(57)【要約】【課題】  光ディスク装置において書き込まれたデータの符号間干渉を測定することによって、記録品位の検証を手軽且つ高度に行なうことができるような光ディスク装置検証システム、および光ディスク装置検証プログラムを提供する。【解決手段】  光ディスク２１にデータを書込み可能な光ディスク装置２０と、光ディスク装置２０との間でデータの授受が可能となるように光ディスク装置２０と接続されたコンピュータ６０とを具備する光ディスク装置検証システムにおいて、表示手段６８と、光ディスク装置２０から受信した集計データｆを、２値化されたＲＦ信号における符号間干渉を解析可能なようにデータ処理するデータ処理手段７１と、データ処理手段７１によって行なわれたデータ処理の結果を表示手段６８に表示できるように表示用データｇとして作成するデータ作成手段７２とが設けられている。【選択図】        図７                                          
2006012324.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにデータを書込み可能な光ディスク装置と、該光ディスク装置との間でデータの授受が可能となるように光ディスク装置と接続されたコンピュータとを具備する光ディスク装置検証システムにおいて、
前記光ディスク装置は、
光ディスクにレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップと、
該光ピックアップが受光した反射光から、光ディスクの記録面に形成されたランド部分から反射されたＨレベルと、光ディスクの記録面に形成されたピット部分から反射されたＬレベルの２つのレベルが交互に表れるように２値化されたＲＦ信号を生成する生成手段と、
該生成手段が生成した２値化されたＲＦ信号のＨレベルのパルス幅およびＬレベルのパルス幅を時系列順に複数箇所測定可能な測定手段と、
該測定手段によって測定された１箇所のＨレベルのパルス幅の値と、該Ｈレベルの前または後に連続して位置する１箇所のＬレベルのパルス幅の値とを１組とし、該Ｈレベルのパルスの幅の値とＬレベルのパルスの幅の値とを複数組集計し、該複数組の該Ｈレベルのパルスの幅の値とＬレベルのパルスの幅の値とを集計データとして記憶する記憶手段を有する集計手段と、
前記記憶手段内に記憶された前記集計データを前記コンピュータへ転送可能なインターフェース部とが設けられ、
前記コンピュータは、
表示手段と、
前記光ディスク装置から受信した前記集計データを、２値化されたＲＦ信号における符号間干渉を解析可能なようにデータ処理するデータ処理手段と、
該データ処理手段によって行なわれたデータ処理の結果を前記表示手段に表示できるように表示用データとして作成するデータ作成手段とが設けられていることを特徴とする光ディスク装置検証システム。
【請求項２】
前記データ処理手段は、
横軸にＨレベルまたはＬレベルのうちのいずれか一方のパルス幅の値、縦軸にＨレベルまたはＬレベルのうちのいずれか他方のパルス幅の値をとったグラフであって、前記集計データから１組中のＨレベルのパルス幅の値とＬレベルのパルス幅の値との関係を、複数組について表示するようにしたグラフを前記表示手段に表示できるようにデータ処理し、
前記データ作成手段は、
該データ処理手段によりデータ処理された結果であるグラフの表示用データを作成することを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置検証システム。
【請求項３】
光ディスクにデータを書込み可能な光ディスク装置と、表示手段を有し且つ該光ディスク装置との間でデータの授受が可能となるように光ディスク装置と接続されたコンピュータが読み取り可能なプログラムであって、
前記光ディスク装置は、
光ディスクにレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップと、
該光ピックアップが受光した反射光から、光ディスクの記録面に形成されたランド部分から反射されたＨレベルと、光ディスクの記録面に形成されたピット部分から反射されたＬレベルの２つのレベルが交互に表れるように２値化されたＲＦ信号を生成する生成手段と、
該生成手段が生成した２値化されたＲＦ信号のＨレベルのパルス幅およびＬレベルのパルス幅を時系列順に複数箇所測定可能な測定手段と、
