(57)【要約】      （修正有）【課題】ラインセンサの読取幅の制約を受けず、読取幅同士のつなぎ目の境界部で精度が落ちるという問題を改善できる画像評価装置。【解決手段】読み取りを開始し（ステップ１００）、ラインセンサを矢印Ｙ方向に移動し（ステップ１０８）、第１のスキャンを行い（ステップ１１０）、テストパターンの読取信号を解析し、基準を設定する（ステップ１１２）。続いて、ラインセンサを矢印Ｙ方向の上流側へ移動し読取基準位置に戻し（ステップ１１６）、ラインセンサの読み取り幅に対応する所定幅分ラインセンサを矢印Ｘ方向に移動し、次の読取基準位置に移動する（ステップ１１８）。続いて、ラインセンサを矢印Ｙ方向に移動し（ステップ１２２）、第２のスキャンを行い（ステップ１２４）、テストパターン読取信号を解析し、前第１のスキャンとの位置ズレ量を算出し（ステップ１２６）、ラインセンサを矢印Ｘ方向に微調整移動する（ステップ１２８）。【選択図】図６
2006332962.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿が載置される読取ベース面に対向して配置され、複数の光電変換素子がＸ方向に配列されたラインセンサと、前記ラインセンサを前記原稿面上で前記Ｘ方向及びＹ方向に移動させる移動手段と、を有し、当該読取ベース面上の原稿に対する、前記ラインセンサの前記Ｙ方向に移動しながらの読み取りを、前記Ｘ方向に分割して行って、該原稿の画像データを得る画像入力装置であって、
前記ラインセンサによる１回のＹ方向移動による前記原稿の読み取りが終了した後のＸ方向の移動量を、前記光電変換素子で読み取る領域が所定量重複する重複領域が形成されるように前記移動手段の移動を制御する移動制御手段と、
前記読取ベース面における前記重複領域に、前記原稿の読取条件と読取条件が等価になるように配置された予め画像情報が既知のテストパターン画像を、前記ラインセンサによって読み取るテストパターン読取実行手段と、
前記テストパターン読取実行手段により読み取られたテストパターン画像の画像データに基づいて、前記画像データの読み取りを調整する調整手段と、
を備えることを特徴とする画像入力装置。
【請求項２】
前記テストパターン読取実行手段の読み取りは、前記Ｙ方向における前記原稿の読み取りの開始前に行うことを特徴とする請求項１記載の画像入力装置。
【請求項３】
前記テストパターン読取実行手段の読み取りは、前記Ｙ方向における前記原稿の読み取りの終了後に行うことを特徴とする請求項１記載の画像入力装置。
【請求項４】
前記テストパターン読取実行手段の読み取りは、前記Ｙ方向における前記原稿の読み取りの開始前及び終了後に行うことを特徴とする請求項１記載の画像入力装置。
【請求項５】
前記調整手段は、前記ラインセンサの位置をＸ方向に移動して調整する位置調整手段であることを特徴とする請求項１乃至請求項４の何れか１項記載の画像入力装置。
【請求項６】
前記テストパターン画像は、前記光電変換素子と同等の幅の基本パターンが、前記Ｘ方向に前記光電変換素子のピッチの整数分の１のピッチで規則的に並べられた基本パターン群であることを特徴とする請求項１乃至請求項５の何れか１項記載の画像入力装置。
【請求項７】
前記調整手段は、前記基本パターン群の読み取りにおいて、各々の光電変換素子からの出力比が最大となる基本パターンを選択し、選択された基本パターンを読み取った画像データから、前記原稿の画像データのＸ方向のズレ量を算出して行なうことを特徴とする請求項６記載の画像入力装置。
【請求項８】
前記ラインセンサの重複領域で、前記原稿の画像データを補正する補正手段を更に備えることを特徴とする請求項１乃至請求項７の何れか１項記載の画像入力装置。
【請求項９】
