(57)【要約】  【課題】  磁気ディスクのクランプ機構の押付力を正確に実現する。  【解決手段】  ハブ構造体に磁気ディスクを装着するステップと、固定ネジにより加圧される加圧部とたわみ部とディスク押さえ部とを備える薄板バネを磁気ディスクに位置合わせしてディスク押さえ部を磁気ディスク表面に接触させるステップと、固定ネジをハブ構造体のネジ穴にねじ込んで加圧部を加圧するステップと、加圧するステップに応答してたわんだ前記たわみ部のたわみ量を測定するステップと、たわみ量が所定の値に達したときに前記加圧するステップを停止するステップとを有する。【選択図】      図４
2006147100.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスクをハブ構造体に固定する方法であって、
前記ハブ構造体に前記磁気ディスクを装着するステップと、
固定ネジにより加圧される加圧部とたわみ部とディスク押さえ部とを備える薄板バネを前記磁気ディスクに位置合わせして前記ディスク押さえ部を前記磁気ディスク表面に接触させるステップと、
前記固定ネジを前記ハブ構造体のネジ穴にねじ込んで前記加圧部を加圧するステップと、
前記加圧するステップに応答してたわんだ前記たわみ部のたわみ量を測定するステップと、
前記たわみ量が所定の値に達したときに前記加圧するステップを停止するステップと
を有する磁気ディスクの固定方法。
【請求項２】
前記加圧部が前記薄板バネに形成された貫通孔の周囲部分であり、前記加圧するステップが前記貫通孔を通した前記固定ネジを前記ハブ構造体のネジ穴にねじ込むステップを含む請求項１記載の磁気ディスクの固定方法。
【請求項３】
前記たわみ量を測定するステップが、前記たわみ部のたわみに応じて変位するプローブの位置を測定するステップを含む請求項１記載の磁気ディスクの固定方法。
【請求項４】
前記プローブが前記加圧部の周辺にあるたわみ部のたわみに応じて変位する請求項３記載の磁気ディスクの固定方法。
【請求項５】
前記薄板バネが中心部に前記固定ネジの貫通孔を備え外周付近にディスク押さえ部を備え前記貫通孔と前記ディスク押さえ部との間にたわみ部を備えた皿形薄板バネである請求項１記載の磁気ディスクの固定方法。
【請求項６】
ハブ構造体に装着された磁気ディスクを貫通孔とたわみ部とディスク押さえ部とを備えた薄板バネで固定する磁気ディスク組立装置であって、
先端に固定ネジに適合するねじ込みツールが取り付けられ回転可能に支持されたネジ駆動部と、
内部に前記ネジ駆動部を収容し前記たわみ部に対して前記たわみ部がたわむ方向に弾力的に押し付けられているスリーブと、
前記貫通孔を通した固定ネジを前記ネジ駆動部が前記ハブ構造体のネジ穴にねじ込むことによりたわんだ前記たわみ部のたわみに追従して移動する前記スリーブの変位を測定するたわみ量計測部と、
前記ネジ駆動部及び前記たわみ量計測部を制御する制御部と
を有する磁気ディスク組立装置。
【請求項７】
たわみ量計測用の電磁波を反射させる反射面を備え前記スリーブに固定されたプローブを有する請求項６記載の磁気ディスク組立装置。
【請求項８】
前記薄板バネが中心部に貫通孔を備え外周付近にディスク押さえ部を備え前記貫通孔と前記ディスク押さえ部との間にたわみ部を備えた皿形薄板バネである請求項６記載の磁気ディスク組立装置。
【請求項９】
前記ネジ駆動部が前記固定ネジを前記ハブ構造体のネジ穴にねじ込んでいる間、前記スリーブの端部が前記貫通孔の周辺にある前記たわみ部の平坦な領域に弾力的に押し付けられる請求項６記載の磁気ディスク組立装置。
【請求項１０】
前記スリーブを前記たわみ部に弾力的に押し付ける押付バネを備え、前記スリーブにより押し付けられた前記薄板ばねのたわみ量が前記固定ネジの締め付けを完了したときのたわみ量の５％以内である請求項６記載の磁気ディスク組立装置。
【請求項１１】
