(57)【要約】【課題】  ＴＢＳ信号を書き込む磁気テープにおいて、狭トラック化を目指したテープのサーボ信号品質を、十分な分解能で測定・評価できるサーボ信号検査装置およびサーボ信号検査方法を提供する。【解決手段】  基準クロック信号に基づいて逐次測定されるサーボ信号から求められるサンプリングピークのピーク強度を時系列で配列して、Ｎ−２番目〜Ｎ＋１番目（Ｎは１以上の整数）のサンプリングピークに対して、時間およびピーク強度をそれぞれＸ軸およびＹ軸とする２次元平面において、Ｎ−２番目、Ｎ−１番目、Ｎ番目およびＮ＋１番目のサンプリングピークに基づいて、新たな測定点を求め、新たなパルスピークの位置を求める。【選択図】      図５
2006147017.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気テープに書き込まれたサーボ信号を読み取るサーボ信号検査ヘッドと、読み取られたサーボ信号の品質を検査するサーボ信号検査部とを備えるサーボ信号検査装置であって、
前記サーボ信号検査部は、前記読み取られたサーボ信号から少なくとも一つのパルスピークＡとそのパルスピークＡに対応する所定のパルスピークＢの間の時間間隔を計測する時間間隔計測手段と、計測されたパルスピークＡとパルスピークＢの間の時間間隔からサーボ信号の品質を評価するサーボ信号評価手段とを備え、
前記サーボ信号検査部は、前記パルスピークＡ，Ｂを求めるに際して、基準クロック信号に基づいて逐次測定される前記サーボ信号をＡ／Ｄ変換して求められるサンプリングピークのピーク強度を時系列で配列して、Ｎ−２番目、Ｎ−１番目、Ｎ番目およびＮ＋１番目（Ｎは１以上の整数）のサンプリングピークに対して、時間およびピーク強度をそれぞれＸ軸およびＹ軸として各サンプリングピークを示す２次元平面において、
前記Ｎ−２番目のサンプリングピークと前記Ｎ−１番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記Ｎ−１番目のサンプリングピークと前記Ｎ番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）とで挟まれる角αをＰ等分（Ｐ：２以上の整数）し、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）に対して角度ｎα／Ｐ（１≦ｎ≦Ｐの整数）の方向で前記Ｎ−１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ−１／ｎＰ）と、
前記Ｎ番目のサンプリングピークと前記Ｎ＋１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）と、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）とで挟まれる角βをＰ等分し、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）に対して角度ｍβ／Ｐ（１≦ｍ≦Ｐの整数）の方向で前記Ｎ番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ／ｍＰ）とを求め、さらに、前記直線Ｌ（Ｎ−１／ｎＰ）と、前記直線Ｌ（Ｎ／ｍＰ）との交点Ｑを求め、その交点Ｑを新たなサンプリングピークとして、パルスピークの位置を求めるデータ処理部を備え、求められた新たなパルスピークの位置に基づいて前記時間間隔計測手段においてパルスピークの時間間隔を算出するようにしたことを特徴とするサーボ信号検査装置。
【請求項２】
前記Ｐが２であることを特徴とする請求項１に記載のサーボ信号検査装置。
【請求項３】
前記Ｎ番目のパルスピークとして、パルスピークの絶対値が最大のピーク強度を示すパルスピークを選択することを特徴とする請求項１または請求項２に記載のサーボ信号検査装置。
【請求項４】
磁気テープに書き込まれたサーボ信号を読み取り、読み取られたサーボ信号から少なくとも一つのパルスピークＡとそのパルスピークＡに対応する所定のパルスピークＢの間の時間間隔を計測する時間間隔計測段階と、計測されたパルスピークＡとパルスピークＢの間の時間間隔からサーボ信号の品質を評価するサーボ信号評価手段とを含むサーボ信号検査工程を有するサーボ信号検査方法であって、
前記サーボ信号検査工程が、前記パルスピークＡ，Ｂを求めるに際して、基準クロック信号に基づいて逐次測定される前記サーボ信号をＡ／Ｄ変換して求められるサンプリングピークのピーク強度を時系列で配列して、Ｎ−２番目、Ｎ−１番目、Ｎ番目およびＮ＋１番目（Ｎは１以上の整数）のサンプリングピークに対して、時間およびピーク強度をそれぞれＸ軸およびＹ軸として各サンプリングピークを示す２次元平面において、前記Ｎ−２番目のサンプリングピークと前記Ｎ−１番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記Ｎ−１番目のサンプリングピークと前記Ｎ番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）とで挟まれる角αをＰ等分（Ｐ：２以上の整数）し、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）に対して角度ｎα／Ｐ（１≦ｎ≦Ｐの整数）の方向で前記Ｎ−１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ−１／ｎＰ）と、
