(57)【要約】【課題】  加工処理された加工対象物から測定した特性値が、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外である場合、調整対象を効率的に特定できる調整装置を提供する。【解決手段】  調整装置７は、２台の加工機５ａ・５ｂのいずれかにより加工処理された製品の特性値３１を、３台の測定器６ａ・６ｂ・６ｄのいずれかから受け付け、この特性値３１に基づき、加工処理された製品が規定の品質を満たしているか否かを判定する判定部２１と、加工処理された製品が規定の品質を満たしていない場合、規定範囲外となる特性値３１が２個周期で現れるか、または３個周期で現れるかに基づき、調整対象を特定する異常推定部１７とを備える。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ｍ台の加工処理装置のいずれかにより加工処理された加工対象物の品質を示す特性値を、ｎ台の測定装置のいずれかから受け付け、調整対象を特定する特定装置であって、
上記ｍ、ｎは互いに異なる自然数であり、
上記測定装置から受け付けた特性値に基づき、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしているか否かを判定する判定手段と、
上記判定手段により加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしていないと判定された場合、
上記加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外となる特性値を非正常特性値とすると、該非正常特性値が、ｍ個周期で現れるか、またはｎ個周期で現れるかに基づき、調整対象を特定する特定手段とを備えることを特徴とする特定装置。
【請求項２】
上記測定装置から受け付けた特性値を、該特性値を有する加工対象物が加工処理された順番と対応付けて記憶する記憶装置と、
上記記憶装置に記憶された特性値に基づき、非正常特性値がｍ個周期で現れるか、あるいはｎ個周期で現れるかを示す非正常特性値の周期性を検出する周期検出手段とを備え、
上記特定手段が、上記周期検出手段による検出結果に基づき、調整対象を特定することを特徴とする請求項１に記載の特定装置。
【請求項３】
上記記憶装置に記憶された特性値に基づき、上記非正常特性値の周期性と関連する当該特性値の統計的特徴を算出する算出手段を備え、
上記算出手段により算出された統計的特徴に基づき、上記周期検出手段は、検出する非正常特性値の周期性のうち上記ｍ個周期あるいはｎ個周期のいずれの検出を行うかを決定することを特徴とする請求項２に記載の特定装置。
【請求項４】
上記記憶装置に記憶された特性値は、さらに当該特性値を測定した測定装置に割り当てられた測定装置番号と対応づけて記憶されており、
上記算出手段は、上記記憶装置に記憶された特性値に基づき、当該特性値がとり得る値の範囲を所定区間に分割し、該区間それぞれの範囲に含まれる特性値の度数分布情報の特徴を示す分布特徴情報を算出する分布特徴算出手段と、
上記測定装置ごとに測定された特性値それぞれにおける非正常特性値の割合である個別不良率を算出する個別不良率算出手段とを備えることを特徴とする請求項３に記載の特定装置。
【請求項５】
上記特定手段により調整対象として上記加工処理装置が特定された場合、
上記加工処理装置の動作を規定する設定値を変更する変更手段と、
上記度数分布情報が、規定の品質を満たしている加工処理された加工対象物の特性値に基づく度数分布情報に近づくように上記設定値の変更を上記変更手段に指示する変更指示手段とを備え、
上記変更手段が、上記変更指示手段による変更指示に応じて、ｍ台の加工処理装置のいずれかの設定値を変更することを特徴とする請求項４に記載の特定装置。
【請求項６】
上記変更指示手段は、上記変更手段によって上記設定値が変更された後に加工処理された加工対象物の変更後特性値に基づく度数分布情報が、規定の品質を満たす加工対象物から得られる特性値に基づく度数分布情報に近づくまで、上記変更手段に設定値の変更を指示することを特徴とする請求項５に記載の特定装置。
【請求項７】
上記特定手段により特定された調整対象を示す情報を出力する出力手段をさらに備えることを特徴とする請求項２〜６のいずれか１項に記載の特定装置。
【請求項８】
上記測定装置により測定された特性値と、該特性値それぞれに対応する各製品について加工処理され特性値が測定された順番との関係を示すデータを、時系列データとみなし、該時系列データを周波数変換した場合におけるスペクトルの値の総和と、
上記特性値全体のばらつき度を示す値と、
非正常特性値が現れる特定周期に対応する周波数域における上記スペクトルの値とに基づき、調整対象の調整前後における特性値のばらつき度の変化量を算出するばらつき度算出手段をさらに備え、
上記出力手段が、上記ばらつき度算出手段により算出されたばらつき度の変化量を示す情報を出力することを特徴とする請求項７に記載の特定装置。
【請求項９】
上記記憶装置が、上記測定装置によって測定された特性値に関して、調整対象の調整を行う必要がないと判断される特性値のばらつき程度を示す、ばらつき許容情報をさらに記憶しており、
上記記憶装置に記憶された上記ばらつき許容情報、
測定装置によって測定された特性値全体のばらつき度を示す値、および
上記特性値と、特性値それぞれに対応する各製品について加工処理され該特性値が測定された順番との関係を示すデータを、時系列データとみなし、該時系列データを周波数変換した場合におけるスペクトルの値の総和に基づき、上記特定手段によって特定された調整対象の調整を行う必要があるか否かを判定するための閾値を求め、
該時系列データを周波数変換した場合における非正常特性値が現れる特定周波数におけるスペクトルの大きさと、上記閾値とを比較し、特定手段により調整対象として特定された装置の調整を行うか否かを判定する調整実行判定手段とを備えていることを特徴とする請求項７に記載の特定装置。
【請求項１０】
請求項１〜９のいずれか１項に記載の特定装置と、加工対象物の加工処理を行うｍ台の加工処理装置と、該加工処理装置のいずれかにより加工処理された加工対象物の品質を示す特性値を測定するｎ台の測定装置とを備えることを特徴とする加工処理システム。
【請求項１１】
ｍ台の加工処理装置のいずれかにより加工処理された加工対象物の品質を示す特性値を、ｎ台の測定装置のいずれかから受け付け、補正対象の特定を行う特定装置の制御方法であって、
上記ｍ、ｎは互いに異なる自然数であり、
上記測定装置から受け付けた特性値に基づき、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしているか否かを判定する判定ステップと、
上記判定ステップにより、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしていないと判定された場合、
上記加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外となる特性値を非正常特性値とすると、該非正常特性値が、ｍ個周期で現れるか、またはｎ個周期で現れるかに基づき、調整対象を特定する特定ステップとを備えることを特徴とする特定装置の制御方法。
【請求項１２】
請求項１〜９いずれか１項に記載の特定装置を動作させるための制御プログラムであって、コンピュータを上記各手段として機能させるための特定装置の制御プログラム。
【請求項１３】
請求項１２に記載の特定装置の制御プログラムを記録したコンピュータの読取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ｍ台の加工処理装置のいずれかにより加工処理された加工対象物の品質を示す特性値を、ｎ台の測定装置のいずれかから受け付け、該加工処理装置または該測定装置の調整を行う特定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、製品の生産効率を向上させるために、生産工程ごとに例えば複数の同一機能を有した加工機、または複数の同一機能を有した加工台などを設け、初工程から最終工程まで流れ作業で製品の生産を行う生産方式が利用されている。このような生産方式では、通常、複数の生産ラインが設けられ、各生産ラインを通して並列的に製品の加工処理等が行われる。
【０００３】
そして、各生産ラインの途中、あるいは最終工程において、加工処理された製品が規定の品質を満たしているか否かを調べるために、加工処理された製品の特性を測定するための複数の測定器（測定装置）が設けられている。
【０００４】
なお、この特性とは、例えば生産された製品のサイズ、接合強度など製品の性能または精度など品質を示すものである。なお、これ以降では、この特性を示す値のことを特性値と称する。
【０００５】
ところで、上記した生産方式では、測定器による測定結果として得られた特性値が、加工処理された製品の品質が規定の品質を満たしている場合にとり得る値の範囲外となる場合がある。このような場合の要因としては、上記加工台、加工機などの調整の不具合や、測定器自体の測定誤差などが挙げられる。
【０００６】
しかしながら、高品質な製品を生産するためには、測定器によって測定された特性値が、上記規定の品質を満たしている場合にとり得る範囲内に収まるように上記加工台、加工機、または測定器などを調整する必要がある。
【０００７】
そこで従来の方式では、このように上記加工台、加工機、または測定器などを調整する必要がある場合、測定器から得られた特性値の状態に応じて、上記製品の生産作業に従事する、特に熟練作業員が、経験的に不具合が生じている装置を特定し調整を行っている。
【０００８】
なお、測定器の測定誤差の調整に関しては、例えば特許文献１に、各測定器で同一の基準特性をもった標準製品の測定を行い、その測定結果を使用して各測定器の測定結果のばらつきを調整する生産ライン用測定器の校正方法が開示されている。
【０００９】
この特許文献１に示される構成の場合も、測定器以外の装置（例えば加工機など）において不具合が生じている場合、測定器から測定された特性値の状態に基づき、上記熟練作業員が調整対象を特定することとなる。
【特許文献１】特開平１０−１３２９１４号公報（１９９８年５月２２日公開）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、上記従来の方式では、作業員の経験的な知識に依存して調整対象を特定し、調整を行っている。このように、作業員の経験的な知識に依存しているため調整対象を即座に特定することができず、上記製品の生産性を低下させるという問題が生じる。
【００１１】
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、加工処理された加工対象物から測定した特性値が、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外である場合、調整対象を効率的に特定できる特定装置、加工処理システム、特定装置の制御方法、特定装置の制御プログラム、特定装置の制御プログラムを記録した記録媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
本発明に係る特定装置は、上記した課題を解決するために、ｍ台の加工処理装置のいずれかにより加工処理された加工対象物の品質を示す特性値を、ｎ台の測定装置のいずれかから受け付け、調整対象を特定する特定装置であって、上記ｍ、ｎは互いに異なる自然数であり、上記測定装置から受け付けた特性値に基づき、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしているか否かを判定する判定手段と、上記判定手段により加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしていないと判定された場合、上記加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外となる特性値を非正常特性値とすると、該非正常特性値が、ｍ個周期で現れるか、またはｎ個周期で現れるかに基づき、調整対象を特定する特定手段とを備えることを特徴とする。
【００１３】
上記構成によると、上記特定装置は、上記判定手段を備えているため、加工処理された加工対象物の品質が規定の品質を満たしているか否かを判定することができる。
【００１４】
なお、上記加工処理装置とは、例えば加工機、加工台など加工対象物に対して加工処理を行う際にかかわる装置である。
【００１５】
ところで、上記判定手段により加工処理された加工対象物の品質が規定の品質を満たしていないと判定される場合としては、例えば加工処理装置が正常に可動していない場合、あるいは測定装置が正常に可動していない場合が挙げられる。
【００１６】
例えば、加工処理装置が正常に可動していない場合、当該加工処理装置によって加工処理された加工対象物の特性値は、規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外となる。すなわち、ｍ台の加工処理装置のうちいずれか１台が正常に可動してない場合、測定装置から受け付けた特性値がｍ個周期で上記範囲外の値となる。
【００１７】
一方、測定装置が正常に可動していない場合、当該測定装置によって測定された特性値は、規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外となる。すなわち、ｎ台の測定値のうちいずれか１台が正常に可動していない場合、測定装置から受け付けた特性値がｎ個周期で上記範囲外の値となる。
【００１８】
したがって、上記特定手段は、規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外となる特性値の出現周期がｍ個周期であるのか、ｎ個周期であるのかに基づいて、調整対象が加工処理装置であるのか、または測定装置であるのかを特定することができる。
【００１９】
このように、本発明に係る特定装置は、上記特定手段を備えているため、規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外となる特性値の出現周期に基づき、調整対象を特定することができる。このため、本発明に係る特定装置では、加工処理装置または測定装置の設定調整など煩わしい操作を手動で行い、どちらの装置に異常が生じているか否かを調べ調整対象を特定する必要がない。
【００２０】
すなわち、本発明に係る特定装置は、加工処理装置または測定装置の設定などに変更を加えることなく、効率的に調整対象を特定できる。
【００２１】
よって、本発明に係る特定装置は、加工処理された加工対象物から測定した特性値が、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外であるとき、調整対象を効率的に特定できるという効果を奏する。
【００２２】
また、本発明に係る特定装置は、上記した構成において、上記測定装置から受け付けた特性値を、該特性値を有する加工対象物が加工処理された順番と対応付けて記憶する記憶装置と、上記記憶装置に記憶された特性値に基づき、非正常特性値がｍ個周期で現れるか、あるいはｎ個周期で現れるかを示す非正常特性値の周期性を検出する周期検出手段とを備え、上記特定手段が、上記周期検出手段による検出結果に基づき、調整対象を特定するように構成されていてもよい。
【００２３】
上記構成によると、測定装置から受け付けた特性値を、当該特性値を有する加工対象物が加工処理された順番と対応付けて記憶装置に記憶させておくことができる。
【００２４】
このため、周期検出手段は、上記記憶装置に記憶された特性値に基づき、上記加工処理装置または測定装置において正常に可動していない場合に生じる上記範囲外の特性値（非正常特性値）の出現周期を検出することができる。
【００２５】
したがって、上記特定手段は、周期検出手段によって検出された結果に基づき、調整対象を効率的に特定することができる。
【００２６】
また、本発明に係る特定装置は、上記した構成において、上記記憶装置に記憶された特性値に基づき、上記非正常特性値の周期性と関連する当該特性値の統計的特徴を算出する算出手段を備え、上記算出手段により算出された統計的特徴に基づき、上記周期検出手段は、検出する非正常特性値の周期性のうち上記ｍ個周期あるいはｎ個周期のいずれの検出を行うかを決定するように構成されていることが好ましい。
