(57)【要約】【課題】  従来困難であった出力条件を加えるためのロジック回路の試験が可能となった保護継電器ロジック回路試験装置を提供する。【解決手段】  ロジック回路２２の、出力条件２４，２５の入力部より前段部分に、保護継電要素２１の出力信号とオア条件となるようにオアゲート４２に試験信号としてアンドゲート４４の出力を入力させ、この試験信号によりロジック回路２２を動作させて試験を行なう。【選択図】図１
2006166497.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電力回路に生じる事故事象を検出する保護継電要素の出力信号に所定の出力条件を加えて出力させるロジック回路の試験装置であって、
前記ロジック回路の前記出力条件入力部より前段部分に、前記保護継電要素の出力信号とオア条件となるように試験信号を入力させ、この試験信号によりロジック回路を動作させて試験を行なう
ことを特徴とする保護継電器ロジック回路試験装置。
【請求項２】
電力回路に生じる事故事象を相毎に検出する保護継電要素の相毎の出力信号に所定の出力条件を加えて出力させるロジック回路の試験装置であって、
前記ロジック回路の前記出力条件入力部より前段部分に、前記保護継電要素の相毎の出力信号とそれぞれオア条件となるように相毎の試験信号を入力させ、これら相毎の試験信号によりロジック回路を相毎に個別に動作させて試験を行なう
ことを特徴とする保護継電器ロジック回路試験装置。
【請求項３】
相毎の試験信号をロジック回路の各相に同時に動作させて試験を行なう切換え手段を有することを特徴とする請求項２に記載の保護継電器ロジック試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電力回路に生じる事故事象を検出する保護継電要素の出力信号に所定の出力条件を加えて出力させる保護継電器ロジック回路の試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、保護継電器は、各種の電力回路に適用され、その電力回路に生じる事故事象を検出し、電力回路に設けられたしゃ断器をトリップさせるように構成されている。すなわち、事故事象を検出する保護継電要素の出力信号がそのまま保護継電器の出力信号となっていた。
【０００３】
ところで、近年、回路基板技術の進歩により、高密度実装が可能となり、保護継電要素の出力信号に対して各種の出力条件をロジック回路で加えている。例えば、対応するしゃ断器や断路器の状態や、他の関連する保護継電器の状態などを出力条件として加え、これら出力条件がクリアされた場合、保護継電器の出力信号として出力させるようにしている。
【０００４】
保護継電器は、事故発生時確実に動作することが重要であり、点検時などにおいて動作確認試験を行い、所定の条件の下で確実に動作することを確認しなければならず、このような動作試験に関する提案もなされている（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
しかしながら、これまでの試験は、保護継電要素に事故事象を模擬する試験信号を与え、保護継電要素が確実に動作するかを検証するものがほとんどであった。このような保護継電要素の動作確認試験は重要であるが、それだけでは保護継電器の試験として不十分である。
【０００６】
すなわち、前述したように、保護継電要素の出力信号に対しては、各種の出力条件が加わっており、複雑なロジック回路が構成されている。
【０００７】
例えば、図２で示すように、保護継電要素（以下、リレー要素と呼ぶ）１１の出力側にはロジック回路１２が接続され、このロジック回路１２を介して図示しないしゃ断器へのトリップ信号１３が出力される。
【０００８】
リレー要素１１は図示しない電力回路の各相からアナログ量負荷を入力し、相毎に事故事象の発生有無を検出する。その検出結果は、Ｒ，Ｓ，Ｔ各相の出力端子から動作信号として出力される。また、ロジック１２回路は相毎に設けられた２組のアンドゲート12AR，12AS，12AT及び12BR，12BS，12BTと、オアゲート12C、12Dとを有する。
【０００９】
そして、アンドゲート12AR，12AS，12ATの一方の入力端には、リレー要素１１の出力端Ｒ，Ｓ，Ｔの対応するものが接続され、他方の入力端は、出力条件（Ｘ）１４とそれぞれ接続している。後段のアンドゲート12BR，12BS，12BTの一方の入力端は、上記アンドゲート12AR，12AS，12ATの対応する出力端と接続し、他方の入力端には出力条件（Ｙ）１５とそれぞれ接続している。
