(57)【要約】【課題】  遅延なくディスクの欠陥を検出してその欠陥を除去することができる光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法を提供すること。【解決手段】  先行するサブビームプリアンプ３２による再生信号から、最大値検波回路３４及びディフェクト検出回路３５で先行したディフェクト信号が取得され、このディフェクト信号を利用してディフェクト信号除去回路３６によりメインビームプリアンプ３１で再生されるディフェクト信号が除去される。これにより、本来の欠陥信号の検出時の遅延をなくし、当該欠陥を除去することができる。【選択図】図３
2006155740.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から出射されたビームが少なくとも２つに分割されたビームのうちの第１のビームが、信号が記録された回転する光ディスクのトラック上に照射されたときの第１の反射ビームを検出することで、前記信号をＲＦ信号として再生するＲＦ信号再生手段と、
前記第１のビームが照射されたトラックと同じトラック上に前記分割されたビームのうち前記第１のビームに先行して照射された第２のビームにより得られる第２の反射ビームを検出することで、前記光ディスク上の欠陥による第１の欠陥信号を取得することが可能な第１の検出手段と、
少なくとも前記取得された前記第１の欠陥信号に基づき、前記再生されたＲＦ信号に含まれる前記欠陥による信号であって前記第１の欠陥信号より遅れて再生された第２の欠陥信号を除去する除去手段と
を具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記除去手段は、
前記第１の欠陥信号と前記第２の欠陥信号とを時間的に包絡する包絡信号を生成する手段と、
前記生成された包絡信号の期間だけ前記第２の欠陥信号を除去する手段と
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記除去手段は、
前記第１の欠陥信号の立下りを遅延する手段と、
前記遅延された後の前記第１の欠陥信号の期間だけ前記第２の欠陥信号を除去する手段と
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記第２の反射ビームとの差分に基づき前記光ディスクのトラッキング誤差信号を得るために、前記分割されたビームのうち、前記第１のビームに後行して前記トラックと同じトラック上に照射される第３の反射ビームを検出する第２の検出手段をさらに具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスク装置であって、
前記ＲＦ再生手段は、前記第２の欠陥信号を、ホワイトスポットによって生成される信号として再生することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
光源から出射されたビームが少なくとも２つに分割されたビームのうちの第１のビームが、信号が記録された回転する光ディスクのトラック上に照射されたときの第１の反射ビームを検出することで、前記信号をＲＦ信号として再生するステップと、
前記第１のビームが照射されたトラックと同じトラック上に前記分割されたビームのうち前記第１のビームに先行して照射された第２のビームにより得られる第２の反射ビームを検出することで、前記光ディスク上の欠陥による第１の欠陥信号を取得するステップと、
少なくとも前記取得された前記第１の欠陥信号に基づき、前記再生されたＲＦ信号に含まれる前記欠陥による信号であって前記第１の欠陥信号より遅れて再生された第２の欠陥信号を除去するステップと
