(57)【要約】【課題】超音波探傷装置において欠陥エコー波の受信増幅器の個数が制御要素の数により規定されずに済む利得制御技術を提供する。【解決手段】  ゲイン分配出力回路５２は、メインゲインを最大ゲインまで可変ゲインアンプ５１Ａ側に割り振る。足りない分は可変ゲインアンプ５１Ｂに割り振る。ＢＥＡモードの場合、ＢＥＡレジスタ５５からＢＥＡゲインを読み出す。ＢＥＡ制御電圧発生回路５６はゲート期間について制御電圧５６−１を発生する。加算器５４Ａが５２Ｂに５６−１を加算する。ＴＧＣモードの場合、ＴＧＣレジスタ５７から各種データを読み出す。ＴＧＣ制御電圧発生回路５８は制御電圧５８−１を演算生成する。加算器５４Ｂが５４Ａ−１に５８−１を加算する。制御電圧５２Ａ，５４Ｂ−１により可変ゲインアンプ５１Ａ，５１Ｂのゲインが制御される。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
反射波の受信信号を増幅する可変利得増幅手段の利得を制御する超音波探傷装置における利得制御方法であって、減衰補償モードにあっては超音波の路程による反射波の減衰を補償するための減衰補償利得を演算し、特定期間利得変更モードにあっては特定期間の利得の変更量を規定する特定期間変更利得を取得し、反射波の受信信号に対する利得を規定するための主利得に対し前記減衰補償利得あるいは特定期間変更利得を重畳して前記可変利得増幅手段の利得を規定する利得制御信号を生成することを特徴とする超音波探傷装置における利得制御方法。
【請求項２】
前記可変利得増幅手段は第１および第２の可変利得増幅器から構成されるものとし、前記利得制御信号を生成するにあたって、第１の可変利得増幅器に対して主利得を優先的に分配すると共に、前記減衰補償利得あるいは特定期間変更利得を第２の可変利得増幅器に対して割り当てることを特徴とする請求項１記載の超音波探傷装置における利得制御方法。
【請求項３】
前記減衰補償利得を演算するにあたって、直接反射点および再反射点に係る路程および受信信号の振幅を用いて減衰補償利得の変化量を求め、該変化量を積算することにより減衰補償利得を求めることを特徴とする請求項１または２記載の超音波探傷装置における利得制御方法。
【請求項４】
反射波の受信信号を増幅する可変利得増幅手段と、反射波の受信信号に対する利得を規定するための主利得を指定する主利得指定手段と、超音波の路程による反射波の減衰を補償するための減衰補償利得を演算する減衰補償利得演算手段と、利得を変更する特定期間の指定および該特定期間の利得変更量を規定するための特定期間変更利得を取得する特定期間指定取得手段とを備えた超音波探傷装置であって、前記主利得に対し減衰補償利得あるいは特定期間変更利得を重畳して前記可変利得増幅手段の利得を規定する利得制御信号を生成する利得制御手段を備えたことを特徴とする超音波探傷装置。
【請求項５】
前記可変利得増幅手段は第１および第２の可変利得増幅器から構成されるものであり、前記利得制御手段は、主利得の第１および第２の可変利得増幅器への分配を設定するものであって第１の可変利得増幅器に対して優先的に分配する主利得分配手段と、前記減衰補償利得あるいは特定期間変更利得を第２の可変利得増幅器に対して割り当てる利得割当手段とを有するものであることを特徴とする請求項４記載の超音波探傷装置。
【請求項６】
前記減衰補償利得演算手段は、直接反射点および再反射点に係る路程および受信信号の振幅を取得する情報取得手段と、前記直接反射点および再反射点間の受信信号の振幅から利得変化量を演算する利得変化量演算手段と、利得変化量を積算することにより減衰補償利得を演算する積算手段とを有するものであることを特徴とする請求項４または５記載の超音波探傷装置。
【請求項７】
反射波の受信信号を増幅する可変利得増幅手段を備えた情報処理端末を対象とし、反射波の受信信号に対する利得を規定するための主利得を指定するステップと、超音波の路程による反射波の減衰を補償するための減衰補償利得を演算するステップと、受信信号に対する特定期間の指定および該特定期間の利得を規定するための特定期間変更利得を取得するステップと、前記主利得に対し減衰補償利得あるいは特定期間変更利得を加算して前記利得制御信号を生成するステップとを実行させることを特徴とする情報出力プログラム。
【請求項８】
前記可変利得増幅手段として第１および第２の可変利得増幅器により構成されるものを備えた情報処理端末を対象とし、前記利得制御信号を生成するステップに、主利得の第１および第２の可変利得増幅器への分配を設定するステップであって第１の可変利得増幅器に対して優先的に分配するステップと、前記減衰補償利得あるいは特定期間変更利得を第２の可変利得増幅器に対して割り当てるステップとを含むことを特徴とする請求項７記載の情報出力プログラム。
【請求項９】
前記減衰補償利得を演算するステップに、直接反射点および再反射点に係る路程および受信信号の振幅を取得するステップと、前記直接反射点および再反射点間の受信信号の振幅から利得変化量を演算するステップと、利得変化量を積算することにより減衰補償利得を演算するステップとを有するものであることを特徴とする請求項７または８記載の情報出力プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、超音波探傷装置において反射波の受信信号の利得を制御する技術に関し、特に超音波の路程による反射波の減衰を補償する減衰補償モードおよび特定期間の利得を変更する特定期間利得変更モードに対応して利得を制御する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
超音波探傷装置は、物体内部の割れや腐食等の欠陥の存在の有無を当該物体を破壊することなく、検査する装置として知られている。一般に超音波探傷装置は、調整用スイッチまたはダイアル等を用いた入力操作によりレシーバアンプの増幅率を調整するメインゲイン設定機能を有し、反射波の波形を画面上に表示する際に検査者が所望する波形振幅に調整できるようになっている。
