(57)【要約】【課題】  部品点数を増やすことなく収束ならびに発散光束が平行平板を透過する際に発生するコマ収差を低減し、サーボ信号等の各種信号の品質を向上した光ピックアップ装置を提供する。【解決手段】  半導体レーザ光源１と、半導体レーザ光源１から出射した光ビームを光情報記録媒体１００上に集光する対物レンズ６と、光情報記録媒体１００で反射した光ビームを検出する光検出器８と、半導体レーザ光源１から出射した光ビームを反射させて対物レンズ６に導くとともに光情報記録媒体１００を反射した光ビームを透過させて光検出器８に導くビームスプリッタ３とを備え、ビームスプリッタ３の半導体レーザ光源側の面３ａが平面で、かつ光検出器側の面３ｂが外側に向けて凸状の曲面になっていることを特徴とする。【選択図】図１
2006146990.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
半導体レーザ光源と、その半導体レーザ光源から出射した光ビームを光情報記録媒体上に集光する対物レンズと、前記光情報記録媒体で反射した光ビームを検出する光検出器と、前記半導体レーザ光源から出射した光ビームを反射させて前記対物レンズに導くとともに前記光情報記録媒体を反射した光ビームを透過させて前記光検出器に導くビームスプリッタとを備えた光ピックアップ装置において、
前記ビームスプリッタの半導体レーザ光源側の面が平面で、かつ光検出器側の面が外側に向けて凸状の曲面になっていることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ピックアップ装置において、前記光ビームは開口数ＮＡに相当する収束光束となって前記ビームスプリッタを透過し、そのビームスプリッタの板厚をｔ、屈折率をｎ、前記光ビームの波長をλ、ビームスプリッタの法線と前記光ビームの光軸のなす角をθとした場合、前記光ビームがビームスプリッタを透過する際に発生するコマ収差量のＲＭＳ値（１）が、下記の数式によって算出されるＷ３１の値よりも小さくなるように、前記ビームスプリッタの前記曲面の曲率半径を設定したことを特徴とする光ピックアップ装置。
【数１】
2006146990.tif 000008
【請求項３】
半導体レーザ光源と、その半導体レーザ光源から出射した光ビームを光情報記録媒体上に集光する対物レンズと、その光情報記録媒体で反射した光ビームを検出する光検出器とを備えた光ピックアップ装置において、
前記半導体レーザ光源から出射した前記光ビームが前記対物レンズに向かう光路中に、一方の面が外側に向けて凸状の曲面で、他方の面が平面である光透過性の光学素子を配置したことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項４】
請求項３記載の光ピックアップ装置において、前記光学素子が前記半導体レーザ光源から出射した光ビームを少なくとも３本の光ビームに分岐する回折格子であることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項５】
請求項３または４記載の光ピックアップ装置において、前記光学素子が前記半導体レーザ光源から出射した光ビームの光軸と垂直な軸回りにおいて傾き角が調整可能になっていることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項６】
請求項３ないし５のいずれか１項記載の光ピックアップ装置において、前記光ビームは開口数ＮＡに相当する発散光束となって前記光学素子を透過し、前記光学素子の板厚をｔ、屈折率をｎ、前記光ビームの波長をλ、前記光学素子の法線と前記光ビームの光軸のなす角をθとした場合、前記光ビームが前記光学素子を透過する際に発生するコマ収差量のＲＭＳ値（２）が、下記の数式によって算出されるＷ３１の値よりも小さくなるように、前記光学素子の前記曲面の曲率半径を設定したことを特徴とする光ピックアップ装置。
【数１】
2006146990.tif 000009
【請求項７】
請求項１ないし６のいずれか１項記載の光ピックアップ装置において、前記半導体レーザ光源は同一の筐体内から互いに発振波長の異なる少なくとも２種類以上の波長のレーザ光を出射するレーザ光源であることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項８】
