(57)【要約】【課題】  実際のＬＳＩで起こり得るクロストークノイズを正確に検出することが可能なクロストークノイズ演算方法を提供する。【解決手段】  このクロストークノイズ演算装置の演算部２は、ライブラリ１に格納された最良条件および最悪条件でそれぞれバッファセル１１，１４を動作させ、バッファセル１４によって配線１５の信号レベルを一定に保持させるとともにバッファセル１１によって配線１２の信号レベルを遷移させた場合に、配線１５に発生するクロストークグリッチのレベルを演算する。したがって、実際のＬＳＩにおいて配線１５に発生し得る最大のクロストークグリッジのレベルを検出することができる。【選択図】        図２
2006215715.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに隣接して配置された第１および第２の配線をそれぞれ駆動させる第１および第２のセルを備えた半導体装置において、前記第１および第２の配線間に発生するクロストークノイズのレベルを演算するクロストークノイズ演算方法において、
前記第１および第２のセルの各々の遅延時間が最も短くなる最良条件と、各々の遅延時間が典型値になる典型条件と、各々の遅延時間が最も長くなる最悪条件とが格納されたライブラリを設け、
前記ライブラリに格納された前記最良条件、前記典型条件および前記最悪条件のうちの２つを組合わせた条件で前記第１および第２のセルを動作させ、前記クロストークノイズのレベルを演算することを特徴とする、クロストークノイズ演算方法。
【請求項２】
前記ライブラリに格納された前記最良条件および前記最悪条件を用いて前記第１および第２のセルをそれぞれ動作させ、前記第１の配線の信号レベルを遷移させた場合に前記第２の配線に発生するクロストークグリッチのレベルを演算することを特徴とする、請求項１に記載のクロストークノイズ演算方法。
【請求項３】
前記ライブラリに格納された前記最良条件、前記典型条件および前記最悪条件のうちの２つを組合わせた９通りの条件の各々で前記第１および第２のセルを動作させ、前記第１および第２の配線の信号レベルを遷移させた場合における前記第２の配線の信号の遅延時間を演算し、演算した遅延時間の最小値と最大値を求めることを特徴とする、請求項１に記載のクロストークノイズ演算方法。
【請求項４】
互いに隣接して配置された第１および第２の配線をそれぞれ駆動させる第１および第２のセルを備えた半導体装置において、前記第１および第２の配線間に発生するクロストークノイズのレベルを演算するクロストークノイズ演算方法において、
前記第１および第２のセルの各々の遅延時間が最も短くなる最良条件と、各々の遅延時間が典型値になる典型条件と、各々の遅延時間が最も長くなる最悪条件とが格納されたライブラリを設け、
前記ライブラリに格納された前記最良条件、前記典型条件および前記最悪条件を補間して第１および第２の任意条件を求め、
前記第１および第２の任意条件でそれぞれ前記第１および第２のセルを動作させた場合に発生する前記クロストークノイズのレベルを演算することを特徴とする、クロストークノイズ演算方法。
【請求項５】
互いに隣接して配置された第１および第２の配線をそれぞれ駆動させる第１および第２のセルを備えた半導体装置において、前記第１および第２の配線間に発生するクロストークノイズのレベルを演算するクロストークノイズ演算方法において、
前記第１および第２のセルの各々の遅延時間が最も短くなる最良条件と、各々の遅延時間が典型値になる典型条件と、各々の遅延時間が最も長くなる最悪条件とが格納されたライブラリを設け、
前記ライブラリに格納された前記最良条件、前記典型条件および前記最悪条件から求められる前記第１のセルの駆動能力を補間して第１の任意条件における前記第１のセルの駆動能力を求めるとともに、前記ライブラリに格納された前記最良条件、前記典型条件および前記最悪条件から求められる前記第２のセルの駆動能力を補間して第２の任意条件における前記第２のセルの駆動能力を求め、
前記第１の任意条件における前記第１のセルの駆動能力で前記第１の配線を駆動させるとともに前記第２の任意条件における前記第２のセルの駆動能力で前記第２の配線を駆動させた場合に発生する前記クロストークノイズのレベルを演算することを特徴とする、クロストークノイズ演算方法。
