(57)【要約】【課題】  データベースに格納されたテスト情報に短時間でアクセス可能な、且つテスト仕様の変更が容易なテスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラムを提供する。【解決手段】  情報の種類毎に、共通フォーマットの複数の情報ファイルを格納するデータベース３０と、共通フォーマットのデータをオリジナルフォーマットのデータに変換するリードインタフェース１７１と、リードインタフェース１７１を介して取得した複数の情報ファイルの情報に基づき、オリジナルフォーマットのテストデータを作成するテストデータ作成部２と、オリジナルフォーマットのデータを共通フォーマットのデータに変換するライトインタフェース１７２と、オリジナルフォーマットのテストデータから情報の種類毎に抽出した複数の情報を、ライトインタフェース１７２を介して、複数の情報ファイルにそれぞれ書き込む情報ファイル書き込み部３とを備える。【選択図】      図１
2006092466.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
情報の種類毎に、共通フォーマットの複数の情報ファイルを格納するデータベースと、
前記共通フォーマットのデータをオリジナルフォーマットのデータに変換するリードインタフェースと、
前記リードインタフェースを介して取得した前記複数の情報ファイルの情報に基づき、前記オリジナルフォーマットのテストデータを作成するテストデータ作成部と、
前記オリジナルフォーマットのデータを前記共通フォーマットのデータに変換するライトインタフェースと、
前記オリジナルフォーマットのテストデータから情報の種類毎に抽出した複数の情報を、前記ライトインタフェースを介して、前記複数の情報ファイルにそれぞれ書き込む情報ファイル書き込み部
とを備えることを特徴とするテスト情報処理システム。
【請求項２】
取得部が、複数の情報ファイルの１つから、作成対象のテストデータにより実行される処理手順を規定する実行フロー情報をオリジナルフォーマットに変換して取得するステップと、
前記取得部が、前記複数の情報ファイルの１つから、前記テストデータにより実行される処理で使用される詳細情報を前記オリジナルフォーマットに変換して取得するステップと、
作成部が、前記取得された詳細情報を前記取得された実行フロー情報に対応付けて中間データを作成するステップと、
前記作成部が、前記中間データを中間データ記憶領域に格納するステップと、
前記取得部が、前記複数の情報ファイルの１つから、前記テストデータにより実行される処理を規定するパターン情報を前記オリジナルフォーマットに変換して取得するステップと、
前記作成部が、前記取得されたパターン情報を前記中間データ記憶領域から読み出した前記中間データに対応付けて前記テストデータを作成するステップ
とを含むことを特徴とするテスト情報処理方法。
【請求項３】
抽出部が、テストデータにより実行される処理手順を規定する実行フロー情報を、抽出情報記憶領域に格納するステップと、
書き込み部が、前記実行フロー情報を共通フォーマットに変換して複数の情報ファイルの１つに書き込むステップと、
前記書き込み部が、前記テストデータにより実行される処理で使用される詳細情報を、前記抽出情報記憶領域から読み出した前記実行フロー情報に対応付けし、該対応付けられた詳細情報を前記共通フォーマットに変換して前記複数の情報ファイルの１つに書き込むステップと、
前記書き込み部が、前記テストデータにより実行される処理を規定するパターン情報を、前記実行フロー情報及び前記詳細情報に対応付けし、該対応付けられたパターン情報を前記共通フォーマットに変換して前記複数の情報ファイルの１つに書き込むステップ
とを含むことを特徴とするテスト情報処理方法。
【請求項４】
テスト情報処理システムにおいて、
取得部に、複数の情報ファイルの１つから、作成対象のテストデータにより実行される処理手順を規定する実行フロー情報をオリジナルフォーマットに変換して取得させる命令と、
前記取得部に、前記複数の情報ファイルの１つから、前記テストデータにより実行される処理で使用される詳細情報を前記オリジナルフォーマットに変換して取得させる命令と、
作成部に、前記取得された詳細情報を前記取得された実行フロー情報に対応付けて中間データを作成させる命令と、
前記作成部に、前記中間データを中間データ記憶領域に格納させる命令と、
前記取得部に、前記複数の情報ファイルの１つから、前記テストデータにより実行される処理を規定するパターン情報を前記オリジナルフォーマットに変換して取得させる命令と、
前記作成部に、前記取得されたパターン情報を、前記中間データ記憶領域から読み出した前記中間データに対応付けて前記テストデータを作成させる命令
とを実行させるためのテスト情報処理プログラム。
【請求項５】
テスト情報処理システムにおいて、
抽出部に、テストデータにより実行される処理手順を規定する実行フロー情報を、抽出情報記憶領域に格納させる命令と、
書き込み部に、前記実行フロー情報を共通フォーマットに変換して複数の情報ファイルの１つに書き込ませる命令と、
前記書き込み部に、前記テストデータにより実行される処理で使用される詳細情報を、前記抽出情報記憶領域から読み出した前記実行フロー情報に対応付けさせ、該対応付けられた詳細情報を前記共通フォーマットに変換して前記複数の情報ファイルの１つに書き込ませる命令と、
前記書き込み部に、前記テストデータにより実行される処理を規定するパターン情報を、前記実行フロー情報及び前記詳細情報に対応付けさせ、該対応付けられたパターン情報を前記共通フォーマットに変換して前記複数の情報ファイルの１つに書き込ませる命令
とを実行させるためのテスト情報処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テスト情報処理に係り、特にデータベースに格納されたテスト情報を使用するテスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、半導体集積回路をテストするために使用されるテスト情報は、すべての情報が１つのファイルとしてデータベースに格納されていた（例えば、特許文献１参照。）。そのため、テスト情報の一部の情報が必要な場合にも、すべてのテスト情報を含んだファイルをオープンして、必要な情報にアクセスしなければならない。すべてのテスト情報を含んだファイルはデータ量が多いため、オープンするのに時間がかかる。その結果、テスト情報のアクセスに多くの時間が必要とされる。更に、テスト情報のファイルの構造は、最初に設定された一定の項目のテスト情報しか格納できない。そのため、テスト仕様が拡張されてテスト情報の項目が増える場合には、データベースに格納されているテスト情報のファイルの構造を変更する必要がある。その影響で、テスト情報のファイルを使用して作成されるテスト用プログラムも大幅に修正しなければならない場合があった。
【特許文献１】特開平５−３０３６０５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
