(57)【要約】【課題】赤外光を用いたゴミ傷除去のフィルムスキャナーでの太い傷の原稿に対して、キズの中央部を非キズと誤判定する事を防ぐ。【解決手段】判定したキズから所定寸法内はキズ判定レヴェルを変更し、他のキズ有無を探索し、他のキズがある場合は、同一のキズとして延長する事で、キズ判定の中抜けを防ぐ。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
フィルムのゴミ傷を判断すべく赤外光を用いた検出において、ゴミ傷と判断された個所に対して所定区間（距離）以内については、判断レヴェルを変更して、ゴミ傷と判断しやすく構成したことを特徴とするゴミ傷判断機能を有するフィルムスキャナー。
【請求項２】
フィルムのゴミ傷を判断すべく赤外光を用いた検出において、ゴミ傷と判断された個所に対して所定区間（距離）以内について、複数個のゴミ傷と判断されるような場合、両者の間の区間について同一のゴミ傷と判断させるようにしたことを特徴とするゴミ傷判断機能を有するフィルムスキャナー。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、フィルムの読み取り装置に於いて、赤外光によってゴミ傷を判断して、ゴミ傷該当部分について可視画像の補間処理を行う事によって、ゴミや傷の無い画像データーを取得できるように構成したゴミ傷判断機能を有するフィルムスキャナーに関係する物である。
【背景技術】
【０００２】
従来、フィルムの染料からの影響が少なく、ゴミ傷からの影響が大きい赤外光を用いて、赤外光の低減部分をゴミ傷の個所として、補間処理を行い、原稿に付着したゴミ傷を排除するように構成していた（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
即ち、傷はその境界部分で赤外光が拡散して、透過赤外光が減少する事を検出する様にしていた。
【特許文献１】特開２０００−１１５４６５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところが傷の幅が大きい場合は、傷の中央部に於いて赤外光が拡散せず、傷と判断できない場合が見受けられる。そのような場合は単に補正を行わないばかりでなく、この傷個所の画像情報を正常画素情報と誤解して、他個所の画像情報に関してもこの欠損画素情報に依って誤修正を行ってしまう場合があった。
【０００５】
本発明は、このような場合の誤判定を防止するために、閾値の変更や、論理的判定の拡張を行い、傷の領域を正しく判定するようにした。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明は下記の構成を備えることにより上記課題を解決できるものである。
【０００７】
（１）フィルムのゴミ傷を判断すべく赤外光を用いた検出において、ゴミ傷と判断された個所に対して所定区間（距離）以内については、判断レヴェルを変更して、ゴミ傷と判断しやすく構成したことを特徴とするゴミ傷判断機能を有するフィルムスキャナー。
【発明の効果】
【０００８】
本発明は、ゴミ傷検知に於いて、確定欠損画素周辺について欠損点を探索する事で、太めの傷や浅く散発的な欠損状況において、欠損判定の中抜けを防止して、誤判定による誤補間を防止する事が出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
閾値調整手段として、所定期間以内の閾値を変更可能にして、よりゴミ傷と判定しやすくする。なお、閾値の変更については中庸に留め、誤動作の発生を防止している。
【００１０】
論理的判定の拡張については、所定区間について、ゴミ傷の再現を検討し、再現する場合にはゴミ傷として拡張する様に構成することで、誤動作可能性は所定寸法内に傷が頻繁に現れる場合に限定し、そのような画像全体の質を問題にする場合を除いては、従来と同等の判別能力を持つように構成した。
【実施例】
【００１１】
赤外画像によるゴミ傷検出：
図１は、傷の断面形状を示す。特に傷は断面として１）に示す様に平面を傷つけ、その傷部分で赤外光が拡散し、赤外画像上に２）の様に減光して受像される。また、ゴミに関しても、赤外画像上で減光して受像される。それに対してフィルム上の可視の画像は、画像を形成する染料が赤外光に関して吸収程度が低いため、赤外画像の減光個所を３）の様に判定する事でゴミ傷を判断する事が出来る。
【００１２】
なお、この染料の可視透過率による赤外透過率の影響が無視できない場合は、染料種類によって異なる影響度≒干渉程度に依って、可視画像の減光程度による赤外画像情報への干渉程度を補償するように構成して、この影響をキャンセルするようにしている。
【００１３】
ゴミ傷補間／補正：
上述のようにゴミ傷の個所（≒欠損個所）が特定されれば、該当する可視画像上のゴミ傷画像個所の画素データーを周囲の非欠損個所の可視画像情報から、フィルター処理または内挿して作成した画素データーで置換することによって、あたかもゴミ傷が無い画像に修正が可能である。
【００１４】
ところが、傷が大きい場合、図１の４）に示す様な断面形状となり、大きく拡散するのは両境界部分となり、赤外画像上は５）に示すような減光を示す。ここで従来通りに判定を行うと６）に示すように両境界部分のみをゴミ傷と判断してしまう。この結果、傷中央部分の補間作業を行わないばかりか、傷中央部分の欠損個所を非欠損個所と誤解して（この欠損部分の可視画像情報を用いて周囲の画素を補正する事で）、あたかも傷を広げるような補間作業を行ってしまう。
