(57)【要約】【課題】品質に関わる検査を安定して行うことが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することを目的とする。【解決手段】複数の表示画素によって構成された有効表示部を備えた表示装置であって、有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線８０と、検査用配線８０と所定の間隔をおいて対向するように配置されるとともに電気的にフローティングした状態のダミーパターンＤＰと、を備えたことを特徴とする。【選択図】      図５
2006126621.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線と、
前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向するように配置されるとともに、電気的にフローティングした状態のダミーパターンと、
を備えたことを特徴とする表示装置。
【請求項２】
前記ダミーパターンは、前記検査用配線と同一層に配置されたことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
前記ダミーパターンは、前記検査用配線とは絶縁層を介して異なる層に配置されたことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項４】
前記ダミーパターンの少なくとも一部は、前記絶縁層を介して前記検査用配線と重なるように配置されたことを特徴とする請求項３に記載の表示装置。
【請求項５】
前記ダミーパターンは、少なくとも１つの多角形状の突角部を有し、しかも、前記突角部の少なくとも１つの頂点が前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項６】
前記検査用配線は、少なくとも１つの多角形状の突角部を有し、しかも、前記突角部の少なくとも１つの頂点が前記ダミーパターンと所定の間隔をおいて対向することを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項７】
前記検査用配線は、前記有効表示部において複数の表示画素に共通の電位を供給する配線であることを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項８】
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線と、
前記有効表示部を検査する際に前記スイッチ素子のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線と、
前記検査用配線の終端部と所定の間隔をおいて対向するように配置されるとともに、電気的にフローティングした状態のダミーパターンと、
を備えたことを特徴とする表示装置。
【請求項９】
前記ダミーパターンは、検査用制御配線と同一層に配置されたことを特徴とする請求項８に記載の表示装置。
【請求項１０】
前記ダミーパターンは、前記検査用制御配線とは絶縁層を介して異なる層に配置されたことを特徴とする請求項８に記載の表示装置。
【請求項１１】
前記ダミーパターンの少なくとも一部は、前記絶縁層を介して前記検査用制御配線と重なるように配置されたことを特徴とする請求項１０に記載の表示装置。
【請求項１２】
前記ダミーパターンは、少なくとも１つの多角形状の突角部を有し、しかも、前記突角部の少なくとも１つの頂点が前記検査用制御配線と所定の間隔をおいて対向することを特徴とする請求項８に記載の表示装置。
【請求項１３】
前記検査用制御配線の終端部は、少なくとも１つの多角形状の突角部を有し、しかも、前記突角部の少なくとも１つの頂点が前記ダミーパターンと所定の間隔をおいて対向することを特徴とする請求項８に記載の表示装置。
【請求項１４】
前記配線は、走査線及び信号線の少なくとも一方であることを特徴とする請求項８に記載の表示装置。
【請求項１５】
前記スイッチ素子は、薄膜トランジスタであり、そのゲート電極が前記検査用制御配線と接続されたことを特徴とする請求項８に記載の表示装置。
【請求項１６】
前記有効表示部は、一対の基板間に液晶層を保持することによって構成された液晶表示パネルに備えられたことを特徴とする請求項１または８に記載の表示装置。
【請求項１７】
前記ダミーパターンは、信号供給可能な配線とも所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする請求項１または８に記載の表示装置。
【請求項１８】
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線と、
島状に配置された導電部材からなる電気的にフローティングした状態で互いに所定の間隔をおいて配列された複数のダミーパターンを有するダミー群と、を備え、
前記ダミー群の少なくとも１つのダミーパターンは、前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする表示装置。
【請求項１９】
前記ダミー群は、互いに異なる層に配置されたダミーパターンを有することを特徴とする請求項１８に記載の表示装置。
【請求項２０】
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線と、
信号供給可能な配線と、
島状に配置された導電部材からなる電気的にフローティングした状態で互いに所定の間隔をおいて配列された複数のダミーパターンを有するダミー群と、を備え、
