(57)【要約】【課題】  差動プッシュプル方式の光ディスク装置にて、メインプッシュプル信号とサブプッシュプル信号との合成比を調整するには、時間がかかりがちだった。【解決手段】  差動プッシュプル方式の光ディスク装置１００のトラッキングサーボを制御するトラッキングエラー信号生成回路８５にて、トラッキングエラー信号生成部６２は、メインプッシュプル信号とサブプッシュプル信号とを所定の合成比により調整した後、両信号の差分信号を求めて、トラッキングエラー信号を生成する。オフセット電圧印加部８０は、光ピックアップ５０のトラッキング制御を行うためのドライバ９０に所定のオフセット電圧を印加する。合成比演算部は、トラッキングサーボを無効にして、オフセット電圧を印加した場合と印加しない場合のトラッキングエラー信号間の注目点変動量と合成比との比例関係を利用して、合成比を決定する。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
差動プッシュプル方式の光ディスク装置のトラッキングサーボを制御するためのトラッキングエラー信号を調整する方法であって、
メインビームの反射光から生成されたメインプッシュプル信号とサブビームの反射光から生成されたサブプッシュプル信号との合成比を決定するとき、前記トラッキングサーボを無効にして、光ピックアップのトラッキング制御を行うための駆動部に所定のオフセット成分を加えた場合と加えない場合とのトラッキングエラー信号間の注目点変動量と前記合成比との比例関係を利用することを特徴とするトラッキングエラー信号調整方法。
【請求項２】
それぞれ異なる複数の合成比を仮定して、それぞれの注目点変動量を取得することにより、合成比と注目点変動量との比例関数を生成し、注目点変動量が所定の目標値にある場合の合成比を特定することを特徴とする請求項１に記載のトラッキングエラー信号調整方法。
【請求項３】
差動プッシュプル方式の光ディスク装置のトラッキングサーボを制御するためのトラッキングエラー信号を生成する回路であって、
メインビームの反射光から生成されたメインプッシュプル信号とサブビームの反射光から生成されたサブプッシュプル信号を所定の合成比により調整した後、両信号の差分信号を求めて、前記トラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部と、
光ピックアップのトラッキング制御を行うための駆動部に所定のオフセット成分を加えるためのオフセット供給部と、
前記合成比を決定し、前記トラッキングエラー信号生成部に設定する合成比設定部と、
を備え、
前記合成比設定部は、前記トラッキングサーボを無効にして、前記オフセット供給部から前記オフセット成分を加えた場合と加えない場合のトラッキングエラー信号間の注目点変動量と前記合成比との比例関係を利用して、前記合成比を決定することを特徴とするトラッキングエラー信号生成回路。
【請求項４】
前記合成比設定部は、合成比と注目点変動量との比例関数を生成し、注目点変動量が所定の目標値にある場合の合成比を特定することを特徴とする請求項３に記載のトラッキングエラー信号生成回路。
【請求項５】
前記トラッキングエラー信号生成部により生成されるトラッキングエラー信号の注目点を測定する注目点測定部をさらに備え、
前記合成比設定部は、仮の合成比を前記トラッキングエラー信号生成部に設定して、前記オフセット成分を加えた場合と加えない場合の測定値を前記注目点測定部から取得し、前記注目点変動量を求める処理を少なくとも二回行うことにより、前記比例関数を生成することを特徴とする請求項４に記載のトラッキングエラー信号生成回路。
【請求項６】
前記合成比設定部は、前記注目点変動量を求める処理を二回行うことにより、前記比例関数を生成することを特徴とする請求項５に記載のトラッキングエラー信号生成回路。
【請求項７】
前記注目点測定部は、前記トラッキングエラー信号の中心値を測定することを特徴とする請求項５に記載のトラッキングエラー信号生成回路。
【請求項８】
