(57)【要約】【課題】  放射線撮像装置による動画像撮影にて、オフセットのゆらぎが被写体画像のオフセット補正に影響を及ぼすことを防止し、且つフレームレートの低下を抑制できるようにする。【解決手段】  放射線照射部１０９から所定の周期で被写体に放射線を照射し、当該照射された放射線に基づく被写体像を光電変換回路１０１により検出するとともに、周期的にオフセット画像を取得し、取得した周期的なオフセット画像の変化に応じて、放射線照射部の放射線照射周期及び光電変換回路からの被写体像の読み取り周期を制御するようにして、オフセットのゆらぎが生じる撮影開始直後はオフセット撮影と被写体撮影を交互に行って正確に被写体画像のオフセット補正を行い、オフセットが安定したら高フレームレートで被写体撮影を連続して行うことができるようにする。【選択図】  図６
2006158728.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被写体に対して放射線を照射する放射線照射手段と、
放射線を電気信号に変換する複数の放射線検出素子がマトリクス状に配列された放射線検出手段と、
前記放射線検出手段から前記電気信号を読み出す読み出し手段と、
前記読み出し手段より供給される前記電気信号を処理する信号処理手段とを備え、
前記放射線照射手段から所定の周期で放射線を照射し、当該照射された放射線に基づく被写体像を前記放射線検出手段により検出するとともに、
前記信号処理手段は、前記供給される電気信号に係るオフセットデータを取得するとともに、前記オフセットデータの変化に応じて、前記放射線照射手段の放射線照射周期及び前記放射線検出手段からの前記電気信号の読み取り周期を制御することを特徴とする放射線撮像装置。
【請求項２】
前記信号処理手段は、複数の前記オフセットデータを格納する記憶手段を備え、前記オフセットデータを所定の周期で取得して前記記憶手段に格納するとともに、前記記憶手段に格納した前記オフセットデータを基に算出した前記オフセットデータの変動量に応じて、前記放射線照射周期及び前記読み取り周期を制御することを特徴とする請求項１記載の放射線撮像装置。
【請求項３】
前記記憶手段は、奇数番目に取得した前記オフセットデータを格納する第１の記憶手段と、偶数番目に取得した前記オフセットデータを格納する第２の記憶手段とを有し、
前記オフセットデータの変動量は、前記第１の記憶手段に格納したオフセットデータと前記第２の記憶手段に格納したオフセットデータの差分であることを特徴とする請求項２記載の放射線撮像装置。
【請求項４】
前記信号処理手段は、前記オフセットデータの変化と所定の閾値とを比較する比較手段を備え、前記比較手段での比較結果に応じて、前記放射線照射周期及び前記読み取り周期を制御することを特徴とする請求項１〜３の何れか１項に記載の放射線撮像装置。
【請求項５】
前記放射線照射周期と前記読み取り周期との組み合わせが複数設定され、前記比較手段は、各前記放射線照射周期と前記読み取り周期との組み合わせに対応して設けられた前記所定の閾値と前記オフセットデータの変化とを比較することを特徴とする請求項４記載の放射線撮像装置。
【請求項６】
前記読み出し手段は、前記放射線検出手段を駆動制御する駆動手段と、前記電気信号を読み出すための電気信号読み出し手段とを有し、
前記信号処理手段は、
放射線が照射されていない期間に前記放射線検出手段により周期的に前記オフセットデータを取得し、
前記取得した周期的なオフセットデータの差分を計算してオフセットデータの変動量を監視するとともに、
前記オフセットデータの変動量に応じて前記放射線照射周期及び前記読み取り周期を制御することを特徴とする請求項１記載の放射線撮像装置。
【請求項７】
前記放射線検出素子の材料として、アモルファスシリコンが用いられていることを特徴とする請求項６記載の放射線撮像装置。
【請求項８】
前記放射線検出素子として、ＭＩＳ型光電変換素子が用いられていることを特徴とする請求項７記載の放射線撮像装置。
【請求項９】
放射線に対して波長変換を施す波長変換体を有し、
前記波長変換体により波長変換されて出力された波が前記放射線検出素子に入射することを特徴とする請求項６〜８の何れか１項に記載の放射線撮像装置。
【請求項１０】
前記波長変換体は、Ｇｄ2Ｏ2Ｓ、Ｇｄ2Ｏ3及びＣｓＩのなかから選択された１種を主成分とすることを特徴とする請求項９に記載の放射線撮像装置。
【請求項１１】
前記放射線検出素子は、放射線を吸収して直接電気信号に変換する機能を有し、その主材料がアモルファスセレン、ヒ素化ガリウム、ヨウ化水銀、及びヨウ化鉛のなかから選択された１種であることを特徴とする請求項６記載の放射線撮像装置。
【請求項１２】
被写体に対して放射線を照射する放射線照射手段と、放射線を電気信号に変換する複数の放射線検出素子がマトリクス状に配列された放射線検出手段とを備える放射線撮像装置の制御方法であって、
前記放射線照射手段から所定の周期で照射した放射線に基づいて検出された被写体像に係る電気信号を前記放射線検出手段から読み出す読み出し工程と、
前記読み出し工程にて読み出した電気信号に所定の処理を施す信号処理工程と、
前記電気信号に係るオフセットデータを取得するオフセットデータ取得工程と、
前記オフセットデータ取得工程にて取得した前記オフセットデータの変化に応じて、前記放射線照射手段の放射線照射周期及び前記放射線検出手段からの前記電気信号の読み取り周期を制御する制御工程とを有することを特徴とする放射線撮像装置の制御方法。
【請求項１３】
被写体に対して放射線を照射する放射線照射手段と、放射線を電気信号に変換する複数の放射線検出素子がマトリクス状に配列された放射線検出手段とを備える放射線撮像装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記放射線照射手段から所定の周期で照射した放射線に基づいて検出された被写体像に係る電気信号を前記放射線検出手段から読み出す読み出しステップと、
前記読み出しステップにて読み出した電気信号に所定の処理を施す信号処理ステップと、
前記電気信号に係るオフセットデータを取得するオフセットデータ取得ステップと、
