(57)【要約】【課題】  被評価装置に対しては、所定の放電電圧に設定された静電気サージを減衰させることなく印加させることができる一方、被評価装置を評価するための評価装置に対しては、静電気サージから確実に保護することができる静電気サージ反射装置を提供すること。【解決手段】  ＥＣＵ３０（被評価装置）と、ＥＣＵ３０を評価するための計測装置１とを接続するラインに介装される静電気サージ反射装置２０であって、一端側がＥＣＵ３０側のラインに接続され、他端側が計測装置１側のラインに接続されるチョークコイル２５を含んで構成されている。【選択図】  図１
2006258681.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被評価装置と、該被評価装置を評価するための評価装置とを接続するラインに介装され
る静電気サージ反射装置であって、
一端側が前記被評価装置側のラインに接続され、他端側が前記評価装置側のラインに接
続されるサージ反射手段を含んで構成されていることを特徴とする静電気サージ反射装置
。
【請求項２】
前記サージ反射手段が、高周波の通過を阻止するコイルで構成されていることを特徴と
する請求項１記載の静電気サージ反射装置。
【請求項３】
前記サージ反射手段が、高周波の通過阻止帯域が異なる複数のコイルが直列接続された
もので構成されていることを特徴とする請求項１記載の静電気サージ反射装置。
【請求項４】
一端側が前記サージ反射手段の他端側に接続され、他端側が接地されたサージ吸収手段
を含んで構成されていることを特徴とする請求項１〜３のいずれかの項に記載の静電気サ
ージ反射装置。
【請求項５】
前記サージ反射手段と前記サージ吸収手段とが装着された配線基板が、前記被評価装置
側のラインが接続される第１の接続部と、前記評価装置側のラインが接続される第２の接
続部とを有する筐体内に収納されて構成されていることを特徴とする請求項４記載の静電
気サージ反射装置。
【請求項６】
前記サージ反射手段及び／又は前記サージ吸収手段が前記配線基板に着脱可能に構成さ
れていることを特徴とする請求項５記載の静電気サージ反射装置。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれかの項に記載の静電気サージ反射装置を介して前記被評価装置に
接続される電子機器の評価装置であって、
前記被評価装置が制御する装置の動作を模擬する模擬実行手段と、
該模擬実行手段による模擬中における前記被評価装置の所定の動作を監視する監視手段
と、
前記模擬実行手段による模擬中に、前記被評価装置に静電気サージを印加するための静
電気放電装置に対して放電制御信号を出力する放電制御信号出力手段とを備え、
前記監視手段が、前記被評価装置の動作を監視して、前記放電制御信号出力手段による
前記放電制御信号出力後の前記被評価装置の異常な動作を検出する異常動作検出手段を備
えていることを特徴とする電子機器の評価装置。
【請求項８】
請求項１〜６のいずれかの項に記載の静電気サージ反射装置を介して前記被評価装置に
接続される電子機器の評価装置であって、
前記被評価装置が制御する装置の動作を模擬する模擬実行手段と、
該模擬実行手段による模擬中における前記被評価装置の所定の動作を監視する監視手段
と、
前記模擬実行手段による模擬中に、前記被評価装置に静電気サージを印加するための静
電気放電装置に対して放電制御信号を出力する放電制御信号出力手段とを備え、
前記監視手段が、前記被評価装置の動作を監視して、前記放電制御信号出力手段による
前記放電制御信号出力後の前記被評価装置の異常な動作を検出する異常動作検出手段と、
前記被評価装置からの出力信号を監視して、前記放電制御信号出力手段による前記放電
制御信号出力後の前記被評価装置の異常な出力回路動作を検出する回路異常動作検出手段
とを備えていることを特徴とする電子機器の評価装置。
【請求項９】
請求項１〜６のいずれかの項に記載の静電気サージ反射装置を介して複数の前記被評価
装置に接続される電子機器の評価装置であって、
前記複数の被評価装置が制御する装置の動作を模擬する模擬実行手段と、
該模擬実行手段による模擬中における前記各被評価装置の所定の動作を監視する監視手
段と、
前記模擬実行手段による模擬中に、前記各被評価装置に静電気サージを印加するための
静電気放電装置に対して放電制御信号を出力する放電制御信号出力手段とを備え、
前記監視手段が、前記放電制御信号出力手段による前記放電制御信号出力後の前記各被
評価装置の異常な動作を検出する異常動作検出手段と、
該異常動作検出手段による前記各被評価装置の異常な動作の検出結果に基づいて、前記
各被評価装置の静電気サージ耐性を比較する比較手段とを備えていることを特徴とする電
子機器の評価装置。                                                              
【請求項１０】
請求項１〜６のいずれかの項に記載の静電気サージ反射装置を介して前記被評価装置に
接続される電子機器の評価装置であって、
前記被評価装置が制御する装置の動作を模擬する模擬実行手段と、
該模擬実行手段による模擬中における前記被評価装置の所定の動作を監視する監視手段
と、
前記模擬実行手段による模擬中に、前記被評価装置からの所定の出力信号の状態を考慮
した所定のタイミングで前記被評価装置に静電気サージが印加されるように静電気放電装
置に対して放電制御信号を出力する放電制御信号出力手段とを備え、
前記監視手段が、前記被評価装置からの前記所定の出力信号を監視して、前記放電制御
信号出力手段による前記放電制御信号出力後の前記被評価装置の異常な出力回路動作を検
出する回路異常動作検出手段を備えていることを特徴とする電子機器の評価装置。
【請求項１１】
請求項１〜６のいずれかの項に記載の静電気サージ反射装置を使用して、前記評価装置
が前記被評価装置を評価する方法であって、
前記評価装置が、
前記静電気サージ反射装置を介して接続された前記被評価装置が制御する装置の動作の
模擬中に、前記被評価装置に静電気サージを印加するための静電気放電装置に対して放電
制御信号を出力するステップと、
前記被評価装置の動作を監視して、前記放電制御信号出力後の前記被評価装置の異常な
動作を検出するステップとを含んでいることを特徴とする被評価装置の評価方法。
【請求項１２】
請求項１〜６のいずれかの項に記載の静電気サージ反射装置を使用して、前記評価装置
が前記被評価装置を評価する方法であって、
前記評価装置が、
前記静電気サージ反射装置を介して接続された前記被評価装置が制御する装置の動作の
模擬中に、前記被評価装置に静電気サージを印加するための静電気放電装置に対して放電
制御信号を出力するステップと、
前記被評価装置の動作を監視して、前記放電制御信号出力後の前記被評価装置の異常な
動作を検出するステップと、                                                      
前記被評価装置からの出力信号を監視して、前記放電制御信号出力後の前記被評価装置
の出力回路異常動作を検出するステップとを含んでいることを特徴とする被評価装置の評
価方法。
【請求項１３】
請求項１〜６のいずれかの項に記載の静電気サージ反射装置を使用して、前記評価装置
が前記被評価装置を評価する方法であって、
前記評価装置が、
前記静電気サージ反射装置を介して接続された複数の前記被評価装置が制御する装置の
動作の模擬中に、前記各被評価装置に静電気サージを印加するための静電気放電装置に放
電制御信号を出力するステップと、
前記各被評価装置の所定の動作を監視して、前記放電制御信号出力後の前記各被評価装
置の異常動作を検出するステップと、
該異常動作を検出するステップによる異常動作の検出結果に基づいて、前記各被評価装
置の静電気サージ耐性を比較するステップとを含んでいることを特徴とする被評価装置の
評価方法。
【請求項１４】
請求項１〜６のいずれかの項に記載の静電気サージ反射装置を使用して、前記評価装置
が前記被評価装置を評価する方法であって、
前記評価装置が、
前記静電気サージ反射装置を介して接続された前記被評価装置が制御する装置の動作の
模擬中に、前記被評価装置からの所定の出力信号の状態を考慮した所定のタイミングで前
記被評価装置に静電気サージが印加されるように静電気放電装置に対して放電制御信号を
出力するステップと、
前記被評価装置からの前記所定の出力信号を監視して、前記放電制御信号出力後の前記
被評価装置の出力回路異常動作を検出するステップとを含んでいることを特徴とする被評
価装置の評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、静電気サージ反射装置、電子機器の評価装置、及び被評価装置の評価方法に
関し、より詳細には、被評価装置と、該被評価装置を評価するための評価装置とが接続さ
れた状態で、前記被評価装置に対する静電気放電試験が実施できるようにするための静電