を具備することを特徴とする光ディスクの欠陥処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに記録された信号を再生可能な光ディスク装置及びその光ディスクの欠陥信号を処理する欠陥処理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ブルーレイディスク（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｋ）にデータを記録再生する光ディスク装置が出現している。ブルーレイディスクによれば、波長４０５ｎｍの青紫色レーザと、開口数（ＮＡ）０．８５の対物レンズに加えて、光透過保護層厚０．１ミリメートルのディスク構造を採用することにより、直径１２ｃｍの書き換え可能な相変化光ディスクの片面に最大２７ＧＢのデータを記録することができる。
【０００３】
ＤＶＤでは、６８０ｎｍの光に於いては、カバー層が厚い事、レーザ波長が６８０ｎｍが長く、ビーム径が大きい事等で、ディスクについた指紋、傷、ゴミ等に関しては大きなきな弊害にはならない。ところが、ブルーレイディスクでは、ＤＶＤに比べて記録密度が約５倍、ディスクの光透過保護層が約１／７であるためディスク表面の欠陥（ディフェクト）の影響を受けやすい。そこで、ＥＣＣ（Ｅｒｒｏｒ  Ｃｏｒｒｅｃｔｉｏｎ  Ｃｏｄｅ）のエラー訂正能力を高くするために、１ＥＣＣブロックのサイズを、ブルーレイディスクの記録再生単位であるＲＵＢ（Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ  Ｕｎｉｔ  Ｂｌｏｃｋ）と同じ大きさである６４ＫＢｙｔｅと大きくしてある。しかし、想定外の大きな指紋や大きな擦り傷などの欠陥がディスク面にあると、データが欠如してしまい、これにより１ＥＣＣ部（１ＲＵＢ）の１／３にも達し、１ＲＵＢのデータが破綻してしまう。
【０００４】
このような光ディスク上のディフェクトを検出する方法として、再生ＲＦ信号のレベルの低下または増加を検出する方法や、あるいは再生ＲＦ信号にＬＰＦ（Ｌｏｗ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ）をかけてＲＦ信号を減衰させた後、平均レベルから逸脱した信号をコンパレータで検出する方法等もある（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
また、本発明に関連する技術として下記の特許文献２が挙げられる。  
【特許文献１】特開平１１−９６６５５号公報（段落[０００３]、図４）
【特許文献２】特開平１０−４０４６５号公報（段落[００１０]、図２）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記特許文献１に記載の装置では、ある閾値までＲＦ信号のレベルの低下または増加を待たなければならないので、１．０μｓ以下程度の遅延を伴う。この場合、遅延した分だけディフェクト信号の一部が残ってしまうという問題がある。特に、ｔｒ（立上り）及びｔｆ（立下り）の小さなディフェクトやレベルの大きなディフェクトではその影響が大きくなる。具体的には、このような残留分のディフェクト信号が、ＲＦ信号の低域成分を除去するためのＨＰＦ（Ｈｉｇｈ  Ｐａｓｓ  Ｆｉｌｔｅｒ）やＡＧＣ（Ａｕｔｏｍａｔｉｃ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）を通ると微分されてＤＣ成分が生成され、ＲＦ信号のゼロクロスが変動するといった問題がある。
【０００７】
以上のような事情に鑑み、本発明の目的は、遅延なくディスクの欠陥を検出してその欠陥を除去することができる光ディスク装置及び光ディスクの欠陥処理方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る光ディスク装置は、光源から出射されたビームが少なくとも２つに分割されたビームのうちの第１のビームが、信号が記録された回転する光ディスクのトラック上に照射されたときの第１の反射ビームを検出することで、前記信号をＲＦ信号として再生するＲＦ信号再生手段と、前記第１のビームが照射されたトラックと同じトラック上に前記分割されたビームのうち前記第１のビームに先行して照射された第２のビームにより得られる第２の反射ビームを検出することで、前記光ディスク上の欠陥による第１の欠陥信号を取得することが可能な第１の検出手段と、少なくとも前記取得された前記第１の欠陥信号に基づき、前記再生されたＲＦ信号に含まれる前記欠陥による信号であって前記第１の欠陥信号より遅れて再生された第２の欠陥信号を除去する除去手段とを具備する。
