(57)【要約】【課題】  有機ＥＬ表示装置等の電気光学装置に供給される画像信号に対し、大容量メモリを要せず且つ手間がかからない手法で、輝度ムラを低減させるように輝度補正を施す。【解決手段】  電気光学装置用画像補正装置は、予め画像表示領域中の一の部分から他の部分への輝度値の変化量に応じて定められた複数の基準点の位置に対応付けて、複数の基準点夫々について輝度補正を実行する際に適用されるべき補正ゲインを記憶する補正値メモリと、画像信号が電気光学装置に供給される際に、記憶された補正ゲインに基づいて、画素毎の補正ゲインを算出する補正ゲイン算出回路と、該算出された補正ゲインで画素毎に画像信号に対して輝度補正を施す補正回路とを備える。【選択図】      図６
2006113090.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素が配列されてなる画像表示領域を有する電気光学装置に供給される画像信号に対して輝度補正を施すための電気光学装置用画像補正装置であって、
予め前記画像表示領域中の一の部分から他の部分への輝度値の変化量に応じて定められた前記画像表示領域内における複数の基準点の位置に対応付けて、前記複数の基準点夫々について前記輝度補正を実行する際に適用されるべき補正ゲインを記憶する補正値メモリと、
前記画像信号が前記電気光学装置に供給される際に、前記記憶された補正ゲインに基づいて、前記画素毎の又は所定数の画素からなる画素群毎の補正ゲインを算出する補正ゲイン算出回路と、
該算出された補正ゲインで前記画素毎に又は前記画素群毎に前記画像信号に対して前記輝度補正を施す補正回路と
を備えたことを特徴とする電気光学装置用画像補正装置。
【請求項２】
前記基準点の数は、前記画素の数よりも少ないことを特徴とする請求項１に記載の電気光学装置用画像補正装置。
【請求項３】
前記基準点は、前記画像表示領域中における前記輝度値の変化量が、より大きな部分についてはより密に、より小さな部分についてはより疎になるように配置されることを特徴とする請求項１又は２に記載の電気光学装置用画像補正装置。
【請求項４】
前記基準点は、前記画像表示領域中における前記輝度値の変化量に対する微分値が変化する部分に配置されることを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の電気光学装置用画像補正装置。
【請求項５】
前記補正ゲイン算出回路は、前記複数の基準点間に位置する一の画素又は画素群についての補正ゲインを、相対的に前記一の画素又は画素群の近くに位置する少なくとも二個の前記基準点に対応する前記記憶された補正ゲインの値に基づいて、線形補間をすることによって算出することを特徴とする請求項１から４のいずれか一項に記載の電気光学装置用画像補正装置。
【請求項６】
前記補正ゲイン算出回路は、前記複数の画素のうち、前記複数の基準点間に位置する一の画素又は画素群についての補正ゲインを、前記一の画素又は画素群に近いものから順に選択された複数個の前記基準点に対応する前記記憶された補正ゲインに基づいて算出することを特徴とする請求項１から５のいずれか一項に記載の電気光学装置用画像補正装置。
【請求項７】
請求項１から６のいずれか一項に記載の電気光学装置用画像補正装置と、
前記電気光学装置と
を備えたことを特徴とする画像補正装置付き電気光学装置。
【請求項８】
請求項７に記載の画像補正装置付き電気光学装置を具備してなることを特徴とする電子機器。
【請求項９】
複数の画素が配列されてなる画像表示領域を有する電気光学装置に供給される画像信号に対して輝度補正を施すための電気光学装置用画像補正方法であって、
予め前記画像表示領域中の一の部分から他の部分への輝度値の変化量に応じて、前記画像表示領域内における複数の基準点の位置を定めるステップと、
前記複数の基準点夫々について前記輝度補正を実行する際に適用されるべき補正ゲインを求めるステップと、
前記定められた基準点の位置に対応付けて、前記求められた補正ゲインを補正値メモリに記憶するステップと、
前記画像信号が前記電気光学装置に供給される際に、前記記憶された補正ゲインに基づいて、前記画素毎の又は所定数の画素からなる画素群毎の補正ゲインを算出するステップと、
該算出された補正ゲインで前記画素毎に又は前記画素群毎に前記画像信号に対して前記輝度補正を施すステップと
を備えたことを特徴とする電気光学装置用画像補正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えばアクティブマトリクス駆動の有機ＥＬ（Electro-Luminescence）表示装置、液晶装置、電子ペーパーなどの電気泳動装置等の電気光学装置において輝度補正或いは色補正を行うために用いられる電気光学装置用画像補正装置及び方法の技術分野に関する。また、本発明は、このような画像補正装置付き電気光学装置、及び該電気光学装置を具備してなる電子機器の技術分野にも関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の電気光学装置では、その表示動作時に、複数の画素がマトリクス状に配列されてなる画像表示領域における画素単位で、有機ＥＬ発光素子、液晶素子等の表示素子による輝度変化或いは色変化が生じることがある。ここで一般に、表示素子やその配線等に係る製造バラツキや構造上の不均一などの各種原因により、画像表示領域の面内における輝度ムラや色ムラが生じる。
【０００３】