前記オフセットデータ取得ステップにて取得した前記オフセットデータの変化に応じて、前記放射線照射手段の放射線照射周期及び前記放射線検出手段からの前記電気信号の読み取り周期を制御する制御ステップとをコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項１４】
請求項１３記載のプログラムを記録したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線撮像装置及びその制御方法に関し、特に、マトリクス状に配列された複数の放射線検出素子により放射線を電気信号に変換して検出する放射線撮像装置に用いて好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
現在、医療におけるＸ線の静止画撮影系においては、被写体である患者にＸ線を照射し、その透過Ｘ線像をフィルムに露光するフィルム方式が主流になっている。フィルムは、情報を表示及び記録する機能を有し、大面積化でき、階調性が高く、しかも軽量で取り扱いが容易であるため、世界中に普及している。反面、現像工程を要する煩雑さ、長期にわたる保管場所、検索に人手と時間を要する等の問題点を有している。
【０００３】
一方、Ｘ線の動画像撮影系においては、イメージ・インテンシファイア（以下、「Ｉ．Ｉ．」と称する。）が主流となっている。Ｉ．Ｉ．は、装置内部で光電子増倍作用を利用しているため、一般に感度が高く、被曝線量低減の観点で優れている。反面、光学系の影響による周辺画像の歪み、低コントラスト、装置が大きいといった短所が指摘されている。Ｉ．Ｉ．は、患者の透視画像を医師がモニターするだけでなく、ＣＣＤのアナログ出力をディジタル変換して、記録、表示、保管することも可能である。しかし、診断には高い階調性が求められるため、透視画像にＩ．Ｉ．を用いても、静止画撮影ではフィルムを用いている例が多い。
【０００４】
最近、病院内でのＸ線画像のディジタル化の要求が高まりつつあり、フィルムの替わりに、固体撮像素子を２次元マトリクス状に配置したＸ線検出装置を用いて、Ｘ線量を電気信号に変換するＸ線撮像装置（ＦＰＤ：Flat Panel Detector）が使われ初めている。これは、Ｘ線画像をディジタル情報に置き換えることができるため、画像情報を遠方に、しかも瞬時に伝送することが可能になり、Ｘ線画像の情報を伝送することで遠方にいながら都心の大学病院に匹敵する高度な診断を受けることが可能になるという長所がある。また、フィルムを用いないことで病院内でのフィルムの保管スペースが省ける長所もある。将来的には、優れた画像処理技術の導入により、放射線医師を介さず、コンピュータを用いた自動診断化の可能性が大いに期待されている。
【０００５】
そして、近年、固体撮像素子にアモルファスシリコン薄膜半導体を用い、静止画像を撮影できるＸ線撮像装置が実用化された。アモルファスシリコン薄膜半導体の作製技術を用い、Ｘ線検出装置として人体胸部の大きさをカバーする４０ｃｍ角を超える大面積化が実現されている。その作製プロセスが比較的容易であるため、将来的には安価な検出装置の提供が期待されている。しかもアモルファスシリコンは、厚さが１ｍｍ以下の薄いガラスに作製可能であるため、ディテクタとしての厚さを非常に薄く作製できる長所がある。
【０００６】
このようなＸ線撮像装置は、放射線を電気信号に変換する複数の光電変換素子がマトリクス状に配列された光電変換回路と、変換して得られた電気信号をこの光電変換回路から読み出すための読み出し回路とを有している。被写体にＸ線が照射されるとその透過Ｘ線に係る光電変換が光電変換回路の各光電変換素子にて行われ、各光電変換素子に透過Ｘ線量に対応した信号電荷が蓄積される。そして、光電変換回路の各信号線を駆動し光電変換素子が接続されたスイッチ素子を適宜制御することにより、各光電変換素子に蓄積されている信号電荷を読み出し回路に電気信号として順次読み出し、さらに増幅して出力する。
【０００７】
以上のように動作させることで、読み出し回路から出力される電気信号により被写体画像を読み取ることができるが、実際にそのままの画像（画像に係る読み出し回路から出力される電気信号）には光電変換回路や読み出し回路で生成されるオフセットが含まれる。オフセットの要因にはいくつかあり、（Ａ）光電変換素子のダーク電流、（Ｂ）スイッチ素子のリーク電流、（Ｃ）読み出し回路のアンプのオフセット電圧等がある。
【０００８】
ここでＸ線を照射して得られた画像は、上述したようにオフセットが含まれているのでオフセット成分を取り除かなければならず、その処理をオフセット補正という。静止画を撮影する場合には、放射線を照射した被写体画像を１枚撮影し、その後放射線を照射しないオフセット画像を撮影して、被写体画像からオフセット画像を差し引くことによりオフセット補正が行われる。
【０００９】
一方、動画像撮影の場合には、最初に放射線を照射しないオフセット画像を１枚撮影し、その後放射線を照射して複数の被写体画像を撮影し、最初に撮影したオフセット画像により被写体画像を補正する、もしくは、被写体画像とオフセット画像を交互に撮影し、その都度、被写体画像からオフセット画像を差し引いて補正を行う方法等がある。前者は、オフセット画像を１枚しか撮影せず、その後連続して被写体画像を撮影できるため、フレームレートが速い。それに対し、後者は、被写体画像とオフセット画像を交互に撮影するため、フレームレートが遅くなるという欠点がある。
【００１０】
しかし、動画像撮影では経時的にオフセットがゆらぐという特性があり、このゆらぎについては下記特許文献１に記載されており、以下この説明を行う。特許文献１には、動画像撮影時、特に透視撮影において、撮影毎にオフセットが変動して画質が劣化すると記載されている。特許文献１においては、このオフセットのゆらぎに対して、被写体画像の撮影とオフセット画像の撮影を交互に行い、オフセット画像を更新していくことにより対応している（前述した後者の方法）。
【００１１】