【請求項６】
互いに隣接して配置された第１および第２の配線をそれぞれ駆動させる第１および第２のセルを備えた半導体装置において、前記第１および第２の配線間に発生するクロストークノイズのレベルを演算するクロストークノイズ演算方法において、
前記第１のセルの動作条件のばらつきに基づいて前記第１のセルの駆動能力の変化幅を演算するとともに、前記第２のセルの動作条件のばらつきに基づいて前記第２のセルの駆動能力の変化幅を演算し、
前記第１および第２のセルの駆動能力の変化幅に基づいて前記クロストークノイズのレベルの変化幅を演算することを特徴とする、クロストークノイズ演算方法。
【請求項７】
前記第１および第２のセルの駆動能力の変化幅に基づいて、前記第１の配線の信号レベルを遷移させた場合に前記第２の配線に発生するクロストークグリッチのレベルの変化幅を演算することを特徴とする、請求項６に記載のクロストークノイズ演算方法。
【請求項８】
前記第１および第２のセルの駆動能力の変化幅に基づいて、前記第１および第２の配線の信号レベルを遷移させた場合における前記第２の配線の信号の遅延時間の変化幅を演算することを特徴とする、請求項６に記載のクロストークノイズ演算方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明はクロストークノイズ演算方法に関し、特に、互いに隣接して配置された第１および第２の配線をそれぞれ駆動させる第１および第２のセルを備えた半導体装置において、第１および第２の配線間に発生するクロストークノイズのレベルを演算するクロストークノイズ演算方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＬＳＩの製造技術の向上により、デバイスの高速化、配線幅や配線間隔の短縮化、配線層の多層化が進められ、回路の誤動作を引き起こす要因となるクロストークノイズが無視できなくなってきている。クロストークノイズは、隣接する２つの配線のうちの一方の信号レベルが遷移したときに、配線間の容量を介して他方の配線に電流が流れることにより発生する。
【０００３】
クロストークノイズの影響を正確に求める方法として、ＬＳＩの製造後に動作試験を行なう方法があるが、クロストークノイズによる誤動作があった場合、設計および製造のやり直しが必要となり、多大な費用と時間が必要となるという問題がある。
【０００４】
そこで、レイアウト設計後に、その配線結果を用いてクロストークノイズが発生するかどうかを判定する方法が提案されている。この判定方法では、２つの配線の信号レベルの遷移のタイミングが重なる場合に、クロストークノイズが発生すると判定していた（たとえば特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２０００−８２０８９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、従来の判定方法では、２つの配線のうちの一方の配線を駆動させるセルの動作条件と、他方の配線を駆動させるセルとの動作条件とが同じ場合にクロストークノイズが発生するかどうかを判定しており、２つのセルの動作条件が異なる場合にクロストークノイズが発生するかどうかを判定していなかった。このため、実際のＬＳＩで起こり得る最悪条件について計算しておらず、クロストークノイズの発生を見逃す可能性があった。
【０００６】
それゆえに、この発明の主たる目的は、実際のＬＳＩで起こり得るクロストークノイズを正確に検出することが可能なクロストークノイズ演算方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この発明に係るクロストークノイズ演算方法は、互いに隣接して配置された第１および第２の配線をそれぞれ駆動させる第１および第２のセルを備えた半導体装置において、第１および第２の配線間に発生するクロストークノイズのレベルを演算するクロストークノイズ演算方法において、第１および第２のセルの各々の遅延時間が最も短くなる最良条件と、各々の遅延時間が典型値になる典型条件と、各々の遅延時間が最も長くなる最悪条件とが格納されたライブラリを設け、ライブラリに格納された最良条件、典型条件および最悪条件のうちの２つを組合わせた条件で第１および第２のセルを動作させ、クロストークノイズのレベルを演算することを特徴とする。したがって、第１および第２のセルを同じ条件で駆動させた場合のみならず、第１および第２のセルを異なる条件で駆動させた場合におけるクロストークノイズのレベルを得ることができるので、実際のＬＳＩで起こり得るクロストークノイズを正確に検出することができる。
