(57)【要約】【課題】ヒータの劣化の程度を自動的に判定し、作業者の負担となる煩雑な手間を削減することができる分析装置を提供する。【解決手段】本発明に係る分析装置１は、ヒータと、当該ヒータが加温する加温対象の温度を計測する温度計測部と、計時手段と、前記温度計測部により計測された温度と、前記計時手段により計測された時間とに基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定する劣化判定手段とを備える。【選択図】  図９
2006284380.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
検体と試薬とから調製された試料を分析する分析装置であって、
ヒータと、
当該ヒータが加温する加温対象の温度を計測する温度計測部と、
計時手段と、
前記温度計測部により計測された温度と、前記計時手段により計測された時間とに基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定する劣化判定手段とを備える分析装置。
【請求項２】
前記劣化判定手段は、
前記ヒータの加温に関する加温時間を取得する加温時間取得手段を更に備え、
前記加温時間取得手段により取得された加温時間に基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されている請求項１に記載の分析装置。
【請求項３】
前記加温時間取得手段は、前記温度計測部により計測された温度が、所定の第１温度から所定の第２温度まで上昇する場合にかかる加温時間を取得するように構成されている請求項２に記載の分析装置。
【請求項４】
前記ヒータが加温を開始してからの経過時間を取得する初期経過時間取得手段と、
前記温度計測部により計測された温度が前記第１温度に到達していないときに、前記初期経過時間取得手段によって取得された経過時間と、所定の故障判定時間とを比較し、前記経過時間が前記故障判定時間を超えた場合に、前記ヒータが故障であると判定する初期故障判定手段を更に備える請求項２又は３に記載の分析装置。
【請求項５】
前記温度計測部により計測された温度が前記第１温度に到達してからの経過時間を取得する経過時間取得手段と、
前記温度計測部により計測された温度が前記第２温度に到達していないときに、前記経過時間取得手段によって取得された経過時間と、所定の故障判定時間とを比較し、前記経過時間が前記故障判定時間を超えた場合に、前記ヒータが故障であると判定する故障判定手段を更に備える請求項２乃至４のいずれかに記載の分析装置。
【請求項６】
ヒータの加温時間とヒータの劣化の程度との関係が記憶された記憶部を更に備え、
前記劣化判定手段は、前記加温時間取得手段により取得された加温時間を前記記憶部に記憶された関係に照合し、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されている請求項２乃至５のいずれかに記載の分析装置。
【請求項７】
前記劣化判定手段は、
前記ヒータの加温に関する加温速度を取得する加温速度取得手段を更に備え、
前記加温速度取得手段により取得された加温速度に基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されている請求項１に記載の分析装置。
【請求項８】
前記加温速度取得手段は、前記温度計測部により計測された温度が、所定の第１温度から所定の第２温度まで上昇する間における加温速度を取得するように構成されている請求項７に記載の分析装置。
【請求項９】
前記加温速度取得手段は、前記温度計測部により計測された温度が所定の第１温度を超えてから所定時間経過するまでの加温速度を取得するように構成されている請求項７に記載の分析装置。
【請求項１０】
前記劣化判定手段による劣化判定結果を記録する判定結果記録手段と、
前記判定結果記録手段に記録されている過去の劣化判定結果と、前記劣化判定手段による現在の劣化判定結果とに基づいて、前記ヒータを交換する必要があるか否かを判定するヒータ交換判定手段とを更に備える請求項１乃至９の何れかに記載の分析装置。
【請求項１１】
前記劣化判定手段による判定結果を表示する表示部を更に備える請求項１乃至１０のいずれかに記載の分析装置。
【請求項１２】
前記ヒータは、検体、試薬及び前記試料のうち少なくとも１つを加温するように構成されている請求項１乃至１１の何れかに記載の分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検体と試薬とから調製された試料を分析する分析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
検体と試薬とから調整された試料に光源からの光を照射し、検体の様々な性状を分析する装置として、比色分析装置、蛍光分析装置、免疫分析装置等の分析装置が知られている。この種の分析装置には、ヒータを備え、当該ヒータにより検体及び試薬を所定の温度に加温したり、検体と試薬とを混合させて調整した試料を保温して分析を行うものが多く存在する（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】特開平7-49350号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
かかる分析装置にあっては、分析装置を使用するに従って、ヒータが経時劣化するが、ヒータの劣化が進むと、加温対象を十分に加温することができなくなり、分析装置の測定結果に影響が出ることがある。しかしながら、従来の分析装置にあっては、保守を行う作業者がヒータの点検結果から経験によりヒータの劣化の程度を見極め、ヒータの交換が必要か否かを判断していた。かかるヒータの点検作業は、煩雑な手間を必要とし、作業者の負担が大きい。しかも、作業者の熟練の程度又は個人差によって、判断に差異が生じ、また、ユーザや未熟な作業者には判断が難しいという問題があった。
【０００５】
本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであり、ヒータの劣化の程度を自動的に判定し、作業者の負担となる煩雑な手間を削減することができる分析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明に係る分析装置は、検体と試薬とから調製された試料を分析する分析装置であって、ヒータと、当該ヒータが加温する加温対象の温度を計測する温度計測部と、計時手段と、前記温度計測部により計測された温度と、前記計時手段により計測された時間とに基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定する劣化判定手段とを備えることを特徴とする。
【０００７】
かかる構成とすることにより、ヒータの劣化の程度を自動的に判定し、作業者の負担となる煩雑な手間を削減することができる。
【０００８】
上記発明においては、前記劣化判定手段は、前記ヒータの加温に関する加温時間を取得する加温時間取得手段を更に備え、前記加温時間取得手段により取得された加温時間に基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されていることが好ましい。
【０００９】
ヒータの劣化の程度は、目的の温度まで到達するのにかかる時間、即ちヒータの温度上昇速度に密接に関係する。したがって、かかる構成とすることにより、加温時間に基づいて、ヒータの劣化の程度を容易かつ正確に判定することができる。
【００１０】
上記発明においては、前記加温時間取得手段は、前記温度計測部により計測された温度が、所定の第１温度から所定の第２温度まで上昇する場合にかかる加温時間を取得するように構成されていることが好ましい。
【００１１】
かかる構成とすることにより、劣化判定に用いる加温時間を、第１温度から第２温度まで上昇する場合にかかる時間に統一することができるので、様々な周囲温度（外部環境温度）においても正確な劣化の判定が可能となる。
【００１２】
