(57)【要約】【課題】  複数の回路基板が組み合わされて実装される電子機器において、基板組合せについての検査を定量検査により正確に行う。【解決手段】  電子機器に実装される複数の回路基板にそれぞれ抵抗値が異なる抵抗素子を設け、それらの抵抗素子の合成抵抗値を測定した結果に基づき回路基板が正しく組み合わされているか否かについて検査する。  合成抵抗値という定量的な数値によって各基板の組合わせを特定でき、より正確な基板組合せ検査を行うことができる。【選択図】図６
2006324308.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
それぞれに抵抗値が異なる抵抗素子が備えられた複数の回路基板のうちから、所定の回路基板を組み合わせて実装することで電子機器を組み立てる組み立て工程と、
上記組み立て工程により得られた上記電子機器内の各回路基板が備える上記抵抗素子の合成抵抗値を測定した結果に基づき、上記回路基板が正しく組み合わされているか否かについて検査する検査工程と、
を少なくとも含む電子機器製造方法。
【請求項２】
上記検査工程では、
測定された上記合成抵抗値と、上記複数の回路基板の組合せとして想定されるすべての組合せごとに上記抵抗素子の合成抵抗値を対応づけた対応情報とに基づき上記回路基板の組合せを特定し、特定された組合せが予め設定された上記所定の組合せと一致するか否かについて判別することで、上記回路基板が正しく組み合わされているか否かについて検査する、
ことを特徴とする請求項１に記載の電子機器製造方法。
【請求項３】
上記検査工程では、さらに検査結果を外部に通知するようにされることを特徴とする請求項１に記載の電子機器製造方法。
【請求項４】
それぞれに抵抗値が異なる抵抗素子が備えられた複数の回路基板のうちから所定の回路基板が組み合わされて実装される電子機器について、
上記電子機器内の各回路基板が備える上記抵抗素子の合成抵抗値を測定した結果に基づき、上記回路基板が正しく組み合わされているか否かについて検査する、
ことを特徴とする検査方法。
【請求項５】
それぞれに抵抗値が異なる抵抗素子が備えられた複数の回路基板が組み合わされて実装される電子機器であって、
それぞれの上記回路基板が備える上記抵抗素子の合成抵抗値が得られるようにして電力供給端子が設けられていることを特徴とする電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の回路基板が組み合わされて実装される電子機器を製造するための電子機器製造方法、及び電子機器における回路基板の組合せについて検査するための検査方法、及び電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
電子機器としては、複数の回路基板が組み合わされて実装されたものがある。例えばテレビジョン受像機では、入力ビデオ信号をＣＲＴ（Cathode Ray Tube）に表示するにあって、くし型フィルタ等を含むビデオ信号処理基板、Ａ／Ｄコンバータを有して各種デジタル信号処理を行うデジタル信号処理回路、ＣＲＴを駆動するためのＣＲＴ用ドライブ回路基板等、各機能を実現するための複数の回路基板が組み合わされて実装されている。
【０００３】
さらに、このような複数の回路基板が組み合わされた電子機器においては、各機能部としての回路基板について、それぞれ性能の異なる複数の回路基板を用意しておき、最終製品のグレードに応じた性能となるように各機能部の回路基板を組み合わせるようにされたものがある。
例えば上記のＣＲＴテレビジョン受像機を例に挙げると、上記ビデオ信号処理基板については、３Ｄくし型フィルタを備える基板と、２ラインくし型フィルタを備えた回路基板とが用意される。
また、上記デジタル信号処理回路としては、よりサンプリング数の多いＡ／Ｄコンバータを備えるものと通常のサンプリング数によるＡ／Ｄコンバータを備えたものとが用意される。さらに、上記ＣＲＴ用ドライブ回路基板としては、周波数特性がより優れたビデオアンプを有するものと、通常の周波数特性によるビデオアンプを備えたものとが用意されている。
