(57)【要約】【課題】  平面検出器の部分撮像領域を用いてＸ線撮影を行なう際に、部分撮影領域を被検体に接近して設定することによりＸ線被曝量の低減をはかる。【解決手段】  平面検出器２１の撮像可能領域内に部分撮像領域を設定して被検体１５０に対し斜め方向からＸ線撮影を行なう際に、平面検出器２１の近傍に装着した干渉検知部８によって平面検出器２１と被検体１５０との干渉（接触）を検知する。一方、移動可否報知部９は、干渉検知部８から供給された検知信号に基づいて部分撮像領域の移動方向とこの移動方向に対する移動可否を判定し、得られた移動可否情報を表示部６において報知する。そして、移動機構部３及び部分撮像領域設定部７は、前記移動可否情報に基づいて平面検出器２１及びこの平面検出器２１における部分撮像領域を所定方向に移動することにより部分撮像領域と被検体１５０との距離を短縮する。【選択図】  図１
2006218216.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体に対してＸ線を放射するＸ線管を有したＸ線発生手段と、
前記被検体を透過したＸ線を検出する平面検出器を有したＸ線検出手段と、
前記平面検出器の撮像可能領域に対して部分撮像領域を設定する部分撮像領域設定手段と、
前記部分撮像領域にて検出した前記被検体の透過Ｘ線に基づいて画像データを生成する画像データ生成手段と、
前記平面検出器と前記被検体との干渉を検知する干渉検知手段と、
この干渉検知手段による検知信号に基づいて前記部分撮像領域の移動可否の判定及び報知を行なう移動可否報知手段とを
備えたことを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項２】
前記平面検出器を移動する検出器移動手段を備え、前記移動可否報知手段によって報知された前記部分撮像領域の移動可否情報に基づいて、前記部分撮像領域設定手段は、前記部分撮像領域を前記撮像可能領域内の所定方向に移動し、前記検出器移動手段は、前記平面検出器を前記部分撮像領域の移動方向に対して反対方向に移動することを特徴とする請求項１記載のＸ線診断装置。
【請求項３】
被検体に対してＸ線を放射する第１のＸ線管及び第２のＸ線管を有したＸ線発生手段と、
前記被検体を介し前記第１のＸ線管から放射されたＸ線を検出する第１の平面検出器と前記第２のＸ線管から放射されたＸ線を検出する第２の平面検出器を有したＸ線検出手段と、
前記第１の平面検出器及び前記第２の平面検出器の各々の撮像可能領域に対して部分撮像領域を設定する部分撮像領域設定手段と、
前記部分撮像領域にて検出した前記被検体の透過Ｘ線に基づいて画像データを生成する画像データ生成手段と、
前記第１の平面検出器と前記第２の平面検出器との干渉を検知する干渉検知手段と、
この干渉検知手段による検知信号に基づいて前記部分撮像領域の移動可否の判定及び報知を行なう移動可否報知手段とを
備えたことを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項４】
前記部分撮像領域設定手段は、前記移動可否報知手段によって報知された前記部分撮像領域の移動可否情報に基づいて、前記部分撮像領域を前記撮像可能領域内の所定方向に移動することを特徴とする請求項３記載のＸ線診断装置。
【請求項５】
前記部分撮像領域設定手段は、前記部分撮像領域を前記平面検出器の干渉部位方向に移動することを特徴とする請求項２又は請求項４に記載したＸ線診断装置。
【請求項６】
前記移動可否報知手段は、前記移動可否の情報を前記画像データ生成手段が生成した画像データと共に表示することを特徴とする請求項１又は請求項３に記載したＸ線診断装置。
【請求項７】
前記移動可否報知手段は音声出力手段を備え、前記移動可否の情報を音声によって報知することを特徴とする請求項１又は請求項３に記載したＸ線診断装置。
【請求項８】
前記干渉検知手段は、前記平面検出器の周囲に備えられた接触センサあるいは非接触センサにより前記干渉を検知することを特徴とする請求項１又は請求項３に記載したＸ線診断装置。
【請求項９】
前記干渉検知手段は、前記平面検出器の位置情報と予め設定された被検体干渉モデルの位置情報に基づいて前記干渉を検知することを特徴とする請求項１記載のＸ線診断装置。
【請求項１０】
前記Ｘ線発生手段は、前記Ｘ線管が放射したＸ線を前記部分撮像領域に絞りこむＸ線絞り手段を備えていることを特徴とする請求項１又は請求項３に記載したＸ線診断装置。
【請求項１１】
画像データ生成手段が、被検体の周囲で移動する１つ又は複数の平面検出器における部分撮像領域にて検出された投影データに基づいて画像データを生成するステップと、
干渉検知手段が、前記平面検出器と前記被検体あるいは他の平面検出器との干渉を検知するステップと、
移動可否報知手段が、前記干渉検知手段による干渉検知結果に基づいて前記平面検出器の干渉部位方向に対する前記部分撮影領域の移動可否を判定するステップと、
前記移動可否報知手段が、前記移動可否の情報を報知するステップと、
部分撮像領域設定手段が、前記移動可否報知手段によって報知された移動可否の情報に基づいて前記部分撮像領域を前記平面検出器の干渉部位方向に移動するステップとを
有することを特徴とするＸ線撮影方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線診断装置及びＸ線撮影方法に係り、特に、部分読み出しが可能な平面検出器を用いてＸ線撮影を行なうＸ線診断装置及びＸ線撮影方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線診断装置やＭＲＩ装置、あるいはＸ線ＣＴ装置などを用いた医用画像診断は、コンピュータ技術の発展に伴って急速な進歩を遂げ、今日の医療において必要不可欠なものとなっている。
【０００３】
Ｘ線診断は、近年ではカテーテル手技の発展に伴い循環器分野を中心に進歩を遂げている。循環器診断用のＸ線診断装置は、Ｘ線発生部とＸ線検出部、これらを保持する保持機構と、寝台（天板）及び信号処理部を備えている。そして、保持機構はＣアームあるいはΩアームが用いられ、天板片持ち方式の寝台と組み合わせることによって受検者（以下では、被検体と呼ぶ）に対して最適な位置や角度からのＸ線撮影を可能にしている。
【０００４】
Ｘ線診断装置のＸ線検出部に用いられる検出器は、従来、Ｘ線フィルムやＩ．Ｉ．（イメージ・インテンシファイア）が使用されてきた。このＩ．Ｉ．を用いたＸ線撮影方法では、Ｘ線発生部のＸ線管から発生したＸ線によって被検体を照射し、このとき被検体を透過して得られるＸ線投影データ（以下では、投影データと呼ぶ）は、Ｉ．Ｉ．において光学画像に変換され、更に、この光学画像はＸ線ＴＶカメラによって撮影され電気信号に変換される。そして、電気信号に変換された投影データはＡ／Ｄ変換後、モニタに表示される。このため、Ｉ．Ｉ．を用いた撮影方法は、フィルム方式では不可能であったリアルタイム撮影を可能とし、又、デジタル信号で投影データの収集ができるため、種々の画像処理が可能となった。
