(57)【要約】【課題】  電気的な測定と同時に接触片の接続状態の検査が可能となって、生産性の良好な電子回路ユニットを提供する【解決手段】  本発明の電子回路ユニットにおいて、回路基板１は、複数個が並設された配線パターン２と、それぞれの配線パターン２に対応して設けられた測定用導電パターン４を有し、コネクタ５の接触片７のそれぞれは、配線パターン２と測定用導電パターン４に跨って接続されたため、測定用導電パターン４に測定用プローブを接触させた時、接触片７が配線パターン２と測定用導電パターン４間を正常に接続されている場合には、電気的な測定が行えると共に、接触片７が配線パターン２と測定用導電パターン４間に接続されていない場合には、電気的な測定ができず、従って、電気的な測定と同時に接触片７の接続不良の検査ができて、生産性の良好なものが得られる。【選択図】        図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
配線パターンを有し、所望の電気回路が形成された回路基板と、前記配線パターンに接続されたコネクタとを備え、前記回路基板は、一端側に前記電気回路が形成され、複数個が並設された前記配線パターンと、この配線パターンの他端側近傍に配置された状態で、それぞれの前記配線パターンに対応して設けられた測定用導電パターンを有し、前記コネクタは、絶縁材からなる保持部材と、この保持部材に保持された複数個の接触片を有し、前記接触片のそれぞれは、前記配線パターンと前記測定用導電パターンに跨って接続されたことを特徴とする電子回路ユニット。
【請求項２】
前記電気回路を覆った状態で、前記回路基板に取り付けられた金属性の箱形のカバーを有し、前記測定用導電パターンの一部が前記カバー外に露出すると共に、前記カバーの上面板には、前記コネクタと対向する位置に孔が設けられ、前記コネクタには、もう一つのコネクタが嵌合して接続可能となったことを特徴とする請求項１記載の電子回路ユニット。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は携帯電話機等に使用して好適な電子回路ユニットに関する。
【背景技術】
【０００２】
図４は従来の電子回路ユニットの要部の分解斜視図であり、従来の電子回路ユニットの構成を図４に基づいて説明すると、回路基板５１には、配線パターン５２が設けられ、この配線パターン５２には、種々の電子部品（図示せず）が接続されて、所望の電気回路が形成されている。
【０００３】
コネクタ５３は、絶縁材からなる保持部材５４と、この保持部材５４に保持された複数個の接触片５５を有し、このコネクタ５３は、回路基板５１に半田付によって取り付けられると共に、接触片５５のそれぞれは、並設された状態にある配線パターン５２のそれぞれに半田付によって電子回路に接続されている。
【０００４】
また、ここでは図示しないが、コネクタ５３には、マザー基板に設けられたもう一つのコネクタが嵌合して接続されるようになって、従来の電子回路ユニットが構成されている。（例えば、特許文献１参照）
【０００５】
このような構成を有する従来の電子回路ユニットは、並設された状態にある配線パターン５２の一端側が電気回路に接続され、配線パターン５２の他端側が測定用として使用されるようになっており、この配線パターン５２の他端側に測定用プローブを接触させて、電気的な測定が行われるようになっている。
【０００６】
また、並設された配線パターン５２は、電気回路への接続部である一端側と測定用の他端側とが繋がった帯状のパターンで形成されているため、測定時、帯状のパターンによって、測定用プローブが電気回路に確実に接続されて、電気的な測定が可能となる。
【０００７】
しかし、測定用プローブによる電気的な測定時、接触片５５の配線パターン５２への接続状態がチェックできず、従って、コネクタ５３には、マザー基板側のもう一つのコネクタを接続させることによって、接触片５５の配線パターン５２への接続状態をチェックせねばならず、検査に手間がかかり、生産性が悪くなる。
【０００８】
【特許文献１】特開平９−３２６２６９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
従来の電子回路ユニットは、並設された配線パターン５２が電気回路への接続部である一端側と測定用の他端側とが繋がった帯状のパターンで形成されているため、この帯状のパターンによって、電気的な測定が確実にできる反面、測定用プローブによる電気的な測定時、接触片５５の配線パターン５２への接続状態がチェックできず、従って、コネクタ５３には、マザー基板側のもう一つのコネクタを接続させることによって、接触片５５の配線パターン５２への接続状態をチェックせねばならず、検査に手間がかかり、生産性が悪くなるという問題がある。
【００１０】
そこで、本発明は電気的な測定と同時に接触片の接続状態の検査が可能となって、生産性の良好な電子回路ユニットを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するための第１の解決手段として、配線パターンを有し、所望の電気回路が形成された回路基板と、前記配線パターンに接続されたコネクタとを備え、前記回路基板は、一端側に前記電気回路が形成され、複数個が並設された前記配線パターンと、この配線パターンの他端側近傍に配置された状態で、それぞれの前記配線パターンに対応して設けられた測定用導電パターンを有し、前記コネクタは、絶縁材からなる保持部材と、この保持部材に保持された複数個の接触片を有し、前記接触片のそれぞれは、前記配線パターンと前記測定用導電パターンに跨って接続された構成とした。
