(57)【要約】【課題】ＡＴＭセル内部のデータの異常が発生した個所を特定可能なＡＴＭ多重装置の障害検出システムを提供する。【解決手段】試験セル生成手段によって生成された試験セルをスクランブル手段によってスクランブルして得られる試験信号を判別手段によって判別し、試験信号変換手段によって、主信号とは異なる所定の波長の光信号に変換した後に、多重化手段によって主信号にかかわる光信号とを多重化して伝送経路に送出する一方、伝送経路を介して受信した光信号から所定の波長の光信号を分離手段によって分離し、分離された光信号を復元手段によって電気信号に変換して試験信号を復元し、検査手段により、この試験信号と試験セルに対応して得られるべきスクランブル結果との比較結果に基づいて、試験信号の正当性を検査した結果に基づいて、試験セルをスクランブルしたスクランブル手段の異常を通知する通知手段とを備える。【選択図】      図１
2006101409.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
スクランブル手段を介してＡＴＭセルをスクランブルした後に、電気／光変換手段を介して光信号に変換して伝送経路に送出し、伝送経路を介して受信した光信号を光／電気変換手段を介して電気信号に変換したのち、デスクランブル手段によってデスクランブルしてＡＴＭセルを復元するインタフェース盤を備えたＡＴＭ多重装置の障害検出システムにおいて、
試験セルを生成して挿入してスクランブル手段に入力する試験セル生成手段と、
前記スクランブル手段の出力から試験セルのスクランブル結果として得られる試験信号を判別する判別手段と、
前記判別手段によって判別された試験信号を主信号とは異なる所定の波長の光信号に変換する試験信号変換手段と、
前記試験信号変換手段によって得られた光信号と前記主信号にかかわる光信号とを多重化して前記伝送経路に送出する多重化手段と、
前記伝送経路を介して受信した光信号から前記所定の波長の光信号を分離する分離手段と、
前記分離手段によって分離された光信号を電気信号に変換することにより試験信号を復元する復元手段と、
前記復元手段によって得られた試験信号と前記試験セルに対応して得られるべきスクランブル結果との比較結果に基づいて、試験信号の正当性を検査する検査手段と、
前記検査手段によって前記試験信号の正当性を否定する旨の検査結果が得られたときに、前記試験セルをスクランブルしたスクランブル手段の異常を通知する通知手段と
を備えたことを特徴とするＡＴＭ多重装置の障害検出システム。
【請求項２】
スクランブル手段を介してＡＴＭセルをスクランブルした後に、電気／光変換手段を介して光信号に変換して伝送経路に送出し、伝送経路を介して受信した光信号を光／電気変換手段を介して電気信号に変換したのち、デスクランブル手段によってデスクランブルしてＡＴＭセルを復元するインタフェース盤を備えたＡＴＭ多重装置の障害検出システムにおいて、
試験セルを生成する試験セル生成手段と、
前記試験セルを主信号とは異なる所定の波長の光信号に変換する試験信号変換手段と、
前記試験信号変換手段によって得られた光信号と前記主信号にかかわる光信号とを多重化して前記伝送経路に送出する多重化手段と、
前記伝送経路を介して受信した光信号から前記所定の波長の光信号を分離する分離手段と、
前記分離手段によって分離された光信号を電気信号に変換することにより試験セルを復元して、前記デスクランブル手段に入力する復元手段と、
前記デスクランブル手段の出力から前記復元手段によって復元された試験セルをデスクランブルした結果として得られる試験信号を抽出する抽出手段と、
前記抽出手段によって抽出された試験信号と前記試験セルをデスクランブルして得られるべき結果との比較結果に基づいて、試験信号の正当性を検査する検査手段と、
前記検査手段によって前記試験信号の正当性を否定する旨の検査結果が得られたときに、前記試験信号のデスクランブルを実行したデスクランブル手段の異常を通知する通知手段と
を備えたことを特徴とするＡＴＭ多重装置の障害検出システム。
【請求項３】
スクランブル手段を介してＡＴＭセルをスクランブルした後に、電気／光変換手段を介して光信号に変換して伝送経路に送出し、伝送経路を介して受信した光信号を光／電気変換手段を介して電気信号に変換したのち、デスクランブル手段によってデスクランブルしてＡＴＭセルを復元するインタフェース盤を備えたＡＴＭ多重装置の障害検出システムにおいて、
試験セルを生成する試験セル生成手段と、
入力される試験信号を主信号とは異なる所定の波長の光信号に変換する試験信号変換手段と、
スクランブル手段を試験対象として指定する試験指示に応じて前記試験セルを自装置のスクランブル手段に入力し、デスクランブル手段を試験対象とする旨の試験指示に応じて前記試験セルを試験信号として前記試験信号変換手段に入力する送信側切替手段と、
前記スクランブル手段の出力から試験セルのスクランブル結果として得られる試験信号を判別し、前記試験信号変換手段に入力する判別手段と、
前記試験信号変換手段によって得られた光信号と前記主信号にかかわる光信号とを多重化して前記伝送経路に送出する多重化手段と、
前記伝送経路を介して受信した光信号から前記所定の波長の光信号を分離する分離手段と、
前記分離手段によって分離された光信号を電気信号に変換することにより試験信号を復元する復元手段と、
前記試験指示で指定された試験対象に応じて、入力される試験信号と前記試験セルに対応して得られるべきスクランブル結果あるいは前記試験セルについて得られるべきデスクランブル結果との比較結果に基づいて、試験信号の正当性を検査する検査手段と、
スクランブル手段を試験対象として指定する試験指示に応じて前記復元手段によって復元された試験信号を前記検査手段に入力し、デスクランブル手段を試験対象とする旨の試験指示に応じて前記試験信号を自装置のデスクランブル手段に入力する受信側切替手段と、
前記デスクランブル手段の出力から試験セルのデスクランブル結果として得られる試験信号を抽出し、前記検査手段に入力する抽出手段と、
