(57)【要約】【課題】  小規模で低消費電力な構成で光クロスコネクト装置を介する光パスの正常性確認方法を実現することを目的としている。【解決手段】  光クロスコネクト装置において、入力ポートと出力ポートを有し、この各入力ポートと各出力ポート間を任意の関係でクロスコネクトする光マトリクススイッチと、検査用出力ポートとしての前記出力ポートに接続され、この検査用出力ポートから受信された光信号を用いて、前記光マトリクススイッチを介する光パスの検査を行う光パス検査手段と、を備えた。【選択図】  図１
2006311248.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力ポートと出力ポートを有し、この各入力ポートと各出力ポート間を任意の関係でクロスコネクトする光マトリクススイッチと、
検査用出力ポートとしての前記出力ポートに接続され、この検査用出力ポートから受信された光信号を用いて、前記光マトリクススイッチを介する光パスの検査を行う光パス検査手段と、
を備えたことを特徴とする光クロスコネクト装置。
【請求項２】
前記光パス検査手段は、検査用入力ポートとしての前記入力ポートに接続され、この検査用入力ポートに、前記光マトリクススイッチを介する光パスの検査に用いる光信号を送信することを特徴とする請求項１に記載の光クロスコネクト装置。
【請求項３】
入力ポートと出力ポートを有し、この各入力ポートと各出力ポート間を任意の関係でクロスコネクトする光マトリクススイッチと、
検査用入力ポートとしての前記入力ポートに接続され、この検査用入力ポートに、前記光マトリクススイッチを介する光パスの検査に用いる光信号を送信する光パス検査手段と、
を備えたことを特徴とする光クロスコネクト装置。
【請求項４】
前記光パス検査手段は、
前記検査用出力ポートから受信された光信号を電気信号に変換し、この変換された電気信号を出力する光電気変換手段と、
前記光電気変換手段で出力された電気信号としての伝送フレームの検査を行った後、この伝送フレームから解体された試験信号を出力する伝送フレーム終端手段と、
前記伝送フレーム終端手段で出力された試験信号の検査を行う試験信号検査手段と、
を有することを特徴とする請求項１に記載の光クロスコネクト装置。
【請求項５】
前記光パス検査手段は、
試験信号を生成し、この生成された試験信号を出力する試験信号生成手段と、
前記試験信号生成手段で出力された試験信号を用いて伝送フレームを生成し、この生成された伝送フレームとしての電気信号を出力する伝送フレーム生成手段と、
前記伝送フレーム生成手段で出力された電気信号を光信号に変換し、この変換された光信号を前記検査用入力ポートに送信する電気光変換手段と、
を有することを特徴とする請求項２または請求項３に記載の光クロスコネクト装置。
【請求項６】
入力ポートと出力ポートを有し、この各入力ポートと各出力ポート間を任意の関係でクロスコネクトする光マトリクススイッチを備えた光クロスコネクト装置における検査用出力ポートとしての前記出力ポートから受信された光信号を用いて、前記光マトリクススイッチを介する光パスの検査を行う光パス検査ステップと、
を備えたことを特徴とする光パスの正常性確認方法。
【請求項７】
前記光パス検査ステップにおいて、前記光信号は、他の光クロスコネクト装置または他の通信装置で前記光マトリクススイッチを介する光パスに送信されることを特徴とする請求項６に記載の光パスの正常性確認方法。
【請求項８】
入力ポートと出力ポートを有し、この各入力ポートと各出力ポート間を任意の関係でクロスコネクトする光マトリクススイッチを備えた光クロスコネクト装置における検査用入力ポートとしての前記入力ポートに、前記光マトリクススイッチを介する光パスの検査に用いる光信号を送信する光パス検査ステップと、
を備えたことを特徴とする光パスの正常性確認方法。
【請求項９】
前記光パス検査ステップにおいて、送信された前記光信号は、他の光クロスコネクト装置または他の通信装置で受信され、この受信された光信号を用いて、前記光マトリクススイッチを介する光パスの検査を行うことを特徴とする請求項８に記載の光パスの正常性確認方法。
【請求項１０】
