(57)【要約】【課題】  簡素な構成により精度良く、且つ、どのような特性の信号にも広く用い得る参照値推定回路およびこれを用いた再生装置を提供する。【解決手段】  Ｎｐカウンタ８０２は、プラス側の検出幅ｄに含まれるサンプル点の個数をカウントする。Ｎｍカウンタ８０３は、マイナス側の検出幅ｄに含まれるサンプル点の個数をカウントする。比例分配部８０４は、Ｎｐカウンタ８０２およびＮｍカウンタ８０３のカウント値ＮｐおよびＮｍと、振幅推定部８０７から入力される振幅Ｂ（図３参照）をもとに、式（２）（３）を演算してｄｕおよびｄｄを算出する。プラス側参照値推定部８０８は、Ｖi-1＝Ｖi−ｄｕ（ｉ＝８、７、６）を演算して参照値レベルＶ７、Ｖ６、Ｖ５を推定・設定する。マイナス側参照値推定部８０９は、Ｖj+1＝Ｖj＋ｄｄ（ｉ＝０、１、２）を演算して参照値レベルＶ１、Ｖ２、Ｖ３を推定・設定する。【選択図】    図２
2006286037.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
最尤復号器にて用いられる参照値レベルをＲＦ信号から推定する参照値推定回路であって、
前記ＲＦ信号波形のサンプル点に対してプラス側のサンプル点の頻度とマイナス側のサンプル点の頻度の比率を求め、求めた比率に応じて前記参照値レベルを推定する、
ことを特徴とする参照値推定回路。
【請求項２】
請求項１において、
前記ＲＦ信号波形のプラス側の最大参照値レベルおよびマイナス側の最小参照値レベルから中心の参照値レベルに向かってそれぞれｍ個分（ｍは１以上の自然数）の参照値レベルを前記頻度の比率に応じて同時に推定する、
ことを特徴とする参照値推定回路。
【請求項３】
請求項２において、
前記最大参照値レベルと前記最小参照値レベルの間の振幅を前記頻度の比率に応じて比例分配する演算処理を行うことにより推定対象の前記参照値レベルを求める、
ことを特徴とする参照値推定回路。
【請求項４】
請求項３において、
前記プラス側および前記マイナス側にそれぞれ前記ＲＦ信号の振幅方向に同一幅となる検出幅ｄを設定し、設定したプラス側およびマイナス側の検出幅ｄに含まれるサンプル点の個数ＮｐおよびＮｍをそれぞれ一定期間カウントし、カウントしたサンプル点の個数ＮｐおよびＮｍをもとに前記演算処理を行って前記参照値レベルを推定する、
ことを特徴とする参照値推定回路。
【請求項５】
請求項４において、
前記サンプル点の個数ＮｐおよびＮｍをＮｐ＋Ｎｍが２のべき乗となるまでカウントする、
ことを特徴とする参照値推定回路。
【請求項６】
請求項４または５において、
前記プラス側および前記マイナス側において前記最大参照値レベルおよび前記最小参照値レベルから前記中心の参照値レベルに向かってそれぞれｎ番目（ｎは１以上の自然数）の位置にある参照値レベルを推定するとき、該ｎ番目の参照値レベルを含むようにして前記検出幅ｄを前記プラス側および前記マイナス側に設定し、そのときの前記サンプル点個数ＮｐおよびＮｍをもとに、該ｎ番目の参照値レベルを推定する、
ことを特徴とする参照値推定回路。
【請求項７】
請求項６において、
前記ｎ番目の参照値レベルを推定するとき、ｎ−１番目の参照値レベルから前記中心の参照値レベル方向に向かって前記検出幅ｄを設定する、
ことを特徴とする参照値推定回路。
【請求項８】
請求項７において、
前記プラス側のｎ−１番目の参照値レベルと中心の参照値レベルの間の振幅を１／ｐした幅と前記マイナス側のｎ−１番目の参照値レベルと中心の参照値レベルの間の振幅を１／ｐした幅のうち小さい方を前記検出幅ｄとして設定する、
ことを特徴とする参照値推定回路。
【請求項９】
請求項１ないし８の何れか１項に記載の参照値推定回路と、ＲＦ信号に含まれるオフセットを除去して前記参照値推定回路に入力するオフセット除去回路と、該参照値推定回路によって推定された参照値をもとに最尤復号化処理を行う復号化回路とを有する、
ことを特徴とする再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、最尤復号器にて用いられる参照値レベルをＲＦ信号から推定する参照値推定回路およびこれを用いた再生装置に関し、特に、次世代ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の高密度光ディスクを再生する際に用いて好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
