(57)【要約】      （修正有）【課題】  二層ディスクや多層ディスクに対して、チルト検出やディスクプロファイリング測定を、複数の記録層の各々について適確に且つ迅速に行う。【解決手段】  チルト検出装置は、レーザ光の集光位置を記録層の積層方向に変更可能な第１変更手段と、径方向に変更可能な第２変更手段と、受光信号に基づいてチルト量を検出可能なチルト検出手段とを備える。第１変更手段と第２変更手段を制御して、集光位置を、一の記録層の第ｊ（但し、ｊは自然数）番目の位置に合わせ、その位置のチルト量を検出する。続いて、集光位置を径方向はそのままとして、第１変更手段を制御して他の記録層に合わせて、他の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出する。続いて、集光位置を他の記録層に合わせたまま、第２変更手段を制御して第ｊ＋１番目の径方向位置に移動させ、他の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出する。【選択図】    図１
2006018884.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の記録層が積層されてなると共にディスク形状を有する情報記録媒体に対してレーザ光を照射することで前記記録層の各々について記録情報の再生及び記録のうち少なくとも一方を実行可能な、情報再生装置、情報記録装置又は情報記録再生装置において前記情報記録媒体のチルト検出を行うためのチルト検出装置であって、
前記レーザ光の集光位置を前記記録層の積層方向に変更可能な第１変更手段と、
前記集光位置を前記情報記録媒体の径方向に変更可能な第２変更手段と、
前記レーザ光に起因した前記情報記録媒体からの光の受光信号に基づいて、前記レーザ光に対する前記情報記録媒体のチルト量を検出可能なチルト検出手段と、
（ｉ）前記集光位置を前記記録層のうち一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御し且つ前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ（但し、ｊは自然数）番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｉ）続いて、前記集光位置を前記第ｊ番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記記録層のうち他の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記他の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｉｉ）続いて、前記集光位置を前記他の記録層に合わせたまま、前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ＋１番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記他の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｖ）続いて、前記集光位置を前記第ｊ＋１番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記第一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する制御手段と
を備えたことを特徴とするチルト検出装置。
【請求項２】
３層以上の記録層が積層されてなると共にディスク形状を有する情報記録媒体に対してレーザ光を照射することで前記記録層の各々について記録情報の再生及び記録のうち少なくとも一方を実行可能な、情報再生装置、情報記録装置又は情報記録再生装置において前記情報記録媒体のチルト検出を行うためのチルト検出装置であって、
前記レーザ光の集光位置を前記記録層の積層方向に変更可能な第１変更手段と、
前記集光位置を前記情報記録媒体の径方向に変更可能な第２変更手段と、
前記レーザ光に起因した前記情報記録媒体からの光の受光信号に基づいて、前記レーザ光に対する前記情報記録媒体のチルト量を検出可能なチルト検出手段と、
（ｉ）前記集光位置を前記記録層のうち一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御し且つ前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ（但し、ｊは自然数）番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｉ）続いて、前記集光位置を前記第ｊ番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記記録層のうち複数の他の記録層の各々に順次合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記他の記録層の各々についての第ｊ番目のチルト量を順次検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｉｉ）続いて、前記集光位置を、前記他の記録層のうち前記第ｊ番目のチルト量が最後に検出された第ｎ（但し、ｎは、前記記録層の総数）記録層に合わせたまま、前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ＋１番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記第ｎ記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｖ）続いて、前記集光位置を前記第ｊ＋１番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記記録層のうち前記第ｎ記録層を除くもの各々に順次合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記第ｎ記録層を除くもの各々についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する制御手段と
を備えたことを特徴とするチルト検出装置。
【請求項３】
前記検出されたチルト量を、前記記録層別に集計することで、前記記録層の各々についての離散的なディスクプロファイルを出力する処理手段を更に備えたことを特徴とする請求項１又は２に記載のチルト検出装置。
【請求項４】
前記検出されたチルト量を、前記記録層別に集計することで得られる、前記記録層の各々についての離散的なディスクプロファイルに基づいて、前記記録層の各々についての連続的なディスクプロファイルを算出する処理手段を更に備えたことを特徴とする請求項１又は２に記載のチルト検出装置。
【請求項５】
前記記録層の各々には、前記記録情報が記録されると共にアドレスが付与された螺旋状又は同心円状の記録トラックが形成されており、
前記第２変更手段は、前記制御手段による制御下で、前記集光位置を前記第ｊ又は第ｊ＋１番目の径方向位置に対応するアドレスをサーチすることで、前記集光位置を前記第ｊ又は第ｊ＋１番目の径方向位置に移動させることを特徴とする請求項１から４のいずれか一項に記載のチルト検出装置。
【請求項６】
前記検出されたチルト量を示すチルト量情報を、前記径方向位置別に且つ前記記録層別に集計することで、前記記録層の各々についてのディスクプロファイルを出力する管理テーブルを生成する管理テーブル生成手段と、
該生成された管理テーブルを格納する格納手段と
を更に備えたことを特徴とする請求項１から５のいずれか一項に記載のチルト検出装置。
【請求項７】
複数の記録層が積層されてなると共にディスク形状を有する情報記録媒体に対してレーザ光を照射することで前記記録層の各々について記録情報の再生及び記録のうち少なくとも一方を実行可能な、情報再生装置、情報記録装置又は情報記録再生装置において前記情報記録媒体のチルト検出を行うと共に、前記レーザ光の集光位置を前記記録層の積層方向に変更可能な第１変更手段と、前記集光位置を前記情報記録媒体の径方向に変更可能な第２変更手段と、前記レーザ光に起因した前記情報記録媒体からの光の受光信号に基づいて、前記レーザ光に対する前記情報記録媒体のチルト量を検出可能なチルト検出手段とを備えたチルト検出装置におけるチルト検出方法であって、
前記集光位置を前記記録層のうち一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御し且つ前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ（但し、ｊは自然数）番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する第１制御工程と、
該第１制御工程に続いて、前記集光位置を前記第ｊ番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記記録層のうち他の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記他の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する第２制御工程と、
該第２制御工程に続いて、前記集光位置を前記他の記録層に合わせたまま、前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ＋１番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記他の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する第３制御工程と、
該第３制御工程に続いて、前記集光位置を前記第ｊ＋１番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記第一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する第４制御工程と
を備えたことを特徴とするチルト検出方法。
【請求項８】
請求項１から５のいずれか一項に記載のチルト検出装置と、
前記レーザ光の前記情報記録媒体に対する照射角度を、前記検出されたチルト量に応じて補正する補正手段と
を備えたことを特徴とするチルト補正装置。
【請求項９】
請求項６に記載のチルト検出装置と、
前記レーザ光の前記情報記録媒体に対する照射角度を、前記格納手段に格納された管理テーブルを参照して得られる前記チルト量情報により示されるチルト量に応じて、補正する補正手段と
を備えたことを特徴とするチルト補正装置。
【請求項１０】
請求項８又は９に記載のチルト補正装置と、
前記レーザ光を照射する照射手段を有すると共に前記レーザ光により前記情報記録媒体に選択的に前記記録情報を選択的に書き込む又は読み取る光学書込読取手段と
