(57)【要約】【課題】光ディスクのディフェクトを正確に検出し、光ディスクの表面が汚れたり傷がついたりしていても光ディスクに記録された情報の信号成分が十分得られている場合は、ディフェクトとして検出しない光ディスク再生装置を提供する。【解決手段】欠陥領域における記録マークからの戻り光による信号のうち、最も小さい信号よりも大きく、かつ最も大きい信号よりも小さい基準信号を生成する基準信号生成回路部４２と、基準信号と欠陥領域の記録マークから得られる信号とを比較し、欠陥領域の記録マークからの戻り光による信号が基準信号よりも大きい場合には、再生可能、小さい場合には、再生不可能と判別する判別回路部４３と、からなる。【選択図】      図１
2006147067.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を光ディスクのトラック上に照射して、前記トラックに記録されている記録マークの情報を再生する際、前記トラック上に欠陥領域が生じた場合に、前記欠陥領域が再生可能かどうかを判別して行う光ディスク再生装置において、
予め前記トラック上に前記レーザ光を照射して、前記記録マークからの戻り光の信号を格納する第１の記憶部と、
前記欠陥領域における記録マークからの戻り光による信号のうち、最も小さい信号よりも大きく、かつ最も大きい信号よりも小さい基準信号を生成する基準信号生成回路部と、
前記基準信号と前記欠陥領域の記録マークから得られる信号とを比較し、前記欠陥領域の記録マークからの戻り光による信号が前記基準信号よりも大きい場合には、再生可能、小さい場合には、再生不能と判別する判別回路部と、
前記判別回路部で再生不能と判別された場合には、前記再生不能の欠陥領域の記録マークに対応する信号の代わりに予め用意された再生可能な擬似信号として出力する擬似信号回路部と、
前記判別回路部で再生可能と判定されて出力された再生信号と前記擬似信号回路部から出力された擬似信号を格納する第２の記憶部と、
前記第２の記憶部に格納された前記再生信号及び前記擬似信号に基づいて、前記トラック上に記録されている記録マークを再生する再生回路部と、
を有することを特徴とする光ディスク再生装置。
【請求項２】
レーザ光を光ディスクのトラック上に照射して、前記トラックに記録されている記録マークの情報を再生する際、前記トラック上に欠陥領域が生じた場合に、前記欠陥領域が再生可能かどうかを判別して行う光ディスク再生方法において、
予め前記トラック上に前記レーザ光を照射して、前記記録マークからの戻り光の信号を第１の記憶部に格納し、
次に、前記欠陥領域における記録マークからの戻り光による信号のうち、最も小さい信号よりも大きく、かつ最も大きい信号よりも小さい基準信号を生成し、
次に、前記基準信号と前記欠陥領域の記録マークから得られる信号とを比較し、前記欠陥領域の記録マークからの戻り光による信号が前記基準信号よりも大きい場合には、再生可能、小さい場合には、再生不能と判別し、
前記再生不能と判別された場合には、前記再生不能の欠陥領域の記録マークに対応する信号の代わりに予め用意された再生可能な擬似信号として出力し、
次に、前記再生可能と判定されて出力された再生信号と前記擬似信号を第２の記憶部に格納し、
前記再生信号及び前記擬似信号に基づいて、前記トラック上に記録されている記録マークを再生することを特徴とする光ディスク再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに記録された情報を再生する際に生ずるディフェクトを検出するディフェクト検出部を有する光ディスク再生装置及び光ディスク再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ディスク再生装置について特許文献１に記載されている。
以下に、特許文献１に記載されている光ディスク再生装置について図６及び図７を用いて説明する。
図６は、特許文献１に記載されている従来の光ディスク再生装置の概要ブロック図である。図７は、光ディスクのトラック上にディフェクトが発生した場合のディフェクトの検出方法を説明するための図である。
【０００３】
