(57)【要約】【課題】  イコライザ調整値を変えながらのエラー測定の回数を抑えつつ、テープ走行要因による影響も小さくしたイコライザ特性調整を行えるイコライザ特性調整方法、イコライザ特性調整装置、磁気テープ装置を提供すること。【解決手段】  複数個が設定されるイコライザ調整値のうち大きさが１段階しか違わないイコライザ調整値に関してのエラーレート測定が続けて行われないようにイコライザ調整値を変えながらエラーレート測定を行い、各イコライザ調整値と、それら各イコライザ調整値のときに測定されたエラーレートとの関係を近似的に表す関数を求めて、この関数からエラーレートを少なくするイコライザ調整値の最適値を求める。【選択図】        図３
2006351084.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気テープから読み出されイコライザ回路で等化処理された信号中のエラー測定を、前記イコライザ回路の等化特性を決めるイコライザ調整値を変えながら繰り返し行って、前記エラーを少なくする前記イコライザ調整値の最適値を求めるイコライザ特性調整方法であって、
複数個が設定される前記イコライザ調整値のうち大きさが１段階しか違わないイコライザ調整値に関してのエラー測定が続けて行われないように前記イコライザ調整値を変えながらエラー測定を行い、前記イコライザ調整値と測定されたエラーとの関係を近似的に表す関数を求めて、この関数から前記イコライザ調整値の最適値を求める
ことを特徴とするイコライザ特性調整方法。
【請求項２】
前記エラー測定のために設定される複数のイコライザ調整値は、調整値設定範囲内で偏在しないように設定される
ことを特徴とする請求項１に記載のイコライザ特性調整方法。
【請求項３】
磁気テープから読み出されイコライザ回路で等化処理された信号中のエラー測定を、前記イコライザ回路の等化特性を決めるイコライザ調整値を変えながら繰り返し行って、前記エラーを少なくする前記イコライザ調整値の最適値を求めるイコライザ特性調整装置であって、
複数個が設定される前記イコライザ調整値のうち大きさが１段階しか違わないイコライザ調整値に関してのエラー測定が続けて行われないように前記イコライザ調整値を変えながらエラー測定を行い、前記イコライザ調整値と測定されたエラーとの関係を近似的に表す関数を求めて、この関数から前記イコライザ調整値の最適値を求める処理装置を備える
ことを特徴とするイコライザ特性調整装置。
【請求項４】
磁気テープに記録された信号を読み取る磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドで読み取られた信号を、イコライザ調整値によって決まる等化特性に基づいて等化処理するイコライザ回路と、
複数個が設定される前記イコライザ調整値のうち大きさが１段階しか違わないイコライザ調整値に関してのエラー測定が続けて行われないように前記イコライザ調整値を変えながらエラー測定を行い、前記イコライザ調整値と測定されたエラーとの関係を近似的に表す関数を求めて、この関数から前記エラーを少なくする前記イコライザ調整値の最適値を求める処理装置と、
を備えることを特徴とする磁気テープ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気テープから読み出された信号を等化処理するイコライザ回路のイコライザ特性調整方法、イコライザ特性調整装置、磁気テープ装置に関し、詳しくは、再生信号中のエラーを少なくするイコライザ調整値の最適値を求めるためのアルゴリズムを工夫したイコライザ特性調整方法、イコライザ特性調整装置、磁気テープ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、磁気テープ装置では、製造時や保守作業時にイコライザ回路の等化特性の調整を行っている。イコライザ回路は再生信号のひずみを補償して記録時の信号に近づける処理を行う。イコライザ回路の等化特性の調整は、予め基準データが記録されたテープを再生、またはブランクテープに記録を行い、そのテープを再生したときのエラーレートが小さくなるよう調整される。
【０００３】
具体的には、イコライザ回路に設定されるイコライザ調整値をＣＰＵ等の処理装置により自動的に変化させながら繰り返しエラーレート測定を行うことにより、得られたエラーレート測定値が最も小さいイコライザ調整値を探索する。例えば、特許文献１参照。
【０００４】
【特許文献１】特開平１０−３３４６００号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
理想的には、イコライザ調整値が一定であれば、テープ走行位置（磁気ヘッドに対する磁気テープの走行位置）に関係なく、図９において１点鎖線で示すようにエラーレートは一定となる。しかし、一般に、エラーレートは図９において実線で示すようにテープ走行位置の違いにより少しずつ変動している。すなわち、エラーレートは、イコライザ調整値の変化だけでなく、テープ走行位置の変化によっても変動する。
【０００６】
イコライザ調整値の変化によってのみエラーレートが変動する理想的な場合には、図１０において１点鎖線で示すようなイコライザ調整値とエラーレートとの関係が得られる。図１０において横軸はイコライザ調整値（ＥＱ調整値）を、縦軸はエラーレートを表す。したがって、１点鎖線の曲線の頂点の横軸座標が、エラーレートを最小にするイコライザ回路の最適値となる。調整最終段階では最適値付近でイコライザ調整値の変化量を小さくしてエラーレート測定を繰り返し、最適値の絞り込みを行っている。
【０００７】
しかし、エラーレートはテープ走行位置の変化によっても変動するので、実際に測定されるエラーレートは図１０において実線で示すように、理想的な変化傾向（イコライザ調整値の変化にのみ依存する変化傾向）に対してずれがある。このため、エラーレートを最小にするイコライザ調整値として求められるイコライザ調整値の最適値がはっきりと定まらない。
