(57)【要約】【課題】塵落し動作の有効性に関する防塵用の光学素子の姿勢に応じた特性の違いを利用して、その加振手段の適正な駆動制御を行う。【解決手段】姿勢検出回路３３４によって当該防塵機能付き光学装置の姿勢を検出し、その検出結果に基づく防塵ガラス３２１，３２３，３２５の塵付着面の方向に応じて各圧電素子３２２，３２４，３２６を駆動制御する。この際、塵落し動作の有効性に関する防塵ガラス３２１，３２３，３２５の塵付着面の方向に応じた特性の違いを利用することで、例えば、塵付着面方向が上向きで塵を落としにくい場合には、加振動作を行わせても塵落し効果が得られないので加振動作を行わないようにして無駄な消費電力の消費を防止する一方、塵付着面方向が下向きで塵を落しやすい姿勢の場合には、動作時間を短くし消費電力を抑制することで、圧電素子３２２，３２４，３２６を適正に駆動制御できるようにした。【選択図】        図１
2006259348.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
結像光学系により結像される光学像を受光して電気信号に変換する光電変換素子と、
該光電変換素子よりも前段の光路上に配設された防塵用の光学素子と、
該光学素子を所定の周波数で振動させるための加振手段と、
当該防塵機能付き光学装置の姿勢を検出する姿勢検出手段と、
該姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の姿勢に応じて前記加振手段を駆動制御する駆動制御手段と、
を備えたことを特徴とする防塵機能付き光学装置。
【請求項２】
結像光学系により結像される光学像を受光して電気信号に変換する光電変換素子と該光電変換素子よりも前段の光路上に配設された防塵用の光学素子と該光学素子を所定の周波数で振動させるための加振手段とをそれぞれ有した複数の光学手段と、
当該防塵機能付き光学装置の姿勢を検出する姿勢検出手段と、
該姿勢検出手段の検出結果に基づく前記各光学素子の姿勢に応じて前記各加振手段を駆動制御する駆動制御手段と、
を備えたことを特徴とする防塵機能付き光学装置。
【請求項３】
前記駆動制御手段は、複数の前記光学手段に含まれる複数の前記加振手段を所定の駆動周波数で個別に駆動する複数の駆動手段と、これらの駆動手段の動作を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする請求項２に記載の防塵機能付き光学装置。
【請求項４】
前記駆動制御手段は、複数の前記光学手段に含まれる前記各加振手段を選択的に駆動するためのスイッチング手段を有し前記各加振手段を所定の駆動周波数で駆動する単一の駆動手段と、該駆動手段の動作を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする請求項２に記載の防塵機能付き光学装置。
【請求項５】
前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段による加振動作の動作時間を可変制御することを特徴とする請求項１〜４のいずれか一つに記載の防塵機能付き光学装置。
【請求項６】
前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作の動作時間を短くする制御を行うことを特徴とする請求項５に記載の防塵機能付き光学装置。
【請求項７】
前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直上向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作の動作時間を長くする制御を行うことを特徴とする請求項５又は６に記載の防塵機能付き光学装置。
【請求項８】
前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段に対する印加電圧を可変制御することを特徴とする請求項１〜４のいずれか一つに記載の防塵機能付き光学装置。
【請求項９】
前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段に対する印加電圧を低くする制御を行うことを特徴とする請求項８に記載の防塵機能付き光学装置。
【請求項１０】
前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直上向き方向に近づくに従って前記加振手段に対する印加電圧を高くする制御を行うことを特徴とする請求項８又は９に記載の防塵機能付き光学装置。
【請求項１１】
前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段による加振動作の周波数走査範囲を可変制御することを特徴とする請求項１〜４のいずれか一つに記載の防塵機能付き光学装置。
【請求項１２】
前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作の周波数走査範囲の幅を狭くする制御を行うことを特徴とする請求項１１に記載の防塵機能付き光学装置。
【請求項１３】
前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段による加振動作を行うか否かを制御することを特徴とする請求項１〜４のいずれか一つに記載の防塵機能付き光学装置。
【請求項１４】
前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作を行わないように制御することを特徴とする請求項６，９，１２又は１３のいずれか一つに記載の防塵機能付き光学装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタルカメラシステムなどの電子撮像装置の内部に付着した塵を除去可能な防塵機能付き光学装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、光学装置の防塵機能に関する技術の一例として、撮像素子を保護する保護ガラスを振動させることで、そのガラスに付着した塵を払い落とすという技術が提案されている。その一例として、特許文献１によれば、ガラス板を振動させる手段として圧電素子が用いられている。この圧電素子は、印加される電圧に反応して伸縮することでガラス板を所定の一つの周期で加振する。
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−４８６６５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、撮像素子を保護する保護ガラス（防塵ガラス）を圧電素子により振動させることで、防塵ガラスに付着した塵を払い落とす特許文献１のような例においては、以下のような問題がある。
【０００５】
一般に、デジタルカメラ等は、各種の姿勢で操作者により把持され、又は、載置されるため、撮像素子を保護するための防塵ガラスも通常の横向き状態となったり、下向き或いは上向き状態となったりする。ここで、防塵ガラスの塵付着面の方向が鉛直下向き方向や水平方向の場合には、付着した塵は重力の作用によって、より落ちやすく除去しやすいが、鉛直上向き方向の場合には塵は落ちにくく除去しにくい。また、防塵ガラスの塵付着面の方向が鉛直下向き方向の場合には、水平方向の場合に比較して、より一層塵を除去しやすい。
【０００６】
特許文献１等の従来のものは、塵落し動作の有効性に関するこのような特性の違いについては全く考慮されておらず、防塵ガラスを振動させるための圧電素子を一律に駆動制御しているため、例えば消費電力等の点で、必ずしも適正な駆動制御になっていないという問題がある。
【０００７】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、塵落し動作の有効性に関する防塵用の光学素子の姿勢に応じた特性の違いを利用して、その加振手段の適正な駆動制御を行うことができる防塵機能付き光学装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上述した課題を解決し、目的を達成するために、請求項１に係る防塵機能付き光学装置は、結像光学系により結像される光学像を受光して電気信号に変換する光電変換素子と、該光電変換素子よりも前段の光路上に配設された防塵用の光学素子と、該光学素子を所定の周波数で振動させるための加振手段と、当該防塵機能付き光学装置の姿勢を検出する姿勢検出手段と、該姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の姿勢に応じて前記加振手段を駆動制御する駆動制御手段と、を備えたことを特徴とする。
【０００９】
請求項２に係る防塵機能付き光学装置は、結像光学系により結像される光学像を受光して電気信号に変換する光電変換素子と該光電変換素子よりも前段の光路上に配設された防塵用の光学素子と該光学素子を所定の周波数で振動させるための加振手段とをそれぞれ有した複数の光学手段と、当該防塵機能付き光学装置の姿勢を検出する姿勢検出手段と、該姿勢検出手段の検出結果に基づく前記各光学素子の姿勢に応じて前記各加振手段を駆動制御する駆動制御手段と、を備えたことを特徴とする。
【００１０】
請求項３に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、複数の前記光学手段に含まれる複数の前記加振手段を所定の駆動周波数で個別に駆動する複数の駆動手段と、これらの駆動手段の動作を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする。
【００１１】
