(57)【要約】【課題】光ディスク装置の動作速度によらずディフェクトを高精度かつ迅速に検出することが可能なディフェクト検出回路を提供する。【解決手段】光ディスク装置の高倍速動作時に、モノマルチ時間調整手段９が、モノマルチ回路１１により出力されるスイッチ６をオンにするモノマルチ信号ＭＭ１の出力期間ｔ１を短く設定して、光ディスク装置の動作が記録動作から再生動作へ切り替わった後の積分回路３の時定数を小さくする期間ｔ１を短くする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対しデータアクセスする光ディスク装置に搭載されるディフェクト検出回路であって、
前記光ディスクへ照射された光ビームの反射光から生成される反射信号を、前記光ディスク装置の動作が記録動作であるか再生動作であるかを示す記録ゲート信号に応じたゲインで増幅して出力する増幅手段と、
前記増幅手段により増幅された前記反射信号のエンベロープを検出してエンベロープ信号を出力するエンベロープ検出手段と、
前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号を可変可能な時定数で積分して出力する積分手段と、
前記積分手段の出力信号を基準として、前記光ディスク上のディフェクトを検出するためのスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、
前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号のレベルと前記スライスレベルを比較してディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号を生成するディフェクト検出信号生成手段と、
前記光ディスク装置の動作速度に応じて、前記積分手段の時定数を小さくする信号の出力期間を定めるモノマルチ時間を調整するモノマルチ時間調整手段と、
前記光ディスク装置の動作の記録動作から再生動作への切り替え、あるいは再生動作から記録動作への切り替えを前記記録ゲート信号から検出して検出信号を出力する動作切り替え検出手段と、
前記動作切り替え検出手段からの検出信号を受けて、前記時定数を小さくする信号を前記モノマルチ時間調整手段により調整された前記モノマルチ時間の間出力するモノマルチ手段と、
を備えることを特徴とするディフェクト検出回路。
【請求項２】
光ディスクに対しデータアクセスする光ディスク装置に搭載されるディフェクト検出回路であって、
前記光ディスクへ照射された光ビームの反射光から生成される反射信号を、前記光ディスク装置の動作が記録動作であるか再生動作であるかを示す記録ゲート信号に応じたゲインで増幅して出力する増幅手段と、
前記増幅手段により増幅された前記反射信号のエンベロープを検出してエンベロープ信号を出力するエンベロープ検出手段と、
前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号を可変可能な時定数で積分して出力する積分手段と、
前記積分手段の出力信号を基準として、前記光ディスク上のディフェクトを検出するためのスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、
前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号のレベルと前記スライスレベルを比較してディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号を生成するディフェクト検出信号生成手段と、
前記光ディスク装置の動作速度に応じて、前記積分手段の時定数を小さくする信号の出力期間を定めるカウント数を調整するカウント数調整手段と、
前記光ディスク装置の動作の記録動作から再生動作への切り替え、あるいは再生動作から記録動作への切り替えを前記記録ゲート信号から検出して検出信号を出力する動作切り替え検出手段と、
前記動作切り替え検出手段からの検出信号を受けて、所定のクロック信号のクロック数をカウントし前記時定数を小さくする信号を前記カウント数調整手段により調整された前記カウント数の間出力するカウンタ手段と、
を備えることを特徴とするディフェクト検出回路。
【請求項３】
請求項２記載のディフェクト検出回路において、前記所定のクロック信号は前記光ディスク装置のシステムクロック信号であることを特徴とするディフェクト検出回路。
【請求項４】
