(57)【要約】【課題】内部の機能切替における必要なクロックの切替にかかる煩雑さを解消し、外部から内部の機能切替の命令のみで精密なクロック設定を実現する半導体集積装置を提供する。【解決手段】外部から入力される内部機能の切替の命令１００の内容を判別し、特定の機能ブロック１１８に対して必要なクロックの周波数を判別するクロック周波数判定回路１１４と、切り替え前後の周波数の関係により、機能切り替えとクロック切り替えのタイミングを制御し、切り替えの状態を表す機能切替・クロック切替完了フラグ１１０を外部に出力するクロック切替制御回路１１３とを備えることにより、クロック切り替えの制御を外部から行う必要がなくなるようにした。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
機能ブロックにクロックを供給するため、外部から入力されるクロックもしくはクロック出力回路から出力されるクロックのいずれかに選択的に切り替えを行う半導体集積装置において、
外部から入力される内部機能切替命令の内容を判別し、特定の機能ブロックに対して必要なクロックの周波数を判別するクロック周波数判定回路と、
前記特定の機能ブロックに供給するクロックの切り替えの前後の周波数の高低を判定し、前記特定の機能ブロックに供給するクロックの切り替えの前後の周波数の高低関係に基づき、前記内部機能切替命令を実際に有効にさせるタイミングとクロック周波数を切替えるタイミングを制御するクロック切替制御回路を備えた、
ことを特徴とした半導体集積装置。
【請求項２】
請求項１記載の半導体集積装置において、
前記クロック周波数判定回路は、
前記特定の機能ブロックに供給するクロックを切り替える際、切り替わる前後のクロックが非同期か同期かを判定し、非同期と判定される場合に、その始まりが切り替わりの前のクロックに同期し、その終わりが切り替わりの後のクロックに同期する、ハイレベルもしくはロウレベルのマスク信号で前記特定の機能ブロックに供給するクロックを固定しておく、
ことを特徴とした半導体集積装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載の半導体集積装置において、
前記クロック切替制御回路は、
前記クロック出力回路から出力されるクロックが前記特定の機能ブロックに供給するためのクロックの切り替えに必要であるか否かを判定し、
前記クロック出力回路の出力クロックが必要であると判定される場合であって、前記クロック出力回路が動作していないと判定される場合に、前記クロック出力回路を動作状態に移行させる、
ことを特徴とした半導体集積装置。
【請求項４】
請求項３記載の半導体集積装置において、
前記クロック出力回路の出力クロックが、一定の周波数を出力していない不安定な状態であるか、または一定の周波数を出力している安定な状態であるかを判定する発振安定判定回路を備え、
前記発振安定判定回路は、
前記外部のクロックによるカウント値が、前記クロック出力回路の出力クロックの一定の分周期間に特定の値をとっている時に安定していると判定し、該発振安定判定回路の判定結果に基づき、前記クロック出力回路の出力クロックが安定な状態に遷移した後にクロックを切り替える、
ことを特徴とした半導体集積装置。
【請求項５】
請求項１ないし４のいずれかに記載の半導体集積装置において、
前記クロック切替制御回路は、
前記クロック切替と前記機能の切替が完了したことを示すフラグを外部に出力する、
ことを特徴とした半導体集積装置。
【請求項６】
請求項３ないし５のいずれかに記載の半導体集積装置において、
前記クロック出力回路は、逓倍率の変更可能なＰＬＬ回路であり、該ＰＬＬ回路の発振周波数の変更を伴うクロック切替動作が発生した場合、ＰＬＬ回路の発振安定待ちの間、一時的に外部からの安定したクロックに切り替える、