このため従来から、面内の輝度ムラや色ムラを補正すべく、電気光学パネル或いはデータ線駆動回路に供給される前段階にある画像信号に対して、輝度補正を施す技術が開発されている（特許文献１参照）。この技術によれば、実際の表示動作に先んじて、例えば数十や数百といった多数の画素に相当する領域単位で画像表示領域の一面をメッシュ状に切った際における、複数の格子点夫々についての輝度補正に係る補正ゲインを求める。更に、求めた補正ゲインを格子点に対応させて、補正装置の備える補正テーブルに格納しておく。その後、実際の表示動作を行う際には、この補正テーブルに基づいて、画素毎に画像信号に対して輝度補正を施す。この際、格子点間に位置する画素についての補正ゲインは、適当な補間により算出する。そして、このように輝度補正を施した後の画像信号を電気光学パネル或いはデータ線駆動回路に供給する。
【０００４】
特許文献１に記載の技術によれば、電気光学パネルやデータ線駆動回路等の駆動回路に対しては何らの細工も施さなくても、画像表示領域における輝度や色の面内バラツキを補正できるので便利である。
【０００５】
【特許文献１】特開２０００−１２２５９８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１に記載の技術によれば、画像表示領域の一面を等間隔のメッシュで切った際の複数の格子点夫々についての補正ゲインを求めて、補正値テーブルを構築する。このため、きめ細かな輝度補正を行うためには、等間隔のメッシュを細かく切る必要が生じ、その細かさに比例して補正テーブルの構築作業や、特に記憶容量の大きなメモリを用意しておく必要が生じるという技術的問題点がある。逆に言えば、輝度ムラや色ムラが、格子点の配置密度に対して高い空間周波数で局所的に生じた場合には、この技術では対処できないという問題点がある。
【０００７】
本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、大容量メモリを要せず且つより手間がかからない手法でありながら、画像上の輝度ムラや色ムラを確実に低減し得る電気光学装置用画像補正装置及び方法、画像補正装置付き電気光学装置、並びに電子機器を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の電気光学装置用画像補正装置は上記課題を解決するために、複数の画素が配列されてなる画像表示領域を有する電気光学装置に供給される画像信号に対して輝度補正を施すための電気光学装置用画像補正装置であって、予め前記画像表示領域中の一の部分から他の部分への輝度値の変化量に応じて定められた前記画像表示領域内における複数の基準点の位置に対応付けて、前記複数の基準点夫々について前記輝度補正を実行する際に適用されるべき補正ゲインを記憶する補正値メモリと、前記画像信号が前記電気光学装置に供給される際に、前記記憶された補正ゲインに基づいて、前記画素毎の又は所定数の画素からなる画素群毎の補正ゲインを算出する補正ゲイン算出回路と、該算出された補正ゲインで前記画素毎に又は前記画素群毎に前記画像信号に対して前記輝度補正を施す補正回路とを備える。
【０００９】
本発明の電気光学装置用画像補正装置によれば、電気光学装置は、例えば有機ＥＬ装置、液晶装置等であり、その表示動作時に画像信号が供給されると、複数の画素が配列されてなる画像表示領域における画素単位で、有機ＥＬ発光素子、液晶素子等の表示素子による輝度変化或いは色変化が生じる。ここで一般には、表示素子やその配線等に係る製造バラツキや構造上の不均一などの各種原因により、画像表示領域の面内における輝度ムラや色ムラが生じる。例えば、表示素子やその配線等を構成する導電層や有機層、樹脂層等は、ＣＶＤ法、スパッタ法等の各種成膜法、インクジェット方式等によって製造されるので、多少の製造バラツキは不可避である。具体的には、例えば画像表示領域内の一箇所や複数箇所において輝度が高い又は低い、画像表示領域の中央付近が明るい又は暗い、若しくは画像表示領域の四隅や縁付近が暗い又は明るいなどの輝度ムラ等が生じる。
【００１０】
しかるに本発明では、補正値メモリによって、予め定められた複数の基準点の位置に対応付けられた形で、これら基準点夫々について輝度補正を実行する際に適用されるべき補正ゲインが記憶されている。このような各基準点における補正ゲインは夫々、電気光学装置の製造完了時に行われる既存の検査手法と同様の手法により求めることが可能である。例えば所定パターンの検査画像を表示させた状態で、輝度ムラ或いは色ムラを目視又は撮像装置により検査すればよい。
【００１１】
その後、表示動作時に、画像信号が電気光学装置に供給されると、補正ゲイン算出回路によって、補正値メモリに予め記憶された補正ゲインに基づいて、画素又は画素群毎の補正ゲインが算出される。ここに「画素群」とは、例えば２画素、３画素、４画素など、比較的少数である所定数の画素からなる。画素毎に画像信号を補正した方が、より決めの細かい輝度補正を実行できるが、要求される画質や電気光学装置の仕様によっては、画素群毎に画像信号を補正しても実害がない場合もあり、逆に装置構成及び処理の簡素化に役立ち得る。更に、補正回路によって、このように算出された補正ゲインで、画素又は画素群毎に、画像信号に対して輝度補正が施される。
【００１２】
本発明では特に、予め複数の基準点で補正ゲインを求める際に、基準点の位置は、特許文献１の如く等間隔でメッシュ状に切られた格子点位置として定められるのではなく、画像表示領域中の一の部分から他の部分への輝度値の変化量に応じて定められる。即ち、個別具体的な電気光学装置の輝度ムラ或いは色ムラに応じて、複数の基準点の位置を定めることが可能となる。具体的には例えば、変化量がより大きな部分、言い換えると輝度ムラが顕著に表れているような部分についてはより多くの基準点を配し、より小さな部分についてはより少ない基準点を配する、などということが可能となる。このようにすると、実際に輝度補正を実行する際に、補正ゲイン算出回路が、例えば基準点の補正ゲインの値から適当な補間処理によって画素又は画素群毎の補正ゲインを求める場合を考えると、より輝度値の変化量の大きい部分では、より多くの基準点の補正ゲインに基づいた補間処理が可能となることから、補間処理結果たる補正ゲインはより適切な値として取得され得ることになる。