(57)【要約】【課題】  電池電圧の低下に対してバックアップ機能を有しない電子機器であっても、ＥＥＰＲＯＭのような不揮発性メモリにデータを保存する際に、電池電圧の低下により機器の動作が停止されて、保存中のデータが破壊されてしまうことのない電子機器および電子機器におけるデータ保存方法を実現する。【解決手段】  電池により動作するとともに、データを保存する不揮発性メモリを有する電子機器において、前記電池における電池電圧を所定の基準値と比較する電池電圧検出部を具備し、前記不揮発性メモリに対して特定のデータ保存動作を実行する際には予め前記電池電圧検出部の検出出力を確認することを特徴とする。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電池により動作するとともに、データを保存する不揮発性メモリを有する電子機器において、前記電池における電池電圧を所定の基準値と比較する電池電圧検出部を具備し、前記不揮発性メモリに対して特定のデータ保存動作を実行する際には予め前記電池電圧検出部の検出出力を確認することを特徴とする電子機器。
【請求項２】
前記電池電圧検出部は、要求に応じて電池電圧と所定の基準値とを比較することを特徴とする請求項１に記載の電子機器。
【請求項３】
前記特定のデータ保存動作は、前記不揮発性メモリに保存されたデータの並べ替えを行うデフラグ操作であることを特徴とする請求項１または２に記載の電子機器。
【請求項４】
前記電池電圧を比較する基準値は、当該電子機器における動作保証電圧より大きな値に設定されたことを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の電子機器。
【請求項５】
前記電池電圧を比較する基準値は、当該電子機器における動作保証電圧に対して、前記特定のデータ保存動作を実行するために必要な動作時間に相当する電圧値の余裕を持った値に設定されたことを特徴とする請求項４に記載の電子機器。
【請求項６】
電池により駆動される電子機器に適用され、不揮発性メモリにデータを保存するデータ保存方法において、前記不揮発性メモリに対して特定のデータ保存動作を実行する際には、前記電池の電池電圧を検出して、この電池電圧が所定の基準値より大きい時にのみ前記データ保存動作を実行することを特徴とする電子機器におけるデータ保存方法。
【請求項７】
前記特定のデータ保存動作は、前記不揮発性メモリに保存されたデータの並べ替えを行うデフラグ操作であることを特徴とする請求項６に記載の電子機器におけるデータ保存方法。
【請求項８】
前記電池電圧を比較する基準値は、当該電子機器における動作保証電圧より大きな値に設定されたことを特徴とする請求項６または７に記載の電子機器におけるデータ保存方法。
【請求項９】
前記電池電圧を比較する基準値は、当該電子機器における動作保証電圧に対して、前記特定のデータ保存動作を実行するために必要な動作時間に相当する電圧値の余裕を持った値に設定されたことを特徴とする請求項８に記載の電子機器におけるデータ保存方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、携帯型測定器などのように、電池により駆動される電子機器およびこの電子機器におけるデータ保存方法に関するものである。
更に詳しくは、このような電子機器において、ＥＥＰＲＯＭのような不揮発性メモリにデータを保存する際に、電池電圧の低下により機器の動作が停止されて、保存中のデータが破壊されてしまうことのないデータ保存方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、電池により駆動される電子機器においては、電池電圧を監視して、電池電圧が当該電子機器における動作保証電圧未満となった時には、処理中のデータを不揮発性メモリに退避するとともに、機器の動作を停止させる機能（バックアップ機能）を有している。
【０００３】
図５は、従来の電子機器の一例を示す構成図である。図において、１はＣＰＵなどよりなり、各種演算や機器全体の動作を制御する制御部、２はデータなどを表示する表示部、３はＥＥＰＲＯＭやフラッシュメモリなど、プログラムやデータを保存する不揮発性メモリ、４は駆動電力を供給する電池（充電池）、５は電池電圧Ｖｂを機器の動作保証電圧Ｖｇ（実際には、動作保証電圧Ｖｇより若干高い電圧値）と比較して、電池電圧Ｖｂの低下を検出する電圧低下検出部である。
