(57)【要約】【課題】  検査に専用される接続端子の個数を削減する。【解決手段】  電気光学装置Ｄ1は、複数の走査線１１と複数のデータ線１３との各交差に配置された画素回路１５を有する。素子基板上には制御信号が入力される接続端子６１が形成されている。走査線駆動回路２０は、複数の走査線１１のうち接続端子６１に入力されたアドレス信号ADRに応じた走査線１１に走査信号Ｙを供給する。検査回路４０は、複数のデータ線１３のうち接続端子６１に入力されたアドレス信号ADRに応じたデータ線１３を検査用出力端子７４に導通させる。すなわち、走査線駆動回路２０を動作させるためのアドレス信号ADRが入力される接続端子６１は、検査回路４０を動作させるためのアドレス信号ADRが入力される端子として兼用される。【選択図】            図１
2006058337.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１の方向に延在する複数の第１配線と、前記第１の方向とは異なる第２の方向に延在する複数の第２配線との各交差に対応して画素が配置された電気光学装置において、
制御信号が入力される接続端子と、
前記複数の第１配線のうち前記接続端子に入力された制御信号に応じた第１配線に駆動信号を供給する駆動手段と、
前記複数の第２配線のうち前記接続端子に入力された制御信号に応じた第２配線を検査用出力端子に導通させる検査手段と
を具備することを特徴とする電気光学装置。
【請求項２】
前記検査手段は、
各々が前記第２配線に対応して配置されて当該第２配線と前記検査用出力端子との導通および非導通を切り換える複数のスイッチング手段と、
前記接続端子から入力される制御信号に基づいて前記複数のスイッチング手段の何れかを導通させる検査制御手段と
を備えることを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項３】
前記駆動手段は、前記制御信号をデコードした結果に応じた第１配線に駆動信号を供給し、
前記検査制御手段は、前記制御信号をデコードした結果に応じたスイッチング手段を導通状態とする
ことを特徴とする請求項２に記載の電気光学装置。
【請求項４】
前記制御信号は、クロック信号および開始パルス信号を含み、
前記駆動手段は、前記開始パルス信号を前記クロック信号によりシフトして出力するシフトレジスタを備え、この出力信号によって前記複数の第１配線の各々を順次に選択して駆動信号を供給し、
前記検査制御手段は、前記開始パルス信号を前記クロック信号によりシフトして出力するシフトレジスタを備え、この出力信号によって前記複数のスイッチング手段の各々を順次に導通させる
ことを特徴とする請求項２に記載の電気光学装置。
【請求項５】
前記接続端子と前記検査手段との導通および非導通を切り換える信号供給手段を具備することを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項６】
前記駆動手段による前記第１配線の駆動状態を保持する保持手段を具備する請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項７】
前記接続端子と前記検査手段との導通および非導通を検査モード信号に応じて切り換える信号供給手段と、
前記駆動手段による前記第１配線の駆動状態を前記検査モード信号に応じたタイミングにて保持する保持手段と
を具備することを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置。
【請求項８】
請求項１から請求項７の何れか１項に記載の電気光学装置を備えた電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気光学装置および電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶表示装置などの電気光学装置は、複数の走査線と複数のデータ線との各交差に対応して配置された複数の画素を備える。さらに、走査線またはデータ線について断線や短絡といった欠陥の有無を検査するための検査回路が配置された構成も提案されている（例えば特許文献１参照）。この検査回路は、各データ線と出力端子との間に介挿されたスイッチング素子を具備する。そして、これらのスイッチング素子が外部から接続端子に入力された信号（以下「検査用制御信号」という）に応じて選択的に導通状態とされ、このときに出力端子に出力される信号を検出することによって各データ線の欠陥の有無が検査される。
【特許文献１】特開平５−３０７１６７号公報（段落０００３および第４図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、この構成のもとでは、走査線やデータ線を駆動するための信号（例えば同期信号や画像信号）など電気光学装置の駆動のために本来的に必要な信号を入力する接続端子のほかに、検査用制御信号を入力するための特別な接続端子が必要となる。しかしながら、このように端子数が増加すると、各接続端子と外部配線とが接触する部分の機械的な強度が相対的に低下して電気光学装置の信頼性が低下し、あるいは、各接続端子と導通させられる電子部品の価格が増大する（特に各接続端子のピッチが狭い場合）といった種々の問題が引き起こされる。
【０００４】
