(57)【要約】【課題】画質のレベルを維持可能に信号の送受信を行いつつ、切換部品の数を減らすことのできる超音波プローブ及び超音波診断装置を提供する。【解決手段】超音波プローブ１１は、トランスデューサ３１と、トランスデューサ３１に接続され、トランスデューサ３１と同数のトランスデューサ側ケーブル３２と、装置本体１０に接続され、トランスデューサ３１より少数の本体側ケーブル３３信号線と、Ａ及びＣグループのトランスデューサ側ケーブル３２と、Ｄグループの本体側ケーブル３３との接続を切り換える切換部３４と、Ｂグループのトランスデューサ側ケーブル３２と、Ｅグループの本体側ケーブル３３との間に設けられた抵抗体５１とを備える。【選択図】図３
2006288547.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
超音波診断装置の装置本体に接続される超音波プローブであって、
超音波と電気信号との相互変換を行なう複数のトランスデューサと、
前記複数のトランスデューサに接続され、前記複数のトランスデューサと同数のトランスデューサ側信号線と、
前記装置本体に接続され、前記複数のトランスデューサより少数の複数の本体側信号線と、
前記複数のトランスデューサ側信号線の一部からなる第１のグループと、当該第１のグループのトランスデューサ側信号線よりも少数の前記本体側信号線からなる第２のグループとの間で当該トランスデューサ側信号線と本体側信号線との接続を切り換える切換部と、
前記複数のトランスデューサ側信号線の他の一部からなる第３のグループと、当該第３のグループのトランスデューサ側信号線と同数の前記本体側信号線からなる第４のグループとの間に設けられた抵抗体と、
を備えた超音波プローブ。
【請求項２】
前記抵抗体の抵抗値は、前記切換部のオン抵抗の値と同等である
請求項１に記載の超音波プローブ。
【請求項３】
前記切換部の前記トランスデューサ側における寄生容量と同等の静電容量を有し、前記第３のグループのトランスデューサ側信号線と基準電位とに接続される静電容量素子を更に備えた
請求項１又は２に記載の超音波プローブ。
【請求項４】
前記切換部の前記本体側における寄生容量と同等の静電容量を有し、前記第４のグループの本体側信号線と基準電位とに接続される静電容量素子を更に備えた
請求項１〜３のいずれか１項に記載の超音波プローブ。
【請求項５】
前記切換部のトランスデューサ側に設けられたブリーダ抵抗と同等の抵抗値を有し、前記第３のグループのトランスデューサ側信号線と基準電位とに接続される抵抗体を更に備えた
請求項１〜４のいずれか１項に記載の超音波プローブ。
【請求項６】
前記切換部の本体側に設けられたブリーダ抵抗と同等の抵抗値を有し、前記第４のグループの本体側信号線と基準電位とに接続される抵抗体を更に備えた
請求項１〜５のいずれか１項に記載の超音波プローブ。
【請求項７】
前記複数のトランスデューサは一定方向に配列され、
前記第３のグループのトランスデューサ側信号線は、前記一定方向の中央に配置された前記トランスデューサに接続されている
請求項１〜６のいずれか１項に記載の超音波プローブ。
【請求項８】
超音波診断装置の装置本体に接続される超音波プローブであって、
一定方向に配列され、超音波と電気信号との相互変換を行なう複数のトランスデューサと、
前記複数のトランスデューサに接続され、前記複数のトランスデューサと同数のトランスデューサ側信号線と、
前記装置本体に接続され、前記複数のトランスデューサより少数の複数の本体側信号線と、
前記複数のトランスデューサ側信号線のうち、前記配列方向の端部側のトランスデューサに接続される複数のトランスデューサ側信号線と、当該トランスデューサ側信号線よりも少数の前記本体側信号線との間で当該トランスデューサ側信号線と本体側信号線との接続を切り換える切換部と、
を備え、
前記複数のトランスデューサのうち、前記一定方向の中央側のトランスデューサに接続されるトランスデューサ側信号線と、当該トランスデューサ側信号線と同数の前記本体側信号線とは直接的に接続されている