請求項４に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、複数の前記光学手段に含まれる前記各加振手段を選択的に駆動するためのスイッチング手段を有し前記各加振手段を所定の駆動周波数で駆動する単一の駆動手段と、該駆動手段の動作を制御する制御手段とを備えたことを特徴とする。
【００１２】
請求項５に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段による加振動作の動作時間を可変制御することを特徴とする。
【００１３】
請求項６に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作の動作時間を短くする制御を行うことを特徴とする。
【００１４】
請求項７に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直上向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作の動作時間を長くする制御を行うことを特徴とする。
【００１５】
請求項８に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段に対する印加電圧を可変制御することを特徴とする。
【００１６】
請求項９に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段に対する印加電圧を低くする制御を行うことを特徴とする。
【００１７】
請求項１０に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面方向が水平方向から鉛直上向き方向に近づくに従って前記加振手段に対する印加電圧を高くする制御を行うことを特徴とする。
【００１８】
請求項１１に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段による加振動作の周波数走査範囲を可変制御することを特徴とする。
【００１９】
請求項１２に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作の周波数走査範囲の幅を狭くする制御を行うことを特徴とする。
【００２０】
請求項１３に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子の塵付着面の方向に応じて前記加振手段による加振動作を行うか否かを制御することを特徴とする。
【００２１】
請求項１４に係る防塵機能付き光学装置は、上記発明において、前記駆動制御手段は、前記姿勢検出手段の検出結果に基づく前記光学素子塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向に近づくに従って前記加振手段による加振動作を行わないように制御することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２２】
本発明に係る防塵機能付き光学装置によれば、当該防塵機能付き光学装置の姿勢を検出し、その検出結果に基づく防塵用の光学素子の姿勢、すなわち塵付着面の方向に応じて加振手段を駆動制御するようにしたので、塵落し動作の有効性に関する防塵用の光学素子の姿勢に応じた特性の違いを利用することで、例えば、塵付着面方向が鉛直上向き方向に近く塵を落としにくい場合には、加振動作を行わせても塵落し効果が得られないので加振動作を行わないようにして無駄な消費電力の消費を防止するとか、塵付着面方向が鉛直下向き方向に近く塵を落しやすい姿勢の場合には、動作時間を短くし、印加電圧を低くし、或いは周波数走査範囲の幅を狭くするように制御することで消費電力を抑制するとか、塵付着面方向が鉛直上向き方向に近く塵を落しにくい姿勢の場合には、動作時間を長くし、或いは印加電圧を高くするように制御することで塵落し効果を高めるとか、といった如く、加振手段の適正な駆動制御を行うことができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下に添付図面を参照して、本発明の防塵機能付き光学装置として光電変換素子を有するデジタルカメラシステムを一例に挙げた複数の実施の形態に基づき詳述する。
【００２４】
（実施の形態１）
図１は、本実施の形態１の防塵機能付き光学装置としてのデジタルカメラシステムの実際的な光学的配置を考慮した要部構成例を示す概念図である。この防塵機能付き光学装置は、まず、撮影レンズ３０１を主体とする結像光学系としての撮像用光学系３０２により結像される被写体の光学像を受光して電気信号に変換する光電変換素子としてのＣＣＤユニット３０３を含む光学手段の一つとしての撮像用光学部３０４を備えている。
【００２５】
また、防塵機能付き光学装置は、撮像レンズ３０１を経た後、クイックターンミラー３０５により選択的に分岐され、ペンタプリズム３０６及びハーフミラー３０７を主体とする結像光学系としてのファインダ光学系３０８により結像される光学像を受光して電気信号に変換する光電変換素子としてのファインダＣＣＤユニット３０９を含む光学手段の一つとしてのファインダ用光学部３１０を備えている。
【００２６】
さらに、防塵機能付き光学装置は、撮像レンズ３０１を経た後、クイックターンミラー３０５背後のサブミラー３１１による反射光束を受け、撮像レンズ３０１の焦点状態を検出するための結像光学系としてのＡＦ検出光学系（焦点検出用光学系）３１２により結像される光学像を受光して電気信号に変換する光電変換素子としてのＡＦセンサユニット３１３を含む光学手段の一つとしてのＡＦ検出用光学部３１４を備えている。
【００２７】
撮像用光学部３０４は、ＣＣＤユニット３０３よりも前段の光路上に配設された防塵用の光学素子としての防塵ガラス３２１と、この防塵ガラス３２１を振動させるための加振手段としての圧電素子３２２とを備えている。同様に、ファインダ用光学部３１０は、ファインダＣＣＤユニット３０９よりも前段の光路上に配設された防塵用の光学素子としての防塵ガラス３２３と、この防塵ガラス３２３を振動させるための加振手段としての圧電素子３２４とを備えている。さらに、ＡＦ検出用光学部３１４は、ＡＦセンサユニット３１３、さらにはＡＦ検出光学系３１２よりも前段の光路上に配設された防塵用の光学素子としての防塵ガラス３２５と、この防塵ガラス３２５を振動させるための加振手段としての圧電素子３２６とを備えている。すなわち、本実施の形態では、加振手段として、電気機械変換素子である圧電セラミックス等を利用した圧電素子３２２，３２４，３２６を用いているが、防塵ガラス３２１，３２３，３２５を適切に振動させ得る手段であればよい。
【００２８】
さらに、本実施の形態１の防塵機能付き光学装置は、当該装置の各種動作制御を受け持つとともに、各光学部３０４，３１０，３１４中に含まれる複数の圧電素子３２２，３２４，３２６を駆動制御する駆動制御手段としての駆動制御部３３１を備えている。この駆動制御部３３１は、これらの圧電素子３２２，３２４，３２６を所定の駆動周波数で個別に駆動することで防塵ガラス３２１，３２３，３２５を振動させる複数の駆動手段としての駆動回路３３２Ａ，３３２Ｂ，３３２Ｃを有する防塵ガラス駆動回路３３２と、この防塵ガラス駆動回路３３２中の各駆動回路３３２Ａ，３３２Ｂ，３３２Ｃの動作を制御する制御手段としての制御部３３３とを備えている。
【００２９】
また、本実施の形態１の防塵機能付き光学装置は、当該防塵機能付き光学装置の姿勢を検出する姿勢検出手段としての姿勢検出回路３３４を備えている。この姿勢検出回路３３４は、当該防塵機能付き光学装置が上向きであるとか、下向きであるとか、横向きであるとか、といった姿勢を検出し、その検出結果を制御部３３３に対して出力する。
【００３０】
制御部３３３は、姿勢検出回路３３４の検出結果に基づく各防塵ガラス３２１，３２３，３２５の姿勢、すなわち塵付着面の方向に応じて駆動回路３３２Ａ，３３２Ｂ，３３２Ｃを介して各圧電素子３２２，３２４，３２６を駆動制御する。
【００３１】
例えば、防塵ガラス３２１，３２３，３２５の塵付着面方向が水平方向（横向き状態）を標準とし、鉛直上向き方向で塵を落しにくい姿勢の場合には、加振動作を行わせても塵落し効果が得られないので圧電素子３２２，３２４，３２６による加振動作を行わないようにして無駄な消費電力の消費を防止する一方、鉛直下向き方向で塵を落しやすい姿勢の場合には、加振動作の動作時間を標準の動作時間よりも短い時間に制御することで消費電力を抑制するように制御する。
【００３２】
図２は、図１に示した上述のような本実施の形態１の要部構成例に対応する制御系を主体として示す概略ブロック図である。なお、光学部３０４，３１０，３１４の数は３個に限らず、３個より多くてもよく、また、２個であってもよい。さらには、図３に示すように光学部が１個だけの場合であってもよい。図３は、一例として撮像用の光学部３０４のみの場合の例を示している。
【００３３】
図４は、図１に示した防塵機能付き光学装置が搭載されたデジタルカメラシステムとしての具体的な構成例を示すブロック構成図である。このカメラシステムは、交換レンズとしてのレンズユニット１０と、カメラ本体としてのボディユニット１００から主に構成されており、ボディユニット１００の前面に対して、マウント２０７を介して所望のレンズユニット１０が着脱自在に設定されている。
【００３４】
レンズユニット１０の制御はレンズ制御用マイクロコンピュータ（以下“Ｌｕｃｏｍ"と称する）５が行う。ボディユニット１００の制御は、前述の制御部３３３が行う（なお、以下の説明では、制御部３３３をボディ制御用マイクロコンピュータ（以下“Ｂｕｃｏｍ"と称する）３３３と表記する）。これらＬｕｃｏｍ５とＢｕｃｏｍ３３３とは、合体時において通信コネクタ６を介して通信可能に電気的接続がなされる。そしてカメラシステムとしてＬｕｃｏｍ５がＢｕｃｏｍ３３３に従属的に協働しながら稼動するようになっている。
【００３５】
