(57)【要約】【課題】  ソースコードの修正に伴い再試験が必要となる試験項目を特定可能な試験管理装置を得る。【解決手段】  試験管理装置１は、修正されたソースコードに関連するモジュールを示したコード修正情報を受け取った場合、ソフトウェアを構成する各モジュールと各モジュールに関連する試験項目とを関連付けた関連情報が記憶された第１記憶部１２から関連情報を読み出すと共に、読み出した関連情報においてコード修正情報の示すモジュールに関連付けられている試験項目を特定する特定部１５を備える。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくともソースコードで表現されたソフトウェアの動作試験に関する進捗状況を管理する試験管理装置において、
修正されたソースコードに関連するモジュールを示した指示情報を受け取った場合、ソフトウェアを構成する各モジュールと各モジュールに関連する動作試験の項目とを関連付けた関連情報が記憶された記憶装置から関連情報を読み出すと共に、前記読み出した関連情報において前記指示情報の示すモジュールに関連付けられている動作試験の項目を特定する特定手段を備えることを特徴とする試験管理装置。
【請求項２】
ソフトウェアを構成するモジュールと、各モジュールに関連する動作試験の項目とを関連付ける関連付手段を備えることを特徴とする請求項１記載の試験管理装置。
【請求項３】
前記特定手段は、
前記動作試験に合格した場合、前記合格した動作試験の項目に関連付けされたモジュールに対して第１識別子を対応付けると共に、前記第１識別子の内容を所定の内容に設定する第１対応付手段と、
前記指示情報に基づいて、修正されたソースコードに関連するモジュールに対応付けられた第１識別子の内容を変更する変更手段とを備えることを特徴とする請求項１または２記載の試験管理装置。
【請求項４】
前記記憶装置は、前記第１識別子を記憶し、
前記特定手段は、前記内容が変更された第１識別子に対応付けられているモジュールに関連付けられた動作試験の項目を、前記記憶装置から抽出する対応項目抽出手段を備えることを特徴とする請求項３記載の試験管理装置。
【請求項５】
前記記憶装置は、前記第１識別子を記憶し、
前記特定手段は、前記第１識別子の対応付けが行われていないモジュールに関連付けられた動作試験の項目を、前記記憶装置から抽出する未対応項目抽出手段を備えることを特徴とする請求項３または４記載の試験管理装置。
【請求項６】
前記第１識別子の内容が変更されたモジュールの数を集計する第１集計手段を備えることを特徴とする請求項３記載の試験管理装置。
【請求項７】
前記第１識別子が対応付けられていないモジュールの数を集計する第１集計手段を備えることを特徴とする請求項３記載の試験管理装置。
【請求項８】
前記第１識別子が対応付けられており、かつ、第１識別子の内容が変更されていないモジュールの数を集計する第１集計手段を備えることを特徴とする請求項３記載の試験管理装置。
【請求項９】
前記動作試験を行った動作試験の項目に対して、動作試験の合否に応じた内容を示す第２識別子を対応付ける第２対応付手段と、
前記指示情報に、修正されたソースコードに関連するモジュールと関連付けられた動作試験の項目に関する情報が含まれている場合、該動作試験の項目に関し、前記第２識別子の対応付けを解消する対応付解消手段とを備えることを特徴とする請求項３から８の何れか１項に記載の試験管理装置。
【請求項１０】
前記記憶装置は、前記第２識別子を記録するものであり、
前記第２識別子の内容に基づいて、前記動作試験が合格であった動作試験の項目の数を集計する第２集計手段を備えることを特徴とする請求項９記載の試験管理装置。
【請求項１１】
前記記憶装置は、前記第２識別子を記録するものであり、
前記第２識別子の内容に基づいて、前記動作試験が不合格であった動作試験の項目の数を集計する第２集計手段を備えることを特徴とする請求項９記載の試験管理装置。
【請求項１２】
前記第２識別子の対応付けが行われていない動作試験の項目の数を集計する第２集計手段を備えることを特徴とする請求項９記載の試験管理装置。
【請求項１３】
少なくともソースコードで表現されたソフトウェアの動作試験に関する進捗状況を管理する試験管理方法において、
修正されたソースコードに関連するモジュールを示した指示情報を受け取る第１ステップと、
ソフトウェアを構成する各モジュールと各モジュールに関連する動作試験の項目とを関連付けた関連情報が記憶された記憶装置から関連情報を読み出す第２ステップと、
前記読み出した関連情報において前記指示情報の示すモジュールに関連付けられている動作試験の項目を特定する第３ステップとを備えることを特徴とする試験管理方法。
【請求項１４】
請求項１から１２の何れか１項に記載の試験管理装置の各手段としてコンピュータを機能させるためのプログラム。
【請求項１５】
請求項１４記載のプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ソフトウェアの動作試験に関する進捗状況を管理する試験管理装置、試験管理方法、プログラム、および、プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、ソフトウェアの開発工程において、ソフトウェアを装置に実装した後、単体試験、結合試験、および、総合試験といったソフトウェアの各試験が行われている。そして、上記各試験の結果に基づいて、開発したソフトウェア（システム）の動作が適正であるか否かが判断されている。また、通常、ソフトウェアは、人間が理解できるプログラミング言語で記述されたプログラムである「ソースコード」で表現される。
【０００３】
ここで、単体試験とは、システムを構成する複数のプログラム（モジュール）を、一つ一つ検査する試験である。また、結合試験とは、単体試験を終えたプログラムを徐々に結合させて、そのインターフェースやシステムの機能を検査する試験である。さらに、総合試験とは、実際の運用を想定した上で、開発されたシステムがシステム全体としてユーザの要求を満たすものであるか否かを検査する試験である。また、上記単体試験および結合試験は、それぞれ、複数の試験からなる。つまり、単体試験および結合試験については、それぞれ、複数項目の試験が実施される。
【０００４】
また、試験項目は、ソフトウェア仕様書やソースコードに基づいて、ソフトウェアの提供者が予め作成しておく。さらに、単体試験および結合試験においては、各試験工程の試験管理者が、試験項目毎に試験担当者を割り当てる。そして、試験担当者は、割り当てられた試験項目に従って試験を実施し、試験項目と試験結果とを試験管理者に報告している。試験管理者は、報告された試験項目と試験結果とに基づいて、試験の進捗状況を管理している。
【０００５】
特許文献１には、ソフトウェア開発の試験工程における試験の進捗状況を管理する試験進捗管理方法の典型例が開示されている。
【０００６】
具体的には、同文献では、テスト（試験）工程開始時には、テスト端末機に入力されたテスト項目の情報をホストコンピュータを介してテスト管理サーバに転送し、このテスト管理サーバのテスト登録機能により、上記テスト項目の情報を進捗管理データベースに登録している。また、テスト工程終了時には、テスト端末機に入力されたテスト結果の情報をホストコンピュータを介してテスト管理サーバに転送し、このテスト管理サーバのテスト登録機能により進捗管理データベースに登録している。そして、テスト管理端末機からテスト管理サーバにテスト進捗状況情報の検索要求が送出されると、テスト管理サーバのテスト検索機能により進捗管理データベースからテスト進捗状況情報を検索し、この検索した情報をテスト管理端末機に表示している。
【特許文献１】特開２００２−２５９１２０号公報（平成１４年９月１３日公開）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記従来の構成では、テストが既に実施されたプログラム（モジュール）に関連するソースコードの修正が行われた場合、ソースコードの修正に伴い再試験が必要となるテスト項目を特定することができないという問題点を有する。
【０００８】
つまり、ソースコードが修正された場合、この修正により影響を受けるモジュールに関連するテスト項目について再試験が必要となるが、従来の構成では再試験すべきテスト項目が特定できない。このため、従来においては、再試験の実施漏れが生じる場合もあった。
【０００９】
