(57)【要約】【課題】焼き付き現象の補正を優先するために、画像を大きく変化させる可能性があり、結果的に著しい画質の低下を招くおそれがあった。【解決手段】複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する焼き付き補正装置を、（１）各画素について算出された劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定部と、（２）補正量の分布のバラつき度合いを示す情報を算出するバラつき判定部と、（３）補正量の分布のバラつきが大きいほど、低階調域から高階調域までの階調差を圧縮する効果が大きいガンマカーブを参照し、入力階調値を出力階調値に変換する階調変換部とで構成する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
各画素について算出された劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する処理と、
補正量の分布のバラつき度合いを示す情報を算出する処理と、
前記補正量の分布のバラつきが大きいほど、低階調域から高階調域までの階調差を圧縮する効果が大きいガンマカーブを参照し、入力階調値を出力階調値に変換する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項２】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記補正量は、各画素の劣化量と比較対象画素の劣化量との差分として与えられる
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項３】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記補正量のバラつき度合いを示す情報は、補正量の絶対値の大きさで与えられる
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項４】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記補正量のバラつき度合いを示す情報は、補正量の分散値で与えられる
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項５】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記補正量のバラつき度合いを示す情報は、補正量の標準偏差値で与えられる
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項６】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記ガンマカーブは、低階調域と高階調域とで圧縮効果が異なる
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項７】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記ガンマカーブは、前記バラつき度合いを示す情報に基づいて算出する
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項８】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記バラつき度合いに応じたガンマカーブは、複数種類のガンマカーブの中から選択する
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項９】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置であって、
各画素について算出された劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定部と、
補正量の分布のバラつき度合いを示す情報を算出するバラつき判定部と、
前記補正量の分布のバラつきが大きいほど、低階調域から高階調域までの階調差を圧縮する効果が大きいガンマカーブを参照し、入力階調値を出力階調値に変換する階調変換部と
を有することを特徴とする自発光装置。
【請求項１０】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する焼き付き現象補正装置であって、
各画素について算出された劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する補正量決定部と、
補正量の分布のバラつき度合いを示す情報を算出するバラつき判定部と、
前記補正量の分布のバラつきが大きいほど、低階調域から高階調域までの階調差を圧縮する効果が大きいガンマカーブを参照し、入力階調値を出力階調値に変換する階調変換部と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。
【請求項１１】
各画素について算出された劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する処理と、
補正量の分布のバラつき度合いを示す情報を算出する処理と、
前記補正量の分布のバラつきが大きいほど、低階調域から高階調域までの階調差を圧縮する効果が大きいガンマカーブを参照し、入力階調値を出力階調値に変換する処理と
