(57)【要約】【課題】バッテリの状態に応じて設定条件を変更可能な非破壊検査装置を実現する。【解決手段】超音波非破壊検査装置１は、Ａ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂの電力供給を受けて被検体内部の状態を検査する非破壊検査装置である。超音波非破壊検査装置１は、Ａ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂの残量が所定値以下になったとき、超音波非破壊検査装置１の動作条件を変更するための情報を出力する情報出力手段としてのＣＰＵ２１と、このＣＰＵ２１の情報に基づいて、超音波非破壊検査装置１の動作条件を変更可能な設定変更手段としての選択スイッチ１３を具備して構成されている。【選択図】図２
2006017640.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
バッテリの電力供給を受けて被検体内部の状態を検査する非破壊検査装置において、
前記バッテリの残量が所定値以下になったとき、前記非破壊検査装置の動作条件を変更するための情報を出力する情報出力手段と、
前記情報出力手段からの情報に基づいて、前記非破壊検査装置の動作条件を変更可能な設定変更手段と、
を具備したことを特徴とする非破壊検査装置。
【請求項２】
前記情報出力手段は、前記バッテリの残量が所定値以下になったことを判断して、前記非破壊検査装置の動作条件を変更するか否かを検査者に選択させる画像を生成し表示することを特徴とする請求項１に記載の非破壊検査装置。
【請求項３】
前記情報出力手段は、検査者が前記設定変更手段を操作することによって前記非破壊検査装置の動作条件を変更することを選択したとき、各設定条件を変更するための画像を生成し表示することを特徴とする請求項２に記載の非破壊検査装置。
【請求項４】
前記バッテリのバッテリ情報を取得するバッテリ情報取得手段を有し、
前記情報出力手段は、前記非破壊検査装置の動作条件と前記バッテリ情報取得手段から所定時間毎に取得したバッテリ情報とから算出したバッテリ残使用可能時間が所定値以下になったとき、前記バッテリの残量が所定値以下になったことを検知することを特徴とする請求項１〜３に記載の非破壊検査装置。
【請求項５】
バッテリの電力供給を受けて被検体内部の状態を検査する非破壊検査装置において、
前記バッテリのバッテリ情報を取得するバッテリ情報取得手段と、
前記非破壊検査装置の動作条件と前記バッテリ情報取得手段から所定時間毎に取得したバッテリ情報とから算出したバッテリ残使用可能時間が所定値以下になったとき、前記非破壊検査装置の動作条件を変更するための情報を出力する情報出力手段と、
前記情報出力手段からの情報に基づいて、前記非破壊検査装置の動作条件を変更可能な設定変更手段と、
を具備したことを特徴とする非破壊検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、バッテリの電力供給を受けて被検体内部の状態を検査する非破壊検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、非破壊検査装置は、工業分野等において広く用いられている。非破壊検査装置は、被検体内部の状態を検査する装置である。上記非破壊検査装置は、例えば、航空機の機体や大型プラントの設備検査などで用いられている。このような非破壊検査装置の中には、例えば、超音波、音響、エックス線等の放射線、サーモグラフィーを用いた装置などがある。
【０００３】
通常、検査者は、被検体の各部を検査するために、携帯可能な非破壊検査装置を保持しながら動き回って非破壊検査を行う場合が多い。また、検査現場においては、ＡＣ電源を利用できない場合が多い。従って、従来の携帯可能な非破壊検査装置は、長時間使用するためにバッテリを内蔵している。
【０００４】
しかしながら、非破壊検査装置は、大型バッテリを搭載すると重くなり、検査時に使用するのが不便である。このため、非破壊検査装置は、軽量化が求められている。そこで、非破壊検査装置は、小型バッテリを搭載すると、携帯に便利になる。しかしながら、小型バッテリを搭載した非破壊検査装置は、使用時間が短くなる。
【０００５】
上記従来の非破壊検査装置の中には、例えば、特許文献１に記載されているように超音波非破壊検査装置が提案されている。上記超音波非破壊検査装置は、被検体に超音波パルスを送波し、被検体内部から反射してきた超音波パルスを受波することで被検体内部に生じた傷等の状態を検査するようになっている。
【特許文献１】特開平１１−０５６８３８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記従来の非破壊検査装置は、バッテリの電力供給能力が低下した場合、全ての機能が停止するようになっている。このため、上記従来の非破壊検査装置は、長時間動作させる配慮がなされていないといえる。また、上記従来の非破壊検査装置は、長時間動作させるための予備のバッテリが必要になり、重量も重くなってしまう。
