(57)【要約】  【課題】  光ディスク装置においてシークやジャンプの場合も安定なサーボ制御が可能な技術を提供する。  【解決手段】  光ディスク回転用のスピンドルモータの回転に対応して発生する回転制御パルスに、光ディスクの周方向の分割ゾーンを対応付け、該回転制御パルスに基づいて該光ディスクの記録面上の欠陥部位置を特定するとともに、記録または再生時に該欠陥部位置を回避するか否かを判別する。記録または再生動作は、該特定した欠陥部位置を回避するように光ピックアップのビームスポットを移動させて行う。【選択図】  図１
2006107683.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに対し情報を記録または再生する光ディスク装置であって、
上記光ディスクを回転駆動するスピンドルモータの回転に対応した回転制御パルスを形成する回転制御パルス形成回路と、
上記光ディスクの記録面にレーザ光のビームスポットを照射するとともに該記録面からの反射レーザ光を受光する光ピックアップと、
上記回転制御パルスに基づき上記光ディスクの記録面上の欠陥部を特定し、記録または再生時に上記ビームスポットを該欠陥部を回避して移動させるか否かを判別する制御回路と、
を備えた構成としたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
光ディスクに対し情報を記録または再生する光ディスク装置であって、
上記光ディスクを回転駆動するスピンドルモータと、
上記スピンドルモータを駆動するモータ駆動回路と、
上記光ディスクの記録面にレーザ光のビームスポットを照射するとともに該記録面からの反射レーザ光を受光する光ピックアップと、
上記スピンドルモータの回転に対応した回転制御パルスを形成する回転制御パルス形成回路と、
上記光ピックアップで受光した反射レーザ光に基づく信号から光ディスクの記録面上の欠陥を検出し該欠陥に対応した欠陥検出信号を形成して出力する欠陥検出信号形成回路と、
上記回転制御パルスに基づき上記モータ駆動回路を介して上記スピンドルモータの回転を制御する第１の制御手段と、上記回転制御パルスに対し上記光ディスクの分割ゾーンに対応した識別符号を割り付け、上記欠陥検出信号とタイミングが合う回転制御パルスを抽出し、該抽出した識別符号に対応した分割ゾーンを欠陥部として特定するとともに、該特定した欠陥部の情報を記録または再生時に参照し上記ビームスポットが該欠陥部を回避する必要があるか否かを判別する第２の制御手段とを備えて成る制御回路と、
上記特定した欠陥部の情報を格納する記憶手段と、
を備え、上記欠陥部を回避した状態で記録または再生を行う構成としたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
上記制御回路は、上記欠陥の欠陥レベルが所定値以上のときに該欠陥部を特定する構成である請求項１または請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項４】
上記制御回路は、上記第１の制御手段が上記モータ駆動回路を制御して上記光ディスクを上記スピンドルモータにより線速度一定方式の制御状態で回転させるとき、上記第２の制御手段が上記識別符号の変化周期に基づき上記欠陥部を特定する構成である請求項２に記載の光ディスク装置。
【請求項５】
光ディスクに対し情報を記録または再生する光ディスク装置における光ディスクの欠陥部検出方法であって、
上記光ディスクの記録面上の欠陥を検出し該欠陥に対応した検出信号を形成し出力する第１のステップと、
光ディスクの回転に対応した回転制御パルスのうちから上記検出信号とタイミングが合う回転制御パルスを抽出し、該抽出した回転制御パルスに対応する光ディスクの分割ゾーンを上記欠陥が存在する欠陥部として特定する第２のステップと、