光ピックアップ装置と、その光ピックアップ装置内の半導体レーザを駆動するレーザ点灯回路と、前記光ピックアップ装置内の光検出器から検出された信号を用いてサーボ信号を生成するサーボ信号生成回路と、光情報記録媒体に記録された情報信号を再生する情報信号再生回路とを備えた光学的情報記録再生装置または光学的情報再生装置において、
前記光ピックアップ装置が請求項１ないし７のいずれか１項記載の光ピックアップ装置であることを特徴とする光学的情報記録再生装置または光学的情報再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクなどの光情報記録媒体（以下、光ディスクで代表する）の記録面上に照射された光スポットによって前記光ディスクに情報信号を記録し、または既に記録された情報の再生を行う機能を有する光ピックアップ装置、およびその光ピックアップ装置を搭載した光学的情報再生装置または光学的情報記録再生装置に係る。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタル情報のデータストレージ装置として記録型光ディスクドライブの需要が急速に伸びている。特に記録型ＤＶＤドライブ装置の市場は今後益々拡大していくものと考えられる。その一方で、ドライブ装置の低価格化に対する要求は非常に厳しく、このような背景の下ではドライブ装置に搭載する光ピックアップ装置の低価格化が非常に重要となる。
【０００３】
光ピックアップ装置の低価格化のためには光学系の合理化を行って光学部品点数を削減する必要があるが、ここでＤＶＤ用半導体レーザ光源とＣＤ用半導体レーザ光源を同一の筐体内に収納した２波長マルチレーザを用いると、２波長合成用の光学部品が不要となるため光学系の合理化に非常に有利となる。
【０００４】
なお従来、２波長マルチレーザを搭載した光ピックアップ装置の光学系構成は、例えば下記特許文献１等に記載されているように平行平板状のビームスプリッタを用いるのが一般的であった。
【０００５】
この平行平板状のビームスプリッタを用いれば、光ビームがビームスプリッタを透過する際に非点収差が発生し、この非点収差を用いて非点収差方式によるフォーカスサーボ信号の検出が可能となるため、サーボ信号生成用に新たな光学部品が不要となり非常に合理的である。
【特許文献１】特開２００１−３０７３６７号公報
【特許文献２】特開２００２−１５４５６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、光ディスクを反射した光ビームが平行平板状のビームスプリッタを透過する際には非点収差とともにコマ収差が発生するため、光検出器に集光した光スポットがコマ収差によっておにぎり状に歪む現象が起こる［図４（ａ）参照］。よってこの光スポットを受光した光検出器の出力信号から生成されるサーボ信号等の各種信号の品質は、前述した光スポットの歪みに起因して劣化してしまう問題があった。
【０００７】
この平行平板状のビームスプリッタを透過する際に発生するコマ収差を低減する方法としては、例えば前記特許文献２に記載されているように、光検出器側に該コマ収差とは符合が逆のコマ収差を発生させるレンズ等の光学素子を追加してコマ収差を打ち消す技術が開示されている。しかしこの構成では、部品点数が増え、構造が複雑になり、コスト高を招くといった新たな問題が生じる。
【０００８】
本発明は、このような従来技術の欠点を解消し、光ディスクを反射した光ビームがビームスプリッタを透過する際に発生する非点収差を用いて非点収差方式によるフォーカスサーボ信号の検出を行う光ピックアップ装置において、部品点数を増やすこと無しに前記非点収差とともに発生するコマ収差を低減し、サーボ信号等の各種信号の品質を向上した光ピックアップ装置ならびに該光ピックアップ装置を用いた光学的情報記録再生装置または光学的情報再生装置を提供することを第1の目的とする。
【０００９】
また本発明は、前記コマ収差を低減する技術を応用し、光ディスクに集光する光ビームの非点収差量の補正を可能とする光ピックアップ装置ならびに該光ピックアップ装置を用いた光学的情報記録再生装置または光学的情報再生装置を提供することを第２の目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記第１の目的を達成するため本発明の第１の手段は、半導体レーザ光源と、その半導体レーザ光源から出射した光ビームを光情報記録媒体上に集光する対物レンズと、前記光情報記録媒体で反射した光ビームを検出する光検出器と、前記半導体レーザ光源から出射した光ビームを反射させて前記対物レンズに導くとともに前記光情報記録媒体を反射した光ビームを透過させて前記光検出器に導くビームスプリッタとを備えた光ピックアップ装置において、
