(57)【要約】【課題】  Ｘドライバの駆動電流の測定とファンクションの測定を容易に切替えることができ、かつ精度良くＸドライバのファンクション測定を行うことができるようにする。【解決手段】  電流ドライバ３の夫々の出力端子Ｖｏには、電源電圧Ｖｄｄにプルアップされた抵抗Ｒと接続されたスイッチ４が結合されている。スイッチ４は、例えばＭＯＳトランジスタで、そのゲートにはモード切替端子Ｖｓｗからの測定モード切替信号ＭＯＤが入力されて測定モード時にオンするようになっている。  スイッチ４がオンになることによって、電流ドライバ３に駆動電流Ｉｏが流れる場合には出力端子Ｖｏはほぼ接地電位となる。一方、電流ドライバ３に駆動電流が流れない場合には出力端子Ｖｏは電源電圧Ｖｄｄとなる。従って、電圧測定部５が取り込んだ複数の２値信号を組み合わせてファンクションなどを検査することができる。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電気光学装置に設けられた複数の表示素子に駆動電流を供給する電流駆動部を有する電子装置であって、
前記電流駆動部を所定の測定モードに切替えるモード切替え部と、
前記電流駆動部の出力端子における出力電流を該出力電流の有無に対応する２値の変換電圧に変換する電圧変換部とを備え、
前記電流駆動部が前記所定の測定モードに切替えられた場合は、前記電圧変換部による前記２値の変換電圧を前記出力端子より出力することを特徴とする電子装置。
【請求項２】
電気光学装置に設けられた複数の表示素子に駆動電流を供給する電流駆動部を有する電子装置であって、
前記電流駆動部を所定の測定モードに切替えるモード切替え部と、
前記電流駆動部の出力端子における前記駆動電流を増大させる駆動電流増大部とを備え、
前記電流駆動部が前記所定の測定モードに切替えられた場合は、前記駆動電流増大部を作動させることを特徴とする電子装置。
【請求項３】
前記電圧変換部は、前記電流駆動部の出力をプルアップ、又はプルダウンする抵抗素子である請求項１に記載の電子装置。
【請求項４】
前記駆動電流増大部は、前記電流駆動部の出力電流の有無と連動してスイッチングするスイッチング回路を備え、前記スイッチング回路の出力端子が前記電流駆動部の出力端子に接続されていることを特徴とする請求項２に記載の電子装置。
【請求項５】
前記駆動電流増大部は、前記電流駆動部の駆動トランジスタのゲート電圧を前記電気光学装置に設けられた複数の表示素子の駆動を行う場合と異なる電圧値に切替えるゲート電圧切替え部を備えることを特徴とする請求項２に記載の電子装置。
【請求項６】
前記所定の測定モードは、前記電気光学装置に設けられた複数の表示素子を駆動するためのタイミング測定を含むファンクション検査モードである請求項１又は２に記載の電子装置。
【請求項７】
複数の走査線と、
複数のデータ線と、
前記走査線と前記データ線の交差に対応して各々設けられ、各々が前記表示素子を含む複数の画素回路と、
請求項１乃至６のいずれか一項に記載の電子装置とを備えたことを特徴とする電気光学装置。
【請求項８】
請求項７に記載の電気光学装置を備えたことを特徴とする電子機器。
【請求項９】
電気光学装置に設けられた複数の表示素子に駆動電流を供給する電流駆動部を有する電子装置の検査方法であって、
前記電流駆動部の設定をファンクション検査の測定モードに切替える切替ステップと、
前記電流駆動部の出力端子における出力電流を該出力電流の有無に対応した２値の変換電圧に変換する変換ステップと、
前記出力端子より出力される前記２値の変換電圧を用いて電子装置の検査を行う検査ステップとを有することを特徴とする電子装置の検査方法。
【請求項１０】
電気光学装置に設けられた複数の表示素子に駆動電流を供給する電流駆動部を有する電子装置の検査方法であって、
前記電流駆動部の設定をファンクション検査の測定モードに切替える切替ステップと、
前記電流駆動部の前記駆動電流増大部を作動させる駆動電流増大ステップと、
前記電流駆動部の出力電流を該出力電流の有無に対応した２値の変換電圧に変換する変換ステップと、
前記２値の変換電圧を用いて電子装置の検査を行う検査ステップとを有することを特徴とする電子装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、有機発光ダイオード素子（以下「ＯＬＥＤ（Organic Light Emitting Diode）素子」という）などの自発光素子を利用してカラー画像を表示する電子装置、電気光学装置、電子機器、及び電子装置の検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＯＬＥＤ素子を備えた電気光学装置は、多数のＯＬＥＤ素子が二次元のマトリクスとして並べられた表示パネルと、表示パネルの走査線を選択して駆動するＹドライバと、選択された走査線に係るＯＬＥＤ素子に輝度に応じた電流を供給して発光させるＸドライバとから構成されている。Ｘドライバ及びＹドライバは、集積回路より成る複雑な電子装置であって、一般的に、異なる工程で製造された表示パネルに対し、夫々個別に実装されて電気光学装置が構成される。