【０００９】
本発明では、第１の光に先行する第２の光の第２の反射光から第１の欠陥信号を取得し、この第１の欠陥信号を利用して第２の欠陥信号を除去するようにしている。これにより、本来の欠陥信号の検出時の遅延をなくし、当該欠陥を除去することができる。このように欠陥を除去することができれば、後段の回路での特別な欠陥処理が不要になり、後段の回路設計が容易となる。
【００１０】
「同じトラック上に」とは、両ビームの中心が光ディスクの径方向でずれていてもよく、両ビームの少なくとも一部が同じトラックに照射される状態も含む意味である。以下、同様である。
【００１１】
本発明の一の形態によれば、前記除去手段は、前記第１の欠陥信号と前記第２の欠陥信号とを時間的に包絡する包絡信号を生成する手段と、前記生成された包絡信号の期間だけ前記第２の欠陥信号を除去する手段とを有する。このような包絡信号が生成されることで、第２の欠陥信号を完全に除去することができる。
【００１２】
本発明の一の形態によれば、前記除去手段は、前記第１の欠陥信号の立下りを遅延する手段と、前記遅延された後の前記第１の欠陥信号の期間だけ前記第２の欠陥信号を除去する手段とを有する。このように第１の欠陥信号のみを用いても欠陥を除去することができる。
【００１３】
本発明の一の形態によれば、前記第２の反射ビームとの差分に基づき前記光ディスクのトラッキングエラー信号を得るために、前記分割されたビームのうち、前記第１のビームに後行して前記トラックと同じトラック上に照射される第３の反射ビームを検出する第２の検出手段をさらに具備する。すなわち、公知の３ビーム方式のフォトディテクタを有効に利用して、欠陥信号を除去することができる。差分とは、光量の差分である。
【００１４】
本発明の一の形態によれば、前記ＲＦ再生手段は、前記第２の欠陥信号をホワイトスポットによって生成される信号として再生する。一般的に、光ディスクのディフェクトの種類には、ホワイトスポットやブラックベルトが存在し得ると考えられる。ホワイトスポットは、ディスクの製造時において、主に記録膜に混入する気泡が原因で発生すると考えられている。記録膜に気泡が発生するということは、つまり記録膜に孔があいた状態となるため、レーザ光が記録膜より下層の反射膜に直接照射されることにより通常より強い反射光が検出されてしまう。このようにしてホワイトスポットが発生する。一方、ブラックベルトは、例えば黒のマジックペン等でディスクに故意に塗られたことによって発生するディフェクトであり、実際の製品ディスクにおいてはこのようなディフェクトは想定しにくい。しかし、ディスク表面の傷、指紋、ゴミ等が多くなった場合には、結果的にブラックベルトと同様なディフェクトが発生することも考えられる。このブラックベルトは、ＲＦ再生信号レベルが極端に低下するディフェクトであってホワイトスポットに比べ長時間継続する。本発明のようにホワイトスポットによる欠陥信号を除去するような回路が設計されてしまえば、あとはブラックベルトのみによる欠陥処理を行う回路が設計されればよく、後の回路設計が容易となる。
【００１５】
本発明の一の形態によれば、前記ホワイトスポットの前記トラック方向の幅が１００μｍ以下である。ホワイトスポットが再生された場合、大きなＤＣ信号が得られるため、トラッキングサーボ系に乱れが生じ、光ピックアップのアクセス位置が最悪隣接のトラックに移ってしまうことが考えられる。例えば、ブルーレイディスクの規格では、このような外乱でサーボ系がホールドされた場合、ホールド開始位置から、ホールド解除後においてその隣接するトラックにアクセスしている最大長さが３００μｍ程度であるから、サーボ系に余裕を見積もって１００μｍとすることが望ましい。
【００１６】
