(57)【要約】【課題】起動時に記録学習を実施しなくても適正な記録条件を決定し、起動時間を短縮することが可能な光記録再生装置の記録学習方法及び光記録再生装置を提供することを目的とする。【解決手段】上書き可能な光ディスク１０を光記録再生装置で再生または記録する際に、光記録再生装置の起動時の記録学習が実施済みかどうかを判定し、記録学習が実施済みである場合は記録学習を実施せず、起動後にホストＰＣ１６から記録要求があった場合、記録要求を一旦待機させ、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施する光記録再生装置の記録学習方法としたものであり、光ディスク１０がドライブ装置に装着されたとき、過去に記録された光ディスク１０の場合は起動時の記録学習を実施しないので、起動時間を短縮することができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
上書き可能な光ディスクを光記録再生装置で再生または記録する際に、前記光記録再生装置の起動時の記録学習が実施済みかどうかを判定し、記録学習が実施済みである場合は記録学習を実施せず、起動後にホストＰＣから記録要求があった場合、記録要求を一旦待機させ、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施することを特徴とする光記録再生装置の記録学習方法。
【請求項２】
上書き可能な光ディスクであって１枚のディスクを複数の記録倍速で記録を行う際に、起動時に各記録倍速での記録学習を実施せず、起動後に該当記録倍速で記録するディスク領域へのホストＰＣから記録要求があった場合、記録要求を一旦待機させ、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施することを特徴とする請求項１記載の光記録再生装置の記録学習方法。
【請求項３】
上書き可能な光ディスクに記録する際にホストＰＣから記録要求があった場合、記録要求を一旦待機させ、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施する際の記録要求を一旦待機させる手段としてサーボエラーを返信することを特徴とする請求項１または２に記載の光記録再生装置の記録学習方法。
【請求項４】
記録学習中で実行するパワー学習のピークパワー初期値およびバイアスパワー初期値はあらかじめ演算した値を使用することを特徴とする請求項１または２に記載の光記録再生装置の記録学習方法。
【請求項５】
上書き可能な光ディスクを再生または記録する際に、起動時の記録学習が実施済みかどうかを判定する記録学習判定手段と、記録学習が実施済みである場合は記録学習を実施せず、起動後にホストＰＣから記録要求があった場合、記録要求を一旦待機させ、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施する記録学習実行手段とを有することを特徴とする光記録再生装置。
【請求項６】
上書き可能な光ディスクであって１枚のディスクを複数の記録倍速で記録を行う際に、前記記録学習実行手段は、起動時に各記録倍速での記録学習を実施せず、起動後に該当記録倍速で記録するディスク領域へのホストＰＣから記録要求があった場合、記録要求を一旦待機させ、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施することを特徴とする請求項５記載の光記録再生装置。
【請求項７】
上書き可能な光ディスクに記録する際にホストＰＣから記録要求があった場合、前記記録学習実行手段は、記録要求を一旦待機させ、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施する際の記録要求を一旦待機させるためのサーボエラーを返信することを特徴とする請求項５または６に記載の光記録再生装置。
【請求項８】
