(57)【要約】【課題】極力少ない照射時間で被検体に関するより多くの断層映像情報の取得を可能とする。【解決手段】光源部は波長帯域が互いに異なり、同時出射可能な２つの低可干渉性光源１０，１１を用いてなり、その出射光は、２×２カプラ２２によりプローブ３０を介して被検体７１へ照射される光束と、波長帯域毎に設けられた参照ミラー２３，２４へ照射される光束とに２分される。参照ミラー２３，２４へ照射される光束は、ダイクロイックミラー２６により波長帯域毎に分光、照射され、参照光として２×２カプラ２２へ再帰し、被検体７１からの被検光と合波される。その後、分光光学系によって、波長帯域毎に光検出器４１へ照射され、信号処理部６５において信号処理されることで、波長帯域毎に被検体７１の異なる部位についての光断層映像が得られる構成となっている。【選択図】          図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも２つの互いに異なる波長帯域において低可干渉性を有する光を出射する光源と、
該光源から出射された光束を２分し、その一方を被検体へ照射すると共に、他方を参照面に照射し、該参照面および該被検体から各々反射された光束を合波せしめることによって干渉光を得、該干渉光の光強度分布を光検出器によって得られるよう構成された干渉計と、
該干渉計により得られた光強度分布信号に基づき断層映像信号を得る信号処理部とを具備し、
前記干渉計には、前記参照面へ照射される前記他方の光束を、少なくとも第１の波長帯域の光束と第２の波長帯域の光束とに位相ずれを生ずることなく分離する波長選択素子が設けられると共に、前記参照面が形成された反射光学素子が該波長選択素子により２分された光束に対してそれぞれ設けられてなる一方、
前記信号処理部は、前記光源の波長帯域毎に前記断層映像信号を生成すると共にその合成信号を出力するよう構成されてなることを特徴とする光断層映像装置。
【請求項２】
前記光検出器は、ラインイメージセンサを用いてなる一方、
前記干渉計は、前記干渉光を分光する分光光学系を有し、該分光光学系を介して該干渉光を前記ラインイメージセンサへ照射することにより、該干渉光を前記光源の波長帯域毎に分離して前記ラインイメージセンサに照射可能としてなることを特徴とする請求項１記載の光断層映像装置。
【請求項３】
前記各々の反射光学素子を、所望に応じてそれぞれの光軸方向に移動可能とする移動機構を設け、それぞれの反射光学素子に照射される光の波長帯域毎に、前記参照面から反射された参照光束の光路長を変更可能としたことを特徴とする請求項１または２記載の光断層映像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、医療または工業等の分野において被検体の断層映像を得る際に用いられる光断層映像装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、医療用や工業用等の被検体を撮像する分野、特に電子内視鏡の分野において、ＯＣＴの手法を用いて被検体の断層映像を撮影する装置が知られている。
このＯＣＴによる断層映像装置は、光を検出プローブとして用いていることから、従来のＸ線撮影装置の如く被検体がＸ線照射により被爆するという問題がなく、特に、被検体が人体であるような場合には極めて好ましい。また、ＣＴやＭＲＩ等のように大型な装置を要さず、簡易に被検体の検査を行なうことができるので、被検者のコスト的な負担や体力的な負担を軽減でき、この面でも好ましい。
【０００３】
また、このＯＣＴを用いた断層映像装置は、広帯域なスペクトル幅を有する光の低コヒーレンス性を利用して、被検体の深さ方向の各位置における干渉波情報を得るようにしているので、被検体内部からの反射光をμｍオーダーの空間分解能で検出することができ、従来のＸ線撮影装置に比べて測定分解能を大幅に向上させることができる。
このような多くの優れた特性を有するＯＣＴを用いた断層映像装置は、例えば下記非特許文献１等に開示されており、また、具体的に様々な技術的な工夫を施したＯＣＴを用いた断層映像装置が提案されている（例えば、特許文献１等参照）。
【０００４】
【特許文献１】特開２００３−３２９５７７号公報
【非特許文献１】光学３２巻４号（２００３）：佐藤学、丹野直弘著
