(57)【要約】【課題】  装置全体を大型化させることなくコンパクトな配置構成としながら、且つ、受光手段の視野角を広くさせることなく、計測対象領域の経路横幅方向の横幅寸法を大にして処理能力を増大させることが可能となる粒状体選別装置を提供する。【解決手段】  粒状体群を計測対象領域を通過させながら経路横幅方向に沿って横拡がり状態で移送する対象物移送手段ＴＩと、経路横幅方向に広がる視野角を有する状態で計測対象領域からの光を受光する受光手段５と、計測対象領域を照明する照明手段４と、複数の単位受光対象範囲に相当する複数の単位受光範囲毎に受光量を評価する評価手段とが設けられ、計測対象領域の像を縮小した像を受光手段が受光するように、計測対象領域からの光を光軸方向に折り返して受光手段に導く光反射式の折り曲げ光路形成手段９を備えている。【選択図】        図２
2006234744.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
粒状体群を計測対象領域を通過させながら一層状態で且つ経路横幅方向に沿って複数列状に並ぶ横拡がり状態で移送する対象物移送手段と、
粒状体の大きさよりも小さい範囲を単位受光対象範囲とする分解能状態で、且つ、前記経路横幅方向に広がる視野角を有する状態で、前記計測対象領域からの光を受光する受光手段と、
前記計測対象領域の前記経路横幅方向の全幅又はほぼ全幅を照明する照明手段と、
前記受光手段の受光情報に基づいて、前記計測対象領域における複数の単位受光対象範囲に相当する複数の単位受光範囲毎に受光量を評価する評価手段とが設けられた粒状体選別装置であって、
前記計測対象領域の像を縮小した像を前記受光手段が受光するように、前記計測対象領域からの光を前記受光手段における光軸方向に折り返して前記受光手段に導く光反射式の折り曲げ光路形成手段を備えている粒状体選別装置。
【請求項２】
前記折り曲げ光路形成手段が、
前記計測対象領域からの光を反射する第１の光反射体と、その第１の光反射体にて反射した光を反射して前記受光手段に導く第２の光反射体とを備えて構成され、且つ、前記第１の光反射体及び第２の光反射体の夫々が光反射面を平面状に形成して構成されている請求項１記載の粒状体選別装置。
【請求項３】
前記折り曲げ光路形成手段が、
前記計測対象領域からの光を反射する第１の光反射体と、その第１の光反射体にて反射した光を反射して前記受光手段に導く第２の光反射体とを備えて構成され、且つ、前記第１の光反射体の光反射面を凹面形状に形成し、前記第２の光反射体の光反射面を平面形状又は凸面形状に形成して構成されている請求項１記載の粒状体選別装置。
【請求項４】
前記評価手段が、前記受光手段にて受光する光の受光量が適正光量範囲を外れていなければ正常物として評価し、前記受光量が適正光量範囲を外れていると異常物として評価するように構成され、
前記評価手段の評価結果に基づいて、前記計測対象領域よりも前記対象物移送手段による粒状体移送方向下手側箇所において、前記正常物として評価された粒状体と前記異常物として評価された粒状体とを異なる移送経路に分離して選別する分離手段が備えられ、
前記照明手段が、前記計測対象領域の前記経路横幅方向に沿う方向視において、前記受光手段が前記検出光を受光するときの光軸に対して粒状体移送方向の上手側及び下手側の夫々に照明部が設けられ、前記粒状体移送方向の上手側に設けられる照明部及び前記粒状体移送方向の下手側に設けられる照明部のうちのいずれか一方が前記計測対象領域を直接照明するライン状光源にて構成され、且つ、前記粒状体移送方向の上手側に設けられる照明部及び前記粒状体移送方向の下手側に設けられる照明部のうちの他方が前記のライン状光源が発した光を反射してその反射した光により前記計測対象領域を照明する光反射体にて構成されている請求項１〜３のいずれか１項に記載の粒状体選別装置。
【請求項５】
前記照明用の光反射体と前記ライン状光源とが前記粒状体移送方向に沿って並ぶ状態で設けられ、且つ、前記照明用の光反射体が前記ライン状光源よりも前記粒状体移送方向の下手側に位置する状態で設けられている請求項４記載の粒状体選別装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば米粒や樹脂ペレット等の粒状体群を計測対象領域を通過させながら一層状態で且つ経路横幅方向に沿って複数列状に並ぶ横拡がり状態で移送する対象物移送手段と、粒状体の大きさよりも小さい範囲を単位受光対象範囲とする分解能状態で、且つ、前記経路横幅方向に広がる視野角を有する状態で、前記計測対象領域からの光を受光する受光手段と、前記計測対象領域の前記経路横幅方向の全幅又はほぼ全幅を照明する照明手段と、前記受光手段の受光情報に基づいて、前記計測対象領域における複数の単位受光対象範囲に相当する複数の単位受光範囲毎に受光量を評価する評価手段とが設けられた粒状体選別装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
上記構成の粒状体選別装置は、例えば、米粒等の粒状体群を計測対象領域を通過するように移送しながら、受光手段により、粒状体の大きさよりも小さい範囲を単位受光対象範囲とする分解能状態で計測対象領域からの光を受光して、その受光情報に基づいて、前記計測対象領域における複数の単位受光対象範囲に相当する複数の単位受光範囲毎に受光量を評価して、受光量が適正光量範囲を外れていると評価された不良物を計測対象領域よりも下手側の箇所において例えばエアー噴出装置等の分離手段によって正常物とは異なる経路に分離させる構成としたものがある。そして、このような粒状体選別装置において、従来では、前記経路横幅方向に広がる視野角を有する前記受光手段は、計測対象領域からの光が直接入射する状態で配置されて計測対象領域の像を受光する構成となっていた（例えば、特許文献１参照。）。尚、前記受光手段は、前記複数の単位受光範囲に相当する複数の単位受光範囲毎の受光量を得るために複数の受光素子をライン状に並ぶ状態で備えるＣＣＤセンサと、計測対象領域からの光をＣＣＤセンサに導く光学系（具体的には光学レンズ等）とを備える構成となっている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００１−２７２３５３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記従来構成では、前記受光手段は計測対象領域からの光が直接入射する状態で配置されて計測対象領域の像を受光する構成となっているから、次のような不利があった。
【０００５】
すなわち、上記したような粒状体選別装置において、前記計測対象領域を移送する粒状体群の移送量を多くして単位時間当たりの処理量を多くして処理能力を向上させるためには、計測対象領域の経路横幅方向の横幅寸法を大きくする必要があるが、上記したような従来構成であれば、計測対象領域の経路横幅方向の横幅寸法を大きくするためには、受光手段における経路横幅方向に広がる視野角を広くさせる必要がある（図１７参照）。
【０００６】
しかし、前記視野角を広くさせると、受光手段にて受光される計測対象領域の像において、経路横幅方向の端部付近では、対象物移送手段にて計測対象領域を通過するように移送される粒状体群が搬送の乱れに起因して受光手段に対する遠近方向に位置がずれることにより、前記受光手段の受光情報に基づいて前記評価手段が複数の単位受光対象範囲に相当する複数の単位受光範囲毎に受光量を評価する場合に、適切な評価を行うことができないおそれがあった。
【０００７】