上記発明においては、前記ヒータが加温を開始してからの経過時間を取得する初期経過時間取得手段と、前記温度計測部により計測された温度が前記第１温度に到達していないときに、前記初期経過時間取得手段によって取得された経過時間と、所定の故障判定時間とを比較し、前記経過時間が前記故障判定時間を超えた場合に、前記ヒータが故障であると判定する初期故障判定手段を更に備える構成とすることが好ましい。また、前記温度計測部により計測された温度が前記第１温度に到達してからの経過時間を取得する経過時間取得手段と、前記温度計測部により計測された温度が前記第２温度に到達していないときに、前記経過時間取得手段によって取得された経過時間と、所定の故障判定時間とを比較し、前記経過時間が前記故障判定時間を超えた場合に、前記ヒータが故障であると判定する故障判定手段を更に備える構成とすることもできる。
【００１３】
これにより、ヒータの劣化の程度だけでなく、ヒータが故障しているか否かを判別することができ、より一層ヒータの保守作業が容易になる。
【００１４】
上記発明においては、ヒータの加温時間とヒータの劣化の程度との関係が記憶された記憶部を更に備え、前記劣化判定手段は、前記加温時間取得手段により取得された加温時間を前記記憶部に記憶された関係に照合し、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されていることが好ましい。
【００１５】
上記発明においては、前記劣化判定手段は、前記ヒータの加温に関する加温速度を取得する加温速度取得手段を更に備え、前記加温速度取得手段により取得された加温速度に基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成することも可能である。
【００１６】
ヒータの劣化の程度は、上述したようにヒータの温度上昇速度に密接に関係する。したがって、かかる構成とすることにより、ヒータの加温速度に基づいて、ヒータの劣化の程度を容易かつ正確に判定することができる。
【００１７】
上記発明においては、前記加温速度取得手段は、前記温度計測部により計測された温度が、所定の第１温度から所定の第２温度まで上昇する間における加温速度を取得するように構成されていることが好ましい。また、この場合においては、前記加温速度取得手段を、前記温度計測部により計測された温度が所定の第１温度を超えてから所定時間経過するまでの加温速度を取得するように構成することもできる。
【００１８】
かかる構成とすることにより、劣化判定に用いる加温速度を、第１温度から第２温度まで上昇する間における加温速度に統一することができるので、様々な周囲温度（外部環境温度）においても正確な劣化の判定が可能となる。
【００１９】
上記発明においては、前記劣化判定手段による劣化判定結果を記録する判定結果記録手段と、前記判定結果記録手段に記録されている過去の劣化判定結果と、前記劣化判定手段による現在の劣化判定結果とに基づいて、前記ヒータを交換する必要があるか否かを判定するヒータ交換判定手段とを更に備える構成とすることが好ましい。
【００２０】
ヒータの劣化は経時的に進行する場合が多い。したがって、かかる構成とすることにより、過去の劣化判定と現在の劣化判定とによって経時的なヒータの劣化の推移が明らかとなるので、これに基づいて正確にヒータの交換の要否を判定することができる。
【００２１】
上記発明においては、前記劣化判定手段による判定結果を表示する表示部を更に備える構成とすることが好ましい。これにより、作業者が容易にヒータの劣化判定を把握することができる。
【００２２】
上記発明においては、前記ヒータは、検体、試薬及び前記試料のうち少なくとも１つを加温するように構成されていることが好ましい。
【発明の効果】
【００２３】
本発明に係る分析装置によれば、ヒータの劣化の程度を自動的に判定し、作業者の負担となる煩雑な手間を削減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、本発明の実施の形態に係る分析装置について、図面を参照しながら具体的に説明する。なお、本実施形態では、分析装置１として、血液凝固分析装置を用いた場合について説明する。
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１に係る分析装置１の構成を示す概略図である。なお、図１に示すように、分析装置１は、測定部２と、搬送部３と、データ処理部４とによって主として構成されている。搬送部３は、測定部２の前方に配置されており、検体（血漿または血清）を測定部２に自動的に供給できるように構成されている。測定部２は、このようにして搬送部３から供給された検体に対して、生物活性法、合成基質法又は免疫比濁法を用いて、検体中に含まれる凝固・線溶因子の成分を分析することが可能となっている。また、測定部２は、データ処理部４とＬＡＮケーブルによって接続されており、データ処理部４に分析結果を送信することが可能である。
【００２５】
図２は、測定部２及び搬送部３の構成を示す平面図である。図２に示すように、搬送部３は、検体が収容された複数（例えば１０本）の検体容器５が収納された検体ラック６を搬送するための搬送路３Ａを備えている。この搬送路３Ａの中間部は、検体供給位置７とされている。外部から供給された検体ラック６は、搬送路３Ａに沿って搬送され、検体供給位置７まで到達する。そして、測定部２は、検体供給位置７に到達した検体ラック６の検体容器５から検体を吸引し、この検体に対して測定を実行する。
【００２６】
次に、測定部２の構成について説明する。図２に示すように、測定部２は、テーブルユニット９と、キュベット供給部１２と、キュベット移送部１３、２３と、緩衝液収容部１４と、検体分注部１５、１６と、加温テーブル１７と、試薬分注部１８、１９、検出部２１と、キュベット排出部２４と、制御部２５とから主として構成されている。
【００２７】
テーブルユニット９は、測定部２の中央に設けられている。このテーブルユニット９は、複数の円板状及び円環状のテーブルが同軸配置されており、夫々のテーブルが互いに独立的に回転動作することが可能である。夫々のテーブルには、複数の収納穴１０が設けられており、これらの収納穴１０に試薬容器９Ｂ及びキュベット８をセットすることができる。図３は、キュベット８の外観を示す斜視図である。図３に示すように、キュベット８は、一端を開放し、もう一端を閉じて丸底にした細長い管状に形成されている。かかるキュベット８には、検体及び試料（検体と試薬との混合液）が収容されるようになっている。また、かかるテーブルユニット９の下部には、ペルチェ素子を備えた冷却装置（図示せず）が設けられており、この冷却装置によって試薬容器９Ｂ内に収容された試薬の温度は約１５℃に保たれる。
【００２８】
図２に示すように、かかるテーブルユニット９の図中右側（以下、図２中の右側を右側といい、図２中の左側を左側という）には、キュベット供給部１２及びキュベット移送部１３が設けられている。キュベット供給部１２は、テーブルユニット９に供給されるキュベット８を複数ストックすることが可能となっている。また、キュベット移送部１３は、このキュベット供給部１２にストックされたキュベット８をテーブルユニット９へ移送し、収納穴１０にセットする。
【００２９】
また、テーブルユニット９の左前側には、２つの検体分注部１５，１６が設けられている。図４は、検体分注部１５の構成を示す側面図である。図４に示すように、検体分注部１５は、機構部１５Ａと、軸１５Ｂと、アーム１５Ｃと、保持具１５Ｄと、ピペット１５Ｅとを備えている。機構部１５Ａには、上方向に向かって円柱状に延びた軸１５Ｂが支持されている。この軸１５Ｂは、機構部１５Ａによってその中心軸回りに回動し、また、上下方向に往復直線運動することが可能である。この軸１５Ｂの上端には、アーム１５Ｃがこの軸１５Ｂに直交して取り付けられている。このアーム１５Ｃの先端には、保持具１５Ｄが取り付けられており、この保持具１５Ｄに、注射針状のピペット１５Ｅが下方向に延びるように保持されている。これにより、ピペット１５Ｅは、軸１５Ｂ、アーム１５Ｃ、保持具１５Ｄと一体的に軸１５Ｂを中心とした円周方向に回転し、上下方向に往復直線運動することができる。また、ピペット１５Ｅには、液の吸引、吐出を行うためのシリンジ（図示せず）が接続されている。当該シリンジによって、ピペット１５Ｅは、検体を吸引し、吸引した検体を吐出することが可能となっている。これにより、検体分注部１５は、検体供給位置７の検体容器５に収容された検体を所定の量だけ吸引し、その後、テーブルユニット９にセットされたキュベット８までピペット１５Ｅを移動させ、キュベット８に検体を吐出することができる。
