(57)【要約】【課題】  光ディスクの記録再生特性を阻害することなく、瞬時に迅速かつ円滑にディスク判別を行い得る光ディスク装置を提供する。【解決手段】  ２つのデータ記録面を有する光ディスクであって、波長650nmのレーザ光を用いる記憶層には、クランプ領域とプログラム領域の間にミラー領域が配置されている。一方、波長405nmのレーザ光を用いるデータ記録面には、ミラー領域の一部にナノ領域が配置されている。ここで、ナノ領域には、面内方向ピッチ２５０nm、深さ１７０nmの凹凸構造が形成されている。この凹凸構造を有する場合の反射率は、平面構造の場合の反射率に対して、大きく低下する。よって、ミラー領域に対応する位置とナノ領域に対応する位置に、それぞれ波長405nmのレーザ光を照射し、そのときの反射率に基づいて、装着されたディスクの各記憶層を判別する。【選択図】 図１
2006286072.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも２つのデータ記録面を有し、前記２つのデータ記録面の少なくとも１つのデータ記録面において、記録および／もしくは再生用レーザ光の波長よりも小さいピッチを有する凸凹構造および、該凸凹構造上に形成された反射層とからなる非記録領域を備える
光ディスクに対し、データを記録および／もしくは再生する光ディスク装置であって、
前記非記録領域にレーザ光を出射可能な光ピックアップと、
前記非記録領域に前記光ピックアップを位置づける手段と、
前記光ピックアップから前記非記録領域にレーザ光を照射し、当該非記録領域からの反射光に基づいて、反射率を検出する反射率検出手段とを有する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
さらに、
前記反射率検出手段の結果に基づいて、当該ディスクのデータ記録面を判別するデータ記録面判別手段とを有する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
さらに、
前記反射率検出手段の結果に基づいて、当該ディスクの種別を判別するディスク判別手段とを有する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
前記反射率検出手段の結果に基づいて、前記光ピックアップから出射するレーザ光の波長を設定する、
ことを特徴とする請求項１ないし３の何れかに記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に関するものであり、特に、ディスク種別を判別する際に用いて好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、CD（Compact Disc）やDVD（Digital Versatile Disc）等、さまざまな光ディスクが開発され商品化されている。これらの光ディスクは、何れもディスク径が同じであるものの、使用されるレーザ光が異なっており、このため、互換記録再生を行う場合には、対応する数種の波長のレーザ光を出射可能な互換型光ピックアップが光ディスク装置に搭載される。
【０００３】
しかし、短波長レーザを収光し、より微細なスポット径を形成すると、スポット径内のエネルギー密度が高くなり、よって、高密度用のレーザパワーにて長波長対応ディスクを再生すると、特に記録型のディスクでデータを消失する虞れがあった。
【０００４】
かかる光ディスク装置においては、装着された光ディスクの種別を判別し、対応する波長のレーザ光を記録／再生用レーザ光として選択設定する手段が必要となる。ここで、装着された光ディスクの種別判定は、たとえば、予め光ディスクの管理領域に記録されているディスク種別情報を再生して行うことができる。
【０００５】
しかし、この場合には、まず管理領域を読むためのレーザ光を選択設定しなければならず、このとき、選択設定したレーザ光が装着されたディスクに対応したものでなければ、再度、レーザ光を切り替えて読み取り動作を行わなければならない。最初に設定したレーザ波長がディスクに対応していない場合、トラッキングがうまくかけられず、全く情報が読み出せない、または、読み出せても、先の読み取り動作は無駄なものとなってしまい、ディスク判別処理に長時間を要することとなる。
【０００６】
かかる判別手法の他、装着された光ディスクの反射率を検知し、それをもとに当該ディスクの種別を判定する手法が知られている。しかしこの場合、ディスク判別を可能とするために低い反射率の材料を反射層材料として用いると再生信号のＳＮが悪くなるとの問題が生じ、逆に、記録再生に好適な高い反射率を持った材料を反射層材料として用いると、他のディスクとの間で反射率の差を持たせ難くなり、ディスク判別を円滑に行えなくなる。