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、ソースコードの修正に伴い再試験が必要となる試験項目を特定可能な試験管理装置、試験管理方法、プログラム、および、プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明に係る試験管理装置は、上記の課題を解決するために、少なくともソースコードで表現されたソフトウェアの動作試験に関する進捗状況を管理する試験管理装置において、修正されたソースコードに関連するモジュールを示した指示情報を受け取った場合、ソフトウェアを構成する各モジュールと各モジュールに関連する動作試験の項目とを関連付けた関連情報が記憶された記憶装置から関連情報を読み出すと共に、前記読み出した関連情報において前記指示情報の示すモジュールに関連付けられている動作試験の項目を特定する特定手段を備えることを特徴としている。
【００１１】
上記の構成によれば、関連情報においては、ソフトウェアを構成する各モジュールと、各モジュールに関連する動作試験の項目とが関連付けられている。つまり、モジュール毎に、モジュールに対して実施される動作試験の項目が関連付けられている。
【００１２】
ここで、指示情報を受け取った場合、特定手段により、各モジュールと、各モジュールに対して実施される動作試験の項目とが読み出される。さらに、指示情報を受け取った場合、特定手段により、上記読み出した関連情報において指示情報の示すモジュールに関連付けられている動作試験の項目が特定される。また、指示情報は、修正されたソースコードに関連するモジュールを示す情報である。
【００１３】
それゆえ、修正されたソースコードに関連するモジュールに関連付けられた動作試験の項目を特定できる。
【００１４】
したがって、ソースコードの修正に伴い再試験の実施が必要となる試験項目を特定可能となる試験管理装置を提供できるという効果を奏する。
【００１５】
また、本発明に係る試験管理装置は、上記の試験管理装置において、ソフトウェアを構成するモジュールと、各モジュールに関連する動作試験の項目とを関連付ける関連付手段を備えることを特徴としている。
【００１６】
上記の構成によれば、関連付手段により、ソフトウェアを構成するモジュールと、各モジュールに関連する動作試験の項目とを関連付けることができる。
【００１７】
したがって、関連情報を自装置において生成することができるという効果を奏する。
【００１８】
また、本発明に係る試験管理装置は、上記の試験管理装置において、前記特定手段は、前記動作試験に合格した場合、前記合格した動作試験の項目に関連付けされたモジュールに対して第１識別子を対応付けると共に、前記第１識別子の内容を所定の内容に設定する第１対応付手段と、前記指示情報に基づいて、修正されたソースコードに関連するモジュールに対応付けられた第１識別子の内容を変更する変更手段とを備えることを特徴としている。
【００１９】
上記の構成によれば、動作試験に合格した場合、第１対応付手段により、合格した動作試験の項目に関連付けされたモジュールに対して第１識別子が対応付けられると共に、第１識別子の内容が所定の内容に設定される。
【００２０】
また、変更手段により、指示情報に基づいて、修正されたソースコードに関連するモジュールに対応付けられた第１識別子の内容が変更される。つまり、ソースコードが修正された場合、修正されたソースコードに関連するモジュールに対応付けられた第１識別子の内容が変更される。
【００２１】
したがって、第１識別子の内容に基づくことにより、修正されたソースコードに関連するモジュールに関連付けられた動作試験の項目を特定できるという効果を奏する。
【００２２】
また、本発明に係る試験管理装置は、上記の試験管理装置において、前記記憶装置は、前記第１識別子を記憶し、前記特定手段は、前記内容が変更された第１識別子に対応付けられているモジュールに関連付けられた動作試験の項目を、前記記憶装置から抽出する対応項目抽出手段を備えることを特徴としている。
【００２３】
上記の構成によれば、対応項目抽出手段により、前記内容が変更された第１識別子に対応付けられているモジュールに関連付けられた動作試験の項目を、記憶装置から抽出できる。
【００２４】
したがって、修正されたソースコードに関連するモジュールに関連付けられた動作試験の項目のみを容易に特定可能となるという効果を奏する。
【００２５】
また、本発明に係る試験管理装置は、上記の試験管理装置において、前記記憶装置は、前記第１識別子を記憶し、前記特定手段は、前記第１識別子の対応付けが行われていないモジュールに関連付けられた動作試験の項目を、前記記憶装置から抽出する未対応項目抽出手段を備えることを特徴としている。
【００２６】
上記の構成によれば、未対応項目抽出手段により、前記第１識別子の対応付けが行われていないモジュールに関連付けられた動作試験の項目を、前記記憶装置から抽出できる。
【００２７】
ここで、第１識別子の対応付けは、合格した動作試験の項目に関連付けされたモジュールに対して行われる。
【００２８】
したがって、動作試験が不合格であった動作試験の項目、および、動作試験が行われていない動作試験の項目のみを容易に特定可能となるという効果を奏する。
【００２９】
また、本発明に係る試験管理装置は、上記の試験管理装置において、前記第１識別子の内容が変更されたモジュールの数を集計する第１集計手段を備えることを特徴としている。
【００３０】
上記の構成によれば、第１集計手段により、第１識別子の内容が変更されたモジュールの数が集計される。
【００３１】
したがって、ソースコードの修正に伴い、再度の動作試験が必要となるモジュールの数を判断することが可能となるという効果を奏する。
【００３２】
また、本発明に係る試験管理装置は、上記の試験管理装置において、前記第１識別子が対応付けられていないモジュールの数を集計する第１集計手段を備えることを特徴としている。
【００３３】
上記の構成によれば、第１集計手段により、第１識別子が対応付けられていないモジュールの数が集計される。
【００３４】
したがって、動作試験が実施されていないモジュールの数を判断することが可能となるという効果を奏する。
【００３５】
また、本発明に係る試験管理装置は、上記の試験管理装置において、前記第１識別子が対応付けられており、かつ、第１識別子の内容が変更されていないモジュールの数を集計する第１集計手段を備えることを特徴としている。
【００３６】
上記の構成によれば、第１集計手段により、第１識別子が対応付けられており、かつ、第１識別子の内容が変更されていないモジュールの数が集計される。
【００３７】
したがって、少なくとも一つの動作試験に合格したモジュールであって、かつ、修正されたソースコードに関連していないモジュールの数を判断することができる。
【００３８】
また、本発明に係る試験管理装置は、上記の試験管理装置において、前記動作試験を行った動作試験の項目に対して、動作試験の合否に応じた内容を示す第２識別子を対応付ける第２対応付手段と、前記指示情報に、修正されたソースコードに関連するモジュールと関連付けられた動作試験の項目に関する情報が含まれている場合、該動作試験の項目に関し、前記第２識別子の対応付けを解消する対応付解消手段とを備えることを特徴としている。
【００３９】
上記の構成によれば、第２対応付手段により、動作試験を行った動作試験の項目に対して、動作試験の合否に応じた内容を示す第２識別子が対応付けられる。また、対応付解消手段により、前記指示情報に修正されたソースコードに関連するモジュールと関連付けられた動作試験の項目が含まれている場合、該動作試験の項目に関し、前記第２識別子の対応付けが解消される。
【００４０】
これにより、合否に応じた内容を示す第２識別子が一旦付された場合であっても、修正されたソースコードに関連するモジュールと関連付けられた動作試験の項目に関しては、第２識別子の対応付けを解消できる。
【００４１】
したがって、第２識別子の対応付けの有無、および、第２識別子の内容に基づくことにより、動作試験の進捗状況を把握することが可能となるという効果を奏する。
【００４２】
また、本発明に係る試験管理装置は、上記の試験管理装置において、前記記憶装置は、前記第２識別子を記録するものであり、前記第２識別子の内容に基づいて、前記動作試験が合格であった動作試験の項目の数を集計する第２集計手段を備えることを特徴としている。
【００４３】
上記の構成によれば、第２集計手段により、第２識別子の内容に基づいて、前記動作試験が合格であった動作試験の項目の数が集計される。
【００４４】
したがって、動作試験が合格であった動作試験の項目の数を容易に確認することができるという効果を奏する。
【００４５】
また、本発明に係る試験管理装置は、上記の試験管理装置において、前記記憶装置は、前記第２識別子を記録するものであり、前記第２識別子の内容に基づいて、前記動作試験が不合格であった動作試験の項目の数を集計する第２集計手段を備えることを特徴としている。
【００４６】