前記光パス検査ステップにおいて、異常箇所の評定としての前記光パスの検査を行うことを特徴とする請求項６〜請求項９のいずれかに記載の光パスの正常性確認方法。
【請求項１１】
前記光パス検査ステップにおいて、未使用の光パスに対して前記光パスの検査を行うことを特徴とする請求項６〜請求項９のいずれかに記載の光パスの正常性確認方法。
【請求項１２】
前記光パス検査ステップにおいて、プロテクションまたはレストレーションに対応した予備系の光パスに対して前記光パスの検査を行うことを特徴とする請求項６〜請求項９のいずれかに記載の光パスの正常性確認方法。
【請求項１３】
前記光パス検査ステップは、ＬＭＰ（Ｌｉｎｋ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  Ｐｒｏｔｏｃｏｌ）の拡張により制御されることを特徴とする請求項６〜請求項１２のいずれかに記載の光パスの正常性確認方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光信号をトランスペアレントにクロスコネクトする光クロスコネクト装置および光クロスコネクト装置を介する光パスの正常性確認方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光信号をトランスペアレントにクロスコネクトする光クロスコネクト装置において、光パスの動作確認が可能な光クロスコネクト装置の一例が、特許文献１に開示されている。この従来の光クロスコネクト装置は、光伝送信号入力部、光伝送信号出力部、光スイッチ部、入力信号モニタ部、入力光信号制御部、監視信号生成部、入力光信号選択部及び出力信号モニタ部から構成されている。入力信号モニタ部において、外部から光伝送信号入力部に入力された光信号の光レベルを常時監視し、入力光信号制御部では、その光レベルが一定レベルに満たない場合には監視信号生成部で生成された監視信号が光スイッチ部に入力されるように入力光信号選択部を制御する。出力信号モニタ部は、光スイッチ部から出力された光信号の一部を分岐し、その光信号の光レベルをモニタして、その情報をモニタ出力の利用装置へ供給する。そして、モニタ出力の利用装置は、前段の（遠方に存在する）光クロスコネクト装置が送出した監視信号を、当該光クロスコネクト装置の出力信号モニタ部がモニタして、その情報に基づいて、回線等の監視を行うことができる。
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−２０７８６３号公報（第７−８頁、第３図、第２０図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１に開示された従来の光クロスコネクト装置は、光スイッチの入出力ポート数Ｎに対応して、監視信号生成部、入力光信号選択部、出力信号モニタ部などがそれぞれＮ個必要となるため、装置のハードウエア規模が大きくなり、消費電力も増大し、装置コストに伴う光ネットワークコストが高くなるという問題点があった。
【０００５】
この発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、小規模で低消費電力な構成で光クロスコネクト装置を介する光パスの正常性確認方法を実現することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明に係る光クロスコネクト装置は、入力ポートと出力ポートを有し、この各入力ポートと各出力ポート間を任意の関係でクロスコネクトする光マトリクススイッチと、検査用出力ポートとしての前記出力ポートに接続され、この検査用出力ポートから受信された光信号を用いて、前記光マトリクススイッチを介する光パスの検査を行う光パス検査手段と、を備えたものである。
【発明の効果】
【０００７】
この発明は、小規模で低消費電力な構成で光クロスコネクト装置を介する光パスの正常性確認方法を実現することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
実施の形態１．
この発明の実施の形態１による光クロスコネクト装置は、最大クロスコネクト容量ｎに対して、（ｎ＋ｉ）×（ｎ＋ｉ）光マトリクススイッチと、ｉ本の光検査信号を生成して光マトリクススイッチに供給するとともに、光マトリクススイッチからのｉ本の光信号を用いて光パスの検査を行う光パス検査手段とで構成したので、小規模で低消費電力な構成で光クロスコネクト装置を介する光パスの正常性確認方法を実現することができる。