本発明は、データベースに格納されたテスト情報に短時間でアクセス可能な、且つテスト仕様の変更が容易なテスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明の第１の特徴は、（イ）情報の種類毎に、共通フォーマットの複数の情報ファイルを格納するデータベースと、（ロ）共通フォーマットのデータをオリジナルフォーマットのデータに変換するリードインタフェースと、（ハ）リードインタフェースを介して取得した複数の情報ファイルの情報に基づき、オリジナルフォーマットのテストデータを作成するテストデータ作成部と、（ニ）オリジナルフォーマットのデータを共通フォーマットのデータに変換するライトインタフェースと、（ホ）オリジナルフォーマットのテストデータから情報の種類毎に抽出した複数の情報を、ライトインタフェースを介して、複数の情報ファイルにそれぞれ書き込む情報ファイル書き込み部とを備えるテスト情報処理システムであることを要旨とする。
【０００５】
本発明の第２の特徴は、（イ）取得部が、複数の情報ファイルの１つから、作成対象のテストデータにより実行される処理手順を規定する実行フロー情報をオリジナルフォーマットに変換して取得するステップと、（ロ）取得部が、複数の情報ファイルの１つから、テストデータにより実行される処理で使用される詳細情報をオリジナルフォーマットに変換して取得するステップと、（ハ）作成部が、取得された詳細情報を取得された実行フロー情報に対応付けて中間データを作成するステップと、（ニ）作成部が、中間データを中間データ記憶領域に格納するステップと、（ホ）取得部が、複数の情報ファイルの１つから、テストデータにより実行される処理を規定するパターン情報をオリジナルフォーマットに変換して取得するステップと、（ヘ）作成部が、取得されたパターン情報を中間データ記憶領域から読み出した中間データに対応付けてテストデータを作成するステップとを含むテスト情報処理方法であることを要旨とする。
【０００６】
本発明の第３の特徴は、（イ）抽出部が、テストデータにより実行される処理手順を規定する実行フロー情報を、抽出情報記憶領域に格納するステップと、（ロ）書き込み部が、実行フロー情報を共通フォーマットに変換して複数の情報ファイルの１つに書き込むステップと、（ハ）書き込み部が、テストデータにより実行される処理で使用される詳細情報を、抽出情報記憶領域から読み出した実行フロー情報に対応付けし、その対応付けられた詳細情報を共通フォーマットに変換して複数の情報ファイルの１つに書き込むステップと、（ニ）書き込み部が、テストデータにより実行される処理を規定するパターン情報を、実行フロー情報及び詳細情報に対応付けし、その対応付けられたパターン情報を共通フォーマットに変換して複数の情報ファイルの１つに書き込むステップとを含むテスト情報処理方法であることを要旨とする。
【０００７】
本発明の第４の特徴は、テスト情報処理システムにおいて、（イ）取得部に、複数の情報ファイルの１つから、作成対象のテストデータにより実行される処理手順を規定する実行フロー情報をオリジナルフォーマットに変換して取得させる命令と、（ロ）取得部に、複数の情報ファイルの１つから、テストデータにより実行される処理で使用される詳細情報をオリジナルフォーマットに変換して取得させる命令と、（ハ）作成部に、取得された詳細情報を取得された実行フロー情報に対応付けて中間データを作成させる命令と、（ニ）作成部に、中間データを中間データ記憶領域に格納させる命令と、（ホ）取得部に、複数の情報ファイルの１つから、テストデータにより実行される処理を規定するパターン情報をオリジナルフォーマットに変換して取得させる命令と、（ヘ）作成部に、取得されたパターン情報を、中間データ記憶領域から読み出した中間データに対応付けてテストデータを作成させる命令とを実行させるためのテスト情報処理プログラムであることを要旨とする。
【０００８】
本発明の第５の特徴は、テスト情報処理システムにおいて、（イ）抽出部に、テストデータにより実行される処理手順を規定する実行フロー情報を、抽出情報記憶領域に格納させる命令と、（ロ）書き込み部に、実行フロー情報を共通フォーマットに変換して複数の情報ファイルの１つに書き込ませる命令と、（ハ）書き込み部に、テストデータにより実行される処理で使用される詳細情報を、抽出情報記憶領域から読み出した実行フロー情報に対応付けさせ、その対応付けられた詳細情報を共通フォーマットに変換して複数の情報ファイルの１つに書き込ませる命令と、（ニ）書き込み部に、テストデータにより実行される処理を規定するパターン情報を、実行フロー情報及び詳細情報に対応付けさせ、その対応付けられたパターン情報を共通フォーマットに変換して複数の情報ファイルの１つに書き込ませる命令とを実行させるためのテスト情報処理プログラムであることを要旨とする。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、データベースに格納されたテスト情報に短時間でアクセス可能な、且つテスト仕様の変更が容易なテスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラムを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
次に、図面を参照して、本発明の実施の形態を説明する。以下の図面の記載において、同一又は類似の部分には同一又は類似の符号を付している。また、以下に示す実施の形態は、この発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、この発明の技術的思想は、構成部品の構造、配置等を下記のものに特定するものでない。この発明の技術的思想は、特許請求の範囲において、種々の変更を加えることができる。
【００１１】
本発明の実施の形態に係るテスト情報処理システムは、図１に示すように、情報の種類毎に、共通フォーマットの複数の情報ファイルを格納するデータベース３０と、共通フォーマットのデータをオリジナルフォーマットのデータに変換するリードインタフェース１７１と、リードインタフェース１７１を介して取得した複数の情報ファイルの情報に基づき、オリジナルフォーマットのテストデータを作成するテストデータ作成部２と、オリジナルフォーマットのデータを共通フォーマットのデータに変換するライトインタフェース１７２と、オリジナルフォーマットのテストデータから情報の種類毎に抽出した複数の情報を、ライトインタフェース１７２を介して、複数の情報ファイルにそれぞれ書き込む情報ファイル書き込み部３とを備える。
【００１２】
「共通フォーマット」とは、テストファイル及び情報ファイルに共通のフォーマットである。共通フォーマットは、例えば、米国電子通信技術者協会（ＩＥＥＥ）で標準化されたスタンダード・テスト・インタフェース言語（ＳＴＩＬ）等が採用可能である。以下においては、情報ファイル及びテストファイルのフォーマットがＳＴＩＬの場合を例示的に説明する。一方、「オリジナルフォーマット」とは、例えば、半導体集積回路（ＬＳＩ）のテストに使用されるテストデータや回路シミュレーションに使用されるテストデータ等の様々なフォーマットである。シミュレーション装置及びＬＳＩテスタ毎に、テストデータは種々のフォーマットで作成される。
【００１３】
