(57)【要約】      （修正有）【課題】実時間で再計算する３次元測定データの分析結果再計算システム及び方法を提供する。【解決手段】測定データの分析結果を、補助幾何及び上記補助幾何から生成された各種寸法又は幾何公差間の相互連関関係を有するように定義し、測定データの変更の際に、相互連関された情報により分析結果を実時間で再計算して、測定データの変動による反復的な検査作業を単純化させる。【選択図】      図１
2006343312.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
３次元測定データの分析結果が相互連関関係を有するように定義し、測定データの変更の際に上記分析結果を実時間で再計算するシステムであって、
測定対象物の3次元測定データを検出するスキャナー；
上記スキャナーから検出された上記測定データを数値情報及びイメージ情報で表示し、上記測定データの修正のための情報を入力するユーザーインターフェース部；
上記ユーザーインターフェース部から入力される上記測定データの修正情報により修正対象になる上記測定データのエンティティを検索する分析部；
上記スキャナーから検出された上記測定データがグラフ構造を有するようにエンティティを定義し、上記測定データを分析して数値情報及びイメージ情報が含まれた分析結果レポートを作成し、上記分析部で検索された上記測定データのエンティティから上記分析結果レポートの数値情報及びイメージ情報が再計算されるようにする制御部；及び、
上記制御部から作成された上記測定データの数値情報及びイメージ情報を貯蔵するデータ貯蔵部を含む3次元測定データの分析結果再計算システム。
【請求項２】
上記測定データのエンティティは上記エンティティの生成情報を表示するエンティティの属性情報；
上記測定データのエンティティが再計算対象エンティティであるか否かを表示するフラグ情報；及び、
上記測定データのエンティティと連結された上位及び下位エンティティとの連結関係を表示する参照情報を含む請求項1に記載の3次元測定データの分析結果再計算システム。
【請求項３】
上記測定データのエンティティは、上記分析結果レポートに含まれるイメージがキャプチャーされる場合、画面に出力されるか否かを表示する画面表示情報をさらに含む請求項２に記載の3次元測定データの分析結果再計算システム。
【請求項４】
上記測定データのエンティティは、補助幾何、寸法、幾何公差、形状偏差、断面偏差、境界偏差、又はイメージの少なくともいずれかを含む請求項1に記載の3次元測定データの分析結果再計算システム。
【請求項５】
上記制御部は、上記再計算対象になる上記測定データのエンティティから上記分析結果のイメージを更新し、上記更新された上記測定データのエンティティから上記分析結果のレポートを更新することを特徴とする請求項1に記載の3次元測定データの分析結果再計算システム。
【請求項６】
３次元測定データの分析結果が相互連関関係を有するように定義し、測定データの変更の際に上記分析結果を実時間で再計算する方法であって、
a)スキャナーが測定対象物を測定したデータを、制御部が、グラフ構造を有するようにエンティティを定義し、上記測定されたデータを分析してユーザーインターフェース部を介して出力されるように数値情報及びイメージ情報を含む分析結果レポートを作成するステップ；
b)ステップa）において上記測定データの修正が検出された場合、分析部が上記測定データのエンティティから修正対象を検索し、上記制御部が上記分析部で検索された上記修正対象測定データのエンティティと、上記エンティティとグラフ構造で連結された測定データのエンティティを検出して再計算するステップ；
c)上記制御部が、ステップb）において上記再計算された測定データのエンティティから、ユーザーインターフェース部を介してディスプレーされるイメージの修正が必要であるか否かを判断するステップ；及び、
d)ステップc）の判断結果により上記イメージの修正が発生した場合、上記制御部が上記再計算された測定データのエンティティに基づいて上記イメージ情報を更新し、上記更新された分析結果レポートを作成するステップを含む3次元測定データの分析結果再計算方法。
【請求項７】
ステップa）の上記測定データのエンティティは、上記エンティティの生成情報が表示されるように上記エンティティの属性情報を表示するステップ；
上記測定データのエンティティが再計算対象エンティティであるか否かが表示されるようにフラグ情報を表示するステップ；及び、