前記Ｎ番目のサンプリングピークと前記Ｎ＋１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）と、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）とで挟まれる角βをＰ等分し、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）に対して角度ｍβ／Ｐ（１≦ｍ≦Ｐの整数）の方向で前記Ｎ番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ／ｍＰ）とを求め、さらに、前記直線Ｌ（Ｎ−１／ｎＰ）と、前記直線Ｌ（Ｎ／ｍＰ）との交点Ｑを求め、その交点Ｑを新たなサンプリングピークとして、パルスピークの位置を求め、新たなパルスピークの位置に基づいて前記時間間隔計測段階においてパルスピークの時間間隔を算出するようにしたことを特徴とするサーボ信号検査方法。
【請求項５】
磁気テープに書き込まれたサーボ信号を読み取るサーボ信号検査ヘッドと、読み取られたサーボ信号の品質を検査するサーボ信号検査部とを備えるサーボ信号検査装置であって、
前記サーボ信号検査部は、前記読み取られたサーボ信号から少なくとも一つのパルスピークＡとそのパルスピークＡに対応する所定のパルスピークＢの間の時間間隔を計測する時間間隔計測手段と、計測されたパルスピークＡとパルスピークＢの間の時間間隔からサーボ信号の品質を評価するサーボ信号評価手段とを備え、
前記サーボ信号検査部は、前記パルスピークＡ，Ｂを求めるに際して、基準クロック信号に基づいて逐次測定される前記サーボ信号をＡ／Ｄ変換して求められるサンプリングピークのピーク強度を時系列で配列して、Ｎ−１番目、Ｎ番目およびＮ＋１番目（Ｎは１以上の整数）のサンプリングピークに対して、時間およびピーク強度をそれぞれＸ軸およびＹ軸として各サンプリングピークを示す２次元平面において、
前記Ｎ−２番目のサンプリングピークと前記Ｎ−１番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記Ｎ−１番目のサンプリングピークと前記Ｎ番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）と、前記Ｎ番目のサンプリングピークと前記Ｎ＋１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）とを求め、
前記直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）と、前記直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）とで囲まれる三角形の重心Ｇを求め、その重心Ｇを新たなサンプリングピークとして、パルスピークの位置を求めるデータ処理部を備え、求められた新たなパルスピークの位置に基づいて前記時間間隔計測手段においてパルスピークの時間間隔を算出するようにしたことを特徴とするサーボ信号検査装置。
【請求項６】
磁気テープに書き込まれたサーボ信号を読み取り、読み取られたサーボ信号から少なくとも一つのパルスピークＡとそのパルスピークＡに対応する所定のパルスピークＢの間の時間間隔を計測する時間間隔計測段階と、計測されたパルスピークＡとパルスピークＢの間の時間間隔からサーボ信号の品質を評価するサーボ信号評価手段とを含むサーボ信号検査工程を有するサーボ信号検査方法であって、
前記サーボ信号検査工程が、前記パルスピークＡ，Ｂを求めるに際して、基準クロック信号に基づいて逐次測定される前記サーボ信号をＡ／Ｄ変換して求められるサンプリングピークのピーク強度を時系列で配列して、Ｎ−２番目、Ｎ−１番目、Ｎ番目およびＮ＋１番目（Ｎは１以上の整数）のサンプリングピークに対して、時間およびピーク強度をそれぞれＸ軸およびＹ軸として各サンプリングピークを示す２次元平面において、
前記Ｎ−２番目のサンプリングピークと前記Ｎ−１番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記Ｎ−１番目のサンプリングピークと前記Ｎ番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）と、前記Ｎ番目のサンプリングピークと前記Ｎ＋１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）とを求め、