【００１０】
また、オアゲート12Cの入力端には上記後段のアンドゲート12BR，12BS，12BTの出力端が接続されており、このオアゲート12Cの出力端はオアゲート12Dの一方の入力端に接続している。このオアゲート12Dの他方の入力端は、リレー要素１１の出力を模擬した試験入力１６と接続しており、さらに出力端からは前述のトリップ信号１３が出力される。
【００１１】
上記構成において、通常の運用状態では、電力回路に事故事象が生じるとリレー要素１１は、入力されているアナログ量負荷の状態により事故発生を検出し、事故の発生した相毎に動作信号を出力する。ここで、各相Ｒ，Ｓ，Ｔからそれぞれ動作信号が出力されているものとすると、これらの信号はアンドゲート12AR，12AS，12ATの一方の入力端にそれぞれ加わり、出力条件（Ｘ）１４が成立していれば、後段のアンドゲート12BR，12BS，12BTの一方の入力端に信号を加える。そして、出力条件（Ｙ）１５も成立していれば、それらの出力はオアゲート12C，12Dを通り、トリップ信号１３として出力され、図示しないハード回路を経て対応するしゃ断器をトリップさせる。
【００１２】
一方、リレー要素１１の動作により対応するしゃ断器が動作するかを検証する試験を行なう場合は、リレー要素１１の出力信号を模擬した試験入力１６を、オアゲート12Dに加え、試験用のトリップ信号１３として出力させる。
【００１３】
このように、従来の保護継電器における動作検証試験の試験入力１６は、出力条件（Ｘ）１４，（Ｙ）１５を考慮に入れず、外部へトリップ出力１３を出すのみであった。これは元来、保護継電器のリレー要素１１からの出力とトリップ出力１３が同じであったため、試験入力１６のみで十分であった。しかし、最近の保護継電器は出力条件（Ｘ）１４，（Ｙ）１５を設け、より正確で詳細な保護を行っている。そのため保護継電器としての出力条件（Ｘ），（Ｙ）を満たした出力が実現できるかという試験には、実際の試験器により事故負荷を印加しなければならない。
【００１４】
また、リレー要素１１が各相毎に検出動作を行なっており、どの相が動作したかを確認する試験を行なう場合も、図２の試験装置では相毎の動作を試験することができず、相毎の試験を行なうためには、やはり実際の試験器により事故負荷を相毎に印加しなければならない。
【特許文献１】特開２００１−２５８１４７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
このように、従来装置では保護継電要素の出力に出力条件を加えるロジック回路についての試験が行なわれていず、また、相毎の動作確認も行われていなかった。
【００１６】
本発明の目的は、従来困難であった出力条件を加えるためのロジック回路の試験が可能となった保護継電器ロジック回路試験装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本発明による保護継電器ロジック回路試験装置は、電力回路に生じる事故事象を検出する保護継電要素の出力信号に所定の出力条件を加えて出力させるロジック回路の試験装置であって、前記ロジック回路の前記出力条件入力部より前段部分に、前記保護継電要素の出力信号とオア条件となるように試験信号を入力させ、この試験信号によりロジック回路を動作させて試験を行なうことを特徴とする。
【００１８】
また本発明では、ロジック回路の前記出力条件入力部より前段部分に、前記保護継電要素の相毎の出力信号とそれぞれオア条件となるように相毎の試験信号を入力させ、これら相毎の試験信号によりロジック回路を相毎に個別に動作させて試験を行なうようにしてもよい。
【００１９】
また、本発明では、相毎の試験信号をロジック回路の各相に同時に動作させて試験を行なう切換え手段を有する構成としてもよい。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、保護継電要素の出力信号に所定の出力条件を加えて出力させるロジック回路の、前記出力条件入力部より前段部分に、前記保護継電要素の出力信号とオア条件となるように試験信号を入力させ、この試験信号によりロジック回路を動作させたので、従来困難であったロジック回路の動作試験が可能となった。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明による保護継電器ロジック回路試験装置の一実施の形態について、図面を用いて詳細に説明する。