【００２７】
上記構成によると、算出手段により算出された統計的特徴に基づき、上記周期検出手段は、上記検出する非正常特性値の周期性のうちｍ個周期、あるいはｎ個周期いずれの検出を行うかを決定することができる。
【００２８】
このように、周期検出手段は、上記統計的特徴に基づき、検出する非正常特性値の周期性を決定することができるため、周期性の検出を効率的に行うことができる。
【００２９】
したがって、本発明に係る特定装置は周期検出手段が、周期性の検出を効率的に行うことができるため、調整対象を効率的に特定することができる。
【００３０】
また、本発明に係る特定装置は、上記した構成において、上記記憶装置に記憶された特性値は、さらに当該特性値を測定した測定装置に割り当てられた測定装置番号と対応づけて記憶されており、上記算出手段は、上記記憶装置に記憶された特性値に基づき、当該特性値がとり得る値の範囲を所定区間に分割し、該区間それぞれの範囲に含まれる特性値の度数分布情報の特徴を示す分布特徴情報を算出する分布特徴算出手段と、上記測定装置ごとに測定された特性値それぞれにおける非正常特性値の割合である個別不良率を算出する個別不良率算出手段とを備える構成であってもよい。
【００３１】
上記構成によると、分布特徴算出手段を備えているため、上記特性値の度数分布情報の特徴を算出することができる。なお。ここで上記特性値の度数分布情報とは、例えば該特性値の度数の分布状態を示すヒストグラムである。また分布特徴情報とは、該ヒストグラムに現れる特性値の度数の分布特徴であり、例えば前後の上記区間に属する特性値の度数よりも度数が大きくなる区間の数などである。
【００３２】
例えば、上記ｍ台の加工処理装置のうちいずれか１台が正常に可動していない場合、該加工処理装置のいずれか１台によって加工処理された加工対象物の特性値に基づく上記ヒストグラムでは、上記区間が２つ現れる。このため、この分布特徴情報が上記区間が２つ現れる場合は、ｍ個周期で非正常特性値となる可能性が高いといえる。したがって、この分布特徴情報が上記区間が２つ現れる場合は、上記周期検出手段は、上記非正常特性値がｍ個周期で現れているか否かの検出を行えばよいこととなる。
【００３３】
また、本発明に係る特定装置は、個別不良率算出手段を備えているため、測定装置それぞれにより測定された各特性値における非正常特性値の割合を算出することができる。
【００３４】
例えば、上記ｎ台の測定装置のいずれか１台が正常に可動していない場合、個別不良率算出手段により算出された非正常特性値の割合のうちいずれか１つが大きくなる。
【００３５】
このため、個別不良率算出手段により算出された非正常特性値の割合のうちいずれか１つが大きくなる場合、ｎ台の測定装置のいずれか１台が正常に可動していない可能性が高いといえる。したがって、上記非正常特性値の割合のうちいずれか１つが大きくなる場合、上記周期検出手段は、上記非正常特性値がｎ個周期で現れているか否かの検出を行えばよいこととなる。
【００３６】
このように、本発明に係る特定装置では、周期検出手段が効率的に非正常特性値の周期性を検出することができる。
【００３７】
したがって、本発明に係る特定装置は、加工処理された加工対象物から測定した特性値が、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外であるとき、調整対象を効率的に特定できる。
【００３８】
また、本発明に係る特定装置は、上記した構成において、上記特定手段により調整対象として上記加工処理装置が特定された場合、上記加工処理装置の動作を規定する設定値を変更する変更手段と、上記度数分布情報が、規定の品質を満たしている加工処理された加工対象物の特性値に基づく度数分布情報に近づくように上記設定値の変更を上記変更手段に指示する変更指示手段とを備え、上記変更手段が、上記変更指示手段による変更指示に応じて、ｍ台の加工処理装置のいずれかの設定値を変更するように構成されていることが好ましい。
【００３９】
また、本発明に係る特定装置は、上記した構成において、上記変更指示手段は、上記変更手段によって上記設定値が変更された後に加工処理された加工対象物の変更後特性値に基づく度数分布情報が、規定の品質を満たす加工対象物から得られる特性値に基づく度数分布情報に近づくまで、上記変更手段に設定値の変更を指示するように構成されていてもよい。
【００４０】
上記構成によると、変更手段を備えているため、特定手段により調整対象として上記加工処理装置が特定された場合、該加工処理装置の設定値を変更することができる。なお、この設定値とは、加工処理装置の動作を規定するための値であり、この設定値を変更することで、該加工処理装置により加工処理された加工対象物の品質が変化する。すなわち、この設定値を変更することで、加工処理された加工対象物の特性値が変化することとなる。
【００４１】
また、変更指示手段を備えているため、測定された特性値の度数分布情報が、規定の品質を満たしている加工処理された加工対象物の特性値の度数分布情報に近づくように上記設定値の変更を変更手段に指示することができる。また、この変更指示は、変更後特性値に基づく度数分布が、規定の品質を満たす加工対象物から得られる特性値に基づく度数分布情報に近づくまで、変更手段に対して行われる。
【００４２】
このため、変更手段は、ｍ台の加工処理装置のいずれか１台の設定値を、加工処理装置によって加工処理された、規定の品質を満たす加工対象物が得られるように変更することができる。
【００４３】
よって、本発明に係る特定装置は、加工処理された加工対象物から測定した特性値が、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外である場合、調整対象を効率的に特定することができる。
【００４４】
またさらに、加工処理された加工対象物から測定された特性値が、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲内となるように該調整対象を調整するこができる。
【００４５】
また、本発明に係る特定装置は、上記した構成において、上記特定手段により特定された調整対象を示す情報を出力する出力手段をさらに備えていることが好ましい。
【００４６】
上記構成によると、出力手段を備えているため、加工対象物の加工処理に携わる作業者などに調整対象を知らせることができる。
【００４７】
このように上記作業員は、容易に調整対象を知ることができるため、ｍ台の加工処理装置のいずれか１台、またはｎ台の測定装置のいずれか１台が正常に可動していない場合であっても、調整が必要となる上記加工処理装置または測定装置の調整を迅速に行うことができる。
【００４８】
また、本発明に係る特定装置は、上記した構成において、上記測定装置により測定された特性値と、該特性値それぞれに対応する各製品について加工処理され特性値が測定された順番との関係を示すデータを、時系列データとみなし、該時系列データを周波数変換した場合におけるスペクトルの値の総和と、上記特性値全体のばらつき度を示す値と、非正常特性値が現れる特定周期に対応する周波数域における上記スペクトルの値とに基づき、調整対象の調整前後における特性値のばらつき度の変化量を算出するばらつき度算出手段をさらに備え、上記出力手段が、上記ばらつき度算出手段により算出されたばらつき度の変化量を示す情報を出力するように構成されていることが好ましい。
【００４９】
上記構成によると、上記ばらつき度算出手段を備えているため、調整対象の調整前後における特性値のばらつき度の変化量を算出することができる。また、出力手段が上記ばらつき度算出手段により算出された結果を出力するため、例えば、作業員等は出力手段による出力結果に基づき、調整対象の調整前後における特性値のばらつき度の変化を知ることができる。
【００５０】
したがって調整対象として特定された装置を調整することによりどれだけ特性値のばらつき度が改善されるかについて上記作業員等は知ることができるため、特定手段によって調整対象として特定された装置について調整を行うべきか否かを判断することができる。
【００５１】
なお、調整対象の調整前後における特定値のばらつき度の変化量の算出は例えば、以下のようにして求めることができる。
【００５２】
すなわち、上記時系列データをＦＦＴによって演算した結果得られる周波数を正弦波として考えた場合、ＦＦＴによる演算結果から得られるＦＦＴパワースペクトラムは各周期の周波数成分の振幅の２乗に相当する。
【００５３】
このため、ＦＦＴパワースペクトラムの総和は、上記時系列データの標準偏差の２乗に略比例する。したがって、以下に示す関係がなりたつ。
【００５４】
Ｐ_all＝Ｋ（σ_all）２・・・（ａ）
（Ｐ_allは、調整対象として特定された装置の調整前におけるＦＦＴパワースペクトラムの総和）
（Ｋは任意の定数）
（σ_allは、調整対象として特定された装置の調整前における全体の標準偏差値）
また、ここで、調整対象として特定手段により特定された装置を完全に調整したものと仮定した場合、このときの特性値のばらつき度の低下量、すなわち、調整対象を調整することにより生じる標準偏差の低下量σ３は、下記のように示すことができる。
【００５５】
Ｐ３＝Ｋ（σ３）２・・・（ｂ）
（Ｐ３は、非正常特性値が現れる特定周波数におけるＦＦＴパワースペクトラムの値）
ここで、上記（ａ）および上記（ｂ）の関係からσ３について解くと、調整前後における特定値のばらつき度の変化量を求めることができる（σ３＝σ_all＊√（Ｐ３／Ｐ_all）・・・（ｃ））。
【００５６】
また、本発明に係る特定装置は、上記した構成において、上記記憶装置が、上記測定装置によって測定された特性値に関して、調整対象の調整を行う必要がないと判断される特性値のばらつき程度を示す、ばらつき許容情報をさらに記憶しており、上記記憶装置に記憶された上記ばらつき許容情報、測定装置によって測定された特性値全体のばらつき度を示す値、および上記特性値と、特性値それぞれに対応する各製品について加工処理され該特性値が測定された順番との関係を示すデータを、時系列データとみなし、該時系列データを周波数変換した場合におけるスペクトルの値の総和に基づき、上記特定手段によって特定された調整対象の調整を行う必要があるか否かを判定するための閾値を求め、該時系列データを周波数変換した場合における非正常特性値が現れる特定周波数におけるスペクトルの大きさと、上記閾値とを比較し、特定手段により調整対象として特定された装置の調整を行うか否かを判定する調整実行判定手段とを備えているように構成されていてもよい。
【００５７】
なお、上記ばらつき許容情報とは、製造する製品に求められる品質精度等に応じて決められる値であって、特定手段によって特定された調整対象調整前と調整後とにおける、測定された特性値のばらつき度の変化量を示すものである。そして、上記ばらつき許容情報は、ユーザによって適切な値に設定され、予め記憶装置に記憶させておく。
【００５８】
上記構成によると、調整実行判定手段を備えているため、調整対象に対する調整が必要であるか否かを判定することができる。すなわち、調整対象であると特定された装置を調整することにより特性値のばらつき度の変化がどうなるかについて考慮して、調整対象と特定された装置の調整を行うか否かを自動的に判定することができる。
【００５９】
なお、上記特定手段によって特定された調整対象の調整を行う必要があるか否かを判定するための閾値は、例えば以下のようにして求めることができる。
【００６０】
すなわち、上記したように上記特性値全体のばらつき度を示す値（標準偏差）と、測定装置によって測定された特性値と、当該特性値を有する製品が加工処理され特性値が測定された順番とを時系列データとみなし、ＦＦＴ等を用いて周波数変換を行った場合における全体のパワースペクトルと、非正常特性値が生じる特定周期に対応する周波数でのパワースペクトルとの関係は、「σ３＝σ_all＊√（Ｐ３／Ｐ_all）・・・（ｃ）」として示すことができる。
【００６１】
ここで、上記ばらつき許容情報の値をγ３とし、Ｐ３（非正常特性値が生じる特定周期に対応する周波数でのパワースペクトルの値）を、調整対象の調整を行うか否かの閾値としてＱ３とし、Ｑ３について数式（ｃ）を解くと、
Ｑ３＝Ｐ_all＊（γ３／σ_all）２・・・（ｄ）の関係が成立する。
ここで算出された閾値Ｑ３は、特性値のばらつき度が、調整対象の調整を行う必要がない範囲として許容されている例えばＦＦＴのパワースペクトラムである。
【００６２】
ここで、上記Ｑ３の値と、実際に測定された特性値に対してＦＦＴ等により求めたパワースペクトラムを比較して上記調整実行判定手段は、調整対象の調整を行う必要があるか否かを判定することができる。
【００６３】
また、本発明に係る加工処理システムは、上記した課題を解決するために、上記した特定装置と、加工対象物の加工処理を行うｍ台の加工処理装置と、該加工処理装置のいずれかにより加工処理された加工対象物の品質を示す特性値を測定するｎ台の測定装置とを備えることを特徴。
【００６４】
本発明に係る加工処理システムは、上記した特定装置を備えているため、測定された特性値に基づき、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしていないと判定された場合、調整対象を効率的に特定することができる。
【００６５】
また、加工処理された加工対象物から測定された特性値が、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲内となるように該調整対象を調整するこができる。
【００６６】
また、本発明に係る特定装置の制御方法は、上記した課題を解決するために、ｎ台の測定装置のいずれかから受け付け、調整対象を特定する特定装置の制御方法であって、上記ｍ、ｎは互いに異なる自然数であり、上記測定装置から受け付けた特性値に基づき、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしているか否かを判定する判定ステップと、上記判定ステップにより、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしていないと判定された場合、上記加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外となる特性値を非正常特性値とすると、該非正常特性値が、ｍ個周期で現れるか、またはｎ個周期で現れるかに基づき、調整対象を特定する特定ステップとを備えることを特徴とする。
【００６７】
このように、本発明に係る特定装置の制御方法は、測定された特性値に基づき、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしていないと判定された場合、効率的に調整対象を特定することができるという効果を奏する。
【００６８】
なお、上記特定装置が備える各手段は、コンピュータによって実現してもよく、この場合には、コンピュータを上記各手段として動作させることにより上記検知装置をコンピュータにて実現させる検知装置の制御プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体も、本発明の範疇に入る。
【発明の効果】
【００６９】
本発明に係る特定装置は、以上のように、ｍ台の加工処理装置のいずれかにより加工処理された加工対象物の品質を示す特性値を、ｎ台の測定装置のいずれかから受け付け、調整対象を特定する特定装置であって、上記ｍ、ｎは互いに異なる自然数であり、上記測定装置から受け付けた特性値に基づき、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしているか否かを判定する判定手段と、上記判定手段により加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしていないと判定された場合、上記加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外となる特性値を非正常特定値とし、該非正常特性値が、ｍ個周期で現れるか、またはｎ個周期で現れるかに基づき、調整対象を特定する特定手段とを備えることを特徴とする。
【００７０】
したがって、上記特定手段は、規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外となる特性値の出現周期がｍ個周期であるのか、ｎ個周期であるのかに基づいて、調整対象が加工処理装置であるのか、または測定装置であるのかを特定することができる。