上記測定データのエンティティと連結された上位及び下位エンティティとの連結関係が表示されるように参照情報を表示するステップを含む請求項6に記載の3次元測定データの分析結果再計算方法。
【請求項８】
上記エンティティのフラグ情報は、上記測定データが修正されると上記フラグ情報がセッティングされるようにする請求項7に記載の3次元測定データの分析結果再計算方法。
【請求項９】
上記測定データのエンティティは、上記分析結果レポートに含まれるイメージでキャプチャーされる場合、画面に出力されるエンティティに表示されるように画面表示ステップをさらに含む請求項7に記載の3次元測定データの分析結果再計算方法。
【請求項１０】
上記ステップb）の再計算過程は、上記測定データのエンティティから少なくとも１つ以上の再計算対象エンティティを検出するステップ；
上記検出された再計算対象エンティティをクラスタリングするステップ；及び、
上記クラスタリングされたエンティティに基づき、上記測定データの数値情報及びイメージ情報を含んだ分析結果レポートを再作成するステップを含む請求項6に記載の3次元測定データの分析結果再計算方法。
【請求項１１】
上記分析結果レポートを再作成するステップにおいて、上記クラスタリングされたエンティティから、イメージキャプチャーの際に、画面から見られるエンティティだけを検出してイメージを更新するステップを含む請求項10に記載の3次元測定データの分析結果再計算方法。
【請求項１２】
ステップd）の再作成された分析結果レポートは、上記更新されたイメージをキャプチャーしてディスプレーされるようにし、上記更新されたイメージの情報を貯蔵することを特徴とする請求項6に記載の3次元測定データの分析結果再計算方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、3次元測定データの分析結果を再計算することに関するものであって、さらに詳しくは、3次元測定データの分析結果を、補助幾何及び上記補助幾何から生成された各種寸法又は幾何公差間の相互連関関係を有するように定義して、上記測定データの変更の際に、相互連関された情報により上記分析結果を実時間で再計算する3次元測定データの分析結果再計算に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般的に、3次元スキャナーを用いる測定は、測定対象物と直接的に接触する接触方式と、 接触せずに映像装備を用いる撮影で得られた形状をデジタルデータで処理する方式を用いることによって、物体に対する形状情報が得られるものである。
このような3次元スキャナーを用いる測定は、半導体ウエハーの生産、精密機器の測定、3次元映像の復元等、測定対象物に外的な力が加えられた場合、破損が発生しやすい物体、又は高精度の小型部品等の形状情報を得ようとするに際して使用される。
【０００３】
このような3次元スキャナーを用いる測定過程は、測定対象物を上記3次元スキャナーの据え置き台に固定した後、上記対象物の形状を上記3次元スキャナーを介して測定し、上記対象物の測定データを獲得することになる。
上述の過程において獲得した上記3次元測定データは、所定の分析過程を経て使用者が確認することができるように、数値情報及びイメージ情報を含んだレポートで作成される。
【０００４】
しかしながら、このような従来のレポートは、上記3次元測定データから抽出した各種検査結果を単純な数値や固定されたイメージで表現する集合であるだけで、上記測定データ及び上記測定されたデータを分析するための検査項目の間には何の連結関係もないため、新しい測定データに置換したり測定データの検査基準を変えたりする等の過程を行う場合、全ての作業を最初から改めてしなければならない問題があった。
【０００５】
また、これにより、業務効率がかなり低下される問題があった。
従って、2次元及び3次元で対象物の測定と関連した測定データの修正が発生した場合、測定データの分析及び分析結果を効果的で、迅速に再計算するための技術が要求される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記の問題を可決するため、本発明は、3次元測定データの分析結果を、補助幾何及び上記補助幾何から生成された各種寸法又は幾何公差間の相互連関関係を有するように定義して、相互連関された情報により情報測定データの変更の際に、上記分析結果を実時間で再計算する3次元測定データの分析結果再計算システム及び方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