(57)【要約】  【課題】  検査項目を熟知していない設計者が担当した場合でも、半導体回路の設計に要する期間を短縮でき、また、半導体回路の品質向上を図ることができる回路検査項目出力システムなどを提供する。  【解決手段】  ＰＣ２ａは、半導体回路を示す回路情報を入力部２５で受け付けてサーバ１へ送信し、サーバ１は、ＰＣ２ａから受信した回路情報に対応する半導体回路の検査項目についての検査項目情報を回路情報及び検査項目情報を対応付けた回路情報ＤＢ１３ａから抽出してＰＣ２ａへ送信する。ＰＣ２ａは、サーバ１から受信した検査項目情報を表示部２６に出力する。ＰＣ２ａは、検査項目情報が示す検査について検査の完了を示す検査実施情報を受け付けてサーバ１へ送信し、サーバ１は、ＰＣ２ａから受信した検査実施情報を回路情報及び検査項目情報に対応付けて記憶部１３する。【選択図】        図１
2006338310.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
中央装置及び該中央装置に接続してある複数の端末装置を備え、第１端末装置は、半導体回路を示す回路情報を受け付けて、前記中央装置へ送信し、前記中央装置は、前記第１端末装置から受信した回路情報に対応する半導体回路の検査項目についての検査項目情報を、前記回路情報及び検査項目情報を対応付けて登録してあるデータベースから抽出して前記第１端末装置へ送信し、前記第１端末装置は、前記中央装置から受信した検査項目情報を出力する回路検査項目出力システムにおいて、
前記第１端末装置は、
前記検査項目情報が示す検査について、検査の完了を示す実施完了情報を含む検査実施情報を受け付けて、前記中央装置へ送信する手段
を備え、
前記中央装置は、
前記第１端末装置から受信した前記検査実施情報を前記回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録する手段
を備えたことを特徴とする回路検査項目出力システム。
【請求項２】
前記第１端末装置は、
前記データベースに前記検査項目情報に対応付けて登録されている検査実施情報の送信要求を受け付けて、前記中央装置へ送信する手段
を更に備え、
前記中央装置は、
前記第１端末装置から受信した送信要求に応じた検査実施情報を前記データベースから抽出して前記第１端末装置へ送信する手段
を更に備え、
前記第１端末装置は、更に、前記中央装置から受信した検査実施情報を出力する手段
を備えたことを特徴する請求項１に記載の回路検査項目出力システム。
【請求項３】
前記第１端末装置は、
前記実施完了情報を受け付けたか否かを判定する手段と、
判定の結果を出力する手段と
を更に備えたことを特徴とする請求項１又は２に記載の回路検査項目出力システム。
【請求項４】
前記中央装置は、
前記検査実施情報を登録した旨を示す登録済情報を第２端末装置へ送信する手段
を備え、
前記第２端末装置は、
前記登録済情報に対する承認を示す承認情報を受け付けて、前記中央装置へ送信する手段
を更に備え、
前記中央装置は、
前記第２端末装置から受信した承認情報を、前記検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録する手段
を備えたことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１つに記載の回路検査項目出力システム。
【請求項５】
前記第２端末装置は、
受け付けた承認情報に基づいて設計データの公開を許可するか否かを指示する指示手段と、
該指示手段が設計データの公開を許可すると指示した場合に、公開が許可された旨の情報を前記第１端末装置へ送信する手段と
を備えたことを特徴とする請求項４に記載の回路検査項目出力システム。
【請求項６】
前記第２端末装置は、
前記指示手段が設計データの公開を許可しないと指示した場合に、許可しなかった理由を示す不可理由情報の入力を受け付け、受け付けた不可理由情報を前記第１端末装置へ送信する手段
を備えたことを特徴とする請求項５に記載の回路検査項目出力システム。
【請求項７】
前記第２端末装置は、
前記指示手段が設計データの公開を許可すると指示した場合に、設計ファイルに該設計ファイルの公開を許可する公開許可フラグを付加することにより設計ファイルを公開するようにしてあること
を特徴とする請求項５又は６に記載の回路検査項目出力システム。
【請求項８】
前記端末装置は、
前記検査実施情報の送信要求を受け付けて、前記中央装置へ送信する手段
を備え、
前記中央装置は、
前記端末装置から受信した送信要求に応じた検査実施情報のうち前記承認情報と対応付けて前記データベースに登録されている検査実施情報を前記データベースから抽出して前記端末装置へ送信する手段
を備え、
前記端末装置は、更に、
前記中央装置から受信した検査実施情報を出力する手段
を備えたことを特徴する請求項１乃至７のいずれか１つに記載の回路検査項目出力システム。
【請求項９】
前記第２端末装置は、
前記中央装置から受信した回路情報が示す半導体回路の不具合についての不具合情報を受け付けて、前記中央装置へ送信する手段
を更に備え、
前記中央装置は、
前記第２端末装置から受信した不具合情報が、前記検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録されているか否かを判定する手段と、
登録されていないと判定した不具合情報を、前記検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録する手段と
を備えたことを特徴とする請求項１乃至８のいずれか１つに記載の回路検査項目出力システム。
【請求項１０】
前記端末装置は、
前記不具合情報の送信要求を受け付けて、前記中央装置へ送信する手段
を備え、
前記中央装置は、
前記端末装置から受信した送信要求に応じた前記不具合情報を前記データベースから抽出して前記端末装置へ送信する手段
を備え、
前記端末装置は、更に、
前記中央装置から受信した不具合情報を出力する手段
を備えたことを特徴する請求項９に記載の回路検査項目出力システム。
【請求項１１】
複数の外部装置と接続する手段と、第１の外部装置から受信した半導体回路を示す回路情報に対応する半導体回路の検査項目についての検査項目情報を、前記回路情報及び検査項目情報を対応付けて登録してあるデータベースから抽出して前記第１の外部装置へ送信する情報処理装置において、
前記第１の外部装置から受信した前記検査項目情報が示す検査についての検査実施情報を前記回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録する手段と、
前記検査実施情報を登録した旨を示す登録済情報を含む情報を第２の外部装置へ送信する手段と
を備えたことを特徴とする情報処理装置。
【請求項１２】
外部装置から受信した回路情報が示す半導体回路の不具合についての不具合情報が、前記検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録されているか否かを判定する手段と、
登録されていないと判定した不具合情報を、前記検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録する手段と
を備えたことを特徴とする請求項１１に記載の情報処理装置。
【請求項１３】
第１の装置から受信した半導体回路を示す回路情報に対応する半導体回路の検査項目についての検査項目情報を、前記回路情報及び検査項目情報を対応付けて登録してあるデータベースから抽出して前記第１の装置へ送信させるコンピュータプログラムにおいて、
コンピュータに、前記第１の装置から受信した前記検査項目情報が示す検査についての検査実施情報を、前記回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録させるステップと、
コンピュータに、前記検査実施情報を登録した旨を示す登録済情報を含む情報を第２の装置へ送信させるステップと、
コンピュータに、第２の装置から受信した回路情報が示す半導体回路の不具合についての不具合情報が、前記検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録されているか否かを判定させるステップと、
