(57)【要約】【課題】対物レンズや対物レンズ衝突防止用プロテクタ部と光ディスクとの衝突による光ディスクの傷の発生を低減し、光ディスクの傷付きや磨耗によるプロテクタ表層材の光ディスクへの付着を低減し、それに加えて静電気による雰囲気中のゴミの光ディスクや対物レンズへの付着を低減し、ひいては光ディスクからのデータの読み出しや光ディスクへのデータの書き込みを長期に渡ってエラーが少なく安定的に行う。【解決手段】対物レンズホルダ３２はレーザ光を光ディスク１へ集光するための一つ以上の対物レンズ２４を有し、その周囲に少なくとも一つ以上の対物レンズ衝突防止用プロテクタ部３２ｂが設けられ、前記対物レンズ衝突防止用プロテクタ部３２ｂの表層には少なくとも２０〜８０℃の雰囲気において１．０×１０3パスカル以上で２．９×１０7パスカル未満の動的粘弾性を有するプロテクタ表層材が形成される。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を光ディスクへ集光するための一つ以上の対物レンズを有し、その周囲に少なくとも一つ以上の対物レンズ衝突防止用プロテクタ部が設けられ、前記対物レンズ衝突防止用プロテクタ部の表層には少なくとも２０〜８０℃の雰囲気において１．０×１０3パスカル以上で２．９×１０7パスカル未満の動的粘弾性を有するプロテクタ表層材が形成されたことを特徴とする光ピックアップ用対物レンズホルダ。
【請求項２】
前記対物レンズ衝突防止用プロテクタ部の表層には少なくとも２０〜８０℃の雰囲気において１．０×１０6パスカルよりも大きく２．９×１０7パスカル未満の動的粘弾性を有するプロテクタ表層材が形成されたことを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ用対物レンズホルダ。
【請求項３】
動的粘弾性測定装置を用いて測定周波数１０Ｈｚで測定したときに前記プロテクタ表層材のｔａｎδのピークが０℃以上８０℃以下の間にあることを特徴とする請求項１の対物レンズホルダ。
【請求項４】
レーザ光を光ディスクへ集光するための一つ以上の対物レンズを有し、その周囲に少なくとも一つ以上の対物レンズ衝突防止用プロテクタ部が設けられ、前記対物レンズ衝突防止用プロテクタ部の表層には所定条件において−０．１ｋＶ以上で＋０．１ｋＶ以下の摩擦帯電電位を有するプロテクタ表層材が形成されたことを特徴とする光ピックアップ用対物レンズホルダ。
【請求項５】
前記所定条件とは、表面が平坦な基板上に厚さ３０〜１００μｍ・面積１００ｍ×１００ｍの形状に成型された前記プロテクタ表層材の成型品を設け、温度２５±２℃・湿度６０％ＲＨ以下の雰囲気中で前記プロテクタ表層材の成型品上にポリカーボネート製の光ディスク記録面を合わせるように乗せて前記光ディスク上に５００ｇの荷重をかけ前記光ディスク記録面上の約５ｃｍの距離を約１秒間に１往復の速度で前記プロテクタ表層材の成型品上にて２０往復摩擦運動させて前記光ディスクと加重を取り除いた直後に前記プロテクタ表層材の成型品の帯電電位が約７ｃｍ離れた位置で静電気測定装置を用いて測定されることを特徴とする請求項４記載のプロテクタ表層材の摩擦帯電電位測定方法。
【請求項６】
レーザ光を光ディスクへ集光するための一つ以上の対物レンズを有し、その周囲に少なくとも一つ以上の対物レンズ衝突防止用プロテクタ部が設けられ、前記対物レンズ衝突防止用プロテクタの表面には、８０重量％以上で９８．９重量％以下のオリゴマーとモノマーとの混合物、１重量％以上で１０重量％以下の硬化剤および０．１重量％以上で１０重量％以下の添加剤とからなるプロテクタ表層材が塗布されたことを特徴とする光ピックアップ用対物レンズホルダ。
【請求項７】
前記オリゴマーとモノマーとの混合物として少なくともウレタンアクリレート樹脂、シリコーン樹脂、フッ素樹脂のいずれかが用いられることを特徴とする請求項６記載の光ピックアップ用対物レンズホルダ。
【請求項８】
前記硬化剤として光重合開始剤が用いられることを特徴とする請求項６記載の光ピックアップ用対物レンズホルダ。
【請求項９】
前記添加剤として表面調整剤が用いられることを特徴とする請求項６記載の光ピックアップ用対物レンズホルダ。
【請求項１０】
請求項１または４または６いずれか１項に記載の光ピックアップ用対物レンズホルダが光ピックアップアクチュエータに搭載されたことを特徴とする光ピックアップ装置および光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクの再生または記録を行う光ディスク装置において光ディスクと接触またはその可能性のある部位に光ディスクへの傷付きを防止できる光ピックアップ用対物レンズホルダ、それに用いられるプロテクタ表層材の摩擦帯電電位の測定方法、その対物レンズホルダを備えた光ピックアップ装置および光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、光ディスクは多くの種類が開発されているが、ＣＤやＤＶＤ等を再生中または記録中に、光ディスク装置に不慮の衝撃が加わった場合、対物レンズや光ディスク記録面に傷が付くという場合がある。また、ＣＤとＤＶＤとを同一のレンズで集光する機能を有する光ディスク装置では、ワーキングディスタンスの差に起因する対物レンズの光ディスクへの衝突という問題があり、対物レンズや光ディスク記録面に傷が付く場合がある。
【０００３】
さらに近年、光ディスクの高密度化のために、ピックアップに高ＮＡの対物レンズが、また光源として短波長レーザ光源が用いられつつある。しかし、対物レンズを高ＮＡ化すると必然的に対物レンズと光ディスクとの間の空間（ワーキングディスタンスＷ）が狭くなる。この場合、対物レンズと光ディスクとの間隔が非常に狭くなる。このため、光ディスク自身の精度や光ディスクの運転時のたわみ等で対物レンズと光ディスクとが衝突し、対物レンズや光ディスク記録面に傷が付く可能性がさらに高くなる。
【０００４】
これを図１１を用いて説明する。図１１において、１０１は光ディスク、１０２は光ディスク１０１の情報記録面、１０３は情報記録面１０２を保護するディスク保護層、１１０は対物レンズである。
【０００５】
図示したように、対物レンズ１１０の焦点距離をｆ、開口半径をｒとしたとき、これらと開口数ＮＡとの間には、
ｆ＝ｒ／ＮＡ
の関係が成立する。また、対物レンズ１１０と光ディスク１０１との間隔、即ちワーキングディスタンスをＷとしたとき、焦点距離ｆとの間には、
Ｗ＝ｆ−ｄａ
の関係が成立する。ここで、ｄａは光ディスク１０１の情報記録面を保護するディスク保護層１０３の厚みである。
【０００６】
