(57)【要約】【課題】  磁気テープにおけるサーボバンドが狭トラック化しても、十分な分解能でサーボ信号を測定して、その品質を評価できるサーボ信号検査装置およびサーボ信号検査方法を提供する。【解決手段】  前記パルスピークＡ，Ｂの時間間隔を求めるに際して、パルスピークＡと前記パルスピークＢの間において、周期Ｔの基準クロック信号でカウントして求められるカウント数ｎ（ｎは１以上の整数）と、前記パルスピークＡと基準クロック信号との位相のずれによる端数時間ａと、前記パルスピークＢと前記基準クロック信号との位相にずれによる端数時間ｂとを測定し、前記パルスピークＡと前記パルスピークＢとの間の時間間隔ｎＴ＋ａ＋ｂを求めることを特徴とする。【選択図】      図４
2006092585.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気テープに書き込まれたサーボ信号を読み取るサーボ信号検査ヘッドと、読み取られたサーボ信号の品質を検査するサーボ信号検査部とを備えるサーボ信号検査装置であって、
前記サーボ信号検査部は、前記読み取られたサーボ信号から少なくとも一つのパルスピークＡとそのパルスピークＡに対応する所定のパルスピークＢとの間の時間間隔を計測する時間間隔計測手段と、計測されたパルスピークＡとパルスピークＢの間の時間間隔からサーボ信号の品質を評価するサーボ信号評価手段とを備え、
前記時間間隔計測手段は、前記パルスピークＡ，Ｂの時間間隔を求めるに際して、パルスピークＡと前記パルスピークＢの間において、周期Ｔの基準クロック信号でカウントして求められるカウント数ｎ（ｎは１以上の整数）と、前記パルスピークＡと基準クロック信号との位相のずれによる端数時間ａと、前記パルスピークＢと前記基準クロック信号との位相のずれによる端数時間ｂとを測定し、前記パルスピークＡと前記パルスピークＢとの間の時間間隔ｎＴ＋ａ＋ｂを求めることを特徴とするサーボ信号検査装置。
【請求項２】
前記時間間隔計測手段は、前記パルスピークＡの立ち上がり時ｔ１から前記パルスピークＢの立ち上がり時ｔ２までにおいて、周期Ｔの基準クロック信号でカウントして求められるカウント数ｎと、前記パルスピークＡの立ち上がり時のパルスピークＡと基準クロック信号との間の位相のずれによる端数時間ａ１と、前記パルスピークＢの立ち上がり時におけるパルスピークＢと基準クロック信号との間の位相のずれによる端数時間ｂ１とを測定し、前記パルスピークＡと前記パルスピークＢとの間の時間間隔（ｔ２−ｔ１）＝ｎＴ＋ａ１＋ｂ１を求めることを特徴とする請求項１に記載のサーボ信号検査装置。
【請求項３】
前記時間間隔計測手段が、前記パルスピークＡの立ち上がり時ｔ１からさらに基準クロック信号を１カウントする時ｔ１１までの端数時間ａ１１と、前記ｔ１１から前記パルスピークＢの立ち上がり時ｔ２からさらに基準クロック信号が１カウントする時ｔ２２までの端数時間ｂ２２と、前記ｔ１１から前記ｔ２２までの基準クロック信号のカウント数ｎとを測定し、前記パルスピークＡと前記パルスピークＢとの間の時間間隔（ｔ２−ｔ１）＝ｎＴ＋ａ１１−ｂ２２を求めることを特徴とする請求項２に記載のサーボ信号検査装置。
【請求項４】
前記時間間隔計測手段は、前記ｔ１から前記ｔ１１までの間、および前記ｔ２から前記ｔ２２までの間、コンデンサにおける電荷の充電または放電による電圧変化に基づいて、前記端数時間ａ１１およびｂ２２を求める時間／電圧変換回路を備えることを特徴とする請求項３に記載のサーボ信号検査装置。
【請求項５】
磁気テープに書き込まれたサーボ信号を読み取るサーボ信号読み取り段階と、
前記読み取られたサーボ信号の品質を検査するサーボ信号検査段階とを備え、
前記サーボ信号検査段階は、前記読み取られたサーボ信号から少なくとも一つのパルスピークＡとそのパルスピークＡに対応する所定のパルスピークＢとの間の時間間隔を計測する時間間隔計測工程と、計測されたパルスピークＡとパルスピークＢの間の時間間隔からサーボ信号の品質を評価するサーボ信号評価工程とを備え、