前記直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）と、前記直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）とで囲まれる三角形の重心Ｇを求め、その重心Ｇを新たなサンプリングピークとして、パルスピークの位置を求め、新たなパルスピークの位置に基づいて前記時間間隔計測段階においてパルスピークの時間間隔を算出するようにしたことを特徴とするサーボ信号検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、サーボ信号検査装置およびサーボ信号検査方法に関し、特に、サーボ信号検査装置およびサーボ信号検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、データを記録／再生するための記録媒体として、磁気テープが広く用いられている。この磁気テープにおいては、単位面積当たりの記録密度を高くするために、データが記録されるデータトラックが磁気テープの幅方向に多数形成されている。この磁気テープは、様々な理由により走行時に微小な幅方向の移動を繰り返すため、データの記録／再生時に、記録／再生ヘッドがデータトラックを完全にトレースすることが困難となる。そこで、この種の磁気テープを記録／再生する装置では、データの記録／再生時に、予め磁気テープに書き込まれているサーボ信号を基準にして、磁気テープに対する記録／再生ヘッドのトラッキングを動的に制御している。すなわち、記録／再生ヘッドと一体に形成されたサーボ信号読取ヘッドでサーボ信号を読み取り、磁気テープの幅方向における記録／再生ヘッドの位置のずれを検出し、このずれを修正するように記録／再生ヘッドを移動させている。このサーボ信号は、専用のサーボライタにより、予め磁気テープの走行方向に沿って書き込まれる（特許文献１参照）。
【０００３】
このサーボ信号として、タイミングベースドサーボ（Timing  Based  Servo；以下、ＴＢＳという）信号が知られている。このＴＢＳ信号は、サーボトラック上に非平行なサーボパターンとして書き込まれる。そして、テープ走行系にてテープを搬送させながら磁気テープと摺動するＭＲヘッドによりサーボ信号を読み取り、そのサーボ信号のピークの時間間隔を測定して、トラッキング制御が行なわれる。
【０００４】
こうした磁気テープ上に記録されたＴＢＳ信号を用いて、トラッキング制御するシステム用の磁気テープを製造・検査する工程においては、記録済みのサーボ信号の品質を正しく測定して検査する必要がある。ＴＢＳ信号においては、非平行なサーボパターンの間隔と非平行なサーボパターンの間隔を、走行系にてテープを搬送させながらＭＲヘッドによりサーボ信号を再生し、そのピークの時間間隔として測定している。そのため、測定系の精度は、ピーク間隔を測定するクロックの精度に依存する。例えば、テープの搬送スピードが、５ｍ／ｓの時に５０ＭＨｚのクロック信号を使ってピーク時間間隔を測定したときには、１クロック当たり２０ｎｓ×５ｍ／ｓ＝１００ｎｍが最小の分解能となる。例えば、従来のＬＴＯ−Ｇ１、Ｇ２のように、トラックピッチが２０−３０μｍ程度あるシステムにおいては、この程度の分解能でも十分であった。
【０００５】
しかし、近年のデータ記録再生システムに用いられる磁気テープにおいては、更なる高容量化が求められている。そこで、高容量化を目指して、狭トラック化を推進するために、（１）ＴＢＳ信号のサーボパターンにおけるハの字の広がり角度を広げる、（２）磁気テープのＭｒｔを低減する、（３）ＤＣライト（直流磁化書込み）を併用してサーボ信号のＳＮを向上させる方法が提案されている。そして、こうした狭トラック化に向けたサーボ信号の書込み方法および磁気テープ自体の改良に伴って、サーボ信号に要求される品質は更に厳しくなり、そのサーボ信号の品質を検査する装置においては、サーボ信号の測定精度の向上が求められる。
【特許文献１】特開２００３−１４１８３６号公報（段落０００２〜０００５）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ＴＢＳ信号を書き込む磁気テープにおいて、狭トラック化を目指したテープのサーボ信号品質を、十分な分解能で測定・評価できるサーボ信号検査装置およびサーボ信号検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記課題を解決するため、本発明のサーボ信号検査装置は、磁気テープに書き込まれたサーボ信号を読み取るサーボ信号検査ヘッドと、読み取られたサーボ信号の品質を検査するサーボ信号検査部とを備えるサーボ信号検査装置であって、前記サーボ信号検査部は、前記読み取られたサーボ信号から少なくとも一つのパルスピークＡとそのパルスピークＡに