(57)【要約】【課題】  欠陥画素等のノイズ情報の検出処理を実行させるための操作を行う必要がなく、自動的にノイズ情報の検出処理が行われる撮像装置およびその制御方法を提供すること。【解決手段】  撮像装置の動作モードが、撮像素子の光学面に付着した異物を除去するためのクリーニングモードに設定されると（ステップＳ５０５，ＹＥＳ）、そのクリーニングモードに設定されている間に、撮像素子から得られる信号に基づいてノイズ情報を検出する処理が実行される（ステップＳ５０８）。【選択図】  図５
2006229475.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮影レンズからの被写体光を光電変換する撮像素子を用いて撮影を行う撮像装置であって、
動作モードとして、前記撮像素子の光学面に付着した異物を除去するためのクリーニングモードに設定する設定手段と、
前記設定手段によりクリーニングモードに設定されている間に、前記撮像素子から得られる信号に基づいてノイズ情報を検出する検出手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記検出手段は、前記撮像素子の出力レベルを所定のしきい値と比較することにより、欠陥画素を前記ノイズ情報として検出することを特徴とする請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記検出手段による検出結果に基づいて、欠陥画素を補正するための補正データを作成する補正データ作成手段と、
前記補正データ作成手段により作成された前記補正データを保存する保存手段と、
前記検出手段により欠陥画素が検出されなかった場合において、前記保存手段に前記補正データが保存されているときは、当該補正データを削除する削除手段と、
を更に有することを特徴とする請求項２に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記補正データ作成手段により作成された前記補正データの前記保存手段への保存動作中に、その保存動作が完了前に前記クリーニングモードが終了した場合には、当該補正データの前記保存手段への保存を行わないことを特徴とする請求項３に記載の撮像装置。
【請求項５】
前記補正データ作成手段により作成された前記補正データのデータ数が所定値以上になった場合は、当該補正データの前記保存手段への保存を行わないことを特徴とする請求項３または４に記載の撮像装置。
【請求項６】
測光回路の出力が所定値以上である場合には前記検出手段の動作を中断する制御手段を更に有することを特徴とする請求項１から５までのいずれかに記載の撮像装置。
【請求項７】
撮影レンズからの被写体光を光電変換する撮像素子を用いて撮影を行う撮像装置の制御方法であって、
動作モードとして、前記撮像素子の光学面に付着した異物を除去するためのクリーニングモードに設定する設定ステップと、
前記設定ステップによりクリーニングモードに設定されている間に、前記撮像素子から得られる信号に基づいてノイズ情報を検出する検出ステップと、
を有することを特徴とする撮像装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、固体撮像素子を用いた撮像装置およびその制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、電子スチルカメラやビデオカメラでは撮像素子の高画素化が進んでおり、それに伴って撮像素子中の欠陥画素の補正の重要性がより高まってきている。このような状況において、従来から欠陥画素からの撮像出力に起因する画質劣化を補正する技術が種々提案されている。これら従来技術の多くは、工場出荷時における撮像素子の欠陥画素データ（欠陥画素位置や欠陥画素の欠陥レベル）を保有し、このデータに基づいて欠陥画素補正するものである。
【０００３】
しかしながら、上述のような方法では、工場出荷時の特定の検査条件下では検出されないような欠陥画素や経年変化による欠陥画素に対しては補正を行うことができないという問題があった。また、このような欠陥画素が発生した場合には、ユーザーがデジタルカメラ等の機器をサービスセンターに持ち込み、発生した欠陥画素に対応した欠陥画素データを追加することによって対応していた。
【０００４】
これに対し、カメラに欠陥画素を検出するための欠陥画素検出モードを持たせ、その検出モードで検出された欠陥画素データを追加し、そして、このデータを用いて補正する技術も提案されている。
