(57)【要約】【課題】  従来の光ディスク装置の構成に大幅な変更を加えることなく、再生信号品質が最適となるチルト制御装置を提供する。【解決手段】  位相差法によりトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成手段５を設ける。トラッキング誤差信号のノイズ成分を検出するノイズ成分検出手段１を設ける。上記ノイズ成分検出手段１により検出されたトラッキング誤差信号のノイズ成分が最小になるように、チルトモータ１５の駆動によりチルト機構１６を制御して光ディスク１１と光ピックアップ１２との相対的な角度（傾き）を最適に補正するためのチルト機構制御手段２を設ける。【選択図】  図１
2006134391.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録媒体に光を照射する光源と、
前記光記録媒体からの反射光を受光する多分割光検出器を有する光ピックアップと、
上記多分割光検出器の出力からトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成手段と、
光記録媒体と光ピックアップとの相対的な角度を変化させるためのチルト機構と、
トラッキング誤差信号のノイズ成分を検出するノイズ成分検出手段と、
上記ノイズ成分検出手段の出力を用いて光記録媒体と光ピックアップとの相対的な角度量を検出して上記チルト機構を制御し、光記録媒体と光ピックアップとの相対的な角度を補正するチルト機構制御手段と、を具備していることを特徴とする光ディスク装置のチルト制御装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置のチルト制御装置であって、
トラッキング誤差信号生成手段は、多分割光検出器の各出力間の位相差を検出することによって、トラッキング誤差信号を生成するものであることを特徴とする光ディスク装置のチルト制御装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置のチルト制御装置であって、
チルト機構制御手段は、ノイズ成分検出手段により検出されたトラッキング誤差信号のノイズ成分が最小になるようにチルト機構を制御するものであることを特徴とする光ディスク装置のチルト制御装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク装置のチルト制御装置であって、
ノイズ成分検出手段は、トラッキング誤差信号の二乗和を用いてノイズ成分を検出するものであることを特徴とする光ディスク装置のチルト制御装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスク装置のチルト制御装置であって、
ノイズ成分検出手段は、トラッキング誤差信号におけるトラッキングサーボ帯域外のノイズ成分を検出するものであることを特徴とする光ディスク装置のチルト制御装置。
【請求項６】
請求項５に記載の光ディスク装置のチルト制御装置であって、
ノイズ成分検出手段は、トラッキングサーボのループを閉じた状態で、トラッキング誤差信号のノイズ成分を検出することによってトラッキングサーボ帯域外のノイズ成分を検出するものであることを特徴とする光ディスク装置のチルト制御装置。
【請求項７】
請求項５に記載の光ディスク装置のチルト制御装置であって、
ノイズ成分検出手段は、トラッキングサーボ帯域成分を除去する低域遮断フィルタと、トラッキング誤差信号の折り返しによる高域成分を除去するための折り返しマスク手段とを備えていることを特徴とする光ディスク装置のチルト制御装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクなどの光学的情報記録媒体上に光ビームを照射して情報を再生する光記録媒体装置における光ピックアップと光記録媒体の相対的な傾き（角度）を制御して、再生信号の品質を向上できる光ディスク装置のチルト制御装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＤＶＤプレーヤやＣＤプレーヤ等の光ディスク（光記録媒体）装置においては、光ディスクに光ビームを照射して、光ディスクに記録されている情報を読み取る光ピックアップが設けられている。
