(57)【要約】【課題】  精密に撮像素子の有効画素中心位置を検出できる撮像素子の画素中心位置の検出方法を提供する。【解決手段】  素子チップの４つの素子チップ辺を画像認識する工程（Ｓ１）と、４つの素子チップ辺近傍の濃淡画像の画素間を補間する工程（Ｓ２）と、素子チップ辺上の複数のエッジ位置をサブピクセル単位で４辺分割り出す工程（Ｓ３）と、複数のエッジ位置を通る画像座標上における４つの素子チップ辺の直線の方程式を割り出す工程（Ｓ４）と、直交する２辺の交点とそれに対向する他の２辺の交点との座標をそれぞれ求める工程（Ｓ５）と、２つの交点の座標の中心を素子チップの中心として認識する工程（Ｓ６）と、素子チップの中心と素子チップ上の有効画素部の中心との位置の差に予め測定されたカメラの倍率をかけた量だけ素子チップの中心をオフセットさせ、この位置を撮像素子の画素中心位置として認識する工程（Ｓ７）とを有することを特徴とする。【選択図】  図１
2006127238.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
位置決めされた撮像素子に設けられた矩形状の素子チップの４つの素子チップ辺を画像認識する工程と、
前記４つの素子チップ辺近傍の濃淡画像の画素間を補間する工程と、
補間された画像データを元に、前記素子チップ辺上の複数のエッジ位置をサブピクセル単位で４辺分割り出す工程と、
前記複数のエッジ位置を通る画像座標上における４つの素子チップ辺の直線の方程式を割り出す工程と、
前記４辺の直線方程式より、直交する２辺の交点とそれに対向する他の２辺の交点との座標をそれぞれ求める工程と、
前記２つの交点の座標の中心を前記素子チップの中心として認識する工程と、
前記素子チップの中心と前記素子チップ上の有効画素部の中心との位置の差に予め測定されたカメラの倍率をかけた量だけ前記素子チップの中心をオフセットさせ、この位置を撮像素子の画素中心位置として認識する工程とを有することを特徴とする撮像素子の画素中心位置の検出方法。
【請求項２】
位置決めされた撮像素子に設けられた矩形状の素子チップの２つまたは３つの素子チップ辺を画像認識する工程と、
前記２つまたは３つの素子チップ辺近傍の濃淡画像の画素間を補間する工程と、
補間された画像データを元に、前記素子チップ辺上の複数のエッジ位置をサブピクセル単位で２辺分または３辺分割り出す工程と、
前記複数のエッジ位置を通る画像座標上における２つまたは３つの素子チップ辺の直線の方程式を割り出す工程と、
前記２つまたは３つの素子チップ辺の直線方程式より、直交する２辺の画像座標上における交点を１点求める工程と、
前記交点を起点として、前記直交する２辺のうちの1辺の直線方程式上で、１辺の長さと予め測定されたカメラの倍率とから１点の前記素子チップの頂点の画像座標位置を割り出す工程と、
前記直交する２辺のうち他辺の直線方程式上で、１辺の長さと予め測定されたカメラの倍率とから、前記頂点に対向する他の頂点の画像座標位置を割り出す工程と、
前記２つの頂点の画像座標位置の中点座標を前記素子チップの中心として認識する工程と、
前記素子チップの中心と前記素子チップ上の有効画素部の中心との位置の差に予め測定されたカメラの倍率をかけた量だけ前記素子チップの中心をオフセットさせ、この位置を撮像素子の画素中心位置として認識する工程とを有することを特徴とする撮像素子の画素中心位置の検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像素子の画素中心を精密に認識できる撮像素子の画素中心位置の検出方法に関する。特に、小型化されつつある撮像素子の画素中心と光学部材の光軸中心とを精密に合致させた撮像モジュールの組み立てを実現可能な撮像素子の画素中心位置の検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、撮像素子の画素中心の検出方法としては、撮像素子のパッケージ上に基準点をマークして位置認識を行うか、パッケージの外形を画像位置認識するのが一般的である。しかしながら、小型かつ高精度のため、精密な位置決めが要求される近年の撮像モジュールにおいては、基準マークを設けるスペースもなく、また、外形基準の画像位置認識では、位置決め精度が外形と有効画素部位置との位置精度に依存してしまい、高精度な位置決めができないという問題がある。