【０００５】
【特許文献１】特開平８−１９５９０９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の欠陥検出補正技術では、新たな欠陥画素が発生した場合、ユーザーがデジタルカメラ等をサービスセンターに持ち込んで補正データを変更する場合はもちろん、欠陥画素検出モードにより補正データを変更する技術を採用したとしても、ユーザーは欠陥画素検出モードに移行するための操作を行わなければならず、ユーザーに時間と手間をかけさせてしまうという問題は依然として残ったままである。
【０００７】
また、欠陥画素検出モードにおいて欠陥画素が検出されたときのデータを追加する場合には、元の工場出荷時の欠陥画素データに検出時の欠陥画素データをマージすることになる。このマージ動作を欠陥画素検出時に行うようにした場合、検出時の欠陥画素データは小さいが工場出荷時の欠陥画素データが大きいため、保存に時間がかかってしまい、保存中にユーザーが電源を切ってしまった場合に工場出荷時の欠陥画素データと検出時の欠陥画素データ両方とも破壊されてしまうおそれがある。また、保存時間を短くするために、工場出荷時の欠陥画素データとは別途、検出時の欠陥画素データを保存するようにして、たとえば電源起動時にマージ動作を行うようにした場合には、マージのための時間が数十ミリ秒のオーダーでかかってしまい起動時間が遅くなってしまう。くわえて、マージ後の欠陥画素データをメモリ上に保存しておかなければならないので、その分余計にメモリを消費してしまう。現在のところ内蔵されるメモリの容量からすると、欠陥画素データは膨大であり、これをメモリ上に余計に保存することは難しい。
【０００８】
本発明はこのような技術的背景のもとになされたもので、欠陥画素等のノイズ情報の検出処理を実行させるための操作を行う必要がなく、自動的にノイズ情報の検出処理が行われる撮像装置およびその制御方法を提供することを目的とする。
【０００９】
本発明の上記の目的およびその他の目的は以下の詳細な説明によって理解されよう。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明の一側面は、撮影レンズからの被写体光を光電変換する撮像素子を用いて撮影を行う撮像装置に係り、動作モードとして、前記撮像素子の光学面に付着した異物を除去するためのクリーニングモードに設定する設定手段と、前記設定手段によりクリーニングモードに設定されている間に、前記撮像素子から得られる信号に基づいてノイズ情報を検出する検出手段とを有する。
【００１１】
本発明の別の側面は、撮影レンズからの被写体光を光電変換する撮像素子を用いて撮影を行う撮像装置の制御方法に係り、動作モードとして、前記撮像素子の光学面に付着した異物を除去するためのクリーニングモードに設定する設定ステップと、前記設定ステップによりクリーニングモードに設定されている間に、前記撮像素子から得られる信号に基づいてノイズ情報を検出する検出ステップとを有する。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、ノイズ情報検出処理を実行させるための操作を行う必要がなく、自動的にノイズ情報の検出処理が行われる撮像装置およびその制御方法が提供される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、図面を参照して本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、本発明は以下の実施形態に限定されるものではなく、本発明の実施に有利な具体例を示すにすぎない。また、以下の実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の課題解決手段として必須のものであるとは限らない。
【００１４】
まず、本発明の実施形態に係る撮像装置の構成を図１〜図５に基づき説明する。
【００１５】
図１は、本発明の実施形態に係る撮像装置としてのレンズ交換式デジタルカメラの上面図、図２は同デジタルカメラの背面図、図３は同デジタルカメラの断面図である。各図において、１００はカメラ本体、１１１はファインダー観察用の接眼窓である。図１及び図２において、１１２はＡＥ（自動露出）ロックボタン、１１３はＡＦ（オートフォーカス）の測距点選択ボタンである。図１において、１１４は撮影操作をするためのレリーズボタンであり、１１５が他の操作ボタンと併用して、カメラに数値を入力したり、撮影モードを切り換えたりするための多機能信号入力用の電子ダイヤルである。２００は撮影レンズであって、カメラ本体１００に対して交換可能な構成になっている。
