(57)【要約】【課題】レーザダイオードをパルス発光させ、その発光パルスそのものを判定することで、レーザダイオードの正確な良否判定を行うことができる光ディスク装置およびその評価方法、光ピックアップ評価装置、ならびにレーザダイオードの評価方法を提供する。【解決手段】光ピックアップ１にパルス信号を送信させ光ピックアップを構成するレーザダイオード（ＬＤ）２０からレーザを出射させる時に、ＬＤをパルス発光させるパルスジェネレータ５１０と、ＬＤから出射されるレーザを受光するオプティカルセンサ５２０と、オプティカルセンサにレーザが受光されることで発生されるパルス発光信号を、デジタル信号として処理し発光波形データとして記憶するデジタルストレージ５３０と、デジタルストレージにてデジタル信号化された発光波形データを取り込み、発光波形データの演算処理を行うコンピュータ５４０とを備える光ピックアップ評価装置５００を構成する。【選択図】図３
2006048827.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザを出射するレーザダイオードと、
該レーザダイオードから出射された該レーザを受光するフロントモニタダイオードと
を有する光ピックアップと、
該光ピックアップにパルス信号を送信させ、該光ピックアップを構成する該レーザダイオードから該レーザを出射させるときに、該レーザダイオードをパルス発光させるエンコーダ／デコーダと、
該フロントモニタダイオードに該レーザが受光されることで発信されるパルス発光信号を、発光波形データとして処理する測定信号処理回路部と
を備え、
該測定信号処理回路部を構成するシステム制御マイコンにおいて、該発光波形データの演算処理が行われることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
レーザを出射するレーザダイオードと、
該レーザダイオードから出射された該レーザを受光するフロントモニタダイオードと
を有する光ピックアップと、
該光ピックアップにパルス信号を送信させ、該光ピックアップを構成する該レーザダイオードから該レーザを出射させるときに、該レーザダイオードをパルス発光させるエンコーダ／デコーダと
を備える光ディスク装置の評価方法であって、
入力信号をデジタル信号として処理して記憶するデジタルストレージを用い、
該デジタルストレージに光ディスク装置を接続させ、
前記エンコーダ／デコーダから前記光ピックアップに前記パルス信号を送信させて、該光ピックアップの前記レーザダイオードをパルス発光させつつ該レーザダイオードから前記レーザを出射させ、
該レーザを前記フロントモニタダイオードに受光させ、
該フロントモニタダイオードにパルス発光された該レーザが受光されることで発信されるパルス発光信号を、該デジタルストレージにてデジタル信号として処理させて発光波形データとさせ、
デジタル信号化された該発光波形データを該デジタルストレージに記憶させ、
該発光波形データをコンピュータに取り込ませ、
該コンピュータにおいて、該発光波形データの演算処理を行わせることを特徴とする光ディスク装置の評価方法。
【請求項３】
光ピックアップにパルス信号を送信させ、該光ピックアップを構成するレーザダイオードからレーザを出射させるときに、該レーザダイオードをパルス発光させるパルスジェネレータと、
該レーザダイオードから出射された該レーザを受光するオプティカルセンサと、
該オプティカルセンサに該レーザが受光されることで発信されるパルス発光信号を、デジタル信号として処理し、発光波形データとして記憶するデジタルストレージと、
該デジタルストレージにてデジタル信号化された発光波形データを取り込み、該発光波形データの演算処理を行うコンピュータと
を備えることを特徴とする光ピックアップ評価装置。
【請求項４】
レーザダイオードからレーザをパルス発光させ、そのときの発光波形を測定し、
そのときに、該発光波形の最大レベルをピークレベルＰｐと定め、
該発光波形の終端レベルをエンドレベルＰｅと定め、
該発光波形の該ピークレベルＰｐと該エンドレベルＰｅとの間とされる略中間位置をミドルレベルＰｍと定め、
該発光波形の全平均出力レベルをアベレージレベルＰａと定め、
該ピークレベルＰｐと該エンドレベルＰｅとの比をｄＰと定め、
該ミドルレベルＰｍと該エンドレベルＰｅとの比をｄＦと定めたときに、
下記（１）式
【数１】
2006048827.tif 000010
および下記（２）式
【数２】
2006048827.tif 000011
に基づいて、該レーザダイオードの良否判定を行うことを特徴とするレーザダイオードの評価方法。
【請求項５】
測定された前記発光波形が二次元のものとして映し出されたときに、
該発光波形は、略逆凹状の波形とされ、
該発光波形の横軸が経過時間とされ、
該発光波形の縦軸が光の強さとされ、
該発光波形の該横軸におけるパルス幅を一定とさせて該発光波形の総面積を求め、
一定とされた該パルス幅に基づいて、方形の発光波形を想定したときに、
測定された該発光波形の該総面積と、想定された該方形の発光波形の総面積とを等しくさせ、
想定された該方形の発光波形の該縦軸における高さを、前記アベレージレベルＰａと定めることを特徴とする請求項４記載のレーザダイオードの評価方法。
【請求項６】
測定された前記発光波形が二次元のものとして映し出されたときに、
該発光波形は、略逆凹状の波形とされ、
該発光波形の横軸が経過時間とされ、
該発光波形の縦軸が光の強さとされ、
該発光波形の該横軸におけるパルス幅の中間位置に対応した該発光波形の該縦軸の高さを、前記ミドルレベルＰｍと定めることを特徴とする請求項４又は５記載のレーザダイオードの評価方法。
【請求項７】
請求項１記載の光ディスク装置を用いて、前記レーザダイオードの良否判定を行うことを特徴とする請求項４〜６の何れか１項に記載のレーザダイオードの評価方法。
【請求項８】
請求項２記載の光ディスク装置の評価方法と併せて、前記レーザダイオードの良否判定を行うことを特徴とする請求項４〜６の何れか１項に記載のレーザダイオードの評価方法。
【請求項９】
請求項３記載の光ピックアップ評価装置を用いて、前記レーザダイオードの良否判定を行うことを特徴とする請求項４〜６の何れか１項に記載のレーザダイオードの評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザダイオードをパルス発光させ、発光パルスを判定することで、レーザダイオードの良否判定を実行可能な光ディスク装置およびその評価方法、光ピックアップ評価装置、ならびにレーザダイオードの評価方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
図７は、従来のレーザダイオード評価装置の一形態を示す説明図、図８（ａ）は、入力信号を示す概略図、図８（ｂ）は、レーザダイオードが正常に発光されたときの応答特性を示す説明図、図８（ｃ）は、レーザダイオードが異常発光されたときの応答特性を示す説明図である。
【０００３】
光ピックアップにおいて、レーザダイオード７２０は、最も重要な部品とされている。その動作状態は、オプティカルシステム（Optical System）の性能に大きく影響を及ぼすものとされている。そのため、レーザダイオード７２０の動作状態を評価することは、非常に重要なこととされている。レーザダイオードは、「ＬＤ」と呼ばれている。「ＬＤ」は、「Laser Diode 」の略称とされる。また、光ピックアップは、「ＯＰＵ」と呼ばれている。「ＯＰＵ」は、「optical pickup」の略称とされる。
【０００４】
従来、ＬＤ７２０が評価されるときに、図７に示すレーザダイオード評価装置７００が用いられて、ＬＤの評価方法が行われていた。ドライバ７１０からＬＤ７２０へ電流が流されて、ＬＤ７２０からレーザ光が出力される。ドライバ（Driver）は、ＬＤを駆動させてＬＤからレーザ光を出射させるレーザ駆動回路を備えるものとされている。
【０００５】
ＬＤ７２０から出力されるレーザ光の一部は、フロントモニタ７３０に入る。ＬＤ７２０から出射されたレーザ光の一部は、フロントモニタ７３０により検出される。フロントモニタ（Front Monitor ）は、「ＦＭ」と略称される。ＦＭ７３０に、レーザ光線が受光されることで、ＦＭ７３０から信号が発信される。
【０００６】
この信号は、コンパレータ７４０に入力される。コンパレータ（Comparator）とは、比較器を意味する。コンパレータは、基準電圧（Vref）に対して入力信号が高いものとされているか、又は、基準電圧（Vref）に対して入力信号が低いものとされているかを比較し、信号出力時に、ハイ（High）の信号またはロウ（Low ）の信号を出力するものとされている。コンパレータ７４０から出力される信号に電圧が印加されつつ、この信号は、ドライバ７１０に入力される。
【０００７】
レーザダイオード評価装置７００は、ＡＰＣ回路（APC Loop）を備えるものとされている。ＡＰＣ回路とは、光出力一定回路を意味する。また、「ＡＰＣ」は、「Auto Power Control」の略称とされている。また、レーザダイオード評価装置７００を構成するコンデンサ７５０を介して、レーザダイオード評価装置７００は、接地されている。
【０００８】
従来のＬＤ評価方法として、以下の二つの方法が考えられていた。
【０００９】
第一のＬＤ評価方法は、ＬＤ７２０から出射されるオプティカルパワー（Optical Power ）を測定することで行われるものとされている。オプティカルパワー（Optical Power ）とは、ＬＤ７２０から出射される光の強さを意味する。この方法は、ＬＤ７２０から出力されるオプティカルパワーを直接測定し、ＬＤ７２０から出力されているレーザの出力
値が、規定の出力値とされているか否かを判定する方法とされている。この方法は、非常に簡単なものとされている。
【００１０】
この方法が行われて、ＬＤ７２０の良否判定が行われるときに、ＬＤ７２０からレーザ光が一定時間の間、出射される。または、この方法が行われて、ＬＤ７２０の良否判定が行われるときに、パルスウェーブモード（Pulse Wave Mode ）の状態で、ＬＤ７２０からレーザ光が出射される。パルスウェーブモードとは、ＬＤのＯＮ状態およびＯＦＦ状態を短い間隔で繰り返し、ＬＤから短い間隔でレーザ光を出射させる方法とされている。
【００１１】
第二のＬＤ評価方法は、ＬＤ７２０に流される電流の効率を測定することで行われるものとされている。ＬＤ７２０から出力されるオプティカルパワー（Optical Power ）は、ＡＰＣ回路により、規定された一定の出力に保たれる。そこで、規定される出力とさせるために、ＬＤ７２０に電圧を印加させて、ＬＤ７２０へ流される入力値すなわち電流値を測定し、その結果により、ＬＤ７２０の判定を行う。ＬＤ７２０に流される電流の効率を測定してＬＤ７２０を評価する方法として、これらの方法が挙げられる。
【００１２】
ＬＤ７２０の評価を行うときに、図８（ａ）に示す信号をドライバ７１０（図７）に入力させると、ＬＤ７２０が発光する。すると、図８（ｂ）の如く、不図示のモニタに応答波形Ｗ１が写し出される。又は、図８（ｃ）の如く、不図示のモニタに応答波形Ｗ２が写し出される。
【００１３】