【０００３】
この問題を解決するために、撮像素子の有効画素のエッジを検出し、その有効画素枠の中心に、取付けホルダーの中心値を一致させることで、撮像素子の光軸を合わせる方法が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。この特許文献１に記載の撮像素子の光軸合わせの方法は、図１２に示すように、撮像素子１００のｘ方向１１２の有効画素部のエッジ検出を装置据付の図示しないカメラにより、ｙ方向１１３に複数回走査する。これにより、有効画素部の線エッジ１０１を求める。
【０００４】
次に、同様にして、ｙ方向１１３の有効画素部のエッジ検出をｘ方向１１２に複数回走査することにより行い、有効画素部の線エッジ１０３を求める。この線エッジ１０１，１０３の検出においては、濃淡エッジの輝度差を拡大させ、エッジ検出の精度を上げるために、エッジ強調などの画像処理が施された上で行われる。
次いで、線エッジ１０１と線エッジ１０３との交点１０５を画像処理上の座標値として求め、同様な操作により、線エッジ１０２と線エッジ１０４とを求め、線エッジ間の交点Ｂ１０６と交点Ｃ１０７を同様に求める。そして、交点１０５と交点１０６との中点１０８を通る中心線１１４及び交点１０６と交点１０７との中点１０９を通る中心線１１５により、交点１１０、すなわち有効画素中心位置を求めるという技術である。
【特許文献１】特開平５−３１６４００号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、撮像素子の有効画素部のエッジは有効画素でない部分との明瞭な濃淡差がない場合が多く、そのような撮像素子においては、上記特許文献１に記載の撮像素子の光軸を合わせる方法を用いても、線エッジの検出が精度良く行うことができない。このため、有効画素中心位置が精度良く求まらないという問題を抱えている。
【０００６】
本発明は、上記の課題を解決するためになされたものであって、撮像素子の有効画素エッジが明瞭に見えないような撮像素子でも、精密に撮像素子の有効画素中心位置を検出できる撮像素子の画素中心位置の検出方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために、本発明は、以下の手段を提供する。
本発明の撮像素子の画素中心位置の検出方法は、位置決めされた撮像素子に設けられた矩形状の素子チップの４つの素子チップ辺を画像認識する工程と、前記４つの素子チップ辺近傍の濃淡画像の画素間を補間する工程と、補間された画像データを元に、前記素子チップ辺上の複数のエッジ位置をサブピクセル単位で４辺分割り出す工程と、前記複数のエッジ位置を通る画像座標上における４つの素子チップ辺の直線の方程式を割り出す工程と、前記４辺の直線方程式より、直交する２辺の交点とそれに対向する他の２辺の交点との座標をそれぞれ求める工程と、前記２つの交点の座標の中心を前記素子チップの中心として認識する工程と、前記素子チップの中心と前記素子チップ上の有効画素部の中心との位置の差に予め測定されたカメラの倍率をかけた量だけ前記素子チップの中心をオフセットさせ、この位置を撮像素子の画素中心位置として認識する工程とを有することを特徴とする。
【０００８】
本発明に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法によれば、まず、素子チップ辺を画像認識し、素子チップの直交する２辺の交点に対向する他の２辺の交点の座標を求め、その中点を素子チップの中心として割り出す。その後、素子チップの中心と有効画素部の中心との位置の差と予め測定しておいたカメラの倍率とを掛け合わせることにより求められた量だけ素子チップの中心をオフセットさせ、この位置を撮像素子の有効画素中心として認識する。したがって、撮像素子の有効画素中心を求める際、従来のように、撮像素子の有効画素部のエッジを認識せずに、求めることができるため、有効画素部のエッジが明瞭に見えない撮像素子でも、有効画素部の中心位置を精度良く割り出すことが可能となる。
