(57)【要約】【課題】  親基板に子基板を挿入する場合の基板挿入検査において、電源投入をすることなく基板挿入の検査をおこなうシステムを提供する。【解決手段】  電源投入無しに挿入検査をする手段として、挿入する各々の子基板の短絡する２ピンを抵抗値測定用端子として用いる。抵抗値測定用端子は、子基板に変更を加える必要が無いように子基板の抵抗値測定用端子は電源ピンもしくはＧＮＤピンなどの既存の短絡するピンを使用する。子基板を親基板に挿入後、親基板上に各々の子基板の抵抗値測定用端子を介した挿入検査用配線を行い、挿入検査用配線を通じて抵抗値を測定し抵抗値が所定値以外の値の場合は、挿入ミスがあると判定する。【選択図】  図1
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
親基板と、
前記親基板に挿入する複数の子基板と、
前記複数の子基板の各々において短絡された２点を並列接続する配線と、
前記複数の子基板の２点と各々直接接続され、相互に値の異なる抵抗値を有する複数の抵抗と、
前記配線間の抵抗値測定端子を備えることを特徴とする基板挿入検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は電気機器の基板組立検査システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
電気機器では一枚の親基板上に複数の子基板が挿入されることが一般的であるため、検査時間もかかり確認漏れが発生しやすかった。子基板が不完全な挿入状態で電源を投入することがあり、それらの基板を搭載する電気機器が期待する動作を行わないことや親基板または子基板に搭載する電子部品を過電流により破損することがあった。
【０００３】
そのため、人による目視検査ではなく、コネクタへの逆挿入を検知するための技術が実登３０４６１３２号公報に記載されている。この技術では、プローブを備えた検査用の基板を検査対象の基板に重ね、プローブのON／OFFを検知することでコネクタの逆挿入を検知する構成を採用している。
【０００４】
【特許文献１】実登３０４６１３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記技術ではコネクタの位置に対応した検査用の基板を作成する必要があった。また、コネクタの逆挿入は検知できるが、基板上のコネクタの逆挿入は検知できるが、正常な方向に挿入されているコネクタに搭載された部品が逆挿入である状態を検知することはできなかった。
【０００６】
本発明は、親基板に子基板を挿入する場合の基板挿入検査において、検査方法を簡略化し、検査ミスの低減及び検査時間の短縮を可能にすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
電源投入無しに挿入検査をする手段として、挿入する各々の子基板の短絡する２ピンを抵抗値測定用端子として用いる。抵抗値測定用端子は、子基板に変更を加える必要が無いように子基板の抵抗値測定用端子は電源ピンもしくはＧＮＤピンなどの既存の短絡するピンを使用する。子基板を親基板に挿入後、親基板上に各々の子基板の抵抗値測定用端子を介した挿入検査用配線を行い、挿入検査用配線を通じて抵抗値を測定し抵抗値が所定値以外の値の場合は、挿入ミスがあると判定するようにしたものである。
【発明の効果】
【０００８】
基板挿入検査において検査時間の短縮および検査漏れの低減が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明の実施の形態を、図面を用いて詳細に説明する。
【００１０】
図1は実施の形態の一例を示す構成図である。図１に示す実施の形態では、親基板１１上に搭載されたコネクタに、子基板２が複数枚搭載されている。本実施の形態では、親基板１１上に、挿入検査用配線３が形成されている。挿入検査用配線３は、各々の子基板２に対して１本ずつ設けられたものであり、同じく親基板１１上に搭載された抵抗４器(接続する子基板毎に違う値)に、直接接続する構成である。抵抗器４は、相互に並列接続され、抵抗値測定端子５、GND7に接続する。なお、GND７は、子基板２のGNDピン６と接続する構成である。
【００１１】
挿入検査用配線した親基板１１上に子基板１２を挿入する。子基板２は両面にピンを配置してあるが、逆挿しを検査する為に片面の両端に一番近いＧＮＤピン６を挿入検査用のピンに使用する。抵抗器４の値が異なるのは、挿入ミスがあった場合、その個所を特定するためである。すなわち、それぞれの子基板に重みをもった値を持つ抵抗を直列に接続しておけば、計測される値によって、逆挿入される子基板２を特定することができる。なお、本実施の形態では、この図1では4枚の拡張基板のそれぞれに1Ω、２Ω、４Ω、８Ωの抵抗を直列に接続している。子基板１２を親基板１１に実装しているコネクタに挿入後、抵抗測定端子５間で抵抗値を測定する。正しく挿入している場合の抵抗値は0.533Ωとなるが、拡張基板の挿入ミスがあると挿入ミスのある個所に対応した抵抗値(表1参照)となるため、抵抗値の値を調べることで挿入ミスのある拡張基板を容易に判別することができる。