図８（ｂ）に示す波形Ｗ１は、問題の無い場合のＬＤの応答波形とされている。これに対し、図８（ｃ）に示す波形Ｗ２は、ＬＤの発光状態に問題が発生した場合の波形とされている。図８（ｃ）の波形Ｗ２は、ＬＤ劣化が進行していることが、その波形の特徴から判る。図８（ｃ）の波形Ｗ２について説明すると、立ち上がり時には、ある程度のオプティカルパワーが出力されているが、徐々にオプティカルパワーの出力が低下する。
【００１４】
もし、このような状態が長期に亘って継続して見られた場合、ＬＤの発光は、やがて停止する。また、ＬＤが未だ劣化されていない状態とされていても、図８（ｃ）に例示したオーバーシュート（Overshoot ）が発生したＬＤの場合、ＬＤを正常な特性のものとさせることは、困難なこととされていた。オーバーシュートとは、目的とした値を通り越すことを意味する。オーバーシュートが発生したものについては、不良品として取り扱われていた。
【００１５】
また、従来のものとして、例えばレーザダイオードの発光パルスの波形をきれいに整形し得るレーザダイオード駆動回路というものがある（例えば特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平８−１８６３１２号公報（第１，３頁、第１〜６図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
しかしながら、上記従来の第一のＬＤ評価方法にあっては、通常のＬＤ駆動回路が用いられていることから、ＬＤから出射されるレーザの出力値は、ＡＰＣ回路に基づいた規定の出力値とされる。ＬＤから出射されるレーザの出力値は、ＡＰＣ回路に基づいて自動的に出力が調整されていることから、ＬＤの発光状態が正常なものとされているか、又は、ＬＤの発光状態が異常なものとされているかといった判定は、実施不可能なものとされていた。このように、従来の第一のＬＤ評価方法は、このような問題をもつものとされていた。
【００１７】
また、ＬＤ発光方式として、パルスウェーブモードが用いられた場合でも、前記問題と同様な問題が生じることがあった。特に、このパルスウェーブモードの方式においては、
パルス（Pulse ）が発光された状態では、ＬＤの故障も発見することができないこともあるという問題もあった。
【００１８】
また、上記従来の第二のＬＤ評価方法にあっては、次の問題が生ずることが懸念されていた。ＬＤは、その効率が様々なものとされているため、そのバイアス（Bias）電流も大きく変動される。このことから、ＬＤの評価を正確に判断するということは、非常に難しいこととされていた。バイアスとは、トランジスタなどが用いられて、ベースとされる信号電圧に電圧が加えられることを意味する。
【００１９】
このように、ＬＤから出力されるオプティカルパワーを測定してＬＤの評価を行うということは、ＬＤの動作状態を正確に判断するということにおいて、非常に困難なこととされていた。また、ＬＤに流される電流の効率を測定してＬＤの評価を行うということは、ＬＤの動作状態を正確に判断するということにおいて、非常に困難なこととされていた。
【００２０】
本発明は、上記した点に鑑み、レーザダイオードをパルス発光させ、その発光パルスそのものを判定することで、レーザダイオードの正確な良否判定を行うことができる光ディスク装置およびその評価方法、光ピックアップ評価装置、ならびにレーザダイオードの評価方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２１】
上記目的を達成するために、本発明の請求項１に係る光ディスク装置は、レーザを出射するレーザダイオードと、該レーザダイオードから出射された該レーザを受光するフロントモニタダイオードとを有する光ピックアップと、該光ピックアップにパルス信号を送信させ、該光ピックアップを構成する該レーザダイオードから該レーザを出射させるときに、該レーザダイオードをパルス発光させるエンコーダ／デコーダと、該フロントモニタダイオードに該レーザが受光されることで発信されるパルス発光信号を、発光波形データとして処理する測定信号処理回路部とを備え、該測定信号処理回路部を構成するシステム制御マイコンにおいて、該発光波形データの演算処理が行われることを特徴とする。
【００２２】
上記構成により、光ディスク装置を構成する光ピックアップのレーザダイオードは、正確に良否判定される。また、光ディスク装置に装備されたレーザダイオードの良否判定は、光ディスク装置自身で行われる。光ディスク装置において、レーザダイオードの良否判定が行われるときに、光ディスク装置を構成するエンコーダ／デコーダから光ピックアップにパルス信号が送信されて、光ピックアップを構成するレーザダイオードがパルス発光する。光ピックアップのレーザダイオードから出射されたレーザは、光ピックアップのフロントモニタダイオードに受光される。フロントモニタダイオードに、パルス発光されたレーザが受光されることで、フロントモニタダイオードからパルス発光信号が発信される。このパルス発光信号は、測定信号処理回路部において、発光波形データとして処理される。この発光波形データは、測定信号処理回路部を構成するシステム制御マイコンにおいて、演算処理される。発光波形データの演算処理が行われることで、光ディスク装置を構成する光ピックアップのレーザダイオードの良否判定が行われる。このように、レーザダイオードの良否判定は、光ディスク装置自身で行われる。レーザダイオードを備える光ディスク装置の良否判定は、光ディスク装置自身で実行される。従って、優れた自己判定機能を備えた光ディスク装置が提供可能とされる。
【００２３】
請求項２に係る光ディスク装置の評価方法は、レーザを出射するレーザダイオードと、該レーザダイオードから出射された該レーザを受光するフロントモニタダイオードとを有する光ピックアップと、該光ピックアップにパルス信号を送信させ、該光ピックアップを構成する該レーザダイオードから該レーザを出射させるときに、該レーザダイオードをパルス発光させるエンコーダ／デコーダとを備える光ディスク装置の評価方法であって、入
力信号をデジタル信号として処理して記憶するデジタルストレージを用い、該デジタルストレージに光ディスク装置を接続させ、前記エンコーダ／デコーダから前記光ピックアップに前記パルス信号を送信させて、該光ピックアップの前記レーザダイオードをパルス発光させつつ該レーザダイオードから前記レーザを出射させ、該レーザを前記フロントモニタダイオードに受光させ、該フロントモニタダイオードにパルス発光された該レーザが受光されることで発信されるパルス発光信号を、該デジタルストレージにてデジタル信号として処理させて発光波形データとさせ、デジタル信号化された該発光波形データを該デジタルストレージに記憶させ、該発光波形データをコンピュータに取り込ませ、該コンピュータにおいて、該発光波形データの演算処理を行わせることを特徴とする。
【００２４】
上記構成により、光ディスク装置を構成する光ピックアップのレーザダイオードは、正確に良否判定される。光ディスク装置の評価を行うときに、デジタルストレージに光ディスク装置を接続させる。光ディスク装置を構成するエンコーダ／デコーダから光ピックアップにパルス信号を送信させて、光ピックアップのレーザダイオードをパルス発光させつつレーザダイオードからレーザを出射させる。このレーザは、フロントモニタダイオードに受光される。フロントモニタダイオードに、パルス発光されたレーザが受光されることで、フロントモニタダイオードからパルス発光信号が発信される。このパルス発光信号は、デジタルストレージにてデジタル信号として処理されて発光波形データとされる。デジタル信号化された発光波形データは、デジタルストレージに記憶される。この発光波形データは、コンピュータに取り込まれる。コンピュータにおいて、発光波形データの演算処理が行われる。発光波形データの演算処理が行われることで、光ディスク装置を構成する光ピックアップのレーザダイオードは、正確に良否判定される。光ディスク装置を構成する光ピックアップのレーザダイオードが良否判定されることで、光ディスク装置の良否判定評価が行われる。
【００２５】
請求項３に係る光ピックアップ評価装置は、光ピックアップにパルス信号を送信させ、該光ピックアップを構成するレーザダイオードからレーザを出射させるときに、該レーザダイオードをパルス発光させるパルスジェネレータと、該レーザダイオードから出射された該レーザを受光するオプティカルセンサと、該オプティカルセンサに該レーザが受光されることで発信されるパルス発光信号を、デジタル信号として処理し、発光波形データとして記憶するデジタルストレージと、該デジタルストレージにてデジタル信号化された発光波形データを取り込み、該発光波形データの演算処理を行うコンピュータとを備えることを特徴とする。
【００２６】
上記構成により、レーザダイオードを備える光ピックアップの正確な良否判定が行われる。光ピックアップ評価装置に光ピックアップをセットすることで、光ピックアップを構成するレーザダイオードの良否は、正確に判定される。光ピックアップ評価装置が用いられて、光ピックアップの良否判定が行われる工程について説明すると、まず、光ピックアップ評価装置に光ピックアップをセットする。レーザダイオードから出射されるレーザを受光する位置に、オプティカルセンサが装備されている。光ピックアップをパルスジェネレータに接続させる。このような状態で、パルスジェネレータから光ピックアップのレーザドライバにパルス信号を送信させる。すると、光ピックアップを構成するレーザダイオードからレーザが出射され、レーザダイオードは、パルス発光する。オプティカルセンサに、パルス発光されたレーザが受光されることで、オプティカルセンサからパルス発光信号が発信される。このパルス発光信号は、デジタルストレージにおいてデジタル信号として処理されて発光波形データとされ、この発光波形データは、デジタルストレージに記憶される。デジタルストレージにてデジタル信号化された発光波形データは、コンピュータに取り込まれる。この発光波形データは、コンピュータにおいて演算処理される。発光波形データの演算処理が行われることで、光ピックアップを構成するレーザダイオードの良否判定は、正確に行われる。光ピックアップ評価装置が用いられて、光ピックアップの重
要な部品とされるレーザダイオードの良否判定が行われるので、光ピックアップ評価装置にセットされた光ピックアップは、正確に良否判定される。従って、優れた判定機能を備えた光ピックアップ評価装置が提供可能とされる。
【００２７】
請求項４に係るレーザダイオードの評価方法は、レーザダイオードからレーザをパルス発光させ、そのときの発光波形を測定し、そのときに、該発光波形の最大レベルをピークレベルＰｐと定め、該発光波形の終端レベルをエンドレベルＰｅと定め、該発光波形の該ピークレベルＰｐと該エンドレベルＰｅとの間とされる略中間位置をミドルレベルＰｍと定め、該発光波形の全平均出力レベルをアベレージレベルＰａと定め、該ピークレベルＰｐと該エンドレベルＰｅとの比をｄＰと定め、該ミドルレベルＰｍと該エンドレベルＰｅとの比をｄＦと定めたときに、下記（１）式および下記（２）式に基づいて、該レーザダイオードの良否判定を行うことを特徴とする。
【００２８】
【数３】
2006048827.tif 000003
【００２９】
【数４】
2006048827.tif 000004
【００３０】