前記ダミー群は、前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向するように配置された第１ダミーパターン、及び、前記配線と所定の間隔をおいて対向するように配置された第２ダミーパターンを含むことを特徴とする表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、表示装置に係り、特に、品質に関わる検査を行うための検査部を備えた表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶表示装置などの表示装置は、マトリクス状の表示画素によって構成された有効表示部を備えている。この有効表示部は、表示画素の行方向に沿って延在する複数の走査線、表示画素の列方向に沿って延在する複数の信号線、これら走査線と信号線との交差部付近に配置されたスイッチング素子、スイッチング素子に接続された画素電極などを備えている。これら各走査線及び各信号線は、有効表示部の外周部に引き出されている。
【０００３】
近年では、表示画素数の増加に伴い、有効表示部及びその外周部において、走査線や信号線などの各種配線は、細い線幅でしかも僅かな間隔で隣接するように配置されている。このため、配線間でのショートや各配線の断線などといった配線不良を厳密に検査する必要がある。例えば、検査制御回路を液晶表示装置に接続し、隣接する走査線に位相の異なる信号を供給することにより、配線不良を検査する方法が提案されている（例えば、特許文献１。）。また、有効表示部の外周部に検査配線を備えた液晶表示装置も提案されている（例えば、特許文献２参照。）。
【特許文献１】特開平０６−１６０８９８号公報
【特許文献２】特開２００３−１５７０５３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
この発明は、上述した問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、品質に関わる検査を安定して行うことが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
この発明の第１の様態による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線と、
前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向するように配置されるとともに、電気的にフローティングした状態のダミーパターンと、
を備えたことを特徴とする。
【０００６】
この発明の第２の様態による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部に接続され、前記有効表示部外に引き出された配線と、
前記配線にスイッチ素子を介して接続され、前記有効表示部を検査する際に検査用の駆動信号が供給される検査用駆動配線と、
前記有効表示部を検査する際に前記スイッチ素子のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線と、
前記検査用配線の終端部と所定の間隔をおいて対向するように配置されるとともに、電気的にフローティングした状態のダミーパターンと、
を備えたことを特徴とする。
【０００７】
この発明の第３の様態による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線と、
島状に配置された導電部材からなる電気的にフローティングした状態で互いに所定の間隔をおいて配列された複数のダミーパターンを有するダミー群と、を備え、
前記ダミー群の少なくとも１つのダミーパターンは、前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向するように配置されたことを特徴とする。
【０００８】
この発明の第４の様態による表示装置は、
複数の表示画素によって構成された有効表示部と、
前記有効表示部を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線と、
信号供給可能な配線と、
島状に配置された導電部材からなる電気的にフローティングした状態で互いに所定の間隔をおいて配列された複数のダミーパターンを有するダミー群と、を備え、
前記ダミー群は、前記検査用配線と所定の間隔をおいて対向するように配置された第１ダミーパターン、及び、前記配線と所定の間隔をおいて対向するように配置された第２ダミーパターンを含むことを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
この発明によれば、品質に関わる検査を安定して行うことが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、この発明の一実施の形態に係る表示装置について図面を参照して説明する。
【００１１】
図１に示すように、表示装置の一例としての液晶表示装置は、略矩形平板状の液晶表示パネル１を備えている。この液晶表示パネル１は、一対の基板すなわちアレイ基板３及び対向基板４と、これら一対の基板の間に光変調層として保持された液晶層５と、によって構成されている。この液晶表示パネル１は、画像を表示する矩形状の有効表示部６を備えている。この有効表示部６は、マトリクス状に配置された複数の表示画素ＰＸによって構成されている。
【００１２】
アレイ基板３は、有効表示部６に配置された配線、例えば、表示画素ＰＸの行方向に沿って延在する複数の走査線Ｙ（１、２、３、…、ｍ）や、表示画素ＰＸの列方向に沿って延在する複数の信号線Ｘ（１、２、３、…、ｎ）などを備えている。また、アレイ基板３は、有効表示部６において、これらの各種配線の他に、これら走査線Ｙと信号線Ｘとの交差部付近において表示画素ＰＸ毎に配置されたスイッチング素子７、スイッチング素子７に接続された画素電極８などを備えている。
【００１３】
スイッチング素子７は、薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）などで構成されている。このスイッチング素子７のゲート電極７Ｇは、対応する走査線Ｙに電気的に接続されている（あるいは走査線と一体に形成されている）。スイッチング素子７のソース電極７Ｓは、対応する信号線Ｘに電気的に接続されている（あるいは信号線と一体に形成されている）。スイッチング素子７のドレイン電極７Ｄは、対応する表示画素ＰＸの画素電極８に電気的に接続されている。
