(57)【要約】【課題】小型で被振動試験物への締結が極めて短時間で行うことができる他、被振動試験物に往復、回転、捩れなどの複雑な振動を容易に与えることができ、生産ライン上での振動試験ができ、また、被振動試験物が通電状態でも加振ができる振動試験装置を得ること。【解決手段】本発明の第１実施例の振動試験装置１０Ａは、被振動試験物Ｔの一部分に締結できる締結部２とこの締結部２側と異なる側に一方向の振動を発生する振動発生部３とが一体的に形成されている振動ユニット１と、振動発生部３の振動を制御する振動制御部４と、この振動制御部４に通電する電源とを備えて構成されている。平面上の被振動試験物Ｔｐを検査する場合は、例えば、被振動試験物Ｔｐの左右に振動ユニット１Ａ、１Ｂを締結して振動制御部４の下に制御し、その被振動試験物Ｔｐに往復、回転、圧縮、引っ張り、捩り等の合成振動を発生させて試験する。被振動試験物としては直方体状のものにも適用できる。【選択図】図１０
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被振動試験物の一部分に締結できる締結部と該締結部側と異なる側に一方向の振動を発生する振動発生部とが一体的に形成されている振動ユニットと、
前記振動発生部の振動を制御する振動制御部と、
該振動制御部に通電する電源と
を備えた振動試験装置。
【請求項２】
前記振動ユニットは前記被振動試験物の形状に応じて一個、または複数個用い、複数個で用いる場合は、それらの前記被振動試験物に対する取り付け方向を個々に変化させて所要の合成振動が発生するように設定し、また振動強度、振動周波数及びその位相を個々に設定することで所要の合成振動波形に設定できることを特徴とする請求項１に記載の振動試験装置。
【請求項３】
前記被振動試験物が平板状であり、該平板状の前記被振動試験物の左右にそれぞれ前記振動ユニットを締結し、各振動ユニットの前記振動発生部の振動加振力、振動周波数、加速度を及び位相を前記振動制御部で同一にして前記振動制御部で加振、制御することにより前記平板状の被振動試験物に振動の合成振動を発生させることを特徴とする請求項２に記載の振動試験装置。
【請求項４】
前記被振動試験物が平板状であり、該平板状の前記被振動試験物の左右にそれぞれ前記振動ユニットを締結し、各振動ユニットの前記振動発生部の振動加振力、振動周波数、加速度を同一にし、位相を１８０度ずらせて前記振動制御部で加振、制御することにより前記両平板状の被振動試験物の中間点を回動中心とする合成回動振動を発生させることを特徴とする請求項２に記載の振動試験装置。
【請求項５】
前記被振動試験物が平板状であり、該平板状の前記被振動試験物のコーナー部に前記１個の振動ユニットをその振動方向がＸ軸方向に、前記他の一個の振動ユニットをその振動方向がＹ軸方向になるように合わせて締結し、前記各振動ユニットの前記振動発生部の振動加振力、振動周波数、加速度及び位相を同一にして前記振動制御部で加振、制御することにより前記平板状の被振動試験物に斜め方向の合成振動を発生させることを特徴とする請求項２に記載の振動試験装置。
【請求項６】
前記被振動試験物が直方体状であり、該直方体状の被振動試験物に３個の前記振動ユニットを締結し、それらの振動ユニットに振動加振力、振動周波数、加速度、位相を同一にして加振、制御することにより前記直方体状の被振動試験物内部に斜め方向の合成振動を発生させることを特徴とする請求項２に記載の振動試験装置。
【請求項７】
前記被振動試験物が直方体状であり、該直方体状の被振動試験物の一面に第１の前記振動ユニットを、前記一面に隣接する他の面に第２、第３の前記振動ユニットを締結し、それらの振動ユニットに振動加振力、振動周波数、加速度を同一にし、前記第２、第３の前記振動ユニットの位相のみを１８０度ずらせて加振、制御することにより前記直方体状の被振動試験物内部に捩れ振動を発生させることを特徴とする請求項２に記載の振動試験装置。
【請求項８】
