(57)【要約】【課題】  ヘッドのＴＰＴＰ特性を考慮してｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ及びｏｖｅｒ  ｗｒｉｔｅを防止するためのディスクドライブ，記録媒体そして記録パラメータ補償方法を提供する。【解決手段】  ディスクドライブのヘッドに対して最適記録パラメータ条件及びｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率を測定する過程と，ディスクドライブの記録動作を制御するための，最適記録パラメータ条件とｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件間のビットエラー率の差に相応する記録パラメータ補償値を算出する過程と，を含む記録パラメータ補償方法である。これにより，記録動作の開始時点から所定時間Ｔ１の間に記録パラメータを補償するための補償値ａｌｐｈａを提供することによって，記録動作の初期におけるｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ現象を防止できる。【選択図】  図１３
2006107722.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ディスクドライブの記録動作を制御するための記録パラメータ補償方法において，
前記ディスクドライブのヘッドに対して最適記録パラメータ条件及びｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率を測定する過程と；
前記ディスクドライブの記録動作を制御するための前記最適記録パラメータ条件と，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件間のビットエラー率の差に相応する記録パラメータ補償値を算出する過程と；
を含む，記録パラメータ補償方法。
【請求項２】
少なくとも２つの記録パラメータがあり，前記ビットエラー率の測定過程は，
最適記録パラメータを決定する過程と；
前記最適記録パラメータによりテストデータを記録し，記録された前記テストデータを読み込んで最適条件でのビットエラー率を測定する過程と；
前記２つの記録パラメータのうち，一方は，前記最適記録パラメータの探索過程で見つけられた記録パラメータ補償値に維持し，他方は，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発する値に設定する過程と；
前記設定されたパラメータによりテストデータを記録し，記録された前記テストデータを読み込んでｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率を測定する過程と；
を含み，
前記記録パラメータ補償値を算出する過程は，前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率と前記ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率との差に相応する，前記維持された記録パラメータ補償値を算出する過程を含むことを特徴とする，請求項１に記載の記録パラメータ補償方法。
【請求項３】
前記記録パラメータ補償値を算出する過程は，
前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の可能な分布範囲を複数の領域に分類する過程と；
前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の各範囲に対する，前記ディスクドライブのヘッドに対する前記ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率の分布範囲を調べる過程と；
最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の各範囲に対する，前記ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率の分布範囲を複数の小領域に分類する過程と；
それぞれの前記小領域に対して補償値を割り当てることにより，補償値を表す補償テーブルを作成する過程と；
前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率及び前記ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率に基づいた前記補償テーブルから補償値を得る過程と；
を含むことを特徴とする，請求項１または２に記載の記録パラメータ補償方法。
【請求項４】
前記記録パラメータは，前記ディスクドライブの記録動作が開始された後，所定の時間適用されることを特徴とする，請求項１〜３のいずれかに記載の記録パラメータ補償方法。
【請求項５】
前記記録パラメータは，
記録電流の大きさを表すパラメータと；
前記記録電流のオーバーシュートの大きさを表すパラメータと；
前記オーバーシュートの持続期間を表すパラメータと；
を含むことを特徴とする，請求項１〜４のいずれかに記載の記録パラメータ補償方法。
【請求項６】
前記記録パラメータは，前記ヘッドの温度上昇によってポールチップが突出するＴＰＴＰ現象が飽和された後に適用されることを特徴とする，請求項１〜５のいずれかに記載の記録パラメータ補償方法。
【請求項７】
前記記録パラメータは，
記録電流の大きさを表すパラメータと；
前記記録電流のオーバーシュートの大きさを表すパラメータと；
前記オーバーシュートの持続期間を表すパラメータと；
を含むことを特徴とする，請求項１〜６のいずれかに記載の記録パラメータ補償方法。
【請求項８】
ディスクドライブの記録動作を制御するための記録パラメータを補償する方法を行うコンピュータで読み取り可能なコードを記録した記録媒体において，前記記録パラメータを補償する方法は，
前記ディスクドライブのヘッドに対して，最適記録パラメータ条件及びｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率を測定する過程と；
前記ディスクドライブの記録動作を制御するための前記最適記録パラメータ条件と，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発する前記ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件間のビットエラー率の差に相応する記録パラメータ補償値を算出する過程と；
を含むことを特徴とする記録媒体。
【請求項９】
少なくとも２つの記録パラメータがあり，前記ビットエラー率の測定過程は，
最適記録パラメータを決定する過程と；
前記最適記録パラメータによりテストデータを記録し，記録された前記テストデータを読み込んで最適条件でのビットエラー率を測定する過程と；
前記２つの記録パラメータのうち一方は，前記最適記録パラメータの探索過程で見つけられた記録パラメータ補償値に維持し，他方は，前記ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発する値に設定する過程と；
設定された前記記録パラメータによりテストデータを記録し，記録された前記テストデータを読み込んでｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率を測定する過程と；
を含み，
前記記録パラメータ補償値を算出する過程は，前記最適条件でのビットエラー率と前記ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率との差に相応する，前記維持された記録パラメータ補償値を算出する過程を含むことを特徴とする，請求項８に記載の記録媒体。
【請求項１０】
前記記録パラメータ補償値を算出する過程は，
最適記録条件でのビットエラー率の可能な分布範囲を複数の領域に分類する過程と；
前記最適記録条件でのビットエラー率の各範囲に対する，前記ディスクドライブのヘッドに対する前記ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率の分布範囲を調べる過程と；
前記最適記録条件でのビットエラー率の各範囲に対する，前記ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率の分布範囲を複数の小領域に分類する過程と；
それぞれの前記小領域に対して補償値を割り当てることにより，前記補償値を表す補償テーブルを作成する過程と；
前記最適記録条件でのビットエラー率，及び前記ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率に基づいた前記補償テーブルから前記補償値を得る過程と；
を含むことを特徴とする，請求項８または９に記載の記録媒体。
【請求項１１】
データを保存する記録媒体と；
