(57)【要約】【課題】原稿の画像データを読取る画像読取装置において、テスト原稿などに形成されたパターン画像に対する設計上理想的な読取位置と実際に読取ったパターン画像の読取位置との位置ずれ状態を複雑な画像処理を行うことなく検出することを可能とする画像読取装置、画像の位置ずれ検出方法、及び記憶媒体を提供すること。【解決手段】本発明の画像読取装置１は、原稿の画像を読取って画像データを取得する手段と、テスト画像が読取られた場合に取得される画像データのテスト画像を構成するパターン領域２７に対して接触又は重なるようにチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、Ｖ２を生成する手段と、テスト画像を読取って取得した画像データに基づいて、チェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、Ｖ２に含まれる画素値を各チェック領域毎に算出する手段と、算出した画素値と基準画素値とに基づいて、読取った画像の位置ずれ状態を検出する手段と、を備える。【選択図】      図５
2006166296.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿の画像を読取って画像データを取得する読取手段と、該読取手段によりテスト画像が読取られた場合に取得される画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成する生成手段と、前記読取手段により前記テスト画像を読取って取得した画像データに基づいて、前記チェック領域に含まれる画素値を各チェック領域毎に算出する算出手段と、該算出手段により算出した画素値と基準画素値とに基づいて、読取った画像の位置ずれ状態を検出する検出手段と、を備えることを特徴とする画像読取装置。
【請求項２】
前記テスト画像は、テスト原稿上に形成されており、
前記生成手段は、前記読取手段により原稿載置板に載置された前記テスト原稿上のテスト画像が読取られた場合に取得される画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成することを特徴とする請求項１記載の画像読取装置。
【請求項３】
前記パターン領域は、前記テスト原稿上に３箇所以上形成されており、
前記生成手段は、各パターン領域に対してそれぞれチェック領域を生成することを特徴とする請求項２記載の画像読取装置。
【請求項４】
前記読取手段は、原稿を含めて原稿載置板より広い範囲の画像を読取って画像データを取得可能であり、
前記テスト画像は、前記原稿載置板の外側に形成されており、
前記生成手段は、前記読取手段により前記原稿載置板の外側に形成されたテスト画像が読取られた場合に取得される画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成することを特徴とする請求項１記載の画像読取装置。
【請求項５】
前記パターン領域は、前記原稿載置板の外側に３箇所以上形成されており、
前記生成手段は、各パターン領域に対してそれぞれチェック領域を生成することを特徴とする請求項４記載の画像読取装置。
【請求項６】
前記検出手段が検出した位置ずれ状態に基づいて、前記読取手段が原稿の画像を読取って取得した画像データから読取り後の処理で使用する有効データを抽出する抽出手段を備えることを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１に記載の画像読取装置。
【請求項７】
前記検出手段が検出した位置ずれ状態を報知する報知手段を備えることを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１に記載の画像読取装置。
【請求項８】
原稿の画像を読取って複数の色成分からなるカラー画像データを取得する読取手段と、該読取手段によりテスト画像が読取られた場合に取得されるカラー画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成する生成手段と、前記読取手段により前記テスト画像を読取って取得したカラー画像データに基づいて、前記チェック領域に含まれる各色成分の画素値を各チェック領域毎に算出する算出手段と、該算出手段により算出した各色成分の画素値と基準画素値とに基づいて、読取ったカラー画像の位置ずれ状態を色成分毎に検出する検出手段と、該検出手段が検出した位置ずれ状態に基づいて、前記読取手段による原稿の読取動作又は該読取手段が取得した原稿のカラー画像データから有効データを抽出する処理を各色成分毎に補正する補正手段と、を備えることを特徴とする画像読取装置。
【請求項９】
原稿の画像を読取って複数の色成分からなるカラー画像データを取得する読取手段と、該読取手段によりテスト画像が読取られた場合に取得されるカラー画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成する生成手段と、前記読取手段により前記テスト画像を読取って取得したカラー画像データに基づいて、前記チェック領域に含まれる前記複数の色成分のうちのいずれか１成分の画素値を各チェック領域毎に算出する算出手段と、該算出手段により算出した１成分の画素値と基準画素値とに基づいて、読取ったカラー画像の前記１成分の位置ずれ状態を検出する検出手段と、該検出手段が検出した位置ずれ状態に基づいて、前記読取手段による原稿の読取動作又は該読取手段が取得した原稿のカラー画像データから有効データを抽出する処理を前記複数の色成分について共通に補正する補正手段と、を備えることを特徴とする画像読取装置。
【請求項１０】
原稿の画像を読取って複数の色成分からなるカラー画像データを取得する読取手段と、該読取手段によりテスト画像が読取られた場合に取得されるカラー画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成する生成手段と、前記読取手段により前記テスト画像を読取って取得したカラー画像データに基づいて、前記チェック領域に含まれる各色成分の画素値を各チェック領域毎に算出する算出手段と、該算出手段により算出した各色成分の画素値と基準画素値とに基づいて、読取ったカラー画像の位置ずれ状態を色成分毎に検出する検出手段と、該検出手段が検出した色成分毎の位置ずれ状態を平均化し、平均化した位置ずれ状態に基づいて、前記読取手段による原稿の読取動作又は該読取手段が取得した原稿のカラー画像データから有効データを抽出する処理を前記複数の色成分について共通に補正する補正手段と、を備えることを特徴とする画像読取装置。
【請求項１１】
テスト画像が読取られた場合に取得される画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成する処理と、前記テスト画像を読取って画像データを取得する処理と、前記取得した画像データに基づいて、前記チェック領域に含まれる画素値を各チェック領域毎に算出する処理と、算出した画素値と基準画素値とに基づいて、読取った画像の位置ずれ状態を検出する処理と、を含んでなることを特徴とする画像の位置ずれ検出方法。
【請求項１２】
請求項１１に記載の画像の位置ずれ検出方法を実行させるためのプログラムをコンピュータが読取可能に記憶した記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像読取装置、画像の位置ずれ検出方法及び記憶媒体に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
自動原稿給送装置（ＡＤＦ：Automatic Document Feeder）により搬送される原稿やフラット・ベッド・スキャナ（ＦＢＳ：Flat Bed Scanner）の透明な原稿載置板に載置された原稿の画像データをＣＣＤ（Charge Coupled Device）ラインセンサにより読取る画像読取装置では、自動原稿給送装置による原稿の搬送が正しく行われないことや、原稿が正しく載置されないことが原因で、原稿に対する設計上理想的な読取位置と実際の原稿の読取位置とに位置ずれが生じる。また、原稿が正しく搬送されたとしても、或いは、原稿載置が正しく行われたとしても、ＣＣＤラインセンサの取付け誤差、原稿載置ガイドの組付け誤差、部品の寸法誤差等が原因で、上記の位置ずれは生じる。そして、この位置ずれは、装置毎に調整されている。
【０００３】
このような原稿に対する設計上理想的な読取位置と実際の原稿の読取位置との位置ずれを補正するために、所定の位置に十字形状のパターン画像が形成されたテスト原稿を使用して読取位置の調整を行う画像読取装置がある（例えば、特許文献１参照。）。特許文献１に開示されている画像読取装置は、図１３に示すように、十字形状の４つのパターン画像がそれぞれ所定の位置に形成されたテスト原稿の読取りを行い、読取ったテスト原稿の画像データにおけるパターン画像の読取位置（十字の交差点の位置）を検出する。そして、検出したパターン画像の読取位置と予めメモリに記憶しているパターン画像の設計上理想的な読取位置との位置ずれの方向と位置ずれ量を算出し、ＣＣＤラインセンサによる原稿の走査開始位置を変更することにより読取位置の調整を行う。
【特許文献１】特開２００２−７７４９８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１に開示されている装置のような従来の画像読取装置では、読取ったテスト原稿の画像データにおいて、黒の連続長から水平方向と垂直方向の中央（十字の交差点）の位置をパターン画像の読取基準位置として検出するために、各画素データを白黒２値化して白と黒の連続長を検出するとともに、検出した連続長をメモリに記憶し、黒の交差領域の幅及び高さを検出して交差領域の中央の位置を前記読取基準位置として検出するといった複雑な画像処理を行う必要があった。
【０００５】
本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、原稿の画像データを読取る画像読取装置において、テスト原稿などに形成されたパターン画像に対する設計上理想的な読取位置と実際に読取ったパターン画像の読取位置との位置ずれ状態を複雑な画像処理を行うことなく検出することを可能とする画像読取装置、画像の位置ずれ検出方法、及び記憶媒体を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、請求項１記載の画像読取装置は、原稿の画像を読取って画像データを取得する読取手段と、該読取手段によりテスト画像が読取られた場合に取得される画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成する生成手段と、前記読取手段により前記テスト画像を読取って取得した画像データに基づいて、前記チェック領域に含まれる画素値を各チェック領域毎に算出する算出手段と、該算出手段により算出した画素値と基準画素値とに基づいて、読取った画像の位置ずれ状態を検出する検出手段と、を備えることを特徴としている。
【０００７】
請求項２記載の画像読取装置は、請求項１に記載の画像読取装置において、前記テスト画像は、テスト原稿上に形成されており、前記生成手段は、前記読取手段により原稿載置板に載置された前記テスト原稿上のテスト画像が読取られた場合に取得される画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成することを特徴としている。