そして、比較的高解像度のタイプとなる最終製品については、各機能部ごとに性能の高い方の回路基板を実装し、また、比較的低解像度のタイプとなる最終製品については性能の低い方の回路基板を実装するといったものである。
【０００４】
このような製造過程を経て最終製品を製造するようにされることから、各機能部の回路基板として誤った基板が実装されてしまう可能性がある。つまり、例えば３Ｄくし型フィルタを用いるビデオ信号処理基板であるべきところを誤って２ラインくし型フィルタによる処理基板を実装してしまうといった誤り等、各機能部で最終製品に対応しない性能による回路基板を実装してしまうといった誤りが生じる可能性がある。
そのため、複数の回路基板が組み合わされて実装される電子機器については、製造過程における最終段階において回路基板の組合せを検査するようにされている。
【０００５】
従来では、このような基板組合せについての検査はいわゆる官能検査に頼るところがあった。すなわち、例えばテレビジョン受像機を例に挙げれば、実際に映像を表示させてその画質を検査することにより、正しい基板構成となっているかを検査するといったものである。
【０００６】
なお、関連する従来技術については以下の特許文献を挙げることができる。
【特許文献１】特開平８−２９８３６１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記のような官能検査は人間の勘に頼るところが多く、それゆえ正確な検査とは言い難い。例えばテレビジョン受像機の場合では、回路基板の組合せが異なることによる画質の視覚的な変化は微少であって、その差を正確に感知して組合せを特定することは困難となる。このようなことから、誤った基板組み合わせのまま電子機器が出荷されてしまう可能性があった。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
そこで、本発明では以上のような問題点に鑑み、電子機器製造方法として以下のようにすることとした。
つまり、それぞれに抵抗値が異なる抵抗素子が備えられた複数の回路基板のうちから、所定の回路基板を組み合わせて電子機器を組み立てる組み立て工程と、上記組み立て工程により得られた上記電子機器内の各回路基板が備える上記抵抗素子の合成抵抗値を測定した結果に基づき、上記回路基板が正しく組み合わされているか否かについて検査する検査工程と、を少なくとも含むようにしたものである。
【０００９】
このようにして電子機器に実装されるべき各回路基板に対し、それぞれ抵抗値の異なる抵抗素子を予め設けるようにしておけば、これら回路基板が組み合わされて実装されたときの合成抵抗値は、固有の値とすることができる。すなわち、これによれば、測定される合成抵抗値は回路基板の組合せそのものを示す情報とすることができ、これによって上記のように合成抵抗値を測定した結果に基づくことで正しい組合せであるか否かを正確に検査することができる。
【発明の効果】
【００１０】
上記のようにして本発明によれば、各回路基板に備えられた抵抗素子の合成抵抗値という定量的な値によって回路基板の組合せを特定でき、その分より正確な検査を行うことができる。
【００１１】
また、各回路基板に備えられた抵抗素子の合成抵抗値を測定するようにされるので、回路基板の組合せを検査するにあたっては抵抗値の測定を１回のみ行えばよいものとできる。例えば、本発明のように各回路基板に対しそれぞれ抵抗値の異なる抵抗素子を設けた場合において、正しい基板組合せであるかを検査する手法としては、各回路基板ごとに測定した抵抗値を基に基板１つ１つを確認して組合せを特定することも考えられるが、このようにした場合、実装される回路基板の数だけ抵抗値を測定しなければならない。このことと比較すれば、上記のように合成抵抗値を測定して組合せを特定できる本発明によれば、その分検査時間を大幅に短縮化することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
