(57)【要約】【課題】  半導体メモリのテストパターンの保存及び管理が容易なテストパターン生成管理システムおよび半導体メモリのテストパターン生成管理方法を提供する。【解決手段】    通信回線１を通してクライアントの情報機器８からアクセスし、半導体メモリ１５のテストパターンを生成させ管理するテストパターン生成管理システム１４であって、顧客データに基づきテストパターンを生成し、テストパターンに対応する詳細情報とテストパターンを格納し、テストパターンを検索させ情報機器８に検索結果を表示させ、テストパターンを情報機器８から検索し、通信回線１を通して半導体テスタ９へ転送する手段を備える。【選択図】        図１
2006078394.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
通信回線を通してクライアントの情報機器からアクセスし、半導体メモリのテストパターンを生成させ管理するテストパターン生成管理システムであって、
データ格納部に記憶した顧客データに基づき前記テストパターンを生成するテストパターン生成部と、
前記テストパターンに対応する詳細情報と前記テストパターンを格納するテストパターン格納部と、
前記テストパターン格納部に格納した前記テストパターンを検索させ前記情報機器に検索結果を表示させるテストパターン検索表示処理部と、
前記テストパターン格納部に格納した前記テストパターンを前記情報機器から検索し、前記通信回線を通して半導体テスタへ転送するテストパターン転送処理部
とを備えることを特徴とするテストパターン生成管理システム。
【請求項２】
前記テストパターン生成部は、前記テストパターンを生成する際に前記顧客データの中から取り出した前記詳細情報を、自動的に前記テストパターン格納部へ格納することを特徴とする請求項１に記載のテストパターン生成管理システム。
【請求項３】
前記テストパターン検索表示処理部は、前記テストパターンの検索結果を表示又は非表示のアクセス権を持たせて前記テストパターンを保管管理することを特徴とする請求項１に記載のテストパターン生成管理システム。
【請求項４】
前記テストパターン転送処理部は、前記テストパターンの払出し許可又は拒否のアクセス権を持たせて前記テストパターンを保管管理することを特徴とする請求項１に記載のテストパターン生成管理システム。
【請求項５】
テストパターン生成部がデータ格納部に格納した顧客データに基づきテストパターンを生成するステップと、
テストパターン格納部が前記テストパターンに対応する詳細情報と前記テストパターンを格納するステップと、
テストパターン検索表示処理部が前記テストパターン格納部に格納した前記テストパターンを検索させ通信回線を通してクライアントの情報機器に検索結果を表示するステップと、
テストパターン転送処理部が前記テストパターン格納部に格納した前記テスト
パターンを前記通信回線を通して半導体テスタへ転送するステップ
とを含むことを特徴とするテストパターン生成管理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体メモリのテストパターン生成管理システム及びテストパターン生成管理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来は、半導体メモリのテストパターンは作業者が手作業で管理していた。
【０００３】
また、半導体メモリを含む半導体装置のテストパターン作成装置は、テストパターンをブロックパターンの実体データとブロックパターンの構成情報とを分離し、重複する部分が多いテストパターンの総データ量を削減し、ネットワークを介してテストパターンを集中的に管理し共有していた（特許文献１、参照）。
【０００４】
しかしながら、従来のテストパターン作成装置は、ブロックパターンの実体データと構成情報とを分離してテストパターンを作成し保存しているため、テストパターンやテストパターン名をネットワーク上で閲覧しても、顧客データの改訂時に変更した新テストパターンと改訂前の旧テストパターンとを区別して管理するのが困難であった。
