(57)【要約】【課題】Ｘ線視野、光学視野及び主要レセプターに関する偏差を決定するためのシステム、方法及び装置を提供する。【解決手段】幾つかの実施形態において、Ｘ線源［１０２］の投影視野内に電子式センサ［１０８］が位置決めされかつこの電子式センサによって可視光視野［１０４］とＸ線視野［１０６］の間の偏差が計測されているシステム、方法及び装置を提供する。幾つかの実施形態では、その偏差はＸ線レセプターとＸ線源の間の電子式センサの位置を基準としてスケール調整される。【選択図】図１
2006158965.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の波長の電磁波エネルギーを検出するための装置［２００］であって、
複数の放射線不透過性のマーキングを有する定規［２０２］と、
前記定規［２０２］に装着した可視光電磁波エネルギー・センサ［２１０］と、
前記定規［２０２］に装着したＸ線電磁波エネルギー・センサ［２１２］と、
を備える検出装置。
【請求項２】
前記可視光電磁波エネルギー・センサはさらに、可視光電磁波エネルギーの光導電性センサ［４０２］を備えており、かつ
前記Ｘ線電磁波エネルギー・センサ［２１２］はさらに、シンチレーション材料層をさらに備えたＸ線電磁波エネルギーの光導電性センサ［７０２］を備えている、請求項１に記載の装置。
【請求項３】
複数のセンサであって、
Ｘ線電磁波エネルギーの複数の電子センサ［２１２］と、
可視光電磁波エネルギーの複数の電子センサ［２１０］と、
からなる複数のセンサと、
前記Ｘ線電磁波エネルギーの電子センサによって検知されたＸ線電磁波エネルギーの複数のエッジの位置を表示するように動作可能なディスプレイ［１３１８、１３２０、１３２２、１３２４］と、
前記可視光電磁波エネルギーのセンサによって検知された可視光電磁波エネルギーの複数のエッジの位置を表示するように動作可能なディスプレイ［１３１０、１３１２、１３１４、１３１６］と、
を備える整列試験ツール［１３００］。
【請求項４】
前記センサの各々はさらに、他のいずれの電磁波エネルギー・センサからの離間も１ミリメートルを超えないように配置されたフォトダイオード光導電性アレイセンサ［５０２、８０２］を備えている、請求項３に記載の整列試験ツール。
【請求項５】
整列試験ツール・センサユニット［１４００］であって、
可視光電磁波エネルギー及びＸ線電磁波エネルギーに対して透明なウィンドウ［１４０２］と、
該整列試験ツール・センサユニットの内部で前記ウィンドウの先側に装着した可視光電磁波エネルギー視野のセンサ［２１０］と、
該整列試験ツール・センサユニットの内部で前記ウィンドウの先側に装着したＸ線電磁波エネルギー視野のセンサ［２１２］と、
前記可視光電磁波エネルギー・センサ［２１０］と動作可能に結合された制御装置［１４０８］であって、該制御装置［１４０８］は該可視光電磁波エネルギー・センサ［２１０］から第１の電気信号を受け取るように動作可能であり、該第１の信号は該可視光電磁波エネルギーの範囲を指示しており、該制御装置［１４０８］はさらに前記Ｘ線電磁波エネルギー・センサ［２１２］と動作可能に結合されており、該制御装置［１４０８］は該Ｘ線電磁波エネルギー・センサ［２１２］から第２の電気信号を受け取るように動作可能であり、該第２の信号は該Ｘ線電磁波エネルギーの範囲を指示しており、該制御装置［１４０８］はさらに各視野のエッジがこれらセンサの各々の上に投影される箇所を決定するように動作可能であり、かつ該制御装置［１４０８］はさらにそのエッジが投影するすなわち当たる箇所を記述した情報を送信するように動作可能である制御装置［１４０８］と、
を備える整列試験ツール・センサユニット［１４００］。
【請求項６】
前記画像レセプター整列試験ツールはさらに、主要レセプター面に合わせた計測値のスケール調整を容易にさせるセンサ面を指示しており、該整列試験ツール・センサユニット［１４００］に対してその辺の周りを取り囲ませるための基準マークライン［１４０４、１４０６］を備えている、請求項５に記載の整列試験ツール・センサユニット［１４００］。
【請求項７】
Ｘ線電磁波エネルギー及び可視光電磁波エネルギーの範囲を指示している第１の電気信号を受け取るように動作可能なコンピュータ・インタフェース［１５０２］と、
前記コンピュータ・インタフェース［１５０２］から前記第１の電気信号を受け取り、前記Ｘ線及び可視光電磁波エネルギー視野の位置、偏差及び整列を記述している第２の信号を送信するように動作可能な制御装置［１５０４］と、
前記第２の電気信号を表示するように動作可能な読み出しディスプレイ［１５０６］と、
を備える整列試験ツール読み出しユニット［１５００］。
【請求項８】
前記制御装置［１５０４］と動作可能に結合されており、準備完了状態及び読み取り状態を含む一群の状態のうちから１つの状態を選択するように動作可能な読み出し選択器ボタン［１５１２］をさらに備える請求項７に記載の整列試験ツール読み出しユニット。
【請求項９】
Ｘ線医用イメージング・デバイスの可視光視野にＸ線視野を整列させる方法［１６００］であって、
線源と主要レセプターの間に整列試験ツールを配置させる工程［１６０２］であって、該線源はＸ線視野に対する線源と可視光視野に対する線源であり、かつ該整列試験ツールはＸ線視野及び可視光視野のセンサを備えている配置工程と、
前記整列試験ツールに対してパワーを加える工程［１６０４］と、
前記線源にＸ線視野及び可視光視野を投影させる工程［１６０６］と、
前記整列試験ツールから前記Ｘ線視野と可視光視野の少なくとも１つの偏差を読み取る工程［１６０８］と、
前記Ｘ線視野と可視光視野が整列するように前記少なくとも１つの偏差を基準として前記線源を調整する工程［１６１０］と、
を含む方法。
【請求項１０】
前記偏差が所定の許容差未満になるまで反復されている請求項９に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、全般的にはある電磁波視野（electromagnetic field）の別の電磁波視野との整列の決定、並びにある電磁波視野の主要レセプターとの整列の決定に関し、さらに詳細には、Ｘ線視野の可視光視野との整列の決定、並びにＸ線視野の主要レセプターとの整列の決定に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線イメージング・システムでは、Ｘ線視野が被検体を透過してレセプター上に投影されており、このレセプターは化学的コーティングを受けたＸ線感受性フィルムまたは電子式レセプターのいずれかである。近年では、電子式レセプターの使用が増大する傾向がある。
【０００３】
Ｘ線視野に対する不必要な患者被曝を生じさせる可能性があるようなレセプターの外周部の外側にＸ線視野を投影させることなくレセプター全体の上にそのＸ線視野を投影させることによって画像の観察視野を最大化するために、Ｘ線視野の外側境界はレセプターの外周部と概ね整列していなければならない。
【０００４】
しかしＸ線視野は人間の肉眼では視認できないため、Ｘ線視野をレセプターと整列させることは困難である。したがって、従来のＸ線イメージング・システムでは、Ｘ線視野と整列させた可視光の視野を投影している。この可視光視野は、Ｘ線視野を投影する前にＸ線投影機、被検体及びレセプターを位置決めするＸ線技師に対してＸ線視野の箇所に関する代用の役割をする。この光学視野は本来、Ｘ線視野の位置及び外郭線の模倣となっている。この可視光視野は、Ｘ線撮像の間にＸ線視野がレセプター内に投影されるのを確認するために、Ｘ線視野の投影前にレセプター上に投影される。可視光視野はまた、ローカライズ用投光（ｌｏｃａｌｉｚｉｎｇ  ｌｉｇｈｔ）とも呼ばれている。
【０００５】
Ｘ線視野をレセプターと整列させることの重要性は広く認識されている。しかしながら、Ｘ線視野が可視光視野と整列していない、すなわち一致していないと、可視光視野をレセプターと整列させてもＸ線視野がレセプターと整列しなくなる。実際に、光学視野がＸ線視野とある範囲で整列不良になっており、かつその可視光視野がレセプターと整列している場合は、結果的にそのＸ線視野はレセプターに対してその範囲で整列不良となる。
【０００６】