対応する所定のパルスピークＢの間の時間間隔を計測する時間間隔計測手段と、計測されたパルスピークＡとパルスピークＢの間の時間間隔からサーボ信号の品質を評価するサーボ信号評価手段とを備え、前記サーボ信号検査部は、前記パルスピークＡ，Ｂを求めるに際して、基準クロック信号に基づいて逐次測定される前記サーボ信号をＡ／Ｄ変換して求められるサンプリングピークのピーク強度を時系列で配列して、Ｎ−２番目、Ｎ−１番目、Ｎ番目およびＮ＋１番目（Ｎは１以上の整数）のサンプリングピークに対して、時間およびピーク強度をそれぞれＸ軸およびＹ軸として各サンプリングピークを示す２次元平面において、前記Ｎ−２番目のサンプリングピークと前記Ｎ−１番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記Ｎ−１番目のサンプリングピークと前記Ｎ番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）とで挟まれる角αをＰ等分（Ｐ：２以上の整数）し、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）に対して角度ｎα／Ｐ（１≦ｎ≦Ｐの整数）の方向で前記Ｎ−１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ−１／ｎＰ）と、
前記Ｎ番目のサンプリングピークと前記Ｎ＋１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）と、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）とで挟まれる角βをＰ等分し、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）に対して角度ｍβ／Ｐ（１≦ｍ≦Ｐの整数）の方向で前記Ｎ番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ／ｍＰ）とを求め、さらに、前記直線Ｌ（Ｎ−１／ｎＰ）と、前記直線Ｌ（Ｎ／ｍＰ）との交点Ｑを求め、その交点Ｑを新たなサンプリングピークとして、パルスピークの位置を求めるデータ処理部を備え、求められた新たなパルスピークの位置に基づいて前記時間間隔計測手段においてパルスピークの時間間隔を算出するようにしたことを特徴とする。
【０００８】
このサーボ信号検査装置では、前記データ処理部が、サーボ信号をＡ／Ｄ変換して求められるサンプリングピークのピーク強度を時系列で配列して、Ｎ−２番目、Ｎ−１番目、Ｎ番目およびＮ＋１番目（Ｎは１以上の整数）の測定値に対して、時間およびピーク強度をそれぞれＸ軸およびＹ軸とする２次元平面に配列して、前記所定の方法で新たなサンプリングピークを算出し、その新たなサンプリングピークに基づいてパルスピークを求めて時間間隔計測手段においてパルスピークの時間間隔を算出することによって、基準クロック周波数を高くすることなく、実際に測定されたサンプリングピークに加えて、新たなサンプリングピークを求めることができ、これらのサンプリングピークの増加によって、見かけ上、基準クロック周波数を高くした場合と同様に、高い測定精度を得ることができる。
【０００９】
また、本発明は、磁気テープに書き込まれたサーボ信号を読み取り、読み取られたサーボ信号から少なくとも一つのパルスピークＡとそのパルスピークＡに対応する所定のパルスピークＢの間の時間間隔を計測する時間間隔計測段階と、計測されたパルスピークＡとパルスピークＢの間の時間間隔からサーボ信号の品質を評価するサーボ信号評価手段とを含むサーボ信号検査工程を有するサーボ信号検査方法であって、前記サーボ信号検査工程が、前記パルスピークＡ，Ｂを求めるに際して、基準クロック信号に基づいて逐次測定される前記サーボ信号をＡ／Ｄ変換して求められるサンプリングピークのピーク強度を時系列で配列して、Ｎ−２番目、Ｎ−１番目、Ｎ番目およびＮ＋１番目（Ｎは１以上の整数）のサンプリングピークに対して、時間およびピーク強度をそれぞれＸ軸およびＹ軸として各サンプリングピークを示す２次元平面において、前記Ｎ−２番目のサンプリングピークと前記Ｎ−１番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記Ｎ−１番目のサンプリングピークと前記Ｎ番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）とで挟まれる角αをＰ等分（Ｐ：２以上の整数）し、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）に対して角度ｎα／Ｐ（１≦ｎ≦Ｐの整数）の方向で前記Ｎ−１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ−１／ｎＰ）と、前記Ｎ番目のサンプリングピークと前記Ｎ＋１