【０００４】
図に示す装置において、電池４の消耗とともに電池電圧Ｖｂが低下して、動作保証電圧Ｖｇを下回ると、電圧低下検出部５により検出出力Ｓｇが発生される。制御部１はこの検出出力Ｓｇを受け、メモリや各種デバイスのレジスタの内容などを不揮発性メモリ３に退避するとともに、機器をシャットダウンさせる。
したがって、電池電圧Ｖｂが低下して、電池４による駆動が不能となる前に、現在の使用状態や実行中の処理内容を不揮発性メモリ３に記憶させてバックアップすることが可能となる。
【０００５】
【特許文献１】特開平０７−０２０９６７号公報
【特許文献２】特開２００２−０９９４６８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、上記のようなバックアップ動作を実行するためには、大きな記憶容量と早い処理速度とが必要とされ、小型軽量化や低価格化が促進されている携帯型測定器などにおいては、種々の制約から、このように高度なバックアップ機能を搭載することはできない。
すなわち、携帯型測定器などにおいては、搭載するメモリの容量も限られ、制御部（ＣＰＵ）の処理速度もさほど早くすることができないので、上記のようなバックアップ機能は搭載していないのが現状である。
このため、不揮発性メモリに保存されたデータの並べ替えを行うデフラグ操作などを実行した場合には、処理が終了するまでに長い時間がかかり、この間に電池電圧Ｖｂの低下が発生すると、処理の途中で機器がシャットダウンして、保存中のデータが読めなくなってしまうことになる。
【０００７】
本発明は、上記のような従来装置の欠点をなくし、電池電圧の低下に対してバックアップ機能を有しない電子機器であっても、ＥＥＰＲＯＭのような不揮発性メモリにデータを保存する際に、電池電圧の低下により機器の動作が停止されて、保存中のデータが破壊されてしまうことのない電子機器および電子機器におけるデータ保存方法を実現することを目的としたものである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記のような目的を達成するために、本発明の請求項１では、電池により動作するとともに、データを保存する不揮発性メモリを有する電子機器において、前記電池における電池電圧を所定の基準値と比較する電池電圧検出部を具備し、前記不揮発性メモリに対して特定のデータ保存動作を実行する際には予め前記電池電圧検出部の検出出力を確認することを特徴とする。
【０００９】
請求項２では、請求項１の電子機器において、前記電池電圧検出部は、要求に応じて電池電圧と所定の基準値とを比較することを特徴とする。
【００１０】
請求項３では、請求項１または２の電子機器において、前記特定のデータ保存動作は、前記不揮発性メモリに保存されたデータの並べ替えを行うデフラグ操作であることを特徴とする。
【００１１】
請求項４では、請求項１乃至３のいずれかの電子機器において、前記電池電圧を比較する基準値は、当該電子機器における動作保証電圧より大きな値に設定されたことを特徴とする。
【００１２】
請求項５では、請求項４の電子機器において、前記電池電圧を比較する基準値は、当該電子機器における動作保証電圧に対して、前記特定のデータ保存動作を実行するために必要な動作時間に相当する電圧値の余裕を持った値に設定されたことを特徴とする。
【００１３】
請求項６では、電池により駆動される電子機器に適用され、不揮発性メモリにデータを保存するデータ保存方法において、前記不揮発性メモリに対して特定のデータ保存動作を実行する際には、前記電池の電池電圧を検出して、この電池電圧が所定の基準値より大きい時にのみ前記データ保存動作を実行することを特徴とする。
【００１４】
請求項７では、請求項６の電子機器におけるデータ保存方法において、前記特定のデータ保存動作は、前記不揮発性メモリに保存されたデータの並べ替えを行うデフラグ操作であることを特徴とする。
【００１５】
請求項８では、請求項６または７の電子機器におけるデータ保存方法において、前記電池電圧を比較する基準値は、当該電子機器における動作保証電圧より大きな値に設定されたことを特徴とする。
【００１６】