の目的を達成するために、本発明は、３次元測定データの分析結果が相互連関関係を有するように定義し、測定データの変更の際に上記分析結果を実時間で再計算するシステムであって、測定対象物の3次元測定データを検出するスキャナー；上記スキャナーから検出された上記測定データを数値情報及びイメージ情報で表示し、上記測定データの修正のための情報を入力するユーザーインターフェース部；上記ユーザーインターフェース部から入力される上記測定データの修正情報により修正対象になる上記測定データのエンティティを検索する分析部；上記スキャナーから検出された上記測定データがグラフ構造を有するようにエンティティを定義し、上記測定データを分析して数値情報及びイメージ情報が含まれた分析結果レポートを作成し、上記分析部で検索された上記測定データのエンティティから上記分析結果レポートの数値情報及びイメージ情報が再計算されるようにする制御部；及び、上記制御部から作成された上記測定データの数値情報及びイメージ情報を貯蔵するデータ貯蔵部を含む。
【０００８】
また、上記測定データのエンティティは、補助幾何、寸法、幾何公差、形状偏差、断面偏差、境界偏差、又はイメージの少なくともいずれかを含むことを特徴とする。
また、上記測定データのエンティティは上記エンティティの生成情報を表示するエンティティの属性情報；上記測定データのエンティティが再計算対象エンティティであるか否かを表示するフラグ情報；及び、上記測定データのエンティティと連結された上位及び下位エンティティとの連結関係を表示する参照情報を含む。
【０００９】
また、上記測定データのエンティティは、上記分析結果レポートに含まれるイメージがキャプチャーされる場合、画面に出力されるエンティティに表示されるようにする画面表示情報をさらに含むことを特徴とする。
また、上記制御部は、上記再計算対象になる上記測定データのエンティティから上記分析結果のイメージを更新し、上記更新された上記測定データのエンティティから上記分析結果のレポートを更新することを特徴とする。
【００１０】
また、本発明は、３次元測定データの分析結果が相互連関関係を有するように定義し、測定データの変更の際に上記分析結果を実時間で再計算する方法であって、スキャナーが測定対象物を測定したデータを、制御部が、グラフ構造を有するようにエンティティを定義し、上記測定されたデータを分析してユーザーインターフェース部を介して出力されるように数値情報及びイメージ情報を含む分析結果レポートを作成するステップ；上記測定データの修正が検出された場合、分析部が上記測定データのエンティティから修正対象を検索し、上記制御部が上記分析部で検索された上記修正対象測定データのエンティティと、上記エンティティとグラフ構造で連結された測定データのエンティティを検出して再計算するステップ；上記制御部が、上記再計算された測定データのエンティティから、ユーザーインターフェース部を介してディスプレーされるイメージの修正が必要であるか否かを判断するステップ；及び、上記ディスプレーされるイメージの修正が必要であるか否かを判断した結果、上記イメージの修正が発生した場合、上記制御部が上記再計算された測定データのエンティティに基づいて上記イメージ情報を更新し、上記更新された分析結果レポートを作成するステップを含む方法を提供する。
【００１１】
また、上記測定データのエンティティは、上記エンティティの生成情報が表示されるように上記エンティティの属性情報を表示するステップ；上記測定データのエンティティが再計算対象エンティティであるか否かが表示されるようにフラグ情報を表示するステップ；及び、上記測定データのエンティティと連結された上位及び下位エンティティとの連結関係が表示されるように参照情報を表示するステップを含むことを特徴とする。
【００１２】
また、上記エンティティのフラグ情報は、上記測定データが修正されると上記フラグ情報がセッティングされるようにすることを特徴とする。
上記測定データのエンティティは、上記分析結果レポートに含まれるイメージでキャプチャーされる場合、画面に出力されるエンティティに表示されるように画面表示ステップをさらに含むことを特徴とする。
【００１３】
また、上記再計算過程は、上記測定データのエンティティから少なくとも１つ以上の再計算対象エンティティを検出するステップ；上記検出された再計算対象エンティティをクラスタリングするステップ；及び、上記クラスタリングされたエンティティに基づき、上記測定データの数値情報及びイメージ情報を含んだ分析結果レポートを再作成するステップを含む。
