(57)【要約】【課題】  押下位置を正確に特定することのできるタッチパネル装置等を提供する。【解決手段】  タッチパネル２１は、線形特性の抵抗値を有する１対の抵抗膜（Ｘ抵抗膜、及び、Ｙ抵抗膜）が微少な間隔を介して互いに重なり合うよう構成される。ＡＤＣ１３は、Ｘ抵抗膜、及び、Ｙ抵抗膜に印加される電圧を任意のタイミングでサンプリングし、ＣＰＵ１２は、この両電圧を印加電圧として図示せぬＲＡＭ等に記憶する。そして、タッチパネルが押圧された場合、ＣＰＵ１２は、Ｘ抵抗膜とＹ抵抗膜とが接触することにより生じる電圧を図示せぬセンサ等で測定し取得する。ＣＰＵ１２は、測定された電圧と、記憶した直近の印加電圧とを用いて、押圧されたタッチパネル上の位置を演算して求める。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
線形特性の抵抗値を有する１対の抵抗膜が微少な間隔を介して互いに対向して重ね合わされたパネルを含む抵抗膜方式のタッチパネル装置であって、
前記各抵抗膜に印加された印加電圧を、任意のタイミングで取得する印加電圧取得手段と、
前記印加電圧取得手段が取得した印加電圧を記憶する印加電圧記憶手段と、
前記パネル面が押圧されることにより、前記１対の抵抗膜が接触して生ずるｘｙ方向の電圧を測定する座標測定手段と、
前記座標測定手段で測定された前記ｘｙ方向の電圧と、前記印加電圧記憶手段が記憶した直近の印加電圧とを用いて、押圧された前記パネル面上の位置のｘｙ座標を演算して求める座標演算手段と、
を備えることを特徴とするタッチパネル装置。
【請求項２】
前記印加電圧取得手段は、座標測定手段がｘｙ方向の電圧を測定するときと同じ状態で各抵抗膜に印可される印加電圧を取得する、
ことを特徴とする請求項１に記載のタッチパネル装置。
【請求項３】
前記印加電圧取得手段は、前記各抵抗膜に印加されたそれぞれの印加電圧を、所定時間間隔を空けて取得する、
ことを特徴とする請求項１又は２に記載のタッチパネル装置。
【請求項４】
前記座標測定手段は、ｘ座標方向に沿って線形特性を有する抵抗膜からｘ方向の電圧を測定し、ｙ座標方向に沿って線形特性を有する抵抗膜からｙ方向の電圧を測定する、
ことを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載のタッチパネル装置。
【請求項５】
前記座標演算手段は、前記印加電圧記憶手段が記憶した印加電圧に基づいて、前記座標測定手段で測定された前記ｘｙ方向の電圧を補正し、補正後の電圧に従ってｘｙ座標を求める、
ことを特徴とする請求項１乃至４のいずれか１項に記載のタッチパネル装置。
【請求項６】
２枚の抵抗膜が所定間隔を隔てて配置されたパネルと、
前記タッチパネルの各抵抗膜から出力される電圧をサンプリングするサンプリング手段と、
前記サンプリング手段がサンプリングした電圧に従って、前記タッチパネルの押下状態又は、非押下状態を判別する判別手段と、
前記判別手段が非押下状態を判別した場合に、前記サンプリング手段がサンプリングした各抵抗膜に印加される印加電圧を記憶する印加電圧記憶手段と、
前記判別手段が押下状態を判別した場合に、前記印加電圧記憶手段に記憶された印加電圧と、前記サンプリング手段がサンプリングした各抵抗膜から出力される電圧とに従って、前記タッチパネル上の押下位置を特定する特定手段と、
を備えることを特徴とするタッチパネル装置。
【請求項７】
線形特性の抵抗値を有する１対の抵抗膜が微少な間隔を介して互いに対向して重ね合わされたパネルを含む抵抗膜方式のタッチパネルの押下位置検出方法であって、
前記各抵抗膜に印加された印加電圧を、任意のタイミングで取得する印加電圧取得ステップと、