気サージ反射装置、該静電気サージ反射装置に接続される電子機器の評価装置、及び前記
被評価装置の評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
車載用電子機器の評価試験項目の一つに、静電気に対する耐性を評価する静電気放電試
験がある。従来の静電気放電試験方法は、被評価対象の電子機器（例えば、車載用の電子
制御装置）を実際に車両に搭載し（すなわち実際の使用環境（実使用状態）とし）、静電
気放電装置を使用して、前記電子制御装置に静電気サージを直接または間接的に印加して
評価する。例えば、静電気サージの放電電圧を段階的に上昇させながら印加して、前記電
子制御装置が誤作動することなく正常に動作しているかどうかを確認する方法が採用され
ている。
【０００３】
しかしながら、このような従来の静電気放電試験では、前記電子制御装置を実際に車両
に搭載した状態で評価を行っていたため、実車状態で評価するまでに静電気サージによる
不具合等を把握することができず、静電気サージによる不具合箇所が検出された場合には
、この段階から再度設計を見直さなければならず、前記電子制御装置の設計や開発効率を
低下させる要因にもなっていた。
【０００４】
一方、近年では、電子機器の設計や評価を効率よく行うために、被評価対象の電子機器
をチェッカーや計測器、或は計測装置（シミュレータ）等に接続して、実使用状態を模擬
する、すなわち、実際の使用環境と同等な環境下にして、電子機器の各種評価（計測）を
行うシステムが開発されている。このような評価システムにおいて、被評価対象の電子機
器に対して静電気を印加する静電気放電試験を実施しようとした場合、電子機器に対して
印加した静電気サージが、接続ラインを経由してチェッカーや計測器、或はシミュレータ
にも印加されることとなり、チェッカーや計測器、或はシミュレータなどの評価する側の
装置が誤作動したり、破損してしまう危険性が高いという課題があった。
【０００５】
そのため、このような評価システムにおいて、静電気放電試験を実施するには、被評価
対象の電子機器を評価システムから一旦取り外して、電子機器にのみ静電気サージを印加
した後、再度、システムに電子機器を接続して、静電気サージの印加の前後で電子機器の
作動が正常か否かを検出する方法が考えられるが、この方法では、静電気サージが印加さ
れた時の電子機器の作動、すなわち、誤作動等の異常発生時の挙動を詳細に確認すること
ができないという課題があった。
【０００６】
そこで、このような評価システムにおいて、評価装置側の静電気による誤作動や破損を
防止するために、電子機器と評価装置とを接続するラインに、例えば、下記の特許文献１
記載の電子機器用サージ保護装置を挿入する方法が考えられる。
【０００７】
図１４は、下記の特許文献１に開示されている従来の電子機器用サージ保護装置の概略
構成を示す回路図である。図中１０１は、ホイートストンブリッジ回路（以下、ブリッジ
回路と記す）を示しており、４つのひずみゲージ１０１ａ〜１０１ｄをブリッジ接続して
構成されており、外筐１０２内に収納して、地中に埋設されている。ブリッジ回路１０１
が、サージ電圧に対する第１の保護対象となるものである。
【０００８】
ブリッジ回路１０１のひずみゲージ１０１ａと１０１ｃとの間、及びひずみゲージ１０
１ｂと１０１ｄとの間には、それぞれ電源１０４に接続される入力ラインＬ１、Ｌ２が接
続されており、入力ラインＬ１、Ｌ２には、それぞれアモルファスコア１０５ａ、１０５
ｂに巻装されたコイル１０６ａ、１０６ｂが挿入されている。また、コイル１０６ａ、１
０６ｂの入力側、すなわち、電源１０４側には、ガスアレスタ１０３ａ、１０３ｂの一端
が接続され、ガスアレスタ１０３ａ、１０３ｂの他端は外筐１０２（アース）に接続され
ている。なお、ガスアレスタ１０３ａ、１０３ｂは、それぞれ入力ラインＬ１、Ｌ２に誘
導されるサージ電圧を吸収するためのもの、またコイル１０６ａ、１０６ｂはこのサージ
電圧を遅延させるためのものとして使用されている。
【０００９】
また、ブリッジ回路１０１のひずみゲージ１０１ａと１０１ｂとの間、及びひずみゲー
ジ１０１ｃと１０１ｄとの間には、それぞれひずみ測定器を構成するアンプ１０７（第２
の保護対象）の入力端に接続される出力ラインＬ３、Ｌ４が接続されており、出力ライン
Ｌ３、Ｌ４には、それぞれアモルファスコア１０５ｃ、１０５ｄに巻装されたコイル１０
６ｃ、１０６ｄが挿入されている。また、コイル１０６ｃ、１０６ｄの出力側、すなわち
、アンプ１０７側には、ガスアレスタ１０３ｃ、１０３ｄの一端が接続され、ガスアレス
タ１０３ｃ、１０３ｄの他端は外筐１０２（アース）に接続されている。なお、ガスアレ
スタ１０３ｃ、１０３ｄは、それぞれ出力ラインＬ３、Ｌ４に誘導されたサージ電圧を吸
収するためのもの、またコイル１０６ｃ、１０６ｄは、出力ラインＬ３、Ｌ４に誘導され
たサージ電圧がひずみゲージ１０１ａ〜１０１ｄに印加されるのを遅延させるためのもの
として使用されている。
【００１０】
次に、この電子機器用サージ保護装置の動作について説明する。入力ラインＬ１、Ｌ２
に雷サージなどのサージ電圧が誘導されると、このサージ電圧は、コイル１０６ａ、１０
６ｂにより遅延されるため、ブリッジ回路１０１に印加されるまでに遅延時間かかる。こ
の遅延時間の間に、ガスアレスタ１０３ａ、１０３ｂがサージ電圧により放電され、ライ
ンＬ１、Ｌ２に誘導されたサージ電圧がガスアレスタ１０３ａ、１０３ｂを通り、さらに
外筐１０２を介して、大地に放電される。
【００１１】
また、出力ラインＬ３、Ｌ４に誘導されたサージ電圧も同様にして、コイル１０６ａ、
１０６ｂにより遅延されて、ブリッジ回路１０１に印加されるのが遅延され、この遅延時
間の間に、出力ラインＬ３、Ｌ４に重畳されたサージ電圧でガスアレスタ１０３ｃ、１０
３ｄが放電するので、出力ラインＬ３、Ｌ４のサージ電圧がガスアレスタ１０３ａ、１０
３ｂを通して大地に放電される。
【００１２】
したがって、コイル１０６ａ〜１０６ｄにより、ラインＬ１〜Ｌ４に誘導されたサージ
電圧を遅延させることで、ガスアレスタ１０３ｃ、１０３ｄの初期応答の遅れの問題（雷
サージが発生した瞬間から数μｓ遅れて働く問題）を解決し、ブリッジ回路１０１とアン
プ１０７とをサージ電圧から保護することができるとしている。
【００１３】
例えば、上記説明した特許文献１記載の電子機器用サージ保護装置を被評価対象の電子
制御装置と、評価装置との間に設けた場合、すなわち、図１４におけるブリッジ回路１０
１に代えて、電子制御装置を接続し、アンプ１０７に代えて評価装置を接続して、出力ラ
インＬ３、Ｌ４に静電気サージを印加した場合を想定すると、印加された静電気サージが
、サージ電圧遅延用のコイル１０６ｃ、１０６ｄにより遅延された後、サージ電圧吸収用
のガスアレスタ１０３ｃ、１０３ｄを通じて、アースに放電される。したがって、評価装
置は静電気サージから保護することができるものの、電子制御装置に対しては、静電気放
電装置から本来印加しようとした大きさの放電電圧を印加することができず（吸収される
ため）、このような状態で静電気放電試験を行ったとしても、実車両試験と同等の試験結
果を得ることができないといった課題があった。
【特許文献１】特開平５−４５３８１号公報
【発明の開示】
【課題を解決するための手段及びその効果】
【００１４】
本発明は上記課題に鑑みなされたものであって、被評価装置に対しては、所定の放電電
圧に設定された静電気サージを減衰させることなく印加させることができ、一方、前記被
評価装置を評価するための評価装置に対しては、前記静電気サージから確実に保護するこ
とができる静電気サージ反射装置、前記静電気サージが印加されたときの被評価装置の作
動状態を監視することのできる電子機器の評価装置、及び被評価装置の評価方法を提供す
ることを目的としている。
【００１５】
上記目的を達成するために本発明に係る静電気サージ反射装置（１）は、被評価装置と
、該被評価装置を評価するための評価装置とを接続するラインに介装される静電気サージ
反射装置であって、一端側が前記被評価装置側のラインに接続され、他端側が前記評価装
置側のラインに接続されるサージ反射手段を含んで構成されていることを特徴としている
。
【００１６】
上記静電気サージ反射装置（１）によれば、前記被評価装置に対して静電気サージが印
加された場合、前記サージ反射手段により前記静電気サージが反射され、前記被評価装置
に対しては、静電気サージを減衰させることなく印加させることができる一方、前記評価
装置に対しては、静電気サージが印加されないようにすることができ、前記評価装置を前
記静電気サージから適切に保護することができる。したがって、前記評価装置と前記被評
価装置とを接続した状態であっても、実際の使用環境（実使用状態）における静電気放電
試験と同等の（すなわち、相関関係が得られる）静電気放電試験を実施することが可能に
なるとともに、前記評価装置側では、前記被評価装置の静電気サージ印加時の挙動を把握
することが可能となる。
