(57)【要約】【課題】  試験時間の短縮を図れるＩＣテスタを実現することを目的にする。【解決手段】  本発明は、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。本装置は、設定値または変数が定義される設定値データの実行順が示される実行順データに基づいて、実行命令及び変数の設定値を出力するテストシステムコントローラと、設定値データと実行順データに基づいて、設定値データの設定準備を行い、テストシステムコントローラからの実行命令及び変数の設定値により、設定値の設定を行い、被試験対象と信号の授受を１ピン以上行える複数のピンエレクトロニクスカードとを備えたことを特徴とする装置である。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被試験対象を試験するＩＣテスタにおいて、
設定値または変数が定義される設定値データの実行順が示される実行順データに基づいて、実行命令及び変数の設定値を出力するテストシステムコントローラと、
前記設定値データと前記実行順データに基づいて、設定値データの設定準備を行い、前記テストシステムコントローラからの実行命令及び変数の設定値により、設定値の設定を行い、前記被試験対象と信号の授受を１ピン以上行える複数のピンエレクトロニクスカードと
を備えたことを特徴とするＩＣテスタ。
【請求項２】
テストシステムコントローラは、
少なくとも実行順データ、変数の設定値を記憶する第１の記憶部と、
この記憶部の実行順データ、変数の設定値に基づいて、実行命令及び設定の変数値を出力する第１の制御部と
を有し、
ピンエレクトロニクスカードは、
設定データ、実行順データを記憶する第２の記憶部と、
この第２の記憶部の実行順データに基づいて、第２の記憶部の設定データを準備し、前記第１の制御部の実行命令及び変数の設定値により、設定値を設定する第２の制御部と
を設けたことを特徴とする請求項１記載のＩＣテスタ。
【請求項３】
ピンエレクトロニクスカードは、テストシステムコントローラから変数の設定値を受け取り、設定データの変数を固定値にすることを特徴とする請求項１または２記載のＩＣテスタ。
【請求項４】
ピンエレクトロニクスカードは、所望の変数のみ固定値にすることを特徴とする請求項３記載のＩＣテスタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被試験対象、例えば、ＩＣ，ＬＳＩを試験するＩＣテスタに関し、試験時間の短縮を図れるＩＣテスタに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
ＩＣテスタは、被試験対象（以下ＤＵＴ）に試験パターンを与え、ＤＵＴの出力を期待値パターンと比較し、ＤＵＴの良否の判定を行うものである。例えば、特許文献１等に記載されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２０００−２９２５００号公報
【０００４】
このような装置では、テストシステムコントローラ（以下ＴＳＣ）が、テストプログラムに基づいて動作し、複数のドライバ、コンパレータ等が搭載されるピンエレクトロニクスカード（以下ＰＥカード）に対して、各種設定を行い、ＤＵＴに対して試験を行っている。しかし、テスト項目ごとに、設定を変更しなければならず、その都度、テストシステムコントローラから設定を行うと設定に時間を要してしまう。この結果、ＤＵＴの試験時間がかかってしまう。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
そこで、本発明の目的は、試験時間の短縮を図れるＩＣテスタを実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
被試験対象を試験するＩＣテスタにおいて、
設定値または変数が定義される設定値データの実行順が示される実行順データに基づいて、実行命令及び変数の設定値を出力するテストシステムコントローラと、
前記設定値データと前記実行順データに基づいて、設定値データの設定準備を行い、前記テストシステムコントローラからの実行命令及び変数の設定値により、設定値の設定を行い、前記被試験対象と信号の授受を１ピン以上行える複数のピンエレクトロニクスカードと
を備えたことを特徴とするものである。
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、
テストシステムコントローラは、
少なくとも実行順データ、変数の設定値を記憶する第１の記憶部と、
この記憶部の実行順データ、変数の設定値に基づいて、実行命令及び設定の変数値を出力する第１の制御部と
を有し、
ピンエレクトロニクスカードは、