前記印加電圧取得ステップにて取得した印加電圧を所定の記憶部に格納する印加電圧格納ステップと、
前記パネル面が押圧されることにより、前記１対の抵抗膜が接触して生ずるｘｙ方向の電圧を測定する座標測定ステップと、
前記座標測定ステップで測定された前記ｘｙ方向の電圧と、前記印加電圧格納ステップが格納した直近の印加電圧とを用いて、押圧された前記パネル面上の位置のｘｙ座標を演算して求める座標演算ステップと、
を備えることを特徴とする押下位置検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、タッチパネル制御装置、及び、押下位置検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、入力操作を容易にすることのできるタッチパネルが広く使用されている。このタッチパネルは、例えば、表示部（ディスプレイ等）の前面に配置され、利用者が指などで直接操作可能な入力デバイスである。そして、このタッチパネルの代表的な仕組み（動作原理）の一つに、抵抗膜方式が挙げられる。
【０００３】
抵抗膜方式は、２枚の抵抗膜をわずかにスペースを空けて重ねた構造を有している。そして、指などでパネル（抵抗膜）が押下されると、抵抗膜同士が接触して通電し、通電した位置を電圧値により検出する。具体的に抵抗膜は、通電位置（接触位置）に応じて抵抗値が変わるので、抵抗膜から得られる出力電圧も変化することになる。そのため、タッチパネルは、この電圧の変化に基づいて、押下された位置を特定することができる。
【０００４】
なお、抵抗膜方式のタッチパネルにおいて、検出速度を向上させる技術も開示されている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特許第３４９２４９３号  （第４−８頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述したように、抵抗膜方式が採用された従来のタッチパネル装置は、抵抗膜からの出力電圧に基づいて、押下位置を特定している。そのため、押下位置を正確に特定するには、抵抗膜に印加される電圧を一定に保持する必要がある。
しかしながら、実際には、タッチパネルの駆動電源に起因する供給電圧等の変動により、抵抗膜に印加される電圧にはある程度の変化が生じてしまう。また、駆動電源の精度をなるだけ高くするような対応をしても、電源ラインの抵抗値の変動等により、抵抗膜に印加される電圧が変化してしまう場合もあった。
【０００６】
このように、抵抗膜に印加される電圧が変化してしまうと、タッチパネルの押下操作の誤検出（タッチの位置ズレ等）が発生する。この誤検出の程度は、各製品によって異なるため、この対処として、工場等で各製品を個別に調整する必要があった。具体例としては、各製品のＣＰＵ（Central Processing Unit）に、不具合を調整する補正パラメータを格納する等の対処を行っている。
【０００７】
一方、抵抗膜に印加される電圧の変動に対応したタッチパネルも知られている。このようなタッチパネルは、電圧値をＡＤＣ（アナログデジタルコンバータ）にて検出（サンプリング）する際に、ＡＤＣが参照する基準電圧を、通常のＣＰＵ電源から取得する代わりに、タッチパネルの駆動電源から取得する。つまり、駆動電源の供給電圧等が変動しても、それを基準電圧とすることで、検出した電圧値にあまり影響がないようにしている。また、電源ラインの抵抗値の変動等も考慮して、ＡＤＣが参照する基準電圧を、抵抗膜に印加される電圧から直接取得する場合もある。
【０００８】