【０００５】
このようなＩ．Ｉ．を使用したＸ線撮影方法の一つとして、Ｉ．Ｉ．の撮像面（以下では、撮像可能領域と呼ぶ。）の略中心部に設定された撮像領域（以下では、部分撮像領域と呼ぶ。）において検出された投影データを光学画像として所定の大きさに拡大表示する方法が臨床の場で行なわれている。この場合、Ｉ．Ｉ．の前記撮像面に生成された投影データは、電子レンズによって所定の大きさに拡大されＩ．Ｉ．の出力面において光学画像として出力される。
【０００６】
しかしながら、Ｉ．Ｉ．の端部では、中央部と比較して許容できない画像歪が発生し解像度が劣化する。このため、拡大表示をする場合にはＩ．Ｉ．の中央部に設定された比較的狭い部分撮像領域のみを使用し、この部分撮像領域に被検体の撮影対象部位を対応させるために被検体を天板（寝台）と共に移動させる必要があった。Ｘ線撮影中における上述の被検体移動は、特に、造影剤を用いた循環器領域の検査において高い頻度で行なわれ、被検体にとって大きな負担となっていた。
【０００７】
一方、前記Ｉ．Ｉ．に替わるものとして、近年、微小な固体センサが２次元配列されたＸ線平面検出器（以下、平面検出器）が注目を集め、その一部は既に実用化の段階に入っている。この平面検出器は、Ｉ．Ｉ．の欠点であった端部の画像歪が極めて少ないため、如何なる領域を用いても拡大表示を行なうことができる。
【０００８】
そして、上述の平面検出器を使用した拡大表示では、Ｘ線絞り器の移動によってＸ線照射方向を制御し、Ｘ線検出部あるいは被検体を移動することなく被検体の撮影対象部位を更新する方法が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。
【特許文献１】特開平１１−３１８８７７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところで、Ｘ線診断装置では、Ｘ線検出部において検出されるＸ線透過量の平均値が略一定になるようにＸ線管から照射されるＸ線量が制御されるため、被検体に照射されるＸ線量（Ｘ線被曝量）を低減させた状態で高感度の画像データを得るためにはＸ線検出部の部分撮像領域を被検体に可能な限り接近させることが望ましい。
【００１０】
しかしながら、被検体表面に対してＸ線検出部の表面が傾斜して設定される場合にはＸ線検出部の端部と被検体表面が干渉（接触）し、又、バイプレーンシステムによるＸ線撮影では、各々のＸ線検出部の端部が互いに干渉する場合が多い。このため、Ｘ線検出部の中心部分に設定した部分撮像領域を用いＸ線撮影を行なう場合には、この部分撮像領域を被検体に接近させることが困難となる。
【００１１】
図１６は、被検体１５０の体軸（Ｙ軸）に対してＸ線検出部２１の撮像面をα度傾斜させて設定した場合を示しており、この場合、Ｘ線検出部２１を被検体１５０に近づけることによりその端部が被検体１５０の体表面に接触するため、Ｘ線検出部２１の中央部に設定された部分撮像領域２１−Ｘを被検体１５０に接近させることが困難となる。従がって、被検体１５０を透過したＸ線は、部分撮像領域２１−Ｘと被検体１５０との距離の増大に伴って減衰して部分撮像領域２１−Ｘにて検出され、この減衰に伴う感度劣化を補償するために高Ｘ線量のＸ線がＸ線管１５より被検体１５０に照射される。
【００１２】
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、Ｘ線検出部に対する干渉情報に基づいてＸ線検出部における部分撮像領域の位置を変更することにより、被検体に対するＸ線被曝量を低減した状態で高感度の画像データを生成することが可能なＸ線診断装置及びＸ線撮影方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するために、請求項１に係る本発明のＸ線診断装置は、被検体に対してＸ線を放射するＸ線管を有したＸ線発生手段と、前記被検体を透過したＸ線を検出する平面検出器を有したＸ線検出手段と、前記平面検出器の撮像可能領域に対して部分撮像領域を設定する部分撮像領域設定手段と、前記部分撮像領域にて検出した前記被検体の透過Ｘ線に基づいて画像データを生成する画像データ生成手段と、前記平面検出器と前記被検体との干渉を検知する干渉検知手段と、この干渉検知手段による検知信号に基づいて前記部分撮像領域の移動可否の判定及び報知を行なう移動可否報知手段とを備えたことを特徴としている。
【００１４】
又、請求項３に係る本発明のＸ線診断装置は、被検体に対してＸ線を放射する第１のＸ線管及び第２のＸ線管を有したＸ線発生手段と、前記被検体を介し前記第１のＸ線管から放射されたＸ線を検出する第１の平面検出器と前記第２のＸ線管から放射されたＸ線を検出する第２の平面検出器を有したＸ線検出手段と、前記第１の平面検出器及び前記第２の平面検出器の各々の撮像可能領域に対して部分撮像領域を設定する部分撮像領域設定手段と、前記部分撮像領域にて検出した前記被検体の透過Ｘ線に基づいて画像データを生成する画像データ生成手段と、前記第１の平面検出器と前記第２の平面検出器との干渉を検知する干渉検知手段と、この干渉検知手段による検知信号に基づいて前記部分撮像領域の移動可否の判定及び報知を行なう移動可否報知手段とを備えたことを特徴としている。
【００１５】
一方、請求項１１に係る本発明のＸ線撮影方法は、画像データ生成手段が、被検体の周囲で移動する１つ又は複数の平面検出器における部分撮像領域にて検出された投影データに基づいて画像データを生成するステップと、干渉検知手段が、前記平面検出器と前記被検体あるいは他の平面検出器との干渉を検知するステップと、移動可否報知手段が、前記干渉検知手段による干渉検知結果に基づいて前記平面検出器の干渉部位方向に対する前記部分撮影領域の移動可否を判定するステップと、前記移動可否報知手段が、前記移動可否の情報を報知するステップと、部分撮像領域設定手段が、前記移動可否報知手段によって報知された移動可否の情報に基づいて前記部分撮像領域を前記平面検出器の干渉部位方向に移動するステップとを有することを特徴としている。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、Ｘ線検出部に対する干渉情報に基づいてＸ線検出部における部分撮像領域の位置を変更することにより、被検体に対するＸ線被曝量を低減した状態で高感度の画像データを生成することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、図面を参照して本発明の実施例を説明する。
