(57)【要約】【課題】機構を複雑化することなく、スイングアーム方式に３ビーム法または差動プッシュプル法を採用可能にし、アクセス時間を短縮することができるようにした光ディスク装置を実現する。【解決手段】スイングアーム２の先端に設置された対物レンズ３−１によって光ディスク１へ再生光を集光照射し、スイングアーム２の旋回によりアクセス半径を移動するスイングアーム式アクセス機構を備える光ディスク装置において、トラッキングエラー信号を検出するトラッキングエラー検出手段４，８と、トラッキングエラー信号を元に対物レンズをトラック横断方向へ駆動して再生光照射位置をトラック中心に追従させるトラッキング制御手段３，８とを有し、アクチュエータ感度のアクセス半径に伴う増加減少特性とトラッキングエラー信号振幅のアクセス半径に伴う増加減少特性とが逆転するように設定した。【選択図】図１
2006244575.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スイングアーム先端に設置された対物レンズによって光ディスクへ再生光を集光照射し、スイングアームの旋回によりアクセス半径を移動するスイングアーム式アクセス機構を備える光ディスク装置において、
再生光照射位置のトラック中心からのずれ量（以下、トラッキングエラー信号と言う）を検出するトラッキングエラー検出手段と、トラッキングエラー信号を元に前記対物レンズをトラック横断方向へ駆動して再生光照射位置をトラック中心に追従させるトラッキング制御手段とを有し、
対物レンズ移動量に対するトラック横断量比（以下、アクチュエータ感度と言う）のアクセス半径に伴う増加減少特性とトラッキングエラー信号振幅のアクセス半径に伴う増加減少特性とが逆転するように設定されていることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
光ディスクへ再生光を集光照射する対物レンズを光軸直交方向へ微少駆動する対物レンズアクチュエータをスイングアーム先端に有し、スイングアームの旋回によりアクセス半径を移動するスイングアーム式アクセス機構を備える光ディスク装置において、
トラッキングエラー信号を検出するトラッキングエラー検出手段と、前記トラッキングエラー信号を元に前記対物レンズをトラック横断方向へ駆動して再生光照射位置をトラック中心に追従させるトラッキング制御手段とを有し、
アクチュエータ感度のアクセス半径に伴う増加減少特性とトラッキングエラー信号振幅のアクセス半径に伴う増加減少特性とが逆転するように設定されていることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
スイングアーム先端に設置された対物レンズによって光ディスクへ再生光を集光照射し、スイングアームの旋回によりアクセス半径を移動するスイングアーム式アクセス機構を備える光ディスク装置において、
前記再生光は１本のメインビームと２本のサブビームとから成り、少なくとも２本のサブビームを利用してトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー検出手段と、前記トラッキングエラー信号を元に前記対物レンズを駆動してメインビーム照射位置をトラックに追従させるトラッキング制御手段とを有し、
スイングアーム長手方向に対するサブビーム直列方向が固定設定されており、メインビーム照射位置上のトラック接線直交方向と対物レンズ移動方向との成す角が大きくなるアクセス半径にてトラッキングエラー検出感度が高くなるサブビーム照射位置となり、メインビーム照射位置上のトラック接線直交方向と対物レンズ移動方向との成す角が小さくなるアクセス半径にてトラッキングエラー検出感度が低くなるサブビーム照射位置となるように前記サブビーム直列方向が設定されていることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
光ディスクへ再生光を集光照射する対物レンズを光軸直交方向へ微少駆動する対物レンズアクチュエータをスイングアーム先端に有し、スイングアームの旋回によりアクセス半径を移動するスイングアーム式アクセス機構を備える光ディスク装置において、
前記再生光は１本のメインビームと２本のサブビームとから成り、少なくとも２本のサブビームを利用してトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー検出手段と、前記トラッキングエラー信号を元に前記対物レンズを駆動してメインビーム照射位置をトラックに追従させるトラッキング制御手段とを有し、
スイングアーム長手方向に対するサブビーム直列方向が固定設定されており、メインビーム照射位置上のトラック接線直交方向と対物レンズアクチュエータ移動方向との成す角が大きくなるアクセス半径にてトラッキングエラー検出感度が高くなるサブビーム照射位置となり、メインビーム照射位置上のトラック接線直交方向と対物レンズアクチュエータ移動方向との成す角が小さくなるアクセス半径にてトラッキングエラー検出感度が低くなるサブビーム照射位置となるように前記サブビーム直列方向が設定されていることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項３または４記載の光ディスク装置において、
前記トラックエラー検出手段は、２本のサブビーム戻り光の光量差を演算してトラッキングエラー信号を生成する３ビーム検出法を用いた検出手段であり、
メインビーム照射位置上のトラック接線直交方向と対物レンズ移動方向とのずれが大きくなるアクセス半径にてサブビーム照射位置がトラックピッチの（２×ｎ−１）／４（ｎは自然数）へ近づき、トラック接線直交方向と対物レンズ移動方向とのズレが小さくなるアクセス半径にてサブビーム照射位置がトラックピッチの（２×ｎ−１）／４から遠ざかるように設定されていることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項３または４記載の光ディスク装置において、
前記トラッキングエラー検出手段は、メインビーム戻り光のプッシュプル信号から２つのサブビーム戻り光のプッシュプル信号和を減算してトラッキングエラー信号を生成する差動プッシュプル検出法を用いた検出手段であり、
メインビーム照射位置上のトラック接線直交方向と対物レンズ移動方向とのずれが大きくなるアクセス半径にてサブビーム照射位置がトラックピッチの（２×ｎ−１）／２へ近づき、トラック接線直交方向と対物レンズ移動方向とのズレが小さくなるアクセス半径にてサブビーム照射位置がトラックピッチの（２×ｎ−１）/２から遠ざかるように設定されていることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、スイングアーム式のアクセス機構を備える光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
