(57)【要約】【課題】  検査時間を短縮することができるアナログ電圧出力装置の検査装置、検査システム、および検査方法を提供する。【解決手段】  アナログ電圧出力装置の検査回路Ｗ１は、電圧選択指示の変更の前後でソースドライバ２１から出力される選択電圧ａの値を比較する比較器１４と、比較器１４による比較の結果と理想の比較結果とを比較することで、ソースドライバ２１から出力される選択電圧ａの値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられたか否かを判定する排他的論理和素子１７と、排他的論理和素子１７による判定の結果を記憶する判定結果記憶部１８と、「ソースドライバ２１から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」という判定結果が判定結果記憶部１８に一旦記憶されると、それ以降の判定結果記憶部１８への記憶を禁止する論理積素子１９とを備える。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電圧選択指示に応じて３種類以上の電圧から出力電圧を選択し出力するアナログ電圧出力装置を検査するための検査装置において、
電圧選択指示の変更の前後でアナログ電圧出力装置から出力された出力電圧の値を比較する比較回路と、
上記比較回路による比較の結果と理想の比較結果とを比較することで、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられたか否かを判定する判定部と、
上記判定部による判定の結果を記憶する判定結果記憶部と、
「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」という判定結果が判定結果記憶部に一旦記憶されると、それ以降の判定結果記憶部への記憶を禁止する記憶禁止部とを備えることを特徴とする検査装置。
【請求項２】
電圧選択指示の変更の前後にアナログ電圧出力装置に与えられた電圧選択指示に応じた理想の比較結果を上記判定部に出力する理想比較結果出力装置をさらに備えていることを特徴とする請求項１記載の検査装置。
【請求項３】
上記比較回路が、
アナログ電圧出力装置から出力された出力電圧の値を記憶するための第１記憶部および第２記憶部と、
アナログ電圧出力装置から出力された出力電圧の値を第１記憶部および第２記憶部の一方へ選択的に記憶させるものであって、電圧選択指示が変更される度に記憶を行わせる記憶部を切り替える切り替え部と、
第１記憶部に記憶された出力電圧の値と第２記憶部に記憶された出力電圧の値とを比較する比較器とを備えていることを特徴とする請求項１記載の検査装置。
【請求項４】
複数の電圧選択指示に応じて３種類以上の電圧から出力電圧をそれぞれ選択し、選択した出力電圧をそれぞれ複数の出力端子から出力するアナログ電圧出力装置を検査するための検査システムにおいて、
アナログ電圧出力装置の出力端子の一部から出力される全種類の出力電圧の値を測定し、測定された値が規定範囲内にあるか否かを検査する第１の検査装置と、第２の検査装置とを備え、
第２の検査装置は、
アナログ電圧出力装置の全ての出力端子のうち、少なくとも、第１の検査装置によって検査されない出力端子から出力された出力電圧の値を電圧選択指示の変更の前後で比較する比較回路と、
上記比較回路による比較の結果と理想の比較結果とを比較することで、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられたか否かを判定する判定部とを備えることを特徴とする検査システム。
【請求項５】
アナログ電圧出力装置の全ての出力端子のうち、少なくとも、第１の検査装置によって検査されない出力端子から出力される全種類の出力電圧の一部を測定し、測定された値が規定範囲内にあるか否かを検査する第３の検査装置をさらに備えることを特徴とする請求項４記載の検査システム。
【請求項６】
第２の検査装置は、
判定部による判定の結果を記憶する判定結果記憶部と、
「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」という判定結果が判定結果記憶部に一旦記憶されると、それ以降の判定結果記憶部への記憶を禁止する記憶禁止部とをさらに備えることを特徴とする請求項４または５に記載の検査システム。
【請求項７】
電圧選択指示に応じて出力電圧を選択し出力するアナログ電圧出力装置を検査する検査方法において、
電圧選択指示の変更の前後でアナログ電圧出力装置から出力された出力電圧の値を比較する比較ステップと、
上記比較ステップにおける比較の結果と理想の比較結果とを比較することで、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられたか否かを判定する判定ステップと、
上記判定ステップにおける判定の結果を記憶する記憶ステップとを含み、
上記記憶ステップでは、「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」という判定結果を一旦記憶すると、それ以降は判定結果の記憶を停止することを特徴とする検査方法。
【請求項８】
複数の電圧選択指示に応じて３種類以上の電圧から出力電圧をそれぞれ選択し、選択した出力電圧をそれぞれ複数の出力端子から出力するアナログ電圧出力装置を検査するための検査方法において、
アナログ電圧出力装置の出力端子の一部から出力される全種類の出力電圧の値を測定し、測定された値が規定範囲内にあるか否かを検査する第１の検査ステップと、第２の検査ステップとを含み、
第２の検査ステップは、
アナログ電圧出力装置の全ての出力端子のうち、少なくとも、第１の検査ステップで検査されない出力端子から出力された出力電圧の値を電圧選択指示の変更の前後で比較する比較ステップと、
上記比較回路による比較の結果と理想の比較結果とを比較することで、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられたか否かを判定する判定ステップとを含むことを特徴とする検査方法。
【請求項９】
アナログ電圧出力装置の全ての出力端子のうち、少なくとも、第１の検査ステップで検査されない出力端子から出力される全種類の出力電圧の一部を測定し、測定された値が規定範囲内にあるか否かを検査する第３の検査ステップをさらに含むことを特徴とする請求項８記載の検査方法。
【請求項１０】
上記第２のステップは、
上記判定ステップにおける判定の結果を記憶する記憶ステップをさらに含み、
上記記憶ステップでは、「アナログ電圧出力装置から出力される電圧値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」という判定結果を一旦記憶すると、それ以降は判定結果の記憶を停止することを特徴とする請求項８または９に記載の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、出力電圧を選択して出力するアナログ電圧出力装置、例えば液晶表示装置のソースドライバなどを検査するための検査装置、検査システム、および検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
テレビやパーソナル・コンピュータ用ディスプレイなどの表示部（表示用画面）として使用される液晶表示装置は、液晶画素（液晶セル）を行列状に並べた液晶パネルに、液晶画素を駆動するためのドライバ（駆動回路）を実装することで形成される。
【０００３】
ドライバは、液晶画素を選択するための走査信号を出力する走査信号出力回路と、選択された液晶画素に対して画像信号に応じたアナログのデータ信号（駆動電圧）を出力するデータ信号出力回路とを含む。最近では、液晶表示装置として、薄膜トランジスタ（以下、「ＴＦＴ」と略記する）をスイッチング素子として用いたＴＦＴ型液晶表示装置が一般的である。ＴＦＴ型液晶表示装置では、液晶画素を選択するためのＴＦＴが各液晶画素ごとに設けられ、ＴＦＴの導通を制御するゲート信号（走査信号）をＴＦＴのゲートに出力することで液晶画素を選択するゲートドライバが走査信号出力回路として設けられ、選択された液晶画素に対してソース信号線および導通状態のＴＦＴのソース−ドレインを介して駆動電圧を出力するソースドライバがデータ信号出力回路として設けられている。
【０００４】
ソースドライバは、複数のソース信号線にそれぞれ接続された複数の出力端子を備えている。ソースドライバは、各液晶画素で複数の階調を表現するために、各出力端子ごとに、予め定められた複数の異なる駆動電圧のうちから１つを選択して複数の液晶画素に出力するように設計される。選択可能な駆動電圧の数は、各液晶画素で表現される階調数に相当し、例えば、階調数が８ビットであれば６４個、階調数が１０ビットであれば２５６個である。
【０００５】
ソースドライバにおいて選択される複数の駆動電圧を検査する従来の方法としては、全ての出力端子について各々、選択可能な全ての駆動電圧値を電圧計で測定する方法が知られている（例えば、特許文献１および２の［従来の技術］の項参照）。
【０００６】
また、多階調のディジタル信号を連続するアナログ信号に変換して出力するＤＡ変換器の動作確認方法として、当該ＤＡ変換器のディジタル信号の入力端子に最小値から最大値へと段階的に変化する多階調のディジタル信号を入力した場合に、出力端子から出力されるアナログ信号が単調に増加しているか否かを調べることにより行う方法（以下、「従来の動作確認方法」と称する）が知られている（特許文献３の［従来の技術、及び、発明が解決しようとする課題］の項参照）。
【０００７】
また、特許文献３では、多階調のディジタル信号を多階調のアナログ信号に変換するＤＡ（Digital-to-Analog）変換器のテスト装置において、ＤＡ変換器に入力される多階調のディジタル信号のレベルの増減状態と、ＤＡ変換器から出力される多階調のアナログ信号のレベルの増減状態との一致／不一致を調べ、不一致の場合にＤＡ変換器の動作が異常であると判断するテスト装置の発明（以下、「特許文献３の発明」と称する）が提案されている（特許文献３の［従来の技術、及び、発明が解決しようとする課題］の項以外を参照）。
【０００８】
なお、出願人は、本願発明に関連する半導体集積回路の検査方法に関する特許出願（特願２００４−７９１４９号；２００４年３月１８日出願；未公開）を行っている。
【特許文献１】特開２００１−９９９００号公報（２００１年４月１３日公開；段落［０００３］［０００４］、図８、図９）
【特許文献２】特開２００３−３２２６７３号公報（２００３年１１月１４日公開；段落［００１５］〜［００２３］、図９）
【特許文献３】特開２００３−１３３９５５号公報（２００３年５月９日公開）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、特許文献１および２の従来技術の項に記載されているような従来の検査方法は、検査効率が低く、多大な検査時間を必要とする。すなわち、まず、電圧計が高価であることから、検査コストを抑えるためには、１〜４台の電圧計を用いて駆動電圧値を測定する必要があるが、ソースドライバの出力端子は、一般に、２００〜１０００個ほどと多い。そのため、上記の方法では、まず、電圧計をソースドライバの出力端子（駆動電圧出力端子）に接続し、その出力端子で選択可能な全ての駆動電圧（階調電圧）を測定した後、電圧計をソースドライバの隣接する出力端子に繋ぎ替えてその出力端子で選択可能な全ての駆動電圧（階調電圧）を再度測定し、さらにこの繋ぎ替えおよび測定処理を何度も繰り返す必要がある。このように、上記従来の検査方法では、ソースドライバにおける多数の出力端子からそれぞれ多数出力される、膨大な数の駆動電圧を少ない電圧計で少しずつ検査することになる。そのため、上記従来の検査方法は、検査効率が低く、多大な検査時間を必要とするので、大量生産されるソースドライバの検査には不向きであるという問題がある。
【００１０】
また、特許文献３に係る発明のテスト装置では、ＤＡ変換器の動作異常を検出するたびに、報知ランプを点灯して、ＤＡ変換器の異常を知らせている（特許文献３の［００２５］参照）。この構成では、ＤＡ変換器に入力される多階調のディジタル信号のレベルが比較的長い周期で増減する場合には、人の目でＤＡ変換器の異常を容易に確認することができる。しかしながら、ＤＡ変換器に入力される多階調のディジタル信号のレベルが非常に短い周期（例えば１０μ秒）で増減する場合には、人の目でＤＡ変換器の異常を確認することが困難である。そのため、特許文献３に係る発明のテスト装置は、ＤＡ変換器に入力される多階調のディジタル信号のレベルが比較的長い周期で増減することが必要であり、それゆえ、ＤＡ変換器の動作確認を短時間で行うことができない。
【００１１】
また、特許文献３に記載されている従来の動作確認方法でも、特許文献３に係る発明と同様にＤＡ変換器の動作異常を検出するたびに報知ランプを点灯させるた場合、ＤＡ変換器に入力する多階調のディジタル信号の変化周期を比較的長くすることが必要となる。それゆえ、ＤＡ変換器の動作確認を短時間で行うことができない。
【００１２】
本発明は、上記従来の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、検査時間を短縮することができるアナログ電圧出力装置の検査装置、検査システム、および検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の検査装置は、上記の課題を解決するために、電圧選択指示に応じて３種類以上の電圧から出力電圧を選択し出力するアナログ電圧出力装置を検査するための検査装置において、電圧選択指示の変更の前後でアナログ電圧出力装置から出力された出力電圧の値を比較する比較回路と、上記比較回路による比較の結果と理想の比較結果とを比較することで、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられたか否かを判定する判定部と、上記判定部による判定の結果を記憶する判定結果記憶部と、「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」という判定結果が判定結果記憶部に一旦記憶されると、それ以降の判定結果記憶部への記憶を禁止する記憶禁止部とを備えることを特徴としている。
【００１４】
