(57)【要約】【課題】  ウォブリング形状の案内溝を有する光ディスク特有のビート成分による悪影響を排除し、正確な学習テスト評価が可能な学習テスト方法を提供する。【解決手段】  ディスクの１つのパラメータに関する学習テスト領域をウォブルの再生ウォブル信号に生じるウォブルビート周期幅の整数倍の長さとし、学習テスト領域に対し１つのパラメータ値に関するテスト記録を行い、テスト記録の再生、再生評価、及び再生評価結果の保存を行う。そして、それをパラメータ値毎に繰り返し、保存された再生評価結果に基づいて最適パラメータ値を決定する。こうすることで、学習テストデータ中の記録データクロックがウォブルビートにより部分的に品位低下していても、学習評価結果への影響を回避できる。【選択図】        図１
2006351113.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
物理位置を示すウォブルが予めスタンプされた情報記録媒体に情報を記録又は再生するに当たって記録又は再生に関するパラメータを決定するための学習テストを行う学習テスト方法において、前記情報記録媒体の１つのパラメータに関する学習テスト領域を前記ウォブルの再生ウォブル信号に生じるウォブルビート周期幅の整数倍の長さとし、前記学習テスト領域に対し１つのパラメータ値に関するテスト記録を行い、前記テスト記録の再生、再生評価、及び再生評価結果の保存を行い、それをパラメータ値毎に繰り返し、前記保存された再生評価結果に基づいて最適パラメータ値を決定することを特徴とする学習テスト方法。
【請求項２】
前記再生評価の際には前記再生ウォブル信号レベルが所定閾値以上の時の再生信号のみ再生評価を行うことを特徴とする請求項１に記載の学習テスト方法。
【請求項３】
前記再生評価指標は、データの時間軸方向の偏りを示すジッター値であることを特徴とする請求項１又は２に記載の学習テスト方法。
【請求項４】
前記再生評価結果は、前記ウォブルビート周期長に亘って記録されたテスト記録の再生評価の累積結果とすることを特徴とする請求項１又は２に記載の学習テスト方法。
【請求項５】
前記学習テスト領域のウォブルビート周期長を消去した後、前記テスト記録を行うことを特徴とする請求項１又は２に記載の学習テスト方法。
【請求項６】
物理位置を示すウォブルが予めスタンプされた情報記録媒体に情報を記録又は再生する光学的情報記録再生装置において、前記情報記録媒体の所定領域に学習テスト領域が設けられ、前記１つのパラメータに関する学習テスト領域は前記ウォブルの再生ウォブル信号に生じるウォブルビート周期幅の整数倍の長さと決められており、前記学習テスト領域に対し１つのパラメータ値に関するテスト記録を行う手段と、前記テスト記録の再生を行う手段と、再生信号の再生評価を行う手段と、再生評価結果を保存する手段と、前記一連の動作をパラメータ値毎に繰り返し、前記保存された再生評価結果に基づいて最適パラメータ値を決定する手段とを備えたことを特徴とする光学的情報記録再生装置。
【請求項７】
前記再生評価手段は、前記再生ウォブル信号と所定閾値を比較し、所定閾値以上の時の再生信号を有効として弁別する手段と、前記有効と弁別された再生信号の再生評価を行う手段とを備えたことを特徴とする請求項６に記載の光学的情報記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク等の情報記録媒体に情報を記録又は再生する際のパラメータを決定する学習テスト方法、特に、ウォブリング形状の案内溝を有する情報記録媒体を用いた場合の学習テスト方法及び光学的情報記録再生装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年のディスクドライブ装置、特に、青色ダイオードを用いて記録再生を行う高密度ディスクドライブにおいては、記録再生光学系精度が非常に高くなっている為、個別ディスク毎の反り等の物理状態、ドライブ側の物理状態、ドライブの置かれる周囲の環境状態の組み合わせを含めると、最適記録パラメータ（レーザパワー、対物レンズのフォーカスオフセット、対物レンズの球面収差等）の選択幅が狭くなっている。従って、この種のディスクドライブ装置では、一般的に実記録に供するディスク自体、ピックアップ自体、スピンドル自体を使用した事前学習テストを行い、最適記録パラメータを導出した後、導出された記録パラメータを使って実記録を行う事により、記録データ品位の向上を図っている。
【０００３】
一般的な学習テストの方法を図８、図９に模式的に示す。ディスクドライブ装置へディスクを新規装填した場合に行う学習テストは、一般的にディスク内周側に設定されている学習テスト専用領域を使用する。また、高密度ドライブ装置では極めて細いトラックへ記録する為、学習テスト領域に既に記録されているデータの有無や、隣接トラックから漏れ込むデータの影響までも考慮した学習テスト方法にする必要がある。
【０００４】
従って、実際に学習テスト評価に使うデータは１トラック分のみのデータであったとしても、まず、図８のように３トラックの消去を行い、その後、図９のように学習テストデータを３トラックの中央のトラックのみへ記録する。このように記録する事により、学習テストの再生評価時に隣接するトラックからのデータ漏れ込みによる影響を最小限にできる。
【０００５】