コンピュータに、登録されていないと判定した不具合情報を、前記検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録させるステップと
を実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路検査項目出力システム、該画像形成システムの構成要素としての情報処理装置、及び該情報処理装置としての機能をコンピュータで実現するためのコンピュータプログラムに関し、より具体的には、集積回路（ＩＣ）のような半導体回路を設計する場合に、半導体回路の不具合の検査（検証）についての回路検査項目を出力することにより設計期間を短縮することができる回路検査項目出力システム等に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年の集積回路の高集積化及び複雑化のなか、機能ユニット単位での分業化が進んでいるとともに、様々なＤＡツール（ＣＡＤツールともいう）を用いて回路設計を自動化するようにして設計の効率化が図られている。分業化が推進されることによって、各設計セクション（設計工程）を担当する設計者が行った回路設計作業が妥当であるか否かを検査すべく、設計工程毎に回路検査項目を設定し、検査を自動的に実施する手法が確立されている。
【０００３】
例えば、半導体回路の設計において、設計者は、ＣＡＤツールを用いて半導体回路を設計した後、設計した半導体回路を構成する要素回路（以下「回路」という）を示す回路情報をコンピュータへ入力する。コンピュータは、半導体回路全体に不具合を生じさせる回路を示す不具合回路情報を、この情報を記憶してあるデータベースから読み出し、読み出した不具合回路情報と入力された回路情報とが一致するか否かを判定し、一致すると判定した回路情報が示す回路を検出する。設計者は、コンピュータにより検出された回路の不具合原因を検査して、半導体回路の設計工程へ戻り、回路を修正する（例えば特許文献１参照）。また、設計者は、検査により判明した不具合の原因に関する不具合原因情報をデータベ−スに登録する（例えば特許文献２参照）。
【特許文献１】特開２００２−２８８２５４号公報
【特許文献２】特開２００２−１５７２９５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、回路修正後、コンピュータにより回路が検出された場合、設計者は、再度、検出された回路を検査して、回路を修正する必要がある。このように、従来は、コンピュータにより回路が検出されなくなるまで、コンピュータによる検出、並びに、設計者による検査及び修正作業を繰り返していた。したがって、予め検査項目を熟知していない設計者が担当した場合、半導体回路の設計に要する期間が長期化していた。
【０００５】
また、コンピュータは、不具合回路情報がデータベースに記憶されていないために判定できない回路は、設計者に検査させることなく、無条件に不具合回路ではないとして扱っていた。従って、不具合回路を確実に排除した半導体回路を設計することができなかった。
【０００６】
また、設計者は、不具合原因情報の登録において、重複登録を回避し、整理されたデータベースを維持するため、過去に登録された不具合原因情報と、新規に登録する不具合原因情報とが重複しているか否かを確認してから登録していた。従って、かかる登録作業には長時間を要した。
【０００７】
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、設計者が使用するコンピュータを端末装置として接続してあり、端末装置から受信した回路情報に対応する半導体回路の検査項目についての検査項目情報を端末装置へ送信し、端末装置から受信した検査項目情報が示す検査についての検査実施情報を回路情報及び検査項目情報に対応付けてデータベースに登録する手段を備える中央装置を設けて、設計者が、端末装置へ入力した全ての回路情報に対して、予め検査項目情報を得、回路情報が示す回路が半導体回路全体に不具合を生じさせるか否かの検査を行い、検査の結果を検査の実施情報として端末装置へ入力できる構成とすることにより、予め検査項目を熟知していない設計者が担当した場合でも、コンピュータによる検出ならびに設計者による検査及び修正作業の繰り返しを低減させて、半導体回路の設計に要する期間を短縮でき、また、半導体回路の品質向上を図ることができる回路検査項目出力システム、このシステムを構成する情報処理装置及びコンピュータプログラムを提供することにある。
【０００８】
また、本発明の他の目的は、検査の完了を示す実施完了情報を受け付けたか否かを判定し、判定の結果を出力する手段を備える端末装置を設けることにより、設計者に、検査項目情報に基づく半導体回路の検査についての進捗状況を把握させながら効率良く半導体回路の設計をさせて、半導体回路の設計に要する期間を短縮できる回路検査項目出力システム、情報処理装置及びコンピュータプログラムを提供することにある。
【０００９】
また、本発明の他の目的は、登録済情報を端末装置へ送信し、端末装置から登録済情報に対する承認を示す承認情報を受信し、端末装置から受信した承認情報を、検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けてデータベースに登録する手段を備える中央装置を設けて、設計者が行った半導体回路の検査に対し、設計者の管理者である確認者が、再確認を行い、承認の結果を承認情報として端末装置へ入力できる構成とすることにより、半導体回路の品質向上を図ることができる回路検査項目出力システム、情報処理装置及びコンピュータプログラムを提供することにある。
【００１０】
また、本発明の他の目的は、受け付けた承認情報に基づいて設計データの公開を許可するか否かを指示し、設計データの公開を許可すると指示した場合に、公開が許可された旨の情報を第１端末装置へ送信することにより、確認者によって認証された設計データは設計者に公開され、多くの設計者が設計データを活用することができ、多くの設計者間で設計データを共有することによって、半導体回路の設計に要する期間を短縮できるとともに、半導体回路の品質の向上を図ることができる回路検査項目出力システム、情報処理装置及びコンピュータプログラムを提供することにある。
【００１１】
また、本発明の他の目的は、設計データの公開を許可しないと指示した場合に、許可しなかった理由を示す不可理由情報の入力を受け付け、不可理由情報を第１端末装置へ送信することにより、設計者は確認者による不可理由情報を確認して設計の再検討を行うことができ、設計完成度の高い設計を行うことができる回路検査項目出力システム、情報処理装置及びコンピュータプログラムを提供することにある。
【００１２】
また、本発明の他の目的は、設計データの公開を許可すると指示した場合に、設計ファイルに該設計ファイルの公開を許可する公開許可フラグを付加することにより、公開許可フラグの付加によって設計ファイルを公開するか否かを簡単に判別することができる回路検査項目出力システム、情報処理装置及びコンピュータプログラムを提供することにある。
【００１３】
また、本発明の他の目的は、端末装置から不具合情報を受信し、端末装置から受信した不具合情報が、検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けてデータベースに登録されているか否かを判定し、登録されていないと判定した不具合情報を、検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けてデータベースに登録する手段を備える中央装置を設けることにより、確認者の再確認により半導体回路の不具合が発見された場合に行う半導体回路の不具合情報のデータベースヘの登録を、確認者による重複登録の確認作業を行うことなく短時間にできる回路検査項目出力システム、情報処理装置及びコンピュータプログラムを提供することにある。
【００１４】