【００１６】
図１及び図２において、１１７は撮影モード選択ボタン、１１８はＡＦモード選択ボタン、１１９は測光モード選択ボタンで、調光補正ボタンも兼ねている。図２において、１２０は撮影された画像を表示するＴＦＴ（液晶表示器）モニター装置である。１２１はＴＦＴモニター装置１２０をオン／オフするためのモニタースイッチである。
【００１７】
図１及び図２において、１１６は入力用電子ダイヤル１１５と同様の機能を備えた、撮影条件等を選択するためのサブ電子ダイヤルである。図２において、１２２はこのサブ電子ダイヤル１１６による入力機能をロックするダイヤルロックスイッチ、１２３は本デジタルカメラの全ての動作を禁止するメインスイッチである。１２４はＴＦＴモニター装置１２０に画像を表示する際や、カメラの初期設定の際にモードを選択するためのメニューボタンで、各モードを選択する時は、このメニューボタン１２４を押しながらサブ電子ダイヤル１１６を回転して希望のモードを選択する。希望のモードが選択された時、メニューボタン１２４を離すと選択が完了する。このメニューボタン１２４とサブ電子ダイヤル１１６は、クリーニングモードの設定にも使用される。
【００１８】
図１及び図２において、１４０は撮影条件等を表示する外部表示機能を備えた液晶表示装置よりなる外部表示装置である。
【００１９】
図３において、撮影レンズ２００は、カメラ本体１００に対してレンズマウント２０２を介して交換可能な構成になっている。２０１は撮影光軸を示している。図３において、２０３はクイックリターンミラー、２０４はミラーホルダー、２０５はサブミラーである。クイックリターンミラー２０３とサブミラー２０５は、撮影光路内に設けられていて（斜設されて）撮影レンズ２００からの被写体光をファインダー光学系と焦点検出装置２０６の両方に導く位置（斜設位置）と、撮影光路外に退避する位置（退避位置）との間で移動可能であり、図においては斜設位置にある。また、クイックリターンミラー２０３は半透過になっていて、被写体光の一部が、ミラーホルダー２０４の中央の開口部を通過し、サブミラー２０５に反射して、焦点検出装置２０６に導かれる。
【００２０】
図３において、２０７はピント板で、ファインダー光学系に導かれる被写体光を結像する。このピント板２０７上には、後述するスーパーインポーズ表示装置の刻線（測距点）が一体的に構成されている。２０８はファインダーの視認性を向上させるためのコンデンサーレンズ、２０９はペンタゴナルダハプリズムで、ピント板２０７およびコンデンサーレンズ２０８を通った被写体光をファインダー観察用の接眼レンズ２１１および測光センサ２１０に導く。また、１１１はファインダー観察用の接眼窓である。
【００２１】
２１２、 ２１３はシャッターを構成する後幕と先幕で、これら後幕２１２、先幕２１３の開放によって、後方に配置されている固体撮像素子であるＣＣＤ２１６に必要な露光を与える。撮影時にＣＣＤ２１６に蓄積された画像データは、別に設けられた不図示の画像処理回路を通して後述する外部記憶装置に送られる。２１５はＣＣＤ２１６のパッケージを封止しているカバーガラスである。この表面に付着するゴミ、汚れが、大きな問題になっている。２１４は照明装置で、例えばカバーガラス２１５の近傍に小型の高輝度ＬＥＤを複数個配置し、後述する照明装置制御回路による制御によって点灯する。これにより、カバーガラス上のゴミ、汚れが、照明されて、大変視認し易くなり、清掃の作業性が向上する。
【００２２】
２１７はプリント基板で、ＣＣＤ２１６が実装されている。この後方にＴＦＴホルダー２１８が配置されており、外側の面にＴＦＴモニター装置１２０が配置されている。ＴＦＴモニター装置１２０は透過型であるため、ＴＦＴモニター装置の駆動だけでは画像を視認することはできず、必ずその裏面には図３に示すようにバックライト照明装置２１９が配置してある。２２１は画像データを記録するための、着脱可能な外部記憶装置で、例えばコンパクトフラッシュ（登録商標）などのフラッシュメモリーカードである。また、２２２はカメラの電源である、着脱可能な電池である。
【００２３】