しかしながら、通常、ＡＤＣは、抵抗膜から得られる電圧をサンプリングするだけではなく、他の用途でも種々の電圧をサンプリングしている。この他の用途から見ると、基準電圧の値が変動してしまうと、目的の電圧が正しく求められないことになる。つまり、抵抗膜から得られる電圧を適宜サンプリングすることができたとしても、他に悪影響を及ぼしてしまう。
【０００９】
このため、ＡＤＣが参照する基準電圧を通常のＣＰＵ電源としたまま、より正確にタッチパネルの押下位置を特定する技術が求められていた。
【００１０】
本発明は、上記実状に鑑みてなされたもので、押下位置をより正確に特定することのできるタッチパネル制御装置、及び、押下位置検出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するため、本発明の第１の観点に係るタッチパネル装置は、
線形特性の抵抗値を有する１対の抵抗膜が微少な間隔を介して互いに対向して重ね合わされたパネルを含む抵抗膜方式のタッチパネル装置であって、
前記各抵抗膜に印加された印加電圧を、任意のタイミングで取得する印加電圧取得手段と、
前記印加電圧取得手段が取得した印加電圧を記憶する印加電圧記憶手段と、
前記パネル面が押圧されることにより、前記１対の抵抗膜が接触して生ずるｘｙ方向の電圧を測定する座標測定手段と、
前記座標測定手段で測定された前記ｘｙ方向の電圧と、前記印加電圧記憶手段が記憶した直近の印加電圧とを用いて、押圧された前記パネル面上の位置のｘｙ座標を演算して求める座標演算手段と、
を備えることを特徴とする。
【００１２】
前記印加電圧取得手段は、座標測定手段がｘｙ方向の電圧を測定するときと同じ状態で各抵抗膜に印可される印加電圧を取得してもよい。
【００１３】
前記印加電圧取得手段は、前記各抵抗膜に印加されたそれぞれの印加電圧を、所定時間間隔を空けて取得してもよい。
【００１４】
前記座標測定手段は、ｘ座標方向に沿って線形特性を有する抵抗膜からｘ方向の電圧を測定し、ｙ座標方向に沿って線形特性を有する抵抗膜からｙ方向の電圧を測定してもよい。
【００１５】
前記座標演算手段は、前記印加電圧記憶手段が記憶した印加電圧に基づいて、前記座標測定手段で測定された前記ｘｙ方向の電圧を補正し、補正後の電圧に従ってｘｙ座標を求めてもよい。
【００１６】
上記目的を達成するため、本発明の第２の観点に係るタッチパネル装置は、
２枚の抵抗膜が所定間隔を隔てて配置されたパネルと、
前記タッチパネルの各抵抗膜から出力される電圧をサンプリングするサンプリング手段と、
前記サンプリング手段がサンプリングした電圧に従って、前記タッチパネルの押下状態又は、非押下状態を判別する判別手段と、
前記判別手段が非押下状態を判別した場合に、前記サンプリング手段がサンプリングした各抵抗膜に印加される印加電圧を記憶する印加電圧記憶手段と、
前記判別手段が押下状態を判別した場合に、前記印加電圧記憶手段に記憶された印加電圧と、前記サンプリング手段がサンプリングした各抵抗膜から出力される電圧とに従って、前記タッチパネル上の押下位置を特定する特定手段と、
を備えることを特徴とする。
【００１７】
上記目的を達成するため、本発明の第３の観点に係る押下位置検出方法は、
線形特性の抵抗値を有する１対の抵抗膜が微少な間隔を介して互いに対向して重ね合わされたパネルを含む抵抗膜方式のタッチパネルの押下位置検出方法であって、
前記各抵抗膜に印加された印加電圧を、任意のタイミングで取得する印加電圧取得ステップと、
前記印加電圧取得ステップにて取得した印加電圧を所定の記憶部に格納する印加電圧格納ステップと、
前記パネル面が押圧されることにより、前記１対の抵抗膜が接触して生ずるｘｙ方向の電圧を測定する座標測定ステップと、
前記座標測定ステップで測定された前記ｘｙ方向の電圧と、前記印加電圧格納ステップが格納した直近の印加電圧とを用いて、押圧された前記パネル面上の位置のｘｙ座標を演算して求める座標演算ステップと、
