(57)【要約】【課題】作業効率を低下させることなく任意の入力データを記録し得る記録装置を提供する。【解決手段】複数のスロット２１ａ〜２１ｈの各々を入力系統Ｒａ〜Ｒｈとして入力した測定データＤｍを記憶するメモリ１２ａ，１２ｂと、メモリ１２ａ，１２ｂに記憶させる測定データＤｍの入力系統Ｒａ〜Ｒｈの数に応じた数の区画領域を入力系統Ｒａ〜Ｒｈに対応させてメモリ１２ａ，１２ｂの記憶領域内に形成すると共に測定データＤｍを対応する各区画領域に記憶させるＣＰＵ１６と、指定されたスロット２１ａ〜２１ｈを介して入力した測定データＤｍを出力するセレクタ１３ａ，１３ｂとを備え、ＣＰＵ１６は、セレクタ１３ａ，１３ｂから出力された測定データＤｍを対応する区画領域に記憶させる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の入力部の各々を入力系統として入力した入力データを記憶する記憶部と、当該記憶部に記憶させる前記入力データの前記入力系統数に応じた数の区画領域を当該入力系統に対応させて当該記憶部の記憶領域内に形成すると共に当該入力データを対応する当該各区画領域に記憶させる制御部とを備えた記録装置であって、
指定された前記入力部を介して入力した前記入力データを出力する選択部を備え、
前記制御部は、前記選択部から出力された前記入力データを対応する前記区画領域に記憶させる記録装置。
【請求項２】
前記記憶部は、少なくとも一対の前記記憶領域を備えて構成され、
前記制御部は、第１のサンプリング信号でサンプリングされた第１のデータを前記入力データとして前記両記憶領域の一方における前記区画領域に記憶させると共に、前記第１のサンプリング信号よりも低速の第２のサンプリング信号でサンプリングされた第２のデータを前記入力データとして前記両記憶領域の他方における前記区画領域に記憶させる請求項１記載の記録装置。
【請求項３】
前記第１のデータに基づく波形と、前記第２のデータに基づく波形とを表示部に同時に表示させる表示制御部を備えている請求項２記載の記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の入力部を介して入力した入力データを記録する記録装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の装置として、出願人は、特開２０００−２８６５１号公報において、各種の電気的測定を行う測定ユニットを挿入（接続）可能な４つのスロット（第１スロット〜第４スロット）を備えた波形表示装置を開示している。この波形表示装置では、各スロットに挿入された測定ユニットの信号入力コネクタに対して、例えば各スロットのスロット番号順にチャンネル番号がそれぞれ自動的に付与される。また、この波形表示装置では、各信号入力コネクタと付与されたチャネル番号との関係を示すチャンネル番号確認用画面が表示部に表示される。このため、各信号入力用コネクタとチャネル番号との関係をオペレータに正確に認識させることが可能となっている。
【特許文献１】特開２０００−２８６５１号公報（第２−５頁、第４−６図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところが、この波形表示装置の構成を適用して出願人が開発した記録装置において、以下の解決すべき課題が生じている。すなわち、上記の波形表示装置では、各測定ユニットの信号入力コネクタにチャネル番号が自動的に付与されている。一方、この構成を適用した記録装置では、複数の測定ユニットから出力される各データをメモリに同時に記録する際には、メモリの記憶領域を効率的に利用するために、同時に記録するデータの数と同数の区画領域をメモリの記憶領域内に形成して、各区画領域に各データをそれぞれ個別的に記録している。具体的には、例えば、２種類のデータを同時に記録するに際には、２つの区画領域をメモリの記憶領域内に形成する。