【０００８】
また、この発明に係る他のクロストークノイズ演算方法は、互いに隣接して配置された第１および第２の配線をそれぞれ駆動させる第１および第２のセルを備えた半導体装置において、第１および第２の配線間に発生するクロストークノイズのレベルを演算するクロストークノイズ演算方法において、第１および第２のセルの各々の遅延時間が最も短くなる最良条件と、各々の遅延時間が典型値になる典型条件と、各々の遅延時間が最も長くなる最悪条件とが格納されたライブラリを設け、ライブラリに格納された最良条件、典型条件および最悪条件を補間して第１および第２の任意条件を求め、第１および第２の任意条件でそれぞれ第１および第２のセルを動作させた場合に発生するクロストークノイズのレベルを演算することを特徴とする。したがって、ライブラリに格納されていない任意条件で第１および第２のセルを駆動させた場合のクロストークノイズを検出することができるので、実際のＬＳＩで起こり得るクロストークノイズを正確に検出することができる。
【０００９】
また、この発明に係るさらに他のクロストークノイズ演算方法は、互いに隣接して配置された第１および第２の配線をそれぞれ駆動させる第１および第２のセルを備えた半導体装置において、第１および第２の配線間に発生するクロストークノイズのレベルを演算するクロストークノイズ演算方法において、第１および第２のセルの各々の遅延時間が最も短くなる最良条件と、各々の遅延時間が典型値になる典型条件と、各々の遅延時間が最も長くなる最悪条件とが格納されたライブラリを設け、ライブラリに格納された最良条件、典型条件および最悪条件から求められる第１のセルの駆動能力を補間して第１の任意条件における第１のセルの駆動能力を求めるとともに、ライブラリに格納された最良条件、典型条件および最悪条件から求められる第２のセルの駆動能力を補間して第２の任意条件における第２のセルの駆動能力を求め、第１の任意条件における第１のセルの駆動能力で第１の配線を駆動させるとともに第２の任意条件における第２のセルの駆動能力で第２の配線を駆動させた場合に発生するクロストークノイズのレベルを演算することを特徴とする。したがって、ライブラリに格納されていない任意条件で第１および第２のセルを駆動させた場合のクロストークノイズを検出することができるので、実際のＬＳＩで起こり得るクロストークノイズを正確に検出することができる。
【００１０】
また、この発明に係るさらに他のクロストークノイズ演算方法は、互いに隣接して配置された第１および第２の配線をそれぞれ駆動させる第１および第２のセルを備えた半導体装置において、第１および第２の配線間に発生するクロストークノイズのレベルを演算するクロストークノイズ演算方法において、第１のセルの動作条件のばらつきに基づいて第１のセルの駆動能力の変化幅を演算するとともに、第２のセルの動作条件のばらつきに基づいて第２のセルの駆動能力の変化幅を演算し、第１および第２のセルの駆動能力の変化幅に基づいてクロストークノイズのレベルの変化幅を演算することを特徴とする。したがって、第１および第２のセルの動作条件のばらつきにより生じるクロストークノイズのレベルの変化幅が得られるので、実際のＬＳＩで起こり得るクロストークノイズを正確に検出することができる。
【発明の効果】
【００１１】
以上のように、この発明に係るクロストークノイズ演算方法によれば、実際のＬＳＩで起こり得るクロストークノイズを正確に検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
[実施の形態１]
図１は、この発明の実施の形態１によるクロストークノイズ演算装置の構成を示すブロック図である。図１において、このクロストークノイズ演算装置は、種々のデータが格納されたライブラリ１と、ライブラリ１に格納された種々のデータに基づいて処理対象回路で発生するクロストークノイズのレベルを演算する演算部２とを備える。