スイングアーム式のアクセス機構を備える光ディスク装置に関する従来技術の一例として、特許文献１には、光ディスク装置に対して回転可能なスイングアームへ光ピックアップを回転可能に搭載し、アクセス半径に応じてアームに対する光ピックアップの回転姿勢を制御することにより光ピックアップを常にトラック接線と平行にし、安定したトラックエラー信号を取得するようにした光ディスク装置が記載されている。
特許文献２には、スイングアーム方式により光ピックアップを移動させるとともに、３ビーム法により信号の読み取り及びトラッキングエラーの検出を行うことができるようにした光ピックアップの移動装置が記載されている。
特許文献３には、スイングアームを伸縮可能に構成し、アクセス半径に応じてアーム長を制御することによって光ピックアップを常にトラック接線と平行にし、安定したトラックエラー信号を取得できるようにした光ピックアップの移動装置が記載されている。
特許文献４には、スイングアーム長手方向とトラック接線とのずれを最内周アクセス時と最外周アクセス時とで略一致するように設定することによりアクセス半径に伴うピックアップ姿勢変動を最少に抑え、安定したトラックエラー検出を可能にする光ディスク装置が記載されている。
【０００３】
【特許文献１】特開平５−１２８５４０号公報
【特許文献２】実開平５―３３３１５号公報
【特許文献３】実開平５−３３３１６号公報
【特許文献４】特開２００２−１３３６９０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ディスク状の記録媒体としては、ＣＤ（コンパクト・ディスク）系の光ディスク（ＣＤ，ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ等）、ＤＶＤ（デジタル・バーサタイル・ディスク）系の光ディスク（ＤＶＤ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ＋Ｒ，ＤＶＤ＋ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ−ＲＡＭ等）、ＤＶＤ−Blue等の高密度光ディスク、あるいは光磁気ディスク（ＭＯ，ＭＤ等）などが知られているが、光ビームを用いてこれらの記録媒体（以下、光磁気ディスクを含めて光ディスクと言う）の情報を読み取り、あるいは光ディスクに情報を書き込む光ディスク装置は、インデックス情報を元に読み書きする場所を割り出し、直接アクセスするランダムアクセス性に優れている。しかし、光ディスク装置はアクセス速度が遅いために、ハードディスク装置のような頻繁にアクセスを繰り返す用途には向かない。ＣＤ系の光ディスクやＤＶＤ系の光ディスクなどの普及している光ディスクでは、シーケンシャルライトしか行われず、読み出し時の頭出しなど限定的な用途にしかランダムアクセスが利用されていない。これは光ピックアップの質量が大きく、光ピックアップ全体を直線的に移動させるため、移動に要する運動量が大きいことがアクセス速度の遅い主因である。
【０００５】
アクセス速度の改善手段として、アクセス機構をスイングアーム方式に変更することが提案されている。このスイングアーム方式では、光ピックアップの質量の大半を占める光学ブロックをスイングアームの回転軸近辺に配置し、光ディスクへ記録再生光を集光する対物レンズをスインクアーム先端に配置することにより、慣性モーメントを抑えて加速性能を向上させることができる。
しかしながら、スイングアーム式のアクセス機構では、トラッキングエラー信号を安定して検出できる３ビーム法や差動プッシュプル法を採用できないという問題がある。
【０００６】
３ビーム法や差動プッシュプル法では、記録再生用のメインスポットとメインスポット両脇にサブスポットを照射するが、３つの光スポットの直列方向をトラック方向に対して所定量ずらすことで、サブスポットを所定位置に照射する。そして３ビーム法では、サブスポットがメインスポットに対して１／４トラックずれた位置に照射されるように光スポット直列方向を定める。また、差動プッシュプル法では、サブスポットがメインスポットに対して１／２トラックずれた位置に照射されるように光スポット直列方向を定める。
しかし、スイングアーム式のアクセス機構では、トラック方向に対するスポット直列方向がアクセス半径に応じて変化してしまうので、メインスポットに対するサブスポットの位置が所定位置に定まらない。メインスポットに対するサブスポットの位置が変動するとトラッキングエラー検出感度が大幅に変動するので、トラッキング制御が成り立たなくなる。
【０００７】
前述の特許文献４に記載の従来技術は、アクセス半径に伴うピックアップの姿勢ずれを最小限に抑えることにより従来のトラッキングエラー検出方式を採用可能にしたものである。しかし、対応できるのは１ビームプッシュプル方式だけであり、３ビーム法や差動プッシュプル法には対応できない。１ビームプッシュプル法など不安定なトラッキングエラー検出方式を採用した場合、アクセス半径移動後の目標トラック引き込みに時間が掛かかってしまうので、移動時間を短縮できてもアクセス速度の改善にはつながらない。
【０００８】
特許文献１や特許文献２に記載の従来技術は、スイングアーム式のアクセス機構で３ビーム法や差動プッシュプル法を利用できるようにすることを目的としたものである。そして、この従来技術では、光ピックアップをスイングアームに対して回転可能に搭載し、スイングアームの旋回に伴うトラック方向の変動を光ピックアップの回転により補正して、常に光ピックアップがトラックと平行になるように保っている。
また、特許文献３に記載の従来技術は、上記とは別の手段にて同じ効果を狙ったものである。すなわち、スイングアームを伸縮自在に構成し、スイングアームの旋回角に応じてアーム長を変化させることによって、スイングアームとスイングアーム先端におけるトラック方向との成す角を一定に保っている。
しかしながら、特許文献１，２や特許文献３に記載の従来技術では、いずれも３ビーム法や差動プッシュプル法を採用可能になるが、機構が複雑化するため、加速性能が損なわれてしまうという問題がある。
【０００９】
本発明は上記事情に鑑みなされたものであり、機構を複雑化することなく、スイングアーム方式に３ビーム法または差動プッシュプル法を採用可能にし、アクセス時間を短縮することができるようにした光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記目的を達成するため、本発明では以下のような技術的手段を採用している。
