(57)【要約】  【課題】  電池に悪影響を与えずに、検査端子から保護回路に過充電電圧を印加し、過充電電圧に対する保護回路及びスイッチング素子の異常又は有無を確認することができる電池パック及び電池パック検査方法を提供する。  【解決手段】  電池Ｅと、電池Ｅの正極に一方の端子が接続された抵抗Ｒ１と、抵抗Ｒ１の他方の端子と電池Ｅの負極との間に接続された保護ＩＣ１４と、保護ＩＣ１４がオン／オフを切換えるＦＥＴ１及びＦＥＴ２とをケースに収容してあり、電池Ｅの正極に接続された外部接続用の正極端子＋、及びＦＥＴ１及びＦＥＴ２を介装して電池Ｅの負極に接続された外部接続用の負極端子−を有する電池パック１０において、抵抗Ｒ１と保護ＩＣ１４との間に接続された外部接続用の検査端子ａを設ける。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電池と、該電池の正極に一方の端子が接続された抵抗と、該抵抗の他方の端子と電池の負極との間に接続された保護回路と、該保護回路がオン／オフを切換えるスイッチング素子とをケースに収容してあり、電池の正極に接続された外部接続用の正極端子、及び、スイッチング素子を介装して電池の負極に接続された外部接続用の負極端子を有し、電池電圧が過充電電圧になったことを保護回路が検出した場合はスイッチング素子をオフに切換える電池パックにおいて、
前記抵抗と前記保護回路との間に接続された外部接続用の検査端子を備えることを特徴とする電池パック。
【請求項２】
前記スイッチング素子は、電界効果トランジスタであることを特徴とする請求項１記載の電池パック。
【請求項３】
請求項１記載の電池パックの検査端子と負極端子との間に過充電電圧を印加するステップと、
前記過充電電圧の印加後に、前記電池パックの正極端子と負極端子との間の電圧を測定し、パルス電圧の検出を行うステップと
を有し、前記パルス電圧の検出結果に基づいて保護回路に関する検査を行うことを特徴とする電池パック検査方法。
【請求項４】
請求項２記載の電池パックの正極端子と負極端子との間に負荷を接続するステップと、
前記負荷の接続後に、前記電池パックの検査端子と負極端子との間に過充電電圧を印加するステップと、
前記過充電電圧の印加後に、前記電池パックの正極端子と負極端子との間の電圧を測定し、電圧降下の検出を行うステップと
を有し、前記電圧降下の検出結果に基づいて保護回路に関する検査を行うことを特徴とする電池パック検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電池と、該電池の正極に一方の端子が接続された抵抗と、該抵抗の他方の端子と電池の負極との間に接続された保護回路と、該保護回路がオン／オフを切換えるスイッチング素子とをケースに収容してあり、電池の正極に接続された外部接続用の正極端子、及びスイッチング素子を介装して電池の負極に接続された外部接続用の負極端子を有する電池パック及び電池パック検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
リチウムイオン電池などの二次電池は、過充電、過電流及び過放電などを防止するための保護回路を電池と並列に接続してケースに収容するのが一般的である。また、保護回路が故障している場合、又は、保護回路が存在しない場合、過充電、過電流及び過放電などが防止されないため、電池パックの製造時には保護回路の検査を行うのが一般的である。例えば、電池パックに２つの検査用穴を設けておき、検査用穴に検査用プローブを挿入して検査を行い、検査後は検査用穴をシートで塞ぐことが行われている（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平１０−６９８９４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、電池パックの最終製品では、検査用穴がシールで塞がれているため、保護回路に関する検査を行えないという問題がある。なお、シールを剥がして検査用穴が見える状態にすることも可能であるが、シールを剥がした電池パックは不良品と見なされる。さらに、検査用穴が２つあるため、検査用プローブが２つ必要になるという問題がある。
