(57)【要約】【課題】  検査用の信号を簡素化することができ、低コストで液晶パネルの検査を行うことができる検査方法を提供すること。【解決手段】  互いに直交されるデータ線群と走査線群との各交点に配設されるＭＩＭ素子と液晶画素とによって画像を表示するＴＦＤ駆動方式の液晶パネルの検査方法。全てのデータ線に定常信号ＧＮＤを入力し、２つの組に組分けされた走査線の各々に検査信号ＢＳ１およびＢＳ２を入力して、液晶パネルに検査用画像を表示させる。このように、全てのデータ線に定常信号ＧＮＤを入力しているので、検査用の信号を簡素化することができ、低コストで液晶パネルの検査を行うことができる。【選択図】  図７
2006215200.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の表示画素と、
前記各表示画素に対応して設けられた複数の二端子素子と、
前記二端子素子の一方の端子に接続された第一信号線と、
前記二端子素子の他方の端子に接続された第二信号線と、
を備える画像表示装置の検査方法であって、
所定の検査対象表示画素に接続された前記第一信号線および前記第二信号線のいずれか一方に、前記検査対象表示画素の表示状態を制御するための検査電位を有する検査信号を入力し、かつ、いずれか他方に大きさが一定の定常電位を有する定常信号を入力し、前記二端子素子が前記検査電位と前記定常電位との電位差に応じて流す電流に基づいて前記検査対象表示画素の表示状態を制御し、前記画像表示装置に検査用画像を表示させる検査用画像表示工程を備える、
ことを特徴とする画像表示装置の検査方法。
【請求項２】
請求項１に記載の画像表示装置の検査方法において、
前記表示画素は、前記二端子素子が流す電流に応じて透過率を変化させることによって表示状態を変化させる液晶画素である、
ことを特徴とする画像表示装置の検査方法。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の画像表示装置の検査方法において、
前記検査用画像表示工程では、定常信号入力対象の信号線を接地する、
ことを特徴とする画像表示装置の検査方法。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれかに記載の画像表示装置の検査方法において、
前記検査信号は、前記画像表示装置に通常の画像を表示させる際に前記第一信号線および前記第二信号線のいずれか一方に入力する走査信号と、いずれか他方に入力するデータ信号との合成信号である、
ことを特徴とする画像表示装置の検査方法。
【請求項５】
請求項１から請求項４のいずれかに記載の画像表示装置の検査方法において、
前記第一信号線は、複数配設されて第一信号線群を構成し、
前記第二信号線は、複数配設されて第二信号線群を構成し、
前記検査用画像表示工程では、
前記各第一信号線および前記各第二信号線を、検査信号入力組と定常信号入力組とに組分けする組分け工程と、
前記検査信号入力組に組分けされた各信号線に前記検査信号を入力し、かつ、前記定常信号入力組に組分けされた各信号線に前記定常信号を入力し、前記画像表示装置に検査用画像を表示させる信号入力工程と、
を行うことを特徴とする画像表示装置の検査方法。
【請求項６】
請求項５に記載の画像表示装置の検査方法において、
前記組分け工程では、前記第一信号線群および前記第二信号線群のいずれか一方を前記検査信号入力組に組分けし、かつ、いずれか他方を前記定常信号入力組に組分けする、
ことを特徴とする画像表示装置の検査方法。
【請求項７】
請求項６に記載の画像表示装置の検査方法において、
前記組分け工程では、前記検査信号入力組に組分けされた信号線群を、さらに、第一検査信号入力組と第二検査信号入力組とに組分けし、
前記信号入力工程では、前記第一検査信号入力組に組分けされた各信号線に所定の第一検査信号を入力し、かつ、前記第二検査信号入力組に組分けされた各信号線に前記第一検査信号と逆極性の所定の第二検査信号を入力する、
ことを特徴とする画像表示装置の検査方法。
【請求項８】
請求項７に記載の画像表示装置の検査方法において、
前記複数の表示画素として、Ｒ色を表示するＲ色表示画素と、Ｇ色を表示するＧ色表示画素と、Ｂ色を表示するＢ色表示画素と、が設けられ、
前記検査信号入力組に組分けされる信号線群は、前記Ｒ色表示画素と接続されるＲ色信号線と、前記Ｇ色表示画素と接続されるＧ色信号線と、前記Ｂ色表示画素と接続されるＢ色信号線と、によって構成され、
前記組分け工程では、前記Ｒ色信号線群、前記Ｇ色信号線群、前記Ｂ色信号線群のうち、いずれか１つを前記第一検査信号入力組に組分けし、残りの２つを前記第二検査信号入力組に組分けする、
ことを特徴とする画像表示装置の検査方法。
【請求項９】
請求項８に記載の画像表示装置の検査方法において、
前記第一検査信号入力組に組分けされた各色信号線に入力される前記第一検査信号は、当該各色信号線に接続される各色表示画素の表示輝度が最大および最小のいずれか一方になるような最大または最小輝度検査信号であり、
前記第二検査信号入力組に組分けされた各色信号線に入力される前記第二検査信号は、当該各色信号線に接続される各色表示画素の表示輝度が最大および最小のいずれか他方になるような最小または最大輝度検査信号である、
ことを特徴とする画像表示装置の検査方法。
【請求項１０】
請求項７または請求項８に記載の画像表示装置の検査方法において、
前記第二検査信号は、前記第一検査信号の極性を正負反転して得られる信号である、
ことを特徴とする画像表示装置の検査方法。
【請求項１１】
請求項５に記載の画像表示装置の検査方法において、
前記各第一信号線は、互いに略平行に配設され、
前記各第二信号線は、前記各第一信号線と交差され、かつ、互いに略平行に配設され、
前記組分け工程では、前記複数の第一信号線のうち最も外側に配設される２つの最外第一信号線、および、前記２つの最外第一信号線よりも内側に配設される複数の内側第一信号線、のいずれか一方を前記検査信号入力組に組分けし、かつ、いずれか他方を前記定常信号入力組に組分けする、
ことを特徴とする画像表示装置の検査方法。
【請求項１２】
請求項１１に記載の画像表示装置の検査方法において、
前記組分け工程では、前記複数の第二信号線のうち最も外側に配設される２つの最外第二信号線、および、前記２つの最外第二信号線よりも内側に配設される複数の内側第二信号線、のいずれか一方を前記検査信号入力組に組分けし、かつ、いずれか他方を前記定常信号入力組に組分けする、
ことを特徴とする画像表示装置の検査方法。
【請求項１３】
複数の表示画素と、
前記各表示画素に対応して設けられた複数の二端子素子と、
前記二端子素子の一方の端子に接続された第一信号線と、
前記二端子素子の他方の端子に接続された第二信号線と、
を備える画像表示装置の検査装置であって、
所定の検査対象表示画素に接続された前記第一信号線および前記第二信号線のいずれか一方に、前記検査対象表示画素の表示状態を制御するための検査電位を有する検査信号を入力し、かつ、いずれか他方に大きさが一定の定常電位を有する定常信号を入力し、前記二端子素子が前記検査電位と前記定常電位との電位差に応じて流す電流に基づいて前記検査対象表示画素の表示状態を制御し、前記画像表示装置に検査用画像を表示させる検査用画像表示手段を備える、
ことを特徴とする画像表示装置の検査装置。
【請求項１４】
複数の表示画素と、
前記各表示画素に対応して設けられた複数の二端子素子と、
前記二端子素子の一方の端子に接続された第一信号線と、
前記二端子素子の他方の端子に接続された第二信号線と、
を備える画像表示装置の検査プログラムであって、
前記画像表示装置または所定の検査装置に組み込まれたコンピュータに、
所定の検査対象表示画素に接続された前記第一信号線および前記第二信号線のいずれか一方に、前記検査対象表示画素の表示状態を制御するための検査電位を有する検査信号を入力し、かつ、いずれか他方に大きさが一定の定常電位を有する定常信号を入力し、前記二端子素子が前記検査電位と前記定常電位との電位差に応じて流す電流に基づいて前記検査対象表示画素の表示状態を制御し、前記画像表示装置に検査用画像を表示させる検査用画像表示工程を実行させる、
ことを特徴とする画像表示装置の検査プログラム。
【請求項１５】
請求項１４に記載の検査プログラムが記録され、画像表示装置または検査装置に組み込まれたコンピュータによって読み取り可能である、
ことを特徴とする記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像表示装置の検査方法、その検査装置、その検査プログラム、および、記録媒体に関する。詳しくは、画像表示装置に所定の検査用画像を表示させ、当該検査用画像に基づいて画像表示装置の検査を行う検査方法、検査装置、検査プログラム、および、前記検査プログラムが記録された記憶媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、互いに直交して配設される走査線群とデータ線群とを有し、各走査線および各データ線の各交点に配設される液晶画素によって画像を表示する液晶パネルが知られている。液晶画素は、三端子素子であるＴＦＴ（Thin  Film  Transistor：薄膜トランジスタ）や、二端子素子であるＴＦＤ（Thin  Film  Diode：薄膜ダイオード）などのスイッチング素子によって駆動制御され、所定の画像単位を表示できるようになっている。
このような液晶パネルの検査方法としては、個々の走査線および個々のデータ線に所定の検査用信号を入力して液晶パネルに検査用画像を表示させ、当該検査用画像に基づいて液晶パネルの検査を行う方法が一般的である（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
特許文献１では、ＴＦＴ駆動方式の液晶パネルに検査用回路を接続して液晶パネルの検査を行っている。ここで、検査用回路は、液晶パネルの各走査線に入力される検査用走査信号を生成する走査信号生成回路と、液晶パネルの各データ線に入力される検査用データ信号を生成するデータ信号生成回路とを備えている。液晶パネルの検査時には、走査信号生成回路にて生成された検査用走査信号を各走査線に入力すると同時に、データ信号生成回路にて生成された検査用データ信号を各データ線に入力することにより、液晶パネルに所望の検査用画像を表示させている。この際、データ信号生成回路は、ＲＧＢ各色ごとに合計３つの検査用データ信号を生成しており、これらの検査用データ信号を、それぞれ、Ｒ色表示用のデータ線、Ｇ色表示用のデータ線、Ｂ色表示用のデータ線に個別に入力している。
【０００４】
【特許文献１】特開平９−１８５０７２号公報（第２，３頁、図２）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、以上のような特許文献１の検査方法では、検査用走査信号および検査用データ信号という、互いに別個の検査用信号を同時に液晶パネルに入力しなければならないので、液晶パネルに入力される検査用信号が複雑化してしまう。そのため、検査用回路の構造が複雑化し、また、検査用回路の製造コストや稼動コストが高くなってしまうという問題があった。
【０００６】
これは、特許文献１に記載の三端子素子（ＴＦＴ）駆動方式の液晶パネルの検査方法だけの問題ではなく、ＴＦＤなどの二端子素子によって駆動される二端子素子駆動方式の画像表示装置の検査方法における問題でもあった。すなわち、二端子素子駆動方式の画像表示装置の検査においても、走査線とデータ線とに互いに別個の検査用信号を入力する手法が一般的であり、ＴＦＴ駆動方式の液晶パネル検査と同様に、検査用回路の構造が複雑化し、種々のコストが高くなるという問題があった。
【０００７】
本発明の目的は、検査用の信号を簡素化することができ、低コストで画像表示装置の検査を行うことができる検査方法、検査装置、検査プログラム、および、前記検査プログラムが記録された記録媒体を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の画像表示装置の検査方法は、複数の表示画素と、前記各表示画素に対応して設けられた複数の二端子素子と、前記二端子素子の一方の端子に接続された第一信号線と、前記二端子素子の他方の端子に接続された第二信号線と、を備える画像表示装置の検査方法であって、所定の検査対象表示画素に接続された前記第一信号線および前記第二信号線のいずれか一方に、前記検査対象表示画素の表示状態を制御するための検査電位を有する検査信号を入力し、かつ、いずれか他方に大きさが一定の定常電位を有する定常信号を入力し、前記二端子素子が前記検査電位と前記定常電位との電位差に応じて流す電流に基づいて前記検査対象表示画素の表示状態を制御し、前記画像表示装置に検査用画像を表示させる検査用画像表示工程を備える、ことを特徴とする。