を備えたことを特徴とする情報記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えばＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の光ディスクにおけるディスクチルト量（以下適宜、単に“チルト量”という）を検出するチルト検出装置及び方法、検出されたチルト量に基づいてチルト補正を行うチルト補正装置及び方法、並びに、このようなチルト補正装置を含む、ＤＶＤプレーヤ、ＤＶＤレコーダ等の情報再生装置、情報記録装置及び情報記録再生装置の技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＤＶＤプレーヤ等の情報再生装置では、セットされたＤＶＤ等の光ディスクに対して、記録面に垂直な方向から読取用のレーザ光を照射することが、光学的に情報を正確に読み取る上で非常に重要である。これは、ＤＶＤ等の光ディスクでは、レーザ光に対してその情報記録面が傾くと、即ち“チルト”すると、その傾きの度合或いはチルトの角度であるチルト量（又はチルト角）に応じて、再生信号が劣化してしまうからである。このため従来から、ＤＶＤ−ＲＯＭ等の読取専用の光ディスクについては、記録情報(即ち、記録ピット)の存在に応じて検出されるＲＦ（Radio Frequency）信号の振幅を用いて、情報記録面のチルト量を検出している。
【０００３】
更に、このようなチルト量は、情報記録面の面内で一定でないので、チルト量の面内分布が得られるように、半径方向位置の異なる複数の読取地点で、チルト量の検出は行なわれる。このようにチルト量の面内分布を求めることを、“ディスクプロファイル測定”或いは単に“プロファイル測定”と呼び、チルト量の面内分布を、“ディスクプロファイル”或いは単に“プロファイル”と呼ぶ。そして、実際の記録情報の再生時には、各読取位置において、レーザ光の照射角度を情報記録面に対して、チルト量を相殺するように微調整すること（本願では適宜“チルト補正”という）によって、即ち、ＲＦ信号の振幅が大きくなるように情報記録面に対するレーザ照射角度を設定することによって、再生信号におけるチルトによる劣化を抑制している。
【０００４】
他方、ＤＶＤレコーダ等の情報記録装置或いは情報記録再生装置でも、その記録時には、情報記録面に垂直な方向から書込用のレーザ光を照射することが、光学的に情報を書き込む上で非常に重要である。これは、チルトがあると、チルト量に応じて、情報記録面に形成される光スポットが広がってしまい、書込信号が劣化してしまうからである。ここで、ＤＶＤ−ＲＷ等の書込可能ディスクについて、未記録状態であると、上述したＤＶＤ−ＲＯＭ等の如くに記録情報に応じたＲＦ信号の検出ができない。このため、例えばＲＦ信号に代えて、ランドグルーブトラックを利用したトラッキングエラー信号の振幅を用いて、チルト量を検出している。例えば、ウォブル・ランドプリピット方式の光ディスクを再生する際に、ＲＦ差信号（即ち、トラッキングエラー信号）の上下の非対称性やランドプリピット信号の上下の非対称性を用いて、チルト量を検出することが可能であるとされている（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
更に、二つ或いは複数の記録層が積層されてなる、二層ディスク或いは多層ディスクについても、このようなチルト検出を、いずれかの記録層について行う技術（以下適宜、単に“従来の技術”と呼ぶ）が提案されている。この従来の技術によれば、複数の記録層のうち他の記録層からの反射迷光を除去することで、所望の記録層についてのチルト検出が行えるとされている（特許文献２参照）。
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−２８８８５９号公報
【特許文献２】特開平９−３２００８４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本願発明者の知見によれば、二層ディスク又は多層ディスクにおけるディスクプロファイルは、複数の記録層間で通常同一ではないことが判明している。言い換えれば、記録層の層厚は、ディスクの面内で一定或いは均一ではない。
【０００８】
従って、上述した従来の技術の如く、複数の記録層のうち所望の記録層についてのチルト検出をするだけでは、複数の記録層の各々について最適なチルト補正を行うには十分ではない。更に、上述した従来の技術において、仮にレーザ光をニ層ディスクにおける一方の記録層に集光させることで当該一方の記録層についてのディスクプロファイル測定を行い、更に、他方の記録層に集光させることで、当該他方の記録層についてのディスクプロファイル測定を行ったと仮定する。すると、１つの記録層についてのディスクプロファイル測定を行うのに必要な時間が、例えば数秒程度である時間“Δｔ”とすれば、複数“ｎ”の記録層についてディスクプロファイル測定を行うのに必要な時間は、例えばΔｔ×ｎ以上となる。更に、１つの記録層についてのディスクプロファイル測定は、通常、光ディスクの内周側から外周側に向けて光ピックアップを移動しながら、複数の測定点にてチルト検出を行うことになるので、複数“ｎ”の記録層についてディスクプロファイル測定を行うのに必要な時間は結局、例えばΔｔ×ｎ＋“光ピックアップを外周側から内周側に戻すのに必要な時間”×ｎ以上ということになる。即ち、仮に、二層ディスク或いは多層ディスクについてのディスクプロファイル測定を記録層別に行うには、記録層の総数“ｎ”に比例して或いは比例する以上に長い時間がかかることになってしまう。このように二層ディスク或いは多層ディスクにおいては、チルト検出やディスクプロファイル測定を適確に且つ迅速に行うことは非常に困難であるという技術的問題点がる。
【０００９】
本発明は、例えば上述した問題点に鑑みなされたものであり、二層ディスク或いは多層ディスクであっても、チルト検出やディスクプロファイリング測定を、複数の記録層の各々について適確に且つ迅速に行うことが可能なチルト検出装置及び方法、該チルト検出装置を備えたチルト補正装置、並びに、該チルト補正装置を備えた情報再生装置、情報記録装置及び情報記録再生装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
請求項１に記載のチルト検出装置は上記課題を解決するために、複数の記録層が積層されてなると共にディスク形状を有する情報記録媒体に対してレーザ光を照射することで前記記録層の各々について記録情報の再生及び記録のうち少なくとも一方を実行可能な、情報再生装置、情報記録装置又は情報記録再生装置において前記情報記録媒体のチルト検出を行うためのチルト検出装置であって、前記レーザ光の集光位置を前記記録層の積層方向に変更可能な第１変更手段と、前記集光位置を前記情報記録媒体の径方向に変更可能な第２変更手段と、前記レーザ光に起因した前記情報記録媒体からの光の受光信号に基づいて、前記レーザ光に対する前記情報記録媒体のチルト量を検出可能なチルト検出手段と、（ｉ）前記集光位置を前記記録層のうち一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御し且つ前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ（但し、ｊは自然数）番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｉ）続いて、前記集光位置を前記第ｊ番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記記録層のうち他の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記他の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｉｉ）続いて、前記集光位置を前記他の記録層に合わせたまま、前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ＋１番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記他の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｖ）続いて、前記集光位置を前記第ｊ＋１番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記第一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する制御手段とを備える。
【００１１】
請求項２に記載のチルト検出装置は上記課題を解決するために、３層以上の記録層が積層されてなると共にディスク形状を有する情報記録媒体に対してレーザ光を照射することで前記記録層の各々について記録情報の再生及び記録のうち少なくとも一方を実行可能な、情報再生装置、情報記録装置又は情報記録再生装置において前記情報記録媒体のチルト検出を行うためのチルト検出装置であって、前記レーザ光の集光位置を前記記録層の積層方向に変更可能な第１変更手段と、前記集光位置を前記情報記録媒体の径方向に変更可能な第２変更手段と、前記レーザ光に起因した前記情報記録媒体からの光の受光信号に基づいて、前記レーザ光に対する前記情報記録媒体のチルト量を検出可能なチルト検出手段と、（ｉ）前記集光位置を前記記録層のうち一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御し且つ前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ（但し、ｊは自然数）番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｉ）続いて、前記集光位置を前記第ｊ番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記記録層のうち複数の他の記録層の各々に順次合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記他の記録層の各々についての第ｊ番目のチルト量を順次検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｉｉ）続いて、前記集光位置を、前記他の記録層のうち前記第ｊ番目のチルト量が最後に検出された第ｎ（但し、ｎは、前記記録層の総数）記録層に合わせたまま、前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ＋１番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記第ｎ記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｖ）続いて、前記集光位置を前記第ｊ＋１番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記記録層のうち前記第ｎ記録層を除くもの各々に順次合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記第ｎ記録層を除くもの各々についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する制御手段とを備える。
