(57)【要約】【課題】  検査時間を短くでき、被検者や被検者の負担を軽減できる視野計を提供すること。【解決手段】  被検眼の視野に呈示する視標の明るさが変化可能であると共に、視標の呈示位置を移動可能な視標呈示手段を備え、一定の明るさの視標を被検眼の視野周辺から中心に向かって移動して被検者に視認応答させて動的視野を計測し、同じ感度の点を結んだイソプターを得る視野計において、隣り合うイソプター間に存在する孤立暗点を探索するための視標呈示の開始点を決定する演算制御手段であって、イソプター形状に基いてイソプターの窪みを特定し、該特定した窪み形状とその外側のイソプターとの間隔に基いて前記視標呈示の開始点を決定する演算制御手段を、備える。【選択図】      図１
2006280665.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検眼の視野に呈示する視標の明るさが変化可能であると共に、視標の呈示位置を移動可能な視標呈示手段を備え、一定の明るさの視標を被検眼の視野周辺から中心に向かって移動して被検者に視認応答させて動的視野を計測し、同じ感度の点を結んだイソプターを得る視野計において、隣り合うイソプター間に存在する孤立暗点を探索するための視標呈示の開始点を決定する演算制御手段であって、イソプター形状に基いてイソプターの窪みを特定し、該特定した窪み形状とその外側のイソプターとの間隔に基いて前記視標呈示の開始点を決定する演算制御手段を、備えることを特徴とする視野計。
【請求項２】
請求項１の視野計において、前記演算制御手段はイソプターの窪みの縁の位置と窪みの谷側のカーブとに基いて視標呈示の開始点の方向を定め、該定めた方向の内側と外側のイソプター間隔に基いて前記視標呈示の開始点を決定することを特徴とする視野計。
【請求項３】
請求項１又は２の視野計において、前記演算制御手段により決定された視標呈示の開始点に基いて前記視標呈示手段を制御し、暗点探索用の視標を呈示する視標呈示制御手段を備えることを特徴とする視野計。
【請求項４】
請求項３の視標呈示制御手段は、前記開始点で呈示した暗点探索用の視標を被検眼が視認できないときは、その呈示条件で視標を移動して被検者の応答を得て孤立暗点の領域を決定することを特徴とする視野計。
【請求項５】
請求項４の視標呈示制御手段は、孤立暗点の領域を決定した後、さらに所定の探索条件に基づいて次の孤立暗点を探索するための視標を呈示するように前記視標呈示手段を制御することを特徴とする視野計。
【請求項６】
請求項３の視標呈示制御手段は、前記開始点で呈示した暗点探索用の視標を被検眼が視認できたときは、所定の探索条件に基づいて次の孤立暗点を探索のための視標を呈示するように前記視標呈示手段を制御することを特徴とする視野計。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、患者の視野を自覚的に計測する視野計に関する。
【背景技術】
【０００２】
視野の計測方法としては、一定の明るさの視標を周辺から中心に向かって移動し、その視標を視認できた点を結び、視標の大きさや明るさの条件を変えることによって、地図の等高線に似た等感度曲線（以下、イソプターという）を描いて視野を測定する動的視野計測がある（例えば、特許文献１）。動的視野計測は、全体の変化を知るのに適している。この動的視野計測では、さらに、測定点を追加してイソプターの間に存在する孤立暗点（感度が欠損または沈下している部分）の計測が行われる。