請求項１乃至請求項８の何れか１項記載の画像入力装置を用いることを特徴とする画像評価装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、原稿が載置される読取ベース面に対向して配置され、複数の光電変換素子が一次元に配列されたラインセンサと、前記ラインセンサを前記原稿面上でＸ方向及びＹ方向に移動させる移動手段と、を有し、当該読取ベース面上の原稿を分割して読み取って、該原稿の画像データを得る画像入力装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像入力装置等によって入力された画像の画質、又は、画像形成装置等によって出力された画像の画質を検査するための技術としては、画像検査装置及び画像評価装置の画像入力装置として、光電子倍増管を使用し、視感分解能より小さなサンプリング幅で走査しながら被評価画像を測定するという技術が提案されている（特許文献１及び特許文献２参照）。しかし、詳細な画像が得られるかわりに、評価対象とする面積が大きくなるほど、測定に時間がかかるという問題がある。
【０００３】
また、ドラムスキャナ−等の画像入力装置を用いて画像を評価する技術も提案されている（特許文献３参照）。しかし、被評価対象に制約を受けるうえ、被評価対象をドラムに巻きつける等の前処理が必要なため、測定速度が要求される測定装置に適用するには問題がある。
これらに対し、２次元画像入力に対する速度優位性、近年のセンサの性能の向上、カラー化への対応のしやすさ、価格低下などから、一次元ラインセンサ、二次元ラインセンサを用いた画像入力装置が提案されている。
【０００４】
例えば、ラインセンサを用いて濃度分布測定を行なうことが提案されている（特許文献４参照）。しかし、ラインセンサの読取幅に制約があるため、広い領域の画像を高分解能で読み取ることができない。
【０００５】
一方、複数の光電変換部を有する光電変換素子を複数個使用した画像読取部に関して記述された文献もある（特許文献５参照）。しかし、複数光電変換素子を使用する場合、光電変換素子間のばらつきにより読取精度が落ちる上、コストが高くなるという問題がある。
【０００６】
これに対し、一次元素子を画素列に直交する方向に移動させ、その後画素列方向に移動させ画像読み取りを行う技術もある（特許文献６参照）。
【特許文献１】特開昭６２−２９９９７１号公報
【特許文献２】特開２０００−１２１４３８公報
【特許文献３】特開平９−１６３１６８号公報
【特許文献４】特開平６−２６５４７３号公報
【特許文献５】特開平２−２１１７７１号公報
【特許文献６】特開平１１−２５２３２２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献６記載の提案では、ラインセンサの読取幅の制約のために、読取幅同士のつなぎ目の境界部では、精度が落ちるという問題がある。
【０００８】
本発明は、上記事実を考慮し、使用するラインセンサにおける読取幅の制約を受けず、読取幅同士のつなぎ目の境界部で精度が落ちてしまうという問題を改善するとともに、高精度、高分解能、高速で読み取りができる画像入力装置、及び該画像入力装置を用いる画像評価装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
請求項１の発明は、原稿が載置される読取ベース面に対向して配置され、複数の光電変換素子がＸ方向に配列されたラインセンサと、前記ラインセンサを前記原稿面上で前記Ｘ方向及びＹ方向に移動させる移動手段と、を有し、当該読取ベース面上の原稿に対する、前記ラインセンサの前記Ｙ方向に移動しながらの読み取りを、前記Ｘ方向に分割して行って、該原稿の画像データを得る画像入力装置であって、前記ラインセンサによる１回のＹ方向移動による前記原稿の読み取りが終了した後のＸ方向の移動量を、前記光電変換素子で読み取る領域が所定量重複する重複領域が形成されるように前記移動手段の移動を制御する移動制御手段と、前記読取ベース面における前記重複領域に、前記原稿の読取条件と読取条件が等価になるように配置された予め画像情報が既知のテストパターン画像を、前記ラインセンサによって読み取るテストパターン読取実行手段と、前記テストパターン読取実行手段により読み取られたテストパターン画像の画像データに基づいて、前記画像データの読み取りを調整する調整手段と、を備えることを特徴とする。
【００１０】
請求項１の発明によれば、原稿が載置される読取ベース面に対向して配置され、複数の光電変換素子がＸ方向に配列されたラインセンサが、当該読取ベース面上の原稿に対する、Ｙ方向に移動しながらの読み取りを、Ｘ方向に分割して行う。