【０００８】
そこで、従来は、最適値近傍付近で同じ調整値に関してのエラーレート測定を何回も繰り返して行い、得られた測定値の平均を求めて、それら平均の値が最も小さい調整値を最適値として確定していた。これでは、最適値を見出すまでに非常に長い時間がかかり、効率的なアルゴリズムではない。
【０００９】
本発明は上述の問題に鑑みてなされ、その目的とするところは、イコライザ調整値を変えながらのエラー測定の回数を抑えつつ、テープ走行要因による影響も抑えたイコライザ特性調整を行えるイコライザ特性調整方法、イコライザ特性調整装置、磁気テープ装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は前記課題を解決するため以下の構成を採用した。
すなわち、本発明のイコライザ特性調整方法は、複数個が設定されるイコライザ調整値のうち大きさが１段階しか違わないイコライザ調整値に関してのエラー測定が続けて行われないようにイコライザ調整値を変えながらエラー測定を行い、イコライザ調整値と測定されたエラーとの関係を近似的に表す関数を求めて、この関数からエラーを少なくするイコライザ調整値の最適値を求めることを特徴としている。
【００１１】
また、本発明のイコライザ特性調整装置は、複数個が設定されるイコライザ調整値のうち大きさが１段階しか違わないイコライザ調整値に関してのエラー測定が続けて行われないようにイコライザ調整値を変えながらエラー測定を行い、イコライザ調整値と測定されたエラーとの関係を近似的に表す関数を求めて、この関数からエラーを少なくするイコライザ調整値の最適値を求める処理装置を備える。
【００１２】
複数個が設定されるイコライザ調整値のうち大きさが１段階しか違わないイコライザ調整値に関してのエラー測定が続けて行われないようにイコライザ調整値を変えながらエラー測定を行うことで、大きさが１段階しか違わないイコライザ調整間で、エラーレート測定時におけるテープ走行位置がすぐ続かないように大きく離すことができる。
【００１３】
これにより、テープ走行位置の違いによる影響を受けて、イコライザ調整値の変化のみに依存する理想的なエラーレートより大きめまたは小さめとなる測定値が、イコライザ調整値の変化方向に沿ってかたまって存在することを防げる。
【００１４】
この結果、各測定点を近似して得られる曲線（近似関数）が、理想曲線（イコライザ調整値の変化のみに依存する理想的なエラーレートの変化の傾向を表す曲線）から大きくずれることを抑えることができ、テープ走行位置の違いによる変動の影響を抑えて、イコライザ調整値の変化のみに依存する理想的な曲線（エラーレートの変化傾向）が得られ、エラーレートを最小にするイコライザ調整値の最適値（近似曲線（近似関数）の頂点の横軸座標値で表される）を精度良く求めることができる。
【００１５】
また、本発明では、実際に測定して得られたエラーレート測定値に基づいてエラーレートの変化傾向を表す近似関数を求めて、測定を行っていないエラーレートをその近似関数から計算で求めるいわゆる補間を行っている。したがって、従来のように、最適値付近の最終的な値の絞り込み段階でテープ走行位置による変動の影響が除去されるまで何回も繰り返してエラーレート測定を行う必要がない。これにより、イコライザ調整時間の短縮が図れる。
【００１６】
また、本発明の磁気テープ装置は、磁気テープに記録された信号を読み取る磁気ヘッドと、磁気ヘッドで読み取られた信号を、イコライザ調整値によって決まる等化特性に基づいて等化処理するイコライザ回路と、複数個が設定されるイコライザ調整値のうち大きさが１段階しか違わないイコライザ調整値に関してのエラー測定が続けて行われないようにイコライザ調整値を変えながらエラー測定を行い、イコライザ調整値と測定されたエラーとの関係を近似的に表す関数を求めて、この関数からエラーを少なくするイコライザ調整値の最適値を求める処理装置と、を備える。
【００１７】
ここで、磁気テープ装置は、少なくとも磁気テープに記録された信号を再生する機能を有する。もちろん、再生機能だけではなく、磁気テープに対して信号を記録する記録機能を有していてもよい。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、複数個が設定されるイコライザ調整値のうち大きさが１段階しか違わないイコライザ調整値に関してのエラー測定が続けて行われないようにイコライザ調整値を変えながらエラー測定を行うので、エラーレートの理想値に対して大きくなる測定値または小さくなる測定値が横軸方向に沿って集中して存在してしまうことを回避でき、得られる近似曲線の理想曲線からのずれを抑えることができる。これにより、その近似曲線（近似関数）より求められるイコライザ調整値の最適値の精度向上を図れる。さらに、イコライザ調整値と測定されたエラーとの関係を近似的に表す関数を求めて、この関数からエラーを少なくするイコライザ調整値の最適値を求めるので、従来のように、最適値付近の最終的な値の絞り込み段階でテープ走行位置による変動の影響が除去されるまで何回も繰り返してエラーレート測定を行う必要がない。これにより、イコライザ調整時間の短縮が図れる。この調整時間の短縮は、磁気テープ装置の製造や保守作業に要するコスト低減につながる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明を適用した具体的な実施形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、本発明は以下の実施形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想に基づいて種々の変形が可能である。
【００２０】
図１は本発明の一実施形態に係る磁気テープ装置１の構成を示す図である。磁気テープ装置１は、磁気ヘッド３と、アンプ４と、イコライザ回路５と、エラー検出回路６と、再生信号処理回路７と、処理装置８と、記憶装置９と、Ｄ／Ａコンバータ１１を備える。