【００１７】
なお、前記評価装置は、前記被評価装置である電子機器へ疑似信号を出力する疑似信号
出力器及び該疑似信号出力器から出力された疑似信号に対する前記被評価装置の動作を計
測する計測器で構成したり、又は、前記被評価装置である電子機器が制御する装置の動作
を模擬する計測装置（シミュレータ）等で構成することができる。
【００１８】
また本発明に係る静電気サージ反射装置（２）は、上記静電気サージ反射装置（１）に
おいて、前記サージ反射手段が、高周波の通過を阻止するコイルで構成されていることを
特徴としている。
【００１９】
上記静電気サージ反射装置（２）によれば、前記サージ反射手段が、高周波の通過を阻
止するコイルで構成されているので、前記コイルが有する交流に対する電流制限作用、す
なわち、高周波になるほど電流を制限する作用が大きくなる機能を利用することで、前記
被評価装置に対して静電気サージが印加された場合でも、前記コイルにより前記静電気サ
ージの前記評価装置側への通過が抑止されるので、低コストかつシンプルな構成で、上記
静電気サージ反射装置（１）と同様の効果を得ることができる。
【００２０】
また本発明に係る静電気サージ反射装置（３）は、上記静電気サージ反射装置（１）に
おいて、前記サージ反射手段が、高周波の通過阻止帯域が異なる複数のコイルが直列接続
されたもので構成されていることを特徴としている。
【００２１】
上記静電気サージ反射装置（３）によれば、前記サージ反射手段が、高周波の通過阻止
帯域が異なる複数のコイルが直列接続されたもので構成されているので、前記複数のコイ
ルによって、広帯域の周波数成分を含む前記静電気サージの前記評価装置側への通過を抑
止する効果を高めることができ、前記静電気サージの反射効果（通過抑止効果）を高める
ことができる。
【００２２】
また本発明に係る静電気サージ反射装置（４）は、上記静電気サージ反射装置（１）〜
（３）のいずれかにおいて、一端側が前記サージ反射手段の他端側に接続され、他端側が
接地されたサージ吸収手段を含んで構成されていることを特徴としている。
【００２３】
上記静電気サージ反射装置（４）によれば、一端側が前記サージ反射手段の他端側（す
なわち、前記評価装置側のライン）に接続され、他端側が接地されたサージ吸収手段を含
んで構成されているので、一部の静電気サージが前記サージ反射手段を通過してきたとし
ても、通過してきた静電気サージが前記サージ吸収手段を通じてグランドに放電される。
したがって、前記サージ反射手段を通過してきた静電気サージを前記サージ吸収手段によ
り吸収することができ、前記静電気サージに対する前記評価装置の保護効果を一層高める
ことができる。前記サージ吸収手段としては、放電管型のサージ吸収素子や、ツェナーダ
イオード系のサージ吸収素子などが採用され得る。
【００２４】
また本発明に係る静電気サージ反射装置（５）は、上記静電気サージ反射装置（４）に
おいて、前記サージ反射手段と前記サージ吸収手段とが装着された配線基板が、前記被評
価装置側のラインが接続される第１の接続部と、前記評価装置側のラインが接続される第
２の接続部とを有する筐体内に収納されて構成されていることを特徴としている。
【００２５】
上記静電気サージ反射装置（５）によれば、前記サージ反射手段と前記サージ吸収手段
とが装着された配線基板が、前記被評価装置側のラインが接続される第１の接続部と、前
記評価装置側のラインが接続される第２の接続部とを有する筐体内に収納されて構成され
ているので、前記被評価装置側のラインを前記第１の接続部に接続し、前記評価装置側の
ラインを前記第２の接続部に接続することができ、また、各ラインに対応した前記サージ
反射手段と前記サージ吸収手段とが装着された配線基板が前記筐体内にコンパクトに収納
された形態の装置とすることができる。
【００２６】
また本発明に係る静電気サージ反射装置（６）は、上記静電気サージ反射装置（５）に
おいて、前記サージ反射手段及び／又は前記サージ吸収手段が前記配線基板に着脱可能に
構成されていることを特徴としている。
【００２７】
上記静電気サージ反射装置（６）によれば、前記サージ反射素子及び／又は前記サージ
吸収素子が前記配線基板に着脱可能に構成されているので、前記静電気サージを繰り返し
印加することにより性能が劣化してくる前記サージ反射手段や前記サージ吸収手段を適切
なタイミングで交換することができ、静電気サージの反射性能や吸収性能を低下させるこ
となく一定に保つことが可能となり、評価の信頼性を高めることができる。
【００２８】
また本発明に係る電子機器の評価装置（１）は、上記静電気サージ反射装置（１）〜（
６）のいずれかを介して前記被評価装置に接続される電子機器の評価装置であって、前記
被評価装置が制御する装置の動作を模擬する模擬実行手段と、該模擬実行手段による模擬
中における前記被評価装置の所定の動作を監視する監視手段と、前記模擬実行手段による
模擬中に、前記被評価装置に静電気サージを印加するための静電気放電装置に対して放電
制御信号を出力する放電制御信号出力手段とを備え、前記監視手段が、前記被評価装置の
動作を監視して、前記放電制御信号出力手段による前記放電制御信号出力後の前記被評価
装置の異常な動作を検出する異常動作検出手段を備えていることを特徴としている。
【００２９】
上記電子機器の評価装置（１）によれば、前記模擬実行手段による模擬中に、前記放電
制御信号出力手段による前記放電制御信号出力後の前記被評価装置の動作を監視すること
により、前記静電気サージによる前記被評価装置の異常な動作を検出することができる。
したがって、前記静電気放電装置から前記静電気サージを前記被評価装置側へ印加したと
きの該被評価装置の動作状態を監視することができ、また、前記静電気サージ反射装置と
接続したシステムとすることにより、実際の使用環境（実使用状態）における静電気放電
試験を行わなくても、該静電気放電試験に相当する試験結果を得ることが可能になる。
【００３０】
また本発明に係る電子機器の評価装置（２）は、上記静電気サージ反射装置（１）〜（
６）のいずれかを介して前記被評価装置に接続される電子機器の評価装置であって、前記
被評価装置が制御する装置の動作を模擬する模擬実行手段と、該模擬実行手段による模擬
中における前記被評価装置の所定の動作を監視する監視手段と、前記模擬実行手段による
模擬中に、前記被評価装置に静電気サージを印加するための静電気放電装置に対して放電
制御信号を出力する放電制御信号出力手段とを備え、前記監視手段が、前記被評価装置の
動作を監視して、前記放電制御信号出力手段による前記放電制御信号出力後の前記被評価
装置の異常な動作を検出する異常動作検出手段と、前記被評価装置からの出力信号を監視
して、前記放電制御信号出力手段による前記放電制御信号出力後の前記被評価装置の異常
な出力回路動作を検出する回路異常動作検出手段とを備えていることを特徴としている。
【００３１】
上記電子機器の評価装置（２）によれば、前記模擬実行手段による模擬中に、前記放電
制御信号出力手段による前記放電制御信号出力後の前記被評価装置の動作を監視すること
により、前記静電気サージによる前記被評価装置の異常な動作（マイクロコンピュ−タの
異常動作）を検出することができ、さらに、前記放電制御信号出力後の前記被評価装置か
らの出力信号を監視することにより、該被評価装置の静電気サージによる異常な出力回路
動作（例えば、出力インターフェースを構成する回路部品の異常動作）を検出することが
できる。また、上記電子機器の評価装置（１）と同様、前記静電気サージ反射装置と接続
したシステムとすることにより、実際の使用環境（実使用状態）における静電気放電試験
を行わなくても、該静電気放電試験に相当する試験結果を得ることが可能になる。
【００３２】
また本発明に係る電子機器の評価装置（３）は、上記静電気サージ反射装置（１）〜（
６）のいずれかを介して前記被評価装置に接続される電子機器の評価装置であって、前記
複数の被評価装置が制御する装置の動作を模擬する模擬実行手段と、該模擬実行手段によ
る模擬中における前記各被評価装置の所定の動作を監視する監視手段と、前記模擬実行手
段による模擬中に、前記各被評価装置に静電気サージを印加するための静電気放電装置に
対して放電制御信号を出力する放電制御信号出力手段とを備え、前記監視手段が、前記放
電制御信号出力手段による前記放電制御信号出力後の前記各被評価装置の異常な動作を検
出する異常動作検出手段と、該異常動作検出手段による前記各被評価装置の異常な動作の
検出結果に基づいて、前記各被評価装置の静電気サージ耐性を比較する比較手段とを備え
ていることを特徴としている。
【００３３】
上記電子機器の評価装置（３）によれば、前記模擬実行手段による模擬中に、前記放電
制御信号出力手段による前記放電制御信号出力後の前記各被評価装置の動作を監視するこ
とにより、前記各被評価装置における前記静電気サージによる異常な動作を検出し、検出
された前記各被評価装置の異常な動作の検出結果に基づいて、前記各被評価装置の静電気
