(57)【要約】【課題】液晶パネルへの光学補償シートの実際の適用状態での構成に即し、且つ検査光量を適切に制御して簡単かつ高精度に実施可能な、光学補償シートの検査方法及び検査装置を提供する。【解決手段】互いの偏光軸を直交配置した一対の偏光板間に被検査対象の光学異方性を有する光学補償シートを挿入し、光学補償シートと同等の面内位相差を有する高分子材料からなる基準位相差シートと光学補償シートの面内位相差とを相殺するように光学補償シートと偏光板との間に基準位相差シートを挿入し、光源より一方の偏光板へ照射して他方の偏光板からの透過光の状態を検査する。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学異方性を有する光学補償シートの検査方法であって、
互いの偏光軸を直交させて対向配置した第１の偏光板と第２の偏光板の間に、前記光学補償シートと、前記光学補償シートの面内位相差を相殺するための相殺用位相差シートとを挿入した状態で、光源から前記第１の偏光板へ光を照明したときに前記第２の偏光板から出射される光に基づいて前記光学補償シートを検査する光学補償シートの検査方法。
【請求項２】
請求項１記載の光学補償シートの検査方法であって、
前記光学補償シートは、一軸性又は二軸性の位相差シートであり、
前記相殺用位相差シートは、その遅相軸が前記光学補償シートの遅相軸と直交するように配置される光学補償シートの検査方法。
【請求項３】
請求項１記載の光学補償シートの検査方法であって、
前記光学補償シートは、面内位相差方向が前記第１の偏光板の偏光軸と一致する第１の異方性層と、面内位相差方向が前記第１の偏光板の偏光軸と交差する第２の異方性層とを含み、
前記相殺用位相差シートは、その遅相軸が前記第２の異方性層の面内位相差方向と直交するように配置される光学補償シートの検査方法。
【請求項４】
請求項３記載の光学補償シートの検査方法であって、
前記第１の異方性層が透明支持体であり、
前記第２の異方性層がディスコティック液晶層である光学補償シートの検査方法。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか記載の光学補償シートの検査方法であって、
前記相殺用位相差シートは、前記第２の偏光板と前記光学補償シートの間に配置され、
前記第２の偏光板及び前記相殺用位相差シートと、前記第１の偏光板及び前記光学補償シートとを、それぞれが平行な状態から相対傾斜させた状態で前記第２の偏光板から出射される光に基づいて前記光学補償シートを検査する光学補償シートの検査方法。
【請求項６】
光学異方性を有する光学補償シートの検査装置であって、
光源と、
前記光源上方に配置された第１の偏光板と、
前記第１の偏光板上方で、偏光軸が前記第１の偏光板の偏光軸と直交するように配置された第２の偏光板と、
前記第１の偏光板と前記第２の偏光板の間に配置される前記光学補償シートと前記第１の偏光板又は前記第２の偏光板との間に配置され、前記光学補償シートの面内位相差を相殺するための相殺用位相差シートとを備える光学補償シートの検査装置。
【請求項７】
請求項６記載の光学補償シートの検査装置であって、
前記光学補償シートは、一軸性又は二軸性の位相差シートであり、
前記相殺用位相差シートは、その遅相軸が前記光学補償シートの遅相軸と直交するように配置される光学補償シートの検査装置。
【請求項８】
請求項６記載の光学補償シートの検査装置であって、
前記光学補償シートは、面内位相差方向が前記第１の偏光板の偏光軸と一致する第１の異方性層と、面内位相差方向が前記第１の偏光板の偏光軸と交差する第２の異方性層とを含み、
前記相殺用位相差シートは、その遅相軸が前記第２の異方性層の面内位相差方向と直交するように配置される光学補償シートの検査装置。
【請求項９】
請求項８記載の光学補償シートの検査装置であって、
前記第１の異方性層が透明支持体であり、
前記第２の異方性層がディスコティック液晶層である光学補償シートの検査装置。
【請求項１０】
請求項６〜９のいずれか記載の光学補償シートの検査装置であって、
前記相殺用位相差シートは、前記第２の偏光板と前記光学補償シートの間に配置され、
前記第２の偏光板及び前記相殺用位相差シートと、前記第１の偏光板及び前記光学補償シートとは、それぞれが平行な状態から相対傾斜可能に構成される光学補償シートの検査装置。
