(57)【要約】【課題】  デジタルカメラにおいて、第１欠陥画素と第２欠陥画素を区別して、撮影条件に応じた適切な欠陥画素を選択して補正を行ない、これによって画質の向上を図る。【解決手段】  本発明に係るデジタルカメラは、ＣＣＤ２の受光面を遮光した状態で複数枚の画像を撮影して、該複数枚の画像の間で各画素の輝度値を比較することにより最も低い輝度値をＳＤＲＡＭ４に記憶し、最低輝度値と第１閾値とを比較して、第１閾値を上回る１或いは複数の最低輝度値の画素を第１欠陥画素として検出する。そして、複数枚の画像の間で各画素の輝度値を比較することにより、最も高い輝度値をＳＤＲＡＭ４に記憶し、最高輝度値と第２閾値とを比較して、第２閾値を上回る１或いは複数の最高輝度値の画素を第２欠陥画素として検出する。その時、撮影条件に応じて、マイクロコンピュータ５により第１欠陥画素又は第２欠陥画素の何れか一方を選択し、欠陥画素の補正を行なう。【選択図】  図１
2006345332.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の画素を配列してなる撮像素子を具えた撮像装置において、
前記撮像素子の欠陥画素を検出するべく、該撮像素子の受光面を遮光した状態で複数枚の画像を撮影する遮光画像撮影手段と、
前記撮像素子を構成している各画素について、前記遮光画素撮影手段によって撮影された複数枚の画像の間でその画素の輝度値を比較して、最も低い輝度値を記憶する最低輝度値記憶手段と、
前記最低輝度値記憶手段によって記憶された各画素についての最低輝度値と所定の閾値とを比較して、該閾値を超える最低輝度値を有する１或いは複数の画素を第１欠陥画素として検出する第１欠陥画素検出手段と、
前記撮像素子を構成している各画素について、前記遮光画像撮影手段によって撮影された複数枚の画像の間でその画素の輝度値を比較して、最も高い輝度値を記憶する最高輝度値記憶手段と、
前記最高輝度値記憶手段によって記憶された各画素についての最高輝度値と所定の閾値とを比較して、該閾値を超える最高輝度値を有する１或いは複数の画素を第２欠陥画素として検出する第２欠陥画素検出手段と、
前記撮像素子の受光面を開放した状態での画像撮影時に、その撮影条件に応じて、前記第１欠陥画素検出手段と第２欠陥画素検出手段の何れか一方を選択し、選択された欠陥画素検出手段によって検出された１或いは複数の欠陥画素の一部若しくは全部を対象として、撮像素子によって撮影された画像に補正を施す画像補正手段
とを具えたことを特徴とする撮像装置。
【請求項２】
前記最低輝度値記憶手段は、２枚の画像を記憶するための第１記憶領域と第２記憶領域を有し、前記複数枚の画像の内、１枚目の画像を第１記憶領域に記憶させた後、残りの全ての画像を順次、第２記憶領域に記憶させつつ、第１記憶領域に記憶されている画像と第２記憶領域に記憶されている画像の間で各画素の輝度値を比較し、第２記憶領域に記憶された画素の輝度値が第１記憶領域に記憶された画素の輝度値より小さいとき、第１記憶領域の画素の輝度値を第２記憶領域の画素の輝度値と置き換えることにより、第１記憶領域に記憶されている前記１枚目の画像の輝度値を前記残りの全ての画像の輝度値によって更新し、最終的に第１記憶領域に記憶された輝度値を最低輝度値として保持するものである請求項１に記載の撮像装置。
【請求項３】
前記最高輝度値記憶手段は、２枚の画像を記憶するための第１記憶領域と第２記憶領域を有し、前記複数枚の画像の内、１枚目の画像を第１記憶領域に記憶させた後、残りの全ての画像を順次、第２記憶領域に記憶させつつ、第１記憶領域に記憶されている画像と第２記憶領域に記憶されている画像の間で各画素の輝度値を比較し、第２記憶領域に記憶された画素の輝度値が第１記憶領域に記憶された画素の輝度値より大きいとき、第１記憶領域の画素の輝度値を第２記憶領域の画素の輝度値と置き換えることにより、第１記憶領域に記憶されている前記１枚目の画像の輝度値を前記残りの全ての画像の輝度値によって更新し、最終的に第１記憶領域に記憶された輝度値を最高輝度値として保持するものである請求項１に記載の撮像装置。