【０００９】
以上のような構成の本発明の検査方法の検査対象は、ＴＦＤ駆動方式の液晶パネルに代表される二端子素子駆動方式の画像表示装置である。なお、二端子素子としては、印加電圧が大きいときに抵抗値が小さくなり、かつ、印加電圧が小さいときに抵抗値が大きくなるような電圧−抵抗特性を有するものであることが好ましく、このような電圧−抵抗特性を有する二端子素子としてＭＩＭ（Metal  Insulator  Metal）素子や、アモルファスシリコン（Ｓｉ）ダイオードが例示できる。例えば、ＭＩＭ素子を二端子素子として用いると、ＭＩＭ素子の金属と絶縁層とによってダイオード（ＴＦＤ）が構成され、ＴＦＤ駆動方式の画像表示装置を構成することができる。
【００１０】
さて、以上のような二端子素子駆動方式の画像表示装置に通常の画像を表示させる際には、第一信号線（例えばデータ線）および第二信号線（例えば走査線）の双方に、表示画素の表示状態を制御するための信号（例えばデータ信号および走査信号）をそれぞれ入力する。このとき、二端子素子は、第一信号線に入力される信号（例えばデータ信号）と第二信号線に入力される信号（例えば走査線）との信号差（電位差）に応じた電流を流す。そして、各二端子素子が流す電流に応じて各表示画素の表示状態が個々に制御され、画像表示装置によって一つの画像が表示される。
【００１１】
さて、このような二端子素子駆動方式の画像表示装置の検査に際して、本発明の検査方法では、検査用画像表示工程において、所定の検査対象表示画素に接続された第一信号線および第二信号線のいずれか一方に検査対象表示画素の表示状態を制御するための検査電位を有する検査信号を入力し、かつ、いずれか他方に大きさが一定の定常電位を有する定常信号を入力している。このとき、検査対象表示画素に接続された二端子素子は、検査電位と定常電位との電位差に応じた電流を流すので、この電流に応じて検査対象表示画素の表示状態が制御される。ここで、定常電位は大きさが一定であって検査対象表示画素の表示状態には影響を与えないので、検査対象表示画素の表示状態は実質的には検査電位のみによって制御される。そのため、検査電位を適宜調整することにより、検査対象表示画素を所望の表示状態に制御することができる。このように検査対象表示画素の表示状態を制御すれば、画像表示装置に所望の検査用画像を表示させることが可能であり、この検査用画像に基づいて画像表示装置の検査を的確に行うことができる。
なお、検査対象表示画素は、検査目的に合わせて適宜自由に切り替えることが可能である。
【００１２】
以上のように、画像表示装置に通常の画像を表示させる際には、第一信号線および第二信号線の双方に表示画素の表示状態制御用の信号を入力していたのに対して、画像表示装置に検査用画像を表示させる際には、第一信号線および第二信号線のいずれか一方のみに表示状態制御用の信号（検査信号）を入力し、他方には定常信号を入力している。検査時においては通常の画像表示時とは異なり単純なテストパターンなどを検査用画像として画像表示装置に表示させれば良いので、第一信号線および第二信号線の他方に表示状態制御にほとんど関与しない定常信号を入力したとしても、第一信号線および第二信号線の一方に入力する検査信号を調整しさえすれば、所望の検査用画像を画像表示装置に表示させることができる。
【００１３】
以上のような本発明の検査方法によれば、画像表示装置に検査用画像を表示させる際、第一信号線および第二信号線のいずれか他方には定常信号を入力しているので、検査用の信号（電位）を簡素化することができ、低コストで画像表示装置の検査を行うことができる。
【００１４】
本発明の画像表示装置の検査方法では、前記表示画素は、前記二端子素子が流す電流に応じて透過率を変化させることによって表示状態を変化させる液晶画素である、ことが好ましい。
このような構成の検査方法によれば、二端子素子によって駆動される液晶画素によって画像を表示する画像表示装置（液晶パネルや液晶ディスプレイなど）の検査を的確に行うことができる。
【００１５】
また、本発明の画像表示装置の検査方法では、前記検査用画像表示工程では、定常信号入力対象の信号線を接地する、ことが好ましい。
このような構成の検査方法によれば、定常信号入力対象の信号線が接地されて地球の電位と等しい定常電位に保たれるので、当該信号線に定常信号を入力するための装置が不要になり、より低コストで画像表示装置の検査を行うことができる。
【００１６】
また、本発明の画像表示装置の検査方法では、前記検査信号は、前記画像表示装置に通常の画像を表示させる際に前記第一信号線および前記第二信号線のいずれか一方に入力する走査信号と、いずれか他方に入力するデータ信号との合成信号である、ことが好ましい。
【００１７】
このような構成の検査方法によれば、通常画像表示時に各信号線に入力される走査信号とデータ信号とを合成して検査信号を生成しているので、通常画像表示時に用いる走査信号／データ信号生成用の装置を検査用画像表示時にもほとんどそのまま利用することができ、検査信号生成用の装置をゼロから製造する必要がないから、より低コストで画像表示装置の検査を行うことができる。
【００１８】
また、検査信号入力対象の信号線に以上のような合成信号を入力し、かつ、定常信号入力対象の信号線を接地することにすれば、検査対象表示画素および二端子素子には、合成信号のみが印加され（∵定常信号＝地球の電位≒０）、検査対象表示画素の表示状態は合成信号のみに基づいて制御される。一方、通常画像表示時にも、表示画素および二端子素子には走査信号とデータ信号との合成信号が印加され、表示画素の表示状態は合成信号に基づいて制御される。このように、検査用画像表示時に検査対象表示画素および二端子素子に印加される信号（合成信号）を、通常画像表示時に表示画素および二端子素子に印加される信号（合成信号）とほとんど一致させることができるから、通常画像表示時と近い条件で画像表示装置に検査用画像を表示させることができ、この検査用画像に基づいて画像表示装置の的確な検査を行うことができる。
【００１９】
また、本発明の画像表示装置の検査方法では、前記第一信号線は、複数配設されて第一信号線群を構成し、前記第二信号線は、複数配設されて第二信号線群を構成し、前記検査用画像表示工程では、前記各第一信号線および前記各第二信号線を、検査信号入力組と定常信号入力組とに組分けする組分け工程と、前記検査信号入力組に組分けされた各信号線に前記検査信号を入力し、かつ、前記定常信号入力組に組分けされた各信号線に前記定常信号を入力し、前記画像表示装置に検査用画像を表示させる信号入力工程と、を行うことが好ましい。
【００２０】
このような構成の検査方法では、検査信号入力組に組分けされて検査信号が入力された第一（または第二）信号線と、定常信号入力組に組分けされて定常信号が入力された第二（または第一）信号線とに接続された表示画素が、検査信号と定常信号との信号差に応じて表示状態が制御される検査対象表示画素になっている。ここで、組分け工程における各信号線の組分けを適宜変更することにより、検査対象表示画素を切り替えることができ、画像表示装置に所望の検査用画像を表示させることができるから、この検査用画像に基づいて画像表示装置の検査を的確に行うことができる。
【００２１】
また、本発明の画像表示装置の検査方法では、前記組分け工程では、前記第一信号線群および前記第二信号線群のいずれか一方を前記検査信号入力組に組分けし、かつ、いずれか他方を前記定常信号入力組に組分けする、ことが好ましい。
例えば、第一信号線群が検査信号入力組に組分けされ、第二信号線群が定常信号入力組に組分けされた場合（第一信号線群が定常信号入力組に、第二信号線群が検査信号入力組に組分けされた場合も同様）は、全ての第一信号線に検査信号が入力され、かつ、全ての第二信号線に定常信号が入力される。すると、全ての表示画素および二端子素子に検査信号と定常信号との信号差が印加されるので、全ての表示画素が検査対象表示画素として、その表示状態が前記信号差に応じて制御されるようになっている。このように、全ての表示画素が検査対象表示画素になっており、画像表示装置における表示可能領域を最大限に利用して検査用画像を表示させることができるので、この検査用画像に基づいて画像表示装置の検査を効率良く行うことができる。
【００２２】
また、本発明の画像表示装置の検査方法では、前記組分け工程では、前記検査信号入力組に組分けされた信号線群を、さらに、第一検査信号入力組と第二検査信号入力組とに組分けし、前記信号入力工程では、前記第一検査信号入力組に組分けされた各信号線に所定の第一検査信号を入力し、かつ、前記第二検査信号入力組に組分けされた各信号線に前記第一検査信号と逆極性の所定の第二検査信号を入力する、ことが好ましい。
なお、以下の説明では、前記の例と同様、第一信号線群が検査信号入力組に組分けされ、第二信号線群が定常信号入力組に組分けされたものとする。
【００２３】
以上のような構成の検査方法では、検査信号入力組に組分けされた第一信号線群が、さらに、第一検査信号入力組と第二検査信号入力組とに組分けされている。このとき、第一検査信号入力組に組分けされた第一信号線と、第二検査信号入力組に組分けされた第一信号線との間にリークやショートなどの欠陥が存在すると、これら２つの第一信号線にそれぞれ入力される互いに逆極性の第一および第二検査信号が互いに打ち消しあう。すると、これら２つの第一信号線に接続されている表示画素および二端子素子に印加される信号差（電位差）が大きく変化するので、対応する表示画素における表示状態が大きく変化する。そして、この表示状態の変化は、検査用画像中における表示欠陥として現れる。
【００２４】
したがって、以上のような構成の検査方法によれば、互いに逆極性の第一および第二検査信号が入力される第一信号線間（一方は第一検査信号入力組に属し、他方は第二検査信号入力組に属する）のリークやショートなどの欠陥を強調した上で的確に検出することができる。
なお、各信号線の第一および第二検査信号入力組への組分け、すなわち、第一および第二検査信号を入力する信号線の選択は、検査目的に合わせて適宜自由に行うことができるが、例えば、互いに隣接する信号線間に互いに逆極性の第一および第二検査信号が入力されるように組分けを行ってもよいし、また、所定本の間隔を置いて、例えば、２本置き、３本置きの間隔で互いに逆極性の第一および第二検査信号が入力されるように組分けを行ってもよい。
【００２５】
また、本発明の画像表示装置の検査方法では、前記複数の表示画素として、Ｒ色を表示するＲ色表示画素と、Ｇ色を表示するＧ色表示画素と、Ｂ色を表示するＢ色表示画素と、が設けられ、前記検査信号入力組に組分けされる信号線群は、前記Ｒ色表示画素と接続されるＲ色信号線と、前記Ｇ色表示画素と接続されるＧ色信号線と、前記Ｂ色表示画素と接続されるＢ色信号線と、によって構成され、前記組分け工程では、前記Ｒ色信号線群、前記Ｇ色信号線群、前記Ｂ色信号線群のうち、いずれか１つを前記第一検査信号入力組に組分けし、残りの２つを前記第二検査信号入力組に組分けする、ことが好ましい。
【００２６】
以上のような構成の検査方法では、各色（ＲＧＢ色）信号線群を単位として第一検査信号入力組および第二検査信号入力組を構成している（例えば、Ｒ色信号線群によって第一検査信号入力組を構成し、Ｇ色信号線群およびＢ色信号線群によって第二検査信号入力組を構成している）ので、第一検査信号入力組に属する信号線（例えば、Ｒ色信号線）と、第二検査信号入力組に属する信号線（例えば、Ｇ色信号線またはＢ色信号線）との間にリークやショートなどの欠陥が存在すると、この欠陥は検査用画像における色の欠陥として表示される。したがって、以上のような構成の検査方法によれば、各色信号線間（一方は第一検査信号入力組に属し、他方は第二検査信号入力組に属する）のリークやショートなどの欠陥を的確に検出できる。
【００２７】
また、本発明の画像表示装置の検査方法では、前記第一検査信号入力組に組分けされた各色信号線に入力される前記第一検査信号は、当該各色信号線に接続される各色表示画素の表示輝度が最大および最小のいずれか一方になるような最大または最小輝度検査信号であり、前記第二検査信号入力組に組分けされた各色信号線に入力される前記第二検査信号は、当該各色信号線に接続される各色表示画素の表示輝度が最大および最小のいずれか他方になるような最小または最大輝度検査信号である、ことが好ましい。
