(57)【要約】【課題】  非点収差方式によってフォーカス誤差信号を検出する光学系構成において、安定なフォーカス誤差信号を検出でき、小型化と低価格化の全てを満足する事が出来る光学系構成を実現するための技術を開示する。【解決手段】  上記課題を解決するため、本発明は、光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源と、前記レーザ光源から照射された光ビームを前記光ディスクに集光する対物レンズと、前記光ディスクで反射された光ビームを検出する光検出器と、を備える。前記レーザ光源と前記光検出器は、前記光ディスクの接線方向に対してほぼ平行に配置され、前記レーザ光源、対物レンズ及び光検出器は、フォーカス制御及びトラッキング制御を行う場合に一体に駆動される。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源と、
前記レーザ光源から照射された光ビームを前記光ディスクに集光する対物レンズと、
前記光ディスクで反射された光ビームを検出する光検出器と、を備え、
前記レーザ光源と前記光検出器は、前記光ディスクの接線方向に対してほぼ平行に配置され、
前記レーザ光源、対物レンズ及び光検出器は、フォーカス制御及びトラッキング制御を行う場合に一体に駆動されることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項２】
光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源と、
前記レーザ光源から照射された光ビームを前記光ディスクに集光する対物レンズと、
前記光ディスクで反射された光ビームを検出する光検出器と、
前記レーザ光源から照射されたレーザ光を対物レンズに導き、また、前記光ディスクで反射された光ビームを光検出器に導く光束分離素子と、を備え、
前記レーザ光は、前記レーザ光源から前記光ディスクの記録面とほぼ平行に照射され、
前記光束分離素子は、前記光ディスクの記録面にほぼ垂直に入射するように前記レーザ光を前記対物レンズに導き、また、前記光ディスクで反射された光ビームを透過して前記光検出器に導き、
前記レーザ光源、対物レンズ、光束分離素子及び光検出器は、フォーカス制御及びトラッキング制御を行う場合に一体に駆動されることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項３】
請求項１又は２記載の光ピックアップにおいて、
前記レーザ光源、対物レンズ、光束分離素子及び光検出器は一体のユニットとして構成され、前記ユニットを駆動することによりフォーカス制御及びトラッキング制御を行うことを特徴とする光ピックアップ。
【請求項４】
請求項１又は２記載の光ピックアップにおいて、
前記光束分離素子は、前記対物レンズ側の面は平面、前記光検出器側の面は曲面として構成されていることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項５】
請求項４記載の光ピックアップにおいて、
前記光束分離素子の前記光検出器側の面は、ほぼトロイダル面として構成されていることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項６】
請求項４記載の光ピックアップにおいて、
前記光束分離素子は、前記レーザ光が透過する際に発生する非点収差の方向を、前記光ディスクの半径方向に対してほぼ４５度にすることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項７】
請求項１又は２記載の光ピックアップにおいて、
前記検出器の受光面は四辺形であって、前記受光面の１つの対角線は前記光ディスクの半径方向にほぼ平行であり、他の対角線は前記光ディスクの対角線は前記光ディスクの接線方向にほぼ平行であることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項８】
請求項１又は２記載の光ピックアップにおいて、
前記レーザ光源から前記光束分離素子を経て対物レンズに至る前記レーザ光の光路長は、フォーカス制御及びトラッキング制御を行う場合に一定であることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項９】
請求項１又は２記載の光ピックアップにおいて、
前記レーザ光源から前記光束分離素子及び前記対物レンズを経て前記光ディスクに至る前記レーザ光の光路長は、前記レーザ光のコヒーレント長L及びL／２の整数倍とならないことを特徴とする光ピックアップ。
【請求項１０】
請求項９記載の光ピックアップにおいて、
