(57)【要約】【課題】  精度よく測定できるテストシステムを実現することを目的にする。【解決手段】  本発明は、電流出力を行う被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。本装置は、被試験対象の出力を測定する電流測定部と、この電流測定部と被試験対象の経路間に設けられ、被試験対象の出力の期待値に基づく反転電流を与える電流発生部とを備えたことを特徴とする装置である。【選択図】      図１
2006267041.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電流出力を行う被試験対象を試験するテストシステムにおいて、
前記被試験対象の出力を測定する電流測定部と、
この電流測定部と前記被試験対象の経路間に設けられ、前記被試験対象の出力の期待値に基づく反転電流を与える電流発生部と
を備えたことを特徴とするテストシステム。
【請求項２】
電流出力を行う被試験対象を試験するテストシステムにおいて、
前記被試験対象の出力を入力し、電圧に変換するＩ／Ｖ変換器と、
このＩ／Ｖ変換器の出力を測定する電圧測定部と、
前記被試験対象と前記Ｉ／Ｖ変換器との経路間に設けられ、前記被試験対象の出力の期待値に基づく反転電流を与える電流発生部と
を備えたことを特徴とするテストシステム。
【請求項３】
電流出力を行う被試験対象を試験するテストシステムにおいて、
前記被試験対象の出力を入力し、電圧に変換するＩ／Ｖ変換器と、
このＩ／Ｖ変換器の出力を入力するＩＣテスタと、
前記被試験対象と前記Ｉ／Ｖ変換器との経路間に設けられ、前記被試験対象の出力の期待値に基づく反転電流を与える電流発生部と
を備えたことを特徴とするテストシステム。
【請求項４】
電流出力を行う被試験対象を試験するテストシステムにおいて、
前記被試験対象の出力を入力し、電圧に変換するＩ／Ｖ変換器と、
このＩ／Ｖ変換器の出力を入力し、Ｉ／Ｖ変換器の出力と、前記被試験対象の出力の期待値に基づく電圧との差電圧を出力する差電圧発生部と、
この差電圧発生部の出力を測定する電圧測定部と
を備えたことを特徴とするテストシステム。
【請求項５】
電流出力を行う被試験対象を試験するテストシステムにおいて、
前記被試験対象の出力を入力し、電圧に変換するＩ／Ｖ変換器と、
このＩ／Ｖ変換器の出力を入力し、Ｉ／Ｖ変換の出力と前記被試験対象の出力の期待値に基づく電圧との差電圧を出力する差電圧発生部と、
この差電圧発生部の出力を入力するＩＣテスタと
を備えたことを特徴とするテストシステム。
【請求項６】
前記Ｉ／Ｖ変換器は、
反転入力端子に前記被試験対象の出力が入力され、非反転端子が所望の電位に接続され、出力端が前記電圧測定部に電気的に接続されるオペアンプと、
このオペアンプの反転入力端子と出力端との間に設けられる抵抗と
を有することを特徴とする請求項２〜５のいずれかに記載のテストシステム。
【請求項７】
前記被試験対象は、複数の出力ピンを有し、多階調電流を出力する有機ＥＬドライバであることを特徴とする請求項１〜６のいずれかに記載のテストシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電流出力を行う被試験対象、例えば有機ＥＬドライバを試験するテストシステムに関し、精度よく測定できるテストシステムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、有機ＥＬ（Electro Luminescence）を発光素子として用いたディスプレイが提案されている。この有機ＥＬは、ダイオード機能を有し、電流を与えられることで発光する。このため、従来の液晶駆動ドライバで用いられた電圧出力と異なり、有機ＥＬドライバは電流出力が用いられるようになった。このような有機ＥＬドライバを試験するＩＣテスタは例えば下記特許文献１等に記載されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−２９４０９３号公報
【０００４】