更に、特に青色ダイオードを用いた高密度ドライブ装置においては、学習テストにおけるディスクの傾きや固有ディスク毎のディスク記録感度むら等による影響も無視できない。そのため、これを軽減する為に、一旦、学習テスト領域へ固定レーザパワーを使った学習テスト記録を実施し、その学習テスト領域におけるディスクの傾きや記録感度むら等の影響を含んだ再生振幅情報を測定する事により、テストレーザパワーの補正値を導出する方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００６】
特許文献１の方法では、学習テスト領域へ一定パワーのレーザ光を照射した結果を保存し、学習テスト領域毎の補正係数を求め、更に、実学習テスト再生評価時に補正係数を使って補正を行っている。
【特許文献１】特開２００４−２５３０１６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
従来の技術では、学習テスト領域のディスクの傾きや記録感度むらによる再生ＲＦ信号の振幅情報のみに着目している。その結果、デジタルデータを記録するディスク記録の場合、現実的にはＲＦ信号の振幅が極めて小さいエリアにおいて、ＲＦ信号から再生される再生データ読取り回路で弁別可能な再生クロック品質も非常に低くなっている事に視点が注がれてはいない。つまり、ディスクへの記録データに含まれる情報要素として、再生信号振幅方向の情報と時間軸方向情報の二つの要素が含まれているが、時間軸方向情報を補間する技術は紹介されていない。
【０００８】
一方、近年ウォブリング形状を有する案内溝を備えた光ディスクを搭載可能なディスクドライブが発売されている。ウォブリングとは予め決められた規則の蛇行溝がディスクへスタンプされているもので、ディスク回転数管理やディスク上の物理アドレス取得目的に利用できる。ＣＬＶディスクにおけるウォブリングはウォブル蛇行物理長がディスク内周から外周にかけて一定長さとなっている為、ドライブ装置における記録動作においてはディスクを回転させた時のウォブル周波数が一定となる様に制御するＰＬＬをかける事によりスピンドルモータ制御へ利用出来る。
【０００９】
従って、ウォブリングを局部的に観察すると図１０に示す位置関係になる。図１０の紙面下側が内周側トラック、紙面上側が外周側トラックとする。略同心円上に配置されたウォブリングは、各トラックの半径長の違いにより隣接するトラック同士においてＣの周長差、即ち、Ｃの位相差を生じる。ウォブル物理長がディスク上の何処であっても一定である事から、この位相差はディスク上のどの位置であっても一定の位相差が得られる為、ウォブリングを再生した場合位相差によって生じるビート成分が発生する。
【００１０】
このビート成分はウォブリング再生時のディスク回転数にして約２回転強の周期で発生し、図１１に示す様な再生レベル差が得られ、ウォブル低再生レベル部Ａとウォブル高再生レベル部Ｂのレベル比率はＡ：Ｂ＝１：３程度の実に安定した値で観測される。先に記述したようにウォブリングはディスク記録時のスピンドルモータの回転制御に利用可能であると共に、記録データのタイミングを生成する記録クロックの発生源となる。
【００１１】
しかし、３倍ものレベル差のあるウォブル信号を使って安定した記録クロックＰＬＬを組む為には、ウォブル信号を安定して読取る為の高価なＡＧＣ回路が必須となる。もし、ビート成分の影響によりウォブル信号を安定して読取る事が不可能な場合には、ウォブル低再生レベル部では記録クロックの品位が極めて低いものとなってしまう。そして、このような記録クロック品位が極めて低いデータを使って学習テスト記録を実施したとしても、その学習テストデータは再生評価時の信頼性が極めて低いものとなり、記録パラメータ評価基準として使用するに値しないデータとして保存されてしまう。
【００１２】
本発明の目的は、ウォブリング形状の案内溝を有する媒体特有のビート成分による悪影響を排除し、正確な学習テスト評価を行うことが可能な学習テスト方法及び光学的情報記録再生装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明は、上記目的を達成するため、物理位置を示すウォブルが予めスタンプされた情報記録媒体に情報を記録又は再生するに当たって記録又は再生に関するパラメータを決定するための学習テストを行う学習テスト方法において、前記情報記録媒体の１つのパラメータに関する学習テスト領域を前記ウォブルの再生ウォブル信号に生じるウォブルビート周期幅の整数倍の長さとし、前記学習テスト領域に対し１つのパラメータ値に関するテスト記録を行い、前記テスト記録の再生、再生評価、及び再生評価結果の保存を行い、それをパラメータ値毎に繰り返し、前記保存された再生評価結果に基づいて最適パラメータ値を決定することを特徴とする。
【００１４】
また、本発明は、物理位置を示すウォブルが予めスタンプされた情報記録媒体に情報を記録又は再生する光学的情報記録再生装置において、前記情報記録媒体の所定領域に学習テスト領域が設けられ、前記１つのパラメータに関する学習テスト領域は前記ウォブルの再生ウォブル信号に生じるウォブルビート周期幅の整数倍の長さと決められており、前記学習テスト領域に対し１つのパラメータ値に関するテスト記録を行う手段と、前記テスト記録の再生を行う手段と、再生信号の再生評価を行う手段と、再生評価結果を保存する手段と、前記一連の動作をパラメータ値毎に繰り返し、前記保存された再生評価結果に基づいて最適パラメータ値を決定する手段とを備えたことを特徴とする。
【００１５】
また、本発明は、再生評価の際には再生ウォブル信号レベルが所定閾値以上の時の再生信号のみ再生評価を行うのがよい。
【００１６】
