(57)【要約】【課題】  光ディスク装置に使用される半導体レーザの高周波重畳周波数を、より簡便にかつより正確に測定することが可能なレーザ駆動装置及びそれを用いた光ディスク装置を提供することにある。【解決手段】  光ディスクにレーザ光を照射する半導体レーザと、高周波電流がされた電流により前記半導体レーザを駆動するとともに前記高周波電流の周波数を測定する半導体レーザ駆動装置と、該半導体レーザ駆動装置により測定された周波数を用いて前記半導体レーザ駆動装置から出力される高周波電流の周波数を制御する主制御装置を有することを特徴とした光ディスク装置。【選択図】  図５
2006012419.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射する半導体レーザと、高周波電流が重
畳された電流により前記半導体レーザを駆動するとともに前記高周波電流の周波
数を測定する半導体レーザ駆動装置と、該半導体レーザ駆動装置により測定され
た周波数を用いて前記半導体レーザ駆動装置から出力される高周波電流の周波数
を制御する主制御装置を有することを特徴とした光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、前記レーザ駆動装置は
、前記半導体レーザに対し直流電流を出力する半導体レーザ駆動回路と、該半導
体レーザ駆動回路の出力に重畳される高周波電流を出力する高周波重畳発振器と
、該高周波重畳発振器から出力される高周波電流の周波数を測定し該周波数を前
記主制御装置に対し出力する周波数測定回路とを備えることを特徴とする光ディ
スク装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光ディスク装置において、前記周波数測定回路は
、前記高周波電流の信号を二値化してデジタル信号を生成する二値化回路と、該
デジタル信号を分周して高周波重畳モニタ信号を出力する分周回路と、前記レー
ザ駆動装置の外部より与えられる基準クロックと前記高周波重畳モニタ信号とを
用いて前記高周波電流の周波数を計数する周波数カウンタとを有することを特徴
とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項２または請求項３に記載の光ディスク装置において、前記周
波数測定回路により測定された周波数を保持するレジスタを有することを特徴と
する光ディスク装置。
【請求項５】
請求項２乃至４に記載の光ディスク装置において、前記再生された
データのエラー補正をするとともにエラーレートを検出する復調装置を有し、前
記主制御装置は、前記周波数測定回路により測定された周波数と、前記復調装置
により検出されたエラーレートとを用いて、エラーレートが最小となる前記周波
数を決定し、該決定された周波数の高周波電流を出力するように前記高周波重畳
発振器を制御することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項２乃至５に記載の光ディスク装置において、前記レーザ光を
用いて再生された信号をアナログ信号からデジタル信号に変換する過程で発生す
るジッタを検出するデータストローブ装置を有し、前記主制御装置は、前記周波
数測定回路により測定された周波数と、前記データストローブ装置により検出さ
れたジッタとを用いてジッタが最小となる前記周波数を決定し、該決定された周
波数の高周波電流を出力するように前記高周波重畳発振器を制御することを特徴
とする光ディスク装置。
【請求項７】
光ディスクにレーザ光を照射する半導体レーザと、該半導体レーザ
を有する光ヘッドと、前記半導体レーザの出力を制御するレーザ駆動装置と、前
記光ヘッド及びレーザ駆動装置を制御する主制御装置とを有し、前記光ディスク
に記録されたデータを再生する光ディスク装置において、
前記レーザ駆動装置は、前記半導体レーザに対し直流電流を出力する半導体レ
ーザ駆動回路と、該半導体レーザ駆動回路の出力に重畳される高周波電流を出力
する高周波重畳発振器と、該高周波重畳発振器から出力される高周波電流の周波
数を測定し該周波数を前記主制御装置に対し出力する周波数測定回路とを備える
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
光ディスクにレーザ光を照射する半導体レーザを制御するレーザ駆
動装置において、
前記半導体レーザに対し直流電流を出力する半導体レーザ駆動回路と、該半導
体レーザ駆動回路の出力に高周波電流を重畳する高周波重畳発振器と、該高周波
