(57)【要約】【課題】  光ファイバの本接続に先立って光ファイバを光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバと低損失で仮接続し、光信号レベルを簡単かつ短時間に測定して光伝送路の回線状態を把握する。【解決手段】  光ファイバｆと、光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバとの仮接続に際して、基台２と、基台２の一端に設けられた光ファイバ心線の把持部材３と、基台２の他端に設けられたコネクタ部材４と、からなる治具１を用いる。治具１のコネクタ部材４は、基台２に設けられたホルダ４１にスプリング４２を介してセルフアラインメント性を有するフェルール４３が配設されるとともに、接続ナット４４が装着され、これらのフェルール４３および接続ナット４４の抜け出しを防止してガイドキー付きフレーム４５がホルダ４１に螺合されて組み立てられる。【選択図】  図２
2006343225.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに対して光ファイバを低損失で仮接続する測定用治具であって、基台と、基台の一端に設けられた光ファイバ心線の把持部材と、基台の他端に設けられたコネクタ部材と、からなり、前記コネクタ部材が、基台に設けられたホルダと、ホルダにスプリングを介して配設されたセルフアラインメント性を有するフェルールと、ホルダに装着された接続ナットと、フェルールおよび接続ナットの抜け出しを防止してホルダにねじ結合されたガイドキー付きフレームと、から構成され、前記把持部材に光ファイバ心線が把持された光ファイバをフェルールの内孔に挿通し、該光ファイバの先端を、前記接続ナットにねじ結合された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバの先端に突き合わせることを特徴とする光信号レベルの測定用治具。
【請求項２】
前記基台の上面に設定間隔をおいて複数本のラインが光ファイバの配設方向と平行に付されていることを特徴とする請求項１記載の光信号レベルの測定用治具。
【請求項３】
光パワーメータに対して、もしくは、光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに対して光ファイバを低損失で仮接続する測定用治具であって、基台と、基台の一端部に摺動自在に設けられた光ファイバ心線の把持部材と、基台の他端に設けられたコネクタ部材と、からなり、前記コネクタ部材が、基台に設けられたホルダと、ホルダにスプリングを介して配設されたセルフアラインメント性を有するフェルールと、ホルダに装着された接続ナットと、フェルールおよび接続ナットの抜け出しを防止してホルダにねじ結合されたガイドキー付きフレームと、から構成され、前記光ファイバ心線を把持した把持部材をフェルールの長さに相当する距離だけ摺動させて光ファイバをフェルールの内孔に挿通し、該光ファイバの先端を、前記接続ナットにねじ結合された光パワーメータのセンサに対向させ、もしくは、前記接続ナットにねじ結合された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバの先端に突き合わせることを特徴とする光信号レベルの測定用治具。
【請求項４】
前記基台の上面にホルダの挿通孔に臨む断面Ｖ字状の溝が光ファイバの配設方向に沿って形成されていることを特徴とする請求項３記載の光信号レベルの測定用治具。
【請求項５】
前記基台の上面に寸法目盛が光ファイバの配設方向に沿って付されていることを特徴とする請求項３記載の光信号レベルの測定用治具。
【請求項６】
局舎から末端ユーザへ光ファイバを敷設する際の光ファイバの接続箇所において、光ファイバの融着接続またはメカニカルスプライスに先立って、上流側の光ファイバを光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに前記請求項１または２記載の測定用治具を介して低損失で仮接続して光信号レベルを測定することを特徴とする光伝送路における光信号レベルの測定方法。
【請求項７】
局舎から末端ユーザへ光ファイバを敷設する際の光ファイバの分岐箇所において、光ファイバの光スプリッタへの接続に先立って、光スプリッタの上流側の光ファイバを光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに前記請求項１または２記載の測定用治具を介して低損失で仮接続して光信号レベルを測定する一方、光スプリッタへの光ファイバの接続後に光スプリッタの下流側の光ファイバを光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに前記請求項１または２記載の測定用治具を介して低損失で仮接続して光信号レベルを測定することを特徴とする光伝送路における光信号レベルの測定方法。
【請求項８】
局舎から末端ユーザへ光ファイバを敷設する際の光ファイバの接続箇所において、光ファイバの融着接続またはメカニカルスプライスに先立って、上流側の光ファイバを前記請求項３乃至５のいずれかに記載の測定用治具を介して光パワーメータに低損失で仮接続して、もしくは、光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに前記請求項３乃至５のいずれかに記載の測定用治具を介して低損失で仮接続して光信号レベルを測定することを特徴とする光伝送路における光信号レベルの測定方法。
【請求項９】