記録動作を通じて前記記録媒体にデータを記録する再生／記録ヘッドと；
ディスクドライブの前記再生／記録ヘッドに対する最適記録パラメータ条件，及びｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率を測定することを制御し，前記最適記録パラメータ条件とｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発する前記ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件間の前記ビットエラー率の差に相応する記録パラメータ補償値を算出することを制御し，そして，前記記録媒体にデータを記録するとき，前記ディスクドライブの記録動作中に前記再生／記録ヘッドに影響を与えるＴＰＴＰ現象の影響を補償するために，前記補償値を適用することにより前記記録動作を制御する制御部と；
を含む，ディスクドライブ。
【請求項１２】
少なくとも２つの記録パラメータがあり，前記制御部は，
前記最適記録パラメータを決定する過程と；
前記最適記録パラメータによりテストデータを記録し，記録されたデータを読み込んで最適条件でのビットエラー率を測定する過程と；
前記２つの記録パラメータのうち一方は，前記最適記録パラメータの探索過程で見つけられた値に維持し，他の一方は，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発する値に設定する過程と；
前記設定されたパラメータによりテストデータを記録し，記録されたデータを読み込んでｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率を測定する過程と；
によりビットエラー率を測定することを制御し，
ここで，前記制御部により前記記録パラメータ補償値を算出する過程は，前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率とｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率との差に相応する，前記維持された記録パラメータ補償値を算出する過程を含むことを特徴とする，請求項１１に記載のディスクドライブ。
【請求項１３】
前記制御部は，
最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の可能な分布範囲を複数の領域に分類する過程と；
前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の各範囲に対する，前記ディスクドライブのヘッドに対する前記ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率の分布範囲を調べる過程と；
前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の各範囲に対する，前記ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率の分布範囲を複数の小領域に分類する過程と；
それぞれの前記小領域に対して補償値を割り当てることにより，前記補償値を表す補償テーブルを作成する過程と；
前記最適記録パラメータ条件でのビットエラー率及び前記ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率に基づいた前記補償テーブルから前記補償値を得る過程と；
により，前記記録パラメータ補償値を算出する過程を追加で制御することを特徴とする請求項１１または１２に記載のディスクドライブ。
【請求項１４】
前記制御部は，少なくともディスクドライブの再生／記録ヘッドに対する最適記録パラメータ条件及びｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率を測定する過程，前記最適記録パラメータ条件とｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件間のビットエラー率の差に相応する記録パラメータ補償値を算出する過程，そして前記記録媒体にデータを記録するとき，前記ディスクドライブの記録動作中に前記再生／記録ヘッドに影響を与えるＴＰＴＰ現象の影響を補償するために，前記補償値を適用する過程のうちいずれかを行うためにコンピュータで読み取り可能なコードを持つ，少なくとも一つの記録媒体を備えることを特徴とする，請求項１１〜１３のいずれかに記載のディスクドライブ。
【請求項１５】
データを保存する記録媒体と；
記録動作を通じて前記記録媒体にデータを記録する再生／記録ヘッドと；
前記記録動作中に前記再生／記録ヘッドに影響を与えるＴＰＴＰ現象の影響を考慮して，少なくとも２つの相異なる記録条件でのビットエラーレートの差に基づいて算出された補償値を使用して，前記記録動作を補償する制御手段と；
を備えるディスクドライブ。
【請求項１６】
前記制御手段は，前記補償値の算出を実行するためにコンピュータで読み取り可能なコードを備えることを特徴とする，請求項１５に記載のディスクドライブ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，記録装置の記録動作を制御する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ハードディスクドライブ（Ｈａｒｄ  Ｄｉｓｋ  Ｄｒｉｖｅ：以下，ＨＤＤ）は，情報の記録及び再生のために使われる記録装置である。情報は，スピンドルモータ上に装着された１つ以上の磁気記録ディスクのいずれか一面上にある同心トラック上に記録されて，情報は，ボイスコイルモータ（Ｖｏｉｃｅ  Ｃｏｉｌ  Ｍｏｔｏｒ：以下ＶＣＭ）により回転されるアクチュエータアームに搭載された再生／記録ヘッドによりアクセスされる。ＶＣＭは，電流により励磁されてアクチュエータを回転させ，ディスク上でヘッドを移動させる。再生／記録ヘッドは，ディスクの表面から出る磁気の変化を感知してディスクに記録された情報を再生する。データトラックに記録するために，電流がヘッドに供給される。電流は磁界を発生させ，それは，ディスク表面の特定領域を磁化させる。
【０００３】
ＨＤＤの容量が増加するほどエラーに対するマージンは益々減少している。特に，高密度，高容量ＨＤＤにおいて，大きい電流強度で記録されること（ｏｖｅｒ  ｗｒｉｔｅ）による影響は益々激しくなる。
【０００４】
それにより，記録動作において記録電流の強度を正確に制御することが益々重要になる（特許文献１〜５参照）。
【０００５】
【特許文献１】大韓民国特許公開２００３−００２１６７９号
【特許文献２】米国特許第５，７７４，２８５号明細書
【特許文献３】米国特許第６，２０１，６５３号明細書
【特許文献４】特開平７−１６１１３７号公報
【特許文献５】特開平５−２８２６０７号公報
【０００６】
ＨＤＤにデータを記録するに当って，記録電流が一定であっても記録動作の経過によって記録／再生ヘッダの温度が上昇するために，記録動作中に磁界強度が実質的に変わる。記録動作の経過によってヘッドの温度が上昇すれば，記録ヘッドのポールチップが突出する程度，すなわち，ＴＰＴＰ（Ｔｈｅｒｍａｌ  Ｐｏｌｅ  Ｔｉｐ  Ｐｒｏｔｒｕｓｉｏｎ）現象の影響が変わり，結論的にヘッドとディスク間の間隔，すなわち，ヘッド浮上高（Ｆｌｙｉｎｇ  Ｈｅｉｇｈｔ；以下，ＦＨ）が変わる。
【０００７】
その結果，記録動作の初期には望ましい電流強度より小さな強度で記録され（ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ），時間が経過するに連れて順次に大きい電流強度で記録される（ｏｖｅｒ  ｗｒｉｔｅ）問題点が発生する。
【０００８】
従来においては，記録電流がＨＤＤの動作温度にのみ基づいて制御されたため，このように記録時間の経過によって記録電流の強度が変わる問題に対して効率的に対処できなかった。
【０００９】
図１は，ＨＤＤシステムを示す図面である。図１を参照すれば，ＨＤＤシステム１０は，ベース１１上に回転自在に設置されるハードディスク２０と，情報の記録及び再生のためにヘッド（図示せず）をハードディスク２０上の所望のトラック位置に移動させるヘッド移送装置と，を備える。ここで，ハードディスク２０は，情報が記録されるデータ領域２２と，このハードディスク２０の回転が停止するときにヘッドが停止されるように設けられたパーキング領域２１とに区分されている。
【００１０】
ヘッド移送装置は，ヘッドが搭載され，かつベース１１上に設けられた回動軸３４を中心に回動自在に設置されるヘッド組立体３０と，ヘッド組立体３０を電磁気力により回動させるための駆動部４０とを備える。
【００１１】
ヘッド組立体３０は，回動軸３４に回転自在に結合されるアクチュエータアーム３２の端部に結合されるサスペンション３１と，ハードディスク２０に／から情報を記録／再生するためのヘッドを備えてサスペンション３１に設置されるヘッドスライダー５０とを備えて構成される。
