(57)【要約】【課題】  高速に波長掃引することができる光スペクトラムアナライザを実現することを目的にする。【解決手段】  本発明は、コリメータ手段が被測定光を平行光にし、回折格子がコリメータ手段から入射した平行光を入射角に応じて分光し、回折格子によって分光された光をスリットを介して光検出器で検出して被測定光のスペクトラムを測定する光スペクトラムアナライザに改良を加えたものである。本装置は、コリメータ手段と回折格子との間に設けられ、平行光の被測定光を偏向し、回折格子への入射角を変える音響光学偏向器を設けたことを特徴とするものである。【選択図】                    図１
2006138734.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コリメータ手段が被測定光を平行光にし、回折格子が前記コリメータ手段から入射した平行光を入射角に応じて分光し、前記回折格子によって分光された光をスリットを介して光検出器で検出して前記被測定光のスペクトラムを測定する光スペクトラムアナライザにおいて、
前記コリメータ手段と前記回折格子との間に設けられ、前記平行光の被測定光を偏向し、前記回折格子への前記入射角を変える音響光学偏向器を設けたことを特徴とする光スペクトラムアナライザ。
【請求項２】
前記音響光学偏向器と前記回折格子との間に設けられ、前記音響光学偏向器からの被測定光を、偏向量によらず前記回折格子の同じ位置に照射する位置補正手段を設けたことを特徴とする請求項１記載の光スペクトラムアナライザ。
【請求項３】
位置補正手段は、
前記音響光学偏向器からの被測定光を集光する第１のレンズと、
この第１のレンズと同じ焦点距離であり、互いの焦点位置が一致する共焦点位置に設けられ、前記第１のレンズからの被測定光を平行光にして前記回折格子に出射する第２のレンズと
を有することを特徴とする請求項２記載の光スペクトラムアナライザ。
【請求項４】
被測定光の偏波状態を所望の状態に変え前記音響光学偏向器に出射する偏波制御手段を設けたとことを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載の光スペクトラムアナライザ。
【請求項５】
偏波制御手段は、偏波スクランブラであることを特徴とする請求項４記載の光スペクトラムアナライザ。
【請求項６】
偏波制御手段は、偏波コントローラであることを特徴とする請求項４記載の光スペクトラムアナライザ。
【請求項７】
偏波制御手段は、偏光解消板であることを特徴とする請求項４記載の光スペクトラムアナライザ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コリメータ手段が被測定光を平行光にし、回折格子がコリメータ手段から入射した平行光を入射角に応じて分光し、回折格子によって分光された光をスリットを介して光検出器で検出して被測定光のスペクトラムを測定する光スペクトラムアナライザに関し、詳しくは、高速に波長掃引することができる光スペクトラムアナライザに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
図７は、従来の光スペクトラムアナライザの構成を示した図であり、一例としてツェルニ・ターナ型の分光器を用いた例を示している（例えば、特許文献１、特許文献２参照）。図７において、種々の波長を含んだ被測定光が入射スリット１から入射され、凹面鏡２に当たると平行光となって回折格子３に入射される。
【０００３】
そして、波長分散素子の一種である回折格子３に被測定光が入射されると、回折格子３によって分光される。従って、回折格子３からの出射光は波長毎に異なる方向に伝播されるため空間的に広がりを持ち凹面鏡４に入射される。さらに、凹面鏡４で反射された被測定光は波長毎に出射スリット５面上の異なる位置に集光される。
【０００４】
例えば、波長λ１〜λ３それぞれの被測定光は、出射スリット５の”Ｐ１”〜”Ｐ３”の位置に集光される。従って、集光された光のうち出射スリット５の横幅の範囲内となる波長成分（例えば、位置Ｐ２の波長λ２）の被測定光だけが出射スリット５を通過して、光検出器６で受光される。そして、光検出器６が通過光の光強度に応じた電気信号を出力する。
【０００５】
ここで回折格子３を図示しないモータで回転させることにより、回折格子３に入射する被測定光の入射角が変わり、各波長λ１〜λ３の被測定光が出射スリット５面上に集光する位置も変わる。なお、回折格子３の表面には多数の溝が形成されているが、回折格子３の回転は、この溝に平行な軸を中心として回転させる。その結果、出射スリット５を通過する波長が変わり、波長掃引が行われる。そして、図示しない信号処理部が、光検出器６から出力される電気信号から波長と光強度との特性、すなわち光スペクトラムを求める。
