(57)【要約】【課題】観察に悪影響を与えることなく、ＡＦ装置の検出光の不所望な面での反射が抑えられた標本体を構成することを可能にする標本体構成部材を提供する。【解決手段】狭持標本体１１０は、スライドガラス１２０と、カバーガラス１３０と、スライドガラス１２０とカバーガラス１３０の間に保持された標本１４０とから構成されている。標本１４０は、例えば、観察対象物１４２とグリセリンなどの封入剤１４４とからなり、略１．３〜１．５５の屈折率を有している。スライドガラス１２０は、上面すなわち標本１４０と接する標本保持面１２０ａに、可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４が施されている。可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４は、略１．３〜１．５５の屈折率の標本１４０に対して、可視域の光に対して低い反射率を有し、近赤外域の光に対して高い反射率を有している。【選択図】      図１
2006047572.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
オートフォーカス装置を備えた顕微鏡用の標本保持用透明部材であり、標本と接する標本保持面に、屈折率が略１．３〜１．５５の標本に対して、可視域の光に対して低い反射率をもち、近赤外域の光に対して高い反射率をもつ可視光反射防止・近赤外光反射コートが施されている、標本保持用透明部材。
【請求項２】
請求項１において、可視光反射防止・近赤外光反射コートは誘電体多層膜で構成されている、標本保持用透明部材。
【請求項３】
請求項２において、誘電体多層膜は、酸化ジルコニウム（ＺｒＯ２）、酸化アルミニウム（Ａl２Ｏ３）、酸化チタン（ＴｉＯ２）、弗化マグネシウム（ＭｇＦ２）、酸化珪素（ＳｉＯ２）、酸化ランタン（Ｌａ２Ｏ３）、酸化タンタル（Ｔａ２Ｏ５）のいずれかまたはこれらの混合物で構成されている、標本保持用透明部材。
【請求項４】
請求項１において、標本保持面の反対側の面に、可視域から近赤外域までの光に対して低い反射率をもつ反射防止コートが施されている、標本保持用透明部材。
【請求項５】
請求項１において、標本保持用透明部材が平板状であり、いわゆるスライドガラスである、標本保持用透明部材。
【請求項６】
請求項１において、標本保持用透明部材は、標本を収容する凹部を有しており、いわゆるシャーレである、標本保持用透明部材。
【請求項７】
請求項１において、標本保持用透明部材は、標本を収容する複数の凹部を有しており、いわゆるウェルプレートである、標本保持用透明部材。
【請求項８】
オートフォーカス装置を備えた顕微鏡用の標本保持用透明部材であり、標本と接する標本保持面に、可視域から近赤外域までの光に対して４％〜１０％の反射率をもつニュートラルデンシティの金属反射コートが施されている、標本保持用透明部材。
【請求項９】
請求項８において、金属反射コートは、クロム（Ｃｒ）、ニッケル（Ｎｉ）、チタン（Ｔｉ）、銀（Ａｇ）、アルミ（Ａｌ）のいずれかの薄膜で構成されている、標本保持用透明部材。
【請求項１０】
請求項８において、標本保持面の反対側の面に、可視域から近赤外域までの光に対して低い反射率をもつ反射防止コートが施されている、標本保持用透明部材。
【請求項１１】
請求項８において、標本保持用透明部材が平板状であり、いわゆるスライドガラスである、標本保持用透明部材。
【請求項１２】
請求項８において、標本保持用透明部材は、標本を収容する凹部を有しており、いわゆるシャーレである、標本保持用透明部材。
【請求項１３】
請求項８において、標本保持用透明部材は、標本を収容する複数の凹部を有しており、いわゆるウェルプレートである、標本保持用透明部材。
【請求項１４】
標本保持用透明部材に保持された標本に接して配置されるカバーガラスであり、空気に対して、可視域から近赤外域までの光に対して低い反射率をもつ反射防止コートが両面に施されている、カバーガラス。
【請求項１５】
オートフォーカス装置を備えた顕微鏡用の狭持標本体であり、スライドガラスと、カバーガラスと、これらの間に保持された標本とからなり、スライドガラスは、標本と接する標本保持面に、屈折率が略１．３〜１．５５の標本に対して、可視域の光に対して低い反射率をもち、近赤外域の光に対して高い反射率をもつ可視光反射防止・近赤外光反射コートが施されており、カバーガラスは、空気に対して、可視域から近赤外域までの光に対して低い反射率をもつ反射防止コートが両面に施されている、狭持標本体。
【請求項１６】
オートフォーカス装置を備えた顕微鏡用の狭持標本体であり、スライドガラスと、カバーガラスと、これらの間に保持された標本とからなり、スライドガラスは、標本と接する標本保持面に、可視域から近赤外域までの光に対して４％〜１０％の反射率をもつニュートラルデンシティの金属反射コートが施されており、カバーガラスは、空気に対して、可視域から近赤外域までの光に対して低い反射率をもつ反射防止コートが両面に施されている、狭持標本体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、近赤外光を利用したアクティブ型のオートフォーカス装置を搭載した顕微鏡用の標本保持用透明部材とカバーガラスと狭持標本体に関する。
【背景技術】
【０００２】
最近、染色体やその内部に存在する遺伝子に関する研究が急激な進歩を見せ、染色体の観察や検査、遺伝子の蛍光測定装置に関して様々な装置が開発されている。この分野で用いられる検査や測光の特徴は、一般的な病理標本（組織切片）の観察と異なり、一つの検査結果を得るために多くの標本の検査を必要としたり、１００倍の対物レンズでやっと観察できるくらいに標本内の観察対象物が小さく、しかもスライドガラス上に散在しているために、観察対象物へのピント合わせに苦労したりすることなどがあげられる。
【０００３】
例えば、ＤＮＡチップの観察では、スライドガラス上に設けられた数十ないし数百のサンプルを蛍光測光する。また、染色体の変形を観察する場合は、スライドガラス上に散在する染色体を高倍率の対物レンズを用いてスライドガラス上をくまなく探さざるを得ない。
【０００４】
そこで、要求されているのが、観察の自動化（時間の短縮と疲労の軽減）のための標本への自動ピント合わせをする、いわゆるオートフォーカス（ＡＦ）装置である。
【０００５】
