(57)【要約】【課題】高速処理が可能な電子デバイス用のチップ部品用のテスタにおいて、一定時間に一定量のチップ部品の検査測定と選別を行なう装置とその方法。【解決手段】縦列と横行の区分に分けられたチップ部品の挿入穴の空いたテストプレートと、前記テストプレートを移動して前記挿入穴の位置と一致する区分に圧縮空気の噴出口を配設した噴出口板と、検査と測定によって性能と特性に応じて分類指定された噴出口の位置に移動した時に圧縮空気にてチップ部品をテストプレートから排出するための空圧制御をするための電磁弁と、排出されたチップ部品を指定された容器に選別収納する部品容器とを具備する電子デバイスのチップ部品用の検査と測定及び選別装置。【選択図】図１
2006313141.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
縦列と横行の区分に分けられたチップ部品の挿入穴の空いたテストプレートと、前記テストプレートを移動して前記挿入穴の位置と一致する区分に圧縮空気の噴出口を配設した噴出口板と、検査と測定によって性能と特性に応じて分類指定された噴出口の位置に移動した時に圧縮空気にてチップ部品をテストプレートから排出するための空圧制御をするための電磁弁と、排出されたチップ部品を指定された容器に選別収納する部品容器とを具備する電子デバイスのチップ部品用の検査と測定及び選別装置。
【請求項２】
電子デバイス用のチップ部品を挿入する穴の明いたテストプレートと、前記テストプレートに挿入された前記チップ部品を排出するための空気の通る空気穴と、前記空気穴の周りに電極とを具備しているチップ部品用の検査、測定及び選別装置用のテストプレート。
【請求項３】
チップ部品とコンタクトピンの先端との付着の防止において、テストプレートに挿入されたチップ部品からコンタクトピンの先端をテストプレートに垂直に上昇移動し、上昇後テストプレートと平行に移動させて、コンタクトピンの先端からチップ部品を離す方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】  電子デバイス用のチップ部品の検査、測定、選別用装置に関する。
【背景技術】
【０００１】従来、電子デバイス用のチップ用選別装置においては、特性及び性能を知るための検査、測定、選別を行うパーツフイーダやインデックスを用いた各種装置が考案されている。
しかしながら、その高速度の動作の故に、高価な構造の装置となっている。
【発明の開示】
【発明が解決しょうとする課題】
【０００２】従来、多数個のチップ部品の性能検査、特性検査、選別処理には多くの時間を要していた。よって電子デバイス用のチップ部品の検査、測定、選別を行う測定装置においては、チップ部品の量を高速にて処理を行う必要があった。また安価の装置にて、一定時間内に一定量のチップ部品を連続して検査、測定、選別を行える機械装置が求められていた。そのポイントは多数個のチップ部品を処理できる選別装置と、テストプレートにある。
また、高速の特殊な動作にてその処理を高速に行う装置も考案されたが、その装置は複雑、高価な方法であった。
【０００３】電子デバイス用のチップ部品と測定用のコンタクトピンの接触においては、その接触圧を少なくするとその測定値に不具合等が生じ、また接触圧を大きくするとコンタクトピンにチップ部品が付着し、検査、測定後にコンタクトピンをチップ部品から離す動作においてもチップ部品がコンタクトピンに付着し離れないという不具合が発生した。よって、時々機械運転の停止が発生していた。
【課題を解決するための手段】
【０００４】本発明の請求項１に記載の様に、縦列と横行の区分に分けられたチップ部品の挿入穴の空いたテストプレートと、前記テストプレートを移動して前記挿入穴の位置と一致する区分に圧縮空気の噴出口を配設した噴出口板と、検査と測定によって性能と特性に応じて分類指定された噴出口の位置に移動した時に圧縮空気にてチップ部品をテストプレートから排出するための空圧制御をするための電磁弁と、排出されたチップ部品を指定された容器に選別収納する部品容器とを具備する手段による。
【０００５】本発明の請求項２に記載の様に、電子デバイス用のチップ部品を挿入する穴の明いたテストプレートと、前記テストプレートに挿入された前記チップ部品を排出するための空気の通る空気穴と、前記空気穴の周りに電極とを具備する手段による。
【０００６】本発明の請求項３に記載の様に、チップ部品とコンタクトピンの先端との付着の防止において、テストプレートに挿入されたチップ部品からコンタクトピンの先端をテストプレートに垂直に上昇移動し、上昇後テストプレートと平行に移動させて、コンタクトピンの先端からチップ部品を離す手段による。
【発明の効果】
【０００７】１図の様に検査測定動作と選別動作とチップ部品の挿入とを連続して行い、選別動作完了後のチップ部品のテストプレートからの排出後は、直ぐ新たなチップ部品のテストプレートへの挿入が可能である。
【０００８】また、２図の様に圧縮空気の噴出口を設けた噴出口板を順次−Ｘ方向の時計回りに移動し、試験及び測定を完了したチップ部品の性能又は特性に応じて指定された部品容器の位置に来た時電磁弁の作動により圧縮空気にてチップ部品をテストプレートから排出し指定された容器に選別収納とする事が可能である。