【００７１】
よって、本発明に係る特定装置は、加工処理された加工対象物から測定した特性値が、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外であるとき、調整対象を効率的に特定できるという効果を奏する。
【００７２】
また、本発明に係る加工処理システムは、以上のように、上記した特定装置と、加工対象物の加工処理を行うｍ台の加工処理装置と、該加工処理装置のいずれかにより加工処理された加工対象物の品質を示す特性値を測定するｎ台の測定装置とを備えることを特徴とする。
【００７３】
本発明に係る加工処理システムは、上記した特定装置を備えているため、測定された特性値に基づき、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしていないと判定された場合、調整対象を効率的に特定することができる。
【００７４】
また、加工処理された加工対象物から測定された特性値が、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲内となるように該調整対象を調整するこができるという効果を奏する。
【００７５】
また、本発明に係る特定装置の制御方法は、以上のように、ｎ台の測定装置のいずれかから受け付け、調整対象を特定する特定装置の制御方法であって、上記ｍ、ｎは互いに異なる自然数であり、上記測定装置から受け付けた特性値に基づき、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしているか否かを判定する判定ステップと、上記判定ステップにより、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしていないと判定された場合、上記加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしている場合にとり得る特性値の範囲外となる特性値を非正常特性値とし、該非正常特性値が、ｍ個周期で現れるか、またはｎ個周期で現れるかに基づき、調整対象を特定する特定ステップとを備えることを特徴とする。
【００７６】
このように、本発明に係る特定装置の制御方法は、測定された特性値に基づき、加工処理された加工対象物が規定の品質を満たしていないと判定された場合、効率的に調整対象を特定することができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００７７】
本発明の一実施形態について図１ないし図１３に基づいて説明すると以下の通りである。すなわち、本実施の形態に係る製造ラインシステム（加工処理システム）１００は、図１に示すように加工処理を施す対象である製品（加工対象物）を、２台の加工機（加工処理装置）５ａ〜５ｂのいずれかにより加工処理を行うシステムである。また、この製造ラインシステム１００は、３台の測定器（測定装置）６ａ〜６ｃのいずれかにより、加工処理された製品の品質を調べることができるようになっている。すなわち、上記製造ラインシステム１００は、２台の加工機５ａ〜５ｂそれぞれで２つの製品を並行して加工処理でき、また３台の測定器６ａ〜６ｃにより３つの加工処理された製品の特性値を並行して測定することができる。
【００７８】
なお、この図１は、本発明の実施形態を示すものであり、製造ラインシステムの要部構成を示すブロック図である。
【００７９】
図１に示すように本実施の形態に係る製造ラインシステム１００は、製品投入口１、搬送ベルト８、加工機（加工処理装置）５ａ〜５ｂ、加工台（加工処理装置）３ａ〜３ｌ、ターンテーブル４、測定器（測定装置）６ａ〜６ｃ、および調整装置７を備えている。
【００８０】
上記製品投入口１は、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００を操作する作業員が製品を加工処理するために投入するものである。そして、投入された製品は、加工台３ａ〜３ｌの方に搬送される。
【００８１】
搬送ベルト８は、製品を搬送するものであり、具体的には、この搬送ベルト８は、製品投入口１に投入された製品を加工台３ａ〜３ｌまで搬送したり、加工された製品を加工台３ａ〜３ｌから測定器６ａ〜６ｃまで搬送したりする。また、製品の更なる他の処理工程が必要な場合は、この搬送ベルト８は、測定器６ａ〜６ｃによって測定処理が行われた製品を、次の処理工程を実行する装置が備えられているところまで搬送する。なお、搬送ベルト８のワークの搬送方向は、図１に示す矢印ａの方向である。
【００８２】
また、搬送ベルト８は、測定器６ａ〜６ｃそれぞれにより測定された特性値３１が、加工処理された製品が規定の品質を満たしている場合にとり得る値の範囲外にある場合、この特性値３１を有する製品を不良品として製造ラインから除くように移動させる。
【００８３】
上記加工台３ａ〜３ｌは、加工機５ａ〜５ｂによって加工処理可能とするために製品を固定するものである。本実施の形態に係る製造ラインシステム１００では、１２台の加工台３ａ〜３ｌが、図１に示すように円形状のターンテーブル４の外周に沿ってそれぞれ備えられている。そして、ターンテーブル４の回転に応じて、矢印ｂの方向（時計回りの方向）に移動するようになっている。
【００８４】
すなわち、搬送ベルト８によって搬送されてきた製品は、１つずつ各加工台３ａ〜３ｌのいずれかに設置される。なお、製品の加工台３ａ〜３ｌへの設置は、加工台３ａ〜３ｌのいずれか１台に製品が設置されると、この製品が設置された加工台は矢印ｂの方向に１加工台分だけ移動する。そして、新たに搬送された製品は、次に搬送ベルト８の位置に来た加工台に設置される。
【００８５】
上記ターンテーブル４は、矢印ｂの方向に回転することにより加工台３ａ〜３ｌを加工機５ａ〜５ｂによって加工処理される場所まで移動させたり、加工処理された製品を、測定器６ａ〜６ｃまで搬送する搬送ベルト８の位置まで移動させたりするものである。
【００８６】
すなわち、このターンテーブル４は、搬送ベルト８によって搬送された製品を各加工台３ａ〜３ｌに１つずつ設置することができ、かつ加工機５ａ〜５ｂそれぞれによって製品が加工処理できるように回転する。さらには、このターンテーブル４は、加工された製品それぞれを測定器６ａ〜６ｃまで搬送する搬送ベルト８に乗せるために、加工機５ａ〜５ｂの設置場所からこの搬送ベルト８の場所まで製品を移動させるように回転する。
【００８７】
なお、このターンテーブル４の回転速度は、次の条件を満たす速度となる。すなわち、この回転速度は、搬送ベルト８によって搬送された製品それぞれが加工台３ａ〜３ｌそれぞれに設置することができる速度である。そして、この回転速度は、設置されているこれら製品それぞれに対する加工処理を加工機５ａ〜５ｂそれぞれが行うことができる速度である。さらにまた、この回転速度は、加工された製品を測定器６ａ〜６ｃまで搬送する搬送ベルト８に移動させることができる速度に調整されている。
【００８８】
上記加工機５ａ〜５ｂそれぞれは、加工台３ａ〜３ｌに設置されている製品それぞれに対して所定の加工処理を行うものである。本実施の形態に係る製造ラインシステム１００では、図１に示すように２台の加工機５ａ〜５ｂが備えられ、これら加工機５ａ〜５ｂが同時に並行して、当該加工機５ａ〜５ｂの前に配置される各製品に対する加工処理を実行する。
【００８９】
すなわち、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００では、２台の加工機５ａ〜５ｂによって、同時に２つの製品に対して加工処理を行うことができる。
【００９０】
上記測定器６ａ〜６ｃそれぞれは、加工処理された製品の品質を調べるために、各製品の特性値３１を測定するものである。本実施の形態に係る製造ラインシステム１００では、図１に示すように３台の測定器６ａ〜６ｃがそれぞれ備えられ、これら測定器６ａ〜６ｃそれぞれは、搬送されてきた製品に対して同時に特性値３１を測定する。すなわち、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００では、３台の測定器６ａ〜６ｃによって一度に３つの製品の特性値３１を測定することができる。
【００９１】
また、各測定器６ａ〜６ｃには、特性値３１がいずれの測定器６ａ〜６ｃによって測定されたものであるのかを識別できるようにチャンネル番号が割り当てられている。
【００９２】
そして、測定器６ａ〜６ｃそれぞれは、測定した特性値３１とともに、自装置に割り当てられているチャンネル番号を調整装置７に送信する。
【００９３】
上記調整装置７は、測定器６ａ〜６ｃそれぞれによって測定された各製品の特性値３１に基づき、調整対象を推定し、該調整対象に対する調整を指示したり、該調整対象の設定値を変更させたりするものである。
【００９４】
なお、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００では、上記調整対象は、加工機５ａ〜５ｂのいずれか、加工台３ａ〜３ｌのいずれか、または測定器６ａ〜６ｃのいずれかとなる。なお、この調整装置７の詳細な構成については以下において説明する。
【００９５】
（調整装置の構成）
本実施の形態に係る調整装置７は、図１に示すように、情報格納部１２（記憶装置）、受信部１１、集計部１３、判定部（判定手段）２１、ヒストグラム特徴検出部（分布特徴算出手段）１５、不良率演算部（個別不良率算出手段）１４、周期情報検出部（周期検出手段）１６、異常推定部（特定手段）１７、指示出力部（出力手段）１９、調整部（変更指示手段）１８、状態変更検知部２０、および設定部（変更手段）２２を備えている。
【００９６】
上記情報格納部１２は、読み書き可能な記録媒体であり、例えば、フラッシュＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read Only Memory）などによって実現できる。この情報格納部１２には、受信部１１によって受信した特性値３１および予め加工機５ａ〜５ｂそれぞれにおいて設定されている設定値である装置初期値３２が記録されている。
【００９７】
なお、この設定値とは、加工機５ａ〜５ｂそれぞれの動作を規定するための値であり、この設定値を変更することにより製品の加工処理結果が変化するものである。このため、この設定値が変更された場合、設定値が変更された加工機ａまたは加工機ｂによって加工処理された製品の特性値３１は変化されることとなる。
【００９８】
また、この情報格納部１２には、図１において図示していないが後述する異常要因の推定処理を行うために用いる所定の閾値情報も記録されている。
【００９９】
また、この情報格納部１２には、図示していないが、異常推定部１７が後述する異常要因の推定処理を行う際に利用されるワーニングフラグも記録される。
【０１００】
さらには、この情報格納部１２には、図示しないが、設定値が変更される前の加工機５ａまたは加工機５ｂによって加工処理された製品の特性値に基づくヒストグラムの情報、設定値が変更された後の加工機５ａまたは加工機５ｂにより加工処理された製品の特性値に基づくヒストグラムの情報などが記録されている。このヒストグラムの情報は、加工機５ａ〜５ｂいずれかの設定値を変更させるための、後述する設定値の調整処理において必要となる情報である。
【０１０１】
なお、上記した特性値３１、装置初期値３２、閾値情報、ワーニングフラグ、および上記ヒストグラムの情報それぞれが１つの情報格納部１２に記録されてもよいし、それぞれの値が個別に設けられたメモリなど記録媒体に記録されていてもよい。
【０１０２】
さらには、本実施の形態に係る調整装置７が通信ネットワークを通じて外部のほかの装置と通信可能な場合、この外部の装置から上記したそれぞれの情報を取得するように構成されていてもよい。
【０１０３】
上記受信部１１は、各測定器６ａ〜６ｃから、測定された製品の特性値３１をそれぞれ受信するものである。受信部１１は受信した特性値３１それぞれを、該特性値３１の送信先である測定器６ａ〜６ｃそれぞれに割り当てられているチャンネル番号と、該測定器６ａ〜６ｃそれぞれによって測定された測定時間とを対応付けて情報格納部１２に記憶させる。
【０１０４】
上記集計部１３は、情報格納部１２から特性値３１を読み出し、各測定器６ａ〜６ｃのチャンネル番号ごとに特性値３１を集計したり、測定された製品全体の特性値３１を集計したりするものである。すなわち、この集計部１３は、各測定器６ａ〜６ｃのチャンネル番号ごとに集計した特性値３１に基づき、製品数、不良品数を算出し、ヒストグラムを作成する。また、測定された特性値３１全体に対しても、測定製品数、不良品数を算出し、ヒストグラムを作成する。
【０１０５】
判定部２１は、集計部１３によって集計された特性値３１に基づき、異常要因を推定する処理を行うか否かを判定するものでもある。すなわち、判定部２１は、上記特性値３１に基づき、規定の品質をみたしている製品の特性値がとり得る範囲（これ以降では規定範囲と称する）外にある特性値３１の有無を確認し、異常要因を推定する処理を行うか否かを判定する。なお、この異常要因を推定する処理に関する詳細は後述する。
【０１０６】
なお、この判定において、判定部２１は、規定範囲外となる特性値３１が１つでも存在すれば、異常要因を推定する処理を行うと判定してもよい。また、ある程度の割合で上記規定範囲外となる特性値３１の存在が認められた場合に、異常要因を推定する処理を行うと判定してもよい。この判定基準は、加工処理される製品に対して求められている品質に応じて決定されることが好ましい。
【０１０７】
ここで、測定製品数とは、所定期間において、測定器６ａ〜６ｃにより特性値３１の測定が行われた製品数である。例えば、所定期間内に３００個の製品が加工処理されたとする。この場合、この加工処理された製品は３台の測定器６ａ〜６ｃによって、３つずつ同時に特性値３１が測定される。したがって、測定器６ａ〜６ｃごとの測定製品数は、それぞれ１００となる。また、全ての測定器６ａ〜６ｃから得られた測定製品数は３００となる。
【０１０８】
また、不良品数とは、測定された特性値３１が異常であると認められる製品の数である。すなわち、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００では、加工処理された製品が規定の品質を満たす場合に得られる特性値の範囲、すなわち規定範囲が予め決められている。そこで、測定された特性値３１において、この規定範囲外となる特性値３１に対応する製品数が不良品数となる。
【０１０９】
上記ヒストグラムとは、測定器６ａ〜６ｃいずれかによって測定された、製品の特性値３１の度数（度数ｎ）の分布を示すものである。すなわち、図２に示すように、特性値３１としてとり得る範囲を複数の区間（ｙ）に分割し、この分割された各区間に含まれる特性値３１の度数（度数ｎ）が示されている。
【０１１０】
上記ヒストグラム特徴検出部１５は、判定部２１によって規定範囲外の特性値３１が存在すると判定された場合、集計部１３により作成されたヒストグラムに基づき、該ヒストグラムの分布特徴を検出するものである。
【０１１１】
例えば、加工機３ａ〜３ｌのいずれかにより製品全てが正常に加工処理され、該加工処理された製品それぞれに対する特性値３１の測定処理が正常に行われた場合、すなわち正常状態の場合は、図２（ａ）に示すように、すべての特性値３１がα―β間の範囲内にある。なお、このα―β間は、上記規定範囲を示すものでありαが該規定範囲の下限値、βが該規定範囲の上限値を示す。
【０１１２】
そして、これら特性値３１全てを集計して作成したヒストグラムの分布では、前後の区間と比較して製品の数が大きくなる区間（図２においてＡ点）が１つだけ生じる。すなわち、通常、加工処理された製品が規定の品質を満たしている場合、上記度数は規定範囲α―βの中心値付近で最も大きくなる。なお、これ以降では、Ａ点のようにヒストグラムの分布において前後の区間と比較し製品の数が大きくなる区間をピークと称する。
【０１１３】
一方、正常に製品の加工処理が行われなかったり、加工処理させた製品の特性値３１が正確に測定されなかったりした場合、すなわち異常状態の場合、上記ヒストグラムの分布は図２（ｂ）に示すようになる。すなわち、上記異常状態の場合、図２（ｂ）に示すように、上記ピークが複数生じたり（ピークＡ１、ピークＡ２）、規定範囲α―βの範囲外の特性値３１となる製品が存在したりする。
【０１１４】
