(57)【要約】    【課題】  ＬＰＰを有する光ディスクについて、ＲＦ信号スペース部内の又はＲＦ信号マーク部内のＬＰＰに対する信号の検出度合を、より適確に判断する。    【解決手段】  ランドトラックに予め形成されたランドプリピットを有し、グルーブトラックにマーク及びスペースが交互に並んで記録される光ディスクにおいて、ＬＰＰ信号の振幅を評価する。プッシュプル信号を生成する工程と、ＲＦ２値化信号を生成する工程と、ＲＦ信号上で所定長の特定マーク又はスペースに対応するＲＦ信号２値化マーク又はスペース部を検出する工程と、ＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在するＬＰＰ信号を検出する工程と、ここで検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形をｎ回取得する工程と、取得された波形に対し、その振幅の最大値に対する最小値の比率が、所定閾値を超えるか否かを判定する工程とを備える。【選択図】    図７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ランドトラックに予め形成されたランドプリピットを有し、グルーブトラックにマーク及びスペースが交互に並んで記録される光ディスクにおける、前記ランドプリピットに基づくＬＰＰ信号の振幅を評価するランドプリピット振幅評価方法であって、
前記光ディスクに読取光を照射する照射工程と、
前記読取光に基づく前記光ディスクからの反射光を受光する受光工程と、
前記受光された反射光に基づいて、プッシュプル信号を生成するプッシュプル信号生成工程と、
前記受光された反射光に基づいて、ＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成工程と、
前記ＲＦ信号を２値化することで、ＲＦ２値化信号を生成するＲＦ２値化信号生成工程と、
前記生成されたＲＦ２値化信号上で、前記マーク及びスペースのうち、所定長の特定マーク又はスペースに対応するＲＦ２値化信号マーク又はスペース部を検出する特定マーク又はスペース部検出工程と、
時間軸上で、前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在する前記ＬＰＰ信号を、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号として検出する特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程と、
前記検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を、ｎ（但し、ｎは２以上の自然数）回取得するＬＰＰ波形取得工程と、
前記ｎ回取得された波形に対し、その振幅の最大値に対する最小値の比率が、所定閾値を超える又は該所定閾値に達するか否かを判定する判定工程と
を備えることを特徴とするランドプリピット振幅評価方法。
【請求項２】
前記特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程は、
前記生成されたプッシュプル信号から、前記ＬＰＰ信号を所定のスライスレベルで２値化することで、ＬＰＰ２値化信号を生成するＬＰＰ２値化信号生成工程を含み、
前記生成されたＬＰＰ２値化信号のうち、前記時間軸上で、前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在するものをトリガ信号として、前記生成されたプッシュプル信号に含まれる前記ＬＰＰ信号を検出することにより前記特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の検出を行うこと
を特徴とする請求項１に記載のランドプリピット振幅評価方法。
【請求項３】
前記ＬＰＰ２値化信号生成工程は、前記ｎ回取得された波形の振幅の最大値に対して、所定の割合に前記スライスレベルを設定することを特徴とする請求項２に記載のランドプリピット振幅評価方法。
【請求項４】
前記ＬＰＰ波形取得工程は、前記ｎ回取得された波形を重複して表示するＬＰＰ波形重複表示工程を含むことを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載のランドプリピット振幅評価方法。
【請求項５】
前記ＬＰＰ波形重複表示工程は、前記ｎ回取得された波形をデジタルオシロスコープに重複して表示することを特徴とする請求項４に記載のランドプリピット振幅評価方法。
【請求項６】
前記特定マーク又はスペース部検出工程は、前記時間軸上における前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内にゲートパルスを生成するゲートパルス生成工程を含み、
前記特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程は、前記生成されたゲートパルスに基づいて、前記特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号を検出することを特徴とする請求項１から５のいずれか一項に記載のランドプリピット振幅評価方法。
【請求項７】
前記ＬＰＰ波形取得行程は、
前記時間軸上における前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内にゲートパルスを生成するゲートパルス生成工程と、
前記生成されたＬＰＰ２値化信号のうち、前記時間軸上で前記ゲートパルス内に存在するＬＰＰ２値化信号を、前記トリガ信号として出力するトリガ信号生成工程と
を含み、
前記特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程は、前記出力されたトリガ信号を用いて、前記特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の検出を行うことを特徴とする請求項２又は３に記載のランドプリピット振幅評価方法。
【請求項８】
前記マーク又はスペース部検出工程は、前記特定マーク又はスペースとして、１４Ｔのスペースに対応するＲＦ２値化信号スペース部を検出することを特徴とする請求項１から７のいずれか一項に記載のランドプリピット振幅評価方法。
【請求項９】
前記ＬＰＰ波形取得工程は、前記検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を、ｎ回取得するためにデジタルオシロスコープのトリガ出力パルス数をカウントする波形取得数判定工程を含むことを特徴とする請求項４に記載のランドプリピット振幅評価方法。
【請求項１０】
ランドトラックに予め形成されたランドプリピットを有し、グルーブトラックにマーク及びスペースが交互に並んで記録される光ディスクにおける、前記ランドプリピットに基づくＬＰＰ信号の振幅を測定するランドプリピット振幅測定方法であって、
前記光ディスクに読取光を照射する照射工程と、
前記読取光に基づく前記光ディスクからの反射光を受光する受光工程と、
前記受光された反射光に基づいて、プッシュプル信号を生成するプッシュプル信号生成工程と、
前記受光された反射光に基づいて、ＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成工程と、
前記ＲＦ信号を２値化することで、ＲＦ２値化信号を生成するＲＦ２値化信号生成工程と、
前記生成されたＲＦ２値化信号上で、前記マーク及びスペースのうち、所定長の特定マーク又はスペースに対応するＲＦ２値化信号マーク又はスペース部を検出する特定マーク又はスペース部検出工程と、
時間軸上で、前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在する前記ＬＰＰ信号を、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号として検出する特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程と、
前記検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を取得するＬＰＰ波形取得工程と
を備えることを特徴とするランドプリピット振幅測定方法。
【請求項１１】
ランドトラックに予め形成されたランドプリピットを有し、グルーブトラックにマーク及びスペースが交互に並んで記録される光ディスクにおける、前記ランドプリピットに基づくＬＰＰ信号の振幅を評価するランドプリピット振幅評価装置であって、
前記光ディスクに読取光を照射する照射手段と、
前記読取光に基づく前記光ディスクからの反射光を受光する受光手段と、
前記受光された反射光に基づいて、プッシュプル信号を生成するプッシュプル信号生成手段と、
前記受光された反射光に基づいて、ＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成手段と、
