(57)【要約】【課題】  光ディスクから読み出された信号に基づいて、安定した回転制御を行う。【解決手段】  光ディスク信号処理装置であって、情報が記録された光ディスクから再生されたＲＦ信号が２値化された信号について、所定時間内のエッジ数を測定して出力する回転制御部と、前記ＲＦ信号の欠落を検出する検出部と、前記ＲＦ信号の欠落が検出されなかった場合には、前記回転制御部で求められたエッジ数に基づいて、前記光ディスクの回転を制御するための回転制御パラメータを求めて出力し、前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、前記ＲＦ信号の欠落の影響を抑えるように、前記回転制御パラメータを制御するパラメータ制御部とを備える。【選択図】      図１
2006351109.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報が記録された光ディスクから再生されたＲＦ（Radio Frequency）信号が２値化された信号について、所定時間内のエッジ数を測定して出力する回転制御部と、
前記ＲＦ信号の欠落を検出する検出部と、
前記ＲＦ信号の欠落が検出されなかった場合には、前記回転制御部で求められたエッジ数に基づいて、前記光ディスクの回転を制御するための回転制御パラメータを求めて出力し、前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、前記ＲＦ信号の欠落の影響を抑えるように、前記回転制御パラメータを制御するパラメータ制御部とを備える
光ディスク信号処理装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク信号処理装置において、
前記パラメータ制御部は、
前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、前記回転制御パラメータを出力しないようにするものである
ことを特徴とする光ディスク信号処理装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク信号処理装置において、
前記パラメータ制御部は、
前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、所定のオフセットを前記回転制御部で求められたエッジ数に加算し、得られた値に基づいて、前記回転制御パラメータを求めて出力するものである
ことを特徴とする光ディスク信号処理装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク信号処理装置において、
前記パラメータ制御部は、
前記回転制御パラメータを記憶し、前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、前回出力された前記回転制御パラメータを出力するものである
ことを特徴とする光ディスク信号処理装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスク信号処理装置において、
前記検出部は、
前記ＲＦ信号が欠落する期間の長さを検出するものであり、
前記パラメータ制御部は、
前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、前記ＲＦ信号が欠落する期間の長さに応じた所定のオフセットを前記回転制御部で求められたエッジ数に加算し、得られた値に基づいて、前記回転制御パラメータを求めて出力するものである
ことを特徴とする光ディスク信号処理装置。
【請求項６】
請求項１に記載の光ディスク信号処理装置において、
前記検出部は、
前記ＲＦ信号について、前記ＲＦ信号が欠落しない情報領域の長さと、前記ＲＦ信号が欠落し得る付加情報領域の長さとを求めるものであり、
前記パラメータ制御部は、
前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、前記情報領域の長さと前記付加情報領域の長さとの比に応じたオフセットを前記回転制御部で求められたエッジ数に加算し、得られた値に基づいて、前記回転制御パラメータを求めて出力するものである
ことを特徴とする光ディスク信号処理装置。
【請求項７】
請求項１に記載の光ディスク信号処理装置において、
前記検出部は、
前記ＲＦ信号において欠落したエッジ数を測定し、得られた値を出力するものであり、
前記パラメータ制御部は、
前記欠落したエッジ数に応じたオフセットを前記回転制御部で求められたエッジ数に加算し、得られた値に基づいて、前記回転制御パラメータを求めて出力するものである
ことを特徴とする光ディスク信号処理装置。
【請求項８】
