(57)【要約】【課題】グレイレベル別のガンマ電圧のテストを容易に行えるようにする。【解決手段】ガンマ調整レジスタ部１１０は、ガンマ電圧を選択するための第１及び第２レジスタ値を出力する。ガンマ電圧出力部１４０は、ガンマ基準電圧発生部１２０からのガンマ電圧と、ガンマ電圧選択部１３０からのガンマ電圧に基づき、複数のガンマ電圧を出力する。ガンマ電圧テスト部１５０は、ガンマテスト信号ＴＧＭに応答して、ガンマ電圧出力部から出力されるガンマ電圧から一つ以上を選択して出力する。これによって、ドライバＩＣの外部出力ピン及びテスト用命令語を使用して、ＩＣ内部で生成されるガンマ電圧レベル別に出力されるガンマ電圧を測定可能となり、ガンマチューニング、画質改善、不良分析、及び駆動分析等に活用することができる。【選択図】図１
2006189785.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ガンマ電圧を選択するための第１及び第２レジスタ値を出力するガンマ調整レジスタ部と、
一端が第１電源電圧に接続され、他端が第２電源電圧に接続され、前記第１レジスタ値に応答して、複数のガンマ電圧を出力するガンマ基準電圧発生部と、
前記第２レジスタ値に応答して、前記複数のガンマ電圧のうち、少なくとも一つを選択して出力するガンマ電圧選択部と、
前記ガンマ基準電圧発生部から提供されるガンマ電圧と、前記ガンマ電圧選択部から提供されるガンマ電圧に基づいて、複数のガンマ電圧を出力するガンマ電圧出力部と、
外部から提供されるガンマテスト信号に応答して、前記ガンマ電圧出力部から出力されるガンマ電圧のうち、一つ以上を選択して出力するガンマ電圧テスト部と
を含むことを特徴とするガンマ電圧テスト機能を有するガンマ電圧生成装置。
【請求項２】
前記第１電源電圧は、前記第２電源電圧より相対的に高く、前記ガンマ電圧出力部から出力される前記複数のガンマ電圧は、グレイレベルにそれぞれ対応する出力レベルを有することを特徴とする請求項１記載のガンマ電圧生成装置。
【請求項３】
前記ガンマテスト信号は、テストしようとするグレイ電圧によって可変されるデジタルデータ値を有することを特徴とする請求項１記載のガンマ電圧生成装置。
【請求項４】
前記ガンマテスト信号は、テストしようとする全てのグレイレベルの数に対応するビット数を有することを特徴とする請求項３記載のガンマ電圧生成装置。
【請求項５】
前記ガンマテスト信号は、３２−グレイレベルをテストしようとする場合には５ビット、６４−グレイレベルをテストしようとする場合には６ビットを有することを特徴とする請求項４記載のガンマ電圧生成装置。
【請求項６】
前記ガンマ調整レジスタ部は、
グレイレベル対グレイ電圧の勾配調整のためのレジスタ値を出力する勾配調整レジスタと、
グレイレベル対グレイ電圧の微細調整のためのレジスタ値を出力する微細調整レジスタと、
グレイレベル対グレイ電圧の振幅調整のためのレジスタ値を出力する振幅調整レジスタと
を含むことを特徴とする請求項１記載のガンマ電圧生成装置。
【請求項７】
前記ガンマ基準電圧発生部は、抵抗ストリングであることを特徴とする請求項１記載のガンマ電圧生成装置。
【請求項８】
前記抵抗ストリングは、固定抵抗及び可変抵抗を含むことを特徴とする請求項７記載のガンマ電圧生成装置。
【請求項９】
前記テスト用ガンマ電圧出力部は、前記ガンマテスト信号に応答して、前記ガンマ電圧出力部から出力される複数のガンマ電圧のうち、いずれか一つをテスト用ガンマ電圧として選択して、テスト端子を通じて出力するためのスイッチング部を含むことを特徴とする請求項１記載のガンマ電圧生成装置。
【請求項１０】
抵抗ストリングによって生成された複数のガンマ電圧のうち、一つ以上を選択して出力するガンマ電圧選択部と、
前記抵抗ストリングから提供されるガンマ電圧と、前記ガンマ電圧選択部から提供されるガンマ電圧とに基づいて、複数のガンマ電圧を出力するガンマ電圧出力部と、
外部から提供されるガンマテスト信号に応答して、前記ガンマ電圧出力部から出力されるガンマ電圧のうち、一つ以上を選択して出力するテスト用ガンマ電圧出力部と