【０００７】
本発明は、上述した点に鑑みてなされたもので、バッテリの状態に応じて設定条件を変更可能な非破壊検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、バッテリの電力供給を受けて被検体内部の状態を検査する非破壊検査装置において、前記バッテリの残量が所定値以下になったとき、前記非破壊検査装置の動作条件を変更するための情報を出力する情報出力手段と、前記情報出力手段からの情報に基づいて、前記非破壊検査装置の動作条件を変更可能な設定変更手段と、を具備したことを特徴としている。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の非破壊検査装置は、バッテリの状態に応じて設定条件を変更することができるという効果を有する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。
【００１１】
尚、本発明は、非破壊検査装置として超音波非破壊検査装置に適用した例を示す。
【実施例】
【００１２】
図１ないし図２０は本発明の一実施例に係り、図１は一実施例の超音波非破壊検査装置を示す全体構成図、図２は図１の超音波非破壊検査装置の内部構成を示す回路ブロック図、図３は超音波非破壊検査装置の動作を示すメインフローチャート、図４はバッテリ残容量及び残使用可能時間を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図、図５はバッテリ残使用可能時間が所定値以下であることを告知し、設定条件を変更するか否かを検査者に選択させる画像を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図、図６は設定条件の変更が完了したことを告知している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図、図７は設定変更により更新されたバッテリ残使用可能時間を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図、図８はバッテリ残使用可能時間が０となり、シャットダウンすることを表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図、図９は図３の設定入力フローを示すサブフローチャート、図１０は検査周波数の数値入力を促す画像を表示した超音波非破壊検査装置を示す説明図、図１１は検査チャンネル数の数値入力を促す画像を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図、図１２は検査信号出力レベルの数値入力を促す画像を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図、図１３は検査パルス幅の数値入力を促す画像を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図、図１４は警告表示を行うバッテリ残使用可能時間の数値入力を促す画像を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図、図１５は図３の設定変更フローを示すサブフローチャート、図１６は表示パネルの輝度を下げるか否かを選択するための画像を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図、図１７は検査周波数を下げるか否かを選択するための画像を表示した超音波非破壊検査装置を示す説明図、図１８は検査チャンネル数を下げるか否かを選択するための画像を表示した超音波非破壊検査装置を示す説明図、図１９は検査信号出力レベルを下げるか否かを選択するための画像を表示した超音波非破壊検査装置を示す説明図、図２０は検査パルス幅を狭くするか否かを選択するための画像を表示した超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【００１３】
図１に示すように一実施例の非破壊検査装置である超音波非破壊検査装置１は、図示しない超音波探触子（以下、単に探触子）を内蔵する検査用プローブ２と、この検査用プローブ２の探触子を制御する装置本体３とを有して構成されている。  
検査用プローブ２の探触子は、複数の超音波振動子により形成されている。装置本体３は、これら複数の超音波振動子を個別に制御するようになっている。
【００１４】