前記検査手段によって前記試験信号の正当性を否定する旨の検査結果が得られたときに、前記試験指示で指定された試験対象の異常を通知する通知手段と
を備えたことを特徴とするＡＴＭ多重装置の障害検出システム。
【請求項４】
請求項１乃至３のいずれかに記載のＡＴＭ多重装置の障害検出システムにおいて、
前記多重化手段によって送出される光信号を折り返して、伝送経路を介して自装置に到達した光信号として受信する折り返し手段を備えた
ことを特徴とするＡＴＭ多重装置の障害検出システム。
【請求項５】
請求項１乃至３のいずれかに記載のＡＴＭ多重装置の障害検出システムにおいて、
前記ＡＴＭ多重装置は、
対向するＡＴＭ多重装置ごとにそれぞれ２系統のインタフェース盤を備えるとともに、
前記各２系統のインタフェース盤の一方をそれぞれ現用系とし、現用系のインタフェース盤の障害検出に応じて予備系への切り替えを行う冗長制御手段と、
前記通知手段によって出力される通知に応じて、前記試験対象を備えたインタフェース盤の障害を対応するＡＴＭ多重装置の冗長制御手段に入力する障害通知手段とを備えた
ことを特徴とするＡＴＭ多重装置の障害検出システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＡＴＭ回線を多重伝送するＡＴＭ多重装置の障害検出システムに関する。
第３世代携帯電話の基地局無線機は、ＡＴＭ伝送方式を適用したＡＴＭ多重装置を利用して複数段階に集約されて、交換局交換機と接続されている。このような構成では、地理的に散在する基地局無線機にかかわるトラフィックを、ＱｏＳ(Quality of Service)に配慮しつつ効率よく多重伝送することができる。  
【背景技術】
【０００２】
図６に、ＡＴＭ多重装置を適用した伝送システムの構成例を示す。
図６に示した各基地局無線機にかかわるトラフィックは、中規模集約局および大規模集約局に配置されたＡＴＭ多重装置によって段階的に集約された後に、センタ局のＡＴＭ多重装置を介して交換機に接続されている。
各中規模集約局に配置されたＡＴＭ多重装置および各大規模集約局に配置されたＡＴＭ多重装置において、基地局無線機とＡＴＭ多重装置あるいはＡＴＭ多重装置相互は、光ファイバによって接続されており、この伝送経路と各装置の内部の電気回路とを接続する役割を果たしている部分は、インタフェース盤と呼ばれている。
【０００３】
また、中規模集約局に配置されたＡＴＭ多重化装置は、構成ユニットそれぞれの障害に備えて、主な構成ユニット(図示せず)および大規模集約局側のインタフェース盤をそれぞれ２系統ずつ備えている。また、大規模集約局に配置されたＡＴＭ多重装置は、両側のインタフェース盤を冗長化した構成を持っている。つまり、中規模集約局に配置されたＡＴＭ多重装置と大規模集約局に配置されたＡＴＭ多重装置相互とは、対向する２系統のインタフェース盤を接続する２系統の伝送経路によって接続されている。そして、これらのインタフェース盤については、インタフェース盤内部で検出される障害検出あるいは、対応する伝送経路異常の検出に応じて、現用系から予備系への切り替えが行われている。
【０００４】
図７に、インタフェース盤の詳細構成を示す。
図７において、インタフェース盤に備えられた２系統の送信バッファ４１１のうち、現用系に対応する方に入力されたセルは、セレクタ４１２を介して帯域制御用のセルメモリ４１３に入力される。このセルメモリ４１３から読み出されたセルは、速度調整用のバッファ４１４を介してＡＴＭセルスクランブル部４１５に渡され、スクランブル処理を施される。このスクランブル処理結果には、更に、フレーム変換部４１６によってＡＴＭＨＥＣ、セクションオーバーヘッドおよびパスオーバーヘッドが挿入され、次いで、ＳＴＭスクランブル部４１７により、物理レイヤのスクランブル処理が施され、主信号Ｅ／Ｏ変換部(主信号Ｅ／Ｏ)４１８を介して光伝送経路に送出される。
【０００５】
一方、光伝送経路からの信号は、主信号Ｏ／Ｅ変換部(主信号Ｏ／Ｅ)４２０によって電気信号に変換された後に、ＳＴＭフレーム同期部４２１およびＳＴＭデスクランブル部４２２によってＳＴＭフレームに復元される。更に、ＡＴＭセル同期部４２３によって、このＳＴＭフレームからスクランブルされたＡＴＭセルが抽出され、ＡＴＭセルデスクランブル部４２４により、ＡＴＭセルが復元される。このようにして復元されたＡＴＭセルは、速度調整用のバッファ４２５を介してＡＴＭヘッダ付加部４２６に渡され、適切なヘッダの付加を受けた後に、現用系に対応する受信バッファ４２７を介してＡＴＭ多重装置の内部に入力される。
【０００６】
図７に示したようなインタフェース盤の各回路ブロックの入力側でパリティビットを付加し、その回路ブロックの出力側でパリティビットのチェックを行うことにより、回路ブロックそれぞれの動作の正常性を検査する方法が一般に行われている。例えば、図７に示したインタフェース盤の送信側においては、送信バッファ４１１の前後やセレクタ４１２の前後、セルメモリ４１３の前後およびバッファ４１４の前後においてパリティビットの付加(図において、符号Ａを付した矢印で示す)とチェック(図において、符号Ｃを付した矢印で示す)を行っている。また、インタフェース盤の受信側においては、バッファ４２５の前後、ＡＴＭヘッダ付加部４２６の前後および受信バッファ４２７の前後において、パリティビットの付加とチェックを行っている。また、送信側のＳＴＭスクランブル部４１７の入力側において付加されたパリティビットについては、対向するインタフェース盤の受信側に備えられたＳＴＭデスクランブル部４２２の出力側においてチェックされている。もちろん、この検査結果を収集して得られる障害情報は、冗長制御部(図示せず)に送られており、インタフェース盤の冗長制御処理に用いられている。
【非特許文献１】「バックプレーンインタフェースの構成について」その１、[online]、[2004.9.21]、インターネット＜URL:www.necel.com/comm./ja/column/Vol.9＞
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