該測定手段によって測定された１箇所のＨレベルのパルス幅の値と、該Ｈレベルの前または後に連続して位置する１箇所のＬレベルのパルス幅の値とを１組とし、該Ｈレベルのパルスの幅の値とＬレベルのパルスの幅の値とを複数組集計し、該複数組の該Ｈレベルのパルスの幅の値とＬレベルのパルスの幅の値とを集計データとして記憶する記憶手段を有する集計手段と、
前記記憶手段内に記憶された前記集計データを前記コンピュータへ転送可能なインターフェース部とが設けられて成り、
前記光ディスク装置から受信した前記集計データを、２値化されたＲＦ信号における符号間干渉を解析可能なようにデータ処理するデータ処理機能と、
該データ処理機能によって行なわれたデータ処理の結果を前記表示手段に表示できるように表示用データとして作成するデータ作成機能とを前記コンピュータに実現させることを特徴とする光ディスク装置検証プログラム。
【請求項４】
前記データ処理機能は、
横軸にＨレベルまたはＬレベルのうちのいずれか一方のパルス幅の値、縦軸にＨレベルまたはＬレベルのうちのいずれか他方のパルス幅の値をとったグラフであって、前記集計データから１組中のＨレベルのパルス幅の値とＬレベルのパルス幅の値との関係を、複数組について表示するようにしたグラフを前記表示手段に表示できるようにデータ処理し、
前記データ作成機能は、
該データ処理機能によりデータ処理された結果であるグラフの表示用データを作成することを特徴とする請求項３記載の光ディスク装置検証プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクへデータの書き込みを行なうことができる光ディスク装置のデータの記録品位の検証を行なうことができる光ディスク装置検証システム、および光ディスク装置のデータの記録品位の検証を行なう光ディスク装置検証プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤやＤＶＤ等の光ディスクへデータを書き込む光ディスク装置のユーザとして、単に書き込むことができるというだけでは満足せず、その記録品位を問題にするユーザも多い。
そこで、従来より光ディスク装置において記録品位を検証するにあたっては、エラーレートのチェックや、光ピックアップが受光した反射光のアシンメトリ値β等の数字を検証することが提案されている（例えば、特許文献１および特許文献２参照）。
【０００３】
なお、記録品位を検証する方法としては、２値化されたＲＦ信号のパルス幅（ＨレベルおよびＬレベルの各パルスの時間的な長さ）を測定することによって行なうこともできる（図９参照）。
つまり、２値化されたＲＦ信号は、ＨレベルとＬレベルとが交互に表れるように２値化されており、２値化されたＲＦ信号のうちＨレベルに該当する部位は光ディスクの記録面のランドから反射されたものであり光ピックアップが照射したレーザ光の反射光強度が高い部位である。一方、２値化されたＲＦ信号のＬレベルに該当する部位は光ディスクの記録面のピットから反射されたものであり光ピックアップが照射したレーザ光の反射光強度が低い部位である。
このように、２値化されたＲＦ信号のＨレベルのパルス幅とＬレベルのパルス幅は、光ディスクの記録面上に形成されるランドの長さおよびピットの長さによって決まる（図１０参照）。
【０００４】
光ディスク装置においては、ピットとランドの長さは、ある決まった値を取るように設けられている。すなわち、光ディスクに書き込まれるデータは、ＣＤの場合はＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）変調、ＤＶＤの場合はＥＦＭ＋変調されて光ピックアップから照射されるレーザ光によって、ディスクの記録面上にピットとランドが形成される。
データがＥＦＭ変調またはＥＦＭ＋変調されると、形成されるピットの長さやランドの長さが、クロック周波数を基準としてその長さが予め一定の長さに設定される。
本明細書中で説明するＤＶＤ光ディスク装置において具体的には、基本的な長さＴに対して、ピットやランドの長さとして最も短い長さの３Ｔ（基本の長さであるＴの３倍）、次いで４Ｔ、５Ｔ、・・１４Ｔ（１２Ｔと１３Ｔは除く）までＴを基準とした長さに形成される。
【０００５】
そこで、２値化されたＲＦ信号におけるＨレベルのパルス幅およびＬレベルのパルス幅を測定し、各レベルのパルス幅が予め規定されたパルス幅である３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、・・１４Ｔからどの程度外れているかを検出することで、記録品位の検証を行なうことができるのである。