をコンピュータに実行させることにより、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正することを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
発明の一つの形態は、自発光装置に発生する焼き付き現象の補正方法に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置及びこれを搭載した自発光装置に関する。また、発明の一つの形態は、自発光装置に搭載されたコンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主には液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
【０００３】
ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子は、その発光量や発光時間に応じて劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
【０００４】
現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。以下、その幾つかを列記する。
【特許文献１】特開２００３−２２８３２９号公報  この文献には、表示パネルを構成する各画素に対する入力データを一定周期で画素毎に積算し、それらの最大値から各画素の積算値を減算して各画素についての補正量を設定する方法が開示されている。また、非使用状態において補正量の大きさに比例する時間だけ各画素を一定輝度で発光することで各画素の表示特性を揃える方法が開示されている。
【０００５】
【特許文献２】特開２００３−２９５８２７号公報  この文献には、静止画の表示時にのみ表示データと表示時間を記憶し、その表示データと最大輝度との差ΔＹと、静止画が表示された時間Ｔとの積算量ΔＹ・Ｔを補正データに設定する方法が開示されている。また、この文献には、蓋が閉じられた状態や非使用状態の場合にのみ補正用の表示を実行することで、焼き付き現象を補正する方法が開示されている。  この補正方法にも、特許文献１の場合とまったく同様の問題が存在する。
【特許文献３】特開２０００−１３２１３９号公報  この文献には、画素毎に入力データを積算し、補正テーブルを用いて積算値を補正値に変換する方法が開示されている。また、求められた補正値により各画素の入力データを補正し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。
【０００６】
【特許文献４】特開２００１−１７５２２１号公報  この文献には、画素の中で一番輝度が劣化した画素にあわせて、その他の画素の輝度データを下げるように補正値を決定する方法が開示されている。また、得られた補正値で各画素の輝度データを変換し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、既存の補正方法は、焼き付き現象の補正を実現するにあたり、画像を大きく変化させる必要があった。すなわち、結果的に著しく画質を低下させる可能性があった。また、既存の方法は、非常に多くの計算処理を必要とする問題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
発明者らは、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に生じた焼き付き現象の補正処理方法として、以下の処理を実行する方法を提案する。
（１）各画素について算出された劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を決定する処理
（２）補正量の分布のバラつき度合いを示す情報を算出する処理
（３）補正量の分布のバラつきが大きいほど、低階調域から高階調域までの階調差を圧縮する効果が大きいガンマカーブを参照し、入力階調値を出力階調値に変換する処理
【０００９】
なお、これら技術手法は、自発光装置そのものに適用できるだけでなく、出力装置に出力する画像信号を処理する各種の電子機器に対しても適用できる。また、これらの技術手法は、ハードウェアとして実現できる他、ソフトウェアとしても実現できる。勿論、処理の実行は、一部処理をハードウェアとして実行し、残る処理をソフトウェアとして実行することもできる。
因みに、自発光装置は、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＣＲＴ（cathode ray tube）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、プロジェクターを含む。
【発明の効果】
【００１０】
この技術手法を適用すれば、補正量のバラつきが大きいほど低階調域から高階調域までの階調差を圧縮する効果を大きくできる。結果的に、輝度差が小さくなり、画素間の劣化量差が拡大するのを抑制できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。以下、焼き付き現象補正装置を「補正装置」という。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。
【００１２】
（Ａ）焼き付き現象補正装置の形態例
（Ａ−１）形態例１
（ａ）装置構成
図１に、補正装置の形態例を示す。この形態例の場合、補正装置１は、同色で発光する画素毎に配置する。なお、カラー画像の再現には、光の三原色であるＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）を使用し、必要に応じて補色も使用する。なお、補正装置１は、各色信号に対して共通に配置することもできる。