図７に示したように、各回路ブロックの前後でパリティビットの付加およびチェックを行うことにより、パリティビットの付加とチェックとで区切られた各区間については、動作の検証を行うことができる。
しかしながら、この方式では、ＡＴＭセルスクランブル部４１５やＡＴＭセルデスクランブル部４２４に障害が発生した場合に、これらの障害を検出することはできない。なぜなら、これらの各部の動作を検査するためには、インタフェース盤に入力されたセルのデータそのものの情報を基に検査を行う必要があるにもかかわらず、ＡＴＭ方式では、セルフォーマットの中に、データエラーを検出するための機構が用意されていないからである。
【０００８】
一方、ＡＴＭ論理パスの端点である基地局無線機および交換機においては、ＡＴＭセル内部のデータの異常を検出することが可能ではある。しかし、例えば、交換機においてデータの異常を検出したとしても、それだけでは、図６に示したように、階層的に構成された伝送システムのどのＡＴＭ多重装置のどちら側のインタフェース盤に発生した障害が原因となっているのかを特定することはできない。
【０００９】
そして、図６に示したような大規模な伝送システムでは、接続関係が極めて複雑であるが故に、障害が発生した部位を特定するための切り分け作業は非常に煩雑であり、膨大な時間と労力が必要である。もちろん、障害部位を特定する作業は、データの異常が検出されたＡＴＭ論理パスにかかわるＡＴＭ多重装置の動作の少なくとも一部を停止して行う必要があるので、広い範囲の収容回線が長時間にわたって影響を受けることが避けられない。このため、第３世代携帯電話サービス自体に対する信頼性の失墜をも招きかねない。
【００１０】
本発明は、ＡＴＭセル内部のデータの異常が発生した個所を特定可能なＡＴＭ多重装置の障害検出システムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明にかかわる第１のＡＴＭ多重装置の障害検出システムは、試験セル生成手段と、判別手段と、試験信号変換手段と、多重化手段と、分離手段と、復元手段と、検査手段と、通知手段とから構成される。
本発明にかかわる第１のＡＴＭ多重装置の障害検出システムの原理は、以下の通りである。
【００１２】
スクランブル手段を介してＡＴＭセルをスクランブルした後に、電気／光変換手段を介して光信号に変換して伝送経路に送出し、伝送経路を介して受信した光信号を光／電気変換手段を介して電気信号に変換したのち、デスクランブル手段によってデスクランブルしてＡＴＭセルを復元するインタフェース盤を備えたＡＴＭ多重装置の障害検出システムにおいて、試験セル生成手段は、試験セルを生成して挿入してスクランブル手段に入力する。判別手段は、スクランブル手段の出力から試験セルのスクランブル結果として得られる試験信号を判別する。試験信号変換手段は、判別手段によって判別された試験信号を主信号とは異なる所定の波長の光信号に変換する。多重化手段は、試験信号変換手段によって得られた光信号と主信号にかかわる光信号とを多重化して伝送経路に送出する。分離手段は、伝送経路を介して受信した光信号から所定の波長の光信号を分離する。復元手段は、分離手段によって分離された光信号を電気信号に変換することにより試験信号を復元する。検査手段は、復元手段によって得られた試験信号と試験セルに対応して得られるべきスクランブル結果との比較結果に基づいて、試験信号の正当性を検査する。通知手段は、検査手段によって試験信号の正当性を否定する旨の検査結果が得られたときに、試験セルをスクランブルしたスクランブル手段の異常を通知する。
【００１３】
このように構成された第１のＡＴＭ多重装置の障害検出システムの動作は、下記の通りである。
試験セル生成手段は、主信号に干渉しないタイミングで試験セルを生成してスクランブル手段に入力し、この試験セルをスクランブルさせる。試験セルをスクランブルして得られる試験信号は、判別手段によって判別され、試験信号変換手段により、主信号とは異なる所定の波長の光信号に変換され、更に、多重化手段によって主信号に対応する光信号と多重化され、伝送経路を介して、対向するインタフェース盤に渡される。
【００１４】
対向するインタフェース盤から渡された光信号に含まれている試験信号に対応する光信号は、分離手段によって分離され、復元手段により、対向するインタフェース盤に備えられたスクランブル手段によってスクランブルされた結果である試験信号が復元される。したがって、デスクランブル手段を通さずに、この試験信号を検査手段に直接入力することにより、この試験信号の生成に直接にかかわったスクランブル手段、すなわち、対向するインタフェース盤に備えられたスクランブル手段の動作の正常性を検査し、検査結果に基づいて、障害が発生した個所を特定する通知を通知手段によって出力する。
【００１５】
このようにして、主信号とは異なる波長を利用して試験信号を授受し、その正当性を相互に検査することにより、主信号の伝送に影響を及ぼすことなく、対向するＡＴＭ多重装置のインタフェース盤に備えられたスクランブル手段の動作を互いに遠隔試験し、障害の発生を迅速に検出し、しかも、障害個所を確実に特定することができる。
本発明にかかわる第２のＡＴＭ多重装置の障害検出システムは、試験セル生成手段と、試験信号変換手段と、多重化手段と、分離手段と、復元手段と、抽出手段と、検査手段と、通知手段とから構成される。
【００１６】
本発明にかかわる第２のＡＴＭ多重装置の障害検出システムの原理は、以下の通りである。
スクランブル手段を介してＡＴＭセルをスクランブルした後に、電気／光変換手段を介して光信号に変換して伝送経路に送出し、伝送経路を介して受信した光信号を光／電気変換手段を介して電気信号に変換したのち、デスクランブル手段によってデスクランブルしてＡＴＭセルを復元するインタフェース盤を備えたＡＴＭ多重装置の障害検出システムにおいて、試験セル生成手段は、試験セルを生成する。試験信号変換手段は、試験セルを主信号とは異なる所定の波長の光信号に変換する。多重化手段は、試験信号変換手段によって得られた光信号と主信号にかかわる光信号とを多重化して伝送経路に送出する。分離手段は、伝送経路を介して受信した光信号から所定の波長の光信号を分離する。復元手段は、分離手段によって分離された光信号を電気信号に変換することにより試験セルを復元して、デスクランブル手段に入力する。抽出手段は、デスクランブル手段の出力から復元手段によって復元された試験セルをデスクランブルした結果として得られる試験信号を抽出する。検査手段は、抽出手段によって抽出された試験信号と試験セルをデスクランブルして得られるべき結果との比較結果に基づいて、試験信号の正当性を検査する。通知手段は、検査手段によって試験信号の正当性を否定する旨の検査結果が得られたときに、試験信号のデスクランブルを実行したデスクランブル手段の異常を通知する。
