(57)【要約】【課題】  欠陥信号を正確に測定し、自動調整の精度を高める。【解決手段】  光ディスク再生装置は、光ディスク１から信号を読取る対物レンズ１０および受光素子部と、少なくとも３つの信号の値が所定の範囲外であるか否かに応じて、対物レンズ１０および受光素子部が読取った３つの信号が欠陥信号か否か判断するＣＰＵ６０と、対物レンズ１０および受光素子部が読取った信号が欠陥信号であると判断された場合、欠陥信号の代わりに対物レンズ１０および受光素子部が欠陥信号を読取る直前に読取った信号を用いて対物レンズ１０の推定位置を表わす信号を発生し、かつ信号の値が欠陥信号以外の信号であると判断された場合、対物レンズ１０および受光素子部が読取った信号と同じ内容を表わす信号を発生するトラッキング制御部７１と、トラッキング制御部７１が発生した信号の内容に応じて光ディスク１に対する対物レンズの位置１０を変更するアクチュエータ１１とを含む。【選択図】        図１
2006024253.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクから位置を表わす信号を読取る対物レンズおよび受光素子部と、
前記対物レンズおよび受光素子部が読取った少なくとも３つの信号の値が所定の範囲外であるか否かに応じて、前記対物レンズおよび受光素子部が読取った３つの信号が欠陥の存在を表わす欠陥信号か否か判断するための判断手段と、
前記対物レンズおよび受光素子部が読取った信号が欠陥信号であると前記判断手段が判断した場合、前記対物レンズおよび受光素子部が前記欠陥信号を読取る直前に読取った信号を用いて前記対物レンズの推定位置を表わす信号を発生し、かつ前記信号の値が欠陥信号以外の信号であると前記判断手段が判断した場合、前記対物レンズおよび受光素子部が読取った信号と同じ内容を表わす信号を発生するための発生手段と、
前記発生手段が発生した信号の内容に応じて前記光ディスクに対する前記対物レンズの位置を変更するアクチュエータとを含む、光ディスク再生装置。
【請求項２】
光ディスクから位置を表わす信号を読取るための読取り手段と、
前記読取り手段が読取った信号が欠陥の存在を表わす欠陥信号か否か判断するための判断手段と、
前記読取り手段が読取った信号が欠陥信号であると前記判断手段が判断した場合、前記読取り手段の位置を表わす信号を発生し、かつ前記信号の値が欠陥信号以外の信号であると前記判断手段が判断した場合、前記読取り手段が読取った信号と同じ内容を表わす信号を発生するための発生手段と、
前記発生手段が発生した信号の内容に応じて前記光ディスクに対する前記読取り手段の位置を変更するための変更手段とを含む、光ディスク再生装置。
【請求項３】
前記発生手段は、前記読取り手段が欠陥信号を読取る以前に読取った読み信号を用いて、前記読取り手段の推定位置を表わす信号を発生するための手段を含む、請求項２に記載の光ディスク再生装置。
【請求項４】
前記読み信号は、前記読取り手段が欠陥信号を読取る直前に読取った信号である、請求項３に記載の光ディスク再生装置。
【請求項５】
前記判断手段は、前記読取り手段が読取った複数の信号の値が所定の範囲外であるか否かに応じて、前記複数の信号がいずれも欠陥信号であるか否かを判断するための手段を含む、請求項２に記載の光ディスク再生装置。
【請求項６】
前記複数の信号の数は、少なくとも３つである、請求項５に記載の光ディスク再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク再生装置に関し、特に、光ディスクからの反射光から値を読取る光ディスク再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクからの反射光から値を読取る光ディスク再生装置の場合、トラッキングエラー信号のレベル測定において、ディスク上に傷があると正確な値の測定ができなくなる。この問題を解決するために様々な対策が提案されている。