【０００３】
すなわち欠陥エコー波の波高値は欠陥の大きさを反映しているという特性があり、この特性を利用して欠陥エコー波の波形を画面上で観察して適切な探傷評価を行えるように、メインゲイン値を調整して欠陥エコー波の振幅を十分な大きさに調整する。
【０００４】
また超音波探傷装置は、欠陥エコー波の高さから欠陥の大きさを推測するために有効な支援機能としてＴＧＣ（Ｔｉｍｅ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）機能を有する。ＴＧＣ機能は、時間経過ごとにレシーバアンプの増幅率を上げて信号の減衰を補正する機能である。すなわち、超音波が検査体中を伝播する際、伝搬距離に比例して音圧が減衰していく特性がある。そこでＴＧＣ機能により伝搬距離に応じて信号レベルを補償することにより、位置が異なっても同じ大きさの欠陥であれば同じ大きさに表示されるように信号レベルを補正し、反射波の信号レベルをそのまま評価して欠陥の大きさを直感的に把握できるようにしている。
【０００５】
さらに欠陥エコー波のピーク値が測定できるようにゲインを上げるとピーク値の比較対象である底面エコー波のピークが振り切れてしまう場合、ＢＥＡ（Ｂａｃｋｗａｌｌ  Ｅｃｈｏ  Ａｔｔｅｎｕａｔｉｏｎ）機能を使用し、底面エコー波の近傍にゲートを設定してゲインを変えることにより欠陥エコー波と底面エコー波の両方を表示し、欠陥の大きさを評価することが可能である。
【０００６】
図２は、従来のゲイン制御回路の概略を示すブロック図である。同図に示すように従来、これらの機能を実現するために、メインゲインアンプ５１−１、ＴＧＣゲインアンプ５１−２、ＢＥＡアッテネーション５１−３、ＢＥＡゲインアンプ５１−４、メインゲインアンプ５１−１のゲイン制御電圧を供給するＤ／Ａコンバータ５２−１、ＴＧＣ制御電圧発生回路５８、ＢＥＡ制御電圧発生回路５６という構成になっている。ＢＥＡゲインアンプ５１−４の出力はその後、Ａ／Ｄ変換（図示しない）され、検波やフィルタ処理、座標変換等の信号処理（図示しない）をされてモニタ（図示しない）に表示される。ＢＥＡ機能は、ゲート期間だけゲインを下げるように働く。一方、ＴＧＣは、機能させている期間中にゲインがあがるように働く。なお、ＢＥＡ機能とＴＧＣ機能はそれぞれの使用目的、条件が異なることから併用することはない。
【０００７】
装置全体で必要なメインゲイン値はたとえば８０ｄＢ、ＴＧＣゲインアンプで最大４０ｄＢの補正ゲイン、ＢＥＡで最大−２０ｄＢの補正ゲイン、全アンプ共通して周波数帯域も２０ＭＨｚ以上が必要である。また、市販の広帯域の可変ゲインアンプでは最大４０ｄＢほどしか入手できないので、このような仕様を満足するため、複数の可変ゲインアンプを縦列接続して８０ｄＢを達成している。この種のアンプはゲイン制御電圧０Ｖのときゲインが０ｄＢ、ゲイン制御電圧が１Ｖ変化するにあたり２０ｄＢ増幅率が変化するように設計されている。
【０００８】
図３は、ＴＧＣ補正ゲインを発生するＴＧＣ制御信号発生回路の構成例を示すブロック図である。同図に示すようにＴＧＣ制御信号発生回路５８は、傾き５８３Ｂ−１を格納するレジスタ５７−１、レジスタ５７−１とラッチ５８６の出力値を加算する加算器５８５、加算値をラッチするラッチ５８６、加算器出力値をアナログに変換するＤ／Ａコンバータ５８７からなる。
【０００９】
図２，３を参照して説明するとまず、パルスを発射する前にラッチ５８６のＣＬＥＡＲ機能によりラッチ出力を初期化すると共に、区間Ａの傾き値をレジスタ５７−１にセットする。パルス発射を行ってから、直接反射点までの時間をカウント（図示せず）し、カウント終了すると、ラッチ５８６のクロック端子へのクロック入力を開始することで積算演算が始まり、区間Ａ（図７（ｂ）参照）の補正ゲインを得るようにしている。直接反射点から１回反射点までの時間をカウントし、カウント終了するとレジスタ５７−１に区間Ｂの傾き値をセットする。これにより今後は区間Ｂ（図７（ｂ）参照）の補正ゲインを連続して生成するようになる。なお、加算器出力はＤ／Ａコンバータ５８７にてアナログ信号に変換され、ＡＤ６０４（アナログデバイセス社製）のようにｄＢ−リニアのゲイン特性を持つゲイン可変アンプを使用して構成したレシーバアンプに対するゲイン制御電圧として供給されている。
【００１０】
またＢＥＡ制御電圧発生回路５６は、ＴＧＣ機能がオンの際は０Ｖ（０ｄＢ）出力となるように設計されている。ＢＥＡアッテネーション５１−３のアッテネーション値は常に一定で、ＢＥＡゲインアンプ５１−４で必要な最大ゲイン値を符号反転したものとしてある。例えば、ＢＥＡゲインアンプ５１−４での最大ゲイン値が−２０ｄＢであれば、ＢＥＡアッテネーション値は２０ｄＢになっている。ＢＥＡゲインアンプ５１−４はＢＥＡ制御電圧発生回路５６から出力される制御電圧５６−１に応じて増幅率が決定されるゲイン可変アンプである。
【００１１】
ＢＥＡ機能がオフまたはＢＥＡ機能がＯＮでゲート期間以外のときは、ＢＥＡ制御電圧発生回路５６はＢＥＡゲインアンプ５１−４でゲイン（２０ｄＢ）が得られる制御電圧を出力している。したがってこの場合は、ＢＥＡアッテネーション５１−３とＢＥＡゲインアンプ５１−４と併せて０ｄＢとなっている。ＢＥＡ機能がオンでゲート期間は、最大ゲイン値（２０ｄＢ）から設定されたＢＥＡゲイン値を引いた増幅率が得られるような制御電圧がＢＥＡ制御電圧発生回路５６から出力される。例えば、ＢＥＡゲイン値が５ｄＢだとすると、この場合、ＢＥＡアッテネーション（−２０ｄＢ）とＢＥＡゲインアンプ（２０ｄＢ−５ｄＢ＝１５ｄＢ）で併せて、「−５ｄＢ」となる。これにより、ゲート期間だけ５ｄＢのアッテネーションが行われることになる。