図１は、本発明における実施の形態の電子機器としてのテレビジョン受像機１の構成を示したブロック図である。
なお、この図ではテレビジョン受像機１の主に映像表示系の基板構成を抽出して示しており、他の部分については省略して示している。
先ず、図示するＮＴＳＣ（National TV Standards Committee）信号は、図示されないＴＶチューナや映像入力端子から入力され、Ａ基板２に供給される。
Ａ基板２は、ビデオ信号処理基板であり、くし型フィルタを備えて上記ＮＴＳＣ信号からＹＣ分離を行う。
Ｂ基板３は、少なくともＡ／Ｄコンバータを備えて各種デジタル信号処理を行うデジタル信号処理基板である。このＢ基板３は、Ｙ信号、Ｃ信号を入力して上記Ａ／Ｄコンバータによりデジタル信号に変換した後、輪郭補正やノイズリダクション等のデジタル信号処理を行うと共に、ＲＧＢマトリクス処理によりＲ，Ｇ，Ｂ信号を得る。Ｒ，Ｇ，Ｂ信号は、当該Ｂ基板３が備えるＤ／Ａコンバータによってアナログ信号とされてＣ基板４に供給される。
Ｃ基板４はＣＲＴ（Cathode Ray Tube）用ドライブ基板であり、Ｒ，Ｇ，Ｂ信号に基づいてＣＲＴ５内の電子銃を駆動する。これによってＣＲＴ５に入力映像信号に応じた映像表示を行わせる。
【００１３】
また、この場合、Ａ基板２、Ｂ基板３には、調整用レジスタ２ａ、調整用レジスタ３ａが設けられる。これら調整用レジスタ２ａ、３ａは、例えば工場出荷時等での各種調整時に、調整用の数値を設定するために設けられる。これら調整用レジスタ２ａ、３ａに対し調整値を与えるために、図示する端子ｔCLK、端子ｔDATが設けられている。すなわち、テレビジョン受像機１としては、これら端子ｔCLK、ｔDATを介して調整装置側と接続されてＡ基板２、Ｂ基板３の各種係数等の調整が行われることになる。
また、テレビジョン受像機１に対しては、次に説明するようにしてＡ基板２、Ｂ基板３、Ｃ基板４の各々に設けられる検査用抵抗Ｒに電力を供給するための電源入力端子ｔin、グラウンド端子ｔGNDも設けられている。
【００１４】
図２は、図１に示したテレビジョン受像機１の内部構成として、主に各基板２〜４に設けられた検査用抵抗Ｒの接続関係について説明するための図である。なお、この図においては図１に示したＣＲＴ５、調整用レジスタ２ａ、３ａは省略して示している。
図示するように本実施の形態においては、Ａ基板２、Ｂ基板３、Ｃ基板４に対し、それぞれ検査用抵抗Ｒａ、検査用抵抗Ｒｂ、検査用抵抗Ｒｃを設けるものとしている。その上で、この場合のテレビジョン受像機１においては、これら検査用抵抗Ｒａ、Ｒｂ、Ｒｃの一端がアースに接続され、他端がそれぞれ電源入力端子ｔinに接続されている。さらに、グラウンド端子ｔGNDがアースに接続されている。
このような接続形態によって、Ａ基板２、Ｂ基板３、Ｃ基板４に備えられた検査用抵抗Ｒａ、Ｒｂ、Ｒｃが並列となる関係により接続されている。
【００１５】
ここで、先にも述べたようにＣＲＴのテレビジョン受像機１では、各機能部としてのＡ基板２、Ｂ基板３、Ｃ基板４について、それぞれ性能の異なる複数の回路基板を用意しておき、最終製品のグレードに応じた性能となるように各機能部の回路基板を組み合わせるといったことが行われている。
このことを、次の図３により示してみると、図中「Ａ機能」により囲ったビデオ信号処理基板としてのＡ基板２については、３Ｄくし型フィルタ（３ラインくし型フィルタ）を備える第１Ａ基板２−１と、２ラインくし型フィルタを備える第２Ａ基板２−２とが用意される。
また、「Ｂ機能」により囲うデジタル信号処理回路としてのＢ基板３については、よりサンプリング数の多いＡ／Ｄコンバータを備える第１Ｂ基板３−１と、通常のサンプリング数によるＡ／Ｄコンバータを備えた第２Ｂ基板３−２とが用意される。