前記時間間隔計測工程は、前記パルスピークＡ，Ｂの時間間隔を求めるに際して、パルスピークＡとパルスピークＢの間で、周期Ｔの基準クロック信号でカウントして求められるカウント数ｎ（ｎは１以上の整数）と、前記パルスピークＡと基準クロック信号との位相のずれによる端数時間ａと、前記パルスピークＢと前記基準クロック信号との位相にずれによる端数時間ｂとを測定し、前記パルスピークＡと前記パルスピークＢとの間の時間間隔ｎＴ＋ａ＋ｂを求める工程であることを特徴とするサーボ信号検査方法。
【請求項６】
前記時間間隔計測工程は、前記パルスピークＡの立ち上がり時ｔ１から、前記パルスピークＢの立ち上がり時ｔ２までの間を、周期Ｔの基準クロック信号でカウントして求められるカウント数ｎと、前記パルスピークＡの立ち上がり時のパルスピークＡと基準クロック信号との間の位相のずれによる端数時間ａと、前記パルスピークＢの立ち上がり時におけるパルスピークＢと基準クロック信号との間の位相のずれによる端数時間ｂとを測定し、前記パルスピークＡと前記パルスピークＢとの間の時間間隔（ｔ２−ｔ１）＝ｎＴ＋ａ＋ｂを求める工程であることを特徴とする請求項５に記載のサーボ信号検査方法。
【請求項７】
前記時間間隔計測工程が、前記パルスピークＡの立ち上がり時ｔ１からさらに基準クロック信号を１カウントする時ｔ１１までの端数時間ａ１１と、前記ｔ１１から前記パルスピークＢの立ち上がり時ｔ２からさらに基準クロック信号が１カウントする時ｔ２２までの端数時間ｂ２２と、前記ｔ１１から前記ｔ２２までの基準クロック信号のカウント数ｎとを測定し、前記パルスピークＡと前記パルスピークＢとの間の時間間隔（ｔ２−ｔ１）＝ｎＴ＋ａ１１−ｂ２２を求める工程であることを特徴とする請求項６に記載のサーボ信号検査方法。
【請求項８】
前記時間間隔計測工程は、前記ｔ１から前記ｔ１１までの間、および前記ｔ２から前記ｔ２２までの間、コンデンサにおける電荷の充電または放電による電圧変化を測定して、前記端数時間ａ１１およびｂ２２を求める時間／電圧変換工程を含むことを特徴とする請求項７に記載のサーボ信号検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、サーボ信号検査装置およびサーボ信号検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、データを記録／再生するための記録媒体として、磁気テープが広く用いられている。この磁気テープにおいては、単位面積当たりの記録密度を高くするために、データを記録するデータバンドが磁気テープの幅方向に多数形成されている。この磁気テープは、様々な理由により走行時に微小な幅方向の移動を繰り返すため、データの記録／再生時に、記録／再生ヘッドがデータバンドを完全にトレースすることが困難となる。そこで、この種の磁気テープを記録／再生する装置では、データの記録／再生時に、予め磁気テープに書き込まれているサーボ信号を基準にして、磁気テープに対する記録／再生ヘッドのトラッキングを動的に制御している。すなわち、記録／再生ヘッドと一体に形成されたサーボ信号読取ヘッドでサーボ信号を読み取り、磁気テープの幅方向における記録／再生ヘッドの位置のずれを検出し、このずれを修正するように記録／再生ヘッドを移動させて磁気テープを追従または磁気テープの走行状態を制御している。このサーボ信号は、専用のサーボライタにより、予め磁気テープの走行方向に沿って書き込まれる（特許文献１等参照）。
【０００３】
こうしたサーボ信号を用いてトラッキング制御する磁気テープを製造・検査する製造工程においては、磁気テープにサーボ信号を書き込むとともに、書き込んだサーボ信号の品質を評価するために、サーボ信号を読み取って、サーボ信号が所定の精度で書き込まれている否かを検査する必要がある。
【０００４】