【特許文献１】特開平１１−２８７８４７号公報（段落００１５、図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、半導体メモリのテストパターンの保存及び管理が容易なテストパターン生成管理システム及びテストパターン生成管理方法を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明の一態様は、通信回線を通してクライアントの情報機器からアクセスし、半導体メモリのテストパターンを生成させ管理するテストパターン生成管理システムであって、データ格納部に記憶した顧客データに基づきテストパターンを生成するテストパターン生成部と、テストパターンに対応する詳細情報とテストパターンを格納するテストパターン格納部と、テストパターン格納部に格納したテストパターンを検索させ情報機器に検索結果を表示させるテストパターン検索表示処理部と、テストパターン格納部に格納したテストパターンを情報機器から検索し、通信回線を通して半導体テスタへ転送するテストパターン転送処理部とを備えるテストパターン生成管理システムであることを要旨とする。
【０００７】
本発明の一態様は、テストパターン生成部が半導体メモリに記憶させる顧客データに基づきテストパターンを生成するステップと、テストパターン格納部がテストパターンに対応する詳細情報とテストパターンを格納するステップと、テストパターン検索表示処理部がテストパターン格納部に格納したテストパターンを検索させ通信回線を通してクライアントの情報機器に検索結果を表示するステップと、テストパターン転送処理部がテストパターン格納部に格納したテストパターンを通信回線を通して半導体テスタへ転送するステップと、を含むテストパターン生成管理方法であることを要旨とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明は、半導体メモリのテストパターンの保存及び管理が容易なテストパターン生成管理システム及びテストパターン生成管理方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類倶の符号を付している。又、以下に示す実施の形態は、この発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、この発明の技術的思想は、構成部品の材質、形状、構造、配置等を下記のものに特定するものでない。この発明の技術的思想は、特許請求の範囲において、種々の変更を加えることができる。
【００１０】
（第１の実施の形態）
図１に示すように、本発明の第１の実施の形態に係るテストパターン生成管理システム１４は、通信回線１を通してクライアントの情報機器８からアクセスし、半導体メモリ１５のテストパターンを生成させ管理する。
【００１１】
情報機器８は、テストパターン生成管理システム１４へ顧客データに基づくテストパターンを生成させ、テストパターン生成管理システム１４の内部へ生成したテストパターンを格納させて、キーワード検索により任意のテストパターンを閲覧することができる。
【００１２】
端末２は、テストパターン管理者に対してテストパターンが生成され格納された通知を通信回線１を通して受信する。
【００１３】
また、情報機器８は、検索したテストパターンを通信回線１を通して半導体テスタ９の内部に設けたメモリ１０へ転送させ、半導体メモリ１５を半導体テスタ９で検査させることができる。
【００１４】
通信回線１は、典型的にはＴＣＰ／ＩＰのようなインターネットプロトコルでデータの送受信を行い、クライアントが操作するブラウザ搭載の情報機器８でデータを閲覧させることができる。
【００１５】
クライアントの情報機器８から操作するテストパターン生成管理システム１４のシステム構成を図２に示す。
【００１６】
第１の実施の形態の説明等における半導体メモリ１５（図１参照）は、読み出し専用マスクメモリＭＲＯＭに限定されず、電気的に書き換え可能な読み出し専用メモリＥＥＰＲＯＭをも対象とする。
【００１７】
さらに、テストパターン生成部４として例示する装置は、ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）の中でデータを書き込めるＤＶＤ−Ｒや、ＤＶＤ−ＲＷや、ＤＶＤ−ＲＡＭのような記憶媒体にテストパターンを格納し集中管理するため、テストパターンの転送先又は他のメディアでのバックアップを不要とする装置を対象とする。
