(57)【要約】【課題】電子機器電源の「オン／オフ」を繰り返した場合の起動不良を容易に検出可能とする。【解決手段】それぞれが小時間差を有する多数のオフタイマ時限値「１」〜「Ｎ」を計測してそれぞれの時限値到達を出力する検査タイマ２０と、本体の電子機器回路１０の電源「オン／オフ」を知らせる本体ＳＷ１７と、本体ＳＷ１７から「オフ」信号を受けた際に、検査タイマ２０にオフタイマ時限値「１〜Ｎ」の一つを順次設定し計測を指示し、時限値到達で本体ＳＷ１７に「オン」出力を依頼する検査タイマ設定制御部１９とを備え、本体の電源オフから再起動するまでの復旧段階を細分化して再起動している。すなわち、電子機器再起動の際の、殆どの段階を自動的に木目細かくかつ容易に検査することができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子機器を検査する方法において、前記電子機器の電源「オフ」から「オン」までの時間間隔設定を変化させて繰返し試験することを特徴とする電子機器の検査方法。
【請求項２】
請求項１に記載の電子機器の検査方法において、前記時間間隔は初期設定から順次増加させることを特徴とする電子機器の検査方法。
【請求項３】
請求項２に記載の電子機器の検査方法において、徐々に増加する前記時間間隔は初期設定から等間隔であることを特徴とする電子機器の検査方法。
【請求項４】
請求項３に記載の電子機器の検査方法において、初期設定の時間間隔と増加する時間間隔とは１ｍｓの等間隔であることを特徴とする電子機器の検査方法。
【請求項５】
電子機器を検査するシステムにおいて、前記電子機器の電源が「オフ」になった際に、次に「オン」として前記電子機器を起動するまでのオフ時間を計測するものであって小時間単位で互いに相違する複数のオフ時限値を有する「オフ」タイマと、起動回数を計測し、動作回数に基づく予め設定されたオフ時限値を選択して前記「オフ」タイマに指定するタイマ設定制御部とを備えることを特徴とする電子機器の検査システム。
【請求項６】
請求項５に記載の電子機器の検査システムにおいて、前記オフ時間値は、初期設定から徐々に増加するように設定されることを特徴とする電子機器の検査システム。
【請求項７】
請求項５に記載の電子機器の検査システムにおいて、前記オフ時間値は、初期設定から等間隔で増加するように設定されることを特徴とする電子機器の検査システム。
【請求項８】
請求項５に記載の電子機器の検査システムにおいて、前記オフ時間値は、初期設定から１ｍｓで増加するように設定されることを特徴とする電子機器の検査システム。
【請求項９】
前記請求項５から請求項８までの一つに記載の検査システムを内蔵する電子機器装置。
【請求項１０】
前記請求項５から請求項８までの一つに記載の検査システムを内蔵する電子機器試験装置。
【請求項１１】
電子回路で形成される電子機器を検査するためのプログラムであって、前記電子機器の電源「オフ」に続く再起動のための「オン」までの時間を所定の小間隔で自動的に増加させて起動試験し、前記電子機器の完全復旧までの時間間隔に達した際に終了することを特徴とする電子機器の検査プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子機器の検査方法及びその方法を用いたシステムに関するものであり、特に、システムに電源投入する際に発生する起動障害の確認が容易なものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の電子機器の検査方法としては、例えば、特開平１−１２６７４１号公報（特許文献１）に示されるように、プログラム制御によって、自動電源の「オン／オフ」を繰返し操作し、複数の診断内容を順次切り替えつつ、システムを診断しているものがある。
【０００３】