ことを特徴とした半導体集積装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体集積装置に関し、特にオーディオ再生装置等の信号処理回路に用いられるクロックの周波数を自動的に制御し、外部、または内蔵のマイクロコンピュータの負荷軽減を実現する半導体集積装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
消費電力を抑えることを目的とした装置では、各機能の処理内容に応じて、クロックの周波数を動作中に変更する場合がある。従来では、この機能の切替とクロックの切替は、別々の命令で行うか、一つの命令で同時に行っていた。
【０００３】
機能の切替とクロックの切替を同時に行う場合は、クロック周波数の切替によって生じるハザードや周波数の安定しない状態のクロック供給を回避するため、切替の前に機能自体をストップまたは、リセット状態にすることがある。このため、機能を切り替えるための命令に、クロックの切替、もしくは、機能のリセットまたはストップと復帰の命令を然るべきタイミングで外部から入力せねばならない。また、外部入力のクロックだけで必要十分なクロックが得られない場合、内部に逓倍ＰＬＬのようなクロック発生回路を持ち、クロック供給をする場合もある。この場合には、クロック発生回路のＯＮ／ＯＦＦの切り替えや、それに伴う発振安定待ちの処理なども外部のマイクロコンピュータで行っていた。
【特許文献１】特開２００１−１１７９０３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
このように、従来の半導体集積装置では、外部から機能の切替を行いたい場合に、処理に適したクロックを供給するために機能切替命令の他、切替えた機能に適したクロックを供給するための複数の命令を発行せねばならず、外部からの機能切替の処理を煩雑化させていた。ここで、上記のような機能の切替の命令の際に、切替えた処理に適したクロックを供給するための処理は、本来ユーザーが意識しなくても良い処理内容である。
【０００５】
本発明は、上記のような従来の問題点を解決するためになされたもので、ユーザーが本来行いたい内部機能処理変更の命令のみで、クロック周波数の設定処理も行うことができる半導体集積装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１による半導体集積装置は、機能ブロックにクロックを供給するため、外部から入力されるクロックもしくはクロック出力回路から出力されるクロックのいずれかに選択的に切り替えを行う半導体集積装置において、外部から入力される内部機能切替命令の内容を判別し、特定の機能ブロックに対して必要なクロックの周波数を判別するクロック周波数判定回路と、前記特定の機能ブロックに供給するクロックの切り替えの前後の周波数の高低を判定し、前記特定の機能ブロックに供給するクロックの切り替えの前後の周波数の高低関係に基づき、前記内部機能切替命令を実際に有効にさせるタイミングとクロック周波数を切替えるタイミングを制御するクロック切替制御回路を備えたことを特徴としたものである。
【０００７】
本発明の請求項２による半導体集積装置は、請求項１記載の半導体集積装置において、前記クロック周波数判定回路は、前記特定の機能ブロックに供給するクロックを切り替える際、切り替わる前後のクロックが非同期か同期かを判定し、非同期と判定される場合に、その始まりが切り替わりの前のクロックに同期し、その終わりが切り替わりの後のクロックに同期する、ハイレベルもしくはロウレベルのマスク信号で前記特定の機能ブロックに供給するクロックを固定しておくことを特徴としたものである。
【０００８】
本発明の請求項３による半導体集積装置は、請求項１または２に記載の半導体集積装置において、前記クロック切替制御回路は、前記クロック出力回路から出力されるクロックが前記特定の機能ブロックに供給するためのクロックの切り替えに必要であるか否かを判定し、前記クロック出力回路の出力クロックが必要であると判定される場合であって、前記クロック出力回路が動作していないと判定される場合に、前記クロック出力回路を動作状態に移行させることを特徴としたものである。
【０００９】