重畳発振器から出力される高周波電流の周波数を測定し該周波数を外部に出力す
る周波数測定回路とを備えることを特徴とするレーザ駆動装置。
【請求項９】
請求項８に記載のレーザ駆動装置において、前記周波数測定回路は
、前記高周波電流の信号を二値化してデジタル信号を生成する二値化回路と、該
デジタル信号を分周して高周波重畳モニタ信号を出力する分周回路とを有するこ
とを特徴とするレーザ駆動装置。
【請求項１０】
請求項８又は請求項９に記載のレーザ駆動装置において、前記周
波数測定回路は、さらに、該レーザ駆動装置の外部より与えられる基準クロック
と前記高周波重畳モニタ信号とを用いて前記高周波電流の周波数を計数する周波
数カウンタとを有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１１】
高周波電流により半導体レーザを駆動して光ディスクにレーザ光
を照射し前記光ディスクに記録されたデータを再生する光ディスク装置のレーザ
制御方法であって、前記高周波電流の周波数を測定し、該測定された周波数を用
いて、前記高周波電流の周波数を制御することを特徴としたレーザ制御方法。
【請求項１２】
請求項１１に記載のレーザ制御方法において、前記レーザ光を用
いて再生された信号のエラーレートを測定し、該測定されたエラーレートと前記
測定された周波数とによりエラーレートが最小となる前記高周波電流の周波数を
決定し、該決定された周波数の高周波電流により半導体レーザを駆動するレーザ
制御方法。
【請求項１３】
請求項１１又は請求項１２に記載のレーザ制御方法において、前
記レーザ光を用いて再生された信号をアナログ信号からデジタル信号に変換する
過程で発生するジッタを測定し、該測定されたジッタと前記測定された周波数と
によりジッタが最小となる前記高周波電流の周波数を決定し、該決定された周波
数の高周波電流により半導体レーザを駆動するレーザ制御方法。
【請求項１４】
高周波電流により半導体レーザを駆動して光ディスクにレーザ光
を照射し前記光ディスクに記録されたデータを再生する光ディスク装置であって
、前記高周波電流の周波数を測定する手段と、該測定された周波数を用いて前記
高周波電流の周波数を制御する手段とを有することを特徴とした光ディスク装置
。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスクに情報を記録再生可能な光ディスク装置において、再生信
号の品質向上を実現するのに好適なレーザ駆動装置とそれを用いた光ディスク装
置に関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体レーザを使用した光ディスク情報再生装置では、記録媒体からの反射光
と半導体レーザの干渉により発生するレーザノイズを抑制するため、直流電流に
高周波電流を重畳し半導体レーザを駆動する高周波重畳法が使用される。ところ
が、高周波重畳法を使用しているにもかかわらず、十分にレーザノイズが抑圧で
きない現象が発見された。近年の調査により、この現象は、高周波重畳法のよう
に半導体レーザに高い周波数の変調をかけた場合に発生する緩和振動が要因とな
っており、この緩和振動によるレーザノイズは高周波重畳の周波数に依存するこ
とが判明した。緩和振動によるレーザノイズを考慮した高周波重畳の周波数の設
定方法は、例えば特許文献１に開示されている。
【０００３】
レーザノイズと高周波重畳電流の周波数・振幅の関係を測定した結果を図７に
示す。ここで、図７の領域Ａ・領域Ｂの設定でレーザノイズを許容値以下にする
ことができた。しかし、高い周波数になるほど高周波重畳回路の効率が低下し発
熱が大きくなり、また、一般的に半導体レーザは高温での動作時においてレーザ
ノイズが高くなるため、周波数の高い領域Ｂは使用に適さない。更に図７の斜線
で示した領域Ｃでは、規格による不要輻射の許容電界規制が厳しくなり、不要輻
射強度を低下させる必要があるため使用することができない。これは不要輻射の
強度を低減させるためにシールドされた構造が必要となり、高コスト化の要因と
なるためである。以上のことを考慮すると、レーザノイズ低減と不要輻射規格の
両方の条件を満足するためには、高周波重畳電流の設定を領域Ａの中で領域Ｃを
含まない領域にする必要があり、重畳する高周波電流の周波数を範囲Ｄ、振幅を
範囲Ｅに確実に収めることが必要である。
【０００４】
図４に高周波重畳電流を制御するレーザ駆動装置のブロック図を示す。このレ