例えば、図５に示されるように、電源のスイッチが「オン」（手順Ｓ１０１）されると、最初の診断内容が設定（手順Ｓ１０２）され、診断が実行（手順Ｓ１０３）される。この診断が最後でない（手順Ｓ１０４のＮＯの）場合、次の診断内容を設定して電源を自動「オフ」し、予め設定されたオフ時限値による時間計測を開始（手順Ｓ１０７）する。このオフ時限値に到達（手順Ｓ１０８のＹＥＳ）した際には、電源が自動に「オン」（手順Ｓ１０９）され、手順は、上記手順Ｓ１０３に戻り、繰り返される。上記手順Ｓ１０４が「ＹＥＳ」で診断が正常に終了した際には、これが通知（手順Ｓ１１０）されるので診断終了として電源スイッチは「オフ」（手順Ｓ１１１）される。
【０００４】
しかし、このような診断では、電源の自動による「オン／オフ」で診断内容を切り替えてはいるが、電源オフの時間は所定時間であり、電源の「オフ」から「オン」に切り替わる際の、いわゆる電子機器に対する再起動の際の、予想外の事態を想定する多種にわたる条件における診断ができていない。
【０００５】
すなわち、従来の電子機器の検査方法、特に装置に電源投入する際に発生する障害の確認方法では、再起動を検査目的とした設備が設けられていない。しかし、電子機器では、電源スイッチの「オン／オフ」に際して、多くの障害が発生している。従って、電子機器の検査に際して、検査者または評価者は、電子機器本体の電源スイッチで「オン／オフ」を繰返し操作し、例えば、スイッチ「オフ」から「オン」までの時間間隔を任意に設定することにより、障害を発生させ、その発生した障害状況を確認することにより対処している。
【０００６】
上述したような検査方法では、顧客によるいろいろな使用方法を網羅することは不可能であり、特に、スイッチの「オン／オフ」を人手により多数繰り返すことは、その分の工数費用が製造単価に上乗せされることとなり、電子機器の製造原価をアップさせることとなる。
【０００７】
【特許文献１】特開平０１−１２６７４１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
解決しようとする課題は、電子機器電源の「オン／オフ」を繰り返した場合の起動不良が容易には検出できないことである。
【０００９】
また、人手による繰返し試験は、検査が不安定であると共に製造原価を上昇させる問題点を有する。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、電子回路で形成される電子機器の検査、評価、または診断のための方法で、機器の起動の際における起動不良を自動検出して障害対策に用立てるため、電子機器の電源「オフ」から再起動する「オン」までのオフ時間間隔を、例えばタイマの時限値により、順次変化させて繰返し試験することを主要な特徴とする。また、本発明には、この方法を実現する電子機器回路、その試験装置、プログラムなどを含むシステムが含まれる。
【００１１】
そして、前記時間間隔を初期設定から順次増加させることまたは初期設定から等間隔で増加させることにより自動的に変化させることが回路の構成及び制御のため望ましい。また、時間間隔が例えば１ｍｓのような短時間でかつ等間隔で増加することが好ましい。
【００１２】
また、上述した時間を計測するタイマと、そのタイマを制御するタイマ設定制御部とを備えることを特徴とする電子機器の検査システムが提案できる。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の電子機器の検査方法及びその方法を用いたシステムは、電子機器が電源オフとなった時点から、特に短時間間隔で所定回数の再起動を行うので、被試験電子機器が電源オフになってから完全に復旧するまでの間の、所望するあらゆる瞬間で再起動をかけることができるため、電子機器の種々の復旧動作段階に合わせて再起動時期を設定できる。従って、電子機器起動の際の、殆どの不良を容易に発見できるという利点がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
電子機器の起動試験で殆どの起動不良を容易に検出できるという目的を、電子機器の電源「オフ」に続く「オン」までの時間間隔を自動的に変化させて起動試験することにより、人手を煩わすことなしで、容易に実現している。
【００１５】
以下に、実施例を挙げ、図面を参照して説明する。図面では、本発明に係る部分のみを示し、動作機能上不可欠の機能であっても省略されているものがある。