【００１７】
このように構成された第２のＡＴＭ多重装置の障害検出システムの動作は、下記の通りである。
試験セル生成手段によって生成された試験セルを、試験信号変換手段によって主信号とは異なる波長の光信号に変換し、多重化手段によって主信号に対応する光信号と多重化させて伝送経路に送出し、対向するインタフェース盤に入力する。
【００１８】
分離手段は、対向するインタフェース盤から渡された光信号に含まれている所定の波長の光信号を分離し、復元手段により、対向するインタフェース盤に備えられた試験セル生成手段によって生成された試験セルを復元して、この復元した試験セルをデスクランブル手段に入力する。つまり、対向するインタフェース盤からの遠隔操作により、試験セルがデスクランブル手段に入力される。したがって、この試験セルをデスクランブルして得られる試験信号を、抽出手段を介して検査手段に入力し、この試験信号の正当性を検査することにより、試験信号のデスクランブルに直接かかわったデスクランブル手段、すなわち、自装置のインタフェース盤に備えられるデスクランブル手段の動作の正常性を検査し、検査結果に基づいて、障害が発生した個所を特定する通知を通知手段によって出力する。
【００１９】
このようにして、対向するＡＴＭ多重装置のインタフェース盤からの遠隔操作によって、主信号とは異なる波長を利用して試験信号を授受し、受け取った試験セルをデスクランブルした結果の正当性を検査することにより、主信号の伝送に影響を及ぼすことなく、自装置のデスクランブル手段の障害をそれぞれ迅速に検出し、障害個所を確実に特定することができる。
【００２０】
本発明にかかわる第３のＡＴＭ多重装置の障害検出システムは、試験セル生成手段と、試験信号変換手段と、送信側切替手段と、判別手段と、多重化手段と、分離手段と、復元手段と、検査手段と、受信側切替手段と、抽出手段と、通知手段とから構成される。
本発明にかかわる第３のＡＴＭ多重装置の障害検出システムの原理は、以下の通りである。
【００２１】
スクランブル手段を介してＡＴＭセルをスクランブルした後に、電気／光変換手段を介して光信号に変換して伝送経路に送出し、伝送経路を介して受信した光信号を光／電気変換手段を介して電気信号に変換したのち、デスクランブル手段によってデスクランブルしてＡＴＭセルを復元するインタフェース盤を備えたＡＴＭ多重装置の障害検出システムにおいて、試験セル生成手段は、試験セルを生成する。試験信号変換手段は、入力される試験信号を主信号とは異なる所定の波長の光信号に変換する。送信側切替手段は、スクランブル手段を試験対象として指定する試験指示に応じて試験セルを自装置のスクランブル手段に入力し、デスクランブル手段を試験対象とする旨の試験指示に応じて試験セルを試験信号として試験信号変換手段に入力する。判別手段は、スクランブル手段の出力から試験セルのスクランブル結果として得られる試験信号を判別し、試験信号変換手段に入力する。多重化手段は、試験信号変換手段によって得られた光信号と主信号にかかわる光信号とを多重化して伝送経路に送出する。分離手段は、伝送経路を介して受信した光信号から所定の波長の光信号を分離する。復元手段は、分離手段によって分離された光信号を電気信号に変換することにより試験信号を復元する。検査手段は、試験指示で指定された試験対象に応じて、入力される試験信号と試験セルに対応して得られるべきスクランブル結果あるいは試験セルについて得られるべきデスクランブル結果との比較結果に基づいて、試験信号の正当性を検査する。受信側切替手段は、スクランブル手段を試験対象として指定する試験指示に応じて復元手段によって復元された試験信号を検査手段に入力し、デスクランブル手段を試験対象とする旨の試験指示に応じて試験信号を自装置のデスクランブル手段に入力する。抽出手段は、デスクランブル手段の出力から試験セルのデスクランブル結果として得られる試験信号を抽出し、検査手段に入力する。通知手段は、検査手段によって試験信号の正当性を否定する旨の検査結果が得られたときに、試験指示で指定された試験対象の異常を通知する。
【００２２】
このように構成された第３のＡＴＭ多重装置の障害検出システムの動作は、下記の通りである。
スクランブル手段を試験対象とする旨の試験指示に応じて、送信側入力切替手段によって試験セルはスクランブル手段に入力され、得られた試験信号は、判別手段を介して試験信号変換手段に入力される。そして、この試験信号変換手段によって光信号に変換された後に、多重化手段を介して伝送経路に送出され、対向するＡＴＭ多重装置のインタフェース盤に到達する。また、伝送経路を介してＡＴＭ多重装置に到達した試験信号に対応する光信号は、分離手段によって主信号から分離され、復元手段によって試験信号に復元された後に、受信側切替手段によってそのまま検査手段に入力され、試験セルに対応して得られるべきスクランブル結果との比較処理に供される。
【００２３】
一方、デスクランブル手段を試験対象とする旨の試験指示に応じて、送信側入力切替手段によって試験セルはそのまま試験信号変換手段に入力され、この試験信号変換手段によって光信号に変換された後に、多重化手段を介して伝送経路に送出され、対向するＡＴＭ多重装置のインタフェース盤に到達する。また、伝送経路を介してＡＴＭ多重装置に到達した試験信号に対応する光信号は、分離手段によって主信号から分離され、復元手段によって試験信号に復元された後に、受信側切替手段によってデスクランブル手段に入力され、このデスクランブル手段によるデスクランブル結果が、抽出手段によって抽出され検査手段による試験セルに対応して得られるべきデスクランブル結果との比較処理に供される。
