(57)【要約】【課題】データ再生時の再生信号の信号品質の劣化を防止する。【解決手段】データの再生時に、光ディスクに照射したレーザの反射光により生成された再生信号から特定の評価信号を検出し、比較対象となる基準信号を生成し、照射条件を制御するパラメータを微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行い、前記変更処理の前後の各照射条件下で検出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出し、算出された前記差分間の差を算出し、前記差の大きさと閾値とを比較し、前記差の大きさが閾値を超える場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返す信号処理装置１００。【選択図】 図１
2006323973.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理装置であって、
データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、再生信号の品質を評価するための特定の評価信号を検出する評価信号検出手段と、
前記評価信号の比較対象となる所定の基準信号を生成する生成手段と、
レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、
前記変更処理の前後の各照射条件下で前記評価信号検出手段により検出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出する第１算出手段と、
算出された前記差分間の差を算出する第２算出手段と、
前記第２算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段と
を備えることを特徴とする信号処理装置。
【請求項２】
前記特定の評価信号は、ウォブル信号であり、
前記所定の基準信号は、ウォブル基準信号であり、
前記特性値は、周期であり、
前記パラメータは、レーザ光の光ディスクに対する照射角度又はレーザ光の照射位置の光ディスクの半径方向への移動又はレーザ光のフォーカス位置のフォーカス方向への移動の何れかを制御するパラメータであり、
前記再生信号検出手段はさらに、データ記録時に光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成される再生信号を検出する
ことを特徴とする請求項１記載の信号処理装置。
【請求項３】
前記特定の評価信号は、ウォブル信号であり、
前記所定の基準信号は、ウォブル基準信号であり、
前記第１算出手段は、
前記変更処理の前後の各照射条件下において、一定時間内に検出された各ウォブル信号の周期とウォブル基準信号の周期との差であるウォブルジッタを順次算出するジッタ算出手段と、
順次算出されたウォブルジッタに基づいて、算出された各ウォブルジッタの平均値と各ウォブルジッタとの差の二乗の和であるウォブルジッタ分散を、前記変更処理の前後にそれぞれ検出されたウォブルジッタ信号について算出する分散算出手段と
を有し、
前記第２算出手段は、前記分散算出手段によって算出された、前記変更処理の前後についてのウォブルジッタ分散の差を算出し、
前記パラメータは、レーザ光の光ディスクに対する照射角度又はレーザ光の照射位置の光ディスクの半径方向への移動又はレーザ光のフォーカス位置のフォーカス方向への移動の何れかを制御するパラメータであり、
前記再生信号検出手段はさらに、データ記録時に光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成される再生信号を検出する
ことを特徴とする請求項１記載の信号処理装置。
【請求項４】
前記特定の評価信号は、データ信号であり、
前記所定の基準信号は、データ基準信号であり、
前記特性値は、周期であり、
前記パラメータは、レーザ光の光ディスクに対する照射角度又はレーザ光の照射位置の光ディスクの半径方向への移動又はレーザ光のフォーカス位置のフォーカス方向への移動の何れかを制御するパラメータである
ことを特徴とする請求項１記載の信号処理装置。
【請求項５】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理装置であって、
データの再生時又はデータ記録時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出手段と、
検出されたアドレス信号からエラーを示すエラー信号を検出するエラー検出手段と、
一定時間内に検出されたアドレス信号の総数に対する、当該時間内に検出されたエラー信号の総数の比率であるアドレスエラー率を算出するエラー率算出手段と、
レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、
前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差を算出するエラー率差算出手段と、
前記エラー率差算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段と
を備えることを特徴とする信号処理装置。
【請求項６】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理装置であって、
データの再生時に、入力されたアドレスに基づいて、レーザ光の照射位置を算出する位置算出手段と、
算出された照射位置から光ディスクに対して照射したレーザ光の反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出手段と、
検出されたアドレス信号の示す前記位置と照射位置との間の位置誤差を算出する誤差算出手段と、
レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、
前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差を算出する誤差変化算出手段と、
前記誤差変化算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段と
を備えることを特徴とする信号処理装置。
【請求項７】
前記パラメータは、レーザ光の光ディスクに対する照射角度又はレーザ光の照射位置の光ディスクの半径方向への移動又はレーザ光のフォーカス位置のフォーカス方向への移動の何れかを制御するパラメータである
ことを特徴とする請求項５又は６記載の信号処理装置。
【請求項８】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理装置であって、
データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、再生信号の品質を評価するための特定の評価信号を検出する評価信号検出手段と、
検出された評価信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去した評価信号を抽出する抽出手段と、
前記評価信号の比較対象となる所定の基準信号を生成する生成手段と、
フィルタリングの条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、フィルタリング条件を変更する変更処理を行う変更手段と、
前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出する第１算出手段と、
算出された前記差分間の差を算出する第２算出手段と、
前記第２算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段と
を備えることを特徴とする信号処理装置。
【請求項９】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理装置であって、
データの再生時又はデータの記録時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出手段と、
検出されたアドレス信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去したアドレス信号を抽出する抽出手段と、
抽出されたアドレス信号からエラーを示すエラー信号を検出するエラー検出手段と、
一定時間内に抽出されたアドレス信号の総数に対する、当該時間内に検出されたエラー信号の総数の比率であるアドレスエラー率を算出するエラー率算出手段と、
フィルタリング条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、
前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差を算出するエラー率差算出手段と、
前記エラー率差算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段と
を備えることを特徴とする信号処理装置。
【請求項１０】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理装置であって、
データの再生時に、入力されたアドレスに基づいて、レーザ光の照射位置を算出する位置算出手段と、
算出された照射位置から光ディスクに対して照射したレーザ光の反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出手段と、
検出されたアドレス信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去したアドレス信号を抽出する抽出手段と、
抽出されたアドレス信号の示す前記位置と照射位置との間の位置誤差を算出する誤差算出手段と、
フィルタリング条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、フィルタリング条件を変更する変更処理を行う変更手段と、
前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差を算出する誤差変化算出手段と、
前記誤差変化算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段と
を備えることを特徴とする信号処理装置。
【請求項１１】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置であって、
データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成される再生信号を検出する再生信号検出手段と、
検出された再生信号から、再生信号の品質を評価するための特定の評価信号を検出する評価信号検出手段と、
前記評価信号の比較対象となる所定の基準信号を生成する生成手段と、
レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、
前記変更処理の前後の各照射条件下で前記評価信号検出手段により検出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出する第１算出手段と、
算出された前記差分間の差を算出する第２算出手段と、
前記第２算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段と
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置であって、
データの再生時又はデータ記録時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成される再生信号を検出する再生信号検出手段と、
検出された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出手段と、
検出されたアドレス信号からエラーを示すエラー信号を検出するエラー検出手段と、
一定時間内に検出されたアドレス信号の総数に対する、当該時間内に検出されたエラー信号の総数の比率であるアドレスエラー率を算出するエラー率算出手段と、
レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、
前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差を算出するエラー率差算出手段と、
前記エラー率差算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段と
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１３】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置であって、
データの再生時に、入力されたアドレスに基づいて、レーザ光の照射位置を算出する位置算出手段と、
算出された照射位置から光ディスクに対して照射したレーザ光の反射光により生成される再生信号を検出する再生信号検出手段と、
検出された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出手段と、
検出されたアドレス信号の示す前記位置と照射位置との間の位置誤差を算出する誤差算出手段と、
レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、
前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差を算出する誤差変化算出手段と、
前記誤差変化算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段と
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１４】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置であって、
データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成される再生信号を検出する再生信号検出手段と、
検出された再生信号から、再生信号の品質を評価するための特定の評価信号を検出する評価信号検出手段と、
検出された評価信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去した評価信号を抽出する抽出手段と、
前記評価信号の比較対象となる所定の基準信号を生成する生成手段と、
フィルタリングの条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、フィルタリング条件を変更する変更処理を行う変更手段と、
前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出する第１算出手段と、
算出された前記差分間の差を算出する第２算出手段と、
前記第２算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段と
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１５】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置であって、
データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成される再生信号を検出する再生信号検出手段と、
検出された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出手段と、
検出されたアドレス信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去したアドレス信号を抽出する抽出手段と、