前記コヒーレント長Lは、レーザ光の共振器長に共振器内部の屈折率を掛けた値であることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項１１】
光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源と、
前記レーザ光源から照射された光ビームを前記光ディスクに集光する対物レンズと、
前記光ディスクで反射された光ビームを検出する光検出器と、
前記レーザ光源から照射されたレーザ光を対物レンズに導き、また、前記光ディスクで反射された光ビームを光検出器に導く光束分離素子と、を備え、
前記光束分離素子は、前記レーザ光が透過する際に発生する非点収差の方向を、前記光ディスクの半径方向に対してほぼ４５度にすることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項１２】
請求項１１記載の光ピックアップにおいて、
前記対物レンズ側の面は平面、前記光検出器側の面は曲面として構成されていることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項１３】
請求項１２記載の光ピックアップにおいて、
前記光束分離素子の前記光検出器側の面は、ほぼトロイダル面であることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項１４】
請求項１１記載の光ピックアップにおいて、
前記光束分離素子は、樹脂材料によって構成されていることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項１５】
請求項１、２又は１１記載の光ピックアップにおいて、
波長の異なる複数のレーザ光源を搭載することを特徴とする光ピックアップ。
【請求項１６】
請求項１５記載の光ピックアップにおいて、
前記複数のレーザ光源は、波長の異なる複数のレーザ光を照射するレーザチップ又は波長の異なるレーザ光を照射する複数のレーザチップであることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項１７】
請求項１、２又は１１記載の光ピックアップにおいて、
前記対物レンズは有限系の対物レンズである事を特徴とする光ピックアップ。
【請求項１８】
請求項１、２又は１１記載の光ピックアップと、
前記光ピックアップで検出された信号を用いてフォーカス制御及びトラッキング制御を行うサーボ駆動部と、
前記光ピックアップで検出された信号を用いて前記光ディスクに記録された情報を再生する信号再生回路と、
を備えることを特徴とする光学的情報再生装置。
【請求項１９】
請求項１、２又は１１記載の光ピックアップと、
前記光ピックアップで検出された信号を用いてフォーカス制御及びトラッキング制御を行うサーボ駆動部と、
前記光ピックアップを用いて前記光ディスクに情報を記録する信号記録回路と、
を備えることを特徴とする光学的情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ピックアップ、その光ピックアップを搭載した光学的情報再生装置または光学的情報記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ピックアップの一般的な構成として、例えば特許文献１に記載されているように、光ディスクを反射した戻り光がビームスプリッタを通過する際に発生する非点収差を利用してフォーカス誤差信号を検出する構成が提案されている。
【０００３】
また、光学的に安定した信号を得るために、例えば非特許文献１に記載されているように、光ディスクを再生又は記録する際に、対物レンズだけでなく光学系全体一体で駆動する光ピックアップが提案されている。
【０００４】
【特許文献１】特開平５−２５８３３９号公報
【非特許文献１】信学技報 Technical Report of IEICE. CPM2004-85 (2004-09) P17-22
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記の従来技術のように光学系全体を一体で駆動する場合には様様な技術的課題を解決しなければならない。
【０００６】
例えば、光学系全体を一体で駆動する場合には、駆動対象が対物レンズだけの場合と比較して大型化、重量化するため、アクチュエータによる駆動負担が著しく増加し、放熱性、省電力化等の観点から駆動対象を出来るだけ小型化、軽量化しなければならない。即ち、光学系に使用される部品、部材の配置を工夫し、或いは一部の部品、部材を省略等することにより、小型化、軽量化を図ることが必要である。
【０００７】
