(57)【要約】【課題】  トラッキング方式としてＷＰＰ方式を採用し、且つＤＷＤＤ方式により信号の再生を行う記録再生装置において、良好な記録信号品質が得れるようにデトラック量を調整し、且つその調整時間の短縮化を図る。【解決手段】  最適なデトラック量を求める際のテストパターンの記録再生動作について、記録時のデトラック量と共に再生時のデトラック量も段階的に変化させて行う。このとき、記録時のデトラック量と再生時のデトラック量との比率を所定の比率とすることで、記録時のデトラック量のみを変化させる場合よりもサンプリング数を削減して調整時間を短縮化することができる。【選択図】図６
2006092629.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも移動層、切断層、記録層がこの順に積層されてなり、上記移動層は上記記録層に比べて相対的に磁壁抗磁力が小さく磁壁移動度が大きな垂直磁化膜からなり、上記切断層は上記移動層及び記録層よりもキュリー温度の低い磁性層からなる光磁気記録媒体に対して記録再生を行う記録再生装置において、
情報の記録再生のために上記記録媒体にレーザ光を照射すると共に、その反射光情報を検出するヘッド手段と、
上記ヘッド手段に対して記録データを供給し、記録データに基づいたレーザ光照射を実行させる記録処理手段と、
上記ヘッド手段で検出される反射光情報に基づいて再生情報を得る再生処理手段と、
上記ヘッド手段で検出される反射光情報から生成されるトラッキングエラー信号に基づいてトラッキングサーボ動作を行うトラッキングサーボ手段と、
上記トラッキングエラー信号にオフセットを与えて上記レーザ光のスポット位置をデトラックさせるデトラック手段と、
少なくとも上記記録媒体に対するデータの記録開始アドレスが決定されたことに応じたタイミングで、上記記録媒体を半径方向に複数区切った領域のうちの上記記録開始アドレスが含まれる領域内において、上記オフセット手段によるオフセット値を段階的に変化させながら、上記記録処理手段及び上記ヘッド手段により上記記録媒体に対して所要のテストパターンの記録を実行させ、さらに上記オフセット値を段階的に変化させながら上記ヘッド手段及び上記再生処理手段により上記テストパターンの再生を実行させて再生信号品質を検査するテスト動作を実行して、最適なオフセット値の組を判別すると共に、判別されたオフセット値の組のうち記録時に設定したオフセット値を上記オフセット手段に設定する制御手段と、
を備えたことを特徴とする記録再生装置。
【請求項２】
上記制御手段は、
上記テストパターンの記録時に設定されるオフセット値と再生時に設定されるオフセット値との比率を、所定の比率として上記テスト動作を実行するように構成される、
ことを特徴とする請求項１に記載の記録再生装置。
【請求項３】
上記制御手段は、
上記記録開始アドレスが含まれる領域内にて上記テスト動作を実行して上記最適なオフセット値を設定した後、再度その領域に属する記録開始アドレスが決定された場合に、装置内の温度変化が所定以上であったときには上記テスト動作を再度実行して最適なオフセット値を再設定するように構成される、
ことを特徴とする請求項１に記載の記録再生装置。
【請求項４】
上記記録媒体に対し、個々の記録媒体を識別するための識別情報が少なくとも記憶され、
上記テストパターンの記録時に設定されるオフセット値と再生時に設定されるオフセット値との比率情報と、上記識別情報とが対応付けられた対応情報が記憶された記憶手段をさらに備えると共に、
上記制御手段は、
上記記録媒体から読み出された上記識別情報を元に上記対応情報から該当する比率情報を取得し、この比率情報に基づいた記録時のオフセット値と再生時のオフセット値を設定して上記テスト動作を行うように構成される、
ことを特徴とする請求項１に記載の記録再生装置。
【請求項５】
上記記録媒体には、上記識別情報と共に上記比率情報が記憶されると共に、
上記制御手段は、
上記記録媒体から読み出された上記識別情報が上記対応情報内にないとした場合に、上記記録媒体から読み出された上記比率情報を取得し、この比率情報に基づいた記録時のオフセット値と再生時のオフセット値を設定して上記テスト動作を行うと共に、上記記録媒体に記憶された上記識別情報と上記比率情報とを上記対応情報に追加するように構成される、
ことを特徴とする請求項４に記載の記録再生装置。
【請求項６】
少なくとも移動層、切断層、記録層がこの順に積層されてなり、上記移動層は上記記録層に比べて相対的に磁壁抗磁力が小さく磁壁移動度が大きな垂直磁化膜からなり、上記切断層は上記移動層及び記録層よりもキュリー温度の低い磁性層からなる光磁気記録媒体に対して記録再生を行う記録再生装置の記録方法として、
少なくとも上記記録媒体に対するデータの記録開始アドレスが決定されたことに応じたタイミングで、上記記録媒体を半径方向に複数区切った領域のうちの上記記録開始アドレスが含まれる領域内において、トラッキングエラー信号に対して与えられるオフセット値を段階的に変化させながら上記記録媒体に対して所要のテストパターンの記録を実行し、さらに上記オフセット値を段階的に変化させながら上記テストパターンの再生を実行して再生信号品質を検査するテスト動作を実行して、最適なオフセット値の組を判別すると共に、
判別されたオフセット値の組のうち記録時に設定したオフセット値を設定したトラッキングエラー信号に基づくトラッキングサーボ状態において、記録動作を行うことを特徴とする記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光磁気記録媒体についての記録再生を行う記録再生装置として、特にトラッキング方式としてＷＰＰ方式（ウォブルプッシュプル方式）を採用し、且つＤＷＤＤ(Domain Wall Displacement Detection)の手法により信号再生を行う記録再生装置に関する。また、このような記録再生装置における記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、書き換え可能な高密度記録媒体として光磁気ディスクが注目されており、その中で、下記特許文献１に開示されているように、少なくとも移動層、切断層、記録層の磁性３層膜からなり、信号の再生時に、磁性膜温度が切断層のキュリー温度以上となった領域で移動層の磁壁移動を利用することにより、実効的に記録された磁区の大きさを拡大し、再生キャリア信号を大きくする光磁気再生の手法が注目されている。
ＤＷＤＤ(Domain Wall Displacement Detection) と呼ばれるこの手法では、再生光の光学的な限界分解能以下の周期の微小記録磁区からも非常に大きな信号を再生することが可能であり、光の波長、対物レンズの開口数（ＮＡ）等を変更することなく高密度化が行える有力な方式の１つである。
【０００３】
ＤＷＤＤ再生における磁壁移動の駆動力は、温度勾配による磁壁エネルギーの変化の割合である。これを図１２により簡単に説明する。
図１２（ａ）はＤＷＤＤ再生に用いられる光磁気記録媒体の断面図であり、図示するように移動層１１、切断層１２、記録層１３が形成される。
再生レーザ光が照射されていない状態では、各層は交換結合力が働いており、移動層１１および切断層１２の原子スピンの向き（矢印で示す）は記録層１３のそれに倣っている。
【０００４】
再生用光ビームスポット１６を、この光磁気記録媒体に照射すると、例えば図１２（ｂ）に示すような磁性層の温度Ｔの分布が得られる。Ｔｓは切断層１２のキュリー温度である。
このような温度分布に伴って、磁壁エネルギー密度σ１の分布が図１２（ｃ）に示したように形成される。磁壁エネルギー密度σは一般的に温度が上昇するほど低下するので、最大温度の位置で磁壁エネルギー密度σが最も低くなるような分布になる。この結果、磁壁１５を磁壁エネルギー密度σの低い高温側へ移動させようとする磁壁駆動力Ｆ(ｘ)が図１２（ｄ）に示すように発生する。
このように図中ｘ方向に磁壁エネルギー密度σ１の勾配があると、各層の磁壁１５に対して、次の（式１）で表される磁壁駆動力Ｆ１が作用する。
Ｆ１=−∂σ１／∂ｘ  ・・・（式１）
この磁壁駆動力Ｆ１が、磁壁エネルギーの低いほうへ磁壁１５を移動させるように作用する。
【０００５】
即ち媒体温度が切断層１２のキュリー温度Ｔｓよりも低い場所では、各磁性層は互いに交換結合しているため、上述の温度勾配による磁壁駆動力Ｆ(ｘ)が作用しても、記録層１３の大きな磁壁抗磁力に阻止されて磁壁１５の移動はおこらない。ところが、記録媒体の温度がキュリー温度Ｔｓよりも高い場所では移動層１１と記録層１３との間の交換結合が切断されるため、磁壁抗磁力の小さな移動層１１の磁壁は、温度勾配による磁壁駆動力Ｆ(ｘ)で移動可能になる。そのため、光ビーム１６による記録媒体への走査に伴って、磁壁がキュリー温度Ｔｓの位置を越えて結合切断領域に侵入した瞬間に、移動層１２の磁壁１５の高温側への移動が起こる。