【０００８】
請求項３記載の画像読取装置は、請求項２に記載の画像読取装置において、前記パターン領域は、前記テスト原稿上に３箇所以上形成されており、前記生成手段は、各パターン領域に対してそれぞれチェック領域を生成することを特徴としている。
【０００９】
請求項４記載の画像読取装置は、請求項１に記載の画像読取装置において、前記読取手段は、原稿を含めて原稿載置板より広い範囲の画像を読取って画像データを取得可能であり、前記テスト画像は、前記原稿載置板の外側に形成されており、前記生成手段は、前記読取手段により前記原稿載置板の外側に形成されたテスト画像が読取られた場合に取得される画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成することを特徴としている。
【００１０】
請求項５記載の画像読取装置は、請求項４に記載の画像読取装置において、前記パターン領域は、前記原稿載置板の外側に３箇所以上形成されており、前記生成手段は、各パターン領域に対してそれぞれチェック領域を生成することを特徴としている。
【００１１】
請求項６記載の画像読取装置は、請求項１乃至５のいずれか１に記載の画像読取装置において、前記検出手段が検出した位置ずれ状態に基づいて、前記読取手段が原稿の画像を読取って取得した画像データから読取り後の処理で使用する有効データを抽出する抽出手段を備えることを特徴としている。
【００１２】
請求項７記載の画像読取装置は、請求項１乃至６のいずれか１に記載の画像読取装置において、前記検出手段が検出した位置ずれ状態を報知する報知手段を備えることを特徴としている。
【００１３】
請求項８記載の画像読取装置は、原稿の画像を読取って複数の色成分からなるカラー画像データを取得する読取手段と、該読取手段によりテスト画像が読取られた場合に取得されるカラー画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成する生成手段と、前記読取手段により前記テスト画像を読取って取得したカラー画像データに基づいて、前記チェック領域に含まれる各色成分の画素値を各チェック領域毎に算出する算出手段と、該算出手段により算出した各色成分の画素値と基準画素値とに基づいて、読取ったカラー画像の位置ずれ状態を色成分毎に検出する検出手段と、該検出手段が検出した位置ずれ状態に基づいて、前記読取手段による原稿の読取動作又は該読取手段が取得した原稿のカラー画像データから有効データを抽出する処理を各色成分毎に補正する補正手段と、を備えることを特徴としている。
【００１４】
請求項９記載の画像読取装置は、原稿の画像を読取って複数の色成分からなるカラー画像データを取得する読取手段と、該読取手段によりテスト画像が読取られた場合に取得されるカラー画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成する生成手段と、前記読取手段により前記テスト画像を読取って取得したカラー画像データに基づいて、前記チェック領域に含まれる前記複数の色成分のうちのいずれか１成分の画素値を各チェック領域毎に算出する算出手段と、該算出手段により算出した１成分の画素値と基準画素値とに基づいて、読取ったカラー画像の前記１成分の位置ずれ状態を検出する検出手段と、該検出手段が検出した位置ずれ状態に基づいて、前記読取手段による原稿の読取動作又は該読取手段が取得した原稿のカラー画像データから有効データを抽出する処理を前記複数の色成分について共通に補正する補正手段と、を備えることを特徴としている。
【００１５】
請求項１０記載の画像読取装置は、原稿の画像を読取って複数の色成分からなるカラー画像データを取得する読取手段と、該読取手段によりテスト画像が読取られた場合に取得されるカラー画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成する生成手段と、前記読取手段により前記テスト画像を読取って取得したカラー画像データに基づいて、前記チェック領域に含まれる各色成分の画素値を各チェック領域毎に算出する算出手段と、該算出手段により算出した各色成分の画素値と基準画素値とに基づいて、読取ったカラー画像の位置ずれ状態を色成分毎に検出する検出手段と、該検出手段が検出した色成分毎の位置ずれ状態を平均化し、平均化した位置ずれ状態に基づいて、前記読取手段による原稿の読取動作又は該読取手段が取得した原稿のカラー画像データから有効データを抽出する処理を前記複数の色成分について共通に補正する補正手段と、を備えることを特徴としている。
【００１６】
請求項１１記載の画像の位置ずれ検出方法は、テスト画像が読取られた場合に取得される画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成する処理と、前記テスト画像を読取って画像データを取得する処理と、前記取得した画像データに基づいて、前記チェック領域に含まれる画素値を各チェック領域毎に算出する処理と、算出した画素値と基準画素値とに基づいて、読取った画像の位置ずれ状態を検出する処理と、を含んでなることを特徴としている。
【００１７】
請求項１２記載の記憶媒体は、請求項１１に記載の画像の位置ずれ検出方法を実行させるためのプログラムをコンピュータが読取可能に記憶したことを特徴としている。
【発明の効果】
【００１８】
請求項１に記載の画像読取装置によれば、従来の画像読取装置のように複雑な画像処理を行うことなく、テスト画像のパターン領域に対する設計上理想的な読取位置として生成したチェック領域と、実際に読取った画像データのテスト画像を構成するパターン領域と、の位置ずれ状態（位置ずれの方向と位置ずれ量）を容易に検出することができる。
【００１９】
請求項２に記載の画像読取装置によれば、請求項１に記載の画像読取装置の効果に加えて、テスト原稿に形成されているテスト画像のパターン領域と読取手段との相対位置を容易に検出することができる。
【００２０】
請求項３に記載の画像読取装置によれば、請求項２に記載の画像読取装置の効果に加えて、テスト原稿上に３箇所以上形成されたパターン領域それぞれについて、チェック領域に対するパターン領域の位置ずれ状態を検出するので、テスト原稿の主走査伸縮、副走査伸縮、スキュー、アライメントなどを求めることができる。
【００２１】
請求項４に記載の画像読取装置によれば、請求項１に記載の画像読取装置の効果に加えて、装置本体（読取手段を具備するスキャナのフレーム）に対する読取手段（例えば、ＣＣＤラインセンサ）の取付け誤差等を求めることができる。
【００２２】
請求項５に記載の画像読取装置によれば、請求項４に記載の画像読取装置の効果に加えて、装置本体に対する読取手段の取付け誤差等をより正確に求めることができる。
【００２３】
請求項６に記載の画像読取装置によれば、請求項１乃至５のいずれか１に記載の画像読取装置の効果に加えて、読取手段の取付け誤差などにより、原稿に対する設計上理想的な読取位置と実際の原稿の読取位置とに位置ずれが生じていた場合でも、そのずれを補正してより原稿に忠実な画像データを取得することができる。
【００２４】
請求項７に記載の画像読取装置によれば、請求項１乃至６のいずれか１に記載の画像読取装置の効果に加えて、検出手段が検出した位置ずれ状態を報知するので、サービスマンなどが読取手段の取付け誤差や原稿載置ガイドの組付け誤差などを容易に確認でき、機器の調整等を行うのに便利であるという利点がある。
【００２５】
請求項８に記載の画像読取装置によれば、従来の画像読取装置のように複雑な画像処理を行うことなく、テスト画像のパターン領域に対する設計上理想的な読取位置として生成したチェック領域と、実際に読取ったカラー画像データのテスト画像を構成するパターン領域と、の位置ずれ状態を複数の色成分それぞれについて容易に検出することができる。また、読取手段の取付け誤差などが原因で原稿に対する設計上理想的な読取位置と実際の原稿の読取位置とに位置ずれが生じていた場合でも、検出した位置ずれ状態に基づいて色成分毎に補正処理を行って原稿に忠実なカラー画像データを取得することができる。
【００２６】
請求項９に記載の画像読取装置によれば、従来の画像読取装置のように複雑な画像処理を行うことなく、テスト画像のパターン領域に対する設計上理想的な読取位置として生成したチェック領域と、実際に読取ったカラー画像データのテスト画像を構成するパターン領域と、の位置ずれ状態を複数の色成分のいずれか１成分について容易に検出することができる。また、読取手段の取付け誤差などが原因で原稿に対する設計上理想的な読取位置と実際の原稿の読取位置とに位置ずれが生じていた場合でも、検出した位置ずれ状態に基づいて複数の色成分で共通に補正処理を行って原稿に忠実なカラー画像データを取得することができる。なお、複数の色成分のうちのいずれか１成分の位置ずれ状態を検出してそれに基づいて位置ずれを補正するため、検出手段による位置ずれの検出処理及び補正手段による補正処理を簡略化することができる。
【００２７】
請求項１０に記載の画像読取装置によれば、従来の画像読取装置のように複雑な画像処理を行うことなく、テスト画像のパターン領域に対する設計上理想的な読取位置として生成したチェック領域と、実際に読取ったカラー画像データのテスト画像を構成するパターン領域と、の位置ずれ状態を複数の色成分それぞれについて容易に検出することができる。また、読取手段の取付け誤差などが原因で原稿に対する設計上理想的な読取位置と実際の原稿の読取位置とに位置ずれが生じていた場合でも、検出した位置ずれ状態を平均化した位置ずれ状態に基づいて複数の色成分で共通に補正処理を行って原稿に忠実なカラー画像データを取得することができる。なお、複数の色成分の位置ずれ状態を平均化して位置ずれを補正するため、補正手段による補正処理を簡略化することができる。
【００２８】
請求項１１に記載の画像の位置ずれ検出方法によれば、従来の画像読取装置のように複雑な画像処理を行うことなく、テスト画像のパターン領域に対する設計上理想的な読取位置として生成したチェック領域と、実際に読取った画像データのテスト画像を構成するパターン領域と、の位置ずれ状態を容易に検出することができる。
【００２９】
請求項１２に記載の記憶媒体によれば、請求項１１に記載の画像の位置ずれ検出方法を画像読取装置に実行させることにより、従来の画像読取装置のように複雑な画像処理を行うことなく、テスト画像のパターン領域に対する設計上理想的な読取位置として生成したチェック領域と、実際に読取った画像データのテスト画像を構成するパターン領域と、の位置ずれ状態を容易に検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、本発明の実施の形態に係る画像読取装置をコピー機能を有する画像読取装置に適用した場合について、図面に基づき説明する。図１は、この画像読取装置１の構成例を示したブロック図である。画像読取装置１は、図示するように制御部（ＭＰＵ：Microprocessing Unit）２、原稿読取部３、ずれ量検出回路４、画像処理部５、コーデック（ＣＯＤＥＣ：Coder and Decoder）６、画像メモリ７、記録部８、操作部９、表示部１０、ＲＯＭ（Read Only Memory）１１、及びＲＡＭ（Random Access Memory）１２を備えたものであって、各部２乃至１２は、バス１３によって通信可能に接続されている。