【００３０】
検体分注部１６の構成は、検体分注部１５と構成と同様であるので、その説明を省略する。テーブルユニット９の前方には、緩衝液収納部１４が左右方向に移動可能に設けられている。この緩衝液収納部１４には、複数の収納穴が設けられており、検体を希釈するための緩衝液が収容された緩衝液容器がセットされるようになっている。検体分注部１６は、かかる緩衝液収納部１４にセットされた緩衝液容器から緩衝液を所定の量だけ吸引し、ピペット１６Ｅをテーブルユニット９の上方まで移動させ、検体が収容されたキュベット８から検体を測定項目に応じて必要な分量だけ吸引し、検体を希釈する。その後、検体分注部１６は、テーブルユニット９にセットされた空のキュベット８に希釈した検体を吐出する。
【００３１】
また、前記テーブルユニット９の左後側には試薬分注部１８が設けられており、テーブルユニット９の右後側には試薬分注部１９が設けられている。図５は、試薬分注部１８の構成を示す側面図である。図５に示すように、試薬分注部１８は、機構部１８Ａと、軸１８Ｂと、アーム１８Ｃと、保持具１８Ｄと、加温ピペット１８Ｅとを備えている。概ね円筒状の加温ピペット１８Ｅは、保持具１８Ｄに下方向に延びるように保持されており、またシリンジ（図示せず）に接続されている。加温ピペット１８Ｅは、前記シリンジが動作することにより、試薬を吸引し、吸引した試薬を吐出することが可能である。また、加温ピペット１８Ｅは、ピペット１８Ｉ、加温部１８Ｆ、ヒータ１８Ｈにより構成されている。ピペット１８Ｉは、注射針状に形成されており、このピペット１８Ｉの外周面が、アルミニウム合金製の加温部１８Ｆによって覆われている。また、この加温部１８Ｆの外周には、ヒータ１８Ｈ（電熱線）が取り付けられており、更にその外側は熱伝導率の低いポリウレタン樹脂製の断熱材で覆われている。これにより、このヒータ１８Ｈが熱を発生すると、熱伝導性のよいアルミニウム合金製である加温部１８Ｆには、ヒータ１８Ｈの熱が速やかに伝わっていく。また、加温部１８Ｆの外側は熱伝導率の低いポリウレタン樹脂製の断熱材で覆われているため、当該断熱材の外部へ熱が発散しにくく、ヒータ１８Ｈからの熱により、ピペット１８Ｉ内に吸引された試薬を効率的に加熱することが可能である。このヒータ１８Ｈの近傍にはサーミスタ１８Ｇが設けられており、この加温ピペット１８Ｅは細長く、ピペット１８Ｉの細管に吸引された試薬にはヒータ１８Ｈの熱が迅速に伝わるため、試薬の温度はヒータ１８Ｈの温度と実質的に同一であり、したがってサーミスタ１８Ｇによって実質的に試薬の温度を測定することが可能である。かかるヒータ１８Ｈ及びサーミスタ１８Ｇは、後述する制御部２５と電気的に接続されている。この制御部２５は、サーミスタ１８Ｇの出力信号を受信し、加温ピペット１８Ｅ内の試薬が所定の温度となるように、ヒータ１８Ｈに流れる電流量を制御しヒータ１８Ｈの温度制御を行うようになっている。なお、試薬分注部１８のその他の構成は、検体分注部１５の構成と同様であるので、その説明を省略する。かかる試薬分注部１８は、テーブルユニット９にセットされている試薬容器９Ｂから試薬を所定の量だけ吸引する。前記冷却装置によって当該試薬の温度は約１５℃に保たれているため、試薬分注部１８は、加温ピペット１８Ｅで吸引した試薬を所定の温度（約３７℃）まで加温した後、加温ピペット１８Ｅを後述する加温テーブル１７の上方にある試薬混合位置２０Ｂまで移動させ、試薬を試薬混合位置２０Ｂに移送されてきたキュベット８内に吐出する。
【００３２】
試薬分注部１９の構成は、試薬分注部１８の構成と同様であるので、その説明を省略する。この試薬分注部１９は、テーブルユニット９にセットされている試薬容器９Ｂから試薬を所定の量だけ吸引し、加温ピペット１９Ｅで吸引した試薬を所定の温度（約３７℃）まで加温した後、加温ピペット１９Ｅを後述する検出部２１の上方にある試薬混合位置２２Ｂまで移動させ、試薬を試薬混合位置２２Ｂに移送されてきたキュベット８内に吐出する。
【００３３】
図２に示すように、前記テーブルユニット９の左後側には、加温テーブル１７が設けられている。この加温テーブル１７は、円板状の回転テーブルであり、円周方向に回転することが可能なように構成されている。また、この加温テーブル１７の上面には、円周方向に沿って複数のキュベット収納穴１７Ａが設けられている。加温テーブル１７の近傍には図示しないキュベット移送部が設けられており、このキュベット移送部によってテーブルユニット９にセットされたキュベット８が移送され、キュベット収納穴１７Ａにセットされる。
【００３４】
図６は、加温テーブル１７の構成を示す側面断面図であり、図７は、その平面図である。図６に示すように、加温テーブル１７の下部には、アルミニウム合金製の加温部１７Ｂが設けられており、加温部１７Ｂ及び後述するヒータ１７Ｃの周囲は、合成樹脂製のカバー１７Ｅで覆われている。この加温部１７Ｂの下部には、当該加温部１７Ｂを加熱することが可能なようにヒータ１７Ｃが密着して設けられている。このヒータ１７Ｃは、シリコンゴムシート内にニッケル合金抵抗体を設けた円環板状の発熱体であり、その周囲はガラスクロスで覆われたいわゆるシリコンラバーヒータである。図７に示すように、このヒータ１７Ｃは、円板状の２つの部材が上下に配置されて構成された加温部１７Ｂに同軸的に取り付けられており、丁度、各キュベット収納穴１７Ａの直下にヒータ１７Ｃが位置するようになっている。これにより、このヒータ１７Ｃが熱を発生すると、熱伝導性のよいアルミニウム合金製である加温部１７Ｂに、ヒータ１７Ｃの熱が速やかに伝わっていく。この加温部１７Ｂの周囲は合成樹脂製のカバー１７Ｅで覆われているため、加温部１７Ｂの外部へ熱が発散しにくく、キュベット収納穴１７Ａに収納されたキュベット８内の検体及び試料を効率的に加熱することが可能である。また、図６に示すように、この加温部１７Ｂの内部にはサーミスタ１７Ｄが設けられている。かかるサーミスタ１７Ｄは、キュベット収納穴１７Ａの近傍位置に配置されており、サーミスタ１７Ｄによってキュベット収納穴１７Ａにセットされたキュベット８内の液体の温度を計測することができるようになっている。また、ヒータ１７Ｃは、前述のヒータ１８Ｈと同様に、制御部２５によって温度制御され、これによりキュベット収納穴１７Ａにセットされたキュベット８内の液体（検体又は試料）が所定温度（３７℃）に加温される。加温後のキュベット８は、前述したキュベット移送部によってキュベット収納穴１７Ａから取り出され、試薬混合位置２２Ｂまで移送される。その後、試薬分注部１８によってかかるキュベット８内に試薬が吐出され、キュベット移送部によりキュベット８内の液体が撹拌混合されて試料が作成される。その後、キュベット移送部が再度キュベット収納穴１７Ａにこのキュベット８をセットする。
【００３５】
図２に示すように、かかる加温テーブル１７の右側には、検出部２１が設けられている。この検出部２１は、概ね立方体状に形成されており、その上面には、左右方向に沿って１０個の分析穴２１Ａが２列に並べて設けられている。また、検出部２１の近傍には、図示しないキュベット移送部が設けられており、このキュベット移送部によって、試料を収容したキュベット８が加温テーブル１７から試薬混合位置２２Ｂまで移送される。その後、試薬分注部１９によってかかるキュベット８内に試薬が吐出され、キュベット移送部によりキュベット８内の試料が撹拌混合される。その後、キュベット移送部がこのキュベット８を分析穴２１Ａにセットする。
【００３６】