【０００６】
なお、各レベルのパルス幅の値が、基準となる３Ｔ，４Ｔ・・の値とどの程度外れているかについて測定し、記録品位を検証する方法としては様々な方法が存在する。この中で、符号間干渉を測定する方法は、高度に記録品位を検証できる方法として知られている。
この符号間干渉について、以下に説明する。
光ディスク装置においては、データ書き込み時に上述したようにデータが変調されるが、データ１セクタ分の中では、例えば図１１に示すように、４Ｔランドと３Ｔピットが連続している場合には、４Ｔランドや３Ｔピットのそれぞれの長さが若干変わっても、連続する４Ｔランドと３Ｔピットを加算した長さは、常に一定の値をとるように変調される。つまり、ランドが若干長くなればピットがその分だけ短くなり、ランドが若干短くなれば、ピットがその分だけ長くなるのである。
【０００７】
したがって、連続するピットとランドの長さを検出すること、すなわち２値化されたＲＦ信号における連続するＨレベルのパルス幅およびＬレベルのパルス幅を測定し、各規定された長さのランドと各規定されたピットの組み合わせのうち、いずれの組み合わせにおけるランドまたはピットの長さが規定された値（３Ｔ，４Ｔ・・等）から外れているかを検証することで、例えば４Ｔランドの後の３Ｔピットが少し長くなる傾向にあるというようなことが判明すれば、例えば３Ｔピットと４Ｔピットが干渉しているというような符号間干渉を測定することができ、これにより高度な記録品位の検証を行なうことができるのである。
【０００８】
【特許文献１】特開２００３−５９０４７号公報
【特許文献２】特開２００３−１６２８１８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
従来、光ディスク装置や光ディスク装置に接続されて用いられる汎用コンピュータには、データが書き込まれた光ディスクにおける符号間干渉を測定し、データの記録品位を検証する機能は設けられていなかった。
そこで、符号間干渉を測定するには専用の測定器が必要であったが、専用の測定器は高額であり、通常は光ディスク装置のメーカ等が光ディスク装置の検証のために用いる以外には、一般のユーザがこの方法で記録品位を検証することは困難であった。
また、汎用コンピュータにインストール可能であって、符号間干渉を測定可能なソフトウェアも存在はしていたが、これも上述した専用の測定器と共に用いるものであるため、結局一般のユーザが入手して用いるには高額過ぎた。
【００１０】
そこで、本発明の目的は、光ディスク装置において書き込まれたデータの符号間干渉を測定することによって、記録品位の検証を手軽且つ高度に行なうことができるような光ディスク装置検証システム、および光ディスク装置検証プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明にかかる光ディスク装置検証システムによれば、光ディスクにデータを書込み可能な光ディスク装置と、該光ディスク装置との間でデータの授受が可能となるように光ディスク装置と接続されたコンピュータとを具備する光ディスク装置検証システムにおいて、前記光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップと、該光ピックアップが受光した反射光から、光ディスクの記録面に形成されたランド部分から反射されたＨレベルと、光ディスクの記録面に形成されたピット部分から反射されたＬレベルの２つのレベルが交互に表れるように２値化されたＲＦ信号を生成する生成手段と、該生成手段が生成した２値化されたＲＦ信号のＨレベルのパルス幅およびＬレベルのパルス幅を時系列順に複数箇所測定可能な測定手段と、該測定手段によって測定された１箇所のＨレベルのパルス幅の値と、該Ｈレベルの前または後に連続して位置する１箇所のＬレベルのパルス幅の値とを１組とし、該Ｈレベルのパルスの幅の値とＬレベルのパルスの幅の値とを複数組集計し、該複数組の該Ｈレベルのパルスの幅の値とＬレベルのパルスの幅の値とを集計データとして記憶する記憶手段を有する集計手段と、前記記憶手段内に記憶された前記集計データを前記コンピュータへ転送可能なインターフェース部とが設けられ、前記コンピュータは、表示手段と、前記光ディスク装置から受信した前記集計データを、２値化されたＲＦ信号における符号間干渉を解析可能なようにデータ処理するデータ処理手段と、該データ処理手段によって行なわれたデータ処理の結果を前記表示手段に表示できるように表示用データとして作成するデータ作成手段とが設けられていることを特徴としている。