ＡＦ装置は、大別して、画像処理型（パッシブ型）と反射光処理型（アクティブ型）とに分けられる。
【０００６】
画像処理型（パッシブ型）は、例えば、標本の像をＣＣＤで捉えて、その像のコントラストが最も大きい位置をピントとする。画像処理でピント位置を決めるため、像があれば正確にピントを合わせることができる。しかし、その反面、精度の良いピント合わせには像の高コントラストが必須である。また、ピントの前後の像を処理して最も高いコントラスト位置を探すいわゆる対物レンズの山登り運動が必要なため、ピント合わせに時間がかかる。
【０００７】
反射光処理型（アクティブ型）は、ＡＦ装置自身がピント検出用光源をもち、この光源から発せられる検出光を標本に照射し、標本からの反射光を受光し、反射光量や反射スポットの移動などに基づいてピントを検出する。アナログ回路でピントを検出できるため、ピント検出時間が短く、例えば、ステージ上での標本の移動に対してもＡＦの追従が可能である。しかし、標本は、検出光を反射するものでなければならない。最新のＡＦ装置においては、検出光を１％程度反射するものでも機能する。また、ピントの前後近傍に観察対象物とは別の反射物体があると、この反射物体にピントを合わせてしまうこともある。
【０００８】
また、検出光には、像の観察に邪魔にならないように、観察像を作り出す光の波長とは異なる波長の光が用いられる。可視光像観察であれば、７００〜８５０ｎｍ程度の近赤外光が検出光に用いられる。また紫外光像観察であれば、可視光が検出光に用いられる。
【０００９】
画像処理型（パッシブ型）と反射光処理型（アクティブ型）のほかに、ＡＦ装置からピント合わせ用の指標を標本に投影し、その像を画像処理する複合タイプもあるが、これは実質的に画像処理型（パッシブ型）に含まれる。
【００１０】
本発明は、反射光処理型（以下、アクティブ追従型）のＡＦ装置を搭載した顕微鏡に適用される。以下、本明細書では、ＡＦ装置は、特に断らない限り、近赤外光を用いたアクティブ追従型のＡＦ装置を意味する。
【００１１】
図９は、アクティブ型ＡＦ装置のＡＦ光学系の一例を示している。ＡＦ光学系２００は、光源２０２と、コリメートレンズ２０４と、ナイフエッジ２０６と、偏光ビームスプリッター（ＰＢＳ）２０８と、収差補正レンズ２１０と、レンズ２１２と、λ／４板２１４と、ハーフミラー２１６と、対物レンズ２１８と、ナイフエッジ２２０と、レンズ２２２と、光検出器２２４とから構成されている。
【００１２】
図９に示されるＡＦ装置は、検出光をスポットとして標本に投射するもので、基本性能として１％以上の反射率をもつ物体（ガラス面や観察対象物）にＡＦが機能する場合について説明する。合焦深度に関しては、別途記述する。
【００１３】
ここで、ＡＦ装置は基本的に、反射光量をもって機能するものなので、反射率をもって機能するという表現は正しくないと指摘されるかもしれない。しかし、物体の反射率が小さい場合には、強力なパワーのレーザーを用いればよいかと言えば、そうではない。反射率の極度に小さい面では、表面の状態によって、反射率が大きく変化し、安定した反射光が得られないので、安定したＡＦが不可能である。そこで、レーザーのパワーをＡＦ装置の光学系や受光素子の性格から適当なものを選ぶとして、ＡＦが安定して可能かどうかは、物体の反射率で表現した方がよいのである。
【００１４】
アクティブ追従型ＡＦ装置を備えた顕微鏡によりプレパラート（狭持標本体）を観察する方法とその欠点について人の染色体観察を例に取り上げて述べる。
【００１５】
図１１は、低倍率の乾燥系対物レンズを備えた正立顕微鏡によりプレパラートを観察する様子を模式的に示している。
【００１６】
プレパラートは、スライドガラス２０と、カバーガラス３０と、それらの間に保持された標本４０とからなる。スライドガラス２０とカバーガラス３０は共に単体のガラス板で構成され、約１．５２の屈折率を有する。標本４０は染色体４２とグリセリン４４とを含んでいる。染色体４２はスライドガラス２０に固着され、グリセリン４４を用いて５〜２０ミクロン厚くらいに、カバーガラス３０との間に封入されている。
【００１７】
プレパラートの上方には低倍率の乾燥系対物レンズ５０が配置され、プレパラートの下方にはコンデンサーレンズ５４が配置されている。乾燥系対物レンズ５０とカバーガラス３０の間は空気で満たされている。
【００１８】
図１１において、ＡＦ動作の前、乾燥系対物レンズ５０は、そのピント位置がプレパラートから十分に離れている位置（退避位置）に配置されている。ＡＦ動作が開始されると、乾燥系対物レンズ５０が下降されるか、（図示しない）ステージによってプレパラートが上昇されて、合焦位置検出（ピントサーチ）動作を開始する。カバーガラス３０の上面３０ａはほぼ４％の反射率を有するため、ＡＦ装置は、カバーガラス３０の上面３０ａをピント面と判断し、ピントサーチ動作からＡＦ追従モード（連続的に合焦位置を追い求めるモード）に入る。
【００１９】
物質界面での反射率は、界面を挟む両側の物質の屈折率によって決まる。図１３に垂直入射における反射の様子を示す。物質ａと物質ｂの界面での反射率Ｒは、次の（１）式で表される。
【００２０】
Ｒ＝｛（ｎｂ−ｎａ）／（ｎｂ＋ｎａ）｝２・・・（１）
ここで、ｎａは物質ａの屈折率、ｎｂは物質ｂの屈折率である。
【００２１】
物質ａを空気、物質ｂをカバーガラスとすると、ｎa、＝１、ｎｂ＝１．５２であるから、反射率Ｒは（１）式より
Ｒ＝（０．５２／２．５２）２≒０．０４＝４％
となる。
【００２２】
つまり、カバーガラス３０の上面３０ａに対してＡＦが機能しているが、像は見えずＡＦの意味がない。そこで、いったんＡＦをＯＦＦし、乾燥系対物レンズ５０をカバーガラス３０の厚さ（０．１７ｍｍ）くらいカバーガラス３０に接近させて、ＡＦをＯＮする。このとき、カバーガラス３０の下面３０ｂから１％以上の反射光量があれば、カバーガラス３０の下面３０ｂに対してＡＦが機能し、焦点深度が１５ミクロン程度の１０倍の対物レンズを用いた場合、カバーガラス３０の下面３０ｂから下方約１０ミクロン以内に観察対象物があれば像が見えることになる。
【００２３】
しかし、カバーガラス３０の下面３０ｂでの反射率は（１）式にガラスの屈折率１．５とグリセリンの屈折率１．４７を代入して反射率Ｒを計算すると、
Ｒ＝（−０．０３／２．９７）２≒０＝０％
となり、カバーガラス３０の下面３０ｂに対してＡＦは動作しない。
【００２４】
