(57)【要約】 【課題】  信頼度の高い部品の品質等級および部品の供給者等級を算出することができる等級演算装置、その等級演算装置を利用した発注装置および設計支援装置を提供することである。【解決手段】  評価値算出部によって、取得手段２によって取得される納入実績情報、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報に基づいて、組立時における部品の不良発生率および出荷後における部品の不良発生率が算出され、またこれらの各不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出される。さらに品質等級算出部４２によって、部品の不良評価値に基づいて、部品の品質等級を算出し、供給者等級算出部４３によって、部品の供給者等級が算出される。したがって組立時における部品の不良発生率に加えて、出荷後における部品の不良発生率を考慮した部品の品質等級および部品の供給者等級を算出することができ、信頼度の高い等級演算装置を提供することができる。【選択図】      図１
2006323832.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
納入される部品の供給者および納入数量を含む納入実績情報、納入される部品を用いて製品を組立てるときに発見された不良部品の数量を含む組立時発見不良情報、ならびに組立てられた製品が市場に出荷された後に発見された不良部品の数量を含む出荷後発見不良情報を取得する取得手段と、
取得される納入実績情報、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報に基づいて、組立時における部品の不良発生率および出荷後における部品の不良発生率を求め、各不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出する評価値算出手段と、
評価値算出手段によって算出される不良評価値に基づいて、部品の品質等級を算出する品質等級算出手段とを含むことを特徴とする等級演算装置。
【請求項２】
品質等級算出手段によって算出される部品の品質等級に基づいて、部品の供給者等級を算出する供給者等級算出手段をさらに含むことを特徴とする請求項１記載の等級演算装置。
【請求項３】
各部品の出荷後発見不良情報を、各部品が属する部品品種毎に分類して記憶する記憶手段をさらに含み、
評価値算出手段は、不良評価値の算出対象の部品を用いた製品が未出荷である場合、その部品の組立時における不良発生率およびその部品が属する部品品種の他の部品の出荷後における部品の不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出することを特徴とする請求項１または２記載の等級演算装置。
【請求項４】
納入される部品の供給者および納入数量を含む納入実績情報、納入される部品を用いて製品を組立てるときに発見された不良部品の数量を含む組立時発見不良情報、ならびに組立てられた製品が市場に出荷された後に発見された不良部品の数量を含む出荷後発見不良情報を取得する取得手段と、取得される納入実績情報、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報に基づいて、組立時における部品の不良発生率および出荷後における部品の不良発生率を求め、各不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出する評価値算出手段と、評価値算出手段によって算出される不良評価値に基づいて、部品の品質等級を算出する品質等級算出手段とを含み、基準となる評価値を保存する基準評価値保存手段を有し、評価値算出手段により算出された評価値に基づいて、基準評価値を下回る評価値となった部品については、発注を抑止することのできる発注手段を備えることを特徴とする発注装置。
【請求項５】
納入される部品の供給者および納入数量を含む納入実績情報、納入される部品を用いて製品を組立てるときに発見された不良部品の数量を含む組立時発見不良情報、ならびに組立てられた製品が市場に出荷された後に発見された不良部品の数量を含む出荷後発見不良情報を取得する取得手段と、取得される納入実績情報、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報に基づいて、組立時における部品の不良発生率および出荷後における部品の不良発生率を求め、各不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出する評価値算出手段と、評価値算出手段によって算出される不良評価値に基づいて、部品の品質等級を算出する品質等級算出手段とを含み、基準となる評価値を保存する基準評価値保存手段を有し、評価値算出手段により算出された評価値に基づいて、基準評価値を下回る評価値となった部品については、部品の選択、使用を抑止することのできる使用部品選択手段を有する設計手段を備えることを特徴とする設計支援装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、部品の品質等級および部品の供給者等級を算出する等級演算装置および、その等級演算装置を利用した発注装置、設計支援装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
製品は、部品供給者から供給される部品を用いて組立てられる。製品を組立てるにあたって部品の品質は高い方が好ましく、不良部品の発生状況を把握することによって、部品が改良される。
【０００３】
不良部品の発生状況を把握するために、製品製造者は、サンプリング検査方式による受入検査をする。サンプリング検査による受入検査は、母集団からサンプルを抜取り、その抜取られたサンプルが、部品納入時の要求基準を満たしているか否かを検査する。その受入検査において、不良部品が発見された場合は、速やかに部品供給者に連絡、返品などの処置が採られる。また部品認定試験などの制度を設けている場合は、試験合格後は、全品不良無しを前提に受入検査をしない場合もある。
【０００４】
不良部品の状況を把握する装置として、特許文献１および特許文献２に示される装置がある。特許文献１の装置では、前述した受入検査に加えて、製品を製造し、出荷するまでの一連の工程において、受入時、組立時および出荷時に不良検査をすることによって、各工程での不良部品の状況を把握し、その不良部品の情報を部品供給者に提供することによって、不良部品の問題を迅速に解決することができるよう構成されている。特許文献２の装置では、生産工程での不具合指標を計算する際に、その分母の値が常に一定値として不具合指標を計算するように構成されており、生産工程において不具合の大きさと連続性を正しく表現することができ、また不具合品の発生状況を的確かつ迅速に把握し、不具合の多発を迅速に食い止めることができる。
【０００５】
また製品製造者と部品供給者との間の取引方法として特許文献３に示される取引方法がある。特許文献３に示される方法では、製品製造者が調達しようとする部品の納入数のうち、どのくらいの不良部品が含まれるかを示す部品不良潜在力と、部品供給者の有する部品品質達成に関する実力水準とを用いて、部品の調達および供給の円滑化を図る方法である。具体的には、製品製造者が提供する部品などの品質水準と、部品供給者の有する部品の品質達成に関する実力水準を示す指標を用いることによって、製品製造者は、部品供給者の募集条件として前記品質水準指標を用いて、部品供給者の募集ができる。また部品供給者は、前記製品製造者が示す部品供給者の募集条件である品質水準指標と、部品供給者が供給する部品などの品質水準または部品供給者の有する品質達成に関する実力水準指標とを比較して募集するか否かを判断できる。部品供給者が、募集する場合には、部品供給者の有する部品品質水準と、製品製造者が提供する品質水準指標とを用いることによって、製品製造者は、部品供給者から円滑に部品を調達することができる。
【０００６】
さらに製品製造者と部品供給者との間の取引方法およびその方法を備えた装置として特許文献４に示される装置がある。特許文献４に示される装置では、電子商取引業者が、製品製造者および部品供給者から評価指標の算定に必要な情報の収集を行い、その情報を用いて部品製造者の要求する部品などのライフサイクルのフェーズに応じて、製品製造者が部品供給者の比較選定が可能となるように情報を加工し、ネットワークを介して電子商取引市場の参加者に提供することができるよう構成されている。
【０００７】
特許文献５は、製造前の段階（製品設計段階や製造工程の設計段階）で、ある部品や工程における不良の発生が他の部品や工程に及ぼす影響を推定し、不良の重要度を評価して製造工程の設計を支援する不良影響度評価方法である。この方法によると、部品故障率をデータベースに格納しておき、製品の設計段階で、製品を構成する各部品の組立工程について組立不良率を算出し、製品の設計情報から部品配置関係を抽出し、組立不良率と部品故障率に基づいて部品不良率を算出し、部品配置関係と部品不良率に基づき各組立工程で係わりのある部品に対し部品不良率を係数を掛け合わせて工程の影響度を示す数値を算出することにより、各部品および各工程の影響度を評価することができる。
【０００８】
【特許文献１】特開２００３−１２２４２０号公報
【特許文献２】特開２００４−１６４１３５号公報
【特許文献３】特開２００２−２３０３３７号公報
【特許文献４】特開２００３−３０３２７７号公報
【特許文献５】特開２００５−１０７７７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
製品製造者が、部品供給者からの部品納入後に、サンプリング検査方式による受入検査をする場合、製造ロット単位で受入検査される。サンプリング検査は、受入れた部品の全数の検査を実施しないので、組立時に不良部品が発見される場合もある。また部品の受入時、製品の組立時および製品の出荷後では、利用環境および使用経過時間も異なるので、組立時に加えて、出荷後に不良を起こす場合もある。
【００１０】
また特許文献１に示される構成では、受入時、組立時および出荷時の不良検査によって、不良部品を把握できる構成にはなっているが、出荷後の不良を考慮する構成にはなっていない。したがって信頼度の低い不良情報しか得られることができない。また特許文献２に示される構成においても、組立時での不良検査によって不良の発生状況を把握できる構成にはなっているが、特許文献１と同様の課題を有する。さらに特許文献３および４に示される構成においても、出荷後の不良部品までを考慮して部品供給者を選定できる構成にはなっていないので、特許文献１と同様の課題を有する。仮に、出荷後の不良部品を考慮する構成であったとしても、取引実績の無い部品の場合、出荷後の結果が得られるまで部品供給者の選定ができず、また出荷後の結果を取得するまでに時間がかかるので、即時の部品供給者の選定ができない。
【００１１】
また特許文献１は、部品の不良の発生数順に仕入先をランク付けした品質レポート作成することで部品を選定する際の指針に使用する構成であるが、部品の発注担当はそのランクに頼らずに発注することが可能になってしまう。
【００１２】
特許文献５は、設計時に部品故障率を表示する構成であるが、設計的要因から設計者が部品の使用可否を決定するため、品質を管理する部門が品質的な要因で部品の使用を控えるような意図が伝わらず、設計上の要因だけを重視して低品質の部品を採用する可能性がある。
【００１３】
本発明の目的は、信頼度の高い部品の品質等級および部品の供給者等級を素早く算出することができる等級演算装置、その等級演算装置を利用した発注装置および設計支援装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明は、納入される部品の供給者および納入数量を含む納入実績情報、納入される部品を用いて製品を組立てるときに発見された不良部品の数量を含む組立時発見不良情報、ならびに組立てられた製品が市場に出荷された後に発見された不良部品の数量を含む出荷後発見不良情報を取得する取得手段と、
取得される納入実績情報、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報に基づいて、組立時における部品の不良発生率および出荷後における部品の不良発生率を求め、各不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出する評価値算出手段と、
評価値算出手段によって算出される不良評価値に基づいて、部品の品質等級を算出する品質等級算出手段とを含むことを特徴とする等級演算装置である。
【００１５】
本発明に従えば、等級演算装置では、取得手段によって、納入実績情報、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報を取得することができる。これらの取得される情報に基づいて、評価値算出手段によって、組立時における部品の不良発生率および出荷後における部品の不良発生率を求めることができ、またこれらの各不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出することができる。さらに品質等級算出手段によって、部品の不良評価値に基づいて、部品の品質等級を算出するができる。したがって組立時における部品の不良発生率に加えて、出荷後における部品の不良発生率を考慮した部品の品質等級を算出することができ、信頼度の高い部品品質等級を算出することができる。
【００１６】
また本発明は、品質等級算出手段によって算出される部品の品質等級に基づいて、部品の供給者等級を算出する供給者等級算出手段をさらに含むことを特徴とする。
【００１７】
本発明に従えば、等級演算装置では、供給者等級算出手段によって、品質等級算出手段によって算出される部品の品質等級に基づいて、部品の供給者等級を算出することができる。したがって部品の品質等級を用いて部品の供給者等級を算出することができ、信頼度の高い部品の供給者等級を算出することができる。
【００１８】
また本発明は、各部品の出荷後発見不良情報を、各部品が属する部品品種毎に分類して記憶する記憶手段をさらに含み、