【００１８】
図２に示すように、例示するテストパターン生成管理システム１４は、データ格納部２２に格納した顧客データに基づきテストパターンを生成するテストパターン生成部４と、テストパターンに対応する詳細情報とテストパターンを格納するテストパターン格納部５と、テストパターン格納部５に格納したテストパターンを情報機器８から検索させ情報機器８に検索結果を表示させるテストパターン検索表示処理部６と、テストパターン格納部５に格納したテストパターンを情報機器８から検索し、通信回線１を通して半導体テスタ９へ転送するテストパターン転送処理部７とを備える。
【００１９】
ここで、テストパターン生成部４は、テストパターン生成管理システム１４の中央処理装置ＣＰＵがテストパターン生成プログラムを実行するコンピュータソフトウエア手段を用いることができる。
【００２０】
又、テストパターン格納部５は、磁気ディスク装置のような記憶手段を用いることができる。
【００２１】
さらに、テストパターン検索表示処理部６は、テストパターン生成管理システム１４の中央処理装置ＣＰＵがテストパターン検索表示プログラムを実行するコンピュータソフトウエア手段を用いることができる。
【００２２】
さらに、テストパターン転送処理部７は、テストパターン生成管理システム１４の中央処理装置ＣＰＵがテストパターン転送処理プログラムを実行するコンピュータソフトウエア手段を用いることができる。
【００２３】
但し、本発明の構成要素としてのテストパターン生成部４、テストパターン検索表示処理部６、及びテストパターン転送処理部７は、コンピュータソフトウエア手段に限定されることはなく、例えば、中央処理装置ＣＰＵとは別体の専用チップ（半導体集積回路）によりハードウエア手段を用いて、テストパターン生成部４、テストパターン検索表示処理部６、及びテストパターン転送処理部７を構成してもよい。
【００２４】
さらに、クライアントの情報機器８は、通信回線１を通してウエブサーバ３５と通信をし、クライアントが検索したテストパターンをクライアント側へ閲覧させ、検索及び閲覧させたテストパターンを半導体テスタ９へ転送させるコンピュータ機器を用いることができる。
【００２５】
さらに、半導体テスタ９は、テストパターン転送処理部７から受信したテストパターンを一時記憶するメモリ１０を図１に示すように半導体テスタ９の内部に設けても良く、半導体テスタ９の外部に設けても良い。メモリ１０が半導体テスタ９の外部に設けられる場合は、半導体テスタ９は受信したテストパターンをメモリ１０から読み込む。
【００２６】
さらに、テストパターン生成管理システム１４は、クライアントの情報機器８から要求されたスクリプト（例えば、テストパターンの生成、格納、検索、表示、転送処理）の処理結果をウエブサーバ３５を経由させ通信回線１を通してクライアントの情報機器８へ返信するワークステーションを用いることができる。
【００２７】
但し、本発明は、例示したウエブサーバ３５をワークステーションに限定するものではなく、例えば、スクリプトの要求を受信し、スクリプトの処理結果を送信するパーソナルコンピュータサーバを用いることができる。
【００２８】
テストパターン生成部４は、テストパターンを生成する際に、データ格納部２２に格納した顧客データの中から取り出した詳細情報（例えば、半導体メモリ１５の製品名、製品のバージョン、顧客データ別の製品名、製品の設計ルール、テストパターンが適用可能な半導体テスタ名）を、自動的にテストパターン格納部５へ格納する。
【００２９】
テストパターン格納部５には、データベース２９と、テストパターン格納領域３０が設けられている。
【００３０】
テストパターン検索表示処理部６は、テストパターンの検索結果を表示又は非表示のアクセス権に従って、Ｗｅｂサーバ３５を通してクライアント側の情報機器８へ渡す。
【００３１】
テストパターン転送処理部７は、テストパターンの払出し許可又は拒否のアクセス権に従って、半導体テスタ９へテストパターンを転送する。
【００３２】