テストデータ作成部２は、指定された情報ファイルからテスト情報を取得する取得部１１と、取得部１１によって取得されたテスト情報からテストデータを作成する作成部１２を備える。又、取得部１１は、共通情報が格納された情報ファイルから共通情報を取得する共通情報取得部１１１、フロー情報が格納された情報ファイルからフロー情報を取得するフロー情報取得部１１２、詳細情報が格納された情報ファイルから詳細情報を取得する詳細情報取得部１１３、及びパターン情報が格納された情報ファイルからパターン情報を取得するパターン情報取得部１１４を備える。
【００１４】
情報ファイル書き込み部３は、指定されたテストデータからテスト情報を抽出する抽出部１５と、抽出部１５によって抽出されたテスト情報を情報ファイルに書き込む書き込み部１６を備える。又、抽出部１５は、テストデータから共通情報を抽出する共通情報抽出部１５１、テストデータからフロー情報を抽出するフロー情報抽出部１５２、テストデータから詳細情報を抽出する詳細情報抽出部１５３、及びテストデータからパターン情報を抽出するパターン情報抽出部１５４を備える。
【００１５】
テストデータ作成部２は、指定された情報ファイルのテスト情報をリードインタフェース１７１を介して読み出し、テストデータを作成する。一方、情報ファイル書き込み部３は、指定されたテストデータから抽出したテスト情報を、ライトインタフェース１７２を介して情報ファイルに書き込む。即ち、テストデータ作成部２及び情報ファイル書き込み部３は、アクセスインタフェース１７とリンクして動作する。
【００１６】
図１に示すように、リードインタフェース１７１、ライトインタフェース１７２は、アクセスインタフェース１７に含まれる。又、アクセスインタフェース１７、テストデータ作成部２、及び情報ファイル書き込み部３は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）１に含まれる。ＣＰＵ１は、プロシージャ処理部１３、パターンデータ処理部１４、及びデータインタフェース１８を更に備える。
【００１７】
プロシージャ処理部１３は、テストデータ作成部２によって取得されたパターン情報から、プロシージャの情報を抽出するプロシージャ抽出部１３１、抽出された複数のプロシージャの情報から１つのプロシージャの情報を選択するプロシージャ選択部１３２を備える。
【００１８】
パターンデータ処理部１４は、パターン情報及びプロシージャの情報からパターンデータを抽出するパターンデータ抽出部１４１、抽出された複数のパターンデータから１つのパターンデータを選択するパターンデータ選択部１４２、選択されたパターンデータから情報を取得するパターンデータ情報取得部１４３を備える。
【００１９】
又、データインタフェース１８は、テストファイルに含まれるテスト情報の種類を分類し、その分類した情報毎に情報ファイルを作成するパーサ１８１と、複数の情報ファイルを１つのテストファイルに結合するジェネレータ１８２を備える。つまり、データインタフェース１８は、テストファイルと情報ファイル間のファイルの変換に使用される。
【００２０】
更に、ＣＰＵ１は、テストファイル記憶装置２０、主記憶装置１００、第１プログラム記憶装置４１、第２プログラム記憶装置４２、入力装置５０、及び出力装置６０を備える。
【００２１】
テストファイル記憶装置２０には、テストに使用されるすべての情報を含むテストファイルが格納される。テストファイルは、テストデータ自動テストパターン生成ツール（ＡＴＰＧ）等を使用して生成できる。又、設計資産（ＩＰ）として市場で流通しているテストデータを、テストファイルの一部に利用できる。更に、設計者が作成したファンクション試験パターン等の検証用データを、テストファイルの一部に採用することが可能である。
【００２２】
第１プログラム記憶装置４１は、テストデータ作成部２によって作成されるオリジナルフォーマットのテストデータを格納する。第２プログラム記憶装置４２は、情報ファイル書き込み部３によってテスト情報が抽出されるオリジナルフォーマットのテストデータを格納する。
【００２３】
主記憶装置１００は、指定情報記憶領域１０１、中間データ記憶領域１０２、パターン情報記憶領域１０３、プロシージャ情報記憶領域１０４、選択プロシージャ記憶領域１０５、パターンデータ記憶領域１０６、選択パターンデータ記憶領域１０７、テストデータ記憶領域１０８、抽出情報記憶領域１０９、及びファイル名記憶領域１１０を備える。指定情報記憶領域１０１には、操作者が指定する情報が格納される。中間データ記憶領域１０２には、情報ファイルの情報に基づきテストデータを作成する過程で作成される「中間データ」が格納される。パターン情報記憶領域１０３には、パターン情報記憶ファイル３６から読み出したパターン情報、或いはテストデータから抽出されたパターン情報が格納される。プロシージャ情報記憶領域１０４には、パターン情報から抽出されたプロシージャの情報が格納される。選択プロシージャ記憶領域１０５には、複数のプロシージャの情報から選択された１つのプロシージャの情報が格納される。パターンデータ記憶領域１０６には、パターン情報から抽出されたパターンデータが格納される。選択パターンデータ記憶領域１０７には、複数のパターンデータから選択された１つのパターンデータが格納される。テストデータ記憶領域１０８には、第２プログラム記憶装置４２から読み出されたテストデータが格納される。抽出情報記憶領域１０９には、テストデータから抽出された情報が格納される。ファイル名記憶領域１１０には、情報ファイルを作成したいテストファイル名が格納される。
【００２４】
入力装置５０はキーボード、マウス、ライトペン又はフレキシブルディスク装置などで構成される。入力装置５０より操作者は、オープンする情報ファイルや、テスト情報が抽出されるテストデータ等を指定できる。又、入力装置５０よりテストファイル及び情報ファイルにアクセスして、情報の修正等を行うことができる。更に、テストデータ及び情報ファイルの作成の実行や中止等の指示の入力も可能である。出力装置６０としては、作成された情報ファイルやテストデータを表示するディスプレイやプリンタ、或いはコンピュータ読み取り可能な記録媒体に保存する記録装置等が使用可能である。ここで、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、例えばコンピュータの外部メモリ装置、半導体メモリ、磁気ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、磁気テープなどの電子データを記録することができるような媒体などを意味する。具体的には、フレキシブルディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＭＯディスク、カセットテープ、オープンリールテープなどが「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」に含まれる。
【００２５】