【００１２】
ヘッドスライダー５０は，サスペンション３１によりハードディスク２０側に偏っており，ハードディスク２０が回転し始めれば，ハードディスク２０の回転により発生する空気動圧により，ハードディスク２０に対して一定の高さを維持して浮き上がる。このとき，ヘッドスライダー５０が浮上する高さＦＨは，互いに逆になる２つの力，すなわち，サスペンション３１の荷重と，ハードディスク２０の回転による空気フローによる揚力とにより決定される。
【００１３】
したがって，ＦＨは，ハードディスク２０が回転する間にヘッドスライダー５０がハードディスク２０に対して浮上する時，磁気ヘッドスライダー５０の先端側に設けられた読み取りセンサー，すなわち，磁気抵抗ヘッドとハードディスク２０の表面との間隔である。
【００１４】
図２は，ヘッドの構造を図示したものである，図２を参照すれば，磁気ヘッド７０は，ハードディスク２０からデータを再生するための磁気抵抗ヘッド７４と，ハードディスク２０にデータを記録するための誘導記録ヘッドと，を備えている。磁気抵抗ヘッド７４は，ハードディスク２０に記録された磁気信号を感知する。誘導記録ヘッドは，ハードディスク２０の磁性層を磁化させるための漏れ磁場を形成するために，一定の間隔で分離されているトップポール７１及びボトムポール７２，そして電流が供給されることによって磁界が発生する記録用コイル７３を備え，所望の信号をハードディスク２０に記録する。
【００１５】
ところが，ＨＤＤの発達につれて，ハードディスク２０の容量を増加させるために１インチ当たりのトラック数（Ｔｒａｃｋ  ｐｅｒ  Ｉｎｃｈ：ＴＰＩ）を増加させ，トラック幅Ｗを縮める傾向がある。
【００１６】
ハードディスク２０のトラック幅を縮めるためには，それに磁気信号を記録する誘導記録ヘッドの幅もトラック幅Ｗの縮小に合せて狭める必要があり，狭くなったトラックに書かれた磁気信号を読み取るためにヘッド７０のＦＨも低くする必要がある。これにより，ヘッド７０のＦＨが記録性能に大きな影響を及ぼす。
【００１７】
従来において，温度によるディスクの保磁力の変化に対応するために，常温との温度差によって記録電流の大きさを補償する記録電流制御方法がよく知られている。具体的に，ＨＤＤの製造時に常温を基準にＨＤＤの基準記録電流を設定し，ＨＤＤの動作温度に合せて記録電流を補償するようにしている。
【００１８】
このような従来の記録電流制御方法によって，たとえＨＤＤの動作温度に依存して記録電流の値が調整されるとしても，記録時間の経過にもかかわらず一定サイズの記録電流が記録ヘッドに印加され続けている。すなわち，動作期間に対する考慮がない。これにより，前述したように，記録時間の経過によって記録ヘッドのポールチップが突出する程度が変わる，いわゆるＴＰＴＰ現象に対して効率的に対処できない。
【００１９】
記録用磁気ヘッドは金属（一般的にパーマロイ；Ｎｉ８０％／Ｆｅ２０％）で作られる一方，ヘッドを支持するスライダーは非金属物質で作られる。
【００２０】
したがって，記録動作中に記録電流が金属コイルを通じて流れるようになり，ジュール熱が発生する。ところが，金属／非金属間の熱膨張係数の差によってポール周辺部位が突出するが，このような現象をＴＰＴＰ現象と呼ぶ。
【００２１】
このようなＴＰＴＰ現象により，ヘッドとディスク間のインターフェース（ヘッドとディスク間の間隔）（ＨＤＩ：Ｈｅａｄ／Ｄｉｓｋ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）マージンが減るために，ヘッドのＦＨを低くする効果を奏し，したがって，同じ大きさの記録電流に対して，ＴＰＴＰ現象の程度によって記録強度が実質的に変わる。
【００２２】
このようなＴＰＴＰ現象の量はｉ２Ｒに比例する。ここで，ｉは，記録コイルに流れる電流（記録電流）を表し，Ｒは記録コイルの抵抗を表す。ここで，Ｒは，記録コイルの物性により決定されるファクターであって，ヘッドの製作と共に固定されてしまい，ｉは，ドライブで使用する記録電流（Ｗｒｉｔｅ  Ｃｕｒｒｅｎｔ；以下ＷＣ）やオーバーシュート電流（Ｏｖｅｒ  Ｓｈｏｏｔ  Ｃｕｒｒｅｎｔ；以下ＯＳＣ）により決定される。また，ＴＰＴＰ現象の量はｉの自乗に比例するので，ｉはＲよりさらにＴＰＴＰ現象に対して敏感な要素である。
【００２３】
図３は，従来のヘッド組立体の一例を概略的に示す斜視図である。
【００２４】
図３を参照すれば，ヘッド組立体３０は，アクチュエータアーム３２の端部に結合されて磁気ヘッドスライダー５０をハードディスク２０側に偏らせるサスペンション３１と，サスペンション３１に設置される磁気ヘッドスライダー５０と，ヘッドスライダー５０とサスペンション３１間に磁気ヘッドスライダー５０を支持するためのジンバル３６と，を備える。
【００２５】
上述したように，磁気ヘッドスライダー５０のＦＨは，サスペンション３１の偏りと，ハードディスク２０の回転によって発生する空気流動による揚力とに依存する。これにより，サスペンション３１は，磁気ヘッドスライダー５０のＦＨを安定的に維持できる。
【００２６】
図３に示すように，磁気ヘッド７０は磁気ヘッドスライダー５０の先端部に位置する。
【００２７】
図４Ａ及び図４Ｂは，ＴＰＴＰ現象による影響を図示したものである。図４Ａは，再生動作を行う時の状態を示すものであり，図４Ｂは，記録動作を行う時の状態を示す図面である。図４Ｂを参照すれば，図４Ａに比べて記録ヘッドのポールチップが突出していることが分かる。このような記録ヘッドのポールチップの突出は，非金属で構成された磁気ヘッドスライダー５０と金属で構成された磁気ヘッド７０との熱膨張係数の差により発生する。
【００２８】
ＨＤＤへのデータ記録に当って，記録動作の初期には記録ヘッドが加熱されていない状態であるために記録ヘッドのポールチップが突出していないが，記録時間の経過につれて次第に記録ヘッドが加熱されるので，記録ヘッドのポールチップが突出するようになる。
【００２９】
これにより，記録動作の初期には記録ヘッドが十分に加熱されていないためにｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅが発生し，記録時間の経過につれて記録ヘッドが過熱されるためにｏｖｅｒ  ｗｒｉｔｅ及び隣接トラックが消去してしまう問題が発生する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００３０】
従来は，ＨＤＤの動作温度に合せて記録電流を制御していたので，このように時間が経つに連れて記録強度が変わる問題に対して効率的に対処できなかった。
【００３１】
そこで，本発明は，このような問題に鑑みてなされたもので，その目的とするところは，記録動作の初期において，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅの発生を防止し，記録動作が続くことによってｏｖｅｒ  ｗｒｉｔｅを防止するディスクドライブの記録パラメータ補償方法を提供することにある。
【００３２】
本発明の他の目的は，上記の記録パラメータ補償方法を記録したコンピュータで読み取り可能な記録媒体を提供することにある。
【００３３】
本発明のさらに他の目的は，上記の記録パラメータ補償方法に適したディスクドライブを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００３４】
上記課題を解決するために，本発明のある観点によれば，ディスクドライブの記録動作を制御するための記録パラメータ補償方法において，ディスクドライブのヘッドに対して最適記録パラメータ条件及びｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率を測定する過程と，ディスクドライブの記録動作を制御するための最適記録パラメータ条件と，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件間のビットエラー率の差に相応する記録パラメータ補償値を算出する過程と，を含むことを特徴とする，記録パラメータ補償方法が提供される。
【００３５】
上記記録パラメータ補償方法は，少なくとも２つの記録パラメータがあり，ビットエラー率の測定過程は，最適記録パラメータを決定する過程と，最適記録パラメータによりテストデータを記録し，記録されたテストデータを読み込んで最適条件でのビットエラー率を測定する過程と，２つの記録パラメータのうち，一方は，最適記録パラメータの探索過程で見つけられた記録パラメータ補償値に維持し，他方は，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発する値に設定する過程と，設定されたパラメータによりテストデータを記録し，記録されたデータを読み込んでｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率を測定する過程と，を含み，記録パラメータ補償値を算出する過程は，最適条件でのビットエラー率とｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率との差に相応する，維持された記録パラメータ補償値を算出する過程を含むようにしてもよい。