上記アナログ電圧出力装置は、出力電圧の選択をアナログ電圧出力装置に指示する電圧選択指示、例えばアナログ電圧出力装置の外部（制御装置など）から伝達される選択制御信号に応じて、出力電圧を選択し出力するようになっている。
【００１５】
本発明の検査装置は、上記アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更（ある電圧選択指示が与えられた後でそれとは異なる電圧選択指示が与えられること）に応じて適切に切り替えられるか否か（アナログ電圧出力装置が電圧選択指示に応じて適切に出力電圧を選択するか否か）を検査するものである。
【００１６】
本発明の検査装置は、アナログ電圧出力装置で選択される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられたか否かを判定し、その判定の結果を記憶するために、比較回路、判定部、および判定結果記憶部を備えている。
【００１７】
本発明の検査装置では、上記比較回路が、電圧選択指示の変更の前後でアナログ電圧出力装置から出力された２つの出力電圧の値を比較し、その比較の結果を出力する。すなわち、上記比較回路は、電圧選択指示の変更前にアナログ電圧出力装置から出力され出力電圧の値と、電圧選択指示の変更後にアナログ電圧出力装置から出力された出力電圧の値とのいずれが高いかを判断し、その判断の結果を比較結果として出力するように構成されている。
【００１８】
上記判定部は、上記比較回路による比較の後に、電圧選択指示の変更の前後でアナログ電圧出力装置から出力されるべき理想的な出力電圧の値を比較した結果である理想の比較結果と、上記比較回路によって得られた出力電圧の値の比較結果とが同一であるか否かを、例えば排他的論理和素子を用いてこれら比較結果の排他的論理和を演算することによって判定する。そして、上記判定部は、両比較結果が同一であると判定した場合に、「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられる」と判定する。一方、判定部は、両比較結果が同一でないと判定した場合、「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」と判定する。
【００１９】
上記判定結果記憶部は、上記判定部による判定の結果を記憶する。すなわち、上記判定結果記憶部は、例えば、上記判定部の後段に設置された電圧保持部であり、上記判定部によって「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられる」と判定された場合には、その判定結果を初期値であるローレベル電圧として記憶し、上記判定部によって「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」と判定された場合には、その判定結果をハイレベル電圧として記憶する。
【００２０】
以上のようにして、本発明の検査装置は、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の絶対値を測定することなく、電圧選択指示の変更に応じて出力電圧を切り替えるアナログ電圧出力装置の機能が正常であるか否かを検査することができる。従って、本発明の検査装置では、アナログ電圧出力装置から出力される電圧の絶対値を測定する必要がないので、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の絶対値を測定することによって、電圧選択指示の変更に応じて出力電圧を切り替えるアナログ電圧出力装置の機能が正常であるか否かを検査する場合と比較して、検査時間を短縮することができる。
【００２１】
さらに、本発明の検査装置は、複数回の電圧選択指示の変更に応じて上記アナログ電圧出力装置から出力される電圧値が３段階以上で適切に切り替えられるか否かを判定するために、記憶禁止部を備えている。上記記憶禁止部は、「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」という判定結果が判定結果記憶部に一旦記憶されると、それ以降の判定結果記憶部への記憶を禁止する。したがって、上記判定結果記憶部は、「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」という判定結果を一旦記憶すると、それ以降、記憶動作を停止する。
【００２２】
これにより、複数回の電圧選択指示の変更を行いながら検査を行い、その検査中に「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」事象（電圧選択指示の変更の前後に出力された出力電圧の値の高低関係が不適切な事象）が発生した場合には、その時点で、「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」という不良の判定結果が判定結果記憶部に記憶され、それ以降は判定結果記憶部に上書き（書き直し）がなされない。従って、アナログ電圧出力装置の選択可能な全ての出力電圧に対応する複数の電圧選択指示を順次、アナログ電圧出力装置に与えて検査を行い、検査終了後、判定結果記憶部の記憶内容（電圧値など）を観測すれば、被測定対象であるアナログ電圧出力装置が全ての出力電圧切り替え動作を適切に行ったか否かを一度に確認することができる。したがって、電圧選択指示を非常に短い周期（例えば１０μ秒）で切り替えても、アナログ電圧出力装置が全ての出力電圧切り替え動作を適切に行ったかを装置使用者（本装置を使用して検査を行う検査員や、本装置を使用して測定を行う測定者など）が容易に確認することができる。それゆえ、特許文献３の検査装置と比較して、アナログ電圧出力装置の検査を短時間で行うことができる。
【００２３】
なお、「アナログ電圧出力装置で出力電圧が適切に選択された」とは、アナログ電圧出力装置で選択される出力電圧の値（高低）が、電圧選択指示の変更に応じて変化したということである。したがって、例えば、ある出力電圧の選択を指示する電圧選択指示（制御信号）が外部からアナログ電圧出力装置に伝達された後、より高い（より低い）出力電圧の選択を指示する電圧選択指示が外部からアナログ電圧出力装置に伝達された場合、判定部は、電圧選択指示の変更の前後で出力電圧値が上昇（下降）したことを「アナログ電圧出力装置で電圧値が適切に選択された」と判定するようになっている。
【００２４】
本発明の検査装置は、電圧選択指示の変更の前後にアナログ電圧出力装置に与えられた電圧選択指示に応じた理想の比較結果を上記判定部に出力する理想比較結果出力装置をさらに備えていることが好ましい。
【００２５】
これにより、上記判定部が、電圧選択指示の変更の前後でアナログ電圧出力装置から出力された出力電圧の値の高低関係にかかわらず、上記比較回路による比較の結果と理想の比較結果とを比較することで、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられたか否かを判定することが可能となる。したがって、アナログ電圧出力装置に複数の電圧選択指示を与える順序が自由になり、アナログ電圧出力装置に電圧選択指示を与える装置の制限が少なくなる。
【００２６】
また、本発明の検査装置は、上記比較回路が、アナログ電圧出力装置から出力された出力電圧の値を記憶するための第１記憶部および第２記憶部と、アナログ電圧出力装置から出力された出力電圧の値を第１記憶部および第２記憶部の一方へ選択的に記憶させるものであって、電圧選択指示が変更される度に記憶を行わせる記憶部を切り替える切り替え部と、第１記憶部に記憶された出力電圧の値と第２記憶部に記憶された出力電圧の値とを比較する比較器とを備えていることが好ましい。
【００２７】
これにより、サンプル−ホールド回路を用いた特許文献３の構成の検査装置と比較して、簡素な構成で検査装置を実現できる。
【００２８】
また、本発明の検査装置は、比較回路による比較の結果および理想の比較結果を表す２つの信号との間に差が無いか否かを毎時確認し、その確認結果を記憶する手段を備えていることが好ましい。
【００２９】
本発明に係る検査システムは、上記の課題を解決するために、複数の電圧選択指示に応じて３種類以上の電圧から出力電圧をそれぞれ選択し、選択した出力電圧をそれぞれ複数の出力端子から出力するアナログ電圧出力装置を検査するための検査システムにおいて、アナログ電圧出力装置の出力端子の一部から出力される全種類の出力電圧の値を測定し、測定された値が規定範囲内にあるか否かを検査する第１の検査装置と、第２の検査装置とを備え、第２の検査装置は、アナログ電圧出力装置の全ての出力端子のうち、少なくとも、第１の検査装置によって検査されない出力端子から出力された出力電圧の値を電圧選択指示の変更の前後で比較する比較回路と、上記比較回路による比較の結果と理想の比較結果とを比較することで、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられたか否かを判定する判定部とを備えることを特徴としている。
【００３０】
第２の検査装置（例えば、本発明に係る検査装置）は、アナログ電圧出力装置から出力される複数の出力電圧（選択電圧）の切り替え動作を確認する検査装置であるので、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の絶対値が正常であるか否かを検査することはできない。そのため、第２の検査装置の内部あるいは外部に、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の絶対値を測定する電圧計などの測定手段を備え、この測定手段により、アナログ電圧出力装置の一部の出力端子から出力される全種類の出力電圧（選択電圧として選択可能な電圧として予め準備されている電圧の全て）の絶対値を測定する。そして、第１の検査装置は、この一部の出力端子に関し、測定手段によって測定された出力電圧の絶対値が規定範囲内にあるか否かを判定することで、アナログ電圧出力装置から出力される全種類の出力電圧の絶対値が正常値（規定範囲内の値である）であるか否かを検査する。
【００３１】
この構成では、複数のアナログ電圧出力装置が備える出力端子の一部について第１の検査装置を用いた精密な検査を行うこととなる。従って、第２の検査装置を用いた検査と併用することで、検査精度を向上させることができる。また、複数のアナログ電圧出力装置が備える出力端子の全てについて全種類の出力電圧の絶対値を検査する精密な検査を行う必要がないので、検査時間を短縮することができる。
【００３２】
なお、アナログ電圧出力装置の一部の出力端子については、アナログ電圧出力装置が適切に出力電圧を選択しているか否かを第１の検査装置によって判定することができる。そのため、第２の検査装置による検査は、アナログ電圧出力装置の全ての出力端子に対して行ってもよいが、アナログ電圧出力装置の全ての出力端子のうち第１の検査装置で検査される出力端子を除いたもの（第１の検査装置で検査されない出力端子）についてのみ行えば十分である。
【００３３】
本発明の検査システムは、アナログ電圧出力装置の全ての出力端子のうち、少なくとも、第１の検査装置によって検査されない出力端子から出力される全種類の出力電圧の一部を測定し、測定された値が規定範囲内にあるか否かを検査する第３の検査装置をさらに備えることが好ましい。
【００３４】
第３の検査装置では、全ての出力端子の各々について、全種類の出力電圧のうち、一部の出力電圧を、第２の検査装置の内部もしくは外部に設けた電圧計などの測定手段を用いて測定し、測定された値が規定範囲内にあるか否かを検査する。この検査により、全ての出力端子の各々について全種類の出力電圧の絶対値を検査することなく、全出力端子間での出力電圧のずれ（出力端子による出力電圧の変動）があるか否かを検査できる。したがって、検査時間の増大を抑制しながら、精度の高い検査を行うことができる。
【００３５】
このような出力端子による出力電圧の変動を検査する必要があるのは、以下の理由からである。すなわち、一般に、アナログ電圧出力装置における、出力端子と電圧選択回路との間には、一倍増幅器等のような電圧変動の要因となる要素が搭載されることが多く、そのためにアナログ電圧出力装置の出力電圧が出力端子によって変動する場合があるからである。例えば、アナログ電圧出力装置における出力端子と電圧選択回路との間に一倍増幅器がそれぞれ搭載された場合、一倍増幅器間でのオフセット電圧の相違や増幅率の相違により、出力端子間での出力電圧の相違が生じる場合がある。
【００３６】
上記出力電圧は、出力端子による出力電圧の変動量を確認できるように選べばよいが、最大値および最小値とすることが、検査時間の短縮および検査精度の向上の点で好ましい。
【００３７】
なお、アナログ電圧出力装置の一部の出力端子については、出力電圧の最大値および最小値が適切であるか否かを第１の検査装置によって判定することができる。そのため、第３の検査装置による検査は、アナログ電圧出力装置の全ての出力端子に対して行ってもよいが、アナログ電圧出力装置の全ての出力端子のうち第１の検査装置で検査される出力端子を除いたもの（第１の検査装置で検査されない出力端子）についてのみ行えば十分である。
【００３８】
本発明の検査システムにおいて、第２の検査装置は、判定部による判定の結果を記憶する判定結果記憶部と、「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」という判定結果が判定結果記憶部に一旦記憶されると、それ以降の判定結果記憶部への記憶を禁止する記憶禁止部とをさらに備えることが好ましい。
【００３９】
これにより、検査中に「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」事象が発生した場合には、それ以降は記憶内容が上書きされない。それゆえ、アナログ電圧出力装置が全ての出力電圧切り替え動作を適切に行ったか否かを一度に確認することができる。したがって、電圧選択指示を非常に短い周期（例えば１０μ秒）で切り替えても、アナログ電圧出力装置が全ての出力電圧切り替え動作を適切に行ったかを装置使用者が容易に確認することができる。それゆえ、検査時間を短縮できる。
【００４０】
なお、第２の検査装置による検査時間は非常に短いので、第２の検査装置が判定結果記憶部および記憶禁止部を備えていない場合においても、従来の検査システムと比較して短い時間で検査を行うことができる。
【００４１】