【０００９】
本発明の撮像素子の画素中心位置の検出方法は、位置決めされた撮像素子に設けられた矩形状の素子チップの２つまたは３つの素子チップ辺を画像認識する工程と、前記２つまたは３つの素子チップ辺近傍の濃淡画像の画素間を補間する工程と、補間された画像データを元に、前記素子チップ辺上の複数のエッジ位置をサブピクセル単位で２辺分または３辺分割り出す工程と、前記複数のエッジ位置を通る画像座標上における２つまたは３つの素子チップ辺の直線の方程式を割り出す工程と、前記２つまたは３つの素子チップ辺の直線方程式より、直交する２辺の画像座標上における交点を一点求める工程と、前記交点を起点として、前記直交する２辺のうちの1辺の直線方程式上で、１辺の長さと予め測定されたカメラの倍率とから１点の前記素子チップの頂点の画像座標位置を割り出す工程と、前記直交する２辺のうち他辺の直線方程式上で、１辺の長さと予め測定されたカメラの倍率とから、前記頂点に対向する他の頂点の画像座標位置を割り出す工程と、前記２つの頂点の画像座標位置の中点座標を前記素子チップの中心として認識する工程と、前記素子チップの中心と前記素子チップ上の有効画素部の中心との位置の差に予め測定されたカメラの倍率をかけた量だけ前記素子チップの中心をオフセットさせ、この位置を撮像素子の画素中心位置として認識する工程とを有することを特徴とする。
【００１０】
本発明に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法によれば、素子チップ辺の１辺または２辺が明瞭に見えない場合には、明瞭に見える素子チップの２つまたは３つの素子チップ辺を画像認識し、認識した２辺上で、１辺の長さと予め測定されたカメラの倍率とから、素子チップの対向する２つの頂点の画像座標位置を割り出す。この２つの頂点から中点座標を求め、素子チップの中心とし、その後、素子チップの中心と有効画素部の中心との位置の差と予め測定しておいたカメラの倍率とを掛け合わせることにより求められた量だけ素子チップの中心をオフセットさせ、この位置を撮像素子の有効画素中心として認識する。したがって、素子チップの１辺または２辺が明瞭に見えない場合でも、有効画素部の中心位置を精度良く割り出すことが可能となる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明においては以下の効果を奏する。
本発明に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法によれば、撮像素子の素子チップ辺を画像認識し、素子チップの中心として割り出す。その後、素子チップの中心をオフセットさせ、この位置を撮像素子の有効画素中心として認識する。したがって、撮像素子の有効画素中心を求める際、撮像素子の有効画素部のエッジが明瞭に見えない撮像素子でも、素子チップの素子チップ辺を画像認識することにより、精密に有効画素の中心位置を検出できるため、高精度な撮像モジュールの組み立てが実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
次に、本発明の第１実施形態について、図１から図７を参照して説明する。
本実施形態に係る撮像素子１の画素中心位置の検出方法について、図１に示すフローチャートを用いて説明する。この撮像素子１は、凹部３ａが形成されたチップ枠３と、凹部３ａに配された素子チップ４とを備えている。また、凹部３ａ及び素子チップ４の大きさは略同等である。
まず、位置決めされた撮像素子１及び素子チップ４を装置据付の位置認識用カメラ（図示略）にて画像認識する。これにより、図２に示すような、撮像素子１及び素子チップ４の画像状態が認識される。認識された撮像素子１の画像は、例えば、ＶＧＡ画面（０，０）から（６４０，４８０）の濃淡画素データとして位置認識用のカメラ（図示略）の画像座標２上に取り込まれる（ステップＳ１）。
【００１３】
