(57)【要約】【課題】  極めて多くの引出電極が存在するＣＯＧ型の液晶表示パネルであっても中間機能検査を容易に行うことができる液晶表示パネルを提供すること。【解決手段】  複数本の電極が設けられた一対の基板１１、１２のうちの一方にＩＣチップ１４を搭載する矩形状のチップ搭載領域ＭＡが設けられ、チップ搭載領域内に電極にそれぞれ接続された複数本の引出電極２０が導出され、この引出電極にＩＣチップのバンプ端子と接続されるバンプ用端子２１ｕ〜２１ｚ、３１ｕ〜３１ｚが形成されたＣＯＧ型の液晶表示パネル１０であって、前記引出電極は、前記矩形状のチップ搭載領域の少なくとも２辺に導出されると共にバンプ用端子から更にチップ搭載領域内に延出され、この引出電極の延長端部に該引出電極が接続している電極の所定のルールに従って一列に並ぶように検査用端子２２ｕ〜２２ｚ、３２ｕ〜３２ｚが配列されている。【選択図】      図２
2006215302.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
マトリクス状に配置された複数本の電極が設けられ、周辺部がシール材で貼り合わされ間に液晶が封入された一対の基板のうちの一方に液晶駆動用ＩＣチップを搭載する実質的に矩形状のチップ搭載領域が設けられ、前記チップ搭載領域内に前記電極にそれぞれ接続された複数本の引出電極が導出され、この導出された引出電極に前記液晶駆動用ＩＣチップのバンプ端子と接続されるバンプ用端子が形成されたＣＯＧ（Chip On Glass）型の液晶表示パネルであって、
前記複数本の引出電極は、前記矩形状のチップ搭載領域の少なくとも２辺に導出されると共に前記バンプ用端子から更に前記チップ搭載領域内に延出され、この引出電極の延長端部に該引出電極が接続している電極の所定のルールに従って一列に並ぶように検査用端子が配列されていることを特徴とする液晶表示パネル。
【請求項２】
前記引出電極はＲ、Ｇ、Ｂの各画素に対応する透明電極に、必要に応じてスイッチング素子を介して接続されており、前記検査用端子は接続された前記Ｒ、Ｇ、Ｂの透明電極に対応してＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子とし、このＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子ごとに一列に並べることを前記所定のルールとして当該検査用端子が配列されていることを特徴とする請求項１に記載の液晶表示パネル。
【請求項３】
前記複数の引出電極は、前記矩形状のチップ搭載領域の対向する長辺に導出されていることを特徴とする請求項１に記載の液晶表示パネル。
【請求項４】
前記複数の引出電極は、前記矩形状のチップ搭載領域の各辺のうち、前記液晶表示パネルの表示面から最も離れた１辺を除く３辺に導出されていることを特徴とする請求項１に記載の液晶表示パネル。
【請求項５】
前記バンプ用端子と検査用端子とを結ぶ引出電極は、互いに重ならないように配線されていることを特徴とする請求項１〜４の何れかに記載の液晶表示パネル。
【請求項６】
前記検査用端子は、その幅が前記バンプ用端子より小さく形成されていることを特徴とする請求項１に記載の液晶表示パネル。
【請求項７】
前記バンプ用端子は、前記矩形状のチップ搭載領域の辺の長手方向に沿って配列され、かつ互いに隣接するバンプ用端子同士が接触しないようにするために、隣り合うバンプ用端子が互いに異なる直線上に配列されていること特徴とする請求項１に記載の液晶表示パネル。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＯＧ（Chip On Glass）型の液晶表示パネルに関し、特に、液晶駆動用ＩＣ（Integrated Circuit）チップ搭載前に行われる中間機能検査を容易に行うことのできる液晶表示パネルに関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＯＧ型液晶表示パネルは、マトリクス状に複数本の電極が形成され周辺部がシール材で貼り合わされ間に液晶が封入された一対の基板のうち、一方の基板に液晶駆動用ＩＣチップを搭載するチップ搭載領域が設けられ、この搭載領域内にそれぞれ電極に接続された複数本の引出電極が導出され、これらの導出された引出電極に液晶駆動用ＩＣチップのバンプ端子と接続されるバンプ用端子が形成された構成を有している。
【０００３】