【０００７】
この他、以下に示す特許文献１には、複数の情報面を有する光ディスクに対して、情報面の深さを検出して、ディスクの種類を判別する技術が記載されている。この技術は、レーザ光の反射光の光量を示す光量信号を検出し、この光量信号の波形の対称性に基づいて、装着された光ディスクの種類を判別するものである。
【特許文献１】特開２００４−１１１０２８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は、かかる方式に代わる新たなディスク判別方式を提案するものであり、光ディスクの記録再生特性を阻害することなく、瞬時にディスクや記録再生に用いるレーザ光の判別を行い得る光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記課題に鑑み、本発明はそれぞれ以下の特徴を有する。
【００１０】
請求項１の発明は、少なくとも２つのデータ記録面を有し、前記２つのデータ記録面の少なくとも１つのデータ記録面において、記録および／もしくは再生用レーザ光の波長よりも小さいピッチを有する凸凹構造および、該凸凹構造上に形成された反射層とからなる非記録領域を備える光ディスクに対し、データを記録および／もしくは再生する光ディスク装置であって、前記非記録領域にレーザ光を出射可能な光ピックアップと、前記非記録領域に前記光ピックアップを位置づける手段と、前記光ピックアップから前記非記録領域にレーザ光を照射し、当該非記録領域からの反射光に基づいて、反射率を検出する反射率検出手段とを有することを特徴とする。
【００１１】
請求項２の発明は、請求項１に記載の光ディスク装置であって、さらに、前記反射率検出手段の結果に基づいて、当該ディスクのデータ記録面を判別するデータ記録面判別手段とを有する、
前記ディスク種別を判別する手段は、前記２つのデータ記録面のディスク判別領域にレーザ光を照射して反射率を検出し、検出したそれぞれの反射率を比較して当該ディスクの種別を判別する、
ことを特徴とする。
【００１２】
請求項３の発明は、請求項１に記載の光ディスク装置であって、さらに、前記反射率検出手段の結果に基づいて、当該ディスクの種別を判別するディスク判別手段とを有することを特徴とする。
【００１３】
請求項４の発明は、請求項１ないし３の何れかに記載の光ディスク装置であって、前記反射率検出手段の結果に基づいて、前記光ピックアップから出射するレーザ光の波長を設定することを特徴とする。
【００１４】
請求項１ないし４の発明によれば、少なくとも２つのデータ記録面を有し、前記２つのデータ記録面の少なくとも１つのデータ記録面において、記録および／もしくは再生用レーザ光の波長よりも小さいピッチを有する凸凹構造および、該凸凹構造上に形成された反射層とからなる非記録領域を備える光ディスクに対し、データを記録および／もしくは再生する光ディスク装置に対し、波長の異なるレーザ光を照射することなく、非記録領域に形成された上記凸凹構造をもってディスクの種別の判定、ならびに使用するレーザ光の設定を円滑に行うことができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、光ディスクの記録再生特性を阻害することなく、瞬時に、ディスクの種別や、記録および／もしくは再生する際に使用される波長の異なるレーザ光に対応したデータ記録面の識別を行い得る光ディスク装置を提供することができる。
【００１６】
さらに、瞬時にディスクや記録再生に用いるレーザ光の判別ができることにより、レーザ光の設定やディスク情報の読出しの手順が短時間で終了し、よって、ユーザの待ち時間を短縮し、利便性の向上を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
本発明の実施の形態について、図を参照しながら以下に説明する。
【００１８】
なお、請求項における「非記録領域」は、以下の実施形態では「判別領域」として示され、データが記録できない領域である。また、請求項における「データを記録および／もしくは再生する領域」は、以下の実施形態では「プログラム領域」として示されている。
【００１９】
なお、本実施の形態では、記録／再生用のレーザ光として、波長405nmのレーザ光と波長650nmのレーザ光が用いられる。
【００２０】
