(57)【要約】【課題】外乱成分を抑制できるフォーカス制御調整方法の提供。【解決手段】回転している記録媒体１に光ビームを集光照射することで得られるフォーカス誤差信号を検出する第１のステップと、第１のステップで検出したフォーカス誤差信号に基づいて、記録媒体１の記録面と光ビームとの間の位置ずれを制御する際のフォーカス制御のゲインを設定する第２のステップとを含む。第１のステップでは、位置検出信号（副光ビーム）に予め設定しておいた係数を乗算してなる乗算結果と位置検出信号（主光ビーム）とを加算したうえで、その加算結果をフォーカス誤差信号として検出する。第１のステップでは、フォーカス誤差信号に応じて係数を設定する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
回転している記録媒体に光ビームを集光照射することで得られるフォーカス誤差信号を検出する第１のステップと、
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号に基づいて、前記記録媒体の記録面と前記光ビームとの間の位置ずれを制御する際のフォーカス制御のゲインを設定する第２のステップと、
を含み、
前記第１のステップでは、
１本の主光ビームと２本の副光ビームとからなる光ビームを回転している記録媒体に集光照射して前記記録媒体上に３つの集光スポットを形成したうえで、
前記主光ビームが前記記録媒体で反射してなるから主反射光に基づいて、前記主光ビームにおける前記集光スポットの位置を示す位置検出信号（主光ビーム）を生成し、前記副光ビームが前記記録媒体で反射してなりかつ前記主反射光とは位相が異なる２つの副反射光に基づいて、前記副光ビームにおける前記集光スポットの位置を示す位置検出信号（副光ビーム）を生成し、
前記第１のステップでは、
前記位置検出信号（副光ビーム）に所定の係数を乗算してなる乗算結果と前記位置検出信号（主光ビーム）とを加算したうえで、その加算結果を前記フォーカス誤差信号として検出し、
前記第１のステップでは、
前記係数を前記フォーカス誤差信号に応じて設定する、
フォーカス制御調整方法。
【請求項２】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号、または前記位置検出信号（主光ビーム）、または前記位置検出信号（副光ビーム）に応じて、前記フォーカス制御のゲインを設定する、
請求項１のフォーカス制御調整方法。
【請求項３】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅、または前記位置検出信号（主光ビーム）の振幅、または前記位置検出信号（副光ビーム）の振幅にほぼ反比例するように、前記フォーカス制御のゲインを設定する、
請求項２のフォーカス制御調整方法。
【請求項４】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅として、前記記録媒体のトラックと光ビームとの位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いているときの前記振幅を用いる、
請求項３のフォーカス制御調整方法。
【請求項５】
前記第２のステップでは、
前記集光スポットが前記記録媒体のトラックを横断する際における前記フォーカス誤差信号の周期、または前記位置検出信号（主光ビーム）の周期、または前記位置検出信号（副光ビーム）の周期に応じて前記フォーカス制御のゲインを設定する、
請求項２のフォーカス制御調整方法。
【請求項６】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、前記記録媒体の記録面と光ビームとの間の位置ずれを、位相遅れ補償と位相進み補償とにより制御し、
前記第２のステップでは、前記位相進み補償におけるゲインを前記フォーカス制御のゲインとして設定する、
請求項２のフォーカス制御調整方法。
【請求項７】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、前記フォーカス制御のゲインを、前記記録媒体が有するトラックと前記光ビームとの間の位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いているときのみ適用する、
請求項２のフォーカス制御調整方法。
【請求項８】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス制御のゲインの設定に替えて、前記フォーカス誤差信号、または位置検出信号(主光ビーム）、または位置検出信号(副光ビーム）に応じて、前記記録媒体の回転速度を設定する、
請求項１のフォーカス制御調整方法。
【請求項９】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅、または前記位置検出信号（主光ビーム）の振幅、または前記位置検出信号（副光ビーム）の振幅に応じて前記記録媒体の回転速度を設定する、
請求項８のフォーカス制御調整方法。
【請求項１０】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅として、前記記録媒体のトラックと光ビームとの位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いている際の前記振幅を用いる、
請求項９のフォーカス制御調整方法。
【請求項１１】
前記第２のステップでは、
前記集光スポットが前記記録媒体のトラックを横断する際における前記フォーカス誤差信号の周期、または前記位置検出信号（主光ビーム）の周期、または前記位置検出信号（副光ビーム）の周期に応じて前記記録媒体の回転速度を決定する、
請求項８のフォーカス制御調整方法。
【請求項１２】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、設定した前記記録媒体の回転速度を、前記記録媒体が有するトラックと前記光ビームとの間の位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いているときのみ適用する、
請求項８のフォーカス制御調整方法。
【請求項１３】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス制御のゲインを設定したのち、さらに、前記フォーカス誤差信号、または位置検出信号（主光ビーム）、または位置検出信号（副光ビーム）に応じて、前記記録媒体の回転速度を設定する、
請求項１のフォーカス制御調整方法。
【請求項１４】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅、または前記位置検出信号(主光ビーム）の振幅、または前記位置検出信号(副光ビーム）の振幅に応じて前記記録媒体の回転速度を設定する、
請求項１３のフォーカス制御調整方法。
【請求項１５】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅、または前記位置検出信号（主光ビーム）の振幅、または前記位置検出信号（副光ビーム）の振幅にほぼ反比例するように、前記フォーカス制御のゲインを決定する、
請求項１４のフォーカス制御調整方法。
【請求項１６】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅として、前記記録媒体のトラックと光ビームとの位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いている際の前記振幅を用いる、
請求項１４のフォーカス制御調整方法。
【請求項１７】
前記第２のステップでは、
前記集光スポットが前記記録媒体のトラックを横断する際における前記フォーカス誤差信号の周期、または前記位置検出信号（主光ビーム）の周期、または前記位置検出信号（副光ビーム）の周期に応じて前記フォーカス制御のゲインを設定する、
請求項１３のフォーカス制御調整方法。
【請求項１８】
前記第２のステップでは、
前記集光スポットが前記記録媒体のトラックを横断する際における前記フォーカス誤差信号の周期、または前記位置検出信号（主光ビーム）の周期、または前記位置検出信号（副光ビーム）の周期に応じて前記記録媒体の回転速度を決定する、
請求項１３のフォーカス制御調整方法。
【請求項１９】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、前記記録媒体の記録面と光ビームとの間の位置ずれを、位相遅れ補償と位相進み補償とにより制御し、
前記第２のステップでは、前記位相進み補償におけるゲインを前記フォーカス制御のゲインとして設定する、
請求項１３のフォーカス制御調整方法。
【請求項２０】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、前記フォーカス制御のゲインを、前記記録媒体が有するトラックと前記光ビームとの間の位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いているときのみ適用する、
請求項１３のフォーカス制御調整方法。
【請求項２１】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、設定した前記記録媒体の回転速度を、前記記録媒体が有するトラックと前記光ビームとの間の位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いているときのみ適用する、
請求項１３のフォーカス制御調整方法。
