(57)【要約】【課題】要求される精度を維持しつつ計算量を短縮するシミュレータを製造する。【解決手段】シミュレータ製造装置１は、複数の工程にそれぞれ関連づけられた複数のモジュールから工程毎に最も精度の高いモジュールをロードさせてシミュレートし、全工程の評価値と、工程毎の評価値とを出力する詳細シミュレーション手段３１と、全工程の評価値と同じ評価値の工程で、最も精度の高いモジュールをロードさせ、全工程の評価値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度の低いモジュールをロードさせるモジュール選択手段３２とを備える。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力装置からの指示に基づいて、記憶装置に前記情報を記憶しながら処理するコンピュータにおいて実行され、複数の工程毎にモジュールをロードさせてシミュレートして得られる最も低い評価値が全工程の評価値となるシミュレータを製造するシミュレータ製造プログラムにおいて、
前記複数の工程にそれぞれ関連づけられた複数のモジュールから前記工程毎に最も精度の高いモジュールをロードさせてシミュレートし、前記全工程の評価値と、工程毎の評価値とを出力する手段と、
前記全工程の評価値と同じ評価値の工程で、最も精度の高いモジュールをロードさせ、前記全工程の評価値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度の低いモジュールをロードさせる手段
とを実現するために前記コンピュータで実行されることを特徴とするシミュレータ製造プログラム。
【請求項２】
前記モジュールをロードさせる手段において、前記全工程の評価値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度が低く、かつ、前記全工程の評価値より高い評価値を出力するモジュールをロードさせる
ことを特徴とする請求項１に記載のシミュレータ製造プログラム。
【請求項３】
前記モジュールをロードさせる手段は、前記全工程の評価値に所定量を加算した閾値より低い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールをロードさせ、前記閾値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度の低いモジュールをロードさせる
ことを特徴とする請求項１に記載のシミュレータ製造プログラム。
【請求項４】
前記モジュールをロードさせる手段において、前記閾値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度が低く、かつ、前記閾値より高い評価値を出力するモジュールをロードさせる
ことを特徴とする請求項３に記載のシミュレータ製造プログラム。
【請求項５】
入力装置からの指示に基づいて、記憶装置に前記情報を記憶しながら処理するコンピュータであって、複数の工程毎にモジュールをロードさせてシミュレートして得られる最も低い評価値が全工程の評価値となるシミュレータを製造するシミュレータ製造装置において、
前記複数の工程にそれぞれ関連づけられた複数のモジュールから前記工程毎に最も精度の高いモジュールをロードさせてシミュレートし、前記全工程の評価値と、工程毎の評価値とを出力する手段と、
前記全工程の評価値と同じ評価値の工程で、最も精度の高いモジュールをロードさせ、前記全工程の評価値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度の低いモジュールをロードさせる手段
とを備えることを特徴とするシミュレータ製造装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の工程毎にモジュールをロードさせシミュレートして得られる最も低い評価値が全工程の評価値となるシミュレータを製造するシミュレータ製造プログラム及びシミュレータ製造装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
製品生産ラインのシミュレーションなどシミュレーションなどによる数値計算による評価において、数値計算モデルの詳細度は、計算精度向上に密接に関連している。ここで、数値計算モデルの詳細度とは、実環境をモデルとして表現する精密度のことである。数値計算モデルの詳細度が高いほど、実環境に近いモデルで評価できるので、実際の数値に近い評価を算出することができる。しかし、詳細度の向上させようとすると計算量や計算時間が増加してしまう問題が発生する。
【０００３】
又、数値計算モデルは、その計算に要求される精度などの条件が変更になる度に、数値計算モデルの再設計又は修正が行われる。この際、評価対象項目の内容、精度などについて、事前に適切に設定された数値に基づいてモデルを設計しない場合、下記のような問題が発生する。
【０００４】
（ａ）詳細度不足によって、信頼できない計算結果出力
詳細度が不足すると、信頼できない計算結果が出力されてしまう場合がある。詳細度が不足すると、具体的にはモデルを単純化すると、短時間で計算結果を得ることができる。しかし、計算精度が低いため、用途によっては誤差の影響が大きくなってしまい実用に耐えられない。  
（ｂ）詳細度過剰によって、計算量の増大
