(57)【要約】【課題】点欠陥の影響が少ない画像を高速で得ることができる技術を提供する。【解決手段】受光部１６ａの画素配列を複数のフィールドに分けて、当該受光部１６ａに蓄積される電荷信号を読み出し可能な撮像素子を用いる。そして、例えば、ＭＯＶＥモード、高速連写モード、およびライブビューモード等といった所定の撮影モードでは、欠陥画素が相対的に少ない１以上のフィールドを含む一部のフィールドから読み出された電荷信号のみを用いて撮影画像を生成する。【選択図】図２
2006245999.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像装置であって、
(a)受光部の画素配列を複数のフィールドに分けて、当該受光部に蓄積される電荷信号を読み出し可能な撮像素子を有する撮像手段と、
(b)前記撮像素子の欠陥画素の位置を記憶する記憶手段と、
(c)複数の撮影モードのうち選択的に所定の撮影モードに設定するモード設定手段と、
(d)前記記憶手段に記憶された欠陥画素の位置に基づいて、前記複数のフィールドから、欠陥画素が相対的に少ない１以上のフィールドを含む一部のフィールドを指定する指定手段と、
(e)前記所定の撮影モードに設定された状態で、前記一部のフィールドから読み出された電荷信号のみを用いて撮影画像を生成する生成手段と、
を備えることを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
請求項１に記載の撮像装置であって、
前記所定の撮影モードが、
動画撮影モード、高速連写モード、及びライブビューモードのうちの少なくとも１つのモードを含むことを特徴とする撮像装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の撮像装置であって、
(f)前記撮像素子における欠陥画素の位置を所定のタイミングで検出する検出手段と、
(g)前記記憶手段に記憶される欠陥画素の位置を、前記検出手段によって検出された欠陥画素の位置に更新する更新手段と、
を更に備えることを特徴とする撮像装置。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれかに記載の撮像装置であって、
(h)前記受光部の画素配列のうち、第１の方向および当該第１の方向と直交する第２の方向のうちの少なくとも一つの方向に配列された複数の画素について、電荷信号を相互に加算する加算手段、
を更に備え、
前記一部のフィールドが、
前記複数のフィールドのうち、欠陥画素が少ない方から順に第１および第２のフィールドを少なくとも含み、
前記加算手段が、
前記一部のフィールドに含まれる各フィールド間で、当該各フィールドに係る電荷信号を相互に加算することを特徴とする撮像装置。
【請求項５】
請求項１から請求項４のいずれかに記載の撮像装置であって、
前記指定手段が、
(d-1)前記受光部の画素配列のうちの所定のエリアに係る欠陥画素の量を示すパラメータを、当該所定のエリア以外のエリアに係る欠陥画素の量を示すパラメータよりも強調して、前記複数のフィールドにおける欠陥画素の多少をそれぞれ判定する判定手段と、
(d-2)前記判定手段による判定結果に基づいて、前記複数のフィールドから前記一部のフィールドを指定するフィールド指定手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項６】
請求項５に記載の撮像装置であって、
前記所定のエリアが、
前記受光部の画素配列のうちの中央付近のエリアであることを特徴とする撮像装置。
【請求項７】
撮像装置に含まれるコンピュータによって実行されることにより、前記撮像装置を、請求項１から請求項６のいずれかに記載の撮像装置として機能させるプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタルカメラには、撮像素子としてＣＣＤが一般的に使用されている。そして、近年、このＣＣＤは、小サイズ化、及び高画素密度化してきている。それに伴って、ＣＣＤにおいて発生する画素の欠陥（画素欠陥）も増加してきている。
【０００３】
この画素欠陥は、例えば、ＣＣＤによって得られる画像において点状の高輝度部（点欠陥）を引き起こす。
【０００４】
そこで、点欠陥の影響を抑制して良好な静止画を得るために、静止画撮影時には、欠陥画素周辺の複数画素に係る画素値を用いた補間処理を行う一方、動画撮影時には、欠陥画素に係る画素値を単に隣接する同色画素に係る画素値と置換する処理（前置補間処理）を行う技術が提案されている（例えば、特許文献１）。この技術では、欠陥を有する画素（欠陥画素）の位置を示すデータ（番地データ）は予め所定の記憶部に記憶されており、フレーム間隔が短い動画撮影時においても、点欠陥の影響を抑制することができる。
【０００５】
このような技術に関する先行技術文献としては、以下のようなものがある。
【０００６】
【特許文献１】特開２０００−２２４４９０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１で提案されている技術では、動画撮影時には、前置補間処理によって画像の劣化が生じてしまう。
【０００８】
また、比較的小画素数の動画表示を想定すると、画像上において点欠陥が占める領域の割合が大きくなるため、点欠陥が目立ち易い傾向にある。その一方で、点欠陥に対して補間処理を施すことを前提とすると、点欠陥の数が増大すると、補間処理に長時間を要してしまうため、フレームレートに補間処理が追いつかないといった問題を生じる。
【０００９】
本発明は、上記課題に鑑みてなされたものであり、点欠陥の影響が少ない画像を高速で得ることができる技術を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記の課題を解決するために、請求項１の発明は、撮像装置であって、(a)受光部の画素配列を複数のフィールドに分けて、当該受光部に蓄積される電荷信号を読み出し可能な撮像素子を有する撮像手段と、(b)前記撮像素子の欠陥画素の位置を記憶する記憶手段と、(c)複数の撮影モードのうち選択的に所定の撮影モードに設定するモード設定手段と、(d)前記記憶手段に記憶された欠陥画素の位置に基づいて、前記複数のフィールドから、欠陥画素が相対的に少ない１以上のフィールドを含む一部のフィールドを指定する指定手段と、(e)前記所定の撮影モードに設定された状態で、前記一部のフィールドから読み出された電荷信号のみを用いて撮影画像を生成する生成手段とを備えることを特徴とする。
【００１１】
また、請求項２の発明は、請求項１に記載の撮像装置であって、前記所定の撮影モードが、動画撮影モード、高速連写モード、及びライブビューモードのうちの少なくとも１つのモードを含むことを特徴とする。
