(57)【要約】【課題】最適記録パワーを短時間で高精度に求めることのできる光ディスク記録装置および記録パワー調整方法を提供すること。【解決手段】１回目は、記録パワーを粗間隔で変化させたテスト信号を記録して、β検出回路１０にて再生信号のβ値を取得する。２回目は、記録パワーを目標β値が得られる範囲に絞り密間隔で変化させて記録して、ジッタ検出回路１１にて再生信号のジッタ値を取得する。取得したジッタ値が最良値となる条件と、その時のβ値が許容範囲に入るかを合わせて判断し、記録パワーを最適に調整する。ジッタ検出回路１１の代わりに、復号エラー値を測定するエラー検出回路１３を用いることもできる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにデータを記録する光ディスク記録装置において、
該光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録しまた該光ディスクからデータを再生する光ピックアップと、
該光ピックアップに記録用信号を供給する変調回路と、
該光ピックアップの再生した信号から非対称性を示すβ値を測定するβ検出回路と、
該光ピックアップの再生した信号からジッタ値を測定するジッタ検出回路と、
該β検出回路の測定したβ値と、該ジッタ検出回路の測定したジッタ値の結果に基づいて、該変調回路から供給する記録用信号の記録パワーを調整する制御回路とを備え、
該制御回路は、１回目に記録パワーを粗間隔で変化させたテスト信号を記録して取得した上記β値の結果と、２回目に記録パワーを密間隔で変化させたテスト信号を記録して取得した上記ジッタ値の結果とに基づき、記録パワーを調整することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク記録装置において、
前記制御回路は、前記１回目に取得したβ値の結果を目標β値と比較して、該目標β値が得られる記録パワーを含むように前記２回目のテスト信号の記録パワーの範囲を設定し、前記２回目に取得したジッタ値の結果から該ジッタ値が最良となるよう記録パワーを調整することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項３】
請求項２記載の光ディスク記録装置において、
前記制御回路は、前記２回目のテスト信号についてさらにβ値を取得し、前記ジッタ値が最良となる記録パワーにおいて該β値が許容範囲に入るかを合わせて判断し、記録パワーを調整することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項４】
光ディスクにデータを記録する光ディスク記録装置において、
該光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録しまた該光ディスクからデータを再生する光ピックアップと、
該光ピックアップに記録用信号を供給する変調回路と、
該光ピックアップの再生した信号から非対称性を示すβ値を測定するβ検出回路と、
該光ピックアップの再生した信号から復号エラー値を測定するエラー検出回路と、
該β検出回路の測定したβ値と、該エラー検出回路の測定した復号エラー値の結果に基づいて、該変調回路から供給する記録用信号の記録パワーを調整する制御回路とを備え、
該制御回路は、１回目として記録パワーを粗間隔で変化させたテスト信号を記録して取得した上記β値の結果と、２回目として記録パワーを密間隔で変化させたテスト信号を記録して取得した上記復号エラー値の結果とに基づき、記録パワーを調整することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項５】
光ディスクにデータを記録する際の記録パワー調整方法において、
該光ディスクに１回目のテスト信号をその記録パワーを粗間隔で変化させて記録し、
記録した信号を再生して各記録パワーに対する再生信号の非対称性を示すβ値を取得し、
取得したβ値が目標β値となる記録パワーを含むように２回目のテスト信号の記録パワーの範囲を設定して密間隔で変化させて記録し、
記録した信号を再生して各記録パワーに対する再生信号のジッタ値を取得し、