検査用プローブ２は、延出する接続ケーブル４が装置本体３に着脱自在に接続されるようになっている。検査用プローブ２は、被検体表面に押し当てられて超音波パルスを被検体に送波し、被検体内部から反射してきた超音波パルスを受波するようになっている。
【００１５】
装置本体３は、検査用プローブ２を制御して超音波パルスを送波させるようになっている。装置本体３は、検査用プローブ２が受波した反射超音波パルスを信号処理し、被検体内部の状態をグラフ化等して表示するようになっている。
【００１６】
装置本体３は、フロントパネル３ａに電源スイッチ１１と、数値入力スイッチ１２と、選択スイッチ１３と、表示手段としてＬＣＤ（ Liquid Crystal Display）等により形成されている表示パネル１４と、警告音を発生するスピーカ１５とが設けられている。
【００１７】
電源スイッチ１１は、装置本体３の電源をオンオフするスイッチである。  
数値入力スイッチ１２は、各種設定を行う際に数値を入力するためのスイッチである。選択スイッチ１３は、各種設定変更を行う際に表示パネル１４の表示画面に表示される設定値の中から所望の設定値を選択するためのスイッチである。即ち、選択スイッチ１３は、設定変更手段を構成している。
【００１８】
表示パネル１４は、表示画面に被検体の測定状況、各種設定の設定画面等の表示を行うようになっている。尚、本実施例では、後述するように告知手段として表示パネル１４の表示画面にバッテリの残量状態及び残使用可能時間を表示するようになっている。
【００１９】
また、フロントパネル３ａには、図示しないが自動的に較正（キャリブレーション）を行うためのキャリブレーションスイッチが設けられている。尚、フロントパネル３ａには、図示しないがメニュー画面を表示させて各種設定を行うためのメニュースイッチ、各種モードを選択するためのモード選択スイッチ等が設けられていてもよい。
【００２０】
図２に示すように装置本体３は、各部を制御するＣＰＵ（ Central Processing Unit ）２１と、基本的なプログラム及びデータを記憶しているＲＯＭ（ Read Only Memory ）２２及び、このＲＯＭ２２から読み出したプログラムやデータを一時的に記録するＲＡＭ（ Random Access Memory ）２３を有している。
【００２１】
また、装置本体３は、例えば、Ａバッテリ２４ａ及びＢバッテリ２４ｂの２個のバッテリを内蔵するようになっている。これらＡ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂは、電源スイッチ１１に接続されている。この電源スイッチ１１をオンすることで、Ａ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂからの電源電力が供給されるようになっている。  
尚、装置本体３は、商用電源からの電源電力を取り込む図示しないコンセントが着脱自在に接続可能になっており、充電回路（不図示）を介してＡ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂが充電可能となっている。
【００２２】
また、表示パネル１４には、バックライト２５が設けられている。  
装置本体３は、バックライト２５を介して表示パネル１４を駆動するための高電圧を供給するインバータ回路２６を設けている。このインバータ回路２６は、ＣＰＵ２１から出力される表示パネル用輝度信号に基づき、Ａ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂから供給される電源電力から高電圧を発生するようになっている。
【００２３】
また、表示パネル１４は、ＣＰＵ２１から出力される表示信号に基づき、映像信号を生成する表示回路２７が設けられている。この表示回路２７は、後述の検査用回路から出力される検査信号を重畳して検査した被検体内部の状態を画像化するようになっている。  
また、スピーカ１５は、アンプ２８を介してＡ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂからの電源電力が供給されるようになっている。このアンプ２８は、ＣＰＵ２１から出力されるオーディオ信号を増幅するようになっている。
【００２４】
また、装置本体３は、検査用プローブ２の探触子（複数の超音波振動子）を制御駆動する検査用回路３０を設けている。この検査用回路３０は、検査周波数制御回路３１と、検査チャンネル制御回路３２と、検査出力制御回路３３と、検査パルス幅制御回路３４と、検査信号発生回路３５と、検査信号受信回路３６とを有して構成されている。
【００２５】
検査周波数制御回路３１は、複数の超音波振動子を個別に駆動するための周波数信号を生成する回路である。検査チャンネル制御回路３２は、チャンネル数として複数の超音波振動子のうち、駆動する素子数を制御する回路である。  