本発明に係る光ディスクの欠陥処理方法は、光源から出射されたビームが少なくとも２つに分割されたビームのうちの第１のビームが、信号が記録された回転する光ディスクのトラック上に照射されたときの第１の反射ビームを検出することで、前記信号をＲＦ信号として再生するステップと、前記第１のビームが照射されたトラックと同じトラック上に前記分割されたビームのうち前記第１のビームに先行して照射された第２のビームにより得られる第２の反射ビームを検出することで、前記光ディスク上の欠陥による第１の欠陥信号を取得するステップと、少なくとも前記取得された前記第１の欠陥信号に基づき、前記再生されたＲＦ信号に含まれる前記欠陥による信号であって前記第１の欠陥信号より遅れて再生された第２の欠陥信号を除去するステップとを具備する。
【００１７】
本発明では、第２の欠陥信号の検出時の遅延をなくし、当該欠陥を除去することができるので、後段の回路での特別な欠陥処理が不要になり、後段の回路設計が容易となる。
【発明の効果】
【００１８】
以上のように、本発明によれば、遅延なくディスクの欠陥を検出してその欠陥を除去することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づき説明する。
【００２０】
図１は、本発明の一実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【００２１】
この光ディスク装置１０１は、ＤＶＤ±Ｒ／ＲＷ、ＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ブルーレイディスクのような光ディスク１０２を回転駆動するスピンドルモータ１０３、いわゆる３ビーム方式によるＰＤ（フォトディテクタ）１０４やレーザ光源１０５を有する光ピックアップ１０６、この光ピックアップ１０６を光ディスク１０２の半径方向に移動する送りモータ１０７、装置全体及び信号処理やサーボ制御などの個別制御を行うシステムコントローラ１０８、光ピックアップ１０６のＰＤ（フォトディテクタ）１０４から出力される各種の信号に基づいて、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ＲＦ信号を生成するとともに、ディスクのディフェクトを処理する信号再生&ディフェクト処理回路１１０、信号の変調、復調及びＥＣＣの付加、ＥＣＣに基づくエラー訂正処理を行う信号変復調器&ＥＣＣ部１１１、スピンドルモータ１０３及び送りモータ１０７を駆動制御するサーボ制御部１１２、外部コンピュータ１３０を接続するためのインターフェース１１３、Ｄ／Ａ変換器１１４、オーディオ・ビジュアル処理部１１５、オーディオ・ビジュアル信号入出力処理部１１６、レーザ光源１０５を駆動するレーザ制御部１１７を有している。
【００２２】
図２は、ＰＤ１０４の構成を示す図である。図３は、信号再生&ディフェクト処理回路１１０の構成を示すブロック図である。
【００２３】
光ディスク１０２の信号の記録面には、ピット１６の列からなるトラック１５の列が形成されている。光ディスク１０２がスピンドルモータ１０３によって矢印Ａ方向に回転するようになっている。上記レーザ光源１０５から出射されたレーザ光は、３分割されて、後段のメインビームプリアンプ３１（図３参照）によりＲＦ信号を得るためのメインビームＬ１、このメインビームＬ１に先行するサブビームＬ２及び後行するサブビームＬ３として照射される。具体的には、レーザ光が図示しない回折格子を通り、０次光と１次光とに分割されて３つのビームＬ１、Ｌ２及びＬ３が形成される。サブビームＬ２とＬ３との照射スポット間の距離ｄは、例えば１５〜３０μｍに設定されている。
【００２４】
ＰＤ１０４は、これらのビームＬ１、Ｌ２及びＬ３のディスク１０２からの反射光をそれぞれ検出するフォトディテクタ１１、１２及び１３からなる。メインビーム用のディテクタ１１は、例えば４分割受光面方式のものが用いられる。図３に示すように、信号再生&ディフェクト処理回路１１０は、３つのビームのうちサブビームＬ２及びＬ３の反射光を検出するディテクタ１２及び１３の出力１７及び１８が入力される差動アンプ３７を有しており、この差動アンプ３７によって先行サブビームＬ２と後行サブビームＬ３との光量の差分が取られ、トラッキングエラー信号１４が生成される。このトラッキングエラー信号１４は、例えばサーボ制御部１１２（図１参照）に出力され、トラッキングサーボが行われる。