図４は、本実施形態に係るデジタルカメラの電気回路構成を示すブロック図である。２１７は制御部であり、基本的に、カメラ全体の動作をつかさどるＣＰＵ４０２、各種データの一時的記憶領域として使用されると共にＣＰＵ４０２のメインメモリとして機能するＲＡＭ４２１、固定的なデータやプログラム等を記憶するＲＯＭ４２２、 ＣＣＤ２１６の出力である画像データを処理したり、ＴＦＴモニター装置１２０に画像を表示する画像表示制御回路４０３が実装されている。ＲＯＭ４２２には、ＣＰＵ４０２によって実行される、カメラ動作を制御するための制御プログラムが記憶されている。この他、この制御部２１７には、画像データを一時的に記憶したり調整値などを恒久的に記憶するためのデータメモリ４２５が設けられており、そこには、欠陥画素補正用のデータ（以下「欠陥補正データ」ともいう。）を格納するためのデータ領域４２５ａが確保されている。この欠陥補正データは撮影時に使用されるので、データメモリ４２５は、電源を切ってもデータの消えない不揮発性のメモリである。さらに、この制御部２１７には、欠陥画素をノイズ情報として検出する欠陥検出回路４２３、および、欠陥補正データを用いて欠陥画素の補正を行う欠陥補正回路４２４が設けられている。
【００２４】
４０４は、先述したようにカバーガラス上のゴミや汚れが視認しやすくなるよう設けられた照明装置２１４に電源を供給するための照明装置制御回路である。
【００２５】
４０６はスイッチ１（ＳＷ１）で、レリーズボタン１１４（図１参照）の半押し状態でオンするスイッチであり、このスイッチ１がオンすると本デジタルカメラは撮影準備状態になる。４０７はスイッチ２（ＳＷ２）で、レリーズボタン１１４（図１参照）が最後まで押された状態でオンするスイッチであり、このスイッチ２がオンすると本デジタルカメラは撮影動作を開始する。
【００２６】
４０８はレンズ制御回路で、本実施の形態は、レンズ交換式のデジタルカメラであるので、撮影レンズ２００（図１及び図３参照）との通信及びＡＦ（オートフォーカス）時の撮影レンズ２００の駆動や絞り羽根の駆動の制御をこのレンズ制御回路４０８が受け持っている。また、４０９は外部表示の制御回路で外部表示装置１４０や、ファインダー内の表示装置（不図示）の制御を行う。４１１はスイッチセンス回路で、カメラ内に設けられた電子ダイヤル１１５や、サブ電子ダイヤル１１６を含む多数のスイッチ類の信号をＣＰＵ４０２に伝える働きをしている。
【００２７】
４１４はストロボ発光調光制御回路で、Ｘ接点４１４ａを介して接地されており、外部ストロボの制御を行う。４１５は測距回路で、ＡＦ（オートフォーカス）のための被写体に対するディフォーカス量を検出する機能を有する。４１６は測光回路で、被写体の輝度を測定する機能を有する。４１７はシャッター（後幕２１２、先幕２１３）およびミラー（クイックリターンミラー２０３）の駆動系の制御を行う回路で、撮影時にはＣＣＤ２１６に対して適正な露光を行うほか、クリーニングモード時にはミラーを撮影光路外に退避した位置に移動させるとともにシャッターをバルブ状態にする。
【００２８】
次に、本実施形態に係るデジタルカメラの欠陥画素検出シーケンスについて、図５のフローチャートおよび図１０のデータフロー図に基づいて説明する。図５は本実施形態に係るデジタルカメラの動作の流れを示すフローチャート、図１０は、本実施形態の欠陥画素検出シーケンスに係るデータフローを示す図である。以下に説明するように、本実施形態における欠陥画素検出シーケンスは、クリーニングモード時に行われる。
【００２９】
まず、ステップＳ５０１でメインスイッチ１２３（図２参照）がオン（ＯＮ）したか否かを判断する。ここでいうオンは、図２でメインスイッチ１２３が‘Ａ’の位置にあるときである。もしここで、メインスイッチ１２３がオフ（ＯＦＦ）の状態（‘Ｌ’の位置）であれば、そのまま何もせずスタートに戻って、またステップＳ５０１に進む。つまり、電池が入っていてもメインスイッチが‘Ｌ’の位置であれば、ステップＳ５０１からスタートの間のループを繰り返して待機していることになる。一方、メインスイッチ１２３がオン（‘Ａ’の位置）であれば、ステップＳ５０２に進み、本デジタルカメラの各操作スイッチがオン（ＯＮ）したか否かを判断する。そして、いずれの操作スイッチも操作されていない時は、スタートに戻って、またステップＳ５０１に進む。
【００３０】
ステップＳ５０２でいずれかの操作スイッチがオンされれば、ステップＳ５０３に進み、オンした操作スイッチに対応した処理をＣＰＵ４０２（図４参照）により行う。この処理は、例えば、本デジタルカメラの各操作部材を操作して、撮影モードを変えたり、撮影済の画像を読み出したり、クリーニングモードを動作モードとして設定したりする処理である。ステップＳ５０３を実行した結果、クリーニングモードが設定されたか否かをステップＳ５０４で判断する。クリーニングモードが設定されていなければ、通常の撮影となり、ステップＳ５３０へ進む。もし、クリーニングモードが設定されていたら、ステップＳ５０５に進み、ＴＦＴモニター装置１２０に、“Ｃｌｅａｎｉｎｇ”を表示する（図８参照）。
