(57)【要約】【課題】  テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバの提供。【解決手段】  Ｎ個の駆動ユニットとＰ個のテストユニットを具え、駆動ユニットがそれぞれデジタルデータを受け取り、並びに該デジタルデータに基づきアナログの出力信号を発生する。各テストユニットはＭ個の駆動ユニットの出力信号を受け取り、並びに選択信号に基づきそのうち一つの出力信号をテスト信号として選択する。テスト信号の電圧がハイ参考電圧より高いか或いはロー参考電圧より低い時、テストユニットは異常を代表する状態信号を外接のテスターに送る。テスターは状態信号に基づきテスト結果を発生する。該テストユニットはマルチプレクサ、第１比較器、第２比較器、及び判断ユニットを具えている。【選択図】        図３
2006047962.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバにおいて、
それぞれがデジタルデータを受け取り並びに該デジタルデータに基づきアナログ出力信号を発生する複数の駆動ユニットと、
少なくとも一つの前述のアナログ出力信号を受け取り並びに選択信号に基づきそのうち一つの出力信号をテスト信号として選択し、テスト信号とハイ参考電圧とロー参考電圧を比較し、並びに状態信号を出力し、テスト信号の電圧が前述のハイ参考電圧より低く且つ前述のロー参考電圧より高ければ、前述の状態信号は正常状態に設定され、該テスト信号がハイ参考電圧より高いか前述のロー参考電圧より低ければ、前述の状態信号は異常状態と設定される複数のテストユニットとからなることを特徴とする、テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバ。
【請求項２】
請求項１記載のテスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバにおいて、各テストユニットが、マルチプレクサ、第１比較器、第２比較器、判断ユニットを具え、
該マルチプレクサは少なくとも一つの前述のアナログ出力信号を受け取り、並びに前述の選択信号に基づきそのうち一つの出力信号を前述のテスト信号として出力し、
該第１比較器は、前述のテスト信号と第１参考電圧信号を受け取り並びにテスト信号と前述のハイ参考電圧を比較し、並びに第１比較信号を発生し、
該第２比較器は、前述のテスト信号と第２参考電圧信号を受け取り並びにテスト信号と前述のロー参考電圧を比較し、並びに第２比較信号を発生し、
該判断ユニットは、前述の第１比較信号と第２比較信号を受け取り、前述の状態信号を発生することを特徴とする、テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバ。
【請求項３】
請求項１記載のテスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバにおいて、各テストユニットが、マルチプレクサ、比較器、判断ユニットを具え、
該マルチプレクサは複数の前述のアナログ出力信号を受け取り、並びに前述の選択信号に基づきそのうち一つの出力信号を前述のテスト信号として出力し、
該比較器は、前述のテスト信号とハイ参考電圧またはロー参考電圧を受け取り並びに比較信号を出力し、
該判断ユニットは、前述の比較信号の状態に基づき前述の状態信号を出力し、
そのうち、テスト信号の電圧が前述のハイ参考電圧より高ければ、前述の状態信号は異常状態とされ、参考電圧信号の電圧がロー参考電圧より低ければ、前述の状態信号は異常状態とされることを特徴とする、テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバ。
【請求項４】
薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバのテスト方法において、該ソースドライバはＮ個のデジタルデータを受け取り並びにＮ個のアナログ出力信号を発生し、該テスト方法は、以下のステップを包含し、
グレーレベル値の初期値Ｇ＝０に設定する、
グレーレベル値の第Ｇレベルのデジタルデータを入力する、
グレーレベル値の第Ｇレベルに対応するハイ参考電圧とロー参考電圧を発生する、
選択信号を発生し、該選択信号によりアナログ出力信号の一つをテスト信号として選択する、
テスト信号がハイ参考電圧より低く且つロー参考電圧より高いかを比較する、
テスト信号がハイ参考電圧より高いかロー参考電圧より低い時、不良アラーム信号を許可し、テストを終了する、