【０００９】
図１は、この発明の実施の形態１による光クロスコネクト装置を示す構成図である。
図１において、１は光クロスコネクト装置、２は（ｎ＋ｉ）×（ｎ＋ｉ）光マトリクススイッチ、２０１ａは入力ポート、２０１ｂは検査用入力ポートとしての入力ポート、２０２ａは出力ポート、２０２ｂは検査用出力ポートとしての出力ポート、３は光パス検査手段である。
【００１０】
（ｎ＋ｉ）×（ｎ＋ｉ）光マトリクススイッチ２は、装置外から入力ポート２０１ａへのｎ本の光入力信号と、光パス検査手段３から入力ポート２０１ｂへのｉ本の光検査信号とを入力とし、出力ポート２０２ａから装置外へのｎ本の光出力信号と、出力ポート２０２ｂから光パス検査手段３へのｉ本の光信号とを出力とし、入力と出力間を任意の関係でクロスコネクトする。ここで、ｎは光クロスコネクト装置１の最大クロスコネクト容量を表し、ｉは光パス試験信号の最大分岐挿入容量を表しており、ｎおよびｉは正の整数で、通常、ｎ＞ｉの構成をとる。光パス検査手段３は、ｉ本の光検査信号を生成して、（ｎ＋ｉ）×（ｎ＋ｉ）光マトリクススイッチ２の検査用入力ポート２０１ｂに供給するとともに、（ｎ＋ｉ）×（ｎ＋ｉ）光マトリクススイッチ２の検査用出力ポート２０２ｂからのｉ本の光信号に対して光レベルの検出やビット誤り等の検査を行う。
【００１１】
図２は、この発明の実施の形態１による光クロスコネクト装置を用いる光ネットワークを示す構成図である。
図２において、４は他の通信装置としてのユーザ装置、５は他の通信装置としてのＷＤＭ（Wavelength Division Multiplexing）装置、６は光伝送路である。
【００１２】
第１のユーザ装置４は、第１の光クロスコネクト装置１にｎ本の光信号を出力する。第１の光クロスコネクト装置１は当該（ｎ＋ｉ）×（ｎ＋ｉ）光マトリクススイッチ２において、第１のユーザ装置４からのｎ本の光入力信号と当該光パス検査手段３からのｉ本の光パス検査信号とをクロスコネクト設定して、任意の（ｎ＋ｉ）出力ポートから出力し、ｎ本の光出力信号を第１のＷＤＭ装置５へ出力し、ｉ本の光出力信号を当該光パス検査手段３へ出力する。第１のＷＤＭ装置５は第１の光クロスコネクト装置１からのｎ本の光出力信号を波長多重化して光伝送路６を介して第２のＷＤＭ装置５へ伝送する。
【００１３】
第２のＷＤＭ装置５では、光伝送路６からの波長多重光信号を波長多重分離して、ｎ本の光信号を第２の光クロスコネクト装置１へ出力する。第２の光クロスコネクト装置１では、当該（ｎ＋ｉ）×（ｎ＋ｉ）光マトリクススイッチ２において、第２のＷＤＭ装置５からのｎ本の光入力信号と当該光パス検査手段３からのｉ本の光パス検査信号とをクロスコネクト設定して、任意の（ｎ＋ｉ）出力ポートから出力し、ｎ本の光出力信号を第２のユーザ装置４へ出力し、ｉ本の光出力信号を当該光パス検査手段３へ出力する。
【００１４】
図３は図１および図２に示した光クロスコネクト装置１における光パス検査手段３の詳細を示す構成図である。
図３において、３０１は電気光変換手段および光電気変換手段としての電気／光相互変換手段、３０２は伝送フレーム生成手段および伝送フレーム終端手段としての伝送フレーム生成終端手段、３０３は試験信号生成手段および試験信号検査手段としての試験信号生成検査手段である。
【００１５】
電気／光相互変換手段３０１では、伝送フレーム生成手段３０２からの電気光パス試験信号を電気／光変換して、（ｎ＋ｉ）×（ｎ＋ｉ）光マトリクススイッチ２へ出力し、また、（ｎ＋ｉ）×（ｎ＋ｉ）光マトリクススイッチ２からの光パス試験信号入力を光／電気変換して、電気光パス試験信号を伝送フレーム生成終端手段３０２へ出力するとともに、光パス試験信号入力の光レベルが所定レベル以下の場合に光パスの異常を検知する。
【００１６】
伝送フレーム生成終端手段３０２では、試験信号生成手段３０３からの電気検査信号に対して伝送フレームを組み立て、電気／光相互変換手段３０１へ出力し、電気／光相互変換手段３０１からの電気光パス試験信号に対して伝送フレームの検査を行い、伝送フレームを解体して試験信号生成検査手段３０３に出力する。