【実施例１】
【００１６】
本発明について、実施例１として図１から図４までを参照し説明する。
【００１７】
図１は、本発明の電子機器回路における機能ブロックの実施の一形態を示す説明図である。
【００１８】
図１によれば、電子機器回路１０は電源ユニット１１と本体ロジック回路部１２とを含む。
【００１９】
電源ユニット１１は、外部電源ＳＷ（スイッチ）１３、サブ電源回路１４、及びメイン電源回路１５を備える、例えばＡＣ（交流）／ＤＣ（直流）変換ユニットである。それは、ＡＣプラグ１を商用の外部電源に接続して外部電源ＳＷ（スイッチ）１３を「オン」することにより、例えば電子回路動作用の直流電圧３.3Ｖ、５Ｖ、及び１２Ｖを生成して、電子機器回路１０のメイン回路１８を含む本体ロジック回路部１２に供給する。
【００２０】
本体ロジック回路部１２は、バックアップ回路１６、本体ＳＷ１７、及びメイン回路１８を備え、電源ユニット１１から直流電圧の供給を受けて所定の機能を発揮する。
【００２１】
外部電源ＳＷ１３は、「オン」状態でＡＣプラグ１を介して受ける外部電源をサブ電源回路１４及びメイン電源回路１５に供給すると共に、電子機器回路１０の運転停止または保守の際に外部電源から電子機器回路１０を切り離すための非常用スイッチでもある。サブ電源回路１４は、外部電源の供給を受けた際にバックアップ回路１６に「５Ｖ」を出力して駆動し動作させる。メイン電源回路１５は、バックアップ回路１６からの駆動信号を受けて直流電圧３.3Ｖ、５Ｖ、及び１２Ｖを生成し、メイン回路１８に供給して電子機器の機能を発揮させる。
【００２２】
バックアップ回路１６は、検査タイマ設定制御部１９及び検査タイマ２０を有し、サブ電源回路１４から電圧供給を受けた際に初期設定など電子機器回路の起動を準備する。バックアップ回路１６は、本体ＳＷ１７の「オン」信号を受けた際に、メイン電源回路１５に駆動信号を送る一方、試験の際には、所定の「オンタイマ」により本体ＳＷ１７に通知して本体ＳＷ１７を「オフ」させる。
【００２３】
試験のため、バックアップ回路１６が本体ＳＷ１７から「オフ」信号を受けた際には、検査タイマ設定制御部１９が検査タイマ２０を制御して計測時限値を自動的に例えば微少時間ずつ変化させ、「オフタイマ」として動作させる。この「オフタイマ」による時限値は、本体ＳＷ１７が「オフ」した時点から再起動のために本体ＳＷ１７が「オン」するまでの時間間隔を設定する。詳細については、別の実施例として後にフローチャートを参照し説明する。
【００２４】
メイン回路１８は、メイン電源回路１５から直流電源を受けてプログラム制御により所定の機能を発揮する電子回路であり、異常を監視する監視部を有している。試験の際して異常が発生した場合には、例えば、異常状態を保留して障害検索し、障害原因を取り除くことができる。
【００２５】
次に図２に図１を併せ参照して、上記検査タイマ設定制御部１９及び検査タイマ２０を説明する。
【００２６】
検査タイマ設定制御部１９は、図示されるように番号「０」から「Ｎ」までを検査タイマ２０へ通知している。番号「０」は本体スイッチ１７の「オン」信号を受けた際に「オン」して検査タイマ２０を起動する。番号「１」から「Ｎ」までのそれぞれは、本体スイッチ１７の「オフ」信号を受けた際に番号「１」から「Ｎ」まで順次「オン」して検査タイマ２０を起動する。
【００２７】
検査タイマ２０は、検査タイマ設定制御部１９から受ける番号「０」から「Ｎ」までの「オン」信号による通知に従って予め定められた時限値の時間計測を開始する。番号「０」の時限値ＴＯＮは電子機器回路１０本体の「オン」状況に合わせて設定される。番号「１」から「Ｎ」までのＮ個それぞれは番号「１」の時限値ＴＯＦＦ１を１ｍｓとし、以降を１ｍｓの等間隔で番号「Ｎ」の時限値ＴＯＦＦＮ（＝Ｎ×ＴＯＦＦ１：Ｎｍｓ）まで予め設定されているものとする。
【００２８】
もちろん、これらの時限値は、検査タイマの回路設計およびテストプログラムにより自由に設定可能である。すなわち、番号「０」が複数の異なる時限値を有してもよいし、番号「１」から「Ｎ」までもそれぞれが異なる時限値であれば等間隔でなくてもよく、どのような設定であってもよい。更に、検査タイマ設定制御部は、番号順に選択するだけでなく、任意の順序による選択、または繰り返し選択などを、組み合わせたプログラム制御も可能である。