まず、図１に実施の形態に係る２層ディスクのエリアフォーマットを示す。なお、２層ディスクの層構造は、従来の反射型の２層ディスクと同様の構造となっている。
【００２１】
同図（ａ）は、記録／再生用のレーザ光として波長405nm等の青色レーザ光が用いられる第１のデータ記録面と、記録／再生用のレーザ光として波長650nm等の赤色レーザ光が用いられる第２のデータ記録面からなる光ディスク１００（以下、２層ディスクという）のエリアフォーマットを示している。
【００２２】
比較のために、記録／再生用のレーザ光として波長650nmのレーザ光が用いられる１つのデータ記録面からなる光ディスク２００（以下、「１層ディスク」という）のエリアフォーマットを同図（ｂ）に示す。
【００２３】
同図（ｂ）を参照して、１層ディスク２００は、内周側から順に、クランプ領域２０１、ミラー領域２０２、プログラム領域２０３に区分されている。クランプ領域は２０１、光ディスク装置内のクランパーによってクランプされる領域である。ミラー領域２０２は、反射層によって平坦なミラー面が形成されている領域である。プログラム領域２０３は、リードイン領域、管理領域、データ領域、リードアウト領域等、データの記録／再生が行われる領域である。
【００２４】
同図（ａ）を参照して、２層ディスク１００では、１層ディスクのミラー領域２０２に相当する領域は、通常のミラー構造からなる２つのデータ記録面で形成された領域（以下、通常ミラー領域という）１０２ａと、２つのデータ記録面のそれぞれに対応するデータ記録面で形成された領域（以下、判別領域という）１０２ｂとから形成されている。
【００２５】
具体的には、波長650nmの記録／再生用のレーザ光を用いるデータ記録面に対応して、平坦な基板上に反射層によってミラー面を形成したミラー構造面が形成され、波長405nmの記録／再生用のレーザ光を用いるデータ記録面に対応して、基板上に記録／再生用レーザ光の波長よりも小さいピッチにて凹凸構造が形成され、さらに、この凹凸構造上に反射層が形成されたナノ構造面が形成されている。
【００２６】
プログラム領域１０３は、上述したように２つのデータ記録面からなり、リードイン領域、管理領域、データ領域、リードアウト領域等、データの記録／再生が行われる領域である。
【００２７】
ここで、上記ナノ構造について説明する。便宜上、以下では、単層ディスクの形態でもって説明するが、２層ディスクの場合には、２つのデータ記録面の各々を、単層ディスクのデータ記録面として読み替えることができ、最終的には、２枚の基板を貼り合わせる等の方法により、２層ディスクを形成することができる。
【００２８】
図２は、基板上に形成された凹凸構造の二次電子写真像を示すものである。同図（ａ）は上面側から撮像したときの写真像、同図（ｂ）は斜め上面側から撮像したときの写真像である。なお、同図の写真像は、凹凸構造上にＣｏ50Ａｌ50at.％の合金膜をスパッタに
よって２０nm形成した後、電子写真撮像のためにＰｔ−Ｐｄを１０Å蒸着した状態で撮像を行ったときのものである。
【００２９】
同図に示すように、かかる基板上には、縦横均等に一定ピッチにて円柱状の突起が並ぶようにして、凹凸構造が形成されている。この写真像における凹凸構造のピッチ（隣り合う円柱状突起間の距離）は、縦横ともに２５０nmであり、円柱状突起の高さは、１７０nmとなっている。
【００３０】
かかる基板は、以下のようにして形成することができる。
【００３１】
まず、シリコン原盤にスピンコートによりレジストを塗布する。ここで用いられるレジストは電子ビーム対応のものである。その後、ＥＢ描画（電子ビームカッティング）にて、上記ピッチの凹凸構造と、プログラム領域のピット、グルーブ等を形成する。この描画後、現像処理を行い、ＲＩＥ加工を行う。さらに、酸素プラズマアッシングを行って、残存するレジストを除去する。これにより、シリコン原盤上の判別領域に凹凸構造が形成される（Ｓｉ原基）。
【００３２】
次に、このＳｉ原基に対し、Ｎｉスパッタを行い、さらに、電解めっきによって、Ｎｉを堆積する。そして、堆積したＮｉ層をＳｉ原盤から剥離して、スタンパを作製する。このスタンパを用いて、射出成形により基板を作製する。これにより、凹凸構造とピット、グルーブ等が転写された基板が形成される。
【００３３】
なお、基板材料としては、ポリカーボネートやポリオレフィンといった透光性材料を用いることができる。基板材料は、これ以外に、透光性の生分解性材料（ポリ乳酸を用いたものが好適）を用いることもできる。こうすると、廃棄時における環境負荷等を小さくすることができる。
【００３４】