【００３６】
上記記録パラメータ補償値を算出する過程は，最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の可能な分布範囲を複数の領域に分類する過程と，最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の各範囲に対する，ディスクドライブのヘッドに対するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率の分布範囲を調べる過程と，最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の各範囲に対する，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率の分布範囲を複数の小領域に分類する過程と，それぞれの小領域に対して補償値を割り当てることにより，補償値を表す補償テーブルを作成する過程と，最適記録パラメータ条件でのビットエラー率及びｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率に基づいた補償テーブルから補償値を得る過程と，を含んでいてもよい。
【００３７】
上記記録パラメータは，ディスクドライブの記録動作が開始された後，所定の時間適用されるようにしてもよい。
【００３８】
上記記録パラメータは，記録電流の大きさを表すパラメータと，記録電流のオーバーシュートの大きさを表すパラメータと，オーバーシュートの持続期間を表すパラメータとを含んでいてもよい。
【００３９】
上記記録パラメータは，ヘッドの温度上昇によってポールチップが突出するＴＰＴＰ現象が飽和された後に適用されるようにしてもよい。
【００４０】
上記課題を解決するために，本発明の別の観点によれば，ディスクドライブの記録動作を制御するための記録パラメータを補償する方法を行うコンピュータで読み取り可能なコードを記録した記録媒体において，記録パラメータを補償する方法は，ディスクドライブのヘッドに対して，最適記録パラメータ条件及びｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率を測定する過程と，ディスクドライブの記録動作を制御するための，最適記録パラメータ条件とｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件間のビットエラー率の差に相応する記録パラメータ補償値を算出する過程と，を含む記録媒体が提供される。
【００４１】
上記記録媒体は，少なくとも２つの記録パラメータがあり，ビットエラー率の測定過程は，最適記録パラメータを決定する過程と，最適記録パラメータによりテストデータを記録し，記録されたテストデータを読み込んで最適条件でのビットエラー率を測定する過程と，２つの記録パラメータのうち一方は，最適記録パラメータの探索過程で見つけられた値記録パラメータ補償値に維持し，他の一方は他方は，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発する値に設定する過程と，設定された記録パラメータによりテストデータを記録し，記録されたテストデータを読み込んでｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率を測定する過程と，を含み，記録パラメータ補償値を算出する過程は，最適条件でのビットエラー率とｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率との差に相応する，維持された記録パラメータ補償値を算出する過程を含むようにしてもよい。
【００４２】
上記記録パラメータ補償値を算出する過程は，最適記録条件でのビットエラー率の可能な分布範囲を複数の領域に分類する過程と，最適記録条件でのビットエラー率の各範囲に対する，ディスクドライブのヘッドに対するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率の分布範囲を調べる過程と，最適記録条件でのビットエラー率の各範囲に対する，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率の分布範囲を複数の小領域に分類する過程と，それぞれの小領域に対して補償値を割り当てることにより，補償値を表す補償テーブルを作成する過程と，最適記録条件でのビットエラー率，及びｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率に基づいた補償テーブルから補償値を得る過程と，を含むようにしてもよい。
【００４３】
上記課題を解決するために，本発明の別の観点によれば，データを保存する記録媒体と，記録動作を通じて記録媒体にデータを記録する再生／記録ヘッドと，ディスクドライブの再生／記録ヘッドに対する最適記録パラメータ条件，及びｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率を測定することを制御し，最適記録パラメータ条件とｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件間のビットエラー率の差に相応する記録パラメータ補償値を算出することを制御し，そして，記録媒体にデータを記録するとき，ディスクドライブの記録動作中に再生／記録ヘッドに影響を与えるＴＰＴＰ現象の影響を補償するために，補償値を適用することにより記録動作を制御する制御部と，を備えることを特徴とするディスクドライブが提供される。
【００４４】
ここで，少なくとも２つの記録パラメータがあり，制御部は，最適記録パラメータを決定する過程と，最適記録パラメータによりテストデータを記録し，記録されたデータを読み込んで最適条件でのビットエラー率を測定する過程と，２つの記録パラメータのうち一方は，最適記録パラメータの探索過程で見つけられた値に維持し，他の一方は，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発する値に設定する過程と，設定されたパラメータによりテストデータを記録し，記録されたデータを読み込んでｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率を測定する過程と，によりビットエラー率を測定することを制御し，ここで，制御部により記録パラメータ補償値を算出する過程は，最適条件でのビットエラー率とｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率との差に相応する，維持された記録パラメータ補償値を算出する過程を含むようにしてもよい。
【００４５】
また，制御部は，最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の可能な分布範囲を複数の領域に分類する過程と，最適記録パラメータ条件でのビットエラー率の各範囲に対する，ディスクドライブのヘッドに対するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率の分布範囲を調べる過程と，最適記録条件でのビットエラー率の各範囲に対する，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率の分布範囲を複数の小領域に分類する過程と，それぞれの小領域に対して補償値を割り当てることにより，補償値を表す補償テーブルを作成する過程と，最適記録パラメータ条件でのビットエラー率及びｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率に基づいた補償テーブルから補償値を得る過程により，記録パラメータ補償値を算出する過程を追加で制御するようにしてもよい。
【００４６】
また，制御部は，少なくともディスクドライブの再生／記録ヘッドに対する最適記録パラメータ条件及びｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件でのビットエラー率を測定する過程と，最適記録パラメータ条件とｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件間のビットエラー率の差に相応する記録パラメータ補償値を算出する過程と，そして記録媒体にデータを記録するとき，ディスクドライブの記録動作中に再生／記録ヘッドに影響を与えるＴＰＴＰ現象の影響を補償するために，補償値を適用する過程のうちいずれか一つを行うためにコンピュータで読み取り可能なコードを持つ少なくとも一つの記録媒体を備えるようにしてもよい。
【００４７】