超音波プローブ。
【請求項９】
前記切換部は、マルチプレクサＩＣを含む
請求項１〜８のいずれか１項に記載の超音波プローブ。
【請求項１０】
被検体に超音波を照射し、反射される超音波を受信する超音波プローブと、
前記超音波プローブからの信号に基づいて被検体の画像を生成する装置本体と、
を備え、
前記超音波プローブは、
超音波と電気信号との相互変換を行なう複数のトランスデューサと、
前記複数のトランスデューサに接続され、前記複数のトランスデューサと同数のトランスデューサ側信号線と、
前記装置本体に接続され、前記複数のトランスデューサより少数の複数の本体側信号線と、
前記複数のトランスデューサ側信号線の一部からなる第１のグループと、当該第１のグループのトランスデューサ側信号線よりも少数の前記本体側信号線からなる第２のグループとの間で当該トランスデューサ側信号線と本体側信号線との接続を切り換える切換部と、
前記複数のトランスデューサ側信号線の他の一部からなる第３のグループと、当該第３のグループのトランスデューサ側信号線と同数の前記本体側信号線からなる第４のグループとの間に設けられた抵抗体と、
を備えた超音波診断装置。
【請求項１１】
前記トランスデューサは一定方向に配列され、
前記装置本体は、駆動されるトランスデューサを前記一定方向において順次切り換えて電子式の走査を行うように前記切換部を制御し、
前記第３のグループのトランスデューサ側信号線は、前記一定方向の中央側に配置された前記トランスデューサに接続されている
請求項１０に記載の超音波診断装置。
【請求項１２】
被検体に超音波を照射し、反射される超音波を受信する超音波プローブと、
前記超音波プローブからの信号に基づいて被検体の画像を生成する装置本体と、
を備え、
前記超音波プローブは、
一定方向に配列され、超音波と電気信号との相互変換を行なう複数のトランスデューサと、
前記複数のトランスデューサに接続され、前記複数のトランスデューサと同数のトランスデューサ側信号線と、
前記装置本体に接続され、前記複数のトランスデューサより少数の複数の本体側信号線と、
前記複数のトランスデューサ側信号線のうち、前記配列方向の端部側のトランスデューサに接続される複数のトランスデューサ側信号線と、当該トランスデューサ側信号線よりも少数の前記本体側信号線との間で当該トランスデューサ側信号線と本体側信号線との接続を切り換える切換部と、
を備え、
前記複数のトランスデューサのうち、前記一定方向の中央側のトランスデューサに接続されるトランスデューサ側信号線と、当該トランスデューサ側信号線と同数の前記本体側信号線とは直接的に接続されている
超音波診断装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は超音波プローブ及び超音波診断装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
トランスデューサのエレメント数よりもシステムのチャンネル数が少ない超音波診断装置が知られている（例えば特許文献１）。例えば、電子走査方式の超音波診断装置では、全てのトランスデューサにおいて超音波の送受信が常時行われるわけではないことから、システム側のチャンネル数はトランスデューサの数よりも少なく設定される。このような超音波診断装置においては、例えば、トランスデューサとシステムチャンネルとの間にマルチプレクサＩＣを設けることにより、トランスデューサよりも少数のシステムチャンネルによる送受信を実現している。
【特許文献１】特開２００４−３５８１０５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、このような超音波装置においては、全てのトランスデューサにマルチプレクサが接続されているものの、全てのマルチプレクサにおいてＯＮ／ＯＦＦの切り換えが行われているわけではない。例えば、電子走査方式では、プローブの中央に配列されたトランスデューサに接続されたマルチプレクサが常時オンのモードで使用されることがある。そして、一般にマルチプレクサＩＣは高価であり、使用されていないマルチプレクサが存在することは不当にコスト増大を招くことになる。