【０００４】
また、他の問題として、模倣品の電池パックの存在がある。模倣品の電池パックは、外観は本物と類似しているが、保護回路を設けていないなどの問題を有する。このような保護回路が設けられていない模倣品は、電池パックを分解して中身を調べることで判別できる。しかし、分解して中身を確認するのは手間がかかるという問題がある。
【０００５】
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、電池と、該電池の正極に一方の端子が接続された抵抗と、該抵抗の他方の端子と電池の負極との間に接続された保護回路と、該保護回路がオン／オフを切換えるスイッチング素子とをケースに収容してあり、電池の正極に接続された外部接続用の正極端子、スイッチング素子を介装して電池の負極に接続された外部接続用の負極端子、及び前記抵抗と前記保護回路との間に接続された外部接続用の検査端子を有することにより、電池に悪影響を与えずに、検査端子から保護回路に過充電電圧を印加し、保護回路の異常又は有無を確認することができる電池パックを提供することを目的とする。
【０００６】
また、本発明は、スイッチング素子が電界効果トランジスタであることにより、検査端子から保護回路に過充電電圧を印加した場合、正極端子と負極端子との間の電圧が低下する電池パックを提供することを他の目的とする。
【０００７】
また、本発明は、上述した本発明の電池パックの検査端子と負極端子との間に過充電電圧を印加し、印加後に電池パックの正極端子と負極端子との間の電圧を測定し、パルス電圧の検出の有無に基づいて保護回路に関する検査を行うことにより、シールを剥がすなどして電池パックを分解することなく保護回路に関する検査を行うことができる電池パック検査方法を提供することを他の目的とする。
【０００８】
また、本発明は、上述したスイッチング素子として電界効果トランジスタを用いた本発明の電池パックの正極端子と負極端子との間に負荷を接続し、負荷の接続後に電池パックの検査端子と負極端子との間に過充電電圧を印加し、過充電電圧の印加後に電池パックの正極端子と負極端子との間の電圧を測定し、電圧降下の検出の有無に基づいて保護回路に関する検査を行うことにより、シールを剥がすなどして電池パックを分解することなく、しかも負荷に接続された状態で保護回路に関する検査を行うことができる電池パック検査方法を提供することを他の目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
第１発明に係る電池パックは、電池と、該電池の正極に一方の端子が接続された抵抗と、該抵抗の他方の端子と電池の負極との間に接続された保護回路と、該保護回路がオン／オフを切換えるスイッチング素子とをケースに収容してあり、電池の正極に接続された外部接続用の正極端子、及び、スイッチング素子を介装して電池の負極に接続された外部接続用の負極端子を有し、電池電圧が過充電電圧になったことを保護回路が検出した場合はスイッチング素子をオフに切換える電池パックにおいて、前記抵抗と前記保護回路との間に接続された外部接続用の検査端子を備えることを特徴とする。
【００１０】
第２発明に係る電池パックは、第１発明において、前記スイッチング素子は、電界効果トランジスタであることを特徴とする。