【００３１】
制御部２は、画像読取装置１の各部の動作を制御する。原稿読取部３は、原稿の画像を読取って画像データを取得するものであり、図２に示すように、自動原稿給送装置（ＡＤＦ：Automatic Document Feeder）１５及びフラット・ベッド・スキャナ（ＦＢＳ：Flat Bed Scanner）１６を備えている。自動原稿給送装置１５は、原稿トレイ１７に載置された原稿を搬送路１８に沿って搬送し、排紙トレイ１９へと排出するものである。フラット・ベッド・スキャナ１６は、原稿を載置するための透明な原稿載置板２０、自動原稿給送装置１５によって搬送路１８に沿って搬送される原稿又は原稿載置板２０に載置された原稿に光を照射する光源２１、原稿からの反射光を所定の方向へ導くための反射ミラー２２、反射光を収束する集光レンズ２３、収束光を電気信号に変換して出力するＣＣＤ（Charge Coupled Device）ラインセンサ２４等を備えてなる縮小光学系の画像読取ユニットである。ここで、原稿載置板２０とは、プラテンガラスにおける原稿載置が可能な領域のことであり、例えば、プラテンガラスの周縁部分（取付部分）など、プラテンガラスにおける原稿載置ができない領域は除く。
【００３２】
なお、原稿読取部３は、画像処理回路（不図示）を備えており、ＣＣＤラインセンサ２４によって読取られた原稿の画像データは、この画像処理回路においてゲイン調整、及びＡ／Ｄ変換（Analog to Digital Conversion）され、所定の出力先に出力される。このように、原稿読取部３から出力される原稿の画像データを構成する各画素データは、その明暗情報を数値で表すために、例えば８ビット（２５６階調：０〜２５５）のデジタルデータとして出力される。デジタルデータの数値（以下、「画素値」という。）は、低いほどその画素データが暗く（黒く）、逆に高いほどその画素データが明るい（白い）ことを示している。
【００３３】
画像処理部５は、原稿読取部３が出力した原稿の画像データに対して画像処理を行うものである。具体的には、原稿読取部３が出力した原稿の画像データに対して、シェーディング補正、γ補正、拡大／縮小処理（画素データの補間処理又は間引処理）、２値化処理等を必要に応じて行う。なお、画像処理部５は、原稿読取部３のＣＣＤラインセンサ２４が出力した画像データのうち、例えば、主走査方向の両端の所定画素数の画素データを無効データとして破棄し、残りの画素データを有効な画素データ（以下、「有効データ」という。）として抽出し、上記の画像処理を行う。なお、画像処理部５は、後に詳述するが、ずれ量検出回路４が検出した位置ずれ状態に基づいて、原稿読取部３のＣＣＤラインセンサ２４が読取った原稿の画像データから読取り後の処理で使用する有効データを抽出し、抽出した画像データに対して必要な画像処理を行う。
【００３４】
コーデック６は、画像データを符号化（エンコード）・復号（デコード）するものである。ここでは、画像処理部５で画像処理が行われた原稿の画像データをＪＰＥＧ（Joint Photographic Experts Group）、ＭＨ（Modified Huffman）、ＭＲ（Modified Read）、ＭＭＲ（Modified Modified Read）、ＪＢＩＧ（Joint Bi-level Image Group）方式等により符号化し、符号化されている画像データを復号する。
【００３５】
画像メモリ７は、コーデック６において符号化された画像データ、画像処理部５から直接出力された画像データ等を格納する。記録部８は、画像メモリ７から読み出された画像データの画像を用紙に記録するものである。この記録部８における記録方式としては、例えば、電子写真方式やインクジェット記録方式等の各種の記録方式を用いることができる。
【００３６】
操作部９は、原稿読取部３に原稿の読取り開始を指示するためのスタートキー、コピー部数等を入力するためのテンキー、各種設定を行うためのカーソルキーなど、表示部１０と連動した各種操作キーを備えている。表示部１０は、各種の設定画面や画像読取装置１の動作状態などを文字や図形などで表示する液晶表示装置（ＬＣＤ：Liquid Crystal Display）、点灯又は消灯で表示するＬＥＤランプなどを備えている。なお、液晶表示装置は、タッチパネル式のものであり、操作部９に代えてこの液晶表示装置の画面をユーザが指等で触れることにより各種の操作を行うこともできる。
【００３７】
ＲＯＭ１１は、制御部２によりこの画像読取装置１の各部の動作が制御されるための各種制御プログラムを記憶している。ＲＡＭ１２は、画像読取装置１の処理動作に用いる設定情報や動作情報等の各種データを読出し及び書込み可能な状態で記憶している。
【００３８】
図３は、テスト画像が形成されたテスト原稿２６を例示した図である。図示するように、テスト原稿２６には、所定の位置（ここでは、テスト原稿２６の四隅付近）にテスト画像を構成する４つのパターン領域（パターン画像）２７乃至３０が形成されている。なお、１又は複数のパターン領域から構成されるテスト画像が形成される場所（位置）は、テスト原稿２６に限定されるものではなく、後述するように、例えば、原稿読取部３のフレーム部分であってもよいが、ここではまず、テスト画像がテスト原稿２６上に形成されており、そのテスト画像を構成するパターン領域がテスト原稿２６上に４箇所形成されている場合について説明する。
【００３９】
テスト画像を構成する各パターン領域は、本実施形態においては、いずれも所定の大きさの矩形状となっており、既知の所定の１色（例えば、黒）で均一に塗り潰されている。このような４つのパターン領域２７乃至３０は、テスト原稿２６上のどの位置に形成されているかということが予め判っており、これらのパターン領域２７乃至３０それぞれに対して１又は複数のチェック領域が制御部２により予め生成（設定）され、ＲＡＭ１２に記憶されている。なお、パターン領域２７乃至３０のそれぞれに対して生成されているチェック領域は、本実施形態においては、生成されている位置が異なる点を除いては、各パターン領域毎に同様に生成されているため、パターン領域２７に対して生成されたチェック領域について主に説明する。
【００４０】
図４の（ａ）は、テスト原稿２６上に形成されたパターン領域２７に対して予め生成された複数のチェック領域の一例を示したものである。パターン領域２７に対して生成されるチェック領域の数は、特に限定されるものではなく、１個のパターン領域２７に対して１個のチェック領域を生成するようにしてもよいが、ここでは、チェック領域Ｈ１、チェック領域Ｈ２、チェック領域Ｖ１、及びチェック領域Ｖ２の４つのチェック領域が生成されている場合について説明する。これらの各チェック領域は、いずれも矩形となっており、その寸法は、ＣＣＤラインセンサ２４によりテスト原稿２６の画像データを所定の解像度で読取った際のその画像データにおける画素数によって表されており、図示するように、長さがＬ画素、高さがＨ画素となっている。したがって、例えば、２００ｄｐｉ（１インチ（２５．４ｍｍ）当りの画素数が２００画素）の解像度でテスト原稿２６を読取る場合にＬを２０とすると、長さＬは２．５４ｍｍに相当し、Ｈを１０とすると、高さＨは１．２７ｍｍに相当する。
【００４１】
図４の（ｂ）は、テスト原稿２６上のパターン領域２７と複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２の関係を説明するために、パターン領域２７と複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２を横方向に並べて示した図である。制御部２は、原稿読取部３のＣＣＤラインセンサ２４によりテスト画像が正規の位置で読取られた場合に取得される画像データのテスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成する処理を行う。なお、テスト画像は、ここではテスト原稿２６上に形成されており、制御部２は、原稿読取部３のＣＣＤラインセンサ２４により原稿載置板２０に載置されたテスト原稿２６上のテスト画像が正規の位置で読取られた場合に取得される画像データのテスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成する。ここで、正規の位置で読取られた場合とは、具体的には、テスト原稿２６に対する設計上理想的な読取位置と、実際にＣＣＤラインセンサ２４がテスト原稿２６の画像を読取って取得した画像データの読取位置とが完全に一致する場合のことである。
【００４２】
なお、上記の通りテスト原稿２６上のテスト画像を構成するパターン領域は、テスト原稿２６上に３箇所以上（ここでは、４箇所）形成されており、制御部２は、各パターン領域２７乃至３０に対してそれぞれチェック領域（ここでは、チェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２）を生成する。
【００４３】
次に、チェック領域とパターン領域２７の位置関係について詳細に説明する。チェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２は、ここでは、それぞれチェック領域の一部の外縁線とパターン領域２７の外縁線が接触するように生成されている。つまり、設計上理想的な読取位置とした場合に、各領域の基準同士のずれがゼロの状態でチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２が生成（設定）されている。ここで、各領域の基準とは、パターン領域に関しては、ここでは４つの外縁線であり、チェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２に関しては、いずれか１つの外縁線であり、チェック領域Ｈ１の基準は左側の外縁線であり、チェック領域Ｈ２の基準は右側の外縁線であり、チェック領域Ｖ１の基準は上側の外縁線であり、チェック領域Ｖ２の基準は下側の外縁線である。そのため、設計上理想的な読取位置とした場合に、パターン領域２７の左側の外縁線とチェック領域Ｈ１の左側の外縁線、パターン領域２７の右側の外縁線とチェック領域Ｈ２の右側の外縁線、パターン領域２７の上側の外縁線とチェック領域Ｖ１の上側の外縁線、及びパターン領域２７の下側の外縁線とチェック領域Ｖ２の下側の外縁線がそれぞれ位置ずれがなく接触した状態となるように、各チェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２が生成される。
【００４４】
そのため、複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２の外側縁の一部を結んで規定される図中の破線で示す領域（以下、「総合チェック領域」という。）３１の大きさがパターン領域２７の大きさと等しくなる。なお、ここでは説明の都合上、パターン領域２７と各チェック領域とそれらを含む総合チェック領域３１を横方向に並べて図示しているが、実際には、テスト原稿２６がＣＣＤラインセンサ２４により正規の位置で読取られた場合に取得されるパターン領域２７に対して、総合チェック領域３１が完全に重なるように、複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２が生成される。ＲＡＭ１２は、このようにして制御部２により生成された各チェック領域に関する情報を記憶している。