前記スリーブの内部に前記固定ネジを挿入して内部圧力を減圧することにより前記スリーブが前記固定ネジを一時的に保持する請求項６記載の磁気ディスク組立装置。
【請求項１２】
磁気ディスク装置を生産する方法であって、
ベースにハブ構造体を取り付けるステップと、
前記ハブ構造体に磁気ディスクを装着するステップと、
固定ネジにより加圧される加圧部とたわみ部とディスク押さえ部とを備える薄板バネを前記磁気ディスクに位置合わせして前記ディスク押さえ部を前記磁気ディスク表面に接触させるステップと、
前記固定ネジを前記ハブ構造体のネジ穴にねじ込んで加圧するステップと、
前記加圧するステップに応答してたわんだ前記たわみ部のたわみ量を測定するステップと、
前記たわみ量が所定の値に達したときに前記加圧するステップを停止するステップと
を有する磁気ディスク装置の生産方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ディスクをクランプ機構によりハブ構造体に固定する技術に関し、さらに詳細には、クランプ機構の押付力を高い精度で管理して磁気ディスクをクランプ機構によりハブ構造体に固定する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置では、記録媒体としての磁気ディスクがハブに固定され、ハブの内側に組み込まれたコイル・ステータとマグネットによりスピンドル・モータを構成して磁気ディスクを回転駆動する。磁気ディスクをハブに固定するためにクランプ機構を利用する方法が一般に採用されている。クランプ機構は、磁気ディスク中央部に形成された円形の貫通孔をハブにはめ込んだあとに、金属の薄板を皿形にした薄板バネで磁気ディスクを押さえ付けるように固定ネジをハブのネジ穴に締め込み適度な押付力で磁気ディスクをハブに固定する。
【０００３】
特許文献１には、その図６に磁気記録面と中心孔部とを含む磁気ディスクを保持するためのクランプ機構が記載されている。磁気記録面は、磁気ディスクの中心孔部に嵌め込まれるクランプ・ボスと、クランプ・ボスに固定され磁気ディスクをクランプ・ボスに対して押さえ付けるバネ部材と、磁気ディスクとバネ部材との間に配置されるリング・スペーサとを備え、磁気ディスクの中心孔部周辺に形成された段差部とリング・スペーサとが、互いに遊嵌し合うように構成されている。
【０００４】
このようなクランプ機構で磁気ディスクをクランプ・ボスに固定する際には、バネ部材が磁気ディスクを押し付ける押付力を適切に管理する必要がある。押付力が弱すぎると磁気ディスク装置に外部から衝撃が加えられたときに磁気ディスクが動いてしまってサーボ・データの読み取りが行えなくなってしまう。また、押付力が強すぎると磁気ディスクに過度の歪みが発生し、磁気ディスク表面を浮上してトラックの追従動作をするヘッド／スライダのサーボ制御の精度が低下したり、ヘッド／スライダが磁気ディスクの表面に衝突したりする。特許文献２は、このようなクランプ機構に使用する皿バネのたわみ量とクランプ力または押付力の関係を開示している。皿バネではたわみ量と押付力との間に一定の関係があることが示されている。
【０００５】
クランプ機構の薄板バネには、一般に中央部に固定ネジが通る貫通孔が形成されている。磁気ディスクが装着されたハブに対して薄板バネをセットしたあとに、貫通孔を通した固定ネジをハブの中心に設けたネジ穴にねじ込んでいくと、薄板バネは徐々にたわんで押付力が上昇していく。従来、クランプ機構が磁気ディスクを押し付ける押付力を管理するために、固定ネジを締め込んでいくときのトルク・ドライバのトルク値を使用していた。薄板バネのたわみ量が多くなって押付力が上昇し固定ネジの軸方向の力（以後、軸力という。）が大きくなるほど締め付けトルクが大きくなるため、従来の磁気ディスク装置ではトルク・ドライバのトルク値で押付力の管理をすることができた。
