(57)【要約】【課題】  チルトセンサを用いることなく、チルトを検出することができ、且つチルト駆動を行うことなく光ディスクの傾きによる信号劣化を補う。【解決手段】  光源、光源の光をメインビームと２つのサブビームに分割する回析格子、分割されたビームをディスク上に集光させる対物レンズ、ディスクからの反射光を受光する光検出器を備え、複数のビームをディスクに照射し、複数の反射光を光検出器により検出する装置において、サブビームはメインビームが集光されるディスクのトラックと内周と外周側に１トラック離れた位置に集光され、サブビームの反射光を光検出器のそれぞれ異なる領域で受光し、外周・内周それぞれのサブプッシュプル信号にゲイン調整した後の差信号が小さくなるように、ゲインＫｓｏ、Ｋｓｉを決め、それに応じてメインビームの２分割出力に対してゲインＫｍｏ、Ｋｍｉを調整し、メインビームのプッシュプル信号およびＲＦ信号を求める。【選択図】  図４
2006018973.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源と、この光源からの出射光を少なくともメインビームと２つのサブビームに分割する回析格子と、この分割されたビームを光ディスク上に集光させる対物レンズと、前記光ディスクからの反射光を受光する複数の領域に分割された光検出器を備え、複数のビームを光ディスクに照射し、複数の反射光を前記光検出器により検出する光ディスク駆動装置において、前記サブビームはメインビームが集光される光ディスクのトラックと内周と外周側にそれぞれ１トラック以上離れた位置に集光され、前記サブビームの反射光を前記光検出器のそれぞれ異なる領域で受光し、内周側のサブビームと外周側のサブビームの受光量に基づく光検出器の出力により光ディスクの傾きを検出することを特徴とする光ディスク駆動装置。
【請求項２】
メインビームより外側のトラックに集光されるサブビームの反射光を受光した前記光検出器からの出力に基づきプッシュプル法により求めた差信号と、メインビームより内側のトラックに集光されるサブビームの反射光を受光した前記光検出器からの出力に基づきプッシュプル法により求めた差信号とを比較し、光ディスクの傾きを検出することを特徴とする請求項１に記載の光ディスク駆動装置
【請求項３】
前記メインビームにより前記光ディスクに記録された情報を再生するともに、メインビームの反射光を前記光検出器の複数の領域で受光するとともに、前記サブビームの受光量に基づく前記光検出器の出力により算出した光ディスクの傾きに基づき前記メインビームの反射光による光検出器の出力ゲインを変化させることを特徴とする請求項１または２に記載の光ディスク駆動装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、レーザ光源を用いて情報の記録／再生を行う光ピックアップを備えた光ディスク駆動装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクの記録／再生時に、光ディスクとレーザ光の光軸とが傾いた状態では、安定した記録／再生ができないという問題がある。そこで、従来より、光ディスクの傾き（チルト）を検出するために、チルトセンサを設けてチルト量を算出し、光ディスクに対してレーザ光の光軸をほぼ垂直になるように、ピックアップの傾きの制御が行なわれている。
【０００３】
しかしながら、上記手法では、チルトセンサを別個に設ける必要があり、装置全体のコストを増大させるなどの難点がある。そこで、チルトセンサを別個に設けることなく、光ピックアップから照射されたレーザ光の光ディスクからの戻り光に基づいてチルト制御する方法が提案されている。
【０００４】
例えば、光ピックアップをチルトさせる前とチルトさせた時の戻り光量を比較し、戻り光量が最大となるように、光ピックアップをチルト制御させるように構成したものが提案されている（特許文献１参照）。
【０００５】