そして、この基板は、液晶駆動用ＩＣチップが搭載される前に、電極の断線や電極間の短絡の有無、それぞれの電極に所定の電圧を印加したとき設計どおりの表示がされるか等の中間機能検査が行なわれる。この検査方法としては、一般に、複数の電極の先端部に接触ピンを接触させ、この接触ピンを通して各電極に電圧を印加することによって行われる。
【０００４】
このような検査方法は、複数の電極の間隔が広い場合は何ら問題なく実行することができる。しかしながら、近年、携帯電話機等の液晶表示パネルは高精細化され、これに伴って、各電極間の間隔が極めて狭くなり、一方でチップ搭載領域に多数の引出電極が集結した回路設計となっている。このため、個々の電極に接触ピンを接触させることは、極めて困難な作業となっている。
【０００５】
この困難な作業を回避する方法として、複数個のバンプ用端子のうち、所定の端子を選択、例えば一つおきのバンプ用端子を選択して接触ピンを接触させた検査が行なわれている。
【０００６】
しかし、この方法によっても、接触ピンの位置合わせに高度な精度が要求され、しかも作業効率が悪く、バンプ用端子数及びＩＣチップ数が多くなればそれに比例して作業時間も増大し、検査ミスも発生し易くなる。また、バンプ用端子に接触ピンを接触させるので、バンプ用端子が損傷する恐れがある。
【０００７】
そこで、このような不都合を解消するために、バンプ用端子とは別に、検査用の端子を設け、駆動用チップ搭載前の基板検査を容易にした液晶表示パネルが知られている（例えば、特許文献１参照）。
【０００８】
図８は下記特許文献１に記載された液晶表示パネルの要部拡大平面図である。
【０００９】
この液晶表示パネル８０は、図８に示すように、フロントガラス基板８１と、この基板８１より若干大きい面積を有するリアガラス基板８２とを備え、各基板８１、８２が対向する部分は、周辺シール材８３を介してそれらの間に液晶が封入されて表示領域が形成され、また、リアガラス基板８２の張り出し部分には、液晶駆動用ＩＣチップ（図示省略）が搭載されるチップ搭載領域ＭＡが設けられ、このチップ搭載領域ＭＡ内に各引出電極８４の端部が引き込まれた構成を有している。
【００１０】
それぞれの引出電極８４ａ〜８４ｉは、チップ搭載領域ＭＡ内に入ってからの所定の長さ部分がＩＣチップのバンプに接続されるバンプ接続部Ａとされている。各引出電極８４ａ〜８４ｉの各バンプ接続部Ａには、周辺シール材８３とは反対側に延びる、すなわちチップ搭載領域ＭＡ内に向けて更に延びる延長部Ｂがそれぞれ連設されて、各延長部Ｂの終端部にバンプ接続部Ａの幅よりも幅広の四角形状の拡幅ランドＲがそれぞれ形成されている。
【００１１】
各延長部Ｂは、交互にその長さが異なっており、奇数番目の引出電極８４ａ、８４ｃ、８４ｅ、８４ｇ、８４ｉの各延長部Ｂは短長、偶数番目の引出電極８４ｂ、８４ｄ、８４ｆ、８４ｈの各延長部Ｂは奇数番目の拡幅ランドＲを越える長さとなっている。
【００１２】
したがって、各引出電極８４ａ〜８４ｉの終端部に拡幅ランドＲが形成されると、ＩＣチップ８４の搭載前にピンプローブ方式により検査を行なう場合、図８の黒丸で示されているように、その接触ピンを幅の広い拡幅ランドＲに接触させるため、従来のバンプ接続部Ａに接触ピンを接触させる場合に比べて厳密な位置合わせ精度が不要となり検査が容易になる。
【００１３】
しかしながら上記特許文献１においては、それぞれのランドＲは、バンプ接続部Ａの幅より幅広に、たとえば四角形状の拡幅ランドを形成しなければならないので、ランド数が多くなるとチップ搭載領域内に収まらなくなる。近年の液晶表示パネルは、電極数が多く、しかも高い密度で配列されるので、このような拡幅ランドを多数個チップ搭載領域内に配設することはできない。
【００１４】
また、検査方法も接触ピンを用いて、個々のランドに個別に接触させて行なわなければならないので、検査の作業効率が悪く、作業時間も多くなるし、また、接触ピンを用いて接触ピンの全ピンをバンプ用端子に接触させて検査を行なうとすると、極めて高価な検査装置が必要になる。更に、種類の異なる端子（ソース用、ゲート用、コモン用）を置く位置が分かれていない場合、導電ラバーを用いた簡易な検査機を使用すると、異なる種類同士の端子が各々隣同士に配置されている場合、点灯を意図しない他の端子も点灯してしまい、正常に検査ができなくなる。
【００１５】
そこで、本発明者は上記問題点を解決するものとして、バンプ用端子から検査用の端子を別途チップ搭載領域に延出し、この内同一の種類のバンプ用端子から延出された検査用端子を一列になるように配置することにより、導電ラバーを用いて異なる種類の端子を同時に検査できるようにして作業性を向上させた液晶表示パネルを開発し、既に特願２００４−１８１４７４号（以下、「先願」という。）として特許出願している