【００１４】
対向基板４は、有効表示部６において、全表示画素ＰＸに共通の対向電極９などを備えている。これらアレイ基板３及び対向基板４は、全表示画素ＰＸの画素電極８と対向電極９とを対向させた状態で配設され、これらの間にギャップを形成する。液晶層５は、アレイ基板３と対向基板４とのギャップに封止された液晶組成物によって形成されている。
【００１５】
カラー表示タイプの液晶表示装置では、液晶表示パネル１は、複数種類の表示画素、例えば赤（Ｒ）を表示する赤色画素、緑（Ｇ）を表示する緑色画素、青（Ｂ）を表示する青色画素を有している。すなわち、赤色画素は、赤色の主波長の光を透過する赤色カラーフィルタを備えている。緑色画素は、緑色の主波長の光を透過する緑色カラーフィルタを備えている。青色画素は、青色の主波長の光を透過する青色カラーフィルタを備えている。これらカラーフィルタは、アレイ基板３または対向基板４の主面に配置される。
【００１６】
液晶表示パネル１は、有効表示部６の外側に位置する外周部１０に配置された駆動ＩＣチップ１１を備えている。図１に示した例では、駆動ＩＣチップ１１は、対向基板４の端部４Ａより外方に延在したアレイ基板３の延在部１０Ａ上に配置されている。また、液晶表示パネル１は、有効表示部６に駆動信号を供給する駆動回路を有するフレキシブル配線基板ＦＰＣを接続可能な複数の接続パッドを有したパッド部ＰＰを備えている。図１に示した例では、パッド部ＰＰは、駆動ＩＣチップ１１と同様に延在部１０Ａ上に形成されている。
【００１７】
液晶表示パネル１に実装された駆動ＩＣチップ１１は、有効表示部６の各信号線Ｘに駆動信号（映像信号）を供給する信号線駆動部１１Ｘ、及び、有効表示部６の各走査線Ｙに駆動信号（走査信号）を供給する走査線駆動部１１Ｙを有している。走査線駆動部１１Ｙは、奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）に対して駆動信号を出力する第１駆動部１１Ｙ１、及び、偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）に対して駆動信号を出力する第２駆動部１１Ｙ２を含んでいる。これら第１駆動部１１Ｙ１及び第２駆動部１１Ｙ２は、信号線駆動部１１Ｘを挟んだ両側にそれぞれ配置されている。
【００１８】
第１駆動部１１Ｙ１は、外周部１０の一端側１０Ｂに配置された奇数番配線群２０を介して奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）と電気的に接続されている。この奇数番配線群２０は、奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）のそれぞれに接続された配線Ｗ（１、３、５、…）によって構成されている。つまり、第１駆動部１１Ｙ１から出力された駆動信号は、各配線Ｗ（１、３、５、…）を介して対応する奇数番走査線Ｙ（１、３、５、…）に供給され、奇数行目の表示画素ＰＸをオン・オフさせる。すなわち、奇数行目の各表示画素ＰＸに含まれるスイッチング素子７は、対応する走査線Ｙから供給された駆動信号に基づいてオン・オフ制御される。
【００１９】
第２駆動部１１Ｙ２は、外周部１０の他端側１０Ｃに配置された偶数番配線群３０を介して偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）と電気的に接続されている。この偶数番配線群３０は、偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）のそれぞれに接続された配線Ｗ（２、４、６、…）によって構成されている。つまり、第２駆動部１１Ｙ２から出力された駆動信号は、各配線Ｗ（２、４、６、…）を介して対応する偶数番走査線Ｙ（２、４、６、…）に供給され、偶数行目の表示画素ＰＸをオン・オフさせる。すなわち、偶数行目の各表示画素ＰＸに含まれるスイッチング素子７は、対応する走査線Ｙから供給された駆動信号に基づいてオン・オフ制御される。
【００２０】
アレイ基板３は、図２に示すように、奇数番配線群２０の配線不良、偶数番配線群３０の配線不良、及び、有効表示部６における配線不良や表示画素ＰＸの表示品位など、有効表示部６での品質に関わる検査を行うための検査部４０を備えている。この検査部４０は、信号線駆動部１１Ｘに対応して設けられた信号線検査部４１、走査線駆動部１１Ｙの第１駆動部１１Ｙ１に対応して設けられた第１走査線検査部４２、第２駆動部１１Ｙ２に対応して設けられた第２走査線検査部４３、及び、各検査部４１、４２、４３に検査用の信号を入力するためのパッド部４４を有している。
【００２１】
信号線検査部４１は、有効表示部６を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに各信号線Ｘに接続された信号線検査用駆動配線５１を備えている。また、信号線検査部４１は、各信号線Ｘ（１、２、…、ｎ）と信号線検査用駆動配線５１との間にスイッチ素子６１を備えている。さらに、信号線検査部４１は、有効表示部６を検査する際にスイッチ素子６１のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線５５を備えている。つまり、信号線検査用駆動配線５１及び検査用制御配線５５は、信号線検査部４１において、有効表示部６を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。
【００２２】
スイッチ素子６１は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子６１のゲート電極６１Ｇは、検査用制御配線５５に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６１のソース電極６１Ｓは、信号線検査用駆動配線５１に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６１のドレイン電極６１Ｄは、対応する信号線Ｘに電気的に接続されている。