検査出力制御回路３３は、超音波振動子を駆動するための出力信号を生成する回路である。検査パルス幅制御回路３４は、超音波振動子が出力する超音波パルスのパルス幅を制御する回路である。
【００２６】
検査周波数制御回路３１、検査チャンネル制御回路３２、検査出力制御回路３３及び検査パルス幅制御回路３４は、ＣＰＵ２１からの検査用回路制御信号に基づき、それぞれ個別に制御されるようになっている。  
これら検査周波数制御回路３１、検査チャンネル制御回路３２、検査出力制御回路３３及び検査パルス幅制御回路３４は、生成した信号を検査信号発生回路３５に出力するようになっている。
【００２７】
検査信号発生回路３５は、Ａ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂから供給される電源電力を検査周波数制御回路３１、検査チャンネル制御回路３２、検査出力制御回路３３及び検査パルス幅制御回路３４からの信号で制御して、検査用プローブ２の探触子を駆動するための駆動信号を生成する回路である。  
一方、検査信号受信回路３６は、検査用プローブ２の探触子から出力される反射超音波パルス信号を受信して信号処理する回路である。検査信号受信回路３６は、信号処理した検査信号を表示回路２７に出力するようになっている。
【００２８】
また、装置本体３は、バッテリ情報取得手段としてＡバッテリ２４ａのバッテリ情報を取得するＡバッテリ情報取得回路４１ａ及び、Ｂバッテリ２４ｂのバッテリ情報を取得するＢバッテリ情報取得回路４１ｂが設けられている。バッテリ情報とは、使用可能なバッテリ数、バッテリ残容量、温度、消費電流（実際に流れる電流）等の情報である。  
Ａ，Ｂバッテリ情報取得回路４１ｂは、取得したバッテリ情報をシリアル通信等でＣＰＵ２１に出力するようになっている。尚、通信は、シリアル通信でなくパラレル通信でもよい。
【００２９】
ＣＰＵ２１は、Ａ，Ｂバッテリ情報取得回路４１ａ，４１ｂからのＡ，Ｂバッテリ情報信号を受信して、使用可能なバッテリ数、バッテリ残容量、温度、各バッテリの消費電流等のバッテリ情報をリアルタイムで把握できるようになっている。  
また、ＣＰＵ２１は、上記Ａ，Ｂバッテリ情報取得回路４１ａ，４１ｂからのＡ，Ｂバッテリ情報と、後述するように入力される設定条件（動作条件）に基づいて得られるＡ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂの消費電流データとにより、バッテリ残使用可能時間をリアルタイムに算出すること可能になっている。尚、本実施例では、バッテリ残使用可能時間が所定値以下になったときを前記Ａ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂの残量が所定値以下になったときとして検知するようになっている。
【００３０】
ここで、入力される設定条件（動作条件）に対するバッテリの消費電流データは、例えば、表１に示すようになっている。
【表１】
2006017640.tif 000003
【００３１】
尚、このデータは、ＲＯＭ２２に予め記憶している。  
ＣＰＵ２１は、このＲＯＭ２２に記憶した表１のデータに基づき、Ａ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂの消費電流データを得るようにしている。
【００３２】
更に、ＣＰＵ２１は、情報出力手段として前記バッテリ残使用可能時間が所定値以下になったとき、前記設定条件を変更するか否かを検査者に選択させる画面を生成して表示させ、検査者が変更した設定条件に基づいてバッテリ残使用可能時間を算出すると共に、変更した設定条件に従って表示パネル１４及び検査用回路３０を制御するようになっている。
【００３３】
このように構成されている超音波非破壊検査装置１は、被検体内部に生じた傷等の状態を検査するのに用いられる。  
超音波非破壊検査装置１の動作を図３に示すフローチャートに従って説明する。  
先ず、検査者は、電源スイッチ１１をオンする。
【００３４】
電源スイッチ１１がオンされると（ステップＳ１）、超音波非破壊検査装置１は、Ａ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂからの電源電力が各部へ供給される。  
ＣＰＵ２１は、検査者に表示パネル１４の輝度変更或いは検査用回路３０の設定条件（検査周波数、検査チャンネル数、検査出力、検査パルス幅）の数値入力を促すよう動作する（ステップＳ２）。尚、この設定入力の詳細は、後述する。
【００３５】
上記設定入力（ステップＳ２）が終了したら、検査者は、較正（キャリブレーション）を実行した後、検査を行う。  
この場合、超音波非破壊検査装置１は、検査用プローブを標準試験片の表面に押し当てられて図示しないキャリブレーションスイッチを押下操作される。すると、超音波非破壊検査装置１は、自動的に較正（キャリブレーション）を行う。
