(57)【要約】【課題】モジュール端子の回路一括短絡作業を、容易且つ確実に行うための、耐圧試験用ツールを提供する。【解決手段】この発明による耐圧試験用ツール１１は、モジュール５内に、端子部９が複数個並んで配置された端子部列（１０ａまたは１０ｂ。）に接触させて用いられる。このツール１１は、一続きの導電板から形成され、その導電板の一端には、接触片（１２、１３に相当。）が、端子部９の並びに対応して複数個が、連続して櫛歯状に加工形成されている。櫛歯の両端に位置する接触片１３には、端子ネジ８のネジ軸を通すための穴部１５が開口されている。耐圧試験時には、端子部列の両端の端子ネジ８を外し、ツール１１の櫛歯部分を端子部列上に配置し、ツール１１を挟むように端子ネジ８を締めて固定し、バネ接触片１２が端子部列の中ほどの各端子部を押さえ付けて接触する状態とし、回路一括短絡状態を得る。【選択図】図８
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
端子板と、その端子板を固定する端子ネジにより構成される端子部が、複数個並んで配置された端子部列を持つモジュールに対し、上記端子部列に接触させて用いられ、上記端子部列の各端子部を短絡する耐圧試験用ツールであり、一続きの導電板から形成され、上記導電板の一端には接触片が、上記端子部の並びに対応して複数個が、連続して櫛歯状に加工形成され、上記端子部列の両端に位置する上記端子部に対応する上記接触片には、上記端子ネジのネジ軸を通すための穴部が開口されていることを特徴とする耐圧試験用ツール。
【請求項２】
上記穴部は、櫛歯状の上記接触片の櫛歯が伸びる方向に長い長穴となるように形成されていることを特徴とする請求項１記載の耐圧試験用ツール。
【請求項３】
上記導電板に、バナナピンのメス端子部を設けていることを特徴とする請求項１記載の耐圧試験用ツール。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、発電所などのプラント設備装置を構成するモジュール、例えばプロセス入出力モジュールに対して、回路一括短絡作業（耐圧試験。）を行う際に用いられる、耐圧試験用ツールに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の、耐圧試験用ツールとしては、短絡用クリップがある。耐圧試験時には、あらかじめ回路内のモジュール端子に個々に取り付けられた導電性の舌片を、この短絡用クリップにて全数挟み込み、一括短絡する（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
【特許文献１】実開昭５８−１５７９７８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１による短絡用クリップは、モジュール端子に導電性の舌片を取り付けた状態で耐圧試験を行う必要があり、舌片取り付けに手間を要していた。また、舌片を短絡用クリップで挟んだ状態は、何らかの力が加わった場合にクリップ外れが生じることが考えられ、安定した一括短絡状態を得られなかった。さらに、その短絡用クリップの形状は屈曲した複雑な形状で、低コストでの製作は難しいという問題があった。
【０００５】
一方、従来の方式では、電源部、ディジタル入出力部、アナログ入出力部の端子を一点づつ接続し、回路を一括にて耐圧試験を実施していた。この場合、試験環境である回路一括状態を構築するため、裸電線を用いて各回路端子部を一点づつ接続しなくてはならなかった。作業員が手作業で裸電線を用いて多数の端子部を接続する場合、膨大な時間がかかり、またその作業性の悪さから、接続漏れや接地回路が発生し、手直し等による後戻り作業が発生する場合もあった。
【０００６】
この発明は、上述のような問題点を解消するためになされたもので、簡単で確実に一括短絡状態を得ることが可能な耐圧試験用ツールを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
この発明に係わる耐圧試験用ツールは、端子板と、その端子板を固定する端子ネジにより構成される端子部が、複数個並んで配置された端子部列を持つモジュールに対し、上記端子部列に接触させて用いられ、上記端子部列の各端子部を短絡する耐圧試験用ツールであり、一続きの導電板から形成され、上記導電板の一端には接触片が、上記端子部の並びに対応して複数個が、連続して櫛歯状に加工形成され、上記端子部列の両端に位置する上記端子部に対応する上記接触片には、上記端子ネジのネジ軸を通すための穴部が開口されているものである。
【発明の効果】
【０００８】