この場合、この記録装置では、チャンネル１を付与した信号入力コネクタを介して入力したデータを両区画領域の一方に記録し、チャンネル２を付与した信号入力コネクタを介して入力したデータを両区画領域の他方に記録している。つまり、この記録装置では、２つの区画領域にそれぞれ記録するデータが、チャンネル番号が小さい第１スロットに挿入した第１測定ユニットの信号入力コネクタを介して入力したデータと、次にチャンネル番号が小さい第２スロットに挿入した第２測定ユニットの信号入力コネクタを介して入力したデータとの２種類に規定される。このため、例えば、第１スロットに挿入した第１測定ユニットにおけるチャンネル１が付与された信号入力コネクタを介して入力したデータと、第３スロットに挿入した第３測定ユニットにおけるチャンネル３が付与された信号入力コネクタを介して入力したデータとを同時に記録する際には、この第３測定ユニットの信号入力コネクタを介して入力したデータは、この状態では記録されないこととなる。このため、第３測定ユニットを第３スロットから一旦取り外して、第２スロットに再度挿入した後に、記録装置をリセットして第３測定ユニットの信号入力コネクタにチャンネル２を付与させる必要がある。したがって、この記録装置では、信号を記録する際に、測定ユニットの取外しおよび再挿入の作業が発生することがあり、作業効率が低下するおそれがあり、これを改善するのが好ましい。
【０００４】
本発明は、かかる解決すべき課題に鑑みてなされたものであり、作業効率を低下させることなく任意の入力データを記録し得る記録装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成すべく請求項１記載の記録装置は、複数の入力部の各々を入力系統として入力した入力データを記憶する記憶部と、当該記憶部に記憶させる前記入力データの前記入力系統数に応じた数の区画領域を当該入力系統に対応させて当該記憶部の記憶領域内に形成すると共に当該入力データを対応する当該各区画領域に記憶させる制御部とを備えた記録装置であって、指定された前記入力部を介して入力した前記入力データを出力する選択部を備え、前記制御部は、前記選択部から出力された前記入力データを対応する前記区画領域に記憶させる。
【０００６】
また、請求項２記載の記録装置は、請求項１記載の記録装置において、前記記憶部は、少なくとも一対の前記記憶領域を備えて構成され、前記制御部は、第１のサンプリング信号でサンプリングされた第１のデータを前記入力データとして前記両記憶領域の一方における前記区画領域に記憶させると共に、前記第１のサンプリング信号よりも低速の第２のサンプリング信号でサンプリングされた第２のデータを前記入力データとして前記両記憶領域の他方における前記区画領域に記憶させる。
【０００７】
また、請求項３記載の記録装置は、請求項２記載の記録装置において、前記第１のデータに基づく波形と、前記第２のデータに基づく波形とを表示部に同時に表示させる表示制御部を備えている。
【発明の効果】
【０００８】
請求項１記載の記録装置によれば、選択部が指定された入力部を介して入力した入力データを出力し、制御部が記憶部における対応する区画領域にその入力データを記憶させることにより、例えば、各入力部にそれぞれ接続されている測定ユニットを接続し直すことなく、記憶部に記録させる入力データを任意に変更したり組み合わせたりすることができる。したがって、この記録装置によれば、作業効率を低下させることなく任意の入力データを記録することができる。
【０００９】
また、請求項２記載の記録装置によれば、第１のデータを一対の記憶領域の一方における区画領域に記憶させ、第２のデータを一対の記憶領域の他方における区画領域に記憶させることにより、例えば、高速のサンプリング信号でサンプリングした第１のデータと、低速のサンプリング信号でサンプリングした第２のデータとを別々の記憶領域に記録することができるため、例えば、記録時および読み出し時にデータのタイプに適した処理を行うことで、データの記録および読み出しを高速で行うことができる。