本発明の検査方法は、上記の課題を解決するために、電圧選択指示に応じて出力電圧を選択し出力するアナログ電圧出力装置を検査する検査方法において、電圧選択指示の変更の前後でアナログ電圧出力装置から出力された出力電圧の値を比較する比較ステップと、上記比較ステップにおける比較の結果と理想の比較結果とを比較することで、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられたか否かを判定する判定ステップと、上記判定ステップにおける判定の結果を記憶する記憶ステップとを含み、上記記憶ステップでは、「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」という判定結果を一旦記憶すると、それ以降は判定結果の記憶を停止することを特徴としている。
【００４２】
上記方法では、電圧値の変化に応じてアナログ電圧出力装置が適切に動作しているか否かを判断するため、電圧値の絶対値を測定することでアナログ電圧出力装置が適切に動作しているかを検査する場合と比較して、検査時間を短縮できる。さらに、検査中に「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」事象が発生した場合には、それ以降は記憶を停止するので、アナログ電圧出力装置が全ての出力電圧切り替え動作を適切に行ったか否かを一度に確認することができる。したがって、電圧選択指示を非常に短い周期（例えば１０μ秒）で切り替えても、アナログ電圧出力装置が全ての出力電圧切り替え動作を適切に行ったかを装置使用者が容易に確認することができる。それゆえ、検査時間を短縮できる。
【００４３】
本発明の検査方法は、上記の課題を解決するために、複数の電圧選択指示に応じて３種類以上の電圧から出力電圧をそれぞれ選択し、選択した出力電圧をそれぞれ複数の出力端子から出力するアナログ電圧出力装置を検査するための検査方法において、アナログ電圧出力装置の出力端子の一部から出力される全種類の出力電圧の値を測定し、測定された値が規定範囲内にあるか否かを検査する第１の検査ステップと、第２の検査ステップとを含み、第２の検査ステップは、アナログ電圧出力装置の全ての出力端子のうち、少なくとも、第１の検査ステップで検査されない出力端子から出力された出力電圧の値を電圧選択指示の変更の前後で比較する比較ステップと、上記比較回路による比較の結果と理想の比較結果とを比較することで、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられたか否かを判定する判定ステップとを含むことを特徴としている。
【００４４】
上記方法によれば、複数のアナログ電圧出力装置が備える出力端子の全てについて全種類の出力電圧の絶対値を検査することなく、精密な検査を行うことができる。それゆえ、電圧値の絶対値を測定する数量が減少し、精密な検査を行うための検査時間を短縮できる。
【００４５】
本発明の検査方法は、アナログ電圧出力装置の全ての出力端子のうち、少なくとも、第１の検査ステップで検査されない出力端子から出力される全種類の出力電圧の一部を測定し、測定された値が規定範囲内にあるか否かを検査する第３の検査ステップをさらに含むことが好ましい。
【００４６】
上記方法によれば、複数のアナログ電圧出力装置が備える出力端子の全てについて全種類の出力電圧の絶対値を検査することなく、出力端子による出力電圧の変動を検査することができる。それゆえ、電圧値の絶対値を測定する数量が減少し、出力端子による出力電圧の変動を検査するための検査時間を短縮できる。
【００４７】
本発明の検査方法は、上記第２のステップが、上記判定ステップにおける判定の結果を記憶する記憶ステップをさらに含み、上記記憶ステップでは、「アナログ電圧出力装置から出力される電圧値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」という判定結果を一旦記憶すると、それ以降は判定結果の記憶を停止する方法であることが好ましい。
【００４８】
これにより、検査中に「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」事象が発生した場合には、それ以降は記憶内容が上書きされない。それゆえ、アナログ電圧出力装置が全ての出力電圧切り替え動作を適切に行ったか否かを一度に確認することができる。したがって、電圧選択指示を非常に短い周期（例えば１０μ秒）で切り替えても、アナログ電圧出力装置が全ての出力電圧切り替え動作を適切に行ったかを装置使用者が容易に確認することができる。それゆえ、検査時間を短縮できる。
【発明の効果】
【００４９】
以上のように、本発明の検査装置および検査方法は、記憶禁止部を備えていることで、検査中に「アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられない」事象が発生した場合には、それ以降は記憶内容が上書きされない。それゆえ、アナログ電圧出力装置が全ての出力電圧切り替え動作を適切に行ったか否かを一度に確認することができる。したがって、電圧選択指示を非常に短い周期（例えば１０μ秒）で切り替えても、アナログ電圧出力装置が全ての出力電圧切り替え動作を適切に行ったかを装置使用者が容易に確認することができる。それゆえ、本発明の検査装置および検査方法は、検査時間を短縮できるという効果を奏する。
【００５０】
また、本発明の検査システムおよび検査方法は、以上のように、アナログ電圧出力装置の出力端子の一部から出力される全種類の出力電圧の値を測定し、測定された値が規定範囲内にあるか否かを検査する第１の検査と、アナログ電圧出力装置の全ての出力端子のうち、少なくとも、第１の検査装置によって検査されない出力端子から出力された出力電圧の値を電圧選択指示の変更の前後で比較し、その比較結果と理想の比較結果とを比較することで、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の値が電圧選択指示の変更に応じて適切に切り替えられたか否かを判定する第２の検査とを行うようになっている。
【００５１】
これにより、複数のアナログ電圧出力装置が備える出力端子の全てについて全種類の出力電圧の絶対値を検査することなく、精密な検査を行うことができる。それゆえ、本発明の検査システムおよび検査方法は、精密な検査を行うための検査時間を短縮できるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５２】
本発明の一実施形態について図１ないし図５に基づいて以下に説明する。
【００５３】
本実施の形態に係る検査装置は、「液晶表示装置におけるソースドライバから、適切な駆動電圧（選択電圧）が出力されているか否か」を検査するものである。
【００５４】
まず、本実施の形態に係る検査装置、本実施の形態に係る検査装置の検査対象であるアナログ電圧出力装置としてのソースドライバ、および本実施の形態に係る検査装置での検査結果を観測（確認）する外部装置の構成について説明する。本実施の形態に係る検査システムは、検査装置および外部装置で構成される。
【００５５】
ソースドライバは、ＴＦＴ型液晶表示装置の構成要素である。ＴＦＴ型液晶表示装置は、図示しないが、ソースドライバ以外に、マトリクス状に配列された複数の液晶画素、これら液晶画素を選択するための各液晶画素ごとに設けられたＴＦＴ、ＴＦＴのゲートに接続されたゲート信号線、およびＴＦＴのソースに接続されたソース信号線を含む液晶パネルと、ＴＦＴの導通を制御するゲート信号をゲート信号線に出力するゲートドライバ、ソースドライバおよびゲートドライバへ各種信号を供給するコントローラとを備えている。ソースドライバは、液晶パネルのソース信号線へ駆動電圧を出力することで液晶パネルを駆動するものである。本実施の形態では、ソースドライバは、ＬＳＩ（半導体集積回路）である。
【００５６】
図５を参照して、検査対象としてのソースドライバの概略構成について説明する。
【００５７】
同図に示すように、ソースドライバ２１には、スタートパルス信号（ＳＰ）、クロック信号（ＣＫ）、ラッチストローブ信号（ＬＳ）、赤，緑，青のデジタル表示データ（ＤＲ・ＤＧ・ＤＢ）、および電源電圧、調整用中間電圧が入力される。ここで、入力される赤，緑，青デジタル表示データの各々が６ビットの場合は、液晶パネル（図示しない）において６４階調の表示が可能になり、該表示データが８ビットの場合は２５６階調の表示が可能になり、該表示データが１０ビットの場合は１０２４階調の表示が可能になる。
【００５８】
図５において、赤，緑，青のデジタル表示データは、液晶表示装置のコントロール回路（図示しない）またはテスト信号発生装置から転送されてくるものであり、一旦、ラッチ回路９１でラッチされる。一方、赤，緑，青デジタル表示データの転送を制御するためのスタートパルス信号は、シフトレジスタ９２に入力し、クロック信号に同期をとり、サンプリングメモリ８３へ出力される。
【００５９】
このシフトレジスタ９２からの出力信号に同期して、先のラッチ回路９１にてラッチされた赤，緑，青デジタル表示データは、時分割でサンプリングメモリ９３内に一旦記憶されると共に、次のホールドメモリ９４に出力される。
【００６０】
画面の水平ラインの画素に対応する赤，緑，青デジタル表示データがサンプリングメモリ９３に記憶されると、ホールドメモリ９４は、ラッチストローブ信号（水平同期信号）に基づいてサンプリングメモリ９３からの出力信号を取り込み、次のレベルシフタ９５に出力すると共に、次のラッチストローブ信号が入力されるまでその表示データを維持する。
【００６１】
レベルシフタ９５は、液晶パネル（図示しない）への印加電圧レベルを処理する次段のＤＡ変換器ユニット９６に適合させるため、表示データの信号レベルを昇圧等により変換する回路である。
【００６２】
基準電圧発生回路９８は、図示しない液晶駆動電源から入力される電源電圧、調整用中間電圧に基づき、ｍ（ｍは階調数を表す３以上の整数）個の階調レベルに応じたｍ個の階調電圧（アナログ電圧）Ｖ１，Ｖ２，…，Ｖｍを発生させ、ＤＡ変換器ユニット９６に出力する回路である。
【００６３】
ＤＡ変換器ユニット９６は、以下に述べる各出力端子Ｙ１〜Ｙｎ（ｎは２以上の整数）の各々に１対１で対応するｎ個のＤＡ変換器Ｈ１〜Ｈｎ（図１参照）を備えている。ＤＡ変換器（ＤＡＣ）Ｈ１〜Ｈｎは各々、基準電圧発生回路９８から供給されるｍ種類の階調電圧（アナログ電圧）Ｖ１〜Ｖｍを受け取り、これら階調電圧から、レベルシフタ９５にてレベル変換された赤，緑，青デジタル表示データの示す階調レベルに応じた階調電圧を選択する。ここで、選択された階調電圧は、オペアンプユニット９７およびｎ個の出力端子Ｓ１〜Ｓｎを介して、液晶パネルのｎ本のソース信号線（液晶系出力）に出力される。以下、ＤＡ変換器ユニット９６で選択される階調電圧を「選択電圧」と呼ぶ。
【００６４】
オペアンプユニット９７は、ＤＡ変換器Ｈ１〜Ｈｎの各々に１対１で対応するオペアンプを複数構成するユニットである。各オペアンプは、低インピーダンス変換するためのバッファ回路であり、例えば差動増幅回路を用いたボルテージフォロワ回路で構成されるものである。
【００６５】
つまり、以上の構成において、ソースドライバ２１には、液晶パネルの各ソース信号線の数に対応してｎ個の出力端子Ｙ１〜Ｙｎが備えられている。そして、各ＤＡ変換器Ｈ１〜Ｈｎによって選択された階調電圧（選択電圧）は、ＤＡ変換器Ｈ１〜Ｈｎの各々に対応するｎ個のオペアンプを介して、ＤＡ変換器Ｈ１〜Ｈｎの各々に対応する出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される。
【００６６】
また、ソースドライバ２１による液晶パネルの駆動方式は、一般的に、隣接するドットごとに極性を反転させる（ＶＨ側レベルの極性とＶＬ側レベルの極性とを反転させる）ドット反転駆動方式と、同一階調レベルを選択した時には同じ階調電圧を出力するライン反転駆動方式の２つに大別される。本実施の形態では、ソースドライバ２１がドット反転駆動方式を採用しているものとして説明するが、ドット反転駆動方式に限定されるものではなく、ライン反転駆動方式を採用したものでも構わない。なお、上述した「極性を反転させる」とは、液晶パネル（図示しない）における液晶系の極性（画素電極に対する液晶分子の極性）を反転させることを意味する。
【００６７】
図５には示していないが、ソースドライバ２１は、基準クロック信号（基本クロック信号）ＬＳ１がソースドライバ２１外部から入力される基準クロック信号入力端子を備えている。ソースドライバ２１のＤＡ変換器Ｈ１〜Ｈｎは、基準クロック信号ＬＳ１のパルス（電圧レベルがＨｉｇｈレベルの部分）の立ち上がりに同期してＤＡ変換を開始し、選択電圧を出力する。
【００６８】
図１は、本実施の形態に係る検査装置、ソースドライバ２１、および検査装置での検査結果を観測（確認）する外部装置の構成を示すブロック図である（図１において、一点鎖線で囲んだ部分が本検査装置である）。
【００６９】
図１に示すように、本実施の形態に係る検査装置（第２の検査装置）１１（図１において一点鎖線で囲んだ部分）は、ソースドライバ２１および外部装置３１に接続されている。
【００７０】
これら３つのブロック、すなわち、検査装置１１、ソースドライバ２１、および外部装置３１の構成を図１に基づいて説明する。
【００７１】
ソースドライバ２１は、前述したように、外部からの電圧選択指示（図５における赤，緑，青のデジタル表示データＤＲ・ＤＧ・ＤＢ）に従った選択電圧（駆動電圧）を出力するための出力端子Ｓ１〜Ｓｎと、ＤＡ変換器Ｈ１〜Ｈｎと、基準クロック信号ＬＳ１が入力される基準クロック入力端子ＤＡ１とを備えている。
【００７２】
検査装置１１は、測定対象であるソースドライバ２１の選択電圧がそれぞれ入力されるｎ個の選択電圧入力端子Ｔ１〜Ｔｎと、選択電圧入力端子Ｔ１〜Ｔｎに入力された選択電圧がそれぞれ入力され、判定結果信号（後述する）をそれぞれ出力する（検査モード（テストモード）が切り替え判定モードであるとき）ためのｎ個の検査回路（電圧選択機能判定回路）Ｗ１〜Ｗｎと、検査回路Ｗ１〜Ｗｎから出力された判定結果信号をそれぞれ検査装置１１外部へ出力する（検査モードが切り替え判定モードであるとき）ためのｎ個の検査結果出力端子Ｕ１〜Ｕｎと、検査回路Ｗ１〜Ｗｎに共通して理想比較結果（基準用比較結果）信号（後述する）を含む信号群を出力するための理想比較結果出力装置１５と、基準クロック信号ＬＳ１（ＤＡ変換開始信号）を検査装置１１外部から理想比較結果出力装置１５に入力するための基準クロック入力端子ＲＩＮと、図示しない自動リセット回路（後述する）とを備えている。なお、検査回路Ｗ１〜Ｗｎは、後述するように、検査モードが絶対値判定モードであるときには、判定結果信号に代えて選択電圧を出力する。したがって、検査モードが絶対値判定モードであるときには、判定結果信号に代えて選択電圧が検査結果出力端子Ｕ１〜Ｕｎから検査装置１１外部へ出力される。