図６に示すように、従来の光ディスク再生装置は、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ２と、光ディスク１のトラック上に記録されている記録マークを検出するピックアップ部３と、ピックアップ部３により光ディスク１のトラック上における複数の記録マークを検出して複数の記録マーク信号Ｖ０を増幅して得られた増幅信号Ｖ１を出力する増幅部４と、光ディスク１のトラック上に塵、ゴミ等の付着や傷の発生によってディフェクトが生じた場合に、前記増幅信号Ｖ１の中から前記ディフェクトに対応するディフェクト信号Ｖ２の検出を行うディフェクト検出部７と、ディフェクト検出部７で検出されたディフェクト信号Ｖ２に基づいて、補正信号Ｖ３を出力して光ディスクの再生制御を行う制御部８と、からなる。
【０００４】
そして、光ディスク１のトラック上に塵、ゴミ等の付着や傷の発生によってディフェクトが生じた場合には、図７に示すように、光ディスクのトラック上に記録された記録マークを電気信号に変換してこの電気信号のエンベロープを演算で求める。ディフェクトが生じた部分では、信号出力の低下により凹部Ｐを生じ、正常な記録マーク部分では、信号出力は一定値Ｑを得る。
このため、正常な記録マークから再生される信号よりも若干低い基準信号を設定して、記録マークから再生される信号が、この基準信号よりも高い場合にはディフェクトなしとして、正常動作により再生し、低い場合には、ディフェクト有りと判定して補正信号を制御部８から出力させて再生を行う。
【特許文献１】特許第３２３５５０４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
ところで、光ディスク１上に生じた傷は、ディフェクトのように不良部分ではなく、正常に再生される部分であるので、ディフェクトと区別する必要がある。
図８に示すように、この傷によって生じた部分の記録マークから得られる信号は、正常な記録マークから得られる信号よりも若干低いだけであり、正常に再生できる。
しかしながら、従来の光ディスク再生装置のディフェクト検出では、光ディスク１上に傷を生じた場合には、正常の信号出力よりも若干低くなるだけで、図８中の○で囲んだＢのように、基準信号よりも低い場合が生じ、図８においてはディフェクトとして誤検出されるため、正常な信号として得ることができなかった。このことは、傷だけでなく、光ディスク上の汚れに対しても同様な傾向があった。
【０００６】
そこで、本発明は、上記のような問題点を解消するためになされたもので、光ディスク上の汚れや傷が生じた場合と塵やゴミが付着してディフェクトを生じた場合とで区別して再生する光ディスク再生装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本願発明における第１の発明は、レーザ光を光ディスクのトラック上に照射して、前記トラックに記録されている記録マークの情報を再生する際、前記トラック上に欠陥領域が生じた場合に、前記欠陥領域が再生可能かどうかを判別して行う光ディスク再生装置において、予め前記トラック上に前記レーザ光を照射して、前記記録マークからの戻り光の信号を格納する第１の記憶部と、前記欠陥領域における記録マークからの戻り光による信号のうち、最も小さい信号よりも大きく、かつ最も大きい信号よりも小さい基準信号を生成する基準信号生成回路部と、前記基準信号と前記欠陥領域の記録マークから得られる信号とを比較し、前記欠陥領域の記録マークからの戻り光による信号が前記基準信号よりも大きい場合には、再生可能、小さい場合には、再生不可能と判別する判別回路部と、前記判別回路部で再生不能と判別された場合には、前記再生不能の欠陥領域の記録マークに対応する信号の代わりに予め用意された再生可能な擬似信号として出力する擬似信号回路部と、前記判別回路部で再生可能と判定されて出力された再生信号と前記擬似信号回路部から出力された擬似信号を格納する第２の記憶部と、前記第２の記憶部に格納された前記再生信号及び前記擬似信号に基づいて、前記トラック上に記録されている記録マークを再生する再生回路部と、を有することを特徴とする光ディスク再生装置を提供する。
