(57)【要約】【課題】  測定者が計数値を監視し続ける必要がなく、測定者の負担を軽減することができる粒子計数器を提供する。【解決手段】  試料中に含まれる浮遊粒子の個数を測定し、試料中の粒子濃度を求める粒子計数器において、予め仕様によって定められる最大定格粒子濃度に基づく単位時間当たりの計数値Ｃを記憶する記憶部１１と、この記憶部１１に記憶されている単位時間当たりの計数値Ｃと実際にカウントされる単位時間当たりの計数値Ｍを比較する演算処理部１２と、この演算処理部１２による比較結果に基づく情報を出力する出力部４を備えた。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料中に含まれる浮遊粒子の個数を測定し、試料中の粒子濃度を求める粒子計数器において、予め仕様によって定められる最大定格粒子濃度に基づく単位時間当たりの計数値Ｃを記憶する記憶部と、この記憶部に記憶されている単位時間当たりの計数値Ｃと実際にカウントされる単位時間当たりの計数値Ｍを比較する演算処理部と、この演算処理部による比較結果に基づく情報を出力する出力部を備えたことを特徴とする粒子計数器。
【請求項２】
前記記憶部が、粒径区分毎に設けられ、夫々の粒径区分に対応する最大定格粒子濃度に基づく単位時間当たりの計数値Ｃを記憶する請求項１記載の粒子計数器。
【請求項３】
前記出力部は、単位時間当たりの計数値Ｍが単位時間当たりの計数値Ｃを超えている場合には警報情報を発する請求項１又は２記載の粒子計数器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試料中に含まれる浮遊粒子の個数を測定する粒子計数器に関する。
【背景技術】
【０００２】
光散乱式自動粒子計数器においては、測定対象の試料中に粒子が多数存在するにも拘らず、粒子数を少なく計数してしまう、いわゆる計数損失という現象が発生する。この計数損失は、光を照射して形成した粒子検出領域を一度に多量の粒子が通過することにより引き起こされる。
このような計数損失の発生は、計数精度を低下させるので、これを防止するため、光散乱式自動粒子計数器には、例えば計数損失は最大定格粒子濃度において５％以下でなければならないという規格（ＪＩＳＢ９９２１）が定められている。
【０００３】
従来は、光散乱式自動粒子計数器を用いた実際の測定に際して、測定者は光散乱式自動粒子計数器の計数値を読み取ることによって、試料の粒子濃度が高いか低いかを監視し続けていた。そして、粒子濃度が最大定格粒子濃度を超えると、現在カウントされている計数値は実際の粒子数より少なく計数されたものである（ＪＩＳＢ９９２１で規定されている計数損失が最大定格粒子濃度において５％を超える状態）と認識していた。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかし、従来の粒子計数器を用いた測定作業においては、測定者が常時粒子計数器が表示する計数値を監視し続け、計数損失が最大定格粒子濃度において５％を超える状態になったか否かを判断しなければならないため、測定者の負担が大きいという問題があった。
【０００５】
本発明は、従来の技術が有するこのような問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、測定者が計数値を監視し続ける必要がなく、測定者の負担を軽減することができる粒子計数器を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決すべく請求項１に係る発明は、試料中に含まれる浮遊粒子の個数を測定し、試料中の粒子濃度を求める粒子計数器において、予め仕様によって定められる最大定格粒子濃度に基づく単位時間当たりの計数値Ｃを記憶する記憶部と、この記憶部に記憶されている単位時間当たりの計数値Ｃと実際にカウントされる単位時間当たりの計数値Ｍを比較する演算処理部と、この演算処理部による比較結果に基づく情報を出力する出力部を備えたものである。
【０００７】
請求項２に係る発明は、請求項１記載の粒子計数器において、前記記憶部が、粒径区分毎に設けられ、夫々の粒径区分に対応する最大定格粒子濃度に基づく単位時間当たりの計数値Ｃを記憶するようにした。
【０００８】
請求項３に係る発明は、請求項１又は２記載の粒子計数器において、前記出力部は、単位時間当たりの計数値Ｍが単位時間当たりの計数値Ｃを超えている場合には警報情報を発するようにした。
【発明の効果】
【０００９】
以上説明したように請求項１に係る発明によれば、測定対象の粒子濃度が最大定格粒子濃度を超えているか否かの判定情報が出力されるので、測定者は計数値を監視し続ける必要がなくなり、測定者の負担が軽減される。また、計数損失の大きなデータが採用される可能性がなくなり、粒子計数作業の信頼性が向上する。
【００１０】
請求項２に係る発明によれば、最大定格粒子濃度が粒径区分毎に設定されるので、計数損失の大きなデータが採用される可能性がより少なくなり、粒子計数作業の信頼性が向上する。
【００１１】