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、被検体に関する画像情報の取得速度やその情報量などにおいて必ずしも満足したものが提案されて実用に供されている訳ではなく、さらなる改良が望まれているのが現状である。
特に、光断層映像装置を医療用として用いる場合、検査に伴う被検者への肉体的、精神的負担が極力小さいものとする必要があり、そのためには、できる限り少ない照射回数で多くの患部についての断層映像の取得が可能な装置が望まれる。
【０００６】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、極力少ない照射時間で被検体に関するより多くの断層映像情報を得ることができる光断層映像装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の光断層映像装置は、
少なくとも２つの互いに異なる波長帯域において低可干渉性を有する光を出射する光源と、
該光源から出射された光束を２分し、その一方を被検体へ照射すると共に、他方を参照面に照射し、該参照面および該被検体から各々反射された光束を合波せしめることによって干渉光を得、該干渉光の光強度分布を光検出器によって得られるよう構成された干渉計と、
該干渉計により得られた光強度分布信号に基づき断層映像信号を得る信号処理部とを具備し、
前記干渉計には、前記参照面へ照射される前記他方の光束を、少なくとも第１の波長帯域の光束と第２の波長帯域の光束とに位相ずれを生ずることなく分離する波長選択素子が設けられると共に、前記参照面が形成された反射光学素子が該波長選択素子により２分された光束に対してそれぞれ設けられてなる一方、
前記信号処理部は、前記光源の波長帯域毎に前記断層映像信号を生成すると共にその合成信号を出力するよう構成されてなることを特徴とするものである。
【０００８】
また、前記光検出器は、ラインイメージセンサを用いてなる一方、
前記干渉計は、前記干渉光を分光する分光光学系を有し、該分光光学系を介して該干渉光を前記ラインイメージセンサへ照射することにより、該干渉光を前記光源の波長帯域毎に分離して前記ラインイメージセンサに照射可能としてなるものが好適である。
【０００９】
さらに、前記各々の反射光学素子を、所望に応じてそれぞれの光軸方向に移動可能とする移動機構を設け、それぞれの反射光学素子に照射される光の波長帯域毎に、前記参照面から反射された参照光束の光路長を変更可能としたものが好適である。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の光断層映像装置によれば、少ない照射時間で、被検体の表面近傍から深部まで深さ方向の異なる部位についての光断層映像を効率良く取得することができる。
【００１１】
また、波長帯域の異なる低可干渉光が同時に被検体へ照射されるので、波長帯域毎に光源を切り換えるような操作を不要とし、操作性が良好で、しかも、少ない検査時間で従来に比してより多くの光断層映像情報の取得が可能となる。
【００１２】
さらに、波長帯域毎に設けられた参照ミラーの位置を調整することで、被検体の同一の部位について、それぞれの波長帯域での干渉光を得ることができるので、当該被検体の部位についての分光特性の取得が容易となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の実施形態に係る光断層映像装置について図面を参照しつつ説明する。
図１は本発明の第１の実施形態に係る光断層映像装置を示す概略図である。
本実施形態に係る光断層映像装置は、例えば、医療用の内視鏡に適用されたものであって、光源部と干渉計と信号処理部とに大別されてなるものである。
【００１４】
光源部は、２つの低可干渉性光源１０，１１を用いて構成される。この２つの低可干渉性光源１０，１１は、それぞれ波長帯域が異なる光を出力するもので、例えば、第１の低可干渉性光源１０は、図４に示されるように、波長λ１にピーク値を有して所定のビーム幅を有する低可干渉光を出力する一方、第２の低可干渉性光源１１は、波長λ２（λ１＜λ２）にピーク値を有して所定のビーム幅を有する低可干渉光を出力するものである。そして、これら第１および第２の低可干渉性光源１０，１１は、その出力光のプロファイルが、図４に示されるように相互に重複することがないようなものが選定されることが望ましい。
【００１５】