図３は、かかる凹凸構造上に反射層を形成したときの波長−反射率特性の測定結果を示すものである。
【００３５】
この測定は、上記のようにして生成した基板上に、Ｃｏ50Ａｌ50at.%の合金膜（反射層
）を、スパッタによって２０nm形成して行った。ここでは、基板材料として、ポリカーボネートを用いた。なお、反射層の形成は、以下のようにして行った。
【００３６】
真空チャンバで５×１０−５Pa以上まで真空引きを行ったのち、Arガスを導入し、０．６Paの雰囲気中でスパッタを行った。チャンバ内には、CoターゲットとAlターゲットを設置し、同時にそれぞれに電力を投入することにより合金化するCo-スパッタ法を用いてＣ
ｏ50Ａｌ50at.%の合金膜（反射膜）を製膜した。尚、基板１０は、反射膜を均一に製膜するために、放電中に、４０rpmで自公転させた。
【００３７】
このようにして基板上に反射層を形成した後、波長を変えながら反射率の測定を行った。
【００３８】
図３（ａ）は、上記の如く凹凸構造のピッチ（隣り合う円柱状突起間の距離）を縦横とも２５０nmとし、その高さを１７０nmとしたときの測定結果（実線）である。同図には、比較例として、反射層形成面が平坦なガラス基板上にＣｏ50Ａｌ50at.%の合金膜をスパッタによって２０nm形成した場合の反射率の測定結果（点線）を重ねて示してある。
【００３９】
同図を参照すると、基板上に上記のような凹凸構造を形成した場合に比べ、反射率が３５〜４０％程度低下することがわかる。すなわち、反射率は、平坦なガラス基板上にＣｏ−Ａｌ膜を形成した場合の反射率に対して２０％程度になる。このことから、凹凸構造を形成すると、凹凸構造を形成しない鏡面部分との間で大きな反射率差を発現させることができることが分かる。
【００４０】
また、同図から、凹凸構造を形成した場合の反射率特性は、波長405nm辺りにピークを有していることが分かる。一方、反射層が平坦なＣｏ−Ａｌ膜である場合には、波長が長くなるにつれて反射率が大きくなっている。
【００４１】
かかる特性上の相違を利用することにより、図１に示すミラー構造面とナノ構造面を光ディスク装置側で区別することができる。すなわち、ディスクの通常ミラー領域１０２ａと判別領域に対応する位置に波長405nmのレーザ光を照射し、さらに、このときの反射率の相違を検出することにより、そのデータ記録面がミラー構造面とナノ構造面の何れであるかを判別することができる。
【００４２】
具体的には、波長405nmのレーザ光を通常ミラー領域１０２ａに照射したときの反射率R1と、判別領域１０２ｂに照射したときの反射率R2を比較し、これらがR1＞R2の関係にあれば、その判別領域１０２ｂは、その位置に凹凸構造が形成されたナノ構造面であるとし、R1≦R2であれば、その判別領域１０２ｂは、その位置に凹凸構造が形成されていないミラー構造面であるとする。
【００４３】
ナノ構造が存在しない場合は、同じ基板材料上に同じ材質の反射材が構成されるため、R1=R2となる。本実施例では、説明を単純化するために上記のR1>R2としたが、実際に光ドライブ等で利用される場合には、ディスクの固体ばらつきや検出誤差を考慮し、R1*0.8>R2等のように、R2と一定数を乗じたR1とを比較するようにしてもよい。
【００４４】
なお、上記では、ナノ構造面を有す単体基板ディスクの形成について説明したが、上記のナノ構造面を有する２層ディスクは、従来の２層ディスクの形成と同様にして、ナノ構造面を有す単体基板を張り合わせて形成することができる。
【００４５】
図４に、光ディスク装置の構成例を示す。
【００４６】
図において、１はCPU（Central Processing Unit）、２はCPU１からの指令に応じてピックアップ３を駆動するレーザ駆動回路、３は波長405nmのレーザ光と波長650nmのレーザ光を出射可能な光ピックアップ、４は光ピックアップ３内に配された光検出器３ｂからの信号を演算ないし増幅して各種信号を対応する回路に出力する再生信号増幅回路、５は再生信号増幅回路４から供給されるフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号および同期信号と、CPU１からのアクセス指令をもとに、各種サーボ信号を生成し、これらをサーボ機構６およびスピンドルモータ７に供給するサーボ回路、６はサーボ回路５から供給されるフォーカスサーボ信号およびトラッキングサーボ信号に応じて光ピックアップ３に配された対物レンズを駆動するとともに、アクセスサーボ信号に応じて光ピックアップ３をディスク径方向に駆動するサーボ機構、７はサーボ回路５から供給されるモータサーボ信号に応じてディスクを所定の速度にて回転駆動するスピンドルモータである。
