(57)【要約】【課題】  試験中に確実に感光体を試料台に密着させ、且つ劣化加速試験中に発生するオゾンの適切な排出処理を効率的に行い、繰り返し精度の良い感光体の劣化加速試験方法およびその方法を実施するための装置を提供する。【解決手段】  電子写真用感光体を帯電する帯電工程と、帯電した該感光体を露光する露光工程を含むサイクルを繰り返すことにより感光体の劣化を加速させる試験方法であって、前記感光体が載る試料台の上面と側面とにエアー吸引口を形成して試験中にエアー吸引することを特徴とする。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子写真用感光体を帯電する帯電工程と、帯電した該感光体を露光する露光工程を含むサイクルを繰り返すことにより感光体の劣化を加速させる試験方法であって、
前記試験方法の試験中に前記感光体が載る試料台の上面と側面とにエアー吸引口を形成してエアー吸引することを特徴とする電子写真用感光体劣化加速試験方法。
【請求項２】
前記試料台の上面と側面のエアー吸引口から吸引するエアーは、共通の吸引バルブから吸引することを特徴とする請求項１記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法。
【請求項３】
請求項１又は２記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法を実施するための電子写真用感光体劣化加速試験装置。
【請求項４】
エアー排出口には、オゾンフィルターが取り付けられていることを特徴とする請求項３記載の電子写真用感光体劣化加速試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザープリンタ、複写機等の画像形成装置に使用される電子写真用感光体の劣化加速試験方法、さらに誘電体薄膜の非接触、非破壊の劣化試験等にも応用される感光体劣化加速試験方法及び装置に関し、特に、試験中の感光体の安定化、試験中発生するオゾンの排出処理、繰り返し精度の改善した電子写真用感光体劣化加速試験方法及び加速試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、レーザープリンタ、複写機等の画像形成装置に使用される電子写真用感光体の感光体の寿命などを予測するために劣化速度を加速して劣化加速試験方法を行うことが知られている。
この方法として、たとえば既知数の像形成サイクルのサイクル操作寿命を有する少なくとも１つの電子写真像形成部材を用意し、静電気帯電工程と光放電工程を含むサイクルを繰り返してサイクル中の上記光導電性層の暗減衰を暗減衰量が最高値に達するまで測定を行い、最高値により暗減衰最高値対像形成サイクルの参照データを確立した後、新鮮な電子写真像形成部材を静電気帯電工程と光放電工程を含むサイクルに、更にそれ以上のサイクルを繰り返す操作を行っても実質的に一定のままである最高値に暗減衰量が達するまで繰り返し、新鮮な電子写真像形成部材の暗減衰最高値を前記した参照データと比較し新鮮な電子写真像形成部材の推定サイクル寿命を確認する工程を含む劣化加速試験方法が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
しかしながら、この方法は、透明ガラスを圧着させてバイアス印加を行うと共に光を照射させているため、コロナ帯電・ローラ帯電という実際には使用されていない工程を用いており、使用されている現実の電子写真プロセスと異なる方法で劣化を加速させた試験法と言わざるを得ない。また、寿命に到ったサンプルの暗減衰特性が予め判っていないといけないため、一度感光体を実機に搭載して通紙試験を行わなければならず、感光体の寿命を求めるために多大な手間がかかってしまうという問題があった。
【０００４】
また、通紙試験を行わないで寿命を確認する方法がある。この方法は、電子写真用感光体（以下、感光体と略す）を高速で回転（1,000〜2,000r.p.m）させながら感光体の周囲に配置された帯電器と露光装置で、帯電と露光とを交互に繰り返して感光体の寿命を予測するものである。