次世代ＤＶＤ等の高密度光ディスクにおいては、データ復号器としてビタビ復号器等の最尤復号器が用いられる。この場合、ＲＦ信号波形にアシンメトリ（非対称性）が生じると、ビタビ復号化処理を行っても正しくデータが復号され難く、データ誤り率が増大するとの問題が生じる。かかる問題を回避するには、ＲＦ信号波形をアシンメトリのない波形に補正する方法と、ビタビ復号化処理で用いられる参照値レベルをアシンメトリに応じて設定する方法の２つの方法をとることができる。しかし、前者の方法においては、波形自身を補正するものであるため、計算コストおよび回路規模が極めて大きなものとなってしまう。そこで、通常は、後者の方法がとられる。
【０００３】
この場合、たとえば、再生ＲＦ信号に対するサンプル値のうち各参照値レベル前後のサンプル値をある期間において平均化して、それぞれの参照値レベルを推定する方法をとることができる。しかし、こうすると、各レベルに対して平均化回路が個別に必要となるため、回路規模が増大するとの問題が生じる。
【０００４】
なお、以下の特許文献１では、ＰＬＬのためのオフセット値とビタビ復号器のためのオフセット値を個別に求めることにより、ビタビ復号化処理の精度を高めるようにしている。この先行技術では、再生信号から取得される一つの参照値レベルＬとこの参照値レベルの理想値Ｉとを比較してビタビ復号器のためのオフセット値が求められる。そして、求めたオフセット値を再生信号から減算した後、ビタビ復号化処理を行うようにしている。しかし、この場合、どの参照値レベルを理想値Ｉと比較すべき参照値レベルＬとするのが最も好ましいかは再生信号特性に依存する。このため、かかる先行技術を如何なる特性の再生信号にもそのまま広く適用することはできず、適用しようとする再生信号の特性に応じて、理想値Ｉと比較すべき参照値レベルＬを適宜設定する必要が生じる。
【特許文献１】特開２００３−１９６８３８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、簡素な構成により精度良く、且つ、どのような特性の信号にも広く用い得る参照値推定回路およびこれを用いた再生装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題に鑑み本発明は、以下の特徴を有する。
【０００７】
請求項１の発明は、最尤復号器にて用いられる参照値レベルをＲＦ信号から推定する参照値推定回路であって、前記ＲＦ信号波形のサンプル点に対してプラス側のサンプル点の頻度とマイナス側のサンプル点の頻度の比率を求め、求めた比率に応じて前記参照値レベルを推定することを特徴とする。
【０００８】
請求項２の発明は、請求項１に記載の参照値推定回路において、前記ＲＦ信号波形のプラス側の最大参照値レベルおよびマイナス側の最小参照値レベルから中心の参照値レベルに向かってそれぞれｍ個分（ｍは１以上の自然数）の参照値レベルを前記頻度の比率に応じて同時に推定することを特徴とする。
【０００９】
請求項３の発明は、請求項２に記載の参照値推定回路において、前記最大参照値レベルと前記最小参照値レベルの間の振幅を前記頻度の比率に応じて比例分配する演算処理を行うことにより推定対象の前記参照値レベルを求めることを特徴とする。
【００１０】
請求項４の発明は、請求項３に記載の参照値推定回路において、前記プラス側および前記マイナス側にそれぞれ前記ＲＦ信号の振幅方向に同一幅となる検出幅ｄを設定し、設定したプラス側およびマイナス側の検出幅ｄに含まれるサンプル点の個数ＮｐおよびＮｍをそれぞれ一定期間カウントし、カウントしたサンプル点の個数ＮｐおよびＮｍをもとに前記演算処理を行って前記参照値レベルを推定することを特徴とする。
【００１１】
請求項５の発明は、請求項４に記載の参照値推定回路において、前記サンプル点の個数ＮｐおよびＮｍをＮｐ＋Ｎｍが２のべき乗となるまでカウントすることを特徴とする。
【００１２】