を経て、上記光ディスク上の欠陥部を検出する光ディスクの欠陥部検出方法。
【請求項６】
光ディスクに対し情報を記録または再生する光ディスク装置における光ディスクの欠陥部検出方法であって、
光ディスクの回転に対応した回転制御パルスに、光ディスクの周方向の分割ゾーンに対応した識別符号を割り付けるとともに、該光ディスクの記録面上の欠陥を検出し該欠陥に対応した検出信号を形成し出力する第１のステップと、
上記識別符号が割り付けられた回転制御パルスのうちから上記検出信号とタイミングが合う識別符号の回転制御パルスを抽出する第２のステップと、
上記抽出した回転制御パルスに対応した光ディスク上の分割ゾーンを上記欠陥を有する欠陥部として特定するとともに、該特定した分割ゾーンに対応した回転制御パルスの周期または該回転制御パルスに割り付けられた識別符号の周期を演算し、該演算結果より上記欠陥の光ディスク上における半径位置を特定する第３のステップと、
を経て、上記光ディスク上の欠陥部を検出する光ディスクの欠陥部検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに係り、特に、シークやジャンプを行うときに光ディスクの記録面上の傷や汚れ等（欠陥）が存在する領域（欠陥部）の位置を検出する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
本発明に関連した従来技術としては、例えば、特開２００２−２９８３４４号公報（特許文献１）、特開２００２−１６３８６９号公報（特許文献２）、特開２００３−１９６８２８号公報（特許文献３）及び特開２００１−３１２８６５号公報（特許文献４）に記載されたものがある。
特開２００２−２９８３４４号公報には、光ディスク上に傷がある場合もフォーカスサーボ制御が乱れないようにするために、読出しや書込みの動作の前に予め光ディスク上の傷を探してその番地（アドレス）を光ディスク上の傷テーブルに記録し、読出しや書込みの動作時は、ビームスポットを現在アクセス中のトラックから内周側のトラックにジャンプさせ、傷のセクタを通過後、元のトラックにジャンプさせて戻すとする技術が記載され、特開２００２−１６３８６９号公報には、記録媒体上の再生位置に傷などの障害がある場合もデータを正しく再生可能とするために、再生アドレスへのシークエラーを検出したとき、シーク位置を該再生アドレスからシークオフセットのセクタ数だけ手前に設定してシークをリトライするとした技術が記載されている。また、特開２００３−１９６８２８号公報には、光ディスク装置において、光ディスク上の傷を検出する時間を短縮するために、光ディスクに情報記録を行う前に、光ディスクに記録してある欠陥領域以外の領域に対し、第１の検出手段により光ディスクの半径方向に第１の間隔毎に光ビームを照射して新たな欠陥領域の有無を検出し、第２の検出手段により、該第１の検出手段で検出された範囲に、上記第１の間隔よりも狭い第２の間隔毎に光ビームを照射して上記新たな欠陥領域の位置を検出するとした技術が記載され、特開２００１−３１２８６５号公報には、光ディスク装置において、光記録媒体（光ディスク）に傷や汚れなどがある場合にも、データの欠落や記録の停止が起きないようにするために、情報の記録再生を行っていない時において、レーザ光を光ディスク上のトラックに沿ってトレースさせているとき、物理アドレスの読み取り可否または光ディスクの欠陥を検出し、該欠陥を該光ディスク上の欠陥登録領域に登録するとした技術が記載されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−２９８３４４号公報
【特許文献２】特開２００２−１６３８６９号公報
【特許文献３】特開２００３−１９６８２８号公報
