(57)【要約】【課題】  小型で安全な３次元カメラを用いて、高精度に測定対象物の３次元データを取得し、精度の高い３次元モデルを作製する３次元ハードコピー装置を提供する。【解決手段】  ３次元ハードコピー装置１０は、光強度を時間変調させたレーザ光を測定対象物に照射する光源と、前記測定対象物で反射された前記レーザ光の受光部と、前記反射光の光路に設けられ平面上に配列した複数のマイクロミラー４０と、前記マイクロミラー４０のＯＮ／ＯＦＦ状態を制御するマイクロミラー制御器４２と、前記受光部で受光した前記反射光の位相ずれ情報と前記ＯＮ状態の前記マイクロミラー４０の位置情報とに基づいて前記測定対象物の３次元画像情報を求めるデータ処理部とを備えた３次元カメラ１２と、前記３次元画像情報に基づいて加工対象物を加工し、前記測定対象物に相似する３次元モデルを得るモデリングマシーン１００と、を備えた構成である。【選択図】    図１
2006250906.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光強度を時間変調させたレーザ光を測定対象物に照射する光源と、前記測定対象物で反射された前記レーザ光の受光部と、前記反射光の光路に設けられ平面に配列した複数のマイクロミラーと、複数の前記マイクロミラーの中から選択された前記マイクロミラーの反射面を所定の向きにＯＮ状態に制御することにより、ＯＮ状態の前記マイクロミラーで反射した前記反射光を前記受光部に導くマイクロミラー制御部とを備えた３次元カメラと、
前記受光部で受光した前記反射光の位相ずれ情報と前記ＯＮ状態の前記マイクロミラーの位置情報とに基づいて前記測定対象物の３次元画像情報を求めるコンピュータと、
前記３次元画像情報に基づいて加工対象物を加工し、前記測定対象物に相似する３次元モデルを形成するモデリングマシーンと、
を備えたことを特徴とする３次元ハードコピー装置。
【請求項２】
光強度をＲＦ変調信号に基づいて時間変調させるとともに、ＰＮ符号化変調信号で時間変調された複数のレーザ光を測定対象物に照射する光源と、前記測定対象物で反射された前記レーザ光を受光して電気信号に変換する受光部と、前記反射光の光路に設けられ平面に配列した複数のマイクロミラーと、複数の前記マイクロミラーの中から選択された前記マイクロミラーの反射面を所定の向きにＯＮ状態に制御することにより、ＯＮ状態の前記マイクロミラーで反射した前記反射光を前記受光部に導くマイクロミラー制御部と、
前記受光部から出力される前記電気信号に含まれる前記ＰＮ符号化変調信号の情報を利用して、前記電気信号に変換された前記レーザ光を識別し、且つ、前記電気信号から前記ＲＦ変調信号に対する位相ずれ情報を得るとともに、前記位相ずれ情報と前記ＯＮ状態の前記マイクロミラーの位置情報とに基づいて前記測定対象物の３次元画像情報を求めるコンピュータと、
前記３次元画像情報に基づいて加工対象物を加工し、前記測定対象物に相似する３次元モデルを形成するモデリングマシーンと、
を備えたことを特徴とする３次元ハードコピー装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は３次元ハードコピー装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、３次元のハードコピーを取るには、３次元デジタイザにより測定対象物の形状データを計測し、当該計測データをモデリングマシーン用の形状データに変換した後、モデリングマシーンで３次元モデルを作製していた。３次元デジタイザは、測定対象物の３次元形状を数値化する装置である。そして３次元デジタイザで距離を計測する方法には、スリット光や縞模様光等の参照光を測定対象物に照射し、測定対象物で反射された参照光を受光して三角測量を行い、距離を計測するものや、パルスレーザを測定対象物に照射して、測定対象物で反射されたパルスレーザが戻って来るまでの時間計測を行い、距離を計測するものがある。
【０００３】