従って、ワーキングディスタンスＷは焦点距離ｆに比例することになり、開口数ＮＡが大きくなればなるほど焦点距離ｆは短くなるから、ワーキングディスタンスＷも短くなる。
【０００７】
一方、対物レンズの開口半径ｒが大きくなると、対物レンズへの必要光束径が太くなり光ヘッド光学系が大きくなり、光ヘッドの小型化が困難になる。従って、開口半径ｒをむやみに大きくすることは望ましくない。
【０００８】
従って、高密度化のために対物レンズ１１０の開口数ＮＡを大きくすると、対物レンズ１１０の焦点距離ｆが短くなって、対物レンズ１１０と情報記録面を保護するディスク保護層１０３との間隔（ワーキングディスタンスＷ）が短くなる。よって、フォーカスサーボの誤動作等が生じると、対物レンズ１１０と情報記録面を保護するディスク保護層１０３とが衝突する可能性がある。
【０００９】
対物レンズ１１０と情報記録面を保護するディスク保護層１０３とが衝突した場合、当然ながら対物レンズ１１０にも情報記録面を保護するディスク保護層１０３の表面にも傷が付く。対物レンズ１１０に傷や削れ片が付くと光ヘッドの性能が著しく劣化し、情報記録面を保護するディスク保護層１０３に傷が付くと記録済みデータが破損する場合がある。
【００１０】
このような光ディスク装置における対物レンズ１１０や光ディスク記録面への傷付き問題に対して、対物レンズ１１０の周囲に対物レンズ１１０よりも光ディスク１０１側に突出するように対物レンズ衝突防止用プロテクタ部１１２が設けられる。このような対物レンズ衝突防止用プロテクタ部１１２を設けることにより、対物レンズ１１０と情報記録面を保護するディスク保護層１０３とが異常接近したとしても、情報記録面を保護するディスク保護層１０３には、対物レンズ１１０よりも先に対物レンズ衝突防止用プロテクタ部１１２が接触するので、対物レンズ１１０に傷が付くのを防止できる。また、対物レンズ衝突防止用プロテクタ部１１２として樹脂等を用いることにより、情報記録面を保護するディスク保護層１０３に対物レンズ衝突防止用プロテクタ部１１２が接触しても、情報記録面を保護するディスク保護層１０３の表面に傷が付くのを防止できる。
【００１１】
対物レンズ衝突防止用プロテクタ部１１２としては、光ディスク１０１に最も近い部分を光ディスク１０１よりも軟質な材料で形成したり（例えば特許文献１参照）、対物レンズ１１０の周囲にシリコーンゴムを装着したり（例えば特許文献２参照）、対物レンズ１１０の周囲に羊製フェルト等の緩衝材を装着したり（例えば特許文献３参照）、対物レンズ１１０自体にゴム等の弾性体を装着すること（例えば特許文献４参照）等が開示されている。
【特許文献１】特開平２−５４４３３号公報
【特許文献２】特開平１１−３１２３２２号公報
【特許文献３】特許第２５９３９９８号公報
【特許文献４】特開２０００−２４２９５８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、前記（特許文献１〜４）に開示された素材で構成されていれば何であっても対物レンズ衝突防止用プロテクタ部１１２として適当というわけではない。対物レンズ衝突防止用プロテクタ部１１２は単に対物レンズ１１０や光ディスク１０１に傷が入らないよう保護するだけでなく、それそのものも耐磨耗性に優れた素材でなければならない。もし対物レンズ衝突防止用プロテクタ部１１２が磨耗しやすい素材であるのならば、当初の状態（光ディスク１０１と対物レンズ衝突防止用プロテクタ部１１２との間の距離よりも光ディスク１０１と対物レンズ１１０との間の距離が遠い状況にある）から光ディスク１０１との衝突による磨耗が進行し、光ディスク１０１と対物レンズ衝突防止用プロテクタ部１１２との間の距離よりも光ディスク１０１と対物レンズ１１０との間の距離が近くなる状況に至る時間が短く、対物レンズ１１０を保護する機能の持続性に劣る。
【００１３】
また、対物レンズ衝突防止用プロテクタ部１１２が磨耗することにより欠落したその構成物が光ディスク１０１に付着する場合がある。この対物レンズ衝突防止用プロテクタ部１１２の欠落構成物の付着が光ディスク１０１からのデータ読み出しや光ディスク１０１へのデータ書き込みを阻害する可能性がある。特に、光ディスク１０１の高密度化のためにピックアップに高ＮＡの対物レンズが用いられた光ディスク装置においては、光ディスク１０１の情報記録面１０２を従来よりも情報記録面を保護するディスク保護層１０３に近づける必要があり、情報記録面を保護するディスク保護層１０３へのゴミの付着に対してより敏感になっている。すなわち、わずかなゴミの付着であっても光ディスク１０１の読み書きエラー精度に大きく影響する。にもかかわらず、前記（特許文献１〜４）には対物レンズ衝突防止用プロテクタ部１１２の耐摩耗性を確保するための物性面等の規定が何らなされていない。
【００１４】
本発明は、このような従来の課題を解決するものであり、対物レンズや対物レンズ衝突防止用プロテクタ部と光ディスクとの衝突による光ディスクの傷の発生を低減し、光ディスクの傷付きや磨耗によるプロテクタ表層材の光ディスクへの付着を低減し、それに加えて静電気による雰囲気中のゴミの光ディスクや対物レンズへの付着を低減し、ひいては光ディスクからのデータの読み出しや光ディスクへのデータの書き込みを長期に渡ってエラーが少なく安定的に行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明は上記目的を達成するために、光ピックアップ用対物レンズホルダはレーザ光を光ディスクへ集光するための一つ以上の対物レンズを有し、その周囲に少なくとも一つ以上の対物レンズ衝突防止用プロテクタ部が設けられ、前記対物レンズ衝突防止用プロテクタ部の表層には少なくとも２０〜８０℃の雰囲気において１．０×１０3パスカル以上で２．９×１０7パスカル未満の動的粘弾性を有するプロテクタ表層材が形成されたものである。この構成により対物レンズホルダと光ディスクとの衝突の際に発生する衝撃力がプロテクタ表層材の粘弾性により吸収される。
【発明の効果】
【００１６】
本発明の光ピックアップ用対物レンズホルダによれば、対物レンズホルダと光ディスクとの衝突の際に発生する衝撃力がプロテクタ表層材の粘弾性により吸収されるので、対物レンズや対物レンズ衝突防止用プロテクタ部と光ディスクとの衝突による光ディスクの傷の発生が低減される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
本発明の光ピックアップ用対物レンズホルダはレーザ光を光ディスクへ集光するための一つ以上の対物レンズを有し、その周囲に少なくとも一つ以上の対物レンズ衝突防止用プロテクタ部が設けられ、前記対物レンズ衝突防止用プロテクタ部の表層には少なくとも２０〜８０℃の雰囲気において１．０×１０3パスカル以上で２．９×１０7パスカル未満の動的粘弾性を有するプロテクタ表層材が形成されている。