【特許文献４】特開２００１−３１２８６５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記従来技術では、光ディスク装置において、光ディスク上の傷や汚れやその他データ再生やデータ記録を不能にする要因（以下、これを欠陥という）の存在する領域（以下、これを欠陥部または欠陥部領域という）の特定を該光ディスク上の物理アドレスにより行う構成であるが、例えばトラックジャンプ中においては、該物理アドレスをディスク記録面上から再生して読み取ることは不可能となる。また、着地目標位置の物理アドレスが分かっていても、メカばらつき等の要因によって着地位置が目標地点（位置）からずれることも考えられ、そのとき、例えば、該着地位置の欠陥レベルが許容値を超えて高い場合などにはフォーカスサーボやトラッキングサーボが外れてしまうおそれがある。
本発明の課題点は、上記従来技術の状況に鑑み、光ディスク装置において、欠陥部領域を有する光ディスクに対しシークやジャンプを行った場合も、フォーカスサーボ外れやトラッキングサーボ外れを起こさずに記録または再生動作を開始することができるようにすることである。
本発明の目的は、上記課題点を解決し、シークやジャンプの場合にもサーボ制御が安定で使い勝手性の優れた光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題点を解決するために、本発明では、光ディスク装置において、光ディスク回転用のスピンドルモータの回転に対応して発生する回転制御パルスに基づき、該光ディスクの記録面上の欠陥部を特定するとともに、記録または再生時に該欠陥部を回避する必要があるか否かを判別する。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、光ディスク装置において、欠陥部を有する光ディスクに対しシークやジャンプを行う場合もサーボ外れの発生を抑えられ、安定かつ迅速な記録または再生動作が可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下、本発明を実施するための最良の形態につき、図面を用いて説明する。
図１〜図４は、本発明の実施例の説明図である。図１は、本発明の実施例としての光ディスク装置の構成例図、図２は、図１の光ディスク装置における光ディスクの分割ゾーンと回転制御パルスの関係を示す図、図３は、図１の光ディスク装置における欠陥部検出回路の構成例図、図４は、図１の光ディスク装置の動作説明図である。なお、図２〜図４の説明中に用いる図１の構成要素には、図１の場合と同じ符号を付して用いるものとする。
【０００８】
図１において、１００は光ディスク装置、１は光ディスク、２は、光ディスク１の記録面にレーザ光のビームスポットを照射するとともに該記録面からの反射レーザ光を受光する光ピックアップ、３は、光ピックアップ２で反射レーザ光から変換したアナログ信号から情報再生信号（以下、単に再生信号という）の形成、同じくトラッキング誤差信号やフォーカス誤差信号の形成、光ディスクの記録面上に傷や汚れ等の欠陥がある場合に該欠陥に対応する検出信号の形成、Ａ／Ｄ変換処理等のアナログ信号処理を行うアナログ信号処理回路、３１は、アナログ信号処理回路３内において、反射レーザ光から変換されたアナログ信号から再生信号を形成する再生信号形成回路、３２は、該アナログ信号からトラッキング誤差信号やフォーカス誤差信号のサーボ信号を形成するサーボ信号形成回路、３３は、該アナログ信号から光ディスクの記録面上の傷や汚れ等の欠陥を検出し該欠陥に対応した信号（欠陥検出信号）を形成して出力する欠陥検出信号形成回路、４は、光ディスク１を回転駆動するスピンドルモータ、５は、光ピックアップ２を光ディスク１の半径方向（ディスク半径方向）に移動させるスライドモータ、６は、スピンドルモータ４やスライドモータ５を駆動するモータ駆動回路、９１はモータ駆動回路６を制御するモータ制御回路、７は、光ピックアップ２内において対物レンズ（図示なし）の位置や姿勢を変化させるためのアクチュエータ（図示なし）を駆動するアクチュエータ駆動回路である。
