(57)【要約】【課題】  被対象物に対する処理を行う処理システムにおいて、処理の不良により被対象物に不良が発生している場合に、熟練度が低いユーザであっても、不良要因を的確かつ迅速に推定することを可能とする工程管理装置を提供する。【解決手段】  推定処理部２１は、推定知識記録部２３から不良要因に至るまでの条件に関する情報を読み出し、該条件を順に質問としてユーザに対して提示する。各条件には分析ＩＤが対応付けられており、データ処理部３２は、質問に対応する条件の分析ＩＤ情報を受け付けることによって、該当ＩＤに対応するデータ収集方法情報およびデータ加工方法情報をデータ収集加工テーブル３５から読み出し、これに従って分析を行い、分析結果をユーザに対して提示する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
被対象物に対して処理を行う処理システムにおいて発生しうる複数の不良結果のそれぞれに対して、不良要因の候補を１つ以上対応付けるとともに、各不良要因に至るまでの条件に関する情報、および各条件に対応する分析ＩＤ情報を含む要因推定知識情報を記録する推定知識記録部と、
上記処理システムにおける処理過程の検査結果に関する検査結果データの分析方法情報、および、各分析方法情報に対応する分析ＩＤ情報を記録する分析方法記録部と、
特定の不良結果に対応する上記要因推定知識情報に基づいて、該当不良結果に対応する不良要因を推定する要因推定手段と、
上記分析方法情報に基づいて検査結果データの分析を行う分析処理手段とを備え、
上記要因推定手段が、不良要因の推定に必要とされる上記条件を質問としてユーザに対して提示するとともに、
上記分析処理手段が、上記質問に対応する条件の分析ＩＤ情報を受け付けることによって、該当ＩＤに対応する上記分析方法情報に基づいて分析を行い、分析結果をユーザに対して提示することを特徴とする工程管理装置。
【請求項２】
上記分析方法情報が、上記検査結果データの中からどの検査結果データを収集すべきかを示すデータ収集方法情報、および、収集されたデータの加工方法に関するデータ加工方法情報であり、上記分析ＩＤが、上記データ収集方法情報と上記データ加工方法情報との組合せを特定することを特徴とする請求項１記載の工程管理装置。
【請求項３】
上記処理システムにおける処理過程を検査する検査装置から検査結果データを受け付ける検査結果入力手段と、
上記検査結果入力手段によって受け付けられた検査結果データを記録する検査結果記録部とをさらに備え、
上記分析処理手段が、上記検査結果記録部から検査結果データを取得し、分析を行うことを特徴とする請求項１記載の工程管理装置。
【請求項４】
上記分析処理手段が、ユーザからの入力によって上記分析ＩＤ情報を受け付けることを特徴とする請求項１記載の工程管理装置。
【請求項５】
上記要因推定手段が、現時点で提示している質問に対応する条件の分析ＩＤ情報を上記分析処理手段に送信するとともに、
上記分析処理手段が、上記要因推定手段から上記分析ＩＤ情報を受け付けることを特徴とする請求項１記載の工程管理装置。
【請求項６】
上記要因推定手段が、不良結果に関する情報を上記分析処理手段に送信するとともに、
上記分析処理手段が、上記要因推定手段から受け付けた上記不良結果に関する情報および上記分析方法情報に基づいて分析を行うことを特徴とする請求項１記載の工程管理装置。
【請求項７】
請求項１から６のいずれか１項に記載の工程管理装置を動作させる工程管理プログラムであって、コンピュータを上記の各手段として機能させるための工程管理プログラム。
【請求項８】
請求項７に記載の工程管理プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【請求項９】
被対象物に対して処理を行う処理システムにおいて発生しうる複数の不良結果のそれぞれに対して、不良要因の候補を１つ以上対応付けるとともに、各不良要因に至るまでの条件に関する情報、および各条件に対応する分析ＩＤ情報を含む要因推定知識情報を記録する推定知識記録ステップと、
上記処理システムにおける処理過程の検査結果に関する検査結果データの分析方法情報、および、各分析方法情報に対応する分析ＩＤ情報を記録する分析方法記録ステップと、
特定の不良結果に対応する上記要因推定知識情報に基づいて、該当不良結果に対応する不良要因を推定する要因推定ステップと、
上記分析方法情報に基づいて検査結果データの分析を行う分析処理ステップとを備え、
上記要因推定ステップにおいて、不良要因の推定に必要とされる上記条件が質問としてユーザに対して提示されるとともに、
上記分析処理ステップにおいて、上記質問に対応する条件の分析ＩＤ情報が受け付けられることによって、該当ＩＤに対応する上記分析方法情報に基づいて分析が行われ、分析結果がユーザに対して提示されることを特徴とする工程管理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、被対象物の処理工程を管理する工程管理装置、工程管理方法、工程管理プログラム、および該プログラムを記録した記録媒体に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
工場の生産ラインにおいて、歩留まりを向上させるために工程の改善処理が必要とされている。工程改善は、製造品の不良の原因となる工程を特定し、その原因を取り除くように工程を修正することによって行われる。
【０００３】
しかしながら、複数の工程からなる製造工程においては、不良の原因の候補として、製造装置の部品の欠陥、製造装置の設定の問題、および搬送経路での問題など、多種多様な要因が考えられる。よって、不良の原因を特定することは非常に困難である。
【０００４】
また、不良の原因となる現象が現れると、製造品に不良の症状が現れるのはもちろんのこと、製造装置の動作履歴や検査装置の検査履歴に対しても何らかの影響を与えることになる。これらの不良品の症状に関するデータ、および、製造装置の動作履歴や検査装置の検査履歴に関するデータは膨大なものとなり、不良の発生に関する分析を行うことも困難である。
【０００５】
ここで、生産管理に関する経験が豊富な生産管理担当者は、不良原因が不良品、製造装置、検査装置に与える影響の関係、およびその影響の解釈の仕方を経験的に知っており、効率的に工程改善を実施することが可能である。しかしながら、経験の浅い生産管理担当者は、原因を１つずつ吟味して原因の特定を行うことになり、工程の改善処理に多大な時間を費やすことになる。
【０００６】
したがって、生産現場において、いかなる熟練度の生産管理担当者であっても、異常原因の推定を高確度かつ高効率で実現可能な手法が要望されている。このような手法として、以下に示す特許文献１には、プリント基板の生産ラインにおける不良原因分析方法が開示されている。この不良原因分析方法では、印刷結果と装着結果との関連、装着結果と半田付け結果との関連などが確率によって示され、この確率に基づいて不良要因を推定するようになっている。
【特許文献１】特許第３５１１６３２号公報（発行日：平成１６年３月２９日）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、上記の特許文献１に開示されている方法では、推定される不良要因は各工程における処理内容となるので、複数の工程間の相互作用によって生じる不良など、各工程における処理単独を原因とするものではない不良については、不良要因を的確に特定することができない、という問題がある。
【０００８】
このような不良要因を的確に特定するためには、想定される全ての不良発生メカニズムに関する知識を全て確認していくことによって不良要因の推定を行うことが考えられる。しかしながら、この方法の場合、不良要因の推定に極めて多くの時間がかかるという問題がある。
【０００９】
