(57)【要約】【課題】焼き付き現象の補正を優先するために、画像を大きく変化させる可能性があり、結果的に著しい画質の低下を招くおそれがあった。【解決手段】複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する焼き付き現象補正装置を、（１）階調に関する度数分布に基づいて、明るい階調を規定とするフレームか、暗い階調を基調とするフレームかを判定する明暗基調判定部と、（２）階調再現帯域を全体的に押し上げるガンマ補正データと、階調再現帯域を全体的に押し下げるガンマ補正データを選択するガンマ補正データ選択部と、（３）選択されたガンマ補正データを参照して、前記入力表示信号を出力表示信号に変換するガンマ変換実行部とで構成する。【選択図】図１
2006284972.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
焼き付き補正前の入力表示信号に基づいて、階調に関する度数分布をフレーム単位で求める処理と、
前記度数分布に基づいて、明るい階調を規定とするフレームか、暗い階調を基調とするフレームかを判定する処理と、
フレームが明るい階調を基調とする場合、第１の階調値を最小出力値とし、入力表示信号の許容最大値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第１のガンマ補正データを選択し、フレームが暗い階調を基調とする場合、入力表示信号の許容最小値を最小出力値とし、前記入力表示信号の許容最大値から第２の階調値を減算した値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第２のガンマ補正データを選択する処理と、
選択されたガンマ補正データを参照し、前記入力表示信号を出力表示信号に変換する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項２】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
焼き付き補正前の入力表示信号に基づいて、階調に関する度数分布をフレーム単位で求める処理と、
前記度数分布に基づいて、明るい階調を規定とするフレームか、暗い階調を基調とするフレームかを判定する処理と、
フレームが明るい階調を基調とする場合、第１の階調値を最小出力値とし、入力表示信号の許容最大値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第１のガンマ補正データを生成し、フレームが暗い階調を基調とする場合、入力表示信号の許容最小値を最小出力値とし、前記入力表示信号の許容最大値から第２の階調値を減算した値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第２のガンマ補正データを生成する処理と、
生成されたガンマ補正データを参照し、前記入力表示信号を出力表示信号に変換する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記基調の判定は、低階調域に属する画素の割合がしきい値を越えるか否かに応じて実行する
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項４】
請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記第１のガンマ補正データは、最大階調から表示階調を減算した値に第１の比率を乗算した値だけ、全表示階調に亘って輝度を持ち上げる特性を有し、
前記第２のガンマ補正データは、全表示階調に亘って第２の比率だけ表示階調の輝度を下げる特性を有する
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項５】
請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法において、
各画素について比較対象画素に対する劣化量差を求める処理と、
劣化量差のバラつき程度を判定する処理と、
バラつき程度に応じて、第１及び第２の階調値の値を増減する処理と
を有することを特徴とする焼き付き補正方法。
【請求項６】
請求項１又は２に記載の焼き付き現象補正方法において、
各画素について比較対象画素に対する劣化量差を求める処理と、
劣化量差が輝度差として視認される場合にのみ、当該劣化量差に応じて決定された補正量を用い、ガンマ補正後の出力表示信号を選択的に補正する
ことを特徴とする焼き付き補正方法。
【請求項７】
請求項６に記載の焼き付き現象補正方法は、
劣化量差としきい値とを比較する処理と、
しきい値を越える劣化量差に対してのみ補正量を決定する処理と、
決定された補正量で、ガンマ補正後の出力表示信号を補正する処理と
を有することを特徴とする焼き付き補正方法。
【請求項８】
請求項６に記載の焼き付き現象補正方法は、
劣化量差に応じた補正量を決定する処理と、
劣化量差としきい値とを比較する処理と、
劣化量差がしきい値を越える場合にのみ、当該劣化量差に対応する補正量により、ガンマ補正後の出力表示信号を補正する処理と
を有することを特徴とする焼き付き補正方法。
【請求項９】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置であって、
焼き付き補正前の入力表示信号に基づいて、階調に関する度数分布をフレーム単位で求める階調度数分布算出部と、
前記度数分布に基づいて、明るい階調を規定とするフレームか、暗い階調を基調とするフレームかを判定する明暗基調判定部と、
フレームが明るい階調を基調とする場合、第１の階調値を最小出力値とし、入力表示信号の許容最大値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第１のガンマ補正データを選択し、フレームが暗い階調を基調とする場合、入力表示信号の許容最小値を最小出力値とし、前記入力表示信号の許容最大値から第２の階調値を減算した値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第２のガンマ補正データを選択するガンマ補正データ選択部と、
選択されたガンマ補正データを参照し、前記入力表示信号を出力表示信号に変換するガンマ変換実行部と
を有することを特徴とする自発光装置。
【請求項１０】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置であって、
焼き付き補正前の入力表示信号に基づいて、階調に関する度数分布をフレーム単位で求める階調度数分布算出部と、