請求項６の発明は、請求項４または５に記載の参照値推定回路において、前記プラス側および前記マイナス側において前記最大参照値レベルおよび前記最小参照値レベルから前記中心の参照値レベルに向かってそれぞれｎ番目（ｎは１以上の自然数）の位置にある参照値レベルを推定するとき、該ｎ番目の参照値レベルを含むようにして前記検出幅ｄを前記プラス側および前記マイナス側に設定し、そのときの前記サンプル点個数ＮｐおよびＮｍをもとに、該ｎ番目の参照値レベルを推定することを特徴とする。
【００１３】
請求項７の発明は、請求項６に記載の参照値推定回路において、前記ｎ番目の参照値レベルを推定するとき、ｎ−１番目の参照値レベルから前記中心の参照値レベル方向に向かって前記検出幅ｄを設定することを特徴とする。
【００１４】
請求項８の発明は、請求項７に記載の参照値推定回路において、前記プラス側のｎ−１番目の参照値レベルと中心の参照値レベルの間の振幅を１／ｐした幅と前記マイナス側のｎ−１番目の参照値レベルと中心の参照値レベルの間の振幅を１／ｐした幅のうち小さい方を前記検出幅ｄとして設定することを特徴とする。
【００１５】
請求項９の発明は、請求項１ないし８の何れか１項に記載の参照値推定回路と、ＲＦ信号に含まれるオフセットを除去して前記参照値推定回路に入力するオフセット除去回路と、該参照値推定回路によって推定された参照値をもとに最尤復号化処理を行う復号化回路とを有することを特徴とする再生装置である。
【００１６】
なお、以下の実施の形態では、請求項２におけるｍが１の場合が示されているが、本発明はこれに限定されるものではない。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、ＲＦ信号波形のサンプル点に対してプラス側のサンプル点の頻度とマイナス側のサンプル点の頻度の比率を求め、求めた比率に応じて前記参照値レベルを推定するものであるから、参照値レベルの推定においては、再生信号からサンプル点の頻度のみを検出できればよく、よって、信号特性の相違に拘わらず如何なる特性の信号に対しても、本発明を広く適用することができる。
【００１８】
また、参照値レベルの推定は、サンプル点の頻度と比率を求めることによって行われるため、カウンタや簡単な演算回路等、簡素かつ低処理コストの回路の組み合わせにて参照値推定回路を構成することができ、さらに、以下の実施の形態に検証結果として示す如く、このように簡素な構成にて参照値推定回路を構成したとしても、精度の高い参照値の推定を実現することができる。
【００１９】
このように、本発明によれば、簡素な構成により精度良く、且つ、どのような特性の信号にも広く用い得る参照値推定回路およびこれを用いた再生装置を提供することができる。
【００２０】
本発明の特徴は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明の一つの実施形態であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。本実施の形態は、次世代ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の高密度光ディスクに対して記録／再生を行う光ディスク装置に本発明を適用したものである。
【００２２】
図１に実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す。なお、図１には、再生系のみを図示し記録系については図示省略している。また、フォーカスサーボ回路やトラッキングサーボ回路等も図示省略している。
【００２３】
図１に示す如く、本実施の形態に係る光ディスク装置は、光ピックアップ１０と、増幅回路２０と、ＡＤ変換回路３０と、オフセット調整回路４０と、デジタルＰＬＬ５０と、イコライザ６０と、ビタビ復号器７０と、ビタビ参照値推定回路８０を備えている。
【００２４】
光ピックアップ１０は、ディスクにレーザ光を照射してデータの書き込みを行うとともに、ディスクからの反射光を受光してデータの読み取りを行う。増幅回路２０は、光ピックアップ１０から供給される再生ＲＦ信号を増幅してＡＤ変換回路３０に出力する。ＡＤ変換回路３０は、非同期クロックに応じたタイミングにて再生ＲＦ信号をサンプリングし、サンプル値をデジタルデータに変換してオフセット調整回路４０に出力する。オフセット調整回路４０は、再生ＲＦ信号に含まれるＤＣオフセットを検出してこれを除去し、オフセットのない再生ＲＦ信号（デジタルデータ）を出力する。