前記ＲＦ信号を２値化することで、ＲＦ２値化信号を生成するＲＦ２値化信号生成手段と、
前記生成されたＲＦ２値化信号上で、前記マーク及びスペースのうち、所定長の特定マーク又はスペースに対応するＲＦ２値化信号マーク又はスペース部を検出する特定マーク又はスペース部検出手段と、
時間軸上で、前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在する前記ＬＰＰ信号を、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号として検出する特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出手段と、
前記検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を、ｎ（但し、ｎは２以上の自然数）回取得するＬＰＰ波形取得手段と、
前記ｎ回取得された波形に対し、その振幅の最大値に対する最小値の比率が、所定閾値を超える又は該所定閾値に達するか否かを判定する判定手段と
を備えることを特徴とするランドプリピット振幅評価装置。
【請求項１２】
ランドトラックに予め形成されたランドプリピットを有し、グルーブトラックにマーク及びスペースが交互に並んで記録される光ディスクにおける、前記ランドプリピットに基づくＬＰＰ信号の振幅を測定するランドプリピット振幅測定装置であって、
前記光ディスクに読取光を照射する照射手段と、
前記読取光に基づく前記光ディスクからの反射光を受光する受光手段と、
前記受光された反射光に基づいて、プッシュプル信号を生成するプッシュプル信号生成手段と、
前記受光された反射光に基づいて、ＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成手段と、
前記ＲＦ信号を２値化することで、ＲＦ２値化信号を生成するＲＦ２値化信号生成手段と、
前記生成されたＲＦ２値化信号上で、前記マーク及びスペースのうち、所定長の特定マーク又はスペースに対応するＲＦ２値化信号マーク又はスペース部を検出する特定マーク又はスペース部検出手段と、
時間軸上で、前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在する前記ＬＰＰ信号を、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号として検出する特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出手段と
前記検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を取得するＬＰＰ波形取得手段と
を備えることを特徴とするランドプリピット振幅測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えばランドプリピット（Land Pre-Pit（ＬＰＰ）：以下適宜“ＬＰＰ”という）を有するＤＶＤ−Ｒ（ＤＶＤ−Recordable）、ＤＶＤ−ＲＷ（ＤＶＤ−ReRecordable）等の光ディスクにおけるＬＰＰ振幅評価方法及び装置の技術分野、並びに、そのような評価方法のためのランドプリピット振幅測定方法及び装置の技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
追記型ディスクであるＤＶＤ−Ｒや書換可能型ディスクであるＤＶＤ−ＲＷには、グルーブトラック（Groove Track）がウォブリング（Wobbling）され且つグルーブトラック間のランドトラック（Land Track）に、ＬＰＰが予め形成されている（特許文献１参照）。これらのウォブリング及びＬＰＰによって、回転数の制御や記録クロックの生成、更に記録アドレスの取得等が行われる。ここで、ＬＰＰの検出の際に、ＬＰＰの振幅が適当な大きさでなければ、その検出の支障となる。特に記録後においては記録信号（記録マーク）の影響により、ＬＰＰの振幅が減少してしまう。そこで、製造されるＤＶＤ−ＲやＤＶＤ−ＲＷ等における記録後のＬＰＰ検出に関するマージンを規定するものとして、ＬＰＰの振幅を評価することが、製造業者や品質認定業者によって行われている。
【０００３】
従来、このような記録後のＬＰＰの振幅を評価するＬＰＰ振幅評価方法としては、ＤＶＤフォーラムにより規定されているＤＶＤ−Ｒ規格やＤＶＤ−ＲＷ規格上の各種評価項目のうちＡＲ（Aperture Ratio after recording）を測定することにより行う方法がある（特許文献２参照）。例えば、プッシュプル信号におけるグルーブトラック成分の最大値からのピーク値の最大値ＡＰ（max）及び最小値ＡＰ（mｉｎ）を検出し、ＡＲ値を規格式であるＡＲ＝ＡＰ（mｉｎ）／ＡＰ（max）の如く算出し、そのＡＲ値が規定値以上であることで評価が行われる。例えば、ＤＶＤ−Ｒの場合、ＡＲが１５％以上であると、ＬＰＰの振幅については、スペックイン（規格内）であると評価される。この場合、評価対象たるディスクについては、他の評価項目（例えばジッター等）についてもスペックインであることを条件として、正規のＤＶＤ−Ｒとして品質認定される。他方、ＡＲが１５％未満であると、スペックアウト（規格外）であると評価される。
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−１５８０６８号公報
【特許文献２】特開２００３−２４８９３３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
一般に記録後のＬＰＰ振幅が減少する原因として、記録信号つまりＲＦ信号マーク部の影響が考えられる。上述した従来のＡＲ測定では、ＬＰＰに対してＲＦ信号マーク部及びＲＦ信号スペース部が隣接する全ての場合におけるＬＰＰ振幅について測定がなされている。このため、ＲＦ信号スペース部（即ち、ＲＦ信号上で、記録ピットに対応するマーク部の間である、記録スペースに対応するスペース部）内におけるＬＰＰ信号の振幅レベルだけを評価することはできない。例えば、記録後のＬＰＰを検出して追記記録のための記録クロックを生成する場合などにおいては、ＲＦ信号スペース部内に存在するＬＰＰのみを検出して利用できれば良いが、この場合、つまりＲＦ信号スペース部のＬＰＰの振幅としては十分であるようなＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷであっても、上述した従来のＡＲ測定を用いた評価ではスペックアウトとされる可能性がある。このように、ＬＰＰの振幅の評価を、上述した従来のＡＲ測定によって行う必要性や妥当性は必ずしも高くないという技術的な問題点がある。
【０００６】
本発明は、例えば上述した問題点に鑑みなされたものであり、ＲＦ信号スペース部内の又はＲＦ信号マーク部内のＬＰＰに対する信号の検出度合をより適確に判断することを可能ならしめる、ＬＰＰ振幅評価方法及び装置、並びにそのような評価方法のためのランドプリピット振幅測定方法及び装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１に記載のランドプリピット振幅評価方法は上記課題を解決するために、ランドトラックに予め形成されたランドプリピットを有し、グルーブトラックにマーク及びスペースが交互に並んで記録される光ディスクにおける、前記ランドプリピットに基づくＬＰＰ信号の振幅を評価するランドプリピット振幅評価方法であって、前記光ディスクに読取光を照射する照射工程と、前記読取光に基づく前記光ディスクからの反射光を受光する受光工程と、前記受光された反射光に基づいて、プッシュプル信号を生成するプッシュプル信号生成工程と、前記受光された反射光に基づいて、ＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成工程と、前記ＲＦ信号を２値化することで、ＲＦ２値化信号を生成するＲＦ２値化信号生成工程と、前記生成されたＲＦ２値化信号上で、前記マーク及びスペースのうち、所定長の特定マーク又はスペースに対応するＲＦ２値化信号マーク又はスペース部を検出する特定マーク又はスペース部検出工程と、時間軸上で、前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在する前記ＬＰＰ信号を、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号として検出する特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程と、前記検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を、ｎ（但し、ｎは２以上の自然数）回取得するＬＰＰ波形取得工程と、前記ｎ回取得された波形に対し、その振幅の最大値に対する最小値の比率が、所定閾値を超える又は該所定閾値に達するか否かを判定する判定工程とを備える。