また、本発明において、再生評価指標は、データの時間軸方向の偏りを示すジッターとするのがよい。更に、再生評価結果は、ウォブルビート周期長内に亘って記録されたテスト記録の再生評価の累積結果とするのがよい。また、学習テスト領域のウォブルビート周期長幅を消去した後、テスト記録を行うのがよい。
【００１７】
本発明においては、情報記録媒体の１つのパラメータに関する学習テスト領域をウォブルの再生ウォブル信号に生じるウォブルビート周期幅の整数倍の長さとし、学習テスト領域に対し１つのパラメータ値に関するテスト記録を行い、テスト記録の再生、再生評価、及び再生評価結果の保存を行う。そして、それをパラメータ値毎に繰り返し、保存された再生評価結果に基づいて最適パラメータ値を決定する。更に、再生評価の際には再生ウォブル信号レベルが所定閾値以上の時の再生信号のみ再生評価を行う。
【００１８】
従って、本発明は、学習テストデータ中の記録データクロックがウォブルビートにより部分的に品位低下していても、学習評価結果への影響を回避できる。また、再生評価の際には再生ウォブル信号レベルが所定閾値以上の時の再生信号のみ再生評価を行うことで、更に正確な学習テストを実現できる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、学習テスト領域の大きさをウォブルビート周期の整数倍の長さとし、この領域に１つのパラメータ値に関するテスト記録を行うことにより、学習テストデータ中の記録データクロックがウォブルビートにより部分的に品位低下していても、学習評価結果には影響を及ぼさず、正確な学習テストを実現できる。
【００２０】
また、再生ウォブル信号レベルが所定閾値以上の時の再生信号のみ再生評価することにより、更に正確な学習テストを実現できる。
【００２１】
更に、評価指標にデータの時間軸方向の偏りを示すジッターを用いることにより、他の評価指標に比較的して精度の高い評価結果の取得が可能になる。
【００２２】
また、再生評価結果をウォブルビート周期の整数倍の長さに亘って記録されたテスト記録の再生評価の累積結果とすることにより、他の演算手法に比較して評価演算が単純になるため、装置の構成を簡易化できる。
【００２３】
更に、テスト記録を行う学習テスト領域のウォブルビート周期の整数倍の長さ幅を消去した後、学習テスト記録を行うことにより、他の学習パラメータによる影響を排除した学習テストを実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
次に、発明を実施するための最良の形態について図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２５】
（第１の実施形態）
図１は本発明に係るディスク記録再生装置の第１の実施形態の構成を示すブロック図である。図中１００は光ディスク等の情報記録媒体であるところのディスクであり、上述のような物理位置を示すウォブリング形状の案内溝を有する媒体である。１０２はディスク１００への記録時に記録光信号を照射し、再生時にはディスク１００からの反射光を再生信号として検出する光ピックアップである。
【００２６】
１０４はディスク１００を回転駆動するスピンドルモータ、１０６は光ピックアップ１０２をディスク上の任意半径位置へ移動させるシークモータ、１０８は光ピックアップ１０２内の図示しない記録再生用光源のレーザダイオードに対し、出力信号タイミングストラテジをかけた上、出力電力を制御するＬＤドライバーである。
【００２７】
１１０は光ピックアップ１０２で読取ったＲＦ信号を増幅するＲＦ増幅回路、１１２はデジタル再生信号以外の周波数成分を遮断するＲＦバンドパスフィルタ、１１４は再生信号レベルを後段の回路に合わせてゲイン調整をするＲＦＡＧＣ回路、１１６は波形等化した後、ＡＤ変換するＲＦＡＤ変換器、１１８はＲＦ信号からクロック弁別を行い、再生ＲＦ信号データ同期のＰＬＬ制御を行いデータクロックを出力するＲＦＰＬＬ回路である。
【００２８】
１２０は光ピックアップ１０２で読取ったウォブル信号を増幅するウォブル増幅回路、１２２はウォブル周波数成分以外の信号を遮断するウォブルバンドパスフィルタ、１２４は再生信号レベルを後段の回路に合わせてゲイン調整するウォブルＡＧＣ回路、１２６はウォブルＡＤ変換器、１２８はウォブル信号周波数にてクロック同期をかけたＰＬＬ制御を行い、記録データクロックを出力するウォブルＰＬＬ回路、１３０は再生時にビタビ復号により再生デジタルデータを読出し、記録時にはＰＲＭＬ処理を施した記録データを読出すリードライト回路である。
【００２９】
１３２はデジタル変調或いはデジタル復調処理を施す変復調回路、１３４はＥＣＣ符号化或いはＥＣＣ復号化処理を施すＥＣＣ回路、１３６は再生された、或いは記録するソースデジタルデータを保管するデータメモリであり、ディスクドライブ装置をシステム化する際には、このメモリから生の画像データを読出しファーム側で使用できる。
【００３０】
１４０はＳＡＭ等のジッター評価指標を使ってジッターを測定するジッター検出回路、１４４は検出ジッター値を積分する積分回路、１４６はディスクドライブ装置全体の制御を行うＣＰＵで構成するシステム制御回路であり、積分回路１４４から出力される検出ジッター積分値の一時保管にも使用する。１５０はリードライト回路１３０、変復調回路１３２、ＥＣＣ回路１３４へ与える制御クロックを切換えるスイッチで、再生時には再生ＲＦ信号に同期した１１８側のＰＬＬ出力クロックを選択し、記録時にはウォブル信号に同期した１２８側のＰＬＬ出力クロックを選択する。１６０は読取りウォブル信号に対しアドレス検知演算を施した結果をもってアドレス検出を行うアドレス検出回路である。