このような原理により、記録媒体の記録信号に対応した間隔で形成されている磁壁１５が、光ビーム１６による媒体の走査に伴ってキュリー温度Ｔｓの位置を通過するたびに、移動層１１の磁壁１５の移動が発生する。
そしてこの駆動力により、実効的に記録された磁区の大きさを再生層において拡大し、再生キャリア信号を大きくでき、光学限界を超えた再生が可能となる。この結果、図１２（ｅ）に示すような再生波形が得られる。
【０００６】
【特許文献１】特開平６−２９０４９６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ところで、このようなＤＷＤＤの手法により信号の再生が行われる光磁気記録のディスク媒体について、ＷＰＰ方式（ウォブルプッシュプル方式）によるトラッキング方式を採用する場合には、プッシュプル信号のセンターとＲＦ信号のセンター（最もエラーレート良く再生できるところ）とがディスクごと、また同一ディスク内でも面内においてばらつくことがわかっている。
すなわち、プッシュプル信号のセンターに合わせてトラッキングをかけた状態て記録を行っていたのでは、エラーレート良く再生することができなくなってしまう可能性があるものである。
【０００８】
このことを、次の図１３を参照して説明する。
図１３は、上記のようにしてＷＰＰ方式によるトラッキング方式を採用してＤＷＤＤの手法により信号再生を行う場合における、記録時のデトラック量の変化に対する再生エラーレート（シンボルエラーレート）の特性の一例を示している。つまり、この図１３では記録デトラックマージンの特性の一例を示している。
なお、この図では、再生時のデトラック量は０（つまりプッシュプル信号のセンターに合わせてトラッキングをかけた状態）とした場合の結果を示している。
【０００９】
図１３（ａ）（ｂ）（ｃ）のそれぞれは、ディスクを半径方向において内周領域、中周領域、外周領域に区切った際の、各領域での特性を示している。
先ず、図１３（ａ）より、この場合の内周領域では、プッシュプル信号のセンターに合わせてトラッキングをかけて、記録時のデトラック量を０とした場合に、最もエラーレートが良く再生できることが示されている。つまり、内周領域ではプッシュプル信号のセンターに合わせてトラッキングをかけて記録を行うことで、正常に信号を再生できることが示されている。
しかしながら、図１３（ｂ）に示す中周領域では、エラーレートが最も良い点が、記録デトラック量を０とした位置からずれており、図１３（ｃ）に示す外周領域に至っては、記録時におよそ１μｍ程度デトラックさせなければ、最もエラーレート良く再生することができなくなっている。
【００１０】
このようにして、ＷＰＰ方式によるトラッキング方式を採用してＤＷＤＤの手法により信号再生を行う場合は、プッシュプル信号のセンターと、ＲＦ信号のセンター（最もエラーレート良く再生できるところ）がディスク内においてばらつく。
また、上記もしたように、このようなプッシュプル信号のセンターとＲＦ信号のセンターとのずれは、ディスクごとでもばらつくものとなる。
このようなばらつきは、製造時における記録膜形成時のばらつき等により生じるものと考えられている。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
そこで、本発明では以上のような問題点に鑑み、記録再生装置として以下のようにすることとした。
つまり、少なくとも移動層、切断層、記録層がこの順に積層されてなり、上記移動層は上記記録層に比べて相対的に磁壁抗磁力が小さく磁壁移動度が大きな垂直磁化膜からなり、上記切断層は上記移動層及び記録層よりもキュリー温度の低い磁性層からなる光磁気記録媒体に対して記録再生を行う記録再生装置において、先ずは情報の記録再生のために上記記録媒体にレーザ光を照射すると共に、その反射光情報を検出するヘッド手段を備える。
また、上記ヘッド手段に対して記録データを供給し、記録データに基づいたレーザ光照射を実行させる記録処理手段と、上記ヘッド手段で検出される反射光情報に基づいて再生情報を得る再生処理手段とを備える。
また、上記ヘッド手段で検出される反射光情報から生成されるトラッキングエラー信号に基づいてトラッキングサーボ動作を行うトラッキングサーボ手段と、上記トラッキングエラー信号にオフセットを与えて上記レーザ光のスポット位置をデトラックさせるデトラック手段を備える。
その上で、少なくとも上記記録媒体に対するデータの記録開始アドレスが決定されたことに応じたタイミングで、上記記録媒体を半径方向に複数区切った領域のうちの上記記録開始アドレスが含まれる領域内において、上記オフセット手段によるオフセット値を段階的に変化させながら、上記記録処理手段及び上記ヘッド手段により上記記録媒体に対して所要のテストパターンの記録を実行させ、さらに上記オフセット値を段階的に変化させながら上記ヘッド手段及び上記再生処理手段により上記テストパターンの再生を実行させて再生信号品質を検査するテスト動作を実行して、最適なオフセット値の組を判別すると共に、判別されたオフセット値の組のうち記録時に設定したオフセット値を上記オフセット手段に設定する制御手段を備えるようにした。
【００１２】
また、本発明では記録方法として以下のようにすることとした。
つまり、少なくとも移動層、切断層、記録層がこの順に積層されてなり、上記移動層は上記記録層に比べて相対的に磁壁抗磁力が小さく磁壁移動度が大きな垂直磁化膜からなり、上記切断層は上記移動層及び記録層よりもキュリー温度の低い磁性層からなる光磁気記録媒体に対して記録再生を行う記録再生装置の記録方法として、先ず、少なくとも上記記録媒体に対するデータの記録開始アドレスが決定されたことに応じたタイミングで、上記記録媒体を半径方向に複数区切った領域のうちの上記記録開始アドレスが含まれる領域内において、トラッキングエラー信号に対して与えられるオフセット値を段階的に変化させながら上記記録媒体に対して所要のテストパターンの記録を実行する。
さらに、上記オフセット値を段階的に変化させながら上記テストパターンの再生を実行して再生信号品質を検査するテスト動作を実行して、最適なオフセット値の組を判別する。
その上で、判別されたオフセット値の組のうち記録時に設定したオフセット値を設定したトラッキングエラー信号に基づくトラッキングサーボ状態において、記録動作を行うようにしたものである。
【００１３】
上記本発明によれば、記録開始アドレスが決定されて記録動作が開始される直前に、該記録動作が開始される領域においてテスト動作が実行されて、その領域内において最適なオフセット値が判別される。そして、このような最適なオフセット値（すなわち最適なデトラック量）の設定の下で、実際の記録動作が行われる。
これによって、例えば記録媒体の内周、中周、外周の各領域で最適な記録デトラック量が異なる場合にも、各領域に応じた最適な記録デトラック量を設定した状態での記録動作を実行できる。
また、本発明では、上記のようにしてオフセット値を変化させて記録したテストパターンを、同様にオフセット値を変化させながら再生するものとしている。これによれば、テストパターンの再生時のデトラック量を一定とする場合よりも、デトラックマージンを狭める傾向とすることができる。
デトラックマージンが狭まれば、その分、最適なデトラック量を求めるにあたってのサンプリング数（つまりテストパターンの記録再生時にオフセット値を変化させる段階数）を削減する傾向とすることができる。
さらにこのとき、例えばテストパターンの記録時に設定されるオフセット値と再生時に設定されるオフセット値との比率を所定の比率とすれば、サンプリング数を効率良く削減することができ、テスト動作に要する時間長を有効に短縮することができる。
【発明の効果】
【００１４】
このようにして本発明によれば、記録媒体内の各領域にて最適な記録デトラック量が異なる場合にも、各領域特性に応じた最適な記録デトラック量を設定した状態で記録動作を実行できる。つまり、どの領域においても良好な記録信号品質を得ることができる。
また、上記説明から理解されるようにこのような最適デトラック量の設定は、記録開始のタイミングで行われるものであることから、記録媒体ごとの特性のバラツキに応じても最適な記録デトラック量を設定することができる。
これらのことから、本発明によれば、各記録媒体、また同一記録媒体においても各領域内において特性が異なる場合にも、最適なデトラック量を設定して良好な記録信号品質を得ることができる。