これは、例えば、加工機５ａまたは加工機５ｂのどちらかが正常に可動していない場合、この正常に可動していない加工機によって加工処理された製品の特性値３１は、規定範囲α―βの中心値よりもずれた区間の度数が最も大きくなる。このため、正常に加工機により加工処理された製品の特性値３１に基づき形成されるヒストグラムと、正常に可動していない加工機により加工処理された製品の特性値３１に基づき形成されるヒストグラムとでは、ピークが現れる区間がそれぞれ一致せず、ずれた区間となる。
【０１１５】
したがって、図２（ｂ）に示すように異常状態の場合は、上記ヒストグラムにおいてピークが２つ現れることとなる。
【０１１６】
このように、作成されたヒストグラムは、正常状態における製品の特性値３１であるのか、または異常状態における製品の特性値３１であるのかに応じて特徴的な分布となる。
【０１１７】
そこで、上記ヒストグラム特徴検出部１５は、判定部２１からの指示に応じて、集計部１３によって作成されたヒストグラムに基づき、上記したピーク数を解析する。そして、ヒストグラム特徴検出部１５は、解析したピーク数を異常推定部１７に送信する。
【０１１８】
不良率演算部１４は、判定部２１によって規定範囲外の特性値３１が存在すると判定された場合、測定された特性値３１の不良率を算出するものである。すなわち、不良率演算部１４は、各測定器６ａ〜６ｃにより測定された特性値３１それぞれの不良率と、全ての測定された不良率とを算出する。
【０１１９】
なお、上記不良率演算部１４は、下記に示す数式（１）に示す演算を、全ての特性値３１および測定装置ごとの特性値３１に対して行うことにより上記不良率を算出することができる。
ＮＧＲａｔｉｏｎ＝（Ｎ_i−ＯＫ_Num_i）／Ｎ＿ｉ        （１）
ＮＧＲａｔｉｏｎ；不良率
ＯＫ_Ｎｕｍ_i；チャンネル番号ｉの測定器による測定結果における規定範囲内の特性値３１の数、あるいは測定器全てによる測定結果における期待範囲内の特性値３１の数
Ｎ＿ｉ；チャンネル番号ｉの測定器によって測定された特性値３１の数、あるいは測定器全てによって測定された特性値３１の数
そして、上記した数式（１）による演算を行うことによって得た不良率を、不良率演算部１４は異常推定部１７に送信する
上記周期情報検出部１６は、加工処理され、測定された製品の順番と、該製品の有する特性値３１との関係を調べるものである。より具体的には、後述する数式を演算して、加工処理され、測定された製品の順番と、該製品の有する特性値３１との関係において生じる周期性を検出するものである。
【０１２０】
ところで、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００では、常に製品投入口１から投入された製品の順番で搬送されるようになっている。また、３つの測定器６ａ〜６ｃにおいて、測定器６ａ、測定器６ｂ、測定器６ｃの順に、投入された順番が先となる製品が測定されるように構成されている。
【０１２１】
また、上記したように、情報格納部１２には、各測定器６ａ〜６ｃに割り当てられているチャンネル番号と、特性値３１が測定された日時とが、測定された特性値３１と対応付けて記録されている。
【０１２２】
したがって、この日時と測定器６ａ〜６ｃのチャンネル番号を参照することによって、加工処理された製品の特性値３１の順番を把握することができる。なお、測定器６ａにはチャンネル番号１が、測定器６ｂにはチャンネル番号２が、測定器６ｃにはチャンネル番号３が割り当てられている。
【０１２３】
すなわち、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００では、搬送される製品の順番と、製品を加工する加工機５ａ〜５ｂと、製品を加工するために固定する加工台３ａ〜３ｌと、加工処理された製品の特性値を測定する測定器６ａ〜６ｃとにおいて以下に示す関係が成り立つ。
【０１２４】
加工処理され、特性値が測定される製品；ＯＢ１、ＯＢ２、ＯＢ３、…
加工機５ａ、加工機５ｂ；Ｗ１、Ｗ２
加工台３ａ〜３ｌ；Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、…Ｐ１２
測定器６ａ〜６ｃ；Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３
加工機Ｗ１、Ｗ２が処理する製品ＯＢ１、ＯＢ２、ＯＢ３、…の順番は、
Ｗ１；ＯＢ１、ＯＢ（ｘ＋１）、ＯＢ（２ｘ＋１）、…
Ｗ２；ＯＢ２、ＯＢ（ｘ＋２）、ＯＢ（２ｘ＋２）、…
となる。
また、測定器Ｍ１、Ｍ２、Ｍ３が特定値を測定する製品ＯＢ１、ＯＢ２、ＯＢ３、…の順番は、
Ｍ１；ＯＢ１、ＯＢ（ｙ＋１）、ＯＢ（２ｙ＋１）、…
Ｍ２；ＯＢ２、ＯＢ（ｙ＋２）、ＯＢ（２ｙ＋２）、…
Ｍ３；ＯＢ３、ＯＢ（ｙ＋３）、ＯＢ（２ｙ＋３）、…
となる。
同様に、加工台３ａ〜３ｌによって固定される製品ＯＢ１、ＯＢ２、ＯＢ３…の順番は、
Ｐ１；ＯＢ１、ＯＢ（ｚ＋１）、ＯＢ（２ｚ＋１）、…
Ｐ２；ＯＢ２、ＯＢ（ｚ＋２）、ＯＢ（２ｚ＋２）、…
Ｐ３；ＯＢ２、ＯＢ（ｚ＋３）、ＯＢ（２ｚ＋３）、…
…
Ｐ１２；ＯＢ１２、ＯＢ（ｚ＋１）、ＯＢ（２ｚ＋１２）、…
となる。
【０１２５】
そこで、所定個数の測定製品数において、加工処理され測定された製品が搬送される順番を横軸とし、この順番に対応する各製品の特性値３１を正規化した自然数の値を縦軸として、測定された特性値３１についてそれぞれプロットすると図３（ａ）〜図３（ｄ）に示すようになる。
【０１２６】
なお、図３（ａ）〜図３（ｄ）は、加工処理され、特性値が測定される製品の搬送順番と、該製品が有する特性値３１との関係を示す図面である。
【０１２７】
そして、図３（ａ）は、正常状態における、加工処理され、特性値が測定される製品の搬送順番と、該製品が有する特性値３１との関係を示す。
【０１２８】
また、図３（ｂ）は加工機５ａ〜５ｂのいずれかが正常に可動していない場合における、加工処理され、特性値が測定される製品の搬送順番と、該製品が有する特性値３１との関係を示す。
【０１２９】
また、図３（ｃ）は、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台が正常に可動していない場合における、加工処理され、特性値が測定される製品の搬送順番と、該製品が有する特性値３１との関係を示す。
【０１３０】
また、図３（ｄ）は、加工台３ａ〜３ｌのいずれか１台が正常に可動していない場合における、加工処理され、特性値が測定された製品の搬送順番と、該製品が有する特性値３１との関係を示す。
【０１３１】
例えば、１００個の製品全てが、正常に加工処理され、正常に特性値３１が測定された場合、図３（ａ）に示すように１〜１００までの製品の特性値３１を示す値が常に規定範囲内に収まることとなる。この場合は、加工処理された製品の順番と、該製品の特性値３１との関係において特に周期性が見られない。
【０１３２】
一方、加工機５ａ〜５ｂのいずれかが正常に可動していない場合、図３（ｂ）に示すように、測定された特性値３１が１つおきに製品の特性値３１を示す値が規定範囲外となる。すなわち、所定個の測定製品数において、２個周期に規定範囲外の特性値３１が生じる。
【０１３３】
また、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台が正常に可動していない場合、図３（ｃ）に示すように、測定された特性値３１が２つおきに規定範囲外となる。すなわち、所定個の測定製品数において、３個周期に規定範囲外の特性値３１が生じる。
【０１３４】
また、加工台３ａ〜３ｌのいずれか１台が正常に可動していない場合、図３（ｄ）に示すように、測定された特性値３１が１１おきに規定範囲外となる。すなわち、所定個の測定製品数において、１２個周期に規定範囲外の特性値３１が生じる。
【０１３５】
このように、加工機５ａ〜５ｂのいずれか、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台、加工台３ａ〜３ｌのいずれか１台が正常に可動していない場合、加工処理され測定された製品の順番と、該製品が有する特性値３１との関係において、一定の周期性が現れる。
【０１３６】
なお、上記した図３（ｂ）〜図３（ｄ）それぞれにおいて、１つおき、２つおき、あるいは１１おきに測定された特性値３１が規定範囲外となる場合について説明した。しかし、規定範囲外の特性値３１が生じる周期性はこれに限定されるものではない。
【０１３７】
すなわち、この周期性は、上記製造ラインシステム１００に備えられている加工機、加工台、または測定器の数に応じて決まるものであり、当然備えられている加工機、加工台、または測定器それぞれの台数が変われば、この周期性も変化する。
【０１３８】
このように、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００に備えられている加工機５ａ〜５ｂなどの装置数、または各装置において調整が必要となる数などに応じて上記した周期性が異なることとなる。
【０１３９】
ここで、上記周期情報検出部１６による上記した周期性の検出方法について説明する。      
【０１４０】
具体的には、以下の数式（２）〜（４）による演算を行うことによって、周期情報検出部１６は、加工処理され測定された製品の順番と、該製品が有する特性値３１との関係においてどのような周期性が認められるかを検出することができる。
【０１４１】
すなわち、測定製品数が１００であって、測定された上記特性値３１が１つおきに（２つ周期で）規定範囲外となるか否かを調べる場合は、以下の数式（２）を演算する。
【０１４２】
Σ（（ｘ（ｔ）−ｘ（ｔ−１））２）              （２）
ｘ（ｔ）；ｔ番目の製品の特性値
ｘ（ｔ−１）；ｔ−１番目の製品の特性値
なお、ｔ；１≦ｔ≦１００
また、測定製品数が１００であって、測定された上記特性値３１が２つおきに（３つ周期で）規定範囲外となるか否かを調べる場合は、以下の数式（３）を演算する。
【０１４３】
Σ（（ｘ（ｔ）−ｘ（ｔ−２））２）              （３）
ｘ（ｔ−２）；ｔ−２番目の製品の特性値
また、測定製品数が１００であって、測定された上記特性値３１が１１おきに（１２周期で）規定範囲外となるか否かを調べる場合は、以下の数式（４）を演算する。
【０１４４】
Σ（（ｘ（ｔ）−ｘ（ｔ−１１））２）              （４）
ｘ（ｔ−１１）；ｔ−１１番目の製品の特性値
ここで、上記数式（２）〜数式（４）に示す演算を行った結果、測定された製品の特性値３１がすべて正常である場合、上記特性値３１が１つおきに規定範囲外となる場合、上記特性値３１が２つおきに規定範囲外となる場合、上記特性値３１が１１おきに規定範囲外となる場合それぞれの場合についての結果を図４に示す。
【０１４５】
図４に示すように、正常状態での特性値３１に対して数式（２）による演算を行った場合と、１つおきに規定範囲外となる特性値３１に対して数式（２）による演算を行った場合とを比較すると、後者の方が前者に比べて大きな値となっていることが分かる。
【０１４６】
そこで、本実施の形態に係る調整装置７では、周期情報検出部１６による数式（２）の演算結果が所定の閾値以上であるか否かを判定することで、１つおきに特性値３１が規定範囲外となる周期性が現れるか否かを調べることができる。
【０１４７】
また、正常状態での特性値３１に対して数式（３）による演算を行った場合と、１つおきに規定範囲外となる特性値３１に対して数式（３）による演算を行った場合とを比較すると、後者の方が前者に比べて大きな値となっていることが分かる。
【０１４８】
そこで、本実施の形態に係る調整装置７では、周期情報検出部１６による数式（３）の演算結果が所定の閾値以上であるのか否かを判定することで、２つおきに特性値３１が規定範囲外となる周期性が現れるか否かを調べることができる。
【０１４９】
また、正常状態での特性値３１に対して数式（４）による演算を行った場合と、１つおきに規定範囲外となる特性値３１に対して数式（４）による演算を行った場合とを比較すると、後者の方が前者に比べて大きな値となっていることが分かる。
【０１５０】
そこで、周期情報検出部１６は、周期情報検出部１６による数式（４）による演算結果が所定の閾値以上であるか否かを判定することで、１１おきに特性値３１が規定範囲外となる周期性が現れるか否かを調べることができる。
【０１５１】
そして、上記周期情報検出部１６は、測定された特性値３１に対する上記した数式（２）〜数式（４）の演算結果を異常推定部１７に送信する。
【０１５２】
ところで、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００において、例えば製品投入口１から連続して製品が投入されず、製品がぬけてしまう場合がある。しかしながら、このような場合であっても周期情報検出部１６が比較的大きな所定個数の特性値３１に対して、上記した数式（２）〜（４）を行う構成であるため、演算対象の特性値３１において上記した周期性は大部分において保たれている。
【０１５３】
したがって、上記したように加工処理される製品の順番において抜けが生じる場合であっても、周期情報検出部１６による演算結果は図４に示す値に近似する値を得ることができる。
【０１５４】
上記異常推定部１７は、次の情報に基づいて異常原因を推定するものである。すなわち、この情報とは、不良率演算部１４から受信した測定された特性値３１全体における不良率および、各測定器６ａ〜６ｃにおいて測定された特性値３１それぞれにおける不良率である。また、この情報とはヒストグラム特徴検出部１５から受信したヒストグラムの特徴を示す情報である。さらにまた、この情報とは、周期情報検出部１６から受信した周期性を示す情報である。
【０１５５】
そして、異常推定部１７は、推定した異常原因に応じて、指示出力部１９に作業者への指示を示す情報を送信したり、調整装置７に対して調整指示を示す情報を送信したりする。
【０１５６】
上記指示出力部１９は、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００を稼動させている作業員に対して加工台または測定器６ａ〜６ｃの調整指示を出すものである。本実施の形態に係る調整装置７は、図示しないが表示装置を備えており、指示出力部１９は、この表示装置に対して異常推定部１７から受信した調整指示情報を送信するとともに、この調整指示情報を表示するように指示する。
【０１５７】
このように表示装置において、調整指示を表示させることによって作業員に調整部材を指示することができる。なお、作業員への調整指示の通報はこれに限定されるものではない。例えば、各作業員が携帯端末装置を備え、この携帯端末装置が調整装置７と通信可能に接続されている場合は、指示出力部１９から上記携帯端末装置に対して調整指示が送信されるように構成されていてもよい。また、本実施の形態に係る調整装置７が印刷装置を備えている場合、この印刷装置に上記調整指示を出力して用紙に印刷することで作業員に調整指示を通報する構成であってもよい。
【０１５８】
調整部１８は、異常推定部１７が加工機５ａ〜５ｂのいずれか１台において異常要因があると推定した場合、異常要因となっている加工機の設定値を調整するものである。調整部１８は、設定部２２に対して異常要因となっている加工機の設定値を変更させるように指示する。
【０１５９】
なお、調整部１８による加工機５ａ〜５ｂのいずれかに対する設定値の調整処理については後述する。
【０１６０】
設定部２２は、調整部１８からの指示に応じて、加工機５ａまたは加工機５ｂの設定値を変更させるものである。
【０１６１】
上記状態変更検知部２０は、調整部１８からの指示を受け、集計部１３に対して、加工機５ａ〜５ｂいずれかの設定値が変更された後に加工処理された製品の特性値３１を集計しなおすように指示するものである。また、この状態変更検知部２０は、異常推定部１７に対して、異常要因の推定処理を停止するように指示するものでもある。
【０１６２】
ここで、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００において、加工処理された製品から測定した特性値３１の異常の発生要因について図５を参照して説明する。なお、この図５は、加工機５ａ〜５ｂ、加工台３ａ〜３ｌ、測定器６ａ〜６ｃそれぞれが異常となる要因、該異常となる原因が生じた場合における特性値から導きだされる現象、該異常となる要因に対する対策を示す図面である。
【０１６３】