【００２９】
次に、図３のフローチャートに図１および図２のブロック図を併せ参照して上述した構成の動作について説明する。
【００３０】
図３に示されるフローチャートでは、上述した「オフタイマ」は番号「１」から番号「Ｎ」まで番号順に選択されるものとする。
【００３１】
ＡＣプラグ１が外部電源に接続された後に、外部電源ＳＷ１３が「オン」（手順Ｓ１）されると電源ユニット１１のサブ電源回路１４が起動する。サブ電源回路１４は、本体ロジック回路部１２のバックアップ回路１６に対しサブ電源出力を本実施例では５Ｖにより供給（手順Ｓ２）する。
【００３２】
従って、バックアップ回路１６は、その５Ｖ電源を受けて各種設定を初期条件に戻し、動作を開始（手順Ｓ３）する。この初期条件として、オフタイマは最初に番号「１」が選択されるように設定されるものとする。
【００３３】
次いで、本体ＳＷ１７が例えばプログラム制御により「オン」されるとバックアップ回路１６で検査タイマ設定制御部１９が番号「０」の「オンタイマ」を起動し、検査タイマ２０がオンタイマ時限値ＴＯＮの計測を開始（手順Ｓ４）する。一方、バックアップ回路１６は、電源ユニット１１のメイン電源回路１５にメイン電源駆動信号「オン」を送出（手順Ｓ５）する。
【００３４】
メイン電源駆動信号「オン」によりメイン電源回路１５は、本体ロジック回路部１２のメイン回路１８に対しメイン電源出力として本実施例では３.3Ｖ、５Ｖ、１２Ｖ電圧などが供給出力（手順Ｓ６）され、メイン回路１８が起動し動作（手順Ｓ７）する。従って、電子機器回路１０が動作（手順Ｓ８）する。
【００３５】
検査タイマ２０が、例えばプログラム制御により電子機器回路１０が動作後、オン時限値ＴＯＮに到達（手順Ｓ９がＹＥＳ）の際、バックアップ回路１６はこれを本体ＳＷ１７に通知して本体ＳＷ１７から「オフ」信号を受ける。従って、バックアップ回路１６では、検査タイマ設定制御部１９がオフタイマを設定（手順Ｓ１０）する。現状では、検査タイマ設定制御部１９は初期設定の番号「１」を「オン」に駆動して検査タイマ２０が時限値の計測を開始（手順Ｓ１１）する。この手順Ｓ１１では、後述されるように、試験が正常終了するまで、または異常により停止されるまで、オフタイマの設定による番号が順送りに変化する。
【００３６】
この番号「１」に対応するオフ時限値ＴＯＦＦ１（１ｍｓ）に到達（手順Ｓ１２がＹＥＳ）の際、今回は、最終番号「Ｎ」でない実行されたオフタイマ番号（手順Ｓ１３がＮＯ）なので、検査タイマ設定制御部１９は、その番号に「１」を加算（手順Ｓ１４）する。従って、現状では、番号「２」が設定（手順Ｓ１５）されて上記手順Ｓ４に戻り、手順は繰り返えされる。すなわち、今回は、現在設定して到達した時限値ＴＯＦＦ１（１ｍｓ）に所定値例えば時間α（１ｍｓ）を加算したオフタイマ時限値ＴＯＦＦ２（２ｍｓ）が設定される。
【００３７】
上記手順Ｓ１２が「ＮＯ」で、オフタイマの時限値に到達するまでの間には、バックアップ回路１６がメイン電源回路１５に「オフ」信号を送り、メイン電源回路１５の電源供給が停止する。従って、メイン回路１８が電源供給を停止されるので、電子機器回路１０が復旧し停止状態になるまでの手順Ｓ２０がある。この手順Ｓ２０については詳細を後述する。
【００３８】
上記手順Ｓ１３が「ＹＥＳ」でオフタイマ番号が「Ｎ」の場合には、最後の段階までの再起動試験が終了したので、バックアップ回路１６は起動試験の正常終了（手順Ｓ１６）を表示（図示省略）して試験を終了する。メイン回路１８には監視回路が設けられ、障害などの異常を監視する。異常検出の際には、本動作シーケンスは停止して、それに対応する処理及び動作が実行される。本発明とは無関係に設定することができるので、図示及び説明は省略する。
【００３９】