本発明の第１の手段は、スイングアーム先端に設置された対物レンズによって光ディスクへ再生光を集光照射し、スイングアームの旋回によりアクセス半径を移動するスイングアーム式アクセス機構を備える光ディスク装置において、再生光照射位置のトラック中心からのずれ量（以下、トラッキングエラー信号と言う）を検出するトラッキングエラー検出手段と、トラッキングエラー信号を元に前記対物レンズをトラック横断方向へ駆動して再生光照射位置をトラック中心に追従させるトラッキング制御手段とを有し、対物レンズ移動量に対するトラック横断量比（以下、アクチュエータ感度と言う）のアクセス半径に伴う増加減少特性とトラッキングエラー信号振幅のアクセス半径に伴う増加減少特性とが逆転するように設定されている構成としたものである（請求項１）。
【００１１】
本発明の第２の手段は、光ディスクへ再生光を集光照射する対物レンズを光軸直交方向へ微少駆動する対物レンズアクチュエータをスイングアーム先端に有し、スイングアームの旋回によりアクセス半径を移動するスイングアーム式アクセス機構を備える光ディスク装置において、トラッキングエラー信号を検出するトラッキングエラー検出手段と、前記トラッキングエラー信号を元に前記対物レンズをトラック横断方向へ駆動して再生光照射位置をトラック中心に追従させるトラッキング制御手段とを有し、アクチュエータ感度のアクセス半径に伴う増加減少特性とトラッキングエラー信号振幅のアクセス半径に伴う増加減少特性とが逆転するように設定されている構成としたものである（請求項２）。
【００１２】
本発明の第３の手段は、スイングアーム先端に設置された対物レンズによって光ディスクへ再生光を集光照射し、スイングアームの旋回によりアクセス半径を移動するスイングアーム式アクセス機構を備える光ディスク装置において、前記再生光は１本のメインビームと２本のサブビームとから成り、少なくとも２本のサブビームを利用してトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー検出手段と、前記トラッキングエラー信号を元に前記対物レンズを駆動してメインビーム照射位置をトラックに追従させるトラッキング制御手段とを有し、スイングアーム長手方向に対するサブビーム直列方向が固定設定されており、メインビーム照射位置上のトラック接線直交方向と対物レンズ移動方向との成す角が大きくなるアクセス半径にてトラッキングエラー検出感度が高くなるサブビーム照射位置となり、メインビーム照射位置上のトラック接線直交方向と対物レンズ移動方向との成す角が小さくなるアクセス半径にてトラッキングエラー検出感度が低くなるサブビーム照射位置となるように前記サブビーム直列方向が設定されている構成としたものである（請求項３）。
【００１３】
本発明の第４の手段は、光ディスクへ再生光を集光照射する対物レンズを光軸直交方向へ微少駆動する対物レンズアクチュエータをスイングアーム先端に有し、スイングアームの旋回によりアクセス半径を移動するスイングアーム式アクセス機構を備える光ディスク装置において、前記再生光は１本のメインビームと２本のサブビームとから成り、少なくとも２本のサブビームを利用してトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー検出手段と、前記トラッキングエラー信号を元に前記対物レンズを駆動してメインビーム照射位置をトラックに追従させるトラッキング制御手段とを有し、スイングアーム長手方向に対するサブビーム直列方向が固定設定されており、メインビーム照射位置上のトラック接線直交方向と対物レンズアクチュエータ移動方向との成す角が大きくなるアクセス半径にてトラッキングエラー検出感度が高くなるサブビーム照射位置となり、メインビーム照射位置上のトラック接線直交方向と対物レンズアクチュエータ移動方向との成す角が小さくなるアクセス半径にてトラッキングエラー検出感度が低くなるサブビーム照射位置となるように前記サブビーム直列方向が設定されている構成としたものである（請求項４）。
【００１４】
本発明の第５の手段は、第３または第４の手段の光ディスク装置において、前記トラックエラー検出手段は、２本のサブビーム戻り光の光量差を演算してトラッキングエラー信号を生成する３ビーム検出法を用いた検出手段であり、メインビーム照射位置上のトラック接線直交方向と対物レンズ移動方向とのずれが大きくなるアクセス半径にてサブビーム照射位置がトラックピッチの（２×ｎ−１）／４（ｎは自然数）へ近づき、トラック接線直交方向と対物レンズ移動方向とのズレが小さくなるアクセス半径にてサブビーム照射位置がトラックピッチの（２×ｎ−１）／４から遠ざかるように設定されている構成としたものである（請求項５）。
【００１５】
本発明の第６の手段は、第３または第４の手段の光ディスク装置において、前記トラッキングエラー検出手段は、メインビーム戻り光のプッシュプル信号から２つのサブビーム戻り光のプッシュプル信号和を減算してトラッキングエラー信号を生成する差動プッシュプル検出法を用いた検出手段であり、メインビーム照射位置上のトラック接線直交方向と対物レンズ移動方向とのずれが大きくなるアクセス半径にてサブビーム照射位置がトラックピッチの（２×ｎ−１）／２へ近づき、トラック接線直交方向と対物レンズ移動方向とのズレが小さくなるアクセス半径にてサブビーム照射位置がトラックピッチの（２×ｎ−１）/２から遠ざかるように設定されている構成としたものである（請求項６）。
【発明の効果】
【００１６】
第１、第２の手段の光ディスク装置では、対物レンズアクチュエータ感度のアクセス半径に伴う増加減少特性とトラッキングエラー信号振幅のアクセス半径に伴う増加減少特性とが逆転するように設定したので、両者の変動が打ち消し合い、スイングアーム式アクセス機構特有の欠点であるアクセス半径に伴うトラッキングサーボ系全体のループゲイン変動を解消でき、安定したトラッキング制御が可能となる。
【００１７】
第３、第４の手段の光ディスク装置では、角度変化による検出感度変動が大きくてスイングアーム式アクセス機構に採用できなかったサブビーム利用のトラックエラー検出法の検出感度変動をアクチュエータの感度変動によりキャンセルしたので、オフセットに強いサブビーム利用のトラックエラー検出法をスイングアーム式アクセス機構に採用でき、高速なアクセスが可能となる。
【００１８】
第５の手段の光ディスク装置では、角度変化による検出感度変動が大きくてスイングアーム式アクセス機構に採用できなかった３ビーム検出法を用いたトラッキング検出手段の検出感度変動をアクチュエータの感度変動によりキャンセルしたので、オフセットに強い３ビーム検出法を用いたトラッキング検出手段をスイングアーム式アクセス機構に採用でき、高速なアクセスが可能となる。