また、駆動対象が大型化すると、駆動対象が移動する空間をより大きく確保しなければならないため装置小型化を阻害することになる。
【０００８】
さらに、光ピックアップでは半導体レーザの戻り光ノイズを抑制するために、半導体レーザの発光点から光ディスクの反射面までの光路長を所定条件を満たすようにする必要がある。
【０００９】
そこで、本発明は、上記課題を解決し、より信頼性の高い光ピックアップ、この光ピックアップを搭載した光学的情報再生装置または光学的情報記録装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、上記課題を解決するため、光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源と、前記レーザ光源から照射された光ビームを前記光ディスクに集光する対物レンズと、前記光ディスクで反射された光ビームを検出する光検出器と、を備える。前記レーザ光源と前記光検出器は、前記光ディスクの接線方向に対してほぼ平行に配置され、前記レーザ光源、対物レンズ及び光検出器は、フォーカス制御及びトラッキング制御を行う場合に一体に駆動される。
【００１１】
また、光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源と、前記レーザ光源から照射された光ビームを前記光ディスクに集光する対物レンズと、前記光ディスクで反射された光ビームを検出する光検出器と、前記レーザ光源から照射されたレーザ光を対物レンズに導き、また、前記光ディスクで反射された光ビームを光検出器に導く光束分離素子と、を備える。前記レーザ光は、前記レーザ光源から前記光ディスクの記録面とほぼ平行に照射され、前記光束分離素子は、前記光ディスクの記録面にほぼ垂直に入射するように前記レーザ光を前記対物レンズに導き、また、前記光ディスクで反射された光ビームを透過して前記光検出器に導き、前記レーザ光源、対物レンズ、光束分離素子及び光検出器は、フォーカス制御及びトラッキング制御を行う場合に一体に駆動される。
【００１２】
また、光ディスクにレーザ光を照射するレーザ光源と、前記レーザ光源から照射された光ビームを前記光ディスクに集光する対物レンズと、前記光ディスクで反射された光ビームを検出する光検出器と、前記レーザ光源から照射されたレーザ光を対物レンズに導き、また、前記光ディスクで反射された光ビームを光検出器に導く光束分離素子と、を備える。前記光束分離素子は、前記レーザ光が透過する際に発生する非点収差の方向を、前記光ディスクの半径方向に対してほぼ４５度にする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、信頼性の高い光ピックアップ、この光ピックアップを搭載した光学的情報再生装置または光学的情報記録装置を提供することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
本発明を実施するための実施の形態について、以下、説明する。
【実施例１】
【００１５】
まず、本発明の実施の形態について説明する前に、比較のために従来の手法を簡単に説明する。
【００１６】
図２は、光学部品を垂直に並べる事で立上げミラーを省略し、低コスト化を図った光ピックアップ装置である。図２に示す光学系構成では、半導体レーザ１を出射した光ビームがビームスプリッタ２に到達するまでの光軸の向きを光ディスク１００上に投影した場合、その角度は図中においてαで示すように、光ディスク上の集光位置における接線方向（以下、便宜上、Ｔａｎ方向と述べる。）ならびに半径方向（以下、便宜上、Ｒａｄ方向と述べる。）に対して略４５度となるように平行平板のビームスプリッタ２を傾かせて配置している。また光検出器７内の４分割受光面（８ａ、８ｂ、８ｃ、８ｄ）の分割線の向きは、光ディスクからの戻り光がビームスプリッタ２を透過する際に発生する非点収差の向きを考慮した向きにしており、図２に示すように受光面上に投影したＴａｎ方向またはＲａｄ方向に略一致するように配置している。このように分割線を配置すると、デフォーカス時の受光面上における焦線の発生の様子は例えば合焦状態は図３（ａ）、合焦状態に比べて対物レンズ５が光ディスク１００に近い状態は図３（ｂ）、合焦状態に比べて対物レンズ５が光ディスク１００から遠い状態は図３（ｃ）のように表せるので、非点収差方式によってフォーカス誤差信号を検出することができる。
【００１７】
ここで一般に非点収差方式によってフォーカス誤差信号を検出する場合、受光面の分割線の向きは安定なサーボ信号を検出する上で重要な要素となる。というのも光ディスク上に集光したスポットがピット列やディスク案内溝を横断すると、その際に発生する回折光によって受光面上のスポット２００には符号２０１ａ、２０１ｂに示すように干渉パターンが生じ、それに伴う光量変化がフォーカス誤差信号に外乱として漏れ込むからである。