ところで、通常、パルスピークの間の時間間隔の測定は、パルスピークの間の時間を基準クロック信号でカウントして行なわれる。そのため、サーボ信号品質検査装置におけるサーボ信号測定系の測定精度は、ピーク間隔を測定する基準クロックの精度に大きく依存する。一般に、タイミングベースドサーボ（Timing  Based  Servo；以下、ＴＢＳという）信号を利用するサーボシステム用磁気テープのサーボ信号品質検査装置において、ピークパルスの時間間隔を測定する基準クロックの周期をＴ［ｓ］、テープ走行系のテープ搬送速度をｖ［ｍ／ｓ］としたとき、基準クロックの１クロック当たりの長さＬｃｌｋ＝Ｔ×ｖ［ｍ］が、測定系の最小分解能となる。例えば、テープの搬送速度が、５ｍ／ｓの時に５０ＭＨｚの基準クロック信号を使ってピーク時間間隔を測定したときには、１基準クロック当たり２０ｎｓ×５ｍ／ｓ＝１００ｎｍが最小の分解能となる。したがって、この程度の分解能でピークパルスの時間間隔を測定すれば、２０〜３０μｍ程度のトラックピッチを確保できる従来の磁気テープでは、十分な精度でサーボ信号の品質を検査することができた。
【０００５】
しかし、近年のデータ記録再生システムに用いられる磁気テープにおいては、更なる高容量化が求められている。ところで、基準クロック信号のカウントによる時間間隔の測定においては、基準クロック信号とパルスピークとの間の位相のずれによって、基準クロック信号によってカウントされない端数時間が発生し、これらの端数時間の存在によって、パルスピーク間の時間間隔の測定精度が低下する。この端数時間を低減させて測定精度を高くするために、基準クロック信号の周波数を高くするなどの方法が考えられるが、基準クロック信号を高くしてパルスピークの時間間隔を測定するためには、新たな測定回路を設計し、また、新たに回路素子を選定する、コストが掛かる等の問題がある。
【特許文献１】特開２００３−１４１８３６号公報（段落０００２〜０００５）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
そこで本発明の目的は、磁気テープにおけるサーボバンドが狭トラック化しても、十分な分解能でサーボ信号を測定して、その品質を評価できるサーボ信号検査装置およびサーボ信号検査方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記課題を解決するため、本発明のサーボ信号検査装置は、磁気テープに書き込まれたサーボ信号を読み取るサーボ信号検査ヘッドと、読み取られたサーボ信号の品質を検査するサーボ信号検査部とを備えるサーボ信号検査装置であって、前記サーボ信号検査部は、前記読み取られたサーボ信号から少なくとも一つのパルスピークＡとそのパルスピークＡに対応する所定のパルスピークＢとの間の時間間隔を計測する時間間隔計測手段と、計測されたパルスピークＡとパルスピークＢの間の時間間隔からサーボ信号の品質を評価するサーボ信号評価手段とを備え、前記時間間隔計測手段は、前記パルスピークＡ，Ｂの時間間隔を求めるに際して、パルスピークＡと前記パルスピークＢの間において、周期Ｔの基準クロック信号でカウントして求められるカウント数ｎ（ｎは１以上の整数）と、前記パルスピークＡと基準クロック信号との位相のずれによる端数時間ａと、前記パルスピークＢと前記基準クロック信号との位相にずれによる端数時間ｂとを測定し、前記パルスピークＡと前記パルスピークＢとの間の時間間隔ｎＴ＋ａ＋ｂを求めることを特徴とする。
【０００８】
このサーボ信号検査装置では、前記パルスピークＡ，Ｂの時間間隔を求めるに際して、パルスピークＡと前記パルスピークＢの間において、周期Ｔの基準クロック信号でカウントして求められるカウント数ｎ（ｎは１以上の整数）と、前記パルスピークＡと基準クロック信号との位相のずれによる端数時間ａと、前記パルスピークＢと前記基準クロック信号との位相にずれによる端数時間ｂとを測定し、前記パルスピークＡと前記パルスピークＢとの間の時間間隔ｎＴ＋ａ＋ｂを求めることによって、十分な分解能でサーボ信号の時間間隔を測定して、サーボ信号の品質を評価できる。
【０００９】