局舎から末端ユーザへ光ファイバを敷設する際の光ファイバの分岐箇所において、光ファイバの光スプリッタへの接続に先立って、光スプリッタの上流側の光ファイバを前記請求項３乃至５のいずれかに記載の測定用治具を介して光パワーメータに低損失で仮接続して、もしくは、光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに前記請求項３乃至５のいずれかに記載の測定用治具を介して低損失で仮接続して光信号レベルを測定する一方、光スプリッタへの光ファイバの接続後に光スプリッタの下流側の光ファイバを前記請求項３乃至５のいずれかに記載の測定用治具を介して光パワーメータに低損失で仮接続して、もしくは、光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに前記請求項３乃至５のいずれかに記載の測定用治具を介して低損失で仮接続して光信号レベルを測定することを特徴とする光伝送路における光信号レベルの測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光ファイバの光信号レベルを測定する際に使用する治具および測定用治具を用いて光伝送路の光信号レベルを測定する方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、通信の高速広帯域サービスの普及のため、局舎から末端ユーザーまで直接光ファイバを引き込むＦＴＴＨ（Fiber To The Home ）が施工されている。このＦＴＴＨの最近の傾向として、光ファイバを１本ずつ個別に引き込む１対１のＳＳ（シングルスター）方式から、光信号下りを分配し、上りを混合する光スプリッタを介して光ファイバを分岐して接続する１対多のＰＤＳ（パッシブダブルスター）方式へ変化してきている。これに伴い、局舎から末端ユーザーまでの間において、地下ケーブルルートに設けられたクロージャ、架空ケーブルルートに設けられた支線用クロージャやドロップクロージャなど、光ファイバを接続する箇所が増加している。
【０００３】
ところで、光ファイバの接続には、融着接続とメカニカルスプライス（機械接続）があり、コスト面の優位性からメカニカルスプライスが主流となっているが、一般に融着接続に比べ不良発生率は高い。光ファイバの接続不良による開通不良が発生すると、機器の不良やネットワークの設定不良などの原因と複雑に絡み合い、原因特定を困難にする。しかも、高価な機器を使用して複雑で手間のかかる故障点探査作業を最終端から行う必要があり、大量の手戻り工事が発生する。したがって、光ファイバの接続箇所において、光ファイバの接続に先立って上流側の光ファイバの光信号レベルを測定し、回線状態を確認することは非常に重要である。また、ＰＤＳ方式においては、光ファイバは光スプリッタで多分岐しているため、光スプリッタに対する光ファイバの接続および光スプリッタに不具合があると、下流側へ影響が拡大することから、同様に、光スプリッタの前後においても光信号レベルを測定することが重要である。
【０００４】
すなわち、局舎から末端ユーザーまでの光伝送路を開設するに際しては、伝送損失がダイナミックレンジ以内になるように設計を行っており、施工時において、接続箇所または分岐箇所で必要とする光信号レベルが得られているか否かを確認することが重要となる。
【０００５】
ここに、伝送損失（ｄＢ）＝０．３７×Ｌ＋０．５×Ｎｃ＋０．０７×Ｎｓ＋０．１×Ｎｍ＋Ｂｒ＋システムマージンで求められる。ただし、Ｌ：伝送路距離（ｋｍ）、Ｎｃ：コネクタ接続箇所、Ｎｓ：融着接続箇所、Ｎｍ：メカニカルスプライス接続箇所、Ｂｒ：カプラ挿入損失、システムマージン：１ｄＢである。
【０００６】
なお、カプラ挿入損失Ｂｒは、２分岐：３．５ｄＢ、４分岐：７．０ｄＢ、８分岐：１０．５ｄＢである。
【０００７】
因みに、主に幹線系の永久接続に採用される融着接続による平均的な接続損失は、０．１ｄＢ前後、主にアクセス網の永久接続に採用されるメカニカルスプライスによる平均的な接続損失は、０．５ｄＢ前後、主に機器の端末など着脱を必要する永久接続に採用される光コネクタによる平均的な接続損失は、０．３ｄＢ前後である。
【０００８】
一方、光ファイバの回線状態を確認するため、その光信号レベルを測定するには、接続損失の小さな融着接続（例えば、特許文献１参照）を行う必要がある。具体的には、光信号レベルを測定しようとする光ファイバを、ＪＩＳ  Ｃ  ５９７０に規定される光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに融着接続し、当該光ファイバコード付き光コネクタの光コネクタを光パワーメータに接続し、光信号レベルを測定するようにしている。
【特許文献１】特開２００４−３１７９４５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
ところで、前述したように、光信号レベルを測定しようとする光ファイバと、光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバとを接続損失の小さな融着接続にて接続し、その光信号レベルを光パワーメータにて測定する場合、光ファイバを融着する高価な設備が必要になる他、接続作業に多くの時間が必要となり、工期が長期化するととともに、施工コストがかさむという問題があった。このため、接続箇所における光信号レベルの測定作業が手抜きされることがあり、その結果、光伝走路の施工後に開通不良が発生すると、前述したように、原因特定が困難になり、故障点探査作業などの大量の手戻り工事が発生することになる。また、塵埃などの混入を排除した状態で、光ファイバの軸心を一致させるとともに、それらの端面同士を一定の押圧力で密着させて融着する必要があり、外界、特に、架空ケーブルルートにおいて融着接続することは困難である。さらに、光信号レベルの測定が終了した後、光ファイバを下流側の光ファイバに接続するためには、測定した光ファイバーと光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバとの融着接続部分を除去しなければならず、作業が煩雑となる。
【００１０】