【００２４】
このように、試験対象を指定した試験指示に応じて、送信側入力切替手段、受信側入力切替手段および検査手段が動作することにより、対向するＡＴＭ多重装置のインタフェース盤に備えられたスクランブル手段および自装置のインタフェース盤に備えられたデスクランブル手段の双方における障害の発生を迅速に、かつ、主信号の伝送に影響を及ぼすことなく検出し、しかも、障害が発生した場合に、その障害個所を確実に通知することができる。
【００２５】
本発明にかかわる第４のＡＴＭ多重装置の障害検出システムは、上述した第１、第２および第３のＡＴＭ多重装置の障害検出システムのいずれかに折り返し手段を備えて構成される。
本発明にかかわる第４のＡＴＭ多重装置の障害検出システムの原理は、以下の通りである。
【００２６】
上述した第１、第２および第３のＡＴＭ多重装置の障害検出システムのいずれかにおいて、折り返し手段は、多重化手段によって送出される光信号を折り返して、伝送経路を介して自装置に到達した光信号として受信する。
このように構成された第４のＡＴＭ多重装置の障害検出システムの動作は、下記の通りである。
【００２７】
第１のＡＴＭ多重装置の障害検出システムあるいは第３のＡＴＭ多重装置の障害検出システムでスクランブル手段が試験対象として指定された場合に、折り返し手段は、試験セルを自装置のスクランブル手段によってスクランブルして得られた試験信号に対応する光信号が多重化された光信号を受信側に折り返す。
したがって、第１のＡＴＭ多重装置の障害検出システムあるいは第３のＡＴＭ多重装置の障害検出システムでスクランブル手段が試験対象として指定された場合について述べたようにして、この試験信号の正当性を検査することにより、自装置に備えられたスクランブル手段の障害を、例えば、局舎に設置する前の試験などにおいて検出することができる。
【００２８】
一方、第２のＡＴＭ多重装置の障害検出システムあるいは第３のＡＴＭ多重装置の障害検出システムでデスクランブル手段が試験対象として指定された場合に、折り返し手段は、試験セルに対応する光信号が多重化された光信号を受信側に折り返す。
したがって、第２のＡＴＭ多重装置の障害検出システムあるいは第３のＡＴＭ多重装置の障害検出システムでデスクランブル手段が試験対象として指定された場合について述べたようにして、この試験セルを自装置に備えられたデスクランブル手段に入力して得られた試験信号の正当性を検査することにより、自装置に備えられたデスクランブル手段の障害を、例えば、局舎に設置する前の試験などにおいて検出することができる。
【００２９】
本発明にかかわる第５のＡＴＭ多重装置の障害検出システムは、第１、第２および第３のＡＴＭ多重装置の障害検出システムのいずれかにおいて、ＡＴＭ多重装置に、２系統のインタフェース盤と、冗長制御手段と、障害通知手段とを備えて構成される。
本発明にかかわる第５のＡＴＭ多重装置の障害検出システムの原理は、以下の通りである。
【００３０】
上述した第１乃至第３のＡＴＭ多重装置の障害検出システムのいずれかを構成するＡＴＭ多重装置は、対向するＡＴＭ多重装置ごとにそれぞれ２系統のインタフェース盤を備える。また、ＡＴＭ多重装置において、冗長制御手段は、各２系統のインタフェース盤の一方をそれぞれ現用系とし、現用系のインタフェース盤の障害検出に応じて予備系への切り替えを行う。また、ＡＴＭ多重装置において、障害通知手段は、通知手段によって出力される通知に応じて、試験対象を備えたインタフェース盤の障害を対応するＡＴＭ多重装置の冗長制御手段に入力する。
【００３１】
このように構成された第５のＡＴＭ多重装置の障害検出システムの動作は、下記の通りである。
例えば、第１のＡＴＭ多重装置の障害検出システムの通知手段によって、対向するＡＴＭ多重装置Ｂのインタフェース盤に備えられたスクランブル手段に障害が発生した旨が通知されたときに、ＡＴＭ多重装置Ａの障害通知手段は、対向するＡＴＭ多重装置Ｂの冗長制御手段に現用のインタフェース盤に関する障害を通知する。これに応じて、ＡＴＭ多重装置Ｂの冗長制御手段により、予備系のインタフェース盤への切り替えを実行することにより、ＡＴＭ多重装置の運用を継続することができる。一方、デスクランブル手段に障害が発生した場合に、障害通知手段は、自装置の冗長制御手段に現用のインタフェース盤に関する障害を通知し、冗長制御手段による予備系のインタフェース盤への切替を起動する。
【発明の効果】
【００３２】
本発明にかかわる第１のＡＴＭ多重装置の障害検出システムによれば、ＡＴＭ多重装置の運用を継続しつつ、対向するＡＴＭ多重装置に備えられたスクランブル手段の動作を遠隔監視し、監視対象のスクランブル手段の障害を迅速に検出して、検出した障害個所を確実に通知することができる。
また、本発明にかかわる第２のＡＴＭ多重装置の障害検出システムによれば、ＡＴＭ多重装置の運用を継続しつつ、対向するＡＴＭ多重装置からの試験セルの受信に応じてデスクランブル手段の動作を監視し、監視対象のデスクランブル手段の障害を迅速に検出して、検出した障害個所を確実に通知することができる。
【００３３】
更に、本発明にかかわる第３のＡＴＭ多重装置の障害検出システムによれば、例えば、試験対象を定期的に切替ながら試験作業を行うことにより、ＡＴＭ多重装置の運用を継続しつつ、ＡＴＭ多重装置のスクランブル手段およびデスクランブル手段の双方の動作を監視し、監視対象のスクランブル手段の障害を迅速に検出して、検出した障害個所を確実に通知することができる。
【００３４】
これらの技術の実現は、大規模な伝送システムにおける障害の解析作業に寄与するとともに予備系への切替などの障害復旧作業にも寄与することができる。