【００４５】
また、ＲＡＭ１２は、上記した複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２に関する情報の他に、テスト画像のパターン領域２７の平均的な濃度を数値として示した基準画素値Ｂと、パターン領域２７が形成されていない部分の平均的な濃度を数値として示した基準画素値Ｗと、の２つの基準画素値を予め記憶している。
【００４６】
なお、原稿読取部３において読取られた画像データを構成する各画素データが８ビットのデジタルデータ（０〜２５５）で表されるものであるため、基準画素値Ｂと基準画素値Ｗは、同様に８ビットのデジタルデータで表されている。上記の記載からも明らかなように、基準画素値Ｂは、テスト画像のパターン領域（ここでは、パターン領域２７）の色に応じて決まり、基準画素値Ｗは、テスト画像のパターン領域外の色に応じて決まるものである。その結果、基準画素値Ｂは最小値（０）よりも若干大きな値となり、基準画素値Ｗは最大値（２５５）よりも若干小さな値となる。言い換えると、そのような値となるテスト画像が形成されたテスト原稿２６を使用することにより、基準画素値Ｂが最小値よりもかなり大きな値となり、基準画素値Ｗが最大値よりもかなり小さな値となるようなテスト原稿を使用する場合に比べて、後述する位置ずれ状態を検出する処理を精度良く行うことができるので、好適である。
【００４７】
基準画素値Ｂと基準画素値Ｗは、予めＲＡＭ１２に記憶させておくことも可能であるが、例えば、テスト画像を読取る際に取得した画像データを使用して得ることもできる。具体的には、基準画素値Ｂは、多少位置ずれが生じてもパターン領域外とはならないパターン領域の中心部に対応する位置の画素値から得ることができ、逆に、基準画素値Ｗは、多少位置ずれが生じてもパターン領域とはならない領域の画素値から得ることができる。なお、基準画素値Ｗの方は、画素値算出対象領域として十分に広い領域を割り当てることができる。
【００４８】
制御部２は、原稿読取部３のＣＣＤラインセンサ２４によりテスト原稿２６のテスト画像を読取って取得した画像データからチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２に含まれる画素データを抽出し、ずれ量検出回路４へと入力する。ずれ量検出回路４は、原稿読取部３のＣＣＤラインセンサ２４によりテスト画像を読取って取得した画像データに基づいて、チェック領域に含まれる画素値を各チェック領域毎に算出し、算出した画素値と、基準画素値（基準画素値Ｂ及び基準画素値Ｗ）とに基づいて、読取った画像の位置ずれ状態を検出する。
【００４９】
図２に示す原稿読取部３において原稿トレイ１７に載置された原稿の読取りが行われる場合、原稿トレイ１７に載置された原稿は、まず自動原稿給送装置１５の給紙ローラ３３により搬送路１８へと送り込まれる。搬送路１８へと送り込まれた原稿は、搬送ローラ３４により搬送され、搬送路１８に沿って上方から下方へＵターンするように反転して透光板３５がある読取位置Ｐに至り、読取位置Ｐを通過する際にＣＣＤラインセンサ２４によって画像データが読取られる。なお、このようにして、ＣＣＤラインセンサ２４により画像データが読取られた原稿は、排紙ローラ３６により原稿トレイ１７の下方に位置する排紙トレイ１９へ排出される。
【００５０】
また、原稿載置板２０に載置された原稿の読取りが行われる場合、図示しない走査キャリッジに搭載されている光源２１及び反射ミラー２２が図中の矢符Ｙで示す方向（副走査方向）に移動することにより原稿載置板２０上の原稿が走査され、その際、反射ミラー２２によって導かれた原稿の反射光をＣＣＤラインセンサ２４が読取ることによって原稿載置板２０に載置された原稿の画像データが読取られる。なお、走査キャリッジは、透光板３５の直下の位置から矢符Ｙで示す方向（副走査方向）に向って原稿載置板２０を超えて移動可能であり、また、光源２１や反射ミラー２２は、矢符Ｙで示す方向と直交する方向（主走査方向）に原稿載置板２０の幅を超える長さを有している。したがって、原稿読取部３では、原稿載置板２０より広い範囲の画像データを読取ることが可能であり、ＣＣＤラインセンサ２４は、原稿を含めて原稿載置板２０より広い範囲の画像データを読取り可能である。
【００５１】
ところで、画像読取装置１では、原稿トレイ１７に載置された原稿や原稿載置板２０に載置された原稿の画像データを読取ることができるが、自動原稿給送装置１５による原稿の搬送が正しく行われないことや、原稿載置板２０に原稿が正しく載置されないことが原因で、原稿に対する設計上理想的な読取位置と実際の原稿の読取位置とに位置ずれが生じる。また、原稿が正しく搬送されたとしても、或いは、原稿載置が正しく行われたとしても、ＣＣＤラインセンサ２４の取付け誤差、原稿載置板２０の外縁に沿って設けられた原稿載置ガイド（不図示）の組付け誤差、部品の寸法誤差等が原因で、位置ずれは生じる。
【００５２】
以下、上記したテスト原稿２６を用いて、テスト原稿２６上のパターン領域２７に対して予め生成された複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２に対するパターン領域２７の位置ずれ状態を検出する方法について説明する。なお、以下に説明する画像読取装置１の各部の処理動作は、ＲＯＭ１１に格納されている制御プログラムに基づいて制御部２が発行する命令に従って行われる。
【００５３】
まず、テスト原稿２６が原稿トレイ１７、又は、原稿載置ガイドに沿って原稿載置板２０に載置され、サービスマン等によって操作部９からテスト原稿２６を用いて読取った画像データの読取位置の位置ずれ状態を検出するためのモード（位置ずれ状態検出モード）に設定する操作が行われてスタートキーが押下されると、原稿読取部３は、ＣＣＤラインセンサ２４によりテスト原稿２６の画像データを読取る。このようにしてＣＣＤラインセンサ２４によって読取られたテスト原稿２６の画像データ（画素データ）は、ゲイン調整及びＡ／Ｄ変換され、８ビットのデジタルデータとして原稿読取部３から所定の出力先に出力される。制御部２は、このようにして原稿読取部３のＣＣＤラインセンサ２４によりテスト画像を読取って画像データを取得する処理を行い、取得した画像データの中から各チェック領域に含まれる画素データを抽出する。具体的には、原稿読取部３から出力された画像データを構成する各画素データが、ＲＡＭ１２に記憶されているチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２に含まれているか否かを判別し、チェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２に含まれている画素データを抽出してずれ量検出回路４へと入力する。
【００５４】
なお、本実施形態においては、予めチェック領域の位置情報をＲＡＭ１２に記憶しておき、これらの処理を行っているが、例えば、主走査ライン毎に、ａ番目〜ｂ番目までの画素データがチェック領域に含まれる画素データであるということを示す計数値をＲＡＭ１２に予め記憶しておき、取得した画素データの数を計数するとともにＲＡＭ１２の計数値と比較してチェック領域に含まれる画素データであるか否かを判別し、チェック領域含まれると判別した画素データのみを、選択的に抽出するようにしてもよい。
【００５５】
次に、ずれ量検出回路４は、原稿読取部３のＣＣＤラインセンサ２４によりテスト画像を読取って取得した画像データに基づいて、チェック領域に含まれる画素値を各チェック領域毎に算出する処理を行う。すなわち、入力されたチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２の各チェック領域に含まれる画素データの画素値をチェック領域毎にそれぞれ足し合せて画素値の合計値を算出し、算出した合計値をそのチェック領域の画素数（ここでは、長さＬと高さＨの積）で除算することによりチェック領域に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐを算出する平均化処理をチェック領域毎に行う。
【００５６】
図５の（ａ）は、生成された複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２と、実際に読取られた画像データのパターン領域２７と、に位置ずれが生じなかった場合の両者の位置関係を示した図である。図示するように、両者に位置ずれが生じなかった場合には、複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２に含まれる画素データは、全てパターン領域２７の画素データによって構成されることになる。すなわち、チェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２の各チェック領域に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐは、いずれの領域でもＲＡＭ１２に記憶されている基準画素値Ｂとほぼ等しくなる。
【００５７】
図５の（ｂ）は、生成された複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２と、実際に読取られた画像データのパターン領域２７と、に位置ずれが生じた場合の両者の位置関係を例示した図であり、複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２に対してパターン領域２７が右下方向に位置ずれした状態を示している。図示するように、チェック領域Ｈ２に含まれる画素データとチェック領域Ｖ２に含まれる画素データは、全てパターン領域２７の画素データによって構成されている。一方、チェック領域Ｈ１に含まれる画素データとチェック領域Ｖ１に含まれる画素データは、一部がパターン領域２７の画素データによって構成され、残りはパターン領域２７の外側の画素データによって構成されている。すなわち、チェック領域Ｈ２に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐとチェック領域Ｖ２に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐは、いずれもＲＡＭ１２に記憶されている基準画素値Ｂとほぼ等しくなり、これに対し、チェック領域Ｈ１に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐとチェック領域Ｖ１に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐは、ＲＡＭ１２に記憶されている基準画素値Ｂと基準画素値Ｗの間の値をとる。
【００５８】
