(57)【要約】【課題】  装置内部の塵の影響を排除した適切な記録を行う光ディスク装置を提供する。【解決手段】  レーザー光を出射するレーザー発光素子と、該レーザー発光素子を駆動する駆動手段と、上記駆動手段からのレーザー光をディスクに集光する対物レンズと、上記レーザー光のディスクでの反射光を検出し、その信号化を行う検出手段と、ディスクが初装着されたときに該ディスクへのテストライト実施後に上記検出手段から得られる信号値を基準信号値として記録する記録手段と、再装着されたディスクに対して上記検出手段から得られる信号値およびこの再装着されたディスクの基準信号値を比較する比較手段とを備える。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザー光を出射するレーザー発光素子と、
該レーザー発光素子を駆動する駆動手段と、
上記駆動手段からのレーザー光をディスクに集光する対物レンズと、
上記レーザー光のディスクでの反射光を検出し、その信号化を行う検出手段と、
ディスクが初装着されたときに該ディスクへのテストライト実施後に上記検出手段から得られる信号値を、基準信号値として記録する記録手段と、
再装着されたディスクに対して上記検出手段から得られる信号値およびこの再装着されたディスクの基準信号値を比較する比較手段とを備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
上記比較手段は、再装着されたディスクに対して上記検出手段から得られる信号値が、上記基準信号値の所定割合以下である場合に、再装着されたディスクに対するテストライトの実行あるいは対物レンズのクリーニングが必要であると判断することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
上記比較手段は、再装着されたディスクに対して上記検出手段から得られる信号値が、上記基準信号値の所定割合以下となる場合に、当該装置に対応した適正信号値が記録されている対照用ディスクに対して上記検出手段から得られる信号値と、上記適正信号値とを比較することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記比較手段は、対照用ディスクに対して上記検出手段から得られる信号値と上記適正信号値とに差異がない場合には、再装着されたディスクに塵が付着していると判断し、対照用ディスクに対して上記検出手段から得られる信号値と上記適正信号値とに差異がある場合には、再装着されたディスクに対するテストライトの実行あるいは対物レンズのクリーニングが必要であると判断することを特徴とする請求項３に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
上記記録手段は、上記基準信号値を、上記初装着されたディスクに記録することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
記憶部をさらに備え、
上記記録手段は、上記記憶部に、上記基準信号値と初装着されたディスクの固有情報とを記録することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項７】
さらに表示装置を備え、
上記比較手段は、対物レンズのクリーニングが必要であると判断した場合に、その旨を表示装置に表示することを特徴とする請求項２または４に記載の光ディスク装置。
【請求項８】
対物レンズをクリーニングするクリーニング手段を有し、
上記比較手段は、対物レンズのクリーニングが必要であると判断した場合に、上記クリーニング装置を動作させることを特徴とする請求項２または４に記載の光ディスク装置。
【請求項９】
レーザー発光素子および対物レンズを備えた光ディスク装置における塵対策の方法であって、
初装着されたディスクのテストライト実施後の反射光を検出し、その信号化を行う基準信号値検出工程と、
上記基準信号値検出工程で得られる基準信号値を記録する記録工程と、
上記ディスクが再装着されたときの反射光を検出し、その信号化を行う現在信号値検出工程と、
該現在信号値検出工程で得られる信号値および上記基準信号値を比較する比較工程とを行い、
上記比較工程で所定の結果が得られた場合には、
再装着されたディスクに対するテストライトあるいは対物レンズのクリーニングを実行する対処工程を行うことを特徴とする光ディスク装置における塵対策の方法。
【請求項１０】
レーザー発光素子および対物レンズを備えた光ディスク装置における塵対策の方法であって、
初装着されたディスクのテストライト実施後の反射光を検出し、その信号化を行う基準信号値検出工程と、
該基準信号値検出工程で得られる基準信号値を記録する記録工程と、
上記ディスクが再装着されたときの反射光を検出し、その信号化を行う現在信号値検出工程と、
該現在信号値検出工程で得られる信号値および上記基準信号値を比較する比較工程とを行い、
上記比較工程で所定の結果が得られた場合には、
装置に対応した適正信号値が記録されている対照用ディスクの反射光を検出し、その信号化を行う対照信号値検出工程と、
該対照信号値検出工程で得られる信号値および上記適正信号値を比較する対照工程と、
該対照工程の結果に基づいて、ユーザへのディスク交換の指示、再装着されたディスクへのテストライト、および対物レンズのクリーニングのうち、少なくとも１つを実行する対処工程とを行うことを特徴とする光ディスク装置における塵対策の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザー光等によって光ディスクへの記録等を行う光ディスク装置およびその塵対策の方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置において、例えばデータを記録する場合、レーザー発光素子から出射したレーザー光を対物レンズにて集光しつつ光ディスクに入射させ、該光ディスク上に記録ピッチや記録マークを形成する。
【０００３】
近年では光ディスクの記録容量の増加に伴い、記録ピッチや記録マークが微細化し、対物レンズには高い集光精度が求められる。一方、対物レンズは、上向き（レンズの光軸が鉛直方向に沿うような向き）に配設される場合が多く、しかも光ディスク装置内で露出しているため、塵等が堆積し易い。そして、上記のように高い集光精度が求められる対物レンズにおいては、僅かな埃が堆積しただけでも、光ディスク装置の記録あるいは再生品質が大きな影響を受けることが明らかになっている。
【０００４】