以下では、Ｒ色信号線群を第一検査信号入力組に組分けし、Ｇ色信号線群およびＢ色信号線群を第二検査信号入力組に組分けし、さらに、第一検査信号入力組に属するＲ色信号線には、Ｒ色表示画素の表示輝度が最大になるようなＲ色最大輝度検査信号を入力し、かつ、第二検査信号入力組に属するＧ色およびＢ色信号線には、Ｇ色およびＢ色表示画素の表示輝度が最小になるようなＧ色およびＢ色最小輝度検査信号を入力する場合を例にとって説明する。なお、この例以外の組合わせについての説明は、以下の説明と重複するので省略する。
【００２８】
以上のような構成の検査方法では、Ｒ色信号線に入力されるＲ色最大輝度検査信号によってＲ色表示画素の表示輝度が最大になり、かつ、Ｇ色およびＢ色信号線に入力されるＧ色およびＢ色最小輝度検査信号によってＧ色およびＢ色表示画素の表示輝度が最小になるので、画像表示装置によって表示される検査用画像はＲ色の単色画像になる（但し、画像表示装置に欠陥がない場合）。
ここで、Ｒ色信号線と、Ｇ色またはＢ色信号線との間にリークやショートなどの欠陥が存在すると、これら２つの信号線にそれぞれ入力される互いに逆極性のＲ色最大輝度検査信号と、Ｇ色またはＢ色最小輝度検査信号とが互いに打ち消しあう。このため、画像表示装置によって表示される検査用画像に色の欠陥が生じ、Ｒ色が正常に表示されなくなったり、Ｇ色やＢ色が表示されてしまったりして、検査用画像が正常なＲ色の単色画像にはならない。
したがって、以上のような構成の検査方法によれば、各色信号線間（以上の例では、Ｒ色信号線と、Ｇ色またはＢ色信号線との間）のリークやショートなどの欠陥をより的確に検出することができる。
【００２９】
また、本発明の画像表示装置の検査方法では、前記第二検査信号は、前記第一検査信号の極性を正負反転して得られる信号である、ことが好ましい。
このような構成の検査方法によれば、第一検査信号入力組に属する各信号線に入力される第一検査信号の極性を正負反転して得られる信号を第二検査信号として第二検査信号入力組に属する各信号線に入力すればよいので、検査信号を簡素化することができ、低コストで画像表示装置の検査を行うことができる。
【００３０】
また、本発明の画像表示装置の検査方法では、前記各第一信号線は、互いに略平行に配設され、前記各第二信号線は、前記各第一信号線と交差され、かつ、互いに略平行に配設され、前記組分け工程では、前記複数の第一信号線のうち最も外側に配設される２つの最外第一信号線、および、前記２つの最外第一信号線よりも内側に配設される複数の内側第一信号線、のいずれか一方を前記検査信号入力組に組分けし、かつ、いずれか他方を前記定常信号入力組に組分けする、ことが好ましい。
このような構成の検査方法によれば、最外第一信号線への入力信号と、内側第一信号線への入力信号とが互いに異なる（一方が検査信号、他方が定常信号である）ので、最外第一信号線に接続された最外表示画素の表示状態（輝度や色など）と、内側第一信号線に接続された内側表示画素の表示状態（輝度や色など）とが互いに異なる。なお、最外表示画素とは、画像表示装置の表示可能領域の最も外側に配設された表示画素を意味し、内側表示画素とは、画像表示装置の表示可能領域において最外表示画素よりも内側に配設された表示画素を意味する。
以上のように、画像表示装置によって表示される検査用画像において、最外第一信号線に接続された最外表示画素の表示状態と、内側第一信号線に接続された内側表示画素の表示状態とが互いに異なるので、最外第一信号線や最外表示画素に関連する欠陥を見落としにくくなり、これを的確に検出することができる。
【００３１】
また、本発明の画像表示装置の検査方法では、前記組分け工程では、前記複数の第二信号線のうち最も外側に配設される２つの最外第二信号線、および、前記２つの最外第二信号線よりも内側に配設される複数の内側第二信号線、のいずれか一方を前記検査信号入力組に組分けし、かつ、いずれか他方を前記定常信号入力組に組分けする、ことが好ましい。
このような構成の検査方法によれば、最外第二信号線への入力信号と、内側第二信号線への入力信号とが互いに異なる（一方が検査信号、他方が定常信号である）ので、最外第二信号線に接続された最外表示画素の表示状態（輝度や色など）と、内側第二信号線に接続された内側表示画素の表示状態（輝度や色など）とが互いに異なる。そのため、最外第二信号線や最外表示画素に関連する欠陥を見落としにくくなり、これを的確に検出することができる。
したがって、以上のような構成の検査方法によれば、最外第一信号線、最外第二信号線、最外表示画素に関連する欠陥、すなわち、画像表示装置の表示可能領域におけるエッジ（４辺）部分における欠陥を見落とすことなく的確に検出することができる。
【００３２】
本発明の画像表示装置の検査装置は、複数の表示画素と、前記各表示画素に対応して設けられた複数の二端子素子と、前記二端子素子の一方の端子に接続された第一信号線と、前記二端子素子の他方の端子に接続された第二信号線と、を備える画像表示装置の検査装置であって、所定の検査対象表示画素に接続された前記第一信号線および前記第二信号線のいずれか一方に、前記検査対象表示画素の表示状態を制御するための検査電位を有する検査信号を入力し、かつ、いずれか他方に大きさが一定の定常電位を有する定常信号を入力し、前記二端子素子が前記検査電位と前記定常電位との電位差に応じて流す電流に基づいて前記検査対象表示画素の表示状態を制御し、前記画像表示装置に検査用画像を表示させる検査用画像表示手段を備える、ことを特徴とする。
このような本発明の検査装置は、前述した本発明の検査方法を実施するための構成を備えているので、本発明の検査方法と同じ各作用・効果を奏することができる。
【００３３】
本発明の画像表示装置の検査プログラムは、複数の表示画素と、前記各表示画素に対応して設けられた複数の二端子素子と、前記二端子素子の一方の端子に接続された第一信号線と、前記二端子素子の他方の端子に接続された第二信号線と、を備える画像表示装置の検査プログラムであって、前記画像表示装置または所定の検査装置に組み込まれたコンピュータに、所定の検査対象表示画素に接続された前記第一信号線および前記第二信号線のいずれか一方に、前記検査対象表示画素の表示状態を制御するための検査電位を有する検査信号を入力し、かつ、いずれか他方に大きさが一定の定常電位を有する定常信号を入力し、前記二端子素子が前記検査電位と前記定常電位との電位差に応じて流す電流に基づいて前記検査対象表示画素の表示状態を制御し、前記画像表示装置に検査用画像を表示させる検査用画像表示工程を実行させる、ことを特徴とする。
【００３４】
本発明の記録媒体は、前記検査プログラムが記録され、画像表示装置または検査装置に組み込まれたコンピュータによって読み取り可能である、ことを特徴とする。
【００３５】
以上のような構成の検査プログラムおよび記録媒体は、前述した本発明の検査方法を実施するために利用されるので、本発明の検査方法と同じ各作用・効果を奏することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３６】
次に、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
図１は、画像表示装置としての液晶パネル１を検査するための装置構成、すなわち、液晶パネル１と、液晶パネル１に所定の検査用画像を表示させる検査装置２と、液晶パネル１および検査装置２を互いに接続する基板３と、を示すブロック図である。図２は、液晶パネル１の表示面１１におけるデータ線１２および走査線１３を含む検査用配線を示す平面図である。図３は、データ線１２および走査線１３の交点部分を拡大表示した平面図である。
【００３７】
液晶パネル１は、いずれも表示面１１上に配設されるデータ線群（第一信号線群）１２と、走査線群（第二信号線群）１３とを有する。データ線群１２は、互いに平行に配設される複数のデータ線（第一信号線）によって構成され、走査線群１３は、各データ線と直交され、かつ、互いに平行に配設される複数の走査線（第二信号線）によって構成されている。なお、データ線群１２および走査線群１３は、液晶パネル１の検査時においては、基板３に接続されており、液晶パネル１と検査装置２とが基板３を介して接続されるようになっている。
【００３８】
図３に示されるように、各データ線１２および各走査線１３のそれぞれの交点部分では、互いに直列に接続されたＭＩＭ素子（二端子素子）１４および液晶画素（表示画素）１５を介して各データ線１２および各走査線１３が互いに接続されている。ここで、ＭＩＭ素子１４は、二つの端子を有し、その一方の端子が液晶画素１５を介してデータ線１２に接続され、その他方の端子が走査線１３に接続されている。
【００３９】
ＭＩＭ素子１４は、金属／絶縁膜／金属からなる階層構造を有する。ＭＩＭ素子１４の電圧−抵抗特性は非線形であり、印加電圧の絶対値が大きいときに抵抗値が小さく、かつ、印加電圧の絶対値が小さいときに抵抗値が大きい。また、ＭＩＭ素子１４の電圧−抵抗特性は、印加電圧の極性（正負）に関して略対称である。すなわち、正の電圧＋Ｖが印加されたときのＭＩＭ素子１４の抵抗値Ｒ＋と、逆極性の負の電圧−Ｖが印加されたときのＭＩＭ素子１４の抵抗値Ｒ−とは、互いに略等しい（Ｒ＋≒Ｒ−）。このように、ＭＩＭ素子１４は、電圧の極性（正負）に関する双方向のダイオード特性を示しており、交流電圧によって駆動することが可能なＴＦＤ（Thin  Film  Diode：薄膜ダイオード）を構成している。
【００４０】
さて、以上のような電圧‐抵抗特性を有するＭＩＭ素子１４は、各データ線１２に印加される電位と各走査線１３に印加される電位との電位差に応じて定まる抵抗値を示す。そして、ＭＩＭ素子１４は、前記電位差と、当該電位差に応じて定まった抵抗値とに応じた電流を流す。
液晶画素１５は、ＭＩＭ素子１４が流す電流に応じて透過率を変化させる。ここで、液晶パネル１は図示しないバックライトによって常時照明されており、各液晶画素１５は、その透過率に応じてバックライトからの照明光を透過することによって画像単位を表示する。液晶パネル１の表示面１１上には、多数の液晶画素１５が行列状に整列配置されており、各液晶画素１５で表示される画像単位が組み合わされて一つの画像が表示面１１に表示されるようになっている。
【００４１】
以上のように、液晶パネル１は、各ＭＩＭ素子１４によって構成されるＴＦＤに基づいて画像を表示するＴＦＤ駆動方式の液晶パネルとして構成されている。
【００４２】
さて、行列状に整列配置される個々の液晶画素１５の位置は、（行番号，列番号）による座標によって表示することができる。ここで、行は、走査線群１３の配設方向（図２においては左右方向）に沿った並びを表し、列は、データ線群１２の配設方向（図２においては上下方向）に沿った並びを表している。本実施形態では、液晶画素１５は、Ｍ行３Ｎ列（ＭおよびＮはいずれも自然数）に渡って合計Ｍ×３Ｎ個設けられている。
【００４３】
Ｍ×３Ｎ個の液晶画素１５のうち、３ｎ−２（ｎ＝１，２，・・・，Ｎ。以下同様）列目に配設される液晶画素は、Ｒ色を表示するＲ色画素（Ｒ色表示画素）になっており、３ｎ−１列目に配設される液晶画素は、Ｇ色を表示するＧ色画素（Ｇ色表示画素）になっており、３ｎ列目に配設される液晶画素は、Ｂ色を表示するＢ色画素（Ｂ色表示画素）になっている。したがって、列番号が１ずつ増加するのに従い、配設される液晶画素の表示色が、・・・→Ｒ→Ｇ→Ｂ→Ｒ→・・・、のように循環的に変化するようになっている。
【００４４】
これに対応して、データ線群１２を構成する各データ線も各色ごとに分類することができる。すなわち、各データ線は、Ｒ色画素と接続されるＲ色データ線群（Ｒ色信号線群）１２Ｒと、Ｇ色画素と接続されるＧ色データ線群（Ｇ色信号線群）１２Ｇと、Ｂ色画素と接続されるＢ色データ線群（Ｂ色信号線群）１２Ｂとに分類される。ここで、各色画素の循環配置（前記）に対応して、各色データ線も、列番号が１ずつ増加するのに従い、・・・→Ｒ色データ線→Ｇ色データ線→Ｂ色データ線→Ｒ色データ線→・・・、のように循環的に配設されている。
なお、図示の簡素化のため、図２においては、データ線の本数を実際の本数よりも極めて少なく表示していることに注意すべきである。
【００４５】