次に、撮像素子１のチップ枠３の内側を形成する４つの素子チップ辺１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄの後述するエッジ部（エッジ位置）近傍の濃淡画像データを３つの分割線Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３及びＹ１，Ｙ２，Ｙ３により１６個の領域に分割する。そして、各分割線Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３，Ｙ１，Ｙ２，Ｙ３上において、スプライン補間や２次曲線近似により、画素間のデータをサブピクセル単位で補間を行う。ここで、素子チップ辺１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄは、これらに囲まれた部分が素子チップ４上の有効画素部４ａを含有し、また、有効画素部４ａではない走査部４ｂを含んだ素子チップ４の端辺を表している。さらに、走査部４ｂの外周にチップ枠３が配されている。
【００１４】
続いて、素子チップ辺１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄの中で１辺１０ａのＸ１部でのエッジ部１２ａ近傍の濃淡データの補間処理の詳細を例に挙げて、図３，図４及び図5を用いて説明する。ここで、エッジ部とは、素子チップ辺１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄと分割線Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３及びＹ１，Ｙ２，Ｙ３とのそれぞれの交点を示している。
まず、図３に示すようにエッジ部１２ａ近傍のＹ方向の濃淡画像データが取り込まれる。そして、エッジ部１２ａ近傍の濃淡データを横軸にＹ方向のアドレス、縦軸に濃淡データを取ると、図４に示すような散布図となる。この状態で、エッジ検出のスレッシュを４０程度とするとエッジ部のＹ方向のアドレスは１４である。次に、画素と画素との間の濃淡データを画素毎の濃淡データから１／１０画素単位、すなわち、サブピクセル単位で２次曲線補間やスプライン補間することにより、図４に示す散布図は、図５に示すように、滑らかな曲線となる。
【００１５】
さらに、素子チップ辺１０ａのＸ２部でのエッジ部１２ｂ，素子チップ辺１０ａのＸ３部でのエッジ部１２ｃ，素子チップ辺１０ｂのＹ１部でのエッジ部１２ｄ，素子チップ辺１０ｂのＹ２部でのエッジ部１２ｅ，素子チップ辺１０ｂのＹ３部でのエッジ部１２ｆ，素子チップ辺１０ｃのＸ１部でのエッジ部１２ｇ，素子チップ辺１０ｃのＸ２部でのエッジ部１２ｈ，素子チップ辺１０ｃのＸ３部でのエッジ部１２ｉ，素子チップ辺１０ｄのＹ１部でのエッジ部１２ｊ，素子チップ辺１０ｄのＹ２部でのエッジ部１２ｋ及び素子チップ辺１０ｄのＹ３部でのエッジ部１２ｌに対しても、同様の近似や補間処理を行う（ステップＳ２）。
なお、各素子チップ辺１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄを３分割としたが、２分割でも、４分割以上でも良い。
【００１６】
次に、上述した近似や補間した濃淡データを元に、素子チップ辺１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄのエッジ部１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，１２ｄ，１２ｅ，１２ｆ，１２ｇ，１２ｈ，１２ｉ，１２ｊ，１２ｋ及び１２ｌの定められた閾値を切るエッジ座標を求める。例えば、エッジ部１２ａ近傍で、閾値を４０とすると素子チップ辺１０ａのエッジ部１２ａのＹ座標は、１３．２のようにサブピクセル単位で高精度に求まる。同様に、エッジ部１２ｂ，１２ｃ，１２ｇ，１２ｈ，１２ｉのＹ座標を、エッジ部１２ｄ，１２ｅ，１２ｆ，１２ｊ，１２ｋ，１２ｌのＸ座標をそれぞれサブピクセル単位で求める（ステップＳ３）。
【００１７】