サージ耐性を比較するので、前記各被評価装置の静電気サージ耐性の順位を割り出すこと
ができ、最も静電気サージ耐性が低い被評価装置などを把握することができ、前記各被評
価装置の静電気サージ耐性に応じた静電気対策を個別に実施するためのデータを得ること
ができる。
【００３４】
また本発明に係る電子機器の評価装置（４）は、上記静電気サージ反射装置（１）〜（
６）のいずれかを介して前記被評価装置に接続される電子機器の評価装置であって、前記
被評価装置が制御する装置の動作を模擬する模擬実行手段と、該模擬実行手段による模擬
中における前記被評価装置の所定の動作を監視する監視手段と、前記模擬実行手段による
模擬中に、前記被評価装置からの所定の出力信号の状態を考慮した所定のタイミングで前
記被評価装置に静電気サージが印加されるように静電気放電装置に対して放電制御信号を
出力する放電制御信号出力手段とを備え、前記監視手段が、前記被評価装置からの前記所
定の出力信号を監視して、前記放電制御信号出力手段による前記放電制御信号出力後の前
記被評価装置の異常な出力回路動作を検出する回路異常動作検出手段を備えていることを
特徴としている。
【００３５】
上記電子機器の評価装置（４）によれば、前記模擬実行手段による模擬中に、前記被評
価装置からの所定の出力信号の状態を考慮した所定のタイミング（例えば、ＨｉからＬｏ
、ＬｏからＨｉなどの信号状態が切り替わるタイミング）で前記被評価装置に静電気サー
ジが印加されるように静電気放電装置に対して放電制御信号を出力し、前記静電気放電装
置に対する放電制御信号出力後の前記被評価装置からの前記所定の出力信号を監視するこ
とにより、前記被評価装置の前記静電気サージによる異常な出力回路動作を検出すること
ができる。したがって、前記被評価装置からの所定の出力信号の状態によって静電気サー
ジの影響の受け方が異なる出力回路を検出することができ、個別に静電気対策を図るため
のデータを得ることができる。
【００３６】
また本発明に係る被評価装置の評価方法（１）は、上記静電気サージ反射装置（１）〜
（６）を使用して、前記評価装置が前記被評価装置を評価する方法であって、前記評価装
置が、前記静電気サージ反射装置を介して接続された前記被評価装置が制御する装置の動
作の模擬中に、前記被評価装置に静電気サージを印加するための静電気放電装置に対して
放電制御信号を出力するステップと、前記被評価装置の動作を監視して、前記放電制御信
号出力後の前記被評価装置の異常な動作を検出するステップとを含んでいることを特徴と
している。
【００３７】
上記被評価装置の評価方法（１）によれば、前記評価装置による模擬中に、前記静電気
放電装置に対する放電制御信号出力後の前記被評価装置の動作を監視して、前記被評価装
置の前記静電気サージによる異常な動作を検出することができる。したがって、前記静電
気放電装置から前記静電気サージが前記被評価装置側へ印加されたときの該被評価装置の
動作を監視することができるとともに、実際の使用環境（実使用状態）における静電気放
電試験を行わなくても、該静電気放電試験に相当する試験結果を得ることが可能になる。
【００３８】
また本発明に係る被評価装置の評価方法（２）は、上記静電気サージ反射装置（１）〜
（６）を使用して、前記評価装置が前記被評価装置を評価する方法であって、前記評価装
置が、前記静電気サージ反射装置を介して接続された前記被評価装置が制御する装置の動
作の模擬中に、前記被評価装置に静電気サージを印加するための静電気放電装置に対して
放電制御信号を出力するステップと、前記被評価装置の動作を監視して、前記放電制御信
号出力後の前記被評価装置の異常な動作を検出するステップと、前記被評価装置からの出
力信号を監視して、前記放電制御信号出力後の前記被評価装置の出力回路異常動作を検出
するステップとを含んでいることを特徴としている。
【００３９】
上記被評価装置の評価方法（２）によれば、前記評価装置による模擬中に、前記静電気
放電装置に対する放電制御信号出力後の前記被評価装置の動作を監視して、前記被評価装
置の静電気サージによる異常な動作（マイクロコンピュ−タの異常動作）を検出すること
ができ、さらに、前記被評価装置の出力信号を監視して、該被評価装置の静電気サージに
よる異常な回路動作（出力インターフェース等を構成する回路部品の異常動作）を検出す
ることができとともに、上記被評価装置の評価方法（１）と同様、実際の使用環境（実使
用状態）における静電気放電試験を行わなくても、該静電気放電試験に相当する試験結果
を得ることが可能になる。
【００４０】
また本発明に係る被評価装置の評価方法（３）は、上記静電気サージ反射装置（１）〜
（６）を使用して、前記評価装置が前記被評価装置を評価する方法であって、前記評価装
置が、前記静電気サージ反射装置を介して接続された複数の前記被評価装置が制御する装
置の動作の模擬中に、前記各被評価装置に静電気サージを印加するための静電気放電装置
に放電制御信号を出力するステップと、前記各被評価装置の所定の動作を監視して、前記
放電制御信号出力後の前記各被評価装置の異常動作を検出するステップと、該異常動作を
検出するステップによる異常動作の検出結果に基づいて、前記各被評価装置の静電気サー
ジ耐性を比較するステップとを含んでいることを特徴としている。
【００４１】
上記被評価装置の評価方法（３）によれば、前記評価装置による模擬中に、前記静電気
放電装置に対する放電制御信号出力後の前記各被評価装置の動作を監視して、前記各被評
価装置における前記静電気サージによる異常動作を検出し、検出された前記各被評価装置
の異常動作の検出結果に基づいて、前記各被評価装置の静電気サージ耐性を比較するので
、前記各被評価装置の静電気サージ耐性の順位を割り出すことができ、最も静電気サージ
耐性が低い被評価装置などを把握することができ、前記各被評価装置の静電気サージ耐性
に応じた静電気対策を個別に実施することが可能となる。
【００４２】
また本発明に係る被評価装置の評価方法（４）は、上記静電気サージ反射装置（１）〜
（６）を使用して、前記評価装置が前記被評価装置を評価する方法であって、前記評価装
置が、前記静電気サージ反射装置を介して接続された前記被評価装置が制御する装置の動
作の模擬中に、前記被評価装置からの所定の出力信号の状態を考慮した所定のタイミング
で前記被評価装置に静電気サージが印加されるように静電気放電装置に対して放電制御信
号を出力するステップと、前記被評価装置からの前記所定の出力信号を監視して、前記放
電制御信号出力後の前記被評価装置の出力回路異常動作を検出するステップとを含んでい
ることを特徴としている。
【００４３】
上記被評価装置の評価方法（４）によれば、前記評価装置による模擬中に、前記被評価
装置からの出力信号の状態を考慮した所定のタイミング（例えば、ＯＮ、ＯＦＦなどの切
り替わるタイミング）で前記被評価装置に静電気サージが印加されるように静電気放電装
置に対して放電制御信号を出力し、前記静電気放電装置に対する放電制御信号出力後の前
記被評価装置からの出力信号を監視して、前記被評価装置の前記静電気サージによる回路
異常動作を検出することができる。したがって、前記被評価装置からの出力信号の状態に
よって静電気サージの影響の受け方が異なる回路を検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４４】
以下、本発明に係る静電気サージ反射装置、電子機器の評価装置、及び被評価装置の評
価方法の実施の形態を図面に基づいて説明する。図１は、実施の形態（１）に係る静電気
サージ反射装置が採用された電子機器の評価システムの概略構成を示したブロック図であ
る。                                                                            
【００４５】
図中１は、計測装置（電子機器の評価装置）を示しており、計測装置１は、出力信号ラ
イン１１ａ、入力信号ライン１２ａ、及び電源ライン１３ａを介して静電気サージ反射装
置２０に接続されており、静電気サージ反射装置２０は、出力信号ライン１１ｂ、入力信
号ライン１２ｂ、及び電源ライン１３ｂを介して、被評価装置である車載用の電子制御装
置（以下ＥＣＵと記す）３０に接続されている。なお、出力信号ライン１１ａ、１１ｂ、
入力信号ライン１２ａ、１２ｂは、ＥＣＵ３０の入出力端子数に対応した複数の信号ライ
ンで構成されている。また、マイコン４１、表示部４２、及び操作部４３を含んで構成さ
れるホストコンピュータ（以下ホストＰＣと記す）４０と、静電気放電装置５０とが計測
装置１に接続されている。
【００４６】
計測装置１は、マイコン２、アナログ・ディジタル（Ａ／Ｄ）入出力部３、自動車用パ
ルス等の各種用途に応じた信号の入出力処理を行う信号処理部４、通信処理部５、ＥＣＵ
３０の入出力信号に対応した信号のレベル変換等を行うインターフェース（ＩＦ）部６等
を含んで構成されている。
【００４７】