前記オフセット供給部は、前記注目点変動量と前記合成比との線形特性を利用できる範囲に前記注目点変動量が収まるよう設定されたバイアス電圧を前記駆動部に印加することを特徴とする請求項３から７のいずれかに記載のトラッキングエラー信号生成回路。
【請求項９】
同一半導体基板上に集積化されたことを特徴とする請求項３から８のいずれかに記載のトラッキングエラー信号生成回路。
【請求項１０】
差動プッシュプル方式の光ディスク装置であって、
光ピックアップと、
前記光ピックアップのトラッキング制御を行う駆動部と、
前記駆動部を制御するためにトラッキングエラー信号を生成する請求項３から９のいずれかに記載のトラッキングエラー信号生成回路と、を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップのトラッキングサーボを制御するためのトラッキングエラー信号を調整するためのトラッキングエラー信号調整方法、トラッキングエラー信号生成回路、およびそれを搭載した光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ブルーレイなど、様々な規格の光ディスクが普及してきている。このような光ディスクに対してデータを読み書きするために、光ディスク装置は、光ピックアップから照射される光ビームで光ディスクのトラックを正確に追従する必要がある。このような光ディスク装置のトラッキングサーボ方式の一つに差動プッシュプル方式（以下、ＤＰＰ方式と適宜表記する。）があり広く用いられている（例えば、特許文献１参照。）。このＤＰＰ（differential push-pull）方式は、３ビーム方式の光ピックアップにて、メインビームの反射光から生成されたメインプッシュプル信号とサブビームの反射光から生成されたサブプッシュプル信号との合成比が最適値になるよう調整される。
【０００３】
特許文献２は、ＤＰＰ方式を採用した光ディスク装置を開示し、上記合成比の調整方法についても開示する。特許文献２の図１に開示された光ディスク装置は、スイッチ回路４によりトラッキングサーボループを切断し、ドライバ回路５に対して外乱信号発生回路６より一定周波数の外乱信号を注入する。このとき得られるトラッキングエラー信号は、特許文献２の図４（イ）のような波形になる。この波形の直流成分のみをフィルタ回路７で抽出すると、図４（ロ）のような波形を得ることができる。このフィルタ回路７の出力波形の変動量、すなわち振幅を、上記トラッキングエラー信号の中心値変動量とみなしている。特許文献２には、メインプッシュプル信号とサブプッシュプル信号との合成比αを順次変化させていき、フィルタ回路７の出力波形の振幅が最小となる合成比αを決定すると開示されている。
【特許文献１】特開平５−２９８７３０号公報
【特許文献２】特開２００３−３０３４２７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記合成比αを順次変化させていく際、当該合成値αの変化分解能を細かくしないと調整の精度が向上しないため調整時間が長くなる。例えば、光ディスク装置の立ち上がり時に毎回調整を行う設定になっている場合、できるだけ調整時間が短いことが望まれる。
【０００５】
本発明はこうした状況に鑑みてなされたものであり、その目的は、差動プッシュプル方式のトラッキングサーボにおけるメインプッシュプル信号とサブプッシュルプル信号の合成比を簡単に調整することができるトラッキングエラー信号調整方法、トラッキングエラー信号生成回路、およびそれを搭載した光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明のある態様のトラッキングエラー信号調整方法は、差動プッシュプル方式の光ディスク装置のトラッキングサーボを制御するためのトラッキングエラー信号を調整する方法であって、メインビームの反射光から生成されたメインプッシュプル信号とサブビームの反射光から生成されたサブプッシュプル信号との合成比を決定するとき、トラッキングサーボを無効にして、光ピックアップのトラッキング制御を行うための駆動部に所定のオフセット成分を加えた場合と加えない場合とのトラッキングエラー信号間の注目点変動量と合成比との比例関係を利用する。
【０００７】