したがって、可視光視野とＸ線視野の整列すなわち一致は、可視光視野とＸ線とが所定の許容差以内で整列するまで試験し再整列させなければならない。整列を試験する従来の一技法では、主要画像レセプターの視野を超える観察視野を有する補助的フィルム画像レセプターを用いてそのＸ線視野を境界画定している。最もよく用いられる補助的画像レセプターは、Ｘ線感受性フィルム、あるいはＸ線感受性でありかつフィルムを露光するための光を放出するシンチレータを備えたカセッテ内に置かれたフィルムである。この２つの画像レセプター上で同じ物体を同時に撮像することによって、補助的画像レセプターで実施したＸ線視野サイズの計測を主要画像レセプターと対照させることができ、さらに整列の度合いが決定される。
【０００７】
補助的フィルム画像レセプターを用いて可視光視野とＸ線視野を整列させる過程には、補助的フィルム画像レセプターを除去すること、フィルムを現像すること、並びに現像済みフィルム上で可視光視野とＸ線視野の間の偏差を計測すること、のための時間が含まれる。この時間によって、高価なイメージング・システムが使用できない時間が長くなり、一方これによりイメージング・システムの動作コストが増大する。さらに、この偏差の計測は若干不便である。
【０００８】
さらに、こうした補助的フィルム画像レセプターの利用はＸ線イメージング装置がフィルムベースの画像レセプターからディジタル画像表示に置き換わり、これによりフィルム、フィルム・カセッテ及びフィルム処理装置の利用可能度が低下するに連れて、益々困難になりつつある。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
上に述べた理由、並びに本明細書を読みかつ理解すると当業者に明らかとなるような以下に述べる別の理由により、当技術分野には、Ｘ線イメージング・システムにおいて可視光視野とＸ線視野を整列させる際の時間を短縮することによってＸ線イメージング・システムの動作コストを低減させる必要性が存在している。さらに当技術分野には、Ｘ線イメージング・システムにおいて可視光視野とＸ線視野を整列させる際にフィルムを不要とさせる必要性が存在している。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本明細書は上述の短所、欠点及び問題に対処するものであり、以下を読みかつ検討することにより理解されよう。
【００１１】
フィルムレス画像レセプターとディジタル式電子画像ディスプレイを組み込んだＸ線イメージング装置が多くなるに連れて、フィルム、フィルム・カセッテ及びフィルム処理装置の利用可能度が低下している。現在のイメージング・センターの多くは、すべてのイメージング様式に対して全体的にフィルムレスとすることを目指している。
【００１２】
したがって、整列試験ツールは、第１の電磁波視野と第２の電磁波視野について少なくとも１つのエッジを位置特定するための少なくとも１つの半導体検出器を備えている。このツール内部にある電子ロジックは、第１の電磁波視野及び第２の電磁波視野のエッジの箇所、並びにこれら２者間の変位または偏差を計算してユーザに対して表示する。整列試験ツールによる規定に従って第２の電磁波視野のエッジに対する画像レセプターのエッジの整列決定を容易にするために、この整列試験ツールの基準点が、主要画像レセプターが収集した画像となるように投影される。
【００１３】
幾つかの実施形態では、その半導体検出器はより一般的には、光感受性センサ、あるいは別のタイプのセンサである。
【００１４】
この整列試験ツールは、フィルム、フィルム・カセッテ、あるいは整列計測を実施するためのフィルム処理に依存しない。ディジタル式やフィルムレス式が益々増加しつつある放射線科ではしたがって、品質管理及び受け入れ試験のためのフィルムの使用を不要にすることが重要な課題となっている。このことは、最新の施設を備えることを求めるが、引き続きフィルムへのアクセス及び品質管理手続きの実行のために処理を維持しなければならないことが分かっている放射線医学施設においても課題となっている。
【００１５】
視野の位置及びその偏差に対する直接読み出しを提供することによれば、オペレータが計測値を得るために実行する必要がある判定及び計算のうちの幾つかを不要にすることができる。これによってオペレータの生産性が増大する。
【００１６】
一態様では、装置は、投影視野の各エッジ間の角度が直角である投影視野の各辺ごとに各１つとした４つの整列試験ツールを含む。
【００１７】
別の態様では、４つの整列試験ツールを有する装置はさらに、該４つの整列試験ツールからの電磁波視野を指示する信号を受け取るように動作可能であり、かつ電子インタフェースを介してエッジの箇所を記述した情報を送信するように動作可能である制御装置を含む。
【００１８】
さらに別の態様では、４つの整列試験ツールを有する装置はさらに、該４つの整列試験ツールからの電磁波視野を指示する信号を受け取るように動作可能であり、かつ電子インタフェースを介してエッジの箇所を記述した情報をディスプレイによって表示させるように動作可能な制御装置を含む。
【００１９】
また別の態様では、装置は、電子インタフェースを介してエッジの箇所を記述した情報を受け取るように動作可能な電子インタフェースを含んでおり、また制御装置は、電子インタフェースを介してこれらエッジの箇所を記述した情報をディスプレイによって表示させるように動作可能である。
【００２０】
本明細書では、様々な趣旨による装置、システム及び方法について記載している。この課題の解決手段に記載した態様及び利点以外に、添付の図面を参照しかつ以下の詳細な説明を読むことによって別の態様及び利点も明らかとなろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下の詳細な説明では、本明細書の一部を形成すると共に、実施可能な特定の実施形態を一例として図示している添付の図面を参照することにする。これらの実施形態は、当業者が実施形態を実現できるように十分に詳細に記載しており、さらにこれら実施形態の趣旨を逸脱することなく、別の実施形態が利用されることがあること、並びに論理的、機械的、電気的その他の変更が実施されることがあること、を理解すべきである。以下の詳細な説明はしたがって、限定の意図と取るべきではない。
【００２２】
この詳細な説明は５つのセクションに分かれている。第１セクションでは、システムレベルの概要について記載する。第２セクションでは、実施形態の装置について記載する。第３セクションでは、実現形態の方法について記載する。第４セクションでは、実施形態を実現する際に組み合わせるハードウェア及び動作環境について記載する。最後に、第５セクションでは、この詳細な説明の結論を提示する。
［システムレベルの概要］
図１は、複数の波長の電磁波エネルギーを検出するための装置に関するシステムレベルの概要を提供したブロック図である。装置１００によれば、可視光視野とＸ線視野の整列においてフィルムを使用する必要がなくなると共に、Ｘ線イメージング・システムにおいてこれらの視野を整列させる速度が増大する。
【００２３】
システム１００は、２つの電磁波視野１０４及び１０６に関する１つまたは複数の線源１０２を含む。電磁波視野１０４及び１０６は、線源１０２からの発散性ビームである。電磁波視野１０４は電磁波視野１０６と異なる波長を有する。
【００２４】
システム１００はさらに、この２つの電磁波視野１０４及び１０６の位置を電子的速度で検出する電子式（半導体）デバイス１０８を含む。幾つかの実現形態では、これらの位置から電磁波視野１０４と１０６の偏差が決定される。
【００２５】
この電子式検出器１０８は、電磁波視野１０４と１０６に関する位置、またさらには任意の偏差を迅速に検出することを可能にしており、したがって偏差の検出時間が短縮され、したがってＸ線イメージング・システムにおいて電磁波視野１０４と１０６を整列させる時間が短縮され、したがってＸ線イメージング・システムの動作コストを低減させるという当技術分野における要求を解決している。電子式検出器１０８はさらに、Ｘ線イメージング・システムにおいて可視光視野とＸ線視野を整列させる速度を増大させるという当技術分野における要求も解決している。さらに、電子式検出器１０８によって、Ｘ線イメージング・システムにおいて可視光視野とＸ線視野を整列させる際にフィルムの使用を不要にするという当技術分野における要求が解決される。
【００２６】
幾つかの実施形態では、システム１００はさらに、撮像に使用する主要レセプター１１０を含む。様々な実施形態では、その主要レセプター１１０はフィルム式Ｘ線検出器または電子式Ｘ線検出器である。電子式検出器１０８は、主要レセプター１１０と共に使用するために電磁波視野１０４と１０６を整列させる。
【００２７】