図１０は、特許文献１の代表図であり、以下この説明を簡単に行う。図１０は、横方向に時間軸を取ったタイミングチャートであり、（ａ）フレームレート、（ｂ）Ｘ線照射及び画像データ収集タイミング、（ｃ）校正データ収集及びテーブルデータ更新タイミング、（ｄ）表示画像がそれぞれ示されている。まず、「ＦＰＤ収集」によりＸ線を被写体に照射して被写体画像を撮影する。その次に、「校正データ収集」によりオフセットデータを収集して、それ以前に収集していた（図示せず）オフセットデータと加算平均を行い、平均したオフセットデータを新たなオフセットデータとし更新する。次にまた「ＦＰＤ収集」によりＸ線を照射した被写体画像を撮影し、この撮影して得られた被写体画像を先の更新したオフセットデータでオフセット補正を行う。このように「ＦＰＤ収集（被写体画像撮影）」と「校正データ収集（オフセット画像撮影）」を交互に行うことにより、オフセットデータを随時更新してゆらぎによる影響の抑制を図っている。
【００１２】
【特許文献１】特開２００２−３０１０５３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
しかしながら、特許文献１に記載のように被写体画像撮影（Ｘ線撮影）の合間に校正データ収集を行ってオフセット補正を行うと、オフセットのゆらぎを抑えることはできるがフレームレートが低下するという問題がある。仮に、Ｘ線撮影と校正データ収集を１回毎交互に行った場合には、Ｘ線撮影を連続して行った場合に比べてフレームレートが１／２となってしまう。
【００１４】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、放射線撮像装置による動画像撮影にて、オフセットのゆらぎが被写体画像のオフセット補正に影響を及ぼすことを防止し、且つフレームレートの低下を抑制できるようにすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明の放射線撮像装置は、被写体に対して放射線を照射する放射線照射手段と、放射線を電気信号に変換する複数の放射線検出素子がマトリクス状に配列された放射線検出手段と、前記放射線検出手段から前記電気信号を読み出す読み出し手段と、前記読み出し手段より供給される前記電気信号を処理する信号処理手段とを備え、前記放射線照射手段から所定の周期で放射線を照射し、当該照射された放射線に基づく被写体像を前記放射線検出手段により検出するとともに、前記信号処理手段は、前記供給される電気信号に係るオフセットデータを取得するとともに、前記オフセットデータの変化に応じて、前記放射線照射手段の放射線照射周期及び前記放射線検出手段からの前記電気信号の読み取り周期を制御することを特徴とする。
本発明の放射線撮像装置の制御方法は、被写体に対して放射線を照射する放射線照射手段と、放射線を電気信号に変換する複数の放射線検出素子がマトリクス状に配列された放射線検出手段とを備える放射線撮像装置の制御方法であって、前記放射線照射手段から所定の周期で照射した放射線に基づいて検出された被写体像に係る電気信号を前記放射線検出手段から読み出す読み出し工程と、前記読み出し工程にて読み出した電気信号に所定の処理を施す信号処理工程と、前記電気信号に係るオフセットデータを取得するオフセットデータ取得工程と、前記オフセットデータ取得工程にて取得した前記オフセットデータの変化に応じて、前記放射線照射手段の放射線照射周期及び前記放射線検出手段からの前記電気信号の読み取り周期を制御する制御工程とを有することを特徴とする。
本発明のプログラムは、被写体に対して放射線を照射する放射線照射手段と、放射線を電気信号に変換する複数の放射線検出素子がマトリクス状に配列された放射線検出手段とを備える放射線撮像装置の制御方法をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、前記放射線照射手段から所定の周期で照射した放射線に基づいて検出された被写体像に係る電気信号を前記放射線検出手段から読み出す読み出しステップと、前記読み出しステップにて読み出した電気信号に所定の処理を施す信号処理ステップと、前記電気信号に係るオフセットデータを取得するオフセットデータ取得ステップと、前記オフセットデータ取得ステップにて取得した前記オフセットデータの変化に応じて、前記放射線照射手段の放射線照射周期及び前記放射線検出手段からの前記電気信号の読み取り周期を制御する制御ステップとをコンピュータに実行させることを特徴とする。
本発明のコンピュータ読み取り可能な記録媒体は、前記プログラムを記録したことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、オフセットデータの変化に応じて、放射線照射手段の放射線照射周期及び放射線検出手段からの電気信号の読み取り周期を制御することにより、動画像撮影において、オフセットデータのゆらぎが生じる撮影開始直後はオフセット撮影と被写体撮影を交互に行い、その後オフセットデータが安定したら被写体撮影を連続して行うように制御することができる。したがって、オフセットが変動する撮影開始直後であっても正確に被写体画像のオフセット補正を行い、かつオフセット安定後は高フレームレートで被写体撮影を連続的に行うことができるので、オフセットのゆらぎが被写体画像のオフセット補正に影響を及ぼすことを防止しながらもフレームレートの低下を抑制することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
【００１８】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態による放射線撮像装置を適用したＸ線撮像装置の構成例を示す図である。図１に示す第１の実施形態におけるＸ線撮像装置は、アモルファスシリコン薄膜半導体を用いて光電変換素子を構成したＸ線撮像装置である。また、このＸ線撮像装置では、動画撮影モードと静止画撮影モードとを選択的に設定自在とされている。なお、本発明の実施形態ではＸ線撮像を例示するが、本発明はこれに限定されるものではなく、α線、β線、γ線などの他の放射線を用いる放射線撮像装置についても適用可能である。
【００１９】
図１において、１０１は光電変換回路（放射線検出回路）であり、マトリクス状に配列された光電変換素子Ｓｉｊ、スイッチ素子（ＴＦＴトランジスタ）Ｔｉｊ、ゲート配線Ｇｉ、信号配線Ｍｊ、及びバイアス配線Ｖｓを有する。ここで、符号に付したｉ、ｊは添え字であり、説明の便宜上、本実施形態ではｉ、ｊをそれぞれ１〜３の自然数とする（以下の説明においても同様）、すなわち３×３画素分の９つの光電変換素子を有する光電変換回路を例示して説明するが、これに限定されるものではなく、一般に実際の構成では更に多数の光電変換素子がマトリクス状に配列される。なお、図１においては、Ｘ線を可視光に変換する蛍光体は図示していない。