【０００８】
請求項１０に記載のランドプリピット振幅測定方法は上記課題を解決するために、ランドトラックに予め形成されたランドプリピットを有し、グルーブトラックにマーク及びスペースが交互に並んで記録される光ディスクにおける、前記ランドプリピットに基づくＬＰＰ信号の振幅を測定するランドプリピット振幅測定方法であって、前記光ディスクに読取光を照射する照射工程と、前記読取光に基づく前記光ディスクからの反射光を受光する受光工程と、前記受光された反射光に基づいて、プッシュプル信号を生成するプッシュプル信号生成工程と、前記受光された反射光に基づいて、ＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成工程と、前記ＲＦ信号を２値化することで、ＲＦ２値化信号を生成するＲＦ２値化信号生成工程と、前記生成されたＲＦ２値化信号上で、前記マーク及びスペースのうち、所定長の特定マーク又はスペースに対応するＲＦ２値化信号マーク又はスペース部を検出する特定マーク又はスペース部検出工程と、時間軸上で、前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在する前記ＬＰＰ信号を、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号として検出する特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程と、前記検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を取得するＬＰＰ波形取得工程とを備える。
【０００９】
請求項１１に記載のランドプリピット振幅評価装置は上記課題を解決するために、ランドトラックに予め形成されたランドプリピットを有し、グルーブトラックにマーク及びスペースが交互に並んで記録される光ディスクにおける、前記ランドプリピットに基づくＬＰＰ信号の振幅を評価するランドプリピット振幅評価装置であって、前記光ディスクに読取光を照射する照射手段と、前記読取光に基づく前記光ディスクからの反射光を受光する受光手段と、前記受光された反射光に基づいて、プッシュプル信号を生成するプッシュプル信号生成手段と、前記受光された反射光に基づいて、ＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成手段と、前記ＲＦ信号を２値化することで、ＲＦ２値化信号を生成するＲＦ２値化信号生成手段と、前記生成されたＲＦ２値化信号上で、前記マーク及びスペースのうち、所定長の特定マーク又はスペースに対応するＲＦ２値化信号マーク又はスペース部を検出する特定マーク又はスペース部検出手段と、時間軸上で、前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在する前記ＬＰＰ信号を、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号として検出する特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出手段と、前記検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を、ｎ（但し、ｎは２以上の自然数）回取得するＬＰＰ波形取得手段と、前記ｎ回取得された波形に対し、その振幅の最大値に対する最小値の比率が、所定閾値を超える又は該所定閾値に達するか否かを判定する判定手段とを備える。
【００１０】
請求項１２に記載のランドプリピット振幅測定装置は上記課題を解決するために、ランドトラックに予め形成されたランドプリピットを有し、グルーブトラックにマーク及びスペースが交互に並んで記録される光ディスクにおける、前記ランドプリピットに基づくＬＰＰ信号の振幅を測定するランドプリピット振幅測定装置であって、前記光ディスクに読取光を照射する照射手段と、前記読取光に基づく前記光ディスクからの反射光を受光する受光手段と、前記受光された反射光に基づいて、プッシュプル信号を生成するプッシュプル信号生成手段と、前記受光された反射光に基づいて、ＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成手段と、前記ＲＦ信号を２値化することで、ＲＦ２値化信号を生成するＲＦ２値化信号生成手段と、前記生成されたＲＦ２値化信号上で、前記マーク及びスペースのうち、所定長の特定マーク又はスペースに対応するＲＦ２値化信号マーク又はスペース部を検出する特定マーク又はスペース部検出手段と、時間軸上で、前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在する前記ＬＰＰ信号を、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号として検出する特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出手段と、前記検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を取得するＬＰＰ波形取得手段とを備える。
【００１１】
本発明の作用及び他の利得は次に説明する実施するための最良の形態から明らかにされよう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
（ランドプリピット振幅評価方法の実施形態）
本発明のランドプリピット振幅評価方法に係る実施形態は、ランドトラックに予め形成されたランドプリピットを有し、グルーブトラックにマーク及びスペースが交互に並んで記録される光ディスクにおける、前記ランドプリピットに基づくＬＰＰ信号の振幅を評価するランドプリピット振幅評価方法であって、前記光ディスクに読取光を照射する照射工程と、前記読取光に基づく前記光ディスクからの反射光を受光する受光工程と、前記受光された反射光に基づいて、プッシュプル信号を生成するプッシュプル信号生成工程と、前記受光された反射光に基づいて、ＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成工程と、前記ＲＦ信号を２値化することで、ＲＦ２値化信号を生成するＲＦ２値化信号生成工程と、前記生成されたＲＦ２値化信号上で、前記マーク及びスペースのうち、所定長の特定マーク又はスペースに対応するＲＦ２値化信号マーク又はスペース部を検出する特定マーク又はスペース部検出工程と、時間軸上で、前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在する前記ＬＰＰ信号を、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号として検出する特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程と、前記検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を、ｎ（但し、ｎは２以上の自然数）回取得するＬＰＰ波形取得工程と、前記ｎ回取得された波形に対し、その振幅の最大値に対する最小値の比率が、所定閾値を超える又は該所定閾値に達するか否かを判定する判定工程とを備える。
【００１３】
本実施形態によれば、先ず、例えば光ピックアップの半導体レーザを用いての照射工程によって、例えばＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等の光ディスクに対して読取光が照射され、例えば光ピックアップの受光素子を用いての受光工程によって、読取光に基づく反射光が受光される。続いて、このように受光された反射光に基づいて、プッシュプル信号生成工程によってプッシュプル信号が生成され、これと並行して、ＲＦ信号生成工程によって、ＲＦ信号が生成される。プッシュプル信号は、例えば、グルーブトラックの接線方向に光学的に対応する方向に延びる分割線で分割された第１及び第２受光面によって受光された反射光の光量の差として生成される。また、ＲＦ信号は、例えば、４分割された受光面によって受光された反射光の光量の合計として生成される。
【００１４】
ここで特に、例えばＲＦ２値化信号上における記録マークを検出するマーク検出器又は記録スペースを検出するスペース検出器を用いての特定マーク又はスペース部検出工程によって、所定長の特定マーク又はスペースに対応する、ＲＦ２値化信号マーク又はスペース部が検出される。ここでは、例えば、ＲＦ信号において最長パルス幅となるＲＦ２値化スペース部である、１４Ｔスペース部といった、単一種類のスペース部が検出される。或いは、例えば１４Ｔマーク部といった単一種類のマーク部や、１４Ｔスペース及び１０Ｔスペースの組合せといった複数種類のスペース部や、１４Ｔマーク及び９Ｔマークの組合せといった複数種類のマーク部が検出される。但し、スペース部とマーク部との組合せ、或いはスペース部とマーク部とが混在するものは、ここでの検出対象からは外れる。