【請求項１１】
請求項６〜１０のいずれか記載の光学補償シートの検査装置であって、
前記第２の偏光板から出射される光を検出し、該光に基づいて光学補償シートの検査を行う検査手段を備える光学補償シートの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶表示パネルの視野角拡大など、複屈折性を利用する画像表示素子の表示性能向上のために適用される光学補償シートの検査方法と検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年の液晶パネルには、視野角拡大など表示性能向上の目的で、液晶セルとその片面もしくは両面における偏光板との間に、一軸性の位相差シートや、透明支持体と配向を固定したディスコティック液晶とを含む光学異方性を有する光学補償シートなどを配置している。この位相差シートや光学補償シートは面内および厚さ方向に複屈折性を有しており、入射した光の偏光状態を変化させることで所望の偏光状態を得ている。
【０００３】
この光学補償シートの製造過程での位相差値や均一性を確認することは、安定した製品供給という面で非常に重要である。光学補償シートの検査は、平面検査用光源上に、互いに偏光軸が直交するように２枚の偏光板を配置し、この偏光板の間に光学補償シートを配置して、この時の漏れ光を観察するといった方法により行われている。
【０００４】
このとき、光学補償シートによる複屈折のために、入射側に設置した偏光板にて形成された直線偏光が乱れ、出射側の偏光板から漏れる光量が多くなると、この光によって光学補償シートの検査がしずらくなってしまうという問題があった。そこで、従来では、上下どちらか一方の偏光板の偏光軸と一軸性位相差シートの遅相軸もしくはディスコティック液晶の配向方向とを略一致させることにより、漏れ光量を抑えて検査を行っている。この方法は、２枚の偏光板のいずれかの偏光軸と一軸性位相差シートの遅相軸もしくはディスコティック液晶の配向方向とが略一致する構成の液晶表示パネルには有効であるが、これらが一致しない構成の液晶表示パネルの場合には、位相差により直線偏光が乱れるために光漏れ量が多くなり、光学補償シートの検査が正確にできなかった。
【０００５】
このような問題を解決する技術として、特許文献１記載の装置が提案されている。この装置は、２枚の電極基板間に棒状型液晶化合物であるネマティック液晶を挟持した液晶セルからなる液晶フィルタを用意し、この液晶フィルタを、被検査フィルムと共に一対の偏光子間に被検査フィルムに平行に配置し、この状態で照明手段からの偏光子への投光に対する透過光状況を検査するというものである。
【０００６】
【特許文献１】特開２００１−５９７９５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかし、特許文献１記載の装置は、液晶セルを使用するため、液晶セルの駆動用電源を用意したり、液晶セルの位相差を制御したりする必要があり、その構成及び制御が複雑となってしまう。
【０００８】
本発明は上記状況に鑑みてなされたもので、液晶パネルへの光学補償シートの実際の適用状態での構成に即し、且つ検査光量を適切に制御して簡単かつ高精度に実施可能な、光学補償シートの検査方法及び検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の光学補償シートの検査方法は、光学異方性を有する光学補償シートの検査方法であって、互いの偏光軸を直交させて対向配置した第１の偏光板と第２の偏光板の間に、前記光学補償シートと、前記光学補償シートの面内位相差を相殺するための相殺用位相差シートとを挿入した状態で、光源から前記第１の偏光板へ光を照明したときに前記第２の偏光板から出射される光に基づいて前記光学補償シートを検査する。
【００１０】
本発明の光学補償シートの検査方法は、前記光学補償シートが一軸性又は二軸性の位相差シートであり、前記相殺用位相差シートは、その遅相軸が前記光学補償シートの遅相軸と直交するように配置される。
【００１１】
本発明の光学補償シートの検査方法は、前記光学補償シートが、面内位相差方向が前記第１の偏光板の偏光軸と一致する第１の異方性層と、面内位相差方向が前記第１の偏光板の偏光軸と交差する第２の異方性層とを含み、前記相殺用位相差シートは、その遅相軸が前記第２の異方性層の面内位相差方向と直交するように配置される。