評価値算出手段は、不良評価値の算出対象の部品を用いた製品が未出荷である場合、その部品の組立時における不良発生率およびその部品が属する部品品種の他の部品の出荷後における部品の不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出することを特徴とする。
【００１９】
本発明に従えば、記録手段によって、各部品の出荷後発見不良情報を、各部品が属する部品品種毎に分類して記憶することができ、評価値算出手段によって、不良評価値の算出対象の部品を用いた製品が未出荷である場合、部品の組立時における不良発生率およびその部品が属する部品品種の他の部品の出荷後における部品の不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出することができる。したがって不良評価値の算出対象の部品を用いた製品が未出荷である場合においても、その部品が属する部品品種の他の部品の出荷後における部品の不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出すことができる。
【００２０】
また本発明は、納入される部品の供給者および納入数量を含む納入実績情報、納入される部品を用いて製品を組立てるときに発見された不良部品の数量を含む組立時発見不良情報、ならびに組立てられた製品が市場に出荷された後に発見された不良部品の数量を含む出荷後発見不良情報を取得する取得手段と、取得される納入実績情報、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報に基づいて、組立時における部品の不良発生率および出荷後における部品の不良発生率を求め、各不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出する評価値算出手段と、評価値算出手段によって算出される不良評価値に基づいて、部品の品質等級を算出する品質等級算出手段とを含み、基準となる評価値を保存する基準評価値保存手段を有し、評価値算出手段により算出された評価値に基づいて、基準評価値を下回る評価値となった部品については、発注を抑止することのできる発注手段を備えることを特徴とする発注装置である。
【００２１】
本発明に従えば、品質に問題のある部品の発注を抑止することができる。
また本発明は、納入される部品の供給者および納入数量を含む納入実績情報、納入される部品を用いて製品を組立てるときに発見された不良部品の数量を含む組立時発見不良情報、ならびに組立てられた製品が市場に出荷された後に発見された不良部品の数量を含む出荷後発見不良情報を取得する取得手段と、取得される納入実績情報、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報に基づいて、組立時における部品の不良発生率および出荷後における部品の不良発生率を求め、各不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出する評価値算出手段と、評価値算出手段によって算出される不良評価値に基づいて、部品の品質等級を算出する品質等級算出手段とを含み、基準となる評価値を保存する基準評価値保存手段を有し、評価値算出手段により算出された評価値に基づいて、基準評価値を下回る評価値となった部品については、部品の選択、使用を抑止することのできる使用部品選択手段を有する設計手段を備えることを特徴とする設計支援装置である。
【００２２】
本発明に従えば、品質を管理する部門が品質的な要因で部品の使用を控えるような意図を設計者に伝えて、品質に問題のある部品の採用を抑止できる。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば、等級演算装置には、納入実績情報、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報を取得する取得手段が設けられており、評価値算出手段によって、取得手段によって取得される各情報に基づいて、組立時における部品の不良発生率および出荷後における部品の不良発生率を求めることができ、またこれらの各不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出することができる。さらに品質等級算出手段によって、部品の不良評価値に基づいて、部品の品質等級を算出するができる。したがって組立時における部品の不良発生率に加えて、出荷後における部品の不良発生率を考慮した部品の品質等級を算出することができ、信頼度の高い部品品質等級を算出することができる。このような等級演算装置を用いることによって、信頼度の高い部品の品質等級を迅速に算出することができ、さらに信頼度の高い製品開発を支援することができる。
【００２４】
また本発明によれば、供給者等級算出手段によって、品質等級算出手段によって算出される部品の品質等級に基づいて、部品の供給者等級を算出することができる。したがって部品の品質等級を用いて部品の供給者等級を算出することができ、信頼度の高い部品の供給者等級を算出することができる。このような等級演算装置を用いることによって、部品採用時における供給者の判定を迅速にすることができ、信頼度の高い製品開発を支援することができる。
【００２５】
また本発明によれば、等級演算装置には、各部品の出荷後発見不良情報を、各部品が属する部品品種毎に分類して記憶する記憶手段が設けられており、不良評価値の算出対象の部品を用いた製品が未出荷である場合、評価値算出手段によって、部品の組立時における不良発生率およびその部品が属する部品品種の他の部品の出荷後における部品の不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出することができる。したがって不良評価値の算出対象の部品を用いた製品が未出荷である場合においても、その部品が属する部品品種の他の部品の出荷後における部品の不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出すことができる。このような等級演算装置を用いることによって、信頼度の高い不良評価値に基づいて、部品の品質等級、さらには部品の供給者等級を算出することができ、さらに信頼度の高い製品開発を支援することができる。
【００２６】
また本発明によれば、部品の評価値を有効利用した発注装置や設計支援装置を利用することで、品質に問題のある部品の発注や使用を制限することができ、製品品質の向上を図ることが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
図１は、本発明の実施の一形態である等級演算装置１を示すブロック図である。
等級演算装置１は、部品品質収集本体装置７ａおよび部品品質収集端末装置７ｂを含んで構成される部品品質収集装置７と、部品品質算出本体装置８ａおよび部品品質算出端末装置８ｂを含んで構成される部品品質算出装置８と、部品品質分類本体装置９ａおよび部品品質分類端末装置９ｂを含んで構成される部品品質分類装置９と、市場データベース本体装置１０ａおよび市場データベース端末装置１０ｂを含んで構成される市場データベース１０とを含んで構成されている。また部品品質収集装置７には、収集装置受信手段２１、収集装置伝達手段２２および収集装置入出力手段２７が設けられている。また部品品質算出装置８には、算出装置受信手段３１、算出装置伝達手段３２、評価値算出部３３および算出装置入出力手段３７が設けられている。また部品品質分類装置９には、分類装置受信手段４１、分類装置演算部５０および分類装置入出力手段４７が設けられている。部品品質収集装置７と、部品品質算出装置８と、部品品質分類装置９と、市場データベース１０とは、通信可能に構成され、たとえば有線ＬＡＮで結ばれている。
【００２８】
また部品品質収集装置７には、請求項記載の取得手段２が設けられており、取得手段２は、収集装置受信手段２１および収集装置操作部２５を含んで構成されている。また部品品質算出装置８には、請求項記載の評価値算出手段が設けられており、本実施の形態では、評価値算出部３３によって実現される。また部品品質分類装置９には、請求項記載の品質等級算出手段および供給者等級算出手段が設けられており、本実施の形態では、分類装置演算部５０によって実現される。
【００２９】
図２は、本発明の実施の一形態である等級演算装置１に設けられる部品品質収集装置７の構成を示すブロック図である。部品品質収集装置７は、収集装置受信手段２１と、収集装置伝達手段２２と、部品品種記憶手段２３と、収集装置記憶手段２４と、収集装置入出力手段２７と、収集装置本体制御手段２８と、収集装置端末制御手段２９とを有する。また収集装置入出力手段２７は、収集装置操作部２５および収集装置表示部２６とを有する。また請求項記載の取得手段２は、収集装置受信手段２１および収集装置操作部２５を含んで構成されている。
【００３０】
収集装置受信手段２１は、情報を受信し、受信した情報を収集装置本体制御手段２８に与える。この収集装置受信手段２１によって、市場データベース１０から伝達される出荷後発見不良情報を受信する。収集装置伝達手段２２は、収集装置本体制御手段２３の制御に基づいて、情報を伝達する。本実施の形態では、取得手段２によって取得される納入実績情報、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報を伝達する。収集装置操作部２５は、製品製造者によって操作可能な操作キーを有し、操作キーの操作によって入力される納入実績情報および組立時発見不良情報などの情報を、収集装置端末制御手段２９に与える。収集装置表示部２６は、収集装置端末制御手段２９の制御に基づいて、情報を表示する。
【００３１】
収集装置記憶手段２４および部品品種記憶手段２３は、たとえば半導体メモリなどによって実現され、収集装置本体制御手段２３によって読出し可能に情報を記憶する。本実施の形態では、収集装置記憶手段２４には、収集装置受信手段２１によって受信される情報および収集装置操作部２５によって入力される情報を記憶することができる。また部品品種記憶手段２３には部品の部品品種が記憶されている。部品品種とは、部品を機能別に分類した集団名のことを意味する。たとえば部品品種としては、コンデンサ、抵抗、トランジスタ、集積回路(Integrated Circuit；略称ＩＣ)、ヒューズ、サーミスタ、プリント基板、キャビネット、モーターおよびスプリングなどがあり、コンデンサには、部品名としてアルミ電解コンデンサ、タンタルコンデンサ、磁器コンデンサおよびプラスチックフィルムコンデンサなどがある。
【００３２】
収集装置本体制御手段２８は、収集装置受信手段２１と、収集装置伝達手段２２と、収集装置記憶手段２４と、部品品種記憶手段２３と、収集装置端末制御手段２９とを制御する手段であり、たとえば中央演算処理ユニット（Central Processing Unit；略称ＣＰＵ
）によって実現される。また収集装置端末制御手段２９は、収集装置本体制御手段２８と、収集装置入出力手段２７とを制御する手段であり、たとえばＣＰＵによって実現される。収集装置本体制御手段２８は、収集装置受信手段２１による情報の受信および収集装置操作部２５による操作入力に基づいて、情報を収集装置伝達手段２２によって伝達させ、収集装置記憶手段２４に記憶させる。また収集装置端末制御手段２９は、収集装置受信手段２１による情報の受信および収集装置操作部２５による操作入力に基づいて、情報を収集装置表示部２６に表示させる。
【００３３】
さらに具体的には、収集装置受信手段２１によって出荷後発見不良情報が受信されると、収集装置本体制御手段２８は、その出荷後発見不良情報を、部品品種記憶手段２３に記憶される部品品種毎に分類して収集装置記憶手段２４に記憶させる。また収集装置操作部２５が操作されて、納入実績情報および組立時発見不良情報などが入力されると、収集装置端末制御手段２９は、その情報を受取り、収集装置本体制御手段２８に与える。収集装置本体制御手段２８は、収集装置端末制御手段２９から受取った情報を、収集装置記憶手段２４に記憶させる。
【００３４】
また収集装置操作部２５によって収集装置記憶手段２４に記憶されている情報を伝達する指令を表す情報が入力されると、収集装置端末制御手段２９は、その情報を収集装置操作部２５から受取り、収集装置本体制御手段２８に与える。収集装置本体制御手段２８は、その情報を受取り、伝達する指令を表す情報に対応する情報を、収集装置記憶手段２４から読出し、収集装置伝達手段２２に与えて伝達させる。
【００３５】
また収集装置操作部２５によって収集装置記憶手段２４に記憶されている情報を表示する指令を表す情報が入力されると、収集装置端末制御手段２９は、表示する指令を表す情報を収集装置操作部２５から受取り、その情報を収集装置本体制御手段２８に与える。収集装置本体制御手段２８は、表示する指令を表す情報に対応する情報を収集装置記憶手段２４から読出し、収集装置端末制御手段２９に与える。収集装置端末制御手段２９は、収集装置本体制御手段２８から受取った情報を収集装置表示部２６与えて表示させる。さらに収集装置本体制御手段２８および収集装置端末制御手段２９は、これらの収集装置操作部２５の操作時に、操作を補助する情報を収集装置表示部２６に表示させる。
【００３６】
このような部品品質収集装置７は、収集装置受信手段２１によって受信する出荷後発見不良情報および収集装置操作部２５によって操作入力される納入実績情報および組立時発見不良情報を、収集装置記憶手段２４に記憶させることができる。また収集装置操作部２５の操作に基づいて収集装置記憶手段２４に記憶される情報を、収集装置伝達手段２２によって伝達することができる。
【００３７】
図３は、本発明の実施の一形態である等級演算装置１に設けられる部品品質算出装置８の構成を示すブロック図である。部品品質算出装置８は、算出装置受信手段３１と、算出装置伝達手段３２と、算出装置記憶手段３４と、算出装置入出力手段３７と、算出装置本体制御手段３８と、算出装置端末制御手段３９とを有する。また算出装置入出力手段３７は、算出装置操作部３５および算出装置表示部３６とを有する。また算出装置本体制御手段３８は、評価値算出部３３を有している。