【０００９】
また、９２は、上記アクチュエータ駆動回路７を制御するアクチュエータ制御回路、９３は、サーボ信号形成回路３２から出力されるトラッキング誤差信号やフォーカス誤差信号からトラッキング制御用のトラッキング制御信号やフォーカス制御用のフォーカス制御信号を形成するサーボ信号処理回路、９４は、再生信号形成回路３１から出力される再生信号に対して復調処理等を行う再生信号処理回路、８は、スピンドルモータ４から出力され該スピンドルモータ４の回転に対応したパルスであって該スピンドルモータ４の回転を制御するための回転制御パルスを形成する回転制御パルス形成回路、９５は、上記回転制御パルスに対し上記光ディスク１の記録面上の周方向の分割ゾーンに対応した番号等の識別符号を割り付ける回転制御パルス処理回路、９６は、回転制御パルス処理回路９５の出力と欠陥部検出信号形成回路３３の出力とに基づきすなわち上記識別符号を割り付けられた回転制御パルスと上記欠陥検出信号とに基づき、傷や汚れなどの欠陥が存在する光ディスクの分割ゾーンを検出し欠陥部として特定する欠陥部検出回路、９は、モータ制御回路９１、アクチュエータ制御回路９２、サーボ信号処理回路９３、再生信号処理回路９４、回転制御パルス処理回路９５及び欠陥部検出回路９６を含んで成り装置全体の制御処理を行う制御回路、１０は記憶手段としてのメモリである。回転制御パルス処理回路９５のからの出力（識別符号の割り付けられた回転制御パルス）は、欠陥部検出回路９６とモータ制御回路９１とに入力される。欠陥部検出回路９６に入力されたものは欠陥部の特定用に用いられ、モータ制御回路９１に入力されたものはスピンドルモータ４の回転制御用に用いられる。なお、上記回転制御パルス処理回路９５が行う識別符号の割り付けとは、回転制御パルスを光ディスクの分割ゾーンに対応させる機能であり、例えば、回転制御パルスのそれぞれに異なる識別符号を電気的に重畳させるという割り付けを行ってもよいし、または、基準となる一部の回転制御パルスに識別符号を付与するという割り付けを行ってもよい。
【００１０】
欠陥部検出回路９６では、識別符号を割り付けられた回転制御パルスのうちから上記欠陥検出信号とタイミングが合うものを抽出し、該抽出した回転制御パルスに対応した光ディスク上の分割ゾーンを欠陥部（欠陥ゾーン）として特定する。また、該欠陥部検出回路９６では、該抽出した回転制御パルスの周期を演算し該演算結果から上記欠陥の分割ゾーン内におけるディスク半径方向の位置を特定する。該周期の演算時、光ディスク１はスピンドルモータにより線速度一定方式（ＣＬＶ方式）で回転される。該周期の演算は、上記抽出した回転制御パルスに割り付けられた識別符号の周期を演算してもよい。上記特定した欠陥部の情報はメモリ１０に格納される。さらに、その後の記録または再生時には、該欠陥部検出回路９６では、上記メモリ１０から上記特定した欠陥部の情報を読み出して参照し、光ピックアップ２のビームスポットが欠陥部を回避する必要があるか否かを判別する。制御回路９内において、モータ制御回路９１は、第１の制御手段を形成するとともに、記録または再生時に上記欠陥部を回避する位置に上記光ピックアップ２のビームスポットを移動させるための制御信号も形成する。同じく制御回路９内において、回転制御パルス処理回路９５及び欠陥部検出回路９６は第２の制御手段を形成する。上記欠陥検出信号形成回路３３では、欠陥レベルが所定値以上の場合に欠陥検出信号が形成され出力される。該所定値はデータ再生やデータ記録が不可能となるレベルを基準に設定される。回転制御パルス処理回路９５からモータ制御回路９１に入力された回転制御パルスは、モータ駆動回路６を介してスピンドルモータ４の回転を制御する。
【００１１】
