(57)【要約】【課題】補正値を効率的に算出する。【解決手段】表示パネル１０の表示エリアを複数のエリアに分割し、エリアまたは複数のエリアをまとめたブロックを点灯した際の駆動電流（ＣＶ電流）を電流検出器３２で検出する。そして、エリアまたはブロックを順次ずらして電流検出を行い、この電流検出結果に基づき、ＣＰＵ３４が他のエリアとは電流の異なるエリア（補正が必要なエリア）を検出する。エリア内を分割してさらに同様の処理を行い、補正が必要なさらに小さなエリアを求め、画素毎の補正値を得る。【選択図】図４
2006349966.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
有機ＥＬ素子を含む表示画素をマトリクス状に配列して形成した有機ＥＬ表示装置の製造方法であって、
表示エリアを所定の複数の検出エリアに分割し、この検出エリアにおける複数の表示画素の有機ＥＬ素子を選択的に発光させて、検出エリア毎の駆動電流を検出し、
検出した検出エリア毎の駆動電流に基づいて、他の検出エリアと輝度の異なる補正が必要な検出エリアを検出し、
この補正が必要な検出エリアに対して、入力されてくる画素毎の画像データを補正するための補正データを算出し、
補正の必要な画素の位置とその画素の補正データをメモリに記憶させることを特徴とする有機ＥＬ表示装置の製造方法。
【請求項２】
請求項１に記載の方法であって、
補正の必要な検出エリアについて、複数のさらに小さな検出エリアに分割し、この小さな検出エリアについて、補正が必要なものを検出するという処理を１回または順次小さな検出エリアに対し２回以上行い、補正データの算出対象となる検出エリアを得ることを特徴とする有機ＥＬ表示装置の製造方法。
【請求項３】
請求項２に記載の方法であって、
前記補正データの算出の対象となる検出エリアは１表示画素、または表示における１ドットであることを特徴とする有機ＥＬ表示装置の製造方法。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれか１つに記載の方法であって、
前記表示エリアを分割した検出エリア毎の検出電流に対し、検出対象となる検出エリアを含む所定の複数の検出エリアの検出電流について２次元空間フィルタをかけた結果を用いて、検出エリア毎に補正の必要な検出エリアを検出することを特徴とする有機ＥＬ表示装置の製造方法。
【請求項５】
請求項４に記載の方法であって、
検出エリア毎に駆動電流を検出する際に、順次位置をずらしながら、同時に複数の検出エリアを点灯してゆき、その結果を用いて前記２次元空間フィルタの演算を行うことを特徴とする有機ＥＬ表示装置の製造方法。
【請求項６】
請求項４または５に記載の方法であって、
前記２次元空間フィルタは、対象検出エリアについての重みが大きく、対象検出エリアに近い周辺検出エリアの値を加算し、対象検出エリアから離れた周辺検出エリアの値を減算することを特徴とする有機ＥＬ表示装置の製造方法。
【請求項７】
有機ＥＬ素子を含む表示画素をマトリクス状に配列して形成した有機ＥＬ表示装置であって、
表示エリアを所定の複数の検出エリアに分割し、この検出エリアにおける複数の表示画素の有機ＥＬ素子を選択的に発光させて、検出エリア毎の駆動電流を検出する手段と、
検出した検出エリア毎の駆動電流に基づいて、他の検出エリアと輝度の異なる補正が必要な検出エリアを検出する手段と、
この補正が必要な検出エリアに対して、入力されてくる画素毎の画像データを補正するための補正データを算出する手段と、
補正の必要な画素の位置とその画素の補正データを記憶するメモリと、
メモリに記憶された補正の必要な画素の位置とその画素の補正データを用いて入力データを補正する補正手段と、
を有することを特徴とする有機ＥＬ表示装置。
【請求項８】
請求項７に記載の装置であって、
補正の必要な検出エリアについて、複数のさらに小さな検出エリアに分割し、この小さな検出エリアについて、補正が必要なものを検出するという処理を１回または順次小さな検出エリアに対し２回以上行い、補正データの算出対象となる検出エリアを得ること特徴とする有機ＥＬ表示装置。