【００１２】
本発明の光学補償シートの検査方法は、前記第１の異方性層が透明支持体であり、前記第２の異方性層がディスコティック液晶層である。
【００１３】
本発明の光学補償シートの検査方法は、前記相殺用位相差シートが前記第２の偏光板と前記光学補償シートの間に配置され、前記第２の偏光板及び前記相殺用位相差シートと、前記第１の偏光板及び前記光学補償シートとを、それぞれが平行な状態から相対傾斜させた状態で前記第２の偏光板から出射される光に基づいて前記光学補償シートを検査する。
【００１４】
本発明の光学補償シートの検査装置は、光学異方性を有する光学補償シートの検査装置であって、光源と、前記光源上方に配置された第１の偏光板と、前記第１の偏光板上方で、偏光軸が前記第１の偏光板の偏光軸と直交するように配置された第２の偏光板と、前記第１の偏光板と前記第２の偏光板の間に配置される前記光学補償シートと前記第１の偏光板又は前記第２の偏光板との間に配置され、前記光学補償シートの面内位相差を相殺するための相殺用位相差シートとを備える。
【００１５】
本発明の光学補償シートの検査装置は、前記光学補償シートが一軸性又は二軸性の位相差シートであり、前記相殺用位相差シートは、その遅相軸が前記光学補償シートの遅相軸と直交するように配置される。
【００１６】
本発明の光学補償シートの検査装置は、前記光学補償シートは、面内位相差方向が前記第１の偏光板の偏光軸と一致する第１の異方性層と、面内位相差方向が前記第１の偏光板の偏光軸と交差する第２の異方性層とを含み、前記相殺用位相差シートは、その遅相軸が前記第２の異方性層の面内位相差方向と直交するように配置される。
【００１７】
本発明の光学補償シートの検査装置は、前記第１の異方性層が透明支持体であり、前記第２の異方性層がディスコティック液晶層である。
【００１８】
本発明の光学補償シートの検査装置は、前記相殺用位相差シートが前記第２の偏光板と前記光学補償シートの間に配置され、前記第２の偏光板及び前記相殺用位相差シートと、前記第１の偏光板及び前記光学補償シートとは、それぞれが平行な状態から相対傾斜可能に構成される。
【００１９】
本発明の光学補償シートの検査装置は、前記第２の偏光板から出射される光を検出し、該光に基づいて光学補償シートの検査を行う検査手段を備える。
【発明の効果】
【００２０】
本発明によれば、液晶パネルへの光学補償シートの実際の適用状態での構成に即し、且つ検査光量を適切に制御して簡単かつ高精度に実施可能な、光学補償シートの検査方法及び検査装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
以下に本発明に関わる光学補償シートの検査方法および検査装置について図面を参照して説明する。
（第一実施形態）
図１は、本発明の第一実施形態を説明するための光学補償シート検査装置の概略構成を示す図である。図２は、本発明の第一実施形態を説明するための光学補償シート検査装置の検査対象となる被検査対象セットの積層状態を示す概略図であり、（ａ）は被検査対象セットの側面図、（ｂ）は各積層体の偏光軸または遅相軸を模式的に示す平面図である。
【００２２】
図１に示すように、検査装置１０の台座１８には、被検査対象セットＳを保持するトレー１４が配置されている。台座１８には基台１２が設置され、被検査対象セットＳの上方で受光部１６を被検査対象セットＳの法線に対して平行な方向へ移動可能に保持している。トレー１４には被検査対象セットＳが載置される部分に被検査対象セットＳと接するように平面検査用光源１５が埋設されている。平面検査用光源１５は、被検査対象セットＳに下方から光を照明する。受光部１６には、ここで検出した光に基づいて光学補償シート２３の検査を行う図示しない検査装置が接続される。
【００２３】