【００１１】
第３発明に係る電池パック検査方法は、第１発明の電池パックの検査端子と負極端子との間に過充電電圧を印加するステップと、前記過充電電圧の印加後に、前記電池パックの正極端子と負極端子との間の電圧を測定し、パルス電圧の検出を行うステップとを有し、前記パルス電圧の検出結果に基づいて保護回路に関する検査を行うことを特徴とする。
【００１２】
第４発明に係る電池パック検査方法は、第２発明の電池パックの正極端子と負極端子との間に負荷を接続するステップと、前記負荷の接続後に、前記電池パックの検査端子と負極端子との間に過充電電圧を印加するステップと、前記過充電電圧の印加後に、前記電池パックの正極端子と負極端子との間の電圧を測定し、電圧降下の検出を行うステップとを有し、前記電圧降下の検出結果に基づいて保護回路に関する検査を行うことを特徴とする。
【００１３】
第１発明においては、前記抵抗と前記保護回路の過充電検出端子との間に接続された外部接続用の検査端子を有するため、電池に過充電電圧が印加されるなどの悪影響を生じさせずに、検査端子から保護回路に過充電電圧を印加することができる。検査端子から過充電電圧が印加された保護回路は、外部接続用の正極端子と外部接続用の負極端子との間に過充電電圧が印加された場合と同様、すなわち電池に過充電電圧が印加された場合と同様に、スイッチング素子をオフにする。ここで、過充電電圧は、保護回路が過充電を検出する基準である過充電検出電圧以上の電圧である。スイッチング素子がオフになることにより、正極端子と負極端子との間の電圧には変化が生じる。しかし、保護回路又はスイッチング素子が故障している場合又は備えていない場合は、検査端子に過充電電圧を印加しても前記電圧の変化は生じない。よって、前記電圧の変化の検出結果に基づいて、保護回路に関する検査を行うことができる。
【００１４】
第２発明においては、スイッチング素子は電界効果トランジスタであり、電界効果トランジスタはソース端子とドレイン端子との間にダイオード成分（以下、寄生ダイオードという）が寄生している。そのため、電界効果トランジスタがオフ状態になった場合であっても寄生ダイオードによってソース端子とドレイン端子との間に電流が流れる。正極端子と負極端子との間には、電池とスイッチング素子が直列に接続されているため、電界効果トランジスタがオフになった場合は寄生ダイオード部分で電圧降下が生じ、正極端子と負極端子との間の電圧に変化が生じる。
【００１５】
第３発明においては、上述した本発明に係る電池パックの検査端子と負極端子との間に過充電電圧を印加した場合、保護回路は、所定の遅延時間後に、スイッチング素子をオフにする。スイッチング素子がオフになった場合、正極端子と負極端子との間の電圧は、検査端子に印加された過充電電圧とほぼ同様の電圧となり、増加する。また、スイッチング素子がオフになった場合、保護回路には電源の出力電圧とほぼ同じ電圧が印加され、スイッチング素子はオンに切換わり、上述した過充電電圧を印加した時点と同様の状態になり、以後、同様の動作を繰返す。そのため、正極端子と負極端子との間の電圧は、前記遅延時間を含む所定時間間隔で電圧が一時的に増加する周期的なパルス電圧となる。しかし、保護回路又はスイッチング素子が故障している場合又は備えていない場合は、検査端子に過充電電圧を印加しても前記パルス電圧は検出されない。よって、前記パルス電圧の検出結果に基づいて、保護回路に関する検査を行うことができる。
【００１６】