【００１８】
これにより、対物レンズホルダと光ディスクとの衝突の際に発生する衝撃力がプロテクタ表層材の粘弾性により吸収されるので、対物レンズや対物レンズ衝突防止用プロテクタ部と光ディスクとの衝突による光ディスクの傷の発生が低減される。
【００１９】
また、対物レンズ衝突防止用プロテクタ部の表層には、少なくとも２０〜８０℃の雰囲気において１．０×１０6パスカルよりも大きく２．９×１０7パスカル未満の動的粘弾性を有するプロテクタ表層材が形成されてもよい。
【００２０】
これにより、レンズホルダと光ディスクとの衝突の際に発生する衝撃力がプロテクタ表層材の粘弾性により吸収され、なおかつプロテクタの磨耗が低減されるので光ディスクの傷つき防止に加え、磨耗によるプロテクタ表層材の光ディスクへの付着が低減される。
【００２１】
また、対物レンズ衝突防止用プロテクタ部の表層には、動的粘弾性測定装置を用いて測定周波数１０Ｈｚで測定したときのｔａｎδのピークが０℃以上８０℃以下の間にあるプロテクタ表層材が形成されてもよい（ここでｔａｎδは、動的粘弾性測定装置で測定された複素弾性率Ｅ＝Ｅ’+ｉＥ’’の実数部の値すなわち動的粘弾性Ｅ’と虚数部の値Ｅ’’とを用いて、計算式ｔａｎδ＝Ｅ’／Ｅ’’により求められる）。
【００２２】
これにより、レンズホルダと光ディスクとの衝突の際に発生する衝撃力がプロテクタ表層材の変形（弾性反発による変形回復の時間遅れ）により吸収されるのでレンズホルダと光ディスクとの衝突による光ディスクの傷の発生がさらに低減される。
【００２３】
また、光ピックアップ用対物レンズホルダには、レーザ光を光ディスクへ集光するための一つ以上の対物レンズを有し、その周囲に少なくとも一つ以上の対物レンズ衝突防止用プロテクタ部が設けられ、前記対物レンズ衝突防止用プロテクタ部の表層には所定条件において−０．１ｋＶ以上で＋０．１ｋＶ以下の摩擦帯電電位を有するプロテクタ表層材が形成されてもよい。
【００２４】
これにより、レンズホルダが光ディスクに衝突した際のプロテクタ表層及び光ディスク記録面への静電気の発生が防止され、吸引静電気力による光ディスク記録面とプロテクタとの接触が低減されるので、光ディスクの傷付きや磨耗によるプロテクタ表層材の光ディスクへの付着が低減され、それに加えて静電気による雰囲気中のゴミの光ディスクや対物レンズへの付着が低減される。
【００２５】
また、プロテクタ表層材の摩擦帯電電位は、表面が平坦な基板上に厚さ３０〜１００μｍ・面積１００ｍ×１００ｍの形状に成型された前記プロテクタ表層材の成型品を設け、温度２５±２℃・湿度６０％ＲＨ以下の雰囲気中で前記プロテクタ表層材の成型品上にポリカーボネート製の光ディスク記録面を合わせるように乗せて前記光ディスク上に５００ｇの荷重をかけ前記光ディスク記録面上の約５ｃｍの距離を約１秒間に１往復の速度で前記プロテクタ表層材の成型品上にて２０往復摩擦運動させて前記光ディスクと加重を取り除いた直後に前記プロテクタ表層材の成型品の帯電電位が約７ｃｍ離れた位置で静電気測定装置を用いて測定されてもよい。
【００２６】
これにより、いかなる素材のプロテクタ表層材も同一な測定条件での評価が可能となるので、試験データの信頼性が高くなり、最適なプロテクタ表層材が選択される。
【００２７】
また、対物レンズ衝突防止用プロテクタの表面には、８０重量％以上で９８．９重量％以下のオリゴマーとモノマーとの混合物、１重量％以上で１０重量％以下の硬化剤および０．１重量％以上で１０重量％以下の添加剤とからなるプロテクタ表層材が塗布されてもよい。
【００２８】
これによりプロテクタ表層材は、少なくとも２０〜８０℃の雰囲気において１．０×１０6パスカルよりも大きく２．９×１０7パスカル未満の動的粘弾性を有し、また所定条件において−０．１ｋＶ以上で＋０．１ｋＶ以下の摩擦帯電電位を有するので、光ディスクへの傷付きが押えられつつ対物レンズ衝突防止用プロテクタ部の表面に塗布されたプロテクタ表層材の磨耗が低減される。
【００２９】
また、対物レンズ衝突防止用プロテクタの表面に塗布されるプロテクタ表層材には、オリゴマーとモノマーとの混合物として少なくともウレタンアクリレート樹脂、シリコーン樹脂、フッ素樹脂のいずれかが用いられてもよい。
【００３０】
これによりプロテクタ表層材は、少なくとも２０〜８０℃の雰囲気において１．０×１０6パスカルよりも大きく２．９×１０7パスカル未満の動的粘弾性を有し、また所定条件において−０．１ｋＶ以上で＋０．１ｋＶ以下の摩擦帯電電位を有するので、光ディスクへの傷付きが押えられつつ対物レンズ衝突防止用プロテクタ部の表面に塗布されたプロテクタ表層材の磨耗が低減される。
【００３１】
また、対物レンズ衝突防止用プロテクタの表面に塗布されるプロテクタ表層材には、硬化剤として光重合開始剤が用いられてもよい。
【００３２】
これによりプロテクタ表層材は、少なくとも２０〜８０℃の雰囲気において１．０×１０6パスカルよりも大きく２．９×１０7パスカル未満の動的粘弾性を有し、また所定条件において−０．１ｋＶ以上で＋０．１ｋＶ以下の摩擦帯電電位を有するので、光ディスクへの傷付きが押えられつつ対物レンズ衝突防止用プロテクタ部の表面に塗布されたプロテクタ表層材の磨耗が低減される。
【００３３】
また、対物レンズ衝突防止用プロテクタの表面に塗布されるプロテクタ表層材には、添加剤として表面調整剤が用いられてもよい。
【００３４】
これによりプロテクタ表層材は、少なくとも２０〜８０℃の雰囲気において１．０×１０6パスカルよりも大きく２．９×１０7パスカル未満の動的粘弾性を有し、また所定条件において−０．１ｋＶ以上で＋０．１ｋＶ以下の摩擦帯電電位を有するので、光ディスクへの傷付きが押えられつつ対物レンズ衝突防止用プロテクタ部の表面に塗布されたプロテクタ表層材の磨耗が低減される。
【００３５】
また、これらの光ピックアップ用対物レンズホルダが光ピックアップ装置や光ディスク装置の光ピックアップアクチュエータに搭載されてもよい。
【００３６】
これにより、対物レンズと光ディスクとの衝突が防止され、光ディスクに発生する傷、プロテクタ部からの欠落物の光ディスクや対物レンズへの付着、静電気による雰囲気中のゴミの光ディスクや対物レンズへの付着等が低減されるので、光ディスクからのデータの読み出しや光ディスクへのデータの書き込みが長期に渡ってエラーが少なく安定的に行われる。
【実施例】
【００３７】
以下、本発明の具体的な内容について実施例を用いて説明する。
【００３８】
（実施例１）