詳細度が過剰になると、計算量が増大してしまう場合がある。詳細度が過剰になると、具体的にはモデルを実環境に近づけると、計算結果の精度を向上できる。しかし、多数のパラメータ等を扱う、又は多くの処理ステップを経ることになるため、計算量が多くなってしまう問題がある。
【０００５】
これらの問題に対し、従来は試行錯誤して計算結果を確認しながら、モデルの修正作業を行っていた。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、試行錯誤的に計算結果を確認しながらモデルを修正する場合、幾度となく計算を繰り返すことになる。このため、所望する計算精度と計算時間を満たすモデルを作成するために多くの時間を要してしまう問題があった。これにより、モデルの設計から評価完了までに時間を要してしまう問題が発生している。又、試行錯誤的に計算をする場合でも、その過程にスキルや経験を要するため、効率よく設計できる人材が限られてしまう問題がある。
【０００７】
上記問題点を鑑み、本発明の目的は、要求される精度を維持しつつ計算量を短縮するシミュレータを製造するシミュレータ製造プログラム及びシミュレータ製造装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の第１の特徴は、入力装置からの指示に基づいて、記憶装置に情報を記憶しながら処理するコンピュータにおいて実行され、複数の工程毎にモジュールをロードさせてシミュレートして得られる最も低い評価値が全工程の評価値となるシミュレータを製造するシミュレータ製造プログラムに関する。即ち、本発明の第１の特徴に係るシミュレータ製造プログラムは、複数の工程にそれぞれ関連づけられた複数のモジュールから工程毎に最も精度の高いモジュールをロードさせてシミュレートし、全工程の評価値と、工程毎の評価値とを出力する手段と、全工程の評価値と同じ評価値の工程で、最も精度の高いモジュールをロードさせ、全工程の評価値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度の低いモジュールをロードさせる手段とを実現するためにコンピュータで実行される。
【０００９】
ここで、モジュールをロードさせる手段において、全工程の評価値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度が低く、かつ、全工程の評価値より高い評価値を出力するモジュールをロードさせることが好ましい。
【００１０】
本発明の第１の特徴により、最も低い評価値を持つ工程で詳細度の高いモジュールをロードさせ、それ以外の工程では詳細度の低いモジュールをロードさせるので、計算精度を確保しつつ計算量を削減することができるシミュレータを、少ない計算量で製造することができる。
【００１１】
又、モジュールをロードさせる手段は、全工程の評価値に所定量を加算した閾値より低い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールをロードさせ、閾値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度の低いモジュールをロードさせることが好ましい。
【００１２】
ここで、モジュールをロードさせる手段において、閾値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度が低く、かつ、閾値より高い評価値を出力するモジュールをロードさせることが好ましい。
【００１３】
これによれば、シミュレーションによる誤差を考慮して、ロードさせるモジュールを選択させているので、低い詳細度のモジュールをロードさせても、全工程の評価値を変更させることがない。
【００１４】
本発明の第２の特徴は、入力装置からの指示に基づいて、記憶装置に情報を記憶しながら処理するコンピュータであって、複数の工程毎にモジュールをロードさせてシミュレートして得られる最も低い評価値が全工程の評価値となるシミュレータを製造するシミュレータ製造装置に関する。即ち、本発明の第２の特徴に係るシミュレータ製造装置は、複数の工程にそれぞれ関連づけられた複数のモジュールから工程毎に最も精度の高いモジュールをロードさせてシミュレートし、全工程の評価値と、工程毎の評価値とを出力する手段と、全工程の評価値と同じ評価値の工程で、最も精度の高いモジュールをロードさせ、全工程の評価値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度の低いモジュールをロードさせる手段とを備える。
【発明の効果】
【００１５】
本発明によれば、要求される精度を維持しつつ計算量を短縮するシミュレータを製造するシミュレータ製造プログラム及びシミュレータ製造装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
次に、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。
【００１７】
（最良の実施の形態）
図１に示す本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１は、入力装置からの指示に基づいて、記憶装置に情報を記憶しながら処理するコンピュータにおいて実行され、複数の工程毎にモジュールをロードさせてシミュレートして得られる最も低い評価値が全工程の評価値となるシミュレータを製造する。
【００１８】