【００３８】
算出装置受信手段３１は、情報を受信し、受信した情報を算出装置本体制御手段３８に与える。この算出装置受信手段３１によって、部品品質収集装置７に設けられる収集装置伝達手段２２から伝達される納入実績情報、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報を受信する。算出装置伝達手段３２は、算出装置本体制御手段３８の制御に基づいて、情報を伝達する。本実施の形態では、評価値算出部３３によって算出される部品の不良評価値を、部品品質分類装置９に伝達する。算出装置操作部３５は、製品製造者によって操作可能な操作キーを有し、操作キーの操作によって入力される情報、具体的には、集計期間ならびに組立時および出荷後のそれぞれにおける部品不良に対する製品全体に与える影響度などの情報を、算出装置端末制御手段３９に与える。算出装置表示部３６は、算出装置端末制御手段３９の制御に基づいて、情報を表示する。評価値算出部３３は、算出装置本体制御手段３８に設けられており、算出装置受信手段３１によって受信される情報と、算出装置操作部３５によって操作入力される情報に基づいて、組立時における部品の不良発生率および出荷後における部品の不良発生率を求め、各不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出する。
【００３９】
算出装置記憶手段３４は、たとえば半導体メモリなどによって実現され、算出装置本体制御手段３８によって読出し可能に情報を記憶する。本実施の形態では、算出装置記憶手段３４には、算出装置受信手段３１によって受信される情報、算出装置操作部３５によって入力される情報および評価値算出部３３によって算出される情報を記憶することができる。
【００４０】
算出装置本体制御手段３８は、算出装置受信手段３１と、算出装置伝達手段３２と、算出装置記憶手段３４と、算出装置端末制御手段３９とを制御する手段であり、たとえばＣＰＵによって実現される。また算出装置端末制御手段３９は、算出装置本体制御手段３８と、算出装置入出力手段３７とを制御する手段であり、たとえばＣＰＵによって実現される。算出装置本体制御手段３８は、算出装置受信手段３１による情報の受信および算出装置操作部３５による操作入力に基づいて、情報を算出装置伝達手段３２によって伝達させ、算出装置記憶手段３４に記憶させる。また算出装置端末制御手段３９は、算出装置受信手段３１による情報の受信および算出装置操作部３５による操作入力に基づいて、情報を算出装置表示部３６に表示させる。
【００４１】
さらに具体的には、算出装置受信手段３１によって情報が受信されると、算出装置本体制御手段３８は、受信される情報を算出装置受信手段３１から受取り、算出装置記憶手段３４に記憶させる。算出装置操作部３５が操作されて、集計期間ならびに組立時および出荷後のそれぞれにおける部品不良に対する製品全体に与える影響度などの情報が入力されると、算出装置端末制御手段３９は、入力される情報を算出装置操作部３５から受取り、算出装置本体制御手段３８に与える。算出装置本体制御手段３８は、算出装置端末制御手段３９から受取った情報を、算出装置記憶手段３４に記憶させる。
【００４２】
また算出装置操作部３５によって、部品の不良評価値を算出する指令を表す情報が入力されると、算出装置端末制御手段３９は、その情報を算出装置操作部３５から受取り、算出装置本体制御手段３８に与える。算出装置本体制御手段３８は、その情報を受取り、部品の不良評価値を算出するのに必要な情報を算出装置記憶手段３４などから読出し、算出装置本体制御手段３８に備えられている評価値算出部３３によって。部品の不良評価値を算出させる。また算出装置操作部３５によって算出装置記憶手段３４に記憶されている情報を伝達する指令を表す情報が入力されると、算出装置制端末御手段３９は、その情報を算出装置操作部３５から受取り、算出装置本体制御手段３８に与える。算出装置本体制御手段３８は、その情報を受取り、伝達する指令を表す情報に対応する情報を、算出装置記憶手段３４から読出し、算出装置伝達手段３２に与えて伝達させる。
【００４３】
また算出装置操作部３５によって算出装置記憶手段３４に記憶されている情報を表示する指令を表す情報が入力されると、算出装置端末制御手段３９は、表示する指令を表す情報を算出装置操作部３５から受取り、その情報を算出装置本体制御手段３８に与える。算出装置本体制御手段３８は、表示する指令を表す情報に対応する情報を算出装置記憶手段３４から読出し、算出装置端末制御手段３９に与える。算出装置端末制御手段３９は、端末装置本体制御手段３８から受取った情報を算出装置表示部３６に与えて表示させる。さらに算出装置本体制御手段３８および算出装置端末制御手段３９は、これらの算出装置操作部３５の操作時に、操作を補助する情報を算出装置表示部に表示させる。
【００４４】
このような部品品質算出装置８は、算出装置受信手段３１によって受信する納入実績情報、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報を算出装置記憶手段３４に記憶させることができる。また算出装置操作部３５によって操作入力される集計期間ならびに組立時および出荷後のそれぞれにおける部品不良に対する製品全体に与える影響度などの情報を、算出装置記憶手段３４に記憶させることができる。また算出装置操作部３５の操作に基づいて、算出装置記憶手段３４に記憶される情報を用いて、算出装置本体制御手段３８に設けられている評価値算出部３３によって、部品の不良評価値を算出させることができる。さらに算出装置操作部３５の操作に基づいて評価値算出部３３によって算出される部品の不良評価値を、算出装置伝達手段３２によって伝達することができる。
【００４５】
図４は、本発明の実施の一形態である等級演算装置１に設けられる部品品質分類装置９の構成を示すブロック図である。部品品質分類装置９は、分類装置受信手段４１と、分類装置記憶手段４４と、分類装置入出力手段４７と、分類装置本体制御手段４８と、分類装置端末制御手段４９とを有する。また分類装置入出力手段４７は、分類装置操作部４５および分類装置表示部４６とを有する。また分類装置本体制御手段４８は、分類装置演算部５０を有し、分類装置演算部５０は、品質等級算出部４２および供給者等級算出部４３とを含んで構成されている。
【００４６】
分類装置受信手段４１は、情報を受信し、受信した情報を分類装置本体制御手段４８に与える。この分類装置受信手段４１によって、部品品質算出装置８に設けられる算出装置伝達手段３２から伝達される部品の不良評価値を受信する。算出装置操作部４５は、製品製造者によって操作可能な操作キーを有し、操作キーの操作によって入力される情報、具体的には、目標部品不良評価値および部品等級付け指標などの情報を、分類装置端末制御手段４９に与える。分類装置表示部４６は、分類装置端末制御手段４９の制御に基づいて、情報を表示する。品質等級算出部４２は、分類装置本体制御手段４８に設けられており、分類装置受信手段４１によって受信される情報と、分類装置操作部４５によって操作入力される情報に基づいて、部品の品質等級を算出する。供給者等級算出部４３は、分類装置本体制御手段４８に設けられており、品質等級算出部４２によって算出される部品の品質等級に基づいて、部品の供給者等級を算出する。
【００４７】
分類装置記憶手段４４は、たとえば半導体メモリなどによって実現され、分類装置本体制御手段４８によって読出し可能に情報を記憶する。本実施の形態では、分類装置記憶手段４４には、分類装置受信手段４１によって受信される情報、分類装置操作部４５によって入力される情報、品質等級算出部４２によって算出される部品の品質等級および供給者等級算出部４３によって算出される部品の供給者等級を記憶することができる。
【００４８】
分類装置本体制御手段４８は、分類装置受信手段４１と、分類装置記憶手段４４と、分類装置端末制御手段４９とを制御する手段であり、たとえばＣＰＵによって実現される。また分類装置端末制御手段４９は、分類装置本体制御手段４８と、分類装置入出力手段４７とを制御する手段であり、たとえばＣＰＵによって実現される。分類装置本体制御手段４８は、分類装置受信手段４１による情報の受信および分類装置操作部４５による操作入力に基づいて、情報を分類装置記憶手段４４に記憶させる。また分類装置端末制御手段４９は、分類装置受信手段４１による情報の受信および分類装置操作部４５による操作入力に基づいて、情報を分類装置表示部４６に表示させる。
【００４９】
さらに具体的には、分類装置受信手段４１によって情報が受信されると、分類装置本体制御手段４８は、受信される情報を分類装置受信手段４１から受取り、分類装置記憶手段４４に記憶させる。分類装置操作部４５が操作されて、目標部品不良評価値および部品等級付け指標などの情報が入力されると、分類装置端末制御手段４９は、入力される情報を分類装置操作部４５から受取り、分類装置本体制御手段４８に与える。分類装置本体制御手段４８は、分類装置端末制御手段４９から受取った情報を、分類装置記憶手段４４に記憶させる。また分類装置操作部４５によって、部品の品質等級および部品の供給者等級を算出する指令を表す情報が入力されると、分類装置端末制御手段４９は、その情報を分類装置操作部４５から受取り、分類装置本体制御手段４８に与える。分類装置本体制御手段４８は、その情報を受取り、部品の品質等級を算出するのに必要な情報を分類装置記憶手段４４などから読出し、分類装置本体制御手段４８に設けられている品質等級算出部４２によって、部品の品質等級を算出させる。さらに品質等級算出部４２によって算出された部品の品質等級を用いて、分類装置本体制御手段４８に設けられている供給者等級算出部４３によって、部品の供給者等級を算出させる。
【００５０】
また分類装置操作部４５によって分類装置記憶手段４４に記憶されている情報を表示する指令を表す情報が入力されると、分類装置端末制御手段４９は、表示する指令を表す情報を分類装置操作部４５から受取り、その情報を分類装置本体制御手段４８に与える。分類装置本体制御手段４８は、表示する指令を表す情報に対応する情報を分類装置記憶手段４４から読出し、分類装置端末制御手段４９に与える。分類装置端末制御手段４９は、端末装置本体制御手段４８から受取った情報を分類装置表示部４６に与えて表示させる。さらに分類装置本体制御手段４８および分類装置端末制御手段４９は、これらの分類装置操作部４５の操作時に、操作を補助する情報を分類装置表示部に表示させる。
【００５１】
このような部品品質分類装置９は、分類装置受信手段４１によって受信する部品の不良評価値ならびに分類装置操作部４５によって操作入力される目標部品不良評価値および部品等級付け指標などの情報を、分類装置記憶手段４４に記憶させることができる。また分類装置操作部４５の操作に基づいて、分類装置記憶手段４４に記憶される情報を用いて、分類装置本体制御手段４８に設けられている品質等級算出部４２および供給者等級算出部４３によって、部品の品質等級および部品の供給者等級を算出させることができる。さらに品質等級記憶手段４４に記憶されている情報、品質等級算出部によって算出される部品の品質等級および供給者等級算出部よって算出される部品の供給者等級を、分類装置表示部４６に表示させることができる。
【００５２】
図５は、本発明の実施の一形態である等級演算装置１に設けられる市場データベース１０の構成を示すブロック図である。市場データベース１０は、市場受信手段５１と、市場伝達手段５２と、市場記憶手段５４と、市場入出力手段５７と、市場本体制御手段５８と、市場端末制御手段５９とを有する。また市場入出力手段５７は、市場操作部５５および市場表示部５６とを有する。
【００５３】
市場受信手段５１は、情報を受信し、受信した情報を市場本体制御手段５８に与える。市場伝達手段５２は、市場本体制御手段５８の制御に基づいて、情報を伝達する。本実施の形態では、出荷後発見不良情報を伝達する。市場操作部５５は、修理会社の修理者によって操作可能な操作キーを有し、操作キーの操作によって入力される出荷後発見不良情報などの情報を、市場端末制御手段５９に与える。市場表示部５６は、市場端末制御手段５９の制御に基づいて、情報を表示する。
【００５４】
市場記憶手段５４は、たとえば半導体メモリなどによって実現され、市場本体制御手段５８によって読出し可能に情報を記憶する。本実施の形態では、市場記憶手段５４には、市場受信手段５１によって受信される情報および市場操作部５５によって入力される情報を記憶することができる。
【００５５】
市場本体制御手段５８は、市場受信手段５１と、市場伝達手段５２と、市場記憶手段５４と、市場端末制御手段５９とを制御する手段であり、たとえばＣＰＵによって実現される。また市場端末制御手段５９は、市場本体制御手段５８と、市場入出力手段５７とを制御する手段であり、たとえばＣＰＵによって実現される。市場本体制御手段５８は、市場受信手段５１による情報の受信および市場操作部５５による操作入力に基づいて、情報を市場伝達手段５２によって伝達させ、市場記憶手段２４に記憶させる。また市場端末制御手段５９は、市場受信手段５１による情報の受信および市場操作部５５による操作入力に基づいて、情報を市場表示部５６に表示させる。
【００５６】
さらに具体的には、市場操作部５５が操作されて、出荷後発見不良情報などが入力されると、市場端末制御手段５９は、その情報を受取り、市場本体制御手段５８に与える。市場本体制御手段５８は、市場端末制御手段５９から受取った情報を、市場記憶手段５４に記憶させる。また市場操作部５５によって市場記憶手段５４に記憶されている情報を伝達する指令を表す情報が入力されると、市場端末制御手段５９は、その情報を市場操作部５５から受取り、市場本体制御手段５８に与える。市場本体制御手段５８は、その情報を受取り、伝達する指令を表す情報に対応する情報を、市場記憶手段５４から読出し、市場伝達手段５２に与えて伝達させる。
【００５７】