本願発明における第２の発明は、レーザ光を光ディスクのトラック上に照射して、前記トラックに記録されている記録マークの情報を再生する際、前記トラック上に欠陥領域が生じた場合に、前記欠陥領域が再生可能かどうかを判別して行う光ディスク再生方法において、予め前記トラック上に前記レーザ光を照射して、前記記録マークからの戻り光の信号を第1の記憶部に格納し、次に、前記欠陥領域における記録マークからの戻り光による信号のうち、最も小さい信号よりも大きく、かつ最も大きい信号よりも小さい基準信号を生成し、次に、前記基準信号と前記欠陥領域の記録マークから得られる信号とを比較し、前記欠陥領域の記録マークからの戻り光による信号が前記基準信号よりも大きい場合には、再生可能、小さい場合には、再生不可能と判別し、前記再生不能と判別された場合には、前記再生不能の欠陥領域の記録マークに対応する信号の代わりに予め用意された再生可能な擬似信号として出力し、次に、前記再生可能と判定されて出力された再生信号と前記擬似信号を第２の記憶部に格納し、前記再生信号及び前記擬似信号に基づいて、前記トラック上に記録されている記録マークを再生することを特徴とする光ディスク再生方法を提供する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、レーザ光を光ディスクのトラック上に照射して、トラックに記録されている記録マークの情報を再生する際、トラック上に欠陥領域が生じた場合に、欠陥領域が再生可能かどうかを判別して行う光ディスク再生装置において、予めトラック上にレーザ光を照射して、記録マークからの戻り光の信号を格納する第１の記憶部と、欠陥領域における記録マークからの戻り光による信号のうち、最も小さい信号よりも大きく、かつ最も大きい信号よりも小さい基準信号を生成する基準信号生成回路部と、基準信号と欠陥領域の記録マークから得られる信号とを比較し、欠陥領域の記録マークからの戻り光による信号が基準信号よりも大きい場合には、再生可能、小さい場合には、再生不可能と判別する判別回路部と、判別回路部で再生不能と判別された場合には、再生不能の欠陥領域の記録マークに対応する信号の代わりに予め用意された再生可能な擬似信号として出力する擬似信号回路部と、判別回路部で再生可能と判定されて出力された再生信号と擬似信号回路部から出力された擬似信号を格納する第２の記憶部と、第２の記憶部に格納された再生信号及び擬似信号に基づいて、トラック上に記録されている記録マークを再生する再生回路部と、を有するので、光ディスクに記録された情報による信号成分がほとんどない場合はディフェクトとして検出し、光ディスクの表面が汚れたり傷がついたりしていても光ディスクに記録された情報の信号成分が十分得られている場合は、光ディスクの表面が汚れたり傷がついたりしている部分をディフェクトとして検出しない効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下に本発明の実施形態に係る光ディスク再生装置及び光ディスク再生方法について図１〜図５を用いて説明する。（従来例と同一符号を用いる場合には、従来と同一構成については同一符号を付し、その説明を省略する。）
図１は、本発明の実施形態における光ディスク再生装置の概要ブロック図である。
図２は、ディフェクト検出部及び信号補正部における回路構成を示す図である。
図３は、記録マーク及び記録マーク上にディフェクトが形成された場合の信号との関係を示し、（Ａ）は正常な記録マーク上から得られる信号を示す図であり、（Ｂ）は塵や埃等によるディフェクトが記録マーク上に生じた場合の信号を示す図であり、（Ｃ）はキズによるディフェクトが記録マーク上に生じた場合の信号を示す図である。
図４は、エンベロープ信号と基準信号を示し、（Ａ）は、塵や埃等によるディフェクトが記録マーク上に生じた場合を示す図であり、（Ｂ）はキズによるディフェクトが記録マーク上に生じた場合を示す図である。
図５は、本発明の実施の形態の変形例におけるエンベロープと基準信号を示す図である。
【００１０】
図１に示すように、本発明の実施形態における光ディスク再生装置は、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ２と、光ディスク１のトラック上に記録されている複数の記録マークを検出して一定値の複数の記録マーク信号を得るピックアップ部３と、ピックアップ部３で得た前記複数の記録マーク信号Ｖ０を増幅して得られた増幅信号Ｖ１を出力する増幅部４と、光ディスク１のトラック上に塵、ゴミ等の付着や傷の発生によってディフェクトが生じた場合に、前記増幅信号Ｖ１の中から前記ディフェクトに対応するディフェクト信号Ｖ２を検出するディフェクト検出部５と、ディフェクト検出部５で検出されたディフェクト信号Ｖ２に基づいて、増幅部４から出力された増幅信号Ｖ１中のディフェクト信号Ｖ２の代わりに補正信号Ｖ３を出力して光ディスクの再生制御を行う信号補正部６と、からなる。