検査タイマ設定制御部１９による「Ｎ」個のオフ時限値は上記手順Ｓ２０の復旧途中を段階的に指定している。すなわち、最初の番号「１」でオフ時限値ＴＯＦＦ１（１ｍｓ）が設定された際には時間間隔α（１ｍｓ）が毎回加算され、番号「２」の「ＴＯＦＦ１＋α」（２ｍｓ）から最終番号「Ｎ」の「ＴＦＩＮＡＬ＝ＴＯＦＦ１＋（Ｎ−１）α」（Ｎｍｓ）まで実行が繰り返される。例えば「ＴＯＦＦ１」を「α」にした場合「ＴＦＩＮＡＬ」は「Ｎ×α」となり、バックアップ回路１６がメイン電源回路１５に「オフ」信号を送ってから、電子機器回路１０が復旧し停止状態になるまでを十分に満足する時間としている。一方、「α」は上述した「１ｍｓ」のように小さな値が望ましい。このような構成および手順により、復旧段階のいろいろな条件で再起動した場合が実現できる。すなわち、ユーザによるあらゆる条件を網羅して試験することが可能である。
【００４０】
次に、図４Ａから図４Ｅまでのフローチャートを参照して図３の手順Ｓ２０の詳細を説明する。
【００４１】
図４Ａから図４Ｅまでの手順Ｓ２０は、電子機器回路１０の復旧段階それぞれに対応している。
【００４２】
すなわち、図４Ａは、オフタイマ番号「ａ」の際に、メイン電源回路１５が「オフ」を受けるまでの手順を示す。同様に、図４Ｂは、オフタイマ番号「ｂ」の際に、メイン電源回路１５の出力が停止するまでの手順を示す。図４Ｃは、オフタイマ番号「ｃ」の際に、メイン回路１８が動作を停止するまでの手順を示す。図４Ｄは、オフタイマ番号「ｄ」の際に、電子機器回路１０が本発明に係る部分を除く主要動作を停止するまでの手順を示す。更に、図４Ｅは、オフタイマ番号「Ｎ」までの、本発明による試験が正常に終了する手順を示す。
【００４３】
図４Ａでは、図３における手順Ｓ１１で時限値の計測を開始した場合、バックアップ回路１６がメイン電源駆動信号で「オフ」信号をメイン電源回路１５に送出する以前（手順Ｓ２０ＡのＮＯ）では、手順は番号対応の時限値に到達（手順Ｓ１２ＡのＹＥＳ）の際に上記手順Ｓ１３に進み、上記手順を繰り返す。また、上記手順Ｓ１２Ａが「ＮＯ」の場合には上記手順Ｓ２０Ａに戻る。
【００４４】
番号「ａ」の場合には、上述したように、上記手順Ｓ２０Ａが「ＹＥＳ」となり、番号対応の時限値に到達（手順Ｓ１２ＢのＹＥＳ）の際に上記手順Ｓ１３に進み、上記手順を繰り返す。
【００４５】
図４Ｂは、図３における手順Ｓ１１で時限値「ａ＋１」の計測を開始した場合である。メイン電源回路１５がバックアップ回路１６から「オフ」信号を受けてからメイン回路１８への電源出力を停止する以前（手順Ｓ２０ＢのＮＯ）では、手順は番号対応の時限値に到達（手順Ｓ１２ＡのＹＥＳ）の際に上記手順Ｓ１３に進み、上記手順を繰り返す。また、上記手順Ｓ１２Ａが「ＮＯ」の場合には上記手順Ｓ２０Ｂに戻る。
【００４６】
番号「ｂ」の場合には、上述したように、上記手順Ｓ２０Ｂが「ＹＥＳ」となり、番号対応の時限値に到達（手順Ｓ１２ＢのＹＥＳ）の際に上記手順Ｓ１３に進み、上記手順を繰り返す。
【００４７】
図４Ｃは、図３における手順Ｓ１１で時限値「ｂ＋１」の計測を開始した場合である。メイン回路１８が電源供給の停止を受けたのち動作を停止する以前（手順Ｓ２０ＣのＮＯ）では、手順は番号対応の時限値に到達（手順Ｓ１２ＡのＹＥＳ）の際に上記手順Ｓ１３に進み、上記手順を繰り返す。また、上記手順Ｓ１２Ａが「ＮＯ」の場合には上記手順Ｓ２０Ｃに戻る。
【００４８】
番号「ｃ」の場合には、上述したように、上記手順Ｓ２０Ｃが「ＹＥＳ」となり、番号対応の時限値に到達（手順Ｓ１２ＢのＹＥＳ）の際に上記手順Ｓ１３に進み、上記手順を繰り返す。
【００４９】
図４Ｄは、図３における手順Ｓ１１で時限値「ｃ＋１」の計測を開始した場合である。メイン回路１８が動作を停止したために電子機器回路１０が機能を停止する以前（手順Ｓ２０ＤのＮＯ）では、手順は番号対応の時限値に到達（手順Ｓ１２ＡのＹＥＳ）の際に上記手順Ｓ１３に進み、上記手順を繰り返す。また、上記手順Ｓ１２Ａが「ＮＯ」の場合には上記手順Ｓ２０Ｄに戻る。
【００５０】
番号「ｄ」の場合には、上述したように、上記手順Ｓ２０Ｄが「ＹＥＳ」となり、番号対応の時限値に到達（手順Ｓ１２ＢのＹＥＳ）の際に上記手順Ｓ１３に進み、上記手順を繰り返す。
【００５１】