【０００３】
しかしながら、光ディスクの反り、光ディスクのクランプの状態等が原因で光ディスクと光ピックアップが相対的に傾く状態、つまり光ディスクの表面の法線方向と光ピックアップからの光軸とが相違すなわちずれて一致しなくなる場合、光ピックアップから照射される光ビームが光ディスクに対し斜めに入射される状態、いわゆるチルト量が大きい状態になって、照射された光ビームスポットにコマ収差等が発生して歪みが生じ、隣接トラックからのクロストークやジッタの増加を招き、再生信号の品質が劣化する。
【０００４】
また、ＤＶＤの次の世代における光ディスクでは、更なる高密度化を実現するため、光源の短波長化や対物レンズの高ＮＡ化が必須であるが、その副作用としてチルトの影響が大きくなり、わずかな傾きによっても正常な再生信号が得られなくなるという不具合を生じる。
【０００５】
そこで、このような不具合を回避するために、光ディスクあるいは光ピックアップを自在に傾けることができるチルト機構を設け、このチルト機構を制御して光ディスクと光ピックアップの相対的な傾きを補正することが行われている。
【０００６】
図１２は、従来のチルト制御装置を示した概略構成図である。従来のチルト制御装置では、図１２に示すように、ＤＶＤやＣＤ等の光ディスク１１に対して光ビームを照射して光ディスクに記録されている情報を読み取る光ピックアップ１２が設けられ、光ディスク１１の傾きを光学的に検出するチルトセンサー１３が設けられ、チルトセンサー１３の検出出力に基づいてチルトモータ１５を制御するチルト機構制御部１４が設けられ、チルトモータ１５により作動するチルト機構１６が設けられている。
【０００７】
この従来のチルト制御装置においては、チルト機構１６に光ディスク１１を回転させるスピンドルモータ１７が固定されているため、光ピックアップ１２と光ディスク１１との傾き量（チルト量）を変化させることができる。
【０００８】
そこで、光ディスク１１が傾くと、チルトセンサー１３がこの傾き量を検出し、その検出信号がチルト機構制御部１４へ与えられる。チルト機構制御部１４は、上記検出信号に基づいてチルトモータ１５を駆動する。このように駆動されたチルトモータ１５により、チルト機構１６が所定角度だけ傾き、それに伴いスピンドルモータ１７が傾く。この結果、光ディスク１１は、その姿勢がチルト機構１６の動きに応じて修正され、光ピックアップ１２からの照射光が光ディスク１１の表面に対して垂直に入射するように、光ピックアップ１２と光ディスク１１との傾きが補正される。
【０００９】
また、上記のようなチルトセンサー１３を用いない方式として、ＲＦ（Radio Frequency）再生信号の振幅検出を行いその振幅からチルト量を検出する方法（例えば、特許文献１参照）や、４分割された受光素子から得られる２つの信号間の位相差を検出し、この位相差に比例した時間幅を有するパルスを生成して、そのパルス幅の総和値に基づいてチルト量を検出する方式（例えば、特許文献２参照）等が提案されている。また、トラッキング誤差信号生成の方式として位相差法がＤＶＤプレーヤなどで一般的に用いられている（例えば、特許文献３参照）。
【特許文献１】特開平１−１９９３２９号公報（公開日：１９８９年８月１０日）
【特許文献２】特開２００１−２６６３８１号公報（公開日：２００１年９月２８日）
【特許文献３】特開平１０−１４３８８２号公報（公開日：１９９８年５月２９日）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、図１２に示す、上記従来の装置においては、光ピックアップ１２とは別にチルトセンサー１３を設けて、光ディスク１１の傾き量を検出しているため、チルトセンサー１３という別部品が必要であり、コストが高くなる欠点がある。また、光ピックアップ１２の対物レンズとチルトセンサー１３の位置が離れており、なおかつ両者の相対的な傾きも正確に一致させることが困難なため、傾き量の検出に誤差が生じてチルト制御を正確に行えないという問題があった。
【００１１】