電子デバイス用のチップ部品を挿入する穴の明いたテストプレートと、前記チップ部品と、前記テストプレートに挿入された前記チップ部品を排出するための空気の通る穴と、前記穴の周りに電極とを具備しているので、チップ部品の検査、測定の通電試験と、チップ部品の選別を一つのテストプレートにて行える様になった。
【０００９】また、電子デバイス用のチップ部品と測定用のコンタクトピンの接触において、必要な測定時にコンタクトピンの接触圧を保て且つコンタクトピンにチップ部品が付着し、特性試験、性能試験の終了後にコンタクトピンをチップ部品から離す動作においてもチップ部品とコンタクトピンが離れないという不具合がなく、高速にその測定と検査の動作が可能となった。本、電子デバイス用のチップ用選別装置においては、このコンタクトピンとチップ部品の接触と離す動作が６回あり、短時間で一定時間内に多くのチップ部品に多数の試験を行い、ステージとステージの移動時にコンタクトピンを接触させる動作と離す動作を高速にて行う事ができる。
【００１０】テストプレートの共用にて通電試験と、チップ部品の排出、選別の処理とをシンプルな構造に係わらず、縦列と横行の区分に分けられたチップ部品の挿入穴の空いたテストプレートにて、多数のチップ部品を一定の時間内に測定、検査、選別処理を行う事ができる。
【発明を実施するため最良の形態】
【実施例１】
【００１１】１図に構成を示す。チップ部品１０をホッパ１に入れる。チップ部品１０はコンベア１４にて奥の位置にある振込み部２に運ばれる。振込み部２にはテストプレート１２が移動して来て、水平に配置される。振込み部２にて発生させた振動をテスト用プレート１２へ伝えている。コンベア１４で運ばれたチップ部品１０をテストプレート１２の上に載っているチップ部品１０は振動にて縦列と横行により区分され「２図」の挿入穴２１の空いたテストプレート１２に挿入される。テストプレート１２に挿入されたチップ部品１０は性能、特性のさまざまな物が混在している。
チップ部品１０の挿入されたテストプレート１２はキャリア８及びエレベータ３に乗って移動する。テストプレート１２は検査測定を行うステージ左１６の位置に移動し停止保持される。テストプレート１２の中に挿入されたチップ部品１０は、上側プレート４に配設された多数のコンタクトピン１５と、下側プレート５に配設された多数のコンタクトピン１５によって、コンタクトピン１５の先端は挟み込む様にチップ部品１０に接触する。上側プレート４と下側プレート５は駆動装置にて上下移動ができる。その動力は、空圧、油圧、モータいずれでもよい。駆動させるプレートは上側プレートだけでもよい。テストプレート１２の中に挿入されたチップ部品１０にコンタクトピン１５，の先端を接触させる。
コンタクトピン１５の内部にはスプリングが付いており、チップ部品１０にコンタクトピン１５が接触した時に、コンタクトピン１５に接触圧が発生する様になっている。測定後、上側プレート４を上方向に移動し、コンタクトピン１５の先端にて接触してチップ部品１０からコンタクトピン１５の先端をチップ部品１０から離す。
上側プレート４は水平方向に移動し、コンタクトピン１５とチップ部品１０が付着していた場合、チップ部品１０をテストプレート１２の挿入穴２１の内側の側面にチップ部品１０を当て、チップ部品１０とコンタクトピン１５が付着している場合、切り離す。テストプレート１２は順次ビーム搬送にて次のステージ中１７のステージ位置に移動して停止し、ステージ１６左と同様に検査測定を行う。
検査、測定はステージ左１６、ステージ中１７、ステージ右１８にて、各種測定器により電気、電子的に行われる。
実施例として、検査と測定装置においての項目は、▲１▼容量．▲２▼損失測定，▲３▼順方向の耐圧  ▲４▼絶縁抵抗測定、▲５▼逆方向耐圧．▲６▼絶縁抵抗測定を行っている。この順次に行う測定においては、シーケンス制御とパソコン制御を行い、高速に処理されている。また、テストプレート１２の移動はビーム搬送にて順次第三のステージ１８まで移動し、エレベータ１１にて、キヤリヤに載り選別装置９まで移動し保持される。【００１２】電子デバイス用のチップ部品１０と測定用のコンタクトピン１５，の接触において、コンタクトピン１５の接触圧を保ち、検査と測定終了後に、コンタクトピン１５をチップ部品１０から離す動作においても、チップ部品１０とコンタクトピン１５の先端がくっ付いてチップ部品１０が離れないという不具合が発生し、その毎に、装置の動作を停止せざるを得なかった。【００１３】この様に、電子デバイス用のチップ部品１０の測定装置において、テストプレート１２に挿入されたチップ部品１０からコンタクトピン１５の先端をテストプレート１２に垂直に移動し、その後テストプレート１２と平行に移動して、コンタクトピン１５とチップ部品１０を離す方法を用いる。【００１４】コンタクトピン１５をテストプレート１２と平行移動する量はわずか２ミリ程度でもよく、高速を必要とする検査機にはこの方法は最も適する。