【００１１】
そして、移動手段が、ラインセンサによる１回のＹ方向移動による原稿の読み取りが終了した後、ラインセンサを原稿面上をＸ方向に移動させる。こうして、画像入力装置は、該原稿の画像データを得る。
【００１２】
ところで、前記移動手段によるＸ方向の移動量は、移動制御手段が、光電変換素子で読み取る領域が所定量重複する重複領域が形成されるように制御している。
【００１３】
一方、読取ベース面における前記重複領域に、前記原稿の読取条件と読取条件が等価になるように配置された、予め画像情報が既知のテストパターン画像が用意されている。そして、テストパターン読取実行手段が、該テストパターン画像を、ラインセンサによって読み取る。そして、当該テストパターン読取実行手段により読み取られたテストパターン画像の画像データに基づいて、調整手段が重複領域の画像データを調整する。
【００１４】
このように、請求項１の発明は、使用するラインセンサにおける読取幅の制約を受けず、読取幅同士のつなぎ目の重複領域で精度が落ちてしまうという問題を改善するとともに、高精度、高分解能、高速で読み取りができる。
【００１５】
請求項２の発明は、請求項１記載の発明において、前記テストパターン読取実行手段の読み取りは、前記Ｙ方向における前記原稿の読み取りの開始前に行うことを特徴とする。
【００１６】
請求項２の発明によれば、テストパターン読取実行手段の読み取りは、Ｙ方向における原稿の読み取りの開始前に行う。
【００１７】
請求項３の発明は、請求項１記載の発明において、前記テストパターン読取実行手段の読み取りは、前記Ｙ方向における前記原稿の読み取りの終了後に行うことを特徴とする。
【００１８】
請求項３の発明によれば、テストパターン読取実行手段の読み取りは、Ｙ方向における原稿の読み取りの終了後に行う。
【００１９】
請求項４の発明は、請求項１記載の発明において、前記テストパターン読取実行手段の読み取りは、前記Ｙ方向における前記原稿の読み取りの開始前及び終了後に行うことを特徴とする。
【００２０】
請求項４の発明によれば、テストパターン読取実行手段の読み取りは、Ｙ方向における原稿の読み取りの開始前及び終了後に行う。
【００２１】
請求項５の発明は、請求項１乃至請求項４の何れか１項記載の発明において、前記調整手段は、前記ラインセンサの位置をＸ方向に移動して調整する位置調整手段であることを特徴とする。
【００２２】
請求項５の発明によれば、調整手段は、ラインセンサの位置をＸ方向に移動して調整する位置調整手段である。即ち、本発明は、位置調整手段は、原稿の読取開始前に、物理的にラインセンサの位置を調整し、その後、原稿を読み込む機構である。
【００２３】
請求項６の発明は、請求項１乃至請求項５の何れか１項記載の発明において、前記テストパターン画像は、前記光電変換素子と同等の幅の基本パターンが、前記Ｘ方向に前記光電変換素子のピッチの整数分の１のピッチで規則的に並べられた基本パターン群であることを特徴とする。
【００２４】
また、請求項７の発明は、請求項６記載の発明において、前記調整手段は、前記基本パターン群の読み取りにおいて、各々の光電変換素子からの出力比が最大となる基本パターンを選択し、選択された基本パターンを読み取った画像データから、前記原稿の画像データのＸ方向のズレ量を算出して行なうことを特徴とする。
【００２５】
請求項８の発明は、請求項１乃至請求項７の何れか１項記載の発明において、前記ラインセンサの重複領域で、前記原稿の画像データを補正する補正手段を更に備えることを特徴とする。
【００２６】
請求項８の発明によれば、補正手段が、テストパターン画像の読み取りに基づき、前記原稿の画像データを補正する。
【００２７】
例えば、原稿の読み取りの開始前にラインセンサの位置を適切に調整したとしても、原稿の読み取り途中にＸ方向のズレが発生する場合は起こりえる。このような場合は、各々の重複領域に配置された前記テストパターン画像の画像データに基づいて、読み取った原稿の画像データを補正することで、より高精度の画像データを得ることができる。当該補正としては、例えば、分割した読み取り毎の光電変換素子からの出力の平均に基づく補正、分割した読み取り毎の光電変換素子からの出力を重み付けしたものに基づく補正が考えられる。
