(57)【要約】【課題】  高価な電磁プローブを使用することなく測定対象物の検出したい電磁妨害波（希望波）、高調波等の高調波の周波数を検出することを目的とする。【解決手段】  プローブチップ５と出力端子６ａとの間に容量素子３を有すると共に接地クリップ７を有するプローブ２の出力端子６ａをスペクトラムアナライザ１の入力端子に接続するようにした高周波検出装置において、このプローブチップ５とこの接地クリップ７との間にインダクタ素子９を接続し、このインダクタ素子９を測定対象物に近付けるようにしたものである。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
プローブチップと出力端子との間に容量素子を有すると共に接地クリップを有するプローブの出力端子をスペクトラムアナライザの入力端子に接続するようにした高周波検出装置において、
前記プローブチップと前記接地クリップとの間にインダクタ素子を接続し、前記インダクタ素子を測定対象物に近付けるようにしたことを特徴とする高周波検出装置。
【請求項２】
請求項１記載の高周波検出装置において、
前記インダクタ素子のインダクタンスは２.２μＨ〜１００μＨであることを特徴とする高周波検出装置。
【請求項３】
請求項１記載の高周波検出装置において、
前記プローブの出力端子と前記スペクトラムアナライザの入力端子との間に増幅回路を挿入したことを特徴とする高周波検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定対象物の電磁妨害波（希望波）、高調波等の高周波の周波数を検出するようにした高周波検出装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、測定対象物の電磁妨害波（希望波）、高調波等の高周波の周波数を検出するようにした高周波検出装置としては電磁プローブを使用し、この電磁プローブよりの測定信号を周波数変化に対するレベルを得るようにしたスペクトラムアナライザに供給し、このスペクトラムアナライザの表示部により、周波数変化に対するレベル変化を観察し、この電磁妨害波（希望波）、高調波等の高周波の周波数を検出する如くしていた。
【０００３】
また、スペクトラムアナライザを使用し測定対象物の受信電波を分析するようにしたものが特許文献１に開示されている。  
【特許文献１】特開平５−３４３９２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
然しながら、この高周波検出装置に使用される電磁プローブは、構成が複雑で高価である不都合があった。
【０００５】
本発明は、斯かる点に鑑み、高価な電磁プローブを使用することなく測定対象物の検出したい電磁妨害波（希望波）、高調波等の高周波の周波数を検出することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明高周波検出装置は、プローブチップと出力端子との間に容量素子を有すると共に接地クリップを有するプローブの出力端子をスペクトラムアナライザの入力端子に接続するようにした高周波検出装置において、このプローブチップとこの接地クリップとの間にインダクタ素子を接続し、このインダクタ素子を測定対象物に近付けるようにしたものである。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、プローブチップと出力端子との間に容量素子を有すると共に接地クリップを有するプローブのプローブチップと接地クリップとの間にインダクタ素子を接続したプローブのこのインダクタ素子を測定対象物に近付け、空間の電磁妨害波（希望波）、高調波等の高周波の周波数を検出するので、高価な電磁プローブを使用することなく比較的簡易に高周波の周波数を検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、図面を参照して、本発明高周波検出装置を実施するための最良の形態の例につき説明する。
【０００９】
図１は、本例による高周波検出装置の接続イメージ図を示し、図１において、１はスペクトラムアナライザを示し、このスペクトラムアナライザ１は周知のもので、測定信号の周波数変化に対するレベルを得るようにしたもので、このスペクトラムアナライザ１の表示部１ａに横軸が周波数で縦軸がレベルの表示を行う如くなされている。
【００１０】
２はプローブを示し、このプローブ２は、比較的簡単な構成で入手が容易な例えばオシロスコープ用のプローブが使用できる。
【００１１】
このプローブ２は例えば図１、図２に示す如く、同軸ケーブル２ａの一端に設けたハウジング２ｂ内に並列接続したコンデンサ３及び抵抗器４を設ける。このコンデンサ３及び抵抗器４の並列回路の一端即ちプローブ２の先端に例えば鉤状プローブチップ５を設け、このコンデンサ３及び抵抗器４の並列回路の他端を同軸ケーブル２ａの内部導体６を介してこのプローブ２の出力端子６ａに接続する。
【００１２】
このハウジング２ｂの内面に同軸ケーブル２ａのシールド(外部)導体２ａ０に接続された導体２ｂ０を有し、またこのプローブ２に、この導体２ｂ０に絶縁被覆した導線を介して接続した接地用の接地クリップ７を設ける。
【００１３】
本例においては、このプローブ２の出力端子６ａを増幅回路８を介してスペクトラムアナライザ１の入力端子に接続する。この増幅回路８の増幅を本例においては２０〜４０ｄＢとする。
【００１４】
本例においては、この鉤状プローブチップ５と接地クリップ７との間に図１、図２に示す如くインダクタ素子例えばマイクロインダクタ（コイル）９を接続し、このインダクタ素子９を測定対象物に近付ける如くする。
【００１５】
この場合、測定対象物の検出したい電磁妨害波（希望波）、高調波等の高周波の周波数をｆ０としたとき、この周波数ｆ０をこのプローブ２の容量Ｃとこのインダクタ素子９のインダクタンスＬの共振周波数とする。即ち、
ｆ０＝１／２π√ＬＣ  …  （１）
とする。
【００１６】
本例においては、測定前にスペクトラムアナライザ１のトラッキングジェネレータを用いて、周波数特性を確認する。これにより各測定条件の環境状態、例えばプローブ２の容量Ｃを知ることができる。
【００１７】
これによりプローブ２の容量Ｃを知ることができ、上述の式（１）により測定希望波の周波数ｆ０を用いて、測定に使用するインダクタ素子９のインダクタスＬを算出し、この鉤状プローブチップ５と接地クリップ７との間に接続するインダクタ素子（コイル）９を決定する。
【００１８】
この場合、測定に使用するインダクタ素子例えばマイクロインダクタ（コイル）９のインダクタンスを２．２μＨ〜１００μＨとすれば、この検出しようとする電磁妨害波（希望波）、高調波等の高周波の周波数のほとんどを検出することができる。
【００１９】
本例によれば、鉤状プローブチップ５と出力端子６ａとの間に容量素子３を有すると共に接地クリップ７を有するプローブ２のプローブチップ５と接地クリップ７との間にインダクタ素子９を接続したプローブ２のこのインダクタ素子９を測定対象物に近付け、空間の電磁妨害波（希望波）、高調波等の高周波の周波数を検出するので、高価な電磁プローブを使用することなく比較的簡易に高周波の周波数を検出することができる。
【００２０】
また、上述例においてはプローブ２の出力端子６ａとスペクトラムアナライザ１の入力端子との間に増幅回路８をもうけたので微小レベルの電磁妨害波（希望波）、高調波等の高周波の周波数を検出することができる。
【００２１】
尚、上述例では鉤状プローブチップを使用した例につき述べたが、針状プローブチップ等その他のプローブチップであっても良い。
【００２２】
また、本発明は上述例に限ることなく、本発明の要旨を逸脱することなく、その他種々の構成が採り得ることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明高周波検出装置を実施するための最良の形態の例を示す接続イメージ図である。
【図２】本発明高周波検出装置を実施するための最良の形態の例を示す構成図である。
【符号の説明】
【００２４】
１…スペクトラムアナライザ、２…プローブ、３…コンデンサ、４…抵抗器、５…プローブチップ、６…内部導体，６ａ…出力端子、７…接地クリップ、８…増幅回路
【図１】
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【図２】
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