【００１３】
このクロストークノイズ演算装置の処理対象となる回路は、図２に示すように、クロストークの影響を及ぼすアグレッサとなるバッファセル１１，１３および配線１２と、クロストークの影響を受けるビクティムとなるバッファセル１４，１６および配線１５とを備え、半導体集積回路の一部として設計されたものである。配線１２はバッファセル１１の出力ノードとバッファセル１３の入力ノードとの間に接続され、配線１５はバッファセル１４の出力ノードとバッファセル１６の入力ノードとの間に接続される。配線１２と１５は、隣接して配置されており、容量結合されている。配線１２，１５間の容量は、図２では配線１２，１５間に接続されたコンデンサ１７で表されている。
【００１４】
図１に戻って、ライブラリ１には、演算用データとして、バッファセル１１，１４の各々の遅延時間が最も短くなる最良条件と、各々の遅延時間が典型値になる典型条件と、各々の遅延時間が最も長くなる最悪条件とが格納され、さらに、配線１２，１５の各々の配線幅および配線長と、配線１２，１５の間隔などが格納されている。バッファセル１１，１４の動作条件は製造プロセスの仕上がり具合、温度、電源電圧などを含むので、バッファセル１１，１４は別々の条件を取り得る。  
【００１５】
演算部２は、ライブラリ１に格納された最良条件でバッファセル１１を動作させるとともに、ライブラリ１に格納された最悪条件でバッファセル１４を動作させ、バッファセル１４によって配線１５の信号レベルを一定に保持させるとともにバッファセル１１によって配線１２の信号レベルを遷移させた場合に、配線１５に発生するクロストークグリッジのレベルを演算する。この場合、アドレッサのバッファセル１１の駆動能力が最大になり、ビクティムのバッファセル１４の駆動能力が最小になるので、ビクティムの配線１５に発生するクロストークグリッジのレベルは起こり得る最大のレベルになる。
【００１６】
図３は、アドレッサの配線１２の電位ＶＡと、ビクティムの配線１５の電位ＶＢの時刻変化を示す図である。図３では、初期状態において電位ＶＡ，ＶＢはともに「Ｌ」レベルである場合が示されている。ある時刻ｔ０において配線１２の電位ＶＡが「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルに立ち上げられると、容量結合により配線１４の電位ＶＢが上昇するが、バッファセル１４は配線１５を「Ｌ」レベルに駆動しているので、配線１５の電位ＶＢは所定時間後に「Ｌ」レベルに戻る。このとき、配線１５に生じるクロストークグリッジのレベル（電位ＶＢの変化レベル）は、バッファセル１１の駆動能力が最大で、バッファセル１４の駆動能力が最小の場合に、最大になる。
【００１７】
したがって、この実施の形態１では、実際のＬＳＩで起こり得る最大のクロストークグリッジを正確に検出することができる。なお、従来のように、バッファ１１，１４を同じ条件で動作させた場合、すなわちバッファセル１１，１４をともに最良条件で動作させた場合、バッファセル１１，１４をともに典型条件で動作させた場合、バッファセル１１，１４をともに最悪条件で動作させた場合は、いずれの場合もクロストークグリッジのレベルは本願の場合よりも小さくなり、実際のＬＳＩで起こり得る最大のクロストークグリッジを正確に検出することはできない。
【００１８】
[実施の形態２]
この実施の形態２では、演算部２は、ライブラリ１に格納された最良条件、典型条件および最悪条件を補間して第１および第２の任意条件を求め、第１および第２の任意条件でそれぞれバッファセル１１，１４を動作させた場合に発生するクロストークグリッチのレベルを演算する。この場合は、ライブラリ１に格納されていない任意条件でバッファセル１１，１４を動作させた場合に配線１５に発生するクロストークグリッチのレベルを演算することができる。
【００１９】