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、検査に専用される接続端子の個数を削減することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
この課題を解決するために、本発明は、第１の方向に延在する複数の第１配線と、前記第１の方向とは異なる第２の方向に延在する複数の第２配線との各交差に対応して画素が配置された電気光学装置において、制御信号が入力される接続端子と、前記複数の第１配線のうち前記接続端子に入力された制御信号に応じた第１配線に駆動信号を供給する駆動手段と、前記複数の第２配線のうち前記接続端子に入力された制御信号に応じた第２配線を検査用出力端子に導通させる検査手段とを具備する。
【０００６】
この構成によれば、駆動手段を動作させるための制御信号を入力する接続端子が、検査手段を動作させるための制御信号を入力する接続端子として兼用されるから、検査手段のみに信号を入力するための接続端子を独立して設ける必要がない。したがって、端子数の増加に起因した信頼性の低下や電子部品のコストの増大といった問題は解消される。
【０００７】
なお、電気光学装置とは、電気光学素子の作用によって画像を表示する装置を意味する。電気光学素子とは、電気的な作用によって光学的な特性が変化する素子であり、例えば、液晶や有機発光ダイオード素子などを含む概念である。また、複数の走査線と複数のデータ線とが互いに交差するように形成された電気光学装置においては、走査線およびデータ線の何れか一方が第１配線に相当するとともに他方が第２配線に相当する。第１配線が走査線とされた構成のもとでは、この第１配線に供給される駆動信号は各走査線を択一的に選択するための走査信号であり、第１配線がデータ線とされた構成のもとでは、この第１配線に供給される駆動信号は各画素の階調を指定するためのデータ信号である。そして、前者の構成における検査手段は、データ線を検査用出力端子に導通させることによってデータ信号の検出を可能とする手段として把握され、後者の構成における検査手段は、走査線を検査用出力端子に導通させることによって走査信号の検出を可能とする手段として把握される。
【０００８】
本発明の望ましい態様において、前記検査手段は、各々が前記第２配線に対応して配置されて当該第２配線と前記検査用出力端子との導通および非導通を切り換える複数のスイッチング手段と、前記接続端子から入力される制御信号に基づいて前記複数のスイッチング手段の何れかを導通させる検査制御手段とを備える。
【０００９】
この構成の第１の態様において、前記駆動手段は、前記制御信号をデコードした結果に応じた第１配線に駆動信号を供給し、前記検査制御手段は、前記制御信号をデコードした結果に応じたスイッチング手段を導通状態とする。この構成によれば、複数の第１配線の何れかを駆動信号の供給先として任意に選択することができるとともに、複数の第２配線の何れかを検査の対象として任意に選択することができる。なお、この態様の具体例は第１ないし第３実施形態として後述される。一方、第２の態様において、前記制御信号は、クロック信号および開始パルス信号を含み、前記駆動手段は、前記開始パルス信号を前記クロック信号によりシフトして出力するシフトレジスタを備え、この出力信号によって前記複数の第１配線の各々を順次に選択して駆動信号を供給し、前記検査制御手段は、前記開始パルス信号を前記クロック信号によりシフトして出力するシフトレジスタを備え、この出力信号によって前記複数のスイッチング手段の各々を順次に導通させる。この態様によれば、複数の第１配線の各々を駆動信号の供給先として順番に選択することができるとともに、複数の第２配線の何れかを検査の対象として順番に選択することができるから、各配線を指定する処理の負荷が低減されるとともに電気光学装置の構成が簡素化される。なお、この態様の具体例は第４実施形態として後述される。
【００１０】
ところで、駆動手段が各画素を駆動する動作を実行しているときには、検査手段に対する制御信号の供給を停止することが望ましい。そこで、本発明の他の態様においては、前記接続端子と前記検査手段との導通および非導通を切り換える信号供給手段がさらに設けられる。また、制御信号が検査手段による検査対象の選定に供される場合には、駆動手段による駆動信号の生成を停止することが望ましい。しかしながら、検査の内容によっては、何れかの第１配線を選択したまま検査手段による検査を実行する必要がある。そこで、本発明の望ましい態様においては、前記駆動手段による前記第１配線の駆動状態を保持する保持手段がさらに設けられる。この態様によれば、駆動手段による駆動状態を保持手段によって保持したまま第２配線を検査することができる。
【００１１】
これらの態様においては、信号供給手段による導通および非導通の切り替えを指示するための信号と、保持手段による保持のタイミングを規定する信号とを別個の信号とする構成も考えられるが（例えば後述する第１および第２実施形態）、この場合には各信号を入力するための接続端子を別個に配置する必要がある。そこで、本発明の望ましい態様においては、前記接続端子と前記検査手段との導通および非導通を検査モード信号に応じて切り換える信号供給手段と、前記駆動手段による前記第１配線の駆動状態を前記検査モード信号に応じたタイミングにて保持する保持手段とが設けられる。この態様によれば、信号供給手段の動作を指示する信号が保持手段による保持のタイミングを指示する信号として兼用されるから、接続端子の個数を低減するという本発明の効果はさらに顕著となる。