【００１４】
また、上記分析結果レポートを再作成するステップにおいて、上記クラスタリングされたエンティティから、イメージキャプチャーの際に、画面から見られるエンティティだけを検出してイメージを更新するステップを含む。
また、上記再作成された分析結果レポートは、上記更新されたイメージをキャプチャーしてディスプレーされるようにし、上記更新されたイメージの情報を貯蔵することを特徴とする。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、添付された図面を用いて本発明の実施の形態を次のように説明する。
図1は、本発明による3次元測定データの分析結果再計算システム構成を示すブロック図である。
図1において、測定データを再計算するシステムは、測定対象物の3次元測定データを検出するスキャナー10と、スキャナー10から検出された上記測定対象物の測定データを数値情報及びイメージ情報で表示し、上記測定データの修正のための情報を入力するユーザーインターフェース部20と、ユーザーインターフェース部20から入力される上記測定データの修正情報又は新しい測定データへの置換情報などにより上記測定データのエンティティを分析して修正対象エンティティを検索する分析部50と、スキャナー10から検出された測定データのエンティティを定義してグラフ構造を形成し、上記測定データを所定の検査基準により分析してその分析結果を数値情報及びイメージ情報を含むレポートに作成し、分析部50から検索された修正対象エンティティを用いて分析結果レポートが再作成されるように上記測定データのエンティティを再計算する制御部40と、制御部40で作成された上記測定データの数値情報及びイメージ情報を含む分析結果レポートを貯蔵するデータ貯蔵部30を含む。
【００１６】
ここで、測定データのエンティティ情報は、点、線、円、平面、円筒、又は矩などの幾何データが構成された幾何学的要素や、上記幾何情報から導出される各種検査項目の情報を含むことができる。上記幾何情報から導出される各種検査項目は、寸法、幾何公差、形状偏差、断面偏差、境界偏差、又はイメージなどの情報である。
【００１７】
制御部40は、スキャナー10から検出される情報で測定データのエンティティを定義する。すなわち、点、線、曲線、面などのような幾何学的要素間の一定の関係、位置などを数値で定義し、エンティティが参照した上位のエンティティに対する情報を定義する。
【００１８】
上記測定データのエンティティは、上記測定データの生成と関連した情報を表示するエンティティの属性情報；上記測定データのエンティティが再計算対象エンティティであるか否かを表示するフラグ情報；及び、上記測定データのエンティティと連結されたエンティティ情報から上位及び下位のエンティティ関連情報を表示する参照情報を含む。
【００１９】
図2は本発明による測定データ再計算のためのエンティティ構造を示すブロック図である。図1及び図2を参照すると、制御部40において定義されるエンティティ100は、測定データの名前とエンティティ位地情報を座標値などで示すためのエンティティの属性情報(N)と、幾何データのエンティティ100が再計算対象エンティティであるか否かを表示するためのフラグ情報(F)と、幾何データのエンティティ100と連結されたエンティティ情報の中で上位のエンティティと連結された個数を表示するための参照情報(C)から構成される。
【００２０】
この場合、エンティティ100は、上位で予め定義された、少なくとも1つ以上のエンティティ(A1、A2及びA3)を参照して生成されることが可能であり、生成されたエンティティは少なくとも1つ以上の下位エンティティ(B1、B2及びB3)の生成のための参照対象である上位エンティティになる。
【００２１】
エンティティの属性情報(N)は、エンティティ100の座標値、幾何学的情報などを示す。
フラグ情報(F)は、最初に設定されたエンティティ100から変更され再計算が必要な場合、再計算対象エンティティを表示するものであり、再計算対象である場合、フラグ値を「1」に設定し、再計算対象でない場合、フラグ値を「0」に表示することが可能であり、必要に応じて他の値を設定することも可能である。
【００２２】
参照情報(C)は、エンティティ100の生成により影響を受けたり参照されたりした上位のエンティティに対する個数を示す。
図3は、本発明による幾何データ再計算のための参照データモデルを示す例示図であり、図4は、図3の参照データ再計算のための参照関係を示すフロー図であって、図2乃至図4を用いてエンティティ100をさらに詳しく説明する。