さらにまた、本発明の他の目的は、端末装置から送信要求を受信し、端末装置から受信した送信要求に応じた不具合情報をデータベースから抽出して端末装置へ送信する中央装置を設けて、設計者が、他の設計者により行われた検査の実施情報、又は、半導体回路の不具合情報を参照しながら半導体回路を設計できる構成とすることにより、予め検査項目を熟知していない設計者が担当した場合でも、コンピュータによる検出ならびに設計者による検査及び修正作業の繰り返しを低減させて、半導体回路の設計に要する期間を短縮でき、また、半導体回路の品質向上を図ることができる回路検査項目出力システム、情報処理装置及びコンピュータプログラムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明に係る回路検査項目出力システムは、中央装置及び該中央装置に接続してある複数の端末装置を備え、第１端末装置は、半導体回路を示す回路情報を受け付けて、前記中央装置へ送信し、前記中央装置は、前記第１端末装置から受信した回路情報に対応する半導体回路の検査項目についての検査項目情報を、前記回路情報及び検査項目情報を対応付けて登録してあるデータベースから抽出して前記第１端末装置へ送信し、前記第１端末装置は、前記中央装置から受信した検査項目情報を出力する回路検査項目出力システムにおいて、前記第１端末装置は、前記検査項目情報が示す検査について、検査の完了を示す実施完了情報を含む検査実施情報を受け付けて、前記中央装置へ送信する手段を備え、前記中央装置は、前記第１端末装置から受信した前記検査実施情報を前記回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録する手段を備えたことを特徴とする。
【００１６】
本発明に係る回路検査項目出力システムは、前記第１端末装置は、前記データベースに前記検査項目情報に対応付けて登録されている検査実施情報の送信要求を受け付けて、前記中央装置へ送信する手段を更に備え、前記中央装置は、前記第１端末装置から受信した送信要求に応じた検査実施情報を前記データベースから抽出して前記第１端末装置へ送信する手段を更に備え、前記第１端末装置は、更に、前記中央装置から受信した検査実施情報を出力する手段を備えたことを特徴する。
【００１７】
本発明に係る回路検査項目出力システムは、前記第１端末装置は、前記実施完了情報を受け付けたか否かを判定する手段と、判定の結果を出力する手段とを更に備えたことを特徴とする。
【００１８】
本発明に係る回路検査項目出力システムは、前記中央装置は、前記検査実施情報を登録した旨を示す登録済情報を第２端末装置へ送信する手段を備え、前記第２端末装置は、前記登録済情報に対する承認を示す承認情報を受け付けて、前記中央装置へ送信する手段を更に備え、前記中央装置は、前記第２端末装置から受信した承認情報を、前記検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録する手段を備えたことを特徴とする。
【００１９】
本発明に係る回路検査項目出力システムは、前記第２端末装置は、受け付けた承認情報に基づいて設計データの公開を許可するか否かを指示する指示手段と、該指示手段が設計データの公開を許可すると指示した場合に、公開が許可された旨の情報を前記第１端末装置へ送信する手段とを備えたことを特徴とする。
【００２０】
本発明に係る回路検査項目出力システムは、前記第２端末装置は、前記指示手段が設計データの公開を許可しないと指示した場合に、許可しなかった理由を示す不可理由情報の入力を受け付け、受け付けた不可理由情報を前記第１端末装置へ送信する手段を備えたことを特徴とする。
【００２１】
本発明に係る回路検査項目出力システムは、前記第２端末装置は、前記指示手段が設計データの公開を許可すると指示した場合に、設計ファイルに該設計ファイルの公開を許可する公開許可フラグを付加することにより設計ファイルを公開するようにしてあることを特徴とする。
【００２２】
本発明に係る回路検査項目出力システムは、前記端末装置は、前記検査実施情報の送信要求を受け付けて、前記中央装置へ送信する手段を備え、前記中央装置は、前記端末装置から受信した送信要求に応じた検査実施情報のうち前記承認情報と対応付けて前記データベースに登録されている検査実施情報を前記データベースから抽出して前記端末装置へ送信する手段を備え、前記端末装置は、更に、前記中央装置から受信した検査実施情報を出力する手段を備えたことを特徴する。
【００２３】
本発明に係る回路検査項目出力システムは、前記第２端末装置は、前記中央装置から受信した回路情報が示す半導体回路の不具合についての不具合情報を受け付けて、前記中央装置へ送信する手段を更に備え、前記中央装置は、前記第２端末装置から受信した不具合情報が、前記検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録されているか否かを判定する手段と、登録されていないと判定した不具合情報を、前記検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録する手段とを備えたことを特徴とする。
【００２４】
本発明に係る回路検査項目出力システムは、前記端末装置は、前記不具合情報の送信要求を受け付けて、前記中央装置へ送信する手段を備え、前記中央装置は、前記端末装置から受信した送信要求に応じた前記不具合情報を前記データベースから抽出して前記端末装置へ送信する手段を備え、前記端末装置は、更に、前記中央装置から受信した不具合情報を出力する手段を備えたことを特徴する。
【００２５】
本発明に係る情報処理装置は、複数の外部装置と接続する手段と、第１の外部装置から受信した半導体回路を示す回路情報に対応する半導体回路の検査項目についての検査項目情報を、前記回路情報及び検査項目情報を対応付けて登録してあるデータベースから抽出して前記第１の外部装置へ送信する情報処理装置において、前記第１の外部装置から受信した前記検査項目情報が示す検査についての検査実施情報を前記回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録する手段と、前記検査実施情報を登録した旨を示す登録済情報を含む情報を第２の外部装置へ送信する手段とを備えたことを特徴とする。
【００２６】
本発明に係る情報処理装置は、外部装置から受信した回路情報が示す半導体回路の不具合についての不具合情報が、前記検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録されているか否かを判定する手段と、登録されていないと判定した不具合情報を、前記検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録する手段とを備えたことを特徴とする。
【００２７】
本発明に係るコンピュータプログラムは、第１の装置から受信した半導体回路を示す回路情報に対応する半導体回路の検査項目についての検査項目情報を、前記回路情報及び検査項目情報を対応付けて登録してあるデータベースから抽出して前記第１の装置へ送信させるコンピュータプログラムにおいて、コンピュータに、前記第１の装置から受信した前記検査項目情報が示す検査についての検査実施情報を、前記回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録させるステップと、コンピュータに、前記検査実施情報を登録した旨を示す登録済情報を含む情報を第２の装置へ送信させるステップと、コンピュータに、第２の装置から受信した回路情報が示す半導体回路の不具合についての不具合情報が、前記検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録されているか否かを判定させるステップと、コンピュータに、登録されていないと判定した不具合情報を、前記検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けて前記データベースに登録させるステップとを実行させることを特徴とする。
【００２８】
本発明にあっては、設計者が使用する第１端末装置は、回路情報を受け付けて中央装置へ送信し、第１端末装置から送信された回路情報を受信した中央装置は、回路情報に対応する検査項目情報をデータベースから抽出して第１端末装置へ送信する。中央装置から送信された検査項目情報を受信した第１端末装置は、検査項目情報が示す検査についての検査実施情報を受け付けて中央装置へ送信し、第１端末装置から送信された検査実施情報を受信した中央装置は、検査実施情報を回路情報及び検査項目情報に対応付けてデータベースに登録する。これにより、設計者は、端末装置へ入力した全ての回路情報に対して、予め検査項目情報を得、回路情報が示す回路が半導体回路全体に不具合を生じさせるか否かの検査を行い、検査の実施情報を端末装置へ入力し得る。