【００１２】
本発明に係る電子機器は、上述した電気光学装置を備える。このような電子機器としては、例えば、パーソナルコンピュータや携帯電話機、携帯型情報端末等がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
＜１．第１実施形態＞
図１は、本発明の第１実施形態に係る電気光学装置の電気的な構成を示すブロック図である。この電気光学装置Ｄ1は、相互に対向する素子基板と対向基板との間隙に電気光学素子たる液晶を封止した液晶表示装置である。素子基板には、ＴＦＴ（Thin  Film  Transistor）によって各種の回路が形成される。さらに詳述すると、素子基板には、図１に示されるように、表示領域Ａ、走査線駆動回路２０、データ線駆動回路３０、検査回路４０および信号供給回路５０が形成される。
【００１４】
表示領域Ａには、Ｘ方向に延在して端部が走査線駆動回路２０に接続された合計ｍ（ｍは２以上の自然数）本の走査線１１と、Ｘ方向に直交するＹ方向に延在して端部がデータ線駆動回路３０に接続された合計３ｎ（ｎは２以上の自然数）本のデータ線１３とが形成される。走査線１１とデータ線１３との各交差には画素回路１５が配置される。図１において各画素回路１５に付記された「Ｒ」「Ｇ」および「Ｂ」の文字は、その画素回路１５が赤色、緑色および青色にそれぞれ対応するものであることを示している。本実施形態においては、各色に対応する画素回路１５がＹ方向に配列された構成（いわゆるストライプ配列）を例示する。これらの画素回路１５はサブ画素に対応しており、赤色、緑色および青色のサブ画素の組によってひとつの画素が構成される。なお、以下では、各画素を構成する画素回路１５（すなわち各色に対応する合計３個の画素回路１５）がＹ方向にわたって配列した集合を「列」と表記する。したがって、これらの画素は、Ｘ方向およびＹ方向にわたって縦ｍ行×横ｎ列のマトリクス状に配列する。
【００１５】
素子基板には複数の接続端子６１が形成されている。各接続端子６１は、図示しない制御装置（例えば電気光学装置Ｄ1が搭載された電子機器のＣＰＵ）に電気光学装置Ｄ1を接続するための端子である。これらの接続端子６１には、アドレス信号ADRやイネーブル信号ENBといった各種の信号が入力される。このうちアドレス信号ADRは、ビットｂ0ないしビットｂ5からなる合計６ビットの信号である。一方、イネーブル信号ENBは走査線駆動回路２０の動作の許否を指定するための信号である。
【００１６】
走査線駆動回路２０は、接続端子６１から伝送線６３を介して入力されるアドレス信号ADRに基づいて各走査線１１を順次に選択する。本実施形態における走査線駆動回路２０は、アドレス信号ADRをデコードするデコーダを含み、このアドレス信号ADRが示す数値に対応した走査線１１に出力される信号Ｙi（ｉは１≦ｉ≦ｍを満たす自然数）をアクティブレベルとする。信号Ｙiは第ｉ行に属する各画素回路１５を選択するための信号であり、走査信号Ｙａiと反転走査信号Ｙｂiとから構成される。走査信号Ｙａiは、１垂直走査期間に内包される合計ｍ個の水平走査期間のうち第ｉ番目の水平走査期間にてアクティブレベルとなる信号であり、反転走査信号Ｙｂiは、走査信号Ｙａiの論理レベルを反転した信号である。図１に示された１本の走査線１１は、実際には、第１走査線１１１と第２走査線１１２とからなる（図２参照）。走査線駆動回路２０は、第ｉ行目の走査線１１の第１走査線１１１に走査信号Ｙａiを供給するとともに同行の走査線１１の第２走査線１１２に走査信号Ｙｂiを供給する。走査信号Ｙａiがアクティブレベルになると、第ｉ行に属する合計３ｎ個の画素回路１５が選択されたことを示す。
【００１７】
本実施形態における電気光学装置Ｄ1の動作モードは、電気光学装置Ｄ1の本来の機能として画像を表示する通常表示モードと、各データ線１３の断線や走査線１１との短絡といった欠陥の有無を検査するための検査モードとに区分される。走査線駆動回路２０に入力されるイネーブル信号ENBは、通常表示モードにおいてＨレベルとなり検査モードにおいてＬレベルとなる信号である。走査線駆動回路２０は、イネーブル信号ENBがＨレベルである場合にはアドレス信号ADRをデコードして走査信号Ｙａiおよび反転走査信号Ｙｂiを出力する一方、イネーブル信号ENBがＬレベルである場合にはこれらの信号の出力を停止する。
【００１８】
データ線駆動回路３０は、制御装置から供給される画像信号（各サブ画素の階調を指定する信号）に応じてデータ信号Ｘ（Ｘ1rないしＸnr、Ｘ1gないしＸng、およびＸ1bないしＸnb）を生成する回路であり、表示領域Ａに対してＹ方向の正側に配置されている。各データ信号Ｘは、サブ画素の階調に応じて２種類のレベルの何れかとなる電圧信号であり、走査線駆動回路２０が何れかの行を選択しているときに各データ線１３を介して画素回路１５に供給される。より具体的には、データ信号Ｘjrは、第ｊ列目に属する赤色の画素回路１５に供給され、データ信号Ｘjgは、第ｊ列目に属する緑色の画素回路１５に供給され、データ信号Ｘjbは、第ｊ列目に属する青色の画素回路１５に供給される。なお、図１においては、データ線駆動回路３０に供給されるべき信号が制御装置から入力される接続端子の図示は省略されている。
【００１９】