図４は、補間方法を例示するタイムチャートである。図４では、初期状態においてアドレッサの配線１２の電位ＶＡが「Ｌ」レベルである場合が示されている。ライブラリ１に格納された最良条件、典型条件および最悪条件でバッファ１１のみを動作させた場合、配線１２の電位ＶＡはそれぞれ時刻ＴＡ０，ＴＡ１，ＴＡ２において「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルに変化するものとする。たとえば典型条件と最悪条件の間の任意の条件で、配線１２の電位ＶＡが「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルに変化する時刻ＴＡｘを求める。この時刻ＴＡｘは典型条件と最悪条件の間で線形に変化するものとするとし、典型条件とその任意条件の差と、その任意条件と最悪条件の差がＣ：Ｄで表されるものとすると、時刻ＴＡｘはＴＡｘ＝ＴＡ１＋（Ｔａ２−ＴＡ１）・Ｃ／（Ｃ＋Ｄ）となる。補間方法は、線形補間方法に限るものではなく、数学理論として知られている他のどのような補間方法でもよいことは言うまでもない。
【００２０】
[実施の形態３]
この実施の形態３では、演算部２は、ライブラリ１に格納された最良条件、典型条件および最悪条件からバッファセル１１の３通りの駆動能力を演算し、演算した３通りの駆動能力を補間して第１の任意条件におけるバッファセル１１の駆動能力を求めるとともに、ライブラリ１に格納された最良条件、典型条件および最悪条件からバッファセル１４の３通りの駆動能力を演算し、演算した３通りの駆動能力を補間して第２の任意条件におけるバッファセル１４の駆動能力を求め、第１の任意条件におけるバッファセル１１の駆動能力で配線１２を駆動させるとともに第２の任意条件におけるバッファセル１４の駆動能力で配線１５を駆動させた場合に発生するクロストークグリッチのレベルを演算する。この場合は、ライブラリ１に格納されていない任意条件でバッファセル１１，１４を駆動させた場合のクロストークグリッチのレベルを検出することができる。
【００２１】
[実施の形態４]
この実施の形態４では、演算部２は、バッファセル１１の動作条件のばらつきに基づいてバッファセル１１の駆動能力の変化幅を演算するとともに、バッファセル１４の動作条件のばらつきに基づいてバッファセル１４の駆動能力の変化幅を演算し、バッファセル１１の駆動能力の変化幅で配線１２を駆動させるとともに、バッファセル１４の駆動能力の変化幅で配線１５を駆動させた場合に、配線１５に発生するクロストークグリッチのレベルの変化幅を演算する。この場合は、バッファセル１１，１４の動作条件のばらつきにより、実際のＬＳＩで起こり得るクロストークグリッチのレベルを正確に検出することができる。
【００２２】
図５は、バッファセル１１の動作条件のばらつきによる配線１２の電位ＶＡの立ち上がり時刻ＴＡのばらつきを示すタイムチャートである。たとえユーザーが動作条件を限定したとしても、各セルの条件は異なる。たとえば、配線１２の電位ＶＡの立ち上がり時刻ＴＡは、典型条件における立ち上がり時刻ＴＡ１の−３％〜＋５％の範囲でばらつく。
【００２３】
[実施の形態５]
図２で示した回路では、ビクティムの配線１５の信号レベル遷移時間は、アグレッサの配線１２の信号レベルの遷移に応じて変化する。すなわち、配線１２の信号レベルが配線１５の信号レベルと同時に同一方向に遷移する場合における配線１５の信号レベル遷移時間をＴ０とし、配線１２の信号レベルが遷移しない場合における配線１５の信号レベル遷移時間をＴ１とし、配線１２の信号レベルが配線１５の信号レベルと同時に反対方向に遷移する場合における配線１５の信号レベル遷移時間をＴ２とすると、クロストークの影響により、Ｔ０＜Ｔ１＜Ｔ２が成り立つ。換言すると、ビクティムの配線１５における信号遅延時間は、アグレッサの配線１２の信号レベルの遷移に応じて変動する。したがって、ＬＳＩ設計においてタイミング検証を高精度に行なうには、クロストークの影響によって変動する信号遅延を精度良く推定することが重要になる。
【００２４】
この実施の形態５のクロストークノイズ演算装置の構成は、図１で示したものと同じである。演算部２は、ライブラリ１に格納されたバッファセル１１の最良条件、典型条件および最悪条件とバッファセル１４の最良条件、典型条件および最悪条件とを組合わせた９通りの条件の各々でバッファセル１１，１４を動作させ、配線１２，１５の信号レベルを遷移させた場合における配線１５の信号の遅延時間を演算し、演算した遅延時間の最大値と最小値を求める。そして演算部２は、演算した遅延時間の最大値と最小値から、ＬＳＩに誤動作が生じるかどうかを判定する。
【００２５】