を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、タッチパネルの押下位置をより正確に特定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
本発明の実施の形態に係るタッチパネル装置について、以下図面を参照して説明する。なお、タッチパネル制御回路は、例えば、駅の券売機、銀行のＡＴＭ、ＰＤＡ（Personal Digital Assistants）等の情報処理装置に使用される。
【００２０】
図１に例示するように、タッチパネル制御回路１００は、制御部１０と、パネル部２０とに、大きく分けられる。そして、制御部１０は、タッチパネル電源１１と、ＣＰＵ１２と、ＡＤＣ１３と、を含んで構成され、また、パネル部２０は、タッチパネル２１と、スイッチＸ０，Ｘ１，Ｙ０，Ｙ１と、を含んで構成される。なお、抵抗Ｒ１は、電源ラインにおけるインピーダンスを模式的に表している。
【００２１】
タッチパネル電源１１は、パネル部２０に電圧電流を供給するための駆動電源である。具体的にタッチパネル電源１１は、抵抗Ｒ１を介して、タッチパネル２１に電圧を印加する（スイッチＸ１又はＹ１がｏｎの時）。
【００２２】
ＣＰＵ１２は、図示せぬＲＡＭ（Random Access Memory）、ＲＯＭ（Read Only Memory）等を備え、タッチパネル制御回路１００全体を制御する。具体的に、ＣＰＵ１２は、パネル部２０のスイッチＸ０，Ｘ１，Ｙ０，Ｙ１の開閉（ｏｎ／ｏｆｆ）を制御すると共に、
ＡＤＣ１３を制御してタッチパネル２１から得られる電圧値を取得する。
【００２３】
つまり、ＣＰＵ１２は、ＡＤＣ１３がサンプリングした電圧値によって、タッチパネル２１が押下されたか否かを判別する。そして、タッチパネル２１が押下されていない場合に、ＣＰＵ１２は、タッチパネル２１に印加されている電圧（印加電圧）をＡＤＣ１３を介して取得する。なお、取得した印加電圧を平均化用のソフトウェアフィルタ等に通してもよい。そして、取得した印加電圧を、自己のＲＡＭ内に記憶する。一方、タッチパネル２１が押下されると、ＣＰＵ１２は、記憶される直前の印加電圧と、ＡＤＣ１３がサンプリングした電圧値とに基づいて、タッチパネル２１の押下位置を特定する。
【００２４】
ＡＤＣ１３は、ＣＰＵ１２に制御され、タッチパネル２１の後述するＸ抵抗膜２１ａ，Ｙ抵抗膜２１ｂを介して得られる電圧値をサンプリングする。なお、ＡＤＣ１３は、ＣＰＵ電源（ＣＰＵ１２に供給される電圧）を基準電圧（参照する基準電圧）として、電圧値をサンプリングする。
具体的に、ＡＤＣ１３は、Ｘ抵抗膜２１ａから出力される電圧値（電圧値ＸＤＡＴＡ）及び、Ｙ抵抗膜２１ｂから出力される電圧値（電圧値ＹＤＡＴＡ）をサンプリングし、アナログ値からデジタル値に変換する。
【００２５】
タッチパネル２１は、図示せぬ透明な絶縁物であるマイクロスペーサを介して、Ｘ抵抗膜２１ａと、Ｙ抵抗膜２１ｂとが、重ね合わされて配置されている。
【００２６】
Ｘ抵抗膜２１ａは、第１の方向（Ｘ方向）に沿って抵抗値が線形に変化する内部抵抗を有している。そして、一端がスイッチＸ１に接続され、他の一端が、ＡＤＣ１３及びスイッチＸ０に接続されている。
Ｙ抵抗膜２１ｂは、第１の方向と直交する第２の方向（Ｙ方向）に沿って抵抗値が線形に変化する内部抵抗を有している。そして、一端がスイッチＹ１に接続され、他の一端が、ＡＤＣ１３及びスイッチＹ０に接続されている。
【００２７】
スイッチＸ０，Ｘ１，Ｙ０，Ｙ１は、例えば、トランジスタ等から構成され、ＣＰＵ１２によりｏｎ／ｏｆｆ制御される。