【実施例１】
【００１８】
以下に述べる本発明の第１の実施例では、平面検出器の撮像可能領域内に所定サイズの部分撮像領域を設定して当該被検体の体軸に対し斜め方向からＸ線撮影を行なう際に、平面検出器の近傍に装着した干渉検知部によって平面検出器と被検体との干渉（接触）を検知する。そして、移動可否報知部は、干渉検知部から供給された検知信号に基づいて部分撮像領域と被検体との距離短縮を目的とした部分撮像領域の移動方向とこの移動方向に対する移動可否を判定し、得られた移動可否情報を報知する。
【００１９】
次いで、前記移動可否情報に基づいて平面検出器及びこの平面検出器における部分撮像領域を所定方向に移動することにより部分撮像領域と被検体との距離を短縮する。
【００２０】
（装置の構成）
本発明の第１の実施例におけるＸ線診断装置の構成につき図１乃至図９を用いて説明する。図１は、Ｘ線診断装置の全体構成を示すブロック図、図２は、Ｘ線診断装置に用いられるＸ線絞り器の構造を示す図、図３及び図４は、平面検出器及びＸ線検出部の構成を示す図である。
【００２１】
図１のＸ線診断装置１００は、被検体１５０に対してＸ線を発生するためのＸ線発生部１２と、被検体１５０を透過したＸ線を２次元的に検出すると共に、この検出結果に基づいて投影データを生成するＸ線検出部２と、Ｘ線発生部１２のＸ線照射部１とＸ線検出部２（以下、これらを纏めて撮像系と呼ぶ。）を保持する図示しない保持部と、被検体１５０を載置する天板１７と、前記撮像系及び天板１７の移動とその制御を行なう移動機構部３と、Ｘ線検出部２において生成された投影データに基づいて画像データの生成と保存を行なう画像データ生成記憶部５と、この画像データ生成記憶部５において生成された画像データを表示する表示部６を備えている。
【００２２】
更に、Ｘ線診断装置１００は、Ｘ線検出部２における部分撮像領域を設定する部分撮像領域設定部７と、Ｘ線検出部２の近傍に装着された干渉検知部８と、この干渉検知部８から出力された検知信号に基づいて部分撮像領域の移動可否あるいは移動方向の判定とその報知を行なう移動可否報知部９と、各種撮像条件の設定や各種コマンドの入力等を行なう入力部１０と、Ｘ線診断装置１００の上記各ユニットを統括して制御するシステム制御部１１を備えている。
【００２３】
Ｘ線発生部１２は、Ｘ線照射部１と高電圧発生部４から構成されており、Ｘ線照射部１はＸ線管１５とＸ線絞り器１６を備え、高電圧発生部４は、高電圧発生器４２と高電圧制御部４１を備えている。Ｘ線照射部１のＸ線管１５は、Ｘ線を発生する真空管であり、陰極（フィラメント）より放出された電子を高電圧によって加速させてタングステン陽極に衝突させＸ線を発生する。
【００２４】
一方、Ｘ線絞り器１６は、撮影対象部位にのみＸ線を照射することによって被曝線量の低減と画質向上を行なう目的で用いられており、例えば、図２に示すようにＸ線管１５から照射されたコーンビームをＸ線検出部２の撮像可能領域内に設定された部分撮像領域に照射させるための線錐制限羽根（上羽根）１６１と、上羽根１６１に連動して散乱線や漏れ線量の低減を行なうための下羽根１６２や焦点外Ｘ線を効果的に低減させるための図示しない焦点外Ｘ線低減羽根（円形羽根）が設けられている。又、吸収量が少ない媒質を透過したＸ線を選択的に低減させてハレーションを防止するための補償フィルタ１６３を備えている。
【００２５】
更に、Ｘ線絞り器１６は、上述の上羽根１６１、下羽根１６２、円形羽根及び補償フィルタ１６３（以下、これらを纏めてＸ線絞り羽根１６０と呼ぶ。）を移動しＸ線照射角度βを設定するための移動機構１６４（移動機構１６４−ａ乃至１６４−ｃ）を備えている。
【００２６】
次に、図１の高電圧発生部４における高電圧発生器４２は、Ｘ線管１５の陰極から発生する熱電子を加速するために、陽極と陰極の間に印加する高電圧を発生させ、高電圧制御部４１は、システム制御部１１を介して入力部１０から供給されたＸ線照射条件に基づいて高電圧発生器４２の管電流／管電圧、照射時間、照射繰返し周期等を制御する。
【００２７】
又、Ｘ線検出部２は、被検体１５０を透過したＸ線を電荷に変換して蓄積する平面検出器２１と、平面検出器２１に蓄積された電荷を読み出すためのゲートドライバ２２と、読み出された電荷からＸ線投影データを生成する投影データ生成部１３を備えている。尚、Ｘ線検出方式には、Ｘ線を直接電荷に変換する方式と、一旦光に変換した後電荷に変換する方式があり、本実施例では前者を例に説明するが後者であっても構わない。
【００２８】
即ち、平面検出器２１は、図３に示すように微小な検出素子５１を列方向及びライン方向に２次元的に配列して構成されており、各々の検出素子５１はＸ線を感知し、入射Ｘ線量に応じて電荷を生成する光電膜５２と、光電膜５２に発生した電荷を蓄積する電荷蓄積コンデンサ５３と、電荷蓄積コンデンサ５３に蓄積された電荷を所定のタイミングで読み出すＴＦＴ（薄膜トランジスタ）５４を備えている。以下では説明を簡単にするために、例えば、検出素子５１が列方向（図３の上下方向）、及びライン方向（図３の左右方向）に２素子づつ配列されている場合の平面検出器２１の構成について説明する。
【００２９】
図３に示した平面検出器２１では、光電膜５２−１１、５２−１２、５２−２１、５２−２２の第１の端子と、電荷蓄積コンデンサ５３−１１、５３−１２、５３−２１、５３−２２の第１の端子とが接続され、更に、その接続点はＴＦＴ５４−１１、５４−１２、５４−２１、５４−２２のソース端子へ接続される。一方、光電膜５２−１１、５２−１２、５２−２１、５２−２２の第２の端子は、図示しないバイアス電源に接続され、電荷蓄積コンデンサ５３−１１、５３−１２、５３−２１、５３−２２の第２の端子は接地される。更に、ライン方向のＴＦＴ５４−１１及びＴＦＴ５４−２１のゲートはゲートドライバ２２の出力端子２２−１に共通接続され、又、ＴＦＴ５４−１２、及びＴＦＴ５４−２２のゲートはゲートドライバ２２の出力端子２２−２に共通接続される。
【００３０】
又、列方向のＴＦＴ５４−１１及び５４−１２のドレイン端子は信号出力線５９−１に共通接続され、ＴＦＴ５４−２１及び５４−２２のドレイン端子は信号出力線５９−２にそれぞれ共通接続される。そして、信号出力線５９−１、５９−２は投影データ生成部１３に接続されている。
【００３１】
一方、ゲートドライバ２２は、Ｘ線照射によって検出素子５１の光電膜５２で発生し電荷蓄積コンデンサ５３にて蓄積される信号電荷を読み出すために、ＴＦＴ５４のゲート端子に読み出し用の駆動パルスを供給する。
【００３２】