【００１２】
また、第２の解決手段として、前記電気回路を覆った状態で、前記回路基板に取り付けられた金属性の箱形のカバーを有し、前記測定用導電パターンの一部が前記カバー外に露出すると共に、前記カバーの上面板には、前記コネクタと対向する位置に孔が設けられ、前記コネクタには、もう一つのコネクタが嵌合して接続可能となった構成とした。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の電子回路ユニットは、配線パターンを有し、所望の電気回路が形成された回路基板と、配線パターンに接続されたコネクタとを備え、回路基板は、一端側に電気回路が形成され、複数個が並設された配線パターンと、この配線パターンの他端側近傍に配置された状態で、それぞれの配線パターンに対応して設けられた測定用導電パターンを有し、コネクタは、絶縁材からなる保持部材と、この保持部材に保持された複数個の接触片を有し、接触片のそれぞれは、配線パターンと測定用導電パターンに跨って接続されたため、測定用導電パターンに測定用プローブを接触させた時、接触片が配線パターンと測定用導電パターン間を正常に接続されている場合には、電気的な測定が行えると共に、接触片が配線パターンと測定用導電パターン間に接続されていない場合には、電気的な測定ができず、従って、電気的な測定と同時に接触片の接続不良の検査ができて、生産性の良好なものが得られる。
【００１４】
また、電気回路を覆った状態で、回路基板に取り付けられた金属性の箱形のカバーを有し、測定用導電パターンの一部がカバー外に露出すると共に、カバーの上面板には、コネクタと対向する位置に孔が設けられ、コネクタには、もう一つのコネクタが嵌合して接続可能となったため、カバーから露出した測定用導電パターンによって測定が用に行えると共に、カバーの存在によって、精度の良い測定ができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
本発明の電子回路ユニットの図面を説明すると、図１は本発明の電子回路ユニットの平面図、図２は本発明の電子回路ユニットの要部断面図、図３は本発明の電子回路ユニットに係り、一部を切り欠きした平面図である。
【００１６】
次に、本発明の電子回路ユニットの構成を図１〜図３に基づいて説明すると、回路基板１には、配線パターン２が設けられ、この配線パターン２には、種々の電子部品３が接続されて、送、受信回路等の所望の電気回路が形成されている。
【００１７】
また、配線パターン２は、複数個が並設された配線パターン２を有して、一端側が電気回路に接続されると共に、回路基板１には、複数個が並設された配線パターン２の他端側近傍に配置された状態で、それぞれの配線パターン２に対応して設けられた測定用導電パターン４を有する。
【００１８】
コネクタ５は、絶縁材からなる保持部材６と、この保持部材６に保持された複数個の接触片７を有し、このコネクタ５は、回路基板１に適宜手段によって取り付けられると共に、接触片７のそれぞれは、並設された状態にある配線パター２と測定用導電パターン４に跨って半田付によって接続されている。
【００１９】
金属板からなる箱形のカバー８は、孔８ａを有する上面板８ｂと、上面板８ｂの四方から折り曲げられた側面板８ｃを有し、このカバー８は、孔８ａをコネクタ５に対向した状態で、電気回路を覆った状態で回路基板１に取り付けられると共に、カバー８が取り付けられた際、測定用導電パターン４の一部がカバー８外に露出した状態となって、本発明の電子回路ユニットが構成されている。
【００２０】
なお上記実施例では、測定用導電パターン４の一部がカバー８の側方から外に露出したもので説明したが、回路基板１の下面側には、測定用導電パターン４と対向するランド部を設け、このランド部と測定用導電パターン４とスルーホール等の接続体で接続して、測定用導電パターン４の一部であるランド部をカバー８外に露出するようにしても良い。
【００２１】
このような構成を有する本発明の電子回路ユニットは、ここでは図示しないが、携帯電話機等の電子機器に組み込まれ、コネクタ５には、マザー基板に設けられたもう一つのコネクタが嵌合して接続されるようになっている。
【００２２】
また、本発明の電子回路ユニットは、カバー８から露出した測定用導電パターン４に測定用プローブ（図示せず）を接触させて、電気的な測定が行われるようになっており、測定用導電パターン４に測定用プローブを接触させた時、接触片７が配線パターン２と測定用導電パターン４間を正常に接続されている場合には、電気的な測定が行えると共に、接触片７が配線パターン２と測定用導電パターン４間に接続されていない場合には、電気的な測定ができず、従って、電気的な測定と同時に接触片７の接続不良の検査ができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明の電子回路ユニットの平面図。
【図２】本発明の電子回路ユニットの要部断面図。
【図３】本発明の電子回路ユニットに係り、一部を切り欠きした平面図。
【図４】従来の電子回路ユニットの要部の分解斜視図。
【符号の説明】
【００２４】
１：回路基板
２：配線パターン
３：電子部品
４：測定用導電パターン
５：コネクタ
６：保持部材
７：接触片
８：カバー
８ａ：孔
８ｂ：上面板
８ｃ：側面板
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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