(57)【要約】【課題】  人為的なミスが原因となってレーザ光源ユニットが破損してしまう事態を適切に回避する。【解決手段】  レーザ加工装置１は、制御ユニット２の電源が投入されると、レーザ光源ユニット３に設定されているレーザ光源識別情報を読出し、その読出されたレーザ光源識別情報に含まれているレーザ発振器１１の制御電圧レベルと、制御ユニット２に記憶されているレーザ光源制御電圧レベルとを比較し、両者が一致しない旨を検出すると、レーザ光源ユニット３への制御電圧の供給を禁止する。制御電圧レベルが適合しないレーザ光源ユニット３と制御ユニット２とが誤って接続された場合であっても、制御ユニット２からレーザ光源ユニット３へ異常な制御電圧が供給されてしまうことを適切に回避できる。【選択図】  図１
2006095538.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を出射するレーザ発振器を有するレーザ光源ユニットと、前記レーザ光源ユニットへ制御電圧を供給して前記レーザ光源ユニットを制御する制御ユニットとを備え、前記レーザ発振器の制御電圧レベルが互いに異なる複数の種類のうちから選択された前記レーザ光源ユニットと前記制御ユニットとが接続されて構成されるレーザ加工装置において、
前記レーザ光源ユニットに設けられ、少なくとも前記レーザ発振器の制御電圧レベルを含むレーザ光源識別情報が設定されるレーザ光源識別情報設定手段と、
前記制御ユニットに設けられ、少なくとも前記制御ユニットが前記レーザ光源ユニットを制御可能なレーザ光源制御電圧レベルを含むレーザ光源制御情報を記憶するレーザ光源制御情報記憶手段と、
前記レーザ光源ユニットまたは前記制御ユニットに設けられ、前記制御ユニットの電源投入時に、前記レーザ光源識別情報設定手段に設定されているレーザ光源識別情報を読出し、その読出されたレーザ光源識別情報と前記レーザ光源制御情報記憶手段に記憶されているレーザ光源制御情報とを比較し、両者が一致しない旨を検出した場合に、前記レーザ光源ユニットへの制御電圧の供給を禁止するか或いは制御電圧を所定レベルに調整して前記レーザ光源ユニットへ供給させるレーザ光源接続異常検出手段とを備えたことを特徴とするレーザ加工装置。
【請求項２】
請求項１に記載したレーザ加工装置において、
前記接続異常検出手段は、両者が一致しない旨を検出した場合に、前記制御ユニットから前記レーザ光源ユニットへの制御電圧の供給を禁止するか或いは制御電圧を所定レベルに調整して前記制御ユニットから前記レーザ光源ユニットへ供給させることを特徴とするレーザ加工装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載したレーザ加工装置において、
前記レーザ光源ユニットから出射されたレーザ光の照射方向を変化させるガルバノミラーを有するスキャニングユニットを備え、前記制御ユニットが前記スキャニングユニットへ制御電圧を供給して前記スキャニングユニットを制御し、前記ガルバノミラーの制御電圧レベルが互いに異なる複数の種類のうちから選択された前記スキャニングユニットと前記制御ユニットとが接続されて構成され、
前記スキャニングユニットに設けられ、少なくとも前記ガルバノミラーの制御電圧レベルを含むスキャニング識別情報が設定されるスキャニング識別情報設定手段と、
前記制御ユニットに設けられ、少なくとも前記制御ユニットが前記スキャニングユニットを制御可能なスキャニング制御電圧レベルを含むスキャニング制御情報を記憶するスキャニング制御情報記憶手段と、