図２を参照して、テストパターン生成管理システム１４の動作を説明する。なお、ウエブサーバ３５は、例えば、インターネットのブラウザ（閲覧ソフト）で閲覧する情報を格納している。
【００３３】
テストパターン生成管理システム１４は、クライアントの情報機器８（図１参照）からの指示によりテストパターンとテストパターンの詳細情報をテストパターン格納処理部２５を経由してテストパターン格納部５へ格納し、クライアントの情報機器８に対して指示されたテストパターンの格納結果を返信する。
【００３４】
データ格納部２２では、ＲＯＭのような半導体メモリ１５（図1参照）へそれぞれ書き込む顧客データをカードデックやフレキシブルディスクや光ディスクのような媒体を通して顧客から入手し格納する。なお、顧客データを入手する手段は、通信回線や記憶媒体を経由してテストパターン生成管理システム１４のデータ格納部２２へダウンロードしても良い。
【００３５】
テストパターン生成部４では、半導体メモリ１５を評価する半導体テスタ９（図１参照）の機種毎に対応するテストパターンを生成しテストパターン記憶部２４に記憶する。
【００３６】
テストパターン格納処理部２５は、テストパターン記憶部２４からテストパターンを読み出しテストパターン格納部５に設けたテストパターン格納領域３０に格納する。
【００３７】
テストパターン格納領域３０では、半導体メモリ１５に書き込む顧客データに対応させた製品名を用いてテストパターンを識別して格納する。
【００３８】
例えば、「製品Ａ」の格納領域３１ａは、「製品Ａ」に対応するテストパターンを格納し、「製品Ｂ」の格納領域３１ｂは、「製品Ｂ」に対応するテストパターンを格納し、「製品Ｃ」の格納領域３１ｃは、「製品Ｃ」に対応するテストパターンを格納し、「製品Ｄ」の格納領域３１ｄは、「製品Ｄ」に対応するテストパターンをそれぞれ格納する。
【００３９】
又、テストパターン格納処理部２５は、テストパターンの格納処理と並行してデータ格納部２２から顧客データの一部であるテストパターンの詳細情報を読み出し、自動的に、各製品名毎の格納領域３１ａ、３１ｂ、３１ｃ、３１ｄに対応させて、テストパターンの詳細情報をデータベース２９へそれぞれ格納する。
【００４０】
さらに、クライアントの情報機器８は、ユーザが指定するテストパターンの詳細情報を入力し、ウエブサーバ３５を通してテストパターン格納処理部２５へ送信し、各製品名毎の格納領域３１ａ、３１ｂ、３１ｃ、３１ｄに対応させて、ユーザが指定するテストパターンの詳細情報をデータベース２９へそれぞれ格納する。
【００４１】
第１の実施の形態に係るテストパターン生成管理システムによるテストパターンの生成及び詳細説明の格納処理、並びにテストパターンの検索、閲覧、ダウンロード処理の流れを図３に例示するが、本発明は図示した処理シーケンスに限定されず、テストパターンの管理に応じて各処理の順番を任意に変更することができる。
【００４２】
本発明の第１の実施の形態に係るテストパターン生成管理システム１４では、デジタル情報化したテストパターンの的確な保管（又は記憶）及び管理と、保管（又は記憶）及び管理されているテストパターンの詳細情報の参照をクライアントの情報機器８へ出力する。
【００４３】
また、テストパターン生成管理システム１４は、テストパターン管理者の人為的な操作ミスを防止し、多種多様となっている半導体メモリ１５のテストパターンのバックアップを自動化したテストパターン管理サービスを提供する。
【００４４】
図２及び図３を参照して、第１の実施の形態に係るテストパターン生成管理システムとしてのテストパターン生成管理システム１４の動作を説明する。
【００４５】
テストパターン生成部４は、ステップ６０（以下、ステップを「Ｓ」と略記する。）において、データ格納部２２から顧客データを読み出しテストパターンを生成する。
【００４６】
テストパターン格納処理部２５は、テストパターン格納Ｓ６１で生成したテストパターンをテストパターン格納部５へ格納する。例えば、「製品Ａ」〜「製品Ｄ」のそれぞれのテストパターンは各格納領域３１ａ〜３１ｄへ対応させて格納される。
【００４７】
又、テストパターン格納処理部２５は、「製品Ａ」から「製品Ｄ」に対応させてテストパターンの詳細情報をデータベース２９へ格納する。このテストパターンの詳細情報は、データ格納部２２に格納された顧客データに基づいて自動的に生成される自動生成詳細情報と、クライアントの情報機器８から任意に入力される任意指定詳細情報とを含む。