上記の構成によれば、第２集計手段により、前記第２識別子の内容に基づいて、前記動作試験が不合格であった動作試験の項目の数が集計される。
【００４７】
したがって、動作試験が不合格であった動作試験の項目の数を容易に確認することができるという効果を奏する。
【００４８】
また、本発明に係る試験管理装置は、上記の試験管理装置において、前記第２識別子の対応付けが行われていない動作試験の項目の数を集計する第２集計手段を備えることを特徴としている。
【００４９】
上記の構成によれば、第２集計手段により、前記第２識別子の対応付けが行われていない動作試験の項目の数が集計される。
【００５０】
したがって、一度も動作試験が行われていない動作試験の項目の数と、修正されたソースコードに関連するモジュールと関連付けられた動作試験の項目の数との総和を確認することができるという効果を奏する。
【００５１】
また、本発明に係る試験管理方法は、上記の課題を解決するため、少なくともソースコードで表現されたソフトウェアの動作試験に関する進捗状況を管理する試験管理方法において、修正されたソースコードに関連するモジュールを示した指示情報を受け取る第１ステップと、ソフトウェアを構成する各モジュールと各モジュールに関連する動作試験の項目とを関連付けた関連情報が記憶された記憶装置から関連情報を読み出す第２ステップと、前記読み出した関連情報において前記指示情報の示すモジュールに関連付けられている動作試験の項目を特定する第３ステップとを備えることを特徴としている。
【００５２】
上記の方法によれば、関連情報においては、ソフトウェアを構成する各モジュールと、各モジュールに関連する動作試験の項目とが関連付けられている。つまり、モジュール毎に、モジュールに対して実施される動作試験の項目が関連付けられている。
【００５３】
ここで、第１ステップにより指示情報を受け取った場合、第２ステップにより、各モジュールと、各モジュールに対して実施される動作試験の項目とが読み出される。さらに、第３ステップにより、上記読み出した関連情報において指示情報の示すモジュールに関連付けられている動作試験の項目が特定される。また、指示情報は、修正されたソースコードに関連するモジュールを示す情報である。
【００５４】
それゆえ、修正されたソースコードに関連するモジュールに関連付けられた動作試験の項目を特定できる。
【００５５】
したがって、ソースコードの修正に伴い再試験の実施が必要となる試験項目を特定可能となる試験管理方法を提供できるという効果を奏する。
【００５６】
また、本発明に係るプログラムは、上記の課題を解決するために、上記試験管理装置の各手段としてコンピュータを機能させるためのプログラムであることを特徴としている。
【００５７】
したがって、上記プログラムをコンピュータシステムにロードすることによって、上記試験管理装置をユーザに提供することが可能となるという効果を奏する。
【００５８】
また、本発明に係る記録媒体は、上記の課題を解決するために、上記プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体であることを特徴としている。
【００５９】
したがって、上記記録媒体に記録されているプログラムをコンピュータシステムにロードすることによって、上記試験管理装置をユーザに提供することが可能となるという効果を奏する。
【発明の効果】
【００６０】
本発明に係る試験管理装置は、以上のように、少なくともソースコードで表現されたソフトウェアの動作試験に関する進捗状況を管理する試験管理装置において、修正されたソースコードに関連するモジュールを示した指示情報を受け取った場合、ソフトウェアを構成する各モジュールと各モジュールに関連する動作試験の項目とを関連付けた関連情報が記憶された記憶装置から関連情報を読み出すと共に、前記読み出した関連情報において前記指示情報の示すモジュールに関連付けられている動作試験の項目を特定する特定手段を備える構成である。
【００６１】
したがって、ソースコードの修正に伴い再試験の実施が必要となる試験項目を特定可能となる試験管理装置を提供できるという効果を奏する。
【００６２】
また、本発明に係る試験管理方法は、以上のように、少なくともソースコードで表現されたソフトウェアの動作試験に関する進捗状況を管理する試験管理方法において、修正されたソースコードに関連するモジュールを示した指示情報を受け取る第１ステップと、ソフトウェアを構成する各モジュールと各モジュールに関連する動作試験の項目とを関連付けた関連情報が記憶された記憶装置から関連情報を読み出す第２ステップと、前記読み出した関連情報において前記指示情報の示すモジュールに関連付けられている動作試験の項目を特定する第３ステップとを備える方法である。
【００６３】
したがって、ソースコードの修正に伴い再試験の実施が必要となる試験項目を特定可能となる試験管理装置を提供できるという効果を奏する。
【００６４】
また、本発明に係るプログラムは、以上のように、上記試験管理装置の各手段としてコンピュータを機能させるためのプログラムであることを特徴としている。
【００６５】
したがって、上記プログラムをコンピュータシステムにロードすることによって、上記試験管理装置をユーザに提供することが可能となるという効果を奏する。
【００６６】
また、本発明に係る記録媒体は、以上のように、上記プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体であることを特徴としている。
【００６７】
したがって、上記記録媒体に記録されているプログラムをコンピュータシステムにロードすることによって、上記試験管理装置をユーザに提供することが可能となるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００６８】
本発明の一実施形態について、図１ないし図１１に基づいて説明すると以下の通りである。
【００６９】
図１は、本発明の実施の形態に係る試験管理装置１の構成を示したブロック図である。試験管理装置１は、同図に示すとおり、関連付部（関連付手段）１１、第１記憶部（記憶装置）１２、試験結果解析部１３、対応付部（第２対応付手段）１４、特定部（特定手段）１５、修正情報解析部１６、対応付解消部（対応付解消手段）１７、リスト生成部１８、表示部２０、第２記憶部１９、第２抽出部２１、第３抽出部２２、第４抽出部２３、集計部２４、および、第３記憶部２５を備えている。
【００７０】
また、特定部１５は、対応付部（第１対応付手段）２６、変更部（変更手段）２７、および、第１抽出部２８を備えている。さらに、第１抽出部２８は、対応項目抽出部（対応項目抽出手段）２８ａおよび未対応項目抽出部（未対応項目抽出手段）２８ｂを備えている。
【００７１】
また、第２抽出部２１は、対応項目抽出部２１ａおよび未対応項目抽出部２１ｂを備えている。さらに、集計部２４は、モジュール数集計部（第１集計手段）２４ａおよび試験項目数集計部（第２集計手段）２４ｂを備えている。
【００７２】
関連付部１１は、ソフトウェアを構成する各モジュールの情報と各動作試験の項目（以下、試験項目）の情報との入力を受け付ける。そして、関連付部１１は、上記モジュールと、各モジュールに関連する試験項目とを関連付ける。ここで、或るモジュールに対してどの試験項目を関連付けるかは、ユーザによる操作部（図示せず）を介した指示に応じて行なわれる。さらに、関連付部１１は、上記関連付けた情報（以下、関連情報）を、第１記憶部１２に記憶させる。
【００７３】
図２は、第１記憶部１２に記憶される関連情報における、モジュールの情報と試験項目の情報との関連付けを示した図である。以下、同図について説明する。
【００７４】
同図では、各モジュール（大区分モジュール）Ａ〜Ｚを小区分に分けて示している。具体的には、ＡおよびＤという大区分のモジュールを、それぞれ１〜３の小区分のモジュールに、Ｂ、Ｃ、およびＺという大区分のモジュールを、それぞれ１および２の小区分のモジュールに分けて示している。なお、以下においては説明の便宜上、例えば、大区分がＡのモジュールにおける１つ目の小区分のモジュールを、「モジュールＡ−１」として記載する。他のモジュールについても同様である。
【００７５】
また、同図においては、或る小区分モジュールにおける列と、或る試験項目における行とが交わる欄に「○」印が記されている場合、該小区分のモジュールと該試験項目とが関連付けられていることを示している。言い換えれば、この試験項目は、この小区分のモジュールを試験するための試験項目であることを示している。
【００７６】
例えば、試験項目１は、小区分のモジュールＡ−１を試験するための試験項目である。また、試験項目２は、小区分のモジュールＡ−２と小区分のモジュールＢ−１とを試験するための項目である。さらに、試験項目３は、小区分のモジュールＡ−１、小区分のモジュールＢ−１、および、小区分のモジュールＣ−１を試験するための項目である。