説明を加えると、受光手段は経路横幅方向に広がる視野角を有する状態で計測対象領域からの光を受光するものであるから、図１７に示すように、受光手段５にて受光される計測対象領域からの光は、経路横幅方向の両端側になるほど受光手段５の光軸（図１７のＯＬ参照）に対する傾斜角αが大きくなるが、視野角を大にさせると、この傾斜角αが大きくなって粒状体を評価する場合に粒状体を誤って評価するおそれがある。
【０００８】
この点について図１８を参照しながら説明を加える。図１８に示すように、粒状体群は一層状態で且つ経路横幅方向に沿って複数列状に並ぶ横拡がり状態で移送されることになる。この図１８では、粒状体が移送される複数の列としてＱ１，Ｑ２，Ｑ３‥で例示してあり、左端から２番目の列Ｑ２に位置する粒状体の受光対象範囲に異常部ｑがある不良物が存在している場合を示している。そして、計測対象領域における経路横幅方向の両端側からの光の受光手段４の光軸方向に対する傾斜角を大きくすると（図１８の傾斜角α１参照）、予め設定されている適正な位置を横並び状態で移送されているときは、各列の粒状体を適正に評価することができるが、左端から２番目の列Ｑ２に位置する粒状体の受光対象範囲に異常部ｑがある不良物が受光手段５の光軸方向に沿って受光手段に近づく方向に位置ずれすると、受光手段の受光情報から左端から１番目の列Ｑ１に不良物が存在しているものと誤って評価してしまうおそれがある。
【０００９】
そこで、このような不利を回避するための手段として、受光手段と計測対象領域とを大きく離間させることにより計測対象領域から受光手段に至るまでの光路長を長くさせることが考えられる。このようにすると、計測対象領域の経路横幅方向の横幅寸法を大きくしても、受光手段５による計測対象領域の像を受光するときの視野角を狭くさせることができ、計測対象領域における経路横幅方向の両端側からの光の受光手段４の光軸方向に対する傾斜角をできるだけ小さくして、粒状体が位置ずれしても上述したような誤った評価をするおそれを少なくさせることができる（図１８の傾斜角α２参照）。しかしながら、このように構成する場合には、受光手段と計測対象領域との光軸方向に沿って大きく離間させた状態で配置しなければならず、大きな設置スペースが必要となって装置全体が大型化してしまう不利がある。
【００１０】
本発明の目的は、装置全体を大型化させることなくコンパクトな配置構成としながら、且つ、受光手段の視野角を広くさせることなく粒状体の評価を適正に行うことができ、計測対象領域の経路横幅方向の横幅寸法を大にして処理能力を増大させることが可能となる粒状体選別装置を提供する点にある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明に係る粒状体選別装置は、粒状体群を計測対象領域を通過させながら一層状態で且つ経路横幅方向に沿って複数列状に並ぶ横拡がり状態で移送する対象物移送手段と、粒状体の大きさよりも小さい範囲を単位受光対象範囲とする分解能状態で、且つ、前記経路横幅方向に広がる視野角を有する状態で、前記計測対象領域からの光を受光する受光手段と、前記計測対象領域の前記経路横幅方向の全幅又はほぼ全幅を照明する照明手段と、前記受光手段の受光情報に基づいて、前記計測対象領域における複数の単位受光対象範囲に相当する複数の単位受光範囲毎に受光量を評価する評価手段とが設けられたものであって、その第１特徴構成は、前記計測対象領域の像を縮小した像を前記受光手段が受光するように、前記計測対象領域からの光を前記受光手段における光軸方向に折り返して前記受光手段に導く光反射式の折り曲げ光路形成手段を備えている点にある。
【００１２】
第１特徴構成によれば、前記対象物移送手段によって粒状体群が一層状態で且つ経路横幅方向に沿って複数列状に並ぶ横拡がり状態で計測対象領域を通過するように移送され、前記受光手段は、粒状体の大きさよりも小さい範囲を単位受光対象範囲とする分解能状態で、且つ、経路横幅方向に広がる視野角を有する状態で、計測対象領域からの光を受光することになる。そして、前記計測対象領域からの光は、前記折り曲げ光路形成手段によって、計測対象領域の像を縮小した像を受光手段が受光するように、前記計測対象領域からの光が受光手段における光軸方向に折り返した状態で受光手段に導かれることになる。
【００１３】
前記折り曲げ光路形成手段について説明を加えると、この折り曲げ光路形成手段は、光反射式に構成されており、計測対象領域からの光を受光手段における光軸方向に折り返した状態で、言い換えると、計測対象領域からの光を反射させて受光手段における光軸方向に折り返して折り曲げた光路を形成する状態で受光手段に導くことになり、計測対象領域から受光手段に至るまでの光路長を長くすることができる。しかも、このとき、計測対象領域の像を縮小した像を受光手段が受光するように、計測対象領域からの光を受光手段に導くのである。そのための具体構成としては、例えば、光反射面を平面状に形成した反射体を用いて計測対象領域からの光を反射させるようにしたり、光反射面を凹面形状に形成した反射体を用いて計測対象領域からの光を反射させる構成等がある。
【００１４】
その結果、受光手段が設置される箇所と計測対象領域との間の離間距離を大きくさせなくても、計測対象領域から受光手段に至るまでの光路長を長くすることができるから、処理能力を向上させるために計測対象領域の経路横幅方向の横幅寸法を大にさせる場合であっても、受光手段の視野角を広くさせることがないので粒状体の評価を適正に行うことができる。しかも、受光手段が設置される箇所と計測対象領域との間の離間距離を小さくすることができ、装置全体を大型化させることなくコンパクトな配置構成とすることが可能となる。
【００１５】
従って、装置全体を大型化させることなくコンパクトな配置構成とすることができるものでありながら、且つ、受光手段の視野角を広くさせることがなく粒状体の評価を適正に行うことができ、計測対象領域の経路横幅方向の横幅寸法を大にして処理能力を増大させることが可能となる粒状体選別装置を提供できるに至った。
【００１６】
本発明の第２特徴構成は、第１特徴構成に加えて、前記折り曲げ光路形成手段が、前記計測対象領域からの光を反射する第１の光反射体と、その第１の光反射体にて反射した光を反射して前記受光手段に導く第２の光反射体とを備えて構成され、且つ、前記第１の光反射体及び第２の光反射体の夫々が光反射面を平面状に形成して構成されている点にある。
【００１７】
第２特徴構成によれば、計測対象領域からの光が、光反射面を平面状に形成して構成されている第１の光反射体にて反射され、その第１の光反射体にて反射した光が光反射面を平面状に形成して構成されている第２の光反射体にて反射されて、計測対象領域の像を縮小した像を受光手段が受光するように受光手段における光軸方向に折り返した状態で受光手段に導かれることになる。
【００１８】
このように光反射面を平面状に形成して構成される簡単な構成の光反射体を一対備えるだけの簡単な構成で前記折り曲げ光路形成手段を構成することができ、大幅なコスト高を招く不利のない状態で、請求項１を好適に実施することが可能となる。
【００１９】
本発明の第３特徴構成は、第１特徴構成に加えて、前記折り曲げ光路形成手段が、前記計測対象領域からの光を反射する第１の光反射体と、その第１の光反射体にて反射した光を反射して前記受光手段に導く第２の光反射体とを備えて構成され、且つ、前記第１の光反射体の光反射面を凹面形状に形成し、前記第２の光反射体の光反射面を平面形状又は凸面形状に形成して構成されている点にある。
【００２０】