【０００４】
一方、マルチプレクサＩＣもオン抵抗等の抵抗成分を有するため、常時オンのモードで使用されているマルチプレクサＩＣを安易に省略することは、画質の均一性を損なうことになる。例えば、マルチプレクサＩＣを省略すると、トランスデューサとシステムチャンネルとの間の抵抗値が下がることにより信号強度が強くなり、画像の一部だけ明るくなってしまう。
【０００５】
本発明は、画質のレベルを維持可能に信号の送受信を行いつつ、切換部品の数を減らすことのできる超音波プローブ及び超音波診断装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の第１の観点の超音波プローブは、超音波診断装置の装置本体に接続される超音波プローブであって、超音波と電気信号との相互変換を行なう複数のトランスデューサと、前記複数のトランスデューサに接続され、前記複数のトランスデューサと同数のトランスデューサ側信号線と、前記装置本体に接続され、前記複数のトランスデューサより少数の複数の本体側信号線と、前記複数のトランスデューサ側信号線の一部からなる第１のグループと、当該第１のグループのトランスデューサ側信号線よりも少数の前記本体側信号線からなる第２のグループとの間で当該トランスデューサ側信号線と本体側信号線との接続を切り換える切換部と、前記複数のトランスデューサ側信号線の他の一部からなる第３のグループと、当該第３のグループのトランスデューサ側信号線と同数の前記本体側信号線からなる第４のグループとの間に設けられた抵抗体と、を備える。
【０００７】
好適には、前記抵抗体の抵抗値は、前記切換部のオン抵抗の値と同等である。
【０００８】
好適には、前記切換部の前記トランスデューサ側における寄生容量と同等の静電容量を有し、前記第３のグループのトランスデューサ側信号線と基準電位とに接続される静電容量素子を更に備える。
【０００９】
好適には、前記切換部の前記本体側における寄生容量と同等の静電容量を有し、前記第４のグループの本体側信号線と基準電位とに接続される静電容量素子を更に備える。
【００１０】
好適には、前記切換部のトランスデューサ側に設けられたブリーダ抵抗と同等の抵抗値を有し、前記第３のグループのトランスデューサ側信号線と基準電位とに接続される抵抗体を更に備える。
【００１１】
好適には、前記切換部の本体側に設けられたブリーダ抵抗と同等の抵抗値を有し、前記第４のグループの本体側信号線と基準電位とに接続される抵抗体を更に備える。
【００１２】
好適には、前記複数のトランスデューサは一定方向に配列され、前記第３のグループのトランスデューサ側信号線は、前記一定方向の中央に配置された前記トランスデューサに接続されている。
【００１３】
本発明の第２の観点の超音波プローブは、超音波診断装置の装置本体に接続される超音波プローブであって、一定方向に配列され、超音波と電気信号との相互変換を行なう複数のトランスデューサと、前記複数のトランスデューサに接続され、前記複数のトランスデューサと同数のトランスデューサ側信号線と、前記装置本体に接続され、前記複数のトランスデューサより少数の複数の本体側信号線と、前記複数のトランスデューサ側信号線のうち、前記配列方向の端部側のトランスデューサに接続される複数のトランスデューサ側信号線と、当該トランスデューサ側信号線よりも少数の前記本体側信号線との間で当該トランスデューサ側信号線と本体側信号線との接続を切り換える切換部と、を備え、前記複数のトランスデューサのうち、前記一定方向の中央側のトランスデューサに接続されるトランスデューサ側信号線と、当該トランスデューサ側信号線と同数の前記本体側信号線とは直接的に接続されている。