情報が記録された光ディスクに光ビームを照射して、その反射光を検出し、得られた検出信号をＲＦ信号として出力する光ピックアップと、
前記光ピックアップを制御して前記光ビームのトラッキング制御を行い、かつ、前記ＲＦ信号を２値化して出力するＲＦ信号取得部と、
前記ＲＦ信号が２値化された信号について、所定時間内のエッジ数を測定して出力する回転制御部と、
前記ＲＦ信号の欠落を検出する検出部と、
前記ＲＦ信号の欠落が検出されなかった場合には、前記回転制御部で求められたエッジ数に基づいて、前記光ディスクの回転を制御するための回転制御パラメータを求めて出力し、前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、前記ＲＦ信号の欠落の影響を抑えるように、前記回転制御パラメータを制御するパラメータ制御部とを備える
光ディスク再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク再生装置に関し、特に、光ディスクを回転させるスピンドルモータの回転制御に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、コンテンツ情報の著作権管理はますます重要視されており、ＤＶＤ（digital versatile disc）においても、内周部のリードインエリア付近、又は更にその内周側の特定領域にある、ＢＣＡ（Burst Cutting Area）や、ＮＢＣＡ（Narrow Burst Cutting Area）と呼ばれる領域を用いて著作権管理が実施されている。このＢＣＡ領域には、工場等においてディスクの製造工程が終了した後、レーザを用いて、記録された情報を断続的に欠落させることにより、付加情報が記録される。
【０００３】
ＢＣＡ領域では、情報が部分的に欠落しているので、光ディスクのピットによる回転制御は期待できず、ピットによらない制御方法を用いる場合が多い。例えば、スピンドルモータの回転を直接検出する場合には、ディスク１回転につき決まった数のパルスを含む信号（以下では、ＦＧ（Frequency Generator）信号と称する）を用いて回転制御が可能である。しかしながら、近年では、安価なシステムを実現するために、ＦＧ信号を使用しないシステムが増加しており、スピンドルモータに一定の駆動電圧をかけるだけでＢＣＡ領域での回転制御を行うシステムも増加している。
【０００４】
従来のＦＧ信号を使用しないシステムのＢＣＡ領域での回転制御について、以下に説明する。図１１は、従来の光ディスク再生装置の構成例を示すブロック図である。図１１のディスク再生装置は、スピンドルモータ１２と、光ピックアップ９４と、ＲＦ（Radio Frequency）信号取得部９６と、回転制御部９７と、駆動部９８とを備えている。
【０００５】
光ピックアップ９４は、レーザの照射及び集光をする対物レンズを有しており、ディスク２にレーザを照射し、ディスク２からの反射光を検出してＲＦ信号を生成する。ＲＦ信号取得部９６は、光ピックアップ９４からＲＦ信号を受け取り、一定時間内のＲＦ信号の立ち上がり／立下りエッジのカウントを行う。回転制御部９７は、カウントの変化を監視して、回転速度が一定になるように駆動部９８を制御し、駆動部９８は、回転制御部９７に従ってスピンドルモータ１２を駆動し、ディスク２を回転させる。
【０００６】
関連する技術が、下記特許文献１に開示されている。
【特許文献１】特開２００２−２７９６２４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、ＢＣＡ領域では、光ディスクに記録された情報が欠落していることから、図２のようにＲＦ信号が欠落する場合がある。この場合には、ＲＦ信号取得部９６によるカウント数が少なくなるので、一時的に回転速度を上げる方向に回転速度が制御される。すると、回転速度が高速になるので、ＲＦ信号取得部９６によるカウント数が多くなり、今度は逆に、回転速度を下げる方向に回転速度が制御される。このようにして、回転速度を一定に保つように制御が行われるが、ＲＦ信号が欠落していることに起因して、回転ムラが生じてしまう。すなわち、安定した回転制御を行うことができず、回転制御不能の状態に陥る可能性も存在している。
【０００８】