【００２１】
磁気ヘッド３は、磁気テープ２にデジタルデータとして記録されたオーディオ信号や映像信号を読み取る。磁気テープ２は、磁気ヘッド３のギャップ形成面に接触しながら走行される。
【００２２】
磁気ヘッド３により読み取られた信号はアンプ４により増幅されてイコライザ回路５に入力する。イコライザ回路５は、アンプ４から出力された再生信号の等化処理（再生信号のひずみを補償して記録時の信号に近づける処理）を行い、エラー検出回路６に出力する。
【００２３】
イコライザ回路５の等化特性は、処理装置８により設定されるイコライザ調整値により決まる。イコライザ調整値は、例えば、処理装置８とイコライザ回路５との間に設けられたＤ／Ａコンバータ１１に与える制御数値であり、その制御数値に応じてＤ／Ａコンバータ１１がイコライザ回路５に与えるアナログ電圧が変わる。そのアナログ電圧に応じて、イコライザ回路５に入力された再生信号の振幅、位相、周波数特性などが変化させられる。すなわち、イコライザ調整値を変化させることによりＤ／Ａコンバータ１１の出力電圧を変化させ、その出力電圧によりイコライザ回路５の等化特性が変えられる。
【００２４】
エラー検出回路６は、イコライザ回路５にて等化処理された再生信号中のエラーを検出する。このエラー検出には、磁気テープ２へのデータ記録時に、情報ビットに対して余分な冗長ビットとして付加されたエラー検出コードを用いる。
【００２５】
例えば、エラー検出コードとしてはパリティチェックコードが一例として挙げられる。これは、情報ビットに対して１ビットの冗長ビットを付加して全体として”１”の個数が奇数または偶数になるように設定し、受け取ったデータのビット数が奇数か偶数かでエラーの有無を判断する。全体の”１”の個数を奇数にする場合を奇数パリティチェック、偶数にする場合を偶数パリティチェックという。例えば偶数パリティチェックの場合には、”１”のビット数を計数して偶数個でない場合はエラーと判断する。
【００２６】
処理装置８はイコライザ回路５の等化特性を決めるイコライザ調整値を設定する。イコライザ回路５はその設定されたイコライザ調整値でアンプ４からの出力信号の等化処理を行い、イコライザ回路５で等化処理された信号中のエラーはエラー検出回路６で検出されて処理装置８に出力される。処理装置８は、イコライザ調整値と、そのイコライザ調整値に設定したときに検出されたエラーとを対応付けて記憶装置９に記憶させる。記憶装置９としては、例えば半導体メモリや、磁気ディスク（ハードディスク）装置などが用いられる。
【００２７】
後述するように、製造時や保守作業時などに最適なイコライザ調整値に調整する際には、イコライザ調整値を変化させながらそのときのエラー検出を繰り返し、エラーを最も少なくするイコライザ調整値を求める。以上の処理は処理装置８による制御に基づいて自動的に実行される。
【００２８】
最適なイコライザ調整値が求まると、その最適値もしくは最適値近傍の値にイコライザ調整値は固定され、以降その固定されたイコライザ調整値に基づく等化特性にて磁気テープ２に記録された信号は等化処理されて再生信号処理回路７に送られる。再生信号処理回路７は、データの復調処理や並べ替えなどを行う。また、通常、エラー検出回路６はエラーの検出だけでなくエラーの訂正も行う機能も有している。
【００２９】
次に、本実施形態に係るイコライザ特性調整方法について図２のフローチャートを参照して説明する。
【００３０】
磁気テープ２を磁気ヘッド３のギャップ形成面に接触させて一定速度で走行させ、エラーレートの測定を開始する（ステップＳ１）。ここで、エラーレート（誤り率）は、伝送されたデータ総量に対する検出されたエラー数の割合を表す。
【００３１】
次に、ステップＳ２では、測定回数カウンタｎとループカウンタｍをそれぞれ０に設定する。
【００３２】
次に、ステップＳ３では、ｓ2×ｍ＜ｓ1を判定する。ここでｓ1、ｓ2について図３を参照して説明する。図３において横軸はイコライザ調整値（図３中ではＥＱ調整値と記される）を、縦軸はエラーレートを示す。本実施形態では、イコライザ調整値の設定範囲内に、下限値ｐstart及び上限値ｐendを含めて例えば１０個のイコライザ調整値を設定して、そのときの各々のエラーレートを測定する。測定結果は、図３において数字を付した○印にて表され、各数字は測定順序を示す。
【００３３】
ｓ2は、大きさが１段階異なるイコライザ調整値間の間隔である。イコライザ調整値の上限値ｐendは、イコライザ調整値の下限値ｐstart＋９ｓ2となっている。ｓ1は、次にどのイコライザ調整値に設定してエラーレートを測定するかを決めるためのイコライザ調整値増加分である。ｓ1はｓ2より大とされ、本実施形態では、例えばｓ1＝４ｓ2に設定している。
【００３４】
今の場合、先のステップＳ２においてｍ＝０に設定されているので、ｓ2×０＜ｓ1が成立し、このステップＳ３での判定は”Ｙｅｓ”となり、次のステップＳ４に進む。
【００３５】
ステップＳ４では、イコライザ調整値ｐ［ｎ］に、ｐstart＋ｓ2×ｍを設定する。
【００３６】
次に、ステップＳ５では、前ステップＳ４で設定されたイコライザ調整値ｐ［ｎ］＝ｐstart＋ｓ2×ｍでエラーレートを測定する。今の場合、ｍ＝０であるのでｐ［ｎ］＝ｐstartとなる。すなわち、処理装置８がイコライザ調整値をｐstartに設定し、磁気ヘッド３により読み取られた再生信号は、そのイコライザ調整値ｐstartに基づく等化特性のイコライザ回路５で等化処理され、この等化処理された信号中のエラーはエラー検出回路６で検出され、その検出されたエラーのレートが処理装置８で測定（演算）される。このイコライザ調整値がｐstartのときのエラーレート測定値は、図３において測定順序（今の場合１番目）を示す数字１が付された○印で表される。イコライザ調整値とこのイコライザ調整値で得られたエラーレート測定値とは対応付けられて記憶装置９に記憶される。
【００３７】