また市場操作部５５によって市場記憶手段５４に記憶されている情報を表示する指令を表す情報が入力されると、市場端末制御手段５９は、表示する指令を表す情報を市場操作部５５から受取り、その情報を市場本体制御手段５８に与える。市場本体制御手段５８は、表示する指令を表す情報に対応する情報を市場記憶手段５４から読出し、市場端末制御手段５９に与える。市場端末制御手段５９は、市場本体制御手段５８から受取った情報を市場表示部５６与えて表示させる。さらに市場本体制御手段５８および市場端末制御手段５９は、これらの市場操作部５５の操作時に、操作を補助する情報を市場表示部５６に表示させる。
【００５８】
このような市場データベース１０は、市場操作部５５によって操作入力される出荷後発見不良情報を、市場記憶手段５４に記憶させることができる。また市場操作部５５の操作に基づいて市場記憶手段５４に記憶される情報を、市場伝達手段５２によって伝達することができる。
【００５９】
図６は、部品品質収集装置７の納入実績情報および組立時発見不良情報の取得動作ならびに伝達動作を示すフローチャートである。部品品質収集装置７の納入実績情報および組立時発見不良情報の取得動作ならびに伝達動作は、製品製造者が、部品品質収集装置７に設けられる収集装置操作部２５に、納入実績情報および組立時発見不良情報を取得する指令を表す情報を入力した状態で開始される。
【００６０】
まずステップｓ１で、製品製造者が取得することを希望している部品の納入実績情報および組立時発見不良情報が、収集装置記憶手段２４に記憶されているか否かを判定するために、収集装置本体制御手段２８が、収集装置取得部２５に入力された納入実績情報および組立時発見不良情報を取得する指令を表す情報を受取る。具体的には、収集装置端末制御手段２９が、収集装置操作部２５から、納入実績情報および組立時発見不良情報を取得する指令を表す情報を受取り、収集装置本体制御手段２８にその情報を与える。収集装置本体制御手段２８が、その情報を受取ると、ステップｓ２に進む。
【００６１】
ステップｓ２では、納入実績情報および組立時発見不良情報が、収集装置記憶手段２４に記憶されているか否かを判定する。具体的には、収集装置本体制御手段２８は、受取った情報に対応する情報が、収集装置記憶手段２４に記憶されているか否かを判定する。収集装置記憶手段２４に記憶されていないと判定されれば、ステップｓ３に進み、収集装置記憶手段２４に記憶されていると判定されれば、ステップｓ６に進む。たとえば製品製造者が、部品供給者から新しく部品を調達した場合であれば、新しく調達した部品に関する納入実績情報および組立時発見不良情報は、収集装置記憶手段２４には記憶されていない。したがって新しく調達した部品に関する納入実績情報および組立時発見不良情報を取得する場合は、ステップｓ３に進む。また既に収集装置記憶手段２４に記憶されている部品の納入実績情報および組立時発見不良情報を取得する場合は、ステップｓ６に進む。
【００６２】
ステップｓ３では、新しく調達した部品に関する納入実績情報が、収集装置操作部２５に入力される。具体的には、製品製造者は、部品供給者から、部品を調達した後、サンプリング方式による受入検査または全数受入検査を実施する。受入検査により、部品納入時の要求基準を満たしている部品は、合格部品と判定されて、生産工程に投入さる。製品製造者は、この合格部品に関する情報を、収集装置操作部２５に入力する。たとえば調達した部品を識別するために、調達した部品名、その部品の供給者名、その部品の供給者型番号、製品製造者の部品管理符号およびその部品の属する部品品種名を入力する。さらに生産工程に投入された部品毎の投入数を入力する。これらの情報が入力されると、ステップｓ４に進む。
【００６３】
ステップｓ４では、生産工程において、製品を組立てるときに発見される組立時発見不良情報が、収集装置操作部２５に入力される。具体的には、生産工程に投入された部品が、生産工程での検査により不良品として発見された場合、その不良部品は、修理工程に送られる。製品製造者、換言すれば、修理工程の部品修理者は、その不良部品の組立時発見不良情報を収集装置操作部２５に入力する。たとえば不良部品を識別するために不良部品の部品名、その部品の供給者名、その部品の供給者型番号、製品製造者の部品管理符号、その部品の属する部品品種名および不良部品が発見された日時を入力する。さらに修理工程に送られてきた不良部品毎の修理数量を入力する。これらの情報が入力されると、ステップｓ５に進む。
【００６４】
ステップｓ５では、不良部品が用いられた製品の製品情報が、収集装置操作部２５に入力される。具体的には、修理工程の部品修理者は、不良部品がどの製品に用いられたかを個別管理するために、部品が用いられた製品の製造番号を、収集装置操作部２５に入力する。この情報が入力されると、ステップｓ８に進む。
【００６５】
ステップｓ８では、ステップｓ３、ステップｓ４、ステップｓ５で入力された納入実績情報、組立時発見不良情報および不良部品が用いられた製品の製品情報が、部品品質算出装置８に伝達される。具体的には、収集装置操作部２５に入力された納入実績情報、組立時発見不良情報および不良部品が用いられた製品の製品情報が、収集装置操作部２５によって収集装置端末制御手段２９に与えられる。収集装置端末制御手段２９は、その情報を受取り、収集装置本体制御手段２８に与える。収集装置本体制御手段２８は、収集装置端末制御手段２９から受けとった情報を、収集装置伝達手段２２に与える。収集装置伝達手段２２は、受取った情報を部品品質算出装置８に伝達することによって、部品品質収集装置７の納入実績情報および組立時発見不良情報の取得動作ならびに伝達動作が終了する。
【００６６】
また納入実績情報および組立時発見不良情報が収集装置記憶手段２４に記憶されている場合は、これらの情報を収集装置記憶手段２４から取得することができる。収集装置記憶手段２４に記憶されている納入実績情報および組立時発見不良情報を取得する場合は、ステップｓ６に進む。ステップｓ６では、納入実績情報および組立時発見不良情報を取得するための検索条件が、収集装置操作部２５に入力される。具体的には、製品製造者が、部品名、部品管理符号または部品品種名を収集装置操作部２５に入力する。製品製造者による検索条件が入力されると、ステップｓ７に進む。
【００６７】
ステップｓ７では、検索条件にあった納入実績情報および組立時発見不良情報が抽出される。具体的には、収集装置端末制御手段２９は、収集装置操作部２５に入力された検索条件を、収集装置操作部２５から受取り、収集装置本体制御手段２８に与える。収集装置本体制御手段２８は、収集装置端末制御手段２９から受取った検索条件にあった納入実績情報および組立時発見不良情報を収集装置記憶手段２４から抽出し、その情報を受取る。たとえば部品の供給者名、部品の供給者型番号、生産工程に投入された部品毎の投入数、修理工程に送られてきた不良部品毎の投入数および不良部品が用いられた製品の製造番号が、抽出される。この情報が抽出されると、ステップｓ８に進む。
【００６８】
ステップｓ８では、ステップｓ７で読出された納入実績情報および組立時発見不良情報が、部品品質算出装置８に伝達される。具体的には、ステップｓ７で抽出された情報が、収集装置本体制御手段２８から収集装置伝達手段２２に与えられ、収集装置伝達手段２２は、収集装置本体制御手段２８から与えられた情報を、部品品質算出装置８に伝達する。部品品質算出装置８に伝達されることによって、部品品質収集装置７の納入実績情報および組立時発見不良情報の取得動作ならびに伝達動作が終了する。
【００６９】
図７は、部品品質収集装置７の出荷後発見不良情報の取得動作および伝達動作を示すフローチャートである。部品品質収集装置７の出荷後発見不良情報の取得動作および伝達動作は、製品製造者が、部品品質収集装置７に設けられる収集装置操作部２５に、出荷後発見不良情報を取得する指令を表す情報を入力した状態で開始される。まずステップａ１で、製品製造者が取得することを希望している部品の出荷後発見不良情報が、収集装置記憶手段２４に記憶されているか否かを判定するために、収集装置本体制御手段２８が、収集装置取得部２５に入力された出荷後発見不良情報を取得する指令を表す情報を受取る。具体的には、収集装置端末制御手段２９が、収集装置操作部２５から、出荷後発見不良情報を取得する指令を表す情報を受取り、収集装置本体制御手段２８にその情報を与える。収集装置本体制御手段２８が、その情報を受取ると、ステップａ２に進む。ステップａ２では、出荷後発見不良情報が、収集装置記憶手段２４に記憶されているか否かを判定する。具体的には、収集装置本体制御手段２８は、受取った情報に対応する情報が、収集装置記憶手段２４に記憶されているか否かを判定する。収集装置記憶手段２４に記憶されていないと判定されれば、ステップａ３に進み、収集装置記憶手段２４に記憶されていると判定されれば、ステップａ５に進む。
【００７０】
ステップａ３では、出荷後に発見された製品の製品情報が、市場操作部５５に入力される。具体的には、部品供給者から納入された部品を用いた製品が出荷され、出荷後に不良製品として発見された場合、その不良製品は修理会社に送られ、修理会社の修理者によって修理される。修理会社の修理者は、その不良製品の製品情報として、不良製品の製造番号を市場操作部５５に入力する。この情報が入力されるとステップａ４に進む。ステップａ４では、出荷後発見不良情報が、市場操作部５５に入力される。具体的には、不良製品に用いられている部品名、その部品の供給者名、その部品の供給者型番号、製品製造者の部品管理符号、その部品の属する部品品種名、不良製品が発見された日時および発見された不良製品に用いられている部品毎の修理数量を市場操作部５５に入力する。これらの情報が入力されると、ステップａ７に進む。
【００７１】
ステップａ７では、ステップａ３およびステップａ４で入力された製品情報および出荷後発見不良情報が、部品品質算出装置８に伝達される。具体的には、ステップａ３およびステップａ４で入力された製品情報および出荷後発見不良情報を市場端末制御手段５９が受取り、市場端末制御手段５９は、市場本体制御手段５８その情報を与える。市場本体制御手段５８は、受取った情報を市場伝達手段５２に与え、市場伝達手段５２によって、部品品質収集装置７に設けられる収集装置受信手段２１に伝達される。さらに収集装置受信手段２１は、受取った情報を収集装置本体制御手段２８に与え、収集装置本体制御手段２８は、収集装置受信手段２１から受取った情報を収集装置伝達手段２２に与える。収集装置伝達手段２２によって部品品質算出装置８に伝達される。ステップａ３およびステップａ４で入力された製品情報および出荷後発見不良情報が、部品品質算出装置８に伝達されることで、部品品質収集装置７の出荷後発見不良情報の取得動作および伝達動作が終了する。
【００７２】
また製品情報および出荷後発見不良情報が市場記憶手段５４に記憶されている場合は、これらの情報を市場記憶手段５４から抽出し、取得することができる。市場記憶手段５４に記憶されている製品情報および出荷後発見不良情報を取得する場合は、ステップａ５に進む。ステップａ５では、製品情報および出荷後発見不良情報を取得するための検索条件が、収集装置操作部２５に入力される。具体的には、製品製造者が、部品名、部品管理符号または部品品種名を収集装置操作部２５に入力する。製品製造者による検索条件が入力されると、ステップａ６に進む。
【００７３】
ステップａ６では、検索条件にあった製品情報および出荷後発見不良情報が読出される。具体的には、収集装置端末制御手段２９は、収集装置操作部２５に入力された検索条件を、収集装置操作部２５から受取り、収集装置本体制御手段２８に与える。収集装置本体制御手段２８は、その検索条件にあった製品情報および出荷後発見不良情報を市場データベース１０から受信する指示を表す情報を収集装置伝達手段２２に与える。検索条件にあった製品情報および出荷後発見不良情報を市場データベース１０から受信する指示を表す情報は、市場データベース１０の市場受信手段５１に送らる。また市場本体制御手段５８が、市場受信手段５１が受信した情報を受取り、その情報に基づいて、市場記憶手段５４に記憶されている製品情報および出荷後発見不良情報を抽出する。市場記憶手段５４に記憶されている製品情報および出荷後発見不良情報が読出されるとステップａ７に進む。
【００７４】
ステップａ７では、ステップａ６で抽出された製品情報および出荷後発見不良情報が、部品品質算出装置８に伝達される。具体的には、ステップａ６で抽出された製品情報および出荷後発見不良情報が、市場本体制御手段５８によって市場伝達手段５２に与えられ、さらに市場伝達手段５２によって、部品品質収集装置７に設けられる収集装置受信手段２１に伝達される。収集装置受信手段２１は、受取った情報を収集装置本体制御手段２８に与え、収集装置本体制御手段２８は、収集装置受信手段２１から受取った情報を収集装置伝達手段２２に与える。収集装置伝達手段２２によって部品品質算出装置８に伝達される。ステップａ６で抽出された製品情報および出荷後発見不良情報が、部品品質算出装置８に伝達されることで、部品品質収集装置７の出荷後発見不良情報の取得動作および伝達動作が終了する。
【００７５】
図８は、部品品質算出装置８に設けられる評価値算出部３３における組立時における部品の不良発生率、出荷後における部品の不良発生率および部品の不良評価値を算出する動作を示すフローチャートである。部品品質算出装置８に設けられる評価値算出部３３における組立時における部品の不良発生率、出荷後における部品の不良発生率および部品の不良評価値を算出する動作は、製品製造者が、部品品質算出装置８に設けられる収集装置操作部３５に、組立時における部品の不良発生率、出荷後における部品の不良発生率および部品の不良評価値を算出する指令を表す情報を入力した状態で開始される。
【００７６】
ステップｂ１では、組立時における部品の不良発生率、出荷後における部品の不良発生率を算出するための集計期間が、製品製造者によって収集装置操作部３５に入力される。具体的には、組立時における部品の不良発生率を算出する場合は、過去１ヶ月間を集計期間として設定する。換言すれば、集計する日の１ヶ月前の日から集計する日までの間の情報を集計する。また出荷後における部品の不良発生率を算出する場合は、製品の出荷日から集計する日までの間を集計期間として設定する。換言すれば、製品が出荷された日から集計する日までの間の情報を集計する。
【００７７】