この発明の耐圧試験用ツールによれば、多数の端子を短時間で、正確に、一括短絡状態とすることができ、その作業性を向上させることが可能であるという効果がある。また、耐圧試験用ツールを単純な形状としたため、安価に製作できるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
実施の形態１．
図１〜図９を用いて、この発明の実施の形態１による耐圧試験用ツールについて説明する。
まず、図１に耐圧試験実施対象となるモジュールを備えた、プラント制御装置を構成する盤１を示す。標準設計では盤は６面構成であるが、ここでは１面のみ示す。本例において、この盤１は、盤正面２と盤裏面３とに、それぞれモジュール５を４０台ずつ、合計８０台備えている。また、盤正面２と盤裏面３には盤扉４がそれぞれ取り付けられている。
【００１０】
１台のモジュール５の斜視図を図２に示す。この図２は、後述する耐圧試験用ツールが取り付けられていない状態でのモジュール５を示している。図２に示すように、モジュール５は、全体として階段状に形成されており、端子が配置される端子台階段部６ａ、６ｂが設けられた２段構成の端子台６が基台となっている。端子台６には、端子板７および、この端子板７を固定するネジ８からなる端子部９が設けられており、端子台階段部６ａ、６ｂ表面に、端子部９が、一定間隔で、それぞれ９個ずつ連続配置された端子部列１０ａ、１０ｂが形成されている。
【００１１】
なお、ネジ８は、そのネジ頭が、＋が切られた半球状のものの下に四角い平板が有るタイプのもので、その平板の下からネジ軸が伸びるネジである。
図２に示したモジュール５の上面図を図３に示す。ここでは、盤正面２または盤裏面３を正面から観察した図を上面図とする。
【００１２】
次に、図４（ａ）に耐圧試験用ツール（または、単にツールとする。）１１の平面図を示す。耐圧試験用ツール１１は、一続きで、一様な厚さの導電板、例えばスチール板から形成され、その一端には接触片（バネ接触片１２および接触片１３に相当する。）が、端子部９の並びに対応して複数個が、連続して櫛歯状に加工形成されている。別の言い方をすると、この耐圧試験用ツール１１は、略長方形の平板であり、長辺の一辺が櫛歯状となっている。複数個が連続して配置され、全体として櫛歯状となる接触片のうち、両端のものが接触片１３であり、中ほどに位置するものがバネ接触片１２である。櫛歯の数は一列分の端子部９の数に相当している。接触片１３は、端子部列１０ａまたは１０ｂの両端に位置する端子部９に対応し、その端子部９を構成する端子ネジ８の軸を通すための丸形の穴部１５が開口されている。櫛歯状のバネ接触片１２、接触片１３は、基板となる導電板にスリット１４を設けることで容易に形成できる。
【００１３】
耐圧試験用ツール１１の要部の寸法について例示する。上述したように、この耐圧試験用ツール１１は略長方形の平板であって、その長方形の長辺は、端子部列１０ａまたは１０ｂの長さに相当し、短辺の長さ（ｌ１）は２０ｍｍ、接触片１３の櫛歯の長さ（ｌ２）は１０ｍｍ、櫛歯の幅（ｗ１）は５ｍｍ、櫛歯間のスリット幅（ｗ２）は２ｍｍである。接触片１３の歯先側の端部に設けられた穴部１５は、その開口径が約２．５ｍｍ程度である。バネ接触片１２の櫛歯の幅は接触片１３と同様であり、その長さは、接触片１３よりも少し短く、その歯先が穴部１５の中心に揃うくらいの長さとなるように形成されている。
【００１４】
また、図４（ｂ）に、耐圧試験用ツール１１の図４（ａ）に対応する側面図を示す。図４（ｂ）に例示したように、耐圧試験用ツール１１を構成するスチール板の厚さ（ｓ１）は０．５ｍｍであり、バネ接触片１２は、可撓性を有しており、歯先側を上側に２ｍｍ（撓み幅、ｔ１に相当する。）程度撓ませた状態での使用が可能である。
【００１５】
次に、図５に、端子台６へ耐圧試験用ツール１１を取り付けた場合の上面図を示す。耐圧試験用ツール１１の取り付け時には、端子部列の両端に位置する端子部９の端子ネジ８を一度取り外し、耐圧試験用ツール１１の櫛歯部分を、端子部列に対応するように重ねて配置し、接触片１３の上から穴部１５を介して端子ネジ８を端子板７側にネジ止めする。この時、バネ接触片１２は、対応する位置にある端子部９の端子ネジ８のネジ頭を、押さえ付けるような状態となり、バネ接触片１２と端子部９とが接した状態となる。
【００１６】
なお、図５においては、１枚の耐圧試験用ツール１１が、端子台６の端子台階段部６ａにのみ取り付けられた状態を示しているが、まず上述の要領で、下段側（端子台階段部６ａ。）へ１枚目の耐圧試験用ツール１１を取り付けた後、上段側（端子台階段部６ｂ。）へも同様に２枚目のツール取り付けを行って、合計２枚の耐圧試験用ツール１１を使ってモジュール５内端子の一括短絡状態を得る。この時、モジュール５内部において、下段の端子部列１０ａと上段の端子部列１０ｂの最端部が導通状態となっているため、２枚のツール間を導通状態とすることなく、モジュール内一括短絡状態を得られる。