また、本実施形態では、イコライザ調整値をｐstartに設定してエラーレート測定を行ったときは、磁気ヘッド３に対する磁気テープ２の走行位置は図６に示すｘ１にあるとする。すなわち、磁気テープ２において位置ｘ１の部分が磁気ヘッド３を走行している。図６は、イコライザ調整値を一定とした場合におけるテープ走行位置の違いによるエラーレート変動を示す。イコライザ調整値が一定であるため理想的には一点鎖線で示すようにエラーレートは一定となるべきであるが、実際には実線で示すようにテープ走行位置の違いによりエラーレートは変動している。磁気テープ２は、位置ｘ１、ｘ２、ｘ３、ｘ４、ｘ５、ｘ６、ｘ７、ｘ８、ｘ９、ｘ１０の部分が、時間的に順に磁気ヘッド３を走行（通過）する。
【００３８】
図６より、テープ走行位置がｘ１のときには理想的なエラーレート（１点鎖線）よりも実際のエラーレート（実線）は大きめになるので、図３におけるエラーレート測定点（今の場合数字１が付された○で表される）は、理想的なエラーレート（図３において実線の曲線で示される）より大きめになる。
【００３９】
次に、ステップＳ６では、前ステップＳ５で測定したエラーレート測定値をデータ列ｅ［ｎ］に格納する（記憶装置９に記憶する）。
【００４０】
次に、ステップＳ７では、次の２回目のエラーレート測定を行う際のイコライザ調整値ｐ［ｎ＋１］として、ｐ［ｎ］＋ｓ1を設定する。今の場合ｐ［ｎ］＝ｐstartであるので、ｐ［ｎ＋１］＝ｐstart＋ｓ1となる。
【００４１】
次に、ステップＳ８では、測定回数カウンタｎを１増加させｎ＋１にする。
【００４２】
次に、ステップＳ９では、ｐ［ｎ］＞ｐendを判定する。ここで、ステップＳ８よりｐ［ｎ］はｐ［ｎ＋１］に置き換えられ、さらにステップＳ７よりｐ［ｎ＋１］＝ｐstart＋ｓ1であるので、ステップＳ９ではｐstart＋ｓ1＞ｐendの判定が行われる。今の場合、ｐstart＋ｓ1はｐendより小であるのでステップＳ９での判定は”Ｎｏ”となり、ステップＳ５に戻り、次のイコライザ調整値ｐstart＋ｓ1でエラーレートを測定する。
【００４３】
このイコライザ調整値をｐstart＋ｓ1に設定して２回目のエラーレート測定を行ったときは、磁気ヘッド３に対する磁気テープ２の走行位置は図６に示すｘ２にある。テープ走行位置がｘ２のときには理想的なエラーレート（１点鎖線）よりも実際のエラーレート（実線）は大きめになるので、図３におけるエラーレート測定点（今の場合数字２が付された○で表される）は、理想的なエラーレート（図３において実線の曲線で示される）より大きめになる。
【００４４】
次に、ステップＳ６では、この２回目に測定されたエラーレート測定値をデータ列ｅ［ｎ］に格納する。
【００４５】
次に、ステップＳ７では、次にエラーレート測定を行う際のイコライザ調整値として、ｐ［ｎ］＋ｓ1＋ｓ1＝ｐstart＋２ｓ1を設定する。
【００４６】
次に、ステップＳ８では、測定回数カウンタｎを１増加させる。
【００４７】
次に、ステップＳ９では、ｐstart＋２ｓ1＞ｐendを判定する。ｐstart＋２ｓ1はｐendより小であるのでこのステップＳ９での判定は”Ｎｏ”となり、ステップＳ５に戻り、次のイコライザ調整値ｐstart＋２ｓ1でエラーレートを測定する。
【００４８】
このイコライザ調整値をｐstart＋２ｓ1に設定して３回目のエラーレート測定を行ったときは、磁気ヘッド３に対する磁気テープ２の走行位置は図６に示すｘ３にある。テープ走行位置がｘ３のときには理想的なエラーレート（１点鎖線）よりも実際のエラーレート（実線）は大きめになるので、図３におけるエラーレート測定点（今の場合数字３が付された○で表される）は、理想的なエラーレート（図３において実線の曲線で示される）より大きめになる。
【００４９】
次に、ステップＳ６では、この３回目に測定されたエラーレート測定値をデータ列ｅ［ｎ］に格納する。
【００５０】
次に、ステップＳ７では、次にエラーレート測定を行う際のイコライザ調整値として、ｐ［ｎ］＋ｓ1＋ｓ1＋ｓ1＝ｐstart＋３ｓ1を設定する。
【００５１】
次に、ステップＳ８では、測定回数カウンタｎを１増加させる。
【００５２】
次に、ステップＳ９では、ｐstart＋３ｓ1＞ｐendを判定する。ｐstart＋３ｓ1はｐendより大であるのでこのステップＳ９での判定は”Ｙｅｓ”となり、ステップＳ１０に進む。
【００５３】
ステップＳ１０では、ループカウンタを１増加させ、ステップＳ３に戻る。
【００５４】
ステップＳ３では、ｓ2×ｍ＜ｓ1を判定する。今の場合、前ステップＳ１０よりｍ＝１であり、ｓ2＜ｓ1が成立し、このステップＳ３での判定は”Ｙｅｓ”となり、次のステップＳ４に進む。
【００５５】
ステップＳ４では、４回目のエラーレート測定用のイコライザ調整値がｐstart＋ｓ2に設定される。
【００５６】
次に、ステップＳ５では、イコライザ調整値ｐstart＋ｓ2でエラーレートを測定する。
【００５７】
このイコライザ調整値をｐstart＋ｓ2に設定して４回目のエラーレート測定を行ったときは、磁気ヘッド３に対する磁気テープ２の走行位置は図６に示すｘ４にある。テープ走行位置がｘ４のときには理想的なエラーレート（１点鎖線）よりも実際のエラーレート（実線）は大きめになるので、図３におけるエラーレート測定点（今の場合数字４が付された○で表される）は、理想的なエラーレート（図３において実線の曲線で示される）より大きめになる。
【００５８】
次に、ステップＳ６では、この４回目に測定されたエラーレート測定値をデータ列ｅ［ｎ］に格納する。
【００５９】
次に、ステップＳ７では、次にエラーレート測定を行う際のイコライザ調整値として、ｐstart＋ｓ2＋ｓ1を設定する。
【００６０】
次に、ステップＳ８では、測定回数カウンタｎを１増加させる。
【００６１】
次に、ステップＳ９では、ｐstart＋ｓ2＋ｓ1＞ｐendを判定する。ｐstart＋ｓ2＋ｓ1はｐendより小であるのでこのステップＳ９での判定は”Ｎｏ”となり、ステップＳ５に戻り、次のイコライザ調整値ｐstart＋ｓ2＋ｓ1でエラーレートを測定する。