同様に、「機能Ｃ」により囲うＣＲＴ用ドライブ回路基板としてのＣ基板４は、周波数特性がより優れたビデオアンプを有する第１Ｃ基板４−１と、通常の周波数特性によるビデオアンプを備えた第２Ｃ基板４−２とが用意されている。
そして、比較的高解像度のタイプとなる最終製品については、各機能部ごとに性能の高い方の回路基板を実装し、また、比較的低解像度のタイプとなる最終製品については、性能の低い方の回路基板を実装する。具体的に、比較的高解像度のタイプとなる最終製品については、図中「基板組合わせtype１」として囲ったように「第１Ａ基板２−１、第１Ｂ基板３−１、第１Ｃ基板４−１」による組み合わせで各基板を実装する。また比較的低解像度のタイプとなる最終製品については、「基板組合せtype２」により囲うように「第２Ａ基板２−２、第２Ｂ基板３−２、第２Ｃ基板４−２」による組み合わせで各基板を実装するものである。
【００１６】
このような製造過程を経て最終製品を製造するようにされることから、例えば３Ｄくし型フィルタを用いる第１Ａ基板２−１であるべきところを誤って２ラインくし型フィルタによる第２Ａ基板２−２が実装されてしまう等、各機能部で誤った基板が実装されてしまう可能性がある。
そのため、実施の形態のようなテレビジョン受像機１については、その製造過程における最終段階にて回路基板の組合せを検査するようにされているが、従来の検査としては、官能検査として実際に映像を表示させてその画質から正しい組合せであるか否かについて判断するようにされていたので、正しい検査を行うことが困難とされていた。
【００１７】
そこで実施の形態としては、基板の組合せについて定量検査が可能となるように、テレビジョン受像機１に実装され得る各回路基板に対し、それぞれ異なる抵抗値による検査用抵抗Ｒを設けるものとしている。
具体的には、図３に示されているように第１Ａ基板２−１に対しては検査用抵抗Ｒａ１を設け、第２Ａ基板２−２には検査用抵抗Ｒａ２を設ける。さらに、第１Ｂ基板３−１には検査用抵抗Ｒｂ１、第２Ｂ基板３−２には検査用抵抗Ｒｂ２、また、第１Ｃ基板４−１には検査用抵抗Ｒｃ１、第２Ｃ基板４−２には検査用抵抗Ｒｃ２を設ける。そして、このとき、各検査用抵抗Ｒとしてそれぞれ異なる抵抗値を設定するようにしたものである。
【００１８】
本実施の形態において、各検査用抵抗Ｒとしては例えばＥ１２系列の金属皮膜抵抗とし、その抵抗値は以下のようにして設定するものとした。
Ａ基板・・・検査用抵抗Ｒａ１＝１０Ω、
検査用抵抗Ｒａ２＝１００Ω、
Ｂ基板・・・検査用抵抗Ｒｂ１＝３．３ｋΩ、
検査用抵抗Ｒｂ２＝８．２ｋΩ、
Ｃ基板・・・検査用抵抗Ｒｃ１＝１ｋΩ、
検査用抵抗Ｒｃ２＝１．５ｋΩ
【００１９】
このようにしてテレビジョン受像機１に実装され得る全ての回路基板に対しそれぞれ異なる抵抗値による検査用抵抗Ｒを設けた上で、本実施の形態では、テレビジョン受像機１に実装された各回路基板が備える検査用抵抗Ｒの合成抵抗値を測定することで、それらが正しい組合せにより実装されているか否かを検査する。
ここで、図２にて示したテレビジョン受像機１の構成によれば、電源入力端子ｔinとグラウンド端子ｔGNDとの間で、各回路基板が並列接続されている。このとき、電源入力端子ｔinから電流ｉを流すと、これら電源入力端子ｔinとグラウンド端子ｔGNDとの間には、
（Ｒａ・Ｒｂ・Ｒｃ／Ｒａ・Ｒｂ＋Ｒｂ・Ｒｃ＋Ｒｃ・Ｒａ）×ｉ
による電圧Ｖ１が得られる。すなわち、この電圧Ｖ１は、各検査用抵抗Ｒの合成抵抗値を反映した値が得られるものであり、従ってそのレベルを測定することでこれら検査用抵抗Ｒの合成抵抗値を測定できる。
例えばこの場合、上記電流ｉとしてはｉ＝１ｍＡを与える。こうすることで、電圧Ｖ１の測定値がそのまま検査用抵抗Ｒの合成抵抗値を表すものとすることができる。
【００２０】
図５は、図３に示した回路基板がテレビジョン受像機１に実装されたときに想定されるすべての組合せごとに、検査用抵抗Ｒの合成抵抗値を示した対応情報を示している。