【００１２】
またこの種の従来の技術には特許文献１に記載されるものがある。この同文献には、２段構成のＴＧＣアンプが付いている超音波診断装置であって、同文献中の図９に記載されている通り、それぞれに同じＴＧＣ制御電圧を掛けたり、異なるＴＧＣ制御電圧をそれぞれのＴＧＣアンプに掛けることができる超音波診断装置が提案されている。
【特許文献１】特開平１１−０５６８３８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
上記のように探傷波形を増幅するにあたって、３つの制御要素であるメインゲイン調整、ＴＧＣ機能、ＢＥＡ機能を行うことができる超音波探傷装置では、受信信号は可変ゲインアンプを３段も経由しなければならなかった。
【００１４】
このためＳ／Ｎが悪化する問題があり、しかも部品点数が多くなって回路規模が大きくなる問題があった。特に可変ゲインアンプは広帯域で高ゲインが得られるものである必要があるため、低廉性も阻害される問題もあった。特許文献１に記載される技術には、かかる問題を解決する手段は開示されていない。
【００１５】
この発明は、このような事情に鑑み、超音波探傷装置において増幅器の個数が制御要素の数により規定されずに済む技術を提供し、上記の諸問題点を解消することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記の課題を解決するために、請求項１記載の発明は、反射波の受信信号を増幅する可変利得増幅手段の利得を制御する超音波探傷装置における利得制御方法であって、減衰補償モードにあっては超音波の路程による反射波の減衰を補償するための減衰補償利得を演算し、特定期間利得変更モードにあっては特定期間の利得の変更量を規定する特定期間変更利得を取得し、反射波の受信信号に対する利得を規定するための主利得に対し前記減衰補償利得あるいは特定期間変更利得を重畳して前記可変利得増幅手段の利得を規定する利得制御信号を生成することを特徴とする超音波探傷装置における利得制御方法を提供する。
【００１７】
また請求項２記載の発明は、請求項１記載の超音波探傷装置における利得制御方法において、前記可変利得増幅手段は第１および第２の可変利得増幅器から構成されるものとし、前記利得制御信号を生成するにあたって、第１の可変利得増幅器に対して主利得を優先的に分配すると共に、前記減衰補償利得あるいは特定期間変更利得を第２の可変利得増幅器に対して割り当てることを特徴とする超音波探傷装置における利得制御方法を提供する。
【００１８】
また請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の超音波探傷装置における利得制御方法において、前記減衰補償利得を演算するにあたって、直接反射点および再反射点に係る路程および受信信号の振幅を用いて減衰補償利得の変化量を求め、該変化量を積算することにより減衰補償利得を求めることを特徴とする超音波探傷装置における利得制御方法を提供する。
【００１９】
また請求項４記載の発明は、反射波の受信信号を増幅する可変利得増幅手段と、反射波の受信信号に対する利得を規定するための主利得を指定する主利得指定手段と、超音波の路程による反射波の減衰を補償するための減衰補償利得を演算する減衰補償利得演算手段と、利得を変更する特定期間の指定および該特定期間の利得変更量を規定するための特定期間変更利得を取得する特定期間指定取得手段とを備えた超音波探傷装置であって、前記主利得に対し減衰補償利得あるいは特定期間変更利得を重畳して前記可変利得増幅手段の利得を規定する利得制御信号を生成する利得制御手段を備えたことを特徴とする超音波探傷装置を提供する。
【００２０】
また請求項５記載の発明は、請求項４記載の超音波探傷装置において、前記可変利得増幅手段は第１および第２の可変利得増幅器から構成されるものであり、前記利得制御手段は、主利得の第１および第２の可変利得増幅器への分配を設定するものであって第１の可変利得増幅器に対して優先的に分配する主利得分配手段と、前記減衰補償利得あるいは特定期間変更利得を第２の可変利得増幅器に対して割り当てる利得割当手段とを有するものであることを特徴とする超音波探傷装置を提供する。
【００２１】
また請求項６記載の発明は、請求項４または５記載の超音波探傷装置において、前記減衰補償利得演算手段は、直接反射点および再反射点に係る路程および受信信号の振幅を取得する情報取得手段と、前記直接反射点および再反射点間の受信信号の振幅から利得変化量を演算する利得変化量演算手段と、利得変化量を積算することにより減衰補償利得を演算する積算手段とを有するものであることを特徴とする超音波探傷装置を提供する。
【００２２】
また請求項７記載の発明は、反射波の受信信号を増幅する可変利得増幅手段を備えた情報処理端末を対象とし、反射波の受信信号に対する利得を規定するための主利得を指定するステップと、超音波の路程による反射波の減衰を補償するための減衰補償利得を演算するステップと、受信信号に対する特定期間の指定および該特定期間の利得を規定するための特定期間変更利得を取得するステップと、前記主利得に対し減衰補償利得あるいは特定期間変更利得を加算して前記利得制御信号を生成するステップとを実行させることを特徴とする情報出力プログラムを提供する。
【００２３】
また請求項８記載の発明は、請求項７記載の情報出力プログラムにおいて、前記可変利得増幅手段として第１および第２の可変利得増幅器により構成されるものを備えた情報処理端末を対象とし、前記利得制御信号を生成するステップに、主利得の第１および第２の可変利得増幅器への分配を設定するステップであって第１の可変利得増幅器に対して優先的に分配するステップと、前記減衰補償利得あるいは特定期間変更利得を第２の可変利得増幅器に対して割り当てるステップとを含むことを特徴とする情報出力プログラムを提供する。
