(57)【要約】【課題】  蓄光物質を使用する避難誘導標示物の残光輝度性能のチェックが設置現場において容易に行なえるようにする。【解決手段】蓄光物質により残光を発する被測定表面Ｆへの外光の到達を遮断する遮断手段４と、被測定表面Ｆの蓄光物質の残光輝度を検出する残光輝度検出手段１１と、残光輝度検出手段１１から経時的に得られる複数回の検出残光輝度と予め知られる蓄光残光減衰データとに基づき一定時間後の被測定表面Ｆの予測残光輝度を算出する残光輝度算出手段２０と、残光輝度算出手段２０から得られる予測残光輝度の報知手段２２とを備えてなる残光輝度測定装置。【選択図】  図４
2006250914.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
蓄光物質により残光を発する被測定表面への外光の到達を遮断する遮断手段と、
前記被測定表面の前記蓄光物質を励起するための光源と、
前記被測定表面の前記蓄光物質の残光輝度を検出する残光輝度検出手段と、
前記残光輝度検出手段から得られる検出残光輝度の報知手段と、
を備えてなることを特徴とする残光輝度測定装置。
【請求項２】
蓄光物質により残光を発する被測定表面への外光の到達を遮断する遮断手段と、
前記被測定表面の前記蓄光物質の残光輝度を検出する残光輝度検出手段と、
前記残光輝度検出手段から経時的に得られる複数回の検出残光輝度と予め知られる蓄光残光減衰データとに基づき一定時間後の前記被測定表面の予測残光輝度を算出する予測残光輝度算出手段と、
前記予測残光輝度算出手段から得られる前記予測残光輝度の報知手段と、
を備えてなることを特徴とする残光輝度測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  この発明は、蓄光物質を使用する避難誘導標示物等における残光輝度測定に用いられる残光輝度測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】  深夜や地下鉄等の暗所における災害では、通常用やバックアップ用の電源が絶たれた場合避難誘導のための標示が見えなくなり、その結果パニックになり大きな惨事を招く恐れがある。そのような事情に対応して最近では暗所において残光により一定時間発光する蓄光物質を用いて避難誘導標示を行なうことがなされ、一部の自治体では公共施設においてそのような避難誘導標示物の設置が条例で義務付けられることが進められている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】  上記のような蓄光物質を使用する避難誘導標示物が非常時に確実に発光して機能を果すためには定期的な残光輝度性能のチェックが不可欠となるが、公共施設等においては避難誘導標示物の設置数が膨大となるので、全体のチェックには多大な時間、費用を要する問題が生じる。【０００４】  この発明は上記の事情に鑑みて行なったもので、蓄光物質を使用する避難誘導標示物の残光輝度性能のチェックが設置現場において容易に行なえるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】  請求項１の発明では、蓄光物質により残光を発する被測定表面への外光の到達を遮断する遮断手段と、前記被測定表面の前記蓄光物質を励起するための光源と、前記被測定表面の前記蓄光物質の残光輝度を検出する残光輝度検出手段と、前記残光輝度検出手段から得られる検出残光輝度の報知手段とを備えてなることを特徴とする残光輝度測定装置を提供する。【０００６】  上記構成によれば、外光が遮断された状態における被測定表面の蓄光物質が光源により照らされることで励起され、任意の時間経過後に検出される被測定表面の蓄光物質の残光輝度が報知される。蓄光物質を光源により一定の明るさに照らすことで励起した後に残光輝度を検出するので、その検出精度が高められる。【０００７】  請求項２の発明では、蓄光物質により残光を発する被測定表面への外光の到達を遮断する遮断手段と、前記被測定表面の前記蓄光物質の残光輝度を検出する残光輝度検出手段と、前記残光輝度検出手段から経時的に得られる複数回の検出残光輝度と予め知られる蓄光残光減衰データとに基づき一定時間後の前記被測定表面の予測残光輝度を算出する残光輝度算出手段と、前記残光輝度算出手段から得られる前記予測残光輝度の報知手段とを備えてなることを特徴とする残光輝度測定装置を提供する。【０００８】  上記構成によれば、外光が遮断された状態において被測定表面において経時的に得られる複数回の検出残光輝度と、予め知られる蓄光残光減衰データとに基づき一定時間後の残光輝度が算出され、それが予測残光輝度として報知される。例えば、１分後、５分後の２回の検出残光輝度を用い２０分後、６０分後の予測残光輝度を算出でき、これにより測定時間が短縮される。
【発明の効果】