この図５に示される対応情報を参照してわかるように、個々の基板に対しそれぞれ異なる抵抗値による抵抗素子を設けることで、それぞれの組合せごとに固有の合成抵抗値を得ることができる。すなわち、これによって合成抵抗値を測定することで、実装された基板の組合せが正しいものであるか否かを検査することができる。
【００２１】
また、この図５に示されるような、各組合せごとに合成抵抗値を対応づけた対応情報を用いれば、測定した合成抵抗値に基づき正しい組合せであるか否かを検査できるのみならず、どの基板が間違えているかも知ることができる。
例えば、最終製品に対応した組合せが図３に示した基板組合わせtype１「第１Ａ基板２−１、第１Ｂ基板３−１、第１Ｃ基板４−１」であったとする。この場合、正しい合成抵抗値としては、図５から「0.713ｋΩ」であることがわかる。しかしながら、この場合に測定された合成抵抗値が、例えば「1.125ｋΩ」である場合、その組合せは「検査用抵抗Ｒａ１・Ｒｂ２・Ｒｃ２」すなわち「第１Ａ基板２−１、第２Ｂ基板３−２、第２Ｃ基板４−２」であることが特定でき、このことからＢ基板、Ｃ基板をそれぞれ間違えていると知ることができる。
また、例えば測定された合成抵抗値が「0.935ｋΩ」である場合、その組合せは「検査用抵抗Ｒａ１・Ｒｂ１・Ｒｃ２」すなわち「第１Ａ基板２−１、第１Ｂ基板３−１、第２Ｃ基板４−２」と特定でき、これによってＣ基板のみを間違えていると知ることができる。
【００２２】
なお、厳密に言うと、抵抗素子の抵抗値は公称値と完全に一致するものではなく、或る程度の誤差を有するものとなる。例えば実施の形態で用いているＥ１２系列の金属皮膜抵抗では、その誤差がおよそ１％程度とされる。
従って上述のようにして基板の組合せごとに固有の合成抵抗値とするにあたっては、実際にはこのような抵抗素子自体の誤差等を考慮した充分なマージンが得られるように、各検査用抵抗Ｒの抵抗値の選定が行われる必要がある。
【００２３】
図４は、上記のような本実施の形態としての検査方法に用いて好適な、実施の形態としての検査装置１０の構成について説明するためのブロック図である。
先ず、この図においても、図２に示したテレビジョン受像機１の構成が示されている。実施の形態の検査装置１０は、図示されているようにテレビジョン受像機１側が備える電源入力端子ｔin、グラウンド端子ｔGNDと、自らが備える電源出力端子Ｔout、グラウンド端子ＴGNDとがそれぞれ接続されて使用されるものとなる。
そして、検査装置１０には、これら電源出力端子Ｔout−電源入力端子ｔin、グラウンド端子ＴGND−グラウンド端子ｔGNDを介して接続されたテレビジョン受像機１内におけるＡ基板２、Ｂ基板３、Ｃ基板４に備えられた各検査用抵抗Ｒに定電流ｉを供給するための、電源部１２が設けられている。
この電源部１２は、後述するＣＰＵ（Central Processing Unit）１１による制御に基づき上記定電流ｉを供給する。これによって上記電源出力端子Ｔoutとグラウンド端子ＴGNDとの間には、Ａ基板２、Ｂ基板３、Ｃ基板４に備えられた各検査用抵抗Ｒの合成抵抗値を示す、電圧Ｖ１が得られる。
なお、上記定電流ｉとしてはｉ＝１ｍＡを生成する。
【００２４】
Ａ／Ｄコンバータ１３は、上記電源出力端子Ｔoutとグラウンド端子ＴGNDとの間に得られる電圧Ｖ１のレベルをデジタル値により検出し、これをＣＰＵ１１に供給する。
【００２５】
ＣＰＵ１１は当該検査装置１０の全体制御を行う。
このＣＰＵ１１にはメモリ部１４が設けられる。メモリ部１４はＣＰＵ１１が備えるＲＯＭ（Read Only Memory）、ＲＡＭ（Randam Access Memory）等の記憶装置を包括的に示している。そしてこの場合、メモリ部１４には、図５に示したようにテレビジョン受像機１への実装が想定される全ての基板組合せごとにその合成抵抗値を対応づけた、対応情報１４ａが格納されている。
【００２６】
