(57)【要約】【課題】  高調波歪みの発生量を高調波次数毎に周波数に応じて変化させることができるようにする。【解決手段】  入力信号ＩＮを第１の特性近似フィルタ１３に供給し、第１の乗算器１０により発生した２次高調波を第２の特性近似フィルタ１４に供給すると共に、第２の乗算器１２により発生した３次高調波を第３の特性近似フィルタ１５に供給する。第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５の出力は、加算器１６，１７により合成される。第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５に、シミュレートしたいアナログ機器の基音特性、２次歪み特性、３次歪み特性に基づくデータをそれぞれセットすることにより、シミュレータ１でアナログ機器をシミュレートすることができる。【選択図】  図１
2006094153.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号の高調波を高調波次数毎に発生する高調波発生手段と、
シミュレートするアナログ機器における周波数に応じた基音の発生量に基づくデータが設定された基音発生手段と、
シミュレートするアナログ機器における周波数に応じた高調波歪みの高調波次数毎の発生量に基づくデータが設定された高調波歪み発生手段と、
前記基音発生手段から出力される基音信号と、前記高調波歪み発生手段から出力される高調波次数毎の高調波歪み信号とを合成して出力する合成手段とを備え、
前記基音発生手段に前記入力信号が入力されると共に、前記高調波歪み発生手段に前記高調波発生手段からの高調波次数毎の各高調波が入力されて、前記合成手段から前記アナログ機器をシミュレートした出力信号が出力されるようにしたことを特徴とするアナログ機器のシミュレータ。
【請求項２】
前記基音発生手段が特性近似フィルタで構成されていると共に、前記高調波歪み発生手段が高調波次数毎の特性近似フィルタで構成されていることを特徴とする請求項１記載のアナログ機器のシミュレータ。
【請求項３】
前記基音発生手段および前記高調波歪み発生手段の各々に設定される各データが、チャープ信号を前記アナログ機器に入力することにより得られた基音信号および高調波歪み信号の高調波次数毎の周波数特性に基づいた各データとされていることを特徴とする請求項１あるいは２記載のアナログ機器のシミュレータ。
【請求項４】
前記基音発生手段および前記高調波歪み発生手段の各々に設定される各データからなる異なるアナログ機器毎のデータセットがメモリに格納されており、選択手段によりシミュレートするアナログ機器を選択した際に、選択されたアナログ機器に対応するデータセットが読み出されて、前記基音発生手段および前記高調波歪み発生手段の各々に読み出されたデータセットの各データが設定されることにより、選択されたアナログ機器がシミュレートされるようにしたことを特徴とする請求項１ないし３のいずれかに記載のアナログ機器のシミュレータ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、アナログ機器の線形性をシミュレートし、例えば真空管アンプなどの暖かみのある音色を再現するアナログ機器のシミュレータに関する。
【背景技術】
【０００２】
旧来の真空管アンプにおいては出力される音響信号に真空管独特の非線形歪みが発生している。しかし、この発生する歪みによって音響信号には独特の味わいが付加されている。このような真空管アンプをデジタル的に得ることができるように、真空管アンプで発生する非線形歪みをシミュレートする各種エフェクト装置が提案されている。例えば、音響信号に非線形歪みを付加する方法として、ダイオードの非線形特性またはトランスのヒステリシス特性を利用しアナログ的に付加する方法や、音響信号にデジタル的に非線形歪みを付加する方法がある。また、真空管アンプの特性のうち動作領域（非飽和領域）の歪み特性を２乗演算回路で実現し、飽和領域の飽和特性を非線形テーブルによる変換で実現することもできる。このようにすると、非線形テーブルは微妙な特性曲線をよく模倣することができると共に、２乗演算回路は、供給するパラメータを変更することで容易にその特性を変更することができるようになる（特許文献１参照）。
【０００３】
このように、非線形歪みをｎ次関数やフーリエ級数等の多項式に近似したり、変換テーブルに従って変換する方法では、必要な種類の非線形歪みのデータを予めデフォルトで作成しておく必要があり、変換テーブルを用いる方法では、ユーザが自由に非線形特性の修正を行う事が困難であった。
