(57)【要約】      （修正有）【課題】良好な記録特性が得られる最短記録マークを、標準速の８倍以上の高速記録により形成する情報記録方法を提供する。【解決手段】  レーザ光の照射によって記録信号に対応する記録マーク及びスペースを形成して情報の記録を行う際に、３Ｔマークの直後に、３Ｔスペースと、さらにその直後に６Ｔ以上の長さの記録マークとが形成される組み合わせの場合に、３Ｔマークを形成するために照射するレーザ光の記録パルス長を増大することにより、このような特定のパターンを有する３Ｔマークを精度良く形成することができ、記録再生のジッター及びＰＩエラーを低減することが可能となる。【選択図】図８
2006155720.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報記録媒体に照射される光により記録信号に対応する記録マークを形成する情報記録方法であって、
前記記録マークの直後に形成されるスペースの長さと、前記スペースの直後にさらに形成される他の記録マークの長さとの組み合わせに応じて、当該記録マークを形成するために照射する光を調整することを特徴とする情報記録方法。
【請求項２】
前記光の調整が、前記記録マークを形成するための記録パルスの長さを調整することを特徴とする請求項１記載の情報記録方法。
【請求項３】
前記光の調整が、前記記録マークを形成するための記録パルスの長さを増大することを特徴とする請求項１記載の情報記録方法。
【請求項４】
前記光がレーザ光であることを特徴とする請求項１記載の情報記録方法。
【請求項５】
前記記録マークが最短マークであり、前記スペースの長さ（Ｌｓ）が最短スペースであり、前記他の記録マークの長さ（Ｌｍ）が当該スペースの長さの２倍以上（Ｌｍ≧２Ｌｓ）であることを特徴とする請求項１記載の情報記録方法。
【請求項６】
前記記録マークが最短マークであり、前記スペースの長さ（Ｌｓ）が最短スペースであり、前記他の記録マークの長さ（Ｌｍ）が当該スペースの長さの２倍以上（Ｌｍ≧２Ｌｓ）である場合に、当該記録マークを形成するために照射する光のみを調整することを特徴とする請求項１記載の情報記録方法。
【請求項７】
前記情報記録媒体が、有機色素を含有する光吸収層を備えることを特徴とする請求項１記載の情報記録方法。
【請求項８】
前記情報記録媒体を、線速条件が標準速の８倍以上で回転させ、前記記録マークを形成することを特徴とする請求項１記載の情報記録方法。
【請求項９】
情報記録媒体に光を照射して記録信号に対応する記録マークを形成する情報記録装置であって、
前記情報記録媒体に光を照射する光ヘッドと、
前記記録信号に対応する記録パルス信号に基づき前記情報記録媒体上に光パルスを照射するように前記光ヘッドを駆動するドライバと、を備え、
前記ドライバは、前記記録マークの直後に形成されるスペースの長さと、前記スペースの直後にさらに形成される他の記録マークの長さとの組み合わせに応じて、当該記録マークを形成するための記録パルス信号を調整することを特徴とする情報記録装置。
【請求項１０】
前記記録マークが最短マークであり、前記スペースの長さ（Ｌｓ）が最短スペースであり、前記他の記録マークの長さ（Ｌｍ）が当該スペースの長さの２倍以上（Ｌｍ≧２Ｌｓ）であることを特徴とする請求項９記載の情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は情報記録方法に関し、より詳しくは、レーザ光の照射による情報記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
基板上に光吸収層と光反射層を有する情報記録媒体（例えば、ＤＶＤ−Ｒ等）は、光吸収層に所定パワーのレーザ光を照射することによって、情報の記録再生が行われる。即ち、比較的高いパワーのレーザ光を照射された部分の光吸収層は、分解または変質し、この部分が記録マークとなる。そして光吸収層を分解または変質させない程度の比較的低いパワーのレーザ光を照射することにより、記録マークと記録されていない部分（スペース）との反射率差を利用して情報の再生が行われる。したがって、記録すべき情報に対応した記録マークを精度良く形成することが信頼性の高い情報の記録を行うために重要である。