前記度数分布に基づいて、明るい階調を規定とするフレームか、暗い階調を基調とするフレームかを判定する明暗基調判定部と、
入力表示信号が明るい階調を基調とする場合、第１の階調値を最小出力値とし、入力表示信号の許容最大値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第１のガンマ補正データを生成し、入力表示信号が暗い階調を基調とする場合、入力表示信号の許容最小値を最小出力値とし、前記入力表示信号の許容最大値から第２の階調値を減算した値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第２のガンマ補正データを生成するガンマ補正データ生成部と、
生成されたガンマ補正データを参照し、前記入力表示信号を出力表示信号に変換するガンマ変換実行部と
を有することを特徴とする自発光装置。
【請求項１１】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する焼き付き現象補正装置であって、
焼き付き補正前の入力表示信号に基づいて、階調に関する度数分布をフレーム単位で求める階調度数分布算出部と、
前記度数分布に基づいて、明るい階調を規定とするフレームか、暗い階調を基調とするフレームかを判定する明暗基調判定部と、
フレームが明るい階調を基調とする場合、第１の階調値を最小出力値とし、入力表示信号の許容最大値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第１のガンマ補正データを選択し、フレームが暗い階調を基調とする場合、入力表示信号の許容最小値を最小出力値とし、前記入力表示信号の許容最大値から第２の階調値を減算した値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第２のガンマ補正データを選択するガンマ補正データ選択部と、
選択されたガンマ補正データを参照し、前記入力表示信号を出力表示信号に変換するガンマ変換実行部と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。
【請求項１２】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する焼き付き現象補正装置であって、
焼き付き補正前の入力表示信号に基づいて、階調に関する度数分布をフレーム単位で求める階調度数分布算出部と、
前記度数分布に基づいて、明るい階調を規定とするフレームか、暗い階調を基調とするフレームかを判定する明暗基調判定部と、
フレームが明るい階調を基調とする場合、第１の階調値を最小出力値とし、入力表示信号の許容最大値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第１のガンマ補正データを生成し、フレームが暗い階調を基調とする場合、入力表示信号の許容最小値を最小出力値とし、前記入力表示信号の許容最大値から第２の階調値を減算した値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第２のガンマ補正データを生成するガンマ補正データ生成部と、
生成されたガンマ補正データを参照し、前記入力表示信号を出力表示信号に変換するガンマ変換実行部と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。
【請求項１３】
焼き付き補正前の入力表示信号に基づいて、階調に関する度数分布をフレーム単位で求める処理と、
前記度数分布に基づいて、明るい階調を規定とするフレームか、暗い階調を基調とするフレームかを判定する処理と、
フレームが明るい階調を基調とする場合、第１の階調値を最小出力値とし、入力表示信号の許容最大値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第１のガンマ補正データを選択し、フレームが暗い階調を基調とする場合、入力表示信号の許容最小値を最小出力値とし、前記入力表示信号の許容最大値から第２の階調値を減算した値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第２のガンマ補正データを選択する処理と、
選択されたガンマ補正データを参照し、前記入力表示信号を出力表示信号に変換する処理と
をコンピュータに実行させることにより、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正することを特徴とするプログラム。
【請求項１４】
焼き付き補正前の入力表示信号に基づいて、階調に関する度数分布をフレーム単位で求める処理と、
前記度数分布に基づいて、明るい階調を規定とするフレームか、暗い階調を基調とするフレームかを判定する処理と、
フレームが明るい階調を基調とする場合、第１の階調値を最小出力値とし、入力表示信号の許容最大値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第１のガンマ補正データを生成し、フレームが暗い階調を基調とする場合、入力表示信号の許容最小値を最小出力値とし、前記入力表示信号の許容最大値から第２の階調値を減算した値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第２のガンマ補正データを生成する処理と、
生成されたガンマ補正データを参照し、前記入力表示信号を出力表示信号に変換する処理と
をコンピュータに実行させることにより、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正することを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
発明の一つの形態は、自発光装置に発生する焼き付き現象の補正方法に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置及びこれを搭載した自発光装置に関する。また、発明の一つの形態は、コンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主に液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
【０００３】
ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子は、その発光量や発光時間に応じて劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