【００１２】
また、請求項３の発明は、請求項１または請求項２に記載の撮像装置であって、(f)前記撮像素子における欠陥画素の位置を所定のタイミングで検出する検出手段と、(g)前記記憶手段に記憶される欠陥画素の位置を、前記検出手段によって検出された欠陥画素の位置に更新する更新手段とを更に備えることを特徴とする。
【００１３】
また、請求項４の発明は、請求項１から請求項３のいずれかに記載の撮像装置であって、(h)前記受光部の画素配列のうち、第１の方向および当該第１の方向と直交する第２の方向のうちの少なくとも一つの方向に配列された複数の画素について、電荷信号を相互に加算する加算手段を更に備え、前記一部のフィールドが、前記複数のフィールドのうち、欠陥画素が少ない方から順に第１および第２のフィールドを少なくとも含み、前記加算手段が、前記一部のフィールドに含まれる各フィールド間で、当該各フィールドに係る電荷信号を相互に加算することを特徴とする。
【００１４】
また、請求項５の発明は、請求項１から請求項４のいずれかに記載の撮像装置であって、前記指定手段が、(d-1)前記受光部の画素配列のうちの所定のエリアに係る欠陥画素の量を示すパラメータを、当該所定のエリア以外のエリアに係る欠陥画素の量を示すパラメータよりも強調して、前記複数のフィールドにおける欠陥画素の多少をそれぞれ判定する判定手段と、(d-2)前記判定手段による判定結果に基づいて、前記複数のフィールドから前記一部のフィールドを指定するフィールド指定手段とを有することを特徴とする。
【００１５】
また、請求項６の発明は、請求項５に記載の撮像装置であって、前記所定のエリアが、前記受光部の画素配列のうちの中央付近のエリアであることを特徴とする。
【００１６】
また、請求項７の発明は、撮像装置に含まれるコンピュータによって実行されることにより、前記撮像装置を、請求項１から請求項６のいずれかに記載の撮像装置として機能させるプログラムである。
【発明の効果】
【００１７】
請求項１に記載の発明によれば、受光部の画素配列を複数のフィールドに分けて、当該受光部に蓄積される電荷信号を読み出し可能な撮像素子を用いて、所定の撮影モードでは、欠陥画素が相対的に少ない１以上のフィールドを含む一部のフィールドから読み出された電荷信号のみを用いて撮影画像を生成するような構成により、欠陥画素に起因する異常な電荷信号が元々少ない電荷信号群を用いて撮影画像を生成するため、点欠陥の補正箇所の低減および点欠陥の補正処理に要する時間を短縮化することができる。その結果、点欠陥の影響が少ない画像を高速で得ることができる。
【００１８】
また、請求項２に記載の発明によれば、動画撮影モードや高速連写モードやライブビューモード等といった、フレームレートが比較的高い撮影が要求されるモードにおいて、点欠陥の影響が少ない画像を得ることができる。また、例えば、ライブビューモードでは、オートフォーカス用や自動露光制御用の画像も点欠陥の影響が少ない画像から得ることができるため、オートフォーカスや自動露光制御の精度も向上させることができる。
【００１９】
また、請求項３に記載の発明によれば、撮像素子における欠陥画素の位置を所定のタイミングで検出して、欠陥画素が相対的に少ない１以上のフィールドを含む一部のフィールドの指定に反映させるような構成とすることで、随時、点欠陥の影響が少ない画像を高速で得ることができる。
【００２０】
また、請求項４に記載の発明によれば、複数のフィールドのうち、欠陥画素が少ない方から順に少なくとも第１および第２のフィールドを含む一部のフィールドについて、各フィールド間で、当該各フィールドに係る電荷信号を相互に加算するような構成とすることで、モアレの発生を低減しつつ、点欠陥の影響が少ない画像を高速で得ることができる。
【００２１】
また、請求項５および請求項６に記載のいずれの発明によっても、受光部の画素配列のうちの所定のエリアに係る欠陥画素の量を示すパラメータを、当該所定のエリア以外のエリアに係る欠陥画素の量を示すパラメータよりも強調して、各フィールドにおける欠陥画素の多少を判定することで、複数のフィールドから欠陥画素が相対的に少ない１以上のフィールドを含む一部のフィールドを指定するような構成とすることにより、例えば、撮影範囲の中央付近等といった主要な被写体が存在するエリアを重要視しつつ、点欠陥の影響が少ない画像を高速で得ることができる。
【００２２】
また、請求項７に記載の発明によれば、請求項１から請求項６に記載の発明と同様な効果を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【００２４】
＜撮像装置の概要＞
図１は、本発明の実施形態に係る撮像装置１の要部構成を示す図である。ここで、図１(ａ)〜(ｃ)は、それぞれ撮像装置１の正面図、背面図および上面図に相当している。
【００２５】
撮像装置１は、デジタルカメラとして構成されており、撮影レンズ１０を備えている。
【００２６】
撮像装置１は、その上面にモード切替スイッチ１２とシャッターボタン１３と電源ボタン１００とが設けられている。
【００２７】
モード切替スイッチ１２は、被写体を撮像してその静止画を記録する静止画撮影モード（ＲＥＣモード）と、動画撮影を行う動画モード（ＭＯＶＥモード）と、メモリカード９(図２参照)に記録された画像を再生する再生モード（ＰＬＡＹモード）とを切替えるためのスイッチである。
【００２８】
シャッターボタン１３は、半押し状態(Ｓ１オン)と、さらに押し込まれた全押し状態(Ｓ２オン)とを検出可能な２段階スイッチになっている。上記のＲＥＣモードにおいてシャッターボタン１３が半押しされると、ズーム・フォーカスモータドライバ４７(図２参照)が駆動されて、合焦位置に撮影レンズ１０を移動させる動作（ＡＦ動作）が行われる。なお、Ｓ１オンとなると、カメラ制御部４０(図２参照)による露出制御も併せて行われる。
【００２９】
更に、ＲＥＣモードにおいてシャッターボタン１３が全押しされると、本撮影動作、つまり記録用の撮影動作が行われる。また、ＭＯＶＥモードにおいて、シャッターボタン１３が全押しされると、本撮影動作を繰り返し行うことで、動画を取得する動画撮影が開始され、再度シャッターボタン１３が全押しされると、動画撮影が終了される。また、後述する高速連写モードにおいて、シャッターボタン１３が全押しされると、本撮影動作が開始され、シャッターボタン１３の全押し状態が保持されている間、所定のフレームレートで複数回の本撮影動作が行われる。
【００３０】
電源ボタン１００は、撮像装置１の電源をＯＮ／ＯＦＦするボタンである。この電源ボタン１００を押下することで、撮像装置１の電源を交互にＯＮ、ＯＦＦすることができる。
【００３１】