図５の（ｃ）は、生成された複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２と、実際に読取られた画像データのパターン領域２７と、に位置ずれが生じた場合の両者の位置関係を例示した図であり、複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２に対してパターン領域２７が左上方向に位置ずれした状態を示している。図示するように、チェック領域Ｈ１に含まれる画素データとチェック領域Ｖ１に含まれる画素データは、全てパターン領域２７の画素データによって構成されている。一方、チェック領域Ｈ２に含まれる画素データとチェック領域Ｖ２に含まれる画素データは、一部がパターン領域２７の画素データによって構成され、残りはパターン領域２７の外側の画素データによって構成されている。すなわち、チェック領域Ｈ１に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐとチェック領域Ｖ１に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐは、いずれもＲＡＭ１２に記憶されている基準画素値Ｂとほぼ等しくなり、これに対し、チェック領域Ｈ２に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐとチェック領域Ｖ２に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐは、ＲＡＭ１２に記憶されている基準画素値Ｂと基準画素値Ｗの間の値をとる。
【００５９】
これらの３つの場合の説明からも明らかなように、生成された複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２に対してＣＣＤラインセンサ２４が実際にテスト原稿２６から読取った画像データのパターン領域２７に位置ずれが生じると、複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２のうち、少なくともいずれか１つの領域の画素値の平均値Ｐが基準画素値Ｂから変化することになる。そのため、ＣＣＤラインセンサ２４がテスト原稿２６から読取った複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐをチェック領域毎に算出し、その値が基準画素値Ｂと一致するか否かに基づいて、各チェック領域に対してパターン領域２７が位置ずれしているか否かを容易に判断することができる。
【００６０】
そのため、ずれ量検出回路４は、チェック領域に含まれる画素値の平均値Ｐを算出した後、算出した画素値の平均値Ｐと、基準画素値Ｂ及び基準画素値Ｗと、に基づいて、以下の数１に示す演算処理を各チェック領域毎に行う。
【００６１】
【数１】
2006166296.tif 000003
この数１において、Ｚは、チェック領域に対するパターン領域の位置ずれ量であり、Ｂは基準画素値Ｂであり、Ｗは基準画素値Ｗであり、Ｌは、チェック領域の長さＬである。ずれ量検出回路４は、この数１に示す演算処理をチェック領域Ｈ１、チェック領域Ｈ２、チェック領域Ｖ１、及びチェック領域Ｖ２のそれぞれの画素値の平均値Ｐに対して行うことにより、チェック領域に対するパターン領域２７の位置ずれ量Ｚを各チェック領域毎に算出する。すなわち、算出した画素値Ｐと基準画素値（基準画素値Ｂ及び基準画素値Ｗ）とに基づいて、読取った画像の位置ずれ状態を検出する処理を行う。
【００６２】
以下、複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２のうち、チェック領域Ｈ１に着目し、上記の数１の演算式に基づいて変化する、チェック領域Ｈ１に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐと、チェック領域Ｈ１に対するパターン領域２７の水平方向（左右方向）の位置ずれ量Ｚとの関係について図６に基づいて説明する。なお、チェック領域Ｈ１を含む総合チェック領域３１とパターン領域２７がずれていない場合、図５の（ａ）に示すように、チェック領域Ｈ１の基準である左側の外縁線がパターン領域２７の基準である左側の外縁線に接触するため、この状態（図６に示すＤの状態）を基準にして説明する。
【００６３】
まず、基準となる図中のＤの場合では、チェック領域Ｈ１に含まれる画素データは、全て読取ったパターン領域２７の画素データによって構成されている。そのため、チェック領域Ｈ１に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐは、基準画素値Ｂとほぼ等しくなる。したがって、上記の数１において平均値Ｐに基準画素値Ｂを代入すると、チェック領域Ｈ１に対するパターン領域２７の位置ずれ量Ｚは「０」となる（Ｚ＝０）。また、チェック領域Ｈ１の基準位置に対して、読取ったパターン領域２７が左方向にずれたＥの場合、基準となるＤの場合と同様にチェック領域Ｈ１に含まれる画素データが全て読取ったパターン領域２７の画素データによって構成されているため、上記の数１によって算出される位置ずれ量Ｚは、「０」となる（Ｚ＝０）。
【００６４】
一方、チェック領域Ｈ１の基準位置に対して、読取ったパターン領域２７が右方向にずれたＣの場合、チェック領域Ｈ１に含まれる画素データは、その一部がパターン領域２７の画素データによって構成されており、残りはパターン領域２７の外側の画素データによって構成されている。そのため、チェック領域Ｈ１に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐは、基準画素値Ｂよりも大きく、基準画素値Ｗよりも小さい値となる。このことを踏まえて上記の数１を考えると、平均値Ｐが基準画素値Ｂであると仮定すると、位置ずれ量Ｚは「０」であり、平均値Ｐが基準画素値Ｗであると仮定すると、位置ずれ量Ｚは「Ｌ」となる。したがって、図中のＣの場合、位置ずれ量Ｚは、０＜Ｚ＜Ｌの関係となる。
【００６５】
続いて、図中のＣの場合からチェック領域Ｈ１の基準位置に対して、読取ったパターン領域２７が更に右方向にずれたＢの場合、チェック領域Ｈ１の右側の外縁線とパターン領域２７の左側の外縁線が接触しており、チェック領域Ｈ１に含まれる画素データは、全てパターン領域２７の外側の画素データによって構成されている。そのため、チェック領域Ｈ１に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐは、基準画素値Ｗとほぼ等しくなる。したがって、上記の数１において平均値Ｐに基準画素値Ｗを代入すると、チェック領域Ｈ１の基準位置に対するパターン領域２７の位置ずれ量Ｚは「Ｌ」となる（Ｚ＝Ｌ）。
【００６６】
図中のＢの場合からチェック領域Ｈ１の基準位置に対して、読取ったパターン領域２７が更に右方向にずれたＡの場合、Ｂの場合と同様にチェック領域Ｈ１に含まれる画素データは、全てパターン領域２７の外側の画素データによって構成されている。そのため、チェック領域Ｈ１に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐは基準画素値Ｗとほぼ等しく、チェック領域Ｈ１の基準位置に対するパターン領域２７の位置ずれ量Ｚは、Ｂの場合と同じ「Ｌ」となる（Ｚ＝Ｌ）。
【００６７】
このように、ずれ量検出回路４は、チェック領域Ｈ１に含まれるテスト原稿２６の画像データの画素値（画素値の平均値Ｐ）を算出して数１の演算処理を行うことにより、基準となるＤの状態に対するパターン領域２７の右方向への位置ずれ量Ｚを容易に検出することができる。ただし、上記の説明からも明らかなように、基準となるＤの状態に対してパターン領域２７が左方向にずれた場合（図中のＥの場合）、及びチェック領域Ｈ１の基準位置に対してパターン領域２７が右方向にチェック領域Ｈ１の長さＬを超えてずれた場合には、上記の数１に示す演算式により位置ずれ量Ｚを算出することはできない。したがって、長さＬを超えた位置ずれ量Ｚを検出したい場合には、検出したい位置ずれ量Ｚの上限をＬとしてＬの値を大きめに、すなわち、チェック領域Ｈ１の長さＬを長めに設定しておけばよい。
【００６８】
なお、基準となるＤの状態に対してパターン領域２７が左方向にずれた場合（Ｅの場合）、チェック領域Ｈ１に含まれる画素データの画素値の平均値ＰがＤの場合から変化しないため、位置ずれ量Ｚを検出することができない。そのため、図４及び図５に示すように、チェック領域Ｈ１の水平方向の右側にパターン領域２７に対して接触するように別のチェック領域Ｈ２を生成しておき、このチェック領域Ｈ２に対しても上記の数１の演算処理を行う。これにより、チェック領域Ｈ２に対するパターン領域２７の左方向への位置ずれ量Ｚを算出することができる。すなわち、２つのチェック領域Ｈ１及びＨ２を対にして設定することにより、−Ｌ＜Ｚ＜Ｌの範囲で一次元の左右両方向の位置ずれ量Ｚを検出可能としている。
【００６９】
また、このことは、図中の縦方向の位置ずれについても同様であり、パターン領域２７に対して２つのチェック領域Ｖ１及びＶ２を対にして設定することにより、−Ｌ＜Ｚ＜Ｌの範囲で一次元の上下両方向の位置ずれ量Ｚを検出可能としている。したがって、横方向（主走査方向）の位置ずれ量Ｚを検出するためのチェック領域Ｈ１及びＨ２と、縦方向（副走査方向）の位置ずれ量Ｚを検出するためのチェック領域Ｖ１及びＶ２と、を組合せて予め規定しておくことにより、二次元方向に−Ｌ＜Ｚ＜Ｌの範囲で位置ずれ量Ｚを検出することができる。
【００７０】
以下、図５の（ａ）及び（ｂ）に基づいて、総合チェック領域３１に対するパターン領域２７の位置ずれ量の算出例について説明する。なお、ここでは、ＲＡＭ１２に記憶されている基準画素値Ｂを「１０」、基準画素値Ｗを「２５０」、長さＬを「１５０」画素として説明する。図５の（ａ）に示すような場合、総合チェック領域３１を構成するチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２は、いずれも全画素データがパターン領域２７の画素データによって構成されているため、画素値の平均値Ｐは、いずれの領域でも基準画素値Ｂと等しい「１０」となる。したがって、平均値Ｐ、基準画素値Ｂ、基準画素値Ｗ、及び長さＬの値を数１の演算式に代入すると、Ｚ＝（１０−１０）／（２５０−１０）×１５０となり、チェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２に対するパターン領域２７の位置ずれ量Ｚは、いずれのチェック領域に対しても「０」となる。したがって、テスト原稿２６に対する設計上理想的な読取位置と実際のテスト原稿２６の読取位置とに位置ずれが生じなかったことを検出することができる。つまり、仮にこの状態で通常の原稿に対する読取動作が行われた場合、原稿が正しい位置に載置されてさえいれば、設計上理想的な読取位置でその原稿が読取られることになる。
【００７１】