【００１４】
好適には、前記切換部は、マルチプレクサＩＣを含む。
【００１５】
本発明の第３の観点の超音波診断装置は、被検体に超音波を照射し、反射される超音波を受信する超音波プローブと、前記超音波プローブからの信号に基づいて被検体の画像を生成する装置本体と、を備え、前記超音波プローブは、超音波と電気信号との相互変換を行なう複数のトランスデューサと、前記複数のトランスデューサに接続され、前記複数のトランスデューサと同数のトランスデューサ側信号線と、前記装置本体に接続され、前記複数のトランスデューサより少数の複数の本体側信号線と、前記複数のトランスデューサ側信号線の一部からなる第１のグループと、当該第１のグループのトランスデューサ側信号線よりも少数の前記本体側信号線からなる第２のグループとの間で当該トランスデューサ側信号線と本体側信号線との接続を切り換える切換部と、前記複数のトランスデューサ側信号線の他の一部からなる第３のグループと、当該第３のグループのトランスデューサ側信号線と同数の前記本体側信号線からなる第４のグループとの間に設けられた抵抗体と、を備える。
【００１６】
前記トランスデューサは一定方向に配列され、前記装置本体は、駆動されるトランスデューサを前記一定方向において順次切り換えて電子式の走査を行うように前記切換部を制御し、前記第３のグループのトランスデューサ側信号線は、前記一定方向の中央側に配置された前記トランスデューサに接続されている。
【００１７】
本発明の第４の観点の超音波診断装置は、被検体に超音波を照射し、反射される超音波を受信する超音波プローブと、前記超音波プローブからの信号に基づいて被検体の画像を生成する装置本体と、を備え、前記超音波プローブは、一定方向に配列され、超音波と電気信号との相互変換を行なう複数のトランスデューサと、前記複数のトランスデューサに接続され、前記複数のトランスデューサと同数のトランスデューサ側信号線と、前記装置本体に接続され、前記複数のトランスデューサより少数の複数の本体側信号線と、前記複数のトランスデューサ側信号線のうち、前記配列方向の端部側のトランスデューサに接続される複数のトランスデューサ側信号線と、当該トランスデューサ側信号線よりも少数の前記本体側信号線との間で当該トランスデューサ側信号線と本体側信号線との接続を切り換える切換部と、を備え、前記複数のトランスデューサのうち、前記一定方向の中央側のトランスデューサに接続されるトランスデューサ側信号線と、当該トランスデューサ側信号線と同数の前記本体側信号線とは直接的に接続されている。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、画質のレベルを維持しつつ、切換部品の数を減らすことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
図１は、本発明の一実施形態の超音波診断装置１の全体構成を示すブロック図である。超音波診断装置１は、電気信号を音波に変換して送信し、被検体により反射した音波を受信して電気信号に変換するプローブ１１と、プローブ１１からの信号に基づいて被検体の画像を生成等する装置本体１０とを備えている。
【００２０】
装置本体１０は、プローブ１１との間で電気信号を送受信する送受信部１２と、送受信部１２からの信号に基づいて画像用データの生成等を実行するデータ処理部１３と、データ処理部１３により生成された画像用データに基づく信号を出力する画像処理部１４と、画像処理部１４からの信号に基づいて超音波画像を表示する表示部１５と、ユーザの入力操作を受け付ける操作部１６と、操作部１６からの信号等に基づいて各部１２〜１５の制御を実行する制御部１７とを備えている。
【００２１】
送受信部１２は、ケーブル１８を介してプローブ１１と接続されている。送受信部１２は、制御部１７からの指令に基づいて、ケーブル１８を介して超音波プローブ１１に駆動信号を与える。また、送受信部１２は、ケーブル１８を介してプローブ１１からのエコー信号を受信し、受信したエコー信号に対して増幅などの処理を実施してデータ処理部１３に出力する。