そしてデジタイザには、例えば、特許文献１に開示された構成のものがある。このデジタイザは、３次元測定装置およびデジタルカメラユニットを備えた構成であり、３次元測定装置は、コントローラと投受光部とからなる。この投受光部は、対象物へ向けて光を照射する発光回路や、対象物からの反射光を受光する手段等を備えており、ＴＯＦ法または光切断法による測定のための光学系を構成している。またデジタルカメラユニットは、コントローラ、レンズ群およびエリアセンサ等を備えた構成である。
【特許文献１】特開２００２−１０９５１７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、参照光を測定対象物に照射し、この測定対象物で反射された参照光を受光するデジタイザは、太陽光や照明等の環境光の影響を受けやすい問題がある。このためデジタイザを環境光の少ない場所や環境光の変動のない場所、例えば暗箱の中等で使用しなくてはならず、測定場所が限定されてしまう。
【０００５】
またレーザ光を測定対象物に照射して形状データを計測するデジタイザは、測定対象物の走査して計測するためにクラス１レベルやクラス２レベルのレーザを必要とする。すなわち、このデジタイザは、レーザ光のビームを絞って出射し、測定対象物を走査して計測しているので、デジタイザから出射された直後のレーザ光のエネルギーと測定対象物に入射するレーザ光のエネルギーとが同じになっている。しかしながら、クラス１レベルやクラス２レベルのレーザは、規格上安全であるが、人間や動物等の生物にとってはあまり好ましくない。すなわち、測定対象物が生物である場合、生物の目にエネルギーの強いレーザ光が照射されてしまうので好ましくない。
【０００６】
また三角測量を利用して測定対象物までの距離を計測するデジタイザでは、カメラ間の距離と測定対象物までの距離が奥行き分解能に影響する。
本発明は、小型で安全な３次元カメラを用いて、高精度に測定対象物の３次元データを取得し、精度の高い３次元モデルを作製する３次元ハードコピー装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明に係る３次元ハードコピー装置は、光強度を時間変調させたレーザ光を測定対象物に照射する光源と、前記測定対象物で反射された前記レーザ光の受光部と、前記反射光の光路に設けられ平面に配列した複数のマイクロミラーと、複数の前記マイクロミラーの中から選択された前記マイクロミラーの反射面を所定の向きにＯＮ状態に制御することにより、ＯＮ状態の前記マイクロミラーで反射した前記反射光を前記受光部に導くマイクロミラー制御部とを備えた３次元カメラと、前記受光部で受光した前記反射光の位相ずれ情報と前記ＯＮ状態の前記マイクロミラーの位置情報とに基づいて前記測定対象物の３次元画像情報を求めるコンピュータと、前記３次元画像情報に基づいて加工対象物を加工し、前記測定対象物に相似する３次元モデルを形成するモデリングマシーンと、を備えたことを特徴としている。
【０００８】
光強度をＲＦ変調信号に基づいて時間変調させるとともに、ＰＮ符号化変調信号で時間変調された複数のレーザ光を測定対象物に照射する光源と、前記測定対象物で反射された前記レーザ光を受光して電気信号に変換する受光部と、前記反射光の光路に設けられ平面に配列した複数のマイクロミラーと、複数の前記マイクロミラーの中から選択された前記マイクロミラーの反射面を所定の向きにＯＮ状態に制御することにより、ＯＮ状態の前記マイクロミラーで反射した前記反射光を前記受光部に導くマイクロミラー制御部と、前記受光部から出力される前記電気信号に含まれる前記ＰＮ符号化変調信号の情報を利用して、前記電気信号に変換された前記レーザ光を識別し、且つ、前記電気信号から前記ＲＦ変調信号に対する位相ずれ情報を得るとともに、前記位相ずれ情報と前記ＯＮ状態の前記マイクロミラーの位置情報とに基づいて前記測定対象物の３次元画像情報を求めるコンピュータと、前記３次元画像情報に基づいて加工対象物を加工し、前記測定対象物に相似する３次元モデルを形成するモデリングマシーンと、を備えたことを特徴としている。
【発明の効果】
【０００９】
３次元ハードコピー装置は、レーザダイオードの前面に設けられたレンズによりレーザ光を広げているので、測定対象物に届くレーザ光のエネルギー密度が低くなり、生物の目に対して安全である。また３次元ハードコピー装置は、測定対象物で反射されたレーザ光の反射強度、すなわち時間変調を計測しているので、環境光に対して強くなる。したがって３次元ハードコピー装置は、生体であるか否かにかかわらず、測定対象を選ばずに測定ができ、また使用される測定環境が限定されることはない。