記録学習中に実行するパワー学習のピークパワー初期値およびバイアスパワー初期値はあらかじめ演算した値を使用することを特徴とする請求項５から７のいずれかの項に記載の光記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光記録再生装置に係り、特に書き込み可能な光ディスクのうちＯＳ（Operating System）から直接記録要求が実行されるＤＶＤ（Digital Versatile Disc）−ＲＡＭ（Random Access Memory）ディスク等の起動時の記録学習を省略することが可能となる光記録再生装置の記録学習方法及び光記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
大容量のデータが書換え可能な光ディスクの例としてＤＶＤ−ＲＡＭ規格がある。この規格では、相変化記録膜を用いた直径１２ｃｍの光ディスクの片面に、マークエッジ記録方式で４．７ＧＢのデータが記録可能であり、既に実用化されている。光ディスク上にデータをアモルファスのマークとしてマークエッジ記録する場合に、レーザ光をマルチパルスと呼ばれる複数のパルス列で構成して記録する高密度記録では、記録するマークサイズ及びスペース（マーク間）の距離が小さいため、マークを形成するために加えたレーザ光の熱が自己マークのみならずスペースを伝わって前後のマークにまで到達し、自己マークおよび前後のマーク形状に歪みが発生する。よって記録品質を確保するための情報として、ディスク上の再生専用領域（コントロールデータ）には、ディスクメーカの記録推奨の記録パワーと記録ストラテジが記載されている。ただしドライブばらつき（レーザ波形の立ち上がり、レーザスポット径等）、ディスクばらつき（膜厚むら、そり等）があるために、ディスクに記載された記録パワー及び記録ストラテジを用いた記録だけでは、十分な記録特性が得られる保証はない。
【０００３】
上記問題を解決するための従来の技術として、記録学習を実行する方法が知られている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００２−９２８８０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしＤＶＤ−ＲＡＭディスクへの記録は、Ｗｉｎｄｏｗｓ（登録商標）  ＸＰで標準サポートされているので、ＣＤ−Ｒ（Compact Disc-Recordable）ディスクやＤＶＤ−Ｒディスクへの記録のようにライティングソフトウエア経由ではなく、フォルダへのドラックアンドドロップで記録が可能である。つまり起動後は、いつ記録要求が発生してもいいように、起動時の記録学習を実施する必要がある。
【０００５】
上記の（特許文献１）に開示された従来の光記録再生装置では、光ディスクがドライブ装置に装着された起動時に必ず記録学習を実行するので、例えばユーザがそのディスクのデータをリードのみ行いたい場合でも、記録学習を実行する時間を含む待ち時間が発生し、起動時間が長いという問題がある。また記録学習、記録補償学習は、ドライブテストゾーンと呼ばれるディスク内周に設けられた書き換え可能領域で実行される。ドライブテストゾーンはおよそ３０回分の記録学習実行が可能な領域が確保されている。またドライブテストゾーンの使用順番は任意であるために、記録学習の回数が少ない場合でも同じ領域が上書きされることがある。ドライブ起動時の記録学習も、このドライブテストゾーンで記録学習が実行される。
【０００６】
一般に、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクは１０万回の上書き記録が保証されているが、ドライブテストゾーンの記録では、特定パターンの記録やＤＣイレース記録を行うために記録膜の劣化が著しく、通常データ記録領域よりも上書き可能回数が減る傾向にあり、ドライブテストゾーンの劣化が問題となる。
【０００７】
本発明は、以上の点に鑑みなされたもので、起動時に記録学習を実施しなくても適正な記録条件を決定し、起動時間を短縮することが可能な光記録再生装置の記録学習方法及びその方法を実現するための光記録再生装置を提供することを目的とする。
【０００８】