マイコン２は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、及びＲＡＭ（いずれも図示せず）を含んで構成されて
おり、ＲＯＭには、ＥＣＵ３０が制御する装置（例えばエンジン等の被制御機器）の動作
を模擬する、すなわち車両モデルのシミュレーションを実行するためのプログラムが記憶
されている。ＣＰＵは、ＲＯＭからプログラムを読み出し、車両モデルのシミュレーショ
ンを実行するための各種演算処理を行う、すなわち、ホストＰＣ４０を通じて設定された
車両モデルに基づいて、ＥＣＵ３０で行われる各種制御等に必要な信号を演算してＥＣＵ
３０へ出力するとともに、ＥＣＵ３０から送信されてくる被制御機器（エンジン、モータ
、各種アクチュエータ等）に対する制御信号等に基づいて、車両モデルを構成する各要素
の状態量を模擬的に演算し、演算された計測データをホストＰＣ４０に供給するようにな
っている。
【００４８】
ホストＰＣ４０のマイコン４１では、これら計測データをもとに前記被制御機器の動作
状態を推定し、その結果を記憶したり、表示部４２に表示する処理を行うようになってお
り、ホストＰＣ４０のマイコン４１には、計測装置１で計測されたデータ等を編集して表
示部４２に表示させたり、計測装置１の各種設定を表示画面を通じて行うためのアプリケ
ーションソフトが格納されている。
【００４９】
また、計測装置１は、ＥＣＵ３０が制御する装置の動作の模擬中に、静電気放電装置５
０に対して所定の放電制御信号を出力する機能（放電制御信号出力手段）を有しており、
放電制御信号を受けた静電気放電装置５０では、ＥＣＵ３０に対して所定の放電電圧に設
定された静電気サージを所定回数ほど印加する処理が行われるようになっている。
【００５０】
また、ＥＣＵ３０は、各種センサ等からの信号（但し、本実施の形態では計測装置１か
らの信号）をマイコン３１で扱えるディジタル信号に変換する入力インターフェース（Ｉ
Ｆ）部３２と、ＣＰＵ、ＲＯＭ、及びＲＡＭ（いずれも図示せず）を含み、ＲＯＭに格納
された制御プログラムに基づいて各種演算・制御処理を実行するマイコン３１と、マイコ
ン３１から出力された信号を増幅させて前記被制御機器を駆動させるための信号（但し、
本実施の形態では計測装置１へ出力される信号）を出力する出力インターフェース（ＩＦ
）部３３とを含んで構成されている。
【００５１】
次に、ＥＣＵ３０と、計測装置１とを接続する各ラインに介装されている静電気サージ
反射装置２０について説明する。図２は、静電気サージ反射装置２０の外観を模式的に示
した斜視図である。図３は、図２に示した静電気サージ反射装置２０におけるIII −III 
線断面図である。
【００５２】
図中２１は、略直方体形状をした金属製のシールドケースを示しており、シールドケー
ス２１の対向する一側面には、計測装置１側の出力信号ライン１１ａ、入力信号ライン１
２ａ、及び電源ライン１３ａの先端に取り付けられた凸型コネクタ１４が挿入される凹型
コネクタ２２（図３参照）と、ＥＣＵ３０側の出力信号ライン１１ｂ、入力信号ライン１
２ｂ、及び電源ライン１３ｂの先端に取り付けられた凸型コネクタ１５が接続される凹型
コネクタ２３とが所定個数（図３では９個）設けられている。各凹型コネクタ２２、２３
には、対応する凸型コネクタ１４、１５に接続されている各ラインと接続される端子が設
けられている。
【００５３】
また、図３に示すようにシールドケース２１の内部には、シールドケース２１の一側面
の対向する位置に配設された各凹型コネクタ２２、２３との間に部品実装基板２４がそれ
ぞれ装着されている。部品実装基板２４には、凹型コネクタ２２、２３の各端子を接続す
るための配線（図示せず）が形成されており、これら配線には、後述する静電気サージ反
射回路を構成するチョークコイル２５とサージアブソーバ２６とが接続されている。なお
チョークコイル２５とサージアブソーバ２６とは、部品実装基板２４上に形成されたソケ
ット２７に着脱可能な形態で装着されている。なお、シールドケース２１は、その上面と
該上面両側の側面部分とが蓋部となって取り外せるように構成されており、該蓋部を取り
外した状態でチョークコイル２５やサージアブソーバ２６の着脱が行えるようになってい
る。
【００５４】
図４（ａ）は、静電気サージ反射装置２０を構成する回路（静電気サージ反射回路）図
である。出力信号ライン１１ａ、１１ｂ、及び入力信号ライン１２ａ、１２ｂが接続され
る凹型コネクタ２２、２３の端子２２ａ、２３ａ間を接続する部品実装基板２４の配線２
８ａには、静電気サージ反射素子としてのチョークコイル２５が介装されており、このチ
ョークコイル２５と計測装置１側の凹型コネクタ２２の端子２２ａとを接続する配線２８
ａには、サージ吸収素子としての放電管型のサージアブソーバ２６の一端が接続され、サ
ージアブソーバ２６の他端側はシールドケース２１を介してグランドに接続（接地）され
ている。
【００５５】
図４（ｂ）は、静電気サージ反射装置２０を構成する回路（静電気サージ吸収回路）図
である。電源ライン１３ａ、１３ｂが接続される凹型コネクタ２２、２３の端子２２ｂ、
２３ｂ間を接続する部品実装基板２４の配線２８ｂには、サージ吸収素子としての放電管
型のサージアブソーバ２６の一端が接続され、サージアブソーバ２６の他端側はシールド
ケース２１を介してグランドに接続（接地）されている。
【００５６】
次に、静電気サージ反射装置２０を構成する回路（静電気サージ反射回路）の動作を説
明する。図５は、静電気サージ反射装置２０を構成する回路（静電気サージ反射回路）図
と、ＥＣＵ３０側に印加された静電気サージの回路上での波形変化とを示した図である。
【００５７】
計測装置１から出力された放電制御信号に基づいて静電気放電装置５０から、例えば、
静電容量１５０ＰＦ、放電抵抗１５０Ω、放電電圧±２５ＫＶｍａｘの静電気サージがＥ
ＣＵ３０側（すなわち、出力信号ライン１１ｂ、入力信号ライン１２ｂ、及び電源ライン
１３ｂ）に印加されると、静電気サージが、ＥＣＵ３０に誘導されるとともに、出力信号
ライン１１ｂ、入力信号ライン１２ｂ、凹型コネクタ２３の端子２３ａ、及び配線２８ａ
を通じてチョークコイル２５の一端側（すなわちＥＣＵ３０側）にも誘導される（Ａ点の
波形）。チョークコイル２５の一端側に誘導された静電気サージは、チョークコイル２５
が有する高周波の通過阻止機能により、高周波成分（数ＭＨｚ以上の高周波）が反射され
、チョークコイル２５の他端側には、高周波成分がカットされた静電気サージが通過する
（Ｂ点の波形）。そしてチョークコイル２５を通過した、高周波成分がカットされた静電
気サージは、さらにサージアブソーバ２６により放電吸収され、計測装置１の耐サージ電
圧（例えば、１００Ｖ、サージ継続時間１μｓ以下）以下、すなわち、計測装置１内のフ
ィルタにより除去可能なレベルまで減圧されるようになっている（Ｃ点の波形）。
【００５８】
また、図４（ｂ）に示したＥＣＵ３０側の凹型コネクタ２３内の電源ライン１３ｂに接
続される端子２３ｂと、配線２８ｂとを通じて誘導された静電気サージは、配線２８ｂに
接続されたサージアブソーバ２６により放電吸収され、計測装置１の耐電圧以下に減圧さ
れるようになっている。
【００５９】
次に実施の形態（１）に係る計測装置１におけるマイコン２が行う処理動作を図６に示
したフローチャートに基づいて説明する。なお、本処理動作は、静電気サージ反射装置２
０を介して接続されたＥＣＵ３０が制御する装置の動作の模擬中に行われる。
【００６０】
まず、ステップＳ１では、静電気放電装置５０に放電制御信号を出力する命令があった
か否かを判断し、放電制御信号の出力命令がなかったと判断すればステップＳ１に戻る一
方、放電制御信号の出力命令があったと判断すればステップＳ２に進む。
【００６１】
ステップＳ２では、放電制御信号（すなわち、所定の放電電圧に設定された静電気サー
ジをＥＣＵ３０側に所定回数印加させるための信号）を静電気放電装置５０へ出力する処
理を行い、その後ステップＳ３に進む。なお、静電気放電装置５０では、計測装置１から
の放電制御信号を受けて、所定の放電電圧に設定された静電気サージを所定回数ほどＥＣ
Ｕ３０側に印加する制御が実施される。
【００６２】
ステップＳ３では、ＥＣＵ３０のマイコン３１で実行されるプログラム動作を監視、す
なわち、ＥＣＵ３０のマイコン３１で実行されているプログラムのアドレスを監視する処
理を行い、その後ステップＳ４に進む。
【００６３】
ステップＳ４では、ＥＣＵ３０のマイコン３１で実行されるプログラム動作に異常があ
ったか否か、すなわち、実行アドレスの順序に異常があったか否かを判断し、実行アドレ
スの順序に異常がなかったと判断すればステップＳ５に進み、ステップＳ５では、ＥＣＵ
３０のマイコン３１で実行されるプログラム動作に異常が検出されなかったことを示す異
常未検出データをホストＰＣ４０へ送信する処理を行う。なお、ホストＰＣ４０では、送
信されてきた異常未検出データや静電気サージ印加時の計測データに基づいて、ＥＣＵ３