【００４８】
クライアントの情報機器８は、図４に示すように、任意指定詳細情報をテストパターン詳細情報入力画面中の情報入力部４２、アクセス指定部４３、情報キー選択部４１を操作して入力する。
【００４９】
情報入力部４２では、半導体メモリ１５の顧客データ毎の製品名、テストパターン名、バージョン情報、デザインルール、容量、パッケージ、対象工程、半導体テスタ機種、コメントをキーボード又はダウンメニューによるポインタ選択操作により入力することができる。
【００５０】
例えば、情報キー選択部４１では、登録するテストパターンに合った登録情報キーをボックス内に表示させポインタ操作により選択させ、任意指定詳細情報を設定できる。
【００５１】
又、アクセス指定部４３では、テストパターンの任意指定詳細情報の入力時にテストパターンのアクセス指定を制御し、テストパターンをテストパターン格納部５へ格納した後に、クライアントの情報機器８によるテストパターンの閲覧検索の結果表示の制限または半導体テスタ９へのテストパターン転送許可制限を付加するように指定することができる。
【００５２】
例えば、アクセス指定としては、テストパターンの検索結果の表示許可、評価する半導体テスタ９への転送としての払出し許可、パスワード指定により制限された利用者（特定ＩＤ所有者）だけにテストパターン格納部５へ格納したテストパターンを閲覧するパスワード指定等の認証処理を用いることができる。
【００５３】
テストパターン格納処理部２５は、生成したテストパターンの格納通知Ｓ６２を遂行し、テストパターンの生成及びテストパターン格納領域３０への格納を端末２（図1参照）へ通知する。なお、端末２を特定する通知先情報（例えば、電子メールアドレス）は、情報格納部２６へ記憶する。
【００５４】
テストパターン生成管理システム１４は、製品テスト選択Ｓ６３を遂行し、クライアントの情報機器８から半導体メモリ１５のテスト準備作業の要求を受信するまで製品テスト選択Ｓ６３を繰返し、クライアントの要求を受信した段階でテストパターン閲覧Ｓ６４へ処理を分岐させる。
【００５５】
ウエブサーバ３５は、テストパターン閲覧Ｓ６４で、クライアントの情報機器８からテストパターン閲覧の要求を受信してテストパターン閲覧Ｓ６４を遂行する。
【００５６】
クライアントの情報機器８は、テストパターン閲覧表示Ｓ６５でテストパターン生成管理システム１４へアクセスし、テストパターン格納部５へ格納されたテストパターンの閲覧検索を実施する。
【００５７】
クライアントの情報機器８は、テストパターンを検索するキーをユーザに指定させ、ウエブサーバ３５を介して、テストパターン閲覧処理部３３によりテストパターン格納部５に設けたデータベース２９へアクセスしテストパターンの詳細情報を検索する。
【００５８】
図５に示すように、テストパターンを検索するキー指定の手段としては、チェックボタン４４の「最新」又は「旧含む」の何れか一方のボタンである「旧含む」をポインティングデバイスでマークして、旧バージョンのテストパターンを含めた全ての閲覧検索を指定することができる。
【００５９】
なお、表示ボックス４５には、テストパターンのアクセスに関し、パスワードの有無を表示する。
【００６０】
テストパターン閲覧表示処理部３４は、テストパターン閲覧表示Ｓ６５でテストパターンの検索結果をウエブサーバ３５へ送信し、ウエブページ処理Ｓ６６によりテストパターンの検索結果をブラウザのフォーマットへ変換する。
【００６１】
又、ウエブサーバ３５は、検索結果待ち状態のクライアントの情報機器８ａに対して、テストパターンの検索結果をテストパターンの閲覧検索結果表示部４６（図５参照）に表示する。最新バージョンのテストパターンを指定した場合には最新のバージョンのみを表示させる。
【００６２】
一方、テストパターン閲覧表示処理部３４は、旧バージョンを含むテストパターンを指定された場合には、図６に示すように、同一のテストパターンで異なるバージョンの数に対応するグループ４８の検索結果を表示する。
【００６３】