一方、図５の（ｂ）に示すような場合、総合チェック領域３１に含まれるチェック領域のうち、チェック領域Ｈ２とチェック領域Ｖ２は、全画素データがパターン領域２７の画素データによって構成されているため、それぞれの領域に含まれる画素データの画素値の平均値ＰＨ２とＰＶ２は、ともに「１０」となる。したがって、チェック領域Ｈ２に対するパターン領域２７の位置ずれ量ＺＨ２とチェック領域Ｖ２に対するパターン領域２７の位置ずれ量ＺＶ２はともに「０」となる。一方、チェック領域Ｈ１とチェック領域Ｖ１のそれぞれの領域に含まれる画素データは、パターン領域２７の画素データとパターン領域２７外の画素データとによって構成されている。ここで、チェック領域Ｈ１の画素データの画素値の平均値ＰＨ１の値を「９０」、チェック領域Ｖ１の画素データの画素値の平均値ＰＶ１の値を「１４０」とすると、チェック領域Ｈ１に対するパターン領域２７の位置ずれ量ＺＨ１は、（９０−１０）／（２５０−１０）×１５０＝５０画素となる。また、チェック領域Ｖ１に対するパターン領域２７の位置ずれ量ＺＶ１は、（１４０−１０）／（２５０−１０）×１５０＝８１画素となる。したがって、各チェック領域に対するパターン領域２７の位置ずれ量Ｚの算出結果から、総合チェック領域３１に対してパターン領域２７が右方向へ５０画素、下方向へ８１画素位置ずれしていることを検出することができる。
【００７２】
なお、各チェック領域の高さＨの大きさは、特に限定されるものではないが、高さＨが小さい場合、各チェック領域に含まれる画素データの数が少なくなる。したがって、高さＨの値を例えば１のように小さくし過ぎると、ノイズの影響を受けやすくなり画素値の平均値Ｐに誤差を含むおそれがある。逆に高さＨの値を大きくすれば、チェック領域に含まれる画素データの数が多くなり、ノイズの影響を極力少なくして画素値の平均値Ｐ並びに位置ずれ量Ｚの精度を向上させることができる。そのため、ノイズなどのバラツキ要因があるような場合には、チェック領域の高さＨを大きめに規定しておくのが好適である。ただし、高さＨを大きくし過ぎると、平均化処理に必要な画素データの数が多くなり、平均化処理に時間がかかるという逆の問題が生じるので、高さＨは、これらの点を考慮して適切な値を規定しておけばよい。
【００７３】
ところで、ここでまは、チェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２のそれぞれのチェック領域に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐを用いて複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２に対するパターン領域２７の位置ずれ状態を検出する場合について説明したが、各チェック領域に含まれる画素値の平均値Ｐではなく各チェック領域に含まれる画素データの画素値の合計値を用いて各チェック領域の位置ずれ量Ｚを算出することも可能である。各チェック領域に含まれる画素データの画素値の合計値を用いて位置ずれ量Ｚを算出する場合、ずれ量検出回路４は、以下の数２に示す演算処理を行う。
【００７４】
【数２】
2006166296.tif 000004
この数２の演算式において、Ｚ、Ｂ、Ｗ、及びＬは、数１のものと同様のものであり、Ｔは、チェック領域に含まれる画素データの画素値の合計値であり、Ｍは、チェック領域に含まれる画素データの画素数、つまり、長さＬと高さＨの積によって表される画素数である。なお、チェック領域の長さＬと高さＨが規定された段階でそれらの値により画素数Ｍが決まるため、基準画素値Ｂと画素数Ｍを掛け合せた値ＢＭと、基準画素値Ｗと画素数Ｍを掛け合せた値ＷＭを、予めＲＡＭ１２などに記憶しておけばよい。
【００７５】
このように、チェック領域に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐを用いた数１の演算処理と、チェック領域に含まれる画素データの画素値の合計値Ｔを用いた数２の演算処理と、のいずれの演算処理を行っても各チェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２に対するパターン領域２７の位置ずれ量Ｚを算出することができるが、平均値Ｐを用いた数１の演算処理を行う場合、基準画素値Ｗと基準画素値Ｂとがチェック領域に含まれる画素数Ｍと無関係であるため、大きさの異なる複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２を規定した場合、すなわち、含まれる画素数が異なる複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２を規定した場合に、それらのチェック領域に対する演算処理を共通化することができる。
【００７６】
逆に、合計値Ｔを用いた数２の演算処理を行う場合、チェック領域に含まれる画素データの画素値の合計値Ｔを画素データ数Ｍにより除算して平均値Ｐを算出する平均化処理が不要であるため、数１の演算処理を行う場合に比べて、ずれ量検出回路４のハード構成を簡略化することができる。
【００７７】
なお、ここまでは、ＣＣＤラインセンサ２４によりテスト原稿２６が正規の位置で読取られた場合に取得されるパターン領域２７の内側に接触するように生成された複数のチェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２について説明したが、複数のチェック領域は必ずしもパターン領域２７の内側に接触する必要はなく、パターン領域２７の外側に接触するように生成してもよい。
【００７８】
図７の（ａ）は、パターン領域２７の外側に接触するように生成された複数のチェック領域を例示した図である。図示する基準となる状態では、ＣＣＤラインセンサ２４によりテスト原稿２６が正規の位置で読取られた場合に取得される画像データのパターン領域２７に対して外側から接触するように、複数（ここでは、４つ）のチェック領域Ｈ３、Ｈ４、Ｖ３、及びＶ４が生成されている。この状態では、各チェック領域Ｈ３、Ｈ４、Ｖ３、及びＶ４に含まれる画素データは、全てパターン領域２７の外側の画素データによって構成されることになる。したがって、各チェック領域に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐは、ＲＡＭ１２に記憶されている基準画素値Ｗとほぼ等しくなり、この状態を基準にして各チェック領域Ｈ３、Ｈ４、Ｖ３、及びＶ４に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐが変化することになる。
【００７９】
図７の（ｂ）は、４つのチェック領域Ｈ３、Ｈ４、Ｖ３、及びＶ４に対して、取得した画像データのパターン領域２７が左下方向に位置ずれした状態を例示した図である。図示する状態では、チェック領域Ｖ３とチェック領域Ｈ４に含まれる画素データは、全てパターン領域２７の外側の画素データによって構成されており、それぞれの領域に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐは、基準画素値Ｗとほぼ等しくなる。これに対し、チェック領域Ｈ３とチェック領域Ｖ４に含まれる画素データは、その一部がパターン領域２７の画素データによって構成されており、残りがパターン領域２７の外側の画素データによって構成されている。このように、各チェック領域Ｈ３、Ｈ４、Ｖ３、及びＶ４に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐが、読取ったパターン領域２７のずれ方によって変化するため、数１や数２とは演算式が異なるものの、チェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２を規定した上記の場合と同様に、複数のチェック領域Ｈ３、Ｈ４、Ｖ３、及びＶ４に対するパターン領域２７の位置ずれ量Ｚを容易に検出することができる。
【００８０】
また、パターン領域は、テスト原稿２６上に３箇所以上（本実施形態においては、４箇所）形成されており、パターン領域２８乃至３０それぞれについても、パターン領域２７と同様に複数のチェック領域を生成して上記のような演算処理を行うことにより、４つのパターン領域２７乃至３０それぞれについて位置ずれ状態を検出することができ、それにより、テスト原稿２６の主走査伸縮、副走査伸縮、スキュー、アライメントなどを求めることが可能である。また、１個のパターン領域に対して必ずしも複数のチェック領域を生成する必要はなく、１個のパターン領域に対して１個のチェック領域を生成するようにしてもよい。例えば、各パターン領域に対して、それぞれ１個ずつのチェック領域を各々の検出方向が異なるように生成するようにしてもよい。
【００８１】
とろこで、ここまでは、テスト原稿２６にパターン領域２７乃至３０から構成されるテスト画像を形成しておき、パターン領域毎に予め生成されたチェック領域に対するパターン領域の位置ずれ状態を検出する場合について説明したが、パターン領域から構成されるテスト画像を形成する場所はテスト原稿２６上に限定されるものではなく、装置本体に形成するようにしてもよい。
【００８２】
図８は、フラット・ベッド・スキャナ１６の透明な原稿載置板２０を含む原稿台を図２の矢符Ａで示す方向から見た場合の上面図である。図示するように、テスト画像は、装置本体のＣＣＤラインセンサ２４が読取可能な位置で且つ有効読取領域外（原稿載置板２０の外側）に形成されている。具体的には、白色プレート３８及び３９の長手方向の両端付近に、パターン領域２７乃至３０のようなパターン領域（図中の黒塗りの四角）を３箇所以上（ここでは、４箇所）形成しておき、その白色プレート３８及び３９を図示するように原稿台の上面裏側にその長手方向が主走査方向と並行になるように設置する。なお、透光板３５に隣接する位置には、通常、シェーディング補正に使用するシェーディングデータを取得するための白基準板が設けられるため、この白基準板の長手方向の両端付近にパターン領域を形成しておき、上記の白色プレート３８として原稿台の裏側に設置するようにしてもよい。なお、白色プレート３８及び３９を使用せず、原稿台の上面裏側に直接パターン領域を形成するようにしてもよい。
【００８３】
上記のようにして原稿台の上面裏側に設けられた白色プレート３８及び３９の４つのパターン領域の位置は、予め判っているため、制御部２は、正規の状態（設計上理想的な様態）でＣＣＤラインセンサ２４により原稿載置板２０の外側に形成されたテスト画像が読取られた場合に取得される画像データのテスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成し、ＲＡＭ１２は、その生成されたチェック領域に関する情報を記憶する。ここで、正規の状態とは、ＣＣＤラインセンサ２４の取付け誤差や部品の寸法誤差等がなく、パターン領域によって構成されるテスト画像に対する設計上理想的な読取位置と実際のテスト画像の読取位置とに位置ずれが生じない状態である。
【００８４】
なお、パターン領域は、原稿載置板２０の外側に３箇所以上（ここでは、４箇所）形成されており、制御部２は、各パターン領域に対してそれぞれチェック領域を生成し、ＲＡＭ１２は、各パターン領域毎のチェック領域を記憶している。なお、原稿載置板２０の外側に形成されたパターン領域に対するチェック領域の生成は、テスト原稿２６の場合と同様であるため、ここでは図示していないが、原稿載置板２０の外側の４つのパターン領域それぞれに対して、複数のチェック領域（例えば、チェック領域Ｈ１、Ｈ２、Ｖ１、及びＶ２）が生成されているものとする。また、白色プレート３８及び３９におけるパターン領域の平均濃度を基準画素値Ｂ、白色プレート３８及び３９上におけるパターン領域の外側の平均濃度を基準画素値Ｗとして、上記のテスト原稿２６を使用する場合と同様にＲＡＭ１２に記憶させておく。
