(57)【要約】【課題】  ＬＥＤアレイヘッド１の個々ＬＥＤの特性の測定において、高精度に測定を可能とする。【解決方法】  発光制御ドライバーによって、ＬＥＤアレイヘッドの指定した番号ｎの隣接する２個のＬＥＤ（ｎ）、（ｎ＋１）を同時に発光させ、ＬＥＤ（ｎ）、（ｎ＋１）の発光部の画像解析する工程１と、前記制御部１１から１個の信号を入力したときに、ＬＥＤ（ｎ）を消灯する工程２と、画像入力部をＬＥＤアレイの１ピッチ分移動し、ｎ＝ｎ＋１とする工程３からなり、前記工程１、２、３を指定した番号のＬＥＤに達するまで繰り返し測定し、各ＬＥＤの画像解析をすることを特徴とする。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＬＥＤアレイヘッド、移動ステージ、該移動ステージに設けた画像入力部、前記ＬＥＤアレイヘッド、移動ステージ、及び画像入力部を制御し画像解析する制御部からなり、前記ＬＥＤアレイヘッドのＬＥＤを順に発光させ、前記移動ステージにて前記画像入力部を移動させながら各ＬＥＤの特性を測定するＬＥＤアレイヘッドの評価装置において、前記ＬＥＤアレイヘッドの指定した番号ｎの隣接する２個のＬＥＤ（ｎ）、（ｎ＋１）を同時に発光させ、ＬＥＤ（ｎ）、（ｎ＋１）の発光部の画像解析する工程１と、前記制御部から１個の信号を入力したときに、ＬＥＤ（ｎ）を消灯する工程２と、前記画像入力部を移動し、ｎ＝ｎ＋１とする工程３とからなり、前記工程１、２、３を指定した番号のＬＥＤに達するまで繰り返し測定すること特徴とするＬＥＤアレイヘッド評価方法。
【請求項２】
ＬＥＤアレイヘッド、移動ステージ、該移動ステージに設けた画像入力部、前記ＬＥＤアレイヘッド、移動ステージ、及び画像入力部を制御し画像解析する制御部からなり、前記ＬＥＤアレイヘッドのＬＥＤを順に発光させ、前記移動ステージにて前記画像入力部を移動させながら各ＬＥＤの特性を測定するＬＥＤアレイヘッドの評価装置において、前記ＬＥＤアレイヘッドの指定した番号ｎのＬＥＤ（ｎ）を１個発光させ、画像解析する工程４と、ＬＥＤ（ｎ）を消灯し、ＬＥＤ（ｎ＋１）を発光させ画像解析する工程５と、ＬＥＤ（ｎ＋１）を消灯し、画像入力部を移動し、ｎ＝ｎ＋１とする工程６からなり、前記工程４、５、６を指定した番号のＬＥＤに達するまで繰り返し測定すること特徴とするＬＥＤアレイヘッド評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＬＥＤプリンタに使用されるＬＥＤアレイヘッドの評価方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
図１、９を用いて従来技術を説明する。
【０００３】
図１は、ＬＥＤアレイヘッドの評価装置の構成図である。ＬＥＤアレイヘッド１には、ＬＥＤ２が数千個、アレイ状に配列されている。ＬＥＤアレイヘッド１の発光制御は、制御部１１と発光制御ドライバー８によって行なう。移動ステージ６は、画像入力部であるカメラ３が設けられた移動ステージ４をＬＥＤアレイヘッド１に対して平行移動する。移動ステージ４は、カメラ３の焦点位置を調整するものである。夫々の移動ステージ４、６はステッピングモータ５、７の回転によって動作する。移動ステージ４に関しては、手動の移動ステージを使用する場合がある。移動ステージ４、６の制御は、コントローラ１０と制御部１１によって行なう。カメラ３によって、セルフォックレンズ１７を通過したＬＥＤ発光部の画像を入力し、画像処理器９を介して制御部１１に画像データを送信する。それを制御部１１の画像解析部（図示せず）にて解析する。測定項目は、ＬＥＤ２の位置精度に関わるピッチ、配列の直線性、発光部の大きさ及び形状である。
【０００４】
ＬＥＤアレイヘッド１の評価装置を使用してＬＥＤアレイヘッド１の、個々のＬＥＤ２の特性を評価する方法として、ＬＥＤアレイを全数発光させて、カメラ３が設けられた移動ステージ４を移動ステージ６によってＬＥＤアレイのピッチ毎に移動させ、移動毎に各ＬＥＤ発光部の画像をカメラ３によって入力し、それを画像解析する方法と、図９に示した、発光制御ドライバー８によって指定した番号ｎのＬＥＤ２（ｎ）にＬＥＤ２１個の発光パターンを形成し、セルフォックレンズ１７通過後のＬＥＤ発光部１２の画像をカメラ３によって入力し、それを画像解析する。次に、制御部１１から発光制御ドライバー８にクロック信号を１個送信したならｎ＝ｎ＋１とする。次に、カメラ３が設けられた移動ステージ４をＬＥＤアレイのピッチ分移動させる。