また、ＣＰＵ１１には、操作部１６が接続される。操作部１６は当該検査装置１０に対する操作入力を可能とするためのユーザインタフェース部であり、この場合は特に、検査装置１０に対し正しい基板組合せを指示するための操作入力が可能に構成される。
また、ＣＰＵ１１には表示部１７が接続される。表示部１７は例えばＬＣＤ等を備えた表示デバイスであり、ＣＰＵ１１の制御に基づき各種情報の表示を行う。
さらに、ＣＰＵ１１にはプリント部１５が接続される。プリント部１５は装填された用紙に対してＣＰＵ１１からの指示に基づく情報の印刷を行い、これを出力する。
【００２７】
上記構成による実施の形態の検査装置１０では、先ずは検査対象とするテレビジョン受像機１の正しい基板組合せが設定される。このような正しい基板組合せの設定は、操作部１６を介したユーザ（作業員）の操作によって行われる。このときＣＰＵ１１は、設定された正しい基板組合せの情報をメモリ部１４に保持する。
その上で、電源部１２により定電流ｉの供給を開始し、これに応じて電源出力端子Ｔoutとグラウンド端子ＴGNDとの間に得られる電圧Ｖ１のレベル（すなわちＡ基板２、Ｂ基板３、Ｃ基板４が備える検査用抵抗Ｒａ、Ｒｂ、Ｒｃの合成抵抗値）をＡ／Ｄコンバータ１３により検出する。
そして、ＣＰＵ１１により、対応情報１４ａ内にて格納される合成抵抗値うち、このように検出された合成抵抗値と一致する合成抵抗値が対応付けられた基板の組合せを特定する。さらに、特定された基板組合せの情報と、上述のようにして予め設定された正しい基板組合せの情報とが一致するか否かについて判別を行う。
基板組合せが一致すれば、検査対象としているテレビジョン受像機１においてＡ基板２、Ｂ基板３、Ｃ基板４が正しい組合せにより実装されていると判断でき、基板組合せが一致していなければ、正しい組合せにより実装されていないと判断できる。すなわち、これによって各基板が正しい組合せにより実装されているか否かを検査することができる。
【００２８】
基板組合せが一致し正しい組合せにより各基板が実装されているとした場合は、プリント部１５により、検査対象のテレビジョン受像機１が正しく基板が組み合わされた良品であることを示す良品通知を印刷出力する。
一方、基板組合せが一致せず正しい組合せにより実装されていないとした場合は、先ずは上記対応情報１４ａにより特定された基板組合せと、予め設定された正しい基板組合せとを比較し、誤って実装されている基板を特定する。その上で、このように特定された基板の名称等その基板を特定するための情報を示す不一致基板通知を、プリント部１５によりプリントしこれを印刷出力する。
【００２９】
図６は、上記説明による検査動作を実現するために行われるべき処理動作について説明するためのフローチャートである。
なお、この図に示す処理動作は、ＣＰＵ１１がメモリ部１４内に格納されたプログラムに基づいて実行するものである。また、この図に示す処理を実行するにあたっては、既に検査装置１０に対して正しい基板組合せの情報が設定されているものとする。また、検査装置１０と検査対象のテレビジョン受像機１とが、上記した電源出力端子Ｔout−電源入力端子ｔin、グラウンド端子ＴGND−グラウンド端子ｔGNDをそれぞれ介して接続された状態にあるとする。
【００３０】
先ずステップＳ１０１では電源供給を開始する。つまり、電源部１２による定電流ｉの供給を開始させる。
ステップＳ１０２では、合成抵抗値の取り込みとして、Ａ／Ｄコンバータ１３による電圧Ｖ１の検出値の取り込みを行う。
そして、ステップＳ１０３では、対応情報１４ａから合成抵抗値が一致する基板組合せを特定する。すなわち、対応情報１４ａにおいて、上記取り込んだ合成抵抗値（測定値）と一致する合成抵抗値に対応づけられている基板組合せの情報を特定するものである。
【００３１】
なお、先にも述べたように厳密に言えば、測定された合成抵抗値は、想定される合成抵抗値に対して誤差を有することになるから、対応情報１４ａ内に測定値と完全に一致する合成抵抗値が存在しない場合もある。従って実際のステップＳ１０３の処理としては、対応情報１４ａにて格納される各合成抵抗値を、このように測定値に想定される誤差範囲を考慮した範囲情報として扱うようにされる。