【０００５】
上記試験方法は更に２つの試験方法に分かれる。第１の試験方法は、帯電器の出力と露光装置の光量とを予め決めて固定し、この決められた方法内での時間、試験を行い、その後感光体の特性を測定して、劣化状態を判定するものである。又、第２の試験方法は、試験中の感光体露光後電位Ｖと、感光体を通して流れる通過電流Ｉとを計測し、この２つが常に決められたレベルにあるように帯電器の出力と露光装置の光量を調整しながら行う方法である。
【０００６】
この２つの方法では、試験中に感光体に流れた通過電流を計測し、これを単位面積当りの電荷量Ｑに変換する。一方、Ａ４サイズ１枚を実機でプリントアウトする時の感光体を流れる通過電流から、感光体の単位面積当りの静電容量Ｃ量と、帯電電位Ｖとから、感光体のサイズはＡ４紙１枚が感光体上をダブリなく印字されるサイズとするとＣ・Ｖで求まることから、全通紙枚数は、Ｑ／（Ｃ・Ｖ）により求められるとすることで、寿命試験時間を実機のプリント枚数に対応させることが出来る。
【０００７】
もう１点は、この試験が加速寿命試験になっていることである。すなわち、感光体に５μＡ／１０ｃｍ2の試料通過電流を流し続けた状態で２０Ｈｒ試験すると（１日１０時間の試験とすると２日間）、５／１０×１０−６×（Ａ／ｃｍ2）×２０（Ｈｒ：時）×６０（秒／分）×６０（分／時）＝０．０３６（Ｃ／ｃｍ2）の電荷が感光体を通過したことになる（感光体を通過した電荷量を通過電荷量と呼ぶ）。そしてＡ４用紙縦送りで印字する場合を想定すると、感光体の静電容量を１００（ｐＦ／ｃｍ2）、帯電電位−７００（Ｖ）、除電後も含めた露光後電位を０（Ｖ）とすると、１００×１０−１２（Ｆ／ｃｍ2）×７００（Ｖ）＝７×１０−８（Ｃ／ｃｍ2）がＡ４サイズの紙１枚をプリントアウトする時の通過電荷量であるので、０．０３６／（７×１０−８）≒５１４，０００（枚）のプリントアウトしたことになり、大幅な加速試験になっている点である。
【０００８】
一般に前記第２の方法で寿命試験が行われる事が多いが、前述した具体的な計算で分かるように、試験中に感光体を通過する電流が一定であれば、プリントアウト何枚相当の試験を行ったのか計算が容易である。その理由から、試験は通過電流を一定にするようにして実施する方法が一般的に採用される。その本質は通過電荷量を知ることにある。
【０００９】
また、感光体によっては帯電電位がどのレベルにあるかによって寿命試験の結果が異なることがあり、帯電電位も一定にして試験を行うことが要求される。この様に、帯電電位および通過電流を一定にする為に、帯電器の高圧電源出力調整、および露光装置の光量調整を行うシステムが必要となり、この思想に基づいて、従来の寿命試験装置が構築されてきた。
【００１０】
従来の劣化加速試験の例を図８に示す。図８に示す感光体試料片の特性評価装置（（株）川口電気製作所製EPA8200）によって、感光体の劣化を加速する方法が知られている。この特性評価装置での劣化加速試験方法では、ターンテーブル１に感光体試料片を装着する開口部３が設けられている。この開口部３の面積は１９．３６ｃｍ2（開口部：４４×４４ｍｍ）である。更に、ターンテーブル１に付属して導電性金属板からなる試料片押さえ板２が設けられている。
【００１１】
この装置では、約1,100r.p.mで感光体試料片の周囲に配置された帯電器４と露光装置５で帯電と露光を繰り返すことができ、これは実機と同程度のスピードであり、また、高速で回転させて試料片を帯電器４に何度も通過させることができるようになっている。更に、帯電器４から試料片に与えられ試料片を充電するパルス電流は、所定の検出間隔で電流計６に送られその中の平滑化回路で平滑化等がされた後、Ａ／Ｄ変換器８でデジタル信号に変換されてコントローラ９に送られ演算処理される。
【００１２】
また、試料片の表面電位は、コロナ帯電器４と別の位置に配置された表面電位計７のモニタ部である表面電位計の電極５でモニタされ、このモニタされた信号が所定の検出間隔で表面電位計７に送られ、その中の増幅器で増幅等がされた後、Ａ／Ｄ変換器８でデジタル信号に変換され、コントローラ９に送られ演算処理される。この装置により、劣化加速試験が可能であり、更に感光体の帯電能、電荷保持性能および感度等の特性評価も行うことが出来る。