本実施例においては、平行移動の駆動は数値制御されているサーボモータにおいて、ソフト制御にて行われる。又、機構的に行う事も可能である。【００１５】選別装置９は縦の数のＸ列と横の数のＹ行により成す数のチップ部品の挿入穴の空いたテストプレート１２と、Ｘ方向に縦列の倍数の数からなる圧縮空気の噴出口郡を配設した噴出口板６と、試験及び測定を完了したチップ部品容器１３に選別、収納される。【００１６】  多数の噴出口６の空気の入り口にはそれぞれ電磁弁２３が空気管にて接続されており、空圧にて噴出口６から空気を噴出する。テストプレート１２の空気穴２０を通して、テストプレート１２に挿入されているチップ部品１０を選別装置９にて圧縮空気を排出する。前記テストプレート１２の−Ｘ方向の順次の移動と共に、テストプレート１２の挿入穴２１の位置に一致する部分の位置に圧縮空気の噴出口２２を配設した噴出口板６が、性能又は特性に応じて指定された圧縮空気の排出口の位置２１に移動して来た時、排出口２１から空気管にて継がれている電磁弁２３の作動により圧縮空気にてチップ部品１０をテストプレート１２から排出する。噴出口２２を備えた選別装置９にて、指定された選別収納部の試験及び測定を完了したチップ部品１０を圧縮空気にてテストプレート１２から排出し、指定された部品容器１３に選別収納とする。噴出口板６の噴出口２２は左の列から列毎に性能特性区分Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ｆに別けられ、部品容器１３にＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｆ，Ｆに選別収納される。
この時、テストプレート１２からの選別されたチップ部品１０が部品容器１３の各位置の中に入る様に、チップ部品１０の排出される挿入穴２１の出口と、部品容器１３を覆うカバーが掛けられているが、図１、２には説明上省略されている。
チップ部品１０は６種類に分類に分け部品容器１３に収納される。
収納容器はＡ未測定及び測定ミス部品，Ｂ誘電損失不良部品，Ｃ容量下限不良部品，Ｄ容量上限不良品，Ｅ耐圧不良品，Ｆ絶縁抵抗不良品，更に４種類を加え１０種類に分けることも可能である。指定容量良品  指定容量用品  指定容量良品  強制排出確認品、等に別けられ箱の中に収納される。【００１７】テストプレート１２の挿入穴２０の中に挿入された前記チップ部品１０を排出するために噴出口板６には圧縮空気の噴出口２２と空気の通る空気穴２０と、前記空気穴２０の周りに電極７とを具備している。
チップ用選別装置のテストプレート１２に配設されている電極７はテストプレート１２に固着されている。【００１８】つまり縦列と横行の区分に分けられたチップ部品１０の挿入穴２１の空いたテストプレート１２と、前記テストプレート１２を移動して前記挿入穴２１の位置と一致する区分に圧縮空気の噴出口を配設した噴出口板と、検査と測定によって性能と特性に応じて分類指定された噴出口２２の位置に移動した時に圧縮空気にてチップ部品１０をテストプレート１２から排出するための空圧制御をするための電磁弁２３と、排出されたチップ部品１０を指定された容器に選別収納する部品容器１３とを具備する電子デバイスのチップ部品用の検査と測定及び選別装置である。【００１９】また、電子デバイス用のチップ部品１０を挿入する穴の明いたテストプレート１２と、前記テストプレート１２に挿入された前記チップ部品１０を排出するための空気の通る空気穴２０と、前記空気穴２０の周りに電極７とを具備しているチップ部品用の検査、測定及び選別装置用のテストプレートである。【００２０】チップ部品１０とコンタクトピン１５の先端との付着の防止において、テストプレート１２に挿入されたチップ部品１０からコンタクトピン１５の先端をテストプレート１２に垂直に上昇移動し、上昇後テストプレート１２と平行に移動させて、コンタクトピン１５の先端とチップ部品１０を離す方法である。
【産業上の利用可能性】
【００２１】高速処理が可能なチップ部品用測定、選別装置に使用される。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】全体構成図
【図２】選別部
【図３】コンタクトピンとチップ部品の接触状態
【図４】コンタクトピンとチップ部品が付着した状態
【図５】コンタクトピンとチップ部品を離した状態
【符号の説明】
【００２３】  １  ホッパ
２．振込み部
３．エレベータ右
４．上側プレート
５．下側プレート
６．噴出口板
７．電極
８．キヤリヤ
９．選別装置
１０．チップ部品
１１．エレベータ右
１２．テストプレート
１３．部品容器
１４．コンベア
１５．コンタクトピン
１６．ステージ左
１７．ステージ中
１８．ステージ右
１９．選別
２０．空気穴
２１．挿入穴
２２．噴出口
２３．電磁弁
【図１】
2006313141.tif 000003
【図２】
2006313141.tif 000004
【図３】
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【図４】
2006313141.tif 000006
【図５】
2006313141.tif 000007