また、本発明の他の目的は、書き込み可能な光ディスクに対して記録条件を決定するための記録学習領域での記録回数を極力少なくして光ディスクの長寿命化を実現し得る光記録再生装置の記録学習方法及びその方法を実現するための光記録再生装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、光記録再生装置において、すでに光ディスクと光記録再生装置の組み合わせで記録学習が実行されているかどうかを判定し、すでに記録学習が実施されている場合は、ドライブ起動時の記録学習を実行せず、起動後にホストＰＣ（Personal Computer）から記録要求があった場合、記録要求を一旦待機させ、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施することを主要な特徴とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明の光記録再生装置の記録学習方法は、光ディスクがドライブ装置に装着されたとき、過去に記録された光ディスク、つまり、本光記録再生装置との組み合わせでデータが記録されている光ディスクの場合は起動時の記録学習を実施しないので、起動時間を短縮することが可能であり、上書き可能な光ディスクに対して記録条件を決定するための記録学習領域での記録回数を極力少なくして光ディスクの長寿命化を実現することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
上記課題を解決するための第１の発明は、上書き可能な光ディスクを光記録再生装置で再生または記録する際に、光記録再生装置の起動時の記録学習が実施済みかどうかを判定し、記録学習が実施済みである場合は記録学習を実施せず、起動後にホストＰＣから記録要求があった場合、記録要求を一旦待機させ、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施する光記録再生装置の記録学習方法としたものであり、ユーザがディスクデータをリードのみ行う場合は記録学習を実施しないことになり、起動時間が短縮でき、さらにディスクの記録学習領域の使用回数が減り、ドライブテストゾーンの劣化を防ぐことができディスクの長寿命化を実現し得る光記録再生装置を実現でき、また実際に記録する場合、記録を実施する直前での記録学習実施になるので、実記録時と環境温度等の条件はほぼ同じになり、温度等の環境によって変化する学習記録パワー条件は、起動時に実施する場合と比較してより適切なものになるという特徴を有する。
【００１２】
上記課題を解決するための第２の発明は、上書き可能な光ディスクであって１枚のディスクを複数の記録倍速で記録を行う際に、起動時に各記録倍速での記録学習を実施せず、起動後に該当記録倍速で記録するディスク領域へのホストＰＣから記録要求があった場合、記録要求を一旦待機させ、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施する光記録再生装置の記録学習方法としたものであり、各記録倍速において、第１の発明と同様の作用効果を持つという特徴を有する。
【００１３】
上記課題を解決するための第３の発明は、上書き可能な光ディスクに記録する際にホストＰＣから記録要求があった場合、記録要求を一旦待機させ、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施する際の記録要求を一旦待機させる手段としてサーボエラーを返信する光記録再生装置の記録学習方法としたものであり、サーボエラーを返せば、その時点で、ホストＰＣは一旦記録要求を諦めて、記録学習終了後にリカバー処理として再び記
録要求を実施することができるという特徴を有する。
【００１４】
上記課題を解決するための第４の発明は、記録学習中で実行するパワー学習のピークパワー初期値およびバイアスパワー初期値はあらかじめ演算した値を使用する光記録再生装置の記録学習方法としたものであり、パワー学習の記録回数を減らすことが可能であるという特徴を有する。
【００１５】