前述のテスト信号の電圧がハイ参考電圧より高くなく且つロー参考電圧より低くない時、前述の選択信号が別のアナログ出力信号をテスト信号として選択し、並びに前述のテスト信号がハイ参考電圧より低く且つロー参考電圧より高いかを比較するステップに戻る、  全てのアナログ出力信号のテストが完了した時、グレーレベル値Ｇを改変し、並びに参考電圧発生のステップに戻る、
全てのグレーレベル値のテストが完了した時、終了する、
以上のステップを包含したことを特徴とする、薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバのテスト方法。
【請求項５】
薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバのテスト方法において、該ソースドライバはＮ個のデジタルデータを受け取り並びにＮ個のアナログ出力信号を発生し、該テスト方法は、以下のステップを包含し、
グレーレベル値の初期値Ｇ＝０に設定する、
グレーレベル値の第Ｇレベルのデジタルデータを入力する、
グレーレベル値の第Ｇレベルに対応するハイ参考電圧を発生する、
選択信号を発生し、該選択信号によりアナログ出力信号の一つをテスト信号として選択する、
第１比較ステップにおいて、テスト信号の電圧がハイ参考電圧より高いかを比較する、  テスト信号の電圧がハイ参考電圧より高い時、不良アラーム信号を許可し、並びにテスト終了する、
前述のグレーレベル値の第Ｇレベルに対応するロー参考電圧を発生する、
第２比較ステップにおいて、テスト信号の電圧がロー参考電圧より低いかを比較する、  テスト信号の電圧がロー参考電圧より低い時、不良アラーム信号を許可し、並びにテスト終了する、
テスト信号の電圧がハイ参考電圧より高くなく且つロー参考電圧より低くない時、ハイ参考電圧を発生するステップに戻り、並びに選択信号により別のアナログ出力信号をテスト信号として選択する、
全てのアナログ出力信号のテスト完了した時、グレーレベル値Ｇを改変し、並びにハイ参考電圧発生のステップに戻る、
全てのグレーレベル値のテスト完了時に、終了する、
以上のステップを包含したことを特徴とする、薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバのテスト方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は一種の薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバに係り、特にテスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバに関する。
【背景技術】
【０００２】
現在液晶ディスプレイのソースドライバ（Ｓｏｕｒｃｅ  Ｄｒｉｖｅｒ）は、その量産テスト（Ｍａｓｓ  Ｐｒｏｄｕｃｔｉｏｎ  Ｔｅｓｔ）にテスター（Ｔｅｓｔｅｒ）を利用し、これによりテストとスクリーニングを完成している。
【０００３】
図１は周知のソースドライバを示す。該ソースドライバ１０はＮ個の駆動ユニット１１を具え、各駆動ユニット１１はレベルシフター（ｌｅｖｅｌ  ｓｈｉｆｔｅｒ）１１１、デジタルアナログ変換器（ＤＡＣ）１１２、及びユニットゲインバッファ（ｕｎｉｔ  ｇａｉｎ  ｂｕｆｆｅｒ）１１３を具えている。各駆動ユニット１１はデジタルデータを受け取る。該デジタルデータはレベルシフター１１１で調整された後、デジタルアナログ変換器１１２に送られる。デジタルアナログ変換器１１２の出力信号はバッファ１１３を通してアナログ出力信号とされ出力される。これにより一般のソースドライバは出力信号Ｓ（１）〜Ｓ（Ｎ）を発生しうる。
【０００４】
図２は周知のソースドライバのテスターの表示図である。テスター２０はソースドライバ１０に対してテストとスクリーニングを行なうのに用いられる。一般にテスター２０はＰ個のテストモジュール２１を具え、各テストモジュール２１はマルチプレクサ２１１とアナログデジタル変換器（ＡＤＣ）２１２を具えている。マルチプレクサ２１１はＭ個のアナログ出力信号Ｓ（１）〜Ｓ（Ｍ）を受け取る。注意すべきことは、テストモジュール２１の数Ｐ、マルチプレクサ２１１の受信するアナログ出力信号の数Ｍ、及び駆動ユニット１１の数Ｎは、必ずＰ×Ｍ≧Ｎの条件を満足させることである。
【０００５】
この実施例中、テスター２０はソースドライバ１０の出力するＮ個のアナログ出力信号Ｓ（１）〜Ｓ（Ｎ）を受け取る。並びにＰ個のテストモジュール２１のマルチプレクサ２１１がそれぞれＭ個の駆動ユニットの出力信号Ｓ（１）〜Ｓ（Ｍ）を受け取る。続いてマルチプレクサ２１１が選択信号の制御により該アナログ出力信号Ｓ（１）〜Ｓ（Ｍ）をテスト信号として順に選択し、並びにテスト信号をアナログデジタル変換器２１２に送る。アナログデジタル変換器２１２はテスト信号をデジタルデータに変換する。最後にテスター２０が各アナログデジタル変換器２１２の発生したデジタルデータに基づき、ソースドライバ１０の出力電圧が規格に符合するか否かを分析と判断する。この方式により、完全にソースドライバの特性を試験することができる。