図８は、検出部２１の構成を示す平面図である。図８に示すように、検出部２１は、直方体ブロック状をなすアルミニウム合金製の加温部２１Ｄの外側を熱伝導率の低い合成樹脂製のカバー２１Ｅで覆った構成となっている。加温部２１Ｄには、上述した分析穴２１Ａが設けられており、この分析穴２１Ａはカバー２１Ｅで覆われておらず、加温部２１Ｄのアルミニウム合金の表面が露出している。また、検出部２１の内部には、キュベット８内の試料を加温するための長板状のヒータ２１Ｂが設けられている。このヒータ２１Ｂは、ヒータ１７Ｃと同様なシリコンラバーヒータであり、前列に設けられた１０個の分析穴２１Ａと後列に設けられた１０個の分析穴２１Ａとの間に左右方向に延びるように配置されている。上述した加温テーブル１７と同様に、アルミニウム合金製の加温部２１Ｄには、ヒータ２１Ｂの熱が速やかに伝わり、カバー２１Ｅによって加温部２１Ｄの外部へ熱が発散しにくく、分析穴２１Ａに収納されたキュベット８内の検体及び試料を効率的に加熱することが可能な構造となっている。また、この加温部２１Ｄにはサーミスタ２１Ｃが設けられている。このサーミスタ２１Ｃは、前列の分析穴２１の近傍に配置されており、サーミスタ２１Ｃによって分析穴２１Ａにセットされたキュベット８内の液体の温度を計測することができるようになっている。前記ヒータ２１Ｂは、制御部２５によって温度制御され、これにより分析穴２１Ａにセットされたキュベット８内の液体（試料）が所定温度（３７℃）に加温される。また、検出部２１は、その内部に発光ダイオード及びハロゲンランプからなる光源（図示せず）及びフォトダイオードからなる受光素子（図示せず）を備えている。検出部２１は、光源から分析穴２１Ａに収納されたキュベット８内の試料に向かって光を照射して、受光部で試料からの散乱光や透過光等を受け、受光信号として制御部２５に送信する。
【００３７】
分析が終了したキュベット８は、前述した移送部によって分析穴２１Ａから取り出され、テーブルユニット９の収納穴１０にセットされる。また、前記テーブルユニット９の右側には、キュベット排出部２４が設けられている。キュベット移送部２３は、テーブルユニット９にセットされている分析が終了したキュベット８を移送し、キュベット排出部２４へ廃棄する。
【００３８】
次に、制御部２５の構成について説明する。図９は、測定部２の構成を示すブロック図である。図９に示すように、制御部２５は、フラッシュメモリカードリーダ２６と、ＣＰＵ２７と、メモリ２８と、波形処理部２９と、動作制御部３１と、通信部３３とを備えている。ＣＰＵ２７と、フラッシュメモリカードリーダ２６、メモリ２８、波形処理部２９、動作制御部３１及び通信部３３は、相互にデータ伝送が可能であるようにデータ伝送線を介して接続されている。これにより、ＣＰＵ２７は、フラッシュメモリカードリーダ２６、メモリ２８に対するデータの読み出し及び書込み、並びに波形処理部２９及び動作制御部３１に対するデータの送受信が可能となっている。
【００３９】
フラッシュメモリカードリーダ２６は、フラッシュメモリカード２６Ａに記録されたデータの読み出しに使用される。フラッシュメモリカード２６Ａは、フラッシュメモリ（図示せず）を有しており、外部から電力を供給されなくても、データを保持することができるようになっている。また、フラッシュメモリカード２６Ａには、ＣＰＵ２７に実行されるコンピュータプログラム及びこれに用いるデータ等が記録されており、リアルタイムオペレーティングシステムがインストールされている。かかるオペレーティングシステムは、ソフトウェアクロックの機能を備えており、時刻を計測することが可能である。なお、制御部２５にハードウェアクロックを設け、当該ハードウェアクロックにより時刻を計測することとしてもよいことはいうまでもない。
【００４０】
また、フラッシュメモリカード２６には、後述する劣化判定動作で使用する劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１、劣化判定終了温度Ｋｓｅｔ２、故障判定時間Ｔｏｖｅｒ１，Ｔｏｖｅｒ２が記録されている。以下の説明においては、劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１を２５℃、劣化判定終了温度Ｋｓｅｔ２を３０℃、故障判定時間Ｔｏｖｅｒ１を１５分、故障判定時間Ｔｏｖｅｒ２を１０分とするが、これに限定されるものではなく、他の値としてもよいことはいうまでもない。特に、故障判定時間Ｔｏｖｅｒ１，Ｔｏｖｅｒ２は、ヒータの加温対象の熱容量、Ｋｓｅｔ１，Ｋｓｅｔ２の設定値等を勘案して設定される。
【００４１】
ＣＰＵ２７は、図示しないＲＯＭに記録されたコンピュータプログラム及びメモリ２８にロードされたコンピュータプログラムを実行することが可能である。メモリ２８は、ＳＲＡＭまたはＤＲＡＭ等によって構成されており、フラッシュメモリカード２６Ａに記録されているコンピュータプログラムの読み出しに用いられる。また、コンピュータプログラムを実行するときに、ＣＰＵ２７の作業領域及びデータの格納領域として利用される。
【００４２】
動作制御部３１は、モータ、電磁弁、冷却装置等のデバイスを駆動するためのドライバ回路を有しており、ＣＰＵ２７が実行するプログラムに基づいて、テーブルユニット９、キュベット供給部１２、キュベット移送部１３、２３、緩衝液収容部１４、検体分注部１５、１６、加温テーブル１７、試薬分注部１８、１９及び検出部２１の動作制御を行うようになっている。また、かかる動作制御部３１には、温度制御回路３１ａが設けられており、この温度制御回路３１ａによってヒータ１７Ｃ、１８Ｈ、１９Ｈ、２１Ｂの温度制御を行うことが可能である。温度制御回路３１ａは、加温テーブル１７に設けられたヒータ１７Ｃ及びサーミスタ１７Ｄ、試薬分注部１８、１９に設けられたヒータ１８Ｈ、１９Ｈ及びサーミスタ１８Ｇ、１９Ｇ、検出部２１に設けられたヒータ２１Ｂ及びサーミスタ２１Ｃ、並びに測定部２の周囲温度を計測するためのサーミスタ２５Ａと夫々配線コード等を介して接続されており、サーミスタ１７Ｄ，１８Ｇ，１９Ｇ，２１Ｃ，２５Ａの検出信号を夫々受信し、ヒータ１７Ｃ、１８Ｈ、１９Ｈ、２１Ｂに制御信号を送信するようになっている。かかる温度制御回路３１ａは、サーミスタ１７Ｄ，１８Ｇ，１９Ｇ，２１Ｃ夫々の検出温度と、予め設定された目標温度（３７℃）とに基づいて、ヒータ１７Ｃ、１８Ｈ、１９Ｈ、２１Ｂに与えるパルス電圧信号を生成する。かかるパルス電圧信号はＰＩＤ制御によりパルス幅が決定され、これにより、ヒータ１７Ｃ、１８Ｈ、１９Ｈ、２１Ｂに与えられる電流が制御（ＰＷＭ制御）される。
【００４３】
サーミスタ２５Ａは、ヒータや冷却装置による温度の影響を受けない測定部２の内部部位に設けられている。このサーミスタ２５Ａによって、測定部２の周囲温度（外部環境温度、室温）を計測することが可能である。
【００４４】
通信部３３は、例えば、Ethernet（登録商標）インタフェースであり、測定部２は、当該通信部３３により、所定の通信プロトコルを使用して、データ処理部４との間でデータの送受信が可能である。
【００４５】
この波形処理部２９と検出部２１とは、信号伝送ケーブルを介して接続されており、検出部２１から出力された受光信号を波形処理部２９に与えられるようになっている。波形処理部２９は、かかる受光信号を信号処理し、この信号処理結果がＣＰＵ２７に与えられる。ＣＰＵ２７は、当該信号処理結果に基づいて、検体の凝固時間、吸光度変化量等を算出し、これらの測定結果データを通信部３３を通じてデータ処理部４へ送信する。
【００４６】
次に、データ処理部４の構成について説明する。図１０は、本発明の実施の形態１に係る分析装置１が有するデータ処理部４の構成を示すブロック図である。データ処理部４は、本体４１と、表示部４２と、入力部４３とを有するコンピュータによって構成されている。本体４１は、ＣＰＵ４１Ａと、ＲＯＭ４１Ｂと、ＲＡＭ４１Ｃと、ハードディスク４１Ｄと、読出装置４１Ｅと、入出力インタフェース４１Ｆと、通信インタフェース４１Ｇと、画像出力インタフェース４１Ｈとを備えており、ＣＰＵ４１Ａ、ＲＯＭ４１Ｂ、ＲＡＭ４１Ｃ、ハードディスク４１Ｄ、読出装置４１Ｅ、入出力インタフェース４１Ｆ、通信インタフェース４１Ｇ、および画像出力インタフェース４１Ｈは、データ伝送用のバス４１Ｉによって接続されている。
【００４７】
ＣＰＵ４１Ａは、ＲＯＭ４１Ｂに記憶されているコンピュータプログラムおよびＲＡＭ４１Ｃにロードされたコンピュータプログラムを実行することが可能である。そして、後述するようなコンピュータプログラムを当該ＣＰＵ４１Ａが実行することにより、当該コンピュータがデータ処理部４として機能する。
【００４８】