【００１０】
また３次元ハードコピー装置は、３次元カメラを用いて測定対象物の形状データを計測した後、コンピュータでモデリングマシーン用の加工データに変換し、この加工データに基づいてモデリングマシーンでモデル加工を行っているので、測定対象物の３次元モデルを作製することができる。したがって測定対象物と相似形状の３次元ハードコピーを得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下に、本発明に係る３次元ハードコピー装置の最良の実施形態について説明する。図１は３次元ハードコピー装置のブロック図である。図２は３次元カメラの説明図である。３次元ハードコピー装置１０は、３次元カメラ１２、コンピュータ８０およびモデリングマシーン１００を備えた構成である。３次元カメラ１２は、測定対象物１４にレーザ光を照射するとともに、この測定対象物１４で反射されたレーザ光を受光し、得られた計測情報をコンピュータ８０に出力するものである。
【００１２】
具体的には、３次元カメラ１２は、レーザ発振器ユニット２０、レーダ回路ユニット５０、光学ユニット３０、および制御回路ユニット７０を備えている。レーザ発振器ユニット２０は、光強度を時間変調させたレーザ光の光源であり、レーザ光を出射するレーザダイオード２２が設けられている。そしてレーザダイオード２２をレーザ発振器ユニット２０に複数設けることより、測定対象物１４に十分な光量を照射することが可能になるとともに、照射面を一様な明度にすることが可能になっている。本実施形態では、図２に示すように、レーザダイオード２２が８つ設けられている。なおレーザダイオード２２が設けられる数は８つに限定されることはなく、１つであってもよく、複数であってもよい。このレーザダイオード２２の前面には、レンズ２４が設けられている。
【００１３】
またレーザ発振器ユニット２０は、レーダ回路ユニット５０から出力されたＲＦ変調信号を取得するパワースプリッタ２６を備えている。パワースプリッタ２６は、ＲＦ変調信号を各レーザダイオード２２に分配するものであり、この後段にレーザドライバ２８が接続されている。このレーザドライバ２８には、パワースプリッタ２６からのＲＦ変調信号と、制御回路ユニット７０から出力されたＰＮ符号化変調信号とが入力される。そしてＲＦ変調信号は、予め定められた少なくとも２つ以上の周波数の信号であり、レーザダイオード２２から出射されるレーザ光の光強度を時間変調するために用いられる。またＰＮ符号化変調信号は、レーザダイオード２２から出射されるレーザ光のＯＮ／ＯＦＦ制御をするために用いられる。
【００１４】
光学ユニット３０は、測定対象物１４で反射されたレーザ光の受光部と、反射光の光路に設けられ平面に配列した複数のマイクロミラー４０と（図３参照）、この複数のマイクロミラー４０の中から選択されたマイクロミラー４０の反射面を所定の向きにＯＮ状態に制御することにより、ＯＮ状態のマイクロミラー４０で反射した反射光を受光部に導くマイクロミラー制御器４２とを備えている。具体的には、光学ユニット３０は、バンドパスフィルタ３２、第１レンズ３４、プリズム３６、マイクロミラーアレイ３８、マイクロミラー制御器４２、第２レンズ４４、ミラー４６および光電変換器４８を備えている。
【００１５】
バンドパスフィルタ３２は、レーザ光を透過させて、レーザ光の波長帯域以外、すなわち太陽光や照明等の環境光を遮断する狭帯域フィルタである。プリズム３６は、レーザ光をマイクロミラーアレイ３８に入射させるとともに、マイクロミラーアレイ３８で反射されたレーザ光を斜面３６ａで透過または全反射させるものである。
【００１６】
図３はマイクロミラーアレイの説明図である。マイクロミラーアレイ３８は、行列状に配設されたマイクロミラー４０を備えている。このマイクロミラー４０の一辺は、約１０μｍである。マイクロミラー４０は、マイクロミラー制御器４２の制御によって、所定の向きに傾き、またはこの所定の向きとは反対側に傾くことが可能となっている。そしてマイクロミラー４０が所定の向きに傾くとＯＮ状態になり、これで反射されたレーザ光がプリズム３６の斜面３６ａを透過することが可能になる。またマイクロミラー４０が所定の向きと反対側に傾くとＯＦＦ状態となり、これで反射されたレーザ光がプリズム３６の斜面３６ａで全反射される。