この構成を採用することによって、記録品位を検証するための符号間干渉を解析できる表示をユーザはコンピュータの表示手段で見ることができるので、記録品位の検証を容易且つ高度に行なうことができる。
【００１２】
また、前記データ処理手段は、横軸にＨレベルまたはＬレベルのうちのいずれか一方のパルス幅の値、縦軸にＨレベルまたはＬレベルのうちのいずれか他方のパルス幅の値をとったグラフであって、前記集計データから１組中のＨレベルのパルス幅の値とＬレベルのパルス幅の値との関係を、複数組について表示するようにしたグラフを前記表示手段に表示できるようにデータ処理し、前記データ作成手段は、該データ処理手段によりデータ処理された結果であるグラフの表示用データを作成することを特徴としてもよい。
この構成によれば、連続するランドとピットにおいて、各ランドまたはピットが本来有する長さがずれてしまい、当該ずれたランドまたはピットが他の異なる長さのランドまたはピットと干渉を生じているか否かを把握することができる画像が得られ、この画像を見ることで記録品位の検証を視覚的に行なうことができる。このため、検証が容易となり、またこのようなグラフを見ること自体がユーザにとって楽しみにもなる。
【００１３】
本発明にかかる光ディスク装置検証プログラムによれば、光ディスクにデータを書込み可能な光ディスク装置と、表示手段を有し且つ該光ディスク装置との間でデータの授受が可能となるように光ディスク装置と接続されたコンピュータが読み取り可能なプログラムであって、前記光ディスク装置は、光ディスクにレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップと、該光ピックアップが受光した反射光から、光ディスクの記録面に形成されたランド部分から反射されたＨレベルと、光ディスクの記録面に形成されたピット部分から反射されたＬレベルの２つのレベルが交互に表れるように２値化されたＲＦ信号を生成する生成手段と、該生成手段が生成した２値化されたＲＦ信号のＨレベルのパルス幅およびＬレベルのパルス幅を時系列順に複数箇所測定可能な測定手段と、該測定手段によって測定された１箇所のＨレベルのパルス幅の値と、該Ｈレベルの前または後に連続して位置する１箇所のＬレベルのパルス幅の値とを１組とし、該Ｈレベルのパルスの幅の値とＬレベルのパルスの幅の値とを複数組集計し、該複数組の該Ｈレベルのパルスの幅の値とＬレベルのパルスの幅の値とを集計データとして記憶する記憶手段を有する集計手段と、前記記憶手段内に記憶された前記集計データを前記コンピュータへ転送可能なインターフェース部とが設けられて成り、前記光ディスク装置から受信した前記集計データを、２値化されたＲＦ信号における符号間干渉を解析可能なようにデータ処理するデータ処理機能と、該データ処理機能によって行なわれたデータ処理の結果を前記表示手段に表示できるように表示用データとして作成するデータ作成機能とを前記コンピュータに実現させることを特徴としている。
このプログラムを採用することによって、記録品位を検証するために符号間干渉を解析できる表示をユーザはコンピュータの表示手段で見ることができるので、記録品位の検証を容易且つ高度に行なうことができる。また、使用するコンピュータとして特殊な機能を有するものではなく、汎用のコンピュータを用いて行なうことができるので安価な構成で記録品位の検証を行なうことができる。
【００１４】
また、前記データ処理機能は、横軸にＨレベルまたはＬレベルのうちのいずれか一方のパルス幅の値、縦軸にＨレベルまたはＬレベルのうちのいずれか他方のパルス幅の値をとったグラフであって、前記集計データから１組中のＨレベルのパルス幅の値とＬレベルのパルス幅の値との関係を、複数組について表示するようにしたグラフを前記表示手段に表示できるようにデータ処理し、前記データ作成機能は、該データ処理機能によりデータ処理された結果であるグラフの表示用データを作成することを特徴としてもよい。
このプログラムによれば、連続するランドとピットにおいて、各ランドまたはピットが本来有する長さがずれてしまい、当該ずれたランドまたはピットが他の異なる長さのランドまたはピットと干渉を生じているか否かを把握することができる画像が得られ、この画像を見ることで記録品位の検証を視覚的に行なうことができる。このため、検証が容易となり、またこのようなグラフを見ること自体がユーザにとって楽しみにもなる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明にかかる光ディスク装置検証システムによれば、光ディスクに書き込まれているデータにおけるピットとランドの符号間干渉を解析できる表示を行なうので、光ディスク装置の記録品位の検証をユーザが見やすい方法で実行することができるので、記録品位の検証が容易且つ正確に行なわれる。