【００２２】
データ処理部１３は、例えばコンピュータによって構成され、制御部１７からの指令に基づいて、送受信部１２からの信号を処理し、被検体の超音波画像のデータを生成する。例えば、データ処理部１３は、送受信部１２が出力するエコー信号を対数増幅した後に包絡線を検波し、Ｂモードの画像データを生成する。また、例えば、データ処理部１３は、所定のタイミングで画像データを順次生成するとともに生成した画像データを不図示のメモリに記録する。これにより３次元動画像表示（４Ｄイメージング）などが可能となる。
【００２３】
表示処理部１４は、例えばコンピュータにより構成され、制御部１７からの指令に基づいて、画像処理部１４から出力される画像データ又は不図示のメモリに記録されている画像データに基づいて表示部１５に超音波画像を表示させるための信号を生成し、表示部１５に出力する。
【００２４】
表示部１５は、例えばＣＲＴディスプレイにより構成され、超音波画像を表示するための画面を有している。操作部１６は、例えば、キーボードやポインティングディバイスを備え、入力操作に応じた信号を制御部１７に出力する。
【００２５】
制御部１７は、例えばコンピュータにより構成され、プローブ１１、送受信部１２、データ処理部１３、画像処理部１４、表示部１５にそれぞれ接続されている。制御部１７は、操作部１６からの操作信号に基づいて各部に制御信号を与え動作を制御する。制御部１７は、プローブ１１により電子方式の走査を行うために、プローブ１１のトランスデューサ３１（図３参照）の駆動タイミングや信号強度を算出し、算出した駆動タイミング等に基づいて、送受信部１２を介してプローブ１１を駆動する。
【００２６】
図２は、プローブ１１のトランスデューサ３１の配列及び走査方法を模式的に示す図である。トランスデューサ３１は、例えばセラミック圧電材又は高分子圧電材により構成され、超音波と電気信号との相互変換を行なう。トランスデューサ３１は、一定方向（紙面上下方向）にｍ個配列されている。
【００２７】
走査においては、トランスデューサ３１の総数ｍ個よりも少ないｋ個のトランスデューサ３１が略同時期に駆動される。そして、駆動されるトランスデューサの範囲が、範囲Ｓｓから範囲Ｓｅまでトランスデューサ１個分ずつずれることにより走査が実現される。
【００２８】
ここで、ｋ＞ｍ／２である場合には、配列方向の中央に位置するグループＢのトランスデューサ３１は常時駆動されることになる。一方、グループＢの両側に位置するグループＡ、Ｃのトランスデューサ３１は、走査に伴って駆動又は非駆動とされる。
【００２９】
なお、グループＡ、Ｃのトランスデューサ３１の数をi個、グループＢのトランスデューサ３１の数をｊ個とすると、ｊ＝２ｋ−ｍ、ｉ＝ｋ−ｊである。例えば、ｋはｍの２／３、ｉ、ｊはｍの１／３に設定され、具体的にはｍ個は１９２個、ｋ個は１２８個、ｉ個は６４個、ｊ個は６４個である。
【００３０】
図３は、プローブ１１の構成を模式的に示す回路図である。プローブ１１は、トランスデューサ３１に接続されるトランスデューサ側ケーブル３２と、装置本体１０に接続される本体側ケーブル３３とを備えている。
【００３１】
トランスデューサ側ケーブル３２、本体側ケーブル３３は例えば同軸ケーブルにより構成される。トランスデューサ側ケーブル３２の数はトランスデューサ３１の数と同じである。一方、本体側ケーブル３３の数はトランスデューサ３１の数よりも少ない。本体側ケーブル３３の数は、例えば略同時期に駆動されるトランスデューサ３１の数ｋ（図２参照）と同数である。なお、トランスデューサ側ケーブル３２及び本体側ケーブル３３は、上述のケーブル１８（図１参照）に含まれるものである。
【００３２】