【０００３】
記録マークを精度良く形成するために、高パワーのレーザ光を直流的に照射するのではなく、高パワーのレーザ光を照射後に一旦パワーを低下させ、パルス列として照射する方法が一般的である。この記録するパルス列の構成は記録ストラテジと呼ばれ、レーザ光を直流的に照射する方法よりも光吸収層の熱蓄積が低下するため、記録マークの形状が不均一になることを防止できる。また、パルス列の波形や長さを調整することにより、好ましい形状の記録マークを精度良く形成することができる。また、スペース長さによってそれに続く記録マークを形成するための記録ストラテジを変化させることによって、さらに精度の良い記録マークを形成することができる。
【０００４】
近年、情報記録媒体の高速記録化が進むにつれて、従来の記録ストラテジでは高速記録時に精度の良い記録マークを形成することが困難になってきた。この理由としては、従来の低速記録との互換性を保つために、光吸収層を、低線速から高線速まで記録可能な高感度の材料を用いて、十分な膜厚を保有するように形成することが挙げられる。即ち、このような光吸収層の場合、高速記録時には、低速記録時に比べて、高パワーの光を短時間に照射するため、記録マーク前後のスペース長さによって記録時の熱的干渉の影響がさらに大きくなり、記録マークが精度良く形成できないためである。ここで、熱的干渉とは、あるマークを記録する際に記録レーザの照射により光ディスクの記録面に与えられた熱が、残留熱として次のマークの記録に影響を与えることをいう。
【０００５】
図７は、熱的干渉の影響を説明するための図である。図７（ａ）に示すように、所定の長さを有する記録データ６０ａ，６０ｂを記録するための記録パルス６１ａ，６１ｂにより、所定のスペースを開けて記録マーク６２ａ，６２ｂが形成される。記録マーク６２ａ，６２ｂ間のスペースが短いと、前の記録マーク６２ａの記録により温度上昇した記録面の熱が残留している間に次の記録マーク６２ｂの記録が開始するので、残留熱の影響で、記録マークの長さが伸びてしまう。即ち、記録マーク６２ａ，６２ｂは、正しいマークの長さ６２ａ１，６２ｂ１より長いマークの長さを有することになる。
【０００６】
このような熱干渉の影響を除去し、記録マークを精度良く形成する方法が近年報告されている（例えば、特許文献１参照）。即ち、図７（ｂ）に示すように、前の記録マーク６４ａに対応する記録パルス６３ａのラストパルス６３ａ１の後方エッジを前方へシフトさせるとともに、次の記録マーク６４ｂに対応する記録パルス６３ｂのトップパルス６３ｂ１の前方エッジを後方へシフトさせる。これにより、残留熱による熱的干渉の影響を除去し、正しい長さのマークを形成することができるようになる。
【０００７】
【特許文献１】特開２００３−０８５７５３号公報（（００８９）欄〜（００９２）欄参照）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
ところで、我々の検討によれば、熱的干渉の影響を除くために特許文献１に記載されているような手法を用いても、例えば、８倍速（標準速の８倍）以上の高速記録において記録マークの形成を精度良く行えず、その結果、情報の再生のジッター及びＰＩエラーがなかなか低減しないという問題があることが判明した。
即ち、特許文献１に記載された手法では、４倍速（標準速の４倍）程度の記録速度の場合、記録すべき記録マークの直前のスペース長さが短い場合には記録マークに対応する記録パルスの前方エッジを後方へシフトし、また、記録すべき記録マークの直後のスペース長さが短い場合には記録マークに対応する記録パルスの後方エッジを前方へシフトすることによって、記録マークを形成するためのレーザ光の照射時間を短縮する方法が採用されている。
しかし、特に、光照射に対して反応する有機色素系材料を用いて形成された光吸収層を有する情報記録媒体の場合は、特許文献１に記載された方法を適用して熱的干渉の影響を低減するだけでは、最短記録マーク（３Ｔマーク）を精度良く形成することができない。