かかる構成の光ディスク装置において、光ディスク１の記録面上に所定値以上の欠陥レベルの傷や汚れ等の欠陥がある場合には、欠陥検出信号形成回路３３によりこれが検出されて欠陥検出信号として出力され、欠陥部検出回路９６とアクチュエータ制御回路９２とに入力される。該欠陥部検出回路９６には、回転制御パルス処理回路９５から、識別符号が割り付けられた回転制御パルスも入力される。該欠陥部検出回路９６では、上記入力された欠陥検出信号とタイミングの合った回転制御パルスが抽出されることで上記欠陥の存在する光ディスク１上の分割ゾーンが特定され、さらに該抽出され回転制御パルスの周期または該抽出され回転制御パルスに割り付けられた識別符号の周期が演算されることで、分割ゾーン内における欠陥のディスク半径方向位置が特定される。該周期の演算は、光ディスク１を線速度一定方式（ＣＬＶ方式）で回転させて行う。該特定された欠陥部の情報はメモリ１０に格納される。データの記録または再生時、該欠陥部検出回路９６では、メモリ１０から上記特定した欠陥部の情報を読み出して参照し、光ピックアップ２のビームスポットが欠陥部を回避する必要があるか否かを判別する。モータ制御回路９１では、該判別結果に基づきスライドモータ５の回転を制御する制御信号を形成する。該制御信号に基づきスライドモータ５は、光ピックアップ２を移動させ、ビームスポットが上記特定された欠陥部を回避した位置となるようにする。欠陥の存在しない位置にビームスポットが照射されることでフォーカスサーボ外れやトラッキングサーボ外れが回避され、該状態でスムーズな記録または再生動作が開始される。
【００１２】
図２は、回転制御パルスに対する識別符号の割り付けの説明図である。（ａ）は光ディスク１の記録面の分割ゾーンを示し、（ｂ）は該分割ゾーンに対応した回転制御パルスを示す。なお、本図２では、分割ゾーンをＮｏ．１〜Ｎｏ．８の８個としている。
図２（ａ）において、１ａ１〜１ａ８はそれぞれ、光ディスク１のＮｏ．１〜Ｎｏ．８の分割ゾーンである。各分割ゾーン１ａ１〜１ａ８は光ディスク１の周方向に互いに等しい開角で形成される。また、図２（ｂ）において、８００Ｐは回転制御パルスであり、光ディスク１回転当り８個（８００Ｐ１〜８００Ｐ８）発生する。該８個の回転制御パルス８００Ｐ１〜８００Ｐ８は、それぞれが、図２（ａ）における光ディスク１の分割ゾーン１ａ１〜１ａ８のそれぞれに一対一で対応している。すなわち、例えば、回転制御パルス８００Ｐ１には、Ｎｏ．１の分割ゾーン１ａ１を識別する符号（以下、識別符号という）である「１」が割り付けられ、同様に、回転制御パルス８００Ｐ２〜８００Ｐ８のそれぞれにも、Ｎｏ．２〜Ｎｏ．８の分割ゾーン１ａ２〜１ａ８のそれぞれの識別符号である「２」〜「８」が割り付けられる。該割り付けは、図１の光ディスク装置１００の回転制御パルス処理回路９５によって行われ、回転制御パルス形成回路８から出力される回転制御パルスに対し、識別符号の「１」〜「８」が割り付けられる。なお、該識別符号としては、該「１」〜「８」のような番号には限定されず、各分割ゾーンに対応する回転制御パルスを識別できるものであれば他のものでもよい。割り付けは、各回転制御パルスに対し電気的に識別符号を付与してもよいし、例えば基準となる先頭の回転制御パルスだけに基準となる識別符合を電気的に付与するなどしてもよい。また、光ディスク１の記録面の分割ゾーン数も８個に限定されない。
【００１３】
図３は、図１の光ディスク装置１００における欠陥部検出回路９６の構成例図である。
