(57)【要約】【課題】  ＲＦ信号の各パルス幅を測定し、測定値を集計することによって記録品位の検証を手軽に行なうことができるような光ディスク装置、光ディスク検証システム、および光ディスク検証プログラムを提供する。【解決手段】  光ディスク２１にデータを書込み可能な光ディスク装置２０において、光ディスク２１にレーザ光を照射し、光ディスク２１からの反射光を受光する光ピックアップ２４と、光ピックアップ２４が受光した反射光から、光ディスク２１の記録面に形成されたランド部分から反射されたＨレベルと、光ディスクの記録面に形成されたピット部分から反射されたＬレベルの２つのレベルが交互に表れるように２値化されたＲＦ信号ｂを生成するＲＦアンプ３４と、ＲＦアンプ３４が生成したＲＦ信号ｂのＨレベルのパルス幅およびＬレベルのパルス幅をそれぞれ測定可能な測定手段３６とを具備する。【選択図】        図１                                                    
2006012231.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにデータを書込み可能な光ディスク装置において、
光ディスクにレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップと、
該光ピックアップが受光した反射光から、光ディスクの記録面に形成されたランド部分から反射されたＨレベルと、光ディスクの記録面に形成されたピット部分から反射されたＬレベルの２つのレベルが交互に表れるように２値化されたＲＦ信号を生成する生成手段と、
該生成手段が生成した２値化されたＲＦ信号のＨレベルのパルス幅およびＬレベルのパルス幅をそれぞれ測定可能な測定手段とを具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記測定手段は、２値化されたＲＦ信号からＨレベルのパルス幅およびＬレベルのパルス幅を、それぞれ複数箇所測定するように動作し、
前記測定手段によって、複数箇所において測定されたＨレベルのパルス幅の値と、複数箇所において測定されたＬレベルのパルス幅の値とを集計する集計手段が設けられていることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
【請求項３】
前記集計手段には、
集計した結果である、複数のＨレベルのパルス幅の値およびその値を有するＨレベルのパルスの数、並びに複数のＬレベルのパルス幅の値およびその値を有するＬレベルのパルスの数を集計データとして記憶する記憶手段が設けられていることを特徴とする請求項２記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記記憶手段内に記憶された前記集計データを当該光ディスク装置の外部へ転送可能なインターフェース部が設けられていることを特徴とする請求項３記載の光ディスク装置。
【請求項５】
請求項４記載の光ディスク装置と、
表示手段を有し、前記光ディスク装置との間でデータの授受が可能となるように光ディスク装置と接続するインターフェース部を有するコンピュータとを具備する光ディスク装置検証システムにおいて、
前記コンピュータ内には、
前記インターフェース部を介して受信した、前記集計データを用いて記録品位を解析するためのデータ処理を行なうデータ処理手段と、
該データ処理手段によって行なわれたデータ処理の結果を前記表示手段に表示できるように表示用データとして作成するデータ作成手段とが設けられていることを特徴とする光ディスク装置検証システム。
【請求項６】
前記データ処理手段は、前記集計データである複数のＨレベルのパルス幅の値およびその値を有するＨレベルのパルスの数、並びに複数のＬレベルのパルス幅の値およびその値を有するＬレベルのパルスの数を、それぞれ前記表示手段に度数分布として表示できるようにデータ処理し、
前記データ作成手段は、該データ処理手段によりデータ処理された結果である度数分布の表示用データを作成することを特徴とする請求項５記載の光ディスク装置検証システム。
【請求項７】
前記表示手段に表示される度数分布としては、横軸にパルス幅の値、縦軸にその値を有するパルスの数を配置して表示するようにしたグラフであることを特徴とする請求項６記載の光ディスク装置検証システム。
【請求項８】
表示手段を有し、請求項４記載の光ディスク装置との間でデータの授受が可能となるように該光ディスク装置と接続するインターフェース部を有するコンピュータが読み取り可能なプログラムであって、