グループＡ、Ｃに含まれるトランスデューサ３１から延びるトランスデューサ側ケーブル３２（以下、グループＡ、Ｃのトランスデューサ側ケーブル３２ということがある。）と、グループＤの本体側ケーブル３３とは、切換部３４により接続又は切断される。グループＤに含まれる本体側ケーブル３３の数はグループＡ及びＣに含まれるトランスデューサ側ケーブル３２の数よりも少ない。例えば、グループＤに含まれる本体側ケーブル３３の数は、グループＡ及びＣに含まれるトランスデューサ側ケーブル３２の数の１／２である。なお、グループＡ及びＣは第１のグループの一例であり、グループＤは第２のグループの一例である。
【００３３】
一方、グループＢに含まれるトランスデューサ３１から延びるトランスデューサ側ケーブル３２（以下、グループＢのトランスデューサ側ケーブル３２ということがある）と、グループＥの本体側ケーブル３３とは接続部３５を介して接続される。グループＥに含まれる本体側ケーブル３３の数はグループＢに含まれるトランスデューサ側ケーブル３２の数と同じである。なお、グループＢは第３のグループの一例であり、グループＥは第４のグループの一例である。
【００３４】
切換部３４は、グループＡ、Ｃのトランスデューサ側ケーブル３２と、グループＤの本体側ケーブル３３との接続を切り換える。なお、接続の切り換えは、信号が伝達されるケーブルが切り換えられればよく、機械的にケーブル３２とケーブル３３とが接続又は切断されるものに限定されるものではない。切換部３４は、例えばマルチプレクサＩＣを含んで構成される。マルチプレクサＩＣは例えばＭＯＳ  ＦＥＴで構成され、２チャンネル又はそれ以上のチャンネルを有する。マルチプレクサＩＣは、グループＡ及びＣのトランスデューサ側ケーブル３２の数をマルチプレクサＩＣのチャンネル数で除した数だけ設けられる。例えばグループＡ及びＣのトランスデューサ側ケーブル３２の数が１２８本の場合、マルチプレクサＩＣが２チャンネルであれば６４個、８チャンネルであれば１６個設けられる。
【００３５】
マルチプレクサＩＣは、制御部１７（図１参照）により送受信部１２及びケーブル１８を介して信号入力が行われることにより、図３のグループＤの本体側ケーブル３３からの信号をグループＡ、Ｃのトランスデューサ側ケーブル３２に分配し、また、グループＡ、Ｃのトランスデューサ側ケーブル３２からの複数の信号を選択的にグループＤの本体側ケーブル３３に出力する。これにより、グループＡ、Ｃのトランスデューサ側ケーブル３２と、グループＤの本体側ケーブル３３との接続が切り換えられる。
【００３６】
接続部３５は、グループＢのトランスデューサ側ケーブル３２の本数と同じ数だけ設けられ、それぞれ抵抗体５１、キャパシタ５２、５３、ブリーダ抵抗５４、５５を有している。
【００３７】
抵抗体５１は、グループＢのトランスデューサ側ケーブル３２と、グループＥの本体側ケーブル３３とに接続されている。抵抗体５１の抵抗値は、切換部３４のオン抵抗と同等の抵抗値である。例えば、マルチプレクサＩＣのトランスデューサ側ケーブル３２が接続される一の端子から本体側ケーブル３３が接続される端子までのオン時の抵抗値と同等の抵抗値であり、例えば約２０Ωである。
【００３８】
キャパシタ５２は、トランスデューサ側ケーブル３２と、基準電気とに接続されている。キャパシタ５２は、切換部３４のトランスデューサ側における寄生容量、いわゆる入力容量と同等の静電容量を有している。例えば、マルチプレクサＩＣのトランスデューサ側ケーブル３２が接続される一の端子と基準電位との間の静電容量と同等の静電容量を有しており、例えば約４０ｐＦの静電容量を有している。
【００３９】
キャパシタ５３は、本体側ケーブル３３と、基準電気とに接続されている。キャパシタ５３は、切換部３４の装置本体側における寄生容量、いわゆる出力容量と同等の静電容量を有している。例えば、マルチプレクサＩＣの本体側ケーブル３３が接続される端子と基準電位との間の静電容量と同等の静電容量を有しており、例えば約４０ｐＦの静電容量を有している。
【００４０】