従って、ＡＦ装置はピントサーチ動作を続け、次に乾燥系対物レンズ５０のピント位置はスライドガラス２０の上面２０ａに合う。ここでも、カバーガラス３０の下面３０ｂと同様に、１％以上の反射光量は発生せず、スライドガラス２０の上面２０ａに対してもＡＦは機能しない。しかし、スライドガラス２０の上面２０ａに隣接して染色体４２が検出光のスポット下に存在し、１％以上の反射光量があれば、染色体４２にピントが合う。しかし、観察対象物である染色体などは小さい上に、スライドガラス２０上に散在しているために、仮に染色体４２から１％以上の反射光量があっても、ステージ移動に伴って染色体４２が動くと、ＡＦは機能しなくなる。つまり、ＡＦ可とＡＦ不可の状態がわずかの間隔で発生し、追従型ＡＦの追従条件である「連続して反射物体があること」に反するので、実際にはＡＦは機能しない。
【００２５】
さらに乾燥系対物レンズ５０がカバーガラス３０にさらに１ｍｍ程度接近し、乾燥系対物レンズ５０のピント位置がスライドガラス２０の下面２０ｂと合致するとＡＦが機能する。しかし、染色体４２の像は見えず、観察には何も役に立たないことになる。
【００２６】
つまり、低倍率の乾燥系対物レンズを備えた正立顕微鏡では、カバーガラス３０の上面３０ａとスライドガラス２０の下面２０ｂに対してＡＦが機能するが、どちらの場合も染色体４２の像を得ることはできない。
【００２７】
図１２は、高倍率の油浸対物レンズを備えた正立顕微鏡によりプレパラートを観察する様子を模式的に示している。図１２に示されるように、油浸対物レンズ５２とカバーガラス３０の間はイマージョンオイルで満たされる。
【００２８】
油浸対物レンズ５２に対しても乾燥系対物レンズ５０の場合と同様の考察を行ない、イマージョンオイルの屈折率を１．５として計算すると、ＡＦはスライドガラス２０の下面２０ｂに対してだけ機能する結果となる。従って、染色体４２の像を得ることはできない。また、高解像の検鏡のため、スライドガラス２０の下面２０ｂとコンデンサーレンズ５４の間をイマージョンオイルで満たす場合も多い。この場合は、ＡＦはプレパラートのどの面に対しても機能しない。
【００２９】
この不具合を解消するため、特開平８−８２７４７号公報は、スライドガラス上にＡｕとＰｂの合金を１〜２０ｎｍコートして反射率を１０〜２０％とし、その上に酸化珪素膜を１〜２０ｎｍコートしたスライドガラスを提案している。
【００３０】
ここで、コーティング材料について、推測ではあるが、説明すると、金（Ａｕ）を用いているのは、金が可視域の光に対して反射率が低く６００ｎｍ以上の波長の赤外光に対して反射率が高いこと、光の吸収が他の金属に比べて少ないことによると思われる。しかし、金はガラスヘの付着や金表面での標本の展開性（いわゆるノリ）が悪いので、金と鉛の合金でスライドガラスヘの付着を良くした上で、このコートの上にガラスと同じ展開性をもつ酸化珪素（ガラスそのもの）を、一般のアルミや銀ミラーに施されているのと同じく、表面の機械的強度が弱い金と鉛の保護膜を兼ねてコートしていると考えられる。酸化珪素コートは、金属ミラーに一般に施される技術である。
【００３１】
本発明者らは、特開平８−８２７４７号公報に沿って、ガラスに金をコートし、その上にＳｉＯ２をコートしたスライドガラスについて、水との間の反射率のシミュレーションを行なった。このスライドガラスでは、４００ｎｍ〜５５０ｎｍの光に対して１％、６５０ｎｍの光に対して３％、７５０ｎｍの光に対して６％位の反射率を示し、近赤外光を用いたＡＦ装置に適合することが確認できた。また、吸収も少ないと予想できた。実際には、鉛もコートされるため反射と吸収が大きくなると予想されるが、透過明視野観察の場合、反射率と吸収率が可視域にわたりほぼ同様であれば、像の見栄えにはあまり影響がない。観察時、光量調整として用いられるＮＤ（ニュートラルデンシティ）フィルターを用いたと考えればよい。つまり、このスライドガラスは、目的に対しては、適切なものということができる。
【特許文献１】特開平８−８２７４７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００３２】
ところが、特開平８−８２７４７号公報では、近赤外で１０％〜２０％の反射率としているので、可視光の４００ｎｍで記述された反射率の1／３程度、６００ｎｍで２／３程度の反射率と考えられ、落射観察では、顕微鏡像の背景が明るくなる上に、赤色光の反射率が高いことから赤く背景が色づくことになる。また、透過観察でも光の吸収が金では波長に依存するため同様な像ができることになる。
【００３３】
ＡＦを用いた検鏡に良好なコーティングを知りながら、何故、色づきなど不具合が発生するほどまでに反射率を高めなければならないのか、その理由は、ＡＦ深度に由来すると考えられる。
【００３４】
特開平８−８２７４７号公報に記述されている実施形態は、まさに図１１に示されるものである。このときの不具合は、カバーガラス３０の上面３０ａでの反射率が４％程度あることが原因である。そこで、ＡＦ装置が機能する光量を、余裕を見て、５％以上と設定すれば、ＡＦ装置は、カバーガラス３０の上面３０ａを無視して、約６％の反射率をもつスライドガラス２０の標本保持面２０ａにピントを合わすことができる。しかし、このような設定では、合焦深度が浅く（狭く）なり、ステージの移動によって、標本保持面と対物レンズピント面の距離が変動すると、ＡＦ装置はピントの追従、つまりＡＦの追従ができなくなる。
【００３５】
図１４に概念的な合焦深度についてのグラフを示す。図９のＡＦ光学系２００において、光検出器２２４は、二つの受光部をもつ二分割光検出器であり、二つの受光部からの起電力の総和を図１４は表している。ここでは、赤外光反射率が２０％と５％のグラフとＡＦの動作限界値４％の関係を示しているが、ａｂ間が反射率２０％の合焦深度であり、ｃｄ間が反射率５％の合焦深度である。図１４から、４％ＡＦが動作するには、動作限界値の少なくても２倍、好適には４倍以上の反射率が欲しいことがわかる。
【００３６】
つまり、４％の反射率をもつカバーガラス３０の上面３０ａをＡＦが無視するためには、１６％位の反射率が必要になる。特開平８−８２７４７号公報の１０％〜２０％の意味はここにあると考えられる。
【００３７】