ＲＯＭ４１Ｂは、マスクＲＯＭ、ＰＲＯＭ、ＥＰＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ等によって構成されており、ＣＰＵ４１Ａに実行されるコンピュータプログラムおよびこれに用いるデータ等が記録されている。
【００４９】
ＲＡＭ４１Ｃは、ＳＲＡＭまたはＤＲＡＭ等によって構成されている。ＲＡＭ４１Ｃは、ＲＯＭ４１Ｂおよびハードディスク４１Ｄに記録されているコンピュータプログラムの読み出しに用いられる。また、これらのコンピュータプログラムを実行するときに、ＣＰＵ４１Ａの作業領域として利用される。
【００５０】
ハードディスク４１Ｄは、オペレーティングシステムおよびアプリケーションプログラム等、ＣＰＵ４１Ａに実行させるための種々のコンピュータプログラムおよび当該コンピュータプログラムの実行に用いるデータがインストールされている。
【００５１】
また、ハードディスク４１Ｄには、後述するヒータの劣化判定動作で使用する履歴データベースＤＢ４１が設けられている。図１１は、履歴データベースＤＢ４１の一例を示す模式図である。この履歴データベースＤＢ４１は、リレーショナルデータベースであり、劣化率フィールド４１ａと判定時刻フィールド４１ｂとを有している。かかる劣化率フィールド４１ａには、劣化率が格納され、判定時刻フィールド４１ｂには、劣化率を判定した時刻（日時）が格納される。１つのレコードの劣化率と判定時刻とは対応付けられており、これによってＣＰＵ４１Ａは劣化率と当該劣化率が判定された時刻とを取得することができるようになっている。
【００５２】
読出装置４１Ｅは、フレキシブルディスクドライブ、ＣＤ−ＲＯＭドライブ、またはＤＶＤ−ＲＯＭドライブ等によって構成されており、可搬型記録媒体４４に記録されたコンピュータプログラムまたはデータを読み出すことができる。また、可搬型記録媒体４４には、コンピュータをデータ処理装置４として機能させるためのコンピュータプログラムが格納されており、ＣＰＵ４１Ａが当該可搬型記録媒体４４から本発明に係るコンピュータプログラムを読み出し、当該コンピュータプログラムをハードディスク４１Ｄにインストールすることが可能である。
【００５３】
なお、前記コンピュータプログラムは、可搬型記録媒体４４によって提供されるのみならず、電気通信回線（有線、無線を問わない）によってデータ処理部４と通信可能に接続された外部の機器から前記電気通信回線を通じて提供することも可能である。例えば、前記コンピュータプログラムがインターネット上のサーバコンピュータのハードディスク内に格納されており、このサーバコンピュータにデータ処理部４がアクセスして、当該コンピュータプログラムをダウンロードし、これをハードディスク４１Ｄにインストールすることも可能である。
【００５４】
また、ハードディスク４１Ｄには、例えば米マイクロソフト社が製造販売するWindows（登録商標）等のグラフィカルユーザインタフェース環境を提供するオペレーティングシステムがインストールされている。かかるオペレーティングシステムは、ソフトウェアクロックの機能を備えており、時刻を計測することが可能である。なお、当該コンピュータにハードウェアクロックを設け、当該ハードウェアクロックにより時刻を計測することとしてもよいことはいうまでもない。以下の説明においては、本実施の形態１に係るコンピュータプログラムは当該オペレーティングシステム上で動作するものとしている。
【００５５】
入出力インタフェース４１Ｆは、例えばＵＳＢ，ＩＥＥＥ１３９４，ＲＳ２３２Ｃ等のシリアルインタフェース、ＳＣＳＩ，ＩＤＥ，ＩＥＥＥ１２８４等のパラレルインタフェース、およびＤ／Ａ変換器、Ａ／Ｄ変換器等からなるアナログインタフェース等から構成されている。入出力インタフェース４１Ｆには、キーボードおよびマウスからなる入力部４３が接続されており、ユーザが当該入力部４３を使用することにより、データ処理部４にデータを入力することが可能である。
【００５６】
通信インタフェース４１Ｇは、例えばEthernet（登録商標）インタフェースであり、データ処理部４は、当該通信インタフェース４１Ｇにより、所定の通信プロトコルを使用して測定部２との間でデータの送受信が可能である。
【００５７】
画像出力インタフェース４１Ｈは、ＬＣＤまたはＣＲＴ等で構成された表示部４２に接続されており、ＣＰＵ４１Ａから与えられた画像データに基づいた映像信号を表示部４２に出力するようになっている。表示部４２は、入力された映像信号にしたがって、画面表示を行う。
【００５８】
次に、本発明の実施の形態１に係る分析装置のヒータ劣化判定動作について説明する。まず、測定部２のヒータ劣化判定に関する動作について説明する。前述したように測定部２の制御部２５内に設けられたフラッシュメモリカード２６Ａには、本発明の実施の形態１に係るヒータ劣化判定のコンピュータプログラムが記憶されている。このコンピュータプログラムは、測定部２の起動時に、フラッシュメモリカードリーダ２６から読み出され、メモリ２８にロードされて、ＣＰＵ２７が実行するようになっている。このコンピュータプログラムをＣＰＵ２７が実行することによって、測定部２は、以下のように動作する。なお、以下には、ヒータ１７Ｃに対する劣化判定を行う場合の測定部２の動作について説明するが、他のヒータ１８Ｈ，１９Ｈ，２１Ｂについても同様の劣化判定動作が実行される。
【００５９】
図１２は、実施の形態１に係る測定部２によるヒータの劣化判定動作の流れを示すフローチャートである。図１２に示すように、測定部２のＣＰＵ２７は、フラッシュメモリカード２６Ａに記録されたヒータ劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１、ヒータ劣化判定終了温度Ｋｓｅｔ２、及び故障判定時間Ｔｏｖｅｒ１、Ｔｏｖｅｒ２をフラッシュメモリカード２６Ａから読み出し、メモリ２８に格納する（ステップＳ１）。ＣＰＵ２７は、ソフトウェアクロック（システムクロック）を参照してその時点の時刻Ｔ１を取得し（ステップＳ２）、サーミスタ１７Ｄの温度Ｋ１を取得する（ステップＳ３）。
【００６０】
次に、ＣＰＵ２７は、温度Ｋ１とヒータ劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１とを比較する（ステップＳ４）。温度Ｋ１がヒータ劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１より大きい場合には（ステップＳ４でＮｏ）、ＣＰＵ２７は処理を終了する。このように、サーミスタ１７Ｄの温度が劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１より高い場合は、測定部２はヒータ１７Ｃの劣化判定動作を実行しない。これは、例えば、長時間使用されて十分に加温テーブル１７の加温部１７Ｂ（又は、試薬分注部１８、１９の加温ピペット１８Ｅ、１９Ｅ、検出部２１の加温部２１Ｄ）が加温されている状態で、測定装置２が再起動をかけられたり、測定装置２が一旦停止され、その直後に起動されたりすると、サーミスタ１７Ｄ（又はサーミスタ１８Ｇ、１９Ｇ、２１Ｃ）の検出温度が十分に高く、僅かな時間だけヒータ１７Ｃ（又はヒータ１８Ｈ，１９Ｈ，２１Ｂ）を動作させただけで目標温度に到達してしまうことから、正確に劣化の判定を行うことができないためである。
【００６１】