本発明は、このような問題点に鑑みてなされたもので、光ファイバを光パワーメータもしくは光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバと低損失で仮接続することのできる光信号レベルの測定用治具を提供するとともに、光ファイバの本接続に先立って光ファイバを光パワーメータもしくは光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバと低損失で仮接続し、光信号レベルを簡単かつ短時間に測定して光伝送路の回線状態を把握することのできる光伝送路の光信号レベルの測定方法を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本発明の光信号レベルの測定用治具は、光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに対して光ファイバを低損失で仮接続する測定用治具であって、基台と、基台の一端に設けられた光ファイバ心線の把持部材と、基台の他端に設けられたコネクタ部材と、からなり、前記コネクタ部材が、基台に設けられたホルダと、ホルダにスプリングを介して配設されたセルフアラインメント性を有するフェルールと、ホルダに装着された接続ナットと、フェルールおよび接続ナットの抜け出しを防止してホルダにねじ結合されたガイドキー付きフレームと、から構成され、前記把持部材に光ファイバ心線が把持された光ファイバをフェルールの内孔に挿通し、該光ファイバの先端を、前記接続ナットにねじ結合された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバの先端に突き合わせることを特徴とするものである。
【００１２】
本発明において、コネクタ部材は、ＪＩＳに規定されるＦ０１形単心光ファイバコネクタを参考として製作されている。
【００１３】
本発明において、セルフアラインメント性を有するフェルールとしては、特に限定されないが、例えば、結晶化ガラスによって製作されたフェルールを挙げることができる。
【００１４】
本発明によれば、光ファイバ心線を把持部材に把持して光ファイバをフェルールの内孔に挿通し、光パワーメータに接続されるとともに、コネクタ部材にねじ結合された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに突き合わせる。この際、フェルールは、セルフアラインメント性を有することにより、光ファイバをフェルールの内孔に同心状態で保持することができる。
【００１５】
この結果、治具に保持された光ファイバを軸ずれを発生することなく光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに突き合わせることができ、光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに低損失で仮接続することが可能となる。したがって、光ファイバの光信号レベルを光ファイバコード付き光コネクタを介して光パワーメータにて低損失で測定することが可能となる。
【００１６】
本発明において、前記基台の上面に設定間隔をおいて複数本のラインが光ファイバの配設方向と平行に付されていると、光ファイバを一定の押圧力で光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに突き合わせたことをラインに対する光ファイバの撓みで把握することができ、好ましい。
【００１７】
本発明の光信号レベルの測定用治具は、光パワーメータに対して、もしくは、光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに対して光ファイバを低損失で仮接続する測定用治具であって、基台と、基台の一端部に摺動自在に設けられた光ファイバ心線の把持部材と、基台の他端に設けられたコネクタ部材と、からなり、前記コネクタ部材が、基台に設けられたホルダと、ホルダにスプリングを介して配設されたセルフアラインメント性を有するフェルールと、ホルダに装着された接続ナットと、フェルールおよび接続ナットの抜け出しを防止してホルダにねじ結合されたガイドキー付きフレームと、から構成され、前記光ファイバ心線を把持した把持部材をフェルールの長さに相当する距離だけ摺動させて光ファイバをフェルールの内孔に挿通し、該光ファイバの先端を、前記接続ナットにねじ結合された光パワーメータのセンサに対向させ、もしくは、前記接続ナットにねじ結合された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバの先端に突き合わせることを特徴とするものである。
【００１８】
本発明において、コネクタ部材は、ＪＩＳに規定されるＦ０１形単心光ファイバコネクタを参考として製作されている。
【００１９】
本発明において、セルフアラインメント性を有するフェルールとしては、特に限定されないが、例えば、結晶化ガラスによって製作されたフェルールを挙げることができる。
【００２０】
本発明によれば、光ファイバ心線を把持部材に把持し、把持部材をフェルールの長さに相当する距離だけ押し込んで光ファイバをフェルールの内孔に挿通し、コネクタ部材にねじ結合された光パワーメータのセンサに対向させ、もしくは、光パワーメータに接続されるとともに、コネクタ部材にねじ結合された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに突き合わせる。この際、フェルールは、セルフアラインメント性を有することにより、光ファイバをフェルールの内孔に同心状態で保持することができる。また、光ファイバは、フェルールの長さに相当する距離だけ押し込まれることから、フェルールの先端から光パワーメータのセンサに達するまで突出してセンサを損傷させることがない。
【００２１】
この結果、治具に保持された光ファイバを軸ずれを発生することなく、かつ、センサを損傷させることなく光パワーメータに直接低損失で仮接続することが可能となる。また、光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに突き合わせることができ、光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに低損失で仮接続することが可能となる。したがって、光ファイバの光信号レベルを直接もしくは光ファイバコード付き光コネクタを介して光パワーメータにて低損失で測定することが可能となる。
【００２２】
本発明において、前記基台の上面にホルダの挿通孔に臨む断面Ｖ字状の溝が光ファイバの配設方向に沿って形成されていると、光ファイバをＶ字状溝に沿わせて円滑にフェルールの内孔に挿通することができるとともに、光ファイバを一定の押圧力で光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに突き合わせたことをＶ字状溝の範囲内の光ファイバの撓みで把握することができ、好ましい。