図２に示すように、平面検査用光源１５上には、偏光軸が互いに直交するように偏光板２１（特許請求の範囲の第１の偏光板に該当）と偏光板２２（特許請求の範囲の第２の偏光板に該当）が対向配置される。そして、この一対の偏光板２１，２２の間に検査対象となる光学補償シート２３（本実施形態では面内位相差１２０ｎｍの一軸性位相差シートとする）が配置される。光学補償シート２３は、その遅相軸と、偏光板２１，２２それぞれの偏光軸とのなす角度が４５°となるように配置されるが、この角度はこれに限定されない。更に、偏光板２２と光学補償シート２３の間には、光学補償シート２３と同じ面内位相差１２０ｎｍを有する一軸性位相差シート２５が挿入配置される。この一軸性位相差シート２５は、その遅相軸が光学補償シート２３の遅相軸と直交するように挿入配置される。これにより、一軸性位相差シート２５は、光学補償シート２３の面内位相差を相殺する相殺用位相差シートとして機能する。
【００２４】
検査装置１０は、互いの偏光軸を直交させて対向配置した偏光板２１と偏光板２２の間に、光学補償シート２３と、相殺用位相差シートとして機能する一軸性位相差シート２５を挿入した状態で、偏光板２２から出射される平面検査用光源１５からの光を受光部１６により検出し、検出した光に基づいて、光学補償シート２３の検査を行う。この際、一軸性位相差シート２５によって光学補償シート２３の面内位相差は相殺されるため、偏光板２１の遅相軸と光学補償シート２３の遅相軸とが略一致していなくとも、光学補償シート２３の光学異方性に起因した漏れ光を抑えた状態で検査を行うことができる。また、この装置によれば、偏光板２１の遅相軸と光学補償シート２３の遅相軸が交差する構成の液晶表示パネルの使用形態に近い方法で光学補償シートの検査を行うことができる。また、この装置によれば、一軸性位相差シート２５を光学補償シート２３と偏光板２２との間に設けただけで上記効果を得ることができるため、装置構成や制御が容易となる。
【００２５】
なお、一軸性位相差シート２５は、欠陥が無く、均一性の優れたものが望ましいのは言うまでもない。また、この一軸性位相差シート２５の材質としては、光学異方性を有する高分子材料が適用できる。
【００２６】
また、受光部１６は、ＣＣＤ型やＭＯＳ型イメージセンサなどが一般的に利用できるが、勿論、目視による確認作業とすることもできる。
【００２７】
また、平面検査用光源１５は、被検査対象である光学補償シート２３の欠陥部分を投影する投影光を照射する光源で、可視域にスペクトルを有する投影光の光源であれば制限はなく、特に白色光源が好ましい。
【００２８】
また、上記では、一軸性位相差シート２５を光学補償シート２３と偏光板２２との間に設けた構成としているが、一軸性位相差シート２５を光学補償シート２３と偏光板２１との間に設けた構成としても、同様の効果を得ることができる。また、光学補償シート２３は、一軸性の位相差シートとしたが、これは二軸性の位相差シートであっても同様の効果を得ることができる。
【００２９】
（第二実施形態）
本実施形態では、検査対象となる光学補償シートが第一実施形態とは異なる構成の例について説明する。
図３は、本発明の第二実施形態を説明するための検査装置の検査対象となる被検査対象セットＳ１の積層状態を示す概略図であり、（Ａ）は被検査対象セットの側面図、（Ｂ）は各積層体の偏光軸、遅相軸、及び面内位相差方向などを模式的に示す平面図である。なお、検査装置の構成については、第一実施形態と同様の構成を適用する。
【００３０】
図３に示すように、平面検査用光源１５上方には、偏光軸が互いに直交するように偏光板３１（特許請求の範囲の第１の偏光板に該当）と偏光板３２（特許請求の範囲の第２の偏光板に該当）が対向配置される。そして、この一対の偏光板３１，３２の間に検査対象となる光学補償シート３３が配置される。
【００３１】
光学補償シート３３は、光学異方性を有する第１の異方性層である透明支持体３３ａと、第２の異方性層である配向を固定したディスコティック液晶３３ｂとで構成されている。
【００３２】
透明支持体３３ａの遅相軸は、偏光板３１の遅相軸と略一致する。ディスコティック液晶３３ｂの面内位相差が最大（ここでは４０ｎｍとする）となる面内最大位相差方向と透明支持体３３ａの遅相軸とは交差している。
【００３３】
更に、偏光板３２と光学補償シート３３の間には、ディスコティック液晶３３ｂの面内最大位相差４０ｎｍと同じ面内位相差４０ｎｍを有する一軸性位相差シート３５が挿入配置される。この一軸性位相差シート３５は、その遅相軸がディスコティック液晶３３ｂの面内最大位相差方向と直交するように挿入配置される。これにより、一軸性位相差シート３５は、光学補償シート３３の面内位相差を相殺する相殺用位相差シートとして機能する。
