(57)【要約】      （修正有）【課題】試験片テーブルからの熱伝導の影響を受けない促進耐候性試験用プラックパネルを提供する。【解決手段】試験片テーブルを有する促進耐候性試験装置用ブラックパネルアセンブリが、複数の支持脚および１つの取付面を有する、前記試験片テーブル上に配置されたプラットホームを具備し、前記複数の支持脚は、前記試験片テーブルに対して前記取付面を高設する。さらに、前記ブラックパネルアセンブリは、照射面および取付面を有するブラックパネルを具備し、前記ブラックパネルは、前記取付面で前記プラットホームに取り付けられる。さらにまた、前記ブラックパネルアセンブリは、前記ブラックパネルの前記照射面に連結された温度センサを有する。【選択図】図７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験片テーブルを有する促進耐候性試験装置用ブラックパネルアセンブリであって、
複数の支持脚および１つの取付面を具備する、前記試験片テーブル上に配置されたプラットホームにおいて、前記複数の支持脚は、前記試験片テーブルに対して前記取付面を高設するプラットホームと、
照射面および取付面を有し、前記取付面で前記プラットホームに取り付けられるブラックパネルと、
前記ブラックパネルの前記照射面に連結された温度センサとを有することを特徴とするブラックパネルアセンブリ。
【請求項２】
前記プラットホームの前記取付面が、前記ブラックパネルの前記取付面の一部を、前記取付面と前記試験片テーブルとの間の間隙に暴露するための少なくとも１つの開口部を有することを特徴とする請求項１に記載のブラックパネルアセンブリ。
【請求項３】
前記温度センサが、前記ブラックパネルの前記照射面に組み込まれていることを特徴とする請求項１に記載のブラックパネルアセンブリ。
【請求項４】
前記温度センサが、前記ブラックパネルの前記照射面に着脱自在に連結されたハウジングを有することを特徴とする請求項１に記載のブラックパネルアセンブリ。
【請求項５】
試験片テーブルを有する試験室と、
前記試験室に配置され、かつ照射を直接前記試験片テーブルに向けるように構成された少なくとも１つのランプアセンブリと、
複数の支持脚および１つの取付面を具備する、前記試験片テーブル上に配置されたプラットホームにおいて、前記複数の支持脚は、前記試験片テーブルに対して前記取付面を高設するプラットホームと、
照射面および取付面を有し、前記取付面で前記プラットホームに取り付けられるブラックパネルと、
前記ブラックパネルの前記照射面に連結された温度センサとを有することを特徴とする促進耐候性試験装置。
【請求項６】
前記試験片テーブルが平面であり、かつ前記試験室において略水平方向に配置されることを特徴とする請求項５に記載の装置。
【請求項７】
請求項５に記載の装置において、さらに、前記試験片テーブル上に配置され、各々が試験片を保持するように構成された試験片トレイの配列を有し、前記プラットホームが、前記試験片トレイの１つを占有するように構成されることを特徴とする装置。
【請求項８】
前記プラットホームの前記取付面が、前記ブラックパネルの前記取付面の一部を、前記取付面と前記試験片テーブルとの間の間隙に暴露するための少なくとも１つの開口部を有することを特徴とする請求項５に記載の装置。
【請求項９】
前記温度センサが、前記ブラックパネルの前記照射面に組み込まれていることを特徴とする請求項５に記載の装置。
【請求項１０】
前記温度センサが、前記ブラックパネルの前記照射面に着脱自在に連結されたハウジングを有することを特徴とする請求項５に記載の装置。
【請求項１１】
試験片テーブルに向けて直接照射する少なくとも１つのランプを有する促進耐候性試験装置の試験室用のブラックパネルアセンブリであって、
複数の支持脚および１つの平坦な取付面を具備する、前記試験片テーブル上に配置されたプラットホームにおいて、前記複数の支持脚は、前記試験片テーブルに対して前記取付面を高設し、前記取付面の底面と前記試験片テーブルとの間の間隙を供し、前記支持脚は、空気が前記間隙を貫流することを可能とするように構成されるプラットホームと、
照射面および取付面を有し、前記取付面で前記プラットホームに取り付けるように構成され、前記照射面は、前記少なくとも１つのランプからの照射を受光するように方向決めされたブラックパネルと、
前記ブラックパネルの前記照射面に連結された温度センサとを有することを特徴とするブラックパネルアセンブリ。
【請求項１２】
前記プラットホームの前記取付面が、前記ブラックパネルの前記取付面の一部を前記間隙に暴露するための少なくとも１つの開口部を有することを特徴とする請求項１１に記載のブラックパネルアセンブリ。
【請求項１３】
前記温度センサが、前記ブラックパネルの前記照射面に組み込まれていることを特徴とする請求項１１に記載のブラックパネルアセンブリ。
【請求項１４】
前記温度センサが、前記ブラックパネルの前記照射面に着脱自在に連結されたハウジングを有することを特徴とする請求項１１に記載のブラックパネルアセンブリ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本開示は、促進耐候性試験装置に関し、さらに詳細には、促進耐候性試験装置用高設ブラックパネルに関する。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００２】