図２に示されるように、液晶パネル１の検査時においては、４，７，・・・，３Ｎ−２列目の各Ｒ色データ線１２２Ｒを互いに接続する検査用共通配線１２３Ｒが配設されている。これにより、Ｒ色データ線群１２２Ｒを構成する全てのＲ色データ線には互いに等しい信号が同時に入力されるようになっている。このように、Ｒ色データ線群１２Ｒは、１列目のＲ色データ線１２１Ｒと、４，７，・・・，３Ｎ−２列目のＲ色データ線群１２２Ｒとの２相に分けられている。このような２相に分けているのは、データ線群１２を構成する全てのデータ線のうち最も外側（図２では最も左側）に配設される１列目の最外Ｒ色データ線１２１Ｒと、最外Ｒ色データ線１２１Ｒよりも内側（図２では右側）に配設される内側Ｒ色データ線群１２２Ｒとに、互いに別個の信号を入力可能にするためである。
【００４６】
また、液晶パネル１の検査時においては、３，６，・・・，３Ｎ−３列目の各Ｂ色データ線１２２Ｂを互いに接続する検査用共通配線１２３Ｂが配設されている。これにより、Ｂ色データ線群１２２Ｂを構成する全てのＢ色データ線には互いに等しい信号が同時に入力されるようになっている。このように、Ｂ色データ線群１２Ｂは、３Ｎ列目のＢ色データ線１２１Ｂと、３，６，・・・，３Ｎ−３列目のＢ色データ線群１２２Ｂとの２相に分けられている。このような２相に分けているのは、データ線群１２を構成する全てのデータ線のうち最も外側（図２では最も右側）に配設される３Ｎ列目の最外Ｂ色データ線１２１Ｂと、最外Ｂ色データ線１２１Ｂよりも内側（図２では左側）に配設される内側Ｂ色データ線群１２２Ｂとに、互いに別個の信号を入力可能にするためである。
【００４７】
また、液晶パネル１の検査時においては、Ｇ色データ線群１２Ｇを構成する各Ｇ色データ線を互いに接続する検査用共通配線１２１Ｇが配設されている。これにより、Ｇ色データ線群１２Ｇを構成する全てのＧ色データ線には互いに等しい信号が同時に入力されるようになっている。このように、それぞれ２相に分けられているＲ色データ線群１２ＲやＢ色データ線群１２Ｂとは異なり、Ｇ色データ線群１２Ｇは１相にまとめられている。これは、Ｇ色データ線群１２Ｇを構成する全てのＧ色データ線が、２つの最外データ線１２１Ｒおよび１２１Ｂよりも内側に配設される内側Ｇ色データ線であり、Ｒ色データ線群１２ＲやＢ色データ線群１２Ｂにおけるような、最外データ線と内側データ線群とに互いに別個の信号を入力するための措置を講じる必要がないからである。
【００４８】
なお、複数のデータ線に互いに等しい信号を同時に入力することを目的とする検査用共通配線１２３Ｒ，１２１Ｇ，１２３Ｂは、液晶パネル１の検査時に限って配設されるものであり、液晶パネル１の検査が終了した後は、適当な方法により除去される。検査用共通配線の除去後は、各データ線に個別にデータ信号を入力することができる。
【００４９】
また、図２に示されるように、液晶パネル１の検査時においては、３，７，・・・行目の各走査線１３２を互いに接続する検査用共通配線１３２１と、５，９，・・・行目の各走査線１３３を互いに接続する検査用共通配線１３３１と、２，６，・・・行目の各走査線１３４を互いに接続する検査用共通配線１３４１と、４，８，・・・行目の各走査線１３５を互いに接続する検査用共通配線１３５１とが配設されている。これにより、各走査線群１３２，１３３，１３４，１３５を構成する全ての走査線には、それぞれ、互いに等しい信号が同時に入力されるようになっている。このように、走査線群１３は、１行目の走査線１３１，走査線群１３２〜１３５，Ｍ行目の走査線１３６の６相に分けられている。
なお、複数の走査線に互いに等しい信号を同時に入力することを目的とする検査用共通配線１３２１，１３３１，１３４１，１３５１は、液晶パネル１の検査時に限って配設されるものであり、液晶パネル１の検査が終了した後は、適当な方法により除去される。検査用共通配線の除去後は、各走査線に個別に走査信号を入力することができる。
また、図示の簡素化のため、図２においては、走査線の本数を実際の本数よりも極めて少なく表示していることに注意すべきである。
【００５０】
次に、図４を用いて、液晶パネル１に検査用ではない通常の画像を表示させる場合を例にとって、液晶パネル１における画像の表示方法について概説する。この例では、液晶パネル１に検査用ではない通常の画像を表示させるので、検査時に限って配設される前記各検査用共通配線１２３Ｒ，１２１Ｇ，１２３Ｂ，１３２１，１３３１，１３４１，１３５１が除去されたものとし、各走査線および各データ線に個別に信号を入力することができるものとして説明する。
【００５１】
図４は、液晶パネル１に通常の画像を表示させる際の、走査線群１３に入力される走査信号と、データ線群１２に入力されるデータ信号と、走査信号およびデータ信号の合成信号（走査信号とデータ信号との信号差）とを示す。
走査信号は、絶対値Ｖｃのパルスを含み、当該各パルスが各走査線に順次入力される。
データ信号は、絶対値Ｖｏを有する複数の矩形パルスによって構成されている。なお、各矩形パルスのパルス幅は、液晶パネル１に表示させる画像に合わせて制御されるようになっている。
各液晶画素１５および各ＭＩＭ素子１４には、走査信号とデータ信号との合成信号が印加され、このとき各ＭＩＭ素子１４が流す電流に基づいて各液晶画素１５の透過率が変化される。
【００５２】
各液晶画素１５の透過率は、印加される合成信号のうち、主として、絶対値Ｖｃ＋Ｖｏを有する部分の時間幅ｔ（すなわち、データ信号における各矩形パルスのパルス幅）によって制御することが可能である。時間幅ｔが大きいときは、電位差Ｖｃ＋Ｖｏが液晶画素１５およびＭＩＭ素子１４に印加される時間が長いので、ＭＩＭ素子１４が流す電流が大きくなって液晶画素１５に貯められる電荷が大きくなる。また、時間幅ｔが小さいときは、電位差Ｖｃ＋Ｖｏが液晶画素１５およびＭＩＭ素子１４に印加される時間が短いので、ＭＩＭ素子１４が流す電流が小さくなって液晶画素１５に貯められる電荷が小さくなる。ここで、液晶画素１５としては、大別して、貯められる電荷が大きいほど表示輝度が小さくなるノーマリホワイト型のものと、貯められる電荷が大きいほど表示輝度が大きくなるノーマリブラック型のものとがあるが、本実施形態では、ノーマリホワイト型の液晶画素１５を採用している。そのため、Ｖｃ＋Ｖｏの時間幅ｔが大きく、液晶画素１５に貯められる電荷が大きいときは、液晶画素１５の透過率が小さくなり、特に、時間幅ｔが最大のとき（走査信号におけるパルス幅と同一のとき）は、液晶画素１５の透過率が最小になり、この液晶画素１５は最小輝度（黒）の画像単位を表示する。また、Ｖｃ＋Ｖｏの時間幅ｔが小さく、液晶画素１５に貯められる電荷が小さいときは、液晶画素１５の透過率が大きくなり、特に、時間幅ｔが最小（＝０）のときは、液晶画素１５の透過率が最大になり、この液晶画素１５は最大輝度（ＲＧＢのいずれか）の画像単位を表示する。
【００５３】
以上のような液晶パネル１を検査するための検査装置２は、液晶パネル１に検査用画像を表示させる検査用画像表示手段２１を備えて構成されている。
検査用画像表示手段２１は、組分け手段２１１と、信号入力手段２１２とを備えて構成されている。
組分け手段２１１は、予め記憶されている所定の組分けプログラムに従って、各データ線１２および各走査線１３を、検査信号入力組と定常信号入力組とに組分けする。
信号入力手段２１２は、検査信号入力組に組分けされた各信号線（データ線または走査線）に各検査対象液晶画素１５の表示状態を制御するための検査電位を有する検査信号を入力し、かつ、定常信号入力組に組分けされた各信号線を接地して、当該各信号線に地球の電位と同じ定常電位を有する定常信号ＧＮＤを入力する。このとき、検査対象液晶画素１５に接続されたＭＩＭ素子１４が検査電位と定常電位との電位差に応じて流す電流によって検査対象液晶画素１５の表示状態が制御されるので、液晶パネル１には所定の検査用画像が表示される。
なお、検査対象液晶画素１５とは、これに接続されたデータ線および走査線のいずれか一方に検査信号が入力され、かつ、いずれか他方に定常信号ＧＮＤが入力され、当該検査信号と当該定常信号との信号差に応じて表示状態が制御される液晶画素１５を意味するものとする。
【００５４】
＜液晶パネルの検査＞
次に、図５〜図１３を用いて、図１に示される装置構成を用いた液晶パネル１の検査について説明する。
図５は、検査手順を示すフローチャートである。図６は、検査手順における各工程において、液晶パネル１のデータ線群１２および走査線群１３に入力する信号の組合せを示す表である。図７〜図１１は、検査手順における各工程において、液晶パネル１のデータ線群１２および走査線群１３に入力する信号について説明するための図である。図１２および図１３は、液晶パネル１の表示面１１のエッジ部分およびコーナー部分（以下、枠部分という）における欠陥検出用の画像を示す図である。
【００５５】
図５のフローチャートに示されるように、液晶パネル１の欠陥検査は、Ｓ１（Ｓは工程の意。以下同様）：グレー（灰色）画像（ホワイト〜ブラックの画像）検査（１）、Ｓ２：グレー画像検査（２）、Ｓ３：Ｒ画像検査、Ｓ４：Ｇ画像検査、Ｓ５：Ｂ画像検査、Ｓ６：枠部分の欠陥検査（１）、Ｓ７：枠部分の欠陥検査（２）、の合計７工程に渡って行われる。
【００５６】
＜Ｓ１：グレー画像検査（１）＞
Ｓ１では、検査装置２が、ホワイト〜ブラックのグレー画像を検査用画像として表示するために、信号線の組分け（Ｓ１１）と、検査用画像（グレー）の表示（Ｓ１２）とを行う。
Ｓ１１では、組分け手段２１１が、図６の表に示されるように、データ線群１２を定常信号入力組に、奇数行の走査線群１３１〜１３３を第一検査信号入力組に、偶数行の走査線群１３４〜１３６を第二検査信号入力組に組分けする（組分け工程）。
続くＳ１２では、信号入力手段２１２が、図７に示される各信号を、それぞれ、各組に組分けされた各信号線に入力して（信号入力工程）、液晶パネル１にグレーの検査用画像を表示させる（検査用画像表示工程）。すなわち、信号入力手段２１２は、基板３を介して、定常信号入力組に属するデータ線群１２に定常信号（地球の電位）ＧＮＤ（以下では、便宜上、０とする。）を入力し、第一検査信号入力組に属する奇数行の走査線群１３１〜１３３に第一検査信号ＢＳ１を入力し、第二検査信号入力組に属する偶数行の走査線群１３４〜１３６に第二検査信号ＢＳ２を入力する。
【００５７】
図７に示される検査信号ＢＳ１は、液晶パネル１に検査用ではない通常のグレー画像を表示させる際の、走査線１３に入力する走査信号と、データ線１２に入力するデータ信号との合成信号である。
【００５８】
参考のため、図８に、液晶パネル１に通常のグレー画像を表示させる際の走査信号、データ信号、両者の合成信号（信号差）を示す。この図において、データ信号における各矩形パルスのパルス幅は全てｔに統一されている。このため、全ての液晶画素１５の透過率が互いに略等しくなり、液晶パネル１はグレー画像を表示するようになっている。なお、ｔ＝０のときは全ての液晶画素１５の透過率が最大になって液晶パネル１がホワイト画像を表示し、ｔ＝走査信号のパルス幅のときは全ての液晶画素１５の透過率が最小になって液晶パネル１がブラック画像を表示するので、ｔを０から走査信号のパルス幅まで順次変化させることによって液晶パネル１にホワイト〜ブラックのグレー画像を順次表示させることができる。
【００５９】
さて、以上のような液晶パネル１に通常のグレー画像を表示させる際の走査信号とデータ信号とが合成されて、図７に示されるような検査信号ＢＳ１が生成されている（図８の合成信号と同一の信号）。ＢＳ１では、絶対値がＶｃの部分と絶対値がＶｃ＋Ｖｏの部分とによって構成される段状のパルス（±）Ｐが所定の時間間隔をおいて繰り返されている。
検査信号ＢＳ２は、検査信号ＢＳ１の極性を正負反転して得られる信号である。このため、検査信号ＢＳ１の極性と、検査信号ＢＳ２の極性とは、互いに逆極性になっている。
【００６０】
Ｓ１２では、データ線群１２に属する全てのデータ線に定常信号ＧＮＤ（＝０）が入力され、走査線群１３に属する各走査線に検査信号ＢＳ１およびＢＳ２のいずれか一方が必ず入力されているので、データ線と走査線との各交点に配設される全ての液晶画素１５およびＭＩＭ素子１４には、信号差ＢＳ１（＝ＢＳ１−ＧＮＤ）および信号差ＢＳ２（＝ＢＳ２−ＧＮＤ）のいずれか一方が必ず印加されている。したがって、全ての液晶画素１５は、ＢＳ１およびＢＳ２のいずれか一方に基づいて必ず画像単位を表示する。
【００６１】
ここで、ＢＳ１とＢＳ２の差異は極性（正負）のみであるから、ＢＳ１に基づいて液晶画素１５が表示する画像単位と、ＢＳ２に基づいて液晶画素１５が表示する画像単位との間に差異はない。
