(57)【要約】【課題】  特別な回路を追加することなく複数の測定チャンネル間の位相差/時間差を解消できる、多数の測定点の測定信号をスキャナを介して共通のＡ／Ｄ変換器に入力するように構成された多点測定装置を実現すること。【解決手段】  多数の測定点の測定信号をスキャナを介して共通のＡ／Ｄ変換器に入力するように構成された多点測定装置において、  スキャナの切換周期に基づき各測定点間の測定時間差を求める測定時間差演算手段と、  これら測定時間差データを測定データとは独立したデータとして格納するデータ格納手段、を設けたことを特徴とするもの。【選択図】                    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
多数の測定点の測定信号をスキャナを介して共通のＡ／Ｄ変換器に入力するように構成された多点測定装置において、
スキャナの切換周期に基づき各測定点間の測定時間差を求める測定時間差演算手段と、
これら測定時間差データを測定データとは独立したデータとして格納するデータ格納手段、
を設けたことを特徴とする多点測定装置。
【請求項２】
前記格納されている測定時間差データに基づき、各チャンネルに同一波形を入力した場合に全測定チャンネルの表示波形が時間軸上で一致するように測定データに対する同期表示処理を行う同期表示処理手段、
を設けたことを特徴とする請求項１記載の多点測定装置。
【請求項３】
前記格納されている測定時間差データに基づき、全測定チャンネルの測定データが時間軸上で一致するように測定データに対する同期処理を行う測定データ同期処理手段、
を設けたことを特徴とする請求項１記載の多点測定装置。
【請求項４】
多数の測定点の測定信号をスキャナを介して共通のＡ／Ｄ変換器に入力するように構成された多点測定装置において、
スキャナの切換周期に基づき各測定点間の測定時間差を求める測定時間差演算手段と、
これら測定時間差データを測定データとは独立したデータとしてファイル化するファイル作成手段、
を設けたことを特徴とする多点測定装置。
【請求項５】
前記ファイル化されている測定時間差データに基づき、各チャンネルに同一波形を入力した場合に全測定チャンネルの表示波形が時間軸上で一致するようにファイル化されている測定データに対する同期表示処理を行う同期表示処理手段、
を設けたことを特徴とする請求項４に記載の多点測定装置。
【請求項６】
前記ファイル化されている測定時間差データに基づき、全測定チャンネルの測定データが時間軸上で一致するようにファイル化されている測定データに対する同期処理を行う測定データ同期処理手段、
を設けたことを特徴とする請求項４に記載の多点測定装置。
【請求項７】
多点測定装置は測定モジュールとして構成されていることを特徴とする請求項１から請求項６のいずれかに記載の多点測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は多点測定装置に関し、詳しくは、多数の測定点の測定信号をスキャナを介して共通のＡ／Ｄ変換器に入力するように構成された多点測定装置における測定点間の測定時間差の補正に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
特許文献１には、記録紙上の測定データトレンド記録結果を遠隔監視できる測定記録装置の構成が開示されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００４−１８６９４６
【０００４】
特許文献１の段落００１２および００１３には、特許文献１の図７に示しているマルチペン形レコーダにおいて、記録紙上の記録結果に記録ペン相互間の記録位置ずれの影響が現れないように、各記録ペンによる記録結果を記録紙の時間目盛り線上で一致させて記録結果の読み取りにあたって記録ペン相互間の記録位置ずれを考慮しなくてもすむように、記録ペン駆動系毎に測定データを入力するタイミングを記録紙の送り速度を反映させながら制御して記録位置を制御する「位相同期」について記載されている。
【０００５】