０のプログラム動作の異常が未検出であったことと、静電気サージ印加時のＥＣＵ３０の
正常な動作状態とを表示部４２に表示する処理が行われるようになっている。
【００６４】
一方、ステップＳ４において、ＥＣＵ３０のマイコン３１で実行されるプログラム動作
に異常があった、すなわち実行アドレスの順序に異常があったと判断すればステップＳ６
に進み、ステップＳ６では、ＥＣＵ３０のマイコン３１で実行されるプログラム動作に異
常が検出されたことを示す異常検出データをホストＰＣ４０へ送信する処理を行う。なお
、ホストＰＣ４０では、送信されてきた異常検出データや静電気サージ印加時の計測デー
タに基づいて、プログラム動作の異常が検出されたことと、静電気サージ印加時のＥＣＵ
３０の異常なプログラムの動作状態を表示部４２に表示する処理が行われるようになって
いる。
【００６５】
上記実施の形態（１）に係る静電気サージ反射装置２０によれば、高周波の通過を阻止
するチョークコイル２５が有する交流に対する電流制限作用、すなわち、高周波になるほ
ど電流を制限する作用が大きくなる機能を利用することで、ＥＣＵ３０に対して静電気サ
ージが印加された場合でも、チョークコイル２５により静電気サージが反射され、静電気
サージの計測装置１側への通過が抑止されるので、ＥＣＵ３０に対しては、静電気サージ
を減衰させることなく印加させることができる一方、計測装置１に対しては、静電気サー
ジから適切に保護することができる。また、静電気サージの低周波成分がチョークコイル
２５を通過してきたとしても、その多くをサージアブソーバ２６を通じて放電吸収させる
ことができ、計測装置１に対するサージ保護効果を一層高めることができる。
【００６６】
したがって、計測装置１とＥＣＵ３０とを接続した状態であっても、実際の使用環境（
実使用状態）における静電気放電試験と同等の（すなわち、相関関係が得られる）静電気
放電試験を実施することが可能になるとともに、計測装置１側では、ＥＣＵ３０に静電気
サージが印加された時のＥＣＵ３０の挙動を把握することが可能となる。
【００６７】
また、チョークコイル２５とサージアブソーバ２６とが装着された部品実装基板２４が
、ＥＣＵ３０側の凸型コネクタ１５が接続される凹型コネクタ２３と、計測装置１側の凸
型コネクタ１４が接続される凹型コネクタ２２とを有するシールドケース２１内に収納さ
れて構成されているので、ＥＣＵ３０側の凸型コネクタ１５を凹型コネクタ２３に接続し
、計測装置１側の凸型コネクタ１４を凹型コネクタ２２に接続することができ、また、各
ラインに対応したチョークコイル２５とサージアブソーバ２６とが装着された部品実装基
板２４がシールドケース２１内にコンパクトに収納された形態の装置とすることができる
。
【００６８】
また、チョークコイル２５とサージアブソーバ２６とが部品実装基板２４に設けられた
ソケット２７に着脱可能に構成されているので、静電気サージを繰り返し印加することに
より性能が劣化してくるチョークコイル２５とサージアブソーバ２６とを適切なタイミン
グで交換することができ、静電気サージの反射性能や吸収性能を低下させることなく一定
に保つことが可能となり、評価の信頼性を高めることができる。なお、サージアブソーバ
２６としては、放電管型のサージアブソーバの他に、ツェナーダイオード系のサージアブ
ソーバなどが採用され得る。
【００６９】
また、実施の形態（１）に係る計測装置１によれば、マイコン２（模擬実行手段）によ
る模擬中に放電制御信号を出力し、放電制御信号出力後のＥＣＵ３０のプログラム動作を
監視することにより、静電気サージによるＥＣＵ３０の異常なプログラム動作を検出する
ことができる。したがって、静電気放電装置５０から静電気サージをＥＣＵ３０側へ印加
したときのＥＣＵ３０の動作状態を監視することができるとともに、静電気サージ反射装
置２０に接続することにより実際の使用環境（実使用状態）における静電気放電試験を行
わなくても、該静電気放電試験に相当する試験結果を得ることが可能になる。
【００７０】
なお、上記実施の形態（１）に係る静電気サージ反射装置２０では、チョークコイル２
５が各配線に１個づつ接続されている場合について説明したが、別の実施の形態では、図
７（ａ）に示したように、高周波の通過阻止帯域が異なる複数のコイル、例えば、数ＭＨ
ｚ、数十ＭＨｚ、数百ＭＨｚ以上の高周波の通過を阻止するコイル２５ａ、２５ｂ、２５
ｃを直列接続した構成としたり、図７（ｂ）に示したように、広帯域の周波数成分の通過
を阻止する機能を有する巻き貝形状をしたコイル２５ｄを接続した構成とすることもでき
る。係る構成によれば、周波数特性が異なる複数のコイル２５ａ、２５ｂ、２５ｃ、広帯
域の周波数成分の通過を阻止するコイル２５ｄによって、広帯域の周波数成分を含む静電
気サージの計測装置１側への通過を抑止する効果を高めることができ、静電気サージの反
射効果（通過抑止効果）を高めることができる。
【００７１】
また、図７（ｂ）に示したように、計測装置１側の配線２８ａに、さらにコンデンサ２
６ａの一端を接続し、コンデンサ２６ａの他端を接地する構成としてもよく、係る構成に
よれば、コイル２５ｄを通過した静電気サージの低周波成分をさらに吸収させることがで
き、静電気サージに対する保護効果をさらに高めることができる。
【００７２】
次に実施の形態（２）に係る電子機器の評価システムについて説明する。但し実施の形
態（２）に係る電子機器の評価システムの構成については、計測装置１Ａを除いて図１に
示した評価システムと略同様であるため、異なる機能を有する計測装置１Ａには異なる符
号を付し、その他の構成部品の説明をここでは省略する。
【００７３】
実施の形態（１）に係る電子機器の評価システムに採用された計測装置１では、マイコ
ン３０が、ＥＣＵ３０が制御する装置の動作の模擬中に、静電気放電装置５０に対して放
電制御信号を出力し、ＥＣＵ３０のプログラム動作（実行アドレス）を監視して、ＥＣＵ
３０の静電気サージによるプログラム動作の異常を検出するようになっているが、実施の
形態（２）に係る電子機器の評価システムに採用された計測装置１Ａでは、マイコン２Ａ
が、ＥＣＵ３０のプログラム動作を監視して、ＥＣＵ３０の静電気サージによるプログラ
ム動作の異常を検出するとともに、ＥＣＵ３０の出力ＩＦ部３３から出力される被制御機
器に対する制御・駆動信号を監視して、ＥＣＵ３０の静電気サージによる出力ＩＦ部３３
の回路動作の異常も検出するようになっている点が、実施の形態（１）に係る計測装置１
と相違している。
【００７４】
次に実施の形態（２）に係る計測装置１Ａにおけるマイコン２Ａの行う処理動作を図８
に示したフロ−チャ−トに基づいて説明する。なお、本処理動作は、静電気サージ反射装
置２０を介して接続されたＥＣＵ３０が制御する装置の動作の模擬中に行われる。
【００７５】
まず、ステップＳ１１では、静電気放電装置５０に放電制御信号を出力する命令があっ
たか否かを判断し、放電制御信号の出力命令がなかったと判断すればステップＳ１１に戻
る一方、放電制御信号の出力命令があったと判断すればステップＳ１２に進む。
【００７６】
ステップＳ１２では、放電制御信号（すなわち、所定の放電電圧に設定された静電気サ
ージをＥＣＵ３０側に所定回数印加させるための信号）を静電気放電装置５０へ出力する
処理を行い、その後ステップＳ１３に進む。なお、静電気放電装置５０では、計測装置１
Ａからの放電制御信号を受けて、所定の放電電圧に設定された静電気サージを所定回数ほ
どＥＣＵ３０側に印加する制御が実施される。
【００７７】
ステップＳ１３では、ＥＣＵ３０のマイコン３１で実行されるプログラム動作を監視、
すなわち、ＥＣＵ３０のマイコン３１で実行されているプログラムのアドレスを監視する
処理を行い、その後ステップＳ１４に進む。ステップＳ１４では、ＥＣＵ３０から取得し
た出力信号（すなわち、ＥＣＵ３０の出力ＩＦ部３３から出力された被制御機器に対する
制御・駆動信号）を監視する処理を行い、その後ステップＳ１５に進む。
【００７８】
ステップＳ１５では、ＥＣＵ３０のマイコン３１で実行されるプログラム動作に異常が
あったか否か、すなわち、実行アドレスの順序に異常があったか否かを判断し、実行アド
レスの順序に異常がなかったと判断すればステップＳ１６に進む。ステップＳ１６では、
ＥＣＵ３０から取得した出力信号に異常があったか否か、すなわち、ＥＣＵ３０の出力Ｉ
Ｆ部３３を構成する駆動回路の動作に異常があったか否かを判断し、出力信号に異常がな
かった、すなわち、ＥＣＵ３０のマイコン３１で行われている制御に対応した信号が出力
ＩＦ部３３から出力されていると判断すれば、その後ステップＳ１７に進む。
【００７９】
ステップＳ１７では、ＥＣＵ３０のマイコン３１で実行されるプログラム動作、及びＥ
ＣＵ３０の出力ＩＦ部３３の回路動作に異常が検出されなかったことを示す異常未検出デ
ータをホストＰＣ４０へ送信する処理を行う。なお、ホストＰＣ４０では、送信されてき
た異常未検出データや静電気サージ印加時の計測データに基づいて、ＥＣＵ３０のマイコ