【０００６】
【特許文献１】特許第３２５４９３２号公報
【特許文献２】特許第２８９２６７０号公報（第２頁、第３図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このような光スペクトラムアナライザは、例えば、光ネットワークの光通信における波長モニタに用いられる。そして、次世代光ネットワークでは、光信号を電気信号に変換することなく、データが光信号のまま中継される。このような光ネットワークは、波長によって高速にパスを切り替えてデータを転送するバーストスイッチングと呼ばれる技術が用いられる。バーストスイッチングのパス切り替えに要する時間は約１［ｍｓｅｃ］程度であり、高速な波長切り替えに対応できる光スペクトラムアナライザが必要になっている。
【０００８】
しかしながら、図７に示す光スペクトラムアナライザは、回折格子３を回転させて波長掃引するため、波長掃引速度が回折格子３の回転に用いるモータの速度に依存し、遅いという問題があった。通常、例えば、１０００［ｎｍ］程度の波長掃引を行なう場合の掃引時間が、現状１［ｓｅｃ］程度でありリアルタイム（約１［ｍｅｓｃ］以下）な測定ができないという問題があった。
【０００９】
そこで本発明の目的は、高速に波長掃引することができる光スペクトラムアナライザを実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
請求項１記載の発明は、
コリメータ手段が被測定光を平行光にし、回折格子が前記コリメータ手段から入射した平行光を入射角に応じて分光し、前記回折格子によって分光された光をスリットを介して光検出器で検出して前記被測定光のスペクトラムを測定する光スペクトラムアナライザにおいて、
前記コリメータ手段と前記回折格子との間に設けられ、前記平行光の被測定光を偏向し、前記回折格子への前記入射角を変える音響光学偏向器を設けたことを特徴とするものである。
【００１１】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、
前記音響光学偏向器と前記回折格子との間に設けられ、前記音響光学偏向器からの被測定光を、偏向量によらず前記回折格子の同じ位置に照射する位置補正手段を設けたことを特徴とするものである。
請求項３記載の発明は、請求項２記載の発明において、
位置補正手段は、
前記音響光学偏向器からの被測定光を集光する第１のレンズと、
この第１のレンズと同じ焦点距離であり、互いの焦点位置が一致する共焦点位置に設けられ、前記第１のレンズからの被測定光を平行光にして前記回折格子に出射する第２のレンズと
を有することを特徴とするものである。
【００１２】
請求項４記載の発明は、請求項１〜３のいずれかに記載の発明において、
被測定光の偏波状態を所望の状態に変え前記音響光学偏向器に出射する偏波制御手段を設けたことを特徴とするものである。
請求項５記載の発明は、請求項４記載の発明において、
偏波制御手段は、偏波スクランブラであることを特徴とするものである。
請求項６記載の発明は、請求項４記載の発明において、
偏波制御手段は、偏波コントローラであることを特徴とするものである。
請求項７記載の発明は、請求項４記載の発明において、
偏波制御手段は、偏光解消板であることを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、以下のような効果がある。
請求項１〜７によれば、音響光学偏向器が、回折格子に入射する被測定光の入射角を変えるので、回折格子を機械的に回転させて波長掃引するよりも、高速に波長掃引することができる。
【００１４】
請求項２、３によれば、位置補正手段が、音響光学偏向器の偏向量によらず、音響光学偏向器からの１次光を回折格子の同じ位置に照射するので、精度よく光スペクトラムの測定が行なえる。
【００１５】
請求項４〜７によれば、偏波制御手段が、被測定光を所望の偏光状態にするので、音響光学偏向器、回折格子の偏波依存性を軽減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
［第１の実施例］
図１は、本発明の第１の実施例を示す構成図である。ここで、図７と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図１において、光ファイバ７は、入射スリット１の代わりに設けられ、被測定光を伝播し出射する。コリメータレンズ８は、コリメータ手段であり、凹面鏡２の代わりに設けられ、光ファイバ７からの被測定光を平行光にして出射する。