第４発明においては、上述したスイッチング素子として電界効果トランジスタを用いた本発明に係る電池パックの正極端子と負極端子との間に負荷を接続した後、検査端子と負極端子との間に過充電電圧を印加した場合、保護回路は、電界効果トランジスタをオフにする。電界効果トランジスタがオフになった場合、電界効果トランジスタの寄生ダイオードに電流が流れるため、正極端子と負極端子との間の電圧は、寄生ダイオード部分による電圧降下が生じる。しかし、保護回路又はスイッチング素子が故障している場合又は備えていない場合は、検査端子に過充電電圧を印加しても前記電圧降下は検出されない。よって、前記電圧降下の検出結果に基づいて、保護回路に関する検査を行うことができる。
【発明の効果】
【００１７】
第１発明によれば、電池に悪影響を与えずに、検査端子から保護回路に過充電電圧を印加し、保護回路の異常又は有無を確認することができる。
【００１８】
第２発明によれば、電界効果トランジスタがオフ状態になった場合であっても寄生ダイオードによってソース端子とドレイン端子との間に電流が流れて電圧降下が生じるため、検査端子から保護回路に過充電電圧を印加した場合、正極端子と負極端子との間の電圧が低下する。
【００１９】
第３発明によれば、検査端子に過充電電圧を印加して保護回路に関する検査を行えるため、シールを剥がすなどして電池パックを分解することなく保護回路に関する検査を行うことができる。また、検査用の端子は、検査端子１個だけなので、検査のコスト及び手間を低減することができる。
【００２０】
第４発明によれば、検査端子に過充電電圧を印加して保護回路に関する検査を行えるため、シールを剥がすなどして電池パックを分解することなく、しかも負荷に接続された状態で保護回路に関する検査を行うことができる。また、検査用の端子は、検査端子１個だけなので、検査のコスト及び手間を低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づいて具体的に説明する。
（第１の実施の形態）
図１は本発明に係る電池パックの構成例を示す回路図である。電池パック１０は、電池Ｅと、電池Ｅと並列に接続された保護回路基板１２とを、図示しないケースに収容している。また、電池パック１０は、外部接続用の正極端子（図１の端子＋、以下端子＋という）と、外部接続用の負極端子（図１の端子−、以下端子−という）と、外部接続用の検査端子（図１の端子ａ、以下端子ａという）とを備える。
【００２２】
電池Ｅの正極には端子＋が接続されており、電池Ｅの負極には２つのＦＥＴ（電界効果トランジスタ）１，２を介装して端子−が接続されている。ＦＥＴ１及びＦＥＴ２はｎ型の電界効果トランジスタであり、電池Ｅの負極にＦＥＴ２のソース端子が接続され、ＦＥＴ２のドレイン端子にＦＥＴ１のドレイン端子が接続され、ＦＥＴ１のソース端子に端子−が接続されている。
【００２３】
電池Ｅの正極と端子＋との間には抵抗Ｒ１の一方の端子が接続され、抵抗Ｒ１の他方の端子と電池Ｅの負極との間には保護ＩＣ（Integrated Circuit）１４が接続されている。図の例では、保護ＩＣ１４の端子１が抵抗Ｒ１に接続され、保護ＩＣ１４の端子２が電池Ｅの負極に接続されている。そして、端子ａが、抵抗Ｒ１と保護ＩＣ１４の端子１との間に接続されている。また、ＦＥＴ１及びＦＥＴ２のゲート端子が保護ＩＣ１４に接続されており、保護ＩＣ１４がＦＥＴ１及びＦＥＴ２のオン／オフの切換を行う。また、保護ＩＣ１４の端子３が、抵抗Ｒ２を介装して、端子−に接続されている。
【００２４】
上述した抵抗Ｒ１，Ｒ２と、保護ＩＣ１４と、ＦＥＴ１，ＦＥＴ２と、端子＋，端子−，端子ａが保護回路基板１２上に配置されている。また、端子＋、端子−、及び端子ａは、図示しない前記ケースの開口部に配置されている。また、端子ａから保護ＩＣへの静電気などのノイズの印加を防止するために、端子ａと保護ＩＣ１４との間に抵抗を接続したり、端子ａと端子−との間にコンデンサを接続することが好ましい。