本発明は、光ディスクから読み出された信号に基づいて、光ディスクに対して安定した回転制御を行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前記課題を解決するため、請求項１の発明が講じた手段は、光ディスク信号処理装置として、情報が記録された光ディスクから再生されたＲＦ（Radio Frequency）信号が２値化された信号について、所定時間内のエッジ数を測定して出力する回転制御部と、前記ＲＦ信号の欠落を検出する検出部と、前記ＲＦ信号の欠落が検出されなかった場合には、前記回転制御部で求められたエッジ数に基づいて、前記光ディスクの回転を制御するための回転制御パラメータを求めて出力し、前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、前記ＲＦ信号の欠落の影響を抑えるように、前記回転制御パラメータを制御するパラメータ制御部とを備えるものである。
【００１０】
これによると、ＲＦ信号の欠落が発生しているときに、ＲＦ信号に基づいて誤った回転制御を行わないようにすることができ、光ディスクの回転速度の変動を抑えることができる。
【００１１】
請求項２の発明では、請求項１に記載の光ディスク信号処理装置において、前記パラメータ制御部は、前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、前記回転制御パラメータを出力しないようにするものである。
【００１２】
請求項３の発明では、請求項１に記載の光ディスク信号処理装置において、前記パラメータ制御部は、前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、所定のオフセットを前記回転制御部で求められたエッジ数に加算し、得られた値に基づいて、前記回転制御パラメータを求めて出力するものである。
【００１３】
請求項４の発明では、請求項１に記載の光ディスク信号処理装置において、前記パラメータ制御部は、前記回転制御パラメータを記憶し、前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、前回出力された前記回転制御パラメータを出力するものである。
【００１４】
請求項５の発明では、請求項１に記載の光ディスク信号処理装置において、前記検出部は、前記ＲＦ信号が欠落する期間の長さを検出するものであり、前記パラメータ制御部は、前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、前記ＲＦ信号が欠落する期間の長さに応じた所定のオフセットを前記回転制御部で求められたエッジ数に加算し、得られた値に基づいて、前記回転制御パラメータを求めて出力するものである。
【００１５】
請求項６の発明では、請求項１に記載の光ディスク信号処理装置において、前記検出部は、前記ＲＦ信号について、前記ＲＦ信号が欠落しない情報領域の長さと、前記ＲＦ信号が欠落し得る付加情報領域の長さとを求めるものであり、前記パラメータ制御部は、前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、前記情報領域の長さと前記付加情報領域の長さとの比に応じたオフセットを前記回転制御部で求められたエッジ数に加算し、得られた値に基づいて、前記回転制御パラメータを求めて出力するものである。
【００１６】
請求項７の発明では、請求項１に記載の光ディスク信号処理装置において、前記検出部は、前記ＲＦ信号において欠落したエッジ数を測定し、得られた値を出力するものであり、前記パラメータ制御部は、前記欠落したエッジ数に応じたオフセットを前記回転制御部で求められたエッジ数に加算し、得られた値に基づいて、前記回転制御パラメータを求めて出力するものである。
【００１７】
請求項８の発明は、光ディスク再生装置として、情報が記録された光ディスクに光ビームを照射して、その反射光を検出し、得られた検出信号をＲＦ信号として出力する光ピックアップと、前記光ピックアップを制御して前記光ビームのトラッキング制御を行い、かつ、前記ＲＦ信号を２値化して出力するＲＦ信号取得部と、前記ＲＦ信号が２値化された信号について、所定時間内のエッジ数を測定して出力する回転制御部と、前記ＲＦ信号の欠落を検出する検出部と、前記ＲＦ信号の欠落が検出されなかった場合には、前記回転制御部で求められたエッジ数に基づいて、前記光ディスクの回転を制御するための回転制御パラメータを求めて出力し、前記ＲＦ信号の欠落が検出された場合には、前記ＲＦ信号の欠落の影響を抑えるように、前記回転制御パラメータを制御するパラメータ制御部とを備えるものである。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によると、光ディスクから読み出された信号に基づいて回転制御を行う安価な光ディスク再生装置において、ＢＣＡ領域でＲＦ信号が欠落しても、光ディスクの安定した回転制御を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。同一の構成要素には同一の参照番号を付することとする。