【０００９】
本発明は、このような高速記録における問題を解決するためになされたものである。
即ち、本発明の目的は、良好な記録特性が得られる記録マークを、高速記録により形成する情報記録方法を提供することにある。
また、本発明の他の目的は、高速記録により良好な記録特性が得られる記録マークを形成する情報記録装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
そこで本発明者等は鋭意検討したところ、記録マークを形成するために照射するレーザ光の記録パルス長さを、記録すべき記録マーク直後のスペース長さとその次の記録マーク長さとの組み合わせに応じて調整することにより、再生光のジッターが低減することを見出し、この知見に基づき本発明を完成した。
即ち、本発明によれば、情報記録媒体に照射される光により記録信号に対応する記録マークを形成する情報記録方法であって、記録マークの直後に形成されるスペースの長さと、スペースの直後にさらに形成される他の記録マークの長さとの組み合わせに応じて、記録マークを形成するために照射する光を調整する情報記録方法が提供される。
【００１１】
ここで、本発明が適用される情報記録方法において、光の調整が、記録マークを形成するための記録パルスの長さを調整することが好ましく、さらに、記録パルスの長さを増大することが効果的である。尚、光はレーザ光を使用する。
また、本発明が適用される情報記録方法は、形成すべき記録マークが最短マークであり、スペースの長さ（Ｌｓ）が最短スペースであり、他の記録マークの長さ（Ｌｍ）がスペースの長さの２倍以上（Ｌｍ≧２Ｌｓ）である場合に、最短マークを精度良く形成することができる。
特に、本発明が適用される情報記録方法は、記録マークが最短マークであり、スペースの長さ（Ｌｓ）が最短スペースであり、他の記録マークの長さ（Ｌｍ）がスペースの長さの２倍以上（Ｌｍ≧２Ｌｓ）である場合に、記録マークを形成するために照射する光のみを調整することにより、最短マークが精度良く形成され、再生光により得られるジッター及びＰＩエラーが最も効果的に低減される。
【００１２】
次に、本発明を装置のカテゴリーから把握すると、本発明によれば、情報記録媒体に光を照射して記録信号に対応する記録マークを形成する情報記録装置であって、情報記録媒体に光を照射する光ヘッドと、記録信号に対応する記録パルス信号に基づき情報記録媒体上に光パルスを照射するように光ヘッドを駆動するドライバと、を備え、ドライバは、記録マークの直後に形成されるスペースの長さと、スペースの直後にさらに形成される他の記録マークの長さとの組み合わせに応じて、記録マークを形成するための記録パルス信号を調整することを特徴とする情報記録装置が提供される。
【００１３】
また、本発明が適用される情報記録装置が搭載するドライバによれば、記録マークが最短マークであり、スペースの長さ（Ｌｓ）が最短スペースであり、他の記録マークの長さ（Ｌｍ）がスペースの長さの２倍以上（Ｌｍ≧２Ｌｓ）である場合に記録パルス信号を調整することにより、このような特定のパターンを有する最短マークを精度良く形成することができる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、良好な記録特性が得られる記録マークを、高速記録により形成する情報記録方法が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、図面に基づき、本発明を実施するための最良の形態（実施の形態）について説明する。尚、本発明は以下の実施の形態に限定されず、種々変形した形態に適用することができる。
図１は、本実施の形態が適用される情報記録方法により情報を記録する光記録媒体を説明するための図である。図１に示される光記録媒体１００は、所定の高さのランド間にグルーブが形成され、例えば、ポリカーボネート等の光透過性材料からなる基板１１と、基板１１上に積層された有機色素を含有する光吸収層１２と、光吸収層１２上に積層された光反射層１３及び保護層１４とが順番に積層されている。光記録媒体１００は、基板１１側から照射されるレーザ光１６により、情報の記録・再生が行われる。