【０００６】
しかし、ソースドライバ１０は通常３００〜５００個の出力ピンを具え、即ち駆動ユニット１１の数Ｎはほぼ３００〜５００となる。テスター２０も十分な入力を有して上述のＰ×Ｍ≧Ｎを満足させなければ、このように多い出力の測量支援が行なえない。これによりテストモジュール２１の入力ピン数Ｍとテストモジュール２１の数Ｐは駆動ユニット１１の数Ｎの増加と共に増加する。これにより、テスター２０の総入力ピンのレイアウト体積、及びテストモジュール２１の数の増加が形成され、このため機械全体の設置体積が増加する。並びに高い正確度の測定結果を達成するため、アナログデジタル変換器２１２も極めて高い精密度（Ｈｉｇｈ  Ｒｅｓｏｌｕｔｉｏｎ）を具備しなければならない。ゆえにテスター２０の価格が高くなる。以上の原因により液晶ディスプレイのソースドライバ１０のテストコストは下げる事ができない。
【０００７】
総合すると、いかにテスター２０の総入力ピンのレイアウト体積を減らし、テストモジュール２１の数を減らして機械全体の設置体積を減らし、並びに高い正確度の測定結果をえられるようにし、またテスター２０の価格を減らすかが、早急な解決を要する問題となっている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
上述の問題に対して、本発明は、テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバを提供し、テスターの総入力ピンのレイアウト体積を減らし、テストモジュールの数の増加及びテスター全体の設置体積増加の問題を解決することを目的としている。
【０００９】
本発明の別の目的は、テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバを提供し、高正確度の測定結果を得られるようにすると共に、テスター価格の高騰の問題を解決できるようにすることにある。
【００１０】
本発明は一種のテスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバを提供し、それは、Ｎ個の駆動ユニットとＰ個のテストユニットを具え、駆動ユニットがそれぞれデジタルデータを受け取り、並びに該デジタルデータに基づきアナログの出力信号を発生する。各テストユニットはＭ個の駆動ユニットの出力信号を受け取り、並びに選択信号に基づきそのうち一つの出力信号をテスト信号として選択する。テスト信号の電圧がハイ参考電圧より高いか或いはロー参考電圧より低い時、テストユニットは異常を代表する状態信号を外接のテスターに送る。テスターは状態信号に基づきテスト結果を発生する。
【００１１】
該テストユニットはマルチプレクサ、第１比較器、第２比較器、及び判断ユニットを具えている。マルチプレクサはＭ個の駆動ユニットの出力信号を受け取り、並びに前述の選択信号に基づきそのうち一つの駆動ユニットの出力信号をテスト信号となす。第１比較器はテスト信号とハイ参考電圧を受け取り、並びにテスト信号とハイ参考電圧を比較し、結果を第１比較信号により判断ユニットに伝送する。第２比較器は、テスト信号とロー参考電圧を受け取り、並びにテスト信号とロー参考電圧を比較し、結果を第２比較信号により判断ユニットに伝送する。判断ユニットは、前述の第１比較信号と前述の第２比較信号を受け取り、テスト信号がハイ参考電圧より高いか或いはロー参考電圧より低ければ、第１比較器或いは第２比較器が判断ユニットにテスト信号に異常があることを告知し、判断ユニットが異常な状態を代表する出力信号をテスターに送る。テスト信号がハイ参考電圧より低く、ロー参考電圧より高ければ、判断ユニットは正常な状態を代表する出力信号をテスターに送る。テスターは判断ユニットの出力を受け取った後、テスト信号がスペック（Ｓｐｅｃ）の要求を満足するか否かを知る事ができる。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
請求項１の発明は、テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバにおいて、
それぞれがデジタルデータを受け取り並びに該デジタルデータに基づきアナログ出力信号を発生する複数の駆動ユニットと、