一方、より輝度値の変化量の小さい部分では、そもそも輝度ムラは顕著ではないのであるから、補間処理をするにあたり、より少ない基準点の補正データからでも適切な補正ゲインが取得され得る。そして、このように取得された補正ゲインによって補正された画像信号を電気光学装置に供給すれば、電気光学装置本来の、即ち電気光学パネル本来の輝度ムラや色ムラが、特許文献１では対処しきれない程度に局所的に或いは高空間周波数で存在する場合であっても、輝度ムラや色ムラが適切に低減された画像を表示することが可能になる。しかも、このような輝度ムラや色ムラの低減を、必要最低限に近い記憶容量の補正値メモリ及び必要最低限に近い処理負荷によって実現できる。逆に、電気光学装置本来の、即ち電気光学パネル本来の輝度ムラや色ムラが、画像表示領域内に殆ど存在しない場合には、特許文献１と比べて、補正値メモリの記憶容量を顕著に削減できる。
【００１３】
以上のように本発明によれば、大容量メモリを要せず且つより手間がかからない手法でありながら、画像上の輝度ムラや色ムラを確実に且つ効率的に低減することが可能になる。
【００１４】
尚、上記では、「変化量に応じて」の一例として、変化量がより大きな部分では基準点をより多く、そうでない部分ではより少なく配置するという形態について説明したが、本発明は、係る形態に限定される訳では勿論ない。後述するように、「変化量に応じて」の例としては、変化量がより大きな部分では基準点をより「密」に、そうでない部分ではより「疎」に配置するということも考えられるし、変化量のより大きな部分ではそれを取り囲むような閉曲線上にのるような形で基準点を配し、そうでない部分では単に格子状に基準点を配する、などということも考えられる。また、変化量がより大きな部分からより小さな部分にかけて、漸減するように基準点を配置するなどということも考えられる。
【００１５】
加えて、画質の判断をなすにあたっては、輝度値以外の指標が用いられ得る。本発明においては、画像に輝度ムラがあるかどうかを確認する指標として、「輝度値の変化量」を基準にする構成を採用しているが、これに代えて前述した輝度値以外の画質指標を用いることも可能である。この場合、本発明にいう「輝度」は「画質指標」と読み替えられ且つ「輝度値」は「画質指標値」と読み替えられる。例えば、「輝度値の変化量」は、その輝度値以外の何らかの「画質指標の変化量」と読み替えられ得ることになる。
【００１６】
本発明の電気光学装置用画像補正装置の一態様では、前記基準点の数は、前記画素の数よりも少ない。
【００１７】
この態様によれば、補正値メモリの容量はさほど大きなものでなくともよい。即ち、本発明における補正値メモリは、前述のように基準点の補正ゲインを記憶するところ、本態様では、基準点の数が画素の数よりもより少ないのであるから、画素の数に対応した補正データを記憶するためのメモリを必要とするような場合に比べて、より小さなメモリを備えるだけでよいのである。
【００１８】
本発明の電気光学装置用画像補正装置の他の態様では、前記基準点は、前記画像表示領域中における前記輝度値の変化量が、より大きな部分についてはより密に、より小さな部分についてはより疎になるように配置される。
【００１９】
この態様によれば、補正ゲイン算出回路が、例えば基準点の補正ゲインの値から適当な補間処理によってある画素の補正ゲインを求める場合に、輝度値の変化量がより大きな部分については補間すべき距離をより縮めることができる。これにより、輝度値の変化量がより大きな部分に位置する画素についての補正ゲインはより適切な値として取得され得る。一方、より輝度値の変化量の小さい部分では、そもそも画像のムラは顕著ではないのであるから、補間処理をするにあたり、補間すべき距離がより大きくなったとしても、適切な補正ゲインが取得され得る。
【００２０】
本発明の電気光学装置用画像補正装置の他の態様では、前記基準点は、前記画像表示領域中における前記輝度値の変化量に対する微分値が変化する部分に配置される。
【００２１】
この態様によれば、輝度値の変化量に対する微分値に変化が生じる部分、即ち画面をある部分から他の部分へと連続的にみていくと、輝度ムラが発生したり、あるいは消滅したりする、いわばその輝度ムラの発生している領域とその他の領域との境界線の部分に基準点が配置されることになる。従って、当該部分あるいはその近傍に位置する画素についての補正ゲインはより適切な値として取得され得ることになる。尚、この態様においても、幾つかの基準点については、輝度値の変化量に対する微分値が変化しない部分に配置してよいことは言うまでもない。
【００２２】
本発明の電気光学装置用画像補正装置の他の態様では、前記補正ゲイン算出回路は、前記複数の基準点間に位置する一の画素又は画素群についての補正ゲインを、相対的に前記一の画素又は画素群の近くに位置する少なくとも二個の前記基準点に対応する前記記憶された補正ゲインの値に基づいて、線形補間をすることによって算出する。
【００２３】
この態様によれば、線形補間をすることによって、各画素についての補正ゲインの値を、より適切に取得することができる。
【００２４】
本発明の電気光学装置用画像補正装置の他の態様では、前記補正ゲイン算出回路は、前記複数の画素のうち、前記複数の基準点間に位置する一の画素又は画素群についての補正ゲインを、前記一の画素又は画素群に近いものから順に選択された複数個の前記基準点に対応する前記記憶された補正ゲインに基づいて算出する。
【００２５】
この態様によれば、各画素についての補正ゲインの値を、より適切に取得することができる。この場合、ある画素についての補正ゲインの値を求めるにあたって利用されるべき基準点の数は、三個以上とされるのが好ましい。これによれば、当該画素によって表示される画像上の点が周囲から浮き立つことがないような、より適切な補正ゲインを求めることができるからである。
【００２６】
