(57)【要約】  【課題】レーザパワーマージンの少ないディスクに対しても、エラーを抑制して良好な記録を行えるようにする。  【解決手段】第１、第２のテスト記録が初回に実行された後に、各テスト記録に基づくＲＦ再生信号のピーク／ボトム値のレベル差が共に所定値以上であり、かつ、両レベル差が同等となった場合は、高温時にディスク磁性層をキュリー点に到達させうると予測されるレーザパワー値より若干低めのレーザパワー値Ｄを初期パワー値として設定し、この初期パワー値Ｄから第１、第２のテスト記録を再開する。そして、レベル差が所定値以上でかつ同等となったときのレーザパワー値Ｅを基準として実記録用のレーザパワー値Ｆを決定する。初回のテスト記録のレーザパワーＡが大きな値であっても、実際に決定されるレーザパワーＦはそれよりも小さい値となり、エラーレートＧが小さいレーザパワーを設定することができる。【選択図】  図２
2006004552.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光磁気ディスクの記録面に所定強度の光ビームを照射して情報を記録再生する光磁気ディスク装置であって、
光磁気ディスクのパワーキャリブレーションエリアに所定のレーザパワーで第１のテスト記録を行う第１のテスト手段と、
前記第１のテスト手段で記録された記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出する第１の検出手段と、
前記第１のテスト手段によるテスト記録時とは異なるレーザパワーでもって第２のテスト記録を行う第２のテスト手段と、
前記第２のテスト手段で記録された記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出する第２の検出手段と、
前記第１および第２の検出手段で検出された再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を参照して、第１のテスト記録および第２のテスト記録に基づくそれぞれの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値のレベル差が共に所定値以上であり、かつ、それぞれのレベル差が同等であるか否かを判定する判定手段と、
前記判定手段の判定結果に基づいて実記録用のレーザパワー値を決定する決定手段と、を備えた光磁気ディスク装置において、
前記決定手段は、
前記第１および第２のテスト記録が初回に実行された後、前記判定手段により前記各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定されなかった場合に、当該判定がされるまで、レーザパワーを上げながら前記第１および第２のテスト記録を繰り返し、当該判定がされたときに、そのときのレーザパワー値に所定値を加算した値を実記録用のレーザパワー値と決定する第１の決定手段と、
前記第１および第２のテスト記録が初回に実行された後、前記判定手段により前記各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定された場合に、高温時にディスク磁性層をキュリー点に到達させうると予測されるレーザパワー値より若干低めのレーザパワー値を初期パワー値として設定し、当該初期パワー値から前記第１および第２のテスト記録を再開し、前記判定手段により前記各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定されるまで、レーザパワーを上げながら前記第１および第２のテスト記録を繰り返し、当該判定がされたときに、そのときのレーザパワー値に所定値を加算した値を実記録用のレーザパワー値と決定する第２の決定手段と、
からなることを特徴とする光磁気ディスク装置。
【請求項２】
光磁気ディスクのパワーキャリブレーションエリアに異なるレーザパワーで第１のテスト記録および第２のテスト記録を行い、各テスト記録における記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出し、それぞれのピーク値及びボトム値のレベル差を参照して実記録用のレーザパワー値を決定する光磁気ディスク装置において、
前記第１および第２のテスト記録が初回に実行された後、前記各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定されなかった場合に、当該判定がされるまで、レーザパワーを上げながら前記第１および第２のテスト記録を繰り返し、当該判定がされたときに、そのときのレーザパワー値に基づいて実記録用のレーザパワー値を決定する第１の決定手段と、