前記スキャニングユニットまたは前記制御ユニットに設けられ、前記制御ユニットの電源投入時に、前記スキャニング識別情報設定手段に設定されているスキャニング識別情報を読出し、その読出されたスキャニング識別情報と前記スキャニング制御情報記憶手段に記憶されているスキャニング制御情報とを比較し、両者が一致しない旨を検出した場合に、前記スキャニングユニットへの制御電圧の供給を禁止するか或いは制御電圧を所定レベルに調整して前記スキャニングユニットへ供給させるスキャニング接続異常検出手段とを備えたことを特徴とするレーザ加工装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光を出射するレーザ発振器を有するレーザ光源ユニットと、前記レーザ光源ユニットへ制御電圧を供給して前記レーザ光源ユニットを制御する制御ユニットとを備え、前記レーザ発振器の制御電圧レベルが互いに異なる複数の種類のうちから選択された前記レーザ光源ユニットと前記制御ユニットとが接続されて構成されるレーザ加工装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
レーザ加工装置としては、例えば下記の特許文献１に記載されているものがある。
【特許文献１】特開２００２−３３６９７８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
各々がモジュール化された幾つかのユニットが組合わされてレーザ加工装置が構成されるものでは、レーザ発振器を有するレーザ光源ユニットと、レーザ光源ユニットへ制御電圧を供給してレーザ光源ユニットを制御する制御ユニットとが組合わされる構成が考えられる。ところが、レーザ光源ユニットでは、レーザ発振器の制御電圧レベルが製造メーカや型式により異なる場合があり、制御電圧レベルが適合しないレーザ光源ユニットと制御ユニットとが誤って接続されてしまうと、制御ユニットからレーザ光源ユニットへ異常な制御電圧が供給されて（印加されて）しまい、レーザ光源ユニットが破損する虞がある。そのため、従来では、このようなレーザ発振器の制御電圧レベルの相違に対しては、作業者が作業標準表などを用いて適切なレーザ光源ユニットを選択してレーザ加工装置を組立てていた。
【０００４】
しかしながら、上記したように作業者がレーザ光源ユニットを逐一選択するものでは人為的なミスが完全には避けられず、制御電圧レベルが適合しないレーザ光源ユニットと制御ユニットとが誤って接続されてしまう事態を完全には回避することができない。そのため、人為的なミスが原因となってレーザ光源ユニットが破損してしまう事態を完全には回避することができないという問題がある。
【０００５】
本発明は、上記した事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、人為的なミスが原因となってレーザ光源ユニットが破損してしまう事態を適切に回避することができるレーザ加工装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
請求項１に記載した発明は、
レーザ光を出射するレーザ発振器を有するレーザ光源ユニットと、前記レーザ光源ユニットへ制御電圧を供給して前記レーザ光源ユニットを制御する制御ユニットとを備え、前記レーザ発振器の制御電圧レベルが互いに異なる複数の種類のうちから選択された前記レーザ光源ユニットと前記制御ユニットとが接続されて構成されるレーザ加工装置において、
前記レーザ光源ユニットに設けられ、少なくとも前記レーザ発振器の制御電圧レベルを含むレーザ光源識別情報が設定されるレーザ光源識別情報設定手段と、
前記制御ユニットに設けられ、少なくとも前記制御ユニットが前記レーザ光源ユニットを制御可能なレーザ光源制御電圧レベルを含むレーザ光源制御情報を記憶するレーザ光源制御情報記憶手段と、
前記レーザ光源ユニットまたは前記制御ユニットに設けられ、前記制御ユニットの電源投入時に、前記レーザ光源識別情報設定手段に設定されているレーザ光源識別情報を読出し、その読出されたレーザ光源識別情報と前記レーザ光源制御情報記憶手段に記憶されているレーザ光源制御情報とを比較し、両者が一致しない旨を検出した場合に、前記レーザ光源ユニットへの制御電圧の供給を禁止するか或いは制御電圧を所定レベルに調整して前記レーザ光源ユニットへ供給させるレーザ光源接続異常検出手段とを備えたところに特徴を有する。
