(57)【要約】【課題】信号処理回路の再生パラメータの中にはジッタを改善する設定にすると欠陥に対しての再生能力が低下するなど、欠陥とジッタでトレードオフの関係を持つパラメータも存在するため、欠陥・ジッタ・エラーレートなどの情報の変化の原因を適切に判断しないと再生性能が悪化する可能性がある。【解決手段】欠陥検出回路３は、光ディスク５０から読み出され信号処理回路２で処理された再生信号Ｓ２の欠陥を検出し欠陥検出信号Ｓ３を生成する。欠陥有無判定回路４により欠陥検出信号の存在割合に基づいて欠陥の有無を判定し、欠陥細かさ判定回路５により欠陥検出信号のカウント数に基づいて欠陥の細かさを判定し、欠陥サイズ判定回路６により最も大きい欠陥検出信号の時間幅に基づいて欠陥のサイズを判定し、コントローラ１０はこれらの記録面欠陥検出情報に基づいて記録面の欠陥の種類を判定し信号処理回路への最適な再生パラメータを決定する。【選択図】図１
2006286112.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体に記録されている信号を再生する再生装置であって、
前記記録媒体から読み出された信号を処理する信号処理手段と、
前記信号処理手段による再生信号の欠陥を検出し欠陥検出信号を生成出力する欠陥検出手段と、
任意の測定時間内の前記欠陥検出信号の存在割合に基づいて欠陥の有無を判定する欠陥有無判定手段と、
任意の測定時間内の前記欠陥検出信号のカウント数に基づいて欠陥の細かさを判定する欠陥細かさ判定手段と、
任意の測定時間内で最も大きい前記欠陥検出信号の時間幅に基づいて欠陥のサイズを判定する欠陥サイズ判定手段と、
前記欠陥有無判定手段、前記欠陥細かさ判定手段および前記欠陥サイズ判定手段で得られた記録面欠陥検出情報に基づいて記録媒体記録面の欠陥の種類を判定し前記信号処理手段への最適な再生パラメータを決定する再生パラメータ決定手段とを備えた再生装置。
【請求項２】
記録媒体に記録されている信号を再生する再生装置であって、
前記記録媒体から読み出された信号を処理する信号処理手段と、
前記信号処理手段による再生信号の欠陥を検出し欠陥検出信号を生成出力する欠陥検出手段と、
任意の測定時間内の前記欠陥検出信号の存在割合に基づいて欠陥の有無を判定する欠陥有無判定手段と、
任意の測定時間内の前記欠陥検出信号のカウント数に基づいて欠陥の細かさを判定する欠陥細かさ判定手段と、
任意の測定時間内で最も大きい前記欠陥検出信号の時間幅に基づいて欠陥のサイズを判定する欠陥サイズ判定手段と、
前記再生信号のジッタ値を測定するジッタ測定手段と、
前記再生信号のエラーレートを測定するエラーレート測定手段と、
前記欠陥有無判定手段、前記欠陥細かさ判定手段および前記欠陥サイズ判定手段で得られた記録面欠陥検出情報と前記ジッタ測定手段および前記エラーレート測定手段で得られた再生状態検出情報との総合判定情報に基づいて前記記録媒体の記録面の状態を判定し、前記記録面の状態に応じて前記信号処理手段への最適な再生パラメータを決定する再生パラメータ決定手段とを備えた再生装置。
【請求項３】
前記欠陥有無判定手段は、前記欠陥検出信号が一定期間内に存在する割合を測定し、所定の閾値と比較した結果に基づいて前記記録媒体記録面の欠陥の有無を判定する請求項１または請求項２に記載の再生装置。
【請求項４】
前記欠陥細かさ判定手段は、一定期間内の前記欠陥検出信号の数を測定し、所定の閾値と比較した結果に基づいて前記記録媒体記録面の欠陥の細かさを判定する請求項１から請求項３までのいずれかに記載の再生装置。
【請求項５】
前記欠陥サイズ判定手段は、一定期間内の前記欠陥検出信号のうち最も大きいものの時間幅を測定し、所定の閾値と比較した結果に基づいて前記記録媒体記録面の欠陥のサイズを判定する請求項１から請求項４までのいずれかに記載の再生装置。
【請求項６】
前記再生パラメータ決定手段は、前記記録面欠陥検出情報と前記再生状態検出情報との前記総合判定情報である欠陥の有無、細かさ、サイズ、ジッタ値、エラーレートのうちの１つを用いて前記記録媒体の記録面の状態を判定し、前記記録面の状態に応じて前記最適な再生パラメータを決定する請求項２から請求項５までのいずれかに記載の再生装置。
【請求項７】
前記再生パラメータ決定手段は、前記記録面欠陥検出情報と前記再生状態検出情報との前記総合判定情報である欠陥の有無、細かさ、サイズ、ジッタ値、エラーレートのうちの２つ以上を用いて前記記録媒体の記録面の状態を判定し、前記記録面の状態に応じて前記最適な再生パラメータを決定する請求項２から請求項５までのいずれかに記載の再生装置。
【請求項８】
前記再生パラメータ決定手段は、前記記録媒体記録面に細かい欠陥が存在すると判定した場合に、細かい欠陥の改善に最適な再生パラメータを決定する請求項１から請求項７までのいずれかに記載の再生装置。
【請求項９】
前記再生パラメータ決定手段は、前記記録媒体記録面に大きな欠陥が存在すると判定した場合に、大きな欠陥の改善に最適な再生パラメータを決定する請求項１から請求項８までのいずれかに記載の再生装置。
【請求項１０】
前記再生パラメータ決定手段は、前記記録媒体記録面がジッタの悪いディスクであると判定した場合に、ジッタの改善に最適な再生パラメータを決定する請求項２から請求項９までのいずれかに記載の再生装置。
【請求項１１】
前記再生パラメータ決定手段は、前記記録媒体記録面のエラーレートが悪化する領域であると判定した場合に、エラーレートの改善に最適な再生パラメータを決定する請求項２から請求項１０までのいずれかに記載の再生装置。
【請求項１２】
前記再生パラメータ決定手段は、最適な再生パラメータの決定をシステム起動時に実行する請求項１から請求項１１までのいずれかに記載の再生装置。