このような装置を図４に示し説明する。図４において、被試験対象（以下ＤＵＴ）は、例えば有機ＥＬドライバで、複数の出力ピンを有し、多階調電流を出力する。マルチプレクサ２は、ＤＵＴ１の出力を切り換える。電流測定器３は、マルチプレクサ１の出力を測定し、切替リレーＲＬ１，ＲＬ２、レンジ部３１〜３４、測定部３５からなる。切替リレーＲＬ１は、可動接点ａをマルチプレクサ２の出力端に接続する。レンジ部３１〜３４は、測定レンジが異なり、それぞれ、切替リレーＲＬ１の固定接点ｂ〜ｅに入力端を接続する。切替リレーＲＬ２は、それぞれ、レンジ部３１〜３４の出力端に固定接点ｂ〜ｅを接続する。電流測定部３５は、リレーＲＬ２の可動接点ａに接続する。
【０００５】
このような装置の動作を以下に説明する。電流測定器３が、切替リレーＲＬ１，ＲＬ２を切り替えて、レンジ部３１〜３４を選択し、測定レンジを決める。例えば、測定レンジとして、レンジ部３１を選択する。そして、ＤＵＴ１が、図示しない装置から入力される入力パターンに基づいて、複数の出力ピンから多階調電流を出力し、マルチプレクサ２が出力ピンを順番に切り換える。マルチプレクサ２の出力が、レンジ部３１に入力され、レンジ部３１で測定レンジが最適化され、電流測定部３５に入力され、電流測定が行われる。この測定結果により、図示しない装置により、電流が所定の電流範囲に入っていた場合、良品と判定される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
このような装置で、ＤＵＴ１のピン間の出力差を測定する場合、ＤＵＴ１の出力が、３［μＡ］の場合と、１５［μＡ］の場合とで、レンジ部３１〜３４を切り替えて測定を行っている。しかし、レンジ部３１〜３４を切り替えると、測定分解能が異なり、同じ精度で測定を行うことができない。そこで、３μＡ、１５μＡの両方を測定できる大きい測定レンジで行うと、測定精度が悪くなってしまうという問題点があった。
【０００７】
そこで、本発明の目的は、精度よく測定できるテストシステムを実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
電流出力を行う被試験対象を試験するテストシステムにおいて、
前記被試験対象の出力を測定する電流測定部と、
この電流測定部と前記被試験対象の経路間に設けられ、前記被試験対象の出力の期待値に基づく反転電流を与える電流発生部と
を備えたことを特徴とするテストシステム。
【０００９】
請求項２記載の発明は、
電流出力を行う被試験対象を試験するテストシステムにおいて、
前記被試験対象の出力を入力し、電圧に変換するＩ／Ｖ変換器と、
このＩ／Ｖ変換器の出力を測定する電圧測定部と、
前記被試験対象と前記Ｉ／Ｖ変換器との経路間に設けられ、前記被試験対象の出力の期待値に基づく反転電流を与える電流発生部と
を備えたことを特徴とするものである。
【００１０】
請求項３記載の発明は、
電流出力を行う被試験対象を試験するテストシステムにおいて、
前記被試験対象の出力を入力し、電圧に変換するＩ／Ｖ変換器と、
このＩ／Ｖ変換器の出力を入力するＩＣテスタと、
前記被試験対象と前記Ｉ／Ｖ変換器との経路間に設けられ、前記被試験対象の出力の期待値に基づく反転電流を与える電流発生部と
を備えたことを特徴とするものである。
【００１１】
請求項４記載の発明は、
電流出力を行う被試験対象を試験するテストシステムにおいて、
前記被試験対象の出力を入力し、電圧に変換するＩ／Ｖ変換器と、
このＩ／Ｖ変換器の出力を入力し、Ｉ／Ｖ変換器の出力と、前記被試験対象の出力の期待値に基づく電圧との差電圧を出力する差電圧発生部と、
この差電圧発生部の出力を測定する電圧測定部と
を備えたことを特徴とするものである。
【００１２】
請求項５記載の発明は、
電流出力を行う被試験対象を試験するテストシステムにおいて、
前記被試験対象の出力を入力し、電圧に変換するＩ／Ｖ変換器と、
このＩ／Ｖ変換器の出力を入力し、Ｉ／Ｖ変換の出力と前記被試験対象の出力の期待値に基づく電圧との差電圧を出力する差電圧発生部と、
この差電圧発生部の出力を入力するＩＣテスタと
を備えたことを特徴とするものである。
ものである。
【００１３】
請求項６記載の発明は、請求項２〜５のいずれかに記載の発明であって、
前記Ｉ／Ｖ変換器は、
反転入力端子に前記被試験対象の出力が入力され、非反転端子が所望の電位に接続され、出力端が前記電圧測定部に電気的に接続されるオペアンプと、
このオペアンプの反転入力端子と出力端との間に設けられる抵抗と
を有することを特徴とするものである。
【００１４】
