(57)【要約】【課題】  一様渦電流を利用する渦電流探傷用プローブにおいて、検査体の検査面に対する励磁コイル及び検出コイルの位置がずれてもリフトオフ雑音が発生しない渦電流探傷用プローブを提供すること。【解決手段】  渦電流探傷プローブ２０は、円形の励磁コイル２１、円形のプレーナ型検出コイル２２からなり、検出コイル２２は、励磁コイル２１の外周面に沿って配置してある。即ち検出コイル２２は、励磁コイル２１の外周面の曲率と略同じ曲率のコイル面（励磁コイル２１の外周面に沿う曲面）を有する。図１（ｂ）に対して図１（ｃ）のように位置ずれがあっても励磁コイル２１及び検出コイル２２と検査体３１の検査面との距離関係或いは位置関係は変わらない。【選択図】                図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
円形の励磁コイルと円形の検出コイルを備え、検出コイルは励磁コイルの外周面に両コイルのコイル軸又は両コイルのコイル面が略直交するように配置し、検出コイルは励磁コイルの外周面に沿って配置してあることを特徴とする渦電流探傷用プローブ。
【請求項２】
円形の励磁コイルと円形の検出コイルを備え、検出コイルは励磁コイルの外周面に両コイルのコイル軸又は両コイルのコイル面が略直交するように配置し、検出コイルのコイル面の曲率は、励磁コイルの外周面の曲率と略同じであることを特徴とする渦電流探傷用プローブ。
【請求項３】
前記検出コイルは、プレーナ型であることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の渦電流探傷用プローブ。
【請求項４】
前記渦電流探傷用プローブは、溶接線の探傷用であることを特徴とする請求項１、請求項２又は請求項３に記載の渦電流探傷用プローブ。
【請求項５】
前記励磁コイルは、磁芯を有することを特徴とする請求項１、請求項２又は請求項３に記載の渦電流探傷用プローブ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本願発明は、一様渦電流を利用した渦電流探傷用プローブに関する。
【背景技術】
【０００２】
渦電流探傷用プローブは、従来円形（パンケーキ状）の励磁コイルと検出コイルを検査体の検査面と平行に配置したものを用いていたが、このタイプのものは、リフトオフ雑音の影響を受ける。そこでリフトオフ雑音の影響を受けない渦電流探傷用プローブとして、一様渦電流を利用したものが提案されている（特許文献１参照）。
【０００３】
図４により従来の一様渦電流を利用した渦電流探傷用プローブを説明する。
図４（ａ）は、平面図、図４（ｂ）は、図４（ａ）のＸ１方向の側面図、図４（ｃ）は渦電流探傷用プローブの位置ずれを説明する図である。
渦電流探傷用プローブ１０は、縦置き型の矩形の励磁コイル１１、円形状（パンケーキ状）の検出コイル１２からなり、検出コイル１２は、そのコイル軸が励磁コイル１１のコイル軸と直交するように配置してある。
【０００４】
渦電流探傷用プローブ１０は、図４（ｂ）のように、励磁コイル１１の検査体３１と対向する外周面及び検出コイル１２のコイル面（開口面）が、検査体３１の検査面と平行になるように設置してある。この状態において、励磁コイル１１に励磁電流を流すと、図４（ａ）のように、検査体３１の検査面に励磁コイル１１の巻線方向へ流れる一様な渦電流Ｉ１が発生し、その渦電流Ｉ１により検出コイル１２に起電力が発生する。しかしながら図４（ａ）において、検出コイル１２の左右（励磁コイル１１の巻き線方向の左右）の部分に発生する起電力は、打ち消し合うため、結局検出コイル１２には、出力は発生しない。検査体３１にキズがある場合には、そのキズの部分で渦電流Ｉ１に乱れが生じるため、検出コイル１２に出力（いわゆるキズ信号）が発生する。
【０００５】
【特許文献１】特開２００４−２０５２１２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