【００３１】
ここで、クリーニングモードの具体的な設定方法と表示について説明しておく。図６〜図８は、上述したクリーニングモードの時の、デジタルカメラの背面部と、 クリーニングモードを選択する場合の、ＴＦＴモニター装置１２０の表示内容を示している。
【００３２】
図６において、前述したとおり、ＴＦＴモニター装置１２０に画像を表示する際や、カメラの初期設定、及び各モードを選択する際は、メニューボタン１２４を押しながらサブ電子ダイヤル１１６を回転して希望のモードを選択する。希望のモードが選択された時、メニューボタン１２４を離すと選択が完了する。
【００３３】
ゴミモード及び、クリーニングモードを選択する時は、まず、図６において、メニューボタン１２４を押すと、図６のようなメニュー画面表示になる。ここで、メニューボタン１２４を押しながらサブ電子ダイヤル１１６を回転して、１１０１のＭａｉｎ Ｍｅｎｕを選択して（文字が白黒反転する）、メニューボタン１２４を離すと、メインメニューの画面に切り換わる（メインメニューの画面については、図７を使用して後述する。）。メニュー画面を終了するときは、メニューボタン１２４を押しながらサブ電子ダイヤル１１６を回転して１１０２のＤＯＮＥを選択し（文字が白黒反転する）、メニューボタン１２４を離すと、通常のスタンバイ表示に戻る。
【００３４】
前述した、１１０１のＭａｉｎ Ｍｅｎｕを選択したときは、図７のメインメニューの画面に切り換わる。Ｍａｉｎ Ｍｅｎｕが選択されると、図７に示すように、メインメニューの画面が表示される。図７において、クリーニングモードを選択する時は、メニューボタン１２４を押しながらサブ電子ダイヤル１１６を回転して、１２０１のＣｌｅａｎｉｎｇを選択し（文字が白黒反転する）、メニューボタン１２４を離すと、クリーニングモードになる（クリーニングモードの画面については、図８を使用して後述する。）。また、図７において、メインメニューを終了するときは、１２０２のＤＯＮＥを、メニューボタン１２４を押しながらサブ電子ダイヤル１１６を回転して選択し（文字が白黒反転する）、メニューボタン１２４を離すと、通常のスタンバイ表示に戻る。
【００３５】
図８のＴＦＴモニター装置１２０に示される画面は、クリーニングモードが動作中であることを示している。クリーニングモードを終了する時は、 メニューボタン１２４を押しながらサブ電子ダイヤル１１６でＤＯＮＥアイコン１３０１を選択し、メニューボタン１２４を離すと、クリーニングモードが終了する。
【００３６】
再び図５のフローチャートを参照して、クリーニングモードの詳細な動作について説明する。図６，７を参照して説明した手順でクリーニングモードが設定されると、ステップＳ５０５において、図８に示したような“Ｃｌｅａｎｉｎｇ”表示がなされる。通常であれば次にはミラーアップおよびシャッターの開動作を行うところであるが、本実施形態では、それに先立ち、次のステップＳ５０６〜Ｓ５０８の処理を行う。
【００３７】
まず、ステップＳ５０６では、欠陥画素検出用の画像を取得する。上記のとおりこの時点ではまだミラーアップおよびシャッターの開動作を行っていないため、暗状態の画像（暗画像）が取得されることになる。なお、本発明における欠陥画素の検出は、全ての撮影で発生する欠陥を検出することが目的であるから、短秒、低ＩＳＯで撮影を行うようにする。この暗画像は、図１０に示すように、欠陥検出用画像として欠陥補正回路４２４に入力される。
【００３８】
ところで、欠陥補正データ４２５ａは、図１０に示すように、工場出荷時の欠陥画素データテーブル（出荷時欠陥データ）と、後述する欠陥画素検出シーケンスで生成される欠陥画素データテーブル（検出時欠陥データ）とを含む。工場出荷時の欠陥画素データテーブルは例えば、図１２に示すようなデータ構造を有する。図１２の例では、発生した欠陥画素毎に、アドレスデータとしてｘ座標およびｙ座標と、その欠陥画素の補正レベルとが記述されている。なお、欠陥画素の補正においては、撮影時のＩＳＯやシャッタースピードによって、どの欠陥レベルまでの補正を行うかが切り替えられる。また、データの順序については、撮影画像や欠陥検出画像の読み出される順序と同じになるようにすることでハードウェアでの補正が行えるように、あらかじめソートされている。