【００２８】
請求項９の発明は、請求項１乃至請求項８の何れか１項記載の画像入力装置を用いることを特徴とする。
【発明の効果】
【００２９】
以上説明した如く、本発明は、使用するラインセンサにおける読取幅の制約を受けず、読取幅同士のつなぎ目の境界部で精度が落ちてしまうという問題を改善するとともに、高精度、高分解能、高速で読み取りができる画像入力装置、及び該画像入力装置を用いる画像評価装置を得るという優れた効果を有する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、本発明に係る実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【００３１】
図１には、第１実施形態に係る画像入力装置１の読取部１０の構成が示されている。
【００３２】
読取部１０は、上面に原稿１４を載置するプラテン１２を備えている。前記プラテン１２の上部には、光学ユニット２４が備えられている。前記光学ユニット２４は、前記プラテン１２上に装着された原稿１４上を矢印Ｙで示す方向に移動させるようになっている。また、光学ユニット２４は、原稿１４に光を入射する光源２２原稿１４からの反射光を介するレンズ２０、及び前記反射光を前記レンズ２０を介して結像させ、原稿１４の一部の領域を読み取るラインセンサ１６を備えている。さらに、前記光学ユニット２４は、余分な光の入射を防止するためのアパーチャ１８Ａ、１８Ｂを備えている。
【００３３】
図２に示されるように、プラテン１２の矢印Ｙ方向の最上流には、シェーディング補正を行なう読取基準位置２６が設けられている。矢印Ｙ方向に移動する光学ユニット２４が、当該読取基準位置２６上にあるときには、光源２２及びラインセンサ１６感度のばらつきが補正されるようになっている。
【００３４】
前記読取基準位置２６よりも矢印Ｙ方向の下流には、テストパターン２８Ａ、２８Ｂが設けられている。矢印Ｘ方向の移動順に、テストパターン２８Ａ、テストパターン２８Ｂというように設けられている（以下、「テストパターン２８Ａ、テストパターン２８Ｂ」を区別しないときは、単に「テストパターン２８」という）。に当該テストパターン２８は、読み込まれることにより、テストパターン２８の下流に載置された原稿１４を読み込む際の光学ユニット２４の矢印Ｘ方向の位置を微調整するために設けられている。
【００３５】
光学ユニット２４は、矢印Ｙ方向に移動しながら、前記読取基準位置２６、テストパターン２８、及び原稿１４の順に読取を行っていくようになっており、原稿１４の読取が完了すると、矢印Ｙ方向の上流側に移動して、前記読取基準位置２６まで戻るようになっている。
【００３６】
即ち、本実施形態では、シェーディング補正を行なった直後にテストパターン２８を読み取り、基準位置からのズレを算出し、光学ユニット２４の位置調整をした後に、原稿１４の読み取りを行うようになっている。
【００３７】
なお、原稿１４の読取開始位置のテストパターン２８から得られたズレ量により、矢印Ｘ方向の物理的な位置調整は行わず、ズレ量から検出された原稿１４の読取信号の矢印Ｘ方向への微調整、即ち電気的な調整処理を行う機構であってもよい。
【００３８】
前記光学ユニット２４は、前記プラテン１２上に装着された原稿１４上を矢印Ｘで示す方向にラインセンサ１６の読取幅に対応する所定量分移動するようにもなっている。こうして光学ユニット２４は、矢印Ｘ方向に異なる領域を順次読み取り、１枚の原稿１４を読み取れるようになっている。
【００３９】
なお、以降、テストパターン２８の１回目の読み取りを第１スキャン、テストパターン２８の２回目の読み取りを第２スキャン、と呼ぶ。
【００４０】
図３は、第１実施形態の画像入力装置１のラインセンサ１６の読取処理と制御のブロック図である。
【００４１】
制御部３０は、前記光源２２のＯＮ／ＯＦＦ、ラインセンサ１６の駆動、Ｘ駆動部３２によるラインセンサ１６の矢印Ｘ方向への移動、及びＹ駆動部３４によるラインセンサ１６の矢印Ｙ方向への移動等の全体のシーケンスを制御するようになっている。
【００４２】