ステップｂ２では、組立時における部品の不良発生率を算出するために、ステップｂ１で設定された集計期間に対応する納入実績情報および組立時発見不良情報が部品品質収集装置７から抽出される。具体的には、集計期間に対応する生産工程に投入された部品毎の投入数および集計期間に対応する修理工程に送られてきた不良部品毎の修理数量が、部品品質収集装置７に設けられる収集装置記憶手段２４から抽出される。
【００７８】
さらに具体的には、集計期間に対応する生産工程に投入された部品毎の投入数および集計期間に対応する修理工程に送られてきた不良部品毎の修理数量を抽出する指示を表す情報が、算出装置本体制御手段３８から算出装置伝達手段３２に与えられる。その情報は、算出装置伝達手段３２によって、収集装置受信手段２１に伝達され、さらに収集装置本体制御手段２８に与えられる。収集装置本体制御手段２８は、受取った情報に基づいて、集計期間に対応する生産工程に投入された部品毎の投入数および集計期間に対応する修理工程に送られてきた不良部品毎の修理数量を、収集装置記憶手段２４から抽出する。抽出された情報は、収集装置本体制御手段２８から、収集装置伝達手段２２に与えられ、収集装置伝達手段２２によって、算出装置受信手段３１に伝達される。算出装置受信手段３１は、受信した情報を、算出装置本体制御手段３８与える。算出装置本体制御手段３８が、部品品質収集装置７に設けられる収集装置記憶手段２４から抽出した集計期間に対応する生産工程に投入された部品毎の投入数および集計期間に対応する修理工程に送られてきた不良部品毎の修理数量を受取ると、ステップｂ３に進む。
【００７９】
ステップｂ３では、算出装置本体制御手段３８が受取った集計期間に対応する生産工程に投入された部品毎の投入数が、評価値算出部３３によって集計される。具体的には、集計期間に対応する生産工程に投入された部品毎の投入数が、算出装置本体制御手段３８に設けられる評価値算出部３３に与えられることによって、生産工程に投入された部品毎の投入数の総数が集計される。ステップｂ４では、算出装置本体制御手段３８が受取った集計期間に対応する修理工程に送られてきた不良部品毎の修理数量が、評価値算出部３３によって集計される。具体的には、集計期間に対応する修理工程に送られてきた不良部品毎の修理数量が、算出装置本体制御手段３８に設けられる評価値算出部３３に与えられることによって、修理工程に送られてきた不良部品毎の修理数量の総数が集計される。
【００８０】
ステップｂ５では、ステップｂ３およびステップｂ４で集計された情報を用いて、評価値算出部３３によって組立時における部品の不良発生率が算出される。具体的には、生産工程に投入された部品毎の投入数の総数を分母とし、修理工程に送られてきた不良部品毎の修理数量を分子とした比率によって計算される。
【００８１】
ステップｂ６では、出荷後における部品の不良発生率を算出するために、対象部品を含む製品が出荷されているか否かが判定される。この判定は、部品品質収集装置７に設けられる収集装置記憶手段２４に、出荷後発見不良情報が記憶されているか否かの判定によって達成される。具体的には、製品製造者によって、算出装置操作部３５に、収集装置記憶手段２４に出荷後発見不良情報が記憶されているか否か検索するための検索条件、具体的には、集計日および製品の製造番号が入力される。
【００８２】
算出装置端末制御手段３９は、算出装置操作部３５に入力された情報を受取り、その情報を算出装置本体制御手段３８与える。算出装置本体制御手段３８は、受取った情報を算出装置伝達手段３２に与える。算出装置伝達手段３２に与えられた情報は、算出装置伝達手段３２によって、収集装置受信手段２１に伝達され、収集装置本体制御手段２８が、収集装置受信手段２１によって受信された情報を受取り、その情報に対応する出荷後発見不良情報が、収集装置記憶手段２４に記憶されているか否かを判定する。収集装置記憶手段２４に記憶されていなければ、対象部品を含む製品が出荷されていないと判定され、また収集装置記憶手段２４に記憶されていれば、対象部品を含む製品が出荷されていると判定される。ステップｂ７では、ステップｂ６での判定結果が、対象部品を含む製品が出荷されていないと判定されれば後述する図１１に移行し、対象部品を含む製品が出荷されていると判定されればステップｂ８に進む。
【００８３】
ステップｂ８では、出荷後における部品の不良発生率を算出するために、ステップｂ１で設定された集計期間に対応する出荷後発見不良情報が抽出される。具体的には、集計期間に対応する生産工程に投入された部品毎の投入数および集計期間に対応する発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量が、部品品質収集装置７に設けられる収集装置記憶手段２４から抽出される。
【００８４】
さらに具体的には、集計期間に対応する生産工程に投入された部品毎の投入数および集計期間に対応する発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量を抽出する指示を表す情報が、算出装置本体制御手段３８から算出装置伝達手段３２に与えられる。その情報は、算出装置伝達手段３２によって、収集装置受信手段２１に伝達され、さらに収集装置本体制御手段２８に与えられる。収集装置本体制御手段２８は、受取った情報に基づいて、集計期間に対応する生産工程に投入された部品毎の投入数および集計期間に対応する発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量を、収集装置記憶手段２４から抽出する。抽出された情報は、収集装置本体制御手段２８から、収集装置伝達手段２２に与えられ、収集装置伝達手段２２によって、算出装置受信手段３１に伝達される。算出装置受信手段３１は、受信した情報を、算出装置本体制御手段３８に与える。算出装置本体制御手段３８が、部品品質収集装置７に設けられる収集装置記憶手段２４から抽出した集計期間に対応する生産工程に投入された部品毎の投入数および集計期間に対応する発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量を受取ると、ステップｂ９に進む。
【００８５】
ステップｂ９では、算出装置本体制御手段３８が受取った集計期間に対応する生産工程に投入された部品毎の投入数が、評価値算出部３３によって集計される。具体的には、集計期間に対応する生産工程に投入された部品毎の投入数が、算出装置本体制御手段３８に設けられる評価値算出部３３に与えられることによって、生産工程に投入された部品毎の投入数の総数が集計される。ステップｂ１０では、算出装置本体制御手段３８が受取った集計期間に対応する発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量が、評価値算出部３３によって集計される。具体的には、集計期間に対応する発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量が、算出装置本体制御手段３８に設けられる評価値算出部３３与えられることによって、発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量が集計される。
【００８６】
ステップｂ１１では、ステップｂ９およびステップｂ１０で集計された情報を用いて、評価値算出部３３によって出荷後における部品の不良発生率が算出される。具体的には、生産工程に投入された部品毎の投入数の総数を分母とし、発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量を分子とした比率によって計算される。
【００８７】
ステップｂ１２では、製品製造者によって、算出装置操作部３５に、組立時および出荷後のそれぞれにおける部品不良に対する製品全体に与える影響度が入力される。入力されるとステップｂ１３に進む。ステップｂ１３では、評価値算出部３３によって、部品の不良評価値が算出される。具体的には、部品の不良評価値Ｘは、ステップｂ５で算出された組立時における部品の不良発生率Ｐと、ステップｂ１１で算出された出荷後における部品の不良発生率Ｓと、ステップｂ１２で入力された組立時における部品不良に対する製品全体に与える影響度Ａと、出荷後における部品不良に対する製品全体に与える影響度Ｂとを用いて、次の第１式によって算出される。
Ｘ＝ＰｘＡ＋ＳｘＢ                                            …（１）
【００８８】
評価値算出部３３によって、部品の不良評価値が算出されると、部品品質算出装置８に設けられる評価値算出部３３における組立時における部品の不良発生率、出荷後における部品の不良発生率および部品の不良評価値を算出する動作が終了する。
【００８９】
図９は、部品品質算出装置８に設けられる算出装置操作部３５において入力される影響度を、定量的な数値にする方法の一例を表した図である。組立時における部品不良に対する製品全体に与える影響度および出荷後における部品不良に対する製品全体に与える影響度の設定する場合の考え方の一例として、部品の特性に合わせた設定が考えられる。たとえば集積回路、コンデンサ、トランスなどの電子部品は、組立時には基板実装時の熱、静電気および埃などによる影響から発生する不具合、具体的には、部品破壊または接触不良への対処が重要であり、組立時にどれだけ不具合を抑えたかによって市場での部品不良率に大きく影響を及ぼす。またモーターおよびギアなどの駆動部品ならびに液晶バックライトなどの部品は、使用環境による衝撃および経年変化による部品劣化の影響を受けやすく、これらの部品は組立時よりも市場で出荷されてから不具合が発覚される場合が多い。
【００９０】
製品設計の事前評価手法として、故障モード影響解析(Failure Mode and Effects
Analysis；略称ＦＭＥＡ)方法が利用できる。ＦＭＥＡとは、設計や工程計画段階で、起こるであろう品質問題の原因を事前に予測して、問題を未然に防止する事前管理の手法であり、故障モードの発生頻度、影響度および検出難易などの評価項目に基づき重要度を明らかにして、設計段階で使用時に発生する問題を明確化する方法である。この方法によって影響度を求める場合、当該部品に対する不良の起こりやすさ、換言すれば、発生頻度と、影響の大きさ、換言すれば、解決コストと、潜在性といった視点で、組立時および出荷後に対して各々の危険優先指数(Risk Priority Number；略称ＲＰＮ)を発生頻度と、解決コストと、潜在性との相乗から求め、各々の影響度を測定する。発生頻度と、解決コストと、潜在性との具体的な評価点の付け方は、最適信頼性(Best Reliability)の思想に則り、４点法や１０点法で評価することができる。本実施の形態では、４点法が用いられる。
【００９１】
図１０は、部品品質分類装置９に設けられる品質等級算出部４２における部品の品質等級を算出する動作および供給者等級算出部４３における部品の供給者等級を算出する動作を示すフローチャートである。部品品質分類装置９に設けられる品質等級算出部４２における部品の品質等級を算出する動作および供給者等級算出部４３における部品の供給者等級を算出する動作は、製品製造者が、部品品質分類装置８に設けられる分類装置操作部４５に、部品の品質等級および部品の供給者等級を算出する指令を表す情報を入力した状態で開始される。ステップｃ１では、目標部品不良評価値が、分類装置操作部４５に入力される。具体的には、部品供給者から調達した部品の不良評価値に関して、製品製造者が期待する目標部品不良評価値が、製品製造者によって、分類装置操作部４５に入力される。
【００９２】
ステップｃ２では、部品等級付け指標が、分類装置操作部４５に入力される。部品等級付け指標は、ステップｃ１で設定される目標部品不良評価値との差分の大きさにより設定される。たとえば目標部品不良評価値を１．０に設定した場合において、１以上１．２未満の場合を評価Ａ、１．２以上１．５未満の場合を評価Ｂおよび１．５以上の場合を評価Ｃの様に設定する。これらの部品等級付け指標は、製品製造者の方針も踏まえ部品供給者との取り引き実績から判定することができる。部品等級付け指標が、分類装置操作部４５に入力されると、ステップｃ３に進む。
【００９３】
ステップｃ３では、品質等級算出部４２によって、部品の品質等級が算出される。具体的には、部品品質算出装置８に設けられる評価値算出部３３によって算出される部品の不良評価値と、ステップｃ１で分類装置操作部４５に入力される目標部品不良評価値と、ステップｃ２で分類装置操作部４５に入力される部品等級付け指標に基づいて、品質等級算出部４２によって部品の品質等級が算出される。さらに具体的には、部品品質算出装置８に設けられる評価値算出部３３によって算出される部品の不良評価値が、算出装置伝達手段３２に与えられ、算出装置伝達手段３２によって部品品質分類装置９に設けられる分類装置受信手段４１に伝達される。伝達された部品の不良評価値は、分類装置受信手段４１によって受信され、分類装置本体制御手段４８に与えられる。また分類装置本体制御手段４８は、分類装置本体制御手段４８に設けられる品質等級算出部４２に与えられる。
【００９４】
またステップｃ２によって入力された目標部品不良評価値およびステップｃ３によって入力された部品等級付け指標は、分類装置操作部４５から分類装置端末制御手段４９に与えられる。分類装置端末制御手段４９は、分類装置操作部４５から受取った目標部品不良評価値および部品等級付け指標を、分類装置本体制御手段４８に与える。また分類装置本体制御手段４８は、分類装置本体制御手段４８に設けられる品質等級算出部４２に与えられる。品質等級算出部４２は、部品品質算出装置８に設けられる評価値算出部３３によって算出される部品の不良評価値が、部品等級付け指標のどの評価に該当するかを判定し、部品の品質等級を算出する。部品の品質等級が算出されると、ステップｃ４に進む。
【００９５】
ステップｃ４では、供給者等級算出部４３によって部品の供給者等級が算出される。具体的には、ステップｃ３で算出された部品の品質等級に基づいて、部品供給者毎に部品の供給者等級を算出する。ステップｃ４は、ステップｃ３で算出された品質等級＝部品供給者等級として算出する。よって、具体例としては、部品供給者から供給された部品が、ステップｃ３において品質等級＝Ａランクに設定された場合、ステップｃ４において、部品供給者等級＝Ａランクに設定する。