【０００３】
特許文献１は、トラッキングエラー信号そのものとトラッキング信号にスルーレート制限を施した信号との差、および光ピックアップの出力から得たエンペローブ信号を、それぞれ基準値と比較した結果に応じてトラッキングサーボの開ループ利得を制御するトラッキングジャンプ防止装置を開示する。この防止装置によると、ディスクの透明基材上ばかりでなく蒸着面に傷があっても、確実にトラックジャンプを防止できる。
【０００４】
特許文献２は、光ディスクに異常があって、光ディスクへの光の照射位置が既に情報を読出したトラック上に移動される場合にのみアクチュエータへの駆動信号レベルが抑制される再生装置を開示する。この再生装置によると、照射位置が情報の読出し方向とは反対側に移動することを防止できる。
【０００５】
特許文献３は、光ディスクの透明層表面に傷があることを検出した信号および蒸着面にできた傷を検出した信号の論理和を傷信号とし、傷信号が出力されたときにトラッキングゲインを下げるトラックジャンプ防止回路を開示する。この回路によると、光ディスクの透明層表面の傷だけでなく蒸着面の傷も検出されるので、トラック飛びを確実に防止できる。
【０００６】
特許文献４は、光ディスクのトラックからの偏倚に応じて位相が相補的に変化する信号の絶対値の和と基準値との比較結果に応じて信号を発生する傷検出装置を開示する。この装置によると、簡単な構成でトラッキングエラーの検出と明確に差別化しつつ正確に傷を検出できる。
【０００７】
しかしながら、特許文献１に開示されたようにトラッキングサーボの開ループ利得を制御する場合、得られた信号の質に対して何ら配慮がなされていないという問題点がある。数値や文字などのデータを読取る場合、得られた信号の質に多少の問題があっても（得られた値が正確性を欠く場合でも）、必要なデータを得ることは容易である。一方、映像や音声を表わす信号を読取る場合、その映像や音声は、得られた信号の質の影響を大きく受ける。このことは、特許文献１に開示された装置の場合、良質の映像や音声を得ることが困難であるということを意味する。特許文献２〜特許文献４に開示された装置などにも同様の問題点がある。
【特許文献１】特開昭６１−１４５７３６号公報
【特許文献２】特開昭６３−２２４０３５号公報
【特許文献３】特開平９−１３９０３７号公報
【特許文献４】特開平１１−３５５８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
本発明は上述の問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、欠陥信号を正確に測定し、自動調整の精度を高めることにより、良質の映像や音声が得られる光ディスク再生装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、本発明のある局面にしたがうと、光ディスク再生装置は、光ディスクから位置を表わす信号を読取る対物レンズおよび受光素子部と、対物レンズおよび受光素子部が読取った少なくとも３つの信号の値が所定の範囲外であるか否かに応じて、対物レンズおよび受光素子部が読取った３つの信号が欠陥の存在を表わす欠陥信号か否か判断するための判断手段と、対物レンズおよび受光素子部が読取った信号が欠陥信号であると判断手段が判断した場合、対物レンズおよび受光素子部が欠陥信号を読取る直前に読取った信号を用いて対物レンズの推定位置を表わす信号を発生し、かつ信号の値が欠陥信号以外の信号であると判断手段が判断した場合、対物レンズおよび受光素子部が読取った信号と同じ内容を表わす信号を発生するための発生手段と、発生手段が発生した信号の内容に応じて光ディスクに対する対物レンズの位置を変更するアクチュエータとを含む。
【００１０】