制御部３０は、光源２２をＯＮにした後、Ｘ駆動部３２、Ｙ駆動部３４を制御して、前述の図１で示したラインセンサ１６を読取基準位置２６に移動させるようになっている。ラインセンサ１６は、読取基準位置２６で、シェーディング補正部３６で白基準を読み取らせて記憶領域に格納し、そのデータを基準として光源２２、ラインセンサ１６感度のばらつきを補正するようになっている。シェーディング補正部３６に関しては、各種方式が考案されているが、ここではその方式は問わない。
【００４３】
センサズレ量検出部３８は、Ｘ駆動部３２、Ｙ駆動部３４を制御して、ラインセンサ１６を前述の図２で示したテストパターン２８の読取位置に移動させて処理を実施する。まず、第１スキャンでテストパターン２８を読み取り、解析後基準を算出して記憶領域に格納しておく。次に第２スキャンで同じようにテストパターン２８を読み取り、解析後、記憶領域に格納してある基準と比較して、位置ズレ量を算出する。
【００４４】
前記制御部３０は、ラインセンサ１６によるセンサズレ量検出部３８で検出されたズレ量に応じてＸ駆動部３２を微調整して、位置のズレ量が最小になるようにする。
【００４５】
続いて、矢印Ｘ方向、及び矢印Ｙ方向へ移動するようになっているラインセンサ１６について説明する。
【００４６】
図４（Ａ）に示されるように、ラインセンサ１６は、画素数ＮのラインＣＣＤである。各画素４０は、矢印Ｘ方向の順に「１」、「２」、…、「Ｎ−７」、「Ｎ−６」、…、「Ｎ−１」、「Ｎ」と番号付けする。
【００４７】
ところで、矢印Ｘ方向に隣り合う第１スキャン時の読み取り領域と、第２スキャン時の読み取り領域とは、端部を重複させるようになっており、本実施形態では、境界領域で７画素分重複するようになっている。第１スキャン時の読み取り領域と、第２スキャン時の読み取り領域との境界領域で読取対象画像２９を読み取る場合、第１スキャンにおいては、読取対象画像２９は、画素「Ｎ−４」乃至「Ｎ−２」によって検出される。
【００４８】
図４（Ｂ）には、第１スキャンにおいて読取対象画像２９を読み取ったときの、各画素４０から出力されている読取信号が示されている。矢印４Ｂで示されるように、第１スキャンでは、画素「Ｎ−４」乃至「Ｎ−２」から読取信号が出力されたことが分かる。
【００４９】
一方、図４（Ｃ）には、第２スキャンにおいて読取対象画像２９を読み取ったときの、各画素４０から出力されている読取信号が示されている。矢印４Ｃで示されるように、第２スキャンでは、画素「２」乃至「５」から読取信号が出力されたことが分かる。
【００５０】
ところで、前述の通り、第１スキャンと第２スキャンとで読み取った境界領域の重複は７画素分である。即ち、第２スキャンでは、画素「３」乃至「５」のみが読取信号を出力するべきである。
【００５１】
しかし、第２スキャンの矢印Ｘ方向の位置が、矢印Ｘ方向と逆方向にズレがある場合は、図４（Ｃ）に示されるように、画素「２」からも少量の読取信号の出力があり、画素「５」からの読取信号の出力は、所定量（画素「３」又は画素「４」からの読取信号の出力量）よりも少なくなってしまう。このように、画素４０に位置ズレが生じている場合には、読取対象画像２９の位置に対応したラインセンサ１６からの読取信号に誤差が生じてしまう。
【００５２】
こうして、本実施形態のように、ラインセンサ１６を矢印Ｙ方向、矢印Ｘ方向にスキャンし、二次元画像を読み取る場合は、機械的な位置精度に起因して、例えば第１スキャンと第２スキャンとの境界部で読取信号の精度が低下してしまうことがある。そして、これらの読取信号を用いて、ラインやエッジの幅、エッジのぎざつき等の画像評価に使用すると、測定精度の低下につながってしまうことが考えられる。
【００５３】
図５（Ａ）は、本実施形態の画像入力装置１のラインセンサ１６の読取画素の位置とテストパターンの読取信号との関係を説明する図である。
【００５４】
ラダーテストパターン４２は、ラダーパターン４２１、４２２、４２３、４２４、４２５、４２６、４２７、４２８が、所定量（１／４ピッチ）ずらされて構成されている（以下、「ラダーパターン４２１、４２２、４２３、４２４、４２５、４２６、４２７、４２８」を区別しないときは、単に「ラダーパターン４２０」という）。各ラダーパターン４２０は、ラインＣＣＤの画素４０ピッチに対応したＯＮ／ＯＦＦパターンである。