従来から対物レンズに堆積した埃による記録品質等の悪化を回避する方法として、ディスクからの反射光の光量を、ある基準値（光量）と比較し、その変化を監視するという方法が考えられている。すなわち、ディスクを装着する毎に、そのディスクからの反射光の光量が基準値に対して許容範囲内に収まっているかを判定するものである。
【特許文献１】特開昭６３−７１９３０号公報（公開日：昭和６３年４月１日）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記従来の方法では、装着時の反射光の光量が基準値に対する許容範囲内にあるか否かを判断しているに過ぎない。ここで、たとえ反射光の光量が許容範囲に入っていたとしてもこれによって当該ディスクの記録が適切に（適切なエラーレイトの範囲内で）行われるとは限らない。
【０００６】
というのも、同じメーカーの同種のディスクにおいても、製造工程におけるの様々な状況によって反射率等の特性にばらつきがあり、たとえ反射光の光量が許容範囲に入っていたとしても、そのディスクの反射率が想定されている反射率より高い場合には、記録マークの形成に寄与する実際の入射光の光量は想定される光量よりも小さく、エラーレイトの観点から適切でないことも考えられる。換言すれば、対物レンズに塵が堆積し、入射光の光量が（エラーレイトの観点から適切とされる光量に比較して）過少になっていたとしても、そのディスクの実際の反射率が想定された反射率より高い場合には、反射光の光量としては適切であると判断されてしまうのである。
【０００７】
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、装置内部の塵の影響を排除した適切な記録を行うことのできる光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の光ディスク装置は、上記課題を解決するために、レーザー光を出射するレーザー発光素子と、該レーザー発光素子を駆動する駆動手段と、上記駆動手段からのレーザー光をディスクに集光する対物レンズと、上記レーザー光のディスクでの反射光を検出し、その信号化を行う検出手段と、ディスクが初装着されたときに該ディスクへのテストライト実施後に上記検出手段から得られる信号値を基準信号値として記録する記録手段と、再装着されたディスクに対して上記検出手段から得られる信号値およびこの再装着されたディスクの基準信号値を比較する比較手段とを備えることを特徴としている。
【０００９】
上記構成によれば、ディスクが初めて装着されると、そのディスクに対するテストライトが行われ、レーザー発光素子の出力が最適化される。上記検出手段は、このレーザー光（最適な出力のレーザー光）のディスクでの反射光（例えば、全反射光）を信号化する。記録手段は、この検出手段から得られる信号値（例えば、全反射光量を示すトータル信号の大きさ）を基準信号値として記録する。
【００１０】
そして、あるディスクが光ディスク装置に再度装着された場合、検出手段は、再装着時点での上記ディスクでの反射光（例えば、全反射光）を信号化する。さらに、比較手段が、この再装着時の反射光に基づく信号値（例えば、全反射光量を示すトータル信号の大きさ）と、この再装着されたディスクの基準信号値とを比較する。
【００１１】
これにより、再装着時の反射光に基づく信号値が、初装着時の反射光（当該ディスクにつき最適化されたレーザー光の反射光）に基づく基準信号値に比較して、どの程度変化（例えば、低減）しているかを検出することができる。
【００１２】
この信号値の変化は、反射光の変化にほかならず、その要因は主に光ディスク装置内部（例えば、対物レンズ）に堆積する塵と考えられる。そこで、この変化の大きさによって、例えば、現状のまま記録を行う、あるいは再テストライトや対物レンズのクリーニングを行うといった方策をとることができる。
【００１３】
ここで、本発明の光ディスク装置では、同一のディスクの初装着時の信号値と再装着時の信号値とを比較するため、反射光からの信号値の変化を、ディスク特性（例えば、反射率）のばらつきに左右されることなく高精度に検出することができる。これにより、上記の方策を的確に選択することができる。したがって、本光ディスク装置では、その内部（対物レンズ等）の塵の影響を精度良く排除した適切な記録を行うことができる。
【００１４】
また、上記比較手段は、再装着されたディスクに対して上記検出手段から得られる信号値が、上記基準信号値の所定割合以下である場合に、再装着されたディスクに対するテストライトの実行あるいは対物レンズのクリーニングが必要であると判断することが好ましい。
【００１５】
このように、本発明の光ディスク装置では、比較手段が上記信号値の変化が記録性能に影響を与える程度のものである（再装着されたディスクに対して上記検出手段から得られる信号値が、上記基準信号値の所定割合以下である）と判断した場合には、再度テストライトを実行（レーザー発光素子の出力を塵の影響を考慮した最適なものに修正）したり、対物レンズをクリーニングする。一方、信号値の変化が記録性能に影響を与える程度のものでない場合（再装着されたディスクに対して上記検出手段から得られる信号値が、上記基準信号値の所定割合以上である場合）、そのまま記録等を行えばよい。
【００１６】
これにより、光ディスク装置内部（対物レンズ等）の塵の影響を精度良くかつ効率的に排除した記録を行うことができる。
【００１７】
本発明では、上記比較手段は、再装着されたディスクに対して上記検出手段から得られる信号値が、上記基準信号値の所定割合以下となる場合に、当該装置に対応する適正信号値が記録された対照用ディスクに対して上記検出手段から得られる信号値と、上記適正信号値とを比較しても構わない。
【００１８】
上記対照用ディスクには、各光ディスク装置に対応するものであり、光ディスク装置の出荷前（製造中）等、対物レンズに塵が存在しない状態での信号値（適正信号値）が記録されている。この対照用ディスクは、光ディスク装置に添付するなどして、あらかじめユーザに配布される。なお、この対照用ディスクは、防塵仕様であることが好ましい。
【００１９】
上記構成によれば、比較部は、再装着時の信号値に問題がある場合（再装着されたディスクに対して上記検出手段から得られる信号値が、上記基準信号値の所定割合以下となる場合）に、対照用ディスクの現時点での信号値と、その対照用ディスクの適正信号値とを比較する。
【００２０】
適正信号値は、対物レンズに塵がない状態で記録され、また対照用ディスクには塵等が付着していないので、両者（対照用ディスクの現時点での信号値および適正信号値）に差異がなければ、対物レンズに問題はなく、再装着されたディスクに問題があることがわかる。一方、両者に差異があれば、対物レンズに問題があることがわかる。