或いは、対応情報１４ａ内に格納される合成抵抗値の情報そのものを、このような誤差範囲を含む範囲情報として格納しておくこともできる。
【００３２】
続くステップＳ１０４においては、上記特定された組合せ情報が、予め設定された正しい組合せ情報と一致するか否かについて判別を行う。組合せ情報が一致したとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ１０５に処理を進めて、良品通知プリント処理を実行する。すなわち、プリント部１５に対する制御を行って、検査対象のテレビジョン受像機１が正しく基板が組み合わされた良品であることを示す良品通知を印刷出力させるものである。
【００３３】
また、ステップＳ１０４において、組合せ情報が一致していないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ１０６に進み不一致の基板を特定する。つまり、予め設定された組合せ情報により示される正しい基板組合せと、特定された組合せ情報により示される基板組合せとを比較し、一致していない基板を特定する。
その上で、ステップＳ１０７においては、このように特定された不一致基板の情報に基づき、不一致基板通知プリント処理を実行する。つまり、特定された不一致基板の名称等、不一致基板を特定するための情報を示す不一致基板通知を、プリント部１５により印刷出力させるものである。
【００３４】
以上のようにして本実施の形態では、テレビジョン受像機１に実装される各基板に対しそれぞれ抵抗値の異なる検査用抵抗Ｒを設け、それらの合成抵抗値を測定した結果に基づき、各基板が正しい組合せにより実装されているか否かについて検査するものとしている。
この場合、各基板の組合せごとに、合成抵抗値は固有の値となるようにすることができるので、測定された合成抵抗値は基板組合せそのものを示す情報とすることができる。従って、上記のようにして合成抵抗値を測定することで、テレビジョン受像機１に実装された基板組合せを特定することができ、これによって各基板が正しく組み合わされているか否かについて検査することができる。
特に、実施の形態のように、実装が想定される全ての基板組合せごとにそれらの合成抵抗値を対応づけた対応情報１４ａを用いれば、誤った基板組合せが為されたときにもその基板組合せを特定することができ、これによって誤って組み合わされた不一致基板を特定することができる。
【００３５】
そして、このような本実施の形態によれば、合成抵抗値という定量的な数値を用いて基板組合せが正しく行われたかを検査できるので、従来の官能検査と比較してより適正な検査とすることができる。
また、本実施の形態では各基板に備えられた検査用抵抗Ｒの合成抵抗値を測定するので、その分検査時間の短縮化を図ることができる。例えば、本実施の形態のように各基板にそれぞれ抵抗値の異なる検査用抵抗Ｒを設けた場合には、各基板ごとに検査用抵抗Ｒの抵抗値を測定して基板の１つ１つを認識した上で、実装されている基板の組合せを特定することも考えられるが、この場合は組合せ特定のために実装される基板の数だけ測定動作を行わなければならない。
これに対し合成抵抗値を測定する本実施の形態は、基板組合せの特定のための抵抗値測定は１度のみとすることができるので、その分検査時間を短縮化できる。
【００３６】
また、このような検査のための合成抵抗値の測定にあたり、本実施の形態のテレビジョン受像機１としては、各基板に備えられた検査用抵抗Ｒの合成抵抗値が得られるように電力供給端子（電源入力端子ｔin、グラウンド端子ｔGND）が設けられている。従ってこのような本実施の形態としてのテレビジョン受像機１の構成によれば、実施の形態としての検査動作に好適なテレビジョン受像機（電子機器）を提供できる。
【００３７】