ステップ４において、温度Ｋ１が劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１以下である場合には（ステップＳ４でＹｅｓ）、ＣＰＵ２７は、温度Ｋ１と劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１とが等しいか否かを判別する（ステップＳ５）。ここで、温度Ｋ１と劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１とが異なる場合には（ステップＳ５でＮｏ）、ＣＰＵ２７は、システムクロックからその時点の時刻Ｔ２を取得し（ステップＳ６）、かかる時刻Ｔ２と時刻Ｔ１との差を求め、初期経過時間Ｔｏｎ１を算出する（ステップＳ７）。また、ＣＰＵ２７は、ステップＳ７で算出した初期経過時間Ｔｏｎ１と故障判定時間Ｔｏｖｅｒ１とを比較し（ステップＳ８）、初期経過時間Ｔｏｎ１が故障判定時間Ｔｏｖｅｒ１未満である場合には（ステップＳ８でＮｏ）、ステップＳ３に処理を戻して、温度Ｋ１が劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１と一致しない限りステップＳ３〜Ｓ８の処理を繰り返す。このループ処理において、初期経過時間Ｔｏｎ１は順次更新されるため、温度Ｋ１が劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１に至るまでの経過時間が計測されることとなる。そして、ステップＳ８において初期経過時間Ｔｏｎ１が故障判定時間Ｔｏｖｅｒ１以上である場合には（ステップＳ８でＹｅｓ）、長時間をかけても（つまり、加温開始から１５分経過しても）加温部１７Ｂが十分に加温されず（つまり、加温部１７Ｂの温度が２５℃に至らず）、ヒータ１７Ｃに故障が発生しているとみなして、ＣＰＵ２７は、初期経過時間Ｔｏｎ１が故障判定時間を超過したことを示す第１故障通知データをデータ処理部４へ送信し（ステップＳ９）、処理を終了する。
【００６２】
ステップＳ８において、温度Ｋ１と劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１とが等しい場合には（ステップＳ５でＹｅｓ）、ＣＰＵ２７は、システムクロックからその時点の時刻Ｔ３を取得する（ステップＳ１０）。次いで、ＣＰＵ２７は、再度システムクロックから時刻Ｔ４を取得し（ステップＳ１１）、この時刻Ｔ４と時刻Ｔ３との差を求め、経過時間Ｔｏｎ２を算出する（ステップＳ１２）。次に、ＣＰＵ２７は、サーミスタ１７Ｄの温度Ｋ２を取得し（ステップＳ１３）、この温度Ｋ２と劣化判定終了温度Ｋｓｅｔ２とを比較する（ステップＳ１４）。
【００６３】
温度Ｋ２が劣化判定終了温度Ｋｓｅｔ２と異なる場合には（ステップＳ１４でＮｏ）、ＣＰＵ２７は、ステップＳ１２で算出した経過時間Ｔｏｎ２と故障判定時間Ｔｏｖｅｒ２とを比較する（ステップＳ１５）。ここで経過時間Ｔｏｎ２が故障判定時間Ｔｏｖｅｒ２未満である場合には（ステップＳ１５でＮｏ）、ステップＳ１１に処理を戻して、温度Ｋ２が劣化判定終了温度Ｋｓｅｔ２と一致しない限りステップＳ１１〜Ｓ１５の処理を繰り返す。このループ処理において、経過時間Ｔｏｎ２は順次更新されるため、温度Ｋ２が劣化判定終了温度Ｋｓｅｔ２に至るまでの経過時間が計測されることとなる。そして、経過時間Ｔｏｎ２が故障判定時間Ｔｏｖｅｒ２以上である場合には（ステップＳ１５でＹｅｓ）、長時間をかけても（つまり、加温部１７Ｂが２５℃に達してから１０分経過しても）加温部１７Ｂが十分に加温されず（つまり、加温部１７Ｂの温度が３０℃に至らず）、ヒータ１７Ｃに故障が発生しているとみなして、ＣＰＵ２７は、経過時間Ｔｏｎ２が故障判定時間を超過したことを示す第２故障通知データをデータ処理部４へ送信し（ステップＳ１６）、処理を終了する。
【００６４】
ステップＳ１４において、温度Ｋ２と劣化判定終了温度Ｋｓｅｔ２とが等しい場合には（ステップＳ１４でＹｅｓ）、ＣＰＵ２７は、サーミスタ１７Ｄの検出温度が劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１から劣化判定終了温度Ｋｓｅｔ２まで上昇する間の経過時間Ｔｏｎ２をデータ処理部４へ送信し（ステップＳ１７）、処理を終了する。
【００６５】
次に、データ処理部４のヒータ劣化判定に関する動作について説明する。データ処理部４は、本体４１内のハードディスク４１Ｄに、本発明に係るヒータ故障判定のコンピュータプログラムを記憶している。このコンピュータプログラムは、ＣＰＵ４１Ａによってハードディスク４１Ｄから読み出され、ＲＡＭ４１Ｃにロードされて、ＣＰＵ４１Ａが実行するようになっている。このコンピュータプログラムをＣＰＵ４１Ａが実行することによって、データ処理部４は、以下のように動作する。
【００６６】
図１３及び図１４は、実施の形態１に係るデータ処理部４によるヒータの劣化判定に関する動作の流れを示すフローチャートである。まず、データ処理部４のＣＰＵ４１Ａは、測定部２から送信されたデータの受信を待機する（ステップＳ１８）。ステップＳ１８において、測定部２から受信したデータが第１故障通知データ又は第２故障通知データであった場合には（ステップＳ１８において「故障通知データ」）、ＣＰＵ４１Ａは、ヒータの交換を促すヒータ交換通知ウィンドウ４２Ａを表示部４２に表示させ（ステップＳ１９）、その後、処理を終了する。図１５は、ヒータ交換通知ウィンドウ４２Ａの一例を示す模式図である。図１５に示すように、ヒータ交換通知ウィンドウ４２Ａには、「ヒータの故障が発生しました」、「ヒータが所定時間を過ぎても設定温度に到達しませんでした。ヒータが故障していますので、すみやかにヒータを交換してください」といったメッセージが表示される。このようにヒータ交換通知ウィンドウ４２Ａには、ヒータが故障しており、交換が必要な旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像等が表示される。このようにすることにより、従来必要であったヒータの故障判定の手間を作業者に負担させることなく、ヒータが故障している否かを自動的に判定することが可能となる。ユーザ・作業者は、かかるヒータ交換通知ウィンドウ４２Ａを確認するだけで、ヒータに故障が発生したことを知ることができ、ヒータの交換に必要な手配を迅速に進めることができる。なお、ヒータを特定する型番や、ヒータの交換箇所を示す画像、またはヒータの交換手順を案内する画像・メッセージを同時に表示することとしてもよい。このようにすることにより、より一層ヒータの交換作業が容易となる。
【００６７】
一方、ステップＳ１８において、測定部２から受信したデータが経過時間Ｔｏｎ２であった場合には（ステップＳ１８において「経過時間データ」）、データ処理部４のＣＰＵ４１Ａは、ヒータ１７Ｃの劣化率を判定する（ステップＳ２０）。ステップＳ２０の処理においては、ヒータの加温時間（ここでは、サーミスタ１７Ｄの検出温度（つまり、加温部１７Ｂの温度）が２５℃から３０℃まで上昇するのに要した経過時間Ｔｏｎ２）とヒータの劣化率との関係を示す劣化率テーブル５０が用いられる。図１６は、劣化率テーブル５０の一例を示す図である。図１６に示すように、劣化率テーブル５０は、複数の加温時間の範囲と、劣化率とが対応付けられたルックアップテーブルである。加温時間が短い場合には、ヒータの加温能力が高いため対応するヒータの劣化率は低く、加温時間が長くなるにしたがって、対応する劣化率は高くなっている。ＣＰＵ４１Ａは、ステップＳ２０の処理では、この劣化率テーブル５０に経過時間Ｔｏｎ２を照合し、経過時間Ｔｏｎ２に対応するヒータの劣化率を取得する。その後、ＣＰＵ４１は、システムクロックからその時点の時刻Ｔ５を取得し（ステップＳ２１）、ステップＳ２０で取得した劣化率と、ステップＳ２１で取得した時刻Ｔ５とを対応付けて、履歴データベースＤＢ４１に格納する（ステップＳ２２）。
【００６８】
次に、ＣＰＵ４１Ａは、データベースＤＢ４１から前回の劣化率判定で得られた劣化率及びその判定時刻、即ち、ステップＳ２２で今回格納したデータの一つ前のデータを履歴データベースＤＢ４１から読み出す（ステップＳ２３）。
【００６９】
ここで、ＣＰＵ４１Ａは、ステップＳ２０で取得した劣化率、即ち今回の劣化率判定で得られた劣化率が３０％未満であるか否かを判別する（ステップＳ２４）。劣化率が３０％未満の場合には（ステップＳ２４でＹｅｓ）、ＣＰＵ４１Ａは、ヒータの劣化状態を通知する劣化状態通知ウィンドウ４２Ｂを表示部４２に表示させ（ステップＳ２５）、処理を終了する。
【００７０】
図１７は、劣化状態通知ウィンドウ４２Ｂの一例を示す模式図である。図１７に示すように、劣化状態通知ウィンドウ４２Ｂには、「ヒータの劣化率は、３０％未満です」、「前回の劣化率は０％で、判定時刻は、３／１２  １３：００でした」、「ヒータの交換は必要ありません」といったメッセージが表示される。このように劣化状態通知ウィンドウ４２Ｂには、今回の劣化率、前回の劣化率、前回の劣化率判定の実施時刻、ヒータの交換が必要のない旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像等が表示される。このようにすることにより、ユーザ・作業者は、劣化状態通知ウィンドウ４２Ｂを確認するだけで、ヒータの交換が必要のないことを把握することができる。また、前回の劣化率とその判定時刻とを表示することにより、ユーザ・作業者はヒータの劣化率の推移を把握することができる。