【請求項１３】
前記再生パラメータ決定手段は、最適な再生パラメータの決定を前記記録媒体の再生中に間欠的に実行する請求項１から請求項１２までのいずれかに記載の再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、円盤状記録媒体の再生装置にかかわり、特には、記録媒体記録面の状態に応じた再生信号の信号処理を行う技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ディスクなどの円盤状記録媒体の再生装置の概略構成を図２０に示す。また、その動作を図２１のフローチャートに示す。この再生装置における再生時の信号処理方法を説明する。
【０００３】
光ヘッド２１のレーザー出射部から光ディスク５０にレーザー光を照射し、反射光を光ヘッド２１の光ピックアップで検出する。検出された反射光（再生信号、ＲＦ信号）を信号処理回路２２に入力する。ここで、信号処理回路２２は、再生信号Ｓ１１のゲイン調整、オフセット調整、データスライスの調整、ノイズ除去など、再生信号Ｓ１１の状態を改善させる処理を行う回路の総称である。再生信号Ｓ１１の信号処理後の再生信号Ｓ１２に対して、ジッタ測定回路３１によりジッタ値を測定し、エラーレート測定回路３２によりエラーレートを測定する。ここでジッタとは、ＰＬＬ回路で検出する再生信号データとクロックとの位相のずれを表す。コントローラ４０は、測定されたジッタ値やエラーレートなどの再生状態検出情報を基に、光ヘッド２１と信号処理回路２２に最適な再生パラメータを決定する。
【０００４】
しかし、上記従来の方法では、ジッタ値を精度良く測定するのが困難であり、精度を向上させると測定時間が長くなる、調整に失敗すると再生できなくなる、などの問題があった。
【０００５】
その課題を解決するために、図２２（構成図）や図２３（フローチャート）に示すように、信号処理回路２２で信号処理を行った再生信号Ｓ１２を周波数変調回路３０に入力することで周波数変調し、その上で、ジッタ測定回路３１、エラーレート測定回路３２で再生状態検出情報を測定し、再生状態検出情報を変調周波数検出回路３３に入力して周波数変調成分を抽出し、コントローラ４０において周波数変調成分の変化量から最適再生パラメータとの差を求め、光ヘッド２１と信号処理回路２２に反映する方法があった（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２０００−１７３１６８号公報（第５−７頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
再生信号を周波数変調してから再生状態検出情報（ジッタ値やエラーレート）を測定し、再生状態検出情報から抽出した周波数変調成分の変化量から最適再生パラメータとの差を求め、信号処理回路に反映する方法では、再生状態検出情報の変化の原因が小さな欠陥なのか、大きな欠陥なのか、ジッタであるかを正しく判断できない。
【０００７】
信号処理回路の再生パラメータの中にはジッタを改善する設定にすると、欠陥に対する再生能力が低下するなど、欠陥とジッタでトレードオフの関係を持つパラメータも存在するために、再生状態検出情報の変化の原因を適切に判断して再生パラメータを決定しないと再生性能が悪化する可能性がある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明による再生装置は、記録媒体に記録されている信号を再生するもので、
前記記録媒体から読み出された信号を処理する信号処理手段と、
前記信号処理手段による再生信号の欠陥を検出し欠陥検出信号を生成出力する欠陥検出手段と、
任意の測定時間内の前記欠陥検出信号の存在割合に基づいて欠陥の有無を判定する欠陥有無判定手段と、
任意の測定時間内の前記欠陥検出信号のカウント数に基づいて欠陥の細かさを判定する欠陥細かさ判定手段と、
任意の測定時間内で最も大きい前記欠陥検出信号の時間幅に基づいて欠陥のサイズを判定する欠陥サイズ判定手段と、
前記欠陥有無判定手段、前記欠陥細かさ判定手段および前記欠陥サイズ判定手段で得られた記録面欠陥検出情報に基づいて記録媒体記録面の欠陥の種類を判定し前記信号処理手段への最適な再生パラメータを決定する再生パラメータ決定手段とを備えている。
【０００９】
この構成によれば、欠陥の有無判定と欠陥の細かさおよびサイズの判定を伴う記録面欠陥検出情報に基づいて記録媒体記録面の欠陥の種類を判定し、信号処理手段への最適な再生パラメータを決定するので、再生信号読み取り時に発生する読み取りエラーの原因に応じた対応が可能となり、再生性能（プレイアビリティ）の向上を実現できる。
【００１０】
さらに、本発明による再生装置は、記録媒体に記録されている信号を再生するもので、
前記記録媒体から読み出された信号を処理する信号処理手段と、
前記信号処理手段による再生信号の欠陥を検出し欠陥検出信号を生成出力する欠陥検出手段と、
任意の測定時間内の前記欠陥検出信号の存在割合に基づいて欠陥の有無を判定する欠陥有無判定手段と、
任意の測定時間内の前記欠陥検出信号のカウント数に基づいて欠陥の細かさを判定する欠陥細かさ判定手段と、
任意の測定時間内で最も大きい前記欠陥検出信号の時間幅に基づいて欠陥のサイズを判定する欠陥サイズ判定手段と、
前記再生信号のジッタ値を測定するジッタ測定手段と、
前記再生信号のエラーレートを測定するエラーレート測定手段と、
前記欠陥有無判定手段、前記欠陥細かさ判定手段および前記欠陥サイズ判定手段で得られた記録面欠陥検出情報と前記ジッタ測定手段および前記エラーレート測定手段で得られた再生状態検出情報との総合判定情報に基づいて前記記録媒体の記録面の状態を判定し、前記記録面の状態に応じて前記信号処理手段への最適な再生パラメータを決定する再生パラメータ決定手段とを備えている。