取得したジッタ値が最良値となる条件と、その時のβ値が許容範囲に入るかを合わせて判断し、記録パワーを調整することを特徴とする記録パワー調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクにデータを記録する際に、記録パワーを最適に調整する記録装置および調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ディスクにデータを記録する際、光ディスク毎に十分な記録品質が得られるように、試し書きによりレーザビームの最適記録パワーを求め、その条件でデータを記録している。その際、記録品質を評価するパラメータとして、各種提案されている。特許文献１には、再生される信号波形のアシンメトリ（非対称性、以下β値）を用いる方法が、また特許文献２には、再生信号のジッタ値とＤＶＤの復号エラーであるＰＩエラー値を組み合わせて用いる方法が提案されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−１３９６４９号公報
【特許文献２】特開２００４−２０６８０３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
光ディスク記録の高速化、高密度化に対応して、より緻密な最適記録条件（最適記録パワー）が求められている。上記したβ値を用いる方法は、簡便に評価できる方法であるが、装置部品の光学的精度誤差の影響を受けるため、その評価結果が必ずしも最終品質を反映しないことがある。よって、β値のみを基に設定した条件は精度は劣るといえる。一方、ジッタ値や復号エラー値を用いる方法は、最終品質を反映した評価法といえる。しかしながら、前記β値に比較し、評価方法が複雑で、また最適条件の領域を探すのに時間を要する。よって、実用的な方法とは言い難い。
【０００５】
本発明の目的は、上記した課題に鑑み、最適記録パワーを短時間で高精度に求めることのできる光ディスク記録装置および記録パワー調整方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明による光ディスク記録装置は、光ディスクにレーザ光を照射してデータを記録しまた光ディスクからデータを再生する光ピックアップと、光ピックアップに記録用信号を供給する変調回路と、光ピックアップの再生した信号から非対称性を示すβ値を測定するβ検出回路と、光ピックアップの再生した信号からジッタ値を測定するジッタ検出回路と、β検出回路の測定したβ値と、ジッタ検出回路の測定したジッタ値の結果に基づいて、変調回路から供給する記録用信号の記録パワーを調整する制御回路とを備える。制御回路は、１回目に記録パワーを粗間隔で変化させたテスト信号を記録して取得したβ値の結果と、２回目に記録パワーを密間隔で変化させたテスト信号を記録して取得したジッタ値の結果とに基づき、記録パワーを調整する。
【０００７】
さらに制御回路は、１回目に取得したβ値の結果を目標β値と比較して、目標β値が得られる記録パワーを含むように２回目のテスト信号の記録パワーの範囲を設定し、２回目に取得したジッタ値の結果からジッタ値が最良となるよう記録パワーを調整する。
【０００８】
さらに制御回路は、２回目のテスト信号についてさらにβ値を取得し、ジッタ値が最良となる記録パワーにおいてそのβ値が許容範囲に入るかを合わせて判断し、記録パワーを調整する。
【０００９】
また本発明による光ディスク記録装置は、上記ジッタ検出回路の代わりに、再生信号から復号エラー値を測定するエラー検出回路を用いて構成する。
【００１０】
また本発明による記録パワー調整方法は、光ディスクに１回目のテスト信号をその記録パワーを粗間隔で変化させて記録し、各記録パワーに対する再生信号の非対称性を示すβ値を取得する。取得したβ値が目標β値となる記録パワーを含むように２回目のテスト信号の記録パワーの範囲を設定して密間隔で変化させて記録し、記録した信号を再生して各記録パワーに対する再生信号のジッタ値を取得する。取得したジッタ値が最良値となる条件と、その時のβ値が許容範囲に入るかを合わせて判断し、記録パワーを調整する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、最適記録パワーを短時間で高精度に調整できるので、データの記録品質の向上と、ユーザの使い勝手が向上する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