【請求項４】
前記画像補正手段は、撮影条件として被写体及び／又はその周囲の明度を有し、該明度が所定の閾値を下回っているときは、第２欠陥画素検出手段を選択し、該明度が所定の閾値を上回っているときは第１欠陥画素検出手段を選択する請求項１乃至請求項３の何れかに記載の撮像装置。
【請求項５】
前記画像補正手段は、選択された欠陥画素検出手段によって検出された欠陥画素が複数の場合に、高い輝度値を示す欠陥画素から所定数の欠陥画素について優先的に補正を行なう請求項１乃至請求項４の何れかに記載の撮像装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像素子を具えたデジタルカメラなどの撮像装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
図４は、従来のデジタルカメラの構成を示している。図示の如く、該デジタルカメラは、レンズ(87)と、該レンズ(87)から入射した光量を調節する絞り(88)と、レンズ(87)を通過した光を光電変換するＣＣＤ(80)と、相関二重サンプリングを実行するＣＤＳ回路(81)と、アナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換回路(82)と、ＣＣＤ(80)により撮影された画像データを一旦保存する画像用メモリ(83)と、該画像用メモリ(83)に保存された画像データの画像処理を行なうＣＰＵ(84)と、絞り(88)を開閉するための制御などを行なう制御回路(85)と、該制御回路(85)に内蔵されたメモリ(86)とを具えている。該制御回路(85)には、ＣＰＵ(84)によって画像処理の施された画像を記録する記録媒体(89)と、撮像された画像や必要な操作情報を表示する液晶表示装置(８)とが接続されている(例えば特許文献１)。
【０００３】
欠陥画素検出においては、先ず制御回路(85)により絞り(88)を閉じて、ＣＣＤ(80)の受光面を遮光する。この状態で画像を１枚撮影する。その後、撮影した画像の各画素の輝度値と、予め制御回路(85)内のメモリ(86)に記憶している閾値とを比較する。
そして、画素の輝度値が閾値未満であれば、その画素を正常な画素として検出するが、画素の輝度値が閾値以上であれば、その画素を欠陥として検出して、その欠陥画素の位置をメモリ(86)に記憶する。又、該欠陥画素の輝度値をその周囲の画素の輝度の平均値に置き換えることにより、該欠陥画素の輝度値を補正する。
【０００４】
又、図５は従来の他のデジタルカメラの構成を示している。図示の如く、該デジタルカメラは、レンズ(90)と、レンズ(90)から入射した光量を調節する絞り(91)と、レンズ(90)を通過した光を光電変換するＣＣＤ(92)と、アナログ信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器(93)と、ＣＣＤ(92)から出力される画像データを任意ブロック毎に累積加算するための累積加算部(94)と、該累積加算部(94)により得られた累積加算値の記憶や画像データの記憶を行なうメモリ(95)と、欠陥画素検出動作を実行するＣＰＵ(96)と、該欠陥画素の輝度値を保存するための不揮発性メモリ(97)とを具えている(例えば特許文献２)。
【０００５】
欠陥画素検出においては、先ずＣＣＤ(92)により画像を複数枚撮影する。そして、撮影された複数の画像データをメモリ(95)に保存すると共に、各画素の輝度値を累積加算部(94)にて累積加算する。その後、該累積加算値と閾値とを比較して、閾値を超える累積加算値の画素を欠陥画素として検出する。又、該欠陥画素の輝度値をその周囲の画素の輝度の平均値に置き換えることにより、該欠陥画素の輝度値を補正する。