【００１７】
音響光学偏向器（以下、ＡＯＤ（acoustooptic deflector）と略す）９は、コリメータレンズ８と回折格子３との間に新たに設けられ、コリメータレンズ８からの平行光の被測定光を偏向し、ＡＯＤ９から回折格子３に入射する被測定光の入射角を変える。
【００１８】
集光レンズ１０は、凹面鏡４の代わりに設けられ、回折格子３で分光された被測定光を出射スリット５上に集光する。
【００１９】
波形発生装置１１は、ランプ波を発生する。ディバイダ１２は、波形発生装置１１からの電気信号を分割し、必要に応じて分周する。電圧制御発振器（以下、ＶＣＯ（Voltage Controlled Oscillator）と略す）１３は、ディバイダ１２からのランプ波の電圧に追従した高周波信号をＡＯＤ９に出力する。オシロスコープ１４は、ディバイダ１２からのランプ波をトリガ信号とし、光検出器６からのデータから被測定光の光スペクトラムを求め、表示する。
【００２０】
このような装置の動作を説明する
被測定光が、光ファイバ７によって伝播され、光ファイバ７のファイバ端面からコリメータレンズ８に所定の出射角で出射される。そして、コリメータレンズ８が、被測定光を平行光にしてＡＯＤ９に出射する。
【００２１】
一方、ＡＯＤ９は、ＶＣＯ１３からの高周波信号に応じた粗密波がＡＯ結晶内に発生する。従って、ＡＯＤ９が、コリメータレンズ８から入射した平行光を、高周波信号に応じて出射方向を変え、すなわち平行光の被測定光を偏向して回折格子３に出射する。
【００２２】
そして、回折格子３がＡＯＤ９から入射した被測定光を分光する。従って、回折格子３からの出射光が、波長毎に異なる方向に伝播されるため空間的に広がりを持ち集光レンズ１０に入射される。さらに、集光レンズ１０が、被測定光を波長毎に出射スリット５面上の異なる位置に集光する。そして、集光された光のうち出射スリット５の横幅（波長分散方向の幅）の範囲内となる波長成分の被測定光だけが出射スリット５を通過して、光検出器６で受光される。そして、光検出器６が通過光の光強度に応じた電気信号をオシロスコープ１４に出力する。
【００２３】
続いて、波長掃引の動作について説明する。
波形発生装置１１からのランプ波をディバイダ１２が分岐し、一方をＶＣＯ１３に出力し、他方をオシロスコープ１４に出力する。そしてＶＣＯ１３が、ランプ波の電圧に追従した高周波信号をＡＯＤ９に出力する。
【００２４】
さらに、高周波信号に応じた粗密波が、ＡＯＤ９のＡＯ結晶内に発生され、ＡＯＤ９が生成する１次光の伝播方向が変わる。従って、回折格子３に入射する１次光の入射角が高速に変わる。つまり、図７に示したように、回折格子３を回動させ回折格子３への入射角を変えたことと同様になる。その結果として出射スリット５で切り出される波長も、高速に掃引される。
【００２５】
そして、オシロスコープ１４に設けられる図示しない信号処理部が、ディバイダ１２からの電気信号をトリガ信号として、光検出器６から出力される電気信号から波長と光強度との特性、すなわち光スペクトラムを求め、光スペクトラムを表示する。
【００２６】
このように、ＡＯＤ９が、回折格子３に入射する被測定光の入射角を変えるので、図７に示したように回折格子３を機械的に回転させるよりも、高速に波長掃引することができる。例えば、ＡＯＤ９であれば、１掃引を１００［μｓｅｃ］程度で掃引でき、図７に示す装置よりも約１／１０，０００の時間で掃引できている。
【００２７】
また、ＡＯＤ９が、被測定光を偏向させるので、電気光学効果を用いて被測定光を偏向させるものと比較して、偏向角を大きくとることができる。これにより、波長掃引する波長範囲を広くすることができる。
【００２８】
［第２の実施例］
図２は、本発明の第２の実施例を示した構成図である。ここで、図１と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図２において、ＡＯＤ９と回折格子３との間に、第１のレンズ１５、第２のレンズ１６が新たに設けられる。レンズ１５、１６は、位置補正手段であり、ＡＯＤ９からの被測定光を、ＡＯＤ９の偏向量によらず回折格子３の同じ位置に照射する。
【００２９】
また、第１のレンズ１５は、ＡＯＤ９からの平行光を集光する。第２のレンズ１６は、第１のレンズ１５と同じ焦点距離ｆであり、互いの焦点位置が一致する共焦点位置に設けられ、第１のレンズ１５からの被測定光を平行光にして回折格子３に出射する。すなわち、ＡＯＤ９からレンズ１５までの距離、レンズ１５から集光位置までの距離、集光位置からレンズ１６までの距離、レンズ１６から回折格子３までの距離は、全て焦点距離ｆと同じである。