請求項７記載の発明は、請求項１〜６のいずれかに記載の発明であって、
前記被試験対象は、複数の出力ピンを有し、多階調電流を出力する有機ＥＬドライバであることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、以下のような効果がある。
電流発生部が反転電流を出力し、この反転電流により、被試験対象の出力を縮小させ、電流測定部で測定を行うので、高精度に測定を行うことができる。
また、電流発生部が反転電流を出力し、この反転電流により、被試験対象の出力を縮小させ、Ｉ／Ｖ変換器で電圧に変換し、電圧測定部またはＩＣテスタに入力するので、高精度の試験を行うことができる。
そして、Ｉ／Ｖ変換器が被試験対象の出力を電圧に変換し、この電圧と被試験対象の期待値に基づく電圧との差電圧を、差電圧発生部が出力し、電圧測定部またはＩＣテスタに入力するので、高精度の試験を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下本発明を、図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図４と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
【００１７】
図１において、電流発生部４は、ＤＵＴ１の出力の期待値に基づく、反転電流（オフセット電流）を、電流測定器３のレンジ部３４の入力端に与える。ここで、レンジ部３４は、レンジ部３１〜３３より、測定レンジが小さいとする。
【００１８】
このような装置の動作を以下に説明する。電流測定器３が、切替リレーＲＬ１，ＲＬ２を切り替えて、レンジ部３４を選択し、測定レンジを決める。そして、ＤＵＴ１が、図示しない装置から入力される入力パターンに基づいて、複数の出力ピンから多階調電流を出力し、マリチプレクサ２が出力ピンを順番に切り換える。このとき、電流発生部４は、入力パターンに対応するＤＵＴ１の出力の期待値に基づいて、図示しない制御部により制御され、期待される電流の反転電流、オフセット電流を出力する。マルチプレクサ２の出力が、電流発生部４が出力するオフセット電流により、０［Ａ］近傍になり、レンジ部３４に入力され、レンジ部３４で測定レンジが最適化され、電流測定部３５に入力され、電流測定が行われる。この測定結果により、図示しない装置により、ＤＵＴ１の赤、緑、青の各色のディスプレイを駆動させる出力ピンごとのピン間の出力差を求め、所定の電流範囲に入っていた場合、良品と判定され、入っていなかった場合、不良品と判定される。
【００１９】
このように、電流発生部４がオフセット電流を出力し、このオフセット電流により、ＤＵＴ１の出力を縮小させ、レンジ部３４の倍率で増幅し、電流測定部３５で測定を行うので、高精度に測定を行うことができる。
【００２０】
なお、電流発生部４は、レンジ部３４の入力端にオフセット電流を与える構成を示したが、電流測定部３５の入力端にオフセット電流を与える場合でもよい。この場合、オフセット電流は、レンジ部３１〜３４の倍率により、電流値を変更して与える。
【００２１】
次に、第２の実施例を図２に示し説明する。ここで、図４と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
【００２２】
図２において、Ｉ／Ｖ変換器５は、ＤＵＴ１の出力ピンごとに設けられ、ＤＵＴ１の出力を入力し、電圧に変換し、オペアンプ５１、抵抗Ｒからなる。オペアンプ５１は、反転入力端子にＤＵＴ１の出力が入力され、非反転端子が所望の電位、グランドに接続される。抵抗Ｒは、オペアンプ５１の反転入力端子と出力端との間に設けられる。電流発生部６は、ＤＵＴ１とＩ／Ｖ変換器５との間に設けられ、ＤＵＴ１の出力の期待値に基づく反転電流を、ＤＵＴ１の出力に与える。ＩＣテスタ７は、Ｉ／Ｖ変換器５の出力を入力し、電圧測定部７１等を有する。電圧測定部７１は、オペアンプ５１の出力端に接続する。
【００２３】
このような装置の動作を説明する。ＤＵＴ１が、図示しない装置から入力される入力パターンに基づいて、複数の出力ピンから多階調電流を出力する。このとき、電流発生部６は、入力パターンに対応するＤＵＴ１の出力の期待値に基づいて、図示しない制御部により制御され、期待される電流の反転電流、オフセット電流を出力する。ＤＵＴ１の多階調電流が、電流発生部６が出力するオフセット電流により、０［Ａ］近傍になり、Ｉ／Ｖ変換器５に入力される。そして、Ｉ／Ｖ変換器５が、入力電流を電圧に変換し、電圧測定部７１に出力する。電圧測定部７１が電圧測定を行い、この測定結果により、図示しない装置により、ピン間の出力差を求め、所定の範囲に入っていた場合、良品と判定され、入っていない場合、不良品と判定される。
