(57)【要約】【課題】低い演算能力と少ないメモリ容量の組込用マイコンで、高精度の多点補正を可能とする。【解決手段】測定データ１０を折線により多点補正する際に、補正オフセットデータＹ１、Ｙ２・・・及び補正オフセットデータ間の補正傾きデータをテーブル１２、１４化し、測定データ１０（ＸＹ）に対応する補正傾きデータを部分乗算した後、補正オフセットデータ（Ｙ１）を部分加算して補正値（Ｙ１＋ＹＹ）を計算する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定データを折線により多点補正する際に、
補正オフセットデータ及び補正オフセットデータ間の補正傾きデータをテーブル化し、
測定データに対応する補正傾きデータを部分乗算した後、補正オフセットデータを部分加算して補正値を計算することを特徴とする測定データの多点補正方法。
【請求項２】
前記補正オフセットデータの数が、折点の数よりも多いことを特徴とする請求項１に記載の測定データの多点補正方法。
【請求項３】
測定データを折線により多点補正するための測定データの多点補正装置において、
補正オフセットデータを格納するオフセット補正用テーブルと、
補正オフセットデータ間の補正傾きデータを格納する傾き補正用テーブルと、
測定データに対応する補正傾きデータを部分乗算する手段と、
該部分乗算結果に、補正オフセットデータを部分加算して補正値を計算する手段と、
を備えたことを特徴とする測定データの多点補正装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、測定データの多点補正方法及び装置に係り、特に、測定データを折線により多点補正する際に用いるのに好適な、演算能力が低くメモリ容量にも制限がある組込用マイコンでも高精度の多点補正が可能な、測定データの多点補正方法及び装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
高精度の測定器を実現する際には、測定値の誤差をスパン調整とオフセット調整により直線的に補正するだけでなく、図１に例示する如く、折線により多点補正するのが効果的である。
【０００３】
しかしながら、図１に示す折線に忠実に計算により補正すると、測定ポイントＸｍｍ時の補正量ＹＹを実数計算するには、次式に示す如く、乗算１回、除算１回、加算１回、減算２回を含む計算が必要であり、例えば８ビットの組込用マイコンでは、演算能力が低く、他の制御も行なう必要があるため、リアルタイム処理が難しいという問題点を有する。
【０００４】
ＹＹ＝（Ｘ−１０）＊（Ｙ２−Ｙ１）／（２０−１０）＋Ｙ１  …（１）
【０００５】
このような問題点を解決するべく、図２に示す如く、全ストローク（例えば０〜５０ｍｍ）に亘って予め計算した補正値をテーブルで持つことが行なわれているが、変化率が大きい補正をする場合、テーブルのピッチを小さくする必要があり、メモリ使用量が大きくなるため、メモリ容量でも制約がある組込用マイコンでは実現困難である。
【０００６】
一方、特許文献１には、テーブルのピッチを可変として、少ないメモリ容量で正確な補正を行なうことが記載されている。
【０００７】
【特許文献１】特開平７−１２０２１６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、特許文献１に記載されているようにテーブルのピッチを可変にすると、区分判定が必要となり、テーブル呼出しのアルゴリズムが複雑になるという問題点を有していた。
【０００９】
本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされたもので、低い演算能力及び少ないメモリ容量で高精度の多点補正を可能とすることを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は、測定データを折線により多点補正する際に、補正オフセットデータ及び補正オフセットデータ間の補正傾きデータをテーブル化し、測定データに対応する補正傾きデータを部分乗算した後、補正オフセットデータを部分加算して補正値を計算するようにして、前記課題を解決したものである。
【００１１】
又、前記補正オフセットデータの数を、折点の数よりも多くして、更に高速な演算を可能としたものである。
【００１２】
本発明は、又、測定データを折線により多点補正するための測定データの多点補正装置において、補正オフセットデータを格納するオフセット補正用テーブルと、補正オフセットデータ間の補正傾きデータを格納する傾き補正用テーブルと、測定データに対応する補正傾きデータを部分乗算する手段と、該部分乗算結果に、補正オフセットデータを部分加算して補正値を計算する手段とを備えることにより、同じく前記課題を解決したものである。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、部分計算とテーブルを組合せて、測定データに対応する補正傾きデータを部分乗算した後、補正オフセットデータを部分加算するようにしたので、演算能力が低くても、少ないメモリ量で、高速に演算補正を実行することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下図面を参照して、本発明の実施形態を詳細に説明する。
【００１５】
本発明を実施するための測定データの多点補正装置の第１実施形態は、図３に示す如く、折点の補正オフセットデータＹ１、Ｙ２、Ｙ３、Ｙ４を格納するオフセット補正用テーブル１２と、折点間の補正傾きデータを格納する傾き補正用テーブル１４と、図４に例示する如く、例えば８桁の測定データ１０の下位３桁ＸＹに、前記傾き補正用テーブル１４から読み出した、対応する補正傾きデータを乗算して、対応する補正オフセットデータＹ１からの増分ＹＹを計算するための部分乗算器１６と、該部分乗算器１６による部分乗算結果ＹＹに、前記オフセット補正用テーブル１２から読み出した、対応する補正オフセットデータＹ１を加算して補正値（Ｙ１＋ＹＹ）を計算する部分加算器１８と、該部分加算器１８によって得られた補正値を測定データ１０に加算する全桁加算器２０とを用いて構成される。
【００１６】
ここで前記部分乗算器１６及び部分加算器１８は、例えば測定データ１０が８桁の場合３桁程度の部分演算を行なう。従って、全桁計算の１／２から１／３程度の時間で演算可能である。
【００１７】
このようにして、補正量が大きい部分はテーブル方式で補正し、更にテーブル間を部分計算で補間することで、演算能力が低くても、少ないメモリ量で、高速に演算補正を実行できる。
【００１８】
次に、本発明の第２実施形態を詳細に説明する。
【００１９】
本実施形態は、図５に示す如く、第１実施形態のオフセット補正用テーブル１２のメモリ数を増やし、補正オフセットデータの数を折点の数より多くしたものである。
【００２０】
本実施形態によれば、傾き計算の回数を減らして、演算を、更に高速化できる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】実数計算による多点補正の概念を示す線図
【図２】テーブルを用いた多点補正の概念を示す線図
【図３】本発明の第１実施形態の構成を示すブロック図
【図４】同じく作用を示す線図
【図５】本発明の第２実施形態の作用を示す線図
【符号の説明】
【００２２】
１０…測定データ
１２…オフセット補正用テーブル
１４…傾き補正用テーブル
１６…部分乗算器
１８…部分加算器
２０…全桁加算器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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