【０００３】
そして、Ｘドライバ、Ｙドライバ、及び表示パネルは、総合的な不良損失を抑えるために夫々が良品であることが予め検査確認された後に電気光学装置として組立が行われる必要があるので、夫々の検査の確実性は重要である。特に、Ｘドライバは、階調入力による表示駆動電流の生成と表示に関わる様々なファンクションを内蔵しているために複雑なものとなり、その検査は容易ではなかった。
【０００４】
例えば、Ｘドライバの検査に関わる特許文献１には、Ｘドライバ用の検査装置が開示されている。この検査装置は、Ｘドライバの入出力端子を利用して駆動電流や駆動回路における電圧降下などがウエハ状態でも測定できるようになっている。
【０００５】
更に、Ｘドライバの電流測定回路の従来例を図１１に示す。図１１において、Ｘドライバ４１は、出力段の電流ドライバ４２を内蔵し、電流ドライバ４２のシンク出力電流を電流計４３が測定するようになっている。
【０００６】
【特許文献１】特開２００４−１７７５１４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このように、特許文献１に記載の発明は、Ｘドライバの電流駆動能力の測定に特化したものであって、ロジカルなファンクション検査や、機能タイミングチャートと照合するためのタイミング検査には対応していない。
【０００８】
また、図１１に示した従来例では、駆動電流だけを測定しているので電圧によるロジカルな出力の変化点を検出するのは困難である。例えば、電流計４３の端子波形から電圧を測定しようとしても、電流の測定精度に影響しないように電流計は小さな内部抵抗となっているので、電源電圧に比べて小さな電圧変化幅しか得られない。従って、この電圧変化幅から出力変化を論理値として２値判定するのは困難である。
【０００９】
更に、外部の検査装置側に終端抵抗を設けて、その終端抵抗の両端の電圧から論理を判定しようとした場合、表示素子を駆動するＸドライバの駆動電流は大きくないので駆動能力が低く、抵抗値の大きな終端抵抗しか接続できない。従って、Ｘドライバと、離れたところにある検査装置の間を接続する接続ケーブルやプローブに重畳されるノイズ等の環境要因によって誤判定をしてしまうという問題があった。
従って、上記に説明したように従来のＸドライバの検査方法では、ロジカルに出力を判定して、その正確な動作やタイミングを検証することが困難であった。
【００１０】
そこで、本発明は、このような従来の技術が有する未解決の課題に着目してなされたものであって、Ｘドライバの駆動電流の測定とファンクションの測定を容易に切替えることができ、かつ精度良くＸドライバのファンクション測定を行うことができる電子装置、電気光学装置、電子機器、及び電子装置の検査方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために、本発明に係る電子装置は、電気光学装置に設けられた複数の表示素子に駆動電流を供給する電流駆動部を有する電子装置であって、前記電流駆動部を所定の測定モードに切替えるモード切替え部と、前記電流駆動部の出力端子における出力電流を該出力電流の有無に対応する２値の変換電圧に変換する電圧変換部とを備え、前記電流駆動部が前記所定の測定モードに切替えられた場合は、前記電圧変換部による前記２値の変換電圧を前記出力端子より出力することを特徴とする。
【００１２】
この発明によれば、所定の測定モードに切替えて、Ｘドライバの出力端子に２値の電圧による出力が得られる。
従って、Ｘドライバの出力を確実な論理出力として判定できるので、精度良くＸドライバのファンクション測定を行うことができる。
【００１３】
また、電気光学装置に設けられた複数の表示素子に駆動電流を供給する電流駆動部を有する電子装置であって、前記電流駆動部を所定の測定モードに切替えるモード切替え部と、前記電流駆動部の出力端子における前記駆動電流を増大させる駆動電流増大部とを備え、前記電流駆動部が前記所定の測定モードに切替えられた場合は、前記駆動電流増大部を作動させることを特徴とする。
【００１４】
この発明によれば、所定の測定モードにおいて、検査装置側に低い値の終端抵抗を設けて駆動電流の電圧変換ができるので、Ｘドライバから検査装置への信号線が低インピーダンス化され、Ｘドライバの出力を安定した２値の電圧として処理できる。