【００７３】
外部装置３１は、ｎ個の判定結果信号がそれぞれ入力されるｎ個の検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎと、基準クロック信号ＬＳ１（ＤＡ変換開始信号）を発生するクロック発生器３１ａと、基準クロック信号ＬＳ１（ＤＡ変換開始信号）を外部装置３１外部へ出力するための基準クロック出力端子ＣＨＳと、スイッチＳＴ１〜ＳＴｎと、コンパレータ３２と、電圧計３３と、判定部３４とを備えている。
【００７４】
スイッチＳＴ１〜ＳＴｎは、検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎの各々とコンパレータ３２との接続／非接続を切り替えると共に、検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎの各々と電圧計３３との接続／非接続を切り替えるためのものである。スイッチＳＴ１〜ＳＴｎは、検査モードが切り替え判定モードであるときには、検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎの各々とコンパレータ３２とを接続し、検査装置１１から出力されたｎ個の判定結果信号をコンパレータ３２へ入力させる。スイッチＳＴ１〜ＳＴｎは、検査モードが絶対値判定モードであり、かつ、全出力端子検査ステップ（後述する）を実行するときには、検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎの各々とコンパレータ３２とを接続し、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎから検査装置１１を介して供給された選択電圧を電圧計３３へ入力させる。スイッチＳＴ１〜ＳＴｎは、検査モードが絶対値判定モードであり、かつ、全選択電圧検査ステップ（後述する）を実行するときには、検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎの一部とコンパレータ３２とを接続し、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎの１つから検査装置１１を介して供給された選択電圧を電圧計３３へ入力させる。
【００７５】
コンパレータ３２は、検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎを介して入力されたｎ個の判定結果信号が全て正常を示す電圧レベル（ローレベル）であるか否かを判定し、その結果を示す信号、すなわち、ｎ個の判定結果信号が全て正常を示す電圧レベル（ローレベル）であることを示す信号、あるいは、ｎ個の判定結果信号の何れかが異常を示す電圧レベル（ハイレベル）であることを示す信号を検査結果信号として出力するようになっている。
【００７６】
ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力された選択電圧の絶対値を検査する検査装置（第１検査装置、第３検査装置）を構成するものである。電圧計３３は、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎから検査装置１１を介して検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎに入力された選択電圧の絶対値を測定するためのものである。判定部３４は、電圧計３３で測定された測定値が規定範囲内にあるかを判定し、判定結果を検査結果として外部装置３１の外部に出力するものである。なお、検査モードが絶対値検査モードであるときには、判定結果信号に代えて選択電圧が検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎに入力される。
【００７７】
これら３つのブロック、すなわち、検査装置１１、ソースドライバ２１、および外部装置３１の間の接続を図１に基づいて説明する。
【００７８】
図１に示す状態では、検査装置１１の選択電圧入力端子Ｔ１〜Ｔｎは、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎにそれぞれ接続されており、これにより検査装置１１が測定対象であるソースドライバ２１の選択電圧を受け取ることができるようになっている。
【００７９】
また、図１に示す状態では、検査装置１１の検査結果出力端子Ｕ１〜Ｕｎは、外部装置３１の検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎにそれぞれ接続されており、これにより、外部装置３１が、検査装置１１によるソースドライバ２１の選択動作の検査結果を確認できるようになっている。
【００８０】
また、図１に示す状態では、外部装置３１の基準クロック出力端子ＣＨＳは、検査装置１１の基準クロック入力端子ＲＩＮおよびソースドライバ２１の基準クロック入力端子ＤＡ１に接続されており、これにより、外部装置３１から検査装置１１およびソースドライバ２１へ基準クロック信号ＬＳ１が供給されるようになっている。基準クロック信号ＬＳ１は、測定対象のソースドライバ２１の出力電圧選択後に選択された出力電圧をソースドライバ２１に出力させるためのＤＡ変換開始信号である。また、基準クロック信号ＬＳ１は、検査装置１１内の理想比較結果出力装置（図示しない；図２参照）にも入力されている。
【００８１】
検査装置１１の構成を図２に基づいて詳細に説明する。図２は、検査装置１１における検査回路Ｗ１〜Ｗｎおよびそれに関わる部分の構成を示すブロック図である。ここでは、検査回路Ｗ１〜Ｗｎのうち１つの検査回路Ｗ１に関わる構成について説明する。なお、他の検査回路Ｗ２〜Ｗｎも検査回路Ｗ１と同様の構成を備えている。
【００８２】
検査回路Ｗ１は、図２に示すように、入力端子Ｔ１と、選択電圧バイパス回路Ｋ１と、第１スイッチ（切り替え部の一部、比較回路の一部）１２１および第１記憶用コンデンサ（第１記憶部、比較回路の一部）１２２からなる第１記憶部１２と、第２スイッチ（切り替え部の一部、比較回路の一部）１３１および第２記憶用コンデンサ（第２記憶部、比較回路の一部）１３２からなる第２記憶部１３と、比較器（比較回路の一部）１４と、判定部としての排他的論理和素子（ＥＸＣＬＵＳＩＶＥ−ＯＲゲート）１７と、判定結果記憶部１８と、記憶禁止部としての論理積素子（ＡＮＤゲート）１９と、選択電圧バイパス回路Ｋ２と、出力端子２０とを備えている。
【００８３】
入力端子Ｔ１は、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１に接続され、この出力端子Ｓ１から出力される選択電圧を受け取るものである。
【００８４】
選択電圧バイパス回路Ｋ１は、後述する理想比較結果出力回路１５から供給された選択電圧バイパス切替信号ｐに応じて、入力端子Ｔ１に入力された選択電圧の出力先を切り替えるものである。選択電圧バイパス切替信号ｐは、検査モードが切り替え判定モードであるか絶対値判定モードであるかを２値で表す信号である。選択電圧バイパス回路Ｋ１は、選択電圧バイパス切替信号ｐが切り替え判定モードに対応する電圧レベル（ハイレベルまたはローレベル）であるときには、入力端子Ｔ１に入力された選択電圧を選択電圧ａとして第１スイッチ１２１に出力する一方、選択電圧バイパス切替信号ｐが絶対値判定モードに対応する電圧レベル（ローレベルまたはハイレベル）であるときには、入力端子Ｔ１に入力された選択電圧を選択電圧バイパス回路ｏを介して選択電圧バイパス回路Ｋ２に出力する。
【００８５】
第１記憶用スイッチ１２１および第２記憶用スイッチ１３１は、選択電圧バイパス回路Ｋ１と第１記憶用コンデンサ１２２および第２記憶用コンデンサ１３２との接続を断続するものである。第１記憶用スイッチ１２１および第２記憶用スイッチ１３１の制御端子にはそれぞれ、電圧記憶用信号（命令）である第１記憶部用記憶命令信号ｄおよび第２記憶部用記憶命令信号ｅが理想比較結果出力回路１５から入力される。第１記憶用スイッチ１２１および第２記憶用スイッチ１３１は、それぞれの制御端子に入力される第１記憶部用記憶命令信号ｄおよび第２記憶部用記憶命令信号ｅによってＯＮ／ＯＦＦ状態がそれぞれ制御される。第１記憶用スイッチ１２１および第２記憶用スイッチ１３１はそれぞれ、対応する記憶命令信号（ｄまたはｅ）がハイレベルであるときに導通状態（ＯＮ状態）となり、対応する記憶命令信号（ｄまたはｅ）がローレベルであるときに非導通状態（ＯＦＦ状態）となる。
【００８６】
第１記憶用コンデンサ１２２および第２記憶用コンデンサ１３２は、選択電圧バイパス回路Ｋ１と接続されたときに、選択電圧バイパス回路Ｋ１から出力される選択電圧ａを記憶（保持）するものである。したがって、選択電圧バイパス回路Ｋ１から出力される選択電圧ａは、第１記憶部用記憶命令信号ｄがハイレベルであるときに第１記憶用コンデンサ１２２に記憶され、第２記憶部用記憶命令信号ｅがハイレベルであるときに第２記憶用コンデンサ１３２に記憶される。言い換えると、第１記憶部１２は、第１記憶部用記憶命令信号ｄがハイレベルであるときに選択電圧バイパス回路Ｋ１から出力される選択電圧ａの値を記憶し、第２記憶部１３は、第２記憶部用記憶命令信号ｅがハイレベルであるときに選択電圧バイパス回路Ｋ１から出力される選択電圧ａの値を記憶するようになっている。
【００８７】
第１記憶部用記憶命令信号ｄおよび第２記憶部用記憶命令信号ｅは、同じ電圧選択指示がソースドライバ２１に与えられている１つの期間には、いずれか一方が選択的に一部期間ハイレベルとなり、他方は常にローレベルとなる。また、電圧選択指示の変更がある度に、ハイレベルとなる信号（第１記憶部用記憶命令信号ｄまたは第２記憶部用記憶命令信号ｅ）が変わるようになっている。したがって、第１記憶用スイッチ１２１、第２記憶用スイッチ１３１、および理想比較結果出力回路１５は、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１から出力された選択電圧ａの値を第１記憶用コンデンサ１２２および第２記憶用コンデンサ１３２の一方へ選択的に記憶させ、かつ、電圧選択指示が変更される度に記憶を行わせるコンデンサ（第１記憶用コンデンサ１２２または第２記憶用コンデンサ１３２）を切り替えるようになっている。ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１から出力された選択電圧ａの値は、電圧選択指示がある度に、第１記憶用コンデンサ１２２および第２記憶用コンデンサ１３２の何れかに交互に記憶される。それゆえ、例えば、１個目の電圧選択指示がソースドライバ２１に与えられたときに選択電圧ａの値が第１記憶用コンデンサ１２２に記憶されるとすれば、奇数個目の電圧選択指示がソースドライバ２１に与えられたときに選択電圧ａの値が第１記憶用コンデンサ１２２に記憶され、偶数個目の電圧選択指示がソースドライバ２１に与えられたときに選択電圧ａの値が第２記憶用コンデンサ１３２に記憶される。したがって、奇数個目の電圧選択指示から偶数個目の電圧選択指示への変更の後には、その変更の前および後にソースドライバ２１から出力された選択電圧ａの値がそれぞれ第１記憶用コンデンサ１２２および第２記憶用コンデンサ１３２に記憶されているる。また、偶数個目の電圧選択指示から奇数個目の電圧選択指示への変更の後には、その変更の前および後にソースドライバ２１から出力された選択電圧ａの値がそれぞれ第２記憶用コンデンサ１３２および第１記憶用コンデンサ１２２に記憶されている。すなわち、第１記憶用コンデンサ１２２および第２記憶用コンデンサ１３２には、電圧選択指示の変更の前後でソースドライバ２１から出力された選択電圧ａの値が記憶される。
【００８８】
比較器１４は、プラス出力端子およびマイナス出力端子の２つの出力端子を備える差動増幅器である。プラス出力端子には、第１記憶用コンデンサ１２２に記憶されている電圧（第１記憶部出力信号）ｆが入力され、マイナス出力端子には、第２記憶用コンデンサ１３２に記憶されている電圧（第２記憶部出力信号）ｇが入力される。そして、これらの電圧の値、すなわち電圧選択指示の変更の前後でソースドライバ２１から出力された選択電圧ａの値を比較して、比較結果を２値の電圧レベルで示す比較結果信号ｈを排他的論理和素子１７に出力するものである。すなわち、比較器１４の出力端からは、第１記憶部１２の記憶用コンデンサ１２２に蓄えられている（記憶）電圧値Ｖｓ１、および、第２記憶部１３の記憶用コンデンサ１３２に蓄えられている（記憶）電圧値Ｖｓ２のいずれが高い（低い）かが２値で表現された比較結果信号ｈが出力される。より詳細には、比較器１４は、第１記憶用コンデンサ１２２の記憶電圧値Ｖｓ１が第２記憶用コンデンサ１３２の記憶電圧値Ｖｓ２より高い（Ｖｓ１＞Ｖｓ２）場合にはハイレベルの比較結果信号ｈを出力する一方、第２記憶用コンデンサ１３２の記憶電圧値Ｖｓ２が第１記憶用コンデンサ１２２の記憶電圧値Ｖｓ１より高い場合にはローレベルの比較結果信号ｈを出力するようになっている。
【００８９】
排他的論理和素子１７は、比較器１４から入力される比較結果信号ｈと、理想比較結果出力回路１５から入力される理想比較結果信号ｉとの排他的論理和を出力する。すなわち、排他的論理和素子１７は、比較結果信号ｈおよび理想比較結果信号ｉの一方がハイレベルであり、他方がローレベルである場合には、ハイレベルの排他的論理和信号ｊを出力する。一方、排他的論理和素子１７は、比較結果信号ｈおよび理想比較結果信号ｉの両方がハイレベルまたはローレベルである場合には、ローレベルの排他的論理和信号ｊを出力する。理想比較結果信号ｉは、電圧選択指示の変更の前後でソースドライバ２１から出力されるべき出力電圧を比較した結果である、理想の比較結果を示す。すなわち、理想比較結果信号ｉは、ソースドライバ２１の出力電圧切り替えが正常である場合に比較器１４から出力される比較結果信号ｈである。そのため、排他的論理和素子１７は、比較器１４による比較結果が理想（正常）の比較結果である場合にはローレベルの排他的論理和信号ｊを出力し、そうでない場合にはハイレベルの排他的論理和信号ｊを出力する。したがって、排他的論理和信号ｊは、ソースドライバ２１の出力電圧切り替えが正常であるか異常であるかを、正常をローレベル、異常をハイレベルとして示す。