上記したように本実施の形態に係る製造ラインシステム１００は、加工機５ａ〜５ｂ、加工台、および測定器６ａ〜６ｃを備えている。このためこれら各部材のいずれかが正常に機能しない場合には、測定された特性値３１が異常となる。
【０１６４】
上記加工機５ａまたは加工機５ｂが正常に機能しない場合の原因としては、加工機５ａまたは加工機５ｂのメカ誤差、加工機５ａまたは加工機５ｂの加工処理による磨耗が挙げられる。
【０１６５】
また、上記加工台３ａ〜３ｌのいずれかが正常に機能していない場合の原因としては、加工台３ａ〜３ｌにおいて製品を設置するために用いられる部材である冶具にゆるみが生じたり、製品の設置部分に屑が付着したりするなどの原因が挙げられる。
【０１６６】
また、測定器６ａ〜６ｃが正常に機能しない場合の原因としては、測定器６ａ〜６ｃいずれかにおける測定誤差、該測定器が特性値３１の測定時に製品を固定するために用いられる冶具位置のずれが挙げられる。
【０１６７】
そこで、上記したような原因で加工機５ａ〜５ｂ、加工台３ａ〜３ｌ、または測定器６ａ〜６ｃこれらのいずれか１台が正常に可動していない状態で製品が加工処理された場合、この加工処理された製品から測定した特性値３１には以下の現象が見られる。
【０１６８】
すなわち、２台の加工機５ａ〜５ｂのうちいずれかが正常に機能していない場合、加工処理され、測定された製品の順番と、該製品の特性値３１との関係において１つおきに上記特性値３１が異常となる。すなわち、上記した数式（２）の演算結果によって得られる値が、所定の閾値よりも大きくなる。
【０１６９】
また、２台の加工機５ａ〜５ｂのいずれかが正常に機能していない場合に現れる特性値３１のさらなる特徴として、集計部１３によって生成された、全ての特性値３１に基づくヒストグラムには、図２（ｂ）に示すようにピークが２つ現れる。
【０１７０】
このため、上記ヒストグラムにピークが２つ現れている場合、周期情報検出部１６の数式（２）による演算結果が所定の閾値よりも大きくなれば、加工機５ａ〜５ｂのいずれかが正常に機能していないと判定することができる。
【０１７１】
また、加工台３ａ〜３ｌのいずれか１台が正常に機能していない場合、測定された製品の特性値３１全体における不良率が所定の閾値以上となる。
【０１７２】
また、加工台３ａ〜３ｌのうちいずれかが正常に機能していない場合、１１おきに上記特性値３１が異常となる。すなわち、上記した数式（４）の演算結果によって得られる値が、所定の閾値よりも大きくなる。
【０１７３】
また、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台が正常に機能していない場合、該測定器６ａ〜６ｃのうちのいずれか１台から取得した特性値３１は、他の測定器から取得した特性値３１と比較して異常となる特性値の数が多くなる。すなわち、図７に示すように特定のチャンネル番号の測定器６ａ〜６ｃにより測定された特性値３１において、該特性値３１の不良率が他のチャンネル番号の測定器６ａ〜６ｃにより測定された特性値３１の不良率よりも大きくなる。
【０１７４】
なお、図７は測定器６ａ〜６ｃごとにおいて測定された特性値３１に基づくヒストグラムを示す図である。この図に示すように、チャンネル番号１の測定器６ａに異常が生じている場合、該測定器６ａによって測定された特性値３１の分布は、規定範囲α―β間以外の範囲にも現れる。また、ピークが規定範囲の中央値から大きくずれた位置に現れている。
【０１７５】
また、測定器６ａ〜６ｃのうちのいずれか１台が正常に機能していない場合、さらに、加工処理され、測定された製品の順番と、該製品の特性値３１との関係において２つおきに上記特性値３１が異常となる。すなわち、上記した数式（３）の演算結果によって得られる値が所定の閾値より大きくなる。
【０１７６】
ところで、１２台の加工台のうちいずれか１台が異常である場合も、特定のチャンネル番号の測定器６ａ〜６ｃにより測定された特性値３１の不良率が、他のチャンネル番号の測定器６ａ〜６ｃにより測定された特性値３１の不良率よりも大きくなる場合がある。
【０１７７】
しかしながら、この場合は、特定のチャンネル番号の測定器６ａ〜６ｃにより測定された特性値３１が異常と認められる確率はほぼ２５％である。
【０１７８】
そこで、測定器６ａ〜６ｃのうちのいずれか１台において異常が生じているのか、あるいは、１２台の加工台３ａ〜３ｌのうちいずれか１台が異常であるのかを区別できるように、以下の条件をさらに設ける構成であってもよい。すなわち、特定のチャンネル番号の測定器６ａ〜６ｃから測定された特性値３１の不良率が、他のチャンネル番号の測定器６ａ〜６ｃから測定された特性値３１の不良率よりも大きく、かつ、この不良率が所定の閾値（２５％より大きい値）である。
【０１７９】
なお、上記数式（２）〜数式（４）それぞれの演算結果によって得られる値に対する所定の閾値は、それぞれの演算ごとに個別に設けられていてもよいし、共通して用いられるものであってもよい。
【０１８０】
例えば、上記数式（２）〜数式（４）それぞれの演算結果によって得られる値に対する所定の閾値として共通する値を設ける場合、この所定の閾値は、少なくとも正常状態における特性値３１に対して行った数式（２）〜数式（４）それぞれの演算結果よりも大きな値であり、調整対象候補、すなわち加工機５ａ〜５ｂ、加工台３ａ〜３ｌ、および測定器６ａ〜６ｂこれらの関係において適切に設定される。
【０１８１】
また、数式（２）〜数式（４）それぞれの演算結果によって得られる値に対する所定の閾値として個別に設ける場合は以下のようにして閾値を決めることができる。
【０１８２】
すなわち、数式（２）の演算結果によって得られる値に対する所定の閾値は、正常の場合、１つおきの製品の特性値３１が異常となる場合、２つおきの製品の特性値３１が異常となる場合、１１おきの製品の特性値３１が異常となる場合について数式（２）による演算を行い得られた結果から設定できる。なお、この演算結果は、上述したように、例えば図４示すようになる。このため、図４に示す演算結果を参照して、閾値として「１６０７３３」よりも大きく、１つおきに特性値３１が異常となる場合の演算結果として得られる範囲であり、「２１４８３３」以下の値に設定する。
【０１８３】
また、数式（３）の演算結果によって得られる値に対する所定の閾値は、正常の場合、１つおきの製品の特性値３１が異常となる場合、２つおきの製品の特性値３１が異常となる場合、１１おきの製品の特性値３１が異常となる場合について数式（３）による演算を行い得られた結果から設定できる。なお、この演算結果は、上述したように、例えば図４のようになる。このため、図４に示す演算結果を参照して、閾値として２つおきの製品の特性値３１が異常となる場合の演算結果として得られる範囲にあり、「１６５４１９」以下の値に設定する。
【０１８４】
この数式（４）の演算結果によって得られる値に対する所定の閾値は、正常の場合、１つおきに特性値３１が異常となる場合、２つおきに特性値３１が異常となる場合、１１おきに特性値３１が異常となる場合について数式（４）による演算を行い得られた結果から設定できる。なお、この演算結果は、上述したように、例えば図４のようになる。このため、図４に示す演算結果を参照して、閾値として「８４６７」よりも大きく、１１おきの製品の特性値３１が異常となる場合の演算結果として得られる範囲であり、「３７７８９」以下の値に設定する。
【０１８５】
また、特性値３１全体における不良率に対する上記所定の閾値は、例えば、以下のようにして設定する。すなわち、調整対象の候補の中で最も不良率が小さくなるのは加工台３ａ〜３ｌである。そこで、この不良率の閾値としては、１００個の製品に対して特性値３１の測定を行った場合、加工台３ａ〜３ｌのうちいずれか１つが正常に機能していない場合は、１２回に１つの割合で測定された特性値３１に異常が認められる。このため、不良率はおよそ８％となる。そこで、この不良率の閾値として８％と設定する。
【０１８６】
また、実際には測定器の測定誤差、または測定される特性値のばらつきなどが生じるため、これらを考慮して、上記した所定の閾値は、該閾値がとり得る値の範囲として多少の幅を持たせて設定されることが好ましい。
【０１８７】
なお、本実施の形態に係る調整装置７では、上記した各閾値に関する情報は、予め情報格納部１２において、閾値情報（不図示）として記憶している。
【０１８８】
ところで、上記した異常検出条件を利用して、調整対象部材を特定した場合、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００では、以下のような対策が行われる。
【０１８９】
例えば、加工機５ａ〜５ｂのいずれかにおいて異常が認められる場合、加工機５ａ〜５ｂいずれかの設定値を調整する。
【０１９０】
一方、加工台３ａ〜３ｌまたは測定器６ａ〜６ｃにおけるいずれか１台に異常が認められる場合、加工台３ａ〜３ｌが備える冶具の増締めの調整および加工台３ａ〜３ｌの清掃を作業員に指示したり、測定器６ａ〜６ｃの構成、測定器６ａ〜６ｃが備える冶具の接点調整、および冶具の清掃などを指示したりする。
【０１９１】
次に上記した異常検出条件を利用して、具体的にどのようにして異常要因を推定するか、図６を参照して以下に説明する。
（異常要因の推定処理）
次に、判定部２１によって、規定範囲外となる特性値３１が存在すると判定された場合における、本実施の形態に係る調整装置７にて行われる異常要因の推定処理について説明する。
【０１９２】
ここで、前提条件として、測定された特性値３１全体の不良率が５％、各測定器６ａ〜６ｃにおいて測定された特性値３１の不良率がそれぞれ１０％、数式（２）〜数式（４）による演算結果に対して設定される閾値を１００００とする。なお、これら閾値は、図示しないが予め情報格納部１２に記憶されている。
【０１９３】
また、ヒストグラム特徴検出部１５からヒストグラムの分布特徴（ピーク数）を、不良率演算部１４から、各測定器６ａ〜６ｃにより測定された特性値３１それぞれの不良率と、全ての測定された不良率とを、周期情報検出部１６から周期性の情報を受信しているものとする。
【０１９４】
まず、異常推定部１７は、異常要因の推定処理を行う前に、ワーニングフラグの設定をクリアしておく（ステップＳ１１、これ以降Ｓ１１と称する）。なお、このワーニングフラグは、どのような推定処理が行われたかを示すために利用されるフラグであり、図示しないが情報格納部１２に記憶されるようになっている。
【０１９５】
また、このワーニングフラグは、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台に異常が生じているのか否か、加工機５ａ〜５ｂのいずれか１台に異常が生じているか否か、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台に異常が生じているか否かそれぞれの判定ごとに設けられている。
【０１９６】
したがってまだ、異常要因の推定処理を実行していない場合、情報格納部１２においてこのワーニングフラグが設定されていない状態でなければならない。このため、異常要因の推定処理を行う前に、異常推定部１７はワーニングフラグの設定をクリアする。具体的には、異常推定部１７は、情報格納部１２に記録されているワーニングフラグとして「１」がたっている場合は、このフラグを「０」にする。
【０１９７】
次に、異常推定部１７は、不良率演算部１４から受信した不良率の情報のうち、各測定器６ａ〜６ｃにより測定された特性値３１それぞれの不良率を比較する。そして、異常推定部１７は、各測定器６ａ〜６ｃのチャンネル番号に対応付けられた特性値３１の不良率の中で所定の閾値以上（不良率５％）のものがあるか否かを判定する（Ｓ１２）。
【０１９８】
ここで、異常推定部１７は、上記した判定結果において、上記不良率の中で１つだけ所定の閾値以上となるものがある場合（Ｓ１２において「ＹＥＳ」）、ワーニングフラグの設定を行う（Ｓ１３）。すなわち、異常推定部１７は、情報格納部１２に、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台に異常が生じているのか否かの判定に応じたワーニングフラグとして１をたてる。
【０１９９】
一方、ステップＳ１２において「ＮＯ」の場合、測定された全体の特性値３１における不良率が、該不良率が所定の閾値（８％）以上であるか否かについて判定する（Ｓ２１）。
【０２００】
異常推定部１７は、ワーニングフラグの設定を完了すると、周期情報検出部１６による数式（３）の演算結果に基づき、該演算結果が所定の閾値（１００００）以上であるか否かを判定する（Ｓ１４）。なお、ここで、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台が異常状態である場合、図４に示すように数式（３）による演算結果は「１６５４１９」となる。このため、予め設定されている閾値「１００００」以上となる。
【０２０１】
したがって、この判定結果において、上記演算結果が所定の閾値以上である場合（Ｓ１４において「ＹＥＳ」、異常推定部１７は、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台が異常状態であると推定する。
【０２０２】
一方、上記ステップＳ１４の判定において「ＮＯ」の場合、測定された全体の特性値３１における不良率が、該不良率が所定の閾値（８％）以上であるか否かについて判定する（Ｓ２１）。
【０２０３】
ここで、ステップＳ１５において、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台が異常状態であると推定された場合、異常推定部１７は、作業者に測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台が異常状態である旨を通知するために、この通知を示す情報を指示出力部１９に出力する。
【０２０４】
このようにして、異常推定部１７は、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台が異常状態である場合に、調整対象として測定器を特定し作業員に通知することができる。
【０２０５】
次に、ステップＳ１２において「ＮＯ」の場合、あるいは、ステップＳ１４において「ＮＯ」の場合、異常推定部１７は、測定された特性値３１全体における不良率が所定の閾値以上であるか否かを判定する（Ｓ２１）。なお、加工台３ａ〜３ｌのいずれか１台が異常状態である場合、全体の不良率は８．３％以上となり所定の閾値（８％）以上となる。
【０２０６】
この判定において、上記特性値３１全体における不良率が所定の閾値（１００００）以上である場合（Ｓ２１において「ＹＥＳ」）、異常推定部１７は、ワーニングフラグの設定を行う（Ｓ２２）。すなわち、異常推定部１７は、加工台３ａ〜３ｌのいずれか１台が異常状態であるか否かの判定処理に応じたワーニングフラグとして情報格納部に「１」を立てる。
【０２０７】
一方、ステップＳ２１において「ＮＯ」の場合は、特性値３１全体に対するヒストグラムにおいてピーク数が２以上出現しているか否かの判定を行う（Ｓ３１）。
【０２０８】
ステップＳ２２においてワーニングフラグの設定を行うと、異常推定部１７は、数式（４）による演算結果が閾値以上であるか否かの判定を行う（Ｓ２３）。この判定において、数式（４）による演算結果が閾値以上であると判定された場合（Ｓ２３において「ＹＥＳ」）、異常推定部１７は加工台３ａ〜３ｌのいずれか１台が異常状態であると推定する（Ｓ２４）。すなわち、加工台３ａ〜３ｌのいずれか１台が異常状態である場合、図４に示すように数式（４）による演算結果は「３７７８９」となり閾値（１００００）以上となる。
【０２０９】
したがって、ステップＳ２３において「ＹＥＳ」の場合、異常推定部１７は加工台３ａ〜３ｌのいずれか１台が異常であると推定できる。そしてこの場合、異常推定部１７は、加工台３ａ〜３ｌのいずれか１台が異常状態である旨を作業員に通知するために、この異常状態である旨の通知を示す情報を指示出力部１９に出力する。
【０２１０】
一方、ステップＳ２３において「ＮＯ」の場合、異常推定部１７はステップＳ３１に示す処理、すなわち測定した特性値３１全体に対する上記ヒストグラムのピーク数が２以上であるか否かの判定を行う。
【０２１１】
このようにして、異常推定部１７は、加工台３ａ〜３ｌのいずれか１台が異常状態である場合に、調整対象として該加工台を特定し作業員に通知することができる。
【０２１２】