【００４７】
図５ないし図７に、ディスク判別時の処理フローチャートを示す。
【００４８】
光ディスク装置にディスクが装着されると（S100）、まずS102にて、光ピックアップ３がディスク上の通常のミラー領域１０２ａに対応する位置に移動される。次いで、S104にて、光ピックアップ３から波長405nmのレーザ光が出射されるとともにフォーカスサーボがONされる。しかる後、S106にて、再生信号増幅回路４から供給される再生RF信号の振幅値をもとに、通常のミラー領域１０２ａに対応する位置における反射率RtがCPU１にて算出される。
【００４９】
しかして、波長405nmのレーザ光が出射したときの反射率Rtが算出されると、S108にて、反射率Rtと閾値RThの大小関係が判定される。ここで、閾値RThは、例えば、図８に示すような値である。
【００５０】
S108にて、Rt≧RThであれば（S108Yes）、S110にて、装着されたディスクは１層ディスクであると判断する。以下、S110からS124の処理は、１層ディスクが波長650nmもしくは、405nmのどちらのレーザ光にて再生もしくは記録可能なディスクであるか、判断する処理である。
【００５１】
まず、S106にて算出したRtをRS01とし(S114)、続いて、光ピックアップ３がディスク上の判別領域１０２ｂに対応する位置に移動される。次いで、光ピックアップ３から波長405nmのレーザ光が出射されるとともにフォーカスサーボがONされる（S116）。しかる後、S118にて、再生信号増幅回路４から供給される再生RF信号の振幅値をもとに、判別領域１０２ｂに対応する位置における反射率RS02がCPU１にて算出される。
【００５２】
しかして、波長405nmのレーザ光が出射したときの反射率RS02が算出されると、S120にて、領域１０２ａ、１０２ｂともに、反射率RS01とRS02の大小関係が判定される。RS01≦RS02であれば(S120Yes)、S122にて、ミラー構造面であるとして、装着されたディスクは波長650nmのレーザ光にて再生もしくは記録可能なディスクであるとして、記録／再生用レーザ光に波長650nmのレーザ光が選択設定される。
【００５３】
一方、S120の判定にて、RS01＞RS02であれば(S120No)、S124にて、領域１０２ｂは、ナノ構造面であるとして、装着されたディスクは波長405nmのレーザ光にて再生もしくは記録可能なディスクであるとして、記録／再生用レーザ光に波長405nmのレーザ光が選択設定される(S124)。以上により、１層ディスクが判別される。
【００５４】
S108に戻り、反射率Rtと閾値RThの大小関係の判定において、Rt＜RThであれば(S108No)、S130にて、装着されたディスクは２層ディスクであると判断する。以下、S130からS150の処理は、２層ディスクの各データ記録面が波長650nmもしくは405nmのどちらのレーザ光にて再生もしくは記録可能であるか、判断する処理である。
【００５５】
S134にて、第１データ記録面および第２データ記録面に順にフォーカスをＯＮし、再生信号増幅回路４から供給される再生RF信号の振幅値をもとに、通常ミラー領域１０２ａに対応する位置における第１データ記録面および第２データ記録面について、それぞれの反射率RD01,RD11がCPU１にて算出される。
【００５６】
続いてS136において、光ピックアップ３がディスク上の判別領域１０２ｂに対応する位置に移動される。次いで、光ピックアップ３から波長405nmのレーザ光が出射されるとともに、第１データ記録面および第２データ記録面にフォーカスサーボがONされる。しかる後、S138にて、再生信号増幅回路４から供給される再生RF信号の振幅値をもとに、判別領域１０２ｂに対応する位置における第１データ記録面および第２データ記録面について、それぞれの反射率RD02,RD12がCPU１にて算出される。
【００５７】
次に、S140にて、反射率RD01とRD02の大小関係が判定される。RD01≦RD02であれば(S140Yes)、S142にて、第１データ記録面の領域１０２ａおよび１０２ｂともに、ミラー構造面であるとして、装着されたディスクは、第１データ記録面は波長650nmのレーザ光にて再生もしくは記録可能なディスクであるとして、記録／再生用レーザ光に波長650nmのレーザ光が選択設定される。
【００５８】