前記第１および第２のテスト記録が初回に実行された後、前記各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定された場合に、前記第１および第２のテスト記録時のレーザパワー値よりも小さいレーザパワー値を初期パワー値として設定し、当該初期パワー値から前記第１および第２のテスト記録を再開し、前記各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定されるまで、レーザパワーを上げながら前記第１および第２のテスト記録を繰り返し、当該判定がされたときに、そのときのレーザパワー値に基づいて実記録用のレーザパワー値を決定する第２の決定手段と、
を備えたことを特徴とする光磁気ディスク装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光磁気ディスク装置において、
前記初期パワー値は、高温時にディスク磁性層をキュリー点に到達させうると予測されるレーザパワー値より若干低めのレーザパワー値であることを特徴とする光磁気ディスク装置。
【請求項４】
光磁気ディスクの記録面への記録時のレーザパワーを決定する光磁気記録パワー決定方法において、
光磁気ディスクのパワーキャリブレーションエリアに所定のレーザパワーで第１のテスト記録を行うステップと、
前記第１のテスト記録での記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出するステップと、
前記第１のテスト記録におけるレーザパワーとは異なるレーザパワーでもって第２のテスト記録を行うステップと、
前記第２のテスト記録での記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出するステップと、
検出された再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を参照して、第１のテスト記録および第２のテスト記録に基づくそれぞれの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値のレベル差が共に所定値以上であり、かつ、それぞれのレベル差が同等であるか否かを判定するステップと、
前記第１および第２のテスト記録が初回に実行された後、前記各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定されなかった場合に、当該判定がされるまで、レーザパワーを上げながら前記第１および第２のテスト記録を繰り返し、前記各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定されたときに、そのときのレーザパワー値に所定値を加算した値を実記録用のレーザパワー値と決定するステップと、
前記第１および第２のテスト記録が初回に実行された後、前記各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定された場合に、高温時にディスク磁性層をキュリー点に到達させうると予測されるレーザパワー値より若干低めのレーザパワー値を初期パワー値として設定するステップと、
前記初期パワー値から前記第１および第２のテスト記録を再開し、前記各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定されるまで、レーザパワーを上げながら前記第１および第２のテスト記録を繰り返し、当該判定がされたときに、そのときのレーザパワー値に所定値を加算した値を実記録用のレーザパワー値と決定するステップと、
を備えたことを特徴とする光磁気記録パワー決定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＭＤ（ミニディスク）等の光磁気ディスクに情報を記録する光磁気ディスク装置およびこれに用いられる光磁気記録パワー決定方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光磁気ディスクの記録面に所定強度の光ビームを照射して情報を記録再生する光磁気ディスク装置では、ディスクの記録面への記録を正確に行うために、記録時の条件に応じて最適なレーザパワーを決定する必要がある。これは、ディスクへの記録毎に使用環境温度やレーザパワー等の記録条件が変動すると、ディスクの記録面での磁気転写が完全に機能しなかったり、記録膜の温度が高くなって十分な磁気光学効果が得られなかったり、一定の分解能が得られなかったりする場合があるためである。
【０００３】
レーザパワーの決定方法としては、例えば後記の特許文献１に示された方法が知られている。この方法は、再生時の周囲温度条件により影響を受けた磁気特性の変化分をキャンセル（温度補償）するために、予め記録層に記録されている基準信号を再生し、その出力信号の振幅を計測して当初の基準信号の振幅と比較し、その信号出力差に基づいて、当初の基準信号の振幅と同レベルもしくはそれに近いレベルの信号が再生されるようにレーザパワーを制御するものである。しかしながら、この方法では、最適なレーザパワーを決定するために周囲温度を検出する必要があるので、温度検出機構を設けなければならず、装置の構成が複雑になるという問題がある。
【０００４】