本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１が製造するシミュレータは、例えば、生産管理システムなどで用いられる。生産管理システムにおいては、製造におけるスループット（＝売上げ−変動費）を最大にする様に、複数の工程を経て製品を製造することが求められている。このとき、例えば売上げに関係する製品の製造数量、具体的には製品の生産能力は、制約理論（ＴＯＣ：Theory of Constraints）に基づいて、一番能力の小さい工程で決まる。この生産能力が一番小さい工程はボトルネック（制約）と呼ばれる。本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１が製造するシミュレータは、制約となる工程においては、詳細度の高いシミュレーションのモジュールをロードさせ、制約とならない工程においては、詳細度の低いシミュレーションのモジュールをロードさせる。
【００１９】
図２に示すように、本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１は、中央処理制御装置１０１、ＲＯＭ（Read Only Memory）１０２、ＲＡＭ（Random Access Memory）１０３及び入出力インタフェース１０９が、バス１１０を介して接続されている。入出力インタフェース１０９には、入力装置１０４、表示装置１０５、通信制御装置１０６、記憶装置１０７及びリムーバブルディスク１０８が接続されている。
【００２０】
中央処理制御装置１０１は、入力装置１０４からの入力信号に基づいてＲＯＭ１０２からシミュレータ製造装置１を起動するためのブートプログラムを読み出して実行し、更に記憶装置１０７に記憶されたオペレーティングシステムを読み出す。更に中央処理制御装置１０１は、入力装置１０４や通信制御装置１０６などの入力信号に基づいて、各種装置の制御を行い、ＲＡＭ１０３や記憶装置１０７などに記憶されたプログラム及びデータを読み出してＲＡＭ１０３にロードするとともに、ＲＡＭ１０３から読み出されたプログラムのコマンドに基づいて、データの計算又は加工など、後述する一連の処理を実現する処理装置である。
【００２１】
入力装置１０４は、操作者が各種の操作を入力するキーボード、マウスなどの入力デバイスにより構成されており、操作者の操作に基づいて入力信号を作成し、入出力インタフェース１０９及びバス１１０を介して中央処理制御装置１０１に送信される。表示装置１０５は、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）ディスプレイや液晶ディスプレイなどであり、中央処理制御装置１０１からバス１１０及び入出力インタフェース１０９を介して表示装置１０５において表示させる出力信号を受信し、例えば中央処理制御装置１０１の処理結果などを表示する装置である。通信制御装置１０６は、ＬＡＮカードやモデムなどの装置であり、シミュレータ製造装置１をインターネットやＬＡＮなどの通信ネットワークに接続する装置である。通信制御装置１０６を介して通信ネットワークと送受信したデータは入力信号又は出力信号として、入出力インタフェース及びバス１１０を介して中央処理制御装置１０１に送受信される。
【００２２】
記憶装置１０７は半導体記憶装置や磁気ディスク装置であって、中央処理制御装置１０１で実行されるプログラムやデータが記憶されている。リムーバブルディスク１０８は、光ディスクやフレキシブルディスクのことであり、ディスクドライブによって読み書きされた信号は、入出力インタフェース１０９及びバス１１０を介して中央処理制御装置１０１に送受信される。
【００２３】
本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１の記憶装置１０７には、シミュレータ製造プログラムが記憶されるとともに、モジュール群１０、工程スループットデータ２１、シミュレータ２２が記憶される。又、シミュレータ製造プログラムがシミュレータ製造装置１の中央処理制御装置１０１に読み込まれオペレーションシステムと協働して実行されることによって、詳細シミュレーション手段３１及びモジュール選択手段３２がシミュレータ製造装置１に実装される。
【００２４】
モジュール群１０には、本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１によって製造されるシミュレータで用いられるモジュールが、工程毎に記憶されている。ここでモジュールとは、シミュレーションで実現されるモデルを、コンピュータで実行できるように実装したプログラムである。このモジュールは、一つの工程対して詳細度が異なる複数のモジュールが記憶されているのが好ましい。本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１が製造するシミュレータは、図３に示すように、Ａ工程モデル５１、Ｂ工程モデル５２、Ｃ工程モデル５３、Ｄ工程モデル５４、Ｅ工程モデル５５及びＦ工程モデル５６を経て算出される。
【００２５】
モジュール群１０には、例えば所定の工程モデルについて、図４（ａ）及び（ｂ）に示された様に、詳細度の異なる複数の計算手法に基づくモジュールがそれぞれ記憶されている。図４（ａ）に示したモデルは、高い詳細度を持ち実環境に近いモデルである。図４（ａ）に示したモデルに基づくシミュレーションのモジュールは、高い詳細度を持つので計算精度が高いが、計算量も多い。一方、図４（ｂ）に示したモデルは、低い詳細度を持つモデルである。図４（ｂ）に示したモデルに基づくシミュレーションのモジュールは、計算精度は低いが、計算量も少ない。低い詳細度を持つモデルは、高い詳細度を持つモデルでの処理ステップを割愛して作成されても良いし、高い詳細度で利用するパラメータの数を削減して作成されても良い。或いは全く異なる手法で作成されても良い。