【００２４】
また請求項９記載の発明は、請求項７または８記載の情報出力プログラムにおいて、前記減衰補償利得を演算するステップに、直接反射点および再反射点に係る路程および受信信号の振幅を取得するステップと、前記直接反射点および再反射点間の受信信号の振幅から利得変化量を演算するステップと、利得変化量を積算することにより減衰補償利得を演算するステップとを有するものであることを特徴とする情報出力プログラムを提供する。
【発明の効果】
【００２５】
この発明によれば、主利得に対し減衰補償利得あるいは特定期間変更利得を重畳して利得制御信号を生成し、この利得制御信号により可変利得増幅手段を制御することにより、制御要素の数によって可変利得増幅手段の段数を規定せずに済む。したがって可変利得増幅手段の設計上の要請から自由に段数を設定することができ、段数を減らすことも許容される利点がある。それゆえ雑音特性の向上や回路規模の小規模化、装置の低廉化の点で有利となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、図面を用いてこの発明の実施形態を説明する。
図４は、この発明の一実施形態に係る超音波探傷装置の概略を示すブロック図である。同図に示すようにコントローラ１は、この超音波探傷装置全体を統括的に制御するものであり、マイクロコンピュータを用いて構築される。メモリ１−１はコントローラ１のメインメモリを構成するものである。
【００２７】
入力部２は、超音波探傷装置の筐体前面に設置されたキースイッチ等を備え、検査者によって操作されて各種の入力を行うものである。圧電素子３−１，３−２…３−ｎは、超音波の射出および反射波の検出を行う素子であり、プローブ３内で複数並列して設置されている。
【００２８】
超音波発生制御回路４は、圧電素子３−１，３−２…３−ｎの超音波発生動作を制御する回路であり、パルサ４１や駆動回路４２−１，４２−２…４２−ｎから構成される。パルサ４１は、コントローラ１からの指令によりたとえば１ｋＨｚの送信タイミング信号を発生する回路である。駆動回路４２−１，４２−２…４２−ｎは、あらかじめ遅延時間が設定された遅延要素を有し、この遅延要素により遅延させたパルスをトリガとして圧電素子３−１，３−２…３−ｎを振動駆動して超音波射出動作を行わせる回路である。
【００２９】
信号処理回路５は、コントローラ１の主制御のもと、圧電素子３−１，３−２…３−ｎからの検出出力を取り込んで信号処理を施し探傷波形を生成する回路である。表示制御回路６は、探傷波形等の表示画像をモニタ７に表示するための表示制御を行う回路である。モニタ７は、超音波探傷装置の筐体前面に設置された液晶ディスプレイ等の表示装置である。
【００３０】
この超音波探傷装置の動作の概略を説明すると、検査者が入力部２を操作して検査開始を指示すると、この指示を受けてコントローラ１は、超音波発生制御回路４に動作開始を指示する。超音波発生制御回路４において、パルサ４１がパルス発生動作を開始すると、ドライバ４２−１，４２−２…４２−ｎがパルスを遅延して電子走査を行うタイミングで各圧電素子３を振動駆動して超音波を発生させる。
【００３１】
発生した超音波は被検体内に射出され、所定の入射角度、フォーカス点となるような超音波ビームを生成する。超音波ビームは、被検体内の欠陥や底面で反射し、かかる反射波を圧電素子３がピックアップして反射波の受信信号として信号処理回路５に出力する。信号処理回路５は反射波の受信信号を取り込んでＡ／Ｄ変換を行い、所定の信号処理を施して探傷波形を生成する。この探傷波形は、表示制御回路６の制御によりモニタ７に表示される。検査者は、モニタ７の表示画像から被検体内の欠陥の有無等を評価する。
【００３２】
図１は、信号処理回路における受信信号の増幅段の構成例を示すブロック図である。同図に示すように、信号処理回路において探傷波形を生成する際、まずプローブ３（図７参照）から取り込んだ受信信号をレシーバアンプ５１により増幅する。レシーバアンプ５１の出力は、図示しない回路によりＡ／Ｄ変換（図示なし）され、検波やフィルタ処理、座標変換等の信号処理（図示なし）をされて表示制御回路６に出力される。レシーバアンプ５１のゲインを制御することによりＢＥＡ機能やＴＧＣ機能が実現される。
【００３３】
レシーバアンプ５１に係る詳細な説明の前に、この実施形態が前提とするＢＥＡ機能およびＴＧＣ機能について説明する。まず、ＢＥＡ機能は、欠陥反射信号と底面エコー波を比較して、欠陥の大きさを推定するのに便利な機能である。この機能の特徴は、大きな底面エコー波と微少な欠陥反射信号しか得られていないときでも、微少な欠陥の大きさを評価できるようにするものである。
【００３４】
図５は模式的な探傷波形の例を示す波形図であり、（ａ）は基本的な探傷波形を示す図であり、（ｂ）はメインゲイン値を上げゲートを設定するときの探傷波形を示す図であり、（ｃ）はＢＥＡ機能を用いた表示例を示す図である。図５（ａ）に示すように、欠陥そのものが小さいときは、欠陥エコー波が小さすぎてその振幅値が計測できないため、その欠陥が評価できない場合がある。この場合、図５（ｂ）に示すように、欠陥エコー波のピーク値が測定できるように検査者はゲインを上げるが、今度は比較対象の底面エコー波が振り切れて、ピーク値（図中破線で囲んだ部分）が画面スケール外に越えてしまう  この場合は底面エコー波の波高が未知となるので、やはり欠陥の評価はできない。このような状態のとき、検査者はＢＥＡ機能を使用する。
【００３５】