また、第６の手段の光ディスク装置では、角度変化による検出感度変動が大きくてスイングアーム式アクセス機構に採用できなかった差動プッシュプル検出法を用いたトラッキング検出手段の検出感度変動をアクチュエータの感度変動によりキャンセルしたので、オフセットに強い差動プッシュプル検出法を用いたトラッキング検出手段をスイングアーム式アクセス機構に採用でき、高速なアクセスが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の構成、動作及び作用効果を図示の実施例に基いて詳細に説明する。
【実施例】
【００２０】
（実施例１）
図１及び図２は本発明の第一実施例を示す光ディスク装置の概略構成図であり、図１は光ディスク１の最内周をアクセスしている状態を示し、図２は最外周をアクセスしている状態を示している。
光ディスク１はシャーシ（図示省略）に固定されたスピンドルモータ（図示省略）によって回転駆動させられる。光ディスク１のデータ領域の最内周半径は２２ｍｍであり、最外周半径は６０ｍｍとなっている。スイングアーム２は旋回支点２−１を中心に旋回可能なようにシャーシ（図示省略）へ軸支されている。
【００２１】
スイングアーム２の一端には対物レンズアクチュエータ３が設置されている。対物レンズアクチュエータ３は対物レンズ３−１をスイングアーム２に対してフォーカシング方向（紙面垂直方向）及びトラッキング方向へ駆動する。スイングアーム２の旋回支点２−１から対物レンズ３−１の光軸までの距離は９０ｍｍに設定されている（以降、スイングアーム２の旋回支点２−１と対物レンズ３−１の光軸とを結ぶ軸線をスイングアーム長手軸と呼ぶ）。対物レンズアクチュエータ３のトラッキング方向は光ディスク１と平行な面内でスイングアーム長手軸に対して垂直となっている。また、最内周アクセス状態にて、スイングアーム長手軸と最内周とが接するようにスイングアーム２の旋回支点２−１の位置が設定されている。光ディスク１の回転中心座標を（0，0）としたとき旋回支点２−１の座標は（90，-22）となる。
【００２２】
スイングアーム２の他端にはコイル６が固定されており、シャーシ（図示省略）に固定された磁気回路７と対になって粗動モータを形成している。この粗動モータを駆動することによりスイングアーム２は旋回支点２−１を軸に旋回する。また、スイングアーム２の旋回支点２−１の近傍にはホロレーザーユニット４とカップリングレンズ５とが固定されている。このホロレーザーユニット４や対物レンズアクチュエータ３及びコイル６は配線９を介して回路基板８に接続されている。
【００２３】
図３はホロレーザーユニットの一例を示す概略断面図であり、このホロレーザーユニット４は、レーザーダイオード４−１と分割受光素子４−２とグレーティング４−３とホログラム４−４とが一体になったモジュールである。
また、図示を省略するが、回路基板８には、スイングアーム駆動機構の駆動回路、対物レンズアクチュエータ３の駆動回路、ホロレーザーユニット４のレーザーダイオード４−１の駆動回路、分割受光素子４−２からの信号を検出してトラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号、情報信号等の各種信号を検出し、その検出した各種信号に基いて上記の各種駆動回路を制御する制御回路、装置外部の各種機器（パーソナルコンピュータ、画像表示装置（ＴＶ、モニター、プロジェクター等）等）に対して情報信号の入出力を行う入出力回路等が設けられている。
【００２４】
ホロレーザーユニット４のレーザーダイオード４−１から出射された光はグレーティング４−３により回折させられ、０次回折光と＋１次回折光と−１次回折光の３本の光束に分離させられる。３本の光束はカップリングレンズ５を透過し、スイングアーム２へ固定された立上げミラー（図示省略）によって紙面垂直方向へ偏向させられ、対物レンズ３−１によって光ディスク１上に集光させられる。光ディスク１へ集光照射させられた光は反射して逆の光路を辿り、ホロレーザーユニット４へ到達する。ホロレーザーユニット４へ到達した光はホログラム４−４によって偏向させられ、分割受光素子４−２へ入射する。
【００２５】
図４はホロレーザーユニット４の各素子の面を示す図であり、（ａ）はホログラム４−４の面、（ｂ）はグレーティング４−３の面、（ｃ）は分割受光素子４−２の受光面をそれぞれ示している。また、図５は０次回折光と＋１次回折光と−１次回折光の光ディスク１上における集光点を示した図であり、同図（ａ）は最内周アクセス状態、同図（ｂ）は最外周アクセス状態を示している。
光ディスク１上における＋１次回折光の集光点と−１次回折光の集光点との間隔が光ディスク１のグルーブピッチGpの２×２．５７倍になるようにグレーティング４−３の回折角が設定されている。また、＋１次回折光の集光点と−１次回折光の集光点とを結ぶ直線（以下、スポット直列方向）がスイングアーム長手軸の垂線に対して−４degの角度を成すようにグレーティング４−３の格子方向が設定されている。
【００２６】
０次回折光が光ディスク１で反射してホロレーザーユニット４へ戻ってきた光は、ホログラム４−４によって領域分割させられ、分割受光素子４−２の受光面の別々の領域へ入射する。具体的にはホログラム４−４の領域Ａを通過した０次回折光は分割受光素子４−２の領域ａ１と領域ａ２の境界へ入射する。ホログラム４−４の領域Ｂを通過した０次回折光は分割受光素子４−２の領域ｂへ入射する。ホログラム４−４の領域Ｃを通過した０次回折光は分割受光素子４−２の領域ｃへ入射する。ホログラム４−４の領域Ｄを通過した０次回折光は分割受光素子４−２の領域ｄ１と領域ｄ２の境界へ入射する。
【００２７】
＋１次回折光が光ディスク１で反射してホロレーザーユニット４へ戻ってきた光も同様にホログラム４−４によって分割させられ、分割受光素子４−２の受光面の別々の領域へ入射する。具体的はホログラム４−４の領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを通過した＋１次回折光はそれぞれ分割受光素子４−２の領域ｅ，ｇ，ｉ，ｍへ入射する。
また、−１次回折光が光ディスク１を反射してホロレーザーユニット４へ戻ってきた光も同様にホログラム４−４によって分割させられ、分割受光素子４−２の受光面の別々の領域へ入射する。具体的にはホログラム４−４の領域Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを通過した−１次回折光はそれぞれ分割受光素子４−２の領域ｆ，ｈ，ｊ，ｎへ入射する。
【００２８】
分割受光素子４−２の各領域は受光量に応じた電気信号を出力する。この電気信号が前述の回路基板８に送られ、制御回路により以下に示すような各種信号が検出される。
ここで、分割受光素子４−２の各領域の出力を[a1]、[a2]、[b]、・・・[m]、[n]としたときに、差動プッシュプル法によるトラッキングエラー信号TEは下記の式１により演算される。
TE＝k1×{([a1]+[a2]+[b])-([d1]+[d2]+[c])}