前記被振動試験物が直方体状であり、該直方体状の被振動試験物の一面に第１及び第２の前記振動ユニットを締結し、それらの振動ユニットに振動加振力、振動周波数、加速度を同一にし、前記第２、第３の前記振動ユニットの位相のみを互いに１８０度ずらせて加振、制御することにより前記直方体状の被振動試験物に圧縮及び引っ張りの合成振動を発生させることを特徴とする請求項２に記載の振動試験装置。
【請求項９】
水平状態の載置面に被振動試験物であるフラットパネルディスプレイ装置を固定する固定手段を備えた試験台と、
前記フラットパネルディスプレイ装置の一部分に締結できる締結部と該締結部側と異なる側に一方向の振動を発生する振動発生部とが一体的に形成されている少なくとも１個の振動ユニットと、
前記試験台に固定され、前記振動発生部の振動を制御する振動制御手段と、
該振動制御部及び前記試験台上に固定された前記フラットパネルディスプレイ装置に通電する電源と
を備えた振動試験装置。
【請求項１０】
前記締結手段は、前記被振動試験物の材質や表面状態に応じて、マグネット、吸盤、バキュ−ム吸着、トグルクランプ、ボルト締結、ナット締結、はめ込み式などから選択されていることを特徴とする請求項１乃至請求項９に記載の振動試験装置。
【請求項１１】
前記振動ユニットは、圧電素子、エア−駆動、油圧駆動、電磁振動式などの何れかが選択されて用いられていることを特徴とする請求項１乃至請求項９に記載の振動試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、市場に出荷する前に電子機器のような被振動試験物が各種の機械的振動に耐えられるか否かを検査するために振動を前記被振動試験物に加振することができる振動試験装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、電子機器は一層薄型化、小型化し、そのような電子機器の品質管理の重要性が増しており、品質評価精度の向上や短時間化などの改善が求められている。
【０００３】
品質管理手法の一つに振動試験が従来より用いられているが、一製造ロットから所定数の被振動試験物を抜き取り、それらに加振して振動試験を行うことが基本的なものである。
【０００４】
しかし、このような抜き取りによる振動試験は、その試験結果の判明と生産及び出荷とのラグタイムが発生し、抜き取り試験での結果が不合格の場合、その不良品の回収や生産工程の改善までに多くの期間を費やすなど多大な損失が発生していた。
【０００５】
振動試験を行うために一製造ロットから幾つかの被振動試験物を抜き取りで行う主な理由として、
１）振動ユニット或いはこれを含む振動試験装置が大きく、また振動対策のために特別な  施設が必要であること
２）振動試験装置は高価であり、複数の設備を保有することは経営を圧迫する要厨となる  こと
３）振動試験装置の取扱及び振動試験結果の解析に専門知識が必要なこと
などを挙げることができる。
【０００６】
前記のような従来技術の振動試験装置の一例としては、下記の［特許文献１］（特開２００１−１７４３６２）に開示されているような振動試験装置を挙げることができる。
【０００７】
また、下記の［特許文献２］（特開平１０−１３２８９７）に手持ち式正弦波振動試験装置が開示されているが、抜き取りでの振動試験が主用途であり、手持ち式であるが故に生産ライン上での使用は困難であった。振動加振領域も基板半田部など限定された部分的なものであった。
【特許文献１】特開２００１−１７４３６２号（第３〜４頁、図１）
【特許文献２】特開平１０−１３２８９７号（第３頁、図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
前記のような各種理由から、生産ライン上で実施可能な振動試験装置による品質評価精度の向上と、短時間化が産業界から熱望されている。
【０００９】
そして、従来技術の振動試験においては、電子機器のような被振動試験物への電源及び信号供給の困難さから、電源駆動状態での振動試験は実施されておらず、品質評価の精度向上への障害となっていた。