【００９０】
なお、比較結果信号ｈおよび理想比較結果信号ｉの少なくとも一方についてハイレベルとローレベルとを入れ替えてもよい。このような入れ替えを比較結果信号ｈおよび理想比較結果信号ｉの一方について行った場合、排他的論理和信号ｊもハイレベルとローレベルとが入れ替わることになるので、それに応じた変更を加える必要がある。このような変更としては、例えば、排他的論理和素子１７と判定結果記憶部１８との間にインバータを挿入することが考えられる。
【００９１】
判定結果記憶部１８は、Ｄフリップフロップであり、論理積素子１９から検査結果採取用信号ｍが入力されるクロック信号端子Ｃｌｏｃｋと、自動リセット回路１６からリセット信号が入力されるリセット入力端子Ｒｅｓｅｔと、排他的論理和素子１７から出力された排他的論理和信号ｊが入力されるデータ信号入力端子Ｄと、判定結果信号ｎを出力する出力端子Ｑと、および判定結果反転信号ｌを出力する反転出力端子／Ｑとを備えている。判定結果記憶部１８は、論理積素子１９から出力される検査結果採取用信号ｍがローレベルからハイレベルに変化した時に、データ信号入力端子Ｄに入力された排他的論理和信号ｊを記憶するようになっている。言い換えると、判定結果記憶部１８は、検査結果採取用信号ｍがローレベルからハイレベルに変化した時に、排他的論理和信号ｊを採取（サンプリング）するようになっている。また、判定結果記憶部１８は、記憶した内容、すなわち検査結果採取用信号ｍがローレベルからハイレベルに変化した時に採取した排他的論理和信号ｊを判定結果信号ｎとして出力端子Ｑから出力し続ける。したがって、判定結果信号ｎは、直前の採取時点における排他的論理和信号ｊに相当し、ソースドライバ２１の出力電圧切り替えが正常であるか異常であるかを、正常をローレベル、異常をハイレベルとして示す。また、判定結果記憶部１８は、判定結果信号ｎを出力する時に、同時に判定結果信号ｎを反転させた信号を判定結果反転信号ｌとして反転出力端子／Ｑから出力する。したがって、判定結果反転信号ｌは、ソースドライバ２１の出力電圧切り替えが正常であるか異常であるかを、正常をハイレベル、異常をローレベルとして示す。
【００９２】
論理積素子１９には、検査結果採取用信号ｋが理想比較結果出力回路１５から入力されると共に、判定結果反転信号ｌが判定結果記憶部１８の反転出力端子／Ｑから入力される。論理積素子１９は、検査結果採取用信号ｋおよび判定結果反転信号ｌの論理積を検査結果採取用信号ｍとして判定結果記憶部１８のクロック信号端子に出力する。すなわち、論理積素子１９は、検査結果採取用信号ｋおよび判定結果反転信号ｌの両方がハイレベルであるときにハイレベルの検査結果採取用信号ｍを出力し、他のときにはローレベルの検査結果採取用信号ｍを出力する。検査結果採取用信号ｋは、切り替え判定モードでの検査を行うときに、ソースドライバ２１の選択電圧が切り替えられるたびに短い期間（ソースドライバ２１の選択電圧の切り替え間隔より短い期間、例えば切り替え間隔の１／１０程度）だけハイレベルとなる。したがって、判定結果反転信号ｌがハイレベルであるとき、すなわちソースドライバ２１の出力電圧切り替えが正常であるときには、ソースドライバ２１の選択電圧が切り替えられるたびに短い期間だけ検査結果採取用信号ｍがハイレベルとなり、判定結果記憶部１８による排他的論理和信号ｊの記憶が行われる。一方、判定結果反転信号ｌがローレベルであるとき、すなわちソースドライバ２１の出力電圧切り替えが異常であるときには、検査結果採取用信号ｍは常にローレベルとなり、判定結果記憶部１８による排他的論理和信号ｊの記憶が禁止される。
【００９３】
選択電圧バイパス回路Ｋ２は、理想比較結果出力回路１５から供給された選択電圧バイパス切替信号ｐに応じて、出力端子２０を介して（図示しない）へ出力する信号を切り替えるものである。選択電圧バイパス回路Ｋ１は、選択電圧バイパス切替信号ｐが切り替え判定モードに対応する電圧レベル（ハイレベルまたはローレベル）であるときには、判定結果記憶部１８の出力端子Ｑから出力された判定結果信号ｎを出力端子２０へ（すなわち、検査結果出力端子Ｕ１へ）出力する一方、選択電圧バイパス切替信号ｐが絶対値判定モードに対応する電圧レベル（ローレベルまたはハイレベル）であるときには、選択電圧バイパス回路ｏを介して選択電圧バイパス回路Ｋ１から供給された選択電圧を出力端子２０へ（すなわち、検査結果出力端子Ｕ１へ）出力する。
【００９４】
検査装置１１は、図２に示すように、検査回路Ｗ１（および図示しない検査回路Ｗ２〜Ｗｎ）に加えて、基準クロック入力端子ＲＩＮ、検査モード切替端子ＭＯＤＥ、理想比較結果出力装置（切り替え部の一部、比較回路の一部）１５、および自動リセット回路１６を備えている。
【００９５】
理想比較結果出力装置１５には、基準クロック入力端子ＲＩＮからＤＡ変換開始信号である基準クロック信号ｂ（ＬＳ１）が入力されると共に、自動リセット回路１６からリセット信号ｃが入力される。理想比較結果出力装置１５は、ＤＡ変換開始信号ＬＳ１を基に、直前の電圧選択指示の変更の前後にソースドライバ２１に与えられた電圧選択指示に応じた理想の比較結果を示す理想比較結果信号ｉを生成し、排他的論理和素子１７へ出力する。
【００９６】
また、理想比較結果出力装置１５は、ＤＡ変換開始信号ＬＳ１を基に第１記憶部用記憶命令信号ｄおよび第２記憶部用記憶命令信号ｅを生成し、これらを第１記憶用スイッチ１２１および第２記憶用スイッチ１３１の制御端子にそれぞれ出力する。理想比較結果出力装置１５は、ソースドライバ２１の選択電圧が切り替えられるたびに第１記憶部用記憶命令信号ｄまたは第２記憶部用記憶命令信号ｅを交互に出力する。すなわち、理想比較結果出力装置１５は、例えば、ソースドライバ２１の選択電圧が初めて切り替えられたときには、第１記憶部用記憶命令信号ｄを出力し、ソースドライバ２１の選択電圧が次に切り替えられたときには、第２記憶部用記憶命令信号ｅを出力する。
【００９７】
また、理想比較結果出力装置１５は、検査結果採取用信号ｋを論理積素子１９へ出力する。
【００９８】
また、理想比較結果出力装置１５は、外部から検査モード切替端子ＭＯＤＥに入力される、検査モードの切り替えを指示する検査モード切替信号ｑに応じて、検査モードが切り替え判定モードであるか絶対値判定モードであるかを２値で表す選択電圧バイパス切替信号ｐを選択電圧バイパス回路Ｋ１およびＫ２へ出力する。
【００９９】
自動リセット回路１６は、判定結果記憶部１８の記憶内容を初期化するためにリセット信号ｃを判定結果記憶部１８のリセット入力端子Ｒｅｓｅｔへ入力させると共に、リセット信号ｃを理想比較結果出力装置１５にも入力させる。
【０１００】
次に、本実施の形態に係るソースドライバ２１の検査方法について説明する。実施の形態に係るソースドライバ２１の検査方法は、（１）検査装置１１によりソースドライバ２１の選択電圧切り替え機能を検査するステップ（第２の検査ステップ）と、（２）外部装置３１によりソースドライバ２１の特定出力端子について全選択電圧の絶対値を検査するステップ（全選択電圧検査ステップ；第１の検査ステップ）と、（３）外部装置３１によりソースドライバ２１の全出力端子について選択電圧の最大値および最小値を検査するステップ（全出力端子検査ステップ；第３の検査ステップ）とを含んでいる。これらステップを実行する順序は任意である。
【０１０１】
以下、検査方法について、各ステップごとに説明する。
【０１０２】
（１）検査装置１１によるソースドライバの切り替え機能検査
このステップでは、ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍの高低関係（ソースドライバ２１の選択電圧切り替え機能）を検査装置１１によって検査する。
【０１０３】
図１の接続状態において、検査装置１１によるソースドライバ２１の切り替え機能検査を行うときの、ソースドライバ２１（測定対象）、検査装置１１、および外部装置３１の動作を、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１から外部装置３１の検査結果入力端子ＣＨ１に至る１つのラインについて説明する。なお、他のラインについても動作は全く同様である。
【０１０４】
このステップでは、テスト信号を生成するテスト信号発生装置をソースドライバ２１のラッチ回路９１に接続し、テスト信号をラッチ回路９１に与える。テスト信号は、最低階調のデジタル表示データに等しい電圧Ｖ１から最高階調のデジタル表示データに等しい電圧Ｖｍまで１階調分ずつ所定周期で電圧が単調減少する信号である。したがって、テスト信号発生装置は、ソースドライバ２１に対して選択電圧Ｖ１〜Ｖｍを選択させる信号（電圧選択指示）を与え、かつ、その信号（電圧選択指示）を所定周期で変更することになる。なお、これは一例であり、単調増加する信号であってもよい。
【０１０５】
ソースドライバ２１は、入力されたテスト信号に応じて、選択する電圧（出力電圧）を最低階調のデジタル表示データに応じた電圧から最高階調のデジタル表示データに応じた電圧まで１階調分ずつ所定周期で切り替える。この場合、第１階調（最低階調）のデジタル表示データに応じた選択電圧を第１の選択電圧Ｖ１、第２階調（最低階調より１つ高い階調）のデジタル表示データに応じた選択電圧を第２の選択電圧Ｖ２、・・・、第ｍ階調（最低階調）のデジタル表示データに応じた選択電圧を第ｍの選択電圧Ｖｍとすると、図１に示すように、
Ｖ１＞Ｖ２＞・・・＞Ｖｍ
である。なお、これは一例であり、大小関係が逆であってもよい。
【０１０６】
また、このステップでは、外部の制御装置などから検査装置１１の検査モード切替端子ＭＯＤＥに対して、検査モードを切り替え判定モードにするよう指示する検査モード切替信号ｑを入力する。これにより、理想比較結果出力装置１５が、切り替え判定モードに対応した電圧レベルの選択電圧バイパス切替信号を選択電圧バイパス回路Ｋ１・Ｋ２に送り、選択電圧入力端子Ｔ１と第１記憶用スイッチ１２１および第２記憶用スイッチ１３１とを接続すると共に、判定結果記憶部１８の出力端子Ｑと出力端子２０とを接続する。
【０１０７】
以下、各階調のデジタル表示データに等しい電圧レベルの信号（電圧選択指示）がソースドライバ２１に入力されるごとのソースドライバ２１および検査装置１１の動作を図３および図４に基づいて説明する。
【０１０８】
図３は、良品のソースドライバ２１から４種類の選択電圧Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３，Ｖ４をこの順で出力させ、これら選択電圧Ｖ１〜Ｖ４の高低関係が正常かを検査装置１１を用いて検査させた場合における、ソースドライバ２１による選択電圧の出力が開始されてから検査装置１１による検査が完了するまでの各種信号ａ〜ｎの電圧変化を示す波形図である。また、図４は、不良品のソースドライバ２１から４種類の選択電圧Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３，Ｖ４をこの順で出力させ、これら選択電圧Ｖ１〜Ｖ４の高低関係が正常かを検査装置１１を用いて検査させた場合における、ソースドライバ２１による選択電圧の出力が開始されてから検査装置１１による検査が完了するまでの各種信号ａ〜ｎの電圧変化を示す波形図である。また、図３および図４では、基本クロック信号ｂの立ち上がりに同期してソースドライバ２１が選択電圧Ｖ１〜Ｖ４を出力するタイミング、比較結果出力装置１５からの第１記憶部用記憶命令信号ｄの立ち上がりに同期して第１記憶部１２が選択電圧Ｖ１・Ｖ３を記憶するタイミング、比較結果出力装置１５からの第２記憶部用記憶命令信号ｅの立ち上がりに同期して第２記憶部１３が選択電圧Ｖ２・Ｖ４を記憶するタイミング、および検査結果採取用信号ｍの立ち上がりに同期して判定結果記憶部１８が排他的論理和信号ｊを記憶するタイミングを破線の矢印で示している。
【０１０９】
まず、外部からソースドライバ２１に、第１の選択電圧Ｖ１を指定する１番目の電圧選択指示（最低階調のデジタル表示データに等しい電圧レベルの信号）が入力されると、それに従い、ソースドライバ２１は、指定された第１の選択電圧Ｖ１を選択し、出力端子Ｓ１から出力する。
【０１１０】
次に、駆動出力端子Ｓ１から出力された選択電圧Ｖ１を、検査装置１１の選択電圧入力端子Ｔ１が受け取る。選択電圧入力端子Ｔ１が受け取った選択電圧Ｖ１は、理想比較結果出力装置１５より出力される第１記憶部用記憶命令信号ｄが第１記憶部１２内の記憶用スイッチ１２１に入力されたときに、第１記憶部１２の第１記憶用コンデンサ１２２に記憶される。
【０１１１】
続いて、外部からソースドライバ２１に、第２の選択電圧Ｖ２を指定する２番目の電圧選択指示（第２階調のデジタル表示データに等しい電圧レベルの信号）が入力されると、それに従い、ソースドライバ２１は、指定された第２の選択電圧Ｖ２を選択して出力端子Ｓ１から出力する。
【０１１２】
次に、駆動出力端子Ｓ１から出力された選択電圧Ｖ２を、検査装置１１の選択電圧入力端子Ｔ１が受け取る。選択電圧入力端子Ｔ１が受け取った選択電圧Ｖ２は、理想比較結果出力装置１５より出力される第２記憶部用記憶命令信号ｅが第２記憶部１３の第２記憶用スイッチ１３１に入力されたときに、第２記憶部１３の第２記憶用コンデンサ１３２に記憶される。
【０１１３】
測定対象である選択電圧Ｖ１およびＶ２がそれぞれ、第１記憶部１２の記憶用コンデンサ１２２、および第２記憶部１３の記憶用コンデンサ１３２に記憶された時点で、比較器１４のプラス出力端子およびマイナス出力端子にそれぞれ選択電圧Ｖ１（第１記憶部出力信号ｆ）および選択電圧Ｖ２（第２記憶部出力信号ｇ）が印加される。印加されると同時に、第１記憶部１２の記憶用コンデンサ１２２、および、第２記憶部１３の記憶用コンデンサ１３２のどちらのコンデンサに蓄えられている電圧値が高いかが２値の電圧レベルで表現された比較結果信号ｈが比較器１４の出力端から出力される。図３および図４の例では、Ｖ１＞Ｖ２であるので、比較器１４の出力端からはハイレベルの比較結果信号ｈが出力される。
【０１１４】