【００１６】
本発明にかかる光ディスク装置検証プログラムによれば、光ディスク装置に通常に市販されているコンピュータを接続して、このコンピュータに光ディスク装置検証プログラムをインストールして実行することができるので、安い費用で且つ簡単な構成でしかも高度にユーザは記録品位の検証を行なうことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
まず、光ディスク装置の構成について説明する。
光ディスク装置２０は、光ディスク２１を装着するターンテーブル２３が設けられたスピンドルモータ２２と、光ディスク２１にレーザ光を照射すると共に光ディスク２１から反射されたレーザ光を受光する光ピックアップ２４とを具備している。
光ピックアップ２４内には、レーザ光を出力するレーザダイオード（図示せず）と、受光素子であるフォトダイオード２７を有している。また、レーザ光を集光して光ディスクの記録層に焦点を合わせるための対物レンズ２９が光ピックアップ２４内には設けられている。
【００１８】
フォトダイオード２７では、受光したレーザ光の光強度が電圧値に変換されて光ピックアップ２４の外部へ出力される。光ピックアップ２４から出力された受光した光強度を電圧値に変換した光強度信号ａは、ＲＦアンプ３４へ入力される。
ＲＦアンプ３４は、特許請求の範囲でいう生成回路の一例であり、光ピックアップ２４から出力された光強度信号ａを波形整形して、２値化し、２値化されたＲＦ信号ｂを生成する。
【００１９】
ここでいう２値化されたＲＦ信号ｂは、図９に示したように、ＨレベルとＬレベルとが交互に表れた信号であり、Ｈレベルに該当する部位は反射光強度が高い部位であり、光ディスク２１の記録面に形成されたランドに照射されたレーザ光が反射した部位であるといえる。Ｌレベルに該当する部位は反射光強度が弱い部位であり、光ディスク２１の記録面に形成されたピットに照射されたレーザ光が反射した部位であるといえる。
【００２０】
なお、ＲＦアンプ３４内には、フォーカスエラー信号生成回路およびトラッキングエラー信号生成回路（図示せず）が設けられており、光ピックアップから入力された信号に基づいて、それぞれフォーカスエラー信号ｃおよびトラッキングエラー信号ｄを生成する。
フォーカスエラー信号ｃとトラッキングエラー信号ｄは、サーボプロセッサ３０に入力される。サーボプロセッサ３０は、フォーカスエラー信号ｃやトラッキングエラー信号ｄに基づき、フォーカスサーボやトラッキングサーボを制御すると共に、スピンドルモータ２２や光ピックアップの送り動作のサーボ制御を実行する。
【００２１】
なお、光ディスク装置には、他の機器と接続するためのインターフェース部５０が設けられている。インターフェース部５０の規格としてはＡＴＡＰＩ（AT Attachment Packet Interface）、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）、あるいはＩＥＥＥ１３９４等様々な規格がある。
本実施例では、光ディスク装置は、ＡＴＡＰＩであるインターフェース部５０を介して汎用のコンピュータ（図３、図４参照）６０と接続される。
インターフェース部５０において、後述する集計手段３８で収集された集計データｆがコンピュータ６０に対して互いにデータの授受が可能な形式にデータ変換されて出力される。
【００２２】
ＲＦアンプ３４で生成された２値化されたＲＦ信号ｂは、パルス信号のパルス幅を連続して時系列的に測定可能な手段である測定手段３６に入力される。本実施例では、測定手段３６は、具体的には２値化されたＲＦ信号ｂをデコード処理するデコーダ４０としての機能を有するＩＣに付属している機能である。しかし、測定手段３６としては、パルス信号のパルス幅を測定可能な回路またはソフトウェアであればどのような形態であってもよい。
【００２３】
測定手段３６によって測定された、２値化されたＲＦ信号のＨレベルおよびＬレベルそれぞれのパルス幅の値ｅは、集計手段３８に入力される。
集計手段３８は、パルス幅の値およびその値をとるパルスの数を記憶するメモリである記憶手段４４と、測定手段３６によって測定された結果を集計して記憶手段４４に記憶するように制御する制御手段４２とを有している。