【００２５】
保護ＩＣ１４は、端子２と端子１との間の電圧を監視し、過充電検出電圧（例えば電池Ｅの電圧が３．８Ｖの場合、４．３Ｖ）に達した場合はＦＥＴ１をオフにする。本実施の形態では、過充電検出電圧に達してから過充電検出遅延時間（例えば１秒）後に、ＦＥＴ１がオフになる。また、保護ＩＣ１４は、ＦＥＴ１をオフにした後、端子２と端子１との間の電圧を監視し、過充電検出電圧よりも低電圧になった場合はＦＥＴ１をオンにする。本実施の形態では、過充電検出電圧よりも低電圧になってから過充電復帰遅延時間（例えば１０ｍ秒）後に、ＦＥＴ１がオンになる。また、過充電の場合と同様に、保護ＩＣ１４は、端子２と端子３との間の電圧を監視し、過電流検出電圧を基準にしてＦＥＴ２のオン／オフを切換える。
【００２６】
次に、図１に示す電池パックを用いた保護ＩＣの検査方法について説明する。本実施の形態の検査方法は、端子ａに過充電電圧（上述した過充電検出電圧以上の電圧であり、例えば４．５Ｖ）を印加し、電池パックの端子−と端子＋との間の電圧（以下、出力電圧という）Ｖｏｕｔを測定する。なお、本説明において、過電流は検出されないものとし、ＦＥＴ２は常にオンであるものとする。
【００２７】
図２は、端子ａに過充電電圧を印加する前の状態を示す電池及び保護回路基板の回路図である。この場合、出力電圧Ｖｏｕｔは、電池Ｅの電圧である３．８Ｖとなる。また、保護ＩＣ１４の端子２と端子１との間の電圧（以下、検出用電圧という）は、電池Ｅの電圧とほぼ同じ約３．８Ｖとなるため、ＦＥＴ１はオンである。
【００２８】
図３（ａ）は、端子−と端子ａとの間に４．５Ｖの過充電電圧を印加した状態を示す回路図である。この場合、出力電圧Ｖｏｕｔは図２と同様に３．８Ｖであるが、検出用電圧は４．５Ｖとなる。検出用電圧が、過充電検出電圧（４．３Ｖ）以上になったため、保護ＩＣ１４はＦＥＴ１をオフにする。よって、端子ａに過充電電圧４．５Ｖが印加されてから過充電検出遅延時間（１秒）後に、ＦＥＴ１はオフに切換わる。
【００２９】
図３（ｂ）は、ＦＥＴ１がオフに切換わった状態を示す回路図である。ＦＥＴ１がオフになっているため、出力電圧Ｖｏｕｔは、端子ａに印加された過充電電圧とほぼ同じ約４．５Ｖとなる。また、ＦＥＴ１がオフになっているため、検出用電圧は、電池Ｅの電圧とほぼ同じ約３．８Ｖとなる。検出用電圧が過充電検出電圧（４．３Ｖ）よりも低電圧になったため、保護ＩＣ１４はＦＥＴ１をオンにする。よって、ＦＥＴ１がオフに切換わってから過充電復帰遅延時間（１０ｍ秒）後に、ＦＥＴ１はオンに切換わる。
【００３０】
ＦＥＴ１がオンに切換わった場合、図３（ａ）と同様の状態になり、以後、図３（ａ）と図３（ｂ）の状態を繰返すことになる。図４は、出力電圧Ｖｏｕｔの波形図である。図４において、時間ｔ０は端子ａに４．５Ｖが印加された時間であり、時間Ｔは過充電検出遅延時間と過充電復帰遅延時間との和である。図３（ａ）に示した過充電検出遅延時間（１秒）の出力電圧３．８Ｖの状態と、図３（ｂ）に示した過充電復帰遅延時間（１０ｍ秒）の出力電圧４．５Ｖの状態とが交互に繰返される。
【００３１】
ただし、保護ＩＣ１４が故障している又は備えていない場合は、過充電電圧の印加に反応せず、図３（ａ）の状態のままとなる。よって、出力電圧Ｖｏｕｔに周期Ｔのパルスが生じているか否かに基づいて、保護ＩＣ１４又はＦＥＴ１が正常か否か、又は、保護ＩＣ１４の有無を検査することができる。また、図３（ａ）、（ｂ）に示すように、端子ａは抵抗Ｒ１と保護ＩＣ１４との間に接続されているため、端子ａに印加された過充電電圧が電池Ｅに印加されることを防止できる。また、抵抗Ｒ２は、逆電圧、過大電圧、静電気等から保護ＩＣ１４を保護するために設けられている。