を含むことを特徴とするガンマ電圧テスト機能を有するガンマ電圧生成装置。
【請求項１１】
前記ガンマテスト信号は、デジタルデータであることを特徴とする請求項１０記載のガンマ電圧生成装置。
【請求項１２】
前記ガンマテスト信号のデジタルデータは、テストしようとするグレイ電圧によって可変されることを特徴とする請求項１１記載のガンマ電圧生成装置。
【請求項１３】
前記ガンマテスト信号は、テストしようとする全てグレイレベルの数に対応するビット数を有することを特徴とする請求項１１記載のガンマ電圧生成装置。
【請求項１４】
抵抗ストリングによって生成された複数のガンマ電圧のうち、一つ以上を選択して出力するガンマ電圧選択部と、
前記抵抗ストリングから提供されるガンマ電圧と、前記ガンマ電圧選択部から提供されるガンマ電圧を考慮して、複数のガンマ電圧を出力するガンマ電圧出力部と、
前記ガンマ電圧出力部から出力される複数のガンマ電圧のうち、デフォルトで選択された一つ以上を出力するガンマ電圧テスト部と
を含むことを特徴とするガンマ電圧テスト機能を有するガンマ電圧生成装置。
【請求項１５】
（ａ）ガンマ電圧を選択するための第１及び第２レジスタ値を出力するステップと、
（ｂ）前記第１レジスタ値に応答して、第１電源電圧と第２電源電圧の間を分圧させて複数のガンマ電圧を出力するステップと、
（ｃ）前記第２レジスタ値に応答して、前記複数のガンマ電圧のうち、少なくとも一つを選択して出力するステップと、
（ｄ）前記第１及び第２レジスタ値に応答してそれぞれ出力されたガンマ電圧に基づいて、複数のガンマ電圧を出力するステップと、
（ｅ）外部から提供されるガンマテスト信号応答して、前記ステップ（ｄ）で出力されるガンマ電圧のうち、一つ以上を選択して出力するステップと
を含むことを特徴とするガンマ電圧テスト方法。
【請求項１６】
前記第１レジスタ値は、グレイレベル対グレイ電圧の勾配調整のためのレジスタ値を含むことを特徴とする請求項１５記載のガンマ電圧テスト方法。
【請求項１７】
前記第１レジスタ値は、グレイレベル対グレイ電圧の振幅調整のためのレジスタ値を含むことを特徴とする請求項１５記載のガンマ電圧テスト方法。
【請求項１８】
前記第２レジスタ値は、グレイレベル対グレイ電圧の微細調整のためのレジスタ値を含むことを特徴とする請求項１５記載のガンマ電圧テスト方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ガンマ電圧生成装置、及びガンマ電圧テスト方法に係り、より詳細には、テスト用ガンマ電圧を選択して出力することができる機能を有するガンマ電圧生成装置、及びガンマ電圧テスト方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶表示装置の解像度は、技術の発達に伴い、漸次高解像度化されている。高解像度パネルで最適の画質を具現するためには、ガンマ補正が必須である。
液晶表示パネルがノーマリホワイトモードを採用すると、ソースドライバＩＣから出力される電圧が低いほど、画面がホワイトに近く、出力される電圧が高いほど、ブラックに近い画質特性を有する。この際、ホワイト電圧とブラック電圧との間の複数の階調（グレイレベル）値に対応する電圧は、ソースドライバＩＣから出力される。出力される電圧値は、ＩＣ内部レジスタ及び抵抗成分によって各グレイレベル別に電圧出力値が決定される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
一般的なガンマ電圧生成装置はＩＣ形態で構成され、内蔵されるガンマ電圧調整レジスタを使用して、各グレイレベル別電圧値を決定して、ガンマ電圧を出力する。しかし、実際に液晶表示装置にガンマ電圧生成装置であるＩＣを搭載させて、多様なインターフェースと結合させ駆動させる時、理論的に決定されるガンマ電圧値とグレイレベル出力とが一致しないという問題点がある。
又、特定グレイパターンの不良やモアレノイズ等の障害が発生される時、障害分析のために、実際のグレイレベル別の電圧チェックが必要であるが、現在の状態では、グレイレベル別の電圧測定が不可能であるという問題がある。