【００２５】
デジタルＰＬＬ５０は、ＡＤ変換回路３０にてサンプリングされたデータを補間して、正規のサンプリングタイミングにおけるデータを生成する。イコライザ６０は、ビタビ参照値推定回路８０から入力される参照値レベルに合うよう、デジタルＰＬＬ５０から供給されるデータに対して波形等化処理を施してビタビ復号器７０に出力する。ビタビ復号器７０は、ビタビ参照値推定回路８０から入力される参照値レベルをもとに、イコライザ６０から入力されるデジタルデータにビタビ復号処理を施して１、０の２値化データを生成出力する。
【００２６】
ビタビ参照値推定回路８０は、オフセット調整回路４０から供給されるオフセット調整後のデジタルデータをもとにビタビ復号器７０にて期待値として参照される参照値を生成し、これをイコライザ６０とビタブ復号器７０に出力する。
【００２７】
図２に、ビタビ参照値推定回路８０の構成を示す。
【００２８】
再生ＲＦ信号にアシンメトリが存在する場合、再生ＲＦ信号の振幅は、０レベルを境に上下で異なっている。したがって、この波形をサンプリングすると０レベルの上下でサンプル点の密度に差が生じる。
【００２９】
ビタビ参照値が、マイナス値側からプラス値側に掛けて９段階のレベル（Ｖ０、Ｖ１、…、Ｖ８）に分かれているとすると、ＤＣオフセットが除去されている場合、ＲＦ信号波形の中心にある参照値レベルがビタビ参照値レベルＶ４となる。また、ＲＦ信号波形の平均最大値Ｌmaxおよび平均最小値Ｌminを求めることにより、ＲＦ信号波形の最も外側にあるビタビ参照値レベルＶ０とＶ８を、Ｖ０＝Ｌmin、Ｖ８＝Ｌmaxとして取得することができる。図２に示すビタビ参照値推定回路８０では、このようにして取得されるビタビ参照値レベルＶ４、Ｖ０、Ｖ９から、これら以外のビタビ参照値レベルが推定および設定される。
【００３０】
ビタビ参照値レベルの間隔は、サンプル点の密度に依存していると考えられる。ビタビ参照値レベルが密になっているほど、同じ面積内に存在するサンプル点の個数は多くなり、逆に粗であれば同じ面積内に存在するサンプル点の個数は少なくなる。
【００３１】
ビタビ参照値推定回路８０は、ビタビ参照値レベルの間隔がサンプル点の密度に比例するものとして、マイナス側の参照値レベルＶ１、Ｖ２、Ｖ３と、プラス側の参照値レベルＶ５、Ｖ６、Ｖ７を推定する。具体的には、０レベルを境に、プラス側（ゼロレベルより上側）およびマイナス側（ゼロレベルより下側）にそれぞれ同一幅の検出幅ｄを設ける。そして、一定時間の間、それぞれの検出幅に含まれるサンプル点の個数Ｎｐ（プラス側）およびＮｍ（マイナス側）をカウントする。
【００３２】
ビタビ参照値レベル間隔とサンプル点密度が比例する場合、ＲＦ信号波形のマイナス側のビタビ参照値レベルの間隔ｄｄは、各参照値レベル間の間隔が均等であるとすると、最大値レベルＬmaxおよび最小値レベルLminの振幅Ａ（図３参照）と、最小値レベル参照値レベルＶ４を挟む上下の参照値レベルＶ３およびＶ５の振幅Ｂ（図３参照）と、サンプル点個数ＮｐおよびＮｍを用いて、次式のように求めることができる。
【００３３】
ｄｄ＝（Ａ−Ｂ）・｛Ｎｐ／（Ｎｐ＋Ｎｍ）｝／３ …（１）
ここで、振幅Ｂは振幅Ａの４分の１とされるため、（１）は次式のように変形される。
【００３４】
ｄｄ＝｛Ｎｐ／（Ｎｐ＋Ｎｍ）｝・Ｂ …（２）
同様に、ＲＦ信号波形のプラス側のビタビ参照値レベルの間隔ｄｕは、次式のように求めることができる。
【００３５】
ｄｕ＝｛Ｎｍ／（Ｎｐ＋Ｎｍ）｝・Ｂ …（３）
ところで、ここでは、マイナス側とプラス側のビタビ参照値レベルの間隔がそれぞれ均等であるとして、ｄｄおよびｄｕを求めたが、限られた範囲のサンプル点密度を用いてＶ４、Ｖ０、Ｖ８以外のビタビ参照値レベルを全て決定すると、振幅レベル間隔が等しくない場合に対応することができない。さらに、アシンメトリが存在するとビタビ参照値レベル間隔が等しくなるといった仮定をおくこともできなくなる。
【００３６】