干渉計は、全体としていわゆるマイケルソン型干渉計を構成しており、導光路としての光ファイバ（図中、黒太線で示す）で導光される光束を分波および／または合波する２×１カプラ２１および２×２カプラ２２と、被検体７１からの断層映像情報を得るためのプローブ３０と、反射光学素子としての２つの参照ミラー２３，２４と、後述する分光光学系を介して入射した干渉光を光電変換する光検出器４１とを備えたものとなっている。
【００１６】
さらに、２×２カプラ２２と２つの参照ミラー２３，２４の間の光ファイバには、コリメータ２５が接続されると共に、このコリメータ２５と第１および第２の参照ミラー２３，２４の間には、波長選択素子としてのダイクロイックミラー２６が配されている。ここで、コリメータ２５と、ダイクロイックミラー２６と、第２の参照ミラー２４は、コリメータ２５から出射される光がダイクロイックミラー２６の中心を通過し、第２の参照ミラー２４の中心に照射されるように同一光軸上に配設されている。
【００１７】
一方、第１の参照ミラー２３は、上述のようにコリメータ２５と第２の参照ミラー２４の間の光軸に対して直交する方向に配設されている。すなわち、第１の参照ミラー２３は、コリメータ２５から出射されてダイクロイックミラー２６において直角に反射された光が照射される位置に配設されている。
【００１８】
そして、ダイクロイックミラー２６と第１の参照ミラー２３との距離は所定値ｌ１に、また、ダイクロイックミラー２６と第２の参照ミラー２４との距離は所定値ｌ２に、それぞれ設定されており、しかも、ｌ１≠ｌ２の関係を満たすものとなっている。これは、後述するように、波長λ１を中心とした低可干渉光による断層映像信号と波長λ２を中心とした低可干渉光による断層映像信号の分離を図るためである。
【００１９】
一方、このプローブ３０は、図１に示すように、可撓性を有するシース３１内に、対物光学系としてのＧＲＩＮレンズ３２と直角プリズム３３とが、プローブ３０の先端側に直角プリズム３３が位置するようにして光ファイバと共に収納されたものとなっている。なお、直角プリズム３３は、全反射ミラーとされた、その斜面３３ａにおいて光路を９０度偏向するように反射し、この直角プリズム３３の直交面の一つから光を出射する機能を果たすものとなっている。なお、直角プリズム３３の斜面３３ａの中心をＧＲＩＮレンズ３２の光軸が通過するように配設するのが好ましい。
【００２０】
さらに、シース３１には、直角プリズム３３が位置する付近の周方向において、透光窓部３５が形成されており、直角プリズム３３で９０度偏向された低可干渉光をプローブ３０外部の被検体７１へ照射可能とすると共に、被検体７１から戻ってくる後方散乱光の取得を可能としている。
【００２１】
なお、図１においては説明を簡単にして理解を容易とするため、このプローブ３０の構造を簡略に図示したものとなっているが、実際には、少なくともＧＲＩＮレンズ３２および直角プリズム３３が配される部分は、シース３１を形成する可撓性部材とは異なり、比較的剛性のある部材を用いてシース３１と一体に形成されたほぼ中空円筒状の部材からなり、ＧＲＩＮレンズ３２および直角プリズム３３の保護機能が果たされるようになっている。
【００２２】
またさらに、図１に示されたプローブ３０では、直角プリズム３３をプローブ３０内に固設されたものとし、プローブ３０自体を回動させるようにしてもよいが、操作性等の観点からより好ましくは、次述するようにＧＲＩＮレンズ３２の光軸を回動軸とする回動機構を設けて直角プリズム３３を自在に回動できるような構成とするとよい。
【００２３】
図２には、直角プリズム３３を回動させるための回動機構の構成例が示されており、以下、同図を参照しつつこの回動機構について説明する。
この構成例では、シース３０内に、螺旋バネ３６がＧＲＩＮレンズ３２の直角プリズム３３が位置する部位と反対側の部位に当接するようにしてシース３０の基端側まで一連に収納されて、ファイバーバンドル３７と共にＧＲＩＮレンズ３２および直角プリズム３３が一体となって、ＧＲＩＮレンズ３２の光軸を中心に回動可能となっている。
【００２４】
すなわち、ファイバーバンドル３７は、シース３０の基端部に固着されるプラグ４５に接続されるようになっており、このプラグ４５には回転操作部４６が、回転操作部４６に形成されたレセプタクル４８で螺合して取着されるようになっている。
【００２５】