また、感度が高く、信号が予め記録されていない追記型及び書換可能型のディスクに対してもチルトセンサを用いることなくチルトを検出することができる装置が提案されている（例えば、特許文献２参照）。この装置は、半導体レーザからの出射光を回折光学素子によりメインビームである０次光、サブビームである±１次回折光の３つの光に分割し、メインビームとサブビームを光ディスクの同一トラック上に配置し、それぞれからトラック誤差信号を検出する。そして、回折光学素子の作用により、メインビームとサブビームでは対物レンズに入射する際の強度分布が異なるため、光ディスクにチルトがある場合、メインビームとサブビームではトラック誤差信号の位相がずれるので、このトラック誤差信号の位相のずれからチルト信号を得るように構成している。
【特許文献１】特開２００３−９９９６５号公報
【特許文献２】特開２００１−２３６６６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、上記した特許文献１に開示された方式においては、最適なチルト角度を求めるため、ピックアップをチルトさせる機構および制御が必要である。つまり、そのチルト機構によりピックアップ装置が複雑になるという問題がある。
【０００７】
また、特許文献２に開示された方式においては、メインビームとサブビームとを同一トラック上に配置しているので、光ディスクのチルト状態における誤差信号が大きくとれないという難点がある。
【０００８】
この発明は、上記した従来の問題点に鑑みなされたものにして、別個チルトセンサを用いることなく、確実にチルトを検出することができ、且つチルト駆動を行うことなく光ディスクの傾きによる信号劣化を補うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
この発明は、光源と、この光源からの出射光を少なくともメインビームと２つのサブビームに分割する回析格子と、この分割されたビームを光ディスク上に集光させる対物レンズと、前記光ディスクからの反射光を受光する複数の領域に分割された光検出器を備え、複数のビームを光ディスクに照射し、複数の反射光を前記光検出器により検出する光ディスク駆動装置において、前記サブビームはメインビームが集光される光ディスクのトラックと内周と外周側にそれぞれ１トラック以上離れた位置に集光され、前記サブビームの反射光を前記光検出器のそれぞれ異なる領域で受光し、内周側のサブビームと外周側のサブビームの受光量に基づく光検出器の出力により光ディスクの傾きを検出することを特徴とする。
【００１０】
そして、メインビームより外側のトラックに集光されるサブビームの反射光を受光した前記光検出器からの出力に基づきプッシュプル法により求めた差信号と、メインビームより内側のトラックに集光されるサブビームの反射光を受光した前記光検出器からの出力に基づきプッシュプル法により求めた差信号とを比較し、光ディスクの傾きを検出するように構成できる。
【００１１】
また、この発明は、前記メインビームにより前記光ディスクに記録された情報を再生するともに、メインビームの反射光を前記光検出器の複数の領域で受光するとともに、前記サブビームの受光量に基づく前記光検出器の出力により算出した光ディスクの傾きに基づき前記メインビームの反射光による光検出器の出力ゲインを変化させるように構成するとよい。
【００１２】
このように、この発明は、傾き調整を行わず、サブビームを用い、サブビームの信号振幅を比較し、ディスクの傾きを検出し、これにより、メインビームのセンサ出力のゲインを調整し、ゲイン調整後のセンサ出力により、トラッキングサーボ及び、メインのＲＦ信号の再生を行う。
【発明の効果】
【００１３】
上記のように、この発明は、光ピックアップに傾き調整機構を用いていないので、光ピックアップの構造がシンプルになり、かつ、傾いた光ディスクの再生も安定して行うことができる。また、光ピックアップを用いた光ディスク駆動装置も、光ピックアップに傾き調整の機構操作を行わないので、制御が簡単になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、この発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