図１に戻って、Ｘ線検出部２の投影データ生成部１３は、平面検出器２１から読み出された電荷を電圧に変換する電荷／電圧変換器２３と、電荷／電圧変換器２３の出力をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器２４と、平面検出器２１からライン単位でパラレルに読み出されデジタル変換されたＸ線投影データを時系列信号に変換するパラレル／シリアル変換器２５を備えている。尚、上述の電荷／電圧変換器２３及びＡ／Ｄ変換器２４は、平面検出器２１における信号出力線５９と等しいチャンネル数から構成されている。
【００３３】
次に、Ｘ線検出部２の更に詳細な構成を示した図４と平面検出器２１の部分撮像領域２１−Ｘにおける信号読み出しのタイムチャートを示した図５を用いてＸ線検出部２の基本動作を説明する。但し、図４では実際に信号が読み出される上述の部分撮像領域２１−Ｘのみを示している。
【００３４】
図４において、平面検出器２１における部分撮像領域２１−Ｘはライン方向にＭ個、列方向にＮ個２次元配列された検出素子５１から構成されている。この部分撮像領域２１―Ｘにおいて、ライン方向に配列されたＭ個の検出素子５１のそれぞれの駆動端子（即ち、図３に示すＴＦＴ５４のゲート端子）は共通接続され、ゲートドライバ２２の出力端子に接続される。例えば、ゲートドライバ２２の出力端子２２−１は検出素子５１−１１、５１−２１、５１−３１、・・・５１−Ｍ１の各駆動端子に接続され、ゲートドライバ２２の出力端子２２−Ｎは検出素子５１−１Ｎ、５１−２Ｎ、５１−３Ｎ、・・・５１−ＭＮの各駆動端子に接続される。
【００３５】
一方、列方向に配列されたＮ個の検出素子５１のそれぞれの出力端子（即ち、図３に示すＴＦＴ５４のドレイン端子）は信号出力線５９に共通接続され、この信号出力線５９は、投影データ生成部１３の電荷／電圧変換器２３の入力端子に接続される。例えば、検出素子５１−１１、５１−１２、５１−１３、・・・５１−１Ｎの出力端子は信号出力線５９−１に共通接続され、この信号出力線５９−１は電荷／電圧変換器２３−１に接続される。同様にして、検出素子５１−Ｍ１、５１−Ｍ２、５１−Ｍ３、・・・５１−ＭＮの出力端子は信号出力線５９−Ｍに共通接続され、この信号出力線５９−Ｍは電荷／電圧変換器２３−Ｍに接続される。
【００３６】
図５は、Ｘ線の照射タイミング、ゲートドライバ２２の出力信号及び検出素子５１の出力信号を示したものであり、システム制御部１１からの制御信号に基づいて、Ｘ線照射部１は図５（ａ）の時間ｔ０ａ乃至ｔ０ｂの期間に被検体１５０に対してＸ線を照射し、検出素子５１は被検体１５０を透過したＸ線を受信して、そのＸ線照射強度に比例した信号電荷を電荷蓄積コンデンサ５３（図３参照）に蓄積する。このＸ線照射が終了すると、検出素子５１の電荷蓄積コンデンサ５３に蓄積された電荷を読み出すために、システム制御部１１はゲートドライバ２２にクロックパルスを供給し、ゲートドライバ２２は、その出力端子２２−１乃至２２−Ｎから図５（ｂ）乃至図５（ｄ）に示すような駆動パルスを順次出力する。但し、図５では出力端子２２−３までの駆動パルス、及び第１乃至第３ラインの出力信号のみを図示している。
【００３７】
ＴＦＴ５４のゲート端子に読み出し用の駆動パルス（ＯＮ電圧）が供給されると、ＴＦＴ５４が導通（ＯＮ）状態となり、電荷蓄積コンデンサ５３に蓄えられた信号電荷が信号出力線５９に出力される。
【００３８】
図５（ａ）の時間ｔ０ａ乃至ｔ０ｂの期間においてＸ線の照射が行われた後、ゲートドライバ２２の出力端子２２−１は時間ｔ１ａ乃至ｔ１ｂの期間においてＯＮ電圧になり（図５（ｂ））、第１ラインの検出素子５１−１１、５１−２１，・・・，５１−Ｍ１を駆動する。これにより第１ラインの検出素子５１−１１、・・・５１−Ｍ１の電荷蓄積コンデンサ５３−１１、・・・５３−Ｍ１に蓄積された信号電荷が信号出力線５９−１乃至５９−Ｍに出力される。信号出力線５９−１乃至５９−Ｍに出力された信号電荷は、電荷／電圧変換器２３−１乃至２３−Ｍにおいて電荷から電圧に変換され、更に、Ａ／Ｄ変換器２４−１乃至２４−Ｍにおいてデジタル信号に変換され、パラレル／シリアル変換器２５のメモリ２５−１乃至２５−Ｍに保存される。そして、システム制御部１１は、メモリ２５−１乃至２５−Ｍに一旦保存した読み出しデータをシリアルに読み出して、第１ラインのＸ線投影データとして画像データ生成記憶部５に保存する。
【００３９】
同様にして、時間ｔ２ａ乃至ｔ２ｂの期間においてゲートドライバ２２は、その出力端子２２−２のみをＯＮ電圧にして（図５（ｃ））、第２ラインの検出素子５１−１２、５１−２２、５１−３２，・・・，５１−Ｍ２に蓄積された信号電荷を信号出力線５９−１乃至５９−Ｍに読み出す。この読み出された信号電荷は、電荷／電圧変換器２３−１乃至２３−ＭやＡ／Ｄ変換器２４−１乃至２４−Ｍにて同様な処理が施されパラレル／シリアル変換器２５のメモリ２５−１乃至２５−Ｍに保存される。そして、システム制御部１１は、メモリ２５−１乃至２５−Ｍに保存した第２ラインの読み出しデータをシリアルに読み出して、Ｘ線投影データとして画像データ生成記憶部５に保存する。
【００４０】
以下同様にして、ゲートドライバ２２の出力端子２２−３乃至２２−Ｎが順次ＯＮ電圧になると、第３ライン乃至第Ｎラインに配置された検出素子５１の電荷蓄積コンデンサ５３に蓄積していた信号電荷を順次信号出力線５９−１乃至５９−Ｍに出力する。この信号電荷は、電荷／電圧変換器２３−１やＡ／Ｄ変換器２４−１を介してパラレル／シリアル変換器２５に一旦記憶される。更に、パラレル／シリアル変換器２５の記憶したデータをシリアルに読み出して、第３ライン乃至第ＮラインのＸ線投影データとして画像データ生成記憶部５に保存される。このようにして、Ｘ線管１５から照射されたＸ線照射角度βのＸ線は平面検出器２１の撮像可能領域内に設定された部分撮像領域２１−Ｘにおいて検出され、このとき生成された投影データは画像データ生成記憶部５に保存される。
【００４１】
図１に戻って、移動機構部３は、天板１７を被検体１５０の体軸方向（図１のＹ方向）及び体軸に対して垂直な方向（図１のＸ方向）に移動させるための天板移動機構３２と、Ｘ線検出部２の平面検出器２１を後述の方向に移動させるための検出器移動機構３３と、Ｘ線照射部１及びＸ線検出部２（撮像系）が取り付けられた図示しない保持部を被検体１５０の周囲で回動させるための保持部移動機構３４と、天板移動機構３２、検出器移動機構３３及び保持部移動機構３４を制御する機構制御部３５と、Ｘ線照射部１のＸ線絞り器１６における移動機構１６４を制御する絞り移動制御部３１を備えている。
【００４２】
そして、機構制御部３５は、システム制御部１１を介して入力部１０から供給される制御信号に基づいて保持部を被検体１５０の周囲で回動させるための駆動信号を保持部移動機構３４に供給し、Ｘ線照射位置及びＸ線照射方向の設定を行なう。又、機構制御部３５は、システム制御部１１からの制御信号に基づき天板移動機構３２に対し駆動信号を供給して被検体１５０を所定位置に設定し、検出器移動機構３３に対し駆動信号を供給して平面検出器２１を所定位置に設定する。
