパスフィルタ手段１８を介して発振器１９の周波数制御入力端子に接続される。
【００５４】
発振器１９の出力は分周信号として出力されると共に逓倍器２０の入力端子に接続される。逓倍器２０の出力は光強度変調器１５の変調信号入力端子及びミキサ１７の他方の入力端子にそれぞれ接続される。
【００５５】
ここで、図４に示す光分周手段の動作を説明する。図４中”ＩＰ４１”に示すような入射される光信号は光強度変調器１５において逓倍器２０の出力信号で光強度変調され、受光器１６で受光されて電気信号に変換される。例えば、入射される光信号は発振器１９の出力を”ｍ倍”した周波数信号で光強度変調される。
【００５６】
この電気信号はミキサ１７で逓倍器２０の出力と乗算され、位相差成分がローパスフィルタ手段１８を介して発振器１９に周波数制御信号として印加されて、図４中”ＯＳ４１”に示す発振器１９の出力信号の周波数を制御する。
【００５７】
すなわち、発振器１９の出力信号は入射される光信号の周波数の分周信号に位相同期するように制御される。例えば、発振器１９の出力信号は入射される光信号の周波数の”１／ｍ”の周波数に位相同期するように制御される。
【００５８】
この結果、発振器１９の出力信号の周波数を逓倍した周波数信号で入射される光信号を光強度変調して電気信号に変換し、周波数信号との位相が同期するように発振器１９の出力信号の周波数を制御することにより、入射される光信号を分周した電気信号を出力することができる。
【００５９】
また、図５において２１は注入モード同期レーザである。光信号は注入モード同期レーザ２１の入射端に入射され、出力端からは分周された光信号は出射される。
【００６０】
注入モード同期レーザ２１は、単独ではレーザ共振器長で決まる繰り返し周波数でパルス光を出射するが、外部よりパルス光が注入されると、モード同期レーザは共振器長で決まる繰り返し周波数の近傍であり、且つ、注入されるパルス光の繰り返し周波数の整数分周にあたる繰り返し周波数のパルス光を出射する。このため、外部から注入されるパルス光に位相同期し分周された光信号を出射する。
【００６１】
また、これまでの説明に際しては、超広帯域の時間波形観測手段としては光サンプリングオシロスコープを例示して説明しているが、ＥＯ（Electro-Optic：電気光学）サンプリングオシロスコープであっても構わない。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】本発明に係る波長分散測定装置の一実施例を示す構成ブロック図である。
【図２】可変波長光源の出力光の波長を変化させた場合の光強度と時間との関係を示す特性曲線図である。
【図３】本発明に係る波長分散測定装置の他の実施例を示す構成ブロック図である。
【図４】光分周手段の具体例を示す構成ブロック図である。
【図５】光分周手段の具体例を示す構成ブロック図である。
【図６】従来の波長分散測定装置の一例を示す構成ブロック図である。
【符号の説明】
【００６３】
１，８，９  可変波長光源
２，１５  光強度変調器
３  信号発生器
４，１１  被測定対象
５、１６  受光器
６  位相比較器
７  演算制御手段
１０  光合波分波手段
１２，１４  光サンプリングオシロスコープ
１３  光分周手段
１７  ミキサ
１８  ローパスフィルタ手段
１９  発振器
２０  逓倍器
２１  注入モード同期レーザ
【図１】
2006003262.tif 000008
【図２】
2006003262.tif 000009
【図３】
2006003262.tif 000010
【図４】
2006003262.tif 000011
【図５】
2006003262.tif 000012
【図６】
2006003262.tif 000013