【００２０】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態に係る光ディスク再生装置のブロック図である。図１の光ディスク再生装置は、スピンドルモータ１２と、光ピックアップ１４と、ＲＦ信号取得部１６と、駆動部１８と、光ディスク信号処理装置２０とを備えている。光ディスク信号処理装置２０は、回転制御部２２と、パラメータ制御部２４と、検出部としての信号欠落検出部２６とを備えている。
【００２１】
図２は、図１の光ピックアップ１４から出力されたＲＦ信号について示す説明図である。図２の下方に拡大して示しているように、光ディスク２上のＢＣＡ領域について得られるＲＦ信号は、光ディスクに記録された情報を示す情報信号と、光ディスクに記録された情報が欠落した部分を示す付加情報信号（すなわち、ＲＦ信号が欠落している期間ＴＡ等）とを繰り返し含んでいる。
【００２２】
スピンドルモータ１２は、光ディスク２を回転させている。光ピックアップ１４は、レーザの照射及び集光をする対物レンズを有しており、光ディスク２に光ビームを照射し、光ディスク２からの反射光を検出して、得られた検出信号をＲＦ信号として出力する。ＲＦ信号取得部１６は、光ピックアップ１４を制御して光ビームのトラッキング制御を行う他、光ピックアップ１４からＲＦ信号を受け取り、この信号を所定のしきい値を用いて２値化して、回転制御部２２に出力する。また、ＲＦ信号取得部１６は、ＲＦ信号を信号欠落検出部２６に出力する。
【００２３】
図３は、図１の光ディスク信号処理装置２０における処理の流れを示すフローチャートである。図３のステップＳ１２において、回転制御部２２は、２値化されたＲＦ信号の立ち上がり／立ち下りエッジのカウントを行って、一定時間内のエッジ数を測定し、その結果をパラメータ制御部２４に出力する。
【００２４】
ステップＳ１４では、信号欠落検出部２６は、ＲＦ信号に欠落があるか否かを判定し、その結果をパラメータ制御部２４に出力する。ＲＦ信号に欠落がない場合にはステップＳ１６に進み、ＲＦ信号に欠落がある場合にはステップＳ１７に進む。
【００２５】
ステップＳ１６では、パラメータ制御部２４は、測定された一定時間内のエッジ数に基づいて、光ディスク２の回転速度が一定になるように、回転制御パラメータを駆動部１８に出力する。すなわち、パラメータ制御部２４は、測定された一定時間内のエッジ数が所定値よりも小さい場合には、回転が遅いと判断し、スピンドルモータの回転速度が高くなるようにする回転制御パラメータを出力し、測定された一定時間内のエッジ数が所定値よりも大きい場合には、回転が速い判断し、スピンドルモータの回転速度が低くなるようにする回転制御パラメータを出力する。
【００２６】
ＲＦ信号に欠落がある場合には、欠落がない場合に比べて、測定された一定時間内のエッジ数は小さくなる。このような誤差を有するエッジ数に基づくと、回転制御を正確に行うことができない。そこで、ステップＳ１７では、パラメータ制御部２４は、ＲＦ信号の欠落の影響を抑えるように、回転制御パラメータの出力をしないようにする。すなわち、パラメータ制御部２４は、回転制御を行わないようにして、スピンドルモータ１２に現在の回転状態を維持させる（フリーラン状態にする）。
【００２７】
その後、駆動部１８は、回転制御パラメータに従ってスピンドルモータ１２を駆動し、ステップＳ１２に戻る。
【００２８】
このように、図１の光ディスク信号処理装置２０によると、ＲＦ信号に欠落がある場合には回転制御が行われないので、光ディスクの回転速度を高くしてしまうような誤った回転制御を行わないようにすることができ、光ディスク２の回転速度の変動を抑えることができる。したがって、スピンドルモータ１２の回転を直接検出しなくても、光ディスク２に対して安定した回転制御を行うことができる。
【００２９】
（第２の実施形態）
図４は、本発明の第２の実施形態に係る光ディスク再生装置のブロック図である。図４の光ディスク再生装置は、図１の光ディスク再生装置において、光ディスク信号処理装置２０に代えて光ディスク信号処理装置２２０を備えたものである。光ディスク信号処理装置２２０は、図１の光ディスク信号処理装置２０において、パラメータ制御部２４及び信号欠落検出部２６に代えて、パラメータ制御部としてのパラメータオフセット制御部２２４及び検出部としての信号欠落検出部２６をそれぞれ備えたものである。
【００３０】
図５は、図４の光ディスク信号処理装置２２０における処理の流れを示すフローチャートである。図５のフローチャートは、図３のフローチャートにおいて、ステップＳ１７をステップＳ２１７で置き換えたものである。その他のステップは、図３と同様である。
【００３１】