【００１７】
マイクロミラー制御器４２は、制御回路ユニット７０から出力された制御パターン信号を取得し、この制御パターン信号に基づいて各マイクロミラー４０のＯＮ／ＯＦＦ制御を行うものである。そしてマイクロミラー４０の制御パターンが順次切り換えられてレーザ光は空間変調され、この空間変調されたレーザ光がプリズム３６、第２レンズ４４およびミラー４６を介して光電変換器４８に入射される。この第２レンズ４４は、光電変換器４８の受光面にミラー４６を介してレーザ光を結像させるものである。光電変換器４８は、レーザ光を受光して電気信号に変換するものであり、例えば光電子増倍管やアバランシェダイオード等であればよい。
【００１８】
レーダ回路ユニット５０は、ＲＦ変調信号を生成するとともに、検波により位相ずれ情報を得るためのＲＦ周波数帯（５０ＭＨｚ〜１０ＧＨｚ）の回路である。このレーダ回路ユニット５０は、位相ずれ情報を取得するための信号源、（０，π／２）移相器５８および検波用のミキサー６４等から構成されている。具体的には、レーダ回路ユニット５０は、信号源となる発振器５２を備えている。この発振器５２は、制御回路ユニット７０から出力された発振周波数制御信号に基づいて所定の周波数で発振するものである。発振器５２は、複数の発振周波数を出力することが可能であり、これらの発振周波数でレーザ光の光強度の時間変調を行う。
【００１９】
この発振器５２の後段には、パワースプリッタ５４が接続されている。パワースプリッタ５４は、発振器５２から出力された信号を分離するものであり、一方の信号はＲＦ変調信号として増幅器５６を介してレーザ発振器ユニット２０に供給され、他方の信号は移相器５８、増幅器６０およびパワースプリッタ６２を介してミキサー６４に供給される。移相器５８は、ＲＦ変調信号を位相シフトさせることなく通過させ、または制御回路ユニット７０から供給される位相制御信号に基づいてＲＦ変調信号の位相を９０度シフトさせて、位相シフト変調信号として出力するものである。
【００２０】
この増幅器６０の後段に接続されたパワースプリッタ６２は、入力されるＲＦ変調信号または位相シフト変調信号を各ミキサー６４に分配するものである。ミキサー６４は、光電変換器４８から出力された電気信号が増幅器６６を介して入力されるとともに、ＲＦ変調信号または位相シフト変調信号が入力される。そしてミキサー６４は、ＲＦ変調信号または位相シフト変調信号をローカル信号として用いて、光電変換器４８から出力され増幅された電気信号をミキシングし、ＲＦ変調信号で時間変調されたレーザ光の情報を有する中間周波数（ＩＦ）信号と、高次成分を含んだ信号とを出力するものである。なお電気信号の検波は、公知の方法で行われる。
【００２１】
制御回路ユニット７０は、発振周波数制御信号、位相制御信号、ＰＮ符号化変調信号および制御パターン信号を生成して供給するとともに、レーダ回路ユニット５０から出力される信号を処理するものである。具体的には、制御回路ユニット７０は、システム制御器７２、ローパスフィルタ７４、増幅器７６およびアナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ）変換器７８を備えている。
【００２２】
システム制御器７２は、コンピュータ８０からの指示に基づいて、発振周波数制御信号、位相制御信号、ＰＮ符号化変調信号および制御パターン信号を生成して出力するものである。ローパスフィルタ７４は、ＩＦ信号および高次成分を含んだ信号から高次成分を除去し、時間変調されたレーザ光の信号成分のみを含んだＩＦ信号とするものである。そして、このＩＦ信号は、増幅器７６を介してＡ／Ｄ変換器７８に出力されて、アナログ信号からディジタル信号に変換された後、コンピュータ８０に供給される。
【００２３】