【特許文献１】特開平６−５４８０４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、孤立暗点の計測には検者の熟練が要求され、経験の浅い検者では短時間での計測は困難であった。また、従来の暗点の計測は手動での視標呈示であったので、熟練者でも検査に時間が要し、検者や被検者にも負担が掛かっていた。
【０００４】
本発明は、上記従来技術の問題点に鑑み、検査時間を短くでき、被検者や被検者の負担を軽減できる視野計を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題を解決するために本発明は以下の構成を持つことを特徴とする。
（１）  被検眼の視野に呈示する視標の明るさが変化可能であると共に、視標の呈示位置を移動可能な視標呈示手段を備え、一定の明るさの視標を被検眼の視野周辺から中心に向かって移動して被検者に視認応答させて動的視野を計測し、同じ感度の点を結んだイソプターを得る視野計において、隣り合うイソプター間に存在する孤立暗点を探索するための視標呈示の開始点を決定する演算制御手段であって、イソプター形状に基いてイソプターの窪みを特定し、該特定した窪み形状とその外側のイソプターとの間隔に基いて前記視標呈示の開始点を決定する演算制御手段を、備えることを特徴とする。
（２）  （１）の視野計において、前記演算制御手段はイソプターの窪みの縁の位置と窪みの谷側のカーブとに基いて視標呈示の開始点の方向を定め、該定めた方向の内側と外側のイソプター間隔に基いて前記視標呈示の開始点を決定することを特徴とする。
（３）  （１）又は（２）の視野計において、前記演算制御手段により決定された視標呈示の開始点に基いて前記視標呈示手段を制御し、暗点探索用の視標を呈示する視標呈示制御手段を備えることを特徴とする。
（４）  （３）の視標呈示制御手段は、前記開始点で呈示した暗点探索用の視標を被検眼が視認できないときは、その呈示条件で視標を移動して被検者の応答を得て孤立暗点の領域を決定することを特徴とする。
（５）  （４）の視標呈示制御手段は、孤立暗点の領域を決定した後、さらに所定の探索条件に基づいて次の孤立暗点を探索するための視標を呈示するように前記視標呈示手段を制御することを特徴とする。
（６）  （３）の視標呈示制御手段は、前記開始点で呈示した暗点探索用の視標を被検眼が視認できたときは、所定の探索条件に基づいて次の孤立暗点を探索のための視標を呈示するように前記視標呈示手段を制御することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、検査時間を短くでき、被検者や被検者の負担を軽減できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
本発明の実施形態を、図面を用いて以下に説明する。図１は、本発明に係る視野計の概略構成図である。被検者の眼前には半球状のドーム型のスクリーン１が配置され、このスクリーン１には視標投影ユニット２から刺激視標が呈示される。視標投影ユニット２は、光源３、投影レンズ４、可動ミラー５、開口径可変のアパーチャ６を備える。可動ミラー５は図示を略す駆動機構により駆動され、光源３及び投影レンズ４によりスクリーン１に投影されるスポット視標（刺激視標）の位置を変える。可動ミラー５は、２組のガルバノミラーで構成することができる。アパーチャ６の開口径を変えることにより、スクリーン１に投影されるスポット視標のサイズが変えられる。また、スクリーン１の中心には固視標１０が設けられている。視標投影ユニット２は制御ユニット２０に接続されている。制御ユニット２０は、視標投影ユニット２の可動ミラー５を駆動制御し、スクリーン１に投影され刺激視標の位置を変化させる。また、光源３の光量を調整し、スクリーン１に投影され刺激視標の輝度を変化させる。制御ユニット２０には、モニタ２１、キーボード等の入力装置２２、応答スイッチ１５等が接続されている。