次に、図２は、画素回路１５の構成を示す回路図である。なお、ここでは第ｉ行に属する第ｊ列目の合計３個の画素回路１５のうち赤色に対応する画素回路１５のみが図示されているが、他の画素回路１５も同様の構成である。同図に示されるように、各画素回路１５には、極性信号FRおよび反転極性信号FRXが制御装置から供給される。このうち極性信号FRは、垂直走査期間（フレーム）ごとに論理レベルが反転する信号であり、反転極性信号FRXは、極性信号FRの論理レベルを反転した信号である。一方、対向基板のうち液晶に対向する表面の全域にわたって形成された対向電極には、所定の基準電位に対する極性が極性信号FRに同期して変動するコモン電位Ｖcomが印加される。
【００２０】
図２に示されるトランスファゲート１５１は、第１走査線１１１および第２走査線１１２を介して供給される走査信号Ｙａiおよび反転走査信号Ｙｂiがアクティブレベルになると、データ線１３を介して供給されるデータ信号Ｘjrを取り込む。インバータ１５２およびインバータ１５３は記憶回路として動作し、データ信号Ｘｊrの論理レベルを記憶する。さらに、画素回路１５は、トランスファゲート１５４およびトランスファゲート１５５と画素電極１５７とを備える。画素電極１５７は、対向電極と対向するようにサブ画素ごとに素子基板に形成された電極である。したがって、液晶には、画素電極１５７の電位とコモン電位Ｖcomとの電位差に応じた電圧が印加される。また、トランスファゲート１５４は、接続点Ｐ1の論理レベルがＨレベルのときにオン状態となり、接続点Ｐ1の論理レベルがＬレベルのときにオフ状態となる。一方、トランスファゲート１５５は、接続点Ｐ1の論理レベルがＬレベルのときにオン状態となり、接続点Ｐ1に論理レベルがＨレベルのときにオフ状態となる。
【００２１】
以上の構成のもと、Ｈレベルのデータ信号Ｘjrが取り込まれると、トランスファゲート１５４がオン状態となって反転極性信号FRXが画素電極１５７に印加され、液晶には反転極性信号FRXの電位とコモン電位Ｖcomとの電位差に相当する電圧が印加される。これに対し、Ｌレベルのデータ信号Ｘjrが取り込まれると、トランスファゲート１５５がオン状態となって極性信号FRが画素電極１５７に印加され、液晶には極性信号FRの電位とコモン電位Ｖcomとの電位差に相当する電圧が印加される。このように液晶に印加される電圧をサブ画素ごとにデータ信号Ｘに応じて制御することにより、表示領域Ａには所望の画像が表示される。
【００２２】
次に、図１に示される検査回路４０は、データ線１３の欠陥の有無を検査するための手段であり、表示領域Ａを挟んでデータ線駆動回路３０の反対側に配置される。検査回路４０は、検査制御回路４１とスイッチ群４３とを有する。このうちスイッチ群４３は、各々が別個のデータ線１３に対応する合計３ｎ個（データ線１３の総本数）のスイッチング素子４３１を含む。各スイッチング素子４３１の一端はデータ線１３に接続され、他端は３本の伝送線７２（７２r、７２gおよび７２b）の何れかに接続される。さらに詳述すると、赤色のサブ画素が配列するデータ線１３に一端が接続されたスイッチング素子４３１は他端が伝送線７２ｒに接続され、緑色のサブ画素が配列するデータ線１３に一端が接続されたスイッチング素子４３１は他端が伝送線７２ｇに接続され、青色のサブ画素が配列するデータ線１３に一端が接続されたスイッチング素子４３１は他端が伝送線７２ｂに接続される。第ｊ列に対応する３個のスイッチング素子４３１（第ｊ列の赤色、緑色および青色に対応するデータ線１３に接続された３個のスイッチング素子４３１）は共通の検査制御信号Ｓjによって導通および非導通が切り替えられる。また、各伝送線７２の端部には検査用出力端子７４が形成されている。この検査用出力端子７４はデータ線１３の電圧を検出するための端子である。
【００２３】
検査制御回路４１は、検査制御信号Ｓ1ないしＳnの何れかを択一的にアクティブレベル（スイッチング素子４３１をオン状態とするレベル）とする回路である。検査制御信号Ｓjがアクティブレベルになると、第ｊ列に属する３個のスイッチング素子４３１が一斉にオン状態となり、これにより第ｊ列目の赤色に対応するデータ線１３が伝送線７２ｒを介して検査用出力端子７４に接続され、緑色に対応するデータ線１３が伝送線７２ｇを介して検査用出力端子７４に接続され、青色に対応するデータ線１３が伝送線７２ｂを介して検査用出力端子７４に接続される。このときの検査用出力端子７４の電位と所期のデータ信号Ｘ（Ｘjr、ＸjgおよびＸjb）の電位とを比較することにより、各データ線１３にデータ信号Ｘが適正に印加されているか否か（すなわちデータ線１３の欠陥の有無）が判定される。このように、検査制御信号Ｓjがアクティブレベルになると、第ｊ列に属する３本のデータ線１３が検査の対象として選択されたことを示す。
【００２４】
本実施形態においては、検査制御回路４１によって検査の対象として選択される列がアドレス信号ADRによって指定されるようになっている。すなわち、接続端子６１から伝送線６３に入力されたアドレス信号ADRは、通常表示モードにおいて走査線駆動回路２０が選択する走査線１１を指定するだけでなく、検査モードにおいて検査回路４０が選択する列を指定するためにも利用される。ただし、検査回路４０には検査モードに限ってアドレス信号ADRが供給される。信号供給回路５０は、動作モードを示す検査モード信号ＴＳに応じて、アドレス信号ADRを検査回路４０に供給するか否かを切り替えるための手段である。
【００２５】
