(57)【要約】【課題】  水晶体への被曝量を低減するとともに、ＯＭラインに沿った断層像データを生成することが可能なＸ線ＣＴ装置を提供する。【解決手段】  スキャンを行なう前に、ＯＭラインのＸ軸方向（スライス方向に直交する方向）に対する角度を測定し、記憶部に記憶しておく。そして、被検体ＰのＯＭラインを避けてＸ線ビームが曝射されるように、回転架台をスライス方向（Ｚ軸方向）に傾斜させ、その状態でスキャンを行なう。ＯＭライン角度と回転架台の傾斜角度との角度差を求め、実際に収集された断層像データとその角度差とに基づいて、ＯＭラインに沿った断層像データを補間処理により求める。具体的には、実際に収集された断層像データに基づいて、回転架台の傾斜角度から上記角度差だけスライス方向（Ｚ軸方向）に回転させた方向に沿った断層像データを求める。【選択図】      図４
2006280478.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体を載置する寝台天板と、
Ｘ線源及び前記Ｘ線源に対して前記被検体を隔てて対向配置されたＸ線検出器を備えた回転架台と、
前記回転架台を前記被検体の体軸方向に傾斜させるチルト手段と、
前記回転架台の傾斜の角度を第１の角度として記憶する記憶手段と、
前記チルト手段により前記回転架台を前記第１の角度と異なる第２の角度に傾斜させた状態で、前記回転架台を前記被検体の周囲を回転させ、前記寝台天板を前記体軸方向に移動させながら前記被検体に対してスキャンを行うことにより、前記第２の角度の複数の断層像データを収集するスキャン手段と、
前記複数の断層像データに基づいて、前記第１の角度に対応する断層像データを生成する画像処理手段と、
前記第１の角度に対応する断層像を表示手段に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項２】
前記画像処理手段は前記第１の角度と前記第２の角度との角度差を算出し、前記第２の角度の複数の断層像データのうち、隣接する断層像データを補間処理することにより、前記第２の角度から前記角度差だけ前記被検体の体軸方向に傾けた方向に沿った断層像データを生成することを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項３】
前記表示制御手段は、前記第１の角度の断層像とともに、前記第１の角度又は前記第２の角度のうち少なくとも１つを前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項１又は請求項２のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項４】
前記第１の角度は、前記被検体のＯＭラインの前記体軸方向に直交する方向に対する角度であることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置。
【請求項５】
被検体を載置する寝台天板と、
Ｘ線源及び前記Ｘ線源に対して前記被検体を隔てて対向配置されたＸ線検出器を備えた回転架台と、
前記回転架台を前記被検体の体軸方向に傾斜させるチルト手段と、
第１の角度と第２の角度を設定するための投光手段と、
前記チルト手段により前記回転架台を前記第２の角度に傾斜させた状態で、前記回転架台を前記被検体の周囲を回転させ、前記寝台天板を前記体軸方向に移動させながら前記被検体に対してスキャンを行うことにより、前記第２の角度の複数の断層像データを収集するスキャン手段と、
前記複数の断層像データに基づいて、前記第１の角度に対応する断層像データを生成する画像処理手段と、
前記第１の角度に対応する断層像を表示手段に表示させる表示制御手段と、
を有することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明はＸ線ＣＴ装置に関し、特に、頭部の検査を行う場合に、水晶体へのＸ線の被曝量を低減することが可能なＸ線ＣＴ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