【００１７】
試験信号生成検査手段３０３では、例えば擬似ランダムパターン等の検査信号を生成して伝送フレーム生成終端手段３０２へ出力し、伝送フレーム生成終端手段３０２において伝送フレームから解体された擬似ランダムパターン等の検査信号を検査する。
【００１８】
例えば、伝送フレーム生成検査手段３０２では、ＩＴＵ−Ｔ（International Telecommunication Union-Telecommunication standardization sector）  Ｏ１８１勧告に示されたようなＳＤＨ（Synchronous Digital Hierarchy）に基づくＳＴＭ（Synchronous Transport Module）−６４フレームを生成終端する構成とすれば、ＳＴＭ−６４フレームのオーバヘッド領域に格納されたビットインターリーブパリティ等により伝送品質を検査でき、また、パストレース信号等によりパスの導通検査を行うことができる。また、ペイロード領域に格納された擬似ランダムパターンを抜き出して、試験信号生成検査手段３０３に出力し、試験信号生成検査手段３０３において、受信した擬似ランダムパターンのビット誤りを検査することにより、高精度に光パスの品質を確認することができる。
【００１９】
次に、この発明の実施の形態１による光パスの正常性確認方法について説明する。
図４は、図３に示したこの発明の実施の形態１による光クロスコネクト装置を用いる光ネットワークにおける光パスの正常性確認方法による光パス試験の一例を示しており、第１の光クロスコネクト装置１から第１のＷＤＭ装置５、光伝送路６、第２のＷＤＭ装置５を介した第２の光クロスコネクト装置１までの光パス試験経路を太実線で実施する場合を示している。このような複数の装置間に渡る光パス試験の制御については、図示していないオペレーションシステムにより行うことができる。なお、いわゆるオペレーションシステムは、このような光パス試験の制御も含めて、光ネットワークにおける監視・制御を司るものである。
【００２０】
例えば、第１のユーザ装置４および第２のユーザ装置４において、ｎ本の光信号の一部を使用していない場合、未使用の光パスに対して、第１のクロスコネクト装置１の当該光パス検査手段３からの光パス検査信号を挿入し、第２の光クロスコネクト装置１の当該光パス検査手段３において光パス検査信号を検査することにより、未使用光パスの正常性を確認することができる。
【００２１】
また、ここでは、第１のユーザ装置４および第２のユーザ装置４がそれぞれ第１の光クロスコネクト装置１および第２の光クロスコネクト装置１に接続されている場合を図示しているが、例えば、光ネットワークの建設時において、第１のユーザ装置４および第２のユーザ装置４が存在しない場合があり、この場合においては、本構成によれば、上記光パスにおける任意の全ての経路について正常性を確認することができる。
【００２２】
以上のように、この発明の実施の形態１による光クロスコネクト装置おいては、光マトリクススイッチの容量を（ｎ＋ｉ）×（ｎ＋ｉ）として、光パス検査手段からのｉ本の光パス検査信号を任意のクロスコネクト設定に対して分岐挿入可能な構成としたので、小規模で低消費電力な構成で光パスの正常性を確認でき、高信頼な光ネットワークを低コストで提供できる。
【００２３】
なお、上記実施例では、伝送フレーム生成検査手段３０２ではＳＴＭ−６４信号の生成終端を行う例に示したが、例えば、ＩＴＵ−Ｔ  Ｇ．７０９勧告に示されたＯＴＵ（Optical channel Transport Unit）フレーム、ＩＥＥＥ（Institute of Electrical and Electronic Engineers）８０２．３に示されたギガビットイーサネット（登録商標）フレーム、またはＩＥＥＥ８０２．３ａｅに示された１０ギガビットイーサネット（登録商標）フレームとしても良く、さらには、他の伝送フレームとした場合でも同様な効果を奏する。
【００２４】
実施の形態２．