【００１０】
また、電子機器全体を振動させるため、例えば、ＬＣＤやＰＤＰなどの平面型表示機器（フラットパネルディスプレイ装置）においては、振動時の表示画像の監視及びカメラ撮影による画像品質評価は不可能であった。
【００１１】
更に、振動試験装置の振幅、周波数、振動方向を被振動試験物に対して変化させ、振動試験の多面的なデータを求めるには、被振動試験物の固定方法の変更や振動試験装置の設定変更など、多くの工数と時間が必要で、品質評価コストの増大と評価結果を出すまでの時間の増大の原因となっていた。
【００１２】
更にまた、それらの変更を自動的に変更させる振動試験装置は非常に高価な設備であり、翻って生産コスト増大の要因ともなっていた。
【００１３】
そして更にまた、捩れ振動を簡易に得られる振動試験装置は無かった。
【００１４】
本発明は、これらの課題を解決しようとするものであって、小型で被振動試験物への締結が極短時間で行え、被振動試験物に往復、回転、捩れなどの複雑な振動を容易に与えることができる振動試験装置を得ることを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
それ故、請求項１に記載の本発明の振動試験装置は、被振動試験物の一部分に締結できる締結部と該締結部側と異なる側に一方向の振動を発生する振動発生部とが一体的に形成されている振動ユニットと、前記振動発生部の振動を制御する振動制御部と、該振動制御部に通電する電源とを備えて構成されている。
【００１６】
そして請求項２に記載の本発明の振動試験装置は、前記振動ユニットを前記被振動試験物の形状に応じて一個、または複数個用い、複数個で用いる場合は、それらの前記被振動試験物に対する取り付け方向を個々に変化させて所要の合成振動が発生するように設定し、また振動強度、振動周波数及びその位相を個々に設定することで所要の合成振動波形に設定できることを特徴とする。
【００１７】
また、請求項３に記載の本発明の振動試験装置は、前記被振動試験物が平板状であり、該平板状の前記被振動試験物の左右にそれぞれ前記振動ユニットを締結し、各振動ユニットの前記振動発生部の振動加振力、振動周波数、加速度を及び位相を前記振動制御部で同一にして前記振動制御部で加振、制御することにより前記平板状の被振動試験物に往復振動の合成振動を発生させることを特徴とする。
【００１８】
そしてまた、請求項４に記載の本発明の振動試験装置は、前記被振動試験物が平板状であり、該平板状の前記被振動試験物の左右にそれぞれ前記振動ユニットを締結し、各振動ユニットの前記振動発生部の振動加振力、振動周波数、加速度を同一にし、位相を１８０度ずらせて前記振動制御部で加振、制御することにより前記両平板状の被振動試験物の中間点を回動中心とする合成回動振動を発生させることを特徴とする。
【００１９】
更に、請求項５に記載の本発明の振動試験装置は、前記被振動試験物が平板状であり、該平板状の前記被振動試験物のコーナー部に前記１個の振動ユニットをその振動方向がＸ軸方向に、前記他の一個の振動ユニットをその振動方向がＹ軸方向になるように合わせて締結し、前記各振動ユニットの前記振動発生部の振動加振力、振動周波数、加速度及び位相を同一にして前記振動制御部で加振、制御することにより前記平板状の被振動試験物に斜め方向の合成振動を発生させることを特徴とする。
【００２０】
更にまた、請求項６に記載の本発明の振動試験装置、前記被振動試験物が直方体状であり、該直方体状の被振動試験物に３個の前記振動ユニットを締結し、それらの振動ユニットに振動加振力、振動周波数、加速度、位相を同一にして加振、制御することにより前記直方体状の被振動試験物内部に斜め方向の合成振動を発生させることを特徴とする。
【００２１】
そして更にまた、請求項７に記載の本発明の振動試験装置は、前記被振動試験物が直方体状であり、該直方体状の被振動試験物の一面に第１の前記振動ユニットを、前記一面に隣接する他の面に第２、第３の前記振動ユニットを締結し、それらの振動ユニットに振動加振力、振動周波数、加速度を同一にし、前記第２、第３の前記振動ユニットの位相のみを１８０度ずらせて加振、制御することにより前記直方体状の被振動試験物内部に捩れ振動を発生させることを特徴とする。