ーザ駆動装置では半導体レーザ駆動回路１と、高周波重畳発振器を構成する発振
器制御回路３及び発振器４と、加算器６により構成される。情報再生の場合、半
導体レーザ駆動回路１はＤＣ電流である半導体レーザ駆動ＤＣ電流２を出力し、
この半導体レーザ駆動ＤＣ電流２に発振器４の出力（高周波電流５）を加算器６
により重畳し、レーザダイオード８を駆動している。発振器４の周波数・振幅は
発振器制御回路３により制御され、レーザ駆動装置の外に配置されたマイコンか
ら出力される発振器制御信号３１に対応して、発振器の周波数・振幅を調整する
ことができる。この機能により、高周波重畳の周波数・振幅を上記の条件を満た
す様に設定できると考えられていた。
【０００５】
しかし、このレーザ駆動装置には個体差があり、高周波重畳電流の周波数を同
じ設定値にしても、実際に発振器４から出力される高周波電流５の周波数がばら
つき、全てのレーザ駆動装置で周波数を一律に設定した場合、実際の周波数が目
標とする周波数設定の範囲Ｄを越えてしまうレーザ駆動装置が存在することが判
明した。この高周波電流５の周波数のばらつきは、ＩＣの生産プロセスに起因し
、ばらつきを小さくすることは困難であるため、工場出荷時に高周波重畳電流の
周波数を調整する必要が生じた。この周波数調整工程では、レーザ駆動装置から
生じる微弱な不要輻射をアンテナで検出し、その周波数をスペクトルアナライザ
などで測定するため、大規模な測定設備を必要とし、設備の簡素化を測る必要が
あった。
【特許文献１】特開平11−54826号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明の目的は、光ディスク装置に使用される半導体レーザの高周波重畳周波
数を、より簡便にかつより正確に測定することが可能なレーザ駆動装置及びそれ
を用いた光ディスク装置を提供することにある。
【０００７】
また、本発明の目的は、半導体レーザの高周波重畳周波数を光ディスク装置内
部で制御することが可能な光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を達成するため、本発明の光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光
を照射する半導体レーザと、高周波電流がされた電流により半導体レーザを駆動
するとともに高周波電流の周波数を測定する半導体レーザ駆動装置と、半導体レ
ーザ駆動装置により測定された周波数を用いて半導体レーザ駆動装置から出力さ
れる高周波電流の周波数を制御する主制御装置を備える。
【０００９】
また、再生されたデータのエラー補正をするとともにエラーレートを検出する
復調装置や、再生された信号をアナログ信号からデジタル信号に変換する際に発
生するジッタを検出するデータストローブ装置を備え、主制御装置は、周波数測
定回路により測定された周波数と、検出されたエラーレートまたはジッタとを用
いて、エラーレートまたはジッタが最小となる周波数を決定し、決定された周波
数の高周波電流を出力するようにレーザ駆動装置を制御する構成を有する。
【００１０】
また、本発明のレーザ駆動装置は、半導体レーザに対し直流電流を出力する半
導体レーザ駆動回路と、半導体レーザ駆動回路の出力に高周波電流を重畳する高
周波重畳発振器と、高周波重畳発振器から出力される高周波電流の周波数を測定
し該周波数を外部に出力する周波数測定回路とを備える。周波数測定回路は、具
体的には、例えば高周波電流の信号を二値化してデジタル信号を生成する二値化
回路と、デジタル信号を分周して高周波重畳モニタ信号を出力する分周回路とを
有する。あるいは周波数測定回路は、さらに、該レーザ駆動装置の外部より与え
られる基準クロックと高周波重畳モニタ信号とを用いて前記高周波電流の周波数
を計数する周波数カウンタを備える。
【００１１】
さらに、本発明のレーザ制御方法は、高周波電流により半導体レーザを駆動し
て光ディスクにレーザ光を照射し前記光ディスクに記録されたデータを再生する
光ディスク装置のレーザ制御方法であって、高周波電流の周波数を測定し、測定
された周波数を用いて、高周波電流の周波数を制御する構成を備える。制御の具
体例としては、上述したようにエラーレートあるいはジッタを検出し、その検出
結果と測定した周波数を用いて、エラーレートあるいはジッタが最小となるよう
な制御を行う。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の光ディスク装置及びそれに用いるレーザ駆動装置によれば、半導体レ