この信号供給回路５０は、各々が別個の伝送線６３に接続された合計６個のスイッチング素子５１と、各スイッチング素子５１の後段に配置されたバッファ５３とを含む。検査モード信号ＴＳは、通常表示モードにてＬレベルになるとともに検査モードにてＨレベルとなる信号である。各スイッチング素子５１は、検査モード信号ＴＳがＬレベルである場合にはバッファ５３の入力端を電源線（高位側電位Ｈまたは低位側電位Ｌ）に接続する一方、検査モード信号ＴＳがＨレベルである場合にはバッファ５３の入力端を伝送線６３に接続する。各バッファ５３は、アドレス信号ADRからみた駆動負荷を低減する目的がある。バッファ53がない場合には、検査制御回路41を駆動するためにスイッチング素子５１が大きなものが必要である。スイッチング素子５１が大きくなると通常駆動時でもその寄生容量がアドレス信号ADRからみた駆動負荷となる。バッファ回路はこの問題を回避する効果がある。
【００２６】
各バッファ５３の出力端は伝送線６５に接続されている。したがって、検査モード信号ＴＳがＨレベルである場合、接続端子６１に入力されたアドレス信号ADRは信号供給回路５０を介して伝送線６５に供給される。検査回路４０は、伝送線６５に供給されたアドレス信号ADRをデコードするデコーダを含み、このアドレス信号ADRによって指定される列に対応する検査制御信号Ｓjをアクティブレベルとする。
【００２７】
以上の構成のもと、検査モードにおいては、検査モード信号ＴＳがＨレベルとなることによって各接続端子６１と検査回路４０とが導通する。このとき、データ線駆動回路３０を通常表示モードと同様に動作させたうえで、各接続端子６１からアドレス信号ADRが入力される。検査回路４０は、このアドレス信号ADRに応じた検査制御信号Ｓjをアクティブレベルとすることによって第ｊ列目に属する合計３本のデータ線１３を各検査用出力端子７４に導通させる。そして、この状態における各検査用出力端子７４の電位をプローブ等の検査機器によって検出することにより、第ｊ列目の各データ線１３における欠陥の有無が判定される。例えば、あるデータ線１３に接続された検査用出力端子７４の電位が当該データ線１３に出力されたデータ信号Ｘの電位よりも低ければ、そのデータ線１３に断線が発生していると判定することができる。さらにアドレス信号ADRを変化させていくことによって総てのデータ線１３が順次に検査される。なお、検査モードにおいてはイネーブル信号ENBがＬレベルとなっているから走査線１１の選択は実行されない。
【００２８】
一方、通常表示モードにおいては、検査モード信号ＴＳがＬレベルとなることによって検査回路４０は各接続端子６１と電気的に切り離されたうえで電源線に接続され、これにより検査制御信号Ｓ1ないしＳnのレベルは何れも非アクティブレベルに固定される。したがって、スイッチ群４３の何れのスイッチング素子４３１もオフ状態のままとなる。一方、通常表示モードにおいてイネーブル信号ENBはＨレベルになるから、走査線駆動回路２０はアドレス信号ADRに応じた走査線１１を順次に選択する。これにより所望の画像が表示される。
【００２９】
このように、本実施形態においては、何れかの走査線１１を指定するためのアドレス信号ADRが、検査回路４０によって検査の対象とされるべき列を指定するための信号として共用されるようになっているから、検査回路４０を駆動するための信号が入力される特別な接続端子６１は不要である。したがって、本実施形態によれば、端子数の増加に起因した信頼性の低下や電子部品のコストの増大といった問題を解消することができる。
【００３０】
＜２．第２実施形態＞
次に、本発明の第２実施形態に係る電気光学装置の構成を説明する。
図２に示した画素回路１５は、インバータ１５２およびインバータ１５３からなる記憶回路を備える。この記憶回路に保持されたデータ信号Ｘを読み出すためには、走査信号Ｙａiおよび反転走査信号Ｙｂiをアクティブレベルに遷移させてトランスファゲート１５１をオン状態としなければならない。一方、第１実施形態においては、検査モードにおいて走査線駆動回路２０による走査線１１の選択を禁止する構成を例示した。この構成のもとでは、検査モードにおいてトランスファゲート１５１をオン状態とすることができないから、記憶回路に保持されたデータ信号Ｘを読み出すことはできない。本実施形態は、記憶回路に保持されたデータ信号Ｘを検査モードにおいても読み出すことを可能とした形態である。なお、本実施形態に係る要素のうち第１実施形態と同様のものについては共通の符号を付してその説明を適宜に省略する。
【００３１】
図３は、本実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。同図に示されるように、この電気光学装置Ｄ2は、走査線駆動回路２０の後段に走査線１１ごとにラッチ回路２３が配置されている点で第１実施形態の電気光学装置Ｄ1とは相違している。合計ｍ個のラッチ回路２３には接続端子６１から入力された共通のラッチ信号LATが供給される。第ｉ行目のラッチ回路２３の入力端は走査信号Ｙａiおよび反転走査信号Ｙｂiが出力される走査線駆動回路２０の出力端に接続されており、このラッチ回路２３の出力端は第ｉ行目の走査線１１に接続されている。各ラッチ回路２３は、ラッチ信号LATが立ち上がったタイミングにて走査信号Ｙａiおよび反転走査信号Ｙｂiをラッチして走査線１１に出力する。
【００３２】