請求項９では、請求項８の電子機器におけるデータ保存方法において、前記電池電圧を比較する基準値は、当該電子機器における動作保証電圧に対して、前記特定のデータ保存動作を実行するために必要な動作時間に相当する電圧値の余裕を持った値に設定されたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１７】
このように、不揮発性メモリに対して特定のデータ保存動作を実行する際には、予め電池の電池電圧を検出して、この電池電圧が所定の基準値より大きい時にのみデータ保存動作を実行するようにすると、デフラグ操作のように長時間にわたって不揮発性メモリにデータを保存するような処理を実行した場合にも、処理の実行中に電池が消耗して、機器の動作が停止されてしまうことがなく、電池電圧の低下に対してバックアップ機能を有しない電子機器であっても、保存中のデータが破壊されてしまうことがない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、図面を用いて、本発明の電子機器および電子機器におけるデータ保存方法を説明する。
【実施例１】
【００１９】
図１は、本発明の電子機器および電子機器におけるデータ保存方法の一実施例を示す構成図である。図において、前記図５と同様のものは同一符号を付して示す。６は電池電圧Ｖｂを監視して、その電圧値に応じた検出出力Ｓｄを発生する電池電圧検出部、７は警報用のブザーである。
【００２０】
図２は、表示部２における表示状態の一例を示す図である。図に示す表示例は、携帯型のｐＨ計の表示画面を示すものである。図において、２０は電池残量表示、２１は主測定信号表示（ｐＨ値）、２２は補助信号表示（温度）、２３は単位表示である。
電池残量表示２０は前記電池電圧検出部６の検出出力Ｓｄに応じてその表示状態が変化するものである。
【００２１】
図３は、電池残量表示２０におけるセグメント構成および各種の表示状態を示す図である。図に示すように、電池残量表示２０は基本セグメント２００、残量セグメント２０１、２０２、２０３により構成されており、残量セグメント２０１〜２０３の点灯状態により電池残量を表している。
【００２２】
図において、（ａ）はフル充電の状態を示すもので、全ての残量セグメント２０１〜２０３が点灯している。
ここで、電池電圧検出部６がＶＨ、ＶＬ、Ｖｇなる比較値を有し、
ＶＨ＞ＶＬ＞Ｖｇ
ＶＨ：動作に充分な電圧レベル
ＶＬ：充電が必要な電圧レベル
Ｖｇ：動作保証電圧（実際には、動作保証電圧Ｖｇより若干高い電圧値）
であるとすると、
Ｖｂ＞ＶＨ
の時に、（ａ）の表示状態となる。
【００２３】
また、電池４がやや消耗して、
ＶＨ＞＝Ｖｂ＞ＶＬ
となると、（ｂ）に示すように、残量セグメント２０１、２０２が点灯した状態となる。
更に、電池４が消耗して、
ＶＬ＞＝Ｖｂ＞Ｖｇ
となると、（ｃ）に示すように、残量セグメント２０１のみが点灯した状態となる。この状態では、機器を長く使用することはできず、電池４の充電が必要となる。
【００２４】
電池４がさらに消耗して、
Ｖｇ＞＝Ｖｂ
となると、（ｄ）に示すように、全ての残量セグメント２０１〜２０３を消灯するとともに、基本セグメント２００を点滅させて、電池切れであることを知らせる。また、必要に応じて、ブザー７を駆動する。さらに、この点滅表示の後、機器をシャットダウンさせる。
なお、本発明を適用するような携帯型測定器（ｐＨ計）においては、機器をシャットダウンさせる際に、現在の使用状態や実行中の処理内容を不揮発性メモリ３に退避させるようなバックアップ動作は行われない。
【００２５】
また、電池電圧検出部６における電池電圧Ｖｂの監視は、常時行われるものではなく、タイマー（カウンタ）などを使用して、例えば、１２８秒に１回程度のインターバルで行われるものである。
すなわち、電池電圧Ｖｂは急激に減少するようなものではないので、常時監視しておく必要はなく、このような所においても、消費電力の低減が図られている。
【００２６】
図４は、不揮発性メモリ３に保存されたデータの並べ替えを行うデフラグ操作を実行する際の動作を示すフロー図である。測定に際して逐次取り込まれた測定データは、不揮発性メモリ３に保存されるが、後にデータの削除が行われた場合には、限られたメモリ領域を有効に使用するために、デフラグ操作が必要となる。