【００６２】
このイコライザ調整値をｐstart＋ｓ2＋ｓ1に設定して５回目のエラーレート測定を行ったときは、磁気ヘッド３に対する磁気テープ２の走行位置は図６に示すｘ５にある。テープ走行位置がｘ５のときには理想的なエラーレート（１点鎖線）よりも実際のエラーレート（実線）は大きめになるので、図３におけるエラーレート測定点（今の場合数字５が付された○で表される）は、理想的なエラーレート（図３において実線の曲線で示される）より大きめになる。
【００６３】
次に、ステップＳ６では、この５回目に測定されたエラーレート測定値をデータ列ｅ［ｎ］に格納する。
【００６４】
次に、ステップＳ７では、次にエラーレート測定を行う際のイコライザ調整値として、ｐstart＋ｓ2＋２ｓ1を設定する。
【００６５】
次に、ステップＳ８では、測定回数カウンタｎを１増加させる。
【００６６】
次に、ステップＳ９では、ｐstart＋ｓ2＋２ｓ1＞ｐendを判定する。ｐstart＋ｓ2＋２ｓ1＝ｐendであるのでこのステップＳ９での判定は”Ｎｏ”となり、ステップＳ５に戻り、次のイコライザ調整値ｐstart＋ｓ2＋２ｓ1＝ｐendでエラーレートを測定する。
【００６７】
このイコライザ調整値をｐstart＋ｓ2＋２ｓ1＝ｐendに設定して６回目のエラーレート測定を行ったときは、磁気ヘッド３に対する磁気テープ２の走行位置は図６に示すｘ６にある。テープ走行位置がｘ６のときには理想的なエラーレート（１点鎖線）よりも実際のエラーレート（実線）は小さめになるので、図３におけるエラーレート測定点（今の場合数字６が付された○で表される）は、理想的なエラーレート（図３において実線の曲線で示される）より小さめになる。
【００６８】
次に、ステップＳ６では、この６回目に測定されたエラーレート測定値をデータ列ｅ［ｎ］に格納する。
【００６９】
次に、ステップＳ７では、次にエラーレート測定を行う際のイコライザ調整値として、ｐstart＋ｓ2＋３ｓ1を設定する。
【００７０】
次に、ステップＳ８では、測定回数カウンタｎを１増加させる。
【００７１】
次に、ステップＳ９では、ｐstart＋ｓ2＋３ｓ1＞ｐendを判定する。ｐstart＋ｓ2＋３ｓ1はｐendより大であるのでこのステップＳ９での判定は”Ｙｅｓ”となり、ステップＳ１０に進む。
【００７２】
ステップＳ１０では、ループカウンタを１増加させ、ステップＳ３に戻る。
【００７３】
ステップＳ３では、ｓ2×ｍ＜ｓ1を判定する。今の場合、前ステップＳ１０よりｍ＝２であり、２ｓ2＜ｓ1が成立し、このステップＳ３での判定は”Ｙｅｓ”となり、次のステップＳ４に進む。
【００７４】
ステップＳ４では、７回目のエラーレート測定用のイコライザ調整値がｐstart＋２ｓ2に設定される。
【００７５】
次に、ステップＳ５では、イコライザ調整値ｐstart＋２ｓ2でエラーレートを測定する。
【００７６】
このイコライザ調整値をｐstart＋２ｓ2に設定して７回目のエラーレート測定を行ったときは、磁気ヘッド３に対する磁気テープ２の走行位置は図６に示すｘ７にある。テープ走行位置がｘ７のときには理想的なエラーレート（１点鎖線）よりも実際のエラーレート（実線）は小さめになるので、図３におけるエラーレート測定点（今の場合数字７が付された○で表される）は、理想的なエラーレート（図３において実線の曲線で示される）より小さめになる。
【００７７】
次に、ステップＳ６では、この７回目に測定されたエラーレート測定値をデータ列ｅ［ｎ］に格納する。
【００７８】
次に、ステップＳ７では、次にエラーレート測定を行う際のイコライザ調整値として、ｐstart＋２ｓ2＋ｓ1を設定する。
【００７９】
次に、ステップＳ８では、測定回数カウンタｎを１増加させる。
【００８０】
次に、ステップＳ９では、ｐstart＋２ｓ2＋ｓ1＞ｐendを判定する。ｐstart＋２ｓ2＋ｓ1はｐendより小であるのでこのステップＳ９での判定は”Ｎｏ”となり、ステップＳ５に戻り、次のイコライザ調整値ｐstart＋２ｓ2＋ｓ1でエラーレートを測定する。
【００８１】
このイコライザ調整値をｐstart＋２ｓ2＋ｓ1に設定して８回目のエラーレート測定を行ったときは、磁気ヘッド３に対する磁気テープ２の走行位置は図６に示すｘ８にある。テープ走行位置がｘ８のときには理想的なエラーレート（１点鎖線）よりも実際のエラーレート（実線）は小さめになるので、図３におけるエラーレート測定点（今の場合数字８が付された○で表される）は、理想的なエラーレート（図３において実線の曲線で示される）より小さめになる。
【００８２】
次に、ステップＳ６では、この８回目に測定されたエラーレート測定値をデータ列ｅ［ｎ］に格納する。
【００８３】
次に、ステップＳ７では、次にエラーレート測定を行う際のイコライザ調整値として、ｐstart＋２ｓ2＋２ｓ1を設定する。
【００８４】
次に、ステップＳ８では、測定回数カウンタｎを１増加させる。
【００８５】
次に、ステップＳ９では、ｐstart＋２ｓ2＋２ｓ1＞ｐendを判定する。ｐstart＋２ｓ2＋２ｓ1はｐendより大であるのでこのステップＳ９での判定は”Ｙｅｓ”となり、ステップＳ１０に進む。
【００８６】
ステップＳ１０では、ループカウンタを１増加させ、ステップＳ３に戻る。
【００８７】
ステップＳ３では、ｓ2×ｍ＜ｓ1を判定する。今の場合、前ステップＳ１０よりｍ＝３であり、３ｓ2＜ｓ1が成立し、このステップＳ３での判定は”Ｙｅｓ”となり、次のステップＳ４に進む。
【００８８】
ステップＳ４では、９回目のエラーレート測定用のイコライザ調整値がｐstart＋３ｓ2に設定される。
【００８９】
次に、ステップＳ５では、イコライザ調整値ｐstart＋３ｓ2でエラーレートを測定する。
【００９０】