ブリーダ抵抗５４は、トランスデューサ側ケーブル３２と、基準電気とに接続されている。ブリーダ抵抗５４の抵抗値は、切換部３４のトランスデューサ側に設けられたブリーダ抵抗と同等の抵抗値である。例えば、マルチプレクサＩＣのトランスデューサ側ケーブル３２が接続される一の端子側に設けられるブリーダ抵抗と同等の抵抗値であり、例えば約３５ｋΩである。
【００４１】
ブリーダ抵抗５５は、本体側ケーブル３３と、基準電気とに接続されている。ブリーダ抵抗５５の抵抗値は、切換部３４の装置本体側に設けられたブリーダ抵抗と同等の抵抗値である。例えば、マルチプレクサＩＣの本体側ケーブル３３が接続される端子側に設けられるブリーダ抵抗と同等の抵抗値であり、例えば約３５ｋΩである。
【００４２】
なお、オン抵抗の値、寄生容量、ブリーダ抵抗の値としては、マルチプレクサＩＣ等の製造元・販売元において規格として示している値を用いてもよいし、これらに所定の補正値を加えたものを用いてもよいし、プローブ１１の製造元・販売元、ユーザ等において実験等により求めた値を用いてもよい。
【００４３】
以上の構成を有するプローブ１１における動作を説明する。
【００４４】
なお、図３では、プローブ１１の動作の説明を容易にするために、マルチプレクサＩＣを等価回路で示している。すなわち、本体側ケーブル３３を分岐させ、２本のケーブル同士を接続又は切断する複数のスイッチＳＷを切換部３４に設けた回路により示している。
【００４５】
図３に示すプローブ１１では、Ａグループのｎ番目（１≦ｎ≦ｉ）のトランスデューサ３１と、Ｃグループのｎ＋ｋ番目のトランスデューサ３１とが１本の本体側ケーブル３３を共有しており、例えば、スイッチＳＷｎ、ＳＷｎ＋ｋのうち一方はオン、他方はオフになるように切換部３４が制御されることにより、トランスデューサ３１よりも数の少ないシステムチャンネルによる送受信が実現される。具体的には、以下の通りである。
【００４６】
走査の開始時においては、Ａグループ側のスイッチＳＷ１〜ＳＷｉはオンとされ、Ｃグループ側のスイッチＳＷ１＋ｋ〜ＳＷｉ＋ｋはオフとされる。これにより、Ａ及びＢグループのトランスデューサ３１により超音波の送受信が行われる。
【００４７】
次に、スイッチＳＷ１がオフとされるとともに、スイッチＳＷ１＋ｋがオンとされる。これにより、駆動されるトランスデューサ３１の範囲が一つずれる。同様に、順次Ａグループ側のスイッチＳＷがスイッチＳＷｉまでオフされるとともに、Ｃグループ側のスイッチＳＷがスイッチＳＷｉ＋ｋまでオンされる。
【００４８】
以上の実施形態によれば、常時駆動されるトランスデューサに対応するマルチプレクサＩＣを省略するとともに、当該マルチプレクサＩＣと同等の抵抗値を有する抵抗体５１を設けていることから、マルチプレクサＩＣを省略することによるコスト削減や制御の容易化等の種々の利益を得つつ、Ｂグループのトランスデューサ３１と装置本体１０との間の抵抗値の低下に起因して画像の一部だけ明るくなる現象が防止される。
【００４９】
マルチプレクサＩＣの寄生容量と等価なキャパシタ５２、５３を設け、Ｂグループの検出系における信号の帯域をＡ及びＣグループの検出系の帯域と同様に落とすことにより、画像の一部だけが明るくなることが防止される。
【００５０】
マルチプレクサＩＣのブリーダ抵抗と等価なブリーダ抵抗５４、５５を設け、Ｂグループの検出系の信号に混入するノイズ量をＡ及びＣグループの検出系の信号に混入するノイズ量と同等にすることにより、画質の均一化が図られる。
【００５１】
本発明は以上の実施形態に限定されず、種々の態様で実施してよい。
【００５２】
超音波診断装置は、電子走査方式のものに限定されない。装置本体のチャンネル数がトランスデューサのエレメント数よりも少ないものであればよい。
【００５３】