図１は、この発明が適用される光ディスク駆動装置の概略構成図である。この図１に従い光ディスク装置の概略構成につき説明する。
【００１５】
光ディスク１は、スピンドルモータ２により線速度一定に回転駆動される。光ピックアップ３は、光ディスク１に対向配置され、記録パワーのレーザ光を光ディスク１に照射してデータを記録するとともに、再生パワーのレーザ光を照射して記録データを再生する。この光ピックアップ３には光ディスクの傾き（チルト）調整のための機構は設けていない。記録時には、コントローラ８からの記録データをエンコーダ（図示しない）にて変調し、さらにＬＤ駆動部４にて駆動信号に変換して光ピックアップ３のレーザダイオード（ＬＤ）を駆動する。再生時には、光ピックアップ３内の４分割フォトディテクタで電気信号に変換された戻り光量を信号処理部６に供給し、さらにデコーダ（図示せず）にて復調した後、再生データとしてコントローラ８に供給する。
【００１６】
信号処理部２２は、アンプやイコライザ、２値化部、ＰＬＬ部などを有し、ＲＦ信号をブーストした後２値化し、同期クロックを生成してデコーダに出力する。
【００１７】
コントローラ８は、マイコン等で構成され、記録データをエンコーダに供給する。チルト検出部７は、後述するように、回折光学素子にて半導体レーザからの出射光を少なくとも０次光、±１次回折光の３つの光、即ち、メインビーム、サブビームに分割し、分割されたサブビームの戻り光に基づき光ディスク１とレーザ光の光軸との傾き（チルト）を算出し、信号処理部６に供給する。信号処理部６はサブビームの戻り光に応じて、メインビームの戻り光による光検出器の出力ゲインを調整する。
【００１８】
コントローラ８は、信号処理部６からの出力に応じてフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーブ制御部５に信号を与え、フォーカスサーボ及びトラッキングサーボ、スピンドルモータのサーボなどの制御部が行われる。
【００１９】
図２は、この発明の光学ピックアップ装置部分を示す構成図、図３は光ディスク反射面上のトラック上のメインビームとサブビームのスポットの配置を示す模式図である。図２、図３に従い、この発明の光学ピックアップ部分につき更に説明する。
【００２０】
まず、レーザ素子１１から発した光線２は、回析格子１３の片方の面１３ａにある格子で回析し、０次光のメインビーム２０と±１次光のサブビーム２１、２２の３つのビームに分割される。ここで、メインビーム２０とサブビーム２１、２２は、ほぼ直線偏光であり、例えばＳ波である。これらの光線は、コリメータレンズ１４を通過し、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）５の偏光反射面１５ａで反射する。反射した光線は、１／４波長板１６を通過し、円偏光の光線となり、さらに対物レンズ１７を通過し、円偏光の収束光線となる。この光線はディスク１の下側のディスク表面１ａ、ディスク・カバー層１ｂを通過し、情報が記録してあるディスク反射面１ｃで焦点を結ぶ。
【００２１】
ディスク反射面上のトラック、光検出器の受光素子パターン、及び、トラック上のメインビームとサブビームのスポットを示す。この実施形態では、図３に示すように、この時ディスク反射面１ｃ上では、メインビーム・スポット２１０がトラック８１０に集光し、サブビーム・スポット２１１はトラック８１０の１つ内周側のトラック８１１に、サブビーム・スポット２１２はトラック８１０の１つ外周側のトラック８１２に集光される。即ち、メインビーム・スポット２１０が集光されるトラック８１０の両隣のトラック８１１、８１２にサブビーム・スポット２１１、２１２が集光されている。