撮像装置１の背面には、撮影された画像などを表示するＬＣＤ(Liquid Crystal Display)モニタ４２と、電子ビューファインダー(ＥＶＦ)４３と、コマ送り・ズームスイッチ１５とが設けられている。
【００３２】
コマ送り・ズームスイッチ１５は、４つのボタンで構成され、再生モードにおける記録画像のコマ送りや、撮影時のズーミングを指示するためのスイッチである。このコマ送り・ズームスイッチ１５の操作により、ズーム・フォーカスモータドライバ４７が駆動されて、撮影レンズ１０に関する焦点距離を変更できる。
【００３３】
また、ＲＥＣモードにおいては、コマ送り・ズームスイッチ１５の左右方向のボタンの押下操作により、１フレームの静止画を取得するモード（通常撮影モード）と、高速のフレームレートで連写を行うモード（高速連写モード）との間で、モードを切り替えることができる。
【００３４】
また、撮像装置１では、ＲＥＣモードおよびＭＯＶＥモードになると、まず、記録用の撮影画像を取得する撮影（本撮影）前の撮影待機状態となる。この撮影待機状態では、ＬＣＤモニタ４２やＥＶＦ４３において、プレビュー用となる撮影画像データ（ライブビュー）が動画的な態様で可視的に出力される。よって、ＲＥＣモードおよびＭＯＶＥモードにおける撮影待機状態では、ライブビューを取得するモード（ライブビューモード）に設定されているものとみなすことができる。
【００３５】
つまり、撮像装置１では、ＲＥＣモードの中に、通常撮影モードと高速連写モードとが存在し、更に、通常撮影モードと高速連写モードの中に、ライブビューモードが存在する。また、ＭＯＶＥモードの中にもライブビューモードが存在する。
【００３６】
＜撮像装置の機能構成＞
図２は、撮像装置１の機能ブロックを示す図である。
【００３７】
撮像装置１は、撮像センサ１６と、撮像センサ１６にデータ伝送可能に接続する信号処理部２と、信号処理部２に接続する画像処理部３と、画像処理部３に接続するカメラ制御部４０とを備えている。
【００３８】
撮像センサ（ＣＣＤ）１６は、複数種類の色成分であるＲ(赤)、Ｇ(緑)、Ｂ(青)の原色透過フィルターがピクセル単位に市松状に配列(ベイヤー配列)されたエリアセンサ(撮像素子)として構成されている。
【００３９】
そして、ＣＣＤ１６において露光によって電荷の蓄積が完了すると、光電変換された電荷信号は、遮光された撮像センサ１６内の垂直・水平転送路へとシフトされ、ここからバッファを介し画像信号として出力される。つまり、撮像センサ１６は、被写体に係る画像信号（画像）を取得する撮像手段として機能する。
【００４０】
ＣＣＤ１６は、撮影レンズ１０に対向する面に受光部１６ａが設けられており、この受光部１６ａには複数の画素が配列されている。受光部１６ａを構成する画素配列は、３つのフィールドに分けられており、ＣＣＤ１６は、撮影時において、各画素に蓄積される電荷信号(画像信号)を、フィールドごとに順次に読出し可能な構成となっている。
【００４１】
ここで、ＣＣＤ１６における電荷信号の読み出し方法を説明する。
【００４２】
図３は、ＣＣＤ１６の電荷信号の読み出し方法を説明するための図である。ＣＣＤ１６の受光部１６ａでは、実際には数百万以上の画素が配列されているが、図示の便宜上、その一部のみが示されている。なお、図３には、受光部１６ａにおいて、垂直方向および水平方向における画素位置を明確に表現するため、互いに直交する水平、垂直方向をそれぞれ示すＩ、Ｊの２軸を付している。
【００４３】
図３に示すように、受光部１６ａには、画素配列に対応するカラー(色)フィルタ配列が設けられている。即ち、受光部１６ａがカラーフィルタ配列を有している。このカラーフィルタ配列は、周期的に分布する赤(Ｒ)、緑(Ｇｒ、Ｇｂ)および青(Ｂ)のカラーフィルタ、すなわち互いに色の異なる３種類のカラーフィルターで構成されている。
【００４４】
ＣＣＤ１６では、図３に示すように、受光部１６ａにおいてＪ方向に対して順に並ぶ１、４、７、・・番目の各水平ライン（図中では、記号ａを付した各水平ライン）、すなわち、３ｎ＋１ライン目(ｎは整数)をａフィールドとする。また、受光部１６ａにおいてＪ方向に対して順に並ぶ２、５、８、・・番目の各水平ライン（図中では、記号ｂを付した各水平ライン）、すなわち、３ｎ＋２ライン目(ｎは整数)をｂフィールドとする。更に、受光部１６ａにおいてＪ方向に対して順に並ぶ３、６、９、・・番目の各水平ライン（図中では、記号ｃを付した各水平ライン）、すなわち、３ｎ＋３ライン目(ｎは整数)をｃフィールドとする。
【００４５】
このように、受光部１６ａを、３つのフィールドに分けることで、ａ〜ｃフィールドのそれぞれには、カラーフィルタ配列の全色成分、すなわちＲＧＢ全種類のカラーフィルタが設けられたＲＧＢ全色の画素が含まれることとなる。
【００４６】
そして、静止画撮影モードの通常撮影モードでは、本撮影時にＣＣＤ１６の各セルに蓄積された電荷信号を読出す場合には、図３に示すように、ａフィールドから電荷信号が読出されて、ａフィールド画像データ２１０が構成される。次に、ｂフィールドから電荷信号が読出されて、ｂフィールド画像データ２２０が構成される。最後に、ｃフィールドから電荷信号が読出されて、ｃフィールド画像データ２３０が構成される。このようにして、受光部１６ａに配列された全画素から電荷信号が読み出される。
【００４７】
一方、静止画撮影モードの高速連写モードと、ＭＯＶＥモードにおける本撮影時と、ライブビューモードとにおいては、ａ〜ｃフィールドのうち、フィールド指定機能（後述）によって指定された１つのフィールドから電荷信号を読出す。すなわち、水平ラインが１／３間引きされた状態で読み出される。
【００４８】
信号処理部２は、ＣＤＳ２１とＡＧＣ２２とＡ／Ｄ変換部２３とを有しており、いわゆるアナログフロントエンドとして機能する。
【００４９】
撮像センサ１６から出力されたアナログ画像信号は、ＣＤＳ２１でサンプリングされノイズが除去された後、ＡＧＣ２２により撮影感度に相当するアナログゲインが乗算されて感度補正が行われる。
【００５０】
Ａ／Ｄ変換部２３は、１４ビットの変換器として構成されており、ＡＧＣ２２で正規化されたアナログ信号をデジタル化する。デジタル変換された画像信号は、画像処理部３で所定の画像処理が施されて画像ファイルが生成される。
【００５１】
画像処理部３は、点欠陥補正部５１を備えている。また、画像処理部３は、デジタル処理部３ｐ、画像圧縮部３６、ビデオエンコーダ３８、メモリカードドライバ３９、点欠陥検出部５２、及び点欠陥位置メモリ５４を備えている。
【００５２】
画像処理部３に入力された画像データについては、まず点欠陥補正部５１において、点欠陥位置メモリ５４に予め記憶されている点欠陥アドレスに基づき、欠陥が存在する画素データが補正データに置換される点欠陥の補間処理が行われる。
【００５３】