【００１２】
【表１】
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上記表１に示すように、例えば、ケース2にみられるように抵抗値が0.615Ωの場合は基板3の１枚に挿入ミスがある。ケース6では抵抗値が0.889Ωになり、この場合は基板2と基板3の2枚に挿入ミスがある。ケース12では抵抗値が2.000Ωになり、この場合は子基板1と子基板2と子基板3の３枚に挿入ミスがあることになる。検査後、ミスが無い場合はそのまま使用する。
【００１３】
なお、本実施の形態では、親基板１１上に抵抗値測定端子を設け、作業者が端子を用いて測定した抵抗値によって逆挿入の基板を判断する公正としているが、端子測定データをコンピュータで取り込み、予め取り込んだ表１のデータに基づき、または抵抗器４の各々の抵抗値のデータと並列抵抗値の計算を行うことで、逆挿入した番号を出力表示する構成としてもよい。
【００１４】
図2は他の実施の形態を示す構成図である。親基板１１、搭載する子基板１２、挿入検査用配線３、抵抗器(接続する子基板毎に違う値)４、抵抗値測定端子５、ＧＮＤ７で構成する。構成及び挿入検査実施方法は図１の実施の形態と同一であるが、図２の例では破線で囲まれている抵抗器を、コネクタ等を使用した取付け取外しによって、ＧＮＤ接続と切替えを行えるようしている。すなわち、図１の実施の形態では挿入検査を行ったあと、使用時に各々の子基板１乃至３のＧＮＤピンが１ピンオープンになる。使用する子基板によっては、ＧＮＤピンが１ピンオープンになることによって電源ノイズの影響を受けやすくなる等のことが考えられる。そのため、図3に示すように検査後に挿入検査用配線を破線部分でＧＮＤ接続と切替えを行い使用できるようにする。
【００１５】
抵抗を実装するエリアが無い場合も考えられる。このような場合についての例を、図面を用いて詳細に説明する。
【００１６】
図4は他の実施の形態を示す構成図である。親基板１１、搭載する子基板１２、挿入検査用配線３、抵抗値測定端子５、ＧＮＤピン６、ＧＮＤ７で構成する。挿入検査用配線をした親基板１１上に子基板を搭載する。図１の実施の形態と同様に、子基板１２の片面上の両端に一番近いＧＮＤピン２ピンを挿入検査用のピンに使用し、図に示すように子基板１２を親基板１１上で直列に挿入検査用配線を施し、抵抗値測定端子で抵抗値を測定できるようにする。子基板１２の挿入後、抵抗値測定端子で抵抗値を測定する。挿入ミスが無い場合の抵抗値は０Ωになり、１枚でも子基板１２の挿入ミスがある場合は、抵抗値は無限大となる。図４の実施の形態では挿入ミスのある子基板１２を特定できず、挿入ミスの有無のみの判別しか出来ないが、図１の実施の形態と比べ、挿入検査用配線及び抵抗器に必要なエリアが小さくて済み、簡易な構造で基板挿入検査を行うことができる。検査後にミスが無い場合はそのまま使用することが可能である。
【００１７】
以上の実施の形態は、電源ピンもしくはＧＮＤピンなどで短絡する配線を有する基板を挿入する基板全般に適用することが可能である。
【００１８】
上記説明した実施の形態では、従来技術では拡張基板を挿入する場合の基板挿入検査は目視で行っていたが、子基板１２の電源ピンもしくはＧＮＤピンなどの様に子基板１２上で短絡しているピンを挿入検査用ピンとして用いることと親基板１１上の挿入検査用配線により子基板１２として使用する既製の基板に変更を加えることなく、電源投入前の挿入検査を簡略化することができる。電源投入前に挿入検査を行うことにより、挿入ミスによる事故を防ぐことができ、人による目視検査に比べ時間を短縮することができる。また挿入する基板に変更を加える必要がないため、既製の基板にも用いることができる。
【００１９】
なお、上記実施の形態は、以下のように捉えることも可能である。すなわち、
（１）基板挿入検査において、挿入される親基板１１上に挿入検査用配線として挿入する基板上の短絡された２点を親基板１１上の抵抗を介して接続する配線を備え、挿入検査用配線を通じて抵抗値が所定値より大きい場合は挿入ミスが生じていると判定することを特徴とする基板挿入検査システム。
【００２０】
（２）（１）に加え、さらに、挿入する複数の基板それぞれに異なった値を持つ抵抗を介して接続した挿入検査用配線を備え、挿入検査用配線を通じて抵抗値を測定し抵抗値より挿入ミス基板を特定することを特徴とする基板挿入検査システム。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】実施の形態の一例を示す構成図である。
【図２】他の実施の形態を示す構成図である。
【図３】他の実施の形態を示す構成図である。
【図４】他の実施の形態を示す構成図である。
【符号の説明】
【００２２】
１１・・・親基板、１２・・・子基板、３・・・挿入検査用配線、４・・・抵抗器、５・・・抵抗値測定端子、６・・・ＧＮＤピン、７・・・ＧＮＤ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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