【０００７】
このような構成によれば、制御ユニットの電源が投入されると、レーザ光源識別情報設定手段に設定されているレーザ光源識別情報が読出され、その読出されたレーザ光源識別情報に含まれているレーザ発振器の制御電圧レベルと、レーザ光源制御情報記憶手段に記憶されているレーザ光源制御情報に含まれている制御ユニットがレーザ光源ユニットを制御可能なレーザ光源制御電圧レベルとが比較され、両者が一致しない旨が検出されると、レーザ光源ユニットへの制御電圧の供給が禁止されるか或いは制御電圧が所定レベルに調整されてレーザ光源ユニットへ供給されることになる。
【０００８】
したがって、制御電圧レベルが適合しないレーザ光源ユニットと制御ユニットとが誤って接続された場合であっても、制御ユニットからレーザ光源ユニットへ異常な制御電圧が供給されてしまうことを適切に回避することができ、これにより、人為的なミスが原因となってレーザ光源ユニットが破損してしまう事態を適切に回避することができる。
【０００９】
請求項２に記載した発明は、
請求項１に記載したレーザ加工装置において、
前記接続異常検出手段は、両者が一致しない旨を検出した場合に、前記制御ユニットから前記レーザ光源ユニットへの制御電圧の供給を禁止するか或いは制御電圧を所定レベルに調整して前記制御ユニットから前記レーザ光源ユニットへ供給させるところに特徴を有する。
【００１０】
請求項３に記載した発明は、
請求項１または２に記載したレーザ加工装置において、
前記レーザ光源ユニットから出射されたレーザ光の照射方向を変化させるガルバノミラーを有するスキャニングユニットを備え、前記制御ユニットが前記スキャニングユニットへ制御電圧を供給して前記スキャニングユニットを制御し、前記ガルバノミラーの制御電圧レベルが互いに異なる複数の種類のうちから選択された前記スキャニングユニットと前記制御ユニットとが接続されて構成され、
前記スキャニングユニットに設けられ、少なくとも前記ガルバノミラーの制御電圧レベルを含むスキャニング識別情報が設定されるスキャニング識別情報設定手段と、
前記制御ユニットに設けられ、少なくとも前記制御ユニットが前記スキャニングユニットを制御可能なスキャニング制御電圧レベルを含むスキャニング制御情報を記憶するスキャニング制御情報記憶手段と、
前記スキャニングユニットまたは前記制御ユニットに設けられ、前記制御ユニットの電源投入時に、前記スキャニング識別情報設定手段に設定されているスキャニング識別情報を読出し、その読出されたスキャニング識別情報と前記スキャニング制御情報記憶手段に記憶されているスキャニング制御情報とを比較し、両者が一致しない旨を検出した場合に、前記スキャニングユニットへの制御電圧の供給を禁止するか或いは制御電圧を所定レベルに調整して前記スキャニングユニットへ供給させるスキャニング接続異常検出手段とを備えたところに特徴を有する。
【００１１】
このような構成によれば、制御ユニットの電源が投入されると、スキャニング識別情報設定手段に設定されているスキャニング識別情報が読出され、その読出されたスキャニング識別情報に含まれているガルバノミラーの制御電圧レベルと、スキャニング制御情報記憶手段に記憶されているスキャニング制御情報に含まれている制御ユニットがスキャニングユニットを制御可能なスキャニング制御電圧レベルとが比較され、両者が一致しない旨が検出されると、スキャニングユニットへの制御電圧の供給が禁止されるか或いは制御電圧が所定レベルに調整されてスキャニングユニットへ供給されることになる。
【００１２】
したがって、人為的なミスが原因となってレーザ光源ユニットが破損してしまう事態を適切に回避することができるのみならず、制御電圧レベルが適合しないスキャニングユニットと制御ユニットとが誤って接続された場合であっても、制御ユニットからスキャニングユニットへ異常な制御電圧が供給されてしまうことを適切に回避することもでき、これにより、人為的なミスが原因となってスキャニングユニットが破損してしまう事態を適切に回避することもできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