この態様によると、オフセット供給部からオフセット成分を加えた場合と加えない場合のトラッキングエラー信号間の注目点変動量と合成比との比例関係を利用すると、オフセットを抑制することができる合成比を簡単に決定することができる。
【０００８】
それぞれ異なる複数の合成比を仮定して、それぞれの注目点変動量を取得することにより、合成比と注目点変動量との比例関数を生成し、注目点変動量が所定の目標値にある場合の合成比を特定してもよい。「所定の目標値」は零であってもよい。この態様によると、比例関数は少ないデータで定立することができるため、簡単に合成比を決定することができる。
【０００９】
本発明の別の態様は、トラッキングエラー信号生成回路である。このトラッキングエラー信号生成回路は、差動プッシュプル方式の光ディスク装置のトラッキングサーボを制御するためのトラッキングエラー信号を生成する回路であって、メインビームの反射光から生成されたメインプッシュプル信号とサブビームの反射光から生成されたサブプッシュプル信号を所定の合成比により調整した後、両信号の差分信号を求めて、トラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成部と、光ピックアップのトラッキング制御を行うための駆動部に所定のオフセット成分を加えるためのオフセット供給部と、合成比を決定し、トラッキングエラー信号生成部に設定する合成比設定部と、を備える。合成比設定部は、トラッキングサーボを無効にして、オフセット供給部からオフセット成分を加えた場合と加えない場合のトラッキングエラー信号間の注目点変動量と合成比との比例関係を利用して、合成比を決定する。
【００１０】
この態様によると、オフセット供給部からオフセット成分を加えた場合と加えない場合のトラッキングエラー信号間の注目点変動量と合成比との比例関係を利用すると、オフセットを抑制することができる合成比を簡単に決定することができる。
【００１１】
合成比設定部は、合成比と注目点変動量との比例関数を生成し、注目点変動量が所定の目標値にある場合の合成比を特定してもよい。トラッキングエラー信号生成部により生成されるトラッキングエラー信号の注目点を測定する注目点測定部をさらに備えてもよい。合成比設定部は、仮の合成比をトラッキングエラー信号生成部に設定して、オフセット成分を加えた場合と加えない場合の測定値を注目点測定部から取得し、注目点変動量を求める処理を少なくとも二回行うことにより、比例関数を生成してもよい。合成比設定部は、注目点変動量を求める処理を二回行うことにより、比例関数を生成してもよい。
【００１２】
この態様によると、比例関数は少ないデータで定立することができるため、簡単に合成比を決定することができる。特に二つの注目点変動量で比例関数を生成する場合、非常に少ない演算量で合成比を決定することができる。
【００１３】
注目点測定部は、トラッキングエラー信号の中心値を測定してもよい。ピーク値およびボトム値を検出する回路などを用いると、容易に中心値を測定することができ、簡単な回路で注目点の測定値を取得することができる。
【００１４】
オフセット供給部は、注目点変動量と合成比との線形特性を利用できる範囲に注目点変動量が収まるよう設定されたバイアス電圧を駆動部に印加してもよい。線形特性を利用できる範囲で注目点変動量を取得できれば、精度のよい合成比を求めることができる。
【００１５】
本発明のさらに別の態様は、光ディスク装置である。この光ディスク装置は、差動プッシュプル方式の光ディスク装置であって、光ピックアップと、光ピックアップのトラッキング制御を行う駆動部と、駆動部を制御するためにトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成回路と、を備える。
【００１６】
この態様によると、トラッキングエラー信号のオフセットを抑制することができる合成比を簡単に設定することができ、精度の高いトラッキングサーボを実現することができる。
【００１７】