【００４３】
一方、絞り移動制御部３１は、システム制御部１１からの制御信号に基づき、Ｘ線絞り器１６における移動機構１６４に対してＸ線絞り羽根１６０を所定位置に移動するための駆動信号を供給し、平面検出器２１の撮像可能領域に設定された部分撮像領域２１−Ｘに対応したＸ線照射角度βを設定する。
【００４４】
次に、Ｘ線絞り羽根１６０の開度によって決定されるＸ線照射角度βとＸ線検出器２１における部分撮像領域２１−Ｘの関係につき図６を用いて説明する。尚、上述の絞り移動制御部３１は、被検体１５０を透過したＸ線が後述の部分撮像領域設定部７によって設定された部分撮像領域２１−Ｘの範囲内に照射されるようにＸ線照射角度βを設定する。
【００４５】
図６において、Ｘ線絞り羽根１６０のＸ方向開度Ａｘ及びＹ方向開度Ａｙの各々によって設定されるＸ線照射角度をβｘ及びβｙ、Ｘ線照射部１のＸ線管１５から平面検出器２１の部分撮像領域２１−Ｘまでの距離をＳＩＤ（Source-Image-Distance）とすれば、部分撮像領域２１−ＸにおけるＸ方向の撮像幅Ｌｘ及びＹ方向の撮像幅Ｌｙは次式（１）によって示され、Ｘ線照射角度βｘ及びβｙを設定するＸ線絞り羽根１６０のＸ方向開度Ａｘ及びＹ方向開度Ａｙが絞り移動制御部３１によって設定される。
【数１】
2006218216.tif 000003
【００４６】
次に、画像データ生成記憶部５は、表示部６に表示するための画像データを生成する機能を有し、図示しない記憶回路と演算回路を備えている。そして、前記記憶回路には、Ｘ線検出部２における投影データ生成部１３のパラレル／シリアル変換器２５によってライン方向の時系列信号に変換された投影データが順次保存されて画像データが生成される。一方、前記演算回路は、生成された画像データに対し、必要に応じて輪郭強調やＳ／Ｎ改善等を目的とした画像処理演算を行なう。
【００４７】
表示部６は、画像データ生成記憶部５に保存されている画像データの表示を行なうためのものであり、画像データの表示に際しては、その付帯情報との合成と所定の表示フォーマットへの変換を行なって表示データを生成する表示データ生成回路６１と、生成された表示データに対してＤ／Ａ変換とＴＶフォーマット変換を行なって映像信号を生成する変換回路６２と、この映像信号を表示するモニタ６３を備えている。
【００４８】
一方、部分撮像領域設定部７は、予め設定された拡大表示用の部分撮像領域データに基づいて平面検出器２１の撮像可能領域の略中央部にて部分撮像領域を設定し、次いで、後述の移動可否報知部９における報知情報に基づいて入力部１０から入力された部分撮像領域移動コマンドに従がい前記部分撮像領域を所定位置に移動する。
【００４９】
又、干渉検知部８は、例えば、Ｘ線検出部２における平面検出器２１の周囲に装着された複数個の接触センサ８１を備え、平面検出器２１の端部と被検体１５０の体表面との干渉（接触）を検知する。図７は、接触センサ８１の装着位置の具体例を示したものであり、平面検出器２１の周辺には、例えば、マイクロスイッチを有した４つの独立な接触センサ８１−１乃至８１−４が取り付けられ、これらの接触センサ８１−１乃至８１−４の各々は信号線８２−１乃至８２−４を介してシステム制御部１１に接続されている。
【００５０】
そして、移動可否報知部９は、図示しない演算回路と表示パネルあるいは音声出力部（スピーカ）を備えており、干渉検知部８の接触センサ８１−１乃至８１−４から供給される干渉の検知信号に基づいて干渉部位あるいは干渉方向を判定し、更に、この判定結果と既に設定あるいは更新されている部分撮像領域２１−Ｘの位置情報に基づいて部分撮像領域２１−Ｘの前記干渉方向への移動可否を判定する。そして、得られた移動可否情報を表示パネルあるいは音声出力部によって操作者に報知する。但し、上述の移動可否情報を表示部６のモニタ６３において画像データと共に表示してもよい。
【００５１】
次に、画像データと共に表示される移動可否情報の１例を図８を用いて示す。図８（ａ）は、被検体１５０の体軸（Ｙ軸）に対して斜めに設定された平面検出器２１を示している。そして、平面検出器２１の端部に装着された接触センサ８１−３が被検体１５０に接触した場合、移動可否報知部９は、この接触センサ８１−３から供給された検知信号に基づいて部分撮像領域２１−Ｘの移動方向（即ち干渉方向）を判定し、更に、部分撮像領域２１−Ｘの前記移動方向への移動可否を判定する。
【００５２】
そして、部分撮像領域２１−Ｘの移動が可能と判定した場合、移動可否報知部９は、その移動方向の情報をシステム制御部１１を介して表示部６に供給し、表示部６の表示データ生成回路６１は、このとき得られた画像データ６３１と部分撮像領域２１−Ｘの移動方向を示す移動方向マーカ６３２を合成してモニタ６３に表示する。この場合、図８（ｂ）に示すように、部分撮像領域２１−Ｘの移動方向に対応する画像データ６３１の下端部に移動方向マーカ６３２が表示される。
【００５３】
一方、図９は、部分撮像領域２１−Ｘの移動可否を説明するための図であり、部分撮像領域２１−Ｘの移動方向は、接触センサ８１−３が装着された平面検出器２１の下端部方向となる場合を示している。
【００５４】
図９において、図９（ａ）は、平面検出器２１の撮像可能領域２１−Ｙの略中心部に対して部分撮像領域２１−Ｘが設定された場合を示しており、破線で示した位置まで部分撮像領域２１−Ｘを移動させることが可能となるため移動可否報知部９は「移動可」の報知と移動方向の報知を行なう。一方、図９（ｂ）は、部分撮像領域２１−Ｘが既に撮像可能領域２１−Ｙの下端部に位置した状態にある場合を示しており、更に下方に移動させることは不可能となるため移動可否報知部９は「移動不可」の報知を行なう。但し、既に述べたように、部分撮像領域２１−Ｘは、通常、撮像可能領域２１−Ｙの略中央部に初期設定されるため最初の端部への移動は可能となる。
【００５５】
次に、入力部１０は、キーボード、トラックボール、ジョイスティック、マウスなどの入力デバイスや表示パネル、あるいは各種スイッチ等を備えたインタラクティブなインターフェースであり、被検体情報の入力、Ｘ線照射条件の設定、撮像系位置の設定、平面検出器２１における部分撮像領域２１−Ｘの初期位置の設定、通常表示モード／拡大表示モードの選択、更には、部分撮像領域移動コマンドや撮影開始コマンド等の入力を行なう。
【００５６】