ン３１で実行されるプログラム動作、及び出力ＩＦ部３３の回路動作の異常が未検出であ
ったことと、静電気サージ印加時のＥＣＵ３０の正常な動作状態とを表示部４２に表示す
る処理が行われるようになっている。
【００８０】
一方、ステップＳ１５において、ＥＣＵ３０のマイコン３１で実行されるプログラム動
作に異常があった、すなわち実行アドレスの順序に異常があったと判断すればステップＳ
１８に進み、ステップＳ１８では、ＥＣＵ３０のマイコン３１で実行されるプログラム動
作に異常が検出されたことを示すマイコン動作異常検出データをホストＰＣ４０へ送信す
る処理を行う。なお、ホストＰＣ４０では、送信されてきたマイコン動作異常検出データ
や静電気サージ印加時の計測データに基づいて、プログラム動作の異常が検出されたこと
と、静電気サージ印加時のＥＣＵ３０の異常なプログラム動作状態を表示部４２に表示す
る処理が行われるようになっている。
【００８１】
また一方、ステップＳ１６において、ＥＣＵ３０から取得した出力信号に異常があった
、すなわち、ＥＣＵ３０の出力ＩＦ部３３を構成する駆動回路の動作に異常があったと判
断すればステップＳ１９に進む。ステップＳ１９では、ＥＣＵ３０の出力ＩＦ部３３の回
路動作に異常が検出されたことを示す出力回路動作異常検出データをホストＰＣ４０へ送
信する処理を行う。なお、ホストＰＣ４０では、送信されてきた出力回路動作異常検出デ
ータや静電気サージ印加時の計測データに基づいて、出力ＩＦ部３３の回路動作の異常が
検出されたことと、静電気サージ印加時のＥＣＵ３０の異常な信号出力状態を表示部４２
に表示する処理が行われるようになっている。
【００８２】
上記実施の形態（２）に係る計測装置１Ａによれば、マイコン２Ａによる模擬中に放電
制御信号を出力し、該放電制御信号出力後のＥＣＵ３０の動作を監視することにより、静
電気サージによるＥＣＵ３０の異常な動作（すなわちマイコン３１の異常動作）を検出す
ることができ、さらに、放電制御信号出力後のＥＣＵ３０からの出力信号を監視すること
により、ＥＣＵ３０の静電気サージによる異常な出力回路動作（すなわち、出力ＩＦ部３
０を構成する回路部品の異常動作）を検出することができる。また、上記計測装置１と同
様、静電気サージ反射装置２０に接続することにより、実際の使用環境（実使用状態）に
おける静電気放電試験を行わなくても、該静電気放電試験に相当する試験結果を得ること
が可能になる。
【００８３】
図９は、実施の形態（３）に係る電子機器の評価システムの概略構成を示したブロック
図である。但し、図１に示した実施の形態（１）に係る電子機器の評価システムと同一機
能を有する構成部品には同一符号を付し、その説明を省略する。
【００８４】
実施の形態（３）に係る電子機器の評価システムでは、複数のＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂが
静電気サージ反射装置２０を介して計測装置１Ｂに接続されており、計測装置１Ｂが、複
数のＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂにおける静電気サージによる異常な動作をそれぞれ検出し、各
ＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂで発生した異常な動作の検出結果に基づいて、各ＥＣＵ３０Ａ、３
０Ｂの静電気サージ耐性を比較する機能を有している点が、実施の形態（１）に係る電子
機器の評価システムと相違している。
【００８５】
次に実施の形態（３）に係る計測装置１Ｂにおけるマイコン２Ｂの行う処理動作を図１
０に示したフロ−チャ−トに基づいて説明する。なお、本処理動作は、静電気サージ反射
装置２０を介して接続されたＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂが制御する装置の動作の模擬中に行わ
れる。
【００８６】
まず、ステップＳ２１では、静電気放電装置５０に放電制御信号を出力する命令があっ
たか否かを判断し、放電制御信号の出力命令がなかったと判断すればステップＳ２１に戻
る一方、放電制御信号の出力命令があったと判断すればステップＳ２２に進む。なお、本
実施の形態における放電制御信号の出力命令は、計測装置１ＢからＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂ
に対して同じ制御信号が出力されるタイミングで指令されるようになっている。
【００８７】
ステップＳ２２では、印加する放電電圧を段階的（例えば、５、１０、１５、２０、２
５ＫＶの順）に上昇させながらＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂ側に所定回数づつ印加させるための
放電制御信号を静電気放電装置５０へ出力する処理を行い、その後ステップＳ２３に進む
。なお、静電気放電装置５０では、計測装置１Ｂからの放電制御信号を受けて、ＥＣＵ３
０Ａ、３０Ｂに対して、放電電圧を段階的に上昇させながら所定間隔毎に静電気サージを
印加する制御が実施される。
【００８８】
ステップＳ２３では、各ＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂのマイコン３１Ａ、３１Ｂで実行される
プログラム動作を監視、すなわち、放電制御信号出力後の時間をカウントしながら、各Ｅ
ＣＵ３０Ａ、３０Ｂのマイコン３１Ａ、３１Ｂで実行されているプログラムのアドレスを
監視する処理を行い、その後ステップＳ２４に進む。
【００８９】
ステップＳ２４では、各ＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂにおけるプログラム動作（すなわち、実
行アドレス）に異常が検出されたときのカウント時間と、そのタイミングで印加された静
電気サージの放電電圧とを記録していく処理を行い、その後ステップＳ２５に進む。
【００９０】
ステップＳ２５では、静電気サージの印加処理が終了したか否か（すなわち、放電信号
出力後一定時間が経過したか否か、又は計測装置１ＢからＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂに対して
異なる制御信号が出力されたか否か）を判断し、静電気サージの印加が終了していないと
判断すればステップＳ２４に戻る一方、静電気サージの印加が終了したと判断すればステ
ップＳ２６に進む。
【００９１】
ステップＳ２６では、記録された、各ＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂにおける、プログラム動作
に異常が検出されたときのカウント時間と静電気サージの放電電圧とを比較して、各ＥＣ
Ｕ３０Ａ、３０Ｂの静電気サージ耐性を評価する処理を行い、その後ステップＳ２７に進
む。
【００９２】
ステップＳ２７では、各ＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂの静電気サージ耐性の比較評価データを
ホストＰＣ４０へ送信する処理を行い、処理を終える。なお、ホストＰＣ４０では、送信
されてきた各ＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂの静電気サージ耐性の比較評価データに基づいて、各
ＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂの静電気サージ耐性のレベル（又は比較順位）等を表示部４２に表
示する処理が行われるようになっている。
【００９３】
上記実施の形態（３）に係る計測装置１Ｂによれば、マイコン２Ｂによる模擬中に放電
制御信号を出力し、放電制御信号出力後（すなわち、静電気サージが印加されたときの）
のＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂのプログラム動作をそれぞれ監視することにより、ＥＣＵ３０Ａ
、３０Ｂにおける静電気サージによる異常な動作を検出し、検出された各ＥＣＵ３０Ａ、
３０Ｂの異常なプログラム動作の検出結果に基づいて、各ＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂの静電気
サージ耐性を比較するので、ＥＣＵ３０Ａ、３０Ｂの静電気サージ耐性の順位を割り出す
ことができ、最も静電気サージ耐性が低いＥＣＵを把握することができるとともに、各Ｅ
ＣＵ３０Ａ、３０Ｂの静電気サージ耐性に応じた静電気対策を個別に実施するための参考
データを得ることができる。
【００９４】
図１１は、実施の形態（４）に係る電子機器の評価システムの概略構成を示したブロッ
ク図である。但し、図１に示した実施の形態（１）に係る電子機器の評価システムと同一
機能を有する構成部品には同一符号を付し、その説明を省略する。
【００９５】
実施の形態（４）に係る電子機器の評価システムでは、ＥＣＵ３０Ｃの出力ＩＦ部３３