【００２０】
光電変換素子Ｓｉｊは、例えばＭＩＳ（metal-insulator-semiconductor）型光電変換素子が用いられ、入射されるＸ線を可視光に変換して捕らえ、さらにそれを電気信号に変換するものであり、図１においては並列接続したフォトダイオードと素子容量とを用いて表記している。光電変換素子Ｓｉｊでの光電変換により得られた電荷（信号電荷）は素子容量にそれぞれ蓄積される。光電変換素子Ｓｉｊには、逆方向バイアスが印加されている。すなわち、各光電変換素子Ｓｉｊにおけるフォトダイオードのカソード電極側は、バイアス配線Ｖｓに接続され＋（プラス：正電位）にバイアスされる。ここで、バイアス配線Ｖｓは、通常共通の配線であるが図１では共通の配線としては省略している。
【００２１】
各光電変換素子Ｓｉｊは、Ｘ線（放射線）を可視光に変換する波長変換体と、可視光を受光して電気信号に変換する光電変換体とを有している。波長変換体は、Ｇｄ2Ｏ3、Ｇｄ2Ｏ2Ｓ及びＣｓＩのうちから選ばれた１種を母体材料として構成され、光電変換体は、アモルファスシリコンを主材料として構成されている。また、各光電変換素子Ｓｉｊを、Ｘ線（放射線）を吸収して波長変換体を介さず直接的に電気信号に変換する機能を有するように構成してもよく、アモルファスセレン、ヒ素化ガリウム、ヨウ化水銀、ヨウ化鉛から選ばれた１種をその主たる材料として構成するようにしても良い。
【００２２】
第ｉ行第ｊ列の光電変換素子Ｓｉｊは、それを構成するフォトダイオードのカソード電極と素子容量の一方の電極との相互接続点が上述したようにバイアス配線Ｖｓに接続され、フォトダイオードのアノード電極と素子容量の他方の電極との相互接続点が第ｉ行第ｊ列のスイッチ素子Ｔｉｊを介して第ｊ列の信号配線Ｍｊにそれぞれ接続されている。また、第ｉ行に配置された各スイッチ素子Ｔｉ１〜Ｔｉ３のゲート電極（制御電極）は、スイッチ素子をオン／オフさせるための第ｉ行のゲート配線Ｇｉにそれぞれ接続されている。なお、図１において第ｊ列の信号配線Ｍｊに付加されている読み出し容量ＣＭｊは、信号配線Ｍｊに接続されたスイッチ素子（ＴＦＴトランジスタ）Ｔ１ｊ〜Ｔ３ｊのゲート−ソース間の電極間容量（Ｃｇｓ）の総和である。
【００２３】
１０２はゲート配線Ｇｉにパルスを印加して光電変換回路１０１を駆動制御するシフトレジスタであり、１０７は光電変換回路１０１の信号配線Ｍｊが接続され、信号配線Ｍｊの並列信号出力を増幅するとともに直列変換して出力するための読み出し回路である。また、１０８は読み出し回路１０７から出力された電気信号を処理する信号処理回路であり、１０９は被写体にＸ線（放射線）を照射するための放射線照射部である。
【００２４】
図２は、図１に示した読み出し回路１０７の構成を示す回路図である。図２において、ＲＥＳｊは第ｊ列の信号配線Ｍｊをリセットするスイッチ、Ａｊは信号配線Ｍｊを介して入力される信号を増幅するアンプ、ＣＬｊはアンプＡｊで増幅された信号を一時的に記憶するサンプルホールド容量、ＳｎｊはアンプＡｊで増幅された信号をサンプルホールド容量ＣＬｊにサンプルホールドさせるためのスイッチ、Ｂｊはバッファアンプ、Ｓｒｊは並列信号を直列変換するためのスイッチ、１０３はスイッチＳｒｊによる直列変換を制御するためにスイッチＳｒｊにパルスを与えるシフトレジスタ、１０４は直列変換された信号を出力するバッファアンプである。
【００２５】
スイッチＲＥＳｊは、リセット信号ＣＲＥＳによりオン／オフ制御される２端子スイッチであり、スイッチＳｎｊは、サンプリング信号ＳＭＰＬによりオン／オフ制御される２端子スイッチである。スイッチＲＥＳｊは、一方の端子が対応する第ｊ列の信号配線Ｍｊに接続され、他方の端子が接地（基準電位）に対して接続されている。アンプＡｊは、入力端が信号配線Ｍｊに接続され、出力端がスイッチＳｎｊの一方の端子に接続されている。サンプルホールド容量ＣＬｊは、一方の電極が接地に対して接続され、他方の電極がバッファアンプＢｊの入力端に接続され、この他方の電極とバッファアンプＢｊの入力端との相互接続点がスイッチＳｎｊの他方の端子に接続されている。バッファアンプＢｊの出力端はスイッチＳｒｊを介してバッファアンプ１０４の入力端に接続され、バッファアンプ１０４の出力端は出力信号線Ｖｏｕｔに接続されている。ここで、スイッチＳｒｊ（Ｓｒ１〜Ｓｒ３）は、シフトレジスタ１０３からのパルス（制御信号）に基づいて、排他的にスイッチＳｒｊをオン状態にする、言い換えれば同時に２つ以上のスイッチＳｒｊがオン状態とならないようにオン／オフ制御される。
【００２６】
図３は、図１に示した光電変換回路１０１の各光電変換素子Ｓｉｊにて得られる光電変換信号の読み出し動作を示すタイミングチャートである。なお、図３において、各信号名や各信号線名等は、図１及び図２に準拠する。また、スイッチＳｒｊについては、便宜上、オン状態であるかオフ状態であるかをレベルとしてそれぞれ示している。
【００２７】
まず、Ｘ線照射期間（光電変換期間）について説明する。光電変換回路１０１の光電変換素子Ｓｉｊが接続されるスイッチ素子（ＴＦＴトランジスタ）Ｔｉｊがすべてオフの状態において、光源（Ｘ線：放射線照射部）がパルス的にオンすると、それぞれの光電変換素子Ｓｉｊに光が照射されて光電変換がなされ、光の量に対応した信号電荷が素子容量に蓄積される。ここで、Ｘ線可視変換用の蛍光体を用いていれば、Ｘ線の量に対応した可視光を光電変換素子Ｓｉｊ側に導光するような部材を用いるか、蛍光体を光電変換素子Ｓｉｊの極近傍に配置すればよい。なお、光源がオフした後であっても光電変換された信号電荷は素子容量に保持される。
【００２８】
次に、読み出し期間について説明する。光電変換により得られた信号電荷（光電変換信号）の光電変換素子Ｓｉｊからの読み出し動作は、１行目の光電変換素子Ｓ１１〜Ｓ１３、次に２行目の光電変換素子Ｓ２１〜Ｓ２３、次に３行目の光電変換素子Ｓ３１〜Ｓ３３の順で行われる。
【００２９】