【００２１】
そこで、上記比較手段は、対照用ディスクに対して上記検出手段から得られる信号値と上記適正信号値とに差異がない場合には、再装着されたディスクに塵が付着していると判断する。なお、この旨を、例えば表示装置に表示することが好ましい。一方、対照用ディスクに対して上記検出手段から得られる信号値と上記適正信号値とに差異がある場合には、再装着されたディスクに対するテストライトの実行あるいは対物レンズのクリーニングが必要であると判断する。
【００２２】
このように、上記構成によれば、ユーザは再装着されたディスクに塵が付着していることを知ることができ、そのディスクを交換することで再び適切な記録を行うことができるようになる。
【００２３】
また、上記記録手段は、上記基準信号値を、上記初装着されたディスクに記録してもよいし、あるいは初装着されたディスクの固有情報とともに記憶部に記録しても構わない。
【００２４】
また、上記比較手段は、対物レンズのクリーニングが必要であると判断した場合に、その旨を表示装置に表示することが好ましい。これにより、ユーザは対物レンズをクリーニングするなどの対処をとることができる。
【００２５】
また、上記比較手段は、対物レンズのクリーニングが必要であると判断した場合に、クリーニング装置を動作させることが好ましい。これにより、対物レンズに記録品質に影響が出るほどの塵が付着している場合には、自動的に対物レンズをクリーンアップすることができ、便利である。
【００２６】
また、本発明の光ディスク装置における塵対策の方法は、レーザー発光素子および対物レンズを備えた光ディスク装置の塵対策を行うために、初装着されたディスクのテストライト実施後の反射光を検出し、その信号化を行う基準信号値検出工程と、上記基準信号値検出工程で得られる基準信号値を記録する記録工程と、上記ディスクが再装着されたときの反射光を検出し、その信号化を行う現在信号値検出工程と、該現在信号値検出工程で得られる信号値および上記基準信号値を比較する比較工程とを行い、上記比較工程で所定の結果が得られた場合には、再装着されたディスクに対するテストライトの実行あるいは対物レンズのクリーニングを実行する対処工程を行うことを特徴とする。
【００２７】
また、本発明の光ディスク装置における塵対策の方法は、レーザー発光素子および対物レンズを備えた光ディスク装置の塵対策を行うために、初装着されたディスクのテストライト実施後の反射光を検出し、その信号化を行う基準信号値検出工程と、該基準信号値検出工程で得られる基準信号値を記録する記録工程と、上記ディスクが再装着されたときの反射光を検出し、その信号化を行う現在信号値検出工程と、該現在信号値検出工程で得られる信号値および上記基準信号値を比較する比較工程とを行い、上記比較工程で所定の結果が得られた場合には、装置に対応した（装置毎）の適正信号値が記録されている対照用ディスクの反射光を検出し、その信号化を行う対照信号値検出工程と、該対照信号値検出工程で得られる信号値および上記適正信号値を比較する対照工程と、該対照工程の結果に基づいて、ユーザへのディスク交換の指示、再装着されたディスクへのテストライト、および対物レンズのクリーニングのうち、少なくとも１つを実行する対処工程とを行うことを特徴としている。
【発明の効果】
【００２８】
以上のように、本発明の光ディスク装置は、再装着時の反射光に基づく信号値が、初装着時の反射光（当該ディスクにつき最適化されたレーザー光の反射光）に基づく基準信号値に比較して、どの程度変化（例えば、低減）しているかを検出する。
【００２９】
このように、同一ディスクの初装着時の信号値と再装着時の信号値とを比較することによって、反射光からの信号値の変化を、ディスク特性（例えば、反射率）のばらつきに左右されることなく高精度に検出することができる。
【００３０】
この結果、本発明の光ディスク装置においては、再装着時に、そのままで記録等を行う、あるいは再テストライトや対物レンズのクリーニングを行うなどといった方策を的確に選択することができ、装置内部（対物レンズ等）の塵の影響を精度良く排除した記録を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３１】
本発明の実施の一形態を図１〜図８に基づいて説明すれば以下のとおりである。
【００３２】
図３は、本実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。同図に示されるように、光ディスク装置１０は、ディスク１を装着するためのディスク装着部２０と、光ピックアップ７と、スピンモータドライバ１２と、アクチュエータドライバ１３と、レーザードライバ１４（駆動部）と、ＡＰＣ回路１５と、スレッドモータ８と、スレッドドライバ２０と、ＲＦ回路９と、サーボＤＳＰ１６と、ホストインターフェース４９と、信号処理回路１７と、システムコントローラ１８と、表示装置２１と、不揮発性メモリ２２と、クリーニング装置３１とを備える。
【００３３】
光ピックアップ７は、レーザーダイオード４（ＬＤ、レーザー発光素子）と、対物レンズ２と、アクチュエーター３と、フォトディテクタ（ＰＤ）５・６とを備える。レーザーダイオード４は、ディスク１への記録等を行うためのレーザーを射出するレーザー発光素子である。対物レンズ２は、レーザーダイオード４から射出された光をディスク１に合焦させる。アクチュエータ３は、対物レンズ２をディスク１に対してアキシャル方向、ラジアル方向にそれぞれに駆動させる。フォトディテクタ５は、レーザーダイオード４から射出された光を直接検出する。フォトディテクタ６は、レーザーダイオード４から射出され（対物レンズ２で合焦され）、ディスク１にて反射した光を検出する。
【００３４】
スピンドルモータ１１はディスク１を回転駆動する。スレッドモータ８は、ピックアップ７をディスク装着部２０（ディスク１）に対して水平方向に駆動する。
【００３５】
レーザードライバ１４はレーザーダイオード４を駆動（発光）させる。また、アクチュエータドライバ１３はアクチュエーター３を駆動し、スピンモータドライバ１２は、スピンモータ１１を駆動し、スレッドドライバ２５は、スレッドモータ８を駆動する。
【００３６】
ＡＰＣ（Auto Power Control）回路１５はレーザードライバ１４を制御する。ＲＦ回路９は、フォトディテクタ６からの信号に基づき、対物レンズ２に対するフォーカスサーボおよびトラッキングサーボのエラー信号を生成する。また、ＲＦ回路９は、フォトディテクタ６で検出された再生信号に波形整形処理を施す。サーボＤＳＰ１６は、ＲＦ回路９からの各エラー信号に基づき、アクチュエータ３への駆動信号を生成する。信号処理回路１７は、ＲＦ回路９からの信号（ＲＦ信号）に復調、波形整形等の処理を行い、かつエラー訂正処理を行って元のデータ（ディスク１に記録されたデータ）を取り出す。