そして、ＢＳ１（およびＢＳ２）は、図８を用いて説明したように、液晶パネル１による通常グレー画像表示時に各液晶画素１５および各ＭＩＭ素子１４に印加される合成信号と全く同一の信号であるから、液晶パネル１はＳ１２においてグレーの検査用画像を表示する。
なお、Ｓ１２では、検査信号ＢＳ１およびＢＳ２における時間幅ｔ（すなわち、図８のデータ信号におけるパルス幅ｔ）が順次切り替えられるようになっており、液晶パネル１にはホワイト（時間幅ｔが最小（＝０）のとき）〜ブラック（時間幅ｔが最大（＝パルスＰの幅）のとき）の間のグレーの検査用画像が順次表示されるようになっている。
【００６２】
Ｓ１２では、以上のように順次表示されたグレー（ホワイト〜ブラック）の検査用画像に基づいて液晶パネル１の検査が行われる。この検査は、検査員が検査用画像を視認することによって行う視認検査であってもよいし、ＣＣＤカメラなどの撮像手段によって検査用画像を撮像して得られる撮像データに基づいてコンピュータなどが行う自動検査であってもよい。
【００６３】
Ｓ１２における液晶パネル１の検査では、特に、検査信号ＢＳ１が入力される奇数行の走査線群１３１〜１３３と、検査信号ＢＳ２が入力される偶数行の走査線群１３４〜１３６との間のリークやショートなどの欠陥を的確に検出できる。
すなわち、奇数行の走査線群１３１〜１３３と偶数行の走査線群１３４〜１３６との間にリークやショートなどの欠陥が存在すると、これら２つの走査線群にそれぞれ入力される互いに逆極性の検査信号ＢＳ１およびＢＳ２が互いに打ち消しあう。すると、各液晶画素１５および各ＭＩＭ素子１４、特に、リークやショートなどの欠陥の存在位置付近の各液晶画素１５および各ＭＩＭ素子１４に印加される信号差（電位差）が大きく変化するので、各液晶画素１５の表示状態（特に表示輝度）が大きく変化する。このとき、液晶パネル１には、リークやショートなどの欠陥に基づく表示欠陥（例えば、輝点／黒点欠陥、輝線／黒線欠陥、色むら欠陥）が生じるので、これに基づいて、リークやショートなどの欠陥を見落とすことなく的確に検出することができる。
【００６４】
＜Ｓ２：グレー画像検査（２）＞
続くＳ２では、Ｓ１と同様、検査装置２が、ホワイト〜ブラックのグレー画像を検査用画像として表示するために、信号線の組分け（Ｓ２１）と、検査用画像（グレー）の表示（Ｓ２２）とを行う。
Ｓ２１では、組分け手段２１１が、図６の表に示されるように、データ線群１２を定常信号入力組に、走査線群１３１，１３３，１３５を第一検査信号入力組に、走査線群１３２，１３４，１３６を第二検査信号入力組に組分けする（組分け工程）。
続くＳ２２では、信号入力手段２１２が、図７に示される各信号を、それぞれ、各組に組分けされた各信号線に入力して（信号入力工程）、液晶パネル１にグレーの検査用画像を表示させる（検査用画像表示工程）。すなわち、信号入力手段２１２は、基板３を介して、定常信号入力組に属するデータ線群１２に定常信号ＧＮＤを入力し、第一検査信号入力組に属する走査線群１３１，１３３，１３５に第一検査信号ＢＳ１を入力し、第二検査信号入力組に属する走査線群１３２，１３４，１３６に第二検査信号ＢＳ２を入力する。
なお、検査信号ＢＳ１およびＢＳ２は、Ｓ１において各信号線に入力したものと同一の信号である。
【００６５】
Ｓ２２では、Ｓ１２と同様に、液晶パネル１にホワイト〜ブラックのグレーの検査用画像が順次表示される。そして、Ｓ２２における液晶パネル１の検査では、特に、検査信号ＢＳ１が入力される走査線群１３１，１３３，１３５と、検査信号ＢＳ２が入力される走査線群１３２，１３４，１３６との間のリークやショートなどの欠陥を見落とすことなく的確に検出することができる。
【００６６】
＜Ｓ３：Ｒ画像検査＞
続くＳ３では、検査装置２が、Ｒ画像を検査用画像として表示するために、信号線の組分け（Ｓ３１）と、検査用画像（Ｒ画像）の表示（Ｓ３２）とを行う。
Ｓ３１では、組分け手段２１１が、図６の表に示されるように、走査線群１３を定常信号入力組に、Ｒ色データ線群１２Ｒを第一検査信号入力組に、Ｇ色データ線群１２ＧおよびＢ色データ線群１２Ｂを第二検査信号入力組に組分けする（組分け工程）。
続くＳ３２では、信号入力手段２１２が、図９に示される各信号を、それぞれ、各組に組分けされた各信号線に入力して（信号入力工程）、液晶パネル１にＲ画像を表示させる（検査用画像表示工程）。すなわち、信号入力手段２１２は、基板３を介して、定常信号入力組に属する走査線群１３に定常信号ＧＮＤを入力し、第一検査信号入力組に属するＲ色データ線群１２Ｒに第一検査信号ＢＳ３を入力し、第二検査信号入力組に属するＧ色データ線群１２ＧおよびＢ色データ線群１２Ｂに第二検査信号ＢＳ４を入力する。
【００６７】
図９に示される検査信号ＢＳ３は、液晶パネル１に検査用ではない通常のホワイト画像を表示させる際の、走査線１３に入力する走査信号と、データ線１２に入力するデータ信号との合成信号である。
【００６８】
参考のため、図１０に、液晶パネル１に通常のホワイト画像を表示させる際の走査信号、データ信号、両者の合成信号（信号差）を示す。この図において、データ信号における電位は定常的にゼロである。したがって、データ信号における各矩形パルスのパルス幅ｔは全てゼロである（矩形パルス自体が存在しない）。このため、全ての液晶画素１５の透過率が最大になって液晶パネル１がホワイト画像を表示するようになっている。
【００６９】
さて、以上のような液晶パネル１に通常のホワイト画像を表示させる際の走査信号とデータ信号とが合成されて、図９に示されるような検査信号ＢＳ３が生成されている（図１０の合成信号と同一の信号）。ＢＳ３では、絶対値がＶｃの矩形パルス（±）Ｐ３が所定の時間間隔をおいて繰り返されている。
【００７０】
また、図９に示される検査信号ＢＳ４は、液晶パネル１に検査用ではない通常のブラック画像を表示させる際の、走査線１３に入力する走査信号と、データ線１２に入力するデータ信号との合成信号である。
【００７１】
参考のため、図１１に、液晶パネル１に通常のブラック画像を表示させる際の走査信号、データ信号、両者の合成信号（信号差）を示す。この図においては、データ信号における全ての矩形パルス（図４参照）のパルス幅ｔが最大値（＝走査信号のパルス幅）になっており、各矩形パルスが結合して互いに区別がつかなくなっている。この結果、データ信号における電位は、＋Ｖｏと−Ｖｏとの間を周期的に変化するようになっている。全ての矩形パルス幅ｔが最大値になっているため、全ての液晶画素１５の透過率が最小になって液晶パネル１がブラック画像を表示するようになっている。
【００７２】
さて、以上のような液晶パネル１に通常のブラック画像を表示させる際の走査信号とデータ信号とが合成されて、図９に示されるような検査信号ＢＳ４が生成されている（図１１の合成信号と同一の信号）。ＢＳ４では、絶対値がＶｃ＋Ｖｏの矩形パルス（±）Ｐ４が所定の時間間隔をおいて繰り返されている。
【００７３】
図９において、矩形パルスＰ３が正極性（＋Ｐ３）のときは矩形パルスＰ４が負極性（−Ｐ４）になっており、また、矩形パルスＰ３が負極性（−Ｐ３）のときは矩形パルスＰ４が正極性（＋Ｐ４）になっている。したがって、検査信号ＢＳ３の極性と、検査信号ＢＳ４の極性とは、互いに逆極性になっている。
【００７４】
Ｓ３２では、走査線群１３に属する全ての走査線に定常信号ＧＮＤ（＝０）が入力され、データ線群１２に属する各データ線に検査信号ＢＳ３およびＢＳ４のいずれか一方が必ず入力されているので、走査線とデータ線との各交点に配設される全ての液晶画素１５およびＭＩＭ素子１４には、信号差ＢＳ３（＝ＢＳ３−ＧＮＤ）および信号差ＢＳ４（＝ＢＳ４−ＧＮＤ）のいずれか一方が必ず印加されている。したがって、全ての液晶画素１５は、ＢＳ３およびＢＳ４のいずれか一方に基づいて必ず画像単位を表示する。
【００７５】
より具体的には、ＢＳ３が入力されるＲ色データ線群１２Ｒに連結されているＲ色画素は、ＢＳ３に基づくＲ色画像単位を表示し、ＢＳ４が入力されるＧ色データ線群１２ＧおよびＢ色データ線群１２Ｂに連結されているＧ色画素およびＢ色画素は、ＢＳ４に基づくＧ色およびＢ色画像単位を表示する。
【００７６】
ここで、ＢＳ３は、図１０を用いて説明したように、液晶パネル１による通常ホワイト画像表示時に各液晶画素１５および各ＭＩＭ素子１４に印加される合成信号と全く同一の信号であるから、ＢＳ３に基づいてＲ色画像単位を表示するＲ色画素の透過率は最大になる。したがって、Ｒ色画素は、最大輝度のＲ色画像単位を表示する。このように、検査信号ＢＳ３は、Ｒ色画素の表示輝度が最大になるようなＲ色最大輝度検査信号になっている。
【００７７】
また、ＢＳ４は、図１１を用いて説明したように、液晶パネル１による通常ブラック画像表示時に各液晶画素１５および各ＭＩＭ素子１４に印加される合成信号と全く同一の信号であるから、ＢＳ４に基づいてＧ色およびＢ色画像単位を表示するＧ色およびＢ色画素の透過率は最小になる。したがって、Ｇ色およびＢ色画素は、最小輝度のＧ色およびＢ色画像単位、すなわち、ブラックの画像単位を表示する。このように、検査信号ＢＳ４は、Ｇ色およびＢ色画素の表示輝度が最小になるようなＧ色およびＢ色最小輝度検査信号になっている。
【００７８】
以上のように、Ｓ３２では、Ｒ色画素がＢＳ３に基づいて最大輝度のＲ色画像単位を表示し、Ｇ色およびＢ色画素がＢＳ４に基づいて最小輝度のＧ色およびＢ色画像単位を表示するので、液晶パネル１には、Ｒ色の検査用画像（Ｒ画像）が表示される。
【００７９】
Ｓ３２では、以上のように表示されたＲ画像に基づいて液晶パネル１の検査が行われる。Ｓ３２における液晶パネル１の検査では、特に、検査信号ＢＳ３が入力されるＲ色データ線群１２Ｒと、検査信号ＢＳ４が入力されるＧ色データ線群１２ＧまたはＢ色データ線群１２Ｂとの間のリークやショートなどの欠陥を的確に検出できる。
すなわち、Ｒ色データ線群１２Ｒと、Ｇ色データ線群１２ＧまたはＢ色データ線群１２Ｂとの間にリークやショートなどの欠陥が存在すると、互いに逆極性の検査信号ＢＳ３（Ｒ色最大輝度検査信号）と検査信号ＢＳ４（Ｇ色またはＢ色最小輝度検査信号）とが互いに打ち消しあう。このため、液晶パネル１によって表示されるＲ色の検査用画像に色の欠陥が生じ、Ｒ色が正常に表示されなくなったり、Ｇ色やＢ色が表示されてしまったりして、検査用画像が正常なＲ色の単色画像にはならない。そのため、これに基づいて、Ｒ色データ線群１２Ｒと、Ｇ色データ線群１２ＧまたはＢ色データ線群１２Ｂとの間のリークやショートなどの欠陥を見落とすことなく的確に検出することができる。
【００８０】
＜Ｓ４：Ｇ画像検査＞
続くＳ４では、検査装置２が、Ｇ画像を検査用画像として表示するために、信号線の組分け（Ｓ４１）と、検査用画像（Ｇ画像）の表示（Ｓ４２）とを行う。
Ｓ４１では、組分け手段２１１が、図６の表に示されるように、走査線群１３を定常信号入力組に、Ｇ色データ線群１２Ｇを第一検査信号入力組に、Ｂ色データ線群１２ＢおよびＲ色データ線群１２Ｒを第二検査信号入力組に組分けする（組分け工程）。
続くＳ４２では、信号入力手段２１２が、図９に示される各信号を、それぞれ、各組に組分けされた各信号線に入力して（信号入力工程）、液晶パネル１にＧ画像を表示させる（検査用画像表示工程）。すなわち、信号入力手段２１２は、基板３を介して、定常信号入力組に属する走査線群１３に定常信号ＧＮＤを入力し、第一検査信号入力組に属するＧ色データ線群１２Ｇに第一検査信号ＢＳ３を入力し、第二検査信号入力組に属するＢ色データ線群１２ＢおよびＲ色データ線群１２Ｒに第二検査信号ＢＳ４を入力する。
なお、検査信号ＢＳ３およびＢＳ４は、Ｓ３において各信号線に入力したものと同一である。
【００８１】
Ｓ４２では、ＢＳ３が入力されるＧ色データ線群１２Ｇに接続されているＧ色画素が、ＢＳ３に基づく最大輝度のＧ色画像単位を表示し、ＢＳ４が入力されるＢ色データ線群１２ＢおよびＲ色データ線群１２Ｒに接続されているＢ色画素およびＲ色画素が、ＢＳ４に基づく最小輝度のＢ色およびＲ色画像単位、すなわち、ブラックの画像単位を表示する。
したがって、液晶パネル１には、Ｇ色の検査用画像（Ｇ画像）が表示される。
なお、Ｓ４２において、ＢＳ３はＧ色最大輝度検査信号となっており、また、ＢＳ４はＢ色およびＲ色最小輝度検査信号となっている。
【００８２】
Ｓ４２における液晶パネル１の検査では、特に、検査信号ＢＳ３が入力されるＧ色データ線群１２Ｇと、検査信号ＢＳ４が入力されるＢ色データ線群１２ＢまたはＲ色データ線群１２Ｒとの間のリークやショートなどの欠陥を見落とすことなく的確に検出することができる。