【００９６】
部品の供給者等級が算出されると、ステップｃ５に進む。ステップｃ５では、供給者等級算出部４３によって算出された部品の供給者等級が、算出結果として、出力される。具体的には、供給者等級算出部４３によって算出された部品の供給者等級が、分類装置本体制御手段４８から分類装置端末制御手段４９に与えられ、さらに分類装置出力手段４７に設けられる分類装置表示部４６に与えられることによって、よって、部品の供給者等級が表示されることによって、出力される。部品の供給者等級が出力されると、部品品質分類装置９に設けられる品質等級算出部４２における部品の品質等級を算出する動作および供給者等級算出部４３における部品の供給者等級を算出する動作が終了する。
【００９７】
図１１は、不良評価値を算出する対象部品を用いた製品が未出荷である場合における部品品質算出装置８に設けられる評価値算出部３３における出荷後における部品の不良発生率を算出する動作を示すフローチャートである。不良評価値を算出する対象部品を用いた製品が未出荷である場合における部品品質算出装置８に設けられる評価値算出部３３における出荷後における部品の不良発生率を算出する動作は、図８に示されるステップｂ６において、算出装置操作部３５に検索条件として入力された集計日および製品の製造番号に対応する出荷後発見不良情報が、収集装置記憶手段２４に記憶されているか否かが判定され、収集装置記憶手段２４に記憶されていない、換言すれば、対象部品を含む製品が出荷されていないと判定された状態で開始する。
【００９８】
ステップｄ１では、対象部品を含む製品が出荷されていないと判定された部品が属する部品品種の他の部品の出荷後における部品の不良発生率を算出するために、図８に示すステップｂ１で設定された集計期間に対応する対象製品が属する部品品種の他の部品の出荷後発見不良情報が抽出される。具体的には、集計期間に対応する対象製品が属する部品品種の他の部品の生産工程に投入された部品毎の投入数および集計期間に対応する対象製品が属する部品品種の他の部品の発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量が、部品品質収集装置７に設けられる収集装置記憶手段２４から抽出される。
【００９９】
さらに具体的には、集計期間に対応する対象製品が属する部品品種の他の部品の生産工程に投入された部品毎の投入数および集計期間に対応する対象製品が属する部品品種の他の部品の発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量を抽出する指示を表す情報が、算出装置本体制御手段３８から算出装置伝達手段３２に与えられる。その情報は、算出装置伝達手段３２によって、収集装置受信手段２１に伝達され、さらに収集装置本体制御手段２８に与えられる。収集装置本体制御手段２８は、受取った情報に基づいて、集計期間に対応する対象製品が属する部品品種の他の部品の生産工程に投入された部品毎の投入数および集計期間に対応する対象製品が属する部品品種の他の部品の発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量を、収集装置記憶手段２４から抽出する。
【０１００】
抽出された情報は、収集装置本体制御手段２８から、収集装置伝達手段２２に与えられ、収集装置伝達手段２２によって、算出装置受信手段３１に伝達される。算出装置受信手段３１は、受信した情報を、算出装置本体制御手段３８与える。算出装置本体制御手段３８が、部品品質収集装置７に設けられる収集装置記憶手段２４から抽出した集計期間に対応する対象製品が属する部品品種の他の部品の生産工程に投入された部品毎の投入数および集計期間に対応する対象製品が属する部品品種の他の部品の発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量を受取ると、ステップｄ２に進む。
【０１０１】
ステップｄ２では、算出装置本体制御手段３８が受取った集計期間に対応する対象製品が属する部品品種の他の部品の生産工程に投入された部品毎の投入数が、評価値算出部３３によって集計される。具体的には、集計期間に対応する対象製品が属する部品品種の他の部品の生産工程に投入された部品毎の投入数が、算出装置本体制御手段３８に設けられる評価値算出部３３に与えられることによって、対象製品が属する部品品種の他の部品の生産工程に投入された部品毎の投入数の総数が集計される。ステップｄ３では、算出装置本体制御手段３８が受取った集計期間に対応する対象製品が属する部品品種の他の部品の発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量が、評価値算出部３３によって集計される。具体的には、集計期間に対応する対象製品が属する部品品種の他の部品の発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量が、算出装置本体制御手段３８に設けられる評価値算出部３３に与えられることによって、対象製品が属する部品品種の他の部品の発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量が集計される。
【０１０２】
ステップｄ４では、ステップｄ２およびステップｄ３で集計された情報を用いて、評価値算出部３３によって対象製品が属する部品品種の他の部品の出荷後における部品の不良発生率が算出される。具体的には、対象製品が属する部品品種の他の部品の生産工程に投入された部品毎の投入数の総数を分母とし、対象製品が属する部品品種の他の部品の発見された不良製品に用いられた部品毎の修理数量を分子とした比率によって計算される。対象製品が属する部品品種の他の部品の出荷後における部品の不良発生率が算出されると、不良評価値を算出する対象部品を用いた製品が未出荷である場合における部品品質算出装置８に設けられる評価値算出部３３における出荷後における部品の不良発生率を算出する動作が終了し、図８に示すステップｂ１１に進む。
【０１０３】
部品品質算出装置８では、たとえばある部品メーカから調達したタンタルコンデンサの部品の不良評価値を算出する場合、部品供給者毎に当該部品の組立時におけるタンタルコンデンサの不良発生率および出荷後におけるタンタルコンデンサの不良発生率を計算するが、まだタンタルコンデンサを用いた製品の出荷前である場合は、出荷後におけるタンタルコンデンサの不良発生率を計算することができないので、同部品供給者から調達した部品品種であるコンデンサを検索し、コンデンサに属する他の部品の出荷後における他の部品の不良発生率を計算する。その出荷後における不良発生率を用いることによって、部品の不良評価値を算出することができる。
【０１０４】
本実施の形態によれば、等級演算装置１には、納入実績情報、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報を取得する取得手段２が設けられており、取得手段２は、収集装置受信手段２１および収集装置操作部２５を含んで構成されている。また評価値算出部３３によって、取得手段２によって取得される各情報に基づいて、組立時における部品の不良発生率および出荷後における部品の不良発生率を求めることができ、またこれらの各不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出することができる。さらに品質等級算出部４２によって、部品の不良評価値に基づいて、部品の品質等級を算出するができる。したがって組立時における部品の不良発生率に加えて、出荷後における部品の不良発生率を考慮した部品の品質等級を算出することができ、信頼度の高い部品品質等級を算出することができる。このような等級演算装置１を用いることによって、信頼度の高い部品の品質等級を迅速に算出することができ、さらに信頼度の高い製品開発を支援することができる。
【０１０５】
また供給者等級算出部４３によって、品質等級算出部４２によって算出される部品の品質等級に基づいて、部品の供給者等級を算出することができる。したがって部品の品質等級を用いて部品の供給者等級を算出することができ、信頼度の高い部品の供給者等級を算出することができる。このような等級演算装置１を用いることによって、部品採用時における供給者の判定を迅速にすることができ、信頼度の高い製品開発を支援することができる。
【０１０６】
また等級演算装置１には、各部品の出荷後発見不良情報を、各部品が属する部品品種毎に分類して記憶する収集装置記憶手段２４が設けられており、不良評価値の算出対象の部品を用いた製品が未出荷である場合、評価値算出部３３によって、部品の組立時における不良発生率およびその部品が属する部品品種の他の部品の出荷後における部品の不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出することができる。したがって不良評価値の算出対象の部品を用いた製品が未出荷である場合においても、その部品が属する部品品種の他の部品の出荷後における部品の不良発生率に基づいて、部品の不良評価値を算出すことができる。このような等級演算装置１を用いることによって、信頼度の高い不良評価値に基づいて、部品の品質等級および部品の供給者等級を算出することができ、信頼度の高い製品開発を支援することができる。
【０１０７】
前述の実施の形態は、本発明の例示に過ぎず、構成を変更することができる。部品品質収集装置７に設けられる収集装置入出力手段２７、部品品質算出装置８に設けられる算出装置入出力手段３７および部品品質分類装置９に設けられる分類装置入出力手段４７は、どれか１つを入出力手段として、操作を集中させる構成をとっても良い。また図６に示すステップｓ３、ステップｓ４およびステップｓ５で入力される情報は、収集装置記憶手段２４に記憶される構成をとっても良い。またまた図７に示すステップa３およびステップa４で入力される情報は、市場記憶手段５４に記憶される構成をとっても良い。
【０１０８】
図１２は、等級演算装置１に対し、基準評価値保存本体装置１１ａおよび基準評価値入力端末１１ｂを含んで構成される基準評価値保存装置１１と、発注情報制御本体装置１２ａおよび発注情報入力端末１２ｂを含んで構成される発注情報制御装置１２とを加えた発注装置３である。各装置は有線ＬＡＮで結ばれた形態でも、１つのコンピュータシステム内に統合した形態でも良い。
【０１０９】
図１３は、本発明の実施の一形態である発注装置に設けられる基準評価値保存装置１１の構成を示すブロック図である。基準評価値保存装置１１は、基準評価値保存装置受信手段６１と、基準評価値保存装置伝達手段６２と、基準評価値保存装置記憶手段６３と、基準評価値保存装置入出力手段６４と、基準評価値保存装置本体制御手段６７と、基準評価値保存装置端末制御手段６８とを有する。また基準評価値保存装置入出力手段６６は、基準評価値保存装置操作部６４および基準評価値保存装置表示部６５を有する。
【０１１０】
基準評価値保存装置受信手段６１は、情報を受信し、受信した情報を基準評価値保存装置本体制御手段６７に与える。この基準評価値保存装置受信手段６１によって、発注情報制御装置１２から伝達される基準評価値依頼情報を受信する。基準評価値保存装置伝達手段６２は、基準評価値保存装置本体制御手段６７の制御に基づいて、情報を伝達する。本実施の形態では、基準評価値保存装置記憶手段６３によって記憶されている基準評価値情報を伝達する。基準表価値情報とは、個々の部品を定義する部品コード等の部品識別子に対し、その部品に対する品質基準を数値で表した基準表価値の基準評価値を割り当てたものである。基準評価値保存装置操作部６４は、品質管理者によって操作可能な操作キーを有し、操作キーの操作によって入力される基準評価値情報を、基準評価値保存装置端末制御手段６８に与える。基準評価値保存装置表示部６５は、基準評価値保存装置端末制御手段６８の制御に基づいて、情報を表示する。
【０１１１】
基準評価値保存装置記憶手段６３は、たとえば半導体メモリなどによって実現され、基準評価値保存装置本体制御手段６７によって読出し可能に情報を記憶する。本実施の形態では、基準評価値保存装置記憶手段６３には、基準評価値保存装置操作部６４によって入力される情報を記憶することができる。
【０１１２】
基準評価値保存装置本体制御手段６７は、基準評価値保存装置受信手段６１と、基準評価値保存装置伝達手段６２と、基準評価値保存装置記憶手段６３と、基準評価値保存装置端末制御手段６８とを制御する手段であり、たとえば中央演算処理ユニット（Central
Processing Unit；略称ＣＰＵ）によって実現される。また基準評価値保存装置端末制御手段６８は、基準評価値保存装置本体制御手段６７と、基準評価値保存装置入出力手段６６とを制御する手段であり、たとえばＣＰＵによって実現される。基準評価値保存装置本体制御手段６７は、基準評価値保存装置受信手段６１による情報の受信および基準評価値保存装置操作部６４による操作入力に基づいて、情報を基準評価値保存装置伝達手段６２によって伝達させ、基準評価値保存装置記憶手段６３に記憶させる。また基準評価値保存装置端末制御手段６８は、基準評価値保存装置受信手段６１による情報の受信および基準評価値保存装置操作部６４による操作入力に基づいて、情報を基準評価値保存装置表示部６５に表示させる。
【０１１３】
さらに具体的には、発注情報制御装置から送られた基準評価値依頼情報が基準評価値保存装置受信手段６１によって受信されると、基準評価値保存装置本体制御手段６７は、その基準評価値依頼情報に含まれる部品識別子情報をキーに、基準評価値保存装置記憶手段６３に記憶されている基準評価値情報を検索し、対応する基準評価値を取得し、基準評価値保存装置伝達手段６２により発注情報制御装置１２に転送する。
【０１１４】
また基準評価値保存装置操作部６４が操作されて、基準評価値情報が入力されると、基準評価値保存装置端末制御手段６８は、その情報を受取り、基準評価値保存装置本体制御手段６７に与える。基準評価値保存装置本体制御手段６７は、基準評価値保存装置端末制御手段６８から受取った情報を、基準評価値保存装置記憶手段６３に記憶させる。
【０１１５】