レンズユニット１０内には撮影レンズ３０１と絞り３が設けられている。撮影レンズ３０１はレンズ駆動機構２内にある図示しないＤＣモータによって駆動される。絞り３は絞り駆動機構４内にある図示しないステッピングモータによって駆動される。Ｌｕｃｏｍ５はＢｕｃｏｍ３３３の指令に従ってこれら各モータを制御する。
【００３６】
ボディユニット１００内には次の構成部材が図示のように配設されている。例えば、光学系としての一眼レフ方式の構成部材（クイックリターンミラー３０５、ペンタプリズム３０６、接眼レンズ１３、サブミラー３１１）と、光軸上のフォーカルプレーン式のシャッタ１５と、サブミラー３１１からの反射光束を受けて自動測距するためのＡＦ検出用光学部３１４が設けられている。ＡＦ検出用光学部３１４は、コンデンサレンズ１６０、セパレータレンズ１６１、セパレータ絞り１６２及びラインセンサ構成のＡＦセンサユニット３１３により構成されている。
【００３７】
また、ＡＦ検出用光学部３１４を駆動制御するＡＦセンサ駆動回路１７と、クイックリターンミラー３０５を駆動制御するミラー駆動機構１８と、シャッタ１５の先幕と後幕を駆動するばねをチャージするシャッタチャージ機構１９と、それら先幕と後幕の動きを制御するシャッタ制御回路２０と、ペンタプリズム３０６からの光束に基づき測光処理する測光回路２１が設けられている。
【００３８】
撮影レンズ３０１の光軸上には、撮像用光学系３０２を通過した被写体像を光電変換するためのＣＣＤユニット３０３が光電変換素子として設けられ、さらにこのＣＣＤユニット３０３と撮影レンズ３０１との間には防塵ガラス３２１が設けられており、この防塵ガラス３２１を所定の周波数で振動させる圧電素子３２２がその防塵ガラス３２１の周縁部に取り付けられている。この圧電素子３２２が防塵ガラス駆動回路３３２中の駆動回路３３２Ａによって防塵ガラス３２１を振動させて、そのガラス表面に付着していた塵を除去できるように構成されている。ここで、防塵ガラス３２１は撮影レンズ３０１と同一の光軸上に位置しており、当該カメラが横向き状態の場合にその塵付着面方向は水平方向（横向き状態）となるように設定されている。
【００３９】
また、ファインダ光軸上には、ファインダ光学系３０８を通過した被写体像を光電変換するためのファインダＣＣＤユニット３０９が光電変換素子として設けられている。また、ファインダ光学系３０８を通過した被写体像の一部を反射してファインダＣＣＤユニット３０９に導くためのハーフミラー１２８及びファインダＣＣＤレンズ１２６が配置されている。
【００４０】
ファインダＣＣＤユニット３０９で撮像された画像は、カメラボディ背面等に配置された液晶モニタ２４に表示される。これにより、ファインダを覗かなくても撮影しようとしている画像を観察することができる。さらに、ファインダＣＣＤユニット３０９は、ファインダＣＣＤレンズ１２６との間の光路上に配設された防塵ガラス３２３によって保護されている。この防塵ガラス３２３を所定の周波数で振動させる圧電素子３２４は、防塵ガラス３２３の周縁部に取り付けられている。この圧電素子３２４が防塵ガラス駆動回路３３２中の駆動回路３３２Ｂによって防塵ガラス３２３を振動させて、そのガラス表面に付着していた塵を除去できるように構成されている。ここで、防塵ガラス３２３は撮影レンズ３０１・ＣＣＤユニット３０３間の光軸に直交する光軸上に位置しており、当該カメラが横向き状態の場合に、防塵ガラス３２３の塵付着面方向は鉛直下向き方向となるように設定されている。
【００４１】
ＡＦ検出用光学部３１４は、ＡＦセンサユニット３１３、さらにはＡＦ検出光学系３１２よりも前段の光路上にＡＦセンサユニット３１３と平行に配設された防塵ガラス３２５により保護されている。この防塵ガラス３２５は、ＡＦ検出光学系３１２を密閉構造的に保護している。この防塵ガラス３２５を所定の周波数で振動させる圧電素子３２６は、防塵ガラス３２５の周縁部に取り付けられている。この圧電素子３２４が防塵ガラス駆動回路３３２中の駆動回路３３２Ｃによって防塵ガラス３２５を振動させて、そのガラス表面に付着していた塵を除去できるように構成されている。ここで、防塵ガラス３２５は撮影レンズ３０１・ＣＣＤユニット３０３間の光軸に直交する光軸上に位置しており、当該カメラが横向き状態の場合に、防塵ガラス３２５の塵付着面方向は鉛直上向き方向となるように設定されている。
【００４２】
もし、防塵ガラス３２５が存在しなければ、レンズ着脱時にマウント２０７から侵入した塵がコンデンサレンズ１６０の外面に付着し、ＡＦ検出時に悪影響を及ぼす。しかし、防塵ガラス３２５によって侵入する塵から保護し、この防塵ガラス３２５の外面に付着する塵を圧電素子３２６による加振振動で除去することによって、ＡＦ検出精度の低下をなくすことができる。
【００４３】
このようにして、図４に示すような本実施の形態１のカメラシステムはいわゆる「防塵機能付きカメラ」に属する基本構造をもつ電子カメラである。
【００４４】
なお、ＣＣＤユニット３０３、ファインダＣＣＤユニット３０９、ＡＦセンサユニット３１３それぞれの周辺の温度を測定するために、防塵ガラス３２１，３２３，３２５の近傍には、温度測定回路３３が設けられている。
【００４５】
また、このカメラシステムには、ＣＣＤユニット３０３に接続したＣＣＤインターフェイス回路２３、ファインダＣＣＤユニット３０９に接続したファインダＣＣＤインターフェイス回路１２７、液晶モニタ２４、記憶領域として設けられたＳＤＲＡＭ２５、ＦｌａｓｈＲＯＭ２６及び記録メディア２７などを利用して画像処理する画像処理コントローラ２８が設けられ、電子撮像機能と共に電子記録表示機能を提供できるように構成されている。その他の記憶領域としては、カメラ制御に必要な所定の制御パラメータを記憶する例えばＥＥＰＲＯＭからなる不揮発性メモリ２９が、Ｂｕｃｏｍ３３３からアクセス可能に設けられている。
【００４６】
また、Ｂｕｃｏｍ３３３には、当該カメラシステムの動作状態を表示出力によってユーザへ告知するための動作表示用ＬＣＤ５１と、カメラ操作ＳＷ５２とが設けられている。カメラ操作ＳＷ５２は、例えばレリーズＳＷ、モード変更ＳＷ及びパワーＳＷなどの、当該カメラを操作するために必要な操作釦を含むスイッチ群である。さらに、電源としての電池５４と、この電源の電圧を、当該カメラシステムを構成する各回路ユニットが必要とする電圧に変換して供給する電源回路５３が設けられている。
【００４７】
さらに、このカメラシステムは、姿勢検出回路３３４を備えている。この姿勢検出回路３３４は、このカメラシステムの姿勢を検出するための回路であって、例えば第１〜第３の姿勢検出スイッチ３４１，３４２，３４３を含んで構成されている。これらの姿勢検出スイッチ３４１，３４２，３４３の構成、検出原理は、いずれも同一である。図５−１〜図５−３は、一例として、姿勢検出スイッチ３４１の構成例を示し、図５−１は平面図であり、図５−２は図５−１中のＣ−Ｃ線断面図であり、図５−３は図５−１中のＤ−Ｄ線断面図である。
【００４８】
姿勢検出スイッチ３４１は、樹脂で成形されたスイッチ本体３５０を有し、このスイッチ本体３５０には溝部３５０ａが形成され、蓋体３５１により閉塞されている。また、姿勢検出スイッチ３４１は、溝部３５０ａ内を転動自在な鋼球３５２を有する。ここで、溝部３５０ａは、Ｄ−Ｄ線断面の方向で見ると、図５−３に示すように、鋼球３５２の直径よりもわずかに広い均一な幅で形成されている。また、溝部３５０ａは、Ｃ−Ｃ線断面の方向で見ると、図５−２に示すように、第１の斜面３５０ｂと第２の斜面３５０ｃとを有する略Ｖ字形状に形成されている。そのＶ字の頂点部３５０ｄの近傍には、発光ダイオード３５３用の投光窓３５０ｅとフォトトランジスタ３５４用の受光窓３５０ｆとが対向して形成されている。溝部３５０ａのＶ字部の角度は約９０°とされている。
【００４９】
なお、以下の姿勢検出スイッチ３４１の方向説明のため、スイッチ本体３５０におけるＶ字形状の溝部３５０ａの頂点部３５０ｄの下方の面を“Ａ面”、側面のうちで第１の斜面３５０ｂ側の面を“Ｂ面”と定義するものとする（図５−２参照）。
【００５０】
次に、姿勢検出スイッチ３４１の検出動作について図６−１、図６−２を参照して説明する。図６−１は、姿勢検出スイッチ３４１のＢ面を下にした状態を示す断面図であり、図６−２は、姿勢検出スイッチ３４１のＡ面を下にした状態を示す断面図である。まず、姿勢検出スイッチ３４１が図６−１に示す状態の場合、鋼球３５２は重力により溝部３５０ａ内を下方向に転動する。このため、投光窓３５０ｅと受光窓３５０ｆとの間の光路は鋼球３５２によって遮られることはない。
【００５１】
一方、姿勢検出スイッチ３４１が図６−２に示す状態の場合、鋼球３５２は重力により溝部３５０ａ内を下方向、すなわち頂点部３５０ｄの方向に転動する。このため、投光窓３５０ｅと受光窓３５０ｆとの間の光路は鋼球３５２によって遮られる。一般に、溝部３５０ａのうち、頂点部３５０ｄが最も低い位置にある場合、鋼球３５２が頂点部３５０ｄの近傍に転動し、投光窓３５０ｅと受光窓３５０ｆとの間の光路を遮る。
【００５２】
以後、本実施の形態１では、図６−２のように、鋼球３５２が頂点部３５０ｄの近傍に存在し、発光ダイオード３５３とフォトトランジスタ３５４との間の光路を遮っている状態を“Ｈ”と表現し、図６−１のように、鋼球３５２が頂点部３５０ｄの近傍に存在せず、発光ダイオード３５３とフォトトランジスタ３５４との間の光路を遮っていない状態を“Ｌ”と表現する。
【００５３】
次に、第１〜第３の姿勢検出スイッチ３４１，３４２，３４３のカメラ本体１に対する配置例について図７−１，図７−２を参照して説明する。図７−１は、カメラ本体１を正面から見た場合の第１〜第３の姿勢検出スイッチ３４１，３４２，３４３の配置例を示す正面図であり、図７−２は、カメラ本体１を右側から見た場合の第１〜第３の姿勢検出スイッチ３４１，３４２，３４３の配置例を示す側面図である。
【００５４】