−[k2×{([e]+[g])-([i]+[m])}+k3×{([f]+[h])-([j]+[n])}]/2    -----（式１）
ここで、
k1＝1/([a1]+[a2]+[b]+[c]+[d1]+[d2])
k2＝1/([e]+[g]+[i]+[m])
k3＝1/([f]+[h]+[j]+[n])
である。
【００２９】
上記の式１中の、
k1×{([a1]+[a2]+[b])-([d1]+[d2]+[c])}
は０次回折光の集光スポットによるプッシュプル信号MPPであり、集光スポットのトラック横断に対して光ディスク１のグルーブピッチGpを１周期とする正弦波信号となる。ここで、アクセス半径をｒ、信号振幅をＰ、オフセット成分をＱとおくと、プッシュプル信号MPPは下記の式２により現せる。
MPP＝k1×{([a1]+[a2]+[b])-([d1]+[d2]+[c])}
＝Ｐ×sin(２π×ｒ/Gp)+Ｑ              -----（式２）
【００３０】
また、上記の式１中の、
k2×{([e]+[g])-([i]+[m])}
及び、
k3×{([f]+[h])-([j]+[n])}
はそれぞれ＋１次回折光、−１次回折光の集光スポットによるプッシュプル信号SPP1，SPP2であり、光ディスク上の照射位置が０次回折光の照射位置から半径方向へ離れている分だけMPP信号の位相をずらした信号となり、下記の式３、式４により現せる。
SPP1＝k2×{([e]+[g])-([i]+[m])}
＝Ｐ×sin{２π×(ｒ-ｓ)/Gp}+Ｑ      -----（式３）
SPP2＝k3×{([f]+[h])-([j]+[n])}
＝Ｐ×sin{２π×(ｒ+ｓ)/Gp}+Ｑ      -----（式４）
【００３１】
上記の式３、式４中のｓは０次回折光の照射位置と＋１次回折光または−１次回折光の照射位置との間隔（以下、スポット間隔と言う）の半径方向成分である。
上記の式２、式３、式４を式１へ代入してまとめると、下記の式５が得られる。
TE＝{1-cos(２π×ｓ/Gp)}×Ｐ×sin(２π×ｒ/Gp)      -----（式５）
【００３２】
上記の式５よりオフセット成分Ｑが除去された安定したトラッキングエラー信号TEが得られることが判る。
式５中の、
cos(２π×ｓ/Gp)}×Ｐ      -----（式６）
はトラッキングエラー信号の振幅Ptとなる。スポット間隔の半径方向成分ｓが、
ｓ＝Gp×(２×ｎ-１)/２    （但し、ｎは自然数）
の時、トラキングエラー信号の振幅Ptが最大となり、MPP信号の振幅Ｐの２倍となる。
また、トラッキングエラー検出感度Keはトラッキングエラー信号の振幅Ptに比例するので、スポット間隔の半径方向成分ｓの変動により検出感度が変動することが判る。
Ke ∝ Pt＝{１−cos(２π×ｓ/Gp)}×Ｐ      -----（式７）
【００３３】
ここで、スイングアームの旋回角をθa、スイングアーム旋回軸の座標を（xL，yL）とおくと、光ディスク１上の０次回折光照射点の座標（xo，yo）は
xo＝xL−xL×cosθa      -----（式８）
yo＝yL−xL×sinθa      -----（式９）
となる。
また、アクセス半径ｒは、
ｒ＝√(xo2＋yo2)＝√{(xL−xL×cosθa)2＋(yL−xL×sinθa)2}    -----（式１０）
となる。
【００３４】
さらに、０次回折光照射点における半径方向がｙ軸と成す角θdは、
θd＝Tan-１(xo/yo)       -----（式１１）
となり、スイングアーム長手軸の垂線が０次回折光照射点における半径方向と成す角Δθは、
Δθ＝θa−θd          -----（式１２）
となる。
また、スポット間隔をDs、スポット直列方向がスイングアーム長手軸の垂線と成す角をθsとおくと、スポット間隔の半径方向成分ｓは、
ｓ＝Ds×cos{２π×(Δθ-θs)}      -----（式１３）
となる。
【００３５】
式８〜１３を式７へ代入すると、旋回角θaとトラッキングエラー検出感度Keの関係を示す下記の式１４が得られる。
Ke∝[1-cos{2π×Ds×cos(2π[θa-Tan-1{(xL-xL×cosθa)/(yL-xL×sinθa)}-θs])/Gp}]
-----（式１４）
【００３６】
対物レンズアクチュエータ３のトラッキング移動方向はスイングアーム２の長手軸方向に対して一定であるので、０次回折光照射点における半径方向とトラッキング移動方向はスイングアーム２の旋回角θaによって変動する。光ディスク１のグルーブは半径方向へグルーブピッチGｐの間隔で刻まれているので、トラッキング移動量に対するグルーブ横断量の比も変動する。以下、本説明ではトラッキング移動量に対するグルーブ横断量の比をアクチュエータ感度（またはアクチュエータ応答感度）と呼ぶ。
【００３７】
旋回角θaに伴うアクチュエータ感度Kaの変化は下記の式１５により現せる。
Ka＝cos(Δθ+θm)
＝cos[θa-Tan-1{(xL-xL×cosθa)/(yL-xL×sinθa)}+θm]      -----（式１５）
上記の式１５で、θmはスイングアーム２の長手軸の垂直方向に対する対物レンズアクチュエータ３のトラッキング移動方向の角度である。
【００３８】
図６は光ディスク装置のトラッキングサーボ系の構成例を示すブロック図である。回路基板８の制御回路に設けられる位相補償フィルタや増幅器は、トラッキングエラー検出手段や対物レンズアクチュエータの特性に合わせて予め各種係数を設定された回路であり、変動は少ない。サーボ系全体のループゲイン変動はトラッキングエラー検出感度の変動と対物レンズアクチュエータ応答感度の変動との積により求まる。
【００３９】
以上のことをまとめると、スイングアーム２の旋回によってアクセス半径ｒを移動するが、旋回角θaとアクセス半径ｒとは下記の式１０の関係がある。
ｒ＝√{(xL-xL×cosθa)2+(yL-xL×sinθa)2}      -----（式１０）
また、スイングアーム２の旋回によってトラッキングエラー検出感度Keは変動してしまうが、旋回角θaと検出感度Keとは下記の式１４の関係がある。
Ke∝[1-cos{2π×Ds×cos(2π[θa-Tan-1{(xL-xL×cosθa)/(yL-xL×sinθa)}-θs])/Gp}]
-----（式１４）
また、スイングアーム２の旋回によってアクチュエータ応答感度Kaは変動してしまうが、旋回角θaとアクチュエータ応答感度Kaとは下記の式１５の関係がある。
Ka＝cos(Δθ+θm)
＝cos[θa-Tan-1{(xL-xL×cosθa)/(yL-xL×sinθa)}+θm]      -----（式１５）