また、本発明は、磁気テープに書き込まれたサーボ信号を読み取るサーボ信号読み取り段階と、前記読み取られたサーボ信号の品質を検査するサーボ信号検査段階とを備え、前記サーボ信号検査段階は、前記読み取られたサーボ信号から少なくとも一つのパルスピークＡとそのパルスピークＡに対応する所定のパルスピークＢとの間の時間間隔を計測する時間間隔計測工程と、計測されたパルスピークＡとパルスピークＢの間の時間間隔からサーボ信号の品質を評価するサーボ信号評価工程とを備え、前記時間間隔計測工程は、前記パルスピークＡ，Ｂの時間間隔を求めるに際して、パルスピークＡとパルスピークＢの間で、周期Ｔの基準クロック信号でカウントして求められるカウント数ｎ（ｎは１以上の整数）と、前記パルスピークＡと基準クロック信号との位相のずれによる端数時間ａと、前記パルスピークＢと前記基準クロック信号との位相のずれによる端数時間ｂとを測定し、前記パルスピークＡと前記パルスピークＢとの間の時間間隔ｎＴ＋ａ＋ｂを求める工程であることを特徴とするサーボ信号検査装置を提供する。
【００１０】
このサーボ信号検査方法では、パルスピークＡとパルスピークＢの間で、周期Ｔの基準クロック信号でカウントして求められるカウント数ｎ（ｎは１以上の整数）と、前記パルスピークＡと基準クロック信号との位相のずれによる端数時間ａと、前記パルスピークＢと前記基準クロック信号との位相にずれによる端数時間ｂとを測定し、前記パルスピークＡと前記パルスピークＢとの間の時間間隔ｎＴ＋ａ＋ｂを求めることによって、十分な分解能でサーボ信号の時間間隔を測定して、サーボ信号の品質を評価できる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明の磁気テープのサーボ信号検査装置は、高容量化を目指して狭トラック化が進行する磁気テープに対応して、その磁気テープに書き込まれるＴＢＳ信号の品質を、十分な分解能で測定して評価することを可能とする。
【００１２】
また、本発明のサーボ信号検査方法によれば、高容量化を目指して磁気テープが狭トラック化しても、その磁気テープの狭いサーボバンドに書き込まれるＴＢＳ信号を十分な分解能で測定して、その品質を評価することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
次に、本発明の実施形態について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。
図１は、本発明の実施形態に係るサーボ信号検査装置を備えるサーボライタ１０の概略構成を示す模式図である。
このサーボライタ１０は、磁気テープＭＴを送り出すための送出リール１１と、送出リール１１から送り出される磁気テープＭＴを巻き取るための巻取リール１２とを備える。送出リール１１の下流側には、サーボ信号書込みヘッドＨ１、サーボ信号検査ヘッドＨ２が、この順で配設される。そして、サーボ信号書込みヘッドＨ１の上流側と下流側には、磁気テープＭＴをサーボ信号書込みヘッドＨ１に摺接させて走行させるために、磁気テープＭＴを幅方向を規制して案内するテープガイド１３ａ，１３ｂが配設されている。また、サーボ信号検査ヘッドＨ２の近傍には、磁気テープＭＴをサーボ信号検査ヘッドＨ２に沿わせて走行させるためのガイド１４，・・・が設けられている。さらに、サーボ信号検査ヘッドＨ２は、サーボ信号書込みヘッドＨ１によって磁気テープＭＴに書き込まれたサーボ信号の品質を評価するサーボ信号検査部１５に接続されている。サーボ信号検査部１５は、サーボ信号検査ヘッドＨ２によって磁気テープＭＴから読み取られたサーボ信号を受信して、そのサーボ信号の品質を検査して、所定の検査基準にしたがって評価する。このサーボ信号検査部１５が、本発明のサーボ信号検査装置に該当する。なお、サーボライタ１０には、磁気テープＭＴの張力を所定張力に調整するための張力調節装置（図示せず）、張力検出装置Ｔの他、磁気テープＭＴをガイドするためのガイドローラＲ…等の各種装置が備えられている。