【００２９】
本発明にあっては、設計者が使用する第１端末装置から検査実施情報の送信要求を受信した中央装置は、送信要求に応じた検査実施情報をデータベースから抽出して第１端末装置へ送信し、中央装置から送信された検査実施情報を第１端末装置において受信する。これにより、設計者は、端末装置へ入力した全ての回路情報に対して、予め検査項目情報を得、回路情報が示す回路が半導体回路全体に不具合を生じさせるか否かの検査を行い得る。
【００３０】
本発明にあっては、検査の完了を示す実施完了情報を受け付けたか否かを判定する設計者が使用する第１端末装置は、判定の結果を出力する。これにより、設計者は、検査項目情報に基づく半導体回路の不具合検査についての進捗状況を把握し得る。
【００３１】
本発明にあっては、登録済情報を確認者が利用する第２端末装置へ送信した中央装置は、第２端末装置から登録済情報に対する承認を示す承認情報を受信し、第２端末装置から受信した承認情報を、検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けてデータベースに登録する。これにより、設計者が行った検査項目情報に基づく半導体回路の不具合検査に対し確認者が再確認し得る。
【００３２】
本発明にあっては、第２端末装置は、受け付けた承認情報に基づいて設計データの公開を許可するか否かを指示し、設計データの公開を許可すると指示した場合、公開が許可された旨の情報を第１端末装置へ送信する。これにより、確認者によって認証された設計データは設計者に公開され、多くの設計者が設計データを活用することができる。確認者によって認証された設計データは、回路情報に対応する半導体回路の検査項目についての検査が完了されていることから、設計完成度が高く、多くの設計者間で設計データを共有することによって、半導体回路の設計に要する期間を短縮できるとともに、半導体回路の品質の向上を図ることができる。特に、品種展開のように他の半導体回路に設計データを適用する場合に有用である。
【００３３】
本発明にあっては、第２端末装置は、設計データの公開を許可しないと指示した場合、許可しなかった理由を示す不可理由情報の入力を受け付ける。そして、受け付けた不可理由情報を第１端末装置へ送信することから、設計者は確認者による不可理由情報を確認して設計の再検討を行うことができる。不可理由情報は、設計の認証を受ける確認者によって入力されたものであることから、不可理由情報を参照することによって、設計完成度の高い設計を行うことができる。
【００３４】
本発明にあっては、第２端末装置は、設計データの公開を許可すると指示した場合、設計ファイルに該設計ファイルの公開を許可する公開許可フラグを付加することにより設計ファイルを公開するようにしてあることから、公開許可フラグの付加によって設計ファイルを公開するか否かを簡単に判別することができる。
【００３５】
本発明にあっては、設計者が使用する端末装置から送信要求を受信した中央装置は、端末装置から受信した送信要求に応じた検査実施情報のうち承認情報と対応付けてデータベースに登録されている検査実施情報をデータベースから抽出して端末装置へ送信し、中央装置から送信された検査実施情報を端末装置において受信する。これにより、設計者は、他の設計者により行われた検査の実施情報を参照しながら、半導体回路の設計を行い得る。
【００３６】
本発明にあっては、確認者が使用する第２端末装置から半導体回路の不具合についての不具合情報を受信した中央装置は、第２端末装置から受信した不具合情報が、検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けてデータベースに登録されているか否かを判定し、登録されていないと判定した不具合情報を、検査実施情報、回路情報及び検査項目情報に対応付けてデータベースに登録する。これにより、確認者は、重複登録の確認作業を行う必要がない。
【００３７】
本発明にあっては、端末装置から送信要求を受信した中央装置は、端末装置から受信した送信要求に応じた不具合情報をデータベースから抽出して端末装置へ送信し、中央装置から送信された不具合情報を端末装置において受信する。これにより、設計者は、半導体回路の不具合情報を参照しながら、半導体回路の設計を行い得る。
【発明の効果】
【００３８】
本発明によれば、予め検査項目を熟知していない設計者が担当した場合でも、コンピュータによる検出ならびに設計者による検査及び修正作業の繰り返しを低減させて、半導体回路の設計に要する期間を短縮できる。また、半導体回路の品質の向上を図ることができる。
【００３９】
本発明によれば、予め検査項目を熟知していない設計者が担当した場合でも、コンピュータによる検出ならびに設計者による検査及び修正作業の繰り返しを低減させて、半導体回路の設計に要する期間を短縮できる。また、半導体回路の品質の向上を図ることができる。
【００４０】
本発明によれば、設計者に検査項目情報に基づく半導体回路の不具合検査についての進捗状況を把握させて効率良く半導体回路の設計をさせることができ、半導体回路の設計に要する期間が長期化する事態を回避できる。
【００４１】
本発明によれば、確認者に半導体回路に不具合がないことを再確認させ、半導体回路の不具合の発生を確実に防止して半導体回路の品質の向上を図ることができる。
【００４２】
本発明によれば、確認者によって認証された設計データは設計者に公開され、多くの設計者が設計データを活用することができる。確認者によって認証された設計データは、回路情報に対応する半導体回路の検査項目についての検査が完了されていることから、設計完成度が高く、多くの設計者間で設計データを共有することによって、半導体回路の設計に要する期間を短縮できるとともに、半導体回路の品質の向上を図ることができる。
【００４３】
本発明によれば、設計者は確認者による不可理由情報を確認して設計の再検討を行うことができる。不可理由情報は、設計の認証を受ける確認者によって入力されたものであることから、不可理由情報を参照することによって、設計完成度の高い設計を行うことができる。
【００４４】
本発明によれば、設計ファイルに該設計ファイルの公開を許可する公開許可フラグを付加することにより設計ファイルを公開するようにしてあることから、公開許可フラグの付加によって設計ファイルを公開するか否かを簡単に判別することができる。
【００４５】
本発明によれば、予め検査項目を熟知していない設計者に、他の設計者により行われた検査に関する実施情報、又は、半導体回路の不具合情報を参考にさせ、コンピュータによる検出ならびに設計者による検査及び修正作業の繰り返しを低減させて、半導体回路の設計に要する期間を短縮できる。また、半導体回路の品質の向上を図ることができる。
【００４６】
本発明によれば、確認者に、過去に登録された不具合情報と新規に登録する不具合情報とが重複しているか否かの確認作業を行わせることなく、不具合情報の登録を短縮できる等、優れた効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４７】
以下、本発明をその実施の形態を示す図面に基づいて詳述する。
【００４８】
図１は本発明に係る回路検査項目出力システムの構成を示すブロック図である。
サーバ１は本発明に係る中央装置であり、ＰＣ２ａ，２ｂ，…（以下、区別が不要な場合にはＰＣ２とすることもある）はコンピュータを用いてなる本発明に係る情報処理装置であり、回路検査項目出力システムにおける端末装置として機能する。サーバ１とＰＣ２とは、互いにＬＡＮ３を介して情報通信が可能なように接続されたクライアント・サーバ・システムを構築している。ＰＣ２ａは一の設計者が使用し、ＰＣ２ｂは設計を総合的見地から管理する設計管理者が使用するものとする。
【００４９】
サーバ１は、ＭＰＵで構成された制御部１０を備え、制御部はＲＯＭ１１、ＲＡＭ１２、記憶部１３、通信部１４と接続され、これら各部を制御し、ＲＯＭ１１に予め格納されているコンピュータプログラムに従って種々の機能を実行する。ＲＡＭ１２は、制御部１０によるコンピュータプログラムの実行時に発生する一時的な情報を記憶するもので、例えばＤＲＡＭのような半導体メモリにより構成される。なお、キーボード及びポインティングデバイスなどの入力部、及びＬＣＤディスプレイ及びＣＲＴディスプレイなどの表示部が制御部１０に接続されていてもよい。
【００５０】