【００７７】
このように、同図においては、小区分のモジュールと動作試験の項目とが互いに関連付けられている。また、同図においては、試験項目１、４、およびＮの試験は単体試験を、試験項目２、３、および５の試験は結合試験を示している。
【００７８】
ここで、各モジュール（大区分のモジュール）を小区分に分ける理由について説明する。なお、以下では、説明の便宜上、Ｃ言語によりプログラムを作成する場合を例に挙げて説明する。
【００７９】
上記プログラム（つまり、少なくともソースコードで表現されたソフトウェア）においては、プログラムを実行すると、まずメイン関数が起動し、このメイン関数が順次サブ関数をコールする構成を採っている。
【００８０】
ここで、上記のような構成の場合、数十行程度のプログラムであれば、プログラムを１つのソースファイル（モジュール）で構成し、このソースファイル内にメイン関数およびサブ関数を全て格納すればよい。この場合にはソースファイルが１つで済むので、モジュールを大区分と小区分とに分ける必要がない。つまり、各関数のみを区分けすればよいため、大小といった区分けが必要ない。
【００８１】
しかしながら、数千行以上のプログラムを作成する場合には、プログラムの作成の効率化や管理の容易化を図るため、通常、ソースファイルを複数に分ける必要がある。このような場合、ソースファイルが複数存在し、かつ、各ソースファイルにはメイン関数等の関数が格納される。また、ソフトウェアの動作試験においては、多くの場合、関数毎に試験が行われる。
【００８２】
それゆえ、上記のようにモジュールを大区分と小区分に分け、大区分のモジュールとして上記各ソースファイルを、小区分のモジュールとして各関数を対応付けることにより、細分化した試験が可能となる。したがって、不具合の箇所（小区分モジュール等）を特定しやすくなる。以上の理由により、各モジュールを小区分に分けて管理している。
【００８３】
なお、各試験項目を行うための試験プログラムには、各試験を実施するために必要な情報が含まれている。この情報としては、例えば、試験対象のソフトウェアの操作命令と判定命令とを時系列順に列挙した情報、試験対象のソフトウェアの初期設定を行う手順および設定値を示した情報等が該当する。
【００８４】
また、同図における試験合否フラグ欄は動作試験の合否を記載する欄であり、試験実施フラグ欄は試験の実施に関する記載を行う欄である。これらの欄および記載方法の詳細については、後述する。
【００８５】
次に、図１の試験結果解析部１３について説明する。試験結果解析部１３は、試験項目と該試験項目の結果とを示した試験結果情報の入力を受け付ける。そして、試験結果解析部１３は、試験結果情報から、試験項目の情報と試験結果の情報とを別々に抽出する。そして、試験結果解析部１３は、上記試験項目の情報と試験結果の情報とを対応付部１４に送る。
【００８６】
対応付部１４は、上記試験項目の情報と試験結果の情報とを受け付ける。そして、対応付部１４は、上記試験項目の情報で示される、第１記憶部１２に記憶された試験項目に対して、上記試験結果の情報に基づいて試験結果を示す識別子（第２識別子・試験合否フラグ）を付す。つまり、対応付部１４は、動作試験を行った試験項目に対して、動作試験の合否に応じた内容を示す試験合否フラグを対応付ける。また、対応付部１４は、合格した試験項目に関連付けられたモジュールの情報（例えば、Ａ−２という情報）を対応付部２６に送る。
【００８７】
図３は、試験合否フラグ欄に上記試験合否フラグを対応付けた後の状態を示した図である。同図においては、試験項目１、２、および４の試験に合格し、試験項目５の試験には不合格であった場合を示している。さらに、同図は、試験項目３およびＮの試験に関しては、動作試験が未実施であることを示している。
【００８８】
なお、試験項目１、２および４の試験に合格した場合であっても、試験項目３の試験を実施する。これは、以下の理由による。
【００８９】
図２において、モジュールＡ−１に関係付けられた試験項目は、試験項目１と試験項目３の２項目である。ここで、例えば、モジュールＡ−１が「２つの入力値を加算した結果を出力する」仕様であり、モジュールＢ−１が「２つの入力値を除算した結果を出力する」仕様であり、モジュールＣ−１が「２つの入力値を乗算した結果を出力する」仕様である場合を想定する。
【００９０】
この場合、試験項目１を行うための試験プログラムには、操作命令として「１」と「２」と「加算命令」とを入力する手順と、判定命令として「出力値は３である」とが記載されているとする。すなわち、この試験項目１では、「１＋２＝３」であることが検証される。一方、試験項目３が、「（（１００＋２００）−１５）×２＝６３０」であることを検証する項目であるとする。
【００９１】
ここで、モジュールＡ−１のソースコードにおいて、入力値を２桁までしか扱えない設定がなされていると、試験項目１の試験は合格となり、試験項目３の試験は不合格となる。このため、試験項目１、２および４の試験に合格した場合であっても、試験項目３の試験を実施する。
【００９２】
次に、対応付部２６について説明する、対応付部２６は、合格した試験項目に関連付けられたモジュールの情報を対応付部１４から受ける。そして、対応付部２６は、上記モジュールの情報に基づいて、第１記憶部１２に記憶された該モジュールに対して識別子（第１識別子・試験実施フラグ）を付与すると共に、この識別子の内容を所定の内容（「済」）に設定する。つまり、対応付部２６は、動作試験に合格した場合、合格した試験項目に関連づけされたモジュールに対して試験実施フラグを対応付けると共に、該試験実施フラグの内容を所定の内容に設定する。
【００９３】
図４は、試験実施フラグ欄に上記試験実施フラグを対応付けた後の状態を示した図である。ここで、試験項目１、２、および４の試験に合格しているため、同図においては、モジュールＡ−１、Ａ−２、Ｂ−１、およびＣ−１に応じた試験実施フラグ欄に、「済」が記される。つまり、上記各モジュールに、内容が「済」に設定されたフラグが付される。一方、試験項目５の試験は不合格であるため、モジュールＤ−１に応じた試験実施フラグ欄には、「済」が記されない。
【００９４】
また、上記内容が「済」に設定された試験実施フラグは、小区分のモジュールが動作試験の１つに合格した場合に付される。例えば、同図に示すとおり、試験項目３を行っていない場合であっても、モジュールＣ−１には、内容が「済」に設定された試験実施フラグが付される。つまり、試験実施フラグの値（内容）が「済」である状態は、内容が「済」に設定された試験実施フラグが付されたモジュールが、全ての動作試験に合格した状態を示すものではなく、少なくとも１つの動作試験に合格した状態を示すものである。
【００９５】
修正情報解析部１６は、修正したソースコードに関するモジュールの情報（例えば、Ａ−１という情報）、試験項目の情報、および、修正日時の情報を記したコード修正情報（指示情報）を受け付ける。ここで、受け付ける試験項目の情報とは、欠陥が検出された試験項目を示した情報である。
【００９６】
ここで、欠陥が検出された試験項目には、動作試験において不合格となった項目のみならず、動作試験において合格となった項目も含まれる。このように合格となった項目も含める理由は、動作試験に合格した場合であっても、上述したとおりモジュールに欠陥が含まれる場合があり、ソースコードの修正が試験結果に関係なく実施される場合があるためである。
【００９７】
修正情報解析部１６は、コード修正情報に基づき、上記修正したソースコードに関するモジュールの情報を変更部２７に送る。さらに、修正情報解析部１６は、コード修正情報に基づき、上記試験項目の情報を対応付解消部１７に送る。また、修正情報解析部１６は、上記モジュールの情報、試験項目の情報、および、修正日時の情報を互いに関連付けた状態にて、この関連付けた情報をリスト生成部１８へ送る。
【００９８】
変更部２７は、上記修正したソースコードに関するモジュールの情報を受け付ける。そして、変更部２７は、このモジュールの情報に基づいて、該モジュールに対応付けられた、試験実施フラグ欄に記された試験実施フラグの内容を変更する。つまり、変更部２７は、コード修正情報（指示情報）に基づいて、修正されたソースコードに関連するモジュールに対応付けられた試験実施フラグの内容を変更する。具体的には、変更部２７は、「済」という内容を、「再」という内容に変更する。
【００９９】
例えば、図４の状態において試験項目３を実施し、かつ、この試験項目３の試験結果が不合格（つまり、否）であった場合、変更部２７により試験実施フラグの内容が変更された後の状態を図５に示す。この場合には、同図に示すとおり、モジュールＡ−１、Ｂ−１、および、Ｃ−１に応じた試験実施フラグの内容が「済」から「再」に変更される。