【請求項２２】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号、または位置検出信号(主光ビーム）、または位置検出信号(副光ビーム）に応じて前記記録媒体の回転速度を設定したのち、前記フォーカス制御のゲインを設定する、
請求項１のフォーカス制御調整方法。
【請求項２３】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅、または前記位置検出信号（主光ビーム）の振幅、または前記位置検出信号（副光ビーム）の振幅にほぼ反比例するように、前記フォーカス制御のゲインを設定する、
請求項２２のフォーカス制御調整方法。
【請求項２４】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅として、前記記録媒体のトラックと光ビームとの位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いているときの前記振幅を用いる、
請求項２３のフォーカス制御調整方法。
【請求項２５】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス制御のゲインの設定に替えて、前記フォーカス誤差信号の振幅、または前記位置検出信号(主光ビーム）の振幅、または前記位置検出信号(副光ビーム）の振幅に応じて前記記録媒体の回転速度を設定する、
請求項２２のフォーカス制御調整方法。
【請求項２６】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅として、前記記録媒体のトラックと光ビームとの位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いている際の前記振幅を用いる、
請求項２５のフォーカス制御調整方法。
【請求項２７】
前記第２のステップでは、
前記集光スポットが前記記録媒体のトラックを横断する際における前記フォーカス誤差信号の周期、または前記位置検出信号（主光ビーム）の周期、または前記位置検出信号（副光ビーム）の周期に応じて前記フォーカス制御のゲインを設定する、
請求項２２のフォーカス制御調整方法。
【請求項２８】
前記第２のステップでは、
前記集光スポットが前記記録媒体のトラックを横断する際における前記フォーカス誤差信号の周期、または前記位置検出信号（主光ビーム）の周期、または前記位置検出信号（副光ビーム）の周期に応じて前記記録媒体の回転速度を設定する、
請求項２２のフォーカス制御調整方法。
【請求項２９】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、前記記録媒体の記録面と光ビームとの間の位置ずれを、位相遅れ補償と位相進み補償とにより制御し、
前記第２のステップでは、
前記位相進み補償におけるゲインを前記フォーカス制御のゲインとして設定する、
請求項２２のフォーカス制御調整方法。
【請求項３０】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、前記フォーカス制御のゲインを、前記記録媒体が有するトラックと前記光ビームとの間の位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いているときのみ適用する、
請求項２２のフォーカス制御調整方法。
【請求項３１】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、設定した前記記録媒体の回転速度を、前記記録媒体が有するトラックと前記光ビームとの間の位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いているときのみ適用する、
請求項２２のフォーカス制御調整方法。
【請求項３２】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号、または位置検出信号(主光ビーム）、または位置検出信号(副光ビーム）に応じて、前記集光スポットを前記記録媒体のトラック横断方向に沿って移動させる際の移動速度をさらに設定する、
請求項１のフォーカス制御調整方法。
【請求項３３】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス制御のゲインの設定に替えて、前記フォーカス誤差信号、または位置検出信号(主光ビーム）、または位置検出信号(副光ビーム）に応じて、前記移動速度を設定する、
請求項３２のフォーカス制御調整方法。
【請求項３４】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の周期、または位置検出信号(主光ビーム）の周期、または位置検出信号(副光ビーム）の周期に応じて、前記移動速度を設定する、
請求項３２のフォーカス制御調整方法。
【請求項３５】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅にほぼ反比例するように、前記移動速度の最大値を設定する、
請求項３２のフォーカス制御調整方法。
【請求項３６】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の周期により検出される前記記録媒体の偏心速度と、前記移動速度との和が所定の値となるように、前記移動速度を設定する、
請求項３２のフォーカス制御調整方法。
【請求項３７】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅が所定値よりも大きいときにおいて、前記フォーカス誤差信号の周期により検出される前記記録媒体の偏心速度と前記移動速度との和が所定の値となるように、前記移動速度を決定する、
請求項３２のフォーカス制御調整方法。
【請求項３８】
前記第２のステップでは、
前記移動速度を設定する前に、前記フォーカス制御のゲインを設定する、
請求項３２のフォーカス制御調整方法。
【請求項３９】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅、または前記位置検出信号（主光ビーム）の振幅、または前記位置検出信号（副光ビーム）の振幅にほぼ反比例するように、前記フォーカス制御のゲインを設定する、
請求項３８のフォーカス制御調整方法。
【請求項４０】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅として、前記記録媒体のトラックと光ビームとの位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いているときの前記振幅を用いる、
請求項３９のフォーカス制御調整方法。
【請求項４１】
前記第２のステップでは、
前記集光スポットが前記記録媒体のトラックを横断する際における前記フォーカス誤差信号の周期、または前記位置検出信号（主光ビーム）の周期、または前記位置検出信号（副光ビーム）の周期に応じて前記フォーカス制御のゲインを設定する、
請求項３８のフォーカス制御調整方法。
【請求項４２】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、前記記録媒体の記録面と光ビームとの間の位置ずれを、位相遅れ補償と位相進み補償とにより制御し、
前記第２のステップでは、
前記位相進み補償におけるゲインを前記フォーカス制御のゲインとして設定する、
請求項３８のフォーカス制御調整方法。
【請求項４３】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、前記フォーカス制御のゲインを、前記記録媒体が有するトラックと前記光ビームとの間の位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いているときのみ適用する、
請求項３８のフォーカス制御調整方法。
【請求項４４】
前記第２のステップでは、
前記移動速度を決定する前に、前記フォーカス誤差信号、または位置検出信号（主光ビーム）、または位置検出信号（副光ビーム）に応じて、前記記録媒体の回転速度を設定する、
請求項３２のフォーカス制御調整方法。
【請求項４５】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅、または前記位置検出信号（主光ビーム）の振幅、または前記位置検出信号(副光ビーム）の振幅に応じて前記記録媒体の回転速度を設定する、
請求項４４のフォーカス制御調整方法。
【請求項４６】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、前記フォーカス誤差信号の振幅として、前記記録媒体のトラックと光ビームとの位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いている際の前記振幅を用いる、
請求項４５のフォーカス制御調整方法。
【請求項４７】
前記第２ステップでは、
前記集光スポットが前記記録媒体のトラックを横断する際における前記フォーカス誤差信号の周期、または前記位置検出信号（主光ビーム）の周期、または前記位置検出信号（副光ビーム）の周期に応じて前記記録媒体の回転速度を設定する、
請求項４４のフォーカス制御調整方法。
【請求項４８】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、設定した前記記録媒体の回転速度を、前記記録媒体が有するトラックと前記光ビームとの間の位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いているときのみ適用する、