【００２３】
例えば、定義される測定データが2次元上の三角形(T1)である場合、エンティティ100は次のように定義され相互マッピングされるようになる。三角形(T1)を構成するためのエンティティ100は、まず、点P1、P2、及びP3と、上記P1及びP2を連結する線L1と、上記P2及びP3を連結する線L2と、上記P1及びP3を連結する線L3と、上記線L1、L2及びL3から構成される三角形(T1)からなる。
【００２４】
この場合、P1は(P1、1、3、0、0)、P2は(P2、3、2、0、0)、P3は(P3、3、4、0、0)になり、L1は(P1、P2、0、1)、L2は(P2、P3、0、1)、L3(P1、P3、0、1)になり、T1は(L1、L2、L3、0、2)になる。
【００２５】
ここで、点P1、P2及びP3のエンティティは(X座標値、Y座標値、フラグ値、参照個数値)であり、線L1、L2及びL3は(参照された上位エンティティ情報、フラグ値、参照個数値)であり、T1は(参照された上位エンティティ情報、フラグ値、参照個数値)である。
【００２６】
このようなエンティティの参照関係を図式化すると、図4に示すように、各エンティティは相互グラフ構造を成し、各エンティティが生成されるとともに参照した上位のエンティティと、自分自身を参照して生成された下位のエンティティが連結される。
また、上記測定データのエンティティは、上記分析結果レポートに含まれるイメージがキャプチャーされる場合、画面に出力されるか否かを表示する画面表示情報をさらに含むことが可能である。
【００２７】
これは、上記再計算対象になる上記測定データのエンティティから上記分析結果のイメージを更新し、上記更新された上記測定データのエンティティから上記分析結果のレポートが更新されるようにする。
図1及び図2を参照すると、制御部40は、エンティティ情報からフラグ情報だけを検出して、再計算対象であるか否かと、画面に出力されるイメージであるか否かを検出することが可能であるため、画面に表示される測定データのエンティティだけをクラスタリングし、上記クラスタリングされた測定データエンティティの再計算を通して数値情報やイメージを含む分析結果レポートを更新することが可能であり、上記更新されたイメージをキャプチャーしてディスプレーされるようにする。
【００２８】
また、制御部40で定義されたエンティティ100と、このエンティティ100のマッピングされた情報は、データ貯蔵部30に貯蔵される。
分析部50は、ユーザーインターフェース部20から測定データの修正情報や上記測定データの新しい測定データの置換情報が入力されて上記測定データに修正が発生した場合、上記測定データのエンティティを制御して再計算対象エンティティを検索する。好ましくは、分析部50が測定データの修正で設定されたフラグ情報を検出することにより再計算対象エンティティであることを検出する。
【００２９】
図5は、図3の測定データの修正されたモデルを示す例示図であり、図6は図5の修正された測定データの変更対象のための参照関係を示すフロー図である。図5及び図6を用いてエンティティの再計算をさらに詳しく説明する。
まず、測定データのエンティティ(図3及び図4参照)は、点P1、P2、及びP3と、上記P1及びP2を連結する線L1と、上記P2及びP3を連結する線L2と、上記P1及びP3を連結する線L3と、上記線L1、L2及びL3から構成される三角形(T1)からなり、P1は(P1、1、3、0、0)、P2は(P2、3、2、0、0)、P3は(P3、3、4、0、0)になり、L1は(P1、P2、0、1)、L2は(P2、P3、0、1)、L3は(P1、P3、0、1)になり、T1は(L1、L2、L3、0、2)になる。
【００３０】
しかし、使用者によって測定データが修正されたり新しい測定データに置換されたりした場合、例えば、エンティティP2が修正された場合、エンティティP2は(P2、5、1、1、0)、エンティティL1は(P1、P2、1、1)、エンティティL2は(P2、P3、1、1)、及びエンティティT1は(L1、L2、L3、1、2)になる。すなわち、グラフ構造で連結されたエンティティの中で、上位のエンティティから1つでも変更された場合、下位のエンティティは全て再計算経路に含まれる。
【００３１】
この場合、修正された測定データのエンティティ参照関係は、図5に示すように、エンティティP2、L1、L2及びT1が修正対象エンティティになり、各エンティティのフラグ値が「0」から「1」に変換されて再計算対象エンティティになる。この際、各エンティティのフラグ値は、測定データの修正と同時にセッティングされ、分析部50(図1参照)で修正されたエンティティを検索する。