【００１５】
また、本発明では、上記のようにしてオフセット値（デトラック量）を変化させて記録したテストパターンを、同様にデトラック量を変化させながら再生してデトラックマージンを狭る傾向とすることができ、これによってテスト動作でのサンプリング数を減少傾向とすることができる。
そしてこのとき、例えばテストパターンの記録時に設定されるオフセット値と再生時に設定されるオフセット値との比率を所定の比率とすれば、サンプリング数を効率良く削減することができ、テスト動作に要する時間長を有効に短縮することができる。
このようにテスト動作に要する時間長を短縮できることで、記録開始までに要する時間長も短縮することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
＜第１の実施の形態＞
以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
図１は、本発明における第１の実施の形態としての光磁気ディスク記録再生装置１００の概要を示すブロック図である。
この記録再生装置１００で取り扱う光磁気ディスク１１１は、ガラスやプラスチック等からなる透明基板上に、図１２（ａ）に示したような光磁気記録膜を成膜し、さらに保護膜を形成してなるものであり、記録再生装置１００はＤＷＤＤ方式で再生を行う。
【００１７】
また、本実施の形態の記録再生装置１００で取り扱う光磁気ディスク１１１としては、図３に示されるようにして、３つのＰＣＡ（パワーキャリブレーションエリア）を有するものとされている。
このＰＣＡは、レーザパワーの調整やその他各種調整のための試し書きエリアとして設けられる。
この場合のＰＣＡとしては、光磁気ディスク１１１を半径方向に三等分して区切られる、内周領域、中周領域、外周領域の各領域ごとに設けられている。
すなわち、図示するように最も内周側となる内周領域Ａに対しては、内周ＰＣＡが設けられる。この場合の内周ＰＣＡは、光磁気ディスク１１１の最内周部分に対して設けられる。
また、内周領域Ａの次に外周側となる中周領域Ｂ内には、中周ＰＣＡが設けられる。この中周ＰＣＡは、中周領域Ｂの内周側の端部から外周側の端部までの間のほぼ中間に位置するようにして設けられる。
さらに、外周領域Ｃに対しては外周ＰＣＡが設けられる。外周ＰＣＡは、光磁気ディスク１１１の最外周部分に対して設けられている。
なお、各ＰＣＡのエリア長は例えば１６クラスタとされる。
【００１８】
また、実施の形態の光磁気ディスク１１１としては、記録トラックがウォブリングされてアドレス情報が埋め込まれている。即ち、記録再生装置１００は、プッシュプル信号によって上記ウォブリングによる信号を検出してアドレス情報を取得するようにされる。
【００１９】
図１において、このような光磁気ディスク１１１は、記録再生装置１００に備えられたスピンドルモータ１１３によって、記録時および再生時に角速度一定で回転駆動される。スピンドルモータ１１３の回転軸には、その回転速度を検出するための周波数発電機１１４が取り付けられている。
【００２０】
また、記録再生装置１００は、外部磁界発生用の磁気ヘッド１１５と、この磁気ヘッド１１５の磁界発生を制御する磁気ヘッドドライバ１１６と、半導体レーザ、対物レンズ、対物レンズをフォーカス方向及びトラッキング方向に駆動する二軸機構、光検出器（フォトディテクタ）、マトリクスアンプ等から構成される光学ヘッド１１７と、この光学ヘッド１１７の半導体レーザの発光駆動を行うレーザドライバ１１８と、レーザドライバ１１８に対してレーザ発光駆動レベルの制御を行うレーザパワー制御部１１９を備えている。
磁気ヘッド１１５と光学ヘッド１１７は光磁気ディスク１１１を挟むように対向して配設される。
【００２１】
レーザドライバ１１８は、光学ヘッド１１７内の半導体レーザに対して駆動信号を印加する。これによって半導体レーザからレーザ光が出力される。レーザパワー制御部１１９は、システムコントローラ１５１からの制御信号に基づいて、レーザドライバ１１８によるレーザ駆動が、記録時には記録パワーとなり、再生時には記録パワーより低い再生パワーとなるように制御する。また、記録パワー及び再生パワーとしてのレーザパワーレベルは、システムコントローラ１５１によって設定される。
またレーザパワー制御部１１９は、光学ヘッド１１７内のモニタ用ディテクタによってレーザ出力レベルを監視し、レーザ出力が設定されたレーザパワーとして一定となるように、いわゆるＡＰＣ制御を行う。
【００２２】
データ書き込み時（記録時）には、後述するように磁気ヘッドドライバ１１６にＮＲＺＩデータとしての記録データＤｒが供給され、磁気ヘッド１１５よりその記録データＤｒに対応した磁界が発生され、光学ヘッド１１７からの光ビーム（レーザビーム）との共働により光磁気ディスク１１１に記録データＤｒが記録される。
【００２３】
また、記録再生装置１００は、例えばＤＳＰ等によるサーボコントローラ１４１を有している。
サーボコントローラ１４１には、トラッキングサーボ部１４１ａ、フォーカスサーボ部１４１ｂ、スピンドルサーボ部１４１ｃ、スレッドサーボ部１４１ｄ等が形成されている。
このサーボコントローラ１４１には、光学ヘッド１１７内で、フォトディテクタによって得られた反射光情報からマトリクス回路で形成されたフォーカスエラー信号ＳFEおよびトラッキングエラー信号ＳTE、さらに上述した周波数発電機１１４より出力される周波数信号ＳFGが供給される。
【００２４】
サーボコントローラ１４１の動作は、後述するシステムコントローラ１５１によって制御される。このサーボコントローラ１４１におけるトラッキングサーボ部１４１ａ、フォーカスサーボ部１４１ｂによって、光学ヘッド１１７内の二軸機構が駆動され、トラッキングサーボ制御及びフォーカスサーボ制御が行われる。
即ちトラッキングサーボ部１４１ａはトラッキングエラー信号ＴＥに基づいてトラッキングドライブ信号ＴＤを発生させ、二軸機構のトラッキングコイルに駆動電流を印加する。これによって対物レンズがトラッキング方向にサーボ制御される。
なお、トラッキングサーボ系については図２で後述する。
【００２５】
またフォーカスサーボ部１４１ｂはフォーカスエラー信号ＦＥに基づいてフォーカスドライブ信号ＦＤを発生させ、二軸機構のフォーカスコイルに駆動電流を印加する。これによって対物レンズがフォーカス方向にサーボ制御される。
【００２６】
また、スレッドサーボ部１４１ｄは、例えばトラッキングエラー信号ＴＥの低域成分を用いてスレッド駆動信号を生成し、光学ヘッド１１７をラジアル方向（ディスク半径方向）に移動させるためのリニアモータを含むアクチュエータ１４５を制御する。
また、スピンドルサーボ部１４１ｃによって周波数信号ＳFGに基づいてスピンドルモータ１１３が制御され、上述したように記録時や再生時に光磁気ディスク１１１が角速度一定で回転するように制御される。
【００２７】
また記録再生装置１００は、ＣＰＵを備えるシステムコントローラ１５１と、データバッファ１５２と、ホストコンピュータとの間でデータやコマンドの送受を行うためのインターフェース１５３と、メモリ１６３を備える。
システムコントローラ１５１はシステム全体を制御する。
メモリ１６３は、システムコントローラ１５１のワーク領域としてのＲＡＭ、動作プログラム等を記憶するＲＯＭ、或いは設定係数その他を記憶するフラッシュメモリなどを包括的に示しており、システムコントローラ１５１によって利用される。
ホストコンピュータ等との間でデータ等の通信を行うインターフェース１５３は、例えばＳＣＳＩ（Small Computer System Interface）、ＩＥＥＥ１３９４、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）等の規格によるインターフェース回路として実現される。
【００２８】
また、記録再生装置１００は、ホストコンピュータからインターフェース１５３を通じて供給される書き込みデータに対して誤り訂正符号の付加を行うと共に、後述するデータ復調器１６０の出力データに対して誤り訂正を行うためのＥＣＣ（error correction code）回路１５４と、このＥＣＣ回路１５４で誤り訂正符号が付加された書き込みデータのデータビット列を例えばＲＬＬ変調ビットに変換し、その後にＮＲＺＩデータに変換して記録データＤｒを得るデータ変調器１５５とを有している。
【００２９】
また、記録再生装置１００は、光学ヘッド１１７より得られる再生信号を再生データとするための再生信号処理回路１５６、データ検出回路１５９、クロック同期回路（ＰＬＬ回路）１５８、データ復調器１６０を有する。