従って、Ｘドライバの出力を確実な論理出力として判定できるので、精度良くＸドライバのファンクション測定を行うことができる。
【００１５】
また、上述した電圧変換部は、前記電流駆動部の出力をプルアップ、又はプルダウンする抵抗素子であることが好ましい。
【００１６】
この場合には、電圧変換部の回路構成を簡易にできるので、Ｘドライバに内蔵することが容易になる。なお、Ｘドライバの電流出力は接地側に吸い込むタイプ（シンク型）と電源側からに流し込むタイプ（ソース型）とがあるので、前者の場合には抵抗素子をプルアップ接続し、後者の場合にはプルダウン接続する。
また、上述した前記駆動電流増大部の出力は、前記電流駆動部の出力電流の有無と連動してスイッチングするスイッチング回路を備え、前記スイッチング回路の出力端子が前記電流駆動部の出力端子に接続されていることが好ましい。
【００１７】
この場合には、従来の電流駆動部の回路にわずかなスイッチングトランジスタを付加することで駆動電流増大部を構成できるので、容易にＸドライバへ内蔵することができる。
【００１８】
また、上述した駆動電流増大部は、前記電流駆動部の駆動トランジスタのゲート電圧を前記電気光学装置に設けられた複数の表示素子の駆動を行う場合と異なる電圧値に切替えるゲート電圧切替え部を備えることが好ましい。
【００１９】
この場合には、電流駆動部を構成する複数の駆動トランジスタに対し、共通の電圧切替回路で異なるゲート駆動電圧を発生させることができるので、駆動電流増大部を容易にＸドライバに内蔵することができる。
【００２０】
また、上述した所定の測定モードは、前記電気光学装置に設けられた複数の表示素子を駆動するためのタイミング測定を含むファンクション検査モードであることが好ましい。
【００２１】
この場合には、Ｘドライバからの複数の出力変化や相互のタイミングを測定し、Ｘドライバの動作をタイミングチャートに基づいてファンクションの検査をすることができる。
【００２２】
次に、本発明に係る電気光学装置は、複数の走査線と、複数のデータ線と、前記走査線と前記データ線の交差に対応して各々設けられ、各々が前記表示素子を含む複数の画素回路と、電子装置とを用いて構成されたことを特徴とする。
【００２３】
この発明によれば、上述の高い精度の検査で確認された、信頼性の高いＸドライバと組み合わせて電気光学装置を製造することができるので、電気光学装置全体としての製造歩留まりと信頼性とを高めることができる。
【００２４】
次に、本発明に係る電子機器は、上述した電気光学装置を備えたことを特徴とし、例えば、パーソナルコンピュータ、携帯電話、個人情報端末、電子スチルカメラ等が該当する。
【００２５】
次に、本発明に係る電子装置の検査方法は、電気光学装置に設けられた複数の表示素子に駆動電流を供給する電流駆動部を有する電子装置の検査方法であって、前記電流駆動部の設定をファンクション検査の測定モードに切替える切替ステップと、前記電流駆動部の出力端子における出力電流を該出力電流の有無に対応した２値の変換電圧に変換する変換ステップと、前記出力端子より出力される前記２値の変換電圧を用いて電子装置の検査を行う検査ステップとを有する。
これにより、本発明の電子装置と同等の作用及び効果が得られる。
【００２６】
次に、電気光学装置に設けられた複数の表示素子に駆動電流を供給する電流駆動部を有する電子装置の検査方法であって、前記電流駆動部の設定をファンクション検査の測定モードに切替える切替ステップと、前記電流駆動部の前記駆動電流増大部を作動させる駆動電流増大ステップと、前記電流駆動部の出力電流を該出力電流の有無に対応した２値の変換電圧に変換する変換ステップと、前記２値の変換電圧を用いて電子装置の検査を行う検査ステップとを有する。
これにより、本発明の電子装置と同等の作用及び効果が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下、本発明を図面に基づいて説明する。
（第１の実施形態）
以下、本発明の第１の実施形態を、図面を参照しながら説明する。図１〜６は、本発明に係る第１の実施形態を示す図である。
【００２８】
まず、本実施形態に係るＸドライバの構成を、図１を参照しながら説明する。図１は、本発明の実施形態に係るＸドライバの電流駆動部（Ｘドライバ出力段）の回路図である。
【００２９】
Ｘドライバ１は、表示素子の駆動を行う複数の電流ドライバ３と、検査装置の測定制御部１２からの測定モード切替信号ＭＯＤが入力されるモード切替端子Ｖｓｗを備えている。測定モード切替信号ＭＯＤは、論理レベルがＨレベルのときに検査用の測定モードとなり、Ｌレベルのときに通常の表示駆動モードとなるように設定されている。
【００３０】