この工程を繰り返して、各ＬＥＤの画像解析をする。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、ＬＥＤアレイを全数発光させて画像解析する方法の場合、ＬＥＤ２の１番目の測定から最後の画像解析までには時間を要する。そのため、最後のＬＥＤ２は温度上昇する。温度上昇によってＬＥＤ２の輝度は低下し、ＬＥＤ発光部の特性が変化する。そのため、ＬＥＤ２の１番目と最後の値が正確性に欠け、好ましい評価方法ではない。温度の影響が生じない方法として、発光制御ドライバー８にてＬＥＤ２を１個のみ発光させ、画像解析したなら発光ＬＥＤ２を１個隣へ移動する測定方法がある。この場合、ＬＥＤ２のピッチを測定するためには、移動ステージ６の移動距離と、制御部１１の画面上における収録画像の位置の両方を計算する。そのため、移動ステージ６の位置精度と画像上の位置精度の両方が影響する。そのため最良の評価方法ではない。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、発光制御ドライバーによって、ＬＥＤアレイヘッドの指定した番号ｎの隣接する２個のＬＥＤ（ｎ）、（ｎ＋１）を同時に発光させ、ＬＥＤ（ｎ）、（ｎ＋１）の発光部の画像解析する工程１と、前記制御部１１から１個の信号を入力したときに、ＬＥＤ（ｎ）を消灯する工程２と、画像入力部をＬＥＤアレイの１ピッチ分移動し、ｎ＝ｎ＋１とする工程３からなり、前記工程１、２、３を指定した番号のＬＥＤに達するまで繰り返し測定、または、発光制御ドライバーによって、ＬＥＤアレイヘッド１の指定した番号ｎのＬＥＤ（ｎ）を１個を発光させ、画像解析する工程４と、ＬＥＤ（ｎ）を消灯し、ＬＥＤ（ｎ＋１）を発光させて画像解析する工程５と、画像入力部を移動し、ｎ＝ｎ＋１とする工程６からなり、前記工程４、５、６を指定した番号のＬＥＤに達するまで繰り返し測定し各ＬＥＤの画像解析をすることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明のＬＥＤアレイヘッド評価方法によれば、ＬＥＤアレイヘッド１のピッチ測定において、測定移動ステージが静止している状態で、２個のＬＥＤ発光部の画像解析を行なうため、制御部の同一画面に個々のＬＥＤ発光部の静止画像が入力可能であり、その画像情報からＬＥＤの相対位置を測定することにより、移動ステージの送り精度の影響を受けない、精度の高いピッチ測定が可能となり、ＬＥＤアレイヘッド評価装置の信頼性を高めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
精度の高いピッチ測定を可能とし、ＬＥＤアレイヘッド評価装置の信頼性を高めるという目的を、ＬＥＤ発光パターンである隣接ＬＥＤ２個を同時または交互に発光させて、制御部の同一画面に個々のＬＥＤ発光部の静止画像を入力し、それを画像解析することにより実現した。
【実施例１】
【０００９】
以下、図１、２、４、５を用いて本発明の実施例１を説明する。なお、図１の評価装置の構成は前述したので、説明を省略する。
【００１０】
図２は、ＬＥＤアレイヘッド１の指定した番号ｎの、隣接するＬＥＤ２（ｎ）（ｎ＋１）を同時に発光させ、それらの発光部を画像解析し、カメラ３を移動ステージ６にて移動する、ＬＥＤアレイピッチ測定法のフローチャートを示したものである。図４は、前記工程のＬＥＤ発光部とカメラ３の動作を図示したものである。黒円は、発光ＬＥＤ１２を示す。白円は、消灯ＬＥＤ１３を示す。図５は、制御部１１の画面１６上に写し出された２個のＬＥＤ発光部画像１４、１５を示している。
【００１１】
ＬＥＤアレイヘッド１のピッチ測定について説明する。まず、ＬＥＤアレイヘッド１の指定した番号ｎのＬＥＤ（ｎ）と隣接するＬＥＤ（ｎ＋１）を同時発光させる。次に、カメラ３によってセルフォックレンズ１７を通過したＬＥＤ発光部の画像情報を入力し、図５のＬＥＤ発光部画像１４、１５を、制御部１１の画像解析部（図示せず）にて解析する。次に、制御部１１から１個の信号（クロック）を入力したときに、ＬＥＤ（ｎ）を消灯する。次に、カメラ３が設けられた移動ステージ４を、移動ステージ６にてＬＥＤピッチ分移動し、ｎ＝ｎ＋１とする。これらの工程を、指定した番号のＬＥＤに達するまで繰り返す。これによって、制御部１１の画面１６上にて、２個のＬＥＤ（ｎ）（ｎ＋１）のＬＥＤ発光部画像１４、１５の位置情報が得られ、ＬＥＤ（ｎ）とＬＥＤ（ｎ＋１）の相対距離（ピッチ）が計算できる。