Ｘ線ＣＴ装置により頭部の検査を行う場合、図２に示すように、被検体Ｐの目と耳孔とを結んだ線（以下、ＯＭラインと称する）を基準にして、そのＯＭラインに平行な角度でスキャンを行ない、ＯＭラインに沿った頭部断層像を撮像している。このようにＯＭラインに沿った断層像を収集するために、Ｘ線源とＸ線検出器とを備えた回転架台をＯＭラインに平行になるように傾斜（チルト）させ、傾斜させた状態でスキャンを行なっている（例えば、特許文献１又は特許文献２）。
【０００３】
一方、データ検出列を２列、４列、８列というように被検体の体軸方向に複数列備えたマルチスライスＣＴが提案されている。１回転で複数断面に対するＸ線投影データを収集できることから、より短時間で被検体の３次元情報を得ることが可能となったり、体軸方向の空間分解能を改善する効果が得られたりするため、広く普及しつつある。このようなマルチスライスＣＴによりいわゆるヘリカルスキャンを行なって画像データを収集し、その画像データに対して後処理を施すことにより、任意の角度の画像を生成することができる。例えば、収集された画像データからボクセルデータを生成し、ＭＰＲ（Ｍｕｌｔｉ  Ｐｌａｎｎｅｒ  Ｒｅｃｏｎｓｔｒｕｃｔｉｏｎ）法により任意方向の断層像データを生成することができる。
【０００４】
【特許文献１】特開平６−２１７９７１号公報
【特許文献２】特開２００４−１４７９８３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記ＯＭラインに沿ってスキャンを行なうと、Ｘ線に対する感受性が大きい水晶体への被曝が避けられず、水晶体の被曝量が多くなってしまう。一方、水晶体の被曝量を減らすためにＯＭラインを避けてスキャンを行なうと、ＯＭラインの画像データが収集されないことになる。ＯＭラインの画像データは、任意方向のＭＰＲ画像を生成する際の基準となるものである。そのＯＭラインの画像データが収集されていないと、任意方向のＭＰＲ像を作成する際に、ＯＭラインの画像データを基準にしてその任意方向の角度を指定することができなくなるため、所望の角度におけるＭＰＲ像を生成することが困難になる。以上のように、ＯＭラインの画像データを収集しようとすると、水晶体の被曝量が多くなる問題があり、ＯＭラインを避けて頭部の画像データを収集しようとすると、所望の角度におけるＭＰＲ像の生成が困難になる問題があった。
【０００６】
この発明は上記の問題を解決するものであり、ＯＭラインを避けてスキャンすることで画像データを収集し、そのスキャンの角度とＯＭラインの角度との差に基づいて、収集された画像データからＯＭラインに沿った画像データを補間して生成することが可能なＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とする。そのことにより、水晶体への被曝量を低減するとともに、ＭＰＲ像の作成を容易にすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１に記載の発明は、被検体を載置する寝台天板と、Ｘ線源及び前記Ｘ線源に対して前記被検体を隔てて対向配置されたＸ線検出器を備えた回転架台と、前記回転架台を前記被検体の体軸方向に傾斜させるチルト手段と、前記回転架台の傾斜の角度を第１の角度として記憶する記憶手段と、前記チルト手段により前記回転架台を前記第１の角度と異なる第２の角度に傾斜させた状態で、前記回転架台を前記被検体の周囲を回転させ、前記寝台天板を前記体軸方向に移動させながら前記被検体に対してスキャンを行うことにより、前記第２の角度の複数の断層像データを収集するスキャン手段と、前記第１の角度、前記第２の角度及び前記複数の断層像データに基づいて、前記第１の角度の断層像データを生成する画像処理手段と、前記第１の角度の断層像を表示手段に表示させる表示制御手段と、を有することを特徴とするＸ線ＣＴ装置である。
【０００８】