次に、サブピクセル単位でのエッジ座標を元に、素子チップ辺１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄの画像座標２上での直線の方程式を求める。この方程式は、図６に示すように、素子チップ辺１０ａのＸ１点での検出されたエッジ部１２ａのＹ座標の値が１３．２、Ｘ２点での検出されたエッジ部１２ｂのＹ座標の値が１３．５、Ｘ３点での検出されたエッジ部１２ｃのＹ座標の値が１３．８、であるので、Ｘ１＝１００、Ｘ２＝３２０、Ｘ３＝５４０とすると、画像座標２上での素子チップ辺１０ａの直線の方程式は、ｙ＝０．００１３６ｘ＋１３．０６４となる。これは、複数のエッジ部（１２ａ，１２ｂ，１２ｃ）を通る直線の方程式を近似的に求めた式である。同様に、素子チップ辺１０ｂ，１０ｃ，１０ｄの画像座標２上での直線の方程式を、検出されたエッジ部１２ｄ，１２ｅ，１２ｆ，１２ｇ，１２ｈ，１２ｉ，１２ｊ，１２ｋ及び１２ｌの座標を元に算出する（ステップＳ４）。
【００１８】
次に、素子チップ辺１０ａに直交する１０ｄの交点１３ａを上記２つの直線方程式より算術的に算出する。同様に、素子チップ辺１０ｂに直交する１０ｃの交点１３ｃを上記２つの直線方程式より算術的に算出する（ステップＳ５）。なお、本実施形態では、素子チップ辺１０ａと素子チップ辺１０ｄとの交点１３ａ及び素子チップ辺１０ｂと素子チップ辺１０ｃとの交点１３ｃを求めたが、これに代えて、素子チップ辺１０ａと素子チップ辺１０ｂとの交点１３ｂ及び素子チップ辺１０ｃと素子チップ辺１０ｄとの交点１３ｄを求めても良い。
【００１９】
続いて、交点１３ａと交点１３ｃまたは交点１３ｂと交点１３ｄとの中点座標５（Ｃｘ，Ｃｙ）を算出する。交点１３ａの座標を（Ｋｘ１，Ｋｙ１）、交点１３ｂの座標を（Ｋｘ２，Ｋｙ２）、交点１３ｃの座標を（Ｋｘ３，Ｋｙ３）、交点１３ｄの座標を（Ｋｘ４，Ｋｙ４）とすると、Ｃｘ＝（Ｋｘ１＋Ｋｘ３）／２、または、Ｃｘ＝（Ｋｘ２＋Ｋｘ４）／２、Ｃｙ＝（Ｋｙ１＋Ｋｙ３）／２、または、Ｃｙ＝（Ｋｙ２＋Ｋｙ４）／２となる（ステップＳ６）。
【００２０】
中点座標５（Ｃｘ，Ｃｙ）を算出した後、図７に示すように、素子チップ４の中点座標（中心）５と、有効画素部４の図面上の有効画素部中心位置（有効画素中心）６とにより、Ｘ座標方向のズレ量７とＹ座標のズレ量８とを求める。求められたＸ座標方向のズレ量７とＹ座標のズレ量８と予め測定されたカメラの倍率とから、実際の撮像素子１の中心位置（画素中心位置）と有効画素部中心位置６とのオフセット量を演算して求める。ここで、カメラの画像のＸ座標方向の倍率をＣｂｘ［ピクセル／ｍｍ］、カメラの画像のＹ座標方向の倍率をＣｂｙ［ピクセル／ｍｍ］、撮像素子１の中心位置と有効画素部中心位置６とのＸ座標方向のズレ量７をＺｘ［ピクセル］，Ｙ座標方向のズレ量８をＺｙ［ピクセル］とすると、
Ｚｘ［ピクセル］＝（図面上のＸ方向のズレ量７）［ｍｍ］×Ｃｂｘ［ピクセル／ｍｍ］
Ｚｙ［ピクセル］＝（図面上のＹ方向のズレ量８）［ｍｍ］×Ｃｂｙ［ピクセル／ｍｍ］となる。
次に、検出された素子チップ４の中心座標５（Ｃｘ，Ｃｙ）に、撮像素子１の中心位置と有効画素部中心位置６とのズレ量（Ｚｘ，Ｚｙ）分オフセットさせた座標（Ｃｘ＋Ｚｘ，Ｃｙ＋Ｚｙ）を実際の有効画素の中心位置として求める（ステップＳ７）。
【００２１】
本実施形態に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法によれば、素子チップ辺１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄを画像認識し、認識した素子チップ４の対向する交点１３ａ及び交点１３ｃまたは交点１３ｂ及び交点１３ｄの画像座標を求め、その中点を素子チップ４の中心として割り出す。その後、素子チップ４の中心座標５と有効画素部中心位置６との図面上の位置の差に予め測定されたカメラの倍率を掛け合わせ、これにより、求められた量だけ中心座標をオフセットさせた位置を有効画素中心として認識する。したがって、有効画素像が不明瞭な場合でも、高精度に撮像素子１の実際の有効画素中心位置（Ｃｘ＋Ｚｘ，Ｃｙ＋Ｚｙ）を割り出すことが可能となる。