抽出されたアドレス信号からエラーを示すエラー信号を検出するエラー検出手段と、
一定時間内に抽出されたアドレス信号の総数に対する、当該時間内に検出されたエラー信号の総数の比率であるアドレスエラー率を算出するエラー率算出手段と、
フィルタリング条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、
前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差を算出するエラー率差算出手段と、
前記エラー率差算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段と
を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１６】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置であって、
データの再生時に、入力されたアドレスに基づいて、レーザ光の照射位置を算出する位置算出手段と、
算出された照射位置から光ディスクに対して照射したレーザ光の反射光により生成される再生信号を検出する再生信号検出手段と、
検出された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出手段と、
検出されたアドレス信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去したアドレス信号を抽出する抽出手段と、
抽出されたアドレス信号の示す前記位置と照射位置との間の位置誤差を算出する誤差算出手段と、
フィルタリング条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、フィルタリング条件を変更する変更処理を行う変更手段と、
前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差を算出する誤差変化算出手段と、
前記誤差変化算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段と
を備えることを特徴とする光ディスク処理装置。
【請求項１７】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理方法であって、
データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、再生信号の品質を評価するための特定の評価信号を検出する評価信号検出ステップと、
前記評価信号の比較対象となる所定の基準信号を生成する生成ステップと、
レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、
前記変更処理の前後の各照射条件下で前記評価信号検出ステップにより検出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出する第１算出手段と、
算出された前記差分間の差を算出する第２算出ステップと、
前記第２算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップと
を含むことを特徴とする信号処理方法。
【請求項１８】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理方法であって、
データの再生時又はデータの記録時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出ステップと、
検出されたアドレス信号からエラーを示すエラー信号を検出するエラー検出ステップと、
一定時間内に検出されたアドレス信号の総数に対する、当該時間内に検出されたエラー信号の総数の比率であるアドレスエラー率を算出するエラー率算出ステップと、
レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、
前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差を算出するエラー率差算出ステップと、
前記エラー率差算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップと
を含むことを特徴とする信号処理方法。
【請求項１９】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理方法であって、
データの再生時に、入力されたアドレスに基づいて、レーザ光の照射位置を算出する位置算出ステップと、
算出された照射位置から光ディスクに対して照射したレーザ光の反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出ステップと、
検出されたアドレス信号の示す前記位置と照射位置との間の位置誤差を算出する誤差算出ステップと、
レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、
前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差を算出する誤差変化算出ステップと、
前記誤差変化算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップと
を含むことを特徴とする信号処理方法。
【請求項２０】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理方法であって、
データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、再生信号の品質を評価するための特定の評価信号を検出する評価信号検出ステップと、
検出された評価信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去した評価信号を抽出する抽出ステップと、
前記評価信号の比較対象となる所定の基準信号を生成する生成ステップと、
フィルタリングの条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、フィルタリング条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、
前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出する第１算出ステップと、
算出された前記差分間の差を算出する第２算出ステップと、
前記第２算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップと
を含むことを特徴とする信号処理方法。
【請求項２１】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理方法であって、
データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出ステップと、
検出されたアドレス信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去したアドレス信号を抽出する抽出ステップと、
抽出されたアドレス信号からエラーを示すエラー信号を検出するエラー検出ステップと、
一定時間内に抽出されたアドレス信号の総数に対する、当該時間内に検出されたエラー信号の総数の比率であるアドレスエラー率を算出するエラー率算出ステップと、
フィルタリング条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、
前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差を算出するエラー率差算出手段と、
前記エラー率差算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップと
を含むことを特徴とする信号処理方法。
【請求項２２】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理方法であって、
データの再生時に、入力されたアドレスに基づいて、レーザ光の照射位置を算出する位置算出ステップと、
算出された照射位置から光ディスクに対して照射したレーザ光の反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出ステップと、
検出されたアドレス信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去したアドレス信号を抽出する抽出ステップと、
抽出されたアドレス信号の示す前記位置と照射位置との間の位置誤差を算出する誤差算出ステップと、
フィルタリング条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、フィルタリング条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、
前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差を算出する誤差変化算出ステップと、
前記誤差変化算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップと
を含むことを特徴とする信号処理方法。
【請求項２３】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に信号処理を行わせるプログラムであって、
前記信号処理は、
データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、再生信号の品質を評価するための特定の評価信号を検出する評価信号検出ステップと、
前記評価信号の比較対象となる所定の基準信号を生成する生成ステップと、
レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、
前記変更処理の前後の各照射条件下で前記評価信号検出ステップにより検出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出する第１算出手段と、
算出された前記差分間の差を算出する第２算出ステップと、
前記第２算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップと
を含むことを特徴とするプログラム。
【請求項２４】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に信号処理を行わせるプログラムであって、
前記信号処理は、
データの再生時又はデータの記録時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出ステップと、
検出されたアドレス信号からエラーを示すエラー信号を検出するエラー検出ステップと、
一定時間内に検出されたアドレス信号の総数に対する、当該時間内に検出されたエラー信号の総数の比率であるアドレスエラー率を算出するエラー率算出ステップと、
レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、
前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差を算出するエラー率差算出ステップと、
前記エラー率差算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップと
を含むことを特徴とするプログラム。
【請求項２５】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に信号処理を行わせるプログラムであって、
前記信号処理は、
データの再生時に、入力されたアドレスに基づいて、レーザ光の照射位置を算出する位置算出ステップと、
算出された照射位置から光ディスクに対して照射したレーザ光の反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出ステップと、
検出されたアドレス信号の示す前記位置と照射位置との間の位置誤差を算出する誤差算出ステップと、
レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、
前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差を算出する誤差変化算出ステップと、
前記誤差変化算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップと
を含むことを特徴とするプログラム。
【請求項２６】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に信号処理を行わせるプログラムであって、
前記信号処理は、
データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、再生信号の品質を評価するための特定の評価信号を検出する評価信号検出ステップと、
検出された評価信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去した評価信号を抽出する抽出ステップと、
前記評価信号の比較対象となる所定の基準信号を生成する生成ステップと、
フィルタリングの条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、フィルタリング条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、
前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出する第１算出ステップと、
算出された前記差分間の差を算出する第２算出ステップと、
前記第２算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップと
を含むことを特徴とするプログラム。
【請求項２７】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に信号処理を行わせるプログラムであって、
前記信号処理は、
データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出ステップと、
検出されたアドレス信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去したアドレス信号を抽出する抽出ステップと、
抽出されたアドレス信号からエラーを示すエラー信号を検出するエラー検出ステップと、
一定時間内に抽出されたアドレス信号の総数に対する、当該時間内に検出されたエラー信号の総数の比率であるアドレスエラー率を算出するエラー率算出ステップと、
フィルタリング条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、
前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差を算出するエラー率差算出手段と、
前記エラー率差算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップと
を含むことを特徴とするプログラム。
【請求項２８】
光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に信号処理を行わせるプログラムであって、
前記信号処理は、
データの再生時に、入力されたアドレスに基づいて、レーザ光の照射位置を算出する位置算出ステップと、
算出された照射位置から光ディスクに対して照射したレーザ光の反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出ステップと、