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、被対象物に対する処理を行う処理システムにおいて、処理の不良により被対象物に不良が発生している場合に、熟練度が低いユーザであっても、不良要因を的確かつ迅速に推定することを可能とする工程管理装置、工程管理プログラム、工程管理プログラムを記録した記録媒体、および工程管理方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明に係る工程管理装置は、上記課題を解決するために、被対象物に対して処理を行う処理システムにおいて発生しうる複数の不良結果のそれぞれに対して、不良要因の候補を１つ以上対応付けるとともに、各不良要因に至るまでの条件に関する情報、および各条件に対応する分析ＩＤ情報を含む要因推定知識情報を記録する推定知識記録部と、上記処理システムにおける処理過程の検査結果に関する検査結果データの分析方法情報、および、各分析方法情報に対応する分析ＩＤ情報を記録する分析方法記録部と、特定の不良結果に対応する上記要因推定知識情報に基づいて、該当不良結果に対応する不良要因を推定する要因推定手段と、上記分析方法情報に基づいて検査結果データの分析を行う分析処理手段とを備え、上記要因推定手段が、不良要因の推定に必要とされる上記条件を質問としてユーザに対して提示するとともに、上記分析処理手段が、上記質問に対応する条件の分析ＩＤ情報を受け付けることによって、該当ＩＤに対応する上記分析方法情報に基づいて分析を行い、分析結果をユーザに対して提示することを特徴としている。
【００１１】
また、本発明に係る工程管理方法は、上記課題を解決するために、被対象物に対して処理を行う処理システムにおいて発生しうる複数の不良結果のそれぞれに対して、不良要因の候補を１つ以上対応付けるとともに、各不良要因に至るまでの条件に関する情報、および各条件に対応する分析ＩＤ情報を含む要因推定知識情報を記録する推定知識記録ステップと、上記処理システムにおける処理過程の検査結果に関する検査結果データの分析方法情報、および、各分析方法情報に対応する分析ＩＤ情報を記録する分析方法記録ステップと、特定の不良結果に対応する上記要因推定知識情報に基づいて、該当不良結果に対応する不良要因を推定する要因推定ステップと、上記分析方法情報に基づいて検査結果データの分析を行う分析処理ステップとを備え、上記要因推定ステップにおいて、不良要因の推定に必要とされる上記条件が質問としてユーザに対して提示されるとともに、上記分析処理ステップにおいて、上記質問に対応する条件の分析ＩＤ情報が受け付けられることによって、該当ＩＤに対応する上記分析方法情報に基づいて分析が行われ、分析結果がユーザに対して提示されることを特徴としている。
【００１２】
上記の構成および方法では、要因推定知識情報および分析方法情報が予め用意されている。ここで、要因推定知識情報は、上記のように、複数の不良結果のそれぞれに対して、不良要因の候補を１つ以上対応付けるとともに、各不良要因に至るまでの条件に関する情報、および各条件に対応する分析ＩＤ情報を含んでいる。また、分析方法情報は、上記のように、複数の分析方法情報とともに、各分析方法情報を特定する分析ＩＤ情報を含んでいる。すなわち、要因推定知識情報における各条件と、分析方法情報との対応付けが、分析ＩＤによって行われていることになる。
【００１３】
そして、不良要因の推定に必要とされる上記条件が質問としてユーザに対して提示されると、該当質問の条件に分析ＩＤによって対応付けられている分析方法情報に従って分析が行われた分析結果がユーザに提示されることになる。よって、ユーザは、不良要因の推定に必要とされる質問に対して、検査結果データの分析をどのように行えばよいかについての知識がなくても、最も適切な検査結果データの分析結果を得ることが可能となる。よって、工程管理に不慣れなユーザであっても、迅速かつ的確に要因推定を行うことを可能とする工程管理装置を提供することができる。
【００１４】
また、例えば要因推定知識情報に分析方法情報を含める場合には、要因推定知識情報における全ての条件に対して分析方法情報をそれぞれ記録しておく必要があることになり、情報量が膨大となる。これに対して、上記の構成および方法によれば、分析方法情報と要因推定知識情報とをそれぞれ別に設けるとともに、分析方法情報と要因推定知識情報とを分析ＩＤによって結びつけることによって、用意しておくべき情報の量を低減することができる。
【００１５】
また、本発明に係る工程管理装置は、上記の構成において、上記分析方法情報が、上記検査結果データの中からどの検査結果データを収集すべきかを示すデータ収集方法情報、および、収集されたデータの加工方法に関するデータ加工方法情報であり、上記分析ＩＤが、上記データ収集方法情報と上記データ加工方法情報との組合せを特定する構成としてもよい。
【００１６】
上記の構成によれば、分析方法情報としてデータ収集方法情報およびデータ加工方法情報が含まれているので、分析処理手段は、データ収集方法情報に基づいて検査結果データから必要となる検査結果データを収集し、データ加工方法情報に基づいて収集した検査結果データを加工して分析を行うことができる。よって、分析処理手段による分析をより的確に行わせることが可能となる。
【００１７】
また、本発明に係る工程管理装置は、上記の構成において、上記処理システムにおける処理過程を検査する検査装置から検査結果データを受け付ける検査結果入力手段と、上記検査結果入力手段によって受け付けられた検査結果データを記録する検査結果記録部とをさらに備え、上記分析処理手段が、上記検査結果記録部から検査結果データを取得し、分析を行う構成としてもよい。
【００１８】
上記の構成によれば、検査装置において検査された結果としての検査結果データが検査結果入力手段によって受け付けられ、この受け付けられた検査結果データが検査結果記録部に記録されることになる。よって、分析処理手段は、検査結果記録部に記録された検査結果データを読み出すことによって分析を行えばよいので、例えば検査装置から検査結果を取得する場合と比較して、必要となる検査結果データを必要となる時に迅速に取得することが可能となる。
【００１９】
また、本発明に係る工程管理装置は、上記の構成において、上記分析処理手段が、ユーザからの入力によって上記分析ＩＤ情報を受け付ける構成としてもよい。
【００２０】
上記の構成によれば、分析処理手段に対する分析ＩＤ情報の入力が、ユーザによって行われることになる。よって、要因推定手段から分析処理手段へ分析ＩＤ情報を受け渡す手段を設ける必要がなくなるので、要因推定手段および分析処理手段をそれぞれ独立して設ける場合に、各構成の簡素化を図ることができる。
【００２１】
また、本発明に係る工程管理装置は、上記の構成において、上記要因推定手段が、現時点で提示している質問に対応する条件の分析ＩＤ情報を上記分析処理手段に送信するとともに、上記分析処理手段が、上記要因推定手段から上記分析ＩＤ情報を受け付ける構成としてもよい。
【００２２】
上記の構成によれば、要因推定手段が、現時点で提示している質問に対応する条件の分析ＩＤ情報を上記分析処理手段に送信し、分析処理手段が要因推定手段から分析ＩＤ情報を受け付けるので、提示されている質問に対応する分析処理がユーザの手を介することなく実行されることになる。よって、要因推定処理をより迅速に行うことが可能となる。
【００２３】
また、本発明に係る工程管理装置は、上記の構成において、上記要因推定手段が、不良結果に関する情報を上記分析処理手段に送信するとともに、上記分析処理手段が、上記要因推定手段から受け付けた上記不良結果に関する情報および上記分析方法情報に基づいて分析を行う構成としてもよい。
【００２４】
上記の構成によれば、不良結果に関する情報が、要因推定手段から分析処理手段に受け渡されることになる。よって、分析処理手段に対してユーザが不良結果に関する情報を入力する手間を省くことができるので、要因推定処理をより迅速に行うことが可能となる。
【００２５】
なお、上記工程管理装置は、コンピュータによって実現してもよく、この場合には、コンピュータを上記各手段として動作させることにより上記工程管理装置をコンピュータにて実現させる工程管理装置の工程管理プログラム、およびそれを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体も、本発明の範疇に入る。
【発明の効果】
【００２６】