スイッチＸ０は、一端がＸ抵抗膜２１ａに接続され、他の一端がグランドに接続されている。また、スイッチＸ１は、一端がＸ抵抗膜２１ａに接続され、他の一端が抵抗Ｒ１を介してタッチパネル電源１１と接続されている。
スイッチＹ０は、一端がＹ抵抗膜２１ｂに接続され、他の一端がグランドに接続されている。また、スイッチＹ１は、一端がＹ抵抗膜２１ｂに接続され、他の一端が抵抗Ｒ１を介してタッチパネル電源１１と接続されている。
【００２８】
以下、このような構成のタッチパネル制御回路１００のスイッチＸ０，Ｘ１，Ｙ０，Ｙ１のｏｎ／ｏｆｆ状態と、タッチパネル２１（Ｘ抵抗膜２１ａ又はＹ抵抗膜２１ｂ）から出力される電圧値との関係について、図２を参照して説明する。
【００２９】
まず、図中の制御番号１に示すように、スイッチＸ１をｏｎ（他のスイッチはｏｆｆ）にした場合、タッチパネル電源１１よりＸ抵抗膜２１ａに電圧が印加される。この状態で、タッチパネル２１が押下されていないと、Ｙ抵抗膜２１ｂに電流が流れないため、Ｙ抵抗膜２１ｂから出力される電圧値は、”Ｌ”（ローレベル）となる。逆に、タッチパネル２１が押下されていると、Ｘ抵抗膜２１ａとの接触によりＹ抵抗膜２１ｂに電流が流れ、Ｙ抵抗膜２１ｂから出力される電圧値は、”Ｈ”（ハイレベル）となる。つまり、Ｘ抵抗膜２１ａの電圧値ＸＤＡＴＡが、”Ｈ”か”Ｌ”かによって、タッチパネル２１が押下されているか否かを判別することができる。
【００３０】
次に、タッチパネル２１が押下されている状態で、図中の制御番号２に示すように、スイッチＸ０，Ｘ１をｏｎ（他のスイッチはｏｆｆ）にした場合、タッチパネル電源１１よりＸ抵抗膜２１ａに電圧が印加され、また、一端がグランドに接続される。この状態で、押下位置に応じて、Ｘ抵抗膜２１ａの抵抗値が変化するため、Ｙ抵抗膜２１ｂから出力される電圧値は、Ｘ方向における押下位置に対応している。つまり、Ｘ抵抗膜２１ａの電圧値ＸＤＡＴＡは、タッチパネル２１におけるＸ方向の押下位置に対応した電圧値となる。
【００３１】
同様に、タッチパネル２１が押下されている状態で、図中の制御番号３に示すように、スイッチＹ０，Ｙ１をｏｎ（他のスイッチはｏｆｆ）にした場合、タッチパネル電源１１よりＹ抵抗膜２１ｂに電圧が印加され、また、一端がグランドに接続される。この状態で、押下位置に応じて、Ｙ抵抗膜２１ｂの抵抗値が変化するため、Ｘ抵抗膜２１ａから出力される電圧値は、Ｙ方向における押下位置に対応している。つまり、Ｙ抵抗膜２１ｂの電圧値ＹＤＡＴＡは、タッチパネル２１におけるＹ方向の押下位置に対応した電圧値となる。
【００３２】
次に、タッチパネル２１が押下されていない状態で、図中の制御番号４に示すように、スイッチＸ０，Ｘ１，Ｙ１をｏｎ（他のスイッチはｏｆｆ）にした場合、タッチパネル電源１１よりＸ抵抗膜２１ａ，Ｙ抵抗膜２１ｂに電圧が印加され、また、Ｘ抵抗膜２１ａの一端がグランドに接続される。この状態で、Ｘ抵抗膜２１ａは、Ｙ抵抗膜２１ｂと接触していないため、スイッチＹ１を経由し、Ｙ抵抗膜２１ｂを介して、Ｘ抵抗膜２１ａに印加されている印加電圧が得られる。
つまり、スイッチＸ０，Ｘ１をｏｎにすることで、押下時に電圧値ＸＤＡＴＡを取得するときと同じ状態とし、Ｘ方向を検出する場合と同じ電流をＸ抵抗膜２１ａに流す。この際、電圧降下が生じていれば、その値が電圧値ＸＤＡＴＡにて得られることになる。
このように、タッチパネル２１（Ｘ抵抗膜２１ａ）に印加されている電圧を、スイッチＹ１〜Ｙ抵抗膜２１ｂ〜ＡＤＣ１３という経路で得ることができ、取得した電圧値ＸＤＡＴＡは、現時点におけるＸ抵抗膜２１ａの印加電圧値を示している。
【００３３】