検出されたアドレス信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去したアドレス信号を抽出する抽出ステップと、
抽出されたアドレス信号の示す前記位置と照射位置との間の位置誤差を算出する誤差算出ステップと、
フィルタリング条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、フィルタリング条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、
前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差を算出する誤差変化算出ステップと、
前記誤差変化算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、
前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップと
を含むことを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスクからのデータの再生時におけるデータ品質劣化を防止するための信号処理技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ピックアップ装置を備える光ディスク装置においては、光ピックアップ装置からレーザー光を光ディスクに照射することにより、光ディスクへデータの記録及び光ディスクからのデータの再生が行われる。
光ディスク装置において、データの記録や再生を正確に行うためには、光ディスクの記録面と、光ピックアップに設けられた対物レンズの光軸とが垂直に交差していることが不可欠となるが、温度等の影響により光ディスクに反りが生じた場合には、光ディスクの記録面と対物レンズの光軸とが垂直に交差しない場合が生じて、データの書き込みや再生が正確に行われなくなり、記録されたデータや再生されたデータの品質が低下する。
【０００３】
このような品質の低下を防ぐための技術として、光ディスクの記録面と対物レンズの光軸とが垂直に交差するように制御する技術が特許文献１に開示されている。
特許文献１に開示されている光ディスク装置のチルト補償方法及び装置では、所定のトラック位置で、対物レンズが複数の傾き角をとるように傾き指令値を変化させることにより、各傾き角においてディスク信号が検出され、その特性から、対物レンズと光ディスクとの間のチルト誤差が最も小さくなる最適傾き指令値を求められ、この最適指令値と、そのときにチルトセンサで測定されたヘッド基準面のディスク面に対する傾き角（所定位置傾き検出値）とが保存され、記録又は再生する任意のトラック位置でチルトセンサによって検出されたヘッド基準面のディスク面に対する傾き（任意位置傾き検出値）と、所定位置傾き検出値との差に基づいて、最適傾き指令値が修正されるので、光ディスクの任意のトラック位置で、光ディスクと対物レンズとの傾き（チルト誤差）を精度よく制御でき、記録又は再生信号の信号品質を向上させることができる。
【特許文献１】特開２００３−２７２２０３
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、上記従来技術においては、光ディスクからのデータの再生に先立って、傾き指令値を変化させることにより、検出された各ディスク信号と対応する傾き指令値との対応関係を２次曲線で近似した近似曲線に基づいて、チルト誤差を最小とする最適傾き指令値が決定されるので、データの再生時に、光ディスクの回転数や半径位置や温度が変化して上記対応関係が変化したような場合には、近似曲線も変化してしまうため、決定された最適傾き指令値ではチルト誤差を最小となるように制御できず、再生信号の信号品質が低下してしまうという問題が生じる。
【０００５】
そこで、本発明は、データの再生時に、光ディスクの回転数や半径位置や温度が変化した場合においても、再生信号の信号品質の劣化を防止することが可能な信号処理装置及び方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理装置であって、データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、再生信号の品質を評価するための特定の評価信号を検出する評価信号検出手段と、前記評価信号の比較対象となる所定の基準信号を生成する生成手段と、レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、前記変更処理の前後の各照射条件下で前記評価信号検出手段により検出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出する第１算出手段と、算出された前記差分間の差を算出する第２算出手段と、前記第２算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段とを備える。
【０００７】
又本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理装置であって、データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、再生信号の品質を評価するための特定の評価信号を検出する評価信号検出手段と、検出された評価信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去した評価信号を抽出する抽出手段と、前記評価信号の比較対象となる所定の基準信号を生成する生成手段と、フィルタリングの条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、フィルタリング条件を変更する変更処理を行う変更手段と、前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出する第１算出手段と、算出された前記差分間の差を算出する第２算出手段と、前記第２算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段とを備えることとしてもよい。
【０００８】
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置であって、データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成される再生信号を検出する再生信号検出手段と、検出された再生信号から、再生信号の品質を評価するための特定の評価信号を検出する評価信号検出手段と、前記評価信号の比較対象となる所定の基準信号を生成する生成手段と、
レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、前記変更処理の前後の各照射条件下で前記評価信号検出手段により検出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出する第１算出手段と、算出された前記差分間の差を算出する第２算出手段と、前記第２算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段とを備えることとしてもよい。
【０００９】
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理方法であって、データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、再生信号の品質を評価するための特定の評価信号を検出する評価信号検出ステップと、前記評価信号の比較対象となる所定の基準信号を生成する生成ステップと、レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、前記変更処理の前後の各照射条件下で前記評価信号検出ステップにより検出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出する第１算出手段と、算出された前記差分間の差を算出する第２算出ステップと、前記第２算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップとを含むこととしてもよい。
【００１０】
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に信号処理を行わせるプログラムであって、
前記信号処理は、データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、再生信号の品質を評価するための特定の評価信号を検出する評価信号検出ステップと、前記評価信号の比較対象となる所定の基準信号を生成する生成ステップと、レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、前記変更処理の前後の各照射条件下で前記評価信号検出ステップにより検出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出する第１算出手段と、
算出された前記差分間の差を算出する第２算出ステップと、前記第２算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップとを含むこととしてもよい。
【００１１】
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に信号処理を行わせるプログラムであって、前記信号処理は、データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、再生信号の品質を評価するための特定の評価信号を検出する評価信号検出ステップと、検出された評価信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去した評価信号を抽出する抽出ステップと、前記評価信号の比較対象となる所定の基準信号を生成する生成ステップと、フィルタリングの条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、フィルタリング条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出された前記評価信号について、その特性値と前記基準信号の特性値との差分を算出する第１算出ステップと、算出された前記差分間の差を算出する第２算出ステップと、前記第２算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下において算出された前記差分間の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップとを含むこととしてもよい。
【発明の効果】
【００１２】
本発明は、上記構成を備えることにより、データの再生時において、光ディスクの回転数や半径位置や温度が変化したことにより、再生信号の品質が劣化した場合に、そのことを評価信号の特性値と基準信号の特性値との差の変動に基づいて検出し、変動が所定のレベル以下になるように、レーザ光の照射条件又はフィルタリング条件が制御されるので、データ再生時における、再生信号の品質劣化を迅速に修正することができ、再生信号の品質低下を有効に防止することができる。
【００１３】
ここで、前記特定の評価信号は、ウォブル信号であり、前記所定の基準信号は、ウォブル基準信号であり、前記特性値は、周期であり、前記パラメータは、レーザ光の光ディスクに対する照射角度又はレーザ光の照射位置の光ディスクの半径方向への移動又はレーザ光のフォーカス位置のフォーカス方向への移動の何れかを制御するパラメータであり、前記再生信号検出手段はさらに、データ記録時に光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成される再生信号を検出することとしてもよい。
【００１４】
これにより、ウォブルジッタの変動が所定のレベル以下になるように制御されるので、データ記録時におけるデータ記録のタイミングを決定するための基準信号となるウォブル信号の周期の変動を少なくするように制御することができ、データ記録中におけるデータの記録品質を一定に保つことができる。
ここで、前記特定の評価信号は、ウォブル信号であり、前記所定の基準信号は、ウォブル基準信号であり、前記第１算出手段は、前記変更処理の前後の各照射条件下において、一定時間内に検出された各ウォブル信号の周期とウォブル基準信号の周期との差であるウォブルジッタを順次算出するジッタ算出手段と、順次算出されたウォブルジッタに基づいて、算出された各ウォブルジッタの平均値と各ウォブルジッタとの差の二乗の和であるウォブルジッタ分散を、前記変更処理の前後にそれぞれ検出されたウォブルジッタ信号について算出する分散算出手段とを有し、前記第２算出手段は、前記分散算出手段によって算出された、前記変更処理の前後についてのウォブルジッタ分散の差を算出し、
前記パラメータは、レーザ光の光ディスクに対する照射角度又はレーザ光の照射位置の光ディスクの半径方向への移動又はレーザ光のフォーカス位置のフォーカス方向への移動の何れかを制御するパラメータであり、前記再生信号検出手段はさらに、データ記録時に光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成される再生信号を検出することとしてもよい。
【００１５】
これにより、ウォブルジッタ分散の変動が所定のレベル以下になるように制御されるので、データ記録時におけるデータ記録のタイミングを決定するための基準信号となるウォブル信号の周期のバラツキを少なくするように制御することができ、光ディスク上のデータの記録位置にムラが生じるのを防止することができる。
ここで、前記特定の評価信号は、データ信号であり、前記所定の基準信号は、データ基準信号であり、前記特性値は、周期であり、前記パラメータは、レーザ光の光ディスクに対する照射角度又はレーザ光の照射位置の光ディスクの半径方向への移動又はレーザ光のフォーカス位置のフォーカス方向への移動の何れかを制御するパラメータであることとしてもよい。
【００１６】
これにより、データジッタの変動が所定のレベル以下になるように制御されるので、データ再生時におけるデータの再生品質を一定に保つことができる。
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理装置であって、データの再生時又はデータ記録時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出手段と、検出されたアドレス信号からエラーを示すエラー信号を検出するエラー検出手段と、一定時間内に検出されたアドレス信号の総数に対する、当該時間内に検出されたエラー信号の総数の比率であるアドレスエラー率を算出するエラー率算出手段と、レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差を算出するエラー率差算出手段と、前記エラー率差算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段とを備えることとしてもよい。
【００１７】
ここで、前記パラメータは、レーザ光の光ディスクに対する照射角度又はレーザ光の照射位置の光ディスクの半径方向への移動又はレーザ光のフォーカス位置のフォーカス方向への移動の何れかを制御するパラメータであることとしてもよい。