【００３２】
一方、上記修正された測定データの検出は、元の測定データと比較して変更されたエンティティの情報をセッティングする。
図1を参照すると、制御部40は、分析部50によって検出されたエンティティのフラグ情報から修正対象エンティティを検出してクラスタリングし、上記クラスタリングされたエンティティを上位のエンティティから順次的に変更して新規幾何データを再計算する。
【００３３】
一方、上記クラスタリング過程において、下位に位置する測定データのエンティティが複数の上位測定データのエンティティを参照した場合、上記下位測定データのエンティティが参照した全ての上位測定データのエンティティが再計算対象になるのではない。すなわち、上位のエンティティが再計算対象になった場合、下位のエンティティは再計算対象エンティティになるが、反対の場合は、必ず成立するわけではない。
【００３４】
次は、本発明による幾何データの再計算方法を図1及び図7を用いて説明する。
スキャナー10を介して測定対象物を測定(S100)し、測定された結果を制御部40がグラフ構造を有するようにエンティティを定義して、測定データのエンティティ及びグラフ構造を生成する(S110)。上記S110において、測定データのエンティティは次のように定義される。上記測定データの生成情報が表示されるように、例えば、上記エンティティに位地情報などを表示し、上記測定データのエンティティが修正されて再計算対象であるか否かが表示されるように上記エンティティにフラグ情報を表示し、上記測定データのエンティティとグラフ構造で連結された上位及び下位のエンティティ連結関係が表示されるように上記エンティティに参照情報を表示し、上述のエンティティ生成過程を通して測定データは相互連結される。
【００３５】
上記S110において生成された測定データのエンティティを用いて、制御部40は、上記測定対象物を予め設定された検査項目などと比較し分析して(S120)、上記S120において分析された結果を、数値情報及びイメージ情報を含んだ分析結果レポートに作成して、ユーザーインターフェース部20を介して出力されるようにし、上記分析結果レポートをデータ貯蔵部30に貯蔵する(S130)。
【００３６】
上記分析結果レポートに挿入される各種測定結果物は、単純な数字やイメージの集合ではなく、各結果物がどうやって生成されたかに対する情報を媒介変数として有する動的固体、すなわちエンティティである。従って、測定データが修正されたり新しい測定データに置換されたりする場合、又は検査基準値の変更や設計基準値の変更で上記媒介変数が変わる場合、影響を受ける結果物もまた自動で更新されるようにした。
【００３７】
上記S130を行った後、制御部40は、ユーザーインターフェース部20を介して検査基準や設計情報を変更して、分析結果レポート値を修正するか否かを判断する(S140)。
上記S140において上記測定データを検査するための基準や設計情報の修正が検出された場合、分析部50は、修正された測定データのエンティティからフラグ情報がセッティングされたエンティティを全て検出する(S150)。
【００３８】
また、修正された測定データのエンティティから、画面を通してイメージがディスプレーされる測定データのエンティティを検出して、イメージキャプチャーの際に、画面にどんなエンティティが表示されたかを確認することが可能である。
上記S140において分析部50による修正対象エンティティの検索が終了した場合、制御部40が、分析部50で検索した上記修正対象エンティティ、及び上記修正対象エンティティとグラフ構造で連結された測定データのエンティティを再計算する(S160)。
【００３９】
上記S160においての再計算過程は、図1及び図8を用いてさらに詳しく説明する。図8において、制御部40は、分析部50から少なくとも1つ以上の再計算対象測定データのエンティティを検出し(S610)、上記S610において検出された再計算対象測定データのエンティティを制御部40がクラスタリング(Clustering)する(S620)。
【００４０】
上記クラスタリングされた測定データのエンティティに基づいて、上記測定データを分析し、分析された結果により、数値情報及びイメージを改めて描いて上記測定データの分析結果レポートを再計算する(S630)。