【請求項９】
請求項８に記載の装置であって、
前記補正データの算出の対象となる検出エリアは１表示画素、または表示における１ドットであることを特徴とする有機ＥＬ表示装置。
【請求項１０】
請求項７〜９のいずれか１つに記載の装置であって、
前記表示エリアを分割した検出エリア毎の検出電流に対し、検出対象となる検出エリアを含む所定の複数の検出エリアの検出電流について２次元空間フィルタをかけた結果を用いて、検出エリア毎に補正の必要な検出エリアを検出することを特徴とする有機ＥＬ表示装置。
【請求項１１】
請求項１０に記載の装置であって、
検出エリア毎に駆動電流を検出する際に、順次位置をずらしながら、同時に複数の検出エリアを点灯してゆき、その結果を用いて前記２次元空間フィルタの演算を行うことを特徴とする有機ＥＬ表示装置。
【請求項１２】
請求項１０または１１に記載の装置であって、
前記２次元空間フィルタは、対象検出エリアについての重みが大きく、対象検出エリアに近い周辺検出エリアの値を加算し、対象検出エリアから離れた周辺検出エリアの値を減算することを特徴とする有機ＥＬ表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、有機ＥＬ素子をマトリクス状に配列して形成した有機ＥＬ表示装置における表示の不均一性の補正に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、有機ＥＬ（ＯＬＥＤ）素子をマトリクス状に配列して形成した有機ＥＬ（ＯＬＥＤ）表示装置が知られている。中でも、画素毎にトランジスタを設けて各ＯＬＥＤ素子の駆動電流を制御するアクティブ型ＯＬＥＤ表示装置は、薄型の表示装置の主流の１つとして広く普及することが期待されている。
【０００３】
図１に、従来のアクティブ型ＯＬＥＤ表示装置の画素回路の一例を示す。画素駆動用のｐチャンネルＴＦＴ１のソースは、電源ＰＶｄｄに接続され、ドレインはＯＬＥＤ（有機ＥＬ）素子３のアノードに接続されている。また、ＯＬＥＤ素子３のカソードは、負電源ＣＶに接続されている。
【０００４】
ＴＦＴ１のゲートは、補助容量Ｃを介し電源ＰＶｄｄに接続されているとともに、選択用のｎチャンネルＴＦＴ２を介し画素データ（輝度データ）に基づく電圧が供給されるデータラインＤａｔａに接続されている。そして、ＴＦＴ２のゲートは、水平方向に伸びるゲートラインＧａｔｅに接続されている。
【０００５】
表示の際には、ゲートラインＧａｔｅをＨレベルとして、対応する行のＴＦＴ２をオンする。この状態で、データラインＤａｔａに画素データ（画素データに基づく入力電圧）が供給され、これが補助容量Ｃに充電される。そこで、画素データに応じた電圧でＴＦＴ１が駆動され、その電流がＯＬＥＤ素子３に流れる。
【０００６】
ここで、ＯＬＥＤ素子３の発光量と電流はほぼ比例関係にあるが、ＴＦＴ１はゲート−ＰＶｄｄ間の電位差Ｖｇｓが所定のしきい値電圧Ｖｔｈを超えることで流れ始める。そこで、データラインＤａｔａに供給する画素データには、画像の黒レベル付近でドレイン電流が流れ始めるように電圧（Ｖｔｈ）を加算する。また、画像信号の振幅としては、白レベル付近で所定の輝度となるような振幅を与える。
【０００７】
図２は、入力電圧（Ｖｇｓ）と、ＯＬＥＤ素子３の輝度およびそこに流れる電流ｉｃｖの関係（Ｖ−Ｉ特性）の一例である。このように、ＯＬＥＤ素子３は、入力電圧Ｖｇｓが電圧Ｖｔｈで発光し始め、白レベルの入力電圧において所定の輝度となるように設定されている。
【０００８】