【０００９】  請求項１および請求項２の発明によれば、蓄光物質を使用する避難誘導標示物の残光輝度性能のチェックが設置現場において容易に行なえるようになる。【００１０】  とくに、請求項２の発明によれば短時間において予測残光輝度が得られるので、これにより、広いエリア、例えば、地下鉄のホームや壁面の蓄光物質使用の誘導標示物が付設された一定広さの場所等での多数箇所における残光輝度性能のチェックが効率良く行なえるようになる。
【発明の実施をするための最良の形態】
【００１１】  図１は請求項１の発明の残光輝度測定装置の実施形態の外観斜視図、図２は同内部構成略図である。残光輝度測定装置１は下方を開放部３とするボックス形状でその上部に機器部２が一体に設けられている。４は外光の遮断手段としての周壁部で、残光輝度測定装置１が開放部３面において被測定表面Ｆ上に設置された際、周壁部４が外光を遮断することで被測定表面Ｆ上空間Ｓを暗室状態に保つ。
【００１２】  機器部２の下面側には、空気攪拌用のファン７、光源としてのＪＩＳＺ９１７０で規定するＤ６５ランプまたはそれと同等の光源特性を持ったランプ９、残光輝度検出手段としての輝度センサ１１、温度センサ１２、湿度センサ１３、ペルチェ素子よりなる温度調節器１４のそれぞれが配置されている。上記ランプ９は劣化に伴う照度調整が可能なようにその設置高さが可変とされている。機器部２の側面には外部出力端子１６が凹設されるとともにカバーに覆われた状態に作動用電池の収納部１７が設けられ、収納部１７内には充電用接続端子を備える充電池１９が設けられている。機器部２の上面側には報知手段としての表示部２２が設けられ、その側位置には複数個の操作スイッチ２４が設けられている。上記ファン７、ランプ９、輝度センサ１１、温度センサ１２、湿度センサ１３、温度調節器１４、接続部１６、充電池１９、表示部２２、操作スイッチ２４のそれぞれは制御回路基板２０に電気的に接続されている。
【００１３】  上記残光輝度測定装置１を用いてＪＩＳ  Ｚ９１０７に準拠する測定条件での残光輝度測定方法を説明する。
【００１４】  まず、残光輝度測定装置１を、図２に示すように、例えば蓄光塗料の塗布により避難表示がなされたタイル面等の被測定表面Ｆ上に置き、操作スイッチ２４を操作することで温度センサ１２、湿度センサ１３により検出される測定環境の温度、湿度を表示部２２で確認する。そして、温度が規定範囲（２３±２度Ｃ）に入っていない場合はファン７、温度調節器１４を適宜作動させて温度調整を行ない、湿度も規定範囲（５０±１５％）に入るように調整する。湿度は通常規定範囲より高いので、乾燥剤を用いることで調整する。
【００１５】  温度、湿度がともに規定範囲に入ったことが確認された後３時間以上遮光し、その後ランプ９を点灯し２０分間被測定表面Ｆを２００ルックスの照度で照らし、ランプ９をオフする。そして、２０分または６０分経過後に輝度センサ１１で検出される被測定表面Ｆの残光輝度を表示部２２で確認する。上記残光輝度が測定されるまでの間においても温度、湿度が規定範囲内に入るように監視をつづける。
【００１６】  この残光輝度測定装置１は、通常次に説明する簡易タイプの残光輝度測定装置１００との比較計測に使用し、その際、測定箇所は同一の蓄光物質を用いた避難誘導標示物の設置エリアでは最小一箇所以上となる。
【００１７】  残光輝度の測定は実際には数分間隔で複数回行なわれ、それらデータは測定位置データ等とともに残光輝度測定装置１に記憶保存される。
【００１８】  なお、残光輝度測定装置１は横置きにしその開口部３を壁面に当てるようにして壁面の避難誘導標示面の輝度測定にも使用できる。
【００１９】  図３は請求項２の発明の簡易タイプの残光輝度測定装置１００の実施形態の外観斜視図、図４は内部構成略図である。残光輝度測定装置１００は上記輝度測定装置１に比して小形でその外形状は残光輝度測定装置１と略同様となっており、内部には輝度センサ１１が設けられただけの簡易な構成となっている。この残光輝度測定装置１００は制御回路基板２０に構成されるマイクロコンピュータにより自動制御されることで短時間において２０分後または６０分後の被測定表面Ｆの残光輝度を表示部２２に表示できるように構成されている。上記マイクロコンピュータは残光輝度算出手段としても機能する。２３は測定完了報知ランプである。
【００２０】  以下、上記残光輝度測定装置１００の動作を、図５のフローチャートを参照して説明する。残光輝度測定装置１００を、図４に示すように、被測定表面Ｆ上に設置すると同時に、操作スイッチ２４を操作することで動作がスタートしてタイマが作動され（Ｓ１）、１分経過後、５分経過後に輝度センサ１１で検出される残光輝度データが取り込まれ（Ｓ２〜５）、その残光輝度データと既知であり予め設定記憶されている下記の残光減衰式（蓄光残光減衰データ）とに基づいて２０分または６０分経過後の被測定表面Ｆの予測残光輝度が算出される（Ｓ６）。
【００２１】  残光減衰式
Ｉ（ｔ）＝Ｉ（０）／（１＋γｔ）ｎ
Ｉ（ｔ）：遮光ｔ分後の残光輝度