図９は先願の液晶表示パネルのチップ搭載領域付近を拡大して示す拡大平面図である。
【００１６】
この先願の液晶表示パネルは、図９に示すように、マトリクス状に配置された複数本の電極に接続された引出電極１２０がチップ搭載領域ＭＡに集結するように配線され、チップ搭載領域ＭＡ内にバンプ用端子１２１ａ〜１２１ｎが設けられ、さらにそのバンプ用端子１２１ａ〜１２１ｎから引出電極を介して、Ｒ、Ｇ、Ｂ用端子ごとに横方向に一列に整列するように検査用端子１２２ａ〜１２２ｎが設けられている。
【００１７】
このように設けられた検査用端子１２２ａ〜１２２ｎに帯状の導電ラバーからなる検査プローブ（図示省略）を接触させることにより、各バンプ用端子１２１ａ〜１２１ｎの種類に応じてまとめて中間機能検査を実現することができる。
【特許文献１】特開２０００−１３７２３９号公報（図３、段落［００１７］〜［００２２］）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１８】
しかしながら、上述の従来技術においては、矩形状のチップ搭載領域ＭＡの４辺ａ〜ｄのうち、１辺（ａ）に設けた場合は正確に検査を行うことができると共に検査回数を大幅に削減することができるが、近年の液晶表示パネルの高精度化の要求に伴い、引出電極１２０の本数が極めて多いものがある。このようなものに関しては、チップ搭載領域ＭＡの各辺（例えば３辺ａ、ｃ、ｄ）に引出電極を引き回す必要があるが、この場合、各辺に設けられる検査用端子毎に中間機能検査を行う必要があるばかりでなく、検査用端子がチップ搭載領域ＭＡの中心部分に密集することから、導電ラバーを用いる場合その検査を正確に行うことが難しくなる恐れがあった。
【００１９】
そこで、本発明者は上述の問題点に鑑み、極めて多くの引出電極が存在するＣＯＧ型の液晶表示パネルであっても、中間機能検査を容易に行うことができる方法を種々検討した結果、検査用端子の配置を工夫すれば、検査回数を削減でき加えて検査自体をも容易に行うことができるようになることを見出し、本発明に至ったものである。
【００２０】
すなわち、本発明の目的は、中間機能検査を容易に行うことができるＣＯＧ型の液晶表示パネルを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００２１】
上記目的を達成するために、請求項１に記載の液晶表示パネルは、マトリクス状に配置された複数本の電極が設けられ、周辺部がシール材で貼り合わされ間に液晶が封入された一対の基板のうちの一方に液晶駆動用ＩＣチップを搭載する実質的に矩形状のチップ搭載領域が設けられ、前記チップ搭載領域内に前記電極にそれぞれ接続された複数本の引出電極が導出され、この導出された引出電極に前記液晶駆動用ＩＣチップのバンプ端子と接続されるバンプ用端子が形成されたＣＯＧ（Chip On Glass）型の液晶表示パネルであって、
前記複数本の引出電極は、前記矩形状のチップ搭載領域の少なくとも２辺に導出されると共に前記バンプ用端子から更に前記チップ搭載領域内に延出され、この引出電極の延長端部に該引出電極が接続している電極を所定のルールで一列に並ぶように検査用端子が配列されていることを特徴とする。
【００２２】
また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の液晶表示パネルに係り、前記引出電極はＲ、Ｇ、Ｂの各画素に対応する透明電極に、必要に応じてスイッチング素子を介して接続されており、前記検査用端子は接続された前記Ｒ、Ｇ、Ｂの透明電極に対応してＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子とし、このＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子ごとに一列に並べることを前記所定のルールとして当該検査用端子が配列されていることを特徴とする。
【００２３】
また、請求項３に記載の発明は、請求項１に記載の液晶表示パネルに係り、前記複数の引出電極は、前記矩形状のチップ搭載領域の対向する長辺に導出されていることを特徴とする。
【００２４】
また、請求項４に記載の発明は、請求項１に記載の液晶表示パネルに係り、前記複数の引出電極は、前記矩形状のチップ搭載領域の各辺のうち、前記液晶表示パネルの表示面から最も離れた１辺を除く３辺に導出されていることを特徴とする。
【００２５】
また、請求項５に記載の発明は、請求項１〜４の何れかに記載の液晶表示パネルに係り、前記バンプ用端子と検査用端子とを結ぶ引出電極は、互いに重ならないように配線されていることを特徴とする。