【特許文献１】特開２００４−１９９７６０号公報
【特許文献２】特開平９−２６５７０２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
近年磁気ディスク装置の記録密度が向上してヘッド／スライダと磁気ディスク表面との間隔が一層狭くなるに従い、サーボ制御の精度を向上するために磁気ディスクの押付力をより正確に管理する必要が生じてきた。ところが、クランプ機構における固定ネジの締め付けトルクと軸力との関係には、固定ネジと薄板バネが接触する部分の摩擦力、固定ネジの製造上の寸法公差、締め付け時の固定ネジの回転速度、締め付け時に締め付け用工具が示したトルク値の精度など数多くのパラメータが存在しており、近年求められている高い精度で管理された押付力となるように固定ネジで締め付けることが困難になってきた。
【０００７】
したがって、クランプ機構が磁気ディスクを固定するときの押付力を管理する方法において、固定ネジの締め付けトルクに代わる新しい方法が求められている。そこで本発明の目的は、磁気ディスクをクランプ機構により精度の高い押付力でハブ構造体に固定した磁気ディスク装置の生産方法を提供することにある。さらに本発明の目的は、クランプ機構により精度の高い押付力でハブ構造体に固定することができる磁気ディスクの固定方法を提供することにある。さらに本発明の目的は、精度の高い押付力で磁気ディスクをハブに取り付ける磁気ディスク組立装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の原理は、クランプ機構で磁気ディスクをハブ構造体に取り付ける際、押付力に最も近い代用特性である薄板バネのたわみ量を管理しながら固定ネジの締め付け量を管理する点にある。本発明の第１の態様は、磁気ディスクをハブ構造体に固定する方法であって、前記ハブ構造体に前記磁気ディスクを装着するステップと、固定ネジにより加圧される加圧部とたわみ部とディスク押さえ部とを備える薄板バネを前記磁気ディスクに位置合わせして前記ディスク押さえ部を前記磁気ディスク表面に接触させるステップと、前記固定ネジを前記ハブ構造体のネジ穴にねじ込んで前記加圧部を加圧するステップと、前記加圧するステップに応答してたわんだ前記たわみ部のたわみ量を測定するステップと、前記たわみ量が所定の値に達したときに前記加圧するステップを停止するステップとを有する磁気ディスクの固定方法を提供する。
【０００９】
薄板バネは、加圧部がねじ込まれた固定ネジで加圧されてたわみ部がたわみ、ディスク押さえ部が磁気ディスクの表面を弾力的に押さえて磁気ディスクをハブ構造体に固定する。加圧部を加圧するステップは、測定された薄板バネのたわみ量が所定の値に達したときに停止するため、所定の押付力を得るために固定ネジの締め付けを停止するタイミングを固定ネジの締め付けトルクのような間接的なパラメータではなく、直接的なパラメータで制御することができる。
【００１０】
加圧部は、固定ネジの頭部が当たる薄板バネの貫通孔の周囲とすることができる。この例に限らず、薄板バネを加圧するために薄板バネとは別の部材を固定ネジで締め込んで変位を与え、その別の部材で薄板バネの加圧部を加圧するような構造でもよい。たわみ量は、直接薄板バネのたわみ量を計測してもよいが、薄板バネのたわみに応じて変位するプローブの位置を測定するようにするとたわみ量を計測し易い。
【００１１】
薄板バネ上でのたわみ量の測定部を、たわみ量が多い加圧部の近辺に設定すると測定誤差を軽減することができる。薄板バネを、中心部に固定ネジの貫通孔を備え外周付近にディスク押さえ部を備え貫通孔と前記ディスク押さえ部との間にたわみ部を備えた皿形薄板バネにすると、クランプ機構は磁気ディスクを円周方向において均等の力でハブ機構に押し付けることができる。
【００１２】