【００３０】
さらに、光ファイバ７によって伝播される被測定光の偏波（偏光とも呼ばれる）状態を所望の状態に変える偏波コントローラ１７が新たに設けられる。この偏波コントローラ１７は、偏波制御手段である。
【００３１】
このような装置は、図１に示す装置の動作とほぼ同様であるが、異なる動作は、偏波コントローラ１７が、被測定光の偏波状態を所望の状態、例えば、回折格子３の回折効率が最もよくなる偏波状態にする。
【００３２】
また、共焦点位置に設けられたレンズ１５、１６が、ＡＯＤ９からの被測定光を、偏向量によらず、回折格子３の所定の位置に照射する。
【００３３】
このように、偏波コントローラ１７が、被測定光の偏波状態を、回折格子３の回折効率が最もよい偏波面にするので、光検出器６で検出される光パワーが大きくなり、精度よく光スペクトラムの測定をすることができる。
【００３４】
また、ＡＯＤ９にも偏光依存性があり、偏光状態が変わると１次光の出射角も変わってしまう。しかし、偏波コントローラ１７が、被測定光の偏波状態を所定の偏波面にするので、偏光状態によって出射角が変動することが無いので、精度よく光スペクトラムの測定をすることができる。
【００３５】
さらに、レンズ１５、１６が、ＡＯＤ９の偏向量によらず、ＡＯＤ９からの１次光を回折格子３の同じ位置に照射するので、以下の（１）〜（３）に示すように精度よく光スペクトラムの測定が行なえる。
【００３６】
（１）図３を用いて説明する。ここで、図１、図２と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。また、回折格子３、出射スリット５、ＡＯＤ９、レンズ１０、１５、１６以外の図示も省略している。図３（ａ）は、図１に示す装置において、ＡＯＤ９による被測定光の偏向量を変えた場合であり、図３（ｂ）は、図２に示す装置において、ＡＯＤ９による被測定光の偏向量を変えた場合である。なお、スリット５を通過する光軸のみを図示し、被測定光１００〜１０２は、偏向量がそれぞれ異なっている。
【００３７】
図３（ａ）に示すように、レンズ１５、１６がない場合、ＡＯＤ９の偏向量によって、被測定光１００〜１０２が回折格子３に照射される位置が異なる。従って、スリット５を通過する波長成分の被測定光１００〜１０２であっても、集光レンズ１０に入射する位置が異なる。
【００３８】
一方、図３（Ｂ）に示すように、レンズ１５、１６がある場合、ＡＯＤ９の偏向量によらず、被測定光１００〜１０２が回折格子３に照射される位置が同じになる。従って、集光レンズ１０に入射する位置も同じとなる。
【００３９】
このように、レンズ１５、１６が、ＡＯＤ９の偏向量によらず、ＡＯＤ９からの１次光を回折格子３の同じ位置に照射するので、集光レンズ１０の同じ位置を透過してスリット１０上に集光する。つまり、レンズ１０には球面収差、色収差等の収差が存在するが、偏向量によらず、被測定光１００〜１０２がレンズ１０の同じ位置を通過するので、収差の影響を軽減することができる。これにより、スリット１０での集光ビーム径もほとんど変化しない。従って、波長によって波長分解能が変わることもなく、波長分解能の波長依存性を軽減することができ、精度よく光スペクトラムの測定が行なえる。
【００４０】
（２）図１に示す装置では、偏向量によって、回折格子３に照射される位置が異なるので、ＡＯＤ９での偏向量とスリット５を通過する波長との関係にリニアリティがない。一方図２に示す装置では、レンズ１５、１６が、ＡＯＤ９の偏向量によらず、ＡＯＤ９からの１次光を回折格子３の同じ位置に照射するので、集光レンズ１０と回折格子３の回折面が平行であれば、ＡＯＤ９での偏向量とスリット５を通過する波長との関係にリニアリティがある。従って、図示しない信号処理部で光スペクトラムを求めるのが容易になると共に、精度よく光スペクトラムの測定が行なえる。
【００４１】
（３）ＡＯＤ９が１次光を偏光できる角度は、通常２〜３°程度であり、最大でも５°程度である。近年、光通信で使用されることが多い波長帯は、Ｓバンド（１４６０−１５３０［ｎｍ］）、Ｃバンド（１５３０−１５６５［ｎｍ］）、Ｌバンド（１５６５−１６２５［ｎｍ］）だが、これらの波長範囲全てを波長掃引することが困難という問題がある。。そこで、各バンドごとに回折格子３を回転させてもよい。例えば、回折格子３を図７に示す装置と同様に、回折格子３の溝に平行な軸を中心として回転させる
【００４２】