前記ビームスプリッタの半導体レーザ光源側の面が平面で、かつ光検出器側の面が外側に向けて凸状の曲面になっていることを特徴とするものである。
【００１１】
本発明の第２の手段は前記第１の手段において、前記光ビームは開口数ＮＡに相当する収束光束となって前記ビームスプリッタを透過し、そのビームスプリッタの板厚をｔ、屈折率をｎ、前記光ビームの波長をλ、ビームスプリッタの法線と前記光ビームの光軸のなす角をθとした場合、前記光ビームがビームスプリッタを透過する際に発生するコマ収差量のＲＭＳ値（１）が、下記の数式によって算出されるＷ３１の値よりも小さくなるように、前記ビームスプリッタの前記曲面の曲率半径を設定したことを特徴とするものである。
【数１】
2006146990.tif 000003
【００１２】
上記第２の目的を達成するため本発明の第３の手段は、半導体レーザ光源と、その半導体レーザ光源から出射した光ビームを光情報記録媒体上に集光する対物レンズと、その光情報記録媒体で反射した光ビームを検出する光検出器とを備えた光ピックアップ装置において、
前記半導体レーザ光源から出射した前記光ビームが前記対物レンズに向かう光路中に、一方の面（例えば前記半導体レーザ光源側の面）が外側に向けて凸状の曲面で、他方の面（例えば前記対物レンズ側の面）が平面である光透過性の光学素子を配置したことを特徴とするものである。
【００１３】
本発明の第４の手段は前記第３の手段において、前記光学素子が前記半導体レーザ光源から出射した光ビームを少なくとも３本の光ビームに分岐する回折格子であることを特徴とするものである。
【００１４】
本発明の第５の手段は前記第３または第４の手段において、前記光学素子が前記半導体レーザ光源から出射した光ビームの光軸と垂直な軸回りにおいて傾き角が調整可能になっていることを特徴とするものである。
【００１５】
本発明の第６の手段は前記第３ないし第５の手段において、前記光ビームは開口数ＮＡに相当する発散光束となって前記光学素子を透過し、前記光学素子の板厚をｔ、屈折率をｎ、前記光ビームの波長をλ、前記光学素子の法線と前記光ビームの光軸のなす角をθとした場合、前記光ビームが前記光学素子を透過する際に発生するコマ収差量のＲＭＳ値（２）が、下記の数式によって算出されるＷ３１の値よりも小さくなるように、前記光学素子の前記曲面の曲率半径を設定したことを特徴とするものである。
【数１】
2006146990.tif 000004
【００１６】
本発明の第７の手段は前記第３ないし第６の手段において、前記半導体レーザ光源は同一の筐体内から互いに発振波長の異なる少なくとも２種類以上の波長のレーザ光を出射するレーザ光源であることを特徴とするものである。
【００１７】
本発明の第８の手段は、光ピックアップ装置と、その光ピックアップ装置内の半導体レーザを駆動するレーザ点灯回路と、前記光ピックアップ装置内の光検出器から検出された信号を用いてサーボ信号を生成するサーボ信号生成回路と、光情報記録媒体に記録された情報信号を再生する情報信号再生回路とを備えた光学的情報記録再生装置または光学的情報再生装置において、前記光ピックアップ装置が前記第１ないし第７の手段の光ピックアップ装置であることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１８】
本発明は前述のような構成になっているから、ビームスプリッタを透過する際に発生するコマ収差を低減した光ピックアップ装置、ならびに光ディスクに集光する光ビームの非点収差量の補正を可能とする光ピックアップ装置を実現することができる。また、前記光ピックアップ装置は従来の光学系構成に対して部品点数を増やすこと無しに実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
次に本発明の実施形態を図と共に説明する。図１は、本発明の第１実施形態に係る光ピックアップ装置の概略構成図である。
【００２０】
半導体レーザ光源１から出射した光ビームは、３ビーム生成用の回折格子２によって０次光および±１次回折光の少なくとも３本の光ビームに回折分離した後、ビームスプリッタ３に到達する。ビームスプリッタ３の光源側の面３ａはフラット面になっており、そのフラットな面を反射した前記３本の光ビームは立ち上げミラー４を反射し、コリメートレンズ５によって略平行光となり、対物レンズ６によって光ディスク１００の記録面上にスポット状に集光される。