少なくとも一つの前述のアナログ出力信号を受け取り並びに選択信号に基づきそのうち一つの出力信号をテスト信号として選択し、テスト信号とハイ参考電圧とロー参考電圧を比較し、並びに状態信号を出力し、テスト信号の電圧が前述のハイ参考電圧より低く且つ前述のロー参考電圧より高ければ、前述の状態信号は正常状態に設定され、該テスト信号がハイ参考電圧より高いか前述のロー参考電圧より低ければ、前述の状態信号は異常状態と設定される複数のテストユニットとからなることを特徴とする、テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバとしている。
請求項２の発明は、請求項１記載のテスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバにおいて、各テストユニットが、マルチプレクサ、第１比較器、第２比較器、判断ユニットを具え、
該マルチプレクサは少なくとも一つの前述のアナログ出力信号を受け取り、並びに前述の選択信号に基づきそのうち一つの出力信号を前述のテスト信号として出力し、
該第１比較器は、前述のテスト信号と第１参考電圧信号を受け取り並びにテスト信号と前述のハイ参考電圧を比較し、並びに第１比較信号を発生し、
該第２比較器は、前述のテスト信号と第２参考電圧信号を受け取り並びにテスト信号と前述のロー参考電圧を比較し、並びに第２比較信号を発生し、
該判断ユニットは、前述の第１比較信号と第２比較信号を受け取り、前述の状態信号を発生することを特徴とする、テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバとしている。
請求項３の発明は、請求項１記載のテスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバにおいて、各テストユニットが、マルチプレクサ、比較器、判断ユニットを具え、
該マルチプレクサは複数の前述のアナログ出力信号を受け取り、並びに前述の選択信号に基づきそのうち一つの出力信号を前述のテスト信号として出力し、
該比較器は、前述のテスト信号とハイ参考電圧またはロー参考電圧を受け取り並びに比較信号を出力し、
該判断ユニットは、前述の比較信号の状態に基づき前述の状態信号を出力し、
そのうち、テスト信号の電圧が前述のハイ参考電圧より高ければ、前述の状態信号は異常状態とされ、参考電圧信号の電圧がロー参考電圧より低ければ、前述の状態信号は異常状態とされることを特徴とする、テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバとしている。
請求項４の発明は、薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバのテスト方法において、該ソースドライバはＮ個のデジタルデータを受け取り並びにＮ個のアナログ出力信号を発生し、該テスト方法は、以下のステップを包含し、
グレーレベル値の初期値Ｇ＝０に設定する、
グレーレベル値の第Ｇレベルのデジタルデータを入力する、
グレーレベル値の第Ｇレベルに対応するハイ参考電圧とロー参考電圧を発生する、
選択信号を発生し、該選択信号によりアナログ出力信号の一つをテスト信号として選択する、
テスト信号がハイ参考電圧より低く且つロー参考電圧より高いかを比較する、
テスト信号がハイ参考電圧より高いかロー参考電圧より低い時、不良アラーム信号を許可し、テストを終了する、
前述のテスト信号の電圧がハイ参考電圧より高くなく且つロー参考電圧より低くない時、前述の選択信号が別のアナログ出力信号をテスト信号として選択し、並びに前述のテスト信号がハイ参考電圧より低く且つロー参考電圧より高いかを比較するステップに戻る、  全てのアナログ出力信号のテストが完了した時、グレーレベル値Ｇを改変し、並びに参考電圧発生のステップに戻る、
全てのグレーレベル値のテストが完了した時、終了する、
以上のステップを包含したことを特徴とする、薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバのテスト方法としている。
請求項５の発明は、薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバのテスト方法において、該ソースドライバはＮ個のデジタルデータを受け取り並びにＮ個のアナログ出力信号を発生し、該テスト方法は、以下のステップを包含し、
グレーレベル値の初期値Ｇ＝０に設定する、
グレーレベル値の第Ｇレベルのデジタルデータを入力する、
グレーレベル値の第Ｇレベルに対応するハイ参考電圧を発生する、
選択信号を発生し、該選択信号によりアナログ出力信号の一つをテスト信号として選択する、
