(57)【要約】【課題】走査線の位置ズレ、傾き及び横倍率を調整し、印字品質の向上を実現する。【解決手段】光走査装置５８は、ハウジング７４と、レーザダイオード７８と、ポリゴンモータ８２と、ｆθレンズ８４とを有する。このハウジング７４には、５つのカム７６が当接するよう配置されている。また、レーザダイオード７８およびｆθレンズ８４の近傍には第１の温度センサ８６ａ，第２の温度センサ８６ｂが設けられている。コントローラ６８は、第１の温度センサ８６ａ，第２の温度センサ８６ｂによって検出された温度に基づいて、５つのカムを制御する。これにより、コントローラ６８は、感光体４４と光走査装置５８との相対的な位置を調整する。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
感光体と、
この感光体上に潜像を書き込む光走査装置と、
前記光走査装置の温度を検出する温度検出手段と、
この温度検出手段により検出された温度に基づいて前記感光体と前記光走査装置との相対位置を調整する調整手段と、
を有することを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記光走査装置は、光源及び走査レンズとを有することを特徴とする請求項１記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記温度検出手段は、前記光源の温度を検出することを特徴とする請求項１及び請求項２記載の画像形成装置。
【請求項４】
前記温度検出手段は、前記走査レンズの温度を検出することを特徴とする請求項１乃至３記載の画像形成装置。
【請求項５】
前記調整手段は、複数のアクチュエータを有することを特徴とする請求項１乃至４記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光走査装置及びそれを用いたプリンタ、複写機又はファクシミリ等の画像形成装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
複写機、プリンタ、ファクシミリ等の画像形成装置においては、帯電された感光体に光により潜像を書き込む光走査装置を有するものが知られている。
この種の画像形成装置において、弾性部材を有する保持部材等により光走査装置が保持されており、走査線の傾き、横倍率等を調整する機能があるものが公知となっている（例えば特許文献１）。
【０００３】
【特許文献１】特開２００１−１７４７４２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１に開示された発明においては、温度変化におけるレンズ等の膨張収縮による横倍率の変動や走査線の位置ズレおよび走査線の傾きを十分に防ぐことができない問題があった。
【０００５】
本発明は、上記従来の問題点を解消し、走査線の位置ズレ、傾き及び横倍率を調整し、印字品質の向上を実現する画像形成装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の特徴とするところは、感光体と、この感光体上に潜像を書き込む光走査装置と、前記光走査装置の温度を検出する温度検出手段と、この温度検出手段により検出された温度に基づいて前記感光体と前記光走査装置との相対位置を調整する調整手段とを有する画像形成装置にある。
【０００７】
好適には、前記光走査装置は、光源及び走査レンズとを有する。
【０００８】
好適には、前記温度検出手段は、前記光源の温度を検出する。
【０００９】
好適には、前記温度検出手段は、前記走査レンズの温度を検出する。
【００１０】
好適には、前記調整手段は、複数のアクチュエータを有する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、温度検出手段により検出された温度に基づいて、感光体と光走査操作装置との相対位置を調整することにより、走査線の位置ズレ、傾き及び横倍率を調整し、印字品質の向上を実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
次に本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