【００１５】
続いて、例えばコンパレータ、ゲートパルス生成器、論理回路等を用いての特定スペース又はマーク内ＬＰＰ信号検出工程によって、このように検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に、時間軸上で存在するＬＰＰ信号が、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号として検出される。
【００１６】
続いて、例えばデジタルオシロスコープを用いてのＬＰＰ波形取得工程によって、このように検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形は、例えば１００回など、ｎ回取得され、更に、例えばオシロスコープ、パソコン等を用いての判定工程によって、このようにｎ回取得された波形に対し、その振幅の最大値（ＡＰ（max））に対する最小値（ＡＰ（mｉｎ））の比率（ＡＲ）が、所定閾値を超える又は該所定閾値に達するか否かが判定される。ここでの所定閾値は、例えばＤＶＤフォーラム等の規格により規定される性質の値であり、所定閾値を超えれば又は該所定閾値に達すれば、ＬＰＰ信号振幅の評価については、スペックインとすることができる。特に、前述の特定マーク又はスペース部検出工程において、スペース部とマーク部とが混在するものは、その検出対象から外れているので、最終的な比率（ＡＲ）に係る判定を、ＲＦ信号スペース部内におけるＬＰＰ信号の振幅レベルについてのみ、又はＲＦマーク部内におけるＬＰＰ信号の振幅レベルについてのみ適確に且つ安定して実施できることになる。
【００１７】
以上の結果、本実施形態によれば、ＲＦ信号スペース部内（即ち、ＲＦ２値化信号スペース部内）又はＲＦマーク部内（即ち、ＲＦ２値化信号マーク部内）におけるＬＰＰ信号の振幅レベルだけを評価することが可能となり、ＲＦ信号スペース部内又はＲＦマーク部内のＬＰＰに対する信号の検出度合を、より適確に判断することが可能となる。
【００１８】
本発明のランドプリピット振幅評価方法に係る実施形態の他の態様では、前記特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程は、前記生成されたプッシュプル信号から、前記ＬＰＰ信号を所定のスライスレベルで２値化することで、ＬＰＰ２値化信号を生成するＬＰＰ２値化信号生成工程を含み、前記生成されたＬＰＰ２値化信号のうち、前記時間軸上で、前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在するものをトリガ信号として、前記生成されたプッシュプル信号に含まれる前記ＬＰＰ信号を検出することにより前記特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の検出を行う。
【００１９】
この態様によれば、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程において、例えばコンパレータ等を用いてのＬＰＰ２値化信号生成工程によって、プッシュプル信号から、所定のスライスレベルでＬＰＰ信号が２値化されてなるＬＰＰ２値化信号が生成される。そして、このように生成されたＬＰＰ２値化信号のうちＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在するものがトリガ信号とされ、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の検出が行われる。この態様において「ＬＰＰ２値化信号のうち、前記時間軸上で、前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在するものをトリガ信号として」とは、例えば、ＬＰＰ２値化信号とＲＦ２値化信号スペース部とが時間軸上で重複する期間を、プッシュプル信号のサンプリング期間に一致させることを意味する。このため、例えばＬＰＰ２値化信号とＲＦ２値化信号スペース部を示す信号（例えば、１４Ｔスペースを示すゲートパルス）との論理積、或いは、好ましくはＬＰＰ２値化信号とＲＦ２値化信号スペース部内の中央寄り部分を示す信号（例えば、１４Ｔスペース中の中央寄りの１０Ｔスペースを示すゲートパルス）との論理積としてトリガ信号を生成し、このトリガ信号によってプッシュプル信号に含まれるＬＰＰ信号の波形が取得される。
【００２０】
この態様では、前記ＬＰＰ２値化信号生成工程は、前記ｎ回取得された波形の振幅の最大値に対して、所定の割合に前記スライスレベルを設定するように構成してもよい。
【００２１】
このように構成すれば、ＬＰＰ波形取得工程によってｎ回取得された波形の振幅の最大値に対して、例えば２０％といった、所定の割合に設定されたスライスレベルで、ＬＰＰ信号を適切に２値化することが可能となる。
【００２２】
本発明のランドプリピット振幅評価方法に係る実施形態の他の態様では、前記ＬＰＰ波形取得工程は、前記ｎ回取得された波形を重複して表示するＬＰＰ波形重複表示工程を含む。
【００２３】
この態様によれば、デジタルオシロスコープ等を用いてのＬＰＰ波形重複表示工程によって、ｎ回取得された波形は重複して表示されるので、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を視覚的に検査することも可能となる。
【００２４】
この態様では、前記ＬＰＰ波形重複表示工程は、前記ｎ回取得された波形をデジタルオシロスコープに重複して表示するように構成してもよい。
【００２５】
このように構成すれば、ＬＰＰ波形重複表示工程中に、例えば数秒から数十秒又は数分〜数十分といった時間に亘って取得された、ｎ個の波形が、デジタルオシロスコープに表示される。よって、ｎ個の波形における振幅についての最大値（ＡＰ（max））に対する最小値（ＡＰ（mｉｎ））の比率（ＡＲ）を、比較的簡単且つ高精度で取得可能となる。
【００２６】
本発明のランドプリピット振幅評価方法に係る実施形態の他の態様では、前記特定マーク又はスペース部検出工程は、前記時間軸上における前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内にゲートパルスを生成するゲートパルス生成工程を含み、前記特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程は、前記生成されたゲートパルスに基づいて、前記特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号を検出する。
【００２７】
この態様によれば、特定マーク又はスペース部検出工程中に、ゲートパルス生成工程によって、例えば１４Ｔの時間長を持つＲＦ２値化信号スペース部内に含まれる、例えば１０Ｔの時間長を持つゲートパルスが生成される。その後、このゲートパルスに基づいて、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の検出が確実に行われる。
【００２８】
本発明のランドプリピット振幅評価方法に係る実施形態における、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程がＬＰＰ２値化信号生成工程を含む態様では、前記ＬＰＰ波形取得行程は、前記時間軸上における前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内にゲートパルスを生成するゲートパルス生成工程と、前記生成されたＬＰＰ２値化信号のうち、前記時間軸上で前記ゲートパルス内に存在するＬＰＰ２値化信号を、前記トリガ信号として出力するトリガ信号生成工程とを含み、前記特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程は、前記出力されたトリガ信号を用いて、前記特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の検出を行うように構成してもよい。
【００２９】
このように構成すれば、ＬＰＰ波形取得工程中に、ゲートパルス生成工程によって、例えば１４Ｔの時間長を持つＲＦ２値化信号スペース部内に含まれる、例えば１０Ｔの時間長を持つゲートパルスが生成される。続いて、トリガ信号生成工程によって、ＬＰＰ２値化信号のうち、時間軸上でゲートパルス内に存在するＬＰＰ２値化信号がトリガ信号として出力される。そして、このように出力されたトリガ信号によって、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の検出が確実に行われる。
【００３０】
本発明のランドプリピット振幅評価方法に係る実施形態の他の態様では、前記マーク又はスペース部検出工程は、前記特定マーク又はスペースとして、１４Ｔのスペースに対応するＲＦ２値化信号スペース部を検出する。
【００３１】