そこで、本出願人は、上記問題を解決するために、周囲温度を検出することなく、簡単な構成でもって記録毎に最適な光磁気記録パワーを決定することができる光磁気ディスク装置（以下、「先行発明」という）を後記の特許文献２において提案している。以下、この先行発明の内容について述べる。
【０００５】
まず、記録に必要なレーザパワーと温度の関係につい説明する。図４は、記録に必要なレーザパワーと周囲環境温度の関係を示した図、図５は、光磁気ディスクの記録領域を模式的に示した図である。一般に、光磁気ディスクには、プログラムエリア以外に、記録時の推奨レーザパワー等の必要な情報を書き込むためにメーカ側が使用するＴＯＣエリア、及びトラックの開始・終了位置や記録した曲名等の情報の書き込みが可能な、ユーザが使用するＵＴＯＣエリアが設けられている。ＴＯＣエリアに書き込まれている推奨レーザパワーは、周囲環境温度が２５℃の場合の値となっているのが一般的である。しかし、光磁気ディスクへの記録時の周囲温度が常に２５℃であるとは限らないため、ＴＯＣエリアに書き込まれている推奨レーザパワーでの記録が必ずしも高品質とは限らない。ここで、図４に示すように、周囲温度が高いほど、記録に適するレーザパワー、即ち、ディスク磁性層の温度をキュリー温度に到達させるために必要なレーザパワーは小さくなるから、高品質の記録を行うためには、ディスクへの記録の度に周囲温度に応じたレーザパワーを決定する必要がある。
【０００６】
上記先行発明では、このようなレーザパワーと周囲環境温度の関係を考慮し、ディスクへの記録毎に、ＵＴＯＣエリア内のＰＣＡ（Power Calibration Area）領域を利用してテスト記録を行い、当該記録部分をリードバック（記録直後の読取り）したときのＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差に基づいて、記録時の周囲環境に適したレーザパワーを求めるようにしている。
【０００７】
ディスク磁性層への記録を可能とするためには、テスト記録部分をリードバックしたときのＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差（図６のｙ）が一定値以上となるレーザパワーでなければならない。このレベル差はレーザパワーが大きくなるに連れて大きくなるが、図７に示すように、ある一定のレーザパワーに達すると、その時点でレベル差は飽和状態となり、それ以上には拡がらない。したがって、徐々にレーザパワーのレベルを上げて複数回のテスト記録を行い、検出される上記各レベル差に変化がなくなり、かつ、その各レベル差が一定値以上であれば、当該記録時の温度条件下で記録可能なレーザパワーに達していることになる。
【０００８】
ところで、最適のレーザパワーを決定するにあたっては、エラーレートとレーザパワーの関係も考慮する必要がある。図８は、エラーレートとレーザパワーの関係を示した図である。図８からわかるように、レーザパワーの値が大きくなると、それに連れて最初はエラーレートも低減するが、レーザパワーが一定の値に達すると、それ以上エラーレートは低減しなくなる。そして、更にレーザパワーの値が大きくなると、エラーレートが大きくなる。したがって、このエラーレートが最小レベルとなっている領域（後述のレーザパワーマージンに相当）におけるレーザパワーが記録に適した値である。また、エラーレートが最小レベルとなっている領域は、周囲温度が低くなると、図８において右側にシフトする（図８の実線は５０℃の場合のエラーレート、破線は０℃の場合のエラーレートを示す）。通常、ディスク記録時の温度条件は０℃〜５０℃程度なので、テスト記録に用いるレーザパワーを、周囲温度が０℃の時にディスク磁性層がキュリー温度に達すると予測されるレーザパワーよりも若干低めのパワーから開始すれば、記録時の温度条件下におけるエラーレートが最小レベルとなっている領域を短時間で検出することができる。
【０００９】
そこで、先行発明においては、光磁気ディスクのＰＣＡ領域に、まず、低温時（例えば０℃）におけるディスク磁性層をキュリー温度近辺に到達させうると予測されるレーザパワーよりも若干低めのパワーでもってテスト記録１を行う。その後、この記録部分をリードバックして、再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値のレベル差を算出する。次に、テスト記録１の場合よりも若干レーザパワーを上げてテスト記録２を行う。その後、テスト記録２の記録部分をリードバックして、再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値のレベル差を算出する。次に、テスト記録１とテスト記録２で得られたそれぞれのレベル差が所定値以上となり、かつ、テスト記録１における上記レベル差と、テスト記録２における上記レベル差とが同等になったか否かをみて、これら２つの条件が満たされていなければ、レーザパワーを徐々に上げながらテスト記録１とテスト記録２を反復する。そして、２つの条件が満たされると、テスト記録１におけるレーザパワーとテスト記録２におけるレーザパワーの中間値を算出し、算出した中間値に所定値を加算した値を実記録に用いるレーザパワーとする。