【０１００】
なお、試験実施フラグの内容が既に「再」である場合や、試験実施フラグ欄が空欄である場合には、変更部２７は試験実施フラグの内容（値）を更新しない。
【０１０１】
対応付解消部１７は、修正情報解析部１６から上記試験項目の情報を受け付ける。そして、対応付解消部１７は、上記試験項目の情報に基づいて、該試験項目に関し、上記動作試験の合否に応じた内容を示す試験合否フラグの対応付を解消する。つまり、対応付解消部１７は、上記コード修正情報（指示情報）に、試験項目に関する情報が含まれている場合、該試験項目に関し、試験合否フラグの対応付けを解消する。
【０１０２】
図６は、試験項目３に関する、上記動作試験の合否に応じた内容を示す試験合否フラグの対応付を解消した後の状態を示した図である。つまり、同図は、コード修正情報に試験項目３の情報が記されている場合に、上記試験合否フラグの対応付を解消した状態を示した図である。これにより、同図に示すとおり、試験項目３に応じた、内容が「否」というフラグが消去され、この試験項目３に応じた試験合否フラグ欄が空欄となる。
【０１０３】
以上のように、コード修正情報に基づくことにより、試験実施フラグの内容を変更部２７で更新でき、試験合否フラグの内容を対応付解消部１７で更新することができる。
【０１０４】
次に、第１抽出部２８について説明する。第１抽出部２８の対応項目抽出部２８ａは、第１記憶部１２から、内容が変更された試験実施フラグに対応付けられているモジュールに関連付けられた試験項目を全て抽出する。つまり、変更部２７により試験実施フラグの内容が「再」に変更されたモジュールに関連付けられた試験項目を全て抽出する。そして、対応項目抽出部２８ａは、抽出した試験項目の情報を第２抽出部２１およびリスト生成部１８に送る。
【０１０５】
未対応項目抽出部２８ｂは、第１記憶部１２から、試験実施フラグの対応付が行われていないモジュールに関連付けられた試験項目を全て抽出する。つまり、「済」および「再」という内容の試験実施フラグが対応付けられていない試験項目を全て抽出する。そして、未対応項目抽出部２８ｂは、抽出した試験項目の情報を、第３抽出部２２およびリスト生成部１８に送る。
【０１０６】
次に、第２抽出部２１について説明する。第２抽出部２１の対応項目抽出部２１ａは、対応項目抽出部２８ａから上記試験項目の情報を受け付ける。そして、対応項目抽出部２１ａは、この試験項目の情報を用いて、該情報に示された試験項目であって、かつ、試験合否フラグの内容が合格に応じた内容である試験項目の全てを第１記憶部１２から抽出する。また、対応項目抽出部２１ａは、第１記憶部１２から抽出した試験項目の情報を第４抽出部２３およびリスト生成部１８へ送る。
【０１０７】
未対応項目抽出部２１ｂは、対応項目抽出部２８ａから上記試験項目の情報を受け付ける。そして、未対応項目抽出部２１ｂは、この試験項目の情報を用いて、該情報に示された試験項目であって、かつ、試験合否フラグの対応付が行われていない試験項目の全てを第１記憶部１２から抽出する。また、未対応項目抽出部２１ｂは、第１記憶部１２から抽出した試験項目の情報を第４抽出部２３およびリスト生成部１８へ送る。
【０１０８】
このように、第２抽出部２１は、試験実施フラグの内容が「再」に変更されたモジュールに関連付けられた試験項目であって、かつ、試験合否フラグの内容が不合格に応じた内容である試験項目を除いた試験項目を、第１記憶部１２から抽出する機能を少なくとも備える構成である。
【０１０９】
第３抽出部２２は、第１抽出部２８の未対応項目抽出部２８ｂが抽出した試験項目の情報を受け付ける。そして、第３抽出部２２は、この受け付けた情報を用いて、該情報に示された試験項目であって、かつ、試験合否フラグの対応付が行われていない試験項目の全てを第１記憶部１２から抽出する。そして、第３抽出部２２は、この抽出した試験項目の情報を第４抽出部２３およびリスト生成部１８へ送る。
【０１１０】
このように、第３抽出部２２は、試験実施フラグの対応付が行われていないモジュールに関連付けられた試験項目であって、かつ、上記試験合否フラグの対応付けが行われていない試験項目を抽出する機能を少なくとも備える構成である。
【０１１１】
第４抽出部２３は、第２抽出部２１の各部（２１ａ・２１ｂ）、および、第３抽出部２２から、それぞれ、上述した試験項目の情報を受け付ける。さらに、第４抽出部２３は、この試験項目の情報を用いて、該試験項目以外の試験項目であって、かつ、試験合否フラグの対応付が行われていない試験項目を第１記憶部１２から抽出する。そして、第４抽出部２３は、第１記憶部１２から抽出した試験項目の情報をリスト生成部１８へ送る。
【０１１２】
次に、集計部２４について説明する。集計部２４のモジュール数集計部２４ａは、第１記憶部１２に記憶された情報を参照し、上記試験実施フラグの内容が変更されたモジュールの数と、上記試験実施フラグが対応付けられていないモジュールの数と、上記試験実施フラグが対応付けられており、かつ、試験実施フラグの内容が変更されていないモジュールの数とを、それぞれ集計する。つまり、モジュール数集計部２４ａは、試験実施フラグの内容が「再」であるモジュールの数と、試験実施フラグ欄が空欄（つまり、試験が未実施）のモジュールの数と、試験実施フラグの内容が「済」であるモジュールの数とを、それぞれに集計する。さらに、モジュール数集計部２４ａは、上記各集計したモジュール数の総和も計算する。
【０１１３】
さらに、モジュール数集計部２４ａは、第１記憶部１２に記憶された情報を参照し、小区分のモジュール全てに関して試験実施フラグの内容が「済」である大区分のモジュール（例えば、モジュールＡ）の数を集計する。また、モジュール数集計部２４ａは、小区分のモジュール全てに関して試験実施フラグの内容が「済」であるモジュール以外の大区分のモジュールの数も集計する。さらに、モジュール数集計部２４ａは、上記「済」である大区分のモジュールの数と、上記「済」であるモジュール以外の大区分のモジュールとの総和も計算する。
【０１１４】
集計部２４の試験項目数集計部２４ｂは、第１記憶部１２に記憶された情報を参照し、上記試験合否フラグの内容に基づいて、試験合否フラグの内容が合格に応じた内容である試験項目の数と、試験合否フラグの内容が不合格（否）に応じた内容である試験項目の数とを集計する。また、集計部２４の試験項目数集計部２４ｂは、第１記憶部１２に記憶された情報を参照し、上記試験合否フラグの対応付けが行われていない試験項目の数を集計する。さらに、試験項目数集計部２４ｂは、上記各集計したモジュール数の総和も計算する。
【０１１５】
集計部２４は、モジュール数集計部２４ａと試験項目数集計部２４ｂとが集計した各値を第３記憶部２５に記憶させる。また、集計部２４は、使用者の操作部を介した指示を受け付けると、第３記憶部２５に記憶した集計値を読み出す。そして、集計部２４は、この読み出した集計値の情報をリスト生成部１８に送る。
【０１１６】
次に、リスト生成部１８について説明する。まず、各抽出部（２８・２１・２２・２３）から送られてくる情報に関する処理について説明する。その後、集計部２４から送られてくる情報に関する処理について説明する。最後に、修正情報解析部１６から送られてくる情報の処理について説明する。
【０１１７】
リスト生成部１８は、第１抽出部２８、第２抽出部２１、第３抽出部２２、および、第４抽出部２３から、各抽出部が抽出した試験項目の情報を受け付ける。
【０１１８】
そして、リスト生成部１８は、この受け付けた試験項目の情報に基づいて、リストを生成する。ここで、リストの生成は、抽出部毎に応じて行われる。つまり、各抽出部が抽出した試験項目が、それぞれ、１つのリストとして生成される。このため、試験項目に関しては、合計４つのリストが生成される。さらに、第１抽出部２８および第２抽出部２１に関しては、対応項目抽出部（２８ａ・２１ａ）で抽出した項目と、未対応項目抽出部（２８ｂ・２１ｂ）で抽出した項目とを区分した形式でリストを作成しておく。
【０１１９】
なお、これに限定されず、両抽出部（２８・２１）に関しては、それぞれ、対応項目抽出部（２８ａ・２１ａ）で抽出した項目と、未対応項目抽出部（２８ｂ・２１ｂ）で抽出した項目とを別々のリストとして生成する構成としてもよい。また、作成されるリストの形式は特に限定されるものではないが、表示部２０においてリストを表示した際に、試験管理装置の使用者が確認しやすい形式であればよい。
【０１２０】
さらに、リスト生成部１８は、各抽出部（２８・２１・２２・２３）が抽出した試験情報の項目を、それぞれ、リスト形式で第２記憶部１９の第１領域から第４領域（図示せず）に記憶させる。さらに、リスト生成部１８は、使用者の操作部を介した所定の指示を受け付けると、第２記憶部１９の所定の領域から、リスト形式で記憶された試験項目の情報を読み出す。そして、リスト生成部１８は、この読み出した情報を表示部２０に送る。