【００１１】
この構成によれば、記録面欠陥検出情報（欠陥の有無、欠陥の細かさ、サイズ）と再生状態検出情報（ジッタ値、エラーレート）との組み合わせからなる総合判定情報に基づいて、記録媒体記録面の欠陥の種類と記録媒体記録面の状態とを判定することにより、読み取りエラーの原因が欠陥に起因するものか、ジッタ等に起因するものかを判断することが可能になる。すなわち、欠陥の有無と欠陥の規模の情報に加え、ジッタ値やエラーレートも考慮して記録媒体記録面の状態を適切に判断することが可能となる。そして、その判断結果に基づいて、記録媒体記録面の欠陥の種類と記録媒体記録面の状態に合わせた信号処理手段への総合的で最適な再生パラメータを決定するので、より高精度に、読み取りエラーの原因に応じた対応が可能となり、エラーレート悪化を最小限に留めることで再生性能のさらなる向上を実現できる。
【００１２】
上記構成において、前記欠陥有無判定手段については、前記欠陥検出信号が一定期間内に存在する割合を測定し、所定の閾値と比較した結果に基づいて前記記録媒体記録面の欠陥の有無を判定するものとする。
【００１３】
また、上記の構成において、前記欠陥細かさ判定手段については、一定期間内の前記欠陥検出信号の数を測定し、所定の閾値と比較した結果に基づいて前記記録媒体記録面の欠陥の細かさを判定するものとする。
【００１４】
また、上記の構成において、前記欠陥サイズ判定手段については、一定期間内の前記欠陥検出信号のうち最も大きいものの時間幅を測定し、所定の閾値と比較した結果に基づいて前記記録媒体記録面の欠陥のサイズを判定するものとする。
【００１５】
上記構成において、前記再生パラメータ決定手段については、次のような好ましいいくつかの態様がある。
【００１６】
すなわち、前記再生パラメータ決定手段は、前記記録面欠陥検出情報と前記再生状態検出情報との前記総合判定情報である欠陥の有無、細かさ、サイズ、ジッタ値、エラーレートのうちの１つを用いて前記記録媒体の記録面の状態を判定し、前記記録面の状態に応じて前記最適な再生パラメータを決定するように構成された態様がある。
【００１７】
あるいは、前記再生パラメータ決定手段は、前記記録面欠陥検出情報と前記再生状態検出情報との前記総合判定情報である欠陥の有無、細かさ、サイズ、ジッタ値、エラーレートのうちの２つ以上を用いて前記記録媒体の記録面の状態を判定し、前記記録面の状態に応じて前記最適な再生パラメータを決定するように構成された態様がある。
【００１８】
また、上記の構成において、前記再生パラメータ決定手段は、前記記録媒体記録面に細かい欠陥が存在すると判定した場合に、細かい欠陥の改善に最適な再生パラメータを決定するものとする。
【００１９】
また、上記の構成において、前記再生パラメータ決定手段は、前記記録媒体記録面に大きな欠陥が存在すると判定した場合に、大きな欠陥の改善に最適な再生パラメータを決定するものとする。
【００２０】
また、上記構成において、前記再生パラメータ決定手段は、前記記録媒体記録面がジッタの悪いディスクであると判定した場合に、ジッタの改善に最適な再生パラメータを決定するものとする。
【００２１】
また、上記の構成において、前記再生パラメータ決定手段は、前記記録媒体記録面のエラーレートが悪化する領域であると判定した場合に、エラーレートの改善に最適な再生パラメータを決定するものとする。
【００２２】
上記構成において、前記再生パラメータ決定手段については、次のような好ましいいくつかの態様がある。
【００２３】
すなわち、前記再生パラメータ決定手段は、最適な再生パラメータの決定をシステム起動時に実行するように構成された態様がある。光ディスク再生装置の起動時のエラーレートを改善することが可能になり、光ディスク再生装置の安定した起動を実現できる。
【００２４】
あるいは、前記再生パラメータ決定手段は、最適な再生パラメータの決定を前記記録媒体の再生中に間欠的に実行するように構成された態様がある。すなわち、再生中のエラーレートの改善が可能になり、再生性能（プレイアビリティ）の向上を実現できる。
【発明の効果】
【００２５】
本発明によれば、記録面欠陥検出情報に基づいて記録媒体記録面の欠陥の種類を判定し、最適な再生パラメータを決定するので、読み取りエラーの原因に応じた対応が可能となり、再生性能（プレイアビリティ）の向上を実現できる。
【００２６】
また、読み取りエラーの原因が欠陥に起因するものか、ジッタ値やエラーレートに起因するものかを判断することを通じて、エラーレート悪化を最小限に留め、再生性能のさらなる向上を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下、本発明にかかわる再生装置の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。ここでは、本発明が適用される装置の一例として、円盤状記録媒体として光ディスクを用いた光ディスク再生装置について説明する。なお、ここに示す実施の形態はあくまで一例であって、必ずしもこの形態に限定されるものではない。
【００２８】
（実施の形態１）
図１は本発明の実施の形態１における光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。
【００２９】