【００２３】
本発明において、前記基台の上面に寸法目盛が光ファイバの配設方向に沿って付されていると、光ファイバ心線の端面を寸法目盛に合わせて把持部材を押し込むことにより、フェルールの長さに相当する距離だけ光ファイバをフェルールに挿通させることができ、小径の光ファイバをフェルールの端面に沿わせる場合に比較して作業が容易となり、好ましい。
【００２４】
本発明の光伝送路における光信号レベルの測定方法は、局舎から末端ユーザへ光ファイバを敷設する際の光ファイバの接続箇所において、光ファイバの融着接続またはメカニカルスプライスに先立って、上流側の光ファイバを光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに前記請求項１または２記載の測定用治具を介して低損失で仮接続して光信号レベルを測定することを特徴とするものである。
【００２５】
本発明によれば、光ファイバの接続箇所において、光ファイバの本接続に先立って、上流側の光ファイバを一方の光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに測定用治具を介して低損失で仮接続するとともに、他方の光ファイバコード付き光コネクタを光パワーメータに接続して光信号レベルを測定する。
【００２６】
この結果、融着接続して光ファイバの光信号レベルを測定する場合に比較して簡単な作業により、かつ、作業工数を大幅に削減して光信号レベルを測定することができる。したがって、光ファイバの接続箇所における接続不良を時間をかけずに確実に把握することができることから、光信号レベルの測定が確実に施工されるとともに、接続不良発生時におけるユーザーへの再訪問や、複雑で手間のかかる故障点探査などの手戻り工事をなくすことができる。
【００２７】
ここで、光ファイバの仮接続による損失としては、融着接続、メカニカルスプライス、光コネクタの接続損失を参考として、光伝送路のダイナミックレンジに大きな測定誤差を発生させることがないように、１ｄＢ程度が好ましい。
【００２８】
本発明の光伝送路における光信号レベルの測定方法は、局舎から末端ユーザへ光ファイバを敷設する際の光ファイバの分岐箇所において、光ファイバの光スプリッタへの接続に先立って、光スプリッタの上流側の光ファイバを光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに前記請求項１または２記載の測定用治具を介して低損失で仮接続して光信号レベルを測定する一方、光スプリッタへの光ファイバの接続後に光スプリッタの下流側の光ファイバを光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに前記請求項１または２記載の測定用治具を介して低損失で仮接続して光信号レベルを測定することを特徴とするものである。
【００２９】
本発明によれば、光ファイバの分岐箇所において、光スプリッタに対する光ファイバの本接続に先立って、光スプリッタの上流側の光ファイバを一方の光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに測定用治具を介して低損失で仮接続するとともに、他方の光ファイバコード付き光コネクタを光パワーメータに接続して光信号レベルを測定する。また、光スプリッタに光ファイバを接続した後、光スプリッタの下流側の光ファイバを一方の光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに測定用治具を介して低損失で仮接続するとともに、他方の光ファイバコード付き光コネクタを光パワーメータに接続して光信号レベルを測定する。
【００３０】
この結果、融着接続して光ファイバの光信号レベルを測定する場合に比較して簡単な作業により、かつ、作業工数を大幅に削減して光信号レベルを測定することができる。したがって、光スプリッタに対する光ファイバの接続箇所における接続不良および光スプリッタの不良を時間をかけずに確実に把握することができることから、光信号レベルの測定が確実に施工されるとともに、接続不良発生時におけるユーザーへの再訪問や、複雑で手間のかかる故障点探査などの手戻り工事をなくすことができる。
【００３１】
ここで、光ファイバの仮接続による損失としては、融着接続、メカニカルスプライス、光コネクタの接続損失を参考として、光伝送路のダイナミックレンジに大きな測定誤差を発生させることがないように、１ｄＢ程度が好ましい。
【００３２】
本発明の光伝送路における光信号レベルの測定方法は、局舎から末端ユーザへ光ファイバを敷設する際の光ファイバの接続箇所において、光ファイバの融着接続またはメカニカルスプライスに先立って、上流側の光ファイバを前記請求項３乃至５のいずれかに記載の測定用治具を介して光パワーメータに低損失で仮接続して、もしくは、光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに前記請求項３乃至５のいずれかに記載の測定用治具を介して低損失で仮接続して光信号レベルを測定することを特徴とするものである。
【００３３】
本発明によれば、光ファイバの接続箇所において、光ファイバの本接続に先立って、上流側の光ファイバを測定用治具を介して直接光パワーメータに低損失で仮接続し、もしくは、上流側の光ファイバを一方の光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに測定用治具を介して低損失で仮接続するとともに、他方の光ファイバコード付き光コネクタを光パワーメータに接続し、上流側の光ファイバの光信号レベルを測定する。
【００３４】
この結果、融着接続して光ファイバの光信号レベルを測定する場合に比較して簡単な作業により、かつ、作業工数を大幅に削減して光信号レベルを測定することができる。したがって、光ファイバの接続箇所における接続不良を時間をかけずに確実に把握することができることから、光信号レベルの測定が確実に施工されるとともに、接続不良発生時におけるユーザーへの再訪問や、複雑で手間のかかる故障点探査などの手戻り工事をなくすことができる。