【００１６】
図１に示すように、基板１１の表面には、所定の高さを有するランド間にプリグルーブ１５が交互に設けられ、所定のトラックピッチでランド／グルーブ構造が構成されている。基板１１は、記録光及び再生光の波長において光透過性材料であれば、種々の材料を使用することができる。例えば、ポリカーボネート樹脂、塩化ビニル系樹脂、ポリメタクリル酸メチル等のアクリル樹脂、ポリスチレン系樹脂、エポキシ系樹脂、酢酸ビニル樹脂、ポリエステル系樹脂、ポリエチレン系樹脂、ポリプロピレン系樹脂、ポリイミド系樹脂、非晶質ポリオレフィン等の高分子材料；ガラス等の無機材料等が挙げられる。これらの中でも、ポリカーボネート樹脂が好ましい。
【００１７】
光吸収層１２は、基板１１上に直接又は他の層を介して形成される。光吸収層１２の膜厚は、特に限定されないが、通常、プリグルーブ１５の底から測定して、４０ｎｍ〜１２０ｎｍである。光吸収層１２の形成方法としては、例えば、真空蒸着法、スパッタリング法、ドクターブレード法、キャスト法、スピナー法、浸漬法等、一般に行われている薄膜形成法が挙げられる。
光吸収層１２を形成する有機色素としては、通常、光ディスク分野において使用されている有機色素であれば特に限定されない。例えば、フタロシアニン色素、ナフタロシアニン色素、ポルフィリン色素等の大環状アザアヌレン系色素；シアニン色素、メロシアニン色素、スクワリリウム色素等のポリメチン系色素；更に、ピロメテン系色素、アントラキノン系色素、アズレニウム系色素、含金属アゾ系色素、含金属インドアニリン系色素等が挙げられる。
【００１８】
光反射層１３は、光吸収層１２の上に形成され、光反射層１３の厚さは、通常、８０ｎｍ〜３００ｎｍである。光反射層１３を形成する材料としては、例えば、Ａｕ、Ａｌ、Ａｇ、Ｃｕ、Ｔｉ、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｐｔ、Ｔａ及びＰｄの金属を、単独又は合金にして用いることができる。光反射層１３を形成する方法としては、例えば、スパッタ法、イオンプレーティング法、化学蒸着法、真空蒸着法等が挙げられる。
【００１９】
保護層１４は、光反射層１３を保護するものであれば、材料は特に限定されない。例えば、有機物質としては、紫外線硬化性樹脂等を挙げることができる。また、無機物質としては、ＳｉＯ２、ＳｉＮ４、ＭｇＦ２、ＳｎＯ２等が挙げられる。紫外線硬化性樹脂としては、例えば、ウレタンアクリレート、エポキシアクリレート、ポリエステルアクリレート等のアクリレート系樹脂を用いることができる。
保護層１４の形成の方法としては、光吸収層１２と同様に、スピンコート法又はキャスト法等の塗布法、スパッタ法、化学蒸着法等の方法が用いられる。この中でもスピンコート法が好ましい。保護層１４の膜厚は、通常、３μｍ〜６μｍである。
尚、本実施の形態が適用される光記録媒体１００には、基板１１、光吸収層１２、光反射層１３及び保護層１４に加えて、必要に応じて他の層を設けることができる。
【００２０】
次に、情報記録媒体である光記録媒体１００に、高速（８倍速（標準速の８倍））により情報を記録を行う方法について説明する。
（光記録媒体の作製）
本実施の形態が適用される情報記録方法では、上述した構造の光記録媒体１００の各層構成を以下の通りに調製し、所定の記録信号に対応する記録マークを形成した。
ポリカーボネート樹脂製の基板１１上に、予め、同心円状にトラッキング用のプリグルーブ１５を形成した。プリグルーブ１５は、最内周半径２２ｍｍ、最外周半径５８ｍｍ、トラックピッチ０．７４μｍ、深さ１６５ｎｍ、溝幅３２０ｎｍである。
次に、プリグルーブ１５を形成した基板１１の表面に、アゾ系色素／テトラフルオロプロパノール溶液をスピンコート法により膜厚１２０ｎｍで塗布し、光吸収層１２を形成した。続いて、この光吸収層１２上にＡｇ合金をスパッタし、膜厚０．１４μｍの光反射層１３を成膜した。更に、この光反射層１３上に、スピンコート法により紫外線硬化性樹脂を厚さ５μｍに塗布し、所定の光強度の紫外線を照射することにより紫外線硬化性樹脂を硬化させて保護層１４を設け、アゾ系色素からなる光吸収層１２を有する追記型の光記録媒体１００を調製した。