スイッチ４は、モード切替え手段であって、モード切替端子Ｖｓｗへ入力される測定モード切替信号ＭＯＤがＨレベルになると導通してＸドライバ１の電流駆動部を測定モードに切替える。測定モード切替信号ＭＯＤは、モード制御部２にも入力されている。モード制御部２は、電流駆動部以外の部分の機能を制御する回路であって、測定モードに切替えられた場合は、Ｘドライバ１の内部で自動的にファンクションのテストパターンを生成する機能などを備えている。
【００３１】
電流ドライバ３の各出力は、Ｖｏ（１）からＶｏ（ｎ）のｎ個（ｎは整数）の出力端子によってシンク型の電流駆動を行い、通常に表示素子を駆動する時は、表示素子の発光輝度に相当する電流を所定のタイミングで吸い込むようになっている。
【００３２】
また、電流ドライバ３の夫々の出力端子Ｖｏ（１）からＶｏ（ｎ）には、電源電圧Ｖｄｄにプルアップされた抵抗Ｒと接続されたスイッチ４が結合されている。スイッチ４は、例えばＭＯＳトランジスタで、そのゲートにはモード切替端子Ｖｓｗからの測定モード切替信号ＭＯＤが入力されて測定モード時にオンするようになっている。
【００３３】
なお、上記においては、電流ドライバ３がシンク型の電流駆動を行うことに対応して、電源電圧Ｖｄｄにプルアップされた抵抗Ｒとしたが、電流ドライバ３がソース型の場合には、抵抗Ｒを接地電圧にプルダウンし、抵抗Ｒと接続されるスイッチ４を出力端子Ｖｏ（１）からＶｏ（ｎ）に結合する。
【００３４】
スイッチ４がオンになることによって、電圧変換部であるプルアップ抵抗Ｒが電源電圧Ｖｄｄと出力端子Ｖｏの間に接続され、電流ドライバ３に駆動電流Ｉｏが流れる場合には、出力端子Ｖｏはほぼ接地電位となる。一方、電流ドライバ３に駆動電流が流れない場合には、出力端子Ｖｏはほぼ電源電圧Ｖｄｄとなる。
従って、外部の検査装置の電圧測定部５は、閾値を有する入力素子を備えて２値信号を取り込み、検査装置が、取り込んだ複数の２値信号を組み合わせて各信号間のタイミングや精度、ファンクションなどを検査するファンクション検査モードを実行することができる。なお、閾値を有する入力素子としては、ＴＴＬレベルや１／２Ｖｄｄの閾値を持ったシュミットトリガ回路などを用いることができる。
【００３５】
このようにして、電流駆動部を検査用の測定モードに切替え、Ｘドライバ１の内蔵回路によって出力端子Ｖｏの出力を２値化している。そして、２値化された出力端子Ｖｏの出力信号を電圧測定部５に入力し、Ｘドライバ１のファンクション検査を行うようになっている。
【００３６】
上記のＸドライバ１に内蔵する抵抗Ｒの抵抗値としては、電流ドライバ３の駆動電流値が一般的に１マイクロアンペアから１ミリアンペアの範囲であるので、それに合わせて、１メガオーム程度の値とすれば良い。１メガオーム程度の抵抗ＲをＸドライバ１に内蔵させる製造方法としては、拡散抵抗方式、ＭＯＳ抵抗方式のどちらであってもよく、Ｘドライバ１の内部に容易に構成することができる。
【００３７】
図２は、本発明の実施形態に係るＸドライバ１の部分タイミングチャートである。図２において、各種制御信号Ｖｃは、走査信号の１走査周期をパルスで示し、各走査期間におけるＸドライバ１の出力端子電圧Ｖｏ（ｎ）の１つをパルスで示している。出力端子電圧Ｖｏ（ｎ）のＨレベルは表示素子の非点灯状態、Ｌレベルは点灯状態に対応しており、図２は、走査周期３回分の駆動状態を表している。
Ｘドライバ１の検査は、全素子の点灯や全素子の非点灯を含め、テスト用の画像データによる中間階調を含めた種々の表示データ条件に基づいて行われ、相互の駆動出力の関係が仕様のタイミングチャート通りに動作しているかを検査判定する。更に、各出力間のタイミング値が仕様を満たしているかどうかも重要な検査項目であり、例えば、図２に示したＶｃと出力端子電圧Ｖｏ（ｎ）との時間差Ｔ０などを検査することができる。
【００３８】
なお、以降に、Ｙドライバ及び電気光学装置の画素領域とを含めて詳述し、電気光学装置におけるＸドライバ１の動作とタイミング関係について更に説明を行う。
【００３９】
図３は、本発明の実施形態に係る電気光学装置の概略構成を示すブロック図である。電気光学装置５０は、画素領域Ａ、Ｙドライバ１００、Ｘドライバ２００、制御回路３００及び電源回路５００を備える。このうち、画素領域Ａには、Ｘ方向と平行にｍ本の走査線１０１及びｍ本の発光制御線１０２が形成される。また、Ｘ方向と直交するＹ方向と平行にｎ本のデータ線１０３が形成される。そして、走査線１０１とデータ線１０３との各交差に対応して画素回路４００が各々設けられている。画素回路４００はＯＬＥＤ素子を含む。また、各画素回路４００には、電源電圧Ｖｄｄが電源線Ｌを介して供給される。
【００４０】