【００２５】
図３に示すように、信号再生&ディフェクト処理回路１１０は、ディテクタ１１、１２及び１３でそれぞれ検出された検出信号１６、１７及び１８をそれぞれ増幅するメインビームプリアンプ３１、サブビームプリアンプ３２及び３３、これら３つのプリアンプから得られるディスク上のホワイトスポットによるディフェクト信号から、これらの信号を時間的に包絡した信号を生成する最大値検波回路３４、この最大値検波回路３４で生成された包絡信号から、ディフェクトを処理するためにディフェクト検出信号９を生成するディフェクト検出回路３５、このディフェクト検出信号９を用いて、実際のディフェクト信号、つまりメインビームプリアンプ３１で再生されたＲＦ信号に含まれるディフェクト信号を除去するディフェクト信号除去回路３６を有している。
【００２６】
信号再生&ディフェクト処理回路１１０は、ディフェクト信号除去回路３６でディフェクト信号が除去された後のＲＦ信号１０が入力され、ディスクの回転周期により発生する低域成分を除去するＨＰＦ３、メディアによって信号レベルのばらつき等がある場合に、安定的に復調できるようにするために信号レベルを一定レベルに自動的にコントロールするＡＧＣ回路４、符号間干渉を抑え、減衰する高域のレベルを増強するイコライザ５、アナログ信号をデジタル変換するＡ／Ｄ変換器６、光ディスク１０２に所定間隔で記録された同期信号を基にクロックを生成するＰＬＬ回路７、入力されるＲＦ信号１０に基づいてＡＧＣ回路４のゲインをホールドするホールド信号２２及びＰＬＬ回路７をホールドするホールド信号２３を出力するプロセッサ８を有する。プロセッサ８は、ディスクのディフェクトの一種であるブラックベルトによるディフェクトが検出されたときに、その検出信号に基づき、所定の期間ＡＧＣホールド及びＰＬＬホールドのうち少なくとも一方を出力する。
【００２７】
なお、ブラックベルトによるディフェクトを検出するための検出回路は図示されていないが、例えば以下のように構成される。例えば、メインビームプリアンプ３１の出力からＬＰＦで高域成分を除去し、ディフェクト信号が所定のレベルより低下する期間のみをハイレベルとしたパルス信号をディフェクト検出信号とし、これをプロセッサ８に出力するような回路で実現される。そして上述したように、プロセッサ８が、少なくともそのディフェクト検出信号が得られている期間だけＡＧＣホールド信号２２及びＰＬＬホールド信号２３のうち少なくとも一方を生成すればよい。
【００２８】
ブラックベルトによるディフェクト信号は、ホワイトスポットのディフェクト信号より長時間で、レベルが極端に低下した信号として検出される。ブラックベルトは、長時間で絶対値レベルも大きいため、ＥＣＣのエラー訂正能力を超える場合もある。したがって、本実施の形態に係る光ディスク装置１０１では、このようにブラックベルトによるディフェクトがあった場合は、ＡＧＣホールドやＰＬＬホールドが行われることで、そのディフェクトによる影響を除去するようにしている。
【００２９】
図４に、ブラックベルトによる実際のディフェクトの波形を示す。符号３９がディフェクト信号（メインビームプリアンプ３１の出力）、符号３８がＡＧＣ回路の出力波形（前段のＨＰＦ３によって微分された波形）、符号４０がディフェクト検出信号である。波形３９において、符号３９ａの部分でレベル低下が起こり、これがディフェクト信号となる。
【００３０】