回転操作部４６は、その両端部にレセプタクル４８，４９が形成されると共に、外周部に操作リング４７が設けられている。そして、先端側のレセプタクル４８は、先に述べたようにシース３０の基端部に設けられたプラグ４５に接続される一方、他方のレセプタクル４９は、光ファイバを介して２×２カプラ２２に接続されるようになっている。そして、操作リング４７を回動させることによって、螺旋バネ３６、ファイバーバンドル３７、ＧＲＩＮレンズ３２および直角プリズム３３が一体となって、ＧＲＩＮレンズ３２の光軸を中心に回動させることができる。なお、この場合、直角プリズム３３の回動に伴い、プローブ３０の周方向の任意の箇所から光の出入りを可能とするために、透光窓部３５は周方向で複数、または、連続的に形成するとよい。
【００２６】
干渉計は、さらに、次述する構成を有してなる分光光学系を備え、２×２カプラ２２で得られた干渉光がこの分光光学系を介して光検出器４１へ導かれるようになっている。
すなわち、分光光学系は、コリメータ６１と、回折格子６２とフーリエ変換レンズ６３とを備えて構成されたものとなっている。先の２×２カプラ２２から光ファイバを介してコリメータ６１には干渉光が導かれ、干渉光はコリメータ６１により平行光とされて、反射型の回折格子６２へ照射されるようになっている。
【００２７】
回折格子６２は、フーリエ変換レンズ６３の前側焦点位置に設けられており、回折格子６２からの回折光は、フーリエ変換レンズ６３を透過し、フーリエ変換レンズ６３の後段の、焦点距離ｆだけ離れた位置に設けられた光検出器４１に照射されるようになっている。なお、光検出器４１は、例えば、いわゆるラインイメージセンサ等が好適である。
【００２８】
ここで、回折格子６２からの回折光はフーリエ変換レンズ６３によるフーリエ変換作用を受けることにより、被検光と参照光とがスペクトル領域で重ね合わされて光検出器４１上に光波干渉に伴なう干渉スペクトルが形成されることとなる。すなわち、換言すれば、被検光と参照光の結合パワースペクトルが光検出器４１に入射することとなる。
【００２９】
光検出器４１の出力は、信号処理部６５へ入力されるようになっている。信号処理部６５においては、光検出機１から入力信号に対して、被検体７１の深さ方向の情報が反映された１次元の断層映像信号を得るために必要な信号処理が施されるようになっており、信号処理部６５からは、低可干渉光が照射された被検体７１の部位に関する断層映像信号が得られる。そして、このようにして得られた断層映像信号に、図示されない公知・周知の画像処理部において断層映像生成のために必要な処理を施すことによって、図示されない表示装置への断層映像の表示が可能となる。
【００３０】
次に、かかる実地形態装置の全体的な作用を説明する。
第１および第２の低可干渉性光源１０，１１から低可干渉光が同時に出射されると、出射光は２×１カプラ２１において合波されて、２×２カプラ２２へ伝送され、ここで、プローブ３０へ伝送される光と、参照ミラー２３，２４へ伝送される光とに２分される。
【００３１】
プローブ３０へ伝送された光は、ＧＲＩＮレンズ３２へ導光されこのＧＲＩＮレンズ３２を介して直角プリズム３３へ入射することとなり、直角プリズム３３の斜面３３ａによって９０度偏向されて、透光窓部３５を通過してプローブ３０外部の被検体７１へ照射されることとなる。すなわち、被検体７１へは、中心波長λ１の低可干渉光と、中心波長λ２の低可干渉光とが同時に照射されることとなる。
【００３２】
このようにして被検体７１に照射された波長帯域の異なる光は被検体７１の内部へ進入し、波長帯域に応じて、それぞれ異なる深さ位置に到達し、主に屈折率分布が不連続となる各断層境界部において後方散乱光をそれぞれ生じさせる。被検体７１の異なる深さ位置で、深さ方向の各断層境界部で生じた各々の後方散乱光は、僅かにコヒーレンス性を有しており、被検光として照射経路を逆に進み、プローブ３０の透光窓部３５を通過して直角プリズム３３の斜面３３ａへ再帰し、９０度偏向されてＧＲＩＮレンズ３２および光ファイバを介して２×２カプラ２２へ戻ることとなる。
【００３３】
一方、先に２×２カプラ２２において２分された他方の光束は、コリメータ２５において平行光とされてダイクロイックミラー２６へ照射される。そして、ダイクロイックミラー２６においては、その分光特性により、中心波長λ１の低可干渉光は、その照射方向に対して９０度偏向されて第１の参照ミラー２３へ照射される一方、中心波長λ２の低可干渉光は、ダイクロイックミラー２６を透過して直進し、第２の参照ミラー２４へ照射されることとなる。
【００３４】