（第１の実施形態）
以下、本発明の第１の実施形態について、図１ないし図３を参照して説明する。まず、図１は、レーザ加工装置の全体構成を機能ブロック図として示している。レーザ加工装置１は、各々がモジュール化された制御ユニット２とレーザ光源ユニット３とが組合されて構成されている。制御ユニット２は、メイン制御回路４、サブ制御回路５（本発明でいうレーザ光源接続異常検出手段）、メイン電源回路６、レーザ電源回路７及びレーザ光源制御情報記憶部８（本発明でいうレーザ光源制御情報記憶手段）を備えて構成されている。
【００１４】
メイン制御回路４とサブ制御回路５とは、互いに連携して制御ユニット２の動作全般を制御する。メイン電源回路６は、ＡＣ電源が供給されると、＋２４ボルト、±２４ボルト及び＋５ボルトを生成し、＋５ボルト及び＋２４ボルトをメイン制御回路４の動作電圧としてメイン制御回路４へ供給すると共に、＋５ボルトをサブ制御回路５の動作電圧としてサブ制御回路５へ供給する。つまり、上記した構成では、メイン制御回路４は、メイン電源回路６から供給された＋５ボルト及び＋２４ボルトを動作電圧として動作する。また、サブ制御回路５は、メイン電源回路６から供給された＋５ボルトを動作電圧として動作すると共に、メイン電源回路６から供給された＋５ボルトをレーザ光源ユニット３のＣＰＵ９を動作させるための動作電圧としてレーザ光源ユニット３のＣＰＵ９へ供給する。
【００１５】
レーザ電源回路７は、ＡＣ電源がメイン電源回路６を介して供給されると、＋２４ボルトをレーザ光源ユニット３を制御するため制御電圧として生成し、＋２４ボルトをレーザ光源ユニット３のＣＰＵ９へ供給する。レーザ光源制御情報記憶部８は、制御ユニット２がレーザ光源ユニット３を制御可能なレーザ光源制御電圧レベルを含むレーザ光源制御情報を記憶している。
【００１６】
レーザ光源ユニット３は、ＣＰＵ９、レーザ光源識別情報設定部１０（本発明でいうレーザ光源識別情報設定手段）及びレーザ発振器１１を備えて構成されている。ＣＰＵ９は、制御ユニット２のサブ制御回路５から動作電圧として供給された＋５ボルトに基づいて動作し、制御ユニット２のレーザ電源回路７から制御電圧として供給された＋２４ボルトに基づいてレーザ発振器１１を制御する。
【００１７】
レーザ光源識別情報設定部１０は、レーザ発振器１１の制御電圧レベルや種類を含むレーザ光源識別情報が設定されている。この場合、レーザ光源識別情報設定部１０は、ＥＥＰＲＯＭなどのメモリから構成されていても良いし、機械的なディップスイッチから構成されていても良いし、制御ユニット２と接続されるコネクタなどのピン配置（ピンの有無も含む）から構成されていても良い。レーザ発振器１１は、ＣＰＵ９からの動作指示に基づいて動作するもので、レーザ光を出射して被加工対象物１２に照射することにより、被加工対象物１２をレーザ加工する。
【００１８】
次に、上記した構成の作用について、図２及び図３を参照して説明する。ここで、図２は、制御ユニット２のサブ制御回路５が行う処理をフローチャートとして示しており、図３は、制御ユニット２のメイン制御回路４が行う処理をフローチャートとして示している。
【００１９】
制御ユニット２において、サブ制御回路５は、例えば制御ユニット２の所定部位に配設されているスイッチが操作されたことにより、ＡＣ電源がメイン電源回路６へ供給されて制御ユニット２の電源が投入され、メイン電源回路６から＋５ボルトが供給されて起動すると（ステップＳ１にて「ＹＥＳ」）、メイン電源回路６から供給された＋５ボルトをレーザ光源ユニット３のＣＰＵ９へ動作電圧として供給する。そして、サブ制御回路５は、レーザ光源識別情報読出コマンドをレーザ光源ユニット３へ通知し（ステップＳ２）、レーザ光源ユニット３からレーザ光源識別情報が通知される旨を待機する（ステップＳ３）。
【００２０】