図４Ｅは、図３における手順Ｓ１１で時限値「ｄ＋１」の計測を開始した場合である。試験が正常に進み番号「Ｎ」に達する以前（手順Ｓ１２のＮＯ）では、手順は番号対応の時限値に到達（手順Ｓ１２のＹＥＳ）の際に上記手順Ｓ１３に進み、上記手順を繰り返す。番号「Ｎ」の場合には、上述したように、上記手順Ｓ１３が「ＹＥＳ」となり、起動試験の正常終了となる上記手順Ｓ１６に進み、手順を終了する。
【００５２】
［その他の実施例］
上記実施例１では、回路及びその制御の簡便さから、最小から最大のオフ時間値が等時間差であり、最小から順次大きな時限値に順次移行すると説明したが、検査タイマの時限値は回路構成により自由に設定し、検査タイマ設定制御を、ランダムまたは一部繰返しなどの時限値選択に基づくこともできる。
【００５３】
また、電子機器回路の復旧手順について、一つの電子機器回路をブロック構成で例示して説明したが、複数の電子機器を用いる装置またはシステムで、復旧段階が多岐にわたる場合であっても、その復旧手順とは無関係にタイミング設定することができる。
【００５４】
また、実施例１では、再起動試験システムが電子機器回路に組み込まれているが、独立した再起動試験のための回路または装置であっても、また総合試験装置に組み込まれてもよい。
【００５５】
このような回路構成を採用したので、人手を煩わすことなく、電子機器が電源オフとなった時点から、短時間間隔で所定回数の再起動を行うことができる。したがって、電子機器回路が電源オフになってから完全に復旧するまでの間の、所望するあらゆる瞬間で再起動をかけるように、電子機器回路の実際の復旧動作段階に合わせた再起動時期を設定できるので、電子機器再起動の際の、殆どの不良を自動的に容易に発見することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５６】
小時間間隔を有する互いに異なる時限値を用いてスイッチのオン／オフを容易に制御することができることによって、電子機器の回路または装置、これらにより構成されるシステムにおいても、手動を含む種々の状況に対して該当するあらゆる段階におけるオン／オフの操作またはその発生が不可欠で、その試験が必要な用途に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明の電子機器回路における機能ブロックの実施の一形態を示す説明図である。（実施例１）
【図２】図1の部分詳細を示した説明図である。（実施例１）
【図３】本発明による電子機器回路における起動試験手順の実施の一形態を示すフローチャートである。（実施例１）
【図４Ａ】図３の部分における詳細手順を示したフローチャートである。（実施例１）
【図４Ｂ】図４Ａに続く手順を示したフローチャートである。（実施例１）
【図４Ｃ】図４Ｂに続く手順を示したフローチャートである。（実施例１）
【図４Ｄ】図４Ｃに続く手順を示したフローチャートである。（実施例１）
【図４Ｅ】図４Ｄに続く手順を示したフローチャートである。（実施例１）
【図５】従来の電子機器回路における起動試験手順の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００５８】
１０    電子機器回路
１１    電源ユニット
１２    本体ロジック回路部
１３    外部電源ＳＷ（スイッチ）
１４    サブ電源回路
１５    メイン電源回路
１６    バックアップ回路
１７    本体ＳＷ
１８    メイン回路
１９    検査タイマ設定制御部
２０    検査タイマ
【図１】
2006267012.tif 000003
【図２】
2006267012.tif 000004
【図３】
2006267012.tif 000005
【図４Ａ】
2006267012.tif 000006
【図４Ｂ】
2006267012.tif 000007
【図４Ｃ】
2006267012.tif 000008
【図４Ｄ】
2006267012.tif 000009
【図４Ｅ】
2006267012.tif 000010
【図５】
2006267012.tif 000011