すなわちまず、図５（ｃ）に示すように、評価したい欠陥エコー波のピーク値がスケールの４０％高さになるようにゲイン調整ダイアル（図示せず）を調整する。ここで、もし底面エコー波のピーク値がスケール外に越えてしまったとき、検査者はゲート機能（図５（ｂ）参照）で底面エコー波の波形前後にゲート信号が表示されるように、発生開始位置と期間を調整する。次にＢＥＡ機能をオンさせる。すると、それまで装置スクリーン上でメインゲイン値を表示していた部分が、相対ゲイン値（以後ＢＥＡゲイン）を示す「０ｄＢ」に切り替わる。ここでゲイン調整ダイアル（図示せず）を回すと、回した分だけＢＥＡゲイン値が変化する（表示もされる）と共に、ゲート期間だけＢＥＡ切り替え直前のメインゲイン値から現在表示されているＢＥＡゲインを引いたゲイン値にてレシーバアンプを動作させる。
【００３６】
これによりゲート期間内の底面エコー波の振幅は小さくなり、底面エコー波の全体波形が画面上に観察できるようになる。この状態で、たとえば、ＢＥＡ機能をオンさせる前のメインゲイン値が４０ｄＢで、ＢＥＡ機能がオン時のＢＥＡゲイン値が２０ｄＢとしたとき、底面エコー波のピーク値がスケールの８０％高さになっていれば、欠陥反射波と底面エコー波の大きさの比率は２０ｄＢ＋６ｄＢ＝２６ｄＢということになり、これで欠陥の大きさ評価が行えるようになる。
【００３７】
次にＴＧＣ機能について説明する。図６は、被検体内部における超音波の伝搬の様子を示す説明図である。同図に示すように、被検体８である鋼材に斜角探傷プローブ３により超音波を入射すると、超音波は複数回反射しながら伝播していく。このとき超音波探傷装置は、直接反射点Ｐ０、１回反射点Ｐ１、２回反射点Ｐ２の各点についてビーム路程と反射波のピーク値を検出する。
【００３８】
図７はＴＧＣ機能を説明するための図であり、図（ａ）は反射波振幅とビーム路程との関係を示すグラフであり、図（ｂ）は補正ゲインとビーム路程との関係を示すグラフである。図７（ａ）に示すように、超音波探傷装置はまず直接反射点Ｐ０、１回反射点Ｐ１、２回反射点Ｐ２における振幅が同一になるような補正値を計算で求める。
【００３９】
たとえば直接反射点Ｐ０における反射波の振幅がスケール高さ８０％、１回反射点Ｐ１における振幅がスケール高さ４０％、２回反射点Ｐ２における反射波の振幅がスケール高さ１０％の場合、図７（ｂ）に示すように直接反射点Ｐ０における反射波の振幅を基準にし、１回反射点Ｐ１でゲインが入力（６ｄＢ）、２回反射点Ｐ２で８倍（１８ｄＢ）になるような補正ゲインを設定する。さらに直接反射点Ｐ０および１回反射点Ｐ１間の区間Ａや１回反射点Ｐ１および２回反射点Ｐ２間の区間Ｂについて、１次線形法による補間を行って補正ゲインを取得する手法をとる。
【００４０】
ＴＧＣ機能を実現するために必要な情報は、直接反射点Ｐ０のビーム路程（時間）、区間Ａにおけるビーム路程および傾き（１次線形補間に係る１次関数ｙ＝ａｘ＋ｂの”ａ”に該当）、区間Ｂにおけるビーム路程および傾き（１次線形補間に係る１次関数ｙ＝ｃｘ＋ｄの”ｃ”に該当）である。
【００４１】
図１に戻って説明すると、かかるＢＥＡ機能やＴＧＣ機能を提供するために、この実施形態に係るレシーバアンプ５１は、可変ゲインアンプ５１Ａ，５１Ｂからなる２段構成をとることとする。ゲイン分配出力回路５２は、可変ゲインアンプ５１Ａ，５１Ｂのゲインを規定する制御電圧５２Ａ，５２Ｂを生成出力する回路である。このゲイン分配出力回路５２は、メインゲイン値５３−１およびＢＥＡ動作フラグ５５１−１を入力とし、所定のアルゴリズムに従って可変ゲインアンプ５１Ａ，５１Ｂに対する分配ゲイン値ＨＡ，ＨＢを演算し、求めた分配ゲイン値ＨＡ，ＨＢをＤ／Ａ変換して制御電圧５２Ａ，５２Ｂを得る。
【００４２】
メインゲインレジスタ５３は、レシーバアンプ５１の基準ゲインを規定するメインゲイン値５３−１を格納するものである。加算器５４Ａ，５４Ｂは、制御電圧５２Ｂに対し制御電圧５６−１，５８−１を加算するものである。
【００４３】
ＢＥＡレジスタ５５は、ＢＥＡによる補正を行うために必要なデータを記憶する回路である。ＢＥＡ制御電圧発生回路５６は、補正ゲイン５５２−１をＤ／Ａ変換して制御電圧５６−１を生成出力する回路である。ＴＧＣレジスタ５７は、ＴＧＣによる補正ゲイン５８５−１を演算するために必要なデータを記憶する回路である。ＴＧＣ制御電圧発生回路５８は、ＴＧＣレジスタ５７の出力データから所定の演算を行って補正ゲイン５８５−１を求め、求めた補正ゲイン５８５−１に相当する制御電圧５８−１を生成出力する回路である。この実施形態においても、ＴＧＣ制御電圧発生回路５８はＢＥＡ機能がオンの際は０Ｖ（０ｄＢ）出力となるように設計されている。
【００４４】
図８は、ＢＥＡレジスタおよびＢＥＡ制御電圧発生回路の構成例を示すブロック図である。同図に示すように、ＢＥＡレジスタ５５は、たとえばＢＥＡ動作フラグ５５１−１やＢＥＡゲイン５５２−１を格納するレジスタ５５１，５５２から構成される。ＢＥＡ制御電圧発生回路５６は、たとえばセレクタ５６１およびＤ／Ａコンバータ５６２から構成される。セレクタ５６１は、セレクト指示に基づいて０側入力および１側入力を選択して後段に出力する回路であり、０側入力端にはＢＥＡゲイン５５２−１が与えられ、１側入力端には値「０」が与えられている。Ｄ／Ａコンバータ５６２は、セレクタ５６１の出力５６１−２をアナログ信号に変換して制御電圧５６−１として出力する回路である。
【００４５】
図９は、ＴＧＣレジスタおよびＴＧＣ制御電圧発生回路の構成例を示すブロック図である。同図に示すように、ＴＧＣレジスタ５７は、たとえばＴＧＣ動作フラグ５７１−１や区間のＡスタートポイント５７２−１、区間Ａのビーム路程５７３−１、区間Ａの傾き５７４−１、区間Ｂのビーム路程５７５−１、区間Ｂの傾き５７６−１を格納する各レジスタ５７１〜５７６から構成される。
【００４６】
またＴＧＣ制御電圧発生回路５８において、カウンタ５８１Ａ，５８１Ｂはビーム路程をカウントしてカウントアウト信号５８１Ａ−１，５８１Ｂ−１を出力する回路である。ＮＡＮＤゲート５８２は、パルス発射信号５８２−１およびカウントアウト信号５８１Ａ−１を入力とし区間Ａスタート指示５８２−２を出力する回路である。