図１において、本発明の実施形態に係る画像形成装置１０の概要が示されている。画像形成装置１０は、画像形成装置本体１２を有し、この画像形成装置本体１２内に像形成部１４が搭載され、この画像形成装置本体１２の上部に後述する排出部１６が設けられていると共に、この画像形成装置本体１２の下部に例えば２段の給紙ユニット１８ａ，１８ｂが配置されている。さらに、画像形成装置本体１２の下方には、オプションとして着脱装着される２段の給紙ユニット１８ｃ，１８ｄが配置されている。なお、画像形成装置１０は、システムとしてはネットワークを介して接続されるパーソナルコンピュータ（ＰＣ）やその他の端末装置を含むことがある。
【００１３】
それぞれの給紙ユニット１８ａ〜１８ｄは、給紙ユニット本体２０と、記録媒体が収納される給紙カセット２２とを有する。給紙カセット２２は、給紙ユニット本体２０に対して摺動自在に装着され、正面方向（図１の右方向）に引き出される。また、給紙カセット２２の奥端近傍上部には給紙ロール２４が配置され、この給紙ロール２４の前方にリタードロール２６及びナジャーロール２８が配置されている。さらにオプションの給紙ユニット１８ｃ，１８ｄには、それぞれ対をなす送りロール３０が設けられている。
【００１４】
搬送路３２は、最下端の給紙ユニット１８ｄの送りロール３０から排出口３４までの記録媒体通路であり、この搬送路３２は、画像形成装置本体１２の裏面（図１の左側面）近傍にあって、最下端の給紙ユニット１８ｄの送りロール３０から後述する定着装置３６まで略垂直に形成されている部分を有する。この搬送路３２の定着装置３６の上流側に後述する転写ロール４２と感光体４４が配置され、さらに転写ロール４２と感光体４４の上流側にレジストロール３８が配置されている。さらに、搬送路３２の排出口３４の近傍には排出ロール４０が配置されている。
【００１５】
したがって、給紙ユニット１８ａ〜１８ｄの給紙カセット２２から送りロール２４により送り出された記録媒体は、リタードロール２６及びナジャーロール２８により捌かれて搬送路３２に導かれ、レジストロール３８により一次停止され、タイミングをとって後述する転写ロール４２と感光体４４との間を通って現像剤像が転写され、この転写された現像剤像が定着装置３６により定着され、排出ロール４０により排出口３４から排出部１６へ排出される。
【００１６】
ただし、両面印刷の場合は、反転路に戻される。即ち、搬送路３２の排出ロール４０の手前は２股に別れ、その分かれた部分に切換爪４６が設けられていると共に、分かれた部分からレジストロール３８まで戻る反転路４８が形成されている。この反転路４８には搬送ロール５０ａ〜５０ｃが設けられており、両面印刷の場合には、切換爪４６が反転路４８を開く側に切り換えられ、排出ロール４０に記録媒体の後端手前がかかる時点で排出ロール４０が反転し、記録媒体が反転路４８に導かれ、レジストロール３８、転写ロール４２と像担持体４４及び定着装置３６を通って排出口３４から排出部１６へ排出されるものである。
【００１７】
排出部１６は、画像形成装置本体１２に対して回動自在の傾斜部５２を有する。この傾斜部５２は、排出口部分が低く、正面方向（図１の右方向）に向けて徐々に高くなるよう傾斜しており、排出口部分を下端とし、高くなった先端を上端としている。この傾斜部５２は下端を中心に回動自在であるよう画像形成装置本体１２に支持されている。図１で２点鎖線で示すように、傾斜部５２を上方に回転して開いたときには、開放部５４が形成され、この開放部５４を介して後述するプロセスカートリッジ６４が脱着できるようにしてある。
【００１８】
像形成部１４は、例えば電子写真方式のもので、例えば感光体４４と、この感光体４４一様帯電する例えば帯電ロールからなる帯電装置５６と、この帯電装置５６により帯電された感光体４４に、レーザ光により潜像を書き込む光走査装置５８と、この光走査装置５８により形成された感光体４４の潜像を現像剤により可視化する現像装置６０と、この現像装置６０により可視化された現像剤像を像担持体４４に圧接することによって記録媒体に転写する転写ロール４２と、像担持体４４に残留する現像剤をクリーニングする例えばブレードからなるクリーニング装置６２と、転写ロール４２により転写された記録媒体上の現像剤像を記録媒体に定着させる例えば加圧ロールと加熱ロールとからなる定着装置３６とから構成されている。
【００１９】
プロセスカートリッジ６４は、感光体４４、帯電装置５６、現像装置６０及びクリーニングブレード６２を一体化したものである。このプロセスカートリッジ６４は、排出部１６の傾斜部５２の直近下方に配置されており、前述したように、傾斜部５２を開いたときに形成される開放部５４を介して脱着される。
【００２０】