従って、正立顕微鏡のＡＦ装置は、挟持標本体のスライドガラス２０を赤外光反射にするだけでは、標本にピントが合わない。何故なら、乾燥系対物レンズで、カバーガラス３０が付いたプレパラートを観察する場合、スライドガラスのＩＲ反射率が低い場合はカバーガラス３０の上面３０ａによる赤外光反射をスライドガラスの反射率よりも十分に低く抑える必要がある。もちろん、スライドガラスの反射率が１％より十分高ければ、問題はない。
【００３８】
さらに、特開平８−８２７４７号公報は、赤外光反射コートによって、可視域光での反射率が高くなっていることから、水銀ランプなどの強力な光を標本に照射して、観察対象物から発生する蛍光を観察する落射蛍光観察では、もっと大きな支障が出る。この観察法では、励起フィルター／ダイクロイックミラー／吸収フィルターの組合せを用いて、観察対象物からの蛍光を観察するが、標本載置面からの反射する励起光と励起フィルターから漏れた長波長光とスライドガラスから発生する自家蛍光とが像面にフレアとなって生じる。このフレアをより少なくするために、観察照明光強度が最も高いスライドガラス２０の上面２０ａからの反射をより少なくすることが重要な対策の一つである。
【００３９】
本発明は、このような実状を考慮して成されたものであり、その目的は、観察光に悪影響を与えることなく、ＡＦ装置の検出光の不所望な面での反射が抑えられた標本体と、そのような標本体を構成することを可能にする標本体構成部材を提供することである。標本体構成部材は標本保持用透明部材とカバーガラスとを含み、標本保持用透明部材は、スライドガラス、シャーレ、ウェルプレートなどを含む。
【課題を解決するための手段】
【００４０】
本発明は、ひとつには、オートフォーカス装置を備えた顕微鏡用の標本保持用透明部材に向けられている。
【００４１】
本発明による標本保持用透明部材は、標本と接する標本保持面に、屈折率が略１．３〜１．５５の標本に対して、可視域の光に対して低い反射率をもち、近赤外域の光に対して高い反射率をもつ可視光反射防止・近赤外光反射コートが施されている。
【００４２】
本発明による別の標本保持用透明部材は、標本と接する標本保持面に、可視域から近赤外域までの光に対して４％〜１０％の反射率をもつニュートラルデンシティの金属反射コートが施されている。
【００４３】
本発明は、ひとつには、標本保持用透明部材に保持された標本に接して配置されるカバーガラスに向けられている。本発明によるカバーガラスは、空気に対して、可視域から近赤外域までの光に対して低い反射率をもつ反射防止コートが両面に施されている。
【００４４】
本発明は、ひとつには、オートフォーカス装置を備えた顕微鏡用の狭持標本体に向けられている。
【００４５】
本発明による狭持標本体は、スライドガラスと、カバーガラスと、これらの間に保持された標本とからなり、スライドガラスは、標本と接する標本保持面に、屈折率が略１．３〜１．５５の標本に対して、可視域の光に対して低い反射率をもち、近赤外域の光に対して高い反射率をもつ可視光反射防止・近赤外光反射コートが施されており、カバーガラスは、空気に対して、可視域から近赤外域までの光に対して低い反射率をもつ反射防止コートが両面に施されている。
【００４６】
本発明による別の狭持標本体は、スライドガラスと、カバーガラスと、これらの間に保持された標本とからなり、スライドガラスは、標本と接する標本保持面に、可視域から近赤外域までの光に対して４％〜１０％の反射率をもつニュートラルデンシティの金属反射コートが施されており、カバーガラスは、空気に対して、可視域から近赤外域までの光に対して低い反射率をもつ反射防止コートが両面に施されている。
【発明の効果】
【００４７】
本発明によれば、観察に悪影響を与えることなく、ＡＦ装置の検出光の不所望な面での反射が抑えられた標本体を構成することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４８】
以下、図面を参照しながら本発明の実施形態について説明する。
【００４９】
第一実施形態
図１は、本発明の第一実施形態による狭持標本体を示している。
【００５０】
図１において、狭持標本体１１０は、いわゆるプレパラートであり、スライドガラス１２０と、カバーガラス１３０と、スライドガラス１２０とカバーガラス１３０の間に保持された標本１４０とから構成されている。
【００５１】
標本１４０は、例えば、観察対象物１４２とオイル例えばグリセリンなどの封入剤１４４とからなり、略１．３〜１．５５の屈折率を有している。
【００５２】
スライドガラス１２０は、上面すなわち標本１４０と接する標本保持面１２０ａに、可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４が施されている。可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４は、略１．３〜１．５５の屈折率の標本１４０に対して、可視域の光に対して低い反射率を有し、近赤外域の光に対して高い反射率を有している。
【００５３】
可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４は例えば誘電体多層膜で構成される。誘電体多層膜は、酸化ジルコニウム（ＺｒＯ２）、酸化アルミニウム（Ａl２Ｏ３）、酸化チタン（ＴｉＯ２）、弗化マグネシウム（ＭｇＦ２）、酸化珪素（ＳｉＯ２）、酸化ランタン（Ｌａ２Ｏ３）、酸化タンタル（Ｔａ２Ｏ５）のいずれかまたはこれらの混合物で構成されてよい。これらの材料は、表面の標本展開性がガラスとほぼ同様であるため、金コートには必要な展開性向上膜を設ける必要がない。
【００５４】
誘電材料を用いた薄膜コートでは、良く知られているように、光の干渉を利用して様々な特性を持たせることができる。また、誘電材料を用いたコートは、光の吸収も少なくできる。
【００５５】
図２は、誘電体多層膜で構成された可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４の反射率特性を示している。図２には、封入剤として主に使用される水とグリセリンに対する反射率特性が示されている。また図２には、比較のため、空気に対する反射率特性が一緒に示されている。図２に示されるように、可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４は、水とグリセリンの両方に対して、可視域（４００ｎｍ〜６５０ｎｍ）の光に対する反射率は１％以下であり、近赤外域（７５０ｎｍ〜８５０ｎｍ）の光に対する反射率は８％以上である。ＡＦ装置でよく利用される７８０ｎｍの光に対する反射率は１６％以上である。また、光の吸収もほぼ０％である。