上記課題を解決するための第５の発明は、上書き可能な光ディスクを再生または記録する際に、起動時の記録学習が実施済みかどうかを判定する記録学習判定手段と、記録学習が実施済みである場合は記録学習を実施せず、起動後にホストＰＣから記録要求があった場合、記録要求を一旦待機させ、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施する記録学習実行手段とを有する光記録再生装置としたものであり、ユーザがディスクデータをリードのみ行う場合は記録学習を実施しないことになり、起動時間が短縮でき、さらにディスクの記録学習領域の使用回数が減り、ドライブテストゾーンの劣化を防ぐことができディスクの長寿命化を実現し得る光記録再生装置を実現でき、また実際に記録する場合、記録を実施する直前での記録学習実施になるので、実記録時と環境温度等の条件はほぼ同じになり、温度等の環境によって変化する学習記録パワー条件は、起動時に実施する場合と比較してより適切なものになるという特徴を有する。
【００１６】
上記課題を解決するための第６の発明は、上書き可能な光ディスクであって１枚のディスクを複数の記録倍速で記録を行う際に、前記記録学習実行手段は、起動時に各記録倍速での記録学習を実施せず、起動後に該当記録倍速で記録するディスク領域へのホストＰＣから記録要求があった場合、記録要求を一旦待機させ、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施する光記録再生装置としたものであり、各記録倍速において、第５の発明と同様の作用効果を持つという特徴を有する。
【００１７】
上記課題を解決するための第７の発明は、上書き可能な光ディスクに記録する際にホストＰＣから記録要求があった場合、前記記録学習実行手段は、記録要求を一旦待機させ、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施する際の記録要求を一旦待機させるためのサーボエラーを返信する光記録再生装置としたものであり、サーボエラーを返せば、その時点で、ホストＰＣは一旦記録要求を諦めて、記録学習終了後にリカバー処理として再び記録要求を実施することができるという特徴を有する。
【００１８】
上記課題を解決するための第８の発明は、記録学習中に実行するパワー学習のピークパワー初期値およびバイアスパワー初期値はあらかじめ演算した値を使用する光記録再生装置としたものであり、パワー学習の記録回数を減らすことが可能であるという特徴を有する。
【００１９】
（実施の形態１）
本発明の実施の形態について図面と共に説明する。
【００２０】
図１は本発明に係る光記録再生装置の一実施の形態を示すブロック図、図２は本発明の実施の形態の動作説明用フローチャート、図３は本発明の実施の形態における記録学習のフローチャート、図４は本発明の実施の形態におけるパワー学習の説明図、図５は本発明の実施の形態における記録補償学習の説明図である。
【００２１】
図１において、本実施の形態の光記録再生装置は、光ディスク１０に対する記録再生を行う光ヘッド１１と、光ヘッド１１上の受光素子から出力される微弱電気信号を増幅するヘッドアンプ１２と、ヘッドアンプ１２の出力に含まれる信号中のモータの回転ムラ、レーザノイズ、レーザスポット系による帯域劣化などの要因を補償して信号成分を抽出する
ＲＦ再生回路１３と、ＲＦ信号の２値化、復号処理を行う光ディスクコントローラ１４と、再生データをホストＰＣ１６に伝送するインターフェース１５と、メモリ１８中のプログラムを実行するマイコン（マイクロコンピュータ）１７と、記録学習の手順を示したプログラムを蓄積しているメモリ１８と、光ヘッド１１を駆動するレーザ駆動回路１９とを有している。
【００２２】
本実施の形態において、まず再生時の信号の流れについて説明を行う。データが記録された光ディスク１０は、図１に図示されないスピンドルモータで回転駆動され、光ヘッド１１の出力する再生レーザパワーは、図１に図示しないフォーカスサーボ、トラッキングサーボ、トラバースサーボによって、前記光ディスク１０上のディスクが記録されている面に照射される。その反射光を光ヘッド１１上の受光素子で光の強弱に応じた電気信号を出力し、ヘッドアンプ１２でその電気信号を増幅する。その電気信号は、ＲＦ再生回路１３でオートゲインコントロール、郡遅延補正、イコライザ等の信号加工が行われ、光ディスクコントローラ１４に出力される。光ディスクコントローラ１４では入力されたＲＦ信号の２値化、復号処理が行われ、インターフェース１５を通じて、ホストＰＣ１６に再生データとして出力される。