【００１０】
また、請求項３記載の記録装置によれば、第１のデータに基づく波形と、第２のデータに基づく波形とを表示部に同時に表示させることにより、利用者は、両波形を容易に比較することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明に係る記録装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１２】
最初に、記録装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１３】
図１に示す記録装置１は、本発明に係る記録装置の一例であって、接続部１１、メモリ１２ａ，１２ｂ、セレクタ１３ａ，１３ｂ、表示部１４、操作部１５およびＣＰＵ１６を備えて構成されている。接続部１１は、同図に示すように、例えば、８つのスロット２１ａ〜２１ｈ（以下、区別しないときには「スロット２１」ともいう）を備えている。スロット２１は、本発明における入力部に相当し、図３に示すように、各種の電気的パラメータを測定する測定ユニット３１ａ〜３１ｈ（以下、区別しないときには「測定ユニット３１」ともいう）を接続可能に構成されて、各測定ユニット３１から出力された測定データＤｍ（本発明における入力データの一例であって、信号波形を示す波形データ）を各セレクタ１３ａ，１３ｂに出力する。
【００１４】
ここで、各スロット２１に接続可能な測定ユニット３１は、値の変動が大きい電気的パラメータを測定する高速測定タイプと、値の変動が比較的小さい電気的パラメータを測定する低速測定タイプの２タイプに大別される。この場合、高速測定タイプの測定ユニット３１としては、一例として、アナログ信号を高速サンプリング信号（本発明における第１のサンプリング信号）でサンプリングして高速タイプの測定データＤｍ（本発明における第１のデータ：以下、この測定データＤｍを「高速測定データＤｍ１」ともいう）を出力する電圧測定ユニット、電流測定ユニットおよび周波数測定ユニットなどが用意されている。また、低速測定タイプの測定ユニット３１としては、一例として、アナログ信号を低速サンプリング信号（本発明における第２のサンプリング信号）でサンプリングして低速タイプの測定データＤｍ（本発明における第２のデータ：以下、この測定データＤｍを「低速測定データＤｍ２」ともいう）を出力する温度測定ユニット、加速度測定ユニットおよび歪み測定ユニットなどが用意されている。
【００１５】
メモリ１２ａ，１２ｂ（以下、区別しないときには「メモリ１２」ともいう）は、本発明における記憶部に相当し、一例として、ＳＤＲＡＭ（Synchronous Dynamic Random Access Memory）で構成されている。また、メモリ１２は、ＣＰＵ１６の制御に従い、接続部１１における各スロット２１ａ〜２１ｈの各々を入力系統Ｒａ〜Ｒｈ（図１参照：以下、区別しないときには「入力系統Ｒ」ともいう）として入力した測定データＤｍを、ＣＰＵ１６によって記憶領域内に形成される区画領域Ｍｄ（これについては後述する）に記憶する。この場合、この記録装置１では、メモリ１２ａが高速測定データＤｍ１の記録用に割り当てられ、メモリ１２ｂが低速測定データＤｍ２の記録用に割り当てられている。なお、メモリ１２ａの記憶領域が、本発明における一対の記憶領域の一方に相当し、メモリ１２ｂの記憶領域が、本発明における一対の記憶領域の他方に相当する。
【００１６】