なお、以上の構成要素の任意の組合せ、本発明の表現を装置、方法、システム、コンピュータプログラムなどの間で変換したものもまた、本発明の態様として有効である。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、差動プッシュプル方式のトラッキングサーボにおけるメインプッシュプル信号とサブプッシュルプル信号の合成比を簡単に調整することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
本発明の実施形態は、ＤＰＰ方式におけるメインプッシュプル信号とサブプッシュプル信号との合成比を調整するため、トラッキングサーボが切断された状態にてオフセット電圧を印加した場合としない場合とのトラッキングエラー信号の中心値変動量と上記合成比とが比例関係にある知見を利用する。まず、この知見について説明する。
【００２０】
図１は、３つの光検出器の出力信号からトラッキングエラー信号の生成過程を説明するための図である。本実施形態における後述する光ピックアップ５０は、メインプッシュプル光検出器２０、先行プッシュプル光検出器２２、および後行プッシュプル光検出器２４を含む。メインプッシュプル光検出器２０は、光ディスクにビームが照射されて形成されるメインスポット１０からの反射戻り光を対物レンズなどを介して受光し、その光量に応じた電気信号に変換する。先行プッシュプル光検出器２２および後行プッシュプル光検出器２４も、先行スポット１２および後行スポット１４からの反射戻り光をそれぞれ受光し、電気信号に変換する。先行プッシュプル光検出器２２および後行プッシュプル光検出器２４は、サブプッシュプル光検出器として機能する。
【００２１】
ここで、先行スポット１２は、メインスポット１０に対して光ディスクの半径方向に、トラックピッチＰの半分Ｑだけずらして照射される。後行スポット１４は、メインスポット１０に対して光ディスクの半径方向に先行スポット１２と反対側にトラックピッチＰの半分Ｑだけずらして照射される。
【００２２】
メインプッシュプル光検出器２０、先行プッシュプル光検出器２２、および後行プッシュプル光検出器２４は、それぞれ２分割されており、その分割された領域ごとにそれぞれ受光量に対応した電気信号を発生させる。なお、それらの受光領域を４以上に分割してもよいが、説明の簡単のため以下２分割の例を説明する。
【００２３】
第１減算部３０は、メインプッシュプル光検出器２０の両領域からの信号の差分を計算し、第１プッシュプル信号として得る。第２減算部３２および第３減算部３４も、それぞれ先行プッシュプル光検出器２２および後行プッシュプル光検出器２４の両領域からの信号の差分を計算し、第２および第３プッシュプル信号として得る。第１増幅部４０は、第３減算部３４からの第３プッシュプル信号を所定の増幅率Ｇ２で増幅する。加算部４２は、第２減算部３２からの第２プッシュプル信号と、第１増幅部４０の出力信号とを加算する。第２増幅部４４は、加算部４２の出力信号を所定の増幅率Ｇ１で増幅する。第４減算部４６は、第１減算部からの第１プッシュプル信号と、第２増幅部４４の出力信号との差分を計算し、トラッキングエラー信号を得る。
【００２４】
この構成にて、上述したプッシュプル信号を正弦波と仮定し、メインプッシュプル光検出器２０より得られる第１プッシュプル信号の振幅をＡ１、オフセットをＢ１とする。同様に、メインプッシュプル光検出器２０より得られる第２プッシュプル信号の振幅をＡ２、オフセットをＢ２、後行プッシュプル光検出器２４より得られるプッシュプル信号の振幅をＡ３、オフセットをＢ３とする。このとき、メインスポット１０、先行スポット１２および後行スポット１４の各プッシュプル信号をＴＥ１、ＴＥ２およびＴＥ３と表すと、各プッシュプル信号ＴＥ１、ＴＥ２およびＴＥ３は下記式（１）〜（３）のように表される。
ＴＥ１＝Ａ１・ｓｉｎ（２πＸ／Ｐ）＋Ｂ１…（式１）
ＴＥ２＝Ａ２・ｓｉｎ（２π（Ｘ−Ｑ）／Ｐ）＋Ｂ２…（式２）
ＴＥ３＝Ａ３・ｓｉｎ（２π（Ｘ＋Ｑ）／Ｐ）＋Ｂ３…（式３）
なお、Ｘは所定の変数、Ｐは光ディスクのトラックピッチ、Ｑはスポット間の距離を示す。ここでは、ＱはトラックピッチＰの半分の値に設定されている。
【００２５】