詳細な説明のこのセクションでは、一実施形態の動作のシステムレベルの概要について記載している。システム１００は特定の任意の線源（複数のこともある）１０２、電磁波視野１０４及び１０６、電子式検出器１０８、並びに主要レセプター１１０に限定されるものではないが、明瞭にするために簡略化した線源（複数のこともある）１０２、電磁波視野１０４及び１０６、電子式検出器１０８、並びに主要レセプター１１０について記載している。
［一実施形態の装置］
前のセクションでは、一実施形態の動作のシステムレベルの概要について記載した。このセクションでは、こうした実施形態に関する具体的な装置について一連の図面を参照しながら記載することにする。
【００２８】
図２は、複数の波長の電磁波エネルギーに対する２つのセンサを含んだ装置のブロック図である。装置２００によれば、可視光視野とＸ線視野の整列においてフィルムを使用する必要がなくなると共に、Ｘ線イメージング・システムにおいてこれらの視野を整列させる速度が増大する。
【００２９】
装置２００は、放射線不透過性のマーキングを有する定規２０２を含む。放射線不透過性マーキングを有するこの定規２０２は、Ｘ線その他の形態の放射線に対して完全には透明でない。放射線不透過性マーキングを有する定規２０２はさらに、可視光電磁波エネルギー視野のエッジ２０６とＸ線電磁波エネルギー視野のエッジ２０８の間での偏差の決定を支援するために使用する線形マーク２０４を含む。この線形マーク２０４は英式計測系やメートル法など任意の計測系とすることができる。主要レセプターのエッジからのＸ線視野の偏差を決定するために、主要レセプター上で放射線不透過性のマーキングを有する定規２０２が撮像される。
【００３０】
装置２００はさらに、放射線不透過性マーキングを有する定規２０２に対して装着、取り付け、あるいは動作可能に接続した可視光電磁波エネルギー・センサ２１０を含む。可視光電磁波エネルギーが当たるとこのセンサ２１０の性質が変更され、これによって可視光電磁波エネルギー視野が始まる箇所及び終わる箇所であるエッジ２０６を特定することができる。
【００３１】
装置２００はさらに、放射線不透過性の目盛りを有する定規２０２に対して装着したＸ線電磁波エネルギー・センサ２１２を含む。Ｘ線電磁波エネルギーが当たるとこのセンサ２１２の性質が変更され、これによってＸ線電磁波エネルギー視野が始まる箇所及び終わる箇所であるエッジ２０８を特定することができる。センサ２１０及び２１２は確度レベルが高く、またこれによればＸ線電磁波エネルギー視野と可視光視野の整列においてフィルムを使用する必要がない。
【００３２】
放射線不透過性マーキングを有する定規２０２はさらに、Ｘ線センサからの読み値を主要レセプター内の像と相関させるのに役立ち、またセンサ２１０及び２１２の動作長以内で光学視野のエッジを整列させるのに役立つ。
【００３３】
可視光センサ２１０とＸ線エネルギー・センサ２１２の両者が線形マーキング２０４を備えた放射線不透過性マーキングを有する定規２０２に取り付けられることによって、可視光視野のエッジ及びＸ線エネルギー視野のエッジを検出するための手段が提供され、これによってこの２つの視野の偏差を決定することが可能となる。装置２００によってこの２つの視野の偏差を決定した後、Ｘ線視野の線源を整列させることができる。したがって、装置２００によって、Ｘ線イメージング・システムにおいて可視光視野とＸ線視野を整列させる際にフィルムの使用を不要にするという当技術分野における要求が解決される。装置２００は、Ｘ線イメージング・システムにおいて可視光視野とＸ線視野を整列させる速度を増大させるという当技術分野における要求を解決している。
【００３４】
詳細な説明のこのセクションでは、一実施形態の動作に関するシステムレベルの概要について記載してきた。装置２００は、放射線不透過性マーキングを有する定規２０２、線形マーク２０４、可視光視野のエッジ２０６、Ｘ線光学視野のエッジ２０８、並びにセンサ２１０及び２１２について特定のものに限定されるものではないが、明瞭にする目的で簡略化した放射線不透過性マーキングを有する定規２０２、線形マーク２０４、可視光視野のエッジ２０６、Ｘ線光学視野のエッジ２０８、センサ２１０及び２１２について記載した。
【００３５】
図３は、可視光電磁波エネルギーの光抵抗性（ｐｈｏｔｏ−ｒｅｓｉｓｔｉｖｅ）センサを有する一実施形態による装置３００の図である。光抵抗性センサ３０２は、可視光電磁波エネルギーの範囲を示す１つまたは複数の電気信号を発生させるように動作可能なセンサを提供している。可視光電磁波エネルギーの光抵抗性センサ３０２は、この電気信号を解析するための電子デバイス（図示せず）に結合させるように動作可能である。
【００３６】
幾つかの実施形態では、それぞれの電磁波視野のエッジを正確に示せるだけの十分な分解能を提供できるように、これらのセンサ２１０及びセンサ２１２を十分に小さくしている。幾つかの実施形態では、Ｘ線視野と光学視野の間の整列不良の予測上限に対応できるように、これらのセンサ２１０及びセンサ２１２を十分に長くしている。一実施形態では、各センサは、間隔が１ミリメートル以下でありかつ４０ミリメートルの長さをカバーするように位置決めされている。
【００３７】
図４は、可視光電磁波エネルギーの光導電性（ｐｈｏｔｏ−ｃｏｎｄｕｃｔｉｖｅ）アレイセンサを有する一実施形態による装置４００の図である。線形光導電性アレイセンサ４０２は、可視光電磁波エネルギーの範囲を示す１つまたは複数の電気信号を発生させるように動作可能なセンサを提供している。可視光電磁波エネルギーに対するこの線形光導電性アレイセンサ４０２は、この電気信号を解析するための電子デバイス（図示せず）に結合させるように動作可能である。
【００３８】
図５は、可視光電磁波エネルギーのフォトダイオード・アレイセンサを有する一実施形態による装置５００の図である。装置５００は、装置４００においてその可視光電磁波エネルギーの光導電性アレイセンサがフォトダイオード・アレイ５０２であるような一実施形態である。このフォトダイオード・アレイ５０２は、可視光電磁波エネルギーの範囲を示す１つまたは複数の電気信号を発生させるように動作可能なセンサを提供している。可視光電磁波エネルギーのフォトダイオード・アレイセンサ５０２は、この電気信号を解析するための電子デバイス（図示せず）に結合させるように動作可能である。
【００３９】
図６は、Ｘ線電磁波エネルギーの光抵抗性センサを有する一実施形態による装置６００の図である。Ｘ線電磁波エネルギー６０２の光抵抗性センサは、Ｘ線電磁波エネルギーの範囲を示す１つまたは複数の電気信号を発生させるように動作可能なセンサを提供している。Ｘ線電磁波エネルギーの光抵抗性センサ６０２は、この電気信号を解析するための電子デバイス（図示せず）に結合させるように動作可能である。
【００４０】
図７は、シンチレーション材料層を備えたＸ線電磁波エネルギーの光導電性アレイセンサを有する一実施形態による装置７００の図である。
【００４１】
光導電性アレイセンサ７０２は、Ｘ線電磁波エネルギーの範囲を示す１つまたは複数の電気信号を発生させるように動作可能なセンサを提供している。Ｘ線電磁波エネルギーの光導電性アレイセンサ７０２は、この電気信号を解析するための電子デバイス（図示せず）に結合させるように動作可能である。幾つかの実施形態では、Ｘ線視野に対するセンサ感度を高めるために、光導電性アレイセンサ７０２の最上部上にシンチレーション材料からなる外側層を配置している。図８は、Ｘ線電磁波エネルギーのフォトダイオード・アレイセンサを有する一実施形態による装置８００の図である。装置８００は、装置７００においてそのＸ線電磁波エネルギーの光導電性アレイセンサがフォトダイオード・アレイ８０２であるような一実施形態である。フォトダイオード・アレイセンサ８０２は、Ｘ線電磁波エネルギーの範囲を示す１つまたは複数の電気信号を発生させるように動作可能なセンサを提供している。Ｘ線電磁波エネルギーのフォトダイオード・アレイ８０２は、この電気信号を解析するための電子デバイス（図示せず）に結合させるように動作可能である。
【００４２】
図９は、Ｘ線電磁波エネルギー・センサが放射線不透過性のマーキングを有する定規２０２に対して直接装着されている一実施形態による装置９００の図である。図９では、Ｘ線電磁波エネルギー・センサ２１２は放射線不透過性マーキングを有する定規２０２に対して直接装着されている。放射線不透過性マーキングを有する定規２０２とセンサ２１０及び２１２とは同じ面内または既知の各面にある。
【００４３】