また、特許文献１の方式は、反射光量の変動等に伴ってＲＦ信号の振幅が変動するため、誤検出が多いという問題点を有している。
【００１２】
特許文献２の方式は、パルス幅検出回路や演算回路を新たに追加しなければならない。また、上記各回路をＤＳＰ（Digital Signal Processor）等を用いてソフトウェアで構成したとしても、従来のサーボ系では必要としない信号を用いるため、新たにＡＤ（アナログ−デジタル）変換器を追加しなければならず回路構成が複雑になるという問題がある。
【００１３】
本発明は、上記問題点を解決するものであって、その目的は、従来の光ディスク装置の構成に大幅な変更を加えることなく、光ディスク装置における最適で、簡便なチルト制御装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明の光ディスク装置のチルト制御装置は、上記課題を解決するために、光記録媒体に光を照射する光源と、前記光記録媒体からの反射光を受光する多分割光検出器を有する光ピックアップと、上記多分割光検出器の出力からトラッキング誤差信号を生成するトラッキング誤差信号生成手段と、光記録媒体と光ピックアップとの相対的な角度を変化させるためのチルト機構と、トラッキング誤差信号のノイズ成分を検出するノイズ成分検出手段と、上記ノイズ成分検出手段の出力を用いて光記録媒体と光ピックアップとの相対的な角度量を検出して上記チルト機構を制御し、光記録媒体と光ピックアップとの相対的な角度を補正するチルト機構制御手段と、を具備していることを特徴としている。
【００１５】
上記構成によれば、チルト機構制御手段によりチルト機構を制御して光記録媒体と光ピックアップとの相対的な角度を補正することができて、上記角度を最適化して、光記録媒体からの反射光を受光する光ピックアップでの再生信号の品質を向上できる。
【００１６】
その上、上記構成は、トラッキング誤差信号のノイズ成分を検出するノイズ成分検出手段を、従来からのＤＳＰにより構成できて、従来の光ディスク装置の構成に大幅な変更を加えることなく、最適なチルト制御装置を簡便に提供することができる。
【００１７】
上記チルト制御装置では、トラッキング誤差信号生成手段は多分割光検出器の各出力間の位相差を検出するものであってもよい。
【００１８】
上記構成によれば、多分割光検出器の各出力間の位相差を検出することが、一般的に用いられるトラッキング誤差検出方式であるので、トラッキング誤差信号生成手段はコストアップ要因にならないという効果がある。
【００１９】
上記チルト制御装置においては、チルト機構制御手段は、ノイズ成分検出手段により検出されたトラッキング誤差信号のノイズ成分が最小になるようにチルト機構を制御するものであってもよい。
【００２０】
上記構成によれば、ノイズ成分が最小になるようにという、簡易なアルゴリズムで最適なチルト補正が実現できる。
【００２１】
上記チルト制御装置では、ノイズ成分検出手段は、トラッキング誤差信号の二乗和を用いてノイズ成分を検出するものでもよい。
【００２２】
上記構成によれば、トラッキング誤差信号の二乗和を用いてノイズ成分を検出することによって、簡易でＤＳＰ等で実現容易な方法でノイズ検出を行うことができる。
【００２３】
上記チルト制御装置においては、ノイズ成分検出手段は、トラッキング誤差信号におけるサーボ帯域外のノイズ成分を検出するものであってもよい。
【００２４】
上記構成によれば、トラッキング誤差信号におけるサーボ帯域外のノイズ成分を検出することで、トラックを横切ることによってトラッキング誤差信号に重畳される信号成分を除去できて、チルトに起因したノイズ成分の測定精度が上記信号成分により低下することを抑えることができる。
【００２５】
上記チルト制御装置では、ノイズ成分検出手段はトラッキングサーボのループを閉じた状態で、トラッキング誤差信号のノイズ成分を検出することによってサーボ帯域外のノイズ成分を検出するものであってもよい。
【００２６】
上記構成によれば、トラッキングサーボのループを閉じるという光ディスク装置にとって通常の動作によってトラッキングサーボ帯域外のノイズ成分を検出することができる。
【００２７】