そこで、図２に示すビタビ参照値推定回路８０では、最も外側の参照値レベルＶ０、Ｖ８から、それより一つ内側の参照値レベルＶ１、Ｖ７の間隔ｄｄ、ｄｕを上記式（２）（３）をもとに求める。このとき、サンプル点個数ＮｐおよびＮｍをカウントするための検出幅ｄは、図４に示す如く、それぞれ、参照値レベルＶ０、Ｖ８から内側に向けて設定する。そして、求めた間隔ｄｄおよびｄｕを参照値レベルＶ０およびＶ８に加算および減算して参照値レベルＶ１、Ｖ７を求める。
【００３７】
しかる後、求めた参照値レベルＶ１、Ｖ７から、それより一つ内側の参照値レベルＶ２、Ｖ６の間隔ｄｄ、ｄｕを上記式（２）（３）をもとに求める。このとき、サンプル点個数ＮｐおよびＮｍをカウントするための検出幅ｄは、図５に示す如く、それぞれ、求めた参照値レベルＶ１、Ｖ７から内側に向けて設定する。そして、求めた間隔ｄｄおよびｄｕを参照値レベルＶ１およびＶ７に加算および減算して参照値レベルＶ２、Ｖ６を求める。以下、同様にして、Ｖ３、Ｖ５を求める。
【００３８】
なお、検出幅ｄは、マイナス側とプラス側のサンプル点密度を適正に取得できる幅に設定する。何れか一方の検出幅に中心の参照値レベルＶ４が含まれると、その検出幅にてカウントされたサンプル点個数が増大し、マイナス側とプラス側のサンプル点密度を適正に取得できなくなる。また、たとえば図４に示す例の場合には、検出幅ｄが小さいと、マイナス側の検出幅には参照値レベルＶ０とＶ１のサンプル点が含まれるが、プラス側の検出幅には参照値レベルＶ８のサンプル点のみしか含まれなくなるといった不都合が生じる。よって、検出幅ｄは、これらの不都合が生じることなく、マイナス側とプラス側のサンプル点密度を適正に取得できるような幅に設定する。
【００３９】
たとえば、参照値レベルＶ１、Ｖ７を式（２）（３）をもとに求める場合には、Ｖ０とＶ４の間隔と、Ｖ８とＶ４の間隔をそれぞれ１／２して得た幅のうち小さい方の幅を検出幅ｄとして設定する。同様に、参照値レベルＶ２、Ｖ６を求める場合には、上記式（２）（３）をもとに求めたＶ１、Ｖ７とＶ４の間隔をそれぞれ１／２して得た幅のうち小さい方の幅を検出幅ｄとして設定する。参照値レベルＶ３、Ｖ５を求める場合も同様に設定する。このように設定すると、マイナス側とプラス側のサンプル点密度を適正に取得できる。なお、各レベルとＶ４の間隔を１／２するに代えて、たとえば、１／３にする等、他の方法にて検出幅ｄを設定するようにすることも可能である。
【００４０】
図２を参照して、ビタビ参照値推定回路８０は、サンプル検出器８０１と、Ｎｐカウンタ８０２と、Ｎｍカウンタ８０３と、比例分配部８０４と、最大値レベル検出部８０５と、最小値レベル検出部８０６と、振幅推定部８０７と、プラス側参照値推定部８０８と、マイナス側参照値推定部８０９を備えている。
【００４１】
サンプル検出器８０１は、プラス側参照値推定部８０８およびマイナス側参照値推定部８０９から入力される参照値Ｖｉをもとに、上記の如くしてプラス側とマイナス側に検出幅ｄを設定し、それぞれの検出幅にサンプル点が含まれるときその検出信号をそれぞれＮｐカウンタ８０２とＮｍカウンタ８０３に出力する。
【００４２】
Ｎｐカウンタ８０２は、プラス側の検出幅ｄにサンプル点が含まれることを示す検出信号がサンプル検出器８０１から入力されることに応じて１カウントアップされる。Ｎｍカウンタ８０３は、マイナス側の検出幅ｄにサンプル点が含まれることを示す検出信号がサンプル検出器８０１から入力されることに応じて１カウントアップされる。比例分配部８０４は、Ｎｐカウンタ８０２およびＮｍカウンタ８０３のカウント値ＮｐおよびＮｍと、振幅推定部８０７から入力される振幅Ｂ（図３参照）をもとに、上記式（２）（３）を演算してｄｕおよびｄｄを算出し、それぞれプラス側参照値推定部８０８とマイナス側参照値推定部８０９に出力する。
【００４３】
最大値レベル検出部８０５は、ＲＦ信号波形の平均最大値Ｌmaxを求め、これを振幅推定部８０７とプラス側参照値推定部８０８に出力する。最小値レベル検出部８０６は、ＲＦ信号波形の平均最小値Ｌminを求め、これを振幅推定部８０７とプラス側参照値推定部８０８に出力する。
【００４４】
振幅推定部８０７は、最大値レベル検出部８０５および最小値レベル検出部８０６から入力された平均最大値Ｌmaxおよび平均最小値Ｌminから振幅Ａ（図３参照）を求め、さらに、求めた振幅Ａを１／４して振幅Ｂ（図３参照）を推定し、これを比例分配部８０４に出力する。
【００４５】
