(57)【要約】【課題】  本発明の課題は、異常の発生した画像処理の位置を素早く且つ精度良く特定できる画像処理解析装置を提供することである。【解決手段】  原稿画像を読み取る画像読取手段３と、画像読取手段３で読み取った画像データに各処理を施す画像処理手段５と、画像処理を施した画像データを記憶する画像記憶手段７と、画像記憶手段７に記憶された画像データを出力する画像出力手段９と、テストパターンデータを生成するテストパターン生成手段１１と比較手段１５とを備え、画像処理手段５で処理されたテストパターンデータの処理データと画像出力手段９で出力されたテストパターンデータとを比較手段１５で比較し、異常画像の原因となる画像処理の位置を特定するようにしている。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
原稿画像を読み取る画像読取手段と、画像読取手段で読み取った画像データに各処理を施す画像処理手段と、画像処理を施した画像データを記憶する画像記憶手段と、画像記憶手段に記憶された画像データを出力する画像出力手段と、テストパターンデータを生成するテストパターン生成手段と比較手段とを備え、画像処理手段は画像読取手段で読み取ったテストパターンに各処理を施しており、画像処理手段で処理されたテストパターンデータの処理データと画像出力手段で出力されたテストパターンデータとを比較手段で比較し、異常画像の原因となる画像処理の位置を特定することを特徴とする画像処理解析装置。
【請求項２】
異常画像の原因となる画像処理の位置を特定した場合に、特定した位置で画像処理の実行を停止させて処理プログラムを修正することを特徴とする請求項１に記載の画像処理解析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複写機、プリンタ、ファクシミリ装置等の画像形成装置における画像処理の解析を行う画像処理解析装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、入力した画像データを記憶して画像処理を行う装置においては、複数の演算レジスタを持つプロセッサで入力画像データを演算し、メモリに記憶して画像処理を行っている。そして、画像処理をした結果、期待する結果と異なる結果が発生した場合、画像データの座標位置を専用のビューアを用いて求めている。
【０００３】
一方、特許文献１に記載の従来技術は、入力した画像データを記憶して画像処理を行う画像処理装置において、予め記憶されたテストパターンと入力した画像データとを比較することで、異常画像の原因が画像処理の回路構成に異常があるのか、それとも画像処理の後処理であるプリンタ側の回路構成に異常があるのかを特定している。
【０００４】
【特許文献１】特開平１１−１４３３０６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上述の特許文献１に記載の従来技術は、異常画像の原因が画像処理の回路構成か、プリンタ側の回路構成かを特定できるが、どの画像処理に異常があるのかを具体的に特定することは困難であった。また、画像データの座標位置を専用のビューアを用いた場合には、実行プログラム処理よりデータ単位、主走査の回数、副走査の回数を求めているので、どの画像処理に異常があるのかを特定するのに時間がかかると共に、間違い易いという問題がある。
【０００６】
本発明は、異常の発生した画像処理の位置を素早く且つ精度良く特定できる画像処理解析装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記課題を解決するために、請求項１に記載された発明は、原稿画像を読み取る画像読取手段と、画像読取手段で読み取った画像データに各処理を施す画像処理手段と、画像処理を施した画像データを記憶する画像記憶手段と、画像記憶手段に記憶された画像データを出力する画像出力手段と、テストパターンデータを生成するテストパターン生成手段と比較手段とを備え、画像処理手段は画像読取手段で読み取ったテストパターンに各処理を施しており、画像処理手段で処理されたテストパターンデータの処理データと画像出力手段で出力されたテストパターンデータとを比較手段で比較し、異常画像の原因となる画像処理の位置を特定することを特徴とする。尚、画像処理手段の各処理とは変倍、色補正等をいう。
【０００８】