【００２２】
次に、本発明に係る第２実施形態について、図８から図１０を参照して説明する。なお、以下に説明する各実施形態において、上述した第１実施形態に係る撮像素子１及び撮像素子１の画素中心位置の検出方法と共通とする箇所の説明を省略することにする。
本実施形態に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法について、図８に示すフローチャートを用いて説明する。
本実施形態に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法において、第１実施形態と異なる点は、素子チップ４の直交する２つの素子チップ辺１０ａ，１０ｂを画像認識する工程（ステップS１１），２つの素子チップ辺１０ａ，１０ｂの直線の方程式と、図面上の２つの素子チップ辺１０ａ，１０ｂの長さ情報と、予め測定されたカメラの倍率とから、撮像素子１の対向する２つの頂点の座標を求める工程（ステップS１５）及び撮像素子１の対向する２つの頂点１３ａ，１３ｃの座標の中点座標を素子チップ４の中心座標（Cｘ，Cｙ）として認識する工程（ステップS１６）である。
【００２３】
ステップS１１では、素子チップ４の素子チップ辺１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄの中の１辺（図９（ａ）に示す例では、チップ辺１０ａ）と、この１辺に直交する他の一辺（図９（ａ）に示す例では、チップ辺１０ｂ）のみを画像認識し、画像認識した２辺において、各素子チップ辺１０ａ，１０ｂ上３点（図９（ａ）に示す例では、交点１３ａ，１３ｂ，１３ｃ）近傍の濃淡画像の画素間をスプライン補間により補間を行う（ステップＳ１２）。次に、補間されたデータを元に、素子チップ辺１０ａ，１０ｂのエッジ部をサブピクセル単位で検出する。そして、サブピクセル単位で割り出したチップ辺１０ａ，１０ｂのエッジ部の情報を元に、２つの素子チップ辺１０ａ，１０ｂの画像座標２上の直線方程式を算出する（ステップＳ１４）。
【００２４】
ステップS１５では、ステップＳ１４で求めた素子チップ辺１０ａ，１０ｂの画像座標２上での直線の方程式を満たし、なおかつ、図９（ａ）に示すように、チップ辺１０ａとチップ辺１０ｂとの交点１３ｂを起点として、図面上での素子チップ辺１０ａ，１０ｂの長さと予め測定されたカメラ倍率とを掛け合わせた距離位置２点、すなわち、素子チップ４の対向する２つの頂点１３ａ，１３ｃの画像座標２上での座標を求める。
【００２５】
そして、ステップS１６では、ステップS１５で求めた２点の頂点１３ａ，１３ｃの中点座標を素子チップ４の中点座標（中心）５として認識する。その後、第1実施形態と同様にして、実際の撮像素子１の中心位置（画素中心位置）と有効画素部中心位置６とのズレ量（Ｚｘ，Ｚｙ）分オフセットさせた座標（Ｃｘ＋Ｚｘ，Ｃｙ＋Ｚｙ）を実際の有効画素の中心位置として求める（ステップＳ１７）。
【００２６】
本実施形態に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法によれば、素子チップ辺の１辺または２辺が明瞭に見えない場合には、明瞭に見える素子チップ辺１０a，１０ｂの２辺を画像認識し、認識した２辺上で、１辺の長さと予め測定されたカメラの倍率とから、素子チップ４の対向する２つの頂点１３ａ，１３ｃの画像座標位置を割り出す。この２つの頂点１３ａ，１３ｃから中点座標５（Cｘ，Cｙ）を求め、その後、素子チップ４の中心５と有効画素部中心位置６との図面上の位置の差と予め測定しておいたカメラの倍率とを掛け合わせることにより求められた量だけ中心座標５をオフセットさせ、この位置を有効画素中心位置（Ｃｘ＋Ｚｘ，Ｃｙ＋Ｚｙ）として認識する。したがって、素子チップ辺の１辺または２辺が明瞭に見えない場合でも、有効画素部４の中心位置を精度良く割り出すことが可能となる。
【００２７】