まず、１行目の光電変換素子Ｓ１１〜Ｓ１３から信号電荷を読み出すために、シフトレジスタ１０２は、スイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ１３のゲート電極が接続されているゲート配線Ｇ１にゲートパルスを与える。これにより、スイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ１３がオン状態になり、光電変換素子Ｓ１１〜Ｓ１３に蓄積されていた信号電荷が、スイッチ素子Ｔ１１〜Ｔ１３を介して信号配線Ｍ１〜Ｍ３（読み出し容量ＣＭ１〜ＣＭ３）にそれぞれ転送される。信号配線Ｍ１〜Ｍ３に転送された信号電荷は、読み出し回路１０７内のアンプＡ１〜Ａ３でそれぞれ増幅される。
【００３０】
その後、サンプリング信号ＳＭＰＬがパルス状にオンとなることで、アンプＡ１〜Ａ３で増幅された信号がサンプルホールド容量ＣＬ１〜ＣＬ３に転送されホールドされる。次に、シフトレジスタ１０３がスイッチＳｒ１、Ｓｒ２、Ｓｒ３の順番で排他的に順次オン状態となるようにパルスを印加することにより、サンプルホールド容量ＣＬ１〜ＣＬ３にホールドされていた信号が、バッファアンプＢ１〜Ｂ３を介してサンプルホールド容量ＣＬ１、ＣＬ２、ＣＬ３の順でバッファアンプ１０４に供給される。そして、バッファアンプ１０４から出力信号線Ｖｏｕｔを介して出力される。ここで、複数のバッファアンプＢ１、Ｂ２、Ｂ３の各アナログ信号出力が１つのバッファアンプ１０４から出力されることから、シフトレジスタ１０３とスイッチＳｒ１〜Ｓｒ３を含めてアナログマルチプレクサと称する。結果として、１行目の光電変換素子Ｓ１１、Ｓ１２、Ｓ１３の光電変換信号がアナログマルチプレクサにより順次出力されることになる。
【００３１】
２行目の光電変換素子Ｓ２１〜Ｓ２３からの信号電荷（光電変換信号）の読み出し、及びそれに続く３行目の光電変換素子Ｓ３１〜Ｓ３３からの信号電荷（光電変換信号）の読み出しも、シフトレジスタ１０２がゲート配線Ｇ２、Ｇ３にゲートパルスを与えるようにする点が異なるだけで、１行目の光電変換素子Ｓ１１〜Ｓ１３からの読み出しと同様に行われる。なお、シフトレジスタ１０２がゲート配線Ｇ１〜Ｇ３にゲートパルスをそれぞれ与える際には、それに先立って信号配線Ｍｊはリセット信号ＣＲＥＳによりグランドレベル（接地電位）にリセットされる。
【００３２】
図３に示されるように、例えば１行目の光電変換素子Ｓ１１〜Ｓ１３から信号配線Ｍ１〜Ｍ３に転送された信号を、サンプリング信号ＳＭＰＬによりサンプルホールド容量ＣＬ１〜ＣＬ３にサンプルホールドすれば、リセット信号ＣＲＥＳにより信号配線Ｍ１〜Ｍ３をグランド（ＧＮＤ）電位にリセットして、その後ゲート配線Ｇ２にゲートパルスを印加することができる。すなわち、１行目の光電変換素子Ｓ１１〜Ｓ１３から読み出した信号をシフトレジスタ１０３により直列変換動作をしている間に、同時に２行目の光電変換素子Ｓ２１〜Ｓ２３に蓄積されていた信号電荷をシフトレジスタ１０２により信号配線Ｍ１〜Ｍ３に転送することができる。
以上説明した動作により、光電変換回路１０１が有する１行目〜３行目のすべての光電変換素子Ｓｉｊで蓄積された信号電荷を信号Ｖｏｕｔとして出力することができる。
【００３３】
図４は、図１に示した信号処理回路１０８の構成例を示すブロック図である。信号処理回路１０８は、出力信号線Ｖｏｕｔを介して供給される読み出し回路１０７からのアナログ出力をディジタル変換するアナログ−ディジタル変換器（ＡＤＣ）１１と、オフセット画像データ（以下、単に「オフセットデータ」とも称す。）を格納する２つのオフセットメモリ１、２と、Ｘ線が被写体に照射された後の読み出し動作により取得した被写体画像データを格納する被写体撮影用メモリ５と、当該信号処理回路１０８を統括的に制御し、オフセットメモリ１、２及び被写体撮影用メモリ５に記憶されたデータに後述するような信号処理を施すＣＰＵ（中央演算処理装置）６と、ＣＰＵ６により制御されるシフトレジスタ７とを有し構成されている。
【００３４】
オフセットメモリ１、２は、ＡＤＣ１１の出力が供給されており、シフトレジスタ７を介して選択的に供給されるＣＰＵ６からのオフセット撮影信号に従って、ＡＤＣ１１の出力をオフセットデータとして格納する。同様に被写体撮影用メモリ５は、ＣＰＵ６からの被写体撮影信号に従って、ＡＤＣ１１の出力を被写体画像データとして格納する。また、ＣＰＵ６は、信号処理の結果に基づいて、被写体への放射線照射周期を制御するための照射部制御信号を放射線照射部１０９に出力する。なお、図４においては、２つのオフセットメモリ１、２を設ける場合を一例として示しているが、オフセットメモリを１つだけ設け、予めその記憶領域を分割して図４に示したオフセットメモリ１、２に相当するものとして用いるようにしても良い。さらには、１つのメモリにオフセットメモリ１、２及び被写体撮影用メモリ５に相当する互いに独立した記憶領域を設けるようにしても良い。
【００３５】
図５は、第１の実施形態におけるＸ線撮像装置の動作の一例を示すタイミングチャートである。図５においては、説明の便宜上、図１０における「ＦＰＤ収集」を「被写体撮影」とし、また「校正データ収集」を「オフセット撮影」としている。ここで、被写体撮影とオフセット撮影とは、撮影する際にＸ線を照射しているか否かが異なり、それぞれの撮影にて図３に示したようにして光電変換回路１０１が有する光電変換素子Ｓｉｊから光電変換信号（本実施形態では９画素分の信号）を読み出す。
【００３６】
すなわち、被写体撮影は、Ｘ線を被写体に照射し、被写体を透過したＸ線がＸ線撮像装置に入射し、入射したＸ線を波長変換体で可視光に変換したのち、光電変換素子での光電変換により得られた電気信号を光電変換回路から読み出すことにより被写体像を読み取る動作である。それに対し、オフセット撮影は、Ｘ線を被写体に照射せずに、光電変換回路が有する光電変換素子の暗電流、及び読み出し回路内のアンプのオフセット電圧を読み出す動作である。被写体撮影画像にはオフセット画像成分も含まれているため、被写体撮影及びオフセット撮影の後に行うオフセット補正にて、被写体撮影画像からオフセット撮影画像を差し引くことにより、オフセット成分を除去し被写体を透過したＸ線情報、言い換えれば被写体画像のＸ線撮影成分のみの情報を求めることができる。
【００３７】
図６は、第１の実施形態におけるＸ線撮像装置の動作を示すフローチャートである。図６に示すフローチャートに従って処理を実行することにより、図５に一例を示したような第１の実施形態におけるＸ線撮像装置の動作が実現される。図６において、ｍはオフセット撮影枚数を示し、ｎは被写体撮影枚数を示す。