ここで、ＯＬＥＤ表示装置は、マトリクス状の多数の画素を配列した表示パネルで構成される。このため、製造上の問題で画素毎にＶｔｈやＶ−Ｉ特性の傾きがばらつき、データ信号（入力電圧）に対する発光量が画素毎に不均一となり、輝度ムラが発生することがある。図３の（ａ）と（ｂ）はそれぞれ、２つの画素ｍ、ｎとで、ＶｔｈまたはＶ−Ｉ特性の傾きがばらついたときの説明図で、（ｃ）はその両方がばらついたときの説明図である。このように、２つの画素において、ＶｔｈがΔＶｔｈだけばらついたときにはＶ−Ｉ特性の曲線がΔＶｔｈだけずれたものになる。また、２つの画素において、Ｖ−Ｉ特性の傾きがばらついたときにはＶ−Ｉ特性の曲線の傾きが異なるものになる。なお、このＶｔｈやＶ−Ｉ特性の傾きのばらつきは、表示画面の一部分でのみ発生している場合がある。
【０００９】
このため、各画素の輝度を測定し、メモリに記憶した補正データに従ってすべてまたは不良画素について補正を行うことも提案されている（特許文献１）。
【００１０】
また、画素数の多い表示パネルにおいて、表示エリアを小エリアに分割して、エリア毎に電流を測定し、全体の傾向を算出して全体を補正する係数を算出する、またはエリア毎に補正を行うことも提案されている（特許文献２）。
【００１１】
【特許文献１】特開平１１−２８２４２０号公報
【特許文献２】特開２００４−２６４７９３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
特許文献１の手法では、画素数の多いパネルに対して、画素の輝度を短時間に精度良く測定するのは一般的に困難である。また、特許文献２の手法では、表示エリア全体にわたって連続的に変化している輝度のバラツキ、または、垂直または水平ラインなど特定のパターンにおける輝度ムラのみしか補正することが出来ない。
【００１３】
本発明では、有機ＥＬ表示装置において、不均一性を効率的に検出し補正値を算出し、補正する。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
本発明は、有機ＥＬ素子を含む表示画素をマトリクス状に配列して形成した有機ＥＬ表示装置の製造方法であって、表示エリアを所定の複数の検出エリアに分割し、この検出エリアにおける複数の表示画素の有機ＥＬ素子を選択的に発光させて、検出エリア毎の駆動電流を検出し、検出した検出エリア毎の駆動電流に基づいて、他の検出エリアと輝度の異なり補正が必要な検出エリアを検出し、この補正が必要な検出エリアに対して、入力されてくる画素毎の画像データを補正するための補正データを算出し、補正の必要な画素の位置とその画素の補正データをメモリに記憶させることを特徴とする。
【００１５】
また、補正の必要な検出エリアについて、複数のさらに小さな検出エリアに分割し、この小さな検出エリアについて、補正が必要なものを検出するという処理を１回または順次小さな検出エリアに対し２回以上行い、補正データの算出対象となる検出エリアを得ることが好適である。
【００１６】
また、前記補正データの算出の対象となる検出エリアは１表示画素、または表示における１ドットであることが好適である。
【００１７】
また、前記表示エリアを分割した検出エリア毎の検出電流に対し、検出対象となる検出エリアを含む所定の複数の検出エリアの検出電流について２次元空間フィルタをかけた結果を用いて、検出エリア毎に補正が必要であるかを判定することが好適である。
【００１８】
また、検出エリア毎に駆動電流を検出する際に、順次位置をずらしながら、同時に複数の検出エリアを点灯してゆき、その結果を用いて前記２次元空間フィルタの演算を行うことが好適である。
【００１９】
また、前記２次元空間フィルタは、対象検出エリアについての重みが大きく、対象検出エリアに近い周辺検出エリアの値を加算し、対象検出エリアから離れた周辺検出エリアの値を減算することが好適である。
【００２０】
また、本発明は、有機ＥＬ素子を含む表示画素をマトリクス状に配列して形成した有機ＥＬ表示装置であって、表示エリアを所定の複数の検出エリアに分割し、この検出エリアにおける複数の表示画素の有機ＥＬ素子を選択的に発光させて、検出エリア毎の駆動電流を検出する手段と、検出した検出エリア毎の駆動電流に基づいて、他の検出エリアと輝度の異なり補正が必要な検出エリアを検出する手段と、この補正が必要な検出エリアに対して、入力されてくる画素毎の画像データを補正するための補正データを算出する手段と、補正の必要な画素の位置とその画素の補正データを記憶するメモリと、メモリに記憶された補正の必要な画素の位置とその画素の補正データを用いて入力データを補正する手段と、を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２１】