【００１２】
請求項７に記載のチルト検出方法は上記課題を解決するために、複数の記録層が積層されてなると共にディスク形状を有する情報記録媒体に対してレーザ光を照射することで前記記録層の各々について記録情報の再生及び記録のうち少なくとも一方を実行可能な、情報再生装置、情報記録装置又は情報記録再生装置において前記情報記録媒体のチルト検出を行うと共に、前記レーザ光の集光位置を前記記録層の積層方向に変更可能な第１変更手段と、前記集光位置を前記情報記録媒体の径方向に変更可能な第２変更手段と、前記レーザ光に起因した前記情報記録媒体からの光の受光信号に基づいて、前記レーザ光に対する前記情報記録媒体のチルト量を検出可能なチルト検出手段とを備えたチルト検出装置におけるチルト検出方法であって、前記集光位置を前記記録層のうち一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御し且つ前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ（但し、ｊは自然数）番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する第１制御工程と、該第１制御工程に続いて、前記集光位置を前記第ｊ番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記記録層のうち他の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記他の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する第２制御工程と、該第２制御工程に続いて、前記集光位置を前記他の記録層に合わせたまま、前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ＋１番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記他の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する第３制御工程と、該第３制御工程に続いて、前記集光位置を前記第ｊ＋１番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記第一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する第４制御工程とを備える。
【００１３】
請求項８に記載のチルト補正装置は上記課題を解決するために、請求項１から５のいずれか一項に記載のチルト検出装置と、前記レーザ光の前記情報記録媒体に対する照射角度を、前記検出されたチルト量に応じて補正する補正手段とを備える。
【００１４】
請求項９に記載のチルト補正装置は上記課題を解決するために、請求項６に記載のチルト検出装置と、前記レーザ光の前記情報記録媒体に対する照射角度を、前記格納手段に格納された管理テーブルを参照して得られる前記チルト量情報により示されるチルト量に応じて、補正する補正手段とを備える。
【００１５】
請求項１０に記載の情報記録再生装置は上記課題を解決するために、請求項８又は９に記載のチルト補正装置と、前記レーザ光を照射する照射手段を有すると共に前記レーザ光により前記情報記録媒体に選択的に前記記録情報を選択的に書き込む又は読み取る光学書込読取手段とを備える。
【００１６】
本発明の作用及び他の利得は次に説明する実施するための最良の形態から明らかにされよう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
（チルト検出装置）
本発明のチルト検出装置に係る第１実施形態は、複数の記録層が積層されてなると共にディスク形状を有する情報記録媒体に対してレーザ光を照射することで前記記録層の各々について記録情報の再生及び記録のうち少なくとも一方を実行可能な、情報再生装置、情報記録装置又は情報記録再生装置において前記情報記録媒体のチルト検出を行うためのチルト検出装置であって、前記レーザ光の集光位置を前記記録層の積層方向に変更可能な第１変更手段と、前記集光位置を前記情報記録媒体の径方向に変更可能な第２変更手段と、前記レーザ光に起因した前記情報記録媒体からの光の受光信号に基づいて、前記レーザ光に対する前記情報記録媒体のチルト量を検出可能なチルト検出手段と、（ｉ）前記集光位置を前記記録層のうち一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御し且つ前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ（但し、ｊは自然数）番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｉ）続いて、前記集光位置を前記第ｊ番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記記録層のうち他の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記他の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｉｉ）続いて、前記集光位置を前記他の記録層に合わせたまま、前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ＋１番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記他の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｖ）続いて、前記集光位置を前記第ｊ＋１番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記第一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する制御手段とを備える。
【００１８】
チルト検出装置に係る第１実施形態によれば、「情報記録媒体」は、例えばＤＶＤ−ＲＯＭ等の読取専用型、ＤＶＤ−Ｒ等の加熱などによる非可逆変化記録型、相変化や光磁気を利用してのＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の書込可能型であり、例えば、ウォブルやプリピットを有する、或いは記録墨のグルーブトラックやランドトラックなどのトラックが各記録層に形成された情報記録媒体である。また「レーザ光」は、例えば半導体レーザ光源から出射されて、ビームスプリッタ、対物レンズ等の光学系を介して、記録層の各々に選択的に集光される。
【００１９】
その動作時には、先ず、例えばＤＶＤプレーヤ、ＤＶＤレコーダ等の情報再生装置、情報記録装置又は情報記録再生装置において、実際に記録情報を再生又は記録するのに先立って、例えばＣＰＵ等の制御手段による制御下で、次のように記録層別に且つ径方向位置別にチルト量の検出が行われる。
【００２０】
即ち先ず、例えば光ピックアップに係るフォーカシング機構などの第１変更手段によって、集光位置が、例えばレーザ光の照射側から見て一番手前側に位置するＬ０層である、一の記録層に合わせられる。これと相前後して、例えば光ピックアップに係るスライダー機構などの第２変更手段によって、集光位置が、情報記録媒体における第ｊ番目の径方向位置に移動される。この状態で、例えばＲＦ信号、トラッキングエラー信号、ウォブル信号、プリピット信号等を用いてチルト量を検出する、チルト検出手段によって、一の記録層についての第ｊ番目のチルト量が検出される。例えば、Ｌ０層における内周側に一番近い測定位置におけるチルト量が検出される。
【００２１】
続いて、集光位置が第ｊ番目の径方向位置とされたまま、即ち例えばスライダー機構などの第２変更手段による光ピックアップの移動は無いままの状態で、集光位置は、第１変更手段によって、例えばレーザ光の照射側から見て２番目に位置するＬ１層である、他の記録層に合わせられる。即ち、例えばフォーカス駆動によるフォーカスジャンプが行われる。この状態で、チルト検出手段によって、他の記録層についての第ｊ番目のチルト量が検出される。例えば、Ｌ１層における内周側に一番近い測定位置におけるチルト量が検出される。
【００２２】
続いて、集光位置が他の記録層に合わされたまま、即ち例えばフォーカス機構などの第１変更手段によるフォーカスジャンプは行われないで、集光位置は、第２変更手段によって、例えば内周側から相対的に遠い第ｊ＋１番目の径方向位置に移動される。即ち、例えばスライダー駆動によるトラックジャンプが行われる。この状態で、チルト検出手段によって、他の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量が検出される。例えば、Ｌ１層における相対的に遠い測定位置におけるチルト量が検出される。
【００２３】
続いて、集光位置が第ｊ＋１番目の径方向位置とされたまま、集光位置は、第１変更手段によって、一の記録層に合わせられる。即ち、例えばフォーカス駆動によるフォーカスジャンプが行われる。この状態で、チルト検出手段によって、一の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量が検出される。例えば、Ｌ０層における内周側から相対的に遠い測定位置におけるチルト量が検出される。
【００２４】
以上のように、第１変動手段による積層方向の移動と、第２変動手段による径方向の移動とを交互に行うことで、記録層の各々について、複数の径方向位置についてチルト量を検出できる。そして、このように検出されたチルト量を、記録層別にまとめれば、記録層の各々についてのチルト量の面内分布が得られる。即ち、ディスクプロファイル測定を、結果として適確に且つ迅速に実行できることになる。ここでは特に、２層以上の記録層について、少なくとも２層についてのディスクプロファイル測定を適確に且つ迅速に行える。
【００２５】
因みに、前述の如く仮に前述した従来の技術を用いて複数の記録層の各々についてのディスクプロファイルを行うとした場合における、Δｔ×ｎ＋“光ピックアップを外周側から内周側に戻すのに必要な時間”×ｎ（但し、Δｔ：１つの記録層についてのディスクプロファイル測定を行うのに必要な時間、ｎ：記録層の総数）以上であるという所要時間に比較すると、本実施形態によれば、非常に短時間で、ディスクプロファイル測定に必要なだけのチルト量の検出を行うことが可能となり、その結果、迅速にして、ディスクプロファイルを取得できる。
【００２６】