【０００８】
図２は、動的視野計測によって得られた検査結果を模擬的に描画した図である。イソプターＩは、被検眼の視標に対する感度が等しい部分を等高線のように表示したもので、等感度曲線とも呼ばれる。イソプターＩは固視標１０で被検者の視軸を原点Ｏに合わせた状態で、ＸＹ平面にプロットされる。イソプターＩのプロット方法は、所定の輝度、スポットサイズに設定した視標を被検者の視野外から視野中心（原点Ｏ）に向かって動かす。被検者は視標が見えたと判断したらスイッチ１５を押す。同一条件の視標の見えた地点を補間することによって、イソプターＩを形成する。視標の呈示間隔は、例えば原点Ｏから１５度間隔で３６０度とする。各プロット間の補間はスプライン補間等の曲線関数で多項式近似を行う。イソプターは周辺視野から中心視野に向かって作成する。視標の輝度やスポットサイズは被検者の症状やスクリーニングの目的によるが、一般的に、作成するイソプターが視野中心に近づくにつれて、視標の輝度、スポットサイズを小さくする。これは視野の中心部の方が周辺部に比べて、感度や分解能が高いためである。
【０００９】
このようにして、被検者に視標を呈示し、視標の認知をスイッチ１５で応答させる自覚式の動的視野検査は、制御ユニット２０により自動的に制御される。視標投影ユニット２よりスクリーン１に投影される視標の位置は可動ミラー５の角度から求められる。被検者に認識された視標の位置はスイッチ１５からの応答が制御ユニット２０に送られることにより、その時の可動ミラー５の角度で求められる。視標を逐次的にスクリーン１に投影していくプログラムは予め制御ユニット２０に格納されている。
【００１０】
イソプターを描画する際に用いている補間関数について説明する。ここではθに関する３次のスプライン関数を用いる。ＸＹ平面上の関数をθで以下のようにパラメータ表現したものとなる。
ｘｉ（θ）＝ａiθ3＋ｂiθ2＋ｃiθ＋ｄi（区間：ｉ〜ｉ＋１）
ｙｉ（θ）＝ｅiθ3＋ｆiθ2＋ｇiθ＋ｈi（区間：ｉ〜ｉ＋１）
ａi〜ｈiは区間ｉ〜ｉ＋１におけるスプライン関数で算出した各項の係数である。これらの値がスプライン関数の特性を決定する。この関数が連なって一つのイソプターのループを形成している。従って、イソプター上のある点の位置は上記の関数から特定できる。
【００１１】
このようにして作成されたイソプターＩには隣合うイソプター間で感度が低下する部分である孤立暗点Ｓが存在する。イソプター間に暗点Ｓが存在した１５眼の動的視野データを入手して調べたところ、暗点ＳはイソプターＩinが内側に窪んだ部分（凹部）Ｈｏとその外側のイソプターＩoutとで挟まれた領域Ｗに多く現れていることが分かった。
【００１２】
イソプターＩinの窪み（凹部）を特定する方法を説明する。図３はあるイソプターを拡大した図である。図３（ａ）のイソプターの窪みを、イソプター上の点Ｐを０度方向から左回り（反時計回り）に探索することによって数理的に求める。原点Ｏから一定の角度で点Ｐを移動させて探索する。
【００１３】
図３（ｂ）は部分Ａの拡大図で、窪みを挟む２つの山（凸部）のうちの一つである。いま、点Ｐｉの前後の点をそれぞれＰｉ−１、Ｐｉ＋１とする。原点Ｏを基準として、点Ｐｉ−１から点Ｐｉへのベクトルをａ１、点Ｐｉから点Ｐｉ＋１へのベクトルをａ２とする。ベクトルａ１とａ２の外積を計算すると、以下のようになる。
ａ１×ａ２＞０
山に相当する部分Ａではベクトルａ１よりもベクトルａ２が右手にあるために、外積を取った値の符号は正になる。