３つのスポットは同じ対物レンズを通して結像するので、光ディスクの半径方向（Ｘ方向）の傾きや、当該対物レンズのシフトにより生ずるオフセットは同じ割合で生ずる。すなわち、光学的に下記の関係が成り立つ。
Ｂ１／Ａ１＝Ｂ２／Ａ２＝Ｂ３／Ａ３…（式４）
【００２６】
ここで、メインプッシュプル光検出器２０のプッシュプル信号ＴＥ１と、サブの先行プッシュプル光検出器２２および後行プッシュプル光検出器２４のプッシュプル信号ＴＥ２、ＴＥ３の差分をとる。各スポットの強度が異なる場合、ゲインを揃える必要があるので、トラッキングエラー信号ＴＥは下記（式５）で表される。
ＴＥ＝ＴＥ１−Ｇ１・（ＴＥ２＋Ｇ２・ＴＥ３）…（式５）
【００２７】
ここで、ゲインＧ１をＡ１／（２・Ａ２）、およびゲインＧ２をＡ２／Ａ３と仮定し、これらのゲインＧ１、Ｇ２を上記（式５）に代入すれば、トラッキングエラー信号ＴＥは下記（式６）で表されるようになる。
ＴＥ＝Ａ１・（１−ｃｏｓ（２πＱ／Ｐ））・ｓｉｎ（２πＸ／Ｐ）…（式６）
【００２８】
上記（式６）では、メインプッシュプル信号ＴＥ１とサブプッシュプル信号ＴＥ２、３との合成比を１：２と仮定し、オフセットＢ１〜Ｂ３をキャンセルしているが、実際には当該合成比を最適値になるよう調整する必要がある。最適値に調整できればオフセットをキャンセルすることができ、最適値に近づければオフセットを削減することができる。
【００２９】
したがって、以下の説明では合成比をαとして、ゲインＧ１を（α・Ａ１／Ａ２）と表すと、このゲインＧ１を上記（式５）に代入すれば、トラッキングエラー信号ＴＥは下記（式７）で表されるようになる。
ＴＥ＝Ａ１・｛１−２α・ｃｏｓ（２πＱ／Ｐ）｝・ｓｉｎ（２πＸ／Ｐ）＋（１−２α）Ｂ１…（式７）
【００３０】
ここで、トラッキングエラー信号ＴＥの中心値は（１−２α）Ｂ１であるから、トラッキングエラー信号ＴＥの中心値変動量は、上記合成比αと比例関係であることがいえる。以下、この知見を利用して、本発明の実施形態について説明する。
【００３１】
図２は、本発明の実施形態における光ディスク装置１００の構成を示す図である。当該光ディスク装置１００は、光ピックアップ５０、トラッキングエラー信号生成回路８５、およびドライバ９０を含む。トラッキングエラー信号生成回路８５は、制御部６０、スイッチ７０、オフセット電圧印加部８０を含む。光ディスク装置１００の構成、とくに光ピックアップ５０以外の構成は、ハードウェア的要素およびソフトウェア的要素の連携によって実現される機能ブロックで描いている。この機能ブロックは、ハードウエア的には任意のアナログフロントエンドプロセッサやＤＳＰ（Digital Signal Processor）などのマイクロプロセッサ、メモリ、およびオペアンプなどで構成されるその他のＬＳＩで実現でき、ソフトウエア的にはメモリにロードされた後述するアルゴリズムを実現するプログラムなどによって実現される。したがって、これらの機能ブロックがハードウエアのみ、ソフトウエアのみ、またはそれらの組合せによっていろいろな形で実現できることは、当業者に理解されるところである。
【００３２】
光ピックアップ５０は、光ディスクに対してデータの記録や再生を行なうためのレーザー光源および受光部を備える。本実施形態では、受光部として図１に示したメインプッシュプル光検出器２０、先行プッシュプル光検出器２２、および後行プッシュプル光検出器２４を少なくとも備える。光ピックアップ５０は、これらの光検出器２０、２２、２４で受光した信号を電気信号に変換して、制御部６０に出力する。また、ドライバ９０からの制御信号に応じて、対物レンズなどのアクチュエータ制御を行う。
【００３３】
制御部６０は、ＴＥ信号生成部６２、中心値測定部６４、α値演算部６６、およびフィルタ６８を含む。ＴＥ信号生成部６２は、光ピックアップ５０からの各プッシュプル信号ＴＥ１〜ＴＥ３、およびメインプッシュプル信号ＴＥ１とサブプッシュプル信号ＴＥ２、ＴＥ３との合成比αに基づいて、トラッキングエラー信号ＴＥを生成する。本実施形態では、上記（式７）にそれぞれの要素を代入してトラッキングエラー信号ＴＥを算出する。この場合、ＴＥ信号生成部６２は、アナログフロントエンドプロセッサで構成されてもよい。