この「位相同期」は、多数の測定点の測定信号をスキャナを介して共通のＡ／Ｄ変換器に入力するように構成された多点測定装置において、時間軸方向に沿って発生する測定点間の測定時間差を補正する点は本発明と共通している。
【０００６】
図５は従来の多点測定装置の一例を示す回路図である。図５において、多数の測定点に対応した各測定チャンネル1ｃｈ〜10ｃｈの測定信号は、スキャナ１の対応する入力端子２にそれぞれ接続されている。スキャナ１の出力端子はプログラマブルゲインアンプ３を介して例えば積分型のＡ／Ｄ変換器４に接続されている。とＡ／Ｄ変換器４の出力端子は絶縁回路５を介してＣＰＵ６のデータ入力端子に接続されている。ここで、プログラマブルゲインアンプ３、Ａ／Ｄ変換器４および絶縁回路５は、多数の測定チャンネル1ｃｈ〜10ｃｈに共通のアナログ入力部を構成している。なお、多点測定装置は、単体の測定器として構成されたり、複数チャンネルの測定が行える装置本体に着脱可能な測定モジュールとしてユニット化されている。
【０００７】
図５のような多点測定装置は、測定信号の変化トレンドを測定記録するレコーダのようにサンプル周期が比較的長い測定用途の場合において、高価な部品である１個のＡ／Ｄ変換器４を多数の測定チャンネル1ｃｈ〜10ｃｈで共用できることから、測定装置のコストを下げるために広く使用されている。
【０００８】
しかし、このような多点測定装置では、各測定チャンネル1ｃｈ〜10ｃｈとＡ／Ｄ変換器４の接続関係に着目すると、スキャナ１で時間的に順次切り替えて接続しているために、それぞれの測定チャンネルの測定に時間的な差が生じる。この結果、各測定チャンネルに全く同じ測定信号波形を入力した場合にも、図６に示すようにスキャナ１のスキャン周期に応じた位相差/時間差を生じることになる。
【０００９】
これら各測定チャンネル1ｃｈ〜10ｃｈ間の位相差/時間差を解消するために、スキャナ１の前段にサンプリングホールド回路を追加することも行われているが、追加した回路分の費用が発生することになる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明は、これらの従来の問題点を解決するものであって、その目的は、特別な回路を追加することなく複数の測定チャンネル間の位相差/時間差を解消できる、多数の測定点の測定信号をスキャナを介して共通のＡ／Ｄ変換器に入力するように構成された多点測定装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
多数の測定点の測定信号をスキャナを介して共通のＡ／Ｄ変換器に入力するように構成された多点測定装置において、
スキャナの切換周期に基づき各測定点間の測定時間差を求める測定時間差演算手段と、
これら測定時間差データを測定データとは独立したデータとして格納するデータ格納手段、
を設けたことを特徴とする。
【００１２】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の多点測定装置において、
前記格納されている測定時間差データに基づき、各チャンネルに同一波形を入力した場合に全測定チャンネルの表示波形が時間軸上で一致するように測定データに対する同期表示処理を行う同期表示処理手段、
を設けたことを特徴とする。
【００１３】
請求項３記載の発明は、請求項１記載の多点測定装置において、
前記格納されている測定時間差データに基づき、全測定チャンネルの測定データが時間軸上で一致するように測定データに対する同期処理を行う測定データ同期処理手段、
を設けたことを特徴とする。
【００１４】
請求項４記載の発明は、請求項１記載の多点測定装置において、
多数の測定点の測定信号をスキャナを介して共通のＡ／Ｄ変換器に入力するように構成された多点測定装置において、
スキャナの切換周期に基づき各測定点間の測定時間差を求める測定時間差演算手段と、
これら測定時間差データを測定データとは独立したデータとしてファイル化するファイル作成手段、
を設けたことを特徴とする。
【００１５】
請求項５記載の発明は、請求項４記載の多点測定装置において、
前記ファイル化されている測定時間差データに基づき、各チャンネルに同一波形を入力した場合に全測定チャンネルの表示波形が時間軸上で一致するようにファイル化されている測定データに対する同期表示処理を行う同期表示処理手段、