【００１８】
またその漏れ込み量は、干渉パターン２０１ａと２０１ｂを結ぶ線の方向（図２においてはＴａｎ方向）とそれに垂直な方向（図２においてはＲａｄ方向）のそれぞれに対して４分割受光面の分割線の向きがずれると、その量に応じて漏れ込み量が大きくなる。そのため、仮に図４に示すように半導体レーザ１から出射した光ビームがビームスプリッタ２に向かう際の光軸がＴａｎ方向に略一致するように平行平板のビームスプリッタ２を配置すると、受光面上の焦線の向きを考慮した場合、４分割受光面（８ｅ、８ｆ、８ｇ、８ｈ）の分割線の向きはＴａｎ方向ならびにＲａｄ方向に一致させる事ができず、前述したような漏れ込み量を減らす向きとは異なる向きに配置せざるを得なくなる。ゆえに図４に示すような部品の取り付けの場合は、２０１ａ、２０１ｂで表す干渉パターンがフォーカス誤差信号に漏れ込み、安定なサーボ信号を検出できなくなる。
【００１９】
一方、図５（ａ）は図２における受光面と半導体レーザ１の位置関係を、図５（ｂ）は図４における受光面と半導体レーザ１の位置関係を光ディスク１００の真上から見たものであるが、図５（ａ）ではサーボ信号の安定性の観点から光軸を図中においてαで示すように略４５度傾かせて入射しているため、光学部品の配置面積は図５（ｂ）に比べて大きくなってしまい、光ピックアップ装置の小型化の観点からは不利となる。これを解決するために、例えば図６に表すように非点収差を発生させる光学部品としてシリンドリカルレンズ６などを追加する方法がある。
【００２０】
しかしながら図６に示すような配置にすると安定なサーボ信号が検出でき、また光ピックアップ装置が小型化できる利点がある一方で、図２に示す光ピックアップ装置に比べてシリンドリカルレンズ６が増えた分だけ価格の観点からは不利となる。つまり、安定なサーボ信号が検出でき、小型化と低価格化をも満足する光学系構成を実現することができない。そのため、本発明の実施の形態では、図１に示す構成の光ピックアップとする。以下、詳細に説明する。
【００２１】
図１は本発明の光ピックアップ装置に関する第１の実施例を示したものである。
【００２２】
半導体レーザ１から出射した光ビームはビームスプリッタ３を反射し、有限系の対物レンズ５によって光ディスク１００の情報記録面上に集光される。また光ディスク１００に集光した光ビームの反射光は、往路と逆の経路をたどって対物レンズ５を経てビームスプリッタ３を透過し、光検出器７内の４分割受光面（８ａ、８ｂ、８ｃ、８ｄ）に集光する構成となっている。
【００２３】
本実施例では半導体レーザ１から出射した光ビームがビームスプリッタ３に向かう際、その光軸の向きはＴａｎ方向に略一致するようにビームスプリッタ３の反射面を設定している。また光ディスク１００を反射した光ビームがビームスプリッタ３を透過する際に発生する非点収差の方向は、例えばデフォーカス時における受光面上の焦線の方向が図３に示すようにＲａｄ方向に対して略４５度となるようにビームスプリッタ３の形状を設定している。
【００２４】
上記を実現するため本実施例では、光ディスク１００を反射した光ビームが４分割受光面に入射する際に透過するビームスプリッタ３の対物レンズ側の透過面を第１面、光検出器側の透過面を第２面とすると、第１面は平面であり第２面はトロイダル面である事を特徴としている。なおトロイダル面は一般に公知の面なので詳細については略すが、簡単に説明すると例えば図７に示すように符号２０で表すような曲率半径Ｒ１の円弧を、その円弧と同一面内（ＸＹ面内）にあって円弧の曲率中心からＲ２離れた軸（例えば符号２１）の回りに回転させて得られる面のことを言う。よってＲ２の大きさを無限大にするとシリンドリカル面となるため、シリンドリカル面はトロイダル面に含まれる事になる。
【００２５】
ここでＸＹ面内の曲率半径Ｒ１とＸＺ面内の曲率半径Ｒ２を異なるように設定すれば、対称性を考えるとトロイダル面を透過した光ビームには非点収差が発生することがわかる。よって本実施例では第２面を所定の形状のトロイダル面とすることで、光ディスク１００を反射した光ビームがビームスプリッタ３を透過する際に発生する非点収差の方向を、例えばＲａｄ方向に対して略４５度となるようにしている。なお第１面と第２面の傾きは図８（ａ）に示すように互いに平行であっても良く、また図８（ｂ）に示すように楔型のように互いに異なっていても一向に構わない。
【００２６】
このように非点収差の向きをＲａｄ方向に対して略４５度となるように設定する事で、受光面上における干渉パターンは図２の場合と同様に略９０度回転するので、４分割受光面の分割線の向きを前述した漏れ込み量が減る向きに略一致させることができる。
【００２７】