【００２６】
この工程毎のモデルは、例えば、生産管理システムの場合、生産工程毎に限る必要はなく、複数の工程をまとめて一つのモデルに実現しても良いし、一つの生産工程を分割して複数のモデルを実現しても良い。この様に、本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１で扱われる工程は、シミュレーションに要する計算などに応じて任意に定義されるのが好ましい。
【００２７】
詳細シミュレーション手段３１は、記憶装置１０７にモジュール群１０として記憶された、複数の工程にそれぞれ関連づけられた複数のモジュールから工程毎に最も精度の高いモジュールをロードさせてシミュレートし、全工程の評価値と、工程毎の評価値とを出力する手段である。全工程の評価値は、制約理論に基づいて各工程の評価値のうち、最も低い値で規定される。詳細シミュレーション手段３１によって出力された全工程の評価値と、工程毎の評価値は、工程スループットデータ２１として記憶装置１０７に記憶される。
【００２８】
図５を参照して、詳細シミュレーション手段３１による計算結果を説明する。図５は、詳細シミュレーション手段３１によって工程毎に算出された評価値と、全体の評価値とが、スループット、具体的には工程能力として表示されている。この評価値は、例えば生産管理システムの場合、単位時間あたりの生産数量などのスループットで示される。
【００２９】
図５に示した例においては、Ａ工程からＦ工程について、それぞれ最も詳細なモデルで算出された評価値がグラフ表示されている。全工程の評価値は、工程毎の評価値が最も低くボトルネックとなるＣ工程で規定されるので、このＣ工程の評価値が設定されている。図５から分かるように、Ｃ工程以外の工程は、Ｃ工程の工程能力を下回らない限り全工程の工程能力計算の結果に影響を与えない。これにより、Ｃ工程以外の工程について詳細度が低いモデルに基づく計算量の少ないモジュールを選択させて構成させても良いことが分かる。
【００３０】
モジュール選択手段３２は、図５に示した結果に基づいて全工程の評価値と同じ評価値の工程で、最も精度の高いモジュールをロードさせ、全工程の評価値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度の低いモジュールをロードさせるシミュレータ２２を生成する手段である。このシミュレータ２２は、選択されたモジュールを組み込んだ実行プログラムであっても良いし、選択されたモジュールとリンケージさせるバッチファイルなどの実行プログラムであっても良い。
【００３１】
図５に示した例の場合、モジュール選択手段３２は、Ｃ工程については最も詳細度の高いモジュールをロードさせ、Ｃ工程以外の工程については、詳細度が２番目以降に高いモジュールをロードさせる。このモジュール選択手段３２は、全工程の評価値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度が低く、かつ、全工程の評価値より高い評価値を出力するモジュールをロードさせることが好ましい。
【００３２】
次に、図６を参照して、本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造方法の処理を説明する。  
まず、ステップＳ１０１において詳細シミュレーション手段３１は、工程毎に最も詳細度の高いモジュールを呼び出し、ステップＳ１０２においてこれらのモジュールでシミュレートする。ステップＳ１０２でシミュレートされた結果に基づいて、ステップＳ１０３において詳細シミュレーション手段３１は、全工程の評価値と工程毎の評価値とを算出して、記憶装置１０７に記憶する。全工程の評価値は、工程毎の評価値のうち最も低い評価値に規定される。
【００３３】
次に、ステップＳ１０４においてモジュール選択手段３２は、記憶装置１０７から所定の工程の評価値を読み出し、ステップＳ１０５において、読み出された工程の評価値と全工程の評価値とを比較する。工程の評価値と全工程の評価値が同じ場合、具体的には、この工程の評価値によって全工程の評価値が決定された場合、ステップＳ１０６において、製造するシミュレータのこの工程には、最も詳細度の高いモジュールを選択する。一方、工程の評価値と全工程の評価値が異なる場合、ステップＳ１０７において、製造するシミュレータのこの工程には、詳細度の低いモジュールを選択する。
【００３４】
ステップＳ１０４乃至ステップＳ１０７の処理を、全ての工程について繰り返し、本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１が製造するシミュレータで呼び出させるモジュールを選択させる。更に、ステップＳ１０８においてモジュール選択手段３２は、ステップＳ１０４乃至ステップＳ１０７で選択されたモジュールを組合せ、又はリンケージさせてシミュレータを製造し、ステップＳ１０６及びステップＳ１０７で選択されたモジュールを中央処理制御装置にロードさせるシミュレータ２２を記憶装置１０７に記憶する。
【００３５】