又、システム制御部１１は、図示しないＣＰＵと記憶回路を備え、入力部１０から供給された被検体情報、Ｘ線照射条件、撮像系位置、部分撮像領域の初期位置等の情報を前記記憶回路に一旦保存した後、これらの情報に基づきＸ線撮影を行なうための制御を統括的に行なう。尚、前記記憶回路には拡大表示における部分撮像領域のサイズ情報等が予め保管されている。
【００５７】
（Ｘ線撮影の手順）
次に、図１０に示すフローチャートに沿って本実施例におけるＸ線撮影の手順について説明する。尚、以下の手順の説明では、部分撮像領域２１−Ｘによって得られた投影データに基づいて生成された画像データを拡大表示する場合について述べるが、これに限定されない。
【００５８】
Ｘ線診断装置１００の操作者は、先ず、入力部１０において被検体情報の入力と拡大表示モードの選択を行ない、更に、拡大表示モードにおけるＸ線照射条件の設定や撮像系のＸ線管―平面検出器間距離（ＳＩＤ）の初期設定等を行なう（図１０のステップＳ１）。
【００５９】
そして、上述の初期設定が終了したならば、操作者は、入力部１０においてＸ線撮影を開始するためのコマンドを入力し（図１０のステップＳ２）、このコマンド信号がシステム制御部１１に供給されることによってＸ線撮影が開始される。
【００６０】
このとき、撮影開始コマンド信号を受信したシステム制御部１１は、予め自己の記憶回路に保管されていた拡大表示における部分撮像領域の位置情報を読み出して部分撮像領域設定部７に供給し、部分撮像領域設定部７は、供給された部分撮像領域の位置情報に基づいて平面検出器２１における撮像可能領域の略中心部に部分撮像領域２１−Ｘを設定する。
【００６１】
一方、システム制御部１１は、上述の部分撮像領域の位置情報とＸ線管―平面検出器間距離（ＳＩＤ）の情報を絞り移動制御部３１に供給し、絞り移動制御部３１は、部分撮像領域２１−Ｘの範囲内にＸ線を絞りこむためにシステム制御部１１から供給された上述の情報に基づいてＸ線絞り器１６の移動機構１６４を駆動しＸ線絞り羽根１６０を所定開度に設定する（図６参照）。
【００６２】
次いで、システム制御部１１は、拡大表示におけるＸ線照射条件をＸ線発生部１２の高電圧制御部４１に供給する。そして、高電圧制御部４１は、供給されたＸ線照射条件に基づき高電圧発生器４２を制御して所定の高電圧をＸ線照射部１のＸ線管１５に印加し、Ｘ線管１５は、Ｘ線絞り器１６を介し被検体１５０に対してＸ線を照射する。この場合のＸ線照射角度は、既に図６に示したようにＸ線絞り器１６におけるＸ線絞り羽根１６０のＸ方向開度Ａｘ及びＹ方向開度Ａｙに依存し、Ｘ方向にβｘ、Ｙ方向にβｙに設定される。そして、被検体１５０を透過したＸ線は、その後方に設けられた平面検出器２１の部分撮像領域２１−Ｘにおいて検出される。
【００６３】
平面検出器２１の部分撮像領域２１−Ｘは、図４に示したようにライン方向と列方向に２次元配列された検出素子５１から構成されており、被検体１５０を透過したＸ線を受信してそのＸ線透過量に比例した信号電荷を検出素子５１の電荷蓄積コンデンサ５３に蓄積する。Ｘ線照射が終了すると、システム制御部１１からクロックパルスが供給されたゲートドライバ２２は、前記部分撮像領域２１−Ｘに対して駆動パルスを供給し検出素子５１の電荷蓄積コンデンサ５３に蓄積されたライン方向の信号電荷を列方向に順次読み出す。
【００６４】
次に、読み出された信号電荷は、投影データ生成部１３における電荷／電圧変換器２３において電圧に変換され、更に、Ａ／Ｄ変換器２４においてデジタル信号に変換された後パラレル／シリアル変換器２５のメモリにおいて１ライン分の投影データとして一旦保存される。そして、システム制御部１１は、保存された投影データをライン単位でシリアルに順次読み出して画像データ生成記憶部５の記憶回路に保存し、被検体撮影部位に対する２次元の画像データを生成する。
【００６５】
一方、画像データ生成記憶部５の演算回路は、必要に応じて前記記憶回路に保存された２次元の画像データを読み出し、輪郭強調やＳ／Ｎ改善を目的とした画像処理演算を行なう。そして、処理後の画像データを前記記憶回路に再度保存する。
【００６６】
次に、表示部６の表示データ生成回路６１は、画像データ生成記憶部５の記憶回路に保存された画像データを読み出し、所定の拡大表示フォーマットに変換して表示データを生成する。そして、変換回路６２は、この表示データに対してＤ／Ａ変換とＴＶフォーマット変換を行なって映像信号を生成し、モニタ６３に表示する（図１０のステップＳ３）。
【００６７】
次いで、操作者は、上述の画像データの観測下にて、保持部を所定方向に回動／移動させるための指示信号を入力部１０にて入力し、システム制御部１１を介して回動／移動指示信号を受信した移動機構部３の機構制御部３５は、保持部移動機構３４に対し駆動信号を供給して保持部を被検体１５０の周囲で回動／移動させる。このとき保持部に取りつけられた撮像系（Ｘ線照射部１及びＸ線検出部２）は保持部と共に回動／移動し所望の撮影位置に設定される。更に、この撮影位置において、Ｘ線管―平面検出器間距離（ＳＩＤ）を縮小するための調整が行なわれる（図１０のステップＳ４）。
【００６８】
以下では、Ｘ線検出部２の平面検出器２１とＸ線照射部１のＸ線管１５及びＸ線絞り器１６を被検体１５０の体軸に垂直な軸（Ｘ軸）の周囲で回動して所望の撮影角度を設定する場合について述べるが、これに限定されるものではなく任意の方向に回動してもよい。
【００６９】
図１１は、平面検出器２１の移動方法を示したものであり、この図１１において、平面検出器２１とＸ線管１５及びＸ線絞り器１６の絞り羽根１６０は、Ｘ軸を中心として回動し所望の撮影位置（角度）αを設定する。次いで、Ｘ線管―平面検出器間距離（ＳＩＤ）を短縮するために平面検出器２１をＸ線管１５の方向（ＺＺ方向）に移動する。尚、図１１において、ＺＺ方向への移動前及び移動後の平面検出器２１及び部分撮像領域２１−Ｘを夫々Ｓ１及びＳ２で示している。
【００７０】
このとき、平面検出器２１の端部に設けられた干渉検知部８の接触センサ８１−３が被検体１５０の体表面に接触したならば検知信号を発生し、この検知信号はシステム制御部１１に供給される（図１０のステップＳ５）。
【００７１】
一方、この検知信号を受信したシステム制御部１１は、平面検出器２１のＸ線管方向への移動を一旦停止する。そして、システム制御部１１を介して前記検知信号を受信した移動可否報知部９は、被検体１５０の体表面に接触した接触センサ８１−３の位置情報から部分撮像領域２１−Ｘの移動方向を判定し、更に、平面検出器２１の撮像可能領域の大きさと中心座標及びこの撮像可能領域に設定されている部分撮像領域２１−Ｘの大きさと中心座標に基づいて部分撮像領域２１−Ｘの前記移動方向に対する移動可否を判定する（図１０のステップＳ６）。
【００７２】