再生信号処理回路１５６には、周波数特性を補償するための等化回路と、この等化回路で周波数特性が補償された再生信号より磁壁移動の発生を検出する磁壁移動検出回路が設けられ、磁壁移動の発生の検出信号（パルスデータ信号）ＰDSを出力する。
クロック同期回路１５８は、検出信号ＰDSの立ち上がりエッジに同期したクロック信号をＰＬＬ処理により得る。
データ検出回路１５９は、クロック同期回路１５８によるクロック信号を使用して、検出信号ＰDSより再生データＤＰ（例えばＲＬＬ変調データ）を得る。
データ復調器１６０は、この再生データに対して復調処理をして読み出し再生データを得る。
【００３０】
また、後述するが、データの記録時には、それに先だった準備処理として、ディスク１１１にテストパターンの記録再生を行い、トラッキングエラー信号ＴＥに与えるオフセット電圧Ｄofとしての最適値の検出及び設定が行われるが、その際にテストパターンの再生信号を検出するテストデータ検出回路１６１が設けられる。テストデータ検出回路１６１による検出情報はシステムコントローラ１５１に供給される。
システムコントローラ１５１は、テストパターンの記録再生時には、制御信号ＳOFにより、サーボコントローラ１４１に、発生させるオフセット値を指示する。すなわち、デトラック量を指示する。
またシステムコントローラ１５１はテストデータ検出回路１６１からの再生データに基づいてオフセット電圧Ｄofの最適値を検出し、その最適なオフセット値（最適なデトラック量）をサーボコントローラ１４１に指示する。
【００３１】
このような記録再生装置１００の再生手順は、以下のようになる。
光磁気ディスク１１１が装着されると、システムコントローラ１５１からサーボコントローラ１４１に所定の回転数が伝達される。サーボコントローラ１４１内のスピンドルサーボ制御回路は該所定の回転数で光磁気ディスク１１１が回転するようスピンドルモータ１１３を制御する。
次に、システムコントローラ１４１からリニアアクチュエータ１４５に情報が伝達され、光学ヘッド１１７を所定の位置に移動させる。
【００３２】
次に、システムコントローラ１４１からレーザーパワー制御部１１９に情報が伝達され、所定のパワーで半導体レーザが発光するようにレーザードライバを制御させる。
半導体レーザから発せられた光は、光学ヘッド１１７に搭載されている図示せぬパワー監視用光検出器（モニタ用ディテクタ）においてパワーを検出され、レーザーパワー制御部１１９において所望のパワーとのずれ量を検出し補正制御されることにより所望のパワーに制御される。
【００３３】
また光学ヘッド１１７において、半導体レーザから発せられた光は、図示せぬ対物レンズにより、光磁気ディスク１１１の膜面に集光される。
このときレーザ光は、焦点が膜面に合うように、また、光磁気ディスクに形成されているトラックをトレースするように、サーボコントローラ１４１によりフォーカス制御、及びトラッキング制御される。
光磁気ディスク１の膜面で反射されたレーザ光は、記録されている磁区の方向によりそれぞれ偏光面が回転され、光学ヘッド１１７に搭載されている検光子により偏光面の回転情報が強度情報に変換され、光検出器（フォトディテクタ）において電気信号に変換される。この変換された電気信号からマトリクス回路の演算処理によって再生信号ＳMOが生成され、出力される。
【００３４】
再生信号ＳMOは、再生信号処理回路１５６により波形整形及び磁壁移動検出が行われて２値化信号、即ちパルスデータ信号ＰDSとされる。そして、クロック同期回路１５８においてパルスデータ信号ＰDSに同期した再生クロックＣＬＫが生成され、このクロックＣＬＫを使用して、データ検出回路１５９において再生データＤｐを得る。この再生データＤｐは、例えば、ＲＬＬ変調データであり、これがデータ復調器１６０でデコード処理されることで、読出データを得ることができる。
読出データは、データバッファ１６２に格納され、ＥＣＣ回路１５４で誤り訂正された後、インターフェース１６３を介してホストコンピュータ等に出力される。
【００３５】
記録動作は次のようになる。
光磁気ディスク１１１が装着され、レーザ光が光磁気ディスクの所定の位置にトレースされるまでの手順は、上述の再生手順と同様である。
記録時にはシステムコントローラ１５１の制御に基づいて、次の動作が行われる。即ち、インターフェース１５３を介してホストコンピュータ等から供給されたデータがデータバッファ１６２に格納される。そしてエラー訂正符号化、データ変調等の必要な処理が施されてから記録データＤｒが磁気ヘッドドライバに供給され、磁気ヘッド１１５からデータに応じた磁界が発生される。
同時に再生時のパワーよりも大きいパワーで半導体レーザが発光するように、レーザドライバ１１８およびレーザーパワー制御部１１９が動作する。
レーザ光により昇温された光磁気ディスク１１１の記録用磁性膜は、磁気ヘッドから発せられるデータに応じた磁界に、磁区の方向がそろう。これにより記録が行われる。
なお、記録動作におけるレーザ光は、一定強度でも良いし、記録クロックに同期したパルス状に強度変調してもよい。
【００３６】
続いては、図２（ａ）に本例の記録再生装置１００のトラッキングサーボ系の構成を示す。
先ず、本例の記録再生装置１００では、プッシュプル方式によるトラッキングエラー信号ＴＥを生成するようにされる。
そしてこの場合、光学ヘッド１１６内のフォトディテクタ１１６ａには、図２（ｂ）に示すように、トラック線方向に対して左右対称に配された２分割の受光面を備えたフォトディテクタ１１６ａ-1が設けられ、その各受光面での光検出信号Ｓ１，Ｓ２がマトリクス回路１１６ｂで演算処理される。即ちマトリクス回路１１６ｂにおけるＳ１−Ｓ２の減算処理により、左右対称の受光面のそれぞれによって検出される強度の差分がとられ、これがトラッキングエラー信号ＴＥとされる。
なお、図示は省略したが、上記のようなＳ１−Ｓ２により生成されるプッシュプル信号は、システムコントローラ１５１に対して供給されるべきアドレス情報の検出のためにアドレスデコーダに対しても供給される。
【００３７】
サーボコントローラ１４１におけるトラッキングサーボ部１４１ａには、位相補償回路２２、加算回路２１、トラッキングドライブ回路２３、直流電圧付加回路２０が設けられる。
トラッキングエラー信号ＴＥは、位相補償回路２２で位相補償された後、加算回路２１を介してトラッキングドライブ回路２３に供給される。トラッキングドライブ回路２３は、加算回路２１から入力された信号に基づいて、トラッキングドライブ信号ＴＤを生成し、光学ヘッド１１６内の二軸機構１１６ｃにおけるトラッキングコイルに電流を印加する。これによって二軸機構１１６ｃに保持された対物レンズ１１６ｄがトラッキング方向に駆動され、この駆動が、トラッキングエラー信号ＴＥをゼロとする方向に行われることで、トラッキングサーボ状態が得られる。
【００３８】
ここで、直流電圧付加回路２０は、システムコントローラ１５１から指示された直流電圧を発生させる。この直流電圧はオフセット電圧Ｄofとして加算回路２１に供給されるため、トラッキングエラー信号ＴＥに対してオフセット電圧が付加されることになる。
このオフセット電圧Ｄofとしては、適切なトラッキング状態でのデータ記録を可能とするため、後述する記録準備処理において最適値が設定される。
【００３９】
なお、記録準備処理の際には、オフセット電圧Ｄofの値を変更しながらテストパターンを記録し、そのテストパターンを再生するという動作を行うようにされる。
そのテストパターンの再生時には、マトリクス回路１１６ｂによって再生データに応じた再生信号ＳMOが出力され、再生信号処理回路１５６，データ検出回路１５９を介してテストデータ検出回路１６１によってテストパターンデータが検出される。システムコントローラ１５１は検出されたテストパターンデータにより信号品質を検査する。
【００４０】
ここで、これまでの説明から理解されるように、本実施の形態の記録再生装置１００ではＤＷＤＤ方式により信号の再生を行うようにされている。そして、トラッキング方式としては、ＷＰＰ方式を採用するものである。
先にも説明したように、このようにしてトラッキング方式をＷＰＰ方式とし、ＤＷＤＤ方式により信号の再生を行う場合には、プッシュプル信号のセンターに合わせてトラッキングをかけて（つまり記録時のデトラック量を０として）信号の記録を行ったのでは、各ディスク、また同一ディスクであっても面内のすべての領域にて良好な記録信号品質を得ることが困難となることがわかっている。
例えば、図３に示したようにして光磁気ディスク１１１を半径方向に複数の領域に区切ったとき、記録時のデトラック量を０として信号の記録を行ったのでは、先の図１３にて説明したように或る領域ではエラーレート良く再生できるが、他の領域ではエラーレートが悪化するといった事態が生じる。