第１の姿勢検出スイッチ３４１は、Ａ面をカメラ本体１の正面から見て向かって上側に、Ｂ面をカメラ本体１の左側に向けて配置されている。第２の姿勢検出スイッチ３４２も同様に、Ａ面をカメラ本体１の正面から見て向かって上側に、Ｂ面をカメラ本体１の左側に向けて配置されている。一方、第３の姿勢検出スイッチ３４３は、Ａ面をカメラ本体１の正面から見て向かって下側に、Ｂ面をカメラ本体１の右側に向けて配置されている。第１，第２の姿勢検出スイッチ３４１，３４２と第３の姿勢検出スイッチ３４３とは、ａ−ａ線を中心に対称的に配置されている。
【００５５】
さらに、図７−２に示すように、第１〜第３の姿勢検出スイッチ３４１，３４２，３４３は、カメラ本体１の右面から見て、線ｂ−ｂに対してそれぞれ角度θをもって配置されている。第１の姿勢検出スイッチ３４１と第２の姿勢検出スイッチ３４２とは、ｂ−ｂ線を中心に対称的に配置されている。
【００５６】
上述した如くに構成されたカメラシステムでは、各部が次のように稼動する。画像処理コントローラ２８は、Ｂｕｃｏｍ３３３の指令に従ってＣＣＤインターフェイス回路２３又はファインダＣＣＤインターフェイス回路１２７を制御してＣＣＤユニット３０３又はファインダＣＣＤユニット３０９から画像データを取り込む。この画像データは画像処理コントローラ２８でビデオ信号に変換され、液晶モニタ２４にて出力表示される。ユーザはこの液晶モニタ２４の表示画像から、撮影した画像イメージを確認できる。
【００５７】
ＳＤＲＡＭ２５は画像データの一時的保管用メモリであり、画像データが変換される際のワークエリアなどに使用される。またこの画像データはＪＰＥＧデータに変換された後には記録メディア２７に保管されるように設定されている。
【００５８】
ＣＣＤユニット３０３は、前述のように、透明な防塵ガラス３２１によって保護されている。この防塵ガラス３２１の周縁部にはそのガラス面を加振するための圧電素子３２２が配置されており、この圧電素子３２２は、後で詳しく説明するように駆動回路３３２Ａによって駆動される。ＣＣＤユニット３０３及び圧電素子３２２は、防塵ガラス３２１を一面とし、かつ、破線で示すような枠体によって囲まれたケース内に一体的に収納されることが、防塵のためにはより好ましい。
【００５９】
また、通常、温度はガラス製の物材の弾性係数に影響し、その固有振動数を変化させる要因の一つであるため、運用時にその温度を計測してその固有振動数の変化を考慮しなければならない。稼動中に温度上昇が激しいＣＣＤユニット３０３の前面を保護するため設けられた防塵ガラス３２１の温度変化を測定してその時の固有振動数を予想するほうがよい。したがって、本実施の形態１の場合、温度測定回路３３に接続されたセンサ（不図示）が、ＣＣＤユニット３０３の周辺温度を測定するため設けられている。なお、そのセンサの温度測定ポイントは、防塵ガラス３２１の振動面のごく近傍に設定されるのが好ましい。
【００６０】
ファインダＣＣＤユニット３０９は、ＣＣＤユニット３０３と同様に、透明な防塵ガラス３２３によって保護されている。この防塵ガラス３２３の周縁部には、そのガラス面を加振するための圧電素子３２４が配置されており、この圧電素子３２４は駆動回路３３２Ｂによって駆動される。ファインダＣＣＤユニット３０９及び圧電素子３２４は、防塵ガラス３２３を一面とし、かつ、破線で示すような枠体によって囲まれたケース内に一体的に収納されることが、防塵のためにはより好ましい。
【００６１】
さらに、防塵ガラス３２３の温度変化を測定し、その時の固有振動数を予想するため、温度測定回路３３に接続されたセンサ（不図示）が、ファインダＣＣＤユニット３０９の周辺温度を測定するため設けられている。なお、そのセンサの温度測定ポイントは、防塵ガラス３２３の振動面のごく近傍に設定されるのが好ましい。
【００６２】
ミラー駆動機構１８は、クイックリターンミラー３０５をアップ位置とダウン位置へ駆動するための機構であり、このクイックリターンミラー３０５がダウン位置にある時、撮影レンズ３０１からの光束はＡＦ検出用光学部３１４側とペンタプリズム３０６側へと分割されて導かれる。ＡＦ検出用光学部３１４内のＡＦセンサユニット３１３からの出力は、ＡＦセンサ駆動回路１７を介してＢｕｃｏｍ３３３へ送信されて周知の測距処理が行われる。
【００６３】
また、ペンタプリズム３０６に隣接する接眼レンズ１３からはユーザが被写体を目視できる一方、このペンタプリズム３０６を通過した光束の一部は測光回路２１内のフォトセンサ（不図示）へ導かれ、ここで検知された光量に基づき周知の測光処理が行われる。
【００６４】
次に、図８及び図９を参照して、本実施の形態１における防塵ガラス３２１，３２３，３２５の駆動及びその動作制御について説明する。図８は、圧電素子３２２に対する駆動回路３３２Ａの構成の一例を示す回路図であり、図９は、動作制御例を示すタイムチャートである。ここに例示した駆動回路３３２Ａは、図８に示すような回路構成を有し、その各部において、図９のタイムチャートで表わす波形信号（Ｓｉｇ１〜Ｓｉｇ４）が生成され、それらの信号に基づいて次のように制御される。圧電素子３２４に対する駆動回路３３２Ｂ、圧電素子３２６に対する駆動回路３３２Ｃの場合も同様である。
【００６５】
すなわち、駆動回路３３２Ａは、図８に例示するように、Ｎ進カウンタ４１、１／２分周回路４２、インバータ４３、複数のＭＯＳトランジスタ（Ｑ００，Ｑ０１，Ｑ０２）４４ａ，４４ｂ，４４ｃ、トランス４５及び抵抗（Ｒ００）４６から構成されている。
【００６６】
トランス４５の１次側に接続されたトランジスタ（Ｑ０１）４４ｂ及びトランジスタ（Ｑ０２）４４ｃのオン／オフ切替え動作によって、そのトランス４５の２次側に所定周期の信号（Ｓｉｇ４）が発生するように構成されており、この所定周期の信号に基づき圧電素子３２２を駆動させ、防塵ガラス３２１を共振させるようになっている（詳細は後述する）。
【００６７】
Ｂｕｃｏｍ３３３は、制御ポートとして設けられた２つのＩＯポートＰ＿ＰｗＣｏｎｔ及びＩＯポートＤ＿ＮＣｎｔと、この制御部３３３内部に存在するクロックジェネレータ５５を介して駆動回路３３２Ａを次のように制御する。クロックジェネレータ５５は、圧電素子３２２へ印加する信号周波数より充分に早い周波数でパルス信号（基本クロック信号）をＮ進カウンタ４１へ出力する。この出力信号が図９中のタイムチャートが表わす波形の信号Ｓｉｇ１である。そして、この基本クロック信号はＮ進カウンタ４１へ入力される。
【００６８】
Ｎ進カウンタ４１は、このパルス信号をカウントし、所定の値“Ｎ”に達する毎にカウント終了パルス信号を出力する。すなわち、基本クロック信号を１／Ｎに分周することになる。この出力信号が図９中のタイムチャートが表わす波形の信号Ｓｉｇ２である。この分周されたパルス信号はＨｉｇｈとＬｏｗのデューティ比が１：１ではない。そこで、１／２分周回路４２を通してデューティ比を１：１へ変換する。なお、この変換されたパルス信号は図９中のタイムチャートが表わす波形の信号Ｓｉｇ３に対応する。
【００６９】
この変換されたパルス信号のＨｉｇｈ状態において、この信号が入力されたＭＯＳトランジスタ（Ｑ０１）４４ｂがオンする。一方、トランジスタ（Ｑ０２）４４ｃへはインバータ４３を経由してこのパルス信号が印加される。したがって、パルス信号のＬｏｗ状態において、この信号が入力されたトランジスタ（Ｑ０２）４４ｃがオンする。トランス４５の１次側に接続されたトランジスタ（Ｑ０１）４４ｂとトランジスタ（Ｑ０２）４４ｃが交互にオンすると、２次側には図９中の信号Ｓｉｇ４の如き周期の信号が発生する。
【００７０】
トランス４５の巻線比は、電源回路５３の出力電圧と圧電素子３２２の駆動に必要な電圧から決定される。なお、抵抗（Ｒ００）４６はトランス４５に過大な電流が流れることを制限するために設けられている。
【００７１】
圧電素子３２２を駆動するに際しては、トランジスタ（Ｑ００）４４ａがオン状態にあり、電源回路５３のユニットからトランス４５のセンタータップに電圧が印加されていなければならない。図中、トランジスタ（Ｑ００）４４ａのオン／オフ制御はＩＯポートのＰ＿ＰｗＣｏｎｔを介して行われる。Ｎ進カウンタ４１の設定値“Ｎ”はＩＯポートＤ＿ＮＣｎｔから設定できる。よって、Ｂｕｃｏｍ３３３は、設定値“Ｎ”を適宜に制御することで、圧電素子３２２（圧電素子３２４，３２６についても同様）の駆動周波数を任意に変更可能である。
【００７２】
このとき、周波数は、次の（１）式によって算出可能である。
ｆｄｒｖ  ＝  ｆｐｌｓ／２Ｎ    …………（１）
ここで、Ｎ：カウンタへの設定値、
ｆｐｌｓ：クロックジェネレータの出力パルスの周波数、
ｆｄｒｖ：圧電素子へ印加される信号の周波数、
なお、この（１）式に基づいた演算は、Ｂｕｃｏｍ３３３のＣＰＵで行われる。
【００７３】
次に、上述の制御部であるカメラボディ制御用マイクロコンピュータ（Ｂｕｃｏｍ）３３３が行う制御について具体的に説明する。図１０にＢｕｃｏｍ３３３で稼動する制御プログラムのメインルーチンを例示する。まず、カメラの電源ＳＷ（不図示）がオンされると、Ｂｕｃｏｍ３３３は稼動を開始し、ステップＳ０００では、カメラシステムを起動するための処理が実行される。電源回路５３を制御してこのカメラシステムを構成する各回路ユニットへ電力を供給する。また、各回路の初期設定を行う。
【００７４】
次いで、ステップＳ００１では、カメラ本体１の姿勢検出を実行する。この姿勢検出は、姿勢検出回路３３４中に含まれる第１〜第３の姿勢検出スイッチ３４１，３４２，３４３のそれぞれの検出出力に基づき、後述の表（図１２）を参照して、本体カメラ１の姿勢を判別することにより実行される。検出結果は、フラグ形式（図示せず）で記憶される。
【００７５】
図１１及び図１２を参照してカメラ本体１の各姿勢に対応する第１〜第３の姿勢検出スイッチ３４１，３４２，３４３の状態について説明する。図１１−１に示すように、カメラ本体１が横姿勢（ペンタプリズム３０６が上）にある場合、第１の姿勢検出スイッチ３４１は“Ｌ”の状態，第２の姿勢検出スイッチ３４２は“Ｌ”の状態，第３の姿勢検出スイッチ３４３は“Ｈ”の状態となる。