【００１４】
図３（ｃ）は部分Ｂの拡大図で、窪みを示す。前述の方法と同様に、いま、点Ｐｊの前後の点をそれぞれＰｊ−１、Ｐｊ＋１とする。原点Ｏを基準として、点Ｐｊ−１から点Ｐｊへのベクトルをｂ１、点Ｐｊから点Ｐｊ＋１へのベクトルをｂ２とする。ベクトルｂ１とｂ２の外積を計算すると以下のようになる。
ｂ１×ｂ２＜０
窪みに相当する部分Ｂではベクトルｂ１よりもベクトルｂ２が左手にあるために、外積を取った値の符号は負になる。
【００１５】
このようにして隣合う２つのベクトルの外積を計算して得られた結果の符合で、窪み（谷）の底や山の頂上の位置が判別できる。
【００１６】
以上の説明では連続的な窪みの探索過程を説明したが、実装上では３次スプライン関数等の多項式関数で形成されたイソプター上の点Ｐを離散的に取って窪みを探索する。例えば、原点Ｏを中心とイソプター上でのベクトルが0.1度の角度を成すような間隔で探索していく。角度は0.1度に限るものではなく、暗点を探索する角度より小さければよい。例えば、１度や２度であってもよい。従って、必ずしも窪みの底や窪みを挟む山の頂上を決定できるとは限らない。その場合は離散的に探索した結果の中で最も尤もらしい点、例えば、外積成分がその中での最大点（最小点）である。または、外積で極性を求め、山であるか谷であるか判定した後に角度が最大である点を山の頂上若しくは谷の底とする算出方法であってもよい（後述）。
【００１７】
なお、本実施例では点Ｐの探索間隔を原点Ｏから一定の角度でする離散的なものしているため、ベクトルの長さが一定ではない。従って、隣合う２つのベクトルの外積が最大値（最小値）であっても必ずしも山（谷）の頂上（底）を示すとは限らない。その場合の山の頂上や谷の底の算出方法は隣合う２つのベクトルの内積を取ることからその角度を求め、角度の大きさと外積で求めた極性によって定めるものである。隣合う２つのベクトルａ１、ａ２の成す角をθｉとすると、その内積は以下にようになる。
ａ１・ａ２＝｜ａ１｜｜ａ２｜ｃｏｓθｉ
従って、角度θｉは以下のように求められる。
θｉ＝ｃｏｓ-1（ａ１・ａ２／｜ａ１｜｜ａ２｜）
これは隣合う２つのベクトルｂ１、ｂ２についても同様である。このようにして隣合う２つのベクトルの角度が求まる。山の頂上（谷の底）では角度がその付近で最大になるため、外積で求めた極性により山であるか谷であるかを判定し、その後、山や谷あたる部分の角度を求め、その付近で最大角度となる点を山の頂上や谷の底と定める。２つの山（凸部）に挟まれた谷がイソプターの窪み（凹部）となる。谷の底の部分を決定する外積の値、若しくは内積から求めた角度が窪みの度合いを示すパラメータとなる。
【００１８】
なお、上記のアルゴリズムでは小さな窪みも検出される。１５眼の動的視野データを見たところ、あまり小さな窪みの部分には暗点Ｓは存在していなかったので、煩雑さを避けるために、窪みとみなされないような部分を暗点探索の対象外とする。例えば、前述のベクトルの外積や角度での山の頂上（谷の底）の判断に閾値を設け、窪みを算出する方法において、外積が所定値以下か、角度が所定値以上であれば暗点探索をする窪みとみなさないものとする。
【００１９】
また、本実施例ではイソプターの山の頂上部分や谷の底部分をその点を挟む２つの隣合うベクトルの外積及び内積を求めることで、山や谷の極性を求め、その部分の角度を出すことで決定していたが、これに限るものではない。角度の算出は内積を求める方法でなく、その点での曲率半径が最も短くなる部分を山の頂上や谷の底としてもよい。
【００２０】