かかる集計手段３８としては、上述した測定手段３６と同様に２値化されたＲＦ信号ｂをデコード処理するデコーダ４０としての機能を有するＩＣに付属している機能であってもよく、このようなＩＣとは別個に設けられている回路であってもよい。
【００２４】
集計手段３８におけるデータの集計の方法について図２に基づいて説明する。
集計手段３８は、予め記憶手段４４にＨレベルのパルス幅の値と、このＨレベルのすぐ後に連続して形成されているＬレベルのパルス幅の値とが関連付けして記憶できるテーブル４７を有している。例えば、測定手段３６が、２値化されたＲＦ信号ｂのうち所定のＨレベルがパルス幅８３ｎｓであり、このＨレベルのすぐ後に連続して形成されているＬレベルが１８０ｎｓであることを測定したとする。すると、集計手段３８の制御手段４２は、記憶手段４４に対してＨレベルの８３ｎｓの値と、Ｌレベルの１８０ｎｓの値とを１組として記憶し、このような組を複数組集計する。
【００２５】
また、本実施例では、Ｈレベルと、このＨレベルのすぐ後に連続して形成されたＬレベルとで組み合わせてデータを集計しているが、Ｌレベルと、このＬレベルのすぐ後に連続して形成されたＨレベルとで組み合わせてデータを集計してもよい。
【００２６】
次に、コンピュータの構成について、図３、図４に基づいて説明する。
コンピュータ６０は、通常市販されている汎用のコンピュータを用いることができる。したがって、コンピュータ６０は、全体の動作を制御する中央処理装置であるＣＰＵ６２、ＣＰＵ６２の動作に用いるＲＯＭ６３およびＲＡＭ６４、データや各種プログラムを記憶する記憶手段であるＨＤＤ６６、データの出力を行なうＣＲＴやＬＣＤ等の表示手段６８、データ入力を行なうキーボード６７やマウス６９等を具備している。
【００２７】
本実施例におけるコンピュータ６０は、上述した光ディスク装置２０を接続してデータの授受が可能となるようにインターフェース部７０を具備している。
インターフェース部７０の規格としてはＡＴＡＰＩ（AT Attachment Packet Interface）、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）、あるいはＩＥＥＥ１３９４等様々な規格がある。
本実施例では、コンピュータ６０は、ＡＴＡＰＩであるインターフェース部７０を介して光ディスク装置２０と接続される。
【００２８】
コンピュータ６０は、集計データｆを用いて符号間干渉を解析するためのデータ処理を行なうデータ処理手段７１と、データ処理手段によって行なわれたデータ処理の結果を表示手段６８に表示できるように表示用データｇとして作成するデータ作成手段７２とを具備している。
本実施例では、データ処理手段７１は、インターフェース部７０を介して光ディスク装置２０から集計データｆを受信すると、この集計データｆを符号間干渉を解析できるようなグラフとして表示できるようにデータ処理をする。
データ作成手段７２は、グラフを表示手段６８に表示可能なデータ形式となるように、表示用データｇの作成を行なう。データ作成手段７２は、作成した表示用データｇを表示手段６８に転送し、表示手段６８に作成した表示用データｇに基づくグラフを表示させる。
【００２９】
データ処理手段７１およびデータ作成手段は、ＣＰＵ６２が所定のプログラムによって制御されることで実現される。この所定のプログラムが、特許請求の範囲でいう光ディスク装置検証プログラムである。光ディスク装置検証プログラム６１は、予めＨＤＤ６６にインストールされているとよい。
【００３０】
符号間干渉を解析できるようなグラフとしては、図６，図７のような表示がある。
本グラフは、横軸にＨレベルの後に連続して形成されたＬレベルのパルス幅の値（ランドの後に連続して形成されたピットの長さ）、縦軸には横軸に示したＬレベルの前に形成されたＨレベルのパルス幅の値（ピットの前に形成されたランドの長さ）をとっている。これにより、２値化されたＲＦ信号の連続するランドとピットとが取る値をマトリクス状のグラフに表すことができる。
【００３１】
なお、光ディスク装置検証プログラム６１は、光ディスク装置２０に対して、装着されている光ディスク２１のいずれのアドレスにおいて２値化されたＲＦ信号ｂのＨレベルとＬレベルのパルス幅の測定を行なうかの指定を光ディスク装置２０に対してすることができる。
【００３２】