本発明に係る工程管理装置は、以上のように、被対象物に対して処理を行う処理システムにおいて発生しうる複数の不良結果のそれぞれに対して、不良要因の候補を１つ以上対応付けるとともに、各不良要因に至るまでの条件に関する情報、および各条件に対応する分析ＩＤ情報を含む要因推定知識情報を記録する推定知識記録部と、上記処理システムにおける処理過程の検査結果に関する検査結果データの分析方法情報、および、各分析方法情報に対応する分析ＩＤ情報を記録する分析方法記録部と、特定の不良結果に対応する上記要因推定知識情報に基づいて、該当不良結果に対応する不良要因を推定する要因推定手段と、上記分析方法情報に基づいて検査結果データの分析を行う分析処理手段とを備え、上記要因推定手段が、不良要因の推定に必要とされる上記条件を質問としてユーザに対して提示するとともに、上記分析処理手段が、上記質問に対応する条件の分析ＩＤ情報を受け付けることによって、該当ＩＤに対応する上記分析方法情報に基づいて分析を行い、分析結果をユーザに対して提示する構成である。
【００２７】
よって、工程管理に不慣れなユーザであっても、的確に要因推定を行うことを可能とする工程管理装置を提供することができるという効果を奏する。また、分析方法情報と要因推定知識情報とをそれぞれ別に設けるとともに、分析方法情報と要因推定知識情報とを分析ＩＤによって結びつけることによって、用意しておくべき情報の量を低減することができるという効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２８】
本発明の一実施形態について図面に基づいて説明すると以下の通りである。本実施形態では、プリント基板の生産ラインを有する生産システムに適用される工程管理システムについて説明するが、本発明は、プリント基板の生産システムに限定されるものではなく、被対象物の処理工程の管理全般に適用することが可能である。なお、被対象物の処理工程とは、例えば、工業製品の生産工程、鉱工業製品、農産物、または原料の検査工程、廃棄対象物（例えば、工場廃棄物、工場廃水、廃ガス、ゴミ等）の処理工程、廃棄対象物の検査工程、設備の検査工程、リサイクル工程等を意義する。
【００２９】
（生産システムの構成）
まず、本実施形態に係る工程管理システムが適用されるプリント基板の生産システム（処理システム）１について、図２に基づいて説明する。生産システム１における生産ラインは、プリント基板を製造する各工程（印刷工程、実装工程、リフロー工程等）を含んでいる。同図に示す例では、生産システム１は、基板上に半田をペーストする半田印刷工程を行う印刷装置１１、基板上に電子部品を実装する部品実装工程を行う装着装置１２、基板上の電子部品を半田付けするリフロー工程を行う半田付け装置１３、および生産システム１の管理を行う工程管理装置１０を備えている。印刷装置１１、装着装置１２、および半田付け装置１３は、生産システム１の製造品の流れにおける上流から下流に向けてこの順序で配置されている。
【００３０】
また、印刷装置１１の近傍には印刷検査装置１４ａが配置され、装着装置１２の近傍には装着検査装置１４ｂが配置され、半田付け装置１３の近傍には半田付け検査装置１４ｃが配置されている。印刷検査装置１４ａは、印刷装置１１にて処理された基板の品質を検査するものである。装着検査装置１４ｂは、装着装置１２にて処理された基板を検査するものである。半田付け検査装置１４ｃは、半田付け装置１３にて処理された基板を検査するものである。なお、以下では、印刷検査装置１４ａ、装着検査装置１４ｂ、および半田付け検査装置１４ｃを区別する必要のない場合には、単に検査装置１４と称する。
【００３１】
また、工程管理装置１０は、生産システム１全体を統括管理するとともに、後述する要因推定処理および分析処理を行う。この工程管理装置１０は、生産管理者としてのユーザから各種情報の入力や指示入力を受け、各種処理を行う。
【００３２】
工程管理装置１０、印刷装置１１、装着装置１２、半田付け装置１３、印刷検査装置１４ａ、装着検査装置１４ｂ、および半田付け検査装置１４ｃは、通信回線によって互いに接続されることによって通信ネットワークを形成している。なお、通信ネットワークとしては、各装置が互いに通信可能な形態であればどのようなものでもよく、例えばＬＡＮ（Local Area Network）が形成される形態が想定される。
【００３３】
なお、工程管理装置１０とは別に、ユーザが操作入力を行う端末装置を上記通信ネットワークに接続した状態で別に設け、この端末装置によって工程管理装置１０へのデータ入力や各種画面表示が行われる形態としてもよい。
【００３４】
また、上記の例では、印刷装置１１、装着装置１２、および半田付け装置１３のそれぞれに対応して検査装置１４を設けた構成となっているが、生産システム１において少なくとも１つの検査装置１４が設けられていればよい。例えば、少なくとも半田付け検査装置１４ｃが設けられていれば、最終的な製造結果に発生している不良を検出することが可能となる。
【００３５】
（工程管理装置の構成）
次に、工程管理装置１０の構成について図１を参照しながら以下に説明する。同図に示すように、工程管理装置１０は、要因推定部（要因推定手段）２０、分析処理部（分析処理手段）３０、検査結果入力部（検査結果入力手段）４０、入力部５０、および表示部６０を備えた構成となっている。
【００３６】
入力部５０は、ユーザからの指示入力、および情報入力などを受け付けるものであり、例えばキーボードやボタンなどのキー入力手段や、マウスなどのポインティングデバイスなどによって構成される。表示部６０は、工程管理装置１０における各種処理内容を表示するものであり、例えば液晶表示装置、ＣＲＴ（Cathode Ray Tube）などの表示装置によって構成される。
【００３７】
検査結果入力部４０は、生産システム１における製造過程の検査結果に関するデータを受け付けるものであり、印刷結果入力部４１、装着結果入力部４２、半田付け結果入力部４３、および製造装置履歴入力部４４を備えている。印刷結果入力部４１は、印刷検査装置１４ａによる検査結果を受け付ける。装着結果入力部４２は、装着検査装置１４ｂによる検査結果を受け付ける。半田付け結果入力部４３は、半田付け検査装置１４ｃによる検査結果を受け付ける。製造装置履歴入力部４４は、印刷装置１１、装着装置１２、および半田付け装置１３から、製造履歴に関する情報を受け付ける。
【００３８】
なお、検査結果入力部４０は、印刷装置１１、装着装置１２、半田付け装置１３、印刷検査装置１４ａ、装着検査装置１４ｂ、および半田付け検査装置１４ｃの少なくとも１つの装置から検査結果に関する情報を受け付けるようになっていればよい。例えば、半田付け検査装置１４ｃから半田付け結果に関する検査結果データのみを受け付けるようになっていれば、最終的な製造結果に発生している不良に関する検査結果データを取得することが可能となる。
【００３９】
分析処理部３０は、検査結果に関するデータに基づいて製造状態の分析処理を行うものであり、分析表示制御部３１、データ処理部３２、分析方法検索部３３、データ収集処理部３４、データ収集加工テーブル（分析方法記録部）３５、および工程状態データベース（検査結果記録部）３６を備えている。
【００４０】
工程状態データベース３６は、検査結果入力部４０によって受け付けられた、生産システム１における製造過程の検査結果に関するデータ（検査結果データ）を記録するデータベースである。すなわち、工程状態データベース３６には、印刷検査装置１４ａによる検査結果、装着検査装置１４ｂによる検査結果、半田付け検査装置１４ｃによる検査結果、印刷装置１１、装着装置１２、および半田付け装置１３から、製造履歴に関する情報が記録される。この工程状態データベース３６は、例えばハードディスク装置などの記録媒体に記録される。
【００４１】
データ収集加工テーブル３５は、データの収集方法および収集されたデータの加工方法についての情報を記録している。データの収集方法についての情報とは、工程状態データベース３６に記録されている多数の検査結果データの中から、どのデータを収集するかについての情報を示している。データの加工方法についての情報とは、対応するデータの収集方法によって収集されたデータをどのように加工して分析を行うべきかについての情報を示している。そして、データ収集加工テーブル３５には、データの収集方法および収集されたデータの加工方法についての情報の組合せを特定する分析ＩＤも記録されている。このデータ収集加工テーブル３５は、例えばハードディスク装置などの記録媒体に記録される。なお、データ収集加工テーブル３５の詳細については後述する。
【００４２】