データベース３０は、情報ファイルを格納する記憶装置である。図２にデータベース３０に格納される情報ファイルの例を示す。共通情報記憶ファイル３１には、ＳＴＩＬバージョン情報、ヘッダ情報、変数情報、スペック情報、その他の共通情報（ユーザキーワード、タイトル等）が格納される。共通情報は、情報ファイルに格納された情報を使用して作成されるテストデータに共通の情報である。ピン情報記憶ファイル３２には、信号情報（ピン名称・属性等）、ピングループ情報、及びピン名称置換テーブル等のピン情報が格納される。タイミング情報記憶ファイル３３には、タイミンググループ情報（波形テーブル、テスト周期等）、タイミング定義情報（波形定義、タイミング値等）、及び波形テーブル名称置換テーブル等のタイミング情報が格納される。スキャン情報記憶ファイル３４には、スキャンチェーン情報、スキャン端子情報等のスキャン情報が格納される。実行フロー情報記憶ファイル３５には、パターン実行シーケンス情報、パターン実行情報、テスト種類定義情報、及びパターン名称置換テーブル等の実行フロー情報が格納される。パターン情報記憶ファイル３６には、パターン並び情報、プロシージャ定義情報、プロシージャ名称置換テーブル、コメント情報、パターンデータ、タイミングコール、プロシージャコール、ループ、及びＤＣ測定アドレス情報等のパターン情報が格納される。ＤＣ情報記憶ファイル３７には、ＤＣレベル、ＤＣ電源シーケンス等のＤＣ情報が格納される。
【００２６】
データベース３０に格納される情報ファイルは、テスト情報の種類毎に作成される。そのため、すべてのテスト情報を含むテストファイルよりも、情報ファイルを短時間でオープンできる。
【００２７】
図１に示すテスト情報処理システムにより、テストファイルから情報ファイルを作成する方法の例を以下に説明する。
【００２８】
先ず、入力装置５０を介して、操作者は情報ファイルを作成したいテストファイル名を入力する。テストファイル名は、ファイル名記憶領域１１０に格納される。
【００２９】
次いで、パーサ１８１は、ファイル名記憶領域１１０に格納されたテストファイル名を参照して、テストファイル記憶装置２０からテストファイルの情報を読み出す。そして、パーサ１８１は、読み出したテストファイルの情報を解析し、ＳＴＩＬ記述違反をチェックする。パーサ１８１がＳＴＩＬ記述違反を検出した場合は、例えば出力装置６０に警告メッセージを表示する。そして、入力装置５０を介して、操作者はテストファイルを修正することができる。ＳＴＩＬ記述違反が無い場合、パーサ１８１は、テストファイルの情報を分類して、情報の種類毎にＳＴＩＬ記述された複数の情報ファイルを作成する。その際、パーサ１８１は、情報ファイル毎に、データベース３０に格納される他の情報ファイルとの対応情報を付加する。例えば、タイミング情報記憶ファイル３３に格納されるタイミング情報に記述される複数の情報が、ピン情報記憶ファイル３２に格納される信号情報に記述されるいずれのピンに適用する情報であるか等の対応情報が情報ファイルに付与される。対応情報を付加することにより、必要に応じて他の情報ファイルを参照できるため、情報ファイル毎にアクセスすることが可能になる。以上のようにして、パーサ１８１は、複数の情報ファイルを作成する。複数の情報ファイルに含まれるすべての情報をあわせると、テストファイルの情報と等価の情報になる。ここで、「等価」としたのは、それぞれの情報ファイルに他の情報ファイルとの対応情報が追加され、テストファイルの情報より多くの情報を含むためである。作成された情報ファイルは、データベース３０に格納される。
【００３０】
次に、図１に示すテスト情報処理システムにより、情報ファイルからテストファイルを作成する方法の例を以下に説明する。
【００３１】
先ず、入力装置５０を介して、操作者はテストファイルの作成に使用する情報ファイル名を入力する。情報ファイル名は、ファイル名記憶領域１１０に格納される。
【００３２】
次いで、ジェネレータ１８２は、ファイル名記憶領域１１０に格納された情報ファイル名を参照して、データベース３０から情報ファイルを読み出す。そして、ジェネレータ１８２は、情報ファイルに付加された対応情報を満足するように、読み出したすべての情報ファイルを１つのテストファイルに統合する。統合されたテストファイルは、テストファイル記憶装置２０に格納される。
【００３３】
以下に、図１に示すテスト情報処理システムにより、データベース３０に格納された情報ファイルを用いて、オリジナルフォーマットのテストデータを作成する方法の例を、図３に示すフローチャートを用いて説明する。以下においては、作成するテストデータが、図４及び図５に示す構造を有する場合について例示的に説明する。即ち、図４に示すように、テストデータは、複数のプロシージャＰ１、Ｐ２、・・・・・、Ｐｎ、及び複数のパターンデータＤ１、Ｄ２、・・・・・、Ｄｍから構成される（ｎ：１以上の整数、ｍ：１以上の整数。）。プロシージャＰ１、Ｐ２、・・・・・、Ｐｎは、サブルーチンとしてパターン情報に記述される。プロシージャＰ１、Ｐ２、・・・・・、Ｐｎは、それぞれ複数のパターンデータを有する。図５に示すように、プロシージャＰ１は、複数のパターンデータＰ１１、Ｐ１２、・・・・・、Ｐ１ｋを有する（ｋ：１以上の整数。）。作成するテストデータの構造は、パターン情報記憶ファイル３６に含まれる。
【００３４】
ステップＳ１０１において、図１に示した入力装置５０を介して、オープンする情報ファイル、及び情報ファイルをオープンする際にプロシージャ、ループ等を含むパターンデータを展開するかどうかを指定する。指定される情報ファイルは、テストデータの作成に必要なテスト情報を含む。テストデータの作成に必要な情報は、例えばＳＴＩＬ記述されたテストデータに共通の共通情報、作成対象のテストデータにより実行される処理手順を規定する実行フロー情報、作成対象のテストデータにより実行される処理で使用されるピン情報及びタイミング情報等の詳細情報、作成対象のテストデータにより実行される処理を規定するパターン情報等である。したがって、共通情報記憶ファイル３１、実行フロー情報記憶ファイル３５、ピン情報記憶ファイル３２、タイミング情報記憶ファイル３３、パターン情報記憶ファイル３６等が指定される。更に、作成するテストデータのオリジナルフォーマットを指定する。指定情報は、指定情報記憶領域１０１に格納される。
【００３５】
ステップＳ１０２において、共通情報取得部１１１が、指定情報記憶領域１０１に格納された指定情報を読み出す。そして、共通情報取得部１１１は、指定情報を参照して、テストデータの作成に必要な共通情報を、リードインタフェース１７１を介して共通情報記憶ファイル３１から読み出す。リードインタフェース１７１は、読み出した共通情報を指定されたオリジナルフォーマットに変換する。以下の説明においても同様に、リードインタフェース１７１を介して読み出されたＳＴＩＬ記述された情報は、指定されたオリジナルフォーマットの情報に変換される。次いで、作成部１２が、変換された共通情報を中間データとして中間データ記憶領域１０２に格納する。
【００３６】
ステップＳ１０３において、フロー情報取得部１１２が、指定情報記憶領域１０１に格納された指定情報、及び中間データ記憶領域１０２に格納された中間データを読み出す。そして、フロー情報取得部１１２は、指定情報を参照して、テストデータの作成に必要な実行フロー情報を、リードインタフェース１７１を介して実行フロー情報記憶ファイル３５から読み出す。次いで、作成部１２が、読み出された実行フロー情報を中間データに追加する。実行フロー情報を追加された中間データは、中間データ記憶領域１０２に格納される。中間データ記憶領域１０２に格納されている中間データを上書きすることで、中間データは更新される。以下においても同様に、中間データが中間データ記憶領域１０２に格納されるたびに、中間データは更新される。