そこで、アナログ機器である例えば真空管アンプやアナログテープデッキに基準信号を印加して、真空管アンプやアナログテープデッキから基準信号を非線形変換した測定信号を得て、この測定信号と基準信号との関係に基づいて真空管アンプやアナログテープデッキを模擬するための非線形制御データを算出して、算出された効果パラメータを効果付与装置に設定することにより、真空管アンプやアナログテープデッキをシミュレートすることが提案されている（特許文献２参照）。
【特許文献１】特開平６−３４２２８７公報
【特許文献２】特開２００４−１０９２７９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
アナログ機器には、入力信号の周波数によって高調波歪みの発生量が異なる場合が多いが、従来の非線形をシミュレートする方法では、アナログ機器の音色特性を十分にシミュレートできていないという問題点があった。これは、高調波歪みの２次、３次、・・・ｎ次の高調波次数毎の発生量が周波数によって異なっており、高調波歪みの高調波次数毎の発生量が、アナログ機器の音色を決定する重要な要素と考えられるからである。しかしながら、非線形特性を用いてシミュレートする方法では、高調波歪みの発生量を高調波次数毎に周波数に応じて変化させることができないという問題点があった。
そこで、本発明は、高調波歪みの発生量を高調波次数毎に周波数に応じて変化させることができるアナログ機器のシミュレータを提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために、本発明のアナログ機器のシミュレータは、シミュレートするアナログ機器における周波数に応じた基音の発生量のデータが設定された基音発生手段と、シミュレートするアナログ機器における周波数に応じた高調波歪みの高調波次数毎の発生量のデータが設定された高調波歪み発生手段とを有していることを最も主要な特徴としている。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、シミュレートするアナログ機器における周波数に応じた基音の発生量のデータが設定された基音発生手段と、シミュレートするアナログ機器における周波数に応じた高調波歪みの高調波次数毎の発生量のデータが設定された高調波歪み発生手段とを有していることにより、高調波歪みの発生量を高調波次数毎に周波数に応じて変化できるようになり、アナログ機器の音色特性を十分にシミュレートすることができるようになる。このように、高調波歪みの発生量を高調波の次数毎にシミュレートしたことから、アナログ機器の音色特性をリアルにシミュレートすることができるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
高調波歪みの発生量を高調波次数毎に周波数に応じて変化させることができるアナログ機器のシミュレータを提供するという目的を、シミュレートするアナログ機器における周波数に応じた基音の発生量のデータが設定された基音発生手段と、シミュレートするアナログ機器における周波数に応じた高調波歪みの高調波次数毎の発生量のデータが設定された高調波歪み発生手段とを有していることで実現した。
【０００８】
本発明の第１の実施例のアナログ機器のシミュレータの構成を示すブロック図を図１に示す。図１に示すアナログ機器のシミュレータ１は、例えば真空管アンプやアナログテープデッキ等のアナログ機器をシミュレートすることができる。
図１に示すアナログ機器のシミュレータ１に入力される入力信号ＩＮは、マイクやギターのピックアップから供給されるアナログ信号をＡ／Ｄ変換した信号や、ハードディスクや光ディスクなどの記録媒体に記憶されたディジタル音響信号を再生した再生信号などのディジタル信号とされている。このディジタル信号である入力信号ＩＮは、基音信号を発生する第１の特性近似フィルタ（ＣＡＦ）１３に供給されると共に、第１の乗算器１０の第１の入力および第２の入力となる。この第１の乗算器１０においては、入力信号ＩＮ同士の乗算が行われることから入力信号ＩＮの２次の高調波信号が出力されるようになる。この第１の乗算器１０の出力は低域遮断フィルタ（ＬＣＦ）１１に入力されて不要な低域成分が除去され、入力信号ＩＮの高調波次数が２次の高調波信号が出力される。この入力信号ＩＮの２次の高調波信号は、２次の高調波歪み信号を発生する第２の特性近似フィルタ（ＣＡＦ）１４に供給される。さらに、ＬＣＦ１１の出力は第２の乗算器１２の一方の入力になると共に、入力信号が第２の乗算器１２の他方の入力となる。これにより、第２の乗算器１２においては入力信号ＩＮと２次の高調波信号との乗算が行われて、高調波次数が３次の高調波信号が出力されるようになる。この３次の高調波信号は、３次の高調波歪み信号を発生する第３の特性近似フィルタ（ＣＡＦ）１５に供給される。
【０００９】