本発明の第２の態様は、ハブ構造体に装着された磁気ディスクを貫通孔とたわみ部とディスク押さえ部とを備えた薄板バネで固定する磁気ディスク組立装置であって、先端に固定ネジに適合するねじ込みツールが取り付けられ回転可能に支持されたネジ駆動部と、内部に前記ネジ駆動部を収容し前記たわみ部に対して前記たわみ部がたわむ方向に弾力的に押し付けられているスリーブと、前記貫通孔を通した固定ネジを前記ネジ駆動部が前記ハブ構造体のネジ穴にねじ込むことによりたわんだ前記たわみ部のたわみに追従して移動する前記スリーブの変位を測定するたわみ量計測部と、前記ネジ駆動部及び前記たわみ量計測部を制御する制御部とを有する磁気ディスク組立装置を提供する。
【００１３】
本発明の磁気ディスク組立装置は、ネジ駆動部とスリーブとたわみ量計測部と制御部を備えている。固定ネジをネジ駆動部がねじ込むとスリーブがたわみ部のたわみに応じて変位してその変位量がたわみ量に対応するようになり、制御部はスリーブの変位に関するデータをたわみ量計測部から取得しながらネジ駆動部のねじ込み動作を停止するタイミングを得ることができる。よって、固定ネジの締め付けトルクを管理する方法よりも正確な締め付け力を実現することができる。
【００１４】
たわみ量の測定は、スリーブに固定されたプローブに設けられたたわみ量計測用の電磁波を反射させる反射面にレーザ光線や赤外線などの電磁波を照射して非接触式に行うと、スリーブを経由してたわみ部に余分な力を加えたりすることがなくなりたわみ量の測定誤差を軽減することができる。スリーブの端部が貫通孔の周辺にあるたわみ部の平坦な領域に弾力的に押し付けられるようにすると、測定中にスリーブとたわみ部との接触位置がずれて測定誤差が生ずることを防ぐことができる。スリーブが薄板バネのたわみに追従するように押付バネで押し付けるときの薄板バネのたわみ量を、固定ネジの締め付けを完了したときのたわみ量の５％程度以内にしておくと、スリーブのたわみ部に対する良好な追従動作を確保し、かつ、たわみ量の計測誤差を軽減することができる。
【００１５】
本発明の第３の態様は、磁気ディスク装置を生産する方法であって、ベースにハブ構造体を取り付けるステップと、前記ハブ構造体に磁気ディスクを装着するステップと、固定ネジにより加圧される加圧部とたわみ部とディスク押さえ部とを備える薄板バネを前記磁気ディスクに位置合わせして前記ディスク押さえ部を前記磁気ディスク表面に接触させるステップと、前記固定ネジを前記ハブ構造体のネジ穴にねじ込んで加圧するステップと、前記加圧するステップに応答してたわんだ前記たわみ部のたわみ量を測定するステップと、前記たわみ量が所定の値に達したときに前記加圧するステップを停止するステップとを有する磁気ディスク装置の生産方法を提供する。
【発明の効果】
【００１６】
本発明により、磁気ディスクをクランプ機構により精度の高い押付力でハブ構造体に固定した磁気ディスク装置の生産方法を提供することができた。さらに本発明により、クランプ機構により精度の高い押付力でハブ構造体に固定することができる磁気ディスクの固定方法を提供することができた。さらに本発明により、精度の高い押付力で磁気ディスクをハブに取り付ける磁気ディスク組立装置を提供することができた。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
図１は、本発明の実施の形態にかかる磁気ディスク装置１０の主要部の平面図である。図２は、薄板バネ５０の外形図である。図３は、ハブ構造体に薄板バネ５０で磁気ディスクを固定するときの状態を説明する断面図である。ベース１１には、磁気ディスク・スタック１３、ヘッド・スタック・アセンブリ（以下、ＨＳＡという。）１９、ランプ１４、外部端子２１、およびボイス・コイル・ヨーク２５が示されている。磁気ディスク装置１０は、クランプ機構の固定ネジ１７が締め付けられるときのプロセスを除いて周知の要素で構成されている。