次に、ステップＳ２１において「ＮＯ」の場合、あるいは、ステップＳ２３において「ＮＯ」の場合、異常推定部１７は、測定された特性値３１全体に基づき作成されたヒストグラムのピーク数が２以上であるか、１であるかの判定を行う（Ｓ３１）。
【０２１３】
このステップＳ３１の判定において、異常推定部１７が上記ヒストグラムのピーク数が２以上であると判定した場合（Ｓ３１において「ＹＥＳ」）、ワーニングフラグの設定を行う。すなわち、異常推定部１７は、加工機５ａ〜５ｂのいずれか１台が異常状態であるか否かの判定処理に応じたワーニングフラグとして情報格納部に「１」を立てる。
【０２１４】
一方、ステップＳ３１において、上記ヒストグラムのピーク数が１であると判定された場合、異常推定部１７は、情報格納部１２に記録されているワーニングフラグの有無を確認する（Ｓ４１）。
【０２１５】
ステップＳ３２においてワーニングフラグの設定を行うと、異常推定部１７は、数式２による演算結果が閾値（１００００）以上であるのか否かを判定する（Ｓ３３）。そして、このステップＳ３３による判定において「ＹＥＳ」の場合、異常推定部１７は加工機５ａ〜５ｂのいずれかが異常状態であると推定する（Ｓ３４）。すなわち、加工機５ａ〜５ｂのいずれかが異常状態である場合、図４に示すように数式（２）による演算結果は、「３７７８９」となり閾値である「１００００」以上となる。
【０２１６】
一方、ステップＳ３３において「ＮＯ」の場合、ステップＳ４１に進む。すなわち異常推定部１７は、ワーニングフラグの有無を判定する処理を行う。
【０２１７】
したがって、ステップＳ３３において「ＹＥＳ」の場合、異常推定部１７は加工機５ａ〜５ｂのいずれか１台が異常であると推定できる。そしてこの場合、異常推定部１７は、加工機５ａ〜５ｂのいずれか１台が異常状態である旨を調整部１８に通知する。なお、異常推定部１７は、この通知を行うとともに測定された特性値３１全体に基づくヒストグラムの情報を調整部に送信する。
【０２１８】
このようにして、異常推定部１７は、加工機５ａ〜５ｂのいずれか１台が異常状態である場合に、調整対象を加工機５ａ〜５ｂと特定し調整部１８に通知することができる。
【０２１９】
ところで、ステップＳ３１において、上記ヒストグラムのピーク数が１であると判定した場合、あるいは、ステップＳ３３において数式（２）による演算結果が閾値未満であると判定した場合、異常推定部１７は、ワーニングフラグが設定されているか否かの判定を行う（Ｓ４１）。すなわち、このワーニングフラグの設定がなされているか否かに応じて、異常推定部１７は上記した測定器６ａ〜６ｃ、加工台３ａ〜３ｌ、加工機５ａ〜５ｂいずれかの異常に対する推定処理を行ったか否かが分かる。
【０２２０】
ここで、上記ワーニングフラグの設定が行われている場合、少なくとも測定された特性値３１には、測定器６ａ〜６ｃの各チャンネル番号に対応する特性値３１のいずれか１つの不良率が閾値以上、または特性値３１全体での不良率が閾値以上であることが分かる。これらの現象は、上述したように製造ラインシステム１００に備えられている装置のいずれかにおいて何らかの異常状態が生じていることを示すものである。
【０２２１】
したがって、異常推定部１７は、ステップＳ４１において「ＹＥＳ」の場合、指示出力部に異常状態が生じていることを示す警告を通知する。この通知によって作業員は、何らかの装置において異常が生じていることを確認することができる。
【０２２２】
一方、ワーニングフラグの設定が１つもなされていない場合（Ｓ４１において「ＮＯ」）、異常推定部１７は診断不可能（Ｓ４３）として処理を終了する。
【０２２３】
以上のように本実施の形態に係る調整装置では、異常が生じている調整対象を特定し、特定した調整対象を通知したり、該調整対象の設定値を調整するように指示したりすることができる。
【０２２４】
（設定値の調整処理）
次に、図８および図９を参照して、異常推定部１７から加工機５ａまたは加工機５ｂのいずれかが正常に可動していない（異常状態である）旨の通知を受信した場合、調整部１８により行われる設定値の調整処理について説明する。
【０２２５】
なお、図８は、本実施の形態に係る調整装置７における設定値の調整処理の一例を説明する図面である。また、図９は、本実施の形態に係る調整装置７における補正値の探索処理を示すフローチャートである。
【０２２６】
ところで加工機５ａまたは加工機５ｂいずれかが正常に可動していない場合、どちらかで処理された製品の特性値３１に基づくヒストグラムでは、ピークの区間が規定範囲α―β間の中心値Ｍからずれた位置に現れる。このため、加工機５ａまたは加工機５ｂいずれかが正常に可動していない場合、測定された特性値３１全体に基づくヒストグラムではピークが２つ生じる（Ａ１、Ａ２）。
【０２２７】
ここで、本実施の形態に係る調整装置７では、調整部１８が、ピークＡ１が現れる区間の値とピークＡ２が現れる区間の値とを、規定範囲α―βの中心値Ｍとなる区間の値と比較する。そして、中心値Ｍの区間の値に最も近いピークの値に、他方のピークの値を近づけるように加工機の設定値を変更させる。
【０２２８】
すなわち、加工機５ａまたは加工機５ｂのいずれかによって加工処理された製品は正常に加工処理されたものである。つまり、加工機５ａまたは加工機５ｂのいずれかによって加工処理された製品の特性値３１に基づくヒストグラムの分布において、中心値Ｍに最も近い区間に上記ピークが現れるヒストグラムが規定の品質を満たす製品の特性値３１に基づくヒストグラムとみなすことができる。
【０２２９】
そこで、ピークＡ１とピークＡ２とのうち規定範囲α―βの中心値Ｍに最も近いピークの値に、他方のピークの値を近づけるように加工機の設定値を変更させる。このようにして、規定の品質を満たす製品の特性値３１に基づくヒストグラムに近づけることができる。
【０２３０】
したがって、図８に示すヒストグラムの例では、ピークＡ２が現れる区間の値が中心値Ｍの近傍にあるため、ピークＡ１が現れる区間の値をよりより大きな値となるように加工機５ａまたは加工機５ｂの設定値を変更すればよい。
【０２３１】
なお、逆に、ピークＡ１の方が中心値Ｍの近傍に現れている場合は、ピークＡ２の現れる区間の値をより小さくなるように加工機５ａまたは加工機５ｂの設定値の変更を行う。
【０２３２】
ところで、図８に示すようなヒストグラム上では、ピークＡ１とピークＡ２とにおいて、どちらのピークの値がどの加工機によって加工処理された製品の特性値３１を反映させているのか分からない。
【０２３３】
そこで、本実施の形態に係る調整部１８では、具体的にはとりあえず加工機５ａまたは加工機５ｂのいずれか一方の加工機の設定値を、加工処理された製品の特性値３１が高くなるように変更させる。そして、その変更結果に応じて他方の加工機の設定値を変更させる。
【０２３４】
例えば、図８に示すように、まず加工機５ａの設定値を特性値３１が上昇するように変更させた場合、測定された特性値３１に基づくヒストグラムのピークＡ１とピークＡ２とのうち、ピークＡ２がＳでしめされる区間の値の位置まで移動したとする。すなわち、ヒストグラムによって示される特性値３１の分布は規定範囲における上限値βを越えて分布が広がった状態となったとする。
【０２３５】
この状態ではあきらかに特性値３１の分布のばらつきを広げてしまっており、うまく調整できていないことが分かる。そこで、このようにうまく調整できなかった場合は、再度、予め情報格納部１２に記憶している装置初期値３２を参照して加工機５ａの設定値をもとに戻す。そして、今度は、加工機５ｂの設定値を上記加工機５ａに対して行ったように変更させてみる。その結果、図８に示すようにヒストグラムのピークＡ１の値がＴに示される区間の値まで移動したとする。
【０２３６】
すなわち、ピークＡ１の値がＴの値まで変化することによって、ヒストグラムにおける全体のピーク数が１つとなり、該ピークが特性値３１の規定範囲α―β間における中心値Ｍ付近に現れている。また、規定範囲α―β間に全ての特性値３１が収まっている。
【０２３７】
このような状態で測定された特性値３１に基づくヒストグラムが現れる場合、加工機５ｂの設定値を変更することによって該加工機５ｂの調整がうまくいったと判断できる。
【０２３８】
このようにして、本実施形態に係る製造ラインシステム１００では、ヒストグラムにおけるピークが現れる値を変更させることによって適切に加工機５ａまたは加工機５ｂの調整を行うことができる。以下において図９を参照して加工機５ａまたは加工機５ｂいずれかの設定値を調整する、設定値の調整処理の流れについて説明する。
【０２３９】
まず、調整部１８は、異常推定部１７から加工機５ａまたは加工機５ｂのいずれかが正常に可動していない（異常状態である）旨の通知を受信した場合、異常推定部１７に異常要因の推定処理を停止するように指示する（Ｓ５１）。このように、調整部１８は設定値の調整処理を行っている間は、異常推定部１７による異常要因の推定処理を停止させる。
【０２４０】
次に、調整部１８は、異常推定部１７からの通知とともに送信されたヒストグラムの情報に基づき、加工機５ａまたは加工機５ｂの設定変更方針を決定する（Ｓ５２）。この設定変更方針とは、加工機５ａまたは加工機５ｂの設定を、該加工機５ａまたは加工機５ｂいずれかによって加工処理された製品の特性値３１が大きくなるように、あるいは小さくなるように変更させるかを決定することである。
【０２４１】
この決定は、上記したように、２つの区間にピークが現れている場合、規定範囲α―βの中心値Ｍの近傍に現れているピークの区間を基準に、他方のピークが現れる区間の値が大きくなるように変更させるか、または小さくなるように変更させるかに応じて行われる。
【０２４２】
本実施例では、調整部１８が、上記した決定において加工機５ａまたは加工機５ｂいずれかの設定値を、加工処理された製品の特性値３１が大きくなるように変更させると決定したとする。
【０２４３】
そこで、調整部１８は、まず加工機５ａの設定値を、該加工機５ａにより加工処理された製品から測定した特性値３１が大きくなるように設定値を変更させる（Ｓ５３）。なお、この設定値の変更量は適当な値であり、少なくとも、設定値が変更された加工機によって加工処理された製品の特性値が上昇するような設定値であればよい。つまり、本実施例では、上記設定値の変更を繰り返すことによって、結果的に規定の品質を満たす加工処理された製品の特性値に基づくヒストグラムの形状に近づけるように構成されている。
【０２４４】
ここで、加工機５ａの設定値が変更されると、当然この変更後に得られる特性値３１は設定変更前と比較して異なることとなる。そこで、調整部１８は、加工機５ａの設定が変更されたことを示す状態変化を、状態変更検知部２０に通知する（Ｓ５４）。この通知に応じて、状態変更検知部２０は、集計部１３に特性値３１の集計をやり直すように指示する。そして、状態変更検知部２０からの指示に応じて、集計部１３は、加工機５ａの設定変更後に加工処理された製品の特性値３１を集計するようにする。
【０２４５】
なお、状態変更検知部２０は、集計部１３への指示を設定変更後の加工機５ａによって加工処理された製品が測定器６ａ〜６ｃのいずれか１つによって測定される時間を指定して指示するようになっている。
【０２４６】
すなわち、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００では、一定の速度で加工機５ａから測定器６ａ〜６ｃまで搬送されるように構成されている。このため、加工処理された製品が上記測定器６ａ〜６ｃまで搬送される際にかかる時間を計算することにより、設定変更後の加工機５ａにより加工処理された製品が有する特性値３１の測定時間が分かる。
【０２４７】
また、上記したように測定器６ａ〜６ｃのいずれかによって測定された特性値３１は、測定された時間と対応付けて情報格納部１２に記憶されるようになっている。このため、集計部１３は、設定値が変更された加工機５ａにより加工処理された製品の特性値３１を集計することができる。
【０２４８】
このようにして、集計部１３は、設定値が変更された加工機５ａにより加工処理された製品の特性値３１を集計し、該特性値３１に基づくヒストグラムを作成する。そして、作成したヒストグラムの情報を調整部１８に通知する。
【０２４９】
調整部１８は、集計部１３から受信したヒストグラム情報に基づき、該ヒストグラムにおいてピークが１つになったか否かを判定する（Ｓ５５）。すなわち、調整部１８は、規定範囲α―βの中心値付近の値において特性値の度数が大きくなり、この区間の前後の区間において特性値の度数が徐々に小さくなっているかを判定する。
【０２５０】
ステップＳ５５において調整部１８が、ピークが１つになったと判定した場合（Ｓ５５において「ＹＥＳ」）、設定値の調整処理を終了する。
【０２５１】
一方、ステップＳ５５において「ＮＯ」の場合、受信したヒストグラム情報において、該ヒストグラムに現れる２つのピーク間の距離が、加工機５ａの設定変更前と比較して小さくなったか否かを判定する（Ｓ５６）。なお、上記ピーク間距離は、ピークＡ１が現れる区間の値と、ピークＡ２が現れる区間の値との差分の絶対値として求めることができる。
【０２５２】
すなわち、調整部１８は加工機５ａの設定変更を行う場合、図１において特に図示していないが該設定変更される前の特性値３１に基づくヒストグラムにおいてピークが出現する区間それぞれの値を情報格納部１２に記憶させている。そして、調整部１８は、情報格納部１２に記憶させているピークそれぞれの区間の値における距離と、加工機５ａの設定変更後に受信したヒストグラムにおけるピークそれぞれの区間の値における距離とを比較する。
【０２５３】
この比較において、調整部１８がピーク間の距離が小さくなったと判定した場合（Ｓ５６において「ＹＥＳ」）、再度、ステップＳ５３に戻って加工機５ａの設定値の変更を行う。そして、ステップＳ５３〜ステップＳ５６までの処理を上記ピークが出現する区間が１つになるまで繰り返す。
【０２５４】
一方、加工機５ａの設定値を、該加工機５ａによって加工処理された製品の特性値が大きくなるように変更した結果、加工機５ａまたは加工機５ｂによって加工処理された製品の特性値に基づくヒストグラムにおいてピーク間の距離が小さくならなかったとする。すなわち、ステップＳ５６において「ＮＯ」の場合、調整部１８は、加工機５ａの設定が変更されることを示す状態変化を、状態変更検知部２０に通知する（Ｓ５７）。
【０２５５】
ここでの状態変化は、加工機５ａの設定値を変更させても測定される特性値の結果が良くないため、一旦もとの設定値に戻すことを意味している。そして、調整部１８は、装置初期値３２を参照して加工機５ａの変更された設定値をもとの設定値に戻す（Ｓ５８）。
【０２５６】
このように加工機５ａの設定値をもとの値に戻すと、調整部１８は、次に加工機５ｂの設定値を、該加工機５ｂにより加工処理された製品から測定した特性値３１が大きくなるように設定値を変更させる（Ｓ５９）。これ以降の処理においてステップＳ６０〜ステップＳ６２まで、加工機５ａに対して行った処理と同様であるため説明を省略する。
【０２５７】
ただし、ステップＳ６２において、加工機５ｂの設定値を変更させたにも関わらず、ピーク間距離が小さくならなかった場合（Ｓ６２において「ＮＯ」）、指示出力部１９に警告を通知するように指示する。
【０２５８】
すなわち、加工機５ａおよび加工機５ｂそれぞれの設定値を変更させたにもかかわらず、測定される特性値に基づくヒストグラムが、規定の品質を満たす加工処理された製品の特性値に基づくヒストグラムに近づかない。このため、測定された特性値に異常が生じる要因は、加工機５ａまたは加工機５ｂのメカ誤差に基づくものではないと判断される。
【０２５９】
そこで、調整部１８が指示出力部１９に警告を通知するように指示することで、作業員は、測定される特性値が異常となる要因が加工機５ａまたは加工機５ｂのメカ誤差でないと知ることができる。
【０２６０】
したがって、作業員は、加工機５ａまたは加工機５ｂいずれかの装置において磨耗が生じているのではないかなど他の要因を効率よく調べることができる。
【０２６１】
以上のように本実施の形態に係る調整装置７は、加工処理された製品から測定された特性値が規定範囲にないと判断された場合、該特性値に基づき異常要因を特定することができる。すなわち、上記規定範囲外の特性値が２周期、３周期、１１周期で現れるかに基づき、異常要因が加工機５ａ〜５ｂのいずれかであるのか、測定器６ａ〜６ｃのいずれかであるのか、あるいは加工台３ａ〜３ｌのいずれかであるのかを効率的に特定することができる。
【０２６２】
特に、上記調整装置７は、この異常要因の特定を、製品の加工処理を行いながら行うことができる。
【０２６３】