以下、本発明の実施例１の光ピックアップアクチュエータについて、図面を参照しながら説明する。図１は本発明の実施例１における光ピックアップアクチュエータを搭載した光ピックアップ装置の正面図、図２は本発明の実施例１における光ピックアップアクチュエータを搭載した光ピックアップの正面図、図３は本発明の実施例１における光ピックアップアクチュエータを搭載した光ピックアップの断面図、図４は本発明の実施例１における光ピックアップアクチュエータの拡大正面図、図５は本発明の実施例１における光ピックアップアクチュエータの断面図である。
【００３９】
図１において、１はデジタルデータを収納している光ディスク、２は光ディスク１を回転するためのスピンドルモータである。スピンドルモータ２には、光ディスク１を保持するチャッキング部を有している。３はデジタルデータを光ディスク１に記録し、光ディスク１の情報を読み取るための光ピックアップである。４は、光ピックアップ３を光ディスク１の内周から外周へ移動すためのトラバースモータであり、減速ギア５等を用いてスクリューシャフト６へ回転力を伝達する。スクリューシャフト６には螺旋系の溝が形成されており、この溝が光ピックアップ３に固定されたラック７の歯と噛み合っている。
【００４０】
また、光ピックアップ３は支持シャフト８、ガイドシャフト９にスライド可能に支持されている。これらの構成により、スクリューシャフト６の回転力がラック７に伝えられ、光ピックアップ３は光ディスク１の内外周（ラジアル方向）へ移動が可能になる。１０は光ピックアップモジュールベースであり、スピンドルモータ２、トラバースモータ４、光ピックアップ３等を搭載している。
【００４１】
図２において、１１は光ピックアップ３のベースとなるキャリッジ、１２は光ピックアップアクチュエータである。キャリッジ１１は光ピックアップアクチュエータ１２とその光学系を搭載している。１３は半導体レーザで、波長７８０ｎｍと波長６３５ｎｍ〜６５０ｎｍの２つの波長を有している。１４は受光素子で光ディスクからの光信号を受光するとともにレーザ光１５の出力をモニターできる前光モニターも内蔵されている。
【００４２】
１６は光分離手段で一方はレーザ光１５を透過し、戻光を受光素子１４に導くプリズムである。プリズム１６には、レーザ光１５をモニターするための回折格子を有し、受光素子１４に導いた位置に波長７８０ｎｍの光を分割する回折格子を有している。また、プリズム１６の半導体レーザ１３側には、３ビームを構成するための回折格子も作成されており、一方のレーザ波長からは他の波長が影響を受けないようになっている。
【００４３】
１７は波長６３５ｎｍ〜６５０ｎｍの光を分割する回折格子で、他方のレーザ光には影響が少なくなるようになっている。１８は結合部材で、半導体レーザ１３と受光素子１４の位置を決めるための部材である。受光素子１４にはフレキシブル基板が搭載され、レーザフレキ１９に半田等で結合されている。２０はコリメートレンズで、半導体レーザ１３から射出された発散光を略並行光にしている。２１はビームスプリッターで、波長７８０ｎｍと波長６３５ｎｍ〜６５０ｎｍのレーザ光１５を分離及び結合している。
【００４４】
図２に示すようにビームスプリッター２１は、波長７８０ｎｍのレーザ光１５を反射し、波長６３５ｎｍ〜６５０ｎｍのレーザ光１５を透過している。２２は反射ミラーで、波長６３５ｎｍ〜６５０ｎｍの波長を反射できるようになっており、立ち上げミラー２３（図３参照）から対物レンズ２４への立ち上げ角度及び位置を調整できるようになっている。２５はアオリ部材で、反射ミラー２２を接着固定し、シフト部材２６に対しアオリできるように球面等で調整自在に支持されている。シフト部材２６はスライドシャフト２７に嵌合され、キャリッジ１１に対してスライドできるようになっている。
【００４５】
２８はシフトバネで、シフト部材２６とキャリッジ１１との間に配置され弾発状態になっている。２９はシフト調整ねじで、キャリッジ１１には貫通穴、シフト部材にはメネジが設けられ、シフト調整ねじ２９を回転することで、シフト部材２６がキャリッジ１１に対してスライド可能になっている。また、シフト調整ねじ２９とキャリッジ１１との当て面は、テーパ状に形成され、スライドシャフト２７とシフト部材２６とのクリアランスを吸収するようになっている。３０はビーム成形プリズムで、波長６３５ｎｍ〜６５０ｎｍのレーザ光１５をラジアル方向にビーム成形している。
【００４６】
図４，図５において、３１は開口フィルター及びλ／４板で、２つのレーザ光１５の開口数ＮＡを決定している。３２は対物レンズホルダで、対物レンズ２４が接着等で固定されている。３２ａは対物レンズホルダ３２に設けられた対物レンズ２４を接着する際の接着剤溜り部（本発明の接着部）、３２ｂは対物レンズ衝突防止用プロテクタ部である。接着剤溜り部３２ａは、レーザ光１５入射側に１箇所とこれを挟んで対物レンズ２４の両側に２個所設けられており、対物レンズ衝突防止用プロテクタ部３２ｂはレーザ光１５入射側に１箇所設けられた接着剤溜り部３２ａの両側に設けられる。
【００４７】
このように対物レンズホルダ３２には、対物レンズ２４との接着を行う接着剤溜り部３２ａがレーザ光１５の入射側に１箇所、反入射側にレーザ入射軸を挟んで両側に２個所設けられ、この１個所の接着剤溜り部３２ａの両側に対物レンズ衝突防止用プロテクタ部３２ｂが設けられたことにより、光ピックアップアクチュエータのタンジェンシャル方向の横幅を狭くすることが可能になる。
【００４８】
そして、接着剤溜り部３２ａは、２箇所以上をレーザ入射軸に関して入射側の両側で対称的（線対称）に設けるのでもよく、このとき反入射側にはレーザ入射軸上に接着剤溜り部３２ａを設け、レーザ入射軸を挟んで両側に対物レンズ衝突防止用プロテクタ部３２ｂを２箇所以上設けることができる。なお、以下レーザ光１５の入射側とは、光ピックアップを正面（上方）からみたとき、対物レンズ２４のビームスプリッター２１側のことであり、反入射側とは対物レンズ２４の入射側とは反対側を意味する。そしてレーザ入射軸とは対物レンズ中心を通過する光軸のことである。
【００４９】
３４，３５はフォーカスコイルでリング状に巻線されており、３６，３７はトラッキングコイルでフォーカスコイル３４，フォーカスコイル３５同様リング状に巻線されている。トラッキングコイル３６，トラッキングコイル３７は対物レンズ中心に対し対称的に配設され、フォーカスコイル３４，フォーカスコイル３５は対物レンズ中心に対し対称的に配設されている。また、フォーカスコイル３４，フォーカスコイル３５、トラッキングコイル３６，トラッキングコイル３７も対物レンズホルダ３２に接着等で固定されている。
【００５０】