上記構成により、レーザダイオードの正確な良否判定が実行可能となる。上記（１）式および上記（２）式に基づいてレーザダイオードの良否判定評価を行うので、正常なレーザダイオードと、異常とされるレーザダイオードとは、明確に区別される。ｄＰが大きい値とされた場合、発光波形におけるピークレベルの部分は、突出された状態とされる。このようなことが発光波形に現れた場合、レーザダイオードが劣化した状態とされているか、又は、レーザダイオードのオーバーシュート量が異常に大きくなったものと判断される。オーバーシュートとは、目的とした値を通り越すことを意味する。また、ｄＦが大きい値とされた場合、レーザダイオードの劣化状態は、進行された可能性が高いと判断される。レーザダイオードの判断方法について具体的に説明すると、レーザダイオードからレーザがパルス発光されたときに、（１）式のｄＰが小さい値とされ、且つ、（２）式のｄＦが小さい値とされた場合、このレーザダイオードは、正常なものとして判定される。また、レーザダイオードからレーザがパルス発光されたときに、（１）式のｄＰが大きい値とされ、且つ、（２）式のｄＦが小さい値とされた場合、このレーザダイオードは、オーバーシュートが甚だしいものと判定される。従って、このレーザダイオードは、不良品として判定される。また、レーザダイオードからレーザがパルス発光されたときに、（１）式のｄＰが小さい値とされ、且つ、（２）式のｄＦが大きい値とされた場合、このレーザダイオードは、発光波形において立上が異常なものと判定される。従って、このレーザダイオードは、不良品として判定される。また、レーザダイオードからレーザがパルス発光されたときに、（１）式のｄＰが大きい値とされ、且つ、（２）式のｄＦが大きい値とされ
た場合、このレーザダイオードは、劣化した可能性が高いものと判定される。従って、このレーザダイオードは、不良品として判定される。
【００３１】
請求項５に係るレーザダイオードの評価方法は、請求項４記載のレーザダイオードの評価方法において、測定された前記発光波形が二次元のものとして映し出されたときに、該発光波形は、略逆凹状の波形とされ、該発光波形の横軸が経過時間とされ、該発光波形の縦軸が光の強さとされ、該発光波形の該横軸におけるパルス幅を一定とさせて該発光波形の総面積を求め、一定とされた該パルス幅に基づいて、方形の発光波形を想定したときに、測定された該発光波形の該総面積と、想定された該方形の発光波形の総面積とを等しくさせ、想定された該方形の発光波形の該縦軸における高さを、前記アベレージレベルＰａと定めることを特徴とする。
【００３２】
上記構成により、発光波形のアベレージレベルＰａは、想定された方形の発光波形の光の強さとして定められる。発光波形のアベレージレベルＰａが正確なものとされるので、上記（１）式により求められる発光波形のピークレベルＰｐとエンドレベルＰｅとの比ｄＰは、正確なものとして算出される。また、上記（２）式により求められる発光波形のミドルレベルＰｍとエンドレベルＰｅとの比ｄＦは、多少精度よく算出される。
【００３３】
請求項６に係るレーザダイオードの評価方法は、請求項４又は５記載のレーザダイオードの評価方法において、測定された前記発光波形が二次元のものとして映し出されたときに、該発光波形は、略逆凹状の波形とされ、該発光波形の横軸が経過時間とされ、該発光波形の縦軸が光の強さとされ、該発光波形の該横軸におけるパルス幅の中間位置に対応した該発光波形の該縦軸の高さを、前記ミドルレベルＰｍと定めることを特徴とする。
【００３４】
上記構成により、発光波形のミドルレベルＰｍは、発光波形のパルス幅の中間位置に対応した光の強さとして定められる。発光波形のミドルレベルＰｍが正確なものとされるので、上記（２）式により求められる発光波形のミドルレベルＰｍとエンドレベルＰｅとの比ｄＦは、正確なものとして算出される。特に、請求項５記載の発明と、請求項６記載の発明とが併せられたものにおいては、レーザダイオードの良否判定は、より精度よく行われる。
【００３５】
請求項７に係るレーザダイオードの評価方法は、請求項４〜６の何れか１項に記載のレーザダイオードの評価方法において、請求項１記載の光ディスク装置を用いて、前記レーザダイオードの良否判定を行うことを特徴とする。
【００３６】
上記構成により、光ディスク装置を構成する光ピックアップのレーザダイオードは、正確に良否判定される。光ピックアップのレーザダイオードから出射されるレーザの発光波形データが、上記（１）式および上記（２）式に基づいて演算処理されて、光ディスク装置のレーザダイオードの良否判定評価が行われるので、正常なレーザダイオードと、異常とされるレーザダイオードとは、明確に区別される。また、光ディスク装置のレーザダイオードの良否判別評価は、光ディスク装置自身で実行される。
【００３７】
請求項８に係るレーザダイオードの評価方法は、請求項４〜６の何れか１項に記載のレーザダイオードの評価方法において、請求項２記載の光ディスク装置の評価方法と併せて、前記レーザダイオードの良否判定を行うことを特徴とする。
【００３８】
上記構成により、光ディスク装置を構成する光ピックアップのレーザダイオードは、正確に良否判定される。レーザを出射するレーザダイオードと、レーザダイオードから出射されるレーザを受光するフロントモニタダイオードとを有する光ピックアップと、光ピックアップにパルス信号を送信させ、光ピックアップを構成するレーザダイオードからレー
ザを出射させるときに、レーザダイオードをパルス発光させるエンコーダ／デコーダとを備える光ディスク装置の評価は、正確に行われる。光ディスク装置の評価が行われるときに、光ピックアップのレーザダイオードから出射されたレーザの発光波形データが、上記（１）式および上記（２）式に基づいて演算処理されて、光ディスク装置のレーザダイオードの良否判定評価が行われる。これにより、正常なレーザダイオードと、異常とされるレーザダイオードとは、明確に区別される。従って、光ディスク装置に装備されたレーザダイオードの良否は、正確に判別される。
【００３９】
請求項９に係るレーザダイオードの評価方法は、請求項４〜６の何れか１項に記載のレーザダイオードの評価方法において、請求項３記載の光ピックアップ評価装置を用いて、前記レーザダイオードの良否判定を行うことを特徴とする。
【００４０】
上記構成により、光ピックアップを構成するレーザダイオードは、正確に良否判定される。光ピックアップ評価装置に光ピックアップがセットされ、光ピックアップのレーザダイオードから出射されるレーザの発光波形データが、上記（１）式および上記（２）式に基づいて演算処理されて、レーザダイオードの良否判定評価が行われるので、正常なレーザダイオードと、異常とされるレーザダイオードとは、明確に区別される。従って、光ピックアップを構成するレーザダイオードの良否は、正確に判別される。
【発明の効果】
【００４１】
以上の如く、請求項１記載の発明によれば、光ディスク装置を構成する光ピックアップのレーザダイオードは、正確に良否判定される。また、光ディスク装置に装備されたレーザダイオードの良否判定は、光ディスク装置自身で行われる。光ディスク装置において、レーザダイオードの良否判定が行われるときに、光ディスク装置を構成するエンコーダ／デコーダから光ピックアップにパルス信号が送信されて、光ピックアップを構成するレーザダイオードがパルス発光する。光ピックアップのレーザダイオードから出射されたレーザは、光ピックアップのフロントモニタダイオードに受光される。フロントモニタダイオードに、パルス発光されたレーザが受光されることで、フロントモニタダイオードからパルス発光信号が発信される。このパルス発光信号は、測定信号処理回路部において、発光波形データとして処理される。この発光波形データは、測定信号処理回路部を構成するシステム制御マイコンにおいて、演算処理される。発光波形データの演算処理が行われることで、光ディスク装置を構成する光ピックアップのレーザダイオードの良否判定が行われる。このように、レーザダイオードの良否判定は、光ディスク装置自身で行われる。レーザダイオードを備える光ディスク装置の良否判定は、光ディスク装置自身で実行できる。従って、優れた自己判定機能を備えた光ディスク装置を提供することができる。
【００４２】
請求項２記載の発明によれば、光ディスク装置を構成する光ピックアップのレーザダイオードは、正確に良否判定される。光ディスク装置の評価を行うときに、デジタルストレージに光ディスク装置を接続させる。光ディスク装置を構成するエンコーダ／デコーダから光ピックアップにパルス信号を送信させて、光ピックアップのレーザダイオードをパルス発光させつつレーザダイオードからレーザを出射させる。このレーザは、フロントモニタダイオードに受光される。フロントモニタダイオードに、パルス発光されたレーザが受光されることで、フロントモニタダイオードからパルス発光信号が発信される。このパルス発光信号は、デジタルストレージにてデジタル信号として処理されて発光波形データとされる。デジタル信号化された発光波形データは、デジタルストレージに記憶される。この発光波形データは、コンピュータに取り込まれる。コンピュータにおいて、発光波形データの演算処理が行われる。発光波形データの演算処理が行われることで、光ディスク装置を構成する光ピックアップのレーザダイオードは、正確に良否判定される。光ディスク装置を構成する光ピックアップのレーザダイオードの良否判定が可能とされることにより、光ディスク装置の良否判定評価は、実施可能とされる。
【００４３】
請求項３記載の発明によれば、レーザダイオードを備える光ピックアップの正確な良否判定が行われる。光ピックアップ評価装置に光ピックアップをセットすることで、光ピックアップを構成するレーザダイオードの良否を、正確に判定できる。光ピックアップ評価装置が用いられて、光ピックアップの良否判定が行われる工程について説明すると、まず、光ピックアップ評価装置に光ピックアップをセットする。レーザダイオードから出射されるレーザを受光する位置に、オプティカルセンサが装備されている。光ピックアップをパルスジェネレータに接続させる。このような状態で、パルスジェネレータから光ピックアップのレーザドライバにパルス信号を送信させる。すると、光ピックアップを構成するレーザダイオードからレーザが出射され、レーザダイオードは、パルス発光する。オプティカルセンサに、パルス発光されたレーザが受光されることで、オプティカルセンサからパルス発光信号が発信される。このパルス発光信号は、デジタルストレージにおいてデジタル信号として処理されて発光波形データとされ、この発光波形データは、デジタルストレージに記憶される。デジタルストレージにてデジタル信号化された発光波形データは、コンピュータに取り込まれる。この発光波形データは、コンピュータにおいて演算処理される。発光波形データの演算処理が行われることで、光ピックアップを構成するレーザダイオードの良否判定は、正確に行われる。光ピックアップ評価装置が用いられて、光ピックアップの重要な部品とされるレーザダイオードの良否判定が行われるので、光ピックアップ評価装置にセットされた光ピックアップは、正確に良否判定される。従って、優れた判定機能を備えた光ピックアップ評価装置を提供することができる。
【００４４】
請求項４記載の発明によれば、レーザダイオードの正確な良否判定を実行することができる。下記（１）式および下記（２）式に基づいてレーザダイオードの良否判定評価を行うので、正常なレーザダイオードと、異常とされるレーザダイオードとを、明確に区別できる。
【００４５】
【数５】
2006048827.tif 000005
【００４６】
【数６】
2006048827.tif 000006
【００４７】