請求項２記載のディフェクト検出回路において、前記所定のクロック信号は、前記光ディスクへ照射された前記光ビームの反射光より得られる信号から抽出されたクロック信号であることを特徴とするディフェクト検出回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク上のディフェクトを検出するディフェクト検出回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、コンピュータシステムにおいては、情報量の大幅な増加に伴い、情報データの記録再生装置として、大容量で高速且つランダムアクセスが可能な光ディスク装置が広く使用されるようになっており、記録媒体としては、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の光ディスクが用いられている。
【０００３】
このような光ディスク装置には、光ディスク上の書き込みや読み出しが正常に行われない領域であるディフェクトを検出するためのディフェクト検出回路が搭載されている。ディフェクト検出回路は、光ディスクに収束照射された光ビームの反射光の強さに応じて得られる反射信号のエンベロープの変化を検出することによってディフェクトを検出し、ディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号を出力する（例えば、特許文献１参照。）。
【０００４】
ディフェクト検出信号は、例えば、光ディスクのトラック中央にレーザスポットを追従させるトラッキングサーボ回路及びディスク記録面にレーザスポットを合焦させるフォーカスサーボ回路において前値ホールド用の信号として利用されたり、各種制御用として光ディスク装置に組み込まれているＣＰＵにおいて光ディスクの記録不可領域を判断するための抽出信号を得るための信号として利用されたりする。
【０００５】
ここで、従来のディフェクト検出回路について図７を用いて説明する。図７は従来のディフェクト検出回路の構成を示すブロック図である。図７において、可変ゲインアンプ１は、光ディスクに照射された光ビームの反射光から生成される反射信号ＡＳを、当該ディフェクト検出回路が搭載されている光ディスク装置の動作が記録動作であるか再生動作であるかを示す記録ゲート信号ＷＴＧＴに応じた所定のゲインで増幅して出力する。なお、以下の説明では、記録ゲート信号ＷＴＧＴの信号レベルは、記録動作時にハイレベルとなり、再生動作時にローレベルとなるものとして説明する。
【０００６】
高速エンベロープ検波回路２は、可変ゲインアンプ１により増幅された反射信号ＡＳ（以下、アンプ出力信号ＡＰと称す。）のエンベロープを検出してエンベロープ信号を出力する。
【０００７】
積分回路３は、高速エンベロープ検波回路２からのエンベロープ信号ＥＭを可変可能な時定数で積分して出力する。図７に示すように、積分回路３は、抵抗４と容量５を備えており、さらに抵抗４に並列に接続されるスイッチ６を備えている。抵抗４の一端にはエンベロープ信号ＥＭが与えられ、他端はスライスレベル設定回路と容量５の一端に接続される。容量５の他端は接地される。
【０００８】
スイッチ６は、モノマルチ回路１１から出力される一定期間のパルス信号ＭＭ２により制御され、当該パルス信号ＭＭ２の信号レベルがハイレベルであればオンになり、ローレベルであればオフになるように設定されている。このスイッチ６のオン・オフによって積分回路３の時定数は可変となる。つまり、スイッチ６がオンの期間の積分回路３の時定数は、抵抗４と容量５によって決定する所定の時定数と比べて小さくなる。
【０００９】
スライスレベル設定回路７は、積分回路３の出力信号ＩＳを基準として、光ディスク上のディフェクトを検出するためのスライスレベルＳＤを設定する。コンパレータ８は、高速エンベロープ検波回路２から出力されるエンベロープ信号ＥＭの信号レベルとスライスレベルＳＤを比較してディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号ＤＤを生成する。
【００１０】
エッジ検出回路１０は、光ディスク装置の動作の記録動作から再生動作への切り替わり、あるいは再生動作から記録動作への切り替わりを記録ゲート信号ＷＴＧＴのレベル変化から検出して検出信号を出力する。モノマルチ回路１１は、エッジ検出回路１０から出力される検出信号を受けて、一定期間のパルス信号ＭＭ２を積分回路３へ出力する。
【００１１】
続いて、このように構成された従来のディフェクト検出回路の動作について図７、８を用いて説明する。図８は、当該ディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を表している。
【００１２】
一般に、光ディスク装置は、データ記録時に、例えば光ディスク上に記録されているアドレス情報を読み出し目標のアドレス領域をサーチする等してデータを記録するため、データ記録時には再生動作と記録動作が繰り返される。記録動作時と再生動作時では光ディスクへ照射する光ビームの強度が異なるため、データ記録時の可変ゲインアンプ１には、図８に示すように、信号レベルが変化する反射信号ＡＳが入力される。
【００１３】