つまりこの際、後者の領域においては、所要のデトラック量を与えて信号の記録を行わなければ、エラーレート良く再生を行うことができなくなってしまうものである。
【００４１】
このことを考慮し、本実施の形態では光磁気ディスク１１１の内周領域Ａ、中周領域Ｂ、外周領域Ｃごとに、良好な記録信号品質を得ることができる最適なオフセット電圧Ｄof（デトラック量）を検出・設定し、記録動作を行うものとしている。
そして、このような最適なデトラック量の検出にあたっては、先に述べた記録準備処理として、デトラック量を段階的に変化させて実際に信号の記録を行い、これを再生した結果最も信号品質が良好となったときのデトラック量を、その領域での最適なデトラック量として求めるものとしている。
【００４２】
しかしながら、このようにデトラック量を変化させながら試し書きを行った信号を再生した結果に基づいて最適なデトラック量を求めるとしたとき、記録時のデトラック量のみを変化させ、再生時のデトラック量は固定としたのでは、デトラックマージンが広くなる傾向となり、その分、最適なデトラック量を求めるにあたってのサンプリング点を多くしなければならなくなる。
そして、このようにサンプリング点が増えることで、テスト動作に要する時間長が長時間化してしまう。
【００４３】
ところで、このような最適なデトラック量を求める動作としては、これまでの説明から理解されるようにディスクの内周、中周、外周の各領域での個々の特性に応じて行う事情から、後述もするように各領域内での記録動作の直前に実行されるべきものとなる。
そして、このように記録動作の直前に実行されるものであることから、上記のようにテスト動作が長時間化してしまうことによっては記録動作の開始までに要する時間も長くなってしまう。
【００４４】
このため、本実施の形態では、最適デトラック量の検出のためのサンプリング数を削減してより短時間でテスト動作を実行可能とするように、テストパターンの再生時においてもデトラック量を変化させるものとしている。すなわち、デトラック量を変化させながら記録したテストパターンを、デトラック量を変化させながら再生した結果に基づいて最適デトラック量を求めるものである。
このようにして、再生時のデトラック量も変化させることで、デトラックマージンは狭まる傾向となり、その分最適なデトラック量を求めるにあたってのサンプリング点を減少傾向とすることができる。
【００４５】
そして、さらに本実施の形態では、このように再生時のデトラック量も変化させるとした上で、記録時のデトラック量と再生時のデトラック量との比率を、所定の比率としてテストパターンの記録再生を行うものとしている。
つまり、具体例を挙げれば、記録時のデトラック量を例えば「４、２、０、−２、−４」と段階的に変化させて記録した信号については、それぞれ再生時のデトラック量を「２、１、０、−１、−２」と変化させて再生を行うようにするものである。
このようにして、記録時のデトラック量と再生時のデトラック量との比率を考慮したテスト動作とすることにより、最適デトラック量の検出にあたってのサンプリング数を効果的に削減することができる。
【００４６】
ここで、このことを次の図４、図５を参照して説明する。
図４では、記録時のデトラック量と再生時のデトラック量との双方を変化させた場合のエラーレート特性を等高線により示している。
換言すれば、この特性図では記録デトラックマージンと再生デトラックマージンとの双方の特性が示されているものである。
そして、図４（ａ）、図４（ｂ）、図４（ｃ）の各図では、それぞれ図３に示した内周領域Ａ、中周領域Ｂ、外周領域Ｃにおいて得られる特性を示している。
なお、これらの図では、記録時のデトラック量（縦軸）と再生時のデトラック量（横軸）とをステップ数単位により示している。
【００４７】
先ず、これらの図では、図中に付した番号の値が小さい領域ほどエラーレートが低くなっていることが示されている。
つまり、この場合のエラーレート特性としては、楕円の中心から略同心円状に裾野が広がり、且つこの楕円の中心軸が所要の傾き（およそ６０°）を持つ、所謂アワビ状となる。
【００４８】
そして、この特性図において、エラーレートが最も低く、且つ再生時のデトラックマージンが最も広くなることろが最適ポイントとなる。つまり、この最適ポイントとなるときの記録デトラック量が、最適な記録デトラック量となる。
例えば、図４（ａ）の内周領域Ａについての特性図では、エラーレートが最も低く且つ再生時のデトラックマージンが最も広くなるのは図中の最適ポイントＸ１であり、即ちこの最適ポイントＸ１となるときの記録デトラック量が最適な記録デトラック量となる。
同様に、図４（ｂ）、図４（ｃ）に示される中周領域Ｂ、外周領域Ｃについての特性図においては、エラーレートが最も低く再生時のデトラックマージンが最も広くなる最適ポイントは、図示するＸ２、Ｘ３であり、これら最適ポイントＸ２、Ｘ３となるときの記録デトラック量がそれぞれの領域における最適な記録デトラック量となる。
【００４９】
ここで、図５（ａ）（ｂ）（ｃ）には、図４（ａ）（ｂ）（ｃ）に示したものと同様の内周領域Ａ、中周領域Ｂ、外周領域Ｃでのエラーレートの特性図を示すが、これらの図を参照してわかるように、上記した各領域での最適ポイントＸとしては、図中に破線Ｒと示した記録デトラック量を２、再生デトラック量を１の比率により変化させた線上に在ることがわかる。
このようにポイントＸが記録デトラック量を２、再生デトラック量を１の比率により変化させた線上に在るということは、この場合のテスト動作においては、記録デトラック量と再生デトラック量との比率が２：１となるようにそれぞれを段階的に変化させてテストパターンを記録再生すれば、効率良く最適な記録デトラック量を求めることができることになる。
すなわち、テストパターンについての記録時のデトラック量と再生時のデトラック量との比率について何ら考慮しない場合と比較すれば、より少ないサンプリング数で最適な記録デトラック量を求めることができるものである。
【００５０】
このような実施の形態としてのテストパターンの記録再生動作を、次の図６の模式図を参照して説明する。
先ず、この図６を参照してわかるように、この場合のテストパターンの記録再生動作としては、先の図３にて説明したようなＰＣＡ内において行うものとしている。
【００５１】
ここで、これまでの説明から理解されるように、最適なデトラック量としては、内周領域Ａ、中周領域Ｂ、外周領域Ｃのそれぞれ特性が異なるとされる領域ごとに求められるべきものである。このことから、テストパターンの記録再生動作としては、内周領域Ａ、中周領域Ｂ、外周領域Ｃのそれぞれにおいて行う必要がある。
そして、このような各領域ごとでのテストパターンの記録再生動作について、この場合は各領域ごとに設けられたＰＣＡにおいて行うとしたものである。
つまり、内周領域Ａにおけるテストパターンの記録再生動作は内周ＰＣＡにて行い、中周領域Ｂ、外周領域Ｃについてはそれぞれ中周ＰＣＡ、外周ＰＣＡにおいて行うとしたものである。
【００５２】
そして図６において、先ずテストパターンの記録動作は、図中「Ｒｅｃ」と示したようにしてデトラック量をクラスタごとに段階的に変化させながら行う。すなわち、図のようにクラスタ「００」には、デトラック量を−２０（ステップ）に設定した上でテストパターンを記録する。次いで、クラスタ「０１」には、デトラック量を−１６に変更してテストパターンを記録する。その後も、図のように最後のクラスタ「０ａ」にてデトラック量＝２０によるテストパターンの記録が行われるまで、順次デトラック量を４ステップ変化させながらテストパターンを記録していく。
【００５３】
そして、テストパターンの記録動作が終了すると、クラスタ「００」から順次テストパターンの再生を行う。
この際、上記もしたように記録時のデトラック量と再生時のデトラック量との比率を２：１とするので、クラスタ「００」に対して記録されたテストパターンの再生については、記録時のデトラック量の１／２となる−１０を設定する。
同様に、次のクラスタ「０１」についても、記録時の１／２となる−８によるデトラック量を設定して再生を行う。そして、以降のクラスタについても記録時に設定されたデトラック量の１／２となるデトラック量によりテストパターンの再生を行う。
【００５４】
その上で、このように再生されたテストパターンについて、例えばエラーレートを検出することで信号品質を検査し、最も信号品質が良好となったときの記録デトラック量と再生デトラック量との組を判別する。
そして、このうち、求められた記録デトラック量を最適なデトラック量として設定し、実際の記録動作を開始する。