【００１２】
本実施例の前記ＬＥＤアレイヘッド１のピッチ測定法によると、移動ステージ６が静止している状態で、制御部１１の同一画面に２個のＬＥＤ発光部の静止画像を入力することが可能であり、その画像を解析することにより、２個のＬＥＤ発光部の位置情報が得られ、移動ステージ６の送り精度の影響を受けない、精度の高いピッチ測定が可能となる。
【実施例２】
【００１３】
以下、図１、３、６、７、８を用いて本発明の実施例２を説明する。なお、図１の評価装置の構成の説明は実施例１と同様に省略する。
【００１４】
図３は、ＬＥＤアレイヘッド１の指定した番号ｎの、隣接する２個のＬＥＤ２（ｎ）、（ｎ＋１）を交互に発光させ、それらの発光部を画像解析し、カメラ３を移動ステージ６にて移動する、ＬＥＤアレイピッチ測定法のフローチャートを示したものである。図６は、前記工程のＬＥＤ発光部とカメラ３の動作を図示したものである。黒円は、発光ＬＥＤ１２を示す。白円は、消灯ＬＥＤ１３を示す。図７は、制御部１１の画面１６上の、ＬＥＤ２（ｎ）のＬＥＤ発光部画像１４を示している。図８は、制御部１１の画面１６上のＬＥＤ２（ｎ＋１）のＬＥＤ発光部画像１５を示している。
【００１５】
ＬＥＤアレイヘッド１のピッチ測定について説明する。まず、図６のようにＬＥＤアレイヘッド１の指定した番号ｎのＬＥＤ（ｎ）を１個発光させる。次に、カメラ３によってセルフォックレンズ１７を通過したＬＥＤ発光部の画像情報を入力し、図７のＬＥＤ発光部画像１４を制御部１１の画像解析部（図示せず）にて解析する。次に、ＬＥＤ（ｎ）を消灯し、ＬＥＤ（ｎ＋１）を発光させる。次に、カメラ３によって画像情報を入力し、図８のＬＥＤ発光部画像１５を制御部１１の画像解析部（図示せず）にて解析する。次に、制御部１１から１個の信号（クロック）を入力したとき、次に、カメラ３の設けられた移動ステージ４を、移動ステージ６にて、ＬＥＤピッチ分移動し、また、ｎ＝ｎ＋１とする。図７、８に示したように、制御部１１の画面１６上には、ＬＥＤ発光部画像１４、１５が交互に現れ、個々のＬＥＤ発光部の位置情報が得られ、ＬＥＤ（ｎ）とＬＥＤ（ｎ＋１）の相対距離（ピッチ）が計算できる。
【００１６】
前記ＬＥＤアレイヘッド１のピッチ測定によると、移動ステージ６が静止している状態で、制御部１１の同一画面に２個のＬＥＤ発光部の静止画像を入力することが可能であり、その画像を解析することにより、２個のＬＥＤ発光部の位置情報が得られ、移動ステージ６の送り精度の影響を受けない、精度の高いピッチ測定が可能となる。
【産業上の利用可能性】
【００１７】
プリンタの小型化により、ＬＥＤプリントヘッドを光学系に使用した、ＬＥＤプリンタが多く市場に流通する。それに伴い、ＬＥＤプリントヘッドの評価が必要である。そのため、本発明のＬＥＤプリントヘッドの評価方法はプリンタ業界において利用の可能性は大きい。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】ＬＥＤプリントヘッドの評価装置を示す概略図である。（実施例１、２）
【図２】ＬＥＤアレイヘッドのピッチ測定のフローチャートである。（実施例１）
【図３】ＬＥＤアレイヘッドのピッチ測定のフローチャートである。（実施例２）
【図４】ＬＥＤアレイヘッドのピッチ測定の動作を示す図である。（実施例１）
【図５】ＬＥＤアレイヘッドのピッチ測定の制御部画面上のＬＥＤ発光部を示す図である。（実施例１）
【図６】ＬＥＤアレイヘッドのピッチ測定の動作を示す図である。（実施例２）
【図７】ＬＥＤアレイヘッドのピッチ測定の制御部画面上のＬＥＤ発光部を示す図である。（実施例２）
【図８】ＬＥＤアレイヘッドのピッチ測定の制御部画面上のＬＥＤ発光部を示す図である。（実施例２）
【図９】従来例のＬＥＤアレイヘッドのピッチ測定の動作を示す図である。
【符号の説明】
【００１９】
１  ＬＥＤアレイヘッド
２  ＬＥＤ
３  カメラ
４  移動ステージ
５  ステッピングモータ
６  移動ステージ
７  ステッピングモータ
８  発光制御ドライバー
９  画像処理器
１０  コントローラ
１１  制御部
１２  発光ＬＥＤ
１３  消灯ＬＥＤ
１４  ＬＥＤ発光部画像
１５  ＬＥＤ発光部画像
１６  制御部画面
１７  セルフォックレンズ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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