上記課題を解決するために，本発明の別の観点によれば，データを保存する記録媒体と，記録動作を通じて記録媒体にデータを記録する再生／記録ヘッドと，記録動作中に再生／記録ヘッドに影響を与えるＴＰＴＰ現象の影響を考慮して，少なくとも２つの相異なる記録条件でのビットエラーレートの差に基づいて算出された補償値を使用して，記録動作を補償する制御手段と，を備えることを特徴とするディスクドライブが提供される。
【００４８】
ここで，制御手段は，補償値の算出を実行するためにコンピュータで読み取り可能なコードを備えるようにしてもよい。
【発明の効果】
【００４９】
以上説明したように本発明によれば，記録動作の開始時点から所定時間の間に記録パラメータを補償するための第１の補償値を提供することによって，記録動作の初期におけるｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ現象を防止する効果を持つ。
【００５０】
また，本発明による記録パラメータ補償値の算出方法は，ＴＰＴＰ現象が飽和された後に記録パラメータを補償するための第２の補償値を提供することによって，ＴＰＴＰ現象が飽和された以後にｏｖｅｒ  ｗｒｉｔｅ現象を防止する効果を持つ。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５１】
以下に添付図面を参照しながら，本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお，本明細書及び図面において，実質的に同一の機能構成を有する構成要素については，同一の符号を付することにより重複説明を省略する。
【００５２】
図５は，記録電流の波形を示す波形図である。図５を参照すれば，ディスクに記録されたデータの値が変わる所でオーバーシュート成分が含まれていることが分かる。オーバーシュートの大きさをＯＳＡ（Ｏｖｅｒ  Ｓｈｏｏｔ  Ａｍｐｌｉｔｕｄｅ；オーバーシュート振幅）という。
【００５３】
記録電流は，磁界の強度をハードディスクの保磁力以上に維持させる役割を行い，オーバーシュートは，記録のための磁界の方向が転換される位置で磁界の強度をハードディスクの保磁力以上に引き上げるトリガーとしての役割を行う。
【００５４】
したがって，記録動作において，ＴＰＴＰ現象の大きさに影響を与えるものは，ＷＣ及びＯＳＡとなる。
【００５５】
図６は，記録動作の初期における記録状態を示す図面である。
【００５６】
図６において，縦軸はトラック番号を表し，横軸はセクター番号を表し，データは下側のトラックから上側のトラックに，そして，左側セクターから右側セクターにデータが記録される。白色で表示される部分はデータが記録された状態を表す。
【００５７】
図６を参照すれば，記録動作の初期，すなわち，図６の中間トラックの中間部分で他の部分に比べて狭くデータが記録されたこと，すなわち，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅが発生したことが分かる。
【００５８】
図７は，記録時間が経過してＴＰＴＰ現象が飽和された後の記録状態を示す図面である。図７において，縦軸はトラック番号を表し，横軸はセクター番号を表し，データは下の方トラックから上側トラックに，そして左側セクターから右側セクターにデータが記録される。白色で表示される部分はデータが記録された状態を表す。
【００５９】
図７を参照すれば，中間トラック及び上側トラックにおいて，他の部分に比べて狭くデータが記録されたことが分かる。それは，図６に示すようなｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅのためではなく，後ほど記録されるトラックでのｏｖｅｒ  ｗｒｉｔｅのためである。言い換えれば，中間トラック及び上側トラックにおいて，上端部分がそろって切り取られているのは，該当トラックの上側トラックにデータを記録する時，大きい磁界強度により該当トラックのデータが部分的に消去されるためである。
【００６０】
図６及び図７に示すようなｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ及びｏｖｅｒ  ｗｒｉｔｅをそれぞれ防止するために，本実施形態は，記録時間が経過するにつれてＷＣ及びＯＳＣを適切に制御する。
【００６１】
また，本実施形態は，記録動作中にヘッドの特性及びデータゾーンによってＴＰＴＰ特性がヘッドのＦＨに異なって影響を与えることを考慮して，ＷＣ及びＯＳＣをさらに効率的に制御する。
【００６２】
図８は，本実施形態による記録パラメータ補償方法の原理を示すための波形図である。図８の（ａ）は，トラック及び記録データを示すものであり，図８の（ｂ）は，記録動作における磁界強度の変化を示すものであり，図８の（ｃ）は，従来の記録電流を示すものであり，図８の（ｄ）は，本実施形態による記録電流を示す図面である。
【００６３】
図８（ｂ）に示すように，記録動作における磁界強度は，記録動作の初期には弱くて，記録時間の経過につれて磁界強度が最大になるまで段々と増加する。望ましい磁界強度をＭｄとする時，磁界強度がＭｄから再びさらに増加し始めて飽和状態に至る時間は，ヘッドのＴＰＴＰ特性により支配される。
【００６４】
したがって，記録動作の初期期間（図８（ｂ）のＴ１まで）にはｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅが発生する確率が高くなり，記録動作の経過につれて（図８（ｂ）のＴ２以後）ｏｖｅｒ  ｗｒｉｔｅが発生する確率が高くなる。図８の（ｂ）のＯＷはｏｖｅｒ  ｗｒｉｔｅを意味している。
【００６５】
本実施形態によれば，図８（ｄ）に示すように，記録動作の初期期間（図８（ｂ）のＴ１まで）においては記録電流の強度を高め，記録時間がある程度経過した後（図８（ｂ）のＴ２以後）には記録電流の強度を低めることによって，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ及びｏｖｅｒ  ｗｒｉｔｅを防止する。
【００６６】
図９は，記録電流を制御するための記録パラメータを示す電流−時間グラフを示す図面である。
【００６７】
本実施形態において，記録電流を制御するために使用する記録パラメータは３つがあり，その一つはＯＳＡであり，他の一つはＯＳＤ（Ｏｖｅｒ  Ｓｈｏｏｔ  Ｄｕｒａｔｉｏｎ；オーバーシュート持続期間）であり，そして残りの一つはＩｗ（書き込み電流）である。
【００６８】
ＯＳＡは，オーバーシュート電流の大きさを表し，ＯＳＤは，ＯＳＡが維持される期間を表し，Ｉｗは，ＯＳＤ以後の記録電流の大きさを表す。
【００６９】
記録動作のための最適記録パラメータに対して，記録動作の初期に第１の補償値ａｌｐｈａが適用され，ＴＰＴＰ現象が飽和された後には第２の補償値ｂｅｔａが使われる。
【００７０】
図１０Ａから図１０Ｃは記録電流の変化を示すもので，それぞれ図１０ＡはＯＳＡの変化による記録電流の変化を，図１０ＢはＯＳＤの変化による記録電流の変化を，そして図１０ＣはＩｗの変化による記録電流の変化を示すものである。
【００７１】
第１の補償値ａｌｐｈａ及び第２の補償値ｂｅｔａは，記録パラメータの変化によるビットエラー率の変化に基づいて決定される。
【００７２】
図１１は，本実施形態による記録パラメータ補償方法において，ＯＳＡに対する第１の補償値ａｌｐｈａ＿ＯＳＡを決定するための方法の実行によるビットエラー率−記録パラメータ値グラフを示す図面である。図１１は，ＯＳＡを記録のための最適な値に固定させたままでＩｗ及びＯＳＤを変化させつつデータを記録し，記録されたデータを読み込み，読み込んだデータで発生したビットエラー率を測定した結果を示す図面である。図１１において，縦軸は，データで発生したビットエラー率を示し，横軸は，記録パラメータを示す図面である。
【００７３】
図１１において，ＲＣＯは，リードチャンネル（ｌｅａｄ  ｃｈａｎｎｅｌ）が最適化された最適記録パラメータ条件（以下，ＲＣＯ条件という）を表し，ＷＷは，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅに該当するｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ記録パラメータ条件（以下，ＷＷ条件という）を表す。ＲＣＯ条件は，記録のための最適記録パラメータを持つ条件であり，ＷＷ条件は，補償値を測定しようとする記録パラメータを除外した他の記録パラメータを，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅを誘発させる値として劣化させた条件をいう。
【００７４】
また，Ａ，Ｂ，Ｃは，相異なるヘッドを表し，ａ１，ｂ１，ｃ１は，それぞれＡヘッド，Ｂヘッド，Ｃヘッドにおいて，ＲＣＯ条件でのビットエラー率（以下，ＲＣＯ＿ＢＥＲという）とＷＷでのビットエラー率（以下，ＷＷ＿ＢＥＲという）との差を表す。
【００７５】
図１１を参照すれば，Ｉｗ及びＯＳＤを変化させることによって，ヘッドごとに相異なるビットエラー率を示すことが分かる。