データ処理部３２は、分析処理部３０における分析処理に必要とされるデータ処理を行う。まず、データ処理部３２は、入力部５０から入力された指示入力に応じて、分析方法検索部３３からデータ収集方法およびデータ加工方法に関する情報を取得する。取得したデータ収集方法の情報は、データ収集処理部３４に伝送され、分析に必要とされるデータが取得される。そして、データ処理部３２は、取得したデータ加工方法に基づいて、取得したデータに対してデータ処理を行い、分析結果を分析表示制御部３１に伝送する。
【００４３】
分析方法検索部３３は、データ収集加工テーブル３５から、データ処理部３２からの指示に対応したデータ収集方法およびデータ加工方法に関する情報を取得し、取得した情報をデータ処理部３２に伝送する処理を行う。データ処理部３２から上記分析ＩＤを特定する情報が送られることによって、分析方法検索部３３は取得すべきデータ収集方法およびデータ加工方法を特定する。なお、分析ＩＤとしては、文字による情報、数値による情報、バーコードによる情報などが挙げられる。バーコードによる情報が用いられる場合、入力部５０としてバーコードリーダが用いられることになる。
【００４４】
データ収集処理部３４は、工程状態データベース３６から、データ処理部３２からの指示に対応した検査結果データを取得し、これをデータ処理部３２に伝送する処理を行う。分析表示制御部３１は、分析処理に関する表示部６０における画面表示を制御する。分析処理に関する画面表示としては、後述する分析結果画面が挙げられる。
【００４５】
要因推定部２０は、ユーザによって入力された不良結果に関する情報に関して、その不良結果の要因を推定する処理を行うものであり、推定処理部２１、要因推定表示制御部２２、および推定知識記録部２３を備えている。
【００４６】
推定知識記録部２３は、要因推定知識情報を記録している。要因推定知識情報は、複数の不良結果のそれぞれに対して、その要因を探索するための情報である。この推定知識記録部２３は、例えばハードディスク装置などの記録媒体に記録される。この要因推定知識情報の詳細については後述する。
【００４７】
推定処理部２１は、入力部５０から入力された不良結果に関する要因推定知識情報を推定知識記録部２３から読み出し、該要因推定知識情報に基づいて要因の推定を行う。詳細は後述するが、要因推定知識情報は、条件としての分岐判断が含まれており、この分岐判断に対する回答の入力が入力部５０から入力されることによって要因推定が行われる。要因推定表示制御部２２は、要因推定処理に関する表示部６０における画面表示を制御する。要因推定処理に関する画面表示としては、後述する要因推定画面が挙げられる。
【００４８】
（データ収集加工テーブル）
次に、データ収集加工テーブル３５について図３を参照しながら説明する。同図に示すように、データ収集加工テーブル３５は、データの収集方法および収集されたデータの加工方法についての情報の組合せを特定するための複数の分析ＩＤ、および、各分析ＩＤに対応するデータ収集方法情報ならびにデータ加工方法情報を含んでいる。
【００４９】
データ収集方法情報は、工程状態データベース３６に格納されている検査結果データの中からどのデータを収集すべきかについての情報を示している。以下に、図３に示す例におけるデータ収集方法情報の例について列挙する。
【００５０】
分析ＩＤ：Ａに対応するデータ収集方法情報は、指定された不良品と同一基板の部品全ての部品ズレ量となっている。分析ＩＤ：Ｂに対応するデータ収集方法情報は、指定された不良品と同一ロットの生産開始後からの全ての基板の不良部品と同じ位置の部品のハンダ印刷転写率となっている。分析ＩＤ：Ｃに対応するデータ収集方法情報は、指定された不良品と同一日のライン起動時間から指定された不良品までの期間に生産された基板の不良部品と同じ位置の部品の部品ズレ量となっている。分析ＩＤ：Ｄに対応するデータ収集方法情報は、指定された不良品と同一ロットの全ての基板における全ての部品の部品ズレ量とその部品を実装したマウンタのノズルの番号となっている。
【００５１】
データ加工方法情報は、データ収集方法情報に基づいて収集されたデータの分析方法および分析結果の表示方法の情報を示している。以下に、図３に示す例におけるデータ加工方法情報の例について列挙する。
【００５２】
分析ＩＤ：Ａに対応するデータ加工方法情報は、基板を図示し、該当する部品位置にズレ量が大きい部品は赤、ズレ量が少ないものは青色の４段階表示を行う、という内容になっている。分析ＩＤ：Ｂに対応するデータ加工方法情報は、基板をＸ軸方向に１０分割し、各範囲内の転写率の平均をヒストグラムで表示する、という内容になっている。分析ＩＤ：Ｃに対応するデータ加工方法情報は、横軸を時間、縦軸を部品ずれ量とし、折れ線グラフで表示する、という内容になっている。分析ＩＤ：Ｄに対応するデータ加工方法情報は、ノズル番号ごとに部品ズレ量の平均を取り、棒グラフで表示する、という内容になっている。
【００５３】
分析方法検索部３３は、以上のようなデータ収集加工テーブル３５から、指定されたデータ収集方法およびデータ加工方法に関する情報を特定し、データ処理部３２に伝送する。データ処理部３２は、受信したデータ収集方法に関する情報をデータ収集処理部３４に伝送し、これに従って工程状態データベース３６に格納されている検査結果データが抽出される。そして、データ処理部３２は、抽出された検査結果データに基づいて、受信したデータ加工方法に従って分析演算を行い、分析表示制御部３１が分析結果の表示を行う。
【００５４】
（要因推定知識情報）
次に、要因推定知識情報について、図４を参照しながら以下に説明する。同図に示すように、要因推定知識情報は、各不良結果に対して、その要因を探索するためのツリー構造のデータとなっている。詳しく説明すると、要因推定知識情報は、各不良結果に対して、不良要因の候補を１つ以上対応付けるとともに、各不良要因に至るまでの条件に関する情報を含んでいる。すなわち、要因推定知識情報のツリー構造は、ある不良結果に対して、不良の発生状況に関する情報に基づいて条件の分岐が選択されることによって特定の不良要因に到達することが可能となっている。
【００５５】
以下に、要因推定知識情報の一例として、図４に示す例、すなわち、不良結果がブリッジ不良である場合の要因推定知識情報について説明する。まず、条件Ｃ１において、生産ラインを動かし始めてから部品ずれが小さくなるか否かが判断される。また、この条件Ｃ１に対して、分析ＩＤ：Ｃが設定されている。すなわち、条件Ｃ１の判断は、分析ＩＤ：Ｃに対応するデータ収集方法によって検査結果データが収集され、分析ＩＤ：Ｃに対応するデータ加工方法によって分析、表示された情報に基づいて行われる。
【００５６】
条件Ｃ１においてＹＥＳ、すなわち、生産ラインを動かし始めてから部品ずれが小さくなると判断された場合には、条件Ｃ２において、対象不良部品を搭載したノズルの部品ズレ量が他と比較して大きいか否かが判断される。また、この条件Ｃ２に対して、分析ＩＤ：Ｄが設定されている。すなわち、条件Ｃ２の判断は、分析ＩＤ：Ｄに対応するデータ収集方法によって検査結果データが収集され、分析ＩＤ：Ｄに対応するデータ加工方法によって分析、表示された情報に基づいて行われる。
【００５７】
条件Ｃ２においてＹＥＳ、すなわち、対象不良部品を搭載したノズルの部品ズレ量が他と比較して大きいと判断された場合には、不良要因は不良要因Ｆ１、すなわち、装着装置１２（マウンタ）の該当ノズル欠けであると判断される。一方、条件Ｃ２においてＮＯ、すなわち、対象不良部品を搭載したノズルの部品ズレ量が他と比較して大きくないと判断された場合には、不良要因は不良要因Ｆ２、すなわち、装着装置１２（マウンタ）のノズルの吸着力が弱いことであると判断される。
【００５８】
一方、条件Ｃ１においてＮＯ、すなわち、生産ラインを動かし始めてから部品ずれが小さくなっていないと判断された場合には、条件Ｃ３において、印刷面積が一定方向に変化しているか否かが判断される。また、この条件Ｃ３に対して、分析ＩＤ：Ｂが設定されている。すなわち、条件Ｃ２の判断は、分析ＩＤ：Ｂに対応するデータ収集方法によって検査結果データが収集され、分析ＩＤ：Ｂに対応するデータ加工方法によって分析、表示された情報に基づいて行われる。
【００５９】