【００３８】
まず、動作開始時にはオフセット撮影と被写体撮影とを交互に繰り返す。動作開始時のステップＳＴ１で、オフセット撮影枚数ｍ＝０、被写体撮影枚数ｎ＝０がセットされる。ステップＳＴ２にて、オフセット撮影枚数ｍ及び被写体撮影枚数ｎに、これから撮影する枚数分の値がそれぞれ加算される。例えば、動作開始直後であれば、オフセット撮影枚数ｍ＝０＋１＝１、被写体撮影枚数ｎ＝０＋１＝１となる。
【００３９】
次に、ステップＳＴ３にて、オフセット撮影が行われ、オフセット画像Ｆｍが取得される。オフセット画像Ｆｍは、光電変換回路１０１から読み出されて読み出し回路１０７から出力されたアナログ信号がＡＤＣ１１によりディジタル信号に変換された後、信号処理回路１０８内のオフセットメモリ１、又は２に格納される。ここで、オフセット画像Ｆｍを格納するオフセットメモリ１、２の切り替えは、ＣＰＵ６から出力されるオフセット撮影信号によりシフトレジスタ７がオフセットメモリ１とオフセットメモリ２を交互に選択するようになっている。そのため、オフセット撮影を何回行っても、常に最新の２枚のオフセット画像がオフセットメモリ１とオフセットメモリ２に格納されていることになる。本実施形態では、奇数番目のオフセット撮影により得られたオフセット画像Ｆ１、Ｆ３、Ｆ５、…がオフセットメモリ１に格納され、偶数番目のオフセット撮影により得られたオフセット画像Ｆ２、Ｆ４、Ｆ６、…がオフセットメモリ２に格納される。
【００４０】
次に、ステップＳＴ４にて、放射線照射部１０９により被写体にＸ線を照射して被写体撮影を行い、被写体撮影画像Ｘｎを取得する。このとき、Ｘ線はパルス状に照射され、被写体撮影時間にのみ照射される。被写体撮影画像Ｘｎは、光電変換回路１０１から読み出した光電変換信号に基づく読み出し回路１０７からの出力アナログ信号がＡＤＣ１１にてディジタル信号に変換され、信号処理回路１０８内の被写体撮影用メモリ５に格納される。
【００４１】
次に、ステップＳＴ５にてオフセット補正が行われる。このオフセット補正では、先の撮影（オフセット撮影及び被写体撮影）により得られた被写体撮影画像Ｘｎからオフセット画像Ｆｍを差し引き（Ｘｎ−Ｆｍ）、被写体画像に係るＸ線撮影成分のみを取り出す。具体的には、オフセットメモリ１又は２に格納されている最新のオフセット画像Ｆｍと被写体撮影用メモリ５に格納されている被写体撮影画像Ｘｎとがデータバスを介してＣＰＵ６に転送され、ＣＰＵ６にて（Ｘｎ−Ｆｍ）の演算処理が行われることで補正処理が施される。
【００４２】
次に、ステップＳＴ６にて、ＣＰＵ６はオフセットメモリ１、２に格納されている２枚のオフセット画像Ｆｍ、Ｆ（ｍ−１）に係る差分計算（Ｆｍ−Ｆ（ｍ−１））を行うことによりオフセットの変動量を求める。１枚目の撮影の場合には、オフセットメモリ１、２には１枚のオフセット画像しか格納されていないため（オフセットメモリ２にはオフセット画像がない）、差分計算により得られるオフセットの変動量は、オフセット画像Ｆ１となる。オフセット画像が２枚目以降の場合には、差分計算により得られるオフセットの変動量は、｜Ｆ２−Ｆ１｜、｜Ｆ３−Ｆ２｜、…と計算される。その際、オフセットの変動量は絶対値で求め、差分画像中の最大値（変動量の最大値）を差分Ｓａｍに代入する。また、ステップＳＴ５でのオフセット補正と同様に、ＣＰＵ６は、オフセットメモリ１及び２からデータバスを介してオフセット画像Ｆｍ、Ｆ（ｍ−１）を読み込み差分計算及び最大値抽出を行う。
【００４３】
次に、ステップＳＴ７にて、差分Ｓａｍに基づいて、オフセットがゆらいでいるか否かの判定を行う。具体的には、予めある閾値を設定し、ステップＳＴ６において求めた差分Ｓａｍと閾値とを比較することにより、差分Ｓａｍが閾値以下であるか否かを判定する（例えば差分Ｓａｍ＝０の場合には、オフセットのゆらぎがないことになる。）。この判定の結果、差分Ｓａｍが閾値より大きい場合には、ステップＳＴ２に戻って再びオフセット撮影及び被写体撮影のサイクル（ステップＳＴ２〜ＳＴ７）を繰り返す。このステップＳＴ２〜ＳＴ７の処理をオフセットのゆらぎに相当する差分Ｓａｍが閾値以下になるまで繰り返し行い、差分Ｓａｍが閾値以下になった場合にはステップＳＴ８に進む。図５に示した例では、ステップＳＴ２〜ＳＴ７の処理を４回繰り返し行った後、オフセットのゆらぎである差分Ｓａ４（＝｜Ｆ４−Ｆ３｜）が閾値以下になったので、ステップＳＴ８に移行している。
【００４４】
オフセットのゆらぎを示す差分Ｓａｍが閾値以下になった以降のステップＳＴ８〜ＳＴ１１では、オフセット撮影を行うことなく、連続して被写体撮影を行う。ステップＳＴ８〜ＳＴ１１の処理はループになっているため、撮影終了まで継続して行われる。より詳細には、ステップＳＴ９にて被写体撮影枚数ｎの値に１を加え（ｎ＝ｎ＋１）、ステップＳＴ１０にて被写体撮影を行って被写体撮影画像Ｘｎを取得し、ステップＳＴ１１にて被写体撮影画像Ｘｎからオフセット画像Ｆｍを差し引くことによりオフセット補正を行って、再びステップＳＴ９（ＳＴ８）に戻る。そのため、図５に示すようにステップＳＴ２〜ＳＴ７までのオフセット撮影及び被写体撮影を交互に行っていた場合に比べて、ステップＳＴ８〜ＳＴ１１では被写体撮影のみを行うことからフレームレートが２倍になる。なお、ステップＳＴ８〜ＳＴ１１において撮影された被写体撮影画像に対するオフセット画像は、ステップＳＴ２〜ＳＴ７の処理で撮影した最後のオフセット画像Ｆｍ（本実施形態の場合にはオフセット画像Ｆ４）を継続して使用する。
【００４５】
図７（ａ）、（ｂ）は、オフセット画像のゆらぎを示したものであり、図７（ａ）は仮にオフセットの変動をモニタせずにオフセット撮影と被写体撮影を交互に繰り返して行った場合を示したものであり、図７（ｂ）は、上述した第１の実施形態によりオフセットの変動をモニタし、オフセットの変動量が所定の大きさ（閾値）以下となったらオフセット撮影を行うことなく被写体撮影のみを連続して行うようにした場合を示したものである。
【００４６】
図７（ａ）、（ｂ）において、横軸はフレーム数、縦軸は画像出力であり、図中“□”は被写体撮影画像、“○”はオフセット画像、“△”は被写体撮影画像からオフセット画像を引いた差分（つまりオフセット補正後の被写体画像）を示している。