【特許文献１】特開平１０−３２２６０３号公報
【特許文献２】特開２００３−２５００９１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、欠陥画素には、遮光状態において輝度値が安定している欠陥画素(第１欠陥画素)と、輝度値が突発的に変動する欠陥画素(第２欠陥画素)とがあり、上記従来のデジタルカメラにおいては、第１欠陥画素と第２欠陥画素とを区別して検出することが出来なかった。従って、撮影条件によっては、本来補正すべき欠陥画素とは異なる画素の輝度値を補正することもあり、この結果、補正にも拘わらず画質の向上を図ることが出来ない問題があった。
【０００７】
そこで本発明の目的は、撮像装置の欠陥画素検出において、第１欠陥画素と第２欠陥画素とを区別して、撮影条件に応じて第１欠陥画素或いは第２欠陥画素の何れか適切な欠陥を選択して補正を行なうことを可能とし、これによって画質の向上を図ることである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明に係る撮像装置は、複数の画素を配列してなる撮像素子を具えたものであって、
前記撮像素子の欠陥画素を検出するべく、該撮像素子の受光面を遮光した状態で複数枚の画像を撮影する遮光画像撮影手段と、
前記撮像素子を構成している各画素について、前記遮光画素撮影手段によって撮影された複数枚の画像の間でその画素の輝度値を比較して、最も低い輝度値を記憶する最低輝度値記憶手段と、
前記最低輝度値記憶手段によって記憶された各画素についての最低輝度値と所定の閾値(第１閾値)とを比較して、該閾値を超える最低輝度値を有する１或いは複数の画素を第１欠陥画素として検出する第１欠陥画素検出手段と、
前記撮像素子を構成している各画素について、前記遮光画像撮影手段によって撮影された複数枚の画像の間でその画素の輝度値を比較して、最も高い輝度値を記憶する最高輝度値記憶手段と、
前記最高輝度値記憶手段によって記憶された各画素についての最高輝度値と所定の閾値(第２閾値)とを比較して、該閾値を超える最高輝度値を有する１或いは複数の画素を第２欠陥画素として検出する第２欠陥画素検出手段と、
前記撮像素子の受光面を開放した状態での画像撮影時に、その撮影条件に応じて、前記第１欠陥画素検出手段と第２欠陥画素検出手段の何れか一方を選択し、選択された欠陥画素検出手段によって検出された１或いは複数の欠陥画素の一部若しくは全部を対象として、撮像素子によって撮影された画像に補正を施す画像補正手段
とを具えている。
【０００９】
欠陥画素には、遮光状態において常に略一定の輝度値を示す第１欠陥画素と、遮光状態において通常は輝度値が零或いは略零であるが突発的に高い輝度値を示す第２欠陥画素とがある。
本発明においては、第１欠陥画素を検出するために最低輝度値と比較すべき第１閾値と、第２欠陥画素を検出するために最高輝度値と比較すべき第２閾値とを予め設定する。具体的には、一般的な第１欠陥画素の遮光状態における輝度としてその値を超えると第１欠陥画素として目立って問題となる輝度値を第１閾値とする。又、一般的な第２欠陥画素の遮光状態における輝度としてその値を超えると第２欠陥画素として目立って問題となる輝度値を第２閾値とする。
上記本発明に係る撮像装置において、第２欠陥画素の輝度値は通常零或いは略零であり、複数枚の画像を撮影して突発的に高い輝度値が検出されたとしても、最低輝度値記憶手段によって複数枚の画像の間で各画素の最も低い輝度値が記憶されるので、各画素の最低輝度値の内、第２欠陥画素についての最低輝度値も零或いは略零となる。従って、第１欠陥画素検出手段において、各画素の最低輝度値を第１閾値と比較したとき、第２欠陥画素の最低輝度値が第１閾値を超えることはない。この結果、閾値を超える最低輝度値の画素が第１欠陥画素として検出されることとなる。