【００２６】
また、請求項６に記載の発明は、請求項１に記載の液晶表示パネルに係り、前記検査用端子は、その幅が前記バンプ用端子より小さく形成されていることを特徴とする。
【００２７】
また、請求項７に記載の発明は、請求項１に記載の液晶表示パネルに係り、前記バンプ用端子は、前記矩形状のチップ搭載領域の辺の長手方向に沿って配列され、かつ互いに隣接するバンプ用端子同士が接触しないようにするために、隣り合うバンプ用端子が互いに異なる直線上に配列されていること特徴とする。
【発明の効果】
【００２８】
本発明は、上記構成を備えることにより、以下に示す優れた効果を奏する。すなわち、請求項１の発明によれば、検査用端子が、接続された引出電極の接続している電極の所定のルールに従って異なる列に配列されているので、導電ラバー等の簡易な帯状検査用端子（以下、「検査プローブ」という。）を用いた検査装置により電極の断線、短絡等の検査が可能になるため、ピンタイプのプローブを使用するものに比べて、構造が簡単で安価な検査装置を用いた中間機能検査を行うことができるようになる。
【００２９】
加えて、引出電極が略矩形状のチップ搭載領域の少なくとも２辺に導出されている場合であっても、検査用端子は、引出電極の接続している電極の所定のルールに従って整列しているため、検査プローブによる検査を一度に行うことができ、検査プローブの接続を正確かつ容易に行うことができるようになる。
【００３０】
また、バンプ用端子と検査用端子とが分離されており、中間機能検査の際はこの検査用端子を用い、バンプ用端子を使用することがないので、検査の際にバンプ用端子を損傷することがなく、しかも検査用端子はチップ搭載領域内に形成されるので、チップ搭載領域外を他の配線に利用でき、スペースの有効利用が図れる。更に、チップ搭載領域上に駆動用ＩＣチップが搭載されると、引出電極及び検査用端子がこのＩＣチップの下に隠れるので、検査用端子の腐食、塵等が浸入して起こる短絡事故等を防止でき、検査が終了した後に電極あるいは引出電極等に悪影響を与えることがなくなる。
【００３１】
また、請求項２の発明によれば、請求項１の効果に加え、Ｒ、Ｇ、Ｂ検査用端子は、それぞれＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子毎に分かれて一列に配列されているので、Ｒ、Ｇ、Ｂの画素に対応する透明電極毎の検査が可能になる。しかも、このように配列すればピンタイプのプローブを用いることなく、安価な導電ラバーを用いた検査が可能になり、また、Ｒ、Ｇ、Ｂ毎の単色単位で点灯を行わせることが可能であるため、電極の断線、短絡及び表示された色彩の不均一等を容易に発見することができるようになる。更に、ピンプローブを用いることがないため、従来のようにバンプ用端子を幅広にする必要がなくなり、バンプ用端子をより高密度に配列することができる。
【００３２】
また、請求項３の発明によれば、複数の引出電極がチップ搭載領域の対向する長辺に導出されることにより、引出電極をより多くチップ搭載領域に集線できると共に、バンプ用端子と検査用端子との間の配線を容易に行うことができるようになる。
【００３３】
また、請求項４の発明によれば、複数の引出電極がチップ搭載領域の液晶表示パネルの表示面に近い３辺に導出されることにより、引出電極をより多くチップ搭載領域に集線できると共に、液晶表示パネルの表示面から最も離れた１辺には引出電極を設けないことから、引出電極の引き回し距離を短縮でき、引出電極の配線を容易に行うことができるようになる。
【００３４】
また、請求項５の発明によれば、バンプ用端子と検査用端子との間の引出電極が互いに重ならないように配線されるため、特殊な積層構造を設けることなく配線を行うことができ、安価に製造できる。
【００３５】
また、請求項６の発明によれば、検査用端子の幅がバンプ用端子の幅よりも小さく形成されるので、チップ搭載領域内に多数の検査用端子を高密度に配列できる。
【００３６】
また、請求項７の発明によれば、バンプ用端子が奇数番目と偶数番目で異なる直線上に配置されるため、チップ搭載領域の一辺により多くのバンプ用端子を配列することができるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３７】
以下、図面を参照して本発明の最良の実施形態を説明する。但し、以下に示す実施形態は、本発明の技術思想を具体化するための液晶表示パネルを例示するものであって、本発明をこれらに特定することを意図するものではなく、特許請求の範囲に含まれるその他の実施形態のものも等しく適応し得るものである。