【００５６】
図１に示されるように、スライドガラス１２０はさらに、標本保持面１２０ａの反対側の下面１２０ｂに、反射防止コート１２６が施されている。反射防止コート１２６は、可視域から近赤外域までの光に対して低い反射率を有している。
【００５７】
カバーガラス１３０は、上面１３０ａと下面１３０ｂの両方に、反射防止コート１３４が施されている。反射防止コート１３４は、空気に対して、可視域から近赤外域までの光に対して低い反射率を有している。
【００５８】
反射防止コート１２６と反射防止コート１３４は、これに限らないが、例えばＭｇＦ２膜で構成されてよい。図３は、ＭｇＦ２膜で構成された反射防止コートの反射率特性を示している。図３には、水と空気とオイルに対する反射率特性が示されている。図３からわかるように、反射防止コートの反射率は空気に対する反射率が常に最も大きい。反射防止コートは、空気に対して、可視域から近赤外域まで（４００ｎｍ〜８５０ｎｍ）の光に対する反射率が２．５％以下である。
【００５９】
カバーガラス１３０は上面１３０ａと下面１３０ｂの両方に反射防止コート１３４を有しているため、実質的におもてうらがない。従って、スライドガラス１２０に保持された標本１４０の上にカバーガラス１３０を載せる際におもてうらを間違えることがない。
【００６０】
正立顕微鏡（乾燥系対物レンズ型）への適用
図１はまた、乾燥系対物レンズを備えた正立顕微鏡に対して狭持標本体１１０が適用された状態を模式的に示している。図１において、狭持標本体１１０は、正立顕微鏡の乾燥系対物レンズ１５０の下方に配置される。乾燥系対物レンズ１５０は生物系レンズでは一般に低倍率の対物レンズである。また正立顕微鏡では、カバーガラス１３０を介して標本１４０を観察するため、乾燥系対物レンズ１５０はカバーガラス１３０の厚さ（一般に０．１７ｍｍ）を考慮して設計されている。
【００６１】
以下、正立顕微鏡におけるＡＦ装置のピントサーチ動作について説明する。続く説明では、わかりやすさのため、ＡＦ装置は、対物レンズを上下動させてピントを合わせるものとする。また、ＡＦ装置は図９に示したＡＦ光学系を備えており、ＡＦ検出光は波長が７８０ｎｍの近赤外レーザー光であるとする。さらに、ＡＦ装置の基本的なＡＦ可能反射率は１％であり、ＡＦ装置のＡＦ動作開始の光量設定は２．５％に設定されていて、ＡＦ動作の安定のためそれ以下の反射光量に対してはＡＦ動作をしないものとする。また、初期の乾燥系対物レンズ１５０のピント位置はカバーガラス１３０の上面１３０ａより上方の退避位置（点Ｐ）に配置されているとする。
【００６２】
ＡＦ装置がＯＮされると、ＡＦ装置はピントサーチ動作を開始し、乾燥系対物レンズ１５０が下降される。
【００６３】
まず乾燥系対物レンズ１５０のピント位置はカバーガラス１３０の上面１３０ａに達する。カバーガラス１３０の上面１３０ａにはＭｇＦ２膜が設けられており、ＭｇＦ２膜は図３からわかるように空気に対して７８０ｎｍの光に対して１．９％程度の反射率を有している。このため、ＡＦ装置は、乾燥系対物レンズ１５０のピント位置がカバーガラス１３０の上面１３０ａに位置するとき、カバーガラス１３０の上面１３０ａをピント位置として検出することなく、乾燥系対物レンズ１５０の下降を続ける。
【００６４】
次に乾燥系対物レンズ１５０のピント位置はカバーガラス１３０の下面１３０ｂに達する。カバーガラス１３０の下面１３０ｂにもＭｇＦ２膜が設けられており、ＭｇＦ２膜は標本１４０に対する反射率がほぼ０であり、カバーガラス１３０の下面１３０ｂはほとんど無反射状態となっている。従って、ＡＦ装置は、カバーガラス１３０の下面１３０ｂもピント位置として検出することなく、乾燥系対物レンズ１５０の下降を続ける。
【００６５】
次に乾燥系対物レンズ１５０のピント位置は観察対象物１４２の表面１４２ａに達する。観察対象物１４２の表面１４２ａから２．５％以上の反射光量がある場合は、ＡＦ装置は観察対象物１４２の表面１４２ａをピント面と判断し、以後、ＡＦ追従動作を開始する。また、観察対象物１４２の表面１４２ａから２．５％以上の反射光量がない場合は、ＡＦ装置は乾燥系対物レンズ１５０の下降を続ける。
【００６６】
観察対象物１４２が、染色した後に乾燥させて封入される病理切片などの場合は、病理切片の反射率が高いため、ＡＦ装置はＡＦ追従動作に入る。しかし、観察対象物１４２が染色体などの場合は、染色体表面からの反射光はほとんど生じず、ＡＦ装置は乾燥系対物レンズ１５０の下降を続ける。
【００６７】
観察対象物１４２の表面１４２ａから２．５％以上の反射光量がない場合、次に乾燥系対物レンズ１５０のピント位置はスライドガラス１２０の上面１２０ａに達する。スライドガラス１２０の上面１２０ａには、可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４が設けられている。可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４は、標本１４０に対して７８０ｎｍの光に対して２．５％以上の反射率を有している。具体的には、可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４は、図２に示されるように、封入剤であるグリセリン１４４に対して約１６％の反射率を有している。このためスライドガラス１２０の上面１２０ａから十分な光量の反射光が生じる。ＡＦ装置は、スライドガラス１２０の上面１２０ａをピント面と判断し、以後、ＡＦ追従動作を開始する。
【００６８】
ＡＦ追従動作中、ＡＦ装置のピント位置は、ステージの移動などに伴って生じる検出光反射面すなわちスライドガラス１２０の上面１２０ａの上下動に追従する。ＡＦ装置のピント位置は、厳密には、観察対象物１４２にではなく、スライドガラス１２０の上面１２０ａに合っている。しかし、染色体などの観察対象物１４２は、厚さが１ミクロン以下であり、スライドガラス１２０に密着しており、通常は乾燥系対物レンズ１５０の焦点深度内に位置している。このため、あたかも染色体にピントが合っているかのような像が顕微鏡の結像光学系により得られる。
【００６９】