【００１４】
前記サーボ信号検査部１５は、図２に示すように、サーボ信号検査ヘッドＨ２によって磁気テープＭＴから読み取られたサーボ信号を増幅する増幅器１５ａと、サーボ信号のパルスピークを検出するピーク検出回路１５ｂと、検出したパルスピークに対応するピーク信号の時間間隔を計測する時間間隔計測回路（時間間隔計測手段）１５ｃと、時間間隔計測回路に基準クロック信号を供給する基準クロック回路１５ｄと、計測されたピーク信号の時間間隔からサーボ信号の品質を評価するデータ処理回路１５ｅとを備える。
【００１５】
増幅器１５ａは、ピーク検出回路１５ｂに入力されるサーボ信号が所定の信号強度になるように、サーボ信号検査ヘッドＨ２から入力されるサーボ信号を増幅する回路である。
また、ピーク検出回路１５ｂは、増幅されたサーボ信号のパルスピークを検出する回路であり、入力された信号をアナログ的に微分しそれがゼロクロスするところをピーク位置とするものや、入力された信号をＡ／Ｄ変換後にデジタル的にピーク位置を検出するものなど、各種の方式のものを採用することができる。
【００１６】
また、基準クロック回路１５ｄは、例えば、水晶振動子、マルチバイブレータ等による基準振動を分周して所定の周波数の基準クロック信号を発生する発振回路、素子を用いることができる。磁気テープＭＴに書き込まれるサーボ信号パターンの時間間隔、求められる測定精度、分解能等に応じて、通常、５００ＭＨｚ±２５ＭＨｚの矩形パルス信号が用いられる。
【００１７】
時間間隔計測回路１５ｃは、基準クロック回路１５ｄから供給される基準クロック信号によって、ピーク検出回路１５ｂで検出されたピーク信号の時間間隔をカウントして、各ピーク信号の間の時間間隔を求める回路である。この時間間隔計測回路１５ｃは、例えば、サーボ信号として、ＴＢＳ信号が書き込まれている磁気テープＭＴを例に取ると、図３（ａ）に示すように、磁気テープＭＴの磁気記録面に、データ信号が書き込まれるデータバンドＤＢ１，ＤＢ２，ＤＢ３，ＤＢ４を挟んで両側に設けられるサーボバンドＳＢ１，ＳＢ２，ＳＢ３，ＳＢ４，ＳＢ５に書き込まれている。そして、テープ走行系によって磁気テープＭＴを搬送させながら磁気テープＭＴと摺動するサーボ信号読取ヘッドＨ２によって、各サーボバンドＳＢ１，ＳＢ２，ＳＢ３，ＳＢ４，ＳＢ５に書き込まれたサーボ信号が再生される。ここで、サーボバンドＳＢ５に書き込まれるタイミングベースドサーボ信号の一例を示すと、図３（ｂ）に示すように、５つの非平行なサーボパターンの対（ＳＰ１Ａ，ＳＰ１Ｂ，ＳＰ１Ｃ，ＳＰ１Ｄ，ＳＰ１Ｅと、ＳＰ２Ａ，ＳＰ２Ｂ，ＳＰ２Ｃ，ＳＰ２Ｄ，ＳＰ２Ｅ）と、さらに４本の非平行なサーボパターン（ＳＰ３Ａ，ＳＰ３Ｂ，ＳＰ３Ｃ，ＳＰ３Ｄと、ＳＰ４Ａ，ＳＰ４Ｂ，ＳＰ４Ｃ，ＳＰ４Ｄ）の対とを１単位として、磁気テープＭＴの走行方向に沿って所定の間隔で書き込むことによって構成される。そして、時間間隔計測回路１５ｃにおいては、これらのサーボパターンＳＰ１Ａ，ＳＰ１Ｂ，ＳＰ１Ｃ，ＳＰ１Ｄ，ＳＰ１Ｅと、サーボパターンＳＰ２Ａ，ＳＰ２Ｂ，ＳＰ２Ｃ，ＳＰ２Ｄ，ＳＰ２Ｅとの間の間隔、さらにサーボパターンＳＰ１Ａ，ＳＰ１Ｂ，ＳＰ１Ｃ，ＳＰ１Ｄ，ＳＰ１Ｅと、次のサーボパターンＳＰ３Ａ，ＳＰ３Ｂ，ＳＰ３Ｃ，ＳＰ３Ｄとの時間間隔を、サーボ信号検査ヘッドＨ２により再生されるサーボ信号のパルスピークの時間間隔によって測定する。
【００１８】
このサーボ信号検査部１５の時間間隔計測回路１５ｃにおいて、ピーク信号の時間間隔の計測について、図４に示すパルスピークＰ１とパルスピークＰ２の間の時間間隔を計測する場合を例にとって説明すると、まず、ピーク検出回路１５ｂによって検出されるサーボ信号のパルスピークＰ１，Ｐ２の時間間隔を、基準クロック回路１５ｄから供給される基準クロック信号でカウントする。
【００１９】