次に、移動可否報知部９は、上述のステップ６における判定によって得られた移動可否情報をシステム制御部１１を介して表示部６に供給し、表示部６のモニタ６３において画像データと共に表示され（図８参照）、操作者に報知される（図１０のステップＳ７）。尚、上述の部分撮像領域２１−Ｘに関する移動可否情報は、移動可否報知部９が備えた表示パネルあるいは音声出力部（スピーカ）に出力し操作者に報知してもよい。
【００７３】
表示部６のモニタ６３あるいは移動可否報知部９の表示パネルや音声出力部において部分撮像領域２１−Ｘの移動が可能である旨が報知された場合、この移動可否情報を観測した操作者は、入力部１０において部分撮像領域２１−Ｘを所定方向（干渉方向）に移動するためのコマンド信号を入力する。
【００７４】
そして、システム制御部１１を介してこのコマンド信号を受信した部分撮像領域設定部７は、平面検出器２１における部分撮像領域２１−Ｘの位置を接触センサ８１−３が装着されている方向（即ち、干渉方向）に移動し、更に、システム制御部１１を介して部分撮像領域２１−Ｘの移動情報を受信した機構制御部３５は、検出器移動機構３３を制御し平面検出器２１を前記部分撮像領域の移動方向と反対の方向に移動する（図１０のステップＳ８）。そして、新たに設定された部分撮像領域２１−Ｘを用いてＸ線撮影が行なわれる（図１０のステップＳ９）。
【００７５】
図１２は、平面検出器２１とこの平面検出器２１における部分撮像領域２１−Ｘの移動方法を示したものであり、例えば、部分撮像領域２１−Ｘを中央部に有した平面検出器２１が被検体１５０の点Ａで干渉（接触）した場合、部分撮像領域２１−Ｘは、平面検出器２１の撮像可能領域内で接触センサ８１−３の方向（ＹＹ方向）にΔＹＹ（図示せず）だけ移動し、一方、平面検出器２１は、同一平面上を反対方向（−ＹＹ方向）にΔＹＹ（図示せず）だけ移動する。
【００７６】
次いで、平面検出器２１の端部に装着された接触センサ８１−３が被検体１５０の体表面に干渉するまで平面検出器２１をＸ線管１５の方向（ＺＺ方向）にΔＺＺだけ移動する。この場合、部分撮像領域２１−ＸのＹＹ方向への移動距離ΔＹＹと平面検出器２１の−ＹＹ方向への移動距離ΔＹＹは略等しく設定されるため移動後の部分撮像領域２１−Ｘの中心は常にＸ線管１５から照射されるＸ線ビームの中心軸上（ＺＺ軸上）に設定され、しかも、上述の部分撮像領域２１−Ｘ及び平面検出器２１のＺＺ方向への移動により部分撮像領域２１−Ｘを被検体１５０に対してΔＺＺだけ接近させることが可能となる。尚、図１２では、図１１の場合と同様にして移動前及び移動後の平面検出器２１及び部分撮像領域２１−Ｘを夫々Ｓ１及びＳ２で示している。
【００７７】
一方、上述のステップ７において、移動可否報知部９が部分撮像領域２１−Ｘの移動が不可である旨を報知した場合には、部分撮像領域２１−Ｘを移動させることなくＸ線撮影を続行する（図１０のステップＳ１０）。
【００７８】
以上述べた本発明の第１の実施例によれば、平面検出器の撮像可能領域に設定された部分撮像領域を用いてＸ線撮影を行なう際に、平面検出器と被検体との干渉情報に基づいて前記部分撮像領域を撮影可能領域内で移動することにより、被検体と平面検出器との距離が短縮されるためＸ線撮影における感度が向上する。
【００７９】
又、本実施例における被検体と平面検出器との距離短縮により、被検体に対するＸ線被曝量を低減した状態で高感度の画像データを生成することが可能となる。
【００８０】
尚、上述の第１の実施例における干渉検知部８は、マイクロスイッチ等を用いた接触センサ８１を備えている場合について述べたが、非接触センサを用いても構わない。例えば、被検体１５０との間の静電容量の変化から干渉距離を検知する方法が好適である。このような非接触センサを用いることにより、平面検出器２１が被検体１５０に接触する直前でその移動を停止することができるため、被検体１５０に不快感を与えることがなく、高い安全性を確保することができる。
【００８１】
又、上述の実施例では、実際の被検体１５０の体表面に対する平面検出器２１の干渉の有無を検知する場合について述べたが、例えば、システム制御部１１の記憶回路に被検体１５０を半円柱で近似した被検体干渉モデルの位置情報を予め保管し、平面検出器２１の端部あるいは周辺部の位置情報と前記被検体干渉モデルの位置情報を比較することによって干渉の有無を検知してもよい。
【実施例２】
【００８２】
次に、本発明の第２の実施例につき図１３及び図１４を用いて説明する。この第２の実施例では、２つの撮像系を有したバイプレーンシステムを用いて複数方向からＸ線撮影を行なう際に、各々の撮像系における平面検出器に設定した部分撮像領域を用いてＸ線撮影を行なうと共に、上記平面検出器の少なくとも何れかの近傍に装着した干渉検知部によって平面検出器間の干渉（接触）を検知する。そして、移動可否報知部は、干渉検知部から得られた検知信号に基づいて部分撮像領域と被検体との距離短縮を目的とした部分撮像領域の移動方向とこの移動方向に対する移動可否を判定し、得られた移動可否情報を報知する。
【００８３】
次いで、前記移動可否情報に基づいて平面検出器における部分撮像領域を所定方向に移動することにより部分撮像領域と被検体との距離を短縮する。尚、本実施例において使用される２つの撮像系とこれらの撮像系を用いて画像データの生成及び表示を行なうための各ユニットの構成は上述の第１の実施例の場合と同様であるため説明を省略する。
【００８４】
図１３は、本実施例における平面検出器の設定方法を説明するための図であり、このバイプレーンシステムでは、平面検出器２１ａとＸ線管１５ａを備えた第１の撮像系と平面検出器２１ｂとＸ線管１５ｂを備えた第２の撮像系を用い、被検体１５０の斜線部で示した撮影対象部位に対してＸ線撮影を行なう。この場合、平面検出器２１ａの中心部には部分撮像領域２１−Ｘａが、又、平面検出器２１ｂの中心部には部分撮像領域２１−Ｘｂが夫々設定され、これらの部分撮像領域にて得られた投影データに基づいて拡大表示用画像データの生成と表示が行なわれる。
【００８５】
このようなバイプレーンシステムを用いたＸ線撮影では、Ｘ線管１５ａ及び１５ｂから放射されるＸ線ビームの交差領域に被検体１５０の撮影対象部位を配置しなくてはならない。しかしながら、部分撮像領域２１−Ｘａ及び２１−Ｘｂが平面検出器２１ａ及び２１ｂの中央部に設定された従来の撮影方法では、図１３（ａ）に示すように前記撮影対象部位を平面検出器２１ａ及び２１ｂに接近させた場合Ｘ線ビームの交差領域に配置することが不可能となるため図１３（ｂ）のように所定の距離を確保しなくてはならない。そして、この距離増大に伴なう検出感度の劣化を補償するために高Ｘ線量のＸ線をＸ線管１５ａ及び１５ｂから放射されるため被検体１５０に対するＸ線被曝量が増大する。
【００８６】