前記インターフェース部を介して受信した、前記集計データを用いて記録品位を解析するためのデータ処理を行なうデータ処理機能と、
該データ処理機能によって行なわれたデータ処理の結果を前記表示手段に表示できるように表示用データとして作成するデータ作成機能とを前記コンピュータに実現させることを特徴とする光ディスク装置検証プログラム。
【請求項９】
前記データ処理機能は、前記集計データである複数のＨレベルのパルス幅の値およびその値を有するＨレベルのパルスの数、並びに複数のＬレベルのパルス幅の値およびその値を有するＬレベルのパルスの数を、それぞれ前記表示手段に度数分布として表示できるようにデータ処理し、
前記データ作成機能は、前記データ処理機能によりデータ処理された結果である度数分布の表示用データを作成することを特徴とする請求項７記載の光ディスク装置検証プログラム。
【請求項１０】
前記表示手段に表示させる度数分布としては、横軸にパルス幅の値、縦軸にその値を有するパルスの数を配置して表示するようにしたグラフであることを特徴とする請求項８記載の光ディスク装置検証プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクへデータの書き込みを行なうことができる光ディスク装置、光ディスク装置のデータの記録品位の検証を行なうことができる光ディスク装置検証システム、および光ディスク装置のデータの記録品位の検証を行なう光ディスク装置検証プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤやＤＶＤ等の光ディスクへデータを書き込む光ディスク装置のユーザとして、単に書き込むことができるというだけでは満足せず、その記録品位を問題にするユーザも多い。
そこで、従来より光ディスク装置において記録品位を検証するにあたっては、エラーレートのチェックや、光ピックアップが受光した反射光のアシンメトリ値β等の数字を検証することが提案されている（例えば、特許文献１および特許文献２参照）。
【０００３】
なお、記録品位を検証する方法としては、２値化されたＲＦ信号のパルス幅（ＨレベルおよびＬレベルの各パルスの時間的な長さ）を測定することによって行なうこともできる（図７参照）。
つまり、２値化されたＲＦ信号は、ＨレベルとＬレベルとが交互に表れるように２値化されており、２値化されたＲＦ信号のうちＨレベルに該当する部位は光ディスクの記録面のランドから反射されたものであり光ピックアップが照射したレーザ光の反射光強度が高い部位である。一方、２値化されたＲＦ信号のＬレベルに該当する部位は光ディスクの記録面のピットから反射されたものであり光ピックアップが照射したレーザ光の反射光強度が低い部位である。
このように、２値化されたＲＦ信号のＨレベルのパルス幅とＬレベルのパルス幅は、光ディスクの記録面上に形成されるランドの長さおよびピットの長さによって決まる（図８参照）。
【０００４】
光ディスク装置においては、ピットとランドの長さは、ある決まった値を取るように設けられている。すなわち、光ディスクに書き込まれるデータは、ＣＤの場合はＥＦＭ（Eight to Fourteen Modulation）変調、ＤＶＤの場合はＥＦＭ＋変調されて光ピックアップから照射されるレーザ光によって、ディスクの記録面上にピットとランドが形成される。
データがＥＦＭ変調またはＥＦＭ＋変調されると、形成されるピットの長さやランドの長さが、クロック周波数を基準としてその長さが予め一定の長さに設定される。
本明細書中で説明するＤＶＤ光ディスク装置において具体的には、基本的な長さＴに対して、ピットやランドの長さとして最も短い長さの３Ｔ（基本の長さであるＴの３倍）、次いで４Ｔ、５Ｔ、・・１４Ｔ（１２Ｔと１３Ｔは除く）までＴを基準とした長さに形成される。
【０００５】
そこで、２値化されたＲＦ信号におけるＨレベルのパルス幅およびＬレベルのパルス幅を測定し、各レベルのパルス幅が予め規定されたパルス幅である３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、・・１４Ｔからどの程度外れているかを検出することで、記録品位の検証を行なうことができるのである。
【０００６】
【特許文献１】特開２００３−５９０４７号公報
【特許文献２】特開２００３−１６２８１８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