【００７６】
図１１−２に示すように、カメラ本体１が横姿勢（ペンタプリズム３０６が下）にある場合、第１の姿勢検出スイッチ３４１は“Ｈ”の状態，第２の姿勢検出スイッチ３４２は“Ｈ”の状態，第３の姿勢検出スイッチ３４３は“Ｌ”の状態となる。図１１−３に示すように、カメラ本体１が縦姿勢にある場合、第１〜第３の姿勢検出スイッチ３４１，３４２，３４３はいずれも“Ｌ”の状態となる。
【００７７】
図１１−４に示すように、撮影レンズ３０１が上向き姿勢にある場合、第１の姿勢検出スイッチ３４１は“Ｌ”の状態，第２の姿勢検出スイッチ３４２は“Ｈ”の状態，第３の姿勢検出スイッチ３４３は“Ｈ”の状態となる。図１１−５に示すように、撮影レンズ３０１が下向き姿勢にある場合、第１の姿勢検出スイッチ３４１は“Ｈ”の状態，第２の姿勢検出スイッチ３４２は“Ｌ”の状態，第３の姿勢検出スイッチ３４３は“Ｌ”の状態となる。
【００７８】
図１２は、これらの第１〜第３の姿勢検出スイッチ３４１，３４２，３４３のＨ，Ｌレベルの出力とカメラ本体１の姿勢との関係をまとめた表であり、第１〜第３の姿勢検出スイッチ３４１，３４２，３４３のＨ，Ｌレベルの出力を検出することで、カメラ本体１の姿勢を判別することができる。カメラ本体１の姿勢が判別できれば、それぞれの防塵ガラス３２１，３２３，３２５の姿勢（塵付着面の方向）も同時に判別することができる。
【００７９】
ステップＳ００２では、温度測定回路３３より各部の現在の温度データを取り込む。この温度データは続くステップＳ００３の動作ルーチンにおいて必要な情報である。ステップＳ００３では、サブルーチン「塵除去動作」がコールされ実行される。このサブルーチン中で防塵ガラス３２１，３２３，３２５を振動させることにより塵払いの動作が実行される。電源起動時にこの動作を実行することで、このカメラを撮影に使用しない期間に、意図せずにガラスに付着した塵を除去できる。サブルーチンの詳細動作は後述する。
【００８０】
ステップＳ００４は、周期的に実行されるステップであり、Ｌｕｃｏｍ５と通信動作を行うことでレンズユニット１０の状態を検出するための動作ステップである。ステップＳ００５にて、レンズユニット１０がボディユニット１００に装着されたことを検出すると、ステップＳ００８へ移行する。一方、レンズユニット１０がボディユニット１００から外されたことを検出したときは、ステップＳ００６からステップＳ００７へ移行する。そして、制御フラグのＦ＿Ｌｅｎｓをリセットし、ステップＳ０１２に移行する。
【００８１】
ステップＳ００８では、制御フラグのＦ＿Ｌｅｎｓをセットする。この制御フラグは、カメラのボディユニット１００にレンズユニット１０が装着されている期間は“１”を示し、レンズユニット１０が外されている期間は“０”を示す。ステップＳ００９では、ステップＳ００１の場合と同様にカメラ本体１の姿勢検出を実行する。ステップＳ０１０にて、温度測定の動作が行われ、その直後のステップＳ０１１にて、防塵ガラス３２１，３２３，３２５の塵を除去するためのサブルーチン「塵除去動作」がコールされ実行される。そして、ステップＳ０１２に移行する。
【００８２】
通常、カメラ本体にレンズユニット１０が装着されていない期間において、レンズや防塵ガラス３２１，３２３，３２５等に塵が付着する可能性が高い。したがって、レンズユニット１０の装着を検出したタイミングで塵を払う動作を実行することが望ましい。よって、周期的にステップＳ００９〜Ｓ０１１の動作を実行することも考えられるが、これでは、塵が付着していない状態で防塵ガラス３２１，３２３，３２５を振動させることが多くなり、無駄な電力を消費する可能性が高いので、ここでは、レンズ装着操作の有無で実行することにしている。
【００８３】
ステップＳ０１２では、カメラ操作ＳＷ５２の状態を検出する。そして、カメラ操作ＳＷ５２の一つであるモード変更ＳＷ（不図示）の状態変化がステップＳ０１３で検出されると、ステップＳ０１４へ移行する。ステップＳ０１４では、そのＳＷの操作に連動してカメラの動作モードが変更され、ステップＳ０１５では、その動作モードに応じた情報が動作表示用ＬＣＤ５１へ表示出力される。そして、ステップＳ００４へ再び移行する。
【００８４】
ステップＳ０１６では、カメラ操作ＳＷの一つである１ｓｔ．レリーズＳＷ（不図示）が操作されたか否かを判定する。もし、１ｓｔ．レリーズＳＷがオンしているならばステップＳ０１７へ移行し、オフならばステップＳ００４へ再び移行する。ステップＳ０１７では、測光回路２１から被写体の輝度情報を入手する。そして、この情報からＣＣＤユニット３０３の露光時間（Ｔｖ値）と撮影レンズ１の絞り設定値（Ａｖ値）を算出する。
【００８５】
ステップＳ０１８では、ＡＦセンサ駆動回路１７を経由してＡＦセンサユニット３１３の検知データを入手する。このデータに基づきピントのズレ量を算出する。ここで、ステップＳ０１９にて、Ｆ＿Ｌｅｎｓの状態を判定する。“０”ならばレンズユニット１０が存在しないことを意味するので、ステップＳ０２０以降の撮影動作は実行できない。そこで、この場合はステップＳ００４へ再び移行する。ステップＳ０２０では、Ｌｕｃｏｍ５に対してピントのズレ量を送信して、このズレ量に基づく撮影レンズ１の駆動を指令する。
【００８６】
ステップＳ０２１では、カメラ操作ＳＷ５２の一つである２ｎｄ．レリーズＳＷ（不図示）が操作されたか否かを判定する。この２ｎｄ．レリーズＳＷがオンしているときはステップＳ０２２へ移行して所定の撮影動作を行うが、オフのときは再びステップＳ００４へ移行する。
【００８７】
ステップＳ０２２からは、まずＬｕｃｏｍ５へＡｖ値を送信し、絞り３の駆動を指令し、ステップＳ０２３にてクイックリターンミラー３０５をアップ位置へ移動する。ステップＳ０２４にてシャッタ１５の先幕走行を開始させ、ステップＳ０２５にて画像処理コントローラ２８に対して撮像動作の実行を指令する。Ｔｖ値で示される時間、ＣＣＤユニット３０３への露光が終了すると、ステップＳ０２６において、シャッタ１５の後幕走行を開始させ、ステップＳ０２７にてクイックリターンミラー３０５をダウン位置へ駆動する。
【００８８】
また、これと並行してシャッタ１５のチャージ動作を行う。そして、ステップＳ０２８では、Ｌｕｃｏｍ５に対して絞り３を開放位置へ復帰させるように指令し、ステップＳ０２９では、画像処理コントローラ２８に対して、撮影した画像データを記録メディア２７へ記録するように指令する。その画像データの記録が終了すると、再びステップＳ００４へ移行する。
【００８９】
ここで、防塵ガラス３２１，３２３，３２５の支持構造と振動形態について説明しておく。なお、防塵ガラス３２１，３２３，３２５は、いずれも同様な構成となっているため、ここでは防塵ガラス３２１についてのみ説明するものとする。
【００９０】
本発明に係るカメラシステムにおいては、防塵ガラス３２１の形状を仮に円盤とする。また、その防塵ガラス３０のガラス板の円周に沿って加振用の圧電素子３２２を配置すると、このガラス板は円周で支持されることになる。このとき、このガラス板は複数の振動モード（振動形態）で加振する。本発明では、この振動モードの中から２つのモードを選択して使い分けることとする。図１３−１，図１３−２、図１４−１及び図１４−２に選択した振動モードにおけるガラス板の振動の状態を示す。
【００９１】
本実施の形態１に係る防塵ガラス３２１は、図１３−１，図１３−２にそれぞれ図示したような振動形態を示す。すなわち、加振手段として機能する圧電素子３２２によって振動を加えると、そのガラス板の周囲には振動しない「節」が発生するが、概ねガラス全面が同じ位相にて、太矢印で示された如く図１３−１と図１３−２との状態を交互に繰り返して振動する。このような振動形態を以下「振動モード１」と称する。
【００９２】
同様に、本実施の形態１の防塵ガラス３２１は、加える振動の周波数によっては、図１４−１，図１４−２にそれぞれ図示したような形態でも振動することができる。すなわち、図１４−１，図１４−２に例示した防塵ガラス３２１の振動形態は、ガラス板の内側と外側が１８０度ずれた位相で振動するものである。詳しくは、図示する振動形態ではガラス板の周囲と内部に節がそれぞれ発生するモードであり、図示の如く、内側の節に囲まれた領域の振動と内部の節の外側領域（ドーナツ状の領域）の振動は位相が１８０度ずれている。以下これを「振動モード２」と称する。
【００９３】
次に、図１５に示すサブルーチン「塵除去動作サブ」においては、これら振動モード１と振動モード２の２つのモードで防塵ガラス３２１，３２３，３２５が共振されるように圧電素子３２２，３２４，３２６を駆動するように設定されている。一般的に、塵の特性（例えば重さ、形状、素材など）によって、塵を除去しやすい周波数や振幅が異なる。そこで、確実に塵を除くためにはこれら２つの振動モードでそのガラス板を共振させるとよい。もちろん、さらに複数の振動モードで共振させてもよい。但し、除去動作にかかる時間もまたその分余計にかかることがあるので、除去効果の程度と所要時間とを充分鑑みて適当な数に設定するべきである。
【００９４】
図１５のフローチャート及び図１６〜図１９に基づき、「塵除去動作」のサブルーチン中に含まれる「塵除去動作サブ」について説明する。ここでは、圧電素子３２２，３２４，３２６による加振動作は、基本的に、並行して行うものとする。まず、ステップＳ０９９では、後述する設定フラグに応じて、加振動作なしか否かを判別する。圧電素子３２２，３２４，３２６の全てについて加振動作なしの場合には（ステップＳ０９９：Ｙｅｓ）、リターンする。
【００９５】