【０１２１】
ここで、集計部２４から送られてくる情報に関する処理について説明する。リスト生成部１８は、集計部２４が集計した集計値の情報を受け付ける。そして、リスト生成部１８は、この受け付けた集計値の情報に基づいて、リストを生成する。なお、作成されるリストの形式は特に限定されるものではないが、表示部２０においてリストを表示した際に、試験管理装置の使用者が確認しやすい形式であればよい。
【０１２２】
また、リスト生成部１８は、集計値を、リスト形式で第２記憶部１９の第５領域（図示せず）に記憶させる。さらに、リスト生成部１８は、使用者の操作部を介した所定の指示を受け付けると、リスト形式で記憶された集計値を読み出す。そして、リスト生成部１８は、この読み出した情報を表示部２０に送る。
【０１２３】
最後に、修正情報解析部１６から送られてくる情報の処理について説明する。リスト生成部１８は、上述したように互いに関連付けられた、モジュールの情報、試験項目の情報、および、修正日時の情報を、修正情報解析部１６から受け付ける。そして、リスト生成部１８は、この受け付けた情報に基づいて、リストを生成する。
【０１２４】
また、リスト生成部１８は、上記受け付けた情報を、リスト形式で第２記憶部１９の第６領域（図示せず）に記憶させる。さらに、リスト生成部１８は、使用者の操作部を介した所定の指示を受け付けると、このリスト形式で記憶された情報を読み出す。そして、リスト生成部１８は、この読み出した情報を表示部２０に送る。
【０１２５】
表示部２０は、リスト生成部１８から、上述した各種の情報を受け付ける。そして、表示部２０は、この受け付けた情報に基づいた表示を表示画面（図示せず）上に表示させる。
【０１２６】
図７は、表示画面に表示される、集計部２４により集計された集計結果の一例を示している。なお、同図は、第１記憶部１２に記憶された関連情報における関連付けの状態が、図６の状態である場合における集計結果である。また、図７では、図６におけるＮを３０と、Ｚを２６番目の大区分のモジュールとした場合の集計結果を示している。
【０１２７】
以上のように、本実施の形態に係る試験管理装置は、少なくともソースコードで表現されたソフトウェアの動作試験に関する進捗状況を管理する試験管理装置１であって、修正されたソースコードに関連するモジュールを示したコード修正情報（指示情報）を受け取った場合、ソフトウェアを構成する各モジュールと各モジュールに関連する試験項目（動作試験の項目）とを関連付けた関連情報が記憶された第１記憶部（記憶装置）１２から関連情報を読み出すと共に、前記読み出した関連情報において前記コード修正情報の示すモジュールに関連付けられている試験項目を特定する特定部（特定手段）１５を備える構成である。
【０１２８】
この構成によれば、関連情報では、ソフトウェアを構成する各モジュールと、各モジュールに関連する試験項目とが関連付けられている。つまり、モジュール毎に、モジュールに対して実施される試験項目が関連付けられている。
【０１２９】
ここで、コード修正情報を受け取った場合、特定部１５により、各モジュールと、各モジュールに対して実施される試験項目とが読み出される。さらに、コード修正情報を受け取った場合、特定部１５により、上記読み出した関連情報においてコード修正情報の示すモジュールに関連付けられている試験項目が特定される。また、コード修正情報は、修正されたソースコードに関連するモジュールを示す情報である。
【０１３０】
したがって、修正されたソースコードに関連するモジュールに関連付けられた試験項目を特定できる。したがって、ソースコードの修正に伴い再試験の実施が必要となる試験項目を特定可能となる。
【０１３１】
また、試験管理装置１においては、以上のように、動作試験に合格した場合、対応付部（第１対応付手段）２６により、合格した試験項目に関連付けされたモジュールに対して第１識別子が対応付けられると共に、試験実施フラグの内容が所定の内容に設定される。また、変更部（変更手段）２７により、コード修正情報に基づいて、修正されたソースコードに関連するモジュールに対応付けられた試験実施フラグの内容が変更される。つまり、ソースコードが修正された場合、修正されたソースコードに関連するモジュールに対応付けられた第１識別子の内容が変更される。したがって、試験管理装置１では、試験実施フラグの内容に基づくことにより、修正されたソースコードに関連するモジュールに関連付けられた試験項目を特定できる。
【０１３２】
また、試験管理装置１においては、以上のように、対応項目抽出部（対応項目抽出手段）２８ａにより、内容が変更された試験実施フラグに対応付けられているモジュールに関連付けられた試験項目を第１記憶部（記憶装置）１２から抽出できる。したがって、試験管理装置１では、修正されたソースコードに関連するモジュールに関連付けられた試験項目のみを容易に特定可能となる。
【０１３３】
また、試験管理装置１においては、以上のように、未対応項目抽出部（未対応項目抽出手段）２８ｂにより、試験実施フラグの対応付けが行われていないモジュールに関連付けられた試験項目を、第１記憶部１２から抽出できる。したがって、動作試験が不合格であった試験項目、および、動作試験が行われていない試験項目のみを容易に特定可能となる。
【０１３４】
また、試験管理装置１においては、モジュール数集計部（第１集計手段）２４ａにより、試験実施フラグの内容が変更されたモジュールの数を集計できる。それゆえ、ソースコードの修正に伴い、再度の動作試験が必要となるモジュールの数を判断することが可能となる。
【０１３５】
さらに、試験管理装置１においては、モジュール数集計部２４ａにより、試験実施フラグが対応付けられていないモジュールの数を集計することができる。それゆえ、動作試験が実施されていないモジュールの数を判断することが可能となる。
【０１３６】
また、試験管理装置１においては、モジュール数集計部２４ａにより、試験実施フラグが対応付けられており、かつ、試験実施フラグの内容が変更されていないモジュールの数を集計することができる。それゆえ、少なくとも一つの動作試験に合格したモジュールであって、かつ、修正されたソースコードに関連していないモジュールの数を判断することができる。
【０１３７】
また、試験管理装置１においては、以上のように、対応付部（第２対応付手段）１４により、動作試験を行った試験項目に対して、試験の合否に応じた内容を示す試験合否フラグが対応付けられる。また、対応付解消部（対応付解消手段）１７により、コード修正情報に、修正されたソースコードに関連するモジュールと関連付けられた試験項目が含まれている場合、該試験項目に関し、試験合否フラグの対応付けが解消される。
【０１３８】
これにより、合否に応じた内容を示す試験合否フラグが一旦付された場合であっても、修正されたソースコードに関連するモジュールと関連付けられた試験項目に関しては、第２識別子の対応付けを解消できる。したがって、試験管理装置１では、試験合否フラグの対応付けの有無、および、試験合否フラグの内容に基づくことにより、動作試験の進捗状況を把握することが可能となる。
【０１３９】
また、試験管理装置１においては、試験項目数集計部（第２集計手段）２４ｂにより、試験合否フラグの内容に基づいて、動作試験が合格であった動作試験の項目の数が集計される。したがって、試験管理装置１では、動作試験が合格であった動作試験の項目の数を容易に確認することができる。
【０１４０】
また、試験管理装置１においては、試験項目数集計部２４ｂにより、試験合否フラグの内容に基づいて、動作試験が不合格であった動作試験の項目の数が集計される。したがって、試験管理装置１では、動作試験が不合格であった動作試験の項目の数を容易に確認することができる。
【０１４１】
また、試験管理装置１においては、試験項目数集計部２４ｂにより、試験合否フラグの対応付けが行われていない動作試験の項目の数が集計される。したがって、試験管理装置１では、一度も動作試験が行われていない動作試験の項目の数と、修正されたソースコードに関連するモジュールと関連付けられた動作試験の項目の数との総和を確認することができるという効果を奏する。
【０１４２】
また、試験管理装置１は、第１記憶部１２が、試験実施フラグおよび試験合否フラグを記憶し、特定部１５が、内容が変更された試験実施フラグに対応付けられているモジュールに関連付けられた試験項目を第１記憶部１２から抽出する対応項目抽出部２８ａを有するものであり、対応項目抽出部２１ａが、対応項目抽出部２８ａにより抽出された試験項目であって、かつ、試験合否フラグの内容が合格に応じた内容である試験項目を抽出する構成である。
【０１４３】