一方、S140の判定にて、RD01＞RD02であれば(S140No)、S144にて、第１データ記録面の領域１０２ｂは、ナノ構造面であるとして、装着されたディスクは、第１データ記録面は波長405nmのレーザ光にて再生もしくは記録可能なディスクであるとして、記録／再生用レーザ光に波長405nmのレーザ光が選択設定される。
【００５９】
続いて、S146にて、反射率RD11とRD12の大小関係が判定される。RD11≦RD12(S146Yes)であれば、S148にて、第２データ記録面の領域１０２ａおよび１０２ｂともに、ミラー構造面であるとして、装着されたディスクは、第２データ記録面は波長650nmのレーザ光にて再生もしくは記録可能なディスクであるとして、記録／再生用レーザ光に波長650nmのレーザ光が選択設定される。
【００６０】
一方、S146の判定にて、RD11＞RD12(S146No)であれば、S150にて、第２データ記録面の領域１０２ｂは、ナノ構造面であるとして、装着されたディスクは、第２データ記録面は波長405nmのレーザ光にて再生もしくは記録可能なディスクであるとして、記録／再生用レーザ光に波長405nmのレーザ光が選択設定される。
【００６１】
このようにして、記録／再生用レーザ光が選択設定されると、その後、選択したレーザ光を用いた記録／再生動作が実行される(S160)。なお、記録／再生動作の実行前に、上記手順にて選択設定したレーザ光にてディスクのプログラム領域の管理情報の読み出しを行い、当該ディスクの判別結果が正しいかを検証・確認するようにしても良い。
【００６２】
本実施の形態によれば、ディスクの所定の位置に波長405nmのレーザ光を照射するのみで、円滑に、当該ディスクの判別を行うことができる。これにより、ディスクの認識に要する時間が短縮され、少ない待ち時間でこのディスクに対する記録再生等の処理を開始することができる。
【００６３】
また、データ記録に通常使用されていない領域にナノ構造を形成するものであるため、ナノ構造の形成によってユーザが記録に使用できる記録容量が減少することもない。さらに、ディスク判別時にレーザ光がプログラム領域に照射されることがないため、レーザ光照射によるデータ記録面の劣化が生じることはなく、ディスクの記録再生特性に悪影響を与えることもない。
【００６４】
なお、上述の反射率測定は、低パワーのレーザ光によっても可能であるため、プログラム領域にレーザ光が照射されることがあってもデータ記録面の劣化が生じることはない。低パワーレーザ光であってもナノ構造によって反射率が大きく変化するため、反射率変化によるディスク判別を円滑に行うことができる。
【００６５】
また、本実施の形態では、ナノ構造の形成によって反射率が変化するものであるため、反射層に利用される材料を制限する必要はない。したがって、反射層材料として高反射率の材料を用いることができ、プログラム領域における記録再生特性を高く維持することができる。
【００６６】
以上、本発明に係る実施の形態について説明したが、本発明は、斯かる実施の形態に限定されるものではなく、他に種々の変更が可能であることは言うまでもない。
【００６７】
たとえば、上記実施の形態において、装着されたディスクが２層ディスクであるとき、各データ記録面に対応した記録／再生用レーザ光を選択設定する際に、それぞれのデータ記録面の反射率の大小関係を比較して各データ記録面に対応した記録／再生用レーザ光を選択設定を行う代わりに、例えば、図８に示すような閾値RTｈ0,RTｈ1と各反射率を比較し、各反射率が閾値RTｈ0,RTｈ1以下の場合、ナノ構造面であるとし、これに対応するデータ記録面に対して、波長405nmの記録／再生用レーザ光を選択設定するようにしても良い。
【００６８】
かかる場合、図６の処理フローにおけるS132からS160までの手順が、図７の処理フローに変更される。
【００６９】
すなわち、光ピックアップ３をディスク上の判別領域１０２ｂに対応する位置に移動させた後、波長405nmのレーザ光をON(S170)したときの第２データ記録面の反射率R1を取得する（S172）。
【００７０】
そして、反射率R1と閾値RTh1とを比較し（S174）、R1≧RTh1であれば（S174Yes）、装着されたディスクの第２データ記録面は、波長650nmのレーザ光を記録／再生用のレーザ光として選択し（S176）、R1＜RTh1であれば（S174No）、ナノ構造面であるとして、装着されたディスクの第２データ記録面は、波長405nmのレーザ光を記録／再生用のレーザ光として選択する（S178）。
【００７１】