【実施例１】
【００３８】
図１は本発明の実施例１に係る液晶表示パネルを示し、図１（ａ）は平面図、図１（ｂ）は図１(ａ)のＡ−Ａ断面図、図２は図１の液晶駆動用ＩＣチップが搭載される前のＸ部分を拡大して示す要部拡大平面図、図３は図２のＹ部分を拡大して示す要部拡大図、図４は図３のＺ部分を拡大して示す要部拡大図、図５はこの液晶表示パネルの中間機能検査に用いられる検査プローブの一例を示す図である。
【００３９】
液晶表示パネル１０は、図１に示すように、フロントガラス基板１１と、このガラス基板１１より若干大きい面積を有するリアガラス基板１２とを備えている。これらの基板１１、１２の対向面側にはＩＴＯ（Indium Tin Oxide）からなる複数の透明電極（図示省略）が形成されている。そして、リアガラス１２には、マトリクス状に配置された複数本の電極が配置され、その電極は、必要に応じてＴＦＴ、ＬＴＰＳ、ＨＴＰＳ、ＭＩＭなどのスイッチング素子を介して、画素電極となる透明電極に接続されている。
【００４０】
一対の基板１１、１２は、周辺シール材１３を介してそれらの間に液晶が封入される所定のセルギャップを形成するように貼り合わされ、この両基板１１、１２間に液晶を封入することにより表示領域が形成される。また、この基板のうち、リアガラス基板１２が張り出した部分１２ａ（以下、基板張出部分という）には液晶駆動用ＩＣチップ１４を搭載するチップ搭載領域ＭＡが形成されており、このチップ搭載領域ＭＡは、ＩＣチップの形状に合わせた長辺ａ、ｂ及び短辺ｃ、ｄからなるほぼ矩形状のスペースで形成される。
【００４１】
基板張出部分１２ａ上には、電極に接続された引出電極２０（図２参照）が同じくＩＴＯにより形成され、この引出電極はチップ搭載領域ＭＡ内に延びている。なお、ここで述べる引出電極２０に接続される電極は信号（ソース）電極であり、走査（ゲート）電極及び共通（コモン）電極も同様に引出電極に接続されて電圧の印加が行われるが、ここではその構造等に関する説明は省略する。また、各基板１１、１２には、図１(ａ)に示すように、偏光板１５、１５がそれぞれ貼着されている。
【００４２】
チップ搭載領域ＭＡには、図２に示すように、複数本の引出電極２０ａ〜２０ｎ、３０ａ〜３０ｎがこの領域ＭＡに集結するように配線されている。詳しくは、複数本の引出電極２０ａ〜２０ｎ、３０ａ〜３０ｎは、透明電極側から周辺シール材１３を潜ってチップ搭載領域ＭＡ内に引き出されており、本実施例における引出電極の配線は、電極から引き出される引出電極のうちの半数（２０ａ〜２０ｎ）を矩形状のチップ搭載領域ＭＡの一方の長辺ａに、残りの半数（３０ａ〜３０ｎ）を他方の長辺ｂに向かって引き回されている。また、各引出電極２０ａ〜２０ｎ、３０ａ〜３０ｎは、チップ搭載領域ＭＡ内に入ってからの所定の長さ部分にＩＣチップ１４のバンプ端子と接続されるバンプ用端子２１ａ〜２１ｎ、３１ａ〜３１ｎが形成される。また、複数本の引出電極は、Ｒ、Ｇ、Ｂ画素に接続されているため、バンプ用端子２１ａ〜２１ｎ、３１ａ〜３１ｎもＲ、Ｇ、Ｂ用となっている。
【００４３】
図３は図２のＹ部分を拡大して示す要部拡大図であって、ここで示す引出電極及びバンプ用端子は、２０ｕ〜２０ｚ、３０ｕ〜３０ｚ及び２１ｕ〜２１ｚ、３１ｕ〜３１ｚとして示すものとする。
【００４４】
前記Ｒ、Ｇ、Ｂ画素に引出電極２０ａ〜２０ｎ、３０ａ〜３０ｎを介して接続されたバンプ用端子２１ａ〜２１ｎ、３１ａ〜３１ｎは、チップ搭載領域ＭＡ内の各辺から所定距離離れた位置に形成される。また、近接するバンプ用端子同士は、図３に示すように、前記各辺からの距離が異なるように、例えば奇数番目のバンプ用端子２１ｕ、２１ｗ、２１ｙ（３１ｕ、３１ｗ、３１ｙ）は近接する辺ａ（ｂ）から距離Ｌ１だけ離れた位置に設けられ、偶数番目のバンプ用端子２１ｖ、２１ｘ、２１ｚ（３１ｖ、３１ｘ、３１ｚ）は近接する辺ａ（ｂ）から距離Ｌ２だけ離れた位置に設ける。このときＬ１＜Ｌ２であり、このように近接するバンプ用端子を互い違いになるように配設することにより、各バンプ用端子間の間隔を大きくとる必要がなく高密度に配設することができ、チップ搭載領域ＭＡの各辺ａ〜ｄにより多くのバンプ用端子を設けることができるようになる。
【００４５】