設定データ、実行順データを記憶する第２の記憶部と、
この第２の記憶部の実行順データに基づいて、第２の記憶部の設定データを準備し、前記第１の制御部の実行命令及び変数の設定値により、設定値を設定する第２の制御部と
を設けたことを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、
ピンエレクトロニクスカードは、テストシステムコントローラから変数の設定値を受け取り、設定データの変数を固定値にすることを特徴とするものである。
請求項４記載の発明は、請求項３記載の発明において、
ピンエレクトロニクスカードは、所望の変数のみ固定値にすることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【０００７】
請求項１，２によれば、ピンエレクトロニクスカードが、事前に設定データを格納し、設定準備を行うので、その都度、テストシステムコントローラが設定値を送る必要がなくなり、試験時間を短縮することができる。
【０００８】
請求項３，４によれば、ピエンレクトロニクスカードが変数を固定値と同じように扱うので、その都度、テストシステムコントローラがピンエレクトロニクスカードに変数の設定値を送る必要がなく、試験時間を短縮することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。
【００１０】
図１において、ＴＳＣ１０は、ＩＣテスタ全体の制御を行い、記憶部１１、制御部１２を有する。記憶部１１は、設定値または変数が複数定義される設定データ１１１、この設定データ１１１の実行順が示される実行順データ１１２、設定データ１１１の変数の設定値である変数設定値データ１１３を記憶する。設定データ１１１は、図２に示されるように、データ番号、登録済フラグ、設定項目、ピン情報、変数フラグ、高速化変数フラグ、設定値からなる。登録済フラグは設定値が登録されたかどうかを示す。設定項目は例えば電圧設定（Ｖ）、電流設定（Ｉ）等が記述される。ピン情報は設定対象のピンを示す。変数フラグはデータが変数であるかどうかを示す。高速化変数フラグは固定値にされる変数であるかどうかを示す。設定値は設定項目に対する値または変数番号が示される。ここで、１つの設定項目に対して、１つのデータ番号が付されているが、複数の設定項目に対して、１つのデータ番号が付されてもよい。実行順データ１１２は、図３に示されるように、設定データ１１１のデータ番号が実行順に並べられる。制御部１２は、記憶部１１の設定データ１１１を事前に送り込み、実行順データ１１３に基づいて、実行命令及び変数設定値データ１１３の変数の設定値を出力し、制御を行う。
【００１１】
ＰＥカード２０は図示しないテストヘッドに複数設けられ、ＴＳＣ１０に接続され、記憶部２１、制御部２２、制御レジスタ２３、ドライバ（図示せず）、コンパレータ（図示せず）等を有する。記憶部２１は、設定データ２１１、実行順データ２１２、変数設定値データ２１３を記憶する。設定データ２１１は、図４に示されるように、データ番号、処理コマンド、ピン情報、変数フラグ、高速化変数フラグ、設定値からなる。処理コマンドは設定項目に対応するコマンドを示す。実行順データ２１２は、図５に示されるように、データ番号、設定値確定フラグからなる。データ番号は設定データ２１１のデータ番号と同じである。設定値確定フラグは、データ番号に対応する設定値が確定しているかどうかを示す。変数設定値データ２１３は、図６に示されるように、変数番号、設定値からなり、変数に対する設定値を保持する。制御部２２は、記憶部２１の実行順データ２１２に基づいて、設定データ２１１を準備し、制御部１２の実行命令及び変数の設定値により、設定値を設定する。制御レジスタ２３は、制御部２２から設定値が設定され、この設定値に基づいて、ドライバ、コンパレータ等の制御対象が設定を行う。
【００１２】
このような装置の動作を図７〜１０を用いて説明する。図７，８はそれぞれ設定データ１１１，２１１のデータ変化を示した図で、斜線部が変化した部分である。また、図９はＴＳＣ１０の動作を示すフローチャート、図１０，１１はＰＥカード２０の動作を示すフローチャートである。
【００１３】
まず、ＴＳＣ１０の制御部１２が、図２に示される設定データ１１１を記憶部１１から読み出し、各ＰＥカード２０に送る。ＰＥカード２０の制御部２２は、設定データ１１１の設定項目を処理コマンドに変換し、ピン情報から自身に不要なピン情報を削除し、記憶部２１に図４に示される設定データ２１１として格納する。
【００１４】