【００５５】
なお、上記説明からも理解されるように、テストパターンの記録再生時において設定される記録デトラック量と再生デトラック量との比率は、それぞれデトラック量（つまりオフセット電圧Ｄofのレベル）を何ステップずつ飛ばして変化させていくかによって決定される。すなわち、ステップを飛ばす倍率により決定される。
例えば、上記例では、このようなステップ倍率を記録時：再生時＝４：２とすることで、記録デトラック量については上記のように−２０（−５×４）、−１６（−４×４）・・・２０（５×４）まで、また、再生デトラック量については−１０（−５×２）、−８（−４×２）・・・１０（５×２）までの段階的な変化を得ることができ、これによって記録デトラック量：再生デトラック量＝２：１の比率が設定されているものである。
【００５６】
ここで、本実施の形態において、これまでに説明してきた最適デトラック量を求めるための記録準備処理は、ディスク１１１の内周領域Ａ、中周領域Ｂ、外周領域Ｃの各領域での記録動作の開始直前に実行するものとしている。
具体的には、記録開始アドレスが決定されたことに応じたタイミングで実行するものとしている。
このようにして、記録開始アドレスが決定されたことに応じて実行するものとすれば、記録開始アドレスが内周領域Ａ、中周領域Ｂ、外周領域Ｃの何れに属するかを判別した上で、必要な領域内のみでの記録準備処理を行えば良いものとすることができる。
つまり、例えば各領域についての最適な記録デトラック量を一括して求めた後に記録動作を開始するとした場合よりも、記録準備処理の回数を削減してその分の処理負担を軽減することができる。
【００５７】
また、このように記録開始アドレスが決定されたタイミングで実行すれば、装填された各ディスク１１１ごとの特性に応じた最適デトラック量の設定も行うことができ、ディスク１１１ごとの特性のバラツキに対しても良好な記録信号品質を得ることができる。
【００５８】
また、実施の形態では、このように記録開始アドレスの決定に応じる以外にも、記録再生装置１００内の温度変化が所定以上となることに応じて実行するものとしている。
つまり、装置内の温度が変化した場合は、レーザパワー特性等から最適な記録デトラック量の値としても変化してしまう。このため実施の形態では、温度変化が例えば１０℃以上となることに応じて、再度その領域内でのテスト動作を行って最適な記録デトラック量（オフセット電圧Ｄof）の値を再設定するものとしている。
これによれば、装置内の温度変化に対しても良好な記録信号品質を維持することができる。
【００５９】
続いては、図７、図８のフローチャートを参照して、これまでに説明してきた実施の形態としての動作を実現するために実行されるべき処理動作について説明していく。
なお、これらの図に示す処理動作は、例えば図１に示したメモリ１６３に格納されるプログラムに基づいてシステムコントローラ１５１が実行するものである。
先ず、図７において、ステップＳ１０１では、記録動作を開始すべき状態となるのを待機する。そして、例えば記録動作を指示する操作入力等が行われて、記録動作を開始すべき状態になったとした場合は、ステップＳ１０２に進み、記録開始アドレスの決定処理を実行する。
【００６０】
続くステップＳ１０３においては、温度測定を行うと共に、その測定値を保持するための処理を実行する。
つまり、図１による図示は省略したが、記録再生装置１００内の所定位置には温度センサが設けられ、この温度センサからの入力信号に基づいて装置内の温度測定を行う。そしてその測定値を例えばメモリ１６３等に保持する。
【００６１】
ステップＳ１０４においては、先のステップＳ１０２にて決定された記録開始アドレスが内周領域Ａ、中周領域Ｂ、外周領域Ｃの何れに属するかについての判別処理を実行する。
記録開始アドレスが内周領域Ａに属するとした場合はステップＳ１０５に処理を進める。また、中周領域Ｂに属する場合はステップＳ１１３に処理を進め、外周領域Ｃに属する場合はステップＳ１２１に処理を進める。
【００６２】
先ず、記録開始アドレスが内周領域Ａに属するとされたステップＳ１０５においては、既に内周領域Ａでの最適デトラック量の情報が記憶されているか否かについての判別処理を実行する。
すなわち、例えば現在装填されているディスク１１１の内周領域Ａに対する記録動作が２回目以降のものであり、過去において最適デトラック量についてのテスト動作が行われて既にその情報が記憶されているか否かについての判別を行うものである。
ステップＳ１０５において、内周領域Ａでの最適デトラック量の情報が記憶されていないとして否定結果が得られた場合はステップＳ１０６に処理を進める。
【００６３】
ステップＳ１０６においては、内周ＰＣＡに移動するための処理を実行する。すなわち、光学ヘッド１１７及び磁気ヘッド１１５をディスク１１１の半径方向に移動させて、内周ＰＣＡにおける記録再生が可能な状態となるように制御を行う。
【００６４】
そして、ステップＳ１０７においては、テスト動作処理を行う。
ここで、このようなテスト動作処理としては、次の図８に示すようにして、先ずはステップＳ２０１において、ステップ倍率を「４」としてデトラック量を変化させながらテストパターンを記録させるための処理を実行する。
つまり、図２に示した直流電圧付加回路２０に対して供給する制御信号Ｓofにより、オフセット電圧Ｄofが４ステップずつ段階的に変化されるように制御を行う。このようなオフセット電圧Ｄofの設定により、デトラック量が４ステップ飛ばしで段階的に変化される。
また、これと同時に、上記のように変化されるデトラック量の各段階にてテストパターンの記録が行われるようにデータ変調器１５５、及びレーザパワー制御部１１９に対する制御を行うようにされる。
先の図６にて説明したように、実施の形態の場合、デトラック量はクラスタごとに変化されるように制御を行う。
【００６５】
そして、ステップＳ２０２においては、ステップ倍率を「２」としてデトラック量を変化させながらテストパターンを再生させるための処理を実行する。
つまり、この場合も同様に、直流電圧付加回路２０に対してオフセット電圧Ｄofが２ステップ飛ばしで段階的に変化されるように制御を行う。そして、これによってデトラック量が段階的に変化される状態の下で、記録されたテストパターンについての再生動作を実行させる。
再生されたテストパターンとしての再生データは、図１に示したテストデータ検出部１６１により検出されて、システムコントローラ１５１に供給される。
【００６６】
その上で、ステップＳ２０３において、信号品質検査処理を実行する。
すなわち、上記のようにしてテストデータ検出部１６１より供給されたテストパターンデータについての信号品質検査を行う。例えば、供給される各テストパターンデータについてのエラーレートを検出するようにされる。
【００６７】
図７において、先のステップＳ１０７としてこの図８に示したテスト動作処理を実行すると、続くステップＳ１０８においては、このテスト動作の結果から最適なデトラック量を判別し、これを保持するための処理を実行する。
すなわち、上記テスト動作の結果より、最もエラーレートの値が低くなったときの記録デトラック量と再生デトラック量との組を判別する。そして、このようにして得られた記録デトラック量を、最適なデトラック量として保持する処理を実行する。
【００６８】
さらに、ステップＳ１０９においては、最適なデトラック量を設定するための処理を実行する。すなわち、最適なデトラック量としてのオフセット電圧Ｄofを設定するための制御信号Ｓofを、図２に示した直流電圧付加回路２０に対して供給する。
その上で、ステップＳ１１２において、記録処理を行う。つまり、先のステップＳ１０２にて決定された記録開始アドレスからの記録動作を実行させるものである。
なお、このステップＳ１１２における記録処理を実行すると、ステップＳ１０１に戻って再び記録動作の開始を待機するようにされる。
【００６９】
また、先のステップＳ１０５において、既に内周領域Ａにおける最適デトラック量の情報が記憶されているとして、肯定結果が得られた場合は、ステップＳ１１０において、温度変化が所定以上であるか否かについての判別処理を実行する。
ここで、このステップＳ１０５にて肯定結果が得られる場合としては、例えば現在装填されているディスク１１１の内周領域Ａに対する記録動作が２回目以降のものであり、過去にテスト動作が行われて既に内周領域Ａについての最適デトラック量の情報が記憶されている場合である。