すなわち、図5及び図6に示すように、グラフ構造のエンティティP2が修正された場合、分析部50は、修正された測定データのエンティティと上記修正対象になった測定データのエンティティと連結されたエンティティのフラグ情報を検出する。
【００４１】
エンティティP2は(P2、5、1、1、0)、エンティティL1は(P1、P2、1、1)、エンティティL2は(P2、P3、1、1)、及びエンティティT1は(L1、L2、L3、1、2)になるようにし、エンティティP2の変更により修正されるエンティティL1及びL2の位置情報及び距離に対する情報や、エンティティT1の面積に対する情報も改めて計算することによって測定データの数値情報を算出し、上記測定データのイメージも更新されるようにする。
【００４２】
図1及び図7を参照すると、上記S160において再計算が終了すると、制御部40は、上記修正された測定データの中で、ユーザーインターフェース部20を介してイメージキャプチャーの際にディスプレーされるイメージが含まれたエンティティがあるか否かを判断する(S170)。
【００４３】
すなわち、制御部40は、修正された測定データのエンティティのセッティングされたフラグ情報から、画面を通して出力されるデータであるか否かを確認し、ディスプレーされるエンティティがある場合、制御部40は、現在描かれているエンティティに基づいて、確認されたエンティティがイメージに反映されるように新しいイメージを生成(S180)し修正する。
【００４４】
新しいイメージが生成されると、制御部40は、新しく生成されたイメージをキャプチャーしてユーザーインターフェース部20を介して出力し、上記S150において再計算された数値情報と上記更新されたイメージ情報を、上記S130において生成された分析結果レポートに含めて修正する(S190)。
【００４５】
また、レポートの修正が終了すると、上記レポートをデータ貯蔵部30に貯蔵する。
一方、上記S140及びS170において、測定データの修正や、画面に出力されるエンティティがない場合、エンティティの再計算や分析結果レポートのアップデートを終了する。
【００４６】
従って、測定対象物から測定されたデータの分析及びイメージの出力が容易になり、測定されたデータが修正されたり、新しい測定データが入力されたりしても、測定データの分析結果レポートがダイナミックに変更されるようになる。
上記にように、本発明は、測定データの分析結果を、補助幾何及び上記補助幾何から生成された各種寸法又は幾何公差間の相互連関関係を有するように定義して、上記測定データの変更の際に、相互連関された情報によって上記分析結果を実時間で再計算して、測定データの変動の際に反復的な検査作業を単純化させることによって、検査効率の向上や測定データの分析の自動化が可能である利点がある。
【００４７】
以上においては、本発明を、特定の好ましい実施の形態を用いて図示し説明した。しかし、本発明は、上述の実施の形態に限られるものではなく、本発明の属する技術分野で通常の知識を有する者なら以下の特許請求範囲に記載の本発明の技術的な思想を逸脱することなく、多様な変更を実施することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明による3次元測定データの分析結果再計算システム構成を示すブロック図である。
【図２】測定データのエンティティ構造を示すブロック図である。
【図３】分析結果のレポート作成の際にキャプチャーされたイメージを示す例示図である。
【図４】図3の分析結果を再計算するための参照関係を示すフロー図である。
【図５】図3の分析結果に修正が発生した場合、修正されたモデルを示す例示図である。
【図６】図5の修正された分析結果の参照関係を示すフロー図である。
【図７】本発明による3次元測定データの分析結果再計算過程を示すフロー図である。
【図８】分析結果の再計算過程をさらに詳しく示すフロー図である。
【符号の説明】
【００４９】
10・・・スキャナー  20・・・ユーザーインターフェース部  30・・・データ貯蔵部  40・・・        制御部  50・・・分析部  100・・・エンティティ
【図１】
2006343312.tif 000003
【図２】
2006343312.tif 000004
【図３】
2006343312.tif 000005
【図４】
2006343312.tif 000006
【図５】
2006343312.tif 000007
【図６】
2006343312.tif 000008
【図７】
2006343312.tif 000009
【図８】
2006343312.tif 000010