このイコライザ調整値をｐstart＋３ｓ2に設定して９回目のエラーレート測定を行ったときは、磁気ヘッド３に対する磁気テープ２の走行位置は図６に示すｘ９にある。テープ走行位置がｘ９のときには理想的なエラーレート（１点鎖線）よりも実際のエラーレート（実線）は小さめになるので、図３におけるエラーレート測定点（今の場合数字９が付された○で表される）は、理想的なエラーレート（図３において実線の曲線で示される）より小さめになる。
【００９１】
次に、ステップＳ６では、この９回目に測定されたエラーレート測定値をデータ列ｅ［ｎ］に格納する。
【００９２】
次に、ステップＳ７では、次にエラーレート測定を行う際のイコライザ調整値として、ｐstart＋３ｓ2＋ｓ1を設定する。
【００９３】
次に、ステップＳ８では、測定回数カウンタｎを１増加させる。
【００９４】
次に、ステップＳ９では、ｐstart＋３ｓ2＋ｓ1＞ｐendを判定する。ｐstart＋３ｓ2＋ｓ1はｐendより小であるのでこのステップＳ９での判定は”Ｎｏ”となり、ステップＳ５に戻り、次のイコライザ調整値ｐstart＋３ｓ2＋ｓ1でエラーレートを測定する。
【００９５】
このイコライザ調整値をｐstart＋３ｓ2＋ｓ1に設定して１０回目のエラーレート測定を行ったときは、磁気ヘッド３に対する磁気テープ２の走行位置は図６に示すｘ１０にある。テープ走行位置がｘ１０のときには理想的なエラーレート（１点鎖線）よりも実際のエラーレート（実線）は小さめになるので、図３におけるエラーレート測定点（今の場合数字１０が付された○で表される）は、理想的なエラーレート（図３において実線の曲線で示される）より小さめになる。
【００９６】
次に、ステップＳ６では、この１０回目に測定されたエラーレート測定値をデータ列ｅ［ｎ］に格納する。
【００９７】
次に、ステップＳ７では、次にエラーレート測定を行う際のイコライザ調整値として、ｐstart＋３ｓ2＋２ｓ1を設定する。
【００９８】
次に、ステップＳ８では、測定回数カウンタｎを１増加させる。
【００９９】
次に、ステップＳ９では、ｐstart＋３ｓ2＋２ｓ1＞ｐendを判定する。ｐstart＋３ｓ2＋２ｓ1はｐendより大であるのでこのステップＳ９での判定は”Ｙｅｓ”となり、ステップＳ１０に進む。
【０１００】
ステップＳ１０では、ループカウンタを１増加させ、ステップＳ３に戻る。
【０１０１】
ステップＳ３では、ｓ2×ｍ＜ｓ1を判定する。今の場合、前ステップＳ１０よりｍ＝４であり、４ｓ2＜ｓ1は成立せず（４ｓ2＝ｓ1であるので）、このステップＳ３での判定は”Ｎｏ”となり、ステップＳ１１に進んでエラーレートの測定は終了する。
【０１０２】
以上のようにして、複数個（本実施形態では例えば１０個）の異なるイコライザ調整値を設定した場合にそれぞれ測定された１０個のエラーレート測定値が得られる。各イコライザ調整値と各エラーレート測定値とは互いに対応付けられて記憶装置９に記憶される。例えば、各イコライザ調整値を格納したデータ列ｐ［ｎ］と、各エラーレート測定値を格納したデータ列ｅ［ｎ］として記憶される。ｐ［ｎ］を横軸に、ｅ［ｎ］を縦軸にして得られる各点（図３において測定順序を付した○印で表される）は、ある曲線（２次曲線）で近似的に表される。この近似曲線を図３において実線で示す。そして、エラーレートを最小にするイコライザ調整値の最適値は、その近似曲線の頂点の横軸座標値として計算により求めることができる。
【０１０３】
近似曲線の求め方としては例えば最小２乗法が用いられる。イコライザ調整値をｘ、エラーレートをｙとすると、ｙはｘの関数ｙ＝ｆ(ｘ)＝ａｘ2＋ｂｘ＋ｃ（ａ、ｂ、ｃは係数）で表される。ｆ(ｘ)は、実際に測定して得られた１０個の各点における│ｙ座標値−ｆ(x) │2の和が最小になるｆ(ｘ)として求められる。エラーレートを最小にするイコライザ調整値の最適値、すなわち近似曲線の頂点の横軸座標値は、（−ｂ／２ａ）で求めることができる。以上の演算処理は、処理装置８が実行する。
【０１０４】
上記近似関数ｆ(ｘ)を求めるにあたって、本実施形態では、処理装置８により設定される例えば１０個のイコライザ調整値を代わる代わる選択してエラーレート測定を行っていく際に、大きさが１段階しか違わないイコライザ調整値に関してのエラーレート測定が続けて行われないようにしている。
【０１０５】
例えば、図３の例では、先ず最初にイコライザ調整値をｐstartに設定してエラーレート測定をした後、次に（２番目に）、ｐstartより４段階大きいイコライザ調整値ｐstart＋ｓ1に設定してエラーレート測定を行う。次の３番目は、ｐstart＋ｓ1から４段階大きいイコライザ調整値ｐstart＋２ｓ1に設定してエラーレート測定を行う。次の４番目は、ｐstart＋２ｓ1より７段階小さいイコライザ調整値ｐstart＋ｓ2に設定してエラーレート測定を行う。次の５番目は、ｐstart＋ｓ2より４段階大きいイコライザ調整値ｐstart＋ｓ2＋ｓ1に設定してエラーレート測定を行う。次の６番目は、ｐstart＋ｓ2＋ｓ1より４段階大きいイコライザ調整値ｐendに設定してエラーレート測定を行う。次の７番目は、ｐendより７段階小さいイコライザ調整値ｐstart＋２ｓ2に設定してエラーレート測定を行う。次の８番目は、ｐstart＋２ｓ2より４段階大きいイコライザ調整値ｐstart＋２ｓ2＋ｓ1に設定してエラーレート測定を行う。次の９番目は、値ｐstart＋２ｓ2＋ｓ1より３段階小さいイコライザ調整値ｐstart＋３ｓ2に設定してエラーレート測定を行う。最後に１０番目は、ｐstart＋３ｓ2より４段階大きいイコライザ調整値ｐstart＋３ｓ2＋ｓ1に設定してエラーレート測定を行う。
【０１０６】