Ｙドライバ１００は、複数の走査線１０１を順次選択するための走査信号Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、…、Ｙｍを生成すると共に発光制御信号Ｖｇ１、Ｖｇ２、Ｖｇ３、…、Ｖｇｍを生成する。走査信号Ｙ１〜Ｙｍ及び発光制御信号Ｖｇ１〜ＶｇｍはＹ転送開始パルスＤＹをＹクロック信号ＹＣＬＫに同期して順次転送することにより生成される。発光制御信号Ｖｇ１、Ｖｇ２、Ｖｇ３、…、Ｖｇｍは、各発光制御線１０２を介して各画素回路４００に各々供給される。
【００４１】
図４に走査信号Ｙ１〜Ｙｍと発光制御信号Ｖｇ１〜Ｖｇｍのタイミングチャートの一例を示す。走査信号Ｙ１は、１垂直走査期間（１Ｆ）の最初のタイミングから、１水平走査期間（１Ｈ）に相当する幅のパルスであって、１行目の走査線１０１に供給される。以降、このパルスを順次シフトして、２、３、…、ｍ行目の走査線１０１の各々に走査信号Ｙ２Ｙ３、…、Ｙｍとして供給する。一般的にｉ（ｉは、１≦ｉ≦ｍを満たす整数）行目の走査線１０１に供給される走査信号ＹｉがＨレベルになると、当該走査線１０１が選択されたことを示す。また、発光制御信号Ｖｇ１、Ｖｇ２、Ｖｇ３、…、Ｖｇｍとしては、例えば、走査信号Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３、…、Ｙｍの論理レベルを反転した信号を用いる。
Ｘドライバ２００は、出力階調データＤｏｕｔに基づいて、選択された走査線１０１に位置する画素回路４００の各々に対し階調信号Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３、…、Ｘｎを供給する。この例において、階調信号Ｘ１〜Ｘｎは階調輝度を指示する電流信号として与えられる。
【００４２】
制御回路３００は、Ｙクロック信号ＹＣＬＫ、Ｘクロック信号ＸＣＬＫ、Ｘ転送開始パルスＤＸ、Ｙ転送開始パルスＤＹ等の各種の制御信号を生成してこれらをＹドライバ１００及びＸドライバ２００へ出力する。また、制御回路３００は、外部から供給される入力階調データＤｉｎにガンマ補正等の画像処理を施して出力階調データＤｏｕｔを生成する。
【００４３】
次に、画素回路４００について説明する。図５に、画素回路の回路図を示す。同図に示す画素回路４００は、ｉ行目と対応するものであり、電源電圧Ｖｄｄが供給される。画素回路４００は、４個のＴＦＴ４０１〜４０４と、容量素子４１０と、ＯＬＥＤ素子４２０とを備える。
【００４４】
ＴＦＴ４０１〜４０４の製造プロセスでは、レーザーアニールショットを利用してガラス基板の上にポリシリコン層が形成される。また、ＯＬＥＤ素子４２０は、陽極と陰極との間に発光層が挟持されている。そして、ＯＬＥＤ素子４２０は、順方向電流に応じた輝度で発光する。発光層には、発光色に応じた有機ＥＬ（Electronic Luminescence）材料が用いられる。発光層の製造プロセスでは、インクジェット方式のヘッドから有機ＥＬ材料を液滴として吐出し、これを乾燥させている。
【００４５】
駆動トランジスタであるＴＦＴ４０１はｐチャネル型、スイッチングトランジスタであるＴＦＴ４０２〜４０４はｎチャネル型である。ＴＦＴ４０１のソース電極は電源線Ｌに接続される一方、そのドレイン電極はＴＦＴ４０３のドレイン電極、ＴＦＴ４０４のドレイン電極及びＴＦＴ４０２のソース電極にそれぞれ接続される。
【００４６】
容量素子４１０の一端はＴＦＴ４０１のソース電極に接続される一方、その他端は、ＴＦＴ４０１のゲート電極及びＴＦＴ４０２のドレイン電極にそれぞれ接続される。ＴＦＴ４０３のゲート電極は走査線１０１に接続され、そのソース電極は、データ線１０３に接続される。また、ＴＦＴ４０２のゲート電極は走査線１０１に接続される。一方、ＴＦＴ４０４のゲート電極は発光制御線１０２に接続され、そのソース電極はＯＬＥＤ素子４２０の陽極に接続される。ＴＦＴ４０４のゲート電極には、発光制御線１０２を介して発光制御信号Ｖｇｉが供給される。なお、ＯＬＥＤ素子４２０の陰極は、画素回路４００のすべてにわたって共通の電極であり、電源における低位（基準）電位となっている。
【００４７】
このような構成において、走査信号ＹｉがＨレベルになると、ｎチャネル型ＴＦＴ４０２がオン状態となるので、ＴＦＴ４０１は、ゲート電極とドレイン電極とが互いに接続されたダイオードとして機能する。走査信号ＹｉがＨレベルになると、ｎチャネル型ＴＦＴ４０３も、ＴＦＴ４０２と同様にオン状態となる。この結果、Ｘドライバ２００の電流Ｉdataが、電源線Ｌ→ＴＦＴ４０１→ＴＦＴ４０３→データ線１０３という経路で流れるとともに、そのときに、ＴＦＴ４０１のゲート電極の電位に応じた電荷が容量素子４１０に蓄積される。
【００４８】