第１の特性近似フィルタ１３には、シミュレートしたいアナログ機器から出力される基音信号と同じ周波数特性の基音信号を、入力信号ＩＮから発生することのできるデータが設定されている。同様に、第２の特性近似フィルタ１４には、シミュレートしたいアナログ機器から出力される２次歪み信号と同じ周波数特性の２次歪み信号を、２次の高調波信号から発生することのできるデータが設定され、第３の特性近似フィルタ１５には、シミュレートしたいアナログ機器から出力される３次歪み信号と同じ周波数特性の３次歪み信号を、３次の高調波信号から発生することのできるデータが設定されている。これらの第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５は、ＦＩＲフィルタ（Finite Impulse Response Filter）、ＩＩＲ（Infinite Impulse Response Filter）フィルタ等のディジタルフィルタにより構成することができ、この場合に設定されるデータはフィルタ係数とされる。また、第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５は、中心周波数が固定された複数のフィルタによりオーディオ周波数帯域を複数に分割し、各帯域ごとに通過レベルの増強・減衰を調整できるグラフィックイコライザにより構成することができ、この場合に設定されるデータは、周波数帯域毎のレベル情報とされる。あるいは、第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５を、それぞれ独立して中心周波数と選択度（Ｑ）とレベル情報を調整できるフィルタを複数直列に接続したパラメトリックイコライザにより構成することができ、この場合に設定できるパラメータは、各フィルタ毎の中心周波数とＱとレベル情報とされる。さらに、第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５は、高速フーリエ変換（ＦＦＴ）−特性を乗算−逆高速フーリエ変換（ＩＦＦＴ）からなる信号処理手段により構成することができ、この場合に設定されるデータは、ＦＦＴ結果である各スペクトルに乗算される振幅係数データとされる。
【００１０】
これにより、第１の特性近似フィルタ１３からはシミュレートしたいアナログ機器から出力される基音信号と同様の周波数に応じた発生量の基音信号が出力され、第２の特性近似フィルタ１４からはシミュレートしたいアナログ機器から出力される２次歪み信号と同様の周波数に応じた発生量の２次歪み信号が出力され、第３の特性近似フィルタ１５からはシミュレートしたいアナログ機器から出力される３次歪み信号と同様の周波数に応じた発生量の３次歪み信号が出力される。第１の加算器１６では、第１の特性近似フィルタ１３から出力される基音信号と、第２の特性近似フィルタ１４から出力される２次歪み信号とが加算され、第２の加算器１７では第３の特性近似フィルタ１５から出力される３次歪み信号と、第１の加算器１６から出力される加算信号とが加算される。これにより、第２の加算器１７からは基音信号と、２次歪み信号および３次歪み信号との合成信号が出力され、シミュレートしたいアナログ機器から出力される出力信号信号と同様の周波数に応じた出力信号が出力されるようになる。この出力信号は、Ｄ／Ａ変換され、変換されたアナログ信号が増幅されスピーカから放音される。あるいは、ディジタル信号のまま、ハードディスクなどの記録媒体にレコーディングされる。
【００１１】
この場合、シミュレートするアナログ機器における周波数に応じた高調波歪みの高調波次数毎の発生量のデータが設定された特性近似フィルタから高調波歪み発生手段が構成されていることにより、高調波歪みの発生量が高調波次数毎に変化できるようになり、アナログ機器の音色特性を十分にシミュレートすることができるようになる。このように、高調波歪みの発生量を高調波次数毎にシミュレートしたことから、アナログ機器の音色特性をリアルにシミュレートすることができるようになる。
上述したように第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５に設定されるデータに応じてアナログ機器がシミュレートされることから、異なるアナログ機器をシミュレートするための複数のアナログ機器毎のデータセットをフラッシュメモリ等の書き換え可能な不揮発性のメモリ１８に格納しておく。そして、選択部１９によりユーザが所望のアナログ機器を選択した際に、対応するデータセットが読み出されて、第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５に読み出されたデータセットの各データを設定する。これにより、種々のアナログ機器をシミュレータ１によりシミュレートすることができるようになる。
【００１２】
次に、第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５に設定するデータの生成方法について以下に説明する。図３は、上記データを生成する計測装置の全体の構成を示すブロック図である。