請求項４４のフォーカス制御調整方法。
【請求項４９】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号、または前記位置検出信号(主光ビーム）、または前記位置検出信号(副光ビーム）に応じて、前記フォーカス制御のゲインを設定したのち前記記録媒体の回転速度を設定し、当該フォーカス制御のゲイン設定と当該回転速度設定とを終えた後、前記移動速度を設定する、
請求項３２のフォーカス制御調整方法。
【請求項５０】
前記第２のステップでは、前記フォーカス誤差信号の振幅、または前記位置検出信号（主光ビーム）の振幅、または前記位置検出信号（副光ビーム）の振幅にほぼ反比例するように、前記フォーカス制御のゲインを設定する、
請求項４９のフォーカス制御調整方法。
【請求項５１】
前記第２のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅として、前記記録媒体のトラックと光ビームとの位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いているときの前記振幅を用いる、
請求項５０のフォーカス制御調整方法。
【請求項５２】
前記第２のステップでは、
前記集光スポットが前記記録媒体のトラックを横断する際における前記フォーカス誤差信号の周期、または前記位置検出信号（主光ビーム）の周期、または前記位置検出信号（副光ビーム）の周期に応じて前記フォーカス制御のゲインを設定する、
請求項４９のフォーカス制御調整方法。
【請求項５３】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、前記記録媒体の記録面と光ビームとの間の位置ずれを、位相遅れ補償と位相進み補償とにより制御し、
前記第２のステップでは、
前記位相進み補償におけるゲインを前記フォーカス制御のゲインとして設定する、
請求項４９のフォーカス制御調整方法。
【請求項５４】
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う際には、前記フォーカス制御のゲインを、前記記録媒体が有するトラックと前記光ビームとの間の位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いているときのみ適用する、
請求項４９のフォーカス制御調整方法。
【請求項５５】
前記第１のステップでは、
設定した前記係数を固定値とする、
請求項１のフォーカス制御調整方法。
【請求項５６】
前記第１のステップでは、
前記フォーカス誤差信号の振幅が最も小さくなるように前記係数を設定する、
請求項１のフォーカス制御調整方法。
【請求項５７】
前記第１のステップでは、
前記振幅として、前記記録媒体のトラックと前記光ビームとの位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いているときの前記振幅を用いる、
請求項５６のフォーカス制御調整方法。
【請求項５８】
前記第１のステップでは、
前記フォーカス制御の出力が最も小さくなるように前記係数を決定する、
請求項１のフォーカス制御調整方法。
【請求項５９】
前記第１のステップでは、
前記フォーカス制御の出力として、前記記録媒体のトラックと光ビームとの位置ずれを制御するトラッキング制御ループが開いている際の前記フォーカス制御の出力を用いる、
請求項５８のフォーカス制御調整方法。
【請求項６０】
１本の主光ビームと２本の副光ビームとからなる光ビームを、回転している記録媒体に集光照射して前記記録媒体上に３つの集光スポットを形成したうえで、前記主光ビームが前記記録媒体で反射してなる主反射光と、前記副光ビームが前記記録媒体で反射してなりかつ前記主反射光とは位相が異なる２つの副反射光とをそれぞれ受光する光検出器と、
前記主反射光に基づいて前記主光ビームにおける前記集光スポットの位置を示す位置検出信号（主光ビーム）を生成するとともに、前記副反射光に基づいて前記副光ビームにおける前記集光スポットの位置を示す位置検出信号（副光ビーム）を生成したうえで、前記位置検出信号（副光ビーム）に所定の係数を乗算した乗算結果と前記位置検出信号（主光ビーム）とを加算してその加算結果を前記光ビームのフォーカス誤差信号として検出するフォーカス誤差検出器と、
前記フォーカス誤差信号に基づいて前記集光スポットと前記記録媒体の記録面との位置ずれを制御するフォーカス制御器と、
前記記録媒体を回転させるモータと、
を備え、
前記フォーカス誤差検出器は、前記フォーカス制御器による前記位置ずれの制御結果に応じて前記係数を設定する、
光ディスク装置。
【請求項６１】
前記フォーカス誤差信号の振幅を測定する第１のフォーカス誤差振幅測定器をさらに備え、
前記フォーカス誤差検出器は、前記第１のフォーカス誤差振幅測定器の測定結果に応じて前記係数を設定する、
請求項６０の光ディスク装置。
【請求項６２】
前記フォーカス誤差信号の振幅、前記位置検出信号（主光ビーム）の振幅、または前記位置検出信号（副光ビーム）の振幅を測定する第２のフォーカス誤差振幅測定器をさらに備え、
前記フォーカス制御器は、前記第２のフォーカス誤差振幅測定器の測定結果に応じて前記記録媒体の記録面と光ビームとの間の位置ずれを制御するフォーカス制御のゲインを設定する、
請求項６１の光ディスク装置。
【請求項６３】
前記フォーカス誤差信号の振幅、または前記位置検出信号（主光ビーム）の振幅、または前記位置検出信号（副光ビーム）の振幅を測定する第２のフォーカス誤差振幅測定器をさらに備え、
前記フォーカス制御器は、前記第２のフォーカス誤差振幅測定器の測定結果に応じて前記モータの回転速度を設定する、
請求項６１の光ディスク装置。
【請求項６４】
前記フォーカス誤差信号の周期、前記位置検出信号（主光ビーム）の周期、または前記位置検出信号（副光ビーム）の周期を測定するフォーカス誤差周期測定器をさらに備え、
前記フォーカス制御器は、前記フォーカス誤差周期測定器の測定結果に応じて前記記録媒体の記録面と光ビームとの位置ずれを制御するフォーカス制御のゲインを設定する、
請求項６１の光ディスク装置。
【請求項６５】
前記フォーカス誤差信号の周期、または前記主反射光による位置検出信号の周期、または前記副反射光による位置検出信号の周期を測定するフォーカス誤差周期測定器をさらに備え、
前記フォーカス制御器は、前記フォーカス誤差周期測定器の測定結果に応じて前記モータの回転速度を設定する、
請求項６１の光ディスク装置。
【請求項６６】
前記フォーカス制御器の出力を測定するフォーカス制御駆動測定器をさらに備え、
前記フォーカス誤差検出器は、前記フォーカス制御駆動測定器の測定結果に応じて前記係数を設定する、
請求項６０の光ディスク装置。
【請求項６７】
さらに、前記フォーカス誤差信号の振幅、または前記位置検出信号（主光ビーム）の振幅、または前記位置検出信号（副光ビーム）の振幅を測定する第２のフォーカス誤差振幅測定器をさらに備え、
前記フォーカス制御器は、前記第２のフォーカス誤差振幅測定器の測定結果に応じて前記記録媒体の記録面と光ビームとの位置ずれを制御するフォーカス制御のゲインを設定する、
請求項６６の光ディスク装置。
【請求項６８】
さらに、前記フォーカス誤差信号の振幅、または前記位置検出信号（主光ビーム）の振幅、または前記位置検出信号（副光ビーム）の振幅を測定する第２のフォーカス誤差振幅測定器をさらに備え、
前記フォーカス制御器は、前記第２のフォーカス誤差振幅測定器の測定結果に応じて前記モータの回転速度を設定する、
請求項６６の光ディスク装置。
【請求項６９】
さらに、前記フォーカス誤差信号の周期、または前記主反射光による位置検出信号の周期、または前記副反射光による位置検出信号の周期を測定するフォーカス誤差周期測定器をさらに備え、
前記フォーカス制御器は、前記フォーカス誤差周期測定器の出力に応じて前記記録媒体の記録面と光ビームとの間の位置ずれを制御するフォーカス制御のゲインを設定する、
請求項６６の光ディスク装置。
【請求項７０】
前記フォーカス誤差信号の周期、または前記位置検出信号（主光ビーム）の周期、または前記位置検出信号（副光ビーム）の周期を測定するフォーカス誤差周期測定器をさらに備え、
前記フォーカス制御器は、前記フォーカス誤差周期測定器の測定結果に応じて前記モータの回転速度を設定する、
請求項６６の光ディスク装置。
【請求項７１】
前記集光スポットを前記記録媒体のトラック横断方向に沿って移動させる移送機構と、
前記係数が設定される前の前記フォーカス誤差信号の振幅を測定するフォーカス誤差振幅測定器と、
前記係数が設定された後の前記フォーカス誤差信号の振幅を測定するフォーカス誤差振幅測定器と、
をさらに備え、
前記係数設定前の前記振幅を測定するフォーカス誤差振幅測定器の測定結果に応じて前記係数を決定し、
前記係数設定後の前記振幅を測定するフォーカス誤差振幅測定器の測定結果に応じて前記移送機構による前記集光スポットの移動速度を設定する、
請求項６０の光ディスク装置。
【請求項７２】
前記集光スポットを前記記録媒体のトラック横断方向に沿って移動させる移送機構と、
前記フォーカス制御器の出力を測定するフォーカス制御駆動測定器と、
前記フォーカス誤差信号の振幅を測定するフォーカス誤差振幅測定器と、
をさらに備え、
前記フォーカス制御駆動測定器の測定結果に応じて前記係数を設定し、
前記フォーカス誤差振幅測定器の測定結果に応じて前記移送機構による前記集光スポットの移動速度を設定する、
請求項６０の光ディスク装置。