【００７６】
ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅが記録動作の初期に現れることを考慮すれば，Ａヘッドにおいて，記録動作の初期にＲＣＯ条件に該当するほどのビットエラー率を得るためには，ａ１ほどのビットエラー率差を相殺させるためのＯＳＡの補償が行わねばならないということが分かる。同様に，Ｂヘッド及びＣヘッドにおいては，それぞれｂ１及びｃ１ほどのビットエラー率差を相殺させるためのＯＳＡの補償が行わねばならないということが分かる。
【００７７】
したがって，図１１におけるａ１，ｂ１，ｃ１は，それぞれ記録動作の初期においてＩｗに対してＡヘッド，Ｂヘッド，Ｃヘッドに追加されるべき第１の補償値，すなわち，ａｌｐｈａ＿ＯＳＡ値に該当する。
【００７８】
ａｌｐｈａ＿ＯＳＤ及びａｌｐｈａ＿Ｉｗも，図１１に示した方法と類似した方法を通じて得られる。
【００７９】
ａｌｐｈａ＿ＯＳＤを算出する時は，ＯＳＤを記録のための最適の値に固定させたままでＩｗ及びＯＳＡを変化させつつデータを記録し，記録されたデータを読み込み，読み込んだデータで発生したビットエラー率を測定する。このときに得られるＲＣＯ条件でのビットエラー率とＷＷでのビットエラー率との差がａｌｐｈａ＿ＯＳＤに相応する。
【００８０】
一方，ａｌｐｈａ＿Ｉｗを算出する時は，Ｉｗを記録のための最適の値に固定させたままでＯＳＡ及びＯＳＤを変化させつつデータを記録し，記録されたデータを読み込み，読み込んだデータで発生したビットエラー率を測定する。このときに得られるＲＣＯ条件でのビットエラー率とＷＷでのビットエラー率との差がａｌｐｈａ＿Ｉｗに相応する。
【００８１】
第１の補償値であるａｌｐｈａ＿ＯＳＡ，ａｌｐｈａ＿ＯＳＤそしてａｌｐｈａ＿Ｉｗは，記録動作の初期から所定の時間ほど適用される。所定時間以後には最適記録パラメータが適用される。記録動作がある程度経過した後，すなわち，ＴＰＴＰ現象が飽和された後には第２の補償値ｂｅｔａが適用される。第１の補償値ａｌｐｈａが記録パラメータを増強させるために使われたならば，第２の補償値ｂｅｔａは記録パラメータを弱化させるために使われる。すなわち，ＴＰＴＰ現象が飽和された後にはｏｖｅｒ  ｗｒｉｔｅが発生するので，それを防止するためにＯＳＡ，ＯＳＤ，Ｉｗを最適な記録状態より低く維持する。
【００８２】
第２の補償値ｂｅｔａを決定することは，第１の補償値ａｌｐｈａを決定することとほぼ類似しているので，ここでは代表的にＯＳＡを補償する第２の補償値ｂｅｔａ＿ＯＳＡを決定する方法について説明する。
【００８３】
図１２は，本実施形態による記録パラメータ補償方法において，ＯＳＡを補償する第２の補償値ｂｅｔａ＿ＯＳＡを決定するための方法の実行によるビットエラー率−パラメータ値グラフを示す図面である。図１２に図示されたグラフは，ＯＳＡを記録のための最適な値として固定させたままでＩｗ及びＯＳＤを変化させつつデータを記録し，記録されたデータを読み込み，読み込んだデータで発生したビットエラー率を測定した結果を示す図面である。この曲線は，ＴＰＴＰ現象が飽和された状態で得られる。
【００８４】
図１２において，ＲＣＯは，ＲＣＯ条件を表し，ＴＳは，ＴＰＴＰ現象が飽和された条件（以下，ＴＳ条件という）を表す。ＴＳ条件は，記録のための最適な記録パラメータを持ち，また，ＴＰＴＰ現象が飽和された条件をいう。記録のための最適な記録パラメータにより記録を行っても，ＴＰＴＰ現象が飽和されるにつれてヘッドのＦＨが低くなる。これにより，記録ヘッドで発生した磁界がディスクに作用する力が，ＴＰＴＰ現象が飽和されるにつれてさらに強くなり，それによりｏｖｅｒ  ｗｒｉｔｅが発生する。その結果，ビットエラー率が増加する。
【００８５】
図１２において，Ａ，Ｂ，Ｃは，相異なるヘッドを表し，Ａａ１，Ａｂ１，Ａｃ１は，それぞれＡヘッド，Ｂヘッド，Ｃヘッドにおいて，ＲＣＯ＿ＢＥＲとＴＳ条件でのビットエラー率（以下，ＴＳ＿ＢＥＲという）との差を表す。
【００８６】
図１２を参照すれば，Ｉｗ及びＯＳＤを変化させることによって，ヘッドごとに相異なるビットエラー率を示すことが分かる。
【００８７】
ｏｖｅｒ  ｗｒｉｔｅが，ＴＰＴＰ現象が飽和された後に現れることを考慮すれば，Ａヘッドにおいて，ＴＰＴＰ現象が飽和された後にＲＣＯ条件に該当するほどのビットエラー率を得るためには，Ａａ１ほどのビットエラー率差を相殺させるためのＯＳＡの補償が行わねばならないということが分かる。同様に，Ｂヘッド及びＣヘッドにおいては，それぞれＡｂ１及びＡｃ１ほどのビットエラー率差を相殺させるためのＯＳＡの補償が行わねばならないということが分かる。
【００８８】
したがって，図１２におけるＡａ１，Ａｂ１，Ａｃ１は，それぞれ記録動作の初期にＯＳＡに対してＡヘッド，Ｂヘッド，Ｃヘッドに適用されるべき補償値，すなわち，ｂｅｔａ＿ＯＳＡ値に該当する。
【００８９】
ＯＳＤを補償する第２の補償値ｂｅｔａ＿ＯＳＤ及びＩｗを補償する第２の補償値ｂｅｔａ＿Ｉｗも，図１２に図示された方法と類似した方法を通じて得られる。
【００９０】
ｂｅｔａ＿ＯＳＤを算出する時は，ＯＳＤを最適記録のための値として固定させたままでＩｗ及びＯＳＡを変化させつつデータを記録し，記録されたデータを読み込み，読み込んだデータで発生したビットエラー率を測定する。このときに得られるＲＣＯ条件でのビットエラー率とＴＳ条件でのビットエラー率との差は，ｂｅｔａ＿ＯＳＤに相応する。
【００９１】
一方，ｂｅｔａ＿Ｉｗを算出する時は，Ｉｗを最適記録のための値として固定させたままでＯＳＡ及びＯＳＤを変化させつつデータを記録し，記録されたデータを読み込み，読み込んだデータで発生したビットエラー率を測定する。このときに得られるＲＣＯ条件でのビットエラー率とＴＳ条件でのビットエラー率との差は，ｂｅｔａ＿Ｉｗに相応する。
【００９２】
図１１及び図１２に示すような記録パラメータ−ＢＥＲ曲線はバーンインテスト工程で検査され，記録パラメータをダイナミックレンジ内で変化させつつ記録テストを実施し，その時のビットエラー率を取る方法を通じて作成される。記録テストは，目標トラックにテストデータを記録した後に目標トラックに記録されたデータを読み込み，読み込んだデータで発生するビットエラー率を測定する。
【００９３】
図１３は，本発明の実施形態による記録パラメータ補償方法において，記録パラメータ補償値を算出する方法を示す流れ図である。また，図１３は，第１の補償値ａｌｐｈａの算出方法を示す流れ図である。
【００９４】
図１３を参照すれば，リードチャンネルの最適化を行って（ＲＣＯ実行）最適な記録パラメータ条件を得る（Ｓ１３０２）。このときの最適パラメータをそれぞれｏｐｔ＿ＯＳＡ，ｏｐｔ＿ＯＳＤ，ｏｐｔ＿Ｉｗという。
【００９５】
各ゾーンのためのトラックを選択する（Ｓ１３０４）。第１の補償値ａｌｐｈａはヘッド別，ゾーン別に設定され，各ゾーンにおいて代表トラックが選択される。
【００９６】
上記Ｓ１３０４で選択されたトラックにテストデータを記録する（Ｓ１３０６）。
【００９７】
記録されたテストデータを読み込んでビットエラー率を測定する（Ｓ１３０８）。このときのビットエラー率はＲＣＯ＿ＢＥＲとなる。
【００９８】
測定モードを選択する（Ｓ１３１０）。記録パラメータはＯＳＡ，ＯＳＤ，Ｉｗの３つがあり，測定モードも３つある。
【００９９】
選択された測定モードによって，測定モードに該当する記録パラメータをリードチャンネル最適化過程（Ｓ１３０２）で得られた最適値に維持したままで他のパラメータをＷＷ条件に変更する（Ｓ１３１２，Ｓ１３１４，Ｓ１３１６）。
【０１００】
例えば，Ｉｗに対する第１の補償値ａｌｐｈａ，すなわち，ａｌｐｈａ＿Ｉｗを測定するためのモードならば，Ｉｗをリードチャンネル最適化過程（Ｓ１３０２）で得られた最適値ｏｐｔ＿Ｉｗに維持したままでＯＳＡ及びＯＳＤをｏｐｔ＿ＯＳＡ及びｏｐｔ＿ＯＳＤから所定の値ほど低めてＷＷ条件と設定する。ここで，ＯＳＡ及びＯＳＤを低める値は，実験的，統計的に決定された値を使用する。
【０１０１】
変更された記録パラメータによりテストデータを目標のトラックに記録する（Ｓ１３１８）。
【０１０２】
記録されたテストデータを読み込んでビットエラー率を測定する（Ｓ１３２０）。このときのビットエラー率はＷＷ＿ＢＥＲとなる。
【０１０３】
ＲＣＯ＿ＢＥＲとＷＷ＿ＢＥＲとの差を算出し，差に該当する補償値を決定する（Ｓ１３２２）。ＲＣＯ＿ＢＥＲとＷＷ＿ＢＥＲとの差に該当する補償値は，多くのヘッドに対する統計的な方法を使用して決定される。補償値は，以下に説明される補償テーブル及び基準テーブルを参照して作成される。
【０１０４】
図１４は，本発明による実施形態において，図１３のＳ１３２２過程で補償値を得るために使用する，補償テーブルを作成する方法を示すフローチャートである。
【０１０５】
図１４を参照すれば，最初に，ＨＤＤのＲＣＯ条件でのビットエラー率の可能な分布範囲を複数の領域に分類する（Ｓ１４０２）。
【０１０６】