特に、本発明にかかわる第５のＡＴＭ多重装置の障害検出システムでは、障害個所を特定した通知に応じて、冗長制御処理を起動することにより、ＡＴＭ多重装置が備えている冗長構成を利用して、障害の発生に応じて、迅速に障害個所を切り離し、ＡＴＭ多重化装置を備えた伝送システムによる通信サービスの運用を滞りなく継続させることができる。これにより、インタフェース盤に備えられるスクランブル手段およびデスクランブル手段における障害の発生によって、通信サービスが長時間に渡って停止してしまう事態を確実に回避することができるので、通信サービスに関するサービス性の低下を防ぐことができる。また、スクランブル手段やデスクランブル手段の障害は極めてまれではあるものの、このようなまれな障害に対する対策を実現することは、信頼性を向上するためには極めて重要である。
【００３５】
また、本発明にかかわる第４のＡＴＭ多重装置の障害検出システムでは、折り返し経路を設定した試験を行うことにより、例えば、ＡＴＭ多重装置の設置前の検査などで、インタフェース盤の不良を確実に検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３６】
以下、図面に基づいて、本発明の実施形態について詳細に説明する。
（第１の実施形態）
図１に、本発明にかかわるＡＴＭ多重装置のインタフェース盤の実施形態を示す。
なお、図１に示す構成要素のうち、図７に示した各部と同等のものについては、図７に示した符号を付して示し、その説明を省略する。
【００３７】
図１に示したインタフェース盤において、送信側スクランブル処理部２１４は、図７に示したセルメモリ４１３、速度調整用のバッファ４１４、ＡＴＭセルスクランブル部４１５、ヘッダ付加部４１６およびＳＴＭスクランブル部４１７から形成されている。また、図１に示した受信側デスクランブル処理部２２０は、図７に示したＳＴＭフレーム同期部４２１、ＳＴＭデスクランブル部４２２、ＡＴＭセル同期部４２３、ＡＴＭセルデスクランブル部４２４、速度調整用のバッファ４２５およびＡＴＭヘッダ付加部４２６から形成されている。
【００３８】
また、図１に示した試験セル生成部２１２は、監視制御部２１１からの指示に応じて、送信側スクランブル処理部２１４の一部であるＡＴＭセルスクランブル部４１５の機能を試験するための試験セルあるいは、受信側デスクランブル処理部２２０の一部であるＡＴＭセルデスクランブル部４２４の機能を試験するための試験セルを生成し、セレクタ２１３に送出する。このセレクタ２１３は、送信バッファ（図示せず）から受け取った主信号データを送信側スクランブル処理部２１４に渡すとともに、監視制御部２１１からの指示に応じて、試験セルを送信側スクランブル処理部２１４あるいは信号識別部２１５に送出する。
【００３９】
信号識別部２１５は、伝送路に送出される信号が主信号であるか試験セルにかかわる試験信号であるかを判別し、主信号を主信号Ｅ／Ｏ変換部（主信号Ｅ／Ｏ）４１８に入力し、試験信号を試験信号Ｅ／Ｏ変換部（試験信号Ｅ／Ｏ）２１６に入力する。この試験信号Ｅ／Ｏ変換部２１６に入力された試験信号は、主信号Ｅ／Ｏ変換部４１８とは異なる所定の波長の光信号に変換され、多重／分離部２１７によって、主信号Ｅ／Ｏ変換部４１８から出力された光信号と多重化された後に伝送路に送出される。
【００４０】
一方、伝送路からの光入力は、図１に示した多重／分離部２１７によって、主信号に対応する波長の光信号と試験信号に対応する光信号とに分離され、それぞれ主信号Ｏ／Ｅ変換部（主信号Ｏ／Ｅ）４２０および試験信号Ｏ／Ｅ変換部（試験信号Ｏ／Ｅ）２１９に入力される。この試験信号Ｏ／Ｅ変換部２１９によって復元された試験信号は、信号識別部２１５により、監視制御部２１１からの指示に応じて、受信側デスクランブル処理部２２０あるいは試験信号検査部２２２に渡される。
【００４１】
図１において、試験信号抽出部２２１は、受信側デスクランブル処理部２２０によるデスクランブル結果から試験信号に対応するデスクランブル結果を抽出し、試験信号検査部２２２に渡す。なお、受信側デスクランブル処理部２２０によってデスクランブルされた主信号に対応するＡＴＭセルは、試験信号抽出部２２１を介して受信バッファ(図示せず)へ送られる。
【００４２】
また、図１に示した試験信号検査部２２２は、信号識別部２１５あるいは試験信号抽出部２２１から受け取った試験信号を、監視制御部２１１からの指示で示された試験対象に対応する参照データと比較し、試験信号と参照データとが一致しなかった場合に、監視制御部２１１からの指示で示された試験対象に障害が発生した旨の警報を警報検出部２２３に通知する。また、上述した信号識別部２１５は、試験信号Ｏ／Ｅ変換部２１９から試験信号を所定の期間にわたって受け取っていない場合に、試験信号の停止を示す警報を出力し、警報検出部２２３に通知する。
【００４３】
図１に示した警報検出部２２３は、上述した試験信号検査部２２２および信号識別部２１５からの警報とともに、インタフェース盤の構成要素に関するパリティチェック結果および伝送路障害に関する情報を収集し、収集した情報に基づいて障害個所を特定する情報を含む障害通知を作成し、監視制御部２１１を介して冗長制御部(図示せず)に送出する。
次に、図１に示したインタフェース盤に関する障害検出試験動作について説明する。
【００４４】
図２に、障害検出動作を表す流れ図を示す。
まず、図１に示した監視制御部２１１は、スクランブル機能あるいはデスクランブル機能を試験対象として選択し、選択した試験対象を指定する試験指示を試験セル生成部２１２、セレクタ２１３、信号識別部２１５および試験信号検査部２２２に入力する(図２のステップ３０１)。この試験指示に応じて、試験セル生成部２１２は、指定された試験対象に適した試験セルを生成してセレクタ２１３に入力し、セレクタ２１３は、この試験セルの送出先を選択する。これにより、試験対象に応じた試験信号の伝送経路が形成されて、対向するＡＴＭ多重装置に送出される(ステップ３０２)。また、この試験指示に応じて、信号識別部２１５により、試験信号Ｏ／Ｅ変換部２１９から受け取った試験信号の送出先が選択選択される。
【００４５】