【００５５】
前述の図４（Ａ）と同様にラインＣＣＤの画素数はＮであり、それぞれの画素４０は「１」乃至「Ｎ」番目を使用し、第１スキャンと第２スキャンとの理想的な重複画素は、「Ｎ−６」乃至「Ｎ」と「１」乃至「７」の７画素である。
【００５６】
続いて、図５（Ｂ）を用いて第１スキャンによる読取信号について、図５（Ｃ）を用いて第２スキャンによる読取信号について説明する。なお、第１スキャンによるｎ画素から出力される読取信号はＳ１（ｎ）と表記し、第２スキャンによるｍ画素から出力される読取信号はＳ２（ｍ）と表記する（ｎ、ｍは各々整数で、画素４０と対応する）。
【００５７】
ここで、画素「Ｎ−６」乃至「Ｎ」の信号を「Ｓ１（Ｎ−６）」乃至「Ｓ１（Ｎ）」とする。また、ラダーパターン４２１を読み取った信号を（１）、ラダーパターン４２２を読み取った信号を（２）…ラダーパターン４２８を読み取った信号を（８）とする。
【００５８】
図５（Ｂ）に示されるように、ラダーテストパターン４２を第１スキャンで順次読み取るとすると、ラインセンサ１６からの読取信号（１）乃至（８）が得られる。ラインＣＣＤの画素４０位置とラダーパターン４２０のピッチの位相ズレにより、読取信号の出力レベルは変化する。（１）及び（５）で示されるようにピッチが一致している４２１と４２５では、出力された読取信号の最大と最小との差が最も大きく、（３）及び（７）で示されるようにピッチが１／２ズレている４２３と４２７では、最大と最小との差が最も小さい。
【００５９】
（１）乃至（８）のそれぞれについて最大値Ｓ１ｍａｘと最小値Ｓ１ｍｉｎから（Ｓ１ｍａｘ−Ｓ１ｍｉｎ）／（Ｓ１ｍａｘ＋Ｓ１ｍｉｎ）を算出する。そして、最大になるものを、「基準」とする。
【００６０】
次に、図５（Ｃ）に示されるように、第２スキャンで順次読み取る。そして、 （１）乃至（８）のラインセンサ１６からの読取信号を得る。第１スキャンと同様に、ラインＣＣＤの画素位置とラダーパターン４２０のピッチの位相ズレにより、読取信号の出力レベルは変化し、（２）及び（６）で示されるようにピッチが一致している４２２と４２６とでは、最大と最小との差が最も大きく、（４）及び（８）で示されるようにピッチが１／２ズレている４２４と４２８とでは、最大と最小との差が最も小さい。
【００６１】
画素「１」乃至「７」の信号を「Ｓ２（１）」乃至「Ｓ２（７）」とし、第１スキャンと同様に、ラダーパターン４２０毎の読取信号を（１）乃至（８）とする。
【００６２】
（１）乃至（８）のそれぞれについて最大値Ｓ２ｍａｘと最小値Ｓ２ｍｉｎから（Ｓ２ｍａｘ−Ｓ２ｍｉｎ）／（Ｓ２ｍａｘ＋Ｓ２ｍｉｎ）を算出する。そして、最大になるものを選択する。
【００６３】
そして、第１スキャンで設定した前記「基準」 （１）、（５）と、第２スキャンで選択した（２）、（６） から位置ズレ量を算出する。本実施形態ではラダーパターン４２１とラダーパターン４２２（又は、ラダーパターン４２５とラダーパターン４２６）とのピッチが１／４なので、第１スキャンと第２スキャンとでは１／４ピッチ分の位置ズレがあることが分かる。こうして、矢印Ｘ方向に、１／４ピッチ分の位置調整が行われる。
【００６４】
図６は、第１実施形態の画像入力装置１のラインセンサ１６の読取動作と制御を説明するフローチャートである。
【００６５】
まず、読み取りが開始され（ステップ１００）、照明光源がＯＮになる（ステップ１０２）。続いて、ラインセンサ１６を第１読取基準位置へ移動させる（ステップ１０４）。さらに、白基準を読み取らせて、シェーディング補正を行ない、光源２２、ラインセンサ１６の感度のばらつきを補正する（ステップ１０６）。
【００６６】
次に、ラインセンサ１６を矢印Ｙ方向に移動させ（ステップ１０８）、第１スキャンとしてのテストパターン２８の読み取りを行う（ステップ１１０）。続いてステップ１１２に移行する。ステップ１１２では、テストパターン２８を読み取った読取信号を解析し、基準を設定する。読取信号の解析と基準の設定は、前述の図５で説明した通りである。続いてステップ１１４に移行する。ステップ１１４では、原稿１４の読み取りを行う。
【００６７】