一方、第２欠陥画素は突発的に高い輝度値を示すので、最高輝度値記憶手段にて記憶した各画素の最高輝度値の内、第２欠陥画素の最高輝度値は第２閾値を上回る。又、一般的な第２欠陥画素の遮光状態における輝度としてその値を超えると第２欠陥画素として目立って問題となる輝度値を第２閾値としているので、第２閾値を超える最高輝度値の画素が第２欠陥画素として検出されることとなる。
この様にして、第１欠陥画素と第２欠陥画素を区別することにより、撮影条件に応じて第１欠陥画素或いは第２欠陥画素の何れかを選択し、選択された欠陥画素について補正を行なう。
【００１０】
具体的構成において、前記最低輝度値記憶手段は、２枚の画像を記憶するための第１記憶領域と第２記憶領域を有し、前記複数枚の画像の内、１枚目の画像を第１記憶領域に記憶させた後、残りの全ての画像を順次、第２記憶領域に記憶させつつ、第１記憶領域に記憶されている画像と第２記憶領域に記憶されている画像の間で各画素の輝度値を比較し、第２記憶領域に記憶された画素の輝度値が第１記憶領域に記憶された画素の輝度値より小さいとき、第１記憶領域の画素の輝度値を第２記憶領域の画素の輝度値と置き換えることにより、第１記憶領域に記憶されている前記１枚目の画像の輝度値を前記残りの全ての画像の輝度値によって更新し、最終的に第１記憶領域に記憶された輝度値を最低輝度値として保持するものである。
【００１１】
該具体的構成においては、最初に第１記憶領域と第２記憶領域に記憶した２枚の画像から各画素の輝度値を比較して、順次小さい輝度値を第１記憶領域に記憶していくことになるので、最終的に第１記憶領域に最低輝度値が記憶されることとなる。
【００１２】
具体的構成において、前記最高輝度値記憶手段は、２枚の画像を記憶するための第１記憶領域と第２記憶領域を有し、前記複数枚の画像の内、１枚目の画像を第１記憶領域に記憶させた後、残りの全ての画像を順次、第２記憶領域に記憶させつつ、第１記憶領域に記憶されている画像と第２記憶領域に記憶されている画像の間で各画素の輝度値を比較し、第２記憶領域に記憶された画素の輝度値が第１記憶領域に記憶された画素の輝度値より大きいとき、第１記憶領域の画素の輝度値を第２記憶領域の画素の輝度値と置き換えることにより、第１記憶領域に記憶されている前記１枚目の画像の輝度値を前記残りの全ての画像の輝度値によって更新し、最終的に第１記憶領域に記憶された輝度値を最高輝度値として保持するものである。
【００１３】
該具体的構成においては、最初に第１記憶領域と第２記憶領域に記憶した２枚の画像から各画素の輝度値を比較して、順次大きい輝度値を第１記憶領域に記憶していくことになるので、最終的に第１記憶領域に最低輝度値が記憶されることとなる。
【００１４】
又、具体的構成において、前記画像補正手段は、撮影条件として被写体及び／又はその周囲の明度を有し、該明度が所定の閾値を下回っているときは、第２欠陥画素検出手段を選択し、該明度が所定の閾値を上回っているときは第１欠陥画素検出手段を選択する。
【００１５】
該具体的構成においては、被写体及び／又はその周囲の明度が閾値を下回るときには、被写体及び／又はその周囲は暗い状態であるため、突発的に高い輝度値を示す第２欠陥画素が非常に目立ってしまう。そこで、第２欠陥画素を選択するのである。
又、被写体及び／又はその周囲の明度が閾値を上回るときには、被写体及び／又はその周囲は比較的明るい状態であるので、第２欠陥画素は目立ちにくい。そこで、第１欠陥画素を選択するのである。
【００１６】
更に、具体的構成において、前記画像補正手段は、選択された欠陥画素検出手段によって検出された欠陥画素が複数の場合に、高い輝度値を有する欠陥画素から所定数の欠陥画素について優先的に補正を行なう。