Ｃに出力信号ライン１４を介して、モータやアクチュエータ等の被制御機器３４が接続さ
れており、出力信号ライン１４のモニタライン１５が、出力信号ライン１４から静電気サ
ージ反射装置２０を介して計測装置１Ｃに接続されている。
【００９６】
計測装置１Ｃでは、ＥＣＵ３０Ｃが制御する装置の模擬中に、ＥＣＵ３０Ｃから被制御
機器３４に出力される駆動信号のＯＮ又はＯＦＦの状態を考慮した所定のタイミングでＥ
ＣＵ３０Ｃ側に静電気サージが印加されるように静電気放電装置５０に対して放電制御信
号を出力し、ＥＣＵ３０Ｃの出力ＩＦ部３３Ｃから出力される被制御機器３４に対する駆
動信号の状態を監視して、ＥＣＵ３０Ｃの静電気サージによる異常な回路動作を検出する
機能を有している点が、実施の形態（１）に係る電子機器の評価システムと相違している
。
【００９７】
次に実施の形態（４）に係る計測装置１Ｃにおけるマイコン２Ｃの行う処理動作を図１
２に示したフロ−チャ−トに基づいて説明する。なお、本処理動作は、静電気サージ反射
装置２０を介して接続されたＥＣＵ３０Ｃが制御する装置の動作の模擬中に行われる。
【００９８】
まず、ステップＳ３１では、静電気放電装置５０に放電制御信号を出力する命令があっ
たか否かを判断し、放電制御信号の出力命令がなかったと判断すればステップＳ３１に戻
る一方、放電制御信号の出力命令があったと判断すればステップＳ３２に進む。なお、本
実施の形態における放電制御信号の出力命令は、所定のプログラムの実行中に、ＥＣＵ３
０Ｃから出力される被制御機器３４への駆動信号がＯＮ（又はＯＦＦ）に切り替わるタイ
ミングでＥＣＵ３０Ｃ側に静電気サージが印加されるように静電気放電装置５０に対して
指令されるようになっている。
【００９９】
ステップＳ３２では、所定の放電電圧に設定された静電気サージをＥＣＵ３０Ｃ側に印
加させるための放電制御信号を静電気放電装置５０へ出力する処理を行い、その後ステッ
プＳ３３に進む。
【０１００】
ステップＳ３３では、ＥＣＵ３０Ｃから被制御機器３４へ出力された駆動信号（すなわ
ちＥＣＵ３０Ｃの出力ＩＦ部３３Ｃから出力される被制御機器３４に対する制御・駆動信
号）の状態を監視する処理を行い、その後ステップＳ３４に進む。ステップＳ３４では、
ＥＣＵ３０Ｃから取得した、被制御機器３４に対する駆動信号に異常があったか否かを判
断し、駆動信号に異常がなかった、すなわち、ＥＣＵ３０Ｃのマイコン３１Ｃで行われて
いる制御に対応した信号が出力ＩＦ部３３Ｃから被制御機器３４へ出力されていると判断
すればその後ステップＳ３５に進む。
【０１０１】
ステップＳ３５では、ＥＣＵ３０Ｃの出力ＩＦ部３３Ｃの回路動作に異常が検出されな
かったことを示す異常未検出データをホストＰＣ４０へ送信する処理を行い、その後処理
を終える。なお、ホストＰＣ４０では、送信されてきた異常未検出データや静電気サージ
印加時の計測データに基づいて、ＥＣＵ３０Ｃの出力ＩＦ部３３Ｃの回路動作の異常が未
検出であったことと、静電気サージ印加時のＥＣＵ３０Ｃの正常な動作状態とを表示部４
２に表示する処理が行われるようになっている。
【０１０２】
一方、ステップＳ３４において、ＥＣＵ３０Ｃから取得した、被制御機器３４に対する
駆動信号に異常があった（例えば、ＥＣＵ３０Ｃのマイコン３１Ｃから出力ＩＦ部３３Ｃ
へ出力された信号と、出力ＩＦ部３３Ｃから被制御機器３４へ出力された信号との状態が
一致しておらず、出力ＩＦ部３３Ｃを構成する駆動回路に異常があった）と判断すればス
テップＳ３６に進む。ステップＳ３６では、ＥＣＵ３０Ｃの出力ＩＦ部３３Ｃの回路動作
に異常が検出されたことを示す出力回路動作異常検出データをホストＰＣ４０へ送信する
処理を行う。なお、ホストＰＣ４０では、送信されてきた出力回路動作異常検出データや
静電気サージ印加時の計測データに基づいて、出力ＩＦ部３３Ｃの回路動作の異常が検出
されたことと、静電気サージ印加時のＥＣＵ３０Ｃの異常な信号出力状態を表示部４２に
表示する処理が行われるようになっている。
【０１０３】
上記実施の形態（４）に係る計測装置１Ｃによれば、マイコン２Ｃによる模擬中に、Ｅ
ＣＵ３０Ｃから被制御機器３４への出力信号の状態を考慮した所定のタイミング（例えば
、ＨｉからＬｏ、ＬｏからＨｉなどの信号状態が切り替わるタイミング）でＥＣＵ３０Ｃ
に静電気サージが印加されるように静電気放電装置５０に対して放電制御信号を出力し、
静電気放電装置５０に対する放電制御信号出力後のＥＣＵ３０Ｃから被制御機器３４への
出力信号を監視することにより、ＥＣＵ３０Ｃにおける出力ＩＦ部３３Ｃの静電気サージ
による異常な回路動作を検出することができる。したがって、ＥＣＵ３０Ｃから被制御機
器３４への出力信号の状態によって静電気サージの影響の受け方が異なる出力回路を検出
することができ、個別に静電気対策を図ることが可能となる。
【０１０４】
なお、上記実施の形態（１）〜（４）では、ＥＣＵ３０（３０Ａ、３０Ｂ、３０Ｃ）と
、ＥＣＵが制御する装置の動作を模擬する計測装置１（１Ａ、１Ｂ、１Ｃ）との接続ライ
ンに静電気サージ反射装置２０を介装させている場合について説明したが、別の実施の形
態では、計測装置を使用しない評価システム、すなわち、図１３に示したように、ＥＣＵ
３０と、ＥＣＵ３０へ疑似信号を出力するチェッカー（疑似信号出力器）６０及びチェッ
カー６０から出力された疑似信号に対するＥＣＵ３０の動作を計測する計測器６１との接
続ラインＬに静電気サージ反射装置２０Ａを介装させる構成とすることもできる。なお、
この場合は、チェッカー６０から静電気放電装置５０Ａに対して、疑似信号を出力するタ
イミングで放電制御信号が出力されるように構成されている。係る構成によれば、チェッ
カー６０及び計測器６１と、ＥＣＵ３０とを接続した状態であっても、静電気放電試験を
実施することが可能になるとともに、チェッカー６０及び計測器６１を静電気サージから
適切に保護することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１０５】
【図１】本発明の実施の形態（１）に係る静電気サージ反射装置が採用された電気機器の評価システムの概略構成を示したブロック図である。
【図２】実施の形態（１）に係る静電気サージ反射装置の外観を模式的に示した斜視図である。
【図３】図２に示した静電気サージ反射装置におけるIII − III線断面図である。
【図４】（ａ）、（ｂ）は、静電気サージ反射装置を構成する回路図である。
【図５】静電気サージ反射装置の構成を示す回路図と、ＥＣＵ３０側に印加された静電気サージの回路上での波形変化とを示した図である。
【図６】実施の形態（１）に係る計測装置におけるマイコンが行う処理動作を示したフローチャートである。
【図７】（ａ）、（ｂ）は、別の実施の形態に係る静電気サージ反射装置の構成を示す回路図である。
【図８】実施の形態（２）に係る計測装置におけるマイコンが行う処理動作を示したフローチャートである。
【図９】実施の形態（３）に係る電気機器の評価システムの概略構成を示したブロック図である。
【図１０】実施の形態（３）に係る計測装置におけるマイコンが行う処理動作を示したフローチャートである。
【図１１】実施の形態（４）に係る電気機器の評価システムの概略構成を示したブロック図である。
【図１２】実施の形態（４）に係る計測装置におけるマイコンが行う処理動作を示したフローチャートである。
【図１３】別の実施の形態に係る電気機器の評価システムの概略構成を示したブロック図である。
【図１４】従来の電子機器用サージ保護装置の構成を示す回路図である。
【符号の説明】
【０１０６】
１、１Ａ、１Ｂ、１Ｃ  計測装置
２、２Ａ、２Ｂ、２Ｃ  マイコン
１１ａ、１１ｂ  出力信号ライン
１２ａ、１２ｂ  入力信号ライン
１３ａ、１３ｂ  電源ライン
２０、２０Ａ  静電気サージ反射装置
２１  シールドケース
２２、２３  凹型コネクタ
２４  部品実装基板
２５  チョークコイル
２６  サージアブソーバ
２７  ソケット
３０、３０Ａ、３０Ｂ、３０Ｃ  ＥＣＵ
４０  ホストＰＣ
５０、５０Ａ  静電気放電装置
【図１】
2006258681.tif 000003
【図２】
2006258681.tif 000004
【図３】
2006258681.tif 000005
【図４】
2006258681.tif 000006
【図５】
2006258681.tif 000007
【図６】
2006258681.tif 000008
【図７】
2006258681.tif 000009
【図８】
2006258681.tif 000010
【図９】
2006258681.tif 000011
【図１０】
2006258681.tif 000012
【図１１】
2006258681.tif 000013
【図１２】
2006258681.tif 000014
【図１３】
2006258681.tif 000015
【図１４】
2006258681.tif 000016