【００３４】
本実施形態によれば、２層の面内位相差の方向が一致しない光学補償シート（ＯＣＢモード液晶表示パネル用光学補償シートなど）でも光漏れを抑えて、精度の良い検査を実施する事ができる。
【００３５】
（第三実施形態）
図４は、本発明の第三実施形態を説明するための光学補償シート検査装置の概略構成を示す図である。図５は、本発明の第三実施形態を説明するための光学補償シート検査装置の検査対象となる被検査対象セットＳ２の積層状態を示す概念図であり、（Ａ）は被検査対象セットの側面図、（Ｂ）は各積層体の偏光軸、遅相軸、および面内位相差方向などを模式的に示す平面図である。
【００３６】
図４に示すように、検査装置４０の台座４８には被検査対象セットＳ２を保持するトレー４４が配置されている。このトレー４４は、トレー４４から延びるアーム４４ａが台座４８に固定された支持ブロック４３の傾斜軸４３ａを中心軸として傾斜維持および解除自在に保持されている。この傾斜軸４３ａの傾斜中心軸線は被検査対象セットＳ２の表面中心部を通っている。台座４８には基台４２が設置され、被検査対象セットＳ２の上方で受光部４６を保持している。被検査対象セットＳ２の上方で受光部４６との間には、偏光板５２（特許請求の範囲の第２の偏光板に該当）と一軸性位相差シート５５が偏光板５２を上にして平行に配置され、基台４８から延びるアーム４９により保持されている。受光部４６は偏光板５２と一軸性位相差シート５５の法線に平行な方向へ移動可能に保持されている。トレー４４には被検査対象セットＳ２が載置される部分に被検査対象セットＳ２と接するように平面検査用光源４５が埋設されている。平面検査用光源４５は、被検査対象セットＳ２を下方から照明する。
【００３７】
図５に示すように、平面検査用光源４５上には、偏光板５１（特許請求の範囲の第１の偏光板に該当）が配置され、偏光板５１の遅相軸は偏光板５２の遅相軸と直交する。そして、偏光板５１の上に、検査対象となる光学補償シート５３が配置される。
【００３８】
光学補償シート５３は、光学異方性を有する第１の異方性層である透明支持体５３ａと、第２の異方性層である配向を固定したディスコティック液晶５３ｂとで構成されている。ここで、ディスコティック液晶５３ｂの厚さ方向の配列は、例えば、透明支持体５３ａ付近のチルト角が約１０°、反対面側でチルト角が約４０°で徐々に立ち上がるハイブリット配向となっている。
【００３９】
透明支持体５３ａの遅相軸は、偏光板５１の遅相軸と略一致する。ディスコティック液晶５３ｂの面内位相差が最大（ここでは３５ｎｍとする）となる面内最大位相差方向と透明支持体５３ａの遅相軸とは交差している。
【００４０】
一軸性位相差シート５５は、ディスコティック液晶５３ｂの面内位相差の最大値３５ｎｍよりも大きい面内位相差７０ｎｍを有し、偏光板５２と平行となるようにアーム４９により保持され、平面検査用光源４５と受光部４６との光軸線上に配置される。この時、一軸性位相差シート５５の遅相軸は、ディスコティック液晶５３ｂの面内最大位相差方向に直交するように保持される。
【００４１】
光学補償シート検査装置４０の動作を説明する。
トレー４４に被検査対象セットＳ２がセットされた状態で、光学補償シート検査装置４０は、トレー４４を一軸性位相差シート５５および偏光板５２に平行な状態から所定角度（ここでは３０°とする）傾斜させた図４のような状態にする。一軸性位相差シート５５とディスコティック液晶５３ｂは、その相対角度を変えることにより、互いの位相差が同じ値になるように調整することができるため、一軸性位相差シート５５の面内位相差を、ディスコティック液晶５３ｂの面内位相差の最大値３５ｎｍと同じ値となるように調整することで、一軸性位相差シート５５を、光学補償シート５３の面内位相差を相殺する相殺用位相差シートとして機能させることができる。図４の状態にした後、光学補償シート検査装置４０は、偏光板５２から出射される平面検査用光源４５からの光を受光部４６で検出し、検出した光に基づいて光学補償シート５３の検査を行う。
【００４２】