次に、この比較結果信号ｈの電圧値（ハイレベル）が理想値（正常値）であるかを判定する。この判定は、理想比較結果出力装置１５から出力された、理想（正常）の比較結果を表す理想比較結果信号ｉと、測定対象である比較器１４の出力（比較結果信号）ｈとの排他的論理和を排他的論理和素子１７を生成することで行う。排他的論理和素子１７は、測定対象である比較器１４の出力（比較結果信号）ｈが正常である場合にはローレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）を、測定対象である比較器１４の出力（比較結果信号）ｈが正常でない場合にはハイレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）を出力端から出力する。この時、図３および図４の例では、比較器１４の出力（比較結果信号）ｈが正常値（ハイレベル）であるので、排他的論理和素子１７は、ローレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）を出力する。
【０１１５】
このローレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）は、次段に設置された判定結果記憶部１８に入力される。このとき、判定結果記憶部１８の反転出力端子／Ｑの出力（判定結果反転信号ｌ）は、検査開始時に自動リセット回路１６から判定結果記憶部１８のリセット入力端子Ｒｅｓｅｔに入力されるリセット信号ｃにより、ハイレベル電圧に設定されている。そのため、論理積素子１９には、ハイレベル電圧の判定結果反転信号ｌが印加されている。したがって、理想比較結果出力装置１５から出力される検査結果採取用信号ｋがハイレベル電圧に変化すると、判定結果記憶部１８のクロック信号端子Ｃｌｏｃｋに入力される検査結果採取用信号ｍもハイレベル電圧に変化する（言い換えると、検査結果採取用信号ｋが、有効となり、検査結果採取用信号ｍとして判定結果記憶部１８に入力される）。したがって、判定結果記憶部１８に入力されたローレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）は、理想比較結果出力装置１５から出力される検査結果採取用信号ｋがハイレベル電圧に変化した時点（判定結果記憶部１８のクロック信号端子Ｃｌｏｃｋに入力される検査結果採取用信号ｍがハイレベル電圧に変化した時点）で、判定結果記憶部１８内に記憶される。
【０１１６】
続いて、外部からソースドライバ２１に、第３の選択電圧Ｖ３を指定する３番目の電圧選択指示（第３階調のデジタル表示データに等しい電圧レベルの信号）が入力されると、１番目の電圧選択指示の入力時と同様にして、選択電圧Ｖ３は、第１記憶部用記憶命令信号ｄが記憶用スイッチ１２１に入力されたときに、第１記憶部１２の第１記憶用コンデンサ１２２に記憶される。
【０１１７】
測定対象である選択電圧Ｖ３およびＶ２がそれぞれ、第１記憶部１２の記憶用コンデンサ１２２、および第２記憶部１３の記憶用コンデンサ１３２に記憶された時点で、比較器１４のプラス出力端子およびマイナス出力端子にそれぞれ選択電圧Ｖ３（第１記憶部出力信号ｆ）および選択電圧Ｖ２（第２記憶部出力信号ｇ）が印加され、同時に、比較結果信号ｈが比較器１４の出力端から出力される。図３の例では、Ｖ３＜Ｖ２であるので、比較器１４の出力端からはローレベルの比較結果信号ｈが出力される。一方、図４の例では、Ｖ３＞Ｖ２であるので、比較器１４の出力端からはハイレベルの比較結果信号ｈが出力される。
【０１１８】
次に、この比較結果信号ｈの電圧値（ローレベルまたはハイレベル）が理想値（正常値）であるかの判定を、前述したのと同様にして排他的論理和素子１７により行う。この時、図３および図４の例では、理想比較結果出力装置１５の出力端から、理想値（正常値）の電圧を持つ理想比較結果信号ｉとして、ローレベル電圧が出力される。
【０１１９】
図３の例では、比較器１４の出力端から出力される電圧値が、理想比較結果出力装置１５の出力端から出力される理想値（正解値）と一致するので、排他的論理和素子１７は、検査結果（ソースドライバ２１が出力端子Ｓ１の出力電圧を選択電圧Ｖ２から選択電圧Ｖ３に切り替える機能の検査結果）が良好（正常）と判定し、排他的論理和の結果としてローレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）を出力端子から出力する。このローレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）は、次段に設置された判定結果記憶部１８に入力される。このとき、判定結果記憶部１８にはローレベルの電圧が記憶されており、判定結果記憶部１８の反転出力端子／Ｑから論理積素子１９にハイレベルの電圧が入力される。したがって、理想比較結果出力装置１５から出力される検査結果採取用信号ｋがハイレベル電圧に変化すると、判定結果記憶部１８のクロック信号端子Ｃｌｏｃｋに入力される検査結果採取用信号ｍもハイレベル電圧に変化する。したがって、判定結果記憶部１８に入力されたローレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）は、理想比較結果出力装置１５から出力される検査結果採取用信号ｋがハイレベル電圧に変化した時点で、判定結果記憶部１８内に記憶される。
【０１２０】
一方、図４の例では、比較器１４の出力端から出力される電圧値が、理想比較結果出力装置１５の出力端から出力される理想値（正解値）と異なる値（不正解の値）であるので、排他的論理和素子１７は、比較器１４での比較結果（検査結果）が不良（異常）と判定し、排他的論理和の結果としてハイレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）を出力端子から出力する。このハイレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）は、次段に設置された判定結果記憶部１８に入力される。このとき、判定結果記憶部１８にはローレベルの電圧が記憶されており、判定結果記憶部１８の反転出力端子／Ｑから論理積素子１９にハイレベルの電圧が入力される。したがって、理想比較結果出力装置１５から出力される検査結果採取用信号ｋがハイレベル電圧に変化すると、判定結果記憶部１８のクロック信号端子Ｃｌｏｃｋに入力される検査結果採取用信号ｍもハイレベル電圧に変化する。したがって、判定結果記憶部１８に入力されたハイレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）は、理想比較結果出力装置１５から出力される検査結果採取用信号ｋがハイレベル電圧に変化した時点で、判定結果記憶部１８内に記憶される。
【０１２１】
図４の例では、ハイレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）が判定結果記憶部１８内に記憶された後、判定結果記憶部１８の出力端子Ｑから出力される判定結果信号ｎはハイレベル電圧に変化する。これと同時に、判定結果記憶部１８の反転出力端子／Ｑから出力される判定結果反転信号ｌはローレベル電圧に変化する。これにより、ローレベル電圧の判定結果反転信号ｌが論理積素子１９に印加されるので、検査結果採取用信号ｋに関係なく論理積素子１９から出力される検査結果採取用信号ｍが常にローレベルとなる（言い換えると、検査結果採取用信号ｋが、無効となり、判定結果記憶部１８に入力されなくなる）。これにより、判定結果記憶部１８が排他的論理和素子１７の出力（排他的論理和信号ｊ）を記憶することが禁止される。その結果、一旦、上記に示す不良症状を記憶すると、継続して良品（正解）の判定結果である排他的論理和出力ｊが判定結果記憶部１８に入力されても、判定結果記憶部１８内に記憶されなくなる。これらの工程により、一旦不良症状を本検査装置が検知後記憶すると、それを保持する設計となっている。
【０１２２】
続いて、外部からソースドライバ２１に、第４の選択電圧Ｖ４を指定する４番目の電圧選択指示（第４階調のデジタル表示データに等しい電圧レベルの信号）が入力されると、２番目の電圧選択指示の入力時と同様にして、選択電圧Ｖ４は、第２記憶部用記憶命令信号ｅが第２記憶用スイッチ１３１に入力されたときに、第２記憶部１３の第２記憶用コンデンサ１３２に記憶される。
【０１２３】
測定対象である選択電圧Ｖ３およびＶ４がそれぞれ、第１記憶部１２の記憶用コンデンサ１２２、および第２記憶部１３の記憶用コンデンサ１３２に記憶された時点で、比較器１４のプラス出力端子およびマイナス出力端子にそれぞれ選択電圧Ｖ３（第１記憶部出力信号ｆ）および選択電圧Ｖ４（第２記憶部出力信号ｇ）が印加され、同時に、比較結果信号ｈが比較器１４の出力端から出力される。図３および図４の例では、Ｖ３＞Ｖ４であるので、２番目の電圧選択指示の入力時と同様にして、比較器１４の出力端からハイレベルの比較結果信号ｈが出力される。
【０１２４】
次に、この比較結果信号ｈの電圧値（ハイレベル）が理想値（正常値）であるかの判定を、前述したのと同様にして排他的論理和素子１７により行う。この時、図３および図４の例では、理想比較結果出力装置１５の出力端から理想比較結果信号ｉとしてハイレベル電圧が出力されるので、排他的論理和素子１７は、ローレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）を出力する。このローレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）は、次段に設置された判定結果記憶部１８に入力される。このとき、図３の例では、理想比較結果出力装置１５から出力される検査結果採取用信号ｋがハイレベル電圧に変化した時点で、入力されたローレベルの電圧（排他的論理和信号ｊ）が判定結果記憶部１８内に記憶される。一方、図４の例では、判定結果記憶部１８が排他的論理和素子１７の出力（排他的論理和信号ｊ）を記憶することが禁止されているので、判定結果記憶部１８の記憶内容が保持される。
【０１２５】
以上のようにして、図３の例のように、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１から出力される全ての選択電圧Ｖ１〜Ｖｍ間の高低関係（選択電圧Ｖ１・Ｖ２の比較結果、選択電圧Ｖ２・Ｖ３の比較結果、および選択電圧Ｖ３・Ｖ４の比較結果）が正常であった場合には、ローレベルの排他的論理和信号ｊが判定結果記憶部１８内に記憶される。したがって、判定結果記憶部１８は、出力端子Ｓ１から出力される全選択電圧間の高低関係の検査が終了した時に、選択電圧間の高低関係が正常であったことを示すローレベルの判定結果信号ｎを検査結果出力端子Ｕ１へ出力する。
【０１２６】
一方、図４の例のように、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１から出力される全ての選択電圧Ｖ１〜Ｖｍ間の高低関係（選択電圧Ｖ１・Ｖ２の比較結果、選択電圧Ｖ２・Ｖ３の比較結果、および選択電圧Ｖ３・Ｖ４の比較結果）のうち１つでも異常となった場合には、異常が発生した時点でハイレベルの排他的論理和信号ｊが判定結果記憶部１８内に記憶され、その後、判定結果記憶部１８の記憶内容が保持される。したがって、判定結果記憶部１８は、出力端子Ｓ１から出力される全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍ間の高低関係の検査が終了した時に、少なくとも１つの高低関係に異常があったことを示すハイレベルの判定結果信号ｎを検査結果出力端子Ｕ１へ出力する。
【０１２７】
上述したソースドライバ２１の出力端子Ｓ１に関する検査処理と同時に、上述したソースドライバ２１の出力端子Ｓ２〜Ｓｎに関する検査処理も同様にして行われ、ローレベルまたはハイレベルの排他的論理和信号ｊが判定結果記憶部１８内に記憶される。したがって、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１から出力される全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍ間の高低関係の検査が終了した時点で、ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍ間の高低関係の検査が終了する。
【０１２８】
ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍ間の高低関係の検査が終了した後、各検査回路Ｗ１〜Ｗｎの判定結果記憶部１８内に検査結果が記憶されているため、検査結果出力端子Ｕ１〜Ｕｎの各々から全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍ間の高低関係が正常であったか否かを示す判定結果信号ｎが出力される。
【０１２９】
このステップでは、スイッチＳＴ１〜ＳＴｎは、検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎとコンパレータ３２とを接続するようになっているので、検査結果出力端子Ｕ１〜Ｕｎの各々から出力される判定結果（判定結果信号ｎの電圧値）は、検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎおよびスイッチＳＴ１〜ＳＴｎを介してコンパレータ３２に入力される。そして、検査結果出力端子Ｕ１〜Ｕｎの各々から出力される判定結果（判定結果信号ｎの電圧値）を外部装置３１内のコンパレータ３２（または電圧計）によって観測することにより、ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍ間の高低関係が正常であるか否かを判定することができる。コンパレータ３２は、ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎの検査結果が１つの信号で確認できるようにソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎの検査結果であるｎ個の判定結果信号ｎを、排他的論理和素子等を用いて、「ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍ間の高低関係が正常であるか否か」を示す１つの検査結果へと変換する。コンパレータ３２は、観測の結果、検査結果出力端子Ｕ１〜Ｕｎから出力される判定結果信号ｎの電圧値が全てローレベルであれば、測定対象のソースドライバ２１の出力電圧切り替え機能に全く異常がないと判断し、その判断結果を「検査合格（パス）」という検査結果として装置使用者に通知する。一方、コンパレータ３２は、観測の結果、検査結果出力端子Ｕ１〜Ｕｎから出力される判定結果信号ｎの電圧値の少なくとも１つ（１ビット）がハイレベルであれば、測定対象のソースドライバ２１の出力電圧切り替え機能に異常があると判断し、その判断結果を「検査不合格（フェイル）」という検査結果として装置使用者に通知する。