【請求項７３】
前記集光スポットを前記記録媒体のトラック横断方向に任意に移動させる移送機構と、
前記フォーカス誤差信号の振幅を測定するフォーカス誤差振幅測定器と、
前記フォーカス誤差信号の周期を測定するフォーカス誤差周期測定器と、
をさらに備え、
前記フォーカス誤差振幅測定器の測定結果に応じて前記係数を設定し、
前記フォーカス誤差周期測定器の測定結果に応じて前記移送機構による前記集光スポットの移動速度を設定する、
請求項６０の光ディスク装置。
【請求項７４】
前記集光スポットを前記記録媒体のトラック横断方向に任意に移動させる移送機構と、
前記フォーカス制御器の出力を測定するフォーカス制御駆動測定器と、
前記フォーカス誤差信号の周期を測定するフォーカス誤差周期測定器と、
をさらに備え、
前記フォーカス制御駆動測定器の測定結果に応じて前記係数を設定し、
前記フォーカス誤差周期測定器の測定結果に応じて前記移送機構による前記集光スポットの移動速度を設定する、
請求項６０の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）などの記録媒体に対して情報を再生または記録する光ディスク装置およびそのフォーカス制御調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、光ディスク装置における光ビームと記録媒体の記録面との位置ずれを表すフォーカス誤差信号の検出方式としては、ナイフエッジ方式（フーコー方式）、スポットサイズ検出方式、非点収差方式等がある。光学系の簡単さ、調整の容易性等の観点から非点収差方式が最も一般的な方式である。非点収差方式では、記録媒体上に照射されている光ビームの集光スポット（以下、光ビームスポットと称する）が記録媒体上のトラックを横断するときにフォーカス誤差信号に外乱が発生し易い。この外乱の影響は、例えばＤＶＤ−ＲＡＭなどのランドグルーブ型の記録媒体において特に顕著である。それは、記録媒体に設けられる案内溝（グルーブ）と案内溝間（ランド）の幅がほぼ等しく、また案内溝の溝深さが光ビームの波長λに対して大きく設定される（λ／６〜λ／７）ことによって、案内溝の回折によって生じるプッシュプル信号の振幅が大きくなるからである。
【０００３】
記録媒体上に照射されている光ビームスポットが記録媒体上のトラックを横断するときにフォーカス誤差信号に重畳する外乱を抑制する光学構成および信号検出回路が特許文献１、特許文献２に開示されている。
【０００４】
図１６は、特許文献１に記載された光ピックアップの光学構成の概略を示す。光源２−１は例えば波長６５０ｎｍの光ビームを発する素子である。この光源２−１から発した光ビームは回折格子２−２に入射する。回折格子２−２は、光ビームを、そのまま透過する主光ビーム（０次光）と所定の回折角で主光ビームから分離進行する２つの副光ビーム（＋１次回折光および−１次回折光）の少なくとも３本の光ビームに分離する。これらの３本の光ビームは偏光ビームスプリッタ２−３を経てコリメートレンズ２−４に入射し、コリメートレンズ２−４で平行光に変換された後、立ち上げミラー２−１０と対物レンズ２−５とを経て、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクなどの記録媒体（以下、ディスクと称する）１の記録面上に集光される。集光された光ビームは、光ビームスポット１００，１０１，１０２を形成する。光ビームは、ディスク１で反射して復路光となる。反射光（復路光）は、照射光（往路光）と同じ光路をたどって対物レンズ２−５、立ち上げミラー２−１０、およびコリメートレンズ２−４を経て偏光ビームスプリッタ２−３の反射面で反射する。偏光ビームスプリッタ２−３で反射した反射光（復路光）は、集光レンズ２−６を経て、光検出器２−７，２−８−１，２−８−２の所定の受光面上に集光される。
【０００５】
以上の、光源２−１、回折格子２−２、偏光ビームスプリッタ２−３、コリメートレンズ２−４、対物レンズ２−５、集光レンズ２−６、光検出器２−７，２−８−１，２−８−２、２次元アクチュエータ２−９−１，２−９−２、立ち上げミラー２−１０によって光ピックアップのユニットが構成される。
【０００６】
光検出器２−７，２−８−１，２−８−２は４分割された３つの受光面がほぼ直線的に配置されている。反射光（復路光）を構成する主光ビーム、２つの副光ビーム（＋１次回折光、−１次回折光）の各々は、それぞれ受光領域２００，２０１および２０２のほぼ中心、すなわち受光領域内の縦、横の分割線が十字に交わっている点と光ビーム強度中心がほぼ一致する位置に集光される。このときの各光ビームは集光レンズ２−６によって所定の非点収差が与えられているため、非点収差方式に基づいた位置検出信号が各受光領域からそれぞれ検出され、さらに、これら位置検出信号からフォーカス誤差信号が生成される。
【０００７】
対物レンズ２−５には２次元アクチュエータ２−９−１，２−９−２が取り付けられている。２次元アクチュエータ２−９−１，２−９−２は、上記フォーカス誤差信号に基づいて対物レンズ２−５の自動位置調整、すなわちフォーカス制御を行い、照射光（光ビームスポット１００，１０１，１０２）を常にディスク１の記録面上に正しく照射させる。
【特許文献１】特開２０００−８２２２６号
【特許文献２】特開平９−８１９４２号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、復路光（反射光）基づいてフォーカス誤差信号を生成した場合には、ディスク１の案内溝における回折の影響で反射光の強度分布パターンの周期的変化と、それによって生じるプッシュプル信号成分の漏れ込みによってフォーカス誤差信号に外乱が発生しやすくなる。
【０００９】
さらには、光ピックアップの光学部品の取り付け精度および光ビームスポットをディスク１のトラック横断方向に任意に移動させる移送機構（トラバースメカ）の取り付け精度またはディスク溝深さがばらつくことによって、一方の位置検出信号に重畳される外乱成分の位相と他方の位置検出信号に重畳される外乱成分の位相とが完全に反転せず、これらの位相に、同相から反転まで様々な位相成分が混在してしまう。そしてこのことにより、実際にフォーカス制御に用いるフォーカス誤差信号に外乱成分が残留してしまい、そのためにフォーカス制御性能が劣化する場合がある。あるいは、上述した従来例において実施されるキャンセル処理において、位置検出信号に乗算される係数を様々に設定せざるを得なくなり、このことによっても、実際にフォーカス制御に用いるフォーカス誤差信号に外乱成分が残留してフォーカス制御性能が劣化する場合がある。
【００１０】
このことからわかるように、従来では、位置検出信号どうしを加算処理する際において、位置検出信号に乗算される係数を決定する明確な方法がなかった。また、このような従来の制御方法では、フォーカス制御信号としてアクチュエータ２−９−１，２−９−２に付与される駆動電流が過大となるため、アクチュエータ２−９−１，２−９−２の負荷が大きくなる。
【００１１】
したがって、本発明の主たる目的は、主反射光による位置検出信号と副反射光による位置検出信号とを用いて光ビームと記録媒体記録面との位置ずれを表すフォーカス誤差信号を用いてフォーカス制御をする光ディスク装置において、光ビームスポットがトラックを横断するときにフォーカス誤差信号に重畳される外乱成分を抑制できるフォーカス制御調整方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記課題を解決するために本発明によるフォーカス制御調整方法は、
回転している記録媒体に光ビームを集光照射することで得られるフォーカス誤差信号を検出する第１のステップと、
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号に基づいて、前記記録媒体の記録面と前記光ビームとの間の位置ずれを制御する際のフォーカス制御のゲインを設定する第２のステップと、
前記第１のステップで検出した前記フォーカス誤差信号と、前記第２のステップで設定した前記フォーカス制御のゲインとに基づいて前記光ビームのフォーカス調整を行う第３のステップと、
を含み、
前記第１のステップでは、１本の主光ビームと２本の副光ビームとからなる光ビームを回転している記録媒体に集光照射して前記記録媒体上に３つの集光スポットを形成したうえで、前記主光ビームが前記記録媒体で反射してなる前記主反射光に基づいて、前記主光ビームにおける前記集光スポットの位置を示す位置検出信号（主光ビーム）を生成し、前記副光ビームが前記記録媒体で反射してなりかつ前記主反射光とは位相が異なる２つの副反射光に基づいて、前記副光ビームにおける前記集光スポットの位置を示す位置検出信号（副光ビーム）を生成し、
前記第１のステップでは、前記位置検出信号（副光ビーム）に予め設定しておいた係数を乗算してなる乗算結果と前記位置検出信号（主光ビーム）とを加算したうえで、その加算結果を前記フォーカス誤差信号として検出し、
前記第１のステップでは、前記フォーカス誤差信号に応じて前記係数を設定する。
【００１３】
本発明による光ディスク装置は、１本の主光ビームと２本の副光ビームとからなる光ビームを回転している記録媒体に集光照射して前記記録媒体上に３つの集光スポットを形成したうえで前記主光ビームが前記記録媒体で反射してなる主反射光と、前記副光ビームが前記記録媒体で反射してなりかつ前記主反射光とは位相が異なる２つの副反射光とをそれぞれ受光する光検出器と、