この態様によれば、例えばＤＶＤ−Ｒ規格、ＤＶＤ−ＲＷ規格等の規格上で、最も長いスペースであると共にその存在が保証されている１４Ｔのスペースに対応するＲＦ信号スペース部を検出することが可能となる。
【００３２】
本発明のランドプリピット振幅評価方法に係る実施形態における、ＬＰＰ波形取得工程がＬＰＰ波形重複表示工程を含む態様では、前記ＬＰＰ波形取得工程は、前記検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を、ｎ回取得するためにデジタルオシロスコープのトリガ出力パルス数をカウントする波形取得数判定工程を含んでもよい。
【００３３】
このように構成すれば、波形取得数判定工程によって、デジタルオシロスコープのトリガ出力パルス数がカウントされるので、比較的確実且つ容易に、ＬＰＰ信号の波形をｎ回取得することが可能となる。
【００３４】
（ランドプリピット振幅測定方法の実施形態）
本発明のランドプリピット振幅測定方法に係る実施形態は、上述した本発明のランドプリピット振幅評価方法に係る実施形態の場合と同様に、照射工程と、受光工程と、プッシュプル信号生成工程と、ＲＦ信号生成工程と、ＲＦ２値化信号生成工程と、特定マーク又はスペース部検出工程と、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程とを備えており、更に、前記検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を取得するＬＰＰ波形取得工程とを備える。
【００３５】
本実施形態によれば、照射工程、受光工程、プッシュプル信号生成工程、ＲＦ信号生成工程、ＲＦ２値化信号生成工程、特定マーク又はスペース部検出工程、及び特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程を経て、ＬＰＰ波形取得工程によって、ＬＰＰ信号の波形が取得される。このような波形の取得をｎ回行ってその結果をＬＰＰ信号振幅を評価するのに用いれば、上述した本発明のランドプリピット振幅評価方法に係る実施形態を実現できる。
【００３６】
尚、本実施形態においては、上述した本発明のランドプリピット振幅評価方法に係る実施形態の場合と同様の各種態様を採ることが可能である。
【００３７】
（ランドプリピット振幅評価装置の実施形態）
本発明のランドプリピット振幅評価装置に係る実施形態は、ランドトラックに予め形成されたランドプリピットを有し、グルーブトラックにマーク及びスペースが交互に並んで記録される光ディスクにおける、前記ランドプリピットに基づくＬＰＰ信号の振幅を評価するランドプリピット振幅評価装置であって、前記光ディスクに読取光を照射する照射手段と、前記読取光に基づく前記光ディスクからの反射光を受光する受光手段と、前記受光された反射光に基づいて、プッシュプル信号を生成するプッシュプル信号生成手段と、前記受光された反射光に基づいて、ＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成手段と、前記ＲＦ信号を２値化することで、ＲＦ２値化信号を生成するＲＦ２値化信号生成手段と、前記生成されたＲＦ２値化信号上で、前記マーク及びスペースのうち、所定長の特定マーク又はスペースに対応するＲＦ２値化信号マーク又はスペース部を検出する特定マーク又はスペース部検出手段と、時間軸上で、前記検出されたＲＦ２値化信号マーク又はスペース部内に存在する前記ＬＰＰ信号を、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号として検出する特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出手段と、前記検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を、ｎ（但し、ｎは２以上の自然数）回取得するＬＰＰ波形取得手段と、前記ｎ回取得された波形に対し、その振幅の最大値に対する最小値の比率が、所定閾値を超える又は該所定閾値に達するか否かを判定する判定手段とを備える。
【００３８】
本実施形態によれば、上述した本発明のランドプリピット振幅評価方法に係る実施形態の場合と同様に、ＲＦ信号スペース部内のＬＰＰに対する信号の検出度合を、より適確に判断することが可能となる。
【００３９】
尚、本実施形態においては、上述した本発明のランドプリピット振幅評価方法に係る実施形態の場合と同様の各種態様を採ることが可能である。
【００４０】
（ランドプリピット振幅測定装置の実施形態）
本発明のランドプリピット振幅測定装置に係る実施形態は、上述した本発明のランドプリピット振幅測定装置に係る実施形態の場合と同様に、照射手段と、受光手段と、プッシュプル信号生成手段と、ＲＦ信号生成手段と、ＲＦ２値化信号生成手段と、特定マーク又はスペース部検出手段と、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出手段とを備えており、更に、前記検出された特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号の波形を取得するＬＰＰ波形取得手段とを備える。
【００４１】
本実施形態によれば、照射手段、受光手段、プッシュプル信号生成手段、ＲＦ信号生成手段、ＲＦ２値化信号生成手段、特定マーク又はスペース部検出手段、及び特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出手段による各種処理を経て、ＬＰＰ波形取得手段によって、ＬＰＰ信号の波形が取得される。このような波形の取得をｎ回行ってその結果をＬＰＰ信号振幅を評価するために用いれば、上述した本発明のランドプリピット振幅評価装置に係る実施形態を実現できる。
【００４２】
尚、本実施形態においては、上述した本発明のランドプリピット振幅評価方法に係る実施形態の場合と同様の各種態様を採ることが可能である。
【００４３】
以上説明した各種実施形態に係る光ディスクは、記録層が１層である１層ディスクでもよいし、記録層が２層又は多層である２層又は多層ディスクでもよい。光ディスクがＬＰＰを有する型である限りにおいて、該ＬＰＰは、本発明のランドプリピット振幅評価方法及び装置による評価対象となり得る。
【００４４】
以上詳細に説明したようにランドプリピット振幅評価方法に係る実施形態によれば、ＲＦ２値化信号生成工程、特定マーク又はスペース部検出工程、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程、ＬＰＰ波形取得工程、及び判定工程を備えるので、また、ランドプリピット振幅評価装置に係る実施形態によれば、ＲＦ２値化信号生成手段、特定マーク又はスペース部検出手段、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出手段、ＬＰＰ波形取得手段、及び判定手段を備えるので、ＲＦ信号スペース部内のＬＰＰに対する信号の検出度合を、より適確に判断することが可能となる。更に、ランドプリピット振幅測定方法に係る実施形態によれば、ＲＦ２値化信号生成工程、特定マーク又はスペース部検出工程、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出工程、及びＬＰＰ波形取得工程を備えるので、また、ランドプリピット振幅測定装置に係る実施形態によれば、ＲＦ２値化信号生成手段、特定マーク又はスペース部検出手段、特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出手段、及びＬＰＰ波形取得手段を備えるので、上述した本発明のランドプリピット振幅評価方法及び装置に係る実施形態を実現できる。
【００４５】
本実施形態の作用及び他の利得は次に説明する実施例から更に明らかにされる。
【実施例】
【００４６】
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
【００４７】
先ず図１及び図２を参照して、本実施例に係るＬＰＰ振幅評価方法の評価対象となる、ＬＰＰを有する光ディスクについて説明する。ここに、図１は、本実施例に係る光ディスクの基本構造を示し、上側部分は複数の記録領域を有する光ディスクの概略平面図であり、これに対応付けられる下側部分は、その径方向における記録領域構造の図式的概念図である。また、図２は、本実施例に係る光ディスクの記録面における部分拡大斜視図である。
【００４８】
本実施例に係る光ディスクは、例えば、有機色素膜を使用した不可逆変化記録方式によって１回だけ記録可能である追記型の光ディスクであってもよいし、又は、相変化膜を使用した可逆変化記録方式によって多数回に亘って記録が可能であり且つ多数回に亘って再生が可能である書換型の光ディスクであってもよい。
【００４９】