図６は、アドレッサの配線１２の電位ＶＡと、ビクティムの配線１５の電位ＶＢの時刻変化を例示するタイムチャートである。図６では、初期状態において電位ＶＡ，ＶＢはともに「Ｌ」レベルである場合が示されている。ライブラリ１に格納された最良条件、典型条件および最悪条件でバッファセル１１のみを動作させた場合、配線１２の電位ＶＡはそれぞれ時刻ＴＡ０，ＴＡ１，ＴＡ２において「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルに変化し、ライブラリ１に格納された最良条件、典型条件および最悪条件でバッファ１４のみを動作させた場合、配線１５の電位ＶＢはそれぞれ時刻ＴＢ０，ＴＢ１，ＴＢ２において「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルに変化するものとする。
【００２６】
図６では、バッファセル１１，１４をそれぞれ典型条件および最良条件で動作させた場合は、配線１２，１５の電位ＶＡ，ＶＢの立ち上がりタイミングが重なり、図中点線で示すように、クロストークの影響によって配線１５の電位ＶＢの立ち上がり速度が速くなる。したがって、配線１５の信号の遅延時間の最小値がクロストークの影響により小さくなる。配線１５の信号の立ち上がりタイミングが早過ぎてＬＳＩが誤動作する場合は、設計変更を行なう必要がある。
【００２７】
図７は、アドレッサの配線１２の電位ＶＡと、ビクティムの配線１５の電位ＶＢの時刻変化を例示する他のタイムチャートである。図７では、初期状態において電位ＶＡ，ＶＢはそれぞれ「Ｌ」レベルおよび「Ｈ」レベルである場合が示されている。ライブラリ１に格納された最良条件、典型条件および最悪条件でバッファセル１１のみを動作させた場合、配線１２の電位ＶＡはそれぞれ時刻ＴＡ０，ＴＡ１，ＴＡ２において「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルに変化し、ライブラリ１に格納された最良条件、典型条件および最悪条件でバッファセル１４のみを動作させた場合、配線１５の電位ＶＢはそれぞれ時刻ＴＢ０，ＴＢ１，ＴＢ２において「Ｈ」レベルから「Ｌ」レベルに変化するものとする。
【００２８】
図７では、バッファセル１１，１４をそれぞれ典型条件および最悪条件で動作させた場合は、配線１２の電位ＶＡの立ち上がりタイミングと配線１５の電位ＶＢの立下りタイミングが重なり、図中点線で示すように、クロストークの影響によって配線１５の電位ＶＢの立下り速度が遅くなる。したがって、配線１５の信号の遅延時間の最大値がクロストークの影響により大きくなる。配線１５の信号の立下りタイミングが遅過ぎてＬＳＩが誤動作する場合は、設計変更を行なう必要がある。
【００２９】
図８（ａ）（ｂ）は、アドレッサの配線１２の電位ＶＡと、ビクティムの配線１５の電位ＶＢの時刻変化を例示するさらに他のタイムチャートである。図８（ａ）（ｂ）では、初期状態において電位ＶＡ，ＶＢはそれぞれ「Ｈ」レベルおよび「Ｌ」レベルである場合が示されている。ライブラリ１に格納された最良条件、典型条件および最悪条件でバッファセル１１のみを動作させた場合、配線１２の電位ＶＡはそれぞれ曲線ＬＡ０，ＬＡ１，ＬＡ３に従って「Ｈ」レベルから「Ｌ」レベルに変化し、ライブラリ１に格納された最良条件、典型条件および最悪条件でバッファセル１４のみを動作させた場合、配線１５の電位ＶＢはそれぞれ曲線ＬＢ０，ＬＢ１，ＬＢ２に従って「Ｌ」レベルから「Ｈ」レベルに変化するものとする。
【００３０】
バッファセル１１を最良条件、典型条件および最悪条件のうちのいずれかの条件で駆動させるとともに、バッファセル１２を最良条件、典型条件および最悪条件で動作させた場合、配線１２の電位ＶＡの立ち下がりタイミングと配線１５の電位ＶＢの立ち上がりタイミングが重なって配線１５の電位ＶＢにグリッチが生じ、図８（ｂ）に示すように、配線１５の電位ＶＢの立ち上がり速度が遅くなる。したがって、配線１５の信号の遅延時間の最大値がクロストークの影響により大きくなる。また図８（ｂ）では、曲線ＬＢ１とＬＢ２の立ち上がり時刻が逆転し、曲線ＬＢ２よりも曲線ＬＢ１の方が立ち上がり時刻が遅くなっている。配線１５の信号の立下りタイミングが遅過ぎてＬＳＩが誤動作する場合は、設計変更を行なう必要がある。