なお、従来、光ディスク装置には、２値化されたＲＦ信号の各レベルのパルス幅を測定し、測定値を集計して記録品位を検証する機能は設けられておらず、このような検証を行なうには専用の測定器が必要であった。専用の測定器は高額であり、通常は光ディスク装置のメーカ等が光ディスク装置の検証のために用いる以外には、一般のユーザがこの方法で記録品位を検証することは困難であった。
また、汎用コンピュータにインストール可能であって、２値化されたＲＦ信号の各レベルのパルス幅を測定可能なソフトウェアも存在はしていたが、これも上述した専用の測定器と共に用いるものであるため、結局一般のユーザが入手して用いるには高額過ぎた。
【０００８】
なお、専用の測定器は、２値化されていないＲＦ信号を入力してこのＲＦ信号の各レベルのパルス幅を測定し、測定値を集計して記録品位を検証するものである。
この専用の測定器を用いる場合には、光ディスク装置内部のプリント基板上のパターンをカットし、そこに専用の測定器に接続するためのラインをはんだ付け等によって接続しなくてはならず、熟練した作業者でなくては接続作業が困難であった。
【０００９】
そこで、本発明の目的は、２値化されたＲＦ信号の各パルス幅を測定し、測定値を集計することによって記録品位の検証を手軽に行なうことができるような光ディスク装置、光ディスク装置検証システム、および光ディスク装置検証プログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明にかかる光ディスク装置によれば、光ディスクにデータを書込み可能な光ディスク装置において、光ディスクにレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光を受光する光ピックアップと、該光ピックアップが受光した反射光から、光ディスクの記録面に形成されたランド部分から反射されたＨレベルと、光ディスクの記録面に形成されたピット部分から反射されたＬレベルの２つのレベルが交互に表れるように２値化されたＲＦ信号を生成する生成手段と、該生成手段が生成した２値化されたＲＦ信号のＨレベルのパルス幅およびＬレベルのパルス幅をそれぞれ測定可能な測定手段とを具備することを特徴としている。
この構成を採用することによって、光ディスク装置を所有した一般のユーザであっても、光ディスク装置内で２値化されたＲＦ信号のパルス幅を測定ができる。そしてこのパルス幅に基づいて記録品位の検証を行なうことが可能となる。
【００１１】
また、前記測定手段は、２値化されたＲＦ信号からＨレベルのパルス幅およびＬレベルのパルス幅を、それぞれ複数箇所測定するように動作し、前記測定手段によって、複数箇所において測定されたＨレベルのパルス幅の値と、複数箇所において測定されたＬレベルのパルス幅の値とを集計する集計手段が設けられていることを特徴としてもよい。
この構成によれば、光ディスク装置内では２値化されたＲＦ信号の各パルス幅を測定すると共に、その測定した値を集計するので、その集計されたデータを用いれば記録品位の検証を容易に行なうことができる。
【００１２】
さらに、前記集計手段には、集計した結果である、複数のＨレベルのパルス幅の値およびその値を有するＨレベルのパルスの数、並びに複数のＬレベルのパルス幅の値およびその値を有するＬレベルのパルスの数を集計データとして記憶する記憶手段が設けられていることを特徴としてもよい。
【００１３】
なお、前記記憶手段内に記憶された前記集計データを当該光ディスク装置の外部へ転送可能なインターフェース部が設けられていることを特徴としてもよい。
この構成によれば、この光ディスク装置にインターフェース部を介して外部機器を接続すれば、外部機器において容易に集計データを用いて記録品位の検証を行なうことができる。
【００１４】
本発明にかかる光ディスク装置検証システムによれば、請求項４記載の光ディスク装置と、表示手段を有し、前記光ディスク装置との間でデータの授受が可能となるように光ディスク装置と接続するインターフェース部を有するコンピュータとを具備する光ディスク装置検証システムにおいて、前記コンピュータ内には、前記インターフェース部を介して受信した、前記集計データを用いて記録品位を解析するためのデータ処理を行なうデータ処理手段と、該データ処理手段によって行なわれたデータ処理の結果を前記表示手段に表示できるように表示用データとして作成するデータ作成手段とが設けられていることを特徴としている。
この構成を採用することによって、記録品位を検証するための２値化されたＲＦ信号のパルス幅を集計した結果を、ユーザは定量的にコンピュータの表示手段で見ることができるので、記録品位の検証を容易且つ確実に行なうことができる。