【００２３】
第１走査線検査部４２は、有効表示部６を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに奇数番配線群２０の各配線２１、例えば配線Ｗ１、Ｗ３、Ｗ５…に接続された第１検査用駆動配線５２を備えている。また、第１走査線検査部４２は、各配線２１と第１検査用駆動配線５２との間にスイッチ素子６２を備えている。さらに、第１走査線検査部４２は、有効表示部６を検査する際にスイッチ素子６２のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線５５を備えている。この検査用制御配線５５は、信号線検査部４１と共通である。つまり、第１検査用駆動配線５２及び検査用制御配線５５は、第１走査線検査部４２において、有効表示部６を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。
【００２４】
スイッチ素子６２は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子６２のゲート電極６２Ｇは、検査用制御配線５５に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６２のソース電極６２Ｓは、第１検査用駆動配線５２に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６２のドレイン電極６２Ｄは、対応する配線２１に電気的に接続されている。
【００２５】
第２走査線検査部４３は、有効表示部６を検査する際に検査用の駆動信号が供給されるとともに偶数番配線群３０の各配線３１、例えば配線Ｗ２、Ｗ４、Ｗ６…に接続された第２検査用駆動配線５３を備えている。また、第２走査線検査部４３は、各配線３１と第２検査用駆動配線５３との間にスイッチ素子６３を備えている。さらに、第２走査線検査部４３は、有効表示部６を検査する際にスイッチ素子６３のオン・オフを制御する検査用の制御信号が供給される検査用制御配線５５を備えている。この検査用制御配線５５は、信号線検査部４１と共通である。つまり、第２検査用駆動配線５３及び検査用制御配線５５は、第２走査線検査部４３において、有効表示部６を検査する際に検査用の信号が供給される検査用配線として機能する。
【００２６】
スイッチ素子６３は、例えば薄膜トランジスタによって構成されている。各スイッチ素子６３のゲート電極６３Ｇは、検査用制御配線５５に電気的に接続されている。また、各スイッチ素子６３のソース電極６３Ｓは、第２検査用駆動配線５３に電気的に接続されている。さらに、各スイッチ素子６３のドレイン電極６３Ｄは、対応する配線３１に電気的に接続されている。
【００２７】
パッド部４４は、信号線検査用駆動配線５１の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド７１、第１検査用駆動配線５２の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド７２、第２検査用駆動配線５３の一端部に検査用の駆動信号の入力を可能とする入力パッド７３、及び、検査用制御配線５５の一端部に検査用の制御信号の入力を可能とする入力パッド７５を備えている。
【００２８】
入力パッド７１から入力される駆動信号は、検査段階において、各表示画素ＰＸの画素電極８に書き込まれる検査信号である。入力パッド７２及び７３から入力される駆動信号は、検査段階において、各表示画素ＰＸのスイッチング素子７のオン・オフを制御するための検査信号である。入力パッド７５から入力される制御信号は、検査段階において、信号線検査部４１のスイッチ素子６１、第１走査線検査部４２のスイッチ素子６２、及び、第２走査線検査部４３のスイッチ素子６３のオン・オフを制御するための検査信号である。
【００２９】
各信号線Ｘ（１、２、…ｎ）、奇数番配線群２０の各配線２１、及び、偶数番配線群３０の各配線３１は、それぞれの中途部に駆動ＩＣチップ１１との接続を可能とする接続パッドＰＤを備えている。
【００３０】
上述したような構成の表示装置においては、その製造過程において帯電した電荷が比較的設置面積の大きな配線に蓄積しやすい。特に、信号線検査用駆動配線５１、第１検査用駆動配線５２、第２検査用駆動配線５３、検査用制御配線５５、あるいは、対向電極９に対して全表示画素ＰＸに共通の電位を供給するための図示しないコモン配線などの検査用配線は、広い線幅を有し、しかも、長い配線長を有するため、設置面積が大きく、電荷が帯電しやすい。帯電した電荷は、配線の終端部や屈曲部に集中しやすく、隣接する他の導電層（配線や電極など）との間で静電放電を発生する原因となる。このような静電放電は、絶縁状態を維持すべき隣接する配線との間でのショートや、隣接する配線の断線を招くおそれがある。
【００３１】
例えば、図３に示すように、検査用制御配線５５の終端部付近に位置するスイッチ素子６３においては、半導体層６３ＳＣは、ソース電極６３Ｓ及びドレイン電極６３Ｄと電気的に接続されている。このような構成において、検査用制御配線５５に電荷が帯電すると、その終端部付近に配置されたスイッチ素子６３のゲート電極６３Ｇに電荷が集中しやすく、ゲート電極６３Ｇとソース電極６３Ｓとの間やゲート電極６３Ｇとドレイン電極６３Ｄとの間でのショートを引き起すおそれがある。
【００３２】
また、図４に示すように、コモン配線ＣＯＭに電荷が帯電すると、その屈曲部ＢＤに電荷が集中しやすく、他の電位が供給される配線ＷＸと屈曲部ＢＤとの間でのショートを引き起すおそれがある。また、放電の規模が大きい場合には、隣接する配線ＷＸの断線を招くおそれがある。このようなショートや断線といった配線不良は、完成した液晶表示パネルにおける画素欠陥を生じさせるため、製造歩留まりを低下させる。
【００３３】