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理装置であって、データの再生時又はデータの記録時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出手段と、検出されたアドレス信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去したアドレス信号を抽出する抽出手段と、抽出されたアドレス信号からエラーを示すエラー信号を検出するエラー検出手段と、一定時間内に抽出されたアドレス信号の総数に対する、当該時間内に検出されたエラー信号の総数の比率であるアドレスエラー率を算出するエラー率算出手段と、フィルタリング条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差を算出するエラー率差算出手段と、前記エラー率差算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段とを備えることとしてもよい。
【００１８】
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置であって、データの再生時又はデータ記録時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成される再生信号を検出する再生信号検出手段と、検出された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出手段と、検出されたアドレス信号からエラーを示すエラー信号を検出するエラー検出手段と、一定時間内に検出されたアドレス信号の総数に対する、当該時間内に検出されたエラー信号の総数の比率であるアドレスエラー率を算出するエラー率算出手段と、レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差を算出するエラー率差算出手段と、前記エラー率差算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段とを備えることとしてもよい。
【００１９】
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理方法であって、データの再生時又はデータの記録時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出ステップと、検出されたアドレス信号からエラーを示すエラー信号を検出するエラー検出ステップと、
一定時間内に検出されたアドレス信号の総数に対する、当該時間内に検出されたエラー信号の総数の比率であるアドレスエラー率を算出するエラー率算出ステップと、レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差を算出するエラー率差算出ステップと、前記エラー率差算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップとを含むこととしてもよい。
【００２０】
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に信号処理を行わせるプログラムであって、前記信号処理は、データの再生時又はデータの記録時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出ステップと、検出されたアドレス信号からエラーを示すエラー信号を検出するエラー検出ステップと、一定時間内に検出されたアドレス信号の総数に対する、当該時間内に検出されたエラー信号の総数の比率であるアドレスエラー率を算出するエラー率算出ステップと、レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差を算出するエラー率差算出ステップと、前記エラー率差算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップとを含むこととしてもよい。
【００２１】
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に信号処理を行わせるプログラムであって、前記信号処理は、データの再生時に、光ディスクに対して照射したレーザの反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出ステップと、
検出されたアドレス信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去したアドレス信号を抽出する抽出ステップと、抽出されたアドレス信号からエラーを示すエラー信号を検出するエラー検出ステップと、一定時間内に抽出されたアドレス信号の総数に対する、当該時間内に検出されたエラー信号の総数の比率であるアドレスエラー率を算出するエラー率算出ステップと、フィルタリング条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差を算出するエラー率差算出手段と、前記エラー率差算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出されたアドレスエラー率の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップとを含むこととしてもよい。
【００２２】
これにより、データの再生時又はデータの記録時において、光ディスクの回転数や半径位置や温度が変化したことにより、アドレスエラー率が増加した場合に、そのことを検出し、アドレスエラー率の変動が所定のレベル以下になるように、レーザ光の照射条件又はフィルタリング条件が制御されるので、データ再生時又はデータ記録時における、アドレスエラー率の増加を迅速に防止することができ、データ再生又は記録時において、不具合が生じるのを有効に防止することができる。
【００２３】
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理装置であって、データの再生時に、入力されたアドレスに基づいて、レーザ光の照射位置を算出する位置算出手段と、算出された照射位置から光ディスクに対して照射したレーザ光の反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出手段と、検出されたアドレス信号の示す前記位置と照射位置との間の位置誤差を算出する誤差算出手段と、レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差を算出する誤差変化算出手段と、前記誤差変化算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段とを備えることとしてもよい。
【００２４】
ここで、前記パラメータは、レーザ光の光ディスクに対する照射角度又はレーザ光の照射位置の光ディスクの半径方向への移動又はレーザ光のフォーカス位置のフォーカス方向への移動の何れかを制御するパラメータであることとしてもよい。
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理装置であって、データの再生時に、入力されたアドレスに基づいて、レーザ光の照射位置を算出する位置算出手段と、算出された照射位置から光ディスクに対して照射したレーザ光の反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出手段と、検出されたアドレス信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去したアドレス信号を抽出する抽出手段と、抽出されたアドレス信号の示す前記位置と照射位置との間の位置誤差を算出する誤差算出手段と、フィルタリング条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、フィルタリング条件を変更する変更処理を行う変更手段と、前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差を算出する誤差変化算出手段と、前記誤差変化算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段とを備えることとしてもよい。
【００２５】
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置であって、データの再生時に、入力されたアドレスに基づいて、レーザ光の照射位置を算出する位置算出手段と、算出された照射位置から光ディスクに対して照射したレーザ光の反射光により生成される再生信号を検出する再生信号検出手段と、検出された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出手段と、検出されたアドレス信号の示す前記位置と照射位置との間の位置誤差を算出する誤差算出手段と、レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更手段と、前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差を算出する誤差変化算出手段と、前記誤差変化算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較手段と、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出手段により検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正手段とを備えることとしてもよい。
【００２６】
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に用いる信号処理方法であって、データの再生時に、入力されたアドレスに基づいて、レーザ光の照射位置を算出する位置算出ステップと、算出された照射位置から光ディスクに対して照射したレーザ光の反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出ステップと、検出されたアドレス信号の示す前記位置と照射位置との間の位置誤差を算出する誤差算出ステップと、レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差を算出する誤差変化算出ステップと、前記誤差変化算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップとを含むこととしてもよい。
【００２７】
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に信号処理を行わせるプログラムであって、前記信号処理は、データの再生時に、入力されたアドレスに基づいて、レーザ光の照射位置を算出する位置算出ステップと、算出された照射位置から光ディスクに対して照射したレーザ光の反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出ステップと、検出されたアドレス信号の示す前記位置と照射位置との間の位置誤差を算出する誤差算出ステップと、レーザ光の照射条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、照射条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差を算出する誤差変化算出ステップと、前記誤差変化算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各照射条件下で前記アドレス信号検出ステップにより検出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップとを含むこととしてもよい。
【００２８】
又、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射することにより、データの記録、再生を行う光ディスク装置に信号処理を行わせるプログラムであって、前記信号処理は、データの再生時に、入力されたアドレスに基づいて、レーザ光の照射位置を算出する位置算出ステップと、算出された照射位置から光ディスクに対して照射したレーザ光の反射光により生成された再生信号から、光ディスク上における位置を示すアドレス信号を検出するアドレス信号検出ステップと、検出されたアドレス信号をフィルタリングすることにより、特定の周波数範囲の成分を除去したアドレス信号を抽出する抽出ステップと、抽出されたアドレス信号の示す前記位置と照射位置との間の位置誤差を算出する誤差算出ステップと、フィルタリング条件を制御するパラメータを所定の微少量だけ変更することにより、フィルタリング条件を変更する変更処理を行う変更ステップと、前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差を算出する誤差変化算出ステップと、前記誤差変化算出手段によって算出された前記差の大きさと閾値とを比較する比較ステップと、前記差の大きさが閾値を超えている場合に、前記パラメータを、所定の算出式に従って補正する補正処理を行い、補正後の前記パラメータについての前記変更処理の前後の各フィルタリング条件下で抽出されたアドレス信号について、算出された位置誤差の差の大きさが閾値を超えなくなるまで前記補正処理を繰り返すパラメータ補正ステップとを含むこととしてもよい。
【００２９】
これにより、データの再生時において、光ディスクの回転数や半径位置や温度が変化したことにより、位置誤差が大きくなった場合に、そのことを検出し、位置誤差が所定のレベル以下になるように、レーザ光の照射条件又はフィルタリング条件が制御されるので、データ再生時において、位置誤差が大きくなった場合においても誤差を迅速に修正することができ、光ディスク上における再生位置への移動をスムーズに行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
（実施の形態１）
＜構成＞
図１は本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置１００の構成を示す機能ブロック図である。
光ディスク装置１００は、光ディスク１０１、光ピックアップ装置１０２、回転装置１０３、信号処理装置１０４、システムコントローラ１０５、チルト駆動装置１０６、操作部１０７から構成される。
【００３１】
光ディスク装置１００は、ハードウェアとしてはＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスク、光源ユニット、レーザ光収束用対物レンズ、アクチュエータ、フィルタ等から構成され、ＲＯＭ又は上記ハードディスクには、コンピュータプログラムが記憶され、上記ＣＰＵが、上記コンピュータプログラムに従って動作することにより、光ディスク装置１００は、その機能を実現する。以下、後述する実施の形態２〜５における光ディスク装置についても同様である。
（光ディスク１０１）
ディスク半径方向に僅かに蛇行された記録トラックを有するＣＤ−Ｒ（Compact Disk Recordable）やＤＶＤ（Digital Video Disc）等の、データの記録再生が可能な記録媒体である。
（光ビックアップ部１０２）
光ピックアップ部１０２は、光検出部１０２１とレーザ照射部１０２２とから構成される。
【００３２】
（光検出部１０２１）
レーザ照射部１０２２から光ディスク１０１上に照射されたレーザ光が、光ディスクに当たって反射する反射光を検出し、検出した反射光を電気信号に変換してＲＦ信号を再生し、信号処理装置１０４に出力する。
（レーザ照射部１０２２）
光ディスク１０１上にレーザ光を照射する。
（回転装置１０３）
スピンドルモータ等から構成され、光ディスク１０１を所定の速度で回転させ、回転数を示す信号を信号処理装置１０４に出力する。
（信号処理装置１０４）
ウォブル信号処理部１０４１、ウォブルジッタ算出部１０４２、回転検出部１０４３、ウォブル基準信号生成部１０４４、制御量変更部１０４５．極小制御量決定部１０４６、チルト制御部１０４７から構成される。
【００３３】