【００２２】
そして更にまた、請求項８に記載の本発明の振動試験装置は、前記被振動試験物が直方体状であり、該直方体状の被振動試験物の一面に第１及び第２の前記振動ユニットを締結し、それらの振動ユニットに振動加振力、振動周波数、加速度を同一にし、前記第２、第３の前記振動ユニットの位相のみを互いに１８０度ずらせて加振、制御することにより前記直方体状の被振動試験物に圧縮及び引っ張りの合成振動を発生させることを特徴とする。
【００２３】
そして更にまた、請求項９に記載の本発明の振動試験装置は、水平状態の載置面に被振動試験物であるフラットパネルディスプレイ装置を固定する固定手段を備えた試験台と、前記フラットパネルディスプレイ装置の一部分に締結できる締結部と該締結部側と異なる側に一方向の振動を発生する振動発生部とが一体的に形成されている少なくとも１個の振動ユニットと、前記試験台に固定され、前記振動発生部の振動を制御する振動制御手段と、該振動制御部及び前記試験台上に固定された前記フラットパネルディスプレイ装置に通電する電源とを備えて構成されている。
【００２４】
前記締結手段は、前記被振動試験物の材質や表面状態に応じて、マグネット、吸盤、バキューム吸着、トグルクランプ、ボルト締結、ナット締結、はめ込み式などから選択されてよく、また前記振動ユニットは、圧電素子、エアー駆動、油圧駆動、電磁振動式などの何れかから選択されて用いられてよい。
【００２５】
従って、本発明の振動試験装置によれば、小型で被振動試験物への締結が極めて短時間で行うことができる他、被振動試験物に往復、回転、振れなどの複雑な振動を容易に与えることができる。
【００２６】
そして、小型で被振動試験物からのはみ出しの可能性も少ないので、生産ライン上での振動試験が可能となる。
【００２７】
また、被振動試験物が通電状態でも加振ができるので、通常、検査項目を振動状態で実施でき、検査の評価精度がより向上させることができる。
【発明の効果】
【００２８】
本発明の振動試験装置によれば、
１．被振動試験物が電子機器であれば、その被振動試験物を通電状態で加振評価できるた  め、加振により複合された不具合まで検査することが可能となり、品質評価精度が向上  する
２．前記１項により、不良品の市場への流出が防止され、製品回収等に関する費用の低減  が可能となる
３．前記１項により、生産プロセスの異常が早期に発見され、不良品の大量発生を事前に  防止でき、製造コストの削減が可能となる
４．生産ライン内での加振評価ができるため、不良品発生を早期に発見でき、前記２項、  ３項の費用、コストが同じく削減できる
５．本発明の振動試験装置は低価格のため、導入費用の大幅な削減ができ、経営の資金運  用の選択が広がる
６．加振評価を被振動試験物の目的のアウトプットの不具合として判断できるので、特別  な解析装置が不要であり、導入コストの大幅な削減が可能である。また、特別な教育は  不要で人事労務政策の選択が広がる
７．圧縮、引っ張りなどの任意の振動を容易に発生させることができるので、特別な分析  やシミュレーションを行くても、被振動試験物に最適な振動を短時間で印加することが  可能である
８．振動加振力、振動周波数、加速度を適切に出力できる振動試験装置により、船舶、ビ  ル、橋など、一般的には振動試験が困難な長大な被振動試験物でも振動試験が可能とな  り、安全性や構造上の評価が高精度で行うことが可能となる
など、数々の優れた効果が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
以下、図を用いて、本発明の振動試験装置の構成、構造を説明する。本発明の振動試験装置は、被振動試験物の一部分に締結できる締結部とその締結部側と異なる側に一方向の振動を発生する振動発生部とが一体的に形成されている振動ユニットを中心に構成されていることが特徴的である。