本実施形態では、ｐstartに設定されたイコライザ調整値でエラーレート測定が行われるときは、磁気ヘッドに対するテープ走行位置はｘ１（図６）であるとする。次の（２回目の）ｐstart＋ｓ1に設定されたイコライザ調整値でエラーレート測定が行われるときは、磁気ヘッドに対するテープ走行位置はｘ２に移動している。３回目のｐstart＋２ｓ1に設定されたイコライザ調整値でエラーレート測定が行われるときは、磁気ヘッドに対するテープ走行位置はｘ３に移動している。４回目のｐstart＋ｓ2に設定されたイコライザ調整値でエラーレート測定が行われるときは、磁気ヘッドに対するテープ走行位置はｘ４に移動している。５回目のｐstart＋ｓ2＋ｓ1に設定されたイコライザ調整値でエラーレート測定が行われるときは、磁気ヘッドに対するテープ走行位置はｘ５に移動している。６回目のｐendに設定されたイコライザ調整値でエラーレート測定が行われるときは、磁気ヘッドに対するテープ走行位置はｘ６に移動している。７回目のｐstart＋２ｓ2に設定されたイコライザ調整値でエラーレート測定が行われるときは、磁気ヘッドに対するテープ走行位置はｘ７に移動している。８回目のｐstart＋２ｓ2＋ｓ1に設定されたイコライザ調整値でエラーレート測定が行われるときは、磁気ヘッドに対するテープ走行位置はｘ８に移動している。９回目のｐstart＋３ｓ2に設定されたイコライザ調整値でエラーレート測定が行われるときは、磁気ヘッドに対するテープ走行位置はｘ９に移動している。１０回目のｐstart＋３ｓ2＋ｓ1に設定されたイコライザ調整値でエラーレート測定が行われるときは、磁気ヘッドに対するテープ走行位置はｘ１０に移動している。
【０１０７】
このように本実施形態では、エラーレート測定のために設定された全部で１０個のイコライザ調整値のうち、大きさが近い（１段階しか違わない）イコライザ調整間で、エラーレート測定時におけるテープ走行位置が大きく離れるようにしている。例えば、ｐstartに設定してのエラーレート測定時にはテープ走行位置はｘ１であり（位置ｘ１の部分が磁気ヘッドを走行している）、ｐstartより１段階大きいｐstart＋ｓ2に設定してのエラーレート測定時にはテープ走行位置はｘ１とは離れたｘ４である。
【０１０８】
このことにより、テープ走行位置の違いによる影響を受けて、イコライザ調整値の変化のみに依存する理想的なエラーレートより大きめまたは小さめとなる測定値が横軸方向（イコライザ調整値の変化方向）に沿ってかたまって存在することを防げる。図３の例では、理想的なエラーレートより大きめとなる測定値は横軸方向に沿って３個以上連続して存在していない。同様に、理想的なエラーレートより小さめとなる測定値も横軸方向に沿って３個以上連続して存在していない。
【０１０９】
これにより、各測定点を近似して得られる曲線（近似関数）が、理想曲線（イコライザ調整値の変化のみに依存する理想的なエラーレートの変化の傾向を表す曲線）から大きくずれることを抑えることができる。すなわち、テープ走行位置の違いによる変動の影響を抑えて、イコライザ調整値の変化のみに依存する理想的な曲線（エラーレートの変化傾向）が得られ、エラーレートを最小にするイコライザ調整値の最適値（近似曲線（近似関数）の頂点の横軸座標値で表される）を精度良く求めることができる。
【０１１０】
例えば図７の比較例では、イコライザ調整値設定範囲内で下限値から上限値にかけて１段階ずつイコライザ調整値を増加させるようにイコライザ調整値を変化させていって、各イコライザ調整値に対応するエラーレートを測定した場合を示す。
【０１１１】
この比較例においても、上記実施形態と同様、測定順序を表す数字と、図６においてテープ走行位置を表すｘに添字した数字とは対応しているとする。すなわち、この比較例では、１回目の下限値に設定されたイコライザ調整値でエラーレート測定が行われるときはテープ走行位置はｘ１であり、２回目のイコライザ調整値（下限値より１段階大きいイコライザ調整値）でエラーレート測定が行われるときはテープ走行位置はｘ２に移動し、３回目のイコライザ調整値（下限値より２段階大きいイコライザ調整値）でエラーレート測定が行われるときはテープ走行位置はｘ３に移動し、４回目のイコライザ調整値（下限値より３段階大きいイコライザ調整値）でエラーレート測定が行われるときはテープ走行位置はｘ４に移動し、５回目のイコライザ調整値（下限値より４段階大きいイコライザ調整値）でエラーレート測定が行われるときはテープ走行位置はｘ５に移動し、６回目のイコライザ調整値（下限値より５段階大きいイコライザ調整値）でエラーレート測定が行われるときはテープ走行位置はｘ６に移動し、７回目のイコライザ調整値（下限値より６段階大きいイコライザ調整値）でエラーレート測定が行われるときはテープ走行位置はｘ７に移動し、８回目のイコライザ調整値（下限値より７段階大きいイコライザ調整値）でエラーレート測定が行われるときはテープ走行位置はｘ８に移動し、９回目のイコライザ調整値（下限値より８段階大きいイコライザ調整値）でエラーレート測定が行われるときはテープ走行位置はｘ９に移動し、１０回目のイコライザ調整値（上限値）でエラーレート測定が行われるときはテープ走行位置はｘ１０に移動している。
【０１１２】
したがって、下限値及びこの下限値から順に１段階ずつ大きい５個のイコライザ調整値に設定してそれぞれ得られるエラーレート測定値は、イコライザ調整値の変化のみに依存する理想のエラーレートより大きめになる。逆に、上限値及びこの上限値から順に１段階ずつ小さい５個のイコライザ調整値に設定してそれぞれ得られるエラーレート測定値は、イコライザ調整値の変化のみに依存する理想のエラーレートより小さめになる。
【０１１３】
すなわち図７の比較例では、理想的なエラーレートより大きめとなる測定値が横軸方向に沿って５個連続して存在し、理想的なエラーレートより小さめとなる測定値も横軸方向に沿って５個連続して存在することになり、各測定点を近似して得られる近似曲線（図７において実線で表される）は、理想のエラーレートの変化傾向を示す理想曲線（１点鎖線）から例えば図７の例では上限値側にずれてしまう。こうなると、近似曲線の頂点の横軸座標値で表されるイコライザ調整値の最適値が理想値からずれてしまう。
【０１１４】