【００２３】
次に記録時の信号の流れについて説明を行う。ホストＰＣ１６から記録データがインターフェース１５を介して光ディスクコントローラ１４に送られる。光ディスクコントローラ１４では、送られてきたデータがエンコード処理され、記録学習で求まった記録パワーと記録補償値でレーザ駆動回路１９を制御し、光ディスク１０上に記録マークの記録を行う。データが記録された光ディスク１０は、図１に図示されないスピンドルモータで回転駆動され、光ヘッド１１は、図１に図示しないフォーカスサーボ、トラッキングサーボ、トラバースサーボによって、前記光ディスク１０上のデータを記録する面にレーザを照射する。記録学習実施済みの場合は、以上説明したような流れでディスクへのデータ記録が実行される。
【００２４】
次に記録学習について説明する。記録可能な光ディスクにおいては、光ディスク自体、光記録再生装置のレーザ、サーボ制御ばらつき、経年劣化、温度変化等の条件変化があっても記録品質を保つようにするために、起動時に記録学習が実施される。記録学習では記録パワーと記録ストラテジをパラメータとして記録品質が最適になるように学習が行われる。
【００２５】
記録学習の動作の流れを、図３を用いて説明する。記録学習工程は、ＤＩＺ判別ステップ３２０、前パワー学習ステップ３３０、記録補償学習ステップ３４０、後パワー学習ステップ３５０、記録品質チェックステップ３６０から構成される。ステップ３２０からステップ３６０までの一連の記録学習を実施することをフルパワー学習工程と呼ぶ。なお、ＤＩＺとは、Disc Identification Zoneの略語であり、記録したドライブを検定するための情報を記録するためのディスク上の領域をいう。
【００２６】
まずＤＩＺ判別ステップ３２０について説明する。光ディスクが装着され、起動処理を行い、データ再生可能となった時点で、まずステップ３０１で、ＤＩＺ情報の有り無しを判別する。ＤＩＺ情報とは、その光ディスクで記録学習を実施した記録装置の識別情報と記録学習結果情報（記録パワー、記録ストラテジ）のことであり、光ディスク上の規定の位置に記録される。もともと光ディスクのコントロールデータには光ディスクメーカ推奨の記録パワーと記録ストラテジが記載されているが、この記録パワーと記録ストラテジで記録品質が保証されるとは限らない。実際のドライブでの起動時の記録学習は、このコントロールデータ上の光ディスクメーカ推奨の記録パワーと記録ストラテジを初期値として、記録パワーおよび記録ストラテジを学習する。学習した記録パワーと記録ストラテジは、ＤＩＺ情報として光ディスク上に記録することができる。ＤＩＺ有りと判断された場合
はステップ３０６で記録パワー、ストラテジはＤＩＺ値設定を行う。
【００２７】
次に前パワー学習ステップ３３０について説明する。ＤＩＺ無しと判断された場合は、ステップ３０３で前パワー学習から実施する。記録パワーには、急加熱、急冷を繰り返して相変化膜をアモルファス化して反射率の低いマーク部を形成するピークパワーと、結晶化温度より高い温度を掛けて相変化膜を結晶化させ、マーク部より反射率の高いスペース部を形成するバイアスパワーとがある。ピークパワーとバイアスパワーの組み合わせでマークとスペースの記録が可能であり、データとしては、ＥＦＭ信号（３Ｔ〜１１Ｔ信号、Ｔは基準クロック）を使用する。
【００２８】