プラス側参照値推定部８０８は、最大値レベル検出部８０５から入力された平均最大値Ｌmaxを参照値レベルＶ８として設定するとともに、参照値レベルＶ７、Ｖ６、Ｖ５の推定時にＶi-1＝Ｖi−ｄｕ（ｉ＝８、７、６）を演算して、参照値レベルＶ７、Ｖ６、Ｖ５を推定・設定する。
【００４６】
マイナス側参照値推定部８０９は、最小値レベル検出部８０６から入力された平均最小値Ｌminを参照値レベルＶ０として設定するとともに、参照値レベルＶ１、Ｖ２、Ｖ３の推定時にＶj+1＝Ｖj＋ｄｄ（ｉ＝０、１、２）を演算して、参照値レベルＶ１、Ｖ２、Ｖ３を推定・設定する。
【００４７】
図６に、参照値レベル設定時のフローチャートを示す。
【００４８】
参照値レベルの設定動作が開始されると、変数ｌが０に設定された後、ＲＦ信号波形の平均最大値Ｌmaxと平均最小値Ｌminが最大値レベル検出部８０５と最小値レベル検出部８０６にて取得される（Ｓ１０１）。さらに、取得された平均最大値Ｌmaxおよび平均最小値Ｌminをもとに、振幅推定部８０７にてＢ＝（Ｌmax−Ｌmin）／４が演算され振幅Ｂ（図３参照）が取得される（Ｓ１０２）。そして、取得された平均最大値Ｌmaxおよび平均最小値Ｌminがそれぞれ参照値レベルＶ８およびＶ０に設定された後（Ｓ１０３）、これら参照値レベルＶ０、Ｖ８と、中心の参照値レベルであるＶ４をもとに、上記の如くして、検出幅ｄが設定される（Ｓ１０５）。
【００４９】
しかして、検出幅ｄが設定されると、最も外側の参照値レベルＶ８、Ｖ０から中心方向に検出幅ｄまでの区間がサンプル検出区間ＡｐおよびＡｍとして設定される（Ｓ１０６）。そして、サンプル検出区間ＡｐおよびＡｍに含まれるサンプル点数ＮｐおよびＮｍが、Ｎｐ＋Ｎｍ＝Ｎｓになるまでカウントされる。ここで、Ｎｓは、比例分配部８０４における演算処理を簡素化するためには、好ましくは２のべき乗とされ、たとえばＮｓ＝２５６に設定される。
【００５０】
しかして、Ｎｐ、Ｎｍが取得されると、上記式（２）（３）から間隔ｄｕ、ｄｄが取得される。そして、Ｌmax＝Ｌmax−ｄｕ、Ｌmin＝Lmin＋ｄｄが行われ、Ｌmax、Ｌminが更新される（Ｓ１０８、Ｓ１０９）。同時に、変数ｌに１が加算される（Ｓ１１０）。そして、Ｓ１０３に戻り、参照値レベルＶl、Ｖ8-l、すなわち参照値レベルＶ１、Ｖ７がそれぞれＳ１０８、Ｓ１０９で更新されたＬmax、Ｌminと推定される。
【００５１】
しかして、参照値レベルＶ１、Ｖ７の推定が終了すると、Ｓ１０５にて、これら参照値レベルＶ１、Ｖ７と、中心の参照値レベルであるＶ４をもとに、上記の如くして、検出幅ｄが設定される。以下、同様にして、参照値レベルＶ２、Ｖ６の推定が行われる（Ｓ１０６〜Ｓ１１０、Ｓ１０３）。そして、参照値レベルＶ２、Ｖ６の推定が終了すると、同様に、参照値レベルＶ３、Ｖ５の推定が行われる（Ｓ１０６〜Ｓ１１０、Ｓ１０３）。
【００５２】
このようにして、参照値レベルＶ３、Ｖ５の推定が終了すると、Ｓ１０４の判別がＹＥＳとされ、ビタビ参照値レベルの推定が終了される（Ｓ１１１）。そして、推定された参照値レベルが新たな参照値レベルとして設定され（Ｓ１１２）、ビタビ参照値推定回路８０からビタビ復号器７０に出力される。
【００５３】
以上、本実施の形態によれば、プラス側とマイナス側のサンプル点密度をもとにビタビ参照値レベルが設定されるため、図２に示すような簡素な構成にて各参照値レベルを設定することができる。また、本実施の形態によれば、参照値レベルを推定する毎に、推定対象とされる参照値レベル付近のサンプル点密度を検出し、これをもとに各参照値レベルを推定するようにしたため、アシンメトリにより振幅レベル間隔が等しくなくなるような場合にも、各参照値レベルを精度よく推定することができる。
【００５４】
なお、本実施の形態にて参照値レベルを設定した場合の効果を検証したので、以下、これについて示しておく。
【００５５】
（検証方法）
上記実施の形態におけるアルゴリズム（図６）は、純粋な性能を見るためのＣ言語による構成のものと、ハードウェア化による影響を見るためのＲＴＬによる構成のものを用意した。また、比較例として示される簡易手法（アルゴリズム）は、Ｃ言語による構成のもののみを用意した。
【００５６】