本実施の形態の光ディスク再生装置は、レーザー出射部からレーザー光を光ディスク５０に照射し反射光を光ピックアップで検出する光ヘッド１と、光ヘッド１で検出された再生信号Ｓ１の信号処理を行う信号処理回路２と、信号処理回路２で信号処理された再生信号Ｓ２から欠陥を検出し欠陥検出信号Ｓ３を生成出力する欠陥検出回路３と、任意の測定時間に欠陥検出信号Ｓ３の存在割合に基づいて欠陥の有無を判定する欠陥有無判定回路４と、任意の測定時間に欠陥検出信号Ｓ３のカウント数に基づいて欠陥の細かさを判定する欠陥細かさ判定回路５と、任意の測定時間中の欠陥検出信号Ｓ３の中で最大のものの時間幅に基づいて欠陥のサイズを判定する欠陥サイズ判定回路６と、光ヘッド１と信号処理回路２を制御し、欠陥有無判定回路４、欠陥細かさ判定回路５および欠陥サイズ判定回路６から得られる記録面欠陥検出情報（欠陥の有無、欠陥の細かさ、サイズ）に基づいて最適な再生パラメータを決定する再生パラメータ決定手段を含むコントローラ１０とを有している。ただし、信号処理回路２は、再生信号Ｓ１のゲイン調整、オフセット調整、データスライスの調整、ノイズ除去、イコライジング、ジッタ調整など、再生信号Ｓ１の状態を改善させる処理を行う回路の総称であり、再生信号Ｓ１の品質を変化させる信号処理回路全てを指す。
【００３０】
図２は実施の形態１の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。
【００３１】
光ヘッド１のレーザー出射部から光ディスク５０にレーザー光を照射し、反射光を光ヘッド１の光ピックアップで検出する。検出された反射光（再生信号、ＲＦ信号）を信号処理回路２に入力し、再生信号Ｓ１の信号処理を施した後、欠陥検出回路３により再生信号Ｓ２の欠陥を検出する（ステップｎ１）。
【００３２】
図３に暗側の欠落が存在する場合の欠陥検出信号Ｓ３の検出方法を示す。再生信号Ｓ２が欠陥検出の閾値Ｔｈを下回っている間、欠陥検出信号Ｓ３が“Ｈ”レベルで出力される。明側の欠落も同様に検出することができる。以後、欠陥検出信号Ｓ３とは、暗側の欠落と明側の欠落の両方を指す。
【００３３】
欠陥有無判定回路４において、欠陥検出回路３で生成した欠陥検出信号Ｓ３を基に欠陥検出信号Ｓ３の存在割合を求める。図４に欠陥検出信号Ｓ３の割合測定の概要を示す。任意の測定時間Ｔにおける欠陥検出信号Ｓ３の存在割合を測定する。そして、欠陥有無判定回路４は、欠陥検出信号Ｓ３の存在割合が予め用意された所定の閾値Ａよりも大きい場合に（ステップｎ２でＹｅｓ）、光ディスク５０の記録面に欠陥が存在すると判定する（ステップｎ３）。存在割合が閾値Ａ以下の場合に（ステップｎ２でＮｏ）、記録面には欠陥が存在しないと判定する（ステップｎ４）。
【００３４】
本実施の形態によれば、光ディスクの記録面の欠陥の存在割合を測定することが可能となる。
【００３５】
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２における光ディスク再生装置の構成要素は、実施の形態１と同じであり、その説明を省略する。図５は実施の形態２の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。
【００３６】
上記と同様にして欠陥検出回路３により再生信号Ｓ２の欠陥を検出する（ステップｎ１１）。次いで、欠陥細かさ判定回路５において、欠陥検出信号Ｓ３を基に、欠陥検出信号Ｓ３の数をカウントする。図６に欠陥検出信号Ｓ３数のカウント方法の概要を示す。任意の測定時間Ｔにおける欠陥検出信号Ｓ３の数をカウントする。そして、欠陥細かさ判定回路５は、欠陥検出信号Ｓ３の数が予め用意された所定の閾値Ｂよりも多い場合に（ステップｎ１２でＹｅｓ）、光ディスク５０の記録面に細かい欠陥が存在すると判定する（ステップｎ１３）。一方、欠陥検出信号Ｓ３の数が閾値Ｂ以下の場合に（ステップｎ１２でＮｏ）、記録面には細かい欠陥が存在しないと判定する（ステップｎ１４）。
【００３７】
本実施の形態によれば、光ディスクの記録面の細かい欠陥を判定することが可能となる。
【００３８】
（実施の形態３）
本発明の実施の形態３における光ディスク再生装置の構成要素は、実施の形態１と同じであり、その説明を省略する。図７は実施の形態３の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。
【００３９】
上記と同様にして欠陥検出回路３により再生信号Ｓ２の欠陥を検出する（ステップｎ２１）。次いで、欠陥サイズ判定回路６において、欠陥検出信号Ｓ３を基に、最大の欠陥検出信号Ｓ３の大きさを求める。図８に最大の欠陥検出信号Ｓ３の大きさ測定方法の概要を示す。任意の測定時間Ｔにおける欠陥検出信号Ｓ３の最大のものの大きさを測定する。そして、欠陥サイズ判定回路６は、欠陥検出信号Ｓ３の最大のものの大きさが予め用意された所定の閾値Ｃよりも大きい場合に（ステップｎ２２でＹｅｓ）、光ディスク５０の記録面に大きな欠陥が存在すると判定する（ステップｎ２３）。欠陥検出信号Ｓ３の最大のものの大きさが閾値Ｃ以下の場合に（ステップｎ２２でＮｏ）、記録面には大きな欠陥が存在しないと判定する（ステップｎ２４）。
【００４０】
本実施の形態によれば、光ディスクの記録面の大きな欠陥を判定することが可能となる。
【００４１】
（実施の形態４）
図９は本発明の実施の形態４における光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。
【００４２】