本発明の画像補正装置付き電気光学装置は上記課題を解決するために、前述した本発明の電気光学装置用画像補正装置（但し、その各種態様を含む。）と、前記電気光学装置とを備えている。
【００２７】
本発明の画像補正装置付き電気光学装置によれば、上述した本発明の電気光学装置用画像補正装置を含むので、輝度ムラや色ムラが低減された高品位の画像を表示することが可能となる。
【００２８】
尚、本発明の画像補正装置付き電気光学装置では、上述した本発明の電気光学装置用画像補正装置の各種態様と同様の各種態様を採ることも可能である。
【００２９】
本発明の電子機器は上記課題を解決するために、上述した本発明の画像補正装置付き電気光学装置（但し、その各種態様も含む）を具備する。
【００３０】
本発明の電子機器は、上述した本発明の画像補正装置付き電気光学装置を具備してなるので、高品位の画像を表示可能な、テレビ、携帯電話、電子手帳、ワードプロセッサ、ビューファインダ型又はモニタ直視型のビデオテープレコーダ、ワークステーション、テレビ電話、ＰＯＳ端末、タッチパネルなど、更には電気光学装置を露光用ヘッドとして用いたプリンタ、コピー、ファクシミリ等の画像形成装置など、各種電子機器を実現できる。また、本発明の電子機器として、例えば電子放出装置（Field Emission Display及びConduction Electron-Emitter Display）等を実現することも可能である。
【００３１】
本発明の電気光学装置用画像補正方法は上記課題を解決するために、複数の画素が配列されてなる画像表示領域を有する電気光学装置に供給される画像信号に対して輝度補正を施すための電気光学装置用画像補正方法であって、予め前記画像表示領域中の一の部分から他の部分への輝度値の変化量に応じて、前記画像表示領域内における複数の基準点の位置を定めるステップと、前記複数の基準点夫々について前記輝度補正を実行する際に適用されるべき補正ゲインを求めるステップと、前記定められた基準点の位置に対応付けて、前記求められた補正ゲインを補正値メモリに記憶するステップと、前記画像信号が前記電気光学装置に供給される際に、前記記憶された補正ゲインに基づいて、前記画素毎の又は所定数の画素からなる画素群毎の補正ゲインを算出するステップと、該算出された補正ゲインで前記画素毎に又は前記画素群毎に前記画像信号に対して前記輝度補正を施すステップとを備える。
【００３２】
本発明の電気光学装置用画像補正方法によれば、上述の本発明の電気光学装置用画像補正装置についての説明からも明らかなように、画像上の輝度ムラや色ムラを確実に低減することが可能になる。また、本発明に係る方法によれば、当該電気光学装置用画像補正装置を好適に運用することができる。
【００３３】
尚、本発明の電気光学装置用画像補正方法では、上述した本発明の電気光学装置用画像補正装置の各種態様と同様の各種態様を採ることも可能である。
【００３４】
本発明のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施の形態から明らかにされる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３５】
（電気光学装置）
以下では、本発明の電気光学装置用画像補正装置付き電気光学装置に係る実施形態について図１から図９を参照しつつ説明する。以下の実施形態は、本発明の電気光学装置を、有機ＥＬ表示装置に適用したものである。
【００３６】
先ず、本実施形態における有機ＥＬ表示装置の構成について図１から図６を参照して説明する。ここに図１は、本実施形態の有機ＥＬ表示装置の電気回路構成を示すブロック図である。また、図２は表示パネル部を構成する画素部の構成を示す回路図である。図３は、仮想的に生のデータ信号を送ることによって表示パネル部１００に表示され得る輝度ムラの例を示す説明図であり、図４は、本実施形態における基準点の定め方の一例を示す説明図である。図５は補正値メモリの内容を概念的に示す説明図であり、図６は補正値補間回路の構成を示すブロック図である。
【００３７】
図１の有機ＥＬ表示装置は、表示パネル部１００、走査線駆動回路２０１、データ線駆動回路２０２、タイミング制御回路２０３、インターフェイス回路（以下、単に「ＩＦ回路」とする。）３１０、補正回路３２０、補正値補間回路３３０及び補正値メモリ３４０を備える。
【００３８】
先ず、表示パネル部１００は、図１及び図２に示すように、データ線駆動回路２０２に接続された複数のデータ線１２０及び走査線駆動回路２０１に接続された複数の走査線１１０の夫々が縦横に配置されている。表示パネル部１００の画像表示領域には、走査線１１０及びデータ線１２０の交点に対応してマトリクス状に複数の画素部１００ｐが設けられている。画素部１００ｐは、画像表示領域を構成する各画素或いは各画素領域に一つずつ設けられている。図２に示すように、各画素部１００ｐに含まれる、スイッチングＴＦＴ１０１に対して、走査線１１０及びデータ線１２０が接続されている。そして、複数の走査線１１０を介して走査信号ＳｃＬｎ１が線順次に供給され、複数のデータ線１２０を介して画像信号Ｄｐが一つの走査線１１０に対応する画素列毎に（即ち、ライン単位で）まとめて供給されるように構成されている。
【００３９】
図２において、スイッチングＴＦＴ１０１のゲートは走査線１１０に接続されており、ソースはデータ線１２０に接続されている。また、スイッチングＴＦＴ１０１のドレインは、駆動ＴＦＴ１０３のゲートに接続されている。駆動ＴＦＴ１０３のドレインは、固定電源電位Ｖｄｄが供給される電源線１０５に接続されており、ソースは、本発明に係る「表示素子」の一例である有機ＥＬ発光層を含んでなる発光部１０４に接続されている。また、その一端に電源線１０５が接続されると共にその他端にスイッチングＴＦＴ１０１のドレイン及び駆動ＴＦＴ１０３のゲートが接続されたストレージキャパシタ１０２が配置されている。