第３特徴構成によれば、計測対象領域からの光が、光反射面を凹面形状に形成して構成されている第１の光反射体にて反射され、その第１の光反射体にて反射した光が光反射面を平面形状又は凸面形状に形成して構成されている第２の光反射体にて反射されて、計測対象領域の像を縮小した像を受光手段が受光するように受光手段における光軸方向に折り返した状態で受光手段に導かれることになる。
【００２１】
このように第１の反射体は光反射面を凹面形状に形成しているから、第１の反射体にて計測対象領域からの光が反射されると、計測対象領域における複数の単位受光対象範囲の夫々からの光は、凹面形状の反射面にて計測対象領域の経路横幅方向の中央側に寄せ集めるように屈曲する状態で反射する。その結果、計測対象領域の像を縮小させる状態で光を反射させることになる。その第１の反射体にて反射した光を例えば光反射面を平面形状又は凸面形状に形成して構成されている第２の光反射体にて反射して受光手段に導くことになる。
【００２２】
このように構成すると、計測対象領域における複数の単位受光対象範囲の夫々からの光を極力受光手段の光軸方向に近い状態で第１の反射体にて反射させることで、計測対象領域の像を縮小した像を受光手段にて受光できるように折り曲げ光路が形成されることになり、対象物移送手段にて計測対象領域を通過するように移送される粒状体群が搬送の乱れに起因して経路横幅方向と交差する方向に位置がずれることがあっても、対象となる単位受光対象範囲ではなく隣接する列の単位受光対象範囲の受光量として誤って評価するおそれが少ないものにすることが可能である。
【００２３】
又、上述したように、第１の光反射体の光反射面が凹面形状に形成されており、この第１の反射体にて光が反射されると計測対象領域の経路横幅方向の中央側に寄せ集めるように屈曲する状態で反射することから、例えば第１の光反射体を平面形状に構成するものに比べて、第２の光反射体の経路横幅方向に沿う長さを短くして装置をコンパクト化させることが可能となる。
【００２４】
そして、前記第２の光反射体としては、光反射面を平面形状に形成したものと凸面形状に形成したもののいずれも用いることが可能であるが、第２の光反射体の光反射面を凸面形状に形成すると、第１及び第２の光反射体を夫々平面形状で構成するときにおける第１及び第２の光反射体並びに受光手段夫々の配置構成をそのまま適用することが可能となる利点がある。
【００２５】
本発明の第４特徴構成は、第１特徴構成〜第３特徴構成に加えて、前記評価手段が、前記受光手段にて受光する光の受光量が適正光量範囲を外れていなければ正常物として評価し、前記受光量が適正光量範囲を外れていると異常物として評価するように構成され、前記評価手段の評価結果に基づいて、前記計測対象領域よりも前記対象物移送手段による粒状体移送方向下手側箇所において、前記正常物として評価された粒状体と前記異常物として評価された粒状体とを異なる移送経路に分離して選別する分離手段が備えられ、前記照明手段が、前記計測対象領域の前記経路横幅方向に沿う方向視において、前記受光手段が前記検出光を受光するときの光軸に対して粒状体移送方向の上手側及び下手側の夫々に照明部が設けられ、前記粒状体移送方向の上手側に設けられる照明部及び前記粒状体移送方向の下手側に設けられる照明部のうちのいずれか一方が前記計測対象領域を直接照明するライン状光源にて構成され、且つ、前記粒状体移送方向の上手側に設けられる照明部及び前記粒状体移送方向の下手側に設けられる照明部のうちの他方が前記のライン状光源が発した光を反射してその反射した光により前記計測対象領域を照明する光反射体にて構成されている点にある。
【００２６】
第４特徴構成によれば、前記評価手段が、前記受光手段にて受光する光の受光量が適正光量範囲を外れていなければ正常物として評価し、前記受光量が適正光量範囲を外れていると異常物として評価することになるが、そのような評価は、計測対象領域における複数の単位受光対象範囲に相当する複数の単位受光範囲毎に行われることになる。そして、分離手段が、前記評価手段の評価結果に基づいて、計測対象領域よりも移送方向下手側箇所において正常物と異常物とを異なる移送経路に分離して選別する処理を実行することになる。つまり、複数の単位受光範囲における受光量に基づく評価にて、異常物と評価された単位受光対象範囲に対応する部位に位置する粒状体と、正常物と評価された単位受光対象範囲に対応する部位に位置する粒状体とを異なる移送経路に分離させるのである。
【００２７】
そして、前記照明手段における前記ライン状光源が計測対象領域を経路横幅方向の全幅又はほぼ全幅にわたって直接照明する。一方、前記照明手段における前記光反射体が前記ライン状光源が発した光を反射してその反射した光により前記ライン状光源による照明方向とは異なる照明方向から計測対象領域を経路横幅方向の全幅又はほぼ全幅にわたって照明する。つまり、計測対象領域に位置する粒状体群に対して夫々異なる方向からライン状光源と光反射体とにより各別に照明するようにしているので、粒状体が例えば外周面が曲面である粒状体群であっても照明ムラのない状態で良好に照明を行うことが可能である。又、前記光反射体は、ライン状光源からの光を反射させるものであるから自ら発光する必要はなくライン状光源に比べて構成が簡素であり、しかも、長期間使用しても故障するおそれは少ないから、上記構成によれば、装置全体としての故障発生率を低いものにして装置の信頼性を向上することも可能となる。
【００２８】
前記ライン状光源は装置の使用に伴う経年変化により劣化して発光量が減少することがあるが、光反射体にて反射して粒状体群を照明する光量も同じ量だけ減少することになるから、計測対象領域に位置する粒状体群は夫々異なる方向から常に同じ又はほぼ同じ光量により照明することが可能となる。そうすると、粒状体群を照明する照明光量は受光手段の計測対象となる粒状体の外周面のどの領域においても同じ又は同じであるから、受光手段にて光量を計測するときに、受光手段が、前記単位受光対象範囲として、粒状体における移送方向上手側の箇所を計測している場合であっても、移送方向下手側の箇所を計測している場合であっても、受光する光量には差が出ないことになる。その結果、例えば、受光手段における前記単位受光対象範囲が対象物の移送方向上手側を対象とする場合と移送方向下手側を対象とする場合との夫々に対応させて互いに異なった判定基準を設定する等、評価選別手段の処理構成を複雑にしなくても、受光手段にて計測される受光量に基づいて適正に評価選別することが可能となる。
【００２９】
本発明の第５特徴構成は、第４特徴構成に加えて、前記照明用の光反射体と前記ライン状光源とが前記粒状体移送方向に沿って並ぶ状態で設けられ、且つ、前記照明用の光反射体が前記ライン状光源よりも前記粒状体移送方向の下手側に位置する状態で設けられている点にある。
【００３０】
第５特徴構成によれば、前記照明用の光反射体が前記ライン状光源よりも前記粒状体移送方向の下手側に位置する状態で設けられているので、計測対象領域よりも移送方向下手側に上述したような分離手段を設ける必要があるが、このような分離手段の近くに設けられる箇所に、前記ライン状光源に比べて小さい設置スペースで済ませることが可能な前記照明用の光反射体を位置させて設けることになるから、分離手段の設置スペースをできるだけ広くして照明用の光反射体に干渉することなく良好に設置することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３１】
以下、本発明に係る粒状体選別装置の実施形態を図面に基づいて説明する。