ここで、点欠陥の発生と、点欠陥の補間処理について説明する。
【００５４】
図４および図５は、点欠陥の発生を説明するための図である。図４では、画素の欠陥（画素欠陥）を含む撮像センサ１６の構成を示しており、図５では、ＣＣＤ１６によって得られる画像において画素欠陥に起因して点状の異常な画素値を示す部分（点欠陥）が発生している様子を示す図である。
【００５５】
図４に示すように、ＣＣＤ１６においては、各フォトダイオード１６１で光電変換され蓄積された電荷が各垂直転送ライン毎に設けられた垂直ＣＣＤ(「ＶＣＣＤ」ともいう)１６２に読み出され、最下段の水平ＣＣＤ１６３に転送される。そして、水平ＣＣＤ１６３に転送された電荷は、画素クロックに基づき読み出されることで水平画素方向の読み出しが行われる。なお、ＶＣＣＤ１６２や水平ＣＣＤ１６３などといった電荷を転送するラインを総称して「電荷転送ライン」とも言う。
【００５６】
このような撮像センサ１６の動作により、２次元的に配列されたフォトダイオード１６１で取得した２次元画像に対して水平ライン毎にスキャン読み出しが行われることとなる。
【００５７】
ここで、フォトダイオード１６１に欠陥がある場合には、この欠陥によって発生する電荷が信号電荷に加算されるため、撮影画像において点欠陥として再現されることとなる。例えば、図４に示すように、フォトダイオードＰＦに欠陥がある場合には、図５に示すように、撮影画像Ｇ１において異常に高い画素値（高輝度値）を示す画素（点欠陥）ＩＦが発生する。
【００５８】
この点欠陥が発生すると、撮影画像の画像品質が低下してしまうため、点欠陥補正部５１において、近傍の同色の画素に係る画素値を用いた点欠陥の補間処理が行われる。
【００５９】
図６は、点欠陥の補間処理を説明するための図である。
【００６０】
図６に示すように、撮影画像Ｇ１において点欠陥ＩＦが発生している場合には、点欠陥補正部５１において、点欠陥ＩＦに係る色と同色の最も近傍に位置する左右の画素ＩＦ１，ＩＦ２に係る画素値の平均値が算出される。そして、当該平均値を示すデータが補正データとして、点欠陥に係る画素データと置換される。
【００６１】
より具体的には、緑（Ｇｂ）に係る画素ＩＦが点欠陥となっている場合には、画素ＩＦと同色の最も近傍に位置する左右の画素ＩＦ１，ＩＦ２に係る画素値の平均値が、点欠陥に係る画素データとして付与される。
【００６２】
なお、点欠陥補正部５１では、信号処理部２から入力されてきた画素データが、点欠陥位置メモリ５４に記憶されている点欠陥の位置に対応する画素についてのものであれば、補間処理を行う一般的な点欠陥の補正処理が実施される。
【００６３】
但し、点欠陥が増加すると、点欠陥の補正処理の回数も増加するとともに、点欠陥の補正箇所が画像の品質の低下を招く傾向にある。特に、画像データを構成する画素数が比較的少ない動画やライブビュー等では、撮影時に画素の間引きを行うため、欠陥画素の影響が、全画素に係る画素値を用いて生成される撮影画像に比べて大きくなる傾向にある。
【００６４】
デジタル処理部３ｐは、画素補間部３１とホワイトバランス制御部３２とガンマ補正部３３と輪郭強調部３４と解像度変換部３５とを有している。
【００６５】
デジタル処理部３ｐに入力される画像データは、ＣＣＤ１６の読出しに同期し画像メモリ４１に書込みまれる。以後は、この画像メモリ４１に格納された画像データにアクセスし、デジタル処理部３ｐで各種の処理が行われる。
【００６６】
画像メモリ４１内の画像データは、まずホワイトバランス制御部３２によりＲＧＢ各画素が独立にゲイン補正され、ＲＧＢのホワイトバランス補正が行われる。このホワイトバランス補正では、撮影被写体から本来白色となる部分を輝度や彩度データ等から推測し、その部分のＲ、Ｇ、Ｂそれぞれの平均値とＧ／Ｒ比およびＧ／Ｂ比とを求め、これらの情報に基づいてＲおよびＢの補正ゲインとして制御される。
【００６７】
画素補間部３１では、ＲＧＢ各画素をそれぞれのフィルターパターンでマスキングした後、高帯域まで画素値を有するＧ画素については、例えば、注目画素に対する周辺１２画素のコントラストパターンに基づき画素値の空間的な変化を推定し、周囲４画素のデータに基づき被写体のパターンに最適な画素値を算出して割り当てる。一方、Ｒ画素およびＢ画素に関しては、周囲の８画素の同色画素値に基づいて補間する。
【００６８】
画素補間された画像データは、ガンマ補正部３３で各出力機器に合った非線形変換、具体的にはガンマ補正およびオフセット調整が行われ、画像メモリ４１に格納される。
【００６９】
輪郭強調部３４は、画像データに応じたハイパスフィルタ等によって輪郭を際立たせるエッジ強調処理を行う。
【００７０】
そして、画像メモリ４１に格納された画像データは、解像度変換部３５で設定された画素数に水平垂直の縮小または間引きが行われ、画像圧縮部３６で圧縮処理を行った後、メモリカードドライバ３９にセットされるメモリカード９に記録される。この画像記録時には、指定された解像度の撮影画像が記録される。また、解像度変換部３５では、画像表示時についても画素間引きを行って、ＬＣＤモニタ４２やＥＶＦ４３に表示するための低解像度画像を作成する。プレビュー時には、画像メモリ４１から読出された６４０×２４０画素の低解像度画像がビデオエンコーダ３８でＮＴＳＣ／ＰＡＬにエンコードされ、これをフィールド画像としてＬＣＤモニタ４２やＥＶＦ４３で画像再生が行われる。
【００７１】
カメラ制御部４０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、及びＲＡＭ等を備え、撮像装置１の各部を統括的に制御する部位である。カメラ制御部４０による各種制御や機能は、ＲＯＭ内に格納された所定のプログラムがＣＰＵに読み込まれて実行されることで実現される。
【００７２】
具体的には、上記のモード切替スイッチ１２やシャッターボタン１３やコマ送り・ズームスイッチ１５などを有するカメラ操作部５０に対して撮影者が行う操作入力を処理する。また、カメラ制御部４０は、撮影者によるモード切替スイッチ１２の操作により、被写体を撮像してその画像データを記録する静止画撮影モード、動画モード、及び再生モードへの切替えを行う。更に、静止画撮影モードにおいては、撮影者によるコマ送り・ズームスイッチ１５の操作に応答して、通常撮影モードおよび高速連写モードのうちの一方を選択的に設定する。更に、撮影待機状態では、カメラ制御部４０による制御下で、ライブビューモードに設定される。
【００７３】