レーザ光源ユニット３において、ＣＰＵ９は、制御ユニット２から＋５ボルトが動作電圧として供給されて起動した後に、制御ユニット２からレーザ光源識別情報読出コマンドが通知されると、レーザ光源識別情報設定部１０に設定されているレーザ光源識別情報を読出し、その読出されたレーザ光源識別情報を制御ユニット２のサブ制御回路５へ通知する。
【００２１】
制御ユニット２において、サブ制御回路５は、レーザ光源ユニット３からレーザ光源識別情報が通知されると（ステップＳ３にて「ＹＥＳ」）、レーザ光源制御情報記憶部８に記憶されているレーザ光源制御情報のうちレーザ光源制御電圧レベルをメイン制御回路４を介して読出し（ステップＳ４）、レーザ光源ユニット３から通知されたレーザ光源識別情報に含まれているレーザ発振器１１の制御電圧レベルと、レーザ光源制御情報記憶部８から読出されたレーザ光源制御電圧レベルとを比較する（ステップＳ５）。
【００２２】
ここで、サブ制御回路５は、両者が一致すると（ステップＳ６にて「ＹＥＳ」）、つまり、制御ユニット２がレーザ光源ユニット３を制御可能な制御電圧レベルと、レーザ光源ユニット３内でＣＰＵ９がレーザ発振器１１を制御するための制御電圧レベルとが同一であり、制御電圧レベルが両者の間で適合すると、制御電圧供給指令をレーザ電源回路７へ通知し、レーザ電源回路７から＋２４ボルトをレーザ光源ユニット３のＣＰＵ９へ制御電圧として供給させる（ステップＳ７）。このような一連の処理により、制御ユニット２は、接続されているレーザ光源ユニット３と制御ユニット２との間の制御電圧レベルが適合する旨を検出すると、予め規定されている制御電圧をレーザ光源ユニット３へ供給することになり、これ以降、レーザ発振器１１は、制御ユニット２からレーザ光源ユニット３へ供給された制御電圧に基づいて制御されることになる。
【００２３】
これに対して、サブ制御回路５は、両者が一致しない旨を検出すると（ステップＳ６にて「ＮＯ」）、つまり、制御ユニット２がレーザ光源ユニット３を制御可能な制御電圧レベルと、レーザ光源ユニット３内でＣＰＵ９がレーザ発振器１１を制御するための制御電圧レベルとが同一でなく、制御電圧レベルが両者の間で適合しないと、制御電圧供給指令をレーザ電源回路７へ通知することなく、エラー出力をメイン制御回路４へ通知する（ステップＳ８）。
【００２４】
メイン制御回路４は、上記したサブ制御回路５と同様にしてメイン電源回路６から＋５ボルトが供給されて起動すると（ステップＳ１１にて「ＹＥＳ」）、サブ制御回路５からエラー出力が通知されたか否かを監視する（ステップＳ１２）。ここで、メイン制御回路４は、上記したサブ制御回路５の処理により、サブ制御回路５からエラー出力が通知されると（ステップＳ１２にて「ＹＥＳ」）、エラー情報を表示装置（図示せず）に表示させる（ステップＳ１３）。このような一連の処理により、制御ユニット２は、接続されているレーザ光源ユニット３と制御ユニット２との間の制御電圧レベルが適合しない旨を検出すると、レーザ光源ユニット３への制御電圧の供給を禁止することになる。
【００２５】
ところで、以上は、接続されているレーザ光源ユニット３と制御ユニット２との間の制御電圧レベルが適合しない場合に、制御電圧の供給を禁止する場合を説明したものであるが、制御電圧を正常な（適合する）所定レベルに調整してレーザ光源ユニット３へ供給させるように構成しても良い。
【００２６】
以上に説明したように第１の実施形態によれば、レーザ加工装置１において、制御ユニット２の電源が投入されると、レーザ光源ユニット３に設定されているレーザ光源識別情報を読出し、その読出されたレーザ光源識別情報に含まれているレーザ発振器１１の制御電圧レベルと、制御ユニット２に記憶されているレーザ光源制御電圧レベルとを比較し、両者が一致しない旨を検出すると、レーザ光源ユニット３への制御電圧の供給を禁止するように構成したので、制御電圧レベルが適合しないレーザ光源ユニット３と制御ユニット２とが誤って接続された場合であっても、制御ユニット２からレーザ光源ユニット３へ異常な制御電圧が供給されてしまうことを適切に回避することができ、人為的なミスが原因となってレーザ光源ユニット３が破損してしまう事態を適切に回避することができる。