具体的には、ＡＯＤ９によってＳバンド帯の波長掃引を行なう。そして、Ｃバンドを測定する最適な角度まで回折格子３を回転させ、回折格子３の回転終了後、ＡＯＤ９によってＣバンド帯の波長掃引を行なう。そらに、Ｌバンドを測定する最適な角度まで回折格子３を回転させ、回折格子３の回転終了後、ＡＯＤ９によってＬバンド帯の波長掃引を行なう。
【００４３】
この際、図１に示す装置では、偏向量によって、回折格子３に照射される位置が異なる。そのため、回折格子３を回転させると、ＡＯＤ９の偏向量が同じであっても、回折格子３に入射する位置が異なる。そのため、光学系の調整が非常に困難になるという問題があった。一方図２に示す装置では、レンズ１５、１６が、ＡＯＤ９の偏向量によらず、ＡＯＤ９からの１次光を回折格子３の同じ位置に照射するので、回折格子３の回転軸の中心を、回折格子３に照射されるビームの中心に合わせれば、回折格子３の回転角に関わらず同じ位置に照射される。これにより、光学系の調整が容易となり、精度よく光スペクトラムの測定が行なえる。
【００４４】
［第３の実施例］
図４は、本発明の第３の実施例を示した構成図であり、加分散配置のものに本発明を適用した例である。ここで、図２と同一のものは同一符号を付し、説明を省略すると共に図示も省略する。図４において、出射スリット５を通過した被測定光が、レンズ１８によって平行光にされて第２の回折格子１９に入射する。
【００４５】
そして、回折格子１９に被測定光が入射されると、回折格子１９によって分光される。つまり、回折格子３、１９によって分光が２回行なわれるダブルパス構造になっている。なお、レンズ１０、１８の焦点距離が等しい場合、回折格子３、１９それぞれの回折面は、１対１の決像関係になる。もちろん、出射スリット５は、レンズ１０、１８の中間位置のフーリエ面に配置されている。
【００４６】
また、回折格子３、１９による回折は、短波長側の方が長波長側に比べ屈折角が大きくなるため、図３に示すように回折格子１９を設けることにより分光角が大きくなる。いわゆる加分散配置である。なお、スリット５は、迷光除去に用いられ、波長分解能には寄与しない。
【００４７】
回折格子１９からの出射光は、波長毎に異なる方向に伝播されるため空間的に広がりを持つが、レンズ２０によって波長毎に出射スリット２１面上の異なる位置に集光される。そして、出射スリット２１によって所望の波長成分の光のみが切り出され光検出器６で受光される。波長掃引等やその他の動作は、図２に示す装置と同様なので説明を省略する。
【００４８】
このように、加分散配置された回折格子１９が、回折格子３によって分光された被測定光を再度分光するので、分光角が大きくなり、波長分解能が向上する。例えば、回折格子１９を回折格子３と同等のものを用いれば、波長分解能が２倍に向上する。これにより、被測定光の光スペクトラムを精度よく測定することができる。
【００４９】
［第４の実施例］
図５は、本発明の第４の実施例を示した構成図であり、図４と異なる加分散配置のものに本発明を適用した例である。ここで、図２と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。また、波形発生装置１１、ディバイダ１２、ＶＣＯ１３、オシロスコープ１４の図示を省略し、さらに光軸のみを図示している。
【００５０】
図５において、新たに設けられるミラー２２が、回折格子３で分光された光を反射して、再度回折格子３に入射する。そして回折格子３が、ミラー２２からの反射光を再度分光し、集光レンズ１０が、再度分光した光を出射スリット５上に集光する。その他の動作は、図２に示す装置と同様なので説明を省略する。
【００５１】
このように、ミラー２２が、回折格子３が分光した光を再度回折格子３に入射し、回折格子３が再度分光をする。つまり、ダブルパス構造による加分散配置になっているので、分光角が大きくなり、波長分解能が向上する。これにより、図４に示す装置よりも少ない数の回折格子で、被測定光の光スペクトラムを精度よく測定することができる。
【００５２】
［第５の実施例］
図６は、本発明の第５の実施例を示した構成図であり、図４、図５と異なる加分散配置のものに本発明を適用した例である。ここで、図２と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。また、波形発生装置１１、ディバイダ１２、ＶＣＯ１３、オシロスコープ１４の図示を省略し、さらに光軸のみを図示している。
【００５３】