【００３４】
フィルタ６８は、トラッキングサーボ制御用の信号を生成するために、ＴＥ信号生成部６２が生成したトラッキングエラー信号ＴＥに対してフィルタ処理を行う。フィルタ６８は、容量などのアナログ素子で構成されても、ＤＳＰなどデジタル素子で構成されてもよい。スイッチ７０は、光ピックアップ５０に対してトラッキングサーボ制御を行うためのトラッキングサーボループを、制御部６０からの指示にしたがいオン／オフする。すなわち、スイッチ７０がオンすれば、当該トラッキングサーボループが形成され、オフすれば、当該トラッキングサーボループが切断される。
【００３５】
オフセット電圧印加部８０は、本実施形態における上記α値の調整のとき、制御部６０が生成したトラッキングエラー信号ＴＥに所定のオフセット電圧を印加する。このオフセット電圧は、光ピックアップ５０の特性上、上記比例関係が成立する範囲にて中心値変動量を取得できるように、実験的に求められた値が用いられてもよい。ドライバ９０は、トラッキング制御用の信号として、フィルタリングされたトラッキングエラー信号または上記オフセット電圧信号に応じて、光ピックアップ５０を駆動する。
【００３６】
中心値測定部６４は、ＴＥ信号生成部６２により生成されたトラッキングエラー信号ＴＥの中心値を測定する。例えば、トラッキングエラー信号ＴＥのピーク値およびボトム値を検出することにより、中心値を求めてもよい。α値演算部６６は、中心値測定部６４により測定された中心値を基に上記α値の最適値を算出し、ＴＥ信号生成部６２に設定する。また、その最適値を算出するために、仮のα値もＴＥ信号生成部６２に設定する。
【００３７】
なお、トラッキングエラー信号生成回路８５は、その構成要素が同一半導体基板上にＩＣチップ化されてもよい。また、ドライバ９０もその同一半導体基板上にＩＣチップ化されてもよい。
【００３８】
次に、トラッキングエラー信号生成回路８５による上記合成比αの算出方法について説明する。図３は、トラッキングエラー信号生成回路８５におけるメインプッシュプル信号とサブプッシュプル信号との合成比αを調整する処理を示すフローチャートである。まず、制御部６０は、スイッチ７０をオフして、トラッキングサーボループを解除する（Ｓ１０）。ＴＥ信号生成部６２は、所定の第１合成比αを上記（式７）に設定する（Ｓ１２）。そして、光ディスク装置１００は、中心値測定処理に遷移する（Ｓ１４）。
【００３９】
図４は、中心値測定処理を示すサブルーチンである。図４にて、中心値測定処理が実行されると、制御部６０は所定のオフセット電圧をドライバ９０に印加するよう、オフセット電圧印加部８０に指示する（Ｓ３０）。その状態にて、ＴＥ信号生成部６２はトラッキングエラー信号ＴＥを生成し、中心値測定部６４は中心値を測定する（Ｓ３２）。次に、制御部６０は、当該オフセット電圧を印加しないよう、オフセット電圧印加部８０に指示する（Ｓ３４）。その状態にて、ＴＥ信号生成部６２はトラッキングエラー信号ＴＥを生成し、中心値測定部６４は中心値を測定する（Ｓ３６）。なお、当該オフセット電圧が印加された状態の中心値、および印加されていない状態の中心値はいずれの順番から測定されてもよい。中心値測定部６４は、測定した両中心値の差分、すなわち変動量を求める（Ｓ３８）。
【００４０】
図５は、トラッキングエラー信号ＴＥの中心値の変動量を説明するための図である。図５にて、上の波形は上記オフセット電圧を印加した状態のトラッキングエラー信号ＴＥを示し、下の波形は上記オフセット電圧を印加しない状態のトラッキングエラー信号ＴＥを示す。図５の例では、上記オフセット電圧を印加しない場合、トラッキングエラー信号ＴＥのレベルが低下し、当然その中心値も低下する。両中心値の差分を測定することにより、中心値変動量Ｄを測定することができる。後述するように、この中心値変動量Ｄは、上記合成比αの値に応じて変動する。
【００４１】