【００１１】
図２に示すように、ディフェクト検出部５は、増幅部４で増幅された複数の増幅信号Ｖ１を記憶する第１の記憶部４０と、この第１の記憶部４０に記憶されている複数の増幅信号Ｖ１を読み出し、この複数の増幅信号Ｖ１における波高値のエンベロープ信号を生成するエンベロープ生成回路部４１と、エンベローブ信号のハイレベルとローレベルを検出し、前記ハイレベルと前記ローレベルとの間にあって、ディフェクト信号Ｖ２のうち、最も小さいレベルよりも大きく、かつ最も大きい信号よりも小さい基準信号Ｖｊを生成する基準信号生成回路４２と、基準信号Ｖｊとディフェクト信号Ｖ２とを比較し、ディフェクト信号Ｖ２が基準信号Ｖｊよりも大きい場合には、再生可能、小さい場合には、再生不能と判別する判別回路部４３と、からなる。
【００１２】
更に、信号補正部６は、判別回路４３で再生不能と判別された場合には、再生不能なディフェクト信号Ｖ２の代わりに予め用意された再生可能な擬似信号Ｖｄｕｍを出力する擬似信号回路部４４と、判別回路部４３で再生可能と判定されて出力された再生信号と擬似信号回路部４４から出力された擬似信号Ｖｄｕｍを格納する第２の記憶部４５と、第２の記憶部４６に格納された擬似信号Ｖｄｕｍと増幅信号Ｖ１とを合成した補正信号Ｖ３を出力する再生回路部４６と、からなる。
【００１３】
次に本発明の実施形態における光ディスク再生装置の動作について図１〜図４を用いて、より詳細に説明する。
まずは、以下に説明するように基準信号を求める。
光ディスク１をスピンドルモータ２により回転した状態で、ピックアップ部３の光源からレーザ光を照射し、光ディスク１のトラック上に記録されている記録マークを読み取って反射された戻り光をピックアップ部３の図示しないフォトディテクタで受光して記録マーク信号Ｖ０を検出した後、増幅部４で増幅信号Ｖ１として、ディフェクト検出部５と信号補正部６に出力する。
【００１４】
そして、増幅部４で増幅された複数の増幅信号Ｖ１をディフェクト検出部５の第１の記憶部４０に記憶させる。この後、エンベロープ生成回路部４１で第１の記憶部４０に記憶されている複数の増幅信号Ｖ１を読み出し、この複数の増幅信号Ｖ１の波高値のエンベロープ信号を生成する。次に、基準信号生成回路４２でエンベロープ信号のハイレベルとローレベルを検出し、前記ハイレベルと前記ローレベルとの間にあって、ディフェクト信号Ｖ２のうち、最も小さいレベルよりも大きく、かつ最も大きい信号よりも小さい一定値の基準信号Ｖｊを生成する。
【００１５】
次に、ディフェクト信号の判別について説明する。
光ディスク１をスピンドルモータ２により回転した状態で、ピックアップ部３の光源からレーザ光を照射し、光ディスク１のトラック上に記録されている記録マークを読み取って反射された戻り光をピックアップ部３の図示しないフォトディテクタで受光して記録マーク信号Ｖ０を検出した後、増幅部４で増幅信号Ｖ１として、ディフェクト検出部５と信号補正部６に出力する。
【００１６】
そして、増幅部４で増幅された複数の増幅信号Ｖ１をディフェクト検出部５の第１の記憶部４０に記憶させる。この後、エンベロープ生成回路部４１で第１の記憶部４０に記憶されている複数の増幅信号を読み出し、この複数の増幅信号Ｖ１における波高値のエンベロープ信号を生成する。
【００１７】
次に、判別回路４３で基準信号生成回路４２で生成された基準信号Ｖｊと増幅信号Ｖ１とを比較し、ディフェクト信号Ｖ２が基準信号Ｖｊよりも大きい場合には、再生可能、小さい場合には、再生不能と判別する。
【００１８】
図３は、判別されるディフェクトとその信号との関係を示した図である。
図３（Ａ）に示すように、記録マークが正常に読み取れた場合には、記録マーク信号が基準信号Ｖｉよりも大きく、再生可能、図３（Ｂ）に示すように、塵や埃等のディフェクトが記録マーク上を覆ってしまった場合には、ディフェクト信号Ｖ２が基準信号Ｖｊよりも低く、再生不能、図３（Ｃ）に示すように、キズや汚れ等のディフェクトが記録マーク上を覆ってしまった場合には、ディフェクト信号Ｖ２が基準信号Ｖｊよりも大きく、再生可能と判別できる。
【００１９】