第１比較ステップにおいて、テスト信号の電圧がハイ参考電圧より高いかを比較する、  テスト信号の電圧がハイ参考電圧より高い時、不良アラーム信号を許可し、並びにテスト終了する、
前述のグレーレベル値の第Ｇレベルに対応するロー参考電圧を発生する、
第２比較ステップにおいて、テスト信号の電圧がロー参考電圧より低いかを比較する、  テスト信号の電圧がロー参考電圧より低い時、不良アラーム信号を許可し、並びにテスト終了する、
テスト信号の電圧がハイ参考電圧より高くなく且つロー参考電圧より低くない時、ハイ参考電圧を発生するステップに戻り、並びに選択信号により別のアナログ出力信号をテスト信号として選択する、
全てのアナログ出力信号のテスト完了した時、グレーレベル値Ｇを改変し、並びにハイ参考電圧発生のステップに戻る、
全てのグレーレベル値のテスト完了時に、終了する、
以上のステップを包含したことを特徴とする、薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバのテスト方法としている。
【発明の効果】
【００１３】
本発明のテスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバは、テストユニットがソースドライバ中にビルトインされたことにより、テストユニットのＭ個の入力ピンが、プリント回路の方式で設置されうる。これにより周知のテストモジュールが入力ピンの数Ｍの増加により占有した大量のレイアウト体積を減らすことができ、並びにテストユニットの数Ｐを減らすことができ、Ｐ×Ｍ≧Ｎの条件を満足することができる。これにより、テスターの設置体積増加の問題を解決することができる。
【００１４】
また、第１比較器、第２比較器、及び判断ユニットの組合せを運用することで、テスト信号がスペックの要求を満足させるか否かを分析し、これにより高価なテスターの代わりとすることができ、コストダウンの効果を達成する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下に図面を参照して詳細に本発明のテスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバの説明を行ない、並びに同じ部品は同じ符号を以て表示する。
【００１６】
図３は本発明のテスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバの全体のテスト構造を示す。該テスト構造は、Ｎ個の駆動ユニット１１、Ｐ個のテストユニット３１、及びテスター３３を具えている。Ｎ個の駆動ユニット１１はそれぞれデジタルデータを受け取り、並びに該デジタルデータに基づきそれぞれアナログ出力信号Ｓ（１）〜Ｓ（Ｎ）を発生する。各テストユニット３１はＭ個の駆動ユニット１１の出力信号を受け取り、並びに選択信号に基づきそのうち一つの出力信号をテスト信号として選択し、並びに状態信号を出力する。該テスト信号がハイ参考電圧Ｖｍａｘ（Ｇ）より高いか、或いはロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）より低い時、テストユニット３１の状態信号はエラー状態とされる。最後にテスター３３が各状態信号の状態によりテスト信号を出力して該テスト信号に対応する駆動ユニットがスペックに符合することを表示する。テスター３３の制御信号は選択信号、ハイ参考電圧Ｖｍａｘ（Ｇ）、ロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）、及びステップ制御信号を具えている。駆動ユニット１１の動作及び構造は図１の駆動ユニット１１と同じであるため、重複する説明は省略する。
【００１７】
図４は本発明のテスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのテストユニットの第１実施例を示す。テストユニット３１はマルチプレクサ３１１、第１比較器３１２、第２比較器３１３、及び判断ユニット３１４を具えている。該マルチプレクサ３１１はＮ個の駆動ユニットの出力信号Ｓ（１）〜Ｓ（Ｍ）を受け取り、且つ選択信号に基づき、そのうち一つの駆動ユニットの出力信号Ｓ（１）〜Ｓ（Ｍ）をテスト信号として出力する。第１比較器３１２はテスト信号と第１参考電圧信号Ｖｒｅｆ １を受け取り、並びにテスト信号と第１参考電圧信号Ｖｒｅｆ １の電圧値を比較した後に、第１比較信号Ｃｏｍ １ｗｏ出力する。第１参考電圧信号Ｖｒｅｆ １の電圧値はハイ参考電圧Ｖｍａｘ（Ｇ）と定義される。