本実施の形態の光ディスク再生装置は、実施の形態１と同様の光ヘッド１、信号処理回路２、欠陥検出回路３、欠陥有無判定回路４、欠陥細かさ判定回路５および欠陥サイズ判定回路６に加えて、任意の測定時間におけるジッタ値を測定するジッタ測定回路７と、任意の測定時間におけるエラーレートを測定するエラーレート測定回路８とを有し、また、実施の形態１と同様の光ヘッド１と信号処理回路２を制御するコントローラ１０とを有している。コントローラ１０は、欠陥有無判定回路４、欠陥細かさ判定回路５および欠陥サイズ判定回路６で得られた記録面欠陥検出情報（欠陥の有無、欠陥の細かさ、サイズ）と、ジッタ測定回路７およびエラーレート測定回路８で得られた再生状態検出情報（ジッタ値、エラーレート）とを総合判定情報として入力し、総合判定情報に基づいて信号処理回路２に対する総合的に最適な再生パラメータを決定する。
【００４３】
図１０は実施の形態４の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。
【００４４】
上記の実施の形態１の手法により、欠陥検出回路３により再生信号Ｓ２の欠陥の有無を判定する（ステップｎ３１）。さらに、実施の形態２〜３の手法により、任意の測定時間における欠陥検出信号Ｓ３の大きさを求める（ステップｎ３２）。加えて、ジッタ測定回路７により再生信号Ｓ２の任意の測定時間におけるジッタ値を求める（ステップｎ３３）。さらに、エラーレート測定回路８により再生信号Ｓ２の任意の測定時間におけるエラーレートを求める（ステップｎ３４）。以上の欠陥の有無、欠陥の大きさ、ジッタ値、エラーレートの情報を総合判定情報とする。そして、総合判定情報を基に光ディスク５０の記録面の状態を的確に判断し、記録面の状態に応じた信号処理回路２への最適な再生パラメータを決定する（ステップｎ３５）。
【００４５】
本実施の形態によれば、光ディスクの記録面に欠陥があったり、記録品質の悪い光ディスクである場合でも、安定して再生信号を読み取ることが可能となる。
【００４６】
（実施の形態５）
本発明の実施の形態５における光ディスク再生装置の構成要素は、実施の形態４と同じであり、その説明を省略する。図１１は実施の形態５の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。ステップｎ３１〜ｎ３４は、図１０に示す実施の形態４の場合と同様である。
【００４７】
ステップｎ３５ａでは、総合判定情報である欠陥の有無、細かさ、サイズ、ジッタ値、エラーレートのうちいずれか１つを選択し、選択した情報が良化するように信号処理系の再生パラメータを変更する。これにより、再生信号Ｓ１の読み取り性能を向上させることが可能になる。
【００４８】
本実施の形態によれば、光ディスクの表面の状態が異常でも、安定して再生信号の読み取りが可能になる。
【００４９】
（実施の形態６）
本発明の実施の形態６における光ディスク再生装置の構成要素は、実施の形態４と同じであり、その説明を省略する。図１２は実施の形態６の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。ステップｎ３１〜ｎ３４は、図１０に示す実施の形態４の場合と同様である。
【００５０】
ステップｎ３５ｂでは、総合判定情報である欠陥の有無、細かさ、サイズ、ジッタ値、エラーレートのうち２つ以上を選択し、選択した情報が良化するように再生パラメータを変更する。これにより、再生信号Ｓ１の読み取り性能を向上させることが可能になる。
【００５１】
本実施の形態によれば、光ディスクの表面の状態が異常でも、安定して再生信号の読み取りが可能になる。
【００５２】
（実施の形態７）
本発明の実施の形態７における光ディスク再生装置の構成要素は、実施の形態４と同じであり、その説明を省略する。図１３は実施の形態７の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。
【００５３】
上記の実施の形態１の手法により、欠陥検出回路３により再生信号Ｓ２の欠陥の有無を判定する（ステップｎ４１）。さらに、実施の形態２の手法により、欠陥検出信号Ｓ３の数が予め用意された所定の閾値Ｂよりも多い場合に（ステップｎ４２でＹｅｓ）、光ディスク５０の記録面に細かい欠陥が存在すると判定する（ステップｎ４３）。そして、細かい欠陥に追従可能な再生パラメータに変更する（ステップｎ４４）。これにより、再生信号Ｓ１の読み取り性能を向上させることが可能になる。一方、欠陥検出信号Ｓ３の数が閾値Ｂ以下の場合に（ステップｎ４２でＮｏ）、記録面に細かい欠陥が存在しないと判定し、この場合は、再生パラメータの変更は行わない（ステップｎ４５）。
【００５４】
なお、細かい欠陥に追従する再生パラメータの例としては、ＡＧＣ（自動ゲイン調整）のゲインを上げることで欠陥通過後の再生信号Ｓ１の収束性を向上させる、オフセット調整部のゲインを上げることで欠陥通過後の再生信号Ｓ１のばたつきの追従性を向上させる、再生信号Ｓ１のデューティー（再生信号を上下２分割したときの上部と下部の比率）を等しくさせるブロックのゲインを上げるなど、フィードバック機構を持つ信号処理部のゲインを上げることが考えられる。ただし、本発明はこれに限定されるものではなく、細かい欠陥の追従性を上げる再生パラメータ全てに適用されるものとする。
【００５５】
本実施の形態によれば、光ディスクの表面に細かい欠陥がついている箇所が存在しても、エラーレートの低下を最小限に留めることが可能となり、その結果、ディスクのどの部分でも安定して再生信号の読み取りが可能になる。
【００５６】
（実施の形態８）
本発明の実施の形態８における光ディスク再生装置の構成要素は、実施の形態４と同じであり、その説明を省略する。図１４は実施の形態８の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。
【００５７】