次に、制御部１２は、記憶部１１の実行順データ１１２（図３）からデータ番号を取得し（Ｓ１）、データ番号に対応する設定データ１１１の発行済フラグを確認する（Ｓ２）。発行済フラグが立っていない、つまり、”０”の場合、制御部１２は、変数フラグが立っているか、つまり、”１”かどうか確認し、立っていない場合、次に進む（Ｓ３）。フラグが立っている場合、変数設定値データ１１３を記憶部１１から取得し（Ｓ４）、ＰＥカード２０の記憶部２１に変数設定値データ２１３（図６）として格納する（Ｓ５）。高速化変数フラグが立っているかどうか確認し（Ｓ６）、フラグが立っていない場合、次に進み、フラグが立っている場合、図７に示すように、設定データ１１１から変数フラグを落とす、つまり、”０”にする（Ｓ７）。全パラメータに対して処理が終了したか確認し（Ｓ８）、終了していない場合、再び、変数フラグが立っているかどうか確認し（Ｓ３）、終了した場合、次に進む。全パラメータの変数フラグが落ちているか確認し（Ｓ９）、落ちている場合、発行済フラグを設定し（Ｓ１０）、落ちていない場合、次に進む。そして、制御部１１は、ＰＥカード２０に対して、データ番号とコメンド処理開始命令の実行命令を発行する（Ｓ１１）。実行順データ１１２のデータ番号を全て実行したか確認し（Ｓ１２）、実行していない場合、再び、データ番号を取得し（Ｓ１）、実行した場合、処理を終了する。このような動作を、ＤＵＴの試験ごとに繰り返す。
【００１５】
一方、ＰＥカード２０は、初回、データ番号が含まれた実行命令を受信し（Ｓ２０）、制御部２２は、記憶部２１の実行順データ２１２（図５）に対して、実行命令のデータ番号を登録する（Ｓ２１）。このデータ番号で、制御部２２は、記憶部２１の設定データ２１１（図４）の変数フラグが立っている確認し（Ｓ２２）、変数フラグが立っていない場合、次に進み、変数フラグが立っている場合は、変数に対応する変数設定値データ２１３（図６）から設定値を取得する（Ｓ２３）。そして、高速化変数フラグが立っているかどうか確認し（Ｓ２４）、高速化変数フラグが立っている場合、図８に示すように、設定値を設定データ２１１に登録してｍ、高速化変数フラグ、変数フラグを落とし（Ｓ２５）、フラグが立っていない場合、次に進む。制御部２２は処理コマンドにより、制御レジスタ２３に設定値を設定する（Ｓ２６）。すべての処理コマンドを実行したかどうか確認し（Ｓ２７）、実行していない場合、再び、変数フラグが立っているかどうか確認し（Ｓ２２）、実行した場合、次に進む。データ番号に対応する全ての変数フラグが設定データ２１１から落とされたか確認し（Ｓ２８）、落とされた場合、図５に示すように、実行順データ２１２に対し、設定値確定フラグを立て、再び、データ番号が含まれた実行命令を受信し（Ｓ２０）、落とされていない場合、再び、データ番号が含まれた実行命令を受信する（Ｓ２０）。このような動作を初回のＤＵＴの試験時に行う。
【００１６】
次のＤＵＴの試験の場合、ＰＥカード２０の制御部２２は、記憶部２１の実行順データ２１２（図５）からデータ番号を取得し（Ｓ３０）、データ番号に対応する実行順データ２１２の設定値確定フラグが立っているかどうか確認する（Ｓ３１）。
【００１７】
設定値確定フラグが立っていない場合、ＰＥカード２０は、データ番号が含まれた実行命令を受信する（Ｓ３２）。制御部２２は、実行順データ２１２のデータ番号で、記憶部２１の設定データ（図８）２１１の変数フラグが立っているか確認し（Ｓ３３）、変数フラグが立っていない場合、次に進み、変数フラグが立っている場合は、変数に対応する変数設定値データ２１３（図６）から設定値を取得する（Ｓ３４）。そして、高速化変数フラグが立っているかどうか確認し（Ｓ３５）、高速化変数フラグが立っている場合、設定値を設定データ２１１に登録して高速化変数フラグ、変数フラグを落とし（Ｓ３６）、フラグが立っていない場合、次に進む。制御部２２は処理コマンドにより、制御レジスタ２３に設定値を設定する（Ｓ３７）。すべての処理コマンドを実行したかどうか確認し（Ｓ３８）、実行していない場合、再び、変数フラグが立っているかどうか確認し（Ｓ３３）、実行した場合、次に進む。データ番号に対応する全ての変数フラグが設定データ２１１（図８）から落とされたか確認し（Ｓ３９）、落とされた場合、実行順データ２１２（図５）に対し、設定値確定フラグを立て（Ｓ４０）、再び、制御部２２は、記憶部２１の実行順データ２１２から次のデータ番号を取得し（Ｓ３０）、落とされていない場合、制御部２２は、記憶部２１の実行順データ２１２から次のデータ番号を取得する（Ｓ３０）。
【００１８】
設定値確定フラグが立っている場合、制御部２２は、記憶部２１の設定データ２１１（図８）の処理コマンド、設定値を読み込む（Ｓ４１）。すべての処理コマンドを実行したかどうか確認し（Ｓ４２）、実行していない場合、再び、記憶部２１の設定データ２１１の処理コマンド、設定値を読み込み（Ｓ４１）、実行した場合、次に進む。ＰＥカード２０は、データ番号が含まれた実行命令を受信する（Ｓ４３）。そして、実行順データ２１２（図５）のデータ番号と一致するか確認する（Ｓ４４）。