ｄＰが大きい値とされた場合、発光波形におけるピークレベルの部分は、突出された状態とされる。このようなことが発光波形に現れた場合、レーザダイオードが劣化した状態とされているか、又は、レーザダイオードのオーバーシュート量が異常に大きくなったものと判断される。オーバーシュートとは、目的とした値を通り越すことを意味する。また、ｄＦが大きい値とされた場合、レーザダイオードの劣化状態は、進行された可能性が高いと判断される。レーザダイオードの判断方法について具体的に説明すると、レーザダイ
オードからレーザがパルス発光されたときに、（１）式のｄＰが小さい値とされ、且つ、（２）式のｄＦが小さい値とされた場合、このレーザダイオードは、正常なものとして判定される。また、レーザダイオードからレーザがパルス発光されたときに、（１）式のｄＰが大きい値とされ、且つ、（２）式のｄＦが小さい値とされた場合、このレーザダイオードは、オーバーシュートが甚だしいものと判定される。従って、このレーザダイオードは、不良品として判定される。また、レーザダイオードからレーザがパルス発光されたときに、（１）式のｄＰが小さい値とされ、且つ、（２）式のｄＦが大きい値とされた場合、このレーザダイオードは、発光波形において立上が異常なものと判定される。従って、このレーザダイオードは、不良品として判定される。また、レーザダイオードからレーザがパルス発光されたときに、（１）式のｄＰが大きい値とされ、且つ、（２）式のｄＦが大きい値とされた場合、このレーザダイオードは、劣化した可能性が高いものと判定される。従って、このレーザダイオードは、不良品として判定される。
【００４８】
請求項５記載の発明によれば、発光波形のアベレージレベルＰａは、想定された方形の発光波形の光の強さとして定められる。発光波形のアベレージレベルＰａが正確なものとされるので、上記（１）式により求められる発光波形のピークレベルＰｐとエンドレベルＰｅとの比ｄＰを、正確なものとして算出することができる。また、上記（２）式により求められる発光波形のミドルレベルＰｍとエンドレベルＰｅとの比ｄＦは、多少精度よく算出される。
【００４９】
請求項６記載の発明によれば、発光波形のミドルレベルＰｍは、発光波形のパルス幅の中間位置に対応した光の強さとして定められる。発光波形のミドルレベルＰｍが正確なものとされるので、上記（２）式により求められる発光波形のミドルレベルＰｍとエンドレベルＰｅとの比ｄＦを、正確なものとして算出することができる。特に、請求項５記載の発明と、請求項６記載の発明とが併せられたものにおいては、レーザダイオードの良否判定を、より精度よく行うことができる。
【００５０】
請求項７記載の発明によれば、光ディスク装置を構成する光ピックアップのレーザダイオードは、正確に良否判定される。光ピックアップのレーザダイオードから出射されるレーザの発光波形データが、上記（１）式および上記（２）式に基づいて演算処理されて、光ディスク装置のレーザダイオードの良否判定評価が行われるので、正常なレーザダイオードと、異常とされるレーザダイオードとを、明確に区別できる。また、光ディスク装置のレーザダイオードの良否判別評価を、光ディスク装置自身で実行させることができる。
【００５１】
請求項８記載の発明によれば、光ディスク装置を構成する光ピックアップのレーザダイオードは、正確に良否判定される。レーザを出射するレーザダイオードと、レーザダイオードから出射されるレーザを受光するフロントモニタダイオードとを有する光ピックアップと、光ピックアップにパルス信号を送信させ、光ピックアップを構成するレーザダイオードからレーザを出射させるときに、レーザダイオードをパルス発光させるエンコーダ／デコーダとを備える光ディスク装置の評価は、正確に行われる。光ディスク装置の評価が行われるときに、光ピックアップのレーザダイオードから出射されたレーザの発光波形データが、上記（１）式および上記（２）式に基づいて演算処理されて、光ディスク装置のレーザダイオードの良否判定評価が行われる。これにより、正常なレーザダイオードと、異常とされるレーザダイオードとを、明確に区別できる。従って、光ディスク装置に装備されたレーザダイオードの良否を、正確に判別できる。
【００５２】
請求項９記載の発明によれば、光ピックアップを構成するレーザダイオードは、正確に良否判定される。光ピックアップ評価装置に光ピックアップがセットされ、光ピックアップのレーザダイオードから出射されるレーザの発光波形データが、上記（１）式および上記（２）式に基づいて演算処理されて、レーザダイオードの良否判定評価が行われるので
、正常なレーザダイオードと、異常とされるレーザダイオードとを、明確に区別できる。従って、光ピックアップを構成するレーザダイオードの良否を、正確に判別できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５３】
以下に本発明に係る光ディスク装置、光ディスク装置の評価方法、光ピックアップ評価装置、ならびにレーザダイオードの評価方法の一実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。
【実施例１】
【００５４】
図１は、本発明に係る光ディスク装置の一実施形態を示すブロック図である。
【００５５】
光ディスク装置４００が用いられて、メディアにおける情報などのデータの再生または記録が行われる。メディアとして、例えば、ＣＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ−ＲＯＭなどの読出し専用の光ディスクや、ＣＤ−Ｒ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ＋Ｒなどの追記型の光ディスクや、ＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ＋ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭ，Blu-ray Discなどの書込み／消去や書換え可能なタイプの光ディスクが挙げられる。
【００５６】
「ＣＤ」は、「Compact Disc」の略称とされる。また、「ＤＶＤ」は、「Digital Versatile Disc」もしくは「Digital Video Disc」の略称とされる。また、「ＣＤ−ＲＯＭ」もしくは「ＤＶＤ−ＲＯＭ」の「ＲＯＭ」は、「Read Only Memory」の略称とされ、ＣＤ−ＲＯＭもしくはＤＶＤ−ＲＯＭは、データ読出し専用のものとされている。また、「ＣＤ−Ｒ」または「ＤＶＤ−Ｒ」もしくは「ＤＶＤ＋Ｒ」の「Ｒ」は、「Recordable」の略称とされ、ＣＤ−ＲまたはＤＶＤ−ＲもしくはＤＶＤ＋Ｒは、データの書込みが可能なものとされている。また、「ＣＤ−ＲＷ」または「ＤＶＤ−ＲＷ」もしくは「ＤＶＤ＋ＲＷ」の「ＲＷ」は、「ReWritable」の略称とされ、ＣＤ−ＲＷまたはＤＶＤ−ＲＷもしくはＤＶＤ＋ＲＷは、データの書換えが可能なものとされている。また、「ＤＶＤ−ＲＡＭ」は、「Digital Versatile Disc Random Access Memory 」の略称とされ、データの読み書き・消去が可能なものとされている。
【００５７】
光ディスク装置４００を構成する光ピックアップ１は、前記各種光ディスクに記録されたデータを再生させたり、前記書込み可能もしくは書換え可能な各種光ディスクにデータを記録させたりするものとされている。光ピックアップ１は、ＣＤ系のメディアと、ＤＶＤ系のメディアと、Blu-ray Disc系のメディアとから選ばれるメディアのうち、少なくとも一種以上のメディアに対応したものとされる。光ピックアップ１は、例えば複数のメディアに対応するものとされる。光ピックアップの機種により、一種類のメディアにのみ対応した光ピックアップも使用可能とされる。
【００５８】
上記複数のメディアに対応可能な光ピックアップ１が用いられているので、光ピックアップ１を備える光ディスク装置４００は、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒなどの追記型の光ディスクや、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどの書込み消去や書換え可能なタイプの光ディスクなどの各種光ディスクに対応可能なものとされている。即ち、この光ディスク装置４００は、各種光ディスクに対して記録／再生が可能なドライブ装置とされている。また、光ディスク装置４００に装着される光ディスク８００は、円板状のものとして形成されている。光ディスク８００の記録部８１０は、金属層などにより形成され、金属薄膜などから形成される層の記録面８１０に、情報やデータなどが記録される。
【００５９】
この光ディスク装置４００は、光ディスク８００の記録部８１０に、情報などのデータを記録可能とさせ、且つ、光ディスク８００の記録部８１０のデータを再生可能とさせる光ピックアップ１と、光ピックアップ１に接続されたフロントエンド処理部８０と、光ピ
ックアップ１に接続された光ピックアップサーボ回路９０と、光ピックアップ１に接続されＡＰＣ回路５５を有するレーザ出力制御回路５０と、レーザ出力制御回路５０に接続されたＡ／Ｄコンバータ６０と、Ａ／Ｄコンバータ６０に接続された発光波形処理部７０と、レーザ出力制御回路５０に接続されＯＰＣ処理部１０５を有するシステム制御マイコン１００と、システム制御マイコン１００に接続されエンコーダ１２１およびデコーダ１２２を有するエンコーダ／デコーダ１２０と、エンコーダ／デコーダ１２０に接続されたストラテジブロック１１０と、エンコーダ／デコーダ１２０に接続されたインタフェース１４０と、エンコーダ／デコーダ１２０に接続されたメモリ１６０と、システム制御マイコン１００に接続されたメモリ１８０と、フロントエンド処理部８０に接続され光ディスク８００を回動させるスピンドルモータ２４０と、スピンドルモータ２４０を駆動させるモータ駆動回路２２０と、モータ駆動回路２２０の制御を行うモータ制御回路２００とを備えるものとして構成されている。
【００６０】
光ピックアップ１は、光ディスク８００に近接され、光ディスク８００に向けてレーザ光を照射させて、光ディスク８００にデータを記録させたり、光ディスク８００のデータを書き換えたり、光ディスク８００のデータを再生させたり、光ディスク８００のデータを消去させたりする光学ヘッドとされている。光ピックアップは、「ＯＰＵ」と呼ばれている。上述した如く、「ＯＰＵ」は、「optical pickup」の略称とされる。
【００６１】
ＯＰＵ１は、光ディスク８００にレーザ光を照射させる対物レンズ３０と、対物レンズ３０に向けてレーザ光を出射するレーザダイオード２０と、レーザダイオード２０から出射されたレーザ光の記録パワー値もしくは再生パワー値を検出するフロントモニタダイオード４０と、レーザダイオード２０へ電流を送るレーザドライバ１０とを備えるものとして構成されている。レーザ光もしくはレーザ光線のパワーは、例えば３ｍＷ〜３００ｍＷ（ミリワット）のパワーとされる。
【００６２】
また、ＯＰＵ１は、このピックアップ１を光ディスク８００の記録／再生対象の記録トラック面に対応した位置に移動させるスライド機構と、光ディスク８００に出射したレーザ光を記録／再生対象の記録トラックに追従させる制御すなわちトラッキング制御を行うためのトラッキング機構と、光ディスク８００に出射したレーザ光の焦点ずれを補正する制御すなわちフォーカス制御を行うためのフォーカス機構とを備えるものとして構成されている（何れも図示せず）。
【００６３】