続いて、ラインセンサ１６を矢印Ｙ方向と逆方向へ移動させて読取基準位置２６に戻し（ステップ１１６）、ラインセンサ１６の読取幅に対応する所定幅分、ラインセンサ１６を矢印Ｘ方向に移動させ、次の読取基準位置２６に移動させる（ステップ１１８）。さらに、白基準を読み取らせて、シェーディング補正を行ない、光源２２、ラインセンサ１６の感度ばらつきを補正する（ステップ１２０）。
【００６８】
続いて、ラインセンサ１６を矢印Ｙ方向に移動させ（ステップ１２２）、第２スキャンとしてのテストパターン２８の読み取りを行う（ステップ１２４）。続いてステップ１２６に移行する。ステップ１２６では、テストパターン２８を読み取った信号を解析し、前記第１スキャンとの位置ズレ量を算出する。信号の解析と基準からのズレ量の算出は、前述の図５で説明した通りである。
【００６９】
続いてステップ１２８に移行する。ステップ１２８では、ラインセンサ１６を矢印Ｘ方向に微調整させるために移動する。続いてステップ１３０に移行する。ラインセンサ１６を矢印Ｙ方向に移動させ（ステップ１３０）、原稿１４の読み取りを行う（ステップ１３２）。続いてステップ１３４に移行する。ステップ１３４では、原稿１４の読み取りが終わりかどうかを判断する。終わりならステップ１３６に移行し、読み取りを終了する。前記ステップ１３４で、原稿１４の読み取りが終わりでない場合は、引き続き同様の制御、処理を行い、原稿１４の読み取りが終わりになるまで繰り返す。
【００７０】
図７は、第２実施形態における、画像入力装置１のラインセンサ１６のスキャンと読取位置を説明する図である。
【００７１】
原稿１４の読取開始位置のテストパターン２８Ａ、２８Ｂに加えて、読取終了位置にもテストパターン５０Ａ、５０Ｂを設けたものである。ズレ量の検出は、上述してきたと同様に、テストパターン２８Ａ、２８Ｂ、及びテストパターン５０Ａ、５０Ｂで各々行う。
【００７２】
原稿１４の読取開始位置のテストパターン２８Ａ、２８Ｂから得られたズレ量により、矢印Ｘ方向の物理的な位置調整は行わず、テストパターン２８Ａ、２８Ｂから得られたズレ量と原稿１４の読取終了位置のテストパターン５０Ａ、５０Ｂから得られたズレ量とを平均化することで、読み取られた原稿１４の読取信号の矢印Ｘ方向への微調整を行う構成、即ち平均化されたズレ量で調整処理を行う機構である。
【００７３】
ズレ量の調整は、機械的な調整ばかりでなく、ラインセンサ１６の駆動信号等の電気的な調整処理であってもよい。
【００７４】
図８（Ａ）は、第３実施形態の重複領域の信号を説明する図である。
【００７５】
矢印Ｘ方向のズレ量が最小になるように調整した後でも、テストパターン２８Ａ、２８Ｂの境界の重複部では信号レベルの段差が発生することがある。これは、ラインセンサ１６や光学系のばらつきやメカ精度に起因するものである。第１スキャン、第２スキャン、及び第２スキャンに続く第３スキャンにおいて出力されたラインセンサ１６からの読取信号をそれぞれ６０Ａ、６０Ｂ、６０Ｃとすると、第１スキャン、第２スキャン、及び第３スキャンの境界の重複領域でのラインセンサ１６からの読取信号６２Ａ、６２Ｂには段差が発生している。
【００７６】
下記表１は、第３実施形態の重複領域の信号の補正処理を説明する表である。
【００７７】
【表１】
2006332962.tif 000003
【００７８】
第１スキャンの重複部の画素「Ｎ−６」乃至「Ｎ」に対応する画像読取信号「Ｓ１（Ｎ−６）」乃至「Ｓ１（Ｎ）」と、第２スキャンの重複部の画素「１」乃至「７」に対応する画像読取信号「Ｓ２（１）」乃至「Ｓ２（７）」とのそれぞれ対応する画素を平均した信号「（Ｓ１（Ｎ−６）＋Ｓ２（１））／２」乃至「（Ｓ１（Ｎ）＋Ｓ２（７））／２」を制御部３０が算出し、それらの読取信号を使用する。
【００７９】
図９（Ｂ）は、第３実施形態の重複領域の信号の補正処理後の信号を説明する図である。前述の図９（Ａ）で説明した第１スキャン、第２スキャン、及び第３スキャン境界の重複領域でのラインセンサ１６からの読取信号６４Ａ、６４Ｂの段差は軽減されており、高精度の信号を得ることができる。
【００８０】
表２及び図１０を用いて、第４実施形態における、重複領域の信号の補正処理を説明する。
【００８１】