そして、第１および第２の参照ミラー２３，２４のそれぞれにおいて、照射された光は、その反射面において入射方向と逆向きに反射され、参照光として入射経路を逆に進む。すなわち、第１の参照ミラー２３からの参照光は、ダイクロイックミラー２６で再度、９０度偏向されてコリメータ２５へ到る一方、第２の参照ミラー２４からの参照光は、ダイクロイックミラー２６を透過してコリメータ２５へ到ることとなり、双方の参照光は、２×２カプラ２２へ伝送されることとなる。
【００３５】
このようにして２×２カプラ２２へ伝送された被検光および参照光は、この２×２カプラ２２において互いに合波されるが、合波された両波はコヒーレンス長が極めて短いものであるため、各々の光遅延量が略等しい場合にのみ干渉する。ここで、第１の参照ミラー２３とダイクロイックミラー２６の間隔ｌ１と、第２の参照ミラー２４とダイクロイックミラー２６との距離ｌ２は、それぞれ異なる特定の値（ｌ１≠ｌ２）に設定されている。したがって、波長λ１を中心とした被検光と第１の参照ミラー２３からの参照光との間で生じる干渉光と、波長λ２を中心とした被検光と第２の参照ミラー２４からの参照光との間で生じる干渉光は、それぞれ被検体７１の異なる深さ位置におけるものとなる。
【００３６】
このようにして２×２カプラ２２で得られた干渉光は、光ファイバを介してコリメータ６１へ伝送されることとなる。
【００３７】
コリメータ６１に伝送された干渉光は、ここで、平行光とされて回折格子６２へ照射される。回折格子６２へ入射した干渉光は、波長分散されてフーリエ変換レンズ６３へ反射される。すなわち、例えば、中心波長λ１の干渉光は、フーリエ変換レンズ６３の光軸から上側に、また、中心波長λ２の干渉光は、フーリエ変換レンズ６３の光軸から下側へ、それぞれ分散されてフーリエ変換レンズ６３へ入射することとなる。
【００３８】
そして、フーリエ変換レンズ６３へ入射した中心波長λ１および中心波長λ２のそれぞれの干渉光は、フーリエ変換レンズ６３のフーリエ変換作用を受けて、光検出器４１へ照射される。
【００３９】
光検出器４１は、例えば、ラインイメージセンサが用いられるが、先に述べたように中心波長λ１の干渉光は、フーリエ変換レンズ６３の光軸から上側に、また、中心波長λ２の干渉光は、フーリエ変換レンズ６３の光軸から下側に、それぞれ分散されるため、例えば、ラインイメージセンサの中央から上側半分に中心波長λ１の干渉光を入射せしめると同時に、ラインイメージセンサの中央から下側半分に中心波長λ２の干渉光を入射せしめるというように、干渉光の波長帯域毎にラインイメージセンサの異なる部位へ干渉光を入射せしめることが可能となる。
【００４０】
光変換器４１に入射された光は、スペクトル毎の光強度信号（スペクトル干渉縞）に光電変換されて信号処理部６５へ入力される。ここで、光変換器４１からの出力信号は、干渉光が上述のように波長帯域毎に分離されて光検出器４１へ照射されることに対応して、波長帯域毎に独立して出力されることとなる。
【００４１】
そして、信号処理部６５においては、波長帯域毎に被検体７１の深さ方向の情報が反映された１次元の断層映像信号を得るために必要な信号処理が施されることによって、中心波長λ１についての１次元の断層映像信号（図１の符号Iが付された波形図参照）と中心波長λ２についての１次元の断層映像信号（図１の符号IIが付された波形図参照）とが得られる。さらに、信号処理部６５においては、波長帯域の異なるこれら２種類の１次元断層映像信号が相互に足し合わされ、一つの断層映像信号（図１の符号III）として出力されるようになっており、この信号は図示されない画像処理装置へ入力される。
【００４２】
図示されない画像処理装置においては、被検体７１の異なる深さ位置について同時に入力された断層映像信号であっても、波長帯域の違いに応じて分離して識別可能な信号となっているため、同時にそれぞれ画像表示が可能となる。
【００４３】
なお、この第１の実施形態において、２×２カプラ２２をサーキュレータに替えた構成としてもよい。また、波長選択素子としてダイクロイックミラー２６を用いたが、勿論、これに限定される必要はなく、同様の機能を有するものであれば、他の光学素子を用いる構成としてもよい。
【００４４】
さらに、第１の実施形態においては、第１および第２の参照ミラー２３，２４の配設位置を固定としているが、勿論、このような構成に限定されるものではなく、第１および第２の参照ミラー２３，２４を、それぞれ光軸方向に移動できるようにしてもよい。