例えば、不揮発性メモリ３の記憶容量を３ＫＢとすると、デフラグ操作に要する時間は最大１分〜２分となる。
このため、電池４が動作保証電圧Ｖｇぎりぎりの大きさまで消耗した状態からデフラグ操作を開始してしまうと、デフラグ操作中に電池電圧Ｖｂが動作保証電圧Ｖｇまで低下してしまい、機器がシャットダウンしてしまうことがある。
【００２７】
そこで、図４に示す如く、デフラグ操作の開始が指示されると（Ｓ１）、電池電圧検出部６により電池電圧Ｖｂを所定の基準値Ｖｄと比較する（Ｓ２）。電池電圧検出部６は制御部１からの要求に応じて、電池電圧Ｖｂと所定の基準値Ｖｄとの比較を行う。
【００２８】
基準値Ｖｄは動作保証電圧Ｖｇより大きく、しかもデフラグ操作を実行するために必要な動作時間に相当する電圧値の余裕を持った値に設定されており、
Ｖｂ＞＝Ｖｄ
の時には、デフラグ操作を実行させ（Ｓ３）、
Ｖｂ＜Ｖｄ
の時には、デフラグ操作を実施せず、この状態をブザー７で知らせるとともに、表示を行う（Ｓ４）。
【００２９】
すなわち、デフラグ操作の開始時点において、電池電圧Ｖｂが基準値Ｖｄ以上の値であれば、デフラグ操作の実行中に電池電圧Ｖｂが動作保証電圧Ｖｇまで低下してしまうことはなく、デフラグ操作が中断されてしまうことがない。
【００３０】
このように、不揮発性メモリ３に対してデフラグ操作を実行する際には、予め電池４の電池電圧Ｖｂを検出して、この電池電圧Ｖｂが所定の基準値Ｖｄより大きい時にのみデフラグ操作を実行するようにすると、デフラグ操作のように長時間にわたって不揮発性メモリ３にデータを保存するような処理を実行した場合にも、処理の実行中に電池４が消耗して、機器の動作が停止されてしまうことがなく、電池電圧Ｖｂの低下に対してバックアップ機能を有しない電子機器であっても、保存中のデータが破壊されてしまうことがない。
【００３１】
ここで、測定データの保存のような通常のデータ保存動作は、不揮発性メモリ３に対するアクセス時間も短く、データ保存の実行中に、電池切れによって機器が動作不能となってしまうことはないので、上記のような予めの電池電圧Ｖｂの確認は行われない。
例えば、データの保存中に、電池電圧Ｖｂが動作保証電圧Ｖｇまで低下したとすると、このデータ保存動作の終了を待って、機器のシャットダウンが行われることとなるが、この時の待ち時間はごく僅かであり、この間に電池電圧Ｖｂが動作不能な電圧まで低下してしまうことはない。
【００３２】
なお、上記の説明においては、不揮発性メモリ３に対するデータ保存動作の一例として、不揮発性メモリ３に保存されたデータの並べ替えを行うデフラグ操作を例示したが、予め電池電圧Ｖｂの大きさを確認すべきデータ保存動作は、これに限られるものではなく、長時間にわたって不揮発性メモリ３にデータを保存するような処理は全て対象となる。
【００３３】
また、上記説明においては、本発明を適用する電子機器の例として、携帯型測定器（ｐＨ計）を例示したが、電子機器の形態はこれに限られるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】図１は本発明の電子機器および電子機器におけるデータ保存方法の一実施例を示す構成図。
【図２】図２は表示部２における表示状態の一例を示す図。
【図３】図３は電池残量表示２０におけるセグメント構成および各種の表示状態を示す図。
【図４】図４は不揮発性メモリ３に保存されたデータの並べ替えを行うデフラグ操作を実行する際の動作を示すフロー図。
【図５】図５は従来の電子機器の一例を示す構成図。
【符号の説明】
【００３５】
１      制御部（ＣＰＵ）
２      表示部
２０    電池残量表示
２１    主測定信号表示
２２    補助信号表示
２３    単位表示
３      不揮発性メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）
４      電池
５      電圧低下検出部
６      電池電圧検出部
７      ブザー
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
2006025473.tif 000006
【図５】
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