可変ゲインアンプ１は、記録ゲート信号ＷＴＧＴに基づき、光ディスク装置の動作に応じた所定のゲインで反射信号ＡＳを増幅して記録動作時と再生動作時のアンプ出力信号ＡＰの信号レベルを等しくし、反射信号ＡＳのレベル差がエンベロープの変化として検出されないようにする。
【００１４】
ここで、可変ゲインアンプ１のゲイン設定にバラツキ等があって適切なゲインが設定されない場合には、図８に示すように、アンプ出力信号ＡＰに記録動作時と再生動作時とでレベル差が生じる。
【００１５】
高速エンベロープ検波回路２は、入力されたアンプ出力信号ＡＰのエンベロープを検出し、積分回路３とコンパレータ８に出力する。積分回路３は、高速エンベロープ検波回路２からのエンベロープ信号ＥＭを積分して、スライスレベル設定回路７に出力する。
【００１６】
積分回路３は、光ディスク装置の動作が再生動作から記録動作へ切り替えられた後、あるいは記録動作から再生動作へ切り替えられた後の一定期間ｔ２には、以下の動作により時定数を小さくしてエンベロープ信号ＥＭを積分する。
【００１７】
すなわち、まず、エッジ検出回路１０が、記録ゲート信号ＷＴＧＴの信号レベルがローレベルからハイレベルへ変化したこと、あるいはハイレベルからローレベルへ変化したことを受けてモノマルチ回路１１へ検出信号を出力する。
【００１８】
モノマルチ回路１１は、エッジ検出回路１０からの検出信号を受け、一定期間ｔ２、信号レベルがハイレベルとなるパルス信号ＭＭ２を生成して、積分回路３内のスイッチ６に対して出力する。
【００１９】
スイッチ６は、モノマルチ回路１１からのパルス信号ＭＭ２の信号レベルがハイレベルになったことを受けてオンになる。スイッチ６がオンになると、抵抗４はショートするため、積分回路の時定数は小さくなる。したがって、積分回路３は、モノマルチ回路１１からのパルス信号ＭＭ２の信号レベルがハイレベルになっている一定期間ｔ２は、通常よりも小さい時定数でエンベロープ信号ＥＭを積分して、出力信号ＩＳを後段のスライスレベル設定回路７に対して出力する。
【００２０】
一方、上記の一定期間ｔ２以外では、モノマルチ回路１１からのパルス信号の信号レベルはローレベルとなり、積分回路３内のスイッチ６がオフとなるため、積分回路３は抵抗４と容量５で決まる所定の時定数でエンベロープ信号ＥＭを積分し、出力信号ＩＳを後段のスライスレベル設定回路７に対して出力する。
【００２１】
スライスレベル設定回路７は、積分回路３の出力信号ＩＳをレベル変換してスライスレベルＳＤとし、コンパレータ８へ出力する。コンパレータ８は、スライスレベルＳＤを基準として高速エンベロープ検波回路２から出力されるエンベロープ信号ＥＭを二値化し、これをディフェクト検出信号ＤＤとして出力する。
【００２２】
すなわち、上記の一定期間ｔ２以外においては、所定の時定数でエンベロープ信号ＥＭが積分され、積分回路３の出力信号ＩＳの波形変化がエンベロープ信号ＥＭの波形変化に遅れて追従し、ディフェクトにおいてエンベロープ信号ＥＭの信号レベルがスライスレベルＳＤを下回り、ディフェクト検出信号ＤＤとしてディフェクトの存在を示すディフェクト信号ＴＳ１（真ディフェクト信号）がディフェクトに対応する期間出力される。
【００２３】
一方、図８に示すように、可変ゲインアンプ１のゲイン設定のバラツキ等により再生動作時と記録動作時とでエンベロープ信号ＥＭの信号レベルが変化するような場合には、光ディスク装置の動作が記録動作から再生動作へと切り替えられた後にも、エンベロープ信号ＥＭの信号レベルがスライスレベルＳＤを下回るが、当該ディフェクト検出回路では、記録動作から再生動作へと切り替えられた後の一定期間ｔ２において、積分回路３の時定数を小さくしてエンベロープ信号ＥＭを積分するので、積分回路３の出力信号ＩＳの波形変化がエンベロープ信号ＥＭの波形変化に素早く追従し、ディフェクト信号ＦＳ１（偽ディフェクト信号）の出力期間がディフェクト信号ＴＳ１と比べて短くなる。
【００２４】
したがって、トラッキングサーボ回路や、フォーカスサーボ回路、ＣＰＵにおいて、出力期間の短い偽ディフェクト信号については利用しないように設定することで、可変ゲインアンプ１のゲイン設定のバラツキ等により再生動作時と記録動作時でエンベロープ信号ＥＭの信号レベルが変化するような場合であっても、正確なトラッキングサーボ等を実現できるようになる。
【００２５】
しかしながら、図８に示す通常の記録動作時と比べて図９に示す高倍速動作時においては、時間軸上で各状態が圧縮されるので、同じ光ディスクに対してデータ記録する場合であっても、記録動作から再生動作へ切り替りディフェクトへ突入するまでの時間が通常の記録動作時と比べて短くなり、通常の記録動作時において精度良く検出されていたディフェクトが一定期間ｔ２の間に発生するおそれがある。
【００２６】