図６において、新たに設けられるコーナーキューブリフレクタ２３が、回折格子３で分光された光を反射して、再度回折格子３に入射する。但し、リフレクタ２３が、回折格子３の溝に沿った方向にのみ光軸を平行にずらして反射する。そして回折格子３が、リフレクタ２３からの反射光を再度分光する。
【００５４】
さらに、再度分光された光が、レンズ１６、１５で伝播されて、新たに設けられるミラー２４で集光レンズ１０に折り返し反射される。なお、ＡＯＤ９からレンズ１５への光と、回折格子３からレンズ１６、１５を経て戻ってきた戻り光とは、光軸が溝に沿った方向にずれているので、ミラー２４は、戻り光のみを集光レンズ１０に反射する。そして、集光レンズ１０が、ミラー２４からの光を出射スリット５上に集光する。その他の動作は、図２に示す装置と同様なので説明を省略する。
【００５５】
このように、リフレクタ２３が、回折格子３が分光した光を再度回折格子３に入射し、回折格子３が再度分光する。つまり、ダブルパス構造による加分散配置になっているので、分光角が大きくなり、波長分解能が向上する。これにより、図４に示す装置よりも少ない数の回折格子で、被測定光の光スペクトラムを精度よく測定することができる。
【００５６】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、以下のようなものでもよい。
図１〜図２、図４〜図６に示す装置において、光ファイバ７によって被測定光を伝送する構成を示したが、図７に示すように入射スリットを設け、この入射スリットを被測定光が通過するようにしてもよい。また、コリメータ手段の一例としてレンズ８を設ける構成を示したが、図７に示すように放物面鏡を用いてもよい。
【００５７】
図２、図４〜図６に示す装置において、偏波コントローラ１７を用いる構成を示したが、偏向状態をランダムな状態にする偏波スクランブラを用いてもよい。すなわち、波長掃引する時間よりも、被測定光の偏波状態を十分に高速にランダムにすることにより、ＡＯＤ９、回折格子３、１９の偏波依存性を軽減することができる。
【００５８】
図２、図４〜図６に示す装置において、偏波コントローラ１７を用いる構成を示したが、偏光解消板（例えば、特許第２９９５９８５号公報の段落番号００１２−００１７、第１−２図、第８図参照）をＡＯＤ９の前段、例えば、レンズ８とＡＯＤ９との間に設けてもよい。そして、偏光解消板が、被測定光の偏波状態を空間的にみて多くの偏波状態が混ざった状態、すなわちランダムな状態にするので、ＡＯＤ９、回折格子３、１９の偏波依存性を軽減することができる。
【００５９】
なお偏光解消板は、例えば、第１の光学軸に対し４５°の方向に厚みが連続的に変化する第１の水晶板と、第２の光学軸に対し４５°の方向に厚みが連続的に変化する第２の水晶板とを、第１の光学軸と第２の光学軸を互いに直交して、第１の水晶板と第２の水晶板を貼り合わせたものである。
【００６０】
図２、図４〜図６に示す装置において、偏波コントローラと位置補正手段の両方を設ける構成を示したが、一方のみでもよい。
【００６１】
図４〜図６に示す装置において、回折格子３、１９で２度分光されるダブルパスの構成を示したが、何回分光させてもよく、マルチパスの構成にしてもよい。また、加分散配置でなく差分散配置としてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】本発明の第１の実施例を示した構成図である。
【図２】本発明の第２の実施例を示した構成図である。
【図３】図１に示す装置と図２に示す装置それぞれのＡＯＤ９から回折格子３への光路を示した図である。
【図４】本発明の第３の実施例を示した構成図である。
【図５】本発明の第４の実施例を示した構成図である。
【図６】本発明の第５の実施例を示した構成図である。
【図７】従来の光スペクトラムアナライザの構成を示した図である。
【符号の説明】
【００６３】
３、１９  回折格子
５、２１  スリット
６  光検出器
８  コリメータレンズ
９  ＡＯＤ
１０  集光レンズ
１５  第１のレンズ
１６  第２のレンズ
１７  偏波コントローラ
【図１】
2006138734.tif 000003
【図２】
2006138734.tif 000004
【図３】
2006138734.tif 000005
【図４】
2006138734.tif 000006
【図５】
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【図６】
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【図７】
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