すなわち、発生手段は、対物レンズおよび受光素子部が読取った位置を表わす信号が欠陥信号であると判断された場合、欠陥信号の代わりに対物レンズおよび受光素子部が欠陥信号を読取る直前に読取った信号を用いて対物レンズの推定位置を表わす信号を発生し、かつ信号の値が欠陥信号以外の信号であると判断手段が判断した場合、対物レンズおよび受光素子部が読取った信号と同じ内容を表わす信号を発生する。これにより、対物レンズおよび受光素子部の位置を表わす信号として、適切な位置を表わす信号を出力できる。その結果、欠陥信号を正確に測定し、自動調整の精度を高めることにより、良質の映像や音声が得られる光ディスク再生装置を提供することにある。
【００１１】
本発明の他の局面にしたがうと、光ディスク再生装置は、光ディスクから位置を表わす信号を読取るための読取り手段と、読取り手段が読取った信号が欠陥の存在を表わす欠陥信号か否か判断するための判断手段と、読取り手段が読取った信号が欠陥信号であると判断手段が判断した場合、読取り手段の位置を表わす信号を発生し、かつ信号の値が欠陥信号以外の信号であると判断手段が判断した場合、読取り手段が読取った信号と同じ内容を表わす信号を発生するための発生手段と、
前記発生手段が発生した信号の内容に応じて前記光ディスクに対する前記読取り手段の位置を変更するための変更手段とを含む。
【００１２】
すなわち、発生手段は、読取り手段が読取った位置を表わす信号が欠陥信号であると判断された場合、読取り手段の位置を表わす信号を発生し、かつ信号の値が欠陥信号以外の信号であると判断手段が判断した場合、読取り手段が読取った信号と同じ内容を表わす信号を発生する。これにより、読取り手段の位置を表わす信号として、適切な位置を表わす信号を出力できる。その結果、欠陥信号を正確に測定し、自動調整の精度を高めることにより、良質の映像や音声が得られる光ディスク再生装置を提供することにある。
【００１３】
また、上述の発生手段は、読取り手段が欠陥信号を読取る以前に読取った読み信号を用いて、読取り手段の推定位置を表わす信号を発生するための手段を含むことが望ましい。
【００１４】
すなわち、発生手段は、読取り手段が欠陥信号を読取る以前に読取った読み信号を用いて、読取り手段の推定位置を表わす信号を発生する。これにより、読取り手段の位置を表わす信号は、より正確になる。
【００１５】
また、上述の読み信号は、読取り手段が欠陥信号を読取る直前に読取った信号であることが望ましい。
【００１６】
また、上述の判断手段は、読取り手段が読取った複数の信号の値が所定の範囲外であるか否かに応じて、複数の信号がいずれも欠陥信号であるか否かを判断するための手段を含むことが望ましい。
【００１７】
また、上述の複数の信号の数は、少なくとも３つであることが望ましい。
【発明の効果】
【００１８】
本発明に係る光ディスク再生装置は、欠陥信号を正確に測定し、自動調整の精度を高めることにより、良質の映像や音声が得られる光ディスク再生装置を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
図１は、本実施の形態に係る光記録再生装置の主要部の構成を示す図である。本実施の形態に係る光記録再生装置は、ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）ディスクにデータを記録したり記録されたデータを再生したりする装置である。図１を参照して、光記録再生装置は、光ディスク１を回転させるスピンドルモータ２と、図示しない光源から出射されたビームを光ディスク１に集光する対物レンズ１０と、対物レンズ１０をフォーカス方向およびトラッキング方向に制御駆動するためのアクチュエータ１１とを含む光ピックアップ装置と、光ディスク１の記録面で反射されたビームを受光する受光素子部と、ＲＦアンプ部３０と、第１Ａ／Ｄ（Analog-to-Digital）変換器４０と、第２Ａ／Ｄ変換器４１と、第３Ａ／Ｄ変換器４２と、第４Ａ／Ｄ変換器４３と、第５Ａ／Ｄ変換器４４と、第６Ａ／Ｄ変換器４５と、第６Ａ／Ｄ変換器４５とを備える。