上記の実施の形態１の手法により、欠陥検出回路３により再生信号Ｓ２の欠陥の有無を判定する（ステップｎ５１）。さらに、実施の形態３の手法により、欠陥検出信号Ｓ３の最大のものの大きさが予め用意された所定の閾値Ｃよりも大きい場合に（ステップｎ５２でＹｅｓ）、光ディスク５０の記録面に大きな欠陥が存在すると判定する（ステップｎ５３）。そして、大きい欠陥に追従可能な再生パラメータに変更する（ステップｎ５４）。これにより、再生信号Ｓ１の読み取り性能を向上させることが可能になる。一方、欠陥検出信号Ｓ３の最大のものの大きさが閾値Ｃ以下の場合に（ステップｎ５２でＮｏ）、記録面に大きな欠陥が存在しないと判定し、この場合は、再生パラメータの変更は行わない（ステップｎ５５）。
【００５８】
なお、大きい欠陥に追従する再生パラメータの例としては、ＡＧＣ（自動ゲイン調整）のゲインを上げることで欠陥通過後の再生信号Ｓ１の収束性を向上させる、オフセット調整部のゲインを上げることで欠陥通過後の再生信号Ｓ１のばたつきの追従性を向上させる、再生信号Ｓ１のデューティーを等しくさせるブロックのゲインを上げるなど、フィードバック機構を持つ信号処理部のゲインを上げることが考えられる。ただし、本発明はこれに限定されるものではなく、大きい欠陥の追従性を上げる再生パラメータ全てに適用されるものとする。
【００５９】
本実施の形態によれば、光ディスクの表面に大きな欠陥がついている箇所が存在しても、エラーレートの低下を最小限に留めることが可能となり、その結果、ディスクのどの部分でも安定して再生信号の読み取りが可能になる。
【００６０】
（実施の形態９）
本発明の実施の形態９における光ディスク再生装置の構成要素は、実施の形態４と同じであり、その説明を省略する。図１５は実施の形態９の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。
【００６１】
光ヘッド１のレーザー出射部から光ディスク５０にレーザー光を照射し、反射光を光ヘッド１の光ピックアップで検出する。検出された反射光を信号処理回路２に入力し、再生信号Ｓ１の信号処理を施した後、ジッタ測定回路７により一定期間内のジッタ値を測定する（ステップｎ６１）。測定された一定期間内のジッタ値が予め用意された所定の閾値Ｄよりも大きい場合は（ステップｎ６２でＹｅｓ）、現在、光ヘッド１が存在する位置の周辺の光ディスク５０のジッタが悪いと判定し、ジッタを改善させる再生パラメータに変更する（ステップｎ６３）。これにより、再生信号Ｓ１の読み取り性能を向上させることが可能になる。一方、ジッタ値が閾値Ｄ以下の場合は（ステップｎ６２でＮｏ）、再生パラメータの変更は行わない。
【００６２】
なお、ジッタを改善させる再生パラメータの例としては、フィードバック機構を持つ信号処理部のゲインを下げることでフィードバックによる信号の位相ずれを低減させるなどが考えられる。ただし、本発明はこれに限定されるものではなく、ジッタを改善させる再生パラメータ全てに適用されるものとする。
【００６３】
本実施の形態によれば、光ディスクのジッタが悪い箇所が存在しても、エラーレートの低下を最小限に留めることが可能となり、その結果、ディスクのどの部分でも安定して再生信号の読み取りが可能になる。
【００６４】
（実施の形態１０）
本発明の実施の形態１０における光ディスク再生装置の構成要素は、実施の形態４と同じであり、その説明を省略する。図１６は実施の形態１０の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。
【００６５】
上記と同様にして信号処理回路２で再生信号Ｓ１の信号処理を施した後、エラーレート測定回路８により一定時間内のエラーレート値を検出する（ステップｎ７１）。検出された一定時間内のエラーレート値が予め用意された所定の閾値Ｅよりも大きい場合は（ステップｎ７２でＹｅｓ）、現在、光ヘッド１が存在する位置の周辺の光ディスク５０のエラーレートが悪いと判定し、エラーレートを改善させる再生パラメータに変更する（ステップｎ７３）。これにより、再生信号Ｓ１の読み取り性能を向上させることが可能になる。一方、エラーレート値が閾値Ｅ以下の場合は（ステップｎ７２でＮｏ）、再生パラメータの変更は行わない。
【００６６】
なお、エラーレートを改善させる再生パラメータの例としては、エラー訂正の回数を増加させる、エラー訂正の方法を変更するなどが考えられる。ただし、本発明はこれに限定されるものではなく、エラーレートを改善させる再生パラメータ全てに適用されるものとする。
【００６７】
本実施の形態によれば、光ディスクのジッタが悪い箇所が存在しても、エラーレートの低下を最小限に留めることが可能となり、その結果、ディスクのどの部分でも安定して再生信号の読み取りが可能になる。
【００６８】
（実施の形態１１）
本発明の実施の形態１１における光ディスク再生装置の構成要素は、実施の形態４と同じであり、その説明を省略する。図１７は実施の形態１１の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。
【００６９】
光ディスク再生装置のシステムの電源が投入されると（ステップｎ８１）、再生パラメータの初期設定を行う（ステップｎ８２）。次いで、総合判定情報（欠陥の有無、細かさ、サイズ、ジッタ値、エラーレート）の測定を行う（ステップｎ８３）。そして、総合判定情報に基づいて実施の形態７〜１０の手法により光ディスク５０の記録面の状態を判定し、最適な再生パラメータを決定する（ステップｎ８４）。
【００７０】
上記において、総合判定情報の測定については、欠陥検出回路３により再生信号Ｓ２の欠陥の有無を判定し、任意の測定時間における欠陥検出信号Ｓ３の大きさを求め、任意の測定時間におけるジッタ値とエラーレートをそれぞれ求める。これらの欠陥の有無、欠陥の大きさ、ジッタ値、エラーレートの情報を総合判定情報とする。