そこで、この実施の形態に係る表示装置は、図５に示すように、検査用配線８０と所定の間隔をおいて対向するように配置されるとともに、電気的にフローティングした状態のダミーパターンＤＰを備えている。あるいは、この表示装置は、図６に示すように、島状に配置された導電部材からなる電気的にフローティングした状態で互いに所定の間隔をおいて配列された複数のダミーパターンＤＰを有するダミー群ＤＧを備え、ダミー群ＤＧの少なくとも１つのダミーパターンＤＰが検査用配線８０と所定の間隔をおいて対向するように配置されている。
【００３４】
これらのダミーパターンＤＰは、検査用配線８０に集中した電荷の放電を誘導するものであり、仮に放電が生じたとしても（あるいは、放電の結果としてショートや断線が生じたとしても）完成した液晶表示パネルにおいて何ら影響を及ぼさない導電層である。すなわち、ダミーパターンＤＰは、パッド部ＰＰにフレキシブル配線基板ＦＰＣを接続して完成した液晶表示パネルにおいて表示に寄与するような信号が入力されない導電層である。つまり、ダミーパターンＤＰは、フレキシブル配線基板ＦＰＣを実装後には、フレキシブル配線基板ＦＰＣの駆動回路から何ら信号が入力されない導電層である。このような導電層をダミーパターンＤＰとして利用することにより、例え検査用配線８０とショートしたとしても完成した液晶表示パネルにおいて、表示品位に何ら影響を及ぼすことがない。
【００３５】
図７Ａ及び図７Ｂに示した例では、ダミーパターンＤＰは、検査用配線８０と同一層において、検査用配線８０と所定の間隔Ｇをおいて対向するように配置されている。このダミーパターンＤＰは、検査用配線８０と同一層に配置されるため、検査用配線８０と同一材料を用いて同一工程で形成可能である。このため、別途にダミーパターンＤＰを形成する工程が不要であり、製造コストの増大や製造歩留まりの大幅な劣化を招くことはない。
【００３６】
図８Ａ及び図８Ｂに示した例では、ダミーパターンＤＰは、検査用配線８０とは絶縁層１００を介して異なる層において、検査用配線８０と所定の間隔Ｇをおいて対向するように配置されている。ここでは、特に、図８Ａに示すように、ダミーパターンＤＰ及び検査用配線８０は、これらが配置される基板（つまりアレイ基板３）の面内において互いに重ならないように配置されている（すなわち、アレイ基板３の面内において、ダミーパターンＤＰと検査用配線８０との間隔Ｇがゼロとならない）。なお、図８Ｂに示した例では、検査用配線８０を絶縁層１００の下層に配置し、ダミーパターンＤＰを絶縁層１００の上層に配置したが、この例に限定されず、検査用配線８０を絶縁層１００の上層に配置し、ダミーパターンＤＰを絶縁層１００の下層に配置しても良いことは言うまでもない。
【００３７】
図９Ａ及び図９Ｂに示した例では、ダミーパターンＤＰは、検査用配線８０とは絶縁層１００を介して異なる層に配置され、しかも、絶縁層１００を介して検査用配線８０とその少なくとも一部が重なるように配置されている。つまり、図９Ａに示すように、ダミーパターンＤＰ及び検査用配線８０は、これらが配置される基板（つまりアレイ基板３）の面内において互いに重なるとともに、これらの間に介在される絶縁層１００を介して互いに対向するように配置されている。なお、図９Ｂに示した例では、検査用配線８０を絶縁層１００の下層に配置し、ダミーパターンＤＰを絶縁層１００の上層に配置したが、この例に限定されず、検査用配線８０を絶縁層１００の上層に配置し、ダミーパターンＤＰを絶縁層１００の下層に配置しても良いことは言うまでもない。また、図９Ｂに示した例では、検査用配線８０をダミーパターンＤＰより幅広に形成したが、この例に限定されず、ダミーパターンＤＰを検査用配線８０より幅広に形成しても良いことは言うまでもない。
【００３８】
図８Ａ及び図８Ｂに示した例や図９Ａ及び図９Ｂに示した例の場合、ダミーパターンＤＰは、これと対向した状態で配置すべき検査用配線８０とは異なる層に形成される電極や配線と同一材料を用いて同一工程で形成可能である。例えば、検査用配線８０が検査用制御配線５５である場合、これとは絶縁層１００を介して異なる層に配置されるソース電極やドレイン電極などと同一材料を用いて同一工程で形成可能である。このため、別途にダミーパターンＤＰを形成する工程が不要であり、製造コストの増大や製造歩留まりの大幅な劣化を招くことはない。
【００３９】
なお、図６に示したようなダミー群ＤＧを構成するダミーパターンＤＰは、図７Ａ及び図７Ｂに示した検査用配線８０とダミーパターンＤＰとの関係のように、すべてが互いに所定の間隔ＧＤをおいて同一層に配置しても良いし、図８Ａ及び図８Ｂに示した検査用配線８０とダミーパターンＤＰとの関係のように、絶縁層を介して互いに異なる層に配置しても良いし、図９Ａ及び図９Ｂに示した検査用配線８０とダミーパターンＤＰとの関係のように、絶縁層を介して互いに異なる層であって且つそれぞれの少なくとも一部が重なるように配置しても良い。
【００４０】
ダミーパターンＤＰと検査用配線８０との間の所定の間隔Ｇ、及び、ダミー群ＤＧを構成するダミーパターンＤＰ間の所定の間隔ＧＤとは、放電を誘導可能な距離であり、できるだけ小さいことが望ましいが、両者がショートしてしまう（間隔をゼロとする）と抵抗が小さくなりすぎてしまい、静電破壊のエネルギーを消費できないため、両者が電気的に絶縁状態となるような距離を必要とする。
【００４１】
図７Ａ及び図７Ｂに示した例や、図８Ａ及び図８Ｂに示した例では、ダミーパターンＤＰ及び検査用配線８０、及び、隣接する２つのダミーパターンＤＰが同一層に配置されるため、所定の間隔Ｇ及びＧＤは、ダミーパターンＤＰと検査用配線８０とが配置されるアレイ基板３の面内における距離に相当する。
【００４２】
また、図９Ａ及び図９Ｂに示した例では、ダミーパターンＤＰ及び検査用配線８０が絶縁層１００を介して重なるように配置されているため、両者の間隔は、実質的に絶縁層１００の膜厚Ｇに相当する。また、場合によっては、上層（ここではダミーパターンＤＰ）が下層（ここでは検査用配線８０）を乗り上げる段差部ＢＰにおいて、上層と下層との間に介在する絶縁層１００の肉厚Ｇ’が実質的な膜厚Ｇよりも薄くなることがある。このような場合、ダミーパターンＤＰと検査用配線８０との間の間隔は、段差部ＢＰにおける絶縁層１００の肉厚Ｇ’に相当する。いずれにしても、ダミーパターンＤＰと検査用配線８０との間の間隔は、これらが配置されるアレイ基板１０の断面内における最短距離に相当する。なお、隣接する２つのダミーパターンＤＰの一部が重なる場合のダミーパターン間の間隔ＧＤも同様である。