本発明の請求項４による半導体集積装置は、請求項３記載の半導体集積装置において、前記クロック出力回路の出力クロックが、一定の周波数を出力していない不安定な状態であるか、または一定の周波数を出力している安定な状態であるかを判定する発振安定判定回路を備え、前記発振安定判定回路は、前記外部のクロックによるカウント値が、前記クロック出力回路の出力クロックの一定の分周期間に特定の値をとっている時に安定していると判定し、該発振安定判定回路の判定結果に基づき、前記クロック出力回路の出力クロックが安定な状態に遷移した後にクロックを切り替えることを特徴としたものである。
【００１０】
本発明の請求項５による半導体集積装置は、請求項１ないし４のいずれかに記載の半導体集積装置において、前記クロック切替制御回路は、前記クロック切替と前記機能の切替が完了したことを示すフラグを外部に出力することを特徴としたものである。
【００１１】
本発明の請求項６による半導体集積装置は、請求項３ないし５のいずれかに記載の半導体集積装置において、前記クロック出力回路は、逓倍率の変更可能なＰＬＬ回路であり、該ＰＬＬ回路の発振周波数の変更を伴うクロック切替動作が発生した場合、ＰＬＬ回路の発振安定待ちの間、一時的に外部からの安定したクロックに切り替えることを特徴としたものである。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の半導体集積装置では、外部からユーザーが所望する機能の切替命令を行うことで、必要周波数の判定、ＰＬＬのＯＮ、ＰＬＬの発振安定を自動的に判断し、機能切替命令の他に外部からクロックを切り替える、機能をストップさせる、復帰させるなどの命令を発行する必要がなくなるため、外部処理の負荷を軽減させることができ、従来の処理ではクロックの切替の際処理を停止していた場合であっても、機能の切替時に出力クロックや機能ブロックを停止させることなくクロックの切替を行うことができる。
【００１３】
本発明の請求項１による半導体集積装置は、機能ブロックにクロックを供給するため、外部から入力されるクロックもしくはクロック出力回路から出力されるクロックのいずれかに選択的に切り替えを行う半導体集積装置において、外部から入力される内部機能切替命令の内容を判別し、特定の機能ブロックに対して必要なクロックの周波数を判別するクロック周波数判定回路と、前記特定の機能ブロックに供給するクロックの切り替えの前後の周波数の高低を判定し、前記特定の機能ブロックに供給するクロックの切り替えの前後の周波数の高低関係に基づき、前記内部機能切替命令を実際に有効にさせるタイミングとクロック周波数を切替えるタイミングを制御するクロック切替制御回路を備えるようにしたので、内部機能処理変更の命令のみで、クロックの切替および内部機能処理の切替を行うことができる。また、クロック周波数が低い場合に、高速のクロックが必要な機能処理に切替えて処理能力が追いつかずに誤動作を起こすような場合であっても、切替前後のクロック周波数の高低の判定を行い、内部機能切替命令を実際に有効にさせるタイミングとクロック周波数を切替えるタイミングを制御することで、内部の処理能力を下回ることのないクロック供給を行うことができるという効果がある。
【００１４】
本発明の請求項２による半導体集積装置は、請求項１記載の半導体集積装置において、前記クロック周波数判定回路は、前記特定の機能ブロックに供給するクロックを切り替える際、切り替わる前後のクロックが非同期か同期かを判定し、非同期と判定される場合に、その始まりが切り替わりの前のクロックに同期し、その終わりが切り替わりの後のクロックに同期する、ハイレベルもしくはロウレベルのマスク信号で前記特定の機能ブロックに供給するクロックを固定しておくようにしたので、マスク信号による固定のタイミングを、固定の始まり側を切替前のクロック、終わり側を切替後のクロックに同期させることにより、クロック出力のハザードが生じないようにするために出力クロックを長期間停止させる、もしくは機能ブロックを停止させることなく、クロックの切替を行うことができるという効果がある。
【００１５】