【０００４】
本発明の目的は、ガンマ電圧テストのためのテスト用ガンマ電圧を選択して出力することができる機能を有するガンマ電圧生成装置を提供することにある。
本発明の他の目的は、前記したガンマ電圧生成装置におけるガンマ電圧テスト出力方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記した目的を達成するために、本発明に係る、ガンマ電圧テスト機能を有するガンマ電圧生成装置は、ガンマ調整レジスタ部、ガンマ基準電圧発生部、ガンマ電圧選択部、ガンマ電圧出力部、及びガンマ電圧テスト部を含む。ガンマ調整レジスタ部は、ガンマ電圧を選択するための第１及び第２レジスタ値を出力する。ガンマ基準電圧発生部は、一端が第１電源電圧に接続され、他端が第２電源電圧に接続され、第１レジスタ値に応答して、複数のガンマ電圧を出力する。ガンマ電圧選択部は、第２レジスタ値に応答して、複数のガンマ電圧のうち、少なくとも一つを選択して出力する。ガンマ電圧出力部は、ガンマ基準電圧発生部から提供されるガンマ電圧と、ガンマ電圧選択部から提供されるガンマ電圧に基づいて、複数のガンマ電圧を出力する。ガンマ電圧テスト部は、外部から提供されるガンマテスト信号に応答して、ガンマ電圧出力部から出力されるガンマ電圧のうち、一つ以上を選択して出力する。
【０００６】
好ましい実施例においては、第１電源電圧は第２電源電圧より相対的に高く、ガンマ電圧出力部は、相対的に低いレベルのガンマ電圧と、相対的に中間レベルのガンマ電圧と、相対的に高いレベルのガンマ電圧を出力する。
好ましい実施例においては、ガンマ調整レジスタ部は、グレイレベル対グレイ電圧の勾配調整のためのレジスタ値を出力する勾配調整レジスタ、グレイレベル対グレイ電圧の微細調整のためのレジスタ値を出力する微細調整レジスタ、及びグレイレベル対グレイ電圧の振幅調整のためのレジスタ値を出力する振幅調整レジスタを含む。
好ましく、ガンマ基準電圧発生部は、抵抗ストリングである。該抵抗ストリングは、固定抵抗及び可変抵抗を含むことが好ましい。
【０００７】
前記した目的を達成するために、本発明の他の観点のガンマ電圧生成装置は、ガンマ電圧選択部、ガンマ電圧出力部、及びガンマ電圧テスト部を含む。ガンマ電圧選択部は、抵抗ストリングによって生成された複数のガンマ電圧のうち、一つ以上を選択して出力する。ガンマ電圧出力部は、抵抗ストリングから提供されるガンマ電圧と、ガンマ電圧選択部から提供されるガンマ電圧に基づいて、複数のガンマ電圧を出力する。ガンマ電圧テスト部は、外部から提供されるガンマテスト信号に応答して、ガンマ電圧出力部から出力されるガンマ電圧のうち、一つ以上を選択して出力する。
【０００８】
前記した目的を達成するために、本発明のさらに他の観点のガンマ電圧生成装置は、ガンマ電圧選択部、ガンマ電圧出力部、及びガンマ電圧テスト部を含む。ガンマ電圧選択部は、抵抗ストリングによって生成された複数のガンマ電圧のうち、一つ以上を選択して出力する。ガンマ電圧出力部は、抵抗ストリングから提供されるガンマ電圧と、ガンマ電圧選択部から提供されるガンマ電圧を考慮して、複数のガンマ電圧を出力する。ガンマ電圧テスト部は、ガンマ電圧出力部から出力される複数のガンマ電圧のうち、デフォルトで選択された一つ以上を出力する。
【０００９】
前記した他の目的を達成するために、本発明のガンマ電圧テスト方法は、（ａ）ガンマ電圧を選択するための第１及び第２レジスタ値を出力するステップ、（ｂ）第１レジスタ値に応答して、第１電源電圧と第２電源電圧との間を分圧させて複数のガンマ電圧を出力するステップ、（ｃ）第２レジスタ値に応答して、複数の原始ガンマ電圧のうち、少なくとも一つを選択して出力するステップ、（ｄ）ステップ（ｂ）で提供されるガンマ電圧とステップ（ｃ）で提供されるガンマ電圧を考慮して、複数のガンマ電圧を出力するステップ、及び（ｅ）外部から提供されるガンマテスト信号に応じて、ステップ（ｄ）で出力されるガンマ電圧のうち、一つ以上を選択して出力するステップを含む。