なお、かかる簡易手法では、平均最大値レベルＬmaxと平均最小レベルLminをそれぞれ参照値レベルＶ８、Ｖ０に設定し、平均最大値レベルＬmaxと中心レベルＶ４の間を４等分したレベルを上から順にＶ７、Ｖ６、Ｖ５とし、平均最小値レベルＬminと中心レベルＶ４の間を４等分したレベルを下から順にＶ１、Ｖ２、Ｖ３とした。
【００５７】
本検証では、９値を持つ理想サンプル点信号をアシンメトリなサンプル点信号に加工してシミュレーションに用いることとした。具体的には、以下のようにアシンメトリのあるサンプル点信号ｆａ（ｔ）を作成した。なお、理想サンプル点信号の取る９値をＩ0〜Ｉ8とする。
【００５８】
（１）  このとき、Ｉ0’＝Ｉ0＋ｄH、Ｉ8’＝Ｉ8＋ｄH、Ｉ3’＝Ｉ3＋ｄL、Ｉ5’＝Ｉ5＋ｄLとする。
【００５９】
（２）  Ｉ5’とＩ8’の間にある信号レベルを、隣り合うレベル間隔がＩ5’からＩ8’にかけてｒ％ずつ増加するようにＩ6’、Ｉ7’を決定し、Ｉ3’からＩ0’の間にある信号レベルを、隣り合うレベル間隔がＩ3’からＩ0’にかけてｒ％ずつ増加するようにＩ2’、Ｉ1’を決定する。
【００６０】
（３）  （２）で作成したアシンメトリ元サンプル信号ｆｉ（ｔ）に対して白色雑音ｎ（ｔ）（平均０，分散１）を加えてｆａ（ｔ）を作成する。具体的には、fa(t) = fi(t) + k・n(t)と作成する。ここで、ｋは白色雑音レベルを表す。
【００６１】
この方法に従えば、パラメータ（dL; dH; r）を変化させることで様々なアシンメトリを持った信号を作成できる。また、パラメータｋを変化させることで実施の形態に従うアルゴリズムの対雑音性能も検証することができる。
【００６２】
今回のシミュレーションでは、パラメータ（k; dL; dH; r）を以下のように設定し、その組合せを全て考えることとした。
【００６３】
ｋ＝３
ｄL＝−９、−６、−３、０、３、６
ｄH＝−２０、−１０、１０、２０
ｒ＝0.1、0.2、0.3
また、図６のフローチャートでは、Ｓ１０７において、Ｎｐ＋Ｎｍ＝ＮｓとなるまでＮｐおよびＮｓをカウントするようにしたが、本検証では、ＮｐおよびＮｍのカウント期間ｔ０として、ＲＦ信号に対するサンプル点（Ａ／Ｄ変換回路３０によるサンプル点）が１０００個現れる期間（ｔ０＝１０００）を設定した。
【００６４】
なお、評価指標としてはＰＲＳＮＲ（Partial Response Signal to Noise Ratio）を用いることとした。なお、ＰＲＳＮＲの評価方法については、たとえば「信学技報、MR2003-35  (2003-12)」に記載されている。
【００６５】
ＰＲＳＮＲ値が大きい程、再生信号のビットエラーレートが小さくなる。ディスク再生においては、ＰＲＳＮＲ＞１５が要求され、ＰＲＳＮＲ＞２０程度であれば、良好な再生を行い得る。
【００６６】
また、対雑音性能の検証では、例題として(k; dH; dL; r) = (3; -6; 6; 0:1); (6; -6; 6; 0:1)を選択して検証を行った。
【００６７】
（検証結果）
図７に、実施の形態に従うアルゴリズム（Ｃ言語構成、ＲＴＬ構成）と簡易手法（Ｃ言語構成）によってそれぞれＰＲＳＮＲを求めたときの算出結果を示す。
【００６８】
図において、横軸は、例題番号である。各例題番号では、上述のパラメータｋ、ｄL、ｄH、ｒの値が変えられている。縦軸は、各例題番号に対して算出したＰＲＳＮＲの平均値である。
【００６９】
図７を参照すると、実施の形態に係るアルゴリズムの方が簡易手法の場合に比べ、ＰＲＳＮＲが大きくなっている。このことから、実施の形態に係るアルゴリズムの有効性が確認できる。
【００７０】
図８は、ある例題に対するＰＲＳＮＲの値を示す表である。この表から、パラメータｄLの絶対値を大きくするほど実施の形態に従うアルゴリズム（提案手法）の方が有効性を発揮することがわかる。
【００７１】
次に、図９および図１０に、対雑音性能の検証結果を示す。同グラフの横軸下側に示された矢印は、それぞれ、実施の形態に従うアルゴリズム（proposal）と簡易手法（simple）によって推定されたビタビ参照値レベルを示している。これらの図から、実施の形態に従うアルゴリズム（proposal）によれば、雑音が大きく加わった波形（白色雑音レベルk = 6）であっても、比較的雑音が加わっていない波形（白色雑音レベルk = 3）とほぼ同等のレベルに参照値が推定されていることがわかる。この検証結果から、実施の形態に従うアルゴリズム（proposal）において高い対雑音性能が発揮されることが分かる。