本実施形態においては、検査モードにおける検査に先立って何れかの走査線１１が選択される。すなわち、まず、検査モード信号ＴＳをＬレベル（通常表示モード）に設定するとともにイネーブル信号ENBをＨレベルに設定する。このときにアドレス信号ADRを接続端子６１に供給して何れかの走査信号Ｙａiおよび反転走査信号Ｙｂiをアクティブレベルに遷移させる。そして、この状態においてラッチ信号LATを立ち上げることによって各ラッチ回路２３にラッチ動作を実行させる。この後に検査モード信号ＴＳをＨレベル（検査モード）に遷移させるとともにイネーブル信号ENBをＬレベルに遷移させても、走査線駆動回路２０が直前に出力した信号Ｙ1ないし信号Ｙm（走査信号Ｙａ1ないしＹａmと反転走査信号Ｙｂ1ないしＹｂm）のレベルは維持される。したがって、ラッチの直前に選択された画素回路１５のトランスファゲート１５１は検査モードにおいてもオン状態とされる。この状態を維持したまま第１実施形態と同様の手順によって検査が実行される。
【００３３】
このように、本実施形態においては、走査線駆動回路２０による走査線１１の選択状態が検査モードにおいても保持される。したがって、画素回路１５の記憶回路に保持されたデータ信号Ｘを検査用出力端子７４から検出することによって各データ線１３の不具合の有無を検査することができる。したがって、検査モードにて何れの走査線１１も選択されない第１実施形態と比較して、より詳細な検査が実現されるという利点がある。
【００３４】
＜３．第３実施形態＞
次に、本発明の第３実施形態に係る電気光学装置の構成を説明する。
第２実施形態においては、信号供給回路５０を制御するための検査モード信号ＴＳと各ラッチ回路２３のラッチのタイミングを指示するためのラッチ信号とが別個の信号とされた構成を例示した。これに対し、本実施形態においては、検査モード信号ＴＳが各ラッチ回路２３を制御する信号として兼用される構成となっている。なお、本実施形態に係る要素のうち第２実施形態と同様のものについては共通の符号を付してその説明を適宜に省略する。
【００３５】
図４は、本実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。同図に示されるように、本実施形態の電気光学装置Ｄ3においては、接続端子６１に入力された検査モード信号ＴＳが、信号供給回路５０の各スイッチング素子５１だけでなく各ラッチ回路２３にも供給される。各ラッチ回路２３は、検査モード信号ＴＳが立ち上がったタイミングにて信号Ｙiをラッチする。
【００３６】
この構成のもと、第２実施形態と同様に、まずは検査モード信号ＴＳをＬレベル（通常表示モード）に設定したうえでアドレス信号ADRを供給することによって何れかの走査信号Ｙａiおよび反転走査信号Ｙｂiをアクティブレベルに遷移させる。次いで、検査モード信号ＴＳをＨレベルに遷移させる。この検査モード信号ＴＳの変化に伴なって、信号供給回路５０の各スイッチング素子５１がオン状態となって各接続端子６１と検査回路４０とが電気的に接続されるとともに、その時点における走査信号Ｙａ1ないしＹａmおよび反転走査信号Ｙｂ1ないしＹｂmが各ラッチ回路２３によって走査線１１にラッチされる。この状態のままアドレス信号ADRを各接続端子６１から検査回路４０に入力することによって検査が実施される。
【００３７】
このように、本実施形態においては、信号供給回路５０と各ラッチ回路２３とが共通の信号（検査モード信号ＴＳ）によって制御されるから、各々が別個の信号によって制御される構成と比較して、各信号が入力される接続端子６１の個数を削減するとともに、各信号を別個に生成するための処理の負荷を低減することができる。
【００３８】
＜４．第４実施形態＞
次に、本発明の第４実施形態に係る電気光学装置の構成を説明する。
第１ないし第３実施形態においては、アドレス信号ADRをデコードする回路が走査線駆動回路２０および検査制御回路４１として採用された構成を例示した。これに対し、本実施形態においては、走査線駆動回路２０および検査制御回路４１としてシフトレジスタが採用された構成となっている。なお、本実施形態に係る要素のうち第３実施形態と同様のものについては共通の符号を付してその説明を適宜に省略する。
【００３９】
図５は、本実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。同図に示されるように、本実施形態の電気光学装置Ｄ4においては、接続端子６１に入力された開始パルス信号ＳＰおよびクロック信号ＣＫが伝送線６３を介して走査線駆動回路２０および信号供給回路５０に供給される。開始パルス信号ＳＰは、垂直走査期間の最初にパルス的に立ち上がる信号であり、クロック信号ＣＫは、水平走査期間に相当する時間長を周期とする信号である。走査線駆動回路２０は、開始パルス信号ＳＰをクロック信号ＣＫに同期して順次にシフトすることにより走査信号Ｙａiおよび反転走査信号Ｙｂiとして出力するシフトレジスタである。したがって、各走査線１１に供給される走査信号Ｙａ1、Ｙａ2、……、Ｙａmおよび反転走査信号Ｙｂ1、Ｙｂ2、……Ｙｂmは、水平走査期間ごとに順番にアクティブレベルとなる。
【００４０】
また、走査線駆動回路２０の最終段にはスイッチング素子２５を介して伝送線６９が接続されている。スイッチング素子２５は、検査モード信号ＴＳがＨレベルである場合（検査モード）にオフ状態となり、Ｌレベルである場合にオン状態となる。伝送線６７の端部にはエンドパルス出力端子７６が形成されている。
【００４１】