【００２０】
受光素子部は、十字形状に４分割されたフォトディテクタ２０と、２分割されたフォトディテクタ２１とで構成される。対物レンズ１０およびフォトディテクタ２０が、光ディスク１から位置を表わす信号（本実施の形態の場合、トラッキングエラーの有無）を読取る装置となる。
【００２１】
フォトディテクタ２０は、光ディスク１の半径方向に関して２分割され、かつ接線方向に関して２分割されて形成された４つの領域Ａ〜領域Ｄを有する。光ディスク１からの反射光ビームが集光されて入射されると、４つの領域Ａ、領域Ｂ、領域Ｃ、領域Ｄのそれぞれは、入力した反射光量に応じた電気信号ａ、電気信号ｂ、電気信号ｃ、電気信号ｄを出力する。
【００２２】
フォトディテクタ２１は、光ディスク１の半径方向に関して２分割された領域Ｅ、領域Ｆを有する。光ディスク１からの反射光ビームが集光されて入射されると、２つの領域Ｅ、領域Ｆのそれぞれは、入力した反射光量に応じた電気信号ｅ、電気信号ｆを出力する。
【００２３】
ＲＦアンプ部３０は、電気信号ａ〜電気信号ｆのそれぞれを入力電圧とする複数の差動増幅器で構成される。電気信号ａ〜電気信号ｆは、ＲＦアンプ部３０において、それぞれ差動増幅されて出力される。
【００２４】
第１Ａ／Ｄ変換器４０〜第６Ａ／Ｄ変換器４５は、ＲＦアンプ部３０の出力信号に対応して、並列に配される。第１Ａ／Ｄ変換器４０〜第６Ａ／Ｄ変換器４５は、ＲＦアンプ部３０を介して入力された電気信号ａ〜電気信号ｆをデジタル化して出力する。
【００２５】
光記録再生装置は、電気信号ａ〜電気信号ｆの出力信号、すなわちデジタル化された電気信号ａ〜電気信号ｆを演算処理してフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を生成する演算回路５０と、ＣＰＵ（Central Processing Unit）６０と、フォーカス制御部７０と、トラッキング制御部７１と、第１Ｄ／Ａ（Digital-to-Analog）変換器８０と、第２Ｄ／Ａ変換器８１と、第１ドライバ９０と、第２ドライバ９１とをさらに備える。
【００２６】
演算回路５０は、３つの加算回路と差分回路とを含む（いずれも図示せず）。加算回路の各々は、フォトディテクタ２０の４つの領域のうち対角に位置する領域同士である、領域Ａおよび領域Ｃからの電気信号の和信号（ａ＋ｃ）と領域Ｂおよび領域Ｄからの電気信号の和信号（ｂ＋ｄ）とをそれぞれ算出する。加算結果である電気信号の和信号（ａ＋ｃ）および和信号（ｂ＋ｄ）は、残る加算回路および差分回路に出力される。加算回路は、和信号（ａ＋ｃ）および和信号（ｂ＋ｄ）の合計（ａ＋ｃ）＋（ｂ＋ｄ）を求めて、ＲＦ信号として、ＣＰＵ６０に与える。差分回路は、和信号（ａ＋ｃ）および和信号（ｂ＋ｄ）の差分（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）を求めて、フォーカスエラー信号として、フォーカス制御部７０に与える。
【００２７】
演算回路５０は、さらに、図示しない差分回路を含む。差分回路は、フォトディテクタ２１の領域Ｅおよび領域Ｆからの電気信号ｅおよび電気信号ｆの差分（ｅ−ｆ）を求めて、トラッキングエラー信号として、トラッキング制御部７１に与える。
【００２８】
以上のように、本実施の形態では、エラー信号の生成を３ビーム法に基づいて行なっている。エラー信号を生成するための他の技術としては、プッシュプル法、非点収差法などが知られている。本発明は、これらの技術についても適用することができる。なお、非点収差法の場合、トラッキングエラー信号については、フォーカスエラー信号と同じく、４分割フォトディテクタ２０の電気信号ａ〜電気信号ｄを演算して得られる信号（ａ＋ｃ）−（ｂ＋ｄ）から求めることができる。