図３において、９６１は、識別符号が割り付けられた回転制御パルス（例えば図２の８００Ｐ１〜８００Ｐ８）と欠陥に対応した欠陥検出信号とが入力され、該欠陥検出信号とタイミングが合う回転制御パルスを抽出し、該抽出結果に基づき、欠陥のある分割ゾーンを欠陥部として特定する抽出手段、９６２は、上記抽出された回転制御パルスの周期または該抽出された回転制御パルスに割り付けられた識別符号の周期の演算を行い、該欠陥の分割ゾーン（欠陥部）内におけるディスク半径方向位置を特定する周期演算手段、９６３は、その後のデータの記録または再生時において、メモリ１０から上記特定した欠陥部の情報を読み出して参照し、光ピックアップ２のビームスポットが欠陥部を回避する必要があるか否かを判別する判別手段、９６４は、判別した欠陥部情報を出力する欠陥部情報出力手段である。図１の光ディスク装置１００においては、抽出手段９６１、周期演算手段９６２、判別手段９６３及び欠陥部情報出力手段９６４はカスケード状に接続される。
【００１４】
上記抽出手段９６１では、例えば、光ディスク１を角速度一定方式（ＣＡＶ方式）で回転させた状態で、特定の回転制御パルスの抽出を行う。また、上記周期演算手段９６２では、例えば、光ディスク１を線速度一定方式（ＣＬＶ方式）で回転させた状態で、上記欠陥検出信号とタイミングが合う回転制御パルスの周期を演算し、これにより、分割ゾーン内での欠陥の半径方向位置を特定する。上記周期が長い程、該欠陥は光ディスク１の外径側に近いディスク半径位置にあり、該周期が短い程、該欠陥は光ディスク１の内径側に近いディスク半径位置にあることになる。
【００１５】
図４は、図１の光ディスク装置１００の動作説明図で、再生シーク動作の場合の説明図である。
図４において、
（１）回転制御パルス処理回路９５により、回転制御パルスに対し光ディスク１の周方向の分割ゾーンに対応した識別符号を割り付ける（ステップＳ４０１）。
（２）欠陥検出信号形成回路３３により光ピックアップ２のアナログ信号から欠陥の検出がされたか否かを判別する（ステップＳ４０２）。
（３）上記ステップＳ４０２で欠陥部が検出されず、欠陥検出信号が欠陥検出信号形成回路３３から出力されない場合は、そのままデータ再生動作に入る（ステップＳ４１２）。
（４）上記ステップＳ４０２で欠陥が検出された場合は、欠陥検出信号形成回路３３内において、該欠陥レベルが、予め設定された所定値以上であるか否かが判別される（ステップＳ４０３）。欠陥レベルは上記欠陥を検出した信号の振幅レベル等から判別される。
（５）上記ステップＳ４０３で、欠陥レベルが所定値に達しない場合は、データ再生上支障ないものとして欠陥検出信号は欠陥検出信号形成回路３３から出力されず、光ディスク装置１００はデータ再生動作に入る（ステップＳ４１２）。
【００１６】
（６）上記ステップＳ４０３で、欠陥レベルが所定値以上の場合は、欠陥検出信号が欠陥部検出信号形成回路３３から出力され、欠陥部検出回路９６に入力される。該欠陥部検出回路９６では、抽出手段９６１により、上記欠陥検出信号とタイミングの合った回転制御パルスを抽出し、該回転制御パルスの識別符号に対応した光ディスク１の分割ゾーンを、欠陥を有する欠陥部として特定する（ステップＳ４０４）。
（７）欠陥部検出回路９６中の周期演算手段９６２により、上記抽出した回転制御パルスの周期または該抽出した回転制御パルスに割り付けられた識別符号の周期を演算し（ステップＳ４０５）、上記ステップＳ４０４で特定された分割ゾーンにおける欠陥のディスク半径方向の位置を求め、欠陥部を特定する（ステップＳ４０６）。
（８）上記特定した欠陥部の情報をメモリ１０に格納する（ステップＳ４０７）。
（９）モータ制御回路９１、モータ駆動回路６及びスライドモータ５により光ピックアップ２をディスク半径方向に移動させ、目的とするアドレスにシークする（ステップＳ４０８）。
（１０）再生時、判別手段９６３により、上記メモリ１０から上記特定した欠陥部情報を読み出して参照用基準情報とする（ステップＳ４０９）。
【００１７】
（１１）判別手段９６３により、上記読み出した欠陥部情報を参照し、光ピックアップ２のビームスポットが欠陥部を回避する必要があるか否かを判別する（ステップＳ４１０）。