本発明の請求項３による半導体集積装置は、請求項１または２に記載の半導体集積装置において、前記クロック切替制御回路は、前記クロック出力回路から出力されるクロックが前記特定の機能ブロックに供給するためのクロックの切り替えに必要であるか否かを判定し、前記クロック出力回路の出力クロックが必要であると判定される場合であって、前記クロック出力回路が動作していないと判定される場合に、前記クロック出力回路を動作状態に移行させるようにしたので、外部からクロック出力回路の動作制御指示を行う必要がなくなるという効果がある。
【００１６】
本発明の請求項４による半導体集積装置は、請求項３記載の半導体集積装置において、前記クロック出力回路の出力クロックが、一定の周波数を出力していない不安定な状態であるか、または一定の周波数を出力している安定な状態であるかを判定する発振安定判定回路を備え、前記発振安定判定回路は、前記外部のクロックによるカウント値が、前記クロック出力回路の出力クロックの一定の分周期間に特定の値をとっている時に安定していると判定し、該発振安定判定回路の判定結果に基づき、前記クロック出力回路の出力クロックが安定な状態に遷移した後にクロックを切り替えるようにしたので、ＰＬＬが発振安定した時点で始めることができ、また、ＰＬＬの存在に関係なくクロックの切替を行うことができるという効果がある。
【００１７】
本発明の請求項５による半導体集積装置は、請求項１ないし４のいずれかに記載の半導体集積装置において、前記クロック切替制御回路は、前記クロック切替と前記機能の切替が完了したことを示すフラグを外部に出力するようにしたので、このフラグを参照することにより、ユーザーが機能の切り替え命令を発行した後に、クロックの切替、および機能の切替が有効になったことを判断することができ、次の処理開始の契機とすることができるという効果がある。
【００１８】
本発明の請求項６による半導体集積装置は、請求項３ないし５のいずれかに記載の半導体集積装置において、前記クロック出力回路は、逓倍率の変更可能なＰＬＬ回路であり、該ＰＬＬ回路の発振周波数の変更を伴うクロック切替動作が発生した場合、ＰＬＬ回路の発振安定待ちの間、一時的に外部からの安定したクロックに切り替えるようにしたので、ＰＬＬの逓倍数変更に伴って不安定なクロックが出力させるのを回避するために、安定した別のクロックを供給することにより、切り替えの対象となるブロックの機能を停止させずにおくことができるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
（実施の形態１）
本発明の実施の形態１に係る半導体集積装置は、半導体集積装置の外部にマイクロコンピュータによる命令入力装置を備え、内部に逓倍ＰＬＬ回路を備えた場合の構成を示している。
図１は、本発明の実施の形態１による半導体集積装置の構成を示すブロック図である。
図１において、１００は、マイクロコンピュータ１１１からの機能切替命令であり、半導体集積装置１０００の中の外部命令デコード回路１１２によりマイクロコンピュータ１１１からの機能切替命令１００のデコード処理が行われる。デコードされた機能切替命令１０１は、クロック切替制御回路１１３に一旦入力される。
【００２０】
クロック周波数判定回路（必要周波数判定回路）１１４は、入力された機能切替命令１００に対応するクロック周波数のテーブルを有しており、入力された機能切替命令１００に基づき、機能ブロック１１８に必要なクロック周波数を判定する。クロック周波数を切り替える必要があると判断される場合、切り替えの前後のクロックが非同期であるクロック間の切替か、同期したクロック間の切替かの判定も行う。
【００２１】
クロック切替制御回路１１３では、クロック周波数判定回路１１４により判定されたクロック切り替え内容に基づき、以下の制御を行う。
まず、クロック切替制御回路１１３は、切り替え後の出力クロック１０５の周波数が切り替え前のクロック周波数より高い場合には図５のフローチャートのように切り替え、また、切り替え前の出力クロック１０５の周波数が切り替え後のクロック周波数より低い場合には図６のフローチャートのように切り替えるよう、クロック切替制御信号１０６と、機能切替有効信号１０９のタイミングを制御する。