上記チルト制御装置においては、ノイズ成分検出手段はサーボ帯域成分を除去する低域遮断フィルタと、トラッキング誤差信号の折り返しによる高域成分を除去するための折り返しマスク手段を具備していてもよい。
【００２８】
上記構成によれば、トラッキングサーボループを閉じることができない状況であってもトラッキングサーボ帯域外のノイズを検出することができる。
【発明の効果】
【００２９】
本発明の構成によれば、特別なチルトセンサーや光学系を必要とせず、トラッキングサーボ用に既に生成されているトラッキング誤差信号を用いるため、低コストかつ簡易な構成で、最適なチルト補正が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
以下、本発明に係る光ディスク装置のチルト制御装置に関する実施の各形態について図面を用いて説明する。図１は本発明に係わるチルト制御装置のブロック図である。
【００３１】
図１において、光ピックアップ１２内の半導体レーザー（光源）１２０から出射した光ビームはコリメータレンズ１２１を通り、平行光に変換された後、対物レンズ１２４により集光され、光ディスク１１の記録媒体層上に照射される。光ディスク１１からの反射光はビームスプリッタ１２３、集光レンズ１２２を通り、光ディスク１１の情報トラックの左右上下に対応して４分割された受光素子を有する光検出器１２６に入射される。
【００３２】
上記４分割とは、上記反射光の光軸に対し、それぞれ直交し、かつ互いに直交して、その交点が上記光軸上にある、２つの各仮想線により分割されていることを示す。光検出器１２６の４分割された受光素子からの各出力Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄはトラッキング誤差信号生成手段５にそれぞれ入力されトラッキング誤差信号が生成される。
【００３３】
ここで、トラッキング誤差信号生成手段５の構成例を図２に示す。本発明ではトラッキング誤差信号生成方式として位相差法を採用している。図２において、入力された光検出器１２６からの各出力Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは図示したように各対角の出力が、それぞれ加算器２０１によって加算され、等化器（ＥＱ）２０２によって高域を持ち上げる等化処理が施され、コンパレータ２０３によって２値化される。この２値化信号は位相比較器２０４に入力されて入力Ｘと入力Ｙの位相差が検出される。
【００３４】
この例では入力Ｘの位相が入力Ｙの位相より進んでいる場合、その進み量に対応した幅のパルスが出力ＵＰから出力され、入力Ｘの位相が入力Ｙの位相より遅れている場合、その遅れ量に対応した幅のパルスが出力ＤＮから出力される。出力ＵＰおよび出力ＤＮはそれぞれ高域遮断フィルタ２０５を通過後、差動増幅器２０６でその差が演算されトラッキング誤差信号となる。トラッキング誤差信号の検出原理については詳細な説明は省略するが、トラックずれにより４分割受光素子である光検出器１２６からの対角出力の和（Ａ＋Ｃ）と（Ｂ＋Ｄ）との間に位相差が現れることを利用している。
【００３５】
次に、トラッキング誤差信号生成手段５によって生成されたトラッキング誤差信号は、図１に示すように、ＡＤ変換器６でデジタル化され、ＤＳＰ４内に構成されるトラッキングサーボ制御手段３に入力される。トラッキングサーボ制御手段３は入力されたトラッキング誤差信号に位相補償、ゲイン調整を施しトラッキングアクチュエータ駆動信号を生成してトラッキングアクチュエータドライバ７に出力する。トラッキングアクチュエータドライバ７はトラッキングアクチュエータ駆動信号に対応した電流を出力して光ピックアップ１２内のトラッキングアクチュエータ１２５を駆動し対物レンズ１２４をトラックの長手方向と直行する方向に往復駆動するように制御してトラッキングサーボを行う。もちろん、光スポットの焦点を合わせるためのフォーカスサーボ系も必須であるが、本発明のチルト制御装置には無関係であるのでその説明を省略する。
【００３６】