【００１９】
一致した場合、制御部２２は、制御レジスタ２３に設定データ２１１の設定値を設定し（Ｓ４５）、再び、制御部２２は、記憶部２１の実行順データ２１２からデータ番号を取得する（Ｓ３０）。
【００２０】
一致しない場合、制御部２２は、記憶部２１の実行順データ２１２のデータ番号を再登録し、設定値確定フラグを落とす（Ｓ４６）。制御部２２は、実行順データ２１２のデータ番号で、記憶部２１の設定データ２１１の変数フラグが立っているか確認し（Ｓ３３）、変数フラグが立っていない場合、次に進み、変数フラグが立っている場合は、変数に対応する変数設定値データ２１３から設定値を取得する（Ｓ３４）。そして、高速化変数フラグが立っているかどうか確認し（Ｓ３５）、高速化変数フラグが立っている場合、設定値を設定データ２１１に登録して、高速化変数フラグ、変数フラグを落とし（Ｓ３６）、フラグが立っていない場合、次に進む。制御部２２は処理コマンドにより、制御レジスタ２３に設定値を設定する（Ｓ３７）。すべての処理コマンドを実行したかどうか確認し（Ｓ３８）、実行していない場合、再び、変数フラグが立っているかどうか確認し（Ｓ３３）、実行した場合、次に進む。データ番号に対応する全ての変数フラグが設定データ２１１から落とされたか確認し（Ｓ３９）、落とされた場合、実行順データ２１２に対し、設定値確定フラグを立て（Ｓ４０）、制御部２２は、記憶部２１の実行順データ２１２から次のデータ番号を取得し（Ｓ３０）、落とされていない場合、制御部２２は、記憶部２１の実行順データ２１２から次のデータ番号を取得する（Ｓ３０）。
【００２１】
つまり、図１２に示されるように動作している。（ａ）は制御部１２の動作、（ｂ）は制御部２２の動作、（ｃ）はＰＥカード２０の制御対象、ドライバ、コンパレータ等の設定動作を示す。すなわち、制御部１２はデータ番号及び変数の設定値の発行のみを行い、制御部２２が、ＰＥカード２０の制御対象が設定動作を行っている間に、設定レジスタ２３への次の設定動作の先行解析を行っている。従って、制御部２２が事前に制御レジスタ２３への設定の準備を行うので、設定時間の短縮が図られる。
【００２２】
このように、ＰＥカード２０が、事前に設定データ２１１を格納し、設定準備を行うので、その都度、ＴＳＣ１０が設定値を送る必要がなくなり、試験時間を短縮することができる。
【００２３】
また、ＩＣテスタは、デバック時に設定値の変更や、ＤＵＴの精度の良さでランク分けするときに、設定値を変更したり、他のＤＵＴの試験に、設定値の変更のため、設定値を変数として扱っている。しかし、量産段階のＤＵＴの試験時には設定値を変更する必要がない変数もあり、その都度、ＴＳＣ１０が変数の設定値をＰＥカード２０側に送っているため、試験時間がかかっていた。しかし、ＰＥカード２０が変数を固定値と同じように扱うので、その都度、ＴＳＣ１０がＰＥカード２０に変数の設定値を送る必要がなく、試験時間を短縮することができる。
【００２４】
なお、ＰＥカード２０は、ＤＵＴの１ピンに接続可能な構成の他、２ピン以上に接続できる構成でもよい。
【００２５】
また、実行順、変数設定値を１回目の実行時に順次記憶部２１に格納する構成を示したが、実行前に実行順データをＰＥカード２０に渡す構成でもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】設定データ１１１を示した図である。
【図３】実行順データ１１２を示した図である。
【図４】設定データ２１１を示した図である。
【図５】実行順データ２１２を示した図である。
【図６】変数設定値データ２１３を示した図である。
【図７】設定データ１１１のデータ変化を示した図である。
【図８】設定データ２１１のデータ変化を示した図である。
【図９】制御部１２の動作を示したフローチャートである。
【図１０】制御部２２の動作を示したフローチャートである。
【図１１】制御部２２の動作を示したフローチャートである。
【図１２】図１に示す装置の概略動作を示した図である。
【符号の説明】
【００２７】
１０  ＴＳＣ
１１  記憶部
１２  制御部
２０  ＰＥカード
２１  記憶部
２２  制御部
２３  制御レジスタ
【図１】
2006003227.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2006003227.tif 000009
【図８】
2006003227.tif 000010
【図９】
2006003227.tif 000011
【図１０】
2006003227.tif 000012
【図１１】
2006003227.tif 000013
【図１２】
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