【００２７】
（第２の実施形態）
次に、本発明の第２の実施形態について、図４を参照して説明する。尚、上記した第１の実施形態と同一部分については説明を省略し、異なる部分について説明する。上記した第１の実施形態は、制御ユニット２に対して複数のレーザ光源ユニット３のうちからいずれかのレーザ光源ユニット３が選択されて接続され、制御ユニット２がレーザ光源ユニット３との間の制御電圧の適合を判定する構成であるが、第２の実施形態は、制御ユニットに対して複数のレーザ光源ユニットのうちからいずれかのレーザ光源ユニットが選択されて接続されると共に複数のスキャニングユニットのうちからいずれかのスキャニングユニットが選択されて接続され、制御ユニットがレーザ光源ユニットとスキャニングユニットとの双方の間の制御電圧の適合を判定する構成である。
【００２８】
すなわち、レーザ加工装置２１は、各々がモジュール化された制御ユニット２２とレーザ光源ユニット３とスキャニングユニット２３とが組合されて構成されている。制御ユニット２２は、メイン制御回路２４（本発明でいうスキャニング接続異常検出手段）、サブ制御回路５、メイン電源回路６、レーザ電源回路７、レーザ光源制御情報記憶部８及びスキャニング制御情報記憶部２５（本発明でいうスキャニング制御情報記憶手段）を備えて構成されている。
【００２９】
この場合、メイン電源回路６は、ＡＣ電源が供給されると、＋２４ボルト、±２４ボルト及び＋５ボルトを制御電圧として生成し、±２４ボルトをスキャニングユニット２３の
制御電圧としてスキャニングユニット２３のＣＰＵ２６へ供給する。メイン制御回路２２は、メイン電源回路６から供給された＋５ボルト及び＋２４ボルトを動作電圧として動作すると共に、メイン電源回路６から供給された＋５ボルトをスキャニングユニット２３のＣＰＵ２６を動作させるための動作電圧としてスキャニングユニット２３のＣＰＵ２６へ供給する。スキャニング制御情報記憶部２５は、制御ユニット２がスキャニングユニット２３を制御可能なスキャニング制御電圧レベルを含むスキャニング制御情報を記憶している。
【００３０】
スキャンニングユニット２３は、ＣＰＵ２６、スキャニング識別情報設定部２７（本発明でいうスキャニング識別情報設定手段）及びガルバノミラー２８を備えて構成されている。ＣＰＵ２６は、制御ユニット２２のメイン制御回路２４から動作電圧として供給された＋５ボルトに基づいて動作し、制御ユニット２２のメイン電源回路６から制御電圧として供給された±２４ボルトに基づいてガルバノミラー２８を制御する。スキャニング識別情報設定部２７は、ガルバノミラー２８の制御電圧レベルや種類を含むスキャニング識別情報が設定されている。この場合も、スキャニング識別情報設定部２７は、レーザ光源ユニット３のレーザ光源識別情報設定部１０と同様にして、ＥＥＰＲＯＭなどのメモリから構成されていても良いし、機械的なディップスイッチから構成されていても良いし、制御ユニット２２と接続されるコネクタなどのピン配置（ピンの有無も含む）から構成されていても良い。
【００３１】
ガルバノミラー２８は、サーボ回路２９、Ｘ−ガルバノミラー３０、Ｘ−ガルバノミラー３０を駆動させるＸ−駆動モータ３１、Ｙ−ガルバノミラー３２及びＹ−ガルバノミラー３２を駆動させるＹ−駆動モータ３３を備えて構成されている。この場合、レーザ発振器１１から出射されたレーザ光は、Ｘ−ガルバノミラー３０及びＹ−ガルバノミラー３２により照射方向が所定方向に調整された後に収束レンズ３４により収束されて被加工対象物１２に照射される。
【００３２】