撮像装置１は、本撮影前の撮影待機状態において被写体を動画的態様でＬＣＤモニタ４２に表示するプレビュー表示(ライブビュー表示)時には、絞り４４の光学絞りが絞りドライバ４５によって開放固定となる。また、シャッタースピード(ＳＳ)に相当するＣＣＤ１６の電荷蓄積時間（露光時間）に関しては、ＣＣＤ１６で取得したライブビューに基づき、カメラ制御部４０が露出制御データを演算する。そして、算出された露出制御データに基づいて予め設定されたプログラム線図により、ＣＣＤ１６の露光時間が適正となるようにタイミングジェネレーターセンサドライバ４６に対するフィードバック制御が行われる。
【００７４】
そして、本撮影時では、カメラ制御部４０の機能により、ＣＣＤ１６で取得したライブビューを用いて測光された光量データに基づいて予め設定されたプログラム線図によって絞りドライバ４５とタイミングジェネレータセンサードライバ４６とでＣＣＤ１６への露光量が制御されるＡＥ制御が実行される。
【００７５】
また、撮影レンズ１０によるオートフォーカス（ＡＦ）動作に関しては、カメラ制御部４０の機能により、ＣＣＤ１６で取得したライブビューを用いて、いわゆるコントラスト方式のＡＦ制御が行われる。具体的には、カメラ制御部４０で、ライブビューに基づいて、主要な被写体（主被写体）におけるコントラストが最も高くなる撮影レンズ１０の位置を、主被写体に合焦するレンズ位置（合焦レンズ位置）として算出する。そして、ズーム・フォーカスモータードライバー４７によって、合焦レンズ位置まで撮影レンズ１０内のフォーカスレンズを移動させる。
【００７６】
点欠陥検出部５２は、信号処理部２から画像処理部３に入力される画像データに基づいて、点欠陥の位置アドレスを検出する。なお、点欠陥の位置アドレスを検出する際には、信号処理部２から画像処理部３に入力される画像データが、点欠陥補正部５１による補間処理が施されずに、そのまま点欠陥検出部５２に転送される。点欠陥の検出動作、すなわちＣＣＤ１６における欠陥画素の位置の検出動作は、所定のタイミングで行われるが、この検出動作については後述する。
【００７７】
点欠陥位置メモリ５４は、点欠陥検出部５２によって検出された点欠陥の位置アドレスを登録する。そして、カメラ制御部４０において、点欠陥位置メモリ５４に登録された点欠陥の位置アドレスを参照することで、ａ〜ｃフィールドのうち、欠陥画素が最も少ないフィールド（欠陥最少フィールド）を指定して、ＲＯＭに記憶する。
【００７８】
そして、カメラ制御部４０の機能により、撮像装置１のモード設定に応じて、欠陥最少フィールドが電荷信号を読出す対象となるフィールド（読出対象フィールド）として設定される。例えば、ＭＯＶＥモード、高速連写モード、及びライブビューモードに設定された状態では、画素数の少ない画像データを高速のフレームレートで読出す必要がある。その場合には、３つのフィールドのうちの１つのフィールドから電荷信号を読み出すことで、高速のフレームレートを確保する。そして、撮像装置１では、画像処理部３によって、ＣＣＤ１６の欠陥最少フィールドから読み出された電荷信号のみを用いて画像データ（画像）を生成する。
【００７９】
図７は、欠陥最少フィールドから電荷信号を読出す方式についての概要を示す図である。図７では、図３で示した図に対して欠陥画素を示す斜線部を追加した図を示している。
【００８０】
図７に示すように、ａ〜ｃフィールドのうち、ａフィールドが欠陥最少フィールドである場合には、ａフィールドが読出対象フィールドとして設定される。
【００８１】
以上の構成を有する撮像装置１における点欠陥の検出動作、欠陥画素の少ないフィールドの指定動作、読出対象フィールドの設定動作、及び撮影動作について以下で説明する。
【００８２】
＜点欠陥の検出および欠陥画素の少ないフィールドの指定＞
図８は、点欠陥の検出動作フローを示すフローチャートである。本動作フローは、撮像装置１の電源がＯＮの状態で電源ボタン１００が押下されて電源ＯＦＦの状態に移行する際にカメラ制御部４０の制御下で実施される。
【００８３】
まず、シャッターに相当する絞り４４を閉じる(ステップＳＴ１)。
【００８４】
ステップＳＴ２では、シャッターを閉じた状態を保持したまま、所定期間だけ電荷信号を蓄積する動作（電荷蓄積動作）を行う。この所定期間の電荷蓄積動作中に、受光部１６ａに配列される画素のうち電荷信号が蓄積される画素は、シャッターが閉じられており受光部１６ａには光が照射されていないので、光の照射とは別の要因によって異常な電荷信号が蓄積される欠陥のある画素（欠陥画素）である。
【００８５】
ステップＳＴ３では、垂直転送路（ＶＣＣＤ）において電荷信号の高速掃き出しを行う。
【００８６】
ステップＳＴ４では、ＣＣＤ１６から画素データを順次に読み出す。
【００８７】
ステップＳＴ５では、ステップＳＴ４で読み出された画素レベルが、予め定められた傷レベルリファレンス(閾値)Ｖｒｅｆより大きいかを判定する。ここで、傷レベルリファレンスＶｒｅｆより大きい場合には、ステップＳＴ６に進み、傷レベルリファレンスＶｒｅｆ以下の場合には、ステップＳＴ７に進む。なお、ここでは、点欠陥検出部５２により、画素レベルが傷レベルリファレンスＶｒｅｆより大きい画素が点欠陥として検出される。
【００８８】
ステップＳＴ６では、傷レベルリファレンスＶｒｅｆより大きい点欠陥(傷)に関して画像上のアドレス(Ｈ，Ｖ)を、点欠陥位置メモリ５４に登録する。
【００８９】
ステップＳＴ７では、ＣＣＤ１６からの画像読み出しが完了したかを判定する。ここで、画像読み出しが完了した場合には、ステップＳＴ８に進み、未完の場合には、ステップＳＴ４に戻る。
【００９０】
ステップＳＴ８では、点欠陥位置メモリ５４に登録された点欠陥のアドレスを参照することで、ａ〜ｃフィールドのうち点欠陥すなわち欠陥画素が少ないフィールドを欠陥最少フィールドとして指定する。
【００９１】
ステップＳＴ９では、ステップＳＴ８で指定された欠陥最少フィールドをカメラ制御部４０内のＲＯＭに記憶し、本動作フローを終了する。
【００９２】
このような点欠陥の検出および欠陥画素の少ないフィールドの指定動作は、工場出荷時に行われるとともに、撮像装置１が電源ＯＦＦされる毎にも行われる。つまり、点欠陥位置メモリ５４に記憶される欠陥画素の位置は、点欠陥検出部５２によって随時検出される欠陥画素の位置に更新される。
【００９３】
＜読出対象フィールドの設定＞
図９は、読出対象フィールドの設定動作フローを示すフローチャートである。本動作フローは、撮像装置１の電源がＯＮの状態においてカメラ制御部４０の制御により常に行われる。
【００９４】
ステップＳＴ１１では、撮像装置１のモードの切り替えがあったか否か判定する。ここでは、モードの切り替えがあるまではステップＳＴ１１の判定を繰り返し、モードの切り替えがあればステップＳＴ１２に進む。
【００９５】
ステップＳＴ１２では、撮像装置１が設定されているモードを認識する。
【００９６】