テストパターン格納部５では、半導体メモリ１５に書き込まれた顧客データ毎に製品名別に区分けされ、半導体テスタ９に対応して生成されたテストパターンをテストパターン格納領域３０へ格納する。
【００６４】
テストパターン生成管理システム１４は、テストパターンの詳細情報をデータベース２９に格納するので、テストパターンの履歴管理もテストパターンの生成及び格納処理と同時に行えるため、効率的なテストパターン管理を提供することができる。
【００６５】
又、ウエブサーバ３５は、検索Ｓ６７において、検索要求状態のクライアントの情報機器８ｂから、テストパターンの閲覧検索情報を受信し、検索キーワード指定による閲覧検索を可能とする。
【００６６】
テストパターン閲覧処理部３３は、図７に示すように、テストパターンの閲覧検索キーワード指定部４９の中に詳細情報項目毎の検索キーワードの指定、コメント欄の任意文字の検索キーワードを指定させ、任意に指定した検索キーワードによるテストパターンの閲覧検索を処理する。
【００６７】
図７に示したグループ５０には、チェックボタン４４の中の「最新」をマークし、且つ、閲覧検索キーワード指定部４９で指定されたテストパターンの最新情報だけを表示しているので、グループ５０の中から任意のテストパターンを容易に特定することができる。
【００６８】
さらに、テストパターン閲覧表示処理部３４では、テストパターンの閲覧検索が、テストパターン詳細情報入力時にテストパターンのアクセス指定部４３（図４参照）で指定されたテストパターンのアクセスに基づいて、閲覧検索の結果表示の許可となっている場合に制限して表示する。
【００６９】
なお、テストパターン閲覧表示処理部３４は、パスワード指定のあるテストパターンを閲覧する場合には、指定されたパスワードで格納されてあるテストパターンのみを表示する。
【００７０】
クライアントの情報機器８は、テストパターンの閲覧検索の結果表示において、テストパターン名を選択することでテストパターンの詳細情報の表示、格納されているテストパターンのファイル情報を表示することができる。
【００７１】
次に、テストパターン生成管理システム１４は、払出確認Ｓ６８へ移行し、半導体メモリ１５の評価が行われる半導体テスタ９へのテストパターンの転送処理を遂行する。例えば、テストパターン生成管理システム１４がテストパターン格納部５へテストパターンを格納した後に、情報格納部２６に格納した通知先情報に含まれる評価対象情報を参照する。
【００７２】
テストパターン転送処理部７は、ダウンロードＳ６９で情報格納部２６の参照結果に基づき、指定された半導体テスタ９側に設けられたメモリ１０へテストパターンの転送を許可する。典型的には、テストパターン転送処理部７は、図４に示すアクセス指定部４３の中で指定したテストパターンのアクセス制限を実行する。
【００７３】
例えば、テストパターン転送処理部７は、ダウンロードＳ６９で払出し可能のアクセス権を有するテストパターンのみを半導体テスタ９側のメモリ１０へ払出有効として、払出し拒否のアクセス権のテストパターンを転送できないように制御している。
【００７４】
引き続き、半導体テスタ９では、テストＳ７０により、メモリ１０へダウンロードしたテストパターンに基づき、半導体メモリ１５に形成されたＲＯＭ、ロジック回路の電気的テストを遂行し、処理を終了させる。
【００７５】
以上のように、テストパターン生成管理システム１４により、ＲＯＭに書き込む顧客データを基にテストパターンを生成するテストパターン生成部４と、生成されたテストパターンをテストパターンの詳細情報と共に格納するテストパターン格納部５と、格納したテストパターンを検索し表示するテストパターン検索表示処理部６と、格納したテストパターンを使用して半導体メモリ１５を評価する半導体テスタ９へ転送するテストパターン転送処理部７を備えるので、テストパターンの生成及び格納の管理が自動的に実施でき、人為的なミスによるテストパターン選択誤りを未然に防止することができる。
【００７６】
また、テストパターン生成部４は、生成したテストパターンをテストパターンの生成時に使用する顧客データに基づき、テストパターンの詳細情報を顧客情報の中から取り出して、自動的にテストパターンとテストパターンの詳細情報をテストパターン格納部５へ格納するので、最新のテストパターンと旧テストパターンを容易に識別できるため、人為的なミスによるテストパターン選択誤りを未然に防止することができる。