図４の渦電流探傷用プローブ１０は、図４（ｂ）のように、励磁コイル１１の外周面及び検出コイル１２のコイル面が検査体３１の検査面と平行になるように設置すると、検査体３１にキズがない場合には、前記のように検出コイル１２に出力が発生しない。したがってその並行を保った状態で、励磁コイル１１及び検出コイル１２と検査体３１の距離が変化しても、いわゆるリフトオフ雑音は発生しない。しかしながら、渦電流探傷用プローブ１０を手動で走査する場合、励磁コイル１１及び検出コイル１２と検査体３１を平行に保った状態で走査することは難しく、例えば図４（ｃ）のように、位置ずれが起きて励磁コイル１１及び検出コイル１２は、傾斜してしまう。励磁コイル１１及び検出コイル１２が傾斜すると、励磁コイル１１の外周面及び検出コイル１２のコイル面と検査体３１の検査面の距離が部分的に異なるため、検出コイル１２には出力が生じ、リフトオフ雑音が発生する。
本願発明は、前記リフトオフ雑音の発生を防止することを目的とし、励磁コイル１１及び検出コイル１２と検査体３１との平行が崩れた場合にも、リフトオフ雑音を発生することなく手動で走査できる渦電流探傷用プローブを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本願発明は、その目的を達成するため、請求項１に記載の渦電流探傷用プローブは、円形の励磁コイルと円形の検出コイルを備え、検出コイルは励磁コイルの外周面に両コイルのコイル軸又は両コイルのコイル面が略直交するように配置し、検出コイルは励磁コイルの外周面に沿って配置してあることを特徴とする。
請求項２に記載の渦電流探傷用プローブは、円形の励磁コイルと円形の検出コイルを備え、検出コイルは励磁コイルの外周面に両コイルのコイル軸又は両コイルのコイル面が略直交するように配置し、検出コイルのコイル面の曲率は、励磁コイルの外周面の曲率と略同じであることを特徴とする。
請求項３に記載の渦電流探傷用プローブは、請求項１又は請求項２に記載の渦電流探傷用プローブにおいて、前記検出コイルは、プレーナ型であることを特徴とする。
請求項４に記載の渦電流探傷用プローブは、請求項１、請求項２又は請求項３に記載の渦電流探傷用プローブにおいて、前記渦電流探傷用プローブは、溶接線の探傷用であることを特徴とする。
請求項５に記載の渦電流探傷用プローブは、請求項１、請求項２又は請求項３に記載の渦電流探傷用プローブにおいて、前記励磁コイルは、磁芯を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本願発明の渦電流探傷用プローブは、検出コイルを円形の励磁コイルの外周面に沿うように配置してあるから、渦電流探傷用プローブを走査するとき、渦電流探傷用プローブの位置或いは向きが変わっても、検出コイル及び検出コイルと検査体の検査面との距離関係或いは位置関係は、変わらない。したがって本願発明の渦電流探傷用プローブは、その位置或いは向きが変わってもリフトオフ雑音は発生しない。
【０００９】
本願発明の渦電流探傷用プローブは、検出コイルを円形の励磁コイルの外周面に沿うように配置してあるから、検査体の検査面が溶接線等の盛り上がり部分を有する場合にも、渦電流探傷用プローブを検査個所に接近させて走査できる。したがって本願発明の渦電流探傷用プローブは、探傷感度、探傷精度が高くなる。また本願発明の渦電流探傷用プローブは、励磁コイルに磁芯を設けてあるから、検査個所の励磁コイルにより発生する磁力線の密度が高くなり、したがって探傷感度、探傷精度がさらに高くなる。
本願発明の渦電流探傷用プローブは、検出コイルにプレーナ型のものを用いるから、薄くでき、励磁コイルの外周面への取付けが容易になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
図１〜図３により本願発明の実施例を説明する。なお各図に共通の部分は、同じ符号を使用している。
【実施例】
【００１１】
まず図１について説明する。
図１は、本発明の実施例に係る渦電流探傷用プローブの構成を示す。
図１（ａ）は、平面図、図１（ｂ）は、図１（ａ）のＸ２方向の側面図、図１（ｃ）は、渦電流探傷用プローブの位置ずれを説明する図である。
図１において、２０は渦電流探傷用プローブ、２１は円形の励磁コイル、２２は円形のプレーナ型の検出コイル、３１は金属の検査体である。検出コイル２２は、導体を渦巻状に１層或いは複数層形成してある。渦電流探傷用プローブ２０は、励磁コイル２１と検出コイル２２からなり、検出コイル２２は、励磁コイル２１の外周面に沿って配置してある。即ち検出コイル２２のコイル面（励磁コイル２１の外周面に沿う曲面）の曲率は、励磁コイル２１の外周面の曲率と略同じである。そして両コイルのコイル軸又はコイル面は、略直交している。