【００１５】
また、前記データ処理手段は、前記集計データである複数のＨレベルのパルス幅の値およびその値を有するＨレベルのパルスの数、並びに複数のＬレベルのパルス幅の値およびその値を有するＬレベルのパルスの数を、それぞれ前記表示手段に度数分布として表示できるようにデータ処理し、前記データ作成手段は、該データ処理手段によりデータ処理された結果である度数分布の表示用データを作成することを特徴としてもよい。
さらに、前記表示手段に表示される度数分布としては、横軸にパルス幅の値、縦軸にその値を有するパルスの数を配置して表示するようにしたグラフであってもよい。
これによれば、各ランドとピットに対してのパルス幅が３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ等の規定された位置に頂点を有する山を形成した画像が得られ、この山の広がり具合等を見ることで記録品位の検証を視覚的に行なうことができる。このため、検証が容易となり、またこのようなグラフを見ること自体がユーザにとって楽しみにもなる。
【００１６】
本発明にかかる光ディスク装置検証プログラムによれば、表示手段を有し、請求項４記載の光ディスク装置との間でデータの授受が可能となるように該光ディスク装置と接続するインターフェース部を有するコンピュータが読み取り可能なプログラムであって、前記インターフェース部を介して受信した、前記集計データを用いて記録品位を解析するためのデータ処理を行なうデータ処理機能と、該データ処理機能によって行なわれたデータ処理の結果を前記表示手段に表示できるように表示用データとして作成するデータ作成機能とを前記コンピュータに実現させることを特徴としている。
このプログラムによれば、記録品位を検証するための２値化されたＲＦ信号のパルス幅を集計した結果を、ユーザは定量的にコンピュータの表示手段で見ることができるので、記録品位の検証を容易且つ確実に行なうことができる。また、使用するコンピュータとして特殊な機能を有するものではなく、汎用のコンピュータを用いて行なうことができるので安価な構成で記録品位の検証を行なうことができる。
【００１７】
また、前記データ処理機能は、前記集計データである複数のＨレベルのパルス幅の値およびその値を有するＨレベルのパルスの数、並びに複数のＬレベルのパルス幅の値およびその値を有するＬレベルのパルスの数を、それぞれ前記表示手段に度数分布として表示できるようにデータ処理し、前記データ作成機能は、前記データ処理機能によりデータ処理された結果である度数分布の表示用データを作成することを特徴としてもよい。
さらに、前記表示手段に表示される度数分布としては、横軸にパルス幅の値、縦軸にその値を有するパルスの数を配置して表示するようにしたグラフであってもよい。
このプログラムによれば、各ランドとピットに対してのパルス幅が３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ等の規定された位置に頂点を有する山を形成した画像が得られ、この山の広がり具合等を見ることで記録品位の検証を視覚的に行なうことができる。このため、検証が容易となり、またこのようなグラフを見ること自体がユーザにとって楽しみにもなる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明の光ディスク装置によれば、光ディスク装置内部で２値化されたＲＦ信号におけるＨレベルのパルス幅とＬレベルのパルス幅とを測定することができる。つまり、光ディスク装置内で、光ディスクの記録面に形成されたピットとランドの長さを測定するので、光ディスク装置のユーザは今までにない方法により記録品位の検証を行なうことができる。
【００１９】
本発明にかかる光ディスク装置検証システムによれば、光ディスク装置内で測定された光ディスクの記録面に形成されたピットとランドの長さを集計したデータを記録品位を解析するためにデータ処理した結果が表示手段に表示されるので、光ディスク装置の記録品位の検証をユーザが見やすい方法で実行することができるので、記録品位の検証が容易且つ確実に行なわれる。
【００２０】
本発明にかかる光ディスク装置検証プログラムによれば、光ディスク装置に通常に市販されているコンピュータを接続して、このコンピュータに光ディスク装置検証プログラムをインストールして実行することができるので、安い費用で且つ簡単な構成により、ユーザは記録品位の検証を行なうことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