第２比較器３１３はテスト信号と第２参考電圧信号Ｖｒｅｆ ２を受け取り、並びにテスト信号と第２参考電圧信号Ｖｒｅｆ ２の電圧値を比較した後に第２比較信号Ｃｏｍ ２を出力する。第２参考電圧信号Ｖｒｅｆ ２の電圧値はロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）と定義される。判断ユニット３１４は第１比較信号Ｃｏｍ １と第２比較信号Ｃｏｍ ２を受け取り、並びにその状態に基づき状態信号を出力する。テスト信号の電圧がハイ参考電圧Ｖｍａｘ（Ｇ）より高い時は、第１比較信号Ｃｏｍ １はＨ、そうでなければ第１比較信号Ｃｏｍ １はＬとされる。テスト信号の電圧がロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）より低い時、第２比較信号Ｃｏｍ ２はＬ、そうでなければ第２比較信号Ｃｏｍ ２はＨとされる。これにより、判断ユニット３１４は第１比較信号Ｃｏｍ １がＨであるか或いは第２比較信号Ｃｏｍ ２がＬであるかを検出するだけで、異常状態を代表する状態信号をテスター３３に与える。これによりテスター３３は判断ユニット３１４の出力した状態信号を受け取り、これにより該テスト信号がハイ参考電圧Ｖｍａｘ（Ｇ）とロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）の範囲を超過しているかを判断し、該テスト信号がスペックの要求を満足しているかを知る事ができる。またすなわち、判断ユニット３１４の出力する信号が異常状態を代表する状態信号である時、該テスト信号に帝王する駆動ユニット１１は不良であることを表示する。
【００１８】
図５は判断ユニットの実施例を示す。判断ユニット３１４は第１比較信号Ｃｏｍ １と第２比較信号Ｃｏｍ １を受け取り、並びに状態信号を発生する。該判断ユニット３１４はＮＯＴゲート４１とＮＡＮＤゲート４２を具えている。ＮＯＴゲート４１の入力端は第１比較信号Ｃｏｍ １を受け取り、その出力端はＮＡＮＤゲート４４２の一つの入力端に接続されている。ＮＡＮＤゲート４２の別の入力端は第２比較信号Ｃｏｍ ２を受け取る。これにより、第１比較信号Ｃｏｍ １がＬで且つ第２比較信号Ｃｏｍ ２がＨの時は、ＮＡＮＤゲート４２の出力端はＨとなる。第１比較信号Ｃｏｍ １がＨ或いは第２比較信号Ｃｏｍ ２がＬの時、ＮＡＮＤゲート４２の出力する状態信号はＬとなり、異常状態を代表する。
【００１９】
図６は判断ユニットの別の実施例を示す。判断ユニット３１４は第１ＮＯＴゲート５１、ＮＯＲゲート５２、及び第２ＮＯＴゲート５３を具えている。第１ＮＯＴゲート５１の入力端が第２比較信号Ｃｏｍ ２を受け取り、その出力端はＮＯＲゲート５２の入力端に接続される。ＮＯＲゲート５２の別の入力端は第１比較信号Ｃｏｍ １を受け取り、且つその出力端は第２ＮＯＴゲート５３の入力端に接続される。これにより、この実施例中、第１比較信号Ｃｏｍ １がＨ或いは第２比較信号Ｃｏｍ ２がＬでありさえすれば、判断ユニット３１４が出力する状態信号はＬとなり異常状態を代表する。
【００２０】
注意すべきことは、テストユニット３１の数Ｐ、マルチプレクサ３１１が受信するアナログ出力信号の数Ｍ、及び駆動ユニット１１の数Ｎは、Ｐ×Ｍ≧Ｎの条件を満足することである。
【００２１】
本実施例中、第１比較器３１２、第２比較器３１３、及び判断ユニット３１４の組合せ運用を利用するだけで、テスト信号に対応する駆動ユニットがスペックの要求を満足させるか否かを分析でき、周知の技術の高価なテスターの代わりとなり、ゆえに本発明はコストダウンの効果を達成できる。
【００２２】
図７は本発明の薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバのテスト方法を示す。ソースドライバ３０はＮ個のデジタルデータを受け取り、並びにＮ個のアナログ出力信号Ｓ（１）〜Ｓ（Ｎ）を発生する。このテスト方法は、以下のステップを包含する。
ステップＳ６０２：  開始。
ステップＳ６０４：  グレーレベル値の初期値Ｇ＝０に設定する。グレーレベル値の解析度はデジタルデータのビット数により決定し、例えば１０ビットのデジタルデータであれば、そのグレーレベル値は０〜１０２３となす。
ステップＳ６０６：  グレーレベル値の第Ｇレベルのデジタルデータを入力する。即ちグレーレベル値の第Ｇレベルのデジタルデータを全ての駆動ユニット１１に入力する。
ステップＳ６０８：  グレーレベル値の第Ｇレベルのハイ参考電圧Ｖｍａｘ（Ｇ）とロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）を発生する。これら参考電圧はテスター３３より発生しうる。