図１及び図２に示すように、前記粒状体選別装置には、広幅の板状のシュータ１が水平面に対して所定角度に傾斜されて設置され、このシュータ１の上部側に設けた貯留タンク２から振動フィーダ３によって搬送されて供給される外周面が曲面である粒状体群としての米粒群ｋが、シュータ１の上面を一層状態で経路横幅方向に沿って複数列状に並ぶ横拡がり状態で流下案内される構成となっている（図３参照）。尚、図３は動作説明図であるため、図１、図２とは装置構成の配置が異なる箇所がある。上記シュータ１は、幅方向全幅に亘って平坦な案内面に形成された平面シュータである。尚、ここでは、一層状態で移送させることを目的としているので、流れ状態により部分的に粒が重なって二層状態等になっても、一層状態の概念に含まれる。
【００３２】
貯留タンク２には、外部の精米機等から供給される米粒群ｋや、その外部からの米粒群ｋを１次選別処理した後再選別される正常物又は不良物が貯留される。貯留タンク２から振動フィーダ３上に落下した米粒群ｋのシュータ１への供給量は、振動フィーダ３の振動による米粒群ｋの搬送速度を変化させて調節される。そして、図２に示すように、米粒群ｋがシュータ１の下端部から移動落下する予定移送経路ＩＫ中に米粒群ｋに対する計測対象領域Ｊが設定されている。又、米粒群ｋは一層状態で且つ経路横幅方向に沿って複数列状に並ぶ横拡がり状態で計測対象領域Ｊを通過するように移送される構成となっている。従って、振動フィーダ３及びシュータ１により、外周面が曲面である粒状体群を計測対象領域を通過させながら一層状態で且つ経路横幅方向に沿って複数列状に並ぶ横拡がり状態で移送する対象物移送手段ＴＩが構成されている。
【００３３】
又、前記計測対象領域Ｊにおける前記経路横幅方向での全幅又はほぼ全幅を照明する照明手段４が設けられている。詳述すると、前記照明手段４として、予定移送経路ＩＫの装置前面側（図１において左側）に位置する前面側照明手段４Ｂと、装置後面側（図１において右側）に位置する後面側照明手段４Ａとが設けられ、前面側照明手段４Ｂ及び後面側照明手段４Ａは、夫々、前記計測対象領域Ｊの前記経路横幅方向に沿う方向視において、受光手段５が前記検出光を受光するときの光軸ＯＬに対して粒状体移送方向の上手側及び下手側の夫々に照明部Ｓ１，Ｓ２が設けられ、それらの照明部Ｓ１，Ｓ２により前記計測対象領域Ｊを照明する構成となっている。
【００３４】
以下、照明手段４の具体的な構成について説明する。
先ず、後面側照明手段４Ａについて説明する。この後面側照明手段４Ａは、図５にも示すように、予定移送経路ＩＫの装置前面側において、前記計測対象領域Ｊを経路横幅方向の全幅又はほぼ全幅にわたって直接照明する２本の円柱状の蛍光灯を並べて構成されるライン状光源４１Ａと、そのライン状光源４１Ａが発した光を反射してその反射した光によりライン状光源４１Ａによる照明方向とは異なる照明方向から計測対象領域Ｊを経路横幅方向の全幅又はほぼ全幅にわたって照明する光反射体４２Ａとを備えて、互いに異なる複数の照明方向から夫々計測対象領域Ｊを照明するように構成されている。
【００３５】
従って、前記粒状体移送方向の上手側に設けられる照明部Ｓ１及び前記粒状体移送方向の下手側に設けられる照明部Ｓ２のうちの一方、すなわち、前記粒状体移送方向の上手側に設けられる照明部Ｓ１が、前記計測対象領域を前記経路横幅方向での全幅又はほぼ全幅にわたって直接照明するライン状光源４１Ａにて構成され、前記各照明部Ｓ１，Ｓ２のうちの他方、すなわち、前記粒状体移送方向の下手側に設けられる照明部Ｓ２が、前記のライン状光源４１Ａが発した光を反射してその反射した光により前記ライン状光源４１Ａによる照明方向とは異なる照明方向から前記計測対象領域を経路横幅方向の全幅又はほぼ全幅にわたって照明する光反射体４２Ａにて構成されている。
【００３６】
粒状体群としての米粒群の外周部は断面形状が略円形状又は略楕円形状であり、外周面が曲面となるものであるが、計測対象領域Ｊに位置している米粒群に対して、上述したように互いに異なる方向から夫々照明することで、照明ムラの少ない極力均一な状態で良好に照明できるようにしている。
【００３７】
前記ライン状光源４１Ａには、その背部側及び一部側方箇所を覆う状態で内面につや消しの白色塗装を施した曲面状の拡散反射板４３が配置されている。そして、前記光反射体４２Ａは、米粒移送方向に対して幅狭でありライン状光源４１Ａの長手方向に沿って長尺の矩形状に構成され、反射面が鏡面にて構成されている。尚、ライン状光源４１Ａ及び光反射体４２Ａを装置に組付ける際には、前記計測対象領域Ｊにおいて、ライン状光源４１Ａにより照明される光量と光反射体４２Ａにて照明される光量とが同じ又はほぼ同じになるように、計測対象領域Ｊに対するライン状光源４１Ａの傾斜角度を適切な角度になるように調整を行った後に位置固定で組み付けることになる。因みに、この実施形態では、光反射体４２Ａは後述するような背景光量調節部８と共通な支持ブラケット４４に支持される構成となっている。
【００３８】
図２に示すように、ライン状光源４１Ａを上方側すなわち米粒群の移送方向の上手側に位置し、光反射体４２Ａを下方側すなわち米粒群の移送方向の下手側に位置させて設けるようにしているので、後述する如く計測対象領域Ｊよりも移送方向下手側に不良物分離用のエアー吹き付け装置６を設ける場合に、設置スペースをできるだけ広くして光反射体４２Ａに干渉することなく良好に設置することが可能な構成となっている。
【００３９】
図２に示すように、前記前面側照明手段４Ｂは、前記後面側照明手段４Ａと同様に、前記計測対象領域Ｊに位置する米粒群ｋの移送方向上手側に位置する上手側外面部分を直接照明する２本の円柱状の蛍光灯を並べて構成されるライン状光源４１Ｂと、そのライン状光源４１Ｂが発した光を反射して、その反射した光により計測対象領域Ｊに位置する米粒群の移送方向下手側に位置する下手側外面部分を照明する光反射体４２Ｂとを備えて構成されるが、各部材の配置構成が計測対象領域Ｊを中心として前後で対称な配置関係となるだけで、それ以外は後面側照明手段４Ａと同じであるから詳細な説明は省略する。
【００４０】
前面側照明手段４Ｂからの照明光が上記計測対象領域Ｊの前面側で反射した反射光を受光する前面側受光装置５Ｂと、後面側照明手段４Ａからの照明光が計測対象領域Ｊの後面側で反射した反射光を受光する後面側受光装置５Ａとが設けられ、この両受光装置５Ａ，５Ｂにて、上記計測対象領域Ｊからの光を受光する受光手段５が構成されている。
【００４１】
前記各受光装置５Ａ，５Ｂは、前記幅広の計測対象領域Ｊからの光を受光する複数個の受光素子５ａを計測対象領域Ｊの幅方向に沿って並置させる状態で備えて、米粒の大きさよりも小さい範囲を単位受光対象範囲とする分解能状態で計測対象領域Ｊからの検出光を受光するように構成されている。つまり、図６及び図８に示すように、前記各受光装置５Ａ，５Ｂは、前記米粒群の各米粒の大きさよりも小さい範囲ｐ（例えば米粒の大きさの１０分の１よりも小さい範囲）を夫々の受光対象範囲とする複数個の受光素子５ａを前記幅広の計測対象領域Ｊに対応させてライン状に並ぶ状態で並置されたモノクロタイプのＣＣＤセンサ部５０と、設定視野角の範囲内より入射される光を集光させて複数の受光素子に導く集光手段として機能する集光レンズ５１ａ（図１７参照）を備えた光学系５１とから構成されている。そして、各受光装置５Ａ，５Ｂは、後述するように、計測対象領域Ｊの経路横幅方向の全幅又はほぼ全幅にわたり計測対象領域Ｊに位置する米粒群ｋの像をＣＣＤセンサ部５０の各受光素子５ａ上に結像させる状態で設けられ、例えば図８において計測対象領域Ｊの右端側から左端側に向けて各受光素子５ａから各受光情報が順次取り出されるように構成される。