図１は、本発明による光ディスク記録装置の一実施例を示すブロック図である。本実施例の装置は、光ディスク１を装着し、半導体レーザ３で発生したレーザ光を光ピックアップ２から記録面に照射し、データまたはテスト信号を記録する。その際、変調回路４は記録信号の生成と記録パワー値の設定を行う。入出力回路５は、外部装置（ホストＰＣなど）との間で記録再生データの入出力を行う。
【００１３】
一方、光ディスク１からの再生信号を光ピックアップ２で検出する。再生信号は、イコライザ回路６、ＰＬＬ回路７、復調回路８、復号回路９で処理して、入出力回路５に送る。その際、β検出回路１０は光ピックアップ２の出力信号から、再生信号の非対称性β値を測定する。ジッタ検出回路１１は、ＰＬＬ回路７から基準クロックに対する再生信号のずれであるジッタ値を検出する。また誤り訂正回路１２は、復号回路９の復号処理における誤りを訂正し、エラー検出回路１３は誤り訂正ができなかったエラー（例えばＤＶＤでは、１ＥＣＣブロック当たりの内部コードパリティのエラーであるＰＩエラー）の数を検出する。マイクロコントローラ１４は、変調回路４にテスト信号の記録パワーを段階的に指示して記録させ、β検出回路１０とジッタ検出回路１１とエラー検出回路１３の検出結果を基に、データ記録時の最適記録パワーを設定する。
【００１４】
本実施例では、最適記録パワー決定のために２回に分けて試し書きを行う。すなわち１回目は、装着されたディスクの全体的傾向を把握するため、記録パワーを広範囲で粗い間隔で変化させたテスト信号を記録して、その記録品質を再生信号のβ値にて評価する（ラフスキャン）。１回目の評価結果から目標品質が得られる領域に絞り、２回目は、記録パワーを狭い範囲で密な間隔で変化させたテスト信号を記録して、その記録品質をジッタ値（または復号エラー値）とβ値との両方で精密に評価する（ファインスキャン）。そして、２回目の評価結果から最適記録パワーを設定する。
【００１５】
図２は、本実施例における１回目のパワー調整方法（ラフスキャン）を説明する図である。テスト信号の記録パワーＰは、例えば６０〜１４０％の範囲で、間隔ΔＰを５％として１６段階に変化させて記録する。光ディスク上のテスト記録する領域は、内周側または外周側に円周状に予め設けられた試し書き領域を用いる。再生信号の評価はβ値を測定する。ここにβ値は、再生波形の上側包絡線レベルａと下側包絡線レベルｂとしたとき、β＝（ａ−ｂ）／（ａ＋ｂ）の計算により求める。β値が大きいと記録パワーが過大であり、β値が小さいと記録パワーが不足していることを示す。図２において、目標β値は例えば＋５％とし、この目標値が得られる記録パワーはＰ＝９０％となる。そして、この記録パワー（Ｐ＝９０％）を含むように２回目のテスト記録（ファインスキャン）のパワー範囲を決定する。
【００１６】
図３は、本実施例における２回目のパワー調整方法（ファインスキャン）を説明する図である。１回目の結果、目標β値＝５％が記録パワーＰ＝９０％のときに得られたとすると、２回目のテスト信号の記録パワーＰは、例えば９０％を中心に７０〜１１０％の範囲に絞り、間隔ΔＰを２．５％として１６段階に変化させて記録する。再生信号の評価はジッタ値（または復号エラー値）を測定すると共に、β値も同時に測定する。図３（ａ）はジッタ値の測定結果の例であり、図３（ｂ）はβ値の測定結果の例を示す。なおこの図ではジッタ値として、ジッタ量がしきい値（例えば９％）を越えたとき発生するエラーパルス数をカウントして評価している。
【００１７】
２回目の調整では、まずジッタ値が最良となる条件（すなわちエラーパルス数が最小になる条件）を基に決定する。ジッタ値（エラー数）は記録パワーに対して、Ｕ字状の曲線を示す。その最小点（ボトム）をＪ０、またジッタ値の許容レベルＪｔｈに対応する記録パワーをＪ１，Ｊ２とすると、最適記録パワーＰｏｐｔはボトム位置Ｊ０となる。
【００１８】
本実施例では、ジッタ値だけでなくβ値の評価結果も考慮する。これは、ジッタ値では満足してもβ値が満足されない場合、両者を考慮してより安全に最適記録パワーを決定するためである。図３（ｂ）において、目標β値の±２％レベルに対応する記録パワーをＢ１，Ｂ２とする。ジッタ値のボトムＪ０がＢ１とＢ２の区間に存在すれば、Ｊ０はβ値の条件も同時に満足するのでこれを最適値とすることに何ら問題はない。しかし、Ｊ０がＢ１とＢ２の区間の外側に存在する場合は、最適値としてＪ０ではなく、Ｊ１，Ｊ２、あるいはＢ１，Ｂ２の値を採用する。