【００４０】
上述のうち発光部１０４は、例えば、アノード及びカソード並びにこれらに挟持されてなる有機ＥＬ層を備えており、アノード及びカソード間に電位差が生じさせられることによって、アノードから正孔が、カソードから電子が有機ＥＬ層に注入され、これにより有機ＥＬ層自らが発光するように構成されている。
【００４１】
画素部１００ｐでは、ストレージキャパシタ１０２にスイッチングＴＦＴ１０１を介して書き込まれる画像信号Ｄｐの電圧値の大小に応じて、駆動ＴＦＴ１０３を流れる駆動電流が変化する。即ち、画像信号Ｄｐの電圧値或いは階調値に応じて、発光部１０４に流れる駆動電流の大小は変化する。これにより、画素部１００ｐにおける発光量を、画像信号Ｄｐの電圧値によって変化させることができる。更に、このような発光現象を、画像表示領域を構成する全画素部１００ｐで画像信号Ｄｐに応じて行うことによって、表示パネル部１００では、所望の画像を表示することが可能になる。
【００４２】
尚、有機ＥＬ層を構成する有機化合物は低分子系でも高分子系でもかまわない。また、有機層の構成としては、単一層からなるものでもよいし、電子輸送層、或いは正孔輸送層をもつ二層或いは三層構造からなるものとしてもよい。さらに、発光部１０４は、必要に応じて、カラーフィルタを備えたり、或いはＲ、Ｇ及びＢ夫々に対応した、アノード、有機層及びカソードを１セットとする積層構造を、複数層備えた構成を採用してもよい。
【００４３】
データ線駆動回路２０２は、図１に示すように、画像信号Ｄｐの元となる、例えば階調情報を含む８ビットのデータ信号を受け、これを、外部供給されるクロック信号及びタイミング制御回路２０３からの水平同期信号ＨＳＹＮＣに応じたタイミングで、画像信号Ｄｐとして、表示パネル部１００のデータ線１２０に送り出す。本実施形態の有機ＥＬ表示装置では、表示パネル部１００の解像度が、例えば６４０×４８０ＲＧＢとされており、カラー表示を実現する関係上、都合６４０×３個分の階調情報を含む画像信号Ｄｐが、選択された一本の走査線１１０について、即ちライン単位で一斉に送り出されるように構成されている。尚、データ線駆動回路２０２に入力されるデータ信号は、後に詳述するように補正回路３２０によって輝度補正が施された、補正済のデータ信号である。
【００４４】
走査線駆動回路２０１は、スイッチングＴＦＴ１０１をオフするための電圧値（以下適宜単に「ローレベルの電圧値」という）と、スイッチングＴＦＴ１０１をオンするための電圧値（以下適宜単に「ハイレベルの電圧値」という）との２値の走査信号ＳｃＬｎ１を、外部供給されるクロック信号及びタイミング制御回路２０３からの垂直同期信号ＶＳＹＮＣに応じたタイミングで、表示パネル部１００の走査線１１０に送り出す。走査信号ＳｃＬｎｃ１によって、ある１本の走査線１１０に連なるスイッチングＴＦＴ１０１は一斉にオン又はオフとなる。
【００４５】
ＩＦ回路３１０は、前述のようにデータ線駆動回路２０２によって最終的にデータ線１２０を通じて画素部１００ｐに供給される画像信号Ｄｐの補正前の信号、即ちいわば生のデータ信号を受け取る。ＩＦ回路３１０には列カウンタ及び行カウンタが備えられている。これらは、不図示の外部回路から夫々供給されるデータ信号、クロック信号Ｃｌｏｃｋ及び同期信号ＳＹＮＣに基づいて、都度都度受け取る生のデータ信号が、表示パネル部１００上のどの画素部１００ｐに対応するものであるかを列及び行についてカウントする。このカウントにより得られる各データ信号が対応する画素部１０２の列及び行を示す情報は、データ位置情報として補正補間回路３３０に送られるようになっている。
【００４６】
補正値メモリ３４０は、予め定められた基準点と、これに固有の基準点補正ゲインを記憶している。ここで本実施形態における基準点及び基準点補正ゲインの定められ方について、図３及び図４を参照しながら、より詳細に説明する。
【００４７】
いま、画素部１００ｐに対して、補正回路３２０による輝度補正を何ら施さないで画像信号を送ることにより、画像表示を行うと、例えば表示パネル１００の画像表示領域には、図３に示すような画像が表示されるとする。この際、画像信号は、簡単のため、画像表示領域の一面に、同一所定輝度を有するベタ一色（例えば、灰色のベタ画像）を示す画像信号とする。図３において、符号Ｒで示される楕円状の領域は他の領域Ｐよりも輝度値が大きい部分（以下、「高輝度領域」と呼ぶ。）であり、符号Ｒｆで示される高輝度領域Ｒを取り囲む領域は、より低輝度である他の領域Ｐから高輝度領域Ｒに至るまで輝度値が遷移する遷移領域である。尚、高輝度領域Ｒにおける輝度及び他の領域Ｐにおける輝度は夫々、概ね一定であるものと仮定する。
【００４８】
このような図３に示す輝度ムラは、製造される有機ＥＬ表示装置夫々に固有のかたちで生じる。その原因は、当該有機ＥＬ表示装置の製造段階で生じるばらつきや有機層の特性の相違などによる。従って、あるときは図３に示すような部分に高輝度領域Ｒをもつ輝度ムラが現れることもあるし、また別のとき（即ち、別の有機ＥＬ表示装置の場合）には、図３とは何ら関係のない部分に高輝度領域を持つ輝度ムラが現れることもある。また、場合によっては、「低輝度領域」が生じたり、「高輝度領域」・「低輝度領域」双方が画面上でまばらに生じたりなど、輝度ムラの態様には様々なものがあり得る。
【００４９】
さて、この図３おいては、例えば図中線分ＡＡ´で示される線に沿って輝度値を図ると、同図の下方に示すようなグラフが得られる。このグラフを見ると分かるように、領域Ｐ及び高輝度領域Ｒの夫々においては、輝度値の変化は殆どないものの、遷移領域Ｒｆでは、輝度値の変化量が大きい。このような場合において、本実施形態においては、複数の基準点の位置が、例えば図４中で表示パネル１００の画像表示領域内に黒丸で示したように定められる。
【００５０】