つまり、ユーザがキーボード６７あるいはマウス６９を操作して、光ディスク装置検証プログラム６１を起動させると、表示手段６８にアドレスを指定するように促す表示がなされる。
ユーザは、表示手段６８に表示された指示に基づいてパルス幅の測定を行ないたいアドレスをキーボード６７やマウス６９を用いてコンピュータ６０内のアドレス指定手段７４に入力する。
ユーザにより入力されたアドレスは、アドレス指示信号ｈとしてアドレス指定手段７４がインターフェース部７０を介して光ディスク装置２０へ出力する。
光ディスク装置２０では、アドレス指示信号ｈにより指定されたアドレスにおいてパルス幅の測定を行なうように、測定手段３６が動作する。
【００３３】
次に、上述した構成を有する光ディスク装置２０およびコンピュータ６０を組み合わせて構成した光ディスク装置検証システム全体の動作を図５に基づいて説明する。
【００３４】
まず、ユーザがコンピュータ６０の光ディスク装置検証プログラム６１を起動することによって動作が開始される（スタート）。
光ディスク装置検証プログラム６１が起動すると、ユーザはパルス幅を測定すべきアドレスを入力する（ステップＳ１００）。
入力されたアドレスはアドレス指示信号ｈとして光ディスク装置２０に転送される。
【００３５】
光ディスク装置２０の測定手段３６は、ユーザが指定したアドレスの範囲内で２値化されたＲＦ信号ｂのＨレベルおよびＬレベルのパルス幅を測定する（ステップＳ１０２）。
そして、光ディスク装置２０の集計手段３８は、測定手段３６が測定した各レベルのパルス幅の値をそれぞれ集計する（ステップＳ１０４）。具体的な集計の方法は上述した通り（図２参照）であるので、ここでは説明しない。
集計されたパルス幅のデータは、集計手段３８内の制御手段４２が、インターフェース部５０を介して定期的にコンピュータ６０へ転送する（ステップＳ１０６）。
【００３６】
コンピュータ６０では、データ処理手段７１が、光ディスク装置２０から転送されてきた集計データｆを符号間干渉解析できるようにデータ処理する（ステップＳ１０７）。本実施例では、連続するランドとピットの長さをマトリクス状に示したグラフを作成するようにデータ処理する。
そして、データ作成手段７２がデータ処理手段７１によってデータ処理された集計データから連続するランドとピットの長さをマトリクス状に示したグラフを表示手段６８にグラフとして表示できるように表示用データｇの作成を行なう（ステップＳ１０８）。
データ作成手段７２が表示用データｇを作成し、表示手段６８へ転送すると、表示手段６８ではこの表示用データｇに基づいて、連続するランドとピットの長さをマトリクス状に示したグラフを表示させる（ステップＳ１１０）。
これで、光ディスク装置検証システムにおける動作が終了する。
【００３７】
続いて、表示手段６８に表示されるグラフの例を図６、図７に示す。
グラフは、上述してきたように、横軸にランドの後に連続して形成されたピット、縦軸には横軸に示したピットの前に形成されたランドをとり、２値化されたＲＦ信号の連続するランドとピットとが取る値をマトリクス状に表したものである。
【００３８】
グラフの破線の交点が、本来連続するランドとピットが取り得る値であるが、測定されたランドとピットの組み合わせでは、全てこの交点に位置せず、各交点付近において左側が上方で右側が下方に位置するように斜めに傾いた楕円形の分布を有する。
このように、楕円形の分布を有するのは、以下の理由による。すなわち、従来の技術でも説明したように、同じ長さのランドとピットの組み合わせであれば常に同じ長さを有するので、例えば、３Ｔランドと３Ｔピットの組み合わせであれば、図８に示すように、ランド長をｙ、ピット長をｘと置くことで、ｘ＋ｙ＝ｃｏｎｓｔといえる。したがって、ｙ＝ｃｏｎｓｔ−ｘとなり、横軸にピットの長さ、縦軸にランドの長さをおいて表現した図６，図７のグラフでは、連続するランドとピットの組み合わせは−１の傾きを有する直線として表現できるのである。
【００３９】
図６は、比較的記録品位が良いものであり、図７は記録品位が悪いものである。
図７をみると、特に３Ｔランドにおける各ピットの集合８０が各交点にあるはずが上方に変位して４Ｔランドに近づいており、３Ｔランドと４Ｔランドの区別がつきにくくなっていると言える。
特に３Ｔランド３Ｔピットでは、集合８２が左上に延びすぎており、４Ｔランド３Ｔピットの下端部と干渉をおこしている。
【００４０】
このように、符号間干渉を解析できるグラフでは、各交点に有るはずの楕円形の集合が、各交点からどの程度ずれているか、また楕円が変形していないか等を観点としてみることで記録品位の検証を行えるのである。