本発明のチルト検出装置に係る第２実施形態は、３層以上の記録層が積層されてなると共にディスク形状を有する情報記録媒体に対してレーザ光を照射することで前記記録層の各々について記録情報の再生及び記録のうち少なくとも一方を実行可能な、情報再生装置、情報記録装置又は情報記録再生装置において前記情報記録媒体のチルト検出を行うためのチルト検出装置であって、前記レーザ光の集光位置を前記記録層の積層方向に変更可能な第１変更手段と、前記集光位置を前記情報記録媒体の径方向に変更可能な第２変更手段と、前記レーザ光に起因した前記情報記録媒体からの光の受光信号に基づいて、前記レーザ光に対する前記情報記録媒体のチルト量を検出可能なチルト検出手段と、（ｉ）前記集光位置を前記記録層のうち一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御し且つ前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ（但し、ｊは自然数）番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｉ）続いて、前記集光位置を前記第ｊ番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記記録層のうち複数の他の記録層の各々に順次合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記他の記録層の各々についての第ｊ番目のチルト量を順次検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｉｉ）続いて、前記集光位置を、前記他の記録層のうち前記第ｊ番目のチルト量が最後に検出された第ｎ（但し、ｎは、前記記録層の総数）記録層に合わせたまま、前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ＋１番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記第ｎ記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御し、（ｉｖ）続いて、前記集光位置を前記第ｊ＋１番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記記録層のうち前記第ｎ記録層を除くもの各々に順次合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記第ｎ記録層を除くもの各々についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する制御手段とを備える。
【００２７】
チルト検出装置に係る第２実施形態によれば、上述したチルト検出装置に係る第１実施形態の場合と同様に、第１変動手段による積層方向の移動と、第２変動手段による径方向の移動とを交互に行う。そして、第２のチルト検出装置によれば、特に、同一径方向位置で、例えば３層以上の記録層の間でフォーカスジャンプを行うなど、３層以上の記録層の間で、集光位置が第１変動手段により変動される。そして、同一径方向位置で、記録層の各々についてのチルト量が、この変動の度に検出される。従って、３層以上の記録層の各々について、複数の径方向位置についてチルト量を検出できる。そして、このように検出されたチルト量を、記録層別にまとめれば、３層以上の記録層の各々についてのチルト量の面内分布が得られる。即ち、３層以上の記録層の各々に係るディスクプロファイル測定を、結果として適確に且つ迅速に実行できることになる。
【００２８】
尚、チルト装置に係る第２実施形態では、第２変動手段による径方向の移動を行う際には、積層方向についての集光位置は、一番手前の記録層と一番奥側の記録層とで交互としてもよい。この場合、集光位置の径方向及び積層方向の移動量の総和を最小限にできる。但し、径方向の移動の際には、例えば、常に一番手前の記録層とする、或いは常に一番奥側の記録層としてもよいし、径方向の移動の都度に任意の記録層としてもよい。同一径方向位置にて全ての記録層についてのチルト量の検出を行った後に径方向に移動することによって、従来の技術による場合と比較して、径方向の移動の回数や距離を大なり小なり減らせるので、総合的に見たチュルト量の検出やディスクプロファイル測定に係る時間を短縮する効果が相応に得られる。
【００２９】
本発明のチルト検出装置に係る第１又は第２実施形態の一態様では、前記検出されたチルト量を、前記記録層別に集計することで、前記記録層の各々についての離散的なディスクプロファイルを出力する処理手段を更に備える。
【００３０】
この態様によれば、処理手段によって、検出されたチルト量が記録層別に集計されて、記録層の各々についての離散的なディスクプロファイルが出力される。チルト検出手段により検出されたチルト量のデータは、その検出順番が複雑であるが故に、そのままでは、記録層別のディスクプロファイルとしては利用し難い。しかるに本態様によれば、処理手段による集計によって記録層別のディスクプロファイルを自動的に得られるので、一層容易且つ迅速にディスクプロファイル測定を実行可能であると言える。
【００３１】
或いは本発明のチルト検出装置に係る第１又は第２実施形態の他の態様では、前記検出されたチルト量を、前記記録層別に集計することで得られる、前記記録層の各々についての離散的なディスクプロファイルに基づいて、前記記録層の各々についての連続的なディスクプロファイルを算出する処理手段を更に備える。
【００３２】
この態様によれば、処理手段によって、検出されたチルト量を記録層別に集計することで得られる記録層の各々についての離散的なディスクプロファイルに基づいて、記録層の各々についての連続的なディスクプロファイルが算出される。例えば、離散的なディスクプロファイルに対して、補間処理、所定関数（例えば、ｉ次曲線）への近似処理等によって、情報記録媒体の全面に渡っての連続的なディスクプロファイルが、記録層の各々について得られる。チルト検出手段により検出されたチルト量のデータは、その検出順番が複雑であるが故に、そのままでは、記録層別のディスクプロファイルとしては利用し難い。しかるに本態様によれば、処理手段による算出によって記録層別の連続的なディスクプロファイルを自動的に得られるので、一層容易且つ迅速にディスクプロファイル測定を実行可能であると言える。
【００３３】
本発明のチルト検出装置に係る第１又は第２実施形態の他の態様では、前記記録層の各々には、前記記録情報が記録されると共にアドレスが付与された螺旋状又は同心円状の記録トラックが形成されており、前記第２変更手段は、前記制御手段による制御下で、前記集光位置を前記第ｊ又は第ｊ＋１番目の径方向位置に対応するアドレスをサーチすることで、前記集光位置を前記第ｊ又は第ｊ＋１番目の径方向位置に移動させる。
【００３４】
この態様によれば、アドレスをサーチすることによって、チルト検出手段によるチルト検出の対象となる記録地点に集光位置を迅速且つ確実に移動させることが可能となる。例えば、ディスクプロファイル測定用に望ましいチルト検出の対象となる、所望の径方向位置を、予めアドレスに換算しておけば、第２変動手段による変動の際には、この換算されたアドレスをサーチすることで、所望の径方向位置に素早く移動することが可能となる。
【００３５】
本発明のチルト検出装置に係る第１又は第２実施形態の他の態様では、前記検出されたチルト量を示すチルト量情報を、前記径方向位置別に且つ前記記録層別に集計することで、前記記録層の各々についてのディスクプロファイルを出力する管理テーブルを生成する管理テーブル生成手段と、該生成された管理テーブルを格納する格納手段とを更に備える。
【００３６】
この態様によれば、チルト検出手段による検出結果を、管理テーブル生成手段により生成された管理テーブルの形で格納手段に格納しておくので、後に、この管理テーブルを参照することで、チルト補正を適確に且つ迅速に行うことが可能となる。
【００３７】
（チルト検出方法）
本発明のチルト検出方法に係る実施形態は、複数の記録層が積層されてなると共にディスク形状を有する情報記録媒体に対してレーザ光を照射することで前記記録層の各々について記録情報の再生及び記録のうち少なくとも一方を実行可能な、情報再生装置、情報記録装置又は情報記録再生装置において前記情報記録媒体のチルト検出を行うと共に、前記レーザ光の集光位置を前記記録層の積層方向に変更可能な第１変更手段と、前記集光位置を前記情報記録媒体の径方向に変更可能な第２変更手段と、前記レーザ光に起因した前記情報記録媒体からの光の受光信号に基づいて、前記レーザ光に対する前記情報記録媒体のチルト量を検出可能なチルト検出手段とを備えたチルト検出装置におけるチルト検出方法であって、前記集光位置を前記記録層のうち一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御し且つ前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ（但し、ｊは自然数）番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する第１制御工程と、該第１制御工程に続いて、前記集光位置を前記第ｊ番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記記録層のうち他の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記他の記録層についての第ｊ番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する第２制御工程と、該第２制御工程に続いて、前記集光位置を前記他の記録層に合わせたまま、前記集光位置を前記情報記録媒体における第ｊ＋１番目の径方向位置に移動させるように前記第２変更手段を制御して、前記他の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する第３制御工程と、該第３制御工程に続いて、前記集光位置を前記第ｊ＋１番目の径方向位置としたまま、前記集光位置を前記第一の記録層に合わせるように前記第１変更手段を制御して、前記一の記録層についての第ｊ＋１番目のチルト量を検出するように前記チルト検出手段を制御する第４制御工程とを備える。
【００３８】
チルト検出方法に係る実施形態によれば、上述したチルト検出装置に係る第１実施形態の場合と同様に、チルト検出やディスクプロファイル測定を適確に且つ迅速に実行できることになる。
【００３９】
尚、上述した本発明のチルト検出装置に係る第１実施形態における各種態様に対応して、本発明のチルト検出方法に係る実施形態も各種態様を採ることが可能である。
【００４０】
加えて、上述した本発明のチルト検出装置に係る第２実施形態に対応するチルト検出方法を構築することも可能であり、この場合更に、上述した本発明のチルト検出装置に係る第２実施形態における各種態様に対応して、各種態様を採ることが可能である。
【００４１】
（チルト補正装置）
本発明のチルト補正装置に係る第１実施形態は、上述した本発明のチルト検出装置に係る第１又は第２実施形態（但し、その各種態様を含む）と、前記レーザ光の前記情報記録媒体に対する照射角度を、前記検出されたチルト量に応じて補正する補正手段とを備える。
【００４２】
チルト補正装置に係る第１実施形態によれば、記録層の各々についてのチルト量或いはディスクプロファイルを利用して、迅速且つ高精度でチルト補正を行うことができる。例えば、液晶補正素子等の補正手段によって、レーザ光の照射角度が、チルト量に応じて微妙に変更される。
【００４３】