【００３９】
一方、図１３は欠陥画素検出時の欠陥画素データテーブルのデータ形式の一例を示している。このデータの形式は、欠陥画素の発生しているアドレスを示すｘ座標とｙ座標だけである。後述するように、このデータテーブルが存在する場合には必ず補正が行われることになる。ただし、実際には欠陥画素は検出されるケースは非常に少なくこのようなデータテーブルが存在することは稀であり、検出されても数画素程度であろう。このテーブルを用いた補正はソフトウェアで行うことができるため、データの順序についてはソートしておく必要はない。
【００４０】
このように、工場出荷時の欠陥画素データテーブル（出荷時欠陥データ）と、欠陥画素検出時の欠陥画素データテーブル（検出時欠陥データ）とを別々に保存しておくことにすれば、検出時欠陥データだけを更新すればよく、データの保存時間が短くて済むという利点がある。そのため、万が一電源が途中で遮断された場合でもデータが破壊される可能性は低くなる。仮に破壊されてしまったとしても、この場合は、出荷時欠陥データは失われておらず、検出時欠陥データだけが無いと判断されるので、撮影に対する影響はほとんど無いといえる。さらには、欠陥画素検出時の欠陥画素データは工場出荷時の欠陥画素データとは別に補正されるため、起動時にマージする必要も無く、起動時間が長くなったり、余計にメモリを消費することも無い。
【００４１】
さて、図１０に示すように、欠陥画素検出用の暗画像が欠陥補正回路４２４に入力されると、欠陥補正回路４２４は、図１２に示したような工場出荷時の欠陥画素データテーブルを読み込み、そのテーブルに記述されているアドレス毎に、当該暗画像の画素値を補正する（ステップＳ５０７）。この補正は欠陥補正回路４２４のハードウェアにより自動的に行われる。なお、以下では、このような工場出荷時の欠陥画素データテーブルを用いた欠陥画素の補正を「欠陥補正Ａ」といい、これに対し、後述するような、欠陥画素検出時の欠陥画素データテーブルを用いた欠陥画素の補正を「欠陥補正Ｂ」という。
【００４２】
このようにして欠陥画素の補正が施された暗画像は、図１０に示すように、欠陥検出回路４２３に送られ、ここで、続くステップＳ５０８の欠陥画素の検出が行われる。具体的には、ＣＣＤ２１６の各出力レベルを所定のしきい値と比較することにより欠陥画素を検出する。欠陥画素検出用画像はシャッターを閉じた状態で得られた暗画像であるから、明るい画素が存在した場合それは欠陥画素であると判断できる。上記したとおり、本発明における欠陥画素の検出は、全ての撮影で発生する欠陥を検出することが目的であるから、欠陥画素を検出するレベルは比較的高くしておく。このとき、測光回路４１６の出力が所定値以上である場合は、このデジタルカメラの周囲が極端に明るいと判断し、光線漏れの影響を避けるべく、以降の欠陥画素テーブル保存は行わないように欠陥検出回路４２３の動作を中断することが好ましい。このステップＳ５０８において、欠陥検出回路４２３によって欠陥画素が検出された場合には、そのアドレスデータを図１３に示したような検出時欠陥画素データテーブルのデータ形式でデータメモリ４２５に保存する。このデータメモリ４２５に既に検出時欠陥画素データテーブルが存在していた場合には、上書きを行う。
【００４３】
以上のステップＳ５０６〜Ｓ５０８の処理を終えると、次に、ステップＳ５０９で、シャッター・ミラー駆動系制御回路４１７により、クイックリターンミラー２０３が撮影光路外に退避した位置に移動される（いわゆるミラーアップ）。次に、ステップＳ５１０で、シャッター・ミラー駆動系制御回路４１７により、先幕２１３が駆動され、先幕２１３のみが走行し、本実施形態のデジタルカメラはバルブ状態になる。
【００４４】
ステップＳ５１１では、照明装置２１４をＯＮにする。つまり、照明装置制御回路４０４により、ＣＣＤ２１６近傍に配置された照明装置２１４に駆動電力が供給され、ＣＣＤ２１６の光学面が照明される。ここで、レンズ２００が装着されていれば、オペレーターはレンズ２００を外して、レンズマウント２０２側から、ブロアー等の清掃用の道具を使用して、ＣＣＤ２１６の光学面（カバーガラス２１５）のゴミや汚れを取り除くことになる。本実施形態のデジタルカメラでは、ＣＣＤ２１６の光学面（カバーガラス２１５）が照明装置２１４によって照明されているので、ゴミや汚れの確認が容易で、清掃し易く大変便利である。清掃が終了したら、オペレーターはＴＦＴモニター装置１２０の“ＤＯＮＥ”を選択することにより（図８の１３０１）、このクリーニングモードを抜けることができる。