一方、信号供給回路５０は、各伝送線６３に接続された２個のスイッチング素子５１と、伝送線６９に接続されたスイッチング素子５５と、各スイッチング素子５１の後段に配置されたバッファ５３とを含む。各スイッチング素子５１は、上記第１ないし第３実施形態と同様に、検査モード信号ＴＳがＨレベルである場合にはバッファ５３の入力端を伝送線６３に接続し、検査モード信号ＴＳがＬレベルである場合にはバッファ５３の入力端を電源線（低位側電位Ｌ）に接続する。各バッファ５３の出力端は伝送線６５を介して検査回路４０に接続されている。したがって、検査モードにおいて接続端子６１から入力された開始パルス信号ＳＰおよびクロック信号ＣＫは、伝送線６３と信号供給回路５０と伝送線６５とを介して検査制御回路４１に供給される。また、スイッチング素子５５は、検査制御回路４１とエンドパルス出力端子７６との間に介挿される。このスイッチング素子５５は、検査モード信号ＴＳがＨレベルである場合（検査モード）にはオン状態となり、検査モード信号がＬレベルである場合（通常表示モード）にはオフ状態となる。なお、検査モード信号ＴＳが各ラッチ回路２３をラッチさせる信号として兼用される点は第３実施形態と同様である。
【００４２】
本実施形態における検査制御回路４１は、検査モードにて供給される開始パルス信号ＳＰをクロック信号ＣＫにしたがって順次にシフトして検査制御信号Ｓjとして出力するシフトレジスタである。したがって、各スイッチング素子４３１に供給される検査制御信号Ｓ1、Ｓ2、……、Ｓnは順番にアクティブレベルとなる。伝送線６７の一端は検査制御回路４１の最終段に接続され、他端はスイッチング素子５５に接続されている。
【００４３】
以上の構成のもと、第２実施形態と同様に、まずは検査モード信号ＴＳをＬレベル（通常表示モード）に設定したうえで開始パルス信号ＳＰおよびクロック信号ＣＫを接続端子６１に入力することによって走査信号Ｙａiおよび反転走査信号Ｙｂiを順番にアクティブレベルに遷移させる。そして、検査の対象とされるべき走査線１１が選択されたタイミングにて検査モード信号ＴＳがＨレベルに変更されて検査モードに移行する。これに伴なって、走査信号Ｙａiおよび反転走査信号Ｙｂiがラッチ回路２３によってラッチされるとともに、信号供給回路５０のスイッチング素子５１を介して接続端子６１と検査制御回路４１とが導通する。この状態において接続端子６１に開始パルス信号ＳＰおよびクロック信号ＣＫが入力される。検査制御回路４１は、開始パルス信号ＳＰをクロック信号ＣＫにしたがって順次にシフトして検査制御信号Ｓiを出力する。これによりスイッチング素子４３１が各列ごとに順番にオン状態となり、検査用出力端子７４には各列のデータ線１３の電位が出力される。この電位と各データ線１３に供給されていたデータ信号Ｘの電位とを比較することによってデータ線１３の欠陥の有無が検査される。
【００４４】
さらに、検査モードへの移行に際して検査モード信号ＴＳがＨレベルに変更されると、信号供給回路５０のスイッチング素子５５がオン状態となる。この状態においては、検査制御回路４１の最終段にシフトされたエンドパルス信号ＥＰが伝送線６７からスイッチング素子５５および伝送線６９を介してエンドパルス出力端子７６に出力される。こうして出力された信号を検出することにより、検査制御回路４１が適正に動作しているか否かを検査することができる。なお、通常表示モードにおいてはスイッチング素子２５がオン状態となるから、走査線駆動回路２０の最終段にシフトされたエンドパルス信号ＥＰが伝送線６７を介してエンドパルス出力端子７６に出力されることになる。
【００４５】
このように、本実施形態においても、接続端子６１から入力される開始パルス信号ＳＰおよびクロック信号ＣＫが、走査線駆動回路２０を動作させるための信号としてだけではなく検査制御回路４１を動作させるための信号としても兼用される。したがって、本実施形態においても、第１ないし第３実施形態と同様に接続端子６１の個数を削減することができる。また、本実施形態においては、検査制御回路４１がシフトレジスタを備えているから、アクティブレベルとされるべき検査制御信号Ｓiを随時にアドレス信号ADRにて指定する必要がある第１ないし第３実施形態と比較して、検査の対象を選定するための処理の負荷が低減されるという利点がある。
【００４６】
＜５．変形例＞
上記各実施形態に対しては種々の変形が施される。具体的な変形の態様は以下の通りである。上記各実施形態や以下の各態様を適宜に組み合わせてもよい。
【００４７】
（１）第１ないし第４実施形態においては、データ線１３を検査用出力端子７４と導通させることによってデータ線１３の欠陥の有無を検査する構成を例示したが、走査線１１を検査用出力端子７４と導通させることによって走査線１１の欠陥の有無を検査する構成も採用される。この構成においては、接続端子６１からデータ線駆動回路３０に供給される信号（例えばドットクロック信号や何れかのデータ線１３を指定するアドレス信号）が信号供給回路５０から検査回路４０に供給される構成とし、これらの信号に基づいて検査回路４０が何れかの走査線１１を選択的に検査用出力端子７４に導通させるようにすればよい。本変形例においても、第１ないし第４実施形態に示した種々の態様が採用される。
【００４８】
（２）第１ないし第４実施形態においては、走査線駆動回路２０および検査制御回路４１がデコーダまたはシフトレジスタを備える構成を例示したが、これらの各回路の構成は任意に変更される。すなわち、走査線駆動回路２０は、アドレス信号ADRや開始パルス信号ＳＰやクロック信号ＣＫといった各種の制御信号に基づいて何れかの走査線に走査信号Ｙａiおよび反転走査信号Ｙｂiを供給する回路であれば足りる。同様に、検査制御回路４１は、これらの制御信号に基づいて何れかのデータ線１３を検査用出力端子７４に導通させる回路であれば足りる。