【発明の効果】
【００１０】
このようなガンマ電圧生成装置及びガンマ電圧テスト方法によると、ドライバＩＣの外部出力ピン及びテスト用命令語を使用して、実際にＩＣ内部で生成されるガンマ電圧レベル別に出力することができ、該出力されたガンマ電圧を正確に測定することによって、ガンマチューニング、画質改善、不良分析、及び駆動分析等に活用することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、添付図面を参照して、本発明をより詳細に説明する。
図１は、本発明によるガンマ電圧生成装置を概念的に説明するためのブロック図である。
図１を参照すると、ガンマ電圧生成装置１００は、ガンマ調整レジスタ部１１０、ガンマ基準電圧発生部１２０、ガンマ電圧選択部１３０、ガンマ電圧出力部１４０、及びテスト用ガンマ電圧出力部１５０を含む。
【００１２】
ガンマ調整レジスタ部１１０は、ガンマ電圧を選択するための第１レジスタ値１１１をガンマ基準電圧発生部１２０に提供し、ガンマ電圧を選択するための第２レジスタ値１１３をガンマ電圧選択部１３０に出力する。
ガンマ基準電圧発生部１２０は、一端が第１電源電圧ＶＤＤに接続され、他端が第２電源電圧ＶＳＳに接続され、第１レジスタ値１１１に応答して、固定のガンマ電圧ＶＢＦをガンマ電圧出力部１４０に出力し、ｍ個の可変のガンマ電圧ＶＢ１、ＶＢ２、．．．、ＶＢｍをガンマ電圧選択部１３０に出力する。
【００１３】
ガンマ電圧選択部１３０は、第２レジスタ値１１３に応答して、ｍ個の可変のガンマ電圧ＶＢ１、ＶＢ２、．．．、ＶＢｍのうち、ｎ個を選択して、選択されたｎ個のガンマ電圧ＶＲＳ１、ＶＲＳ２、．．．、ＶＲＳｎをガンマ電圧出力部１４０に出力する。
ガンマ電圧出力部１４０は、ガンマ基準電圧発生部１２０から提供される固定のガンマ電圧ＶＢＦと、ガンマ電圧選択部１３０から提供される選択されたｎ個のガンマ電圧ＶＲＳ１、ＶＲＳ２、．．．、ＶＲＳｎに基づいて、互いに異なるレベルの複数のガンマ電圧ＶＨ、ＶＭ、ＶＬを出力する。なお、ガンマ電圧出力部１４０は、例えば、複数（ｎ＋１個）の抵抗グループの直列接続からなり、各抵抗グループは抵抗ストリングすなわち複数の抵抗の直列体で構成されている。複数の抵抗グループの直列接続の一端は接地され、他端にはガンマ電圧ＶＢＦが印加される。抵抗グループの接続点には、ｎ個のガンマ電圧ＶＲＳ１、ＶＲＳ２、．．．、ＶＲＳｎが印加される。そして、抵抗ストリングでは、電圧降下によって分圧された複数のガンマ電圧ＶＨ、ＶＭ、ＶＬ（それぞれが複数の電圧出力を含む）が出力される。
【００１４】
ガンマ電圧テスト部１５０は、外部から提供されるガンマテスト信号ＴＧＭに応答して、ガンマ電圧出力部１４０から出力される複数のガンマ電圧ＶＨ、ＶＭ、ＶＬのうち、一つ以上を選択して、テスト用ガンマ電圧ＶＴＧとして出力する。
以上で説明したように、ガンマ電圧生成装置１００の出力端を通じて出力されるガンマ電圧を別に引き出してテスト用とすることによって、出力されるガンマ電圧のレベルを正確に測定することができる。
【００１５】
図２は、本発明によるガンマ電圧生成装置を説明するブロック図である。なお、図２に示したガンマ電圧生成装置は、図１に示したガンマ電圧生成装置１００の構成をより詳細に示したものであると言うこともできる。
図２を参照すると、ガンマ電圧生成装置２００は、ガンマ調整レジスタ部２１０、ガンマ基準電圧発生部２２０、ガンマ電圧選択部２３０、ガンマ電圧出力部２４０、及びガンマ電圧テスト部２５０を含む。
【００１６】
ガンマ調整レジスタ部２１０は、勾配調整レジスタ２１２、振幅調整レジスタ２１４、及び微細調整レジスタ２１６を含み、ガンマ電圧を選択するためのレジスタ値を、ガンマ基準電圧発生部２２０及びガンマ電圧選択部２３０に出力する。
前記した勾配調整レジスタ２１２、振幅調整レジスタ２１４、及び微細調整レジスタ２１６から出力されるレジスタ値によって、ガンマ電圧出力部２４０を通じて出力される複数のガンマ電圧は、図３〜図５に示すように、互いに異なるガンマ曲線を定義する。