を設けたことを特徴とする。
【００１６】
請求項６記載の発明は、請求項４記載の多点測定装置において、
前記ファイル化されている測定時間差データに基づき、全測定チャンネルの測定データが時間軸上で一致するようにファイル化されている測定データに対する同期処理を行う測定データ同期処理手段、
を設けたことを特徴とする。
【００１７】
請求項７記載の発明は、請求項１から請求項６のいずれかに記載の多点測定装置において、
多点測定装置は測定モジュールとして構成されていることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、追加回路を用いることなく、全測定チャンネルの測定データの同期処理が行える。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明を図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明に関連する部分を示す構成図であり、図５と共通する部分には同一の符号を付けている。
図１において、ＣＰＵ６には、測定時間差演算部６１、同期表示処理部６２、測定データ同期処理部６３、ファイル作成部６４、通常表示処理部６５などが設けられている。メモリ７と表示器８とＩ/Ｏインタフェース９が接続されている。Ｉ/Ｏインタフェース９には、メモリ７と外部記憶装置１０が接続されている。
【００２０】
メモリ７には、多数の測定チャンネル1ｃｈ〜10ｃｈの測定データがそれぞれ格納されるとともに、基準となる測定チャンネル（通常は1ｃｈ目）に対する時間差データＤが格納される。
【００２１】
なお、これら測定データおよび時間差データＤは、必要に応じてＩ/Ｏインタフェース９を介して外部記憶装置１０にも格納されたり、必要に応じてファイル化されてメモリ７や外部記憶装置１０に格納される。
【００２２】
ＣＰＵ６の測定時間差演算部６１は、メモリ７に格納されている図２の時間パラメータテーブルに示すような測定周期の変化に対して非線形で変化する時間パラメータＫとＡの値に基づき、基準となる測定チャンネルに対する各測定チャンネルの時間差データＤを、(1)式で求める。
Ｄ＝Ａ＊（測定チャンネル番号−１）＋Ｋ    (1)
【００２３】
図２に示した時間パラメータＫとＡは、スキャナ２の切換周期だけではなく、各測定チャンネル1ｃｈ〜10ｃｈの測定とＡ／Ｄ変換器４の校正との組み合わせよりなる測定シーケンスも参照して決定されるものであり、測定モジュール（例えばＭＬａ〜ＭＬｃ）毎に異なるものである。これら時間パラメータＫとＡが測定周期の変化に対して非線形で変化する理由として、測定周期によってＡ／Ｄ変換器４の積分時間や測定シーケンスが異なることが考えられる。例えば各測定チャンネル当たりのＡ／Ｄ変換器４の積分時間は、高速測定周期100msecでは2msecに設定され、低速測定周期1secでは20msecに設定される。そして、各測定チャンネルの測定とＡ／Ｄ変換器４の校正の組み合わせよりなる測定シーケンスは、測定周期500msecでは10ch分の測定の間に12回の校正を行い、測定周期1secでは10ch分の測定の間に16回の校正を行うように予め設定されている。
【００２４】
図１のように構成された装置の動作を、図３のフローチャートを用いて説明する。
各測定チャンネルの測定データは、ファイル化しないでそのまま同期表示する場合と、ファイル化してから表示する場合が考えられる。
【００２５】
＜測定データをそのままで同期表示する場合＞
(1)ＣＰＵ６の測定時間差演算部６１は、基準チャンネルに対してその他の各チャンネルがどれだけ遅れているのかの時間差Ｄを演算するために、現在設定されている測定周期に対応した時間パラメータＫとＡを、メモリ７に格納されている図２のテーブルから求める（ステップＳＰ１）。
【００２６】
(2)ＣＰＵ６の測定時間差演算部６１は、(1)で求めた現在設定されている測定周期に対応した時間パラメータＫとＡを用いて、基準チャンネルに対してその他の各チャンネルがどれだけ遅れているのかの時間差Ｄを求めるための前述(1)式の演算を行い、求めた各チャンネルの時間差データＤをメモリ７に格納する。ここで、必要であれば、時間差情報を測定データと一緒にファイルに書き出す（ステップＳＰ２）。