【００２１】
（光記録媒体への高速記録）
前述した方法で調製した追記型の光記録媒体１００を、標準速３．５ｍ／ｓの８倍である線速条件２８ｍ／ｓ（８倍速）のＣＬＶ（Ｃｏｎｓｔａｎｔ  Ｌｉｎｅａｒ  Ｖｅｌｏｃｉｔｙ）で回転させた。次に、波長６５９ｎｍのレーザ光を開口数０．６０の対物レンズで集光し、１チャネルクロックＴを４．７８ｎｓｅｃとして、光記録媒体１００に記録を行った。光記録媒体１００に記録を行う記録パワーは３０ｍＷに設定し、所定の記録ストラテジに基づき、記録パターンはランダムパターンを用いた。光記録媒体１００に情報を記録するために以下に示す情報記録再生装置を使用した。
【００２２】
（情報記録装置）
図８は、本実施の形態が適用される情報記録装置を説明するための図である。図８に示した情報記録再生装置７０は、光記録媒体１００に情報を記録し、また、光記録媒体１００から情報を再生するための装置である。光記録媒体１００としては、ＣＤ−Ｒ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）、ＤＶＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ−Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）、ＤＶＤ−ＲＷ等を使用することができる。
【００２３】
情報記録再生装置７０は、光記録媒体１００に対して記録ビーム及び再生ビームを照射する光源を搭載した光ヘッド７３と、入力する記録信号に応じて生成された記録パルス信号に基づき光ヘッド７３を駆動するドライバであるレーザ駆動回路７６と、を備えている。また、レーザ駆動回路７６に外部から入力され、８−１６変調器７７により変換されたデジタル記録信号に基づき記録パルス信号を生成する記録波形発生回路７５を有している。さらに、光ヘッド７３により検出された再生信号を増大するプリアンプ回路７４と、プリアンプ回路７４から転送された再生信号を１６ビットごとに８ビット情報に変換する８−１６復調器７９とを有している。尚、光記録媒体１００は、モーター７２により回転され、モーター７２及び光ヘッド７３を制御するＬ／Ｇサーボ回路７８が備えられている。Ｌ／Ｇサーボ回路７８は、光ヘッド７３からの読取ＲＦ信号を受け取り、これに基づいてトラッキングエラー信号及びフォーカス信号などのサーボ信号を光ヘッド７３へ供給するとともに、スピンドルサーボ信号をモーター７２へ供給し、これにより、トラッキングサーボ、フォーカスサーボ、スピンドルサーボなどの各種サーボ処理が実行される。
情報記録再生装置７０に搭載されたレーザ駆動回路７６によれば、後述するように、所定の記録マークを形成するために照射するレーザ光の記録パルス長さを、記録すべき記録マーク直後のスペース長さとその次の記録マーク長さとの組み合わせに応じて、記録マークを形成するための記録パルス信号を調整するように光ヘッド７３が制御されている。
【００２４】
本実施の形態では、情報記録再生装置７０により、標準速の８倍である８倍速の条件で、所定の記録ストラテジに基づく記録パルス信号に対応したレーザパルス照射を行い、光記録媒体１００に記録マーク及びスペースを形成して、情報を記録した。
図２は、８倍速（標準速の８倍）における記録ストラテジによる記録パルス波形を説明するための図である。図２には、（ａ）基準クロックと、８Ｔマークの場合の（ｂ）記録データ及び（ｃ）記録パルス波形が示されている。図２に示すように、記録ストラテジによる（ｃ）記録パルス波形は、トップパルス２１、中間バイアス部２２及びラストパルス２３の３つの部分を有する。また、記録パルス波形はリードパワーＰＲのレベルに維持されている。
【００２５】