【００３７】
ステップＳ１０４において、詳細情報取得部１１３が、指定情報記憶領域１０１に格納された指定情報、及び中間データ記憶領域１０２に格納された中間データを読み出す。そして、詳細情報取得部１１３は指定情報を参照して、リードインタフェース１７１を介してデータベース３０からテストデータの作成に必要な詳細情報を読み出す。詳細情報として、例えばピン情報記憶ファイル３２からピン情報、タイミング情報記憶ファイル３３からタイミング情報、スキャン情報記憶ファイル３４からスキャン情報、ＤＣ情報記憶ファイル３７からＤＣ情報がそれぞれ読み出される。次いで、作成部１２が、中間データ及び詳細情報に含まれる対応情報に基づき、詳細情報を中間データに対応付ける。対応付けられた中間データは、中間データ記憶領域１０２に格納される。
【００３８】
ステップＳ１０５において、パターン情報取得部１１４が、指定情報記憶領域１０１に格納された指定情報、及び中間データ記憶領域１０２に格納された中間データを読み出す。そして、パターン情報取得部１１４は、指定情報を参照して、テストデータの作成に必要なパターン情報を、リードインタフェース１７１を介してパターン情報記憶ファイル３６から読み出す。作成部１２は、パターン情報及び中間データから、パターンデータの並びとピン名の並びの対応関係等を解析し、解析した情報を中間データに付加する。例えば、作成部１２は、パターン情報とピン情報を解析して、パターンデータに記述された入出力信号が、ピン情報に記述されたいずれのピンの信号であるかの情報を取得する。中間データは、中間データ記憶領域１０２に格納される。又、読み出されたパターン情報は、パターン情報記憶領域１０３に格納する。
【００３９】
ステップＳ１０６において、プロシージャ抽出部１３１が、パターン情報記憶領域１０３に格納されたパターン情報を読み出す。そして、プロシージャ抽出部１３１は、パターン情報に含まれるプロシージャＰ１、Ｐ２、・・・・・、Ｐｎの情報を抽出する。抽出されたプロシージャＰ１、Ｐ２、・・・・・、Ｐｎの情報は、プロシージャ情報記憶領域１０４に格納される。
【００４０】
ステップＳ１０７において、プロシージャ選択部１３２が、プロシージャ情報記憶領域１０４に格納されたプロシージャＰ１、Ｐ２、・・・・・、Ｐｎの情報を読み出す。そして、プロシージャ選択部１３２は、読み出されたプロシージャＰ１、Ｐ２、・・・・・、Ｐｎの情報からパターンデータを抽出するプロシージャの情報の優先順位を選択する。例えば、パターン情報に記述されたプロシージャの情報の順に、プロシージャの情報を選択する。選択されたプロシージャの情報は、選択プロシージャ記憶領域１０５に格納される。
【００４１】
ステップＳ１０８において、パターンデータ抽出部１４１が、選択プロシージャ記憶領域１０５に格納されたプロシージャの情報を読み出す。そして、パターンデータ抽出部１４１は、読み出されたプロシージャの情報に含まれるパターンデータを抽出する。例えば、読み出されたプロシージャの情報がプロシージャＰ１の情報の場合は、パターンデータＰ１１、Ｐ１２、・・・・・、Ｐ１ｋを抽出する。以下においては、読み出されたプロシージャの情報がプロシージャＰ１の情報である場合を例にして説明する。抽出されたパターンデータＰ１１、Ｐ１２、・・・・・、Ｐ１ｋは、パターンデータ記憶領域１０６に格納される。
【００４２】
ステップＳ１０９において、パターンデータ選択部１４２が、パターンデータ記憶領域１０６に格納されたパターンデータＰ１１、Ｐ１２、・・・・・、Ｐ１ｋを読み出す。そして、パターンデータ選択部１４２は、読み出されたパターンデータＰ１１、Ｐ１２、・・・・・、Ｐ１ｋから情報を取得するパターンデータの優先順位を選択する。例えば、プロシージャＰ１の情報に記述されたパターンデータの順に、パターンデータを選択する。選択されたパターンデータは、選択パターンデータ記憶領域１０７に格納される。
【００４３】
ステップＳ１１０において、パターンデータ情報取得部１４３が、選択パターンデータ記憶領域１０７に格納されたパターンデータ、パターン情報記憶領域１０３に格納されたパターン情報、及び中間データ記憶領域１０２に格納された中間データを読み出す。パターンデータ情報取得部１４３は、読み出されたパターンデータの種類を判別する。そして、パターンデータ情報取得部１４３は、パターンデータの種類に応じて、パターン情報から通常パターンデータ、タイミング切り替えデータ、及びループ情報等をパターンデータの情報を取得する。次いで、パターンデータ情報取得部１４３は、パターンデータの情報を中間データに追加する。中間データは中間データ記憶領域１０２に格納される。
【００４４】
ステップＳ１１１において、パターンデータ情報取得部１４３が、パターン情報記憶領域１０３に格納されたパターン情報、選択パターンデータ記憶領域１０７に格納されたパターンデータ、及び中間データ記憶領域１０２に格納された中間データを読み出す。パターンデータ情報取得部１４３は、読み出したパターンデータで使用される各種ルーチンを判別する。そして、パターンデータ情報取得部１４３は、それぞれのルーチンがコールする情報を、パターン情報から取得する。例えば、スキャン定義取得ルーチンでコールされるスキャンパターンデータ、ＤＣ情報取得ルーチンでコールされるＤＣ情報、コメント参照ルーチンでコールされるコメント情報、ＤＣ測定情報参照ルーチンでコールされるＤＣ測定アドレス情報、及びラベル参照ルーチンでコールされるラベル情報等のコール情報が取得される。次いで、パターンデータ情報取得部１４３は、取得されたコール情報を中間データに追加する。中間データは中間データ記憶領域１０２に格納される。
【００４５】
ステップＳ１１２において、パターンデータ選択部１４２が、パターンデータ記憶領域１０６に格納されたパターンデータＰ１１、Ｐ１２、・・・・・、Ｐ１ｋがすべて選択されたどうか判定する。選択されていないパターンデータがあれば、ステップＳ１０９に戻る。すべてのパターンデータが選択されていれば、ステップＳ１１３に進む。
【００４６】
ステップＳ１１３において、プロシージャ選択部１３２が、プロシージャ情報記憶領域１０４に格納されたプロシージャＰ１、Ｐ２、・・・・・、Ｐｎの情報がすべて選択されたかどうか判定する。すべてのプロシージャの情報が選択されていれば、ステップＳ１１１に進む。選択されていないプロシージャの情報があれば、ステップＳ１０７に戻る。
【００４７】
ステップＳ１１４において、作成部１２が、パターン情報記憶領域１０３に格納されたパターン情報、及び中間データ記憶領域１０２に格納された中間データを読み出す。そして、作成部１２は、パターン情報に含まれるパターンブロック名を、中間データに追加する。パターンブロック名は、パターンデータＤ１、Ｄ２、・・・・・、Ｄｍの名称である。
【００４８】