（１２）上記ステップＳ４１０における判別の結果、光ピックアップ２のビームスポットが欠陥部を回避する必要がない場合は、データ再生動作を続行する（ステップＳ４１２）。
（１３）上記ステップＳ４１０における判別の結果、光ピックアップ２のビームスポットが欠陥部を回避する必要がある場合は、欠陥部情報出力手段９６４からモータ制御回路９１に指示情報を出し、モータ制御回路９１に制御信号を形成させてスライドモータ５を制御し、ビームスポットを移動させて該欠陥部を回避させ（ステップＳ４１１）、データ再生を行う（ステップＳ４１２）。
なお、上記ステップＳ４１２のデータ再生に当っては、フォーカスオフセット等は適正値範囲に設定されるものとする。
【００１８】
上記実施例によれば、光ディスク装置において、欠陥部を有する光ディスクに対しシークやジャンプを行う場合もサーボ外れの発生を抑えられ、安定かつ迅速な再生動作が可能となる。
上記図４では、再生動作の場合につき説明したが、記録動作の場合もほぼ同様であり、この場合もサーボ外れの発生を抑え、安定かつ迅速な記録動作が可能となる。
【００１９】
なお、上記実施例では、制御回路９は、モータ制御回路９１、アクチュエータ制御回路９２、サーボ信号処理回路９３、再生信号処理回路９４、回転制御パルス処理回路９５及び欠陥部検出回路９６を含んで成る構成としたが、本発明はこれに限定されない。また、欠陥部検出回路９６も、抽出手段９６１、周期演算手段９６２、判別手段９６３及び欠陥部情報出力手段９６４を含んで成る構成としたが、本発明はこれにも限定されない。また、モータ制御回路９１には、回転制御パルス処理回路９５を経て識別符号が割り付けられた回転制御パルスを入力する構成としたが、本発明はこれにも限定されない。
【００２０】
図５は、本発明の光ディスク装置における他の実施例構成を示す。
図５の光ディスク装置においては、モータ制御回路９１には、回転制御パルス形成回路８で形成した回転制御パルスすなわち識別符号が割り付けられていない回転制御パルスを、回転制御パルス処理回路９５を経ずに入力し、これによりスピンドルモータ４の回転を制御する。すなわち、スピンドルモータ４の回転制御は、識別符号が割り付けられていない回転制御パルスで行い、光ディスク１の欠陥部の特定は、回転制御パルス処理回路９５を経て識別符号が割り付けられた回転制御パルスを用いて行う。他の部分の構成・作用は上記図１の場合と同様である。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の実施例としての光ディスク装置の構成例図である。
【図２】図１の光ディスク装置における光ディスクの分割ゾーンと回転制御パルスの関係を示す図である。
【図３】図１の光ディスク装置における欠陥部位置検出回路の構成例図である。
【図４】図１の光ディスク装置の動作説明図である。
【図５】本発明の実施例としての光ディスク装置の他の構成例図である。
【符号の説明】
【００２２】
１…光ディスク、
２…光ピックアップ、
３…アナログ信号処理回路、
４…スピンドルモータ、
５…スライドモータ、
６…モータ駆動回路、
７…アクチュエータ駆動回路、
８…回転制御パルス形成回路、
９…制御回路、
１０…メモリ、
３１…再生信号形成回路、
３２…サーボ信号形成回路、
３３…欠陥検出信号形成回路、
９１…モータ制御回路、
９２…アクチュエータ制御回路、
９３…サーボ信号処理回路、
９４…再生信号処理回路、
９５…回転制御パルス処理回路、
９６…欠陥部検出回路、
１００…光ディスク装置、
９６１…抽出手段、
９６２…周期演算手段、
９６３…判別手段、
９６４…欠陥部情報出力手段。
【図１】
2006107683.tif 000003
【図２】
2006107683.tif 000004
【図３】
2006107683.tif 000005
【図４】
2006107683.tif 000006
【図５】
2006107683.tif 000007