【００３５】
ここで、光ファイバの仮接続による損失としては、融着接続、メカニカルスプライス、光コネクタの接続損失を参考として、光伝送路のダイナミックレンジに大きな測定誤差を発生させることがないように、１ｄＢ程度が好ましい。
【００３６】
本発明の光伝送路における光信号レベルの測定方法は、局舎から末端ユーザへ光ファイバを敷設する際の光ファイバの分岐箇所において、光ファイバの光スプリッタへの接続に先立って、光スプリッタの上流側の光ファイバを前記請求項３乃至５のいずれかに記載の測定用治具を介して光パワーメータに低損失で仮接続して、もしくは、光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに前記請求項３乃至５のいずれかに記載の測定用治具を介して低損失で仮接続して光信号レベルを測定する一方、光スプリッタへの光ファイバの接続後に光スプリッタの下流側の光ファイバを前記請求項３乃至５のいずれかに記載の測定用治具を介して光パワーメータに低損失で仮接続して、もしくは、光パワーメータに接続された光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに前記請求項３乃至５のいずれかに記載の測定用治具を介して低損失で仮接続して光信号レベルを測定することを特徴とするものである。
【００３７】
本発明によれば、光ファイバの分岐箇所において、光スプリッタに対する光ファイバの本接続に先立って、光スプリッタの上流側の光ファイバを測定用治具を介して直接光パワーメータに低損失で仮接続し、もしくは、一方の光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに測定用治具を介して低損失で仮接続するとともに、他方の光ファイバコード付き光コネクタを光パワーメータに接続し、光スプリッタの上流側の光ファイバの光信号レベルを測定する。また、光スプリッタに光ファイバを接続した後、光スプリッタの下流側の光ファイバを測定用治具を介して直接光パワーメータに低損失で仮接続し、もしくは、一方の光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバに測定用治具を介して低損失で仮接続するとともに、他方の光ファイバコード付き光コネクタを光パワーメータに接続し、光スプリッタの下流側の光ファイバの光信号レベルを測定する。
【００３８】
この結果、融着接続して光ファイバの光信号レベルを測定する場合に比較して簡単な作業により、かつ、作業工数を大幅に削減して光信号レベルを測定することができる。したがって、光スプリッタに対する光ファイバの接続箇所における接続不良および光スプリッタの不良を時間をかけずに確実に把握することができることから、光信号レベルの測定が確実に施工されるとともに、接続不良発生時におけるユーザーへの再訪問や、複雑で手間のかかる故障点探査などの手戻り工事をなくすことができる。
【００３９】
ここで、光ファイバの仮接続による損失としては、融着接続、メカニカルスプライス、光コネクタの接続損失を参考として、光伝送路のダイナミックレンジに大きな測定誤差を発生させることがないように、１ｄＢ程度が好ましい。
【発明の効果】
【００４０】
本発明の光信号レベルの測定用治具によれば、光ファイバを光パワーメータもしくは光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバと低損失で仮接続することができる。
【００４１】
また、本発明の光伝送路の光信号レベルの測定方法によれば、光ファイバの本接続に先立って光ファイバを光パワーメータもしくは光ファイバコード付き光コネクタの光ファイバと低損失で仮接続し、光信号レベルを簡単かつ短時間に測定して光伝送路の回線状態を把握することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４２】
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
【００４３】
図１乃至図３には、本発明の光伝送路における光信号レベルの測定方法に用いられる測定用治具１の一実施形態が示されている。
【００４４】
この治具１は、基台２と、基台２の一端に把持ガイド２１を介して設けられた光ファイバ心線の把持部材３と、基台２の他端に取付プレート２２を介して設けられたコネクタ部材４と、から構成されている。
【００４５】
基台２は、ほぼ偏平な直方体形状に形成され、その上面には、幅方向中心線を挟んで長手方向に延びる複数本の平行なライン２ｘが付されており、基台２の上面の長手方向に沿って配置された光ファイバ心線の撓みゲージとして用いることができる。
【００４６】
把持部材３は、ウレタンゴムによって直方体状に形成され、その幅方向中心線上に位置してスリット３ａが形成されている。このため、基台２の長手方向に沿って配置された光ファイバ心線が把持部材３のスリット３ａに差し込まれた際、把持部材３の弾性力によって移動しないように保持することができる。
【００４７】
コネクタ部材４は、ＪＩＳ  Ｃ  ５９７０に規定されるＦ０１形単心光ファイバコネクタを参考として製作されたもので、基台２の取付プレート２２に形成された取付穴２２ａ（図２参照）に遊嵌され、光ファイバｆの挿通孔４１ａが形成されたフランジ付きホルダ４１と、該フランジ付きホルダ４１にスプリング４２を介して挿通されたセルフアラインメント性を有するフェルール４３、例えば、結晶化ガラス製フェルールと、フランジ付きホルダ４１に装着された接続ナット４４と、フランジ付きホルダ４１の雄ねじ４１１に螺合可能な雌ねじ４５１を有するガイドキー付きフレーム４５と、からなり、フェルール４３および接続ナット４４の抜け出しを防止してガイドキー付きフレーム４５がフランジ付きホルダ４１にねじ止めされることにより組み立てられている（図３参照）。
【００４８】
セルフアラインメント性を有するフェルール４３としては、日本電気硝子社の製造販売に係る結晶化ガラス製フェルールを挙げることができる。そして、フェルール４３は、その中心上に位置して一端から他端にかけて貫通する内孔４３ａを有し、一方の端部に光ファイバｆを内孔４３ａに案内するフレア部４３ｂが形成される一方、他方の端部には、外周縁部に面取り部４３ｃが形成されている。また、フェルール４３の一端部には、フランジ部材４３１が固着されている。