このように、光学補償シート検査装置４０によれば、第二実施形態と同様の効果を得ることができる。また、トレー４４を傾斜させることで、一軸性位相差シート５５の面内位相差とディスコティック液晶５３ｂの面内位相差が同じ値になるように調整することができるため、光学補償シート５３を別のものに取り替えた場合に、それに合わせて一軸性位相差シート５５を取り替える必要がなく、効率的な検査が可能となる。
【００４３】
なお、上記では、トレー４４を一軸性位相差シート５５および偏光板５２に対して傾斜させることで、一軸性位相差シート５５の面内位相差とディスコティック液晶５３ｂの面内位相差が同じ値になるように調整しているが、一軸性位相差シート５５および偏光板５２をトレー４４に対して傾斜させたり、一軸性位相差シート５５および偏光板５２とトレー４４の双方を傾斜させたりすることでも、一軸性位相差シート５５の面内位相差とディスコティック液晶５３ｂの面内位相差が同じ値になるように調整することができる。
【００４４】
また、受光部４６の位置で決まる検査方向は、トレー４４を傾斜させた状態で、ディスコティック液晶５３ｂによって発現する位相差が最も大きい方向とすることで、感度が高くなり、より高精度な検査が可能となる。
【００４５】
以上の実施形態では、光学補償シートの検査方法を示したが、光学補償シート付きの偏光板加工品の検査方法にも適用可能である。この場合の光学補償シート検査装置の概略構成を図６に示し、この場合の被検査対象セットの積層状態を示す側面図を図７（Ａ）に、各積層体の偏光軸、遅相軸、または位相差方向を模式的に示す平面図を図７（Ｂ）に示した。図６，図７において、図４、図５と異なる点は、偏光板５２と一軸性位相差シート５５との間にガラス板６６を挟んでいること、偏光板５１が光学補償シート５３と一体化されていることの２点である。
【００４６】
以上の実施形態で説明した検査装置を光学補償シートの製造工程に利用することで、精度の高い検査を手軽に且つ高速で行うことができる。
【００４７】
なお、本発明の検査方法および検査装置は、液晶用視野角改善フィルムの検査に限られず、位相差膜等の欠陥検査に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の第一実施形態を説明するための光学補償シート検査装置の概略構成を示す図
【図２】発明の第一実施形態を説明するための光学補償シート検査装置の検査対象となる被検査対象セットの積層状態を示す模式図
【図３】本発明の第二実施形態を説明するための検査装置の検査対象となる被検査対象セットの積層状態を示す模式図
【図４】本発明の第三実施形態を説明するための光学補償シート検査装置の概略構成を示す図
【図５】本発明の第三実施形態を説明するための光学補償シート検査装置の検査対象となる検査対象セットの積層状態を示す模式図
【図６】光学補償シート付きの偏光板加工品を検査対象とする光学補償シート検査装置の概略構成を示す図
【図７】光学補償シート付きの偏光板加工品を含む被検査対象セットの積層状態を示す模式図
【符号の説明】
【００４９】
１０  光学補償シート検査装置
１２  基台
１４  トレー
１５  平面検査用光源
１６  受光部
１８  台座
２１，２２  偏光板
２３  光学補償シート
２５  一軸性位相差シート
３１，３２  偏光板
３３  光学補償シート
３３ａ  透明支持体
３３ｂ  ディスコティック液晶
３５  一軸性位相差シート
４０  光学補償シート検査装置
４２  基台
４３  支持ブロック
４３ａ  傾斜軸
４４  トレー
４４ａ  アーム
４５  平面検査用光源
４６  受光部
４８  台座
４９  アーム
５１，５２  偏光板
５３  光学補償シート
５３ａ透明支持体
５３ｂ  ディスコティック液晶
５５  一軸性位相差シート
６１，６２  偏光板
６３  光学補償シート
６３ａ透明支持体
６３ｂ  ディスコティック液晶
６５  一軸性位相差シート
６６  ガラス板
Ｓ  被検査対象セット
Ｓ１  被検査対象セット
Ｓ２  被検査対象セット
Ｓ３  被検査対象セット
【図１】
2006250631.tif 000003
【図２】
2006250631.tif 000004
【図３】
2006250631.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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