また、前記バンプ用端子２１ｕ〜２１ｚ、３１ｕ〜３１ｚからは、さらに引出電極が導出されており、その先端部には、中間機能検査を行う際に使用される検査用端子２２ｕ〜２２ｚ、３２ｕ〜３２ｚが設けられている。この検査用端子２２ｕ〜２２ｚ、３２ｕ〜３２ｚは、前記バンプ用端子２１ｕ〜２１ｚ、３１ｕ〜３１ｚに比べて幅方向、いわゆる引出電極の長手方向に直交する方向の長さが短く形成されている。これは、バンプ用端子２１ｕ〜２１ｚ、３１ｕ〜３１ｚがＩＣチップ１４に設けられた突起からなるバンプ端子との接続を確実に行うために比較的大きく形成されているのに対し、検査用端子２２ｕ〜２２ｚ、３２ｕ〜３２ｚは、後述する導電ラバーからなる検査プローブ５０に接触しさえすればよいために、小さく形成することができるものであり、これにより、比較的狭いチップ搭載領域ＭＡの中心部付近にも検査用端子２２ｕ〜２２ｚ、３２ｕ〜３２ｚを設置することができる。
【００４６】
次にこの検査用端子２２ｕ〜２２ｚ、３２ｕ〜３２ｚの配置について図３、図４を参照して説明する。なお、ここでは各検査用端子の位置関係を理解しやすくするために、チップ搭載領域ＭＡの短辺ｃ、ｄに平行な方向を縦方向とし、長辺ａ、ｂに平行な方向を横方向とし、チップ搭載領域ＭＡの縦方向の長さをＬとして説明を行う。
【００４７】
上述したように、前記バンプ用端子２１ａ〜２１ｎ、３１ａ〜３１ｎはＲ、Ｇ、Ｂ画素に接続されており、図３に示すバンプ用端子２１ｕ〜２１ｚ、３１ｕ〜３１ｚにおいては、Ｒ（レッド）画素にはバンプ用端子２１ｕ、２１ｘ、３１ｗ、３１ｚが、Ｇ（グリーン）画素にはバンプ用端子２１ｖ、２１ｙ、３１ｕ、３１ｘが、Ｂ（ブルー）画素にはバンプ用端子２１ｗ、２１ｚ、３１ｖ、３１ｙがそれぞれ接続されている。
【００４８】
このうち、Ｒ画素に接続されたバンプ用端子２１ｕ、２１ｘ、３１ｗ、３１ｚから導出された検査用端子２２ｕ、２２ｘ、３２ｗ、３２ｚの配置は、先ずチップ搭載領域ＭＡの一辺ａ側から延びる検査用端子２２ｕ、２２ｘは、チップ搭載領域ＭＡの一辺ａから距離Ｌｒ離れた位置に横方向に一列に配置され、チップ搭載領域ＭＡの他辺ｂ側から延びる検査用端子３２ｗ、３２ｚは、チップ搭載領域ＭＡの他辺ｂから距離（Ｌ−Ｌｒ）離れた位置に同じく横方向に一列に配置されている。すなわち、引き回された方向の異なる引出電極から延びる検査用端子の配置が横方向に一直線上に配置される。このような配置はＧ画素及びＢ画素に接続された引出電極から延びる検査用端子も同様に行われ、Ｇ画素に接続された検査用端子２２ｖ、２２ｙは、一辺ａからＬｇ離れた位置に、検査用端子３２ｕ、３２ｘは、他辺ｂから（Ｌ−Ｌｇ）離れた位置に横方向に一直線状に配置され、Ｂ画素に接続された検査用端子２１ｗ、２１ｚは、一辺ａからＬｂ離れた位置に、検査用端子３１ｖ、３１ｙは、他辺ｂから（Ｌ−Ｌｂ）離れた位置に横方向に一直線状に配置される。なお、このように配置される検査用端子２２ｕ〜２２ｚ、３２ｕ〜３２ｚのうち、他辺ｂから延びる検査用端子３２ｕ〜３２ｚは、その配置を行う際に、一辺ａから延びる検査用端子２２ｕ〜２２ｚと重ならないように、前記一辺ａから延びる検査用端子２２ｕ〜２２ｚが接続された画素の種類ごとに分かれて配置された同種類の検査用端子間に位置するように（例えば図４に示すように、Ｒ画素に接続された検査用端子２２ｕ、２２ｘの間に検査用端子３２ｗがくるように）配置される。
【００４９】
上述のように、接続された画素の種類に分かれて配置された各検査用端子２２ｕ〜２２ｚ、３２ｕ〜３２ｚは、図４にも示すように、その配置が後述する導電ラバーからなる検査プローブ５０のＲ、Ｇ、Ｂに対応した帯状導電層５２Ｒ、５２Ｇ、５２Ｂが接触されるプローブ接触領域４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂ上に位置するように配置されており、これにより中間機能検査の際に検査プローブとして検査用接触ピンを用いることなく、導電ラバーによる中間機能検査を行えるようになる。
【００５０】
また、検査プローブ５０は、図５に示すように、ほぼ矩形状で所定の肉厚を有する板状体５１、例えばシリコンラバーからなり、長手方向所定幅に導電性粒子を混入することにより帯状導電層５２Ｒ、５２Ｇ、５２Ｂが形成されており、残余の部分は帯状絶縁層５３、５３として各帯状導電層５２Ｒ、５２Ｇ、５２Ｂの間に介在されている。また、各帯状導電層５２Ｒ、５２Ｇ、５２Ｂは、それぞれＲ、Ｇ、Ｂ検査用端子２２ｕ〜２２ｚ、３２ｕ〜３２ｚに対応し、検査時にこれらの検査用端子と接触される幅長を有している。この検査プローブ５０は、検査装置（図示省略）に接続されている。
【００５１】
上述のように配列した検査用端子を用いた液晶表示パネルの中間機能検査方法を図４を参照して以下に説明する。
【００５２】