次に、前述の方法で求めたイソプターＩinの窪みとその外側のイソプターIoutとの間に関して、暗点を探索するための視標呈示の開始点を決定する方法を説明する。図４は、窪みに基いて暗点探索の開始点を決定する方法を説明する図である。図４において、窪みを挟む２つの山の頂上の点（窪みの縁）をそれぞれＣ，Ｄとする。入手した１５眼の動的視野データをさらに詳細に調べたところ、暗点Ｓが存在する場所は、点，Ｄの間隔や窪みの谷側形状に関係すると共に、窪みのイソプターＩin及びその外側のイソプターIoutの間隔に関係することが分かった。暗点Ｓと窪みの谷側の形状との関係については、イソプターＩinの点Ｃ、Ｄ間の窪みの谷側でイソプターのカーブ（曲率）が小さくなる付近と、点Ｃ、Ｄ間の中央と、を通る直線方向に多くが存在することが分かった。
【００２１】
そこで、まず、暗点Ｓと窪みの谷側のカーブ形状と関連させて暗点Ｓを探索する方向の決定方法を説明する。線分ＣＤを等間隔、例えば１度毎に分け、線分ＣＤからのイソプターＩinに垂線を引き、その交点をＣｉ（ｉ＝１、２、…、ｎ）とする。ＣｉとＣｉ＋１を通る直線をＨｉとし、その中点でＨｉの直交する法線をＶｉとする。点Ｃ及びＤから法線Ｖｉまでの距離をそれぞれｄｉＣ、ｄｉＤとする。そして、距離ｄｉＣと距離ｄｉＤとの差の絶対値（｜ｄｉＣ−ｄｉＤ｜）が最小となる点を求める。その点をｏとし、その時のＨｉ、Ｖｉをそれぞれ、ｘ軸、ｙ軸とする。新たに算出したｘ軸、ｙ軸により座標系をＸＹ座標系からｘｙ座標系に置き換える。
【００２２】
この新たなｘｙ座標系で、１５眼の動的視野データにおける孤立暗点の重心座標（ｘＧ，ｙＧ）を求めた。その結果、ｘＧは−1.54〜9.9°で、平均±標準偏差は1.25°±2.78°となり、暗点Ｓの重心がｙ軸付近にあることが分かった。
【００２３】
次に、１５眼の動的視野データにおける重心座標ｙＧとイソプター間の距離（間隔：角度）との関係を調べてみた。図５はその結果を示す図である。横軸にｙ軸上のイソプター間の距離ｙmaxを、縦軸に座標ｙＧをとっている。図より、重心位置の座標ｙＧは、ｙ軸上のイソプター間の距離ｙmaxと関係することが分かる。すなわち、座標ｙＧの値はイソプター間の距離が短い場合に小さな値となり、イソプター間の距離が広い場合に大きな値となっている。図５における実線のグラフは１５個のｙＧについての回帰直線を示す。ｙＧとｙmaxの相関係数は0.774となり、高い相関があった。回帰直線ｙＧは、
ｙＧ＝0.5049×ｙmax−2.0989
となった。その有意確率は0.05以下となり、回帰直線の式は有意水準0.05において意味があることを確認した。上記の回帰直線から、暗点Ｓの重心はイソプター間の距離ｙmaxの中央付近にあることが分かった。したがって、暗点探索の開始点は、ｙ軸上の距離ｙmaxの中央付近とすると良いことが分かる。好ましくは、距離ｙmaxの中央よりややイソプターＩin側である。
【００２４】
なお、上記のｙ軸は窪みの谷側形状に関連させて決定したが、窪みの山頂点（縁）となる点Ｃ，Ｄを結ぶ線分ＣＤをｘ軸方向とし、線分ＣＤの中点を原点として線分ＣＤに直交する方向をｙ軸とした決定方法であっても良い。この場合も、ほぼｙ軸上に暗点が存在した。
【００２５】
次に開始点から暗点を探索するアルゴリズムについて説明する。図６は窪みにおいて暗点探索を開始する手順を示した図である。ｘ軸（直線Ｈｉ）に点Ｃ、Ｄから下した垂線とＩoutとの交点をそれぞれＧ，Ｆとする。いま、ＣＤＦＧで囲まれた領域内を暗点探索する。制御ユニット２０は、暗点探索点Ｓｉ（ｉ＝１、２、…、ｎ）を、ｙ軸上において上記の回帰直線で決定された位置に定める。ここでは最初に暗点を探索する点をＳ１とする。制御ユニット２０は、このＳ１にスポット光の視標を呈示し、被検者の応答を待つ。スポット光の明るさやサイズは、イソプターIoutを決定したときと同じ条件か又はイソプターIinの条件よりも明るく、スポットサイズを大きくする。所定時間の間に応答がなければ（見えなければ）、以下の手順で暗点の領域を見つける。