補正装置１は、劣化量算出部３、劣化量保存メモリ５、補正量決定部７、バラつき判定部９、階調変換部１１を主要な構成要素とする。
【００１３】
劣化量算出部３は、補正処理前の入力信号に基づいて各画素の劣化量を算出する処理デバイスである。この形態例の場合、入力信号は階調データである。
劣化量は、各画素の輝度劣化を推測できる量であれば良く、任意の算出手法を適用できる。勿論、既存の算出手法を適用できる。
例えば、各画素に対応する階調データをフレーム毎に累積加算する手法を適用できる。
また例えば、階調データと劣化の進行度合いとの間に比例関係が成立しない場合には、実測結果を反映した換算係数を用いて劣化量を算出する手法も適用できる。発明者らは、この換算係数を、「劣化率」という概念で規定する。劣化率は、ある階調データで自発光素子を継続的に発光させた場合における発光輝度の低下率として規定する。
【００１４】
図２に、階調データと劣化率との対応関係を示す変換テーブルの一例を示す。この場合、劣化量は、個々の階調データに対応する劣化率Ｒに発光期間Ｔを乗算した値として算出される。
もっとも、各画素に対応する階調データから図２に示す劣化量を直接読み出す手法を適用しても良い。このように読み出された１フレーム単位の劣化量をフレーム毎に累積加算したものを、この形態例の場合、各画素に対応する劣化量として扱う。
この他、基準画素の劣化量に対する各画素の劣化量の差として与える手法も適用できる。
【００１５】
劣化量保存メモリ５は、１フレーム毎に更新される累積劣化量を保存するメモリである。
補正量決定部７は、劣化量保存メモリ５から読み出した劣化量データに基づいて、各画素に対応する補正量を決定する処理デバイスである。補正量決定部７は、画素間に存在する劣化量の差を解消する方向で補正量を決定する。
もっとも、補正量の決定方法には、任意の手法を適用できる。この形態例は、決定された補正量のバラつきを求めて使用する点に特徴があり、どのような手法で補正量を決定するかは関係しないためである。
従って、補正量の決定は、例えば最も劣化の進んだ基準画素に他の画素の劣化が追いつくように補正量を決定する手法を適用しても良い。この場合、基準画素以外の画素は輝度を上げるように補正量が決定される。この場合、補正量は「正値」で与えられる。
【００１６】
また例えば、最も劣化の遅れた基準画素に他の画素の劣化が追いつくように補正量を決定する手法を適用しても良い。この場合、基準画素以外の画素は輝度を下げるように補正量が決定される。この場合、補正量は「負値」で与えられる。
この形態例の場合、補正量は、基準画素と各画素との間に存在する累積劣化量の差分で与えるものとする。
決定された補正量は、バラつき度判定部９に与えられる。
バラつき判定部９は、補正量の分布のバラつき度合いを示す情報を算出する処理デバイスである。ここでは、バラつき度合いを示す情報（以下「バラつき値」という。）を、補正量の大きさの最大値で与える。なお、補正量が負値のみの場合には、補正量の絶対値が最も大きい値で与える。また、補正量が正値と負値の両方で与えられる場合には、やはり補正量の絶対値が最も大きい値で与える。
【００１７】
階調変換部１１は、補正量の分布のバラつきが大きいほど、出力階調値の低階調域から高階調域までの階調差を圧縮する効果が大きいガンマカーブを参照し、入力階調値を出力階調値に変換する処理デバイスである。
図３に、階調変換部１１の内部構成例を示す。階調変換部１１は、バラつき値メモリ１１Ａ、ガンマカーブ生成部１１Ｂ、階調変換実行部１１Ｃで構成する。
バラつき値メモリ１１Ａは、バラつき値の保存に用いられるメモリである。
ガンマカーブ生成部１１Ｂは、バラつき値に応じた入出力特性を有するガンマカーブを生成する処理デバイスである。
【００１８】
ガンマカーブは、入力階調値と出力階調値との対応関係を規定する曲線であり、この形態例の場合、その形状がバラつき値に応じて変化する。
図４に、バラつき値に応じたガンマカーブの例を示す。図４は、グレースケールに換算して表した図である。なお、横軸は入力階調値、縦軸は出力階調値である。
バラつき値がゼロの場合、破線で示すようにガンマカーブは直線となる。このとき、出力階調値＝入力階調値となる。
バラつき値が非ゼロのとき、ガンマカーブは逆Ｓ字状の曲線となる。この曲線によって、暗い部分はより明るく、明るい部分はより暗く変換される。
【００１９】
このガンマカーブを用いると、入力表示信号の低階調域から高階調域までの階調差は圧縮されて出力される。すなわち、入力画像を明暗差の少ない出力画像に変換することができる。
なお、ガンマカーブは、バラつき値が大きくなるのに従って、中間階調域が水平に近い形状に変化する。図４では、形状の変化を矢印で示している。バラつき値が大きくなるのに従って、ガンマカーブは、０→１→２へと変化することが分かる。
【００２０】
このような入出力特性が得られれば、どのような手法でガンマカーブを生成しても良い。
例えば中間階調値（１２７）を境に低階調域と高階調域に分け、それぞれについてガンマカーブを生成する手法を用いる。この場合、低階調域にはガンマ値ｂ１（＜１）を適用し、出力階調値ｙを入力階調値ｘのｂ１乗で算出する。また、高階調域にはガンマ値ｂ２（＞１）を適用し、やはり出力階調値ｙを入力階調値ｘのｂ２乗で算出する。
使用するガンマ値とバラつき値の大きさとの関係は予め設定されているものとする。なお、バラつき値の０（ゼロ）には、ガンマ値の１を対応付けらるものとする。
階調変換実行部１１Ｃは、生成されたガンマカーブを参照し、入力階調値に対応する出力階調値を読み出す処理デバイスである。