【００２２】
図１は保護継電器ロジック回路試験装置を示しており、（ａ）は試験内容を切換える回路構成を示し、（ｂ）は試験を実行する部分の回路構成を示している。
【００２３】
図１（ａ）において、３１はロジック回路試験のための試験入力信号で、ノット回路３２を介してトリップ出力試験信号３３となる。34R，34S，34Tは各相（Ｒ，Ｓ，Ｔ）毎の試験入力信号で、これらは、前記試験入力信号３１を一方の入力とするアンドゲート35R，35S，35Tの他方に印加され、対応するオアゲート36R，36S，36Tを経て、各相（Ｒ，Ｓ，Ｔ）毎の模擬信号37R，37S，37Tとなる。
【００２４】
また、各相（Ｒ，Ｓ，Ｔ）毎の試験入力信号34R，34S，34Tは、オアゲート３８及びノット回路３９を経て、前記試験入力信号３１を一方の入力とするアンドゲート４０の他方に印加され、その出力は各オアゲート36R，36S，36Tを経て、各相（Ｒ，Ｓ，Ｔ）毎の模擬信号37R，37S，37Tとなる。
【００２５】
次に、図１（ｂ）において、２１は図２と同様の保護継電要素（以下、リレー要素と呼ぶ）２１であり、その出力側にはロジック回路２２が接続され、このロジック回路２２を介して図示しないしゃ断器へのトリップ信号２３が出力される。
【００２６】
リレー要素２１は図示しない電力回路の各相からアナログ量負荷を入力し、相毎に事故事象の発生有無を検出する。その検出結果は、Ｒ，Ｓ，Ｔ各相の出力端子から動作信号として出力される。また、ロジック２２回路は相毎に設けられた２組のアンドゲート22AR，22AS，22AT及び22BR，22BS，22BTと、オアゲート22C、22Dとを有する。
【００２７】
そして、アンドゲート22AR，22AS，22ATの一方の入力端には、リレー要素２１の出力端Ｒ，Ｓ，Ｔから出力される動作信号が、後述するオアゲート42R，42S，42Tの対応するものを介して印加される。また、これらアンドゲート22AR，22AS，22ATの他方の入力端は、出力条件（Ｘ）２４とそれぞれ接続している。後段のアンドゲート22BR，22BS，22BTの一方の入力端は、上記アンドゲート22AR，22AS，22ATの対応する出力端と接続し、他方の入力端は出力条件（Ｙ）２５とそれぞれ接続している。
【００２８】
また、オアゲート22Cの入力端には上記後段のアンドゲート22BR，22BS，22BTの出力端が接続されており、このオアゲート22Cの出力端はオアゲート22Dの一方の入力端に接続している。
【００２９】
２６は試験入力信号で、リレー要素２１の出力を模擬する。この試験入力信号２６は、図1（ａ）で示したトリップ出力試験信号３３と共にアンドゲート４３に入力され、その出力は前記オアゲート22Dを介してトリップ信号２３として出力される。
【００３０】
また、この試験入力信号２６は、図1（ａ）で示した各相（Ｒ，Ｓ，Ｔ）毎の模擬信号37R，37S，37Tと共に対応するアンドゲート44R，44S，44Tに入力され、その出力、すなわち、各相（Ｒ，Ｓ，Ｔ）毎の試験用模擬信号は、前記オアゲート42R，42S，42Tの対応する入力端に接続される。言い換えると、ロジック回路２２の、出力条件２４，２５の入力部より前段部分に、保護継電要素２１の相（Ｒ，Ｓ，Ｔ）毎の出力信号とそれぞれオア条件となるように相（Ｒ，Ｓ，Ｔ）毎の試験信号を入力させ、これら相毎の試験信号によりロジック回路２２を相毎に動作させて試験を行なうことができる。
【００３１】
上記構成において、通常の運用状態では、図示しない電力回路に事故事象が生じると、図１（ｂ）で示すリレー要素２１は、入力されているアナログ量負荷の状態から事故発生を検出し、事故の発生した相毎に動作信号を出力する。ここで、各相Ｒ，Ｓ，Ｔから動作信号が出力されているものとすると、これらの信号は対応するオアゲート42R，42S，42Tを経てアンドゲート22AR，22AS，22ATの一方の入力端にそれぞれ加わり、出力条件（Ｘ）２４が成立していれば、後段のアンドゲート22BR，22BS，22BTの一方の入力端に信号を加える。そして、出力条件（Ｙ）２５も成立していれば、それらの出力はオアゲート22C，22Dを通り、トリップ信号２３として出力され、図示しないハード回路を経て対応するしゃ断器をトリップさせる。
【００３２】