【００３０】
以下、本発明の各実施例の振動試験装置を説明する。
【実施例１】
【００３１】
先ず、図１乃至図３を用いて、初めに本発明の第１実施例の振動試験装置の構成、構造を説明する。
【００３２】
図１は本発明の振動試験装置を構成の中心となる振動ユニットの斜視図、図２は本発明の第１実施例の振動試験装置の構成図、そして図３は図１に示した振動ユニットを被振動試験物に締結する状態を示す図であって、同図Ａは振動ユニットの締結部と被振動試験物の背面を示した斜視図、同図Ｂは同図Ａは振動ユニットの締結部の一締結ピンと被振動試験物の背面に形成されている一締結穴との関係を示した斜視図、同図Ｃは同図Ｂに示した被振動試験物の締結穴に振動ユニットの締結ピンを挿通して固定した状態を示した斜視図である。
【００３３】
図２に示したように、本発明の第１実施例の振動試験装置１０Ａは、図１を用いて後記する振動ユニット１の一部を構成する振動発生部３Ａ、３Ｂと、これらの振動を制御する振動制御部４と、この振動制御部４に通電する電源（不図示）とを備えて構成されている。この図２においては、２個の振動ユニット１の振動発生部３Ａ、３Ｂのみとこれらを共通に制御する１台の振動制御部４を示したが、振動発生部３は一個でもよく、また、３個以上組み合わせて用いてもよい。
【００３４】
振動ユニット１は、図１に示したように、被振動試験物の一部分に締結できる締結部２とこの締結部２側と異なる側に一方向の振動を発生する振動発生部３とが一体的に形成された構造のものである。この振動発生部３は振動制御部４の制御の下に振動加振力、振動周波数、加速度が任意に調節される。
【００３５】
図３に締結部２の一例を示した。この例の締結部２は、図３Ａに示したように、軸２ｂの先端に、その軸の直径より太い直径の頭部２ｃが形成されている複数本の締結ピン２ａが形成されているものである。一方、フラットパネルディスプレイ装置のような平板状の被振動試験物Ｔの背面には、締結ピン２ａの数及び位置に対応した、いわゆるダルマ穴と称されている複数の締結穴Ｒが形成されている。締結穴Ｒは締結ピン２ａの頭部２ｃの直径より大きい丸穴部Ｒａとこの丸穴部Ｒａに通じている、締結ピン２ａの軸２ｂの直径より若干幅が広い溝部Ｒｂとからなっている。
【００３６】
振動ユニット１の被振動試験物Ｔへの固定は、図３Ｂに示したように、締結ピン２ａの頭部２ｃを締結穴Ｒの丸穴部Ｒａから挿入し、その後、図３Ｃに示したように、振動ユニット１を上方にずらせて溝部Ｒｂに締結ピン２ａの軸２ｂを移動させることにより行うことができる。
【００３７】
このように振動ユニット１の全ての締結ピン２ａを被振動試験物Ｔの対応するそれぞれの締結穴Ｒに挿通して固定することにより、被振動試験物Ｔの背面の所定の位置に振動ユニット１を固定することができ、振動制御部４で振動発生部３を制御することにより被振動試験物Ｔを所要の振動加振力、振動周波数、加速度及び位相を以て加振することができる。振動は一方向の往復である。
【００３８】
振動においては、振動加振力５Ｋｇ〜２０Ｋｇ、振動周波数５Ｈｚ〜６０Ｈｚ、加速度０．２Ｇ〜１０Ｇ程度から設定することが好ましい。
【００３９】
また、前記の締結は締結ピン２ａと締結穴Ｒとの構造で構成された例を示したが、この締結方法としては、被振動試験物Ｔの材質や、表面状態に応じて、例えば、マグネット、吸盤、バキューム吸着、トグルクランプ、ボルト締結、ナット締結、はめ込み方式などから選択して用いることができる。この締結方法の選択は以下の各実施例においても同様であることを予め断っておく。
【実施例２】
【００４０】
次に、図４を用いて、本発明の第２実施例の振動試験装置の構成を説明する。
【００４１】
図４は本発明の第２実施例の振動試験装置の構成斜視図である。なお、図１乃至図３に示した振動ユニット１Ａの構成、構造と同一の部分には同一の符号にアルファベットのサフィックスを付し、それらの説明を省略する。
【００４２】