このように、本発明によれば、まず表示エリアを複数の検出エリアに分割して、検出エリア毎の駆動電流値のばらつきに基づき、補正が必要な検出エリアを探す。従って、直接画素毎の補正値を算出する場合に比べ、容易に補正が必要なエリアを得ることができる。
【００２２】
また、補正が必要な検出エリアについて、さらに同様のエリア分割により補正が必要な検出エリアを検出するという動作を繰り返すことで、測定回数および測定時間を削減することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明の実施形態について、図面に基づいて説明する。
【００２４】
図４には、本実施形態に係るＯＬＥＤ表示装置における、輝度データから表示パネルに供給される補正された輝度データ（アナログ信号）を作成するための構成を示してある。
【００２５】
表示パネル１０は、ＲＧＢの各色ごとの画素を有しており、画素毎の輝度についての電圧信号である入力データ（画素データ：輝度データ）は、ＲＧＢの各色ごとに別に入力されてくる。例えば、画素は垂直方向に同一色のものを配置することで、各データラインにはＲＧＢのいずれかのデータ信号が供給され、各色ごとの表示が行える。なお、この例において、ＲＧＢの各データは、それぞれ８ビットの輝度データであり、表示パネルの解像度は水平方向３２０画素、垂直方向２４０ラインであり、１画素はＲＧＢの３色のドットから構成されているものとする。
【００２６】
また、表示エリアの画素の座標を（ｘ，ｙ）のように表記し、水平方向の座標ｘは右へ行くほど大きくなり、垂直方向の座標ｙは下へ行くほど大きくなるものとする。従って、表示エリア左上隅の画素の座標は（１，１）とあらわし、右下隅の画素の座標は（３２０，２４０）と表記する。
【００２７】
Ｒ信号はルックアップテーブルＬＵＴ２０Ｒ、Ｇ信号はルックアップテーブルＬＵＴ２０Ｇ、Ｂ信号はルックアップテーブルＬＵＴ２０Ｂに供給される。このルックアップテーブルＬＵＴ２０Ｒ、２０Ｇ、２０Ｂには、入力データ（輝度データ）に対する発光輝度（駆動電流）の関係が所望のカーブとなるようにガンマ補正するとともに、表示パネル１０において、平均的なオフセット、ゲインを考慮したテーブルデータが記憶されている。従って、このルックアップテーブルＬＵＴ２０Ｒ、２０Ｇ、２０Ｂを利用して輝度データを変換することで、平均的な特性の駆動ＴＦＴを駆動した場合において、有機ＥＬ素子の発光量が輝度データに対応したものとなる。なお、ルックアップテーブルＬＵＴ２０Ｒ、２０Ｇ、２０Ｂに代えて、特性式を記憶しておき、演算によって輝度データに変換してもよい。
【００２８】
なお、ルックアップテーブルＬＵＴ２０Ｒ、２０Ｇ、２０Ｂには、画素データに同期したクロックが供給されており、ルックアップテーブルＬＵＴ２０Ｒ、２０Ｇ、２０Ｂからの出力も、このクロックに同期したものになっている。
【００２９】
ルックアップテーブルＬＵＴ２０Ｒ、２０Ｇ、２０Ｂの出力は、乗算器２２Ｒ、２２Ｇ、２２Ｂに供給される。この乗算器２２Ｒ、２２Ｇ、２２Ｂには、補正値出力部２６からＶ−Ｉ特性の傾きのばらつきを画素毎に補正する補正値がそれぞれ供給されている。
【００３０】
この乗算器２２Ｒ、２２Ｇ、２２Ｂの出力は、加算器２４Ｒ、２４Ｇ、２４Ｂに供給される。この加算器２４Ｒ、２４Ｇ、２４Ｂには、補正値出力部２６からＶｔｈのばらつきを画素毎に補正する補正値がそれぞれ供給されている。
【００３１】
そして、加算器２４Ｒ、２４Ｇ、２４Ｂの出力は、Ｄ／Ａ変換器２８Ｒ、２８Ｇ、２８Ｂに供給され、ここでアナログのデータ信号に変換され、表示パネル１０の各色ごとの入力端子に供給される。そこで、これら各色ごとに画素毎に補正されたデータ信号がデータラインＤａｔａに供給され、各画素において、ＥＬ素子がデータ信号に応じた電流で駆動される。