図１０は、両方のセンサが放射線不透過性マーキングを有する定規２０２に対して直接装着されている一実施形態による装置１０００の図である。図１０では、可視光電磁波エネルギー・センサ２１０とＸ線電磁波エネルギー・センサ２１２の両方が放射線不透過性マーキングを有する定規２０２に対して直接装着されている。放射線不透過性マーキングを有する定規２０２とセンサ２１０及び２１２とは同じ面内または既知の各面にある。
【００４４】
図１１は、放射線不透過性マーキングを有する定規２０２が可視光整列マークを含んでいるような一実施形態による装置１１００の図である。可視光整列マーク１１０２によれば、放射線不透過性マーキングを有する定規２０２のうち、可視光電磁波エネルギー視野のエッジ２０６とＸ線電磁波エネルギー視野のエッジ２０８の間の距離を放射線不透過性マーキングを有する定規２０２上でカウントするのに好都合な箇所において、装置１１００を可視光エッジと整列させることが可能となる。
【００４５】
図１２は、センサ移動台が調整トラックに移動可能に取り付けられているような一実施形態による装置１２００の図である。
【００４６】
装置１２００は、放射線不透過性のマーキングを有する定規（図１２では図示せず）を備えたセンサ移動台１２０２を含む。このセンサ移動台１２０２はさらに、図１２に示した正方形の筒状体、円形の筒状体、または当業者には周知の別の幾何学形状を有する筒状体などの筒状体部を備えている。センサ移動台１２０２の体部は、その一方の側に貫通したねじ切りされた穴を有しており、この穴を通ってねじ切りされた位置ロック用シャフト１２０４が延びている。位置ロック用ノブ１２０６は、位置ロック用シャフト１２０４の端部のうち、センサ移動台１２０２の筒状体部の外側にある端部に固定されている。
【００４７】
図１３は、センサとディスプレイの両者を組み込んだ一実施形態による整列試験ツール１３００の前面図である。整列試験ツール１３００はまた、画像レセプター整列試験ツールとも呼ばれている。
【００４８】
整列試験ツール１３００は、４つのセンサ移動台１３０２、１３０４、１３０６及び１３０８を含んでいる。各センサ移動台は、調整トラックと、微調整用ノブと、放射線不透過性マーキング及び線形マークを有する定規２０２と、この放射線不透過性マーキング及び線形マークを有する定規２０２に装着したＸ線電磁波エネルギー・センサ２１２と、これに装着した可視光電磁波エネルギー・センサ２１０と、を含んでいる。
【００４９】
整列試験ツール１３００はさらに、可視光電磁波エネルギー２０６の範囲を示している可視光電磁波エネルギー・センサ２１０からの電気信号を受け取っている図２４のコンピュータ２４００などの制御装置（図示せず）またはコンピュータを含む。これに従って制御装置は、整列試験ツール１３００上での光学視野の位置を記述している情報を表示する。この可視光位置情報は、整列試験ツール１３００の前面上に装着させた発光ダイオード・ディスプレイや液晶ダイオード・ディスプレイ１３１０、１３１２、１３１４及び１３１６などの視覚ディスプレイ上に表示させる。幾つかの代替的な実施形態では、整列試験ツール１３００上で光学視野の４つすべてのエッジに沿った光学視野の位置を記述している情報を表示させるように１つのディスプレイ（図示せず）が制御装置と動作可能に結合されている。
【００５０】
この制御装置はさらに、Ｘ線電磁波エネルギーの範囲を示している電気信号をＸ線電磁波エネルギー・センサ２１２から受け取っている。これに従って制御装置は、整列試験ツール１３００上でのＸ線視野の位置を記述している情報を表示する。このＸ線位置情報は、整列試験ツール１３００の前面上に装着させた視覚ディスプレイ１３１８、１３２０、１３２２及び１３２４上に表示させる。幾つかの代替的な実施形態では、整列試験ツール１３００上でＸ線視野の４つすべてのエッジに沿ったＸ線視野の位置を記述している情報を表示させるように１つのディスプレイ（図示せず）が制御装置と動作可能に結合されている。
【００５１】
各センサ移動台に関するＸ線位置情報と可視光位置情報の間の偏差は、視覚ディスプレイ１３２６、１３２８、１３３０及び１３３２に表示される。４つの外周部すべてに関する可視光とＸ線視野の偏差についてリアルタイムの視覚ディスプレイを有することによって、Ｘ線視野を可視光視野と整列させながらその偏差を能動的に監視するために使用できる整列試験ツール１３００が提供される。これらディスプレイ１３１０、１３１２、１３１４、１３１６、１３１８、１３２０、１３２２、１３２４、１３２６、１３２８、１３３０及び１３３２は全体として、位置／偏差読み出しとして知られている。幾つかの代替的な実施形態では、整列試験ツール１３００上でＸ線視野と光学視野の４つすべてのエッジに沿ったＸ線視野と光学視野の位置を記述している情報を表示させるように１つのディスプレイ（図示せず）が制御装置と動作可能に結合されている。
【００５２】
幾つかの実施形態では、その整列試験ツール１３００はさらに、整列試験ツール１３００の面上に既知のサイズ（図１３では直径が２５ミリメートルなど）の拡大率目標物１３３４を含む。この拡大率目標物１３３４は、発散性ビームからの電磁波エネルギーを減衰させる。ビームの発散のために、拡大率目標物１３３４の投影は、ビーム軸に沿って配置される異なる面内で異なるサイズとなる。これらの面のうちの１つで撮像した拡大率目標物１３３４のサイズと拡大率目標物１３３４の実サイズとの間の偏差を使用して、視覚ディスプレイ１３２６、１３２８、１３３０及び１３３２に表示させた偏差を関心対象面（例えば、主要レセプターの面）内における偏差に対してスケール調整することができる。
【００５３】
別の実施形態では、その拡大率目標物は、この拡大率決定を容易にするために整列試験ツール１３００の面上に一体化させた特殊目的の放射線不透過性の円盤またはリングである。整列試験ツール１３００の制御装置内にはさらに、エッジの位置及び偏差の表示値の指定基準面に基づく変換を可能とさせるためにこの拡大率を制御装置に入力するための手段（例えば、テンキー）が組み込まれている。
【００５４】
幾つかの実施形態では、その整列試験ツール１３００はさらに、制御装置及び別のすべての電気回路をリセットするリセットボタン１３３６、光学視野位置を決定するように整列試験ツール１３００に合図する光学視野ボタン１３３８、Ｘ線視野位置を決定するように整列試験ツール１３００に合図するＸ線ボタン１３４０、並びに整列試験ツール１３００に対するパワーを制御するＯＮ／ＯＦＦボタン１３４２などの制御ボタンを含む。幾つかの実施形態では、そのツールは、可視光視野の存在を自動的に検出して可視光視野計測を実行する。幾つかの実施形態では、そのツールは、Ｘ線視野の存在を自動的に検出してＸ線視野計測を実行する。
【００５５】
整列試験ツール１３００は、Ｘ線視野２０８と可視光視野２０６の間の偏差を決定するために使用することができる。こうした用途では、Ｘ線視野２０８及び可視光視野２０６の線源とＸ線レセプターとの間に整列試験ツール１３００を配置させている。整列試験ツール１３００によって偏差を表示させ、さらにＸ線視野２０８及び可視光視野２０６が偏差の表示を基準として整列されるようになるまでＸ線視野２０８及び可視光視野２０６を調整することができる。
【００５６】
したがって、偏差の電子式ディスプレイを使用することを通じて、整列試験ツール１３００は、Ｘ線イメージング・システムにおいて可視光視野とＸ線視野を整列させる時間を短縮することによって、Ｘ線イメージング・システムの動作コストを低減させるという当技術分野における要求を解決している。
【００５７】
図１４は、その内部にセンサが組み込まれた一実施形態による整列試験ツール・センサユニット１４００の図である。整列試験ツール・センサユニット１４００は、整列試験ツール・センサユニット１４００の内部で可視光及びＸ線電磁波エネルギーに対して透明なウィンドウ１４０２の先側に装着した可視光電磁波エネルギー・センサ２１０及びＸ線電磁波エネルギー・センサ２１２を含む。
【００５８】
幾つかの実施形態では、整列試験ツール・センサユニット１４００はさらに、光学視野整列のためのガイド１４０４及び１４０６を含む。操作時には、整列試験ツール・センサユニット１４００は光学視野のエッジがこの２つのガイド１４０４及び１４０６の内部に来るようにして位置決めされる。
【００５９】