【００４９】
ここで、実施形態の結晶化ガラス製フェルールは、外径が２．４９９ｍｍ±０．０００５ｍｍ、光ファイバｆが挿通される内孔４３ａの内径が０．１２６ｍｍ＋０．００１／−０ｍｍであって、その中心が外周の中心を中心とする直径０．００１４ｍｍの円内に位置するように同心度公差が設定されている。
【００５０】
このように構成された治具１を用いて光ファイバｆをＪＩＳ  Ｃ  ５９７０に規定される光ファイバコード付き光コネクタ６（図４参照）の光ファイバｆに突き合わせて仮接続し、その損失を、ＪＩＳ  Ｃ  ６８２３，６８２６に規定される光ファイバ損失試験に準拠して測定した。この試験結果を図６に示す。
【００５１】
試験結果は、Ａ社製光ファイバコード付き光コネクタを用いた場合であっても、Ｂ社製光ファイバコード付き光コネクタを用いた場合であっても、接続損失は、１ｄＢの範囲内に納まっており、光ファイバｆの軸ずれや軸傾斜を生ずることなく低損失で仮接続されていることが明らかである（図６（ａ）（ｂ）参照）。
【００５２】
なお、光ファイバｆを接続する場合において、光ファイバｆの軸ずれによる損失は、Ｌｏｓｓ＝４．３４（ｄ／（Ｗ／２））2 で求められる。
【００５３】
ここで、ｄは光ファイバｆの軸ずれ量、Ｗは光ファイバｆの外径を示す。同心度０．７μｍ以下の結晶化ガラス製フェルール内での軸ずれ量が最大の場合、計算上の接続損失は、０．５ｄＢである。
【００５４】
次に、このように構成された治具１を用いて光ファイバｆを仮接続し、光信号レベルを測定する手順について図４および図５に基づいて説明する。
【００５５】
まず、ＪＩＳ  Ｃ  ５９７０に規定される光コネクタ５および光ファイバコード付き光コネクタ６を用意し、光パワーメータ７（グレイテクノス社製  型式２１１Ａ）に光ファイバコード付き光コネクタ６の一方の光コネクタ６１を接続するとともに、その他方の光コネクタ６１に光コネクタ５を連結しておく。次いで、光コネクタ５に治具１におけるコネクタ部材４の接続ナット４４を連結する。
【００５６】
ここに、光コネクタ５の中間において、光ファイバコード付き光コネクタ６におけるフェルールの先端面と、治具１におけるコネクタ部材４のフェルール４３の先端面とが突き合わされる。
【００５７】
一方、光信号レベルを測定する対象の光ファイバｆの光ファイバコードについては、詳細には図示しないが、予めファイバーストリッパーによって心線を剥離して光ファイバｆを露出させるとともに、ファイバカッターを利用して、端面に欠けやバリが発生しないように、かつ、露出された光ファイバｆの長さが、メカニカルスプライスに対応した長さ、例えば、１２．５ｍｍとなるように切断しておく。
【００５８】
このような準備が終了すれば、測定対象の光ファイバコードを把持し、その光ファイバｆを、フランジ付きホルダ４１の挿通孔４１ａを経てフェルール４３の固定されたフランジ部材４３１の挿通孔に挿入する一方、光ファイバ心線を把持部材３のスリット３ａに差し込み、光ファイバ心線を保持する。その後、光ファイバ心線を把持部材３に把持した状態で先方に向けて徐々に押し出すことにより、光ファイバｆは、フェルール４３の内孔４３ａを経てその先端面に到達し、光ファイバコード付き光コネクタ６における光コネクタ６１のフェルールの内孔に該内孔の中心と同心状態で接着剤にて固定された光ファイバｆと当接する。そして、光ファイバコード付き光コネクタ６の光ファイバｆに対して一定の押圧力で先端面同士が面接触するように、さらに若干光ファイバ心線を押し込む。この際、光ファイバｆの先端面同士が一定の押圧力で面接触したことを、光ファイバ心線が、基台２の上面に付した撓みゲージとしてのライン２ｘの範囲内で撓ませることで把握する。すなわち、光ファイバｆに過大な押圧力が作用して、光ファイバｆの先端面が欠けたり、割れたりすることを防止する。
【００５９】
光ファイバｆの仮接続が終了すれば、光パワーメータ７を操作し、光ファイバｆの光信号レベルを測定すればよい。ここで、測定地点における光信号レベルは、前述したように、既に把握されており、その光信号レベルと、測定された光信号レベルとを対比することにより、上流側の光ファイバｆの接続に不具合があったか否かを把握することができる。
【００６０】
この結果、上流側の光ファイバｆの光信号レベルを、光ファイバｆの本接続に先立って簡単に測定することができ、光ファイバｆの接続箇所における接続不良を確実に把握することができる。しかも、光ファイバｆを融着接続して光信号レベルを測定する場合に比較して、作業工数を大幅に削減して把握することができ、施工の確実性を向上させることができる。また、接続不良発生時におけるユーザーへの再訪問や、複雑で手間のかかる故障点探査などの手戻り工事をなくすことができる。
【００６１】
なお、前述した実施形態においては、光ファイバｆの接続箇所における光信号レベルを測定する場合を説明したが、光ファイバｆを分岐する分岐箇所において光信号レベルを測定する場合に適用することもできる。
【００６２】
すなわち、光パワーメータ７に光ファイバコード付き光コネクタ６の一方の光コネクタ６１を接続するとともに、その他方の光コネクタ６１に光コネクタ５を連結し、光コネクタ５に治具１におけるコネクタ部材４の接続ナット４４を連結した後、光スプリッタに接続する上流側の光ファイバｆを治具１を介して光ファイバコード付き光コネクタ６の光ファイバｆに低損失で仮接続し、光ファイバｆの光信号レベルを測定する。同様に、光スプリッタに上流側の光ファイバｆを接続した後、光スプリッタに下流側の光ファイバｆを接続し、接続された下流側の光ファイバｆの光信号レベルを測定することにより、光スプリッタの不良またはその分岐接続部の不良を把握することができる。
【００６３】
ところで、図７乃至図９には、本発明の光信号レベルの測定用治具１の他の実施形態が示されている。
【００６４】
この治具１も、基台２と、基台２の一端に把持ガイド２１を介して設けられた光ファイバ心線の把持部材３と、基台２の他端に設けられたコネクタ部材４と、から構成されている。