セレクタ１３ａ，１３ｂ（以下、区別しないときには「セレクタ１３」ともいう）は、本発明における選択部に相当し、例えばＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array ）で構成されて、ＣＰＵ１６の制御に従い、接続部１１（各スロット２１，２１・・）から出力された各測定データＤｍの中から、操作部１５の操作によって指定されたスロット２１を介して入力した測定データＤｍを選択してメモリ１２に出力する。この場合、指定されたスロット２１を介して入力した測定データＤｍが高速測定データＤｍ１のときには、セレクタ１３ａが、その高速測定データＤｍ１を選択してメモリ１２ａに出力する。一方、指定されたスロット２１を介して入力した測定データＤｍが低速測定データＤｍ２のときには、セレクタ１３ｂが、その低速測定データＤｍ２を選択してメモリ１２ｂに出力する。
【００１７】
表示部１４は、例えば、ＬＣＤパネルで構成されると共に、図２に示すように、記録装置１の正面パネルに配設されて、ＣＰＵ１６の制御に従ってメモリ１２に記憶されている測定データＤｍに基づく波形を表示する。操作部１５は、同図に示すように、各種のスイッチやダイヤルを備えて構成されると共に、記録装置１の正面パネルに配設されて、スイッチやダイヤルの操作に応じた操作信号をＣＰＵ１６に出力する。
【００１８】
ＣＰＵ１６は、本発明における制御部および表示制御部に相当し、図外のＲＯＭに記憶されているプログラム、および操作部１５から出力された操作信号に従って各種の処理を実行する。この場合、ＣＰＵ１６は、メモリ１２に記録する測定データＤｍのデータ数Ｎ（その測定データＤｍの入力系統Ｒの数）が操作部１５の操作によって設定されたときには、そのデータ数Ｎに応じた数の区画領域Ｍｄを各測定データＤｍの入力系統Ｒに対応させてメモリ１２の記憶領域内に形成する。
【００１９】
また、ＣＰＵ１６は、記録対象の測定データＤｍを入力するスロット２１が操作部１５の操作によって指定されたとき、つまりその測定データＤｍを出力する測定ユニット３１を接続したスロット２１が操作部１５の操作によって指定されたときには、セレクタ１３を制御して、そのスロット２１を介して入力した測定データＤｍを選択させてメモリ１２に出力させると共に、その測定データＤｍをメモリ１２における対応する区画領域Ｍｄに記憶させる。また、ＣＰＵ１６は、操作部１５の操作によって波形表示が指示されたときには、メモリ１２に記憶されている測定データＤｍを読み出して表示部１４に出力することにより、図６に示すように、測定データＤｍに基づく波形Ｗ１，Ｗ２（以下、区別しないときには「波形Ｗ」ともいう）を表示部１４に表示させる。
【００２０】
次に、記録装置１を用いて各種の電気的パラメータの測定データＤｍを記録する記録方法、およびその測定データＤｍに基づく波形を記録装置１に表示させる表示方法について、図面を参照して説明する。この場合、例えば、図３に示すように、接続部１１のスロット２１ａ，２１ｃ，２１ｅ，２１ｇには、高速測定タイプの測定ユニット３１として、高電圧測定ユニット３１ａ、低電圧測定ユニット３１ｃ、電流測定ユニット３１ｅおよび周波数測定ユニット３１ｇがそれぞれ接続され、スロット２１ｂ，２１ｄ，２１ｆ，２１ｈには、低速測定タイプの測定ユニット３１として、高温域温度測定ユニット３１ｂ、低温域温度測定ユニット３１ｄ、加速度測定ユニット３１ｆ、および歪み測定ユニット３１ｈがそれぞれ接続されているものとする。
【００２１】
例えば、スロット２１ａ，２１ｂにそれぞれ接続されている高電圧測定ユニット３１ａおよび高温域温度測定ユニット３１ｂを用いて高電圧域の電圧および高温域の温度を測定し、これらについての測定データＤｍを記録する際には、操作部１５を操作して、記録する測定データＤｍのデータ数Ｎを測定データＤｍのタイプ毎に設定する。この場合、電圧の測定データＤｍが高速タイプで、温度の測定データＤｍが低速タイプのため、高速タイプおよび低速タイプをそれぞれ「１」に設定する。次に、ＣＰＵ１６が、操作部１５から出力された操作信号に従い、図４に示すように、メモリ１２ａ，１２ｂの各々の記憶領域内に１つずつ、合計で２つ（データ数Ｎおよび入力系統Ｒの数と等しい数であって、本発明における入力系統数に応じた数の一例）の区画領域Ｍｄ１，Ｍｄ２を各測定データＤｍの入力系統Ｒａ，Ｒｂにそれぞれ対応させて形成する。次いで、操作部１５を操作して、メモリ１２に記録する測定データＤｍを入力するスロット２１、つまり高電圧測定ユニット３１ａおよび高温域温度測定ユニット３１ｂが接続されているスロット２１ａ，２１ｂを指定する。