光走査装置５８は、前述した給紙ユニット１８ａ〜１８ｄと平行で画像形成装置本体１２の正面近傍に配置され、現像装置６０内を横切って感光体４４を露光する。また、この光走査装置５８の近傍には、後述する制御部６６が配設されている。
【００２１】
図２において光走査装置５８の詳細を示す。
図２の矢印ＸのＸ１方向及びＸ２方向を光走査装置５８の右方向及び左方向とし、矢印ＹのＹ１方向及びＹ２方向を光走査装置５８の前方向及び後方向とし、矢印ＺのＺ１方向及びＺ２方向を光走査装置５８の上方向及び下方向とする。  
【００２２】
光走査装置５８は、ハウジング７４、光源としてのレーザダイオード（ＬＤ）７８、シリンドリカルレンズ８０、ポリゴンモータ８２、走査レンズとしてのｆθレンズ８４とを有する。
【００２３】
ハウジング７４は、直方体状に形成され、画像形成装置本体１２のフレームに弾性的に保持される。このハウジング７４の４枚ある側壁のうち前面１枚の側壁は、開放されている。即ち、画像形成装置１２の背面方向（図１左方向）に位置する側壁は、設けられていない。このハウジング７４には、レーザダイオード（ＬＤ）７８と、シリンドリカルレンズ８０と、ポリゴンモータ８２と、ｆθレンズ８４とが配置される。
【００２４】
シリンドリカルレンズ８０は、レーザダイオード７８から照射された副走査方向のレーザ光を平行にしてポリゴンモータ８２に向けて出力するようになっている。
【００２５】
また、ポリゴンモータ８２は、例えば６つの鏡面を有する。このポリゴンモータ８２は、等角速度で回転しつつ、シリンドリカルレンズ８０を通ったレーザ光をｆθレンズ８４に向けて反射するようになっている。
【００２６】
ｆθレンズ８４は、例えば等角速度で回転するポリゴンモータ８２が反射したレーザ光を、被走査面としての感光体４４に等速度で走査するレーザ光に変換するようになっている。
【００２７】
調整手段７２は、上述した制御部６６とアクチュエータとしてのカム７６とを有する。制御部６６は、コントローラ６８とメモリ７０とを有し、この制御部６６は、後述するカム７６の動作を制御するようになっている。
【００２８】
カム７６は、例えば偏心カムからなり、上述した光走査装置５８のハウジング７４の前面、側面および下面に当接するように、例えば５つ（カム７６ａ１，カム７６ａ２，カム７６ｂ１，カム７６ｂ２，カム７６ｃ）設けられている。
【００２９】
カム７６ａ１は、ハウジング７４の上面前端近傍の右側面に配置されている。また、カム７６ａ２は、ハウジング７４の下面前端近傍の左側面に配置されている。カム７６ａ１及びカム７６ａ２には、これらのカム７６ａ１，７６ａ２を回転させるモータ８８ａ１，８８ａ２が設けられている。カム７６ａ１及びカム７６ａ２を同期して回転させると、ハウジング７４は、矢印Ｚの軸方向（上下方向）へ変位するようになっている。また、カム７６ａ１及びカム７６ａ２の少なくとも一方を回転させると、ハウジング７４は、左右方向へ傾くようになっている。即ち、ハウジング７４は、矢印Ｙの軸方向を中心に回転するように変位する。
【００３０】
カム７６ｂ１は、ハウジング７４の右側面の前端近傍に配置されている。また、カム７６ｂ２は、ハウジング７４の左側面の後端近傍に配置されている。カム７６ｂ１及びカム７６ｂ２には、これらのカム７６ｂ１，７６ｂ２を回転させるモータ８８ｂ１，８８ｂ２が設けられている。カム７６ｂ１及びカム７６ｂ２を同期して回転させると、ハウジング７４は、矢印Ｘの軸方向（左右方向）へ変位するようになっている。
【００３１】
カム７６ｃは、ハウジング７４の前面の中央部に配置されている。カム７６ｃには、このカム７６ｃを回転させるモータ８８ｃが設けられている。カム７６ｃ回転させると、ハウジング７４は、矢印Ｙの軸方向（前後方向）へ変位するようになっている。
【００３２】
上述したコントローラ６８は、これらのカム７６（７６ａ１，７６ａ２，７６ｂ１，７６ｂ２，７６ｃ）の動作を制御することで、感光体４４と光走査装置５８との相対的な位置を調整するようになっている。
【００３３】
なお、感光体４４と光走査装置５８との相対的な位置を調整する手段として、圧電アクチュエータ等を用いてもよい。
【００３４】
また、光走査装装置５８には、温度検出手段としての温度センサ８６が配置される。この温度センサ８６は、後述するように、温度変化により特性が大きく変わる箇所に配置されている。
【００３５】
温度センサ８６ａは、レーザダイオード７８の近傍に配置される。この温度センサ８６ａは、レーザダイオート７８が発熱する温度を検出してコントローラ６８に送信するようになっている。また、温度センサ８６ｂは、ｆθレンズ８４の上面または近傍に配置されている。この温度センサ８６ｂは、ｆθレンズ８４の温度を検出してコントローラ６８に送信するようになっている。なお、温度センサ８６ａ及び温度センサ８６ｂは、例えばサーミスタ等の安価な温度センサからなっている。