【００４３】
図７Ａ及び図７Ｂに示した例のように、ダミーパターンＤＰと検査用配線８０とを同一層に配置する場合、これらのパターニング工程における解像度限界により、両者の間隔Ｇにはある程度の限界がある。一方、図８Ａ及び図８Ｂに示した例や、図９Ａ及び図９Ｂに示した例のように、ダミーパターンＤＰと検査用配線８０とを異なる層に配置する場合、これらのパターニング工程での制約から解放され、アレイ基板１０の面内において両者が重なるように配置されたとしても、絶縁層１００により両者を電気的に絶縁した状態を形成することが可能となる。つまり、同一層に両者を配置した場合と比較して、ダミーパターンＤＰと検査用配線８０との間隔をより小さくすることが可能となり、より放電を誘導しやすくすることが可能となる。また、絶縁層１００を介してダミーパターンＤＰと検査用配線８０とを重ねて配置する場合、両者の間隔は断面内における最短距離に相当するため、絶縁層１００の膜厚によって両者の間隔を制御することが可能である。絶縁層１００の膜厚は０．１μｍオーダに設定することが可能であり、アレイ基板面内で所定の間隔を形成しようとする場合より、さらに小さな間隔を形成することが可能となり、さらに放電を誘導しやすくすることが可能となる。隣接する２つのダミーパターンについても、同様に配置することにより、上述したダミーパターンＤＰと検査用配線８０との関係の場合と同様の効果が得られる。
【００４４】
また、検査用配線８０及びダミーパターンＤＰを同一層に近接した間隔で形成する場合に、パターニング工程で必要となるフォトマスクを高精度で作成する必要があったり、パターニング工程においてフォトマスクを高精度で位置合わせする必要があったりしたが、検査用配線８０及びダミーパターンＤＰを異なる層に形成することで、このような要求を満たす必要がなくなり、製造コストを低減することが可能となるとともに製造歩留まりを向上することが可能となる。
【００４５】
上述した例において、ダミーパターンＤＰにおける検査用配線８０との対向部ＤＡ、及び、検査用配線８０におけるダミーパターンＤＰとの対向部８０Ａの形状は、矩形状に限定されるものではない。すなわち、対向部ＤＡ及び８０Ａの少なくとも一方は、電荷が集中しやすいような形状であることが望ましく、少なくとも１つの多角形状の突角部を有している。対向部ＤＡにおける突角部の少なくとも一つの頂点は、検査用配線８０と所定の間隔をおいて対向している。また、対向部８０Ａにおける突角部の少なくとも１つの頂点は、ダミーパターンＤＰと所定の間隔をおいて対向している。
【００４６】
より具体的に説明すると、図１０Ａに示すように、対向部８０Ａ及びＤＡの少なくとも一方は、１つの四角形状の突角部Ｃを有し、２つの頂点Ｔを有するような形状であっても良い。また、図１０Ｂに示すように、対向部８０Ａ及びＤＡの少なくとも一方は、１つの三角形状の突角部Ｃを有し、１つの頂点Ｔを有するような形状であっても良い。さらに、図１０Ｃに示すように、対向部８０Ａ及びＤＡの少なくとも一方は、複数（ｎ個）の三角形状の突角部Ｃを有し、複数（ｎ個）の頂点Ｔを有するような形状であっても良い。図１０Ｂ及び図１０Ｃに示したような例では、図１０Ａに示した例と比較して、頂点Ｔをより鋭利な形状とすることができ、電界が集中しやすくなる。
【００４７】
またさらに、対向部８０Ａ及びＤＡの少なくとも一方は、図示しないが、ｎ個のｍ角形状の突角部を有し、複数の頂点を有するような形状であっても良いが、頂点Ｔの形状は電界の集中しやすさを考慮するとより鋭利であることが望ましい。なお、複数の突角部Ｃ及び複数の頂点Ｔは、一列に並んでいる必要はなく、基板面内であらゆる方位に向いていても良い。
【００４８】
また、図１１に示すように、ダミーパターンＤＰは、その一端部（すなわち第１対向部）ＤＡ１で検査用配線８０と所定の間隔をおいて対向するとともに、その他端部（すなわち第２対向部）ＤＡ２で所定信号（あるいは所定電圧）を信号供給可能な配線ＸＤと所定の間隔をおいて対向するように配置されても良い。このとき、検査用配線８０、ダミーパターンＤＰ、及び、配線ＸＤは、図７Ａ及び図７Ｂに示したようにすべて同一層に配置されても良いし、図８Ａ及び図８Ｂに示したように少なくとも１つが絶縁層を介して異なる層に配置されても良いし、図９Ａ及び図９Ｂに示したように少なくとも１つの一部が絶縁層を介した異なる層において他と重なるように配置されても良い。
【００４９】
さらに、図１２に示すように、ダミー群ＤＧは、その一端部ＤＡ１が検査用配線８０と所定の間隔をおいて対向するように配置された第１ダミーパターンＤＰ１、及び、その一端部ＤＡ２で所定信号（あるいは所定電圧）を信号供給可能な配線ＸＤと所定の間隔をおいて対向するように配置された第２ダミーパターンＤＰ２を含んでいても良い。このとき、検査用配線８０、ダミー群ＤＧを構成するダミーパターンＤＰ、及び、配線ＸＤは、図７Ａ及び図７Ｂに示したようにすべて同一層に配置されても良いし、図８Ａ及び図８Ｂに示したように少なくとも１つが絶縁層を介して異なる層に配置されても良いし、図９Ａ及び図９Ｂに示したように少なくとも１つの一部が絶縁層を介した異なる層において他と重なるように配置されても良い。
【００５０】
図１１及び図１２に示した配線ＸＤは、フレキシブル配線基板ＦＰＣを実装後には、フレキシブル配線基板ＦＰＣの駆動回路から何ら信号が入力されない配線、あるいは、フレキシブル配線基板ＦＰＣの駆動回路から検査部４０に設けられた各スイッチ素子６１、６２、６３をオフした状態で固定するような信号が入力される配線である。また、配線ＸＤは、ショートや断線を生ずることなく検査用配線８０の電荷を逃がす程度の小規模の放電に抑制可能であれば表示に寄与するような信号が入力される配線であっても良い。
【００５１】
このような構成により、検査用配線８０上で蓄積していた電荷をダミーパターンＤＰとの放電により逃がすことが可能となる。これにより、検査用配線８０に隣接する他の導電層との間での不所望な放電、及び、この放電に起因した不所望なショートや断線の発生を未然に防止することが可能となる。