この発明における第１の角度とは、例えば、被検体のＯＭラインの角度を意味する。この発明は、その第１の角度（例えばＯＭラインの角度）の断層像データを生成するものである。この発明においては、回転架台を第２の角度に傾斜させてスキャンを行うことにより断層像データを収集する。この第２の角度は、第１の角度（例えばＯＭラインの角度）からずらして設定された角度である。そして、第１の角度と、実際にスキャンを行った第２の角度と、その第２の角度で収集された断層像データとから第１の角度の断層像データを生成する。例えば、第２の角度の複数の断層像データのうち、互いに隣接する断層像データを用いて、第１の角度と第２の角度の角度差だけ被検体の体軸方向に傾けた方向に沿った断層像データを生成する。この傾けた方向に沿った断層像データがＯＭラインに沿った断層像データとなるため、この補間処理によりＯＭラインに沿った断層像データが生成されることになる。これにより、被検体の水晶体への被曝量を低減しつつ、ＯＭラインに沿った断層像データを生成することが可能となる。
【０００９】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置であって、前記画像処理手段は前記第１の角度と前記第２の角度との角度差を算出し、前記第２の角度の複数の断層像データのうち、隣接する断層像データを補間処理することにより、前記第２の角度から前記角度差だけ前記被検体の体軸方向に傾けた方向に沿った断層像データを生成することを特徴とするものである。
【００１０】
請求項３に記載の発明は、請求項１又は請求項２のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置であって、前記表示制御手段は、前記第１の角度の断層像とともに、前記第１の角度又は前記第２の角度のうち少なくとも１つを前記表示手段に表示させることを特徴とするものである。
【００１１】
請求項４に記載の発明は、請求項１乃至請求項３のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置であって、前記第１の角度は、前記被検体のＯＭラインの前記体軸方向に直交する方向に対する角度であることを特徴とするものである。
【００１２】
請求項５に記載の発明は、被検体を載置する寝台天板と、Ｘ線源及び前記Ｘ線源に対して前記被検体を隔てて対向配置されたＸ線検出器を備えた回転架台と、前記回転架台を前記被検体の体軸方向に傾斜させるチルト手段と、第１の角度と第２の角度を設定するための投光手段と、前記チルト手段により前記回転架台を前記第２の角度に傾斜させた状態で、前記回転架台を前記被検体の周囲を回転させ、前記寝台天板を前記体軸方向に移動させながら前記被検体に対してスキャンを行うことにより、前記第２の角度の複数の断層像データを収集するスキャン手段と、前記複数の断層像データに基づいて、前記第１の角度に対応する断層像データを生成する画像処理手段と、前記第１の角度に対応する断層像を表示手段に表示させる表示制御手段と、を有することを特徴とするＸ線ＣＴ装置である。
【発明の効果】
【００１３】
この発明によると、実際にＯＭラインに対してＸ線ビームを曝射しないため、水晶体の被曝量を低減することが可能となる。そして、実際に行ったスキャンの角度とＯＭラインの角度との差を求め、実際に収集された断層像データとその角度差とからＯＭラインに沿った断層像データが求められるため、ＭＰＲ像を生成する際の基準となる画像データが得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、この発明の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置について、図１乃至図６を参照しつつ説明する。
【００１５】
（構成）
この発明の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の構成について図１を参照しつつ説明する。図１は、この発明の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の概略構成を示すブロック図である。図１に示すように、この実施形態に係るＸ線ＣＴ装置は、架台装置１０、寝台装置２０及びコンソール部３０を備えて構成されている。