対物レンズは、「Objective Lens」と呼ばれ、「ＯＢＬ」と略称されている。合成樹脂製のＯＢＬ３０は、合成樹脂製のレンズホルダ（図示せず）に装着されている。また、合成樹脂製のレンズホルダに、レンズホルダの位置を微量調整可能とさせるコイル（図示せず）が装着されている。
【００６４】
レーザダイオード２０について簡単に説明すると、ダイオードは、主に二極の半導体素子により構成され、レーザダイオード（ＬＤ）は、二極の半導体素子から構成された発光素子とされている。また、上述した如く、レーザダイオードは、「ＬＤ」と呼ばれている。「ＬＤ」は、「Laser Diode 」の略称とされている。
【００６５】
レーザドライバ１０は、一個の基板の表面もしくは内部において、多くの回路素子が一体として結合されて構成された超小型構造の電子回路とされている。すなわちレーザドライバ１０は、集積回路（ＩＣ）として構成されている。「ＩＣ」は、「Integrated Circuit」の略称とされている。レーザドライバは、「ＬＤＤ」等と呼ばれている。レーザドライバ（ＬＤＤ）は、「ＬＤ Driver 」の略称とされ、ＬＤ２０を駆動させてＬＤ２０からレーザ光を出射させるレーザ駆動回路とされている。
【００６６】
例えば、ＬＤＤ１０に通電可能に接続されたレーザ出力制御回路５０の抵抗が調節されることで、ＬＤＤ１０からＬＤ２０へ流される電流が調整され、ＬＤ２０から適正なパワーのレーザ光が出射される。ＬＤＤ１０からＬＤ２０に電流が供給され、ＬＤ２０から出射されたレーザ光により、ディスク６００に情報の記録が行われたり、ディスク６００に記録された情報が再生されたりされる。
【００６７】
光ディスク８００から反射されたレーザ光の一部は、対物レンズ３０を通り抜け、フロントモニタダイオード４０に照射される。フロントモニタダイオード（Front Monitor Diode ）は、「ＦＭＤ」と略称されている。フロントモニタダイオード（ＦＭＤ）は、レーザダイオード（ＬＤ）から出力されるレーザ光をモニタして、レーザダイオード（ＬＤ）の制御のためにフィードバックをかけるものとされている。また、フロントモニタダイオードは、受光素子などと呼ばれている。
【００６８】
フロントエンド処理部８０は、ＲＦアンプと、トラッキング誤差信号生成回路と、フォーカス誤差信号生成回路とを備えるものとされている（何れも図示せず）。例えばＲＦアンプは、ＯＰＵ１のＦＭＤ４０における受光光量に応じて生成された電気信号に基づいて、記録／再生対象の記録トラック上にある記録マークの有無を判別するためのＲＦ信号を生成するものとされる。「ＲＦ」とは、電波と略同じ高い周波数に変換された信号を意味する。また、「ＲＦ」は、「radio frequency 」の略称とされている。フロントエンド処理部８０は、ＯＰＵ１のレーザドライバ１０に接続されている。
【００６９】
光ピックアップサーボ回路９０は、フロントエンド処理部８０にて生成されたトラッキング誤差信号やフォーカス誤差信号などの各種誤差信号に基づいて、ＯＰＵ１に組み込まれたトラッキングサーボ機構やフォーカスサーボ機構などのサーボ機構を駆動させるためのサーボ制御信号を生成する光学ヘッドサーボ回路として構成されている。前記サーボ制御信号に基づいて、前記サーボ機構の駆動が制御される。ＯＰＵ１の対物レンズ３０を保持するレンズホルダ（不図示）のフォーカス制御や、トラッキング制御などのサーボ制御は、光ピックアップサーボ回路９０から発せられるサーボ制御信号によって行われる。また、光ピックアップサーボ回路９０は、システム制御マイコン１００から発せられる信号に基づいて制御される。光ピックアップサーボ回路９０は、システム制御マイコン１００と接続されている。
【００７０】
レーザ出力制御回路５０は、レーザダイオード２０を駆動させるためのパルス信号を生成して、レーザドライバ１０に送信させる役割を果たすものとされている。また、レーザ出力制御回路５０は、システム制御マイコン１００から発せられる信号に基づいて制御される。
【００７１】
レーザ出力制御回路５０からシステム制御マイコン１００に向けて発せられたアナログ信号は、Ａ／Ｄコンバータ６０において、アナログ値からデジタル値へと変換される。Ａ／Ｄコンバータ（Analog to Digital Converter ）は、アナログ値からデジタル値への変換を行うチップまたは基板を意味する。
【００７２】
Ａ／Ｄコンバータ６０において、デジタル化された信号は、発光波形処理部７０を経由して、システム制御マイコン１００に供給される。
【００７３】
システム制御マイコン１００は、光ディスク８００の記録／再生に係る光ディスク装置４００全般のシステム制御を司るものとされている。例えばシステム制御マイコン１００は、光ディスク８００に対して記録／再生を行う場合に、光ディスク８００に応じた変調／復調処理を施すために、エンコーダ１２１／デコーダ１２２の起動を制御する。
【００７４】
また、システム制御マイコン１００は、ＯＰＣ処理部１０５の機能を、ファームウェア（プログラム）又はハードウェアによって行わせるものとされている。ファームウェアとは、ハードウェアの基本的な制御が行われるために機器に組み込まれたソフトウェアを意味する。ハードウェアとは、コンピュータを構成する電子回路や周辺機器などの物理的実体のあるものを意味する。ソフトウェアとは、コンピュータが動作されるための手順・命令をコンピュータが理解できる形式で記述され、まとめられたものを意味する。
【００７５】
エンコーダ／デコーダ１２０を構成するデコーダ１２２は、光ディスク８００が再生されるときに、光ディスク８００のデータフォーマットに対応したデコード処理を行うものとされている。デコード（decode）とは、一定の規則に基づいて符号化されたデータを復号させ、もとのデータを取り出させることを意味する。例えばＣＤメディアのデータフォーマットの場合、変調コードとしてＥＦＭ（８／１４変調）が採用され、誤り訂正符号としてＣＩＲＣが採用されている。デコーダ１２２は、フロントエンド処理部８０にて生成されたＲＦ信号に基づいて、前述の変調コードおよび誤り訂正符号に基づいたデコード処理を行うものとされている。また、デコーダ１２２は、フロントエンド処理部８０と接続されている。
【００７６】
「ＥＦＭ」とは、８ビットのデータを記録に適した１４ビットのデータ列に置き換えて記録する変調方式を意味する。「ＥＦＭ」は、「eight to fourteen modulation」の略称とされる。また、「ＣＩＲＣ」は、エラー訂正機構を意味し、「Cross Interleaved Reed-Solomon Code 」の略称とされている。
【００７７】
また、エンコーダ／デコーダ１２０を構成するエンコーダ１２１は、パソコンなどの情報処理装置（不図示）からインタフェース１４０を介して入力される記録データに関して、光ディスク８００のデータフォーマットに対応したエンコード処理を行うものとされている。エンコード（encode）とは、一定の規則に基づいてデータを符号化させることを意味する。例えばＣＤメディアのデータフォーマットの場合、ＣＩＲＣ符号化処理や、ＥＦＭ変調処理およびスクランブル処理などがエンコード処理に該当され、これらの処理が施された後の記録用変調信号は、ストラテジブロック１１０を経由して、レーザ出力制御回路５０に送信される。エンコーダ／デコーダ１２０は、ＬＤ２０をパルス発光させる役割の一つを担うものとされている。エンコーダ／デコーダ１２０を構成するエンコーダ１２１は、ストラテジブロック１１０と接続されている。
【００７８】
ストラテジブロック１１０に、ライトストラテジ情報が記憶されている。ライトストラテジ情報とは、ＲＡＮＤＯＭ＿ＥＦＭなど、記録パルスの所定パターンのことを意味する。ライトストラテジ情報に基づいて、システム制御マイコン１００は、ＬＤ２０を駆動させ、ＡＰＣ用基準値やＡＣＣ用基準値を適宜なタイミングで調整するものとされている。「ＡＰＣ」は、オートパワーコントロールを意味し、「ＡＣＣ」は、オートカレントコントロールを意味する。
【００７９】
ライトストラテジ（Write Strategy）について詳しく説明すると、ＣＤやＤＶＤなどの各種メディアに対し、情報などのデータが記録されるときに、各種メディアに対応して書込み方法を変化させることが必要とされる。ＣＤやＤＶＤに装備される記録用ドライブは、使用されるメディアの微妙な違いに合わせて、書込み方法を変えることで、より品質の高い書込みを実現させるために、各種のライトストラテジといった書込み方法を備えるものとされている。このように、「ライトストラテジ」とは、書込み方法を意味する。このようなものは、通常、ファームウェア内に収録されている。ファームウェア（Firmware）とは、ハードウェアに組み込まれて動作するプログラムを意味する。
【００８０】
インタフェース１４０は、光ディスク装置４００内のエンコーダ／デコーダ１２０に接
続され、光ディスク装置４００と、パソコンなどの情報処理装置（不図示）との間における記録／再生データの送受信を制御するものとされている。パソコンは、パーソナルコンピュータ（Personal Computer ）の略称とされる。
【００８１】
エンコーダ／デコーダ１２０に接続されたメモリ１６０として、例えばＲＡＭ１６０が用いられた。「ＲＡＭ」とは、「random access memory」の略称とされ、記憶場所や順序に関係されることなく略同一時間でデータにアクセスできる記憶装置を意味する。ＲＡＭ１６０は、前記情報処理装置（不図示）からインタフェース１４０を介して再生要求コマンドが受信された場合、デコーダ１２２においてデコード処理中にあるデータを一時記憶するものとされている。一時記憶されたデータは、インタフェース１４０を介して情報処理装置（不図示）に送信される。また、ＲＡＭ１６０は、情報処理装置（不図示）からインタフェース１４０を介して受信された記録データを一時記憶するものとされている。一時記憶された記録データは、エンコーダ１２１におけるエンコード処理時にアクセスされる。また、ＲＡＭ１６０は、システム制御マイコン１００と接続されている。
【００８２】
システム制御マイコン１００に接続されたメモリ１８０として、例えばＥＥＰＲＯＭ１８０が用いられた。ＥＥＰＲＯＭとは、電気的に内容を書き換えることが可能なＲＯＭを意味するものとされ、不揮発性メモリとされている。ＥＥＰＲＯＭの変更が行われるときには、通常の電圧よりも高い電圧により行われる。また、ＥＥＰＲＯＭは、記憶された情報を電気的に消去可能なものとされている。「ＲＯＭ」は、「read-only memory」の略称とされ、読出し専用メモリを意味する。また、「ＥＥＰＲＯＭ」は、「Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory」の略称とされる。前記ＥＥＰＲＯＭに代えて、他のメモリ（不図示）が用いられたものも使用可能とされる。
【００８３】
システム制御マイコン１０５のＯＰＣ処理部１０５は、実際の記録に先立って、光ディスク８００から読み出された識別情報に基づいて、メモリ１８０に記憶されている過去のＯＰＣで設定された最適記録パワー値の中で、識別情報に対応づけされた最適記録パワー値の検索を実行するものとされている。光ディスクの識別情報として、例えば光ディスクの製造メーカや記録速度などが挙げられる。
【００８４】