図３において、被測定系３０はシミュレートしたいアナログ機器であり真空管アンプやアナログテープデッキ等とされる。この被測定系３０にチャープ信号が供給される。チャープ信号は時間と共に周波数が掃引されていく周波数によらず振幅がほぼ一定とされた正弦波信号とされ、掃引幅はたとえば０〜２０ｋＨｚとされる。このチャープ信号の波形を図４に示すが、横軸はチャープ信号波形のサンプル番号であり、縦軸は振幅を示しており波形は正弦波とされている。また、チャープ信号のレベルの周波数特性を図５に示すが、横軸は対数で示す周波数であり、縦軸はｄＢで示すレベルを示している。これらの図に示すように、チャープ信号は例えば周波数が０〜２０ｋＨｚで掃引され、０〜２０ｋＨｚまでの周波数帯域においてレベルが一定（例えば、３５ｄＢ）とされて、正弦波であることから高調波が含まれておらず基音信号のみからなっている。
【００１３】
このようなチャープ信号を被測定系３０に供給してその出力をスピーカ３１に供給する。スピーカ３１から放音されたチャープ信号の音はマイク３２で収音される。このように、被測定系３０の出力をスピーカ３１から放音してマイク３２で収音するのは、例えばギターアンプにおいてはスピーカを含めて音作りをするためである。マイク３２で収音されたチャープ信号の波形を図６に示す。この収音されたチャープ信号は被測定系３０の非線形特性の影響を受けており、アナログ／ディジタル変換器（Ａ／Ｄ）３３において所定のサンプリング周波数のディジタル信号に変換される。ディジタル信号に変換された収音されたチャープ信号は、コンピュータ３４に供給されて非線形特性の信号分析が行われる。コンピュータ３４では、収音されたチャープ信号の信号分析処理を行うことにより、第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５にそれぞれ設定するデータセットが生成される。このデータセットは、被測定系３０の非線形特性をシミュレートするためのデータセットとなる。以下、被測定系３０の非線形特性の一例をあげて説明する。
【００１４】
マイク３２で収音されたチャープ信号は、被測定系３０の非線形特性を反映したチャープ信号となり、その非線形特性を明示するために図６に示す収音されたチャープ信号にＦＦＴ処理を施した際のスペクトルを図７に示す。図７において、横軸は時間（ｍｓ）であり縦軸は周波数（Ｈｚ）である。チャープ信号は時間と共に周波数が掃引されていくことから、チャープ信号の基音のスペクトルは所定の傾きの直線上に現れる。また、被測定系３０の非線形性により２次歪みや３次歪みが発生している場合は、２次歪みおよび３次歪みのスペクトルは異なる所定の傾きの直線上に現れる。そこで、図６に示す収音されたチャープ信号の基音のスペクトル、２次歪みおよび３次歪みのスペクトルが現れる直線を図７に示している。この場合、２次歪みのスペクトルは基音のスペクトルの２倍の高調波とされることから、２次歪みのスペクトルの傾きは基音のスペクトルの傾きの２倍の傾きとされ、同様に、３次歪みのスペクトルの傾きは基音のスペクトルの傾きの３倍の傾きとされる。図７を参照すると、基音のスペクトルの他に２次歪みおよび３次歪みのスペクトルが、その直線上に現れていることが示されており、被測定系３０が非線形特性を有し２次歪みや３次歪みが発生していることが分かる。
【００１５】
この基音の高調波とされる２次歪みや３次歪みの発生量の周波数特性を知るために、図７に示すチャープ信号にＦＦＴ処理を施した際の基音のスペクトル、２次歪みおよび３次歪みのスペクトル毎のレベル情報を得る。このようにして得た基音と２次歪みおよび３次歪みの発生量の周波数特性を図８に示す。図８を参照すると、基音は２０Ｈｚ〜２０ｋＨｚの帯域に亘りほぼ３５ｄＢのレベルとされているが、数十Ｈｚ以下の低帯域および２０ｋＨｚ近傍の高帯域において若干レベルが減衰する周波数特性となる。２次歪みは、数百Ｈｚ以下の低帯域において基音より約２０ｄＢ減衰したレベルとなり、周波数が高くなるにつれて次第に減衰する傾向を示す周波数特性となる。３次歪みは、約１００Ｈｚ以下の低帯域において基音より約２０ｄＢ減衰したレベルとなり、周波数が高くなっていくとさらなる減衰と増分を繰り返す周波数特性となる。
【００１６】