記憶部１３は、例えば磁気記憶装置のような大容量の記憶手段であり、回路情報データベース（以下、回路情報ＤＢ）１３ａ、検査項目情報データベース（以下、検査項目情報ＤＢ）１３ｂ、及び不具合情報データベース（以下、不具合情報ＤＢ）１３ｃが記憶されている。これら回路情報ＤＢ１３ａ、検査項目情報ＤＢ１３ｂ、及び不具合情報ＤＢ１３ｃは、ＰＣ２によって適宜更新されるようになっている。
【００５１】
回路情報ＤＢ１３ａは、図２に示すように、半導体回路を構成する回路を特定する回路情報５１と、その回路に対して検査すべき項目の分類を示す検査項目分類情報５２とが関連付けられたものである。より具体的には、回路情報５１と検査項目分類情報５２とが、それぞれ要素（カラム）として対応付けられたレコードにより構成されたテーブルよりなり、例えば、回路がオペアンプである場合、ＰＣ２が、回路情報５１を「ＯＰ」として回路情報ＤＢ１３ａを参照することにより、検査項目分類情報５２が「ＯｐＡｍｐ」であることを抽出することができる。なお、回路情報ＤＢ１３ａにおいては、回路情報５１に対して複数の検査項目分類情報５２が対応付けられていてもよい。
【００５２】
検査項目情報ＤＢ１３ｂは、図３に示すように、検査項目分類情報５２と、検査すべき項目を示す検査項目情報５３と、検査項目情報ファイルの記憶部１３における記憶場所を示す検査項目情報ファイル情報５４とが関連付けられたものである。なお、本例では検査項目情報ファイルが記憶部１３に記憶される形態としているが、ＬＡＮ３に接続された図示しないファイルサーバに格納されていてもよい。より具体的には、検査項目分類情報５２と検査項目情報５３と検査項目情報ファイル情報５４とが、それぞれカラムとして対応付けられたレコードにより構成されたテーブルよりなり、例えば、検査項目分類情報５２が「ＯｐＡｍｐ」である場合、ＰＣ２が、検査項目情報ＤＢ１３ｂを参照することにより、検査項目情報５３が「出力ノードの電流能力のマージンは確保されているか？」、及び「出力ノードのノイズに対するマージンは確保されているか？」であり、検査項目情報ファイル情報５４がそれぞれ「./outputmargin.html」、及び「./noisemargin.html」であることを抽出することができる。このように、検査項目情報ＤＢ１３ｂにおいても、検査項目分類情報５２に対して複数の検査項目情報５３及び検査項目情報ファイル情報５４が対応付けられていてもよい。
【００５３】
不具合情報ＤＢ１３ｃは、図４に示すように、カラムを識別するための項目番号６１、回路情報５１、不具合を要約したキーワードとしても機能する不具合要約情報６２、検査項目情報５３、不具合が生じた設計（検証）工程を示す設計工程情報６３、及び不具合情報ファイルの記憶部１３における記憶場所を示す不具合情報ファイル情報６４とが関連付けられたものである。より具体的には、上述した各情報が項目番号６１に対応付けられたレコードにより構成されたテーブルよりなる。なお、本例では不具合情報ファイルが記憶部１３に記憶される形態としているが、検査項目情報ファイルと同様に、ＬＡＮ３に接続された図示しないファイルサーバに格納されていてもよい。
【００５４】
通信部１４は、ＬＡＮ３を介してＰＣ２ａ，２ｂ，…に接続するためのインターフェースであり、ＰＣ２ａ，２ｂ，…との間で各種情報の通信（送受信）を行う手段として機能する。
【００５５】
ＰＣ２は、それぞれ、ＭＰＵで構成された制御部２０を備え、制御部２０はＲＯＭ２１、ＲＡＭ２２、記憶部２３、通信部２４、入力部２５、表示部２６と接続され、これら各部を制御し、ＲＯＭ２１に予め格納されているコンピュータプログラムに従って種々の機能を実行する。ＲＡＭ２２は、制御部２０によるコンピュータプログラムの実行時に発生する一時的な情報を記憶するもので、例えばＤＲＡＭのような半導体メモリにより構成される。
【００５６】
記憶部２３は、例えば磁気記憶装置のような大容量の記憶手段であり、半導体回路の設計を行うためのＣＡＤツールに係るアプリケーションプログラムが格納されており、制御部２０がこのアプリケーションプログラムを実行することによってＣＡＤツールに係る処理を適宜実行できるようになっている。
【００５７】
通信部２４は、ＬＡＮ３を介してサーバ１に接続するためのインターフェースであり、サーバ１との間で各種情報の通信を行う手段として機能する。
【００５８】
入力部２５は、キーボード及びポインティングデバイスなどの入力装置であって、利用者（設計者）による各種の情報の入力を受け付ける。入力された情報は制御部２０へ送られ、制御部２０によって各種の処理が行なわれる。
【００５９】
表示部２６は、ＬＣＤディスプレイ及びＣＲＴディスプレイなどの表示装置であり、ＰＣ２の動作状態を表示したり、設計者へ操作入力を促す画面を表示したりする。本例では、半導体回路の設計を行うための作業画面、半導体回路の検査に関する各種の情報の入力画面、及び各種の情報の送信要求の入力画面を表示することにより、設計者による入力部２５での各種の入力の受け付けを分かり易くする。例えば、後述する検査項目に係る画像（検査項目画像：図５参照）を表示することにより、設計者は、検査項目画像に基づいて情報を入力することができるので、入力すべき情報の欠落を防止するとともに、すべての設計者で統一することができる。
【００６０】
図５は、検査項目に係る画像を説明するための図である。
検査項目画像７０は、例えば標準的なブラウザ処理によって表示部２６に表示され、設計の検査を行うべき設計情報（例えば回路名、信号名）が記述されている設計データ（ファイル）のファイル名を特定する設計ファイル情報７１ａ及び設計者情報７１ｂを入力するための入力領域７１と、進捗率７２ａを表示するための進捗率表示領域７２と、検査項目分類情報７３ａを表示するための検査項目分類表示領域７３と、検査項目表示領域７４とから構成される。設計ファイル情報７１ａ及び設計者情報７１ｂは、設計者が入力部２５を用いて入力される項目であり、ＰＣ２は、入力された設計ファイル情報７１ａに基づいて、回路情報ＤＢ１３ａを参照し、設計ファイル情報７１ａによって特定される設計ファイルに含まれる回路と一致する回路情報と関連する検査項目分類情報を抽出する。そして、ＰＣ２は、抽出された検査項目分類情報を検査項目分類表示領域７３に表示する。
【００６１】
また、ＰＣ２は、抽出された検査項目分類情報に基づいて、検査項目情報ＤＢ１３ｂを参照し、検査項目分類情報に関連する検査項目情報を抽出する。ＰＣ２は、抽出された検査項目情報の個数に応じて検査項目表示領域７４を決定し、各検査項目情報に係る検査実施情報７４ａ、検査手法情報７４ｂ、検査情報ファイル情報７４ｃを設計者に入力させるための表示を行う。
【００６２】
検査実施情報７４ａは検査実施の有無（検査を実施したか否か）を、検査手法情報７４ｂは検査を行った手法とその結果とを、検査情報ファイル情報７４ｃは検査データのような検査情報ファイルの記憶場所を、それぞれ設計者に入力させるものである。また、ＰＣ２は、検査の実施を完了した検査項目の全検査項目数に対する比率を算出し、進捗率７２ａとして進捗率表示領域７２に自動的に表示する。したがって、設計者は、進捗率７２ａにより設計の進捗度合いを一目で確認することができる。とくに、設計管理者は、各設計工程毎の進捗率を確認することで、遅延している設計工程を容易に見つけ出し、その設計工程に設計者の補充を行って、半導体回路の設計を効果的に行って、設計に要する期間を短縮することができる。
【００６３】
また、各検査項目情報毎に、検査項目タグ７５を設け、設計者が検査項目タグ７５をクリックすることによって、ＰＣ２は、検査項目情報に基づいて、検査項目情報ＤＢ１３ｂを参照し、検査項目情報に関連する検査項目情報ファイル情報を抽出する。そして、ＰＣ２は、抽出した検査項目情報ファイル情報に基づいて、検査項目情報ＤＢに格納された検査項目情報ファイルを取得して検査内容を表示部２６に表示する。これにより、設計者は、検査項目の詳細な内容を閲覧できるので、検査項目に対しての理解を深めることが可能である。
【００６４】
さらに、各検査項目情報毎に、不具合情報タグ７６を設け、設計者が不具合情報タグ７６をクリックすることによって、ＰＣ２は、検査項目情報に基づいて、不具合情報ＤＢ１３ｃを参照し、検査項目情報５３に関連する不具合情報ファイル情報を抽出する。そして、ＰＣ２は、抽出した不具合情報ファイル情報に基づいて、記憶部１３に格納された不具合情報ファイルを取得して不具合内容を表示部２６に表示する（後述する図７参照）。これにより、設計者は、不具合の詳細な内容を閲覧できるので、不具合に対しての理解を深めることが可能である。