【００２２】
この時のメインビーム・スポット２１０とサブビーム・スポット２１１、２１２のピッチＰ１は、レーザ素子１１の発光点と回析格子１３の格子面１３ａとの距離Ｌ１、回析角α１、および、対物レンズ７の焦点距離Ｆｏｂｊ、コリメータレンズ１４の焦点距離Ｆｃｏｌから次式（１）により求められる。
【００２３】
Ｐ１≒Ｌ１×α１×Ｆｏｂｊ／Ｆｃｏｌ…（１）
【００２４】
ここで、回析角α１は、レーザの波長λ１、および格子ピッチｄ１から次式（２）により求められる。
【００２５】
α１≒λ１／ｄ１…（２）
（ただし、λ１／ｄ１は十分小さいとする）
【００２６】
これらの式より、Ｐ１≒λ１／ｄ１×ｋ１…（３）となり、ここで、ｋ１は定数であり、ｋ１＝Ｌ１×Ｆｏｂｊ／Ｆｃｏｌ…（４）で求められる。
【００２７】
式（３）より、メインビーム・スポットとサブビーム・スポットのピッチＰ１は、光源（レーザ素子１１）の波長λ１に対して、格子ピッチｄ１が適切な値のものを選択すれば、所定の値にでき、図３に示すように、メインビーム・スポット２１０が集光されるトラック８１０の両隣のトラック８１１、８１２にサブビーム・スポット２１１、２１２を集光させることができる。
【００２８】
そして、図２に示すように、ディスク反射面１ｃで反射し、逆方向に向かった光線（戻り光）は、対物レンズ１７を通過し、平行光線となり、１／４波長板１６を通過し、先ほどの逆の直線偏光、この場合、Ｐ波となる。この光線（戻り光）はＰＢＳ５の偏光反射面１５ａを通過する。ＰＢＳ５を通過した３つの光線、即ち、１本のメインビーム・スポット２１０と２本のサブビーム２１１、２１２は、集光レンズ９１、シリンドリカルレンズ９２を通過して、光検出器１８上に、それぞれ像を結ぶ。光検出器１８上に結ばれた像に基づき、光出力演算回路３０でチルト検出のためのサブビームに基づくプッシュプル信号、チルト検出に基づきゲイン調整されたメインビームのＲＦ信号及びチルト検出に基づきゲイン調整されたメインビームのプッシュプル信号等が出力される。
【００２９】
図３及び図４を参照して、この実施形態の信号処理につき説明する。図４は、この実施形態における光検出演算回路３０と光検出器１８の構成を示す模式図である。
【００３０】
図３に示すように、ディスク反射面１ｃ上のメインビーム・スポット２１０がメインのトラック８１０上にあり、サブビーム・スポット２１１、２１２のうち、サブビームのスポット２１１が、内周側のトラック８１１にあり、サブビームのスポット２１２が、外周側のトラック８１２にある。これらの配置は、回析格子３の角度を調整することによりできる。
【００３１】
また、図４に示すように、光検出器１８の受光素子１０１上に、メインビームの戻り光のスポット２２０及びサブビームの戻り光のスポット２２１、２２２がそれぞれ形成される。メインビームのスポット２２０は４つに分割された受光部Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄで受光される。サブビームのスポット２２１は、例えば＋１次回折光に相当し、２つに分割された受光部Ｆ、Ｅで受光される。サブビームのスポット２２２は例えば、−１次回折光に相当し、２つに分割された受光部Ｇ、Ｈで受光される。
【００３２】
受光部Ａ〜Ｈからの出力をそれぞれＶ（Ａ）〜Ｖ（Ｈ）で表わすと、メインビームである集光スポット２２２によるトラック誤差信号はプッシュプル法により、（Ｖ（Ａ）＋Ｖ（Ｄ））−（Ｖ（Ｂ）＋Ｖ（Ｃ））の演算から得られる。また、集光スポット２２０による再生信号は、（Ｖ（Ａ）＋Ｖ（Ｂ）＋Ｖ（Ｃ）＋Ｖ（Ｄ））の演算から得られる。一方、外周側のサブビームである集光スポット２２２から差信号はプッシュプル法により（Ｖ（Ｇ）−Ｖ（Ｈ））、内周側のサブビームである集光スポット２２１から差信号はプッシュプル法により（Ｖ（Ｅ）−Ｖ（Ｆ））の演算から得られる。尚、図４では図示していないが、フォーカス誤差信号は非点収差法により、（Ｖ（Ａ）＋Ｖ（Ｃ））−（Ｖ（Ｂ）＋Ｖ（Ｄ））の演算から得られる。