図３に示した如き輝度の分布は、有機ＥＬ表示装置が完成した際に行われる輝度検査において、画像表示領域を撮像する撮像装置によって容易に測定される。或いは、目視によってこのような輝度分布を測定してもよい。その測定結果に応じて、自動的又は半自動的に若しくは手動により、図４に示した如き基準点の設定を行うことができる。
【００５１】
図４から分かるように、輝度値の変化量がより大きな部分では、基準点はより密に定められ、そうでない部分ではより疎に定められるようになっている。また、本実施形態においては特に、基準点は、高輝度領域Ｒ及び遷移領域Ｒｆを縁取るように配置されている。言い換えれば、本実施形態に係る基準点は、ＡＡ´線に沿った輝度値の微分値（図３中、最下方のグラフ参照）の絶対値が大きい部分に位置するように配置されているのである。更に、この部分のうち輝度値の微分値の変化する位置に基準点を配置すればより良い。
【００５２】
尚、このようにして定められる基準点の数は、表示パネル部１００における画素部の数に比べて少なくなるようにされている。例えば、平均して、数十個〜数百個の画素からなる画素群に対して、一つの基準点といった割合で、基準点が定められる。但し、係る微分値が極端に大きい部分に対しては、局所的に、画素と殆ど又は全く同じ単位毎で、基準点を設定してもよい。
【００５３】
一方、これらの基準点の各々については、高輝度領域Ｒ、遷移領域Ｒｆ及び他の領域Ｐの別に応じて、適当な基準点補正ゲインが定められる。この基準点補正ゲインは、例えば、画素部１００ｐ全部の輝度値が図３の下方に示すラインＢｓに合致するようになどといった目標に基づき定められ得る。
【００５４】
このような各基準点における補正ゲインの設定は、画像表示領域を撮像する撮像装置によって測定された、図３に示した如き輝度分布に基づいて容易に行うことができる。即ち、輝度が高い基準点ではその高さに応じて補正ゲインが低く設定され、逆に輝度が低い基準点ではその低さに応じて補正ゲインが高く設定される。そして、補正後における画像信号によって、画像表示領域の一面に同一輝度のベタ一色の検査用画像を表示した際に、画像表示領域の輝度が面内で均一になるように、各基準点補正ゲインが設定されるのである。
【００５５】
再び図１において、補正値メモリ３４０は、以上のようにして定められた基準点及び基準点補正ゲインを記憶するのである。その内容は、概念的には例えば図５のようになる。
【００５６】
図５に示すように、補正値メモリ３４０は、基準点毎に、そのＸ座標値、Ｙ座標値及び基準点補正ゲインをセットにして記憶するように構成されている。尚、前述した輝度ムラの発生原因の説明からも明らかなように、補正値メモリ３４０の内容は一般に有機ＥＬ表示装置毎に異なることになる。このような輝度ムラの特性には、経時的変化は殆どないため、有機ＥＬ表示装置の完成時や、出荷の際の検査・調節時に、一旦、基準点補正ゲインを各基準点の位置情報に対応付けて補正値メモリ３４０に記憶しておけば、その後における表示動作の都度に、これらの値を半永久的に利用することが可能である。但し、例えばメンテナンス時や修理時に、このような基準点補正ゲインを設定し直し、補正値メモリ３４０の記憶内容を更新することも勿論可能である。
【００５７】
再び図１において、補正値補間回路３３０は、実際の画像表示が行われる際に、以上のように補正値メモリ３４０に記憶された基準点補正ゲインに基づいて、補正値補間を行うように構成されている。補正値補間回路３３０は、例えば図６のように構成しうる。
【００５８】
図６において、補正値補間回路３３０は、近接基準点選択回路３３１、基準点補正ゲイン・ラッチ回路３３２及び補間演算回路３３３を備える。近接基準点選択回路３３１は、送られてきたデータ位置情報に基づいて、その画素部１００ｐに最も近接する基準点を３つ選択する。基準点補正ゲイン・ラッチ回路３３２は、近接基準点選択回路３３１によって選択された基準点について定められた基準点補正ゲインをラッチし、これを補間演算回路３３３に送る。この際、基準点補正ゲイン・ラッチ回路３３２は、当該基準点についてのＸ座標及びＹ座標も補間演算回路３３３に送る。そして、補間演算回路３３３は、基準点補正ゲイン・ラッチ回路３３２から送られてきた基準点のＸ座標、Ｙ座標及び基準点補正ゲインに基づいて、画素部１００ｐ毎の補正ゲインを算出するように構成されている。
【００５９】
再び図１において、補正回路３２０は、ＩＦ回路３１０から補正前のデータ信号を受け取るとともに、補正値補間回路３３０で算出された画素毎の補正ゲインを受け取り、これら両者によって、データ信号に対する輝度補正を画素毎に施す。そして、補正済のデータ信号を、データ線駆動回路２０２に送るように構成されている。
【００６０】
次に、上述のような構成を有する有機ＥＬ表示装置の動作について、図１に加えて、図７から図９を参照しながら説明する。ここに図７は、本実施形態の有機ＥＬ表示装置において、ある１つの画素部１００ｐについてのデータ信号が補正処理される流れを示すフローチャートであり、図８は補正ゲインの算出例を模式的に図示した説明図である。また、図９は、本実施形態の効果を説明するための説明図である。
【００６１】
図７において先ず、ＩＦ回路３１０が生のデータ信号を受け取る。これにより、列カウンタ及び行カウンタは所定の手順によってインクリメントされる。具体的には例えば、最初の走査線１１０についての一番左端に位置する画素部１００ｐについてのデータ信号が送られた後、当該走査線１１０についての一番右端に位置する画素部１００ｐまでのデータ信号が送られ、続いて２番目の走査線１１０についての一番左端に位置する画素部１００ｐについてのデータ信号が送られ…、などということが繰り返される場合においては、当初は行カウンタを固定して列カウンタのみをインクリメントさせ、続いて行カウンタを１増加させた後再び列カウンタをインクリメントさせていくなどということになる。いずれにせよ、これにより、送られてきたデータ信号が表示パネル部１００のどの画素部１００ｐに対応するものであるか、即ち当該データ信号についての座標値（ａ，ｂ）が如何なる値となるかが確定される（図７のステップＳ１０）。