トップパルス２１及びラストパルス２３は第１のライトパワーＰｈを有し、中間バイアス部２３は第２のライトパワーＰｍを有している。第２のライトパワーＰｍはリードパワーＰＲより高く、第１のライトパワーＰｈより低く設定される。記録すべき記録マークの長さはトップパルス幅Ｔｔｏｐ、ラストパルス幅Ｔｌｐ及び第１のライトパワーＰｈにより制御され、記録すべき記録マークの幅は第２のライトパワーＰｍにより制御される。
【００２６】
図３は、記録すべき各記録マーク長に対応する記録パルス波形を説明するための図である。図３には、３Ｔ〜５Ｔ，８Ｔ，１４Ｔの長さの記録マークに対応する記録パルス波形が示されている。図３に示すように、３Ｔ及び４Ｔの記録データに対応する記録パルス波形は、中間バイアス部を有せず、トップパルス及びラストパルスが合成された形で１つのパルスとなっている。このパルスのパワーは、トップパルス及びラストパルスが共に第１のライトパワーＰｈ（図２参照）である。
【００２７】
５Ｔより長い記録データに対応する記録パルス波形は、その長さに応じて中間バイアス部の長さが増加する。トップパルスとラストパルスのパルス幅は、多少変化するが基本的にはほぼ一定である。
尚、図３は、通常の記録速度（標準速）の８倍の高速記録用の記録パルス例を示しているが、これより記録速度を高速化した場合（例えば、１６倍速（標準速の１６倍）など）は、５Ｔ以上の記録データについても単一パルス型の記録パルス波形としても良い。
【００２８】
（標準条件による情報記録媒体への情報の高速記録）
初めに、標準的な記録ストラテジに基づく記録パルス波形により、光記録媒体１００に、８倍速（標準速の８倍）で記録マークを形成し、情報を記録した。
表１に、８倍速（標準速の８倍）における記録ストラテジを示す。記録マークは、３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔの長さのものを形成した。表１に示すように、最短記録マークである３Ｔマークを形成するための最適条件を、標準的な条件である３Ｔｔｏｐ＝１．８０Ｔと設定した。尚、ｎは、５〜１４の整数である。Ｔｗｔは、５Ｔマーク以上の記録パルス波形における中間バイアス部の長さである。
【００２９】
【表１】
2006155720.tif 000003
【００３０】
上述した条件により、８倍速（標準速の８倍）である線速条件２８ｍ／ｓで回転させた光記録媒体１００に、１チャネルクロックＴを４．７８ｎｓｅｃとして記録した情報を、線速条件３．５ｍ／ｓで再生したところ、再生記録は、ジッター９％であり、ＰＩエラー３００の結果を示した。
【００３１】
（記録状態の解析）
次に、８倍速（標準速の８倍）の条件下、標準的な記録ストラテジで情報を記録した場合に、このようにジッター及びＰＩエラーが高く、記録マークが精度良く形成されない原因を解析した結果について説明する。
図４は、３Ｔｔｏｐ＝１．８０Ｔで記録した場合の３Ｔマーク長さの分布を説明するための図である。図４において、横軸は、光記録媒体１００に形成された３Ｔ〜１１Ｔ，１４Ｔ記録マークの中、３Ｔマークのみの長さ（ｎｓｅｃ）であり、縦軸は、それぞれの長さで記録された３Ｔマークに対応するカウント数（個）である。
【００３２】
図４において、白抜きで示した分布ａ０は、３Ｔマークの直後に、「３Ｔスペース−６Ｔ以上のマーク」が形成される場合の３Ｔマークの分布である。また、縦縞で示した分布Ａ０は、総ての３Ｔマークの分布である。
ここで、「３Ｔマークの直後に、「３Ｔスペース−６Ｔ以上のマーク」が形成される場合の３Ｔマーク」とは、３Ｔマークの直後に３Ｔの長さのスペースが形成され、さらにその３Ｔスペースの直後に６Ｔ以上の長さの記録マークが形成されるパターンを有する３Ｔマークのことをいう。
【００３３】
図４において、横軸に示した１１４．６（ｎｓｅｃ）は、３Ｔマーク長さの理論値（４．７８ｎｓｅｃ×８×３）である。１０４．０（ｎｓｅｃ）は、３Ｔマークの直後に、「３Ｔスペース−６Ｔ以上のマーク」が形成される場合の３Ｔマークの分布ａ０における３Ｔマーク長さの平均値である。また、１１５．９（ｎｓｅｃ）は、総ての３Ｔマークの分布Ａ０における３Ｔマーク長さの平均値である。
【００３４】