【００８３】
＜Ｓ５：Ｂ画像検査＞
続くＳ５では、検査装置２が、Ｂ画像を検査用画像として表示するために、信号線の組分け（Ｓ５１）と、検査用画像（Ｂ画像）の表示（Ｓ５２）とを行う。
Ｓ５１では、組分け手段２１１が、図６の表に示されるように、走査線群１３を定常信号入力組に、Ｂ色データ線群１２Ｂを第一検査信号入力組に、Ｒ色データ線群１２ＲおよびＧ色データ線群１２Ｇを第二検査信号入力組に組分けする（組分け工程）。
続くＳ５２では、信号入力手段２１２が、図９に示される各信号を、それぞれ、各組に組分けされた各信号線に入力して（信号入力工程）、液晶パネル１にＢ画像を表示させる（検査用画像表示工程）。すなわち、信号入力手段２１２は、基板３を介して、定常信号入力組に属する走査線群１３に定常信号ＧＮＤを入力し、第一検査信号入力組に属するＢ色データ線群１２Ｂに第一検査信号ＢＳ３を入力し、第二検査信号入力組に属するＲ色データ線群１２ＲおよびＧ色データ線群１２Ｇに第二検査信号ＢＳ４を入力する。
なお、検査信号ＢＳ３およびＢＳ４は、Ｓ３およびＳ４において各信号線に入力したものと同一である。
【００８４】
Ｓ５２では、ＢＳ３が入力されるＢ色データ線群１２Ｂに接続されているＢ色画素が、ＢＳ３に基づく最大輝度のＢ色画像単位を表示し、ＢＳ４が入力されるＲ色データ線群１２ＲおよびＧ色データ線群１２Ｇに接続されているＲ色画素およびＧ色画素が、ＢＳ４に基づく最小輝度のＲ色およびＧ色画像単位、すなわち、ブラックの画像単位を表示する。
したがって、液晶パネル１には、Ｂ色の検査用画像（Ｂ画像）が表示される。
なお、Ｓ５２において、ＢＳ３はＢ色最大輝度検査信号となっており、また、ＢＳ４はＲ色およびＧ色最小輝度検査信号となっている。
【００８５】
Ｓ５２における液晶パネル１の検査では、特に、検査信号ＢＳ３が入力されるＢ色データ線群１２Ｂと、検査信号ＢＳ４が入力されるＲ色データ線群１２ＲまたはＧ色データ線群１２Ｇとの間のリークやショートなどの欠陥を見落とすことなく的確に検出することができる。
【００８６】
＜Ｓ６：枠部分の欠陥検査（１）＞
続くＳ６では、検査装置２が、液晶パネル１の表示面１１の枠部分の欠陥検査を行うための検査用画像を表示するために、信号線の組分け（Ｓ６１）と、検査用画像の表示（Ｓ６２）とを行う。
Ｓ６１では、組分け手段２１１が、図６の表に示されるように、データ線群１２２Ｒ，１２Ｇ，１２２Ｂおよび走査線群１３１，１３６を定常信号入力組に、データ線群１２１Ｒ，１２１Ｂおよび走査線群１３２〜１３５を検査信号入力組に組分けする（組分け工程）。
【００８７】
ここで、検査信号入力組に組分けされたデータ線１２１Ｒ，１２１Ｂは、データ線群１２において最も外側に配設される２つの最外データ線（最外第一信号線）であり、定常信号入力組に組分けされたデータ線１２２Ｒ，１２Ｇ，１２２Ｂは、最外データ線１２１Ｒおよび１２１Ｂよりも内側に配設される内側データ線（内側第一信号線）である。
また、定常信号入力組に組分けされた走査線１３１，１３６は、走査線群１３において最も外側に配設される２つの最外走査線（最外第二信号線）であり、検査信号入力組に組分けされた走査線１３２〜１３５は、最外走査線１３１および１３６よりも内側に配設される内側走査線（内側第二信号線）である。
このように、定常信号入力組は内側データ線と最外走査線とによって構成され、検査信号入力組は最外データ線と内側走査線とによって構成されている。
【００８８】
続くＳ６２では、信号入力手段２１２が、各組に組分けされた各信号線に所定の信号を入力して（信号入力工程）、液晶パネル１に検査用画像を表示させる（検査用画像表示工程）。すなわち、信号入力手段２１２は、基板３を介して、定常信号入力組に属する各信号線に定常信号ＧＮＤを入力し、検査信号入力組に属する各信号線に最小輝度検査信号ＢＳ４を入力する。
なお、最小輝度検査信号ＢＳ４は、Ｓ３，Ｓ４，Ｓ５において各信号線に入力したものと同一の信号である。
【００８９】
図１２に、Ｓ６２において液晶パネル１に表示される検査用画像を示す。なお、この図において、符号１６は、液晶パネル１の表示面１１の周囲を囲むブラックの矩形枠を示している。
以下、この図の説明において、各液晶画素１５の位置（厳密には、各液晶画素１５によって表示される各画像単位の位置）を、（行番号，列番号）による座標によって表すことにする。
【００９０】
座標（１，１）のコーナー部分におけるＲ色画素は、最外データ線１２１Ｒに入力される検査信号ＢＳ４と、最外走査線１３１に入力される定常信号ＧＮＤ（＝０）との信号差（電位差）ＢＳ４（＝ＢＳ４−ＧＮＤ）に応じて、最小輝度のブラック画像単位（図１２では、間隔の狭いハッチングによって示す）を表示する（∵検査信号ＢＳ４は最小輝度検査信号）。
座標（１，３Ｎ）のコーナー部分におけるＢ色画素は、最外データ線１２１Ｂに入力される検査信号ＢＳ４と、最外走査線１３１に入力される定常信号ＧＮＤ（＝０）との信号差ＢＳ４に応じて、最小輝度のブラック画像単位（図１２では、間隔の狭いハッチングによって示す）を表示する。
座標（Ｍ，１）のコーナー部分におけるＲ色画素は、最外データ線１２１Ｒに入力される検査信号ＢＳ４と、最外走査線１３６に入力される定常信号ＧＮＤ（＝０）との信号差ＢＳ４に応じて、最小輝度のブラック画像単位（図１２では、間隔の狭いハッチングによって示す）を表示する。
座標（Ｍ，３Ｎ）のコーナー部分におけるＢ色画素は、最外データ線１２１Ｂに入力される検査信号ＢＳ４と、最外走査線１３６に入力される定常信号ＧＮＤ（＝０）との信号差ＢＳ４に応じて、最小輝度のブラック画像単位（図１２では、間隔の狭いハッチングによって示す）を表示する。
【００９１】
（１，１）および（１，３Ｎ）を除く１行目のエッジ部分における各液晶画素（１，２）〜（１，３Ｎ−１）は、内側データ線１２２Ｒ，１２Ｇ，１２２Ｂに入力される定常信号ＧＮＤと、最外走査線１３１に入力される定常信号ＧＮＤとの信号差が０であるので、最大輝度の画像単位（図１２では、ホワイトによって示す）を表示する（∵液晶画素はノーマリホワイト型）。
（１，１）および（Ｍ，１）を除く１列目のエッジ部分における各Ｒ色画素（２，１）〜（Ｍ−１，１）は、内側走査線１３２〜１３５に入力される検査信号ＢＳ４と、最外データ線１２１Ｒに入力される検査信号ＢＳ４との信号差が０であるので、最大輝度のＲ色画像単位（図１２では、間隔の広いハッチングによって示す）を表示する。
（Ｍ，１）および（Ｍ，３Ｎ）を除くＭ行目のエッジ部分における各液晶画素（Ｍ，２）〜（Ｍ，３Ｎ−１）は、内側データ線１２２Ｒ，１２Ｇ，１２２Ｂに入力される定常信号ＧＮＤと、最外走査線１３６に入力される定常信号ＧＮＤとの信号差が０であるので、最大輝度の画像単位（図１２では、ホワイトによって示す）を表示する。
（１，３Ｎ）および（Ｍ，３Ｎ）を除く３Ｎ列目のエッジ部分における各Ｂ色画素（２，３Ｎ）〜（Ｍ−１，３Ｎ）は、内側走査線１３２〜１３５に入力される検査信号ＢＳ４と、最外データ線１２１Ｂに入力される検査信号ＢＳ４との信号差が０であるので、最大輝度のＢ色画像単位（図１２では、間隔の広いハッチングによって示す）を表示する。
【００９２】
（２，２）、（２，３Ｎ−１）、（Ｍ−１，２）、（Ｍ−１，３Ｎ−１）の４点を頂点とする内部矩形領域内の各液晶画素は、内側走査線１３２〜１３５に入力される検査信号ＢＳ４と、内側データ線１２２Ｒ，１２Ｇ，１２２Ｂに入力される定常信号ＧＮＤ（＝０）との信号差ＢＳ４に応じて、最小輝度のブラック画像単位（図１２では、間隔の狭いハッチングによって示す）を表示する。
【００９３】
以上のように、液晶パネル１の表示面１１に表示される検査用画像においては、表示面１１のエッジ部分（コーナー部分を除く）のみが最大輝度で点灯している。
このような検査用画像では、表示面１１のエッジ部分（点灯部分）およびコーナー部分（非点灯部分）を、表示面１１の内部矩形領域（非点灯部分）と分離して表示することができるので、エッジ部分およびコーナー部分における欠陥を見落とすことなく的確に検出することができる。
【００９４】
＜Ｓ７：枠部分の欠陥検査（２）＞
続くＳ７では、Ｓ６と同様に、検査装置２が、液晶パネル１の表示面１１の枠部分の欠陥検査を行うための検査用画像を表示するために、信号線の組分け（Ｓ７１）と、検査用画像の表示（Ｓ７２）とを行う。
Ｓ７１では、組分け手段２１１が、図６の表に示されるように、最外データ線１２１Ｒ，１２１Ｂおよび最外走査線１３１，１３６を定常信号入力組に、内側データ線１２２Ｒ，１２Ｇ，１２２Ｂおよび内側走査線１３２〜１３５を検査信号入力組に組分けする（組分け工程）。
【００９５】
続くＳ７２では、信号入力手段２１２が、定常信号入力組に組分けされた各信号線に定常信号ＧＮＤを入力し、検査信号入力組に組分けされた各信号線に最小輝度検査信号ＢＳ４を入力して（信号入力工程）、液晶パネル１に検査用画像を表示させる（検査用画像表示工程）。
なお、最小輝度検査信号ＢＳ４は、Ｓ３，Ｓ４，Ｓ５，Ｓ６において各信号線に入力したものと同一の信号である。
【００９６】
図１３に、Ｓ７２において液晶パネル１に表示される検査用画像を示す。
座標（１，１）のコーナー部分におけるＲ色画素は、最外データ線１２１Ｒに入力される定常信号ＧＮＤと、最外走査線１３１に入力される定常信号ＧＮＤとの信号差が０であるので、最大輝度のＲ色画像単位（図１３では、間隔の広いハッチングによって示す）を表示する（∵液晶画素はノーマリホワイト型）。
座標（１，３Ｎ）のコーナー部分におけるＢ色画素は、最外データ線１２１Ｂに入力される定常信号ＧＮＤと、最外走査線１３１に入力される定常信号ＧＮＤとの信号差が０であるので、最大輝度のＢ色画像単位（図１３では、間隔の広いハッチングによって示す）を表示する。
座標（Ｍ，１）のコーナー部分におけるＲ色画素は、最外データ線１２１Ｒに入力される定常信号ＧＮＤと、最外走査線１３６に入力される定常信号ＧＮＤとの信号差が０であるので、最大輝度のＲ色画像単位（図１３では、間隔の広いハッチングによって示す）を表示する。
座標（Ｍ，３Ｎ）のコーナー部分におけるＢ色画素は、最外データ線１２１Ｂに入力される定常信号ＧＮＤと、最外走査線１３６に入力される定常信号ＧＮＤとの信号差が０であるので、最大輝度のＢ色画像単位（図１３では、間隔の広いハッチングによって示す）を表示する。
【００９７】
（１，１）および（１，３Ｎ）を除く１行目のエッジ部分における各液晶画素（１，２）〜（１，３Ｎ−１）は、内側データ線１２２Ｒ，１２Ｇ，１２２Ｂに入力される検査信号ＢＳ４と、最外走査線１３１に入力される定常信号ＧＮＤ（＝０）との信号差ＢＳ４に応じて、最小輝度のブラック画像単位（図１３では、間隔の狭いハッチングによって示す）を表示する（∵ＢＳ４は最小輝度検査信号）。
（１，１）および（Ｍ，１）を除く１列目のエッジ部分における各Ｒ色画素（２，１）〜（Ｍ−１，１）は、内側走査線１３２〜１３５に入力される検査信号ＢＳ４と、最外データ線１２１Ｒに入力される定常信号ＧＮＤ（＝０）との信号差ＢＳ４に応じて、最小輝度のブラック画像単位（図１３では、間隔の狭いハッチングによって示す）を表示する。
（Ｍ，１）および（Ｍ，３Ｎ）を除くＭ行目のエッジ部分における各液晶画素（Ｍ，２）〜（Ｍ，３Ｎ−１）は、内側データ線１２２Ｒ，１２Ｇ，１２２Ｂに入力される検査信号ＢＳ４と、最外走査線１３６に入力される定常信号ＧＮＤ（＝０）との信号差ＢＳ４に応じて、最小輝度のブラック画像単位（図１３では、間隔の狭いハッチングによって示す）を表示する。
（１，３Ｎ）および（Ｍ，３Ｎ）を除く３Ｎ列目のエッジ部分における各Ｂ色画素（２，３Ｎ）〜（Ｍ−１，３Ｎ）は、内側走査線１３２〜１３５に入力される検査信号ＢＳ４と、最外データ線１２１Ｂに入力される定常信号ＧＮＤ（＝０）との信号差ＢＳ４に応じて、最小輝度のブラック画像単位（図１３では、間隔の狭いハッチングによって示す）を表示する。
【００９８】
（２，２）、（２，３Ｎ−１）、（Ｍ−１，２）、（Ｍ−１，３Ｎ−１）の４点を頂点とする内部矩形領域内の各液晶画素は、内側走査線１３２〜１３５に入力される検査信号ＢＳ４と、内側データ線１２２Ｒ，１２Ｇ，１２２Ｂに入力される検査信号ＢＳ４との信号差が０であるので、最大輝度の画像単位（図１３では、ホワイトによって示す）を表示する。
【００９９】
以上のように、液晶パネル１の表示面１１に表示される検査用画像においては、表示面１１のエッジ部分（コーナー部分を除く）のみが非点灯部分（最小輝度）になっている。