【００５２】
なお、対向部ＤＡ及び８０Ａの少なくとも一方が少なくとも１つの多角形状の突角部を有するような構成においては、図１０Ｄに示すように、対向部ＤＡの突角部Ｃの１つの頂点Ｔを含む一部が対向部８０Ａと重なるように配置しても良い。この場合は、特に、対向部ＤＡにおける突角部Ｃの頂点Ｔが対向部８０Ａを乗り上げる段差部ＢＰに位置することが望ましい。このような配置により、検査用配線８０とダミーパターンＤＰとは、電界が集中しやすい頂点Ｔを介して、両者の間に介在する絶縁層１００の肉厚に相当する微小な間隔で対向配置されることになり、検査用配線８０に帯電した電荷の放電をさらに誘導可能となる。
【００５３】
また、対向部８０Ａの突角部Ｃの１つの頂点Ｔを含む一部が対向部ＤＡと重なるように配置しても良い。さらに、対向部ＤＡ及び８０Ａの少なくとも一方が複数の突角部Ｃを有する場合、一方の対向部における突角部Ｃの少なくとも１つの頂点Ｔを含む一部が他方の対向部と重なるように配置しても良い。
【００５４】
したがって、フレキシブル配線基板ＦＰＣや駆動ＩＣチップ１１を実装する前の有効表示部６での品質に関わる検査を行う検査段階において、検査部４０を用いて安定的に各種配線の配線不良を検査することが可能となるとともに、完成した液晶表示パネルにおける欠陥の発生を防止することができ、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。
【００５５】
（実施例）  
この実施例においては、検査用制御配線５５の終端部５５Ｅでの放電を誘導する構成例について説明する。図１３Ａに示すように、アレイ基板３は、延在部１０Ａにおいて、接続パッドＣＰ１を含むパッド部ＰＰを備えている。また、アレイ基板３は、スイッチ素子６３のゲート電極６３Ｇと一体的な検査用制御配線５５を備えている。一方で、フレキシブル配線基板ＦＰＣは、アレイ基板３のパッド部ＰＰの接続パッドＣＰ１と接続可能な接続パッドＣＰ２を含むパッド部ＰＰ’を備えている。このような構成において、アレイ基板３のパッド部ＰＰとフレキシブル配線基板ＦＰＣのパッド部ＰＰ’とを電気的に接続したとき、接続パッドＣＰ１と接続パッドＣＰ２とが電気的に接続される。
【００５６】
また、検査用制御配線５５と接続パッドＣＰ１との間には、複数のダミーパターンＤＰからなるダミー群ＤＧが配置されている。すなわち、図１３Ｂ及び図１３Ｃに示すように、ダミー群ＤＧは、検査用制御配線５５と所定の間隔をおいて対向するように配置された第１ダミーパターンＤＰ１、及び、接続パッドＣＰ１と所定の間隔をおいて対向するように配置された第２ダミーパターンＤＰ２を含んでいる。ダミー群ＤＧを構成する他のダミーパターンＤＰは、第１ダミーパターンＤＰ１及び第２ダミーパターンＤＰ２とは絶縁層１００を介して異なる層に配置されている。
【００５７】
第１ダミーパターンＤＰ１は、検査用制御配線５５とは絶縁層１００を介して異なる層に配置されている。ここでは、特に、第１ダミーパターンＤＰ１は、絶縁層１００を介して検査用制御配線５５の終端部５５Ｅとその少なくとも一部（対向部ＤＡ１）が重なるように配置されている。第２ダミーパターンＤＰ２は、接続パッドＣＰ１とは絶縁層１００を介して異なる層に配置されている。ここでは、特に、第２ダミーパターンＤＰ２は、絶縁層１００を介して接続パッドＣＰ１の端部ＣＰＥとその少なくとも一部（対向部ＤＡ２）が重なるように配置されている。
【００５８】
検査用制御配線５５の終端部５５Ｅ、すなわち第１ダミーパターンＤＰ１との対向部は、第１ダミーパターンＤＰ１より幅広な矩形状に形成されている。接続パッドＣＰ１の端部ＣＰＥ、すなわち第２ダミーパターンＤＰ２との対向部は、第２ダミーパターンＤＰ２より幅広な矩形状に形成されている。
【００５９】
第１ダミーパターンＤＰ１の検査用制御配線５５との対向部ＤＡ１は、三角形状の突角部Ｃを有し、しかも、突角部Ｃの頂点Ｔを含む一部が検査用制御配線５５の終端部５５Ｅに重なっている。つまり、検査用制御配線５５の終端部５５Ｅと第１ダミーパターンＤＰ１の対向部ＤＡ１とが所定間隔Ｇをおいて対向して配置されている。このとき、対向部ＤＡ１に含まれる突角部Ｃの頂点Ｔが終端部５５Ｅと実質的に絶縁層１００の膜厚に相当する所定間隔Ｇをおいて対向する。
【００６０】
第２ダミーパターンＤＰ２の接続パッドＣＰ１との対向部ＤＡ２は、三角形状の突角部Ｃを有し、しかも、突角部Ｃの頂点Ｔを含む一部が接続パッドＣＰ１の端部ＣＰＥに重なっている。つまり、接続パッドＣＰ１の端部ＣＰＥと第２ダミーパターンＤＰ２の対向部ＤＡ２とが所定間隔Ｇをおいて対向して配置されている。このとき、対向部ＤＡ２に含まれる突角部Ｃの頂点Ｔが端部ＣＰＥと実質的に絶縁層１００の膜厚に相当する所定間隔Ｇをおいて対向する。
【００６１】
このような構成により、検査用制御配線５５の終端部５５Ｅに集中した電荷を第１ダミーパターンＤＰ１との放電、また、これに並んで配列された他のダミーパターンとの放電、さらには、ダミー群ＤＧの第２ダミーパターンＤＰ２と近接して配置された接続パッドＣＰ１との放電により逃がすことが可能となる。このとき、電界を集中しやすい形状のダミーパターンの頂点Ｔが終端部５５Ｅと最短距離で対向配置されるため、頂点Ｔ付近で放電を誘導しやすくなる。これにより、検査用制御配線５５の終端部付近での不所望な放電、及び、この放電に起因した不所望なショートや断線の発生を未然に防止することが可能となる。
【００６２】
以上説明したように、この実施の形態に係る表示装置によれば、検査部を備えたアレイ基板において、検査用配線において、電荷が集中しやすい部位に対向してダミーパターンを配置したことにより、放電を誘導することが可能となる。これにより、検査用配線上において放電規模を拡大するような電荷の集中を防止することができる。このため、検査用配線に近接した他の導電層との間での不所望な放電、及び、この放電に起因した配線不良の発生を抑制することが可能となる。
【００６３】