先ず、上で示したように、接続された電極の対応するＲ、Ｇ、Ｂの各画素に対応してプローブ接触領域４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂ上に３列に配列された検査用端子２２ｕ〜２２ｚ、３２ｕ〜３２ｚ上に、前記検査プローブ５０を帯状導電層５２Ｒ、５２Ｇ、５２Ｂが前記プローブ接触領域４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂ上に位置するように接触させる。そして、接触させた検査プローブ５０の帯状導電層５２Ｒ、５２Ｇ、５２Ｂに順次電圧を印加する。このとき、走査（ゲート）電極（図示省略）にも同様に電圧が印加されていれば、表示領域の中の選択された走査（ゲート）電極上が電圧の印加されている信号（ソース）電極の対応するＲ、Ｇ、Ｂいずれかの色に点灯し、信号（ソース）電極に断線等が生じている場合はその信号（ソース）電極の線上の色が表示されない。
【００５３】
このようにして検査が行われることにより、近接して設けられている異なる色の画素が同時に点灯することがないため断線部分の発見を容易に行えると共に、何れか１つの帯状導電層５２Ｒ、５２Ｇ、５２Ｂに電圧を印加することにより、同じく電圧が印加された走査（ゲート）電極と交差する部分が同色で表示されるために、検査を容易に行うことができるようになる。そして、電圧を印加する走査（ゲート）電極を順次変更すれば、信号（ソース）電極の断線等はもちろん、走査（ゲート）電極の断線の有無等をも検査することができる。
【００５４】
以上のように、本発明実施例１に係る液晶表示パネルにおいては、極めて多くの引出電極を有するものであっても一度のみ導電プローブを設置し各帯状導電層に電圧を印加することで正確に液晶表示パネルの中間機能検査を行うことができるようになる。
【実施例２】
【００５５】
また、上述の実施例においては、引出電極をチップ搭載領域ＭＡの対向する長辺ａ、ｂに導出したが、これに限定されるものではなく、例えばチップ搭載領域ＭＡの各辺のうち、液晶表示パネル１０の表示面に近い３辺に導出するようにしてもよい。そこで、以下には実施例２として一方の長辺ａと、対向する短辺ｃ、ｄとに引出電極を導出した液晶表示パネル１０Ａについて説明を行う。なお、以下には実施例１の液晶表示パネル１０と同様の構成については同様の符号を付してその説明を省略し、異なる構成部分についてのみ説明を行う。
【００５６】
図６は本発明の実施例２に係る液晶表示パネルのチップ搭載領域を拡大して示す平面図、図７は検査用端子の配置の変形例を示す要部拡大図である。なお、図６ではチップ搭載領域ＭＡに導出された引出電極２０ａ〜２０ｎ、６０ａ〜６０ｎ、７０ａ〜７０ｎは各辺にそれぞれ８本のみ示されているが、この本数に限定されることはなく、また、図６の液晶表示パネルの検査用端子の配置は、実施例１のようにＲ、Ｇ、Ｂに対応するように配列したものではなく、バンプ用端子の配列を偶数列と奇数列に分け、これらをそれぞれ検査可能なように配置したものであるが、この配列に限らず、例えば実施例１に示すようなＲ、Ｇ、Ｂの各画素に対応する透明電極に接続された検査用端子をその透明電極に対応する画素ごとに分けて配列させることも可能であることは自明である。
【００５７】
実施例２の液晶表示パネル１０Ａは、図６に示すように、そのチップ搭載領域ＭＡの一方の長辺ａ及び対向する短辺ｃ、ｄに引出電極２０ａ〜２０ｎ、６０ａ〜６０ｎ、７０ａ〜７０ｎが導出されており、チップ搭載領域ＭＡ内に所定長さ引き回された位置にバンプ用端子２１ａ〜２１ｎ、６１ａ〜６１ｎ、７１ａ〜７１ｎが形成されている。このバンプ用端子２１ａ〜２１ｎ、６１ａ〜６１ｎ、７１ａ〜７１ｎは、このバンプ用端子が接続された引出電極２０ａ〜２０ｎ、６０ａ〜６０ｎ、７０ａ〜７０ｎが導出されたチップ搭載領域ＭＡの各辺からの距離が、隣接するバンプ用端子２１ａ〜２１ｎ、６１ａ〜６１ｎ、７１ａ〜７１ｎと異なるように配置されている。ただし、このバンプ用端子の数によっては長辺ａの中央部分に限り隣接するバンプ用端子の長辺ａからの距離が同じになっても良い。
【００５８】
このバンプ用端子２１ａ〜２１ｎ、６１ａ〜６１ｎ、７１ａ〜７１ｎは、近接する各辺に向かって最も左側に位置するバンプ用端子２１ａ、６１ａ、７１ａが、隣接するバンプ用端子２１ｂ、６１ｂ、７１ｂよりも近接するチップ搭載領域ＭＡの各辺に近接して配設されており、前記左から数えて奇数番目のバンプ用端子は前記バンプ用端子６１ａ、２１ａ、７１ａと平行な位置に設けられ、前記左から数えて偶数番目のバンプ用端子は前記バンプ用端子６１ｂ、２１ｂ、７１ｂと平行な位置に設けられている。そして、このように配置されたバンプ用端子２１ａ〜２１ｎ、６１ａ〜６１ｎ、７１ａ〜７１ｎからはさらに引出電極が導出されており、その先端部には検査用端子２２ａ〜２２ｎ、６２ａ〜６２ｎ、７２ａ〜７２ｎが設けられている。