ーザを低ノイズで駆動するために要するレーザ駆動装置の調整を低コストかつよ
り精密に行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の実施例を図面を用いて説明する。
【００１４】
図１は、本発明の一実施例におけるレーザ駆動装置の回路構成を示すブロック
図である。
【００１５】
図１において、従来のレーザ駆動装置である図４と同様のブロックに対しては
同じ符号を付している。本発明のレーザ駆動装置は、さらに、高周波重畳発振器
内部の発振器４より出力される高周波電流の周波数を測定する周波数測定回路を
有し、図１では周波数測定回路を構成する一例として、二値化回路９及び分周回
路１１及び周波数カウンタ１３を示している。また、本実施例のレーザ駆動装置
は、周波数測定回路で測定された高周波電流の周波数を保存するレジスタ１５を
有している。
【００１６】
発振器４はアナログ電圧を入力とする可変周波数発振器であり、発振周波数は
入力される電圧により連続的に制御可能である。前記発振器４は前記発振器制御
回路３により周波数と振幅を制御され高周波電流５を出力する。前記発振器制御
回路３は、マイコンからの発振器制御信号３１に対応したアナログ電圧を発生し
、前記発振器４に出力する。高周波電流５は、半導体レーザ駆動電流７を生成す
る加算器６、および高周波重畳の周波数測定に使用する高周波デジタル信号１０
を生成する二値化回路９に入力される。加算器６は、入力された高周波電流５を
半導体レーザ駆動回路１により出力された半導体レーザ駆動ＤＣ電流２に重畳し
、半導体レーザ駆動電流７を出力して、半導体レーザ８を駆動する。
【００１７】
高周波電流５は図２（ａ）のようなアナログ信号であり、デジタル回路で処理
を行うため、二値化回路９により高周波信電流５を二値化し、図２（ｂ）のよう
な高周波デジタル信号１０を生成する。高周波デジタル信号１０はきわめて高い
周波数の信号であり雑音の要因となるため、分周回路１１において高周波デジタ
ル信号１０を分周し、図２（ｃ）のような比較的周波数の低い高周波重畳モニタ
信号１２を生成する。この高周波重畳モニタ信号１２を、装置外部から与えられ
る基準クロック１４によって動作する周波数カウンタ１３に入力し、高周波重畳
モニタ信号１２の周波数の測定を行う。周波数カウンタ１３は、前記基準クロッ
ク１４の一周期の間に分周回路１１から入力されたパルス数を積算する。
【００１８】
積算されたパルス数はレジスタ１５に保持され、主制御装置であるマイコンの
要求に従い計測結果を出力する。分周回路１１で行われる分周周期はあらかじめ
決められており、計測結果を分周周期倍することで実際の高周波重畳電流の周波
数を求めることが可能である。
【００１９】
次に、本発明のレーザ駆動装置の第二の実施例を図３を用いて説明する。既に
説明したように、図１のレーザ駆動装置を使用した場合、光ディスク装置内で周
波数の測定を行うことが可能である。一方、周波数の調整を工場出荷時で行うこ
ととする場合、図３に示したレーザ駆動装置のように、図１における周波数カウ
ンタ１３とレジスタ１５を省き、光ディスク装置に高周波重畳モニタ信号１２の
出力端子を設ける。これにより、外部の測定器に直接高周波重畳モニタ信号１２
を入力して、高周波重畳電流の周波数調整を行うことができる。この場合、工場
出荷時における初期調整の工程が必要であるが、微弱な不要輻射を測定するので
はなく高周波重畳モニタ信号を測定するため、アンテナや高感度のスペクトルア
ナライザなどの測定器を簡素化することができる。
【００２０】
次に、本発明における第三の実施例を図５を用いて説明する。図５は、光ディ
スク再生装置の一実施例を示すブロック図である。以下、図５における光ディス
ク装置の動作について説明する。
【００２１】
図５においてレーザ駆動装置１７は、図１で示したレーザ駆動装置を用いるこ
とができる。即ち、レーザ駆動装置は、高周波電流を出力する発振器４と、基準
クロック発振器３３から与えられる基準クロック１４により発振器4から出力さ
れる高周波電流の周波数を測定する周波数カウンタと、その測定結果を記憶する
レジスタ１５を備えている。このレーザ駆動装置１７から出力された半導体レー
ザ駆動電流７は、光ヘッド１８上にあるレーザダイオード８に入力され、レーザ
ダイオード８を発光させる。
【００２２】
光ヘッド１８は、レーザダイオード８の光を光ディスクに照射し、光ディスク
２０からの反射光をフォトディテクタ１９により検出する。フォトディテクタ１