【００１０】
このようにして、先行発明では、テスト記録１とテスト記録２におけるピーク値及びボトム値のレベル差に基づいて、記録時の周囲環境に適したレーザパワーを求めるので、周囲温度を検出することなく最適なレーザパワーによる記録を行うことができ、温度検出機構が不要となって構成が簡単になる。
【特許文献１】特開平７−２９２３８号公報
【特許文献２】特開２０００−２４２９８６号公報
【特許文献３】特開２００１−１９５７９３号公報
【特許文献４】特開２００２−２５０６６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、特許文献２の先行発明では、テスト記録における記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差が所定値以上でかつ同等であれば、常に、そのときのレーザパワー値を用いて実記録用のレーザパワー値が決定されるため、レーザパワーマージン（エラーに対するレーザパワーの余裕度）の少ないディスクの場合は実記録時のエラーレートが大きくなり、記録性能が低下することが起こりうる。以下、これにつき図９を参照して説明する。図９（ａ）は、ＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差（図６）とレーザパワーとの関係を示したもので、図７と基本的に同じものである。ここでは、記録時温度におけるレベル差の変化（実線）と、低温時（０℃）におけるレベル差の変化（破線）とが示されている。図９（ｂ）は、エラーレートとレーザパワーとの関係を示したもので、図８と基本的に同じものである。ここでも、記録時温度におけるエラーレートの変化（実線）と、低温時（０℃）におけるエラーレートの変化（破線）とが示されている。
【００１２】
先行発明において、１回目のテスト記録１およびテスト記録２を実行した結果、ＲＦ信号の各レベル差が共に所定値以上でかつ同等という条件が満たされた場合は、レーザパワーを上げてテスト記録１、２を繰り返すことなく、直ちに実記録用のレーザパワーが決定される。図９において、上記条件が満たされたときのレーザパワー（テスト記録１、２での各レーザパワーの中間値）がＡであったとすると、実記録用のレーザパワーはＡに所定値を加算したＢに決定される。ところが、記録時温度におけるエラーレートが実線のような特性であれば、レーザパワーがＢのときのエラーレートは、図９（ｂ）のＣのようにかなり大きな値となる。レーザパワーマージン（図のｍ）が十分大きいディスクの場合は、レーザパワーが少々変動してもエラーの発生は起こりにくいが、レーザパワーマージンは記録層の材料等に応じてディスクごとに異なる。このため、レーザパワーマージンの少ないディスクにおいては、記録エラーが多発して性能が低下するという問題が発生する。なお、前記特許文献３、４においても、実記録用のレーザパワーを決定する方法が提案されているが、上記問題に対する解決策を開示したものはない。
【００１３】
本発明は、上述した課題を解決するものであって、その目的とするところは、レーザパワーマージンの少ないディスクに対しても、エラーを抑制して良好な記録を行える光磁気ディスク装置および光磁気記録パワー決定方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明に係る光磁気ディスク装置では、光磁気ディスクのパワーキャリブレーションエリアに異なるレーザパワーで第１のテスト記録および第２のテスト記録を行い、各テスト記録における記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出し、それぞれのピーク値及びボトム値のレベル差を参照して実記録用のレーザパワー値を決定する光磁気ディスク装置において、第１の決定手段と第２の決定手段とを設ける。第１の決定手段は、第１および第２のテスト記録が初回に実行された後、各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定されなかった場合に、当該判定がされるまで、レーザパワーを上げながら第１および第２のテスト記録を繰り返し、当該判定がされたときに、そのときのレーザパワー値に基づいて実記録用のレーザパワー値を決定する。第２の決定手段は、第１および第２のテスト記録が初回に実行された後、各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定された場合に、第１および第２のテスト記録時のレーザパワー値よりも小さいレーザパワー値を初期パワー値として設定し、当該初期パワー値から第１および第２のテスト記録を再開し、各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定されるまで、レーザパワーを上げながら第１および第２のテスト記録を繰り返し、当該判定がされたときに、そのときのレーザパワー値に基づいて実記録用のレーザパワー値を決定する。