【００７１】
このような最適な再生パラメータの決定処理を、電源立ち上げ時に１回だけ行う。
【００７２】
本実施の形態によれば、光ディスク再生装置の起動時にディスク表面の状態に応じた信号処理回路への最適な再生パラメータを決定することが可能となり、起動時のデータ読み取り動作を安定して行うことが可能になる。
【００７３】
（実施の形態１２）
本発明の実施の形態１２における光ディスク再生装置の構成要素は、実施の形態４と同じであり、その説明を省略する。図１８は実施の形態１２の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。
【００７４】
光ディスク５０の再生の処理（ステップｎ９１）において、総合判定情報の測定を行う（ステップｎ９２）。そして、総合判定情報に基づいて実施の形態７〜１０の手法により光ディスク５０の記録面の状態を判定し、再生パラメータの変更が必要否かを判断する（ステップｎ９３）。そして、変更を必要とするときは総合判定情報に基づいて最適な再生パラメータを決定する（ステップｎ９４）。再生パラメータの変更を行ったときは、再度、総合判定情報の測定（ステップｎ９２）へ戻る。再生パラメータの変更の必要がないときは（ステップｎ９３でＮｏ）、現状の設定において再生パラメータが最適であると判断する（ステップｎ９５）。
【００７５】
上記において、総合判定情報の測定については、欠陥検出回路３により再生信号Ｓ２の欠陥の有無を判定し、任意の測定時間における欠陥検出信号Ｓ３の大きさを求め、任意の測定時間におけるジッタ値とエラーレートをそれぞれ求める。
【００７６】
このような最適な再生パラメータの決定処理を、光ディスクの再生中に間欠的に行う。
【００７７】
本実施の形態によれば、光ディスクの再生中に最適な再生パラメータを常に決定することが可能となり、再生中のエラーレートをさらに改善することができ、安定して再生信号の読み取りが可能になる。
【００７８】
（実施の形態１３）
本発明の実施の形態１３における光ディスク再生装置の構成要素は、実施の形態４と同じであり、その説明を省略する。図１９は実施の形態１３の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャートである。
【００７９】
光ディスク再生装置のシステムの電源が投入されると（ステップｎ１０１）、再生パラメータの初期設定を行う（ステップｎ１０２）。次いで、総合判定情報（欠陥の有無、細かさ、サイズ、ジッタ値、エラーレート）の測定を行う（ステップｎ１０３）。そして、総合判定情報に基づいて実施の形態７〜１０の手法により光ディスク５０の記録面の状態を判定し、最適な再生パラメータを決定する（ステップｎ１０４）。
【００８０】
次いで、光ディスク５０の再生の処理を開始する（ステップｎ１０５）。再生処理において、再び総合判定情報の測定を行う（ステップｎ１０６）。そして、総合判定情報に基づいて実施の形態７〜１０の手法により光ディスク５０の記録面の状態を判定し、再生パラメータの変更が必要否かを判断する（ステップｎ１０７）。そして、変更を必要とするときは総合判定情報に基づいて最適な再生パラメータを決定する（ステップｎ１０８）。再生パラメータの変更を行ったときは、再度、総合判定情報の測定（ステップｎ１０６）へ戻る。再生パラメータの変更の必要がないときは（ステップｎ１０７でＮｏ）、現状の設定において再生パラメータが最適であると判断する（ステップｎ１０９）。
【００８１】
以下に、より具体的レベルで説明する。
【００８２】
光ヘッド１のレーザー出射部から光ディスク５０にレーザー光を照射し、反射光を光ヘッド１の光ピックアップで検出する。検出された反射光（再生信号、ＲＦ信号）を信号処理回路２に入力し、再生信号Ｓ１の信号処理を施した後、欠陥検出回路３により欠陥検出信号Ｓ３を生成し、欠陥有無判定回路４において、欠陥検出信号Ｓ３の存在割合を測定し、測定された欠陥検出信号Ｓ３の割合が所定の閾値よりも大きい場合は、現在、光ヘッド１が存在する位置の周辺の光ディスク５０の表面に欠陥や汚れによる信号の欠陥が存在すると判定する。
【００８３】
さらに、欠陥細かさ判定回路５において、一定期間内の欠陥検出信号Ｓ３の数をカウントし、欠陥サイズ判定回路６により欠陥検出信号Ｓ３の中で最も大きいものの大きさを測定し、欠陥検出信号Ｓ３の数が所定の閾値よりも多い場合は、光ディスクの表面の欠陥が細かいものであると判定する。また、欠陥サイズ判定回路６において、欠陥検出信号Ｓ３の中で最も大きいものの大きさが所定の閾値よりも大きい場合は、光ディスクの表面の欠陥が大きいものであると判定する。
【００８４】
加えて、ジッタ測定回路７により再生信号Ｓ２の任意の測定時間におけるジッタ値を求めるとともに、エラーレート測定回路８により再生信号Ｓ２の任意の測定時間におけるエラーレートを求める。
【００８５】
以上の欠陥の有無、欠陥の大きさ、ジッタ値、エラーレートの情報を総合判定情報とする。総合判定情報から光ディスク５０の表面の状態を判定し、表面の状態に応じた信号処理回路２への最適な再生パラメータを決定する。ただし、最適な再生パラメータは、表面に欠陥があるディスクやジッタの悪いディスクなどを予め十分に評価したうえで、それぞれの状況でどのパラメータが最適であるかを決めておく必要がある。総合判定情報の状態に応じて臨機応変に再生パラメータを切り替える必要がある。最適な再生パラメータの決定処理を光ディスク再生装置の起動時に行うことで、ディスク表面の状態に応じた最適な再生パラメータを決定することが可能となり、起動時のデータ読み取り動作を安定して行うことが可能になる。さらに、再生中にも間欠的に最適な再生パラメータの決定を行うことで、常に最適な再生状態を保つことが可能になる。