本発明のチルト補正装置に係る第２実施形態は、上述した本発明のチルト検出装置に係る第１又は第２実施形態における管理テーブル生成手段及び格納手段を備えた態様と、前記レーザ光の前記情報記録媒体に対する照射角度を、前記格納手段に格納された管理テーブルを参照して得られる前記チルト量情報により示されるチルト量に応じて、補正する補正手段とを備える。
【００４４】
チルト補正装置に係る第２実施形態によれば、例えば制御手段のメモリ等である格納手段に格納された管理テーブルを参照することで、迅速且つ高精度でチルト補正を行うことができる。
【００４５】
（情報記録再生装置）
本発明の情報記録再生装置に係る実施形態は、上述した本発明に係るチルト補正装置の第１又は第２実施形態（但し、その各種態様を含む）と、前記レーザ光を照射する照射手段を有すると共に前記レーザ光により前記情報記録媒体に選択的に前記記録情報を選択的に書き込む又は読み取る光学書込読取手段とを備える。
【００４６】
情報記録再生装置に係る実施形態によれば、本発明のチルト補正装置に係る第１又は第２実施形態を備えるので、迅速且つ高精度でチルト補正を行いつつ、例えば光ピックアップを含んでなる光学書込読取手段によって、記録情報の書き込みを行える。更に、高精度でチルト補正を行いつつ、例えば光ピックアップを含んでなる光学書込読取手段によって、記録情報の読み取りを行える。
【００４７】
尚、チルト補正装置の第１又は第２実施形態は、情報記録再生装置に限らず、例えば、ＤＶＤプレーヤ等の情報再生装置にも同様に適用可能であり、記録専用の情報記録装置にも同様に適用可能である。
【００４８】
以上詳細に説明したようにチルト検出装置に係る第１又は第２実施形態によれば、第１変更手段、第２変更手段、チルト検出手段及び制御手段を備えるので、また、チルト検出方法に係る実施形態によれば、第１から第４制御工程を備えるので、チルト検出やディスクプロファイル測定を適確に且つ迅速に実行できる。チルト補正装置に係る第１又は第２実施形態によれば、チルト補正装置の第１又は第２実施形態を備えるので、迅速且つ高精度でチルト補正を行える。更に、情報記録再生装置に係る実施形態によれば、チルト補正装置の実施形態を備えるので、迅速且つ高精度でチルト補正を行いつつ、記録情報の書き込みや読み取りを行える。
【００４９】
本実施形態の作用及び他の利得は次に説明する実施例から更に明らかにされる。
【実施例】
【００５０】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
（第１実施例）
先ず図１及び図２を参照して、本発明の第１実施例に係る情報記録再生装置の構成について説明する。図１は、本発明の第１実施例に係る情報記録再生装置の全体ブロックを示す。図２は、この情報記録再生装置が備えた光ピックアップに関する詳細構成を示す。本実施例では、情報記録再生装置は、本発明に係るチルト検出装置を含んでなるチルト補正装置を備えており、ＤＶＤレコーダ、パソコン用のＤＶＤドライブ等として構築される。
【００５１】
図１において、情報記録再生装置１００は、スピンドルモータ１０１、光ピックアップ１０２及びストラテジ生成部１０４を備え、更にチルト検出装置１０５を含むチルト補正装置１００を備える。情報記録再生装置１００は、光ディスク２００に記録情報を光学的に記録可能に且つ光ディスク２００から記録情報を光学的に再生可能に構成されている。
【００５２】
光ディスク２００は、透明なディスク基板２００Ｓ上に、二つの記録層として、Ｌ０層（即ち、レーザ光ＬＢの照射側に一番近い記録層）及びＬ１層（即ち、レーザ光ＬＢの照射側から数えて２番目に位置する記録層）を備えた二層ディスクからなる。但し、３つ以上の記録層として、Ｌ０層、Ｌ１層、Ｌ２層（即ち、レーザ光ＬＢの照射側から数えて３番目に位置する記録層）、…等を備えた多層ディスクであってもよい。光ディスク２００の各記録層は、例えば相変化や光磁気を利用してのＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の書込可能型、レーザ加熱を利用してのＤＶＤ−Ｒ等の非可逆変化記録型、ＤＶＤ−ＲＯＭ等の再生専用型である。光ディスク２００は、これら各型の領域が一の記録層中に混在する、或いは、複数の記録層中に混在する、ハイブリッド型でもよい。光ディスク２００は、ウォブルを有するグルーブトラックやランドトラックなどの記録トラックが各記録層に形成された光ディスクであってもよいし、これに加えて又は代えて、ランドトラックにランドプリピットなどのプリピットが形成された光ディスクでもよい。更に、既に記録データやアドレスが部分的に又は全体に記録された光ディスクであってもよい。
【００５３】
いずれの場合にも、レーザ光ＬＢは、複数の記録層のうち所望の記録層（即ち、図１では、Ｌ０層又はＬ１層）に集光され、即ちフォーカシングされることで、該所望の記録層についての記録や再生が実行される。レーザ光ＬＢの集光位置を、Ｌ０層及びＬ１層の積層方向、即ち図１中の上下方向に、一の記録層から他の記録層へ移動させることを適宜、「積層方向移動」又は「層間ジャンプ」と呼ぶ。また、レーザ光ＬＢの集光位置を、光ディスク２００の表面に沿った方向、即ち図１中の左右方向に移動させることを適宜、「径方向移動」又は「トラックジャンプ」と呼ぶ。
【００５４】
スピンドルモータ１０１は、情報記録再生装置１００にローディングされた光ディスク２００を、ＣＬＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｉｅｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式、ＣＡＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ａｎｇｕｌａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）方式、ＺＣＡＶ（Ｚｏｎｅ−ＣＡＶ）方式等で回転させる。その回転数制御は、例えば、再生データに含まれるプリピット信号やウォブル信号、更にクロック信号に基づいて、マイコン１４０等の制御下で行われる。
【００５５】
光ピックアップ１０２は、記録時に、レーザ光ＬＢを、回転中の光ディスク２００に対して照射して、ストラテジ生成部１０４を介して入力される記録データを光学的に光ディスク２００に記録する。他方、再生時に、レーザ光ＬＢを、回転中の光ディスク２００に対して照射して、再生データを光学的に光ディスク２００から再生するように構成されている。
【００５６】
図２に例示すように、より詳細には、光ピックアップ１０２は、半導体レーザ１０、集光レンズ１１、ビームスプリッタ１２、対物レンズ１３、集光レンズ１４及び受光素子１５を備える。
【００５７】
記録時には、半導体レーザ１０は、ストラテジ生成部１０４（図１参照）によって生成され記録用パワーに設定された、レーザ光ＬＢを照射する。即ち、レーザ光ＬＢは、記録用パワーにおいて記録データに応じて変調される。このレーザ光ＬＢは、レンズ１１、ビームスプリッタ１２及び対物レンズ１３を介して光ディスク２００に対して照射される。光ピックアップ１０２は、このようなレーザ光ＬＢの照射によって記録データが光ディスク２００に記録されるように、構成されている。
【００５８】
他方、再生時には、半導体レーザ１０は、相対的に低い再生用パワーに設定されたレーザ光ＬＢを照射する。このレーザ光ＬＢは、レンズ１１、ビームスプリッタ１２及び対物レンズ１３を介して光ディスク２００に対して照射され、更に、その反射光は、対物レンズ１３、ビームスプリッタ１２及び集光レンズ１４を介して受光素子１５で受光され、受光信号Ｓｄが生成される。光ピックアップ１０２は、このようなレーザ光ＬＢの照射によって受光信号Ｓｄに基づいて記録データが光ディスク２００から再生されるように、構成されている。
【００５９】
このような記録又は再生時に、光ピックアップ１０２に設けられた、例えばフォーカスアクチュエータ等からなるフォーカス駆動装置１０６により、マイコン１４０（又は、フォーカスサーボ装置）からのフォーカス制御信号Ｓｆに応じて、矢印Ｄｆの如き方向にフォーカス駆動が実行される。例えば対物レンズ１３が、フォーカスエラー信号が小さくなるように、レーザ光ＬＢの光軸方向に移動される、フォーカスサーボが実施される。他方、光ピックアップ１０２に設けられた、例えばトラッキングアクチュエータ等からなるトラッキング駆動装置１０８により、マイコン１４０（又は。トラッキングサーボ装置）からのトラッキング制御信号Ｓｔに応じて、矢印Ｄｔの如き方向にトラッキング駆動が実行される。例えば対物レンズ１３や光ピックアップ１０２の光学系の一部又は全体が、トラッキングエラー信号が小さくなるように、光ディスク２００の径方向に移動される、トラッキングサーボが実施される。更に、例えばスライダー等から構成された径方向駆動装置１５０により、マイコン１４０からの移動制御信号Ｓｓに応じて、矢印Ｄｒの如き方向に径方向移動が実行される。例えば、記録又は再生時における通常移動や、トラックジャンプが実施される。
【００６０】
本実施例では特に、光ピックアップ１０２は、レーザ光ＬＢの光ディスク２００に対する照射角度を変更可能とする、即ち、チルト補正を実行可能なチルト補正部１１１を備える。チルト補正部１１１は、例えば液晶補正素子からなり、マイコン１４０からのチルト制御信号Ｓｃに応じて、例えばその液晶に電圧が印加されることでレーザ光ＬＢにおけるコマ収差を打ち消すことにより、レーザ光ＬＢの照射方向を、例えばコンマ数度や数度といった微妙な角度範囲内で変更する。或いは、チルト補正部１１１は、レーザ光ＬＢの照射軸を変化させる、電気的、電磁気的、機械的、電気機械的な可動手段から、構成されてもよい。例えば、各種アクチュエータによって光ピックアップ１０２を傾斜させる装置や、対物レンズ１３を傾斜させる装置から構成してもよい。更に、チルト補正部１１１を、トラッキング駆動装置１０８と少なくとも部分的に共用することも可能である。
【００６１】
このようなチルト補正を行う際には、後で詳述するように予め決定された光ディスク２００の各径方向位置におけるチルト量に応じて補正することで、即ち、予め求められた光ディスク２００のディスクプロファイルに応じて補正することで、光ディスク２００のいずれの径方向位置においても、チルト補正を適確に行うことが可能とされる。尚、チルト補正部１１１は、実際の記録データの記録時や再生データの再生時におけるチルト補正用のみならず、これらに先立って行われる、後に詳述するチルト量を決定する際にも、レーザ光ＬＢの照射角度を微妙に変更する目的で用いられる。この意味では、チルト補正部１１１（及び後述のチルト補正用ドライバ１１６）は、チルト検出装置１０５の一部としても機能する。
【００６２】
再び図１において、ストラテジ生成部１０４は、記録データに対して、ストラテジを施して記録信号Ｓｒを生成する。具体的には、再生時におけるジッタ、信号強度、シンメトリ等が最適となるように記録データに応じた記録信号Ｓｒを生成して、光ピックアップ１０２に供給するように構成されている。
【００６３】
チルト補正装置１１０は、チルト検出装置１０５と、チルト補正用ドライバ１１６と、前述した光ピックアップ１０２に組み込まれたチルト補正部１１１（図２参照）とを備える。
【００６４】