詳細には、勾配調整レジスタ２１２は、グレイ（階調）レベル対グレイ（階調）電圧の勾配調整のための第１レジスタ値をガンマ基準電圧発生部２２０に出力する。これによって、ガンマ電圧出力部２４０を通じて出力される複数のガンマ電圧は、図３に示すように、互いに異なるガンマ曲線を定義する。
【００１７】
振幅調整レジスタ２１４は、グレイレベル対グレイ電圧の振幅調整のための第２レジスタ値をガンマ基準電圧発生部２２０に出力する。これによって、ガンマ電圧出力部２４０を通じて出力される複数のガンマ電圧は、図４に示すように、互いに異なるガンマ曲線を定義する。
微細調整レジスタ２１６は、グレイレベル対グレイ電圧の微細調整のための第３レジスタ値をガンマ電圧選択部２３０に出力する。これによって、ガンマ電圧出力部２４０を通じて出力される複数のガンマ電圧は、図５に示すように、互いに異なるグレイ電圧の変化に対応するガンマ曲線を定義する。
【００１８】
図２を更に参照すると、ガンマ基準電圧発生部２２０は、ガンマ電源電圧ＧＶＤＤと接地電圧ＶＧＳとの間に直列に接続される複数の抵抗が直列接続された抵抗ストリングで構成される。
抵抗ストリングは、ガンマ電源電圧ＧＶＤＤと接地電圧ＶＧＳに基づいて、各抵抗の電圧分配を通じて、レベル別ガンマ基準電圧を生成してガンマ電圧選択部２３０に出力し、またガンマ電圧ＶＲ０及びＶＲ７を生成してガンマ電圧出力部２４０に出力する。
抵抗ストリングは、電圧分配のための固定抵抗、及び複数の可変抵抗を含む。可変抵抗は、第１、第２、第３、及び第４可変抵抗２２１ａ、２２１ｂ、２２１ｃ、２２１ｄである。図２では、４個の可変抵抗が具備されることを図示したが、実施環境によって、３個以下の可変抵抗が具備されてもよく、５個以上の可変抵抗が具備されてもよい。
【００１９】
ガンマ電圧選択部２３０は、６個のセレクタ２３１で構成される。それぞれのセレクタ２３１は、微細調整レジスタ２１６から提供される３ビットの第２レジスタ値に応答して、８個のレベル別ガンマ基準電圧のうち、いずれか一つを選択して、選択された６個のガンマ基準電圧ＶＲ１、ＶＲ２、．．．、ＶＲ６をガンマ電圧出力部２４０に提供する。
ガンマ電圧出力部２４０は、ガンマ基準電圧発生部２２０から提供されるガンマ電圧ＶＲ０、ＶＲ７と、ガンマ電圧選択部２３０から提供される６個のガンマ基準電圧ＶＲ１、ＶＲ２、．．．、ＶＲ６に基づいて、複数のガンマ電圧Ｖ０、Ｖ１、Ｖ２、．．．、Ｖ６２、Ｖ６３を出力する。ガンマ電圧出力部２４０は、図１のガンマ電圧出力部１４０と類似の構成及び機能を有している。
【００２０】
ガンマ電圧テスト部２５０は、外部から提供されるガンマテスト信号ＴＧＭに応答して、ガンマ電圧出力部２４０から出力される複数のガンマ電圧Ｖ０、Ｖ１、Ｖ２、．．．、Ｖ６２、Ｖ６３のうち、一つ以上を選択して、選択されたガンマ電圧をテスト用ガンマ電圧ＶＴＧとして出力する。
【００２１】
図２に示されたガンマ電圧テスト部２５０について、より詳細に説明する。
図６は、図２に示されたガンマ電圧テスト部の一例を説明するためのブロック図である。説明の便宜のために、図２に示されたガンマ電圧出力部とガンマ電圧テスト部のみを図示する。
図６を参照すると、ガンマ電圧テスト部２５０は、一つのスイッチング部２５２で構成される。
【００２２】
スイッチング部２５２は、外部からのガンマテスト信号ＴＧＭに応答して、ガンマ電圧出力部２４０から出力される複数のガンマ電圧Ｖ０、Ｖ１、Ｖ２、．．．、Ｖ６２、Ｖ６３のうち、いずれか一つをテスト用ガンマ電圧ＶＴＧとして、テスト端子ＴＧを通じて出力する。ここで、本発明によるガンマ電圧生成装置が６４−グレイレベルのガンマ電圧を出力する場合、ガンマテスト信号ＴＧＭは、６ビットであることが好ましい。又、本発明によるガンマ電圧生成装置が３２−グレイレベルのガンマ電圧を出力する場合、ガンマテスト信号ＴＧＭは、５ビットであることが好ましい。
【００２３】