まず、光ディスク装置の構成について説明する。
光ディスク装置２０は、光ディスク２１を装着するターンテーブル２３が設けられたスピンドルモータ２２と、光ディスク２１にレーザ光を照射すると共に光ディスク２１から反射されたレーザ光を受光する光ピックアップ２４とを具備している。
光ピックアップ２４内には、レーザ光を出力するレーザダイオード（図示せず）と、受光素子であるフォトダイオード２７を有している。また、レーザ光を集光して光ディスクの記録層に焦点を合わせるための対物レンズ２９が光ピックアップ２４内には設けられている。
【００２２】
フォトダイオード２７では、受光したレーザ光の光強度が電圧値に変換されて光ピックアップ２４の外部へ出力される。光ピックアップ２４から出力された受光した光強度を電圧値に変換した光強度信号ａは、ＲＦアンプ３４へ入力される。
ＲＦアンプ３４は、特許請求の範囲でいう生成回路の一例であり、光ピックアップ２４から出力された光強度信号ａを波形整形して、２値化し、２値化されたＲＦ信号ｂを生成する。
【００２３】
ここでいう２値化されたＲＦ信号ｂは、図７に示したように、ＨレベルとＬレベルとが交互に表れた信号であり、Ｈレベルに該当する部位は反射光強度が高い部位であり、光ディスク２１の記録面に形成されたランドに照射されたレーザ光が反射した部位であるといえる。Ｌレベルに該当する部位は反射光強度が弱い部位であり、光ディスク２１の記録面に形成されたピットに照射されたレーザ光が反射した部位であるといえる。
【００２４】
なお、ＲＦアンプ３４内には、フォーカスエラー信号生成回路およびトラッキングエラー信号生成回路（図示せず）が設けられており、光ピックアップから入力された信号に基づいて、それぞれフォーカスエラー信号ｃおよびトラッキングエラー信号ｄを生成する。
フォーカスエラー信号ｃとトラッキングエラー信号ｄは、サーボプロセッサ３０に入力される。サーボプロセッサ３０は、フォーカスエラー信号ｃやトラッキングエラー信号ｄに基づき、フォーカスサーボやトラッキングサーボを制御すると共に、スピンドルモータ２２や光ピックアップの送り動作のサーボ制御を実行する。
【００２５】
なお、光ディスク装置には、他の機器と接続するためのインターフェース部５０が設けられている。インターフェース部５０の規格としてはＡＴＡＰＩ（AT Attachment Packet Interface）、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）、あるいはＩＥＥＥ１３９４等様々な規格がある。
本実施例では、光ディスク装置は、ＡＴＡＰＩであるインターフェース部５０を介して汎用のコンピュータ（図３、図４参照）６０と接続される。
インターフェース部５０において、後述する集計手段３８で収集された集計データｆがコンピュータ６０に対して互いにデータの授受が可能な形式にデータ変換されて出力される。
【００２６】
ＲＦアンプ３４で生成された２値化されたＲＦ信号ｂは、パルス信号のパルス幅を測定可能な手段である測定手段３６に入力される。本実施例では、測定手段３６は、具体的には２値化されたＲＦ信号ｂをデコード処理するデコーダ４０としての機能を有するＩＣに付属している機能である。しかし、測定手段３６としては、パルス信号のパルス幅を測定可能な回路またはソフトウェアであればどのような形態であってもよい。
【００２７】
測定手段３６によって測定された、２値化されたＲＦ信号のＨレベルおよびＬレベルそれぞれのパルス幅の値ｅは、集計手段３８に入力される。
集計手段３８は、パルス幅の値およびその値をとるパルスの数を記憶するメモリである記憶手段４４と、測定手段３６によって測定された結果を集計して記憶手段４４に記憶するように制御する制御手段４２とを有している。
かかる集計手段３８としては、上述した測定手段３６と同様に２値化されたＲＦ信号ｂをデコード処理するデコーダ４０としての機能を有するＩＣに付属している機能であってもよく、このようなＩＣとは別個に設けられている回路であってもよい。
【００２８】
集計手段３８におけるデータの集計の方法について図２に基づいて説明する。