また基準評価値保存装置操作部６４によって基準評価値保存装置記憶手段６３に記憶されている情報を表示する指令を表す情報が入力されると、基準評価値保存装置端末制御手段６８は、表示する指令を表す情報を基準評価値保存装置操作部６４から受取り、その情報を基準評価値保存装置本体制御手段６７に与える。基準評価値保存装置本体制御手段６７は、表示する指令を表す情報に対応する情報を基準評価値保存装置記憶手段６３から読出し、基準評価値保存装置端末制御手段６８に与える。基準評価値保存装置端末制御手段６８は、基準評価値保存装置本体制御手段６７から受取った情報を基準評価値保存装置表示部６５与えて表示させる。さらに基準評価値保存装置本体制御手段６７および基準評価値保存装置端末制御手段６８は、これらの基準評価値保存装置操作部６４の操作時に、操作を補助する情報を基準評価値保存装置表示部６５に表示させる。
【０１１６】
このような基準評価値保存装置１１は、基準評価値保存装置操作部６４によって操作入力される基準評価値情報を、基準評価値保存装置記憶手段６３に記憶させることができる。また基準評価値保存装置操作部６４の操作に基づいて基準評価値保存装置記憶手段６３に記憶される情報を、基準評価値保存装置伝達手段６２によって伝達することができる。
【０１１７】
図１４は、本発明の実施の一形態である発注装置３に設けられる発注情報制御装置１２の構成を示すブロック図である。発注情報制御装置１２は、発注情報制御装置受信手段７１と、発注情報制御装置伝達手段７２と、発注情報制御装置記憶手段７４と、発注情報制御装置入出力手段７７と、発注情報制御装置本体制御手段７８と、発注情報制御装置端末制御手段７９とを有する。また発注情報制御装置入出力手段７７は、発注情報制御装置操作部７５および発注情報制御装置表示部７６を有する。また発注情報制御装置本体制御手段７８は、発注処理部７３を有している。
【０１１８】
発注情報制御装置受信手段７１は、情報を受信し、受信した情報を発注情報制御装置本体制御手段７８に与える。この発注情報制御装置受信手段７１によって、部品品質収集装置７に設けられる収集装置伝達手段２２から伝達される、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報と、基準評価値保存装置１１に設けられる基準評価値保存装置伝達手段６２から伝達される、基準評価値情報とを受信する。発注情報制御装置伝達手段７２は、発注情報制御装置本体制御手段７８の制御に基づいて、情報を伝達する。本実施の形態では、発注処理部７３によって発注処理される際に発注する部品の評価値、基準評価値等の取得依頼情報を、部品品質収集装置７や基準評価値保存装置１１に伝達する。発注情報制御装置操作部７５は、部品発注者によって操作可能な操作キーを有し、操作キーの操作によって入力される情報、具体的には、発注する部品の部品識別子、発注先、発注数量などの部品発注情報を、発注情報制御装置端末制御手段７９に与える。発注情報制御装置表示部７６は、発注情報制御装置端末制御手段７９の制御に基づいて、情報を表示する。発注処理部７３は、発注情報制御装置本体制御手段７８に設けられており、発注情報制御装置受信手段７１によって受信される情報と、発注情報制御装置操作部７５によって操作入力される情報に基づいて、発注可否を判断し、部品の発注処理を行う。
【０１１９】
発注情報制御装置記憶手段７４は、たとえば半導体メモリなどによって実現され、発注情報制御装置本体制御手段７８によって読出し可能に情報を記憶する。本実施の形態では、発注情報制御装置記憶手段７４には、発注情報制御装置受信手段７１によって受信される情報、発注情報制御装置操作部７５によって入力される情報および発注処理部７３によって算出される情報を記憶することができる。
【０１２０】
発注情報制御装置本体制御手段７８は、発注情報制御装置受信手段７１と、発注情報制御装置伝達手段７２と、発注情報制御装置記憶手段７４と、発注情報制御装置端末制御手段７９とを制御する手段であり、たとえばＣＰＵによって実現される。また発注情報制御装置端末制御手段７９は、発注情報制御装置本体制御手段７８と、発注情報制御装置入出力手段７７とを制御する手段であり、たとえばＣＰＵによって実現される。発注情報制御装置本体制御手段７８は、発注情報制御装置受信手段７１による情報の受信および発注情報制御装置操作部７５による操作入力に基づいて、発注情報制御装置伝達手段によって伝達させたり、発注情報制御装置記憶手段７４に記憶したりする。また発注情報制御装置端末制御手段７９は、発注情報制御装置受信手段７１による情報の受信および発注情報制御装置操作部７５による操作入力に基づいて、情報を発注情報制御装置表示部７６に表示させる。
【０１２１】
さらに具体的には、発注情報制御装置操作部７５が操作されて、発注情報が入力されると、発注情報制御装置端末制御手段７９は、入力される情報を発注情報制御装置操作部７５から受取り、発注情報制御装置本体制御手段７８に与える。発注情報制御装置本体制御手段７８は、発注情報制御装置端末制御手段７９から受取った情報を、発注情報制御装置記憶手段７４に記憶させる。
【０１２２】
また発注情報制御装置操作部７５によって、発注する部品を特定する部品識別子等の情報が入力されると、発注情報制御装置端末制御手段７９は、その情報を発注情報制御装置操作部７５から受取り、発注情報制御装置本体制御手段７８に与える。発注情報制御装置本体制御手段７８は、その情報を受取り、入力された部品に対応する評価値、基準評価値等の取得依頼情報を、部品品質収集装置７や基準評価値保存装置１１に伝達する。部品品質収集装置７や基準評価値保存装置１１はその情報を受けて適当な情報を伝達し、それを発注情報制御装置受信手段７１が受信し、発注情報制御装置品対制御手段７８から発注情報制御装置端末制御手段７９を通して発注情報制御装置入出力手段に７７備わっている発注情報制御装置表示部７６に表示させる。
【０１２３】
また発注情報制御装置操作部７５により部品の発注を実施するための情報が入力されると、発注情報制御装置端末制御手段７９は、その情報を発注情報制御装置入出力手段７７から受取り、発注情報制御装置本体制御手段７８に与える。発注情報制御装置本体制御手段７８は、その情報を受取り、部品の発注を行うために必要な情報を発注情報制御装置記憶手段７４などから読出し、発注情報制御装置本体制御手段７８に備えられている発注処理部７３によって、部品の発注を実施する。
【０１２４】
また発注情報制御装置操作部７５によって発注情報制御装置記憶手段７４に記憶されている情報を伝達する指令を表す情報が入力されると、発注情報制御装置制端末御手段７９は、その情報を発注情報制御装置操作部７５から受取り、発注情報制御装置本体制御手段７８に与える。発注情報制御装置本体制御手段７８は、その情報を受取り、伝達する指令を表す情報に対応する情報を、発注情報制御装置記憶手段７４から読出し、発注情報制御装置伝達手段７２に与えて伝達させる。
【０１２５】
また発注情報制御装置操作部７５によって発注情報制御装置記憶手段７４に記憶されている情報を表示する指令を表す情報が入力されると、発注情報制御装置端末制御手段７９は、表示する指令を表す情報を発注情報制御装置操作部７５から受取り、その情報を発注情報制御装置本体制御手段７８に与える。発注情報制御装置本体制御手段７８は、表示する指令を表す情報に対応する情報を発注情報制御装置記憶手段７４から読出し、発注情報制御装置端末制御手段７９に与える。発注情報制御装置端末制御手段７９は、発注情報制御装置本体制御手段７８から受取った情報を発注情報制御装置表示部７６に与えて表示させる。さらに発注情報制御装置本体制御手段７８および発注情報制御装置端末制御手段７９は、これらの発注情報制御装置操作部７５の操作時に、操作を補助する情報を発注情報制御装置表示部７６に表示させる。
【０１２６】
このような発注情報制御装置１２は、発注情報制御装置受信手段７１によって受信する部品の評価値情報および基準評価値情報を発注情報制御装置記憶手段７４に記憶させることができる。また発注情報制御装置操作部７５によって操作入力される部品の発注に関する情報を、発注情報制御装置記憶手段７４に記憶させることができる。また発注情報制御装置操作部７５の操作に基づいて、発注情報制御装置記憶手段７４に記憶される情報を用いて、発注情報制御装置本体制御手段７８に設けられている発注処理部７３によって、部品の発注を実施することができる。さらに発注情報制御装置操作部７５の操作に基づいて入力した部品の評価値、基準評価値の取得依頼情報を、発注情報制御装置伝達手段７２によって伝達することができる。
【０１２７】
図１５は、基準評価値保存装置１１の基準評価値保存動作を示すフローチャートである。これは、品質管理者が、基準評価値保存装置１１に設けられる基準評価値保存装置操作部６４を使用して、部品識別子および基準評価値を保存するものである。
【０１２８】
まずステップｆ１では、部品識別子が、基準評価値保存装置操作部６４に入力される。具体的には、基準評価値を保存したい部品の部品コード等の部品識別子が、品質管理者によって入力される。
【０１２９】
ステップｆ２では、基準評価値が、基準評価値保存装置操作部６４に入力される。具体的には、ステップｆ１で入力した部品識別子に対応する基準評価値が、品質管理者によって入力される。
【０１３０】
ステップｆ３では、ステップｆ１、ｆ２にて入力された情報が、基準評価値保存装置端末制御部６８を通して基準評価値保存装置本体制御部６７に伝達され、基準評価値保存装置本体制御部６７は、伝達された情報を、基準評価値保存装置記憶手段６３に記憶させる。具体的には、ステップｆ１、ｆ２で入力された部品識別子と基準評価値が、基準評価値保存装置記憶手段６３に記憶される。
【０１３１】
図１６は、発注情報制御装置１２の部品発注動作を示すフローチャートである。発注情報制御装置１２の部品発注動作は、部品発注者が、発注情報制御装置１２に設けられる発注情報制御装置操作部７５に、部品の発注情報を入力した状態で開始される。
【０１３２】
まずステップｇ１で、部品発注者が発注することを希望している部品の部品識別子、発注先、発注数量などの部品発注情報が、発注情報制御装置操作部７５より入力され、発注情報制御装置端末制御手段７９を通して発注情報制御装置本体制御手段７８に伝達される。
【０１３３】
ステップｇ２では、発注情報制御装置本体制御手段７８は、入力された部品識別子に対する評価値を、部品品質収集装置７から取得するために、発注情報制御装置伝達手段７２を通して部品品質収集装置７に対して該部品の評価値の取得依頼情報を伝達する。
【０１３４】
ステップｇ３では、部品品質収集装置７がステップｇ２による評価値の取得依頼情報を受信した結果を受けて伝達した該部品の評価値を、発注情報制御装置受信手段７１により受信する。
【０１３５】
またステップｇ４では、発注情報制御装置本体制御手段７８は、入力された部品識別子に対する基準評価値を、基準評価値保存装置１１から取得するために、発注情報制御装置伝達手段７２を通して基準評価値保存装置１１に対して該部品の基準評価値の取得依頼情報を伝達する。
【０１３６】
ステップｇ５では、基準評価値保存装置１１がステップｇ４による基準評価値の取得依頼情報を受信した結果を受けて伝達した該部品の基準評価値を、発注情報制御装置受信手段７１により受信する。
【０１３７】
ステップｇ６では、発注情報制御装置本体制御装置７８がステップｇ３およびステップｇ５で受信した該部品の評価値、基準評価値を比較し、基準評価値より評価値の方が小さい場合は、ステップｇ７に進む。基準評価値より評価値の方が大きいか同じ場合は、ステップｇ８に進む。
【０１３８】
ステップｇ７では、ステップｇ１で入力した部品識別子に対応する部品の品質が、基準に満たないために発注できない旨を、発注情報制御装置本体制御装置７８が発注情報制御装置端末制御装置７９を通じて発注情報制御装置表示部７６へ表示する。この表示内容を確認して、部品発注者は該部品が品質基準に満たないことを知り、部品発注動作は発注を中止して終了する。
【０１３９】
ステップｇ８では、ステップｇ１で入力した部品識別子が品質基準を満たしているため発注が可能であることより、発注情報制御装置７８の制御に基づいて発注処理部７３により、該部品の発注処理を実行し、部品発注動作が終了する。
【０１４０】
図１７は、等級演算装置１に対し、基準評価値保存本体装置１１ａおよび基準評価値入力端末１１ｂを含んで構成される基準評価値保存装置１１と、設計支援制御装置本体装置１３ａおよび設計支援発制御装置入力端末を含んで構成される設計支援制御装置とを加えた設計支援装置４である。各装置は有線ＬＡＮで結ばれた形態でも、１つのコンピュータシステム内に統合した形態でも良い。
【０１４１】
図１８は、本発明の実施の一形態である設計支援装置に設けられる設計支援制御装置１３の構成を示すブロック図である。設計支援制御装置１３は、設計支援制御装置受信手段８１と、設計支援制御装置伝達手段８２と、設計支援制御装置記憶手段８４と、設計支援制御装置入出力手段８７と、設計支援制御装置本体制御手段８８と、設計支援制御装置端末制御手段８９とを有する。また設計支援制御装置入出力手段８７は、設計支援制御装置操作部８５および設計支援制御装置表示部８６を有する。また設計支援制御装置本体制御手段８８は、部品選択部８３を有している。
【０１４２】
設計支援制御装置受信手段８１は、情報を受信し、受信した情報を設計支援制御装置本体制御手段８８に与える。この設計支援制御装置受信手段８１によって、部品品質収集装置７に設けられる収集装置伝達手段２２から伝達される、組立時発見不良情報および出荷後発見不良情報と、基準評価値保存装置１１に設けられる基準評価値保存装置伝達手段６２から伝達される、基準評価値情報とを受信する。設計支援制御装置伝達手段８２は、設計支援制御装置本体制御手段８８の制御に基づいて、情報を伝達する。本実施の形態では、部品選択部８３によって部品選択する際に指定した部品の評価値、基準評価値等の取得依頼情報を、部品品質収集装置７や基準評価値保存装置１１に伝達する。設計支援制御装置操作部８５は、設計者によって操作可能な操作キーを有し、操作キーの操作によって入力される情報、具体的には、使用する部品の部品コードなどの部品識別子情報を、設計支援制御装置端末制御手段８９に与える。設計支援制御装置表示部８６は、設計支援制御装置端末制御手段８９の制御に基づいて、情報を表示する。部品選択部８３は、設計支援制御装置本体制御手段８８に設けられており、設計支援制御装置受信手段８１によって受信される情報と、設計支援制御装置操作部８５によって操作入力される情報に基づいて、部品の使用可否を判断し、部品の選択処理を行う。