請求項２に記載された発明は、請求項１に記載の発明において、異常画像の原因となる画像処理の位置を特定した場合に、特定した位置で画像処理の実行を停止させて処理プログラムを修正することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００９】
請求項１に記載の発明によれば、画像処理手段で処理されたテストパターンデータの処理データと画像出力手段で出力されたテストパターンデータとを比較し、異常画像の原因となる画像処理の位置を特定するので、従来技術のように、専用の画像ビューアを用いて座標を求める必要がなく、異常の発生した画像処理の位置を素早く且つ精度良く特定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、図面を参照しながら本発明の一実施形態について説明する。図１は本発明の第１実施形態に係る画像処理解析装置の画像処理の流れを概略的に示す図であり、異常画像が出力された状態を示す構成図、図２はテストパターンの例を示す説明図、図３はテストパターンを入力したときの画像処理の流れを概略的に示す構成図、図４は画像処理を行った際のプロセッサ情報を示す図、図５は本発明の第１実施形態に係る画像処理解析装置の制御ブロック図である。
【００１１】
図５に示すように、第１実施の形態に係る画像処理解析装置１は、ターゲット側のテスト機２０として原稿を読み取る画像読取手段３と、画像読取手段３で読み取った画像データに各処理を施す複数の画像処理手段５と、画像処理を施した画像データを記憶する画像記憶手段７と、画像記憶手段７に記憶された画像データを出力する画像出力手段９と、テストパターンデータを生成するテストパターン生成手段１１と、システム全体の制御をつかさどる中央演算処理装置（ＣＰＵ）１３とを備えている。ＣＰＵ１３はホストコンピュータ１４内のデバッガ（比較手段）１５に接続されている。
【００１２】
画像処理手段（レジスタ）５は画像読取手段３で読み取った入力画像の画像データを、任意の長さを有するデータブロックごとに各レジスタ５ａ〜５ｃで演算処理するようになっている。各レジスタ５ａ〜５ｃで演算処理された画像データは画像出力手段９により出力画像２３として出力するようになっている。尚、レジスタ５ａ〜５ｃで行う処理とは変倍、色補正等をいう。
【００１３】
テストパターン生成手段１１は、入力画像２１と同じサイズのテストパターン１０を生成するようになっており、テストパターン１０は図２に示すような位置情報データとして保存されている。また、テストパターン１０は複数のテストパターン１０ａ〜１０ｄを生成するようになっており、走査方向に沿って複数のラインを有するテストパターン１０ａや副走査方向に沿って複数のラインを有するテストパターン１０ｂ等の目的に応じたテストパターン１０を生成できるようになっている。テストパターン１０は画像処理手段５で各処理を施すようになっている。尚、各テストパターン１０は、ＣＰＵ１３からの切換制御により所望のパターンが出力されるようになっている。
【００１４】
次に、第１実施の形態に係る画像処理解析装置１の作用について説明する。図１及び図５に示すように、画像読取手段３で読み取った入力画像２１の画像データは、データブロックごとに各レジスタ５ａ〜５ｃで演算処理され（処理Ａ〜処理Ｄ）、演算処理された画像データは画像出力手段９により、出力画像２３として出力される。出力画像２３に異常があった場合、図３に示すように入力画像２１と同じサイズのテストパターン１０を発生させ、テストパターンデータを各レジスタ５а〜５ｃに入力させる。各レジスタ５ａ〜５ｃで演算処理された（処理Ａ〜処理Ｄ）テストパターンデータの情報は、任意の位置でブレークしてホストコンピュータ１４のデバッガ１５にダウンロードされる。尚、入力画像２１と同じサイズのテストパターン１０を実行する場合、プロセッサ内部のレジスタ情報、メモリ情報等の比較を容易にするため、実行する画像処理はスルーのプログラムに切り換えて実行する場合もある。
【００１５】
ホストコンピュータ１４のデバッガ１５においては、処理Ｘでブレークした時のレジスタ情報、メモリ情報、及びパラメータ情報を、処理Ｘ単位に用いた位置情報パターンを元に画像データ順にソートし、処理ｎ（処理Ｂ〜処理Ｄ）におけるプロセッサ情報１６を生成する。この場合、テストパターン１０の任意の画像位置を指定すると、プロセッサ情報１６内でのデータ位置を特定でき、かかる位置でのレジスタ情報、メモリ情報、主走査回数や副走査回数等のパラメータ情報等の情報を取得することができる。逆に、プロセッサ情報１６のデータ位置を指定すると、テストパターン１０の画像位置を特定することができる。