【００２１】
光ディスク１００に集光した前記３本の光ビームの反射光は、往路と逆の経路をたどって対物レンズ６、コリメートレンズ５、ならびに立ち上げミラー４を経てビームスプリッタ３を透過し、光検出器８に到達する。
【００２２】
本実施形態は、ビームスプリッタ３を透過する際に非点収差とともに発生するコマ収差を低減し、サーボ信号等の各種信号の品質を向上するため、ビームスプリッタ３の光源側の面３ａをフラット面（平面）にし、反対側の面、つまり光検出器側の面３ｂを外側に向けて凸状の曲面にしている。ビームスプリッタ３の法線と光軸のなす角度θは、機械的に調整可能になっている。
【００２３】
この面３ｂの曲率半径は、光ビームがビームスプリッタ３を透過する際に発生するコマ収差がほぼ最小となるような値に設定している。以下、これについて詳細に説明する。
【００２４】
一般に波長λ、開口数ＮＡに相当する収束光束が平行平板の部材を透過すると、部材の板厚をｔ、屈折率をｎ、部材の法線と光軸のなす角をθとした場合、下記の数式（数１）で定義される量の３次のコマ収差が発生する。
【数１】
2006146990.tif 000005
【００２５】
図２は、光ビームの波長λ＝６６０ｎｍ、ビームスプリッタの屈折率ｎ＝１．５の条件下において、焦点距離ｆ＝２０ｍｍで開口数ＮＡ＝０．１のレンズによって絞られた光ビームが、厚さ２ｍｍの平行平板状のビームスプリッタを透過する場合に発生するコマ収差量を示した特性図であり、横軸は平行平板状のビームスプリッタの傾き角θ、縦軸はコマ収差量のＲＭＳ値を表している。
【００２６】
この図によると、平行平板状ビームスプリッタの傾き角θが大きくなるほど発生するコマ収差量も増加し、例えば傾き角θが４５度の場合に発生するコマ収差量のＲＭＳ値は略０．０６０λとなることが分かる。
【００２７】
ここで図１に示すようにビームスプリッタ３の光源側の面３ａをフラット面（平面）にし、反対側の面である光検出器側の面３ｂを外側に向けて凸状の曲面にすると、ビームスプリッタ３は平凸レンズとして機能するため、光ビームがビームスプリッタ３に対し斜入射すると、その画角に応じたコマ収差を発生する。
【００２８】
このコマ収差の符号と大きさは、曲面の形状ならびに曲率半径によって所望の値に設定可能である。よって曲面を適当な形状ならびに曲率半径にして画角によって発生するコマ収差量を最適化すると、ビームスプリッタを透過する際に発生するコマ収差量のＲＭＳ値を可及的に小さくすることができる。
【００２９】
光ビームは開口数ＮＡに相当する収束光束となってビームスプリッタ３を透過し、そのビームスプリッタ３の板厚をｔ、屈折率をｎ、前記光ビームの波長をλ、ビームスプリッタ３の法線と光ビームの光軸のなす角をθとした場合、光ビームがビームスプリッタ３を透過する際に発生するコマ収差量のＲＭＳ値（１）が、下記の数式によって算出されるＷ３１の値よりも小さくなるように、ビームスプリッタ３の曲面の曲率半径Ｒを設定するとよい。
【数１】
2006146990.tif 000006
【００３０】
なお、理想的には前記コマ収差は無い方が良いのであるから、前記コマ収差のＲＭＳ値（１）の下限値は０である。すなわちビームスプリッタ３を透過する際に発生するコマ収差量のＲＭＳ値（１）が、Ｗ３１＞ＲＭＳ値（１）≧０の範囲内になるように、ビームスプリッタ３の曲面の曲率半径Ｒを設定するとよい。
【００３１】
図３は、光検出器側の面３ｂの曲率半径Ｒ≒７０ｍｍとした平凸形状のビームスプリッタを用い、その傾き角θ＝４５°にした場合の、ビームスプリッタを透過する際に発生するコマ収差量のＲＭＳ値を示す特性図である。
【００３２】
この図から明らかなように、本実施形態に係るビームスプリッタを使用することにより、ビームスプリッタを透過する際に発生するコマ収差量のＲＭＳ値を従来の０．０６０λから０．００１λ以下程度まで低減することができる。
【００３３】
なお前記球面の曲率半径Ｒは図３に示した値に限定されるものではなく、ビームスプリッタの配置位置に応じて適宜変更することができる。すなわち、図１に示した光学配置の場合、ビームスプリッタ３を光検出器８に近い側に配置すれば球面の曲率半径Ｒを小さく設定し、逆に立ち上げミラー４に近い側に配置すれば球面の曲率半径Ｒを大きく設定するとよい。従って部品製作の観点から、例えば曲率半径Ｒが大きい方が作製し易い場合は、ビームスプリッタ３を立ち上げミラー４に近い側に配置すれば良い。換言すれば、球面の曲率半径Ｒに応じてビームスプリッタの配置位置を決定すれば良いことになる。