これまでの説明からわかるように、本実施形態の狭持標本体１１０によれば、正立顕微鏡におけるＡＦ装置のピントサーチ動作に対して、観察光に悪影響を与えることなく、スライドガラス１２０の上面１２０ａから十分な光量の検出光の反射光が生じる。このため、良好なＡＦ動作を可能にする。
【００７０】
これまでの説明において、近赤外域の光の波長を７５０ｎｍ〜８５０ｎｍとしているが、これは単なる例示に過ぎない。原理的には、観察光の波長と検出光の波長が異なり、目的の検出光反射面の反射率が検出光に対してだけ２．５％以上であればよい。つまり、検出光は９００ｎｍの波長の光であってもよい。また、観察光の波長が２５０ｎｍ〜３００ｎｍであれば、検出光は例えば３５０ｎｍの波長の光であってもよい。また、反射率の２．５％も単なる例示であり、検出光反射面の反射率の適切な値は、ＡＦ装置の感度により決まるもので、２．５％に限定されるものではない。つまり、ＡＦ装置のＡＦ可能反射率がｘ％であれば、検出光に対するスライドガラスのＩＲ反射率を（２〜４）ｘ％以上にすればよい。
【００７１】
ここで、標本１４０が厚い場合や、観察対象物１４２がスライドガラス１２０に密着しておらず、スライドガラスの上面１２０ａから離れている場合における、ＡＦについて補足する。
【００７２】
図９では、ＡＦ検出光の集光位置と対物レンズ２１８のピント位置が一致している。図１０では、ＡＦ検出光の集光位置はスライドガラス１２０の上面１２０ａにあり、対物レンズ２１８のピント位置はスライドガラス１２０に張り付いた標本１４０の中程にある。
【００７３】
顕微鏡では、倍率の異なる５倍〜１００倍の対物レンズが切り換えて使用される。倍率の異なる対物レンズは、検出光に対してそれぞれ異なる色収差をもつ。ＡＦ装置のＡＦ光学系２００は色収差補正のために収差補正レンズ２１０を備えており、使用する対物レンズに応じて収差補正レンズ２１０を光軸に沿って移動させて、対物レンズ２１８のピント位置と検出光の集光位置を一致させている。
【００７４】
この機能を利用することによって、図１０に示されるような調整も可能である。つまり、収差補正レンズ２１０の位置を調整することによって検出光の集光位置を対物レンズ２１８のピント位置から意図的に一定距離ずらしておき、検出光の集光位置を検出光反射面にＡＦ追従させる。これにより、対物レンズ２１８のピント位置は、検出光反射面から一定距離離れた位置を追従する。その結果、検出光反射面から一定の距離離れた位置にある観察対象物を観察できる。
【００７５】
対物レンズ２１８のピント位置と検出光の集光位置の乖離量ｄは、次の（２）式により、概算で、収差補正レンズ２１０の移動量Ｄと対物レンズの倍率Ｍとから求まる。
【００７６】
Ｄ＝ｄ×Ｍ２・・・（２）
例えば、５０倍の対物レンズ（焦点深度２ミクロン程度）において２ミクロンの乖離量を得るためには、Ｄ＝２×１０−３×５０２＝５（ｍｍ）から、概算で、収差補正レンズ２１０を５ｍｍ移動させればよい。
【００７７】
一般的には、対物レンズの近赤外光の収差などを考えて、対物レンズの焦点深度の３倍ないし５倍くらいの量に対して、このような機能が使える。
【００７８】
次に、蛍光観察について述べる。蛍光観察には、水銀ランプやキセノンランプを用いる落射照明が用いられ、ＡＦ検出光が通過する光路上にダイクロイックミラーや吸収フィルターが配置される。これらのミラーやフィルターは一般に可視光のある波長より短い波長の光を反射または吸収する性質を有し、可視光より長い波長の光は透過する。従って、検出光には７８０ｎｍの波長の光が使用されるので、ＡＦの機能には支障をきたさない。もっとも、ミラーとフィルターの中には、ある程度の反射率や吸収効果があり、検出光が減衰する場合があるが、このときは、検出光の出力をあげることで対応できる。
【００７９】
正立顕微鏡（油浸対物レンズ型）への適用
図４は、油浸対物レンズを備えた正立顕微鏡に対して適用された本実施形態の狭持標本体を模式的に示している。図４に示されるように、狭持標本体１１０は、正立顕微鏡の油浸対物レンズ１５２の下方に配置される。油浸対物レンズ１５２も、乾燥系対物レンズ１５０と同様に、カバーガラス１３０の厚さ（一般に０．１７ｍｍ）を考慮して設計されている。
【００８０】
高解像力を得るため、油浸対物レンズ１５２とカバーガラス１３０の間にはイマージョンオイル１５３が充填されている。同様に、スライドガラス１２０とコンデンサーレンズ１５４の間にはイマージョンオイル１５５が充填されている。イマージョンオイルの屈折率はほぼ１．５であり、カバーガラス１３０とイマージョンオイル１５３の界面での反射率は（１）式からほぼ０である。これは、図３に示されるＭｇＦ２膜で構成された反射防止コートのオイルに対する反射率特性からもわかる。スライドガラス１２０とイマージョンオイル１５５の界面についても同様のことが言える。
【００８１】
油浸対物レンズを備えた正立顕微鏡におけるＡＦ装置のピントサーチ動作は、乾燥系対物レンズを備えた正立顕微鏡とまったく同様である。
【００８２】
油浸対物レンズを備えた正立顕微鏡では、カバーガラス１３０の上面１３０ａでの反射率はほぼ０であるため、カバーガラス１３０の上面１３０ａからの反射光はほとんど生じない。従って、乾燥系対物レンズを備えた正立顕微鏡よりもさらに良好にＡＦ動作を行なえる。
【００８３】
また油浸対物レンズを備えた正立顕微鏡では、カバーガラス１３０に反射防止コート１３４が設けられていない場合でも、カバーガラス１３０とイマージョンオイル１５３の界面での反射率は０に近い値である。このため、油浸対物レンズを備えた正立顕微鏡への狭持標本体１１０の適用においては、カバーガラス１３０は反射防止コート１３４が施されていなくてもよい。
【００８４】
正立顕微鏡では、対物レンズが乾燥系対物レンズであるか油浸対物レンズであるかを問わず、スライドガラス１２０の下面１２０ｂの反射防止コート１２６はＡＦ動作に対してなんら機能していない。このため、正立顕微鏡への狭持標本体１１０の適用においては、スライドガラス１２０は下面１２０ｂに反射防止コート１２６が施されていなくてもよい。しかし、片面だけのコートは、コート面がどちらかわかりづらく、両面にコートした方が良い。
【００８５】
倒立顕微鏡への適用
図５は、倒立顕微鏡に対して本実施形態の狭持標本体を模式的に示している。図５に示されるように、狭持標本体１１０は、倒立顕微鏡の対物レンズ１５６の上方に配置される。倒立顕微鏡では、標本１４０はスライドガラス１２０を介して観察されるため、対物レンズ１５６はスライドガラス１２０の厚さ（一般に１ｍｍ）を考慮して設計されている。