【００４２】
前記各受光装置５Ａ，５Ｂから計測対象領域Ｊを見たときに計測対象領域Ｊの背景に相当する箇所に、前記各受光装置５Ａ，５Ｂに向けて光を投射する背景光量調整部８が設けられている。この背景光量調整部８は、図４に示すように、計測対象領域Ｊの横幅方向に沿って密状態で並べて設置される複数のＬＥＤ発光素子８０と、それらの複数のＬＥＤ発光素子８０が設置される領域の光投射側に配置されて複数のＬＥＤ発光素子８０が発光した光を拡散させる拡散板８１とを備えて構成されている。そして、ケーシング８３の内部に、複数のＬＥＤ発光素子８０が設置されたＬＥＤ基板８２が放熱板８４に貼り付ける状態で取り付けられている。そして、図７に示すように、複数のＬＥＤ発光素子８０の発光出力を変更調整自在な調光装置８５が備えられ、この調光装置８５は、後述する制御装置２４からの制御指令に基づいてＬＥＤ発光素子８０の発光出力を変更調整するように構成されている。
尚、この変更調節は手動設定にて行う構成となっているが、受光手段５の計測結果に基づいて、計測対象となる粒状体の種類の違い等に応じて制御装置２４からの指令に基づいて光量を自動調整する構成としてもよい。
【００４３】
そして、予定移送経路ＩＫの装置前面側及び装置後面側の夫々において、前記計測対象領域の像を縮小した像を受光手段５が受光するように、前記計測対象領域からの光を前記受光手段５における光軸方向に折り返して前記受光手段５に導く光反射式の折り曲げ光路形成手段９が備えられている。
【００４４】
次に、予定移送経路ＩＫの装置後面側に位置する折り曲げ光路形成手段９について、第１の反射体１０、第２の反射体１１、及び、受光装置５Ａの支持構造について具体的に説明する。
すなわち、前記折り曲げ光路形成手段９は、計測対象領域Ｊからの光を反射する第１の反射体１０と、その第１の反射体１０にて反射した光を反射する第２の反射体１１とを備えて構成され、且つ、前記第１の反射体１０及び第２の反射体１１の夫々が光反射面を平面状に形成して構成され、しかも、各反射体１０、１１はその光反射面１０ａ，１１ａが鏡面にて構成されており、略長方形の板状に形成されている。
【００４５】
図５、図６に示すように、装置枠体としての収納用ケーシング１３の左右側壁にわたって略コの字形に屈曲した支持ステー１４が架設される状態で設けられ、この支持ステー１４に対して、その長手方向の中央部付近にて前記各反射体１０、１１並びに前記受光装置５Ａが支持される構成となっている。つまり、支持ステー１４から固定延設した支持ブラケット１５を介して前記第１の反射体１０が取り付け支持されている。そして、その第１の反射体１０は、前記支持ブラケット１５に対して前記経路横幅方向に沿う横軸芯Ｘ１周りで回動自在に支持され、且つ、複数の調節ネジ１６を反射体１０に当て付けた状態で締め付けることで第１の反射体１０を位置固定することが可能であり、しかも、各調節ネジ１６を回動させて位置を変更させることで第１の反射体１０の前記軸芯Ｘ１周りでの傾斜角度を変更調節並びに固定自在に構成されている。
【００４６】
又、第２の反射体１１と受光装置５Ａとは、支持具１７により一体的に組み付けた状態で、前記支持ステー１４に固定装着する構成となっている。すなわち、前記支持具１７は、底板１７ａと、その底板１７ａの左右両側側から固定立設した左右の支持板１７ｂとにより構成され、左右の支持板１７ｂは支持ステー１４に対する取り付け箇所から計測対象領域Ｊ側に向けて延設させる構成となっており、その延設方向の先端部付近において、左右の支持板１７ｂにわたって第２の反射体１１を架け渡す状態で取り付ける構成としている。又、この第２の反射体１１は、第１の反射体１０と同様に、前記経路横幅方向に沿う軸芯Ｘ２周りで回動自在に左右の支持板１７ｂに支持されており、複数の調節ネジ１８を第２の反射体１１に当て付けた状態で締め付けることで第２の反射体１１を位置固定することが可能であり、しかも、各調節ネジ１８を回動させて位置を変更させることで第２の反射体１１の前記軸芯Ｘ２周りでの傾斜角度を変更調節並びに固定自在に構成されている。
【００４７】
又、受光装置５Ａを保持する受光装置保持具１９を、前記左右の支持板１７ｂにて前記経路横幅方向に沿う軸芯Ｘ３周りで回動自在に枢支する構成となっており、前記左右の支持板１７ｂにおける前記軸芯Ｘ３の上下両側に位置する箇所に夫々設けられた調節ネジ２０を受光装置保持具１９に当て付けた状態で締め付けることで受光装置保持具１９すなわち受光装置５Ａを位置固定することが可能であり、しかも、各調節ネジ２０を回動させて位置を変更させることで受光装置５Ａの前記軸芯Ｘ３周りでの傾斜角度を変更調節並びに固定自在に構成されている。尚、前記支持ステー１４における前記受光装置５Ａが位置する箇所には、受光装置保持具１９の回動を許容するための開口１４Ａが形成されている。
【００４８】
上記構成により、図１５に示すように、前記計測対象領域Ｊの像を縮小した像を受光手段５が受光するように、計測対象領域Ｊからの光を受光手段５における光軸方向（図のラインＯＬに沿う方向）に折り返して受光手段５に導く折り曲げ光路形成手段９が構成される。尚、予定移送経路ＩＫの装置前面側に位置する折り曲げ光路形成手段９についても同様な構成であり、配置構成が前後で対称となるだけでそれ以外は同じ構成であるから説明は省略する。
【００４９】
図２に示すように、前面側照明手段４Ｂ、前面側受光装置５Ｂ、前面側の背景光量調整部８、前面側の折り曲げ光路形成手段９の夫々が前面側の収納ケーシング１３に収納され、後面側照明手段４Ａ、後面側受光装置５Ａ、後面側の背景光量調整部８、後面側の折り曲げ光路形成手段９の夫々が後面側の収納ケーシング１３に収納されており、両収納ケーシング１３は側板が共通の一体の箱体に形成され、各収納ケーシング１３は、計測対象領域Ｊに面する側に板状の透明なガラスからなる透過窓１３Ａ，１３Ｂを備えている。
【００５０】
予定移送経路ＩＫの前記計測対象領域Ｊから経路下手側の分離箇所において、計測対象領域Ｊでの受光情報に基づいて不良と判定された米粒や異物等の不良物に対してエアーを吹き付けて正常な米粒群ｋの移動方向から分離させるためのエアー吹き付け装置６が設けられ、このエアー吹き付け装置６は、噴射ノズル６ａの複数個を、上記予定移送経路ＩＫの全幅を所定幅で複数個の区画に分割形成した各区画に対応する状態で並置させ、不良物が存在する区画の噴射ノズル６ａが作動されるように構成されている。従って、前記エアー吹き付け装置６が、前記分離箇所に移送された粒状体群のうちの正常物と不良物とを異なる経路に分離させる分離手段を構成することになる。尚、このエアー吹き付け装置６は、詳述はしないが、不良物が存在する区画の噴射ノズル６ａが作動させるように、エアー状態を変更調節するエアー噴出状態を切り換え操作するエアー切り換えバルブが一体的に備えられる構成となっている。
【００５１】
そして、シュータ１の下端部から所定経路に沿って流下する米粒群ｋのうちで、前記噴射ノズル６ａからのエアーの吹き付けを受けずにそのまま進行してくる正常な米粒ｋを回収する良米用の受口部２１と、エアーの吹き付けを受けて正常な米粒ｋの流れから横方向に分離した着色米や胴割れ米等の不良米又は石やガラス片等の異物を回収する不良物用の受口部２２とが設けられ、良米用の受口部２１が横幅方向に細長い筒状に形成され、その良米用の受口部２１の周囲を囲むように、不良物用の受口部２２が形成されている。尚、良米用の受口部２１にて回収された米粒ｋ、及び、不良物用の受口部２２にて回収された不良物は、再選別等のために、本装置の貯留タンク２又は他の選別装置に搬送される。