【００８６】
本実施の形態によれば、
以上のように、本実施の形態の光ディスク再生装置は、システム起動時から再生中まで、常に信号処理回路への最適な再生パラメータを決定することが可能である。すなわち、起動時と再生中のエラーレートを改善し、再生信号の安定した読み取りを可能にし、プレイアビリティの向上に有用である。
【産業上の利用可能性】
【００８７】
本発明の再生装置は、記録面に欠陥を含むあるいはジッタやエラーレート不良を含む記録媒体の再生において、読み取りエラーの原因に応じた最適な再生パラメータの設定を通じて再生性能（プレイアビリティ）の向上を図る技術として有用である。また、欠陥検出回路、ジッタ測定回路、エラーレート測定回路などは、従来のシステムにある回路をそのまま流用することができるため、汎用性が高い。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク再生装置の構成を示すブロック図
【図２】本発明の実施の形態１の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャート
【図３】本発明の実施の形態１における光ディスク再生装置の欠陥検出信号の検出方法の説明図
【図４】本発明の実施の形態１における光ディスク再生装置の欠陥検出信号の割合検出方法の説明図
【図５】本発明の実施の形態２の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャート
【図６】本発明の実施の形態２における光ディスク再生装置の欠陥検出信号の個数測定方法の説明図
【図７】本発明の実施の形態３の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャート
【図８】本発明の実施の形態３における光ディスク再生装置の欠陥検出信号の大きさ測定方法の説明図
【図９】本発明の実施の形態４における光ディスク再生装置の構成を示すブロック図
【図１０】本発明の実施の形態４の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャート
【図１１】本発明の実施の形態５の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャート
【図１２】本発明の実施の形態６の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャート
【図１３】本発明の実施の形態７の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャート
【図１４】本発明の実施の形態８の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャート
【図１５】本発明の実施の形態９の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャート
【図１６】本発明の実施の形態１０の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャート
【図１７】本発明の実施の形態１１の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャート
【図１８】本発明の実施の形態１２の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャート
【図１９】本発明の実施の形態１３の光ディスク再生装置の動作を示すフローチャート
【図２０】従来の再生装置の概略構成を示すブロック図
【図２１】従来の再生装置の動作を示すフローチャート
【図２２】別の従来の再生装置の構成を示すブロック図
【図２３】別の従来の再生装置の動作を示すフローチャート
【符号の説明】
【００８９】
１  光ヘッド
２  信号処理回路
３  欠陥検出回路
４  欠陥有無判定回路
５  欠陥細かさ判定回路
６  欠陥サイズ判定回路
７  ジッタ測定回路
８  エラーレート測定回路
１０  コントローラ
Ｓ１  再生信号
Ｓ２  信号処理された再生信号
Ｓ３  欠陥検出信号
５０  光ディスク
【図１】
2006286112.tif 000003
【図２】
2006286112.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
2006286112.tif 000007
【図６】
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【図７】
2006286112.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
2006286112.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
2006286112.tif 000019
【図１８】
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【図１９】
2006286112.tif 000021
【図２０】
2006286112.tif 000022
【図２１】
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【図２２】
2006286112.tif 000024
【図２３】
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