例えば、スクランブル機能を試験対象として指定した試験指示が入力された場合に、試験セル生成部２１２から出力された試験セルは、セレクタ２１３を介して送信側スクランブル処理部２１４に渡される。この場合は、図３に示すように、主信号および試験セルがともに、送信側スクランブル処理部２１４によってスクランブルされた後に、信号識別部２１５に渡され、それぞれ主信号Ｅ／Ｏ変換部４１８および試験信号Ｅ／Ｏ変換部２１６によって光信号に変換され、多重／分離部２１７を介して伝送路に送出される。なお、図３においては、上側に図示したインタフェース盤(ＩＦ盤)Ａから下側に図示したインタフェース盤Ｂに試験信号が伝送される様子を示している。
【００４６】
伝送路を介してインタフェース盤Ｂに到達した光信号は、多重／分離部２１７によって主信号にかかわる光信号と試験信号にかかわる光信号とに分離され、主信号Ｏ／Ｅ変換部４２０および試験信号Ｏ／Ｅ変換部２１９によってそれぞれ電気信号に変換された後、信号識別部２１５に入力される。
このようにして、信号識別部２１５に試験信号が到達した場合に(図２に示したステップ３０３の肯定判定)、この試験信号は、信号識別部２１５により、試験指示で指定された試験対象に応じて、そのままあるいは受信側デスクランブル処理部２２０を介して、試験信号検査部２２２に渡される。
【００４７】
試験対象がスクランブル機能である場合には、試験信号は、図３に示すように、信号識別部２１５によってそのまま試験信号検査部２２２に渡され、試験信号検査部２２２により、試験セルをスクランブルした結果に相当する参照信号と比較され(図２に示したステップ３０４)、両者が一致するか否かが判定され(ステップ３０５)、判定結果が警報検出部２２３に通知される。
【００４８】
警報検出部２２３を介して、試験信号と参照信号とが一致しない旨の判定結果を示す通知を受けたとき(ステップ３０５の否定判定)、監視制御部２１１は、試験対象に応じて、障害個所を特定する障害検出通知を作成する。例えば、上述したように、スクランブル機能が指定されている場合に(ステップ３０６の肯定判定)、監視制御部２１１は、警報検出部２２３からの通知に応じて、対向するインタフェース盤の送信ユニットの障害を検出した旨の通知を作成し、この通知を冗長制御部(図示せず)に送出して(ステップ３０７)、障害検出処理を終了する。
【００４９】
一方、試験信号と参照信号とが一致した場合に(ステップ３０５の肯定判定)、監視制御部２１１は、試験対象を例えばスクランブル機能からデスクランブル機能に切り替え(ステップ３０８)、ステップ３０１に戻って、改めて試験指示を試験セル生成部２１２、セレクタ２１３、信号識別部２１５および試験信号検査部２２２に入力し、障害検出動作を続行する。
【００５０】
このようにして、デスクランブル機能を試験対象として指定した試験指示が入力された場合に、試験セル生成部２１２から出力された試験セルは、セレクタ２１３からそのまま信号識別部２１５に渡される。つまり、この場合は、図４に示すように、主信号は、送信側スクランブル処理部２１４によってスクランブルされた後に信号識別部２１５に渡される一方、試験セルは、スクランブル処理を経ることなく、そのまま信号識別部２１５に渡される。上述した主信号および試験セルは、信号識別部２１５によって、それぞれ主信号Ｅ／Ｏ変換部４１８および試験信号Ｅ／Ｏ変換部２１６に渡され、それぞれ光信号に変換された後に、多重／分離部２１７を介して伝送路に送出される。なお、図４においては、上側に図示したインタフェース盤(ＩＦ盤)Ａから下側に図示したインタフェース盤Ｂに試験信号が伝送される様子を示している。
【００５１】
このようにしてインタフェース盤に到達した試験セルに対応する光信号は、多重／分離部２１７によって主信号から分離され、試験信号Ｏ／Ｅ変換部２１９によって復元された後、信号識別部２１５に入力され、これに応じて、デスクランブル機能の試験が行われる。このとき、信号識別部２１５は、図４に示すように、試験信号Ｏ／Ｅ変換部２１９によって復元された試験セルを主信号とともに受信側デスクランブル処理部２２０によるデスクランブル処理に供する。そして、試験信号抽出部２２１は、受信側デスクランブル処理部２２０の出力から、伝送路を介して受け取った試験セルをデスクランブルした結果を抽出し、これを試験信号として試験信号検査部２２２に渡して、この試験信号検査部２２２による参照信号との比較処理に供する。ここで、試験信号検査部２２２は、デスクランブル機能を試験する旨の試験指示が入力された場合に、試験セルをデスクランブルして得られるべき結果に相当する参照信号と試験信号とを比較し(ステップ３０４)、両者が一致するか否かを判定する(ステップ３０５)。
【００５２】
警報検出部２２３を介して、試験信号と参照信号とが一致しない旨の判定結果を示す通知を受けたとき(ステップ３０５の否定判定)、監視制御部２１１は、選択した試験対象(デスクランブル機能)に応じて、ステップ３０６の否定判定とし、自装置に備えられたインタフェース盤の受信ユニットの障害を検出した旨の通知を作成し、この通知を冗長制御部(図示せず)に送出して(ステップ３０７)、障害検出処理を終了する。
【００５３】
もちろん、この場合も、試験信号と参照信号とが一致した場合に(ステップ３０５の肯定判定)、監視制御部２１１は、試験対象を今度はデスクランブル機能からスクランブル機能に切り替え(ステップ３０８)、ステップ３０１に戻って、改めて試験指示を試験セル生成部２１２、セレクタ２１３、信号識別部２１５および試験信号検査部２２２に入力し、障害検出動作を続行する。
【００５４】
また一方、対向するＡＴＭ多重装置から試験信号が到達しない旨の警報を信号識別部２１５から受け取った場合に、監視制御部２１１は、試験対象にかかわらず、まず、警報検出部２２３によって収集された警報に基づいて、伝送路障害が発生しているか否かを判定する(ステップ３１０)。伝送路障害が発生している場合に(ステップ３１０の肯定判定)、監視制御部２１１は、伝送路障害の復旧に応じてスクランブル機能およびデスクランブル機能に関する障害検出動作を継続するために、ステップ３０２に戻って処理を続行する。一方、ステップ３１０の否定判定の場合に、監視制御部２１１は、試験セルの生成あるいは、試験信号(セル)のＥ／Ｏ変換またはＯ／Ｅ変換にかかわる機能に障害が発生したと判断し、試験信号にかかわる機能に障害が発生した旨の通知を作成して、この通知を上位装置に通知し(ステップ３１１)、処理を終了する。