また、調整装置７は、指示出力部１９に指示して特定した異常要因を作業員に通知することができる。
【０２６４】
さらには、異常要因として加工機５ａ〜５ｂのいずれかであると特定された場合、調整部１８が該加工機５ａ〜５ｂの設定値を、規定の品質を満たす加工処理された製品から測定される特性値となるように調整することができる。
【０２６５】
なお、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００では、加工台３ａ〜３ｌ、加工機５ａ〜５ｂ、測定器６ａ〜６ｃが備えられていたが、備えられる装置の種類はこれに限定されるものではなく、組み立て機など他の種類の装置がそなえられていてもよい。これら装置の種類は製造される製品に応じて適宜設けることが好ましい。
【０２６６】
また、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００では、１２台の加工台３ａ〜３ｌ、２台の加工機５ａ〜５ｂ、３台の測定器６ａ〜６ｃそれぞれが備えられているが、各装置の台数はこれに限定されるものではない。加工台３ａ〜３ｌ、２台の加工機５ａ〜５ｂ、３台の測定器６ａ〜６ｃそれぞれの台数が互いに異なればどのような台数であってもよい。これら装置の台数は、加工処理される製品の種類、数などに応じて適宜決めることができる。
【０２６７】
また、上記した異常要因の推定処理において、測定器の異常の有無、加工台の異常の有無、加工機の異常の有無の順番で推定処理を行っていたが、この推定処理される順番はこれに限定されるものではない。
【０２６８】
例えば、各装置において不具合が生じる頻度が高い装置から順に推定処理がおこなわれてもよい。あるいは、各装置における不具合の生じ方または各装置において不具合が生じた場合における特性値の変化の仕方に応じて、上記順番が決められていてもよい。
【０２６９】
なお、この不具合の生じ方とは、例えば測定器の測定誤差などの生じ方、加工台の冶具のゆるみや屑の付着の生じ方などである。
【０２７０】
また、上記特性値の変化の仕方とは、例えば、測定器の測定誤差が生じる場合は、徐々に特性値が変化するが、加工台の冶具のゆるみや屑の付着などが生じる場合は、はある程度短期間で特性値が大きく変化する。
【０２７１】
また、本実施の形態に係る製造ラインシステム１００は、生産工程におけるいずれの工程で利用されてもよい。したがって、測定器６ａ〜６ｃによって特性値が測定される加工処理された製品は、完成品であってもよいし、生産工程における製造途中の製品であってもよい。
【０２７２】
なお、上記したように、上記周期情報検出部１６が、規定の範囲外の値となる特性値３１の周期性を検出するために、上記数式（２）〜数式（４）を用いる構成であった。しかし、周期情報検出部１６による演算方法は、これらに限定されるものではなくＦＦＴを用いる構成であってもよい。
【０２７３】
例えば、上記周期情報検出部１６は、加工処理され特性値が測定される製品の搬送順番と、該製品の搬送順番ごとに示される各特性値との関係（図３（ｂ）〜図３（ｄ））を時系列データとして捉える。すなわち、図３（ｂ）〜図３（ｄ）それぞれの横軸に示される製品の搬送順番を時間軸上の値としてとらえる。
【０２７４】
そして、上記周期情報検出部１６は、この時系列データに対してＦＦＴ（fast fourier transformation）による演算を行い、規定範囲外となる特性値の出現周期を検出する構成であってもよい。
【０２７５】
つまり、このＦＦＴによる演算結果として得られたパワースペクトラムを用いることで、上記数式（２）〜（４）の演算結果と同様に上記周期性を調べることができる。
【０２７６】
例えば、上記したように搬送ベルト８によって搬送される製品の順番と該製品から測定される特性値との関係を時系列データとし、横軸に示す０番目から１００番目までの順番の範囲を１秒間とみなす。このような時系列データとして図３（ｂ）〜図３（ｃ）それぞれをみなすと、例えば図３（ｂ）のように０番目〜１００番目までの間で規定範囲外となる特性値が５０個出現する場合を５０Ｈｚの周波数としてとらえることができる。
【０２７７】
このため、上記時系列データに対するＦＦＴの結果において、５０Ｈｚの位置に強い波長が出現する場合は、特性値が１つおきに規定範囲外の値となる場合である。すなわち、この場合は、加工機５ａまたは加工機５ｂのいずれかに異常が生じていると推定できる。
【０２７８】
同様にして図３（ｃ）について考えてみると、図３（ｃ）のように０番目〜１００番目までの間で、規定範囲の値を越える特性値が３３個出現する場合を、３３Ｈｚの周波数としてとらえることができる。
【０２７９】
このため、上記時系列データに対するＦＦＴによる演算結果において、３３Ｈｚの位置に強い波長が出現する場合は、特性値が２つおきに規定範囲外の値となる場合である。すなわち、この場合は、測定器６ａ〜６ｃのうちいずれか１台に異常が生じていると推定できる。
【０２８０】
また、同様にして図３（ｄ）について考えてみると、図３（ｄ）のように０番目〜１００番目までの間で、規定範囲の値を越える特性値が８個出現する場合を、８Ｈｚの周波数としてとらえることができる。
【０２８１】
このため、上記時系列データに対するＦＦＴの結果において、８Ｈｚの位置に強い波長が出現する場合は、特性値が１１おきに規定の範囲外の値となる場合である。すなわちこの場合は、加工台３ａ〜３ｌのうちいずれか１台に異常が生じていると推定できる。
【０２８２】
このように周期情報検出部２４が、ＦＦＴの演算により規定範囲外となる特性値の出現周期性を検出する場合は、上記した数式（２）〜（４）の演算を行うよりもより精度よく該周期性の検出を行うことができるというさらなる効果を奏する。
【０２８３】
ただし、上記した数式（２）〜（４）に示すように、１つおき、２つおき、１１おきの特性値３１との差分の大きさの総和を求める方が、ＦＦＴを用いるよりも演算量が小さく処理の高速化という点では優れている。
【０２８４】
なお、上記した調整装置７では、調整対象となる装置を推定できる構成であったが、調整対象として特定された装置の調整を行った結果として得られる特性値のばらつきの変化状況を表示する構成とすることが好適である。
【０２８５】
例えば、仮に加工台３ａ〜３ｌのいずれか１台、加工機５ａ〜５ｂのいずれか１台、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台それぞれに異常が生じているとする。この場合、上記時系列データに対してＦＦＴによる演算を行った結果、パワースペクトルは図１０に示すようになる。すなわち、８Ｈｚ、３３Ｈｚ、５０Ｈｚそれぞれの周波数位置での波長の振幅が大きくなる。
【０２８６】
ただし、加工台３ａ〜３ｌのいずれか１台が異常である場合、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台が異常である場合、加工機５ａまたは加工機５ｂのいずれかが異常である場合、それぞれの場合に応じて製品から得られる特性値が、規定範囲の値から外れる度合いが異なってくる。すなわち、異常要因となる装置に応じて、規定範囲内にある特性値と測定された特性値との差にばらつきが生じる。このため、図１１に示す８Ｈｚ、３３Ｈｚ、５０Ｈｚそれぞれでの振幅の大きさが異なることとなる。
【０２８７】
また、異常要因が生じている装置において、生じている異常要因の種類、または異常となる程度によっても上記８Ｈｚ、３３Ｈｚ、５０Ｈｚそれぞれの周波数位置での波長の振幅の大きさが異なることとなる。
【０２８８】
このように、異常要因となる装置または、異常要因に応じて、測定された特性値が規定範囲からはずれる度合いが異なるため、異常要因となる装置の調整を行った場合、調整前に得られる特性値と調整後に得られる特性値とを比較すると、前者と後者とではそれほど大きくは変化しないこともある。
【０２８９】
このような場合は、製品の加工処理の作業効率と、製品に求められる品質精度とを考慮し、あえて異常状態にある装置の調整作業を行う必要がないと作業員が判断する場合がある。
【０２９０】
ここで、以下において、異常要因として特定された装置の調整を行った結果として得られる特性値における、ばらつき度の変化状況を表示できる調整装置１０７について説明する。
【０２９１】
上記調整装置１０７は、図１０に示すように、上記した調整装置７の構成に加えてさらに影響度算出部２３を備えている点が上記した調整装置７と異なる。この影響度算出部２３は、異常推定部２５から通知された調整対象の情報と、周期情報検出部２４から受信したパワースペクトラムの情報とに基づき、該調整対象の調整を行った場合の特性値変化の影響度を推定するものである。
【０２９２】
なお、この特性値変化の影響度とは、調整対象の調整完了後に得られる上記特性値のばらつき度の予測値である。
【０２９３】
また、さらに上記した調整装置７と調整装置１０７とは以下の点で異なる。
【０２９４】
すなわち、調整部２６への加工機５aまたは加工機５ｂいずれかの調整指示は、指示出力部１９から行われる点が上記した調整装置７と異なる。
【０２９５】
また、調整部２６は、指示出力部１９から加工機５aまたは加工機５ｂいずれかの調整指示を受けると、異常推定部１７に異常推定処理を停止するように指示する点が上記調整部１８と異なる。
【０２９６】
また、調整部２６は、集計部１３から集計された特性値３１のヒストグラムの情報を取得し、この情報に基づき、加工機５ａまたは加工機５ｂの設定変更方針を決定する点が上記した調整部１８と異なる。
【０２９７】
また、周期情報検出部２４が規定の範囲外の値となる特性値の周期性を検出するために上記数式（２）〜数式（４）を用いる代わりに、ＦＦＴによる演算結果として得られたパワースペクトラムを用いている点で調整装置７が備える周期情報検出部１６と異なる。
【０２９８】
また、異常推定部２５が、推定した調整対象を示す情報を影響度算出部２３に通知する点で、調整装置７が備える異常推定部１７と異なる。
【０２９９】
なお、調整装置１０７において、調整装置と同様の部材には同じ符号を付し、そしてこれら部材の説明は省略するものとする。
【０３００】
ここで、上記した影響度算出部２３における調整対象の調整完了後に得られる上記特性値によるばらつき度の予測値の算出処理に係る情報の流れについて説明する。
【０３０１】
まず、周期情報検出部２４が情報格納部１２に格納されている特性値３１と、加工処理され特性値３１が測定された製品の搬送順番とに基づく時系列データを利用してＦＦＴによる演算を行う。そして、得られたパワースペクトラムと、上記時系列データとを影響度算出部２３に送信する。
【０３０２】
また、異常推定部２５は、異常要因の推定処理を行った結果を影響度算出部２３に通知する。
【０３０３】
影響度算出部２３は、異常要因として推定された装置、すなわち調整対象として推定された装置に関して、周期情報検出部２４から得た上記パワースペクトラムを用いて調整対象装置の調整後における特性値のばらつき度の変化を算出する。
【０３０４】
そして、算出した上記ばらつき度の変化情報を指示出力部１９に送信し表示させる。
【０３０５】
ここで、以下において影響度算出部２３による調整対象装置の調整後における特性値のばらつき度変化の算出処理について説明する。
【０３０６】
（調整後におけるばらつき度変化算出処理）
ところで、上記時系列データ対して、ＦＦＴにより得られたパワースペクトラムは、上記時系列データをＦＦＴによって演算した結果得られる周波数を正弦波として考えた場合、各周期の周波数成分の振幅の２乗に相当する。
【０３０７】
このため、平均値成分（周波数０に対するオフセット成分）を除くＦＦＴのパワースペクトラムを総和した結果は、上記時系列データの標準偏差（時系列データにおける平均値の影響を除く）の２乗（すなわち分散）にほぼ比例する。すなわち、異常対象の修正前における全体のＦＦＴパワースペクトラム（周波数０のＦＦＴパワースペクトラムを除く）の総和を「Ｐ_all」とし異常対象の修正前における全体の標準偏差を「σ_all」とし、Ｋを任意の数とすると下記数式（５）の関係が成り立つ。
【０３０８】
Ｐ_all＝Ｋ・（σ_all）２・・・（５）
なお、上記周波数０に対するオフセット成分とは、上記時系列データに対してＦＦＴによる演算を行った結果を、０を平均値レベルとしてその振幅を表した場合、再度、この値に対して逆フーリエ変換して上記時系列データを再現するために必要となる値である。
【０３０９】
ここで、仮に異常要因が測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台が異常状態であり、この異常状態である測定器を修正するとする。このように異常要因である測定器が修正されることにより、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台が異常状態にある場合に示される３３Ｈｚに出現するパワースペクトラムの周波数成分が略ゼロ（ホワイトノイズ位置）に近くなるように低減されたとする（図１２参照）。
【０３１０】
この場合、上記３３Ｈｚのパワースペクトラムの周波数成分が低減される前の標準偏差から、低減された後の標準偏差を引くことで上記時系列データの標準偏差の低下量を近似的に推定することができる。すなわち、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台の異常修正前の３３ＨｚにおけるＦＦＴパワースペクトラムを「Ｐ３」とし、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台の異常修正後における標準偏差の低下量を「σ３」とすると、下記数式（６）に示す関係が成り立つ。
【０３１１】
Ｐ３＝Ｋ・（σ３）２・・・（６）
したがって、影響度算出部２３は、上記数式（５）および数式（６）の関係から導き出される以下の数式（７）と数式（８）との演算を行うことにより、異常要因の修正前に得られる特性値全体の値と、修正後に得られる特性値全体の値との相違を求めることができる。
【０３１２】
先ず、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台の異常修正後の標準偏差の低下量は、上記数式（５）および数式（６）との関係を利用して得られる以下の数式（７）によって求められる。
【０３１３】
σ３＝σ_all＊√（Ｐ３／Ｐ_all）・・・（７）
σ３  ：異常対象（測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台）の修正後における標準偏差の低下量
σ_all：異常対象（測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台）の修正前における全体の標準偏差
Ｐ３  ：異常対象（測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台）の修正前における３３ＨｚのＦＦＴパワースペクトラム
Ｐ_all：異常対象（測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台）の修正前における全体のＦＦＴパワースペクトラム（周波数０のＦＦＴパワースペクトラムを除く）の総和
したがって、測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台の異常修正後において測定された特性値全体の標準偏差は、以下の式（数式（８））により表わすことができる。
【０３１４】
異常修正後において測定された特性値全体の標準偏差＝σ_all−σ３・・・（８）
このように上記したような演算を行うことで、影響度算出部２３は、異常要因の修正前後における特性値の、規定範囲の特性値に対するばらつき度を算出し、この算出した結果を指示出力部１９に送信する。
【０３１５】
なお、上記した演算に用いる異常要因の修正前に関する値は全て上記時系列データから得ることができる。すなわち、影響度算出部２３は、周期情報検出部２４から受信したパワースペクトルの情報と、時系列データとに基づきこれらの値を求めることができる。
【０３１６】
また、異常要因の修正後の標準偏差の低下量は、特定周波数に現れるパワースペクトルの値をホワイトノイズ範囲の値に仮想的に置き換えることにより得ることができる。
【０３１７】
このため、上記調整装置７における影響度算出部２３は、異常要因の調整前に、異常要因の調整後の特性値の上記ばらつき度を算出することができる。
【０３１８】