【００２１】
（ｂ）補正処理動作
図５に、補正装置１で実行される処理手順例を示す。
まず、劣化量算出部３が、各画素について劣化量を算出する（Ｓ１）。この処理は、入力信号である階調データに基づいて実行される。
次に、補正量決定部５が、算出された劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を算出する（Ｓ２）。
次に、バラつき判定部９が、全画素について算出された補正量の絶対値を比較し、その最大値を求める（Ｓ３）。
【００２２】
最大値が決定すると、階調変換部１１（ガンマカーブ生成部１１Ｂ）が、最大値に応じた圧縮効果を有するガンマカーブを生成する（Ｓ４）。生成されたガンマカーブは、入力階調値に出力階調値を対応付けたテーブル形式でメモリに格納される。
階調変換部１１（階調変換実行部１１Ｃ）は、生成されたガンマカーブを参照し、入力階調値に対応する出力階調値を読み出す（Ｓ５）。読み出された出力階調値は、出力表示信号として後段の回路に出力される。
この変換処理は、ガンマカーブの入出力特性を規定するデータが更新されるまで、画素毎に繰り返し実行される。このデータの更新は、例えば１フレーム毎、シーンチェンジ毎実行する。
【００２３】
（ｃ）形態例の効果
以上のように、この補正装置を用いれば、補正量が大きくなるのに従って、入力表示信号に現れる階調差を圧縮して出力することができる。すなわち、階調変換前に比して出力画像を構成する画素間の輝度差を小さくでき、それ分だけ劣化量差の拡大を抑制できる。
図６に、入力階調値に応じた発光輝度値の対応関係を示す。図では、バラつき値が０（ゼロ）に対応するガンマカーブを破線で示す。また、バラつき値が小さい場合と大きい場合のガンマカーブを実線で示す。
矢印で示すように、バラつき値が大きくなるのに従って、ガンマカーブは、０→１→２へと変化する。
すなわち、バラつき値が大きくなるほど、ガンマカーブが水平に近づく。これは、発光輝度差が小さくなることを意味する。
【００２４】
なお、この階調変換では、輝度差は小さくなるものの原画像が有する全表示階調を出力画像に保存することができる。従って、ガンマカーブの変形程度がかなり大きくならない限り、画質の低下を視認させずに、焼き付き現象の補正処理を加えることができる。
このように、実施形態に係る方法は、実製品への搭載に有利である。
また、このガンマ補正データは簡単な計算方法で生成できる。従って、焼き付き補正回路の回路規模を小さくできる。
また、ガンマ変換という比較的単純な方法を用いる点も、回路規模の小型化に有利である。
【００２５】
（Ａ−２）形態例２
（ａ）装置構成
図７に、補正装置の他の形態例を示す。図７には、図１との対応部分に同一符号を付して示す。
補正装置２１は、劣化量算出部３、劣化量保存メモリ５、補正量決定部７、バラつき判定部９、階調変換部２３を主要な構成要素とする。新規な構成要素は、階調変換部２３のみである。
図８に、階調変換部２３の内部構成例を示す。
【００２６】
階調変換部２３は、バラつき値メモリ２１Ａ、ガンマカーブ選択部２１Ｂ、階調変換実行部２１Ｃで構成する。このうち、バラつき値メモリ２１Ａは、バラつき値の保存に用いられるメモリである。
ガンマカーブ選択部２１Ｂは、バラつき値に応じたガンマ補正データを選択的に出力する処理デバイスである。ガンマカーブ選択部２１Ｂには、各バラつき値に応じて用意したガンマカーブ２１Ｂ１、２１Ｂ２…２１ＢＮが格納されているものとする。
階調変換実行部２１Ｃは、生成されたガンマカーブを参照し、入力階調値を出力階調値に実際に変換する処理デバイスである。
【００２７】
（ｂ）補正処理動作
図９に、補正装置２１で実行される処理手順例を示す。
この場合も、劣化量算出部３が、各画素について劣化量を算出する（Ｓ１１）。この処理は、入力信号である階調データに基づいて実行される。
次に、補正量決定部５が、算出された劣化量に基づいて、各画素に対応する補正量を算出する（Ｓ１２）。
次に、バラつき判定部９が、全画素について算出された補正量の絶対値を比較し、その最大値を求める（Ｓ１３）。
【００２８】
最大値が決定すると、階調変換部２３（ガンマカーブ選択部２１Ｂ）が、最大値に応じた圧縮効果を有するガンマカーブを選択する（Ｓ１４）。選択されたガンマカーブは、参照用のメモリにテーブル形式で書き込まれる。
階調変換部２３（階調変換実行部２１Ｃ）は、選択されたガンマカーブを参照し、入力階調値に対応する出力階調値を読み出す（Ｓ１５）。読み出された出力階調値は、出力表示信号として後段の回路に出力される。
この変換処理は、ガンマカーブの入出力特性を規定するデータが更新されるまで、画素毎に繰り返し実行される。このデータの更新も、例えば１フレーム毎、シーンチェンジ毎実行する。
【００２９】
（ｃ）形態例の効果
以上のように、この補正装置を用いても、形態例１と同じ効果を実現することができる。
なお、この補正装置の場合には、ガンマ補正データの生成に要する処理負荷の軽減と処理時間の短縮とを実現できる。
【００３０】
（Ａ−３）形態例３
図１０に、補正装置の他の形態例を示す。なお、図１０には、図１との対応部分に同一符号を付して示す。補正装置３１の基本的な構成及び処理動作は、形態例１の場合と同様である。
ただし、補正装置３１は、各画素に対応する劣化量を、出力表示信号に基づいて算出する点で補正装置１と異なっている。この構成の違いにより、補正装置３１は、実際の発光状態を劣化量の算出に直接反映することができる。