【００２２】
続いて、操作部１５を操作して、測定条件を設定した後に、高電圧測定ユニット３１ａおよび高温域温度測定ユニット３１ｂに測定を開始させる。この際に、高電圧測定ユニット３１ａが、例えば、入力信号を高速でサンプリングして電圧についての高速測定データＤｍ１を出力する。また、高温域温度測定ユニット３１ｂが、例えば、温度センサから出力された出力信号を低速でサンプリングして温度についての低速測定データＤｍ２を出力する。また、セレクタ１３ａ，１３ｂが両測定データＤｍ１，Ｄｍ２を各スロット２１ａ，２１ｂを介して入力する。次に、セレクタ１３ａがＣＰＵ１６の制御に従って高速測定データＤｍ１を両測定データＤｍ１，Ｄｍ２の中から選択してメモリ１２ａに出力し、ＣＰＵ１６がメモリ１２ａの区画領域Ｍｄ１に高速測定データＤｍ１を記憶させる。また、セレクタ１３ｂがＣＰＵ１６の制御に従って低速測定データＤｍ２を両測定データＤｍ１，Ｄｍ２の中から選択してメモリ１２ｂに出力し、ＣＰＵ１６がメモリ１２ｂの区画領域Ｍｄ２に低速測定データＤｍ２を記憶させる。
【００２３】
次いで、測定データＤｍに基づく波形を表示させる際には、操作部１５の表示スイッチを操作する。この際に、ＣＰＵ１６は、操作部１５から出力された操作信号に従い、メモリ１２ａ，１２ｂから高速測定データＤｍ１および低速測定データＤｍ２を読み出して表示部１４に出力する。続いて、表示部１４が表示処理を実行することにより、図６に示すように、高速測定データＤｍ１に基づく電圧についての波形Ｗ１と、低速測定データＤｍ２に基づく温度についての波形Ｗ２とが表示部１４に同時に表示される。
【００２４】
次に、例えば、高電圧測定ユニット３１ａおよび高温域温度測定ユニット３１ｂに代えて、スロット２１ｃ，２１ｄにそれぞれ接続されている低電圧測定ユニット３１ｃおよび低温域温度測定ユニット３１ｄを用いて低電圧域の電圧および低温域の温度を測定し、これらについての測定データＤｍを記録する際には、上記した高電圧域の電圧および高温域の温度の測定時における操作と同様にして、高速タイプおよび低速タイプのデータ数Ｎをそれぞれ「１」に設定する。次いで、ＣＰＵ１６が、操作部１５から出力された操作信号に従ってメモリ１２ａ，１２ｂの各々の記憶領域内に１つずつの区画領域Ｍｄ１，Ｍｄ２を各測定データＤｍの入力系統Ｒｃ，Ｒｄにそれぞれ対応させて形成する。続いて、操作部１５を操作して、低電圧測定ユニット３１ｃおよび低温域温度測定ユニット３１ｄが接続されているスロット２１ｃ，２１ｄを指定する。
【００２５】
次に、操作部１５を操作して、測定条件を設定した後に、低電圧測定ユニット３１ｃおよび低温域温度測定ユニット３１ｄに測定を開始させる。この際に、低電圧測定ユニット３１ｃおよび低温域温度測定ユニット３１ｄが、電圧についての高速測定データＤｍ１および温度についての低速測定データＤｍ２をそれぞれ出力し、セレクタ１３ａ，１３ｂが両測定データＤｍ１，Ｄｍ２を各スロット２１ｃ，２１ｄを介して入力する。次に、セレクタ１３ａがＣＰＵ１６の制御に従って高速測定データＤｍ１を両測定データＤｍ１，Ｄｍ２の中から選択してメモリ１２ａに出力し、ＣＰＵ１６がメモリ１２ａの区画領域Ｍｄ１に高速測定データＤｍ１を記憶させる。また、セレクタ１３ｂがＣＰＵ１６の制御に従って低速測定データＤｍ２を両測定データＤｍ１，Ｄｍ２の中から選択してメモリ１２ｂに出力し、ＣＰＵ１６がメモリ１２ｂの区画領域Ｍｄ２に低速測定データＤｍ２を記憶させる。この場合、セレクタ１３ａ，１３ｂが、指定されたスロット２１ｃ，２１ｄを介して入力した両測定データＤｍ１，Ｄｍ２を選択してメモリ１２ａ，１２ｂにそれぞれ出力するため、測定ユニット３１を接続し直す（差し替える）ことなく、測定データＤｍを任意に指定して記録することができる。したがって、測定データＤｍを切り替えて記録する際の作業効率を向上させることが可能となる。