【００３２】
ここで、表示パネル１０は、正側が電源ＰＶｄｄに接続され、負側がスイッチ３０を介し、直接または電流検出器３２を介し低電圧電源ＣＶに接続される。なお、スイッチ３０は、通常の使用時においては表示パネル１０の負側が定電圧電源ＣＶに直接接続し、例えば工場における補正データ算出時において電流検出器３２を選択する。
【００３３】
スイッチ３０により電流検出器３２が選択された場合には、電流検出器３２の検出値は、デジタルデータとして、ＣＰＵ３４に供給される。このＣＰＵ３４には、フラッシュメモリ、ＥＥＰＲＯＭなどの不揮発性メモリ３６が接続され、ここに補正が必要な表示画素（またはドット）に対応した補正データが記憶される。
【００３４】
ＣＰＵ３４には、メモリ３８が接続されており、ＣＰＵ３４は不揮発性メモリ３６に記憶されているデータはメモリ３８に転送される。このメモリ３８は例えばＲＡＭで構成される。
【００３５】
この例において、ＣＰＵ３４は、ＯＬＥＤ表示装置の各種動作を制御するマイコンであり、ＯＬＥＤ表示装置の電源立ち上がり時において、不揮発性メモリ３６に記憶されている上述したような補正データをメモリ３８に書き込む。
【００３６】
メモリ３８は、補正値出力部２６に接続されており、補正値出力部２６が乗算器２２Ｒ、２２Ｇ、２２Ｂおよび加算器２４Ｒ、２４Ｇ、２４Ｂに供給するためのデータを補正値出力部２６に供給する。
【００３７】
補正値出力部２６には、座標発生部４０も接続されている。この座標発生部４０には、垂直同期信号、水平同期信号、および画素データに同期したクロックが入力されており、入力データ（画素データ）に同期した座標信号を発生する。そして、発生した座標信号は、補正値出力部２６に供給される。
【００３８】
そこで、補正値出力部２６は、座標発生部４０から供給される入力データの画素位置に応じてメモリ３８に記憶されている補正データ（Ｖ−Ｉ特性の傾きおよびＶｔｈのシフトの両方）を読み出し、これを乗算器２２Ｒ、２２Ｇ、２２Ｂおよび加算器２４Ｒ、２４Ｇ、２４Ｂにそれぞれ供給する。従って、乗算器２２Ｒ、２２Ｇ、２２Ｂおよび加算器２４Ｒ、２４Ｇ、２４Ｂにおいて、補正データに基づく補正が行われ、補正されたＲＧＢの画素データがＤ／Ａ変換器２８Ｒ、２８Ｇ、２８Ｂに供給される。
【００３９】
このようにして、製造上の問題によりＯＬＥＤ表示素子に発生する輝度不均一性を補正することができる。
【００４０】
なお、スイッチ３０、電流検出器３２等を表示装置に内蔵しておくことによって、補正値算出のための処理をいつでも行うことができる。そこで、工場出荷前に、補正値を算出して不揮発性メモリ３６に記憶しておくだけでなく、表示装置の電源立ち上げ回数が所定回数に達したときや、累積動作時間が所定時間に達したときの、電源立ち上げ時や電源オフ時に補正値算出を行うとよい。これによって、表示ムラの経時的な変化にも対応することができる。また、輝度調整ボタンなどを設けておき、そのボタンが操作された時に、補正値算出の処理を行うようにすることも好適である。また、工場出荷時にのみ補正値の記憶を行うのであれば、スイッチ３０、電流検出器３２等を省略することができる。
【００４１】
「ムラの検出」
ここで、電流検出器３２による検出電流に基づく補正データの検出について説明する。すなわち、本実施形態においては、表示エリアを分割して得たエリア（検出エリア）のＯＬＥＤ素子を点灯した場合の駆動電流量を検出し、その駆動電流量が他のエリア（検出エリア）とは異なるエリア（補正が必要な検出エリア）を検出する。
【００４２】
ｉ）ムラのあるエリアの抽出
表示エリアを直接分割して得た大エリアの大きさを水平方向８画素、垂直方向８ラインとして、ある一定の信号レベル（画素データ）で各エリアを図５に示すように順次点灯し電流の測定を行う。まず、表示エリアのうち左上隅のエリア、すなわち左上隅の画素の座標が（１，１）、右下隅の画素の座標が（８，８）の矩形のエリアを点灯し、その時の電流を測定する（図５（ａ））。