【００５９】
以下には前記検査用端子の配設位置についての説明を行う。前記検査用端子２２ａ〜２２ｎ、６２ａ〜６２ｎ、７２ａ〜７２ｎは、プローブ接触領域４０１、４０２、４０３上に位置するように配設されており、前記プローブ接触領域４０１、４０２、４０３はチップ搭載領域ＭＡの対向する短辺ｃ、ｄと平行になるようにチップ搭載領域ＭＡの中心部付近に設けられている。検査用端子２２ａ〜２２ｎ、６２ａ〜６２ｎ、７２ａ〜７２ｎのうち、左側から奇数番目の検査用端子２２ａ…２２ｍ、６２ａ…６２ｍ、７２ａ…７２ｍはプローブ接触領域４０１、４０３上に位置するように配設され、左側から偶数番目の検査用端子２２ｂ…２２ｎ、６２ｂ…６２ｎ、７２ｂ…７２ｎはプローブ接触領域４０２上に位置するように配設されている。なお、奇数番目の検査用端子２２ａ…２２ｍ、６２ａ…６２ｍ、７２ａ…７２ｍのうち、６２ａ…６２ｍと、２２ａ…２２ｍのうちの左半分に位置するバンプ用端子に接続されている検査用端子はプローブ接触領域４０１上に配設され、７２ａ…７２ｍと、２２ａ…２２ｍのうちの右半分に位置するバンプ用端子に接続されている検査用端子はプローブ接触領域４０３上に配設されている。このように検査用端子２２ａ〜２２ｎ、６２ａ〜６２ｎ、７２ａ〜７２ｎが配設されることにより、図５に示すような帯状の検査プローブ５０を用いた検査を行うことができる。
【００６０】
なお、上述のような検査用端子の配設を行った場合、奇数番目の検査用端子が配設されたプローブ接触領域４０１、４０３に比べて、偶数番目の検査用端子が配設されたプローブ接触領域４０２上にはほぼ２倍の検査用端子が配設されることとなる。この場合検査用端子同士が接触する恐れがあるため、図７に示すように、プローブ接触領域４０２の幅方向の長さをほぼ２倍とし、検査用端子をプローブ接触領域４０２の長手方向に複数列配設するとよい。この場合はプローブ接触領域４０２が他に比べて幅広となるが、これに対応して検査プローブ５０の形状を変更すれば上述と同様の効果を奏するようになる。
【００６１】
以上のように本発明の実施例２に係る液晶表示パネルによれば、実施例１の効果に加えて、引出電極がチップ搭載領域ＭＡの３辺に導出されるため、より多くの引出電極を備える液晶表示パネルにも適応可能であると共に、チップ搭載領域の基板の外周縁に近接する辺には引出電極を引き回さないため、引出電極の長さを短くできる。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】図１は本発明の実施例１に係る液晶表示パネルを示し、図１（ａ）は平面図、図１（ｂ）は図１(ａ)のＡ−Ａ断面図、
【図２】図２は図１の液晶駆動用ＩＣチップが搭載される前のＸ部分を拡大して示す要部拡大平面図、
【図３】図３は図２のＹ部分を拡大して示す要部拡大図、
【図４】図４は図３のＺ部分を拡大して示す要部拡大図、
【図５】図５はこの液晶表示パネルの中間機能検査に用いられる検査プローブの一例を示す図、
【図６】図６は本発明の実施例２に係る液晶表示パネルのチップ搭載領域を拡大して示す平面図、
【図７】図７は検査用端子の配置の変形例を示す要部拡大図、
【図８】図８は従来技術の液晶表示パネルの要部拡大平面図、
【図９】図９は従来の液晶表示パネルのチップ搭載領域付近を拡大して示す拡大平面図である。
【符号の説明】
【００６３】
１０、１０Ａ    液晶表示パネル
１１            フロントガラス基板
１２            リアガラス基板
１３            周辺シール材
１４            ＩＣチップ
２０、２０ａ〜２０ｎ、２０ｕ〜２０ｚ  引出電極
２１ｕ〜２１ｚ  バンプ用端子
２２ｕ〜２２ｚ  検査用端子
３０、３０ａ〜３０ｎ、３０ｕ〜３０ｚ  引出電極
３１ｕ〜３１ｚ  バンプ用端子
３２ｕ〜３２ｚ  検査用端子
４０Ｒ、４０Ｇ、４０Ｂ  プローブ接触領域
５０            検査プローブ
５１            板状体
５２Ｒ、５２Ｇ、５２Ｂ  帯状導電層
５３            帯状絶縁層
６０ａ〜６０ｎ  引出電極
６１ａ〜６１ｎ  バンプ用端子
６２ａ〜６２ｎ  検査用端子
７０ａ〜７０ｎ  引出電極
７１ａ〜７１ｎ  バンプ用端子
７２ａ〜７２ｎ  検査用端子
ＭＡ            チップ搭載領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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