【０００４】
現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。以下、その幾つかを列記する。
【特許文献１】特開２００３−２２８３２９号公報  この文献には、表示パネルを構成する各画素に対する入力データを一定周期で画素毎に積算し、それらの最大値から各画素の積算値を減算して各画素についての補正量を設定する方法が開示されている。また、非使用状態において補正量の大きさに比例する時間だけ各画素を一定輝度で発光することで各画素の表示特性を揃える方法が開示されている。
【０００５】
【特許文献２】特開２００３−２９５８２７号公報  この文献には、静止画の表示時にのみ表示データと表示時間を記憶し、その表示データと最大輝度との差ΔＹと、静止画が表示された時間Ｔとの積算量ΔＹ・Ｔを補正データに設定する方法が開示されている。また、この文献には、蓋が閉じられた状態や非使用状態の場合にのみ補正用の表示を実行することで、焼き付き現象を補正する方法が開示されている。
【特許文献３】特開２０００−１３２１３９号公報  この文献には、画素毎に入力データを積算し、補正テーブルを用いて積算値を補正値に変換する方法が開示されている。また、求められた補正値により各画素の入力データを補正し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。
【０００６】
【特許文献４】特開２００１−１７５２２１号公報  この文献には、画素の中で一番輝度が劣化した画素にあわせて、その他の画素の輝度データを下げるように補正値を決定する方法が開示されている。また、得られた補正値で各画素の輝度データを変換し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、既存の補正方法は、焼き付き現象の補正を実現するにあたり、画像を大きく変化させる必要があった。すなわち、結果的に著しく画質を低下させる可能性があった。
もっとも、画質への影響を考慮して補正量を微小に留めると、劣化量差の補正に膨大な時間を要したり、補正が間に合わずに補正自体が不可能になる可能性がある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
発明者らは、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に生じた焼き付き現象の補正処理方法として、階調再現帯域を全体的に押し上げるガンマ補正データと、階調再現帯域を全体的に押し下げるガンマ補正データを選択的に適用する補正方法を提案する。
具体的には、以下の２つの技術手法を提案する。各技術の違いは、ガンマ補正データを予め用意するか、その都度生成するかである。
【０００９】
（Ａ）技術手法１
この技術は、ガンマ補正データを予め用意する場合に対応する。
この技術は、以下の処理を実行することを特徴とする。
（１）焼き付き補正前の入力表示信号に基づいて、階調に関する度数分布をフレーム単位で求める処理
（２）度数分布に基づいて、明るい階調を規定とするフレームか、暗い階調を基調とするフレームかを判定する処理
（３）フレームが明るい階調を基調とする場合、第１の階調値を最小出力値とし、入力表示信号の許容最大値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第１のガンマ補正データを選択し、フレームが暗い階調を基調とする場合、入力表示信号の許容最小値を最小出力値とし、入力表示信号の許容最大値から第２の階調値を減算した値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第２のガンマ補正データを選択する処理
（４）選択されたガンマ補正データを参照し、入力表示信号を出力表示信号に変換する処理
【００１０】
（Ｂ）技術手法２
この技術は、ガンマ補正データをその都度生成する場合に対応する。
この技術は、以下の処理を実行することを特徴とする。
（１）焼き付き補正前の入力表示信号に基づいて、階調に関する度数分布をフレーム単位で求める処理
（２）度数分布に基づいて、明るい階調を規定とするフレームか、暗い階調を基調とするフレームかを判定する処理
（３）フレームが明るい階調を基調とする場合、第１の階調値を最小出力値とし、入力表示信号の許容最大値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第１のガンマ補正データを生成し、フレームが暗い階調を基調とする場合、入力表示信号の許容最小値を最小出力値とし、入力表示信号の許容最大値から第２の階調値を減算した値を最大出力値とする階調範囲で全表示階調を再現する第２のガンマ補正データを生成する処理
（４）生成されたガンマ補正データを参照し、入力表示信号を出力表示信号に変換する処理
【００１１】
なお、これら技術手法は、自発光装置そのものに適用できるだけでなく、出力装置に出力する画像信号を処理する各種の電子機器に対しても適用できる。また、これらの技術手法は、ハードウェアとして実現できる他、ソフトウェアとしても実現できる。勿論、処理の実行は、一部処理をハードウェアとして実行し、残る処理をソフトウェアとして実行することもできる。
因みに、自発光装置は、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＣＲＴ（cathode ray tube）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、プロジェクターを含む。
【発明の効果】
【００１２】
これらの技術手法を適用すれば、全表示階調の再現性を保存した状態のまま、最大階調と最小階調との輝度差を縮めることができる。すなわち、画質をほとんど損なうことなく、劣化量差の拡大を抑制することができる。これにより、焼き付き現象を改善できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。以下、焼き付き現象補正装置を「補正装置」という。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。
【００１４】
（Ａ）補正装置の形態例
（Ａ−１）形態例１
（ａ）装置構成
図１に、補正装置の形態例を示す。この形態例の場合、補正装置１は、同色で発光する画素毎に配置する。なお、カラー画像の再現には、光の三原色であるＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）を使用し、必要に応じて補色も使用する。なお、補正装置１は、各色信号に対して共通に配置することもできる。