【００３６】
キャリブレーションが終了したら、検査者は、所望の被検体表面に検査用プローブ２を押し当てて検査を行う。  
ここで、Ａバッテリ情報取得回路４１ａは常にＡバッテリ２４ａのバッテリ情報を取得し、Ｂバッテリ情報取得回路４１ｂは常にＢバッテリ２４ｂのバッテリ情報を取得する。
【００３７】
ＣＰＵ２１は、所定時間毎にＡ，Ｂバッテリ情報取得回路４１ａ，４１ｂと通信し、これらＡ，Ｂバッテリ情報取得回路４１ａ，４１ｂからＡ，Ｂバッテリ情報信号を取得する。これにより、ＣＰＵ２１は、使用可能なバッテリ数、バッテリ残容量、温度、各バッテリの消費電流等のバッテリ情報をリアルタイムで把握できる。
【００３８】
次に、ＣＰＵ２１は、この取得したＡ，Ｂバッテリ情報と、上記入力された設定条件に基づいて得られるＡ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂの消費電流データとにより、バッテリ残使用可能時間を所定時間毎に算出する。  
ＣＰＵ２１は、算出したバッテリ残使用可能時間及びバッテリ残容量を表示パネルに表示し、所定時間毎に更新する。
【００３９】
ここで、ＣＰＵ２１は、Ａ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂの個別の残使用可能時間を算出すると共に、これら合算時間を算出する。また、ＣＰＵ２１は、取得したバッテリ情報からＡ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂの個別のバッテリ残容量を表示するキャラクタを生成する。
【００４０】
ＣＰＵ２１は、算出した残使用可能時間のデータ及び生成したバッテリ残容量のキャラクタを表示する画像信号として表示信号を生成し、この生成した表示信号を表示回路２７に出力する。  
表示回路２７は、ＣＰＵ２１からの表示信号に基づき、例えば、図４に示すように表示パネル１４に表示させる。
【００４１】
図４に示すように表示パネル１４は、表示画面の中央部に被検体内部の状態を表示し、表示画面の右隅にバッテリ残容量及び残使用可能時間を表示している。  
ここで、上側はＡバッテリ２４ａのバッテリ残容量及び残使用可能時間、下側はＢバッテリ２４ｂのバッテリ残容量及び残使用可能時間、これら残使用可能時間の下側は合算時間が示されている。
【００４２】
また、ＣＰＵ２１は、バッテリ残使用可能時間が予め入力した設定値以下であるか否かを判断する（ステップＳ３）。  
バッテリ残使用可能時間が設定値を切らない場合、ＣＰＵ２１は、バッテリ残使用可能時間が設定値以下になるまで現状態を維持する。
【００４３】
バッテリ残使用可能時間が設定値以下である場合、ＣＰＵ２１は、警告動作する（ステップＳ４）。即ち、ＣＰＵ２１は、図５に示すようにアンプ２８を介してスピーカ１５からアラームを発生させる。  
同時に、ＣＰＵ２１は、バッテリ残使用可能時間が設定値しか使用できない旨を表示パネル１４に表示させると共に、表示パネル１４の輝度変更又は検査用回路３０の設定条件（検査周波数、検査チャンネル数、検査出力、検査パルス幅）を変更するか否かを検査者に選択させるための画面を生成し、表示パネル１４に表示させる。
【００４４】
ＣＰＵ２１は、検査用回路３０の設定変更をするか否かを判断する（ステップＳ５）。  
検査者が設定変更を選択したら、ＣＰＵ２１は、設定変更モードに入る（ステップＳ６）。尚、この設定変更モードの詳細は、後述する。
【００４５】
設定変更モードが終了したら、ＣＰＵ２１は、変更された設定条件に従い、表示パネル１４の輝度或いは検査用回路３０の設定を変更を行う。  
次に、ＣＰＵ２１は、図６に示すようにアンプ２８を介してスピーカ１５からアラームを発生させる。同時に、ＣＰＵ２１は、設定が変更された旨を表示パネル１４に表示させる。
【００４６】
検査者が設定変更を選択せず、又は設定変更が終了したら、ＣＰＵ２１は、図７に示すように再び検査を再開し、バッテリ残使用可能時間が０になるまで検査を続ける。  
ここで、ＣＰＵ２１は、設定変更によるＡ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂの残使用可能時間を算出し、設定変更による残使用可能時間を表示パネル１４に表示させる。  
これにより、超音波非破壊検査装置１は、Ａ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂを延命することができる。
【００４７】
ＣＰＵ２１は、所定時間毎にＡ，Ｂバッテリ情報取得回路４１ａ，４１ｂと通信し、Ａ，Ｂバッテリ情報信号を取得し、バッテリ残使用可能時間及びバッテリ残容量を所定時間毎に更新する。  
ＣＰＵ２１は、バッテリ残使用可能時間が０になるか否かを判断する（ステップＳ７）。バッテリ残使用可能時間が０になったら、ＣＰＵ２１は、再び警告動作し（ステップＳ８）、電源オフする（ステップＳ９）。