【００３４】
次にこのようにコマ収差を低減した時、光検出器８に集光する光ビームのスポットダイアグラムについて図４を用いて説明する。
【００３５】
図４（ａ）は平行平板からなる従来のビームスプリッタを用い、ビームスプリッタを透過する際にコマ収差が発生している場合、図４（ｂ）は前記第１実施形態のビームスプリッタを用いた場合の、光検出器８内の４分割受光面８ａに集光している様子を表したスポットダイアグラムである。
【００３６】
ビームスプリッタが平行平板の場合は図４（ａ）に示すように、コマ収差量の影響でスポットが歪み、おにぎり状のスポットダイアグラムになっている。これに対して図４（ｂ）に示すように本実施形態では、コマ収差が低減され、スポットダイアグラムの歪みを改善することができる。それに伴い、サーボ信号等の各種信号の品質を向上した光ピックアップ装置が実現可能となる。
【００３７】
なお、半導体レーザ光源１は例えば発振波長６５０ｎｍ帯の半導体レーザ光源と発振波長７８０ｎｍ帯の半導体レーザ光源といったように、互いに発振波長の異なる複数のレーザ光源を同一の筐体内に設けたマルチレーザ光源であっても、前述したコマ収差の低減は可能である。
【００３８】
次に本発明の第２実施形態について説明する。本実施形態は部品点数を増やすこと無しに、光ディスクに集光する光ビームの非点収差量を補正可能な光ピックアップ装置に関するものである。
【００３９】
そのため本実施形態では、前述した第１実施形態における回折格子２の受光面側を曲面にしたことを特徴としている。またその曲面の曲率半径は、光ビームが所定の量傾いた回折格子２を透過する際に発生するコマ収差を最小とするような値に設定している。以下、本実施形態の詳細について説明する。
【００４０】
図５（ａ）は図１における半導体レーザ光源１と回折格子２を抜粋したものであり、受光面２ａと格子面２ｂが互いに平行な平行平板を使用した状態を示している。図５（ｂ）はその平行平板の回折格子２を光軸と垂直な軸回りに傾けた場合に、光ビームが回折格子２を透過する際に発生する非点収差量とコマ収差量を示した特性図である。
【００４１】
図５（ｂ）に示すように、発散光中に配置した平行平板を傾けると透過光には非点収差が発生する。またこの非点収差の方向と大きさは、回折格子２を傾ける角度θの方向と大きさによって変化する。よって例えば光ディスクに集光する光ビームの波面収差を干渉計等の波面解析装置で観測しながら回折格子２を適当な方向に適当な量だけ傾けると、光ディスクに集光する光ビームの非点収差量を補正することが可能となる。
【００４２】
ところで回折格子の形状が平行平板の場合は図５（ｂ）に示すように非点収差に加えて、（数１）によって定義される量のコマ収差も発生するため、たとえ非点収差量を補正できてもコマ収差が上乗せされ、結果として光スポットの品質が悪くなると考えられる。
【００４３】
そこで図６（ａ）に示すように，回折格子２の受光面２ａを外側に凸状の曲面（球面）にすると、回折格子２は平凸のレンズとして機能し、光ビームが回折格子２に対して斜入射すると、その画角に応じた分のコマ収差を発生する。
【００４４】
また、このコマ収差の符号と大きさは前記実施形態１と同様、球面の形状ならびに曲率半径によって所望の値に設定可能であるため、球面を適当な形状ならびに曲率半径にし、画角によって発生するコマ収差量を最適化すると、図６（ｂ）に示すように回折格子２が傾いた場合に発生するコマ収差量を低減することができる。なお、回折格子２の法線と光ビームの光軸のなす角度θは、機械的に調整可能になっている。
【００４５】
このようにコマ収差を低減することができるので、部品点数を増やすことなく、かつコマ収差を発生させることなく、光ディスクに集光する光ビームの非点収差量を良好に補正することが可能となる。
【００４６】
光ビームは開口数ＮＡに相当する収束光束となって前記回折格子２を透過し、その回折格子２の板厚をｔ、屈折率をｎ、前記光ビームの波長をλ、回折格子２の法線と光ビームの光軸のなす角をθとした場合、光ビームが回折格子２を透過する際に発生するコマ収差量のＲＭＳ値（２）が、下記の数式によって算出されるＷ３１の値よりも小さくなるように、回折格子２の曲面の曲率半径Ｒを設定するとよい。
【数１】
2006146990.tif 000007
【００４７】
なお、理想的には前記コマ収差は無い方が良いのであるから、前記コマ収差のＲＭＳ値（２）の下限値は０である。すなわち回折格子２を透過する際に発生するコマ収差量のＲＭＳ値（２）が、Ｗ３１＞ＲＭＳ値（２）≧０の範囲内になるように、回折格子２の曲面の曲率半径Ｒを設定するとよい。