【００２９】
フォーカス制御部７０とトラッキング制御部７１とは、得られたエラー信号に基づいて、フォーカスドライブ信号とトラッキングドライブ信号とを生成する。
【００３０】
生成されたフォーカスドライブ信号とトラッキングドライブ信号とは、第１Ｄ／Ａ変換器８０および第２Ｄ／Ａ変換器８１において、それぞれアナログ化されると、第１ドライバ９０および第２ドライバ９１に入力される。
【００３１】
第１ドライバ９０は、フォーカスドライブ信号に基づいて、光スポットを合焦点となるように、フォーカス方向にアクチュエータ１１を駆動する。第２ドライバ９１は、トラッキングドライブ信号に基づいて、光スポットが光ディスクのトラックの中心に位置するように、トラッキング方向にアクチュエータ１１を駆動する。
【００３２】
以上のように、本実施の形態では、フォトディテクタで検出した電気信号を直接Ａ／Ｄ変換器に入力する構成とすることにより、Ａ／Ｄ変換器のダイナミックレンジを狭くすることができる。しかしながら、電気信号の出力振幅がダイナミックレンジを越えてしまう場合は、電気信号が波形飽和し、サーボ制御の精度が損なわれる。
【００３３】
そこで、電気信号に対してオフセットおよびゲインの調整を行なうことにより、狭いダイナミックレンジのＡ／Ｄ変換器において起こり得る電気信号の波形飽和を回避し、安定してサーボ制御を行なうことが可能となる。本実施の形態では、さらに、ＲＦアンプ部３０にオフセット調整機能とゲイン調整機能とをもたせることにより、安定したサーボ制御の実現を図る。
【００３４】
図２は、図１に示すＲＦアンプ部３０の構成を示す図である。ＲＦアンプ部３０は、電気信号ａ〜電気信号ｆのそれぞれに対して配される複数の差動増幅器を含む。これらの差動増幅器は、互いに同じ構成であることから、図２では、電気信号ａに対応して配される差動増幅器５１を代表して示す。
【００３５】
図２を参照して、差動増幅器５１は、反転増幅器であり、反転入力端子に電気信号ａが入力される。差動増幅器５１の出力端子は、第２Ａ／Ｄ変換器４１の入力端子に結合される。反転入力端子と出力端子との間には、帰還抵抗として、可変抵抗器５２が結合される。非反転入力端子と接地電位との間には、可変抵抗器５４が結合される。
【００３６】
差動増幅器５１において、非反転入力端子に接続された可変抵抗器５４の抵抗値を調整することにより、差動増幅器５１の出力電圧をオフセットさせることができる。このため、可変抵抗器５４は、オフセット調整部として機能する。
【００３７】
さらに、差動増幅器５１において、可変抵抗器５２の抵抗値を調整することにより、差動増幅器５１のゲインを増減することができる。このため、可変抵抗器５２は、ゲイン調整部として機能する。
【００３８】
なお、図示しない差動増幅器においても、同様に、オフセット調整部としての可変抵抗器と、ゲイン調整部としての可変抵抗器とがそれぞれ配される。
【００３９】
可変抵抗器５４において、抵抗値の調整は、図１に示すＣＰＵ６０からの制御信号に応じて行なわれる。
【００４０】
再び図１を参照して、ＣＰＵ６０は、第１Ａ／Ｄ変換器４０〜第６Ａ／Ｄ変換器４５の出力信号を取込んで、各出力信号の直流（ＤＣ）レベルを測定する。得られたＤＣレベルと基準電圧（Ａ／Ｄ変換器のダイナミックレンジの中央値に相当）とを比較し、その差分を算出する。ＣＰＵ６０は、差分が「０」となるように、すなわち、出力信号のＤＣレベルと基準電圧とが一致するように、ＲＦアンプ部３０の可変抵抗器５４などに制御信号を送る。
【００４１】
可変抵抗器５４は、対応する制御信号に応じて、抵抗値を調整する。これにより、差動増幅器５１の出力電圧（すなわち、第１Ａ／Ｄ変換器４０〜第６Ａ／Ｄ変換器４５の入力信号）は、オフセットされて、ＤＣレベルがダイナミックレンジの中央値に設定される。