【００８５】
まず、サービスマン等によって操作部９からＣＣＤラインセンサ２４の位置ずれ状態を検出するためのモード（位置ずれ状態検出モード）に設定するための操作が行われてスタートキーが押下されると、原稿読取部３は、ＣＣＤラインセンサ２４により原稿載置板２０の外側の画像データを読取る。このようにしてＣＣＤラインセンサ２４によって読取られた原稿載置板２０の外側の画像データ（画素データ）は、ゲイン調整及びＡ／Ｄ変換され、８ビットのデジタルデータとして原稿読取部３から所定の出力先に出力される。制御部２は、このようにして原稿読取部３のＣＣＤラインセンサ２４により原稿載置板２０の外側のテスト画像を読取って取得した画像データの中から各チェック領域に含まれる画素データを抽出する。具体的には、原稿読取部３から出力された画像データを構成する各画素データが、ＲＡＭ１２に記憶されているチェック領域に含まれているか否かを判別し、チェック領域に含まれている画素データを抽出してずれ量検出回路４へと入力する。
【００８６】
ずれ量検出回路４は、原稿読取部３のＣＣＤラインセンサ２４によりテスト画像を読取って取得した画像データに基づいて、チェック領域に含まれる画素値を各チェック領域毎に算出し、算出した画素値と、基準画素値Ｂ及び基準画素値Ｗと、に基づいて、読取った画像の位置ずれ状態を検出する。すなわち、チェック領域に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐを算出して数１の演算処理を行うか、又は、チェック領域に含まれる画素データの画素値の合計値Ｔを算出して数２の演算処理を行う。
【００８７】
なお、パターン領域が原稿台の裏側における原稿載置板２０の外側に形成されている点を除いて、パターン領域に対して生成されるチェック領域、チェック領域に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐ又は合計値Ｔを算出する方法、各チェック領域に対するパターン領域の位置ずれ量Ｚを算出する方法等は、テスト原稿２６を使用する場合と同様であるため、ここではその詳細な説明は省略する。
【００８８】
このように、装置本体にパターン領域を設けておき、ＣＣＤラインセンサ２４により読取った原稿載置板２０の外側の画像データの位置ずれ状態を検出することにより、フラット・ベッド・スキャナ１６のフレームとＣＣＤラインセンサ２４との相対位置を検出することができる。なお、パターン領域によって構成されるテスト画像が形成される位置は、原稿載置板２０の外側であれば特に限定されるものではないが、原稿載置板２０から離れた位置にパターン領域が形成されると、ＣＣＤラインセンサ２４の主走査方向の長さを長くしなければならないといった問題が生じる。そのため、ＣＣＤラインセンサ２４の主走査方向の長さを最小限にする等の目的により、例えば、図９に示すように、各パターン領域の原稿載置板２０側にのみそれぞれチェック領域を形成するのが好適である。
【００８９】
とろこで、原稿載置ガイドが正しく組付けられていない場合やＣＣＤラインセンサ２４が正しく取付けられていない場合、いかに原稿載置板２０の正しい位置に原稿が載置されたとしても、読取られた原稿の画像データの読取位置は、理想的な読取位置から常にずれることになる。したがって、画像処理部５は、ずれ量検出回路４が検出した位置ずれ状態に基づいて、ＣＣＤラインセンサ２４が（通常の）原稿の画像を読取って取得した画像データから読取り後の処理で使用する有効データを抽出する。すなわち、ＣＣＤラインセンサ２４が読取った原稿の画像データから抽出する有効データの位置を、原稿載置板２０の外側のテスト画像を読取った画像データの位置ずれ状態に基づいて変更（補正）する。これにより、原稿に対して本来読取るべき理想的な読取位置の画像データを取得することができる。また、複数箇所のパターン領域によって検出した位置ずれ量Ｚを用いて、主走査方向及び／又は副走査方向のテスト原稿２６の伸縮を検出した場合、例えば、走査キャリッジの送り速度又は原稿の搬送速度を補正することにより、副走査方向の伸縮を補正することができる。なお、これらの補正は、テスト画像がテスト原稿２６に形成されている場合、及び原稿載置板２０の外側に形成されている場合のいずれの場合にも適用可能である。
【００９０】
図１０は、濃度の異なる複数の濃度パターンが形成されたテスト原稿４０を例示した図である。なお、複数の濃度パターンの横の「明」及び「暗」の文字とその間の双方向の矢印は、複数の濃度パターンの濃度が濃度パターン毎に変化していることを説明するために示したものであり、テスト原稿４０に形成されたものではない。
【００９１】
このようなテスト原稿４０を自動原稿給送装置１５の原稿トレイ１７又はフラット・ベッド・スキャナ１６の原稿載置板２０に載置し、各濃度パターンの画像データをＣＣＤラインセンサ２４に読取らせる場合、自動原稿給送装置１５によりテスト原稿４０が正しく搬送されなかったり、原稿載置板２０にテスト原稿４０が正しく載置されなかった場合など、濃度パターンの画像データを正しく取込むことができないおそれがある。すなわち、濃度パターンの外側の画素データを濃度パターンの画素データとして取込んでしまうおそれがある。このような場合に、複数のパターン領域２７乃至３０を濃度パターンとは別にテスト原稿４０の所定の位置に形成しておき、パターン領域２７乃至３０のぞれぞれについて、予め生成した複数のチェック領域に対する各パターン領域の位置ずれ状態を検出して各濃度パターンの正確な位置を特定することにより、濃度パターンのデータを正しく取込むことができる。
【００９２】
なお、本実施形態においては、各パターン領域に対して４つのチェック領域が予め生成されている場合について説明したが、実際に読取った画像データのパターン領域の位置ずれ状態、すわなち、パターン領域の縦方向（副走査方向）と横方向（主走査方向）の位置ずれ量を検出することができれば、チェック領域の数は４つに限定されるものではない。また、チェック領域に含まれる全ての画素データを画素値算出の対象とする必要はなく、チェック領域に含まれる画素データに対して所定画素間隔で間引き処理を行い、チェック領域に含まれる一部の画素データを用いてチェック領域の画素値を算出するようにしてもよい。この場合、位置ずれ状態の検出精度は低下するが、平均化処理に使用する画素データ数が減少するため、演算処理を簡略化することができる。
【００９３】
図１１は、パターン領域２７に対して生成されるチェック領域の変形例を示した図である。図示するように、パターン領域２７に対して重なるように２つのチェック領域Ｈ５及びＶ５が生成されている。制御部２は、原稿読取部３のＣＣＤラインセンサ２４によりテスト画像が読取られた場合に取得される画像データのテスト画像を構成するパターン領域に対して重なるようにチェック領域Ｈ５及びＶ５を生成し、ＲＡＭ１２に記憶させる。なお、図１１に示すようにチェック領域が生成される場合、チェック領域Ｈ５の基準は、ずれ検出方向（図中の左右方向）にチェック領域Ｈ５を２等分する線となり、チェック領域Ｖ５の基準は、ずれ検出方向（図中の上下方向）にチェック領域Ｖ５を２等分する線となる。また、パターン領域２７の基準は、チェック領域Ｈ５と交差する右側の外縁線とチェック領域Ｖ５と交差する上側の外縁線である。
【００９４】
図１１に示すようにチェック領域Ｈ５とチェック領域Ｖ５が生成されている場合、図示する基準状態から、取得した画像データのパターン領域２７が右方向と左方向のいずれの方向に位置ずれしたとしても、チェック領域Ｈ５に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐが変化する。また、図示する基準状態から、取得した画像データのパターン領域２７が上方向と下方向のいずれの方向に位置ずれしたとしても、チェック領域Ｖ５に含まれる画素データの画素値の平均値Ｐが変化する。したがって、このように、２つのチェック領域Ｈ５及びＶ５により、パターン領域２７の二次元方向の位置ずれ状態を検出することが可能である。但し、１つのチェック領域で検出可能な範囲は、−Ｌ／２＜Ｚ＜２／Ｌであるため、一方向の位置ずれ検出可能範囲の大きさは、Ｌ／２となる。
【００９５】
図１２は、パターン領域毎に予め生成された複数のチェック領域に対するパターン領域の位置ずれ状態を報知するために、表示部１０の液晶表示装置に表示された位置ずれ状態報知画面４１を例示した図である。制御部２は、ずれ量検出回路４が検出した各パターン領域の位置ずれ状態を報知するために、表示部１０の液晶表示装置にチェック領域に対するパターン領域の位置ずれ状態を表示させる。サービスマン等は、図示する位置ずれ状態報知画面４１から、左上のパターン領域用に生成されたチェック領域に対して、左上のパターン領域が右方向に１．５２ｍｍ、下方向に１．０２ｍｍ位置ずれした状態で読取られたことを容易に確認することができる。なお、この位置ずれ状態報知画面４１には、他のパターン領域の位置ずれ状態も表示されており、それらの位置ずれ量を比較することにより、各パターン領域の位置ずれ量の他に、テスト原稿の主走査伸縮、副走査伸縮、スキュー、アライメントなどを容易に把握することができ、サービスマン等は、この報知画面４１に表示された情報に基づいて、機器の調整等を容易に行うことができる。
【００９６】
また、テスト原稿ではなく、原稿載置板２０の外側にパターン領域を設ける場合についても、同様の報知画面を表示部１０の液晶表示装置に表示させることにより、原稿読取部３のフレームに対するＣＣＤラインセンサ２４の取付け誤差等を容易に確認することができる。また、この位置ずれ状態報知画面４１に表示されているものと同様の情報を記録部８において用紙に記録して報知するようにしてもよい。
【００９７】
また、このような報知処理に対して、サービスマン等が所定の入力操作を行って位置ずれを補正することも可能であるが、検出したパターン領域の位置ずれ状態に基づいて、画像読取装置１が位置ずれ状態を自動的に補正するようにしてもよい。すなわち、サービスマン等によって位置ずれ状態検出モードに設定されてスタートキーが押下された場合に、上記のように生成したチェック領域に対するパターン領域の位置ずれ状態を検出した後、例えば、読取った原稿の画像データから抽出する有効データの位置情報を検出した位置ずれ状態に基づいて補正する。これにより、ＣＣＤラインセンサ２４の取付け誤差等があったとしても、より設計上理想的な読取位置に近い読取位置で原稿の読取動作を行うことができる。
【００９８】
なお、テスト画像がテスト原稿上に形成されている場合、テスト原稿が原稿載置板２０の正しい載置位置に載置されなかったことを原因として、検出した位置ずれ量Ｚが検出可能範囲（−Ｌ＜Ｚ＜Ｌ）を超えるおそれがあり、検出可能範囲を超えると、正確な位置ずれ量Ｚを検出することができない。そのため、制御部２は、検出した位置ずれ量Ｚが検出可能範囲を超えた場合に、例えば「位置ずれを検出できませんでした」、「テスト原稿を確認してスタートキーを押して下さい」等のメッセージを表示部１０の液晶表示装置に表示させるなどの報知処理を行う。これにより、位置ずれ状態を検出することができないといった問題が生じるのを防止することができ、また、テスト原稿が正しく載置された状態で位置ずれ状態を検出することができる。
【００９９】