【００１６】
スキャン制御部３１は、高電圧発生装置１１に対してＸ線ビーム発生を制御するＸ線ビーム発生制御信号を出力し、架台駆動装置１６に対して架台制御信号を出力し、データ収集部１５に対してデータ収集制御信号を出力し、チルト機構１７に対して傾斜角度（チルト角）情報を出力する。また、スキャン制御部３１は、寝台駆動部１７に対して寝台移動信号を出力する。また、スキャン制御部３１は、架台駆動装置１６及び寝台駆動装置２１に対して診断開始の指示を与える。また、スキャン制御部３１は、画像処理部３５の角度差算出部３６に対して、回転架台１４の傾斜角度（チルト角）情報を出力する。
【００１７】
高電圧発生装置１１は、スキャン制御部３１からの制御信号に従って、高電圧をＸ線源１２に供給する。Ｘ線源１２は、高電圧発生装置１１から供給された高電圧によって、ファン状やコーン状などのＸ線ビームを曝射する。
【００１８】
Ｘ線検出器１３は、Ｘ線源１２から曝射され、被検体を透過したＸ線ビームを検出する。シングルスライスＣＴ装置の場合、Ｘ線検出器１３は、ファン状又は直線状に例えば１０００チャンネルのＸ線検出素子を１列に並べて構成されている。また、マルチスライスＣＴ装置の場合、Ｘ線検出器１３は、Ｘ線検出素子を互いに直交する２方向（スライス方向及びチャンネル方向を成す）それぞれにアレイ状に複数個配列され、これにより２次元のＸ線検出器を成している。
【００１９】
回転架台１４（ガントリ）は、Ｘ線源１２とＸ線検出器１３とを内部に保持する。また、回転架台１４は、架台駆動装置１６により、Ｘ線源１２とＸ線検出器１３との中間点を通る回転軸を中心にして回転させられる。架台駆動装置１６は、スキャン制御部３１により出力された架台制御信号に基づいて、回転架台１４を回転させる。
【００２０】
データ収集部１５（ＤＡＳ）は、Ｘ線検出器１３の各Ｘ線検出素子と同様にアレイ状に配列されたデータ収集素子を有し、Ｘ線検出器１３により検出されたＸ線ビーム（実際には検出信号）を、スキャン制御部３１により出力されたデータ収集制御信号に対応させて収集する。この収集されたデータがＸ線投影データとなる。
【００２１】
チルト機構１７は、スキャン制御部３１から傾斜角度（チルト角）情報を受け、回転架台１４をスライス方向（Ｚ軸方向）に傾斜させる。
【００２２】
さらに架台装置１０には、被検体Ｐに向けて撮影基準線（光ビーム）を投光する公知の投光器（図示しない）が備えられている。この投光器は、スライス方向（Ｚ軸方向）に傾斜可能に設置されている。この実施形態において投光器は次のように用いられる。すなわち、被検体Ｐが普通の状態で寝台天板２３上に寝ている場合、図２に示すように、その被検体ＰのＯＭラインは通常、スライス方向（Ｚ軸方向）に傾いているため、投光器をスライス方向（Ｚ軸方向）に傾斜させて光ビームをＯＭラインに合わせる。光ビームとＯＭラインとが一致した状態で、投光器の傾斜角度を決定する。このとき、投光器のＸ軸方向（スライス方向に直交する方向）に対する傾斜角度θ１はエンコーダ（図示しない）を介して記憶部３９に記憶される。この傾斜角度θ１は、光ビームとＯＭラインとが一致した状態の角度であるため、ＯＭラインの角度を表している。そして、チルト機構１７により回転架台１４をその傾斜角度θ１と異なる角度θ２に傾斜させ、その状態でスキャンを行なう。これにより、ＯＭラインを避けて断層像データが収集される。
【００２３】
従来においては、回転架台１４の傾斜角度をＯＭラインの角度θ１に合わせて断層像データを収集していたが、ＯＭラインに合わせて断層像データを収集すると、水晶体の被曝量が増加してしまう。この発明の実施形態においては、ＯＭラインを避けてＸ線ビームが曝射されるように、回転架台１４の傾斜角度θ２とＯＭラインの角度θ１とを一致させずにスキャンを行い、収集された断層像データからＯＭラインに沿った断層像データを補間により作成する。
【００２４】