【００７２】
以上、本発明に係る実施の形態について説明したが、本発明は、上記実施の形態に限定されるものではなく、他に種々の変更が可能であることは言うまでもない。
【００７３】
たとえば、上記実施の形態では、ビタビ参照値レベルを９段階としたが、本発明は、これ以外の段数のビタビ参照値レベルが設定されている場合にも適用可能である。また、上記実施の形態では、オフセット調整回路４０から出力されるサンプルデータをビタビ参照値推定回路８０に入力して参照値推定を行うようにしたが、デジタルＰＬＬ回路５０から出力されるデータをビタビ参照値推定回路８０に入力して参照値推定を行うように変更することもできる。
【００７４】
さらに、上記実施の形態では、振幅Ｂから式（２）（３）をもとに、間隔ｄｄ、ｄｕを求めるようにしたが、振幅Ａ（図３参照）から間隔ｄｄ、ｄｕを求めるようにしてもよい。この場合、振幅Ｂは振幅Ａの４分の１とされるため、式（２）（３）は次式のように変形される。
【００７５】
ｄｄ＝｛Ｎｐ／（Ｎｐ＋Ｎｍ）｝・（Ａ／４） …（４）
ｄｕ＝｛Ｎｍ／（Ｎｐ＋Ｎｍ）｝・（Ａ／４） …（５）
この場合、図２における振幅推定部８０７は、最大値レベル検出部８０５および最小値レベル検出部８０６から入力される平均最大値Ｌmaxと平均最小値Ｌminから振幅Ａを求め、比例分配部８０４に出力する。比例分配部８０４は、入力された振幅Ａをもとに、式（４）および式（５）の演算を実行して間隔ｄｄ、ｄｕを求め、それぞれ、プラス側参照値推定部８０８およびマイナス側参照値推定部８０９に出力する。
【００７６】
また、上記実施の形態では、１サイクルの推定処理にてプラス側とマイナス側の参照値レベルを一つずつ推定するようにしたが、１サイクルの推定処理にてプラス側とマイナス側の参照値レベルを二つ以上ずつ推定するようにすることもできる。たとえば、二つずつ推定する場合には、式（２）（３）にて求めた間隔ｄｄおよびｄｕをもとに、Ｖi-1＝Ｖi−ｄｕおよびＶj+1＝Ｖj＋ｄｄを実行して、一つ内側（中心レベルより）の参照値レベルの推定を行い、さらに、Ｖi-1＝Ｖi−２ｄｕおよびＶj+1＝Ｖj＋２ｄｄを実行して、それよりさらに一つ内側の参照値レベルの推定を行う。この場合、検出幅ｄは、プラス側の２つの参照値レベルとマイナス側の２つの参照値レベルをともに含むようにして設定するのが好ましい。
【００７７】
この他、上記実施の形態では、次世代ＤＶＤ等の高密度光ディスクに対して記録／再生を行う光ディスク装置に本発明を適用した例を示したが、これ以外のディスク再生装置やその他の再生装置に本発明を適用することも可能である。
【００７８】
本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７９】
【図１】実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示す図
【図２】実施の形態に係るビタビ参照値推定回路の構成を示す図
【図３】実施の形態に係る振幅値Ａ、Ｂの設定方法を示す図
【図４】実施の形態に係る検出幅ｄの設定方法を示す図
【図５】実施の形態に係る検出幅ｄの設定方法を示す図
【図６】実施の形態に係るビタビ参照値レベル設定時のフローチャート
【図７】実施の形態に係る検証結果を示す図
【図８】実施の形態に係る検証結果を示す図
【図９】実施の形態に係る検証結果を示す図
【図１０】実施の形態に係る検証結果を示す図
【符号の説明】
【００８０】
７０  ビタビ復号器
８０  ビタビ参照値推定回路
８０１  サンプル検出器
８０２  Ｎｐカウンタ
８０３  Ｎｍカウンタ
８０４  比例分配部
８０５  最大値レベル検出部
８０６  最小値レベル検出部
８０７  振幅推定部
８０８  プラス側参照値推定部
８０９  マイナス側参照値推定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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