ステップＳ１１５において、パターンデータ抽出部１４１が、パターン情報記憶領域１０３に格納されたパターン情報を読み出す。そして、パターンデータ抽出部１４１は、パターン情報に含まれるパターンデータＤ１、Ｄ２、・・・・・、Ｄｍを抽出する。抽出されたパターンデータＤ１、Ｄ２、・・・・・、Ｄｍは、パターンデータ記憶領域１０６に格納される。
【００４９】
ステップＳ１１６において、パターンデータ選択部１４２が、パターンデータ記憶領域１０６に格納されたパターンデータＤ１、Ｄ２、・・・・・、Ｄｍを読み出す。そして、パターンデータ選択部１４２は、読み出されたパターンデータＤ１、Ｄ２、・・・・・、Ｄｍからデータを取得するパターンデータの優先順位を選択する。例えば、パターン情報に記述されたパターンデータの順に、パターンデータを選択する。選択されたパターンデータは、選択パターンデータ記憶領域１０７に格納される。
【００５０】
ステップＳ１１７において、パターンデータ情報取得部１４３が、選択パターンデータ記憶領域１０７に格納されたパターンデータ、パターン情報記憶領域１０３に格納されたパターン情報、及び中間データ記憶領域１０２に格納された中間データを読み出す。パターンデータ情報取得部１４３は、読み出されたパターンデータの種類を判別する。そして、パターンデータ情報取得部１４３は、パターンデータの種類に応じて、パターン情報から通常パターンデータ、タイミング切り替えデータ、ループ情報等のパターンデータの情報を取得する。次いで、パターンデータ情報取得部１４３は、パターンデータの情報を中間データに追加する。中間データは中間データ記憶領域１０２に格納される。
【００５１】
ステップＳ１１８において、パターンデータ情報取得部１４３が、パターン情報記憶領域１０３に格納されたパターン情報、選択パターンデータ記憶領域１０７に格納されたパターンデータ、及び中間データ記憶領域１０２に格納された中間データを読み出す。パターンデータ情報取得部１４３は、読み出したパターンデータで使用される各種ルーチンを判別する。そして、パターンデータ情報取得部１４３は、それぞれのルーチンがコールする情報を、パターン情報から取得する。次いで、パターンデータ情報取得部１４３は、取得されたコール情報を中間データに追加する。中間データは中間データ記憶領域１０２に格納される。
【００５２】
ステップＳ１１９において、パターンデータ選択部１４２が、パターンデータ記憶領域１０６に格納されたパターンデータＤ１、Ｄ２、・・・・・、Ｄｍがすべて選択されたどうか判定する。選択されていないパターンデータがあれば、ステップＳ１１６に戻る。すべてのパターンデータが選択されていれば、すべてのパターン情報に中間データを対応付けてテストデータを作成する処理が終了する。そして、作成された中間データは、テストデータとして第１プログラム記憶装置４１に格納される。
【００５３】
上記の説明では、ステップＳ１０６からＳ１１３においてプロシージャの情報を取得する例を説明した。しかし、テストデータがプロシージャを含まない場合は、パターン情報からプロシージャの情報を取得するステップを省略する。
【００５４】
以上の手順に従って、複数の情報ファイルから情報を取得することにより、効率的にテストデータの作成に必要な情報を取得することができる。上記の手順を変更し、例えばピン情報等を取得する前にパターン情報を取得した場合には、パターンデータの並び順とピン名の並び順の対応が取れないため、パターン情報から中間データを作成することができない。
【００５５】
図３に示した一連のテストデータ作成操作は、図３と等価なアルゴリズムのプログラムにより、図１に示したテスト情報処理システムを制御して実行できる。このプログラムは、図１に示したテスト情報処理システムを構成する主記憶装置１００に記憶させればよい。また、このプログラムは、コンピュータ読み取り可能な記録媒体に保存し、この記録媒体を図１に示した主記憶装置１００に読み込ませることにより、本発明の一連のテストデータ作成操作を実行することができる。
【００５６】
次に、図１に示すテスト情報処理システムにより、オリジナルフォーマットのテストデータから抽出したテスト情報を、データベース３０に格納された情報ファイルに書き込む方法の例を、図６に示すフローチャートを用いて説明する。以下において、テスト情報が抽出されるテストデータが、図４及び図５に示す構造を有する場合について例示的に説明する。
【００５７】
ステップＳ２０１において、図１に示した入力装置５０を介して、オープンする情報ファイル、及び情報ファイルをオープンする際にプロシージャ、ループ等を含むパターンデータを展開するかどうかを指定する。指定する情報ファイルは、テストデータから抽出したテスト情報を格納する情報ファイルであり、例えば、ＳＴＩＬ記述されたテストデータに共通の共通情報が格納される共通情報記憶ファイル３１、テストデータにより実行される処理手順が格納される実行フロー情報記憶ファイル３５、テストデータにより実行される処理で使用されるピン情報が格納されるピン情報記憶ファイル３２、及びテストデータにより実行される処理を規定するパターン情報が格納されるパターン情報記憶ファイル３６等である。指定情報は、指定情報記憶領域１０１に格納される。又、テスト情報を抽出するテストデータが、テストデータ記憶領域１０８に格納される。
【００５８】
ステップＳ２０２において、共通情報抽出部１５１が、テストデータ記憶領域１０８に格納されたテストデータを読み出す。そして、共通情報抽出部１５１は、テストデータから共通情報を抽出する。抽出された共通情報は、抽出情報記憶領域１０９に格納される。次いで、書き込み部１６が、指定情報記憶領域１０１に格納された指定情報及び抽出情報記憶領域１０９に格納された共通情報を読み出す。そして書き込み部１６は、指定情報を参照して、共通情報をライトインタフェース１７２を介して共通情報記憶ファイル３１に書き込む。ライトインタフェース１７２は、抽出した共通情報をＳＴＩＬ記述のファイルに変換する。以下の説明においても同様に、ライトインタフェース１７２を介してデータベース３０に書き込まれるオリジナルフォーマットの情報は、ＳＴＩＬ記述された情報に変換される。
【００５９】
ステップＳ２０３において、フロー情報抽出部１５２が、テストデータ記憶領域１０８に格納されたテストデータを読み出す。そして、フロー情報抽出部１５２は、テストデータから実行フロー情報を抽出する。抽出された実行フロー情報は、抽出情報記憶領域１０９に格納される。次いで、書き込み部１６が指定情報記憶領域１０１に格納された指定情報及び抽出情報記憶領域１０９に格納された実行フロー情報を読み出す。そして、書き込み部１６は指定情報を参照して、抽出した実行フロー情報を、ライトインタフェース１７２を介して実行フロー情報記憶ファイル３５に書き込む。
【００６０】
ステップＳ２０４において、詳細情報抽出部１５３が、テストデータ記憶領域１０８に格納されたテストデータを読み出す。そして、詳細情報抽出部１５３は、テストデータから詳細情報を抽出する。抽出された詳細情報は、抽出情報記憶領域１０９に格納される。次いで、書き込み部１６が、指定情報記憶領域１０１に格納された指定情報及び抽出情報記憶領域１０９に格納された詳細情報を読み出す。そして、書き込み部１６は指定情報を参照して、読み出した詳細情報を、ライトインタフェース１７２を介して情報ファイルに書き込む。例えば、ピン情報、タイミング情報、スキャン情報、及びＤＣ情報が、それぞれピン情報記憶ファイル３２、タイミング情報記憶ファイル３３、スキャン情報記憶ファイル３４、ＤＣ情報記憶ファイル３７に書き込まれる。書き込み部１６は、詳細情報を情報ファイルに書き込む際、情報ファイル毎に、実行フロー情報、及び他の詳細情報との対応情報を付加する。対応情報を付加することにより、情報ファイル毎にアクセスすることが可能になる。