前記主反射光に基づいて前記主光ビームにおける前記集光スポットの位置を示す位置検出信号（主光ビーム）を生成するとともに、前記副反射光に基づいて前記副光ビームにおける前記集光スポットの位置を示す位置検出信号（副光ビーム）を生成したうえで、前記位置検出信号（副光ビーム）に所定の係数を乗算した乗算結果と前記位置検出信号（主光ビーム）とを加算してその加算結果を前記光ビームのフォーカス誤差信号として検出するフォーカス誤差検出器と、
前記フォーカス誤差信号に基づいて前記集光スポットと前記記録媒体の記録面との位置ずれを制御するフォーカス制御器と、
前記記録媒体を回転させるモータと、
を備え、
前記フォーカス誤差検出器は、前記フォーカス制御器による前記位置ずれの制御結果に応じて前記係数を設定する。
【００１４】
本発明の構成において、位置検出信号（主光ビーム）の大きさをＡ、位置検出信号（副光ビーム）の大きさをＢ、位置検出信号（副光ビーム）に与える前記係数をｋ、フォーカス誤差信号の大きさをＦＥとすると、
ＦＥ＝Ａ＋ｋ×Ｂ
と表される。
【００１５】
これにより、フォーカス誤差信号に外乱成分が残留した場合においても、フォーカス制御出力を過大にすることなく安定なフォーカス制御を実現できる。
【００１６】
ここで本発明では、係数ｋについて、従来の技術のように固定値とするのではなく、フォーカス誤差信号の振幅の変動に応じて係数ｋの大きさをダイナミックに調整することが特徴となっている。これにより、光ピックアップの光学部品の取り付け精度または光ビームスポットを記録媒体のトラック横断方向に任意に移動させる移送機構の取り付け精度またはディスク溝深さがばらついても、プッシュプル信号の漏れ込みに起因したフォーカス誤差信号へ重畳する外乱成分をダイナミックに抑制することができるので、高精度なフォーカス制御性能を実現できる。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、位置検出信号（主光ビーム）と位置検出信号（副光ビーム）とを加算するときにおいて、位置検出信号（副光ビーム）に乗算される係数をフォーカス誤差信号の振幅の変動に応じてダイナミックに調整することにより、光学部品または移送機構の取り付け精度またはディスク溝深さがばらついても、フォーカス誤差信号に重畳する外乱を抑制し、安定なフォーカス制御動作を実現できる。
【００１８】
さらに、外乱の度合いに応じてフォーカス制御ゲインや記録媒体回転速度をダイナミックに調整することによって、フォーカス制御出力を抑制することができる。
【００１９】
さらに、外乱の度合いに応じて移送機構の移動速度をダイナミックに調整することによって、光ビームスポットがトラック横断方向に移動している区間においてもフォーカス制御出力を抑制することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明にかかわる光ディスク装置およびフォーカス制御調整方法の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
（実施の形態１）
図１は本発明の実施の形態１におけるフォーカス制御調整方法が実施される光ディスク装置の一構成例を示すブロック図である。光ディスク装置には記録媒体（以下、ディスクと称する）１の一例としてＤＶＤ−ＲＡＭディスクが装填される。ディスク１はモータ３によって回転させられる。モータ３はマイクロコンピュータ９から出力される回転速度制御信号Ｓ１に従って制御される。光源２−１は例えば６５０ｎｍの光ビームを発する素子である。光源２−１から発せられた光ビームは回折格子２−２に入射し、ここで、回折格子２−２をそのまま透過する主光ビーム（０次光）と所定の回折角で主光ビームから分離進行する２つの副光ビーム（＋１次回折光および−１次回折光）の少なくとも３本の光ビームに分離される。これらの３本の光ビームは偏光ビームスプリッタ２−３を経てコリメートレンズ２−４に入射され、ここで平行光に変換された後に、対物レンズ２−５を経て、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクなどの記録媒体（以下、ディスクと称する）１の記録面上に集光される。集光された光ビームは記録面上で３つの光ビームスポットを形成する。集光された光ビームはディスク１で反射して上述した照射光（往路光）と同じ光路をたどる反射光（復路光）となり、対物レンズ２−５、コリメートレンズ２−４を経て偏光ビームスプリッタ２−３の反射面で反射する。さらに反射光は、集光レンズ２−６を経て、光検出器２−７，２−８−１，２−８−２の所定の受光面上に集光される。
【００２１】
光検出器２−７に反射光の主光ビームが集光され、光検出器２−８−１，２−８−２に反射光の２つの副光ビーム（＋１次回折光、−１次回折光）が集光される。主光ビームは、受光領域のほぼ中心位置に集光される。副光ビーム（＋１次回折光、−１次回折光）は、光ビーム強度中心が互いにほぼ一致する位置にそれぞれ集光される。集光レンズ２−６によって所定の非点収差が反射光に与えられるため、光検出器２−７，２−８−１，２−８−２では、非点収差方式に基づいたフォーカス誤差信号が検出される。なお、対物レンズ２−５には２次元アクチュエータ２−９−１，２−９−２が取り付けられている。
【００２２】
以上の、光源２−１、回折格子２−２、偏光ビームスプリッタ２−３、コリメートレンズ２−４、対物レンズ２−５、集光レンズ２−６、光検出器２−７，２−８−１，２−８−２、２次元アクチュエータ２−９−１，２−９−２によって光ピックアップ２が構成される。
【００２３】
光検出器２−７，２−８−１，２−８−２の出力は第１の差動回路４−１、第１の加算回路４−２−１、および第２の加算回路４−２−２に入力される。第１の差動回路４−１は主光ビーム（反射光）の強度差を検出して主光ビームに基づいた位置検出信号（主光ビーム）を生成する。以下、位置検出信号（主光ビームをメインフォーカス誤差信号ＭＦＥという。メインフォーカス誤差信号ＭＦＥは、第３の加算回路４−５に入力される。
【００２４】
第１、第２の加算回路４−２−１，４−２−２は光検出器２−８−１，２−８−２の出力をそれぞれ加算して第２の差動回路４−３に出力する。第１、第２の加算回路４−２−１，４−２−２による加算処理は、副光ビーム（反射光）の強度差をそれぞれ検出するために実施される。第２の差動回路４−３は第１の加算回路４−２−１、第２の加算回路４−２−２の出力に基づいて副光ビーム（反射光）の強度差を検出し、その検出結果から副光ビームに基づいた位置検出信号（副光ビーム）を生成する。以下、位置検出信号（副光ビーム）をサブフォーカス誤差信号ＳＦＥという。サブフォーカス誤差信号ＳＦＥは乗算回路４−４に入力される。ここでサブフォーカス誤差信号ＳＦＥには所定の係数ｋが乗算される。
【００２５】
系数ｋが乗算されたサブフォーカス誤差信号ＳＦＥは、第３の加算回路４−５に入力される。第３の加算回路４−５は第１の差動回路４−１の出力と乗算回路４−４の出力とを加算することで、フォーカス誤差信号ＦＥを生成する。フォーカス誤差信号ＦＥは次式（１）で表すことができる。
【００２６】
ＦＥ＝ＭＦＥ＋ｋ×ＳＦＥ  ・・・（１）
本実施形態では、第１の差動回路４−１、第１の加算回路４−２−１、第２の加算回路４−２−２、第２の差動回路４−３、乗算回路４−４、第３の加算回路４−５によってフォーカス誤差検出器４が構成される。
【００２７】
反射光から非点収差方式によるフォーカス誤差信号ＦＥを検出すると、案内溝での回折の影響で反射光の強度分布パターンの周期的変化と、それによって生じるプッシュプル信号成分の漏れ込みとによって、フォーカス誤差信号ＦＥに外乱が発生しやすくなる。そのことについて図２Ａ−図２Ｃを参照して説明する。
【００２８】
図２Ａ−図２Ｃは光ビームスポット１００，１０１，１０２の反射光から検出したフォーカス誤差信号をそれぞれ示す図であり、縦軸に信号振幅を、横軸に照射位置とディスク１の記録面との相対位置を示す。図２Ａ，図２Ｂに示すように、主光ビームスポットの反射光から得られる位置検出信号ＭＦＥと２つの副光ビーム（＋１次回折光、−１次回折光）のスポットの反射光から得られる位置検出信号ＳＦＥとを比較すると、両信号の位相は同相であるものの、信号内で発生する外乱成分は、両信号でその位相が反転する。そこで、第３の加算回路４−５において、位置検出信号ＳＦＥ（またはその和信号）に所定の係数を乗算した乗算結果と位置検出信号ＭＦＥとを加算処理することにより、第３の加算回路４−５から出力されるフォーカス誤差信号ＦＥに重畳される外乱成分は、図２Ｃに示すようにほぼ完全にキャンセルされる。
【００２９】
第３の加算回路４−５から供給されるフォーカス誤差信号ＦＥに基づいてフォーカス制御器５は、対物レンズ２−５の自動位置調整、すなわちフォーカス制御を行い、光ビームスポットを常にディスク１の記録面上に正しく照射させる。なお、実施の形態１では、フォーカス制御器５は位相遅れ補償回路５−１と位相進み補償回路５−２とを備え、それぞれの回路のゲインは可変可能とされる。
【００３０】
フォーカス誤差信号ＦＥは、第１のフォーカス誤差振幅測定器６、第２のフォーカス誤差振幅測定器７、および第１のフォーカス誤差周期測定器８にもそれぞれ入力される。第１のフォーカス誤差振幅測定器６と第２のフォーカス誤差振幅測定器７とは、所定区間におけるフォーカス誤差信号ＦＥの最大値と最小値とからその振幅を測定して測定結果をマイクロコンピュータ９に出力する。第１のフォーカス誤差周期測定器８は所定区間におけるフォーカス誤差信号ＦＥの最大周期および最小周期を測定したうえでそれら周期の平均値を演算し、その演算結果をマイクロコンピュータ９に出力する。
【００３１】