寝台駆動部２１は、スキャン制御部３１から出力された寝台移動信号に基づいて、回転架台１４の１回転当たりの寝台天板２３の移動量を求め、スキャン時にこの移動量で寝台天板２３を移動させる。寝台基台２２は、寝台駆動部２１により寝台天板２３を上下方向に移動させる。寝台天板２３は被検体を載せ、被検体の体軸方向（Ｚ軸方向：スライス方向）に移動可能となっている。
【００２５】
前処理部３２は、データ収集装置１５から出力されたＸ線投影データに感度補正やＸ線強度補正等を施す。再構成処理部３３は、前処理部３２から出力されたＸ線投影データを公知の逆投影処理方法により断層像データを再構成する。再構成された断層像データは画像記憶部３４に一時的に記憶される。
【００２６】
画像処理部３５は、角度差算出部３６及び補間部３７を備えて構成されている。角度差算出部３６は、上記投光器（図示しない）により測定されたＯＭラインの角度情報θ１と、スキャン制御部３１から実際にスキャンを行なった回転架台１４の傾斜角度情報θ２とを受け、それらの角度差を算出する。角度差算出部３６は、その角度差を示す情報を補間部３７に出力する。補間部３７は、角度差算出部３６から出力された角度差の情報を受け、更に、画像記憶部３４からスキャンにより生成された断層像データを読み込む。そして、補間部３７は、角度差とスキャンにより生成された断層像データとから、ＯＭラインに沿った断層像データを補間により作成する。角度差算出部３６と補間部３７の動作については、後で詳しく説明する。
【００２７】
記憶部３９は、投光器の傾斜角度が入力されて記憶される。上述したように、投光器から発せられる光ビームをＯＭラインに合わせるように投光器を傾斜させたときは、その傾斜角度はＯＭラインの角度となるため、記憶部３９にはＯＭラインの角度が記憶されることになる。
【００２８】
（動作）
次に、この発明の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の動作について、図２乃至図６を参照しつつ説明する。図２は、被検体のＯＭラインを説明するための図である。図３は、この発明の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の動作を順番に示すフローチャートである。この実施形態においては、ＯＭラインを避けてＸ線ビームを照射するように回転架台１４を傾斜させ、その状態でヘリカルスキャンを実行する。
【００２９】
まず、被検体ＰのＯＭラインの角度を決定する（ステップＳ０１）。ここでは、図２に示すように、ＯＭラインのＸ軸方向（スキャン方向に直交する方向）に対する角度を角度θ１とする。上述したように、被検体Ｐを寝台天板２３に載置した状態で、投光器（図示しない）をスライス方向（Ｚ軸方向）に傾斜させ、被検体ＰのＯＭラインに投光器からの光ビームを合わせる。光ビームとＯＭラインとが一致した状態で、投光器の傾斜角度を決定する。このとき、投光器のＸ軸方向に対する傾斜角度はエンコーダ（図示しない）を介して記憶部３９に記憶される（ステップＳ０２）。投光器の傾斜角度とＯＭラインとが一致しているため、その傾斜角度がＯＭライン角度θ１となる。
【００３０】
そして、ＯＭラインを避けてＸ線ビームが曝射されるように、回転架台１４をスライス方向（Ｚ軸方向）に傾斜させる（ステップＳ０３）。回転架台１４の傾斜角度（チルト角）は、操作者が決定する。操作者は、ＯＭライン角度θ１が決定されると、そのＯＭライン角度θ１を避けるような傾斜角度θ２を決定し、入力装置（図示しない）により傾斜角度情報を入力する。この傾斜角度情報は、入力装置からスキャン制御部３１に出力される。スキャン制御部３１は、その傾斜角度情報をチルト機構１７に出力する。チルト機構１７は、スキャン制御部３１から傾斜角度情報を受け、回転架台１４を傾斜角度θ２に傾斜させる。これにより、Ｘ線ビームはＯＭラインを避けて被検体Ｐに曝射されることになる。例えば、図２に示すように、Ｘ軸方向（スキャン方向に直交する方向）に対して角度θ２（＞θ１）となるように、回転架台１４の傾斜角度を決定し、その角度θ２に回転架台１４を傾斜させる。
【００３１】