【００１９】
図３（ｃ）は、ジッタ値とβ値の結果から最適記録パワーを決定する方法の一例を示す。ケース３はＢ１＜Ｊ０＜Ｂ２の場合（ジッタ最良点がβ許容範囲を満足する）で、Ｐｏｐｔ＝Ｊ０とする。ケース２はＪ０＜Ｂ１＜Ｊ２の場合（ジッタ許容範囲とβ許容範囲の一部が重なる）で、β値も満足するようにＰｏｐｔ＝Ｂ１とする。ケース１はＪ２＜Ｂ１の場合（ジッタ許容範囲とβ許容範囲が重ならない）で、ジッタ値を優先してＰｏｐｔ＝Ｊ２とする。同様の方法で、ケース４、ケース５の場合も決定する。
【００２０】
図４は、本実施例による最適記録パワー設定の一例を示すフローチャート図である。まず１回目のテスト記録（ラフスキャン）用条件を設定する。ラフスキャンでは記録パワーを広い範囲で粗い間隔で設定する（Ｓ４１）。この条件でテスト信号を光ディスクの所定の試し書き領域に記録する（Ｓ４２）。記録した信号を直ちに再生して、各記録パワーに対する品質β値を測定する（Ｓ４３）。目標β値（例えばβ＝＋５％）が得られる記録パワーを求め、それを含むように２回目のテスト記録（ファインスキャン）用条件を設定する。ファインスキャンでは、記録パワーを狭い範囲で密な間隔で設定する（Ｓ４４）。この条件でテスト信号を光ディスクの所定の試し書き領域に記録する（Ｓ４５）。記録した信号を直ちに再生して、各記録パワーに対する品質ジッタ値を測定する（Ｓ４６）。それと同時に各記録パワーに対する品質β値を測定する（Ｓ４７）。得られたジッタ値が最良値（最小値）となる条件と、その時のβ値が許容範囲に入るかを合わせて判断し、記録パワーの最適条件を決定する（Ｓ４８）。この条件でレーザパワーを駆動し、データの記録を行う。
【００２１】
以上述べたように本実施例の記録パワーの設定方法では、テスト記録を２回に分けて実施する。１回目（ラフスキャン）では記録パワーを広範囲で粗間隔で実施し、評価品質としてβ値を用いるので迅速に評価でき、また最適範囲を見逃す恐れがない。一方２回目（ファインスキャン）では記録パワーを狭範囲で密間隔で実施し、また評価品質として実用特性をより反映するジッタ値を用いるので、最適記録パワーを正確に決定することができる。その際、ジッタ値だけでなく、β値も考慮することで、より安全な設定を行うことができる。これらの結果、記録パワーを短時間で高精度に調整することができ、データの記録品質の向上と、ユーザの使い勝手が向上する。
【００２２】
上記実施例の構成と方法は一例であり、以下の各種の変形が可能である。
【００２３】
２回目のテスト記録（ファインスキャン）における評価品質として、ジッタ値の代わりに復号エラー値を採用することもでき、同様に実用特性を反映した評価が可能となる。
【００２４】
上記実施例で述べたテスト記録時の記録パワーの範囲、間隔などの設定は一例であり、測定時間と精度を考慮して適宜設定すればよい。また、ファインスキャンにおけるジッタ値に対するβ値の考慮の仕方も、上記説明は一例であり適宜決定すればよい。
【００２５】
さらに、ファインスキャンにおけるβ値の測定を省略して、１回目のラフスキャンにおけるβ値の結果を代用してもよい。これにより、さらに測定時間の短縮が図れる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明による光ディスク記録装置の一実施例を示すブロック図。
【図２】本実施例における１回目のパワー調整方法（ラフスキャン）を説明する図。
【図３】本実施例における２回目のパワー調整方法（ファインスキャン）を説明する図。
【図４】本実施例による最適記録パワー設定の一例を示すフローチャート図。
【符号の説明】
【００２７】
１…光ディスク、２…光ピックアップ、３…半導体レーザ、４…変調回路、５…入出力回路、６…イコライザ回路、７…ＰＬＬ回路、８…復調回路、９…復号回路、１０…β検出回路、１１…ジッタ検出回路、１２…誤り訂正回路、１３…エラー検出回路、１４…マイクロコントローラ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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