【００２６】
次いで、操作部１５の表示スイッチを操作した際には、ＣＰＵ１６が高速測定データＤｍ１および低速測定データＤｍ２をメモリ１２ａ，１２ｂから読み出して表示部１４に出力し、表示部１４が表示処理を実行することにより、高速測定データＤｍ１に基づく電圧についての波形Ｗ１と、低速測定データＤｍ２に基づく温度についての波形Ｗ２とが表示部１４に同時に表示される。
【００２７】
次に、例えば、低電圧測定ユニット３１ｃおよび低温域温度測定ユニット３１ｄに代えて、スロット２１ｅ〜２１ｈにそれぞれ接続されている電流測定ユニット３１ｅ、加速度測定ユニット３１ｆ、周波数測定ユニット３１ｇおよび歪み測定ユニット３１ｈを用いて電流、加速度、周波数および歪みを測定し、これらについての測定データＤｍを記録する際には、操作部１５を操作して、測定データＤｍのタイプ毎にデータ数Ｎを設定する。この場合、電流および周波数の測定データＤｍが高速タイプで、加速度および歪みの測定データＤｍが低速タイプのため、高速タイプおよび低速タイプのデータ数Ｎをそれぞれ「２」に設定する。次いで、ＣＰＵ１６が、操作部１５から出力された操作信号に従い、図５に示すように、メモリ１２ａ，１２ｂの各々の記憶領域内に２つずつ、合計で４つ（データ数Ｎおよび入力系統Ｒの数と等しい数であって、本発明における入力系統数に応じた数の一例）の区画領域Ｍｄ１１，Ｍｄ１２，Ｍｄ２１，Ｍｄ２２を各測定データＤｍの入力系統Ｒｅ〜Ｒｈにそれぞれ対応させて形成する。続いて、操作部１５を操作して、各測定ユニット３１ｅ〜３１ｈが接続されているスロット２１ｅ〜２１ｈを指定する。
【００２８】
次に、操作部１５を操作して、測定条件を設定した後に、各測定ユニット３１ｅ〜３１ｈに測定を開始させる。この際に、各測定ユニット３１ｅ〜３１ｈが、電流についての高速測定データＤｍ１、加速度についての低速測定データＤｍ２、周波数についての高速測定データＤｍ１、および歪みについての低速測定データＤｍ２をそれぞれ出力し、セレクタ１３ａ，１３ｂが各測定データＤｍ，Ｄｍ・・を各スロット２１ｅ〜２１ｈを介して入力する。次に、セレクタ１３ａが電流および周波数についての高速測定データＤｍ１，Ｄｍ１を各測定データＤｍ，Ｄｍ・・の中から選択してメモリ１２ａに出力し、ＣＰＵ１６がメモリ１２ａの区画領域Ｍｄ１１，Ｍｄ１２に各高速測定データＤｍ１，Ｄｍ１をそれぞれ記憶させる。また、セレクタ１３ｂが加速度および歪みについての低速測定データＤｍ２，Ｄｍ２を各測定データＤｍ，Ｄｍ・・の中から選択してメモリ１２ａに出力し、ＣＰＵ１６がメモリ１２ｂの区画領域Ｍｄ２１，Ｍｄ２２に各低速測定データＤｍ２，Ｄｍ２をそれぞれ記憶させる。この場合においても、セレクタ１３ａ，１３ｂが、指定されたスロット２１ｅ〜２１ｈを介して入力した高速測定データＤｍ１，Ｄｍ１および低速測定データＤｍ２，Ｄｍ２を選択してメモリ１２ａ，１２ｂにそれぞれ出力するため、測定ユニット３１を接続し直すことなく、測定データＤｍを任意に指定して記録することができる。
【００２９】
次いで、操作部１５の表示スイッチを操作した際には、ＣＰＵ１６が高速測定データＤｍ１，Ｄｍ１および低速測定データＤｍ２，Ｄｍ２をメモリ１２ａ，１２ｂから読み出して表示部１４に出力し、表示部１４が表示処理を実行することにより、電流、加速度、周波数および歪みについての波形Ｗ，Ｗ・・が表示部１４に同時に表示される（図示せず）。
【００３０】
以下、上記と同様にして操作部１５を操作することで、スロット２１ａ〜２１ｈに接続された各測定ユニット３１，３１・・の中から任意に指定した測定ユニット３１を用いて任意の電気的パラメータを測定し、その測定データＤｍを、測定ユニット３１を接続し直すことなく記録することができる。