時定数が小さくなっている一定期間ｔ２の間にディフェクトが発生すると、ディフェクトによるエンベロープ信号ＥＭの波形変化に対して積分回路３の出力信号ＩＳが素早く追従してしまい、エンベロープ信号ＥＭの信号レベルがスライスレベルＳＤを下回る期間が極めて短くなり、本来出力されるべきディフェクト信号（真ディフェクト信号）よりも出力期間の短いディフェクト信号ＦＳ２（偽ディフェクト信号）が出力されるおそれがある。
【００２７】
このように、従来のディフェクト検出回路では、時定数が小さくなる期間が一定であるため、高倍速動作により時間軸上で各状態が圧縮されると、通常動作時には真ディフェクト信号を出力できたディフェクトに対して、出力期間の短い偽ディフェクト信号が出力されるおそれがあった。
【特許文献１】特開２００３−１９６８５３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２８】
本発明は、上記問題点に鑑み、モノマルチ回路（モノマルチ手段）により出力されるスイッチ６をオンにする信号（時定数を小さくする信号）の出力期間（モノマルチ時間）を動作倍速（動作速度）に応じて調整することにより、光ディスク装置の動作速度によらずディフェクトを高精度かつ迅速に検出することが可能なディフェクト検出回路の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２９】
本発明の請求項１記載のディフェクト検出回路は、光ディスクに対しデータアクセスする光ディスク装置に搭載されるディフェクト検出回路であって、前記光ディスクへ照射された光ビームの反射光から生成される反射信号を、前記光ディスク装置の動作が記録動作であるか再生動作であるかを示す記録ゲート信号に応じたゲインで増幅して出力する増幅手段と、前記増幅手段により増幅された前記反射信号のエンベロープを検出してエンベロープ信号を出力するエンベロープ検出手段と、前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号を可変可能な時定数で積分して出力する積分手段と、前記積分手段の出力信号を基準として、前記光ディスク上のディフェクトを検出するためのスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号のレベルと前記スライスレベルを比較してディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号を生成するディフェクト検出信号生成手段と、前記光ディスク装置の動作速度に応じて、前記積分手段の時定数を小さくする信号の出力期間を定めるモノマルチ時間を調整するモノマルチ時間調整手段と、前記光ディスク装置の動作の記録動作から再生動作への切り替え、あるいは再生動作から記録動作への切り替えを前記記録ゲート信号から検出して検出信号を出力する動作切り替え検出手段と、前記動作切り替え検出手段からの検出信号を受けて、前記時定数を小さくする信号を前記モノマルチ時間調整手段により調整された前記モノマルチ時間の間出力するモノマルチ手段と、を備えることを特徴とする。
【００３０】
また、本発明の請求項２記載のディフェクト検出回路は、光ディスクに対しデータアクセスする光ディスク装置に搭載されるディフェクト検出回路であって、前記光ディスクへ照射された光ビームの反射光から生成される反射信号を、前記光ディスク装置の動作が記録動作であるか再生動作であるかを示す記録ゲート信号に応じたゲインで増幅して出力する増幅手段と、前記増幅手段により増幅された前記反射信号のエンベロープを検出してエンベロープ信号を出力するエンベロープ検出手段と、前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号を可変可能な時定数で積分して出力する積分手段と、前記積分手段の出力信号を基準として、前記光ディスク上のディフェクトを検出するためのスライスレベルを設定するスライスレベル設定手段と、前記エンベロープ検出手段からの前記エンベロープ信号のレベルと前記スライスレベルを比較してディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号を生成するディフェクト検出信号生成手段と、前記光ディスク装置の動作速度に応じて、前記積分手段の時定数を小さくする信号の出力期間を定めるカウント数を調整するカウント数調整手段と、前記光ディスク装置の動作の記録動作から再生動作への切り替え、あるいは再生動作から記録動作への切り替えを前記記録ゲート信号から検出して検出信号を出力する動作切り替え検出手段と、前記動作切り替え検出手段からの検出信号を受けて、所定のクロック信号のクロック数をカウントし前記時定数を小さくする信号を前記カウント数調整手段により調整された前記カウント数の間出力するカウンタ手段と、を備えることを特徴とする。
【００３１】