走査信号ＹｉがＬレベルになると、ＴＦＴ４０３、４０２はともにオフ状態となる。このとき、ＴＦＴ４０１のゲート電極における入力インピーダンスは極めて高いので、容量素子４１０における電荷の蓄積状態は変化しない。ＴＦＴ４０１のゲート・ソース間電圧は、電流Ｉdataが流れたときの電圧に保持される。また、走査信号ＹｉがＬレベルになると、発光制御信号ＶｇｉがＨレベルとなる。このため、ＴＦＴ４０４がオンし、ＴＦＴ４０１のソース・ドレイン間には、そのゲート電圧に応じた注入電流Ｉoledが流れる。詳細には、この電流は、電源線Ｌ→ＴＦＴ４０１→ＴＦＴ４０４→ＯＬＥＤ素子４２０という経路で流れる。
【００４９】
ここで、ＯＬＥＤ素子４２０に流れる注入電流Ｉoledは、ＴＦＴ４０１のゲート・ソース間電圧で定まるが、その電圧は、Ｈレベルの走査信号Ｙｉによって電流Ｉdataがデータ線１０３に流れたときに、容量素子４１０によって保持された電圧である。このため、発光制御信号ＶｇｉがＨレベルになったときに、ＯＬＥＤ素子４２０に流れる注入電流Ｉoledは、直前に流れた電流Ｉdataに略一致する。このように画素回路４００は、電流Ｉdataによって発光輝度を規定することから、電流プログラム方式の回路である。
【００５０】
図６は、Ｘドライバの詳細な構成を示すブロック図である。Ｘドライバ２００は、シリアルパラレル変換回路２１０とｎ個のＤＡ変換ユニットＵ１、Ｕ２、…、Ｕｎを備える。シリアルパラレル変換回路２１０は、シフトレジスタ及びラッチ回路を備える。
【００５１】
シフトレジスタは、Ｘ転送開始パルスＤＸをＸクロック信号ＸＣＬＫに同期して順次転送して、点順次のラッチ信号を生成する。ラッチ回路はラッチ信号を用いて出力階調データＤｏｕｔをラッチする。これにより、シリアル形式の出力階調データＤｏｕｔがパラレル形式の階調データｄ１、ｄ２、…、ｄｎに変換される。
【００５２】
ｎ個のＤＡ変換ユニットＵ１〜Ｕｎは、ｎ本のデータ線１０３に各々対応して設けられており、階調データｄ１、ｄ２、…、ｄｎをデジタル信号からアナログ信号に変換し、階調信号Ｘ１〜Ｘｎとして各データ線１０３に出力する。ＤＡ変換ユニットＵ１〜Ｕｎは同様に構成されている。ここでは、ＤＡ変換ユニットＵ１について説明し、他のＤＡ変換ユニットＵ２〜Ｕｎについては、説明を省略する。
【００５３】
ＤＡ変換ユニットＵ１は、電圧ＤＡ変換器２２０とＶ／Ｉ変換回路２３０とを備える。電圧ＤＡ変換器２２０は、デジタル信号として与えられる階調データｄ１をアナログ電圧信号Ｓｖに変換して出力する。電圧ＤＡ変換器２２０は、図示しない基準電圧生成回路と選択回路を備える。基準電圧生成回路は、電源電圧Ｖｄｄとグランドとの間に直列に接続された複数の抵抗器を備え、これらの抵抗器によって電源電圧Ｖｄｄが分圧され、複数の基準電圧が生成される。
【００５４】
階調データｄ１は例えば、６ビットのデータであり、階調データｄ１の指示する各階調値と夫々の基準電圧が対応している。選択回路は、階調データｄ１に基づいて、複数の基準電圧の中から１つを選択してこれをアナログ電圧信号Ｓｖとして出力する。
【００５５】
次に、Ｖ／Ｉ変換回路２３０は電圧を電流に変換する機能を有する。Ｖ／Ｉ変換回路２３０は、例えば、トランジスタを用いて構成することができ、アナログ電圧Ｓｖの値に応じた電流がアナログ電流信号Ｓｉとして流すようになっている。
【００５６】
本実施形態によれば、モード切替端子Ｖｓｗに入力された測定モード切替信号ＭＯＤによりスイッチ４をオンにさせて電流駆動部を検査用の測定モードに切替え、電源電圧Ｖｄｄにプルアップされた抵抗Ｒによって出力端子Ｖｏの出力を２値化して出力するようになっている。
従って、２値化された出力端子Ｖｏの出力信号を外部の検査装置の電圧測定部５に入力し、その変化に基づいて、Ｘドライバ１のファンクション検査を行うことができる。
【００５７】
（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態を、図面を参照しながら説明する。図７は、本発明に係る第２の実施形態を示す図であって、上記第１の実施形態と異なるのは、電圧変換部をＸドライバ１に内蔵せずに検査装置側の抵抗でのプルアップ方式にした点と、Ｘドライバ１を検査装置側での抵抗プルアップ方式に対応するように構成した点にある。以下、上記第１の実施形態と異なる部分について説明し、上記第１の実施形態と重複する部分については同一の符号を付して説明を省略する。
【００５８】
まず、本実施の形態に係るＸドライバの構成を、図７を参照しながら説明する。図７は、第２の実施形態に係るＸドライバ１１の電流駆動部の回路図である。図７においては、Ｘドライバ１１と、それに接続される検査装置の関係要素１２、１５と、終端プルアップ抵抗Ｒと、電圧測定部５とを合わせて図示している。
【００５９】
Ｘドライバ１１は、複数の電流ドライバ３を備え、夫々の電流ドライバ３は、駆動電流増大部であるＮチャネルのＭＯＳトランジスタ１７、１８によるスイッチング回路を備えている。ＭＯＳトランジスタ１７と１８とは直列に接続されており、ＭＯＳトランジスタ１７のソース側が接地され、ＭＯＳトランジスタ１８のドレイン出力が電流ドライバ３の出力に接続されている。