【００３１】
次に、本発明の第１の実施形態に係るディスク記録再生装置の通常記録再生動作を説明する。最初に記録動作から説明する。
【００３２】
情報を記録する場合には、まず、ディスク１００をスピンドルモータ１０４の駆動により回転させ、シークモータ１０６の駆動により光ピックアップ１０２をディスク１００上の記録位置へ移動させる。また、ファーム上でＭＰＥＧ等の処理がなされた記録データはデータメモリ１３６へ予めセットされる。
【００３３】
記録データはＥＣＣ回路１３４にてＥＣＣ前処理が行われた後、変復調回路１３２にてデジタル変調処理が行われ、リードライト回路１３０にてＰＲＭＬ処理を施され、ＬＤドライバー１０８へ送られる。リードライト回路１３０、変復調回路１３２、ＥＣＣ回路１３４はスイッチ１５０で選択されたクロックによって同期処理する。記録時にはスイッチ１５０がウォブルＰＬＬ１２８を選択し、ウォブルＰＬＬ１２８にて発生したデータクロックで動作する。
【００３４】
ウォブルＰＬＬ１２８によるデータクロックの発生は次の様に制御して行う。まず、回転するディスク１００上のウォブル信号を光ピックアップ１０２が読取り、それをウォブル増幅回路１２０にて増幅する。更に、ウォブルバンドパスフィルタ１２２にてウォブル周波数成分以外の信号を遮断し、ウォブルＡＧＣ回路１２４にて再生信号レベルを後段の回路に合わせるゲイン調整を行う。また、ウォブルＡＤ変換器１２６にてＡＤ変換を行い、ウォブルＰＬＬ回路１２８にてウォブル周波数と位相比較した結果の位相誤差信号を使ってＶＣＯ（ウォブルＰＬＬ回路内のＶＣＯ）を発振させ、データクロック周波数の信号を出力させる。
【００３５】
一方、ＬＤドライバー１０８へ送られたデータはディスク媒体に合致したライトストラテジ変換がなされ、光ピックアップ１０２へ送られ、ダイオード発光の光信号となってディスク１００上へ刻み込まれる。
【００３６】
次に、再生動作を説明する。まず、記録時と同様にディスク１００をスピンドルモータ１０４の駆動により回転させ、シークモータ１０６の駆動により光ピックアップ１０２をディスク１００上の再生位置へ移動させる。光ピックアップ１０２からディスク１００に再生光が照射され、その反射光は光ピックアップ１０２内の受光センサで受光されＲＦ信号が取り出される。更に、その信号はＲＦ増幅回路１１０にて増幅され、ＲＦバンドパスフィルタ１１２にてデジタル再生信号以外の周波数成分が遮断される。
【００３７】
また、ＲＦＡＧＣ回路１１４にて再生信号レベルを後段の回路に合わせるゲイン調整がなされ、ＲＦＡＤ変換器１１６にて波形等化した後ＡＤ変換され、リードライト回路１３０にてビタビ復号化処理される。その後、変復調回路１３２にてデジタル復調処理が行われ、ＥＣＣ回路１３４にてＥＣＣ復号処理が行われた後、データメモリ１３６へ記録され、ファームウェアにて再生蓄積データのＪＰＥＧ復号処理等を施して再生データが得られる。
【００３８】
ここで、記録動作の説明で説明した通り、リードライト回路１３０、変復調回路１３２、ＥＣＣ回路１３４はスイッチ１５０で選択されたクロックによって同期処理する。再生時にはスイッチ１５０がＲＦＰＬＬ回路１１８を選択し、再生ＲＦ信号データＰＬＬにて発生したデータクロックで動作している。ＲＦＰＬＬ回路１１８はＲＦＡＤ変換器１１６の出力信号を、ＲＦ信号データ周波数と位相比較した結果の位相誤差信号を使ってＶＣＯを発振させ、データクロック周波数の信号を出力を得ている。
【００３９】
次に、図１と図２を使って、本発明の第１の実施形態に係る学習テストでの記録再生評価動作を説明する。まず、ディスク１００の学習テスト領域の大きさについて述べる。図１１に示す様にウォブリングの位相差によって生じるビート成分により、ウォブル低再生レベル部Ａとウォブル高再生レベル部Ｂのレベル比率はＡ：Ｂ＝１：３程度の実に安定した値となる。その為、ウォブルＰＬＬ回路１２８から出力される記録データクロック品位はウォブルビート周期で高品位と低品位部が繰り返されている。
【００４０】
本発明はこの点に特に着目し、学習テスト領域の大きさをウォブルビート周期幅（周期長）の整数倍の長さと合致させている。即ち、この学習テスト領域には一つのテストパラメータ値で記録し、再生評価においてもこの学習テスト領域について一つのパラメータ値の再生データを通算評価する構成としている。
【００４１】
つまり、ウォブルビート周期幅内を二つ以上の領域に分割し、それぞれの領域に対して別のパラメータで学習テスト記録を行う場合には、ウォブルビートに起因する記録クロックの低品位化によって本来良好な結果を生むべき一方のパラメータ側の再生評価結果を悪化させる場合がある。そこで、上述のように学習テスト領域の大きさをウォブルビート周期幅の整数倍の長さとし、この学習テスト領域に１つのパラメータ値に関するテスト記録を行うことで、低品位な記録データクロックによる影響を回避している。
【００４２】
因みに、ウォブルビート周期幅はディスク内周側の領域では、アドレス数（Ａｄiｐアドレス）にして２０アドレス程度になる。ディスク１００には上述のようにウォブルが予め形成され、そのウォブルには物理位置を示すアドレスが重畳した状態で記録されているが、Ａｄiｐアドレスが約２０アドレスでウォブルビート周期が１周期となる。
【００４３】