この図において、符号１０Ｂは第２実施例の振動試験装置を指す。この振動試験装置１０Ｂは、平板状の被振動試験物Ｔｐの左右に振動ユニット１Ａ、１Ｂをそれぞれ締結部２Ａ、２Ｂを用いて締結した構成のものであって、この場合の両振動ユニット１Ａ、１Ｂの振動発生部３Ａ、３Ｂに振動制御部４（不図示）から振動加振力、振動周波数、加速度及び位相を合わせて制御すると、被振動試験物Ｔｐには矢印Ｙで示した合成往復振動が発生し、この合成往復振動Ｙで被振動試験物Ｔｐを加振させることができる。
【実施例３】
【００４３】
次に、図５を用いて、本発明の第３実施例の振動試験装置の構成を説明する。
【００４４】
図５は本発明の第３実施例の振動試験装置の構成斜視図である。なお、図１乃至図３に示した振動ユニット１Ａの構成、構造と同一の部分には同一の符号にアルファベットのサフィックスを付し、それらの説明を省略する。
【００４５】
この図において、符号１０Ｃは第３実施例の振動試験装置を指す。この振動試験装置１Ｃは、振動試験装置１０Ｂと同様に、平板状の被振動試験物Ｔｐの左右に振動ユニット１Ａ、１Ｂをそれぞれ締結部２Ａ、２Ｂを用いて締結した構成のものであって、この場合の両振動ユニット１Ａ、１Ｂの振動発生部３Ａ、３Ｂに振動制御部４（不図示）から振動加振力、振動周波数、加速度を同一に制御し、しかし位相を１８０度ずらして加振している。このように振動発生部３Ａ、３Ｂを加振すると、被振動試験物Ｔｐには振動ユニット１Ａ、１Ｂの取り付け中間点Ｃ近傍を回転中心とする合成回転振動Ｒを発生させることができる。
【実施例４】
【００４６】
次に、図６を用いて、本発明の第４実施例の振動試験装置の構成を説明する。
【００４７】
図６は本発明の第４実施例の振動試験装置の構成斜視図である。なお、図１乃至図３に示した振動ユニット１Ａの構成、構造と同一の部分には同一の符号にアルファベットのサフィックスを付し、それらの説明を省略する。
【００４８】
この図において、符号１０Ｄは第４実施例の振動試験装置を指す。この振動試験装置１Ｄは、振動試験装置１０Ｂと同様に、平板状の被振動試験物Ｔｐのコナー部に振動ユニット１Ａの振動発生部３Ａの振動方向をＸ方向に、振動ユニット１Ｂの振動発生部３Ｂの振動方向をＹ方向に向けて締結して構成したものである。
【００４９】
この振動試験装置１０Ｄの場合においては、両振動発生部３Ａ、３Ｂの振動加振力、振動周波数、加速度、位相を同一にして振動制御部４（不図示）で加振すると、矢印Ｓａで示した斜め方向に合成振動を発生させることができる。
【実施例５】
【００５０】
次に、図７を用いて、本発明の第５実施例の振動試験装置の構成を説明する。
【００５１】
図７は本発明の第５実施例の振動試験装置の構成斜視図である。なお、図１乃至図３に示した振動ユニット１Ａの構成、構造と同一の部分には同一の符号にアルファベットのサフィックスを付し、それらの説明を省略する。
【００５２】
この図において、符号１０Ｅは第５実施例の振動試験装置を指す。この振動試験装置１０Ｅは、直方体状の被振動試験物Ｔｃの所要の一面Ｆａの中央部に振動ユニット１Ａを取付、その振動発生部３Ａの振動方向を水平方向（Ｙ方向）に、そしてこの面Ｆａと隣接する面Ｆｂの左右にそれぞれ１個の振動ユニット１Ｂ、振動ユニット１Ｃを、それらの振動発生部３Ｂ、３Ｃの振動方向が垂直方向（Ｚ方向）に向くように締結して構成したものである。
【００５３】
この振動試験装置１０Ｅの場合においては、３個の振動発生部３Ａ、３Ｂ、３Ｃの振動加振力、振動周波数、加速度、位相を同一にして振動制御部４（不図示）で加振すると、直方体状の被振動試験物Ｔｃ内部に矢印Ｓｂで示した斜め方向に合成振動を発生させることができる。
【実施例６】
【００５４】
次に、図８を用いて、本発明の第６実施例の振動試験装置の構成を説明する。
【００５５】
図８は本発明の第６実施例の振動試験装置の構成斜視図である。なお、図１乃至図３に示した振動ユニット１Ａの構成、構造と同一の部分には同一の符号にアルファベットのサフィックスを付し、それらの説明を省略する。
【００５６】