次の、ステップＳ１００では、ＥＥＰＲＯＭ２９から４つの制御パラメータ（Ｓｔａｒｔｏｆｆｓｅｔ，Ｓｔｏｐｏｆｆｓｅｔ，ＯＳＣｔｉｍｅ１，ＯＳＣｔｉｍｅ２）を読み出す。これらの４つの制御パラメータは、図１６にメモリマップで示されたＥＥＰＲＯＭ２９内部に記憶された「振動モード１対応温度補正テーブル」から読み出せる。
【００９６】
図１７−１は、この振動モード１対応温度補正テーブルの詳細を示している。この温度補正テーブルから対応する制御パラメータを読み出すためには温度情報（ｔ）が必要である。温度情報（ｔ）はこのサブルーチンの実行前に、温度測定回路３３の温度センサ（不図示）によって検出され取得されている（図１０のステップＳ００２又はステップＳ０１０参照）。
【００９７】
温度情報（ｔ）が仮に２０℃の場合、このときの制御パラメータを図１７−１の振動モード１対応温度テーブル中の＊０で示す部分から読み取ると、読出し開始位置（Ｓｔａｒｔｏｆｆｓｅｔ）は“３”、読出し終了位置（Ｓｔｏｐｏｆｆｓｅｔ）は“９”、そして、時間間隔（ＯｓｃＴｉｍｅ１）は“１０”、時間間隔（ＯｓｃＴｉｍｅ２）は“１”がそれぞれ対応して得られる。そして、“Ｓｔａｒｔｏｆｆｓｅｔ”の値と“Ｓｔｏｐｏｆｆｓｅｔ”の値によって、ＥＥＰＲＯＭ２９の振動モード１対応周波数補正テーブルの領域を定義する。
【００９８】
また、この領域から読み出された時間間隔（ＯｓｃＴｉｍｅ１，この場合は、１０ｍｓｅｃ．）でＮ進カウンタ４１へ順次設定される。すなわち、その周波数にて継続して駆動する動作時間を示している。この時の塵除去動作（振動モード１）にかかる時間は、この場合について計算すると、
１０ｍｓ×｛（９−３）＋１｝（回）＝７０ｍｓ
となる。また、振動モード２については、
１０ｍｓ×｛（１３−５）＋１｝（回）＝９０ｍｓ
となる。したがって、カメラとして、塵除去動作にかかる時間は、７０＋９０＝１６０ｍｓとなる。
【００９９】
図１７−１，図１７−２中に示す時間間隔（ＯｓｃＴｉｍｅ２）は、後述する消費電力低減用に動作時間を短時間にさせる時の駆動時間を示している。必要に応じて、この時間間隔（ＯｓｃＴｉｍｅ２）を採用することで、動作時間が短くなるように制御する。
【０１００】
図１８−１，図１８−２はこれら振動モードに対応する周波数補正テーブルを示し、図１８−１は振動モード１対応周波数補正テーブル、図１８−２は振動モード２対応周波数補正テーブルである。振動モード１対応周波数補正テーブルはクロックジェネレータ５５が周波数４０（ＭＨｚ）のパルス信号を出力するものとして算出されている。
【０１０１】
既に説明した（１）式を適用すれば駆動周波数は算出できる。上述した温度補正テーブルから読み取った値に基づき、振動モード１対応周波数補正テーブルの＊１〜＊２の領域の７つのプリセット値がＮ進カウンタ４１へ順次設定される。このときの駆動周波数ｆ１，ｆ２，…，ｆ７と、ガラス板の振動の振幅との関係をグラフとしてプロットすると、図１９中の＊３のような曲線となる。
【０１０２】
この図１９には、駆動周波数ｆｎとガラス板の振動の振幅との関係を特性グラフ曲線で表わしており、プロットされた＊３のグラフ曲線を中心として、共振周波数の補正範囲（ｆｃ´＜ｆｃ＜ｆｃ´´）が示されている。＊３のグラフ曲線においては、ｆｃが共振周波数である。そして、このｆｃはたまたまｆ４に等しい。例えば、＊４のような特性をもつガラス板の場合はｆｃ´が共振周波数であって、ｆｃ´はｆ３と等しい。例えば、＊５のような特性のガラス板の場合はｆｃ´´が共振周波数であって、ｆｃ´´はｆ５と等しい。
【０１０３】
よって、共振周波数がΔｆｃの範囲でバラツクことを考慮して、当該周波数補正テーブルの読出し開始位置（Ｓｔａｒｔｏｆｆｓｅｔ）と読出し終了位置（Ｓｔｏｐｏｆｆｓｅｔ）を設定すれば、必ず共振周波数でガラス板を加振する状況を実現することができる。また、温度によって、Δｆｃが変動しても、図１７−１に示す振動モード１対応温度補正テーブルを適正に設定することで、必ず共振周波数で駆動できることが明らかである。
【０１０４】
ところで、防塵ガラス３２１，３２３，３２５は、必要とされる光学的サイズや許容スペースが異なるため、それぞれ異なる寸法となる。例えば、ファインダＣＣＤユニット３０９はファインダとしての機能上、一般的には、ＣＣＤユニット３０３ほどの大型な撮像素子は必要とされず、やや小型の撮像素子が使用される。また、ＡＦセンサユニット３１３は、近年ではマルチＡＦの採用等によって大型化しているものの、ＣＣＤユニット３０３やファインダＣＣＤユニット３０９よりは受光部の光学的寸法は小さい。
【０１０５】
このように、それぞれに必要な光学的寸法が異なるため、また、ファインダ系、ＡＦ系は、撮像系よりもスペース的により小型化が要求されるので、防塵ガラス３２１，３２３，３２５の寸法は異なるものとならざるを得ない。
【０１０６】
防塵ガラス３２１，３２３，３２５の寸法が異なるため、それぞれの共振周波数も基本的には異なるものとなる。図２０−１は、防塵ガラスの面積と共振周波数との関係を示すグラフであり、図２０−２は、防塵ガラスの厚さと共振周波数との関係を示すグラフである。防塵ガラスの共振周波数は、一般に、面積にほぼ反比例し、厚さにほぼ比例する特性を有する。
【０１０７】
そこで、本実施の形態１では、このような特性を利用し、防塵駆動制御及び駆動回路を簡略化するために、これらの防塵ガラス３２１，３２３，３２５の面積と厚さを操作して同一の共振周波数に設定している。
【０１０８】
具体的には、防塵ガラス３２１の面積をＳ、厚さをｔとした場合に、防塵ガラス３２３の面積がＳ／２であるとするとその厚さを２ｔとし、また、防塵ガラス３２５の面積がＳ／３であるとするとその厚さを３ｔとする。これにより、
Ｓ×ｔ＝Ｓ／２×２ｔ＝Ｓ／３×３ｔ
なる関係が成立し、防塵ガラス３２１，３２３，３２５の共振周波数を同一とすることができる。
【０１０９】
ここで、図１５のフローチャートの説明に戻る。ＯＳＣｔｉｍｅの値を大きくすれば、共振状態における加振時間を任意に設定できる。但し、無効な加振動作（共振周波数以外での駆動）の時間も大きくなるので注意が必要である。そこで、ステップＳ１０１では、ＥＥＰＲＯＭ２９の読み出し開始アドレスとしてＡｄｄｒｅｓｓＭ１＋Ｓｔａｒｔｏｆｆｓｅｔを設定する。ＡｄｄｒｅｓｓＭ１は振動モード１対応周波数補正テーブルの先頭アドレスを示している。したがって、ＡｄｄｒｅｓｓＭ１＋Ｓｔａｒｔｏｆｆｓｅｔは図１２−１中の＊１に対応していることになる。ここで、防塵ガラス３２１，３２３，３２５の共振周波数は、全て共通であり、ｆｃ３２１＝ｆｃ３２３＝ｆｃ３２５＝ｆ４に設定されている。
【０１１０】
ステップＳ１０２では、圧電素子３２２，３２４，３２６を駆動するための準備動作が行われる。ＩＯポートのＰ＿ＰｗＣｏｎｔを制御してトランジスタ（Ｑ００）４４ａをオン状態にする。さらに、クロックジェネレータ５５からパルス信号の出力を開始する。この状態でＮ進カウンタ４１にテーブルから取り出したデータを設定すれば、所望の周波数で圧電素子３２２，３２４，３２６を駆動できる。
【０１１１】
ステップＳ１０３においては、設定されたアドレスからプリセット値（Ｎ）を読み出す。そして、ＩＯポートのＤ＿ＮＣｎｔからＮ進カウンタ４１に読み出したプリセット値を設定する。ステップＳ１０４では、設定フラグに基づき時間間隔としてＯＳＣｔｉｍｅ１，２のいずれかを選択する。また、加振動作なしの場合には、圧電素子３２２，３２４，３２６の動作は行わない。そして、ステップＳ１０５では、タイマカウンタへ選択されたＯＳＣｔｉｍｅ１又は２を設定しタイマのカウント動作を開始する。
【０１１２】
そして、ステップＳ１０６にて、タイマカウンタの動作が終了するまで待機する。ステップＳ１０７では、ＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスが“ＡｄｄｒｅｓｓＭ１＋Ｓｔｏｐｏｆｆｓｅｔ”に等しいか否かが判定される。もし、等しい場合は図１８−１の＊２までテーブルデータを読み出したことを意味する。すなわち、予定した複数の周波数での加振動作が終了したことになる。よってこの場合は、ステップＳ１０９にて駆動動作を停止する処理が行われる。トランジスタ（Ｑ００）４４ａをオフし、クロックジェネレータ５５の動作を止める。
【０１１３】
ステップＳ１０７からステップＳ１０８へ移行したときは、ＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスをインクリメント（＋１）する。次の周波数で圧電素子３２２，３２４，３２６を駆動するため、再びステップＳ１０３へ移行する。
【０１１４】
振動モード１に対応する駆動動作が終了すると、振動モード２に対応する駆動動作のためにステップＳ２００〜Ｓ２０８の動作が実行される。振動モード２でガラス板を加振するために必要な制御パラメータＳｔａｒｔｏｆｆｓｅｔ，Ｓｔｏｐｏｆｆｓｅｔ，ＯＳＣｔｉｍｅ１，ＯＳＣｔｉｍｅ２は、図１７−２に示されＥＥＰＲＯＭ２９中の振動モード２対応温度補正テーブルから読み出せばよい。そして、プリセット値（Ｎ）は、ＥＥＰＲＯＭ２９の振動モード２対応周波数補正テーブルから読み出せばよい。同様に、振動モード２対応周波数補正テーブルの詳細は図１８−２に示されている。
【０１１５】
続くステップＳ２００〜Ｓ２０９の動作は、基本的に前述したステップＳ１００〜Ｓ１０９の動作と同じである。異なるところは、制御に必要なテーブルを読み出すＥＥＰＲＯＭ２９のアドレスが異なる点のみである。よってその説明は省略する。
【０１１６】
このように、振動モード１、振動モード２の２種類の振動モードによる防塵ガラス３２１，３２３，３２５への加振動作が終了すると、後述の図２１に示す塵除去動作ルーチンへリターンする。
【０１１７】
なお、カメラシステムの設計段階では、ガラス板の共振周波数のバラツキを予測することは非常に困難である。したがって、このカメラシステムが完成した後に、圧電素子３２２，３２４，３２６の駆動周波数を決定する制御パラメータを設定できるようにすべきである。そこで、必要なパラメータは、上述した如く本発明では全てＥＥＰＲＯＭ２９に選択可能に格納されている。