さらに、サーボ系全体のループゲイン変動はトラッキングエラー検出感度Keの変動と対物レンズアクチュエータ応答感度Kaの変動との積により求まる。
【００４０】
第一実施例において、上記の式１０、式１４、式１５で用いられている各パラメータは以下のように設定されている。
・スイングアーム旋回軸座標：（xL，yL）＝（90，-22）
・グルーブピッチ：Gp
・スポット間隔：Ds＝２．５７×Gp
・スイングアーム２長手軸の垂線に対するスポット直列方向：θs＝−４deg
・スイングアーム２長手軸の垂線に対する対物レンズアクチュエータ３のトラッキング移動方向：θm＝０deg
【００４１】
これらのパラメータは、トラッキングエラー検出感度Keが低下している状態ではアクチュエータ応答感度Kaが高く、アクチュエータ応答感度Kaが低下している状態ではトラッキングエラー検出感度Keが高くなるように調整されており、サーボ系全体のループゲイン変動の抑制を狙っている。
【００４２】
図７に第一実施例におけるトラッキングエラー検出感度Keとアクチュエータ応答感度Kaとサーボ系全体のゲイン（総合感度）のアクセス半径に伴う変化を示す。
トラッキングエラー検出感度Keは最外周アクセス時に最大となり、最大検出感度を１００％とすると、内周側アクセス時に約９５％まで低下してしまう。アクチュエータ応答感度Kaは最内周アクセス時に最大となり、最大応答感度を１００％とすると、外周側アクセス時に約９５％まで低下してしまう。
しかし、トラッキングエラー検出感度Keの変化特性とアクチュエータ応答感度Kaの変化特性とが逆転するように設定しているので、総合感度は約９９％への低下に収まっている。
【００４３】
（実施例２）
図８、図９は本発明の第二実施例を示す光ディスク装置の概略構成図であり、図８は光ディスク１の最内周をアクセスしている状態を示し、図９は最外周をアクセスしている状態を示している。また、図１０は０次回折光と＋１次回折光と−１次回折光の光ディスク１上における集光点を示した図であり、同図（ａ）は最内周アクセス状態、同図（ｂ）は最外周アクセス状態を示している。
【００４４】
本実施例では、第一実施例に対して以下の２点の設定が異なり、他は同一である。
・スイングアーム２長手軸の垂線に対するスポット直列方向：θs＝−１３deg
・スイングアーム２長手軸の垂線に対する対物レンズアクチュエータ３のトラッキング移動方向：θm＝−１６．２deg
【００４５】
θsおよびθmの設定を変更すると、トラッキングエラー検出感度Keとアクチュエータ応答感度Kaとサーボ系全体のゲイン（総合感度）のアクセス半径に伴う変化は図１１に示すようになる。
トラッキングエラー検出感度Keは最内周アクセス時に最大となり、最大検出感度を１００％とすると、外周側アクセス時に約９５％まで低下してしまう。アクチュエータ応答感度Kaは最外周アクセス時に最大となり、最大応答感度を１００％とすると、内周側アクセス時に約９５％まで低下してしまう。
しかし、本実施例ではトラッキングエラー検出感度Keの変化特性とアクチュエータ応答感度Kaの変化特性とが逆転するように設定しているので、総合感度は約９９％への低下に収まっている。
【００４６】
なお、光ディスク１の回転を線速一定に制御するＣＬＶの運用では、アクセス半径が内周側になる程、光ディスクの回転数が高くなる。ディスク偏芯によるトラック振れは半径に因らず一定であるので、回転数の高い内周側ほど偏芯加速度が大きくなる。第一実施例では最内周アクセス時に対物レンズアクチュエータ３のトラッキング応答感度が最大になり、ＣＬＶ運用に有利である。
一方、光ディスク１の回転を回転数一定に制御するＣＡＶの運用では、偏芯加速度はアクセス半径に因らず一定であるが、光ディスクの面振れが大きい外周側ほど面振れ加速度が大きくなり、対物レンズアクチュエータ３に要求されるフォーカシング加速度も大きくなる。対物レンズアクチュエータ３のフォーカシング応答感度はアクセス半径によらず一定であるが、トラッキング応答感度が最外周で最大になる第二実施例の方が、アクチュエータ全体の消費電力を抑制でき、ＣＡＶ運用に有利である。
【００４７】
（実施例３）
図１２は本発明の第三実施例を示す光ディスク装置の概略構成図である。また、図１３は０次回折光と＋１次回折光と−１次回折光の光ディスク１上における集光点を示した図であり、光ディスク１の半径３６．５ｍｍをアクセスしている状態を示している。
本実施例は、第一実施例に対して以下の３点の設定が異なり、他は同一である。
・スイングアーム旋回軸座標：（xL，yL）＝（90，-36.5）
・スポット間隔：Ds＝２．５６×Gp
・スイングアーム２長手軸の垂線に対するスポット直列方向：θs＝０deg
【００４８】
旋回軸座標（xL，yL）およびスポット間隔Dsおよびスポット直列方向θsの設定を変更すると、エラー検出感度Keとアクチュエータ応答感度Kaとサーボ系全体のゲイン（総合感度）のアクセス半径に伴う変化は図１４に示すようになる。
エラー検出感度Keは最内周アクセス時および最外周アクセス時に最大となり、半径３６．５ｍｍ付近をアクセスした際に最低となる。また、アクチュエータ応答感度Kaは半径３６．５ｍｍ付近をアクセスした際に最大となり、最内周アクセス時および最外周アクセス時に最低となる。
本実施例ではエラー検出感度Keの変化特性とアクチュエータ応答感度Kaの変化特性とが逆転するように設定しているので、総合感度の変動が抑制されている。
【００４９】
（従来例１）
図１５は差動プッシュプル法における従来例の特性を示した図である。従来例は第一実施例に対して以下の１点の設定が異なり、他は同一である。
・スイングアーム２長手軸の垂線に対するスポット直列方向：θs＝−１３deg
【００５０】
この従来例では、エラー検出感度Keもアクチュエータ応答感度Kaも最内周アクセス時に最適になるように設定されており、外周側アクセス時に低下してしまう。総合感度の変動は両者が強め合い、さらに顕著に低下してしまう。
【００５１】
（実施例４）
図１６は第四実施例で用いられるホロレーザーユニット４の各素子の面を示す図であり、（ａ）はホログラム４−４の面、（ｂ）はグレーティング４−３の面、（ｃ）は分割受光素子４−２の受光面をそれぞれ示している。第四実施例の光ディスク装置の全体構成は図１や図２に示すように第一実施例と同一である。
本実施例は第一実施例に対し、トラッキングエラー検出方法を差動プッシュプル法から３ビーム法へ変更した実施例である。図１や図２に示す第一実施例と同じ全体構成で、ホロレーザーユニット４を第一実施例の図４に示す構成から図１６に示す構成へ変更し、トラッキングエラー信号の演算方法も変更している。
【００５２】
０次回折光が光ディスク１を反射してホロレーザーユニット４へ戻ってきた光はホログラム４−４によって２分割させられ、分割受光素子４−２の別々の領域へ入射する。ホログラム４−４の領域Ａを通過した０次回折光は分割受光素子４−２の領域ａ１と領域ａ２の境界へ入射する。ホログラム４−４の領域Ｂを通過した０次回折光は分割受光素子４−２の領域ｂへ入射する。