【００３１】
このように、この記録装置１によれば、セレクタ１３がＣＰＵ１６の制御に従ってスロット２１ａ〜２１ｈのうちの指定されたスロット２１を介して入力した測定データＤｍを選択して出力し、ＣＰＵ１６がその測定データＤｍをメモリ１２の区画領域Ｍｄに記憶させることにより、各スロット２１にそれぞれ接続されている測定ユニット３１を接続し直す（差し替える）ことなく、メモリ１２に記録させる測定データＤｍを任意に変更したり組み合わせたりすることができる。したがって、この記録装置１によれば、作業効率を低下させることなく各測定ユニット３１から出力される各測定データＤｍの中から任意の測定データＤｍを指定して記録することかできる。
【００３２】
また、この記録装置１によれば、高速測定データＤｍ１をメモリ１２ａの区画領域Ｍｄに記憶させ、低速測定データＤｍ２をメモリ１２ｂの区画領域Ｍｄに記憶させることにより、高速測定データＤｍ１と低速測定データＤｍ２とを別々の記憶領域に記録することができるため、例えば、記録時および読み出し時に測定データＤｍのタイプに適した処理を行うことで、測定データＤｍの記録および読み出しを高速で行うことができる。
【００３３】
また、この記録装置１によれば、高速測定データＤｍ１に基づく波形Ｗと、低速測定データＤｍ２に基づく波形Ｗとを表示部１４に同時に表示させることにより、利用者は、両波形を容易に比較することができる。
【００３４】
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、８つのスロット２１，２１・・を備えた例について上記したが、スロット２１の数はこれに限定されず、２つ以上の任意の数に規定することができる。また、記録する測定データＤｍのデータ数Ｎの設定、およびその測定データＤｍを入力させるスロット２１の指定を操作部１５を用いて行う例について上記したが、接続部１１を介して入力した測定データＤｍの数、およびその測定データＤｍを入力したスロット２１をＣＰＵ１６が特定して、特定した測定データＤｍの数およびスロット２１に基づいてデータ数Ｎの設定やスロット２１の指定をＣＰＵ１６が自動で行う構成を採用することもできる。また、データ数Ｎとして「１」または「２」に設定する例について説明したが、これに限らず、任意の数を設定することができる。さらに、高速タイプのデータ数Ｎと低速タイプのデータ数Ｎとを互いに異なる任意の数に設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】記録装置１の構成を示すブロック図である。
【図２】記録装置１の正面図である。
【図３】記録装置１の側面図である。
【図４】メモリ１２ａ，１２ｂの記憶領域内に区画領域Ｍｄ１，Ｍｄ２が形成された状態を概念的に示す概念図である。
【図５】メモリ１２ａ，１２ｂの記憶領域内に区画領域Ｍｄ１１，Ｍｄ１２，Ｍｄ２１，Ｍｄ２２が形成された状態を概念的に示す概念図である。
【図６】表示部１４に波形Ｗ１，Ｗ２が表示された状態の表示画面図である。
【符号の説明】
【００３６】
１  記録装置
１２ａ，１２ｂ  メモリ
１３ａ，１３ｂ  セレクタ
１４  表示部
１６  ＣＰＵ
２１  スロット
２１ａ〜２１ｈ  スロット
Ｄｍ  測定データ
Ｄｍ１  高速測定データ
Ｄｍ２  低速測定データ
Ｍｄ，Ｍｄ１，Ｍｄ２，Ｍｄ１１，Ｍｄ１２，Ｍｄ２１，Ｍｄ２２  区画領域
Ｎ  データ数
Ｒａ〜Ｒｈ  入力系統
Ｗ１，Ｗ２  波形
【図１】
2006162434.tif 000003
【図２】
2006162434.tif 000004
【図３】
2006162434.tif 000005
【図４】
2006162434.tif 000006
【図５】
2006162434.tif 000007
【図６】
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