（ウォブル信号処理部１０４１）
光検出部１０２１より入力されたＲＦ信号から、ウォブル信号を検出し、検出したウォブル信号を復調してウォブルジッタ算出部１０４２に出力する。
（ウォブルジッタ算出部１０４２）
ウォブル基準信号生成部１０４４から入力されたウォブル基準信号とウォブル信号処理装置１０４１から入力されたウォブル信号とから、それらの周期の差（以下、「ウォブルジッタ」という。）を算出し、システムコントローラ１０５に出力する。
【００３４】
（回転検出部１０４３）
回転装置１０３から入力された信号に基づいて、光ディスク１０１の回転数を検出し、ウォブル基準信号生成部１０４４に出力する。
（ウォブル基準信号生成部１０４４）
回転検出部１０４３から入力された回転数に基づいて、ウォブル基準信号を生成し、ウォブルジッタ算出部１０４２に出力する。
【００３５】
（制御量変更部１０４５）
データの記録又は再生前と記録中又は再生中にチルト制御量を変更する。
１．データの記録又は再生前のチルト制御量変更処理
データの記録又は再生指示があると、記録又は再生開始前にシステムコントローラ１０５に保持されている、複数のチルト制御量を順次取得し、チルト制御部１０４７に出力して、チルト駆動装置１０６を介して光ピックアップ装置１０２全体の傾きを、入力されたチルト制御量に応じた角度だけ変化させ、変化させた角度で光ディスク１０１へのレーザ光照射を行わせる。
【００３６】
ここで、「チルト制御量」とは、チルト駆動装置１０６に光ピックアップ装置１０２の傾きの角度を決定するためのパラメータのことをいい、チルト駆動装置１０６は、チルト制御量に応じて光ピックアップ装置１０２の角度を変更し、光ピックアップ装置１０２は、変更された角度でレーザ光を光ディスク１０１上に照射する。上記のように、光ピックアップ装置１０２のレーザ光の照射角度を変更する方法については、従来技術である（例えば、特許文献（特開２００１−１９５７６２号公報、特許３１１４６６１号公報等）に開示されている）ので、詳しい説明を省略する。
【００３７】
なお、光ピックアップ装置１０２全体を傾けることなく、レーザ照射部１０２２の対物レンズの傾きを変更することにより、レーザ光の照射角度を変更することとしてもよい。
さらに、制御量変更部１０４５は、極小制御量決定部１０４６により算出された後述するチルト制御量の極小値が入力されると、システムコントローラ１０５に出力してメモリ１０５１に記録させるとともに、チルト制御部１０４７に出力して、チルト駆動装置１０６を介して光ピックアップ装置１０２から光ディスク１０１へのレーザ光の照射角度を、チルト制御量の極小値に相当する角度に変更させる。
２．データの記録又は再生中のチルト制御量変更処理
データの記録又は再生が開始されると、システムコントローラ１０５のメモリ１０５１に記録されているチルト制御量（直前に更新されたチルト制御量（ｘｎ）、未更新時においては、チルト制御量の極小値（ｘ０））に基づいて算出されたウォブルジッタ（ｙｎ）を取得し、予め設定されている量だけチルト制御量を変更（所定の微少量（Δｘ）増加）し、チルト制御部１０４７に出力し、チルト駆動装置１０６を介して光ピックアップ装置１０２から光ディスク１０１へのレーザ光の照射角度を、変更後のチルト制御量に相当する角度に変更させ、システムコントローラ１０５より、変更後のチルト制御量に基づいて算出されたウォブルジッタ（ｙΔｎ）を取得し、先に取得したウォブルジッタ（ｙｎ）との差（Δｙ＝ｙΔｎ―ｙｎ）を算出し、Δｙの絶対値と閾値（予め定められた０近傍の値）とを比較する。
【００３８】
閾値を超える場合に、ｘｎ（又はｘ０）とチルト制御量の変更量（Δｘ）と算出したΔｙとを極小制御量決定部１０４６に出力する処理を行い、極小制御量決定部１０４６により算出された後述するチルト制御量の極小値候補値を取得し、チルト制御部１０４７に出力し、チルト駆動装置１０６を介して光ピックアップ装置１０２から光ディスク１０１へのレーザ光の照射角度を、極小値候補値に相当する角度に変更させ、さらに、システムコントローラ１０５に出力してメモリ１０５１に記録されているチルト制御量を極小値候補値に更新させ、極小値候補値に更新後のチルト制御量に基づいて、算出されたウォブルジッタ（ｙｎ＋１）をシステムコントローラ１０５より取得し、更新後のチルト制御量をΔｘだけ増加させた変更後のチルト制御量に基づいて算出されたウォブルジッタ（ｙΔ（ｎ＋１））との差（Δｙ＝ｙΔ（ｎ＋１）―ｙｎ＋１）を算出し、算出したΔｙの絶対値について、閾値と比較する処理を繰り返す。
【００３９】
一方、Δｙの絶対値が閾値を超えない場合には、チルト制御量を更新することなく、Δｙを算出する処理を繰り返し、算出したΔｙの絶対値について、閾値と比較する処理を繰り返す。
（極小制御量決定部１０４６）
データの記録又は再生前と記録中又は再生中において、チルト制御量の極小値を決定する処理を行う。
１．データの記録又は再生前の極小値決定処理
システムコントローラ１０５から、複数のチルト制御量と、各チルト制御量について算出されたウォブルジッタとを取得し、取得した各チルト制御量と当該チルト制御量について算出されたウォブルジッタとの対応関係に基づいて、最小２乗法により、２次の近似曲線を作成し、作成した近似曲線からチルト制御量の極小値を算出し、算出した極小値を制御量変更部１０４５に出力する。
【００４０】
ここで、「チルト制御量の極小値」とは、上記２次近似曲線より算出される、ウォブルジッタを最小とするチルト制御量のことをいう。
図１５の１５１は、極小制御量決定部１０４６によって作成された２次の近似曲線の具体例を示す。１５１の示す２次近似曲線上の各黒丸は、システムコントローラ１０５に保持されている各チルト制御量と当該チルト制御量について算出されたウォブルジッタとの対応関係を直交座標にプロットした各座標点を表す。
【００４１】
図１５の１５２は、データの記録又は再生中における光ディスク１０１の回転数やレーザ光の照射位置や温度等の変化により、チルト制御量とウォブルジッタとの対応関係が変化した後の２次近似曲線をイメージ的に表したものである。
図１５では、上記変化により、チルト制御量の極小値がｘ１からｘ２に変化したことを示している。図１５のｙ１は、ｘ１について算出されたウォブルジッタを示し、ｙ２は、ｘ２について算出されたウォブルジッタを示す。
２．データの記録又は再生中の極小値決定処理
制御量変更部１０４５より、ｘｎ（又はｘ０）とチルト制御量の変更量（Δｘ）とウォブルジッタの差（Δｙ）とが入力されると、数１に示す算出式より、チルト制御量の極小値候補値（ｘｎ＋１）を算出し、算出したｘｎ＋１を制御量変更部１０４５に出力する。
［数１］    ｘｎ＋１＝ｘｎ−Δｙ／Δｘ×Ｋ      （ｎ＝０，１，２・・・・・・ｎ）
数１において、ｘｎは、システムコントローラ１０５のメモリ１０５１に記録されているチルト制御量、具体的には、ｘｎ＋１が算出される直前に、数１により算出された極小値候補値を表し、直前に算出された極小値候補値がない場合（データの記録又は再生開始直後の場合）には、１の処理において算出されたチルト制御量の極小値（ｘ０とする。）を表す。
【００４２】
又、数１は、ニュートン法に基づき、実験的に定められた極小値を求めるための近似式であり、Ｋは、実験的に定められた正の定数であり、数１により、Δｙが０近傍値となる極小値候補値を求めることにより、チルト制御量の極小値の近傍値を算出することができる。
（チルト制御部１０４７）
制御量変更部１０４５より入力されたチルト制御量に応じて、チルト駆動装置１０６に光ピックアップ装置１０２の傾きの角度を指示する。
（システムコントローラ１０５）
メモリ１０５１を有し、メモリ１０５１には、予めチルト制御量の極小値算出用の複数のチルト制御量と閾値（具体的には、０近傍値）とが記録されており、さらに、各チルト制御量に基づいて算出されたウォブルジッタ、制御量変更部１０４５より入力される、チルト制御量の極小値、チルト制御量の極小候補値、ウォブルジッタ算出部１０４２より入力される、各チルト制御量に基づいて算出されたウォブルジッタとが随時記録される。
【００４３】
システムコントローラ１０５は、データの記録又は再生前において、制御量変更部１０４５からの要求に応じて記録している複数のチルト制御量を順次信号処理装置１０４に出力し、出力したチルト制御量に基づいて算出されたウォブルジッタをウォブルジッタ算出部１０４２より取得し、出力したチルト制御量と対応付けてメモリ１０５１に記録し、極小制御量決定部１０４６からの要求に応じて、メモリ１０５１に記録したチルト制御量と対応するウォブルジッタを極小制御量決定部１０４６に出力し、制御量変更部１０４５より入力されたチルト制御量の極小値と当該極小値に基づいて算出されたウォブルジッタとをメモリ１０５１に記録する。
【００４４】
又、データの記録又は再生中において、制御量変更部１０４５より、チルト制御量の極小候補値（ｘｎ＋１）が入力されると、メモリ１０５１に記録されているチルト制御量（直前のチルト制御量の極小値候補値（ｘｎ）又は直前の極小値候補値が記録されていない場合には、記録又は再生動作前に算出されたチルト制御量の極小値）を入力されたｘｎ＋１に書き換え、ｘｎ＋１に基づいて算出されたウォブルジッタが、ウォブルジッタ算出部１０４２より入力されると、メモリ１０５１に記録されている、直前の極小値候補値（ｘｎ）又は記録又は再生動作前に算出されたチルト制御量の極小値に基づいて算出されたウォブルジッタを、入力されたウォブルジッタに書き換える。
（チルト駆動装置１０６）
チルト制御部１０４７からの指示に応じて、光ピックアップ装置１０２の傾き角度を変更して光ディスク１０１へのレーザ光の照射角度を変更する。
（操作部１０７）
ユーザから種々の指示を受取り、システムコントローラ１０５に出力する。例えば、データの記録又は、再生の開始指示、後述するチルト制御量調節処理Ｂの終了指示等をユーザから受取り、システムコントローラ１０５に出力する。
＜動作＞
（チルト制御量調節処理Ａ）
次に、信号処理装置１０４の行う、データの記録又は再生動作開始前のチルト制御量調節処理Ａの動作について説明する。図２は、上記動作を示すフローチャートである。
【００４５】
信号処理装置１０４は、データの記録又は再生指示があると、記録または再生開始前にシステムコントローラ１０５に保持されている、複数のチルト制御量を順次取得し（ステップＳ２０１）、取得した各チルト制御量に相当する角度だけ、光ピックアップ装置１０６の傾きを変化させるようにチルト駆動装置１０６に指示することにより、光ピックアップ装置１０６の傾きを取得した各チルト制御量に相当する分だけ順次変更させる（ステップＳ２０２）。
【００４６】
光ピックアップ装置１０６は、順次変更された傾きでレーザ光を光ディスク１０１上に照射し、反射光を検出し（ステップＳ２０３）、検出した反射光を電気信号に変換してＲＦ信号を再生し、信号処理装置１０４に出力する。
信号処理装置１０４は、入力されたＲＦ信号からウォブル信号を順次検出し（ステップＳ２０４）、検出したウォブル信号の周期と生成したウォブル基準信号の周期とに基づいて順次ウォブルジッタを算出し（ステップＳ２０５）、取得した各チルト制御量と、当該チルト制御量について算出されたウォブルジッタとの対応関係に基づいて、最小２乗法により、２次の近似曲線を作成し（ステップＳ２０６）、作成した近似曲線からチルト制御量の極小値を算出し（ステップＳ２０７）、当該極小値をシステムコントローラ１０５に出力してメモリ１０５１に記録させるとともに、チルト駆動装置１０６を介して光ピックアップ装置１０２から光ディスク１０１へのレーザ光の照射角度を、チルト制御量の極小値に相当する角度に変更させ（ステップＳ２０８）、変更後のレーザ光の照射に基づいて検出したウォブル信号の周期に基づいてウォブルジッタを算出し、システムコントローラ１０５に出力してメモリ１０５１に記録させる。
（チルト制御量調節処理Ｂ）
次に、信号処理装置１０４の行う、データの記録又は再生動作中のチルト制御量調節処理Ｂの動作について説明する。図３は、上記動作を示すフローチャートである。
【００４７】
データの記録又は再生が開始されると、信号処理装置１０４は、システムコントローラ１０５のメモリ１０５１に記録されているチルト制御量（直前のチルト制御量の極小値候補値（ｘｎ）又は直前の極小値候補値が記録されていない場合には、記録又は再生動作前に算出されたチルト制御量の極小値）を取得し（ステップＳ３０１）、取得したチルト制御量（ｘｎ）に基づいてウォブルジッタ（ｙｎ）を算出し（ステップＳ３０２）、システムコントローラ１０５に、メモリ１０５１に記録されているウォブルジッタ（直前の極小値候補値（ｘｎ）又は記録又は再生動作前に算出されたチルト制御量の極小値に基づいて算出されたウォブルジッタ）をｙｎに更新させ、予め設定されている量（Δｘ）だけ、チルト制御量を増大させてチルト制御量を変更し（ステップＳ３０３）、変更したチルト制御量に相当する角度だけ、光ピックアップ装置１０６の傾きを変化させるようにチルト駆動装置１０６に指示することにより、光ピックアップ装置１０６の傾きを変更したチルト制御量に相当する分だけ変更させる（ステップ３０４）。
【００４８】
光ピックアップ装置１０６は、変更された傾きでレーザ光を光ディスク１０１上に照射し、反射光を検出し（ステップＳ３０５）、検出した反射光を電気信号に変換してＲＦ信号を再生し、信号処理装置１０４に出力する。
信号処理装置１０４は、入力されたＲＦ信号からウォブル信号を検出し（ステップＳ３０６）、検出したウォブル信号の周期と生成したウォブル基準信号の周期とに基づいてウォブルジッタ（ｙΔｎ）を算出し（ステップＳ３０７）、算出したウォブルジッタ（ｙΔｎ）とシステムコントローラ１０５のメモリ１０５１に記録されているウォブルジッタ（ｙｎ）との差（ｙΔｎ―ｙｎ＝Δｙ）を算出し（ステップＳ３０８）、Δｙの絶対値（｜Δｙ｜）と閾値とを比較する（ステップＳ３０９）。
【００４９】
信号処理装置１０４は、Δｙの絶対値が閾値を超える場合（ステップＳ３０９：Ｙ）、数１により、チルト制御量の極小値候補値（ｘｎ＋１）を算出し（ステップＳ３１０）、チルト駆動装置１０６を介して光ピックアップ装置１０２から光ディスク１０１へのレーザ光の照射角度を、極小値候補値（ｘｎ＋１）に相当する角度に変更させ（ステップＳ３１１）、さらに、システムコントローラ１０５に出力してメモリ１０５１に記録されているチルト制御量をｘｎ＋１に更新させ、システムコントローラ１０５より、チルト制御量調節処理Ｂの終了指示の入力があったか否かを判定し（ステップＳ３１２）、無い場合（ステップＳ３１２：Ｎ）、変数ｎを１インクリメントして（ステップＳ３１３）、ステップＳ３０１の処理に移行する。
【００５０】
ステップＳ３０９において、閾値を超えない場合（ステップＳ３０９：Ｎ）、ステップＳ３１２の処理に移行する。
図１６は、チルト制御量とウォブルジッタとの対応関係に基づいて、最小２乗法により作成された２次近似曲線の具体例を示す。
図１６の１６１は、データの記録又は再生中における光ディスク１０１の回転数やレーザ光の照射位置や温度等の変化により、チルト制御量とウォブルジッタとの対応関係が変化する直前の２次近似曲線を示し、１６２は、変化直後の２次近似曲線を示す。
【００５１】
図１６のｘｎは、対応関係が変化する前に、チルト制御量の極小値であったことを示し、対応関係の変化により、チルト制御量に対応付けられる２次近似曲線が１６１から１６２に変化したため、当該チルト制御量に基づくウォブルジッタの値がｙ０からｙｎに変化し、変化後の１６２の２次近似曲線においては、ｘｎを所定の微少量Δｘ増加した場合におけるウォブルジッタの変化率（図１６のΔｙ（＝ｙΔｎ―ｙｎ））の大きさが、変化前の１６１の２次近似曲線の場合に比べ、大きくなる。
【００５２】
従って、チルト制御量に対応付けられる２次近似曲線が変化したかどうかを、図３のステップＳ３０９の比較処理を行うことにより検出することができる。