マイクロコンピュータ９は、第１のフォーカス誤差振幅測定器６の測定結果に基づいて乗算回路４−４のゲイン、すなわち式（１）における係数ｋを決定し、決定した係数（ゲイン）ｋを乗算回路４−４に設定する。
【００３２】
マイクロコンピュータ９は、第２のフォーカス誤差振幅測定器７の測定結果に基づいてフォーカス制御ゲインを決定し、フォーカス制御器５に設定する。また、マイクロコンピュータ９は、第１のフォーカス誤差周期測定器８の測定結果に基づいてモータ３の回転速度を決定して設定する。
【００３３】
乗算回路４−４のゲイン（係数）ｋ、フォーカス制御器１５のゲインおよびモータ３の回転速度制御信号Ｓ１の決定方法については後述する。
【００３４】
以下、図３を参照して実施の形態１におけるフォーカス制御調整方法を説明する。図３は実施の形態１におけるフォーカス制御調整方法の一例を表すフローチャートである。
（１）第１のステップについて
第１のステップにおいては、フォーカス誤差信号ＦＥに重畳するプッシュプル信号の漏れ込みによる外乱の影響を最も抑制する乗算回路４−４のゲインｋを調整する。以下、詳しく説明する。
【００３５】
まず最初に、乗算回路４−４の係数ｋとして任意の値を設定した状態でフォーカス制御ループを閉じる（ＳＴＥＰ１−１）。そこで、第１のフォーカス誤差振幅測定器６はフォーカス誤差信号ＦＥの最大値、最小値からその振幅を測定し、マイクロコンピュータ９に出力する（ＳＴＥＰ１−２）。マイクロコンピュータ９は、第１のフォーカス誤差振幅測定器６の測定結果を記憶し、乗算回路４−４の係数ｋを更新する（ＳＴＥＰ１−３）。
【００３６】
ＳＴＥＰ１−２からＳＴＥＰ１−３までの処理を繰り返し行い、第１のフォーカス誤差振幅測定器６の出力が最も小さくなるように乗算回路４−４のゲインである係数ｋを調整する。
【００３７】
ＳＴＥＰ１−１からＳＴＥＰ１−３までの処理を繰り返すことによってフォーカス誤差信号ＦＥに重畳されるプッシュプル信号の漏れ込み外乱がゼロになることが望ましい。しかしながら、光ピックアップ２の光学部品の取り付け精度または光ビームをディスクのトラック横断方向に任意に移動させる移送機構（図示せず）の取り付け精度またはディスク溝深さがばらつくことによって、フォーカス誤差信号ＦＥに重畳するプッシュプル信号の漏れ込み外乱をゼロにすることができない場合がある。
【００３８】
そこで、フォーカス誤差信号ＦＥにプッシュプル信号の漏れ込み外乱が重畳された場合においても、フォーカス制御性能の劣化を抑制するために次のステップを実行する。
（２）第２−１のステップについて
ＳＴＥＰ１−１からＳＴＥＰ１−３までの処理を実行した後に、第２のフォーカス誤差振幅測定器７は、フォーカス誤差信号ＦＥの最大値、最小値をもとにしてフォーカス誤差信号ＦＥの振幅を測定したうえでその測定結果をマイクロコンピュータ９に出力する（ＳＴＥＰ２−１）。マイクロコンピュータ９は、第２のフォーカス誤差振幅測定器７の測定結果に応じてフォーカス制御器５のゲインＦＣＧを調整する（ＳＴＥＰ２−２）。例えば第２のフォーカス誤差振幅測定器７の出力をＡｍｐ２とし、フォーカス制御器５のゲイン初期値をＦＣＧ０とした場合において、フォーカス制御ゲインＦＣＧは次式（２）に基づいて調整される。
【００３９】
ＦＣＧ＝ＦＣＧ０×（α／Ａｍｐ２）  ・・・（２）
（２）式において、αは任意の係数であり、フォーカス制御ゲインＦＣＧは第２のフォーカス誤差振幅測定器７の出力Ａｍｐ２に対して反比例するように調整される。ただし、ＳＴＥＰ２−１、ＳＴＥＰ２−２を実行することによって、２次元アクチュエータ２−９−１，２−９−２に過大な駆動信号を与えることなく、安定なフォーカス制御を実現できるが、フォーカス制御ゲインＦＣＧを適正以下の値に調整することによって、フォーカス制御の残差抑圧性能を劣化させてしまう恐れがある。その場合、ＳＴＥＰ２−１、ＳＴＥＰ２−２によって調整するフォーカス制御ゲインＦＣＧに所定のリミット値を設ける必要がある。したがって、Ａｍｐ２を測定して（２）式に基づいてフォーカス制御ゲインＦＣＧを計算するが、フォーカス制御ゲインＦＣＧが所定のリミット値よりも小さい場合はリミット値をフォーカス制御ゲインＦＣＧとして設定してもよい。
【００４０】
なお、本実施の形態で示したフォーカス制御器５のゲイン調整方法は一例に過ぎない。例えばＳＴＥＰ２−２については、マイクロコンピュータ９は、フォーカス制御器５に設定するフォーカス制御のゲインＦＣＧとして少なくとも２つ以上の設定値を保持し、第２のフォーカス誤差振幅測定器７の出力レベルに従って切り替えて設定するようにしてもよい。
【００４１】
また、フォーカス制御器５を位相遅れ補償回路５−１と位相進み補償回路５−２とから構成し、マイクロコンピュータ９は、位相進み補償回路５−２のゲインのみ調整するようにしてもよい。
【００４２】
さらに、ＳＴＥＰ２−１として、第１のフォーカス誤差周期測定器８がフォーカス誤差信号ＦＥの周期を測定し、測定した周期の最小値、平均値または最大値に基づいて、フォーカス制御器５または位相進み補償回路５−２のゲインを調整してもよい。例えば、マイクロコンピュータ９は、フォーカス制御器５のゲイン特性を上記周期の周期毎に記憶しておき、第１のフォーカス誤差周期測定器８が測定したフォーカス誤差信号ＦＥの周期の最小値、平均値または最大値におけるゲインがマイクロコンピュータ９で記憶しているゲイン特性に一致するように、当該ゲイン特性を調整してもよい。なお、ゲイン特性は、第１のフォーカス誤差振幅測定器６が測定したフォーカス誤差信号ＦＥの振幅に基づいてＳＴＥＰ１−２で調整される。
【００４３】
上述したゲイン特性の調整は具体的には次のようにして実施される。第１のフォーカス誤差周期測定器８が測定した周期の最小値、平均値または最大値におけるゲインをＦＣＧrefとし、ＳＴＥＰ２−１を実行したときのフォーカス制御ゲインＦＣＧをＦＣＧ０としたときに、式（２）における係数αを次式（３）により求める。
【００４４】
α＝ＦＣＧref×Ａｍｐ２／ＦＣＧ０  ・・・（３）
続いて、式（３）で求めた係数αを式（２）に展開してフォーカス制御ゲインＦＣＧを設定する。
【００４５】
以上説明したＳＴＥＰ２−１とＳＴＥＰ２−２とを実行することにより、フォーカス誤差信号ＦＥにプッシュプル信号の漏れ込み外乱が重畳した場合においても、フォーカス制御ゲインＦＣＧを適切に調整することができる。そのため、２次元アクチュエータ２−９−１，２−９−２に過大な駆動信号を与えることなく、安定したフォーカス制御を実現できる。
（３）第２−２のステップについて
第１のステップと第２−１のステップとを実行することにより、２次元アクチュエータ２−９−１，２−９−２に過大な駆動信号を与えることなく、安定なフォーカス制御を実現できる。しかしながら、プッシュプル信号の漏れ込み外乱が大きい場合には、これらのステップを実行しただけでは十分な効果が得られない場合がある。そこで、フォーカス制御ゲインＦＣＧを式（２）に基づいて算出し、フォーカス制御ゲインＦＣＧを調整した後に、再び第２のフォーカス誤差振幅測定器７がフォーカス誤差信号ＦＥの最大値、最小値に基づいてその振幅を測定し、測定結果をマイクロコンピュータ９に出力する（ＳＴＥＰ２−３）。
【００４６】
マイクロコンピュータ９は、第２のフォーカス誤差振幅測定器７の測定結果と予めマイクロコンピュータ９が保持している所定値とを比較して、その比較結果に基づいてモータ３の回転速度（倍速）を決定し、決定した回転速度を示す回転速度制御信号Ｓ１をモータ３に出力する。モータ３は回転速度制御信号Ｓ１に応じてディスク１を所定回転で回転制御する（ＳＴＥＰ２−４）。
【００４７】
フォーカス誤差信号ＦＥに重畳されるプッシュプル信号の漏れ込み外乱周波数ｄf は式（４）に示すようにディスク１の偏心量ｘdec とモータ３の回転速度ｖmtとに比例する。
【００４８】
ｄf ∝（ｘdec ，ｖmt ）  ・・・（４）
さらに、フォーカス制御器５は位相遅れ補償回路５−１と位相進み補償回路５−２より構成されている。上記外乱周波数ｄf に応じて、位相進み補償回路５−２がフォーカス誤差信号ＦＥに重畳したプッシュプル信号の漏れ込み外乱を増幅することになり、フォーカス制御器５の出力が過大となる場合が発生する。
【００４９】
これに対して、上述したＳＴＥＰ２−３、ＳＴＥＰ２−４の処理を実行することにより、フォーカス誤差信号ＦＥにプッシュプル信号の漏れ込み外乱が重畳した場合においても、モータ３の回転速度を適切に調整することができる。そのため、フォーカス制御器５の出力を過大にすることなく安定したフォーカス制御を実現できる。
【００５０】
なお、図１の構成を図４の構成に変更し、図３のフローチャートに示す処理を図５のフローチャートに示す処理に変更してもよい。図４は図１に示す実施の形態１の光ディスク装置の一変形例を示す。この光ディスク装置では、図１の構成において、第１のフォーカス誤差振幅測定器６が削除され、代わってフォーカス制御駆動測定器１４が追加されている。フォーカス制御駆動測定器１４では、フォーカス制御器５の出力が入力されており、２次元アクチュエータ２−９−１、２−９−２への駆動信号が所定区間、測定する機能が備えられている。フォーカス制御駆動測定器１４の出力はマイクロコンピュータ９に接続されている。マイクロコンピュータ９はフォーカス制御駆動測定器１４の測定結果に基づいて乗算回路４−４のゲイン、すなわち式（１）における係数ｋを決定し、決定した係数ｋを乗算回路４−４に設定する。
【００５１】