本明細書に開示した原理の促進および理解の目的のために、ここで、図示された好ましい実施の形態に言及し、それらを説明するために特定の専門用語が用いられる。しかしながら、それによって開示の範囲を限定するものではない。図示装置のそのような改変およびさらなる変更、ならびに、そのようなさらなる応用は、そこに図示され、開示されるところの原理であり、通常、本開示に関連する当業者が思いつくであろうと想定される。
【０００３】
図１を参照すると、一般的に、先行技術の促進耐候性試験装置２０が示されている。装置２０は、装置２０を作動させる構成部品を収容するキャビネット２２を具備する。装置２０は、試験室ドア２６および制御盤２８を操作できる前面２４を具備する。試験室ドア２６は、試験室３０への操作を可能とする。制御盤２８によって、装置２０のオペレータが装置２０の多様な機能を制御できる。制御盤２８は、複数の制御ボタンおよび少なくとも１つの表示装置を具備しうる。開示された具体例では、制御盤２８はタッチスクリーン表示装置である。
【０００４】
図２を参照すると、装置２０の試験室３０の詳細図が示されている。試験室３０は、一般に角型であり、試験室３０の天井に配置されうる複数のランプ３２を具備する。各ランプ３２は、ランプ３２と協働して照射を直接試験室３０の下端に向ける反射板３４を具備する。試験室３０の壁のうちのいずれか１つに、照射、湿度、および／または、温度のような試験室３０の各種の環境条件を検知しうる１つ以上の検出器３６を配置できる。試験室３０の下盤付近に試験片テーブル３８があり、この試験片テーブルは支持軌道４０に沿って試験室３０の内外方向に摺動できる。したがって、オペレータは、試験室ドア２６を開けて、試験片テーブル３８を引き出して、試験片テーブル３８での作業ができる。支持軌道４０は、試験室３０の対向する壁に取り付けられている支持ブラケット４２によって支持される。
【０００５】
試験片テーブル３８は、取付面４４を具備しており、この取付面上に、試験室３０で耐候性試験を実施するために、１つまたは複数の試験サンプル４６を配設することができる。また、ブラックパネル４８は、試験片テーブル３８に配設されて、試験室３０での試験の間に試験片４６が経験しうる最高温度を反映する基準温度を供する。
【０００６】
図３を参照すると、先行技術の試験片トレイの配列５０が示されている。試験片トレイの配列５０は、試験片テーブル３８の一部または全面を占有する寸法となりうる。開示された具体例では、図３で示すように、試験片トレイの配列５０は、３４個の個々の試験片トレイ５２および単一のブラックパネルトレイ５４を含む。一般に、個々の試験片トレイ５２は角型であり、対応する寸法の試験片４６を保持するように構成されている。また、ブラックパネルトレイ５２は、ブラックパネル４８を保持する寸法となされる。
【０００７】
図４を参照すると、先行技術のブラックパネル４８が示されている。ブラックパネル４８は、黒色層で被覆された照射面６０と、試験片テーブル３８にブラックパネル４８を取り付けまたは配設することができる取付面（図示せず）とを具備する。黒色層は、経年変化に対する優れた耐性を有し、被履に達する輻射の大部分を吸収しうる任意の被履を具備することができる。ブラックパネル４８は、ブラケット６４で照射面６０に取り付けられる温度センサハウジング６２を具備する。また、ブラックパネル４８と同一の黒色層で、温度センサハウジング６２およびブラケット６４を被覆できる。ブラケット６４は、留め具６６で照射面６０に固定されている。温度センサハウジング６２は、ブラックパネル４８の照射面６０の温度を検知することができる温度センサ測定子（図示せず）を収容する。温度センサ測定子は、温度センサワイヤ６８によって装置２０に伝達される信号を供する。この感熱素子は、黒色被覆を施されたステム型バイメタルダイヤル検出器または抵抗センサでありうる。
【０００８】
再度、図２および図３を参照すると、ブラックパネル４８は、ブラックパネルトレイ５４に取り付けられるか、または試験片テーブル３８に簡単に取り付けられうる。したがって、ブラックパネル４８の取付面は、ブラックパネルトレイ５４の底面、または試験片テーブル３８の取付面４４と接触しうる。したがって、ブラックパネル４８の取付面は、試験室３０内の気流に暴露されていない。
【０００９】
ブラックパネル４８の照射面６０は、ランプ３０によって供された輻射に暴露される。ブラックパネル４８は、通常、耐食性のある金属から構成される。したがって、ブラックパネル４８の照射面６０は、黒色被覆を有してかつ金属から構成されるため、耐候性試験の間のブラックパネル４８の温度は、通常、試験片４６の温度より高くなりうる。さらに、ブラックパネル４８は、試験片テーブル３８の取付面４４に取り付けられるため、ブラックパネル４８と試験片テーブル３８の間に、熱伝導が起こる可能性があり、その熱伝導は、ブラックパネル４８の温度の静的および動的応答特性に影響を及ぼしうる。したがって、温度の静的および動的応答特性に関するこのような影響は、試験に対して、または試験室３０で試験の間に試験片４６について収集されたデータに対して、影響を及ぼしうる。
【００１０】