条件Ｃ３においてＹＥＳ、すなわち、印刷面積が一定方向に変化していると判断された場合には、不良要因は不良要因Ｆ３、すなわち、印刷装置１１（印刷機）の下型が欠けていることであると判断される。
【００６０】
一方、条件Ｃ３においてＮＯ、すなわち、印刷面積が一定方向に変化していないと判断された場合には、条件Ｃ４において、部品ズレ量が大きいところに基板のそりがあるか否かが判断される。また、この条件Ｃ４に対して、分析ＩＤ：Ａが設定されている。すなわち、条件Ｃ３の判断は、分析ＩＤ：Ａに対応するデータ収集方法によって検査結果データが収集され、分析ＩＤ：Ａに対応するデータ加工方法によって分析、表示された情報に基づいて行われる。
【００６１】
条件Ｃ４においてＹＥＳ、すなわち、部品ズレ量が大きいところに基板のそりがあると判断された場合には、不良要因は不良要因Ｆ４、すなわち、基板保管時の不注意な取り扱いであると判断される。一方、条件Ｃ４においてＮＯ、すなわち、部品ズレ量が大きいところに基板のそりがないと判断された場合には、不良要因は不良要因Ｆ５、すなわち、マスク開口部に汚れが付着していることであると判断される。
【００６２】
（要因推定画面）
次に、要因推定部２０によって行われる要因推定処理において表示部６０に表示される表示画面（以下、要因推定画面と称する）について図５を参照しながら説明する。同図に示すように、要因推定画面には、不良結果指定領域ＦＡ１、推定過程表示領域ＦＡ２、および要因候補表示領域ＦＡ３が設けられている。
【００６３】
不良結果指定領域ＦＡ１には３つの入力領域があり、それぞれ不良結果の種類が入力される不良種入力領域、不良が発生している部品の種類が入力される部品種入力領域、および、不良が発生している部品のサイズが入力される部品サイズ入力領域となっている。ユーザによって不良の発生が検知されると、ユーザによって、上記３つの入力領域に対して該当不良結果に関する情報が入力される。なお、上記３つの入力領域に対する入力は、ユーザによって文字が直接入力されるようになっていてもよいし、ドロップダウンリストなどによって選択肢が表示され、その選択肢の中からユーザによって特定項目が選択されることによって入力されるようになっていてもよい。
【００６４】
推定過程表示領域ＦＡ２には、不良要因の推定に必要とされる質問が表示される質問表示領域、質問に対する回答を入力するための回答入力ボタン、および分析ＩＤを表示する分析ＩＤ表示領域が設けられている。質問表示領域には、該当する不良結果に対応する要因推定知識情報に含まれている条件が、ツリー構造に従って順次表示される。
【００６５】
すなわち、推定処理部２１は、まず、不良結果指定領域ＦＡ１に入力された不良に関する情報に基づいて不良結果を特定する。そして、推定処理部２１は、推定知識記録部２３から該当不良結果に対応する要因推定知識情報のツリー構造のデータを読み出し、要因推定表示制御部２２がそのツリー構造に従って順に条件を質問表示領域に表示させる。また、推定処理部２１は、質問表示領域に表示させた条件に対応する分析ＩＤを推定知識記録部２３から読み出し、要因推定表示制御部２２が分析ＩＤ表示領域に表示させる。
【００６６】
その後、分析ＩＤに基づいて分析処理部３０が検査結果データを分析し、分析結果が表示される。この分析結果を見ることによってユーザは質問表示領域に表示されている質問に対する回答を判断し、ユーザによって回答入力ボタンから回答が入力される。その後、回答に従って次の条件が順次質問表示領域に表示される。
【００６７】
要因候補表示領域ＦＡ３には、質問表示領域に表示されている条件となっている時点での不良要因の候補が表示される。すなわち、要因推定知識情報のツリー構造において最初の条件が表示されている時点では、該当不良結果の不良要因の候補が全て表示され、条件が絞られていくに従って不良要因の候補が減少していき、最終的に１つの不良要因が特定されることになる。
【００６８】
例えば、図４に示す要因推定知識情報の例では、条件Ｃ１が表示されている時点では、不良要因Ｆ１〜Ｆ５が要因候補表示領域ＦＡ３に表示され、条件Ｃ２が表示されている時点では、不良要因Ｆ１・Ｆ２が要因候補表示領域ＦＡ３に表示され、この時点で「はい」の回答入力ボタンが選択されると、不良要因Ｆ１のみが要因候補表示領域ＦＡ３に表示されることになる。
【００６９】
（分析結果画面）
次に、分析処理部３０によって行われる分析処理において、表示部６０に表示される表示画面（以下、分析結果画面と称する）について図６を参照しながら説明する。同図に示すように、分析結果画面には、対象部品情報領域ＡＡ１および結果表示領域ＡＡ２が設けられている。
【００７０】
対象部品情報領域ＡＡ１には、分析対象となる部品を特定する部品特定情報が表示される。この部品特定情報としては、基板形式情報、ロット番号情報、基板ＩＤ情報、および部品ＩＤ情報が挙げられる。データ処理部３２は、要因推定部２０に対して入力された不良に関する情報、および分析ＩＤに基づいて上記部品特定情報を特定する。また、結果表示領域ＡＡ２には、分析ＩＤの入力領域、および分析結果が表示される。
【００７１】
データ処理部３２は、ユーザによって分析ＩＤが入力領域に対して入力されると、まずデータ収集加工テーブル３５から、分析方法検索部３３を介して該当分析ＩＤに対応するデータ収集方法情報を読み出す。また、データ処理部３２は、要因推定部２０から不良結果に関する情報を受信する。そして、データ処理部３２は、データ収集方法情報および不良結果情報に基づいて、データを収集すべき部品を特定し、特定された部品に関する情報を、対象部品情報領域ＡＡ１に表示する。
【００７２】
また、データ処理部３２は、データ収集方法情報に基づいて、データを収集すべき部品に関する特定の検査結果データをデータ収集処理部３４を介して工程状態データベース３６から読み出すとともに、該当分析ＩＤに対応するデータ加工方法に基づいて検査結果データを加工し、分析表示制御部３１によって分析結果を表示部６０に表示させる。分析結果は、例えば基板の状態の図示、ヒストグラム、折れ線グラフ、および棒グラフなどの形態で表示される。
【００７３】
（分析処理および要因推定処理の流れ）
次に、上記した分析処理および要因推定処理の流れについて、図７に示すフローチャートを参照しながら以下に説明する。同図において、Ｓ１、Ｓ６〜Ｓ９の処理は分析処理部３０による分析処理を示しており、Ｓ２〜Ｓ５、Ｓ１０の処理は要因推定部２０による要因推定処理を示している。
【００７４】
まず、ステップ１（以降、Ｓ１のように称する）において、不良結果を検出することを目的として、ユーザからの指示入力に従い、分析処理部３０による分析処理が行われる。ここでは、ユーザが、工程状態データベース３６に記録されている検査結果データを用いた分析処理を適宜指定し、この指定された分析処理が分析処理部３０によって行われる。そして、ユーザは、種々の分析結果を確認することによって不良が発生しているかいないかを判断する。
【００７５】
Ｓ１における分析処理の結果、ユーザが不良が発生していると判断した場合、要因推定画面において、ユーザによって不良結果に関する情報の入力が入力部５０によって受け付けられる（Ｓ２）。この不良結果に関する情報は、推定処理部２１に入力され、推定処理部２１は、該当不良結果に対応する要因推定知識情報を、推定知識記録部２３に記録されている要因推定知識情報の中から特定する（Ｓ３）。
【００７６】
そして、推定処理部２１は、特定した要因推定知識情報に含まれる条件を、ツリー構造に従って質問として特定し、この質問を、要因推定表示制御部２２が要因推定画面に表示する。また、特定された質問に対応する分析ＩＤを、要因推定表示制御部２２が要因推定画面に表示する。さらに、現時点での不良要因の候補のリストを、要因推定表示制御部２２が要因推定画面に表示する（Ｓ４）。
【００７７】
ここで、不良要因の候補が１つとなっているか否かが推定処理部２１によって判断される（Ｓ５）。不良要因の候補が１つとなっている場合（Ｓ５においてＹＥＳ）には、不良要因の特定が完了したものと判断され、要因推定処理は終了する。一方、不良要因の候補が１つとなっていない場合（Ｓ５においてＮＯ）には、質問に回答するために必要とされる分析処理が行われる。
【００７８】