つまり、この場合としては、今回の記録開始に応じてステップＳ１０３にて新たに測定・保持された温度値と、その前の記録開始に応じて測定・保持された温度値との２値が存在する。そして、これらの差が所定以上となっている場合は、先に述べたようにレーザの温度特性等によって最適デトラック量も変化してしまっている可能性が高く、前回の温度状態で求められた最適デトラック量を適用してしまうと最適なトラッキング状態が得られなくなる可能性が高くなる。
このため、ステップＳ１１０にて温度変化が所定以上（この場合は１０℃以上に設定される）であった場合には、図示するようにしてステップＳ１０６に処理を進めて、再度、内周ＰＣＡにおけるテスト動作を行って最適デトラック量を求めるようにされる（ステップＳ１０７・Ｓ１０８）。そしてその後、この最適デトラック量による記録動作（Ｓ１０９・Ｓ１１２）が実行される。
【００７０】
また、ステップＳ１１０において否定結果が得られた場合は、ステップＳ１１１において、記憶された最適デトラック量を設定するための処理を実行した上で、ステップＳ１１２による記録処理を実行するようにされる。つまり、温度変化が所定以下であれば、前回のテスト動作によって得られた最適デトラック量をそのまま適用するようにされる。
このことを換言すれば、前回のテスト動作時からの温度変化が所定以内であれば、再度のテスト動作を行う必要がないということになり、従って記録開始に応じて常にテスト動作を行う場合と比較すれば、テスト動作の回数を削減することができるものとなる。すなわち、これによってテスト動作を行うための処理負担を軽減することができ、また記録開始までに要する時間も短縮することができる。
【００７１】
また、先のステップＳ１０４にて記録開始アドレスが中周領域Ｂに属するとされた、ステップＳ１１３においては、既に中周領域Ｂでの最適デトラック量の情報が記憶されているか否かについての判別処理を行うようにされる。
すなわち、先のステップＳ１０５として説明した処理動作と同様の処理動作を、中周領域Ｂについて行うものである。
そして、このステップＳ１１３以降の処理としても、ステップＳ１１４において中周ＰＣＡに移動するための処理を実行する以外は、既に説明したステップＳ１０６〜Ｓ１１２と同様の処理を実行するようにされる。
これによって、中周領域Ｂについても、最適デトラック量による記録動作を行うことができると共に、中周領域Ｂでの２度目以降の記録開始時に、温度変化が所定以上となっている場合には最適デトラック量の再設定が行われる。また、温度変化が所定以下であった場合には前回検出された最適デトラック量がそのまま適用され、余分なテスト動作を省略することができる。
【００７２】
また、記録開始アドレスが外周領域Ｃに属するとされたステップＳ１２１以降の処理としても、ステップＳ１２１にて外周領域Ｃでの最適デトラック量の情報の記憶の有無を判別し、ステップＳ１２２にて外周ＰＣＡへ移動するための処理を実行する以外は、先のステップＳ１０５〜Ｓ１１２の処理と同様の処理を実行するようにされる。
従って、外周領域Ｃについても、同様に最適デトラック量を設定した記録動作を行うことができると共に、この領域での２度目以降の記録開始時に温度変化が所定以上である場合には最適デトラック量の再設定が行われ、また、温度変化が所定以下であった場合には前回検出された最適デトラック量がそのまま適用され、余分なテスト動作を省略することができる。
【００７３】
上述もしたように本実施の形態では、テスト動作時において再生時のデトラック量も変化させることで、再生時のデトラック量を固定とした場合よりもデトラックマージンを狭める傾向とすることができる。つまり、その分最適デトラック量を求めるにあたってのサンプルリング点を減少させる傾向とすることができる。
そして、このように再生時のデトラック量も変化させるとした上で、先の図４（図５）に示したような、記録／再生のデトラックマージンの特性から導き出される、サンプリング点を有効に削減できる記録デトラック量と再生デトラック量の比率が設定されることで、テスト動作の時間長を効果的に短縮して記録開始までの時間長としてもさらなる短縮化を図ることができる。
【００７４】
なお、ここで確認のために述べておくと、上記のようにして設定された最適デトラック量の下で実際にディスク１１１に対して記録された信号の再生については、デトラック量を０に設定して行う。
ここで、ディスク１１１に記録された信号は、必ずしもそれを記録した記録再生装置１００自身によって再生されるものではない。このため、記録再生装置１００においては、必ずしも記録された信号とって最適な再生デトラック量を把握できるものではない。
また、仮に記録を行った記録再生装置１００自身がその再生を行う場合であっても、最適な再生デトラック量は、あくまでそのときの条件（例えば温度等）に基づいた記録デトラック量との組み合わせであることから、再生時には最適な再生デトラック量は変化してしまっている可能性がある。
このことから、ディスク１１１に対する再生時には、上記のようにしてデトラック量は０に設定するものとしている。
但し、これによっては、テスト動作によって得られた最適な再生デトラック量とはずれることになるが、再生デトラックマージンは記録デトラックマージンと比較して相当に広いものとなるので、実用上問題が生じることはない。
すなわち、ここで問題としているのは、あくまで記録動作側での信号品質の低下であり、最適な記録デトラック量の設定によって記録信号品質の向上が図られれば、再生時のデトラック量が最適値からずれていたとしても良好な信号再生を行うことができるものである。
このことは、先の図４の特性図において、記録時のデトラック量が最適値（つまり最適ポイントＸでの記録デトラック量）に決まっていれば、再生時のデトラック量が最適ポイントＸから変化しても比較的エラーレートよく再生できることからも理解できる。
【００７５】
＜第２の実施の形態＞
ところで、上記した第１の実施の形態では、テスト動作時における記録デトラック量と再生デトラック量との比率を２：１としたことで、最適なデトラック量を求めるにあたってのサンプリング数が削減される場合を例示した。
しかしながら、これはあくまで各領域での特性が先の図４（図５）に示したものとなるディスク１１１に対応させたときの比率を例示したものに過ぎず、図４に示したものと特性の異なるディスク１１１に対応させて効果的にサンプリング数を減少したテスト動作を行うためには、当然別の比率が設定されるべきものとなる。
例えば、図４に示したようなエラーレート特性は、ディスク１１１を製造したメーカやロットごとに異なることが予想されるので、上記のようにサンプリング数を減少した最適デトラック量の検出が可能となるようにするためには、メーカやロット等が同一で特性が同じとなるディスク１１１ごとに適正な比率が設定されるべきものとなる。
そこで、このようなディスク１１１の特性ごとに適正な割合を設定して、最適なデトラック量を求めるようにしたものが第２の実施の形態である。
なお、第２の実施の形態としても、記録再生装置１００の構成は図１、図２に示したものと同様となることからここでの図示による説明は省略する。
【００７６】
先ず、第２の実施の形態において、ディスク１１１に対しては、所定領域に対し、そのディスク個々を識別するためのディスクＩＤと、そのディスクにとって適正とされる記録デトラック量と再生デトラック量の比率情報とを記憶させるものとしている。
この場合も比率情報としては、ディスク１１１ごとに、先の図４、図５に説明したようなエラーレート特性について検証した結果に基づいて導き出されるものである。
また、この場合の比率情報としても、具体的には記録デトラック量と再生デトラック量とのステップ倍率を指示するための情報となる。
【００７７】
一方、記録再生装置１００側においても、上記ディスクＩＤごとに、対応する比率情報が格納されたディスク・比率対応情報を記憶している。
すなわち、このディスク・比率対応情報としては、例えば次の図９に示すように、ディスクＩＤに対応付けて、テスト動作時の記録デトラック量のステップ倍率と、再生デトラック量のステップ倍率の情報が格納されたものとなる。
なお、このようなディスク・比率対応情報は、例えば図１に示したメモリ１６３等に対して記憶されればよい。
【００７８】
このようなディスク１１１と記録再生装置１００とにより、第２の実施の形態では以下のような動作を行う。
先ず、この場合の記録再生装置１００としては、ディスク１１１が装填されることに応じて、ディスク１１１の所定領域に記憶されるディスクＩＤを読み出すようにされる。そして、読み出したディスクＩＤに基づき、ディスク・比率対応情報から該当する比率情報を検索する。比率情報が検索された場合は、その比率情報を取得する。
【００７９】