【００８６】
以下、倒立顕微鏡におけるＡＦ装置のピントサーチ動作について説明する。続く説明では、ＡＦ装置は、正立顕微鏡の場合と同様に、対物レンズを上下動させてピントを合わせるものとする。またＡＦ装置の設定は正立顕微鏡の場合と同様とする。初期の対物レンズ１５６のピント位置はスライドガラス１２０の下面１２０ｂより下方の退避位置に配置されているとする。
【００８７】
ＡＦ装置がＯＮされると、ＡＦ装置はピントサーチ動作を開始し、対物レンズ１５６が上昇される。
【００８８】
まず対物レンズ１５６のピント位置はスライドガラス１２０の下面１２０ｂに達する。スライドガラス１２０の下面１２０ｂには反射防止コート１２６が設けられている。このため、ＡＦ装置は、対物レンズ１５６のピント位置がカバーガラス１３０の上面１３０ａに位置するとき、カバーガラス１３０の上面１３０ａをピント位置として検出することなく、対物レンズ１５６の上昇を続ける。
【００８９】
次に対物レンズ１５６のピント位置はスライドガラス１２０の上面１２０ａに達する。スライドガラス１２０の上面１２０ａには、可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４が設けられている。このため、スライドガラス１２０の上面１２０ａから十分な光量の反射光が生じる。ＡＦ装置は、スライドガラス１２０の上面１２０ａをピント面と判断し、以後、ＡＦ追従動作を開始する。
【００９０】
本実施形態の狭持標本体１１０によれば、倒立顕微鏡におけるＡＦ装置のピントサーチ動作に対しても、観察光に悪影響を与えることなく、スライドガラス１２０の上面１２０ａから十分な光量の検出光の反射光が生じる。このため、良好なＡＦ動作を可能にする。
【００９１】
ピントサーチ動作において、あらかじめ対物レンズ１５６のピント位置が観察対象物１４２の近くに配置されている場合や、最初のピント位置は無視して二番目のピント位置に対してＡＦがかかるようにソフト的に設定されている場合には、スライドガラス１２０の下面１２０ｂには反射防止コート１２６が施されていないくてもよい。
【００９２】
上述したピントサーチ動作では、カバーガラス１３０の反射防止コート１３４はなんら機能していない。従って、カバーガラス１３０は反射防止コート１３４が施されていなくても、不都合はない。しかし、以下に述べる理由から、カバーガラス１３０は反射防止コート１３４が施されている方が好ましい。
【００９３】
カバーガラス１３０は一般に厚さが０．１７ｍｍと薄いため、特にあらかじめ対物レンズ１５６のピント位置が観察対象物１４２の近くに配置されている場合、対物レンズ１５６のピント位置がカバーガラス１３０よりも上方に位置する状態でＡＦがＯＮされることもありうる。このとき、カバーガラス１３０に反射防止コート１３４が施されていないと、カバーガラス１３０の上面１３０ａに対してＡＦがかかる可能性がある。しかし、カバーガラス１３０に反射防止コート１３４が施されていれば、このような不所望な動作が生じることが防止される。
【００９４】
また、倒立顕微鏡による観察においては、狭持標本体１１０は通常はカバーガラス１３０を上にして配置されるが、カバーガラス１３０を下にして配置されることもある。この場合のＡＦ動作は、上下が逆になる点を除けば、正立顕微鏡におけるＡＦ動作とまったく同じになる。カバーガラス１３０に反射防止コート１３４が施されていれば、このような観察の仕方に対しても対応可能である。
【００９５】
これまで、スライドガラス１２０とカバーガラス１３０の間に標本１４０を挟み込んで固定した狭持標本体１１０について述べたが、倒立顕微鏡では、スライドガラスの上に生きた観察対象物を載せ、スライドガラス越しに下方から観察する場合がある。このような検鏡に対しては、カバーガラス１３０は用いずに、スライドガラス１２０の上に生きた観察対象物を直接載せればよい。
【００９６】
第二実施形態
本実施形態は、第一実施形態のスライドガラス１２０の上面に設けられる可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４の代替案に向けられている。本実施形態は、スライドガラスの上面に設けられる反射コートの材料が第一実施形態と異なるだけで、構造的には同じであるので、以下の説明では第一実施形態で使用した図面を参照されたい。
【００９７】
本実施形態のスライドガラス１２０は、上面すなわち標本１４０と接する標本保持面１２０ａに、第一実施形態の可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４に代えて、ニュートラルデンシティの金属反射コートが施されている。そのほかの構成は、第一実施形態とまったく同様である。
【００９８】
金属の薄膜は、誘電体のような薄膜での干渉という現象はなく、金属そのものの光学的性質を有する。特開平８−８２７４７号公報に開示されているスライドガラスでは、反射コートの材料に金が使用されている。金は、６００ｎｍから４００ｎｍに向かって、ほぼ直線的に半分位の反射率となり、可視光に対して反射率が低く、赤外光に対して反射率が高いと言う要求には合っている。しかし、観察像に色づきを生じさせてしまう。
【００９９】
これに対して、ニュートラルデンシティの金属反射コートは、可視域から近赤外域まで（４００ｎｍ〜８５０ｎｍ）の光に対してほぼ一定の反射率、例えば約１０％の反射率を有している。ニュートラルデンシティの金属反射コートはまた、光の吸収が波長によって大きく変化しない。従って、観察像に色づきを生じさせることはない。
【０１００】
ニュートラルデンシティの金属反射コートは、例えば、クロム（Ｃｒ）、ニッケル（Ｎｉ）、チタン（Ｔｉ）、銀（Ａｇ）のいずれかの薄膜で構成されてよい。もちろん、アルミや銀など、機械的な性質が弱く酸化が進む材料には、酸化マグネシウムや酸化珪素などの保護コートが施されてもよい。
【０１０１】
本実施形態のスライドガラス１２０は、可視域の光に対して４％を超える反射率を有しているので、蛍光観察には不適ではあるが、一般の明視野透過観察では像に色が付くことがなく、ＡＦ用の安価なスライドガラスが提供できる。
【０１０２】
第三実施形態
本実施形態は、倒立顕微鏡に適用される細胞培養器に向けられている。
【０１０３】