また、実施の形態としての検査装置１０によれば、実施の形態としての検査動作を人手によらず行うことができ、これによってテレビジョン受像機１の製造にあたっての人件費削減を図ることができ、製品コストの削減につながる。
さらには、実施の形態では検査結果を良品通知／不一致基板通知として印刷出力することで、検査結果を外部に通知することができる。
なお、良品通知／不一致基板通知は表示部１７上に同様の通知を表示することで外部に通知することもできる。
【００３８】
ここで本発明としてはこれまでに説明した実施の形態に限定されるべきものではない。
例えば実施の形態において示した検査用抵抗Ｒの抵抗値はあくまで一例であり、誤差範囲を考慮してそれぞれの基板組合せごとに固有の合成抵抗値が得られるように設定されていれば、その値について特に限定はしない。
【００３９】
また、実施の形態では検査用抵抗ＲとしてＥ１２系列の金属皮膜抵抗を用いるものとした。これによれば、本実施の形態としての検査を実現するにあたっての追加部品コストを抑制することができる。
しかしながら、例えば合成抵抗値の誤差を少なくする目的等で、Ｅ２４系列の金属皮膜抵抗を用いることもできる。また、標準抵抗でなく超精密抵抗や特殊抵抗を用いることで、同様に合成抵抗値の誤差を少なくすることができる。
合成抵抗値の誤差が少なくできれば、その分対応情報１４ａに格納すべき各合成抵抗値をより近接した値に設定することができ、さらに多くの基板の組合せに対応するとしたときに好適である。
【００４０】
また、各検査用抵抗Ｒは並列接続するものとしたが、直列に接続することもできる。この場合、合成抵抗値は各検査用抵抗Ｒの抵抗値の和となる。
【００４１】
また、実施の形態では本発明がテレビジョン受像機１について適用される場合を説明したが、本発明としては、異なる回路基板が組み合わされて実装される電子機器に広く適用することができる。
【００４２】
また、最後に確認のために述べておくと、これまでで説明した基板組合せについての検査動作は、電子機器の製造工程の最終段階で行われるものであり、その検査結果により、良品のものはそのまま、誤ったものは組み直し等が行われて最終製品として出荷されるものとなる。従ってこのような検査動作は、電子機器の製造工程（製造方法）の一部であるということができる。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】本発明における実施の形態の電子機器としてのテレビジョン受像機の内部構成について、主に映像表示系の基板構成を抽出して示した図である。
【図２】実施の形態のテレビジョン受像機の内部構成について、主に各基板内に備えられた抵抗素子の接続形態について説明するための図である。
【図３】テレビジョン受像機に実装される基板の組合せについて説明するための図である。
【図４】実施の形態の検査装置の内部構成について説明するためのブロック図である。
【図５】対応情報について説明するための図である。
【図６】実施の形態の検査装置において実行される処理動作について説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
【００４４】
１  テレビジョン受像機、２  Ａ基板、２−１  第１Ａ基板、２−２  第２Ａ基板、３  Ｂ基板、３−１  第１Ｂ基板、３−２  第２Ｂ基板、４  Ｃ基板、４−１  第１Ｃ基板、４−２  第２Ｃ基板、５  ＣＲＴ、ｔin  電子入力端子、ｔGND  グラウンド端子、Ｒａ,Ｒａ１,Ｒａ２,Ｒｂ,Ｒｂ１,Ｒｂ２,Ｒｃ,Ｒｃ１,Ｒｃ２  検査用抵抗、１０  検査装置、１１  ＣＰＵ、１２  電源部、１３  Ａ／Ｄコンバータ、１４  メモリ部、１４ａ  対応情報、１５  プリント部、１６  操作部、１７  表示部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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