【００４８】
なお、この受光面２ａを外側に凸状の曲面にした回折格子２と、平行平板のビームスプリッタ３を用いることも可であるが、受光面２ａを外側に凸状の曲面にした回折格子２と、光検出器側の面３ａを外側に凸状の曲面にしたビームスプリッタ３を組み合わせることも可能である。
【００４９】
前記第２実施形態では回折格子２を平凸のレンズとしたが、半導体レーザ光源１から出射した光ビームが対物レンズ６に向かう光路中に配置される他の光透過性の光学素子を平凸のレンズとすることもできる。
【００５０】
前述した本発明の光ピックアップ装置を搭載した光学的情報記録再生装置ならびに光学的情報再生装置の概略構成を図７に示す。図中の符号７０は例えば図１に示すような構成を有する光ピックアップ装置である。この光ピックアップ装置７０には、光ディスク１００の半径方向に位置をスライドできる機構が設けられており、アクセス制御回路７２からのアクセス制御信号に応じて位置制御が行われる。
【００５１】
レーザ点灯回路７７からは所定のレーザ駆動電流が光ピックアップ装置７０内の半導体レーザ光源に供給され、再生または記録に応じて所定の光量でレーザ光が出射する。また光ピックアップ装置７０内の光検出器から検出された信号は、サーボ信号生成回路７４及び情報信号再生回路７５に送られる。
【００５２】
サーボ信号生成回路７４では、これら検出信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号が生成され、これを基にアクチュエータ駆動回路７３を経て光ピックアップ装置７０内のアクチュエータを駆動することにより対物レンズの位置制御がおこなわれる。また情報信号再生回路７５では、前記検出信号から光ディスク１００に記録された情報信号が再生される。
【００５３】
前記サーボ信号生成回路７４及び情報信号再生回路７５で得られた信号の一部は、コントロール回路７６に送られる。このコントロール回路７６にはレーザ点灯回路７７、アクセス制御回路７２、スピンドルモータ駆動回路７１などが接続されており、それぞれ光ピックアップ装置７０内の半導体レーザ発光光量の制御、アクセス方向および位置の制御、光ディスク１００を回転させるスピンドルモータ６０の回転制御等が行われる。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】本発明の第１実施形態に係る光ピックアップ装置の概略構成図である。
【図２】従来のビームスプリッタを透過する際に発生するコマ収差量を表した特性図である。
【図３】本発明の第１実施形態に係るビームスプリッタを透過する際に発生するコマ収差量を表した図である。
【図４】受光面に集光した光スポットのスポットダイアグラムを表した図で、同図（ａ）は従来のビームスプリッタの場合のスポットダイアグラムを表した図、同図（ｂ）は本発明の第１実施形態に係るビームスプリッタの場合のスポットダイアグラムを表した図である。
【図５】従来の回折格子を透過する際に発生するコマ収差量を表した特性図である。
【図６】本発明の第２実施形態に係る回折格子を透過する際に発生するコマ収差量を表した特性図である。
【図７】本発明における光学的情報記録再生装置ならびに光学的情報再生装置を示した概略図である。
【符号の説明】
【００５５】
１：半導体レーザ光源、２：回折格子、２ａ：回折格子の受光面、２ｂ：回折格子の格子面、３：ビームスプリッタ、３ａ：ビームスプリッタの光源側の面、３ｂ：ビームスプリッタの光検出器側の面、４：立ち上げミラー、５：コリメートレンズ、６：対物レンズ、８：光検出器、８ａ：４分割受光面、６０：スピンドルモータ、７０：光ピックアップ装置、７１：スピンドルモータ駆動回路、７２：アクセス制御回路、７３：アクチュエータ駆動回路、７４：サーボ信号生成回路、７５：情報信号再生回路、７６：コントロール回路、７７：レーザ点灯回路、１００：光ディスク、２００、２０１：受光面上スポットダイアグラム。
【図１】
2006146990.tif 000010
【図２】
2006146990.tif 000011
【図３】
2006146990.tif 000012
【図４】
2006146990.tif 000013
【図５】
2006146990.tif 000014
【図６】
2006146990.tif 000015
【図７】
2006146990.tif 000016