請求項３に係る発明によれば、測定対象の粒子濃度が最大定格粒子濃度を超えると、警報情報が発せられるので、測定者は速やかに計数損失が発生していることを認識でき、迅速な対応策を講じることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下に本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。ここで、図１は本発明に係る粒子計数器の構成図、図２は同じく動作を示すフローチャートである。
【００１３】
本発明に係る粒子計数器は、図１に示すように、光を用いて試料中の粒子を検出する粒子検出部１と、粒子を粒径区分毎に捉える波高分析部２と、計数損失を考慮して演算処理する演算部３と、演算部３の処理結果を出力する出力部４からなる。
【００１４】
粒子検出部１は、試料を流す流路６と、流路６にレーザ光Ｌａを照射して粒子検出領域を形成する光源７と、粒子検出領域を通過する粒子が発する散乱光Ｌｓを集光する集光レンズ８と、集光レンズ８が集光した光を光の強さに応じた電圧に変換する光電変換器９などを備えている。
【００１５】
波高分析部２は、粒子検出部１の出力信号を受けて、所定レベル以上の信号をそのレベルに相当する粒径の粒子として粒径区分に従って出力する。
【００１６】
演算部３は、波高分析部２の出力信号を受け、粒径区分に対応するパルスをカウントするカウンタ部１０と、予め仕様によって定められる最大定格粒子濃度に基づく単位時間当たりの計数値Ｃを記憶する記憶部１１と、記憶部１１が記憶する単位時間当たりの計数値Ｃとカウンタ部１０が出力する実際の単位時間当たりの計数値Ｍを比較する演算処理部１２を備えている。
【００１７】
記憶部１１には、粒径区分が単一である粒子計数器の場合は、その粒径区分についての最大定格粒子濃度に基づく単位時間当たりの計数値Ｃを記憶させればよい。また、記憶部１１には、粒径区分が複数ある粒子計数器の場合は、最小の粒径区分についてのみ、その最大定格粒子濃度に基づく単位時間当たりの計数値Ｃを記憶させてもよいし、全ての粒径区分について、その最大定格粒子濃度に基づく単位時間当たりの計数値Ｃを記憶させてもよい。
【００１８】
演算処理部１２による比較結果として、実際の単位時間当たりの計数値Ｍが単位時間当たりの計数値Ｃを超えている場合には、演算処理部１２は警報を発する旨の信号を出力部４に入力する。すると、出力部４は、視覚と聴覚に訴える警報情報を発する。出力部４は、演算処理部１２による比較結果に関係なく、単位時間当たりの計数値Ｍを表示する。
【００１９】
以上のように構成した本発明に係る粒子計数器の動作について、図２に示すフローチャートにより説明する。ここでは、粒径区分が複数ある粒子計数器の場合で、全ての粒径区分について、その最大定格粒子濃度に基づく単位時間当たりの計数値Ｃを記憶させている場合である。
【００２０】
先ず、ステップＳＰ１において、粒径区分が選択され測定が開始されると、演算処理部１２が予め求めて記憶部１１格納しておいたその粒径区分に対応する最大定格粒子濃度に基づく単位時間当たりの計数値Ｃを読み出す。
次いで、ステップＳＰ２において、カウンタ部１０が波高分析部２の出力信号を受け、選択された粒径区分に対応するパルスをカウントし、単位時間当たりの計数値Ｍを出力する。
【００２１】
次いで、ステップＳＰ３において、演算処理部１２が、記憶部１１から読み出した単位時間当たりの計数値Ｃとカウンタ部１０が出力する実際の単位時間当たりの計数値Ｍを比較する。演算処理部１２による比較結果から、実際の単位時間当たりの計数値Ｍが単位時間当たりの計数値Ｃ以下の場合にはステップＳＰ２に進み、実際の単位時間当たりの計数値Ｍが単位時間当たりの計数値Ｃを超えている場合にはステップＳＰ４に進む。
【００２２】
ステップＳＰ４では、演算処理部１２が警報を発する旨の信号を出力部４に入力すると、出力部４が視覚と聴覚に訴える警報情報を発する。
そして、出力部４が警報情報を発した場合には、測定者は一旦測定を停止し、例えば測定対象に適した粒子計数器に交換するなどの対策を講じる。
【産業上の利用可能性】
【００２３】
測定対象の粒子濃度が最大定格粒子濃度を超えている場合には、警報情報が自動で出力されるので、測定者は計数値を監視し続ける必要がなくなり、測定者の負担が軽減される。また、計数損失の大きなデータが採用される可能性がなくなり、粒子計数作業の信頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】本発明に係る粒子計数器の構成図
【図２】本発明に係る粒子計数器の動作を示すフローチャート
【符号の説明】
【００２５】
１…粒子検出部、２…波高分析部、３…演算部、４…出力部、９…光電変換器、１０…カウンタ部、１１…記憶部、１２…演算処理部。
【図１】
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【図２】
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