【００６２】
次に、このデータ信号の座標値（ａ，ｂ）は、データ位置情報としてＩＦ回路３１０から補正値補間回路３３０に送られる。補正値補間回路３３０の近接基準点選択回路３３１では、このデータ位置情報（ａ，ｂ）に近接する基準点が３つ選択される（図７のステップＳ１２）。ここで基準点とは、既に図３及び図４を参照して述べたように、製品検査時等に予め定められ、この段階では既に補正値メモリ３４０にデータとして記憶されているものである。また、３つの近接する基準点とは、具体的には次のようにして定められる。即ち先ず、データ位置情報（ａ，ｂ）と補正値メモリ３４０内に記憶されている各基準点との距離Ｄ１，Ｄ２，…，Ｄｎ（ｎは基準点の数を意味する。）を算出する。続いて、この距離Ｄ１，Ｄ２，…，Ｄｎの中から小さい順に三つを取り出し、これに対応する基準点を選択する。ここで、仮に、Ｄ１＜Ｄ２＜Ｄ３＜Ｄ４＜…＜ＤｎとかＤ１＝Ｄ２＝Ｄ３＜Ｄ４＜…＜Ｄｎなどという関係が成立するのであれば、Ｄ１，Ｄ２及びＤ３に対応する基準点を選択すればよいし、Ｄ１＜Ｄ２＝Ｄ３＝Ｄ４＜…＜ＤｎとかＤ１＝Ｄ２＝Ｄ３＝Ｄ４＜…＜Ｄｎなどという関係が成立するのであれば、Ｄ１，Ｄ２及びＤ３又はＤ１，Ｄ２及びＤ４に対応する基準点を選択するなどとすればよい。
【００６３】
次に、このようにして定められた３つの基準点の座標値（Ｘ，Ｙ）及び基準点補正ゲインを取得する（図７のステップＳ１４）。これは、補正値メモリ３４０から読み出される。
【００６４】
次に、これら３つの基準点の座標値（Ｘ，Ｙ）及び基準点補正ゲインと、データ位置情報（ａ，ｂ）とに基づいて、当該（ａ，ｂ）についての補正ゲインが補間演算回路３３３によって算出される（図７のステップＳ１６）。これは、具体的には図８のようにして行われる。即ち、ステップＳ１４で取得された３つの基準点夫々についての座標値が（Ｘ１，Ｙ１）、（Ｘ２，Ｙ２）及び（Ｘ３，Ｙ３）であり、基準点補正ゲインがＧ１，Ｇ２及びＧ３（これらは図示されない。）であるとすれば、これらの値を用いることによって、図８に示すような（Ｘ，Ｙ，Ｇ）空間において、１つの平面Ｌを規定することができる。一方、データ位置情報（ａ，ｂ）は、（Ｘ１，Ｙ１）、（Ｘ２，Ｙ２）及び（Ｘ３，Ｙ３）に近接する点として、（Ｘ，Ｙ）平面上にプロットすることができる。そして、このデータ位置情報（ａ，ｂ）に対応すべき補正ゲインとしては、点（ａ，ｂ）からＸＹ平面に垂直に伸ばした直線が平面Ｌに交わる点におけるＧ軸上の値として求めることができる。これは線形補間の一種に他ならない。
【００６５】
ここで、本実施形態では次のような特徴がある。本実施形態においては、既に述べたように、基準点は、画像表示領域において輝度ムラの変化量がより大きい部分、即ち同一輝度の画像信号を表示する際に輝度値の変化量がより大きい部分では、より密になるように、且つ係る輝度値の変化量がより小さい部分では、より疎になるように、予め定められている。このような基準点の定め方によると、（ａ，ｂ）に対応する補正ゲインの値をより適切に求めることができるのである。
【００６６】
以下、これを図９を参照して説明する。図９において、上半分に示されている部分は、基本的には図３と同様である。即ち、図９の最上方に示されているのは、高輝度領域Ｒ、遷移領域Ｒｆを含む画像が表示されている様子が示されており、その下方に示されているのは、それらの領域を横断するＡＡ´線に沿った輝度値の変化を示したグラフである。ただし、この図９においては、最上方に示されている図において、基準点（ハッチングされた丸印）が図４とは異なって等間隔で均等に配置されている様子が併せて示されている。
【００６７】
ところで、何らの輝度補正を行わないと仮定した場合に、このような高輝度領域Ｒ及び遷移領域Ｒｆを含む画像が表示される場合において、高輝度領域Ｒを正常な輝度領域に補正し、これに伴い遷移領域Ｒｆを消滅させるためには、例えば図９中最下方に示されているグラフ中の符号Ｇａで示す実線で表されるような補正ゲイン（以下、便宜上、「補正ゲインＧａ」という。）が適用されることが好ましい。このような補正ゲインＧａの適用により、高輝度領域Ｒ及び遷移領域Ｒｆを打ち消すことが可能となるからである。実際、図３、図４及び図５を参照して説明した、補正値メモリ３４０に記憶させておくべき基準点毎の基準点補正ゲインは、このような理想的な補正ゲインＧａに基づいて定められるようになっている。
【００６８】
しかるに、仮に図９の最上方に示されているような基準点を用いたのでは、かかる補正ゲインＧａは得られない。なぜなら、このような均等配置された基準点を用いた場合、高輝度領域Ｒ及び遷移領域Ｒｆに関連する基準点（図中矢印参照）を用いた線形補間を行うと、図９中最下方に示されているグラフ中の符号Ｇｂで示す破線で表されるような補正ゲイン（以下、便宜上、「補正ゲインＧｂ」という。）が得られることになってしまうからである。これでは、例えば図９のＲ１及びＲ２で示される部分の補正ゲインＧｂが適正な補正ゲインＧａから隔たっているため、高輝度領域Ｒ及び遷移領域Ｒｆの部分を画像上から確実に消去することは困難となる。
【００６９】
しかるに本実施形態では、このような不具合を被らない。何故なら、本実施形態においては、図４を参照して説明したように、輝度値の変化量のより大きい部分では、基準点はより密になるように、また高輝度領域Ｒ及び遷移領域Ｒｆを縁取るように配置されているからである。この本実施形態に係る基準点の配置態様を、図９中最下方に示されているグラフ中で表現すれば黒丸のように表すことができる（図４参照）。このように、黒丸で表される基準点は、輝度値が大きく変化する部分に対応して好適に配置されていることから、かかる黒丸間を単に線形補間するだけであっても、補正ゲインＧａないしはこれに相当程度近い補正ゲインを得ることができるのである。ちなみに、同じことを図８に則していえば、一般に（Ｘ１，Ｙ１）、（Ｘ２，Ｙ２）及び（Ｘ３，Ｙ３）によって形作られる三角形の面積は小さくなり、また平面Ｌの傾きは大きくなるということができよう。