【００１３】
しかしながら、この様な従来のシステム（試験装置および試験方法）においては、２つの測定量である表面電位Ｘ及び通過電流Ｙと、２つの操作量である帯電器高圧電源の出力制御値Ａ及び除電露光ランプ光量の出力制御値Ｂとの関係は、Ａを増加するとＸ、Ｙは増加し、Ａを減少させるとＸ、Ｙも減少し、Ｂを増加するとＸは減少、Ｙは増加し、Ｂを減少するとＸは増加するがＹは減少する関係がある。仮にＸが目標値からはずれ、これを目標範囲に入れようとＡまたはＢを操作すると、もう１つの測定量Ｙが変化してしまい、Ｙにとっては外乱が作用することになる。
【００１４】
又、これを目標範囲に維持しようとＡまたはＢを操作すると、今度はＸが変化するという状態になってしまい、複雑な制御を行わなければならなかった。また、劣化加速試験中に感光体表面電位、通過電流の瞬間的なバラツキがあった場合でも、それらが瞬間的な誤差として通過電荷量算出に反映されないシステムとなっており、正確な劣化加速試験を行う上でさらなる改善が必要であった。
【００１５】
これらの問題を解決する為に、劣化加速試験システムにおいて、感光体の電位を一定条件に保つように制御され、試験中、計測された通過電流から通過電荷量を算出するようにし、単純で精度の良い感光体の劣化加速試験装置が発明されている（例えば、特許文献２参照）。
【００１６】
しかしながら、最近の感光体は益々高寿命化されてきており、この様な劣化加速試験装置においても、感光体の寿命を判断するまで試験を行うには、多大な時間が必要となってきている。そこで、更に感光体の劣化を加速させ、より短時間で感光体の寿命を判断できる劣化加速試験方法が要望されるようになってきている。そして、その要望の実現の為には、単位面積当りの通過電荷量を増加することが重要であるということが認識されつつある。
【００１７】
そこで、感光体面の単位面積あたりの通過電荷量を増大させるために、高電圧が印加されるワイヤを複数有し、これらワイヤが１方向のみに張架され、かつワイヤを囲むケーシングの形状が感光体面に対して平行面が全てケーシングされていない帯電装置を用いることにより、単位面積あたりの感光体面への電流量を増加する方法が開発されている。
【００１８】
この帯電方法では、静止した状態で劣化加速試験を行うと、感光体面に帯電ムラ（放電ムラ）が発生するため、改善が必要であった。このため帯電ムラを抑制する方法として、劣化試験中に感光体をワイヤが張架されている方向に対して垂直方向に動かし、試験時間の１／２の時間を初期位置で劣化させ、残りの１／２の時間をワイヤ間隔の中間距離を移動して行うことで、帯電ムラを抑制する方法が開発されている。
【００１９】
ところが、この試験方法での劣化加速試験においても、帯電ムラの抑制に更なる改善の余地がある。その為、この帯電ムラを抑制する方法として、劣化試験中に感光体をワイヤが張架されている方向に対し垂直に連続で往復運動させ、その時の片側移動距離は、ワイヤ張架間隔と同じである試験条件により帯電ムラを抑制するよりよい方法が開発されている。
【００２０】
更に、この試験を実施する際に、劣化加速試験に開口部を形成し、且つサンプル台に感光体を固定させる試料押さえを有する試験機が知られており、この試料抑えの材質によっては、試験中の感光体面への単位面積当たりの通過電荷量を大きくすることが困難であったり、また、繰り返し精度を悪化させることがあった。このような試料押さえを絶縁性とする事で解消する試験方法が見出されている。
【００２１】
これらにより、安定した劣化加速試験方法が実施できる状況となったが、試験中に感光体を往復移動させる為、試験中に感光体が移動しないように試料押さえによって感光体を試料台に密着させなければならない。その為に、強固な試料押さえが必要であり、絶縁性部材を使用した強固な試料押さえの製作は難しく、しかも費用が多大となってしまう為、感光体を試料台に密着させる簡易的な方法が要望されていた。
【００２２】