動作の時、ガンマテスト信号ＴＧＭとして「００００００」が入力されると、第１ガンマ電圧Ｖ０が選択されて、テスト用ガンマ電圧ＶＴＧとして出力され、ガンマテスト信号ＴＧＭとして「００００１０」が入力されると、第３ガンマ電圧Ｖ２が選択されて、テスト用ガンマ電圧ＶＴＧとして出力され、ガンマテスト信号ＴＧＭとして「１１１１１０」が入力されると、第６３ガンマ電圧Ｖ６２が選択されて、テスト用ガンマ電圧ＶＴＧとして出力され、ガンマテスト信号ＴＧＭとして「１１１１１１」が入力されると、第６４ガンマ電圧Ｖ６３が選択されて、テスト用ガンマ電圧ＶＴＧとして出力される。このように、６４−グレイレベルのガンマ電圧のうち、任意のいずれか一つのガンマ電圧が、６ビットのガンマテスト信号ＴＧＭに基づいて、テスト用ガンマ電圧ＶＴＧとして出力される。
【００２４】
図６では、ガンマ電圧出力部２４０から出力される全てのガンマ電圧からいずれか一つを選択するために、スイッチング部２５２がガンマ電圧出力部２４０の全ての出力端に接続された状態を図示したが、ガンマ電圧出力部２４０の特定出力端にのみ接続されるように構成することもできる。
以上では、ガンマ電圧テスト部２５０が一つのスイッチング部で構成されたことを説明したが、二つ以上のスイッチング部で構成することもできる。
【００２５】
図７は、図２に示されたガンマ電圧テスト部の他の一例を説明するためのブロック図である。説明の便宜のために、図２に示されたガンマ電圧出力部とガンマ電圧テスト部のみを図示する。
図７を参照すると、ガンマ電圧テスト部２５０は、第１及び第２スイッチング部２５４、２５６で構成される。第１スイッチング部２５４は、外部から提供されるガンマテスト信号ＴＧＭ１に基づいて、相対的に低いレベルのガンマ電圧Ｖ０、Ｖ１、Ｖ２、．．．、Ｖ３２のうち、いずれか一つを第１テスト用ガンマ電圧ＶＴＧ１として第１テスト端子ＴＧ１を通じて出力する。第２スイッチング部２５６は、外部から提供されるガンマテスト信号ＴＧＭ２に基づいて、相対的に高いレベルのガンマ電圧Ｖ３３、．．．、Ｖ６２、Ｖ６３のうち、いずれか一つを第２テスト用ガンマ電圧ＶＴＧ２として、第２テスト端子ＴＧ２を通じて出力する。
【００２６】
ここで、本発明によるガンマ電圧生成装置が６４−グレイレベルのガンマ電圧を出力する場合、第１及び第２ガンマテスト信号ＴＧＭ１、ＴＧＭ２それぞれは、５ビットであることが好ましい。本発明によるガンマ電圧生成装置が３２−グレイレベルのガンマ電圧を出力する場合、第１及び第２ガンマテスト信号ＴＧＭ１、ＴＧＭ２それぞれは、４ビットであることが好ましい。
図７に示されたガンマ電圧テスト部の動作は、図６に関連して説明した動作と類似しているので、その重複説明は省略する。
【００２７】
図７では、ガンマ電圧出力部２４０から出力される全てのガンマ電圧から二つを選択するために、第１スイッチング部がガンマ電圧出力部の出力端の１／２に相当する数に接続され、第２スイッチング部がガンマ電圧出力部の出力端の残り１／２に相当する数に接続されることを図示したが、ガンマ電圧出力部２４０の特定出力端にのみ接続されるように構成することもできる。
以上では、外部から提供されるガンマテスト信号ＴＧＭによって、任意のガンマ電圧を一つ又は複数個選択して出力することを説明した。このような場合、ガンマ電圧を選択するためのスイッチング部が必要である。しかし、前記したガンマテスト信号を印加することなく、測定を必要とするガンマ電圧をデフォルトとして設定し、該ガンマ電圧をテスト用の出力端を通じて出力するように構成することもできる。
【００２８】
図８は、本発明によるガンマ電圧生成装置の更に他の例を説明するためのブロック図である。図８においては、説明の便宜のために、図２に示されたガンマ電圧出力部２４０のみを図示する。なお、この例においては、ガンマ電圧出力部２４０の出力の一部がテスト用として予めデフォルト設定され、該設定されたガンマ電圧がテスト用ガンマ電圧として出力されるよう構成されており、したがって、ガンマ電圧テスト部２５０は、該デフォルト設定されたガンマ電圧の出力端子とテスト端子との間に接続された接続線として構成されている。
図８を参照すると、第１〜第６４ガンマ電圧のうち、第２ガンマ電圧Ｖ１をデフォルトで第１テスト端子ＴＧ１に接続させ、第３３ガンマ電圧Ｖ３２をデフォルトで第２テスト端子ＴＧ２に接続させて、これらガンマ電圧の出力レベルを測定する。