【００４２】
可変抵抗器５２において、抵抗値の調整は、ＣＰＵ６０からの制御信号に応じて行なわれる。ＣＰＵ６０は、第１Ａ／Ｄ変換器４０〜第６Ａ／Ｄ変換器４５の出力信号を取込んで、各出力信号の最大値と最小値との電位差（出力振幅）を測定する。ＣＰＵ６０は、さらに、得られた電位差がＡ／Ｄ変換器のダイナミックレンジの範囲内であるか否かを判定する。電位差がダイナミックレンジの範囲内にないときには、ＣＰＵ６０は、電位差がダイナミックレンジ内に収まるように、ＲＦアンプ部３０の可変抵抗器５２などに制御信号を送る。
【００４３】
可変抵抗器５２などは、対応する制御信号に応じて、抵抗値を調整する。これにより、差動増幅器５１などは、ゲインが調整されて、出力電圧（すなわち、第１Ａ／Ｄ変換器４０〜第６Ａ／Ｄ変換器４５の入力信号）は、出力振幅がダイナミックレンジの範囲内となるように調整される。
【００４４】
ＣＰＵ６０は、演算回路５０の出力を用いて、光ディスク１に傷があることを検出する回路でもある。傷があることが検出されると、ＣＰＵ６０は、その旨を表わす信号をフォーカス制御部７０およびトラッキング制御部７１に出力する。傷を検出するアルゴリズムについての詳細は後述する。
【００４５】
図３を参照して、光記録再生装置で実行されるプログラムは、トラッキング制御に関し、以下のような制御構造を有する。
【００４６】
ステップ１００（以下、ステップをＳと略す。）にて、フォトディテクタ２０およびフォトディテクタ２１は光ディスク１からの反射光の読取り・変換を開始する。ＲＦアンプ部３０は、フォトディテクタ２０およびフォトディテクタ２１が変換した信号を増幅する。第１Ａ／Ｄ変換器４０〜第６Ａ／Ｄ変換器４５は、ＲＦアンプ部３０が変換した信号をデジタル化する。第１Ａ／Ｄ変換器４０〜第６Ａ／Ｄ変換器４５は、デジタル化した信号を演算回路５０に出力する。
【００４７】
Ｓ１０２にて、ＣＰＵ６０は、検出フラグＦＬおよび時間パラメータＴＴを「０」に設定する。Ｓ１０４にて、演算回路５０は、第１Ａ／Ｄ変換器４０〜第６Ａ／Ｄ変換器４５が出力したデジタル信号の総和をＣＰＵ６０に出力する。
【００４８】
Ｓ１０６にて、ＣＰＵ６０は、演算回路５０が出力した値がしきい値（この値は、本実施の形態に係る光記録再生装置の設計者が自由に決定できる。）を下回るか否かを判断する。しきい値を下回ると判断した場合（Ｓ１０６にてＹＥＳ）、処理はＳ１０８へと移される。もしそうでないと（Ｓ１０６にてＮＯ）、処理はＳ１１０へと移される。Ｓ１０８にて、ＣＰＵ６０は、検出フラグＦＬを「１」に設定する。Ｓ１１０にて、ＣＰＵ６０は、検出フラグＦＬおよび時間パラメータＴＴを「０」に設定する。Ｓ１１２にて、ＣＰＵ６０は、時間パラメータＴＴに「１」を加算する。
【００４９】
Ｓ１１４にて、ＣＰＵ６０は、時間パラメータＴＴの値がＲＦ信号の周期の３倍以上か否かを判断する。ＲＦ信号の周期の３倍以上と判断した場合（Ｓ１１４にてＹＥＳ）、処理はＳ１１６へと移される。もしそうでないと（Ｓ１１４にてＮＯ）、処理はＳ１１８へと移される。
【００５０】
Ｓ１１６にて、フォーカス制御部７０およびトラッキング制御部７１は、それぞれＣＰＵ６０が出力した信号を１信号分無視する。ＣＰＵ６０が出力した信号に代えて、フォーカス制御部７０およびトラッキング制御部７１は、それぞれフォトディテクタ２０が欠陥信号を読取る直前に読取った信号（フォトディテクタ２０の位置を表わす信号）が再び入力されたものとみなして、その信号と同じ内容を表わす信号を発生する。フォーカス制御部７０およびトラッキング制御部７１は、それぞれ発生した信号を第１Ｄ／Ａ変換器８０および第２Ｄ／Ａ変換器８１に信号を出力する。
【００５１】