ＲＦ信号に欠落がある場合には、欠落がない場合に比べて、測定された一定時間内のエッジ数は小さくなる。このような誤差を有するエッジ数に基づいて回転制御を行うと、回転速度が加速されてしまう。そこで、図５のステップＳ２１７では、パラメータ制御部２２４は、回転制御部２２で測定された一定時間内のエッジ数に、ＲＦ信号の欠落の影響を抑えるように、所定のオフセットを加え、得られた値に基づいて、図３のステップＳ１６と同様に、回転制御パラメータを求めて出力する。
【００３２】
なお、パラメータ制御部２２４は、回転制御パラメータを記憶し、ＲＦ信号に欠落がある場合には、記憶している、前回出力された回転制御パラメータを出力するようにしてもよい。
【００３３】
このように、図４の光ディスク信号処理装置２２０によっても、ＲＦ信号に欠落がある場合には、測定されたエッジ数にオフセットが加算されるので、ＲＦ信号の欠落の影響を抑えることができる。このため、誤った回転制御を行わないようにすることができ、光ディスク２の回転速度の変動を抑えることができる。
【００３４】
（第３の実施形態）
図６は、本発明の第３の実施形態に係る光ディスク再生装置のブロック図である。図６の光ディスク再生装置は、図１の光ディスク再生装置において、光ディスク信号処理装置２０に代えて光ディスク信号処理装置３２０を備えたものである。光ディスク信号処理装置３２０は、図１の光ディスク信号処理装置２０において、パラメータ制御部２４及び信号欠落検出部２６に代えて、パラメータ制御部としてのパラメータオフセット制御部３２４及び検出部としての信号欠落長測定部３２６をそれぞれ備えたものである。
【００３５】
図７は、図６の光ディスク信号処理装置３２０における処理の流れを示すフローチャートである。図７のフローチャートは、図３のフローチャートにおいて、ステップＳ１４をステップＳ３１４で置き換え、ステップＳ１７をステップＳ３１５，Ｓ３１７，Ｓ３１８で置き換えたものである。その他のステップは、図３と同様である。
【００３６】
図７のステップＳ３１４では、信号欠落長測定部３２６は、ＲＦ信号の欠落長を測定し、その結果をパラメータオフセット制御部３２４に出力する。ＲＦ信号に欠落がない場合にはステップＳ１６に進み、ＲＦ信号に欠落がある場合にはステップＳ３１５に進む。
【００３７】
ステップＳ３１５において、パラメータオフセット制御部３２４は、ＲＦ信号の欠落長を所定のしきい値と比較する。欠落長の方が大きい場合にはステップＳ３１７に進み、その他の場合にはステップＳ３１８に進む。
【００３８】
ステップＳ３１７では、パラメータオフセット制御部３２４は、回転制御部２２で測定された一定時間内のエッジ数に、ＲＦ信号の欠落の影響を抑えるように、所定のオフセット（オフセット（大））を加え、得られた値に基づいて、図３のステップＳ１６と同様に、回転制御パラメータを求めて出力する。
【００３９】
ステップＳ３１８では、パラメータオフセット制御部３２４は、回転制御部２２で測定された一定時間内のエッジ数に、ＲＦ信号の欠落の影響を抑えるように、ステップＳ３１７の場合のオフセットよりも小さい所定のオフセット（オフセット（小））を加え、得られた値に基づいて、図３のステップＳ１６と同様に、回転制御パラメータを求めて出力する。
【００４０】
このように、図６の光ディスク信号処理装置３２０によると、測定されたエッジ数に加える値をＲＦ信号の欠落長に応じて切り替えるので、ＲＦ信号の欠落の影響をより適切に抑えることができ、光ディスク２の回転速度の変動を抑えることができる。
【００４１】
（第４の実施形態）
図８は、本発明の第４の実施形態に係る光ディスク再生装置のブロック図である。図８の光ディスク再生装置は、図１の光ディスク再生装置において、光ディスク信号処理装置２０に代えて光ディスク信号処理装置４２０を備えたものである。光ディスク信号処理装置４２０は、図１の光ディスク信号処理装置２０において、パラメータ制御部２４及び信号欠落検出部２６に代えて、パラメータ制御部としてのパラメータオフセット制御部４２４及び検出部としての領域長測定部４２６をそれぞれ備えたものである。
【００４２】
図２のように、光ディスク２上のＢＣＡ領域について得られるＲＦ信号は、ＲＦ信号が欠落しない情報領域と、ＲＦ信号が欠落し得る付加情報領域とがある。領域長測定部４２６は、図２に示された情報領域及び付加情報領域の長さを求め、パラメータオフセット制御部４２４に出力する。
【００４３】
パラメータオフセット制御部４２４は、情報領域の長さと付加情報領域の長さとの比に応じたオフセットを、回転制御部２２で測定された一定時間内のエッジ数に加え、得られた値に基づいて、図３のステップＳ１６と同様に、回転制御パラメータを求めて出力する。
【００４４】