補正装置１は、階調度数分布算出部３、明暗基調判定部５、ガンマ変換部７を主要な構成要素とする。
【００１５】
階調度数分布算出部３は、焼き付き補正前の入力表示信号に基づいて、階調に関する度数分布をフレーム単位で求める処理デバイスである。
ここで、度数分布は、グレースケール値について算出する。従って、表示信号がＲ、Ｇ、Ｂの三原色信号として与えられる場合には、個別の度数分布からグレースケール値に換算する処理が前処理として実行される。
明暗基調判定部５は、度数分布に基づいて、明るい階調を規定とするフレームか、暗い階調を基調とするフレームかを判定する処理デバイスである。明暗基調判定部５は、低階調域に属する画素の割合がしきい値を越えるか否かに応じて明暗基調を判定する。
【００１６】
この形態例では、低階調域を、階調レベルの０〜ｘ％に設定する。ここでの“ｘ”は、暗い階調を基調とする画像で重要視される階調範囲を基本として適当な値が用いられる。
明暗基調判定部５は、この階調域に属する画素数をフレーム毎に求める。また、明暗基調判定部５は、低階調域の画素数が全画素数に占める割合を算出する。
この後、明暗基調判定部５は、算出された割合をしきい値と比較し、各フレームの度数分布が低階調側に集まっているか、それともを高階調側に集まっているかを判定する。
算出された割合がしきい値より高いとき、明暗基調判定部５は、暗い階調の再現性が重要視される画像（以下「暗画像」という。）であると判定する。一方、算出された割合がしきい値より低いとき、明暗基調判定部５は、明るい階調の再現性が重要視される画像（以下「明画像」という。）であると判定する。
【００１７】
図２に、比較的暗い部分の階調再現性が求められる暗画像の度数分布例を示す。また図３に、暗い部分が少ない明画像の度数分布例を示す。いずれも、横軸を階調とする。入力表示信号の許容最大値を１００％とする。また、縦軸を画素数で表す。
明暗基調判定部５は、図中に濃い網掛けで示す部分の画素数を計数し、その全画素数に占める割合を判断する。
なお、判定結果は、明暗判定信号として、ガンマ変換部７に与えられる。
【００１８】
ガンマ変換部７は、明暗判定信号に基づいて、明画像用に用意したガンマ補正データと暗画像用に用意したガンマ補正データを選択的に適用し、入力表示信号を出力表示信号に変換する処理デバイスである。
図４に、ガンマ変換部７の内部構成例を示す。ガンマ変換部７は、ガンマ補正データ選択部７Ａ、ガンマ変換実行部７Ｂを主要構成とする。
ガンマ補正データ選択部７Ａは、明暗判定信号に基づいて、明画像用テーブルメモリ７Ａ１と暗画像用テーブルメモリ７Ａ２の一方を選択する処理デバイスである。
【００１９】
明画像用テーブルメモリ７Ａ１は、階調再現帯域を全体的に押し上げるガンマ補正データを格納する記憶領域である。
図５に、明画像用のガンマ補正データによって実現されるガンマ特性を示す。図中、太線で示す曲線が、ガンマ変換によって実現されるガンマ特性を示す。他方、破線で示す曲線が、ガンマ変換前のガンマ特性を示す。
ここで、変数ｂは、ガンマ係数である。表示機器のガンマ係数ｂは、通常２〜２．２程度の値が用いられる。この形態例の場合、ガンマ係数ｂは不変である。
【００２０】
また、この形態例の場合、最大階調から表示階調を引いた値に一定の輝度変化率ａを乗算した値だけ、発光輝度を押し上げる特性を有するガンマ補正データを採用する。すなわち、階調が低いほど発光輝度を押し上げる効果が大きい特性を有するものを採用する。
その理由は、高階調画素を多く含む画像において、高階調側の輝度を大きく変更すると、輝度変化が視認され易いためである。
従って、明画像用のガンマ補正データでは、高階調域の輝度はほとんど変化しない一方で、低階調域の輝度は大きく変化する変換を実現する。なお、明画像では、低階調域の画素がもともと少ないため、このようなガンマ変換を加えても階調再現性は保たれ、黒浮きなどの現象も目立ち難い。
【００２１】
図６に、明画像用テーブルメモリ７Ａ１に保存されるガンマ補正データの入出力関係を示す。オフセット値ａ１／ｂ
は、ａ％の輝度変化を階調値に換算した値である。この入出力関係は、入力階調＋（最大階調−入力階調）×ａ１／ｂ ％という変換式で表すことができる。明画像用テーブルメモリ７Ａ１には、この変換式で対応付けられた階調値がテーブル形式で保存されている。
なお、変化の大きさを与える輝度変化率ａは、ガンマ変換後の画質を考慮して設定する。通常は、自発光表示パネル（周辺回路を含む。）の特性や経時変化も考慮して経験則に従って設定する。もっとも、使用開始後にシステムの制御やユーザーの操作によって可変できることが望ましい。
【００２２】
暗画像用テーブルメモリ７Ａ２は、階調再現帯域を全体的に押し下げるガンマ補正データを格納する記憶領域である。
図７に、暗画像用テーブルメモリ７Ａ２によって実現されるガンマ特性を示す。図中、太線で示す曲線が、ガンマ変換によって実現されるガンマ特性を示す。他方、破線で示す曲線が、ガンマ変換前のガンマ特性を示す。この場合も、ガンマ係数ｂは不変とする。
この形態例では、暗画像用のガンマ補正データとして、全表示階調に亘って発光輝度を一定の輝度変化率ａだけ、発光輝度を押し下げる特性を有するものを採用する。すなわち、階調が高いほど発光輝度を押し下げる効果が大きい特性を有するものを採用する。
【００２３】
その理由は、低階調画素を多く含む画像において、低階調側の輝度を大きく変更すると、輝度変化が視認され易いためである。例えば、黒潰れ、黒浮きなどの画質を低下させる現象が視認され易くなるためである。
従って、暗画像用のガンマ補正データでは、低階調域の輝度はほとんど変化しない一方で、高階調域の輝度は大きく下げる変換を実現する。なお、暗画像では、高階調域の画素がもともと少ないため、このようなガンマ変換を加えても階調再現性は保たれ、輝度変化が目立ち難い特徴がある。
【００２４】
図８に、暗画像用テーブルメモリ７Ａ２に保存されるガンマ補正データの入出力関係を示す。ここでのオフセット値ａ１／ｂ
も、ａ％の輝度変化を階調値に換算した値として与えられる。この入出力関係は、入力階調×ａ１／ｂ ％という変換式で表すことができる。暗画像用テーブルメモリ７Ａ２には、この変換式で対応付けられた階調値がテーブル形式で保存されている。
勿論、変化の大きさを与える輝度変化率ａは、ガンマ変換後の画質を考慮して設定する。
ガンマ変換実行部７Ｂは、選択されたガンマ補正データを参照して、入力表示信号を出力表示信号に変換する処理デバイスである。
【００２５】
（ｂ）補正処理動作