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）と、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）とで挟まれる角βをＰ等分し、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）に対して角度ｍβ／Ｐ（１≦ｍ≦Ｐの整数）の方向で前記Ｎ番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ／ｍＰ）とを求め、さらに、前記直線Ｌ（Ｎ−１／ｎＰ）と、前記直線Ｌ（Ｎ／ｍＰ）との交点Ｑを求め、その交点Ｑを新たなサンプリングピークとして、パルスピークの位置を求め、新たなパルスピークの位置に基づいて前記時間間隔計測段階においてパルスピークの時間間隔を算出するようにしたことを特徴とするサーボ信号検査方法を提供する。
【００１０】
このサーボ信号検査方法では、基準クロック周波数を高くすることなく、実際に測定されたサンプリングピークに加えて、新たなサンプリングピークを求め、これらのサンプリングピークの増加によって、見かけ上、基準クロック周波数を高くした場合と同様に、高い測定精度を得ることができる。
【００１１】
さらに、本発明は、磁気テープに書き込まれたサーボ信号を読み取るサーボ信号検査ヘッドと、読み取られたサーボ信号の品質を検査するサーボ信号検査部とを備えるサーボ信号検査装置であって、前記サーボ信号検査部は、前記読み取られたサーボ信号から少なくとも一つのパルスピークＡとそのパルスピークＡに対応する所定のパルスピークＢの間の時間間隔を計測する時間間隔計測手段と、計測されたパルスピークＡとパルスピークＢの間の時間間隔からサーボ信号の品質を評価するサーボ信号評価手段とを備え、前記サーボ信号検査部は、前記パルスピークＡ，Ｂを求めるに際して、基準クロック信号に基づいて逐次測定される前記サーボ信号をＡ／Ｄ変換して求められるサンプリングピークのピーク強度を時系列で配列して、Ｎ−１番目、Ｎ番目およびＮ＋１番目（Ｎは１以上の整数）のサンプリングピークに対して、時間およびピーク強度をそれぞれＸ軸およびＹ軸として各サンプリングピークを示す２次元平面において、前記Ｎ−２番目のサンプリングピークと前記Ｎ−１番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記Ｎ−１番目のサンプリングピークと前記Ｎ番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）と、前記Ｎ番目のサンプリングピークと前記Ｎ＋１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）とを求め、前記直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）と、前記直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）とで囲まれる三角形の重心Ｇを求め、その重心Ｇを新たなサンプリングピークとして、パルスピークの位置を求めるデータ処理部を備え、求められた新たなパルスピークの位置に基づいて前記時間間隔計測手段においてパルスピークの時間間隔を算出するようにしたことを特徴とするサーボ信号検査装置を提供する。
【００１２】
このサーボ信号検査装置では、前記サーボ信号検査部が、前記直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）と、前記直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）とで囲まれる三角形の重心Ｇを求め、その重心Ｇを新たなサンプリングピークとして、パルスピークの位置を求め、そのパルスピークに基づいて時間間隔計測手段においてパルスピークの時間間隔を算出することによって、基準クロック周波数を高くすることなく、実際に測定されたサンプリングピークに加えて、新たなサンプリングピークを求めることができ、これらのサンプリングピーク増加によって、見かけ上、基準クロック周波数を高くした場合と同様に、高分解能で測定精度を向上させることができる。
【００１３】