この図において、符号１０Ｆは第６実施例の振動試験装置を指す。この振動試験装置１０Ｆは、直方体状の被振動試験物Ｔｃの所要の一面Ｆａの中央部に振動ユニット１Ａを締結し、その振動発生部３Ａの振動方向を水平方向（Ｙ方向）に、そしてこの面Ｆａと隣接する面Ｆｂの左右にそれぞれ１個の振動ユニット１Ｂ、１Ｃを、それらの振動発生部３Ｂ、３Ｃの振動方向が垂直方向（Ｚ方向）に向くように締結して構成したものである。
【００５７】
この振動試験装置１０Ｆにおいては、それらの振動発生部３Ａ、３Ｂ、３Ｃの振動加振力、振動周波数、加速度を同一にし、振動発生部３Ｂ、３Ｃの位相のみを互いに１８０度ずらして振動制御部４（不図示）で加振すると、直方体状の被振動試験物Ｔｃ内部に矢印Ｒで示した捩れ振動を発生させることができる。
【実施例７】
【００５８】
次に、図９を用いて、本発明の第７実施例の振動試験装置の構成を説明する。
【００５９】
図９は本発明の第７実施例の振動試験装置の構成斜視図である。なお、図１乃至図３に示した振動ユニット１Ａの構成、構造と同一の部分には同一の符号にアルファベットのサフィックスを付し、それらの説明を省略する。
【００６０】
この図において、符号１０Ｇは第７実施例の振動試験装置を指す。この振動試験装置１０Ｇは、直方体状の被振動試験物Ｔｃの所要の一面Ｆａの左右に振動ユニット１Ａ、１Ｂを締結し、それそれの振動発生部３Ａ、３Ｂの振動方向を水平方向（Ｘ方向）に向くように締結して構成したものである。
【００６１】
この振動試験装置１０Ｇにおいては、それらの振動発生部３Ａ、３Ｂの振動加振力、振動周波数、加速度を同一にし、位相のみ互いに１８０度ずらして振動制御部４（不図示）で加振すると、直方体状の被振動試験物Ｔｃに矢印Ｅ、Ｃでそれぞれ示した圧縮及び引っ張りの合成振動を発生させることができる。
【００６２】
前記の各実施例における振動ユニットの締結数、締結部位、振動加振力、振動周波数、加速度、位相を最適に選択することで任意の振動を被振動試験物Ｔｐ、Ｔｃに加振させることが可能となる。
【実施例８】
【００６３】
次に、図１０を用いて、本発明の第８実施例の振動試験装置の構成を説明する。
【００６４】
図１０は本発明の第８実施例の振動試験装置の斜視図である。
【００６５】
この図において、符号１０Ｈは第８実施例の振動試験装置を指す。この振動試験装置１０Ｈは、被振動試験物として液晶ディスプレイ装置、プラズマディスプレイ装置などのフラットパネルディスプレイ装置（ＦＰＤ）を採り上げ、その製造ラインにおける応用例としての振動試験工程を示したものである。
【００６６】
この振動試験装置１０Ｈは、図１０に示したように、水平状態の載置板２１のほぼ中央部に被振動試験物であるフラットパネルディスプレイ装置Ｍを後方に若干傾斜させて固定する固定ブロック２２を備えた試験台２０と、フラットパネルディスプレイ装置Ｍの裏面の左右にそれぞれ１個ずつ締結できる２個の振動ユニット１Ａ、１Ｂと、試験台２０の裏面に固定され、振動ユニット１Ａ、１Ｂのそれぞれの振動発生部３Ａ、３Ｂの振動を制御する振動制御部４と、この振動制御部４及び試験台２０上に固定されたフラットパネルディスプレイ装置Ｍに通電する電源コンセント２３とを具備して構成されている。この電源コンセント２３は試験台２０の載置面２１の後方部に、手元スイッチ２４は試験台２０の手前の１コーナーに配設されている。
【００６７】
以上のように構成されている振動試験装置１０Ｈの試験台２０上に、図１０における右上側から、前工程の組立工程よりフラットパネルディスプレイ装置Ｍが画面検査ポジションに運搬、設置されている。フラットパネルディスプレイ装置Ｍは水平面を備えた載置板２１上に置かれ、固定ブロック２２で固定される。
【００６８】
次に、フラットパネルディスプレイ装置Ｍを電源コード２５で電源コンセント２３に接続し、電源を供給して通電状態とし、フラットパネルディスプレイ装置Ｍの画面を点灯状態にする。
【００６９】
また、振動ユニット１Ａ、１Ｂがフラットパネルディスプレイ装置Ｍの裏面側の左右にそれぞれ１個ずつ締結されており、フラットパネルディスプレイ装置Ｍの左右両端で加振するようになされている。各振動ユニット１