続いて、補正装置による一連の補正動作を説明する。図９に、補正動作の全体を示す。
まず、階調度数分布算出部３が、入力表示信号の階調に関する度数分布をフレーム単位で求める処理を実行する（Ｐ１）。
続いて、明暗基調判定部５が、算出された度数分布に基づいて、処理フレームが明画像か暗画像かを判定する（Ｐ２）。判定結果は、明暗判定信号としてガンマ変換部７に与えられる。
ガンマ補正データ選択部７Ａは、処理フレームが明画像の場合、テーブルメモリ７Ａ１（図６）を選択し、処理フレームが暗画像の場合、テーブルメモリ７Ａ２（図８）を選択する（Ｐ３）。
この後、ガンマ変換実行部７Ｂが、選択されたガンマ補正データを参照し、入力表示信号を出力表示信号に変換する（Ｐ４）。
これらの処理がフレーム毎に、繰り返し実行される。
【００２６】
（ｃ）形態例の効果
この補正装置を用いれば、全表示階調の再現性を保存した状態のまま、最大階調と最小階調との輝度差を縮めることができる。すなわち、画質をほとんど損なうことなく、劣化量差の拡大を抑制することができる。この効果を、図１０及び図１１を用いて説明する。
図１０は、明画像を表示する場合の劣化量の変化を表した図であり、図１１は、暗画像を表示する場合の劣化量の変化を表した図である。
まず、図１０について説明する。横軸は発光時間、縦軸は劣化量である。一般に、画素の劣化量は、発光輝度に比例する。すなわち、高輝度ほど劣化量が大きくなり、低輝度ほど劣化量が小さくなる。この一般則に従って劣化量を表したのが図１０である。
【００２７】
この場合、ガンマ変換後の画素の劣化量は、（１００％発光画素の劣化量−各画素の劣化量）×ａ％だけガンマ変換前に比べて増加する。
図１０では、この増加量を上向きの矢印で示す。明画像に対するガンマ変換は、階調再現帯域を全体的に押し上げる手法が採用される。このため、最小劣化画素についての増加量を表す矢印の方が、最大劣化画素についての増加量を表す矢印よりも長いことが分かる。
【００２８】
図１０では、ガンマ変換前の最大劣化量差をα、ガンマ変換後の最大劣化量差をβで示す。勿論、最大劣化量差は、最大劣化画素の劣化量と最小劣化画素の劣化量との差として与えられる。
αとβを比較して分かるように、明画像に対するガンマ変換には、フレーム内で発生する劣化量差を縮小する効果が認められる。このことは、ガンマ変換が、全画素の劣化量差を縮小できることを意味する。すなわち、焼き付き現象の補正効果が認められる。
【００２９】
次に、図１１について説明する。やはり横軸は発光時間、縦軸は劣化量である。
この場合、ガンマ変換後の画素の劣化量は、ガンマ変換前に比べてａ％減少する。
図１１では、この減少量を下向きの矢印で示す。暗画像に対するガンマ変換は、階調再現帯域を全体的に押し下げる手法が採用される。このため、最大劣化画素についての減少量を表す矢印の方が、最小劣化画素についての減少量を表す矢印よりも長くなる。
【００３０】
図１１では、ガンマ変換前の最大劣化量差をα、ガンマ変換後の最大劣化量差をγで示す。勿論、最大劣化量差は、最大劣化画素の劣化量と最小劣化画素の劣化量との差として与えられる。
αとγを比較して分かるように、暗画像に対するガンマ変換にも、劣化量差を縮小する効果が認められる。このことは、ガンマ変換が、全画素の劣化量差を縮小できることを意味する。すなわち、焼き付き現象の補正効果が認められる。
【００３１】
形態例に係る補正方法を用いれば、全表示階調が保存した状態のまま、焼き付き現象を改善することができる。
また、この補正方法は、その実行がほとんで視認されないため、実製品への搭載に非常に有利である。
また、画素全体で劣化量差の拡大を抑制できるということは、自発光表示パネルの寿命を改善するのにも効果的である。
【００３２】
（Ａ−２）形態例２
（ａ）装置構成
図１２に、補正装置の他の形態例を示す。この形態例では、明画像及び暗画像に対応したガンマ補正データを、逐次算出する方式、又は、明暗画像について各１回だけ算出する方式の補正装置について説明する。
補正装置１１は、階調度数分布算出部３、明暗基調判定部１３、ガンマ変換部１５を主要な構成要素とする。なお、図１２は、図１との対応部分に同一符号を付して示している。従って、階調度数分布算出部３の構成は、形態例１と同じである。
【００３３】
明暗基調判定部１３も、基本的な判定動作は形態例１と同じである。すなわち、明暗基調判定部５と同じである。
違いは、明暗基調判定部１３が明暗判定信号と共に、輝度変化率ａを出力する点である。もっとも、輝度変化率ａを出力するのは、明画像と判定された最初の１回目と、暗画像と判定された最初の１回のみでも良い。この場合、２回目以降の動作は、形態例１と同じになる。ここでは、フレーム毎に輝度変化率ａが出力されるものとする。
なお、輝度変化率ａは、明暗基調判定部１３が保持しているものとして説明する。輝度変化率ａは、形態例１で説明したものと同じである。
【００３４】
ガンマ変換部１５も、明暗判定信号に応じたガンマ補正データを選択的に適用して、入力表示信号を出力表示信号に変換する点で形態例１と同じである。ただし、前述の通り、ガンマ変換部１５は、明暗判定信号に応じてガンマ補正データを生成する機能を搭載する。
図１３に、ガンマ変換部１５の内部構成例を示す。ガンマ変換部１５は、ガンマ補正データ生成部１５Ａ、テーブルメモリ１５Ｂ、ガンマ変換実行部１５Ｃを主要構成とする。
この形態例に特有の構成は、ガンマ補正データ生成部１５Ａである。
【００３５】
ガンマ補正データ生成部１５Ａが、明暗判定信号に応じたガンマ補正データを輝度変化率ａを用いて算出する。
例えば、明画像の場合、ガンマ補正データ生成部１５Ａは、入力階調＋（最大階調−入力階調）×ａ１／ｂ
％という変換式を使用して、入力階調に対応付ける出力階調を算出する。勿論、ｂは、ガンマ係数である。
一方、暗画像の場合、ガンマ補正データ生成部１５Ａは、入力階調×ａ１／ｂ
％という変換式を使用して、入力階調に対応付ける出力階調を算出する。
【００３６】
テーブルメモリ１５Ｂは、生成されたガンマ補正データを格納する記憶エリアである。このテーブルメモリ１５Ｂには、前述の変換式で対応付けられた階調値がテーブル形式で保存される。
この形態例の場合、ガンマ補正データが算出されるたびに保存内容は上書きされるものとする。もっとも、明画像用と暗画像用のガンマ補正データを保存できる記憶領域が確保されている場合には、各画像用のガンマ補正データが最初に記憶された後は、そのまま保持する構成としても良い。
ガンマ変換実行部１５Ｃは、生成されたガンマ補正データを参照して、入力表示信号を出力表示信号に変換する処理デバイスである。
【００３７】
（ｂ）補正処理動作