上述したようなテスト画像が読取られた場合に取得される画像データのテスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成する処理と、テスト画像を読取って画像データを取得する処理と、取得した画像データに基づいて、チェック領域に含まれる画素値を各チェック領域毎に算出する処理と、算出した画素値と基準画素値とに基づいて、読取った画像の位置ずれ状態を検出する処理と、を含んでなる画像の位置ずれ検出方法を実行させるためのプログラムは、本実施形態においては、記憶媒体であるＲＯＭ１１に記憶されている。但し、上記の画像の位置ずれ検出方法を実行させるためのプログラムをコンピュータ読取可能に記憶した記憶媒体は、ＲＯＭ１１に限定されるものではなく、例えば、磁気ディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ等であってもよい。もちろん、これらの読み取り装置がプログラムを実行するコンピュータに内蔵或いは直結されている必要はなく、ネットワークなどを介して他のコンピュータへ転送される構成でもよい。
【０１００】
以上説明した本実施形態に係る画像読取装置１は、原稿のモノクロ画像データを読取る機能を備えた画像読取装置であるが、本発明は原稿のモノクロ画像データを読取る機能を備えた装置に限定されるものではなく、原稿のカラー画像データを読取る機能を備えた画像読取装置に対しても適用可能である。
【０１０１】
以下、本実施の形態に係る画像読取装置がカラー画像データを読取る機能を備えた装置である場合について説明する。なお、このカラー画像データを読取る機能を備えた画像読取装置５１は、画像読取装置１の各部がカラー画像データを処理可能に構成されている点を除いて画像読取装置１と同様に構成されており、また、画像読取装置５１における位置ずれ状態を検出するための処理動作は、位置ずれ状態を検出するために取得する画像データが１色成分からなるモノクロ画像データではなく複数の色成分からなるカラー画像データである点などを除いて、画像読取装置１と同様に行われる。したがって、上述した画像読取装置１と同様の点についてはその説明を省略し、画像読取装置１と異なる点について主に説明する。
【０１０２】
画像読取装置５１の原稿読取部３は、複数のラインセンサにより原稿のカラー画像データを読取る機能を備えたものであり、Ｒ（Red）、Ｇ（Green）、Ｂ（Blue）の３つのラインセンサからなるカラーラインセンサにより原稿の画像を読取って複数の色成分からなるカラー画像データを取得する。原稿読取部３が取得したＲ成分の画像データ、Ｇ成分の画像データ、及びＢ成分の画像データからなるカラー画像データは、各色成分毎にゲイン調整、及びＡ／Ｄ変換され、所定の出力先に出力される。なお、画像処理部５、コーデック６、記録部８等は、いずれもカラー画像データを扱うことができるように構成されているが、ここでの詳細な説明は省略する。
【０１０３】
制御部２は、原稿読取部３によりテスト原稿２６上又は原稿載置板２０の外側に形成されたテスト画像が読取られた場合に取得されるカラー画像データの前記テスト画像を構成するパターン領域に対して接触又は重なるようにチェック領域を生成する。なお、ここで生成されるチェック領域は、上述した画像読取装置１で生成されるチェック領域と同様のものであり、生成されたチェック領域に関する情報は、ＲＡＭ１２に記憶される。
【０１０４】
まず、位置ずれ状態を検出するためのモード（位置ずれ状態検出モード）に設定する操作が操作部９などから行われてスタートキーが押下されると、原稿読取部３は、テスト画像を読取る。ここで原稿読取部３によって読取られるテスト画像は、テスト原稿２６又は原稿載置板２０の外側に形成されたものである。原稿読取部３で読取られたカラー画像データ（画素データ）は、ゲイン調整及びＡ／Ｄ変換され、８ビットのデジタルデータとして原稿読取部３から所定の出力先に出力される。
【０１０５】
制御部２は、原稿読取部３のカラーラインセンサによりテスト画像を読取って取得したカラー画像データの中から各チェック領域に含まれる画素データを色成分毎に抽出してずれ量検出回路４へと入力する。なお、このチェック領域に含まれる画素データの抽出は、ＲＡＭ１２に記憶されているチェック領域に関する情報に基づいて行ってもよいし、ＲＡＭ１２に計数値を記憶させておき、その計数値に基づいて行ってもよい。
【０１０６】
次に、ずれ量検出回路４は、原稿読取部３のカラーラインセンサによりテスト画像を読取って取得したカラー画像データに基づいて、チェック領域に含まれる各色成分の画素値を各チェック領域毎に算出する。すなわち、各チェック領域毎にＲ成分の画素値の平均値ＰＲ、Ｇ成分の画素値の平均値ＰＧ、及びＢ成分の画素値の平均値ＰＢを算出する。
【０１０７】
続いて、ずれ量検出回路４は、算出した各色成分の画素値と基準画素値とに基づいて、読取ったカラー画像の位置ずれ状態を色成分毎に検出する。すなわち、１個のチェック領域に対して、Ｒ成分の位置ずれ状態、Ｇ成分の位置ずれ状態、及びＢ成分の位置ずれ状態を検出する。なお、取得したカラー画像データは、ここではＲＧＢの３成分からなる画像データであるため、各色成分毎に基準画素値をＲＡＭ１２等に記憶させておき、各色成分毎に位置ずれ状態を検出する。
【０１０８】
制御部２は、ずれ量検出回路４が検出した位置ずれ状態に基づいて、原稿読取部３による原稿の読取動作又は原稿読取部３が取得した原稿のカラー画像データから有効データを抽出する処理を各色成分毎に補正する。具体的には、検出した位置ずれ状態に基づいて、原稿読取部３における画像データを取込むタイミングを各色成分毎に変更したり、或いは、画像処理部５において抽出する有効データの位置を変更して位置ずれ状態を補正する。これにより、原稿読取部３におけるカラーラインセンサの取付け誤差等があったとしても、その影響を補正して設計上理想的な読取位置により近い読取位置で原稿のカラー画像データを取得することが可能となる。
【０１０９】
なお、このように、Ｒ成分、Ｇ成分、及びＢ成分の各色成分毎に位置ずれ状態を補正することも可能であるが、ずれ量検出回路４が検出した色成分毎の位置ずれ状態を平均化し、平均化した位置ずれ状態に基づいて、原稿読取部３による原稿の読取動作又は原稿読取部３が取得した原稿のカラー画像データから有効データを抽出する処理を複数の色成分について共通に補正するようにしてもよい。例えば、各色成分の位置ずれ状態を平均化した位置ずれ状態を検出し、その位置ずれ状態に基づいて、原稿読取部３の走査キャリッジの送り速度又は原稿の搬送速度を変更して複数の色成分に対して共通の補正処理を行う。
【０１１０】
ここまで、複数の色成分に対して、各色成分毎に位置ずれ状態を検出し、検出した位置ずれ状態を各色成分毎に又は複数の色成分に対して共通に補正する場合について簡単に説明したが、必ずしも複数の色成分全てについて位置ずれ状態を検出する必要はなく、複数の色成分のうちいずれか１成分に対してのみ位置ずれ状態を検出して位置ずれを補正するようにしてもよい。
【０１１１】
その場合、まず、ずれ量検出回路４は、原稿読取部３によりテスト画像を読取って取得したカラー画像データに基づいて、チェック領域に含まれる複数の色成分のうちのいずれか１成分の画素値を各チェック領域毎に算出する。具体的には、原稿読取部３において、ＲＧＢの３成分からなるカラー画像データのうち、例えばＧ成分など、１成分のみの画像データを取得し、ずれ量検出回路４へと入力し、ずれ量検出回路４は、その入力された１成分の画像データの画素値を各チェック領域毎に算出する。そして、算出した１成分の画素値と基準画素値とに基づいて、読取ったカラー画像の１成分の位置ずれ状態を検出する。制御部２は、ずれ量検出回路４が検出した位置ずれ状態に基づいて、原稿読取部３による原稿の読取動作又は原稿読取部３が取得した原稿のカラー画像データから有効データを抽出する処理を複数の色成分について共通に補正する。
【０１１２】
このように、ＲＧＢの３成分の画像データからなるカラー画像データに対していずれか１成分の画像データのみを用いて位置ずれ状態を検出することにより、各色成分毎に基準画素値を生成する必要もなく、画像読取装置１とほぼ同様の処理動作で位置ずれ状態を検出し、位置ずれ補正を行うことができる。
【０１１３】
なお、本実施の形態で示した画像読取装置１又は画像読取装置５１の構成は、本発明に係る画像読取装置の一態様にすぎず、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で適宜設計変更できることは勿論であり、例えば、ファクシミリ装置、スキャナ、これらの装置の機能を併せ持つ複合機等としても実現可能である。
【産業上の利用可能性】
【０１１４】
本発明は、例えば、原稿の画像データを読取る画像読取装置を備えた装置において、設計上理想的な読取位置に対して実際に読取った画像データの読取位置がどれだけ位置ずれしたかを検出するのに適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１１５】
【図１】本発明の実施の形態に係る画像読取装置の構成例を示したブロック図である。
【図２】原稿読取部の構成を示した断面図である。
【図３】４つのパターン領域からなるテスト画像が形成されたテスト原稿を例示した図である。
【図４】パターン領域に対して接触するようにパターン領域の内側に生成された複数のチェック領域について説明するための図である。
【図５】複数のチェック領域とパターン領域との位置関係を複数例示した図である。
【図６】チェック領域に含まれる画素データの画素値の平均値と、チェック領域に対するパターン領域の位置ずれ量と、の関係を示した図である。
【図７】パターン領域に対して接触するようにパターン領域の外側に生成された複数のチェック領域について説明するための図である。
【図８】原稿載置板の外側に形成されたパターン領域について説明するための原稿台の上面図である。
【図９】原稿載置板の外側に形成されたパターン領域に対して生成されるチェック領域の一例を示した図である。
【図１０】複数の濃度パターンが形成されたテスト原稿を例示した図である。
【図１１】パターン領域に対して交差するように生成されたチェック領域を例示した図である。
【図１２】読取られた画像データにおける複数のパターン領域の位置ずれ量を表示した表示画面を例示した図である。
【図１３】従来の画像読取装置で使用される十字状のパターン画像が形成されたテスト原稿を示した図である。
【符号の説明】
【０１１６】
１    画像読取装置
２    制御部（生成手段）
３    原稿読取部（読取手段）
４    ずれ量検出回路（算出手段、検出手段）
５    画像処理部（抽出手段）
１０    表示部（報知手段）
１５    自動原稿給送装置
２０    原稿載置板
２４    ＣＣＤラインセンサ
２６、４０    テスト原稿
２７、２８、２９、３０    パターン領域
３１    総合チェック領域
Ｈ１、Ｈ２、Ｈ３、Ｈ４、Ｈ５、Ｖ１、Ｖ２、Ｖ３、Ｖ４、Ｖ５    チェック領域
【図１】
2006166296.tif 000005
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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