図１に示すように、光ディスク１００は、例えば、直径１２ｃｍ程度のディスク本体上の記録面に、センターホール１を中心として内周側から外周側に向けて、リードインエリア１０１、データエリア１０２及びリードアウトエリア１０３が設けられている。
【００５０】
リードインエリア１０１には、コントロールデータゾーン等が設けられており、例えば再生又は記録制御用の各種制御情報、各種管理情報等が記録される。データエリア１０２には、例えば映像情報や音声情報などのコンテンツ情報や各種データが記録される。リードインエリア１０１、データエリア１０２及びリードアウトエリア１０３には、例えば、センターホール１を中心にスパイラル状或いは同心円状に、例えば、グルーブトラック及びランドトラックが交互に設けられており、記録トラック１０が形成されている。
【００５１】
尚、トラック１０上には、記録データが、セクタ１１という単位が例えば１６個集まった管理単位である１ＥＣＣブロック（クラスタ）単位にて記録される。この１ＥＣＣブロックは、エラー訂正可能なプリフォーマットアドレス情報による管理単位である。
【００５２】
図２に示すように、本実施例では、光ディスク１００は、ディスク状の透明基板１０６の下側において、情報記録面を構成する色素膜又は相変化膜からなる記録層１０７が積層され、更にその下側に、反射層１０８が積層されている。記録層１０７の表面からなる情報記録面には、グルーブトラックＧＴ及びランドトラックＬＴが交互に形成されている。
【００５３】
尚、図２中、反射層１０８の下側には、保護膜或いはパッシベーション膜等が積層されてよい。
【００５４】
光ディスク１００の記録及び再生時には、例えば図２に示したように、透明基板１０６を介してグルーブトラックＧＴ上に、レーザ光ＬＢが照射される。例えば、記録時には、記録レーザパワーでレーザ光ＬＢが照射されることで、記録データに応じて、記録層１０７へ記録が実施される。他方、再生時には、記録レーザパワーよりも弱い再生レーザパワーでレーザ光ＬＢが照射されることで、記録層１０７へ記録された記録データの読出しが実施される。
【００５５】
グルーブトラックＧＴには、ウォブル１０９が設けられている。即ち、グルーブトラックＧＴは、一定の振幅及び空間周波数で揺動されている。ウォブル１０９の周期は、所定値に設定されている。尚、ウォブル１０９を周波数変調や位相変調など所定の変調方式により変調することによりプリフォーマットアドレス情報を予め記録するようにしてもよい。
【００５６】
ランドトラックＬＴには、ＬＰＰ（ランドプリピット）が設けられている。例えば、光ディスク１００がＤＶＤ−ＲやＤＶＤ−ＲＷである場合では、ＬＰＰは、プリフォーマットアドレス情報を示す。
【００５７】
これらのウォブル１０９及びＬＰＰによって、データ書込時に、回転数の制御や記録クロックの生成、更に記録アドレスの取得等が行われる。
【００５８】
尚、本発明は、図１に示した如き３つの記録領域を有する光ディスク１００には特に限定されない。例えば、リードインエリア１０１やリードアウトエリア１０３の存在も任意であり、記録データが記録されるデータエリア１０２と、図示しない最適記録パワーを検出するためのＰＣＡ（Power Calibration Area）の記録領域が設けられていてもよい。
【００５９】
次に図３を参照して、本実施例に係るＬＰＰ振幅評価装置の全体構成について概要を述べる。ここに図３は、ＬＰＰ振幅評価装置の全体ブロック図である。
【００６０】
図３に示すように、ＬＰＰ振幅評価装置は、ドライブ部２０１及び測定部２０２を備える。これらのうち、ドライブ部２０１は、ＲＦ，ＬＰＰ信号生成部１と、スピンドルモータ２と、ドライブ制御部３とを備える。測定部２０２は、トリガ信号生成部４と、波形測定及び評価部５と、測定制御部６とを備えて構成されている。
【００６１】
ＲＦ，ＬＰＰ信号生成部１は、ドライブ制御部３の制御下でレーザ光ＬＢを光ディスク１００に照射すると共にその反射光を受光して受光信号を出力する光ピックアップ１ａ等を含み、受光信号に基づいて、プッシュプル信号Ｓｐｐ及びＲＦ信号Ｓｒｆを生成するように構成されている。光ピックアップ１ａは、本発明に係る「照射手段」及び「受光手段」の一例を構成しており、ＲＦ，ＬＰＰ信号生成部１は、本発明に係る「プッシュプル信号生成手段」及び「ＲＦ信号生成手段」の一例を構成している。
【００６２】
スピンドルモータ２は、ドライブ制御部３の制御下で、ディスク１００を回転させる。好ましくは、クロック信号に基づくスピンドルサーボが実施される。
【００６３】
トリガ信号生成部４は、コントローラ等からなり、測定制御部６の制御下で、トリガ信号Ｓｔｒを生成する。更に、入力されるプッシュプル信号Ｓｐｐから、計測用ＬＰＰ信号Ｓｍｅを生成するように構成されている。トリガ信号生成部４は、本発明に係る「特定マーク又はスペース部検出手段」及び「ＬＰＰ２値化信号検出手段」の一例を構成している。
【００６４】
波形測定及び評価部５は、デジタルオシロスコープ等からなり、ＬＰＰ信号の振幅を測定し、スペックイン又はスペックアウトといった評価を行うように構成されている。波形測定及び評価部５は、本発明に係る「特定マーク又はスペース内ＬＰＰ信号検出手段」、「ＬＰＰ波形取得手段」及び「判定手段」の一例を構成している。
【００６５】
ドライブ制御部３は、コントローラ等からなり、ドライブ部２０１の全体動作を制御するように構成されており、測定制御部６は、コントローラ等からなり、測定制御部２０２の全体動作を制御するように構成されている。尚、測定制御部６を構成するコントローラを、トリガ信号生成部４や、波形測定及び評価部５を構成するコントローラと共用にすることも可能である。
【００６６】
次に図４から図６を参照して、図３に示した、ＲＦ，ＬＰＰ信号生成部１の詳細構成について、その動作と共に説明する。ここに、図４は、ＲＦ，ＬＰＰ信号生成部１の光検出系に係るブロック図である。図５は、ＲＦ，ＬＰＰ信号生成部１によって、ウォブル信号Ｓｗと共に生成されるプッシュプル信号Ｓｐｐの波形図である。図６は、ＲＦ，ＬＰＰ信号生成部１によって生成されるＲＦ信号Ｓｒｆの、オシロスコープ上で得られる波形図である。
【００６７】
図４において、ＲＦ，ＬＰＰ信号生成部は、光ディスクからの反射光であるレーザ光ＬＢを受光する受光手段として、４分割フォトディテクタ１０を有する。４分割フォトディテクタ１０は、夫々受光信号Ｉａ、Ｉｂ、Ｉｃ及びＩｄを出力する受光面１０ａ、１０ｂ、１０ｃ及び１０ｄを有する。受光面１０ａ及び１０ｂは、トラックの接線方向に光学的に対応する方向に延びる分割線で分割された、本発明に係る「第１受光面」の一例を構成している。よって、これらの出力である受光信号Ｉａ及びＩｂは夫々、増幅器１２ａ及び１２ｂによって増幅された後、加算器１４により加算されて、第１受光面からの第１受光出力（Ｉａ＋Ｉｂ）とされる。
【００６８】
他方、受光面１０ｃ及び１０ｄは、トラックの接線方向に光学的に対応する方向に延びる分割線で分割された、本発明に係る「第２受光面」の一例を構成している。よって、これらの出力である受光信号Ｉｃ及びＩｄは夫々、増幅器１２ｃ及び１２ｄによって増幅された後、加算器１５により加算されて、第２受光面からの第２受光出力（Ｉｃ＋Ｉｄ）とされる。
【００６９】
更に、これらの第１受光出力（Ｉａ＋Ｉｂ）と第２受光出力（Ｉｃ＋Ｉｄ）との間で、減算器１６によって差がとられる、即ち（Ｉａ＋Ｉｂ）−（Ｉｃ＋Ｉｄ）が算出されることによって、プッシュプル信号Sｐｐが生成される。
【００７０】
他方で、これらの第１受光出力（Ｉａ＋Ｉｂ）と第２受光出力（Ｉｃ＋Ｉｄ）との間で、加算器１７によって和がとられる、即ち（Ｉａ＋Ｉｂ）＋（Ｉｃ＋Ｉｄ）が算出されることによって、ＲＦ信号Sｒｆが生成される。
【００７１】
このようにして生成されたプッシュプル信号Ｓｐｐ及びＲＦ信号Ｓｒｆは、例えば図５及び図６に示す波形を夫々有する。
【００７２】
図５において、時間軸上で、プッシュプル信号Ｓｐｐは、ウォブル１０９（図２参照）に応じて生成されるウォブル信号Ｓｗ上の頂点から突出する信号である。
【００７３】
図６において、オシロスコープ上で、異なる時間に生成された複数のＲＦ信号が重ねられており、各ＲＦ信号は、マーク及びスペースの長短に応じて異なる、振幅及び位相を有するのが分かる。従って、情報再生時には、ＲＦ信号に基づいて、記録ピットに対応する記録データを再生することが可能となる。
【００７４】
次に、図７及び図８を参照して、図３に示したトリガ信号生成部４と波形整形及び評価部５との詳細構成について、それらの動作と共に説明する。ここに、図７は、トリガ信号生成部のブロック図であり、図８は、ＬＰＰ振幅評価部のブロック図である。
【００７５】
図７において、トリガ信号生成部は、ＲＦ，ＬＰＰ信号生成部１（図４参照）から入力されるＲＦ信号Ｓｒｆから、ゲートパルスＰｇａを生成するために、バッファ２１、２値化回路２２、１４Ｔスペース検出器２３及びゲートパルス生成器２４を備える。トリガ信号生成部はまた、ＲＦ，ＬＰＰ信号生成部１（図４参照）から入力されるプッシュプル信号Sｐｐから、時間調整済みのＬＰＰ２値化信号Sｐｐｂｄを検出するために、バッファ３１、コンパレータ３２及び遅延回路（時間調整回路）３３を備える。トリガ信号生成部は更に、トリガ信号Ｓｔｒを生成すべく、ゲートパルス生成器２４から出力されたゲートパルスＰｇａと、遅延回路３３から出力された時間調整済みのＬＰＰ２値化信号Sｐｐｂｄとの論理積をとって、トリガ信号Ｓｔｒとして出力する論理積回路（ＡＮＤ回路）４１を備える。