図８に示すような基音、２次歪みおよび３次歪みの周波数特性を得られるデータセットをコンピュータ３４により生成して、第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５に設定することにより、シミュレータ１は被測定系３０をシミュレートすることができるようになる。これらの第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５がＦＩＲフィルタあるいはＩＩＲフィルタ等のディジタルフィルタにより構成される場合は、コンピュータ３４が生成するデータセットの各データはフィルタ係数とされる。また、第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５がパラメトリックイコライザにより構成されている場合は、コンピュータ３４が生成するデータセットの各データは、パラメトリックイコライザを構成する各フィルタの中心周波数、選択度（Ｑ）、レベル情報のデータとされ、グラフィックイコライザで構成されている場合は、分割されている周波数帯域毎のレベル情報のデータとされる。さらに、第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５を、高速フーリエ変換（ＦＦＴ）−特性を乗算−逆フーリエ変換（ＩＦＦＴ）からなる信号処理手段により構成することができ、この場合に設定されるデータは、ＦＦＴ結果である各スペクトルに乗算される振幅係数データとされる。
【００１７】
なお、図３に示す構成により真空管アンプやアナログテープデッキ等の各種のアナログ機器を被測定系３０として、その特性を測定することにより得た異なる被測定系３０毎のデータセットがメモリ１８に格納されている。この場合、選択部１９によりユーザが所望のアナログ機器を選択した際に、対応するデータセットがメモリ１８から読み出されてデータセットの各データが第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５に設定されるようになる。これにより、各種のアナログ機器をシミュレータ１によりシミュレートすることができるようになる。
【００１８】
次に、本発明の第２の実施例のアナログ機器のシミュレータの構成を示すブロック図を図２に示す。図２に示すアナログ機器のシミュレータ２においても、例えば真空管アンプやアナログテープデッキ等のアナログ機器をシミュレートすることができる。
図２に示す第２の実施例のアナログ機器のシミュレータ２は、第１のフィルタ（Ｆ１）２０、第２のフィルタ（Ｆ２）２１および第３のフィルタ（Ｆ３）２２を設けた構成と、第１の利得制御部２３、第２の利得制御部２４および第３の利得制御部２５を設けた構成において、図１に示す第１の実施例のアナログ機器のシミュレータ１と相違しており、その他の構成においては同様とされているので相違する構成についてのみ、以下に説明する。
【００１９】
図１に示す第１の実施例のアナログ機器のシミュレータ１においては、ディジタル信号を処理していることからサンプリング周波数によっては、２次歪みおよび３次歪みの生成処理においてエイリアスが生じる場合がある。そこで、エイリアスの発生を防止するために第１のフィルタ（Ｆ１）２０、第２のフィルタ（Ｆ２）２１および第３のフィルタ（Ｆ３）２２を設けるようにしている。第１のフィルタ（Ｆ１）２０は、第１の乗算器１０の前に挿入されており、入力信号ＩＮの周波数帯域を１／２に制限している。例えば、入力信号ＩＮが０〜２０ｋＨｚの周波数帯域とされている場合は、第１のフィルタ（Ｆ１）２０により０〜１０ｋＨｚに帯域制限する。これにより、第１の乗算器１０以降の２次の高調波を扱う構成においてエイリアスは発生しないようになる。また、第２のフィルタ（Ｆ２）２１はＬＣＦ１１と第２の乗算器１２との間に挿入されており、入力信号ＩＮにおける周波数帯域を２／３に制限している。さらに、第３のフィルタ（Ｆ３）２２は第１のフィルタ（Ｆ１）２０と第２の乗算器１２との間に挿入されており、入力信号ＩＮにおける周波数帯域を１／３に制限している。これにより、第２の乗算器１２以降の構成においてエイリアスは発生しないようになる。なお、第１のフィルタ（Ｆ１）２０により入力信号ＩＮの周波数帯域を１／３に制限するようにすると、第２のフィルタ（Ｆ２）２１および第３のフィルタ（Ｆ３）２２を省略してもエイリアスの発生を防止することができるようになる。
【００２０】
第１の利得制御部２３は第１の特性近似フィルタ１３の出力が供給されて、基音のレベルを制御している。また、第２の利得制御部２４は第２の特性近似フィルタ１４の出力が供給されて、２次歪みのレベルを制御しており、第３の利得制御部２５は第３の特性近似フィルタ１５の出力が供給されて、３次歪みのレベルを制御している。第１の利得制御部２３、第２の利得制御部２４および第３の利得制御部２５を、それぞれ制御することにより第２の加算器１７から出力される音の音作りを行うことができる。また、メモリ１８に格納されるアナログ機器毎のデータセットに第１の利得制御部２３ないし第３の利得制御部２５に設定する制御データも含ませるようにする。この制御データの値は、ユーザが予め設定しておく。そして、選択部１９によりユーザが所望のアナログ機器を選択した際に、対応するデータセットが読み出されて、第１の特性近似フィルタ１３ないし第３の特性近似フィルタ１５および第１の利得制御部２３ないし第３の利得制御部２５に読み出されたデータセットの各データを設定するようにしてもよい。このようにすると、選択されたアナログ機器に応じて音作りされた音を出力することができる。