【００４７】
セレクタ５８３Ａ，５８３Ｂは、セレクト指示に従って０側入力および１側入力の一方を選択して後段に出力する回路である。トグルフリップフロップ５８４は、カウントアウト信号５８１Ｂ−１の入力を受けてＱ出力の状態遷移を行う回路である。
【００４８】
加算器５８５は、セレクタ５８３Ｂの出力５８３Ｂ−１をＡ側入力としラッチ５８６の出力５８６−１をＢ側入力とし、両入力を加算して補正ゲイン５８５−１を生成出力する回路である。ラッチ５８６は、補正ゲイン５８５−１を加算器のＢ側入力端に帰還入力５８６−１として与える回路である。Ｄ／Ａコンバータ５８７は、補正ゲイン５８５−１を変換して制御電圧５８−１として出力する回路である。
【００４９】
次に図１，４〜９を参照しながらこの回路の動作を説明する。検査者は入力部２を操作してメインゲイン値５３−１を設定する。コントローラ１は、このメインゲイン値５３−１をメインゲインレジスタ５３にセットする。ゲイン分配出力回路５２は、メインゲイン値５３−１を可変ゲインアンプ５１Ａの最大ゲイン値Ｈｍａｘと比較し、次の式に従って分配ゲイン値ＨＡ，ＨＢを定める。
【００５０】
Ｈｍａｉｎ≦Ｈｍａｘのとき
ＨＡ＝Ｈｍａｉｎ
ＨＢ＝０
Ｈｍａｘ＜Ｈｍａｉｎのとき
ＨＡ＝Ｈｍａｘ
ＨＢ＝Ｈｍａｉｎ−Ｈｍａｘ
【００５１】
ただし、Ｈｍａｉｎはメインゲイン値、Ｈｍａｘは可変ゲインアンプ５１Ａ，５１Ｂの最大ゲイン値、ＨＡは可変ゲインアンプ５１Ａのゲイン値、ＨＢは可変ゲインアンプ５１Ｂのゲイン値である。
【００５２】
ここで可変ゲインアンプ５１Ａ，５１Ｂの最大ゲイン値Ｈｍａｘは、たとえば共に４０ｄＢであるとする。ゲイン分配出力回路５２は、可変ゲインアンプ５１Ａの最大ゲイン４０ｄＢよりメインゲイン値５３−１が小さいと判別した場合、メインゲイン値５３−１に相当する電圧の制御電圧５２Ａを出力すると共に、ゲイン「０ｄＢ」に相当する電圧０Ｖの制御電圧５２Ｂを出力する。
【００５３】
一方、メインゲイン値５３−１が可変ゲインアンプ５１Ａの最大ゲイン値より大きいと判別した場合、ゲイン分配出力回路５２は、最大ゲイン値Ｈｍａｘに相当する制御電圧５２Ａを出力すると共に、ゲイン値ＨＢ（＝Ｈｍａｉｎ−Ｈｍａｘ）に相当する制御電圧５２Ｂを出力する。
【００５４】
たとえばＨｍａｉｎ＝５０ｄＢである場合、ゲイン分配出力回路５２は、４０ｄＢに相当する制御電圧５２Ａと１０ｄＢに相当する制御電圧５２Ｂとを出力する。制御電圧５２Ａは可変ゲインアンプ５１Ａにゲイン指示として入力され、制御電圧５２Ｂは、加算器５４Ａ，５４Ｂを介し可変ゲインアンプ５１Ｂにゲイン指示として入力される。説明の便宜上、制御電圧５６−１，５８−１が電圧０Ｖであるとすると、可変ゲインアンプ５１Ａはゲイン４０ｄＢ、可変ゲインアンプ５１Ｂはゲイン１０ｄＢに制御されて、合計ゲイン５０ｄＢを達成する。
【００５５】
次に、ＢＥＡ機能がオンしているときの動作について説明する。コントローラ１により、ＢＥＡ動作フラグレジスタ５５１のＢＥＡ動作フラグ５５１−１がオンにセットされることによってＢＥＡ機能がオンになる。さらにコントローラ１は、検査者から入力されたメインゲイン値５３−１，ＢＥＡゲイン５５２−１がそれぞれたとえば７０ｄＢ，２０ｄＢである場合、メインゲインレジスタ５３にメインゲイン値５３−１として「７０」（ｄＢ）をセットし、ＢＥＡゲインレジスタ５５２にＢＥＡゲイン５５２−１として「２０」（ｄＢ）をセットする。
【００５６】
ＢＥＡ制御電圧発生回路５６において、ゲート期間（図５（ｂ）参照）以外の期間にあっては、ゲート信号５６１−１がオフとなってセレクタ５６１が０側入力端に切り替わっている。このためセレクタ５６１は、ＢＥＡゲインレジスタ５５２から出力されるＢＥＡゲイン５５２−１「２０」（ｄＢ）をセレクタ出力５６１−２としてＤ／Ａコンバータ５６２に送出する。Ｄ／Ａコンバータ５６２は、ＢＥＡ動作フラグ５５１−１をイネーブル信号として動作し、制御電圧５６−１として「２０」（ｄＢ）に相当する電圧を出力する。
【００５７】
ゲイン分配出力回路５２は、まずメインゲイン値５３−１からＢＥＡゲイン５５２−１を差し引く。この場合、７０−２０＝５０（ｄＢ）となる。さらにこの値５０ｄＢと最大ゲイン値Ｈｍａｘ（＝４０ｄＢ）とを比較すると、最大ゲイン値Ｈｍａｘ（＝４０ｄＢ）を越えているので、さらに両者の差５０−４０＝１０（ｄＢ）を求める。そして可変ゲインアンプ５１Ａへの制御電圧５２Ａとして「４０」（ｄＢ）に相当する電圧をＡ出力端子から出力すると共に、制御電圧５２Ｂとして上記の差分「１０」（ｄＢ）に相当する電圧をＢ出力端子から出力する。
【００５８】
制御電圧５２Ｂには加算器５４Ａにより制御電圧５６−１（＝２０ｄＢ相当）が加算されて３０ｄＢ相当の制御電圧５４Ａ−１となる。さらに制御電圧５４Ａ−１には加算器５４Ｂにより制御電圧５８−１（ここでは説明の便宜上仮に０Ｖとする。）が加算されて制御電圧５４Ｂ−１（＝３０ｄＢ相当）が得られる。このようにして得られた制御電圧５２Ａ（＝４０ｄＢ相当）が可変ゲインアンプ５１Ａに与えられると共に、制御電圧５４Ｂ−１（＝３０ｄＢ相当）が可変ゲインアンプ５１Ｂに与えられることにより、レシーバアンプ５１のトータルゲインは７０（＝４０＋３０）（ｄＢ）となる。
【００５９】
もしメインゲイン値５３−１からＢＥＡゲイン５５２−１を引いた値と最大ゲイン４０ｄＢに該当する値「４０」と比較して小さい場合は、引いた値（Ｈｍａｉｎ−Ｈｂｅａ）に相当する電圧を制御電圧ＡとしてＡ出力端子から出力すると共に、制御電圧５２ＢとしてＢ出力から０Ｖを出力する。またＢＥＡ動作フラグ５５１−１がオフの場合、Ｄ／Ａコンバータ５６２のイネーブル信号がオフとなってＤ／Ａコンバータ５６２はＤ／Ａ動作を行わない。したがってセレクタ出力５６１−２に拘わらずＢＥＡ制御電圧５６−１は０Ｖとなる。
【００６０】