集計手段３８は、予め記憶手段４４にＨレベルのパルス幅とその度数を記憶するテーブル４６、およびＬレベルのパルス幅とその度数を記憶するテーブル４７を有している。つまり、記憶手段４４に記憶されているテーブル４６，４７は、本実施例の光ディスク装置２０においてパルス幅の最小の単位である３Ｔが取るであろう最小値（本実施例では具体的には８０ｎｓ）と、本実施例の光ディスク装置２０においてパルス幅の最大の単位である１４Ｔが取るであろう最大値（本実施例では具体的には５６０ｎｓ）の範囲において、１ｎｓ毎にそのパルス幅を有するパルスが何回測定されたか、その回数をＨレベルとＬレベルとにおいてそれぞれカウントして記憶できるような構成を有している。
【００２９】
例えば、測定手段３６が、２値化されたＲＦ信号ｂのうち所定のＨレベルがパルス幅８３ｎｓであり、Ｌレベルが１８０ｎｓであることを測定したとする。すると、集計手段３８の制御手段４２は、記憶手段４４に対してＨレベルの８３ｎｓの度数を１とし、Ｌレベルの１８０ｎｓの度数を１とするように集計する。
続いて、測定手段３６は２値化されたＲＦ信号ｂを連続して測定していき、集計手段３８は測定手段３６によって測定されたＨレベルおよびＬレベルのそれぞれのパルス幅の値について、記憶手段４４内の該当するパルス幅の度数を１ずつ加算するようにして、この度数を記憶させる。
【００３０】
次に、コンピュータの構成について、図３、図４に基づいて説明する。
コンピュータ６０は、通常市販されている汎用のコンピュータを用いることができる。したがって、コンピュータ６０は、全体の動作を制御する中央処理装置であるＣＰＵ６２、ＣＰＵ６２の動作に用いるＲＯＭ６３およびＲＡＭ６４、データや各種プログラムを記憶する記憶手段であるＨＤＤ６６、データの出力を行なうＣＲＴやＬＣＤ等の表示手段６８、データ入力を行なうキーボード６７やマウス６９等を具備している。
【００３１】
本実施例におけるコンピュータ６０は、上述した光ディスク装置２０を接続してデータの授受が可能となるようにインターフェース部７０を具備している。
インターフェース部７０の規格としてはＡＴＡＰＩ（AT Attachment Packet Interface）、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）、あるいはＩＥＥＥ１３９４等様々な規格がある。
本実施例では、コンピュータ６０は、ＡＴＡＰＩであるインターフェース部７０を介して光ディスク装置２０と接続される。
【００３２】
コンピュータ６０は、集計データｆを用いて記録品位を解析するためのデータ処理を行なうデータ処理手段７１と、データ処理手段によって行なわれたデータ処理の結果を表示手段６８に表示できるように表示用データｇとして作成するデータ作成手段７２とを具備している。
本実施例では、データ処理手段７１は、インターフェース部７０を介して光ディスク装置２０から集計データｆを受信すると、この集計データｆを度数分布として表示することができるようにデータ処理をする。
データ作成手段７２は、度数分布を表示手段６８に表示可能なデータ形式となるように、表示用データｇの作成を行なう。データ作成手段７２は、作成した表示用データｇを表示手段６８に転送し、表示手段６８に作成した表示用データｇに基づくグラフを表示させる。
【００３３】
データ処理手段７１およびデータ作成手段は、ＣＰＵ６２が所定のプログラムによって制御されることで実現される。この所定のプログラムが、特許請求の範囲でいう光ディスク装置検証プログラムである。光ディスク装置検証プログラム６１は、予めＨＤＤ６６にインストールされているとよい。
【００３４】
度数分布の一例としてのグラフを図６に示す。図６では、上側がピット（２値化されたＲＦ信号のＬレベルに該当）のグラフであり、下側がランド（２値化されたＲＦ信号のＨレベルに該当）のグラフである。
グラフは、横軸にパルス幅（単位はＴ）、縦軸にそのパルス幅が測定された回数（度数：本図ではｌｏｇ圧縮されている）を表したものである。このようなグラフにすると、見やすく好適である。
【００３５】
なお、光ディスク装置検証プログラム６１は、光ディスク装置２０に対して、装着されている光ディスク２１のいずれのアドレスにおいて２値化されたＲＦ信号ｂのＨレベルとＬレベルのパルス幅の測定を行なうかの指定を光ディスク装置２０に対してすることができる。
【００３６】
つまり、ユーザがキーボード６７あるいはマウス６９を操作して、光ディスク装置検証プログラム６１を起動させると、表示手段６８にアドレスを指定するように促す表示がなされる。
ユーザは、表示手段６８に表示された指示に基づいてパルス幅の測定を行ないたいアドレスをキーボード６７やマウス６９を用いてコンピュータ６０内のアドレス指定手段７４に入力する。