次に、上記した構成の作用について説明する。尚、この場合、制御ユニット２２は、レーザ光源ユニット３とスキャンニングユニット２３との双方の間の制御電圧の適合を判定するが、レーザ光源ユニット３との間の制御電圧の適合については上記した第１の実施形態に記載した手順と同様の手順により判定し、スキャンニングユニット２３との間の制御電圧の適合については以下に示す手順により判定する。また、本実施形態では、レーザ光源ユニット３との間の制御電圧の適合についてはサブ制御回路５が判定するが、スキャニングユニット２３との間の制御電圧の適合についてはメイン制御回路４が判定する。
【００３３】
制御ユニット２２において、メイン制御回路２４は、例えば制御ユニット２の所定部位に配設されているスイッチが操作されたことにより、ＡＣ電源がメイン電源回路６へ供給されて制御ユニット２の電源が投入され、メイン電源回路６から＋５ボルトが供給されて起動すると、メイン電源回路６から供給された＋５ボルトをスキャニングユニット２３のＣＰＵ２６へ動作電圧として供給し、スキャニング識別情報読出コマンドをスキャニングユニット２３へ通知し、スキャニングユニット２３からスキャニング識別情報が通知されたか否かを監視する。
【００３４】
スキャニングユニット２３において、ＣＰＵ２６は、制御ユニット２から＋５ボルトが動作電力として供給されて起動し、制御ユニット２からスキャニング識別情報読出コマンドが通知されると、スキャニング識別情報設定部２７に設定されているスキャニング識別情報を読出し、その読出されたスキャニング識別情報を制御ユニット２２のメイン制御回路２４へ通知する。
【００３５】
制御ユニット２２において、メイン制御回路２４は、スキャニングユニット２３からスキャニング識別情報が通知されると、スキャニング制御情報記憶部２５に記憶されているスキャニング制御情報のうちスキャニング制御電圧レベルを読出し、スキャニングユニット２３から通知されたスキャニング識別情報に含まれているガルバノミラー２８の制御電圧レベルと、スキャニング制御情報記憶部２５から読出されたスキャニング制御電圧レベルとを比較する。
【００３６】
ここで、メイン制御回路２４は、両者が一致すると、つまり、制御ユニット２２がスキャニングユニット２３を制御可能な制御電圧レベルと、スキャニングユニット２３内でＣＰＵ２６がガルバノミラー２８を制御するための制御電圧レベルとが同一であり、制御電圧レベルが両者の間で適合すると、メイン電源回路６から±２４ボルトをスキャニングユニット２３のＣＰＵ２６へ制御電圧として供給させる。このような一連の処理により、制御ユニット２２は、接続されているスキャニングユニット２３と制御ユニット２２との間の制御電圧レベルが適合する旨を検出すると、予め規定されている制御電圧をスキャニングユニット２３へ供給することになり、これ以降、ガルバノミラー２８は、制御ユニット２２からスキャニングユニット２３へ供給された制御電圧に基づいて制御されることになる。
【００３７】
これに対して、メイン制御回路２４は、両者が一致しない旨を検出すると、つまり、制御ユニット２２がスキャニングユニット２３を制御可能な制御電圧レベルと、スキャニングユニット２３内でＣＰＵ２６がガルバノミラー２８を制御するための制御電圧レベルとが同一でなく、制御電圧レベルが両者の間で適合しないと、上記した第１の実施形態に記載したものと同様にして、エラー情報を表示装置（図示せず）に表示させる。このような一連の処理により、制御ユニット２２は、接続されているスキャニングユニット２３と制御ユニット２２との間の制御電圧レベルが適合しない旨を検出すると、スキャニングユニット２３への制御電圧の供給を禁止することになる。尚、この場合も、制御電圧を正常な（適合する）所定レベルに調整してスキャニングユニット２３へ供給させるように構成しても良い。
【００３８】
以上に説明したように第２の実施形態によれば、レーザ加工装置２１において、制御ユニット２の電源が投入されると、スキャニングユニット２３に設定されているスキャニング識別情報を読出し、その読出されたスキャニング識別情報に含まれているガルバノミラー２８の制御電圧レベルと、制御ユニット２２に記憶されているスキャニング制御電圧レベルとを比較し、両者が一致しない旨を検出すると、スキャニングユニット２３への制御電圧の供給を禁止するように構成したので、制御電圧レベルが適合しないスキャニングユニット２３と制御ユニット２２とが誤って接続された場合であっても、制御ユニット２からスキャニングユニット２３へ異常な制御電圧が供給されてしまうことを適切に回避することができ、人為的なミスが原因となってスキャニングユニット２３が破損してしまう事態を適切に回避することもできる。