又、図３のステップＳ３０９及びステップＳ３１０の処理を、Δｙの絶対値が閾値を超えなくなるまで、すなわち、０にほぼ等しくなるまで繰り返すことにより、図１６の１６２の２次近似曲線において、チルト制御量をΔｘ増加した場合に、Δｙが０となり、ウォブルジッタが最小（ｙ０）となるチルト制御量の極小値（図１６のｘ０）を算出することができる。
【００５３】
又、図１６のｘｎ＋１は、図３のステップＳ３１０の処理によって算出されるチルト制御量の極小値候補値を示し、ｙn＋１は、ｘｎ＋１について算出されたウォブルジッタを示す。
（実施の形態２）
＜構成＞
図４は本発明の実施の形態２に係る光ディスク装置２００の構成を示す機能ブロック図である。
【００５４】
光ディスク装置２００は、光ディスク１０１、光ピックアップ装置１０２、回転装置１０３、信号処理装置２０４、システムコントローラ２０５、チルト駆動装置１０６、操作部１０７から構成される。
上記において、実施の形態１に係る光ディスク装置１００の構成要素と同一の構成要素については、同一の番号を付し、以下、光ディスク装置１００と構成要素が相違する信号処理装置２０４及びシステムコントローラ２０５について説明する。
（信号処理装置２０４）
データ信号処理部２０４１、データジッタ算出部２０４２、回転検出部２０４３、データ基準信号生成部２０４４、制御量変更部２０４５．極小制御量決定部２０４６、チルト制御部１０４７から構成される。
【００５５】
以下、実施の形態１に係る信号処理装置１０４と相違する各構成要素について説明する。
（データ信号処理部２０４１）
光検出部１０２１より入力されたＲＦ信号から、レーザ光照射により光ディスク上に形成されたマーク（レーザ光照射により、光ディスク上の記録膜がアモルファス化した部分）に起因するデータ信号を検出し、検出したデータ信号を復調してデータジッタ算出部２０４２に出力する。
【００５６】
（データジッタ算出部２０４２）
データ信号処理装置２０４１から入力されたデータ信号と、データ基準信号生成部２０４４から入力されたデータ基準信号とから、それらの周期の差（以下、「データジッタ」という。）を算出し、システムコントローラ２０５に出力する。
（回転検出部２０４３）
回転装置１０３から入力される信号に基づいて、光ディスク１０１の回転数を検出し、データ基準信号生成部２０４４に出力する。
【００５７】
（データ基準信号生成部２０４４）
回転検出部１０４３から入力された回転数に基づいて、データ基準信号を生成し、生成したデータ基準信号をデータジッタ算出部２０４２に出力する。
（制御量変更部２０４５）
実施の形態１における制御量変更部１０４５の機能の説明において、「ウォブルジッタ」の記載を「データジッタ」の記載に、アルファベット「ｙ」の記載を「ｚ」の記載に読み替えた機能を有する。
【００５８】
なお、制御量変更部１０４５の行うデータの記録又は再生中のチルト制御量変更処理においては、「記録又は再生」を「再生」と読み替えることとする。
（極小制御量決定部２０４６）
実施の形態１における極小制御量決定部１０４６の機能の説明において、「ウォブルジッタ」の記載を「データジッタ」の記載に、アルファベット「ｙ」の記載を「ｚ」の記載に読み替えた機能を有する。
【００５９】
なお、極小制御量決定部１０４６の行うデータの記録又は再生中の極小値決定処理においては、「記録又は再生」を「再生」と読み替えることとする。
（システムコントローラ２０５）
実施の形態１におけるシステムコントローラ１０５の機能の説明において、「ウォブルジッタ」の記載を「データジッタ」の記載に、「ウォブルジッタ算出部１０４２」の記載を「データジッタ算出部２０４２」の記載に、「メモリ１０５１」の記載を「メモリ２０５１」の記載にそれぞれ読み替えた機能を有する。
＜動作＞
（チルト制御量調節処理Ａ１）
次に、信号処理装置２０４の行う、データの記録又は再生動作開始前のチルト制御量調節処理Ａ１の動作について説明する。図５は、上記動作を示すフローチャートである。
【００６０】
信号処理装置２０４は、データの記録又は再生指示があると、記録または再生開始前にシステムコントローラ２０５に保持されている、複数のチルト制御量を順次取得し（ステップＳ５０１）、取得した各チルト制御量に相当する角度だけ、光ピックアップ装置１０６の傾きを変化させるようにチルト駆動装置１０６に指示することにより、光ピックアップ装置１０６の傾きを取得した各チルト制御量に相当する分だけ順次変更させる（ステップＳ５０２）。
【００６１】
光ピックアップ装置１０６は、順次変更された傾きでレーザ光を光ディスク１０１上に照射し、反射光を検出し（ステップＳ５０３）、検出した反射光を電気信号に変換してＲＦ信号を再生し、信号処理装置２０４に出力する。
信号処理装置２０４は、入力されたＲＦ信号からデータ信号を順次検出し、（ステップＳ５０４）、検出したデータ信号の周期と生成したデータ基準信号の周期に基づいて順次データジッタを算出し（ステップＳ５０５）、取得した各チルト制御量と、当該チルト制御量について算出されたデータジッタとの対応関係に基づいて、最小２乗法により、２次の近似曲線を作成し（ステップ５０６）、作成した近似曲線からチルト制御量の極小値を算出し（ステップＳ５０７）、当該極小値をシステムコントローラ１０５に出力するとともに、チルト駆動装置１０６を介して光ピックアップ装置１０２から光ディスク１０１へのレーザ光の照射角度を、チルト制御量の極小値に相当する角度に変更させ（ステップＳ５０８）、算出したデータ信号と生成したデータ基準信号の周期に基づいてデータジッタを算出し、システムコントローラ２０５に出力してメモリ２０５１に記録させる。
（チルト制御量調節処理Ｂ１）
次に、信号処理装置２０４の行う、データの再生動作中のチルト制御量調節処理Ｂ１の動作について説明する。図６は、上記動作を示すフローチャートである。
【００６２】
データの再生が開始されると、信号処理装置２０４は、システムコントローラ２０５のメモリ２０５１に記録されているチルト制御量（ｘｎ）を取得し（ステップＳ６０１）、取得したチルト制御量（ｘｎ）に基づいてデータジッタ（ｚ０）を算出し（ステップＳ６０２）、システムコントローラ２０５に、メモリ２０５１に記録されているデータジッタをｙ０に更新させ、予め設定されている量（Δｘ）だけ、チルト制御量を増大させてチルト制御量を変更し（ステップＳ６０３）、変更したチルト制御量に相当する角度だけ、光ピックアップ装置１０６の傾きを変化させるようにチルト駆動装置１０６に指示することにより、光ピックアップ装置１０６の傾きを変更したチルト制御量に相当する分だけ変更させる（ステップ６０４）。
【００６３】
光ピックアップ装置１０６は、変更された傾きでレーザ光を光ディスク１０１上に照射し、反射光を検出し（ステップＳ６０５）、検出した反射光を電気信号に変換してＲＦ信号を再生し、信号処理装置２０４に出力する。
信号処理装置２０４は、入力されたＲＦ信号からデータ信号を検出し（ステップＳ６０６）、検出したデータ信号の周期と生成したデータ基準信号の周期とに基づいてデータジッタ（ｚΔｎ）を算出し（ステップＳ６０７）、算出したデータジッタ（ｚΔｎ）とシステムコントローラ２０５のメモリ２０５１に記録されているデータジッタ（ｚ０）との差（ｚΔｎ―ｚ０＝Δｚ）を算出し（ステップＳ６０８）、Δｚの絶対値（｜Δｚ｜）と閾値とを比較する（ステップＳ６０９）。
【００６４】
信号処理装置１０４は、Δｚの絶対値が閾値を超える場合（ステップＳ６０９：Ｙ）、数１（数１において、アルファベット「ｙ」を「ｚ」に読み替えた数式）より、チルト制御量の極小値候補値（ｘｎ＋１）を算出し（ステップＳ６１０）、チルト駆動装置１０６を介して光ピックアップ装置１０２から光ディスク１０１へのレーザ光の照射角度を、極小値候補値（ｘｎ＋１）に相当する角度に変更させ（ステップＳ６１１）、さらに、システムコントローラ２０５に出力してメモリ２０５１に記録されているチルト制御量をｘｎ＋１に更新させ、システムコントローラ２０５より、チルト制御量調節処理Ｂの終了指示の入力があったか否かを判定し（ステップＳ６１２）、無い場合（ステップＳ６１２：Ｎ）、変数ｎを１インクリメントして（ステップＳ６１３）、ステップＳ６０１の処理に移行する。
【００６５】
ステップＳ６０９において、閾値を超えない場合（ステップＳ６０９：Ｎ）、ステップＳ６１２の処理に移行する。
図１７は、チルト制御量とデータジッタとの対応関係に基づいて、最小２乗法により作成された２次近似曲線の具体例を示す。
図１７の１７１は、データの再生中における光ディスク１０１の回転数やレーザ光の照射位置や温度等の変化により、チルト制御量とウォブルジッタとの対応関係が変化する直前の２次近似曲線を示し、１７２は、変化直後の２次近似曲線を示す。
【００６６】
図１７のｘｎは、対応関係が変化する前に、チルト制御量の極小値であったことを示し、対応関係の変化により、チルト制御量に対応付けられる２次近似曲線が１７１から１７２に変化したため、当該チルト制御量に基づくデータジッタの値がｚ０からｚｎに変化し、変化後の１７２の２次近似曲線においては、ｘｎを所定の微少量Δｘ増加した場合におけるデータジッタの変化率（図１７のΔｚ（＝ｚΔｎ―ｚｎ））の大きさが、変化前の１７１の２次近似曲線の場合に比べ、大きくなる。
【００６７】
従って、チルト制御量に対応付けられる２次近似曲線が変化したかどうかを、図６のステップＳ６０９の比較処理を行うことにより検出することができる。
又、図６のステップＳ６０９及びステップＳ６１０の処理を、Δｚの絶対値が閾値を超えなくなるまで、すなわち、０にほぼ等しくなるまで繰り返すことにより、図１７の１７２の２次近似曲線において、チルト制御量をΔｘ増加した場合に、Δｚが０となり、データジッタが最小（ｚ０）となるチルト制御量の極小値（図１７のｘ０）を算出することができる。
【００６８】
又、図１７のｘｎ＋１は、図６のステップＳ６１０の処理によって算出されるチルト制御量の極小値候補値を示し、ｚn＋１は、ｘｎ＋１について算出されたデータジッタを示す。
（実施の形態３）
図７は本発明の実施の形態３に係る光ディスク装置３００の構成を示す機能ブロック図である。
【００６９】
光ディスク装置３００は、光ディスク１０１、光ピックアップ装置１０２、回転装置１０３、信号処理装置３０４、システムコントローラ３０５、チルト駆動装置１０６、操作部１０７から構成される。
上記において、実施の形態１に係る光ディスク装置１００の構成要素と同一の構成要素については、同一の番号を付し、以下、光ディスク装置１００と構成要素が相違する信号処理装置３０４及びシステムコントローラ３０５について説明する。
（信号処理装置３０４）
ウォブル信号処理部１０４１、ウォブルジッタ分散算出部３０４２、回転検出部１０４３、ウォブル基準信号生成部１０４４、制御量変更部３０４５．極小制御量決定部３０４６、チルト制御部１０４７から構成される。
【００７０】
以下、実施の形態１に係る信号処理装置１０４と相違する各構成要素について説明する。
（ウォブルジッタ分散算出部３０４２）
ウォブル信号処理装置１０４１からウォブル信号が入力される毎に入力されたウォブル信号と、ウォブル基準信号生成部１０４４から入力されたウォブル基準信号とから、それらの周期を算出し、算出した各周期からウォブルジッタを順次算出して、算出したウォブルジッタについての分散（以下、「ウォブルジッタ分散（σ２）」という。）を算出して、システムコントローラ３０５に出力してメモリ３０５１に記録させる。
【００７１】
ここで、「ウォブルジッタ分散」とは、算出した各ウォブルジッタの値（ｙｎ）と、それらの平均値（ｙｎａｖ）との差の２乗の総和のことをいい、具体的には、数２により算出される値のことをいう。
［数２］  σｎ２＝Σ（ｙｎａｖ―ｙｎ）２
図２１は、一定時間内に順次算出されたウォブルジッタの値の分散例をグラフ化したものである。図２１のグラフは、一定時間内に算出されたウォブルジッタ値とその頻度（度数）との対応関係を表す。図２１（ａ）は、ウォブルジッタ値が均等に分散し、ウォブルジッタ分散が小さくなる場合の分散例を示し、図２１（ｂ）は、ウォブルジッタ値の度数に偏りが生じ、ウォブルジッタ分散が大きくなる場合の分散例を示す。
【００７２】
ウォブル信号の検出位置は、データを光ディスク１０１に記録するための基準位置となるため、ウォブルジッタ値に偏りが生じ、分散が大きくなると、データの記録位置にずれが生じやすくなり、記録されたデータを再生する際に不具合が生じやすくなる。
従って、後述するチルト制御量調節処理Ｂ２において、データ再生中、ウォブルジッタ分散が最小となるように、チルト制御量を調節することにより、このような不具合が生じるのを未然に防止することができる。
【００７３】
（制御量変更部３０４５）
実施の形態１における制御量変更部１０４５の機能の説明において、「ウォブルジッタ」の記載を「ウォブルジッタ分散」の記載に、アルファベット「ｙ」の記載を「ｚ」の記載に読み替えた機能を有する。
（極小制御量決定部３０４６）
実施の形態１における極小制御量決定部１０４６の機能の説明において、「ウォブルジッタ」の記載を「ウォブルジッタ分散」の記載に、アルファベット「ｙ」の記載を「σ２」の記載に読み替えた機能を有する。
（システムコントローラ３０５）
実施の形態１におけるシステムコントローラ１０５の機能の説明において。「ウォブルジッタ」の記載を「ウォブルジッタ分散」の記載に、「ウォブルジッタ算出部１０４２」の記載を「ウォブルジッタ分散算出部３０４２」の記載に、「メモリ１０５１」の記載を「メモリ３０５１」の記載にそれぞれ読み替えた機能を有する。
＜動作＞
（チルト制御量調節処理Ａ２）
次に、信号処理装置３０４の行う、データの記録又は再生動作開始前のチルト制御量調節処理Ａ２の動作について説明する。図８は、上記動作を示すフローチャートである。
【００７４】
信号処理装置３０４は、データの記録又は再生指示があると、記録または再生開始前にシステムコントローラ３０５に保持されている、複数のチルト制御量を順次取得し（ステップＳ８０１）、取得した各チルト制御量に相当する角度だけ、光ピックアップ装置１０６の傾きを変化させるようにチルト駆動装置１０６に指示することにより、光ピックアップ装置１０６の傾きを取得した各チルト制御量に相当する分だけ順次変更させる（ステップＳ８０２）。
【００７５】
光ピックアップ装置１０６は、順次変更された傾きで一定時間レーザ光を光ディスク１０１上に照射し、反射光を検出し（ステップＳ８０３）、検出した反射光を電気信号に変換してＲＦ信号を再生し、信号処理装置３０４に出力する。
信号処理装置３０４は、レーザ光が変更された傾きで一定時間照射されている間に入力されたＲＦ信号からウォブル信号を順次検出し（ステップＳ８０４）、順次検出したウォブル信号の周期と生成したウォブル基準信号の周期とに基づいてウォブルジッタ分散を算出し（ステップＳ８０５）、取得した各チルト制御量と、当該チルト制御量について算出されたウォブルジッタ分散との対応関係に基づいて、最小２乗法により、２次の近似曲線を作成し（ステップ８０６）、作成した近似曲線からチルト制御量の極小値を算出し（ステップＳ８０７）、当該極小値をシステムコントローラ３０５に出力するとともに、チルト駆動装置１０６を介して光ピックアップ装置１０２から光ディスク１０１へのレーザ光の照射角度を、チルト制御量の極小値に相当する角度に変更させ（ステップＳ８０８）、変更された傾きで一定時間レーザ光を光ディスク１０１上に照射し、一定時間内に順次検出したウォブル信号の周期と生成したウォブル基準信号の周期とからウォブルジッタ分散を算出し、システムコントローラ３０５に出力する。
【００７６】
（チルト制御量調節処理Ｂ２）
次に、信号処理装置３０４の行う、データの記録又は再生動作中のチルト制御量調節処理Ｂ２の動作について説明する。図９は、上記動作を示すフローチャートである。