【００２２】
ユーザーが所望する機能に必要とされるクロックがＰＬＬ回路１１６のクロックであると判定される場合には、クロック切替制御回路１１３はＰＬＬ１１６回路がＯＮかＯＦＦかを判定し、ＯＦＦである場合にはＰＬＬ回路１１６に対してＰＬＬイネーブル信号１０７を出力し、ＰＬＬ回路１１６を動作状態に移行させる。ＰＬＬ回路１１６がＯＦＦからＯＮに移行した場合には、図３で示されるようにＰＬＬ発振安定判定回路１１５による発振安定待ちの処理を行う。クロック切替制御回路１１３は、ＰＬＬ発振安定判定回路１１５から発振安定判定信号１０４を受け取るまで、クロックの切り替え、機能命令の有効化を行わず、待機を行う。
【００２３】
また、ある時点で、ＰＬＬ回路１１６の出力クロック１０３を使用しており、次に機能ブロック１１８に対して必要なクロックがＰＬＬ回路１１６の別の発振周波数の出力であると判断される場合には、クロック切替制御回路１１３は、ＰＬＬ逓倍数設定信号１０８を出力してＰＬＬ回路１１６に対し発振周波数変更指示を行い、ＰＬＬ発振安定処理を行う。その間、ＰＬＬ回路１１６からの出力クロックは安定していないため、発振安定待ちの間は、選択的クロック切替回路１１９は、クロック切替制御信号１０６に基づき、安定した外部のクロック１０２に切り替えるよう制御する。
【００２４】
クロック切替時マスキング回路１１７は、非同期クロック間での切替であると判定される場合にはクロック切替の際のハザードを回避するため、図２のタイミングチャートで示されるように切替の瞬間のクロックのマスキング処理を行う。また、クロック切替時マスキング回路１１７は、クロック切替制御信号１０６に基づき、機能ブロック１１８に出力クロック１０５を出力する。
【００２５】
クロックの一連の切替作業、および機能の切り替え命令が有効化されたとクロック切替制御回路１１３で判断された場合、クロック切替制御回路１１３は、外部のマイクロコンピュータ１１１に対し、機能切替・クロック切替完了フラグ１１０を出力し、機能ブロック１１８に対し機能切替有効信号１０９を出力する。
【００２６】
このようにして、マイクロコンピュータ１１１などの外部命令入力側から内部の機能切替命令１００を発行した場合、然るべきタイミングで、出力クロック１０５の切替と機能切替命令１００の有効化を行うことができる。
【００２７】
図２は、本発明の実施の形態１による半導体集積装置における、非同期クロック間での切り替えのクロックのマスキングに関するタイミングチャートを示したものである。この例では、マスキングはハイレベルで行うものとしている。
図２において、２０はクロックの切り替わりの前の第１のクロックであり、２１は切り替わりの後の第２のクロックである。
【００２８】
通常の非同期間のクロックの切替では、２２に示されるマスク前のクロック出力のようにハザード出力される可能性がある。そこで、切り替わりの瞬間のマスク信号として、始まりが第１のクロック２０で同期し、終わりが第２のクロック２１で同期するマスク信号２３を用い、マスク前のクロック２２とＯＲの論理を掛けることにより、出力クロック２４が生成される。
【００２９】
マスキングの最初の部分は、第１のクロック２０のＨ区間より始まる。マスキングの終わりの部分は第２のクロック２１に同期されてマスク信号２３が終了するが、終了した時点でマスク前のクロック２２はＨレベルであるため、ＯＲ論理を掛けた出力クロック２４はまだＨレベルであり、次の第２のクロック２１の立下りで初めてＬレベルに変化する。これにより、出力クロック２４にハザードが発生しないようにすることができる。
【００３０】
図３は、本発明の実施の形態１による半導体集積装置におけるＰＬＬ発振安定判定回路１１５の一例を示すものであり、図４は、ＰＬＬ発振安定判定回路１１５によるタイミングチャートである。ここで、ＰＬＬ回路の出力はリファレンスクロックの６逓倍を例にして説明する。
【００３１】