また、上記調整装置７は、算出した異常要因の調整後の特性値の上記ばらつき度を指示出力部１９に出力することができるため、作業員は異常要因の調整を行うか否かを判断することができる。
【０３１９】
また、さらには上記した調整装置７は、上記した調整装置１０７のように調整後の特性値の上記ばらつき度を表示するのではなく、予め加工処理される製品に求められる品質精度に応じて自動的に異常要因に対する調整を行う必要性の有無を判定し、指示出力部１９にこの判定結果を出力する構成とすることもできる。
【０３２０】
以下において、予め加工処理される製品に求められる品質精度に応じて自動的に異常要因に対する調整の必要の有無を判定し、指示出力部１９にこの判定結果を出力する調整装置２０７の構成について説明する。
【０３２１】
上記調整装置２０７は、図１３に示すように、上記した調整装置７の構成に加えてさらに警告判定部２７を備え、また情報格納部１２がさらに、ばらつき許容情報３３をさらに記憶している点が上記した調整装置７と異なる。
【０３２２】
上記ばらつき許容情報３３とは、異常要因となる装置に関する異常推定後の標準偏差の低下量であり、少なくともこの低下量以上でない場合は、異常要因の調整を行う必要がないとする値である。この値は予め製造ラインシステム１００を操作する作業員によって設定されている。
【０３２３】
また、警告判定部２７は、異常推定部２５から通知された調整対象の情報と、周期情報検出部２４から受信したパワースペクトグラムの情報と、情報格納部１２に記憶されている許容ばらつき情報に基づき、異常要因の調整を行うか否かを判定するものである。この警告判定部２７は、判定した結果、異常要因である装置の調整が必要な場合、警告を示す情報を指示出力部１９に出力する。
【０３２４】
なお、この警告判定部２７による異常要因の調整を行うか否かに関する判定処理については後述する。
【０３２５】
また、さらに上記した調整装置７と調整装置２０７とは以下の点で異なる。
【０３２６】
すなわち、調整部２６への加工機５aまたは加工機５ｂいずれかの調整指示は、指示出力部１９から行われる点が上記した調整装置７と異なる。
【０３２７】
また、調整部２６は、指示出力部１９から加工機５aまたは加工機５ｂいずれかの調整指示を受けると、異常推定部１７に異常推定処理を停止するように指示する点が上記調整部１８と異なる。
【０３２８】
また、調整部２６は、集計部１３から集計された特性値３１のヒストグラムの情報を取得し、この情報に基づき、加工機５ａまたは加工機５ｂの設定変更方針を決定する点が上記した調整部１８と異なる。
【０３２９】
また、周期情報検出部２４が規定の範囲外の値となる特性値の周期性を検出するために上記数式（２）〜数式（４）を用いる代わりに、ＦＦＴによる演算結果として得られたパワースペクトラムを用いている点で調整装置７が備える周期情報検出部１６と異なる。
【０３３０】
また、異常推定部２５が、推定した調整対象を示す情報を影響度算出部２３に通知する点で、調整装置７が備える異常推定部１７と異なる。
【０３３１】
なお、調整装置１０７において、調整装置と同様の部材には同じ符号を付し、そしてこれら部材の説明は省略するものとする。
【０３３２】
ここで、上記調整装置２０７による異常要因の調整を行うか否かに関する判定処理についての流れを説明する。
【０３３３】
まず、周期情報検出部２４が情報格納部１２に格納されている特性値３１と、加工処理され特性値が測定された製品の搬送順番とに基づく時系列データを利用してＦＦＴによる演算を行う。そして、得られたパワースペクトラムを影響度算出部２３に送信する。
【０３３４】
また、異常推定部２５は、異常要因の推定処理を行った結果を影響度算出部２３に通知する。
【０３３５】
警告判定部２７は、異常推定部２５から、異常要因として推定された装置の情報を受信すると、周期情報検出部２４から受信したパワースペクトルの情報および特性値３１に基づく時系列データを受信する。
【０３３６】
また、警告判定部２７は、情報格納部１２に格納されているばらつき許容情報３３を取得する。
【０３３７】
そして、警告判定部２７は、上記時系列データ、パワースペクトルの情報、ばらつき許容情報３３に基づき得られる閾値と、測定された特性値３１に基づく時系列データに対するＦＦＴの演算により得られるパワースペクトルと比較する。そして、警告判定部２７は、警告を示す情報を指示出力部１９に出力するか否かを判定する。
【０３３８】
ここで、測定された特性値３１に基づく時系列データに対するＦＦＴの演算により得られるパワースペクトルと比較する閾値の算出方法について説明する。
【０３３９】
先ず、警告判定部２７は、上記した閾値を求めるために下記に示す数式（９）の演算を行う。なお、ここでは、例として異常要因が測定器６ａ〜測定器６ｃいずれか１台にあるものとする。
【０３４０】
Ｑ３＝Ｐ_all＊（γ３／σ_all）２・・・（９）
Ｑ３；測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台の異常修正前の３３ＨｚにおけるＦＦＴパワースペクトラムに対する閾値
Ｐ_all：測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台の異常修正前の全体のＦＦＴパワースペクトラム（周波数０のＦＦＴパワースペクトラムを除く）
σ_all：測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台の異常修正前の全体の標準偏差
γ３  ：測定器６ａ〜６ｃのいずれか１台の異常修正後の標準偏差の低下量として許容される値（ばらつき許容情報）
ここで、上記したように、Ｐ_allの値は、警告判定部２７が測定された特性値３１に基づく時系列データに対してＦＦＴによる演算を行うことで求めることができる。
【０３４１】
また、σ_allの値は、上記したように警告判定部２７が上記時系列データに基づき求めることができる。
【０３４２】
また、γ３の値は、警告判定部２７が情報格納部１２からばらつき許容情報として取得することができる。
【０３４３】
なお、上記演算により求められるＱ３は、特性値のばらつき度が許容される異常修正前の３３ＨｚにおけるＦＦＴパワースペクトラムであり、このパワースペクトラムを閾値とする。
【０３４４】
そして、警告判定部２７は、上記した演算により求めた閾値（Ｑ３）と、異常要因の調整前に、実際に測定された特性値３１に基づく時系列データに対してＦＦＴにより求めたパワースペクトラム（Ｐ３）とを比較する。この比較の結果前者が後者の値より小さければ（Ｑ３＜Ｐ３）、警告判定部２７は指示出力部に警告を示す情報を出力する。
【０３４５】
すなわち、「Ｑ３＜Ｐ３」の関係が成り立つ場合は、実際に測定された特性値３１に基づく時系列データに対するＦＦＴの演算結果により得られたパワースペクトラムが、許容されるパワースペクトラムの値よりも大きいといえる。言い換えれば、「Ｑ３＜Ｐ３」の関係が成り立つ場合は、規定範囲内にある特性値に対する実際に測定された特性値３１のばらつき度が許容される範囲を越えているということである。
【０３４６】
なお、上記ばらつき許容情報（γ３）３３は、加工処理される製品に対して求められる品質精度に応じて予め決めることができる。したがって、高い品質精度が求められる場合では、ばらつき許容情報（γ３）３３の値は小さくなる。
【０３４７】
このように、上記調整装置２０７は、警告判定部２７を備えているため、異常要因に対する調整が必要であるか否かを判定することができる。
【０３４８】
したがって、異常要因と推定された装置を調整することにより、特性値のばらつき度の変化がどうなるかを考慮して、該異常要因と推定された装置を調整するか否かを自動的に判断することができる。
【０３４９】
なお、上記警告判定部２７は、数式（９）による演算を行って閾値を求め警告を出力するか否かを判定していたが、分かりやすさに重点をおくならば、ＦＦＴにより求めたパワースペクトラムの代わりに測定された全ての特性値３１を標準偏差に換算してから閾値を指示出力部１９に表示させ、そして閾値を設定させる構成としてもよい。
【０３５０】
また、本実施の形態に係る調整装置７、調整装置１０７、および調整装置２０７それぞれが備える各部は、ハードウェアロジックでそれぞれ実現されてもよいし、ソフトウェアによって実現されるものであってもよい。
【０３５１】
すなわち、ソフトウェアによって実現される場合、上記実施形態の調整装置７、調整装置１０７、および調整装置２０７それぞれの各部や各処理ステップは、不図示のＣＰＵなどの演算手段が、不図示のＲＯＭ（Read Only Memory）や不図示のＲＡＭなどの記憶手段に記憶されたプログラムを実行し、キーボードなどの入力手段、ディスプレイなどの出力手段、あるいは、インターフェース回路などの通信手段を制御することにより実現することができる。
【０３５２】
したがって、これらの手段を有するコンピュータが、上記プログラムを記録した記録媒体を読取り、当該プログラムを実行するだけで、本実施形態の調整装置の各種機能および各種処理を実現することができる。また、上記プログラムをリムーバブルな記録媒体に記録することにより、任意のコンピュータ上で上記の各種機能および各種処理を実現することができる。
【０３５３】
この記録媒体としては、マイクロコンピュータで処理を行うために図示しないメモリ、例えばＲＯＭのようなものがプログラムメディアであっても良いし、また、図示していないが外部記憶装置としてプログラム読取り装置が設けられ、そこに記録媒体を挿入することにより読取り可能なプログラムメディアであっても良い。
【０３５４】
また、何れの場合でも、格納されているプログラムは、マイクロプロセッサがアクセスして実行される構成であることが好ましい。さらに、プログラムを読み出し、読み出されたプログラムは、マイクロコンピュータのプログラム記憶エリアにダウンロードされて、そのプログラムが実行される方式であることが好ましい。なお、このダウンロード用のプログラムは予め本体装置に格納されているものとする。
【０３５５】
また、上記プログラムメディアとしては、本体と分離可能に構成される記録媒体であり、磁気テープやカセットテープ等のテープ系、フレキシブルディスクやハードディスク等の磁気ディスクやＣＤ／ＭＯ／ＭＤ／ＤＶＤ等のディスクのディスク系、ＩＣカード（メモリカードを含む）等のカード系、あるいはマスクＲＯＭ、ＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable Read Only Memory）、ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read Only Memory）、フラッシュＲＯＭ等による半導体メモリを含めた固定的にプログラムを担持する記録媒体等がある。
【０３５６】
また、インターネットを含む通信ネットワークを接続可能なシステム構成であれば、通信ネットワークからプログラムをダウンロードするように流動的にプログラムを担持する記録媒体であることが好ましい。
【０３５７】
さらに、このように通信ネットワークからプログラムをダウンロードする場合には、そのダウンロード用のプログラムは予め本体装置に格納しておくか、あるいは別な記録媒体からインストールされるものであることが好ましい。
【０３５８】
なお、本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能である。すなわち、請求項に示した範囲で適宜変更した技術的手段を組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【０３５９】
本実施の形態に係る調整装置７は、複数集類の装置それぞれが複数台備えられ、該複数種類の装置それぞれにおけるいずれか１台によって製品の加工処理が行われる製造ラインシステムにおいて、複数種類の装置のうちどの種類の装置に異常が生じているかを判定することがきる。このため、様々な製品の大量生産を行う製造ラインに広く適用できる。
【図面の簡単な説明】
【０３６０】
【図１】本発明の実施形態を示すものであり、製造ラインシステムの要部構成を示すブロック図である。
【図２】測定器によって測定された全ての特性値に基づくヒストグラムの一例を示すものであり、同図（ａ）は、正常な状態で加工処理され測定された特性値に基づくヒストグラムを示し、同図（ｂ）は、異常が生じている状態で加工処理され測定された特性値に基づくヒストグラムを示す。
【図３】加工処理され、特性値が測定された製品の順番と、該製品が有する特性値との関係を示す図であり、同図（ａ）は、正常状態における、加工処理され、特性値が測定された製品の順番と、該製品が有する特性値との関係を示し、同図（ｂ）は、加工機のいずれかが正常に可動していない場合における、加工処理され、特性値が測定された製品の順番と、該製品が有する特性値との関係を示し、同図（ｃ）は、測定器のいずれか１台が正常に可動していない場合における、加工処理され、特性値が測定された製品の順番と、該製品が有する特性値との関係を示し、同図（ｄ）は、加工台のいずれか１台が正常に可動していない場合における、加工処理され、特性値が測定された製品の順番と、該製品が有する特性値との関係を示す。
【図４】特性値が規定範囲内の値である場合、特性値が１つおきに規定範囲外の値となる場合、特性値が２つおきに規定の範囲外となる場合、特性値が１１おきに規定の範囲外となる場合、それぞれの場合について数式（２）、数式（３）、および数式（４）を演算した結果を示す表である。
【図５】加工機、加工台、および測定器における異常となる原因、特性値から得られる現象、異常状態に対する対策の一例を説明する図である。
【図６】本実施の形態に係る調整装置における異常要因の推定処理の一例を示すフローチャートである。
【図７】３台の測定器のいずれか１台が異常な状態である場合における、各測定器において測定された各特性値に基づくヒストグラムを示す図である。
【図８】加工機の設定値を調整する処理の一例を示す図である。
【図９】加工機の設定値を調整する処理の一例を示すフローチャートである。
【図１０】加工台のいずれか１台、加工機のいずれか１台、測定器のいずれか１台それぞれに異常が生じている場合の時系列データに対してＦＦＴによる演算を行った結果を示す図である。
【図１１】本発明の他の実施形態を示すものであり、製造ラインシステムの要部構成を示すブロック図である。
【図１２】測定器に異常が生じている場合と、異常が生じている測定器が調整されたと仮定した場合とにおける、ＦＦＴのパワースペクトルの状態を示す図である。
【図１３】本発明の他の実施形態を示すものであり、製造ラインシステムの要部構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【０３６１】
３ａ    加工台（加工処理装置）
３ｂ    加工台（加工処理装置）
３ｃ    加工台（加工処理装置）
３ｄ    加工台（加工処理装置）
３ｅ    加工台（加工処理装置）
３ｆ    加工台（加工処理装置）
３ｇ    加工台（加工処理装置）
３ｈ    加工台（加工処理装置）
３ｉ    加工台（加工処理装置）
３ｊ    加工台（加工処理装置）
３ｋ    加工台（加工処理装置）
３ｌ    加工台（加工処理装置）
３ａ    加工台（加工処理装置）
５ａ    加工機（加工処理装置）
５ｂ    加工機（加工処理装置）
６ａ    測定器（測定装置）
６ｂ    測定器（測定装置）
６ｃ    測定器（測定装置）
７      調整装置（特定装置）
１２    情報格納部（記憶装置）
１４    不良率演算部（個別不良率算出手段・算出手段）
１５    ヒストグラム特徴検出部（分布特徴算出手段・算出手段）
１６    周期情報検出部（周期検出手段）
１７    異常推定部（特定手段）
１８    調整部（変更指示手段）
１９    出力指示部（出力手段）
２１    判定部（判定手段）
２２    設定部（変更手段）
３１    特性値
２３    影響度算出部（ばらつき度算出手段）
２４    周期情報検出部
２５    異常推定部（特定手段）
２６    調整部（変更指示手段）
２７    警告判定部（調整実行判定手段）
３３    ばらつき許容情報
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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