【００３９】
（その他の実施形態）
本発明は、上記した実施形態にのみ限定されるものではなく、以下のように変形または拡張することができる。
本発明のレーザ光源接続異常検出手段に相当するサブ制御回路が行う機能をレーザ光源ユニットが行う構成であっても良く、つまり、レーザ光源ユニットと制御ユニットとが接続された場合に、一方のユニットが他方のユニットの制御電圧の適合を判定し、レーザ光源ユニットの制御電圧の供給を制御する構成であれば良い。また、これと同様にして、本発明のスキャニング接続異常検出手段に相当するメイン制御回路が行う機能をスキャニングユニットが行う構成であっても良く、つまり、スキャニングユニットと制御ユニットとが接続された場合に、一方のユニットが他方のユニットの制御電圧の適合を判定し、スキャニングユニットの制御電圧の供給を制御する構成であれば良い。
【００４０】
レーザ光源識別情報として設定される情報は、レーザ発振器の制御電圧の他に、レーザ発振器の種類（ＹＡＧ、ＣＯ２）やレーザ発振器の駆動方式（連続波方式、パルス方式）などが含まれていても良い。
レーザ光源ユニットのレーザ発振器への制御電圧の供給を禁止する方法やスキャニングユニットのガルバノミラーへの制御電圧の供給を禁止する構成としては、制御ユニットからレーザ光源ユニットやスキャニングユニットへの制御電圧の供給を禁止する構成に限らず、制御ユニットからレーザ光源ユニットやスキャニングユニットへ制御電圧を供給するもののレーザ光源ユニットの内部でレーザ発振器への制御電圧の供給を禁止したりスキャニングユニットの内部でガルバノミラーへの制御電圧の供給を禁止したりする構成であっても良い。
【００４１】
制御ユニットにおいて、レーザ光源ユニットとスキャンニングユニットとの双方の間の制御電圧の適合を判定する場合、レーザ光源ユニットとの間の制御電圧の適合を判定する処理とスキャンニングユニットとの間の制御電圧の適合を判定する処理とを連続して（シリアルに）行う構成であっても良いし、それらの処理を並列して同時に（パラレルに）行う構成であっても良い。
【００４２】
制御ユニットにおいて、レーザ光源ユニットやスキャンニングユニットとの間の制御電圧の適合を判定する機能がサブ制御回路やメイン制御回路とは別の機能ブロックとして設けられている構成であっても良い。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】本発明の第１の実施形態を示す機能ブロック図
【図２】制御ユニットのサブ制御回路が行う処理を表すフローチャート
【図３】制御ユニットのメイン制御回路が行う処理を表すフローチャート
【図４】本発明の第２の実施形態を示す機能ブロック図
【符号の説明】
【００４４】
図面中、１はレーザ加工装置、２は制御ユニット、３はレーザ光源ユニット、５はサブ制御回路（レーザ光源接続異常検出手段）、８はレーザ光源制御情報記憶部（レーザ光源制御情報記憶手段）、１０はレーザ光源識別情報設定部（レーザ光源識別情報設定手段）、１１はレーザ発振器、２１はレーザ加工装置、２２は制御ユニット、２３はスキャニングユニット、２４はメイン制御回路（スキャニング接続異常検出手段）、２５はスキャニング制御情報記憶部（スキャニング制御情報記憶手段）、２７はスキャニング識別情報設定部（スキャニング識別情報設定手段）、２８はガルバノミラーである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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