この補正装置による一連の補正動作を説明する。図１４に、補正動作の全体を示す。
まず、階調度数分布算出部３が、入力表示信号の階調に関する度数分布をフレーム単位で求める処理を実行する（Ｐ１１）。
続いて、明暗基調判定部１３が、算出された度数分布に基づいて、処理フレームが明画像か暗画像かを判定する（Ｐ１２）。判定結果は、明暗判定信号としてガンマ変換部１５に与えられる。この際、輝度変換率ａも与えられる。
ガンマ補正データ生成部１５Ａは、処理フレームが明画像の場合、輝度変化率ａとガンマ係数ｂを用い、図６に示す入出力関係のガンマ補正データを生成する。一方、処理フレームが暗画像の場合、ガンマ補正データ生成部１５Ａは、輝度劣化率ａとガンマ係数ｂを用い、図８に示す入出力関係のガンマ補正データを生成する（Ｐ１３）。
この後、ガンマ変換実行部１５Ｃが、生成されたガンマ補正データを参照し、入力表示信号を出力表示信号に変換する（Ｐ１４）。
これらの処理がフレーム毎に、繰り返し実行される。
（ｃ）形態例の効果
この構成の補正装置を用いても、形態例１と同じ効果を実現することができる。
【００３８】
（Ａ−３）形態例３
前述の形態例では、輝度変化率ａが固定値であった。しかし、輝度変化率ａが固定であると、絵柄や補正の進行程度によって、補正量の過不足が生じることがある。
そこで、この形態例では、焼き付き状態に応じて適応的に輝度変化率ａを調整できる機能を有する補正装置を提案する。
ここでは、ガンマ変換後の出力表示信号に現れる劣化量差に着目し、そのバラつき程度に応じて輝度変化率ａを調整する。
【００３９】
（ａ）装置構成
図１５に、補正装置の他の形態例を示す。なお、図１５は、図１２との対応部分に同一符号を付して示す。すなわち、補正装置２１は、形態例２を基本構成とする。
補正装置２１は、階調度数分布算出部３、明暗基調判定部１３、ガンマ変換部１５、劣化量差算出部２３、累積劣化量差蓄積部２５、ばらつき検出部２７、変化率調整部２９を主要な構成要素とする。
従って、階調度数分布算出部３、明暗基調判定部１３、ガンマ変換部１５の構成は、形態例２と同じである。
【００４０】
劣化量差算出部２３は、ガンマ変換後の表示信号に基づいて、比較対象画素に対する各画素の劣化量差を算出する処理デバイスである。ガンマ変換後の表示信号（すなわち、実際の表示画像を形成する表示信号）を使用できるため、劣化量差の実値を正確に算出できる。この形態例の場合、劣化量差は色別に算出する。
劣化量差の算出方法には、既存の技術を含む任意の手法を適用できる。本明細書で提案する技術は、劣化量差の算出方法の違いを問わず適用できるためである。
【００４１】
例えば、表示信号を階調データとする場合には、以下の算出手法を適用できる。
（１）各画素の階調データ値と比較対象画素の階調データ値との差分を算出する手法
（２）階調データと劣化の進行度合いとの間に比例関係が成立しない場合、実測結果を反映した換算係数を用いて劣化量差を算出する手法
発明者らは、（２）に示す算出手法で使用する換算係数を、「劣化率」という概念で規定する。
【００４２】
発明者らは、「劣化率」を、ある階調データで自発光素子を継続的に発光させた場合における発光輝度の低下率として規定する。
図１６に、階調データと劣化率との対応関係を示す変換テーブルの一例を示す。この場合、劣化量差は、各画素の劣化率と比較対象画素の劣化率との差として算出する手法もある。また、劣化量差は、劣化率Ｒに発光期間Ｔを乗算した値の差として算出することもできる。
【００４３】
ところで、劣化量差の算出に使用する比較対象画素の選択にも幾つかの方法が考えられる。通常、補正方法に応じて最適な画素を指定する。
例えば、最も輝度劣化の進んだ画素、最も輝度劣化の遅れた画素、画面中央の画素、固定表示に対応する画素その他を指定する。これらは、実在する画素である。
また例えば、平均輝度値を与える画素その他を指定する。これらは、仮想的に定める画素である。
【００４４】
累積劣化量差蓄積部２５は、劣化量差算出部２３から与えられる劣化量差を継続的に積算し、積算結果を保存するメモリである。ここで、比較対象画素に対して劣化が進んでいる画素の累積劣化量差は正値で表される。また、比較対象画素に対して劣化が遅れている画素の累積劣化量差は負値で表される。
バラつき検出部２７は、累積劣化量差のバラつき程度を検出する処理デバイスである。累積劣化量差のバラつき程度は、例えば分散や標準偏差として検出する。
【００４５】
変化率調整部２９は、バラつき程度に応じて、輝度変化率ａを調整する処理デバイスである。この変化率調整部２９は、バラつきが大きいほど、輝度変化率ａを大きい値に変更し、バラつきが小さいほど、輝度劣化率ａを小さい値に変更する機能を有している。
例えば、図１７に示す変換テーブルを用意し、バラつき係数に対応する調整係数を輝度変化率ａに乗算する方法を採用する。
図１７の場合、標準的なバラつき係数Ａよりもバラつきが大きくなるのに従って、調整係数も大きくなる。一方、図１７の場合、標準的なバラつき係数Ａよりもバラつきが小さくなるのに従って、調整係数も小さくなる。
変化率調整部２９は、調整後の輝度変化率ａ１をガンマ変換部１５に与える。
【００４６】
（ｂ）補正処理動作及び形態例の効果
この補正装置の場合、ガンマ変換後の表示信号から算出される累積劣化量差のバラつきが大きいと、明画像か暗画像かを問わず、輝度変化率ａがより大きい変化率ａ１に変更される。
なお、図１０及び図１１を用いて説明したように、劣化量差の抑制効果は、輝度変化率ａ１が大きいほど強くなる。このことは、現在以上に累積劣化量差のバラつきが拡大するのを抑制できることを意味する。
【００４７】
この反対に、ガンマ変換後の表示信号から算出される累積劣化量差のバラつきが小さいと、明画像か暗画像かを問わず、輝度変化率ａがより小さい変化率ａ１に変更される。
この場合、劣化量差の抑制効果は小さくなるが、輝度変化幅を原画像に近づけることができる。すなわち、原画像に近い画質を得ることができる。
このように、この補正装置を用いれば、劣化量差の抑制効果（焼き付き現象の補正効果）を累積劣化量差のバラつき程度に応じて適応的に調整することができる。
【００４８】
（Ａ−４）形態例４
前述の形態例では、階調再現帯域を全体的に押し上げる又は押し下げる方法について説明した。この方法は、画面全体を一斉に焼き付き補正するのに好適である。
しかし、一部の画素について、焼き付き現象が視認されるまで劣化量差が進行する可能性もゼロではない。
そこで、この形態例では、累積劣化量差がしきい値を越えた画素に対してのみ、個別の焼き付き補正を実行できる機能を有する補正装置を提案する。
【００４９】
（ａ）装置構成