そして、以降の記録動作の開始に応じては、取得した比率情報に基づいてテスト動作時の記録デトラック量と再生デトラック量のステップ倍率を設定し、最適なデトラック量を求めるようにされる。
これによって、ディスク１１１の特性に応じた適正な記録デトラック量と再生デトラック量との比率によってテスト動作を行うことができ、サンプリング数を有効に削減して記録開始までの時間長の短縮化を図ることができる。
【００８０】
一方で、ディスク１１１から読み出したディスクＩＤについて、ディスク・比率対応情報内に同一ＩＤの情報が格納されていない場合は、ディスク１１１からさらに比率情報を読み出し、これをディスクＩＤと共にディスク・比率対応情報に追加する。
これによれば、新規に製造されたディスク１１１に対応して、ディスク・比率対応情報の内容をアップデートすることができる。
【００８１】
以下、このような第２の実施の形態としての動作を実現するにあたって実行されるべき処理動作について説明する。
図１０は、ディスク１１１ごとの比率情報を取得する際に行われるべき処理動作を示したフローチャートである。
なお、図１０に示す処理動作としても、システムコントローラ１５１が例えばメモリ１３６に対して予め格納されたプログラムに基づいて実行するものである。
【００８２】
図１０において、先ずステップＳ３０１においては、ディスク１１１の装填を待機する。そして、ディスク１１１が装填されたことに応じ、ステップＳ３０２において、ディスク１１１の所定領域に記憶されたディスクＩＤを読み出すための処理を実行する。
【００８３】
ステップＳ３０３においては、読み出したディスクＩＤの情報を元にディスク・比率対応情報を参照する。そして、続くステップＳ３０４において、ディスク・比率対応情報内に同一ディスクＩＤが格納されているか否かについての判別処理を行う。
ステップＳ３０４において、ディスク・比率対応情報内にディスク１１１から読み出したディスクＩＤと同一のディスクＩＤが格納されているとして肯定結果が得られた場合は、ステップＳ３０５に処理を進めて、該当する比率情報を取得する。すなわち、ディスク・比率対応情報において、ディスク１１１から読み出したディスクＩＤと同一のディスクＩＤが対応付けられた比率情報を取得するものである。
【００８４】
また、ステップＳ３０４において、同一のディスクＩＤが格納されていないとして否定結果が得られた場合は、ステップＳ３０６において、ディスク１１１から比率情報を取得する。すなわち、ディスク１１１の所定領域に対して記憶される比率情報を読み出す処理を実行し、これを取得する。
そして、続くステップＳ３０７においては、それぞれディスク１１１から読み出されたディスクＩＤと比率情報とを、ディスク・比率対応情報に追加する処理を実行する。
【００８５】
このように装填されたディスク１１１に対応した適正な比率情報を取得した以降は、第１の実施の形態の場合と同様に、記録開始アドレスの決定タイミングに応じて最適デトラック量を求めるための処理動作を実行するようにされる。すなわち、先の図７にて説明したものと同様の処理動作を実行する。
【００８６】
但し、この場合のテスト動作処理としては、次の図１１のフローチャートに示される処理を実行するものとされる。
図１１において、この場合のテスト動作処理としては、先ず図示するステップＳ４０１において、記録デトラック量と再生デトラック量のステップ倍率を、取得された比率情報に基づいて設定する処理を実行するようにされる。すなわち、先の図１０におけるステップＳ３０５又はＳ３０６において取得された比率情報に基づいたステップ倍率の設定が行われるものである。
【００８７】
そして、ステップＳ４０２においては、設定したステップ倍率によりデトラック量を変化させながらテストパターンを記録する処理を実行する。その上で、ステップＳ４０３において、設定したステップ倍率によりデトラック量を変化させながらテストパターンを再生するための処理を実行する。
さらに、ステップＳ４０３においては、先の図８にて説明したステップＳ２０３の処理と同様に、テストデータ検出回路１６１より供給される各テストパターンデータについて信号品質検査を行うようにされる。
【００８８】
このような処理とすることで、この場合のテスト動作としては、装填されたディスク１１１の特性に応じた適正な記録デトラック量と再生デトラック量との比率の設定の下で行うことができる。すなわち、最適デトラック量の検出を行うにあたってのサンプリング数を有効に削減して、記録開始までに要する時間長の短縮化を図ることができる。
【００８９】
このようにして第２の実施の形態によれば、ディスク１１１ごとの特性に応じた適正な記録デトラック量と再生デトラック量との比率によるテスト動作を行うことが可能となり、どのディスク１１１に対してもサンプリング数を有効に削減して記録開始までの時間長を短縮化することができる。
【００９０】
また、ディスク１１１側に対しても比率情報を記憶させておくものとしたことで、新規なディスク１１１について記録動作を行う場合にも、そのディスク１１１の特性に応じた適正な比率情報を得ることができる。
また、その比率情報をディスクＩＤと共にディスク・比率対応情報に追加するものとしたことで、ディスク・比率対応情報を常に最新のディスク１１１に対応した情報内容にアップデートすることができる。すなわち、常に最新のディスク１１１に対応して最適なデトラック量により記録動作を行うことができる記録再生装置１００を実現できる。
【００９１】
また、記録再生装置１００側に対しても、予めディスクＩＤと比率情報とを対応付けて格納したディスク・比率対応情報を記憶させるものとしているが、これによれば、ディスク・比率対応情報内にディスクＩＤが登録されたディスク１１１の記録動作については、ディスク１１１からの比率情報の読み出し動作を省略することができる。つまり、その分の処理負担を軽減することができる。
【００９２】
なお、これまでに説明してきた各実施の形態では、ディスク１１１を半径方向に３つの領域に区切って最適デトラック量を求めるもとしたが、特に領域の数を限定するものではない。
例えば、さらに領域を細かく区切って各領域での最適デトラック量を求めるようにすれば、最適デトラック量の精度のさらなる向上を図ることができる。
【００９３】
また、各実施の形態では、テスト動作により得られた再生データのエラーレートを基準として最適デトラック量を求める場合を例示したが、例えば再生信号のジッタを基準とする等、信号品質について評価することができれば他の評価値を基準とすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００９４】
【図１】本発明における実施の形態としての記録再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】実施の形態の記録再生装置のトラッキングサーボ系の構成について説明するための図である
【図３】実施の形態の光磁気記録媒体の領域分けについて示した図である。
【図４】光磁気記録媒体を半径方向に領域分けした場合の各領域での記録／再生デトラックマージンの特性について示した特性図である。
【図５】同じく、光磁気記録媒体を半径方向に領域分けした場合の各領域での記録／再生デトラックマージンについて示した特性図である。
【図６】実施の形態のテストパターンの記録再生動作を模式的に説明するための図である。
【図７】実施の形態としての動作を実現するために実行されるべき処理動作について示したフローチャートである。
【図８】第１の実施の形態のテスト動作を実現するために実行されるべき処理動作を示したフローチャートである。
【図９】ディスク・比率対応情報のデータ構造を示したデータ構造図である。
【図１０】第２の実施の形態において、記録媒体ごとの比率情報を取得する際に行われるべき処理動作を示したフローチャートである。
【図１１】第２の実施の形態のテスト動作を実現するために実行されるべき処理動作を示したフローチャートである。
【図１２】ＤＷＤＤ再生の説明図である。
【図１３】光磁気記録媒体を半径方向に領域分けした場合の各領域での記録デトラックマージンについて示した特性図である。
【符号の説明】
【００９５】
２０  直流電圧付加回路、２１  加算器、２２  位相補償回路、２３  トラッキングドライブ回路、１１６  光学ヘッド、１４１  サーボコントローラ、１４１ａ  トラッキングサーボ部、１５１  システムコントローラ、１５９  データ検出回路、１６１  テストデータ検出回路、１６３  メモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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