また、放電時に発生するオゾンに関しても、試験装置の設計によっては、試験装置内にオゾンが滞留し、精度良く試験を行うことができなかったり、また、試験中に発生したオゾンを測定者が吸引する可能性があり、人体に害を及ぼすなど、さらなる改善が必要であった。
【特許文献１】特開平５−１９７３号公報
【特許文献２】特開２００２−１４９００５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２３】
本発明は、上述した実情を考慮してなされたもので、感光体の劣化加速試験方法およびその方法を実施するための装置において、試験中に確実に感光体を試料台に密着させ、且つ劣化加速試験中に発生するオゾンの適切な排出処理を効率的に行い、繰り返し精度の良い感光体の劣化加速試験方法およびその方法を実施するための装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２４】
上記の課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、電子写真用感光体を帯電する帯電工程と、帯電した該感光体を露光する露光工程を含むサイクルを繰り返すことにより感光体の劣化を加速させる試験方法であって、該感光体が載る試料台の上面と側面にエアー吸引口を形成して試験中にエアー吸引する電子写真用感光体劣化加速試験方法を特徴とする。
【００２５】
請求項２に記載の発明は、試料台の上面側と側面側のエアー吸引口から吸引するエアーは、１つの吸引バルブから吸引する請求項１記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法を特徴とする。
【００２６】
請求項３に記載の発明は、請求項１又は２記載の電子写真用感光体劣化加速試験方法を使用した電子写真用感光体劣化加速試験装置を特徴とする。
【００２７】
請求項４に記載の発明は、エアー排出口には、オゾンフィルターが取り付けられている請求項３記載の電子写真用感光体劣化加速試験装置を特徴とする。
【発明の効果】
【００２８】
本発明によれば、電子写真用感光体を帯電する帯電工程と、帯電した該感光体を露光する露光工程を含むサイクルを繰り返すことにより感光体の劣化を加速させる試験方法であって、該感光体が載る試料台の上面と側面にエアー吸引口を形成して試験中にエアー吸引する事を特徴とする電子写真用感光体劣化加速試験方法により、試験中に確実に感光体を試料台に密着させ、且つ劣化加速試験中に発生するオゾンの適切な排出処理を１つのエアー吸引機構で効率的に行う事が出来、繰り返し精度の良い劣化加速試験方法を提供することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
以下、図面を参照して、本発明の実施形態を詳細に説明する。
図１は、本発明に係る劣化加速試験装置の概略図である。図２は試料台上面図を示し、図３は同様に側面図を各々示す。図４は試験試料を設置した時の試料台１５の上面図である。図５〜図７は、各々、帯電器４の上面図、側面図および下面図の概略構成を示す。
【００３０】
図１を参照しながら、劣化加速試験装置を用いた劣化加速試験方法について説明する。
まず、試験試料１４（ここでは感光体試料片）の感光体表面が上になるように試験試料台１５上に載せる。試験試料台１５の表面には、アースに接続された導電性の部材が取り付けられている。また図２、図３に示すように、試験試料台の上面と側面には、エアー吸引口２１が設けてあり、更に試料台１５には、エアーチューブ１７が取り付けられており、吸引バルブ１８でエアーの吸引開閉を行い、レギュレーター１９でエアー圧を調整可能となっている。そして排気口には、オゾンフィルター２０が取り付けられ、オゾンを除去している。
【００３１】
次に、図４に示すように、試験試料１４を試験試料台１５に置き、試験試料台１５に密着するように、試験試料押１２で押さえる。試験試料押１２は、試験時の劣化領域の設定と、帯電時の感光体端部への放電が集中するのを防止する機能を持つ。
【００３２】