同様に、タッチパネル２１が押下されていない状態で、図中の制御番号５に示すように、スイッチＸ１，Ｙ０，Ｙ１をｏｎ（他のスイッチはｏｆｆ）にした場合、タッチパネル電源１１よりＹ抵抗膜２１ｂ，Ｘ抵抗膜２１ａに電圧が印加され、また、Ｙ抵抗膜２１ｂの一端がグランドに接続される。この状態で、Ｙ抵抗膜２１ｂは、Ｘ抵抗膜２１ａと接触していないため、スイッチＸ１を経由し、Ｘ抵抗膜２１ａを介して、Ｙ抵抗膜２１ｂに印加されている印加電圧が得られる。
つまり、スイッチＹ０，Ｙ１をｏｎにすることで、押下時に電圧値ＹＤＡＴＡを取得するときと同じ状態とし、Ｙ方向を検出する場合と同じ電流をＹ抵抗膜２１ｂに流す。この際、同様に電圧降下が生じていれば、その値が電圧値ＹＤＡＴＡにて得られることになる。
このように、タッチパネル２１（Ｙ抵抗膜２１ｂ）に印加されている電圧を、スイッチＸ１〜Ｘ抵抗膜２１ａ〜ＡＤＣ１３という経路で得ることができる、取得した電圧値ＹＤＡＴＡは、現時点におけるＹ抵抗膜２１ｂの印加電圧値を示している。
【００３４】
以下、この発明の実施の形態に係るタッチパネル制御回路１００の動作について、図面を参照して具体的に説明する。図３は、ＣＰＵ１２が実行する押下検出処理を説明するためのフローチャートである。なお、この押下検出処理は、タッチパネル制御回路１００の基本動作であり、例えば、電源投入後、常時実行される。
【００３５】
まず、ＣＰＵ１２は、タッチパネル２１の押下状態を検出する（ステップＳ１１）。つまり、ＣＰＵ１２は、スイッチＸ１だけをｏｎにし、ＡＤＣ１３によりサンプリングされる電圧ＸＤＡＴＡを取得する。この電圧ＸＤＡＴＡは、上述したように、Ｙ抵抗膜２１ｂを介してＸ抵抗膜２１ａの電圧値を得ようとするものであり、タッチパネル２１が押下されている（Ｘ抵抗膜２１ａとＹ抵抗膜２１ｂとが接触している）場合に”Ｈ”となり、押下されていない場合に、”Ｌ”となる。
【００３６】
ＣＰＵ１２は、タッチパネル２１が押下されているか否かを判別する（ステップＳ１２）。つまり、Ｘ抵抗膜２１ａの電圧値が”Ｈ”であるか否かを、取得した電圧ＸＤＡＴＡにより判別する。
【００３７】
ＣＰＵ１２は、タッチパネル２１が押下されていない（ステップＳ１２；Ｎｏ）と判別すると、Ｘ抵抗膜２１ａに印加されている印加電圧を取得する（ステップＳ１３）。つまり、ＣＰＵ１２は、スイッチＸ０，Ｘ１，Ｙ１をｏｎ（他のスイッチはｏｆｆ）にし、ＡＤＣ１３によりサンプリングされる電圧ＸＤＡＴＡを取得する。なお上述したように、スイッチＸ０，Ｘ１をｏｎにすることで、押下時に電圧値ＸＤＡＴＡを取得するときと同じ状態となり、Ｘ方向を検出する場合と同じ電流がＸ抵抗膜２１ａに流れる。そして、取得した電圧ＸＤＡＴＡは、現時点でのＸ抵抗膜２１ａの印加電圧値を示すものである。
ＣＰＵ１２は、取得した電圧ＸＤＡＴＡを現在のＸ抵抗膜２１ａの印加電圧値として、内部のＲＡＭに記憶する。
【００３８】
また、ＣＰＵ１２は、Ｙ抵抗膜２１ｂに印加されている印加電圧を取得する（ステップＳ１４）。つまり、ＣＰＵ１２は、スイッチＸ１，Ｙ０，Ｙ１をｏｎ（他のスイッチはｏｆｆ）にし、ＡＤＣ１３によりサンプリングされる電圧ＹＤＡＴＡを取得する。なお上述したように、スイッチＹ０，Ｙ１をｏｎにすることで、押下時に電圧値ＹＤＡＴＡを取得するときと同じ状態となり、Ｙ方向を検出する場合と同じ電流がＹ抵抗膜２１ｂに流れる。そして、取得したこの電圧ＹＤＡＴＡは、現時点でのＹ抵抗膜２１ｂの印加電圧値を示すものである。
ＣＰＵ１２は、取得した電圧ＹＤＡＴＡを現在のＹ抵抗膜２１ａの印加電圧値として、内部のＲＡＭに記憶する。
そして、ＣＰＵ１２は、上述したステップＳ１１に処理を戻す。
【００３９】
一方、上述のステップＳ１２にて、タッチパネル２１が押下されている（ステップＳ１２；Ｙｅｓ）と判別すると、ＣＰＵ１２は、Ｘ方向の押下位置を求める（ステップＳ１５）。