このような検査用画像では、表示面１１のエッジ部分（非点灯部分）およびコーナー部分（点灯部分）を、表示面１１の内部矩形領域（点灯部分）と分離して表示することができるので、エッジ部分およびコーナー部分における欠陥を見落とすことなく的確に検出することができる。
【０１００】
＜実施形態の効果＞
以上のような実施形態によれば、以下の効果を奏することができる。
液晶パネル１に検査用画像を表示させる際、検査信号入力組に組分けされた各信号線に検査信号ＢＳ１〜ＢＳ４を入力することで各液晶画素１５の表示状態（透過率）を制御する一方で、定常信号入力組に組分けされた各信号線に各液晶画素１５の表示状態の制御にほとんど関与しない定常信号ＧＮＤを入力している。このように、液晶パネル１による検査用画像表示の際に定常信号ＧＮＤを利用することができるので、液晶パネル１に入力する信号（電位）を簡素化することができ、低コストで液晶パネル１の検査を行うことができる。
なお、このように液晶パネル１の検査に際して定常信号ＧＮＤを利用することができるのは、液晶パネル１に表示させるのが、単色グレー画像（Ｓ１およびＳ２）、単色Ｒ画像（Ｓ３）、単色Ｇ画像（Ｓ４）、単色Ｂ画像（Ｓ５）、枠部分画像（Ｓ６およびＳ７）のような単純な検査用画像だからである。
【０１０１】
定常信号入力組に属する各信号線を接地することにより、当該各信号線に地球の電位と同じ定常信号ＧＮＤを入力しているので、当該各信号線に定常信号を入力するための装置は不要であり、低コストで液晶パネル１の検査を行うことができる。
【０１０２】
液晶パネル１に通常の画像を表示させる際に走査線およびデータ線へ入力する走査信号およびデータ信号を合成することにより検査信号ＢＳ１〜ＢＳ４を生成しているので、通常画像表示時に用いる走査信号／データ信号生成用の装置を検査用画像表示時にもほとんどそのまま利用することができ、検査信号生成用の装置をゼロから製造する必要がないから、より低コストで液晶パネル１の検査を行うことができる。
【０１０３】
また、検査信号入力対象の各信号線に走査信号およびデータ信号の合成信号を検査信号ＢＳ１〜ＢＳ４として入力し、かつ、定常信号入力対象の各信号線を接地して当該各信号線に定常信号ＧＮＤを入力することにより、検査対象の液晶画素１５およびＭＩＭ素子１４には走査信号とデータ信号の合成信号（検査信号ＢＳ１〜ＢＳ４）のみが印加される（∵定常信号ＧＮＤ＝地球の電位＝０）。このように、検査用画像表示時に各液晶画素１５および各ＭＩＭ素子１４に印加される信号を、通常画像表示時に各液晶画素１５および各ＭＩＭ素子１４に印加される走査信号とデータ信号との合成信号とほとんど一致させることができる。したがって、通常画像表示時と近い条件で液晶パネル１に検査用画像を表示させることができ、この検査用画像に基づいて液晶パネル１の検査をより的確に行うことができる。
【０１０４】
組分け工程における各信号線の組分けを適宜変更することにより、検査対象の液晶画素１５を適宜切り替えることができる。したがって、液晶パネル１に所望の検査用画像を表示させることができ、この検査用画像に基づいて液晶パネル１の検査を的確に行うことができる。
【０１０５】
Ｓ１〜Ｓ５では、データ線群１２および走査線群１３のいずれか一方を定常信号ＧＮＤが入力される定常信号入力組に組分けし、いずれか他方を検査信号ＢＳ１〜ＢＳ４が入力される第一検査信号入力組または第二検査信号入力組に組分けしているので、全ての液晶画素１５に検査信号ＢＳ１〜ＢＳ４に基づく画像単位を表示させることができる。このように、全ての液晶画素１５に画像単位を表示させて検査用画像を構成することができるので、液晶パネル１の検査を効率良く行うことができる。
【０１０６】
Ｓ１〜Ｓ５では、第一検査信号入力組に属する各信号線に入力する第一検査信号ＢＳ１またはＢＳ３の極性と、第二検査信号入力組に属する各信号線に入力する第二検査信号ＢＳ２またはＢＳ４の極性とを、互いに逆極性にしているので、信号線間のリークやショートなどの欠陥を強調して検査用画像中に表示でき、リークやショートなどの欠陥を的確に検出することができる。
【０１０７】
Ｓ１およびＳ２では、第一検査信号入力組に属する各走査線に入力される第一検査信号ＢＳ１の極性を正負反転して得られる第二検査信号ＢＳ２を第二検査信号入力組に属する各走査線に入力すればよいので、検査信号を簡素化することができ、低コストで液晶パネル１の検査を行うことができる。
【０１０８】
走査線群１３を、１３１〜１３６の６相の走査線群に分けて構成しているので、Ｓ１およびＳ２において、これら６相の走査線群間のリークやショートなどの欠陥を検出することができる。
【０１０９】
Ｓ３〜Ｓ５では、ＲＧＢ各色のデータ線群１２Ｒ，１２Ｇ，１２Ｂを単位として第一検査信号入力組および第二検査信号入力組を構成している（例えば、Ｓ３では、Ｒ色データ線群１２Ｒによって第一検査信号入力組を構成し、Ｇ色データ線群１２ＧおよびＢ色データ線群１２Ｂによって第二検査信号入力組を構成している）ので、第一検査信号入力組に属するデータ線と、第二検査信号入力組に属するデータ線との間にリークやショートなどの欠陥が存在すると、この欠陥は検査用画像における色の欠陥として表示されるから、各色データ線間のリークやショートなどの欠陥を的確に検出できる。
【０１１０】
Ｓ３〜Ｓ５では、第一検査信号入力組に属する各色データ線に最大輝度検査信号ＢＳ３を入力し、第二検査信号入力組に属する各色データ線にＢＳ３と逆極性の最小輝度検査信号ＢＳ４を入力することにより、液晶パネル１に単色（ＲＧＢ）の検査用画像を表示させている。ここで、各色データ線間にリークやショートなどの欠陥が存在すると、互いに逆極性のＢＳ３とＢＳ４とが互いに打ち消し合って、単色の検査用画像に色の表示欠陥が生じる。したがって、各色データ線間のリークやショートなどの欠陥を的確に検出することができる。
【０１１１】
データ線群１２を、１２１Ｒ，１２２Ｒ，１２Ｇ，１２１Ｂ，１２２Ｂの５相のデータ線群に分けて構成しているので、Ｓ３〜Ｓ５において、これらの５相のデータ線群間のリークやショートなどの欠陥を的確に検出することができる。
【０１１２】
Ｓ６およびＳ７では、最外データ線１２１Ｒ，１２１Ｂへの入力信号と、内側データ線１２２Ｒ，１２Ｇ，１２２Ｂへの入力信号とが互いに異なる（一方が定常信号ＧＮＤ、他方が最小輝度検査信号ＢＳ４である）ので、液晶パネル１によって表示される検査用画像において、最外データ線１２１Ｒ，１２１Ｂに対応する部分の表示輝度と、内側データ線に対応する部分の表示輝度とが互いに異なって表示され、これに基づいて、最外データ線１２１Ｒ，１２１Ｂに関連する欠陥や、最外データ線１２１Ｒ，１２１Ｂに接続されたＭＩＭ素子１４や液晶画素１５に関連する欠陥を見落とすことなく的確に検出することができる。
【０１１３】
Ｓ６およびＳ７では、最外走査線１３１，１３６への入力信号と、内側走査線１３２〜１３５への入力信号とが互いに異なる（一方が定常信号ＧＮＤ、他方が最小輝度検査信号ＢＳ４である）ので、液晶パネル１によって表示される検査用画像において、最外走査線１３１，１３６に対応する部分の表示輝度と、内側走査線１３２〜１３５に対応する部分の表示輝度とが互いに異なって表示され、これに基づいて、最外走査線１３１，１３６に関連する欠陥や、最外走査線１３１，１３６に接続されたＭＩＭ素子１４や液晶画素１５に関連する欠陥を見落とすことなく的確に検出することができる。
【０１１４】
液晶パネル１の検査時においては、最外データ線１２１Ｒ，１２１Ｂを内側データ線１２２Ｒ，１２Ｇ，１２２Ｂと別々の検査用配線によって構成しているので、Ｓ６およびＳ７において、最外データ線と内側データ線とに別々の信号を容易に入力することができ、液晶パネル１の表示面１１における枠部分の欠陥検査用の画像を容易に表示することができる。
【０１１５】
液晶パネル１の検査時においては、最外走査線１３１，１３６を内側走査線１３２〜１３５と別々の検査用配線によって構成しているので、Ｓ６およびＳ７において、最外走査線と内側データ線とに別々の信号を容易に入力することができ、液晶パネル１の表示面１１における枠部分の欠陥検査用の画像を容易に表示することができる。
【０１１６】
図１４に示されるように、液晶パネル１の表示面１１がブラックの矩形枠１６によって囲まれていると、図１５に示されるように、表示面１１のエッジ部分に黒点や黒線などの非点灯欠陥Ｋ（図１５では、幅の狭いハッチングによって示す）が存在する場合には、非点灯欠陥Ｋとブラック矩形枠１６の区別がつきにくいが、Ｓ６において表示面１１のエッジ部分（コーナー部分を除く）のみを輝線として表示させる（図１２参照）ことにより、エッジ部分における非点灯欠陥Ｋを容易に検出することができる。すなわち、エッジ部分に非点灯欠陥Ｋがあれば、Ｓ６において本来エッジ部分に表示されるはずの輝線が表示されずに当該エッジ部分が非点灯部分になるので、これに基づいて、非点灯欠陥Ｋを見落とすことなく的確に検出することができる。
【０１１７】
図１６に示されるように、液晶パネル１の表示面１１がホワイトの矩形枠１６によって囲まれていると、図１７に示されるように、表示面１１のエッジ部分に輝点や輝線などの点灯欠陥Ｗ（図１７では、ホワイトによって示す）が存在する場合には、点灯欠陥Ｗとホワイト矩形枠１６の区別がつきにくいが、Ｓ７において表示面１１のエッジ部分（コーナー部分を除く）のみを黒線として表示させる（図１３参照）ことにより、エッジ部分における点灯欠陥Ｗを容易に検出することができる。すなわち、エッジ部分に点灯欠陥Ｗがあれば、Ｓ７において本来エッジ部分に表示されるはずの黒線が表示されずに当該エッジ部分が点灯部分になるので、これに基づいて、点灯欠陥Ｗを見落とすことなく的確に検出することができる。
【０１１８】
Ｒ色の全ての内側データ線を検査用共通配線１２３Ｒで互いに連結してＲ色内側データ線群１２２Ｒを構成しているので、全てのＲ色内側データ線に同時に同一の信号を容易に入力することができる。
【０１１９】
Ｇ色の全ての（内側）データ線を検査用共通配線１２１Ｇで互いに連結してＧ色（内側）データ線群１２Ｇを構成しているので、全てのＧ色（内側）データ線に同一の信号を容易に入力することができる。
【０１２０】
Ｂ色の全ての内側データ線を検査用共通配線１２３Ｂで互いに連結してＢ色内側データ線群１２２Ｒを構成しているので、全てのＢ色内側データ線に同時に同一の信号を容易に入力することができる。
【０１２１】
検査用共通配線１３２１，１３３１，１３４１，１３５１で各内側走査線を連結することにより各内側走査線群１３２，１３３，１３４，１３５をそれぞれ構成しているので、同じ走査線群１３２，１３３，１３４，１３５に属する全ての走査線に同時に同一の信号を容易に入力することができる。
【０１２２】
個々の検査工程Ｓ１〜Ｓ７で用いる検査信号は最大２種類で済むので、検査装置２の構成を簡素化でき、液晶パネル１の検査コストを低減させることができる。
【０１２３】
＜変形例＞
本発明は、以上で説明した実施形態によって限定されるものではなく、この実施形態を、本発明の目的を達成できる範囲内において変形したものであれば、本発明の技術的範囲に含まれる。
【０１２４】
例えば、前記実施形態では、二端子素子としてＭＩＭ素子を用いていたが、これに限らず、アモルファスシリコンダイオードなどを用いてもよい。
【０１２５】
また、前記実施形態では、ＴＦＤによって駆動されるアクティブマトリックス方式の液晶パネル１の検査について説明したが、このような液晶パネルに限らず、表示画素と、二端子素子と、二端子素子の一方の端子に接続された第一信号線と、二端子素子の他方の端子に接続された第二信号線と、を有し、第一信号線と第二信号線とにそれぞれ入力される信号の差に基づいて画像を表示する各種の画像表示装置、例えば、液晶ディスプレイの検査に本発明の検査方法を利用してもよい。
【０１２６】
また、前記実施形態では、定常信号入力組に属する各信号線を接地することにより、当該各信号線に地球の電位と同じ定常信号ＧＮＤを入力していたが、適当な装置を用いて定常信号入力組に属する各信号線に大きさが一定の定常電位（例えば、１Ｖ）を有する定常信号を入力してもよい。
【０１２７】
また、前記実施形態では、Ｓ３〜Ｓ５において、Ｒ色データ線群１２Ｒ，Ｇ色データ線群１２Ｇ，Ｂ色データ線群１２Ｂのうち、いずれか１つを第一検査信号入力組に組分けし、残りの２つを第二検査信号入力組に組分けしていたが、組分けの方法はこれに限らず、例えば、各色データ線群１２Ｒ，１２Ｇ，１２Ｂを互いに別個に第一検査信号入力組，第二検査信号入力組，第三検査信号入力組に組分けして、それぞれに互いに別個の第一検査信号，第二検査信号，第三検査信号を入力してもよいし、また、各色データ線群１２Ｒ，１２Ｇ，１２Ｂをより多くの組に組分けしてもよい。