【００２６】
図７に示すように、制御ユニット２０は、点Ｓ１を中心とし周辺に向かって放射状にスポット光を動かす。最初は中心からある特定の方向に向かってスポット光を動かして被検者の応答がある点を探し、記録する。再度、中心から別の方向にスポット光を動かし、被検者の応答を待つ。被検者の応答した点（見えた点）が暗点の境界（領域）となる。この処理を繰り返して、点Ｓ１を取り囲むように形成された被検者の応答点を３次のスプライン関数で補間する。曲線によってできたループの内側が暗点領域となる。スポット光を放射状に動かす際の方向は例えば８方向とする。しかし、これに限るものではなく、精度よく暗点領域を発見したければ、８方向よりも細かい方向を取ればよい。暗点領域算出後、まだ、暗点探索領域ＣＤＦＧ内に探索の余地があれば、次の暗点を探索する処理に入る（後述）。
【００２７】
最初に点Ｓ１を呈示して、被検者より応答があった（見えた）場合、暗点を探すべく点Ｓ１から少しずらした別の場所、点Ｓ２にスポット光を呈示する。この時の点Ｓ２の呈示場所は点Ｓ１よりＩin（視野中心）側にｙ軸上を所定の距離だけ動かした点である。点Ｓ２でも暗点が発見されなければ、点Ｓ３，Ｓ４、…、と暗点探索を続ける。この時の暗点探索点はＩin側に向かって行うが、Ｉinに到ってもまだ暗点が発見されない場合は、点Ｓ１からｙ軸上をＩout方向に探索する。それでもない場合は点Ｓ１からｘ軸方向に所定の角度だけ動かしたスポット光を呈示していく。ｘ軸方向への探索規則は点Ｓ１を中心として、螺旋状に行う。この処理において、被検者の応答がない（見えない）場合、前述した手順により暗点領域の走査の処理に入る。
【００２８】
説明したように、スポット光を呈示し、被検者の応答からそれぞれ次の処理を逐次的に行い、暗点探索点Ｓｎまでスポット光の提示が終われば、領域ＣＤＦＧ内の暗点探索は終了したものとする。暗点探索をしていない別の窪みがあれば同様に一連のアルゴリズムで暗点の探索を行う。その際にはスポット光のサイズや輝度を変更して行う。ｙ軸上をＩin方向に探索するのは、暗点が存在する確率が高いためである。ここで述べた所定の距離とは暗点探索時の探索間隔を指し、１〜４度の角度が好ましい。
【００２９】
なお、本実施例では暗点探索をｙ軸上を点Ｓ１からＩinまで行った後に、点Ｓ１からＩoutまで探索したが、これに限るものではない。点Ｓ１からＩin、Ｉoutのそれぞれの方向にｙ軸上を近い点から探索してもよい。また、点Ｓ１から螺旋状に探索してもよい。
【００３０】
次に暗点探索の探索間隔について説明する。図８はある探索範囲で暗点探索点の間隔を示した図である。図に示すように所定の間隔で格子状に暗点探索の候補が確保されている。この候補から前述したアルゴリズムで暗点を探索する。これらのアルゴリズムで探索点を逐次決定していくと、暗点及び暗点領域を短時間で探し出せる。
【００３１】
図９は暗点領域が発見された後の暗点探索点を示す図である。図に示すように、暗点探索の処理により決定された暗点領域ＬＳの周囲に次の暗点探索の候補点がプロットされている。探索領域ＣＤＦＧから暗点領域ＬＳを差し引いた余地の部分で、暗点領域ＬＳの境界から所定の幅だけ離れた点が候補点としてプロットされる。既に決定した暗点領域ＬＳの周辺には、経験的に別の暗点領域が存在する確率は低いとされている。そのため、暗点領域ＬＳの所定の幅を持つ周辺の再探索は避ける。所定の幅とは前述の暗点探索の間隔と同じ条件で決定される値である。これによって、あまり価値の高くない探索をしないで済む。さらに言えば、暗点を探索する検査の早い段階で暗点領域が決定されれば、視野検査が短時間で終了し、被検者への負担が減る。