また、本発明の請求項３記載のディフェクト検出回路は、請求項２記載のディフェクト検出回路において、前記所定のクロック信号は前記光ディスク装置のシステムクロック信号であることを特徴とする。
【００３２】
本発明の請求項４記載のディフェクト検出回路は、請求項２記載のディフェクト検出回路において、前記所定のクロック信号は、前記光ディスクへ照射された前記光ビームの反射光より得られる信号から抽出されたクロック信号であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００３３】
本発明によれば、光ディスク装置の動作が再生動作から記録動作へ、あるいは記録動作から再生動作へ切り替わった後の積分手段の時定数を小さくする期間（モノマルチ時間）を可変としたので、光ディスク装置の動作速度によらずディフェクトを高精度かつ迅速に検出することが可能となる。したがって、高倍速動作時において光ディスク装置の動作が切り替わった直後に発生する（従来の一定期間ｔ２の間に発生する）ディフェクトについても高精度かつ迅速に検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３４】
以下、本発明の実施の形態におけるディフェクト検出回路について説明する。
（実施の形態１）
図１は本実施の形態１におけるディフェクト検出回路の構成を示すブロック図である。当該ディフェクト検出回路は、光ディスクに対して少なくともデータ記録を行う光ディスク装置に搭載される。
【００３５】
図１において、可変ゲインアンプ（増幅手段）１は、光ディスクに照射された光ビームの反射光から生成される反射信号ＡＳを、当該ディフェクト検出回路が搭載されている光ディスク装置の動作が記録動作であるか再生動作であるかを示す記録ゲート信号ＷＴＧＴに応じた所定のゲインで増幅して出力する。なお、以下の説明では、記録ゲート信号ＷＴＧＴの信号レベルは、記録動作時にハイレベルとなり、再生動作時にローレベルとなるものとして説明する。
【００３６】
高速エンベロープ検波回路（エンベロープ検出手段）２は、可変ゲインアンプ１により増幅された反射信号ＡＳ（アンプ出力信号ＡＰ）のエンベロープを検出してエンベロープ信号を出力する。高速エンベロープ検波回路は一般的な検波回路であって、可変ゲインアンプから出力されるアンプ出力信号ＡＰの上側エンベロープを求めて出力する。
【００３７】
積分回路（積分手段）３は、高速エンベロープ検波回路２からのエンベロープ信号ＥＭを可変可能な時定数で積分して出力する。図１に示すように、積分回路３は、抵抗４と容量５を備えており、さらに抵抗４に並列に接続されるスイッチ６を備えている。抵抗４の一端にはエンベロープ信号ＥＭが与えられ、他端はスライスレベル設定回路と容量５の一端に接続される。容量５の他端は接地される。
【００３８】
スイッチ６は、モノマルチ回路１１から出力されるモノマルチ信号ＭＭ１により制御される。このスイッチ６のオン・オフによって積分回路３の時定数は可変となる。つまり、スイッチ６がオンの期間の積分回路３の時定数は、抵抗４と容量５によって決定する所定の時定数と比べて小さくなる。
【００３９】
スライスレベル設定回路（スライスレベル設定手段）７は、積分回路３の出力信号ＩＳを基準として、光ディスク上のディフェクトを検出するためのスライスレベルＳＤを設定する。
【００４０】
コンパレータ（ディフェクト検出信号生成手段）８は、高速エンベロープ検波回路２から出力されるエンベロープ信号ＥＭの信号レベルとスライスレベルＳＤを比較してディフェクトの有無を示すディフェクト検出信号ＤＤを生成する。
【００４１】
モノマルチ時間調整手段９は、光ディスク装置の動作倍速（動作速度）に応じて、積分回路３の時定数を小さくする信号、つまりスイッチ６をオンにする信号の出力期間を定めるモノマルチ時間を調整する。なお、モノマルチ時間調整手段は、例えば光ディスク装置に設定される倍速情報を基にモノマルチ時間を調整するように構成すればよい。
【００４２】
エッジ検出回路（動作切り替え検出手段）１０は、光ディスク装置の動作の記録動作から再生動作への切り替わり、あるいは再生動作から記録動作への切り替わりを記録ゲート信号ＷＴＧＴのレベル変化から検出して検出信号を出力する。
【００４３】
モノマルチ回路（モノマルチ手段）１１は、エッジ検出回路１０から出力される検出信号を受けて、スイッチ６をオンにするモノマルチ信号ＭＭ１をモノマルチ時間調整手段９により調整されたモノマルチ時間の間、積分回路３へ出力する。ここでは、モノマルチ信号ＭＭ１はパルス信号であり、当該パルス信号がハイレベルの間スイッチ６がオンになるものとして説明する。したがって、ここでは、モノマルチ時間はパルス信号のパルス幅に対応する。
【００４４】