センサ２１０及び２１２と動作可能に結合された制御装置１４０８は、Ｘ線及び可視光電磁波エネルギーの範囲を示すセンサ２１０及び２１２からの電気信号を受け取っている。これに従って制御装置１４０８は、各視野のエッジがセンサの各々の上に投影される（すなわち、センサ上に当たる）箇所を決定しており、また制御装置１４０８は、エッジが投影するすなわち当たる箇所を記述した情報を送信している。この送信は、当業者によく知られているシリアル型、パラレル型あるいはワイヤレス式コンピュータ・インタフェースなどの従来式コンピュータ・インタフェース１４１０を通じて実行される。
【００６０】
幾つかの実施形態では、整列試験ツール・センサユニット１４００はさらに、整列試験ツール・センサユニット１４００に対してその辺の周りを取り囲ませるための基準マークライン（図示せず）を含む。この基準マークラインは、レセプター面に合わせた計測値のスケール調整を容易にするようなセンサ２１０及び２１２の面を指示している。
【００６１】
したがって、偏差の電子式検出を使用することを通じて、整列試験ツール・センサユニット１４００は、Ｘ線イメージング・システムにおいて可視光視野とＸ線視野を整列させる時間を短縮することによって、Ｘ線イメージング・システムの動作コストを低減させるという当技術分野における要求を解決している。
【００６２】
図１５は、ディスプレイがその内部に組み込まれているような一実施形態による整列試験ツール読み出しユニット１５００の図である。整列試験ツール読み出しユニット１５００は、当業者によく知られているシリアル型、パラレル型あるいはワイヤレス式コンピュータ・インタフェースなどの従来式コンピュータ・インタフェース１５０２を含んでいる。幾つかの実施形態では、そのインタフェース１５０２は、Ｘ線及び可視光電磁波エネルギーの範囲を示している電気信号を整列試験ツール・センサユニット１４００から受け取っている。
【００６３】
制御装置１５０４は、この電気信号をインタフェース１５０２から受け取ると共に、Ｘ線及び可視光電磁波エネルギー視野に関する位置、偏差及び整列を記述している情報を読み出しディスプレイ１５０６に送っている。
【００６４】
さらに電源１５０８及びスイッチ１５１０によって、整列試験ツール読み出しユニット１５００のパワー状態を制御している。幾つかの実施形態では、読み出し選択器ボタン１５１２も実装されている。
【００６５】
読み出しディスプレイ１５０６はさらに、パワーがスイッチオンになっており当該ユニットが動作準備完了状態にあることを示す「ｒｅａｄｙ」や、選択器ボタンが押されて当該ユニットが光学視野位置の読み取り中であることを示す「ｒｅａｄｉｎｇ」などのステータス情報を表示している。
【００６６】
したがって、読み出しディスプレイ１５０６が偏差の電子式ディスプレイを使用することを通じて、整列試験ツール読み出しユニット１５００は、Ｘ線イメージング・システムにおいて可視光視野とＸ線視野を整列させる時間を短縮することによって、Ｘ線イメージング・システムの動作コストを低減させるという当技術分野における要求を解決している。
［一実施形態の方法］
前のセクションでは、一実施形態を動作させるための装置について記載した。このセクションでは、こうした実施形態の具体的な方法について一連の流れ図を参照しながら記載することにする。本方法によれば、可視光視野とＸ線視野の整列においてフィルムを使用する必要がなくなると共に、Ｘ線イメージング・システムにおいてこれらの視野を整列させる速度が増大する。
【００６７】
図１６は、一実施形態によるＸ線医用イメージング・デバイスの可視光視野にＸ線視野を整列させる方法１６００の流れ図である。幾つかの実施形態では、方法１６００は人間が実行するものである。
【００６８】
この線源は、Ｘ線視野の線源と可視光視野の線源である。この電子式整列試験ツールは、Ｘ線視野と可視光視野に対するセンサを備えている。電子式整列試験ツールの例としては、システム１００の中の参照番号１０８、装置２００、３００、４００、５００、６００、７００、８００、９００、１０００、１１００、整列試験ツール１３００、整列試験ツール・センサユニット１４００、並びに整列試験ツール読み出しユニット１５００が含まれる。
【００６９】
方法１６００は、線源と主要レセプターの間に電子式整列試験ツールを配置させる工程１６０２を含む。幾つかの実施形態では、その整列試験ツールは、従来式の放射線撮影システムではＸ線管の中心線束と直交する面内に、またマンモグラフィ・システムではＸ線ビームの胸壁エッジに沿った線束と直交する面内に配置させている。整列試験ツールはボードの各エッジがＸ線視野の対応するエッジと平行に整列するような向きにさせている。
【００７０】
方法１６００はさらに、電子式整列試験ツールにパワーを加える工程１６０４と、線源に対してＸ線視野と可視光視野を投影させる工程１６０６と、を含む。１６０２、１６０４及び１６０６の工程は、互いに対して任意の順序で実行することができる。
【００７１】
これに続き方法１６００は、Ｘ線視野と可視光視野の少なくとも１つの偏差を電子式整列試験ツールから読み取る工程１６０８を含む。幾つかの実施形態では、その偏差は整列試験ツール読み出しユニット１５００から読み取られる（１６０８）。
【００７２】
引き続いて方法１６００は、この少なくとも１つの偏差が許容差未満でなくなったとの判定１６１２がなされた場合に、Ｘ線視野と可視光視野がこの偏差を基準として整列されるように線源を調整する工程１６１０を含む。
【００７３】
方法１６００によれば、これらの電磁波視野の位置、またしたがって任意の偏差を迅速に検出することが可能となり、これにより偏差を計測する時間が短縮され、これによりＸ線イメージング・システムにおいて電磁波視野を整列させる速度が上昇し、これによりＸ線イメージング・システムの動作コストを低減させるという当技術分野における要求が解決される。さらに、電子式整列試験ツールを使用することによって、Ｘ線イメージング・システムにおいて可視光視野とＸ線視野を整列させる際にフィルムの使用を不要にするという当技術分野における要求が解決される。
【００７４】
図１７は、一実施形態によるＸ線医用イメージング・デバイスの可視光視野にＸ線視野を整列させる方法１７００の流れ図である。幾つかの実施形態では、方法１７００は図１３の整列試験ツール１３００を使用して人間によって実行される。
【００７５】
方法１７００は、図６における配置工程１６０２と同様に線源とＸ線レセプターの間に整列試験ツールを位置決めする工程１７０２を含む。方法１７００は、ローカライズ用投光をオンにする工程１７０４と、センサ移動台の位置ロック用ノブを解放する工程１７０６と、を含む。
【００７６】
方法１７００はさらに、センサ移動台上で光学視野のエッジが光学視野整列マークと整列するまで、解析対象の光学視野のエッジと直交する方向で調整トラックに沿ってセンサ移動台を摺動させる工程１７０８を含む。
【００７７】
方法１７００はさらに、センサ移動台の位置を光学視野のエッジを基準として保持するために位置ロック用ノブをロックする工程１７１０を含む。
【００７８】
上述の３つの工程は、残りのセンサ移動台のすべてに関して反復させる。
【００７９】
方法１７００はさらに、整列試験ツール１３００に対するパワーをＯＮ／ＯＦＦボタンを用いてオンにする工程１７１２と、その後にリセットボタンを押してディスプレイをクリアする工程１７１４と、を含む。
【００８０】
方法１７００はさらに、光学視野ボタンを押すことによって、各エッジに沿って光学視野位置の計測を実施し、Ｘ線視野ローカライズ用投光が依然として点灯していることを確認する工程１７１６を含む。整列試験ツール１３００により検出した位置は、視野の各エッジごとに光学視野位置ディスプレイ内に表示される。
【００８１】
方法１７００はさらに、Ｘ線開始ボタンを押すことによって、整列試験ツール１３００に対してＸ線照射開始の検出の準備を指令する工程１７１８を含む。
【００８２】
整列試験ツール１３００は、各エッジに沿ったＸ線視野の位置を計測するために各Ｘ線センサから信号を読み取る。整列試験ツール１３００により検出した位置は、視野の各エッジごとにＸ線視野位置ディスプレイ内に表示される。光学視野及びＸ線視野の検出エッジ間の偏差が、各エッジごとに整列試験ツール１３００によって計算され、光学／Ｘ線視野偏差ディスプレイに表示される。次いで、Ｘ線視野のエッジと主要画像レセプターとの間の偏差の決定値が整列試験ツール１３００によって決定される。
【００８３】