【００５３】
＋１次回折光が光ディスク１で反射してホロレーザーユニット４へ戻ってきた光はホログラム４−４によって２分割させられ、両者とも分割受光素子４−２の領域ｃへ入射する。また、−１次回折光が光ディスク１で反射してホロレーザーユニット４へ戻ってきた光はホログラム４−４によって２分割させられ、両者とも分割受光素子４−２の領域ｄへ入射する。
【００５４】
分割受光素子４−２の各領域は受光量に応じた電気信号を出力する。この電気信号が前述の回路基板８に送られ、制御回路により以下に示すような各種信号が検出される。各領域の出力を[a1]、[a2]、[b]、[c]、[d]としたときに、３ビーム法によるトラッキングエラー信号TEは下記の式１６により演算される。
TE＝([c]−[d])      -----（式１６）
【００５５】
光ディスク１のトラック上とトラック間とは反射率が異なるため、０次回折光が光ディスク１で反射した光の受光量出力SUMは集光スポットのトラック横断に対してグルーブピッチGpを１周期とする余弦波信号となる。アクセス半径をｒ、信号振幅をＰ、オフセット成分をＱとおくと、下記の式１７により現せる。
SUM＝([a1]+[a2]+[b])＝-Ｐ×cos(２π×ｒ/Gp)+Ｑ      -----（式１７）
【００５６】
＋１次回折光の受光量出力および−１次回折光の受光量出力は光ディス上の照射位置が０次回折光の照射位置から半径方向へ離れている分だけSUM信号の位相をずらした信号となる。
[c]＝ｋ[-Ｐ×cos{２π×(ｒ-ｓ)/Gp}+Ｑ]      -----（式１８）
[d]＝ｋ[-Ｐ×cos{２π×(ｒ+ｓ)/Gp}+Ｑ]      -----（式１９）
式１８、式１９中のｓはスポット間隔の半径方向成分である。
式１８、式１９を式１６へ代入してまとめると下記の式２０が得られる。
TE＝２sin(２π×ｓ/Gp)×ｋ(-Ｐ)×sin(２π×ｒ/Gp)      -----（式２０）
式２０よりオフセット成分Ｑが除去された安定したトラッキングエラー信号TEが得られることが判る。
【００５７】
式２０中の、
２sin(２π×ｓ/Gp)×ｋ(-Ｐ)      -----（式２１）
は、トラッキングエラー信号振幅Ptとなる。スポット間隔の半径方向成分ｓが、
ｓ＝Gp×(２×ｎ-１)/４    （但し、ｎは自然数）
の時、トラキングエラー信号振幅Ptが最大となる。
また、トラッキングエラー検出感度Keはトラッキングエラー信号振幅Ptに比例するのでスポット間隔の半径方向成分ｓの変動により検出感度が変動することが判る。
Ke ∝ Pt＝２sin(２π×ｓ/Gp)×ｋ(-Ｐ)      -----（式２２）
【００５８】
式８〜１３を式２２へ代入すると、旋回角θaとトラッキングエラー検出感度Keの関係を現す下記の式２３が得られる。
Ke∝sin{2π×Ds×cos(2π[θa−Tan-1{(xL−xL×cosθa)/(yL-xL×sinθa)}-θs])/Gp}
-----（式２３）
【００５９】
旋回角θaとアクセス半径ｒとの関係は第一実施例と同様で、下記の式１０の関係がある。
ｒ＝√{(xL−xL×cosθa)2＋(yL−xL×sinθa)2}      -----（式１０）
また、旋回角θaとアクチュエータ応答感度Kaとの関係も第一実施例と同様で、下記の式１５の関係がある。
Ka＝cos[θa−Tan-1{(xL−xL×cosθa)/(yL−xL×sinθa)}+θm]    -----（式１５）
【００６０】
第四実施例において、上記の式２３、式１０、式１５で用いられている各パラメータは以下のように設定されている。
・スイングアーム旋回軸座標：（xL，yL）＝（90，-22）
・グルーブピッチ：Gp
・スポット間隔：Ds＝２．３×Gp
・スイングアーム２長手軸の垂線に対するスポット直列方向：θs＝−４deg
・スイングアーム２長手軸の垂線に対する対物レンズアクチュエータ３のトラッキング移動方向：θm＝０deg
【００６１】
これらのパラメータは、エラー検出感度Keが低下している状態ではアクチュエータ応答感度Kaが高く、アクチュエータ応答感度Kaが低下している状態ではエラー検出感度が高くなるように調整されており、サーボ系全体のループゲイン変動の抑制を狙っている。
【００６２】
図１７に第四実施例におけるエラー検出感度Keとアクチュエータ応答感度Kaとサーボ系全体のゲイン（総合感度）のアクセス半径に伴う変化を示す。
エラー検出感度Keは最外周アクセス時に最大となり、最大検出感度を１００％とすると、内周側アクセス時に約９５％まで低下してしまう。アクチュエータ応答感度Kaは最内周アクセス時に最大となり、最大応答感度を１００％とすると、外周側アクセス時に約９５％まで低下してしまう。
しかし、本実施例ではエラー検出感度Keの変化特性とアクチュエータ応答感度Kaの変化特性とが逆転するように設定しているので、総合感度は約９８％への低下に収まっている。
【００６３】
（実施例５）
第五実施例は第四実施例に対して以下の２点の設定が異なり、他は同一である。
・スイングアーム２長手軸の垂線に対するスポット直列方向：θs＝−１３deg
・スイングアーム２長手軸の垂線に対する対物レンズアクチュエータ３のトラッキング移動方向：θm＝−１６．２deg
【００６４】
θsおよびθmの設定を変更すると、エラー検出感度Keとアクチュエータ応答感度Kaとサーボ系全体のゲイン（総合感度）のアクセス半径に伴う変化は、図１８に示すようになる。
エラー検出感度Keは最内周アクセス時に最大となり、最大検出感度を１００％とすると、外周側アクセス時に約９５％まで低下してしまう。アクチュエータ応答感度Kaは最外周アクセス時に最大となり、最大応答感度を１００％とすると、内周側アクセス時に約９５％まで低下してしまう。
しかし、本実施例ではエラー検出感度Keの変化特性とアクチュエータ応答感度Kaの変化特性とが逆転するように設定しているので、総合感度は約９８％への低下に収まっている。
【００６５】
（実施例６）
第六実施例は第四実施例に対して以下の３点の設定が異なり、他は同一である。
・スイングアーム旋回軸座標：（xL，yL）＝（90，-36.5）
・スポット間隔：Ds＝２．２９×Gp
・スイングアーム２長手軸の垂線に対するスポット直列方向：θs＝０deg
【００６６】
旋回軸座標（xL，yL）およびスポット間隔Dsおよびスポット直列方向θsの設定を変更すると、エラー検出感度Keとアクチュエータ応答感度Kaとサーボ系全体のゲイン（総合感度）のアクセス半径に伴う変化は図１９に示すようになる。