そして、本発明では、上記の他にノイズ成分検出手段１を具備している。ノイズ成分検出手段１にもトラッキングサーボ制御手段３と同じトラッキング誤差信号が入力されており該トラッキング誤差信号のノイズ成分がノイズ成分検出手段１において検出される。ノイズ成分とはトラッキングサーボ帯域外の信号成分を意味しており、例えばトラッキングサーボ帯域が仮に直流から４［ｋＨｚ］程度（未満）までとすると概略４［ｋＨｚ］以上の信号成分を意味している。（ノイズ成分検出手段１の構成については後述する）
次に、上記ノイズ成分検出手段１の出力はチルト機構制御手段２に入力される。チルト機構制御手段２は、ノイズ成分検出手段１にノイズ測定の開始指示を与え、ノイズ成分検出手段１が出力するノイズ測定結果をモニターしながらノイズ測定結果が最小になるようにチルトモータ１５をフィードバック制御してチルト機構１６を制御し、スピンドルモータ１７の回転軸を光ピックアップ１２から照射される光ビームに対し傾けて、光ディスク１１と光ピックアップ１２との角度を調整することでチルト量を最適に補正する。
【００３７】
本発明では上記説明したように位相差法により生成されたトラッキング誤差信号のノイズ成分が最小になる傾きをチルト量が最適であるとするチルト検出方法を用いることを特徴としている。
【００３８】
これは、チルト量が大きいと、図３に示すように、光ディスク１１の記録媒体層上に集光される光スポット１１１にコマ収差が発生し、これらが原因で記録ピット１１２を光スポット１１１が走査したときの再生信号の品質が悪化し、位相差法を用いたトラッキング誤差信号の基となる４分割受光素子の対角受光素子出力の和（Ａ＋Ｃ）と和（Ｂ＋Ｄ）との信号品質が悪化し、正常に２値化が行われないことに起因している。
【００３９】
続いて、上記のような本発明のチルト検出原理を確認するために以下の条件で実験を行った結果について説明する。
光源波長：４０５ｎｍ
対物レンズＮＡ：０．８５
光ディスク基板厚：０．１ｍｍ
トラックピッチ：０．３２μｍ
最短マーク長：０．１４９μｍ
変調方式：（１，７）ＲＬＬ−ＮＲＺＩ
図４はチルト補正が最適な場合の位相差法トラッキング誤差信号で、図５は図４のチルト量最適点から５０分（０．８３度）傾けた場合の位相差法トラッキング誤差信号である。両者ともトラッキングサーボのループを閉じた状態であり、同じトラックにとどまるための１周に１回のスティルジャンプが観測できる。この位相差法トラッキング誤差信号はトラッキングサーボＯＮの状態であるからスティルジャンプ時以外はサーボ帯域外のノイズ成分と考えることができ、図４と図５とを比較すると明らかに図５のノイズ成分が大きいことが確認できる。
【００４０】
また、図６にチルト量と、再生信号から抽出したクロックと再生信号とのジッタ、およびチルト量と、位相差法トラッキング誤差信号のノイズ成分の関係を測定した結果を示す。ノイズ成分はトラッキングサーボのループを閉じた状態の位相差法トラッキング誤差信号のスティルジャンプ期間以外の所定期間の標準偏差を演算することで求めている。
【００４１】
この結果から、チルト量に対するジッタと、チルト量に対する位相差法トラッキング誤差信号のノイズ成分は同じ傾向を示しており位相差法トラッキング誤差信号のノイズ成分が最小となるチルト量はジッタが最小となるチルト量と一致し、本発明のチルト検出方式によれば再生信号品質が最良となるようにチルト補正を行うことが可能であることが確認できる。
【００４２】
以下に、ノイズ成分検出手段１の具体的構成について説明する。図７にノイズ成分検出手段１の一例を示す。この例では、上記で説明したようにトラッキングサーボのループを閉じた状態の位相差法トラッキング誤差信号が入力されているときに測定するものとする。図７に示すノイズ成分検出手段１は、タイミング生成手段１０３、乗算器１０１、加算器１０２、選択器１０４、およびレジスタ１０５を具備している。タイミング生成手段１０３はリセット信号および測定イネーブル信号を生成する。リセット信号はレジスタ１０５に入力され、測定イネーブル信号は選択器１０４に入力される。レジスタ１０５は上記リセット信号により保持しているデータがリセットされ、選択器１０４は測定イネーブル信号がアクティブの間、入力Ｂの値を出力Ｚから出力し、非アクティブの場合は入力Ａの値を出力Ｚから出力するものである。
【００４３】