【００３２】
図１０は暗点領域が２つある場合の暗点探索点を示す図である。２つの暗点が定められていることにより、暗点領域ＬＳ１、ＬＳ２の付近は再探索しないでよいことがわかる。
【００３３】
なお、暗点探索する領域を点Ｃ、Ｄからｘ軸（直線Ｈｉ）下した垂線の延長線とＩoutとの交点をそれぞれＧ，Ｆとし、そこにできたＣＤＦＧで囲まれた部分としたがこれに限るものではない。ＸＹ平面の原点Ｏやｘｙ平面の原点ｏから点Ｃ、Ｄにそれぞれ引いた直線とＩoutとのそれぞれの交点の計４つで囲まれた領域内を暗点探索してもよい。以上説明してきた実施例では、点の補間はすべて３次のスプライン関数で行っているが、これに限るものではない、スプライン関数でも２次を用いたり、４次以上の高次関数でもよい。また、ラグランジェ関数などでもよい。さらに、それぞれの補間を別々の条件で行ってもよい。例えば、イソプターの算出は４次のスプライン関数、暗点領域の算出は３次のスプライン関数といった選択でもよい。
【００３４】
以上説明した本実施例の一連の暗点探索処理をフローチャートで示す。図１１は暗点探索のフローチャートである。そのステップは大きく分けて４つになる。患者のイソプターを作成するイソプターマッピングステップＳ１−ｉ、イソプターにある窪みを算出する窪み算出ステップＳ２−ｉ、求めた窪みにおいて暗点を探索する開始点を算出する暗点探索開始点決定ステップＳ３−ｉ、暗点探索の開始点から探索領域の暗点を検出する暗点領域検出ステップＳ４−ｉ、であり、このとき、ｉ＝１、２、…、ｎとする。
【００３５】
まずイソプターを作成するステップＳ１−ｉを説明する。視野や暗点の計測をスタートすると装置はイソプターを作成するステップに入る。Ｓ１−１ではイソプターを作成する際の呈示視標のスポットサイズや輝度の条件を設定する。Ｓ１−２では視標を３６０度に渡り、所定の角度毎、例えば１５度ずつ視野周辺部から視野中心部に動かし、被検者の応答した点をプロットする。Ｓ１−３ではＳ１−２でプロットした点をスプライン関数等で補間し、イソプターを作成する。Ｓ１−４では他に作成するイソプターがあるかどうかを判断し、あればＳ１−１から同様のステップで処理を行い、なければ必要なイソプターがすべてできたこととなるため、次の窪み検出ステップに進む。
【００３６】
Ｓ２−ｉのステップでは、イソプター窪み部分を算出し、その中で暗点の存在確率が経験的に低いとされる部分を除外する処理を行う。Ｓ２−１ではイソプターを０度方向から左回りに窪みを探索する。Ｓ２−２ではイソプター上の各点でのベクトルを算出し、隣合う２つのベクトルの外積と角度をイソプターの一周分で一括算出する。Ｓ２−３では求めたイソプター一周分の外積で値が負のもので絶対値が閾値以下のものを後の窪み算出における候補から除外する。ここでの閾値は前述した暗点の存在する窪みとみなされないような部分を分ける値である。Ｓ２−４ではＳ２−３で除外されなかった窪みに対して処理を行う。外積が負となる値から正となる方向に向かってそれぞれ左右回りに外積が正でその時の角度が最大となる点を探索する。Ｓ２−５では先程求めたそれぞれの点を窪みを挟む山と決定する。Ｓ２−６では今探索しているイソプターで他に外積が負でその絶対値が閾値以上のものがないか判断し、あればＳ２−３のステップに戻り、なければ次のステップに進む。Ｓ２−７では窪みを算出していないイソプターが残っているかを判断し、あればＳ２−１のステップに戻り違うイソプターで窪みの探索を行い、なければすべてのイソプターの窪みを算出したことになるので次のステップへと進む。