【００４３】
次に、右へ８画素移動したエリア、すなわち、左上隅の画素の座標が（９，１）、右上隅の画素の座標が（１６，８）の矩形のエリアを点灯し、その時の電流を測定する（図５（ｂ））。
【００４４】
同様に右へ８画素ずつ移動し、各エリアの電流を測定していき、左上隅の画素の座標が（３１３，１）、右下隅の画素の座標が（３２０，８）のエリアの電流を測定終了した後に、下方向に８ライン移動し同様の測定を行う（図５（ｄ），（ｅ），（ｆ））。同様の測定を繰り返していき、表示エリアの右下隅の大エリア、すなわち、左上隅の座標が（３１３，２３３）、右下隅の座標が（３２０，２４０）のエリアの電流値を測定した時点で測定は終了で、この間の測定回数は、水平方向４０回かける垂直方向３０回で１２００回である。
【００４５】
次に、測定結果から他のエリアと電流値の異なっているエリアを抽出する。この場合のエリア抽出の方法としては、全測定結果の平均に対してある閾値以上電流が多い、または少ないエリアを抽出するという方法がある。これによって、補正が必要な画素を含むエリアを検出することができる。
【００４６】
このような方法を採用することも可能であるが、この方法では表示エリア全体にわたって輝度が連続的に変化している場合には全体の変化の中に個別画素における輝度のばらつきが埋もれてしまい、判定ミスが起こる可能性がある。
【００４７】
そこで、本実施形態においては、次のような手法によって、測定回数を大幅に増やすことなく信号対ノイズ比を向上し、上記欠点を改善してより精度良く電流値の異なっているエリアを抽出する。
【００４８】
図６のように、大エリアの大きさを水平方向１６画素、垂直方向１６ラインとして、ある一定の信号レベルで各エリアを以下の順序で点灯し電流の測定を行う。
【００４９】
まず、表示エリアのうち左上隅のエリア、すなわち、左上隅の画素の座標が（１，１）、右下隅の画素の座標が（１６，１６）の矩形のエリアを点灯し、その時の電流を測定する（図６（ａ））。
【００５０】
次に、右へ８画素移動したエリア、すなわち、左上隅の画素の座標が（９，１）、右上隅の画素の座標が（２４，１６）の矩形のエリアを点灯し、その時の電流を測定する（図６（ｂ））。
【００５１】
同様に右へ８画素ずつ移動し、各エリアの電流を測定していき、左上隅の画素の座標が（３０５，１）、右下隅の画素の座標が（３２０，１６）のエリアの電流を測定終了した後に、下方向に８ライン移動し同様の測定を行う。
【００５２】
すなわち、まず左上隅の画素の座標が（１，９）、右下隅の画素の座標が（１６，２４）の矩形のエリアを点灯し、その時の電流を測定する（図６（ｄ））。
【００５３】
次に、右へ８画素移動したエリア、すなわち、左上隅の画素の座標が（９，９）、右下隅の画素の座標が（２４，２４）の矩形のエリアを点灯し、その時の電流を測定する（図６（ｅ））。
【００５４】
同様に右へ８画素ずつ移動し、各エリアの電流を測定していき、左上隅の座標が（３０５，９）、右下隅の座標が（３２０，２４）のエリアの電流を測定した後に、下方向に８ライン移動し同様の測定を行う。
【００５５】
同様の測定を繰り返していき、表示エリアの右下隅の大エリア、すなわち、左上隅の座標が（３０５，２２５）、右下隅の座標が（３２０，２４０）のエリアの測定が終わるまで繰り返す。ここまでの測定回数は１１３１回となる。
【００５６】
次に、この測定結果を用いて、８ｘ８の矩形エリアのノイズ除去後の電流値を求める。
【００５７】
まず、表示エリア全体を８画素かける８ラインのエリアに分割する。ここで、分割されたエリアの位置を［ｘ，ｙ］のように表記する。［ｘ，ｙ］は左からｘ番目上からｙ番目のエリアを示す。すなわち、［ｘ，ｙ］と表記されるエリアの左上の座標は（８ｘ−７，８ｙ−７）で右下の座標は（８ｘ，８ｙ）となっている。
【００５８】