下記表２に示されるように、第１スキャン、第２スキャン、及び第３スキャンの境界の重複部の信号を、制御部３０は画素位置によって重みづけして算出する。
【００８２】
【表２】
2006332962.tif 000004
【００８３】
第１スキャンにおけるテストパターン２８の重複部の画素「Ｎ−６」乃至「Ｎ」に対応する画像読取信号「Ｓ１（Ｎ−６）」乃至「Ｓ１（Ｎ）」と第２スキャンにおけるテストパターン２８の重複部の画素「１」乃至「７」とに対応する画像読取信号「Ｓ２（１）」乃至「Ｓ２（７）」のそれぞれ対応する画素を画素位置により重みづけした係数を使用して、信号「Ｓ１（Ｎ−６）×７／８＋Ｓ２（１）×１／８」乃至「Ｓ１（Ｎ）×１／８＋Ｓ２（７）×７／８」を制御部３０が算出し、それらの信号を使用する。
【００８４】
図１０には、第４実施形態における、重複領域の読取信号の補正処理後の読取信号が示されている。前述図９（Ａ）で説明した第１スキャン、第２スキャン、及び第３スキャンの境界の重複領域でのラインセンサ１６からの読取信号６６Ａ、６６Ｂの段差は軽減されており、高精度の信号を得ることができる。
【００８５】
なお、図９及び図１０に示される読取信号は、右肩上がりの形状であるが、これは単なる例示である。左肩上がり、山形等何でもよく、読取信号の形状は限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００８６】
【図１】第１実施形態に係る画像入力装置の読取部の構成を示す図である。
【図２】第１実施形態に係る画像入力装置のラインセンサのスキャンと読取位置を説明する図である。
【図３】第１実施形態に係る画像入力装置のラインセンサの読取処理と制御のブロック図である。
【図４】隣接するスキャンでのラインセンサの位置ズレによる読取信号の精度低下を説明する図である。
【図５】（Ａ）は隣接するスキャンでのラインセンサの読取画素位置とテストパターンの関係を説明する図であり、（Ｂ）は第１スキャンでの画像入力装置のラインセンサのテストパターン読取信号を説明する図であり、（Ｃ）は第２スキャンでの画像入力装置のラインセンサのテストパターン読取信号を説明する図である。
【図６】第１実施形態に係る画像入力装置のラインセンサの読取動作と制御を説明するフローチャートである。
【図７】第２実施形態に係る画像入力装置のラインセンサのスキャンと読取位置を説明する図である。
【図８】（Ａ）は、第３実施形態に係る重複領域の信号を説明する図であり、（Ｂ）は、補正処理後の信号を説明する図である。
【図９】第４実施形態に係る重複領域の信号の補正処理後の信号を説明する図である。
【符号の説明】
【００８７】
１     画像入力装置（画像評価装置）
１０   読取部
１２   プラテン（読取ベース面）
１４   原稿
１６   ラインセンサ（ラインセンサ、テストパターン読取実行手段）
１８Ａ、１８Ｂ       アパーチャ
２０   レンズ
２２   光源
２４   光学ユニット
２６   読取基準位置
２８   テストパターン（テストパターン画像）
２９   読取対象画像
３０   制御部（調整手段、位置調整手段、補正手段）
３２   Ｘ駆動部（移動制御手段）
３４   Ｙ駆動部（移動制御手段）
３６   シェーディング補正部
３８   センサズレ量検出部
４０   画素（光電変換素子）
４２   ラダーテストパターン（基本パターン群）
４２０ ラダーパターン（基本パターン）
５０Ａ、５０Ｂ       テストパターン（テストパターン画像）
６０Ａ、６０Ｂ、６０Ｃ、６２Ａ、６２Ｂ、６４Ａ、６４Ｂ、６６Ａ、６６Ｂ       読取信号（画像データ）
【図１】
2006332962.tif 000005
【図２】
2006332962.tif 000006
【図３】
2006332962.tif 000007
【図４】
2006332962.tif 000008
【図５】
2006332962.tif 000009
【図６】
2006332962.tif 000010
【図７】
2006332962.tif 000011
【図８】
2006332962.tif 000012
【図９】
2006332962.tif 000013