図４を用いて前パワー学習ステップ３３０を説明する。前パワー学習では、まずデフォルトピークパワー（例えば１１ｍＷ）、デフォルトバイアスパワー（例えば５ｍＷ）、デフォルトストラテジが設定され、デフォルト設定は、光ディスクのコントロールデータに記載された推奨値もしくは、記録学習実施後であればＤＩＺに記録された学習結果を使用する。この状態で記録が行われ、その記録した領域のバイトエラーレート（ＢＥＲ）を測定する。続いてピークパワー設定値をある一定値（例えば０．５ｍＷ）減算した値をピークパワーとして設定して記録を行い、その領域のＢＥＲを測定する。この作業を繰り返して測定ＢＥＲがある閾値以上（例えばＢＥＲ＞１．０Ｅ−３）になった時点でそのときのピークパワーをＰｏとして、学習結果ピークパワーＰｋをＰｋ＝ｋ×Ｐｏ（ｋ：係数１．２〜１．３の範囲で経験的に記録品質が良くなるように求めた値）の演算で求めることができる（図４（ａ）参照）。同様にバイアスパワーに関しても、図４（ｂ）に示すように、バイアスパワーを変えて記録を行い、ＢＥＲマージンが最大になるバイアスパワーを学習結果とするものである。次に、ステップ３０４で前パワー学習結果を記録品質で判定する。記録品質ＯＫならステップ３０５の記録補償学習へ、記録品質がＮＧならステップ３０３の前パワー学習を再び実行する。
【００２９】
次に記録補償学習について説明する。ステップ３０５では、記録マークおよびスペースの位相誤差が最小になるように記録ストラテジが学習される。光ディスクで記録されるピットは、半導体レーザによって光ディスクが温められ、あるスレッシュホールド（相変化光ディスクの場合は相転移温度で数百度）を超えることにより形成される。媒体温度が飽和値に達する時間（温度の時定数）は、応答時間に比べはるかに長い時間が必要である。そのため、本来所定の位置にあるべき記録ピットのエッジ位置が環境温度や媒体感度を初めとして、種々の要因により変動する。この変動要因の内、最も重要な問題となるのが、記録データのパターンシフトである。パターンシフトとは、長いピットを形成する場合と短いピットを形成する場合とで、書き終わり時点での媒体温度が異なるためピット長が変動する現象である。このパターンシフトが発生しないように時間軸方向に記録ピット長を調整することが記録補償である。記録補償学習の方式としてはマーク適応記録補償がある。
【００３０】
具体的には、図５に示すようにピークパワー５０１、バイアスパワー５０２となる記録パワーを設定して、自己マーク長５０３および前スペース長５０４の組み合わせ、例えば４×４通りごとに５０６のレーザ照射開始位置Ｔｓを変化させるマーク前エッジ補償動作と、同様に自己マーク長５０３および後スペース長５０５の組み合わせ、例えば４×４通りごとに５０７のレーザ照射終了位置Ｔｅを変化させるマーク後エッジ補償動作とからマーク適応記録補償が構成される。以上のように、エッジのパターンシフトが最小になるようにＴｓ、Ｔｅを求めるのが記録補償学習である。このような記録補償学習で求まったストラテジは、ディスクと記録装置での組み合わせで記録品質が最も良くなる記録ストラテジとなる。
【００３１】
最後に後パワー学習について説明する。記録補償学習の次は後パワー学習ステップ３０
７を実施する。後パワー学習でのパワー決定は、前パワー学習と同様の手順である。異なるのは、記録補償学習実施後なので記録ストラテジが学習済みの最適ストラテジである点である。ステップ３０８では学習結果の記録パワー、記録ストラテジで記録を行い、その記録領域のバイトエラーレート（ＢＥＲ）を測定する。ステップ３０９では、ＢＥＲが記録品質ＯＫレベルかを判定する。ジッタ１３％に相当するＢＥＲ＜１．０Ｅ−３が目安である。ここで記録品質がＯＫと判断された場合はステップ３１０で記録学習成功で、ＤＩＺに記録パワー、記録ストラテジが記録される。記録品質がＮＧと判断された場合は、記録学習失敗ということで、そのディスクに対しては記録禁止になる。一旦上記のフルパワー学習＝前パワー学習＋記録補償学習+後パワー学習を実施すれば、記録学習結果である記録パワーと記録ストラテジはＤＩＺ情報としてディスク上に記録される。よって次回以降この記録再生装置と光ディスクの組み合わせでの記録学習では、このＤＩＺ情報である記録パワーと記録ストラテジを初期値にして、後パワー学習だけを実行して記録学習時間を短縮することが可能となる。
【００３２】
以上が記録学習の動作説明である。
【００３３】