続いて、このように構成されたディフェクト検出回路の動作について図１、２を用いて説明する。図２は、当該ディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を表している。
【００４５】
まず、図示しない複数の受光素子が、光ディスクに収束照射された光ビームの反射光を受光し、その反射光量に応じてレベル変化する電気信号に変換して出力する。複数の受光素子から出力される電気信号は加算され、得られた全加算信号が反射信号ＡＳとして可変ゲインアンプ１に入力される。
【００４６】
一般に、光ディスク装置は、データ記録時に、例えば光ディスク上に記録されているアドレス情報を読み出し目標のアドレス領域をサーチする等してデータを記録するため、データ記録時には再生動作と記録動作が繰り返される。記録動作時と再生動作時では光ディスクへ照射する光ビームの強度が異なるため、データ記録時の可変ゲインアンプ１には、図２に示すように、信号レベルが変化する反射信号ＡＳが入力される。
【００４７】
可変ゲインアンプ１は、入力される記録ゲート信号ＷＴＧＴの信号レベルがローレベルである場合は、光ディスク装置が再生動作を行っているものとして、再生動作時用のゲインにより反射信号ＡＳを増幅してアンプ出力信号ＡＰを出力する。
【００４８】
一方、記録ゲート信号ＷＴＧＴの信号レベルがハイレベルである場合は、可変ゲインアンプ１は、再生動作時よりも小さいゲインを設定して反射信号ＡＳを増幅しアンプ出力信号ＡＰを出力する。
【００４９】
このように、可変ゲインアンプ１は、記録ゲート信号ＷＴＧＴに基づき、光ディスク装置の動作に応じた所定のゲインで反射信号ＡＳを増幅して記録動作時と再生動作時のアンプ出力信号ＡＰの信号レベルを等しくし、反射信号ＡＳのレベル差がエンベロープの変化として検出されないようにする。
【００５０】
ここで、可変ゲインアンプ１のゲイン設定にバラツキ等があって適切なゲインが設定されない場合には、図２に示すように、アンプ出力信号ＡＰに記録動作時と再生動作時とでレベル差が生じる。
【００５１】
高速エンベロープ検波回路２は、入力されたアンプ出力信号ＡＰの上側エンベロープを求め、エンベロープ信号ＥＭを積分回路３に出力する。積分回路３は、抵抗４と容量５で決まる所定の時定数でエンベロープ信号ＥＭを積分し後段のスライスレベル設定回路７へ出力信号ＩＳを出力するが、光ディスク装置の動作が再生動作から記録動作へ切り替えられた後、あるいは記録動作から再生動作へ切り替えられた後の期間ｔ１（モノマルチ時間）は、以下の動作により時定数を小さくしてエンベロープ信号ＥＭを積分する。
【００５２】
すなわち、まず、エッジ検出回路１０が、記録ゲート信号ＷＴＧＴの信号レベルがローレベルからハイレベルへ変化したこと、あるいはハイレベルからローレベルへ変化したことを受けてモノマルチ回路１１へ検出信号を出力する。
【００５３】
モノマルチ回路１１は、エッジ検出回路１０からの検出信号を受けて、モノマルチ時間調整手段９により設定された期間ｔ１（モノマルチ時間）、スイッチ６をオンにするモノマルチ信号ＭＭ１（信号レベルがハイレベルとなるパルス信号）を生成して、積分回路３内のスイッチ６に対して出力する。
【００５４】
スイッチ６は、モノマルチ回路１１からのモノマルチ信号ＭＭ１を受けてオンになる。スイッチ６がオンになると、抵抗４はショートするため、積分回路の時定数は小さくなる。したがって、積分回路３は、モノマルチ回路１１からスイッチ６をオンにするモノマルチ信号ＭＭ１（信号レベルがハイレベルのパルス信号）が出力されている期間ｔ１は、通常よりも小さい時定数でエンベロープ信号ＥＭを積分して、出力信号ＩＳを後段のスライスレベル設定回路７に対して出力する。
【００５５】
期間ｔ１が経過すると、モノマルチ回路１１からのモノマルチ信号ＭＭ１の信号レベルがローレベルとなり、積分回路３内のスイッチ６がオフとなるため、積分回路３は再度所定の時定数でエンベロープ信号ＥＭを積分し、出力信号ＩＳをスライスレベル設定回路７に対して出力する。
【００５６】
図２に示すように、期間ｔ１においては、積分回路３の出力信号ＩＳの波形変化はエンベロープ信号ＥＭの波形変化に素早く追従するが、それ以外の期間においては、時定数が大きいので、エンベロープ信号ＥＭの波形変化に遅れて追従する。
【００５７】
ここで、モノマルチ時間調整手段９により設定されるモノマルチ時間ｔ１は、光ディスク装置の動作倍速（動作速度）が２倍速、４倍速、８倍速と高速であるほど短くなるように調整される。つまり、スイッチ６をオンにするパルス信号ＭＭ１のパルス幅が短くなるように調整される。
【００５８】
スライスレベル設定回路７は、積分回路３の出力信号ＩＳを基準としてスライスレベルＳＤを設定しコンパレータ８へ出力する。ここでは、スライスレベルＳＤは、光ディスク上のディフェクト以外においてエンベロープ信号ＥＭの信号レベルを下回り、ディフェクトにおいて上回るように設定する。
【００５９】