【０１１８】
ここで、カメラ本体１の姿勢に対応する各防塵ガラス３２１，３２３，３２５の塵付着面の方向により塵除去動作の有効性が異なる点と、その方向により塵除去動作を変更する点について説明する。すなわち、防塵ガラスの塵付着面の方向が鉛直下向き方向や水平方向の場合には、付着した塵は重力の作用によって、より落ちやすく除去しやすいが、鉛直上向き方向の場合には塵は落ちにくく除去しにくい。また、防塵ガラスの塵付着面の方向が鉛直下向き方向の場合には、水平方向の場合に比較して、より一層塵を除去しやすい。
【０１１９】
このようにカメラ本体１の姿勢に対応する各防塵ガラス３２１，３２３，３２５の塵付着面の方向により塵除去動作の有効性が異なる点を考慮し、本実施の形態１では、以下のように塵除去動作の内容を変更するように各駆動回路３３２Ａ，３３２Ｂ，３３２Ｃの動作をＢｕｃｏｍ３３３によって制御する。
【０１２０】
まず、対象となる防塵ガラスが横向き（塵付着面方向が水平方向）の場合には、通常の塵除去動作を行わせる。また、対象となる防塵ガラスが下向き（塵付着面方向が鉛直下向き方向）の場合には、塵除去しやすい姿勢であるので、加振動作の動作時間を通常よりも短く制御して塵除去動作を行わせる。一方、対象となる防塵ガラスが上向き（塵付着面方向が鉛直上向き方向）の場合には、塵除去しにくい姿勢であり、塵除去効果が得られないので、無駄な消費電力を消費しないよう、塵除去用の加振動作を行わないように制御する。
【０１２１】
ここで、本実施の形態１のカメラ本体１中に含まれる防塵ガラス３２１，３２３，３２５は、図１、図４等の構成からも判るように、同一姿勢のカメラ本体１においてもそれぞれの塵付着面方向が互いに直交、或いは正反対で異なるため、それぞれの塵除去動作の内容は個々に異なるものとなる。図１２中では、通常動作は“○”印で示し、塵除去しやすく動作時間を短時間とする場合は“◎”印で示し、塵除去しにくく塵除去動作を行わない場合は“×”印で示す。
【０１２２】
メインルーチン中のステップＳ００３及びステップＳ０１１に関して、このような点を考慮した塵除去動作ルーチンの処理内容を図２１に示すフローチャートを参照して説明する。ステップＳ００１やステップＳ００９により既に実行されているカメラ本体１の姿勢検出結果のフラグを参照することで、カメラ本体１の姿勢を判別する。ステップＳ３０１では、この姿勢判別として、縦姿勢であるか否かを判別する。カメラ本体１が縦姿勢であれば（ステップＳ３０１：Ｙｅｓ）、いずれの防塵ガラス３２１，３２３，３２５も塵付着面方向が水平方向であるため、ステップＳ３０２により、通常動作を行う旨のフラグを設定する。
【０１２３】
ステップＳ３０３では、カメラ本体１の姿勢が横姿勢（ペンタプリズム３０６上向き）であるか否かを判別する。カメラ本体１が横姿勢（ペンタプリズム３０６上向き）であれば（ステップＳ３０３：Ｙｅｓ）、防塵ガラス３２１の塵付着面方向が水平方向、防塵ガラス３２３の塵付着面方向が鉛直下向き方向、防塵ガラス３２５の塵付着面方向が鉛直上向き方向であるため、ステップＳ３０４により、防塵ガラス３２１に対しては通常動作、防塵ガラス３２３に対しては短時間動作、防塵ガラス３２５に対しては塵除去動作を行わない旨のフラグを設定する。
【０１２４】
ステップＳ３０５は、カメラ本体１の姿勢が横姿勢（ペンタプリズム３０６下向き）であるか否かを判別する。カメラ本体１が横姿勢（ペンタプリズム３０６下向き）であれば（ステップＳ３０５：Ｙｅｓ）、防塵ガラス３２１の塵付着面方向が水平方向、防塵ガラス３２５の塵付着面方向が鉛直下向き方向、防塵ガラス３２３の塵付着面方向が鉛直上向き方向であるため、ステップＳ３０６により、防塵ガラス３２１に対しては通常動作、防塵ガラス３２５に対しては短時間動作、防塵ガラス３２３に対しては塵除去動作を行わない旨のフラグを設定する。
【０１２５】
ステップＳ３０７では、カメラ本体１の姿勢がレンズ上向き姿勢であるか否かを判別する。カメラ本体１がレンズ上向き姿勢であれば（ステップＳ３０７：Ｙｅｓ）、防塵ガラス３２１の塵付着面方向が鉛直上向き方向、防塵ガラス３２３，３２５の塵付着面方向が水平方向であるため、ステップＳ３０８により、防塵ガラス３２３，３２５に対しては通常動作、防塵ガラス３２１に対しては塵除去動作を行わない旨のフラグを設定する。
【０１２６】
ステップＳ３０９では、カメラ本体１の姿勢がレンズ下向き姿勢であるか否かを判別する。カメラ本体１がレンズ下向き姿勢であれば（ステップＳ３０９：Ｙｅｓ）、防塵ガラス３２１の塵付着面方向が鉛直下向き方向、防塵ガラス３２３，３２５の塵付着面方向が水平方向であるため、ステップＳ３１０により、防塵ガラス３２１に対しては短時間動作、防塵ガラス３２３，３２５に対しては通常動作を行う旨のフラグを設定する。これらのいずれの姿勢でもない場合には（ステップＳ３０９：Ｎｏ）、ステップＳ３１１により、いずれの防塵ガラス３２１，３２３，３２５に対しても通常動作を行う旨のフラグを設定する。
【０１２７】
このような姿勢に応じた塵除去動作の内容のフラグを各防塵ガラス３２１，３２３，３２５毎に設定した後、ステップＳ３１２に“塵除去動作サブ”として示す図１５で説明した塵除去動作を実行し、設定されたフラグに基づいて各防塵ガラス３２１，３２３，３２５に対する塵除去動作を圧電素子３２２，３２４，３２６に対する駆動回路３３２Ａ，３３２Ｂ，３３２Ｃ毎に制御することで実行する。
【０１２８】
図２２は、塵除去動作のタイムチャートと消費電力の様子とを示す説明図である。なお、図示例は、温度２０℃、カメラ姿勢が横姿勢（ペンタ上）であるとする。図中、（ａ）は従来方式、（ｂ）は本実施の形態１方式を示し、網掛け部分が消費電力に相当するものとする。
【０１２９】
（ａ）の従来方式にあっては、カメラ姿勢に関係なく、いずれの防塵ガラス３２１，３２３，３２５についても一律に通常動作を実行している。これに対して、本実施の形態１の場合、当該姿勢の場合、防塵ガラス３２５については塵除去動作を行わないように制御するので、その省電力は“０”である。また、防塵ガラス３２３についてはＯＳＣｔｉｍｅ２を採用する短時間動作とするので、防塵ガラス３２３用の塵除去動作に要する振動モード１，２の動作時間は、
１ｍｓ×｛（９−３）＋１｝（回）＝７ｍｓ
１ｍｓ×｛（１３−５）＋１｝（回）＝９ｍｓ
となる。これは、通常動作時の半分以下の消費電力となる。
【０１３０】
このように、本実施の形態１によれば、防塵ガラス３２１，３２３，３２５について、その塵付着面方向が水平方向の場合には通常の塵除去動作を行い、鉛直下向き方向の場合には通常よりも短時間の塵除去動作を行い、鉛直上向き方向の場合には塵除去動作を行わないように制御するので、無駄な消費電力の発生を防止できるという圧電素子３２２，３２４，３２６の適正な駆動制御が可能となる。
【０１３１】
なお、上述の説明では、防塵ガラス３２１，３２３，３２５の塵付着面方向が水平方向、鉛直下向き方向、鉛直上向き方向のいずれであるかによって塵除去動作の内容を可変制御するようにしたが、姿勢検出回路３３４によってカメラ本体１の姿勢、したがって防塵ガラス３２１，３２３，３２５の塵付着面方向を、より多段階に詳細に検出し、塵付着面方向が水平方向から鉛直下向き方向或いは鉛直上向き方向に近づくに従って塵除去動作の内容を段階的に可変制御するようにしてもよい。
【０１３２】
また、本実施の形態１では、適正な駆動制御として省電力化を最優先させるようにしたが、防塵ガラス３２１，３２３，３２５の塵付着面方向が鉛直上向き方向で塵を落としにくい場合には、通常時よりも動作時間が長くなるように動作時間を制御することで、塵を落としにくい姿勢であってもその塵除去効果を高めることで適正な駆動制御となるようにしてもよい。
【０１３３】
また、本実施の形態１では、塵除去動作の内容変更として動作時間を可変制御するようにしたが、各駆動回路３３２Ａ，３３２Ｂ，３３２Ｃ中に圧電素子３２２，３２４，３２６に対する印加電圧を可変させるための印加電圧可変回路を備え、防塵ガラス３２１，３２３，３２５の塵付着面の方向に従って圧電素子３２２，３２４，３２６に印加する印加電圧を低くしたり高くしたり可変制御するようにしてもよい。一般に、圧電素子による塵除去性能はその振動振幅によって異なり、印加電圧に比例して圧電素子の振動振幅が大きくなる特性を有する。したがって、塵付着面方向が下向きで塵を落しやすい状況では、印加電圧を通常時よりも低く制御することで、消費電力を抑制することができる。また、塵付着面方向が上向きで塵を落としにくい状況では、印加電圧を通常時よりも高く制御することで、その塵除去効果を高めることができる。或いは、塵付着面方向が上向きで塵を落としにくい状況では、前述の場合と同様、塵除去動作を行わず、省電力化を優先させるようにしてもよい。
【０１３４】
また、本実施の形態１では、塵付着面方向が下向きで塵を落しやすい状況での塵除去動作の内容変更として動作時間を通常時よりも短い時間に制御するようにしたが、周波数走査範囲の幅を通常時よりも狭くするように可変制御してもよい。例えば、通常時にはｆ１〜ｆ７なる周波数走査範囲を走査させるが、塵を落しやすい場合には、例えばｆ３〜ｆ５なる周波数走査範囲を走査させるようにしてもよい。これによれば、加振動作のための動作時間を短縮させることができ、結果として、省電力化を図ることができる。塵付着面方向が上向きで塵を落としにくい状況では、前述の場合と同様、塵除去動作を行わないようにすればよい。
【０１３５】
（実施の形態２）
次に、本発明の実施の形態２について図２３を参照して説明する。前述の実施の形態１では、圧電素子３２２，３２４，３２６毎に個別に駆動回路３３２Ａ，３３２Ｂ，３３２Ｃを備える防塵ガラス駆動回路３３２を用いた構成例としたが、本実施の形態２は、各圧電素子３２２，３２４，３２６を所定の駆動周波数で駆動する単一の駆動回路構成の防塵ガラス駆動回路４００を用いた構成例を示す。