【００３７】
Ｓ３−ｉのステップではＳ２−ｉで算出した窪みの中で暗点探索をする開始点を決定する処理を行う。Ｓ３−１ではＳ２−ｉのステップで算出した窪みのあるイソプターを周辺部側から選択する。Ｓ３−２では２つの山に挟まれた窪み上で一方の端からもう一方の端までそれぞれの点で接線とそれに対する法線を算出する。Ｓ３−３では窪みを挟む２つの山のそれぞれの頂点からＳ３−２で求めたそれぞれの法線に垂線を引き、２つのそれぞれの垂線の比を算出する。Ｓ３−４ではそれぞれの点で算出している垂線の比で最小な点を求め、その点での接線と法線を新たな座標ｘ軸、ｙ軸として設定する。Ｓ３−５では、新たな座標のｙ軸から山のそれぞれの頂点に引いた法線の延長線が一つ外側のイソプターと交わる点と、山のそれぞれの頂点との計４点で囲まれるイソプター間を暗点を探索する領域と設定する。Ｓ３−６ではイソプター間で区間が区切られるｙ軸上の所定の点を暗点探索の開始点とする。
【００３８】
Ｓ４−ｉのステップでは暗点探索開始点を基準として暗点を探索し、暗点の領域を算出する処理を行う。Ｓ４−１では暗点を探索するイソプターに相応しい視標を設定し、Ｓ３−６で求めた暗点探索開始点に視標を呈示する。Ｓ４−２で、被検者の応答を待ち、ある場合はＳ４−６のステップに進み、ない場合はＳ４−３のステップに進む。Ｓ４−３では視標呈示位置から放射状に視標を走査し、被検者の応答があった場所を暗点の境界点とする。Ｓ４−４では暗点の境界点を補間し、その範囲を暗点領域とする。Ｓ４−５では暗点探索の次の候補点を算出する。Ｓ４−６では、算出した候補点に次があればＳ４−７のステップへと進み、なければＳ４−８のステップへと進む。Ｓ４−７では次の候補点の中から前述の規則に従って暗点探索開始点に近いところから視標を呈示し、被検者の応答を待つＳ４−２のステップへと戻る。Ｓ４−８では暗点を探索していない別のイソプターがあるかどうか判断し、あればＳ３−１のステップへと戻り、なければ視野中の暗点をすべて探索したことになるので視野検査を終了する。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の視野計の概略構成図である。
【図２】動的視野計測によって得られた検査結果を模擬的に描画した図である。
【図３】あるイソプターを拡大した図である。
【図４】窪みに基いて暗点探索の開始点を決定する方法を説明する図である。
【図５】１５眼の動的視野データにおける重心座標ｙＧとイソプター間の距離との関係を示す図である。
【図６】窪みにおいて暗点探索を開始する手順を示した図である。
【図７】暗点領域を決定する手順を示す図である。
【図８】ある探索範囲で暗点探索点の間隔を示した図である。
【図９】暗点領域が発見された後の暗点探索点を示す図である。
【図１０】暗点領域が２つある場合の暗点探索点を示す図である。
【図１１】本実施例の暗点探索処理を示すフローチャート図である。
【符号の説明】
【００４０】
１  スクリーン
２  視標投影ユニット
３  光源
４  投影レンズ
５  可動ミラー
６  アパーチャ
１０  固視標
１５  スイッチ
２０  制御ユニット
Ｉ、Ｉin、Ｉout  イソプター
ＬＳ、ＬＳ１、ＬＳ２  暗点領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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