さらにまた、本発明は、磁気テープに書き込まれたサーボ信号を読み取り、読み取られたサーボ信号から少なくとも一つのパルスピークＡとそのパルスピークＡに対応する所定のパルスピークＢの間の時間間隔を計測する時間間隔計測段階と、計測されたパルスピークＡとパルスピークＢの間の時間間隔からサーボ信号の品質を評価するサーボ信号評価手段とを含むサーボ信号検査工程を有するサーボ信号検査方法であって、前記サーボ信号検査工程が、前記パルスピークＡ，Ｂを求めるに際して、基準クロック信号に基づいて逐次測定される前記サーボ信号をＡ／Ｄ変換して求められるサンプリングピークのピーク強度を時系列で配列して、Ｎ−２番目、Ｎ−１番目、Ｎ番目およびＮ＋１番目（Ｎは１以上の整数）のサンプリングピークに対して、時間およびピーク強度をそれぞれＸ軸およびＹ軸として各サンプリングピークを示す２次元平面において、前記Ｎ−２番目のサンプリングピークと前記Ｎ−１番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記Ｎ−１番目のサンプリングピークと前記Ｎ番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）と、前記Ｎ番目のサンプリングピークと前記Ｎ＋１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）とを求め、前記直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）と、前記直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）とで囲まれる三角形の重心Ｇを求め、その重心Ｇを新たなサンプリングピークとして、パルスピークの位置を求め、新たなパルスピークの位置に基づいて前記時間間隔計測段階においてパルスピークの時間間隔を算出するようにしたことを特徴とするサーボ信号検査方法を提供する。
【００１４】
このサーボ信号検査方法では、基準クロック周波数を高くすることなく、前記直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）と、前記直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）とで囲まれる三角形の重心Ｇを求め、その重心Ｇを新たなサンプリングピークとして、実際に測定されたサンプリングピークに加えて、新たなサンプリングピークを求め、これらのサンプリングピークの増加によって、見かけ上、基準クロック周波数を高くした場合と同様に、高い測定精度を得ることができる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明により、ＴＢＳ信号の検査において、狭トラック化を目指したテープのサーボ信号品質を、十分な分解能で測定・評価することが可能となる。すなわち、基準クロック周波数を高くした場合と同様に、測定点を増加させて、測定精度の向上を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
次に、本発明の実施形態について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。
図１は、本発明の第１実施形態に係るサーボライタ１０の概略構成を示す模式図である。
このサーボライタ１０は、磁気テープＭＴを送り出すための送出リール１１と、送出リール１１から送り出される磁気テープＭＴを巻き取るための巻取リール１２とを備える。送出リール１１の下流側には、サーボ信号書込みヘッドＨ１、サーボ信号検査ヘッドＨ２が、この順で配設される。そして、サーボ信号書込みヘッドＨ１の上流側と下流側には、磁気テープＭＴをサーボ信号書込みヘッドＨ１に摺接させて走行させるために、磁気テープＭＴを幅方向を規制して案内するテープガイド１３ａ，１３ｂが配設されている。また、サーボ信号検査ヘッドＨ２の近傍には、磁気テープＭＴをサーボ信号検査ヘッドＨ２に沿わせて走行させるためのガイド１４，・・・が設けられている。さらに、サーボ信号検査ヘッドＨ２は、サーボ信号書込みヘッドＨ１によって磁気テープＭＴに書き込まれたサーボ信号の品質を評価するサーボ信号検査部１５に接続されている。サーボ信号検査部１５は、サーボ信号検査ヘッドＨ２によって磁気テープＭＴから読み取られたサーボ信号を受信して、そのサーボ信号の品質を検査して、所定の検査基準にしたがって評価する。なお、サーボライタ１０には、磁気テープＭＴの張力を所定張力に調整するための張力調節装置（図示せず）、張力検出装置Ｔの他、磁気テープＭＴをガイドするためのガイドローラＲ…等の各種装置が備えられている。
【００１７】
前記サーボ信号検査部１５は、例えば、図２（ａ）に示すように、サーボ信号検査ヘッドＨ２によって読み取られたサーボ信号を増幅する増幅器１５ａと、基準クロック回路１５ｃから供給される基準クロック信号に基づいて増幅されたサーボ信号をサンプリングしてサンプリングピークを検出するサンプリング回路１５ｂと、サンプリング回路１５ｂによってサンプリングされたサンプリングピークをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回路１５ｄと、Ａ／Ｄ変換されたサンプリングピークを演算処理する演算処理回路１５ｅとを備える。
【００１８】
このサーボ信号検査部１５において、増幅器１５ａは、図３（ａ）に示すように、磁気テープＭＴにデータバンドＤＢ１，ＤＢ２，ＤＢ３，ＤＢ４を挟んで設けられたサーボバンドＳＢ１，ＳＢ２，ＳＢ３，ＳＢ４，ＳＢ５からサーボ信号検査ヘッドＨ２によって読み取られたサーボ信号を増幅する。