【００６５】
上述したように、設計者は、各検査項目をリアルタイムに参照しながら設計を行って各検査項目の検査を実施したうえで、検査実施情報７４ａ、検査手法情報７４ｂ、検査情報ファイル情報７４ｃを入力することになるので、予め検査項目を熟知していない設計者が設計を担当した場合であっても、半導体回路の設計に要する期間を短縮でき、また、半導体回路の品質向上を図ることができる。また、設計者は、適宜、不具合の詳細な内容を把握することができるので、設計において同様の不具合となる設計を行うことを防止することができる。
【００６６】
次に、不具合情報ファイルについて説明する。不具合情報ファイルは、不具合が発生した場合に、各設計者によってＰＣ２から所定のＵＲＬにアクセスを行って、ウェブブラウザ上にて予め指定されたフォーマットに従って作成され、記憶部１３に登録されるようになっている。
【００６７】
図６は、不具合情報ファイルを作成する場合のフォーマットを説明するための図である。
ＰＣ２は、設計者より、不具合名称８１の入力を入力部２５において受け付ける。不具合名称８１は不具合を識別するための情報であり、設計者が適宜決定した任意の情報としておく。また、ＰＣ２は、不具合が発生した半導体回路の機種名８２、不具合の発生を確認した確認日時８３の入力を入力部２５において受け付ける。機種名８２は、予め登録された複数の機種名からプルダウンメニューにより選択される形態としておく。さらに、ＰＣ２は、不具合がどのような分類に属するものであるかを示す不具合分類情報８４の入力を入力部２５において受け付ける。不具合分類情報８４は、不具合が発生した半導体回路を設計の側面から分類したものであり、ＡＤＣ、ＤＡＣ、ＰＬＬ、バイアス発生回路などの情報であって、予め登録された複数の不具合分類情報からプルダウンメニューにより選択される形態としておく。
【００６８】
また、ＰＣ２は、設計者より、不具合に起因した不具合回路情報８５、及び不具合の要約を示す不具合要約情報８６の入力を入力部２５において受け付ける。不具合要約情報８６は、例えばカップリングノイズ、オフセット電圧、ダミーパターン、リーク電流など、不具合が設計者に簡潔に識別される程度の情報であって、予め登録された複数の不具合要約情報からプルダウンメニューにより選択されるものとし、登録されている不具合要約情報に該当しない場合は新たな不具合要約情報を設計者により任意に追加可能な形態としておく。
【００６９】
さらに、ＰＣ２は、設計者より、不具合の詳細な内容を示す不具合詳細情報８７、不具合の詳細な発生原因を示す不具合発生原因情報８８、及び不具合の再発を防止するための手法を示す不具合防止情報８９の入力を入力部２５において受け付ける。不具合詳細情報８７、不具合発生原因情報８８、及び不具合防止情報８９は、ウェブブラウザの特性を活用し、ｈｔｍｌタグを利用した入力の受け付けも可能である。また、ＰＣ２は、不具合の再発を防止するためのチェック内容を示す再発防止チェック情報９０、再発防止チェックを実施すべき設計工程を示すチェック工程情報９１の入力を入力部２５において受け付ける。詳細は後述するが、再発防止チェック情報９０は設計手法のチェック項目として活用して、設計効率、設計完成度を向上することができる。チェック工程情報９１は、例えば仕様検討工程、回路図入力工程、レイアウト作成工程、機能検査工程、タイミング検査工程などの情報であって、予め登録された複数の工程情報からプルダウンメニューにより選択される形態としておく。
【００７０】
さらにまた、ＰＣ２は、設計者より、補足資料として作用する添付ファイルが必要である場合などに添付ファイルのファイル名を示す添付ファイル情報９２、補足資料の簡単な説明を示す資料要約情報９３の入力を入力部２５において受け付ける。添付ファイル情報９２は、ｈｔｍｌタグを利用した入力の受け付けを行う形態としておき、文字列としての入力が困難である場合、又はすでに他のフォーマットにより作成されたファイルを補足として追加する場合に極めて有用である。なお、添付ファイル情報９２として入力するファイル名は、サーバ１からアクセス可能なＬＡＮ３に接続された各種機器（例えばＰＣ２など）に格納されているファイルが補足資料の対象となることは勿論である。以上のような設計者からの入力に基づいて、不具合情報ファイルが作成されてサーバ１の記憶部１３に登録される。また、複数の補足資料に係る情報を入力できるようにしてもよい。
【００７１】
次に、不具合内容の表示例について説明する。不具合内容は、上述した如く記憶部１３に格納された不具合情報ファイルを読み出すことにより、所定のフォーマット（ここではｈｔｍｌフォーマットとする）で表示されるようになっている。
【００７２】
図７は、不具合内容の表示例を説明するための図である。
図中、１０１は不具合を識別するための不具合名称、１０２は不具合が発生した機種名、１０３は不具合の発生を確認した確認日時である。１０４は不具合を適宜分類した不具合分類情報であり、不具合が発生した半導体回路を設計の側面から分類したものであり、ＡＤＣ、ＤＡＣ、ＰＬＬ、バイアス発生回路などの情報である。１０５は不具合に起因した不具合回路情報、１０６は不具合の要約を示す不具合要約情報であり、例えばカップリングノイズ、オフセット電圧、ダミーパターン、リーク電流など、不具合が設計者に簡潔に識別される程度の情報である。
【００７３】
１０７は不具合の詳細な内容を示す不具合内容、１０８は不具合の詳細な発生原因を示す不具合発生原因、１０９は不具合の再発を防止するための手法を示す不具合防止方法である。さらに、１１０は不具合の再発を防止するためのチェック内容を示す再発防止チェック内容、１１１は再発防止チェックを実施すべき設計工程を示すチェック実施工程であり、例えば仕様検討工程、回路図入力工程、レイアウト作成工程、機能検査工程、タイミング検査工程などの情報である。１１２は補足資料として作用する添付ファイルが必要である場合などに添付ファイルのファイル名を示すファイル情報、１１３は補足資料の簡単な説明を示す資料要約情報である。以上のようにして、不具合内容をＰＣ２の表示部２６に表示することによって、設計者は、過去に発生した不具合内容を確認しながら、設計を行うことができるので、過去の不具合を再発することを防止することができる。
【００７４】
次に、本発明に係る回路検査項目出力システムの処理手順について説明することによって、本発明の特徴をさらに明確にする。図８、図９及び図１０は本発明に係る回路検査項目出力システムの処理手順の概略を示すフローチャートであり、図８及び図９は設計者用ＰＣ２ａにおける処理を、図１０は設計管理者用ＰＣ２ｂにおける処理を、それぞれ示す。
【００７５】
（設計者用ＰＣ２ａにおける処理）
ＣＡＤツールを用いて設計者により半導体の設計が行われた場合、設計情報が記述されている設計ファイルが作成されることになるので、先ず、ＰＣ２ａは設計により作成された設計ファイルの設計ファイル情報を取得する（ステップＳ１）。設計ファイルには、半導体回路を構成する各回路の回路情報が含まれているので、ＰＣ２ａは、設計ファイルに含まれる各回路の回路情報を抽出する（ステップＳ２）。そして、ＰＣ２ａは、サーバ１の回路情報ＤＢにアクセスし、Ｓ１にて取得した回路情報に関連する検査項目分類情報を抽出する（ステップＳ３）。さらに、ＰＣ２ａは、サーバ１の検査項目情報ＤＢにアクセスし、Ｓ３にて抽出した検査項目分類情報に関連する検査項目情報及び検査項目情報ファイル情報を抽出し（ステップＳ４）、検査項目分類情報、検査項目情報及び検査項目情報ファイル情報を表示部に表示する（ステップＳ５）。そして、設計者の指示によって、表示された内容に基づいた検査処理が行われる（ステップＳ６）。このようにして、設計された半導体回路に対応する検査項目分類情報、検査項目情報及び検査項目情報ファイル情報を自動的かつ一意に抽出することができるので、すべての設計者に統一した検査を行えるようにすることができる。また、設計者は表示された内容をリアルタイムに参照しながら設計を行うことができるので、設計ロスを削減することができる。
【００７６】