ステップＳＴ１３では、撮像装置１が、ＭＯＶＥモード、高速連写モード、及びライブビューモードのうちの何れかのモードに設定されているか否か判定する。ここで、ＭＯＶＥモード、高速連写モード、及びライブビューモードのうちの何れのモードかに設定されている場合にはステップＳＴ１４に進み、設定されていない場合、すなわち通常撮影モードに設定されている場合にはステップＳＴ１５に進む。
【００９７】
ステップＳＴ１４では、カメラ制御部４０のＲＯＭに記憶された欠陥最少フィールドを読出対象フィールドとして設定する。
【００９８】
ステップＳＴ１５では、ａ〜ｃフィールドの３フィールド全てを読出対象フィールドとして設定する。
【００９９】
ステップＳＴ１４又はＳＴ１５で設定された読出対象フィールドは、カメラ制御部４０のＲＯＭに記憶される。そして、ステップＳＴ１１に戻る。つまり、撮像装置１の電源がＯＮの状態に保持される限り、本動作フローが繰り返し実行される。
【０１００】
＜撮影動作＞
図１０は、撮像装置１における撮影動作フローを示すフローチャートである。本動作フローは、撮像装置１がＭＯＶＥモード又はＲＥＣモードに設定されると開始される。
【０１０１】
ステップＳＴ２１では、ライブビュー表示状態に設定される。このライブビュー表示状態では、撮像装置１はライブビューモードに設定される。
【０１０２】
ライブビューモードでは、ａ〜ｃフィールドのうちの欠陥最少フィールドのみから１／３０秒毎に電荷信号が読出される。そして、欠陥最少フィールドから読み出された電荷信号のみを用いてライブビューが生成されて、ＬＣＤモニタ４２又はＥＶＦ４３にライブビューが可視的に出力される。
【０１０３】
ステップＳＴ２２では、シャッターボタン１３が半押し状態（Ｓ１オン）となったか否か判定する。ここでは、Ｓ１オンとなるまでステップＳＴ２２の判定を繰り返し、Ｓ１オンとなるとステップＳＴ２３に進む。
【０１０４】
ステップＳＴ２３では、ＡＦ動作や露出制御データの算出が行われる。ここでは、欠陥画素が相対的に少ないフィールドから得られたライブビューを用いて、ＡＦ動作や露出制御データの算出が行われる。よって、画像品質の良い画像データを用いてＡＦ動作やＡＥ制御が行われるため、ＡＦ動作やＡＥ制御の精度が向上する。
【０１０５】
ステップＳＴ２４では、シャッターボタン１３が全押し状態（Ｓ２オン）となったか否か判定する。ここでは、Ｓ２オンとなるまでステップＳＴ２３及びＳＴ２４の処理を繰り返し、Ｓ２オンとなるとステップＳＴ２５に進む。
【０１０６】
ステップＳＴ２５では、本撮影動作が行われる。ここでは、図９のステップＳＴ１４又はＳＴ１５で示したように、通常撮影モードに設定されている場合には３フィールド全てが読出対象フィールドとなる。そして、ａ〜ｃフィールドから読み出された電荷信号を組み合わせた撮影画像が生成されて、メモリカード９に記憶される。
【０１０７】
その一方、ＭＯＶＥモード、又は高速連写モードに設定されている場合には欠陥最少フィールドが読出対象フィールドとなる。例えば、図７で示したように、ａ〜ｃフィールドの３フィールドのうち、画素欠陥が最も少ないａフィールドが欠陥最少フィールドである場合には、当該ａフィールドが読出対象フィールドとなる。そして、ａフィールドから読み出された電荷信号のみを用いて撮影画像が生成されて、メモリカード９に記憶される。
【０１０８】
ステップＳＴ２６では、撮影が終了したか否かを判定する。例えば、ＭＯＶＥモードに設定されている場合には、再度シャッターボタン１３が全押し状態（Ｓ２オン）となると、撮影が終了したものと判定される。つまり、再度Ｓ２オンとなるまで、ステップＳ２５およびステップＳ２６の処理を繰り返し、再度Ｓ２オンとなると撮影を終了して本動作フローを終了する。
【０１０９】
また、高速連写モードに設定されている場合には、シャッターボタン１３の全押し状態（Ｓ２オン）が解除されると、撮影が終了したものと判定される。つまり、Ｓ２オンが解除されるまで、ステップＳ２５およびステップＳ２６の処理を繰り返し、Ｓ２オンが解除されると撮影を終了して本動作フローを終了する。
【０１１０】
なお、通常撮影モードに設定されている場合には、ステップＳＴ２５に戻ることなく、単にステップＳＴ２５の本撮影動作で取得された画像データがメモリカード９に格納されると、撮影が終了したものと判定され、本動作フローを終了する。
【０１１１】
以上のように、本発明の実施形態に係る撮像装置１では、受光部１６ａの画素配列を３つのフィールドに分けて、受光部１６ａに蓄積される電荷信号を読み出し可能なＣＣＤ１６を用いている。そして、ＭＯＶＥモード、高速連写モード、およびライブビューモードのいずれか１つの撮影モードでは、欠陥画素が最も少ない欠陥最少フィールドから読み出された電荷信号のみを用いて撮影画像を生成する。このような構成により、欠陥画素に起因する異常な電荷信号が元々少ない電荷信号群を用いて撮影画像を生成することができる。このため、点欠陥の補正箇所の低減および点欠陥の補正処理に要する時間を短縮化することができる。その結果、より点欠陥の影響が少ない画像を高速で得ることができる。
【０１１２】
特に、動画撮影モードや高速連写モードやライブビューモード等といった、フレームレートが比較的高い撮影が要求されるモードにおいて、点欠陥の影響が少ない画像を得ることができる。また、例えば、ライブビューモードでは、ＡＦ用やＡＥ用の画像データも点欠陥の影響が少ない画像データから得ることができるため、ＡＦやＡＥの精度も向上させることができる。
【０１１３】
また、電源がＯＦＦされる際に、ＣＣＤ１６における欠陥画素の位置を検出する。そして、欠陥画素が最も少ない欠陥最少フィールドの指定に反映する。このような構成とすることで、随時、点欠陥の影響が少ない画像を高速で得ることができる。
【０１１４】
＜変形例＞
以上、この発明の実施形態について説明したが、この発明は上記説明した内容のものに限定されるものではない。
【０１１５】
◎例えば、上述した実施形態では、３つのフィールドから欠陥画素が最も少ない欠陥最少フィールドを読出対象フィールドとして指定したが、これに限られず、例えば、欠陥画素の量が相対的に少ない２つのフィールドを読出対象フィールドとして指定するようにしても良い。
【０１１６】
より一般的には、受光部１６ａの画素配列を複数のフィールドに分けて、受光部１６ａに蓄積される電荷信号を読み出し可能なＣＣＤ１６を用いるとともに、当該複数のフィールドのうち欠陥画素が相対的に少ない１以上のフィールドを含む一部のフィールドから読み出された電荷信号のみを用いて撮影画像を生成するようにしても上述した実施形態と同様な効果を得ることができる。
【０１１７】
なお、受光部１６ａの画素配列を３つのフィールドではなく、その他の複数のフィールドに分けて読出す例としては、５つのフィールドに分けるものが挙げられる。
【０１１８】