９は、検出した反射光を電気信号に変換し、サーボ誤差信号２１と再生信号２４
として出力する機能を持つ。ここで光ディスク２０上の情報は反射光の強度変化
として再生され、再生信号２４に反映される。また光ディスク２０上の情報には
、ユーザデータ以外に、エラー補正用データが含まれてエンコードされており、
後に説明する復調装置３０によりユーザデータに含まれるエラーを補正すること
が可能である。
【００２３】
光ヘッド位置制御装置２２は、フォトディテクタ１９から出力されるサーボ誤
差信号２１の信号処理を行い、サーボ信号２３を生成し光ヘッド１８に出力する
。このサーボ信号２３により光ディスク２０と光ヘッド１８の位置関係は一定に
保たれ、安定した再生信号２４を得ることが可能である。
【００２４】
二値化装置２５は、フォトディテクタ１９から入力されるアナログ信号である
再生信号２４を二値化し、デジタル信号である再生デジタル信号２６を生成する
。
【００２５】
データストローブ装置２７は、二値化装置２５から出力された再生デジタル信
号２６を、チャネルクロック２８と同期した同期再生信号２９に変換し、復調装
置３０へ出力する。
【００２６】
図６に再生信号２４と再生デジタル信号２６と同期再生信号２９の波形を示す
。図６に示したように、再生デジタル信号２６とチャネルクロック２８は同期し
ていない。データストローブ装置２７は、ＰＬＬを使用し再生デジタル信号２６
にあわせたクロックで同期をとることにより、チャネルクロック２８と同期のと
れた同期再生信号２９を生成することができる。またこのデータストローブ装置
２７は、再生デジタル信号２６をチャネルクロック２８と同期させるだけでなく
、再生デジタル信号２６とチャネルクロック２８の誤差であるジッタを検出し、
ジッタの量を規格化し記憶する機能を持つ。
【００２７】
復調装置３０はデータストローブ装置２７から出力された同期再生信号２９を
デコードする装置である。前記の通り光ディスク上の情報は、ユーザデータ以外
にエラー補正データを含んでエンコードされているため、ユーザデータを得るた
め、同期再生信号２９をデコードする必要がある。このときユーザデータがエラ
ーを含んでいると、復調装置３０はエラー補正データを元にユーザデータを復元
し、ユーザデータ内に含まれるエラーを補正するともに、エラーの量（エラーレ
ート）を検出することができる。
【００２８】
ここで、光ディスク装置の再生信号の品質は、復調装置３０で検出されるエラ
ーの量や、データストローブ装置で検出されるジッタの量として定量的に表すこ
とができる。この光ディスク装置では、半導体レーザ駆動電流７の高周波重畳の
周波数を、レーザ駆動装置の発振器に対してマイコン１６から出力される発振器
制御信号３１により制御することができる。高周波重畳の周波数を変えると、再
生信号の品質に影響し、この再生信号の品質の変化は、二値化装置２５で検出さ
れるジッタの増加や復調装置３０で検出されるエラー増加として、定量的に表す
ことができる。これらの品質の変化は、それぞれジッタ測定結果３４やエラーレ
ート３５としてマイコンに報告される。マイコンは、ジッタ測定結果３４やエラ
ーレート３５と、レーザ駆動装置１７で測定され出力される高周波電流の周波数
の測定結果３２とに基づいて、最適な再生データを得られる高周波重畳の周波数
を求める。決定された周波数は、発振器制御信号３１として出力され、レーザ駆
動装置の発振器を制御することによって高周波重畳の周波数を最適な周波数に変
えることができる。こうした構成を有することによって、温度変化等によりレー
ザノイズ最小となる周波数条件が変化した場合でも、レーザ駆動装置内で高周波
重畳電流の周波数を測定し、高周波重畳電流の周波数をより精密に制御すること
が可能となる。
【００２９】
ここで、実際に重畳されている高周波電流の周波数が不明である場合でも、発
振器の電源電圧を変えることにより発振器の発振周波数を変化させ、再生信号の
ジッタ・エラーの量を最小にする最適な高周波重畳の周波数を求めることは可能
であるが、高周波重畳電流の周波数を測定していないと発振周波数を特定するこ
とができず、規格等による周波数に関連する制限を外れていても認識できない。
【００３０】
本実施例における光ディスク装置は、高周波重畳電流の周波数を測定した上で
最適な周波数を決めることを特徴としており、規格等により周波数の設定できる
範囲が厳密に定められている場合でも、規格の許容範囲を最大限に使用すること