【００３７】
システムコントローラ１８は、各回路ブロックの動作制御を行い、テストライトの実行を制御する。また、システムコントローラ１８は、対物レンズ２あるいはディスク１に堆積した塵の影響を考慮し、再テストライトの要否あるいは対物レンズ２のクリーニングの要否を判断する。また、クリーニング装置３１は、比較部３０の指示に従って、対物レンズ２をクリーニングする。
【００３８】
レーザーダイオード４はレーザードライバ１４により駆動される。このときフォトディテクタ５は、レーザーダイオード４からの直接光を検出し、これをＡＰＣ回路１５へ入力する。ＡＰＣ回路１５ではフォトディテクタ５で検出したレーザー光のレベルと、制御すべきレベルとを比較し、レーザーダイオード４の発光量を自動制御する。
【００３９】
すなわち、フォトディテクタ５で検出したレベルが大きければレーザードライバ１４に対してレーザー光の強さを下げるように指示し、反対にフォトディテクタ５で検出したレベルが小さければレーザードライバ１４に対してレーザー光の強さを上げるように指示する。これにより、レーザーダイオード４からの出力（発光量）が一定となる。
【００４０】
フォトディテクタ６で検出されたディスク１からの反射光は電気信号に変換されＲＦ回路９へと送られる。ＲＦ回路９では、このフォトディテクタ６からの信号に基づいて、対物レンズ２に対するフォーカスサーボおよびトラッキングサーボの各エラー信号を生成する。なお、各サーボはこれらのエラー信号を零にするように動作する。
【００４１】
さらに、ＲＦ回路９は、ディスク１からの全反射光を受けてトータル信号を生成する。このトータル信号はシステムコントローラ１８へ送られ、対物レンズ２等の埃による記録品質の影響を回避するために利用される。なお、システムコントローラ１８には不揮発性のメモリ２２が接続されている。この不揮発性メモリ２２には初装着されたディスク１のトータル信号の値が記録される。
【００４２】
ＲＦ回路９で生成されたエラー信号はサーボＤＳＰ１６へ入力される。サーボＤＳＰ１６では、このエラー信号に演算処理を施し、アクチュエータ３への駆動信号を生成する。ここで、アクチュエータドライバ１３は、この駆動信号に基づき、対物レンズ２が常に適切な位置になるようにアクチュエータ３を駆動する。
【００４３】
またサーボＤＳＰ１６は、トラッキングサーボのエラー信号からスレッドモータ８を駆動するためのスレッド駆動信号を生成し、スレッドドライバ１０に入力する。スレッドドライバ１０は、サーボＤＳＰ１６からのスレッド駆動信号によってスレッドモータ８を駆動する。
【００４４】
スピンドルモータ１１は、モータの回転に伴ってパルスを発生させる回路を内蔵しており、この発生させたパルスをサーボＤＳＰ１６に入力する。サーボＤＳＰ１６はこのパルスを用いてスピンドルモータ１１を一定の回転数で駆動するための駆動信号を生成する。
【００４５】
サーボＤＳＰ１６で生成された（スピンドルモータを駆動するための）駆動信号はスピンドルモータドライバ１２に入力される。スピンドルモータドライバ１２は、この駆動信号によってスピンドルモータ１１を一定の回転数で回転させる。
【００４６】
フォトディテクタ６はサーボエラー信号以外にディスク１に書き込まれている信号も検出する。ディスク１に書き込まれている信号には、データとなるＲＦ信号と、ディスク１上のアドレスを示すためのウォブル信号とがある。
【００４７】
通常、光（記録）ディスクにおいては、データの「１」あるいは「０」は、ディスク上の記録膜の反射率の違いで表され、「１」は反射率が低く、「０」は反射率が高い。こうした光の明暗の信号はフォトディテクタ６で電気信号に変換され電圧値で表される。この電圧値で表された信号がＲＦ信号になる。
【００４８】
ウォブル信号はディスク１上に溝として刻まれており、その溝のぶれ（ぶれ量）を変調することによって信号化される。ウォブル信号にはディスク１上の絶対アドレスが書き込まれている。
【００４９】
ディスク１の再生過程では、フォトディテクタ６で検出されたこれらの再生信号はＲＦ回路９へ送られて波形整形処理を施された後、信号処理回路１７へと送られる。信号処理回路１７では、ＲＦ信号に復調、波形整形等の処理を施し、更にエラー訂正処理を行って元のデータを取り出す。取り出されたデータはホストインターフェース１９を介してホストコンピュータ２０へと送られる。
【００５０】
ウォブル信号は、信号処理回路１７で復調、波形整形、エラー訂正が行われアドレス信号が取り出される。このアドレス信号はシステムコントローラ１８へ送られアドレス情報として利用される。
【００５１】
また、信号処理回路１７は、ＲＦ信号およびウォブル信号それぞれから同期信号を生成するためのクロック信号を生成する。このクロック信号は、サーボＤＳＰ１６へ送られ、ＲＦ信号に同期してスピンドルモータ１１の回転を制御するのに用いられる。
【００５２】
ディスク１へのデータの記録過程では、ホストコンピュータ２０からのデータはホストインターフェース１９を介して信号処理回路１７へと送られる。ここで信号処理回路１７は、このホストコンピュータ２０からのデータに、エラー訂正のためのフラグを附加し、さらに変調処理を施した後、これをレーザードライバ１４へ送る。
【００５３】
レーザードライバ１４は、送られてきた記録用の信号をディスク１に書き込むため、ライトストラテジの処理を行う。ライトストラテジとは、送られてきたデータを実際にディスク１に記録する際の記録性能を上げるための方法であり、光ディスク装置１０の記録が熱記録であることを利用している。
【００５４】
例えば、「１」というデータをディスク１に書き込む際、「１」というデータの時間分だけ、（記録時の発光量で）レーザーを発光させ続けると、記録の発光は非常に大きなエネルギーを伴うため、熱の蓄積により「１」というデータの終わりの部分では広い範囲に渡って記録膜の変化が起こり、良好なＲＦ信号を得ることができなくなる。
【００５５】
そこで、「１」というデータを記録する際には、「１」というデータの間に数回パルス状にレーザーを記録の発光量で発光させることで、熱の蓄積が緩和され、良好な再生ＲＦ信号を得ることができるようになる。
【００５６】