本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１によれば、生産管理システムなどのシミュレーションに用いられるモデルを、要求される精度及び計算量に応じて動的に変更可能である。又、異なる詳細度を出力する複数のモデルが工程毎に関連づけられているので、本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１は、全体モデルに要求される計算精度及び計算速度に応じて、工程毎に適切な計算精度と計算量を出力するモデルに基づくモジュールをロードさせることにより、要求される精度及び計算量を両立することができる。
【００３６】
又、一般的に全工程の評価値を向上させるためには、ボトルネックとなる工程のスループットを精度良く算出してこの工程の評価値を向上させることが必要である。本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１によれば、ボトルネックとなる工程に詳細度の高いモジュールをロードさせて精度の良い評価値を算出させ、ボトルネックとならない工程においては、高い詳細度より少ない計算量を重視したモジュールをロードさせる。これにより、本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１は、より少ない計算量で全工程の評価値を精度良く算出することができるシミュレータを、少ない計算量で製造することができる。
【００３７】
又、本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１によれば、各工程に必要とされる詳細度を判定し、その判定結果に基づいて工程毎に必要とされる計算精度のモデルを選択させ、選択されたモデルに基づくモジュールをロードさせる。具体的には、多大な計算量を要するが、詳細度の高いモデルを組合せた全体モデルで精度の高い計算結果を出力し、この結果により各工程に必要な精度を判定し、高い精度が要求される工程と高い精度が要求されない工程とを判別する。この判定結果により、高い精度が必要な工程以外を、より計算量が少なく詳細度が低いモデルに置換する。この様な本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１は、事前にどの工程が計算精度の決定要因であるかが明確でない場合でも、工程毎に最も詳細なモジュールでシミュレートし、工程毎の評価値を比較することにより、制約の決定要因となる工程を抽出することができる。これにより本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１は、全工程の計算精度を維持しつつ、計算速度を向上させたシミュレータを製造することができる。
【００３８】
この様に、本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１によれば、計算精度を維持しながらパラメータを変更し試行錯誤しながらシミュレートするシミュレータを製造することができる。
【００３９】
（最良の実施の形態の変形例）
本発明の最良の実施の形態の変形例に係るシミュレータ製造装置１は、シミュレーションの誤差を考慮して工程毎のモデルを選択させる場合について説明する。
【００４０】
具体的には、本発明の最良の実施の形態の変形例に係るモジュール選択手段３２は、  全工程の評価値に所定量を加算した閾値より低い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールをロードさせ、閾値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度の低いモジュールをロードさせる。このとき、モジュール選択手段３２は、閾値より高い評価値の工程で、最も精度の高いモジュールより精度が低く、かつ、閾値より高い評価値を出力するモジュールをロードさせることが好ましい。
【００４１】
例えば、図７に示すように、本発明の最良の実施の形態の変形例においては、誤差を考慮して、全体工程の能力にマージンを加算して閾値を設ける。その閾値以下の評価値を出力する工程は、最も高い詳細度のモジュールをロードさせ、その閾値以上の評価値を出力する工程は、精度が低く、かつその閾値よりも高い評価値を出力するモジュールをロードさせる。図７に示す例においては、Ａ工程、Ｂ工程、Ｃ工程については、最も高い詳細度のモジュールをロードさせ、Ｄ工程、Ｅ工程、Ｆ工程については、精度が低くかつ閾値よりも高い評価値を出力するモジュールをロードさせる。例えば、Ｆ工程の低詳細度のモジュールが出力する最下限値が閾値を下回らない場合、このＦ工程については、低詳細度のモジュールをロードさせても良いと判定される。
【００４２】
次に、図８を参照して、本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造方法の処理を説明する。  
まず、ステップＳ２０１において詳細シミュレーション手段３１は、工程毎に最も詳細度の高いモジュールを呼び出し、ステップＳ２０２においてこれらのモジュールでシミュレートする。ステップＳ２０２でシミュレートされた結果に基づいて、ステップＳ２０３において詳細シミュレーション手段３１は、全工程の評価値と工程毎の評価値とを算出して記憶装置１０７に記憶する。全工程の評価値は、工程毎の評価値のうち最も低い評価値に規定される。ここで、詳細シミュレーション手段３１は、全体の評価値に所定のマージンを加算することにより、閾値を算出する。
【００４３】