【００４５】
さて、このようにデジタルカメラがクリーニングモードに移行してバルブ状態で、なおかつ、ＣＣＤ２１６の光学面が照明された状態とされると、処理はステップＳ５１２に進み、ステップＳ５０８での欠陥画素検出結果に基づいて、欠陥画素があるかどうかを判断する。ここで、欠陥画素がある場合にはステップＳ５１３に進み、欠陥画素補正Ｂ用の欠陥画素テーブルのデータメモリ４２５への保存を開始する。
【００４６】
ステップＳ５１４では、この保存動作が完了したか否かを監視している。また、ステップＳ５１４およびＳ５１６では、ＴＦＴモニター装置１２０の“ＤＯＮＥ”（図８の１３０１）が選択されたか否かを監視している。ここで、保存動作がまだ完了せず“ＤＯＮＥ”も選択されていないかぎり、ステップＳ５１４に戻って処理を繰り返す（ステップＳ５１４，ｎｏ→ステップＳ５１６，ｎｏ）。他方、保存動作が完了しその後“ＤＯＮＥ”が選択された場合（ステップＳ５１４，ｙｅｓ→ステップＳ５１５，ｙｅｓ）はそのままステップＳ５２１へと進む。また、保存動作が完了する前に“ＤＯＮＥ”が選択された場合（ステップＳ５１４，ｎｏ→ステップＳ５１６，ｙｅｓ）は、ステップＳ５１７に進み、その保存動作を中止して、その後にステップＳ５２１へと進む。すなわち、このときの欠陥画素補正Ｂ用の欠陥画素テーブルはデータメモリ４２５には保存されない。
【００４７】
また、ステップＳ５１２において、ステップＳ５０８での欠陥画素検出結果に基づいて欠陥画素があるかどうかを判断した結果、欠陥画素なしであった場合にはステップＳ５１８に進む。このステップＳ５１８では、前回の欠陥画素検出（ステップＳ５０８）で欠陥補正Ｂ用の欠陥画素テーブルが作成され保存されているか否かを判断する。ここで、そのような欠陥補正Ｂ用の欠陥画素テーブルが既に作成・保存されていた場合にはステップＳ５１９に進み、その欠陥補正Ｂ用の欠陥画素テーブルを削除する。この削除により、欠陥画素検出を行った環境に適した欠陥画素データを保持することが可能となる。たとえば、前回検出時は高温の環境下であったために欠陥画素が検出されたが今回は常温の環境下であるため欠陥画素が検出されなかった場合などが考えられる。
【００４８】
ステップＳ５１８で、前回の欠陥補正Ｂ用の欠陥画素テーブルが作成・保存されていない場合、あるいは、ステップＳ５１９で前回の欠陥補正Ｂ用の欠陥画素テーブルを削除した場合は、ステップＳ５２０に進み、ＴＦＴモニター装置１２０の“ＤＯＮＥ”（図８の１３０１）が選択されたか否かを監視し、“ＤＯＮＥ”が選択されると、ステップＳ５２１に進む。
【００４９】
ステップＳ５２１では、照明装置制御回路４０４により照明装置２１４をＯＦＦにする。その後、ステップＳ５２２で、シャッター・ミラー駆動系制御回路４１７により、後幕２１２が駆動され、後幕２１２が走行してバルブ状態が解除される。最後にステップＳ５２３で、シャッター・ミラー駆動系制御回路４１７の制御により、クイックリターンミラー２０３が被写体光をファインダー光学系に導く位置（斜設位置）に戻り（いわゆるミラーダウン）、一連のクリーニングモードの動作が終了する。
【００５０】
一方、ステップＳ５０４において、クリーニングモードでない時は、ステップＳ５３０へ進み、スイッチ１（図４の４０６）がオン（ＯＮ）したか否かを判断する。前述のとおり、このスイッチ１はレリーズボタン１１４（図１参照）の半押し状態でＯＮするスイッチであり、このスイッチ１がオンすると本デジタルカメラは撮影準備状態になる。そして、スイッチ１がオフ（ＯＦＦ）していればステップＳ５０１へ戻り、またスイッチ１がオンであれば、本デジタルカメラは次のステップＳ５３１へ進む。ステップＳ５３１では、測光（ＡＥ）動作及び測距（ＡＦ）動作がそれぞれ行われ、撮影レンズ２００が駆動されて焦点合わせが行われる。
【００５１】
次に、ステップＳ５３２で、スイッチ２（図４の４０７）がオン（ＯＮ）されたか否かを判断する。前述のとおり、このスイッチ２は、レリーズボタン１１４（図１参照）が最後まで押された状態でＯＮするスイッチであり、このスイッチ２がオンすると次のステップＳ５３３へ進んで本デジタルカメラは撮影動作を開始する。一方、スイッチ２がオフ（ＯＦＦ）していればステップＳ５３０へ戻り、ステップＳ５３０からステップＳ５３２を繰り返す。
【００５２】