また、自動的に回転架台１４の傾斜角度を決定するようにしても良い。例えば、ＯＭライン角度θ１が決定されて、その角度情報がスキャン制御部３１に入力されると、スキャン制御部３１がそのＯＭライン角度θ１を避けるような傾斜角度θ２を決定するようにしても良い。具体的には、スキャン制御部３１は、ＯＭライン角度θ１よりも所定角度だけ、大きくなる角度を算出し、大きくなった角度を回転架台１４の傾斜角度θ２とする。この所定角度は、操作者により予め設定されたものである。つまり、スキャン制御部３１は、ＯＭライン角度θ１と予め設定された所定角度との和を求め、その和を傾斜角度θ２とする。そして、スキャン制御部３１は、その算出された傾斜角度θ２の情報をチルト機構１７に出力する。チルト機構１７は、スキャン制御部３１から傾斜角度情報を受け、回転架台１４を傾斜角度θ２に傾斜させる。
【００３２】
また、回転架台１４の傾斜角度θ２の情報は、スキャン制御部３１から画像処理部３５内の角度差算出部３６に出力される（ステップＳ０４）。
【００３３】
以上のように、ＯＭラインを避けてＸ線ビームが被検体Ｐに曝射されるように回転架台１４を傾斜させ、その状態でスキャンを実行する（ステップＳ０５）。
【００３４】
ヘリカルスキャンを行なう場合、操作者は入力装置（図示しない）を用いてヘリカルスキャン条件を入力する。ヘリカルスキャン条件が入力されるとスキャン制御部３１は、このヘリカルスキャン条件のうち、回転速度、スライス厚、及びファン角等を架台・寝台制御信号として架台駆動装置１６及び寝台駆動装置２１に出力する。そして、架台駆動装置１６は、スキャン制御部３１から出力された制御信号に基づいて回転架台１４を所定の回転速度で回転させる。寝台駆動装置２１はスキャン制御部３１から出力された制御信号に基づいて回転架台１４の１回転あたりの寝台天板２３の移動量を求め、この移動量で寝台天板２３を移動させる。
【００３５】
この状態で操作者により診断開始命令が入力装置から入力されると、スキャン制御部３１は、架台駆動装置１６及び寝台駆動装置２１に対して診断開始を指示するとともに、Ｘ線ビーム発生を制御するＸ線ビーム発生制御信号を高電圧発生装置１１に対して出力する。そして、Ｘ線ビーム発生制御信号に対応させて、高電圧発生装置１１は高電圧を発生する。
【００３６】
これにより、Ｘ線源１２からＸ線ビームが曝射されるとともに、寝台天板２３が寝台駆動部２１により移動させられ、Ｘ線源１２の被検体Ｐに対する相対的な軌跡がらせん状となるようないわゆるヘリカルスキャンによる診断が開始される。そして、データ収集制御信号がスキャン制御部３１により出力されると、データ収集装置１５は、このデータ収集制御信号に対応させてＸ線検出器１３からＸ線ビームを検出する。データ収集装置１５は、この検出したＸ線ビーム（実際にはＸ線投影データ）を前処理部３２に供給する。
【００３７】
ここで、スキャン面について図４を参照しつつ説明する。図４は、ＯＭラインに沿った断層像データと、実際にスキャンを行なって収集された断層像データとの関係を説明するための図であり、Ｙ軸方向から見た図である。図４（ａ）は、従来技術に係るスキャンにより収集された断層像データを示す図であり、回転架台１４の傾斜角度をＯＭラインの角度に合わせてスキャンした場合の断層像データを示す図である。図４（ｂ）は、回転架台１４の傾斜角度をＯＭラインの角度からずらしてスキャンした場合の断層像データを示す図である。つまり、図４（ｂ）には、ＯＭラインを避けてスキャンした場合に収集された断層像データが示されている。
【００３８】
図４（ａ）に示すように、回転架台１４の傾斜角度をＯＭラインの角度に合わせてスキャンを行なうと、スキャン面はＯＭラインに平行となり、ＯＭラインに沿った（平行な）断層像データが収集される。このようにスキャンを行なうと、水晶体の被曝量が多くなる。一方、図４（ｂ）に示すように、回転架台１４の傾斜角度をＯＭラインの角度からずらすことによりＯＭラインを避けてスキャンを行なうと、スキャン面はそのずらした角度に平行となり、角度θ２の断層像データが収集される。
【００３９】