本発明によるガンマ電圧生成装置が一つのチップ形態で構成された場合、前記したチップは、出力端子として第１及び第２テスト端子を更に具備する。
【００２９】
図９は、本発明による液晶表示装置を説明するためのブロック図である。
図９を参照すると、液晶表示装置は、タイミング制御部４１０、ガンマ電圧生成部４２０、データ駆動部４３０、ゲート駆動部４４０、及び液晶表示パネル４５０を含む。
【００３０】
タイミング制御部４１０は、グラフィックコントローラのようなホストから第１データ信号ＤＡＴＡ１と同期信号ＳＹＮＣが提供されることによって、第２データ信号ＤＡＴＡ２及び第１制御信号ＴＳ１をデータ駆動部４３０に出力し、第２制御信号ＴＳ２をゲート駆動部４４０に出力する。
タイミング制御部４１０は、ユーザから提供されるガンマ電圧テスト要請に応答して、ガンマテスト信号ＴＧＭをガンマ電圧生成部４２０に提供する。一例として、６４−グレイレベルのうち、第１ガンマ電圧Ｖ０をテストしようとすると、ガンマテスト信号ＴＧＭは「００００００」であり、第３ガンマ電圧Ｖ２をテストしようとすると、ガンマテスト信号ＴＧＭは「００００１０」であり、第６３ガンマ電圧Ｖ６２をテストしようとすると、ガンマテスト信号ＴＧＭは「１１１１１０」であり、第６４ガンマ電圧Ｖ６３をテストしようとすると、ガンマテスト信号ＴＧＭは「１１１１１１」である。
【００３１】
ガンマ電圧生成部４２０は複数のガンマ電圧を生成し、生成されたガンマ電圧をデータ駆動部４３０に提供する。図９では、６４個のガンマ電圧Ｖ０、Ｖ１、．．．、Ｖ６２、Ｖ６３を出力する。
データ駆動部４３０は、第２データ信号ＤＡＴＡ２、第１制御信号ＴＳ１、及びガンマ電圧に基づいて、複数のデータ電圧を液晶表示パネル４５０に供給する。一例として、データ駆動部４３０は、印刷回路基板ＰＣＢ、印刷回路基板ＰＣＢに接続されたフレキシブル印刷回路基板ＦＰＣＢ、フレキシブル印刷回路基板ＦＰＣＢに搭載された一つ又は複数のデータ駆動チップを含む。他の一例として、データ駆動部４３０を、液晶表示パネル４５０の周辺領域に集積化することもできる。
【００３２】
ゲート駆動部４４０は、複数のゲート電圧を液晶表示パネル４５０に順次に供給する。一例として、ゲート駆動部４４０は、印刷回路基板ＰＣＢ、印刷回路基板ＰＣＢに接続されたフレキシブル印刷回路基板ＦＰＣＢ、及びフレキシブル印刷回路基板ＦＰＣＢに搭載された一つ又は複数のゲート駆動チップを含む。他の例として、ゲート駆動部４４０は、フレキシブル印刷回路基板ＦＰＣＢ、及びフレキシブル印刷回路基板ＦＰＣＢに搭載された一つ又は複数のゲート駆動チップを含む。更に他の例として、ゲート駆動部４４０を、液晶表示パネル４５０の周辺領域に集積化することもできる。
【００３３】
液晶表示パネル４５０は、複数のゲートライン、複数のデータライン、互いに隣接するゲートラインと互いに隣接するデータラインによって囲まれた領域に形成されたスイッチング素子ＴＦＴ、スイッチング素子ＴＦＴに電気的に接続された液晶キャパシタＣｌｃ、及びスイッチング素子ＴＦＴに電気的に接続されたストレージキャパシタＣｓｔを含む。
【００３４】
動作時、ゲートラインＧＬは、ゲート電圧をスイッチング素子ＴＦＴに伝達する。データラインＤＬは、データ電圧をスイッチング素子ＴＦＴに伝達する。スイッチング素子ＴＦＴは、ゲート電圧に基づいて、ターンオン又はターンオフされ、液晶キャパシタＣｌｃにデータ電圧を充電する。ストレージキャパシタＣｓｔは、ターンオンされたスイッチング素子ＴＦＴを経由して提供されるデータ電圧を蓄積して、スイッチング素子ＴＦＴのターンオフ区間の間に充電されたデータ電圧を液晶キャパシタＣｌｃに提供する。
【００３５】
図１０は、図９に示された液晶表示装置の動作を説明するためのブロック図である。
図９及び図１０を参照すると、タイミング制御部４１０に具備されるグラフィックＲＡＭ（ＧＲＡＭ）４１２は、６ビットのＲ（赤）画像データ、６ビットのＧ（緑）画像データ、及び６ビットのＢ（青）画像データをデータ駆動部４３０に提供する。