【００１５】
実記録用のレーザパワー値の決定にあたっては、例えば、前記各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定されたときのレーザパワー値に所定値を加算した値を実記録用のレーザパワー値とすればよい。また、テスト記録を再開する場合の初期パワー値としては、高温時にディスク磁性層をキュリー点に到達させうると予測されるレーザパワー値より若干低めのレーザパワー値を採用するのが好ましい。
【００１６】
また、本発明に係る光磁気記録パワー決定方法は、光磁気ディスクの記録面への記録時のレーザパワーを決定する光磁気記録パワー決定方法であって、以下のステップを備える。
（ａ）光磁気ディスクのパワーキャリブレーションエリアに所定のレーザパワーで第１のテスト記録を行うステップ。
（ｂ）第１のテスト記録での記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出するステップ。
（ｃ）第１のテスト記録におけるレーザパワーとは異なるレーザパワーでもって第２のテスト記録を行うステップ。
（ｄ）第２のテスト記録での記録部分をリードバックしたときの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出するステップ。
（ｅ）検出された再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値を参照して、第１のテスト記録および第２のテスト記録に基づくそれぞれの再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値のレベル差が共に所定値以上であり、かつ、それぞれのレベル差が同等であるか否かを判定するステップ。
（ｆ）第１および第２のテスト記録が初回に実行された後、各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定されなかった場合に、当該判定がされるまで、レーザパワーを上げながら第１および第２のテスト記録を繰り返し、各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定されたときに、そのときのレーザパワー値に所定値を加算した値を実記録用のレーザパワー値と決定するステップ。
（ｇ）第１および第２のテスト記録が初回に実行された後、各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定された場合に、高温時にディスク磁性層をキュリー点に到達させうると予測されるレーザパワー値より若干低めのレーザパワー値を初期パワー値として設定するステップ。
（ｈ）上記初期パワー値から第１および第２のテスト記録を再開し、各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定されるまで、レーザパワーを上げながら第１および第２のテスト記録を繰り返し、当該判定がされたときに、そのときのレーザパワー値に所定値を加算した値を実記録用のレーザパワー値と決定するステップ。
【００１７】
本発明においては、第１、第２のテスト記録の初回実行後に、各ＲＦ再生信号のレベル差が前記２つの条件を満たしている場合は、そのときのレーザパワーを基準として実記録用のレーザパワー値を決定するのではなく、そのときのレーザパワーより低い値の初期パワー値を設定して、この初期パワー値から再度第１および第２のテスト記録を実行するようにしている。このため、テスト記録の初回実行後のレーザパワーが大きな値であっても、実際に決定されるレーザパワーはそれよりも小さい値となり、エラーレートの小さい領域に対応したレーザパワーに設定することができる。
【発明の効果】
【００１８】
こうして、本発明によれば、レーザパワーマージンの少ないディスクであっても、エラーの発生を少なくして良好な記録を行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
図１は、本発明に係る光磁気ディスク装置の一実施形態を示した概略構成図である。光磁気ディスク装置１は、光磁気ディスク（以下、単に「ディスク」と記す）５に対して情報の記録再生を行うものであり、ここでは、ディスク５はミニディスク（Mini Disc）から構成されていて、カートリッジ５ａに収納されている。２はディスク５の情報記録層へ光ビームを照射し、またその反射光に基づいて情報を読み取る光ピックアップ、３は光学系を構成する対物レンズである。光ピックアップ２は、ディスク５へ光ビームを照射する発光素子と、ディスク５での反射光を受光する受光素子を備えている。４は光ピックアップ２および対物レンズ３をディスク５に対して移動させる送りモータである。６は情報の書き込み又は読み取り時にディスク５を回転させるためのスピンドルモータである。