【００４７】
図７（ａ）、（ｂ）において、被写体撮影では一定の線量を照射しているため、理想的には、被写体撮影画像の出力は変動がなく一定の出力であることが望ましい。しかし、図７（ａ）から明らかなように、オフセット画像の出力（オフセット）が撮影開始とともに増加し、また撮影開始からある一定期間経過すると、オフセットのゆらぎは減少し一定になっていることがわかる。
【００４８】
そのため、第１の実施形態では、オフセット撮影により得られた最新の２つのオフセット画像の変動量（差分）に応じて、被写体撮影の周期、すなわち放射線照射部１０９による被写体への放射線照射周期及び読み出し回路１０７による光電変換信号の読み取り周期を制御し、図７（ｂ）に示すようにオフセットのゆらぎが生じる撮影開始からある一定期間においては、オフセット撮影＋被写体撮影の撮影サイクルを行い、オフセットのゆらぎがなくなり（オフセットの変動量が小さくなり）安定期間に入ったら、オフセット撮影は行わず連続被写体撮影に移行する。これにより、フレームレートの低下を抑制しながらも、オフセットのゆらぎが影響を及ぼすことを防止して正確に被写体画像のオフセット補正を行い、オフセットの変動による被写体撮影画像のオフセット補正への影響を最小限にすることができる。
【００４９】
（第２の実施形態）
次に、第２の実施形態について説明する。
本発明の第２の実施形態による放射線撮像装置を適用したＸ線撮像装置は、構成等は図１〜図４に示した第１の実施形態におけるＸ線撮像装置と同じであり、その動作の制御が第１の実施形態とは異なる。具体的には、上述した第１の実施形態においては、（オフセット撮影＋被写体撮影）サイクル→連続被写体撮影と１段階で撮影サイクルが切り替わるようにしているが、以下に説明する第２の実施形態では、（オフセット撮影＋被写体撮影）サイクル→（オフセット撮影＋第１の被写体撮影＋第２の被写体撮影）サイクル→連続被写体撮影と２段階で撮影サイクルを切り替える。
【００５０】
図８は、第２の実施形態におけるＸ線撮像装置の動作を示すフローチャートであり、図９は、図８に示すフローチャートに従って処理を実行した場合の動作例を示すタイミングチャートである。なお、図８においても、ｍはオフセット撮影枚数を示し、ｎは被写体撮影枚数を示す。また、第２の実施形態における各オフセット撮影及び被写体撮影も、第１の実施形態と同様であるので、以下の説明ではそれぞれについての詳細な説明は省略する。
【００５１】
まず、動作開始時にはオフセット撮影と被写体撮影とを交互に繰り返す。動作開始時のステップＳＴ２１で、オフセット撮影枚数ｍ＝０、被写体撮影枚数ｎ＝０を設定し、ステップＳＴ２２にて、オフセット撮影枚数ｍ及び被写体撮影枚数ｎにそれぞれ１を加算する。次に、ステップＳＴ２３にて、オフセット撮影が行われ、取得されたオフセット画像Ｆｍがオフセットメモリ１又は２に格納される。
【００５２】
ステップＳＴ２４にて、ＣＰＵ６はオフセットメモリ１、２に格納されているオフセット画像Ｆｍ、Ｆ（ｍ−１）の差分計算を行いオフセットの変動量（｜Ｆｍ−Ｆ（ｍ−１）｜）を求め、その最大値を差分Ｓａｍに代入する。次に、ステップＳＴ２５にて、放射線照射部１０９により被写体にＸ線を照射して被写体撮影が行われ、取得された被写体撮影画像Ｘｎが被写体撮影用メモリ５に格納される。その後、ステップＳＴ２６にて、先の撮影により得られた被写体撮影画像Ｘｎからオフセット画像Ｆｍを差し引くことによりオフセット補正が行われる。
【００５３】
次に、ステップＳＴ２７にて、ステップＳＴ２４において求めた差分Ｓａｍと予め設定した第１の閾値ＴＡとの比較を行い、オフセットがゆらいでいるか否かの判定を行う。この判定の結果、オフセットのゆらぎを示す差分Ｓａｍが第１の閾値ＴＡより大きい場合には、ステップＳＴ２２に戻り、再びステップＳＴ２２〜ＳＴ２７の処理を行う。このステップＳＴ２２〜ＳＴ２７の処理を差分Ｓａｍが第１の閾値ＴＡ以下になるまで繰り返し行い、差分Ｓａｍが第１の閾値ＴＡ以下になった場合にはステップＳＴ２８に進む。
【００５４】
差分Ｓａｍが第１の閾値ＴＡ以下となった場合に進むステップＳＴ２８以降において、ステップＳＴ２８〜ＳＴ３２では、ステップＳＴ２２〜ＳＴ２６と同様にして、オフセット撮影枚数ｍ及び被写体撮影枚数ｎの加算処理、オフセット撮影、オフセットの差分計算、被写体撮影、及びオフセット補正を行う。次に、ステップＳＴ３３にて被写体撮影枚数ｎに１を加算して、ステップＳＴ３４にて被写体撮影を行って被写体撮影画像Ｘｎを取得し、ステップＳＴ３５にてこの被写体撮影画像Ｘｎにオフセット補正を施す。なお、このステップＳＴ３５のオフセット補正は、ステップＳＴ２９でのオフセット撮影により取得したオフセット画像Ｆｍを用いて行われる。
【００５５】
次に、ステップＳＴ３６にて、ステップＳＴ３０において求めた差分Ｓａｍと予め設定した第２の閾値ＴＢとの比較を行い、オフセットがゆらいでいるか否かの判定を行う。ここで、第２の閾値ＴＢと第１の閾値ＴＡとの関係は、（第２の閾値ＴＢ）≦（第１の閾値ＴＡ）となるようにし、第２の閾値ＴＢの方が、許容できるオフセットのゆらぎが小さくなるように設定している。
【００５６】
この判定の結果、オフセットのゆらぎを示す差分Ｓａｍが第２の閾値ＴＢより大きい場合には、ステップＳＴ２８に戻り、差分Ｓａｍが第２の閾値ＴＢ以下になるまでステップＳＴ２８〜ＳＴ３６の処理を繰り返し行う。一方、差分Ｓａｍが第２の閾値ＴＢ以下になった場合にはステップＳＴ３７に進む。ステップＳＴ３７〜ＳＴ４０では、上述した第１の実施形態でのステップＳＴ８〜ＳＴ１１と同様にして、オフセット撮影を行うことなく、連続して被写体撮影を行う。なお、ステップＳＴ３７〜ＳＴ４０の処理はループになっているので撮影終了まで継続して行われ、この連続した被写体撮影で撮影される被写体撮影画像Ｘｎに対するオフセット画像には、ステップＳＴ２８〜ＳＴ３６の処理で撮影された最後のオフセット画像Ｆｍ（本実施形態の場合にはオフセット画像Ｆ４）を継続して使用する。
【００５７】