図において、ＰＬＬ回路のクロック４０を分周部３０のカウンタで３８４分周し、そのカウンタ出力４１をエッジ検出部３１にてリファレンスクロック４２でエッジ検出する。１回目のエッジ検出から、カウンタ部３２にて外部クロックによるカウントを開始し、次のエッジ検出までカウントを行い、そのカウント値４５をカウント値保持部３３で保持する。そのカウント値がある一定の値であれば、発振安定とみなす。６逓倍であれば、カウント値の比較値は６４となる。
【００３２】
ＰＬＬ回路のジッタをある程度許容するのであれば、その比較範囲は前後±１とした、６３〜６５の範囲としても良い。カウント値の比較の結果、発振安定であれば、フラグ出力部３４より発振安定のフラグ４６を出力する。勿論、ＰＬＬクロックの分周値とリファレンスクロックカウントの比較値は、システムやＰＬＬ回路の性能により変えても良い。
【００３３】
図５は、本発明の実施の形態１による半導体集積装置における、クロック切り替えのフローチャートであり、切り替え前のクロック周波数が切り替え後のクロック周波数より低い場合の例を示したものである。
図５において、マイクロコンピュータ１１１による外部マイコン処理で、機能切替コマンドが自動判別され（ステップＳ１）、内部クロック制御処理が行われる。
【００３４】
クロック切替制御回路１１３における内部クロック制御処理では、電圧制御発振器（ＶＣＯ；Ｖｏｌｔａｇｅ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｄ  Ｏｓｃｉｌｌａｔｏｒ）が必要であるか否かを判定し（ステップＳ４）、ＶＣＯが必要であると判断された場合は、ＶＣＯ発振をオンにする（ステップＳ５）。
【００３５】
次に、発振安定待ちフラグが「Ｈ」であるか否かを判定し（ステップＳ６）、発振安定待ちフラグが「Ｈ」である場合（ステップＳ６でＹｅｓ）、クロック周波数切替（ステップＳ７）を行ってから、機能切替（ステップＳ８）を行い、切替完了フラグ１１０を出力する（ステップＳ９）。
マイクロコンピュータ１１１による外部マイコン処理では、切替完了フラグ１１０が出力されたと判断されると（ステップＳ２でＹｅｓ）、次の処理を開始する（ステップＳ３）。
【００３６】
図６は、本発明の実施の形態１に半導体集積装置における、クロック切り替えのフローチャートであり、切り替え前のクロック周波数が切り替え後のクロック周波数より高い場合の例を示したものである。
図６において、マイクロコンピュータ１１１による外部マイコン処理で、機能切替コマンドが自動判別され（ステップＳ１０）、内部クロック制御処理が行われる。
【００３７】
クロック切替制御回路１１３における内部クロック制御処理では、電圧制御発振器（ＶＣＯ；Ｖｏｌｔａｇｅ  Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｄ  Ｏｓｃｉｌｌａｔｏｒ）が必要であるか否かを判定し（ステップＳ４０）、ＶＣＯが必要であると判断された場合は、ＶＣＯ発振をオンにする（ステップＳ５０）。
【００３８】
次に、発振安定待ちフラグが「Ｈ」であるか否かを判定し（ステップＳ６０）、発振安定待ちフラグが「Ｈ」である場合（ステップＳ６０でＹｅｓ）、機能切替（ステップＳ７０)を行ってから、クロック周波数切替（ステップＳ８０）を行い、切替完了フラグ１１０を出力する（ステップＳ９０）。
マイクロコンピュータ１１１による外部マイコン処理では、切替完了フラグ１１０が出力されたと判断されると（ステップＳ２０でＹｅｓ）、次の処理を開始する（ステップＳ３０）。
【００３９】