【００４８】
即ち、ＣＰＵ２１は、図８に示すようにアンプ２８を介してスピーカ１５からアラームを発生させる。同時にＣＰＵ２１は、バッテリ残使用可能時間が０であるのでシャットダウンする旨を表示パネル１４に表示させると共に、電源オフする。
【００４９】
次に、図９に示すフローチャートに従って設定入力フローを説明する。  
ＣＰＵ２１は、検査周波数を設定するか否かを選択するための画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。
【００５０】
ＣＰＵ２１は、検査周波数を設定するか否かを判断する（ステップＳ２１）。  
検査者が検査周波数の設定を選択したら、ＣＰＵ２１は、図１０に示すように検査者に検査周波数の数値入力を促すような画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。
【００５１】
検査者が数値入力スイッチ１２を押下操作することで、ＣＰＵ２１は検査周波数の設定値を入力される（ステップＳ２２）。一方、検査者が検査周波数の設定を選択しなかったら、ＣＰＵ２１は、次のステップへ進む。
【００５２】
次に、ＣＰＵ２１は、検査チャンネル数を設定するか否かを選択するための画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。  
ＣＰＵ２１は、検査チャンネル数を設定するか否かを判断する（ステップＳ２３）。
【００５３】
検査者が検査チャンネル数の設定を選択したら、ＣＰＵ２１は、図１１に示すように検査者に検査チャンネル数の数値入力を促すような画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。
【００５４】
検査者が数値入力スイッチ１２を押下操作することで、ＣＰＵ２１は検査チャンネル数の設定値を入力される（ステップＳ２４）。一方、検査者が検査チャンネル数の設定を選択しなかったら、ＣＰＵ２１は、次のステップへ進む。
【００５５】
次に、ＣＰＵ２１は、検査信号出力レベルを設定するか否かを選択するための画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。  
ＣＰＵ２１は、検査信号出力レベルを設定するか否かを判断する（ステップＳ２５）。
【００５６】
検査者が検査信号出力レベルの設定を選択したら、ＣＰＵ２１は、図１２に示すように検査者に検査信号出力レベルの数値入力を促すような画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。
【００５７】
検査者が数値入力スイッチ１２を押下操作することで、ＣＰＵ２１は検査信号出力レベルの設定値を入力される（ステップＳ２６）。一方、検査者が検査信号出力レベルの設定を選択しなかったら、ＣＰＵ２１は、次のステップへ進む。
【００５８】
次に、ＣＰＵ２１は、検査パルス幅を設定するか否かを選択するための画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。  
ＣＰＵ２１は、検査パルス幅を設定するか否かを判断する（ステップＳ２７）。
【００５９】
検査者が検査パルス幅の設定を選択したら、ＣＰＵ２１は、図１３に示すように検査者に検査パルス幅の数値入力を促すような画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。
【００６０】
検査者が数値入力スイッチ１２を押下操作することで、ＣＰＵ２１は検査パルス幅の設定値を入力される（ステップＳ２８）。一方、検査者が検査パルス幅の設定を選択しなかったら、ＣＰＵ２１は、次のステップへ進む。  
これにより、ＣＰＵ２１は、検査用回路３０の設定条件を入力される。
【００６１】
次に、ＣＰＵ２１は、警告表示を行うバッテリ残使用可能時間を設定するか否かを選択するための画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。  
ＣＰＵ２１は、警告表示を行うバッテリ残使用可能時間を設定するか否かを判断する（ステップＳ２９）。
【００６２】
検査者が警告表示を行うバッテリ残使用可能時間の設定を選択したら、ＣＰＵ２１は、図１４に示すように検査者に警告表示を行うバッテリ残使用可能時間の数値入力を促すような画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。
【００６３】
検査者が数値入力スイッチ１２を押下操作することで、ＣＰＵ２１は警告表示を行うバッテリ残使用可能時間の設定値を入力される（ステップＳ３０）。一方、検査者が検査パルス幅の設定を選択しなかった場合或いは、検査者が警告表示を行うバッテリ残使用可能時間の設定値を入力した後、ＣＰＵ２１は、メインフローへ戻る（ステップＳ３１）。