【００７７】
さらに、クライアントの情報機器８では、生成したテストパターンの詳細情報項目に対応させて格納管理するテストパターンへ任意に情報項目を追加設定できるので、テストパターンの検索精度を向上させることができる。
【００７８】
さらに、テストパターン閲覧表示処理部３４は、格納管理するテストパターンの閲覧検索の結果を表示、非表示のアクセス権を持たせて格納管理するので、テストパターンの情報漏れを未然に防止することができる。
【００７９】
さらに、テストパターン転送処理部７は、格納管理するテストパターンの払出し許可、払出し拒否のアクセス権をテストパターンの詳細情報に持たせて格納管理するので、テストパターンの情報漏れを未然に防止することができる。
【００８０】
さらに、クライアントの情報機器８及び半導体テスタ９は共に、格納管理されるテストパターンをインターネットのプロトコルを利用して送受信処理を遂行できるので、通信回路技術を共通化しテストパターンの管理費を低減させることができる。
【００８１】
さらに、テストパターン生成管理システム１４は、生成したテストパターンの詳細情報項目毎に検索キーを指定させることで、検索したいテストパターンだけの検索を行えるテストパターン生成管理システムを提供することができる。
【００８２】
さらに、テストパターン生成管理システム１４は、格納管理されるテストパターンの検索で、検索されたテストパターンを選択することでテストパターンの詳細情報、テストパターンのファイル情報の表示をクライアントの情報機器８側で遂行できる
さらに、テストパターン生成管理システム１４は、テストパターンを半導体メモリ１５毎にテストパターン格納領域３０に格納し、半導体メモリ１５毎に対応させてテストパターンの詳細情報をデータベース２９へ格納するので、テストパターンの履歴管理を容易にする。
【００８３】
（第２の実施の形態）
図８に示すように、本発明の第２の実施の形態に係るテストパターン生成管理システム１４は、クライアントの情報機器３６及びアーカイブ装置５５と接続され、半導体メモリ１５のテストパターンの生成及び管理を実施する。
【００８４】
ここで、テストパターン生成管理システム１４は、顧客データを格納するデータ格納部２２、データ格納部２２に接続するテストパターン生成部２３、テストパターン生成部２３に接続するテストパターン記憶部２４、テストパターン記憶部２４に接続するテストパターン格納処理部２５、テストパターン格納処理部２５に接続し通知先情報を格納する情報格納部２６、テストパターン格納処理部２５に接続しブラウザ表示の出力情報を出力するウエブサーバ３５、ウエブサーバ３５に接続するテストパターン閲覧表示処理部３４、テストパターン閲覧表示処理部３４に接続するテストパターン閲覧処理部３３、テストパターン閲覧処理部３３に接続しテストパターンの詳細情報を格納するデータベース２９、データベース２９及びウエブサーバ３５に接続するテストパターン転送処理部３２を備え、テストパターン生成の報知を受信する端末２７、クライアントの情報機器３６、アーカイブ装置５５、及びテストパターンを記憶するメモリ３８を設けた半導体テスタ３７との間でテストパターン情報を送受する。
【００８５】
なお、第１の実施の形態と共通する要素については、重複する説明を省略する。例えば、図４〜図７に示すクライアントの情報機器８の画面は、第２の実施の形態に用いるクライアントの情報機器３６にも適用できる。
【００８６】
テストパターン生成部２３は、テストパターンを生成しテストパターン記憶部２４へ格納する。
【００８７】
テストパターン格納処理部２５は、ＤＶＤ−ＲＡＭ等のアーカイブ装置５５へテストパターンを格納する。すなわち、テストパターンの格納先をアーカイブ装置５５に指定し、テストパターン自体のバックアップを実行する。
【００８８】
したがって、テストパターン生成管理システム１４は、テストパターンを生成するが、テストパターンのバックアップ作業、及びテストパターンが転送された半導体テスタ３７側でのバックアップ作業を省略するすることができる。
【００８９】