【００７１】
ステップＳ２４において、劣化率が３０％以上であった場合には（ステップＳ２４でＮｏ）、ＣＰＵ４１Ａは、ヒータの劣化率が５０％未満であるか否かを判別する（ステップＳ２６）。ここで劣化率が５０％未満の場合には（ステップＳ２６でＹｅｓ）、ＣＰＵ４１Ａは、劣化状態通知ウィンドウを表示部４２に表示させる（ステップＳ２７）。かかる劣化状態通知ウィンドウには、今回の劣化率、即ち劣化率が３０％〜５０％未満である旨、前回の劣化率、前回の劣化判定時刻、及びヒータの交換が必要ない旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像等が表示される。ＣＰＵ４１Ａは、かかる劣化状態通知ウィンドウを表示した後、処理を終了する。
【００７２】
ステップＳ２６において、劣化率が５０％以上であった場合には（ステップＳ２６でＮｏ）、ＣＰＵ４１Ａは、ヒータの劣化率が７０％未満か否かを判別し（ステップＳ２８）、劣化率が７０％未満の場合には（ステップＳ２８でＹｅｓ）、前回の劣化率が５０％未満であるか否かを判別する（ステップＳ２９）。ここで、前回の劣化率が５０％未満である場合には（ステップＳ２９でＹｅｓ）、劣化率が前回より悪化していることから、ヒータの劣化が進行している、又はヒータに何らかの異常が発生していると判断することができる。そこで、かかる場合には、ＣＰＵ４１Ａは、ヒータの交換を促すヒータ交換通知ウィンドウ４２Ｃを表示部４２に表示させ（ステップＳ３０）、処理を終了する。
【００７３】
図１８は、ヒータ交換通知ウィンドウ４２Ｃの構成を示す模式図である。図１８に示すように、ヒータ交換通知ウィンドウ４２Ｃには、「ヒータの劣化率は、５０〜７０％未満です」、「前回の劣化率は３０％未満で、判定時刻は、３／２５  １３：００でした」、「ヒータを交換する必要があります」といったメッセージが表示される。このようにヒータ交換通知ウィンドウ４２Ｃには、今回の劣化率、前回の劣化率、前回の劣化率判定の実施時刻、ヒータの交換が必要な旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像等が表示される。このようにすることにより、作業者は、ヒータ交換通知ウインドウ４２Ｃを確認するだけで、ヒータの交換が必要なことを把握することができ、ヒータの交換に必要な手配を迅速に進めることができる。また、前回の劣化率とその判定時刻とを表示しているので、ユーザ・作業者はヒータの劣化率の推移を把握することができる。
【００７４】
一方、ステップＳ２９において、前回の劣化率が５０％以上である場合には（ステップＳ２９でＮｏ）、劣化率が前回から概ね変化していないことから、ヒータの劣化の進行は殆どなく、ヒータは正常であると判断することができる。そこで、かかる場合には、ＣＰＵ４１Ａは、今回の劣化率（５０％〜７０％）、前回の劣化率（５０％以上）、前回の劣化判定時刻、及びヒータの交換が必要でない旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像を含んだ劣化状態通知ウィンドウを表示部４２に表示させ（ステップＳ３１）、処理を終了する。
【００７５】
また、ステップＳ２８において、今回の劣化率が７０％以上の場合には（ステップＳ２８でＮｏ）、ＣＰＵ４１Ａは、ヒータの劣化率が８０％未満であるか否かを判別する（ステップＳ３２）。ここで、劣化率が８０％未満の場合には（ステップＳ３２でＹｅｓ）、ＣＰＵ４１Ａは、前回の劣化率が７０％未満か否かを判別する（ステップＳ３３）。
【００７６】
前回の劣化率が７０％未満である場合には（ステップＳ３３でＹｅｓ）、劣化率が前回より悪化していることから、ヒータの劣化が進行している、又はヒータに何らかの異常が発生していると判断することができる。そこで、かかる場合には、ＣＰＵ４１Ａは、今回の劣化率（７０％〜８０％）、前回の劣化率（７０％未満）、前回の劣化判定時刻、及びヒータの交換が必要な旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像を含んだヒータ交換通知ウィンドウを表示部４２に表示させ（ステップＳ３４）、処理を終了する。
【００７７】
一方、ステップＳ３３において前回の劣化率が７０％以上である場合には（ステップＳ３３でＮｏ）、劣化率が前回から概ね変化していないことから、ヒータの劣化の進行は遅く、しばらくの間はヒータを正常に使用することができると判断することができる。そこで、かかる場合には、ＣＰＵ４１Ａは、今回の劣化率（５０％〜７０％）、前回の劣化率（５０％以上）、前回の劣化判定時刻、及びヒータの交換が必要でない旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像を含んだ劣化状態通知ウィンドウを表示部４２に表示させ（ステップＳ３５）、処理を終了する。
【００７８】
また、ステップＳ３２において、今回の劣化率が８０％以上の場合には（ステップＳ３２でＮｏ）、ヒータの劣化が進んでおり、近い将来ヒータが正常に機能しなくなることが予想される。したがって、かかる場合には、ＣＰＵ４１Ａは、今回の劣化率（８０％以上）、及びヒータの交換が必要な旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像を含んだヒータ交換通知ウィンドウを表示部４２に表示させ（ステップＳ３６）、処理を終了する。このようにすることにより、従来必要であったヒータの交換判定の手間を作業者に負担させることなく、ヒータを交換する必要があるか否かを自動的に判定することが可能となる。ユーザ・作業者は、かかるヒータ交換通知ウィンドウを確認するだけで、ヒータの交換に必要な手配を迅速に進めることができる。なお、ヒータを特定する型番や、ヒータの交換箇所を示す画像、またはヒータの交換手順を案内する画像・メッセージを同時に表示することとしてもよい。このようにすることにより、より一層ヒータの交換作業が容易となる。
【００７９】
なお、本実施の形態１に係る分析装置１においては、サーミスタ１７Ｃの検出温度（加温部１７Ｂの温度）が２５℃から３０℃まで上昇するのに要した経過時間に基づいて劣化判定を行う構成について述べたが、これに限定されるものではなく、他の温度範囲（例えば、２０℃〜３０℃）だけ加温部１７Ｂが温度上昇するのに要する時間に基づいてヒータの劣化判定を行う構成としてもよいし、ヒータの加温開始から所定温度（例えば５℃）だけ温度上昇するのに要する時間に基づいてヒータの劣化判定を行う構成としてもよい。
【００８０】
また、以上説明した実施の形態１に係る分析装置１においては、複数の加温時間の範囲と劣化率とが対応付けられた劣化率テーブル５０に加温時間を照合し、当該加温時間に対応する劣化率を求める構成について述べたが、これに限定されるものではなく、例えば、加温時間が５〜６分で、周囲温度が１０〜１５℃の場合の劣化率は５０％というように、複数の加温時間の範囲と、複数の周囲温度の範囲とに劣化率を対応付けたテーブルを用意し、測定した加温時間と周囲温度とを当該テーブルに照合し、対応する劣化率を求める等、上記以外の加温時間と劣化率との関係に基づいて劣化率を判定する構成としてもよい。
（実施の形態２）
本実施の形態２に係る分析装置の構成は、フラッシュメモリカード２６Ａ及びデータ処理部４のハードディスク４１Ｄに格納されているコンピュータプログラムを除いて実施の形態１に係る分析装置の構成と略同様であるので、同一構成要素については同一符号を付し、その説明を省略する。以下、本発明の実施の形態２に係る分析装置の動作についてのみ説明する。
【００８１】
図１９は、実施の形態２に係る測定部２によるヒータの劣化判定動作の流れを示すフローチャートである。測定部２の動作のうち、実施の形態１で説明したステップＳ１〜Ｓ１６までの処理は同様であるので説明を省略する。ステップＳ１４において、温度Ｋ２と劣化判定終了温度Ｋｓｅｔ２とが等しい場合には（ステップＳ１４でＹｅｓ）、ＣＰＵ２７は、劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１、劣化判定終了温度Ｋｓｅｔ２、及び経過時間Ｔｏｎ２をデータ処理部４へ送信し（ステップＳ３７）、処理を終了する。