ができる。さらに、半導体レーザの高周波重畳周波数の調整を、外部の設備を使
用しないで光ディスク装置内部の構成により行うことが可能であるので、低コス
トかつ精密な調整が可能となる。
【００３１】
図８に高周波重畳周波数とジッタの関係を示す。この関係は、高周波重畳周波
数を連続的に変え、同時にジッタを測定することで得ることができる。ここで周
波数の低い領域は不要輻射規格により使用できず、また周波数の高い領域は発熱
が大きいため使用できない。周波数測定機能が無いレーザ駆動装置の場合、レー
ザ駆動装置の個体差による発振周波数のばらつきを考慮する必要があり、制限さ
れた領域を最大限利用することはできず、図８に示す範囲１の中でジッタ最小と
なる周波数に高周波重畳周波数を設定できるにすぎない。これに対し、周波数測
定機能を備えたレーザ駆動装置の場合、制限された領域を最大限利用することが
でき、範囲１より広い範囲２の中でジッタ最小となる周波数に高周波重畳周波数
を設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】第一の実施例に係るレーザ駆動装置のブロック図。
【図２】第一の実施例に係るレーザ駆動装置内部の各信号の波形を示す図。
【図３】第二の実施例に係るレーザ駆動装置のブロック図。
【図４】従来のレーザ駆動装置のブロック図。
【図５】第三の実施例に係る光ディスク装置のブロック図。
【図６】第三の実施例に係る光ディスク装置内部の各信号の波形を示す図。
【図７】高周波重畳の最適条件の説明図。
【図８】高周波重畳の周波数とジッタの関係、及び高周波重畳の周波数の設定可能範囲を説明する図。
【符号の説明】
【００３３】
1…半導体レーザ駆動回路、2…半導体レーザ駆動ＤＣ電流、3…発振器制御回路
、4…発振器、5…高周波電流、6…加算器、7…半導体レーザ駆動電流、8…レー
ザダイオード、9…二値化回路、10…高周波デジタル信号、11…分周回路、12…
高周波重畳モニタ信号、13…周波数カウンタ、14…基準クロック、15…レジスタ
、16…マイコン、17…レーザ駆動装置、18…光ヘッド、19…フォトディテクタ、
20…光ディスク、21…サーボ誤差信号、22 …光ヘッド位置制御装置、23…光ヘ
ッドサーボ信号、24…再生信号、25…二値化装置、26…再生デジタル信号、27…
データストローブ回路、28…チャネルクロック、29…同期再生信号、 30…復調
装置、31…発振器制御信号、3…測定結果、33…基準クロック発振器、4…ジッタ
測定結果、35…エラーレート
【図１】
2006012419.tif 000003
【図２】
2006012419.tif 000004
【図３】
2006012419.tif 000005
【図４】
2006012419.tif 000006
【図５】
2006012419.tif 000007
【図６】
2006012419.tif 000008
【図７】
2006012419.tif 000009
【図８】
2006012419.tif 000010
【手続補正書】
【提出日】平成17年10月17日(2005.10.17)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射する半導体レーザと、
高周波電流が重畳された電流により前記半導体レーザを駆動するとともに前記高周波電流の周波数を測定するレーザ駆動装置と、
前記レーザ駆動装置により測定された周波数を用いて前記レーザ駆動装置から出力される高周波電流の周波数を制御する制御装置を有することを特徴とした光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記レーザ駆動装置は、
前記半導体レーザに対し直流電流を出力する半導体レーザ駆動回路と、
前記半導体レーザ駆動回路の出力に重畳される高周波電流を出力する高周波重畳発振器と、
前記高周波重畳発振器から出力される高周波電流の周波数を測定し前記周波数を前記制御装置に対し出力する周波数測定回路と、
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項２に記載の光ディスク装置において、
前記周波数測定回路は、
前記高周波電流の信号を二値化してデジタル信号を生成する二値化回路と、
前記レーザ駆動装置の外部より与えられる基準クロックと前記デジタル信号とを用いて前記高周波電流の周波数を計数する周波数カウンタと、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項２または３に記載の光ディスク装置において、