ガンマ電圧生成部４２０は、６４個のガンマ電圧Ｖ０、Ｖ１、．．．、Ｖ６２、Ｖ６３をデータ駆動部４３０に提供する。
【００３６】
データ駆動部４３０は、ＲＧＢそれぞれの画像データをＲＧＢそれぞれの画像信号に変換するために、複数の６４−グレイ制御部と複数のソースドライバを含み、６４個のガンマ電圧Ｖ０、Ｖ１、．．．、Ｖ６２、Ｖ６３に基づいて、ＲＧＢ画像データをＲＧＢ画像信号に変換して、液晶表示パネル４５０に具備されるＲＧＢそれぞれの画素に提供する。
図１０に示すように、ガンマ電圧の数が６４個で、Ｒ画像データが６ビットで、Ｇ画像データが６ビットで、Ｂ画像データが６ビットなので、液晶表示パネル４５０を通じて２６２，１４４（＝６４×６４×６４）のカラーを表示することができる。
【産業上の利用可能性】
【００３７】
以上で説明したように、本発明によると、ガンマ電圧を生成するＩＣのバンプ端にグレイレベルテスト端子を一つ以上引き出すことができるように設計することによって、ソフトウェアレジスタを使用して、測定しようとするガンマ電圧のレベルを測定することができる。
具体的に、ＩＣ外部にテストピンを引き出した後に、ＩＣ内部の命令語レジスタに、３２−グレイレベルの場合に５ビット、６４−グレイレベルの場合に６ビットのように、グレイレベルの総数に関連したビット数でレジスタ値を設定し、かつ、測定しようとするガンマ電圧に対応してレジスタ値を変更して、ガンマテスト信号として提供することによって、該当するガンマ電圧をグレイレベルテスト端子を通じて出力することができる。
又、前記したレジスタ値を設定することなく、必要な数だけグレイレベルテストピンをＩＣ外部で引き出して、該テストピンを特定のグレイレベル出力端に接続することによって、測定しようとするガンマ電圧を得ることができる。
【００３８】
以上、本発明の実施例によって詳細に説明したが、本発明はこれに限定されず、本発明が属する技術分野において通常の知識を有するものであれば本発明の思想と精神を離れることなく、本発明を修正または変更できる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明によるガンマ電圧生成装置を説明するためのブロック図である。
【図２】図１のガンマ電圧生成装置を説明するための詳細ブロック図である。
【図３】図２に示されたガンマ調整レジスタ部の調整によるグレイレベルとグレイ電圧との関係を概略的に説明するためのグラフである。
【図４】図２に示されたガンマ調整レジスタ部の調整によるグレイレベルとグレイ電圧との関係を概略的に説明するためのグラフである。
【図５】図２に示されたガンマ調整レジスタ部の調整によるグレイレベルとグレイ電圧との関係を概略的に説明するためのグラフである。
【図６】図２に示されたガンマ電圧テスト部の一例を説明するためのブロック図である。
【図７】図２に示されたガンマ電圧テスト部の他の一例を説明するためのブロック図である。
【図８】本発明によるガンマ電圧生成装置の更に他の例を説明するためのブロック図である。
【図９】本発明による液晶表示装置を説明するためのブロック図である。
【図１０】図９に示された液晶表示装置の動作を説明するためのブロック図である。
【符号の説明】
【００４０】
１００、２００    ガンマ電圧生成装置
１１０、２１０    ガンマ調整レジスタ部
１２０、２２０    ガンマ基準電圧発生部
１３０、２３０    ガンマ電圧選択部
１４０、２４０    ガンマ電圧出力部
１５０、２５０    ガンマ電圧テスト部
２１２    勾配調整レジスタ
２１４    振幅調整レジスタ
２１６    微細調整レジスタ
２５２、２５４、２５６    スイッチング部
４１０    タイミング制御部
４２０    ガンマ電圧生成部
４３０    データ駆動部
４４０    ゲート駆動部
４５０    液晶表示パネル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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