図１に示すように、先ず、試料面で所定の光量になるように設定された露光装置１０によって感光体面を露光し、帯電器１１が高圧電源１３に接続される。この帯電器１１は、複数のワイヤを有し、このワイヤは同一方向のみに張架されている。また、この帯電器１１の背面はケーシングされておらず、且つワイヤ支持部材は絶縁性となっている。図５〜図７に示すように、張架されたワイヤのテンションは、ワイヤ張架治具２２によって調整することができる。コロナ放電と露光を同時に行って、帯電同時露光による劣化加速試験が可能となる。
【００３３】
また、図１及び図６に示すように、試験試料台１５は、ステージ１６によって劣化加速試験中に帯電器１１のワイヤ２３が張架されている方向に対して垂直方向に往復移動自在となっており、これにより帯電ムラを抑制することが可能である。劣化加速試験中の試験試料に流れる電流値を変化させることにより、時間あたりの通過電荷量を変化するようにして、劣化の加速度合いを変化させることが可能である。劣化加速試験終了後、帯電能、電荷保持性能、感光層中の蓄積電荷あるいは残留電位等の特性値を測定して劣化を評価する。さらに感光体の表面観察によって、感光体の劣化度合いも確認する。
【００３４】
また、感光体の評価方法として、画像形成装置の画像形成プロセスにおいて感光体に流れる通紙枚数に対応した通過電荷量を、本発明の劣化加速試験装置を用いて短時間に流すことにより、画像形成装置の通紙後における感光体の静電特性を予測する事が出来る。
【００３５】
試料台１５の上面と側面のエアー吸引口２１から吸引するエアーは、１つの吸引バルブから吸引するのが望ましい。２つの吸引バルブで吸引した場合では、装置が複雑化する。
【００３６】
劣化加速試験装置で使用する試験試料押さえ１２は、絶縁性部材とすることが望ましい。導電性部材では導電性部材とすると、帯電時に試験試料押さえ１２から放電され易くなり試料側への放電が少なくなり、また、感光体の電荷が試験試料押さえ１２に移動し易くなる為、試験試料への電流量を増加することが困難となる。
【００３７】
被試験試料の表面を帯電処理するための帯電装置用電源回路の制御手段と、この被試験試料を光照射するための光源用電源回路の制御手段とは、図示しない。これらの手段等は、従来公知のものを用いることができる。
【００３８】
試験装置は、光を透過しない暗箱あるいは、暗幕等で覆われている。暗箱あるいは暗幕で覆われていないと、試験時に風、光などの外部環境の変化の影響を受け、正確な劣化加速試験が困難となる。
【００３９】
本発明を実施する際に用いる感光体は、導電性支持体の上に、電荷発生層および電荷輸送層が形成されたもの、更にこの電荷輸送層の上に保護層が形成された構成のもの等が使用される。導電性支持体、電荷発生層および電荷輸送層は、公知のものならば原則的には如何なるものでも使用することができる。
【００４０】
以下、実施例により本発明をさらに具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例により、何等限定されて解釈されるものではない。
【実施例１】
【００４１】
図１に示す劣化加速試験装置を使用した。試験試料台１５には、上面にエアー吸引口２１があり、エアー吸引でアルミ板（厚み：０．５ｍｍ）を試料台に密着させ、更にその上に試料押さえ１２で、このアルミ板を試料台に固定した。帯電器の真下で３０分間往復スライドさせた時の試験開始時と、試験終了時でのサンプル保持の状況について調査した。調査結果を表１に示す。
【００４２】
試験条件：試験試料台１５の上面には、φ２ｍｍの穴が１６個あいている（４列に１２ｍｍ間隔で均等に）。エアー吸引は、バキュームイジェクター（ＫＯＧＡＮＥ社製）を使用し、エアー排出をエアー吸引に変換させ、感光体試料片を試料台に密着させた（エアー圧：０．１Ｍｐａ）。試験中は常にエアーで吸引した状態で実施した。試験試料押１２は、絶縁性部材（材質：アクリル、厚み：０．５ｍｍ）を使用し、アルミ板を試料台に載せた上から、試験試料押１２を載せ、絶縁性のテープ（材質：ポリテトラフルオロエチレン：商品名テフロン（登録商標）、厚み：０．０９ｍｍ）で固定した。帯電器１１真下での移動は、３０分の間１０ｍｍの距離を連続的に往復スライドさせた。