ここで，ＲＣＯ条件でのビットエラー率の可能な分布範囲とは，補償値を得るために測定されたヘッドにより現れうるＲＣＯ条件でのビットエラー率の分布範囲を表し，この分布範囲を一定の間隔で分割することにより複数の領域に分割する。
【０１０７】
Ｓ１４０２過程で分類されたそれぞれの領域に属する最適条件でのビットエラー率を持つヘッドを対象として，ｗｅａｋ  ｗｒｉｔｅ条件でのビットエラー率の分布範囲を調べる（Ｓ１４０４）。
【０１０８】
具体的には，ＲＣＯ条件で測定したビットエラー率が同じ分割領域に属するヘッドを対象としてＷＷ条件でのビットエラー率を測定し，測定されたビットエラー率の分布範囲を調べる（第２の補償値ｂｅｔａを求める場合には，ＷＷ条件でのビットエラー率の代りにＴＳ条件でのビットエラー率を使用する。）。
【０１０９】
それぞれの領域に属するヘッドのＷＷ条件でのビットエラー率の分布範囲を複数の小領域に分類する（Ｓ１４０６）。
【０１１０】
具体的に，Ｓ１４０４過程で得られた分布範囲を例として，上，中，下の３範囲に分類する。このように分類することは，それぞれの小領域に対して補償値を割り当てるためである。実際の適用において，ＯＳＡ，ＯＳＤ，Ｉｗは，記録ヘッドに印加される記録電流を発生させるプリアンプの制御値と現れ，この制御値はデジタルで表現されるため，第１の補償値ａｌｐｈａもデジタルで表現されなければならない。したがって，ＲＣＯ＿ＢＥＲとＷＷ＿ＢＥＲとの差に該当する第１の補償値ａｌｐｈａを線形的（アナログ値）に決定できず，デジタル値と決定せねばならない。これにより，ＲＣＯ＿ＢＥＲとＷＷ＿ＢＥＲとの差がどの小領域に属するかを決定し，それぞれの小領域に対して補償値を決定することが有効である。
【０１１１】
それぞれの小領域に対して補償値を割り当てる（Ｓ１４０８）。
【０１１２】
Ｓ１４０８過程の結果，ビットエラー率の可能な分布範囲，領域別ＷＷ条件でのビットエラー率の分布範囲，そして補償値を表す補償テーブルが得られる。
【０１１３】
図１５は，図１４の補償値割当過程（Ｓ１４０８）で得られる補償テーブルの一例を示す図面である。図１５において，１５０２は，ＲＣＯ条件でのビットエラー率の可能な範囲及び分割された領域を表し，１５０４は，それぞれの分割された領域でのエラー数のエラー係数基準値を表し，１５０６は，それぞれの分割された領域に対するＷＷ条件でのビットエラー率の分布及び分割された小領域を表す。
【０１１４】
第１列（１５０２）において，ビットエラー率は−３．６２から−９．０２までであり，０．２間隔で分割されていることが分かる。点線で囲んだ欄１５０８において，列１５０２の−４．８すなわち，−４．６０より小さくて−５．００よりは大きい範囲に対して，−３．６８〜−４．４６のビットエラー率の分布が対応する。
【０１１５】
すなわち，ＲＣＯ条件で測定したビットエラー率が−４．６０より小さくて−５．００よりは大きい範囲に属するヘッドを対象としてＷＷ条件でのビットエラー率を測定した結果，−３．６８〜−４．４６のビットエラー率の分布が得られ，それらを上，中，下の分布で３個の小領域に分割した時，各小領域の代表値が−３．８４，−４．３２，−４．６６になることが分かる。
【０１１６】
図１５の補償テーブルにおいて，第２列１５０４及び第３列１５０６において斜線で表示された欄は，値が同一で補償できない，すなわち，補償値が０になる領域を表す。
【０１１７】
図１５の補償テーブルを参照して第１の補償値ａｌｐｈａを決定する方法は，次の通りである。
【０１１８】
Ｉｆ  ＲＣＯ＿ＢＥＲ＞ＷＷ＿ＢＥＲ＿ｍａｘ，ａｌｐｈａ＝ｍａｘ；
ｅｌｓｅｉｆ；ＲＣＯ＿ＢＥＲ＞ＷＷ＿ＢＥＲ＿ｍｉｄ，ａｌｐｈａ＝ｍｉｄ；
ｅｌｓｅｉｆ；ＲＣＯ＿ＢＥＲ＞ＷＷ＿ＢＥＲ＿ｍｉｎ，ａｌｐｈａ＝ｍｉｎ；
ｅｌｓｅ  ａｌｐｈａ＝０
【０１１９】
つまり，ＲＣＯ＿ＢＥＲの値がＷＷ＿ＢＥＲ＿ｍａｘの値より大きい場合は，第１の補償値ａｌｐｈａはｍａｘとなり，ＲＣＯ＿ＢＥＲの値がＷＷ＿ＢＥＲ＿ｍａｘ以下，ＷＷ＿ＢＥＲ＿ｍｉｄより大きい場合は，第１の補償値ａｌｐｈａはｍｉｄとなり，ＲＣＯ＿ＢＥＲの値がＷＷ＿ＢＥＲ＿ｍｉｄ以下，ＷＷ＿ＢＥＲ＿ｍｉｎより大きい場合は，第１の補償値ａｌｐｈａはｍｉｎとなり，ＲＣＯ＿ＢＥＲの値がＷＷ＿ＢＥＲ＿ｍｉｎ以下の場合は第１の補償値ａｌｐｈａは０となる。
【０１２０】
例えば，ＲＣＯ条件で測定したビットエラー率が−４．６０より小さくて−５．００よりは大きい範囲に属するヘッドに対して，ＷＷ条件で測定したビットエラー率ＷＷ＿ＢＥＲが−４．４４であれば，そのヘッドに対する第１の補償値ａｌｐｈａは，上記の式の条件によりｍｉｄとなる。
【０１２１】
図１６は，ｍｉｎ，ｍｉｄそしてｍａｘの例を示すテーブルである。図１６に図示されたテーブルは，多くのヘッドに対して実験的，統計的に決定された値である。上記の例では，第１の補償値ａｌｐｈａはｍｉｄであるため，ＯＳＡを補償する第１の補償値ａｌｐｈａ＿ＯＳＡは３，Ｉｗを補償する第１の補償値ａｌｐｈａ＿Ｉｗは５，ＯＳＤを補償する第１の補償値ａｌｐｈａ＿ＯＳＤは３となる。
【０１２２】
図１７は，本実施形態において，記録パラメータ補償値の算出方法を通じて得られたゾーン別，ヘッド別補償テーブルの例を示す図面である。
【０１２３】
図１７に示すようなゾーン別，ヘッド別補償テーブルは，ハードディスクのメンテナンスシリンダあるいは不揮発性メモリに保存され，ＨＤＤの記録動作で参照される。
【０１２４】
図１８は，本発明による記録パラメータ補償方法を示すフローチャートである。
【０１２５】
記録命令が印加されれば，ＨＤＤは記録動作を初期化する（Ｓ１８０２）。ＨＤＤは，リードチャンネル最適化（ＲＣＯ実行）を行って記録パラメータを最適化する（Ｓ１８０４）。具体的に，ＨＤＤの動作温度が測定され，測定された動作温度によって，常温での基準パラメータに温度に依存する補償値を適用して，最適な記録パラメータを設定する。
【０１２６】
記録動作が始まれば，所定の時間Ｔ１中に第１の補償値ａｌｐｈａを適用して記録を行う（Ｓ１８０６，Ｓ１８０８）。具体的にＨＤＤは，記録動作の開始以後，時間Ｔ１の間に，ディスクのメンテナンスシリンダに記録された図１５に図示されたテーブルを参照して，Ｓ１８０４過程で設定された最適な記録パラメータに第１の補償値ａｌｐｈａを適用して記録動作を行う。
【０１２７】
時間Ｔ１が経過すれば（Ｓ１８０８），Ｓ１８０４過程で設定された最適記録パラメータを使用して記録動作を行う（Ｓ１８１０，Ｓ１８１２）。
【０１２８】
時間Ｔ２が経過すれば，すなわち，ＴＰＴＰ現象が飽和されれば（Ｓ１８１２），Ｓ１８０４過程で設定された最適な記録パラメータに第２の補償値ｂｅｔａを適用して，記録動作を行う（Ｓ１８１４）。具体的にＨＤＤは，記録動作の開始以後にＴ１時間の間にディスクのメンテナンスシリンダに記録された図１７に図示されたテーブルを参照して，Ｓ１８０４過程で設定された最適記録パラメータに第２の補償値ｂｅｔａを適用して記録動作を行う。
【０１２９】
図１９は，本発明の実施形態によるＨＤＤの構成を示すブロック図である。
【０１３０】
図１９を参照すれば，ＨＤＤの制御装置１４０は，リード／ライト（Ｒ／Ｗ）チャンネル回路１４５及びリードプリアンプ＆ライト駆動回路１４６によってヘッド１２０に結合されたコントローラ１４１を備えている。コントローラ１４１は，デジタル信号プロセッサー（ＤＳＰ：Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ），マイクロプロセッサーあるいはマイクロコントローラで具現できる。
【０１３１】
コントローラ１４１は，ディスク１１２からデータをリードおよびディスク１１２にデータをライトするためにＲ／Ｗチャンネル回路１４５に制御信号を供給する。記録パラメータは，温度センサー１４４で感知した温度及び本実施形態による補償値によって制御される。
【０１３２】
情報は，Ｒ／Ｗチャンネル回路１４５からホストインターフェース回路１４７に伝送される。ホストインターフェース回路１４７はパソコンのようなシステムにインターフェースすることを許容する制御回路を備えている。
【０１３３】
Ｒ／Ｗチャンネル回路１４５は，再生モードでは，ヘッド１２０から読み取られてリードプリアンプ＆ライト駆動回路１４６で増幅されたアナログ信号を，ホストコンピュータ（図示せず）が判読できるデジタル信号に変調させて，ホストインターフェース回路１４７に出力する。Ｒ／Ｗチャンネル回路１４５は，ホストコンピュータからのユーザデータ（一般的なデータ）を，ホストインターフェース回路１４７を通じて受信し，ディスク１１２に記録できるように記録電流に変換させて，リードプリアンプ＆ライト駆動回路１４６に出力する。
【０１３４】
コントローラ１４１はまた，ボイスコイル１２６に駆動電流を供給するＶＣＭ駆動回路１４８に結合されている。コントローラ１４１は，ＶＣＭの励起及びヘッド１２０の動きを制御するためにＶＣＭ駆動回路１４８に制御信号を供給する。
【０１３５】