【００１２】
渦電流探傷用プローブ２０は、励磁コイル２１のコイル軸が検査体３１の検査面と平行になるように、或いは励磁コイル２１のコイル面が検査体３１の検査面と略直交するように設置してある。即ち励磁コイル２１は、縦置き型のコイルである。励磁コイル２１に励磁電流を流すと、検査体３１に渦電流Ｉ１が発生する。
ここでコイル面は、コイルの巻き線に囲まれた面で、コイル軸と垂直な面（開口面）を言う。
【００１３】
渦電流探傷用プローブ２０を手動で走査するとき、渦電流探傷用プローブ２０が、例えば図１（ｂ）のＹ１方向へ位置ずれして、図１（ｃ）のようになった場合にも、励磁コイル２１及び検出コイル２２と検査体３１の検査面との距離関係或いは位置関係は、変わりがないから、その位置ずれによって検出コイル２２に出力、即ちリフトオフ雑音が発生することはない。このように渦電流探傷用プローブ２０は、検出コイルを励磁コイル２１の外周面に沿って配置してあるから、図１（ｂ）のＹ１方向へ位置ずれしても、その位置ずれによりリフトオフ雑音が発生することはない。したがって渦電流探傷用プローブ２０は、手動で走査してもリフトオフ雑音が発生することはない。
検出コイル２２は、プレーナ型のものを用いるから、薄くでき、励磁コイル２１の外周面への取付けが容易になる。
【００１４】
図２は、図１の渦電流探傷用プローブ２０を溶接線の探傷に使用する例である。
図２（ａ）は、平面図、図２（ｂ）は、図２（ａ）のＸ３方向の拡大側面図である。
図２において、３２は、検査体３１の溶接線である。
溶接線３２を探傷する場合は、渦電流探傷用プローブ２０を溶接線３２に沿って走査する。その際渦電流探傷用プローブ２０の検出コイル２２は、例えば図２（ｂ）のように設置する。なお検出コイル２２の位置は、図２（ｂ）に限らず探傷目的に応じて例えば溶接線３２の真上に設置することもできる。
【００１５】
渦電流探傷用プローブ２０を溶接線３２に沿って走査するとき、渦電流探傷用プローブ２０が図２（ｂ）のＹ２方向へ位置ずれしても、励磁コイル２１及び検出コイル２２と溶接線３２の距離関係或いは位置関係は変わらないから、リフトオフ雑音は発生しない。
また渦電流探傷用プローブ２０の励磁コイル２１の外周面及び検出コイル２２のコイル面は、円形であるから、検査体３１の検査面に溶接線３２があって平らでない場合にも、渦電流探傷用プローブ２０を溶接線３２に接近させて走査することができる。したがって渦電流探傷用プローブ２０は、探傷感度、探傷精度が高くなる。
【００１６】
図３は、図１の渦電流探傷用プローブ２０の励磁コイル２１に磁芯を設けた例である。
図３（ａ）は、平面図、図３（ｂ）は、図３（ａ）のＸ４部分の断面図である。
励磁コイル２１は磁芯２３を有するから、検査体３１の磁力線の密度が高くなり、検査体３１には、大きな渦電流が発生する。したがって渦電流探傷用プローブ２０は、探傷感度、探傷精度が高くなる。
【００１７】
本願発明の渦電流探傷用プローブの励磁コイルは、真円形状に限らず楕円等略円形であればよい。検出コイルは、真円形状に限らず楕円等略円形のプレーナ型のものであればよい。また検出コイルは、プレーナ型の外、パンケーキ状のものであってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本願発明の実施例に係る渦電流探傷用プローブの構成を示す図である。
【図２】図１の渦電流探傷用プローブを溶接線の探傷に使用した例を示す図である。
【図３】図１の渦電流探傷用プローブの検出コイルに磁芯を設けた例を示す図である。
【図４】従来の渦電流探傷用プローブの構成を示す図である。
【符号の説明】
【００１９】
２０    プローブ
２１    励磁コイル
２２    検出コイル
２３    磁芯
３１    検査体
３２    溶接線
Ｉ１    渦電流
【図１】
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【図２】
2006284506.tif 000004
【図３】
2006284506.tif 000005
【図４】
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