チルト検出装置１０５は、光ピックアップ１０２で生成される受光信号から、ＬＰＰ（ランドピリピット）信号を生成するＬＰＰ信号生成部１１２、該受光信号からウォブル信号を生成するウォブル信号生成部１２２、及び該受光信号からＲＦ（Ｒａｄｉｏ  Ｆｒｅｑｕｅｎｃｙ）信号を生成するＲＦ信号生成部１３２を備える。チルト検出装置１０５は更に、ボトムホールド回路１１３、１２３及び１３３と、ピークホールド回路１２４及び１３４とを備える。
【００６５】
ボトムホールド回路１１３は、ＬＰＰ信号生成部１１２により生成されたＬＰＰ信号のボトムレベルの信号電圧を保持する。ボトムホールド回路１２３は、ウォブル信号生成部１２２により生成されたウォブル信号のボトムレベルの信号電圧を保持する。ボトムホールド回路１３３は、ＲＦ信号生成部１３２により生成されたＲＦ信号のボトムレベルの信号電圧を保持する。ピークホールド回路１２４は、ウォブル信号生成部１２２により生成されたウォブル信号のピークレベルの信号電圧を保持する。ピークホールド回路１３４は、ＲＦ信号生成部１３２により生成されたＲＦ信号のピークレベルの信号電圧を保持する。
【００６６】
マイコン１４０は、本発明に係る「制御手段」の一例を構成しており、以下に詳述するように、マイコン１４０の制御下で、（ｉ）チルト検出装置１０５は、情報記録再生装置１００が記録データを記録するのに先立って、チルト量の決定或いはディスクプロファイル測定を行い、更に、（ｉｉ）チルト補正装置１１０は、情報記録再生装置１００が記録データを記録する際にチルト補正を行うように、構成されている。
【００６７】
ここで図３を参照して、チルト量について説明する。図３は、光ディスク２００に係る、その中心軸に平行な面で切断した場合の部分的な断面を示す。
【００６８】
図３において、光ディスク２００は、センターホール２０１を中心として、内周側から外周側に円盤状に延びているが、外周側に向かう程に、そのディスクチルト（傾き）が大きくなっている。即ち、Ｌ０層における内周寄りの第1のチルト測定点Ｐ１では、その法線方向とレーザ光ＬＢ（但し、この場合、チルトがない理想的な光ディスク２００の表面に対して、その法線方向に照射方向が一致するように角度設定されたレーザ光ＬＢ）の照射方向とは、殆ど一致しており、それらのなす角度であるチルト量θ１は、非常に小さい。次にＬ０層における内周寄りの第２のチルト測定点Ｐ２では、チルト量θ２は、チルト量θ１より大きい。更にＬ０層における外周寄りの第３のチルト測定点Ｐ３では、チルト量θ３は、かなり大きくなっている。次のＬ０層における第４のチルト測定点Ｐ４では、チルト量θ４は、チルト量θ３よりも更に大きくなっている。このように光ディスク２００の表面の各径方向位置におけるチルト量θは半径ｒの関数となり、即ち、チルト量θ（ｒ）として表される。チルト量θ（ｒ）は、光ディスク２００の外周寄り程、急激に大きくなる傾向がある。例えば、光ディスク２００の最外周位置や第４のチルト測定点Ｐ４では、コンマ数度或いは数度程度の大きさになり得る。尚、図３では、光ディスク２００の表面の法線方向を基準として、光ディスク２００の表面の傾きであるチルト量θを定義しているが、レーザ光ＬＢの照射方向と、光ディスク２００の表面からＲＦ信号が検出されると仮定した場合における該ＲＦ信号を最大とする理想的なレーザ光ＬＢの照射方向とが、なす角度として、チルト量θを定義してもよい。但し、一般には、該理想的なレーザ光ＬＢの照射方向と光ディスク２００の表面の法線方向とは一致し、いずれを基準としてもチルト量θ（ｒ）は同じ値となる。
【００６９】
再び図１において、マイコン１４０は、補正値格納用メモリ１４１内に、後述の如く決定される各記録層についてのチルト量（例えば、Ｌ０層及びＬ１層の夫々についてのθ１〜θ４）又はディスクプロファイル（例えば、Ｌ０層及びＬ１層の夫々についてのθ（ｒ）、但し、ｒ：半径）を格納する。このチルト量は、レーザ光ＬＢを光ディスク２００の法線方向に一致させるために必要な、チルト補正部１１１により傾けるべき補正値と同じである。或いは、マイコン１４０は、チルト量に応じて定まる、レーザ光ＬＢの照射方向を、ＲＦ信号を最大とする方向に一致させるためのチルト補正部１１１による補正値を格納する（但し、この補正値は、図３から明らかなように、光ディスク２００の法線方向と、ＲＦ信号を最大とする照射方向とが一致していれば、チルト量と同じとなる）。
【００７０】
加えて、マイコン１４０は、情報記録再生装置１００が記録データを記録する際に、補正値格納用メモリ１４１に格納されたチルト量又は補正値を参照することで、後に詳述する如く予め決定されたチルト量に応じて、レーザ光ＬＢの照射角度を補正するように、チルト補正用ドライバ１１６を介して、チルト補正部１１１を制御する。より具体的には、レーザ光ＬＢの照射方向を、光ディスク２００の法線方向に近付ける又は好ましくは一致させるように、チルト補正用ドライバ１１６は、決定されたチルト量に応じたチルトチルト制御信号Ｓｃを生成する。或いは、レーザ光ＬＢの照射方向を、光ディスク２００からＲＦ信号が検出されると仮定した場合における該ＲＦ信号を最大とする理想的なレーザ光ＬＢの照射方向に近付ける又は好ましくは一致させるように、チルト補正用ドライバ１１６は、決定されたチルト量に応じたチルトチルト制御信号Ｓｃを生成する。そして、このように生成したチルト制御信号Ｓｃがチルト補正部１１１に供給されることで、迅速且つ高精度にチルト補正が行われる。
【００７１】
以上のような構成において本実施例では、フォーカス駆動装置１０６から、本発明に係る「第１変更手段」の一例が構成されており、径方向駆動装置１５０から、本発明に係る「第２変更手段」の一例が構成されている。ウォブル信号生成部１２２、ＲＦ信号生成部１３２、ボトムホールド回路１２３及び１３３、ピークホールド回路１２４及び１３４、並びにマイコン１４０から、本発明に係る「チルト検出手段」の一例が構成されている。更に、マイコン１４０から「制御手段」、「処理手段」、「オフセット算出手段」及び「管理テーブル生成手段」の一例が構成されている。
【００７２】
次に図４を参照して、チルト検出装置１０５により、ＲＦ信号、ウォブル信号又はトラッキングエラー信号を用いて、一つの記録層における一つのチルト測定点において、チルト量を決定する方法について詳細に説明する。ここに図４は、レーザ光ＬＢの照射方向の傾き量に対するＲＦ信号の振幅の変化を、特性曲線Ｃ０として示し、レーザ光ＬＢの照射方向の傾き量に対するウォブル信号の振幅の変化を、特性曲線Ｃ１として示し、レーザ光ＬＢの照射方向の傾き量に対するトラッキングエラー（ＴＥ）信号の振幅の変化を、特性曲線Ｃ２として示したものである。
【００７３】
図４に示すように、光ディスク２００の表面の法線方向を基準として、レーザ光ＬＢを傾けると、ＲＦ信号の振幅、トラッキングエラー（ＴＥ）信号の振幅、及びウォブル信号の振幅は夫々小さくなる。即ち、特性曲線Ｃ０、Ｃ１及びＣ２は、夫々、光ディスク２００の表面の法線からの傾きがない、傾き量＝０を中心として下側に開いた放物線的な形状を有している。従って、逆に、これらの信号の振幅が最も大きいときには、レーザ光ＬＢの照射方向と、その際にレーザ光ＬＢによる光スポットにおける光ディスク２００の表面の法線方向とが一致している理想的な状態にあると言える。実際上は、ＲＦ信号の振幅が記録データを再生する上で直接的に重要となるので、ＲＦ信号の振幅が最も大きいときが、理想的な状態にあるとして扱うとよい。この意味では、光ディスク２００における各チルト測定点（例えば、図３における各チルト測定点Ｐ１、…、Ｐ４）においてＲＦ信号が検出可能な状態にあれば、ＲＦ信号の振幅を用いて、チルト量を決定するのが好ましい。
【００７４】
但し、光ディスク２００における各チルト測定点においてＲＦ信号が検出できない状態にあれば、ＲＦ信号に代えてトラッキングエラー信号やウォブル信号の振幅を用いて、チルト量を決定するのが好ましい。
【００７５】
そこで、本実施例では、ＲＦ信号が各チルト測定点において検出可能であれば、ボトムホールド回路１３３及びピークホールド回路１３４（図１参照）により夫々ホールドされたＲＦ信号のボトムレベル及びピークレベルの信号電圧から、ＲＦ信号の振幅を求め、これを用いてチルト量を求める。他方、ＲＦ信号が各チルト測定点において検出可能でなければ、図２に示したボトムホールド回路１２３及びピークホールド回路１２４（図１参照）により夫々ホールドされたウォブル信号のボトムレベル及びピークレベルの信号電圧から、ウォブル信号の振幅を求め、これを用いてチルト量を求める。又は、トラッキング駆動装置１０８におけるトラッキングサーボで利用されるトラッキングエラー信号の振幅を用いてチルト量を求める。
【００７６】
より具体的には、一つの記録層における一つのチルト測定点におけるチルト検出の際には、先ず、マイコン１４０の制御下で、径方向位置が固定された一つのチルト測定点（例えば、図３に示した第１から第４のチルト測定点Ｐ１からＰ４のうちのいずれか1点）に、レーザ光ＬＢによりＬ０層又はＬ１層に集光して形成されたレーザスポットを停止させる（この際、光ディスク２００は、回転しているので、ＲＦ信号、ウォブル信号又はトラッキングエラー信号が得られる）。チルト補正部１１１において、その液晶への印加電圧を０にした基準状態でレーザ光ＬＢを照射する場合の第1照射方向（光ディスク２００の表面の法線方向に対する傾きを傾き量φ１とする）となるようにチルト補正部１１１を制御し、この状態で、ＲＦ信号、ウォブル信号又はトラッキングエラー信号の振幅を測定する。続いてレーザスポットを同一径方向位置且つ同一記録層（即ち、Ｌ０層又はＬ１層）に停止させたまま、従前の状態から一方側に例えばコンマ数度など傾けた状態で照射する場合の第２照射方向（光ディスク２００の表面に対する傾きを傾き量φ２とする）になるようにチルト補正部１１１を制御し、この状態でＲＦ信号、ウォブル信号又はトラッキングエラー信号の振幅を測定する。続いて、レーザスポットを同一径方向位置且つ同一記録層（即ち、Ｌ０層又はＬ１層）に停止させたまま、従前の状態から第２照射方向とは逆側に例えばコンマ数度など傾けた状態で照射する場合の第３照射方向（光ディスク２００の表面に対する傾きを傾き量φ３とする）になるようにチルト補正部１１１を制御し、この状態でＲＦ信号、ウォブル信号又はトラッキングエラー信号の振幅を測定する。
【００７７】
これらによって、ＲＦ信号の振幅を測定した場合には、（傾き量φ１、信号振幅Ａ１）、（傾き量φ２、信号振幅Ａ２）、及び（傾き量φ２、信号振幅Ａ２）なる３点が、図６に示した特性曲線Ｃ０上に位置する筈の３点の座標として得られる。そこで、図６に示した如き特性曲線Ｃ０となるようにこれらの３点を補間するか、又はこれらの３点から図６に示した如き特性曲線Ｃ０を近似により求める。このように求めた特性曲線Ｃ０において、頂点（即ち、極大値又は最大値）を与える傾き量φを、そのチルト測定点におけるチルト量θとして決定する。
【００７８】
また、ウォブル信号の振幅を測定した場合には、（傾き量φ１、信号振幅Ａ１）、（傾き量φ２、信号振幅Ａ２）、及び（傾き量φ２、信号振幅Ａ２）なる３点が、図６に示した特性曲線Ｃ１上に位置する筈の３点の座標として得られる。或いは、トラッキングエラー（ＴＥ）信号の振幅を測定した場合には、（傾き量φ１、信号振幅Ａ１）、（傾き量φ２、信号振幅Ａ２）、及び（傾き量φ２、信号振幅Ａ２）なる３点が、図６に示した特性曲線Ｃ２上に位置する筈の３点の座標として得られる。いずれの場合にも、上述したＲＦ信号の場合と同様に、補間又は近似により特性曲線Ｃ０又はＣ１が求まり、頂点（即ち、極大値又は最大値）を与える傾き量φを、そのチルト測定点におけるチルト量θとして決定する。