【００６５】
基台２は、一半部に直方体状の切欠部Ａを形成した偏平な方体であって、その他半部の上面には、幅方向の中心に位置して長手方向の内端縁から外端縁にかけて延びる断面Ｖ字状の溝２ｙが形成されるとともに、その外端縁を基準とする寸法ラベル２２が貼着されている。そして、切欠部Ａが形成された一半部には、上下方向に貫通するガイド穴２ａが長手方向に形成されており、該ガイド穴２ａには、把持ガイド２１の下面に設けた突起部２１１が嵌合されている。把持ガイド２１の突起部２１１には、基台２の底面側からビス止めされ、基台２からの把持ガイド２１の脱落が防止されている。
【００６６】
なお、把持ガイド２１の下面には、ノッチボール２３が設けられ、一方、切欠部Ａが形成された基台２の一半部の上面には、当該ノッチボール２３が嵌合可能な嵌合凹部２ｂが形成されており、ノッチボール２３が嵌合凹部２ｂに嵌合することにより、把持ガイド２１のストロークを規制することができる。具体的には、把持ガイド２１のノッチボール２３が一端部側の嵌合凹部２ｂに嵌合する状態から他端部側の嵌合凹部２ｂに嵌合する位置まで摺動させた際、把持ガイド２１は、フランジ部材４３１を含むフェルール４３の長さに相当する距離だけ移動するように設定されている。
【００６７】
把持部材３は、ウレタンゴムによって直方体状に形成され、その幅方向中心線上に位置してスリット３ａが形成されている。このため、基台２の長手方向に沿って配置された光ファイバ心線が把持部材３のスリット３ａに差し込まれた際、把持部材３の弾性力によって移動しないように保持することができる。
【００６８】
コネクタ部材４は、前述した実施形態のコネクタ部材４と比較して、取付プレートとフランジ付きホルダを一体化したストッパホルダ４６を用いた以外相違しないため、同一の部材に同一の符号を付してその詳細な説明を省略する。
【００６９】
なお、ストッパホルダ４６には、該ストッパホルダ４６を基台２の先端面にビス止めした際、基台２のＶ字状の溝２ｙを臨む位置に挿通孔４６ａが形成されており、Ｖ字状の溝２ｙ内に配置した光ファイバｆをストッパホルダ４６の挿通孔４６ａ内に導くことができる。また、ストッパホルダ４６には、ガイドキー付きフレーム４５の雌ねじ４５１に螺合可能な雄ねじ４６１が形成されている。
【００７０】
この実施形態の治具１を用いて光ファイバｆをＪＩＳ  Ｃ  ５９７０に規定される光ファイバコード付き光コネクタ６の光ファイバｆに突き合わせて仮接続し、その損失を、ＪＩＳ  Ｃ  ６８２３，６８２６に規定される光ファイバ損失試験に準拠して測定した。この試験結果を図１２に示す。
【００７１】
５種類の光ファイバコード付き光コネクタをそれぞれ１０回ずつ測定した試験結果によれば、接続損失は、光ファイバｆの軸ずれによる損失を求める式から求められる計算上の接続損失である０．５ｄＢの範囲内にほぼ納まっており、光ファイバｆの軸ずれや軸傾斜を生ずることなく低損失で仮接続されていることが明らかである。
【００７２】
この場合、先の実施形態の治具１を用いた場合よりも、接続損失が減少した理由としては、把持部材３に把持された光ファイバｆを定量だけ、すなわち、把持ガイド２１を介してフランジ部材４３１を含むフェルール４３の長さに相当する距離だけだけ移動させることによって一定の押し圧力で光ファイバｆを突き合わせたためと考えられる。
【００７３】
具体的には、本実施形態の治具１を用いた場合の光ファイバｆの押し圧力を測定したところ、光ファイバｆがＶ字状の溝２ｙ内にあれば、２〜３Ｎ／ｍｍ2 であり、直径２．５ｍｍのフェルール同士を７〜１１Ｎ／ｍｍ2 で押し付けて、０．５ｄＢ以下の低損失接続を得ると定めているＪＩＳ規格に比較して押し圧力が大幅に減少するものとなっている。
【００７４】
このような治具１を用いて光ファイバｆを仮接続し、光信号レベルを測定する手順について図１０に基づいて簡単に説明する。
【００７５】
まず、光パワーメータ７に光ファイバコード付き光コネクタ６の一方の光コネクタ６１を接続するとともに、その他方の光コネクタ６１に光コネクタ５を連結し、光コネクタ５に治具１におけるコネクタ部材４の接続ナット４４を連結する。
【００７６】
ここに、光コネクタ５の中間において、光ファイバコード付き光コネクタ６におけるフェルールの先端面と、治具１におけるコネクタ部材４のフェルール４３の先端面とが突き合わされる。
【００７７】
一方、把持ガイド２１が後端側に位置している（図１０（ａ）に示した状態）ことを確認した後、光信号レベルを測定する対象の光ファイバコードを把持し、光ファイバ心線を把持部材３のスリット３ａに差し込み、光ファイバ心線を保持するとともに、その光ファイバｆを基台２のＶ字状の溝２ｙ内に配置し、その先端をストッパホルダ４６の挿通孔４６ａ直前に位置させる。次いで、把持ガイド２１を前方に向けて押し込み、そのノッチボール２３が前方の嵌合凹部２ｂに嵌合する位置まで移動させる。把持ガイド２１の移動量は、フランジ部材４３１を含むフェルール４３の長さに相当する距離であることから、把持ガイド２１に固定された把持部材３に保持された光ファイバｆの先端も、同量だけ前進し、フェルール４３におけるフランジ部材４３１の挿通孔を経てその内孔４３ａの先端近傍に到達している。すなわち、光ファイバｆの先端は、把持ガイド２１の移動前においては、ストッパホルダ４６の挿通孔４６ａを臨む位置（フェルール４３のフランジ部材４３１の端面まで若干距離がある位置）にあることから、把持ガイド２１の移動によっても未だ光ファイバコード付き光コネクタ６の光ファイバｆには突き合わされていない。この後、光ファイバ心線を把持部材３に把持しつつ先方に向けて徐々に押し出すことにより、光ファイバｆは、フェルール４３の内孔４３ａの先端面に到達し、光ファイバコード付き光コネクタ６における光コネクタ６１のフェルールの内孔に該内孔の中心と同心状態で接着剤にて固定された光ファイバｆと当接する。そして、光ファイバコード付き光コネクタ６の光ファイバｆに対して一定の押圧力で先端面同士が面接触するように、さらに若干光ファイバ心線を押し込み、Ｖ字状の溝２ｙの範囲内において撓ませることで把握する。この際、光ファイバｆの先端面が欠けたり、割れたりすることなく光ファイバｆの先端面同士が一定の押圧力で面接触している。