一方、図５は、ホワイトスポットによる実際のディフェクトの波形を示す。符号４１がホワイトスポットによるディフェクト信号（メインビームプリアンプ３１の出力）、符号４２及び４３は、波形４１を時間軸で約１０倍拡大したものである。波形４１において、符号４１ａの部分でレベル増加が起こり、これがディフェクト信号となる。波形４１において、ＲＦ再生信号レベルが１５０ｍＶｐ−ｐに対して、ホワイトスポット４１ａのレベルはその３倍以上で５００ｍＶにもなる。また、ホワイトスポット４１ａのｔｒ、ｔｆは約１００ｎｓと速く、また、ホワイトスポットの大きさの許容範囲は、ディスク記録面上で３００μｍΦ以下、より好ましくは１００μｍΦ以下である。この許容範囲は、ブルーレイにおけるトラッキングサーボ系の規格から、そのような値に設定されることが望ましい。また、信号再生時のディスクの回転による線速度が１０ｍ／ｓの場合であって、ホワイトスポットが１００μｍの場合には、ホワイトスポット４１ａのパルス幅が約１０μｓとなる。
【００３１】
図６は、上記最大値検波回路３４を実現するための回路の一例を示す図である。ディテクタ１１、１２及び１３による検出信号１６、１７及び１８は、エミッタ共通のトランジスタＴＲ１、ＴＲ２及びＴＲ３により増幅されて出力されるようになっている。図７は、図６の等価回路である。
【００３２】
図８は、上記ディフェクト信号除去回路３６を実現するための回路の一例を示す図である。ＲＦ信号の入力は、最大値検波回路３４の出力であるディフェクト検出信号９を制御信号としてトランジスタＴＲ４がスイッチング制御されることにより、ＨＰＦ１を介してディフェクト信号が除去された信号１０が出力される。
【００３３】
図９は、図２に示したメインビームプリアンプ３１及び２つのサブビームプリアンプ３２及び３３の再生信号の波形を示す図である。図１０は、２つのサブビームプリアンプ３２及び３３のみの再生信号の波形を示す図である。波形４５がメインビームプリアンプ３１の出力、波形４６が、先行のサブビームプリアンプ３２の出力、波形４７が後行のサブビームプリアンプ３３の出力である。先行のサブビームプリアンプ３２の出力は、後行のサブビームプリアンプ３３の出力に比べ約１．５μｓ進んでいる。サブビームＬ２及びＬ３の照射スポット間の距離ｄは１５μｍ、線速度１０ｍに設定した。
【００３４】
図１１は、ＲＦ信号の波形を示しており、波形４８はメインビームプリアンプ３１の出力、波形４９は先行のサブビームプリアンプ３２の出力である。波形４９のＲＦ信号レベルは、波形４８のＲＦ信号レベルの１／５に減衰しているので、この波形のままディフェクト検出に利用することができる。すなわち、サブビームプリアンプ３２あるいは１３の出力をＬＰＦ等によりＲＦを減衰させなくても、そのまま最大値検波回路３４に入力させることができる。
【００３５】
以上のように構成された光ディスク装置１０１の大まかな再生動作について説明する。
【００３６】
メインビームプリアンプ３１で再生されたＲＦ信号の出力は、後述するようにディフェクト信号が除去された後、ＨＰＦ３に入力される。ＨＰＦ３では、不要な低域成分やＤＣ成分が除去され、ＡＧＣ回路４にＲＦ信号が供給される。ＡＧＣ回路４ではＲＦ信号が一定のゲインに調整され、イコライザ５において、減衰する高域のレベルが増強され、Ａ／Ｄ変換器６においてデジタル化されてデータが取り出される。ＰＬＬ回路７では、Ａ／Ｄ変換器６の出力からクロック信号が生成され、信号変復調器&ＥＣＣ部１１１においてそのクロック信号を基にデータの復調、エラー訂正が行われる。データの復調及びエラー訂正が行われると、データがインターフェース１１３を介して外部コンピュータに供給されたり、Ｄ／Ａ変換器１１４でアナログ信号に変換されてオーディオ・ビジュアル処理部１１５で映像や音声が再生されたりする。
【００３７】
次に、ホワイトスポットによるディフェクト信号を除去するときの動作について説明する。図１２は、そのときのディフェクト信号の波形を示す図である。図１２において、斜線部分が通常のＲＦ部分である。
【００３８】