【００１７】
欠陥の補正処理には時間が必要となるため、補正を行なうことが出来る画素数は制限されている。そこで、上記具体的構成においては、高い輝度値を有する欠陥画素から順に所定の個数だけ優先的に補正を行なうのである。
【発明の効果】
【００１８】
本発明に係る撮像装置によれば、第１欠陥画素と第２欠陥画素とを区別して検出することが出来、撮影条件に応じて第１欠陥画素或いは第２欠陥画素の何れか適切な欠陥画素を選択して補正を行なうので、これによって画質の向上を図ることが出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明をデジタルカメラに実施した形態につき、図面に沿って具体的に説明する。
図１に示す如く、本発明に係るデジタルカメラは、フォーカスレンズ(１)と、該フォーカスレンズ(１)を通過した光を光電変換するＣＣＤ(２)と、該ＣＣＤ(２)からのアナログ信号をデジタル信号に変換するためのアナログ・フロント・エンド(３)と、ＣＣＤ(２)によって撮影された画像が保存されるＳＤＲＡＭ(４)とを具え、該アナログ・フロント・エンド(３)は、ＣＤＳ／ＡＧＣとなる相関二重サンプリング及び自動ゲイン制御回路(30)と、アナログ信号をデジタル信号に変換するＡＤコンバータ(31)とから構成されている。
【００２０】
前記ＳＤＲＡＭ(４)には、欠陥画素検出及び補正動作を実行するマイクロコンピュータ(５)と、圧縮処理や伸長処理等の信号処理を行なう信号処理回路(６)と、画像データを記憶するためのメモリーカード(７)とが接続されている。
又、マイクロコンピュータ(５)には、読み出し専用記憶装置であるフラッシュ・ＲＯＭ(50)が接続されている。
【００２１】
図２及び図３は欠陥画素検出の手続きを表わしている。先ず、図２のステップＳ１にて、ＣＣＤ(２)の受光面を遮光して画像を１枚撮影した後、ステップＳ２に移行して、ステップＳ１にて撮影された画像をＳＤＲＡＭ(４)のメモリバンクＡに記憶する。次に、ステップＳ３に移行して、ＣＣＤ(２)の受光面を遮光して画像を１枚撮影した後、ステップＳ４に移行して、ステップＳ３にて撮影された画像をＳＤＲＡＭ(４)のメモリバンクＢに記憶する。
【００２２】
ステップＳ５にて、メモリバンクＡとメモリバンクＢに記憶された全ての画素を比較したか否か判断し、ノーと判断された場合はステップＳ６にて、メモリバンクＡとメモリバンクＢに記憶された画像の画素の輝度値を読み出す。次に、ステップＳ７に移行して、メモリバンクＡとメモリバンクＢに記憶された画像の間で各画素の輝度値とを比較して、メモリバンクＡの画素の輝度値がメモリバンクＢの画素の輝度値よりも大きいか否かを判断し、イエスと判断された場合はステップＳ８に移行して、メモリバンクＡの画素の輝度値をメモリバンクＢの画素の輝度値に置き換える。ノーと判断された場合はステップＳ５に移行する。
【００２３】
ステップＳ５からステップＳ８までの手続きが完了すると、ステップＳ９に移行して、指定された枚数を撮影したか否か判断し、ノーと判断された場合はステップＳ３から同じ判断を繰り返す一方、イエスと判断された場合はステップＳ１０に移行して、ＳＤＲＡＭ(４)のメモリバンクＡに記憶されている画素の輝度値と第１閾値とを比較して、該第１閾値を超える輝度値を示す画素を第１欠陥画素として検出し、ステップＳ３１に移行して、第１欠陥画素の位置をフラッシュ・ＲＯＭ(50)に記録して、第１欠陥画素検出の手続きを終了する。
尚、第１欠陥画素を検出するために最低輝度値と比較する第１閾値と、第２欠陥画素を検出するために最高輝度値と比較する第２閾値とを予め設定する。具体的には、一般的な第１欠陥画素の遮光状態における輝度としてその値を超えると第１欠陥画素として目立って問題となる輝度値を第１閾値とする。又、一般的な第２欠陥画素の遮光状態における輝度としてその値を超えると第２欠陥画素として目立って問題となる輝度値を第２閾値とする。