【００７６】
加えて、トリガ信号生成部は、バッファ３１から出力されるプッシュプル信号Sｐｐをバッファリングすることで、計測用ＬＰＰ信号Ｓｍｅとして出力するバッファ３６を備える。
【００７７】
トリガ信号生成部は更に、コンパレータ３２で用いられるスライスレベルＳＬ２をバッファリングすることで、スライスレベルＳＬ２を示すスライスレベル信号Ｓｓｌを出力するバッファ３７を備える。
【００７８】
図７に示した各構成要素の構成を、それらの動作と共に、更に詳細に説明する。
【００７９】
図７において、２値化回路２２によって、例えば、バッファ２１から出力されたＲＦ信号Ｓｒｆと所定値に設定されたスライスレベルＳＬ１との比較により、２値化されたＲＦ信号Ｓｒｆｂが生成される。２値化されたＲＦ信号Ｓｒｆｂ中には、３Ｔ〜１１Ｔのマーク部（mark）及びスペース部（space）が出現し、同期（シンク）の１４Ｔマーク部（mark）及びスペース部（space）も適当な頻度で出現することになる。そして、１４Ｔスペース検出器２３により、１４Ｔスペース信号のみが検出される。続いて、この１４Ｔスペース検出信号に対して、例えばゲート幅が１０ＴであるゲートパルスＰｇａが、ゲートパルス生成器２４によって生成される。尚、ゲート幅は、例えば、１２Ｔでもよいし、８Ｔでもよい。
【００８０】
他方で、コンパレータ３２によって、バッファ３１から出力されたプッシュプル信号ＳｐｐとスライスレベルＳＬ２との比較により、２値化されたＬＰＰ信号Ｓｐｐｂが生成される。ここでスライスレベルＳＬ２の設定値は後述される所定のレベルに設定される。続いて、ＲＦ信号ＳｒｆからゲートパルスＰｇａを生成する際に発生した時間軸上のずれに対し、ＬＰＰ信号側の時間（タイミング）を合わせるために、遅延回路３３によって遅延幅（Ｄｅｌａｙ）を調整する。このようにして、ゲートパルスＰｇａに対する時間軸上のずれが補正されたＬＰＰ２値化信号出力Ｓｐｐｂｄが生成される。
【００８１】
ここで、１０Ｔスペース幅のゲートパルスＰｇａと、時間調整済みのＬＰＰ２値化信号Ｓｐｐｂｄとの論理積が、論理積回路４１でとられ、その結果として、トリガ信号Ｓｔｒが生成される。
【００８２】
上記の如きトリガ信号Ｓｔｒの出力と並行して、バッファ３６からは、計測用ＬＰＰ信号Ｓｍｅが出力され、バッファ３７からは、スライスレベル信号Ｓｓｌが出力される。
【００８３】
図８において、波形測定及び評価部は、論理積回路４１（図７参照）から入力されるトリガ信号Ｓｔｒをトリガとして、バッファ３６（図７参照）から入力される計測用ＬＰＰ信号Ｓｍｅをサンプリングして、ＬＰＰ振幅測定及ぶ評価を行うために、デジタルオシロスコープ５１、カウンタ５２及びＰＣ（パーソナルコンピュータ）５３を備える。
【００８４】
図８に示した各構成要素の構成を、それらの動作と共に、更に詳細に説明する。
【００８５】
図８において、デジタルオシロスコープ５１に対して、論理回路４１（図７参照）から出力されたトリガ信号Ｓｔｒが、入力されると共に、バッファ３６（図７参照）から出力された計測用ＬＰＰ信号Ｓｍｅが、その測定対象用の入力端子に入力される。デジタルオシロスコープ５１には更に、バッファ３７（図７参照）から出力されたスライスレベル信号Ｓｓｌが、他の入力端子に入力される。
【００８６】
デジタルオシロスコープ５１によって、トリガ信号Ｓｔｒによりトリガをかけた時の計測用ＬＰＰ信号Ｓｍｅが取得される。つまり、トリガ信号Ｓｔｒは１４Ｔスペースに相当するゲートパルスＰｇａ内に存在するＬＰＰ２値化信号Ｓｐｐｂｄであるため、計測用ＬＰＰ信号Ｓｍｅのうち１４Ｔスペース内に存在するＬＰＰ信号のみが、デジタルオシロスコープ５１に取得されることになる。また、トリガ信号Ｓｔｒは元であるプッシュプル信号ＳｐｐをスライスレベルＳＬ２で２値化した信号でもあるため、ＳｐｐのＬＰＰ振幅がスライスレベルＳＬ２以下の場合は２値化されず、１４Ｔスペース内に存在していても、デジタルオシロスコープ５１で取得されない。そこで、同様の基準によるＬＰＰ信号の振幅対する測定及び評価を行うために、スライスレベルＳＬ２を適切に設定する必要がある。本実施例では、デジタルオシロスコープ５１で取得したＬＰＰ信号振幅の最大値ＡＰ（ｍａｘ）に対して所定の割合（例えば振幅最大値の２０%）にスライスレベル信号Ｓｓｌがなるように、スライスレベルＳＬ２を設定する。
【００８７】
カウンタ５２によって、デジタルオシロスコープ５１のトリガ出力がカウントされることで、計測用ＬＰＰ信号Ｓｍｅにおける１４Ｔスペース内のＬＰＰ波形が何回取得されたかがカウントされる。より具体的には、デジタルオシロスコープ５１内でトリガが実際にかかったときにトリガ出力パルスが（１パルスだけ）デジタルオシロスコープ５１から出力される。従って、この出力されるトリガ出力パルスを、例えばユニバーサルパルスカウンタ（Universal Pulse Counter）の如きカウンタ５２でカウントすることによって、デジタルオシロスコープでトリガした回数を検出することができる。
【００８８】
例えば予め設定された１０００回といった所定回数のカウントがなされると、デジタルオシロスコープ５１では、１０００回ＬＰＰ信号波形を取得したことになり、その１０００波形を重複表示させることができる。このとき、重複表示されたＬＰＰ波形における振幅についての最大値ＡＰ（max）及び最小値ＡＰ（mｉｎ）を測定することにより、最大値に対する最小値の比率であるＡＲ値を算出することが可能となる。
【００８９】
そして、ＡＲ値が、例えば４０％といった所定閾値を超えたか又は該所定閾値に達したかが判定される。ＡＲ値が大きいということは、ＬＰＰ信号についての２値化可能範囲が広くなり、プリピット検出の検出精度が高いということに繋がる。よって、ＡＲ値が所定閾値を超えたか又は該所定閾値に達したと判定されれば、当該評価対象となっている光ディスク１００は、ＬＰＰ振幅についてスペックインということになる。逆に、ＡＲ値が所定閾値に達しないと判定されれば、当該評価対象となっている光ディスク１００は、ＬＰＰ振幅についてスペックアウトということになる。
【００９０】
以上のような、トリガ信号生成部４内におけるスライスレベルＳＬ２の設定やデジタルオシロスコープ５１やカウンタ５２によるＬＰＰ信号波形取得、振幅測定等はＰＣ５３等により測定等の動作の流れを制御することが可能であり、測定したＡＲ値の判定を含め、一連の評価を自動化することもできる。
【００９１】
以上の結果、本実施例によれば、１４Ｔスペース部内におけるＬＰＰ信号を検出し、その振幅レベルを評価することで、１４Ｔスペース部内のＬＰＰ信号の検出精度を判断することが可能となる。
【００９２】
次に、図９から図１３を参照して、本実施例の如きＡＲ値を用いたＬＰＰ信号の振幅レベルの評価について、比較例と比較することで検討を加える。ここに図９は、上述の実施例におけるデジタルオシロスコープ５１（図８参照）に対し、トリガ信号Ｓｔｒ及び計測用ＬＰＰ信号Ｓｍｅを入力して、トリガ信号Ｓｔｒでトリガをかけたときにおける計測用ＬＰＰ信号Ｓｍｅを表示している。ここでは例えば、１０００個のＬＰＰ信号の波形を示している。図１０は、そのような波形におけるＡＰ（ｍａｘ）及びＡＰ（ｍｉｎ）とスライスレベルＹ％との関係を示した模式的な波形図であり、図１１は、スペックインと評価される場合の波形の具体例に係る、図１０と同趣旨の波形図であり、図１２は、スペックアウトと評価される場合の波形の具体例に係る、図１０と同趣旨の波形図である。これに対して、図１３は、比較例としてのＡＲ評価法におけるデジタルオシロスコープにより表示されたＬＰＰ信号の波形を夫々示している。
【００９３】
図９では、１４ＴスペースのおけるＬＰＰ信号を、１０ＴスペースのゲートパルスＰｇａ（図８参照）を用いて生成したトリガ信号Ｓｔｒを用いてサンプリングしている。この際、例えば図７に示したスライスレベルＳＬ２（図７参照）で設定された、ＬＰＰ２値化信号Ｓｐｐｂを生成するためのＬＰＰスライスレベルＳｓｌ（ＬＰＰ slice level）は、ＡＰ（ｍａｘ）の２０％に設定されている。そして、トリガ信号ＳｔｒによるトリガのタイミングでトリガされたＬＰＰ信号の波形が、デジタルオシロスコープ５１（図８参照）上に重複して表示されている。このような重複表示は、カウンタ５２（図８参照）によってトリガ数（すなわち波形取得数）をカウントすることにより、例えばトリガ１０００回分だけ行われる。こうして重複して表示されたＬＰＰ信号の波形から、ＡＲ値が求められる。このようにデジタルオシロスコープ５１で取得したＬＰＰ信号振幅の最大値ＡＰ（ｍａｘ）に対して所定の割合（即ち、本例では、ＡＰ（ｍａｘ）の２０％）にスライスレベル信号Ｓｓｌがなるように、スライスレベルＳＬ２が設定されるので、デジタルオシロスコープ５１において同様の基準によるＬＰＰ信号の振幅対する測定及び評価を行うことが可能となる。