図５は、図１に示した構成の光クロスコネクト装置１を適用した光ネットワークにおける他の光パスの正常性確認方法を示す説明図であり、第１のＷＤＭ装置５および第２のＷＤＭ装置５に図３に示した構成の光パス検査手段３をそれぞれ設けた場合の構成である。図５において太実線で示した経路により光パスの試験を実施することで、光クロスコネクト装置１とＷＤＭ装置５の間で光パスの正常性確認を行うことができ、該当する区間で故障が発生したことを特定することが可能となる。
【００２５】
以上のように、この発明の実施の形態２による光パスの正常性確認方法においては、ＷＤＭ装置５にも光パス検査手段３を設けた構成としたので、該当区間における故障箇所評定が可能となり、高信頼な光ネットワークを提供することができる。
【００２６】
実施の形態３．
図６は、図１に示した構成の光クロスコネクト装置１を適用した光ネットワークにおける他の光パスの正常性確認方法を示す説明図であり、第１のユーザ装置４および第２のユーザ装置４に図３に示した構成の光パス検査手段３をそれぞれ設けた場合の構成である。図６において太実線で示した経路により光パスの試験を実施することで、光クロスコネクト装置１とユーザ装置４の間で光パスの正常性確認を行うことができ、該当する区間で故障が発生した場合を特定することが可能となる。
【００２７】
以上のように、この発明の実施の形態３による光パスの正常性確認方法においては、ユーザ装置４にも光パス検査手段３を設けた構成としたので、該当区間における故障箇所の同定が可能となり、高信頼な光ネットワークを提供することができる。
【００２８】
実施の形態４
上記実施例では、未使用の光パスに対する正常性確認の例について説明したが、例えば、光クロスコネクト装置において、周知のＭ：Ｎプロテクション／レストレーションに対応した光パスを構成した場合、現用系の光パスが正常な時には、Ｍ本のプロテクション／レストレーション用予備系の光パスに、図３に示した構成の光パス検査手段３からの光パス検査信号を挿入して予め予備系の光パスの正常性を確認しておく。これにより、現用系の光パスに故障が発生した時には、予め予備系の光パスが正常であることが保証されているので、高信頼なＭ：Ｎプロテクション／レストレーション機能を提供することが可能となる。
【００２９】
以上のように、この発明の実施の形態４による光パスの正常性確認方法においては、予め予備系の光パスの正常性を確認しておくようにしたので、プロテクション／レストレーションに対応した高信頼な光ネットワークを提供することができる。
【００３０】
実施の形態５．
図７は、図１に示した光クロスコネクト装置１を適用した光ネットワークにおける他の光パスの正常性確認方法を示す説明図であり、第１のＷＤＭ装置５および第２のＷＤＭ装置５に図３に示した構成の光パス検査手段３を設け、第１のユーザ装置４および第２のユーザ装置４に図３に示した構成の光パス検査手段３をそれぞれ設けた場合の構成である。図７において太実線で示した複数の経路により光パスの試験を実施することで、光パスの正常性を確認することができ、光パスに故障が発生した場合においては、順次、光パスの試験経路を検索することで、いずれの区間で故障が発生したか否かを容易に特定することが可能となる。
【００３１】
図８および図９は、上記故障箇所評定方法の一例を示す説明図である。図８の（ａ）、（ｂ）および（ｃ）の太実線で示した光パス経路を検査することにより、図９に示すように故障箇所の評定が可能となる。図９において、○は光パスの検査結果が正常、×は光パスの検査結果が異常であることを示す。例えば、図８の（ａ）および（ｂ）の光パス経路の検査結果が○（正常）で、図８の（ｃ）の光パス経路の検査結果が×（異常）である場合には、第１のＷＤＭ装置５および第２のＷＤＭ装置５間（すなわちＷＤＭ装置間）に故障箇所があることが特定できる。図９に示すように他の場合も同様にして故障箇所の同定が可能である。
【００３２】
以上のように、この発明の実施の形態５による光パスの正常性確認方法においては、各通信装置にも光パス検査手段３を設けた構成としたので、複数の区間における故障箇所の同定が可能となり、高信頼な光ネットワークを提供することができる。
【００３３】
実施の形態６．