ＭＯＳトランジスタ１７のゲートには電流ドライバ３を駆動する駆動タイミングと同期している点灯信号ＶＩＮが入力され、ＭＯＳトランジスタ１８のゲートには外部の測定制御部１２からの測定モード切替信号ＭＯＤが入力されている。
【００６０】
外部の検査装置の関係要素としては、測定制御部１２と、電源電圧Ｖｄｄにプルアップされた複数の抵抗Ｒと、抵抗Ｒに夫々直列に接続された複数のスイッチ１５と、複数の電圧測定部５が配置されている。そして、電流ドライバ３のＶｏ（１）からＶｏ（ｎ）のｎ個の出力端子Ｖｏは、スイッチ１５の他方の端子に接続され、更に電圧測定部５にも接続されている。
【００６１】
測定制御部１２は、スイッチ制御信号ＭＯＤＳと測定モード切替信号ＭＯＤとを出力とし、スイッチ制御信号ＭＯＤＳはスイッチ１５を制御し、測定モード切替信号ＭＯＤはＸドライバ１１に入力されてモード切替え手段であるＭＯＳトランジスタ１８を制御し、スイッチング回路を作動させるようになっている。スイッチ制御信号ＭＯＤＳと測定モード切替信号ＭＯＤの動作タイミングとは同期しているが、駆動する対象が異なるため別々の制御信号としている。
【００６２】
測定モード切替信号ＭＯＤをＨレベルにした場合、Ｘドライバ１１は測定モードに切替わり、ＭＯＳトランジスタ１８が導通する。また、ＭＯＳトランジスタ１７は、電流ドライバ３の電流出力と同期している点灯信号ＶＩＮによってスイッチング制御されるようになっている。従って、ＭＯＳトランジスタ１７がオンすると、ＭＯＳトランジスタ１８を介して電流ドライバ３の出力Ｖｏからの出力電流を更に接地側にシンクさせるので、電流ドライバ３の駆動電流を増大させたのと等価になる。
【００６３】
上記に説明したように、測定モード時には電流ドライバ３が駆動できる電流が増大し、終端抵抗である外部の抵抗Ｒを低い抵抗値にすることができる。抵抗Ｒの値が低い場合は、Ｘドライバ１１の出力端子Ｖｏと検査装置の電圧測定部５との間を接続している信号線のインピーダンスが低くなってノイズなどによる影響度を低減することができ、信頼性の高い確実な検査を行うことができる。
【００６４】
また、測定モード切替信号ＭＯＤがＬレベルである通常の表示駆動モードの場合には、ＭＯＳトランジスタ１８が完全にオフしているため、電流ドライバ３の出力には関与しない。従って、Ｘドライバ１１は、電気光学装置の画素表示を行う場合の駆動電流を出力する。
【００６５】
このようにして、本実施形態では、モード切替端子Ｖｓｗへの測定モード切替信号ＭＯＤによって電流駆動部を検査用の測定モードに切替え、Ｘドライバ１１に内蔵したスイッチング回路によって出力端子Ｖｏの出力電流を増大している。従って、検査装置側では、出力端子Ｖｏの出力を低い抵抗値でプルアップできるので、Ｘドライバ１１と検査装置を低インピーダンスで接続することができる。
【００６６】
次に、検査装置側において、出力端子Ｖｏの電流出力は電圧変換を行うプルアップ抵抗Ｒによって２値化される。２値化された出力信号は電圧測定部５に入力され、その変化に基づいて、Ｘドライバ１１のファンクション検査を行うことができる。
従って、本実施形態では、Ｘドライバ１１と検査装置側を接続するケーブルの長さや接続状態によって、検査装置側にて抵抗Ｒの値を変更、選択できるという利点を有する。
【００６７】
（第３の実施形態）
次に、本発明の第３の実施形態を、図面を参照しながら説明する。図８は、本発明に係る第３の実施形態を示す図であって、上記第２の実施形態と異なるのは、Ｘドライバに付加した駆動電流を増大する回路の構成にある。以下、上記第２の実施形態と異なる部分について説明し、上記第２の実施形態と重複する部分については同一の符号を付して説明を省略する。
【００６８】
まず、本実施の形態に係るＸドライバの構成を、図８を参照しながら説明する。Ｘドライバ２１は、複数の電流ドライバ２３とゲート駆動電圧切替回路２２を備え、一つのゲート駆動電圧切替回路２２が複数の電流ドライバ２３のゲート駆動電圧を設定するようになっている。
【００６９】
モード切替え部となるゲート駆動電圧切替回路２２は、測定モード切替信号ＭＯＤによってゲート駆動電圧をＶＡかＶＢ（ＶＡ＞ＶＢ）に切り替えるようになっている。ゲート駆動電圧がＶＢの場合には、電流ドライバ２３が画素表示の階調に基づいてリニアな駆動電流を出力できる低いバイアス電圧を供給する。一方、ゲート駆動電圧がＶＡの場合には駆動電流が飽和し、画素表示の階調へのリニアな駆動はできないが、電流ドライバ２３が大きな駆動電流を出力できる。
【００７０】