【００７０】
以上のようなことから、本実施形態によれば、データ位置情報（ａ，ｂ）に対応する補正ゲインをより適切に求めることができる。
【００７１】
再び図１に戻り、後は、このようにして算出されたデータ位置情報（ａ，ｂ）についての補正ゲインが補正回路３２０に送られ、補正回路３２０は、これによって生のデータ信号に対して、輝度補正を施す（図７のステップＳ１８。また図１参照）。
【００７２】
以下、これを各画素部１００ｐについてのデータ信号について繰り返せばよい。そして、走査線１１０の一本分に対応する、補正後のデータ信号がデータ線駆動回路２０２にラッチされたなら、これらを適当なタイミングに、画像信号Ｄｐとして、データ線１２０に送り出せばよい。すると、表示パネル部１００には、輝度ムラが低減された画像が表示されることになる。
【００７３】
以上説明したように、本実施形態の有機ＥＬ表示装置では、輝度値の変化量がより大きな部分では基準点がより密に定められていることから、特別な手間がかからない手法でありながら、画像上の輝度ムラ或いは色ムラを確実に低減し得る。また、基準点の数は、画素部の数よりも少なく設定することが可能であるから、例えば画素部１００ｐの全部について補正値を用意しておくなどといった場合に比べると明らかなように、大容量メモリを準備する必要などもない。
【００７４】
尚、上述の図７のステップＳ１２の処理において、送られてきたデータ位置情報（ａ，ｂ）が、予め定められた基準点のうちの１つの座標値（Ｘ，Ｙ））に一致する場合もあるが、この場合には、当該基準点がもつ基準点補正ゲインをそのまま、当該データ位置情報（ａ，ｂ）についての補正ゲインとして利用すればよく、３つの基準点選択処理等は実施する必要がない。
【００７５】
（電子機器）
次に、上述した有機ＥＬ表示装置が各種の電子機器に適用される場合について図１０及び図１１を参照して説明する。
【００７６】
先ず、この有機ＥＬ表示装置を、モバイル型のパーソナルコンピュータに適用した例について説明する。図１０は、このパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。図１０において、コンピュータ１２００は、キーボード１２０２を備えた本体部１２０４と、有機ＥＬ表示装置を用いて構成された表示ユニット１２０６とを備えている。
【００７７】
さらに、この有機ＥＬ表示装置を、携帯電話に適用した例について説明する。図１１は、この携帯電話の構成を示す斜視図である。図１１において、携帯電話１３００は、複数の操作ボタン１３０２とともに有機ＥＬ表示装置を備えるものである。尚、図１１中、有機ＥＬ表示装置には符号１００５を付して示してある。
【００７８】
この他にも、有機ＥＬ表示装置は、ノート型のパーソナルコンピュータ、ＰＤＡ、テレビ、ビューファインダ、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳、電卓、ワードプロセッサ、ワークステーション、ＰＯＳ端末、タッチパネルを備えた装置等に、更にはプリンタ、コピー、ファクシミリなどの画像形成装置における露光用ヘッド等に適用することができる。
【００７９】
本発明は、上述した実施形態に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨、あるいは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う電気光学装置用画像補正装置及び方法、電気光学装置、並びに電子機器もまた、本発明の技術的範囲に含まれるものである。
【図面の簡単な説明】
【００８０】
【図１】本実施形態の有機ＥＬ表示装置の電気回路構成を示すブロック図である。
【図２】表示パネル部を構成する画素部の構成を示す回路図である。
【図３】ある有機ＥＬ表示装置の画素部に生のデータ信号を送ることによって表示されうる輝度ムラの例を示す説明図である。
【図４】本実施形態における基準点の定め方の一例を示す説明図である。
【図５】補正値メモリの内容を概念的に示す説明図である。
【図６】補正値補間回路の構成を示すブロック図である。
【図７】本実施形態の有機ＥＬ表示装置において、ある１つの画素部についてのデータ信号が補正処理される流れを示すフローチャートである。
【図８】補正ゲインの算出例を模式的に図示した説明図である。
【図９】本実施形態の効果を説明するための説明図である。
【図１０】電気光学装置を適用した電子機器の一例たるパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。
【図１１】電気光学装置を適用した電子機器の一例たる携帯電話の構成を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００８１】
１００…表示パネル部、１１０…走査線、１２０…データ線、１０１…スイッチングＴＦＴ、１０２…ストレージキャパシタ、１０３…駆動ＴＦＴ、１０５…電源線、２０１…走査線駆動回路、２０２…データ線駆動回路、３１０…インターフェイス回路、３２０…補正回路、３３０…補正値補間回路、３４０…補正値メモリ
【図１】
2006113090.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2006113090.tif 000009
【図８】
2006113090.tif 000010
【図９】
2006113090.tif 000011
【図１０】
2006113090.tif 000012
【図１１】
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