【００４９】
（３）第４実施形態においては、ラッチ回路２３と信号供給回路５０とに共通の検査モード信号ＴＳが供給される構成を例示したが、第２実施形態と同様に、ラッチ回路２３を制御するラッチ信号LATと検査モード信号ＴＳとを別個の信号としてもよい。また、第４実施形態においても、第１実施形態と同様に、ラッチ回路２３を備えない構成が採用される。
【００５０】
（４）画素回路１５の構成が図２に示したものに限られないことはもちろんである。例えば、記憶回路を持たない画素回路１５が配列された電気光学装置や、ＴＦＴなどのスイッチング素子（例えば図２に示したトランスファゲート）を持たないパッシブマトリクス型の電気光学装置にも本発明は同様に適用される。また、各実施形態においては各画素回路１５に複数色の何れかが割り当てられた構成を例示したが、白色および黒色の２色のみを表示する電気光学装置にも本発明は適用される。このようにモノクロ画像を表示する電気光学装置においては、伝送線７２と検査用出力端子７４との組がひとつで足りる。
【００５１】
（５）液晶以外の電気光学素子を用いた電気光学装置にも本発明は適用される。例えば、有機ＥＬ（Electro Luminescent）や発行ポリマーと呼ばれるＯＬＥＤ（Organic Light Emitting Diode）素子を電気光学素子として採用した表示装置や、熱陰極素子や冷陰極素子などの電子放出源と当該電子放出源から放出された電子が衝突する蛍光体とからなる電気光学素子を用いた電界放出ディスプレイ（ＦＥＤ：Field Emission Display）、あるいは、ヘリウムやネオンなどの高圧ガスを電気光学素子として用いたプラズマディスプレイパネルなど各種の電気光学装置にも各実施形態と同様に本発明が適用される。
【００５２】
＜６．応用例＞
次に、上述した各実施形態に係る電気光学装置Ｄ（Ｄ1ないしＤ4の何れか）を適用した電子機器について説明する。図６に、電気光学装置Ｄを適用したモバイル型のパーソナルコンピュータの構成を示す。パーソナルコンピュータ２０００は、表示ユニットとしての電気光学装置Ｄと本体部２０１０を備える。本体部２０１０には、電源スイッチ２００１及びキーボード２００２が設けられている。
【００５３】
図７に、電気光学装置Ｄを適用した携帯電話機の構成を示す。携帯電話機３０００は、複数の操作ボタン３００１及びスクロールボタン３００２、並びに表示ユニットとしての電気光学装置Ｄを備える。スクロールボタン３００２を操作することによって、電気光学装置Ｄに表示される画面がスクロールされる。
【００５４】
図８に、電気光学装置Ｄを適用した情報携帯端末（ＰＤＡ：Personal Digital Assistants）の構成を示す。情報携帯端末４０００は、複数の操作ボタン４００１及び電源スイッチ４００２、並びに表示ユニットとしての電気光学装置Ｄを備える。電源スイッチ４００２を操作すると、住所録やスケジュール帳といった各種の情報が電気光学装置Ｄに表示される。
【００５５】
なお、電気光学装置Ｄが適用される電子機器としては、図６から図８に示すものの他、デジタルスチルカメラ、液晶テレビ、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明の第１実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。
【図２】同電気光学装置の画素回路の構成を示す回路図である。
【図３】本発明の第２実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。
【図４】本発明の第３実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の第４実施形態に係る電気光学装置の構成を示すブロック図である。
【図６】本発明を適用したパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。
【図７】本発明を適用した携帯電話機の構成を示す斜視図である。
【図８】本発明を適用した携帯型情報端末の構成を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００５７】
Ｄ（Ｄ1，Ｄ2，Ｄ3，Ｄ4）……電気光学装置、Ａ……表示領域、１１……走査線、１３……データ線、１５……画素回路、２０……走査線駆動回路、３０……データ線駆動回路、２３……ラッチ回路、４０……検査回路、４１……検査制御回路、４３……スイッチ群、２５，４３１，５１，５５……スイッチング素子、５０……信号供給回路、５３……バッファ、６１……接続端子、６３，６５，６７，６９，７２（７２r，７２g，７２b）……伝送線、７４……検査用出力端子、ADR……アドレス信号、ＴＳ……検査モード信号、LAT……ラッチ信号、Ｙi……走査線駆動回路から出力される信号、Ｙａi……走査信号、Ｙｂi……反転走査信号、Ｘ（Ｘjr，Ｘjg、Ｘjb）……データ信号。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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