【００２４】
次に、図３に示す如く、先ずステップＳ２０にて、ＣＣＤ(２)の受光面を遮光して画像を１枚撮影した後、ステップＳ２１に移行して、ステップＳ２０にて撮影された画像をＳＤＲＡＭ(４)のメモリバンクＡに記憶する。次に、ステップＳ２２に移行して、ＣＣＤ(２)の受光面を遮光して画像を１枚撮影した後、ステップＳ２３に移行して、ステップＳ２２にて撮影された画像をＳＤＲＡＭ(４)のメモリバンクＢに記憶する。
【００２５】
次に、ステップＳ２４に移行して、メモリバンクＡとメモリバンクＢに記憶された全ての画素を比較したか否か判断し、ノーと判断された場合はステップＳ２５にて、メモリバンクＡとメモリバンクＢに記憶された画像の画素の輝度値を読み出す。次に、ステップＳ２６に移行して、メモリバンクＡとメモリバンクＢに記憶された画像の間で各画素の輝度値とを比較して、メモリバンクＡの画素の輝度値がメモリバンクＢの画素の輝度値も小さいか否かを判断し、イエスと判断された場合はステップＳ２７に移行して、メモリバンクＡの画素の輝度値をメモリバンクＢの画素の輝度値に置き換える。ノーと判断された場合はステップＳ２４に移行する。
【００２６】
ステップＳ２４からステップＳ２７までの手続きが完了すると、ステップＳ２８に移行して、指定された枚数を撮影したか否か判断し、ノーと判断された場合はステップＳ２２から同じ判断を繰り返す一方、イエスと判断された場合はステップＳ２９に移行して、第１欠陥画素検出の手続きにて検出された第１欠陥画素の輝度値を零に置き換える。これは、輝度値が第２閾値を超えるにも拘わらず、略一定の高い輝度値をもつ欠陥画素を第２欠陥画素ではなく第１欠陥画素として検出するためである。
その後、ステップＳ３０に移行して、ＳＤＲＡＭ(４)のメモリバンクＡに記憶されている画素の輝度値と第２閾値とを比較して、該第２閾値を上回る輝度値を第２欠陥画素として検出して、ステップＳ３１に移行して、第２欠陥画素の位置をフラッシュ・ＲＯＭ(50)に記録して、第２欠陥画素検出の手続きを終了する。
【００２７】
上記手続きの終了後、ＣＣＤ(２)の受光面を開放して画像を撮影した後に、マイクロコンピュータ(５)により欠陥画素の補正動作が実行される。欠陥画素の補正は、撮影する被写体或いはその周囲の明度と閾値とを比較して、該明度が閾値を下回っているときは、第１欠陥画素をフラッシュ・ＲＯＭ(50)から読み出して、第１欠陥画素の輝度値を補正する。一方、前記明度が閾値を上回っているときは、第２欠陥画素をフラッシュ・ＲＯＭ(50)から読み出して、第２欠陥画素の輝度値を補正する。
【００２８】
ここで、欠陥画素の補正は、例えばその周囲の画素の輝度値を平均して、該平均値を欠陥画素の輝度値と置き換えることによって行なう。ところで、欠陥の補正処理には時間が必要となるため、補正を行なうことが出来る画素数は制限されている。このため、輝度値の高い欠陥画素から所定の個数まで優先的に補正を行なう。そして、最終的に補正された画像をメモリーカード(７)に保存する。
【００２９】
上記欠陥画素の検出から補正までの動作を具体的な数値を用いて説明する。例えば、１０回露光して撮像した場合に、常に１００の輝度値を出力する画素Ａと、２回だけ４００の輝度値を出力し、１回は１００の輝度値を出力し、残りの７回は２０の輝度値を出力する画素Ｂと、１回だけ３００の輝度値を出力し、残りの９回は１０の輝度値を出力する画素Ｃとがあるとする。
【００３０】
先ず、第１欠陥画素検出の手続きにおいて、ＳＤＲＡＭ(４)のメモリバンクＡには、画素Ａの輝度値は１００、画素Ｂの輝度値は２０及び画素Ｃの輝度値は１０と記憶する。ここで各画素の輝度値を、第１閾値と比較して、第１閾値より輝度値が大きい画素Ａを第１欠陥画素と判断して、画素Ａの欠陥位置をフラッシュ・ＲＯＭ(50)に記録する。