図２において、ディスク１００が装置本体に新規装填されると、ディスク１００がスピンドルモータ１０４の駆動により回転し、シークモータ１０６の駆動により光ピックアップ１０２をディスク上の学習テスト領域始端へ移動させる（Ｓ２０１）。光ピックアップ１０２は移動先にてウォブル信号を読取り、その信号は増幅回路１２０、バンドパスフィルタ１２２、ＡＧＣ回路１２４を介してウォブルＡＤ変換器１２６にてＡＤ変換され、得られたウォブル信号はアドレス検出回路１６０にて読取られる。
【００４４】
アドレス検出回路１６０はウォブル信号に対しアドレス検知演算を施した結果をもってアドレス検出を行い、読取りアドレスをシステム制御回路１４６へ転送し、システム制御回路１４６は読取りアドレスが規定の学習テスト領域の開始アドレスと合致しているかを検査する（Ｓ２０２）。学習テスト領域の開始アドレスとの不一致が認められる場合には、システム制御回路１４６は学習テスト領域の開始アドレスと一致するまでシークモータ１０６の位置調整を行う。
【００４５】
学習テスト領域の開始アドレスと一致すれば、Ｓ２０３へ進み、学習テスト記録に先立ち、ディスクの学習テストに使用する領域のデータ消去を実施する。データ消去はウォブルアドレスの観測と平行して実行し、学習テスト記録に実際に使用するアドレス領域だけを消去する。つまり、データ消去動作はＬＤドライバー１０８が消去パワー出力を光ピックアップ１０２へ送る事により実現するが、消去位置のウォブルアドレスをアドレス検出回路１６０が同時にモニターしながら消去動作を実行する。そして、学習テスト領域末端のアドレス、即ち、学習テスト領域の開始アドレスにウォブルビート周期幅の２０アドレス（Ａｄiｐアドレス）を加えたアドレス位置を検知した時点で消去動作を停止する（Ｓ２０４）。
【００４６】
消去動作を実施した結果、約２回転強のトラックが消去され、図５に示すディスク模式図の状態となる。図５において白ヌキのトラックが消去された状態を示す。
【００４７】
次に、第零のパラメータＰ（０）を設定する（Ｓ２０５）。テストパラメータには、例えば、記録レーザパワー、対物レンズ球面収差、対物レンズフォーカスオフセット等情報の記録又は再生に関する多数の項目があり、本発明の趣旨は特に項目を特定するものでは無いので、この実施形態では記録レーザパワーだけを例として説明する。
【００４８】
その際、記録レーザパワー値を段階的に変化させながら学習テストを実施するが、記録レーザパワーが小さい順にパラメータ０（Ｐ（０））、パラメータ１（Ｐ（１））、パラメータ２（Ｐ（２））、パラメータ３（Ｐ（３））とする。Ｓ２０５でシステム制御回路１４６はＬＤドライバー１０８へ第零のパラメータ＝第零のレーザパワーＰ（０）を設定すると、Ｓ２０６、Ｓ２０７においてアドレス検知回路１６０の検出アドレスと規定の学習テスト領域の開始アドレスとが合致する様にシークモータ１０６を制御する。
【００４９】
学習テスト領域の開始アドレスと一致すれば、Ｓ２０８へ進み、いよいよＬＤドライバー１０８に設定された第零のパラメータＰ（０）で学習テスト記録を実施する。記録データは予め用意した固定パターンをデータメモリ１３６へ準備し、ここから読み出す。
【００５０】
この時、記録位置のウォブルアドレスをアドレス検出回路１６０が同時にモニターしながら記録動作を実行し、学習テスト領域末端のアドレス、即ち、学習テスト領域の開始アドレスにウォブルビート周期幅の２０アドレスを加えたアドレス位置を検知した時点で記録動作を停止する（Ｓ２０９）。
【００５１】
記録動作を実施した結果、約２回転強のトラックへ学習テスト記録がなされ、図６に示すディスク模式図の状態となる。図６において斜線で示すトラックが記録された状態を示す。次に、Ｓ２１０、Ｓ２１１において、システム制御回路１４６はアドレス検知回路１６０の検出アドレスと規定の学習テスト領域の開始アドレスとが合致する様にシークモータ１０６を制御する。
【００５２】
学習テスト領域の開始アドレスと一致すれば、Ｓ２１２へ進み、第零のパラメータＰ（０）での学習テスト記録結果の再生評価を実施する。即ち、Ｓ２１２でシステム制御回路１４６はディスク１００上のＳ２０８にて記録した学習テストデータをＲＦ増幅回路１１０、ＲＦバンドパスフィルタ１１２、ＲＦＡＧＣ回路１１４、ＲＦＡＤ変換器１１６を通して再生する。
【００５３】
次いで、この再生データについてジッター検出回路１４０にてＳＡＭ値を算出し、積分回路１４４へ入力する。積分回路１４４はウォブル検知アドレス毎にＳＡＭ値の積分を実施する（Ｓ２１３）。上述のように学習テスト領域の大きさはウォブルアドレス数にして約２０存在する為、学習テスト領域始端の第零アドレス位置のＳＡＭ値をＳＡＭ（０）と表現すると、第零パラメータＰ（０）での積分計算は次式のように表現される。
【００５４】
Σ（Ｐ（０））＝ＳＡＭ（０）＋ＳＡＭ（１）＋ＳＡＭ（２）＋・・・＋ＳＡＭ（１９）
再生しつつＳＡＭ積分演算するＳ２１２、Ｓ２１３の動作は、再生位置のウォブルアドレスをアドレス検出回路１６０が同時にモニターしながら実行し、ウォブルアドレスがインクリメントされる毎に上式の積分演算を実行する。そして、学習テスト領域末端のアドレス、即ち、学習テスト領域の開始アドレスへウォブルビート周期幅の２０アドレスを加えたアドレス位置を検知した時点で再生動作を停止する（Ｓ２１４）。
【００５５】
以上で第零パラメータＰ（０）についての積分評価値収録が完了し、Ｓ２１５にてパラメータＰ（０）と上式で求めたΣ（Ｐ（０））のセットを一旦システム制御回路１４６内に保存する。次に、Ｓ２１６にて現在の学習テストパラメータが最終パラメータ３（Ｐ（３））と合致しているかをチェックし、不一致であれば再びＳ２０３へ戻り、パラメータ１（Ｐ（１））、パラメータ２（Ｐ（２））、…に関して上述のＳ２０３〜Ｓ２１６の処理を繰り返し行う。