【００３６】
ここで、上述したレーザダイオード７８及びｆθレンズ８４における温度特性について説明する。
【００３７】
まず、レーザダイオード７８及びｆθレンズ８４の温度変化と走査位置との関係について述べる。
【００３８】
[レーザダイオードの温度変化による走査線の位置ズレ]
図３及び次の表１は、レーザダイオード７６の温度と、各温度における走査位置との関係を示した例である。即ち、図３及び表１は、温度センサ８６ａで検出された温度（Ｔ１・・・Ｔ８）と、この各温度（Ｔ１・・・Ｔ８）のレーザダイオード７６から被走査面上に走査されたレーザ光の走査線の位置とを測定したものである。例えば、このときの温度パラメータは２以上が好ましい。
【００３９】
【表１】
2006189567.tif 000003
【００４０】
図３及び表１に示すように、レーザダイオード７６の温度が所定温度（例えばＴ３）より離れるにつれ、走査位置の移動量が大きくなっている。例えば、レーザダイオード７６の温度が高くなるにつれて、感光体４４に走査された走査線の位置がずれることになる。
【００４１】
[ｆθレンズの温度変化による走査線の傾き]
図４及び次の表２は、ｆθレンズ８４の温度と、各温度における走査位置との関係を示した例である。即ち、温度センサ８６ｂで検出された温度（Ｔ１，Ｔ２）と、各温度（Ｔ１，Ｔ２）におけるレーザダイオード７６から感光体４４に走査されたレーザ光の走査位置を測定したものである。例えば、このときの温度パラメータは２以上が好ましい。
【００４２】
【表２】
2006189567.tif 000004
【００４３】
図４及び表２に示すように、像高０（走査された幅方向の中心）から離れるほど走査位置の値が大きくなっている。即ち、走査されたレーザ光が、水平方向に傾いている（左右で違う向きに変位している）。この傾向は、ｆθレンズ８４の温度が高くなると大きくなっている。これは、ｆθレンズ８４の温度が上昇することにより、このｆθレンズ８４が、膨張したためと考えられる。
【００４４】
次に、レーザダイオード７８及びｆθレンズ８４の温度と横倍率との関係について述べる。
【００４５】
[レーザダイオードの温度変化による横倍率の変動]
次の表３は、レーザダイオード７８の温度と、各温度における波長との関係を示した例である。即ち、レーザダイオード７８の温度（Ｔ１・・・Ｔ４）と、各温度（Ｔ１・・・Ｔ４）におけるレーザダイオード７８が照射するレーザ光の波長を測定したものである。また、次の表４は、レーザダイオード７８の温度と、各温度における横倍率との関係を示した例である。即ち、温度センサ８６ｂで検出された温度（Ｔ１・・・Ｔ４）と、各温度（Ｔ１・・・Ｔ４）におけるレーザダイオード７６から感光体４４に走査されたレーザ光の横倍率を測定したものである。例えば、このときの温度パラメータは２以上が好ましい。
【００４６】
【表３】
2006189567.tif 000005
【００４７】
【表４】
2006189567.tif 000006
【００４８】
表３に示すように、レーザダイオード７８の温度変化が大きくなるにつれて、レーザ光の波長の変化も大きくなっている。また、表４に示すように、レーザダイオード７８の温度が変化すると、被走査面上の所定の２点間（一定距離）における走査時間が変動している。走査時間を一定とした場合には、レーザダイオード７８の温度変化が大きくなるにつれて、走査幅の変動も大きくなる。例えば、レーザダイオード７８の温度が上昇するにつれて、感光体４４に走査されたレーザ光の横倍率が大きくなることになる。この原因は、レーザダイオード７８の温度が上昇することにより、レーザ光の波長が長くなり、屈折率が変化したためと考えられる。
【００４９】
[ｆθレンズの温度変化による横倍率の変動]
次の表５は、ｆθレンズ８４の温度と、各温度における横倍率との関係を示した例である。即ち、温度センサ８６ｂで検出された温度（Ｔ１・・・Ｔ４）と、各温度（Ｔ１・・・Ｔ４）におけるｆθレンズ８４から被走査面上に走査されたレーザ光の横倍率を測定したものである。例えば、このときの温度パラメータは２以上が好ましい。
【００５０】
【表５】
2006189567.tif 000007
【００５１】