コンパレータ８は、スライスレベルＳＤを基準として高速エンベロープ検波回路２から出力されるエンベロープ信号ＥＭを二値化し、これをディフェクト検出信号ＤＤとして出力する。
【００６０】
以上のように、本実施の形態１におけるディフェクト検出回路は、光ディスク装置の動作が記録動作から再生動作へ、あるいは再生動作から記録動作へと切り替えられた後の積分回路の時定数を小さくする期間ｔ１を高倍速動作であるほど短く設定するので、時間軸上で各状態が圧縮される高倍速動作時であっても、ディフェクトを高精度に検出することができる。
【００６１】
つまり、従来のディフェクト検出回路では、時定数を小さくする期間が一定であったため、高倍速動作により時間軸上で各状態が圧縮されると、通常動作時には真ディフェクト信号を出力できたディフェクトが時定数を小さくする期間中に発生してしまい、そのディフェクトに対して、スライスレベルＳＤがすぐにエンベロープ信号ＥＭの信号レベルを下回って、出力期間の短い偽ディフェクト信号が出力されることがあった。これに対して、本実施の形態１におけるディフェクト検出回路では、時定数を小さくする期間（モノマルチ時間）が可変であり、高倍速動作時には時定数を小さくする期間を短くすることにより、時定数が小さくなる期間中のディフェクトの発生を抑制して、ディフェクトを高精度に検出することができる。
【００６２】
（実施の形態２）
図３は本実施の形態２におけるディフェクト検出回路の構成を示すブロック図である。但し、図１に基づいて説明した部材と同一の部材には同一符号を付して、説明を省略する。
【００６３】
図３において、カウント数設定手段（カウント数調整手段）１２は、光ディスク装置の動作倍速（動作速度）に応じて、積分回路３の時定数を小さくする信号の出力期間を定めるカウント数を調整する。
【００６４】
カウンタ（カウンタ手段）１３は、エッジ検出回路１０からの検出信号を受けて、所定のクロック信号であるシステムクロック信号ＳＣのクロック数をカウントし、積分回路３の時定数を小さくする信号を、カウント数設定手段１２により調整・設定されたカウント数の間出力する。
【００６５】
続いて、このように構成されたディフェクト検出回路の動作について図３、４を用いて説明する。図４は、当該ディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を表している。なお、前述した実施の形態１におけるディフェクト検出回路と同様の動作については、説明を省略する。
【００６６】
当該ディフェクト検出回路の動作は、光ディスク装置の動作が再生動作から記録動作へ切り替えられた後、あるいは記録動作から再生動作へ切り替えられた後の期間ｔ１における積分回路の時定数を小さくする動作が前述した実施の形態１におけるディフェクト検出回路と異なる。
【００６７】
すなわち、まず、実施の形態１と同様に、エッジ検出回路１０が、記録ゲート信号ＷＴＧＴの信号レベルがローレベルからハイレベルへ変化したこと、あるいはハイレベルからローレベルへ変化したことを受けてカウンタ１３へ検出信号を出力する。
【００６８】
カウンタ１３は、エッジ検出回路１０からの検出信号に同期して、入力されるシステムクロック信号ＳＣのクロック数のカウントを開始し、カウント数設定手段１２により設定されたカウント数分のクロック数をカウントするまでの間、スイッチ６をオンにするモノマルチ信号ＭＭ１（信号レベルがハイレベルとなるパルス信号）を生成して、積分回路３内のスイッチ６に対して出力する。
【００６９】
ここで、カウント数設定手段１２により設定されるカウント数は、光ディスク装置の動作倍速（動作速度）が２倍速、４倍速、８倍速と高速であるほど小さくなるように調整される。つまり、スイッチ６をオンにするパルス信号ＭＭ１のパルス幅が短くなるように調整される。
【００７０】
以上のように、本実施の形態２におけるディフェクト検出回路では、積分回路の時定数を小さくする信号を、光ディスク装置の制御に用いられるシステムクロック信号ＳＣのクロック数をカウントすることで生成する。一般的にシステムクロック信号ＳＣは水晶振動子等により生成されるので、内部素子を用いるために各種バラツキ要因を有するモノマルチ回路を使用して時定数を小さくする信号を生成するよりも、積分回路の時定数を小さくする期間ｔ１をより精度よく設定することが可能となる。
【００７１】
（実施の形態３）
図５は本実施の形態３におけるディフェクト検出回路の構成を示すブロック図である。但し、図１、３に基づいて説明した部材と同一の部材には同一符号を付して、説明を省略する。
【００７２】
図５において、クロック抽出回路（クロック抽出手段）１４は、光ディスクへ照射された光ビームの反射光より得られる信号である再生信号からクロック成分を抽出してクロック信号ＰＰを出力する。
【００７３】