図４に示すように、光記録媒体１００に、１チャネルクロックＴを４．７８ｎｓｅｃとして８倍速で記録した場合の最短マークである３Ｔマークの分布を解析した結果、３Ｔマークの直後に、「３Ｔスペース−６Ｔ以上のマーク」が形成される場合の３Ｔマークの長さの平均値が、理論値（１１４．６ｎｓｅｃ）よりも小さい方向に大幅にシフトし（分布ａ０平均値＝１０４．０ｎｓｅｃ）、３Ｔマークが精度良く形成されないと共に、３Ｔマークの長さの分布Ａ０を拡げる原因となっていることが判明した。このため、線速条件３．５ｍ／ｓで再生した再生記録のジッター及びＰＩエラーが不良の結果を示したと判断される。
【００３５】
このように、本発明者等の解析の結果によれば、８倍速（標準速の８倍）の記録速度の条件下、標準的な記録ストタテジで情報の記録を行った場合、記録マークの直後に「３Ｔスペース−６Ｔ以上のマーク」が形成される場合という特定のパターンを有する３Ｔマークのみ、記録マークの長さの平均値が理論値（１１４．６ｎｓｅｃ）よりも小さくなり、このような特定の場合の３Ｔマークが、精度良く形成されないことが分かる。
【００３６】
次に、本実施の形態が適用される情報記録方法により、記録状態を改善する方法について説明する。
図５は、本実施の形態が適用される情報記録方法により記録された３Ｔマークの記録状態を説明するための図である。図５には、８倍速（標準速の８倍）で最短マークである３Ｔマークを形成するために照射するレーザ光の記録パルス長さを増大し、即ち、３Ｔｔｏｐ＝１．９０Ｔで記録した場合の３Ｔマーク長さの分布が示されている。図５において、横軸は、図４と同様に、光記録媒体１００に形成された３Ｔ〜１１Ｔ，１４Ｔ記録マークの中、３Ｔマークのみの長さ（ｎｓｅｃ）であり、縦軸は、それぞれの長さで記録された３Ｔマークに対応するカウント数（個）である。
【００３７】
図５において、白抜きで示した分布ａ１は、３Ｔマークの直後に、「３Ｔスペース−６Ｔ以上のマーク」が形成される場合の３Ｔマークを３Ｔｔｏｐ＝１．９０Ｔで記録した場合の分布である。また、縦縞で示した分布Ａ１は、総ての３Ｔマークを３Ｔｔｏｐ＝１．９０Ｔで記録した場合の分布である。
【００３８】
図５において、横軸に示した１１６．２（ｎｓｅｃ）は、３Ｔマークの直後に、「３Ｔスペース−６Ｔ以上のマーク」が形成される場合の３Ｔマークを３Ｔｔｏｐ＝１．９０Ｔで記録した場合の分布ａ１における３Ｔマーク長さの平均値である。１１４．６（ｎｓｅｃ）は、３Ｔマーク長さの理論値（３８．２ｎｓｅｃ×３）である。また、１２５．７（ｎｓｅｃ）は、総ての３Ｔマークを３Ｔｔｏｐ＝１．９０Ｔで記録した場合の分布Ａ１における３Ｔマーク長さの平均値である。
【００３９】
図５に示すように、記録マークの直後に「３Ｔスペース−６Ｔ以上のマーク」が形成されるパターンを有する特定の３Ｔマークを８倍速（標準速の８倍）で形成する際に、記録ストラテジを調整して、記録マークを形成するために照射するレーザ光の記録パルス長さを増大すると、即ち、３Ｔマークを、３Ｔｔｏｐ＝１．９０Ｔの条件で記録した場合、このような特定の３Ｔマークの長さの平均値が、３Ｔｔｏｐ＝１．８０Ｔで記録した場合と比較して、理論値（１１４．６ｎｓｅｃ）と略同じ数値に近づく（分布ａ１の平均値＝１１６．２．０ｎｓｅｃ）ことが分かる。
【００４０】
即ち、記録マークの直後に「３Ｔスペース−６Ｔ以上のマーク」が形成されるパターンを有する特定の３Ｔマークを形成する記録ストラテジを、＋０．１０Ｔ増大すると、３Ｔマークの長さが増大し、精度良く形成される結果が得られた。
図６は、３Ｔマークが精度良く形成されることを説明するための図である。図６（ａ）に示すように、記録マークの直後に「３Ｔスペース−６Ｔ以上のマーク」が形成されるパターンを有する特定の３Ｔマークを、３Ｔｔｏｐ＝１．８０Ｔの記録ストレテジで形成した場合は、理論値（１１４．６ｎｓｅｃ）と比較して平均長さ（１０４．０ｎｓｅｃ）が小さい記録マークが形成される。
一方、図６（ｂ）に示すように、このような特定のパターンを有する特定の３Ｔマークを形成する記録ストラテジを、３Ｔｔｏｐ＝１．９０Ｔに増大した場合は、理論値（１１４．６ｎｓｅｃ）と略同じ平均長さ（１１６．２ｎｓｅｃ）の良好な３Ｔマークが形成される。