図１８に、この機能を搭載する補正装置の形態例を示す。なお、図１８には、図１との対応部分に同一符号を付して示す。
補正装置３１は、階調度数分布算出部３、明暗基調判定部５、ガンマ変換部７、劣化量差算出部３３、累積劣化量差蓄積部３５、判定機能付き輝度劣化補正部３７を主要な構成要素とする。
このうち、劣化量差算出部３３、累積劣化量差蓄積部３５の構成は、形態例３で説明した劣化量差算出部２３、累積劣化量差蓄積部２５の構成と同じである。
【００５０】
判定機能付き輝度劣化補正部３７は、累積劣化量差がしきい値を越えた画素を個別に判定する機能を有する処理デバイスである。判定機能を除く基本機能は、周知の焼き付き補正装置を利用できる。
図１９に、判定機能付き輝度劣化補正部３７の内部構成例を示す。判定機能付き輝度劣化補正部３７は、大きさ判定部３７Ａ、しきい値メモリ３７Ｂ、補正量生成部３７Ｃ、補正実行部３７Ｄを主要構成とする。
大きさ判定部３７Ａは、累積劣化量差としきい値を画素毎に比較し、その大小関係を判定する処理デバイスである。
【００５１】
しきい値は、しきい値メモリ３７Ｂから与えられる。なお、しきい値は、各種の実験結果に基づいて設定する。一般には、焼き付き現象が視認される劣化量差より小さい値に設定する。
補正量生成部３７Ｃは、各画素について算出された累積劣化量差を確実に縮小させる補正量を生成する処理デバイスである。なお、補正量生成部３７Ｃは、累積劣化量差がしきい値を越える場合にのみ補正量を生成し、累積劣化量差がしきい値を越えない場合は０（ゼロ）を出力する。
例えば、累積劣化量差が正値の場合、補正量生成部３７Ｃは、負値の補正量を算出する。また例えば、累積劣化量差が負値の場合、補正量生成部３７Ｃは、正値の補正量を算出する。
【００５２】
なお、補正量の算出手法は任意である。本明細書で提案する技術は、補正処理の選択的な実行に特徴を有し、その算出手法は影響しないためである。
補正実行部３７Ｄは、生成された補正量を入力表示信号に加算する処理デバイスである。すなわち、累積劣化量差がしきい値以上と判定された画素については、焼き付き現象が改善されるように入力表示信号が補正され、その他の画素については、入力表示信号がそのまま出力される。
【００５３】
（ｂ）補正処理動作及び形態例の効果
この補正装置の場合、形態例１の基本的な効果に加え、部分的に累積劣化量差が拡大した画素に対してのみ焼き付き補正処理を選択的に追加できる。一部の画素に対してのみ焼き付き補正処理を加えるので、画質の低下が視認される可能性は高くなる。
しかし、この補正装置を用いれば、画質の低下を伴う補正動作の実行時間を極力低減できる。又は、実行回数を極力低減できる。そして、劣化量差の縮小後は、再びガンマ変換のみの補正動作に戻ることができる。
結果的に、画質と焼き付き補正の実行とのバランスを最適化できる。
【００５４】
（ｃ）変形例
ここでの判定機能付き輝度劣化補正部３７は、補正量の生成を選択的に実行する場合について説明した。しかし、補正量の生成は全ての画素について実行し、補正量による入力表示信号の補正を選択的に実行する手法を採用しても良い。
図２０に、判定機能付き輝度劣化補正部３７の他の内部構成例を示す。判定機能付き輝度劣化補正部３７は、大きさ判定部３７Ａ、しきい値メモリ３７Ｂ、補正量生成部３７Ｃ、補正実行部３７Ｄ１で構成する。各部の基本的な構成は、図１９と同じである。
【００５５】
ただし、図２０の場合、大きさ判定処理と補正量の生成処理とは並行に実行され、判定結果と補正量が補正実行部３７Ｄ１に与えられる構成を採用する。
このため、補正実行部３７Ｄ１は、累積劣化量差がしきい値を越えた場合のみ、補正量生成部３７Ｃで生成された補正量を用いて入力表示信号を補正し、その他の画素については、入力表示信号をそのまま出力する。
このような構成としても、図１９に示す補正装置３１と同様の効果を実現できる。
【００５６】
（Ａ−５）形態例５
前述の形態例では、階調再現帯域を全体的に押し上げる又は押し下げる方法と輝度変化率ａを調整する方法とを組み合わせる場合（形態例３）、階調再現帯域を全体的に押し上げる又は押し下げる方法と累積劣化量差から算出した補正量で個別に補正する方法とを組み合わせる場合（形態例４）について説明した。
ここでは、これらを更に組み合わせた補正装置を提案する。
図２１に、この機能を搭載する補正装置の形態例を示す。なお、図２１には、図１５と図１８の対応部分に同一符号を付して示す。
【００５７】
補正装置４１は、階調度数分布算出部３、明暗基調判定部１３、ガンマ変換部１５、劣化量差算出部２３、累積劣化量差蓄積部２５、バラつき検出部２７、変化率調整部２９、判定機能付き輝度劣化補正部３７を主要な構成要素とする。
この補正装置を用いれば、累積劣化量差の状況に応じて、輝度変化率ａの増減によるガンマ特性の調整、又は、輝度変化率ａの増減によるガンマ特性の調整と補正量による個別の補正処理との同時実行を選択的に実行できる。
例えば、累積劣化量差のバラつきが小さい間は、原画像により近い状態で画像のまま焼き付き現象を補正できる。
【００５８】
また、累積劣化量差のバラつきが大きくなると、階調情報を保存しながらも、画像の再現に使用できる輝度変化幅を小さくして累積劣化量差の拡大を抑制できる。
そして、焼き付き現象が視認される程度まで累積劣化量差が拡大した場合には、個別の画素ごとに累積劣化量差を確実に縮小できる補正処理を付加することができる。
これにより、長時間の使用によっても焼き付き現象が視認され難い自発光装置を実現できる。
【００５９】
（Ｃ）自発光装置への搭載例
図２２に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置５１は、筐体５３に焼き付き現象補正装置５５と表示デバイス５７を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置５５は、前述した形態例のいずれかに対応する。焼き付き現象補正装置５５は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように入力信号の補正動作を実行する。
【００６０】
また、表示デバイス５７は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、ＣＲＴが用いられる。
図２２の場合、自発光装置５１に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置５５が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。
【００６１】
（Ｄ）画像処理装置への搭載例