そして、図４は、エンベロープ信号と基準信号を示し、図４（Ａ）は、塵や埃等によるディフェクトが記録マーク上に生じた場合を示す図であり、図４（Ｂ）はキズによるディフェクトが記録マーク上に生じた場合を示す図である。図４（Ａ）に示すように、塵や埃等のディフェクトが記録マーク上を覆ってしまった場合には、ディフェクト信号Ｖ２が基準信号Ｖｊよりも低く、再生不能、図４（Ｂ）に示すように、キズや汚れ等のディフェクトが記録マーク上を覆ってしまった場合には、ディフェクト信号Ｖ２が基準信号Ｖｊよりも大きく、再生可能と判別できる。
【００２０】
この後、判別回路４３で再生不能と判別された場合には、再生不能なディフェクト信号Ｖ２の代わりに擬似信号回路部４４で予め用意された擬似信号Ｖｄｕｍを出力する。この擬似信号Ｖｄｕｍと判別回路部４３で再生可能と判定されて出力された再生信号を第２の記憶部４５に格納する。
【００２１】
更に、第２の記憶部４５に格納された擬似信号ｄｕｍと増幅信号Ｖ１とを合成して補正信号Ｖ３を再生回路部４６から出力する。
この補正信号Ｖ３を用いて光ディスクの記録再生を行うことによってキズと塵や埃とを区別することができる。
【００２２】
以上のように本発明の実施の形態によれば、複数の増幅信号Ｖ１における波高値のエンベロープ信号を生成するエンベロープ生成回路部４１と、エンベローブ信号のハイレベルとローレベルを検出し、前記ハイレベルと前記ローレベルとの間にあって、ディフェクト信号Ｖ２のうち、最も小さいレベルよりも大きく、かつ最も大きい信号よりも小さい基準信号Ｖｊを生成する基準信号生成回路４２と、基準信号Ｖｊとディフェクト信号Ｖ２とを比較し、ディフェクト信号Ｖ２が基準信号Ｖｊよりも大きい場合には、再生可能、小さい場合には、再生不能と判別する判別回路部４３と、からなるので、再生可能なキズや汚れが記録マークを覆った場合と再生不能な塵や埃等が記録マークを覆った場合とを判別することができる。
このため、本来再生可能なキズや汚れが記録マークを覆った場合に再生不能といった判別を防止できるので、有用な情報を欠落することなく再生できる。
【００２３】
次に本発明の実施の形態における変形例について図５を用いて説明する。
図５に示すように、本発明の実施の形態における変形例は、基準信号Ｖｊが、ディフェクトが発生する始点から１／３位置までは下降する傾斜を有し、１／３の位置から終点付近までは一定値を有し、終点付近から正常記録マーク位置までは上昇する傾斜を有するようにしたものであり、それ以外は同様である。
本発明の実施の形態の変形例によっても実施の形態と同様な効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明の実施形態における光ディスク再生装置の概要ブロック図である。
【図２】ディフェクト検出部及び信号補正部における回路構成を示す図である。
【図３】記録マーク及び記録マーク上にディフェクトが形成された場合の信号との関係を示し、（Ａ）は正常な記録マーク上から得られる信号を示す図であり、（Ｂ）は塵や埃等によるディフェクトが記録マーク上に生じた場合の信号を示す図であり、（Ｃ）はキズによるディフェクトが記録マーク上に生じた場合の信号を示す図である。
【図４】エンベロープ信号と基準信号を示し、（Ａ）は、塵や埃等によるディフェクトが記録マーク上に生じた場合を示す図であり、（Ｃ）はキズによるディフェクトが記録マーク上に生じた場合を示す図である。
【図５】本発明の実施の形態の変形例におけるエンベロープと基準信号を示す図である。
【図６】特許文献１に記載されている従来の光ディスク再生装置概要ブロック図である。
【図７】光ディスクのトラック上にディフェクトが発生した場合のディフェクトの検出方法を説明するための図である。
【図８】光ディスクのトラック上にキズによるディフェクトが生じた場合の信号を示す図である。
【符号の説明】
【００２５】
１・・・光ディスク、２・・・スピンドルモータ、３・・・ピックアップ部、４・・・増幅部、５・・・ディフェクト検出部、６・・・信号補正部、７・・・ディフェクト検出部、８・・・制御部、４０・・・記憶部、４１・・・エンベロープ生成回路部、４２・・・基準信号生成回路部、４３・・・判別回路部、４４・・・擬似信号回路部、４５・・・記憶部、４６・・・再生回路部
【図１】
2006147067.tif 000003
【図２】
2006147067.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2006147067.tif 000009
【図８】
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