Ｉ（０）：遮光直後の初期輝度
γ  ：Ｎ／ａｎＴｏ（Ｎはトラップ濃度、ａはトラップに捕捉されていた電子が熱的に活性化されて伝導帯へ上がる単位時間当たりの確率、ｎＴｏはトラップに補足されている初期の電子濃度）
ｎ  ：１／２〜２程度の数値（便宜的に１として算出に使用）
【００２２】  １分後、５分後の測定により得られる残光輝度Ｉ（１）とＩ（５）と時間［１］と［５］とがそれぞれ代入される２式の蓄光残光減衰式から２つの未知数Ｉ（０）とγとが算出され、それら値が蓄光残光減衰式Ｉ（２０）またはＩ（６０）に代入されることで２０分後または６０分後の残光輝度が算出されて予測残光輝度として表示部２２に表示されるとともに、測定完了報知ランプ２３の点灯が行なわれる（Ｓ７）。
【００２３】  蓄光残光の初期における減衰は急激で残光輝度測定装置１００により遮光直後の初期輝度Ｉ（０）を測定するのは難しく、よって、２度の測定によりγとともにＩ（０）を算出してそれら値から任意時間経過後の予測残光輝度を得るように動作する。
【００２４】  このようして５分経過後に２０分または６０分経過後の予測残光輝度を知ることが可能となる。予測残光輝度データはその測定位置データ等とともに残光輝度測定装置１００に記憶され（Ｓ８）、この残光輝度測定装置１００が接続部１６を介してパーソナルコンピュータに接続されることで、パーソナルコンピュータ側表示部において全体データを見たり、またプリンターにより全体データを印字することができる。
【００２５】  なお、予測残光輝度は上記残光減衰式の他に、適宜の蓄光残光減衰データを用いることによっても算出可能である。
【００２６】  上記簡易タイプの残光輝度測定装置１００はその予測輝度の信頼性が問われ、したがって、測定対象となる１エリアにおける輝度測定には、次に説明するように上記残光輝度測定装置１が併用されることで迅速、かつ、比較的精度の高い輝度測定が可能となる。上記の１エリアとは、例えば、特定の駅のホームの蓄光物質が付加されて同様の条件で製造された避難誘導標示物であり、この１エリアにおいては少なくとも１箇所以上の比較輝度測定が必要であるが、使用される蓄光物質が同一条件の避難誘導標示物でエリアが構成されている場合は最低一箇所の比較測定でよい。
【００２７】  まず、１エリア内の１つの清浄な代表的なサンプル位置で残光輝度測定装置１と残光輝度測定装置１００とのそれぞれを用い測定を行ない、残光輝度測定装置１で得られる２０分後または６０分後の残光輝度と残光輝度測定装置１００で得られる２０分後または６０分後の予測残光輝度とを比較し、その誤差が許容値内（例えば１０％以内）であるかどうかを判定する。
【００２８】  次に、１エリア内における他の全てのサンプリング箇所で残光輝度測定装置１００により予測残光輝度を測定し、上記誤差が許容値内であった場合にはそれら予測残光輝度をそのまま測定残光輝度として採用し、誤差が許容値内でない場合には、予測残光輝度に修正値（残光輝度計測装置１で得られる残光輝度を残光輝度計測装置１００で得られる予測残光輝度で割った値）を掛け合わせた値を測定残光輝度として採用する。
【００２９】  そして、上記の２０分または６０分経過後の測定値がＪＩＳ基準値である２４ｍｃｄ／ｍ２未満または７ｍｃｄ／ｍ２未満である場合には、その被測定表面Ｆの蓄光物質による発光能力が十分でないと判定される。十分でないと判定された場合はその原因、すなわち、表面の汚れやキズ、蓄光物質の劣化等を究明して適宜対策を講じることで、満足な残光輝度が得られるようにする。
【００３０】  このようにすることで、比較的高い精度の測定値が得られるようになり、広いエリアでは複数個の残光輝度計測装置１００を併せ用いることで、多数箇所における輝度測定が精度を保つ中できわめて迅速に行なえるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図１】  請求項１の発明の残光輝度測定装置の実施形態の外観斜視図
【図２】  請求項１の発明の残光輝度測定装置の実施形態の内部構成略図
【図３】  請求項２の発明の残光輝度測定装置の実施形態の外観斜視図
【図４】  請求項２の発明の残光輝度測定装置の実施形態の内部構成略図
【図５】  請求項２の発明の残光輝度測定装置の実施形態の動作を表すフローチャート
【符号の説明】
１    残光輝度測定装置
４    周壁部（遮断手段）
９    ランプ（光源）
１１  輝度センサ（残光輝度検出手段）
２２  表示部（報知手段）
【図１】
2006250914.tif 000003
【図２】
2006250914.tif 000004
【図３】
2006250914.tif 000005
【図４】
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【図５】
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