【００３３】
この受光素子１０１の光出力から光出力演算回路３０を通して、メインのＲＦ信号、メインのプッシュプル（以下、Ｐ−Ｐと略記する）信号などの信号を得る。
【００３４】
次に、本発明特有の傾き検出の構成を説明する。
図５は、光ディスク１の外周側がピックアップ３に近づく方向に傾いている時の図である。この図では、光ディスクの中心および、対物レンズの光軸を含むディスク半径方向に平行な面で見ている。
【００３５】
対物レンズ１７から出射したメインビーム２０ａ、内周側のサブビーム２１ａ、外周側のサブビーム２２ａは、ディスク１の下側のディスク表面１ａ、ディスク・カバー層１ｂを通過し、ディスク反射面１ｃで反射する。ディスク１が傾いているため、メインビーム２０ａ及びサブビーム２１ａ、２２ａのそれぞれ反射光メインビーム２０ｂ及びサブビーム２１ｂ、２２ｂは、当初の設計とは、ずれた位置に戻ってくる。対物レンズ１７の出射面側１７ａにおいて、ディスク１の半径方向の内周側に、ずれた位置に戻ってくる。
【００３６】
この光学系では、対物レンズ１７においては中心に近い位置を通る光線ほど効率良く光検出器１８に伝達され、周辺部に行くほど効率が悪く伝達される。従って、内周側のサブビーム反射光２１ｂは、外周側のサブビーム反射光２２ｂより、対物レンズ７の周辺部を通過するので、光強度は弱くなる。従って、それらサブビームのＰ−Ｐ信号を比べると、外周側のサブビームの方が小さくなる。
【００３７】
同様に、ディスクが図５のように傾いている時、メインビームの反射光２０ｂのうち、図４に示すメインビーム・スポット２１０の、内周側のＡ・Ｄ部分の反射光は、外周側のＢ・Ｃ部分の反射光より、光検出器１８の受光素子１０１で検出される光強度は弱くなる。
【００３８】
光検出器１８の受光素子１０１で検出される、サブビームの反射光の内周側および外周側の光強度の差は、ディスクの傾きの大小と相関がある。同様なことが、メインビームの反射光の内周側および外周側の光強度の差についてもいえる。従って、サブビームの反射光の内周側および外周側の光強度の差と、メインビームの反射光の内周側および外周側の光強度の差は相関がある。
【００３９】
ここで、以下に図４の光出力演算回路３０について説明する。
【００４０】
まず、サブビームそれぞれについて、サブＰ−Ｐ差信号として次のものを設定する。
【００４１】
内周側サブＰ−Ｐ差信号Ｐｓｉ＝Ｖ（Ｅ）−Ｖ（Ｆ）として得るため、内周側スポット２２１の受光部Ｆ、Ｅの信号がアンプ３０ｄに与えられ、アンプ３０ｄより、内周側サブＰ−Ｐ差信号Ｐｓｉが出力される。
【００４２】
また、外周側サブＰ−Ｐ差信号Ｐｓｏ＝Ｖ（Ｈ）−Ｖ（Ｇ）として得るため、外周側スポット２２２の受光部Ｇ、Ｈの信号がアンプ３０ｃに与えられ、アンプ３０ｃより、外周側サブＰ−Ｐ差信号Ｐｓｏが出力される。
【００４３】
そして、それぞれサブＰ−Ｐ差信号に、ゲインＫｓｉ、ゲインＫｓｏを掛けた後、差をとった演算結果として、次のものを設定する。
【００４４】
ゲイン調整後のサブＰ−Ｐ差信号ＤＰｓｇ＝Ｋｓｉ×（Ｖ（Ｅ）−Ｖ（Ｆ））−Ｋｓｏ×（Ｖ（Ｈ）−Ｖ（Ｇ））
【００４５】
上記の設定に応じて、アンプ３０ｃの出力がアンプ３０ｅに与えられ、アンプ３０ｃの出力がゲインＫｓｏ分調整され、アンプ３０ｇに与えられる。また、アンプ３０ｄの出力がアンプ３０ｆに与えられ、アンプ３０ｄの出力がゲインＫｓｉ分調整され、アンプ３０ｇに与えられる。アンプ３０ｇからゲイン調整後のサブＰ−Ｐ差信号ＤＰｓｇが出力される。
【００４６】
特に上記で、ゲイン調整ないの場合、即ち、ゲインＫｓｉ、ゲインＫｓｏともに１の時には、ゲイン調整なしのサブＰ−Ｐ差信号ＤＰｓｇ０＝（Ｖ（Ｅ）−Ｖ（Ｆ））−（Ｖ（Ｈ）−Ｖ（Ｇ））となる。
となる。
【００４７】
更に、メインビームに関しても、同様に、半径方向に２分割して内周側・外周側の信号、およびそれぞれのゲインＫｍｉ、ゲインＫｍｏを考え、次のように設定する。