エラー検出感度Keは最内周アクセス時および最外周アクセス時に最大となり、半径３６．５ｍｍ付近をアクセスした際に最低となる。また、アクチュエータ応答感度Kaは半径３６．５ｍｍ付近をアクセスした際に最大となり、最内周アクセス時および最外周アクセス時に最低となる。
しかし、本実施例ではエラー検出感度Keの変化特性とアクチュエータ応答感度Kaの変化特性とが逆転するように設定しているので、総合感度の変動が抑制されている。
【００６７】
（従来例２）
図２０は３ビーム法における従来例の特性を示した図である。従来例は第四実施例に対して以下の１点の設定が異なり、他は同一である。
・スイングアーム２長手軸の垂線に対するスポット直列方向：θs＝−１３deg
【００６８】
この従来例では、エラー検出感度Keもアクチュエータ応答感度Kaも最内周アクセス時に最適になるように設定されており、外周側アクセス時に低下してしまう。総合感度の変動は両者が強め合い、更に顕著に低下してしまう。
【００６９】
以上、実施例に基いて説明したように、本発明に係る光ディスク装置では、スイングアーム式アクセス機構特有の欠点であるアクセス半径に伴うトラッキングサーボ系全体のループゲイン変動を解消でき、安定したトラッキング制御が可能となる。
また、本発明に係る光ディスク装置では、角度変化による検出感度変動が大きくてスイングアーム式アクセス機構に採用できなかったサブビーム利用のトラックエラー検出法の検出感度変動をアクチュエータの感度変動によりキャンセルしたので、オフセットに強いサブビーム利用のトラックエラー検出法をスイングアーム式アクセス機構に採用でき、高速なアクセスが可能となる。
【００７０】
より具体的には、本発明に係る光ディスク装置では、角度変化による検出感度変動が大きくてスイングアーム式アクセス機構に採用できなかった差動プッシュプル検出法を用いたトラッキング検出手段の検出感度変動をアクチュエータの感度変動によりキャンセルしたので、オフセットに強い差動プッシュプル検出法を用いたトラッキング検出手段をスイングアーム式アクセス機構に採用でき、高速なアクセスが可能となる。
また、本発明に係る光ディスク装置では、角度変化による検出感度変動が大きくてスイングアーム式アクセス機構に採用できなかった３ビーム検出法を用いたトラッキング検出手段の検出感度変動をアクチュエータの感度変動によりキャンセルしたので、オフセットに強い３ビーム検出法を用いたトラッキング検出手段をスイングアーム式アクセス機構に採用でき、高速なアクセスが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】本発明の第一実施例を示す光ディスク装置の概略構成図である。
【図２】本発明の第一実施例を示す光ディスク装置の概略構成図である。
【図３】ホロレーザーユニットの一例を示す概略断面図である。
【図４】第一実施例で用いられるホロレーザーユニットの各素子の面を示す図であり、（ａ）はホログラムの面、（ｂ）はグレーティングの面、（ｃ）は分割受光素子の受光面をそれぞれ示す平面図である。
【図５】０次回折光と＋１次回折光と−１次回折光の光ディスク上における集光点を示した図であり、（ａ）は最内周アクセス状態、（ｂ）は最外周アクセス状態を示す図である。
【図６】光ディスク装置のトラッキングサーボ系の構成を示すブロック図である。
【図７】第一実施例におけるトラッキングエラー検出感度とアクチュエータ応答感度とサーボ系全体のゲイン（総合感度）のアクセス半径に伴う変化を示す図である。
【図８】本発明の第二実施例を示す光ディスク装置の概略構成図である。
【図９】本発明の第二実施例を示す光ディスク装置の概略構成図である。
【図１０】０次回折光と＋１次回折光と−１次回折光の光ディスク１上における集光点を示した図であり、（ａ）は最内周アクセス状態、（ｂ）は最外周アクセス状態を示す図である。
【図１１】第二実施例におけるトラッキングエラー検出感度とアクチュエータ応答感度とサーボ系全体のゲイン（総合感度）のアクセス半径に伴う変化を示す図である。
【図１２】本発明の第三実施例を示す光ディスク装置の概略構成図である。
【図１３】０次回折光と＋１次回折光と−１次回折光の光ディスク上における集光点を示した図である。
【図１４】第三実施例におけるトラッキングエラー検出感度とアクチュエータ応答感度とサーボ系全体のゲイン（総合感度）のアクセス半径に伴う変化を示す図である。
【図１５】差動プッシュプル法における従来例の特性を示した図である。
【図１６】第四実施例で用いられるホロレーザーユニットの各素子の面を示す図であり、（ａ）はホログラムの面、（ｂ）はグレーティングの面、（ｃ）は分割受光素子の受光面をそれぞれ示す平面図である。
【図１７】第四実施例におけるトラッキングエラー検出感度とアクチュエータ応答感度とサーボ系全体のゲイン（総合感度）のアクセス半径に伴う変化を示す図である。
【図１８】第五実施例におけるトラッキングエラー検出感度とアクチュエータ応答感度とサーボ系全体のゲイン（総合感度）のアクセス半径に伴う変化を示す図である。
【図１９】第六実施例におけるトラッキングエラー検出感度とアクチュエータ応答感度とサーボ系全体のゲイン（総合感度）のアクセス半径に伴う変化を示す図である。
【図２０】３ビーム法における従来例の特性を示した図である。
【符号の説明】
【００７２】
１：光ディスク
２：スイングアーム
２−１：旋回支点
３：対物レンズアクチュエータ
３−１：対物レンズ
４：ホロレーザーユニット
４−１：レーザーダイオード
４−２：分割受光素子
４−３：グレーティング
４−４：ホログラム
５：カップリングレンズ
６：コイル
７：磁気回路
８：回路基板
【図１】
2006244575.tif 000003
【図２】
2006244575.tif 000004
【図３】
2006244575.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2006244575.tif 000009
【図８】
2006244575.tif 000010
【図９】
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【図１０】
2006244575.tif 000012
【図１１】
2006244575.tif 000013
【図１２】
2006244575.tif 000014
【図１３】
2006244575.tif 000015
【図１４】
2006244575.tif 000016
【図１５】
2006244575.tif 000017
【図１６】
2006244575.tif 000018
【図１７】
2006244575.tif 000019
【図１８】
2006244575.tif 000020
【図１９】
2006244575.tif 000021
【図２０】
2006244575.tif 000022