次に、フォーカスサーボをかけ（S180）、同判別領域１０２ｂに対応する位置の第１データ記録面の反射率R0を取得する（S182）。
【００７２】
そして、反射率R0と閾値RTh0とを比較し（S184）、R0≧RTh0であれば（S184Yes）、ミラー構造面であるとして、装着されたディスクの第１データ記録面は、波長650nmのレーザ光を記録／再生用のレーザ光として選択し（S186）、R0＜RTh0であれば（S184No）、装着されたディスクの第２データ記録面は、波長405nmのレーザ光を記録／再生用のレーザ光として選択する（S188）。
【００７３】
さらに、上記実施の形態では、ナノ構造をミラー領域の外周側に配するようにしたが、図９（ａ）に示す如く、ナノ構造をミラー領域の内周側に配するようにしてもよい。この他、ナノ構造はレーザ光を照射可能なディスク内の任意の位置に適宜設定可能である。但し、ディスク容量の低下を回避するためには、プログラム領域以外の領域、たとえば、最外周等の領域に設定するのが望ましい。また、上記では収束光を用いるためにフォーカスサーボをONの状態にして反射率を比較しているが、簡易的にフォーカスサーボをＯＦＦのままで反射率を比較するようにしても良い。
【００７４】
また、上記実施の形態では、反射率を計測するレーザを405nmとしたが、650nmであってもよい。これは、図３が示すように、長波長レーザ光を照射したときであっても、反射率は著しく変化（80％以上、低下）することを利用したものである。
【００７５】
なお、レーザ波長405nmに対応ディスクは、今後大きく普及することが見込まれており、405nm対応ディスクがドライブ装置に使用される頻度が高くなると考えられる。このため、ディスク判別において用いるレーザ光として、405nm波長のレーザ光とすることにより、波長の異なるレーザ光に切り換える必要が少なくなり、使用時間における待ち時間を短縮することができ、ユーザにとって利便性が向上する。
【００７６】
さらに、上記実施の形態で用いられる２層ディスクとしては、記録／再生用のレーザ光として波長405nmのレーザ光が用いられる第１のデータ記録面と、記録／再生用のレーザ光として波長650nmのレーザ光が用いられる第２のデータ記録面からなる２層ディスク、あるいは、記録／再生用のレーザ光として波長650nmのレーザ光が用いられる第１のデータ記録面と、記録／再生用のレーザ光として波長405nmのレーザ光が用いられる第２のデータ記録面からなる２層ディスク、あるいは、第１のデータ記録面と第２のデータ記録面共に、記録／再生用のレーザ光として波長405nmのレーザ光が用いられるデータ記録面からなる２層ディスク、としてもよい。
【００７７】
この他、凹凸構造の形状、寸法等も、上記に示されたもの限定されるものではなく、用いるレーザ光の波長よりも短いピッチで凸凹構造を形成し、これによって反射率が大きく低下することを利用してディスク判別を行うものであればよく、本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。
【００７８】
本実施の形態は、あくまでも、本発明の一つの実施形態であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義等は、本実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００７９】
【図１】実施の形態に係る光ディスクのエリアフォーマットを示す図
【図２】実施の形態に係る凹凸構造の二次電子写真像を示す図
【図３】実施の形態に係る凹凸構造の波長−反射率特性を示す図
【図４】実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す図
【図５】実施の形態に係るディスク判別時の処理フローチャート
【図６】実施の形態に係るディスク判別時の処理フローチャート
【図７】他の実施の形態に係るディスク判別時の処理フローチャート
【図８】他の実施の形態に係るディスク判別方法を説明する図
【図９】他の実施の形態に係る光ディスクのエリアフォーマットを示す図
【符号の説明】
【００８０】
１  CPU
３  光ピックアップ
４  再生信号増幅回路
５  サーボ回路
６  サーボ機構
１００  光ディスク
１０２ａ  通常ミラー領域
１０２ｂ  判別領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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