【００２７】
(3)ＣＰＵ６の同期表示処理部６２は、メモリ７に格納された各チャンネルの時間差データＤに基づいて、各チャンネルに同一波形を入力した場合に、全測定チャンネルの測定データに基づく表示器８の表示画面上の表示波形が時間軸上で一致するように、各チャンネル毎に測定データに対してそれぞれの時間差Ｄを補償する同期表示処理を行う。
【００２８】
具体的には、各チャンネルの測定データの表示にあたり、最も時間差Ｄの大きい測定チャンネルの測定データの時間と一致するように、それぞれの時間差データＤに応じた遅延時間を与える。これにより、表示器８には、図４に示すように、各チャンネル間の時間差Ｄが補償された波形が表示される（ステップＳＰ３）。
【００２９】
＜測定データをファイル化してから表示する場合＞
(1)ＣＰＵ６の測定時間差演算部６１は、基準時間に対して基準チャンネルを含む各チャンネルがどれだけ遅れているのかの時間差Ｄを演算するために、現在設定されている測定周期に対応した時間パラメータＫとＡをメモリ７に格納されている図２のテーブルから求める（ステップＳＰ１）。
【００３０】
(2)ＣＰＵ６の測定時間差演算部６１は、(1)で求めた現在設定されている測定周期に対応した時間パラメータＫとＡを用いて、基準チャンネルに対してその他の各チャンネルがどれだけ遅れているかの時間差Ｄを求めるための前述(1)式の演算を行う。ＣＰＵ６のファイル作成部６４は、測定時間差演算部６１で求めた各チャンネルの時間差データＤを記録するデータファイルのヘッダに書き込む（ステップＳＰ２）。
【００３１】
(3)ＣＰＵ６は、メモリ７に格納された各チャンネルの測定データと時間差データＤを読み込む（ステップＳＰ４）。
【００３２】
(4)ＣＰＵ６の測定データ同期処理部６３は、メモリ７から読み込んだ各チャンネルの測定データと時間差データＤに基づき、測定データに対する同期処理を行う（ステップＳＰ５）。
【００３３】
(5)ＣＰＵ６の通常表示処理部６５は、同期処理された測定データを表示器８に入力する（ステップＳＰ６）。
【００３４】
(6)表示器８は、表示のための同期処理を行うことなく、通常の波形表示を行う（ステップＳＰ７）。
【００３５】
これにより、図４に示すように、各チャンネルに同一波形を入力した場合に、全測定チャンネルの測定データに基づく表示器８の表示画面上の表示波形が時間軸上で一致するように、各チャンネル間の時間差Ｄが補償された波形が表示される。
【００３６】
なお、用途によっては、前項の＜測定データはそのままで同期表示する場合＞と同様に、測定データの同期処理は行わずにその時間差を考慮して表示を行うこともできる。
【００３７】
このように従来の測定データと各チャンネル間の時間差を別々に記録しておくことにより、ユーザの好みに合わせて、同期したデータ表示や従来どおりの表示が行える。
【００３８】
以上説明したように、本発明によれば、多数の測定点の測定信号をスキャナを介して共通のＡ／Ｄ変換器に入力するように構成されたスキャンタイプの多点測定装置において、特別な回路の追加なしに測定データの時間的なズレを解消できる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明に関連する部分を示す主要部の構成図である。
【図２】時間パラメータテーブル例図である。
【図３】図１の動作を説明するフローチャートである。
【図４】本発明に基づく表示波形例図である。
【図５】従来の多点測定装置の一例を示す回路図である。
【図６】従来の表示波形例図である。
【符号の説明】
【００４０】
６  ＣＰＵ
７  メモリ
８  表示器
９  Ｉ/Ｏインタフェース
１０  外部記憶装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
2006138661.tif 000005
【図４】
2006138661.tif 000006
【図５】
2006138661.tif 000007
【図６】
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