上述のように、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクの記録品質を確保するために記録学習は必須であることが分かる。またＤＶＤ−ＲＡＭでは起動後は、いつでもホストＰＣからの記録要求が発生する可能性があるので、起動時に記録準備ＯＫ状態つまり記録学習が完了することが必要であった。またはホストＰＣからの記録要求後に記録学習を実行することも考えられるが、ホストＰＣからの記録要求後に記録学習を実施していたのでは、ホストＰＣ側がこの光ディスク装置は記録できないと判断してエラーとなる問題点があった。そこで本発明では、ホストＰＣからの記録要求に対して一旦サーボエラーを返信する。サーボエラーを返せば、その時点で、ホストＰＣは一旦記録要求を諦めて、記録学習終了後にリカバー処理として再び記録要求を実施するようにできる。
【００３４】
この本発明の要旨である上書き可能な光ディスクを再生または記録する際に、起動時の記録学習が実施済みかどうかを判定する記録学習判定手段を有し、記録学習が実施済みである場合は記録学習を実施しない。また起動後にホストＰＣから記録要求があった場合、記録要求を一旦待機させるための擬似エラー返信手段を有し、記録要求を一旦待機させている間に記録学習を実施するための記録学習実行手段を有することを特徴とする記録学習方法について説明する。本発明の光記録再生装置は、起動時およびホストＰＣからの記録要求が発生してから記録開始するまでの処理がポイントになる。本発明のポイントである起動時およびホストＰＣからの記録要求が発生してから記録開始するまでについて図２を用いて具体的に説明する。
【００３５】
ステップ２０１では、光ディスクを回転させ、先に説明した再生系のデータリード手順でディスク上のデータがリードできるまで起動処理を実行する。次にディスク情報取得ステップ２０２では、光ディスク上のＤＩＺ情報を取得する。ステップ２０３ではＤＩＺ情報判定を行い、本装置で過去に記録した情報であるＤＩＺ情報があると判断されればステップ２０４でストラテジ、パワーはＤＩＺ値を設定し、記録学習を実施せずに起動を完了する。ＤＩＺがないと判断されれば、ステップ２０５でストラテジ、パワーはディスクのコントロールデータ情報（デフォルト値）を設定し、ステップ２０６では、先に説明したフル記録学習を実施し、ステップ２０７で起動を完了する。次に起動後の動作であるが、ある時点で、ステップ２０８でホストＰＣから記録要求があれば、ステップ２０９でフル記録学習実施の有無を判断して、フル記録学習が実施済みであると判断されればステップ２１１で記録学習結果を設定し、記録動作に入る。また記録学習が実施済みでないと判断されれば、ステップ２１０でホストＰＣに対して、実際にはエラーが発生している訳ではないがサーボエラーを返信する。サーボエラーを返信することでホストＰＣは、現在は光ディスク装置でサーボエラーが発生しているために記録可能でないと判断し、光ディスク
装置のサーボリカバー実施後に再び記録要求を実施するようになる。この実際には発生していないサーボエラーを返信し、その間に記録学習（後パワー学習）を実施するというのが本発明のポイントである。ここでは返信するエラーとしてサーボエラーとしたが、ホストがある一定時間後にリカバー処理で再び記録要求に行くエラーであればなんでもよい。ステップ２１２ではサーボエラーによる中断時間より短い時間で記録学習（後パワー学習）が可能な簡易後パワー学習を実施する。
【００３６】
この簡易後パワー学習方法について説明する。
【００３７】
まず従来の後パワー学習でのピークパワーの求め方を、図４（ａ）を用いて説明する。
【００３８】
デフォールトビークパワーＰｄｅｆ（ＤＩＺ未登録時は、ディスクのコントロールデータに記載されたデフォルトピークパワー、記録学習実施後であればＤＩＺに記録された学習結果ピークパワー）に対して設定パワー＝Ｐｄｅｆ−ΔＰとなる学習初期ピークパワーを設定し、記録を実行し、記録後のデータのＢＥＲを測定する。
【００３９】