ユーザにより入力されたアドレスは、アドレス指示信号ｈとしてアドレス指定手段７４がインターフェース部７０を介して光ディスク装置２０へ出力する。
光ディスク装置２０では、アドレス指示信号ｈにより指定されたアドレスにおいてパルス幅の測定を行なうように、測定手段３６が動作する。
【００３７】
次に、上述した構成を有する光ディスク装置２０およびコンピュータ６０を組み合わせて構成した光ディスク装置検証システム全体の動作を図５に基づいて説明する。
【００３８】
まず、ユーザがコンピュータ６０の光ディスク装置検証プログラム６１を起動することによって動作が開始される（スタート）。
光ディスク装置検証プログラム６１が起動すると、ユーザはパルス幅を測定すべきアドレスを入力する（ステップＳ１００）。
入力されたアドレスはアドレス指示信号ｈとして光ディスク装置２０に転送される。
【００３９】
光ディスク装置２０の測定手段３６は、ユーザが指定したアドレスの範囲内で２値化されたＲＦ信号ｂのＨレベルおよびＬレベルのパルス幅を測定する（ステップＳ１０２）。
そして、光ディスク装置２０の集計手段３８は、測定手段３６が測定した各レベルのパルス幅の値をそれぞれ集計する（ステップＳ１０４）。具体的な集計の方法は上述した通り（図２参照）であるので、ここでは説明しない。
集計されたパルス幅のデータは、集計手段３８内の制御手段４２が、インターフェース部５０を介して定期的にコンピュータ６０へ転送する（ステップＳ１０６）。
【００４０】
コンピュータ６０では、データ処理手段７１が、光ディスク装置２０から転送されてきた集計データｆを記録品位を解析できるようにデータ処理する（ステップＳ１０７）。本実施例では、具体的に度数分布を作成するようにデータ処理する。
そして、データ作成手段７２がデータ処理手段７１によってデータ処理された集計データの度数分布を表示手段６８にグラフとして表示できるように表示用データｇの作成を行なう（ステップＳ１０８）。
データ作成手段７２が表示用データｇを作成し、表示手段６８へ転送すると、表示手段６８ではこの表示用データｇに基づいて２値化されたＲＦ信号ｂのパルス幅を集計したグラフを表示させる（ステップＳ１１０）。
これで、光ディスク装置検証システムにおける動作が終了する。
【００４１】
続いて、表示手段６８に表示される度数分布であるグラフの例を図６に示す。
グラフは、上述してきたように、横軸にパルス幅（単位はＴ）、縦軸にそのパルス幅が測定された回数（度数：本図ではｌｏｇ圧縮されている）を表したものである。グラフの横軸は、単位Ｔとｎｓ（ナノセコンド）とで変換して表示することができるように、ユーザがいずれかの単位を選択できる選択スイッチ８０が表示手段６８に表示されるように設けられている。
【００４２】
また、表示手段６８には、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ、６Ｔ、７Ｔ、８Ｔ、９Ｔ、１０Ｔ、１１Ｔ、１４Ｔの各パルス幅に該当する位置を頂点として１０個の山が形成されるグラフが表示されるが、この各山のピーク位置８２や、各山の幅８４、さらには各山のピークの規定値８５等のデータが数字として表示される。
なお、Ｔ＝３８．２２６３ｎｓであるので、３Ｔは約１１４ｎｓ、４Ｔは約１５３ｎｓ、・・１４Ｔは約５３５ｎｓである。ただし図６では、横軸はｎｓではなくＴを単位としているので、ピーク位置の規定値は、３，４，５・・１４と表示されている。
【００４３】
ユーザは、光ディスク装置２０内に装着されている光ディスク２１のデータを読み出すことで、表示手段６８に２値化されたＲＦ信号のパルス幅の集計データの結果を表示させ、この表示に基づいて、記録品位の良し悪しの判断を行なうこととなる。
ちなみに、本実施例では、グラフによって２値化されたＲＦ信号のパルス幅のバラツキ具合を示しているので、グラフで表示された山に対して山同士の重なり具合や、山の広がり具合等を勘案し、この山の広がりが大きい（隣り合う山と繋がっている）ほど、そのパルス幅が各規定されたパルス幅に対してバラツキを生じており記録品位が悪いと判断できる。そして、山の広がりが狭い（隣り合う山と分離されている）ほど、そのパルス幅が各規定されたパルス幅に近いものが多く、記録品位が良いと判断する。
【００４４】
また、表示手段６８には、各山のピーク位置８２と各山のピークの規定値８５のデータも表示されるので、ユーザは、山のピークにおけるパルス幅の値と山のピークの規定値とを比較して、測定値と規定値とでずれが生じている場合には記録品位が悪く一致していれば記録品位が良いと判断する方法により、検証することもできる。