【００５６】
Ｓ２１６でテストパラメータが更新された結果、最終パラメータ３（Ｐ（３））の処理を終了すると、Ｓ２１７へ移行する。Ｓ２１７では保存された積分値Σ（Ｐ（０））、Σ（Ｐ（１））、Σ（Ｐ（２））、Σ（Ｐ（３））の中から累積ジッター値が最小になるパラメータを選出する。累積ジッター値が最小であるパラメータの記録条件が、最も高品質記録を保証する為、この記録条件をシステム制御回路１４６内に保存し、実記録時のパラメータとして設定する（Ｓ２１８）。以上で学習テスト処理が終了する。
【００５７】
（第２の実施形態）
図３は本発明に係るディスク記録再生装置の第２の実施形態の構成を示すブロック図である。図３では図１と同一部分には同一符号を付している。図１との違いはジッター検出回路１４０と積分回路１４４との間にスイッチ１４２を設けた点、ウォブル信号レベルを検出して所定の閾値と比較するウォブルレベル検出回路１７０を設けた点である。
【００５８】
図中１００は情報記録媒体であるディスク、１０２はディスク１００への記録時に記録光信号を照射し、再生時に反射光を再生信号として検出する光ピックアップである。１０４はディスク１００を回転駆動するスピンドルモータ、１０６は光ピックアップをディスク上の任意半径位置へ移動させるシークモータ、１０８は光ピックアップ内のレーザダイオードに対し、出力信号タイミングストラテジをかけた上、出力電力を制御するＬＤドライバーである。１１０は光ピックアップで読取ったＲＦ信号を増幅するＲＦ増幅回路、１１２はデジタル再生信号以外の周波数成分を遮断するＲＦバンドパスフィルタ、１１４は再生信号レベルを後段の回路に合わせてゲイン調整をするＲＦＡＧＣ回路である。
【００５９】
１１６は波形等化した後ＡＤ変換するＲＦＡＤ変換器、１１８はＲＦ信号からクロック弁別を行い、再生ＲＦ信号データ同期のＰＬＬ制御を行いデータクロックを出力するＲＦＰＬＬ回路、１２０は光ピックアップで読取ったウォブル信号を増幅するウォブル増幅回路、１２２はウォブル周波数成分以外の信号を遮断させるウォブルバンドパスフィルタである。
【００６０】
１２４は再生信号レベルを後段の回路に合わせてゲイン調整するウォブルＡＧＣ回路、１２６はウォブルＡＤ変換器、１２８はウォブル信号周波数にてクロック同期をかけたＰＬＬ制御を行い、記録データクロックを出力するウォブルＰＬＬ回路である。１３０は再生時にはビタビ復号により再生デジタルデータを読出し、記録時にはＰＲＭＬ処理を施した記録データを読出すリードライト回路、１３２はデジタル変調或いはデジタル復調処理を施す変復調回路、１３４はＥＣＣ符号化或いはＥＣＣ復号化処理を施すＥＣＣ回路である。
【００６１】
１３６は再生された、或いは記録するソースデジタルデータを保管するデータメモリであり、ディスクドライブ装置をシステム化する際には、このメモリから生の画像データを読出し、ファーム側で使用できる。１４０はＳＡＭ等のジッター評価指標を使ってジッターを測定するジッター検出回路、１４２は積分回路１４４へのジッター検出値出力をＯＮ・ＯＦＦするスイッチ、１４４は検出ジッター値を積分する積分回路である。
【００６２】
１４６はディスクドライブ装置全体の制御を行うＣＰＵで構成するシステム制御回路であり、積分回路１４４から出力される検出ジッター積分値の一時保管にも使用する。１５０はリードライト回路１３０、変復調回路１３２、ＥＣＣ回路１３４へ与える制御クロックを切換えるスイッチである。再生時にはスイッチ１５０により再生ＲＦ信号に同期したＲＦＰＬＬ回路１１８側のＰＬＬ出力クロックが選択され、記録時にはウォブル信号に同期したウォブルＰＬＬ回路１２８側のＰＬＬ出力クロックが選択される。
【００６３】
１６０は読取りウォブル信号に対しアドレス検知演算を施した結果をもってアドレス検出を行うアドレス検出回路、１７０はＡＤ変換された読取りウォブル信号レベルを検出すると共に、この検出レベルと所定の閾値を比較し大小判定を行う。
【００６４】
第２の実施形態の基本となる記録再生動作は、第１の実施形態の基本となる記録再生動作と同じ為、説明を省略する。
【００６５】
次に、図３と図４を使って、本実施形態の学習テストでの記録再生評価動作を説明する。まず、学習テスト領域の大きさについて述べる。図９に示す様にウォブリングの位相差によって生じるビート成分により、ウォブル低再生レベル部Ａとウォブル高再生レベル部Ｂのレベル比率はＡ：Ｂ＝１：３程度の実に安定した値となる。その為、ウォブルＰＬＬ回路１２８から出力される記録データクロック品位はウォブルビート周期で高品位と低品位部が繰り返されている。
【００６６】
本発明は、上述のようにこの点に特に着目し、学習テスト領域の大きさをウォブルビート周期幅の整数倍の長さと合致させている。即ち、少なくともこの学習テスト領域には一つのテストパラメータ値で記録し、再生評価においてもこの学習テスト領域について一つのパラメータ値の再生データを通算評価する構成としている。
【００６７】
つまり、ウォブルビート周期幅（周期長）内を二つ以上の領域に分割し、それぞれの領域に対して別のパラメータで学習テスト記録を行う場合には、ウォブルビートに起因する記録クロックの低品位化によって本来良好な結果を生むべき一方のパラメータ側の再生評価結果を悪化させる場合がある。そこで、上述のように学習テスト領域の大きさをウォブルビート周期幅の整数倍の長さとし、この学習テスト領域に１つのパラメータ値に関するテスト記録を行うことで、低品位な記録データクロックによる影響を回避している。