【００４８】
内周側メイン信号Ｍｉ＝Ｖ（Ａ）＋Ｖ（Ｄ）、外周側メイン信号Ｍｏ＝Ｖ（Ｂ）＋Ｖ（Ｃ）を得るため、メインビーム２２０の受光部Ａ、Ｄの出力が加算器３０ａに、受光部Ｂ、Ｃの出力が加算器３０ｂに与えられ、加算器３０ａより、内周側メイン信号Ｍｉ＝Ｖ（Ａ）＋Ｖ（Ｄ）が出力され、加算器３０ｂより外周側メイン信号Ｍｏ＝Ｖ（Ｂ）＋Ｖ（Ｃ）が出力される。これら内周側メイン信号Ｍｉ、外周側メイン信号Ｍｏはそれぞれアンプ３０ｈ、３０ｉでゲイン調整され、ゲイン調整されたを得るため、内周側メイン信号、外周側メイン信号はアンプ３０ｊでプッシュプル差信号、加算器３０ｋでＲＦ信号が出力される。次に示す２つの信号が出力される
【００４９】
ゲイン調整後のメインＰ−Ｐ差信号ＰＰｍｇ＝Ｋｍｉ×（Ｖ（Ａ）＋Ｖ（Ｄ））−Ｋｍｏ×（Ｖ（Ｂ）＋Ｖ（Ｃ））
【００５０】
ゲイン調整後のメインＲＦ信号ＲＦｍｇ＝Ｋｍｉ×（Ｖ（Ａ）＋Ｖ（Ｄ））＋Ｋｍｏ×（Ｖ（Ｂ）＋Ｖ（Ｃ））
【００５１】
前述したように、光ディスク１が図５のように外周側に傾いている時、内周側のサブビーム反射光２１ｂのＰ−Ｐ信号（Ｖ（Ｅ）−Ｖ（Ｆ））は、外周側のサブビーム反射光２２ｂのＰ−Ｐ信号（Ｖ（Ｈ）−Ｖ（Ｇ））より小さいので、サブＰ−Ｐ差出力信号がマイナスとなる。このサブＰ−Ｐ差出力信号の値をある閾値（例えば０）より小さいか否かで判定することにより、光ディスク１が外周側に傾いているか判別できる。
【００５２】
逆に、光ディスク１が内周側に傾いている時、内周側のサブビーム反射光２１ｂのＰ−Ｐ信号（Ｖ（Ｅ）−Ｖ（Ｆ））は、外周側のサブビーム反射光２２ｂのＰ−Ｐ信号（Ｖ（Ｈ）−Ｖ（Ｇ））より大きいので、サブＰ−Ｐ差出力信号がプラスとなる。このサブＰ−Ｐ差出力信号の値を、ある閾値（例えば０）より大きいか否かで判定することにより、光ディスク１が内周側に傾いているか判別できる。
【００５３】
また、光ディスク１が図５のように外周側に傾いている時、ゲインＫｓｉ、ゲインＫｓｏを適当に調整することにより、ゲイン調整後のサブＰ−Ｐ差信号ＤＰｓｇを０にできる。
【００５４】
この時のゲインＫｓｉ、ゲインＫｓｏを参考に、メインビームのゲインＫｍｉ、ゲインＫｍｏを調整設定すれば、メインビームに対するディスク傾きによる信号劣化を補うことができる。これらサブビームとメインビームとのゲインの相関は、予め、基準となるディスクで傾き角度毎に求めて、対応テーブルとして記録しておけばよい。
【００５５】
上記のことを考慮し、図１に示すコントローラ８が対応テーブルに基づき、サブビームによるチルト検出部７からの出力に基づき、信号処理部６のゲインを調整し、それらからメインのＰ−Ｐ信号及びＲＦ信号を求める。このようにゲイン調整することで、光ディスク１のチルトによるメイン信号のアンバランス分を補うすることでメインビームに対するディスク傾きによる信号劣化を補うことができる。
【００５６】
図６は上記したこの発明の実施形態の動作を示すフローチャートである。図６に従いこの発明の動作につき説明する。
【００５７】
まず、アンプ３０ｅ、３０ｆ、３０ｈ、３０ｉのそれぞれのゲインＫｓｉ、Ｋｓｏ、Ｋｍｉ、Ｋｍｏを全て１に設定する。これはディスクが傾いていない時に対応したものである（ステップＳ１）。
【００５８】
次に、信号再生を開始し（ステップＳ２）、ディスク傾き検出のため、サブＰ−Ｐ差信号を検出する（ステップＳ３）。
【００５９】
続いて、この値がある閾値を越えたか否か判断する、例えば、０以下のマイナスの値であった時、前述したように、外周側に傾いていると判断し、ゲインＫｓｉ、Ｋｓｏを最初適当な値に設定し、ゲイン調整後のサブＰ−Ｐ差信号ＤＰｓｇを０になるまで、ゲインＫｓｉ、Ｋｓｏの値設定を繰り返す（ステップＳ４，Ｓ６，Ｓ７）。サブＰ−Ｐ差信号ＤＰｓｇを０にする最適ゲインＫｓｉ、Ｋｓｏが求まった時、予め記録した、ゲインＫｓｉ、ゲインＫｓｏとゲインＫｍｉ、Ｋｍｏの対応テーブルより、メインビームに最適なゲインＫｍｉ、Ｋｍｏの値を読み込み設定し（ステップＳ８、Ｓ９）、これによりメインの信号再生を行う。