【０１４３】
設計支援制御装置記憶手段８４は、たとえば半導体メモリなどによって実現され、設計支援制御装置本体制御手段８８によって読出し可能に情報を記憶する。本実施の形態では、設計支援制御装置記憶手段８４には、設計支援制御装置受信手段８１によって受信される情報、設計支援制御装置操作部８５によって入力される情報および部品選択部８３によって算出される情報を記憶することができる。
【０１４４】
設計支援制御装置本体制御手段８８は、設計支援制御装置受信手段８１と、設計支援制御装置伝達手段８２と、設計支援制御装置記憶手段８４と、設計支援制御装置端末制御手段８９とを制御する手段であり、たとえばＣＰＵによって実現される。また設計支援制御装置端末制御手段８９は、設計支援制御装置本体制御手段８８と、設計支援制御装置入出力手段８７とを制御する手段であり、たとえばＣＰＵによって実現される。設計支援制御装置本体制御手段８８は、設計支援制御装置受信手段８１による情報の受信および設計支援制御装置操作部８５による操作入力に基づいて、設計支援制御装置伝達手段によって伝達させたり、設計支援制御装置記憶手段８４に記憶したりする。また設計支援制御装置端末制御手段８９は、設計支援制御装置受信手段８１による情報の受信および設計支援制御装置操作部８５による操作入力に基づいて、情報を設計支援制御装置表示部８６に表示させる。
【０１４５】
さらに具体的には、設計支援制御装置操作部８５が操作されて、設計に使用する部品コードなどの部品識別子が入力されると、設計支援制御装置端末制御手段８９は、入力される情報を設計支援制御装置操作部８５から受取り、設計支援制御装置本体制御手段８８に与える。設計支援制御装置本体制御手段８８は、設計支援制御装置端末制御手段８９から受取った情報を、設計支援制御装置記憶手段８４に記憶させる。
【０１４６】
また設計支援制御装置操作部８５によって、設計に使用する部品を特定する部品識別子が入力されると、設計支援制御装置端末制御手段８９は、その情報を設計支援制御装置操作部８５から受取り、設計支援制御装置本体制御手段８８に与える。設計支援制御装置本体制御手段８８は、その情報を受取り、入力された部品に対応する評価値、基準評価値等の取得依頼情報を、部品品質収集装置７や基準評価値保存装置１１に伝達する。部品品質収集装置７や基準評価値保存装置１１はその情報を受けて適当な情報を伝達し、それを設計支援制御装置受信手段８１が受信し、設計支援制御装置品対制御手段８８から設計支援制御装置端末制御手段８９を通して設計支援制御装置入出力手段８７に備えられている設計支援制御装置表示部８６に表示させる。
【０１４７】
また設計支援制御装置操作部８５により設計に使用する部品の選択を実施するための部品コードなどの部品識別子が入力されると、設計支援制御装置端末制御手段８９は、その情報を設計支援制御装置入出力手段８７から受取り、設計支援制御装置本体制御手段８８に与える。設計支援制御装置本体制御手段８８は、その情報を受取り、部品の選択を行うために必要な部品の属性などの情報を設計支援制御装置記憶手段８４などから読出し、設計支援制御装置本体制御手段８８に備えられている部品選択部８３によって、部品の選択を実施する。
【０１４８】
また設計支援制御装置操作部８５によって設計支援制御装置記憶手段８４に記憶されている情報を伝達する指令を表す情報が入力されると、設計支援制御装置制端末御手段８９は、その情報を設計支援制御装置操作部８５から受取り、設計支援制御装置本体制御手段８８に与える。設計支援制御装置本体制御手段８８は、その情報を受取り、伝達する指令を表す情報に対応する情報を、設計支援制御装置記憶手段８４から読出し、設計支援制御装置伝達手段８２に与えて伝達させる。
【０１４９】
また設計支援制御装置操作部８５によって設計支援制御装置記憶手段８４に記憶されている情報を表示する指令を表す情報が入力されると、設計支援制御装置端末制御手段８９は、表示する指令を表す情報を設計支援制御装置操作部８５から受取り、その情報を設計支援制御装置本体制御手段８８に与える。設計支援制御装置本体制御手段８８は、表示する指令を表す情報に対応する情報を設計支援制御装置記憶手段８４から読出し、設計支援報制御装置端末制御手段８９に与える。設計支援制御装置端末制御手段８９は、設計支援制御装置本体制御手段８８から受取った情報を設計支援制御装置表示部８６に与えて表示させる。さらに設計支援制御装置本体制御手段８８および設計支援制御装置端末制御手段８９は、これらの設計支援制御装置操作部８５の操作時に、操作を補助する情報を設計支援制御装置表示部８６に表示させる。
【０１５０】
このような設計支援制御装置１３は、設計支援制御装置受信手段８１によって受信する部品の評価値情報および基準評価値情報を設計支援制御装置記憶手段８４に記憶させることができる。また設計支援制御装置操作部８５によって操作入力される設計に使用する部品の情報を、設計支援制御装置記憶手段８４に記憶させることができる。また設計支援制御装置操作部８５の操作に基づいて、設計支援制御装置記憶手段８４に記憶される情報を用いて、設計支援制御装置本体制御手段８８に設けられている部品選択部８３によって、部品の選択を実施することができる。さらに設計支援制御装置操作部８５の操作に基づいて入力した部品の評価値、基準評価値の取得依頼情報を、設計支援制御装置伝達手段８２によって伝達することができる。
【０１５１】
図１９は、設計支援制御装置１３の部品選択動作を示すフローチャートである。設計支援制御装置１３の部品選択動作は、設計者が、設計支援制御装置１３に設けられる設計支援制御装置操作部８５にて、部品の選択処理を行った状態で開始される。
【０１５２】
まずステップｈ１で、設計者が設計に使用することを希望している部品の部品識別子が、設計支援制御装置操作部８５より入力され、設計支援制御装置端末制御手段８９を通して設計支援制御装置本体制御手段８８に伝達される。
【０１５３】
ステップｈ２では、設計支援制御装置本体制御手段８８は、入力された部品識別子に対する評価値を、部品品質収集装置７から取得するために、設計支援制御装置伝達手段８２を通して部品品質収集装置７に対して該部品の評価値の取得依頼情報を伝達する。
【０１５４】
ステップｈ３では、部品品質収集装置７がステップｈ２による評価値の取得依頼情報を受信した結果を受けて伝達した該部品の評価値を、設計支援制御装置受信手段８１により受信する。
【０１５５】
またステップｈ４では、設計支援制御装置本体制御手段８８は、入力された部品識別子に対する基準評価値を、基準評価値保存装置１１から取得するために、設計支援制御装置伝達手段８２を通して基準評価値保存装置１１に対して該部品の基準評価値の取得依頼情報を伝達する。
【０１５６】
ステップｈ５では、基準評価値保存装置１１がステップｈ４による基準評価値の取得依頼情報を受信した結果を受けて伝達した該部品の基準評価値を、設計支援制御装置受信手段８１により受信する。
【０１５７】
ステップｈ６では、設計支援制御装置本体制御装置８８がステップｈ３およびステップｈ５で受信した該部品の評価値、基準評価値を比較し、基準評価値より評価値の方が小さい場合は、ステップｈ７に進む。基準評価値より評価値の方が大きいか同じ場合は、ステップｈ８に進む。
【０１５８】
ステップｈ７では、ステップｈ１で入力した部品識別子に対応する部品の品質が基準に満たないために設計に仕様できない旨を、設計支援制御装置本体制御装置８８が設計支援制御装置端末制御装置８９を通じて設計支援制御装置表示部８６へ表示する。この表示内容を確認して、設計者は該部品が品質基準に満たないことを知り、部品選択動作は選択を中止して終了する。
【０１５９】
ステップｈ８では、ステップｈ１で入力した部品識別子が品質基準を満たしているため設計に使用することが可能であることより、設計支援制御装置８８の制御に基づいて部品選択部８３により、該部品の選択処理を実行し、部品選択動作が終了する。
【図面の簡単な説明】
【０１６０】
【図１】本発明の実施の一形態である等級演算装置１を示すブロック図である。
【図２】本発明の実施の一形態である等級演算装置１に設けられる部品品質収集装置７の構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施の一形態である等級演算装置１に設けられる部品品質算出装置８の構成を示すブロック図である。
【図４】本発明の実施の一形態である等級演算装置１に設けられる部品品質分類装置９の構成を示すブロック図である。
【図５】本発明の実施の一形態である等級演算装置１に設けられる市場データベース１０の構成を示すブロック図である。
【図６】部品品質収集装置７の納入実績情報および組立時発見不良情報の取得動作ならびに伝達動作を示すフローチャートである。
【図７】部品品質収集装置７の出荷後発見不良情報の取得動作および伝達動作を示すフローチャートである。
【図８】部品品質算出装置８に設けられる評価値算出部３３における組立時における部品の不良発生率、出荷後における部品の不良発生率および部品の不良評価値を算出する動作を示すフローチャートである。
【図９】部品品質算出装置８に設けられる算出装置操作部３５において入力される影響度を、定量的な数値にする方法の一例を表した図である。
【図１０】部品品質分類装置９に設けられる品質等級算出部４２における部品の品質等級を算出する動作および供給者等級算出部４３における部品の供給者等級を算出する動作を示すフローチャートである。
【図１１】不良評価値を算出する対象部品を用いた製品が未出荷である場合における部品品質算出装置８に設けられる評価値算出部３３における出荷後における部品の不良発生率を算出する動作を示すフローチャートである。
【図１２】本発明の実施の一形態である発注装置３の構成を示すブロック図である。
【図１３】本発明の実施の一形態である発注装置３に設けられる基準評価値保存装置１１の構成を示すブロック図である。
【図１４】本発明の実施の一形態である発注装置３に設けられる発注情報制御装置１２の構成を示すブロック図である。
【図１５】基準評価値保存装置１１の基準評価値保存動作を示すフローチャートである。
【図１６】発注情報制御装置１２の部品発注動作を示すフローチャートである。
【図１７】本発明の実施の一形態である設計支援装置４の構成を示すブロック図である。
【図１８】本発明の実施の一形態である設計支援装置に設けられる設計支援制御装置１３の構成を示すブロック図である。
【図１９】設計支援制御装置１３の部品選択動作を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【０１６１】
１  等級演算装置
３  発注装置
４  設計支援装置
７  部品品質収集装置
７ａ  部品品質収集本体装置
７ｂ  部品品質収集端末装置
８  部品品質算出装置
８ａ  部品品質算出本体装置
８ｂ  部品品質算出端末装置
９  部品品質分類装置
８ａ  部品品質分類本体装置
８ｂ  部品品質分類端末装置
１０  市場データベース
１１  基準評価値保存装置
１１ａ  基準評価値保存本体装置
１１ｂ  基準評価値入力端末
１２  発注情報制御装置
１２ａ  発注情報制御本体装置
１２ｂ  発注情報入力端末
１３  設計支援制御装置
１３ａ  設計支援制御装置本体装置
１３ｂ  設計支援制御装置入力端末
２１  収集装置受信手段
２２  収集装置伝達手段
２７  収集装置入出力手段
３１  算出装置受信手段
３２  算出装置伝達手段
３３  評価値算出部
３７  算出装置入出力手段
４１  分類装置受信手段
５０  分類装置演算部
４７  分類装置入出力手段
６１  基準評価値保存装置受信手段
６２  基準評価値保存装置伝達手段
６３  基準評価値保存装置記憶手段
６４  基準評価値保存装置操作部
６５  基準評価値保存装置表示部
６６  基準評価値保存装置入出力手段
６７  基準評価値保存装置本体制御手段
６８  基準評価値保存装置端末制御手段
７１  発注情報制御装置受信手段
７２  発注情報制御装置伝達手段
７３  発注処理部
７４  発注情報制御装置記憶手段
７５  発注情報制御装置操作部
７６  発注情報制御装置表示部
７７  発注情報制御装置入出力手段
７８  発注情報制御装置本体制御手段
７９  発注情報制御装置端末制御手段
８１  設計支援制御装置受信手段
８２  設計支援制御装置伝達手段
８３  部品選択部
８４  設計支援制御装置記憶手段
８５  設計支援制御装置操作部
８６  設計支援制御装置表示部
８７  設計支援制御装置入出力手段
８８  設計支援制御装置本体制御手段
８９  設計支援制御装置端末制御手段
【図１】
2006323832.tif 000003
【図２】
2006323832.tif 000004
【図３】
2006323832.tif 000005
【図４】
2006323832.tif 000006
【図５】
2006323832.tif 000007
【図６】
2006323832.tif 000008
【図７】
2006323832.tif 000009
【図８】
2006323832.tif 000010
【図９】
2006323832.tif 000011
【図１０】
2006323832.tif 000012
【図１１】
2006323832.tif 000013
【図１２】
2006323832.tif 000014
【図１３】
2006323832.tif 000015
【図１４】
2006323832.tif 000016
【図１５】
2006323832.tif 000017
【図１６】
2006323832.tif 000018
【図１７】
2006323832.tif 000019
【図１８】
2006323832.tif 000020
【図１９】
2006323832.tif 000021