ここで、ライトストラテジの例を図４に示す。ここで、パルスのピークは記録の発光量を表し、パルスのボトムは再生の発光量を表している。「１」というデータを記録している間はレーザーはパルス状に発光している。この時ディスク上の記録膜は高温になり溶融した状態になっている。レーザー光が通過した後は記録膜の温度は急激に低下してアモルファス状態になる。記録膜はアモルファス状態では未記録時の結晶状態と比べると反射率が低下している。「０」を記録する場合は、レーザーの発光量を冷却の発光量に変化させる。冷却の発光量でも記録膜は溶融するがレーザー光が通過しても、「１」を記録している時ほどの急激な温度変化は発生しないので記録膜はアモルファス状態にならずに結晶状態になる。そして、このアモルファス状態と結晶状態の反射率の違いから、「１」あるいは「０」のデータを検出することができる。
【００５７】
記録動作時において、レーザーダイオード４はパルス発光するが、記録の発光量で発光しているため、再生時に比べるとフォトディテクタ６で検出されるディスク１からの反射信号のレベルが大きくなってしまう。そこで、フォトディテクタ６では、ゲイン切り替えを設け、ＲＦ回路９へと送られるサーボエラー信号のレベルが大きくならないようにしている。記録時にはＡＰＣ回路１５は規定のレーザー光の量を記録のレーザー光の量に切り替えるため、記録時の平均のレーザー光の光量を基準値としてＡＰＣ動作が行われる。
【００５８】
ここで、テストライトについて説明する。
【００５９】
テストライトは、システムコントローラ１８の指示によってディスク１の初装着時に行われ、これによって、レーザーダイオード４の光量がディスク１につき最適化される。
【００６０】
この点、この最適なレーザー光の光量（エラーレートが最も良い光量）は、ディスク上の記録膜の特性とレーザー光の光量との関係で決定される。ここで、ディスクには通常、そのディスクに記録を行うのに適したレーザー光の光量の値がデータとしてディスク上に書き込まれている。そのレーザー光の光量で記録すればテストライトを行う必要はないように思われる。
【００６１】
しかし、ディスクの記録膜には製造上のばらつきがあり、ディスクに書き込まれているレーザー光の光量に設定しても、最適な記録性能を得ることはできないことがある。そこで、ディスクに書き込まれているレーザー光の光量のデータを基準にしてテストライトを行い、個々のディスクに最適なレーザー光の光量を求める必要がある。
【００６２】
テストライトの具体的な工程は以下のとおりである。
【００６３】
まず、レーザーダイオード４の光量を、ディスク１に（固有データとして）記録された光量に設定し、ディスク１へ所定のデータを試し書きする。ついで、このデータを再生し、エラーレートを測定する。そして、このエラーレートとレーザー光の光量とを光ディスク装置１０内部のメモリ（例えば、不揮発性メモリ２２）に記録する。
【００６４】
ついで、レーザー光の光量を小さくなる方に変えて（固有データに比較してマイナス２０％程度）試し書きした後、再生してそのエラーレートを測定し、レーザー光の光量とともにこのエラーレートを装置内部のメモリに記録する。この一連の工程を、５％刻み程度で−２０％から０％まで繰り返す。
【００６５】
ついで、レーザー光の光量を大きくなる方に変えて（固有データに比較してプラス２０％程度）試し書きした後、再生してそのエラーレートを測定し、レーザー光の光量とともにこのエラーレートを装置内部のメモリに記録する。この一連の工程を、５％刻み程度で＋２０％から０％まで繰り返す。
【００６６】
図５に、テストライトにおけるレーザー光の光量とエラーレートとの関係を示す。エラーレートの最も良い（最小）のときの光量が、記録時の最適なレーザー光の光量となる。同図に示されるように、レーザー光の光量は小さすぎても、大きすぎてもエラーレートは良くならない。
【００６７】
ただし、テストライトはこのように最適なレーザー光の光量を求めるのに時間がかかってしまう。よって、一度テストライトを実行したディスクには装置側でそのディスクの固有情報としてテストライトの情報（最適なレーザー光の光量）を記録しておき、次にそのディスクが挿入されてもテストライトは行わないようにするのが一般的である。
【００６８】
次に、対物レンズ２に堆積した塵の（記録特性等への）影響について説明する。
【００６９】
近年、青色レーザーを用いた高密度記録の光ディスク装置が提案されているが、特にＮＡ（開口率）が０．８５と大きく、ディスクのカバー層が０．１ｍｍと薄い光ディスク装置においては、対物レンズ２とディスク１との間の距離も極めて狭くなる。
【００７０】
このような状態で対物レンズ２に埃が堆積すると、レーザーパワーが減少し、最適な記録が行えず、記録品質を悪化させてしまう。ＮＡが大きいということは高解像度な対物レンズであるということであり、目に見えない程度の僅かな埃でも記録性能に大きな影響を与える。
【００７１】
図６（ａ）（ｂ）は、対物レンズに堆積した埃によるエラーレートとジッターの影響との関係を調べた実験結果である。図７は、ディスクに塵が付着している場合に、テストライトによるエラーレートおよびジッターの改善程度を示す実験結果である。図８は、ディスクに塵が付着していない場合に、テストライトによるエラーレートおよびジッターの改善程度を示す実験結果である。
【００７２】
これらの実験結果は、青色レーザーを用いた、ＮＡ＝０．８５、ディスクのカバー層が０．１ｍｍの高密度記録の試作装置（光ディスク装置）に対し、埃試験機を用いて埃試験を行った結果である。
【００７３】
この埃試験は、埃を８時間噴霧し、その状態で試作装置を５日間連続で作動させる過酷な試験である。もっとも、試作装置は埃の進入を極力防ぐような対策がなされている。
【００７４】
図６（ａ）（ｂ）に示されるように、埃試験の前後ではエラーレート、ジッター共に大きく変化しており、埃試験後では実際の使用には耐えられないほど性能が悪化している。特にエラーレートについてはエラー訂正ができないほどの状態になっており、このままでの使用は不可能である。しかし、このときの対物レンズを観察した限りでは肉眼で埃の堆積は認めることはできなかった。それほどの僅かな埃でも記録の性能には大きな影響を与えていることになる。
【００７５】
この状態でテストライトを行ったときの結果を図７に示す。
【００７６】
この場合においては、エラー訂正ができないレベルではなく、ぎりぎり使える状態にある。なお、図７の結果はディスクも埃試験に使ったものであり、ディスクに付着した埃と対物レンズに堆積した埃が合わさっている。それでもテストライトを行うことで記録の品質はかなり改善できていることになる。
【００７７】
図８はディスクを埃の付着していないものに換えてテストライトを実行した結果である。元の記録性能（塵試験を行う前の記録性能）には及ばないものの、記録性能は大幅に改善されており、実使用レベルでは特に問題のないレベルにあると思われる。
【００７８】