【０１３６】
この防塵ガラス駆動回路４００は、各駆動回路３３２Ａ，３３２Ｂ，３３２Ｃとほぼ同じ構成とされているが、トランス４５の２次側出力と各圧電素子３２２，３２４，３２６との間にこれらを選択的に駆動するためのスイッチング手段としてのＭＯＳＦＥＴ等によるスイッチ４０１，４０２，４０３を備えている。これらのスイッチ４０１，４２，４０３はＢｕｃｏｍ３３３からの選択信号ＳＥＬ１〜ＳＥＬ３によりオン／オフ制御される。例えば、選択信号ＳＥＬ１がＨレベルの時には対応するスイッチ４０１がオンしてトランス４５の２次側と圧電素子３２２とが接続状態（駆動可能状態）となり、選択信号ＳＥＬ１がＬレベルの時には対応するスイッチ４０１がオフとなりトランス４５の２次側と圧電素子３２２とは分離状態（駆動不可状態）となる。選択信号ＳＥＬ２，ＳＥＬ３とスイッチ４０２，４０３との関係についても同様である。
【０１３７】
本実施の形態２の構成においても、姿勢検出回路３３４により検出されるカメラ本体１の姿勢に応じた各防塵ガラス３２１，３２３，３２５の塵付着面の方向に応じて、Ｂｕｃｏｍ３３３が選択信号ＳＥＬ１〜ＳＥＬ３のＨ／Ｌレベルの制御を行うことで、前述の実施の形態１の場合と同様な動作制御が可能となる。
【０１３８】
例えば、防塵ガラス３２１の塵付着面方向が水平方向の場合には、Ｂｕｃｏｍ３３３は、選択信号ＳＥＬ１をＨレベルとしスイッチ４０１をオンすることで、対応する圧電素子３２２を通常動作させるように制御する。また、防塵ガラス３２１の塵付着面方向が鉛直下向き方向で塵を落しやすい場合には、Ｂｕｃｏｍ３３３は、選択信号ＳＥＬ１をＨレベルとするがスイッチ４０１がオンする時間を短くすることで、対応する圧電素子３２２を通常時よりも短時間動作させるように制御する。さらに、防塵ガラス３２１の塵付着面方向が鉛直上向き方向で塵を落としにくい場合には、Ｂｕｃｏｍ３３３は、選択信号ＳＥＬ１をＬレベルとしスイッチ４０１をオフのままとすることで、対応する圧電素子３２２を動作させないように制御する。他の防塵ガラス３２３，３２５についても同様である。
【０１３９】
さらに、選択信号ＳＥＬ１〜ＳＥＬ３によるスイッチ４０１〜４０３それぞれのオンタイミングの制御により、駆動周波数の走査範囲の幅を可変制御することも可能である。さらには、防塵ガラス駆動回路４００中に圧電素子３２２，３２４，３２６に対する印加電圧を可変させるための印加電圧可変回路を備え、印加電圧の可変制御と選択信号ＳＥＬ１〜ＳＥＬ３によるスイッチ４０１〜４０３それぞれのオンタイミング制御との組合せによる時分割駆動により、防塵ガラス３２１，３２３，３２５の塵付着面の方向に従って圧電素子３２２，３２４，３２６に印加する印加電圧を低くしたり高くしたり可変制御するようにしてもよい。
【０１４０】
本発明は、上述した実施の形態に限らず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲であれば、種々の変形が可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１４１】
【図１】本発明の実施の形態１の防塵機能付き光学装置としてのデジタルカメラシステムの実際的な光学的配置を考慮した構成例を示す概念図である。
【図２】図１の構成例に対応する制御系を主体として示す概略ブロック図である。
【図３】光学部が単一の場合の制御系を主体として示す概略ブロック図である。
【図４】図１に示した防塵機能付き光学装置が搭載されたデジタルカメラシステムとしての具体的な構成例を示すブロック構成図である。
【図５−１】姿勢検出スイッチの構成例を示す平面図である。
【図５−２】図５−１中のＣ−Ｃ線断面図である。
【図５−３】図５−１中のＤ−Ｄ線断面図である。
【図６−１】姿勢検出スイッチのＢ面を下にした状態を示す断面図である。
【図６−２】姿勢検出スイッチのＡ面を下にした状態を示す断面図である。
【図７−１】カメラ本体を正面から見た場合の第１〜第３の姿勢検出スイッチの配置例を示す正面図である。
【図７−２】カメラ本体を右側から見た場合の第１〜第３の姿勢検出スイッチ３の配置例を示す側面図である。
【図８】圧電素子に対する防塵ガラス駆動回路の構成の一例を示す回路図である。
【図９】動作制御例を示すタイムチャートである。
【図１０】制御プログラムのメインルーチンを示すフローチャートである。
【図１１−１】カメラ本体が横姿勢（ペンタ上）の場合を示す概略正面図である。
【図１１−２】カメラ本体が横姿勢（ペンタ下）の場合を示す概略正面図である。
【図１１−３】カメラ本体が縦姿勢の場合を示す概略正面図である。
【図１１−４】カメラ本体がレンズ上姿勢の場合を示す概略正面図である。
【図１１−５】カメラ本体がレンズ下姿勢の場合を示す概略正面図である。
【図１２】第１〜第３の姿勢検出スイッチのＨ，Ｌレベルの出力とカメラ本体の姿勢との関係をまとめた表を示す図である。
【図１３−１】本発明に係る防塵ガラスの振動形態を示し、ガラス板の周囲に節が発生して全面が同じ位相で振動する振動モード１の一態様の説明図である。
【図１３−２】本発明に係る防塵ガラスの振動形態を示し、ガラス板の周囲に節が発生して全面が同じ位相で振動する振動モード１の異なる態様の説明図である。
【図１４−１】本発明に係る防塵ガラスの振動形態を示し、ガラス板の内側と外側が１８０°異なる位相で振動する振動モード２の一態様の説明図である。
【図１４−２】本発明に係る防塵ガラスの振動形態を示し、ガラス板の内側と外側が１８０°異なる位相で振動する振動モード２の異なる態様の説明図である。
【図１５】図６のフローチャート中のサブルーチン「塵除去動作」に含まれる「塵除去動作サブ」の詳細手順を表わすフローチャートである。
【図１６】ＥＥＰＲＯＭに占める補正に関するテーブル領域を示すメモリマップである。
【図１７−１】振動モード１対応温度補正テーブルの詳細を示す図である。
【図１７−２】振動モード２対応温度補正テーブルの詳細を示す図である。
【図１８−１】振動モード１対応周波数補正テーブルの詳細を示す図である。
【図１８−２】振動モード２対応周波数補正テーブルの詳細を示す図である。
【図１９】駆動周波数とガラス板の振動の振幅との関係を表わす特性グラフである。
【図２０−１】防塵ガラスの面積と共振周波数との関係を示すグラフである。
【図２０−２】防塵ガラスの厚さと共振周波数との関係を示すグラフである。
【図２１】図６のフローチャート中のサブルーチン「塵除去動作」の詳細手順を表わすフローチャートである。
【図２２】塵除去動作のタイムチャートと消費電力の様子とを示す説明図である。
【図２３】本発明の実施の形態２の構成例を示す概略回路図である。
【符号の説明】
【０１４２】
３０２  撮像光学系
３０３  ＣＣＤユニット
３０４  撮像用光学部
３０８  ファインダ光学系
３０９  ファインダＣＣＤユニット
３１０  ファインダ用光学部
３１２  焦点検出用光学系
３１３  ＡＦセンサユニット
３１４  ＡＦ検出用光学部
３２１  防塵ガラス
３２２  圧電素子
３２３  防塵ガラス
３２４  圧電素子
３２５  防塵ガラス
３２６  圧電素子
３３１  駆動制御部
３３２Ａ〜３３２Ｃ  駆動回路
３３３  制御部
３３４  姿勢検出回路
４００  防塵ガラス駆動回路
４０１〜４０３  スイッチ
【図１】
2006259348.tif 000003
【図２】
2006259348.tif 000004
【図３】
2006259348.tif 000005
【図４】
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【図５−１】
2006259348.tif 000007
【図５−２】
2006259348.tif 000008
【図５−３】
2006259348.tif 000009
【図６−１】
2006259348.tif 000010
【図６−２】
2006259348.tif 000011
【図７−１】
2006259348.tif 000012
【図７−２】
2006259348.tif 000013
【図８】
2006259348.tif 000014
【図９】
2006259348.tif 000015
【図１０】
2006259348.tif 000016
【図１１−１】
2006259348.tif 000017
【図１１−２】
2006259348.tif 000018
【図１１−３】
2006259348.tif 000019
【図１１−４】
2006259348.tif 000020
【図１１−５】
2006259348.tif 000021
【図１２】
2006259348.tif 000022
【図１３−１】
2006259348.tif 000023
【図１３−２】
2006259348.tif 000024
【図１４−１】
2006259348.tif 000025
【図１４−２】
2006259348.tif 000026
【図１５】
2006259348.tif 000027
【図１６】
2006259348.tif 000028
【図１７−１】
2006259348.tif 000029
【図１７−２】
2006259348.tif 000030
【図１８−１】
2006259348.tif 000031
【図１８−２】
2006259348.tif 000032
【図１９】
2006259348.tif 000033
【図２０−１】
2006259348.tif 000034
【図２０−２】
2006259348.tif 000035
【図２１】
2006259348.tif 000036
【図２２】
2006259348.tif 000037
【図２３】
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