まず、Ｓ６において、分析処理画面において、ユーザによって分析ＩＤの入力が行われる（Ｓ６）。ここで入力された分析ＩＤは、データ処理部３２から分析方法検索部３３に伝送され、分析方法検索部３３によって該当分析ＩＤに対応するデータ収集方法およびデータ加工方法がデータ収集加工テーブル３５から読み出される。そして、データ処理部３２は、データ収集方法情報に基づいて、データを収集すべき部品に関する特定の検査結果データをデータ収集処理部３４を介して工程状態データベース３６から読み出す（Ｓ７）。また、データ処理部３２は、該当分析ＩＤに対応するデータ加工方法に基づいて検査結果データを加工する（Ｓ８）。この加工結果は、分析表示制御部３１によって分析結果画面に表示される（Ｓ９）。
【００７９】
ユーザは、分析結果画面に分析結果が表示されると、分析結果に基づいて、要因推定画面に表示されている質問に対する回答を入力する（Ｓ１０）。このユーザによる回答の入力は、推定処理部２１によって受け付けられる。推定処理部２１は、ユーザによる回答結果に応じて、要因推定知識情報に含まれる条件を、ツリー構造に従って次の質問として特定し、Ｓ４からの処理を行う。
【００８０】
なお、上記の例では、Ｓ６において、分析ＩＤがユーザからの入力によって分析処理部３０に入力されるようになっているが、要因推定部２０において特定された分析ＩＤに関する情報が、データ処理部３２に伝送されるようになっていてもよい。この場合、ユーザによる分析ＩＤの入力の手間を省くことができる。
【００８１】
また、上記の例では、Ｓ１０において、質問に対する回答がユーザによって入力されるようになっているが、分析処理部３０による分析結果が要因推定部２０に入力され、推定処理部２１が分析結果に基づいて質問に対する回答を選択するようになっていてもよい。この場合、例えば推定処理部２１によって選択された結果をユーザに提示し、確認を求めた上で次の質問に移るようになっていてもよい。
【００８２】
なお、工程管理装置１０が備える要因推定部２０、分析処理部３０、および検査結果入力部４０に含まれる各機能ブロックは、ハードウェアロジックによって構成してもよいし、次のようにＣＰＵを用いてソフトウェアによって実現してもよい。
【００８３】
すなわち、工程管理装置１０は、各機能を実現する制御プログラムの命令を実行するＣＰＵ（central processing unit）、上記プログラムを格納したＲＯＭ（read only memory）、上記プログラムを展開するＲＡＭ（random access memory）、上記プログラムおよび各種データを格納するメモリ等の記憶装置（記録媒体）などを備えている。そして、本発明の目的は、上述した機能を実現するソフトウェアである工程管理装置１０の制御プログラムのプログラムコード（実行形式プログラム、中間コードプログラム、ソースプログラム）をコンピュータで読み取り可能に記録した記録媒体を、上記工程管理装置１０に供給し、そのコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記録媒体に記録されているプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成可能である。
【００８４】
上記記録媒体としては、例えば、磁気テープやカセットテープ等のテープ系、フロッピー（登録商標）ディスク／ハードディスク等の磁気ディスクやＣＤ−ＲＯＭ／ＭＯ／ＭＤ／ＤＶＤ／ＣＤ−Ｒ等の光ディスクを含むディスク系、ＩＣカード（メモリカードを含む）／光カード等のカード系、あるいはマスクＲＯＭ／ＥＰＲＯＭ／ＥＥＰＲＯＭ／フラッシュＲＯＭ等の半導体メモリ系などを用いることができる。
【００８５】
また、工程管理装置１０を通信ネットワークと接続可能に構成し、上記プログラムコードを通信ネットワークを介して供給してもよい。この通信ネットワークとしては、特に限定されず、例えば、インターネット、イントラネット、エキストラネット、ＬＡＮ、ＩＳＤＮ、ＶＡＮ、ＣＡＴＶ通信網、仮想専用網（virtual private network）、電話回線網、移動体通信網、衛星通信網等が利用可能である。また、通信ネットワークを構成する伝送媒体としては、特に限定されず、例えば、ＩＥＥＥ１３９４、ＵＳＢ、電力線搬送、ケーブルＴＶ回線、電話線、ＡＤＳＬ回線等の有線でも、ＩｒＤＡやリモコンのような赤外線、Ｂｌｕｅｔｏｏｔｈ（登録商標）、８０２．１１無線、ＨＤＲ、携帯電話網、衛星回線、地上波デジタル網等の無線でも利用可能である。なお、本発明は、上記プログラムコードが電子的な伝送で具現化された、搬送波に埋め込まれたコンピュータデータ信号の形態でも実現され得る。
【００８６】
本発明は上述した実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能である。すなわち、請求項に示した範囲で適宜変更した技術的手段を組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【００８７】
本発明に係る工程管理装置は、例えば、プリント基板の生産工程の管理に好適であるが、これに限定されず、工業製品の生産工程、鉱工業製品、農産物、または原料の検査工程、廃棄対象物（例えば、工場廃棄物、工場廃水、廃ガス、ゴミ等）の処理工程、廃棄対象物の検査工程、設備の検査工程、リサイクル工程等の被対象物の処理工程全般に広く適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】本発明の一実施形態に係る工程管理装置の概略構成を示すブロック図である。
【図２】上記工程管理装置を含む生産システムの概略構成を示すブロック図である。
【図３】データ収集加工テーブルの一例を示す図である。
【図４】要因推定知識情報のツリー構造データの一例を示す図である。
【図５】要因推定画面の一例を示す図である。
【図６】分析結果画面の一例を示す図である。
【図７】分析処理および要因推定処理の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００８９】
１  生産システム（処理システム）
１０  工程管理装置
１１  印刷装置
１２  装着装置
１３  半田付け装置
１４  検査装置
１４ａ  印刷検査装置
１４ｂ  装着検査装置
１４ｃ  検査装置
２０  要因推定部（要因推定手段）
２１  推定処理部
２２  要因推定表示制御部
２３  推定知識記録部
３０  分析処理部（分析処理手段）
３１  分析表示制御部
３２  データ処理部
３３  分析方法検索部
３４  データ収集処理部
３５  データ収集加工テーブル（分析方法記録部）
３６  工程状態データベース（検査結果記録部）
４０  検査結果入力部（検査結果入力手段）
４１  印刷結果入力部
４２  装着結果入力部
４３  結果入力部
４４  製造装置履歴入力部
５０  入力部
６０  表示部
【図１】
2006331346.tif 000003
【図２】
2006331346.tif 000004
【図３】
2006331346.tif 000005
【図４】
2006331346.tif 000006
【図５】
2006331346.tif 000007
【図６】
2006331346.tif 000008
【図７】
2006331346.tif 000009
【手続補正書】
【提出日】平成18年1月19日(2006.1.19)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被対象物に対して処理を行う処理システムにおいて発生しうる複数の不良結果のそれぞれに対して、不良要因の候補を１つ以上対応付けるとともに、各不良要因に至るまでの条件を示す情報、および各条件に対応する分析ＩＤを含む要因推定知識情報を記録する推定知識記録部と、
上記処理システムにおける処理過程の検査結果に関する検査結果データの分析方法情報、および、各分析方法情報を特定する分析ＩＤを記録する分析方法記録部と、
特定の不良結果に対応する上記要因推定知識情報を上記推定知識記録部から読み出し、該要因推定知識情報に基づいて、該当不良結果に対応する不良要因を推定する要因推定手段と、
上記分析方法情報に基づいて検査結果データの分析を行う分析処理手段とを備え、
上記要因推定手段が、不良要因の推定過程において、上記推定知識記録部から、不良要因の推定に必要とされる上記条件を読み出し、該条件を質問としてユーザに対して提示するとともに、