具体的にＣＰＵ１２は、スイッチＸ０，Ｘ１をｏｎ（他のスイッチはｏｆｆ）にし、ＡＤＣ１３によりサンプリングされる電圧値ＸＤＡＴＡを取得する。この電圧値ＸＤＡＴＡは、上述したように、抵抗値の変化したＸ抵抗膜２１ａから得られる電圧値を示しており、タッチパネル２１におけるＸ方向の押下位置に対応した電圧値である。
そして、ＣＰＵ１２は、内部のＲＡＭに記憶した直近のＸ抵抗膜２１ａの印加電圧値を読み出し、この印加電圧値と電圧値ＸＤＡＴＡとを用いて、Ｘ方向の正確な押下位置を演算により求める。例えば、ＣＰＵ１２は、印加電圧値に基づいて、電圧値ＸＤＡＴＡを適宜補正し、Ｘ方向の正確な押下位置を求める。
【００４０】
また、ＣＰＵ１２は、Ｙ方向の押下位置を求める（ステップＳ１６）。
具体的にＣＰＵ１２は、スイッチＹ０，Ｙ１をｏｎ（他のスイッチはｏｆｆ）にし、ＡＤＣ１３によりサンプリングされる電圧値ＹＤＡＴＡを取得する。この電圧値ＹＤＡＴＡは、上述したように、抵抗値の変化したＹ抵抗膜２１ｂから得られる電圧値を示しており、タッチパネル２１におけるＹ方向の押下位置に対応した電圧値である。
そして、ＣＰＵ１２は、内部のＲＡＭに記憶した直近のＹ抵抗膜２１ｂの印加電圧値を読み出し、この印加電圧値と電圧値ＹＤＡＴＡとを用いて、Ｙ方向の正確な押下位置を演算により求める。例えば、ＣＰＵ１２は、印加電圧値に基づいて、電圧値ＹＤＡＴＡを適宜補正し、Ｙ方向の正確な押下位置を求める。
そして、ＣＰＵ１２は、上述したステップＳ１１に処理を戻す。
【００４１】
このように、上述した押下検出処理によれば、押下直前の印加電圧を用いて正確な押下位置を求めている。このため、タッチパネル電源１１に起因する供給電圧等の変動や、電源ラインの抵抗Ｒ１の抵抗値の変動等により、タッチパネル２１（Ｘ抵抗膜２１ａ，Ｙ抵抗膜２１ｂ）に印加される電圧が変動した場合でも、正確な押下位置を求めることができる。
この結果、押下位置をより正確に特定することができる。
【００４２】
この発明は上記実施の形態に限定されず、種々の変形及び応用が可能である。上記実施の形態では、タッチパネル２１が押下されていない状態で、絶えず、Ｘ抵抗膜２１ａ及び、Ｙ抵抗膜２１ｂの印加電圧を求める場合について説明した。
しかしながら、消費電力等を考慮して、所定時間間隔を空けながら、Ｘ抵抗膜２１ａ及び、Ｙ抵抗膜２１ｂの印加電圧を求めてもよい。
以下、この発明の他の実施の形態に係る押下検出処理について、図４のフローチャートを参照して具体的に説明する。なお、この押下検出処理も、例えば、電源投入後、ＣＰＵ１２により、常時実行される。
【００４３】
まず、ＣＰＵ１２は、変数Ｎに初期値の「０」を設定する（ステップＳ２１）。なお、変数Ｎは、カウンタ値として使用される。
次に、ＣＰＵ１２は、タッチパネル２１の押下状態を検出する（ステップＳ２２）。つまり、ＣＰＵ１２は、スイッチＸ１だけをｏｎにし、ＡＤＣ１３によりサンプリングされる電圧ＸＤＡＴＡを取得する。
【００４４】
ＣＰＵ１２は、タッチパネル２１が押下されているか否かを判別する（ステップＳ２３）。つまり、Ｘ抵抗膜２１ａの電圧値が”Ｈ”であるか否かを、取得した電圧ＸＤＡＴＡにより判別する。
【００４５】
ＣＰＵ１２は、タッチパネル２１が押下されていない（ステップＳ２３；Ｎｏ）と判別すると、変数Ｎが１００であるか否かを判別する（ステップＳ２４）。
ここで、変数Ｎが１００ではない（１００がカウントされていない）と判別すると（ステップＳ２４；Ｎｏ）、ＣＰＵ１２は、変数Ｎに１をプラスして（ステップＳ２５）、上述したステップＳ２２に処理を戻す。つまり、タッチパネル２１が押下されていない状態では、変数Ｎが１００に達するまで、後続処理の実行が待機される。
【００４６】