次に、ステップＳ２０５においてモジュール選択手段３２は、記憶装置１０７から所定の工程の評価値を読み出し、ステップＳ２０６において、読み出された工程の評価値とステップＳ２０４で算出された閾値とを比較する。工程の評価値が閾値より低い場合、具体的には、シミュレータの誤差を考慮すると、この工程の評価値によって全工程の評価値が決定される可能性がある場合、ステップＳ２０７において、製造するシミュレータのこの工程には、最も詳細度の高いモジュールを選択する。一方、工程の評価値が閾値より高い場合、ステップＳ２０８において、製造するシミュレータのこの工程には、詳細度の低いモジュールを選択する。
【００４４】
ステップＳ２０５乃至ステップＳ２０８の処理を、全ての工程について繰り返し、本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置１が製造するシミュレータで呼び出させるモジュールを選択させる。更に、ステップＳ２０９においてモジュール選択手段３２は、ステップＳ２０５乃至ステップＳ２０８で選択されたモジュールを組合せ、又はリンケージさせてシミュレータを製造し、ステップＳ２０７及びステップＳ２０８で選択されたモジュールを中央処理制御装置にロードさせるシミュレータ２２を記憶装置１０７に記憶する。
【００４５】
この様に、本発明の最良の実施の形態の変形例によれば、全工程の評価値に所定のマージンを加算して閾値を決定しているので、低詳細度のモジュールへ置換しても、計算結果精度への影響は発生しない。これにより、本発明の最良の実施の形態の変形例に係るシミュレータ製造装置１は、計算精度を維持しつつ計算量を削減するシミュレータを製造することができる。
【００４６】
（その他の実施の形態）
上記のように、本発明の最良の実施の形態及び変形例によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなる。
【００４７】
例えば、本発明の最良の実施の形態においては、シミュレータの一例として生産管理システムを例に挙げて説明したが、複数の工程毎にモジュールをロードさせてシミュレートして得られる最も低い評価値が全工程の評価値となるシミュレータを製造するシミュレータであれば、どのようなシミュレータでも構わない。又、本発明の最良の実施の形態においては、工程毎にモジュールを選択させる場合について説明したが、生産管理システム以外の一般的なシステムの場合、特に製造工程にこだわる必要はないのは勿論である。一般的なシステムの場合、例えば、実環境に適合するモデルやシミュレータの処理ステップに応じてモジュールを選択させても良い。
【００４８】
又、全工程の評価値が、工程の最も高い評価値によって規定される場合、評価値の逆数を算出した新たな評価値に基づいて比較することにより、本発明の最良の実施の形態に適合させても良い。
【００４９】
本発明はここでは記載していない様々な実施の形態等を含むことは勿論である。従って、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置のシステム構成図である。
【図２】本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置のハードウェア構成図である。
【図３】本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置がシミュレートする対象となる工程モデルの一例を説明する図である。
【図４】本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置がシミュレートする対象となる工程モデルについて、詳細度の高いモデルと詳細度の低いモデルの一例を説明する図である。
【図５】本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置の詳細シミュレーション手段によるシミュレーション結果を説明する図である。
【図６】本発明の最良の実施の形態に係るシミュレータ製造装置の処理を説明するフローチャートである。
【図７】本発明の最良の実施の形態の変形例に係るシミュレータ製造装置の詳細シミュレーション手段によるシミュレーション結果を説明する図である。
【図８】本発明の最良の実施の形態の変形例に係るシミュレータ製造装置の処理を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００５１】
１…シミュレータ製造装置、１０…モジュール群、２１…工程スループットデータ、２２…シミュレータ、３１…詳細シミュレーション手段、３２…モジュール選択手段、５１…Ａ工程モデル、５２…Ｂ工程モデル、５３…Ｃ工程モデル、５４…Ｄ工程モデル、５５…Ｅ工程モデル、５６…Ｆ工程モデル、１０１…中央処理制御装置、１０２…ＲＯＭ、１０３…ＲＡＭ、１０４…入力装置、１０５…表示装置、１０６…通信制御装置、１０７…記憶装置、１０８…リムーバブルディスク、１０９…入出力インタフェース、１１０…バス
【図１】
2006092342.tif 000003
【図２】
2006092342.tif 000004
【図３】
2006092342.tif 000005
【図４】
2006092342.tif 000006
【図５】
2006092342.tif 000007
【図６】
2006092342.tif 000008
【図７】
2006092342.tif 000009
【図８】
2006092342.tif 000010