３８，３９はバネ基板であり、サスペンションワイヤ４０から電力供給を受け、また対物レンズホルダ３２との接合中継基板として用いられる。バネ基板３８，バネ基板３９は、サスペンションワイヤ４０を半田等で接合でき、またフォーカスコイル３４，フォーカスコイル３５の半田固定ができるとともに、トラッキングコイル３６とトラッキングコイル３７も半田固定できるようになっている。さらに、バネ基板３８とバネ基板３９は対物レンズホルダ３２に接着等で固定される。また、サスペンションワイヤ４０は、独立したフォーカスコイル３４，フォーカスコイル３５と直列接合されたトラッキングコイル３６，トラッキングコイル３７に対し電力を供給できるように、少なくとも６本の丸ワイヤもしくは板バネ等で構成されている。
【００５１】
４１はサスペンションホルダーであり、サスペンションワイヤ４０の他端を半田等で固定できるようにフレキシブル基板が接着固定されている。４２，４３はフォーカスマグネットでフォーカスコイル３４，フォーカスコイル３５に対向して配置されている。４４，４５はトラッキングマグネットでトラッキングコイル３６，トラッキングコイル３７に対向して配置されている。
【００５２】
フォーカスマグネット４２，４３はフォーカス方向に、トラッキングマグネット４４，４５はトラッキング方向に磁極が分割され、一極がフォーカスコイル３４，フォーカスコイル３５とトラッキングコイル３６，トラッキングコイル３７の略リング状の一部分（所定の一片の部分）に対向し、もう一極がこれら各コイルの他の一部分に対向するように配置される。サスペンションワイヤ４０は小型化及びサスペンションワイヤ４０の座屈方向の共振を低減させるために逆ハ字状になっている。
【００５３】
４６は磁気ヨークであり、フォーカスマグネット４２，フォーカスマグネット４３とトラッキングマグネット４４，トラッキングマグネット４５の磁気的なヨークの役目を果たし、一方では、サスペンションホルダー４１を接着等で支持固定するものである。磁気ヨーク４６とサスペンションホルダー４１とで形成されるボックス４７には、サスペンションワイヤ４０の一部が貫通し、ダンピングを行うダンパーゲルが充填されている。ダンパーゲルはＵＶ等でゲル状になる材料が使用される。
【００５４】
以下、対物レンズホルダ３２、フォーカスコイル３４、フォーカスコイル３５、トラッキングコイル３６、トラッキングコイル３７、バネ基板３８、バネ基板３９、対物レンズ２４、開口フィルター及びλ／４板３１とで構成される部分が実施例１の光ピックアップアクチュエータ可動部である。
【００５５】
４８はレーザドライバーであって、半導体レーザ１３内に内蔵する波長７８０ｎｍと波長６３５ｎｍ〜６５０ｎｍの波長に対しドライブする機能を有し、加えて各波長に対し重畳を掛ける機能を有する。また、レーザドライバー４８はキャリッジ１１の下面側に配置され、キャリッジ１１最下面に配置されるカバー板金（図示しない）との間に配置され、キャリッジ１１とカバー板金と接触状態を確保して、放熱対策も施されている。
【００５６】
次に、本実施例１の光学構成について説明する。半導体レーザ１３から射出された波長７８０ｎｍのレーザ光１５は、３ビームを形成する回折格子を通過し、ビームを分離するプリズム１６を介し、コリメートレンズ２０で略並行になり、ビームスプリッター２１により立ち上げミラー２３、開口フィルター及びλ／４板３１を通過し、対物レンズ２４により集光され光ディスク１に光スポットを形成される。
【００５７】
光ディスク１から発射したレーザ光１５は逆に通過し、プリズム１６内の波長選択膜により分離され、受光素子１４との間に構成される回折格子により受光素子１４内の光検出器に導かれる。次に半導体レーザ１３から射出された波長６３５ｎｍ〜６５０ｎｍのレーザ光１５は、３ビームを形成する回折格子を通過し、ビームを分離するプリズム１６を介して、コリメートレンズ２０で略並行になり、ビームスプリッター２１を通過した後、反射ミラー２２により反射され、ビーム成形プリズム３０により、ラジアル方向にビーム成形される。
【００５８】
再度ビームスプリッター２１を通過した後、立ち上げミラー２３、開口フィルター及びλ／４板３１を通過し、対物レンズ２４により集光され光ディスク１に光スポットを形成する。光ディスク１から発射したレーザ光１５は逆に導かれ、プリズム１６の上部に位置する回折格子１７により、プリズム１６を介して受光素子１４内の光検出器に導かれる。この回折格子１７は、波長７８０ｎｍのレーザ光１５には、ほとんど作用しないようになっている。
【００５９】
次に、実施例１の光ピックアップアクチュエータの動作について説明する。図示しない電源より、サスペンションホルダー４１に取り付けられたフレキシブル基板、サスペンションワイヤ４０、バネ基板３８、バネ基板３９を介して、フォーカスコイル３４、フォーカスコイル３５、トラッキングコイル３６、トラッキングコイル３７に電力が供給される。フォーカスコイル３４とフォーカスコイル３５に正方向に電流を流すと、フォーカスマグネット４２，フォーカスマグネット４３との作用でフォーカス方向に可動できるように磁気回路が構成されており、電流を流す方向及び量に応じてフォーカス方向の制御が可能になる。
【００６０】
次に、フォーカスコイル３４とフォーカスコイル３５の一方のコイルに流す電流の向きを反転することで、例えば、フォーカスコイル３４には光ディスク１へ近づく方向への力が働き、フォーカスコイル３５には光ディスク１から離れる方向へ力が働く。この相反する力により、光ピックアップアクチュエータ可動部にはラジアル方向に回転するモーメントが発生し、６本のサスペンションワイヤ４０に働く捻りモーメントと力が釣り合う位置までチルトする。このフォーカスコイル３４、フォーカスコイル３５に流す方向及び量に応じて制御可能になっている。
【００６１】
トラッキングコイル３６とトラッキングコイル３７に正方向に電流を流すと、トラッキング方向に可動できるように磁気回路が構成されており、電流を流す方向及び量に応じてトラッキング方向の制御が可能となる。
【００６２】
このように実施例１の光ピックアップアクチュエータは、トラッキングコイル３６，トラッキングコイル３７が対物レンズ中心に対し対称的に配設され、またフォーカスコイル３４，フォーカスコイル３５が対物レンズ中心に対し対称的に配設され、フォーカスコイル３４，フォーカスコイル３５の一方を流す電流の向きを反転または流す電流の量を変化させることによりチルトが可能になる。
【００６３】
また実施例１の光ピックアップアクチュエータは、対物レンズホルダ３２に対物レンズ２４との接着を行う接着剤溜り部３２ａがレーザ光１５の入射側に１箇所、反入射側にレーザ入射軸を挟んで両側（レーザ入射軸を挟んで）に２個所設けられ、この１個所の接着剤溜り部３２ａの両側に対物レンズ衝突防止用プロテクタ部３２ｂが設けられたことにより、光ピックアップアクチュエータのタンジェンシャル方向の横幅を狭くすることが可能になる。