【００４３】
［比較例１］
図９に示すような劣化加速試験装置を使用した。試験試料台は、上面にエアー吸引口２１がなく、試料押１２のみでアルミ板を試料台にセットした。帯電器の真下で３０分間往復スライドさせた時の、試験開始時と試験終了時でのサンプル保持の状況について調査した。調査結果を表１に示す。
【００４４】
【表１】
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【００４５】
試験条件：試験試料押さえは絶縁性部材（材質：アクリル、厚み：０．５ｍｍ）を使用し、アルミ板を試料台に載せた上から、試験試料押さえをのせ、絶縁性のテープ（材質：ポリテトラフルオロエチレン：商品名テフロン（登録商標）、厚み：０．０９ｍｍ）で固定した。帯電器真下での移動は、３０分の間１０ｍｍの距離を連続的に往復スライドさせた。
【００４６】
表１の結果から、サンプルを試料押さえ１２だけで固定した場合は、試験中にサンプルが移動し、サンプル位置が変化してしまう可能性があることが分かった。しかし、サンプル押さえ１２とエアーチューブ１７による吸引で固定すれば、確実に感光体を試料台１５に密着して固定が可能となることが分かる。
【実施例２】
【００４７】
図１に示す劣化加速試験装置を使用した。試験試料台１５は、上面と側面にエアー吸引口があり、且つエアー排気口にはオゾンフィルター２０が設置されている。この条件で劣化加速試験を実施した場合のオゾン濃度の測定結果と、６０分劣化後の残留電位（所定の電位から十分露光させた後の電位）との結果を表２に示す。
【００４８】
試験条件：試験試料台上面には、φ２ｍｍの穴が１６個あいており（４列に１２ｍｍ間隔で均等に）、側面の４面全てに、φ２ｍｍの穴が各面に４つ１２ｍｍ間隔で均等にあいている。エアー吸引は、バキュームイジェクター（ＫＯＧＡＮＥ社製）を使用し、エアー排出をエアー吸引に変換させ、試験試料台の上面と側面からエアーを１系統で吸引し、感光体試料片を試料台への密着させ、且つ試験試料周辺のエアーを吸引した（エアー圧：０．１Ｍｐａ）。試験中は常にエアーで吸引した状態で実施。試験試料押さえは絶縁性部材（材質：アクリル、厚み：０．５ｍｍ）を使用し、感光体を試料台の載せた上から、試験試料押さえをのせ、絶縁性のテープ（材質：ポリテトラフルオロエチレン：商品名テフロン（登録商標）、厚み：０．０９ｍｍ）で固定した。帯電器真下での移動は、６０分の間１０ｍｍの距離を連続的に往復スライドさせた。また、試験装置は暗箱で覆われており、外部からの風と光の影響を遮断している。
【００４９】
［比較例２］
図８に示すような劣化加速試験装置を使用した。試験試料台は上面のみエアー吸引口がある。この条件で劣化加速試験を実施した場合のオゾン濃度測定結果と60分劣化後残留電位の結果を表２に示す。
【００５０】
試験条件：試験試料台上面には、φ２ｍｍの穴が１６個あいている（４列に１２ｍｍ間隔で均等に）。エアー吸引は、バキュームイジェクター（ＫＯＧＡＮＥ社製）を使用し、エアー排出をエアー吸引に変換させ、試験試料台の上面からエアーを吸引し、感光体試料片を試料台へ密着させた（エアー圧：０．１Ｍｐａ）。試験中は常にエアーで吸引した状態で実施した。試験試料押さえは絶縁性部材（材質：アクリル、厚み：０．５ｍｍ）を使用し、感光体を試料台に載せた上から、試験試料押さえをのせ、絶縁性のテープ（材質：ポリテトラフルオロエチレン：商品名テフロン（登録商標）、厚み：０．０９ｍｍ）で固定した。帯電器真下での移動は、６０分の間１０ｍｍの距離を連続的に往復スライドさせた。また、試験装置は暗箱で覆われており、外部からの風と光の影響を遮断している。
【００５１】
［比較例３］
図８に示すような劣化加速試験装置を使用した。試験試料台は上面と側面にエアー吸引口３がある。この条件で劣化加速試験を実施した場合のオゾン濃度測定結果と６０分劣化後残留電位の結果を表２に示す。
【００５２】
【表２】
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【００５３】