【００１７】
図５内Ａ−Ａ線に沿う断面図を図６に、図５内Ｂ−Ｂ線に沿う断面図を図７にそれぞれ示す。これらの断面図から分かるように、接触片１３をネジ止めすることで、二つの接触片１３間に位置する、残りのバネ接触片１２を、全て端子ネジ８に接触させることができる。このように、バネ接触片１２を常時端子部９側に附勢した状態とできるため、端子部９の固体差を吸収でき、さらにツールをモジュール５にしっかりとネジ止めすることから、衝撃にも強い一括短絡状態を得ることができる。
また、図５の上面図に対応する斜視図を図８に示す。
【００１８】
次に、耐圧試験用ツール１１を用いた耐圧試験方法について説明する。図９は、耐圧試験時の配線環境を示す配線図である。
図９に示すように、モジュール５側の端子台階段部（下段側）１０ａの両端に位置する端子ネジ８を外し、端子部９上に耐圧試験用ツール（ツール。）１１ａを当てて、穴部１５に端子ネジ８の軸部分を差し込み、ネジ８を締め付け固定する。それ以外の端子部９は、バネ接触片１２の可撓性を利用して、ネジ止めすることなく、バネ接触片１２と端子部９とを接触させる。端子台階段部（上段側）１０ｂにも同様に耐圧試験用ツール（ツール。）１１ｂを取り付ける。耐圧試験は通常、盤単位で実施するため、同じ盤１上の全てのモジュール５に対して、同様に耐圧試験用ツールを取り付ける。図９では、簡単のために一台のモジュール５を例示している。
【００１９】
次に、盤内のモジュール５に取り付けられた耐圧試験用ツール１１ａまたは１１ｂのいずれかを、隣合うモジュール５の耐圧試験用ツール１１ａまたは１１ｂに配線によって接続し、盤内の全ての端子部を一括短絡状態とする。
さらに、盤筐体１６に配線１９ａによって筐体アース１８が接続された状態とし、配線１９ｂによって耐圧試験用ツール１１ａまたは１１ｂと耐圧試験用装置１７とを接続し、配線１９ｃによって耐圧試験用装置１７と筐体アース１８とを接続して、耐圧試験用ツール１１ａまたは１１ｂと筐体アース１８との間に耐圧試験用装置１７により電圧をかけて行う。
【００２０】
このように、従来、手作業で、裸電線を各端子に一つ一つ巻き付けて一括短絡状態としていた例と比較すると、耐圧試験用ツール１１（１１ａ、１１ｂについても同様。）を用いれば、このツール１１の固定に２ヵ所のネジ止め作業だけで、一列９個の端子部列１０ａまたは１０ｂに対し、容易に一括で短絡回路を構成することができる。さらに、裸電線を用いた接続では、裸電線がはずれることによる盤筐体１６への裸電線の接触や、筐体アース１８への接触が問題となっていたが、これらの接触を防止することができ、よって機器破壊防止が可能であるとともに、手作業による裸電線巻き付け作業で発生していた人為的ミスを防ぐことが可能となる。
【００２１】
耐圧試験用ツール１１の接触片１３が、バネ接触片１２よりも長く突き出して形成されていることについて上述したが、これは、耐圧試験時にツールを端子台６に取り付けた際、端子ネジ８による固定箇所となる接触片１３と、端子板７との接触面積を大きくし、取り付け状態をより安定させるためである。
接触片１３とバネ接触片１２とが一様な長さであっても、耐圧試験用ツール１１としての機能は同様に果たすことができる。
【００２２】
実施の形態２．
次に、この発明の実施の形態２について、図１０を用いて説明する。図１０は耐圧試験用ツール（または、単にツールとする。）２０の平面図を示している。先述の実施の形態１においては、耐圧試験用ツール１１の穴部１５は、端子ネジ８の軸に対応した丸形の穴であったが、この実施の形態２では、耐圧試験用ツール２０の穴部として長穴２１を形成している。図１０に示すように、この長穴２１は、その形状が、櫛歯状の接触片１３の櫛歯が伸びる方向（図面の横方向。）に長い楕円形である。
【００２３】
図１０に示したような、ネジ軸の径（φ１）が１．５ｍｍであり、ネジ頭が４ｍｍ角（正方形のネジ頭の一辺、ｌ３が４ｍｍ。）である端子ネジ８を用いる場合、この長穴２１は、長径（φ２）が５ｍｍ、短径（φ３）２．５ｍｍとなるように形成する。なお上述の寸法は一例を示したものであり、端子部９の寸法等に応じて、耐圧試験用ツール２０の寸法や、用いる端子ネジ８の寸法を適応させる場合、長穴２１の寸法も同様に縮小あるいは拡大して用いる。
【００２４】
上記のように長穴２１を設けることで、長穴２１の長さ（長径。）の範囲で、耐圧試験用ツール２０を横方向にずらせてツールと端子部２０との接触具合を調節し、バネ接触片１２を端子部９へ確実に接触させることができる。この調節時に、ツール２０を櫛歯の歯先方向（図１０において、向って右側に相当する。）へずらせた場合、ツール２０は端子台６側に深く入り込んで、バネ接触片１２が端子部９を押さえ付ける力が強まり、逆に、ツール２０を櫛歯の根元方向（図１０において、向って左側に相当する。）へずらせた場合、バネ接触片１２が端子部９を押さえ付ける力を弱めるように調節できる。