次に、注目する８ｘ８のエリア［ｘ，ｙ］を決め、図７（ａ）のように、そのエリアを含む４回の測定の結果を加算し、図７（ｂ）のように、そのエリアと辺を接している８回の測定結果の総和の１／２を減算する。演算の結果注目するエリア周辺のエリアの加算回数は図６（ｃ）のようになる。注目するエリア［ｘ，ｙ］は、４回加算され、注目するエリアに辺を接しているエリア（［ｘ，ｙ−１］，［ｘ−１，ｙ］，［ｘ＋１，ｙ］，［ｘ，ｙ＋１］）は各１回加算されている。
【００５９】
注目するエリア［ｘ，ｙ］と頂点を接しているエリア（［ｘ−１，ｙ−１］，［ｘ＋１，ｙ−１］，［ｘ−１，ｙ＋１］，［ｘ＋１，ｙ＋１］）は、加算と減算の重みが等しい。
【００６０】
［ｘ，ｙ−２］，［ｘ−２，ｙ］，［ｘ＋２，ｙ］，［ｘ，ｙ＋２］の各エリアは減算回数が１回となっており、［ｘ−１，ｙ−２］，［ｘ＋１，ｙ−２］，［ｘ−２，ｙ−１］，［ｘ＋２，ｙ−１］，［ｘ−２，ｙ＋１］，［ｘ＋２，ｙ＋１］，［ｘ−１，ｙ＋２］，［ｘ＋１，ｙ＋２］の各エリアは減算回数が１／２回となっている。以上より、注目するエリア［ｘ，ｙ］のムラ評価値として、図７（ｃ）のようなフィルター係数を得ることができる。この値は、各エリアの電流値にばらつきが無ければ演算の結果は０となることが期待され、この値の絶対値がある閾値を越えている場合にのみ、この注目エリア内にムラがあると判断することができる。
【００６１】
この方法によれば、表示エリア全体にわたって輝度が連続的に変化している場合の判定ミスを減らすことができる。
【００６２】
この方法では、画面の外周に沿った２列のエリアについて、フィルター処理を行うためのデータが足りなくなる。この問題を回避するため、画面の外側にあらかじめダミーのデータを付加して演算するとよい。
【００６３】
図９（ａ）にダミーに使用するデータの例を示す。この場合、１４０回の追加の測定が必要となる。ダミー部分の１６ｘ１６画素のエリアについてのデータは画面内で測定した値をそのまま使える。一方、表示領域の外周をまたぐ１６ｘ１６画素のエリアのデータには、図９（ｂ）に示すような測定を追加する。これによって、実際には存在しないダミー部分のダミーデータを利用して表示エリア内の画面の隅に当たるエリアについて他のエリアと同様の処理を行うことができる。すなわち、画面の四隅の１エリアを単独で測定後４倍し、四隅の１６ｘ１６エリアのデータとする。また、その他の部分では２エリアずつ同時に測定後２倍し、周囲の１６ｘ１６エリアのデータとする。
【００６４】
この方法によれば、個々に測定した８ｘ８画素のエリアの電流から、演算により同様なフィルターをかけるときに比べ、Ｓ／Ｎの良いデータを得ることができる。測定の回数は、外周部分の処理を含めても８ｘ８画素のエリアの電流を各１回測定した場合と大差なく（１２００回に対し、この方法では１２７１回）、Ｓ／Ｎとしては、各４回測定して平均した時とほぼ同等になるからである。
【００６５】
ｉｉ）  補正値の算出
ａ）図１０のようにムラを含むと判定された８ｘ８画素のエリアを中心として、１６ｘ１６画素のエリアを考える。このエリアの外周上の、図に示す８画素を同時に、２つ以上の入力電圧（この例では図１１の３点Ｖａ１，Ｖａ２，Ｖａ３）で点灯し、各入力電圧に於けるＣＶ電流を測定する。各画素の平均電流（ｉｃｖ）はこのＣＶ電流を８で割った値となるので、入力電圧対ｉｃｖの関係をプロットする。この結果により、このエリア周辺の平均的なＴＦＴのＶ−Ｉ特性を予想し、プロットする（図１２の（ａ））。
【００６６】
ｂ）ムラを含むと判定された８ｘ８画素のエリア内の１画素のみを２つ以上の入力電圧（この例では３点Ｖａ１，Ｖａ２，Ｖａ３）で点灯し、各入力電圧に於けるＣＶ電流を測定する。これらの結果より、この画素のＴＦＴのＶ−Ｉ特性を予想し、プロットする（図１２の（ｂ））。同様にして、このエリア内の全ての画素のＴＦＴのＶ−Ｉ特性を予想し、プロットする。
【００６７】
ｃ）図１１により、周辺の画素に対する画素ｎのＶｔｈ及びＶ−Ｉカーブの傾き（ｇｍ）のずれを求める。周辺画素の特性を基準として、それに対するＣＶ電流または輝度の差が最小となるようにゲイン補正値とオフセットを求める（図１２）。
【００６８】