そして、ＰＣ２ａは、設計者により、検査処理の結果に基づいた検査実施情報７４ａ、検査手法情報７４ｂ又は検査情報ファイル情報７４ｃの入力を受け付ける（ステップＳ７）。本例では、検査実施情報７４ａ、検査手法情報７４ｂ及び検査情報ファイル情報７４ｃの入力が受け付けた場合のみ、検査実施の有無を受け付ける形態としておく。つまり、検査実施の有無は、検査手法情報７４ｂ及び検査情報ファイル情報７４ｃを受け付けた場合に初めて意味を持つものであり、検査手法情報７４ｂ及び検査情報ファイル情報７４ｃが入力されていないにもかかわらず、設計者が誤って入力することを防止する。
【００７７】
そしてＰＣ２ａは、各種データベースに登録するための登録キーが押下されたか否かを判定し（ステップＳ８）、登録キーが押下されていない場合（Ｓ８：ＮＯ）、Ｓ７へ移行して設計者による各種情報の入力を受け付ける。一方、登録キーが押下された場合（Ｓ８：ＹＥＳ）、Ｓ７にて受け付けた検査実施情報７４ａ、検査手法情報７４ｂ及び検査情報ファイル情報７４ｃを設計付属情報とし、設計付属情報と設計ファイルとを関連付けて記憶する（ステップＳ９：設計付属情報記憶処理）。したがって、設計ファイルと設計付属情報とが同期することから、両情報に整合性を持たせることができる。
【００７８】
次に、ＰＣ２ａは、すべての検査項目について検査処理が実施されたか否かを判定し（ステップＳ１０：検査実施判定処理）、すべての検査項目について検査処理が実施されていないと判定された場合は（Ｓ１０：ＮＯ）、Ｓ６に移行して未実施の検査処理を行う。このように、未実施の検査項目が存在する場合は、後述する処理への移行を制限し、すべての検査項目について検査処理が実施されるまで処理を戻す。もちろん、設計者によって強制的に処理を終了することができるが、その説明は省略する。
【００７９】
一方、すべての検査項目について検査処理が実施されたと判定された場合は（Ｓ１０：ＹＥＳ）、ＰＣ２ａは、予め電子メールアドレスを登録しておいた設計管理者宛ての、設計データ（ファイル）のファイル名を特定する設計ファイル情報７１ａを添付した電子メールを自動的に生成して送信する（ステップＳ１１）。
【００８０】
（設計管理者用ＰＣ２ｂにおける処理）
ＰＣ２ｂは、設計ファイル情報７１ａを添付した電子メールを受信する（ステップＳ１２）。そして、設計管理者により設計ファイルと設計付属情報とが参照され、設計付属情報に基づいて設計に問題がないか否かが確認され、ＰＣ２ｂは、設計を承認するか否かの入力を受け付け、その入力に基づいて設計を承認するかを判定する（ステップＳ１３）。
【００８１】
設計を承認すると判定された場合（Ｓ１３：ＹＥＳ）、設計ファイルの公開を許可する公開許可フラグを付加して、設計ファイルを公開する（ステップＳ１４：設計ファイル公開処理）とともに、予め電子メールアドレスを登録しておいた設計者宛ての、設計ファイルが公開された旨の電子メールを自動的に生成して送信する（ステップＳ１５）。本例では、公開許可フラグの付加によって設計ファイルを公開するか否かが決定されるようにしたが、公開許可フラグを必ずしも用いる必要はないことは勿論である。送信される電子メールは、図１１に示すように、日時（ここでは２００３年１月１日０時１分）に、設計ファイルが公開された旨を記述したものとする。また、必要であれば、公開された設計ファイルを特定する情報（例えばＵＲＬ）をタグ化して、電子メールに記述するようにしてもよく、この場合には、電子メールを見た設計者が電子メールに基づいて、公開された設計ファイルにアクセスして、その詳細な内容を確認することができるので、極めて有用である。
【００８２】
一方、設計を承認しないと判定された場合（Ｓ１３：ＮＯ）、設計ファイルの公開を許可する公開許可フラグを付加することはなく、承認（許可）しなかった理由を示す承認（許可）不可理由情報の入力を受け付ける（ステップＳ１６）。そして、Ｓ１１にて送信してきた送信元の電子メールアドレス宛て、すなわち設計者宛ての、再検査を実施するよう指示する旨の電子メールを生成して送信する（ステップＳ１７）。送信される電子メールは、図１２に示すように、日時（ここでは２００３年１月１日０時２分）に、設計ファイルが承認されず、すなわち公開されなかった旨を記述したものとする。また、承認しなかった理由を示す承認不可理由情報が記述されており、電子メールを見た設計者が電子メールに基づいて、承認不可理由情報を確認して、設計の再検討を行うことができるので、極めて有用である。
【００８３】
これにより、設計管理者は、検査項目実施内容に基づいて設計に問題がないか否かを確認することができる。また、設計管理者による承認が得られない場合は、設計ファイルには許可フラグが付加されないので、設計ファイルが公開されることはないので、問題のある設計ファイルが他の設計者に知られることはない。さらに、承認が得られた場合は、電子メールにより確実にすべての設計者に通知されることになるので、最新の設計ファイルを早急に入手することが可能となる。
【００８４】
さらに、公開された設計ファイルは、設計者及び設計管理者により検査項目実施内容に基づいて設計に問題がないか否かが確認されたことになるので、品質が保証された設計データとしての意味を持つことから、品種展開のように他の半導体回路に設計データを適用することにより、半導体回路の設計期間を短縮できるとともに、種々の半導体回路の品質向上を図ることができる。なお、同一の回路ユニットにおいて、設計ファイルの公開を更新することで、設計者は常に最良の設計ファイルを共有することができる。
【００８５】
図１３は本発明に係る回路検査項目出力システムの設計付属情報記憶処理の処理手順を示すフローチャートである。
設計者により登録キーが押下された場合、ＰＣ２ａは、先ず、設計ファイルの記憶を指示する指示コマンドを生成する（ステップＳ２１）。指示コマンドによって、設計付属情報を記憶する旨の記憶コマンドを自動的に生成する（ステップＳ２２）。記憶コマンドを受け付けると、履歴番号を自動的に生成し（ステップＳ２３）、設計付属情報を履歴番号に関連付けて記憶する（ステップＳ２４）。また、設計ファイルを、Ｓ２３にて生成した履歴番号に関連付けて記憶する（ステップＳ２５）。このように、設計ファイル及び設計付属情報は履歴番号に関連付けて記憶されることから、履歴番号によって設計ファイル及び設計付属情報は整合性を有することになる。
【００８６】
図１４は本発明に係る回路検査項目出力システムの検査実施判定処理（Ｓ１０）の処理手順を示すフローチャートである。
ＰＣ２ａは、先ず、設計付属情報を読み出し（ステップＳ３１）、設計付属情報のうちの検査実施情報が有（例えばフラグ１）であるか否かを判定する（ステップＳ３２）。ＰＣ２ａは、検査実施情報が有であると判定された場合（Ｓ３２：ＹＥＳ）は検査処理が実施されたと判定し（ステップＳ３３）、検査実施情報が有ではない、すなわち無であると判定された場合（Ｓ３２：ＮＯ）は検査処理が実施されていないと判定する（ステップＳ３４）。なお、本例においては、Ｓ７にて、検査実施情報７４ａ、検査手法情報７４ｂ及び検査情報ファイル情報７４ｃの入力が受け付けた場合のみ、検査実施の有無を受け付けるようにしたので、検査実施情報が有の場合は、検査手法情報７４ｂ及び検査情報ファイル情報７４ｃが受け付けられていることになる。
【００８７】
もちろん、設計付属情報を構成する検査実施情報７４ａ、検査手法情報７４ｂ及び検査情報ファイル情報７４ｃに基づいて、検査処理が実施されたか否かを判定してもよい。図１５は本発明に係る回路検査項目出力システムの検査実施判定処理の他の処理手順を示すフローチャートである。ＰＣ２ａは、先ず、設計付属情報を読み出し（ステップＳ４１）、設計付属情報のうちの検査実施情報が有であるか否かを判定し（ステップＳ４２）、検査実施情報が有ではない、すなわち無であると判定された場合（Ｓ４２：ＮＯ）は検査処理が実施されていないと判定する（ステップＳ４３）。一方、検査実施情報が有であると判定された場合（Ｓ４２：ＹＥＳ）、設計付属情報のうちの検査手法情報が存在するか否かを判定し（ステップＳ４４）、検査手法情報が存在しないと判定された場合（Ｓ４４：ＮＯ）はＳ４３へ移行して検査処理が実施されていないと判定する。一方、検査手法情報が存在すると判定された場合（Ｓ４４：ＹＥＳ）、設計付属情報のうちの検査情報ファイル情報が存在するか否かを判定し（ステップＳ４５）、検査情報ファイル情報が存在しないと判定された場合（Ｓ４５：ＮＯ）はＳ４３へ移行して検査処理が実施されていないと判定する。一方、検査手法情報が存在すると判定された場合（Ｓ４５：ＹＥＳ）は検査処理が実施されたと判定する（ステップＳ４６）。このように、設計付属情報を構成する各情報に基づいて検査処理が実施されたか否かを判定する場合には、検査実施情報７４ａ、検査手法情報７４ｂ及び検査情報ファイル情報の入力の受け付けにかかわらず、検査実施の有無を受け付けるようにできる。