この時間間隔の計測において、図４に示すように、パルスピークＰ１の立ち上がり時ｔ１およびパルスピークＰ２の立ち上がり時ｔ２においては、周期Ｔ0の基準クロック信号との位相のずれによって端数時間ｔａ１およびｔｂ１が発生し、この端数時間ｔａ１およびｔｂ１は基準クロック信号による時間間隔のカウントに入らないため、測定精度を低下させる原因となる。そこで、時間間隔計測回路１５ｃにおいては、端数時間ｔａ１およびｔｂ１を測定して、基準クロック信号のカウント数ｎによる時間ｎＴ0に加えて、パルスピークＰ１とパルスピークＰ２との間の時間間隔（ｔ２−ｔ１）＝ｎＴ＋ｔａ１＋ｔｂ１
を求める。
【００２０】
この時間間隔計測回路１５ｃにおける端数時間の計測は、前記端数時間ｔａ１およびｔｂ１を測定できるものであれば、いずれの回路、機器を用いてもよく、特に制限されない。例えば、時間／電圧変換回路、高周波の端数パルス計数用基準クロック信号を用いて端数パルスの時間間隔を計測する端数パルス計数回路等を用いることができる。前記時間／電圧変換回路は、コンデンサにおける電荷の充電または放電による電圧変化に基づいてパルスピーク間の時間間隔を求めることができる回路であり、例えば、図５に示すとおり、充電回路２０と、放電回路２１と、コンデンサ２２と、ダイオード２３とを備えるものである。充電回路２０は、放電回路２１とともに、コンデンサ２２に接続され、その途中にダイオード２３が接続されている。
【００２１】
この時間／電圧変換回路において、図４に示すように、端数パルス発生回路（図示せず）によって、前記パルスピークＰ１の立ち上がり時ｔ１からさらに基準クロック信号を１カウントする時ｔ１１までの端数時間ｔａと、前記ｔ１１から前記パルスピークＢの立ち上がり時ｔ２からさらに基準クロック信号が１カウントする時ｔ２２までの端数時間ｔｂとが計測される。端数パルスは、例えば、端数パルスｔａの発生について説明すると，パルスピークＰ１とパルスピークＰ２に応じて形成される入力パルスと、その入力パルスを１クロック分遅延させて形成された遅延パルスとの比較から求められる。
【００２２】
この時間／電圧変換回路における端数時間の計測は、充電回路２０にリセット信号２５が入力されると、充電回路２０から一定値の電流がコンデンサ２２に流れて充電（チャージ）されて、図６に示すように、ダイオード２３の順方向電圧Ｖｄに達し、この状態が維持される。次に、放電回路２１に入力される端数パルス信号がハイレベルになると、放電回路２１によって、コンデンサ２２にチャージされた電荷が放電され、端数パルス信号がローレベルになると、放電が停止する。このとき、端数パルス信号のハイレベルの間に放電による電圧変化ΔＶ（図４の端数パルスの積分に該当）と、コンデンサ２２の容量Ｃと、コンデンサ２２から流れ出す電流値ｉ、端数パルス信号の周期Δｔとの間には、ΔＶ＝ｉ・Δｔ／Ｃの関係がある。そこで、Δｔ＝ΔＶ・Ｃ／ｉとなるので、結局、電圧変化ΔＶを測定（図４の積分値のサンプリングに該当）すれば、端数パルス信号の周期Δｔ、すなわち、端数パルスの周期、すなわち、端数時間ｔａおよびｔｂを求めることができる。なお、図４に示すように、前記パルスピークＰ１の立ち上がり時ｔ１からさらに基準クロック信号を１カウントする時ｔ１１までの端数時間ｔａと、前記ｔ１１から前記パルスピークＢの立ち上がり時ｔ２からさらに基準クロック信号が１カウントする時ｔ２２までの端数時間ｔｂを計測するのは、時間／電圧変換回路におけるゼロ測定を回避するためである。
【００２３】
以上のように、時間／電圧変換回路によって測定される端数時間ｔａおよびｔｂと、前記ｔ１１から前記ｔ２２までの基準クロック信号のカウント数ｎとから、パルスピークＰ１と前記パルスピークＰ２との間の時間間隔（ｔ２−ｔ１）＝ｎＴ＋ａ１１−ｂ２２を求めることができる。ここで、時間／電圧変換回路において、端数パルスの時間を変換して得られる電圧変化ΔＶの電圧測定に分解能が７ｂｉｔのＡ／Ｄ変換器を用いた場合、Ａ／変換器の基準クロック周波数を７８．１２５ＭＨｚとすると、０．１ｎｓの分解能が得られる。また、１６ＭＨｚ（周期６２．５ｎｓ）の基準クロックを用い、８ｂｉｔのＡ／Ｄ変換器を用いた場合は、０．