これに対して本実施形態によれば、上述したように、エラーレートの理想値に対して大きくなる測定値または小さくなる測定値が横軸方向に沿って集中して存在してしまうことを回避でき、得られる近似曲線の理想曲線からのずれを抑えることができる。これにより、その近似曲線（近似関数）より求められるイコライザ調整値の最適値の精度向上を図れる。
【０１１５】
また、本実施形態では、エラーレート測定のために、イコライザ調整値の設定範囲内で例えば１０個のイコライザ調整値を設定しているが、それら１０個のイコライザ調整値は調整値設定範囲内で偏在しないように設定されている。具体的には、下限値ｐstartと上限値ｐendとの間を９等分するように設定されており、得られる測定点が横軸方向のある範囲では多く、ある範囲では少ないといった偏った分布になっていない。これにより、各測定点を近似して得られる近似曲線のゆがみを抑えてより理想曲線に近いものとすることができ、このことも最適なイコライザ調整値を求める際の精度向上に貢献する。
【０１１６】
さらに、本実施形態によれば、イコライザ調整値を変えながらのエラーレート測定は例えば１０回だけで済み、従来のように、最適値付近の最終的な値の絞り込み段階でテープ走行位置による変動の影響が除去されるまで何回も繰り返してエラーレート測定を行う必要がない。これにより、イコライザ調整時間の短縮が図れる。この調整時間の短縮は、磁気テープ装置の製造や保守作業に要するコスト低減につながる。
【０１１７】
本実施形態では、実際に測定して得られたエラーレート測定値に基づいてエラーレートの変化傾向を表す近似関数を求めて、測定を行っていないエラーレートをその近似関数から計算で求めるいわゆる補間を行っている。そのため、それほど高い調整精度を必要としない場合には測定点（測定回数）をある程度減らすことも可能となり、よりいっそうの時間短縮が図れる。
【０１１８】
また、図３の例では、次に設定するイコライザ調整値を決めるためのイコライザ調整値増加分ｓ1を、ｓ1＝４ｓ2としたが、これに限ることはなく、ｓ1は、大きさが１段階異なるイコライザ調整値間の間隔ｓ2より大きければよい。例えば図８に示す例では、ｓ1＝３ｓ2としている。この場合にも、エラーレートの理想値に対して大きくなる測定値または小さくなる測定値が横軸方向に沿って集中して存在してしまうことを回避でき、得られる近似曲線の理想曲線からのずれを抑えることができる。
【０１１９】
また、イコライザ調整値を増加させる方向に変えるときに限らず、図３において例えば３回目の測定から４回目の測定に移るときのようにイコライザ調整値を減少させる方向へ変化させるときにも、ｓ2より大きい減少幅で変化させるようにする。
【０１２０】
次に、表１に、イコライザ調整値（ＥＱ調整値）と、エラー情報の測定値と、これらの関係を近似的に表す２次近似計算値（２次近似曲線）の具体例を示す。ここでの、エラー情報とはエラーレートではなく、磁気テープ上の記録部分におけるある一定区間を再生した場合に正しくデータが取得できた数（一定区間の全データ数−エラーデータ数）である。
【０１２１】
【表１】
2006351084.tif 000003
【０１２２】
また、図４は表１のデータをグラフに表したものである。図４のグラフにおいて縦軸は（一定区間の全データ数−エラーデータ数）であり、横軸はイコライザ調整値（ＥＱ調整値）を表す。図４に示される曲線は、得られた測定値を最小２乗法にて近似した２次曲線である。ここでは縦軸がエラーレートではなく、（一定区間の全データ数−エラーデータ数）としているため、上に凸の曲線となっており、上述した図３の場合と曲線の凹凸が逆になっているが、イコライザ調整値の最適値が頂点の横軸座標値として求められる点は図３の場合と同様である。図５は図４における頂点付近を拡大した図である。
【０１２３】
その近似曲線を表す近似関数はｆ(ｘ)＝ａｘ2＋ｂｘ＋ｃ＝−０.６１１９０６ｘ2＋１２６.３１３１１９ｘ−１５１８.７７０５１１となる。したがって、（−ｂ／２ａ）を計算すれば、イコライザ調整値の最適値が求められる。この例の場合、最適値は約１０３である。
【図面の簡単な説明】
【０１２４】
【図１】本発明の一実施形態に係るイコライザ特性調整装置の構成を示す図である。
【図２】本発明の一実施形態に係るイコライザ特性調整方法の手順を示すフローチャートである。
【図３】図２の手順により得られたエラーレート測定値と、各測定値の近似曲線を示すグラフである。
【図４】イコライザ調整値と、正しくデータが取得できた数との関係の一例を示すグラフ図である。
【図５】図４におけるイコライザ調整値最適値付近の拡大図である。
【図６】テープ走行位置の変化に伴うエラーレート変動を示す図である。
【図７】図３に対する比較例を示し、イコライザ調整値を下限値から上限値にかけて小さい順に１段階ずつ設定してエラーレート測定を行った場合を示す。
【図８】図３におけるｓ1の大きさを変えた場合のグラフである。
【図９】テープ走行位置の変化に伴うエラーレート変動を示す図である。
【図１０】イコライザ調整値の変化のみに依存する理想的なエラーレート変動（１点鎖線）と、テープ走行位置の違いによる影響も受ける実際のエラーレート変動（実線）とを示す図である。
【符号の説明】
【０１２５】
１…磁気テープ装置、２…磁気テープ、３…磁気ヘッド、４…アンプ、５…イコライザ回路、６…エラー検出回路、７…再生信号処理回路、８…処理装置、９…記憶装置。
【図１】
2006351084.tif 000004
【図２】
2006351084.tif 000005
【図３】
2006351084.tif 000006
【図６】
2006351084.tif 000007
【図７】
2006351084.tif 000008
【図８】
2006351084.tif 000009
【図９】
2006351084.tif 000010
【図１０】
2006351084.tif 000011
【図４】
2006351084.tif 000012
【図５】
2006351084.tif 000013