データの記録又は再生が開始されると、信号処理装置３０４は、システムコントローラ３０５のメモリ３０５１に記録されているチルト制御量（ｘｎ）を取得し（ステップＳ９０１）、取得したチルト制御量（ｘｎ）によって制御された照射光に基づいて一定時間内に検出された各ウォブル信号の周期と生成したウォブル基準信号の周期とから、ウォブルジッタを順次算出し、順次算出した各ウォブルジッタに基づいてウォブルジッタ分散（σ０２）を算出し（ステップＳ９０２）、システムコントローラ３０５に、メモリ３０５１に記録されているウォブルジッタ分散をσ０２に更新させ、予め設定されている量（Δｘ）だけ、チルト制御量を増大させてチルト制御量を変更し（ステップＳ９０３）、変更したチルト制御量に相当する角度だけ、光ピックアップ装置１０６の傾きを変化させるようにチルト駆動装置１０６に指示することにより、光ピックアップ装置１０６の傾きを変更したチルト制御量に相当する分だけ変更させる（ステップ９０４）。
【００７７】
光ピックアップ装置１０６は、変更された傾きでレーザ光を光ディスク１０１上に一定時間照射し、反射光を検出し（ステップＳ９０５）、検出した反射光を電気信号に変換してＲＦ信号を再生し、信号処理装置２０４に出力する。
信号処理装置３０４は、レーザ光が変更された傾きで一定時間照射されている間に入力されたＲＦ信号からウォブル信号を順次検出し、順次検出したウォブル信号を検出し（ステップＳ９０６）、順次検出したウォブル信号の周期と生成したウォブル基準信号の周期とから、ウォブルジッタを順次算出し、順次算出した各ウォブルジッタに基づいてウォブルジッタ分散（σΔｎ２）を算出し（ステップＳ９０７）、算出したウォブルジッタ分散（σΔｎ２）とシステムコントローラ３０５のメモリ３０５１に記録されているウォブルジッタ分散（σ０２）との差（σΔｎ２−σ０２＝Δσ２）を算出し（ステップＳ９０８）、Δσ２の絶対値（｜Δσ２｜）と閾値とを比較する（ステップＳ９０９）。
【００７８】
信号処理装置３０４は、Δσ２の絶対値が閾値を超える場合（ステップＳ９０９：Ｙ）、数１（数１において、アルファベット「ｙ」を「σ２」に読み替えた数式）により、チルト制御量の極小値候補値（ｘｎ＋１）を算出し（ステップＳ９１０）、チルト駆動装置１０６を介して光ピックアップ装置１０２から光ディスク１０１へのレーザ光の照射角度を、極小値候補値（ｘｎ＋１）に相当する角度に変更させ（ステップＳ９１１）、さらに、システムコントローラ３０５に出力してメモリ３０５１に記録されているチルト制御量をｘｎに更新させ、システムコントローラ３０５より、チルト制御量調節処理Ｂ２の終了指示の入力があったか否かを判定し（ステップＳ９１２）、無い場合（ステップＳ９１２：Ｎ）、変数ｎを１インクリメントして（ステップＳ９１３）、ステップＳ９０１の処理に移行する。
【００７９】
ステップＳ９０９において、閾値を超えない場合（ステップＳ９０９：Ｎ）、ステップＳ９１２の処理に移行する。
図１８は、チルト制御量とウォブルジッタ分散との対応関係に基づいて、最小２乗法により作成された２次近似曲線の具体例を示す。
図１８の１８１は、データの記録又は再生中における光ディスク１０１の回転数やレーザ光の照射位置や温度等の変化により、チルト制御量とウォブルジッタ分散との対応関係が変化する直前の２次近似曲線を示し、１８２は、変化直後の２次近似曲線を示す。
【００８０】
図１８のｘｎは、対応関係が変化する前に、チルト制御量の極小値であったことを示し、対応関係の変化により、チルト制御量に対応付けられる２次近似曲線が１８１から１８２に変化したため、当該チルト制御量に基づくデータジッタの値がσ０２からσｎ２に変化し、変化後の１８２の２次近似曲線においては、ｘｎを所定の微少量Δｘ増加した場合におけるウォブルジッタ分散の変化率（図１８のΔσ２（＝σΔｎ２―σｎ２））が、変化前の１８１の２次近似曲線の場合に比べ、大きくなる。
【００８１】
従って、チルト制御量に対応付けられる２次近似曲線が変化したかどうかを、図９のステップＳ９０９の比較処理を行うことにより検出することができる。
又、図９のステップＳ９０９及びステップＳ９１０の処理を、Δσ２の絶対値が閾値を超えなくなるまで、すなわち、０にほぼ等しくなるまで繰り返すことにより、図１８の１８２の２次近似曲線において、チルト制御量をΔｘ増加した場合に、Δσ２が０となり、ウォブルジッタ分散が最小（σ０２）となるチルト制御量の極小値（図１８のｘ０）を算出することができる。
【００８２】
又、図１８のｘｎ＋１は、図９のステップＳ９１０の処理によって算出されるチルト制御量の極小値候補値を示し、σn＋１２は、ｘｎ＋１について算出されたウォブルジッタ分散を示す。
（実施の形態４）
図１０は本発明の実施の形態４に係る光ディスク装置４００の構成を示す機能ブロック図である。
【００８３】
光ディスク装置４００は、光ディスク１０１、光ピックアップ装置１０２、回転装置１０３、信号処理装置４０４、システムコントローラ４０５、チルト駆動装置１０６、操作部１０７から構成される。
上記において、実施の形態１に係る光ディスク装置１００の構成要素と同一の構成要素については、同一の番号を付し、以下、光ディスク装置１００と構成要素が相違する信号処理装置４０４及びシステムコントローラ４０５について説明する。
（信号処理装置４０４）
アドレス信号処理部４０４１、アドレスエラー算出部４０４２、制御量変更部４０４５、極小制御量決定部４０４６、チルト制御部１０４７から構成される。
【００８４】
以下、実施の形態１に係る信号処理装置１０４と相違する各構成要素について説明する。
（アドレス信号処理部４０４１）
光検出部１０２１より入力されたＲＦ信号から、レーザ光照射により、光ディスク上に形成された、プリグループと呼ばれる溝に記録されている、光ディスク上における位置を示す、アドレス信号を検出し、検出したアドレス信号を復調してアドレスエラー算出部４０４２に出力する。
【００８５】
ここで、検出されるアドレス信号は、例えば、ＡＤＩＰ（ADdress In Pregroove）アドレスであってもよいし、ＬＰＰ（ランドプリビット）アドレスであってもよいし、ＡＴＩＰアドレスであってもよいし、ＣＡＰＡアドレスであってもよい。
（アドレスエラー算出部４０４２）
アドレス信号処理部４０４１より入力されたアドレス信号の中からアドレスエラーを示すアドレスエラー信号を検出し、一定時間内に入力されたアドレス信号の総数に対する、検出したアドレスエラー信号の総数の比率（以下、「アドレスエラー率」という。）を算出し、システムコントローラ４０５に出力して、メモリ４０５１に記録させる。
【００８６】
（制御量変更部４０４５）
実施の形態１における制御量変更部４０４５の機能の説明において、「ウォブルジッタ」の記載を「アドレスエラー率」の記載に、アルファベット「ｙ」の記載を「ＥＲ」の記載に読み替えた機能を有する。
（極小制御量決定部４０４６）
実施の形態１における極小制御量決定部１０４６の機能の説明において、「ウォブルジッタ」の記載を「アドレスエラー率」の記載に、アルファベット「ｙ」の記載を「ＥＲ」の記載に読み替えた機能を有する。
（システムコントローラ４０５）
実施の形態１におけるシステムコントローラ１０５の機能の説明において。「ウォブルジッタ」の記載を「アドレスエラー率」の記載に、「ウォブルジッタ算出部１０４２」の記載を「アドレスエラー算出部４０４２」の記載に、「メモリ１０５１」の記載を「メモリ４０５１」の記載にそれぞれ読み替えた機能を有する。
＜動作＞
（チルト制御量調節処理Ａ３）
次に、信号処理装置４０４の行う、データの記録又は再生動作開始前のチルト制御量調節処理Ａ３の動作について説明する。図１１は、上記動作を示すフローチャートである。
【００８７】
信号処理装置４０４は、データの記録又は再生指示があると、記録または再生開始前にシステムコントローラ３０５に保持されている、複数のチルト制御量を順次取得し（ステップＳ１１０１）、取得した各チルト制御量に相当する角度だけ、光ピックアップ装置１０６の傾きを変化させるようにチルト駆動装置１０６に指示することにより、光ピックアップ装置１０６の傾きを取得した各チルト制御量に相当する分だけ順次変更させる（ステップＳ１１０２）。
【００８８】
光ピックアップ装置１０６は、順次変更された傾きで一定時間レーザ光を光ディスク１０１上に照射し、反射光を検出し（ステップＳ１１０３）、検出した反射光を電気信号に変換してＲＦ信号を再生し、信号処理装置４０４に出力する。
信号処理装置４０４は、レーザ光が変更された傾きで一定時間照射されている間に入力されたＲＦ信号からアドレス信号を順次検出し（ステップＳ１１０４）、順次検出したアドレス信号の中からアドレスエラー信号を検出し、一定時間内に検出したアドレス信号の総数と、一定時間内に検出したアドレスエラーの総数とに基づいてアドレスエラー率を算出し（ステップＳ１１０５）、取得した各チルト制御量と、当該チルト制御量について算出されたアドレスエラー率との対応関係に基づいて、最小２乗法により、２次の近似曲線を作成し（ステップ１１０６）、作成した近似曲線からチルト制御量の極小値を算出し（ステップＳ１１０７）、当該極小値をシステムコントローラ４０５に出力するとともに、チルト駆動装置１０６を介して光ピックアップ装置１０２から光ディスク１０１へのレーザ光の照射角度を、チルト制御量の極小値に相当する角度に変更させ（ステップＳ１１０８）、変更された傾きで一定時間レーザ光を光ディスク１０１上に照射し、一定時間内に順次検出したアドレス信号の総数と、順次検出したアドレス信号の中から検出したアドレスエラー信号の総数とに基づいてアドレスエラー率を算出し、システムコントローラ４０５に出力する。
【００８９】
（チルト制御量調節処理Ｂ３）
次に、信号処理装置４０４の行う、データの記録又は再生動作中のチルト制御量調節処理Ｂ３の動作について説明する。図１２は、上記動作を示すフローチャートである。
データの記録又は再生が開始されると、信号処理装置４０４は、システムコントローラ４０５のメモリ４０５１に記録されているチルト制御量（ｘｎ）を取得し（ステップＳ１２０１）、取得したチルト制御量（ｘｎ）によって制御された照射光に基づいて一定時間内に順次検出したアドレス信号の総数と順次検出したアドレス信号の中から検出したアドレスエラー信号の総数とに基づいてアドレスエラー率（ＥＲ０）を算出し（ステップＳ１２０２）、システムコントローラ４０５に、メモリ４０５１に記録されているアドレスエラー率を算出したＥＲ０に更新させ、予め設定されている量（Δｘ）だけ、チルト制御量を増大させてチルト制御量を変更し（ステップＳ１２０３）、変更したチルト制御量に相当する角度だけ、光ピックアップ装置１０６の傾きを変化させるようにチルト駆動装置１０６に指示することにより、光ピックアップ装置１０６の傾きを変更したチルト制御量に相当する分だけ変更させる（ステップ１２０４）。
【００９０】
光ピックアップ装置１０６は、変更された傾きでレーザ光を光ディスク１０１上に一定時間照射し、反射光を検出し（ステップＳ１２０５）、検出した反射光を電気信号に変換してＲＦ信号を再生し、信号処理装置４０４に出力する。
信号処理装置４０４は、レーザ光が変更された傾きで一定時間照射されている間に入力されたＲＦ信号からアドレス信号を順次検出し（ステップＳ１２０６）、順次検出したアドレス信号の中からアドレスエラーを検出し、一定時間内に検出したアドレス信号の総数と、一定時間内に検出したアドレスエラーの総数とに基づいてアドレスエラー率（ＥＲΔｎ）を算出し（ステップＳ１２０７）、算出したアドレスエラー率（ＥＲΔｎ）とシステムコントローラ４０５のメモリ４０５１に記録されているアドレスエラー率（ＥＲｎ）との差（ＥＲΔｎ―ＥＲｎ＝ΔＥＲ）を算出し（ステップＳ１２０８）、ΔＥＲの絶対値（｜ΔＥＲ｜）と閾値とを比較する（ステップＳ１２０９）。
【００９１】
信号処理装置４０４は、ΔＥＲの絶対値が閾値を超える場合（ステップＳ１２０９：Ｙ）、数１（数１において、アルファベット「ｙ」を「ＥＲ」に読み替えた数式）により、チルト制御量の極小値候補値（ｘｎ＋１）を算出し（ステップＳ１２１０）、チルト駆動装置１０６を介して光ピックアップ装置１０２から光ディスク１０１へのレーザ光の照射角度を、極小値候補値（ｘｎ＋１）に相当する角度に変更させ（ステップＳ１２１１）、さらに、システムコントローラ４０５に出力してメモリ４０５１に記録されているチルト制御量をｘｎに更新させ、システムコントローラ４０５より、チルト制御量調節処理Ｂ３の終了指示の入力があったか否かを判定し（ステップＳ１２１２）、無い場合（ステップＳ１２１２：Ｎ）、変数ｎを１インクリメントして（ステップＳ１２１３）、ステップＳ１２０１の処理に移行する。
【００９２】
ステップＳ１２０９において、閾値を超えない場合（ステップＳ１２０９：Ｎ）、ステップＳ１２１２の処理に移行する。
図１９は、チルト制御量とアドレスエラー率との対応関係に基づいて、最小２乗法により作成された２次近似曲線の具体例を示す。
図１９の１９１は、データの記録又は再生中における光ディスク１０１の回転数やレーザ光の照射位置や温度等の変化により、チルト制御量とアドレスエラー率との対応関係が変化する直前の２次近似曲線を示し、１９２は、変化直後の２次近似曲線を示す。
【００９３】
図１９のｘｎは、対応関係が変化する前に、チルト制御量の極小値であったことを示し、対応関係の変化により、チルト制御量に対応付けられる２次近似曲線が１９１から１９２に変化したため、当該チルト制御量に基づくアドレスエラー率がＥＲ０からＥＲｎに変化し、変化後の１９２の２次近似曲線においては、ｘｎを所定の微少量Δｘ増加した場合におけるアドレスエラー率の変化率（図１９のΔＥＲの絶対値（｜ＥＲ｜＝｜ＥＲΔｎ―ＥＲｎ｜））が、変化前の１９１の２次近似曲線の場合に比べ、大きくなる。
【００９４】
従って、チルト制御量に対応付けられる２次近似曲線が変化したかどうかを、図１２のステップＳ１２０９の比較処理を行うことにより検出することができる。
又、図１２のステップＳ１２０９及びステップＳ１２１０の処理を、ΔＥＲの絶対値が閾値を超えなくなるまで、すなわち、０にほぼ等しくなるまで繰り返すことにより、図１９の１９２の２次近似曲線において、チルト制御量をΔｘ増加した場合に、ΔＥＲが０となり、アドレスエラー率が最小（ＥＲ０）となるチルト制御量の極小値（図１９のｘ０）を算出することができる。
【００９５】
又、図１９のｘｎ＋１は、図１２のステップＳ１２１０の処理によって算出されるチルト制御量の極小値候補値を示し、ＥＲn＋１は、ｘｎ＋１について算出されたアドレスエラー率を示す。
（実施の形態５）
図１３は本発明の実施の形態５に係る光ディスク装置５００の構成を示す機能ブロック図である。
【００９６】
光ディスク装置５００は、光ディスク１０１、光ピックアップ装置１０２、回転装置１０３、信号処理装置４０４、システムコントローラ５０５、トラッキング駆動装置５０６、操作部１０７から構成される。
上記において、実施の形態１に係る光ディスク装置１００の構成要素と同一の構成要素については、同一の番号を付し、以下、光ディスク装置１００と構成要素が相違する信号処理装置５０４及びシステムコントローラ５０５、トラッキング駆動装置５０６について説明する。
（トラッキング駆動装置５０６）
トラッキング駆動制御部５０４７から入力された移動制御量に応じて、レーザ照射部１０２２の位置を算出された移動位置に移動させることにより、光ディスク１０１に対するレーザ光の照射位置を光ディスク１０１の半径方向に移動させる。
【００９７】
トラッキング駆動装置５０６は、例えば電磁力を駆動力として利用する可動コイル型のアクチュエータを有し、電圧を移動制御量として入力して適正な電流出力を得て、アクチュエータを駆動させることにより、レーザ光の照射位置を光ディスク１０１の半径方向に移動させる。
（信号処理装置５０４）
アドレス信号処理部５０４１、誤差算出部５０４２、アドレス算出部５０４４、制御量変更部５０４５、極小制御量決定部５０４６、トラッキング駆動制御部５０４７から構成される。
【００９８】
以下、実施の形態１に係る信号処理装置１０４と相違する各構成要素について説明する。
（アドレス信号処理部５０４１）
光検出部１０２１より入力されたＲＦ信号から、レーザ光照射により、光ディスク上に形成された、プリグループと呼ばれる溝に記録されている、光ディスク上の位置を示す、アドレス信号を検出し、検出したアドレス信号を誤差算出部５０４２に出力する。