表５に示すように、ｆθレンズ８４の温度が変化すると、被走査面上の所定の２点間（一定距離）における走査時間が変動している。走査時間を一定とした場合には、ｆθレンズ８４の温度変化が大きくなるにつれて、走査幅の変動も大きくなる。例えば、ｆθレンズ８４の温度が上昇するにつれて、感光体４４に走査されたレーザ光の横倍率が大きくなることになる。この原因は、上記同様にｆθレンズ８４の温度が上昇することにより、このｆθレンズ８４が、膨張したためと考えられる。
【００５２】
このように、光走査装置５８に設けられた様々な部材の中でも、レーザダイオード７８及びｆθレンズ８４の温度特性は、走査するレーザ光に与える影響が大きい。従って、上述したコントローラ６８は、温度センサ８６ａ，８６ｂにより検出されたレーザダイオード７８及びｆθレンズ８４の温度に基づいて、感光体４４と光走査装置５８との相対位置を調整するようになっている。これにより、コントローラ６８は、最適な制御を可能としている。
【００５３】
上述したレーザダイオート７８の温度特性パラメータ及びｆθレンズの温度特性パラメータは、あらかじめメモリ７０に記憶されている。
【００５４】
次に、制御部６６による光走査装置５８の制御について図５及び図６に基づいて説明する。
【００５５】
まず、温度センサ８６ａは、レーザダイオード７８の温度を検出し、検出された温度データを制御部６６のコントローラに送信する（図６：ステップＳ１０）。
【００５６】
また、温度センサ８６ｂは、ｆθレンズ８４の温度を検出し、検出された温度データを制御部６６のコントローラに送信する（図６：ステップＳ１２）。
【００５７】
次に、コントローラ６８は、温度センサ８６ａによって検出されたレーザダイオード７８の温度データと、メモリ７０に予め記憶されたレーザダイオード７８の温度特性パラメータとを比較する（図６：ステップＳ１４）。
【００５８】
コントローラ６８は、温度センサ８６ａによって検出されたレーザダイオード７８の温度データと、メモリ７０に予め記憶されたレーザダイオード７８の温度特性パラメータに差異がないと判定した場合は、ステップＳ１８にジャンプする（図６）。
【００５９】
一方、コントローラ６８は、温度センサ８６ａによって検出された温度データと、メモリ７０に予め記憶されたレーザダイオード７８の温度特性パラメータに差異があると判定した場合は、モータ８６（モータ８６ａ１，モータ８６ａ２，モータ８６ｂ１，モータ８６ｂ２，モータ８６ｃ）を駆動し、感光体４４と光走査装置５８との相対的な位置を調整し、感光体４４に走査された走査線の位置ズレ及び横倍率を調整する（図６：ステップＳ１６）。
【００６０】
即ち、レーザダイオード７８において温度変化があった場合には、光走査装置５８の位置と感光体４４に走査されたレーザ光の走査位置とが相対的に変化する（図３及び表１に示す）。即ち、走査線の位置ズレが発生する。従って、コントローラ６８は、モータ８８ａ１及びモータ８８ａ２に指令を出し、カム７６ａ１と共にカム７６ａ２を回転させる。これにより、ハウジング７４が矢印Ｚの軸方向（上下方向）へ変位し（図２に示す）、コントローラ６８は、感光体４４に走査された走査線の位置ズレを調整する。
【００６１】
さらに、レーザダイオード７８において温度変化があった場合には、感光体４４に走査されたレーザ光の波長が変化（表３に示す）し、横倍率が変化する（表４に示す）。従って、コントローラ６８は、モータ８８ｃに指令を出し、カム７６ｃを回転させる。これにより、ハウジング７４が矢印Ｙの軸方向（前後方向）へ変位し（図２に示す）、コントローラ６８は、感光体４４に走査された走査線の横倍率を調整する。このとき、コントローラ６８は、横倍率が所定値（例えば表４のａ１）にあるように調整する（移動量はｂｉ）。
【００６２】
さらに、コントローラ６８は、モータ８８ｂ１及びモータ８８ｂ２に指令を出し、カム７６ｂ１と共にカム７６ｂ２を回転させる。これにより、ハウジング７４が矢印Ｘの軸方向（左右方向）へ変位し（図２に示す）、コントローラ６８は、感光体４４に走査された走査線の走査開始位置（書き出し位置）を調整する。
【００６３】
次に、コントローラ６８は、温度センサ８６ｂによって検出されたｆθレンズ８４の温度データとメモリ７０に予め記憶されたｆθレンズ８４の温度特性パラメータと比較する（図６：ステップＳ１８）。
【００６４】
コントローラ６８は、温度センサ８６ｂによって検出されたｆθレンズ８４の温度データと、メモリ７０に予め記憶されたｆθレンズ８４の温度特性パラメータとに差異がないと判定した場合は、ステップＳ２２にジャンプする（図６）。
【００６５】