Ｓ１１８にて、フォーカス制御部７０およびトラッキング制御部７１は、演算回路５０が出力した信号と同じ内容の信号（フォトディテクタ２０の位置を表わす信号）を発生する。フォーカス制御部７０およびトラッキング制御部７１は、それぞれ発生した信号を第１Ｄ／Ａ変換器８０および第２Ｄ／Ａ変換器８１に出力する。
【００５２】
Ｓ１２０にて、第１Ｄ／Ａ変換器８０および第２Ｄ／Ａ変換器８１は、フォーカス制御部７０およびトラッキング制御部７１が発生した信号の内容に応じて光ディスク１に対する対物レンズ１１の位置を変更させる。
【００５３】
図４を参照して、以上のような構造およびフローチャートに基づく、光記録再生装置の動作について説明する。図４は、本発明の実施の形態に係るトラッキングエラー信号、ＲＦ信号、および傷検知信号の関係を表わす図である。
【００５４】
光ディスクの再生の開始と同時に、フォトディテクタ２０およびフォトディテクタ２１は光ディスク１からの反射光の変換を開始する（Ｓ１００）。反射光の変換が開始されると、ＣＰＵ６０は、検出フラグＦＬおよび時間パラメータＴＴを「０」に設定する（Ｓ１０２）。フラグおよびパラメータが設定されると、演算回路５０は、第１Ａ／Ｄ変換器４０〜第６Ａ／Ｄ変換器４５が出力したデジタル信号の総和をＣＰＵ６０に出力する（Ｓ１０４）。総和が出力されると、ＣＰＵ６０は、演算回路５０が出力した値がしきい値を下回るか否かを判断する（Ｓ１０６）。当初、演算回路５０が出力した値がしきい値を下回ることはないので（Ｓ１０６にてＮＯ）、ＣＰＵ６０は、検出フラグＦＬおよび時間パラメータＴＴを「０」に設定する（Ｓ１１０）。フラグやパラメータが設定されると、フォーカス制御部７０およびトラッキング制御部７１は、演算回路５０が出力した信号と同じ内容の信号を発生する。フォーカス制御部７０およびトラッキング制御部７１は、それぞれ発生した信号を第１Ｄ／Ａ変換器８０および第２Ｄ／Ａ変換器８１に出力する（Ｓ１１８）。信号が出力されると、第１Ｄ／Ａ変換器８０および第２Ｄ／Ａ変換器８１は、フォーカス制御部７０およびトラッキング制御部７１が発生した信号の内容に応じて光ディスク１に対する対物レンズ１１の位置を変更させる（Ｓ１２０）。以後、時刻がＴ（５）に達するまで、Ｓ１０４〜Ｓ１２０の処理が繰返される。
【００５５】
時刻がＴ（５）に達すると、ＣＰＵ６０は、再び演算回路５０が出力した値がしきい値を下回るか否かを判断する（Ｓ１０６）。時刻がＴ（５）を経過すると、出力された値は急激に低下する。これにより、演算回路５０が出力した値がしきい値を下回るので（Ｓ１０６にてＹＥＳ）、ＣＰＵ６０は、検出フラグＦＬを「１」に設定する（Ｓ１０８）。ＣＰＵ６０は、時間パラメータＴＴに「１」を加算する（Ｓ１１２）。フラグに値が設定されるなどされると、ＣＰＵ６０は、時間パラメータＴＴの値がＲＦ信号の周期の３倍以上か否かを判断する（Ｓ１１４）。Ｓ１０６〜Ｓ１１４の処理により、ＣＰＵ６０は、フォトディテクタ２０が読取った複数（本実施の形態の場合少なくとも３つ）の信号の値が所定の範囲外であるか否かに応じて、フォトディテクタ２０が読取った複数の信号がいずれも欠陥（本実施の形態の場合、トラッキングエラーの検出に関する欠陥）の存在を表わす欠陥信号か否か判断したことになる。当初、ＲＦ信号の周期の３倍以上とは判断されないので（Ｓ１１４にてＮＯ）、Ｓ１１８〜Ｓ１１２の処理が繰返される。しかし、図４によると時刻がＴ（８）を経過するまで、演算回路５０が出力する値はしきい値を下回ることとなる。演算回路５０が出力する値がしきい値を下回る結果、最終的に時間パラメータＴＴの値は、ＲＦ信号の周期の３倍以上と判断されるので（Ｓ１１４にてＹＥＳ）、フォーカス制御部７０およびトラッキング制御部７１は、それぞれＣＰＵ６０が出力した信号を１信号分無視する（Ｓ１１６）。信号が１信号分無視されると、再びＳ１２０〜Ｓ１１４の処理が繰返される。Ｓ１１６〜Ｓ１１８の処理により、トラッキング制御部７１は、フォトディテクタ２０が読取った信号が欠陥信号であるとＣＰＵ６０が判断した場合、フォトディテクタ２０の位置を表わす信号を発生し、かつフォトディテクタ２０が読取った信号の値が欠陥信号以外の信号であるとＣＰＵ６０が判断した場合、フォトディテクタ２０が読取った信号と同じ内容を表わす信号を発生することとなる。