【００７９】
更に、ＲＦ信号の振幅ピークを与えるチルト量と、トラッキングエラー信号の振幅ピークを与えるチルト量との差を、予めマイコン１４０における演算処理にて「信号間オフセット」として求めておけば、トラッキングエラー信号の振幅を用いて決定されたチルト量に対して該信号間オフセットの値を適用することで、ＲＦ信号の振幅を用いて決定されるチルト量と同等の値を求めることも可能である。同様にして、ＲＦ信号の振幅ピークを与えるチルト量と、ウォブル信号の振幅ピークを与えるチルト量との差を、予めマイコン１４０における演算処理にて「信号間オフセット」として求めておけば、ウォブル信号の振幅を用いて決定されたチルト量に対して該信号間オフセットの値を適用することで、ＲＦ信号の振幅を用いて決定されるチルト量と同等の値を求めることも可能である。このような「信号間オフセット」についても、例えば、補正値格納用メモリ１４１に予め格納しておいてもよい。
【００８０】
尚、以上説明した例では、径方向位置が固定された一つのチルト測定点における、レーザ光ＬＢの照射方向或いは傾き量を、３回変えてＲＦ信号、ウォブル信号又はトラッキングエラー信号の振幅を検出している。即ち、図６に示した特性曲線Ｃ０、Ｃ１又はＣ２を、３点による近似により求める等としているが、４回変えてＲＦ信号、ウォブル信号又はトラッキングエラー信号の振幅を検出し、即ち、図６に示した特性曲線Ｃ０、Ｃ１又はＣ２を、４点以上による近似により求める等としてもよい。更に、一つのチルト測定点において、多数のＲＦ信号、ウォブル信号又はトラッキングエラー信号を検出して、それらのうち最も振幅の大きいＲＦ信号、ウォブル信号又はトラッキングエラー信号に対応する傾き量をチルト量であると擬制することも可能である。
【００８１】
加えて、光ピックアップ１０２内の光学系の設定にもよるが、液晶補正素子等のチルト補正部１１１により補正量＝０とした場合には、レーザ光ＬＢの照射角度は、特性曲線Ｃ０〜Ｃ１の頂点の付近における傾き量となる場合が多い。従って、チルト補正部１１１により補正量＝０として、チルト量の測定を行い、これから両側に例えばコンマ数度程度変化させることで、特性図上における上述の如き３点を得るようにすれば、特性曲線Ｃ０〜Ｃ１を比較的迅速且つ容易に近似できるので実践上便利である。仮に、チルト補正部１１１により補正量＝０とした場合に、レーザ光ＬＢの照射角度は、特性曲線Ｃ０〜Ｃ１の頂点の付近における傾き量とならない、即ち、遠く離れてしまうような場合には、これから大きく傾きを変化させることで、特性図上における上述の如き３点を得るようにすれば、特性曲線Ｃ０〜Ｃ１を近似できる。
【００８２】
以上のように図３に例示したＬ０層についての第１のチルト測定点Ｐ１で、上述の如き３つの照射角度による信号振幅測定が行われ、Ｌ０層についての第１のチルト測定点Ｐ１におけるチルト量θ１が求められる。同様に、Ｌ０層についての第２のチルト測定点Ｐ２で、上述の如き３つの照射角度での信号振幅測定が行われ、そのチルト量θ２が求められる。同様に、Ｌ０層についての第３及び第４のチルト測定点Ｐ３及びＰ４で夫々、上述の如き３つの照射角度での信号振幅測定が行われ、それらのチルト量θ３及びθ４が夫々求められる。Ｌ０層についてのこれら４つのチルト測定点Ｐ１〜Ｐ４におけるチルト量θ１〜θ４によって、光ディスク２００の全径方向位置におけるＬ０層についてのチルト量の分布が近似又は補間により求められる。即ち、Ｌ０層のディスクプロファイル測定が可能とされる。
【００８３】
但し、チルト測定点についても、精度が低くて許容される場合には、３つ又は２つでもよいし、より高精度が要求される場合には、５つ以上であってもよい。
【００８４】
同様に、Ｌ１層についても、例えば４つのチルト測定点で夫々、上述の如き３つの照射角度による信号振幅測定が行われ、Ｌ１層についての４つのチルト測定点夫々におけるチルト量が求められる。これにより、Ｌ１層のディスクプロファイル測定も可能とされる。
【００８５】
ここで特に、本願発明者らの知見によれば、Ｌ０層とＬ１とでは、ディスクプロファイルが一般には相互に異なる。この点について図５及び図６を参照して説明する。図５及び図６は夫々、二つの具体的な２層ディスクについて、図３に示した４つのチルト測定点と同じ径方向位置にある４つの測定点（Ｐｏｉｎｔ１〜Ｐｏｉｎｔ４）におけるチルト量（図４を参照して説明したチルト決定方法により夫々決定されたチルト量）を示す特定図である。
【００８６】
図５及び図６から分かるように、図３に示した如きＬ０層におけるチルト量の光ディスク２００の径方向についての分布（即ち、Ｌ０層のディスクプロファイル）と、Ｌ１層におけるチルト量の光ディスク２００の径方向についての分布（即ち、Ｌ１層のディスクプロファイル）とは、同一でない。言い換えれば、Ｌ０層とＬ１層との層間距離は、ディスク面内で均一或いは一定ではない。即ち、同一の光ディスク２００であるという理由で複数の記録層のディスクプロファイルが相互に同じであると仮定して、実際の記録時又は再生時にチルト補正を行ったのでは、チルト検出の直接の対象となった記録層の方に対しては、チルト補正を適切に実施できるが、他の記録層に対しては、チルト補正を適切に実施できるとは限らないのである。このため、本実施例は、チルト検出の際に、Ｌ０層についてのディスクプロファイル測定を行いつつ、Ｌ１層についてのディスクプロファイル測定も行うように構成されている。しかも、以下に詳述するように、全体として効率良く且つ迅速にこれらを行うように構成されている。
【００８７】
次に、図７から図１１を参照して、チルト検出装置１０５により、Ｌ０層及びＬ１層の複数の測定点におけるチルト量を効率良く順次測定する、本実施例の動作について説明する。ここに図７は、チルト検出装置１０５によって光ディスク２００のチルト量を測定する動作を示すフローチャートである。図８は、本実施例における測定手順を、光ディスクの径方向に延びる断面に対応付けて示す光ディスクの図式的な断面図であり、図９は、これと同趣旨の比較例における図面である。また、図１０は、本実施例における測定手順を、光ディスクの径方向に延びる断面に対応付けて且つ測定時間に対応付けて示す特性図であり、図１１は、これと同趣旨の比較例における図面である。
【００８８】
図７において、先ず、ディスクプロファイル測定に適した複数の測定点（図３参照）の、Ｌ０層のアドレス及びＬ１層のアドレスを夫々求め、マイコン１４０により設定された変数ａｄｒｓ［ｐｏｉｎｔ］［ｌａｙｅｒ］に代入する（ステップＳ１１）。この場合、変数ｐｏｉｎｔ＝０、１、２又は３が夫々、図８及び図１０における、測定点丸１、丸２、丸３又は丸４を、この順に示す。また、変数ｌａｙｅｒ＝０又は１が夫々、Ｌ０層又はＬ１層を、この順に示す。このように、各測定点に係る径方向位置を、アドレスに変換することで、径方向駆動装置１５０（図２参照）によって各測定点へ径方向移動することを、アドレスサーチにより迅速に且つ高精度で行える。
【００８９】
尚、光ディスク２００は、Ｌ０層及びＬ１層のアドレスが、いずれも内周側から外周側に向かって振られた「パラレル方式」の光ディスクでもよい。或いは、Ｌ０層のアドレスが内周側から外周側に向かって振られると共に、Ｌ１層のアドレスが逆に、外周側から内周側に向かって振られた「オポジット方式」の光ディスクでもよい。いずれの場合にも、Ｌ０層及びＬ１層の双方に、アドレスサーチによって迅速に移動できる。
【００９０】
次に、本実施例では、測定はＬ０層の測定点丸１から実行されるものとして、変数ｐｏｉｎｔ＝０且つ変数ｌａｙｅｒ＝０が、初期値として代入され（ステップＳ１２）、変数ａｄｒｓ［ｐｏｉｎｔ］［ｌａｙｅｒ］により示されるアドレスへのサーチがＬ０層において行われる。即ち、フォーカス駆動装置１０８（図２参照）によって、Ｌ０層へフォーカシング或いはフォーカスジャンプが実施される。これと相前後して、径方向駆動装置１５０（図２参照）によって、測定点丸１への径方向移動或いはトラックジャンプが実施される（ステップＳ１３）。
【００９１】
次に、このようにレーザ光ＬＢの集光位置が、Ｌ０層であり且つ測定点丸１に維持されつつ、図４を参照して説明した、ＲＦ信号、ウォブル信号又はトラッキングエラー信号の振幅の測定が行われ、この測定点におけるチルト量が決定される（ステップＳ１４）。その結果たるチルト量が、Ｌ０層且つ測定点丸１に対応付けられて、プロファイルデータ管理用メモリに保存される。本実施例では、このメモリは、図１に示した補正値格納用メモリ１４１内の一領域として論理的に構築されている。或いは、他のメモリとしてマイコン１４０内又はマイコン１４０外に構築されてもよい（ステップＳ１５）。
【００９２】
次に、以上のステップＳ１３からＳ１５において、Ｌ０層についての測定が行われたか否かが判定される（ステップＳ１６）。ここで、Ｌ０層についての測定が行われたのであれば（ステップＳ１６：Ｌ０）、Ｌ１層における測定が次に行われるものとして、変数ｌａｙｅｒ＝１と代入され（ステップＳ１７）、ステップＳ１３の処理に戻る。この場合、径方向駆動装置１５０（図２参照）によって径方向位置は測定点丸１に固定されたまま、フォーカス駆動装置１０８（図２参照）によって、Ｌ０層からＬ１層へのフォーカスジャンプが実施される（ステップＳ１３）。その後、Ｌ１層の測定点丸１のチルト量が決定され（ステップＳ１４）、Ｌ１層且つ測定点丸１に対応付けられて、プロファイルデータ管理用メモリに保存される（ステップＳ１５）。
【００９３】
他方、ステップＳ１６の判定において、Ｌ０層についての測定が行われたのでなければ（ステップＳ１６：その他）、Ｌ０層における測定が次に行われるものとして、変数ｌａｙｅｒ＝０と代入され（ステップＳ１８）、測定点が測定点丸４でないかが判定される。即ち、変数ｐｏｉｎｔが３以下であるか、又は４に等しいかが判定される（ステップＳ１９）。この判定で、変数ｐｏｉｎｔが３以下であれば（ステップＳ１９：≦３）、変数ｐｏｉｎｔがインクリメントされ、ステップＳ１３の処理に戻る。この場合、フォーカス駆動装置１０８及び径方向駆動装置１５０（図２参照）によって、Ｌ０層の測定点丸２に移動される（ステップＳ１３）。その後、Ｌ０層の測定点丸２のチルト量が決定され（ステップＳ１４）、Ｌ０層且つ測定点丸２に対応付けられて、プロファイルデータ管理用メモリに保存される（ステップＳ１５）。
【００９４】
以上の如き、ステップＳ１３からＳ１９の処理が、Ｌ０層及びＬ１層についての測定点丸１〜丸４について実行され、最終的に、変数ｐｏｉｎｔが４に等しければ（ステップＳ１９：＝４）、全ての測定点についての測定が完了したものとして一連のプロファイル測定を終了する。
【００９５】
以上の結果、本実施例によれば、Ｌ０層及びＬ１層のプロファイル測定のために、測定手順は、図８及び図１０に示した通りとなる。図８及び図１０では、夫々、レーザ光ＬＢの集光位置が移動する様子が、矢印で示されている。
【００９６】