一方、リレー要素２１の動作により対応するしゃ断器が動作するかを検証する試験を行なう場合は、リレー要素２１の出力を模擬した図１（ｂ）で示す試験入力２６を加える。
【００３３】
このとき、ロジック回路２２の動作試験を行わない場合は、図１（ａ）で示したロジック試験入力信号３１は「０」のままなので、ノット回路３２を介してトリップ出力模擬信号３３は「１」となる。このため、前述のように、図１（ｂ）で示した試験入力２６が加わることにより、アンドゲート４３がオンとなり、オアゲート22Dを介してトリップ出力２３として図示しないしゃ断器トリップ回路に出力され、このトリップ回路の動作確認試験が行なわれる。
【００３４】
次に、ロジック回路２２の試験を行なう場合は、図１（ａ）で示したロジック試験入力信号３１を「１」とする。ここで、各相（Ｒ，Ｓ，Ｔ）が同時に動作した状態を模擬して試験をするときは、各相（Ｒ，Ｓ，Ｔ）毎の試験入力信号34R，34S，34Tは出力せずに、オアゲート３８の出力を「０」のままとする。このためノット回路３９の出力は「１」となり、前記ロジック試験入力信号３１が出力されていることからアンドゲート４０がオンとなり、各オアゲート36R，36S，36Tを経て、各相（Ｒ，Ｓ，Ｔ）毎の模擬信号37R，37S，37Tを「１」とする。
【００３５】
このため、前記試験入力２６が加わることにより、図１（ｂ）で示したアンドゲート44R，44S，44Tがそれぞれオンとなり、対応するオアゲート42R，42S，42Tを経てアンドゲート22AR，22AS，22ATの一方の入力端にそれぞれ加わる。そして、出力条件（Ｘ）２４が成立していれば、後段のアンドゲート22BR，22BS，22BTの一方の入力端に入力信号を加える。そして、出力条件（Ｙ）２５も成立していれば、それらの出力はオアゲート22C，22Dを通り、トリップ信号２３としてしゃ断器トリップ回路に出力され、このトリップ回路の動作確認試験が行なわれる。
【００３６】
次に、相（Ｒ，Ｓ，Ｔ）毎の動作を模擬して試験を行なう場合を説明する。図１（ａ）で示したロジック試験入力信号３１を「１」とする。そして、試験したい相（例えば、Ｒ相とする）の試験入力34Rの出力を「１」とする。この操作によりアンドゲート35Rのみがオンになり、オアゲート36Rを介してＲ相模擬信号37Rを信号「１」とする。このため、試験入力２６が加わることにより、図１（ｂ）で示したアンドゲート44Rがオンになり、オアゲート42Rを経てアンドゲート22ARの一方の入力端に加わる。そして、出力条件（Ｘ）２４が成立していれば、後段のアンドゲート22BRの一方の入力端に入力信号を加える。さらに、出力条件（Ｙ）２５も成立していれば、オアゲート22C，22Dを通り、トリップ信号２３としてしゃ断器トリップ回路に出力され、このトリップ回路の動作確認試験が行なわれる。
【００３７】
すなわち、リレー要素２１のR相が動作した場合と同じ状態によりロジック回路２２を試験し、トリップ信号２３が出力されることにより、Ｒ相動作による、出力条件（Ｘ）２４、（Ｙ）２５を含めたロジック回路２２の正常動作を確認できる。
【００３８】
この試験動作は、他のＳ相及びＴ相についても同じである。
【００３９】
ここで、相毎の試験を行なっている場合、Ｒ，Ｓ，Ｔどれかの試験入力が信号「１」であればオアゲート３８の出力は「１」となり、ノット回路３９の出力を「０」にしてアンドゲート４０をオフにするため、各相（Ｒ，Ｓ，Ｔ）の模擬信号37R，37S，37Tがいっせいに「１」になることはない。すなわち、オアゲート３８及びノット回路３９は、相毎に個別の試験を行なうか、各相を同時に動作させて試験を行なうか、を切換える切換え手段として機能する。
【００４０】
このように、ロジック試験入力を利用することで、保護継電器としてのロジック全体の試験を実際の事故負荷を印加することなく行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明による保護継電器ロジック回路試験装置の一実施の形態を示す回路図である。
【図２】従来技術を説明する回路図である。
【符号の説明】
【００４２】
２１    保護継電要素
２２    ロジック回路
２３    トリップ出力信号
２４、２５    出力条件
２６    試験入力
３１    ロジック試験入力
３３    トリップ試験入力
３４    相毎の試験入力
４２    オアゲート
【図１】
2006166497.tif 000003
【図２】
2006166497.tif 000004