【００１５】
無論、判定レヴェルを高くして、傷中央部分を傷と判別するようにする事は可能だが、その際は、他の傷ではない赤外画像のムラなどの部分を傷と誤判断して、誤修正してしまう為、適切な回避策とは言えない。
【００１６】
本発明では、上記状況を考慮して、所定の寸法を仮定して、その範囲内に関しては、判定レヴェルの変更も含めて傷の他端を探索し、他端が存在する場合はその間の欠損区間を拡張する事で、７）で図示するように、傷の中抜けを防止するようにした事を特徴としている。所定区間については、傷の種類に依存するが０．５ｍｍ以下程度の寸法が適切と考えている。なお、処理の実施上は取得解像度によって所定寸法と画素数との関係が異なってくるので、取得解像度によって処理上の画素数を調整する必要がある事は言うまでもない。
【００１７】
装置について説明：
図２は情報取得部分の説明図で、８）に示すフィルムを９）に示す方向に定速駆動しながら、１０）の可視光源で照明された可視画像を１１）の可視リニア（１次元）ＣＣＤで受像し、１２）の赤外光源で照明された赤外画像を１３）の赤外リニア（１次元）ＣＣＤで受像する事で、フィルム上の２次元画像を取得するように構成している。
【００１８】
図３は画像記憶部分のブロック図で、上述ＣＣＤからの画像信号を１４）の可視画像記憶、１５）の赤外画像記憶に収納して、２次元（平面）画像として記憶する。１６）は赤外画像の透過率（≒輝度）のヒストグラムを求める部分で、ヒストグラムからゴミ傷らしい累積分布を示す透過率（≒輝度）を求め、その値と比較する事により、赤外画像の２値化を１７）の比較を用いて行い、ゴミ傷個所を示す欠損画素情報として１８）の欠損画素記憶に収納する。１９）は補間処理部分で１８）の欠損画素情報に基づいて、１４）の可視画像情報の欠損該当個所について周辺非欠損可視情報からの補間作業を行い、２０）の補間画像記憶に補間を施してゴミ傷のない画像として記憶するように構成している。ここで２１）は本発明の傷拡張部分で、欠損画素の周辺を探索して所定寸法以内の複数欠損について欠損補間を行ったり、所定寸法以内について欠損判定レヴェルを一時的に変更して欠損の拡大を試行している。なお、２２）は前記の赤外画像への可視情報干渉をキャンセルするルートで、フィルム種類によって可視情報の低減に応じて該当赤外画像への干渉低減をキャンセルすべく、赤外画像情報を増加するように構成している。
【００１９】
図４は処理フローで、欠損個所について８方向に所定半径（〜０．５ｍｍ）について、欠損判定レヴェルを変更して、他の欠損点を探索して、存在した場合は同方向の欠損点までの区間を補完して新たな欠損点として設定するような処理を行う。探索の結果所定半径以内に新たな欠損点が見つからない場合は、単独の欠損点と判断されるために、従来通りの判定レヴェル結果の値として確定させる。
【００２０】
説明上は、所定半径内のゴミ傷判定レヴェルの変更による欠損点の探索と、所定半径内の（従来レヴェル判定による）欠損点の探索を区別していないが、詳細調査的な前者と、近傍欠損点探索としての後者は、単独でも類似の効果が得られ、判定行為に於ける試行作業が困難な場合は後者のみでも相当の効果が得られる事は言うまでもない。
【００２１】
図５は赤外画像のヒストグラム例で、前記のように通常は可視減光率の影響が少ないので高透過率の分布が主であるが、一部に可視減光率の影響とゴミ傷により赤外透過率が低下した分布を示している。この為、積算頻度として数％の部分に関してゴミ傷の可能性が高いので、それ以下のレヴェルをゴミ傷とみなすための判定レヴェルを出力するように働いている。そこで、上記のような欠損探索のために欠損判定レヴェルを変更する場合は、赤外透過率のムラなどの影響を考慮すると、試行的な作業とはいえ極端な変更は好ましくなく、積算頻度として５〜１０％に相当する程度以下までの引き上げが適当である。
【００２２】
上述の欠損拡張探索の実施例では、探索方向として８方向について行ったが、実際には平面状の欠損点について順次行う処理なので、以前探索を行った（欠損）点の方向については、再度逆方向からの探索は不要である。
【００２３】
なお、実施例では、赤外２値化や補間部分をハード的な説明で行ったが、ヒストグラム計算からをソフトで行う事も可能で、その際は確定２値化情報値をアナログ数値情報範囲を超えた数値に設定する事で、２値化情報とアナログ的情報を混在して記憶する事も可能である。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】媒体断面形状と、ゴミ傷検出結果の説明図
【図２】情報取得部分の断面図
【図３】画像記憶部分のブロック図
【図４】処理フロー図
【図５】赤外画像ヒストグラム
【符号の説明】
【００２５】
１）  一般的な（細い）傷の断面
４）  問題としている幅広い傷の断面
８）  フィルム
１１）１３）  リニアＣＣＤ
２０）  補間画像記憶手段。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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