コントローラ１４１は，再生専用メモリ（ＲＯＭ：Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）またはフラッシュメモリ素子１４２−１のような不揮発性メモリ及びランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ：Ｒａｎｄｏｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）素子１４２−３のような揮発性メモリに結合されている。メモリ素子１４２−１，１４２−３は，コントローラ１４１によって使用される命令語及びデータ，例えば，ソフトウェアルーチンを実行させるためのコンピュータで読み取り可能なコードを含んでいる。
【０１３６】
コンピュータで読み取り可能なコード，すなわち，命令及びプログラムは，あるトラックから他のトラックにヘッドを移動させるシークルーチン，トラック内で目標セクターを捜し出す追従ルーチンを含む。シークルーチンは，ヘッドを特定のトラックに移動させることを保証するためのサーボ制御ルーチンを含んでいる。
【０１３７】
また，温度及び記録動作の開始時間に基づいて記録パラメータを制御できるコンピュータで読み取り可能なコード，すなわち，命令及びプログラムがメモリ素子１４２−１，１４２−３に保存される。したがって，コントローラ１４１は，電源が供給された状態で，温度センサー１４４で感知された温度及び記録動作の開始時間，ＴＰＴＰ現象の飽和状態，そして磁気ヘッドの位置によって記録パラメータを制御する。
【０１３８】
バッファメモリ１４３は，ホストコンピュータからの記録命令が下されれば，記録するデータを第１バッファメモリ１４３−１に保存する。一特徴によれば，第２バッファメモリ１４３−３は，ディスク１１２から再生したデータを臨時に保存する所である。
【０１３９】
ＨＤＤの制御装置１４０がホストコンピュータから記録命令を受信すれば，記録するデータは第１バッファメモリ１４３−１に保存される。温度センサー１４４は，コントローラ１４１の制御信号を受信してＨＤＤの温度を感知する。
【０１４０】
コントローラ１４１は，温度センサー１４４から測定された温度Ｔが高温あるいは低温条件に該当するかを判別する。測定された温度Ｔが高温あるいは低温条件に該当すれば，コントローラ１４１は，メンテナンスシリンダに保存された高温及び低温での記録パラメータ補償値，ヘッド及びゾーンによる記録パラメータ補償値ａｌｐｈａ及びｂｅｔａを参照して記録パラメータを補償する。
【０１４１】
記録動作の開始から所定の時間Ｔ１の間には，温度に基づいた補償値及び第１の補償値ａｌｐｈａを使用して記録パラメータが補償される。
【０１４２】
記録動作の開始から時間Ｔ１が経過すれば，温度に基づいた補償値を使用して記録パラメータが補償される。
【０１４３】
一方，ＴＰＴＰ現象が飽和された後には，温度に基づいた補償値及び第２の補償値ｂｅｔａを使用して記録パラメータが補償される。
【０１４４】
必要であると判別された補償が記録パラメータに対して実行されれば，コントローラ１４１は記録パラメータを記録ヘッドに印加して，ヘッドをして記録動作を行わせる。
【０１４５】
本実施形態において，補償を行う際にビットエラー率を使用したが，ＣＳＭ（Ｃｈａｎｎｅｌ  Ｓｔａｔｉｓｔｉｃａｌ  Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ）あるいはビットエラー数も使用できる。ここで，ＣＳＭは，ディスクで再生されたデータで発生するエラー率を表す指標のうち一つであり，チャンネルチップで提供するビットエラーを検査するものであって，ビットエラー率に比べて測定時間が短縮されるという長所がある。ＣＳＭとビットエラー率とは，大体対数的な関係を持つ。
【０１４６】
本実施形態は方法，装置，システム等として実行できる。ソフトウェアとして行われる場合は，本実施形態の構成手段は必然的に必要な作業を実行するコードセグメントである。プログラムまたはコードセグメントは，プロセッサー判読可能媒体に保存されるか，または伝送媒体もしくは通信網で搬送波と結合されたコンピュータデータ信号によって伝送できる。プロセッサー判読可能媒体は情報を記録または伝送できるいかなる媒体も含む。プロセッサー判読可能媒体の例には，電子回路，半導体メモリ素子，ＲＯＭ，フラッシュメモリ，ＥＲＯＭ（Ｅｒａｓａｂｌｅ  ＲＯＭ），フロッピー（登録商標）ディスク，光ディスク，ハードディスク，光ファイバ媒体，無線周波数（ＲＦ）網などがある。コンピュータデータ信号は，電子網チャンネル，光ファイバ，空気，電子系，ＲＦ網のような伝送媒体上に伝播できるいかなる信号も含まれる。
【０１４７】
以上，添付図面を参照しながら本発明の好適な実施形態について説明したが，本発明は係る例に限定されないことは言うまでもない。当業者であれば，特許請求の範囲に記載された範疇内において，各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり，それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。
【産業上の利用可能性】
【０１４８】
本発明は，ＨＤＤの記録動作に適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１４９】
【図１】ＨＤＤシステムを示す図面である。
【図２】ヘッドの構造を示す図面である。
【図３】ヘッド組立体を示す斜視図である。
【図４Ａ】ＴＰＴＰ現象による影響を図式的に示す図面である。
【図４Ｂ】ＴＰＴＰ現象による影響を図式的に示す図面である。
【図５】記録電流の波形を示す波形図である。
【図６】記録動作の初期における記録状態を示す図面である。
【図７】記録時間が経過してＴＰＴＰ現象が飽和された後の記録状態を示す図面である。
【図８】本発明の実施形態による記録パラメータ補償値の算出方法の原理を示す図面である。
【図９】記録電流を制御するための記録パラメータを示す電流−時間グラフを示す図面である。
【図１０Ａ】ＯＳＡの変化による記録電流の変化を示す図面である。
【図１０Ｂ】ＯＳＤの変化による記録電流の変化を示す図面である。
【図１０Ｃ】Ｉｗの変化による記録電流の変化をそれぞれ示す図面である。
【図１１】本発明の実施形態によるａｌｐｈａ＿ＯＳＡを決定するための方法の実行によるビットエラー率−記録パラメータ値のグラフを示す図面である。
【図１２】本発明の実施形態によるｂｅｔａ＿ＯＳＡを決定するための方法の実行によるビットエラー率−パラメータ値のグラフを示す図面である。
【図１３】本発明の実施形態による記録パラメータ補償値を算出する方法を示す流れ図である。
【図１４】本発明の実施形態において，図１３のＳ１３２２過程で補償値を得るために使用する補償テーブルを作成する方法を示す流れ図である。
【図１５】本発明の実施形態において，図１４の補償値割当過程（Ｓ１４０８）で得られる補償テーブルの一例を示す図面である。
【図１６】本発明の実施形態による，ｍｉｎ，ｍｉｄ，そしてｍａｘの例を示すテーブルである。
【図１７】本発明の実施形態において，記録パラメータ補償値の算出方法を通じて得られたゾーン別，ヘッド別補償テーブルの例を示す図面である。
【図１８】本発明の実施形態による記録パラメータ補償方法を示す流れ図である。
【図１９】本発明の実施形態によるＨＤＤの構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【０１５０】
２０，１１２  ディスク
７０，１２０  ヘッド
１２６  ボイスコイル
１４０  ＨＤＤの制御装置
１４１  コントローラ
１４２−１  ＲＯＭ
１４２−３  ＲＡＭ
１４３−１  第１バッファメモリ
１４３−３  第２バッファメモリ
１４４  温度センサー
１４５  Ｒ／Ｗチャンネル回路
１４６  リードプリアンプ＆ライト駆動回路
１４７  ホストインターフェース回路
１４８  ＶＣＭ駆動回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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【図８】
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【図９】
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【図１０Ａ】
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【図１０Ｂ】
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【図１０Ｃ】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図６】
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【図７】
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