【０１３０】
外部装置３１は、例えば、検査結果を発光素子等を使用して目視で観察できる状態で出力することにより、検査結果を装置使用者に通知することができる。すなわち、例えば、外部装置３１は、検査結果が合格であればハイレベルの信号を発光素子に出力して発光素子を発光させ、検査結果が不合格であればローレベルの信号を発光素子に出力して発光素子を消灯させることで、検査結果を装置使用者に通知することができる。
【０１３１】
なお、検査装置１１に保持された信号を、外部装置３１を介することなく、発光素子等に出力し、この発光素子等で信号を目視で観察できる状態に変換しても、検査結果を装置使用者に通知することができる。ただし、外部装置３１でｎ個の判定結果信号ｎを１つの検査結果へ変換する方が、検査効率を向上させることができるので、好ましい。
【０１３２】
以上のようにして、ソースドライバ２１の全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍ間の高低関係が正常であるか否かの検査を全出力端子Ｓ１〜Ｓｎで一括して行うことができる。
【０１３３】
また、上記（１）のステップにより、関連出願の図５に記載されているソースドライバＬＳＩの動作の中で、ラッチ回路９１、シフトレジスタ９２、サンプリング回路９３、ホールドメモリ９４、およびレベルシフタ９５が外部から表示データを取り込んでＤＡコンバータユニット９６へ送る動作、ＤＡコンバータユニット９６がレベルシフタ９５から表示データを取り込む動作、ＤＡコンバータユニット９６が基準電圧発生回路９８から基準電圧を受け取る動作、ＤＡコンバータユニット９６が表示データに応じて出力電圧を切り替える動作、及び基準電圧発生回路９８が基準電圧を出力する動作が、正常であることが分かる。
【０１３４】
なお、ここでは、ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎを検査していたが、（２）のステップで検査される出力端子については検査を省略してもよい。
【０１３５】
（２）ソースドライバの特定出力端子に関する全選択電圧の絶対値検査
次に、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎの一部（例えば、１つの出力端子Ｓ１）から出力される全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍの絶対値を外部装置３１に含まれる電圧計３３で測定する検査を行う。
【０１３６】
このステップでは、ソースドライバ２１のラッチ回路９１に対して、選択電圧Ｖ１〜Ｖｍを選択させるそれぞれ与えるｍ種類の信号（電圧選択指示）を順次与える。
【０１３７】
また、このステップでは、外部の制御装置などから検査装置１１の検査モード切替端子ＭＯＤＥに対して、検査モードを切り替え判定モードにするよう指示する検査モード切替信号ｑを入力する。これにより、理想比較結果出力装置１５が、切り替え判定モードに対応した電圧レベルの選択電圧バイパス切替信号を選択電圧バイパス回路Ｋ１・Ｋ２に送り、選択電圧入力端子Ｔ１〜Ｔｎと検査結果出力端子Ｕ１〜Ｕｎとを選択電圧バイパス経路ｏを介して接続する。したがって、検査装置１１は、選択電圧入力端子Ｔ１〜Ｔｎに入力された選択電圧をそのまま外部装置３１の検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎへ送るようになっている。これにより、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎを検査装置１１の選択電圧入力端子Ｔ１〜Ｔｎから検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎに繋ぎ替えることなしに（１）のステップから（２）のステップに移行することができる。したがって、（１）のステップと（２）のステップとを連続的に実行することができる。
【０１３８】
また、このステップでは、スイッチＳＴ１〜ＳＴｎを、検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎの一部とコンパレータ３２とを接続する状態とし、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎの１つから検査装置１１を介して供給された選択電圧を電圧計３３へ入力させる。そして、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎの１つ（例えば出力端子Ｓ１や出力端子Ｓｎ；以下、「出力端子Ｓｘ」と記す）から出力される選択電圧Ｖ１〜Ｖｍの絶対値の全てが電圧計３３により１つずつ順次測定される。そして、判定部３４が、測定された選択電圧Ｖ１〜Ｖｍの絶対値が正常な数値範囲（規定範囲）内にあるかに基づいて、その１つの出力端子Ｓｘから出力される全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍの絶対値が正常であるかを判定し、判定結果を検査結果として出力する。一般に、ソースドライバ２１から出力される選択電圧Ｖ１〜Ｖｍ間の比は、Ｖ１〜Ｖｍを出力する出力端子同士でのばらつきが小さい。そのため、出力端子Ｓｘの出力電圧の絶対値が正常である（規定範囲内に収まっている）ならば、このソースドライバ２１が正常に動作していると推測できる。すなわち、出力端子Ｓｘの検査結果により、出力端子Ｓｘ以外の出力端子から出力される全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍ間の比が正常であるか否かを間接的に検査できる。
【０１３９】
なお、ここでは、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎの１つについて、全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍの絶対値の検査（以下、「精密検査」と称する）を行う例を説明したが、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎのうちの２個以上ｎ個未満の出力端子を精密検査してもよい。ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎの２個以上ｎ個未満の出力端子を精密検査する場合、できる限り離れた位置にある出力端子を精密検査することが好ましい。例えば、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎの２つを精密検査する場合、両端の出力端子Ｓ１・Ｓｎとを精密検査することが好ましい。また、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎの３つを検査する場合、両端の出力端子Ｓ１・Ｓｎと、出力端子Ｓ１と出力端子Ｓｎとの中間位置にある出力端子Ｓｎ／２（ｎが偶数の場合）またはＳ（ｎ＋１）／２（ｎが奇数の場合)とを精密検査することが好ましい。これにより、ソースドライバ２１の特性が位置によってばらつく場合であっても、正確な検査を行うことができる。
【０１４０】
（３）ソースドライバの全出力端子に関する選択電圧の最大値および最小値の検査
ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される選択電圧Ｖ１〜Ｖｍの最大値および最小値の２つの電圧（選択電圧Ｖ１およびＶｍ）を外部装置３１に含まれる電圧計３３で測定する検査を行う。
【０１４１】
このステップでは、スイッチＳＴ１〜ＳＴｎを、検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎの各々とコンパレータ３２とを接続する状態とし、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎから検査装置１１を介して供給された選択電圧を電圧計３３へ入力させる。
【０１４２】
また、このステップでは、（２）のステップと同様に、外部の制御装置などから検査装置１１の検査モード切替端子ＭＯＤＥに対して、検査モードを切り替え判定モードにするよう指示する検査モード切替信号ｑを入力する。これにより、理想比較結果出力装置１５が、切り替え判定モードに対応した電圧レベルの選択電圧バイパス切替信号を選択電圧バイパス回路Ｋ１・Ｋ２に送り、選択電圧入力端子Ｔ１〜Ｔｎと検査結果出力端子Ｕ１〜Ｕｎとを選択電圧バイパス経路ｏを介して接続する。したがって、検査装置１１は、選択電圧入力端子Ｔ１〜Ｔｎに入力された選択電圧をそのまま外部装置３１の検査結果入力端子ＣＨ１〜ＣＨｎへ送るようになっている。
【０１４３】
このステップでは、ソースドライバ２１のラッチ回路９１に対して、選択電圧Ｖ１およびＶｍを選択させる２種類の階調表示電圧（電圧選択指示）を順次与える。
【０１４４】
そして、このステップでは、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される選択電圧Ｖ１およびＶｍを順次、検査装置１１経由で電圧計３３へ入力させる。そして、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される選択電圧Ｖ１およびＶｍの絶対値の全てが電圧計３３により１つずつ順次測定される。そして、判定部３４が、測定された選択電圧Ｖ１およびＶｍの絶対値が正常な数値範囲（規定範囲）内にあるかに基づいて、全出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される選択電圧Ｖ１およびＶｍの絶対値が正常であるかを判定し、判定結果を検査結果として出力する。一般に、ソースドライバ２１から出力される選択電圧Ｖ１〜Ｖｍ間の比は、選択電圧Ｖ１〜Ｖｍを出力する出力端子同士でのばらつきが小さい。そのため、選択電圧の最大値および最小値（Ｖ１およびＶｍ）の絶対値が正常である（規定範囲内に収まっている）ならば、このソースドライバ２１が正常に動作していると推測できる。すなわち、選択電圧Ｖ１およびＶｍの検査結果により、選択電圧Ｖ１およびＶｍ以外の選択電圧（Ｖ２〜Ｖｍ−１）が正常であるか否かを間接的に検査できる。
【０１４５】
これにより、２種類の階調表示電圧に対するオペアンプユニット９７のアナログ特性（駆動能力やオフセット電圧等）を検査することができる。２種類の階調表示電圧に対するオペアンプユニット９７のアナログ特性が正常に動作している（仕様の幅内に収まっている）のであれば、ソースドライバ２１は正常に動作していると推測できる。
【０１４６】
また、上記（３）のステップにより、基準電圧発生回路９８が発生される基準電圧は正常であるが、オペアンプユニット９７の特性のバラツキに起因して出力端子Ｓ１〜Ｓｎ間での階調表示電圧のバラツキが生じ、その結果として出力端子Ｓ２〜Ｓｎの階調表示電圧が異常な値となるソースドライバ２１であっても、そのソースドライバ２１を不良品と判定することができる。
【０１４７】
ここでは、選択電圧の最大値および最小値（Ｖ１およびＶｍ）の検査を行う例を説明したが、１つの選択電圧のみを検査してもよく、３つ以上の選択電圧、例えば、最大値、中間階調に対応する中間値（例えば、最高階調が２５６である場合、階調１２８に対応する値）、最小値の３つの選択電圧を検査してもよい。検査する選択電圧の差ができるだけ大きくなるようにすることで、アナログ特性を適切に評価することができる。
【０１４８】
なお、ここでは、ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎについて出力電圧の最大値および最小値を検査していたが、出力端子Ｓ１の電圧の絶対値は、（２）のステップで検査済みであり、外部装置３１内の図示しない記憶手段に保管されている。そのため、（２）のステップで検査される出力端子については、出力電圧の最大値および最小値の検査を省略してもよい。
【０１４９】
次に、本実施形態に係る検査方法を、特許文献２に記載の従来の検査方法と対比して説明する。
【０１５０】
特許文献２に記載の従来の検査方法では、測定対象の液晶ドライバ１１の全出力端子Ｙ１〜Ｙｍから出力される全基準電圧（液晶ドライバ１１内に用意される選択可能な基準電圧の全て）の高低関係の検査（液晶ドライバ１１の電圧選択動作の検査）を、全出力端子Ｙ１〜Ｙｍから出力される全基準電圧の絶対値を測定することで行っている。（この検査と同時に、液晶ドライバ１１内に装備される、全出力端子Ｙ１〜Ｙｍに接続された一倍増幅器の特性（オフセット電圧、増幅率）を検査する場合もある）。そのため、膨大な検査時間を必要とする。そのため、特許文献２における液晶ドライバ１１の出力電圧の検査には、出力端子数（例えば、５００端子）×階調表示数（例えば、２５６階調）に等しい回数の電圧測定が必要となる。例えば、出力端子数が５００個、階調表示数が２５６階調であれば、１２８０００回の電圧測定が必要となり、検査に膨大な時間がかかる。さらに、今後、液晶ドライバ１１の端子数および階調表示数の増大が進むと、これに伴い、検査時間が大幅に増大する。また、階調表示数の増大により、隣接する階調表示電圧の差が小さくなることから、検査手段（コンパレータ等）の高精度化が必要となり、検査装置のコストアップ化の要因になる。
【０１５１】
これに対し、本実施形態に係る検査方法では、ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される全ての出力電圧Ｖ１〜Ｖｍの絶対値のうち、一部の出力端子（例えば、出力端子Ｓ１）から出力される全ての出力電圧Ｖ１〜Ｖｍ（例えば２５６個）と、残りの出力端子から出力される出力電圧Ｖ１〜Ｖｍの上限値および下限値（Ｖ１およびＶｍ）とだけについて、絶対値の測定による精密な検査を行い（（２）（３）のステップ）、残りの出力端子（例えば、出力端子Ｓ２〜Ｓｍ）の出力電圧Ｖ２〜Ｖｍ−１については、電圧選択指示（表示データ）の変更に応じて出力電圧が正常に変化するか否かをチェックするだけに留める（（１）のステップ）。これにより、短時間で検査を行うことができる。このように、本実施形態に係る検査方法では、（１）のステップを、（２）および（３）のステップと組み合わせることで、ソースドライバ２１の検査を高速化できる。