さらに、過去のテストパターンの使用環境、バックアップ環境の関係で磁気テープ（ＭＴ）、磁気ディスク（ＨＤＤ）、フレキシブルディスク（ＦＤ）、コンパクト磁気テープ（ＣＭＴ）、デジタルオーディオテープ（ＤＡＴ）等の多種多様の記憶媒体によるテストパターン情報のバックアップを一括してアーカイブ装置５５で処理することができる。
【００９０】
アーカイブ装置５５は、テストパターン「Ａ」、「Ｂ」、「Ｃ」〜「Ｘ」毎に区分した格納領域にテストパターンを格納し、テストパターン格納領域の一部に不具合が発生した際に、他のテストパターン格納領域にまで不具合が拡大しないように情報格納の信頼性を高めることができる。
【００９１】
図８及び図９を参照して、第２の実施の形態に係るテストパターン生成管理システムの動作を説明する。
【００９２】
半導体メモリ１５に記憶する顧客データを基にテストパターンを生成しアーカイブ装置５５へ格納すると共に、テストパターンに対応する詳細情報をデータベース２９に格納する格納Ｓ７１と、端末２へテストパターンの格納を電子メールで通知する通知Ｓ７２と、半導体メモリ１５のテスト準備開始を判定する判定Ｓ７３と、テストパターンを検索し情報機器３６へ閲覧させる閲覧Ｓ７４と、テストパターンへのアクセス権を認証しテストパターンの払出を確認する払出確認Ｓ７５と、アーカイブ装置５５に格納したテストパターンをメモリ３８へダウンロードする転送Ｓ７６と、メモリ３８に記憶したテストパターンに基づき半導体テスタ３７で半導体メモリ１５をテストするテストＳ７７と、を含む。
【００９３】
このように、第２の実施の形態では、格納管理するテストパターン、テストパターンの詳細情報をＤＶＤ−ＲＡＭ等のアーカイブ装置５５に格納することで他の記憶媒体へのバックアップを不要としながら、テストパターンの情報バックアップ作業を簡略化することができる。
【００９４】
なお、本発明の実施例に記載された、作用及び効果は、本発明から生じる最も好適な作用及び効果を列挙したに過ぎず、本発明による作用及び効果は、本発明の実施の形態に記載されたものに限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００９５】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係るテストパターン生成管理システムのブロック図である。
【図２】本発明の第１の実施の形態に係るテストパターン生成管理システムのブロック図である。
【図３】本発明の第１の実施の形態に係るテストパターン生成管理システムの流れ図である。
【図４】本発明の第１の実施の形態に用いる情報機器の画面を説明する図（その１）である。
【図５】本発明の第１の実施の形態に用いる情報機器の画面を説明する図（その２）である。
【図６】本発明の第１の実施の形態に用いる情報機器の画面を説明する図（その３）である。
【図７】本発明の第１の実施の形態に用いる情報機器の画面を説明する図（その４）である。
【図８】本発明の第２の実施の形態に係るテストパターン生成管理システムのブロック図である。
【図９】本発明の第２の実施の形態に係るテストパターン生成管理システムの流れ図である。
【符号の説明】
【００９６】
１…通信回線
２…端末
４…テストパターン生成部
５…テストパターン格納部
６…テストパターン検索表示処理部
７…テストパターン転送処理部
８…情報機器
８ａ…情報機器
８ｂ…情報機器
９…半導体テスタ
１０…メモリ
１４…テストパターン生成管理システム
１５…半導体メモリ
２２…データ格納部
２３…テストパターン生成部
２４…テストパターン記憶部
２５…テストパターン格納処理部
２６…情報格納部
２７…端末
２９…データベース
３０…テストパターン格納領域
３１ａ〜３１ｄ…格納領域
３２…テストパターン転送処理部
３３…テストパターン閲覧処理部
３４…テストパターン閲覧表示処理部
３５…ウエブサーバ
３６…情報機器
３７…半導体テスタ
３８…メモリ
５５…アーカイブ装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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