続いて、このように構成されたディフェクト検出回路の動作について図５、６を用いて説明する。図６は、当該ディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を表している。なお、前述した実施の形態２におけるディフェクト検出回路と同様の動作については、説明を省略する。
【００７４】
当該ディフェクト検出回路は、積分回路の時定数を小さくする信号を、光ディスクへ照射された光ビームの反射光より得られる信号である再生信号から抽出したクロック成分を用いて生成する点が、前述した実施の形態２におけるディフェクト検出回路と異なる。
【００７５】
すなわち、まず、実施の形態２と同様に、エッジ検出回路１０が、記録ゲート信号ＷＴＧＴの信号レベルがローレベルからハイレベルへ変化したこと、あるいはハイレベルからローレベルへ変化したことを受けてカウンタ１３へ検出信号を出力する。
【００７６】
一方、クロック抽出回路１４は、光ディスクを再生した際に出力される再生信号からクロック成分を抽出してクロック信号ＰＰを後段のカウンタ１３へ出力する。カウンタ１３は、エッジ検出回路１０からの検出信号に同期して、入力されるクロック信号ＰＰのクロック数のカウントを開始し、カウント数設定手段１２により設定されたカウント数分のクロック数をカウントするまでの間、スイッチ６をオンにするモノマルチ信号ＭＭ１（信号レベルがハイレベルとなるパルス信号）を生成して、積分回路３内のスイッチ６に対して出力する。
【００７７】
ここで、再生信号から抽出されたクロック成分より得られるクロック信号ＰＰは、光ディスクの回転速度によって周波数が変化するため、光ディスクの回転速度情報を持つ。そこで、本実施の形態３では、カウント数設定手段１２が、クロック信号ＰＰが持つ光ディスクの回転速度情報を基に、カウンタ１３に設定するカウント数を決定するように構成する。
【００７８】
以上のように、本実施の形態３におけるディフェクト検出回路では、積分回路の時定数を小さくする信号を、再生信号から抽出されたクロック成分より得られるクロック信号ＰＰを用いることで生成する。また、クロック信号ＰＰが持つ光ディスクの回転速度情報を基に、カウンタ１３に設定するカウント数を決定するので、外部から特別な設定を与えることなく、積分回路の時定数を小さくする期間ｔ１を回転速度に応じて適切に設定することができる。
【００７９】
実施の形態１〜３におけるディフェクト検出回路によれば、高倍速動作時に、光ディスク装置の動作が記録動作から再生動作へ切り替わった直後に発生するディフェクトについても高精度に検出することができる。したがって、高倍速動作が可能な光ディスク装置のデータアクセス動作を安定させることができる。
【産業上の利用可能性】
【００８０】
本発明にかかるディフェクト検出回路は、光ディスク装置の動作速度によらずディフェクトを高精度かつ迅速に検出することができ、高倍速動作が可能な光ディスク装置に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００８１】
【図１】本発明の実施の形態１におけるディフェクト検出回路の構成を示すブロック図
【図２】同実施の形態のディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を示す図
【図３】本発明の実施の形態２におけるディフェクト検出回路の構成を示すブロック図
【図４】同実施の形態のディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を示す図
【図５】本発明の実施の形態３におけるディフェクト検出回路の構成を示すブロック図
【図６】同実施の形態のディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を示す図
【図７】従来のディフェクト検出回路の構成を示すブロック図
【図８】従来のディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を示す図
【図９】従来のディフェクト検出回路において出力される各信号の波形を示す図
【符号の説明】
【００８２】
１      可変ゲインアンプ
２      高速エンベロープ検波回路
３      積分回路
４      抵抗
５      容量
６      スイッチ
７      スライスレベル設定回路
８      コンパレータ
９      モノマルチ時間調整手段
１０      エッジ検出回路
１１      モノマルチ回路
１２      カウント数設定手段
１３      カウンタ
１４      クロック抽出回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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