なお、本実施形態においては、図９（ａ）に示すように、２辺１０ａ，１０ｂを用いたが、これに限るものではなく、２辺１０ａ，１０ｂの他に、図９（ｂ）から図９（ｃ）に示すように、２辺１０ｂ，１０ｃ、２辺１０ｃ，１０ｄ、２辺１０ｄ，１０ａの３通りが考えられるが、このうち、素子チップ辺の隠蔽がなく、画像品質の一番良い２辺を選択すれば良い。
【００２８】
また、直交する２つの素子チップ辺１０ａ，１０ｂから素子チップ４の頂点１３ａ，１３ｃの座標を求めたが、図１０に示すように、３つの素子チップ辺１０ａ，１０ｂ，１０ｃを画像認識し、素子チップ４の頂点１３ｂを求めても良い。そして、ステップＳ１４で求めた素子チップ辺１０ａ，１０ｂ，１０ｃの画像座標２上での直線の方程式を満たし、素子チップ４の頂点１３ｄを起点とし、図面上での素子チップ辺１０ａ，１０ｂ，１０ｃの長さと予め測定されたカメラ倍率とを掛け合わせた距離位置の点をもう１点の撮像素子１の頂点１３ｄとして認識する。続いて、ステップＳ１６以降を行うことにより、直交する２つの素子チップ辺１０ａ，１０ｂから有効画素の中心を求めるよりも、３つの素子チップ辺１０ａ，１０ｂ，１０ｃから有効画素の中心を求める方が、高精度に求めることが可能となる。
【００２９】
なお、本発明の技術範囲は上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。
例えば、上記各実施形態において、図１１に示すように、撮像素子２０が、素子チップ４の上部を覆うように、チップ枠３の端面３ｂに透明カバーガラス２１を設けても良い。このように、透明カバーガラス２１を設けることにより、凹部３ａ内に配された素子チップ４を保護することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明の第１実施形態に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法を示すフローチャートである。
【図２】本発明の第１実施形態に係る撮像素子を示す平面図である。
【図３】本発明の第１実施形態に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法により検出された画像座標と濃淡データとの関係を示す。
【図４】本発明の第１実施形態に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法により検出された画像座標と濃淡データとの関係を示すグラフである。
【図５】図３をサブピクセル単位で２次曲線補間やスプライン補間した画像座標と濃淡データとの関係を示すグラフである。
【図６】本発明の第１実施形態に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法を示す平面図である。
【図７】本発明の第１実施形態に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法を示す平面図である。
【図８】本発明の第２実施形態に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法を示すフローチャートである。
【図９】本発明の第２実施形態に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法を示す概略図である。
【図１０】本発明の第２実施形態に係る撮像素子の画素中心位置の検出方法の他の変形例を示す概略図である。
【図１１】本発明の第１，第２実施形態に係る撮像素子の変形例を示す要部断面図である。
【図１２】従来の検出方法により検出される撮像素子の画素中心位置を示す平面図である。
【符号の説明】
【００３１】
１  撮像素子
２  画像座標
４ａ  有効画素部
５  素子チップの中心
６  有効画素部中心位置（有効画素中心）
１２ａ，１２ｂ，１２ｃ，１２ｄ，１２ｅ，１２ｆ，１２ｇ，１２ｈ，１２ｉ，１２ｊ，１２ｋ，１２ｌ  エッジ部
１３ａ，１３ｃ，１３ｂ，１３ｄ  交点
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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