【００２１】
以上の説明においては、基音、２次歪みおよび３次歪みによりアナログ機器をシミュレートするようにしたが、さらに高次の高次歪みを加えてアナログ機器をシミュレートするようにしてもよい。この場合には、必要とする高次歪みの次数までの高調波を入力信号から発生して、それぞれ対応する特性近似フィルタに供給するようにする。
また、以上の説明では被測定系３０の出力で駆動されたスピーカ３１から出力された音をマイク３２で拾って分析をしていた。しかしながら、被測定系３０の出力するアナログ信号をＡ／Ｄ変換して、被測定系３０の特性だけを分析するようにしてもよい。さらに、スピーカ３１込みの特性から被測定系３０の特性を減算して、スピーカ３１の特性を求めることもできる。
【００２２】
さらにまた、２次歪みおよび３次歪みの周波数帯域を基音と同じ周波数帯域としたが、これに限るものではなく２次歪みの周波数帯域を基音の周波数帯域の２倍に、３次歪みの周波数帯域を基音の周波数帯域の３倍として信号分析を行い、データセットを生成するようにしてもよい。
以上の説明では、本発明に係るシミュレータはアナログ機器をシミュレートするシミュレータとしたが、本発明のシミュレータのシミュレート対象は非線形特性を有する回路であればよく、真空管アンプやトランジスタアンプに限らずコンプレッサ、リミッタ、ディストーションなどの効果回路や、テープレコーダなどの記録再生回路であってもよい。さらに、アナログ回路に限らず、ディジタル回路のアナログ入力からアナログ出力までの非線形性をシミュレーションすることもできる。
【産業上の利用可能性】
【００２３】
本発明のシミュレータは、ＤＳＰ等のハードウェアを用いて実現することができるが、シミュレータプログラムをインストールしたコンピュータによっても実現することができる。この場合、コンピュータは、入力信号の高調波を高調波次数毎に発生する高調波発生手段、シミュレートするアナログ機器における周波数に応じた基音の発生量に基づくデータが設定された基音発生手段、シミュレートするアナログ機器における周波数に応じた高調波歪みの高調波次数毎の発生量に基づくデータが設定された高調波歪み発生手段、前記基音発生手段から出力される基音信号と、前記高調波歪み発生手段から出力される高調波次数毎の高調波歪み信号とを合成して出力する合成手段として機能するようになる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の第１の実施例のアナログ機器のシミュレータの構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第２の実施例のアナログ機器のシミュレータの構成を示すブロック図である。
【図３】本発明のシミュレータにおける第１の特性近似フィルタないし第３の特性近似フィルタに設定するデータを取得する計測装置の全体の構成を示すブロック図である。
【図４】図３に示す計測装置に供給されるチャープ信号の波形を示す図である。
【図５】図３に示す計測装置に供給されるチャープ信号のレベルの周波数特性を示す図である。
【図６】図３に示す計測装置におけるマイクで収音されたチャープ信号の波形を示す図である。
【図７】図３に示す計測装置におけるマイクで収音されたチャープ信号にＦＦＴ処理を施した際のスペクトルを示す図である。
【図８】図３に示す計測装置におけるマイクで収音されたチャープ信号から得た基音成分と２次歪み成分および３次歪み成分のレベルの周波数特性を示す図である。
【符号の説明】
【００２５】
１  シミュレータ、２  シミュレータ、１０  第１の乗算器、１１  低域遮断フィルタ、１２  第２の乗算器、１３  第１の特性近似フィルタ、１４  第２の特性近似フィルタ、１５  第３の特性近似フィルタ、１６  第１の加算器、１７  第２の加算器、１８  メモリ、１９  選択部、２０  第１のフィルタ、２１  第２のフィルタ、２２  第３のフィルタ、２３  第１の利得制御部、２４  第２の利得制御部、２５  第３の利得制御部、３０  被測定系、３１  スピーカ、３２  マイク、３３  アナログ／ディジタル変換器、３４  コンピュータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図８】
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【図７】
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