一方、変数Ｎが１００であると判別すると（ステップＳ２４；Ｙｅｓ）、ＣＰＵ１２は、Ｘ抵抗膜２１ａに印加されている印加電圧を取得する（ステップＳ２６）。つまり、ＣＰＵ１２は、スイッチＸ０，Ｘ１，Ｙ１をｏｎ（他のスイッチはｏｆｆ）にし、ＡＤＣ１３によりサンプリングされる電圧ＸＤＡＴＡを取得する。ＣＰＵ１２は、取得した電圧ＸＤＡＴＡを現在のＸ抵抗膜２１ａの印加電圧値として、内部のＲＡＭに記憶する。
【００４７】
また、ＣＰＵ１２は、Ｙ抵抗膜２１ｂに印加されている印加電圧を取得する（ステップＳ２７）。つまり、ＣＰＵ１２は、スイッチＸ１，Ｙ０，Ｙ１をｏｎ（他のスイッチはｏｆｆ）にし、ＡＤＣ１３によりサンプリングされる電圧ＹＤＡＴＡを取得する。ＣＰＵ１２は、取得した電圧ＹＤＡＴＡを現在のＹ抵抗膜２１ａの印加電圧値として、内部のＲＡＭに記憶する。
そして、ＣＰＵ１２は、上述したステップＳ２１に処理を戻す。
【００４８】
一方、上述のステップＳ２３にて、タッチパネルが押下されていると判別すると（ステップＳ２３；Ｙｅｓ）、ＣＰＵ１２は、Ｘ方向の押下位置を求める（ステップＳ２８）。つまり、ＣＰＵ１２は、スイッチＸ０，Ｘ１をｏｎ（他のスイッチはｏｆｆ）にし、ＡＤＣ１３によりサンプリングされる電圧値ＸＤＡＴＡを取得する。そして、ＣＰＵ１２は、内部のＲＡＭに記憶した直近のＸ抵抗膜２１ａの印加電圧値を読み出し、この印加電圧値と電圧値ＸＤＡＴＡとを用いて、Ｘ方向の正確な押下位置を演算により求める。
【００４９】
また、ＣＰＵ１２は、Ｙ方向の押下位置を求める（ステップＳ２９）。つまり、ＣＰＵ１２は、スイッチＹ０，Ｙ１をｏｎ（他のスイッチはｏｆｆ）にし、ＡＤＣ１３によりサンプリングされる電圧値ＹＤＡＴＡを取得する。そして、ＣＰＵ１２は、内部のＲＡＭに記憶した直近のＹ抵抗膜２１ｂの印加電圧値を読み出し、この印加電圧値と電圧値ＹＤＡＴＡとを用いて、Ｙ方向の正確な押下位置を演算により求める。そして、ＣＰＵ１２は、上述したステップＳ２２に処理を戻す。なお、ステップＳ２１に処理を戻して、変数Ｎに初期値の「０」を設定してもよい。
【００５０】
このように、図４を参照して説明した押下検出処理によれば、所定時間間隔を空けながら、タッチパネル２１（Ｘ抵抗膜２１ａ，Ｙ抵抗膜２１ｂ）の印加電圧を求めている。このため、消費電力の低減を図ることができる。そして、図３の押下検出処理と同様に、押下直前の印加電圧を用いて正確な押下位置を求めている。このため、タッチパネル電源１１に起因する供給電圧等の変動や、電源ラインの抵抗Ｒ１の抵抗値の変動等により、タッチパネル２１（Ｘ抵抗膜２１ａ，Ｙ抵抗膜２１ｂ）に印加される電圧が変動した場合でも、正確な押下位置を求めることができる。
この結果、押下位置をより正確に特定することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】本発明の実施の形態に係るタッチパネル制御回路の構成の一例を示す回路図である。
【図２】スイッチの制御を説明するための図である。
【図３】本発明の実施の形態に係る押下検出処理を説明するためのフローチャートである。
【図４】本発明の他の実施の形態に係る押下検出処理を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
【００５２】
１０    制御部
１１    タッチパネル電源
１２    ＣＰＵ
１３    ＡＤＣ
２０    パネル部
２１    タッチパネル
Ｘ０，Ｘ１，Ｙ０，Ｙ１  スイッチ
１００  タッチパネル制御回路
【図１】
2006018569.tif 000003
【図２】
2006018569.tif 000004
【図３】
2006018569.tif 000005
【図４】
2006018569.tif 000006