したがって、ブラックパネル４８は、試験室３０での耐候性試験の間に任意の試験片４６が経験しうる最高温度を供する。ブラックパネル４８の温度は、ワイヤ６８を介して装置２０に伝達され、オペレータが、制御盤２８でブラックパネル４８の温度を監視でき、適宜、ランプ３０の輻射を調整できるようになっている。また、ブラックパネル４８からの温度信号に基づいて、自動的に輻射の調整を達成できる。
【００１１】
図５を参照すると、本開示に従って構成されたブラックパネルアセンブリ７０が示されている。ブラックパネルアセンブリ７０は、ブラックパネル４８と同様の構成部品を具備する。したがって、同様の構成部品は、本明細書で同様の参照番号を用いて示される。ブラックパネルアセンブリ７０は、図４のブラックパネル４８と同様のもの、または異なったものでありうるブラックパネル４８を具備する。開示された具体例では、ブラックパネル４８は、図４のブラックパネル４８と同様であるため、本明細書で同一の参照番号を用いて示される。また、ブラックパネルアセンブリ７０は、ブラックパネル４８がブラックパネル留め具７４を用いて取り付けられるプラットホーム７２を具備する。プラットホーム７２は、複数の支持脚７６を具備しており、この支持脚７６は、支持脚７６が取り付けられまたは配設される面に対してブラックパネル４８を高設する。
【００１２】
図６を参照すると、ブラックパネルアセンブリ７０の分解組立図が示されている。図４のブラックパネル４８と同様に、ブラックパネルアセンブリ７０のブラックパネル４８は、照射面６０および取付面６１を具備する。温度センサハウジング６２は、一対のブラケット６４で照射面６０に取り付けられる。また、ブラックパネル４８と同一の黒色層で、温度センサハウジング６２およびブラケット６４を被覆できる。温度センサハウジング６２は、ブラックパネル４８の温度を検出し、その温度を信号の形で装置２０へワイヤ６８を介して伝達する温度センサを収容する。
【００１３】
ブラックパネル４８は、ブラックパネル留め具７４でプラットホーム７２に取り付けられる。ブラケット６４は、留め具６６でブラックパネル４８の照射面６０に固定される。図６に示すように、プラットホーム７２は、ブラックパネル４８がプラットホーム７２に取り付けられるとき、ブラックパネル４８の取付面６１を間隙８２に暴露する開口部８０を具備する。開口部８０は、ブラックパネル４８の取付面６１の大部分または一部を間隙８２に暴露するために必要とされる任意の寸法でよい。支持脚７６が、支持脚７６を配設するまたは取り付ける面の上方にブラックパネル４８を高設するため、空気が間隙８２を貫流しうる。したがって、また、ブラックパネル４８の取付面６１は、間隙８２において気流に暴露される。
【００１４】
図７を参照すると、試験室３０で試験片テーブル３８に装着されたブラックパネルアセンブリ７０が示されている。支持脚６８は、ブラックパネル４８を試験片テーブル３８の取付面４４の上方に高設する。したがって、間隙８２において空気が流れることができ、これによって、主として伝導よりもむしろ対流によるブラックパネル４８の取付面６１への熱伝達が可能となりうる。プラットホーム７２を用いてブラックパネル４８を高設することによって、本開示のブラックパネル４８の裏面が、試験室３０の空気に暴露されて、ＡＳＴＭ６１５１（米国材料試験協会、名称６１５１）規格に適合する。
【００１５】
さらに、図７のブラックパネル４８が、試験片テーブル３８の取付面４４に対して高設されているため、ブラックパネル４８と試験片テーブル３８の間で熱を伝導することができない。したがって、ブラックパネル４８の温度の静的および動的応答特性は、試験片テーブル３８からの熱伝導の影響を受けえない。
【００１６】
さらに、特定の好ましい実施例を示して説明したが、本開示を逸脱することなく、変更および修正をなしうることは、当業者にとって明らかであろう。前記説明および添付図面で詳述した事柄は、あくまで例を示したに過ぎず、限定するものではない。本開示の実際の範囲は、関連技術に基いた適正な観点に照らして、以下のクレームで定義される。
【００１７】
特定の実施例を図面に示す。しかしながら、本開示は、添付図面で示された配置および手段に限定されないことは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】促進耐候性試験装置の斜視図を示す。
【図２】図１の促進耐候性試験装置の試験室の概略図を示す。
【図３】図２の試験室用の試験片トレイの配列の斜視図を示す。
【図４】図２の試験室用のブラックパネルの斜視図を示す。
【図５】本開示に従って構成されたブラックパネルアセンブリの斜視図を示す。
【図６】図５のブラックパネルアセンブリの分解組立図を示す。
【図７】本開示に従って構成されたブラックパネルアセンブリを有する図２の試験室の概略図を示す。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【外国語明細書】
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【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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