【００８８】
図１６は本発明に係る回路検査項目出力システムの不具合登録処理の処理手順を示すフローチャートである。
ＰＣ２ａは、設計者より、不具合名称８１、機種名８２、確認日時８３、不具合分類情報８４、不具合回路情報８５、不具合要約情報８６、不具合詳細情報８７、不具合発生原因情報８８、不具合防止情報８９、再発防止チェック情報９０、チェック工程情報９１、添付ファイル情報９２、資料要約情報９３などの不具合に係る情報の入力を入力部２５において受け付ける（ステップＳ５１）。
【００８９】
次に、ＰＣ２ａは、項目番号を「１」に設定し（ステップＳ５２）、サーバ１の不具合情報ＤＢにアクセスし、項目番号に対応する不具合情報ＤＢの要素のうちの回路情報、検査項目情報、及び設計工程情報を抽出する（ステップＳ５３）。そして、抽出した回路情報、検査項目情報、及び設計工程情報が、Ｓ５１にて入力された不具合分類情報８４、不具合要約情報８６及びチェック工程情報９１と一致（３つとも一致）するか否かを判定する（ステップＳ５４）。
【００９０】
Ｓ５３にて抽出した回路情報、検査項目情報、及び設計工程情報が、Ｓ５１にて入力された不具合分類情報８４、不具合要約情報８６及びチェック工程情報９１と一致すると判定された場合（Ｓ５４：ＹＥＳ）、Ｓ５１にて入力された不具合がすでに不具合情報ＤＢに登録されていることになるので、Ｓ５１にて入力された不具合に係る不具合情報を不具合情報ＤＢに登録することなく、設計者（登録しようとした設計者以外の設計者（設計関係者という）を含む）宛ての、不具合情報が未登録になったことを示す電子メールを生成して送信する（ステップＳ５５）。なお、設計関係者の電子メールアドレスは予め登録されているものとする。例えば、機種名により設計者のグループが決められている場合には、機種名毎に設計関係者の電子メールアドレスを登録しておけばよく、Ｓ５１にて入力された機種名５２に基づいて、送信すべき電子メールアドレスを特定することができる。送信される電子メールは、例えば、図１７に示すように、日時（ここでは２００４年１月１日０時１分）に、不具合登録処理が行われたが、項目番号（ここでは１０）と重複するために、不具合情報ＤＢに登録されなかったことの旨を記述したものとする。また、必要であれば、すでに不具合情報ＤＢに登録されていた項目番号に対応する不具合情報ファイル情報（例えばＵＲＬ）をタグ化して、電子メールに記述するようにしてもよい。不具合登録処理にて重複のために登録されなかった不具合は、過去に発生した不具合であることから、同一の不具合が発生したことを設計関係者に通知することで再発の防止を徹底することができる。
【００９１】
一方、Ｓ５３にて抽出した回路情報、検査項目情報、及び設計工程情報が、Ｓ５１にて入力された不具合分類情報８４、不具合要約情報８６及びチェック工程情報９１と一致しないと判定された場合（Ｓ５４：ＮＯ）、項目番号をインクリメントして（ステップＳ５６）、項目番号に対応する不具合情報ＤＢの要素が存在するか否かを判定する（ステップＳ５７）。
【００９２】
項目番号に対応する不具合情報ＤＢの要素が存在すると判定された場合（Ｓ５７：ＹＥＳ）、Ｓ５３に移行して処理（抽出処理及び判定処理）を繰り返す。一方、項目番号に対応する不具合情報ＤＢの要素が存在しないと判定された場合（Ｓ５７：ＮＯ）、Ｓ５１にて入力された不具合は、不具合情報ＤＢに登録されていないことになるので、Ｓ５１にて入力された不具合に係る不具合情報を不具合情報ＤＢに登録する（ステップＳ５８）。そして、設計関係者宛ての、不具合情報が登録になったことを示す電子メールを生成して送信する（ステップＳ５９）。送信される電子メールは、例えば、図１８に示すように、日時（ここでは２００４年１月１日０時２分）に、不具合情報ＤＢに項目番号（ここでは５０１）として登録されたことの旨を記述したものとする。また、必要であれば、不具合情報ＤＢに登録された不具合情報ファイル情報（例えばＵＲＬ）をタグ化して、電子メールに記述するようにしてもよく、電子メールに基づいて、登録された不具合情報ファイルにアクセスして、不具合の詳細な内容を確認することができるので、極めて有用である。
【００９３】
このように、不具合情報ＤＢへの登録作業、設計関係者への登録状況の通知を自動化することができるとともに、不具合情報が重複して登録されることがないことから、設計作業を効率化できるとともに、人為的ミスの発生を防止することができる。
【００９４】
なお、実施の形態においては、回路情報ＤＢ１３ａ、検査項目情報ＤＢ１３ｂ及び不具合情報ＤＢ１３ｃは、サーバ１の記憶部１３に記憶しているが、図示しない外部装置の記憶部に記憶するようにしてもよし、複数の外部装置に分散して記憶するようにしてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００９５】
【図１】本発明に係る回路検査項目出力システムの構成を示すブロック図である。
【図２】回路情報ＤＢの概略を説明するための図である。
【図３】検査項目情報ＤＢの概略を説明するための図である。
【図４】不具合情報ＤＢの概略を説明するための図である。
【図５】検査項目に係る画像を説明するための図である。
【図６】不具合情報ファイルを作成する場合のフォーマットを説明するための図である。
【図７】不具合内容の表示例を説明するための図である。
【図８】本発明に係る回路検査項目出力システムの処理手順の概略を示すフローチャートである。
【図９】本発明に係る回路検査項目出力システムの処理手順の概略を示すフローチャートである。
【図１０】本発明に係る回路検査項目出力システムの処理手順の概略を示すフローチャートである。
【図１１】設計ファイルが公開された旨の電子メールを示す図である。
【図１２】設計ファイルが公開されなかった旨の電子メールを示す図である。
【図１３】本発明に係る回路検査項目出力システムの設計付属情報記憶処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１４】本発明に係る回路検査項目出力システムの検査実施判定処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１５】本発明に係る回路検査項目出力システムの検査実施判定処理の他の処理手順を示すフローチャートである。
【図１６】本発明に係る回路検査項目出力システムの不具合登録処理の処理手順を示すフローチャートである。
【図１７】不具合情報が未登録になった旨の電子メールを示す図である。
【図１８】不具合情報が登録になった旨の電子メールを示す図である。
【符号の説明】
【００９６】
１  サーバ（中央装置）
１０  制御部
１３  記憶部
１３ａ  回路情報ＤＢ
１３ｂ  検査項目情報ＤＢ
１３ｃ  不具合情報ＤＢ
１４  通信部
２（２ａ，２ｂ）  ＰＣ（端末装置）
２０  制御部
２４  通信部
２５  入力部
２６  表示部
３  ＬＡＮ
【図１】
2006338310.tif 000003
【図２】
2006338310.tif 000004
【図３】
2006338310.tif 000005
【図４】
2006338310.tif 000006
【図５】
2006338310.tif 000007
【図６】
2006338310.tif 000008
【図７】
2006338310.tif 000009
【図８】
2006338310.tif 000010
【図９】
2006338310.tif 000011
【図１０】
2006338310.tif 000012
【図１１】
2006338310.tif 000013
【図１２】
2006338310.tif 000014
【図１３】
2006338310.tif 000015
【図１４】
2006338310.tif 000016
【図１５】
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【図１６】
2006338310.tif 000018
【図１７】
2006338310.tif 000019
【図１８】
2006338310.tif 000020