このため、駆動ＩＣチップやフレキシブル配線基板などを実装する前の検査段階において、検査部を用いて有効表示部の品質に関わる検査を安定的に行うことが可能となる。したがって、配線不良の液晶表示パネルの後工程への流出を未然に防ぐことが可能となる。また、完成した液晶表示パネルにおける欠陥の発生を防止することが可能となる。これにより、製造歩留まりの低下を抑制することが可能となる。
【００６４】
なお、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。
【００６５】
例えば、上記実施形態では、走査信号を液晶表示パネルの両側から給電する構成の液晶表示パネルについて述べてきたが、第１駆動部と第２駆動部とでそれぞれ走査信号を給電する配線数が異なっても良いし、第１駆動部若しくは第２駆動部を有さず単一の走査線駆動部により片側のみから各走査線に走査信号を給電するようなレイアウトでも良く、逆に走査線駆動部がさらに第３駆動部及び第４駆動部を有するような構成であっても良い。
【００６６】
また、この発明の表示装置は、上述した液晶表示装置に限定されるものではなく、自己発光素子を表示素子とする有機エレクトロルミネッセンス表示装置など他の表示装置であっても良い。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】図１は、この発明の一実施の形態に係る液晶表示装置の液晶表示パネルの構成を概略的に示す図である。
【図２】図２は、図１に示した液晶表示パネルの検査部の構成を概略的に示す図である。
【図３】図３は、検査用制御配線の終端部付近に位置するスイッチ素子での放電に起因したショートの発生を説明するための図である。
【図４】図４は、コモン配線の屈曲部付近での放電に起因した断線の発生を説明するための図である。
【図５】図５は、検査用配線とダミーパターンとが対向するような配置例を概略的に示す平面図である。
【図６】図６は、検査用配線とダミー群とが対向するような配置例を概略的に示す平面図である。
【図７Ａ】図７Ａは、検査用配線とダミーパターンとが同一層で対向するような配置例を概略的に示す平面図である。
【図７Ｂ】図７Ｂは、図７Ａに示した検査用配線とダミーパターンとをVII−VII’線で切断したときの断面構造を概略的に示す断面図である。
【図８Ａ】図８Ａは、検査用配線とダミーパターンとが異なる層で対向するような配置例を概略的に示す平面図である。
【図８Ｂ】図８Ｂは、図８Ａに示した検査用配線とダミーパターンとをVIII−VIII’線で切断したときの断面構造を概略的に示す断面図である。
【図９Ａ】図９Ａは、検査用配線とダミーパターンとが重なるような配置例を概略的に示す平面図である。
【図９Ｂ】図９Ｂは、図９Ａに示した検査用配線とダミーパターンとをIX−IX’線で切断したときの断面構造を概略的に示す断面図である。
【図１０Ａ】図１０Ａは、検査用配線及びダミーパターンの突角部の形状例を概略的に示す平面図である。
【図１０Ｂ】図１０Ｂは、検査用配線及びダミーパターンの突角部の形状例を概略的に示す平面図である。
【図１０Ｃ】図１０Ｃは、検査用配線及びダミーパターンの突角部の形状例を概略的に示す平面図である。
【図１０Ｄ】図１０Ｄは、検査用配線とダミーパターンとが対向するような配置例を概略的に示す平面図である。
【図１１】図１１は、検査用配線、ダミーパターン、及び、信号供給可能な配線の配置例を概略的に示す平面図である。
【図１２】図１２は、検査用配線、ダミー群、及び、信号供給可能な配線の配置例を概略的に示す平面図である。
【図１３Ａ】図１３Ａは、実施例に係る検査用制御配線、ダミー群、及び、接続パッドの配置を概略的に示す平面図である。
【図１３Ｂ】図１３Ｂは、図１３Ａに示した検査用制御配線、ダミー群、及び、接続パッドの対向部分（図中の破線で示した領域Ｂ）を拡大した平面図である。
【図１３Ｃ】図１３Ｃは、図１３Ｂに示した検査用制御配線、ダミー群、及び、接続パッドをＢ−Ｂ’線で切断したときの断面構造を概略的に示す断面図である。
【符号の説明】
【００６８】
ＰＸ…表示画素、ＦＰＣ…フレキシブル配線基板、ＣＰ１…接続パッド、ＰＰ…パッド部、１…液晶表示パネル、３…アレイ基板、６…有効表示部、１０…外周部、１０Ａ…延在部、１１…駆動ＩＣチップ、２０…奇数番配線群、２１…配線、３０…偶数番配線群、３１…配線、４０…検査部、４１…信号線検査部、４２…第１走査線検査部、４３…第２走査線検査部、４４…パッド部、５１…信号線検査用駆動配線、５２…第１検査用駆動配線、５３…第２検査用駆動配線、５５…検査用制御配線、６１…スイッチ素子、６１Ｇ…ゲート電極、６２…スイッチ素子、６２Ｇ…ゲート電極、６３…スイッチ素子、６３Ｇ…ゲート電極、ＤＰ…ダミーパターン、ＤＧ…ダミー群
【図１】
2006126621.tif 000003
【図２】
2006126621.tif 000004
【図３】
2006126621.tif 000005
【図４】
2006126621.tif 000006
【図５】
2006126621.tif 000007
【図６】
2006126621.tif 000008
【図７Ａ】
2006126621.tif 000009
【図７Ｂ】
2006126621.tif 000010
【図８Ａ】
2006126621.tif 000011
【図８Ｂ】
2006126621.tif 000012
【図９Ａ】
2006126621.tif 000013
【図９Ｂ】
2006126621.tif 000014
【図１０Ａ】
2006126621.tif 000015
【図１０Ｂ】
2006126621.tif 000016
【図１０Ｃ】
2006126621.tif 000017
【図１０Ｄ】
2006126621.tif 000018
【図１１】
2006126621.tif 000019
【図１２】
2006126621.tif 000020
【図１３Ａ】
2006126621.tif 000021
【図１３Ｂ】
2006126621.tif 000022
【図１３Ｃ】
2006126621.tif 000023