【００１８】
磁気ディスク・スタック１３は、図３に示すように２枚の磁気ディスク１３ａと１３ｂで構成されている。磁気ディスク・スタック１３を固定するクランプ機構は、皿形薄板バネ５０、固定ネジ１７、およびハブ構造体で構成されている。ハブ構造体は図３に示すハブ２９およびシャフト２７で構成されている。クランプ機構で固定された磁気ディスク・スタック１３は、スピンドル・モータにより矢印Ａの方向に回転させられる。
【００１９】
図２（Ａ）はクランプ機構の主要な構成要素である皿形薄板バネ５０の断面図で、図２（Ｂ）は平面図である。図２（Ａ）には、固定ネジ１７も示されている。本実施の形態にかかる皿形薄板バネ５０は、厚さが約０．５ｍｍのバネ用ステンレス鋼を使用して製作されており直径が約２０ｍｍである。薄板バネ５０は、全体として外周部に対して中央部が湾曲した円形の皿状に形成されており、中央部に窪んだ凹部５６が形成され、中心部に固定ネジ１７がとおる貫通孔５１が形成されている。
【００２０】
貫通孔５１の周囲に形成された凹部５６は表面が平坦な面に形成されており、たわみ量の測定位置として利用される。さらに、凹部５６の周囲には径がやや小さい８個の貫通孔５３が形成されている。貫通孔５３は、固定ネジ１７で薄板バネ５０を締め込むときに、薄板バネ５０が回転するのを防止するために使用したり、磁気ディスクを含めた回転体のバランスをとったりするために使用する。薄板バネ５０の外周付近には、全周に渡ってディスク押さえ部５５が設けられている。貫通孔５１からディスク押さえ部５５までの薄板バネの領域はたわみ部を構成する。
【００２１】
ディスク押さえ部５５は、磁気ディスク・スタック１３をハブ構造体に固定する際に、磁気ディスク１３ａに押付力を付与する部分である。薄板バネ５０は、ディスク押さえ部５５を平面上においたときに中央部と平面との間に空間が生じており、中央部を平面に向かって押し付けるとたわみ部に弾力が生じてたわむようになっている。薄板バネ５０は、貫通孔５１の縁の周囲部分が加圧部となり、固定ネジをハブ２９にねじ込んだとき固定ネジの頭部が加圧部を加圧し、たわみ部がたわんでディスク押さえ部５５に弾力を付与する構造になっている。
【００２２】
図３において、磁気ディスク１３ａ、１３ｂは、リング・スペーサ４５で所定の間隔を維持してハブ２９に固定される。ハブ２９の内側には、ロータ・マグネット４３が取り付けられ、ステータ・コイル３３との間でスピンドル・モータの駆動部を構成する。ステータ・コイル３３は、ブラケット３５の外周に固定され、ブラケット３５はベース１１に固定されている。
【００２３】
また、ブラケット３５の内側には、軸受３７が設けられている。ハブ２９には、シャフト２７が圧入されており、シャフト２７は軸受け３７に挿入されている。シャフト２７には、上下方向のスラスト荷重を受けるスラスト受け３９が固定されている。磁気ディスク１３ａ、１３ｂは、中央部の貫通孔がハブ２９の外周にはめ込まれ、磁気ディスク１３ａの貫通孔近辺が薄板バネ５０の押さえ部５５で押し付けられて固定されている。ハブ２９、シャフト２７、軸受け３７、スラスト受け３９、ブラケット３５、ロータ・マグネット４３、およびステータ・コイル３３はスピンドル・モータの構成要素である。
【００２４】
図３に示したスピンドル・モータの構造では、固定ネジ１７がシャフト２７のネジ穴にねじ込まれて薄板バネ５０の中央部が弾性変形し、その弾力がディスク押さえ部５５に伝わっている。図３では、ネジ穴はシャフトに形成されているが、シャフト２７とハブ２９は一体となって回転するので、本発明においてはネジ穴を形成するためのタッピングは、ハブ２９だけに施す構成、ハブ２９とシャフト２７に施す構成、またはシャフト２７だけに施す構成のいずれであってもよい。また、図３には、固定ネジ１７に適合するねじ込みツールが先端に取り付けられ、固定ネジ１７を回転させるネジ駆動部１０３と円筒形のスリーブ１０１も示されているが、これらについては後で詳細に説明する。