図３に戻り、ＴＥ信号生成部６２は、第１合成比α１と異なる所定の第２合成比α２を上記（式７）に設定する（Ｓ１６）。なお、第１合成比α１および第２合成比α２は、実験的にその値を決定することができる。なお、学習的に中心値変動量Ｄが零に近いと予測される値に設定してもよい。制御部６０が学習していき、自動的に変更されていってもよい。そして、トラッキングエラー信号生成回路８５は、中心値測定処理に再び遷移する（Ｓ１８）。α値演算部６６は、第１合成比α１のときの中心変動量Ｄ１と、第２合成比α２のときの中心変動量Ｄ２とを基に、合成比αと中心変動量Ｄとの関数を生成する（Ｓ２０）。例えば、比例関数を生成する。α値演算部６６は、生成した関数から合成比αの最適値を決定する（Ｓ２２）。例えば、中心値変動量Ｄが零となる地点の合成比αを最適値に決定してもよい。
【００４２】
図６は、メインのプッシュプル信号とサブのプッシュプル信号との合成比αと、中心変動量Ｄとの関数をグラフで示す。図６のグラフにて、縦軸は中心変動量Ｄを示し、横軸は当該合成比αを示す。上述したように、中心変動量Ｄと当該合成比αとは比例関係が成立するため、最低、２点の合成比αに対する中心変動量Ｄを測定できれば、グラフに直線を描くことができる。そして、この直線から中心変動量Ｄが零となる合成比α０を最適値ととして特定することができる。
【００４３】
以上説明したように本実施形態によれば、ドライバへオフセット電圧を印加した場合と印加しない場合とのトラッキングエラー信号の中心値変動量を２点測定するだけで、メインプッシュプル信号とサブプッシュルプル信号との最適な合成比を求めることができるため、短時間で当該合成比を調整することができる。短時間で最適値を算出することができるため、光ディスク装置の起動時や光ディスクの装着時のたびに行う処理にも適している。また、差動プッシュプル方式の光ピックアップの線形特性を利用することにより、当該合成比を精密に特定することができる。さらに、多くのデータをサンプルする必要もないため、簡素な回路構成で実現することができる。
【００４４】
以上、本発明を実施の形態をもとに説明した。この実施の形態は例示であり、それらの各構成要素や各処理プロセスの組合せにいろいろな変形例が可能なこと、またそうした変形例も本発明の範囲にあることは当業者に理解されるところである。
【００４５】
実施形態では、トラッキング信号の中心値を測定した。この点、オフセット電圧を印加した場合としない場合とのトラッキング信号の変動量を測定できればよく、両トラッキング信号の直流成分の変動量でもよいし、その他、両トラッキング信号の対応する点の変動量でもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】３つの光検出器の出力信号からトラッキングエラー信号の生成過程を説明するための図である。
【図２】本発明の実施形態における光ディスク装置の構成を示す図である。
【図３】トラッキングエラー信号生成回路におけるメインプッシュプル信号とサブプッシュプル信号との合成比αを調整する処理を示すフローチャートである。
【図４】中心値測定処理を示すサブルーチンのフローチャートである。
【図５】トラッキングエラー信号ＴＥの中心値の変動量を説明するための図である。
【図６】メインのプッシュプル信号とサブのプッシュプル信号との合成比αと、中心変動量Ｄとの関数をグラフで示す図である。
【符号の説明】
【００４７】
１０  メインスポット、  １２  先行スポット、  １４  後行スポット、  ２０  メインプッシュプル光検出器、  ２２  先行プッシュプル光検出器、  ２４  後行プッシュプル光検出器、  ５０  光ピックアップ、  ６０  制御部、  ６２  ＴＥ信号生成部、  ６４  中心値測定部、  ６６  α値演算部、  ６８  フィルタ、  ７０  スイッチ、  ８０  オフセット電圧印加部、  ８５  トラッキングエラー信号生成回路、  ９０  ドライバ、  １００  光ディスク装置。
【図１】
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【図２】
2006323913.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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