さらに、試験管理装置１においては、未対応項目抽出部２１ｂが、対応項目抽出部２８ａにより抽出された試験項目であって、かつ、試験合否フラグの対応付けが行われていない試験項目を抽出する構成である。
【０１４４】
これらの構成によれば、試験実施フラグの内容が「再」の小区分のモジュールと関連付けられた試験項目を、第１記憶部１２から抽出できる。ここで、少なくとも、試験実施フラグの内容が「再」であるモジュールは、特に重点的に試験を行う必要がある。したがって、これらのモジュールの試験を含んだ試験項目を抽出することにより、優先的に試験を行うべき試験項目を特定できる。
【０１４５】
また、試験管理装置１は、第１記憶部１２が、試験実施フラグおよび試験合否フラグを記憶し、特定部１５が、試験実施フラグの対応付けが行われていないモジュールに関連する試験項目を第１記憶部１２から抽出する未対応項目抽出部２８ｂを有するものであり、第３抽出部２２が、未対応項目抽出部２８ｂにより抽出された試験項目であって、かつ、試験合否フラグの対応付けが行われていない試験項目を抽出する構成である。また、第３抽出部２２が、試験実施フラグの対応付けが行われていないモジュール毎に、動作試験の項目を１項目のみ抽出する構成とすることが好ましい。
【０１４６】
ここで、ソフトウェアの動作試験においては、動作試験の早い段階において、試験実施フラグが付されていないモジュールの全てを一度チェックしておくことが好ましい。これは、通常、各モジュールは複数の動作試験において試験される場合が多いため、１つのモジュールに欠陥がある場合には、このモジュールに関係する複数の試験項目において不合格となる事態が生じるためである。
【０１４７】
したがって、上記の構成として試験項目を抽出し、この抽出した試験項目の試験を行うことにより、早い段階で各モジュールの欠陥を発見することができる。このため、上記のような事態を防ぐことが可能となる。
【０１４８】
次に、上述した試験実施フラグ欄の記載の更新、および、試験合否フラグ欄の記載の更新の処理フローについて、図８に基づいて説明する。つまり、試験実施フラグの内容の変更、および、試験合否フラグの対応付の解消についての処理フローについて説明する。
【０１４９】
まず、コード修正情報が試験管理装置１に入力されたか否かを、修正情報解析部１６が判断する（Ｓ１）。Ｓ１において、コード修正情報が入力されていないと判断された場合には、再度、Ｓ１に戻る。Ｓ１において、コード修正情報が入力されたと判断された場合には、修正情報解析部１６は、入力されたコード修正情報から、修正したソースコードに関するモジュールの情報、および、試験項目の情報を抽出する（Ｓ２）。Ｓ２の後は、変更部２７が、上記抽出されたモジュールの情報に基づいて、該モジュールに対応付けられた試験実施フラグ欄に記された内容（試験実施フラグの内容）を変更する（Ｓ３）。
【０１５０】
Ｓ３の後は、対応付解消部１７が、上記抽出された試験項目の情報に基づいて、該試験項目に関し、上記動作試験の合否に応じた内容を示す試験合否フラグの対応付けを解消する（Ｓ４）。Ｓ４の後は、新たなコード修正情報が試験管理装置１に入力されたか否かを、修正情報解析部１６が判断する（Ｓ５）。そして、Ｓ５において、新たなコード修正情報が入力されたと判断された場合には、再度、Ｓ２に戻る。一方、Ｓ５において、新たなコード修正情報が入力されていないと判断された場合には、一連の処理を終了する。
【０１５１】
次に、試験の進捗状況を把握するための処理フローについて、図９に基づいて説明する。つまり、集計部２４において行われる処理について説明する。
【０１５２】
まず、モジュール数集計部２４ａが、未だ選択されていない大区分のモジュールの中から、大区分モジュールを１つ選択する（Ｓ１１）。そして、Ｓ１１の後は、モジュール数集計部２４ａが、上記選択された大区分のモジュールについての小区分のモジュールであって、かつ、未だ選択されていない小区分のモジュールを１つ選択する（Ｓ１２）。また、Ｓ１２の後は、モジュール数集計部２４ａが、この選択された小区分のモジュールに対応する試験実施フラグの内容を確認する（Ｓ１３）。つまり、試験実施フラグの内容を確認する。さらに、Ｓ１３後は、モジュール数集計部２４ａが、確認した内容に応じて、該内容を示す集計欄の集計値に１を加算する（Ｓ１４）。
【０１５３】
Ｓ１４の後は、モジュール数集計部２４ａが、上記選択された大区分のモジュール内に他の小区分のモジュールがあるか否かを判断する（Ｓ１５）。Ｓ１５において、他の小区分のモジュールがある場合には、再度、Ｓ１２に戻る。一方、Ｓ１５において、他の小区分モジュールがない場合には、モジュール数集計部２４ａが、未だ選択されていない大区分のモジュールがあるか否かを判断する（Ｓ１６）。
【０１５４】
Ｓ１６において、未だ選択されていない大区分のモジュールがある場合、再度、Ｓ１１に戻る。一方、Ｓ１６において、未だ選択されていない大区分のモジュールがない場合、試験項目数集計部２４ｂは、未だ選択されていない試験項目の中から、試験項目を１つ選択する（Ｓ１７）。そして、Ｓ１７の後は、試験項目数集計部２４ｂが、この選択された動作項目に対応する試験合否フラグの内容を確認する（Ｓ１８）。つまり、試験合否フラグの内容を確認する。さらに、Ｓ１８後は、試験項目数集計部２４ｂが、確認した内容に応じて、該内容を示す集計欄の集計値に１を加算する（Ｓ１９）。
【０１５５】
Ｓ１９の後は、試験項目数集計部２４ｂが、未だ選択されていない試験項目があるか否かを判断する（Ｓ２０）。Ｓ２０において、未だ選択されていない試験項目がある場合には、再度、Ｓ１７に戻る。一方、Ｓ２０において、未だ選択されていない試験項目がない場合には、処理を終了する。
【０１５６】
以上により、図７に示す、小区分モジュールに関する、「実施済」、「再試験」、および「未実施」の値と、試験項目に関する、「合格」、「不合格」、および、「未実施」の値とが得られる。
【０１５７】
なお、図７に示す大区分モジュールの各値は、モジュール数集計部２４ａによる上述した方法で求めればよい。さらに、図７に示す合計の欄の値についても、モジュール数集計部２４ａおよび試験項目数集計部２４ｂによる、上述した方法により求めればよい。
【０１５８】
次に、試験実施フラグの内容が「再」の小区分のモジュールと関連付けられた、試験合否フラグの内容が「合」または該フラグが付されていない試験項目を、第１記憶部１２から抽出する処理フローについて、図１０に基づいて説明する。つまり、試験実施フラグの内容が「再」の小区分のモジュールと関連付けられた、試験合否フラグの内容が「否」以外の試験項目を抽出する処理フローについて説明する。
【０１５９】
まず、対応項目抽出部２８ａが、試験実施フラグの内容が「再」である小区分モジュールが存在するか否かを判断する（Ｓ２１）。Ｓ２１において、試験実施フラグの内容が「再」である小区分モジュールが存在する場合、対応項目抽出部２１ａが、試験実施フラグの内容が「再」に変更された小区分のモジュールに関連する試験項目（つまり、対応項目抽出部２８ａにより抽出された試験項目）であって、かつ、試験合否フラグの内容が合格に応じた内容である試験項目を抽出する（Ｓ２２）。一方、Ｓ２１において、試験実施フラグの内容が「再」である小区分モジュールが存在しない場合、処理を終了する。
【０１６０】
Ｓ２２の後は、集計部２４により、対応項目抽出部２１ａが上記試験項目を全て抽出したか否かが判断される（Ｓ２３）。Ｓ２３において、上記試験項目が全て抽出されていないと判断された場合、再度、Ｓ２２に戻る。一方、Ｓ２３において、上記試験項目が全て抽出されたと判断された場合、未対応項目抽出部２１ｂが、試験実施フラグの内容が「再」に変更された小区分のモジュールに関連する試験項目であって、かつ、試験合否フラグの対応付けが行われていない試験項目を抽出する（Ｓ２４）。
【０１６１】
Ｓ２４の後は、集計部２４により、未対応項目抽出部２１ｂが上記試験項目を全て抽出したか否かが判断される（Ｓ２５）。Ｓ２５において、上記試験項目が全て抽出されていないと判断された場合、再度、Ｓ２４に戻る。一方、Ｓ２３において、上記試験項目が全て抽出されたと判断された場合、処理を終了する。
【０１６２】
次に、試験実施フラグが対応付されていない小区分のモジュールと関連付けられた、試験合否フラグが付されていない試験項目を、第１記憶部１２から抽出する処理フローについて、図１１に基づいて説明する。また、以下の処理フローでは、第３抽出部２２が、未対応項目抽出部２８ｂにより抽出された試験項目であって、かつ、試験合否フラグの対応付けが行われていない試験項目を抽出すると共に、試験実施フラグの対応付けが行われていないモジュール毎に、試験項目を１項目のみ抽出する場合について説明する。
【０１６３】