追記型光ディスクなどの記録可能な光ディスクに情報の記録などが行われるときには、実際の情報の記録に先立って、システム制御マイコン１００の制御のもとに、評価値いわゆるアシンメトリ値βに基づいたＯＰＣが実施される。アシンメトリとは、非対称を意味するものとされる。「ＯＰＣ」とは、メディアへデータが書き込まれるときに、メディア内周部８５０に試し書きを行い、最適なパワーのレーザ出力を行わせることを意味する。
【００８５】
ＯＰＣについて詳しく説明すると、ＯＰＣとは、光ディスクのＰＣＡに所定のテストデータの記録を行った後に、ＰＣＡより再生されたテストデータに基づいて得られる評価値いわゆるアシンメトリ値βが、光ディスクに応じた基準値いわゆるターゲットβを含む所定範囲内（例：β±１％など）のものとされているか否かを判定して、最適なパワーのレーザ出力を行わせることを意味する。
【００８６】
ＰＣＡについて説明すると、記録用レーザパワーの校正が行われるときに、光ディスク８００の内周部８５０において、レーザによる試書きが行われるための領域を意味する。ＰＣＡ（Power Calibration Area）は、光ディスクに対する記録レーザパワーの校正が行われるときに必要とされる領域とされている。
【００８７】
メモリ１８０には、光ディスク８００の識別情報に対応付けされるターゲットβおよびＯＰＣの履歴情報として過去に設定された最適記録パワー値が記憶されている。ＯＰＣの履歴情報ではなく、ＯＰＣの初期値として推奨される記録パワー値が、メモリ１８０に予
め記憶されたものも使用可能とされる。
【００８８】
レーザ出力制御回路５０は、エンコーダ１２１から受信された記録用変調信号に基づいて、レーザダイオード２０を駆動させるためのパルス信号を生成し、レーザドライバ１０に送信するものとされている。また、レーザ出力制御回路５０は、システム制御マイコン１００から発せられる信号に基づいて制御されている。
【００８９】
レーザドライバ１０は、レーザ出力制御回路５０から発せられたパルス信号に基づいて、レーザダイオード２０を駆動させる。これにより、レーザダイオード２０からレーザ光が出射されて、エンコーダ１２１から出力される記録用変調信号に応じた記録マークが、光ディスク８００の記録部８１０の記録トラックに形成される。また、レーザドライバ１０は、レーザ出力制御回路５０に備えられたＡＰＣ回路５５の制御下で、レーザダイオード２０を駆動させる。ＡＰＣ回路とは、光出力一定回路を意味する。また、「ＡＰＣ」は、「Auto Power Control」の略称とされている。
【００９０】
例えばレーザダイオード２０から出射されたレーザ光の記録パワー値もしくは再生パワー値を検出するためのＦＭＤ４０が、ＯＰＵ１に装備されたものにおいては、ＡＰＣ回路５５は、ＦＭＤ４０にてモニタされたレーザ光の記録パワー値もしくは再生パワー値に基づいて、レーザダイオード２０から出射されるレーザ光の記録パワー値もしくは再生パワー値を一定のものとさせる働きをする。
【００９１】
スピンドルモータ２４０は、光ディスク８００を回転駆動するモータとされている。また、モータ駆動回路２２０は、スピンドルモータ２４０を回転駆動するための回路とされている。また、モータ制御回路２００は、例えば不図示のＷＢＬ検出部から受信されたＷＢＬ信号に基づくウォブリング周波数の情報を用いて、例えばＣＤ規格による線速度一定方式にてスピンドルモータ２４０の回転駆動制御を行うための回路とされている。このような方式は、ＣＬＶ方式と呼ばれている。「ＣＬＶ」は、「Constant Linear Velocity」の略称とされている。また、「ＷＢＬ」は、「Wobble」の略称とされ、情報の信号が記録されるトラックの蛇行を意味する。また、例えばスピンドルモータ２４０の回転に応じて発生するパルス信号が用いられて、角速度一定方式にてスピンドルモータ２４０の回転駆動制御が行われるものも使用可能とされる。このような方式は、ＣＡＶ方式と呼ばれている。「ＣＡＶ」は、「Constant Angular Velocity 」の略称とされている。モータ制御回路２００は、フロントエンド処理部８０と接続されている。
【００９２】
また、光ディスク装置４００に装備された不図示のコンデンサを介して、光ディスク装置４００は、接地される。
【００９３】
光ディスク装置４００は、光ディスク８００にレーザを照射させるピックアップ１が用いられて、光ディスク８００へのデータの書込み若しくは書換えが行われるものとされている。
【００９４】
図１の如く、光ディスク装置４００は、レーザ出力制御回路５０により電圧が印加されることでＬＤ２０にパルス電流を流すＬＤＤ１０と、ＬＤＤ１０からパルス電流が流されることでレーザ光線を出射するＬＤ２０と、ＬＤ２０から出射されたレーザ光線を受光するＦＭＤ４０とを有するＯＰＵ１と、ＯＰＵ１に装備されたＬＤＤ１０にパルス信号を送信させ、ＯＰＵ１を構成するＬＤ２０からレーザ光線を出射させるときに、ＬＤ２０をパルス発光させるエンコーダ／デコーダ１２０と、ＦＭＤ４０にレーザ光線が受光されることで発信されるパルス発光信号を、発光パルス波形データとして処理する測定信号処理回路部３００とを備えるものとして構成されている。
【００９５】
測定信号処理回路部３００は、ＯＰＵ１に接続されＡＰＣ回路５５を有するレーザ出力制御回路５０と、レーザ出力制御回路５０に接続されたＡ／Ｄコンバータ６０と、Ａ／Ｄコンバータ６０に接続された発光波形処理部７０と、レーザ出力制御回路５０に接続されＯＰＣ処理部１０５を有するシステム制御マイコン１００と、システム制御マイコン１００に接続されエンコーダ１２１およびデコーダ１２２を有するエンコーダ／デコーダ１２０と、エンコーダ／デコーダ１２０に接続されたストラテジブロック１１０と、エンコーダ／デコーダ１２０に接続されたメモリ１６０とを含むものとされる。
【００９６】
測定信号処理回路部３００などを構成する各種回路部は、光ディスク装置４００を構成する不図示のドライブに装備されている。測定信号処理回路部３００を構成するシステム制御マイコン１００において、発光パルス波形データの演算処理が行われる。
【００９７】
これにより、光ディスク装置４００を構成するＯＰＵ１のＬＤ２０は、正確に良否判定される。また、光ディスク装置４００に装備されたＬＤ２０の良否判定は、光ディスク装置４００自身で行われる。光ディスク装置４００において、ＬＤ２０の良否判定が行われるときに、光ディスク装置４００を構成するエンコーダ／デコーダ１２０からＯＰＵ１に装備されたＬＤＤ１０にパルス信号が送信されて、ＯＰＵ１を構成するＬＤ２０がパルス発光する。
【００９８】
ＯＰＵ１のＬＤ２０から出射されたレーザ光線は、ＯＰＵ１のＦＭＤ４０に受光される。ＦＭＤ４０に、パルス発光されたレーザ光線が受光されることで、ＦＭＤ４０から測定信号処理回路部３００にパルス発光信号が発信される。このパルス発光信号は、測定信号処理回路部３００において発光パルス波形データとして処理される。具体的に説明すると、この発光パルス波形データは、測定信号処理回路部３００を構成するシステム制御マイコン１００において、演算処理される。
【００９９】
発光パルス波形データの演算処理が行われることで、光ディスク装置４００を構成するＯＰＵ１のＬＤ２０の良否判定が行われる。発光パルス波形データの演算処理が行われることで、ＬＤ２０が正常な動作をするものか否かの判定は、光ディスク装置４００内で正確に行われる。このように、ＬＤ２０の良否判定は、光ディスク装置４００自身で行われる。ＬＤ２０を備える光ディスク装置４００の良否判定は、光ディスク装置４００自身で実行される。即ち、セルフテストが実行可能な光ディスク装置４００とされる。従って、優れた自己判定機能を備えた光ディスク装置４００を、装置組立メーカなどに提供することができる。
【実施例２】
【０１００】
図２は、本発明に係る光ディスク装置の評価方法の一実施形態を示すブロック図である。
【０１０１】
図２に示す光ディスク装置４２０は、電圧が印加されることでＬＤ２０にパルス電流を流すＬＤＤ１０と、ＬＤＤ１０からパルス電流が流されることでレーザ光線を出射するＬＤ２０と、ＬＤ２０から出射されたレーザ光線を受光するＦＭＤ４０とを有するＯＰＵ１と、ＯＰＵ１に装備されたＬＤＤ１０にパルス信号を送信させ、ＯＰＵ１を構成するＬＤ２０からレーザ光線を出射させるときに、ＬＤ２０をパルス発光させるエンコーダ／デコーダ１２０とを備えるものとして構成されている。
【０１０２】
エンコーダ／デコーダ１２０などの各種電気／電子部品は、光ディスク装置４２０を構成する不図示のドライブに装備されている。ＬＤＤ１０に通電可能に接続された光ディスク装置４２０の可変型抵抗器２５０が調節されることで、ＬＤＤ１０からＬＤ２０へ流される電流が調整され、ＬＤ２０から適正なパワーのレーザ光が出射される。
【０１０３】
図２において、図１に示すものと同じものについては、同じ符号を付し、その詳細な説明を省略した。
【０１０４】
図４（ａ）〜（ｄ）は、レーザダイオードの評価方法の一実施形態を示す説明図、図５（ａ）〜（ｃ）は、出力値が一定の各発光波形を示す図、図６（ａ）〜（ｄ）は、各発光波形の状態を示す図である。
【０１０５】
光ディスク装置４２０（図２）の評価方法を行うときに、入力信号をデジタル信号として処理して記憶し、入力信号を、経過時間Ｔおよび光の強さＰの二次元の静止波形（図４〜図６）としてモニタ画面に表示させるデジタルストレージオシロスコープ５３０（図２）を用いる。ここでは、デジタルストレージ（Digital Storage ）もしくはデジタルストレージオシロスコープ（Digital Storage Oscilloscope）を、「ＤＳ」と略称する。光ディスク装置４２０の評価方法を行うときに、ＤＳ５３０に、光ディスク装置４２０を通電可能に接続させる。
【０１０６】
光ディスク装置４２０のエンコーダ／デコーダ１２０からＯＰＵ１にパルス信号を送信させて、ＯＰＵ１のＬＤ２０をパルス発光させつつＬＤ２０からレーザ光線を出射させる。レーザ光線をＦＭＤ４０に受光させる。ＦＭＤ４０にパルス発光されたレーザ光線が受光されることで発信されるパルス発光信号を、ＤＳ５３０にてデジタル信号として処理させて、発光パルス波形データとさせる。デジタル信号化された発光パルス波形データを、ＤＳ５３０に一時的に記憶させる。
【０１０７】
図４（ａ）の如く、パルス発光信号を、経過時間Ｔおよび光の強さＰの二次元の発光パルス波形Ｗａとして、ＤＳ５３０（図２）のモニタ画面に表示させる。デジタル信号化された発光パルス波形データを、パーソナルコンピュータ５４０に取り込ませる。パーソナルコンピュータ５４０において、発光パルス波形データの演算処理を行わせる。パーソナルコンピュータ（Personal Computer ）は、パソコンと略称される。また、「Personal Computer 」は、「ＰＣ」と略称されている。
【０１０８】
また、光ディスク評価装置４５０に装備された不図示のコンデンサを介して、光ディスク評価装置４５０は、接地されている。
【０１０９】
光ディスク装置４２０の評価は、上記ＤＳ５３０と、上記ＰＣ５４０とを備える光ディスク評価装置４５０を用いて行う。光ディスク評価装置４５０を用いて、光ディスク装置４２０の評価方法が行われることで、光ディスク装置４２０を構成するＯＰＵ１のＬＤ２０は、正確に良否判定される。
【０１１０】
光ディスク装置４２０の評価を行うときに、ＤＳ５３０に光ディスク装置４２０を通電可能に接続させる。光ディスク装置４２０を構成するエンコーダ／デコーダ１２０からＯＰＵ１にパルス信号が送信されて、ＯＰＵ１のＬＤ２０は、パルス発光されつつＬＤ２０からレーザ光線が出射される。このレーザ光線は、ＦＭＤ４０に受光される。ＦＭＤ４０に、パルス発光されたレーザ光線が受光されることで、ＦＭＤ４０からＤＳ５３０にパルス発光信号が発信される。