【００３１】
次に、第２欠陥画素検出の手続きにおいて、ＳＤＲＡＭ(４)のメモリバンクＡには、画素Ａの輝度値は１００、画素Ｂの輝度値は４００及び画素Ｃの輝度値は３００と記憶するが、画素Ａは第１欠陥画素として検出しているので、画素Ａの輝度値を零と置き換える。ここで、各画素の輝度値を第２閾値と比較して、第２閾値より輝度値が大きい画素Ｂ及び画素Ｃを第２欠陥画素と判断して、画素Ｂと画素Ｃの欠陥位置をフラッシュ・ＲＯＭ(50)に記録する。そして、デジタルカメラにて画像を撮影した後、その撮影条件に応じてマイクロコンピュータ(５)が補正を実行する。
【００３２】
例えば、撮影条件において周囲の明度が高い場合には、画素Ｂと画素Ｃのような第２欠陥画素は目立ちにくいので、画素Ａのような安定した輝度値を示す第１欠陥画素が補正される。ここで、画素Ａは周辺の画素の輝度値を平均した値を以って補正されることとなる。これより、全体的にノイズの少ない画像を得ることが出来る。
一方、星空や夜景を撮影する場合には、第１欠陥画素は熱ノイズや回路的な不規則ノイズに紛れて目立ちにくいが、画素Ｂと画素Ｃのような突発的に高い輝度値を示す第２欠陥画素は非常に目立ってしまう。このため、画素Ｂと画素Ｃのような第２欠陥画素を補正する。このとき、画素Ｃの輝度値よりも画素Ｂの輝度値が大きいため、画素Ｂから優先的に補正を行ない、次に画素Ｃの補正を行なう。ここで、画素Ｂと画素Ｃは、その周囲の画素の輝度値を平均した値を以って補正されることとなる。これによって、画質の向上を図ることが出来る。
【００３３】
上記実施例によれば、ＣＣＤ(２)の欠陥画素検出において、第１欠陥画素と第２欠陥画素とを区別して検出することが出来、撮影条件に応じて第１欠陥画素或いは第２欠陥画素の何れか適切な欠陥画素を選択して補正を行なうので、これによって画質の向上を図ることが出来る。
【００３４】
尚、本発明の各部構成は上記実施の形態に限らず、特許請求の範囲に記載の技術的範囲内で種々の変形が可能である。例えば、本実施例では撮像素子としてＣＣＤ(２)を使用しているが、撮像素子としてＣＭＯＳを使用することも可能である。
又、本実施例では、マイクロコンピュータ(５)により欠陥画素の検出と補正を行なっているが、信号処理回路(６)に同等の機能を組み込んで、該信号処理回路(６)により欠陥画素の検出と補正を行なうことも可能である。但し、検出結果を保存するために、フラッシュ・ＲＯＭに信号処理回路を接続する必要がある。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明を実施したデジタルカメラの構成を表わすブロック図である。
【図２】本発明の第１欠陥画素検出の手続きを表わすフローチャートである。
【図３】本発明の第２欠陥画素検出の手続きを表わすフローチャートである。
【図４】従来のデジタルカメラの一例を表わすブロック図である。
【図５】従来の他のデジタルカメラの一例を表わすブロック図である。
【符号の説明】
【００３６】
(１)  フォーカスレンズ
(２)  ＣＣＤ
(３)  アナログ・フロント・エンド
(30)  ＣＤＳ／ＡＧＣ
(31)  ＡＤコンバータ
(４)  ＳＤＲＡＭ
(５)  マイクロコンピュータ
(50)  フラッシュ・ＲＯＭ
(６)  信号処理回路
(７)  メモリーカード
【図１】
2006345332.tif 000003
【図２】
2006345332.tif 000004
【図３】
2006345332.tif 000005
【図４】
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【図５】
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