図５は実施の形態１におけるフォーカス制御調整方法（図３のフローチャート）の第１のステップにおけるＳＴＥＰ１−２を変更したフローチャートである。すなわち、図３の第１のステップにおいて第１のフォーカス誤差振幅測定器６によりフォーカス誤差信号ＦＥの最大値、最小値に基づいてその振幅を測定して、その測定結果をマイクロコンピュータ９に出力する。マイクロコンピュータ９は、第１のフォーカス誤差振幅測定器６の測定結果を記憶しており、前回の測定器６の測定結果と今回の測定値６の測定結果との比較結果に基づいて、乗算回路４−４の係数ｋを更新する。そして、そのような更新処理を繰り返す。
【００５２】
ここで、図５に示す第１ステップにおけるＳＴＥＰ１−２’ではフォーカス制御器５の出力、すなわちフォーカス制御駆動信号を測定し、マイクロコンピュータ９に出力する。マイクロコンピュータ９は、フォーカス制御駆動測定器１４によるフォーカス制御駆動信号の測定結果に基づいて、乗算回路４−４の係数ｋを、フォーカス制御駆動信号が最も小さくなるまで繰り返し更新する。
【００５３】
以上の構成により、フォーカス誤差信号ＦＥに重畳するプッシュプル信号の漏れ込み外乱によるフォーカス制御駆動信号への影響を最小限に抑制することができる。
【００５４】
なお、本実施の形態１では図１、図３を参照しながら第１のステップ、第２のステップ、第３のステップを順次実行するように構成したが、図３の代わりに図６に示すように、第１のステップを実行した後に第２−２のステップ、第２−１のステップの順序で実行しても同様の効果が得られることは自明である。
【００５５】
また、本実施の形態１では第１のステップ、第２−１のステップ、第２−２のステップの全てを実行したが、図３の代わりに図７に示すように、第１のステップを実行した後に第２−１のステップのみを実行してもフォーカス制御器５の出力を過大にすることなく安定したフォーカス制御を実現することができる。
【００５６】
同様に図３の構成に代わり、図８に示すように、第１のステップを実行した後に第２−２のステップのみを実行してもフォーカス制御器５の出力を過大にすることなく安定なフォーカス制御を実現できる。
【００５７】
また、同様に図９に示すように、第１のステップにおいて乗算回路４−４の係数ｋを予め決定した固定値としても、第２２−１のステップまたは／および第２−２のステップを実行することによってフォーカス制御器５の出力を過大にすることなく安定なフォーカス制御を実現できる。さらに、第１のステップを実行する処理時間を削減することができる。
【００５８】
さらに、第１から第２−２のステップを実行するに際してディスク１上のトラック１−１と光ビームスポットとの位置ずれを制御するトラッキング制御ループ（図示せず）が開いているとき（処理実行中）には、光ビームスポットは確実にトラック１−１を横断する。そのため、ＳＴＥＰ１−２、ＳＴＥＰ２−１、およびＳＴＥＰ２−３は、少なくともトラッキング制御ループが開いているときに実行すれば測定精度を向上させることができる。これにより、本発明のフォーカス制御調整方法による調整精度をさらに向上させることができる。
【００５９】
また、図１０に示すように、切り替え器１０−１，１０−２を設けて、第２のフォーカス誤差振幅測定器７、第１のフォーカス誤差周期測定器８の入力信号として、フォーカス誤差信号ＦＥ、位置検出信号ＭＦＥ、ないし位置検出信号ＳＦＥのいずれか１つを選択できる構成としてもよい、この場合、ＳＴＥＰ２−１、ＳＴＥＰ２−３が検出するフォーカス誤差信号ＦＥの振幅または周期は、位置検出信号ＭＦＥの振幅または周期、または位置検出信号ＳＦＥの振幅または周期になることもあるが、その場合であっても同様の効果が得られる。
【００６０】
また、第２−１のステップ、第２−２のステップで調整したフォーカス制御ゲインＦＣＧおよびモータ３の回転速度をトラッキング制御ループが開いているときのみ適用することによって、光ディスク装置のフォーカス制御性能を向上させることができる。
【００６１】
すなわち、ディスク１に情報を再生または記録する場合においてトラッキング制御ループを閉じると、光ビームスポットはトラック１−１上に制御されるので、フォーカス誤差信号ＦＥにプッシュプル信号の漏れ込み外乱は影響しなくなる。そこで、トラッキング制御ループが閉じている場合は、第２−１のステップ、第２−２のステップで決定したフォーカス制御ゲインＦＣＧ、モータ回転速度を適用せずに、ディスク１の面ぶれ成分を抑圧するためのフォーカス制御ゲインを大きくしあるいは高速に再生、記録するためにモータ３の回転速度を大きくする。これにより、光ディスク装置としての性能を向上させることができる。
【００６２】
なお、モータ３の回転速度については、第１のフォーカス誤差周期測定器８の測定結果に基づいて決定してもよい。
（実施の形態２）
図１１は本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御調整方法の機能が搭載された光ディスク装置の一構成例を示すブロック図である。図１１において、図１におけるのと同じ符号は同一構成要素を指しているので、詳しい説明は省略する。図１１において、１１は光ピックアップ２をディスク１のトラック１−１を横切る方向の任意の位置に移動させる移送機構である。移送機構１１は光ピックアップ２の構成要素である対物レンズ２−５をトラック１−１を横切る方向の任意の位置に移動させることができる。そのため、光ビームスポットも同様にトラック１−１を横切る方向の任意の位置に移動させることができる。移送機構１１はマイクロコンピュータ９から供給される移送機構制御信号Ｓ２に基づいて位置制御される。１２はフォーカス誤差信号ＦＥの最大値、最小値からその振幅を測定し、測定結果をＡｍｐ３としてマイクロコンピュータ９に出力する第３のフォーカス誤差振幅測定器である。
【００６３】
マイクロコンピュータ９が移送機構１１に出力する移送機構制御信号Ｓ２について図１２を参照して説明する。図１２はマイクロコンピュータ９が移送機構１１に出力する移送機構制御信号Ｓ２の特性を示し、縦軸に移送機構１１の移動速度、横軸に移送機構１１の位置をプロットしている。マイクロコンピュータ９は、移送機構１１の現在位置と目標位置とに応じて移送機構制御信号Ｓ２を図１２に示すプロファイルに従って出力する。例えば、位置ｘ０から目標位置ｘrefに集光スポットを移動させる場合において、マイクロコンピュータ９では、集光スポットの移動速度が増加するように、移送機構制御信号Ｓ２の値が調整される。集光スポットが位置ｘ１に達すると移動速度ｖが最高速度ｖmaxで等速度になるように、移送機構制御信号Ｓ２の値が調整される。位置ｘ３に達すると、移送機構１１の移動速度が減少するように、移送機構制御信号Ｓ２の値が調整される。集光スポットが位置ｘ４に達すると、更に移動速度が減少するように、移送機構制御信号Ｓ２の値が調整される。このような制御形態は、移送機構１１の初期位置が図１２中のｘ１に示されるように変化したときにおいても同じように実施される。ただし、移送機構１１の初期位置が位置ｘ２である場合に例示されるように、移送機構１１の移動速度が増加している区間において移送機構１１の移動速度ｖが最高速度ｖmaxに到達しない場合には、移動速度が減少するように移送機構制御信号Ｓ２の値が調整される。
【００６４】
本実施の形態２は、実施の形態１の構成においてさらに、ＳＴＥＰ１−１、ＳＴＥＰ１−２の処理を実行することでフォーカス誤差信号ＦＥにプッシュプル信号の漏れ込み外乱を調整している状態において、その漏れ込み外乱の振幅または周波数に応じて移送機構１１に出力する移送機構制御信号Ｓ２の最高速度ｖmaxを、マイクロコンピュータ９で制限することに特徴がある。
【００６５】
上記の具体的なフォーカス制御調整方法について、図１３を参照して説明する。図１３は本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御調整方法の一例を表すフローチャートである。
【００６６】
実施の形態１と同様に、乗算回路４−４のゲイン（係数）ｋが、フォーカス誤差信号ＦＥに重畳されるプッシュプル信号の漏れ込み外乱の影響が最も抑制される値に調整される。
【００６７】
最初に乗算回路４−４のゲイン（係数）ｋとして任意の値を設定した状態でフォーカス制御ループが閉じられる（ＳＴＥＰ１−１）。ループが閉じられた状態でまず第１のフォーカス誤差振幅測定器６はフォーカス誤差信号ＦＥの最大値、最小値からその振幅を測定して、測定結果をマイクロコンピュータ９に出力する（ＳＴＥＰ１−２）。マイクロコンピュータ９は、第１のフォーカス誤差振幅測定器６の測定結果を記憶しており、前回の測定器６の測定結果と今回の測定値６の測定結果との比較結果に基づいて、乗算回路４−４の係数ｋを更新する。そして、そのような更新処理を繰り返すことで、第１のフォーカス誤差振幅測定器６の出力が最も小さくなるように乗算回路４−４の係数ｋが調整される。
【００６８】
ＳＴＥＰ１−１からＳＴＥＰ１−３までの処理を繰り返すことによってフォーカス誤差信号ＦＥに重畳するプッシュプル信号の漏れ込み外乱がゼロになることが望ましい。しかしながら、光ピックアップ２を構成する光学部品の取り付け精度のばらつき、移送機構１１の取り付け精度のばらつき、またはディスク溝深さのばらつきに起因して、フォーカス誤差信号ＦＥに重畳するプッシュプル信号の漏れ込み外乱をゼロにすることができない場合がある。そこで、本実施形態では、移送機構１１の動作に基づいて光ビームスポットを移動させる際に、２次元アクチュエータ２−９−１，２−９−２に過大な駆動信号を与えないように、以下に説明する第２−１のステップ’を実行することで、移送機構制御信号Ｓ２の最大速度ｖmaxを調整する。
【００６９】