【００３２】
（第２の実施の形態）
図５は本発明に係る電池パックの構成例を示す回路図である。電池パック１０の構成及び過充電時などの動作は第１の実施の形態と同様であり、説明を省略する。ただし、図５においては、ＦＥＴ１及びＦＥＴ２に寄生するダイオード成分（以下、寄生ダイオードという）Ｄ１，Ｄ２を図示している。一般的に、ＦＥＴにおいては、ソース端子側がアノード端子となり、ドレイン端子側がカソード端子となるダイオード成分が寄生している。
【００３３】
次に、図５に示す電池パックを用いた保護ＩＣの検査方法について説明する。本実施の形態の検査方法は、端子＋と端子−との間に負荷２０を接続した後、端子ａに過充電電圧（４．５Ｖ）を印加し、電池パックの端子−と端子＋との間の出力電圧Ｖｏｕｔを測定する。なお、本説明において、過電流は検出されないものとし、ＦＥＴ２は常にオンであるものとする。
【００３４】
図６は、端子ａに過充電電圧を印加する前の状態を示す電池及び保護回路基板の回路図である。この場合、第１の実施の形態（図２）と同様に、出力電圧Ｖｏｕｔは、電池Ｅの電圧である３．８Ｖとなる。また、保護ＩＣ１４の端子２と端子１との間の検出用電圧は、電池Ｅの電圧とほぼ同じ約３．８Ｖとなるため、ＦＥＴ１はオンである。また、端子＋と端子−との間に負荷２０が接続されているため、端子＋から端子−に電流が流れている。
【００３５】
図７（ａ）は、端子−と端子ａとの間に４．５Ｖの過充電電圧を印加した状態を示す回路図である。この場合、第１の実施の形態（図３（ａ））と同様に、出力電圧Ｖｏｕｔは３．８Ｖとなり、検出用電圧は４．５Ｖとなる。また、端子＋と端子−との間に負荷２０が接続されているため、端子＋から端子−に電流が流れている。検出用電圧が過充電検出電圧（４．３Ｖ）以上になったため、保護ＩＣ１４はＦＥＴ１をオフにする。よって、端子ａに過充電電圧４．５Ｖが印加されてから過充電検出遅延時間（１秒）後に、ＦＥＴ１はオフに切換わる。
【００３６】
図７（ｂ）は、ＦＥＴ１がオフに切換わった状態を示す回路図である。ＦＥＴ１はオフになっているが、寄生ダイオードＤ１によって電流が流れる。本実施の形態においては、端子＋と端子−との間に負荷２０が接続されているため、負荷２０及び寄生ダイオードＤ１に電流が流れる。ただし、寄生ダイオードＤ１で電圧降下（０．６Ｖ）が生じる。よって、出力電圧Ｖｏｕｔは、電池Ｅの電圧３．８Ｖから寄生ダイオードＤ１の電圧降下０．６Ｖ分低下した電圧となる。また、検出用電圧は４．５Ｖに寄生ダイオードＤ１の電圧（０．６Ｖ）が印加された電圧となるため、ＦＥＴ１はオフのままである。
【００３７】
図８は、出力電圧Ｖｏｕｔの波形図である。図８において、時間ｔ０は端子ａに４．５Ｖが印加された時間であり、時間ｔ１はＦＥＴ１がオフに切換わった時間である。図７（ｂ）に示したように、ＦＥＴ１がオフに切換わった場合に、出力電圧に電圧降下が生じている。
【００３８】
ただし、保護ＩＣ１４が故障した場合又は備えていない場合は、過充電電圧の印加に反応せず、図７（ａ）の状態のままとなる。よって、出力電圧に電圧降下が生じているか否かに基づいて、保護ＩＣ１４又はＦＥＴ１が正常か否か、又は、保護ＩＣ１４の有無を検査することができる。
【００３９】
（第３の実施の形態）
上述した第１及び第２の実施形態の検査方法は、検査員が行うことも可能であるが、電池パックが装着される携帯電話又はデジタルカメラなどの電子装置で実行することも可能である。図９は、本発明に係る電池パック１０が装着された電子装置の要部構成を示すブロック図である。電子装置３０は、電源部５０と、電源部５０から給電されて動作する動作部４０とを備える。動作部４０は、共通のバスに接続されたＣＰＵ（Central Processing Unit）４２と、ＣＰＵ４２が実行する制御プログラムを記憶するＲＯＭ（Read Only Memory）４４と、制御プログラムの実行中に生じたデータなどを記憶するＲＡＭ（Random Access Memory）４６と、ＣＰＵ４２によって制御される図示しない操作部、表示部、通信部などの種々の構成部とを備える。