【００６８】
因みに、ウォブルビート周期幅はディスク内周側の領域では、アドレス数（Ａｄiｐアドレス）にして２０アドレス程度になる。
【００６９】
ディスク１００が新規装填されると、ディスク１００がスピンドルモータ１０４の駆動により回転し、シークモータ１０６の駆動により光ピックアップ１０２をディスク上の学習テスト領域始端へ移動させる（Ｓ４０１）。光ピックアップ１０２は移動先にてウォブル信号を読取り、その信号は増幅回路１２０、バンドパスフィルタ１２２、ＡＧＣ回路１２４を介してウォブルＡＤ変換器１２６にてＡＤ変換され、アドレス検出回路１６０で読取られる。
【００７０】
アドレス検出回路１６０は、読取りウォブル信号に対しアドレス検知演算を施した結果をもってアドレス検出を行い、読取りアドレスをシステム制御回路１４６へ転送し、システム制御回路１４６では読取りアドレスが規定の学習テスト領域の開始アドレスと合致しているかを検査する（Ｓ４０２）。
【００７１】
学習テスト領域の開始アドレスとの不一致が認められる場合には、システム制御回路１４６は学習テスト領域の開始アドレスと一致するまでシークモータ１０６の位置調整を行う。学習テスト領域の開始アドレスと一致すれば、Ｓ４０３へ進み、学習テスト記録に先立ち、学習テストに使用する領域のデータ消去を実施する。データ消去はウォブルアドレスの観測と平行して実行し、学習テスト記録に実際に使用するアドレス領域だけを消去する。
【００７２】
つまり、データ消去動作はＬＤドライバー１０８が消去パワー出力を光ピックアップ１０２へ送る事により実現するが、消去位置のウォブルアドレスをアドレス検出回路１６０が同時にモニターしながら消去動作を実行する。その際、学習テスト領域末端のアドレス、即ち、学習テスト領域の開始アドレスにウォブルビート周期幅の２０アドレスを加えたアドレス位置を検知した時点で消去動作を停止する（Ｓ４０４）。
【００７３】
消去動作を実施した結果、約２回転強のトラックが消去され、図５に示すディスク模式図の状態となる。図５において白ヌキのトラックが消去された状態を示す。
【００７４】
次に、第零のパラメータＰ（０）を設定する（Ｓ４０５）。テストパラメータには、例えば、記録レーザパワー、対物レンズ球面収差、対物レンズフォーカスオフセット等情報の記録又は再生に関する多数の項目があり、本発明の趣旨は特に項目を特定するものでは無いので、この実施形態では記録レーザパワーだけを例として説明する。
【００７５】
その際、記録レーザパワー値を段階的に変化させながら学習テストを実施するが、記録レーザパワーが小さい順にパラメータ０（Ｐ（０））、パラメータ１（Ｐ（１））、パラメータ２（Ｐ（２））、パラメータ３（Ｐ（３））とする。Ｓ４０５ではシステム制御回路１４６はＬＤドライバー１０８へ第零のパラメータ＝第零のレーザパワーＰ（０）を設定すると、Ｓ４０６、Ｓ４０７においてアドレス検知回路１６０の検出アドレスと規定の学習テスト領域の開始アドレスとが合致する様にシークモータ１０６を制御する。
【００７６】
学習テスト領域の開始アドレスと一致すれば、Ｓ４０８へ進み、いよいよＬＤドライバー１０８に設定した第零のパラメータＰ（０）で学習テスト記録を実施する。記録データは予め用意した固定パターンをデータメモリ１３６へ準備し、ここから読み出す。この時、記録位置のウォブルアドレスをアドレス検出回路１６０が同時にモニターしながら記録動作を実行し、学習テスト領域末端のアドレス、即ち、学習テスト領域の開始アドレスにウォブルビート周期幅の２０アドレスを加えたアドレス位置を検知した時点で記録動作を停止する（Ｓ４０９）。
【００７７】
記録動作を実施した結果、約２回転強のトラックへ学習テスト記録がなされ、図６に示すディスク模式図の状態となる。図６において斜線で示すトラックが記録された状態を示す。
【００７８】
次に、Ｓ４１０、Ｓ４１１においてシステム制御回路１４６はアドレス検知回路１６０の検出アドレスと規定の学習テスト領域の開始アドレスとが合致する様にシークモータ１０６を制御する。学習テスト領域の開始アドレスと一致すれば、Ｓ４１２へ進み、第零のパラメータＰ（０）での学習テスト記録結果の再生評価を実施する。即ち、Ｓ４１２にてシステム制御回路１４６はディスク１００上のＳ４０８にて記録した学習テストデータをＲＦ増幅回路１１０、ＲＦバンドパスフィルタ１１２、ＲＦＡＧＣ回路１１４、ＲＦＡＤ変換器１１６を通して再生する。
【００７９】
また、この再生データについてジッター検出回路１４０にてＳＡＭ値を算出し、スイッチ１４２を介して積分回路１４４へ入力する。積分回路１４４ではウォブル検知アドレス（Ａｄiｐアドレス）毎にＳＡＭ値の積分を実施する（Ｓ４１４）。上述のように学習テスト領域の大きさはウォブルアドレス数にして約２０存在する為、学習テスト領域始端の第零アドレス位置のＳＡＭ値をＳＡＭ（０）と表現すると、第零パラメータＰ（０）での積分計算は次式のように表現される。
【００８０】
Σ（Ｐ（０））＝ＳＡＭ（０）＋ＳＡＭ（１）＋ＳＡＭ（２）＋・・・＋ＳＡＭ（１９）
再生しつつＳＡＭ積分演算するＳ４１２、Ｓ４１４の動作は、再生位置のウォブルアドレスをアドレス検出回路１６０が同時にモニターしながら実行し、ウォブルアドレスがインクリメントされる毎に上式の積分演算を実行する。
【００８１】