図１１は、受光部１６ａを５つのフィールドに分けて、受光部１６ａに蓄積される電荷信号を読出すＣＣＤ１６について示す図である。図１１では、図３と同様に受光部１６ａの一部のみが示されており、互いに直交するＩ、Ｊの２軸が付されている。
【０１１９】
図１１に示すように、受光部１６ａにおいてＪ方向に対して順に並ぶ１、６、１１、・・番目の各水平ライン（図中では、記号ａを付した各水平ライン）、すなわち、５ｎ＋１ライン目(ｎは整数)をａフィールドとする。また、受光部１６ａにおいてＪ方向に対して順に並ぶ２、７、１２、・・番目の各水平ライン（図中では、記号ｂを付した各水平ライン）、すなわち、５ｎ＋２ライン目(ｎは整数)をｂフィールドとする。また、受光部１６ａにおいてＪ方向に対して順に並ぶ３、８、１３、・・番目の各水平ライン（図中では、記号ｃを付した各水平ライン）、すなわち、５ｎ＋３ライン目(ｎは整数)をｃフィールドとする。受光部１６ａにおいてＪ方向に対して順に並ぶ４、９、１４、・・番目の各水平ライン（図中では、記号ｄを付した各水平ライン）、すなわち、５ｎ＋４ライン目(ｎは整数)をｄフィールドとする。更に、受光部１６ａにおいてＪ方向に対して順に並ぶ５、１０、１５、・・番目の各水平ライン（図中では、記号ｅを付した各水平ライン）、すなわち、５ｎ＋５ライン目(ｎは整数)をｅフィールドとする。
【０１２０】
このように、受光部１６ａを、５つのフィールドに分けることで、ａ〜ｅフィールドのそれぞれには、カラーフィルタ配列の全色成分、すなわちＲＧＢ全種類のカラーフィルタが設けられたＲＧＢ全色の画素が含まれることとなる。
【０１２１】
そして、静止画撮影モードの通常撮影モードでは、本撮影時にＣＣＤ１６の各セルに蓄積された電荷信号を読出す場合には、図１１に示すように、ａフィールドから電荷信号が読出されて、ａフィールド画像データ２１１が構成される。次に、ｂフィールドから電荷信号が読出されて、ｂフィールド画像データ２２１が構成される。そして、ｃフィールドから電荷信号が読出されて、ｃフィールド画像データ２３１が構成される。更に、ｄフィールドから電荷信号が読出されて、ｄフィールド画像データ２４１が構成される。最後に、ｅフィールドから電荷信号が読出されて、ｅフィールド画像データ２５１が構成される。このようにして、受光部１６ａに配列された全画素から電荷信号が読み出される。
【０１２２】
◎また、上述した実施形態では、複数フィールドのうちの一部のフィールドに係る電荷信号を単に読み出して撮影画像を生成したが、これに限られず、例えば、２以上のフィールドに係る電荷信号を相互に加算するようにしても良い。
【０１２３】
具体的には、図３に示したように、受光部１６ａを３フィールドに分割して電荷信号を読出すＣＣＤ１６を使用する場合、欠陥画素が少ない方から２つのフィールド、すなわちａフィールドとｃフィールドに係る電荷信号をＶＣＣＤで加算し合うようにしても良い。より具体的には、ａフィールドとｃフィールドにおける同色の画素のうち、垂直方向の最も近傍に位置する同色の画素の電荷信号を相互に加算し合うようにしても良い。このような構成により、点欠陥の比較的少ない高品質の画像を２枚合成したものと同じような撮影画像を得ることができる。そして、このような複数画素に係る画素加算により、モアレの発生を低減しつつ、感度を上昇させることができる。また、上述した実施形態と同様に、点欠陥の影響が少ない画像を高速で得ることもできる。
【０１２４】
このような構成は、図１２に示すように、図２に示したカメラ制御部４０にＣＣＤ１６において電荷信号の加算すなわち画素の加算（画素加算）を行わせるように制御する機能を加えた撮像装置１Ａにおいて実現することができる。なお、この際には、ＣＣＤ１６をＶＣＣＤにおいて電荷信号を加算することができるものとする必要性がある。
【０１２５】
また、このような画素加算は、垂直方向に配列された複数の画素に係る電荷信号を相互に加算するものに限られず、水平方向に配列された複数の画素に係る電荷信号を相互に加算するようなものでも良い。
【０１２６】
つまり、カメラ制御部４０の制御によって、ＣＣＤ１６において、受光部１６ａの画素配列のうち、垂直方向（第１の方向）および水平方向（第２の方向）のうちの少なくとも１つの方向に配列された複数の画素について、電荷信号を相互に加算するようにすれば良い。そして、このように電荷信号を相互に加算する場合には、カメラ制御部４０の制御により、複数（例えば、３）フィールドのうち、欠陥画素が少ない方から順に少なくとも２以上のフィールド（例えば、ａ及びｃフィールド）を含む一部のフィールドを指定する。その後、撮影時に、カメラ制御部４０の制御により、当該一部のフィールドに含まれる各フィールド（ａ及びｃフィールド）間で、各フィールドに係る電荷信号を相互に加算するようにすれば良い。
【０１２７】
但し、図１１に示すように、受光部１６ａを５フィールドに分割した読出しが可能なＣＣＤ１６では、相互に電荷信号を加算し合う画素同士が近すぎるよりも、若干距離が離れている画素同士に係る電荷信号を加算し合う方が、モアレの低減には有効である。
【０１２８】
例えば、図１１に示すように、ａフィールドとｃフィールドの垂直方向に配列される画素に係る電荷信号を相互に加算し合う場合には、垂直方向に２つしか離れていない画素に係る電荷信号を相互に加算し合うこととなる。これに対して、ａフィールドとｅフィールドの垂直方向に配列される画素に係る電荷信号を相互に加算し合う場合には、垂直方向に４つも離れている画素に係る電荷信号を相互に加算し合うこととなる。このような場合には、モアレの低減に対しては、ａフィールドとｃフィールドとの間における電荷信号の加算よりも、ａフィールドとｅフィールドとの間における電荷信号の加算の方が有効である。
【０１２９】
よって、欠陥画素の量が少ない順に複数フィールド間で電荷信号が加算されると、モアレの低減に対して有利でない場合もあり得るため、モアレの低減と点欠陥の影響の低減とのバランスを考慮した構成も考えられる。
【０１３０】
例えば、以下のような構成が考えられる。欠陥画素の量が所定の閾値よりも少ないフィールドについては、点欠陥の発生が極端に少なくなる。そこで、モアレの発生に有効なフィールドの組み合わせを予めＲＯＭ等に記憶させておく。そして、欠陥画素の量が所定の閾値よりも少ないフィールド（少欠陥フィールド）が多数存在する場合には、モアレの発生の低減を重要視して、多数の少欠陥フィールドのうち、モアレの発生に有効なフィールドの組み合わせに従って、電荷信号の加算を行うことで、撮影画像を生成する。その一方、少欠陥フィールドが０〜１個しか存在しない場合には、点欠陥の影響の低減を重要視して、単に欠陥画素の少ない順に２つのフィールド間で電荷信号を相互に加算し合うことで、撮影画像を生成する。
【０１３１】