【０１５２】
以上のように、本実施の形態に係るソースドライバ２１の検査方法は、ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍの高低関係（ソースドライバ２１の選択電圧切り替え機能）を検査装置１１によって検査するステップのに加えて、ソースドライバ２１の出力端子Ｓ１〜Ｓｎの一部（例えば、１つの出力端子Ｓ１）から出力される全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍの絶対値を外部装置３１に含まれる電圧計３３で測定し、測定値が正常か否かを判定部３４で判定するステップと、ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される選択電圧の最大値および最小値の２つの電圧（選択電圧Ｖ１およびＶｍ）を外部装置３１に含まれる電圧計３３で測定し、測定値が正常か否かを判定部３４で判定するステップとを含んでいる。
【０１５３】
上記方法により、ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される全選択電圧について絶対値を検査する従来の検査方法と同等の検査を、従来の検査方法と比較して短時間で行うことができる。
【０１５４】
例として、５００個の出力端子Ｓ１〜Ｓ５００を持ち、かつ、５００種類の選択電圧Ｖ１〜Ｖ５００を出力可能なソースドライバ２１の検査を行う場合について、ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される全選択電圧について絶対値を１台の電圧計で検査する従来の検査方法と、本実施形態の検査方法との間で、検査に要する時間を比較する。ここでは、本実施形態の検査方法の第２のステップにおいて、１つの出力端子Ｓ１の全選択電圧Ｖ１〜Ｖｍの絶対値を測定するものとする。
【０１５５】
従来の検査方法では、ソースドライバ２１の５００個の出力端子Ｓ１〜Ｓ５００の各々から出力される５００種類の選択電圧の値を１台の電圧計で測定する。したがって、２５万個の電圧の測定を行うことになる。１つの電圧の測定に１００μ秒かかるとすれば、この検査に要する時間は、
２５００００×１００μ秒＝２５秒
となる。
【０１５６】
これに対し、本実施形態の検査方法では、ソースドライバ２１の電圧選択機能を検査装置１１により検査する第１のステップと、ソースドライバ２１の１つの出力端子Ｓ１から出力される５００種類の選択電圧Ｖ１〜Ｖ５００の絶対値を外部装置３１内の電圧計３３で検査する第２のステップと、ソースドライバ２１の５００個の出力端子Ｓ１〜Ｓ５００から出力される最高の選択電圧Ｖ１および最低の選択電圧Ｖ５００の絶対値を外部装置３１内の電圧計３３で検査する第３のステップとを連続的に実行することができる。
【０１５７】
第１のステップを実行するのに要する時間は、選択電圧Ｖ１〜Ｖｍの切り替え周期を１０μ秒とすれば、
５００×１０μ秒＝５ｍ秒
となる。また、第２のステップでは、測定対象は、出力端子数１、選択電圧数５００であるので、測定される電圧の数は５００個である。また、第３のステップでは、測定対象は、出力端子数５００、選択電圧数２であるので、測定される電圧の数は１０００個である。したがって、第２のステップおよび第３のステップで測定される電圧の総計は１５００個である。第２のステップおよび第３のステップを実行するのに要する時間は、１個の電圧の測定に１００μ秒かかるとすれば、
１５００×１００μ秒＝１５０ｍ秒
となる。
【０１５８】
したがって、本実施形態の検査方法では、３つのステップ併せて１５５ｍ秒で検査を行うことができる。すなわち、本実施形態の検査方法では、従来の検査方法と比較して約１６０分の１の時間で検査を行うことができる。
【０１５９】
さらに、本実施形態の検査方法では、ソースドライバ２１の仕様変更によりソースドライバ２１の出力端子数ｎや選択電圧数ｍが増加した場合に、全検査時間の増加率を従来の検査方法より低く抑えることができる。
【０１６０】
ソースドライバ２１の全出力端子Ｓ１〜Ｓｎから出力される全選択電圧について絶対値を１台の電圧計で検査する従来の検査方法と、本実施形態の検査方法との間で、出力端子数ｎや選択電圧数ｍが増加した場合の検査時間の増加率を比較した結果を次に示す。（ａ）ソースドライバ２１の出力端子数ｎが１００個から５００個に増加し、選択電圧数ｍが１００個から５００個に増加したとき、（ｂ）ソースドライバ２１の出力端子数ｎが５００個から１０００個に増加し、選択電圧数ｍが５００個から１０００個に増加したとき、のぞれぞれについて検査時間の増加率を考える。
【０１６１】
従来の検査方法では、出力端子数ｎの増加率と選択電圧数ｍの増加率との積に従って検査時間が増加し、（ａ）の場合には検査時間が２５倍に増加し、（ｂ）の場合には検査時間が４倍に増加する。
【０１６２】
これに対し、本検査方法の場合は、検査時間の増加率（増加後の検査時間／元の検査時間）は、（ａ）の場合には約５倍、（ｂ）の場合には約２倍であり、増加率が低い。その上、増加前の検査時間が従来の検査方法と比べ、何十分の１から何百分の１と短いため、相乗効果により、将来のソースドライバ２１の出力端子数ｎの増加や選択電圧数ｍの増加といった機能増加に対する検査時間の増加を低く抑えることができる。
【０１６３】
検査装置１１は、従来の検査方法に用いる電圧計に比べて低コストで作製可能な検査回路Ｗ１〜Ｗｎをソースドライバ２１の出力毎に設置したものであるため、ソースドライバ２１の出力毎に電圧計を設置したものと比較すると、低コストで作製可能である。したがって、検査装置のコストダウンも実現できる。
【０１６４】
また、検査装置１１は、検査のための判定を行う判定部において、アナログ電圧出力装置から出力される出力電圧の絶対値を電圧計で測定した値のようなアナログ値の情報ではなく、電圧選択指示の変更の前後での電圧値の比較結果および理想の比較結果という２値の情報を比較している。
【０１６５】
検査のための判定を行う判定部において、アナログ電圧出力装置から出力される電圧の絶対値を電圧計で測定した測定値（アナログ値）を判定基準として用いる場合、アナログ電圧出力装置から出力される複数の出力電圧の値が互いに近いと、判定が行い難い。そのため、判定を容易に行うためには、アナログ電圧出力装置から出力される複数の出力電圧を、互いの電圧差を広げる処理を施した上で判定部に送る工程が必要がある。したがって、互いの電圧差を広げる処理を行う工程が必要である。
【０１６６】
これに対し、検査装置１１では、電圧選択指示の変更の前後での電圧値の比較結果および理想の比較結果という２値の情報を判定基準として用いているため、アナログ電圧出力装置から出力される複数の出力電圧の値が互いに近い場合であっても、互いの電圧差を広げる出力電圧値の差を広げておく必要がない。したがって、互いの電圧差を広げる処理を行う工程が不要となる。これにより、簡単に、かつ安定して検査を行うことができる。
【０１６７】
また、検査装置１１は、測定対象の複数の出力電圧の選択機能に合わせた検査機能を有しているため、外部装置３１には、この機能試験を行うために向けた装置（テストパタン発生器等）を設置する必要がない。そのため、検査装置１１による検査は、外部装置３１の規模や性能にとらわれずに実現できる。
【０１６８】
また、検査装置１１は、この装置単体にて測定と測定結果出力とを行うので、ＩＣの量産に用いる外部装置３１の制限が緩和される。
【０１６９】
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能である。
【０１７０】
本発明に係る検査装置、検査システム、および検査方法は、液晶表示装置におけるソースドライバから適切な駆動電圧が出力されているか否かを検査するものに限定されるものではなく、他の複数種類の電圧を出力するアナログ電圧出力装置、特にＤＡ変換器を含むアナログ電圧出力装置の検査に応用可能である。ただし、本発明は、多数種類の電圧を出力可能な出力端子を多数備えるアナログ電圧出力装置、特にＤＡ変換器を多数含むアナログ電圧出力装置において検査時間を短縮するのに有効である。
【０１７１】
また、上記実施形態の検査システムにおける各種信号の高低を逆転させ、それに応じて素子を変更してもよい。例えば、スイッチを導通させる信号のレベル（ＯＮレベル）をハイレベルからローレベルに変更し、ハイレベルの信号が入力されたときに導通状態となるスイッチに代えて、ローレベルの信号が入力されたときに導通状態となるスイッチを用いてもよい。
【０１７２】
また、上記実施形態に係る検査装置１１における比較部は、選択電圧を異なるタイミングでサンプリングして２つの記憶用コンデンサに記憶させ、これら記憶用コンデンサの記憶内容を比較するようになっていた。しかしながら、比較部は、特許文献３のように、サンプル−ホールド回路を用いてサンプリングし保持した選択電圧の値と、実際の選択電圧の値とを比較するものであってもよい。
【０１７３】
また、上記実施形態の検査方法では、１つの検査システム（検査装置１１および検査装置３１）で選択電圧の高低の検査と選択電圧の絶対値の検査とを行うようになっていたが、ソースドライバ２１に検査装置１１を接続して選択電圧の高低の検査を行った後、検査装置１１を取り外して、電圧計３２および判定部３３を含む検査装置をソースドライバ２１に接続し、選択電圧の絶対値を検査するようにしてもよい。そうした場合には、選択電圧バイパス回路Ｋ１・Ｋ２を省略できる。ただし、上記実施形態のように、１つの検査システム（検査装置１１および検査装置３１）で選択電圧の高低の検査と選択電圧の絶対値の検査とを行う構成である方が、接続を切り替える必要がないので、検査時間を短縮できる。
【産業上の利用可能性】
【０１７４】
本発明に係る検査装置、検査システム、および検査方法は、複数種類の電圧を出力するアナログ電圧出力装置の検査に広く利用でき、特に、液晶表示装置におけるソースドライバなどのような多数種類の電圧を出力可能な出力端子を多数備えるアナログ電圧出力装置の検査に有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１７５】
【図１】本発明の実施の一形態に係る検査装置と、その検査対象であるソースドライバと、外部装置との構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る検査装置における検査回路およびそれに関わる部分の構成を示すブロック図である。
【図３】図２に示す検査装置にて、ソースドライバから出力される駆動電圧が規定の値である場合における、良品の判定を行うまでの工程を示すタイムチャートである。
【図４】図２に示した検査装置にて、ソースドライバから出力される駆動電圧が規定外の値である場合における、不良品の判定を行うまでの工程を示すタイムチャートである。
【図５】本発明の実施の一形態に係る検査装置の検査対象であるソースドライバの構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【０１７６】
１１            検査装置（第２の検査装置）
２１            ソースドライバ（アナログ電圧出力装置）
３１            外部装置
３２            コンパレータ
３３            電圧計（第１の検査装置の一部、第３の検査装置の一部）
３４            判定部（第１の検査装置の一部、第３の検査装置の一部）
Ｈ１〜Ｈｎ      ＤＡ変換器
Ｓ１〜Ｓｎ      出力端子
Ｔ１〜Ｔｎ      選択電圧入力端子
Ｕ１〜Ｕｎ      検査結果出力端子
Ｗ１〜Ｗｎ      検査回路
ＳＴ１〜ＳＴｎ  スイッチ
ＣＨ１〜ＣＨｎ  外部装置の検査結果入力端子
ＣＨＳ          外部装置の基準クロック出力端子
ＬＳ１          基準クロック信号
ＤＡ１          ソースドライバの基準クロック入力端子
ＲＩＮ          基準クロック入力端子
Ｋ１、Ｋ２      選択電圧バイパス回路
ＭＯＤＥ        検査モード切替端子
１２            第１記憶部
１２１          第１記憶用スイッチ（切り替え部の一部、比較回路の一部）
１２２          第１記憶用コンデンサ（第１記憶部、比較回路の一部）
１３            第２記憶部
１３１          第２記憶用スイッチ（切り替え部の一部、比較回路の一部）
１３２          第２記憶用コンデンサ（第２記憶部、比較回路の一部）
１４            比較器（比較回路の一部）
１５            理想比較結果出力装置（切り替え部の一部、比較回路の一部）
１６            自動リセット回路
１７            排他的論理和素子（判定部）
１８            判定結果記憶部
１９            論理積素子（記憶禁止部）
ａ              選択電圧
ｂ              基準クロック信号
ｃ              リセット信号
ｄ              第１記憶部記憶命令信号
ｅ              第２記憶部記憶命令信号
ｆ              第１記憶部出力信号
ｇ              第２記憶部出力信号
ｈ              比較結果信号
ｉ              理想比較結果信号
ｊ              排他的論理和信号
ｋ              検査結果採取用信号
ｌ              判定結果反転信号
ｍ              検査結果採取用信号
ｎ              判定結果信号
ｏ              選択電圧バイパス経路
ｐ              選択電圧バイパス切替信号
ｑ              検査モード切替信号
【図１】
2006211145.tif 000003
【図２】
2006211145.tif 000004
【図３】
2006211145.tif 000005
【図４】
2006211145.tif 000006
【図５】
2006211145.tif 000007