【００４５】
また、一度作成した度数分布は、コンピュータ６０のＨＤＤ６６内に記憶させておくことができる。そして、次に別の光ディスク２１で度数分布を作成したときに、以前に作成した度数分布をＨＤＤ６６から取り出し、２つの度数分布を重ね合わせて記録品位の評価を行なうようにすることもできる。このとき、以前に作成した度数分布は、データ作成手段７２によって透過状態になるようにデータを作成して、重ね合わせ可能に設けるとよい。
【００４６】
なお記録品位の検証方法としては、上述のように山の広がり（パルス幅のバラツキ：いわゆるＤＤジッター）や山のピークの規定値とのずれを見る方法に限られず、２値化されたＲＦ信号から基準クロックを生成し、この基準クロックと２値化されたＲＦ信号とのずれを見る方法（いわゆる擬似的なＤＣジッター）、２値化されたＲＦ信号のパルス幅と理想的なパルス幅との差を求めるデビエーション等の方法がある。
【００４７】
したがって、本発明のデータ処理手段７１は、度数分布を作成する機能を有する手段にのみ限定するのではなく、上述したように２値化されたＲＦ信号から基準クロックを生成する機能や２値化されたＲＦ信号のパルス幅と理想的なパルス幅との差を求める機能を有するものであってもよい。
また、データ作成手段７２は、この基準クロックと２値化されたＲＦ信号とのずれや、データ処理手段７１が求めた差を表示手段６８に表示させるように表示用データを作成する機能を有するものであってもよい。
【００４８】
なお、本発明の光ディスク装置、光ディスク装置検証システム、光ディスク装置検証プログラムは、当該光ディスク装置２０でデータを書き込んだ光ディスクの記録品位の検証だけではなく、他の光ディスク装置で書き込まれた光ディスクの記録品位を検証することも当然可能である。
【００４９】
以上本発明につき好適な実施例を挙げて種々説明したが、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、発明の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得るのはもちろんである。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】光ディスク装置を示すブロック図である。
【図２】パルス幅の集計方法を説明する説明図である。
【図３】コンピュータの構成を示すブロック図である。
【図４】コンピュータにおける本発明の構成について説明するブロック図である。
【図５】光ディスク装置検証システムの動作について説明するフローチャートである。
【図６】表示されるグラフの例を示す説明図である。
【図７】２値化されたＲＦ信号の構成について説明する説明図である。
【図８】光ディスクの記録面上に形成されるランドとピットについて説明する説明図である。
【符号の説明】
【００５１】
２０   光ディスク装置
２１   光ディスク
２２   スピンドルモータ
２３   ターンテーブル
２４   光ピックアップ
２７   フォトダイオード
２９   対物レンズ
３０   サーボプロセッサ
３４   ＲＦアンプ
３６   測定手段
３８   集計手段
４０   デコーダ
４２   制御手段
４４   記憶手段
４６，４７    テーブル
５０，７０    インターフェース部
６０   コンピュータ
６１   光ディスク装置検証プログラム
６２   ＣＰＵ
６３   ＲＯＭ
６４   ＲＡＭ
６６   ＨＤＤ
６７   キーボード
６８   表示手段
６９   マウス
７１   データ処理手段
７２   データ作成手段
７４   アドレス指定手段
８０   選択スイッチ
８２   各山のピーク位置
８４   各山の幅
８５   各山のピーク位置の規定値
ａ     光強度信号
ｂ     ２値化されたＲＦ信号
ｃ     フォーカスエラー信号
ｄ     トラッキングエラー信号
ｅ     測定されたパルス幅の値
ｆ     集計データ
ｇ     表示用データ
ｈ     アドレス指示信号
【図１】
2006012231.tif 000003
【図２】
2006012231.tif 000004
【図３】
2006012231.tif 000005
【図４】
2006012231.tif 000006
【図５】
2006012231.tif 000007
【図７】
2006012231.tif 000008
【図６】
2006012231.tif 000009
【図８】
2006012231.tif 000010