図１に示すように、表側の上部斜め部分に情報の表示及び入力用の操作卓２３が設置され、又、装置外面を覆うカバーＫが機枠に取り付けられている。
【００５２】
次に制御構成について説明する。図７に示すように、マイクロコンピュータ利用の制御装置２４が設けられ、この制御装置２４に、両受光装置５Ａ，５Ｂからの各画像信号と、操作卓２３からの操作情報とが入力されている。一方、制御装置２４からは、前記ライン状光源４１Ａ，４１Ｂを点灯させる点灯回路２５に対する駆動信号と、各噴射ノズル６ａへの各エアー供給をオンオフする複数個の電磁弁２６に対する駆動信号と、前記振動フィーダ用振動発生器３Ａに対する駆動信号と、前記調光装置８５への制御指令用の信号とが出力されている。
【００５３】
そして、上記制御装置２４を利用して、前記各受光装置５Ａ，５Ｂの受光量を設定時間間隔でサンプリングして、そのサンプリングした受光量の光量値が米粒群における正常物からの検出光に対する適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２を外れているか否かの判別を行う評価手段の一例としての判別処理手段１００が構成されている。具体的には、この判別処理手段１００は、前面側の受光装置５Ｂの各受光素子５ａの受光量を設定時間間隔でサンプリングして、そのサンプリングした光量値が各受光素子５ａ毎に設定された適正光量範囲ΔＥ２を外れているか否かの判別を各受光素子５ａ毎に行うとともに、後面側の受光装置５Ａの各受光素子５ａの受光量を設定時間間隔でサンプリングして、そのサンプリングした光量値が各受光素子５ａ毎に設定された適正光量範囲ΔＥ１を外れているか否かの判別を各受光素子５ａ毎に行い、上記両判別においていずれかの受光素子５ａの受光量が適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２を外れている場合に不良物の存在を検出する。
【００５４】
又、上記判別処理手段１００は、各受光装置５Ａ，５Ｂの各受光素子５ａ毎に、前記サンプリングにより得られた設定個数の受光量データについて、暗側から明側に亘る間を複数段階に区分けした各光量値に対する度数分布（ヒストグラムともいう）を求めて、その度数分布に基づいて前記適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２を設定するように構成されている。具体的には、照明手段４からの照明光量が十分に安定した状態で、先ず、米粒群ｋを流さずに前記背景光量調整部８からの光を受光して、その受光量が検査を行なうのに十分な光量であることを確認する。次に、米粒群ｋを流しながら、各受光装置５Ａ，５Ｂの各受光素子５ａについて設定個数の受光量データをサンプリングし、その受光量データを２５６段階のデジタル値に変換する。尚、この場合において、前記エアー吹き付け装置６は作動させない。
【００５５】
そして、図９（イ）に示すように、判別処理手段１００は、前記度数分布ｈｇにおいて暗側から明側に亘って各光量値に対する度数値が連続して存在する連続領域（図において斜線で示す）の上端部の近傍位置に対応させて上側光量値ＴＨ１を設定するとともに、その上側光量値ＴＨ１から明側に設定光量Ｋ１離れた位置に前記適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の上限値Ｔ１を設定し、且つ、前記連続領域の下端部の近傍位置に対応させて下側光量値ＴＨ２を設定するとともに、その下側光量値ＴＨ２から暗側に設定光量Ｋ２離れた位置に前記適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の下限値Ｔ２を設定するように構成されている。尚、上記上側光量値ＴＨ１及び下側光量値ＴＨ２の設定については後述する。又、上記各設定光量Ｋ１，Ｋ２は制御定数として予め設定されている。
【００５６】
さらに、図９（イ）〜（ハ）に示すように、上記判別処理手段１００は、前記サンプリングによって設定時間ごとに得られる設定個数の受光量データの中に、前記上側光量値ＴＨ１よりも明るい光量値が含まれているときは、前記上側光量値ＴＨ１を明側に設定量移動させる一方、前記設定個数の受光量データの中に前記上側光量値ＴＨ１よりも明るい光量値が含まれていないときは、前記上側光量値ＴＨ１を暗側に設定量移動させ、且つ、前記設定個数の受光量データの中に前記下側光量値ＴＨ２よりも暗い光量値が含まれているときは、前記下側光量値ＴＨ２を暗側に設定量移動させる一方、前記設定個数の受光量データの中に前記下側光量値ＴＨ２よりも暗い光量値が含まれていないときは、前記下側光量値ＴＨ２を明側に設定量移動させる補正処理を設定時間ごとに実行する。
【００５７】
尚、上記設定量としては、前記２５６段階の受光量データにおける１段階とし、前記各設定光量Ｋ１，Ｋ２の値はこの設定値よりも大きな値に設定されている。そして、図９の（イ）では、サンプリングにより得られた設定個数の受光量データの中に上側光量値ＴＨ１よりも明るい光量値が含まれているので、上側光量値ＴＨ１を明側に１段階移動させ、一方、下側光量値ＴＨ２よりも暗い光量値は含まれていないので、下側光量値ＴＨ２を明側に１段階移動させて、下側光量値ＴＨ２がちょうど連続領域の下端部に位置した状態を示す。
図９（ロ）では、（イ）の後に、サンプリングにより得られた設定個数の受光量データの中に、上側光量値ＴＨ１よりも明るい光量値及び下側光量値ＴＨ２よりも暗い光量値が共に含まれていないので、上側光量値ＴＨ１を暗側に１段階移動させ、下側光量値ＴＨ２を明側に１段階移動させている。
図９（ハ）では、（ロ）の後に、サンプリングにより得られた設定個数の受光量データの中に、上側光量値ＴＨ１よりも明るい光量値が含まれていないので、上側光量値ＴＨ１を暗側に１段階移動させる一方、下側光量値ＴＨ２よりも暗い光量値が含まれているので、下側光量値ＴＨ２を暗側に１段階移動させている。
以下、同様な補正処理を行なうことにより、上側光量値ＴＨ１は上記連続領域の上端部もしくはその付近に固定され、下側光量値ＴＨ２は上記連続領域の下端部もしくはその付近に固定されることになる。
【００５８】
さらに、図１０に示すように、上記判別処理手段１００は、前記連続領域の上端部に対応する上端光量値Ｕ１と前記連続領域の下端部に対応する下端光量値Ｄ１との光量値の差Ｕ１−Ｄ１が設定値ＨＫよりも大きい場合には、前記補正処理を実行し、上端光量値Ｕ１と下端光量値Ｄ１との光量値の差Ｕ１−Ｄ１が設定値ＨＫよりも小さい場合には、前記補正処理を停止するように構成されている。
つまり、上記設定値ＨＫは、米粒群が計測対象領域Ｊを通過しているときは、図１０に一点鎖線で示すように上記光量値の差Ｕ１−Ｄ１が設定値ＨＫより大きくなるように設定され、米粒群が計測対象領域Ｊを通過していないときは、図１０に実線で示すように、前記反射板８Ａ，８Ｂからの反射光のみを受光するために、その受光量データの度数分布ｈｇの連続領域の幅が狭くなるのに対応させて、その上端光量値ＵＨと下端光量値ＤＨとの光量値の差ＵＨ−ＤＨが設定値ＨＫよりも小さくなるように設定されている。
従って、米粒群が計測対象領域Ｊを通過しているときは、前記補正処理が実行されて適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の上限値Ｔ１及び下限値Ｔ２が逐次修正されるが、米粒群が計測対象領域Ｊを通過していないときは、前記補正処理の実行が停止されて、直前に米粒群が計測対象領域Ｊを通過していたときの適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の上限値Ｔ１及び下限値Ｔ２の値が保持されることになる。