【００２０】
７はサーボ制御回路、８はシステムコントローラであって、サーボ制御回路７はシステムコントローラ８からの指令に基づき、光ピックアップ２、送りモータ４及びスピンドルモータ６を制御する。システムコントローラ８は、ＣＰＵやメモリ等から構成される。９はＲＦアンプであって、光ピックアップ２の受光素子から出力される信号を処理してエンコーダ／デコーダ部１０に送るとともに、アドレスデコーダ１１へアドレス信号を出力する。アドレスデコーダ１１は、アドレス信号を解読してエンコーダ／デコーダ部１０へアドレス情報を与える。エンコーダ／デコーダ部１０は、ディスク５から読み取った再生信号に対するデコードと、ディスク５へ記録する記録信号に対するエンコードの処理を行う。
【００２１】
１３は記録用の磁気ヘッドであって、ディスク５を挟んで光ピックアップ２と反対側に配置されており、ディスク５の光磁気膜に情報を磁気記録する。１４は磁気ヘッド１３を駆動するためのヘッドドライバである。情報記録時には、システムコントローラ８およびサーボ制御回路７により光ピックアップ２が駆動し、ディスク５にレーザビームを照射して光磁気膜をキュリー温度以上に加熱して磁気を消失させ、またこのとき、エンコーダ／デコーダ部１０が記録情報に応じてヘッドドライバ１４を介して磁気ヘッド１３に流す電流の方向を反転させることで、「Ｎ」「Ｓ」の磁界を発生させ、磁界変調オーバライト方式にてディスク５に記録を行う。
【００２２】
ＲＦアンプ９には、ピーク／ボトムホールド回路１５が接続されている。このピーク／ボトムホールド回路１５は、後述するように、テスト記録後にリードバックされたＲＦ信号のピーク値及びボトム値を検出する。１６は検出されたピーク値及びボトム値をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器であって、その出力はシステムコントローラ８に入力される。
【００２３】
上述した光磁気ディスク装置１において、光ピックアップ２は本発明の第１のテスト手段および第２のテスト手段の一実施形態を構成し、ピーク／ボトムホールド回路１５は本発明の第１の検出手段および第２の検出手段の一実施形態を構成し、システムコントローラ８は本発明の判定手段と、第１の決定手段および第２の決定手段の一実施形態を構成する。
【００２４】
次に、光磁気ディスク装置１における記録時のレーザパワーを決定する方法について説明する。詳細なパワー決定手順については後述するので、ここではまず概要を説明する。テスト記録１およびテスト記録２を実行し、各テスト記録での記録部分をリードバックして得られる再生ＲＦ信号のピーク値及びボトム値のレベル差を求め、レベル差が双方とも所定値以上であり、かつ両レベル差が略同等であるか否かを判定するまでは従来と同じである。しかしながら、１回目のテスト記録１、２の実行後に各レベル差が所定値以上で略同等と判定された場合の処理については、従来と本発明とで異なる。
【００２５】
図２は、レーザパワーを決定する原理を説明する図であり、従来例の場合の図９に対応している。図２（ａ）では、高温時（５０℃）におけるレベル差の変化（一点鎖線）が追加されており、図２（ｂ）では、高温時（５０℃）におけるエラーレートの変化（一点鎖線）が追加されている。図２において、１回目のテスト記録１、２による各レベル差が共に所定値以上で、かつ、各レベル差が略同等であると判断されたときのレーザパワー（テスト記録１、２での各レーザパワーの中間値）がＡであったとする。勿論、このように判断されたときのレーザパワーは常にＡであるとは限らず、例えばＥなどの可能性もあるが、後述するようにＥの値ではエラーレートが問題にならないのに対し、Ａの値ではエラーレートが増加する方向にレーザパワーが設定されるおそれがあることから、本発明では１回目のテスト記録で上記のように判断された場合は、そのときのレーザパワー値をＡとみなすことにしている。
【００２６】
従来の場合は、このレーザパワーＡを基準として実記録用のレーザパワーＢを決定していたため、前述したように、実記録時のエラーレートがＣとなって記録エラーが多発した。これに対して、本発明の場合は、レーザパワーＡよりも小さいレーザパワー値Ｄを初期パワー値として設定し、この初期パワー値Ｄからテスト記録１、２を再開する。初期パワー値Ｄは、高温時（例えば５０℃の時）にディスク磁性層をキュリー点に到達させうると予測されるレーザパワー値より若干低めの値に設定される。なお、この初期パワー値Ｄは、実験的に予め求めておくことができる。そして、各レベル差が所定値以上でかつ同等であると判定されるまで、従来と同様に、レーザパワーを上げながらテスト記録１、２を繰り返し、当該判定がされたときに、そのときのレーザパワー値（テスト記録１、２での各レーザパワーの中間値）Ｅを基準として実記録用のレーザパワーＦを決定する。具体的には、従来と同様に、レーザパワー値Ｅに所定値を加算した値を実記録用のレーザパワー値Ｆとする。このとき、実記録時のエラーレートはＧのようになり、従来の場合のエラーレートＣに比べて大幅にエラーレートが減少する。