一方、コントローラ６８は、温度センサ８６ｂによって検出されたｆθレンズ８４の温度データと、メモリ７０に予め記憶されたｆθレンズ８４の温度特性パラメータとに差異があると判定した場合は、モータ８６（モータ８６ａ１，モータ８６ａ２，モータ８６ｂ１，モータ８６ｂ２，モータ８６ｃ）を駆動し、感光体４４と光走査装置５８との相対的な位置を調整し、走査線の傾き及び横倍率を調整する（図６：ステップＳ１６）。
【００６６】
即ち、ｆθレンズ８４において温度変化があった場合には、光走査装置５８の位置と感光体に走査されたレーザ光の走査位置とが相対的に変化（水平方向に対し傾く）する（図４及び表２に示す）。従って、コントローラ６８は、モータ８８ａ１及びモータ８８ａ２に指令を出し、カム７６ａ１及びカム７６ａ２の少なくとも１つを回転させる。これにより、ハウジング７４が矢印Ｙの軸方向を中心に回転するよう変位し（図２に示す）、コントローラ６８は、感光体４４に走査された走査線の傾きを調整する。
【００６７】
さらに、ｆθレンズ８４において温度変化があった場合には、走査されたレーザ光の横倍率が変化する（表５に示す）。従って、コントローラ６８は、モータ８８ｃに指令を出し、カム７６ｃを回転させる。これにより、ハウジング７４が矢印Ｙの軸方向（前後方向）へ変位し（図２に示す）、コントローラ６８は、感光体４４に走査された走査線の横倍率を調整する。このとき、コントローラ６８は、横倍率が所定値（例えば表５のｃ１）にあるように調整する（移動量はｄｉ）。
【００６８】
さらに、コントローラ６８は、モータ８８ｂ１及びモータ８８ｂ２に指令を出し、カム７６ｂ１と共にカム７６ｂ２を回転させる。これにより、ハウジング７４が矢印Ｘの軸方向（左右方向）へ変位し（図２に示す）、コントローラ６８は、感光体４４に走査された走査線の走査開始位置（書き出し位置）を調整する。
【００６９】
次に、コントローラ６８は、ステップＳ２２（図６に示す）おいて、温度モニタを終了するか否かを判定する。即ち、コントローラ６８は、画像形成装置１０の電源切り等の終了信号を受信すると、温度モニタを終了と判定し、光走査装置５８の制御を終了する。一方、コントローラ６８は、温度モニタを終了と判定しない場合は、再びステップＳ１０（図６に示す）にジャンプし、上記同様の制御を繰り返し行う。
【００７０】
なお、レーザダイオード７８が発光を開始してから走査位置が安定するまでの所定時間（例えば３０秒）は、ステップＳ１０、ステップＳ１４、ステップＳ１６を繰り返して、レーザダイオード７８の温度変化による走査線の位置のズレ及び横倍率を調整してもよい。また、この調整後、ステップＳ１２、ステップＳ１８、ステップＳ２０を繰り返して、ｆθレンズ８４の温度変化による走査位置の傾き及び横倍率を調整するようにしてもよい。
【００７１】
上述したように、コントローラ６８における制御方法は、温度センサによる検出温度値と、あらかじめ求めた温度特性値との差異を求めて制御を行うフィードフォアード制御である。従って、本発明は、フィードバック制御等の制御方法と比較し容易な制御方法を用いているので、簡易な構造となり、コスト低減を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】本発明の実施形態に係る画像形成装置の断面図である。
【図２】本発明の実施形態に係る光走査装置を示す斜視図である。
【図３】本発明の実施形態に係るレーザダイオードの温度と走査位置との関係を示すグラフである。
【図４】本発明の実施形態に係るｆθレンズの温度と複数の像高における走査位置との関係を示すグラフである。
【図５】本発明の実施形態に係る光走査装置に用いた制御回路を示すブロック図である。
【図６】本発明の実施形態に係る光走査装置に用いた制御プログラムの動作フローを示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００７３】
１０  画像形成装置
１２  画像形成装置本体
５８  光走査装置
６６  制御部
６８  コントローラ
７０  メモリ
７２  調整手段
７４  ハウジング
７６  カム
７８  レーザダイオード
８２  ポリゴンモータ
８４  ｆθレンズ
８６ａ，８６b  温度センサ
【図１】
2006189567.tif 000008
【図２】
2006189567.tif 000009
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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