【００１９】
また、基準クロック回路１５ｃは、例えば、水晶振動子等による基準振動を分周して所定の周波数の基準クロック信号を発生する発振回路、素子を用いることで、磁気テープＭＴに書き込まれるサーボ信号パターンの時間間隔を求める。
【００２０】
増幅器によって増幅されるサーボ信号として、ＴＢＳ信号を例にとると、図３（ｂ）に示すように、５つの非平行なサーボパターンの対（ＳＰ１Ａ，ＳＰ１Ｂ，ＳＰ１Ｃ，ＳＰ１Ｄ，ＳＰ１Ｅと、ＳＰ２Ａ，ＳＰ２Ｂ，ＳＰ２Ｃ，ＳＰ２Ｄ，ＳＰ２Ｅ）を、さらに、４本の非平行なサーボパターン（ＳＰ３Ａ，ＳＰ３Ｂ，ＳＰ３Ｃ，ＳＰ４Ｄと、ＳＰ４Ａ，ＳＰ４Ｂ，ＳＰ４Ｃ，ＳＰ４Ｄ）の対とを１単位として、これを繰返して書き込まれている。そして、サーボ信号の品質は、例えば、図３（ｃ）に示すように、サーボパターンＳＰ１ＡによるサンプリングピークＰＡ１の立ち上がり時からサーボパターンＳＰ２ＡによるサンプリングピークＰＢ１の立ち上がり時までの時間間隔ＡＢ0、サーボパターンＳＰ１ＡによるサンプリングピークＰＡ１の立ち上がり時からサーボパターンＳＰ３ＡによるサンプリングピークＰＣ１の立ち上がり時までの時間間隔ＡＣ0等を測定し、ＡＢ0／ＡＣ0の比等を算出して、その磁気テープＭＴについて規定されている基準に適合するかを検査して、サーボ信号の品質が評価される。
【００２１】
サンプリング回路１５ｂでは、前記増幅器１５ａによって増幅されたサーボ信号を、図４に示すように、基準クロック回路１５ｃから供給される基準クロック信号に基づいてサンプリングして、各サンプリングピークが検出される。このサンプリング回路１５ｂによってサンプリングされたサンプリングピークＰＰは、Ａ／Ｄ変換回路１５ｄによってＡ／Ｄ変換されて演算処理回路１５ｅに入力される。
【００２２】
そして、演算処理回路１５ｅは、Ａ／Ｄ変換されたサンプリングピークの時間とピーク強度とから新たなサンプリングピークをデータ処理回路１６と、新たに求められたサンプリングピークに基づいてサンプリングピークの時間間隔求める時間間隔計測回路１７とを備える。
【００２３】
この演算処理回路１５ｅのデータ処理回路１６は、図５に示すように、Ａ／Ｄ変換されたサンプリングピークの時間とピーク強度を時系列で配列して、Ｎ−２番目、Ｎ−１番目、Ｎ番目およびＮ＋１番目（Ｎは１以上の整数）のサンプリングピークに対して、時間およびピーク強度をそれぞれＸ軸およびＹ軸として各サンプリングピークを示す２次元平面において、前記Ｎ−２番目のサンプリングピークと前記Ｎ−１番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記Ｎ−１番目のサンプリングピークと前記Ｎ番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）とで挟まれる角αを２等分し、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）に対して角度α／２の方向で前記Ｎ−１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ−１／２）と、前記Ｎ番目のサンプリングピークと前記Ｎ＋１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）と、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）とで挟まれる角βを２等分し、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）に対して角度β／２の方向で前記Ｎ番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ／２）とを求め、さらに、前記直線Ｌ（Ｎ−１／２）と、前記直線Ｌ（Ｎ／２）との交点Ｑを求め、その交点Ｑを新たなサンプリングピークとして、パルスピークの位置を求め、その交点Ｑを新たなサンプリングピークとする。このようにして、逐次、交点Ｑを求めて、その交点Ｑと、実際にサーボ信号から求められたサンプリングピークの中から、最もピーク強度の大きいサンプリングピークをパルスピークとする。
【００２４】
このようにして、基準クロック回路１５ｃにおける基準クロック周波数を高くすることなく、実際に測定されたサンプリングピークの測定点に加えて、新たなサンプリングピークの測定点を求め、これらのサンプリングピークの測定点の増加によって、基準クロック周波数を高くした場合と同様に、見かけ上２倍の解像度が得られ、基準クロックの周波数を変えることなく、最小分解能が１／２となり、トラックピッチの狭い磁気テープＭＴにおけるサーボ信号の品質の検査・評価が十分な精度で行えるようになる。
【００２５】