このように、ツール取り付け用の穴部を長穴２１のように加工することで、端子台６の固体差による横方向の寸法違いを吸収し、バネ接触片１２の端子部９への接触を確実にすることが可能である。
【００２５】
実施の形態３．
次に、この発明の実施の形態３について図１１を用いて説明する。
図１１は、盤１内に隣接して配置された複数のモジュール５を一度に耐圧試験しようとするとき、バナナピンを用いてツール同士を電気的に接続して、一括短絡状態を得る場合に有効な耐圧試験用ツール（または、単にツールとする。）２０ａ、２０ｂの平面図であり、耐圧試験用ツール２０ａ、２０ｂの端部（櫛歯形成部分とは逆側。）に、それぞれ２ヶ所のバナナピンのメス側端子２２を設けているものである。
【００２６】
耐圧試験時には、バナナピン短絡線２４の一端のオス側端子２３を、ツール２０ａのメス側端子２２に差し込み、バナナピン短絡線２４の他端のオス側端子２３を、ツール２０ｂのメス側端子２２に差し込むことで二つのツール２０ａ、２０ｂを電気的に接続させることができる。二つのツール２０ａ、２０ｂをバナナピン短絡線２４によって電気的に接続した場合の斜視図を図１２に示す。
このように、耐圧試験用ツール２０ａ、２０ｂにバナナピンのメス側端子２２を形成しておけば、バナナピン短絡線２４を用いて、隣接するツール同士を容易且つ確実に電気的に接続することができ、作業性が向上する。
【００２７】
上述したとおり、耐圧試験用ツール１１（１１ａ、１１ｂ。）または２０（２０ａ、２０ｂ。）を、スチール製の板に穴部１５または２１と、バネ接触片１２、接触片１３を加工形成し、さらに、バナナピンのメス側端子２２を設けただけの単純な構造とすることで、製作を安価にすることができ、大量に製作しても高価にはならず、実際の耐圧試験に用いることで作業性を大幅に向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】この発明において耐圧試験対象となるモジュールが収納された盤を示す斜視図である。
【図２】この発明において耐圧試験対象となるモジュールを示す斜視図である。
【図３】この発明において耐圧試験対象となるモジュールを示す上面図である。
【図４】この発明の実施の形態１による耐圧試験用ツールの平面図である。
【図５】この発明の実施の形態１による耐圧試験用ツールをモジュール側に取り付けた場合の上面図である。
【図６】図５におけるＡ−Ａ線に沿う断面図である。
【図７】図５におけるＢ−Ｂに沿う断面図である。
【図８】図５に相当する斜視図である。
【図９】この発明の実施の形態１による耐圧試験用ツールを用いた、耐圧試験時の、配線環境を示す配線図である。
【図１０】この発明の実施の形態２による耐圧試験用ツールを示す平面図である。
【図１１】この発明の実施の形態３による耐圧試験用ツールを示す平面図である。
【図１２】この発明の実施の形態３による耐圧試験用ツールのバナナピン短絡線による接続状態を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００２９】
１  盤                              ２  盤正面
３  盤裏面                          ４  盤扉
５  モジュール                      ６  端子台
６ａ、６ｂ  端子台階段部            ７  端子板
８  端子ネジ                        ９  端子部
１０ａ、１０ｂ  端子部列
１１、１１ａ、１１ｂ、２０、２０ａ、２０ｂ  耐圧試験用ツール
１２  バネ接触片                    １３  接触片
１４  スリット                      １５  穴部
１６  盤筐体                        １７  耐圧試験装置
１８  筐体アース                    １９ａ、１９ｂ、１９ｃ  配線
２１  長穴                          ２２  メス側端子
２３  オス側端子                    ２４  バナナピン短絡線。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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