このように、本実施の形態１によれば、機能ブロック１１８にクロックを供給するため、外部から入力されるクロックもしくはＰＬＬ回路１１６から出力されるクロックから選択的に切り替えを行う半導体集積装置において、外部から入力される内部機能切替命令１００の内容を判別し、特定の機能ブロック１１８に対して必要なクロックの周波数を判別するクロック周波数判定回路１１４と、クロックの切替の前後の周波数の高低を判定し、クロックの切替の前後の周波数の高低関係に基づき、前記内部機能切替命令１００を実際に有効にさせるタイミングとクロック周波数を切替えるタイミングを制御するクロック切替制御回路１１３を備えるようにしたので、内部機能処理変更の命令のみでクロックの切替および、内部機能処理の切替を行うことができ、機能切替命令の他に外部からクロックを切り替える、機能をストップさせる、復帰させるなどの命令を発行する必要がなくなり、外部処理の負荷を軽減させることができるという効果がある。また、クロック周波数が低い場合に、高速のクロックが必要な機能に変更して処理能力が追いつかずに誤動作を起こすような場合であっても、切替前後のクロック周波数の高低の判定を行い、切替タイミングを変えることで、内部の処理能力を下回ることのないクロック供給を行うことができ、機能の切替時に出力クロックや機能ブロックを停止させることなくクロックの切替を行なうことができるという効果がある。
【産業上の利用可能性】
【００４０】
本発明にかかる半導体集積装置は、クロック出力回路、クロック周波数の自動判別回路、分周回路、ＰＬＬ回路などのクロック出力回路の発振安定判別回路を搭載し、処理能力に応じてクロックを切り替える半導体集積装置において、最適のクロックを最短の手順で設定することができ、外部での処理の容易性と命令コード縮小化を実現し、また、クロック周波数を処理能力に合わせて効率よくクロックを供給することができることから低消費電力化が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明の実施の形態１による半導体集積装置のブロック図
【図２】本発明の実施の形態１による半導体集積装置の非同期クロック切り替え時のマスキングタイミングチャート
【図３】本発明の実施の形態１による半導体集積装置のＰＬＬ発振安定判定回路の回路図
【図４】本発明の実施の形態１による半導体集積装置のＰＬＬ発振安定判定処理タイミングチャート
【図５】本発明の実施の形態１による半導体集積装置のクロック切り替えフローチャート
【図６】本発明の実施の形態１による半導体集積装置のクロック切り替えフローチャート
【符号の説明】
【００４２】
１００  外部からの機能切替命令
１０１  デコードされた機能切替命令
１０２  外部入力クロック
１０３  ＰＬＬ出力クロック
１０４  発振安定判定信号
１０５  機能ブロックへの供給クロック
１０６  クロック切替制御信号
１０７  ＰＬＬイネーブル信号
１０８  ＰＬＬ逓倍数設定信号
１０９  機能切替有効信号
１１０  機能切替・クロック切替完了フラグ
１１１  マイクロコンピュータ
１１２  外部命令デコード回路
１１３  クロック切替制御回路
１１４  クロック周波数判定回路
１１５  ＰＬＬ発振安定判定回路
１１６  ＰＬＬ
１１７  クロック切替時マスキング回路
１１８  機能ブロック
１１９  選択的クロック切替回路
１０００  半導体集積装置
２０  第１のクロック
２１  第２のクロック（第１のクロックに同期しない）
２２  マスク前のクロック
２３  マスク信号
２４  マスク後の出力クロック
３０  ＰＬＬクロックの分周部
３１  エッジ検出部
３２  外部クロックのカウンタ
３３  外部クロックカウント値の保持部
３４  ＰＬＬ発振安定待ちフラグ出力部
４０  ＰＬＬ出力クロック
４１  ＰＬＬクロックの分周出力
４２  リファレンスクロック
４３  ＰＬＬクロック分周出力のエッジ検出
４４  リファレンスクロックによるカウント
４５  カウントのホールド値
４６  発振安定フラグ
【図１】
2006279824.tif 000003
【図２】
2006279824.tif 000004
【図３】
2006279824.tif 000005
【図４】
2006279824.tif 000006
【図５】
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【図６】
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