２４ｎｓの分解能が得られる。ここで、磁気テープＭＴの走行速度が５ｍ／ｓの場合、パルスピークを検出する分解能が８０ｎｍ以下であることは、パルスピークの時間間隔の測定の分解能が１６ｎｓ以下に相当する。この分解能を実現するためには、端数時間ｔａおよびｔｂの測定を、例えば、８ｂｉｔのＡ／Ｄ変換器を用いて、１６ＭＨｚ以上の基準クロックで測定すれば、十分であることが分かる。これによって、トラックピッチの狭い磁気テープＭＴにおいても、最小分解能が１００ｎｍ以下でパルスピークの間の時間間隔を測定することができるため、磁気テープＭＴの検査・評価が十分な精度で行えるようになる。
【００２４】
このとき、データ処理回路１５ｅは、時間間隔計測回路１５ｃで計測された各パルスピークの時間間隔（ｔ２−ｔ１）によって、サーボ信号書込みヘッドＨ１によって磁気テープＭＴに書き込まれたサーボ信号の品質を検査・評価する。このサーボ信号の品質の検査および評価は、例えば、図３（ｃ）に示すように、サーボパターンＳＰ１ＡによるパルスピークＰＡ１の立ち上がり時からサーボパターンＳＰ１ＢによるパルスピークＰＢ１の立ち上がり時までの時間間隔ＡＢ0、サーボパターンＳＰ１ＡによるパルスピークＰＢ１の立ち上がり時から次のサーボパターンＳＰ１Ｃの立ち上がり時までの時間間隔ＡＣ0等を測定し、その結果から、データ処理回路１５ｅでは、ＡＢ0／ＡＣ0の比等を算出して、その磁気テープＭＴについて規定されている基準に適合するかを検査して、サーボ信号の品質を評価する。
【００２５】
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は前記実施形態には限定されない。例えば、本実施形態では、パルスピークＰ１の立ち上がり時と、パルスピークＰ２の立ち上がり時との間の時間間隔を測定してパルスピークの時間間隔としたが、本発明は、パルスピークの立下り時の間の時間間隔、さらに、パルスピークのピーク間の時間間隔を測定して、サーボ信号の品質の検査・評価を行なうこともできる。具体的には、図６に示す時間／電圧変化が上下反転するように構成された回路において、端数パルス信号がハイレベルになる、すなわち、端数パルスの立ち上がり時にコンデンサに充電が開始される時間／電圧変換回路によって、そのコンデンサへの充電による電圧変化ΔＶ’より、前記のコンデンサの放電による電圧変化に基づく端数パルス信号の周期Δｔの算出と同様にして、端数時間ｔａおよびｔｂを求めることができる。また、高周波の端数パルス計数用基準クロック信号を用いて端数パルスの時間間隔を計測する端数パルス計数回路を別に設けて、端数パルスによる端数時間を高分解能で測定して、所望の精度でパルスピークの時間間隔を求めることもできる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明の実施形態に係るサーボライタの概略構成を示す図である。
【図２】サーボ信号検査部の概略構成を示す模式図である。
【図３】（ａ）は、サーボトラックを示す模式図、（ｂ）は、タイミングベースドサーボ信号のサーボパターンを示す図、（ｃ）はパルスピークの時間間隔を説明する図である。
【図４】パルスピークの時間間隔の測定を説明するタイミング図である。
【図５】時間／電圧変換回路の概略構成を示す模式図である。
【図６】時間／電圧変換回路の動作を説明する図である。
【符号の説明】
【００２７】
１５    サーボ信号検査部
１５ａ  増幅器
１５ｂ  ピーク検出回路
１５ｃ  時間間隔計測回路
１５ｄ  基準クロック回路
１５ｅ  データ処理回路
Ｈ２    サーボ信号検査ヘッド
ＭＴ    磁気テープ
Ｐ１，Ｐ２    パルスピーク
ｔａ，ｔｂ    端数時間
【図１】
2006092585.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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