【００２７】
以上のようにすることで、テスト記録１、２の初回実行後のレーザパワーＡが大きな値であっても、実際に決定されるレーザパワーＦはそれよりも小さい値となり、実記録時のエラーレートの小さい領域に対応したレーザパワーに設定することができる。したがって、レーザパワーマージンの少ないディスクであっても、エラーの発生を少なくして良好な記録を行うことが可能となる。また、レーザパワーをＡからＤへ一気に下げて、高温時にディスク磁性層をキュリー点に到達させうると予測されるレーザパワー値より若干低めの初期パワー値を設定し、この初期パワー値からテスト記録を再開するので、各レベル差が所定値以上かつ同等となるレーザパワー値Ｅを短時間で検出することができる。
【００２８】
次に、レーザパワー決定方法の詳細な手順について図３のフローチャートを参照して説明する。この処理は、システムコントローラ８に備わるＣＰＵにより実行される。ディスク５への記録開始を指示するＲＥＣ開始コマンド、又はＲＥＣ ＰＡＵＳＥコマンドを受け取ると（ステップＳ１：ＹＥＳ）、まず、ＵＴＯＣエリア内のＰＣＡ領域に記録されている情報を消去し（ステップＳ２）、当該エリアへのテスト記録による書き込みが可能な状態にする。この場合、レーザパワーを、必ず記録可能と予測される高めのパワー値、すなわち、ディスク磁性層を必ずキュリー温度近辺に到達させることができると予測されるレーザパワー値にし、磁気ヘッド１３をドライブしない（ＥＦＭ変調電流を流さない）ようにすることで、擬似的な消去が行われる。
【００２９】
続いて、フラグＦを０にセットする（ステップＳ３）。その後、書き込み可能となったＰＣＡ領域に、低温時、例えば０℃の時のディスク磁性層をキュリー温度近辺に到達させることができると予測されるレーザパワーよりも若干低めのパワーでもってテスト記録１を行う（ステップＳ４）。このテスト記録１の後、テスト記録１によって書き込んだ部分をリードバックし、ＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差を算出する（ステップＳ５）。ＲＦ信号はＲＦアンプ９から出力され、ピーク／ボトムホールド回路１５でピーク／ボトム値が検出される。算出されたレベル差は、図示しないメモリの所定領域に記憶される（ステップＳ６）。
【００３０】
次に、テスト記録２を行う（ステップＳ７）。テスト記録２でのレーザパワーは、テスト記録１でのレーザパワーに比べて、若干大きく設定されている。このテスト記録２の後、テスト記録１の場合と同様に、テスト記録２によって書き込んだ部分をリードバックしてＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差を算出する（ステップＳ８）。
【００３１】
その後、テスト記録１で得られたレベル差をメモリから読み出し、テスト記録１およびテスト記録２における各レベル差が共に所定値以上であるか否かを判定する（ステップＳ９）。この判定は、ＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差（図６）が、ディスク磁性層への記録が可能になる程度に達しているか否かをチェックするものであり、ここでの所定値とは、ディスク磁性層への記録が可能になる程度のレベル差を示す値である。この判定において、テスト記録１、２におけるレベル差が両方とも所定値に達している場合は（ステップＳ９：ＹＥＳ）、更に、両レベル差が同等の値であるか否かを判定する（ステップＳ１０）。
【００３２】
ステップＳ９において、テスト記録１、２におけるレベル差のいずれか一方でも所定値に達していない場合（ステップＳ９：ＮＯ）、および、ステップＳ１０において、テスト記録１、２の両レベル差が同等の値でない場合（ステップＳ１０：ＮＯ）には、フラグＦを１にセットした後（ステップＳ１３）、ステップＳ４に戻り、前回よりも若干レーザパワーを上げてテスト記録１およびテスト記録２を行う（ステップＳ４、Ｓ７）。このテスト記録１、２は、各テスト記録におけるレベル差が両方とも所定値に達し（ステップＳ９：ＹＥＳ）、かつ、両レベル差が同等の値になる（ステップＳ１０：ＹＥＳ）まで繰り返される。初回のテスト記録１、２が小さなレーザパワーからスタートした場合は、テスト記録１、２が何回も繰り返され、やがて図２のＥ付近で両レベル差が所定値に達しかつ同等の値に至る。すると、ステップＳ９、Ｓ１０での判定が共にＹＥＳとなり、続くステップＳ１１での判定はフラグＦが１であるためＮＯとなって、ステップＳ１４に移行する。
【００３３】
ステップＳ１４では、テスト記録１におけるレーザパワーとテスト記録２におけるレーザパワーの中間値を算出する。次に、算出した中間値に所定値を加算し、この値を実記録に用いるレーザパワーと決定する（ステップＳ１５）。ここでの所定値は、実記録用のレーザパワーが、ディスク磁性層がキュリー温度に達したときのレーザパワーより少し高めのレーザパワーとなるような値に設定される。