倒立顕微鏡による検鏡では、底面の少なくとも一部が透明な容器（細胞培養器）内で生きた細胞を培養し、細胞培養器を倒立顕微鏡のステージに載せ、細胞培養器内の細胞を下方から観察することも多い。
【０１０４】
図６は、本発明の第三実施形態による細胞培養器のひとつであるシャーレの断面を示している。また図７は、図６に示されたシャーレの分解斜視図である。
【０１０５】
シャーレ１６０は下部基板１６２と円筒体１６８とから構成される。下部基板１６２と円筒体１６８は接着によって固定されている。円筒体１６８は例えばガラスまたは樹脂または金属製のリングからなる。下部基板１６２はガラス板で、上面に可視光反射防止・近赤外光反射コート１６４が施され、下面に反射防止コート１６６が施されている。可視光反射防止・近赤外光反射コート１６４の構成は第一実施形態の可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４と同様である。反射防止コート１６６の構成は第一実施形態の反射防止コート１２６と同様である。
【０１０６】
本実施形態のシャーレ１６０に対するＡＦ動作は、第一実施形態の狭持標本体を倒立顕微鏡へ適用した場合とまったく同様である。
【０１０７】
本実施形態のシャーレ１６０によれば、倒立顕微鏡におけるＡＦ装置のピントサーチ動作に対しても、観察光に悪影響を与えることなく、シャーレ１６０の凹部底面すなわち下部基板１６２の上面から十分な光量の検出光の反射光が生じる。このため、良好なＡＦ動作を可能にする。
【０１０８】
本実施形態のシャーレ１６０は、下部基板１６２と円筒体１６８とを接合した構造であるが、通常のシャーレの内側底面に近赤外光反射コートが施された構成であってもよい。しかし、通常のシャーレの底はガラスの面精度が悪いので、本実施形態のように下部基板１６２と円筒体１６８とを接合した構造の方が好適である。
【０１０９】
図８は、本発明の第三実施形態による別の細胞培養器であるウェルプレートの分解斜視図である。
【０１１０】
ウェルプレート１８０は下部基板１８２と上部基板１８８とから構成される。下部基板１８２と上部基板１８８は接着によって固定されている。上部基板１８８は例えばガラスまたは樹脂または金属の板で構成され、ウェルを規定する複数の貫通穴が形成されている。下部基板１８２はガラス板で、上面に可視光反射防止・近赤外光反射コート１８４が施され、下面に反射防止コート１８６が施されている。可視光反射防止・近赤外光反射コート１８４の構成は第一実施形態の可視光反射防止・近赤外光反射コート１２４と同様である。反射防止コート１８６の構成は第一実施形態の反射防止コート１２６と同様である。
【０１１１】
本実施形態のウェルプレート１８０に対するＡＦ動作は、シャーレ１６０の場合と同様、すなわち、第一実施形態の狭持標本体を倒立顕微鏡へ適用した場合とまったく同様である。
【０１１２】
本実施形態のウェルプレート１８０によれば、倒立顕微鏡におけるＡＦ装置のピントサーチ動作に対しても、観察光に悪影響を与えることなく、ウェルプレート１８０のウェル底面すなわち下部基板１８２の上面から十分な光量の検出光の反射光が生じる。このため、良好なＡＦ動作を可能にする。
【図面の簡単な説明】
【０１１３】
【図１】本発明の第一実施形態による狭持標本体が乾燥系対物レンズを備えた正立顕微鏡に対して適用された状態を模式的に示している。
【図２】誘電体多層膜で構成された可視光反射防止・近赤外光反射コートの反射率特性を示している。
【図３】ＭｇＦ２膜で構成された反射防止コートの反射率特性を示している。
【図４】油浸対物レンズを備えた正立顕微鏡に対して適用された第一実施形態の狭持標本体を模式的に示している。
【図５】倒立顕微鏡に対して本実施形態の狭持標本体を模式的に示している。
【図６】本発明の第三実施形態による細胞培養器のひとつであるシャーレの断面を示している。
【図７】図６に示されたシャーレの分解斜視図である。
【図８】本発明の第三実施形態による別の細胞培養器であるウェルプレートの分解斜視図である。
【図９】アクティブ型ＡＦ装置のＡＦ光学系の一例を示している。
【図１０】図９のＡＦ光学系において、ＡＦ検出光の集光位置と対物レンズのピント位置とがずれている状態を示している。
【図１１】低倍率の乾燥系対物レンズを備えた正立顕微鏡によりプレパラートを観察する様子を模式的に示している。
【図１２】高倍率の油浸対物レンズを備えた正立顕微鏡によりプレパラートを観察する様子を模式的に示している。
【図１３】垂直入射における反射の様子を示している。
【図１４】概念的な合焦深度についてのグラフを示している。
【符号の説明】
【０１１４】
１１０…狭持標本体、１２０…スライドガラス、１２０ａ…上面、１２０ｂ…下面、１２４…可視光反射防止・近赤外光反射コート、１２６…反射防止コート、１３０…カバーガラス、１３０ａ…上面、１３０ｂ…下面、１３４…反射防止コート、１４０…標本、１４２…観察対象物、１４２ａ…表面、１４４…封入剤、１５０…乾燥系対物レンズ、１５２…油浸対物レンズ、１５３…イマージョンオイル、１５４…コンデンサーレンズ、１５５…イマージョンオイル、１５６…対物レンズ、１６０…シャーレ、１６２…下部基板、１６４…可視光反射防止・近赤外光反射コート、１６６…反射防止コート、１６８…円筒体、１８０…ウェルプレート、１８２…下部基板、１８４…可視光反射防止・近赤外光反射コート、１８６…反射防止コート、１８８…上部基板、２００…ＡＦ光学系、２０２…光源、２０４…コリメートレンズ、２０６…ナイフエッジ、２０８…偏光ビームスプリッター、２１０…収差補正レンズ、２１２…レンズ、２１４…λ／４板、２１６…ハーフミラー、２１８…対物レンズ、２２０…ナイフエッジ、２２２…レンズ、２２４…光検出器。
【図１】
2006047572.tif 000003
【図２】
2006047572.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
2006047572.tif 000012
【図１１】
2006047572.tif 000013
【図１２】
2006047572.tif 000014
【図１３】
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【図１４】
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