【００７８】
光ファイバｆの仮接続が終了すれば、光パワーメータ７を操作し、光ファイバｆの光信号レベルを測定すればよい。そして、測定地点における必要とされる光信号レベルと、測定された光信号レベルとを対比することにより、上流側の光ファイバｆの接続に不具合があったか否かを把握することができる。
【００７９】
この結果、上流側の光ファイバｆの光信号レベルを、光ファイバｆの本接続に先立って簡単に測定することができ、光ファイバｆの接続箇所における接続不良を確実に把握することができる。しかも、光ファイバｆを融着接続して光信号レベルを測定する場合に比較して、作業工数を大幅に削減して把握することができ、施工の確実性を向上させることができる。また、接続不良発生時におけるユーザーへの再訪問や、複雑で手間のかかる故障点探査などの手戻り工事をなくすことができる。
【００８０】
なお、前述した実施形態においては、光ファイバｆの接続箇所における光信号レベルを測定する場合を説明したが、光ファイバｆを分岐する分岐箇所において光信号レベルを測定する場合に適用することもできる。
【００８１】
また、この実施形態による治具１を用いる場合には、光ファイバｆの光信号レベルを、光ファイバコード付き光コネクタ６を用いることなく直接光パワーメータ７に接続して測定することもできる。
【００８２】
すなわち、光パワーメータ７に治具１におけるコネクタ部材４の接続ナット４４を連結した後、基台２の後端側に位置している把持部材３のスリット３ａに、光信号レベルの測定対象の光ファイバ心線を差し込んで保持するとともに、その先端をストッパホルダ４６の挿通孔４６ａ直前に位置させて光ファイバｆを基台２のＶ字状の溝２ｙ内に配置する。この際、光ファイバｆと光ファイバ心線との境界を寸法ラベル２２を利用して光ファイバｆの長さに位置させる。具体的には、メカニカルスプライスを行なう場合には、前述したように、光ファイバｆを１２．５ｍｍ残して切断することにより、寸法ラベル２２の１２．５ｍｍの寸法目盛位置に光ファイバｆと光ファイバ心線との境界を配置する。このように、寸法ラベル２２の目盛を利用することにより、きわめて小径で確認しにくい光ファイバｆの先端をストッパホルダ４６の挿通孔４６ａに対向するように配置する場合に比較して、光ファイバ心線は相対的に径が大きく見やすいため、光ファイバｆを設定位置に容易に配置することができる。
【００８３】
次いで、把持ガイド２１を前方に向けて押し込み、光ファイバｆの先端を、フランジ部材４３１を含むフェルール４３の長さに相当する長さだけ前方に移動させれば、フェルール４３におけるフランジ部材４３１の挿通孔を経てその内孔４３ａの先端近傍に到達する。この場合、光パワーメータ７のセンサ面は、詳細には図示しないが、光パワーメータに接続された治具１のコネクタ部材４におけるフェルール４３の先端面から設定距離離れた位置にあり、仮に治具１のコネクタ部材４におけるフェルール４３の先端面から光ファイバーｆが若干突出したとしても、センサ面を傷付けることがないように設定されている他、フェルール４３の先端面から前後方向の一定範囲内に光ファイバｆの先端が位置すれば、光信号レベルの測定ができるようになっている。したがって、前述したように、光ファイバｆの先端をフランジ部材４３１を含むフェルール４３の長さに相当する長さだけ前方に移動させて、光ファイバｆの先端がフェルール４３の内孔４３ａの先端近傍に位置させた状態で光信号レベルの測定が可能である。しかも、光ファイバｆの先端は、フェルール４３の内孔４３ａ内にあってその先端から突出することがないことから、光パワーメータのセンサ面を傷付けることを確実に防止することができる。
【産業上の利用可能性】
【００８４】
以上のように本発明によれば、接続不良などの発生を防止して速やかに光伝送路を開設させることが可能となり、高速ネットワークの構築に寄与することができる。
【図面の簡単な説明】
【００８５】
【図１】本発明の光信号レベルの測定用治具の一実施形態を示す正面図および平面図である。
【図２】図１の治具の分解斜視図である。
【図３】図１の治具のコネクタ部材を示す断面図である。
【図４】図１の治具を用いて光ファイバを仮接続して光信号レベルを測定する方法を説明する概略図である。
【図５】図４の光ファイバの仮接続部分を模式的に示す拡大図である。
【図６】図１の治具を用いて光ファイバを仮接続した場合の損失試験の結果を示すグラフである。
【図７】本発明の光信号レベルの測定用治具の他の実施形態を示す平面図、正面図、底面図および正面図のＡ−Ａ線断面図である。
【図８】図７の治具の分解斜視図である。
【図９】図７の治具のコネクタ部材を示す断面図である。
【図１０】図７の治具を用いて光ファイバを仮接続して光信号レベルを測定する方法を説明する概略図である。
【図１１】図７の治具を用いて光ファイバを直接光パワーメータに仮接続して光信号レベルを測定する方法を説明する概略図である。
【図１２】図７の治具を用いて光ファイバを仮接続した場合の損失試験の結果を示すグラフである。
【符号の説明】
【００８６】
１  治具
２  基台
２ｘ  ライン（撓みゲージ）
２ｙ  Ｖ字状の溝
３  把持部材
４  コネクタ部材
４１，４６  ホルダ
４２  スプリング
４３  フェルール
４３ａ  内孔
４３１  フランジ部材
４４  接続ナット
４５  ガイドキー付きフレーム
５  光コネクタ
６  光ファイバコード付き光コネクタ
６１  光コネクタ
７  光パワーメータ
ｆ  光ファイバ
【図１】
2006343225.tif 000003
【図２】
2006343225.tif 000004
【図３】
2006343225.tif 000005
【図４】
2006343225.tif 000006
【図５】
2006343225.tif 000007
【図６】
2006343225.tif 000008
【図７】
2006343225.tif 000009
【図８】
2006343225.tif 000010
【図９】
2006343225.tif 000011
【図１０】
2006343225.tif 000012
【図１１】
2006343225.tif 000013
【図１２】
2006343225.tif 000014