以下、第２−１のステップ’を説明する。第３のフォーカス誤差振幅測定器１２はフォーカス誤差信号ＦＥの最大値、最小値に基づいてその振幅を測定し、測定結果Ａｍｐ３をマイクロコンピュータ９に出力する（ＳＴＥＰ２−１’）。続いてマイクロコンピュータ９は測定結果Ａｍｐ３を用いて、次式（５）に基づいて移送機構制御信号Ｓ２の最大速度ｖmaxを算出する。
【００７０】
ｖmax＝ｖmax０×（β／Ａｍｐ３）  ・・・（５）
ここでβは任意の係数であり、移送機構制御信号Ｓ２の最大速度ｖmaxは、測定結果Ａｍｐ３に対して反比例の関係になるように調整される（ＳＴＥＰ２−２’）。これにより、ＳＴＥＰ１−１、ＳＴＥＰ１−２の処理を実行した後にフォーカス誤差信号ＦＥにプッシュプル信号の漏れ込み外乱の影響が残った場合であっても、第２−１の処理’において移送機構１１の移動速度の最大値を調整することにより、２次元アクチュエータ２−９−１，２−９−２に過大な駆動信号を与えることなく、安定したフォーカス制御を実現することができる。
【００７１】
なお、図１４に示すように第３のフォーカス誤差振幅測定器１２の代わりに第２のフォーカス誤差周期測定器１３を用いても、上述した調整処理と同様の調整処理を実施することができる。以下、第２のフォーカス誤差周期測定器１３を用いた制御方法を説明する。
【００７２】
第２のフォーカス誤差周期測定器１３はフォーカス誤差信号ＦＥの周期を測定し、その測定周期をマイクロコンピュータ９に出力する。マイクロコンピュータ９は、第２のフォーカス誤差周期測定器１３の測定結果を記憶しており、前回の測定器１３の測定結果と今回の測定値１３の測定結果との比較結果に基づいて、乗算回路４−４の係数ｋを更新する。そして、そのような更新処理を繰り返すことで、第１のフォーカス誤差振幅測定器６の出力が最も小さくなるように乗算回路４−４の係数ｋを調整する。
【００７３】
ＳＴＥＰ１−１からＳＴＥＰ１−３までの処理を実行した後に、フォーカス誤差信号ＦＥの周期の最小値、最大値または平均値を測定してマイクロコンピュータ９に出力する。例えばマイクロコンピュータ９は、第２のフォーカス誤差周期測定器１３の出力としてフォーカス誤差信号ＦＥの周期の最小値を検出することでディスク１の偏心最大速度を検出する。マイクロコンピュータ９は、ディスク１の偏心速度と光ビームがトラック１−１を横断する速度の和が予め決められた速度になるように移送機構１１の速度を制御する。
【００７４】
なお、図１５に示すようにマイクロコンピュータ９は、第３のフォーカス誤差振幅測定器１２の出力と第２のフォーカス誤差周期測定器１３の出力とから移送機構１１の移動速度を調整してもよく、そうすれば、さらに制御精度が向上する。
【００７５】
すなわち、第３のフォーカス誤差振幅測定器１２の測定結果が所定値以上のときのみ、第２のフォーカス誤差周期測定器１３の測定結果に応じて移送機構１１の移動速度を上述したように調整する。これにより、ディスク１の情報を再生、記録するアクセス時間の短縮化とフォーカス制御の安定化との両方が得られる。
【００７６】
なお、実施の形態２では第１のステップ（ＳＴＥＰ１−１〜ＳＴＥＰ１−３）を実行した後に第２−１のステップ’（ＳＴＥＰ２−１’〜ＳＴＥＰ２−２’）を実行するように構成したが、実施の形態１と同様に第１のステップを実行した後に、第２−１のステップまたは第２−２のステップのいずれか１つを実行し、その後に第２−１のステップ’を実行してもよく、その場合であっても同様の効果が得られることは自明である。
【００７７】
なお、実施の形態２では第１のステップを実行した後に必ず第２−１のステップ’を実行するように構成したが、ＳＴＥＰ２−１’を実行したときの第３のフォーカス誤差振幅測定器１２の測定結果または第２のフォーカス誤差周期測定器１３の測定結果に応じて、ＳＴＥＰ２−２’以降の処理を実行しないようにしてもよい。
【００７８】
なお、実施の形態２では、図１１、図１４、図１５に示すように、フォーカス誤差信号ＦＥが第３のフォーカス誤差振幅測定器１２と第２のフォーカス誤差周期測定器１３とに入力されるとしたが、図示はしないが、これらの測定器１２、１３には、位置検出信号ＭＦＥや位置検出信号ＳＦＥが入力されるとしてもよく、その場合であっても、同様の効果が得られる。
【００７９】
なお、実施の形態２では図１０、図１１、図１４、図１５に示すように乗算回路４−４の係数ｋを決定するために第１のフォーカス誤差振幅測定器６がフォーカス誤差信号ＦＥの信号振幅を測定する構成とした。しかしながら、具体的に図示はしないものの、フォーカス制御駆動測定器１４がフォーカス制御器５の出力を測定したうえで（図４参照）、その測定結果に基づいて乗算回路４−４の係数を決定する構成としてもよく、その場合であっても同様の効果が得られる。
【産業上の利用可能性】
【００８０】
本発明の技術は、ＤＶＤなどの記録媒体に情報を記録または再生する光ディスク装置、並びにこの種の光ディスク装置を搭載した機器の性能向上などに有用である。
【図面の簡単な説明】
【００８１】
【図１】本発明の実施の形態１におけるフォーカス制御調整方法を搭載した光ディスク装置の第１のブロック図である。
【図２Ａ】本発明の実施の形態１における光ビームスポットの照射位置とディスク記録面との相対位置に対するフォーカス誤差信号の関係図である。
【図２Ｂ】本発明の実施の形態１における光ビームスポットの照射位置とディスク記録面との相対位置に対するフォーカス誤差信号の関係図である。
【図２Ｃ】本発明の実施の形態１における光ビームスポットの照射位置とディスク記録面との相対位置に対するフォーカス誤差信号の関係図である。
【図３】本発明の実施の形態１における第１のフォーカス制御調整方法のフローチャートである。
【図４】本発明の実施の形態１におけるフォーカス制御調整方法を搭載した光ディスク装置の第２のブロック図である。
【図５】本発明の実施の形態１における第２のフォーカス制御調整方法のフローチャートである。
【図６】本発明の実施の形態１における第３のフォーカス制御調整方法のフローチャートである。
【図７】本発明の実施の形態１における第４のフォーカス制御調整方法のフローチャートである。
【図８】本発明の実施の形態１における第５のフォーカス制御調整方法のフローチャートである。
【図９】本発明の実施の形態１における第６のフォーカス制御調整方法のフローチャートである。
【図１０】本発明の実施の形態１におけるフォーカス制御調整方法を搭載した光ディスク装置の第３のブロック図である。
【図１１】本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御調整方法を搭載した光ディスク装置の第１のブロック図である。
【図１２】本発明の実施の形態２における移送機構の現在位置と目標位置との間の相対位置と、マイクロコンピュータによって制御する移送機構移動速度との間の関係図である。
【図１３】本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御調整方法のフローチャートである。
【図１４】本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御調整方法を搭載した光ディスク装置の第２のブロック図である。
【図１５】本発明の実施の形態２におけるフォーカス制御調整方法を搭載した光ディスク装置の第３のブロック図である。
【図１６】従来における光ピックアップの要素構成図である。
【符号の説明】
【００８２】
１  記録媒体（ディスク）    １−１  トラック
２  光ピックアップ    ２−１  光源
２−２  回折格子    ２−３  偏向ビームスプリッタ
２−４  コリメートレンズ    ２−５  対物レンズ
２−６  集光レンズ    ２−７  光検出器
２−８−１，２−８−２  光検出器
２−９−１，２−９−２  ２次元アクチュエータ
２−１０  立ち上げミラー    ３  モータ
４  フォーカス誤差検出器    ４−１  第１の差動回路
４−２−１  第１の加算回路    ４−２−２  第２の加算回路
４−３  第２の差動回路    ４−４  乗算回路
４−５  第３の加算回路    ５  フォーカス制御器
５−１  位相遅れ補償回路    ５−２  位相進み補償回路
６  第１のフォーカス誤差振幅測定器
７  第２のフォーカス誤差振幅測定器
８  第１のフォーカス誤差周期測定器
９  マイコン    １０−１，１０−２  切り替え器
１１  移送機構    １２  第３のフォーカス誤差振幅測定器
１３  第２のフォーカス誤差周期測定器
【図１】
2006331616.tif 000003
【図２Ａ】
2006331616.tif 000004
【図２Ｂ】
2006331616.tif 000005
【図２Ｃ】
2006331616.tif 000006
【図３】
2006331616.tif 000007
【図４】
2006331616.tif 000008
【図５】
2006331616.tif 000009
【図６】
2006331616.tif 000010
【図７】
2006331616.tif 000011
【図８】
2006331616.tif 000012
【図９】
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【図１０】
2006331616.tif 000014
【図１１】
2006331616.tif 000015
【図１２】
2006331616.tif 000016
【図１３】
2006331616.tif 000017
【図１４】
2006331616.tif 000018
【図１５】
2006331616.tif 000019
【図１６】
2006331616.tif 000020