図１２（ａ）に示すように、例えばｔｒが０．１μｓ、幅が３．５μｓのホワイトスポットによるディフェクト信号４５が、メインビームプリアンプ３１により出力される場合、図１２（ｂ）に示すように、先行のサブビームプリアンプ３２の出力信号は符号４６に示す波形になり、後行のサブビームプリアンプ３３の出力信号は符号４７に示す波形になる。そうすると、最大値検波回路３４は、図１２（ｃ）に示すように、信号４５、４６及び４７の時間的な包絡信号を生成して、この信号をディフェクト検出回路３５に出力する。ディフェクト検出回路３５では、入力された信号が図のようなコンパレートレベルと比較され、図１２（ｄ）に示すようなディフェクト検出信号を生成する。ディフェクト信号除去回路３６では、このディフェクト検出信号に基づき、図１２（ｅ）に示すように、メインビームプリアンプ３１により出力されるディフェクト信号（図１２（ａ））が除去される。
【００３９】
図１３は、ディフェクト信号除去回路３６で除去された信号波形を示しており、ディフェクト信号のあるＲＦ信号４５のディフェクト部が除去されてグランド電位に置換された信号１０が生成される。
【００４０】
図１４は、本実施の形態に係るディフェクト除去動作が行われず、ディフェクト検出に遅延が生じた場合の波形を示す図である。この例では、例えばメインビームプリアンプ３１で再生されたＲＦ信号から、このようなホワイトスポット等ＲＦ信号に比べ低周波のディフェクト信号を、ＨＰＦを通して除去する方式が採用される場合の例を示している。この方式では、ディフェクト信号をそのＨＰＦを通すか否かのスイッチ回路が設けられる。ここでいうＨＰＦの時定数は、図３に示すＨＰＦ３の時定数とは異なるものが用いられる。
【００４１】
図１４（ａ）に示すようにディフェクト信号が図のようなコンパレートレベルでディフェクト検出をしようとした場合、図１４（ｂ）に示すような、１μｓ程度の遅延が発生する。この遅延は、上述したようなコンパレートレベルに起因する検出時の遅延と、上記スイッチ動作による遅延とによるものである。このような遅延が発生すると、ディフェクトのｔｒが５００ｎｓとすると、図１４（ｃ）に示すように大きなパルス状のレベルが残留する。これが図３のＨＰＦ３やＡＧＣ回路４を通過することにより、図１４（ｄ）のように微分されてＤＣ成分が発生し、ＲＦ信号データのゼロクロスが変動してしまい、的確にデジタル処理が行われない。
【００４２】
しかしながら、本実施の形態によれば、先行するサブビームプリアンプ３２による再生信号から、最大値検波回路３４及びディフェクト検出回路３５で先行したディフェクト信号が取得され、このディフェクト信号を利用してディフェクト信号除去回路３６によりメインビームプリアンプ３１で再生されるディフェクト信号が除去される。これにより、本来の欠陥信号の検出時の遅延をなくし、当該欠陥を除去することができる。
【００４３】
また、このように欠陥を除去することができれば、後段の回路での特別な欠陥処理が不要になり、後段の回路設計が容易となる。
【００４４】
また、本実施の形態では、図１２（ｃ）のように包絡信号が生成されることで、第２の欠陥信号を完全に除去することができる。
【００４５】
図１５は、従来技術において、ホワイトスポットに対してクリップ回路で高速クリップを動作させたときの入出力の波形を示す図である。図１６は、図１５を時間軸で拡大した波形を示す図である。図１５及び図１６において、上が入力、下が出力である。図１５及び図１６の下の波形５１に示すように、上の波形５２のホワイトスポット５２ａが、所定レベルでクリップされているが、符号５１ａに示すようにクリップディレイがパルス状に残ってしまう。
【００４６】
図１７は、本発明の他の実施の形態に係るディフェクト検出動作を実現するための構成を示すブロック図である。この例では、サブビームプリアンプ３２の後段に、Ｃ１及びＲ１でなるＨＰＦ２、Ｒ２及びＣ２でなるＬＰＦ１、Ｒ３及びＲ４でなる減衰器ＡＴＴ（Ａｔｔｅｎｕａｔｏｒ）が設けられている。ＨＰＦ２は、サブビームプリアンプ３２の再生信号の低域成分を除去することで、ＲＦ信号をグランドレベルにシフトする。ＬＰＦ１は、サブビームプリアンプ３２の再生信号のＲＦ成分を除去することで全体の信号レベルを検出する。ＡＴＴは、ＬＰＦ１でＲＦ成分が除去された信号を減衰して、コンパレータ５６の比較電圧を生成する。これにより、コンパレータではディフェクトが検出される。
【００４７】