上記分析処理手段が、上記要因推定手段によってユーザに対して提示された上記質問に対応する条件の分析ＩＤを受け付けることによって、該当分析ＩＤによって特定される上記分析方法情報を上記分析方法記録部から読み出し、読み出した分析方法情報に基づいて分析を行い、分析結果をユーザに対して提示し、
上記質問および上記分析結果の提示後、上記要因推定手段が、上記質問に対するユーザによる回答入力を受け付け、該回答入力に従って上記条件の分岐を選択することによって不良要因を推定し、推定された不良要因をユーザに対して提示することを特徴とする工程管理装置。
【請求項２】
上記分析方法情報が、上記検査結果データの中からどの検査結果データを収集すべきかを示すデータ収集方法情報、および、収集されたデータの加工方法に関するデータ加工方法情報であり、上記分析ＩＤが、上記データ収集方法情報と上記データ加工方法情報との組合せを特定することを特徴とする請求項１記載の工程管理装置。
【請求項３】
上記処理システムにおける処理過程を検査する検査装置から検査結果データを受け付ける検査結果入力手段と、
上記検査結果入力手段によって受け付けられた検査結果データを記録する検査結果記録部とをさらに備え、
上記分析処理手段が、上記検査結果記録部から検査結果データを取得し、分析を行うことを特徴とする請求項１記載の工程管理装置。
【請求項４】
上記分析処理手段が、ユーザからの入力によって上記分析ＩＤ情報を受け付けることを特徴とする請求項１記載の工程管理装置。
【請求項５】
上記要因推定手段が、現時点で提示している質問に対応する条件の分析ＩＤ情報を上記分析処理手段に送信するとともに、
上記分析処理手段が、上記要因推定手段から上記分析ＩＤ情報を受け付けることを特徴とする請求項１記載の工程管理装置。
【請求項６】
上記要因推定手段が、不良結果に関する情報を上記分析処理手段に送信するとともに、
上記分析処理手段が、上記要因推定手段から受け付けた上記不良結果に関する情報および上記分析方法情報に基づいて分析を行うことを特徴とする請求項１記載の工程管理装置。
【請求項７】
請求項１から６のいずれか１項に記載の工程管理装置を動作させる工程管理プログラムであって、コンピュータを上記の各手段として機能させるための工程管理プログラム。
【請求項８】
請求項７に記載の工程管理プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【請求項９】
被対象物に対して処理を行う処理システムにおいて発生しうる複数の不良結果のそれぞれに対して、不良要因の候補を１つ以上対応付けるとともに、各不良要因に至るまでの条件を示す情報、および各条件に対応する分析ＩＤを含む要因推定知識情報を推定知識記録部に記録する推定知識記録ステップと、
上記処理システムにおける処理過程の検査結果に関する検査結果データの分析方法情報、および、各分析方法情報を特定する分析ＩＤを分析方法記録部に記録する分析方法記録ステップと、
特定の不良結果に対応する上記要因推定知識情報を上記推定知識記録部から読み出し、該要因推定知識情報に基づいて、該当不良結果に対応する不良要因を推定する要因推定ステップと、
上記分析方法情報に基づいて検査結果データの分析を行う分析処理ステップとを備え、
上記要因推定ステップにおいて、不良要因の推定過程において、上記推定知識記録部から、不良要因の推定に必要とされる上記条件を読み出し、該条件を質問としてユーザに対して提示するとともに、
上記分析処理ステップにおいて、上記要因推定ステップによってユーザに対して提示された上記質問に対応する条件の分析ＩＤを受け付けることによって、該当分析ＩＤによって特定される上記分析方法情報を上記分析方法記録部から読み出し、読み出した分析方法情報に基づいて分析を行い、分析結果をユーザに対して提示し、
上記質問および上記分析結果の提示後、上記要因推定ステップにおいて、上記質問に対するユーザによる回答入力を受け付け、該回答入力に従って上記条件の分岐を選択することによって不良要因を推定し、推定された不良要因をユーザに対して提示することを特徴とする工程管理方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１０
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１０】
本発明に係る工程管理装置は、上記課題を解決するために、被対象物に対して処理を行う処理システムにおいて発生しうる複数の不良結果のそれぞれに対して、不良要因の候補を１つ以上対応付けるとともに、各不良要因に至るまでの条件を示す情報、および各条件に対応する分析ＩＤを含む要因推定知識情報を記録する推定知識記録部と、上記処理システムにおける処理過程の検査結果に関する検査結果データの分析方法情報、および、各分析方法情報を特定する分析ＩＤを記録する分析方法記録部と、特定の不良結果に対応する上記要因推定知識情報を上記推定知識記録部から読み出し、該要因推定知識情報に基づいて、該当不良結果に対応する不良要因を推定する要因推定手段と、上記分析方法情報に基づいて検査結果データの分析を行う分析処理手段とを備え、上記要因推定手段が、不良要因の推定過程において、上記推定知識記録部から、不良要因の推定に必要とされる上記条件を読み出し、該条件を質問としてユーザに対して提示するとともに、上記分析処理手段が、上記要因推定手段によってユーザに対して提示された上記質問に対応する条件の分析ＩＤを受け付けることによって、該当分析ＩＤによって特定される上記分析方法情報を上記分析方法記録部から読み出し、読み出した分析方法情報に基づいて分析を行い、分析結果をユーザに対して提示し、上記質問および上記分析結果の提示後、上記要因推定手段が、上記質問に対するユーザによる回答入力を受け付け、該回答入力に従って上記条件の分岐を選択することによって不良要因を推定し、推定された不良要因をユーザに対して提示することを特徴としている。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１１】
また、本発明に係る工程管理方法は、上記課題を解決するために、被対象物に対して処理を行う処理システムにおいて発生しうる複数の不良結果のそれぞれに対して、不良要因の候補を１つ以上対応付けるとともに、各不良要因に至るまでの条件を示す情報、および各条件に対応する分析ＩＤを含む要因推定知識情報を推定知識記録部に記録する推定知識記録ステップと、上記処理システムにおける処理過程の検査結果に関する検査結果データの分析方法情報、および、各分析方法情報を特定する分析ＩＤを分析方法記録部に記録する分析方法記録ステップと、特定の不良結果に対応する上記要因推定知識情報を上記推定知識記録部から読み出し、該要因推定知識情報に基づいて、該当不良結果に対応する不良要因を推定する要因推定ステップと、上記分析方法情報に基づいて検査結果データの分析を行う分析処理ステップとを備え、上記要因推定ステップにおいて、不良要因の推定過程において、上記推定知識記録部から、不良要因の推定に必要とされる上記条件を読み出し、該条件を質問としてユーザに対して提示するとともに、上記分析処理ステップにおいて、上記要因推定ステップによってユーザに対して提示された上記質問に対応する条件の分析ＩＤを受け付けることによって、該当分析ＩＤによって特定される上記分析方法情報を上記分析方法記録部から読み出し、読み出した分析方法情報に基づいて分析を行い、分析結果をユーザに対して提示し、上記質問および上記分析結果の提示後、上記要因推定ステップにおいて、上記質問に対するユーザによる回答入力を受け付け、該回答入力に従って上記条件の分岐を選択することによって不良要因を推定し、推定された不良要因をユーザに対して提示することを特徴としている。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００２６】