【００１６】
さらに、テストパターン１０の出力画像データの任意の画像位置を指定すると、プロセッサ情報１６内のデータ位置を特定でき、かかる位置でのレジスタ情報、メモリ情報、主走査回数や副走査回数等のパラメータ情報等の情報を取得することができる。反対にプロセッサ情報１６の位置を指定すると、テストパターン１０の出力画像データの位置を特定することができる。
【００１７】
本実施の形態においては、画像処理手段５で処理されたテストパターンデータの処理データと画像出力手段９で出力されたテストパターンデータとを比較し、異常画像の原因となる画像処理の位置を特定するので、従来技術のように、専用の画像ビューアを用いて座標を求める必要がなく、異常の発生した画像処理の位置を素早く且つ精度良く特定することができる。
【００１８】
次に、他の実施の形態を説明するが、その説明にあたり上述した部分と同一の作用効果を奏する部分には、同一の符号を付することにより、その部分の詳細な説明を省略し、以下の説明では、主に第１実施の形態と異なる点を説明する。
【００１９】
入力画像データ及びテストパターンデータを各レジスタ５а〜５ｃに入力して演算処理し、処理ｎ（処理Ｂ〜処理Ｄ）におけるプロセッサ情報１６を生成する。入力画像２１と入力画像と同サイズのテストパターン１０、及び出力画像２３と出力画像と同サイズのテストパターン１２はそれぞれ同じ処理プログラムを実行した結果において、プロセッサ情報１６のデータ位置は一致する。出力画像２３の異常発生位置とテストパターン１２の出力画像位置は一致するので、テストパターン１２の出力画像の位置情報から処理ｎにおけるプロセッサ情報１６の位置情報を検索して、一致する箇所のパラメータ情報を取得する。
【００２０】
出力画像２１の異常個所に該当するプロセッサ情報１６のパラメータ情報をデバッガ１５での比較条件とする。入力画像２１をプロセッサに入力して、画像処理プログラムを実行させると、ホストコンピュータ１４のデバッガ１５は画像処理プログラムの任意位置で停止してプロセッサ情報１６内のレジスタ情報、メモリ情報を取得し、先に設定された比較条件と比較して両者のプロセッサ情報１６が一致すると停止する。このように、出力画像に異常個所があった場合には、該当するプログラム実行箇所で停止することで、出力画像２３の異常個所をすぐに発見してプログラムを修正することができる。
【００２１】
尚、本発明は上述した実施の形態に限定されず、その要旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能である。ブレーク方法は出力画像の異常個所に該当するプロセッサ情報１６のパラメータをイベント条件としてブレーク回路に設定してブレークする方法でも良い。また、パラメータが複数ある場合は第１条件成立後、第２条件成立後、第ｎ条件成立後のように、連続した条件の停止回路を持った回路でブレークする方法でも良い。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】本発明の第１実施形態に係る画像処理解析装置の画像処理の流れを概略的に示す図である。
【図２】テストパターンの例を示す図である。
【図３】テストパターンを入力した状態における画像処理の流れを概略的に示す図である。
【図４】画像処理を行った際のプロセッサ情報を示す図である。
【図５】本発明の第１実施形態に係る画像処理解析装置の制御ブロック図である。
【図６】本発明の第２実施形態に係る画像処理解析装置を示す図であり、原稿画像及びテストパターンを入力した状態における画像処理の流れを概略的に示す図である。
【図７】図６に係る画像処理解析装置において、画像処理を行った際のプロセッサ情報を示す図である。
【符号の説明】
【００２３】
１        画像処理解析装置
３        画像読取手段
５        画像処理手段
７        画像記憶手段
９        画像出力手段
１０      テストパターン
１１      テストパターン生成手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
2006115367.tif 000008
【図７】
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