【００６１】
ステップＳ２０５において、パターン情報抽出部１５４が、テストデータ記憶領域１０８に格納されたテストデータを読み出す。そして、パターン情報抽出部１５４は、テストデータからパターン情報を抽出する。抽出されたパターン情報は、抽出情報記憶領域１０９に格納される。次いで、書き込み部１６が、指定情報記憶領域１０１に格納された指定情報及び抽出情報記憶領域１０９に格納されたパターン情報を読み出す。そして、書き込み部１６は指定情報を参照して、パターン情報をライトインタフェース１７２を介してパターン情報記憶ファイル３６に書き込む。パターン情報抽出部１５４は、パターン情報をパターン情報記憶ファイル３６に書き込む際に、パターン情報と実行フロー情報及び詳細情報との対応情報を付加する。例えば、パターンデータの並びとピン名の並びとの対応関係等の情報をパターン情報に付加する。
【００６２】
ステップＳ２０６において、プロシージャ抽出部１３１が、パターン情報記憶領域１０３に格納されたパターン情報を読み出す。そして、プロシージャ抽出部１３１は、パターン情報に含まれるプロシージャＰ１、Ｐ２、・・・・・、Ｐｎの情報を抽出する。抽出されたプロシージャＰ１、Ｐ２、・・・・・、Ｐｎ情報は、プロシージャ情報記憶領域１０４に格納される。
【００６３】
ステップＳ２０７において、プロシージャ選択部１３２が、プロシージャ情報記憶領域１０４に格納されたプロシージャＰ１、Ｐ２、・・・・・、Ｐｎの情報を読み出す。そして、プロシージャ選択部１３２は、読み出されたプロシージャＰ１、Ｐ２、・・・・・、Ｐｎの情報からパターンデータを抽出するプロシージャの情報の優先順位を選択する。例えば、パターン情報に記述された順にプロシージャの情報が選択される。選択されたプロシージャの情報は、選択プロシージャ記憶領域１０５に格納される。
【００６４】
ステップＳ２０８において、パターンデータ抽出部１４１が、選択プロシージャ記憶領域１０５に格納されたプロシージャの情報を読み出す。そして、パターンデータ抽出部１４１は、プロシージャの情報に含まれるパターンデータを抽出する。例えば、読み出されたプロシージャの情報がプロシージャＰ１の情報の場合は、パターンデータＰ１１、Ｐ１２、・・・・・、Ｐ１ｋを抽出する。以下においては、読み出されたプロシージャの情報がプロシージャＰ１の情報である場合を例にして説明する。抽出されたパターンデータＰ１１、Ｐ１２、・・・・・、Ｐ１ｋは、パターンデータ記憶領域１０６に格納される。
【００６５】
ステップＳ２０９において、パターンデータ選択部１４２が、パターンデータ記憶領域１０６に格納されたパターンデータＰ１１、Ｐ１２、・・・・・、Ｐ１ｋを読み出す。そして、パターンデータ選択部１４２は、読み出したパターンデータＰ１１、Ｐ１２、・・・・・、Ｐ１ｋからパターン情報を取得するパターンデータの優先順位を選択する。例えば、プロシージャＰ１に記述された順に、パターンデータが選択される。選択されたパターンデータは、選択パターンデータ記憶領域１０７に格納される。
【００６６】
ステップＳ２１０において、パターンデータ情報取得部１４３が、選択パターンデータ記憶領域１０７に格納されたパターンデータ、及びパターン情報記憶領域１０３に格納されたパターン情報を読み出す。パターンデータ情報取得部１４３は、読み出されたパターンデータの種類を判別する。そして、パターンデータ情報取得部１４３は、パターンデータの種類に応じて、パターン情報から通常パターンデータ、タイミング切り替えデータ、及びループ情報等のパターンデータの情報を取得する。パターンデータの情報は、抽出情報記憶領域１０９に格納される。次いで、書き込み部１６が、指定情報記憶領域１０１に格納された指定情報及び抽出情報記憶領域１０９に格納された情報を読み出す。そして、書き込み部１６は指定情報を参照して、抽出情報記憶領域１０９から読み出されたパターンデータの情報をライトインタフェース１７２を介してパターン情報記憶ファイル３６に書き込む。
【００６７】
ステップＳ２１１において、パターンデータ情報取得部１４３が、パターン情報記憶領域１０３に格納されたパターン情報、及び選択パターンデータ記憶領域１０７に格納されたパターンデータを読み出す。パターンデータ情報取得部１４３は、読み出したパターンデータで使用される各種ルーチンを判別する。そして、パターンデータ情報取得部１４３は、それぞれのルーチンがコールする情報を、パターン情報から取得する。取得されたコール情報は、抽出情報記憶領域１０９に格納される。次いで、書き込み部１６が、指定情報記憶領域１０１に格納された指定情報及び抽出情報記憶領域１０９に格納されたコール情報を読み出す。そして、書き込み部１６が指定情報を参照して、コール情報をライトインタフェース１７２を介してパターン情報記憶ファイル３６に書き込む。
【００６８】
ステップＳ２１２において、パターンデータ選択部１４２が、パターンデータ記憶領域１０６に格納されたパターンデータＰ１１、Ｐ１２、・・・・・、Ｐ１ｋがすべて選択されたどうか判定する。選択されていないパターンデータがあれば、ステップＳ２０９に戻る。すべてのパターンデータが選択されていれば、ステップＳ２１３に進む。
【００６９】
ステップＳ２１３において、プロシージャ選択部１３２が、プロシージャ情報記憶領域１０４に格納されたプロシージャＰ１、Ｐ２、・・・・・、Ｐｎの情報がすべて選択されたかどうか判定する。すべてのプロシージャの情報が選択されていれば、ステップＳ２１４に進む。選択されていないプロシージャの情報があれば、ステップＳ２０７に戻る。
【００７０】
ステップＳ２１４において、書き込み部１６が、パターン情報記憶領域１０３に格納されたパターン情報を読み出す。そして、書き込み部１６は、パターン情報に含まれるパターンブロック名を、パターン情報記憶ファイル３６に書き込む。
【００７１】
ステップＳ２１５において、パターンデータ抽出部１４１が、パターン情報記憶領域１０３に格納されたパターン情報を読み出す。そして、パターンデータ抽出部１４１は、パターン情報に含まれるパターンデータＤ１、Ｄ２、・・・・・、Ｄｍを抽出する。抽出されたパターンデータＤ１、Ｄ２、・・・・・、Ｄｍは、パターンデータ記憶領域１０６に格納される。
【００７２】
ステップＳ２１６において、パターンデータ選択部１４２が、パターンデータ記憶領域１０６に格納されたパターンデータＤ１、Ｄ２、・・・・・、Ｄｍを読み出す。そして、パターンデータ選択部１４２は、読み出されたパターンデータＤ１、Ｄ２、・・・・・、Ｄｍからパターン情報を取得するパターンデータを選択する。例えば、パターン情報に記述された順にパターンデータを選択する。選択されたパターンデータは、選択パターンデータ記憶領域１０７に格納される。
【００７３】