これら実験結果より、対物レンズに堆積した埃については、テストライトを実行することで、記録品質に対する埃の影響をかなり減らせることが可能であることがわかる。
【００７９】
以下に、本光ディスク１における、対物レンズ（あるいはディスク）に堆積した埃による記録品質等の悪化を回避する機能を説明する。本実施の形態では、システムコントローラ１８によって当該機能が制御される。このシステムコントローラ１８は、図３に示されるように、記録部２９と比較部３０とを備える。
【００８０】
ここで、ＲＦ回路９（図３参照）で生成されるサーボエラー信号には、全反射光量（ディスク１での全ての反射光量）表すトータル信号という信号がある。このトータル信号は、フォトディテクタ６で検出された、ディスク１からの反射光（レーザーダイオード４から射出され、ディスク１で反射したレーザー光）を信号化（電流・電圧変換）し、全て足し合わせたもの（分割された受光部から得られるそれぞれの信号を光学的に演算したもの）である。このトータル信号の大きさ（トータル信号の値）を監視することでディスク１からの反射光量の変化を知ることができる。
【００８１】
記録部２９は、初めて装着されたディスク１に対しテストライト後にＲＦ回路９から得られるトータル信号の値を、このディスク１あるいは不揮発性メモリ２２に、基準信号値として記録する。また、比較部３０は、再装着されたディスク１に対してＲＦ回路９から得られるトータル信号の値と、この再装着されたディスク１の（当該ディスク自身あるいは不揮発性メモリ２２に記憶されている）基準値とを比較する。そして、比較部３０は、この比較結果に基づいて、そのまま何も行わない、再テストライトを実行する、あるいは対物レンズ２をクリーニングする等の判断を行う（後に詳述する）。
【００８２】
記録部２９は、初装着されたディスク１のトータル信号の値（基準値）を、ディスク１の書き換え可能なユーザーエリアのどこか特定の場所に記録する。
【００８３】
通常、ディスクには、傷等で記録が出来ない領域（欠陥領域）が発生した場合にそなえ、この欠陥領域の代替となる代替領域が確保されている。この代替領域は、ディスクに欠陥がある場合にのみ使われるので通常は何も記録されることがない。そこで、このトータル信号の値（基準値）を、この代替領域の一部の専用領域に書き込んでおく。こうすれば、本光ディスク装置１０において、このトータル信号の値（基準値）が書き換えられるおそれがない。
【００８４】
なお、本光ディスク装置１０と互換性のある他の光ディスク装置においては、上記したトータル信号の値（基準値）が書き換えられるおそれがある。しかし、このトータル信号の基準値が書き込まれる専用領域（代替領域の一部）は、上に述べたように通常使用されない領域であるため、書き換えられるおそれは低いと考えられる。
【００８５】
また、トータル信号の値はディスクの記録部分と未記録部分とで差があるため、新しいディスクが装着されたときは一旦ディスクに記録を行い、その記録部分のトータル信号の値（基準値）を専用領域に書き込んでおく。というのも、録再用の光ディスクは一般的に上書きによる書き換えを行うため、何度も記録再生を繰り返す場合はディスクは全面記録部分になってしまい未記録部分が存在しなくなってしまうからである。
【００８６】
図１は、本光ディスク装置１０における塵対策方法の工程を示すフローチャートである。
【００８７】
まず、ディスク１が初装着されると、システムコントローラ１８の比較部３０は、ＲＦ回路９からディスク１の初装着時のトータル信号を得る（基準信号値検出工程）。そして、比較部３０は、このディスク１初装着時のトータル信号の値を基準信号値として、ディスク１の専用領域に書き込む（記録工程、Ｓ１）。
【００８８】
ついで、ディスク１が再装着されると、比較部３０は、ＲＦ回路９からディスク１の現時点（再装着時）でのトータル信号を得る（現在信号値検出工程、Ｓ２）。
【００８９】
ついで、比較部３０は、ディスク１のトータル信号の基準値（ディスク１初装着時のトータル信号の値）が書き込まれている専用領域を読みに行き、このトータル信号の基準値と、ディスク１の現時点（再装着時）でのトータル信号の値とを比較する（比較工程、Ｓ３）。なお、トータル信号の基準値は記録部分のトータル信号のものであるため、比較するトータル信号も記録部分のものとする。
【００９０】
そして、比較部３０は、ディスク１の現時点（再装着時）でのトータル信号の値が、閾値（例えば、基準値のマイナス１パーセント）を下回っている場合には、再度テストライトが必要であると判断する（Ｓ４→Ｓ５）。閾値を上回っている場合には、何も行わず、そのままディスク１への記録等を行う（Ｓ４→Ｓ１）。
【００９１】
ディスク１の現時点でのトータル信号の値が閾値を下回り、再度テストライトが必要であると判断された場合、比較部３０は、テストライトが可能であるかを判断する（Ｓ５）。
【００９２】
というのも、レーザーダイオードは、その特性から出力をいくらでも上げることができるというものではなく、最大でも通常出力の２０〜３０％増に上限が設けられている。これは、レーザーダイオードの出力を大きくするとその寿命が短くなってしまうからである。
【００９３】
したがって、対物レンズ２に堆積した埃の量が多く、ディスク１の現時点でのトータル信号の値が閾値を大幅に下回った場合（例えば、基準値のマイナス１０パーセント以下の場合）、あるいは初装着時のテストライト後の最適な出力がレーザーダイオード４の上限付近であった場合等、再度テストライトを行った後のレーザーパワーがレーザーダイオード４の出力上限を超えてしまうことが明らかである場合には、ユーザに対し、クリーニングの要求をする必要がある。ここでは、比較部３０が、対物レンズ２のクリーニングメッセージを表示装置２１に表示する（Ｓ５→Ｓ７）。そして、比較部３０は、クリーニング装置３１に動作指示を出し、これによって、クリーニング装置３１は対物レンズ２をクリーンアップする（Ｓ９、対処工程）。
【００９４】
なお、Ｓ７においては、比較部３０がホストコンピュータ２０を介してホストコンピュータの表示装置へメッセージを表示しても良い。また、Ｓ７（およびＳ９）では、光ディスク装置１０内部に対物レンズ２のクリーニング機構（図示せず）を設けておき、クリーニングの必要な時には、比較部３０がユーザに知らしめることなく自動的にクリーニングを行っても良い。なお、対物レンズのクリーニングの手法については既にいくつもの提案がなされておりここでは詳細については触れない。
【００９５】
Ｓ４で、再度テストライトが必要であると判断され（Ｎｏ）、かつ、Ｓ５で対物レンズ２に堆積した埃の量がそう多くはなく、ディスク１の現時点でのトータル信号の値が閾値を少々下回っている場合（例えば、基準値のマイナス５パーセント程度の場合）には、テストライトが可能と判断され（Ｙｅｓ）、再テストライトが実行される（Ｓ５→Ｓ６、対処工程）。これにより、レーザーダイオード４の出力が塵の影響を考慮した値に最適化される。