図４はコンピュータの概略を説明するブロック図である。コンピュータ８０は、受光部から出力された電気信号に含まれるＰＮ符号化変調信号の情報を利用して、電気信号に変換されたレーザ光を識別し、且つ、電気信号からＲＦ変調信号に対する位相ずれ情報を得るとともに、位相ずれ情報とＯＮ状態のマイクロミラー４０の位置情報とに基づいて測定対象物１４の３次元画像情報を求めるデータ処理部である。具体的には、コンピュータ８０は、中央演算処理装置（ＣＰＵ８２）、メモリ８４、信号変換部８６、距離情報算出部８８、３次元位置情報算出部９０、反射率算出部９２およびデータ変換部９４を備えている。
【００２４】
ＣＰＵ８２は、メモリ８４、信号変換部８６、距離情報算出部８８、３次元位置情報算出部９０、反射率算出部９２およびデータ変換部９４の制御等を行うものである。
信号変換部８６は、制御パターン信号およびＰＮ符号化変調信号を用いてＩＦ信号を変換するものであり、ＩＦ信号から各マイクロミラー４０の反射位置における各レーザ光の時間変調の信号情報を取得する。制御パターン信号は、コンピュータ８０の指示に従って制御回路ユニット７０で作成される信号であるため、コンピュータ８０において既知となっている。そして制御パターン信号は、アダマール行列の各行の成分同士のテンソル積を利用して作成される制御パターン信号を実現する信号である。このため信号変換部８６では、既知である制御パターン信号を利用して、各制御パターンにて得られるＩＦ信号からアダマール逆変換を行って各マイクロミラー４０にて反射されるレーザ光の情報を求めることができる。なおアダマール逆変換にて求められるレーザ光の情報は、複数のレーザダイオード２２から出射されるレーザ光が互いに重畳されている。このため、レーザ光の出射の際に時間変調に用いたＰＮ符号化変調信号の自己相関性および直交性を利用して各レーザ光に対応したＩＦ信号に分解する。このようにして、信号変換部８６は、アダマール逆変換およびＰＮ符号化変調信号の相関関係や直交性を利用した分解（符号化識別変換）により、ＩＦ信号から各マイクロミラー４０の反射位置における各レーザ光の時間変調の信号情報を得ることが可能となる。
【００２５】
距離情報算出部８８は、周波数の異なる複数のＲＦ変調信号に対応した各レーザ光の信号の位相ずれ情報を取得して、ＲＦ変調信号の周波数に対する位相ずれ量の変化を取得し、この相対位相変化量を用いて測定対象物１４の距離情報を求めるものである。３次元位置情報算出部９０は、距離情報算出部８８で算出された距離およびＯＮ状態のマイクロミラー４０の位置情報を用いて、レーザ光が反射した測定対象物１４の位置を３次元位置情報として求めるものである。反射率算出部９２は、測定対象物１４の反射率を算出する。
【００２６】
データ変換部９４は、３次元位置情報算出部９０で得られた３次元位置情報および反射率算出部９２で得られた反射率から、モデリングマシーン１００が加工を行えるデータ（加工データ）へ変換するものである。具体的な一例としては、次のような変換方法となっている。すなわち、３次元カメラ１２で得られるデータは、撮影対象が写り込んだ光電変換器４８上の画素座標（ｘ，ｙ）における距離情報（ｚ）からなる（ｘ，ｙ，ｚ）で表現される点の集まりとなっている。このデータは、離散データとなっているため、このまま３次元形状の加工データにはならない。したがって、得られた離散データよりスプライン曲線等を用いて離散データの補間を行う。このスプライン曲線は、グラフィックス等において、曲線や曲面を表現するための手法の１つであり、連続するいくつかの制御点を取り出して、それらの制御点を通る曲線（曲面）の多項式を求めるものである。そして、得られた曲線（曲面）データ（ポリゴンデータ）をモデリングマシーンが動作可能なデータ、例えばＳＴＬ（Ｓｔａｎｄａｒｄ  Ｔｒｉａｎｇｕｌａｔｅｄ  Ｌａｎｇｕａｇｅ）フォーマットのデータをに変換する。
【００２７】
ディスプレイは、３次元位置情報算出部９０で得られた３次元位置情報、反射率算出部９２で得られた反射率およびモデリングマシーン１００の加工データが送られ、測定対象物１４の３次元画像を表示するものである。
【００２８】
モデリングマシーン１００は、３次元のモデルを作製するものであり、例えば光造形装置や３次元の加工を行える数値制御工作機械（ＮＣ３次元加工機）等である。モデリングマシーン１００の一例である光造形装置は、次のような概略構成である。図５は光造形装置の説明図である。光造形装置１００ａは、紫外線が照射されると硬化する液状の光硬化樹脂１０２が入れられた容器１０４を備えており、この容器１０４内にステージ１０６が入れられている。ステージ１０６は、その一端が昇降手段１０８に接続されており、この昇降手段１０８の上下移動に伴って容器１０４内を上下に移動するものである。そして容器１０４の上部には紫外光を照射する光源１１０が水平方向に移動可能に配設されている。この光源１１０は、例えば紫外光レーザ光源であればよい。