【００５９】
そして、上記のように各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの各受光素子５ａ毎に、設定及び補正される前面側及び後面側の適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の上限値Ｔ１及び下限値Ｔ２の値は、図１１に示すように、前記制御装置２４内のメモリＬＵＴ（前面側用及び後面側用のＬＵＴ）に、不良検出処理用のルックアップテーブルとして記憶される。
即ち、位置データｉ（ｉ＝０〜〔受光素子の数−１〕）で表した各受光素子５ａ毎に、センサ出力電圧をとり得る全ての光量値ｊ（前記２５６段階の光量値）の範囲で変化させながら、その各値ｊが前記適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２内であれば、メモリＬＵＴの該当番地（ｉ，ｊ）に判定出力として「０」を記憶させ、適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２を外れていれば、メモリＬＵＴの該当番地（ｉ，ｊ）に判定出力として「１」を記憶させる。そして、前記判別を行うときは、上記作成したメモリＬＵＴに対して、各ラインセンサ５Ａ，５Ｂの受光素子５ａの位置データｉ（ｉ＝０〜〔受光素子の数−１〕）と、その位置ｉでの各受光素子５ａの光量値ｊとを入力すると、その各受光素子５ａについて、正常物のときは判定出力「０」が、不良物のときは判定出力「１」が夫々出力されるので、それに基づいて前記判別を行う。
【００６０】
各受光装置５Ａ，５Ｂの受光出力における不良物の判別について図１２に例示する。図１２において、ｅ０は、正常な米粒からの標準的な反射光に対する出力電圧レベルであり、受光素子５ａの出力電圧が適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２よりも小さい場合ｅ１，ｅ２では、正常な米粒よりも光の反射率が小さい不良の米粒等の存在を判別し、適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２よりも大きい場合ｅ３では、正常な米粒よりも反射率が大きい異物の存在を判別する。
【００６１】
そして、制御装置２４は、計測対象領域Ｊを通過した米粒群ｋのうちで、不良物の存在が判別された場合には、計測対象領域Ｊから噴射ノズル６ａの噴射位置に米粒群ｋが搬送されるのに要する時間間隔が経過するに伴って、不良物に対してその位置に対応する区画の各噴射ノズル６ａからエアーを吹き付けて正常な米粒の経路から分離させるべくエアー吹き付け装置６を作動させて、正常な米粒は良米用の受口部２１に回収し、不良米又は石やガラス片等の異物を不良物用の受口部２２に回収する。従って、この実施形態においては、制御装置２４により構成される判別処理手段１００により、前記受光手段の受光情報に基づいて、前記計測対象領域における複数の単位受光対象範囲に相当する複数の単位受光範囲毎に受光量を評価する評価手段が構成される。
【００６２】
次に、図１３及び図１４に示すフローチャートに基づいて、適正光量範囲の設定処理及び適正光量範囲の補正処理について説明する。
前記適正光量範囲の設定処理では、装置の電源をオンした後、先ず、前記計測対象領域Ｊに米粒を供給しない状態で、各受光素子５ａ毎に、前記各反射板８Ａ，８Ｂからの反射光について設定個数の受光量データをサンプリングして、その受光量データの平均値Ｔａを各受光素子５ａ毎に求める。尚、このときに、各受光素子５ａ毎の受光量データの平均値Ｔａに基づいて、各背景光量調整部８からの受光量が検査を行なうのに十分な光量であることを確認する。
【００６３】
次に、前記計測対象領域Ｊへの米粒の供給を開始した状態で、上記と同様に、各受光素子５ａ毎に、前記計測対象領域Ｊからの光について設定個数の受光量データをサンプリングし、サンプリングが終了すると、計測対象領域Ｊへの米粒の供給を停止する。そして、各受光素子５ａ毎に、上記受光量データの最大光量値Ｔｍａｘと最小光量値Ｔｍｉｎを求めるとともに、前記平均値Ｔａとの上側偏差ΔＴ１（Ｔｍａｘ−Ｔａ）及び下側偏差ΔＴ２（Ｔａ−Ｔｍｉｎ）を求め、それら受光素子の個数分の上側偏差ΔＴ１及び下側偏差ΔＴ２のうちで、極端に大きい値のものを除去するために、上側偏差ΔＴ１及び下側偏差ΔＴ２の夫々において、大きい方からｎ番目（例えば１０番目）のものを選ぶ。
【００６４】
次に、上記選んだ上側偏差ΔＴ１を前記平均値Ｔａに加算して上側設定値ＴＨ１を求め、さらに、その上側設定値ＴＨ１に設定値Ｋ１を加算して前記適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の上限値Ｔ１を求める処理、及び、上記選んだ下側偏差ΔＴ２を前記平均値Ｔａから引算して下側設定値ＴＨ２を求め、さらに、その下側設定値ＴＨ２から設定値Ｋ２を引算して前記適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の下限値Ｔ２を求める処理を、各受光素子５ａ毎に行い、最後に、設定された上限値Ｔ１及び下限値Ｔ２のデータに基づいて、前記メモリＬＵＴを作成する。
【００６５】
前記適正光量範囲の補正処理では、前記計測対象領域Ｊに米粒を供給して、各受光素子５ａの受光量が適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２を外れているか否かの判別を行っている状態で、各受光素子５ａ毎に、設定時間（例えば、数秒から数１０秒）ごとに設定個数の受光量データをサンプリングして、そのサンプリングした受光量データについて前記度数分布を作成する。次に、その度数分布における連続領域の上端光量値Ｕ１と下端光量値Ｄ１との光量値の差Ｕ１−Ｄ１が設定値ＨＫよりも大きいか否を判断して、その光量値の差Ｕ１−Ｄ１が設定値ＨＫよりも大きくない場合には以下の処理は行わない。
【００６６】
上記光量値の差Ｕ１−Ｄ１が設定値ＨＫよりも大きい場合には、先ず、上記度数分布において、現在の上側設定値ＴＨ１よりも明るい光量値データが存在する場合には、その上側設定値ＴＨ１の値を１増加させ、現在の上側設定値ＴＨ１よりも明るい光量値データが存在しない場合には、その上側設定値ＴＨ１の値を１減少させる。次に、上記度数分布において、現在の下側設定値ＴＨ２よりも暗い光量値データが存在する場合には、その下側設定値ＴＨ２の値を１減少させ、現在の下側設定値ＴＨ２よりも暗い光量値データが存在しない場合には、その下側設定値ＴＨ２の値を１増加させる。
【００６７】
最後に、上側設定値ＴＨ１及び下側設定値ＴＨ２の変更に応じて適正光量範囲ΔＥ１，ΔＥ２の上限値Ｔ１及び下限値Ｔ２を変更し、この変更された上限値Ｔ１及び下限値Ｔ２のデータに基づいて、前記メモリＬＵＴの内容を修正する。
【００６８】
そして、制御装置２４は、不良の判別情報に基づいて、前記両受光装置５Ａ，５Ｂの計測対象領域Ｊに移送した米粒群ｋのうちで、米粒の不良又は異物の存在が判別された場合には、計測対象領域Ｊから噴射ノズル６ａによるエアー噴射位置までの移送時間が経過するに伴って、流下している不良の米粒又は異物に対して、その位置に対応する区画の各噴射ノズル６ａからエアーを吹き付けて正常な米粒の経路から分離させる。
【００６９】
〔別実施形態〕
次に、粉粒体検査装置の別実施形態について説明する。
【００７０】