【００９６】
なお、この場合（再度テストライトを行った場合）、比較部３０は、テストライト後の（最適化された）レーザーパワーがレーザーダイオード４の上限値を超えていないかを確認する（Ｓ８）。超えていない場合（Ｙｅｓ）には、そのまま、記録等を行う（Ｓ８→Ｓ１）。また、テストライト後のレーザーパワーがレーザーダイオード４の上限値を超えてしまった場合（Ｎｏ）には、比較部３０は対物レンズ２のクリーニングメッセージを表示装置２１に表示する（Ｓ８→Ｓ７）。
【００９７】
以上から、本実施の形態の光ディスク装置１０においては、比較部３０が対物レンズ２に堆積した埃が記録品質に影響を及ぼすか否かを判断し、テストライトあるいは対物レンズのクリーニングを適宜実行することによって適切な記録を行うことができる。
【００９８】
なお、ここでの判定基準（閾値）については各種マージンも考慮した上で検討して決める必要がある。本実施の形態の光ディスク装置１０では、記録のためのレーザー光の光量の可変範囲を、＋１０％から−１０％と考えている。よって、対物レンズ２に堆積した埃によりトータル信号の値が、初装着時のトータル信号の値（基準値）の−１０％になるまでは（たとえ対物レンズ２に埃が堆積していても）テストライトを行うことによって適切な記録品質で記録を行うことができると考えられる。
【００９９】
なお、初装着時に既に対物レンズ２に塵が堆積していた場合のように、トータル信号の値が初装着時のトータル信号の値（基準値）の−１０％未満であっても、テストライトでは対応できない（テストライト後のレーザーパワーが上限を超える）場合がある。このような場合には、テストライト実行不可能な場合（Ｓ３）、あるいはテストライト後のレーザーパワーが上限を超えてしまった場合（Ｓ６）として、対物レンズ２のクリーニングが行われる（Ｓ４）。
【０１００】
本実施に形態においては、初装着されたディスク１のトータル信号の値（基準値）を、当該ディスク１の特定の領域に記録したが、ディスク１ではなく光ディスク装置１０に内蔵された不揮発性メモリ２２に書き込むことも考えられる。この場合、どのディスクの基準値かを特定するため、該トータル信号とともにディスク１を識別するための固有情報（ディスク１上に記録されている固有情報）も不揮発性メモリ２２に書き込んでおくことになる。
【０１０１】
以上のように、本実施の形態に係る光ディスク装置１０は、再装着時の反射光に基づく信号値が、初装着時の反射光（ディスク１につき最適化されたレーザー光の反射光）に基づく基準信号値に比較して、どの程度変化（例えば、低減）しているかを検出する。
【０１０２】
このように、同一のディスクの初装着時の信号値と再装着時の信号値とを比較することによって、反射光からの信号値の変化を、ディスク特性（例えば、反射率）のばらつきに左右されることなく高精度に検出することができる。
【０１０３】
この結果、本光ディスク装置１０においては、再装着時に、そのままで記録等を行う、あるいは再テストライトや対物レンズ２のクリーニングを行うなどといった方策を的確に選択することができ、対物レンズ２に堆積した塵の影響を精度良く排除した、適切な記録を行うことができる。
【０１０４】
ところで、ＲＦ回路９からのトータル信号の値が基準値を下回る（全反射光量が変化する）場合、ディスク１側が防塵仕様であれば通常対物レンズに埃が堆積していると考えられるが、特にディスク１が防塵仕様でなければディスク１に塵が付着しているとも考えられる。
もっとも、ディスクに埃が付着している場合は、そのディスクを使わないで別のディスクを使うということもできるが、対物レンズに埃が堆積している場合には、ユーザ自らが対物レンズを交換することはできないので記録性能への影響が大きいといえる。
【０１０５】
ここで、ディスクが防塵仕様でない場合等、ディスクにも塵が堆積しうる場合にそなえるべく、塵検知用の対照用ディスク（光ディスク装置１０の生産時に、適正なトータル信号の値を記録しておいた防塵仕様のディスク）を光ディスク装置１０に添付（同梱）しておいても構わない。
【０１０６】
この対照用ディスクの使用方法を、図２を用いて説明する。
【０１０７】
まず、ディスク１が初装着されると、システムコントローラ１８の比較部３０は、ＲＦ回路９からディスク１の初装着時のトータル信号を得る（基準信号値検出工程）。そして、比較部３０は、このディスク１の初装着時のトータル信号の値を基準信号値として、ディスク１の専用領域に書き込む（記録工程、Ｓ１１）。
【０１０８】
ついで、ディスク１が再装着されると、比較部３０は、ＲＦ回路９からディスク１の現時点（再装着時）でのトータル信号を得る（現在信号値検出工程、Ｓ１２）。
【０１０９】
ついで、比較部３０は、ディスク１のトータル信号の基準値（ディスク１初装着時のトータル信号の値）が書き込まれている専用領域を読みに行き、このトータル信号の基準値と、ディスク１の現時点（再装着時）でのトータル信号の値とを比較する（比較工程、Ｓ１３）。なお、トータル信号の基準値は記録部分のトータル信号のものであるため、比較するトータル信号も記録部分のものとする。
【０１１０】
そして、比較部３０は、ディスク１の現時点（再装着時）でのトータル信号の値が、閾値（例えば、基準値のマイナス１パーセント）を下回っている場合には、再度テストライトが必要であると判断し、ユーザに対照用ディスクの装着を指示する（Ｓ１４→Ｓ１５）。閾値を上回っている場合には、何も行わず、そのままディスク１への記録等を行う（Ｓ１４→Ｓ１１）。
【０１１１】
ついで、比較部３０は、装着された対照用ディスクの現時点でのトータル信号の値を検出し（対照信号値検出工程）、この値と対照用ディスクに記録されている適性値とに差異があるかを判断する（Ｓ１６、対照工程）。
【０１１２】
ここで、適正信号値は、対物レンズ２に塵がない状態で記録され、また対照用ディスクには塵等が付着していないので、両者（対照用ディスクの現時点での信号値および適正信号値）に差異がない場合（Ｎｏ）には、対物レンズ２に問題がなく、ディスク１に塵が堆積していると考えられる。そこで、比較部３０は、ユーザへのディスク交換（ディスク１の交換）指示を表示装置に表示する（Ｓ１６→Ｓ１７、対処工程）。一方、両者に差異がある場合（Ｙｅｓ）には、対物レンズ２に塵が堆積していると考えられるため、比較部３０は、再度テストライトが必要と判断する。
【０１１３】
再度テストライトが必要であると判断された場合、比較部３０は、テストライトが可能であるかを判断する（Ｓ１８）。