【００３１】
したがって、この実施の形態５では、実際のＬＳＩで起こり得るクロストークノイズを正確に検出することができる。なお、従来のように、バッファセル１１，１４を同じ条件で動作させた場合、すなわちバッファセル１１，１４をともに最良条件で動作させた場合、バッファセル１１，１４をともに典型条件で動作させた場合、バッファセル１１，１４をともに最悪条件で動作させた場合は、図６および図７の例ではいずれの場合も立ち上がりタイミングが重ならないのでクロストークの影響は発生せず、実際のＬＳＩで起こり得るクロストークノイズの影響を正確に検出することはできない。
【００３２】
[実施の形態６]
この実施の形態６では、演算部２は、ライブラリ１に格納された最良条件、典型条件および最悪条件を補間して第１および第２の任意条件を求め、第１および第２の任意条件でそれぞれバッファセル１１，１４を動作させた場合における配線１５の信号の遅延時間を演算する。この場合は、ライブラリ１に格納されていない任意条件でバッファセル１１，１４を動作させた場合に配線１５に発生するクロストークノイズのレベルを検出することができる。
【００３３】
[実施の形態７]
この実施の形態７では、演算部２は、ライブラリ１に格納された最良条件、典型条件および最悪条件からバッファセル１１の３通りの駆動能力を演算し、演算した３通りの駆動能力を補間して第１の任意条件におけるバッファセル１１の駆動能力を求めるとともに、ライブラリ１に格納された最良条件、典型条件および最悪条件からバッファセル１４の３通りの駆動能力を演算し、演算した３通りの駆動能力を補間して第２の任意条件におけるバッファセル１４の駆動能力を求め、第１の任意条件におけるバッファセル１１の駆動能力で配線１２を駆動させるとともに第２の任意条件におけるバッファセル１４の駆動能力で配線１５を駆動させた場合における配線１５の信号の遅延時間を演算する。この場合は、ライブラリ１に格納されていない任意条件でバッファセル１１，１４を駆動させた場合のクロストークノイズのレベルを検出することができる。
【００３４】
[実施の形態８]
この実施の形態８では、演算部２は、バッファセル１１の動作条件のばらつきに基づいてバッファセル１１の駆動能力の変化幅を求めるとともに、バッファセル１４の動作条件のばらつきに基づいてバッファセル１４の駆動能力の変化幅を求め、バッファセル１１の駆動能力の変化幅で配線１２を駆動させるとともに、バッファセル１４の駆動能力の変化幅で配線１５を駆動させた場合における配線１５の信号の遅延時間の変化幅を演算する。この場合は、バッファセル１１，１４の動作条件のばらつきにより、実際のＬＳＩで起こり得るクロストークノイズのレベルの変化幅を正確に検出することができる。
【００３５】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】この発明の実施の形態１によるクロストークノイズ演算装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１で示したクロストークノイズ演算装置の処理対象となる回路を示す回路図である。
【図３】図２で示した回路で発生するクロストークグリッチを示すタイムチャートである。
【図４】この発明の実施の形態２によるクロストークノイズ演算装置の演算方法を説明するためのタイムチャートである。
【図５】この発明の実施の形態４によるクロストークノイズ演算装置の演算方法を説明するためのタイムチャートである。
【図６】この発明の実施の形態５によるクロストークノイズ演算装置の演算方法を説明するためのタイムチャートである。
【図７】実施の形態５のクロストークノイズ演算装置の演算方法を説明するための他のタイムチャートである。
【図８】実施の形態５のクロストークノイズ演算装置の演算方法を説明するためのさらに他のタイムチャートである。
【符号の説明】
【００３７】
１  ライブラリ、２  演算部、１１，１３，１４，１６  バッファセル、１２，１５  配線、１７  コンデンサ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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