図１４は、上述の問題点を改善した本実施例における部分撮影領域の移動方法を示したものであり、図１４（ａ）に示すように、バイプレーンシステムにおける平面検出器２１ａ及び２１ｂの少なくとも何れかの端部に接触センサあるいは非接触センサを有した干渉検知部８aを備えている。そして、夫々の撮像系によって得られる画像データの観察下にて被検体１５０の撮影対象部位が表示されるように平面検出器２１ａ及び２１ｂを互いに接近させる。
【００８７】
このとき、平面検出器２１ａの端部と平面検出器２１ｂの端部が干渉（接触）したならば平面検出器２１ａの端部に設けられた干渉検知部８ａは検知信号を発生してシステム制御部１１に供給し、システム制御部１１は、移動機構部３を制御して平面検出器２１ａ及び２１ｂの移動（接近）を停止する。そして、システム制御部１１を介して前記検知信号を受信した移動可否報知部９は、平面検出器２１ａ及び２１ｂの撮像可能領域の大きさと中心座標及びこの撮像可能領域に設定されている部分撮像領域２１−Ｘａ及び２１−Ｘｂの大きさと中心座標に基づいて部分撮像領域２１−Ｘａ及び２１−Ｘｂの干渉方向への移動の可否を判定する。
【００８８】
次に、移動可否報知部９は、この移動可否情報を表示部６のモニタ６３あるいは自己の表示パネルや音声出力部を用いて操作者に報知さする。そして、部分撮像領域２１−Ｘａ及び２１−Ｘｂの移動が可能である旨が報知された場合、操作者は、入力部１０において部分撮像領域２１−Ｘａ及び２１−Ｘｂを干渉方向に移動するためのコマンド信号を入力する。
【００８９】
システム制御部１１を介して前記コマンド信号を受信した部分撮像領域設定部７は、平面検出器２１ａの部分撮像領域２１−Ｘａ及び平面検出器２１ｂの部分撮像領域２１−Ｘｂを干渉方向に移動する（図１４（ｂ）参照）。次いで、操作者は、この状態で生成された画像データを表示部６のモニタ６３において観察し、被検体１５０の撮影対象部位の位置が適当でない場合（即ち、撮影対象部位がＸ線ビームの交差領域の中央部に設定されていない場合）には２つの撮像系あるいは被検体１５０を載置した天板１７を図の垂直方向（Ｚ方向）に移動して好適な距離に調整する。そして、新たに設定された部分撮像領域２１−Ｘａ及び２１−Ｘｂを用いてＸ線撮影が行なわれる。
【００９０】
以上述べた本発明の第２の実施例によれば、バイプレーンシステムにおける２つの平面検出器の各々に設定した部分撮像領域を用いてＸ線撮影を行なう際に、平面検出器間の干渉情報に基づいて前記部分撮像領域を移動することにより、被検体を平面検出器に接近させることが可能となるためＸ線撮影における感度が向上する。
【００９１】
又、本実施例における被検体と平面検出器との距離短縮により、被検体に対するＸ線被曝量を低減した状態で高感度の画像データを生成することが可能となる。
【００９２】
尚、上述の第２の実施例では、平面検出器２１−Ｘａと平面検出器２１−Ｘｂの干渉を接触センサあるいは非接触センサによって検出する場合について述べたが、干渉検知部８ａは、２つの平面検出器の位置情報を常時計測し、この位置情報に基づいて干渉の有無を検知してもよい。
【００９３】
又、上述の第２の実施例では、平面検出器２１ａ及び２１ｂにおける部分撮像領域２１−Ｘａ及び２１−Ｘｂの両方を干渉方向に移動させる場合について述べたが、何れか一方のみを移動させてもよい。
【００９４】
以上、本発明の実施例について述べてきたが、本発明は、上述の実施例に限定されるものではなく変形して実施することが可能である。例えば、上述の第１の実施例及び第２の実施例では平面検出器２１のみを移動する場合について述べたが、例えば、図１５に示すように平面検出器２１とＸ線管１５及びＸ線絞り器１６を一体化して移動させてもよい。このような移動方法を行なうことにより、Ｘ線管１５から放射されたＸ線は図示しないグリッドに対し常に並行に入射するためＸ線感度を劣化させることがない。
【００９５】
又、上記実施例では画像データ観察下にて撮像系あるいは平面検出器２１を移動する場合について述べたが、これに限定されるものではない。又、平面検出器２１は単独で移動してもよいがＸ線検出部２の他のユニットと共に移動してもよい。
【００９６】
更に、部分撮像領域２１−Ｘの設定を行なう部分撮像領域設定部７を入力部１０とは独立に備えた場合について述べたが、入力部１０が上述の機能を兼ね備えても構わない。
【００９７】
一方、移動可否の報知方法として移動方向マーカを画像データと共に表示する方法について述べたが、移動可否情報の文言等を表示する方法であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００９８】
【図１】本発明の第１の実施例におけるＸ線診断装置の全体構成を示すブロック図。
【図２】同実施例におけるＸ線絞り器の構造を示す図。
【図３】同実施例における平面検出器の構成を示す図。
【図４】同実施例におけるＸ線検出部の構成を示すブロック図。
【図５】同実施例の平面検出器における信号読み出しを示すタイムチャート。
【図６】同実施例におけるＸ線絞り羽根の開度と部分撮像領域の関係を示す図。
【図７】同実施例における接触センサの装着位置を示す図。
【図８】同実施例における移動可否情報の表示例を示す図。
【図９】同実施例における部分撮像領域の移動可否を説明するための図。
【図１０】同実施例におけるＸ線撮影の手順を示すフローチャート。
【図１１】同実施例における平面検出器の移動方法を示す図。
【図１２】同実施例における平面検出器と部分撮像領域の移動方法を示す図。
【図１３】本発明の第２の実施例における平面検出器の設定方法を説明するための図。
【図１４】同実施例における部分撮像領域の移動方法とその効果を説明するための図。
【図１５】本発明の第１の実施例及び第２の実施例の変形例における平面検出器の移動方法を説明するための図。
【図１６】従来法における問題点を説明するための図。
【符号の説明】
【００９９】
１…Ｘ線照射部
２…Ｘ線検出部
３…移動機構部
４…高電圧発生部
５…画像データ生成記憶部
６…表示部
７…部分撮像領域設定部
８…干渉検知部
９…移動可否報知部
１０…入力部
１１…システム制御部
１２…Ｘ線発生部
１３…投影データ生成部
１５…Ｘ線管
１６…Ｘ線絞り器
１７…天板
２１…平面検出器
２２…ゲートドライバ
２３…電荷／電圧変換器
２４…Ａ／Ｄ変換器
２５…パラレル／シリアル変換器
３１…絞り移動制御部
３２…天板移動機構
３３…検出器移動機構
３４…保持部移動機構
３５…機構制御部
４１…高電圧制御部
４２…高電圧発生器
６１…表示データ生成回路
６２…変換回路
６３…モニタ
１００…Ｘ線診断装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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