【００２５】
図４は、ハブ構造体に磁気ディスク・スタックを固定するための磁気ディスク組立装置１００のブロック図で、（Ａ）は固定ネジを締め込む前の状態を示し、（Ｂ）は固定ネジを薄板バネ５０が予定のたわみ量に到達するまで締め込んだときの状態を示す。図５は、磁気ディスク組立装置１００の外形図である。磁気ディスク組立装置１００は、一方の端部を薄板バネ５０側で開放しており、他方の端部をネジ駆動部１０３が貫通しているスリーブ１０１を含む。ネジ駆動部１０３には細長いシャフトの先端に、固定ネジ１７の頭部に形成された溝に適合したねじ込みツールが設けられており回転部１１５により回転可能になっている。
【００２６】
磁気ディスク組立装置１００には押付バネ１０６が設けられ、スリーブ１０１に対して固定ネジ１７の軸方向である矢印Ｂ方向に弾力を与えている。矢印Ｂ方向はまた、薄板バネ５０が加圧されたときにたわむ方向でもある。スリーブ１０１には、プローブ１０５が結合しており、矢印Ｂ方向にスリーブ１０１と一体になって動くことができる。プローブ１０５の先端には反射面１０７が設けられている。スリーブ１０１には、図示しない真空装置に接続された空気排出口１１７が設けられている。送受器１０９は、赤外線やレーザ光線などの電磁波を反射面１０７に向けて放射し、反射波を受光して、送受器と反射面までの距離に関する信号を生成する装置である。たわみ量計測部１１１は、送受器から受信した信号により、反射面１０７の矢印Ｂ方向の変位を計測する。制御部１１３は、磁気ディスク組立装置１００の動作全体を制御する。
【００２７】
つぎに図４および図６を参照して磁気ディスク組立装置１００を使用した磁気ディスク装置１０の生産方法について説明する。本実施の形態にかかる磁気ディスク装置の生産方法は、磁気ディスクをハブ構造体に固定する工程に特徴がありその他の工程は任意の周知の工程を採用することができる。
【００２８】
ブロック２０１では、ベース１１にスピンドル・モータを構成する軸受け３７、ロータ・マグネット４３、ステータ・コイル３３、ハブ２９、およびシャフト２７などを取り付ける。ブロック２０３では、ハブ２９に磁気ディスク１３ｂを挿入し、その上にリング・スペーサ４５をはめ込んでさらにその上に磁気ディスク１３ａを挿入する。つづいて、薄板バネ５０を、貫通孔５１とハブ２９の中心を位置合わせして磁気ディスク１３ａの上に配置する。
【００２９】
ブロック２０５では、制御部１１３にたわみ量の目標値やネジ駆動部の回転速度などのねじ込み条件をセットする。押付バネ１０６に押し付けられたスリーブ１０１が薄板バネ５０にもたらすたわみ量は、固定ネジのねじ込みを完了したときのたわみ量の５％以下と極わずかになるように設定されており、固定時のたわみ量の公差の範囲にあるため、たわみ量の管理に支障をきたすことはない。なお、制御部１１３はあらかじめ押付バネ１０６の弾性係数やスリーブ１０１の重量も見込んでたわみ量を管理するようにしてもよい。
【００３０】
ブロック２０７では、スリーブ１０１の中の空気を排出して気圧を低下させてスリーブ１０１の先端部分に固定ネジ１７を保持し、シャフト２７に形成されたネジ穴の真上に固定ネジ１７を位置合わせしてスリーブ１０１と薄板バネ５０を接触させる。このとき、スリーブ１０１は押付バネ１０６により固定ネジ１７の軸方向に軽く押し付けられ薄板バネの凹部５６をわずかな力で押し込む。凹部５６は平坦な面に形成されておりスリーブ１０１の接触位置は安定するため、固定ネジをねじ込んでいる間に、スリーブ１０１の薄板バネ５０に対する接触位置がずれて計測誤差をもたらすようなことはない。
【００３１】