ここで、第２の実施形態では、この積分演算のＳ４１２、Ｓ４１４においてウォブル再生レベルが低レベルである箇所は記録クロック品位が低くなっている問題に対し更に改善すべく対応可能である。つまり、ウォブルＡＤ変換器１２６の出力レベルを検出するウォブルレベル検出回路１７０を設け、図７に示す様にウォブル出力レベルが閾値Ｄより小さい学習テスト領域を分離し、記録クロック品位が低く、結果的に学習テスト記録データ信頼性が低い箇所については学習テスト再生評価から無効として除外する。
【００８２】
即ち、Ｓ４１２にてシステム制御回路１４６はディスク１００上のＳ４０８にて記録した学習テストデータをＲＦ増幅回路１１０、ＲＦバンドパスフィルタ１１２、ＲＦＡＧＣ回路１１４、ＲＦＡＤ変換器１１６を通して再生する。それと平行して、ウォブルレベル検出回路１７０はウォブルＡＤ変換器１２６の出力レベルを同時に検査し、有効な学習テスト領域、無効な学習テスト領域を図７に示す様に弁別し、この弁別結果をシステム制御回路１４６へ入力する。
【００８３】
システム制御回路１４６は無効な学習テスト領域が含まれる領域をウォブルアドレス毎に分割し、スイッチ１４２へ制御信号を出力する。つまり、システム制御回路１４６は無効なウォブルアドレスのタイミングのジッター検出値を積分回路１４４の積分計算から除外するようにスイッチ１４２を制御する（Ｓ４１３）。例えば、ＳＡＭ（１）が出力されているタイミングでウォブルレベル検出回路１７０の出力値が無効を示す場合には、上式は次の様に変形される。
【００８４】
Σ（Ｐ（０））＝ＳＡＭ（０）＋０＋ＳＡＭ（２）＋・・・＋ＳＡＭ（１９）
そして、学習テスト領域末端のアドレス、即ち、学習テスト領域の開始アドレスへウォブルビート周期幅の２０アドレスを加えたアドレス位置を検知した時点で再生動作を停止する（Ｓ４１５）。以上で第零パラメータＰ（０）についての積分評価値収録は完了し、Ｓ４１６にてパラメータＰ（０）と上式で求めたΣ（Ｐ（０））のセットを一旦システム制御回路１４６内に保存する。
【００８５】
次に、Ｓ４１７にて現在の学習テストパラメータが最終パラメータ３（Ｐ（３））と合致しているかをチェックする。不一致であれば再びＳ４０３へ戻り、パラメータ１（Ｐ（１））、パラメータ（Ｐ（２））、…に関して上述のＳ４０３〜Ｓ４１７の処理を繰り返し行う。
【００８６】
Ｓ４１７においてテストパラメータが更新された結果、最終パラメータ３（Ｐ（３））の処理が終了すると、Ｓ４１８へ移行する。Ｓ４１８ではＳ４１６にて保存された積分値Σ（Ｐ（０））、Σ（Ｐ（１））、Σ（Ｐ（２））、Σ（Ｐ（３））の中から累積ジッター値が最小になるパラメータを選出する。累積ジッター値が最小であるパラメータの記録条件が最も高品質記録を保証する為、この記録条件をシステム制御回路１４６へ保存し、実記録時のパラメータとして設定する（Ｓ４１９）。以上で学習テスト処理が終了する。
【００８７】
本実施形態では、再生ウォブル信号レベルが所定閾値以下の時の再生信号のジッター値は積分回路１４４に転送せずに再生評価から除外し、再生ウォブル信号レベルが所定閾値以上の時の再生信号のジッター値のみを用いて再生評価を行っているので、更に学習テストを正確に行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】本発明の第１の実施形態の構成を示すブロック図である。
【図２】第１の実施形態の学習テスト方法を示す流れ図である。
【図３】本発明の第２の実施形態の構成を示すブロック図である。
【図４】第２の実施形態の学習テスト方法を示す流れ図である。
【図５】第１、第２の実施形態の学習テスト領域消去状態のトラックを示すディスク模式図である。
【図６】第１、第２の実施形態の学習テスト領域記録状態のトラックを示すディスク模式図である。
【図７】第２の実施形態のウォブルレベルによる有効、無効の弁別動作を説明する図である。
【図８】従来例の学習テスト領域の消去トラックを示すディスク模式図である。
【図９】従来例の学習テスト領域の記録トラックを示すディスク模式図である。
【図１０】ウォブリング形状を拡大して示す模式図である。
【図１１】アナログウォブル信号を示す模式図である。
【符号の説明】
【００８９】
１００  ディスク
１０２  光ピックアップ
１０４  スピンドルモータ
１０６  シークモータ
１０８  ＬＤドライバー
１１０  ＲＦ増幅回路
１１２  ＲＦバンドパスフィルタ
１１４  ＲＦＡＧＣ回路
１１６  ＲＦＡＤ変換器
１１８  ＲＦＰＬＬ回路
１２０  ウォブル増幅回路
１２２  ウォブルバンドパスフィルタ
１２４  ウォブルＡＧＣ回路
１２６  ウォブルＡＤ変換器
１２８  ウォブルＰＬＬ回路
１３０  リードライト回路
１３２  変復調回路
１３４  ＥＣＣ回路
１３６  データメモリ
１４０  ジッター検出回路
１４２  スイッチ
１４４  積分回路
１４６  システム制御回路
１５０  スイッチ
１６０  アドレス検出回路
１７０  ウォブルレベル検出回路
Ａ  ウォブル低再生レベル部
Ｂ  ウォブル高再生レベル部
Ｃ  隣接トラック間で生じるウォブリングの位相差
Ｄ  ウォブル出力レベル閾値
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2006351113.tif 000009
【図８】
2006351113.tif 000010
【図９】
2006351113.tif 000011
【図１０】
2006351113.tif 000012
【図１１】
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