【００８２】
図２０は、実施の形態２に係るデータ処理部４によるヒータの劣化判定に関する動作の流れを示すフローチャートである。データ処理部４のＣＰＵ４１Ａは、測定部２から送信されたデータの受信を待機する（ステップＳ３８）。ステップＳ３８において、測定部２から受信したデータが第１故障通知データ又は第２故障通知データであった場合には（ステップＳ３８において「故障通知データ」）、ＣＰＵ４１Ａは、実施の形態１で説明したヒータ交換通知ウィンドウ４２Ａを表示部４２に表示させ（ステップＳ３９）、その後、処理を終了する。一方、ステップＳ３７において、測定部２から受信したデータが、劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１、劣化判定終了温度Ｋｓｅｔ２、及び経過時間Ｔｏｎ２であった場合には（ステップＳ１８において「温度データ及び時間データ」）、ＣＰＵ４１Ａは、次の式（１）にしたがって、加温部１７Ｂの温度上昇速度Ｖｏｎを算出する（ステップＳ３９）。
【００８３】
Ｖｏｎ=（Ｋｓｅｔ２−Ｋｓｅｔ１）／Ｔｏｎ２・・・（１）
次に、ＣＰＵ４１Ａは、温度上昇速度Ｖｏｎに基づいて、ヒータ１７Ｃの劣化率を判定する（ステップＳ４０）。ステップＳ４０の処理においては、ヒータの加温速度（ここでは、サーミスタ１７Ｄの検出温度（つまり、加温部１７Ｂの温度）が２５℃から３０℃まで上昇したときの温度上昇速度Ｖｏｎ）とヒータの劣化率との関係を示す劣化率テーブルが用いられる。図２１は、劣化率テーブル１５０の一例を示す模式図である。劣化率テーブル１５０は、複数の加温速度の範囲と、劣化率とが対応付けられたルックアップテーブルである。加温速度が高い場合には、ヒータの加温能力が高いため対応するヒータの劣化率は低く、加温速度が低くなるにしたがって、対応する劣化率は高くなっている。ＣＰＵ４１Ａは、ステップＳ４０の処理では、この劣化率テーブル１５０に温度上昇速度Ｖｏｎを照合し、これに対応するヒータの劣化率を取得する。その後、ＣＰＵ４１は、ステップＳ２１へと処理を移す。ステップＳ２１以降の処理は、実施の形態１で説明したものと同様であるので、説明を省略する。
【００８４】
このようにすることにより、ヒータの劣化の程度は、ヒータの温度上昇速度に密接に関係するため、ヒータの加温速度に基づいて、ヒータの劣化の程度を容易かつ正確に判定することができる。また、かかる構成とすることにより、劣化判定に用いる加温速度をヒータ劣化判定開始温度Ｋｓｅｔ１からヒータ劣化判定終了温度判定温度Ｋｓｅｔ２まで上昇する間におけるヒータ上昇速度Ｖｏｎに統一することができるので、様々な周囲温度（外部環境温度）においても正確な劣化の判定が可能となる。
【００８５】
なお、本実施の形態２に係る分析装置１においては、所定の温度範囲における温度上昇速度Ｖｏｎを算出し、かかる温度上昇速度Ｖｏｎに基づいてヒータの劣化判定を行う構成について述べたが、これに限定されるものではなく、例えば、サーミスタ１７Ｄの検出温度を微分回路等の手段を用いて時間微分し、これによって得られた温度変化率、即ち温度上昇速度を用いてヒータの劣化判定を行う構成としてもよいし、所定時間間隔（例えば、サンプリング周期）毎のサーミスタ１７Ｄの検出温度の差分（前回のサンプリングで得られた検出温度と、今回のサンプリングで得られた検出温度との差分）を求め、この結果得られた差分値を温度上昇速度として用いて、ヒータの劣化率判定を行う構成としてもよい。また、所定の温度（例えば２０℃）から開始して所定時間（例えば３分）経過するまでの加温部１７Ｂの温度上昇速度を求め、かかる温度上昇速度に基づいてヒータの劣化判定を行う構成としてもよい。
【００８６】
また、実施の形態１，２に係る分析装置１においては、温度センサにサーミスタを用いる構成について述べたが、これに限定されるものではなく、例えば、熱電対、白金測温抵抗体等の他の温度センサを用いて温度を測定する構成としてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００８７】
本発明に係る分析装置は、ヒータの劣化の程度を自動的に判定し、作業者の負担となる煩雑な手間を削減することができる等、本発明は優れた効果を奏し、検体と試薬とから調製された試料を分析する分析装置として有用である。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】分析装置１の構成を示す概略図である。
【図２】測定部２及び搬送部３の構成を示す平面図である。
【図３】キュベット８の外観を示す斜視図である。
【図４】検体分注部１５の構成を示す側面図である。
【図５】試薬分注部１８の構成を示す側面図である。
【図６】加温テーブル１７の構成を示す側面断面図である。
【図７】加温テーブル１７の構成を示す平面図である。
【図８】検出部２１の構成を示す平面図である。
【図９】測定部２の構成を示すブロック図である。
【図１０】データ処理部４の構成を示すブロック図である。
【図１１】履歴データベースＤＢ４１の一例を示す模式図である。
【図１２】実施の形態１に係る測定部２によるヒータの劣化判定動作の流れを示すフローチャートである。
【図１３】実施の形態１に係るデータ処理部４によるヒータの劣化判定に関する動作の流れを示すフローチャートである。
【図１４】実施の形態１に係るデータ処理部４によるヒータの劣化判定に関する動作の流れを示すフローチャートである。
【図１５】ヒータ交換通知ウィンドウ４２Ａの一例を示す模式図である。
【図１６】劣化率テーブル５０の一例を示す図である。
【図１７】劣化状態通知ウィンドウ４２Ｂの一例を示す模式図である。
【図１８】ヒータ交換通知ウィンドウ４２Ｃの構成を示す模式図である。
【図１９】実施の形態２に係る測定部２によるヒータの劣化判定動作の流れを示すフローチャートである。
【図２０】実施の形態２に係るデータ処理部４によるヒータの劣化判定に関する動作の流れを示すフローチャートである。
【図２１】劣化率テーブル１５０の一例を示す模式図である。
【符号の説明】
【００８９】
１  分析装置
２  測定部
３  搬送部
３Ａ 搬送路
４  データ処理部
５  検体容器
６  検体ラック
７  検体供給位置
８  キュベット
９  テーブルユニット
９Ｂ  試薬容器
１０  収納穴
１２  キュベット供給部
１３，２３  キュベット移送部
１４  緩衝液収容部
１５，１６  検体分注部
１８，１９  試薬分注部
１５Ａ，１８Ａ  機構部
１５Ｂ，１８Ｂ  軸
１５Ｃ，１８Ｃ  アーム
１５Ｄ，１８Ｄ  保持具
１５Ｅ，１６Ｅ，１８Ｉ  ピペット
１７  加温テーブル
１７Ａ  キュベット収納穴
１７Ｂ，１８Ｆ，２１Ｄ  加温部
１７Ｃ，１８Ｈ，１９Ｈ,２１Ｂ  ヒータ
１７Ｄ，１８Ｇ，１９Ｇ，２１Ｃ，２５Ａ  サーミスタ
１７Ｅ，２１Ｅ  カバー
１８Ｅ，１９Ｅ  加温ピペット
２０Ｂ，２２Ｂ試薬混合位置２１  検出部
２１Ａ  分析穴
２４  キュベット排出部
２５  制御部
２６  フラッシュメモリカードリーダ
２６Ａ  フラッシュメモリカード
２７  ＣＰＵ
２８  メモリ
２９  波形処理部
３１  動作制御部
３１ａ 温度制御回路
３３  通信部
４１  本体
４１Ａ  ＣＰＵ
４１Ｂ  ＲＯＭ
４１Ｃ  ＲＡＭ
４１Ｄ  ハードディスク
４１Ｆ  入出力インタフェース
４１Ｇ  通信インタフェース
４１Ｈ  画像出力インタフェース
４１Ｉ  バス
ＤＢ４１ 履歴データベース
４１ａ 劣化率フィールド
４１ｂ 判定時刻フィールド
４２  表示部
４２Ａ ヒータ交換通知ウィンドウ
４２Ｂ 劣化状態通知ウィンドウ
４２Ｃ ヒータ交換通知ウィンドウ
４３  入力部
４４ 可搬型記録媒体
５０，１５０ 劣化率テーブル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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