【００５５】
このようにして、対向するＡＴＭ多重装置間で試験信号を授受し、また、試験指示に応じて、送信側スクランブル処理部２１４あるいは受信側デスクランブル処理部２２０の一方のみを経由させ、対応する参照信号と照合することにより、インタフェース盤に備えられたスクランブル機能あるいはデスクランブル機能の双方を交互に試験することができる。これにより、ＡＴＭ多重装置の運用を継続しつつ、インタフェース盤のスクランブル機能あるいはデスクランブル機能において発生した障害を確実に検出することができる。
【００５６】
もちろん、インタフェース盤のスクランブル機能あるいはデスクランブル機能において発生した障害の検出結果を、インタフェース盤に関する冗長制御処理に供することにより、このような障害の発生に応じて、迅速に、インタフェース盤を切り替えることができる。これにより、スクランブル機能あるいはデスクランブル機能に関する障害の発生に伴う伝送システムの停止時間を極めて短時間に抑えることができるので、伝送システムの信頼性を大幅に向上することができる。
(第２の実施形態)
図５に、本発明にかかわるＡＴＭ多重装置のインタフェース盤の別実施形態を示す。
【００５７】
なお、図５に示す構成要素のうち、図１に示した各部と同等のものについては、図１に示した符号を付して示し、その説明を省略する。
図５に示したインタフェース盤において、多重／分離部２１７の光出力と光入力とは、折り返し経路によって互いに接続されている。
したがって、監視制御部２１１からの指示に応じて、上述したようにして、セレクタ２１３および信号識別部２１５が試験セルおよび試験信号の送出先を切り替えて、送信側スクランブル処理部２１４あるいは受信側デスクランブル処理部２２０を選択的に試験セルに作用させることにより、自装置内部で送信側スクランブル処理部２１４および受信側デスクランブル処理部２２０の機能を交互に試験することができる。
【００５８】
この場合に、監視制御部２１１は、試験対象がスクランブル機能であるときに試験信号と参照信号とが一致しない旨の警報が検出されたときに、対向側インタフェース盤のスクランブル機能の障害を通知する代わりに、自装置に備えられたインタフェース盤のスクランブル機能の障害を通知する(図２のステップ３０７参照)。
ＡＴＭ多重装置の運用開始後は、このような折り返し経路を設定することは事実上困難である。しかし、例えば、ＡＴＭ多重装置の出荷前のテストやＡＴＭ多重装置の設置時のテストにおいて、上述したような障害検出作業を行っておけば、ＡＴＭセルに関するスクランブル処理あるいはデスクランブル処理に関する障害を、実際の通信サービスにおいて実害を及ぼす前に発見し、正常なインタフェース盤と交換することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５９】
本発明にかかわる障害検出システムによれば、ＡＴＭ多重装置の運用を継続しつつ、ＡＴＭセルに関するスクランブル処理およびデスクランブル処理におけるエラーが発生した個所を確実に特定し、エラー発生個所を通知して、復旧作業に活用ことができる。これにより、ＡＴＭセルに関するスクランブル処理およびデスクランブル処理におけるエラーが発生した際の障害復旧に要する時間を大幅に短縮することができる。
【００６０】
更に、エラー発生個所を特定した通知をインタフェース盤の冗長制御に利用することにより、ＡＴＭセルに関するスクランブル処理およびデスクランブル処理におけるエラー発生に伴うサービスの停止をほぼ瞬間的なものにとどめることができる。
第３世代携帯電話サービスのように、階層的に構成された大規模な伝送システムにおいては、障害の発生が多数の利用者に影響を及ぼすおそれがあり、また、サービスの長時間に渡る停止は、サービスに対する信頼性を著しく低下させてしまう。
【００６１】
したがって、このようなサービスを提供するための伝送システムにおいては、発生した障害個所を確実に特定し、障害の復旧に寄与する本発明にかかわる障害検出システムは、システムの信頼性を向上する上で非常に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】本発明にかかわるＡＴＭ多重装置のインタフェース盤の実施形態を示す図である。
【図２】障害検出動作を表す流れ図である。
【図３】スクランブル機能の障害検出動作を説明する図である。
【図４】デスクランブル機能に関する障害検出動作を説明する図である。
【図５】本発明にかかわるＡＴＭ多重装置のインタフェース盤の別実施形態を示す図である。
【図６】ＡＴＭ多重装置を適用した伝送システムの構成例を示す図である。
【図７】インタフェース盤の詳細構成を示す図である。
【符号の説明】
【００６３】
２１１  監視制御部
２１２  試験セル生成部
２１３、４１２  セレクタ
２１４  送信側スクランブル処理部
２１５  信号識別部
２１６  試験信号Ｅ／Ｏ変換部(試験信号Ｅ／Ｏ)
２１７  多重／分離部
２１９  試験信号Ｏ／Ｅ変換部（試験信号Ｏ／Ｅ）
２２０  受信側デスクランブル処理部
２２２  試験信号検査部
２２１  試験信号抽出部
２２３  警報検出部
４１１  送信バッファ
４１２  セレクタ
４１３  セルメモリ
４１４  バッファ
４１５  ＡＴＭセルスクランブル部
４１６  フレーム変換部
４１７  ＳＴＭスクランブル部
４１８  主信号Ｅ／Ｏ変換部(主信号Ｅ／Ｏ)
４２０  主信号Ｏ／Ｅ変換部(主信号Ｏ／Ｅ)
４２１  ＳＴＭフレーム同期部
４２２  ＳＴＭデスクランブル部
４２３  ＡＴＭセル同期部
４２４  ＡＴＭセルデスクランブル部
４２５  バッファ
４２６  ＡＴＭヘッダ付加部
４２７  受信バッファ
【図１】
2006101409.tif 000003
【図２】
2006101409.tif 000004
【図３】
2006101409.tif 000005
【図４】
2006101409.tif 000006
【図５】
2006101409.tif 000007
【図６】
2006101409.tif 000008
【図７】
2006101409.tif 000009