このように第２の実施形態におけるＸ線撮像装置では、（第１の閾値ＴＡ）≧（第２の閾値ＴＢ）の関係を満たす２つの閾値を設定し、オフセットのゆらぎが第１の閾値ＴＡ以下になった場合及び第２の閾値ＴＢ以下になった場合の２段階で撮影サイクルを切り替える。そのため、図９に示すようにフレームレートも２段階で変化し、撮影開始時の（オフセット撮影＋被写体撮影）の撮影サイクルにおけるフレームレートを基準にすると、ステップＳＴ２８〜ＳＴ３６での（オフセット撮影＋第１の被写体撮影＋第２の被写体撮影）の撮影サイクルにおけるフレームレートは１．３３倍となり、さらにステップＳＴ３７〜４０での連続被写体撮影におけるフレームレートは２倍となる。そのため、上述した第１の実施形態と比較して、第２の実施形態では、フレームレートがスムーズに切り替わり、観察者に与える違和感を低減したりすることができ、動画像が見やすくなっている。
【００５８】
なお、第２の実施形態においては、２段階で撮影サイクルを切り替えるものを一例として示したが、２段階に限定されるものではなく、適宜閾値及び撮影サイクルを設定することにより、任意の複数段階で撮影サイクルを切り替えることが可能である。より見やすい動画像を提供することができる。
【００５９】
また、第１及び第２の実施形態では、オフセットのゆらぎをオフセット画像中で変動が最も大きい画素により評価するようにしているが、最大値でなくても良く、例えば平均値等を用いてオフセットのゆらぎを評価するようにしても良い。また、オフセットのゆらぎを求める際、オフセット画像の差分を用いているが、これに限定されるものではなく、オフセットがどの程度変化したかがわかれば良いので、差分に替えて変化の程度を表現可能な任意の指標を適用することが可能である。
【００６０】
また、第１及び第２の実施形態では、信号処理回路１０８において最新の多くとも２つのオフセット画像を保持（格納）するようにしているが、３つ以上のオフセット画像を保持するようにしても良い。３つ以上のオフセット画像を保持するようにした場合には、その中から最新の２つのオフセット画像を用いてオフセットのゆらぎを評価するようにすれば良く、さらには複数のオフセット画像を用いてそれらの変化（差分等）を用いてゆらぎの収束度合い等も評価することが可能である。
なお、上述した第１及び第２の実施形態による放射線撮像装置は、例えば病院内での診断に用いられる放射線検出システムや、工業用の非破壊検査装置としても用いられる放射線撮像装置に適用可能である。
【００６１】
（本発明の他の実施形態）
上述した実施形態の機能を実現するべく各種のデバイスを動作させるように、該各種デバイスと接続された装置あるいはシステム内のコンピュータに対し、前記実施形態の機能を実現するためのソフトウェアのプログラムコードを供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（ＣＰＵあるいはＭＰＵ）に格納されたプログラムに従って前記各種デバイスを動作させることによって実施したものも、本発明の範疇に含まれる。
【００６２】
また、この場合、前記ソフトウェアのプログラムコード自体が上述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコード自体は本発明を構成する。また、そのプログラムコードをコンピュータに供給するための手段、例えばかかるプログラムコードを格納した記録媒体は本発明を構成する。かかるプログラムコードを記憶する記録媒体としては、例えばフレキシブルディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等を用いることができる。
【００６３】
また、コンピュータが供給されたプログラムコードを実行することにより、上述の実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードがコンピュータにおいて稼働しているＯＳ（オペレーティングシステム）あるいは他のアプリケーションソフト等と共同して上述の実施形態の機能が実現される場合にもかかるプログラムコードは本発明の実施形態に含まれることは言うまでもない。
【００６４】
さらに、供給されたプログラムコードがコンピュータの機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに格納された後、そのプログラムコードの指示に基づいてその機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって上述した実施形態の機能が実現される場合にも本発明に含まれることは言うまでもない。
【００６５】
なお、前記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化のほんの一例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。すなわち、本発明はその技術思想、またはその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】第１の実施形態による放射線撮像装置を適用したＸ線撮像装置の構成例を示す図である。
【図２】読み出し回路の構成を示す図である。
【図３】光電変換回路に対する読み出し動作を示すタイミングチャートである。
【図４】信号処理回路の構成例を示す図である。
【図５】第１の実施形態におけるＸ線撮像装置の動作例を示すタイミングチャートである。
【図６】第１の実施形態におけるＸ線撮像装置の動作を示すフローチャートである。
【図７】オフセット変動を示す図である。
【図８】第２の実施形態におけるＸ線撮像装置の動作を示すフローチャートである。
【図９】第２の実施形態におけるＸ線撮像装置の動作例を示すタイミングチャートである。
【図１０】従来のＸ線撮像装置における動作を示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
【００６７】
１、２  オフセットメモリ
３  被写体撮影用メモリ
６  ＣＰＵ
７  シフトレジスタ
１１  ＡＤＣ
１０１  光電変換回路
１０２  シフトレジスタ
１０７  読み出し回路
１０８  信号処理回路
１０９  放射線照射部
Ｓｉｊ  光電変換素子
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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