【００６４】
また、２箇所以上の接着剤溜り部３２ａを、入射側でレーザ入射軸を挟んで両側で対称的（線対称）に設け、反入射側ではレーザ入射軸を挟んで両側に対物レンズ衝突防止用プロテクタ部３２ｂを２箇所以上設けることができるため、光ピックアップアクチュエータのタンジェンシャル方向の横幅を狭くすると同時に衝突の危険がなくなる。従ってフォーカス、トラッキング及びラジアル方向にチルト可能な３軸光ピックアップアクチュエータを小型に実現でき、とくにノートパソコン等に搭載できる超薄型、小型且つ高精度の光ピックアップアクチュエータを提供することができる。
【００６５】
以上のような構成を有する光ピックアップアクチュエータに設けられた対物レンズ衝突防止用プロテクタ部３２ｂに対して例えば８０重量％以上で９８．９重量％以下のオリゴマーとモノマーとの混合物、１重量％以上で１０重量％以下の硬化剤および０．１重量％以上で１０重量％以下の添加剤とからなるプロテクタ表層材が対物レンズ衝突防止用プロテクタ部３２ｂの表面に塗布される。オリゴマーとモノマーとの混合物としては例えば少なくともウレタンアクリレート樹脂、シリコーン樹脂、フッ素樹脂のいずれかが用いられる。また、硬化剤としては例えば光重合開始剤が用いられ、添加剤としては例えば表面調整剤が用いられる。これによりプロテクタ表層材は、少なくとも２０〜８０℃の雰囲気において１．０×１０6パスカルよりも大きく２．９×１０7パスカル未満の動的粘弾性を有し、また所定条件において−０．１ｋＶ以上で＋０．１ｋＶ以下の摩擦帯電電位を有するので、光ディスクへの傷付きが押えられつつ対物レンズ衝突防止用プロテクタ部３２ｂの表面に塗布されたプロテクタ表層材の磨耗が低減される。その根拠についてこれから図６〜図９および（表１）〜（表３）を用いて述べる。
【００６６】
【表１】
2006338783.tif 000003
【００６７】
【表２】
2006338783.tif 000004
【００６８】
【表３】
2006338783.tif 000005
【００６９】
まず、プロテクタ表層材の動的粘弾性と光ディスクの傷付き深さおよびプロテクタ表層材の磨耗量との関係について明らかにする。図６は衝突実験による光ディスクの傷付き深さとプロテクタ表層材の磨耗量を得るための実験装置における対物レンズホルダの斜視図であり、図７は衝突実験による光ディスクの傷付き深さとプロテクタ表層材の磨耗量を得るための実験装置全体の断面模式図である。これらの図６および図７に示された実験装置５１で用いられている光ピックアップアクチュエータ５２には、パナソニックコミュニケーションズ（株）製光ディスクドライブ装置ＵＪＤＡ−７１０の光ピックアップアクチュエータのみを取り出して改造したものを用いている。
【００７０】
図６に示すように、パナソニックコミュニケーションズ（株）製光ディスクドライブ装置ＵＪＤＡ−７１０から取り出された光ピックアップアクチュエータ５２の対物レンズホルダ５３には、本来装着されるべき対物レンズの代わりにプロテクタ表層材が塗布されたテストピース５４が対物レンズ装着部５５に装着される。
【００７１】
テストピース５４はベース部５６とプロテクタ表層材塗布部５７とで構成されている。ベース部５６は対物レンズ装着部５５にちょうど収まる大きさとする。ベース部５６の凸部の形状はΦ１ｍｍ、高さ１ｍｍであり、プロテクタ表層材塗布部５７はベース部５６の表面にプロテクタ表層材を塗布、硬化することにより形成される。形成されるプロテクタ表層材は最大厚さ約１００μｍの球面状の形に形成される。このようなテストピース５４が装着された光ピックアップアクチュエータ５２は、対物レンズホルダ５３の静止状態時において光ディスク５８に対し図７に示されるような位置、すなわちテストピース５４のプロテクタ表層材塗布部５７と光ディスク５８との間の距離が０．３ｍｍとなるように設置される。なおテストピース５４の脱落防止のため、例えば接着剤等を用いてテストピース５４を対物レンズホルダ５３の対物レンズ装着部５５に固定しても良い。
【００７２】
以上に述べた実験装置５１を用いて、光ディスク５８を回転させ、光ディスク５８の傷付き深さとプロテクタ表層材の磨耗量を得るための衝突実験を以下の要領にて行う。図示されていないが、光ピックアップアクチュエータ５２には対物レンズホルダ５３をフォーカス方向やトラッキング方向へ変位させる信号を外部より与えるためのフレキシブル基板があり、そのフレキシブル基板には前記各種信号を与えるための端子が設けられている。それらの端子のうち、対物レンズホルダ５３をフォーカス方向に変位させるための２つの端子間に対して最大電圧振幅１．３Ｖ、周波数２ｋＨｚの正弦波信号を与えることにより対物レンズホルダ５３を上下方向に振動させ、テストピース５４のプロテクタ表層材塗布部５７を光ディスク５８の同一箇所に対して断続的に衝突させる。本実験装置５１の場合、光ディスク５８の回転数は、テストピース５４のプロテクタ表層材塗布部５７が接触する部分における線速度が１０．５６ｍ／秒となるように調整されている。プロテクタ表層材塗布部５７の光ディスク５８の同一箇所への衝突回数は５００回とする。このように設定された図６および図７に示される実験装置５１においては、１回の衝突におけるプロテクタ表層材塗布部５７と光ディスク５８との接触時間は約０．２秒となる。
【００７３】
この衝突実験を異なるプロテクタ表層材の動的粘弾性および雰囲気温度において複数回行った結果、図８および（表１）、（表２）に示される実験結果が得られた。光ディスク５８の傷の深さについては光干渉３次元測定装置を用いて測定されたものであり、プロテクタ表層材の磨耗量は、衝突実験の前と後においてテストピース５４上の樹脂をテストピース５４の水平方向から顕微鏡にて観察して膜厚測定を行った値の差分により得られたものである。各プロテクタ表層材の動的粘弾性はあらかじめ動的粘弾性測定装置を用いて測定周波数１０Ｈｚで測定される。これらの図８および（表１）、（表２）が意味するところは次に述べる通りである。
【００７４】
プロテクタ表層材の動的粘弾性が低ければ低いほど、光ディスク５８に与える傷は小さくなる。特にブルーレイディスクの場合、本実験の実施条件においては１００ｎｍ以下であることが望ましいとされている。図８および（表１）によれば、動的粘弾性が２．９０×１０7パスカルの時には光ディスクの傷付き深さが１２４ｎｍであり、動的粘弾性が１０6パスカル台であれは光ディスクの傷付き深さが１００ｎｍを下回っている。従ってプロテクタ表層材の動的粘弾性が少なくとも２．９×１０7パスカル未満であれば、テストピース５４が５００回衝突した後の光ディスクの傷付き深さは１００ｎｍ以下とすることができる。