【００９９】
（誤差算出部５０４２）
アドレス信号処理部５０４１より入力されたアドレス信号の示す光ディスク１０１上の位置と、アドレス算出部５０４４によって算出された光ピックアップ装置１０２のレーザ照射部１０２２の移動位置との間の差に相当する誤差（以下、「移動位置誤差」という。）を算出し、制御量変更部５０４５に出力するとともに、システムコントローラ５０５に出力して、メモリ５０５１に記録させる。
【０１００】
（アドレス算出部５０４４）
システムコントローラ５０５からアクセスすべきアドレスが入力されると、入力されたアドレスに基づいて、レーザ照射部１０２２の移動位置（光ディスク１０１の照射位置）を算出し、誤差算出部５０４２に出力する。
又、入力されたアドレスに基づいて、算出した移動位置にレーザ照射部１０２２を移動させるための移動制御量（以下、「補正前移動制御量」という。）を算出し、制御量変更部５０４５に出力する。
【０１０１】
（制御量変更部５０４５）
データ再生前及び再生中において。トラッキング駆動制御量の変更処理を行う。
データの再生が開始されると、アドレス算出部５０４４より入力された補正前移動制御量に、システムコントローラ５０５のメモリ５０５１に記録されている、移動制御量を調整補正するための補正量（直前に更新された補正量（ｍｎ）、未更新時は、初期設定されている補正量（ｍ０））を加算し、移動制御量を補正し、補正後の移動制御量をトラッキング駆動制御部５０４７に出力し、さらに、予め設定されている量（Δｍ）だけ、先に出力した補正量を増加し、増加後の補正量を、先に入力された補正前移動制御量に加算して、移動制御量を再補正し、再補正後の移動制御量をトラッキング駆動制御部５０７に出力し、補正後の移動制御量に応じて移動された照射位置からのレーザ光の照射により、検出されたアドレス信号に基づいて算出された移動位置誤差（ｄｎ）と、再補正後の移動制御量に応じて移動された照射位置からのレーザ光の照射により、検出されたアドレス信号に基づいて算出された移動位置誤差（ｄΔｎ）との差（ｄΔｎ―ｄｎ＝Δｄ）を算出し、Δｄの絶対値（｜Δｄ｜）とシステムコントローラ５０５のメモリ５０５１に記録されている閾値とを比較し、閾値を超える場合、ｍｎ（又はｍ０）とΔｍとΔｄとを極小制御量決定部５０４６に出力し、極小制御量決定部５０４６により算出された補正量の極小値候補値を取得し、システムコントローラ５０５に出力してメモリ５０５１に記録されている補正量（ｍｎ）を、算出した極小値候補値（ｍｎ＋１）に更新させる。
【０１０２】
一方、Δｄの絶対値が閾値を超えない場合には、補正量を更新することなく、Δｄを算出する処理を繰り返し、算出したΔｄの絶対値について、閾値と比較する処理を繰り返す。
（極小制御量決定部５０４６）
制御量変更部５０４５より、ｍｎ（又はｍ０）とΔｍとΔｄとが入力されると、数３に示す算出式より、補正量の極小値候補値（ｍｎ＋１）を算出し、算出したｍｎ＋１を制御量変更部５０４５に出力する。
［数３］    ｍｎ＋１＝ｍｎ−Δｄ／Δｍ×Ｋ      （ｎ＝０，１，２・・・・・・ｎ）
数３において、ｍｎは、システムコントローラ５０５のメモリ５０５１に記録されている補正量、具体的には、ｍｎ＋１が算出される直前に、数３により算出された極小値候補値を表し、直前に算出された極小値候補値がない場合（データの再生開始直後の場合）には、所定の初期値の補正量（ｍ０）を表す。
【０１０３】
又、数３は、ニュートン法に基づき、実験的に定められた極小値を求めるための近似式であり、Ｋは、実験的に定められた正の定数であり、数３により、Δｄが０近傍値となる極小値候補値を求めることにより、補正量の極小値の近傍値を算出することができる。
（トラッキング駆動制御部５０４７）
制御量変更部５０４５により入力された補正後の移動制御量をトラッキング駆動装置５０６に出力する。
＜動作＞
（トラッキング駆動制御量調節処理）
次に、信号処理装置５０４の行うトラッキング駆動制御量調節処理の動作について説明する。図１４は、上記動作を示すフローチャートである。
【０１０４】
データの記録又は再生が開始されると、信号処理装置５０４は、システムコントローラ５０５よりアクセスすべきアドレスの入力があると（ステップＳ１４０１）、入力されたアドレスに基づいてレーザ照射部１０２２の移動位置を算出し（ステップＳ１４０２）、算出した移動位置にレーザ照射部１０２２を移動させるための移動制御量を算出し、算出した移動制御量に予めシステムコントローラ５０５のメモリ５０５１に記録されている、移動制御量を調整補正するための補正量（ｍｎ）を加算して算出した補正後の移動制御量をトラッキング駆動装置５０６に出力し、補正後の移動制御量に相当する分だけ、レーザ照射部１０２２を移動させることにより、光ディスク１０１に対するレーザ光の照射位置を光ディスク１０１の半径方向に移動させた後（ステップＳ１４０３）、光ピックアップ装置１０２に、移動後の照射位置からレーザ光を照射させることにより、光ディスク１０１上からアドレス信号を検出し（ステップＳ１４０４）、検出したアドレス信号の示す光ディスク上の位置と、算出した移動位置とに基づいて移動位置誤差（ｄｎ）を算出し（ステップＳ１４０５）、システムコントローラ５０５に出力してメモリ５０５１に記録させ、予め設定されている量（Δｍ）だけ、補正量を増大させて移動制御量を変更し（ステップＳ１４０６）、変更した移動制御量に相当する分だけ、光ディスク１０１に対するレーザ光の照射位置を光ディスク１０１の半径方向に再移動させ（ステップ１４０７）、光ピックアップ装置１０２に、再移動後の照射位置からレーザ光を照射させることにより、光ディスク１０１上からアドレス信号を検出し（ステップＳ１４０８）、検出したアドレス信号の示す光ディスク上の位置と、変更した移動制御量に相当する移動位置とに基づいて移動位置誤差（ｄΔｎ）を算出し（ステップＳ１４０９）、システムコントローラ５０５のメモリ５０５１に記録されている移動位置誤差（ｄｎ）との差（ｄΔｎ―ｄｎ＝Δｄ）を算出し（ステップＳ１４１０）、Δｄの絶対値（｜Δｄ｜）と閾値とを比較する（ステップＳ１４１１）。
【０１０５】
閾値を超える場合（ステップＳ１４１１：Ｙ）、数１（数１において、アルファベット「ｘ」を「ｍ」に、アルファベット「ｙ」を「ｄ」に読み替えた数式）により補正量の極小値候補値（ｍｎ＋１）を算出し（ステップＳ１４１２）、算出した極小値候補値（ｍｎ＋１）をシステムコントローラ５０５に出力してメモリ５０５１に記録させ、システムコントローラ５０５より、トラッキング駆動制御量調節処理の終了指示の入力があったか否かを判定し（ステップＳ１４１３）、無い場合（ステップＳ１４１３：Ｎ）、変数ｎを１インクリメントして（ステップＳ１４１４）、ステップＳ１４０３の処理に移行する。
【０１０６】
ステップＳ１４１１における判定が否定的である場合（ステップＳ１４１１：Ｎ）、ステップＳ１４０１の処理に移行する。
図２０は、補正量と移動位置誤差との対応関係に基づいて、最小２乗法により作成された２次近似曲線の具体例を示す。
図２０の２０１は、データの記録又は再生中における光ディスク１０１の回転数やレーザ光の照射位置や温度等の変化により、補正量と移動位置誤差との対応関係が変化する直前の２次近似曲線を示し、２０２は、変化直後の２次近似曲線を示す。
【０１０７】
図２０のｍｎは、対応関係が変化する前に、補正量の極小値であったことを示し、対応関係の変化により、補正量に対応付けられる２次近似曲線が２０１から２０２に変化したため、当該補正量に基づく移動位置誤差がｄ０からｄｎに変化し、変化後の２０２の２次近似曲線においては、ｍｎを所定の微少量Δｍ増加した場合における移動位置誤差の変化率（図２０のΔｄの絶対値（｜Δｄ｜＝ｄΔｎ―ｄｎ））が、変化前の２０１１の２次近似曲線の場合に比べ、大きくなる。
【０１０８】
従って、補正量に対応付けられる２次近似曲線が変化したかどうかを、図１４のステップＳ１４１１の比較処理を行うことにより検出することができる。
又、図１４のステップＳ１４１１及びステップＳ１４１２の処理を、Δｄの絶対値が閾値を超えなくなるまで、すなわち、０にほぼ等しくなるまで繰り返すことにより、図２０の２０２の２次近似曲線において、補正量をΔｘ増加した場合に、Δｄが０となり、移動位置誤差が最小（ｄ０）となる補正量の極小値（図２０のｍ０）を算出することができる。
【０１０９】
又、図２０のｍｎ＋１は、図１４のステップＳ１４１２の処理によって算出される補正量の極小値候補値を示し、ｄn＋１は、ｍｎ＋１について算出された移動位置誤差を示す。
＜補足＞
以上、本発明の実施形態１〜５について説明したが、本発明はこれら実施形態に限られないことは勿論である。
（１）例えば、実施の形態１〜４においては、データの記録又は再生動作開始前と後とで、チルト制御量調節処理が異なることとしたが、いずれの場合においても、データの記録又は再生動作中のチルト制御量調節処理（具体的には、チルト制御量調節処理Ｂ、Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３）によって、チルト制御量が制御されることとしてもよい。
（２）又、実施の形態１〜４においては、チルト制御量を制御することにより、ウォブルジッタ、データジッタ、ウォブルジッタ分散、アドレスエラー率がそれぞれ最小となるように制御することとしたが、実施の形態５と同様に、移動制御量を補正することにより制御することとしてもよい。
【０１１０】
又、ウォブル信号、データ信号、アドレス信号の復調時に各信号を抽出するためのフィルタリングの条件を変更することにより、抽出する周波数範囲を制御することとしてもよい。
具体的には、実施の形態１〜４の信号処理装置に、チルト制御部の代わりに、ウォブリング信号処理部１０４１、データ信号処理部２０４１、アドレス信号処理部４０４１でそれぞれ復調されたウォブリング信号、データ信号、アドレス信号に含まれる特定の周波数成分を除去するためのフィルタ回路（例えば、ハイパスフィルタ回路、ローパスフィルタ回路）を有する周波数変更部を設け、チルト制御量の代わりに、フィルタリング条件を決定するためのパラメータを変更することにより、照射位置や、照射角度のずれによって生じるノイズ成分を除去することとしてもよい。
【０１１１】
又、レーザ照射部１０２２から照射されるレーザ光の収束するフォーカス位置をフォーカス方向（光ディスク１０１の記録面と垂直の方向）に変更することにより、制御することとしてもよい。
具体的には、チルト駆動装置１０６の代わりにフォーカス駆動装置、チルト制御部１０４７の代わりにフォーカス制御部を設け、フォーカス駆動装置は、例えば電磁力を駆動力として利用する可動コイル型のアクチュエータを有し、フォーカス制御部は、電圧を制御量として入力して適正な電流出力を得て、アクチュエータを駆動させることにより、フォーカス位置をフォーカス方向に変更することにより、制御することとしてもよい。
【産業上の利用可能性】
【０１１２】
本発明は、光ディスクへのデータ記録又は光ディスクからのデータの再生時におけるデータ品質劣化を防止するための信号処理技術として利用できる。
【図面の簡単な説明】
【０１１３】
【図１】本発明の実施の形態１に係る光ディスク装置１００の構成を示す機能ブロック図である。
【図２】信号処理装置１０４の行う、データの記録又は再生動作開始前のチルト制御量調節処理Ａの動作を示すフローチャートである。
【図３】信号処理装置１０４の行う、データの記録又は再生動作中のチルト制御量調節処理Ｂの動作を示すフローチャートである。
【図４】本発明の実施の形態２に係る光ディスク装置２００の構成を示す機能ブロック図である。
【図５】信号処理装置２０４の行う、データの記録又は再生動作開始前のチルト制御量調節処理Ａ１の動作を示すフローチャートである。
【図６】信号処理装置２０４の行う、データの再生動作中のチルト制御量調節処理Ｂ１の動作を示すフローチャートである。
【図７】本発明の実施の形態３に係る光ディスク装置３００の構成を示す機能ブロック図である。
【図８】信号処理装置３０４の行う、データの記録又は再生動作開始前のチルト制御量調節処理Ａ２の動作を示すフローチャートである。
【図９】信号処理装置３０４の行う、データの記録又は再生動作中のチルト制御量調節処理Ｂ２の動作を示すフローチャートである。
【図１０】本発明の実施の形態４に係る光ディスク装置４００の構成を示す機能ブロック図である。
【図１１】信号処理装置４０４の行う、データの記録又は再生動作開始前のチルト制御量調節処理Ａ３の動作を示すフローチャートである。
【図１２】信号処理装置４０４の行う、データの記録又は再生動作中のチルト制御量調節処理Ｂ３の動作を示すフローチャートである。
【図１３】本発明の実施の形態５に係る光ディスク装置５００の構成を示す機能ブロック図である。
【図１４】信号処理装置５０４の行うトラッキング駆動制御量調節処理の動作を示すフローチャートである。
【図１５】極小制御量決定部１０４６によって作成された２次の近似曲線の具体例を示す。
【図１６】チルト制御量とウォブルジッタとの対応関係に基づいて、最小２乗法により作成された２次近似曲線の具体例を示す。
【図１７】チルト制御量とデータジッタとの対応関係に基づいて、最小２乗法により作成された２次近似曲線の具体例を示す。
【図１８】チルト制御量とウォブルジッタ分散との対応関係に基づいて、最小２乗法により作成された２次近似曲線の具体例を示す。
【図１９】チルト制御量とアドレスエラー率との対応関係に基づいて、最小２乗法により作成された２次近似曲線の具体例を示す。
【図２０】補正量と移動位置誤差との対応関係に基づいて、最小２乗法により作成された２次近似曲線の具体例を示す。
【図２１】一定時間内に順次算出されたウォブルジッタの値の分散例をグラフ化したものである。
【符号の説明】
【０１１４】
１００、２００、３００、４００、５００  光ディスク装置
１０１    光ディスク
１０２    光ピックアップ装置
１０３    回転装置
１０４    信号処理装置
１０５、２０５、３０５、４０５    システムコントローラ
１０６    チルト駆動装置
１０７    操作部
１０４１  ウォブル信号処理部
１０４２、２０４２、３０４２、４０４２  ウォブルジッタ算出部
１０４３、２０４３  回転検出部
１０４４、２０４４  ウォブル基準信号生成部
１０４５、２０４５、３０４５、４０４５、５０４５  制御量変更部
１０４６、２０４６、３０４６、４０４６、５０４６  極小制御量決定部
１０４７  チルト制御部
１０５１、２０５１、３０５１  メモリ
４０４１、５０４１  アドレス信号処理部
５０４２  誤差算出部
５０４４  アドレス算出部
【図１】
2006323973.tif 000003
【図２】
2006323973.tif 000004
【図３】
2006323973.tif 000005
【図４】
2006323973.tif 000006
【図５】
2006323973.tif 000007
【図６】
2006323973.tif 000008
【図７】
2006323973.tif 000009
【図８】
2006323973.tif 000010
【図９】
2006323973.tif 000011
【図１０】
2006323973.tif 000012
【図１１】
2006323973.tif 000013
【図１２】
2006323973.tif 000014
【図１３】
2006323973.tif 000015
【図１４】
2006323973.tif 000016
【図１５】
2006323973.tif 000017
【図１６】
2006323973.tif 000018
【図１７】
2006323973.tif 000019
【図１８】
2006323973.tif 000020
【図１９】
2006323973.tif 000021
【図２０】
2006323973.tif 000022
【図２１】
2006323973.tif 000023