以上述べたように、本実施例では新たに光学部品を追加することなく、ビームスプリッタ３の第２面をトロイダル面とするだけなので、従来と同様に安定なサーボ信号が検出できるとともに、従来に比べて小型化と低価格化を同時に満足する事が出来る。なおトロイダル面のような形状を実現するために、例えばビームスプリッタ３はＰＭＭＡやオレフィン系の樹脂材料によって構成されていても良いものとする。これによりビームスプリッタ自体の低コスト化が可能である。
【００２８】
ところで本実施例では半導体レーザ１から出射した光ビームがビームスプリッタ３に向かう際、その光軸の向きはＴａｎ方向に略一致するように設定しているが本発明はこれに限定されるものではなく、例えば光軸の向きがＲａｄ方向に略一致するようにビームスプリッタ３の反射面を設定しても良い。この場合もビームスプリッタ３の第２面を所定のトロイダル面とすることで、光ディスク１００を反射した光ビームがビームスプリッタ３を透過する際に発生する非点収差の方向をＲａｄ方向に対して略４５度となるよう設定可能である。
【００２９】
また本実施例においてビームスプリッタ３の第２面はトロイダル面としてきたが、ビームスプリッタ３を透過する際に発生する非点収差の方向がＲａｄ方向に対して略４５度となるならば、どのような曲面であっても構わないものとする。
【実施例２】
【００３０】
続いて図９は第２の実施例を示したものである。図９（ａ）に示すように第１の実施例にて説明した半導体レーザ１、ビームスプリッタ３、対物レンズ５、光検出器７は、ホルダ３０にて同一の筐体内に組み込まれていることを特徴としている。
【００３１】
また図９（ｂ）に示すようにホルダ３０は、磁気回路３１にて構成されるアクチュエータによってフォーカス方向ならびにトラッキング方向に駆動するよう設定されている。このようにホルダ３０内の光学部品がアクチュエータによって一体で駆動するため、本実施例では例えばシーク時において対物レンズ位置が移動しても受光面上におけるスポット位置が変動しないことから、トラッキング誤差信号が劣化しない利点がある。
【００３２】
ところで図１ならびに図９にて示した第１の実施例ならびに第２の実施例において、半導体レーザ１は互いに発振波長の異なる２つのレーザチップを同一パッケージ内に収納した半導体レーザ、あるいは発振波長の異なる２種類の光ビームを出射可能なレーザチップを収納した半導体レーザであっても構わない。この場合、各々のレーザチップから出射する光ビームを検出するため、４分割受光面の代わりに例えば図１０（ａ）に示すように４分割受光面を２つ並べたパターンの受光面を用いればよい。さらに受光面パターンは図１０（ａ）に限定されるものではなく、例えば図１１のように半導体レーザ１の直後に３ビーム生成用の回折格子２を搭載した光学系構成であっても良く、この場合は３ビームに対応した受光面パターンとして図１０（ｂ）（ｃ）ならびに図１２に示す受光面パターンとしても一向に構わない。
【００３３】
ところで、光ディスクからの反射光の一部はビームスプリッタを反射して半導体レーザに戻るが、半導体レーザへの戻り光は半導体レーザの光出力を不安定にする要因となる。このように半導体レーザへの戻り光によって光出力を不安定にする現象を戻り光ノイズと呼ぶ。
【００３４】
一般に戻り光ノイズは、半導体レーザの共振器長に共振器内部の屈折率を掛けた値（便宜上、コヒーレント長と呼ぶ）をＬとすると、半導体レーザの発光点から光ディスク反射面までの光路長がＬの整数倍に等しい場合、半導体レーザの発光点から光ディスク反射面までが外部共振器として働くため、戻り光ノイズが増大する事が知られている。さらに共振モードは基本モードのみならず、高次の共振モードも存在するため、例えば２倍の周波数の共振モードを考慮すると、半導体レーザの発光点から光ディスク反射面までの光路長がＬ／２の整数倍に等しい場合も同様に戻り光ノイズが増える事が考えられる。そのため光ピックアップ装置の設計の際には、戻り光ノイズを抑制するために、再生時または記録時において半導体レーザの発光点から光ディスク反射面までの光路長をＬまたはＬ／２の整数倍とならないように設定する必要がある。
【００３５】
しかしながらフォーカス方向の制御に関して、対物レンズ単体のみを駆動する方式の場合、再生時または記録時において光ディスクに面振れが発生すると、それに追従して対物レンズのみがフォーカス方向に変位するため、半導体レーザの発光点から光ディスク反射面までの光路長は面振れ量に伴って変動してしまう。
【００３６】
また光ディスクの面振れ量は制御できないパラメータであるため、面振れ量を考慮すると、戻り光ノイズを抑制した光ピックアップ装置の光路長の設計は非常に困難となる。
【００３７】