次にゲート期間（図５（ｂ）参照）中は、ゲート信号５６１−１がオンとなってセレクタ５６１は１側入力端を選択し、１側入力端に与えられている「０」をセレクタ出力５６１−２として出力する。一方、ゲイン分配出力回路５２は、上記と同様の処理を実行し、可変ゲインアンプ５１Ａへの制御電圧５２Ａとして「４０」（ｄＢ）に相当する電圧をＡ出力端子から出力すると共に、制御電圧５２Ｂとして上記の差分「１０」（ｄＢ）に相当する電圧をＢ出力端子から出力する。
【００６１】
制御電圧５２Ｂには加算器５４Ａにより制御電圧５６−１（＝０Ｖ）が加算されて制御電圧５４Ａ−１（＝１０ｄＢ相当）が得られ、さらに制御電圧５４Ａ−１には加算器５４Ｂにより制御電圧５８−１（ここでは説明の便宜上仮に０Ｖとする。）が加算されて制御電圧５４Ｂ−１（＝１０ｄＢ相当）が得られる。このようにして得られた制御電圧５２Ａ（＝４０ｄＢ相当）が可変ゲインアンプ５１Ａに与えられると共に、制御電圧５４Ｂ−１（＝１０ｄＢ相当）が可変ゲインアンプ５１Ｂに与えられることにより、レシーバアンプ５１のトータルゲインは５０（＝４０＋１０）（ｄＢ）となる。かかる一連の動作により、ゲート期間以外は７０ｄＢ、ゲート期間中は５０ｄＢとなってＢＥＡ機能として必要なゲイン制御が実現される。
【００６２】
次に、ＴＧＣ機能がオンの場合の動作を説明する。なお、メインゲイン値Ｈｍａｉｎ＝５０ｄＢ、第２反射点で１０ｄＢの補正ゲインになるケースを例示し、説明の便宜上ＢＥＡ機能はオフに設定されるものとする。この場合まずコントローラ１は、ＴＧＣ動作フラグレジスタ５７１のＴＧＣ動作フラグ５７１−１をオンにセットすると共に、ＢＥＡ動作フラグレジスタ５５１のＢＥＡ動作フラグ５５１−１をオフにセットする。
【００６３】
さらにコントローラ１は、直接反射点Ｐ０、１回反射点Ｐ１、２回反射点Ｐ２の各点の入力値から区間Ａ，Ｂについての一次線形パラメータを求めてＴＧＣレジスタ５７にセットする。すなわちＴＧＣレジスタ５７に直接反射点Ｐ０のビーム路程（区間Ａスタートポイント）５７２−１、直接反射点Ｐ０と１回反射点Ｐ１までのビーム路程（区間Ａビーム路程）５７３−１と区間Ａの傾き５７４−１、１回反射点Ｐ１と２回反射点Ｐ２までのビーム路程（区間Ｂのビーム路程）５７５−１と区間Ｂの傾き５７６−１をＴＧＣレジスタ５７の各レジスタ５７１〜５７６にセットする。
【００６４】
そしてＴＧＣ制御電圧発生回路５８において、パルス発射信号５８２−１が入力されるとカウンタ５８１Ａが区間Ａスタートポイント５７２−１をもって計時を開始する。カウンタ５８１Ａは、タイムアウトすると直接反射点Ｐ０に到達したものとしてカウントアウト信号５８１Ａ−１を出力する。ＮＡＮＤゲート５８２はパルス発射信号５８２−１がオンであるため、カウントアウト信号５８１Ａ−１を受けてゲート出力５８２−２がオンする。
【００６５】
このゲート出力５８２−２を受けて加算器５８５とラッチ５８６が初期化し動作を開始する。セレクタ５８３Ｂは初期状態において０側入力端を選択して区間Ａの傾き５７４−１を出力しており、加算器５８５とラッチ５８６からなるループにより、区間Ａの傾き５７４−１によるリニアな補間出力がカウンタ５８１Ｂの出力５８５−１として生成される。この出力５８５−１はＤ／Ａコンバータ５８７により制御電圧５８−１に変換されて出力される。
【００６６】
一方、上記のゲート出力５８２−２によりカウンタ５８１Ｂも初期化・動作開始しており、セレクタ５８３Ａの出力する区間Ａビーム路程５７３−１をもって計時を行う。カウンタ５８１Ｂはカウントアウトするとカウントアウト信号５８１Ｂ−１を出力し、トグルフリップフロップ５８４の出力Ｑが正転する。この出力Ｑを受けてセレクタ５８３Ａ，５８３Ｂが１側入力端に切り替わる。このことにより加算器５８５は、区間Ｂの傾き５７６−１を用いて区間Ｂに係る補間出力を生成することとなる。さらにカウンタ５８１Ｂは、区間Ｂビーム路程５７５−１の計時モードに切り替わる。
【００６７】
このようにして、図７（ｂ）に示す特性を有する５８５−１に相当する制御電圧５８−１を生成することが可能となる。この制御電圧５８−１は加算器５４Ｂにより可変ゲインアンプ５１Ｂの制御電圧５４Ｂ−１に重畳され、可変ゲインアンプ５１Ｂの増幅動作によりＴＧＣ機能が実現される。
【００６８】
ここで信号処理回路５は、上記のようにハードウエア回路により構成する形態に限定されず、たとえばＣＰＵ型のＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｓｉｇｎａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）によりデジタルフィルタを構成して受信信号を処理する形態などをとることも可能である。この場合、ゲイン制御処理において図１０，１１に示すような処理フローを実行するプログラムを組み込めば良い。
【００６９】
図１０，１１は、可変ゲインアンプ５１Ａ，５１Ｂのゲイン制御手順の一例を示すフローチャートである。同図に示す処理手順により実現される機能は、図１，８，９に示す回路による機能と基本的に等価なものであるので、簡単に流れを説明するに留める。
【００７０】
すなわちＣＰＵはまず、ＴＧＣ動作フラグやＢＥＡ動作フラグがセットされているか確認する（Ｓ１，Ｓ６）。ＴＧＣ動作フラグがセットされている場合（Ｓ１：Ｙｅｓ）、メインゲイン値Ｈｍａｉｎを取得して最大ゲイン値Ｈｍａｘと比較する（Ｓ２）。メインゲイン値Ｈｍａｉｎが最大ゲイン値Ｈｍａｘ以下であれば（Ｓ２：Ｎｏ）、ゲイン値ＨＡをメインゲイン値Ｈｍａｉｎに設定しゲイン値ＨＢを「０」に設定する（Ｓ３）。メインゲイン値Ｈｍａｉｎが最大ゲイン値Ｈｍａｘを越えていれば（Ｓ２：Ｙｅｓ）、ゲイン値ＨＡをＨｍａｘ（＝４０ｄＢ）に設定しゲイン値ＨＢを「Ｈｍａｉｎ−Ｈｍａｘ」に設定する（Ｓ４）。そしてゲイン値ＨＡに基づいて制御電圧５２Ａを設定すると共に、ＨＢ＋Ｈｂｅａ＋Ｈｔｇｃに基づいて制御電圧５２Ｂを設定する（Ｓ５）。