スリーブ１０１は、固定ネジ１７が薄板バネ５０を加圧するたわみ量の大きい部分の近辺に接触するため、たわみ量の計測誤差を軽減して所定の押付力を高い精度で得ることができる。ブロック２０９では、送受器１０９がプローブ１０５に設けられた反射面１０７に電磁波を照射して反射波を受け取り、たわみ量計測部１１１は送受器１０９から受け取った電気信号に基づいて反射面１０７の矢印Ｂ方向の位置を計算しこれを基準位置に設定する。ブロック２１１では、回転部１１５がネジ駆動部１０３を回転させて固定ネジ１７を設定された回転速度で締め込んでいく。このとき、ブロック２１３では、送受器１０９から連続して反射面１０７に電磁波が照射され、たわみ量計測部１１１は反射面１０７の基準位置に対する変位を計算して制御部１１３に送る。
【００３２】
ブロック２１５では、制御部１１３がたわみ量が設定された値Δｘに到達したかどうかを連続して監視する。ブロック２１５でたわみ量が設定された値Δｘに到達したときは、ブロック２１７に移行して制御部１１３は回転部１１５に信号を送りネジ駆動部の回転を停止させる。本実施の形態においては、たわみ量Δｘが０．２ｍｍ程度のときに所定の押付力を得ることができる。ブロック２１７で磁気ディスクの組立が完了したあとは、ブロック２１９でＨＳＡ１９、ランプ１４、および外部端子２１などの他の構成要素を組み込む。なお、ブロック２１９の他の構成要素の組み込み工程は、磁気ディスクの組立に先立って行ってもよい。
【００３３】
以上説明した磁気ディスク装置の生産方法によれば、クランプ機構が磁気ディスクをハブ構造体に対して押さえる押付力を固定ネジのトルクという間接的な代用特性に変えて、薄板バネのたわみ量という押付力に直接関連する代用特性で管理するため、実際の押付力に影響を与えるパラメータを排除してより正確な押付力で磁気ディスクを固定することができる。その結果、押付力が弱くて磁気ディスクが稼働している間にハブに対する位置がずれたり、押付力が強くて磁気ディスクが歪んだりするといった問題を解決することができる。
【００３４】
これまで本発明について図面に示した特定の実施の形態をもって説明してきたが、本発明は図面に示した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の効果を奏する限り、これまで知られたいかなる構成であっても採用することができることはいうまでもないことである。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明の実施の形態にかかる磁気ディスク装置の平面図である。
【図２】薄板バネ部材の外形図である。
【図３】ハブに薄板バネで磁気ディスクを固定するときの状態を説明する断面図である。
【図４】磁気ディスク組立装置のブロック図である。
【図５】磁気ディスク組立装置の外形図である。
【図６】磁気ディスク装置の生産方法を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００３６】
１０  磁気ディスク装置
１１  ベース
１３  磁気ディスク・スタック
１４  ランプ
１７  固定ネジ
２７  シャフト
２９  ハブ
３３  ステータ・コイル
４３  ロータ・マグネット
４５  リング・スペーサ
５０  薄板バネ
５１、５３  貫通孔
５５  押さえ部
５６  凹部
１０１  スリーブ
１０３  ネジ駆動部
１０５  プローブ
１０６  押付バネ
１０７  反射面
１０９  送受器
１１１  たわみ量測定部
１１３  制御部
１１５  回転部
１１７  空気排出口
【図１】
2006147100.tif 000003
【図２】
2006147100.tif 000004
【図３】
2006147100.tif 000005
【図４】
2006147100.tif 000006
【図５】
2006147100.tif 000007
【図６】
2006147100.tif 000008