ステップＳ６１０：  選択信号を発生する。該選択信号はアナログ出力信号をテスト信号として選択する。各テストユニットはＭ個のアナログ出力信号を受信し、且つ各時間天で一つだけのアナログ出力信号を検出し、これにより該選択信号によりそのうち一つのアナログ出力信号をテスト信号として選択する。該選択信号はテスター３３より発生しうる。
ステップＳ６１２：  テスト信号がハイ参考電圧Ｖｍａｘ（Ｇ）より低くロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）より高いかを比較する。
ステップＳ６１４：  テスト信号がハイ参考電圧Ｖｍａｘ（Ｇ）より高いかロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）より低い時、テスト信号が不良であることを表示し並びにステップＳ６２２にジャンプする。テスト信号がハイ参考電圧Ｖｍａｘ（Ｇ）より低く、且つロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）より高い時はテスト信号がスペックに符合することを表示し並びにステップＳ６１６にジャンプする。
ステップＳ６１６：  全てのアナログ出力信号がいずれもテスト済みかを判断し、もし未だであれば、ステップＳ６１０に戻り、全てのアナログ出力信号のテストが完了すれば、ステップＳ６１８にジャンプする。
ステップＳ６１８：  全てのグレーレベル値がいずれもテスト済みかを判断し、未だであれば、ステップＳ６２０にジャンプする。全てのグレーレベル値が全てテスト済みであれば、ステップＳ６２４にジャンプする。
ステップＳ６２０：  グレーレベル値Ｇを改変し、並びにステップＳ６０６にジャンプする。例えば、毎回グレーレベル値Ｇに１を加える。
ステップＳ６２２：  不良アラーム信号を許可（ｅｎａｂｌｅ）し、並びにステップＳ６２４にジャンプする。
ステップＳ６２４：  テスト終了。
【００２３】
図８は本発明のテスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのテストユニットの第２実施例を示す。テストユニット７１と第１実施例のテストユニット３１の構造はほぼ同じであり、いずれもマルチプレクサ、比較器及び判断ユニットを具えているが、その違いはテストユニット７１は僅かに一つの比較器７１２のみを具え、並びにその信号比較の方式は、第１比較ステップと第２比較ステップに分けられることである。
【００２４】
第１比較ステップの時、比較器７１２はマルチプレクサ７１１の出力したテスト信号と参考電圧信号Ｖｒｅｆを受け取り、並びにテスト信号の電圧とハイ参考電圧Ｖｍａｘ（Ｇ）の電圧を比較し、結果を比較信号Ｃｏｍｐにより判断ユニット７１４に送る。テスト信号が判断ユニットより高くない時は、第２比較ステップに進む。第２比較ステップの時、参考電圧信号Ｖｒｅｆがロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）より低ければ、この時テスト信号の電圧をロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）の電圧と比較し、結果を比較信号Ｃｏｍｐにより判断ユニット７１４に送る。判断ユニット７１４はステップ制御信号に基づき現在のステップが第１比較ステップか第２比較ステップかを知り、ステップ制御信号はテスター３３により提供される。この実施例により、比較器の数を減らすことができ、ソースドライバの体積を減らすことができ、ソースドライバを縮小する効果を達成できる。ただしその欠点は二つのステップに分けてテストを行なわねばならないことである。
【００２５】
更に、図９と図１０は図８のテストユニット７１を使用したソースドライバのテスト方法を示す。ソースドライバはＮ個のデジタルデータを受け取り、並びにＮ個のアナログ出力信号Ｓ（１）〜Ｓ（Ｎ）を発生する。このテスト方法は、以下のステップを包含する。
ステップＳ８０２：  開始。
ステップＳ８０４：  グレーレベル値の初期値Ｇ＝０に設定する。グレーレベル値の解析度はデジタルデータのビット数により決定し、例えば１０ビットのデジタルデータであれば、そのグレーレベル値は０〜１０２３となす。
ステップＳ８０６：  グレーレベル値の第Ｇレベルのデジタルデータを入力する。即ちグレーレベル値の第Ｇレベルのデジタルデータを全ての駆動ユニット１１に入力する。
ステップＳ８０８：  ハイ参考電圧を発生し、それはグレーレベル値の第Ｇレベルのハイ参考電圧を発生する。該ハイ参考電圧はテスター３３より発生する。
ステップＳ８１０：  選択信号を発生し、それはアナログ出力信号をテスト信号として選択する。選択ユニットはテスター３３より発生する。