（１）上記実施形態では、前記折り曲げ光路形成手段が、前記計測対象領域からの光を反射する第１の光反射体と、その第１の光反射体にて反射した光を反射して前記受光手段に導く第２の光反射体とを備えて構成され、且つ、前記第１の光反射体及び第２の光反射体の夫々が光反射面を平面状に形成して構成されるものを例示したが、このような構成に代えて、次のように構成してもよい。
【００７１】
すなわち、前記折り曲げ光路形成手段を、前記計測対象領域からの光を反射する第１の光反射体と、その第１の光反射体にて反射した光を反射して前記受光手段に導く第２の光反射体とを備えて構成され、且つ、前記第１の光反射体の光反射面を凹面形状に形成し、前記第２の光反射体の光反射面を平面形状又は凸面形状に形成して構成するものでもよい。例えば、図１６（イ）に示すように、第１の光反射体１０Ａを光反射面を凹面形状に形成し、第２の光反射体１１の光反射面を上記実施形態と同様な平面形状に形成するものとしてもよい。又、図１６（ロ）に示すように、第１の光反射体１０Ａを光反射面を凹面形状に形成し、第２の光反射体１１Ａの光反射面を凸面形状に形成するものとしてもよい。
このとき、第１の光反射体の前記経路横幅方向での寸法は、計測対象領域における前記経路横幅方向での横幅とほぼ同じ寸法になるように構成してあり、前記計測対象領域からの光を光軸方向に沿う平行状態で受け入れたのち、計測対象領域の像を縮小させた状態で第２の光反射体に反射させることができる。
【００７２】
又、前記折り曲げ光路形成手段としては、２つの反射体を備える構成に限らず、１つの反射体を備えるものでもよく、３つ以上の反射体を備える構成としてもよく、要するに、計測対象領域の像を縮小した像を受光手段が受光するように、計測対象領域からの光を受光手段における光軸方向に折り返して受光手段に導く構成であればよい。
【００７３】
（２）上記実施形態では、前記第１の反射体及び第２の反射体の夫々を、調節ネジにより傾斜角度を変更調整可能に構成するものを示したが、このような角度調節手段を備えることなく位置固定状態で備える構成としてもよい。
【００７４】
（３）上記実施形態では、前記評価手段が、前記受光手段にて計測される光の受光量に基づいて粒状体を評価するにあたって、前記受光手段にて計測される光の受光量が適正光量範囲を外れていなければ正常物と判別し、受光量が適正光量範囲を外れていると異常物として判別するように構成したが、このような構成に限らず、例えば、粒状体の大きさを評価して小さい粒状体と大きい粒状体とを選別するように構成するものでもよい。
【００７５】
（４）上記実施形態では、前記受光手段として、予定移送経路ＩＫの装置前面側に位置する前面側受光手段５Ｂと装置後面側に位置する後面側受光手段５Ａとが設けられ、前記照明手段４として、予定移送経路ＩＫの装置前面側に位置する前面側照明手段４Ｂと装置後面側に位置する後面側照明手段４Ａとが設けられる構成としたが、前面側受光手段５Ｂ及び前面側照明手段４Ｂだけを備える構成や、後面側受光手段５Ａ及び後面側照明手段４Ａだけを備える構成としてもよい。
【００７６】
（５）上記実施形態では、前記照明手段としての前面側照明手段４Ｂと後面側照明手段４Ａとの夫々が、前記計測対象領域を直接照明するライン状光源と、そのライン状光源が発した光を反射して前記計測対象領域を前記ライン状光源の照明方向と異なる方向から照明する照明用の光反射体とを備えて構成されるものを例示したが、このような照明用の光反射体を設けるものではなく、例えば複数のライン状光源を備えて、それら複数のライン状光源により計測対象領域を互いに異なる方向から照明する構成としてもよい。
【００７７】
（６）上記実施形態では、前記対象物移送手段として、経路横幅方向の全幅にわたって平坦な案内面に形成された平面シュータを備えて構成されるものを例示したが、このような構成に限らず、例えば直線状の溝を経路横幅方向に沿って複数列に並べる状態で形成した溝付きシュータにて構成して、それらの複数列の溝により粒状体群を移送するような構成としてもよい。
【００７８】
（７）上記実施形態では、受光手段として、モノクロタイプのＣＣＤセンサ以外に、撮像管式のテレビカメラでもよい。又、モノクロタイプではなく、カラータイプのＣＣＤセンサにて構成して、例えば、色情報Ｒ，Ｇ，Ｂ毎の受光量から不良米や異物の存否をさらに精度良く判別してもよい。
【００７９】
（８）上記実施形態では、分離手段が、不良物に対してエアーを吹き付けて、正常物と異なる経路に分離させるようにしたが、これに限るものではなく、例えば不良物をエアーで吸引して分離させるようにしたり、機械的な接当作用により分離させるようにしてもよい。
【００８０】
（９）上記実施形態では、粒状体群が米粒群である場合について例示したが、これに限るものではなく、例えば、樹脂ペレット等における不良物や異物の存否を検査する場合にも適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００８１】
【図１】粉粒体検査装置の全体側面図
【図２】同要部側面図
【図３】同要部斜視図
【図４】背景光量調整部の構成を示す図
【図５】折れ曲がり光路形成手段の構成を示す図
【図６】折れ曲がり光路形成手段の構成を示す図
【図７】制御構成のブロック図
【図８】受光手段の受光状態を示す図
【図９】適正光量範囲の設定及び補正処理を説明するグラフ
【図１０】適正光量範囲の補正処理を説明するグラフ
【図１１】不良判別用のメモリのブロック図
【図１２】ラインセンサの受光出力電圧の波形図
【図１３】制御作動のフローチャート
【図１４】制御作動のフローチャート
【図１５】折れ曲がり光路形成手段の概略構成を示す図
【図１６】別実施形態における折れ曲がり光路形成手段の構成を示す図
【図１７】受光手段の受光状態を示す説明図
【図１８】本発明の課題を説明するための図
【符号の説明】
【００８２】
４                  照明手段
５                  受光手段
６                  分離手段
９                  折り曲げ光路形成手段
１０                第１の反射体
１０ａ              反射面
１１                第２の反射体
１１ａ              反射面
４１Ａ，４１Ｂ      ライン状光源
４２Ａ，４２Ｂ      照明用の光反射体
１００              評価手段
ＴＩ                対象物移送手段
【図１】
2006234744.tif 000003
【図２】
2006234744.tif 000004
【図３】
2006234744.tif 000005
【図４】
2006234744.tif 000006
【図５】
2006234744.tif 000007
【図６】
2006234744.tif 000008
【図７】
2006234744.tif 000009
【図８】
2006234744.tif 000010
【図９】
2006234744.tif 000011
【図１０】
2006234744.tif 000012
【図１１】
2006234744.tif 000013
【図１２】
2006234744.tif 000014
【図１３】
2006234744.tif 000015
【図１４】
2006234744.tif 000016
【図１５】
2006234744.tif 000017
【図１６】
2006234744.tif 000018
【図１７】
2006234744.tif 000019
【図１８】
2006234744.tif 000020