一方、図９に示すように半導体レーザ１、ビームスプリッタ３、対物レンズ５、光検出器７をホルダ３０によって同一の筐体内に組み込んで、一体でフォーカス方向に駆動する構成とすると、光ディスクに面振れが発生しても再生時または記録時においては半導体レーザの発光点から光ディスク反射面までの光路長を常に一定にできる。つまり、対物レンズのみを駆動する場合は、ディスク面振れが発生すると、再生時又は記録時においてピックアップの光路長が逐次変わるためコヒーレント長の整数倍を避けることは困難であるが、一体駆動の場合には、基本的にピックアップの光路長が不変のため、コヒーレント長の整数倍を避けてレーザノイズを低減することができる。よって戻り光ノイズを抑制した光ピックアップ装置の光路長の設計が容易となる特徴を持つ。本実施例では再生時または記録時において半導体レーザの発光点から光ディスク反射面までの光路長をＬまたはＬ／２の整数倍から避ける設定としている。
【実施例３】
【００３８】
最後に、上述した光ピックアップ装置を搭載した光学的情報記録再生装置ならびに光学的情報再生装置に関する実施例を図１３に示す。符号７０は例えば図９（ｂ）に示すような構成を有する光ピックアップ装置である。なお、この光ピックアップ装置７０には、光ディスク１００の半径方向に位置をスライドできる機構が設けられており、アクセス制御回路７２からのアクセス制御信号に応じて位置制御がおこなわれる。
【００３９】
レーザ点灯回路７７からは所定のレーザ駆動電流が光ピックアップ装置７０内の半導体レーザに供給され、再生または記録に応じて所定の光量でレーザ光が出射する。なおレーザ点灯回路７７は光ピックアップ装置７０の中に組み込まれていても良い。
【００４０】
光ピックアップ装置７０内の光検出器から検出された信号は、サーボ信号生成回路７４及び情報信号再生回路７５に送られる。サーボ信号生成回路７４では、これら検出信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号が生成され、これを基にアクチュエータ駆動回路７３を経て光ピックアップ装置７０内のアクチュエータを駆動することにより対物レンズの位置制御がおこなわれる。また情報信号再生回路７５では前記検出信号から光ディスク１００に記録された情報信号が再生される。
【００４１】
なお前記サーボ信号生成回路７４及び情報信号再生回路７５で得られた信号の一部はコントロール回路７６に送られる。このコントロール回路７６にはレーザ点灯回路７７、アクセス制御回路７２、アクチュエータ駆動回路７３、スピンドルモータ駆動回路７１などが接続されており、それぞれ光ピックアップ装置７０内の半導体レーザ発光光量の制御、アクセス方向および位置の制御、光ディスク１００を回転させるスピンドルモータ６０の回転制御等が行われる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】本発明の光ピックアップ装置に関する第１の実施例を表した図
【図２】従来の光ピックアップ装置を表した図
【図３】受光面上に集光するスポットを表した図
【図４】従来の光ピックアップ装置の別の形態を表した図
【図５】光学部品の設置面積を表した図
【図６】従来の光ピックアップ装置の別の形態を表した図
【図７】トロイダル面の定義を表した図
【図８】本発明の実施例におけるビームスプリッタの形状を表した図
【図９】本発明の実施例における光ピックアップ装置に関する第２の実施例を表した図
【図１０】本発明の実施例における受光面パターンを表した図
【図１１】本発明の実施例における光ピックアップ装置に関する別の形態を表した図
【図１２】本発明の実施例における受光面パターンの別の形態を表した図
【図１３】本発明の実施例における光学的情報記録再生装置ならびに光学的情報再生装置を表した図
【符号の説明】
【００４３】
１・・・半導体レーザ、２・・・回折格子、３・・・ビームスプリッタ、５・・・対物レンズ、７・・・４分割受光面、８ａ、８ｂ、８ｃ、８ｄ・・・受光面、８ｅ、８ｆ、８ｇ、８ｈ・・・受光面、２０・・・円弧、２１・・・軸、３０・・・ホルダ、３１・・・磁気回路、３２・・・光ピックアップ装置の土台、６０・・・スピンドルモータ、７０・・・光ピックアップ装置、７１・・・スピンドルモータ駆動回路、７２・・・アクセス制御回路、７３・・・アクチュエータ駆動回路、７４・・・サーボ信号生成回路、７５・・・情報信号再生回路、７６・・・コントロール回路、７７・・・レーザ点灯回路、１００・・・光ディスク、２００・・・受光面上スポット、２０１ａ、２０１ｂ・・・干渉パターン。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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