定規２０２上の放射線不透過性マーキングは、主要レセプター上で収集した画像内で直接読み取り、センサ移動台上で光学視野整列マークを基準として検出器のエッジ位置を決定することができる。これによって、整列試験ツール１３００の放射線不透過性マーキングを有する定規の面に対する検出器エッジの箇所の計測値が提供される。この決定はさらに、ディジタル式イメージング・システムでよく見られる計測ツールと組み合わせて実施することもできる。こうしたツールは、画像内の２点間の距離の計測を可能とさせるツールを含むのが一般的である。したがって、画像のエッジから放射線不透過性マーキングを有する定規２０２上のある線（例えば、２０ｍｍマーク）までの距離が、主要レセプターの距離単位で計測される。既知の距離だけ離れた対象間（例えば、放射線不透過性マーキングを有する定規２０２上の１０ｍｍマークと２０ｍｍマークの間）の距離の計測値によって、主要レセプターの基準面内で計測された距離を整列試験ツール１３００の基準面内の距離に変換するための拡大率を確定することが可能となる。
【００８４】
図１８は、可視光視野に対するＸ線視野の整列を決定するための方法１８００の流れ図である。これらの視野間の整列は、Ｘ線視野の中心線束と直交する面内で決定される。
【００８５】
方法１８００は、可視光視野及びＸ線視野の線源と主要撮像検出器の面との間に位置する面内において偏差を検出する工程１８０２を含む。可視光視野とＸ線視野は、この面と直交する中心線に沿って投影される。
【００８６】
方法１８００はさらに、整列試験ツールの面内で決定された偏差をＸ線視野の軸に沿った別の面（例えば、主要撮像レセプターの面）に合わせてスケール調整する工程１８０４を含む。
【００８７】
図１９は、偏差を検出するための方法１９００の流れ図である。方法１９００は、図１８の偏差の検出工程１８０２に関する一実施形態である。
【００８８】
方法１９００は、Ｘ線視野の外周部の箇所を決定する工程１９０２と、可視光視野の外周部の箇所を決定する工程１９０４と、を含む。方法１９００は続いて、これらの箇所の偏差を決定する工程１９０６を含む。
【００８９】
幾つかの実施形態では、方法１９００はさらに、スケール調整済みの偏差を表示する工程１９０８及び／またはこれら電磁波視野のうちのいずれか一方、あるいはこれら両者の外部境界すなわちエッジが別の面上に投影される箇所を表示する工程１９１０を含む。
【００９０】
図２０は、Ｘ線視野の外周部の箇所を決定するための方法２０００の流れ図である。方法２０００は、図１９の決定工程１９０２に関する一実施形態である。
【００９１】
方法２０００は、Ｘ線視野の外周部の箇所を決定する準備として装置を初期化する工程２００２を含む。この初期化工程２００２の一実施形態を図２１に示す。
【００９２】
これに続き方法２０００はさらに、光学視野整列マークの内部に来ているセンサの部分組を読み取る工程２００４を含む。この部分組は、比較工程２００６によってそのセンサからの電気信号がしきい値を超えたことが指示されるまで読み取られる。
【００９３】
方法２０００はさらに、遅延時間クロックを始動させる工程２００８と、遅延時間クロックとＸ線視野遅延時間の比較工程２０１２によって該遅延時間が経過したことが指示されるまで遅延時間クロックを読み取る工程２０１０と、を含む。この遅延時間クロックによって信号の安定化が提供される。幾つかの実施形態では、その遅延時間の範囲はゼロ秒から５秒までの間である。
【００９４】
引き続いて方法２０００は、光学視野整列マークの内部に来ているセンサの部分組を読み取る工程２０１４を含む。
【００９５】
方法２０００はさらに、センサの内部部分組に対する工程２０１４によって実行した読み取りから得たデータの平均値からハイレベル基線を決定する工程２０１６を含む。
【００９６】
方法２０００はさらに、光学視野整列マークの外部に来ているセンサを読み取る工程２０１８と、センサの外部部分組の読み取りから得たデータのすべてに関する平均値からローレベル基線を決定する工程２０２０と、を含む。
【００９７】
これに続き方法２０００はさらに、ローレベル基線とハイレベル基線の関数からしきい値を計算する工程２０２２を含む。
【００９８】
引き続いて方法２０００はさらに、比較工程２０２６によってセンサからの信号がエッジ検出するしきい値信号未満でなくなったことが指示されるまで該センサからの信号を読み取る工程２０２４を含む。
【００９９】
方法２０００はさらに、エッジ部分組の信号を収集するためにエッジの概略エリア内のセンサから信号を読み取る工程２０２８を含む。
【０１００】
これに続き方法２０００はさらに、このエッジ部分組内の信号に対して補間関数を当てはめる工程２０３０と、Ｘ線視野エッジの位置を計算する工程２０３２と、を含む。
【０１０１】
幾つかの実施形態では、方法２０００はさらに、Ｘ線視野のエッジ位置を基準面に合わせてスケール調整する工程２０３４を含む。
【０１０２】
図２１は、Ｘ線視野の外周部の箇所を決定するための準備として装置を初期化するための方法２１００の流れ図である。方法２１００は、図２０の初期化工程２００２に関する一実施形態である。
【０１０３】
方法２１００は、電磁波源からセンサ上へのＸ線視野の投影を開始する工程２１０２を含む。
【０１０４】
方法２１００はさらに、Ｘ線視野に対するしきい値信号検出レベルを指定する工程２１０４を含む。このしきい値レベルは、Ｘ線視野のエッジをより高信頼性に検出するために設定される。
【０１０５】
方法２１００はさらに、Ｘ線視野遅延時間を指定する工程２１０６と、エッジ検出しきい値信号レベルを指定する工程２１０８と、エッジ規定信号レベルを指定する工程２１１０と、位置拡大率を指定する工程２１１２と、を含む。
【０１０６】
図２２は、可視光視野の外周部の箇所を決定するための方法２２００の流れ図である。方法２２００は、図１９の決定工程１９０４に関する一実施形態である。
【０１０７】
方法２２００は、可視光視野の外周部の箇所を決定するための準備として装置を初期化する工程２２０２を含む。初期化工程２２０２の一実施形態を図２３に示す。
【０１０８】
方法２２００は、光学視野整列マークの内部に来ているセンサの部分組を読み取る工程２２０４を含む。
【０１０９】
方法２２００はさらに、センサの内部部分組に対する工程２２０４によって実行した読み取りから得たデータの平均値からハイレベル基線を決定する工程２２０６を含む。
【０１１０】
方法２２００はさらに、光学視野整列マークの外部に来ているセンサの部分組を読み取る工程２２０８と、センサの外部部分組の読み取りから得たデータの平均値からローレベル基線を決定する工程２２１０と、を含む。
【０１１１】
これに続き方法２２００はさらに、ローレベル基線とハイレベル基線の関数からしきい値を計算する工程２２１２を含む。
【０１１２】
引き続いて方法２２００はさらに、比較工程２２１６によってセンサからの信号がエッジ検出しきい値信号レベル未満でなくなったことが指示されるまで該センサからの信号を読み取る工程２２１４を含む。
【０１１３】
方法２２００はさらに、エッジ部分組の信号を収集するためにエッジの概略エリア内のセンサの部分組から信号を読み取る工程２２１８を含む。
【０１１４】
これに続き方法２２００はさらに、このエッジ部分組内の信号に対して補間関数を当てはめる工程２２２０と、可視光視野エッジの位置を計算する工程２２２２と、を含む。
【０１１５】
幾つかの実施形態では、方法２２００はさらに、可視光視野のエッジ位置を基準面に合わせてスケール調整する工程２２２４を含む。
【０１１６】
図２３は、可視光視野の外周部の箇所を決定するための準備として装置を初期化するための方法２３００の流れ図である。方法２３００は、図２２の初期化工程２２０２に関する一実施形態である。
【０１１７】
方法２３００は、電磁波源からセンサ上への可視光視野の投影を開始させる工程２３０２を含む。このセンサは、可視光視野に対して感受性が高く、かつ電磁波源と主要レセプターの間に位置決めされている。
【０１１８】
方法２３００はさらに、エッジ検出しきい値信号レベルを指定する工程２３０４と、エッジ規定信号レベルを指定する工程２３０６と、位置拡大率を指定する工程２３０８と、を含む。
【０１１９】
幾つかの実施形態では、方法１８００〜２３００は、図２４のプロセッサ２４０４などのプロセッサによって実行したときに、該プロセッサに対してそれぞれの方法を実行させる一連の命令を示す搬送波の形で具現化したコンピュータ・データ信号として実現されている。別の実施形態では、方法１８００〜２３００は、図２４のプロセッサ２４０４などのプロセッサに対してそれぞれの方法を実行するように指令することが可能な実行可能命令を有するコンピュータアクセス可能な媒体として実現されている。様々な実施形態において、その媒体は磁気式媒体、電子式媒体、または光学式媒体である。