【００９４】
図１０に示すように、ＡＰ（ｍａｘ）とは、例えば１０００個のＬＰＰ信号の振幅のうち最大のものを意味し、ＡＰ（ｍｉｎ）とは、例えば１０００個のＬＰＰ信号の振幅のうち最小のものを意味し、ＬＰＰスライスレベルは、ＡＰ（ｍａｘ）のＹ％として定義されている。図９の具体例では、Ｙ＝２０％に設定されている。
【００９５】
図１１に示すように、ＡＰ（ｍｉｎ）が、スライスレベル（ＬＰＰ slice level）よりも十分に大きければ（この例ではＡＰ（ｍａｘ）の４０％以上の値）、図に“ｅｙｅ”として示したスライスレベルからＡＰ（ｍｉｎ）までの間隙が十分に大きくなり、このときＬＰＰを２値化するスライスレベルより小さい振幅となるＬＰＰ信号はごく少数であると判断することができる。ここで、ＡＰ（ｍａｘ）の２０％となるスライスレベル（ＬＰＰ slice level）に対して、ＡＲ値（＝ＡＰ（ｍｉｎ）／ＡＰ（ｍａｘ））は、例えば４０％といった規格値を設けた場合、その規格値を満足することなる。即ち、光ディスク１００は、スペックインと評価される。この場合には、評価対象である光ディスク１００における１４Ｔスペース部内のＬＰＰ信号の検出精度は十分に高いと言える。
【００９６】
スライスレベルとＡＰ（ｍｉｎ）の間隔が大きくない場合（ＡＰ（ｍａｘ）の４０％以下の値）や、図１２に示すように、スライスレベルと殆ど変わらなければ、図に“ｅｙｅ”として示したスライスレベルからＡＰ（ｍｉｎ）までの間隙が小さい或いは殆どなくなり、このときＬＰＰを２値化するスライスレベルより小さい振幅となるＬＰＰ信号は多数存在すると判断することができる。この場合、当然ＡＲ値（＝ＡＰ（ｍｉｎ）／ＡＰ（ｍａｘ））は、例えば４０％といった規格値を超えられないことなる。即ち、光ディスク１００は、スペックアウトと評価される。この場合には、評価対象である光ディスク１００における１４Ｔスペース部内のＬＰＰ信号の検出精度は低いと言える。
【００９７】
これに対して、図１３に示す比較例の場合、伝統的なＡＲ評価法の場合と同様に、１４Ｔスペースとは無関係に、即ち、上述した本実施例に係るトリガ信号Ｓｔｒを用いることなく、記録後のグルーブトラックにおける記録マーク及びスペース部内に存在する全てのＬＰＰ信号を取得している。
【００９８】
図１３に示すように、比較例において、ＡＲ値が０％である場合では、記録マークの有無に応じて、或いは記録スペースの長さに応じて、ＬＰＰ信号の振幅のばらつきの度合は非常に大きいため、ＡＰ（ｍｉｎ）は非常に小さい。尚、このようにＡＲ値が０％であると、図１１及び図１２に示した如き“ｅｙｅ”が全く開かないことになる。一般的に記録後において、ＬＰＰに記録マーク部が隣接した場合のＬＰＰ信号の振幅は小さく、他方で、記録後であってもＬＰＰに記録スペース部が隣接した場合のＬＰＰ信号の振幅は大きいと考えられている。このようにＬＰＰに隣接したグルーブトラックにおける記録マーク及びスペースの影響が混在した、ＬＰＰ信号の振幅が大きく変わってしまう比較例では、１４Ｔスペース部内のみのＬＰＰ振幅評価を困難にしている。即ち、伝統的なＡＲ評価法でも、当該比較例と同様の問題を抱えているものと考察される。
【００９９】
これに対して、本実施例の如く、１４Ｔスペース部等の所定長のスペース部におけるＬＰＰ信号のみを選択的にサンプリングして、その振幅評価を行うことは、極めて理にかなっている。
【０１００】
以上詳細に説明したように本実施例によれば、ＲＦ信号スペース部内のＬＰＰに対する信号の検出度合をより適確に判断することが可能となる。
【０１０１】
次に図１４及び図１５を参照して、本実施例の変形例について説明する。ここに図１４及び図１５は夫々、図７と同趣旨である、変形例に係るトリガ信号生成部のブロック図である。尚、図１４及び図１５において、図７と同様の構成要素には同様の参照符合を付し、それらの説明については適宜省略する。
【０１０２】
図１４に示すように一の変形例では、上述の実施例に係るコンパレータ３２、遅延回路３３及びバッファ３７に代えて（図７参照）、バッファ３１からのアナログ出力たるプッシュプル信号Ｓｐｐに対してアナログ形式のまま遅延処理（即ち、時間調整処理）を施す遅延回路（時間調整回路）２３３を備える。更に上述の実施例に係る論理積回路４１に代えて、アナログスイッチ２４１を備える。そして、トリガ信号Ｓｔｒを、アナログスイッチ２４１を介して選択的に出力するように構成されている。このように一の変形例によれば、プッシュプル信号Ｓｐｐをアナログ形式のままで処理してトリガ信号Ｓｔｒを生成することも可能である。
【０１０３】
或いは図１５に示すように他の変形例では、図１４に示した一の変形例からバッファ３６の構成を取り除き、計測用ＬＰＰ信号Ｓｍｅを、バッファ３１及び遅延回路（時間調整回路）２３３を介してアナログスイッチ２４１から選択的に出力するように構成されている。このように他の変形例によれば、一の変形例（図１４参照）よりも一層単純な構成を用いて、プッシュプル信号Ｓｐｐをアナログ形式のままで処理してトリガ信号Ｓｔｒを生成することも可能である。
【０１０４】
加えて、本実施例によれば、ＬＰＰに対して同期してデータ記録を行う同期記録方式においても、ＬＰＰに対して非同期でデータ記録を行う非同期記録方式においても、適用可能であるので実用上大変有利である。ＬＰＰと１４Ｔスペース部とが同期している同期記録方式に比べて、同期していない非同期記録方式の場合には、１４Ｔスペース部内に存在するＬＰＰが少ない。このため、非同期方式の方が、同一時間内に検出可能なＬＰＰ信号の数は少なくなるが、同期記録方式の場合でも、非同期記録方式の場合でも、本実施例の如くに、所定数であるｎ個の波形を取得することを評価の条件としておくことで、測定に要する時間に多少の変化が出ても、評価の的確性には、殆ど影響が及ぼされることはない。即ち、評価の精度は、記録方式に応じたＬＰＰ信号の検出頻度にはよらずに、高く維持される。更に、ＬＰＰ信号の検出頻度は、光ディスク１００の内周側と外周側とでも一般に異なる（一般に、外周側ほど、ＬＰＰは少ない）が、所定回数だけ波形を取得する本実施例によれば、ディスクの内外周を問わずに、適確な評価を行える意味でも大変有益である。
【０１０５】
また、本発明は、請求の範囲及び明細書全体から読み取るこのできる発明の要旨又は思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴うＬＰＰ振幅評価方法及び装置、ＬＰＰ振幅測定方法及び装置等もまた本発明の技術思想に含まれる。
【図面の簡単な説明】
【０１０６】
【図１】実施例に係る光ディスクの基本構造を示し、上側部分は概略平面図であり、下側部分は記録領域構造の図式的概念図である。
【図２】実施例に係る光ディスクの記録面における部分拡大斜視図である。
【図３】実施例に係るＬＰＰ振幅評価装置の全体ブロック図である。
【図４】実施例に係る、ＲＦ，ＬＰＰ信号生成部の光検出系に係るブロック図である。
【図５】実施例に係るＲＦ，ＬＰＰ信号生成部によって、ウォブル信号Ｓｗと共に生成されるプッシュプル信号Ｓｐｐの波形図である。
【図６】実施例に係るＲＦ，ＬＰＰ信号生成部によって生成されるＲＦ信号Ｓｒｆの、デジタルオシロスコープ上で得られる波形図である。
【図７】実施例に係るトリガ信号生成部のブロック図である。
【図８】実施例に係る波形整形及び評価部のブロック図である。
【図９】実施例におけるデジタルオシロスコープによりサンプリングされる、ＬＰＰ信号の波形を示す特性図である。
【図１０】実施例におけるデジタルオシロスコープによりサンプリングされる波形における、ＡＰ（ｍａｘ）及びＡＰ（ｍｉｎ）とスライスレベルとの関係を示した模式的な波形図である。
【図１１】実施例でスペックインと評価される場合の波形の具体例に係る、図１１と同趣旨の波形図である。
【図１２】実施例でスペックアウトと評価される場合の波形の具体例に係る、図１１と同趣旨の波形図である。
【図１３】比較例のＡＲ評価法におけるデジタルオシロスコープにより表示されたＬＰＰ信号の波形を示す特性図である。
【図１４】本実施例の一の変形例に係るトリガ信号生成部のブロック図である。
【図１５】本実施例の他の変形例に係るトリガ信号生成部のブロック図である。
【符号の説明】
【０１０７】
１…ＲＦ，ＬＰＰ信号生成部
４…トリガ信号生成部
５…波形測定及び評価部
２２…コンパレータ
２３…１４Ｔスペース検出器
２４…ゲートパルス生成器
３２…コンパレータ
３３…遅延回路
４１…論理積回路
５１…デジタルオシロスコープ
５２…カウンタ
５３…ＰＣ（パーソナルコンピュータ）
１００…光ディスク
ＬＰＰ…ランドプリピット
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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