【０１１４】
そして、対物レンズ２に堆積した埃の量が多く、ディスク１の現時点でのトータル信号の値が閾値を大幅に下回った場合（例えば、基準値のマイナス１０パーセント以下の場合）、あるいは初装着時のテストライト後の最適な出力がレーザーダイオード４の上限付近であった場合等、再度テストライトを行った後のレーザーパワーがレーザーダイオード４の出力上限を超えてしまうことが明らかである場合、比較部３０は、対物レンズ２のクリーニングメッセージを表示装置２１に表示する（Ｓ１８→Ｓ２０）。そして、比較部３０は、クリーニング装置３１に動作指示を出し、これによって、クリーニング装置３１は対物レンズ２をクリーンアップする（Ｓ２２、対処工程）。
【０１１５】
一方、対物レンズ２に堆積した埃の量がそう多くはなく、ディスク１の現時点でのトータル信号の値が閾値を少々下回っている場合（例えば、基準値のマイナス５パーセント程度の場合）には、テストライトが可能と判断され、テストライトが実行される（Ｓ１９、対処工程）。これにより、レーザーダイオード４の出力が塵の影響を考慮した値に最適化される。
【０１１６】
なお、この場合（再度テストライトを行った場合）、比較部３０は、テストライト後の（最適化された）レーザーパワーがレーザーダイオード４の上限値を超えていないかを確認する（Ｓ２１）。超えていない場合（Ｙｅｓ）には、そのまま、記録等を行う（Ｓ２１→Ｓ１１）。また、テストライト後のレーザーパワーがレーザーダイオード４の上限値を超えてしまった場合（Ｎｏ）には、比較部３０は対物レンズ２のクリーニングメッセージを表示装置２１に表示する（Ｓ２１→Ｓ２０）。
【０１１７】
この場合においても、初装着されたディスク１のトータル信号の値（基準値）をディスクではなく光ディスク装置１０に内蔵された不揮発性メモリ２２に書き込んでも構わない。この場合、どのディスクの基準値かを特定するため、該トータル信号とともにディスク１を識別するための固有情報（ディスク１上に記録されている固有情報）も不揮発性メモリ２２に書き込んでおくことになる。
【０１１８】
この方法によれば、ユーザは再装着されたディスク１に塵が付着していることを知ることができ、そのディスク１を交換することで再び適切な記録を行うことができるようになる。
【０１１９】
なお、本発明の光ディスク装置は、レーザー発光素子と、レーザーパワーを変化させることの出来る駆動装置と、レーザー光をディスク上に合焦させる対物レンズと、その対物レンズを駆動制御させる装置と、ディスク上からの反射光を受取る検出装置と、その反射光を電気信号に変換するための変換装置とを備える光ディスク装置であって、ディスクが新たに装着されたときに、ディスク上からの反射光を検出して電気信号に変換し、その信号の値をそのディスク上に記録しておき、次にそのディスクが装着されたときに、ディスク上からの反射光を検出して電気信号に変換して、その信号の値をそのディスクに記録されている値と比較することで、その差から対物レンズに堆積した埃の量を検出する手段を有すると表現することもできる。
【０１２０】
また、本発明の光ディスク装置は、上記構成において、装置の製造過程で対照用ディスクからの反射光を検出して電気信号に変換して得られた適正信号値をそのディスクに書き込み、その対照用ディスクを光ディスク装置の使用者に配布し、光ディスク装置の使用者はディスクが新たに装着されたとき、ディスク上からの反射光を検出して電気信号に変換して、その信号の値をそのディスク上に記録しておき、次にそのディスクが装着されたとき、ディスク上からの反射光を検出して電気信号に変換して、その信号の値をそのディスクに記録されている値と比較したときに差が見られた場合に、上記配布された対照用ディスクを装着し、対照用ディスク上からの反射光を検出して電気信号に変換して、その信号と対照用ディスクに記録されている適性信号値と比較して差がなければ対物レンズに埃が堆積していると判断し、差がある場合は対物レンズだけでなくディスクにも埃が付着していると判断する手段を有すると表現することもできる。
【産業上の利用可能性】
【０１２１】
本発明の光ディスク装置は、再生専用型の、ＣＤ（compact disc），ＣＤ−ＲＯＭ（compact disc read only memory），ＤＶＤ−ＲＯＭ（digital versatile disc read only memory），一回記録型の、ＣＤ−Ｒ（compact disc recordable），ＤＶＤ−Ｒ（digital versatile disc recordable），書換型の、ＤＶＤ−ＲＡＭ（digital versatile disc random access memory），ＤＶＤ−ＲＷ（digital versatile disc recordable writable）等の光ディスクに対応する光ディスク装置に幅広く利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１２２】
【図１】本発明の光ディスク装置における塵対策の方法の一実施例を示すフローチャートである。
【図２】本発明の光ディスク装置における塵対策の方法の他の実施例を示すフローチャートである。
【図３】本発明の光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図４】本発明の光ディスク装置のライトストラテジを説明する模式図である。
【図５】テストライトにおけるレーザー光の光量とエラーレートとの関係を示すグラフである。
【図６】（ａ）および（ｂ）は、対物レンズに堆積した埃によるエラーレートおよびジッターへの影響を調べた実験結果である。
【図７】テストライト（ディスクに塵が堆積している場合）によるエラーレートおよびジッターの改善程度を示す実験結果である。
【図８】テストライト（ディスクに塵が堆積していない場合）によるエラーレートおよびジッターの改善程度を示す実験結果である。
【符号の説明】
【０１２３】
１  ディスク
２  対物レンズ
４  レーザーダイオード（レーザー発光素子）
６  ＰＤ  （検出部）
９  ＲＦ回路（検出部）
１０  光ディスク装置
１８  システムコントローラ
２１  表示装置
２２  不揮発性メモリ（記憶部）
２９  記録部（記録手段）
３０  比較部（比較手段）
３１  クリーニング装置（クリーニング手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2006012276.tif 000009
【図８】
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