ステップＳ５３３では、クイックリターンミラー２０３が作動して撮影光路外に退避する（ミラーアップ）。次に、ステップＳ５３４で、ＣＣＤ２１６の蓄積が開始され、次のステップＳ５３５では、シャッターの露光、即ち、先幕２１３、後幕２１２がそれぞれ走行する。そして、ステップＳ５３６で、ＣＣＤ２１６の蓄積が終了され、次のステップＳ５３７で、ＣＣＤ２１６から画像信号が読み出されて、ＲＡＭ４２１に一時記憶される。そして、ステップＳ５３８で、クイックリターンミラー２０３が作動して被写体光をファインダー光学系に導く位置（斜設位置）に戻り（ミラーダウン）、一連の撮像動作が終了する。
【００５３】
以上のようなデジタルカメラの動作によれば、クリーニングモードに移行したときに欠陥画素検出シーケンスが自動的に実行される。そのため、ユーザーがわざわざ欠陥画素検出処理を実行させるための操作を行う必要はない。なおここで、クリーニングモードに移行したときに欠陥画素検出シーケンスを実行するようにしたのは、ユーザーが画素の異常に気付いた場合、通常、それがセンサー上のごみによるものか画素欠陥によるものかは判断できず、ユーザーはとりあえず最初にＣＣＤのクリーニングを実行すると考えられるからである。
【００５４】
本実施形態における欠陥画素の検出シーケンスは概ね以上のとおりである。次に、欠陥画素補正シーケンスについて説明する。図９は、本実施形態における欠陥画素補正シーケンスを示すフローチャートである。また、図１１は、本実施形態の欠陥画素補正シーケンスに係るデータフローを示す図である。
【００５５】
まず、通常の撮影画像を取得する（ステップＳ９０１）。図１１に示すように、この撮影画像は欠陥補正回路４２４に送られる。すると、欠陥補正回路４２４は、図１２に示したような工場出荷時の欠陥画素データテーブルを読み込み、そのテーブルに記述されているアドレス毎に、当該撮影画像の画素値を補正する（ステップＳ９０２）。すなわち、当該撮影画像に対し欠陥補正Ａを実行する。この補正は欠陥補正回路４２４のハードウェアにより自動的に行われる。
【００５６】
このようにして欠陥画素の補正が施された撮影画像はいったんデータメモリ４２５に保存される。次に、ＣＰＵ４０２は欠陥画素検出シーケンスで生成された欠陥画素データテーブルがデータメモリ４２５に保存されているか否かを判断する（ステップＳ９０３）。欠陥画素検出シーケンスで生成された欠陥画素データテーブルがデータメモリ４２５に保存されていた場合には、データメモリ４２５に保存されている補正後の撮影画像に対して、その欠陥画素検出シーケンスで生成された欠陥画素データテーブルに基づいて例えばソフトウェアで補正を行う（ステップＳ９０４）。すなわち、欠陥補正Ａの施された撮影画像に対し欠陥補正Ｂを実行する。そして、この補正が完了すると、その補正済の画像データは外部記憶装置２２１に記録される。
【００５７】
なお、この欠陥補正Ｂは、撮影毎にソフトウェア（例えば制御プログラムによる処理）で行うため、データ数が多くなると処理時間が長くなり、コマ速に影響する可能性があるが、欠陥画素の数が所定値以上になった場合にはデータを保存しないようにすれば、コマ速に影響することは無い。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の実施形態に係るデジタルカメラの上面図である。
【図２】本発明の実施形態に係るデジタルカメラの背面図である。
【図３】本発明の実施形態に係るデジタルカメラの断面図である。
【図４】本発明の実施形態に係るデジタルカメラの電気回路構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の実施形態に係るデジタルカメラの動作の流れを示すフローチャートである。
【図６】、
【図７】、
【図８】本発明の実施形態に係るデジタルカメラのクリーニングモードを選択する場合の、ＴＦＴモニター装置の表示内容を示す図である。
【図９】本発明の実施形態における欠陥画素補正シーケンスを示すフローチャートである。
【図１０】本発明の実施形態における欠陥画素検出シーケンスに係るデータフローを示す図である。
【図１１】本発明の実施形態における欠陥画素補正シーケンスに係るデータフローを示す図である。
【図１２】本発明の実施形態における工場出荷時欠陥画素データテーブルの一例を示す図である。
【図１３】本発明の実施形態における欠陥画素検出時欠陥画素データテーブルの一例を示す図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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