【００４５】
図３には、第１および第２の参照ミラー２３，２４を、それぞれ光軸方向で移動可能とした場合の第２の実施形態に係る光断層映像装置の構成例が示されており、以下、同図を参照しつつこの第２の実施形態について説明する。なお、上述した第１の実施形態に係る光断層映像装置と同一の構成要素については、同一の符号を付してその詳細な説明を省略し、以下、異なる点を中心に説明することとする。
【００４６】
この第２の実施形態に係る光断層映像装置においては、第１および第２の参照ミラー２３，２４が、それぞれの光軸方向で移動可能となっている。ここで、参照ミラー２３，２４を移動させるための移動機構（図示せず）は、従来装置において用いられている公知・周知のもので十分である。
【００４７】
かかる構成においては、第１および第２の参照ミラー２３，２４を、それぞれ適宜移動させることで、その移動位置に応じた被検体７１の深さ方向の位置について、中心波長λ１の干渉波情報および中心波長λ２の干渉波情報が、それぞれ得られることとなる。
【００４８】
さらに、この第２の実施形態においては、特に、第１および第２の参照ミラー２３，２４とダイクロイックミラー２６との距離を同一に設定した場合には、被検体７１の深さ方向の同一の位置について、中心波長λ１の干渉波情報および中心波長λ２の干渉波情報が、それぞれ得られることとなる。すなわち、被検体７１の深さ方向の所望する部位についての分光特性を得ることができ、その分光特性を分析することによって、被検体７１の様々な状態を知ることができる。なお、図３においては、信号処理部６５の出力信号波形図として、第１および第２の参照ミラー２３，２４とダイクロイックミラー２６との距離を同一に設定した場合の波形図が模式的に示されている。
【００４９】
なお、第１および第２の実施形態において、いずれも被検体７１は人体に限られず、光が内部に侵入して、内部の各位置から反射光が得られるその他の種々の組織とすることができる。
【００５０】
また、上述したいずれの実施形態においても、光源部は、２つの独立した低可干渉性光源１０，１１としたが、それぞれ波長帯域が相異なる２つ以上の独立した低可干渉性光源を用いるようにし、波長選択素子をその波長帯域数に応じたものとすると共に、参照ミラーも波長帯域数に応じて設けるような構成としてもよい。さらに、複数の相異なる波長帯域の低可干渉光を同時に出力できる一つの光源を用いる構成としても勿論よいものである。
【００５１】
本願発明のように複数の光源を用いた光断層映像装置の例としては、例えば、特開２００３−２５４８９８号公報や特開２００３−３０７４８５号公報等に開示されたようなものがあるが、これらは、いずれも複数の光源を用いるという点では、本願発明と軌を一にするものの、複数の光源の合成光を得ることによって単独の光源を用いた場合に比してよりコヒーレント長の短い低可干渉光を得るという目的達成のための手法、手段を提案するものであって、波長帯域の異なる低可干渉光によって、被検体の異なる深さの部位からの干渉光情報を同時に得る、または被検体の同一深さの部位からの異なる波長情報に基づき有用な分光特性情報を得るという本願発明の思想とは全く異なるものであり、本願発明の技術的思想を何ら示唆するものではない。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る光断層映像装置を示す概略図
【図２】プローブに回動機構を設けた場合の構成を示す概略断面図
【図３】本発明の第２の実施形態に係る光断層映像装置を示す概略図
【図４】低可干渉性光源の出力光のプロファイル例を示す図
【符号の説明】
【００５３】
１０，１１      低可干渉性光源
２１      ２×１カプラ
２２      ２×２カプラ
２３，２４      参照ミラー
２５，６１      コリメータ
２６      ダイクロイックミラー
３２      ＧＲＩＮレンズ
３３      直角プリズム
３３ａ      斜面
３５      透光窓部
４１      光検出器
６２      回折格子
６３      フーリエ変換レンズ
６５      信号処理部
【図１】
2006162366.tif 000003
【図２】
2006162366.tif 000004
【図３】
2006162366.tif 000005
【図４】
2006162366.tif 000006