本発明に係る工程管理装置は、以上のように、被対象物に対して処理を行う処理システムにおいて発生しうる複数の不良結果のそれぞれに対して、不良要因の候補を１つ以上対応付けるとともに、各不良要因に至るまでの条件を示す情報、および各条件に対応する分析ＩＤを含む要因推定知識情報を記録する推定知識記録部と、上記処理システムにおける処理過程の検査結果に関する検査結果データの分析方法情報、および、各分析方法情報を特定する分析ＩＤを記録する分析方法記録部と、特定の不良結果に対応する上記要因推定知識情報を上記推定知識記録部から読み出し、該要因推定知識情報に基づいて、該当不良結果に対応する不良要因を推定する要因推定手段と、上記分析方法情報に基づいて検査結果データの分析を行う分析処理手段とを備え、上記要因推定手段が、不良要因の推定過程において、上記推定知識記録部から、不良要因の推定に必要とされる上記条件を読み出し、該条件を質問としてユーザに対して提示するとともに、上記分析処理手段が、上記要因推定手段によってユーザに対して提示された上記質問に対応する条件の分析ＩＤを受け付けることによって、該当分析ＩＤによって特定される上記分析方法情報を上記分析方法記録部から読み出し、読み出した分析方法情報に基づいて分析を行い、分析結果をユーザに対して提示し、上記質問および上記分析結果の提示後、上記要因推定手段が、上記質問に対するユーザによる回答入力を受け付け、該回答入力に従って上記条件の分岐を選択することによって不良要因を推定し、推定された不良要因をユーザに対して提示する構成である。
【手続補正書】
【提出日】平成18年5月31日(2006.5.31)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被対象物に対して処理を行う処理システムにおいて発生しうる複数の不良結果のそれぞれに対して、不良要因の候補を１つ以上対応付けるとともに、各不良要因に至るまでの条件を示す情報、および各条件に対応する分析ＩＤを含む要因推定知識情報を記録する推定知識記録部と、
上記処理システムにおける処理過程の検査結果に関する検査結果データの分析方法情報、および、各分析方法情報を特定する分析ＩＤを記録する分析方法記録部と、
特定の不良結果に対応する上記要因推定知識情報を上記推定知識記録部から読み出し、該要因推定知識情報に基づいて、該当不良結果に対応する不良要因を推定する要因推定手段と、
上記分析方法情報に基づいて検査結果データの分析を行う分析処理手段とを備え、
上記要因推定手段が、不良要因の推定過程において、上記推定知識記録部から、不良要因の推定に必要とされる上記条件を読み出し、該条件を質問としてユーザに対して提示するとともに、
上記分析処理手段が、上記要因推定手段によってユーザに対して提示された上記質問に対応する条件の分析ＩＤを受け付けることによって、該当分析ＩＤによって特定される上記分析方法情報を上記分析方法記録部から読み出し、読み出した分析方法情報に基づいて分析を行い、分析結果をユーザに対して提示し、
上記質問および上記分析結果の提示後、上記要因推定手段が、上記質問に対するユーザによる回答入力を受け付け、該回答入力に従って上記条件の分岐を選択することによって不良要因を推定し、推定された不良要因をユーザに対して提示することを特徴とする工程管理装置。
【請求項２】
上記要因推定手段は、推定した不良要因の候補が複数存在する場合は、複数の不良要因の候補をユーザに対して提示することを特徴とする請求項１に記載の工程管理装置。
【請求項３】
上記要因推定手段は、受け付けた不良結果に対応する不良要因を推定し、推定した不良要因の候補が１つしか存在しない場合は、当該不良要因の候補をユーザに対して提示して、上記質問の提示を終了することを特徴とする請求項１または２に記載の工程管理装置。
【請求項４】
上記分析方法情報が、上記検査結果データの中からどの検査結果データを収集すべきかを示すデータ収集方法情報、および、収集されたデータの加工方法に関するデータ加工方法情報であり、上記分析ＩＤが、上記データ収集方法情報と上記データ加工方法情報との組合せを特定することを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の工程管理装置。
【請求項５】
上記処理システムにおける処理過程を検査する検査装置から検査結果データを受け付ける検査結果入力手段と、
上記検査結果入力手段によって受け付けられた検査結果データを記録する検査結果記録部とをさらに備え、
上記分析処理手段が、上記検査結果記録部から検査結果データを取得し、分析を行うことを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の工程管理装置。
【請求項６】
上記分析処理手段が、ユーザからの入力によって上記分析ＩＤ情報を受け付けることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の工程管理装置。
【請求項７】
上記要因推定手段が、現時点で提示している質問に対応する条件の分析ＩＤ情報を上記分析処理手段に送信するとともに、
上記分析処理手段が、上記要因推定手段から上記分析ＩＤ情報を受け付けることを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の工程管理装置。
【請求項８】
上記要因推定手段が、不良結果に関する情報を上記分析処理手段に送信するとともに、
上記分析処理手段が、上記要因推定手段から受け付けた上記不良結果に関する情報および上記分析方法情報に基づいて分析を行うことを特徴とする請求項１から３のいずれか１項に記載の工程管理装置。
【請求項９】
請求項１から８のいずれか１項に記載の工程管理装置を動作させる工程管理プログラムであって、コンピュータを上記の各手段として機能させるための工程管理プログラム。
【請求項１０】
請求項９に記載の工程管理プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【請求項１１】
被対象物に対して処理を行う処理システムにおいて発生しうる複数の不良結果のそれぞれに対して、不良要因の候補を１つ以上対応付けるとともに、各不良要因に至るまでの条件を示す情報、および各条件に対応する分析ＩＤを含む要因推定知識情報を推定知識記録部に記録する推定知識記録ステップと、
上記処理システムにおける処理過程の検査結果に関する検査結果データの分析方法情報、および、各分析方法情報を特定する分析ＩＤを分析方法記録部に記録する分析方法記録ステップと、
特定の不良結果に対応する上記要因推定知識情報を上記推定知識記録部から読み出し、該要因推定知識情報に基づいて、該当不良結果に対応する不良要因を推定する要因推定ステップと、
上記分析方法情報に基づいて検査結果データの分析を行う分析処理ステップとを備え、
上記要因推定ステップにおいて、不良要因の推定過程において、上記推定知識記録部から、不良要因の推定に必要とされる上記条件を読み出し、該条件を質問としてユーザに対して提示するとともに、
上記分析処理ステップにおいて、上記要因推定ステップによってユーザに対して提示された上記質問に対応する条件の分析ＩＤを受け付けることによって、該当分析ＩＤによって特定される上記分析方法情報を上記分析方法記録部から読み出し、読み出した分析方法情報に基づいて分析を行い、分析結果をユーザに対して提示し、
上記質問および上記分析結果の提示後、上記要因推定ステップにおいて、上記質問に対するユーザによる回答入力を受け付け、該回答入力に従って上記条件の分岐を選択することによって不良要因を推定し、推定された不良要因をユーザに対して提示することを特徴とする工程管理方法。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１４
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００１４】
また、例えば要因推定知識情報に分析方法情報を含める場合には、要因推定知識情報における全ての条件に対して分析方法情報をそれぞれ記録しておく必要があることになり、情報量が膨大となる。これに対して、上記の構成および方法によれば、分析方法情報と要因推定知識情報とをそれぞれ別に設けるとともに、分析方法情報と要因推定知識情報とを分析ＩＤによって結びつけることによって、用意しておくべき情報の量を低減することができる。
上記要因推定手段は、推定した不良要因の候補が複数存在する場合は、複数の不良要因の候補をユーザに対して提示することが好ましい。
上記要因推定手段は、受け付けた不良結果に対応する不良要因を推定し、推定した不良要因の候補が１つしか存在しない場合は、当該不良要因の候補をユーザに対して提示して、上記質問の提示を終了することが好ましい。