図１８は、図１７に示すディフェクトプロセッサ５７を実現するための回路の一例を示している。図１２（ｂ）に示すように、先行のサブビームプリアンプ３２からのディフェクト信号４６の立下りも、立上りと同様に０．５μｓ進んでいる。このディフェクトプロセッサ５７は、この進みを遅延させようとするものである。図１９（ａ）に示すようなコンパレータ５６からのディフェクト信号の入力があった場合、エミッタ接地のＴＲ４により増幅及び反転されるとともに、Ｒ５及びＣ５によって、図１９（ｂ）に示すようにその信号の立下りが遅延する。この後、反転回路５５によって反転させられて図１９（ｃ）のような立下りが遅延したディフェクト信号が出力される。
【００４８】
図１８及び図１９に示す構成によれば、進んだ信号を後ろに引き伸ばすように遅延させることで、後行のサブビームプリアンプ３３による再生信号を利用しなくても、この先行するサブビームプリアンプによる再生信号のみを利用して、メインビームプリアンプ３１のディフェクト信号を包含して除去することができる。
【００４９】
図２０は、図１７に示したＨＰＦ２の特性を示す図である。Ｒ１=１０ＫΩとし、Ｃ１を２２０ｐＦ（符号６１）、２２００ｐＦ（符号６２）、０．０１μＦ（符号６３）、０．０２μＦ（符号６４）、０．２μＦ（符号６５）としている。１０μｓ（図５で説明したホワイトスポットの幅）のパルスを伝送することができる０．２μＦが選択されれば、図２１のような波形なり、十分にホワイトスポットによるディフェクトを検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】本発明の一実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】ＰＤの構成を示す図である。
【図３】信号再生&ディフェクト処理回路の構成を示すブロック図である。
【図４】ブラックベルトによる実際のディフェクトの波形を示す図である。
【図５】ホワイトスポットによる実際のディフェクトの波形を示す図である。
【図６】最大値検波回路を実現するための回路の一例を示す図である。
【図７】図６の等価回路を示す図である。
【図８】ディフェクト信号除去回路を実現するための回路の一例を示す図である。
【図９】図２に示したメインビームプリアンプ及び２つのサブビームプリアンプの再生信号の波形を示す図である。
【図１０】図９の２つのサブビームプリアンプのみの再生信号の波形を示す図である。
【図１１】ＲＦ信号の波形を示す図である。
【図１２】ディフェクト信号除去動作時のディフェクト信号の波形を示す図である。
【図１３】ディフェクト信号除去回路で除去された信号波形を示す図である。
【図１４】本実施の形態に係るディフェクト除去動作が行われず、ディフェクト検出に遅延が生じた場合の波形を示す図である。
【図１５】従来技術において、ホワイトスポットに対してクリップ回路で高速クリップを動作させたときの入出力の波形を示す図である。
【図１６】図１５を時間軸で拡大した波形を示す図である。
【図１７】本発明の他の実施の形態に係るディフェクト検出動作を実現するための構成を示すブロック図である。
【図１８】図１７に示すディフェクトプロセッサを実現するための回路の一例を示す図である。
【図１９】図１８の回路における各波形を示す図である。
【図２０】図１７に示したＨＰＦ２の特性を示す図である。
【図２１】図１７のＣ１の値が０．２μＦであるときのＨＰＦ特性を示す図である。
【符号の説明】
【００５１】
Ｌ１…メインビーム
Ｌ２、Ｌ２…サブビーム
８…プロセッサ
１１、１２、１３…フォトディテクタ
１５…トラック
３１…メインビームプリアンプ
３２、３３…サブビームプリアンプ
３４…最大値検波回路
３５…ディフェクト検出回路
３６…ディフェクト信号除去回路
５７…ディフェクトプロセッサ
１０１…光ディスク装置
１０３…スピンドルモータ
１１０…信号再生&ディフェクト処理回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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