上記では、所定の閾値によって、適宜モアレの低減または点欠陥の影響の低減を重要視したが、これに限られず、ユーザーがカメラ操作部５０に含まれる所定の操作部を適宜操作することで、モアレの低減または点欠陥の影響の低減を重要視するようにしても良い。
【０１３２】
◎また、上述した実施形態では、ライブビュー表示時等において、複数フィールドのうちの１つの欠陥最少フィールドから電荷信号を読み出して、ライブビューを生成したが、これに限られず、例えば、ライブビューの生成に必要な水平ライン数が１つのフィールドに含まれる水平ライン数の１／４である場合には、ＣＣＤ１６において欠陥最少フィールドのうちの４つの水平ライン毎に１つの水平ラインに係る電荷信号を読出すようにしても良い。具体的には、図７に示したａ〜ｃフィールドのうち、ａフィールドが欠陥最少フィールドである場合には、ａフィールドについて、４水平ラインのうちから３つの水平ラインを間引いて電荷信号を読出すようにしても良い。
【０１３３】
但し、この場合には、実際に読出し対象となる画素は１つのフィールドに含まれる多数の画素の一部となる。したがって、例えば、上述したように、１つのフィールドを対象として１／４間引きを行って電荷信号を読出すような態様では、フィールド単位で欠陥画素が少ないか否かよりも、読出し対象となる１／４間引き後のフィールド（「間引き後フィールド」とも称する）に欠陥画素が少ないか否かが重要となる。
【０１３４】
そこで、例えば、ライブビュー表示時等では、１／４間引きを想定して、ａ〜ｃフィールドの各フィールド毎に、４つの間引き後フィールドが存在するため、合計１２個の間引き後フィールドについて、欠陥画素が最も少ない間引き後フィールド（欠陥最少間引き後フィールド）を指定して、当該欠陥最少間引き後フィールドのみから電荷信号を読出して撮影画像を生成するようにしても良い。
【０１３５】
このような構成とすることで、必要な画像サイズに合わせて、点欠陥の影響が少ない画像を高速で得ることができる。
【０１３６】
◎また、上述した実施形態では、点欠陥の検出タイミングが、電源をＯＦＦするタイミングであったが、これに限られず、撮像装置１にカレンダー機能を持たせて、例えば、前回の点欠陥の検出から所定期間（例えば、３０日間）が経過したか否かを判定して、３０日間が経過していれば、点欠陥の検出を行うように制御しても良い。
【０１３７】
◎また、上述した実施形態では、各フィールド毎に単に点欠陥すなわち欠陥画素の量を計測することで、各フィールドの欠陥画素の多少を評価したが、これに限られず、例えば、受光部１６ａの画素配列のうち、点欠陥の影響が目立ち易い所定のエリア（例えば、中央部付近のエリア）を重要視して、各フィールドの欠陥画素の多少を評価するようにしても良い。
【０１３８】
このような構成は、図１３に示すように、図２に示したカメラ制御部４０に、所定のエリアに係る欠陥画素の量に対して重み付けを行って欠陥画素の多少を評価する機能（重み付け演算機能）を付加した撮像装置１Ｂにおいて実現することができる。
【０１３９】
例えば、重み付け演算機能によって、図１４に示すように、各フィールドについて、受光部１６ａの画素配列のうちの中央部付近のエリアに係る欠陥画素の個数とそれ以外のエリア（周縁部のエリア）に係る欠陥画素の個数とに対してそれぞれ、異なる係数Ｋを乗じて、欠陥画素の多少を評価する。より具体的には、中央部付近のエリアについては、欠陥画素の量を示すパラメータである欠陥画素の個数に対して係数Ｋ＝１を乗じる一方で、画素配列の周縁部のエリアについては、欠陥画素の個数に対して係数Ｋ＝０．５（係数Ｋ＝１よりも相対的に小さな係数）を乗じる。このように、異なる係数を乗じることで、中央部付近のエリアに係る欠陥画素の量を示すパラメータを、それ以外のエリアに係る欠陥画素の量を示すパラメータよりも強調して、各フィールドにおける欠陥画素の多少を判定することができる。
【０１４０】
このような構成では、中央部付近のエリアを重要視した欠陥画素の多少の判定結果に基づいて、受光部１６ａを構成する複数フィールドから、欠陥画素が相対的に少ない１以上のフィールドを含む一部のフィールドを、ＭＯＶＥモード等を含む所定の撮影モードにおける読出対象フィールドとして指定する。そして、ＭＯＶＥモード等を含む所定の撮影モードでは、読出対象フィールドとして指定された一部のフィールドのみから電荷信号を読出して、撮影画像を生成するようにする。
【０１４１】
このような構成により、例えば、撮影範囲の中央付近等といった主要な被写体が存在するエリアを重要視しつつ、点欠陥の影響が少ない画像を高速で得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【０１４２】
【図１】本発明の実施形態に係る撮像装置の要部構成を示す図である。
【図２】本発明の実施形態に係る撮像装置の機能構成を示すブロック図である。
【図３】ＣＣＤの電荷信号の読み出し方法を説明するための図である。
【図４】点欠陥の発生を説明するための図である。
【図５】点欠陥の発生を説明するための図である。
【図６】点欠陥の補正処理を説明するための図である。
【図７】電荷信号の読出し方法を説明するための図である。
【図８】点欠陥の検出動作フローを示すフローチャートである。
【図９】読出対象フィールドの切り替え動作フローを示すフローチャートである。
【図１０】撮影動作フローを示すフローチャートである。
【図１１】変形例に係る電荷信号の読出し方法を説明するための図である。
【図１２】変形例に係る撮像装置の機能構成を示すブロック図である。
【図１３】変形例に係る撮像装置の機能構成を示すブロック図である。
【図１４】点欠陥の多少を判定する際の重み付けについて説明するための図である。
【符号の説明】
【０１４３】
１，１Ａ，１Ｂ  撮像装置
３  画像処理部
１６  撮像素子（ＣＣＤ）
１６ａ  受光部
４０  カメラ制御部
４１  画像メモリ
５０  カメラ操作部
５１  点欠陥補正部
５２  点欠陥検出部
５４  点欠陥位置メモリ
【図１】
2006245999.tif 000003
【図２】
2006245999.tif 000004
【図３】
2006245999.tif 000005
【図４】
2006245999.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
2006245999.tif 000009
【図８】
2006245999.tif 000010
【図９】
2006245999.tif 000011
【図１０】
2006245999.tif 000012
【図１１】
2006245999.tif 000013
【図１２】
2006245999.tif 000014
【図１３】
2006245999.tif 000015
【図１４】
2006245999.tif 000016