［ハードウェア及び動作環境］
図２４は、様々な実施形態をその内部で実施することができるハードウェア及び動作環境２４００のブロック図である。図２４に関する説明は、コンピュータ・ハードウェア、並びに幾つかの実施形態を連携して実現できる適当なコンピュータ環境の概要を提供している。コンピュータ実行可能命令を実行するコンピュータに関連して実施形態を記載することにする。しかし幾つかの実施形態は、そのコンピュータ実行可能命令を読み出し専用メモリ内に実現させているコンピュータ・ハードウェアの形態でその全体を実現させることができる。幾つかの実施形態はさらに、タスクを実行するリモート・デバイスを通信ネットワークを介してリンクさせているクライアント／サーバ・コンピュータ環境の形態で実現させることができる。プログラム・モジュールは分散式コンピュータ環境内でローカルとリモートの両方のメモリ記憶デバイスに常駐させることができる。
【０１２０】
コンピュータ２４０２は、Ｉｎｔｅｌ、Ｍｏｔｏｒｏｌａ、Ｃｙｒｉｘその他から市販されているプロセッサ２４０４を含む。コンピュータ２４０２はさらに、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）２４０６、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）２４０８及び１つまたは複数の大容量記憶デバイス２４１０、並びに様々なシステム構成要素を処理ユニット２４０４に動作可能に結合させているシステム・バス２４１２を含む。メモリ２４０６、２４０８及び大容量記憶デバイス２４１０は、コンピュータアクセス可能媒体の形態をしている。大容量記憶デバイス２４１０は、より具体的には、コンピュータアクセス可能な不揮発性媒体の形態をしており、また１つまたは複数のハードディスク駆動装置、フレキシブルディスク駆動装置、光ディスク駆動装置及びテープ・カートリッジ駆動装置を含むことができる。プロセッサ２４０４は、コンピュータアクセス可能な媒体上に保存されているコンピュータ・プログラムを実行する。
【０１２１】
コンピュータ２４０２は、通信デバイス２４１６を介してインターネット２４１４と通信可能に接続させることができる。インターネット２４１４の接続は、当技術分野においてよく知られている。一実施形態では、通信デバイス２４１６は、通信ドライバに応答し、当技術分野で「ダイアルアップ接続」として知られる接続を介してインターネットへの接続を行うモデムである。別の実施形態では、通信デバイス２４１６は、当技術分野で「直接接続」（例えば、Ｔ１回線など）として知られる接続を介してインターネットにそれ自体が接続されているローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）に接続させたイーサネット（商標）や同様のハードウェア・ネットワーク・カードである。
【０１２２】
ユーザは、キーボード２４１８やポインティング・デバイス２４２０などの入力デバイスを介してコンピュータ２４０２にコマンドや情報を入力する。キーボード２４１８は、当技術分野で知られるようにコンピュータ２４０２に対する文字情報の入力を可能にしており、また実施形態は特定の任意のタイプのキーボードに限定されるものではない。ポインティング・デバイス２４２０は、各バージョンのＭｉｃｒｏｓｏｆｔ  Ｗｉｎｄｏｗｓ（商標）などのオペレーティング・システムのグラフィカル・ユーザ・インタフェース（ＧＵＩ）によって提供される画面ポインタの制御を可能にしている。実施形態は特定の任意のポインティング・デバイス２４２０に限定されるものではない。こうしたポインティング・デバイスには、マウス、タッチパッド、トラックボール、リモート制御器及びポイント・スティックが含まれる。別の入力デバイス（図示せず）には、マイクロフォン、ジョイスティック、ゲーム用パッド、衛星受信アンテナ、スキャナ、その他を含むことができる。
【０１２３】
幾つかの実施形態では、コンピュータ２４０２は表示デバイス２４２２と動作可能に結合されている。表示デバイス２４２２はシステム・バス２４１２に接続されている。表示デバイス２４２２は、コンピュータ情報、映像情報及びその他の情報を含む情報を、コンピュータのユーザが観察できるように表示することを可能にしている。実施形態は、特定の任意の表示デバイス２４２２に限定されるものではない。こうした表示デバイスには、陰極線管（ＣＲＴ）ディスプレイ（モニタ）、並びに液晶ディスプレイ（ＬＣＤ）などのフラットパネル・ディスプレイが含まれる。モニタ以外にも、コンピュータは、プリンタ（図示せず）などその他の周辺入力／出力デバイスを含むのが典型的である。スピーカ２４２４及び２４２６は、音響信号出力を提供する。スピーカ２４２４及び２４２６もまたシステム・バス２４１２に接続されている。
【０１２４】
コンピュータ２４０２はさらに、コンピュータアクセス可能媒体であるＲＡＭ２４０６、ＲＯＭ２４０８及び大容量記憶デバイス２４１０上に保存されていると共にプロセッサ２４０４によって実行されるオペレーティング・システム（図示せず）を含む。オペレーティング・システムの例には、Ｍｉｃｒｏｓｏｆｔ  Ｗｉｎｄｏｗｓ（商標）、Ａｐｐｌｅ  ＭａｃＯＳ（商標）、Ｌｉｎｕｘ（商標）、ＵＮＩＸ（商標）が含まれる。実施例は特定の任意のオペレーティング・システムに限定されるものではないが、こうしたオペレーティング・システムの構造及び使用法は当技術分野内でよく知られている。
【０１２５】
コンピュータ２４０２の実施形態は、任意のタイプのコンピュータ２４０２に限定されるものではない。様々な実施形態では、コンピュータ２４０２は、ＰＣ対応のコンピュータ、ＭａｃＯＳ（商標）対応のコンピュータ、Ｌｉｎｕｘ（商標）対応のコンピュータ、あるいはＵＮＩＸ（商標）対応のコンピュータを含む。こうしたコンピュータの構造及び使用法は当技術分野内でよく知られている。
【０１２６】
コンピュータ２４０２は、ユーザ制御可能なポインタを含むグラフィカル・ユーザ・インタフェース（ＧＵＩ）を提供するために少なくとも１つのオペレーティング・システムを使用して動作することができる。コンピュータ２４０２は、コンピュータ２４０２のユーザが、イントラネット、あるいはＵＲＬ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ  Ｒｅｓｏｕｒｃｅ  Ｌｏｃａｔｏｒ）アドレスによってアドレス指定されたインターネットのワールドワイドウェッブ・ページにアクセス可能とするために少なくとも１つのオペレーティング・システム内で実行される少なくとも１つのウェッブ・ブラウザ・アプリケーション・プログラムを有することができる。ブラウザ・アプリケーション・プログラムの例には、Ｎｅｔｓｃａｐｅ  Ｎａｖｉｇａｔｏｒ（商標）やＭｉｃｒｏｓｏｆｔ  Ｉｎｔｅｒｎｅｔ  Ｅｘｐｌｏｒｅｒ（商標）が含まれる。
【０１２７】
コンピュータ２４０２は、遠隔コンピュータ２４２８などの１つまたは複数の遠隔コンピュータとの論理接続を使用するネットワーク式環境で動作することができる。これらの論理接続は、コンピュータ２４０２とまたはその一部分と結合させた通信デバイスによって実現される。実施形態はある特定のタイプの通信デバイスに限定されるものではない。遠隔コンピュータ２４２８は、別のコンピュータ、サーバ、ルータ、ネットワークＰＣ、クライアント、ピア（ｐｅｅｒ）デバイス、あるいは別の共有ネットワーク・ノードとすることができる。図２４に示した論理接続は、ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）２４３０及びワイドエリアネットワーク（ＷＡＮ）２４３２を含む。こうしたネットワーク環境は、事務所、事業体内コンピュータ・ネットワーク、イントラネット及びインターネットにおいて一般的である。
【０１２８】
ＬＡＮネットワーク環境で使用する場合、コンピュータ２４０２及び遠隔コンピュータ２４２８は、通信デバイス２４１６の一形態であるネットワーク・インタフェースまたはアダプタ２４３４を介してローカル・ネットワーク２４３０に接続される。遠隔コンピュータ２４２８はさらにネットワーク・デバイス２４３６を含む。従来のＷＡＮネットワーク環境で使用する場合、コンピュータ２４０２及び遠隔コンピュータ２４２８はモデム（図示せず）を介してＷＡＮ２４３２と通信する。このモデムは、内部モデムとすることも外部モデムとすることも可能であり、システム・バス２４１２に接続されている。ネットワーク環境では、コンピュータ２４０２に関して示したプログラム・モジュールあるいはその一部は、遠隔コンピュータ２４２８内に保存することが可能である。