なお、前記第１実施形態は、Ｐ＝２およびｎ＝ｍ＝１として直線Ｌ（Ｎ−１／ｎＰ）および前記直線Ｌ（Ｎ／ｍＰ）を求めた例であるが、本発明は、Ｐ＝２かつｎ＝ｍ＝１、すなわち、角αおよびβを２等分（Ｐ＝２）する直線をそれぞれ直線Ｌ（Ｎ−１／ｎＰ）および前記直線Ｌ（Ｎ／ｍＰ）とする場合に限定されず、例えば、角αをＰ等分（Ｐ：２以上の整数）して前記Ｎ−１番目のサンプリングピークを通るＰ−１本の直線の中から、直線Ｌ
直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）の側から数えてｎ（ｋは１＜ｊ≦Ｐ−１の整数）本目の直線Ｌｊと、角βをＰ等分して前記Ｎ番目のサンプリングピークを通るＰ−１本の直線の中から、直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）の側から数えてｋ（ｌは１＜ｋ≦Ｐ−１の整数）本目の直線Ｌｋとを選択して、直線Ｌｊと直線Ｌｋの交点を交点Ｑとして求める場合をも含む。このとき、ｊ＝ｋ（ｎ＝ｍ）としてもよい。また、ｊとｋを異なる整数としてもよい。このようにして、各サンプリングピークを用いて、実際にサーボ信号からパルスピークの演算を逐次行ない、最も適切なＰ値を決定して、サーボ信号の品質の検査および評価を行なうこともできる。
【００２６】
次に、図６は、第２の実施形態におけるパルスピークの算出方法を説明する図である。なお、サーボライタの構成等については、第１の実施形態と同様であるので、図示および説明を省略する。
この第２の実施形態においては、サーボライタ１０のサーボ信号検査部１５において、前記パルスピークＡ，Ｂを求めるに際して、基準クロック信号に基づいて逐次測定される前記サーボ信号をＡ／Ｄ変換して求められるサンプリングピークのピーク強度を時系列で配列して、図６に示すように、Ｎ−１番目、Ｎ番目およびＮ＋１番目（Ｎは１以上の整数）のサンプリングピークに対して、時間およびピーク強度をそれぞれＸ軸およびＹ軸として各サンプリングピークを示す２次元平面において、前記Ｎ−２番目のサンプリングピークと前記Ｎ−１番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記Ｎ−１番目のサンプリングピークと前記Ｎ番目のサンプリングピークとを通る直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）と、前記Ｎ番目のサンプリングピークと前記Ｎ＋１番目のサンプリングピークを通る直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）とを求め、前記直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）と、前記直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）とで囲まれる三角形の重心Ｇを求め、その重心Ｇを新たなサンプリングピークとして、パルスピークの位置を求めるデータ処理部を備える。そして、求められた新たなパルスピークの位置に基づいて前記時間間隔計測手段においてパルスピークの時間間隔を算出する。
【００２７】
このように、前記直線Ｌ（Ｎ−２，Ｎ−１）と、前記直線Ｌ（Ｎ−１，Ｎ）と、前記直線Ｌ（Ｎ，Ｎ＋１）とで囲まれる三角形の重心Ｇを求め、その重心Ｇを新たなサンプリングピークとして、パルスピークの位置を求め、そのパルスピークに基づいてパルスピークの時間間隔を算出することによって、基準クロック周波数を高くすることなく、実際に測定されたサンプリングピークに加えて、新たなサンプリングピークを求めることができ、これらのサンプリングピーク増加によって、見かけ上、基準クロック周波数を高くした場合と同様に、高分解能で測定精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の第１実施形態に係るサーボライタの概略を示す模式平面図である。
【図２】（ａ）はサーボ信号検査部の構成を示す模式図、（ｂ）は演算処理回路を示す模式図である。
【図３】（ａ）は、サーボトラックを示す模式図、（ｂ）は、タイミングベースドサーボ信号のサーボパターンを示す図、（ｃ）はパルスピークの時間間隔を説明する図である。
【図４】サーボ信号のパルスピークと基準クロックとの関係を示す図である。
【図５】第１実施形態におけるパルスピークの算出方法を説明する図である。
【図６】第２実施形態におけるパルスピークの算出方法を説明する図である。
【符号の説明】
【００２９】
１５ｂ  サンプリング回路
１５ｃ  基準クロック回路
１５ｄ  Ａ／Ｄ変換回路
１５ｅ  演算処理回路
１６    データ処理回路
１７    時間間隔計測回路
Ｑ      交点
Ｇ      重心
【図１】
2006147017.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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