まず、未対応項目抽出部２８ｂが、試験実施フラグが対応付けられていない小区分モジュールが存在するか否かを判断する（Ｓ３１）。Ｓ３１において、試験実施フラグが対応付けられていない小区分モジュールが存在する場合、第３抽出部２２が、試験実施フラグの対応付けが行われていないモジュール毎に、試験項目を１項目のみ抽出する（Ｓ３２）。一方、Ｓ３１において、試験実施フラグが対応付けられていない小区分モジュールが存在しない場合、処理を終了する。
【０１６４】
Ｓ３２の後は、上記試験実施フラグの対応付けが行われていないモジュールの全てに関し、試験項目が抽出されたか否かが、第３抽出部２２により判断される（Ｓ３３）。Ｓ３３において、試験実施フラグの対応付けが行われていないモジュールの全てに関して、試験項目が抽出されていない場合には、再度、Ｓ３２に戻る。一方、上記モジュール全てに関し、試験項目が抽出された場合には、処理を終了する。
【０１６５】
ところで、上述したように、試験実施フラグの内容が「再」であるモジュールは、特に重点的に試験する必要がある。このため、特に優先的に、このモジュールを含んだ試験項目を試験する必要がある。
【０１６６】
また、上述したように、動作試験の早い段階において、試験実施フラグが付されていないモジュールの全てを一度チェックしておくことが好ましい。このため、各モジュールに対する試験項目を少なくとも１件抽出し、この抽出した試験項目の試験を行うことが好ましい。また、この試験は、上記の試験実施フラグの内容が「再」であるモジュールを含んだ試験項目の試験に次いで、優先度の高い試験と言える。
【０１６７】
さらに、いずれにせよ、試験合否フラグの対応付が行われていない試験項目に関しては、今後、試験を行う必要がある。
【０１６８】
そこで、上記Ｓ２１からＳ２５の処理を行い、次いで、上記Ｓ３１からＳ３３の処理を行い、最後に、第４抽出部２３における抽出処理を行うことにより、試験合否フラグの内容が「否」に応じた内容の試験項目を除くことができると共に、優先度の高い順に、試験項目を抽出可能となる。
【０１６９】
ところで、モジュールの情報、試験項目の情報、および、修正日時の情報を１つの単位情報とした場合、１つのコード修正情報に複数の単位情報が記載される構成としてもよい。この場合には、コード修正情報内において、予め、モジュールの情報、試験項目の情報、および、修正日時を関連付けておけばよい。そして、単位情報毎に、上述した、第１識別子の内容の変更処理、および、第２識別子の対応付の解消処理を行う構成とすればよい。
【０１７０】
また、上記実施の形態においては、モジュールを２つの区分に分けているが、３つ以上に区分する構成としてもよいし、あるいは、区分しない構成としてもよい。
【０１７１】
また、対応付解消部１７の構成を、試験実施フラグの内容が変更されたモジュールと関連付けられた動作試験の項目の全てに関し、試験合否フラグの対応付けを解消する構成としてもよい。
【０１７２】
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能である。すなわち、請求項に示した範囲で適宜変更した技術的手段を組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【０１７３】
なお、上記実施形態の試験管理装置１の各部（各記憶部および表示部の表示画面を除く）や各処理ステップは、ＣＰＵなどの演算手段が、ＲＯＭ（Read Only Memory）やＲＡＭなどの記憶手段に記憶されたプログラムを実行し、キーボードなどの入力手段、ディスプレイなどの出力手段、あるいは、インターフェース回路などの通信手段を制御することにより実現することができる。したがって、これらの手段を有するコンピュータが、上記プログラムを記録した記録媒体を読み取り、当該プログラムを実行するだけで、本実施形態の試験管理装置１の各種機能および各種処理を実現することができる。また、上記プログラムをリムーバブルな記録媒体に記録することにより、任意のコンピュータ上で上記の各種機能および各種処理を実現することができる。
【０１７４】
この記録媒体としては、マイクロコンピュータで処理を行うために図示しないメモリ、例えばＲＯＭのようなものがプログラムメディアであっても良いし、また、図示していないが外部記憶装置としてプログラム読取り装置が設けられ、そこに記録媒体を挿入することにより読取り可能なプログラムメディアであっても良い。
【０１７５】
また、何れの場合でも、格納されているプログラムは、マイクロプロセッサがアクセスして実行される構成であることが好ましい。さらに、プログラムを読み出し、読み出されたプログラムは、マイクロコンピュータのプログラム記憶エリアにダウンロードされて、そのプログラムが実行される方式であることが好ましい。なお、このダウンロード用のプログラムは予め本体装置に格納されているものとする。
【０１７６】
また、上記プログラムメディアとしては、本体と分離可能に構成される記録媒体であり、磁気テープやカセットテープ等のテープ系、フレキシブルディスクやハードディスク等の磁気ディスクやＣＤ／ＭＯ／ＭＤ／ＤＶＤ等のディスクのディスク系、ＩＣカード（メモリカードを含む）等のカード系、あるいはマスクＲＯＭ、ＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable Read Only Memory）、ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read Only Memory）、フラッシュＲＯＭ等による半導体メモリを含めた固定的にプログラムを担持する記録媒体等がある。
【０１７７】
また、インターネットを含む通信ネットワークを接続可能なシステム構成であれば、通信ネットワークからプログラムをダウンロードするように流動的にプログラムを担持する記録媒体であることが好ましい。
【０１７８】
さらに、このように通信ネットワークからプログラムをダウンロードする場合には、そのダウンロード用のプログラムは予め本体装置に格納しておくか、あるいは別な記録媒体からインストールされるものであることが好ましい。
【産業上の利用可能性】
【０１７９】
ソフトウェア開発時の試験工程における試験の進捗管理に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１８０】
【図１】本発明に係る試験管理装置の構成を示したブロック図である。
【図２】上記試験管理装置の第１記憶部に記憶される関連情報における、モジュールの情報と試験項目の情報との関連付けを示した図である。
【図３】試験合否フラグ欄に上記試験合否フラグを対応付けた後の状態を示した図である。
【図４】試験実施フラグ欄に上記試験実施フラグを対応付けた後の状態を示した図である。
【図５】試験実施フラグの内容が変更された後の状態を示した図である。
【図６】試験項目３に関する試験合否フラグの対応付を解消した後の状態を示した図である。
【図７】表示部の表示画面に表示される集計結果の一例を示した図である。
【図８】試験実施フラグ欄の記載の更新、および、試験合否フラグ欄の記載の更新についての処理フローを示したフローチャートである。
【図９】試験の進捗状況を把握するための処理フローを示したフローチャートである。
【図１０】試験実施フラグの内容が「再」の小区分のモジュールと関連付けられた、試験合否フラグの内容が「合」または該フラグが付されていない試験項目を抽出する処理フローについてのフローチャートである。
【図１１】試験実施フラグが対応付されていない小区分のモジュールと関連付けられた、試験合否フラグが付されていない試験項目を抽出する処理フローについてのフローチャートである。
【符号の説明】
【０１８１】
１  試験管理装置
１１  関連付部（関連付手段）
１２  第１記憶部（記憶装置）
１３  試験結果解析部
１４  対応付部（第２対応付手段）
１５  特定部（特定手段）
１６  修正情報解析部
１７  対応付解消部（対応付解消手段）
１８  リスト生成部
１９  第２記憶部
２０  表示部
２１  第２抽出部
２１ａ  対応項目抽出部
２１ｂ  未対応項目抽出部
２２  第３抽出部
２３  第４抽出部
２４  集計部
２４ａ  モジュール数集計部（第１集計手段）
２４ｂ  試験項目数集計部（第２集計手段）
２５  第３記憶部
２６  対応付部（第１対応付手段）
２７  変更部（変更手段）
２８  第１抽出部
２８ａ  対応項目抽出部（対応項目抽出手段）
２８ｂ  未対応項目抽出部（未対応項目抽出手段）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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