また、形態例１の場合、階調変換部１１における補正効果を、劣化量に反映させる処理機能が焼き付き補正の精度を向上する上で必要になる。しかし、この補正装置３１の場合には、そのような処理機能が必要なく、システム規模の削減とコストダウンを実現できる。なお、この補正装置は、他の形態例にも同様に応用できる。
【００３１】
（Ｂ）自発光装置への搭載例
図１１に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置４１は、筐体４３に焼き付き現象補正装置４５と表示デバイス４７を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置４５は、前述した形態例のいずれかに対応する。焼き付き現象補正装置４５は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように入力信号の補正動作を実行する。
【００３２】
また、表示デバイス４７は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、ＣＲＴが用いられる。
図１１の場合、自発光装置４１に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置４５が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。
【００３３】
（Ｃ）画像処理装置への搭載例
図１２に、焼き付き補正装置５１を搭載する画像処理装置５３のシステム例を示す。画像処理装置５３は、自発光型の表示装置５５と有線路又は無線路を経由して接続されている。
このシステム例の場合、画像処理装置５３の筐体内で焼き付き補正処理が実行される。すなわち、表示装置５５に出力される画像信号は、出力インターフェースとの間に配置された焼き付き補正回路５１に入力され、前述した焼き付き補正処理が実行される。
【００３４】
この種の画像処理装置５３には、例えば、ビデオカメラ、デジタルカメラその他の撮像装置（カメラユニットだけでなく、記録装置と一体に構成されているものを含む。）、コンピュータ（サーバーを含む。）、各種の情報処理端末（携帯型のコンピュータ、携帯電話機、携帯型のゲーム機、電子手帳等）、各種画像の再生装置（ホームサーバーを含む。）、画像編集装置、ゲーム機の適用が可能である。
【００３５】
（Ｄ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、補正量を、基準画素と各画素との間に存在する累積劣化量の差で与えた。しかし、周知技術を含めて任意の手法で算出される補正量を用いることができる。
（ｂ）前述の形態例では、バラつき値を、補正量の大きさの最大値で与える場合について説明した。しかし、バラつき値を分散値や標準偏差値として与えても良い。
（ｃ）形態例２においては、個々のバラつき値に応じてガンマカーブの入出力特性を規定するデータを予め用意する場合について説明した。
しかし、全てのバラつき値に対してこの種のデータを用意するのではなく、その数を間引くように用意しても良い。例えば、バラつき値を複数の区間に区分し、区分毎に１つのガンマカーブの入出力特性を規定するデータを用意しても良い。
【００３６】
（ｄ）前述の形態例では、階調値が８ビットで与えられる（すなわち、０から２５５で与えられる場合について説明した。しかし、階調値を与えるビット数は、８ビット以外でも良い。例えば、１０ビット、１２ビットその他の場合にも適用できる。
（ｅ）前述の形態例では、焼き付き現象補正装置の機能構成を説明したが、言うまでもなく、同等の機能をハードウェアとして実現することも、ソフトウェアとして実現することも可能である。
また、焼き付き現象補正装置を構成する各機能の全部をハードウェア又はソフトウェアで実現するだけでなく、その一部の機能はハードウェア又はソフトウェアを用いて実現することもできる。すなわち、ハードウェアとソフトウェアの組み合わせ構成としても良い。
（ｆ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】焼き付き現象補正装置の形態例を示す図である。
【図２】階調値と劣化率との対応関係を保持する変換テーブル例を示す図である。
【図３】階調変換部の内部構成例を示す図である。
【図４】バラつき値に応じたガンマカーブの形状の変化を示す図である。
【図５】焼き付き現象の補正動作例を示すフローチャートである。
【図６】入力階調値と発光輝度との関係を与えるガンマカーブのバラつき値に応じた変化を示す図である。
【図７】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図８】階調変換部の内部構成例を示す図である。
【図９】焼き付き現象の補正動作例を示すフローチャートである。
【図１０】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図１１】焼き付き現象補正装置を自発光装置に搭載したシステム例を示す図である。
【図１２】焼き付き現象補正装置を画像処理装置に搭載したシステム例を示す図である。
【符号の説明】
【００３８】
１、２１、３１、４５、５１  焼き付き現象補正装置
３  劣化量算出部
５  劣化量保存メモリ
７  補正量決定部
９  バラつき判定部
１１、２３  階調変換部
１１Ａ、２１Ａ  バラつき値メモリ
１１Ｂ  ガンマカーブ生成部
１１Ｃ、２１Ｃ  階調変換実行部
２１Ｂ  ガンマカーブ選択部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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