【００４０】
電源部５０は、取外し可能な電池パック１０と、電池パック１０が接続される電源制御部５２とを備える。電池パック１０は、第２の実施の形態（図５）と同様の電池である。電源制御部５２は、電池パック１０の端子＋、端子−、端子ａの夫々と接触する３つの接触端子を備え、電池パック１０の端子＋及び端子−間の出力電圧を所定の電圧に変換するなどして動作部４０に供給する。また、電源制御部５２は、ＣＰＵ４２によって制御され、給電／給電停止を切換えたり、電池パック１０の端子ａに過充電電圧を印加したり、電池パック１０の装着の有無を検出し、検出結果をＣＰＵ４２に送信したり、電池パック１０の出力電圧値をＣＰＵ４２に送信することが可能である。
【００４１】
図１０は、本発明に係る電池パック１０の保護ＩＣ１４の検査手順の例を示すフローチャートである。電源制御部５２から電池パック１０の装着の検出信号を受付けた（Ｓ１０）ＣＰＵ４２は、電源制御部５２を制御して、電池パック１０の端子ａに過充電電圧を印加する（Ｓ１２）。その後、ＣＰＵ４２は、電源制御部５２から受取る出力電圧値を監視し、検査時間中に出力電圧に電圧降下が生じた（または、出力電圧に周期的なパルスが生じた）場合（Ｓ１４：ＹＥＳ）は、保護ＩＣ１４に異常はないと判定し（Ｓ１６）、そのまま各種動作を実行する。一方、検査時間中に出力電圧に電圧降下が生じない（または、出力電圧に周期的なパルスが生じない）場合（Ｓ１４：ＮＯ）、ＣＰＵ４２は、保護ＩＣ１４に異常がある、又は、保護ＩＣ１４が無いと判定し（Ｓ１８）、電源部５０からの給電を停止するなどの使用停止処理を行う（Ｓ２０）。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明に係る電池パックの構成例を示す回路図である。
【図２】端子ａに過充電電圧を印加する前の状態を示す電池及び保護回路基板の回路図である。
【図３】（ａ）は、端子−と端子ａとの間に４．５Ｖの過充電電圧を印加した状態を示す回路図であり、（ｂ）は、ＦＥＴがオフに切換わった状態を示す回路図である。
【図４】出力電圧Ｖｏｕｔの波形図である。
【図５】本発明に係る電池パックの構成例を示す回路図である。
【図６】端子ａに過充電電圧を印加する前の状態を示す電池及び保護回路基板の回路図である。
【図７】（ａ）は、端子−と端子ａとの間に４．５Ｖの過充電電圧を印加した状態を示す回路図であり、（ｂ）は、ＦＥＴがオフに切換わった状態を示す回路図である。
【図８】出力電圧Ｖｏｕｔの波形図である。
【図９】本発明に係る電池パックが装着された電子装置の要部構成を示すブロック図である。
【図１０】本発明に係る電池パックの保護ＩＣの検査手順の例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００４３】
１０  電池パック
１２  保護回路基板
１４  保護ＩＣ
２０  負荷
３０  電子装置
４０  動作部
４２  ＣＰＵ
５０  電源部
５２  電源制御部
Ｅ  電池
Ｒ１、Ｒ２  抵抗
ＦＥＴ１，ＦＥＴ２  電界効果トランジスタ
【図１】
2006244905.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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