【００５６】
以上のようにして、本実施の形態に係る光記録再生装置は、トラッキングエラー信号のレベルを測定する際、光ディスクから読取った信号の波形から、光ディスク上に傷があるか否かを判断する。光ディスクに傷がなければ、正常な信号が得られたとみなして処理を継続する。光ディスクに傷があれば、傷がなかった場合と同様のトラッキング制御を実施する。光ディスクに傷があるということは、その傷を検出して得た信号は偽の信号ということである。その偽の信号を音声や画像として再生した場合、音が飛んだり画像が乱れたりする。本実施の形態に係る光記録再生装置は、傷がある場所の信号を検出しても、その信号を処理しない。本実施の形態に係る光記録再生装置は、傷がある場所の信号を検出した場合、それまでの制御のレベルを保持する。そのような制御が実施されるので、トラッキングエラー信号を正確に測定し、自動調整の精度を高めることができる。それらが可能なので、本実施の形態に係る光記録再生装置が映像や音声のデータを再生すると、良質の映像や音声が得られる。その結果、欠陥信号を正確に測定し、自動調整の精度を高めることにより、良質の映像や音声が得られる光記録再生装置を提供することができる。
【００５７】
なお、Ｓ１０６にて、ＣＰＵ６０は、しきい値を下回るか否かを判断することに代えて、演算回路５０が出力した値の変化率がある値を上回るか否かを判断してもよい。この場合、演算回路５０が出力した値の高周波成分を予めローパスフィルタで除去したものがある値を上回るか否かにより、演算回路５０が出力した値の変化率がある値を上回るか否かが判断される。
【００５８】
また、Ｓ１１４にて、ＣＰＵ６０は、時間パラメータＴＴの値がＲＦ信号の周期の１４倍以上か否かを判断してもよい。時間パラメータＴＴの値は、ＲＦ信号の周期より十分大きければ、ＲＦ信号の周期の１４倍未満であっても、光ディスクに傷があるか否かを検出できる。ただし、時間パラメータＴＴの値がＲＦ信号の周期の１４倍以上の場合、より精度よく光ディスクに傷があるか否かを検出できる。
【００５９】
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
【図面の簡単な説明】
【００６０】
【図１】本発明の実施の形態に係る光記録再生装置の制御ブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態に係るＲＦアンプ部の構成を表わす図である。
【図３】本発明の実施の形態に係るトラッキング制御処理の制御の手順を示すフローチャートである。
【図４】本発明の実施の形態に係るトラッキングエラー信号、ＲＦ信号、および傷検知信号の関係を表わす図である。
【符号の説明】
【００６１】
１  光ディスク、２  スピンドルモータ、１０  対物レンズ、１１  アクチュエータ、２０，２１  フォトディテクタ、３０  ＲＦアンプ部、４０  第１Ａ／Ｄ変換器、４１  第２Ａ／Ｄ変換器、４２  第３Ａ／Ｄ変換器、４３  第４Ａ／Ｄ変換器、４４  第５Ａ／Ｄ変換器、４５  第６Ａ／Ｄ変換器、５０  演算回路、５１  差動増幅器、５２，５４  可変抵抗器、６０  ＣＰＵ、７０  フォーカス制御部、７１  トラッキング制御部、８０  第１Ｄ／Ａ変換器、８１  第２Ｄ／Ａ変換器、９０  第１ドライバ、９１  第２ドライバ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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