ステップＳ８１２：  ハイ参考電圧比較ステップとされ、テスト信号がハイ参考電圧より低いかを比較する。
ステップＳ８１４：  テスト信号がハイ参考電圧Ｖｍａｘ（Ｇ）より高い時、該テスト信号に対応する駆動ユニットが不良であることを表示し、ステップＳ８２６にジャンプする。テスト信号がハイ参考電圧Ｖｍａｘ（Ｇ）より低い時、ステップＳ８１６にジャンプする。
ステップＳ８１６：  ロー参考電圧を発生し、それはグレーレベル値の第Ｇレベルのロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）を発生する。該ロー参考電圧はテストユニット３３より発生する。
ステップＳ８１８：  ロー参考電圧比較ステップであり、テスト信号がロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）より高いかを比較する。
ステップＳ８２０：  テスト信号がロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）より低い時、該テスト信号に対応する駆動ユニットが不良であることを表示し、ステップＳ８２６にジャンプする。前述のテスト信号がロー参考電圧Ｖｍｉｎ（Ｇ）より高い時、ステップＳ８２２にジャンプする。
ステップＳ８２２：  アナログ出力信号が全てテスト済みかを判断し、未だであれば、ステップＳ８０８に戻る。全てのアナログ出力信号がテスト済みであれば、ステップＳ８２４にジャンプする。
ステップＳ８２４：  全てのグレーレベル値がテスト済みであるかを判断し、未だであれば、ステップＳ８２８に戻り、全てのグレーレベル値がテスト済みであれば、ステップＳ８３０にジャンプする。
ステップＳ８２６：  不良アラーム信号を許可（ｅｎａｂｌｅ）し、並びにステップＳ８３０にジャンプしテストを終了する。
ステップＳ８２８：  グレーレベル値Ｇを改変し、並びにステップＳ８０６に戻る。例えば、毎回グレーレベル値Ｇに１を加える。
ステップＳ８３０：  テスト終了。
【００２６】
以上の実施例は本発明を説明するために提示されたものであり、本発明の範囲を制限するものではなく、本発明の要旨より離脱せずに当業者がなしうる各種の変更或いは修飾、例えば、複数の判断ユニットの出力回路を接続し、例えば８個を一組とし、並びにこの組の出力回路を直接ピンに接続する（ＰＡＤ）か、或いはロジック演算後にピンに接続してピンの数を減少することは、本発明の請求範囲に属するものとする。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】周知のソースドライバ表示図である。
【図２】周知のテスター表示図である。
【図３】本発明のテスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバの全体のテスト構造図である。
【図４】本発明のテスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのテストユニットの第１実施例表示図である。
【図５】本発明の判断ユニットの実施例図である。
【図６】本発明の判断ユニットの別の実施例を示す。
【図７】本発明の薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバのテスト方法のフローチャートである。
【図８】本発明のテスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのテストユニットの第２実施例を示す。
【図９】本発明の図８のテストユニット７１を使用したソースドライバのテスト方法のフローチャートである。
【図１０】本発明の図８のテストユニット７１を使用したソースドライバのテスト方法のフローチャートである。
【符号の説明】
【００２８】
１０  ソースドライバ
１１  駆動ユニット
１１１  レベルシフター
１１２  デジタルアナログ変換器
１１３  バッファ
２０  テスター
２１  テストモジュール
２１１  マルチプレクサ
２１２  アナログデジタル変換器
３０  ソースドライバ
３１、７１  テストユニット
３１１、７１１  マルチプレクサ
３１２、３１３、７１２  比較器
３１４、７１４  判断ユニット
３３  テスター
４１、５１、５３  ＮＯＴゲート
４２  ＮＡＮＤゲート
５２  ＮＯＲゲート
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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