各振動ユニット１Ａ、１Ｂの振動発生部３Ａ、３Ｂは振動制御部４に制御線２６で接続されており、制御線２６を通じ制御され、作業者が画面検査側に設けられた手元スイッチ２５を投入することにより各振動ユニット１Ａ、１Ｂの振動発生部３Ａ、３Ｂの振動加振力、振動周波数、加速度、位相が任意に変更できるようになされている。
【００７０】
作業者は、両振動ユニット１Ａ、１Ｂに任意の振動を印加することにより、フラットパネルディスプレイ装置Ｍの一般的な検査項目である、例えば、画面輝度検査などを行いながら、フラットパネルディスプレイ装置Ｍ内に組み込まれている基板回路の不具合やフラットパネルの具合を検査でき、それらに不具合が発生した場合、フラットパネルディスプレイ装置Ｍの画面にそれらの不具合が原因となって発生する現象から不具合項目をも同時に検査し、発見することができる。
【００７１】
或るフラットパネルディスプレイ装置Ｍの検査終了後は、図１０において、左側から次工程の出荷工程に搬出される。
【００７２】
フラットパネルディスプレイ装置Ｍ以外の電子機器の場合、目的の出力をアウトプットさせながら加振させることで、構成要素の不具合が出力への不具合となって表示することができるので、検査品質評価精度の向上を図ることが可能である。
【産業上の利用可能性】
【００７３】
本発明の振動試験装置は、被振動試験物として前記のように電子機器に限らず、一般の機械類、建築物、船舶、車両などへ適用することもできる。
【００７４】
従って、本発明は電子・電気産業界のみならず、機械産業界、建築業界、造船業界、車両製造業界などで利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００７５】
【図１】本発明の振動試験装置を構成の中心となる振動ユニットの斜視図である。
【図２】本発明の第１実施例の振動試験装置の構成図である。
【図３】図１に示した振動ユニットを被振動試験物に締結する状態を示す図であって、同図Ａは振動ユニットの締結部と被振動試験物の背面を示した斜視図、同図Ｂは同図Ａは振動ユニットの締結部の一締結ピンと被振動試験物の背面に形成されている一締結穴との関係を示した斜視図、同図Ｃは同図Ｂに示した被振動試験物の締結穴に振動ユニットの締結ピンを挿通して固定した状態を示した斜視図である。
【図４】本発明の第２実施例の振動試験装置の構成斜視図である。
【図５】本発明の第３実施例の振動試験装置の構成斜視図である。
【図６】本発明の第４実施例の振動試験装置の構成斜視図である。
【図７】本発明の第５実施例の振動試験装置の構成斜視図である。
【図８】本発明の第６実施例の振動試験装置の構成斜視図である。
【図９】本発明の第７実施例の振動試験装置の構成斜視図である。
【図１０】本発明の第８実施例の振動試験装置の構成斜視図である。
【符号の説明】
【００７６】
１，１Ａ，１Ｂ，１Ｃ…本発明の振動試験装置の主要部品である振動ユニット、２，２Ａ，２Ｂ，２Ｃ…締結部、２ａ…締結ピン、２ｂ…締結ピン２ａの軸、２ｃ…締結ピン２ａの頭部、３，３Ａ，３Ｂ，３Ｃ…振動発生部、４…振動制御部、１０Ａ…本発明の第１実施例の振動試験装置、１０Ｂ…本発明の第２実施例の振動試験装置、１０Ｃ…本発明の第４実施例の振動試験装置、１０Ｄ…本発明の第５実施例の振動試験装置、１０Ｅ…本発明の第６実施例の振動試験装置、１０Ｆ…本発明の第７実施例の振動試験装置、１０Ｇ…本発明の第８実施例の振動試験装置、２０…試験台、２１…載置板、２２…固定ブロック、２３…電源コンセント、２４…手元スイッチ、２５…電源コード、２６…制御線、Ｔ…被振動試験物、Ｔｐ…平面状の被振動試験物、Ｔｃ…直方体状の被振動試験物、Ｍ…フラットパネルディスプレイ装置、Ｒ…締結穴
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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