測定モード切替信号ＭＯＤがＨレベルとなる測定モードの場合は、ゲート駆動電圧切替回路２２は、ゲート駆動電圧ＶＡを電流ドライバ２３へ選択出力する。従って、測定モード時には電流ドライバ２３の駆動できる電流が増大し、上記第２の実施形態と同様に抵抗Ｒを低い抵抗値にすることができる。抵抗Ｒの値が低い場合は、Ｘドライバ２１の出力端子Ｖｏと検査装置の電圧測定部５との間を接続している信号線のインピーダンスが低くなるのでノイズなどによる影響度を低減することができ、信頼性の高い確実な検査を行うことができる。
【００７１】
一方、測定モード切替信号ＭＯＤがＬレベルである通常の表示駆動モードの場合は、ゲート駆動電圧切替回路２２は、ゲート駆動電圧ＶＢを電流ドライバ２３へ選択出力する。従って、電気光学装置の画素表示を行う通常の駆動電流を出力する場合のゲート駆動電圧であって、表示素子の階調制御を行うことができる。
【００７２】
このようにして、本実施形態では、モード切替端子Ｖｓｗへの測定モード切替信号ＭＯＤによって電流駆動部を検査用の測定モードに切替え、Ｘドライバ２１に内蔵したゲート駆動電圧切替回路２２よって出力端子Ｖｏの出力電流を増大することができる。検査装置側では、出力端子Ｖｏの出力を低い抵抗値でプルアップできるので、Ｘドライバ２１と検査装置を低インピーダンスで接続することができる。
【００７３】
次に、検査装置側において、出力端子Ｖｏの電流出力は電圧変換を行うプルアップ抵抗Ｒによって２値化される。２値化された出力信号は電圧測定部５に入力され、その変化に基づいて、Ｘドライバ２１のファンクション検査を行うことができる。
従って、本実施形態では、Ｘドライバ２１と検査装置側を接続するケーブルの長さや接続状態によって、検査装置側にて抵抗Ｒの値を変更、選択できるという利点を有する。
【００７４】
＜応用例＞
次に、上述した実施形態に係る電気光学装置５０を適用した電子機器について説明する。図９に、電気光学装置５０を適用したモバイル型のパーソナルコンピュータの構成を示す。パーソナルコンピュータ２０００は、表示ユニットとしての電気光学装置５０と本体部２０１０を備える。本体部２０１０には、電源スイッチ２００１及びキーボード２００２が設けられている。この電気光学装置はＯＬＥＤ素子４２０を用いるので、視野角が広く見易い画面を表示できる。
【００７５】
図１０に、電気光学装置５０を適用した携帯電話機の構成を示す。携帯電話機３０００は、複数の操作ボタン３００１及びスクロールボタン３００２、並びに表示ユニットとしての電気光学装置５０を備える。スクロールボタン３００２を操作することによって、電気光学装置５０に表示される画面がスクロールされる。
【００７６】
なお、電気光学装置５０が適用される電子機器としては、図９〜１０に示すものの他、デジタルスチルカメラ、液晶テレビ、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、タッチパネルを備えた機器等などが挙げられる。そして、これらの各種電子機器の表示部として、前述した電気光学装置が適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７７】
【図１】第１の実施形態に係るＸドライバの電流駆動部の回路図である。
【図２】Ｘドライバの部分タイミングチャートである。
【図３】電気光学装置の概略構成を示すブロック図である。
【図４】電気光学装置の走査信号と発光制御信号のタイミングチャートである。
【図５】電気光学装置の画素回路の構成を示す回路図である。
【図６】Ｘドライバの詳細な構成を示すブロック図である。
【図７】第２の実施形態に係るＸドライバの電流駆動部の回路図である。
【図８】第３の実施形態に係るＸドライバの電流駆動部の回路図である。
【図９】電気光学装置を適用したモバイル型のパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。
【図１０】電気光学装置を適用した携帯電話機の構成を示す斜視図である。
【図１１】従来例のＸドライバの電流測定回路である。
【符号の説明】
【００７８】
１，１１，２１，４１，２００…Ｘドライバ、２…モード制御部、３，２３，４２…電流駆動部としての電流ドライバ、４，１５…スイッチ、５…電圧測定部、１２…測定制御部、２２…ゲート駆動電圧切替回路、４３…電流計、５０…電気光学装置、１００…Ｙドライバ、２１０…シリアルパラレル変換回路、２２０…電圧ＤＡ変換器、２３０…Ｖ／Ｉ変換回路、３００…制御回路、４００…画素回路、４２０…表示素子としてのＯＬＥＤ素子、５００…電源回路。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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