【００２４】
ここで、オペアンプ５１の非反転入力端子に電圧発生部から電圧を与え、Ｉ／Ｖ変換器５の出力電圧を減衰させる構成が考えられるが、オペアンプ５１の非反転入力端子に入力された電圧が、反転入力端子に現われ、ＤＵＴ１の出力ピンに入力されることになる。この結果、ＤＵＴ１の多階調電流が変化してしまい、正確な試験を行うことができなくなってしまう。
【００２５】
そして、第３の実施例を図３に示し説明する。ここで、図２と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
【００２６】
図３において、差電圧発生部８は、電流発生部６の代わりに設けられ、Ｉ／Ｖ変換器５の出力を入力し、Ｉ／Ｖ変換器５の出力とＤＵＴ１の出力の期待値に基づく電圧との差電圧を、ＩＣテスタ７の電圧測定部７１に出力する。そして、差電圧発生部８は、電圧源８１、加算器８２からなる。電圧源８１は、電圧を可変し、ＤＵＴ１の出力の期待値に基づく電圧を与える。加算器８２は、Ｉ／Ｖ変換器５の出力と電圧源８１の出力とを加算し、ＩＣテスタ７の電圧測定部７１に出力する。
【００２７】
このような装置の動作を以下に説明する。ＤＵＴ１が、図示しない装置からの入力パターンに基づいて、複数の出力ピンから多階調電流を出力し、Ｉ／Ｖ変換器５に入力する。そして、Ｉ／Ｖ変換器５が、入力電流を電圧に変換し、加算器８２に出力する。このとき、電圧源８１は、入力パターンに対応するＤＵＴ１の出力の期待値に基づいて、図示しない制御部により制御され、ＤＵＴ１の出力の期待値に基づく電圧を出力している。加算器８２は、Ｉ／Ｖ変換器５の出力に、電圧源８１が出力するオフセット電圧を加算し、電圧測定部７１に出力する。電圧測定部７１が電圧測定を行い、この測定結果により、図示しない装置により、ピン間の出力差を求め、所定の範囲に入っていた場合、良品と判定され、入っていない場合、不良品と判定される。
【００２８】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、電圧測定部７１ではなく、コンパレータを設けた構成でもよい。この場合、コンパレータにより、所定の電圧範囲に入っているかどうか比較が行われる。なお、電圧測定部３５，７１により、ＤＵＴ１の出力が、所定の電圧範囲に入っているかの比較を行う構成でもよいことはいうまでもない。
【００２９】
また、レンジ部３１〜３５を設けた構成を示したが、電流測定部３５内部にある構成でもよい。また、レンジ部３１〜３５がない構成でもよい。
【００３０】
また、Ｉ／Ｖ変換器５は、ＤＵＴ１の出力ピンごとに設けなくともよく、マルチプレクサを設け、ＤＵＴ１の出力ピンを選択し、Ｉ／Ｖ変換器５に与える構成でもよい。
【００３１】
また、差電圧発生部８は、加算器８２により構成される例を示したが、減算器の場合でもよい。この場合、電圧源８１は、加算器８２の場合とプラス、マイナスが逆の電圧を出力する。
【００３２】
また、電圧測定部７１の入力段に増幅アンプを設け、電圧を増幅して測定する構成でもよく、電圧測定部７１内部に増幅アンプがある構成でもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明の第１の実施例を示した構成図である。
【図２】本発明の第２の実施例を示した構成図である。
【図３】本発明の第３の実施例を示した構成図である。
【図４】従来のＩＣテスタの構成を示した図である。
【符号の説明】
【００３４】
１  ＤＵＴ
３５  電流測定部
４，６  電流発生部
５  Ｉ／Ｖ変換器
５１  オペアンプ
Ｒ  抵抗
７  ＩＣテスタ
７１  電圧測定部
８  差電圧発生部
８１  電圧源
８２  加算器
【図１】
2006267041.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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