図９及び図１１に示した比較例では、レーザ光ＬＢをＬ０層に集光させることでＬ０層についてのディスクプロファイル測定を行い、更に、Ｌ１層に集光させることで、Ｌ１層についてのディスクプロファイル測定を行うように構成されている。この場合、Ｌ０層について測定点丸１〜丸４における測定を先ず行い、その後、Ｌ１層について測定点丸１〜丸４における測定を行うことになる。図９及び図１１では、夫々、レーザ光ＬＢの集光位置が移動する様子が、矢印で示されている。
【００９７】
図８及び図１０に示した本実施例における測定手順と、図９及び図１１に示した比較例における測定手順とを比較すると、本実施例の方が、各測定点でＬ０層及びＬ１層の両層のチルト量を取得する分だけ、各測定点における測定時間は長くなる。しかしながら、全体としては、本実施例の方が、各測定点でフォーカスジャンプを行うことで、径方向の移動量及び径方向の移動回数が顕著に低減されており、比較例と比較して、Ｌ０層及びＬ１層の各々についてチルト量を、顕著に効率良く且つ顕著に短時間で検出できることが分かる。そして、本実施例によれば、このように検出されたチルト量を、Ｌ０層とＬ１層の別にまとめれば、Ｌ０層及びＬ１層の各々についてのディスクプロファイル測定を、結果として適確に且つ迅速に実行できることになる。
（第２実施例）
次に図１２及び図１３を参照して、本発明の第２実施例に係る情報記録再生装置について説明する。ここに、図１２は、本実施例において、記録時又は再生時におけるフォーカスジャンプを行った際のチルト補正動作を示すフローチャートである。図１３は、本実施例でフォーカスジャンプを行った際に参照する、測定結果管理テーブルを概念的に示す。第２実施例の構成及び動作は、上述した第１実施例の場合とほぼ同様であり、第２実施例では特に、図７を参照して説明した測定により取得された測定結果或いはディスクプロファイルを、図１３に示した測定結果管理テーブルとして保持しておき、これを、フォーカスジャンプ後に参照して、チルト補正を迅速且つ適確に行うように構成されている。以下では、第１実施例と異なる、これらの点について説明する。
【００９８】
図１２において、先ず、記録データの記録時又は再生時において、フォーカスジャンプが行われると、Ｌ０層及びＬ１層のうち、どちらの層へジャンプしたかが判定される（ステップＳ１）。ここで、Ｌ０層へのフォーカスジャンプだった場合（ステップＳ１：Ｌ０）、マイコン１４０が備えるチルト情報管理用ポインタが、図１３の上段側に示した測定結果管理テーブル（Ｌ０用）を示す値に変更される（ステップＳ２２）。
【００９９】
他方、ステップＳ２１の判定において、Ｌ１層へのフォーカスジャンプだった場合（ステップＳ１：Ｌ１）、マイコン１４０が備えるチルト情報管理用ポインタが、図１３の下段側に示した測定結果管理テーブル（Ｌ１用）を示す値に変更される（ステップＳ２４）。
【０１００】
ここで図１３に示した測定結果管理テーブルは、図７に示したディスクプロファイル測定により得られた結果を、Ｌ０層及びＬ１層の層別に集計し、更に測定点別に格納するテーブルである。このようなテーブルは、例えば、図１に示した補正値格納用メモリ１４１内の一領域として論理的に構築されている。或いは、他のメモリとしてマイコン１４０内又はマイコン１４０外に構築されてもよい。
【０１０１】
次に、測定結果管理用ポインタが変更されることで、チルト量が変化していたら（通常は、Ｌ０層とＬ１層とではチルト量は一定ではないので、変化する）、測定結果管理テーブル（Ｌ０用又はＬ１用）を参照して、適切なチルト補正量となるようにチルト補正部１１１を駆動させる（ステップＳ２３）。以上により、フォーカスジャンプ後における、チルト量の変更が行われる。
【０１０２】
このように第２実施例によれば、図１３に示した如き、層別の２つに分けられた測定結果管理テーブルを有しており、更に、これらの測定結果管理テーブルをポイントするポインタを用意しておき、フォーカスジャンプの際には、このポインタからテーブル内のチルト量（又はこれに対応するチルト補正値）を参照する。そして特に、フォーカスジャンプ（層間ジャンプ）の都度に、このポインタの参照先をジャンプ先の層用の測定結果管理テーブルを示すものへ変更する。このため、ソフトウエア上では、非常に綺麗に二つの記録層たるＬ０層及びＬ１層のチルト量或いはディスクファイルにかかる情報を参照できるので、実用上大変有利である。
（第３実施例）
次に図１４を参照して、本発明の第３実施例に係る情報記録再生装置について説明する。ここに、図１４（ａ）は、本実施例におけるディスクプロファイル測定時における測定手順を、光ディスクの径方向に延びる断面に対応付けて示す光ディスクの図式的な断面図である。図１４（ｂ）は、本実施例の変形例における、ディスクプロファイル測定時における測定手順を、光ディスクの径方向に延びる断面に対応付けて示す光ディスクの図式的な断面図である。
【０１０３】
第３実施例の構成及び動作は、上述した第１実施例の場合とほぼ同様であり、第３実施例では特に、光ディスク２００として、２層ディスクに代えて３層ディスクを記録又は再生するように構成されている。以下では、第１実施例と異なる、この点について説明する。
【０１０４】
図１４（ａ）に示すように、第３実施例では、第１の測定点Ｐ１でフォーカス駆動装置によって層間ジャンプを２回行いつつ、Ｌ０層、Ｌ１層及びＬ２層についてのチルト検出をこの順で行う。これが完了した後に、レーザ光ＬＢの集光位置を、図中太線矢印Ａｒで示したように径方向駆動装置によってＬ２層上で第２の測定点Ｐ２に移動させる。その後、層間ジャンプを２回行いつつ、Ｌ２層、Ｌ１層及びＬ０層についてのチルト検出をこの順に行う。更にこれが完了した後に、レーザ光ＬＢの集光位置を、図中太線矢印Ａｒで示したようにＬ０層上で第３の測定点Ｐ３に移動させる。その後、層間ジャンプを２回行いつつ、Ｌ０層、Ｌ１層及びＬ２層についてのチルト検出をこの順に行う。更にこれが完了した後に、レーザ光ＬＢの集光位置を、図中太線矢印Ａｒで示したようにＬ２層上で第４の測定点Ｐ４に移動させる。その後、層間ジャンプを２回行いつつ、Ｌ２層、Ｌ１層及びＬ０層についてのチルト検出をこの順に行う。尚、図１４（ａ）では、レーザ光ＬＢの集光位置の一連の動きが、太線矢印Ａｒを含む矢印によって示されている。
【０１０５】
従って、第３実施例によれば、３層ディスクであっても、第１実施例の場合と同様に、各測定点で層間ジャンプを行うことで、径方向の移動量及び径方向の移動回数を顕著に低減でき、全体として、Ｌ０層、Ｌ１層、及びＬ２層の各々についてのディスクプロファイル測定を、適確に且つ迅速に実行できることになる。
【０１０６】
図１４（ｂ）に第３実施例の変形例として示すように、一つの測定点でＬ０層、Ｌ１層及びＬ２層についてのチルト検出を完了した後、最後のチルト検出に係る記録層以外の記録層へ一旦層間ジャンプした後に、次の測定点への径方向移動が行われるように構成してもよい。或いは、一つの測定点における、Ｌ０層、Ｌ１層及びＬ２層についてのチルト検出の順番についても、図中、上から下への一方向又は下から上への一方向である必要は無く、同一の測定点で層間ジャンプを任意に行って任意の測定順序で３つの層についてのチルト検出を行ってもよい。いずれの順番で測定を行っても、最終的には、層別及び測定点別に集計することで、各層についてのディスクプロファイルを取得することが可能となる。しかも、同一の測定点でＬ０層、Ｌ１層及びＬ２層全てについてのチルト量の検出を行った後に径方向に移動することによって、従来の技術や図９及び図１１に示した比較例の場合と比較して、径方向の移動の回数や距離を大なり小なり減らせるので、総合的に見たチュルト量の検出やディスクプロファイル測定に係る時間を短縮する効果が相応に得られる。
【０１０７】
また、本発明は、請求の範囲及び明細書全体から読み取るこのできる発明の要旨又は思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴うチルト検出装置及び方法、チルト補正装置及び方法、情報記録装置及び方法、情報記録再生装置及び方法等もまた本発明の技術思想に含まれる。
【図面の簡単な説明】
【０１０８】
【図１】本発明の第１実施例に係る情報記録再生装置の全体を示すブロック図である。
【図２】第１実施例の情報記録再生装置が備えた光ピックアップに関する詳細構成を示すブロック図である。
【図３】第１実施例の光ディスクに係る、その中心軸に平行な面で切断した場合の部分的な断面図である。
【図４】第１実施例において、レーザ光の照射方向の傾き量に対する信号振幅の変化を、ＲＦ信号、ウォブル信号及びトラッキングエラー（ＴＦ）信号の夫々について夫々、特性曲線として示した特性図である。
【図５】第１実施例で、一の具体的な２層ディスクについて、図３に示した４つのチルト測定点と同じ径方向位置にある４つの測定点におけるチルト量を示す特定図である。
【図６】第１実施例で、他の具体的な２層ディスクについて、図３に示した４つのチルト測定点と同じ径方向位置にある４つの測定点におけるチルト量を示す特定図である。
【図７】第１実施例に係るチルト検出装置によって光ディスクのチルト量を測定する動作を示すフローチャートである。
【図８】第１実施例における測定手順を、光ディスクの径方向に延びる断面に対応付けて示す光ディスクの図式的な断面図である。
【図９】図８と同趣旨の比較例における図面である。
【図１０】第１実施例における測定手順を、光ディスクの径方向に延びる断面に対応付けて且つ測定時間に対応付けて示す特性図である。
【図１１】図１０と同趣旨の比較例における図面である。
【図１２】第２実施例において、記録時又は再生時におけるフォーカスジャンプを行った際のチルト補正動作を示すフローチャートである。
【図１３】第２実施例でフォーカスジャンプを行った際に参照する、測定結果管理テーブルを概念的に示す概念図である。
【図１４】第３実施例におけるディスクプロファイル測定時における測定手順を、光ディスクの径方向に延びる断面に対応付けて示す光ディスクの図式的断面図（図１４（ａ））と、これと同趣旨の変形例における図式的断面図である。
【符号の説明】
【０１０９】
１００…情報記録再生装置
１０２…光ピックアップ
１０５…チルト検出装置
１１０…チルト補正装置
１１１…チルト補正部
１１６…チルト補正用ドライバ
１２２…ウォブル信号生成部
１２３…ボトムホールド回路
１２４…ピークホールド回路
１４０…マイコン
２００…光ディスク
【図１】
2006018884.tif 000003
【図２】
2006018884.tif 000004
【図３】
2006018884.tif 000005
【図４】
2006018884.tif 000006
【図５】
2006018884.tif 000007
【図６】
2006018884.tif 000008
【図７】
2006018884.tif 000009
【図８】
2006018884.tif 000010
【図９】
2006018884.tif 000011
【図１０】
2006018884.tif 000012
【図１１】
2006018884.tif 000013
【図１２】
2006018884.tif 000014
【図１３】
2006018884.tif 000015
【図１４】
2006018884.tif 000016