【００７５】
本実験において光ディスク５８の傷付き深さを測定するための実験は１．０×１０6パスカルよりも大きい動的粘弾性を有するプロテクタ表層材についてのみ行われているが、動的粘弾性が低いということはその素材が柔らかいということであり、それ以下の動的粘弾性を有するプロテクタ表層材そのものが光ディスク５８に対してほとんど傷を与えないことは容易に想像出来る。
【００７６】
しかしながら、プロテクタ表層材の動的粘弾性が低すぎる、すなわち柔らかすぎると、そのプロテクタ表層材は光ディスクドライブ装置内にある対物レンズ衝突防止用プロテクタ部３２ｂや図６および図７に示される実験装置５１のテストピース５４のプロテクタ表層材塗布部５７上で容易に磨耗し、あるいはプロテクタ表層材そのものがゲル状化や液状化してしまう。そうなれば対物レンズ衝突防止用プロテクタ部３２ｂやプロテクタ表層材塗布部５７が剥き出しになる時期が早くなり、結果的に光ディスク１または５８に傷を付けてしまうことになる。よって、光ディスク１または５８への傷付きが小さいだけでなく、ゲル状化や液状化せず、かつ耐磨耗性も確保できる範囲の動的粘弾性を有するプロテクタ表層材が選択されなければならない。
【００７７】
一般には物体の動的粘弾性が１．０×１０3パスカルを下回ると、その物体はゲル状化や液状化すると言われている。プロテクタ表層材の動的粘弾性は少なくとも１．０×１０3パスカル以上であることが必要である。さらに図８および（表２）は、プロテクタ表層材の動的粘弾性が少なくとも１．０×１０6パスカルより大きい時にプロテクタ表層材の磨耗量が１０μｍ以下となることを示している。光ディスクへの５００回衝突後のプロテクタ表層材の磨耗量が１０μｍ以上になると、特に波長４０５ｎｍのレーザ光を用いるブルーレイディスクにおいては対物レンズと光ディスクとの衝突確率が高くなることが予想される。プロテクタ表層材の磨耗量が大きい場合、プロテクタ表層材と光ディスクとの衝突時にプロテクタ表層材の磨耗分が光ディスク表面に付着する。このため、光ディスクへの５００回衝突後のプロテクタ表層材の磨耗量は１０μｍ以下であることが望ましい。
【００７８】
従って、プロテクタ表層材の動的粘弾性が１．０×１０3パスカル以上で２．９×１０7パスカル未満であれば、レンズホルダと光ディスクとの衝突の際に発生する衝撃力がプロテクタ表層材の粘弾性により吸収されるので、対物レンズや対物レンズ衝突防止用プロテクタ部と光ディスクとの衝突による光ディスクの傷の発生が低減される。さらにプロテクタ表層材の動的粘弾性が１．０×１０6パスカルより大きく１．０×１０7パスカル未満であればレンズホルダと光ディスク５８との衝突の際に発生する衝撃力がプロテクタ表層材の粘弾性により吸収され、かつプロテクタの磨耗が低減されるので、先に述べた光ディスクの傷付き防止に加えてプロテクタ表層材の磨耗による光ディスクへの付着が低減される。
【００７９】
次に、プロテクタ表層材の摩擦帯電電位と光ディスクの傷付き深さとの関係について述べる。本実験も図６および図７に示される実験装置５１が用いられるが、テストピース５４のプロテクタ表層材塗布部５７に塗布されるプロテクタ表層材としては、異なる摩擦帯電電位を有するものが複数用意される。
【００８０】
プロテクタ表層材の摩擦帯電電位の測定は次のような条件で行われる。すなわち、表面が平坦な基板上に厚さ３０〜１００μｍ、面積１００×１００ｍｍ2の形状に成型されたプロテクタ表層材の成型品を設け、温度２５±２℃、湿度６０％ＲＨ以下の雰囲気中でこのプロテクタ表層材の成型品上にポリカーボネート製の光ディスク記録面を合わせるように乗せ、その光ディスク上に５００ｇの荷重をかけて光ディスク記録面上の約５ｃｍの距離を約１秒間に１往復の速度で前記プロテクタ表層材の成型品上にて２０往復摩擦運動させる。その後、光ディスクと加重が取り除かれ、プロテクタ表層材の成型品の帯電電位が約７ｃｍ離れた位置で静電気測定装置を用いて測定される。このような摩擦帯電電位測定方法を用いればいかなる素材のプロテクタ表層材も同一な測定条件での評価が可能となるので、試験データの信頼性が高くなり、最適なプロテクタ表層材を選択することができる。
【００８１】
以上のような摩擦帯電電位測定方法によりあらかじめ測定された複数のプロテクタ表層材のうち一つが図６および図７のテストピース５４のプロテクタ表層材塗布部５７に塗布され、プロテクタ表層材の動的粘弾性と光ディスク５８の傷付き深さおよびプロテクタ表層材の磨耗量との関係について明らかにされた先の実験と同様の衝突条件を用いて、テストピース５４と光ディスク５８上の同一箇所との衝突実験が行われる。この衝突実験により図９および（表３）の実験結果が得られた。これらの結果が意味するところは次に述べる通りである。
【００８２】
すなわち（表３）によれば、初期の摩擦帯電電位の絶対値が低ければ低いほど、光ディスク５８の傷付き深さが小さいことがわかる。（表３）に示された５つのサンプルのうち、サンプルＮＯ．Ｅ−１の初期の摩擦帯電電位がもっとも小さく、また光ディスク５８の傷付き深さも他のサンプルより１桁小さくなっている。この光ディスク５８の傷付き深さの値は、ブルーレイディスクにおける先の要求値（５００回衝突後で１００ｎｍ以下）を満足する。
【００８３】
また、図９は先に述べた摩擦帯電電位の測定条件における測定開始からの時間経過と各サンプルの摩擦帯電電位との関係を表したものであるが、ここでもサンプルＮＯ．Ｅ−１の摩擦帯電電位の時間変化は他のサンプルと比較して小さく、±０．１ｋＶの範囲内に収まっていることがわかる。よって、摩擦帯電電位が±０．１ｋＶの範囲内に収まるプロテクタ表層材であれば、レンズホルダが光ディスク５８に衝突した際のプロテクタ表層及び光ディスク記録面への静電気の発生が防止され、吸引静電気力による光ディスク記録面とプロテクタとの接触が低減されるので、光ディスク５８の傷付きやプロテクタ表層材の磨耗による光ディスク５８への付着が低減され、それに加えて静電気による雰囲気中のゴミの光ディスクや対物レンズへの付着が低減されると言える。
【００８４】
なお、プロテクタ表層材の動的粘弾性や摩擦帯電電位を変えるためにはプロテクタ表層材の組成や配合率を変える必要があるが、ある動的粘弾性を有するプロテクタ表層材を得るための組成や配合率は一通りではなく複数存在するのが通常である。
【００８５】