【０１１１】
このパルス発光信号は、ＤＳ５３０にてデジタル信号として処理されて発光パルス波形データとされる。デジタル信号化された発光パルス波形データは、ＤＳ５３０に一時的に記憶される。また、パルス発光信号は、図４（ａ）の如く、経過時間Ｔおよび光の強さＰの二次元の発光パルス波形Ｗａとして、ＤＳ５３０（図２）のモニタ画面に表示される。
【０１１２】
デジタル信号化された発光パルス波形データは、ＰＣ５４０に取り込まれる。ＰＣ５４０において、発光パルス波形データの演算処理が行われる。発光パルス波形データの演算処理が行われることで、光ディスク装置４２０を構成するＯＰＵ１のＬＤ２０は、正確に良否判定される。このようにして、光ディスク装置４２０のＬＤ２０が、正常な動作をするものか否かの判定は、正確に行われる。光ディスク装置４２０を構成するＯＰＵ１のＬＤ２０が良否判定されることで、光ディスク装置４２０の良否判定評価が行われる。
【実施例３】
【０１１３】
図３は、本発明に係る光ピックアップ評価装置の一実施形態を示すブロック図である。
【０１１４】
図３に示す光ピックアップ評価装置５００は、ＯＰＵ１に装備されたＬＤＤ１０に電圧を印加させながらパルス信号を送信させ、ＯＰＵ１を構成しＬＤＤ１０に通電可能に接続されたＬＤ２０からレーザ光線を出射させるときに、ＬＤ２０をパルス発光させるパルスジェネレータ５１０と、ＬＤ２０から出射されたレーザ光線を受光するオプティカルセンサ５２０と、オプティカルセンサ５２０にレーザ光線が受光されることで発信されるパルス発光信号を、デジタル信号として処理し、発光パルス波形データとして一時的に記憶し、パルス発光信号を、経過時間Ｔ（図４（ａ））および光の強さＰの二次元の発光パルス波形Ｗａとしてモニタ画面に表示させるＤＳ５３０（図３）と、ＤＳ５３０にてデジタル信号化された発光パルス波形データを取り込み、発光パルス波形データの演算処理を行うＰＣ５４０とを備えるものとして構成されている。また、光ピックアップ評価装置５００に装備された不図示のコンデンサを介して、光ピックアップ評価装置５００は、接地されている。
【０１１５】
図３において、図１または図２に示すものと同じものについては、同じ符号を付し、その詳細な説明を省略した。
【０１１６】
ＬＤＤ１０に通電可能に接続された光ピックアップ評価装置５００の可変型抵抗器５５０が調節されることで、ＬＤＤ１０からＬＤ２０へ流される電流が調整され、ＬＤ２０から適正なパワーのレーザ光が出射される。
【０１１７】
また、パルスジェネレータ５１０からＬＤＤ１０にパルス信号が流されることで、ＬＤＤ１０からＬＤ２０にパルス電流が流される。パルスジェネレータ（Pulse Generator ）とは、パルス信号を送信可能な発電機とされている。ＬＤ２０から出力されるレーザ光の一部は、オプティカルセンサ５２０に入る。ＬＤ２０から出射されたレーザ光の一部は、オプティカルセンサ５２０により検出される。オプティカルセンサ（Optical Sensor）は、受光素子とされる。オプティカルセンサ５２０に、レーザ光線が受光されることで、オプティカルセンサ５２０からＤＳ５３０にパルス発光信号が発信される。
【０１１８】
光ピックアップ評価装置５００が用いられて、ＯＰＵ１の評価が行われることにより、ＬＤ２０を備えるＯＰＵ１の正確な良否判定が行われる。光ピックアップ評価装置５００にＯＰＵ１をセットし、通電可能に接続させることで、ＯＰＵ１を構成するＬＤ２０の良否は、正確に判定される。
【０１１９】
光ピックアップ評価装置５００が用いられて、ＯＰＵ１の良否判定が行われる工程について説明すると、まず、光ピックアップ評価装置５００にＯＰＵ１をセットする。ＬＤ２０から出射されるレーザ光線を受光する位置に、オプティカルセンサ５２０が装備されている。ＯＰＵ１をパルスジェネレータ５１０に通電可能に接続させる。
【０１２０】
このような状態で、パルスジェネレータ５１０からＯＰＵ１のＬＤＤ１０に電圧を印加させながらパルス信号を送信させる。すると、ＯＰＵ１を構成するＬＤ２０からレーザ光
線が出射され、ＬＤ２０は、パルス発光する。オプティカルセンサ５２０に、パルス発光されたレーザ光線が受光されることで、オプティカルセンサ５２０からＤＳ５３０にパルス発光信号が発信される。
【０１２１】
このパルス発光信号は、ＤＳ５３０においてデジタル信号として処理されて発光パルス波形データとされる。この発光パルス波形データは、ＤＳ５３０に一時的に記憶される。また、パルス発光信号は、図４（ａ）の如く、経過時間Ｔおよび光の強さＰの二次元の発光パルス波形Ｗａとして、ＤＳ５３０（図３）の画面に表示される。
【０１２２】
ＤＳ５３０にてデジタル信号化された発光パルス波形データは、ＰＣ５４０に取り込まれる。この発光パルス波形データは、ＰＣ５４０において演算処理される。発光パルス波形データの演算処理が行われることで、ＯＰＵ１を構成するＬＤ２０の良否判定は、正確に行われる。このようにして、ＯＰＵ１のＬＤ２０が正常な動作をするものか否かの判定は、正確に行われる。
【０１２３】
光ピックアップ評価装置５００が用いられて、ＯＰＵ１の重要な部品とされるＬＤ２０の良否判定が行われるので、光ピックアップ評価装置５００にセットされたＯＰＵ１は、正確に良否判定される。従って、優れた判定機能を備えた光ピックアップ評価装置５００を、装置組立メーカなどに提供することができる。
【０１２４】
光ピックアップ評価装置５００を用いてＯＰＵ１の評価を行うときの工程について説明する。
【０１２５】
まず、パルスジェネレータ５１０からＯＰＵ１のＬＤＤ１０に、ＯＰＵ１のＬＤ２０を発光させるためのパルス信号を送信させる。これと同時に、パルス信号をＬＤ発光可能レベルのオプティカルパワーとさせるために、パルス信号に電圧を印加させる。このようにして、ＬＤ２０から出力されたレーザ光を、オプティカルセンサ５２０により検出させる。このとき、ＤＳ５３０を用いて、発光パルス波形を観測し測定する（図４〜図６）。ＤＳ５３０（図３）を用いて測定した各種データは、ＰＣ５４０に取り込まれる。ＰＣ５４０に取り込まれた発光パルス波形データに基づいて、発光波形データの演算を実施し、ＬＤ２０の良否判定を行う。
【０１２６】
以下に、ＬＤの評価方法について説明する。
【実施例４】
【０１２７】
図４は、本発明に係るレーザダイオードの評価方法の一実施形態を示す説明図であり、（ａ）は、測定された発光波形を示す説明図、（ｂ）は、想定された方形の発光波形を示す説明図、（ｃ）は、測定された発光波形の総面積を示す説明図、（ｄ）は、想定された方形の発光波形の総面積を示す説明図である。また、図５は、出力値が一定の各発光波形を示す図であり、（ａ）は、図４（ａ）に示す発光波形の縦軸スケールと同じ縦軸スケールの発光波形を示す図、（ｂ）は、（ａ）に示す発光波形の縦軸スケールよりも拡大された縦軸スケールの発光波形を示す図、（ｃ）は、（ｂ）に示す発光波形の縦軸スケールよりも拡大された縦軸スケールの発光波形を示す図である。また、図６は、各発光波形の状態を示す図であり、（ａ）は、正常な発光波形を示す図、（ｂ）は、オーバーシュートが生じた発光波形を示す図、（ｃ）は、立上異常が生じた発光波形を示す図、（ｄ）は、レーザダイオード劣化の可能性が高い発光波形を示す図である。
【０１２８】
ＬＤからレーザ光線をパルス発光させ、そのときの発光パルス波形Ｗａ（図４（ａ））を測定する。例えば測定された発光パルス波形Ｗａが、デジタルストレージオシロスコープなどの画面に二次元のものとして映し出されたときに、発光パルス波形Ｗａは、略逆凹
状の波形とされる。発光パルス波形Ｗａの横軸は、経過時間Ｔ（msec）（ミリセカンド）とされている。発光パルス波形Ｗａの横軸は、時間軸とされる。また、発光パルス波形Ｗａの縦軸は、光の強さＰ（mW）（ミリワット）とされている。発光パルス波形Ｗａの縦軸の高さが、光の強さＰのレベルとされる。
【０１２９】
図４（ａ）に示す発光パルス波形Ｗａが生じたときに、発光パルス波形Ｗａの始端レベル且つ最大レベルをピークレベルＰｐと定める。ピークレベルＰｐは、レーザ光の最大出力値とされる。また、発光パルス波形Ｗａの終端レベルをエンドレベルＰｅと定める。また、発光パルス波形ＷａのピークレベルＰｐとエンドレベルＰｅとの間とされる略中間位置におけるレベルをミドルレベルＰｍと定める。また、発光パルス波形Ｗａの全平均出力レベルをアベレージレベルＰａと定める。また、ピークレベルＰｐとエンドレベルＰｅとの比をｄＰと定める。また、ミドルレベルＰｍとエンドレベルＰｅとの比をｄＦと定める。
【０１３０】
このように定めたときに、下記（１）式および下記（２）式に基づいて、発光パルス波形Ｗａのデータの解析を行い、ピークレベルＰｐとエンドレベルＰｅとの比ｄＰと、ミドルレベルＰｍとエンドレベルＰｅとの比ｄＦとを比較することで、ＬＤの良否判定を行う。即ち、発光パルス波形Ｗａをサンプリング（Sampling）して、ＬＤの良否判定を行う。
【０１３１】
【数７】
2006048827.tif 000007
【０１３２】
【数８】
2006048827.tif 000008
【０１３３】
上記ｄＰ値は、発光パルス波形Ｗａ（図４（ａ））の終端出力値とされるエンドレベルＰｅと、発光パルス波形Ｗａの最大出力値とされるピークレベルＰｐとの比を求めたものとされている。上記ｄＰ値は、ピーク出力の尖塔量とされる。
【０１３４】
また、上記（１）式が用いられて求められる上記ｄＰ値は、発光パルス波形Ｗａ（図４（ａ））の全平均出力レベルとされるアベレージレベルＰａに基づいて演算が行われるため、ｄＰ値は、正規化されたものとなる。この明細書における「正規化」について説明する。図５（ａ）〜（ｃ）に示す各発光パルス波形Ｗｅ，Ｗｆ，Ｗｇは、波形の形状が異なるものとされていても、縦軸のスケールが異なるだけであって、各発光パルス波形Ｗｅ，Ｗｆ，Ｗｇの出力値は、一定のものとされている。図５（ａ）〜（ｃ）に示す各発光パルス波形Ｗｅ，Ｗｆ，ＷｇのｄＰ値は、同じものとされる。この明細書においては、このようなことを正規化という。
【０１３５】
ｄＰ値は、正規化された値とされるので、図５（ａ）〜（ｃ）に示す各発光パルス波形Ｗｅ，Ｗｆ，Ｗｇの演算処理を行うときに、縦軸の光の強さを一定のものとして規定させる必要が無くされる。発光パルス波形Ｗｅ，Ｗｆ，Ｗｇの演算処理が行われるときに、ある程度の出力値さえ確認するだけでもよいものとされる。このようなことから、上記（１）式は、様々な仕様のＬＤに対応可能な演算式とされる。
【０１３６】
また、上記ｄＦは、発光パルス波形Ｗａの略中間位置のレベルとされるミドルレベルＰｍと、発光パルス波形Ｗａの終端レベルとされるエンドレベルＰｅとのレーザパワーの傾斜度合とされる。この傾斜度合は、フラットネス（Flatness）と呼ばれている。フラットネス（Flatness）とは、平たい部分を意味する。
【０１３７】
ピークレベルＰｐとエンドレベルＰｅとの比ｄＰと、ミドルレベルＰｍとエンドレベルＰｅとの比ｄＦとは、表１に基づいて比較される。求められた二つの値ｄＰ，ｄＦにより、ＬＤの判定を総合的に行う。
【０１３８】
【表１】
2006048827.tif 000009
【０１３９】
このように比較判定が行われることで、ＬＤの正確な良否判定が実行可能となる。上記（１）式および上記（２）式に基づいて、発光パルス波形Ｗａのデータの解析を行い、ＬＤの良否判定評価を行うので、正常なＬＤと、異常とされるＬＤとは、明確に区別される。