【００６０】
また、最初サブＰ−Ｐ差信号の検出値がある閾値、例えば０以上のプラスの値であった時は、逆に内周側に傾いていると判断し（ステップＳ５）、そして、ステップＳ６に進み、同様の操作を行う。なお、最初サブＰ−Ｐ差信号の検出値がある閾値と丁度であった場合、ディスク傾き０と判断しゲインの調整は行わない。
【００６１】
ここで、ディスク傾き検出のためのサブＰ−Ｐ差信号の閾値は一つでなく、上限と下限の二つを用いて判断しても良い。
【００６２】
以上上記した実施形態にてこの発明を説明してきたが、この発明は上記実施形態に限定されるものではない。
【００６３】
例えば、上記実施例では、サブビームをメインビームのすぐ隣のトラック上に配置したが、内周側・外周側、同様のトラック数、メインのトラックより離れた位置に配置してもよい。メインのトラックより離れた位置に配置すると、よりチルト検出の精度を向上させることができる。
【００６４】
また、上記した実施形態においては、トラッキングサーボをプッシュプル法により行っているが、ディファレンシャル・プッシュプル方式を用いる方法においてもこの発明を適用することができる。この場合には、図７に示すように、５ビームになるように回折格子を設計すればよい。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】この発明が適用される光ディスク駆動装置の概略構成図である。
【図２】この発明の実施形態にかかる光学ピックアップ装置部分を示す構成図である。
【図３】光ディスク反射面上のトラック上のメインビームとサブビームのスポットの配置を示す模式図である。
【図４】この発明の実施形態における光検出演算回路と光検出器の構成を示す模式図である。
【図５】この発明の実施形態において、ディスクの外周側がピックに近づくように傾いている時の状態を示す模式図である。
【図６】この発明の実施形態の動作を示すフローチャートである。
【図７】この発明をディファレンシャル・プッシュプル方式に適用した場合の光ディスク反射面上のスポットの配置を示す模式図である
【符号の説明】
【００６６】
１  光ディスク
１ａ  ディスク表面
１ｂ  ディスク・カバー面
１ｃ  ディスク反射面
２  スピンドルモータ
３  光ピックアップ
４  ＬＤ駆動部
５  サーボ制御部
６  信号処理部
７  チルト検出部
８  コントローラ
１１  レーザ素子
１２  光線
１３  回析格子
１３ａ  回析格子の片側の面
１４  コリメータレンズ
１５  ＰＢＳ（偏光ビームスプリッタ）
１５ａ  偏光反射面
１６  １／４波長板
１７  対物レンズ
２０  メインビーム
２１、２２  サブビーム
２０ａ  対物レンズよりディスクに向かうメインビーム
２１ａ、２２ａ  対物レンズよりディスクに向かうサブビーム
２０ｂ  ディスクからのメインビーム反射光
２１ｂ、２２ｂ  ディスクからのサブビーム反射光
１８  光検出器
１０１  受光素子
３０  光出力演算回路
９１  集光レンズ
９２  シリンドリカルレンズ
２１０  ディスク反射面上のメインビーム・スポット
２１１、２１２  ディスク反射面上のサブビーム・スポット
２２０  メインビームの戻り光スポット
２２１、２２２  サブビームの戻り光スポット
８１０  メインビームのトラック
８１１  メインビームより内周側のサブビームのトラック
８１２  メインビームより外周側のサブビームのトラック
【図１】
2006018973.tif 000003
【図２】
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【図３】
2006018973.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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