【０１２８】
また、前記実施形態では、Ｓ１およびＳ２において、走査線群１３を第一検査信号入力組および第二検査信号入力組の２組に組分けしていたが、より多くの組に走査線群１３を組分けしてもよい。また、走査線群１３の組分けの方法は、Ｓ１およびＳ２におけるものに限らず、検査目的に合わせて適宜走査線群１３を組分けすることができる。
【０１２９】
また、前記実施形態では、データ線群１２を、１２１Ｒ，１２２Ｒ，１２Ｇ，１２１Ｂ，１２２Ｂの５相のデータ線群に分けて構成し、走査線群１３を、１３１〜１３６の６相の走査線群に分けて構成していたが、同一の組に組分けされる少なくとも２本の信号線を互いに連結する適当な検査用共通配線を１本または複数本配設する等によって、検査目的に合わせてデータ線群１２および走査線群１３を適当な数の相に分けて容易に構成することができる。
【０１３０】
また、前記実施形態では、Ｓ１〜Ｓ５において、データ線群１２および走査線群１３を定常信号入力組，第一検査信号入力組，第二検査信号入力組の３組に組分けして、定常信号入力組に属する各信号線に定常信号ＧＮＤを、第一検査信号入力組に属する各信号線に第一検査信号ＢＳ１を、第二検査信号入力組に属する各信号線に第二検査信号ＢＳ２を入力していたが、データ線群および走査線群に属する各信号線を定常信号入力組と検査信号入力組との２組に組分けして、定常信号入力組に定常信号を、検査信号入力組に所定の検査信号を入力してもよい。
【０１３１】
また、前記実施形態では、Ｓ１〜Ｓ７に渡る７工程の検査を行っていたが、これらの７工程全ての検査工程を行う必要は必ずしもない。また、検査工程Ｓ１〜Ｓ７の順番も適宜自由に変更することができ、前記実施形態の検査工程の順番に限られない。
【０１３２】
また、前記実施形態では、Ｓ３〜Ｓ５において、第一検査信号入力組に属する１つの色信号線群に最大輝度検査信号ＢＳ３を入力し、第二検査信号入力組に属する２つの色信号線群に最小輝度検査信号ＢＳ４を入力していたが、第一検査信号入力組に属する１つの色信号線群に最小輝度検査信号ＢＳ４を入力し、第二検査信号入力組に属する２つの色信号線群に最大輝度検査信号ＢＳ３を入力してもよい。
【０１３３】
また、前記実施形態では、データ線群１２と走査線群１３とを互いに直交させて矩形の表示面１１を構成していたが、データ線群と走査線群とは互いに交差していればよく、例えば、平行四辺形の表示面を構成することもできる。また、表示面の形状は矩形や平行四辺形のような四角形状に限られない。例えば、表示面の形状を三角形状や五角形状としてもよい。
【０１３４】
また、前記実施形態では、Ｓ６およびＳ７における検査用画像において、表示面１１における４つのエッジ部分を一遍に輝線または黒線として表示させていたが、輝線または黒線を一遍に表示させるエッジ部分の数は、１つ、２つ、３つであってもよい。
【０１３５】
また、前記実施形態では、組分け手段２１が、予め記憶されている所定の組分けプログラムに従って各信号線を組分けしていたが、これに限らず、ユーザが所定の組分け情報を設定入力することができる設定入力部を検査装置に設けることによって、組分け手段が前記設定入力部からの組分け情報に基づいて各信号線を組分けするようにしてもよい。
【０１３６】
また、前記実施形態では、Ｒ色データ線１２１ＲおよびＢ色データ線１２１Ｂが最外データ線を構成していたが、最外データ線の表示色は画像表示装置の構成によって異なり、本実施形態の表示色の組合せ（ＲおよびＢ）に限られない。
【０１３７】
また、前記実施形態では、液晶画素１５およびＭＩＭ素子１４に印加される信号におけるパルス幅（時間幅ｔ）によって液晶画素１５の表示色の階調を制御するパルス幅変調（ＰＷＭ：Pulse  Width  Modulation）方式の液晶パネル１の検査について説明したが、ＰＷＭ方式の液晶パネルに限らず、他の変調方式の画像表示装置、例えば、印加される信号におけるパルスの振幅によって表示画素の表示色の階調を制御するパルス振幅変調（ＰＡＭ：Pulse  Amplitude  Modulation）方式の画像表示装置の検査に本発明の検査方法を利用することもできる。
【０１３８】
また、前記実施形態では、Ｓ１〜Ｓ５において、各信号線間のリークやショートなどの欠陥検査について重点を置いて説明していたが、これらの各検査工程においては、リークやショートなどの欠陥検査と並行して、その他の欠陥検査（例えば、輝点／黒点欠陥、輝線／黒線欠陥、色むら欠陥などの検査）も行われる。
【０１３９】
また、前記実施形態では、液晶パネル１の検査時に各検査用共通配線によって各信号線を連結し、検査後には当該各検査用共通配線を除去していたが、検査用共通配線の連結および除去を行う代わりに、このような検査用共通配線に相当する配線を有し液晶パネルのデータ線群および走査線群に接続可能な検査用コンタクト基板を設け、液晶パネルの検査時には検査用コンタクト基板を液晶パネルに接続し、検査後には検査用コンタクト基板を液晶パネルからとり外すようにしてもよい。
【０１４０】
また、複数の信号線に互いに等しい信号を同時に入力するための検査用共通配線や、このような検査用共通配線に相当する配線を有する以上のようなコンタクト基板を用いなくても、各データ線および各走査線に入力する信号を個別に制御することにより、同一の組（第一／第二検査信号入力組，定常信号入力組）に組分けされた各信号線に互いに等しい信号を同時に入力することが可能である。
【０１４１】
また、前記実施形態では、Ｓ３〜Ｓ５において、最大輝度のＲ画像、Ｇ画像、Ｂ画像をそれぞれ液晶パネル１に表示させていたが、表示させるＲ画像、Ｇ画像、Ｂ画像の輝度は最大輝度でなくてもよい。また、Ｓ３〜Ｓ５において、Ｒ画像、Ｇ画像、Ｂ画像の輝度を順次変化させながら液晶パネル１の検査を行ってもよい。
【０１４２】
また、前記実施形態では、Ｓ６およびＳ７における検査用画像では、液晶パネル１の表示面１１のエッジ部分、コーナー部分、内部矩形領域を最大輝度または最小輝度にしていたが、最大輝度または最小輝度でなくてもよい。また、Ｓ６およびＳ７において、検査用画像の各部分の輝度を順次変化させながら液晶パネル１の検査を行ってもよい。
【０１４３】
また、前記実施形態では、Ｓ６およびＳ７において、図６に示される組合せの信号を各信号線に入力して枠部分の欠陥検査用画像を液晶パネル１に表示させていたが、枠部分の欠陥検査用画像を液晶パネル１に表示させるための入力信号の組合せは図６に示されるものに限らず、最外データ線および内側データ線のいずれか一方を定常信号入力組に、いずれか他方を検査信号入力組に組分けし、かつ、最外走査線および内側走査線のいずれか一方を定常信号入力組に、いずれか他方を検査信号入力組に組分けすればよい。
【０１４４】
また、前記実施形態では、Ｓ６およびＳ７において、各信号線を定常信号入力組および検査信号入力組の２組に組分けして枠部分の欠陥検査用画像を液晶パネル１に表示させていたが、各信号線をより多くの組に組分けして枠部分の欠陥検査用画像を液晶パネル１に表示させてもよい。
【０１４５】
また、前記実施形態では、Ｓ１およびＳ２において、第一検査信号入力組に属する各走査線に入力する第一検査信号ＢＳ１の極性を正負反転して得られる第二検査信号ＢＳ２を第二検査信号入力組に属する各走査線に入力していたが、第一検査信号入力組の各走査線に入力する第一検査信号と第二検査信号入力組の各走査線に入力する第二検査信号とが互いに正負反転の関係にある必要はなく、互いに逆極性であれば各走査線間のリークやショート等の欠陥検出をする上では十分である。
【０１４６】
また、前記実施形態では、液晶パネル１の通常画像表示時における走査信号とデータ信号との信号差（合成信号）を各検査工程Ｓ１〜Ｓ７における各検査信号ＢＳ１〜ＢＳ４として利用していたが、走査信号とデータ信号との信号和を各検査信号として利用してもよい。
【０１４７】
また、前記実施形態では、液晶パネル１の通常画像表示時における走査信号とデータ信号との合成信号を各検査工程Ｓ１〜Ｓ７における各検査信号ＢＳ１〜ＢＳ４として利用していたが、合成信号を利用する代わりに、適当な装置によって各検査信号を直接に生成して、これらを各信号線に入力してもよい。
【０１４８】
また、前記実施形態では、３色の液晶画素、すなわち、Ｒ色画素，Ｇ色画素，Ｂ色画素を有する液晶パネル１の検査について説明したが、本発明の検査方法は、このような液晶パネルに限らず、１色の表示画素のみを有し、単色画像を表示する画像表示装置の検査にも利用することができる。
【０１４９】
また、検査装置２にコンピュータを組み込んで、このコンピュータに所定の検査プログラムを読み込ませることにより、このコンピュータに検査用画像表示手段２１による検査用画像表示工程を実行させてもよい。
また、このような検査プログラムが記録され、検査装置２に組み込まれたコンピュータによって読み取り可能である記録媒体を利用して検査装置２に検査用画像表示工程を実行させて、液晶パネル１の検査を行ってもよい。
【産業上の利用可能性】
【０１５０】
本発明は、各種画像表示装置の検査に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１５１】
【図１】液晶パネルを検査するための装置構成を示すブロック図である。
【図２】液晶パネルの表示面におけるデータ線および走査線を含む検査用配線を示す平面図である。
【図３】データ線および走査線の交点部分を拡大表示した平面図である。
【図４】液晶パネルに通常の画像を表示させる際の、走査線群に入力される走査信号と、データ線群に入力されるデータ信号と、走査信号およびデータ信号の合成信号とを示す図である。
【図５】液晶パネルの検査手順を示すフローチャートである。
【図６】液晶パネルの検査手順における各工程において、液晶パネルのデータ線群および走査線群に入力する信号の組合せを示す表である。
【図７】液晶パネルの検査手順における各工程において、液晶パネルのデータ線群および走査線群に入力する信号を示す図である。
【図８】図７に示される各信号の生成方法を説明するための図である。
【図９】液晶パネルの検査手順における各工程において、液晶パネルのデータ線群および走査線群に入力する信号を示す図である。
【図１０】図９に示される各信号の生成方法を説明するための図である。
【図１１】図９に示される各信号の生成方法を説明するための図である。
【図１２】液晶パネルの表示面のエッジ部分およびコーナー部分における欠陥検出用の画像を示す図である。
【図１３】液晶パネルの表示面のエッジ部分およびコーナー部分における欠陥検出用の画像を示す図である。
【図１４】ブラックの矩形枠によって囲まれている液晶パネルの表示面を示す図である。
【図１５】表示面のエッジ部分に黒点や黒線などの非点灯欠陥が存在する液晶パネルを示す図である。
【図１６】ホワイトの矩形枠によって囲まれている液晶パネルの表示面を示す図である。
【図１７】表示面のエッジ部分に輝点や輝線などの点灯欠陥が存在する液晶パネルを示す図である。
【符号の説明】
【０１５２】
１…液晶パネル，２…検査装置，３…基板，１１…表示面，１２…データ線群，１３…走査線群，１４…ＭＩＭ素子，１５…液晶画素，１６…矩形枠，２１…検査用画像表示手段，２１１…組分け手段，２１２…信号入力手段。
【図１】
2006215200.tif 000003
【図２】
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【図３】
2006215200.tif 000005
【図４】
2006215200.tif 000006
【図５】
2006215200.tif 000007
【図６】
2006215200.tif 000008
【図７】
2006215200.tif 000009
【図８】
2006215200.tif 000010
【図９】
2006215200.tif 000011
【図１０】
2006215200.tif 000012
【図１１】
2006215200.tif 000013
【図１２】
2006215200.tif 000014
【図１３】
2006215200.tif 000015
【図１４】
2006215200.tif 000016
【図１５】
2006215200.tif 000017
【図１６】
2006215200.tif 000018
【図１７】
2006215200.tif 000019