【００７１】
またＢＥＡフラグがセットされている場合（Ｓ１：Ｎｏ，Ｓ６：Ｙｅｓ）、Ｈｍａｉｎ−Ｈｂｅａを求めて最大ゲイン値Ｈｍａｘと比較する（Ｓ７）。求めた値が最大ゲイン値Ｈｍａｘ（＝４０ｄＢ）以下であれば（Ｓ７：Ｎｏ）、ゲイン値ＨＡをメインゲイン値Ｈｍａｉｎ−Ｈｂｅａに設定しゲイン値ＨＢを「０」に設定する（Ｓ８）。メインゲイン値Ｈｍａｉｎが最大ゲイン値Ｈｍａｘを越えていれば（Ｓ７：Ｙｅｓ）、ゲイン値ＨＡをＨｍａｘ（＝４０ｄＢ）に設定しゲイン値ＨＢを「Ｈｍａｉｎ−Ｈｂｅａ−Ｈｍａｘ」に設定する（Ｓ９）。そしてゲイン値ＨＡに基づいて制御電圧５２Ａを設定すると共に、ＨＢ＋Ｈｂｅａに基づいて制御電圧５２Ｂを設定する（Ｓ１０）。
【００７２】
またＴＧＣフラグもＢＥＡフラグもセットされていない場合（Ｓ１：Ｎｏ，Ｓ６：Ｎｏ）、メインゲイン値Ｈｍａｉｎと最大ゲイン値Ｈｍａｘと比較する（Ｓ１１）。メインゲイン値Ｈｍａｉｎが最大ゲイン値Ｈｍａｘ（＝４０ｄＢ）以下であれば（Ｓ１１：Ｎｏ）、ゲイン値ＨＡをメインゲイン値Ｈｍａｉｎに設定しゲイン値ＨＢを「０」に設定する（Ｓ１２）。メインゲイン値Ｈｍａｉｎが最大ゲイン値Ｈｍａｘを越えていれば（Ｓ１１：Ｙｅｓ）、ゲイン値ＨＡをＨｍａｘ（＝４０ｄＢ）に設定しゲイン値ＨＢを「Ｈｍａｉｎ−Ｈｍａｘ」に設定する（Ｓ１３）。そしてゲイン値ＨＡに基づいて制御電圧５２Ａを設定すると共に、ＨＢ＋Ｈｂｅａに基づいて制御電圧５２Ｂを設定する（Ｓ１４）。
【００７３】
以上、この発明の実施形態を詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。
【００７４】
また前述の実施形態では、コントローラやＤＳＰはＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）型の演算装置であり、必要とされる演算処理能力を有する演算装置に所定のプログラムを組み込むことにより信号処理回路等を構築する形態も可能であり、かかるプログラムは、機能の一部を実現する形態で頒布されるものであっても良い。たとえばコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで所定の機能を実現できるもの、いわゆる差分プログラムで提供される形態をとることも可能である。
【００７５】
またプログラムを頒布する媒体には、可搬型の磁気ディスクや光磁気ディスク等の記憶媒体等以外にも、コンピュータ読み取り可能な記録媒体一般を利用できる。たとえば、インターネットその他のネットワーク等、任意の伝送媒体を介して他のコンピュータシステムから提供される形態でも良い。この場合、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」には、ネットワーク上のホストやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、伝送媒体において一定時間プログラムを保持しているものも含む。
【００７６】
また、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｌｌｅｙ）に回路情報を組み込んで信号処理回路等を構築する手法により、この発明を実施することも可能である。この場合、かかる回路情報について上記のプログラムと同様の取り扱いによって頒布等を行う形態もこの発明は含むものとする。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】信号処理回路における受信信号の増幅段の構成例を示すブロック図である。
【図２】従来のゲイン制御回路の概略を示すブロック図である。
【図３】ＴＧＣ補正ゲインを発生するＴＧＣ制御電圧発生回路の構成例を示すブロック図である。
【図４】この発明の一実施形態に係る超音波探傷装置の概略を示すブロック図である。
【図５】模式的な探傷波形の例を示す波形図であり、（ａ）は基本的な探傷波形を示す図であり、（ｂ）はメインゲインを上げゲートを設定するときの探傷波形を示す図であり、（ｃ）はＢＥＡ機能を用いた表示例を示す図である。
【図６】被検体内部における超音波の伝搬の様子を示す説明図である。
【図７】ＴＧＣ機能を説明するための図であり、図（ａ）は反射波の振幅とビーム路程との関係を示すグラフであり、図（ｂ）は補正ゲインとビーム路程との関係を示すグラフである。
【図８】ＢＥＡレジスタおよびＢＥＡ制御電圧発生回路の構成例を示すブロック図である。
【図９】ＴＧＣレジスタおよびＴＧＣ制御電圧発生回路の構成例を示すブロック図である。
【図１０】可変ゲインアンプ５１Ａ，５１Ｂのゲイン制御手順の一例を示すフローチャートである。
【図１１】可変ゲインアンプ５１Ａ，５１Ｂのゲイン制御手順の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００７８】
１…コントローラ  １−１…メモリ  ２…入力部  ３…プローブ  ３−１，３−２…３−ｎ…圧電素子  ４…超音波発生制御回路  ４１…パルサ  ４２−１，４２−２…４２−ｎ…駆動回路  ５…信号処理回路  ５１（５１Ａ，５１Ｂ）…レシーバアンプ  ５２…ゲイン分配出力回路  ５３…メインゲインレジスタ  ５４Ａ，５４Ｂ…加算器  ５５…ＢＥＡレジスタ  ５６…ＢＥＡ制御電圧発生回路  ５６１…セレクタ  ５６２…Ｄ／Ａコンバータ  ５７…ＴＧＣレジスタ  ５８…ＴＧＣ制御電圧発生回路  ６…表示制御回路  ７…モニタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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