【０１４０】
表１の如く、ｄＰが大きい値とされた場合、例えば図６（ｂ）の如く、発光パルス波形ＷｂにおけるピークレベルＰｐｂの部分は、突出された状態とされる。また、例えば図６（ｄ）の如く、発光パルス波形ＷｄにおけるピークレベルＰｐｄの部分は、突出された状態とされる。このようなことが発光パルス波形Ｗｂ，Ｗｄに現れた場合、表１の如く、ＬＤが劣化した状態とされているか、又は、ＬＤのオーバーシュート（Overshoot ）の量が異常に大きくなったものと判断される。上述した如く、オーバーシュートとは、目的とした値を通り越すことを意味する。また、表１の如く、ｄＦが大きい値とされた場合、例えば図６（ｄ）の如く、ＬＤの劣化状態は、進行された可能性が高いと判断される。
【０１４１】
ＬＤの判断方法について具体的に説明すると、ＬＤからレーザ光線がパルス発光されたときに、上記（１）式のｄＰが小さい値とされ、且つ、上記（２）式のｄＦが小さい値とされた場合、発光パルス波形Ｗａは、図４（ａ）および図６（ａ）に例示された波形とされる。表１，図４（ａ），図６（ａ）の如く、このＬＤは、正常なものとして判定される。
【０１４２】
また、ＬＤからレーザ光線がパルス発光されたときに、上記（１）式のｄＰが大きい値とされ、且つ、上記（２）式のｄＦが小さい値とされた場合、発光パルス波形Ｗｂは、図６（ｂ）に例示された波形とされる。表１および図６（ｂ）の如く、このＬＤは、オーバーシュートが甚だしいものと判定される。従って、このＬＤは、不良品として判定される。
【０１４３】
また、ＬＤからレーザ光線がパルス発光されたときに、上記（１）式のｄＰが小さい値とされ、且つ、上記（２）式のｄＦが大きい値とされた場合、発光パルス波形Ｗｃは、図６（ｃ）に例示された波形とされる。表１および図６（ｃ）の如く、このＬＤは、発光パルス波形Ｗｃにおいて立上が異常なものと判定される。従って、このＬＤは、不良品として判定される。
【０１４４】
また、ＬＤからレーザ光線がパルス発光されたときに、上記（１）式のｄＰが大きい値とされ、且つ、上記（２）式のｄＦが大きい値とされた場合、発光パルス波形Ｗｄは、図６（ｄ）に例示された波形とされる。表１および図６（ｄ）の如く、このＬＤは、劣化した可能性が高いものと判定される。従って、このＬＤは、不良品として判定される。このようにして、ＬＤが正常な動作をするものか否かの判定は、正確に行われる。
【０１４５】
図４（ａ）（ｃ）の如く、発光パルス波形Ｗａの横軸におけるパルス幅Ｐｗを一定とさせて発光パルス波形Ｗａの総面積Ａａ（図４（ｃ））を求める。一定とされたパルス幅Ｐｗと、発光パルス波形Ｗａの総面積Ａａとから、図４（ｂ）（ｄ）の如く、方形の発光パルス波形Ｗｓを求める。一定とされたパルス幅Ｐｗに基づいて、方形の発光パルス波形Ｗｓすなわち方形波を想定したときに、測定された発光パルス波形Ｗａの総面積Ａａ（図４（ｃ））と、想定された方形の発光パルス波形Ｗｓの総面積Ａｓ（図４（ｄ））とを等しくさせ、想定された方形の発光パルス波形Ｗｓの縦軸における高さを、アベレージレベルＰａと定める。
【０１４６】
このようにして、発光パルス波形ＷａのアベレージレベルＰａは、想定された方形の発光パルス波形Ｗｓの光の強さＰとして定められる。発光パルス波形ＷａのアベレージレベルＰａが正確なものとされるので、上記（１）式により求められる発光パルス波形ＷａのピークレベルＰｐとエンドレベルＰｅとの比ｄＰは、正確なものとして算出される。また、上記（２）式により求められる発光パルス波形ＷａのミドルレベルＰｍとエンドレベルＰｅとの比ｄＦは、多少精度よく算出される。
【０１４７】
図４（ａ）の如く、発光パルス波形Ｗａの横軸におけるパルス幅Ｐｗの中間位置に対応した発光パルス波形Ｗａの縦軸の高さを、ミドルレベルＰｍと定める。
【０１４８】
このようにして、発光パルス波形ＷａのミドルレベルＰｍは、発光パルス波形Ｗａのパルス幅Ｐｗの中間位置に対応した光の強さＰとして定められる。発光パルス波形ＷａのミドルレベルＰｍが正確なものとされるので、上記（２）式により求められる発光パルス波形ＷａのミドルレベルＰｍとエンドレベルＰｅとの比ｄＦは、正確なものとして算出される。
【０１４９】
特に、発光パルス波形ＷａのアベレージレベルＰａが、想定された方形の発光パルス波形Ｗｓの光の強さＰとして定められ、且つ、発光パルス波形ＷａのミドルレベルＰｍが、発光パルス波形Ｗａのパルス幅Ｐｗの中間位置に対応した光の強さＰとして定められたものにおいては、ＬＤの良否判定は、より精度よく行われる。
【０１５０】
上記（１）式および上記（２）式に基づいて、ＬＤの評価方法が行われるときの具体例について説明する。
【実施例５】
【０１５１】
図１に示す上記光ディスク装置４００を用い、且つ、上記（１）式および上記（２）式ならびに表１に基づいて、ＯＰＵ１を構成するＬＤ２０の良否判定を行う。
【０１５２】
これにより、光ディスク装置４００（図１）を構成するＯＰＵ１のＬＤ２０は、正確に良否判定される。ＯＰＵ１のＬＤ２０から出射されるレーザ光線の発光パルス波形データが、上記（１）式および上記（２）式に基づいて演算処理され、光ディスク装置４００のＬＤ２０の良否判定評価は、表１に基づいて行われるので、正常なＬＤ２０（図１）と、異常とされるＬＤ（２０）とは、明確に区別される。また、光ディスク装置４００のＬＤ２０の良否判別評価は、光ディスク装置４００自身で実行される。ＯＰＵ１のＬＤ２０から出射されるレーザ光の発光パルス波形は、例えば図２または図３に示すＤＳ（５３０）が、図１に示す光ディスク装置（４００）に接続されることにより、目視確認が可能となる。
【実施例６】
【０１５３】
図２に示す上記光ディスク装置４２０を用い、且つ、上記（１）式および上記（２）式ならびに表１に基づいて、ＯＰＵ１を構成するＬＤ２０の良否判定を行う。
【０１５４】
これにより、光ディスク装置４２０（図２）を構成するＯＰＵ１のＬＤ２０は、正確に良否判定される。レーザ光線を出射するＬＤ２０と、ＬＤ２０から出射されるレーザ光線を受光するＦＭＤ４０とを有するＯＰＵ１と、ＯＰＵ１に装備されたＬＤＤ１０にパルス信号を送信させ、ＯＰＵ１を構成するＬＤ２０からレーザ光線を出射させるときに、ＬＤ２０をパルス発光させるエンコーダ／デコーダ１２０とを備える光ディスク装置４２０の評価は、正確に行われる。
【０１５５】
光ディスク装置４２０の評価が行われるときに、ＯＰＵ１のＬＤ２０から出射されたレーザ光線の発光パルス波形データは、上記（１）式および上記（２）式に基づいて演算処理される。そして、光ディスク装置４２０のＬＤ２０の良否判定評価は、表１に基づいて行われる。これにより、正常なＬＤ２０（図２）と、異常とされるＬＤ（２０）とは、明確に区別される。従って、光ディスク装置４２０に装備されたＬＤ２０の良否は、正確に判別される。
【実施例７】
【０１５６】
図３に示す上記光ピックアップ評価装置５００を用い、且つ、上記（１）式および上記（２）式ならびに表１に基づいて、ＯＰＵ１を構成するＬＤ２０の良否判定を行う。
【０１５７】
これにより、ＯＰＵ１（図３）を構成するＬＤ２０は、正確に良否判定される。光ピックアップ評価装置５００にＯＰＵ１がセットされて、光ピックアップ評価装置５００にＯＰＵ１が通電可能に接続され、ＯＰＵ１のＬＤ２０から出射されるレーザ光線の発光パルス波形データが、上記（１）式および上記（２）式に基づいて演算処理され、ＬＤ２０の良否判定評価は、表１に基づいて行われるので、正常なＬＤ２０（図３）と、異常とされるＬＤ（２０）とは、明確に区別される。従って、ＯＰＵ１を構成するＬＤ２０の良否は、正確に判別される。
【０１５８】
上記ＯＰＵ１（図１）を備える光ディスク装置４００や、上記ＯＰＵ１（図２）を備える光ディスク装置４２０や、上記ＯＰＵ１（図１〜図３）は、例えば、ノート型ＰＣや、デスクトップ型ＰＣなどのコンピュータや、ＣＤプレーヤや、ＤＶＤプレーヤなどの音響機器などに装備可能なものとされる。
【０１５９】
本発明の光ディスク装置およびその評価方法、光ピックアップ評価装置、ならびにレーザダイオードの評価方法は、図示されたものに限定されるものではない。本発明のものは、その要旨を逸脱しない範囲において、種々変更可能なものとされる。
【図面の簡単な説明】
【０１６０】
【図１】本発明に係る光ディスク装置の一実施形態を示すブロック図である。
【図２】本発明に係る光ディスク装置の評価方法の一実施形態を示すブロック図である。
【図３】本発明に係る光ピックアップ評価装置の一実施形態を示すブロック図である。
【図４】本発明に係るレーザダイオードの評価方法の一実施形態を示す説明図であり、（ａ）は測定された発光波形を示す説明図、（ｂ）は想定された方形の発光波形を示す説明図、（ｃ）は測定された発光波形の総面積を示す説明図、（ｄ）は想定された方形の発光波形の総面積を示す説明図である。
【図５】出力値が一定の各発光波形を示す図であり、（ａ）は図４（ａ）に示す発光波形の縦軸スケールと同じ縦軸スケールの発光波形を示す図、（ｂ）は（ａ）に示す発光波形の縦軸スケールよりも拡大された縦軸スケールの発光波形を示す図、（ｃ）は（ｂ）に示す発光波形の縦軸スケールよりも拡大された縦軸スケールの発光波形を示す図である。
【図６】各発光波形の状態を示す図であり、（ａ）は正常な発光波形を示す図、（ｂ）はオーバーシュートが生じた発光波形を示す図、（ｃ）は立上異常が生じた発光波形を示す図、（ｄ）はレーザダイオード劣化の可能性が高い発光波形を示す図である。
【図７】従来のレーザダイオード評価装置の一形態を示す説明図である。
【図８】（ａ）は入力信号を示す概略図、（ｂ）はレーザダイオードが正常に発光されたときの応答特性を示す説明図、（ｃ）はレーザダイオードが異常発光されたときの応答特性を示す説明図である。
【符号の説明】
【０１６１】
１              ＯＰＵ（光ピックアップ）
２０            ＬＤ（レーザダイオード）
４０            ＦＭＤ（フロントモニタダイオード）
１００          システム制御マイコン
１２０          エンコーダ／デコーダ
３００          測定信号処理回路部
４００，４２０  光ディスク装置
５００          光ピックアップ評価装置
５１０          パルスジェネレータ
５２０          オプティカルセンサ
５３０          ＤＳ（デジタルストレージ）
５４０          ＰＣ（コンピュータ）
Ａａ，Ａｓ      総面積
ｄＦ            ミドルレベルとエンドレベルとの比
ｄＰ            ピークレベルとエンドレベルとの比
Ｐ              光の強さ
Ｐａ            アベレージレベル
Ｐｅ            終端レベル（エンドレベル）
Ｐｍ            ミドルレベル
Ｐｐ            最大レベル（ピークレベル）
Ｐｗ            パルス幅
Ｔ              経過時間
Ｗａ            発光パルス波形（発光波形）
Ｗｓ            方形の発光パルス波形（方形の発光波形）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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