【００６４】
次に、図１５に示すフローチャートに従って設定変更フローを説明する。  
ＣＰＵ２１は、図１６に示すように表示パネル１４の輝度を下げるか否かを選択するための画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。
【００６５】
ＣＰＵ２１は、表示パネル１４の輝度を下げるか否かを判断する（ステップＳ６１）。  
検査者が選択スイッチ１３を押下操作して表示パネル１４の輝度を下げることを選択したら、ＣＰＵ２１は予め設定されている所定の輝度値に従って、表示パネル１４の輝度を下げる（ステップＳ６２）。一方、検査者が表示パネル１４の輝度を下げることを選択しなかったら、ＣＰＵ２１は、次のステップへ進む。
【００６６】
次に、ＣＰＵ２１は、図１７に示すように検査周波数を下げるか否かを選択するための画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。  
ＣＰＵ２１は、検査周波数を下げるか否かを判断する（ステップＳ６３）。
【００６７】
検査者が所望の選択スイッチ１３を押下操作して検査周波数を下げることを選択したら、ＣＰＵ２１は選択された設定値に従って、検査周波数を下げる（ステップＳ６４）。一方、検査者が検査周波数を下げることを選択しなかったら、ＣＰＵ２１は、次のステップへ進む。
【００６８】
次に、ＣＰＵ２１は、図１８に示すように検査チャンネル数を下げるか否かを選択するための画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。  
ＣＰＵ２１は、検査チャンネル数を下げるか否かを判断する（ステップＳ６５）。
【００６９】
検査者が所望の選択スイッチ１３を押下操作して検査チャンネル数を下げることを選択したら、ＣＰＵ２１は選択された設定値に従って、検査チャンネル数を下げる（ステップＳ６６）。一方、検査者が検査チャンネル数を下げることを選択しなかったら、ＣＰＵ２１は、次のステップへ進む。
【００７０】
次に、ＣＰＵ２１は、図１９に示すように検査信号出力レベルを下げるか否かを選択するための画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。  
ＣＰＵ２１は、検査信号出力レベルを下げるか否かを判断する（ステップＳ６７）。
【００７１】
検査者が所望の選択スイッチ１３を押下操作して検査信号出力レベルを下げることを選択したら、ＣＰＵ２１は選択された設定値に従って、検査信号出力レベルを下げる（ステップＳ６８）。一方、検査者が検査信号出力レベルを下げることを選択しなかったら、ＣＰＵ２１は、次のステップへ進む。
【００７２】
次に、ＣＰＵ２１は、図２０に示すように検査パルス幅を狭くするか否かを選択するための画像を生成し、表示パネル１４に表示させる。  
ＣＰＵ２１は、検査パルス幅を狭くするか否かを判断する（ステップＳ６９）。
【００７３】
検査者が所望の選択スイッチ１３を押下操作して検査パルス幅を狭くすることを選択したら、ＣＰＵ２１は選択された設定値に従って、検査パルス幅を狭くする（ステップＳ７０）。一方、検査者が検査パルス幅を狭くすることを選択しなかったら、ＣＰＵ２１は、次のステップへ進む。  
これにより、超音波非破壊検査装置１は、設定変更を行うことができる。
【００７４】
ＣＰＵ２１は、上述したように設定変更の確定を告知する（ステップＳ７１）。  
即ち、ＣＰＵ２１は、上述した図６で説明したようにアンプ２８を介してスピーカ１５からアラームを発生させると同時に、設定が変更された旨を表示パネル１４に表示させる。
【００７５】
更に、ＣＰＵ２１は、設定変更によるＡ，Ｂバッテリ２４ａ，２４ｂの残使用可能時間を算出し、設定変更による残使用可能時間を表示パネル１４に表示させる（ステップＳ７２）。ＣＰＵ２１は、メインフローへ戻る（ステップＳ７３）。
【００７６】
この結果、超音波非破壊検査装置１は、バッテリの電力供給能力の低下に同期して低消費電力なるため、長時間動作させることが可能になる。また、超音波非破壊検査装置１は、設定条件が変更されるときに、表示や音等で告知し、変更の可否を選択できる。  
従って、超音波非破壊検査装置１は、バッテリの電力供給能力が低下した場合でも長時間使用でき、予備のバッテリを減らして軽量化できる。
【００７７】
尚、設定入力と設定変更については、設定パラメータを一覧表示して設定入力、設定変更できるようにしてもよい。  
また、本実施例では、２個のバッテリ２４ａ，２４ｂを内蔵しているが、内蔵されるバッテリは１個でも、又は３個以上でもよいし、バッテリパックとして装置本体３と別体に設けて構成してもよい。また、バッテリ及びバッテリ情報取得回路は、スマートバッテリ( Smart Battery )により構成してもよい。