タイミング生成手段１０３は図８の波形図（タイミングチャート）に示したようにチルト機構制御手段２からの測定開始信号を受けて所定のタイミングにて、リセット信号および上記リセット信号に重複しないが続いた測定イネーブル信号を生成して出力するものである。
【００４４】
したがって、測定イネーブル信号がアクティブ（ハイレベル）の間、乗算器１０１の値が加算器１０２によりレジスタ１０５の値に順次積算され、非アクティブの間はレジスタ１０５の値が保持される。乗算器１０１は入力であるトラッキング誤差信号を二乗しているので、所定期間だけ測定イネーブル信号がアクティブになった後はレジスタ１０５にトラッキング誤差信号の二乗和すなわちノイズ測定結果が保持されている。
【００４５】
また、トラッキングサーボがＯＮの（ループが閉じた）状態ではトラッキングサーボ誤差信号の平均値は略ゼロであるから上記二乗和はトラッキングサーボ誤差信号の分散あるいは標準偏差と同様の性質を備えていることになる。したがって、上記ノイズ成分検出手段１に測定開始指示を与えながら測定結果をモニターして測定結果が最小となるチルト量を見つければ最適なチルト補正を行うことができる。
【００４６】
（実施の第二形態）
また、上記ノイズ成分検出手段１と異なる他の例としてのノイズ成分検出手段１ａを図９に示す。この例では、ノイズ成分検出手段１ａは、図７に示す上記と略同じノイズ成分検出手段１の前段に低域遮断フィルタ（ＨＰＦ）５０１と折り返し識別信号生成手段５０７を具備しており、必ずしもトラッキングサーボのループを閉じてトラックに光ビームを追従させる必要はなく、フォーカスサーボがＯＮであればノイズ成分を計測できる。図９に示したノイズ成分検出手段１ａにおいて、低域遮断フィルタ５０１はトラッキング誤差信号からトラッキングサーボ帯域の信号成分を遮断して除去するためのものである。
【００４７】
しかしながら、図１０（Ａ）のようにトラッキングサーボＯＦＦの状態では位相差法トラッキング誤差信号には位相差を検出するという原理上、急激に極性が反転する折り返し点が存在し、この部分は高域成分を含んでいるので低域遮断フィルタ５０１通過後でも図１０（Ｇ）のように除去できない。しかも、この折り返しは光ビームがトラックを横切るときに発生し、光ディスク１１の回転中心に対するトラック中心のずれいわゆる偏心や光ディスク１１の回転速度、光ディスク１１上の光スポットの位置によりその周期などが変化するので、正確なノイズ検出の妨げとなる。
【００４８】
そこで、本実施の第二形態は、低域遮断フィルタ５０１の通過信号から上記折り返しに起因するノイズをマスクするための折り返し識別信号生成手段５０７を有している。折り返し識別信号生成手段５０７はトラッキングサーボのためのトラッキング誤差信号を所定のしきい値で２値化する各コンパレータ５０２、５０３と、コンパレータ５０２の出力を遅延してコンパレータ５０３の出力と重なりができるようにする遅延手段５０４と、コンパレータ５０３の出力を遅延してコンパレータ５０２の出力と重なりができるようにする遅延手段５０５と、各コンパレータ５０２、５０３の各出力および各遅延手段５０４、５０５の各出力の論理和をとる論理和手段５０６とにより構成されている。
【００４９】
上記でも少し触れたが、トラッキングサーボのループを閉じない場合、トラッキング誤差信号は図１０（Ａ）のようになる。ここで、各コンパレータ５０２、５０３のための各しきい値を図１０（Ａ）に示したように、それぞれ、誤差信号の極大値より小さく、また誤差信号の極小値より大きくなるように設定すると、各コンパレータ５０２、５０３の出力はそれぞれ図１０（Ｂ）、図１０（Ｃ）のようになる。
【００５０】
コンパレータ５０２とコンパレータ５０３との出力の論理和が略折り返しを識別する信号になるが、実際には折り返し付近に間隙が生じてしまう。したがって、各コンパレータ５０２、５０３の出力を所定時間遅延した信号（図１０（Ｄ）、図１０（Ｅ））を各遅延手段５０４、５０５により生成して全ての論理和の信号を論理和手段５０６により生成することで、全ての論理和の信号を、図１０（Ｆ）に示したような間隙がない折り返し識別信号として生成することができる。
【００５１】