ステップＳ２１７において、パターンデータ情報取得部１４３が、選択パターンデータ記憶領域１０７に格納されたパターンデータ、及びパターン情報記憶領域１０３に格納されたパターン情報を読み出す。パターンデータ情報取得部１４３は、読み出されたパターンデータの種類を判別する。そして、パターンデータ情報取得部１４３は、パターンデータの種類に応じて、パターン情報から通常パターンデータ、タイミング切り替えデータ、ループ情報等のパターンデータの情報を取得する。パターンデータの情報は、抽出情報記憶領域１０９に格納される。次いで、書き込み部１６が、指定情報記憶領域１０１に格納された指定情報及び抽出情報記憶領域１０９に格納された情報を読み出す。そして、書き込み部１６は指定情報を参照して、抽出情報記憶領域１０９から読み出されたパターンデータの情報をライトインタフェース１７２を介してパターン情報記憶ファイル３６に書き込む。
【００７４】
ステップＳ２１８において、パターンデータ情報取得部１４３が、パターン情報記憶領域１０３に格納されたパターン情報、及び選択パターンデータ記憶領域１０７に格納されたパターンデータを読み出す。パターンデータ情報取得部１４３は、読み出したパターンデータで使用される各種ルーチンを判別する。そして、パターンデータ情報取得部１４３は、それぞれのルーチンがコールする情報を、パターン情報から取得する。取得されたコール情報は、抽出情報記憶領域１０９に格納される。次いで、書き込み部１６が、指定情報記憶領域１０１に格納された指定情報及び抽出情報記憶領域１０９に格納されたコール情報を読み出す。そして、書き込み部１６は指定情報を参照して、コール情報をライトインタフェース１７２を介してパターン情報記憶ファイル３６に書き込む。
【００７５】
ステップＳ２１９において、パターンデータ選択部１４２が、パターンデータ記憶領域１０６に格納されたパターンデータＤ１、Ｄ２、・・・・・、Ｄｍがすべて選択されたどうか判定する。選択されていないパターンデータがあれば、ステップＳ２１６に戻る。すべてのパターンデータが選択されていれば、処理を終了する。
【００７６】
上記の説明では、ステップＳ２０６からＳ２１３においてテストデータに含まれるプロシージャの情報を情報ファイルに書き込む例を説明した。しかし、テストパターンがプロシージャを含まない場合には、プロシージャの情報を情報ファイルに書き込むステップを省略する。
【００７７】
以上の手順に従ってテストデータからテスト情報を抽出することにより、効率的に情報ファイルにテスト情報を書き込むことができる。上記の手順を変更し、例えばピン情報或いはタイミング情報を取得する前にパターン情報を抽出した場合には、パターンデータの並び順とピン名の並び順の対応が取れないため、パターン情報をパターン情報記憶ファイル３６に書き込むことができない。
【００７８】
図６に示した一連の情報ファイルへの書き込み操作は、図６と等価なアルゴリズムのプログラムにより、図１に示したテスト情報処理システムを制御して実行できる。このプログラムは、図１に示したテスト情報処理システムを構成する主記憶装置１００に記憶させればよい。また、このプログラムは、コンピュータ読取り可能な記録媒体に保存し、この記録媒体を図１に示した主記憶装置１００に読み込ませることにより、本発明の一連の情報ファイルへの書き込み操作を実行することができる。
【００７９】
図３及び図６を用いて説明したように、アクセスインタフェース１７を使用することにより、ＳＴＩＬ記述された情報ファイルから、所望のオリジナルフォーマットのテストデータを容易に作成することができる。又、任意のオリジナルフォーマットのテストデータに含まれるテスト情報を、ＳＴＩＬ記述された情報ファイルに容易に書き込むことができる。
【００８０】
又、データベース３０に、情報の種類毎に複数の情報ファイルに分散してテスト情報が格納されている。そのため、例えばピン情報を読み出す場合には、ピン情報のみをオープンしてアクセスする。したがって、必要なテスト情報に高速なアクセスが可能である。又、テスト仕様の追加があった場合には、既存の情報ファイルを変更することなく、追加されたテスト仕様の情報を格納する情報ファイルをデータベース３０に新たに作成すればよい。その結果、既存のテストデータに与える影響を少なくすることができる。
【００８１】
本発明の実施の形態にかかるテスト情報処理システムによれば、すべてのテスト情報を含んだテストファイルよりも短時間にアクセス可能な情報ファイルを使用するため、テストデータの作成及びテストデータからのテスト情報の抽出に要する時間を短縮することができる。更に、上記に説明した情報ファイルからのテスト情報の取得手順、及び情報ファイルへテスト情報の書き込み手順を採用することにより、効率的にデータベースにアクセス可能である。
【００８２】
（その他の実施の形態）
上記のように、本発明は実施の形態によって記載したが、この開示の一部をなす論述及び図面はこの発明を限定するものであると理解すべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例及び運用技術が明らかとなろう。
【００８３】
既に述べた実施の形態の説明においては、情報ファイル及びテストファイルのフォーマットがＳＴＩＬの場合を説明したが、情報ファイル及びテストファイルのフォーマットが、シミュレーション用パターンやＬＳＩテスト用パターン等の様々なテストデータに対応した、他の自由度のフォーマットでもよい。又、実施の形態においては、ＬＳＩのテスト情報処理について例示したが、本発明は、電子装置のテスト情報、電気機器のテスト情報等のテスト情報処理に適用できることは、上記説明から容易に理解できるであろう。
【００８４】
このように、本発明はここでは記載していない様々な実施の形態等を含むことは勿論である。したがって、本発明の技術的範囲は上記の説明から妥当な特許請求の範囲に係る発明特定事項によってのみ定められるものである。
【図面の簡単な説明】
【００８５】
【図１】本発明の実施の形態に係るテスト情報処理システムの構成を示す模式的な構成図である。
【図２】本発明の実施の形態に係るテスト情報処理システムのデータベースに格納される情報ファイルの例である。
【図３】本発明の実施の形態に係るテスト情報処理システムによるテスト情報の取得方法を説明するフローチャートである。
【図４】本発明の実施の形態に係るテスト情報の構成例を示す模式図である（その１）。
【図５】本発明の実施の形態に係るテスト情報の構成例を示す模式図である（その２）。
【図６】本発明の実施の形態に係るテスト情報処理システムによるテスト情報の書き込み方法を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００８６】
２…テストデータ作成部
３…情報ファイル書き込み部
１１…取得部
１２…作成部
１５…抽出部
１６…書き込み部
３０…データベース
１０２…中間データ記憶領域
１０９…抽出情報記憶領域
１７１…リードインタフェース
１７２…ライトインタフェース
【図１】
2006092466.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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