【００２９】
図６は光造形装置で３次元モデルを作製する工程説明図である。まず光造形装置１００ａは、まず昇降手段１０８を用いてステージ１０６を光硬化樹脂１０２の液面１０２ａ近くまで上昇させておく（Ｓ１）。次に、コンピュータ８０から出力されてくる測定対象物１４の加工データ、例えばＳＴＬフォーマットデータは、複数の層に分割されており、まず第１層目の加工データに基づいてレーザ光１１２が光硬化樹脂１０２に照射される。光硬化樹脂１０２は、レーザ光１１２が照射された部分が硬化して、ステージ１０６上に測定対象物１４の３次元モデルの第１層目１１４ａが形成される（Ｓ２）。次に、昇降手段１０８によってステージ１０６を下降させる（Ｓ３）。この後、測定対象物１４の第２層目の加工データに基づいてレーザ光１１２が光硬化樹脂１０２に照射される。すると３次元モデルの第１層目１１４ａ上に、３次元モデルの第２層目１１４ｂが形成される（Ｓ４）。この工程を、分割した分だけ繰り返していくと３次元モデルの各層が積層されていき、ステージ１０６上に測定対象物１４の３次元モデルが形成される。そして、この３次元モデルを光硬化樹脂１０２から取り出し、ステージ１０６上から切り離す。これにより測定対象物１４の３次元モデルが得られる。なお測定対象物１４が薄い形状であれば、測定対象物１４の加工データを複数の層に分割しなくともよい。
【００３０】
このような３次元ハードコピー装置１０は、３次元カメラ１２を用いて測定対象物１４の形状データを計測した後、コンピュータ８０でモデリングマシーン１００用の加工データに変換し、この加工データに基づいてモデリングマシーン１００でモデル加工を行っているので、測定対象物１４の３次元モデルを作製することができる。したがって測定対象物１４と相似形状の３次元ハードコピーを得ることができる。
【００３１】
また３次元ハードコピー装置１０は、測定対象物１４で反射されたレーザ光の反射強度、すなわち時間変調を計測しているので、環境光に対して強くなる。したがって３次元ハードコピー装置１０が使用される測定環境が限定されることはない。
【００３２】
また原理的にレーザ光は絞るのではなく広げて使用しているため、測定対象物１４に届くエネルギー密度は低くなり、生物の目に対して安全である。このため測定対象を選ばずに計測することができるため、３次元モデルを作製するための精度の高い３次元データを得ることができる。
【００３３】
また本実施形態に係る３次元カメラ１２は、従来技術のように反射したレーザ光を走査して計測する大きなスキャニング機構は必要無く、小型軽量となる。
また計測精度は、測定対象物で反射されたレーザ光を走査して計測する従来技術に係る３次元カメラと同程度、またはそれ以上である。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】３次元ハードコピー装置のブロック図である。
【図２】３次元カメラの説明図である。
【図３】マイクロミラーアレイの説明図である。
【図４】コンピュータの概略を説明するブロック図である。
【図５】光造形装置の説明図である。
【図６】光造形装置で３次元モデルを作製する工程説明図である。
【符号の説明】
【００３５】
１０………３次元ハードコピー装置、１２………３次元カメラ、２０………レーザ発振器ユニット、２２………レーザダイオード、３０………光学ユニット、３８………マイクロミラーアレイ、４０………マイクロミラー、４２………マイクロミラー制御器、４８………光電変換器、５０………レーダ回路ユニット、７０………制御回路ユニット、８０………コンピュータ、１００………モデリングマシーン。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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