また、図９におけるタイミング生成手段５０８は、折り返し識別信号が折り返し点付近を示している間、この例では図１１（Ｂ）に示すように折り返し識別信号がハイレベルの間は、図１１（Ｄ）のように測定イネーブル信号を非アクティブ（ローレベル）にするように設定されている。このとき、ノイズ測定の期間は測定イネーブル信号がアクティブである時間の総和とする。
【００５２】
この動作により低域遮断フィルタ５０１の出力に含まれる折り返しに起因した高域成分はマスクされてノイズ成分の測定対象とならず、フォーカスサーボのみをＯＮした状態でチルト量の検出の基となるノイズ成分検出を行うことができる。
【００５３】
上記の各例に挙げたノイズ成分検出手段１、１ａはいずれも積和演算器などを備えた信号処理用プロセッサいわゆるＤＳＰとメモリデバイスとメモリデバイス内のソフトウェアコードで構成するのが最良の実施形態である。また、チルト機構制御手段２についても、ＣＰＵやメモリデバイスとメモリデバイス内のソフトウェアコードで構成されるのが最良の実施形態である。
【００５４】
従来の光ディスク装置はトラッキングサーボのためにトラッキング誤差信号生成手段５、ＡＤ変換器６、ＤＳＰ４、ＣＰＵ、メモリデバイスを備えているので、本発明のチルト制御装置はほとんどハードウェアの追加を必要とせず、低コストで簡便な構成にて、最適なチルト補正が可能となる。
【産業上の利用可能性】
【００５５】
本発明は、低コストで最適なチルト補正が可能となるため、ＣＤプレーヤ、ＤＶＤプレーヤ、次世代の光ディスク装置など光ディスクと光ピックアップが相対的に傾くことで問題を生じる可能性のある光ディスク装置におけるチルト制御装置に好適に利用することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明のチルト制御装置における実施の各形態を示したブロック図である。
【図２】上記チルト制御装置における、位相差法を用いたトラッキング誤差信号生成手段の構成を示したブロック図である。
【図３】上記チルト制御装置における、チルトによる影響を説明するための、光ディスクの記録媒体の概略平面図である。
【図４】上記チルト制御装置における、チルト検出原理を確認するための実験結果を示したグラフである。
【図５】上記チルト制御装置における、チルト検出原理を確認するための他の実験結果を示したグラフである。
【図６】上記チルト制御装置における、本発明のチルト検出原理を確認するための、さらに他の実験結果を示したグラフである。
【図７】上記チルト制御装置における、ノイズ成分検出手段の実施の第一形態を示したブロック図である。
【図８】（Ａ）ないし（Ｄ）は、上記ノイズ成分検出手段の各動作を説明するための各波形図である。
【図９】上記チルト制御装置における、ノイズ成分検出手段の実施の第二形態を示したブロック図である。
【図１０】（Ａ）ないし（Ｇ）は、上記ノイズ成分検出手段の各動作を説明するための各波形図である。
【図１１】（Ａ）ないし（Ｅ）は、上記ノイズ成分検出手段の他の各動作を説明するための各波形図である。
【図１２】従来のチルト制御装置を説明するためのブロック図である。
【符号の説明】
【００５７】
１、１ａ  ノイズ成分検出手段
２  チルト機構制御手段
３  トラッキング制御手段
４  ＤＳＰ
５  トラッキング誤差信号生成手段
６  ＡＤ変換器
７  トラッキングアクチュエータドライバ
１１  光ディスク
１２  光ピックアップ
１２０  半導体レーザー（光源）
１２１  コリメータレンズ
１２２  集光レンズ
１２３  ビームスプリッタ
１２４  対物レンズ
１２５  トラッキングアクチュエータ
１２６  光検出器
１５  チルトモータ
１６  チルト機構
１７  スピンドルモータ
【図１】
2006134391.tif 000003
【図２】
2006134391.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2006134391.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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