そして、再構成処理部３３は、スキャンにより収集されたＸ線投影データを用いて、傾斜角度θ２の断層像データを再構成する（ステップＳ０６）。再構成された断層像データは画像記憶部３４にて一時的に記憶される。
【００４０】
このようにして収集された断層像データから、ＯＭラインに沿った（平行な）断層像データを補間処理により作成する。まず、角度差算出部３６は、ＯＭライン角度θ１と実際にスキャンを行なった傾斜角度θ２との差Δθ（＝θ２−θ１）を求める（ステップＳ０７）。上述したように、ＯＭライン角度θ１は投光器を用いて光ビームをＯＭラインに合わせたときの投光器の傾斜角度であり、記憶部３９に記憶されている。角度差を求めるため、角度差算出部３６は、記憶部３９からＯＭライン角度θ１の情報を読み込む。さらに、実際にスキャンを行なった傾斜角度θ２の情報は、スキャン制御部３１から角度差算出手段３６に出力される。角度差算出手段３６は、ＯＭライン角度θ１と傾斜角度θ２の情報を受け、それらの情報から角度差Δθを算出する。算出された角度差Δθは、角度差算出部３６から補間部３７に出力される。
【００４１】
補間部３７は、角度差算出部３６から出力された角度差Δθを受け、更に、画像記憶部３４から実際に収集された断層像データを読み込む。そして、角度差Δθと、傾斜角度θ２の断層像データとに基づいて、ＯＭライン角度θ１の断層像データを補間処理により生成する（ステップＳ０８）。ここで、上記補間処理について図５を参照しつつ説明する。図５は、実際に収集された断層像データからＯＭラインに沿った断層像データを求める処理（補間処理）を説明するための図である。この図５は、被検体ＰをＹ軸方向から見た図である。
【００４２】
図５において、断層像データＳ２１〜断層像データＳ２４は、回転架台１４を傾斜角度θ２に傾斜したときに収集された断層像データであり、実際にスキャンすることにより収集された断層像データである。一方、断層像データＳ１１〜Ｓ１４は、ＯＭラインに沿った断層像データであり、断層像データＳ２１〜断層像データＳ２４により補間されて求められる断層像データである。
【００４３】
補間部３７は、画像記憶部３４から断層像データＳ２１〜断層像データＳ２４を読み込み、更に、角度差算出部３６から角度差Δθを受けて、傾斜角度θ２から角度差Δθだけスライス方向（Ｚ軸方向）に回転させた方向に沿った断層像データを求める。具体的には、目的のスライス位置を挟み、かつ最も近い２つの断層像データをスライス位置とサンプリング位置との距離の逆比で線形補間することにより、そのスライス位置におけるＯＭラインに沿った断層像データを求める。以下、この補間処理の具体例について説明する。
【００４４】
例えば、断層像データＳ１１を補間により求める場合について説明する。この場合、補間部３７は、断層像データＳ１１のスライス位置に隣接する２つの断層像データの画素値を用いて、断層像データＳ１１の各ピクセルにおける画素値を求める。具体的には、断層像データＳ１１のピクセルＰ１１の画素値は、隣接する断層像データＳ２１のピクセルＡ１の画素値と、同じく隣接する断層像データＳ２２のピクセルＢ１の画素値とを用いて、ピクセルＰ１１からピクセルＡ１及びピクセルＢ１までの距離の逆比で線形補間により求められる。同様に、断層像データＳ１１のピクセルＰ１２の画素値は、隣接する断層像データＳ２１のピクセルＡ２の画素値と、同じく隣接する断層像データＳ２２のピクセルＢ２の画素値を用いて、距離の逆比で線形補間により求められる。ピクセルＰ１３の画素値についても同じ方法で補間により求められる。このように、目的のスライス位置を挟み、隣接する２つの断層像データから各ピクセルの画素値が求められ、ＯＭラインに沿った断層像データＳ１１が生成される。なお、図５において破線で表された部分は、スライス位置を挟む実際に収集された断層像データＳ２１〜Ｓ２４が存在しないため、上記補間処理では補間されず、実線で表された部分のみが補間処理により求められる。
【００４５】