【００７８】
尚、本発明は、非破壊検査装置として超音波非破壊検査装置に適用した例を説明したが非破壊検査装置としてエックス線等の放射線、音響、サーモグラフィー、渦流探傷を用いた装置などに適用してももちろん構わない。  
また、上述した各実施例等を部分的に組み合わせる等して構成される実施例等も本発明に属する。
【産業上の利用可能性】
【００７９】
本発明の非破壊検査装置は、バッテリの状態に応じて設定条件を変更することを可能にしたことにより、医療分野、工業分野、その他バッテリの電力供給を受けて被検体内部の状態を検査するような場合に適している。
【図面の簡単な説明】
【００８０】
【図１】一実施例の超音波非破壊検査装置を示す全体構成図である。
【図２】図１の超音波非破壊検査装置の内部構成を示す回路ブロック図である。
【図３】超音波非破壊検査装置の動作を示すメインフローチャートである。
【図４】バッテリ残容量及び残使用可能時間を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【図５】バッテリ残使用可能時間が所定値以下であることを告知し、設定条件を変更するか否かを検査者に選択させる画像を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【図６】設定条件の変更が完了したことを告知している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【図７】設定変更により更新されたバッテリ残使用可能時間を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【図８】バッテリ残使用可能時間が０となり、シャットダウンすることを表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【図９】図３の設定入力フローを示すサブフローチャートである。
【図１０】検査周波数の数値入力を促す画像を表示した超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【図１１】検査チャンネル数の数値入力を促す画像を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【図１２】検査信号出力レベルの数値入力を促す画像を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【図１３】検査パルス幅の数値入力を促す画像を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【図１４】警告表示を行うバッテリ残使用可能時間の数値入力を促す画像を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【図１５】図３の設定変更フローを示すサブフローチャートである。
【図１６】表示パネルの輝度を下げるか否かを選択するための画像を表示している際の超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【図１７】検査周波数を下げるか否かを選択するための画像を表示した超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【図１８】検査チャンネル数を下げるか否かを選択するための画像を表示した超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【図１９】検査信号出力レベルを下げるか否かを選択するための画像を表示した超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【図２０】検査パルス幅を狭くするか否かを選択するための画像を表示した超音波非破壊検査装置を示す説明図である。
【符号の説明】
【００８１】
１  超音波非破壊検査装置
２  検査用プローブ
３  装置本体
１１  電源スイッチ
１２  数値入力スイッチ
１３  選択スイッチ
１４  表示パネル
２１  ＣＰＵ
２２  ＲＯＭ
２４ａ  Ａバッテリ
２４ｂ  Ｂバッテリ
３０  検査用回路
３１  検査周波数制御回路
３２  検査チャンネル制御回路
３３  検査出力制御回路
３４  検査パルス幅制御回路
３５  検査信号発生回路
３６  検査信号受信回路
４１ａ  Ａバッテリ情報取得回路
４１ｂ  Ｂバッテリ情報取得回路
代理人    弁理士    伊藤  進
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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