また、楕円形の集合が各交点からどの程度ずれているかを検証するために、データ処理手段７１が楕円形の重心位置を算出してデータ作成手段７２がこの重心を表示手段６８に表示させてもよいし、またデータ処理手段７１が楕円形の集合内部でもっとも各点が密集している位置を算出して、データ作成手段７２がこの密集位置を表示手段６８に表示させるようにしてもよい。このため、楕円形の集合が各交点とどの程度ずれているか、ユーザがはっきりと判別できる。
したがって、一般のユーザであっても、符号間干渉の解析をすることで、記録品位の検証を容易且つ高度に行えるのである。
【００４１】
また、一度作成した符号間干渉を解析するグラフは、コンピュータ６０のＨＤＤ６６内に記憶させておくことができる。そして、次に別の光ディスク２１で符号間干渉を解析するグラフを作成したときに、以前に作成した符号間干渉を解析するグラフをＨＤＤ６６から取り出し、２つのグラフを重ね合わせて記録品位の評価を行なうようにすることもできる。このとき、以前に作成したグラフは、データ作成手段７２によって透過状態になるようにデータを作成して、重ね合わせ可能に設けるとよい。
【００４２】
なお、本発明の光ディスク装置検証システム、光ディスク装置検証プログラムは、システムが接続している光ディスク装置２０でデータを書き込んだ光ディスクの記録品位の検証だけではなく、他の光ディスク装置で書き込まれた光ディスクの記録品位を検証することも当然可能である。
【００４３】
以上本発明につき好適な実施例を挙げて種々説明したが、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、発明の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得るのはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】光ディスク装置を示すブロック図である。
【図２】パルス幅の集計方法を説明する説明図である。
【図３】コンピュータの構成を示すブロック図である。
【図４】コンピュータにおける本発明の構成について説明するブロック図である。
【図５】光ディスク装置検証システムの動作について説明するフローチャートである。
【図６】表示されるグラフの例を示す説明図である。
【図７】表示されるグラフの例を示す説明図である。
【図８】グラフにおいて楕円形の集合が傾いている理由を示す説明図である。
【図９】２値化されたＲＦ信号の構成について説明する説明図である。
【図１０】光ディスクの記録面上に形成されるランドとピットについて説明する説明図である。
【図１１】ランドとピットが同じ組み合わせであれば、この組み合わせた長さは一定になることについて説明する説明図である。
【符号の説明】
【００４５】
２０   光ディスク装置
２１   光ディスク
２２   スピンドルモータ
２３   ターンテーブル
２４   光ピックアップ
２７   フォトダイオード
２９   対物レンズ
３０   サーボプロセッサ
３４   ＲＦアンプ
３６   測定手段
３８   集計手段
４０   デコーダ
４２   制御手段
４４   記憶手段
４７   テーブル
５０，７０    インターフェース部
６０   コンピュータ
６１   光ディスク装置検証プログラム
６２   ＣＰＵ
６３   ＲＯＭ
６４   ＲＡＭ
６６   ＨＤＤ
６７   キーボード
６８   表示手段
６９   マウス
７１   データ処理手段
７２   データ作成手段
７４   アドレス指定手段
８０   ３Ｔランドの集合
８２   ３Ｔランド３Ｔピットの集合
ａ     光強度信号
ｂ     ２値化されたＲＦ信号
ｃ     フォーカスエラー信号
ｄ     トラッキングエラー信号
ｅ     測定されたパルス幅の値
ｆ     集計データ
ｇ     表示用データ
ｈ     アドレス指示信号
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１】
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【図６】
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【図７】
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