試験条件：試験試料台上面には、φ２ｍｍの穴が１６個あいており（４列に１２ｍｍ間隔で均等に）、側面の４面全てに、φ２ｍｍの穴が各面に４つ１２ｍｍ間隔で均等にあいている。エアー吸引は、バキュームイジェクター（ＫＯＧＡＮＥ社製）を使用し、エアー排出をエアー吸引に変更させ、試験試料台の上面と側面からエアーを１系統で吸引し、感光体試料片を試料台へ密着させ、試験試料周辺のエアーを吸引した。（エアー圧：０．１Ｍｐａ）試験中は常にエアーで吸引した状態で実施。試験試料押さえは絶縁性部材（材質：アクリル、厚み：０．５ｍｍ）を使用し、感光体を試料台に載せた上から、試験試料押さえをのせ、絶縁性のテープ（材質：ポリテトラフルオロエチレン：商品名テフロン（登録商標）、厚み：０．０９ｍｍ）で固定した。帯電器真下での移動は、６０分の間１０ｍｍの距離を連続的に往復スライドさせた。また、試験装置は暗箱で覆われており、外部からの風と光の影響を遮断している。
【００５４】
いずれの実施例および比較例においても、使用する感光体試料片は、リコーIPSIO Color6500用感光体と同じ材料・処方構成の感光体試料片を使用し、劣化加速試験中の感光体試料面の通過電流を９２．６μＡ（感光体の劣化面積：４０ｍｍ×４０ｍｍ）、照度を１３０ｌｕｘに設定し劣化加速試験を実施した。また、オゾン濃度は、ダイレック株式会社MODEL  DY-1500を使用し測定した。
【００５５】
表２の結果から、劣化加速試験で放電時に発生するオゾンは、装置外に排出しなければ、試験装置内のオゾン濃度を上昇させてしまい、試験中の感光体もその影響を受け、劣化後の特性値（残留電位）が変化する事が分かる。
【００５６】
その為、試験装置内のオゾンを排出する必要があるが、その方法として、試験中に試料台側面からエアー吸引しエアーを排出する事で、放電時に発生するオゾン排出が可能となり、試験装置内のオゾン濃度上昇を防ぐ事が可能になる。
【００５７】
しかし、排出されているオゾンは人体に有害な濃度の上限を超えており、オゾン濃度を低下させる装置が必要である。このため本発明の劣化加速装置のようにした、オゾンフィルター取り付けによってオゾン濃度低下は可能になる。また、感光体を試料台に密着させる機能と、オゾンを排出する２つの機構を、試験台上面と側面にエアー吸引口を設けるという、１つのエアー吸引機構で満足させる事ができる為、装置の大型化を防ぎ効率的の良い劣化加速試験が可能となる事が分かる。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】本発明の劣化加速試験装置の概略図である。
【図２】本発明の試験装置の試料台の概略上面図である。
【図３】本発明の試験装置の試料台の概略側面図である。
【図４】本発明の試料台に試料を設置した場合の上面図である。
【図５】本発明に使用される帯電器の１例の概略平面図である。
【図６】本発明に使用される帯電器の１例の概略正面図である。
【図７】本発明に使用される帯電器の１例の概略下面図である。
【図８】従来の感光体の特性評価及び劣化試験装置の概略図である。
【図９】比較例２で使用した従来の劣化加速装置の概略構成図である。
【符号の説明】
【００５９】
１    ターンテーブル
２    試料片押え板
３    開口部
４    コロナ帯電器
５    表面電位計電極部・露光装置
６    電流計測・平滑化回路、他
７    表面電位計：アンプ回路、他
８    インターフェース（Ａ／Ｄ変換）
９    コントローラ
１０    露光装置
１１    帯電器
１２    試験試料押さえ
１３    高圧電源
１４    試験試料
１５    試験試料台
１６    ステージ
１７    エアーチューブ
１８    吸引バルブ
１９    レギュレーター
２０    オゾンフィルター
２１    エアー吸引口
２２    ワイヤ張架治具
２３    ワイヤ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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