また、先の２つの実験と同じ衝突条件で行われていた結果を示す図１０によれば、Ｓａｍｐｌｅ２はｔａｎδのピークが雰囲気温度０℃以上８０℃以下の範囲内にあり、動的粘弾性Ｅ’も雰囲気温度０℃以上８０℃以下の範囲内において１．０×１０6パスカル以下に収まっているが、Ｓａｍｐｌｅ１のほうはｔａｎδのピークが雰囲気温度０℃以上８０℃以下の範囲内に無く、動的粘弾性Ｅ’が雰囲気温度０℃以上８０℃以下の範囲内において１．０×１０7パスカルを越えてしまっている。すなわち、プロテクタ表層材のｔａｎδのピークが雰囲気温度０℃以上８０℃以下のどこかにあるほうが、対物レンズホルダ３２上の対物レンズ衝突防止用プロテクタ部３２ｂまたは対物レンズホルダ５３上のテストピース５４が光ディスク１または５８に衝突した際に発生する衝撃力がプロテクタ表層材の変形（弾性反発による変形回復の遅れ）により吸収され易くなるので、対物レンズホルダ上のプロテクタ部またはテストピース５４が衝突することによる光ディスクの傷の発生がさらに低減される。
【００８６】
以上のように本実施例１によれば、上記の構成により対物レンズホルダと光ディスクとの衝突の際に発生する衝撃力がプロテクタ表層材の粘弾性により吸収されるので、対物レンズや対物レンズ衝突防止用プロテクタ部と光ディスクとの衝突による光ディスクの傷の発生が低減される。
【００８７】
なお、上記実施例では半導体レーザ１３のレーザ光源として波長６３５ｎｍ〜６５０ｎｍのいわゆる赤色レーザ光を射出するものが用いられ、対物レンズ２４がその赤色レーザ光を集光しているが、例えば波長が４０５ｎｍ等のいわゆる青色レーザ光を射出するものが用いられ、対物レンズがその青色レーザ光を集光する光ピックアップ装置または光ディスク装置の対物レンズホルダに対しても同様の効果が得られる。さらに、対物レンズホルダ３２には対物レンズ２４一つのみが搭載されているが、複数の対物レンズが搭載されている対物レンズホルダに対しても同様の効果が得られる。それら複数の対物レンズは互いに異なる波長のレーザ光を集光するものであってもよい。例えば対物レンズホルダに搭載される対物レンズが二つの場合は、一方がいわゆる赤色レーザ光を集光するもので、他方がいわゆる青色レーザ光を集光するものであっても構わない。
【産業上の利用可能性】
【００８８】
本発明にかかる対物レンズホルダおよびそれに用いられるプロテクタ表層材の摩擦帯電電位の測定方法は、対物レンズや対物レンズ衝突防止用プロテクタ部と光ディスクとの衝突による光ディスクの傷の発生を低減し、光ディスクの傷付きや磨耗によるプロテクタ表層材の光ディスクへの付着を低減し、それに加えて静電気による雰囲気中のゴミの光ディスクや対物レンズへの付着を低減し、ひいては光ディスクからのデータの読み出しや光ディスクへのデータの書き込みを長期に渡ってエラーが少なく安定的に行うことができるところから、例えば光ピックアップ装置および光ディスク装置およびそれらに搭載される光ピックアップアクチュエータなどへの利用が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００８９】
【図１】本発明の実施例１における光ピックアップアクチュエータを搭載した光ピックアップ装置の正面図
【図２】本発明の実施例１における光ピックアップアクチュエータを搭載した光ピックアップの正面図
【図３】本発明の実施例１における光ピックアップアクチュエータを搭載した光ピックアップの断面図
【図４】本発明の実施例１における光ピックアップアクチュエータの拡大正面図
【図５】本発明の実施例１における光ピックアップアクチュエータの断面図
【図６】衝突実験による光ディスクの傷付き深さとプロテクタ表層材の磨耗量を得るための実験装置における対物レンズホルダの斜視図
【図７】衝突実験による光ディスクの傷付き深さとプロテクタ表層材の磨耗量を得るための実験装置全体の断面模式図
【図８】プロテクタ表層材の動的粘弾性および雰囲気温度と光ディスクの傷付き深さおよびプロテクタ表装材の磨耗量との関係を示す図
【図９】プロテクタ表層材の摩擦帯電電位の測定開始からの時間経過を示す図
【図１０】プロテクタ表装材のｔａｎδと雰囲気温度との関係を示す図
【図１１】従来の対物レンズ衝突防止用プロテクタ部を備えた光ヘッドの主要部を示した断面図
【符号の説明】
【００９０】
１，１０１    光ディスク
２    スピンドルモータ
３    光ピックアップ
４    トラバースモータ
５    減速ギア
６    スクリューシャフト
７    ラック
８    支持シャフト
９    ガイドシャフト
１０    光ピックアップモジュールベース
１１    キャリッジ
１２    光ピックアップアクチュエータ
１３    半導体レーザ
１４    受光素子
１５    レーザ光
１６    プリズム
１７    回折格子
１８    結合部材
１９    レーザフレキ
２０    コリメートレンズ
２１    ビームスプリッター
２２    反射ミラー
２３    立ち上げミラー
２４，１１０    対物レンズ
２５    アオリ部材
２６    シフト部材
２７    スライドシャフト
２８    シフトバネ
２９    シフト調整ねじ
３０    ビーム成形プリズム
３１    開口フィルター及びλ／４板
３２，５３    対物レンズホルダ
３２ａ    接着剤溜り部
３２ｂ，１１２    対物レンズ衝突防止用プロテクタ部
３４，３５    フォーカスコイル
３６，３７    トラッキングコイル
３８，３９    バネ基板
４０    サスペンションワイヤ
４１    サスペンションホルダー
４２，４３    フォーカスマグネット
４４，４５    トラッキングマグネット
４６    磁気ヨーク
４７    ボックス
４８    レーザドライバー
５１    実験装置
５２    光ピックアップアクチュエータ
５４    テストピース
５５    対物レンズ装着部
５６    ベース部
５７    プロテクタ表層材塗布部
５８    光ディスク
１０２    光ディスクの情報記録面
１０３    情報記録面を保護するディスク保護層
【図１】
2006338783.tif 000006
【図２】
2006338783.tif 000007
【図３】
2006338783.tif 000008
【図４】
2006338783.tif 000009
【図５】
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【図６】
2006338783.tif 000011
【図７】
2006338783.tif 000012
【図８】
2006338783.tif 000013
【図９】
2006338783.tif 000014
【図１０】
2006338783.tif 000015
【図１１】
2006338783.tif 000016