他の断層像データＳ１２〜Ｓ１４についても同様である。例えば、断層像データＳ１４については、ピクセルＰ４１の画素値は、隣接する断層像データＳ２２のピクセルＢ４の画素値と、同じく隣接する断層像データＳ２３のピクセルＣ２の画素値とから求められる。ピクセルＰ４２については、隣接する断層像データＳ２２のピクセルＢ５の画素値と、同じく隣接する断層像データＳ２３のピクセルＣ３の画素値とから求められる。ピクセルＰ４３の画素値については、隣接する断層像データＳ２３のピクセルＣ４の画素値と、同じく隣接する断層像データＳ２４のピクセルＤ１の画素値とから求められる。ピクセルＰ４４については、隣接する断層像データＳ２３のピクセルＣ５の画素値と、同じく隣接する断層像データＳ２４のピクセルＤ２の画素値とから求められる。このように、目的のスライス位置を挟み、隣接する２つの断層像データから各ピクセルの画素値が求められ、ＯＭラインに沿った断層像データＳ１４が生成される。上記断層像データＳ１１と同様に、実線で表された部分のみが上記補間処理により求められ、破線で表された部分は、スライス位置を挟む実際に収集された断層像データＳ２１〜Ｓ２４が存在しないため、補間されない。
【００４６】
以上のように、ＯＭラインに沿ったスライス面における各ピクセルの画素値が補間により求められ、ＯＭラインに沿った断層像データが生成される。このように作成されたＯＭラインに沿った断層像データを図４（ｃ）に示す。図４（ｃ）に示す断層像データは、上記補間処理により作成されたデータであり、ＯＭラインに沿った（平行な）断層像データとなっている。
【００４７】
以上のようにして補間処理により生成された断層像データは補間部３７から表示装置３８に出力され、表示装置３８のモニタ画面上に断層像が表示される（ステップＳ０９）。これにより、ＯＭラインに沿った断層像データが得られ、その断層像データを基に、頭部の診断が行われる。また、補間により生成された断層像データは、画像記憶部３４に出力され、画像記憶部３４に記憶される。
【００４８】
図６に表示装置３８のモニタ画面を示す。図６は、表示装置のモニタ画面を示す図である。このモニタ画面３８ａには、ＯＭラインに沿った断層像４０が表示され、さらに、各スライス位置における断層像４１が選択可能に表示されている。また、ＯＭラインの角度情報θ１と実際にスキャンを行なった角度情報θ２とを、画像処理部３５から表示装置３８に出力し、表示装置３８に表示させても良い。これにより、モニタ画面３８ａ上にＯＭラインの角度とスキャンの角度が表示される。また、これらの角度のうち、一方の角度のみを表示しても構わない。このように角度を表示することで、操作者はＯＭラインの角度又は実際にスキャンを行った角度を確認しながら断層像を読影することが可能となる。
【００４９】
以上のように、ＯＭラインを避けてスキャンを行ない、そのスキャンで収集された断層像データに基づいてＯＭラインに沿った断層像データを求めることにより、水晶体の被曝量を低減しつつ、所望の断層像データを得ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】この発明の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】被検体のＯＭラインを説明するための図である。
【図３】この発明の実施形態に係るＸ線ＣＴ装置の動作を順番に示すフローチャートである。
【図４】ＯＭラインに沿った断層像データと、実際にスキャンを行なって収集された断層像データとの関係を説明するための図である。
【図５】スキャンにより収集された断層像データからＯＭラインに沿った断層像データを求める処理（補間処理）を説明するための図である。
【図６】表示装置のモニタ画面を示す図である。
【符号の説明】
【００５１】
３１  スキャン制御部
３３  再構成処理部
３５  画像処理部
３６  角度差算出部
３７  補間部
３９  記憶部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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