前記周波数測定回路により測定された周波数を保持するレジスタを有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
光ディスクにレーザ光を照射する半導体レーザを駆動するレーザ駆動装置であって、
前記半導体レーザに対し直流電流を出力する半導体レーザ駆動回路と、
前記半導体レーザ駆動回路の出力に高周波電流を重畳する高周波重畳発振器と、
前記高周波重畳発振器から出力される高周波電流の周波数を測定し前記周波数を前記レーザ駆動装置の外部に出力する周波数測定回路とを備え、
前記レーザ駆動装置は、前記周波数を用いて前記高周波電流の周波数を制御する制御装置からの入力信号により制御されることを特徴とするレーザ駆動装置。
【請求項６】
請求項５に記載のレーザ駆動装置において、
前記周波数測定回路は、
前記高周波電流の信号を二値化してデジタル信号を生成する二値化回路と、
前記レーザ駆動装置の外部より与えられる基準クロックと前記デジタル信号とを用いて前記高周波電流の周波数を計数する周波数カウンタと、
を有することを特徴とするレーザ駆動装置。
【請求項７】
請求項５または６に記載の光ディスク装置において、
前記周波数測定回路により測定された周波数を保持するレジスタを有することを特徴とするレーザ駆動装置。
【請求項８】
高周波電流を重畳した電流を用いてレーザ駆動装置が半導体レーザを駆動する際のレーザ制御方法であって、
前記高周波電流の周波数を測定する第１のステップと、
測定された前記周波数を用いて前記高周波電流の周波数を制御する第２のステップと、
を有することを特徴とするレーザ制御方法。
【請求項９】
請求項８に記載のレーザ制御方法において、さらに、
前記半導体レーザに対し直流電流を出力する第３のステップと、
前記直流電流に高周波電流を重畳する第４のステップと、
前記第１のステップで測定された前記周波数を前記レーザ駆動装置の外部に出力する第５のステップと、
を有することを特徴とするレーザ制御方法。
【請求項１０】
請求項８または９に記載のレーザ制御方法において、
前記第１のステップは、
前記高周波電流の信号を二値化してデジタル信号を生成する第６のステップと、
前記レーザ駆動装置外部より与えられる基準クロックと前記デジタル信号とを用いて前記高周波電流の周波数を計数する第７のステップと、
を有することを特徴とするレーザ制御方法。
【請求項１１】
請求項８から１０のいずれか一項に記載のレーザ制御方法において、
前記測定された周波数をレジスタに保持する第８のステップを有することを特徴とするレーザ制御方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００８】
上記課題を達成するため、本発明の光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光を照射する半導体レーザと、高周波電流が重畳された電流により前記半導体レーザを駆動するとともに前記高周波電流の周波数を測定するレーザ駆動装置と、前記レーザ駆動装置により測定された周波数を用いて前記レーザ駆動装置から出力される高周波電流の周波数を制御する制御装置を備える。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００９
【補正方法】変更
【補正の内容】
【０００９】
また、本発明のレーザ制御方法は、高周波電流を重畳した電流を用いてレーザ駆動装置が半導体レーザを駆動する際のレーザ制御方法であって、前記高周波電流の周波数を測定する第１のステップと、測定された前記周波数を用いて前記高周波電流の周波数を制御する第２のステップとを有する。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
また、本発明のレーザ駆動装置は、光ディスクにレーザ光を照射する半導体レーザを駆動するレーザ駆動装置であって、前記半導体レーザに対し直流電流を出力する半導体レーザ駆動回路と、前記半導体レーザ駆動回路の出力に高周波電流を重畳する高周波重畳発振器と、前記高周波重畳発振器から出力される高周波電流の周波数を測定し前記周波数を前記レーザ駆動装置の外部に出力する周波数測定回路とを備え、前記レーザ駆動装置は、前記周波数を用いて前記高周波電流の周波数を制御する制御装置からの入力信号により制御される。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】削除
【補正の内容】