なお、ゲインは乗算器２２に供給される値であり、オフセットは加算器２４に供給される値であり、補正後のゲイン、オフセットまたはそれらの補正値、および画素の座標が不揮発性メモリ３６記憶され、補正後のゲイン、オフセットが、該当する画素データに乗算または加算される。
【００６９】
「発明の他の実施形態、他の用途への転用例の説明」
図８は、他のフィルター係数を実現する例である。この場合、図８（ａ）において加算により得た各画素の加算値から、図８（ｂ）において加算により得た各画素の加算値を減算することにより、（ｃ）のフィルター係数が得られる。
【００７０】
従って、各エリアについての検出電流値について、このフィルターを適用することで、各エリアの検出電流値を決定することができる。
【００７１】
なお、上述の説明では、補正が必要否かを判断するエリアの大きさを８ｘ８の画素としたが、これよりも大きくても小さくてもよい。また、大エリア、中エリア、小エリア等、複数段階のエリアを用意し、補正が必要とされた大エリアについて、補正が必要な中エリアを検出し、補正が必要な中エリアについて補正が必要な小エリアを検出し、補正が必要な小エリアについて、補正が必要な画素の補正値を検出してもよい。例えば、３２ｘ３２で検出を行い、補正対象となった３２ｘ３２のエリア内において、８ｘ８のエリア、８ｘ８のエリア内で、１画素毎に同様の処理を行ってもよい。特に、最終的な処理対象とするエリアを１表示画素または１ドットとして１つずつ発光させ、そのときの駆動電流を検出することが好適である。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】従来の画素回路の構成を示す図である。
【図２】入力電圧と輝度，駆動電流ｉｃｖの関係を示す図である。
【図３（ａ）】しきい値電圧Ｖｔｈがばらついた場合の入力電圧と輝度、駆動電流ｉｃｖの関係を示す図である。
【図３（ｂ）】Ｖ−Ｉ特性の傾きがばらついた場合の入力電圧と輝度、駆動電流ｉｃｖの関係を示す図である。
【図３（ｃ）】ＶｔｈおよびＶ−Ｉ特性の傾きがばらついた場合の入力電圧と輝度、駆動電流ｉｃｖの関係を示す図である。
【図４】実施形態に係る入力データ処理のための構成を示す図である。
【図５】エリアの選択方法を示す図である。
【図６】エリアの選択方法を示す図である。
【図７】エリアの選択方法およびフィルタの構成を示す図である。
【図８】エリアの選択方法およびフィルタの構成を示す図である。
【図９】周辺部のエリア処理方法を示す図である。
【図１０】エリア内の補正値算出の方法を示す図である。
【図１１】Ｖ−Ｉ特性の差を示す図である。
【図１２】補正値の算出を説明する図である。
【符号の説明】
【００７３】
１０  表示パネル、２０Ｒ，２０Ｇ，２０Ｂ  ＬＵＴ、２２Ｒ，２２Ｇ，２２Ｂ  乗算器、２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂ  加算器、２６  補正値出力部、２８Ｒ，２８Ｇ，２８Ｂ  Ｄ／Ａ変換器、３０  スイッチ、３２  電流検出器、３４  ＣＰＵ、３６  不揮発性メモリ、３８  メモリ、４０  座標発生部。
【図１】
2006349966.tif 000003
【図２】
2006349966.tif 000004
【図３（ａ）】
2006349966.tif 000005
【図３（ｂ）】
2006349966.tif 000006
【図３（ｃ）】
2006349966.tif 000007
【図４】
2006349966.tif 000008
【図５】
2006349966.tif 000009
【図６】
2006349966.tif 000010
【図７】
2006349966.tif 000011
【図８】
2006349966.tif 000012
【図９】
2006349966.tif 000013
【図１０】
2006349966.tif 000014
【図１１】
2006349966.tif 000015
【図１２】
2006349966.tif 000016