【００３４】
以上のような手順に従って実記録に用いるレーザパワーを決定し、このレーザパワーでもってディスク５への記録（又はＲＥＣ ＰＡＵＳＥ）が開始される（ステップＳ１６）。ここまでの手順は、先行発明の場合と基本的に同じである。
【００３５】
一方、１回目のテスト記録１、２の実行によって、各レベル差が共に所定値以上で（ステップＳ９：ＹＥＳ）、かつ、各レベル差が同等（ステップＳ１０：ＹＥＳ）と判定された場合は、フラグが０であるためステップＳ１１での判定はＹＥＳとなり、ステップＳ１２に進む。ステップＳ１２以降の処理は、本発明の特徴をなす部分である。
【００３６】
ステップＳ１２では、高温時にディスク磁性層をキュリー点に到達させうると予測されるレーザパワー値より若干低めのレーザパワー値を初期パワー値（図２のＤ）として設定する。この後、フラグＦを１にセットし（ステップＳ１３）、ステップＳ４へ戻って上記初期パワーでテスト記録１を行う。そして、前述したステップＳ５、Ｓ６を実行した後、初期パワーより若干パワーを上げてテスト記録２を行う（ステップＳ７）。続いて、前述したステップＳ８を実行する。次に、ステップＳ９、Ｓ１０の判定を行い、それぞれの判定が共にＹＥＳとなるまで、すなわち、ＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差が所定値以上でかつ同等となるまで、レーザパワーを上げながらテスト記録１、２を繰り返す（ステップＳ４〜Ｓ８）。
【００３７】
ステップＳ９、Ｓ１０での判定が共にＹＥＳとなれば、続くステップＳ１１での判定はフラグＦが１であるためＮＯとなって、ステップＳ１４に移行し、前述した要領で実記録用のレーザパワー値が決定される（ステップＳ１４、Ｓ１５）。そして、このレーザパワーでもってディスク５への記録（又はＲＥＣ ＰＡＵＳＥ）が開始される（ステップＳ１６）。
【００３８】
本発明では、上述した実施形態以外に種々の変形が可能である。例えば、上記実施形態では、テスト記録１に用いるレーザパワーのレベルは、低温時にディスク磁性層がキュリー温度近辺に達すると思われるレーザパワーより若干低めのパワーとしたが、これ以外のレベルのレーザパワーを用いてテスト記録１を開始してもよい。
【００３９】
また、上記実施形態では、５０℃の時にディスク磁性層をキュリー点に到達させうると予測されるレーザパワー値より若干低めの値を初期パワーとして設定したが、５０℃の温度は一例であって、これと異なる温度を基準として初期パワーを設定してもよい。
【００４０】
また、上記実施形態では、実記録に用いるレーザパワーを設定する場合、テスト記録１、２におけるレベル差が両方とも所定値に達し、かつ、両レベル差が同等の値となった時のテスト記録１におけるレーザパワーとテスト記録２におけるレーザパワーの中間値を算出し、この中間値に所定値を加算した値を実記録に用いるレーザパワーとしているが、このような中間値を算出することなく、その時のテスト記録１におけるレーザパワーとテスト記録２におけるレーザパワーのいずれか一方に所定値を加算した値を、実記録に用いるレーザパワーとしてもよい。
【００４１】
また、上記実施形態では、光磁気ディスクとしてミニディスクを例に挙げたが、本発明はミニディスクに限らず、広く光磁気ディスク全般に適用することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明の一実施形態に係る光磁気ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の原理を説明する図である。
【図３】レーザパワー決定の手順を示したフローチャートである。
【図４】記録に用いるレーザパワーと周囲環境温度との関係を示す図である。
【図５】光磁気ディスクの記録領域を模式的に示す図である。
【図６】テスト記録部分をリードバックしたときのＲＦ信号を示す図である。
【図７】ＲＦ信号のピーク／ボトム値のレベル差とレーザパワーとの関係を示す図である。
【図８】エラーレートとレーザパワーの関係を示す図である。
【図９】従来の問題点を説明する図である。
【符号の説明】
【００４３】
１  光磁気ディスク装置
２  光ピックアップ
５  光磁気ディスク
８  システムコントローラ
９  ＲＦアンプ
１０  エンコーダ／デコーダ
１３  磁気ヘッド
１４  ヘッドドライバ
１５  ピーク／ボトムホールド回路
ｙ  レベル差
ｍ  レーザパワーマージン
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2006004552.tif 000009
【図８】
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【図９】
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