【００４１】
このように、最短マークである３Ｔマークを８倍速（標準速の８倍）で形成する際に、記録マークを形成するために照射するレーザ光の記録パルス長さを増大することにより、３Ｔマークの中でも、前述したような特定のパターンを有する３Ｔマークを精度良く形成することができ、その結果、記録再生におけるジッター及びＰＩエラーの低減が期待できる。
【００４２】
これに対して、総ての３Ｔマークを、３Ｔｔｏｐ＝１．９０Ｔの条件で記録した場合は、３Ｔマークの長さが、理論値（１１４．６ｎｓｅｃ）よりも大幅に大きい方向にシフトし（分布Ａ１の平均値＝１２５．７ｎｓｅｃ）、３Ｔマークが精度良く形成されないと共に、３Ｔマークの長さの分布Ａ１がさらに拡がることが分かる。
【００４３】
このように、本実施の形態が適用される情報記録方法によれば、情報記録媒体にレーザ光の照射によって記録信号に対応する記録マーク及びスペースを形成して情報の記録を行う際に、記録マークの直後に形成されるスペースの長さと、さらにそのスペースの直後に形成される他の記録マークの長さとの組み合わせに応じて、記録マークを形成するために照射するレーザ光を調整することにより、記録マークを精度良く形成することができ、その結果、記録再生のジッター及びＰＩエラーを低減することが可能となる。
【００４４】
記録マークを形成するために照射するレーザ光を調整する方法としては、特に限定されず、例えば、照射するレーザ光の記録パルス長さ、即ちパルス照射時間を増大する方法、照射するレーザ光のパルス高さを増大する方法、照射するレーザ光のパワーを増大する方法等が挙げられる。なかでも、照射するレーザ光の記録パルス長さを増大する方法が好ましい。
さらに、本実施の形態が適用される情報記録方法によれば、最短マークである記録マークを形成する際に、記録される最短マークの直後に形成されるスペースの長さ（Ｌｓ）が最短スペースであり、さらにその最短スペースの直後に形成される他の記録マークの長さ（Ｌｍ）が２Ｌｓより大きい（Ｌｍ≧２Ｌｓ）場合に、最短マークを形成する精度を最も高めることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】本実施の形態が適用される情報記録方法により情報を記録する光記録媒体を説明するための図である。
【図２】８倍速（標準速の８倍）における記録ストラテジによる記録パルス波形を説明するための図である。
【図３】記録すべき各記録マーク長に対応する記録パルス波形を説明するための図である。
【図４】３Ｔｔｏｐ＝１．８０Ｔで記録した場合の３Ｔマーク長さの分布を説明するための図である。
【図５】本実施の形態が適用される情報記録方法により記録された３Ｔマークの記録状態を説明するための図である。
【図６】３Ｔマークが精度良く形成されることを説明するための図である。
【図７】熱的干渉の影響を説明するための図である。
【図８】本実施の形態が適用される情報記録装置を説明するための図である。
【符号の説明】
【００４６】
１１…基板、１２…光吸収層、１３…光反射層、１４…保護層、１５…プリグルーブ、１６…レーザ光、２１，６３ｂ１…トップパルス、２２…中間バイアス部、２３，６３ａ１…ラストパルス、６０ａ，６０ｂ…記録データ、６１ａ，６１ｂ，６３ａ，６３ｂ…記録パルス、６２ａ，６２ｂ，６４ａ，６４ｂ…記録マーク、６２ａ１，６２ｂ１…正しいマークの長さ、７０…情報記録再生装置、７２…モーター、７３…光ヘッド、７４…プリアンプ回路、７５…記録波形発生回路、７６…レーザ駆動回路、７７…８−１６変調器、７８…Ｌ／Ｇサ―ボ回路、７９…８−１６復調器、１００…光記録媒体
【図１】
2006155720.tif 000004
【図２】
2006155720.tif 000005
【図３】
2006155720.tif 000006
【図４】
2006155720.tif 000007
【図５】
2006155720.tif 000008
【図６】
2006155720.tif 000009
【図７】
2006155720.tif 000010
【図８】
2006155720.tif 000011