図２３に、焼き付き補正装置６１を搭載する画像処理装置６３のシステム例を示す。画像処理装置６３は、自発光型の表示装置６５と有線路又は無線路を経由して接続されている。
このシステム例の場合、画像処理装置６３の筐体内で焼き付き補正処理が実行される。すなわち、表示装置６５に出力される画像信号は、出力インターフェースとの間に配置された焼き付き補正回路６１に入力され、前述した焼き付き補正処理が実行される。
この種の画像処理装置６３には、例えば、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置（カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。）、コンピュータ（サーバーを含む。）、各種の情報処理端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等）、各種画像の再生装置（ホームサーバーを含む。）、画像編集装置、ゲーム機の適用が可能である。
【００６２】
（Ｅ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、明画像か暗画像かでガンマ特性を切り替える場合について説明した。
しかし、３種類以上のガンマ特性を用意し、又は生成しても良い。例えば明画像、標準画像、暗画像の３種類の中から適用するガンマ特性を切り替えても良い。
【００６３】
（ｂ）前述の形態例では、低階調域（階調レベルの０〜ｘ％）に含まれる画素数の割合で明暗画像を判定した。
しかし、判定領域はこれに限らない。例えば、高階調域（階調レベルのｘ〜１００％）に含まれる画素数の割合で明暗画像を判定しても良い。また、低階調域と高階調域の組み合わせによって判定処理を実行しても良い。
【００６４】
（ｃ）前述の形態例では、低階調域（階調レベルの０〜ｘ％）に含まれる画素数の割合で明暗画像を判定した。
しかし、判定方法はこれに限らない。例えば、予め目安となる画素数が分かっている場合には、判定領域内の画素数としきい値との比較によって判定処理を実行しても良い。
（ｄ）前述の形態例では、累積劣化量差のバラつき程度を分散値や標準偏差値で検出する場合について説明した。
しかし、判定方法はこれに限らない。例えば、最大劣化量差と最小劣化量差の差分値を求め、その差分が大きいほどバラつき程度が大きいと判定しても良い。
【００６５】
（ｅ）前述の形態例では、明画像用と暗画像用とで同じ輝度変化率を用いる場合について説明した。
しかし、明画像用と暗画像用とで異なる輝度変化率を用いても良い。
（ｆ）前述の形態例では、入力表示信号に補正量を加減算する場合について説明した。しかし、表示信号は、他の手法を用いて補正しても良い。例えば、入力表示信号に補正量を乗算して表示信号の絶対値を増減する手法を採用しても良い。
【００６６】
（ｇ）前述の形態例では、焼き付き現象補正装置の機能構成を説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとして実現することも、ソフトウェアとして実現することも可能である。
また、焼き付き現象補正装置を構成する各機能の全部をハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部の機能はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現することもできる。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
（ｈ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】焼き付き現象補正装置の形態例を示す図である。
【図２】暗画像の度数分布例を示す図である。
【図３】明画像の度数分布例を示す図である。
【図４】ガンマ変換部の内部構成例を示す図である。
【図５】明画像用のガンマ特性を示す図である。
【図６】明画像用テーブルメモリに保存するガンマ補正データの入出力関係を示す図である。
【図７】暗画像用のガンマ特性を示す図である。
【図８】暗画像用テーブルメモリに保存するガンマ補正データの入出力関係を示す図である。
【図９】補正動作例を示すフローチャート図である。
【図１０】明画像をガンマ変換した場合の劣化量差の縮小効果を説明する図である。
【図１１】暗画像をガンマ変換した場合の劣化量差の縮小効果を説明する図である。
【図１２】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図１３】ガンマ変換部の内部構成例を示す図である。
【図１４】補正動作例を示すフローチャート図である。
【図１５】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図１６】階調値と劣化率との対応関係を保持する変換テーブル例を示す図である。
【図１７】バラつき係数を調整係数に変換する変換テーブル例を示す図である。
【図１８】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図１９】判定機能付き輝度劣化補正部の内部構成例を示す図である。
【図２０】判定機能付き輝度劣化補正部の内部構成例を示す図である。
【図２１】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図２２】焼き付き現象補正装置を自発光装置に搭載したシステム例を示す図である。
【図２３】焼き付き現象補正装置を画像処理装置に搭載したシステム例を示す図である。
【符号の説明】
【００６８】
１、１１、２１、３１、４１、５５、６１  焼き付き現象補正装置
３  階調度数分布算出部
５、１３  明暗基調判定部
７、１５  ガンマ変換部
７Ａ  ガンマ補正データ選択部
７Ａ１  明画像用テーブルメモリ
７Ａ２  暗画像用テーブルメモリ
１５Ａ  ガンマ補正データ生成部
１５Ｂ  テーブルメモリ
２７  バラつき検出部
２９  変化率調整部
３７  判定機能付き輝度劣化補正部
３７Ａ  大きさ判定部
３７Ｂ  しきい値メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
2006284972.tif 000021
【図２０】
2006284972.tif 000022
【図２１】
2006284972.tif 000023
【図２２】
2006284972.tif 000024
【図２３】
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