トランスデューサと装置本体との間に設けられる抵抗体は、切換部のオン抵抗と等価でなくてもよい。トランスデューサと装置本体との間に抵抗体が設けられることにより、切換部を省略しただけの場合よりも抵抗値が少しでも上がるのであれば、画質の均一化が図られているといえるからである。なお、あらゆる電子部品は抵抗を有しているが、本発明の抵抗体に該当するか否かは、例えば、当該抵抗体が、切換部が設けられていない信号ラインのみに設けられているか否かにより判定可能である。また、好適には、オン抵抗の値の５０％以上の抵抗値の抵抗体が設けられることが望ましい。
【００５４】
切換部が省略されるトランスデューサの位置によっては、トランスデューサと装置本体との間に抵抗体を設けなくてもよい。例えば、トランスデューサが一定方向に配列され、その中央側に配置されたトランスデューサに対応する切換部を省略するのであれば、トランスデューサと装置本体との間に抵抗体を設けなくてもよい。一般に、被検体を診断する場合、関心領域が画像の中央に位置するように走査が行われることから、中央側のトランスデューサは関心領域に対応することになる。一方、画像の画質が不均一になったとしても、関心領域の画質が他の領域の画質よりも向上することは、さほど問題とはならず、むしろ使用状況によっては好ましいことがあるからである。なお、切換部を省略してトランスデューサ側信号線と本体側信号線とを直接的に接続する場合には、トランスデューサ側信号線と本体側信号線とを１本の信号線により構成する場合が含まれる。
【００５５】
切換部を省略して、その代わりに設ける静電容量素子やブリーダ抵抗のうち、少なくとも一つを省略してもよい。一般に、切換部を省略した場合に最も画質に影響を及ぼすのはオン抵抗であり、トランスデューサと装置本体との間に抵抗体が設けられれば画質の均一化は図られるからである。また、ブリーダ抵抗は切換部に設けられていない場合もあるからである。
【００５６】
また、これらの静電容量素子やブリーダ抵抗は、切換部の寄生容量やブリーダ抵抗と等価でなくてもよい。該静電容量素子やブリーダ抵抗が設けられることにより、切換部を省略しただけの場合よりも静電容量等が少しでも切換部の寄生容量等に近づくのであれば、画質の均一化が図られているといえるからである。ただし、静電容量素子は切換部の寄生入力容量又は寄生出力容量の５０％以上の容量を有し、ブリーダ抵抗は切換部の入力側又は出力側のブリーダ抵抗の値の５０％〜１５０％の抵抗値を有することが望ましい。
【００５７】
トランスデューサ側信号線はトランスデューサと直接的に接続されてなくてもよい。トランスデューサからの信号又はトランスデューサへの信号の伝達ができ、トランスデューサと同数設けられていればよい。例えば、他のケーブル等を介して、すなわち間接的にトランスデューサに接続されていてもよい。
【００５８】
同様に、本体側信号線は装置本体と直接的に接続されてなくてもよい。装置本体からの信号又は装置本体への信号の伝達ができ、トランスデューサの数よりも少なければよく、例えば、本体側信号線と装置本体との間にＦＰＣなどが介在してもよい。また、本体側信号線の数は、トランスデューサ側信号線の数よりも少なければよく、略同時期に駆動されるトランスデューサの数と同数に限定されない。
【００５９】
切換部を省略した接続部には、さらに切換部のインダクタンスと同等のインダクタンスのインダクタを設けてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】本発明の一実施形態の超音波診断装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１の超音波診断装置のプローブのトランスデューサの配列を示す模式図である。
【図３】図１の超音波診断装置のプローブの構成を示す回路図である。
【符号の説明】
【００６１】
１…超音波診断装置、１０…装置本体、１１…超音波プローブ、３１…トランスデューサ、３２…トランスデューサ側信号線、３３…本体側信号線、３４…切換部、５１…抵抗体。
【図１】
2006288547.tif 000003
【図２】
2006288547.tif 000004
【図３】
2006288547.tif 000005