図９は、図８のパラメータオフセット制御部４２４が用いるオフセットの値の例を示すグラフである。パラメータオフセット制御部４２４は、例えば図９のように、ＡＬ＝（付加情報領域長）／（情報領域長＋付加情報領域長）に比例した値をオフセットとして用いる。
【００４５】
このようにしてオフセットを一度求めておくと、求められたオフセットをそのディスクについては繰り返し用いることができる。したがって、一度オフセットを求めた後は、パラメータオフセット制御部４２４は、回転制御部２２で測定された一定時間内のエッジ数に毎回同一のオフセットを加える。
【００４６】
このように、図８の光ディスク信号処理装置４２０によると、ディスクの回転毎にオフセットを求めることなく、光ディスク２の回転速度の変動を抑えることができる。
【００４７】
（第５の実施形態）
図１０は、本発明の第５の実施形態に係る光ディスク再生装置のブロック図である。図１０の光ディスク再生装置は、図１の光ディスク再生装置において、光ディスク信号処理装置２０に代えて光ディスク信号処理装置５２０を備えたものである。光ディスク信号処理装置５２０は、図１の光ディスク信号処理装置２０において、パラメータ制御部２４及び信号欠落検出部２６に代えて、パラメータ制御部としてのパラメータオフセット制御部５２４及び検出部としてのエッジ欠落数測定部５２６をそれぞれ備えたものである。
【００４８】
エッジ欠落数測定部５２６は、ディスク１回転の期間内で、ＲＦ信号の欠落したエッジ数を測定し、パラメータオフセット制御部５２４に出力する。パラメータオフセット制御部５２４は、欠落したエッジ数を、オフセットとして、回転制御部２２で測定された一定時間内のエッジ数に加え、得られた値に基づいて、図３のステップＳ１６と同様に、回転制御パラメータを求めて出力する。
【００４９】
図１０の光ディスク信号処理装置５２０においても、オフセットを一度求めておくと、求められたオフセットをそのディスクについては繰り返し用いることができる。したがって、一度オフセットを求めた後は、パラメータオフセット制御部５２４は、回転制御部２２で測定された一定時間内のエッジ数に毎回同一のオフセットを加える。
【００５０】
このように、図１０の光ディスク信号処理装置５２０によると、ディスクの回転毎にオフセットを求めることなく、光ディスク２の回転速度の変動を抑えることができる。
【産業上の利用可能性】
【００５１】
以上説明したように、本発明は、スピンドルモータに安定した回転制御を行うことができるので、光ディスク再生装置等について有用である。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る光ディスク再生装置のブロック図である。
【図２】図１の光ピックアップから出力されたＲＦ信号について示す説明図である。
【図３】図１の光ディスク信号処理装置における処理の流れを示すフローチャートである。
【図４】本発明の第２の実施形態に係る光ディスク再生装置のブロック図である。
【図５】図４の光ディスク信号処理装置における処理の流れを示すフローチャートである。
【図６】本発明の第３の実施形態に係る光ディスク再生装置のブロック図である。
【図７】図６の光ディスク信号処理装置における処理の流れを示すフローチャートである。
【図８】本発明の第４の実施形態に係る光ディスク再生装置のブロック図である。
【図９】図８のパラメータオフセット制御部が用いるオフセットの値の例を示すグラフである。
【図１０】本発明の第５の実施形態に係る光ディスク再生装置のブロック図である。
【図１１】従来の光ディスク再生装置の構成例を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００５３】
１４  光ピックアップ
１６  ＲＦ信号取得部
１８  駆動部
２０，２２０，３２０，４２０，５２０  光ディスク信号処理装置
２２  回転制御部
２４  パラメータ制御部
２６  信号欠落検出部（検出部）
２２４，３２４，４２４，５２４  パラメータオフセット制御部（パラメータ制御部）
３２６  信号欠落長測定部（検出部）
４２６  領域長測定部（検出部）
５２６  エッジ欠落数測定部（検出部）
【図１】
2006351109.tif 000003
【図２】
2006351109.tif 000004
【図３】
2006351109.tif 000005
【図４】
2006351109.tif 000006
【図５】
2006351109.tif 000007
【図６】
2006351109.tif 000008
【図７】
2006351109.tif 000009
【図８】
2006351109.tif 000010
【図９】
2006351109.tif 000011
【図１０】
2006351109.tif 000012
【図１１】
2006351109.tif 000013