測定ＢＥＲがある閾値Ｂｔｈ以下であればさらにピークパワー設定値からΔＰだけ減算して記録を行い、ＢＥＲの測定を実施することを繰り返す。測定ＢＥＲがある閾値Ｂｔｈ以上（例えばＢＥＲ＞１．０ｅ-3）になった時点でそのときのピークパワーを下限ピークパワーＰ0とする。従来の後パワー学習では、このような手順でＰｋ＝ｋ×Ｐ0（ｋ：係数１．２〜１．３の範囲で経験的に記録品質が良くなるように求めた値）となるピークパワー学習値Ｐｋを求めることができる。これに対して簡易後パワー学習方法では、ピークパワー設定がＰ0’＝Ｐｄｅｆ／ｋとなる学習初期ピークパワーＰ0’を求めて、このＰ0’をピークパワーとして設定して、記録を行い、ＢＥＲ測定を行う。図４（ａ）からも分かるように簡易後パワー学習の学習初期ピークパワーＰ0’の方が、従来の後パワー学習の学習初期ピークパワー：Ｐｄｅｆ−ΔＰより下限ピークパワーに近いので、簡易後パワー学習の方が従来の後パワー学習より少ない試行回数でピークパワー値を学習することが可能となる。
【００４０】
次に従来の後パワー学習でのバイアスパワーの求め方を、図４（ｂ）を用いて説明する。
【００４１】
同様にバイアスパワーに関してもバイアスパワーをΔＢずつ減算して記録を行い、ＢＥＲがある閾値Ｂｔｈを超える下限バイアスパワーＢ１とバイアスパワーをΔＢずつ加算して記録を行い、ＢＥＲがある閥値Ｂｔｈを超える上限バイアスパワーＢ２からバイアスパワー学習値Ｂｓ＝（Ｂ１＋Ｂ２）／２で求めることができる。
【００４２】
このように従来のバイアスパワー学習では、バイアスパワーのデフォルトバイアスパワーＢｄｅｆ（ディスクのコントロールデータに記載されたデフォルトバイアスパワーもしくは、記録学習実施後であればＤＩＺに記録された学習結果バイアスパワー）から学習を開始していた。これに対して簡易後パワー学習のバイアスパワー学習ではＢ１’＝０．８×ＢｄｅｆおよびＢ２’＝１．２×ＢｄｅｆのようにＢｄｅｆに対してＢ１，Ｂ２に近い値から学習を開始することで記録＆ＢＥＲ測定の回数を減らすことが可能となる。
【００４３】
前記簡易記録学習ステップ２１２で学習した結果の記録パワーで記録したデータの記録品質を２１３で確認してＯＫなら記録動作開始する。記録品質ＮＧならステップ２１０に戻って、再びサーボエラーを返信し、記録学習をやり直す。
【００４４】
以上、本発明の実施の形態では、起動時の記録学習を省略する場合について説明したが、２つ以上の記録速度で記録するディスクへの記録に対しても同様の方法で記録学習の実
施が行える。これにより、起動時間の短縮とドライブテストゾーンの劣化を防ぐことができ光ディスクの長寿命化を実現し得る光記録再生装置を実現できるというメリットがある。
【産業上の利用可能性】
【００４５】
本発明は、書き込み可能な光ディスクのうちＯＳから直接記録要求が実行されるＤＶＤ−ＲＡＭディスク等の起動時の記録学習を省略して起動時間を短縮することができる光記録再生装置の記録学習方法及び光記録再生装置として利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明に係る光記録再生装置の一実施の形態を示すブロック図
【図２】本発明の実施の形態の動作説明用フローチャート
【図３】本発明の実施の形態における記録学習のフローチャート
【図４】本発明の実施の形態におけるパワー学習の説明図
【図５】本発明の実施の形態における記録補償学習の説明図
【符号の説明】
【００４７】
１０    光ディスク
１１    光ヘッド
１２    ヘッドアンプ
１３    ＲＦ再生回路
１４    光ディスクコントローラ
１５    インターフェース
１６    ホストＰＣ
１７    マイコン
１８    メモリ
１９    レーザ駆動回路
３２０    ＤＩＺ判別ステップ
３３０    前パワー学習ステップ
３４０    記録補償学習ステップ
３５０    後パワー学習ステップ
３６０    記録品質チェックステップ
５０１    ピークパワー
５０２    バイアスパワー
５０３    自己マーク長
５０４    前スペース長
５０５    後スペース長
５０６    レーザ照射開始位置Ｔｓ
５０７    レーザ照射終了位置Ｔｅ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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