上記実施例では、光パスの正常性確認方法の制御については、図示していないオペレーションシステム等から行うことができる。一方、ＩＥＴＦ（Internet Engineering Task Force）等においては、ＧＭＰＬＳ（Generalized Multi−Protocol Label Switching）の制御プロトコルとして、ＬＭＰ（Link Management Protocol）が検討されている。例えば、ＬＭＰを拡張し、上述の実施の形態４において説明したＭ：Ｎプロテクション／レストレーションに対応した予備系光パスの正常性確認の手順を盛り込むことにより、光ネットワークの自立分散制御により光パスの正常性確認が実現できる。
【００３４】
予備系光パスの正常性確認の手順としては、同時に複数の光パス検査手段３を制御して複数の予備系光パスの正常性を確認する方法や、複数の予備系光パスに周期的に光パス検査信号を挿入分岐して確認する方法、および、これらを組み合わせる方法がある。後者の２つの方法を適用することにより、光ネットワークが大規模化した場合でも、光パス検査手段３の必要数量を最小限とすることが可能であり、より低コストで高信頼な光ネットワークを適用することができる。
【００３５】
以上のように、この発明の実施の形態６による光パスの正常性確認方法においては、ＬＭＰを拡張し、予め予備系の光パスの正常性を確認しておくようにしたので、自立分散制御によりプロテクション／レストレーションに対応した高信頼な光ネットワークを提供することができる。
【００３６】
実施の形態７．
上述の実施の形態６では、ＬＭＰを拡張することで、予備系光パスの正常性確認を行う場合について説明したが、例えば、使用中の光パスやプロテクション／レストレーションの現用系光パスに故障が発生した場合、図７に示した光パス正常性確認経路に対して、図８および図９に示したように順次光パスの検査を実施するようにＬＭＰを拡張することで、光ネットワークの自立分散制御による故障箇所評定が可能となる。
【００３７】
以上のように、この発明の実施の形態７による光パスの正常性確認方法においては、各通信装置にも光パス検査手段３を設けた構成とし、順次光パスの検査を実施するようにＬＭＰを拡張するようにしたので、自立分散制御により複数の区間における故障箇所の同定が可能となり、高信頼な光ネットワークを提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】この発明の実施の形態１による光クロスコネクト装置を示す構成図
【図２】この発明の実施の形態１による光クロスコネクト装置を用いる光ネットワークを示す構成図
【図３】この発明の実施の形態１による光クロスコネクト装置を示す構成図
【図４】この発明の実施の形態１による光パスの正常性確認方法を説明するための説明図
【図５】この発明の実施の形態２による光パスの正常性確認方法を説明するための説明図
【図６】この発明の実施の形態３による光パスの正常性確認方法を説明するための説明図
【図７】この発明の実施の形態５による光パスの正常性確認方法を説明するための説明図
【図８】この発明の実施の形態５による光パスの正常性確認方法を説明するための説明図
【図９】この発明の実施の形態５による光パスの正常性確認方法を説明するための説明図
【符号の説明】
【００３９】
１  光クロスコネクト装置
２  （ｎ＋ｉ）×（ｎ＋ｉ）光マトリクススイッチ
２０１ａ  入力ポート
２０１ｂ  検査用入力ポートとしての入力ポート
２０２ａ  出力ポート
２０２ｂ  検査用出力ポートとしての出力ポート、
３  光パス検査手段
３０１  電気／光相互変換手段
３０２  伝送フレーム生成終端手段
３０３  試験信号生成検査手段
４  ユーザ装置
５  ＷＤＭ装置
【図１】
2006311248.tif 000003
【図２】
2006311248.tif 000004
【図３】
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【図４】
2006311248.tif 000006
【図５】
2006311248.tif 000007
【図６】
2006311248.tif 000008
【図７】
2006311248.tif 000009
【図８】
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【図９】
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