【０１２９】
コンピュータ２４０２はさらに電源２４３８を含む。各電源は電池とすることができる。
［結論］
電磁波視野に関する電子式整列試験ツールについて記載してきた。本明細書では特定の実施形態について図示し記載したが、提示した特定の実施形態を同じ目的を達成するように計算された任意の機構によって置換することができることは当業者であれば理解されよう。本出願は任意の適応形態や変形形態を包含するように意図している。例えば、一般的な用語で記述していても、これらの実現形態が医用イメージングや工業的イメージングの環境で実施できることは当業者であれば理解されよう。これらの実施形態は、全視野ディジタル式マンモグラフィ・システム及び／またはディジタル放射線撮影システムと共に使用するように容易に実現することができる。
【０１３０】
詳細には、方法及び装置の呼称は実施形態を限定することを意図していないことは当業者であれば容易に理解されよう。さらに、構成要素に対して追加的な方法及び装置を付加することが可能であり、構成要素間で機能を配分し直すことが可能であり、かつ実施形態で使用される将来的な改良や物理的考案に対応した新たな構成要素を実施形態の範囲を逸脱することなく導入することが可能である。Ｘ線イメージング・システムに対して実施形態を適用できることは当業者であれば容易に理解されよう。
【０１３１】
本出願で使用している用語は、本明細書に記載したのと同じ機能を提供するすべての環境及び代替的なテクノロジーを包含するように意図したものである。また、図面の符号に対応する特許請求の範囲中の符号は、単に本願発明の理解をより容易にするために用いられているものであり、本願発明の範囲を狭める意図で用いられたものではない。そして、本願の特許請求の範囲に記載した事項は、明細書に組み込まれ、明細書の記載事項の一部となる。
【図面の簡単な説明】
【０１３２】
【図１】複数の波長の電磁波エネルギーを検出するための装置に関するシステムレベルの概要を提供しているブロック図である。
【図２】複数の波長の電磁波エネルギーに対する２つのセンサを含んだ装置のブロック図である。
【図３】可視光電磁波エネルギーの光抵抗性センサを有する一実施形態による装置の図である。
【図４】可視光電磁波エネルギーの光導電性アレイセンサを有する一実施形態による装置の図である。
【図５】可視光電磁波エネルギーのフォトダイオード・アレイセンサを有する一実施形態による装置の図である。
【図６】Ｘ線電磁波エネルギーの光抵抗性センサを有する一実施形態による装置の図である。
【図７】シンチレーション材料層を備えたＸ線電磁波エネルギーの光導電性アレイセンサを有する一実施形態による装置の図である。
【図８】Ｘ線電磁波エネルギーのフォトダイオード・アレイセンサを有する一実施形態による装置の図である。
【図９】Ｘ線電磁波エネルギー・センサが放射線不透過性マーキングを有する定規に対して直接装着されている一実施形態による装置の図である。
【図１０】両方のセンサが放射線不透過性マーキングを有する定規に対して直接装着されている一実施形態による装置の図である。
【図１１】放射線不透過性マーキングを有する定規が可視光整列マークを含むような一実施形態による装置の図である。
【図１２】センサ移動台が調整トラックに移動可能に取り付けられているような一実施形態による装置の図である。
【図１３】センサとディスプレイの両者をその内部に組み込んだ一実施形態による整列試験ツールの前面図である。
【図１４】センサがその内部に組み込まれている一実施形態による整列試験ツール・センサユニットの図である。
【図１５】ディスプレイがその内部に組み込まれている一実施形態による整列試験ツール読み出しユニットの図である。
【図１６】一実施形態によるＸ線医用イメージング・デバイスの可視光視野にＸ線視野を整列させる方法の流れ図である。
【図１７】一実施形態によるＸ線医用イメージング・デバイスの可視光視野にＸ線視野を整列させる方法の流れ図である。
【図１８】可視光視野に対するＸ線視野の整列を決定するための方法の流れ図である。
【図１９】偏差を検出するための方法の流れ図である。
【図２０】Ｘ線視野の外周部の箇所を決定するための方法の流れ図である。
【図２１】Ｘ線視野の外周部の箇所を決定するための準備として装置を初期化するための方法の流れ図である。
【図２２】可視光視野の外周部の箇所を決定するための方法の流れ図である。
【図２３】可視光視野の外周部の箇所を決定するための準備として装置を初期化するための方法の流れ図である。
【図２４】異なる実施形態を実施することを可能とさせるハードウェア及び動作環境のブロック図である。
【符号の説明】
【０１３３】
１００  電磁波エネルギー検出装置
１０２  線源
１０４  電磁波視野
１０６  電磁波視野
１０８  検出デバイス
１１０  主要レセプター
２００  電磁波エネルギーに対するセンサを含んだ装置
２０２  放射線不透過性マーキングを有する定規
２０６  可視光視野のエッジ
２０８  Ｘ線視野のエッジ
２１０  可視光センサ
２１２  Ｘ線センサ
３００  光抵抗性可視光センサを有する装置
３０２  光抵抗性センサ
４００  光導電性可視光アレイセンサを有する装置
４０２  光導電性アレイセンサ
５００  フォトダイオード可視光アレイセンサを有する装置
５０２  フォトダイオード・アレイ
６００  光抵抗性Ｘ線センサを有する装置
６０２  光抵抗性Ｘ線センサ
７００  シンチレーション材料層を備えた光導電性Ｘ線アレイセンサを有する装置
７０２  光導電性Ｘ線アレイセンサ
８００  フォトダイオードＸ線アレイセンサを有する装置
８０２  フォトダイオード・アレイ
９００  Ｘ線センサを定規に直接装着した装置
１０００  両センサを定規に直接装着した装置
１１００  可視光整列マークを含む装置
１１０２  可視光整列マーク
１２００  センサ移動台を調整トラックに移動可能に取り付けた装置
１２０２  センサ移動台
１２０４  位置ロック用シャフト
１２０６  位置ロック用ノブ
１３００  整列試験ツール
１３０２  センサ移動台
１３０４  センサ移動台
１３０６  センサ移動台
１３０８  センサ移動台
１３１０  ディスプレイ
１３１２  ディスプレイ
１３１４  ディスプレイ
１３１６  ディスプレイ
１３１８  ディスプレイ
１３２０  ディスプレイ
１３２２  ディスプレイ
１３２４  ディスプレイ
１３２６  ディスプレイ
１３２８  ディスプレイ
１３３０  ディスプレイ
１３３２  ディスプレイ
１３３４  拡大率目標物
１３３６  リセットボタン
１３３８  光学視野ボタン
１３４０  Ｘ線ボタン
１３４２  ＯＮ／ＯＦＦボタン
１４００  整列試験ツール・センサユニット
１４０２  ウィンドウ
１４０４  ガイド
１４０６  ガイド
１４０８  制御装置
１４１０  コンピュータ・インタフェース
１５００  整列試験ツール読み出しユニット
１５０２  コンピュータ・インタフェース
１５０４  制御装置
１５０６  読み出しディスプレイ
１５０８  電源
１５１０  スイッチ
１５１２  読み出し選択器ボタン
２４００  ハードウェア及び動作環境
２４０２  コンピュータ
２４０４  プロセッサ
２４０６  ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）
２４０８  読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）
２４１０  大容量記憶デバイス
２４１２  システム・バス
２４１４  インターネット
２４１６  通信デバイス
２４１８  キーボード
２４２０  ポインティング・デバイス
２４２２  表示デバイス
２４２４  スピーカ
２４２６  スピーカ
２４２８  遠隔コンピュータ
２４３０  ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）
２４３２  ワイドエリアネットワーク（ＷＡＮ）
２４３４  ネットワーク・インタフェース
２４３６  ネットワーク・デバイス
２４３８  電源
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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