(57)【要約】【課題】本発明は、ディスクのマウント処理におけるチルト機構の初期調整において、ディスクの読取精度または記録精度を保ちつつ、チルト機構がチルト調整値を測定する時間を短縮して、光ディスク装置の起動を早くすることを目的とする。【解決手段】  対物レンズ４ａを回転できるピックアップ２ａを備え、前記光ディスクに対し当該ディスクのデータの読み取り、記録を開始する前に、予め前記光ディスクに固有のチルト角の初期調整値を決定する。前記読み取り、記録時には、ピックアップ２ａのチルト角の前記初期調整値に基づいて、ピックアップ２ａのチルト角の調整を行う。前記初期調整はピックアップ２ａをディスクの当該最外周部分近傍の位置８に位置付けしてピックアップ２ｂ（２ａを移動した図。）のチルト角の調整を行う。当該調整した結果得られた調整値のみを個々のディスク固有のパラメータとして用いて前記初期調整値を決定する。  【選択図】図２
2006331494.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
本体にセットされている光ディスクに対物レンズを介してレーザ光を照射し、前記光ディスクに記録されているデータを読み取るピックアップと、
前記対物レンズを回転駆動して前記ピックアップのチルト角の調整を行うチルト調整機構を備え、
当該チルト調整機構は、前記光ディスクに対し当該ディスクのデータの読み取りまたは当該光ディスクへのデータの記録を開始する前に、予め前記光ディスクのチルト角の初期調整値を決定するチルト角初期調整機能と、
前記読み取りまたは記録を行うときに、前記ピックアップのチルト角の前記初期調整値に基づいて、前記ピックアップのチルト角の調整を行うチルト角調整機能と、を有する光学ディスク装置において、
前記チルト角初期調整機能は、前記ピックアップをディスクの当該最外周部分近傍の位置に位置付けして前記ピックアップのチルト角の調整を行い、当該調整した結果得られた調整値である最外周部調整値のみを個々の光ディスク固有のパラメータとして用いて前記初期調整値を決定するものであって、
前記チルト角初期調整機能の前記チルト角の初期調整値は、前記ディスクの最内周部では予め設定した値として、前記ディスクの最外周部分近傍の位置では前記最外周部調整値として、前記ディスクの最内周部と最外周部分近傍の間の位置では半径方向の距離に比例分配した値とする光学ディスク装置。
【請求項２】
本体にセットされている光ディスクに対物レンズを介してレーザ光を照射し、前記光ディスクに記録されているデータを読み取るピックアップと、
前記対物レンズを回転駆動して前記ピックアップのチルト角の調整を行うチルト調整機構を備え、
当該チルト調整機構は、前記光ディスクに対し当該ディスクのデータの読み取りまたは当該光ディスクへのデータの記録を開始する前に、予め前記光ディスクのチルト角の初期調整値を決定するチルト角初期調整機能と、
前記読み取りまたは記録を行うときに、前記ピックアップのチルト角の前記初期調整値に基づいて、前記ピックアップのチルト角の調整を行うチルト角調整機能と、を有する光学ディスク装置において、
前記チルト角初期調整機能は、前記ピックアップをディスクの当該最外周部分近傍の位置に位置付けして前記ピックアップのチルト角の調整を行い、当該調整した結果得られた調整値である最外周部調整値のみを個々の光ディスク固有のパラメータとして用いて前記初期調整値を決定する光学ディスク装置。
【請求項３】
前記チルト角初期調整機能の前記チルト角の初期調整値は、前記ディスクの最内周部では予め設定した値として、前記位置づけした前記最外周部分近傍の位置では前記最外周部調整値として、これらの間の位置ではこれらの値の補間した値とする請求項２に記載の光学ディスク装置。
【請求項４】
前記チルト角初期調整機能の前記チルト角の初期調整値は、前記補間した値を前記予め設定した値と前記最外周部調整値とで半径方向の距離に比例分配した値とする請求項３に記載の光学ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ピックアップにチルト機構を備えた光ディスク装置において、その読取精度または記録精度を保ちつつ、マウント処理時間を短縮することに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ピックアップにチルト機構を備えた光ディスク装置が開示されている（例えば、特許文献１、２参照。）。これらによれば、マウントする光ディスク（以下単に「ディスク」という。）に反りがあったとしても、ディスク表面に対しレーザ光が入射するラジアル角度（以下単に「角度」という。）が垂直になるよう、チルト機構のチルトの回転角度（以下「チルト角」という。）を調整することによって、記録時における記録パワー、読み出し時の読み出しパワーを適正に保つことが行われている。係るパワーを適正に保つことにより、ディスク情報の読み取り、記録精度を維持することができる。
【０００３】
係るチルト機構による角度調整は、予め定めた工場設定値を用いるものがある。この場合、予め定めた工場設定値を用いればマウントしたディスクそれぞれに対応できない。
【０００４】
また、記録時、読み取り時にチルト角を調整するものがある。このような調整をすれば、マウントしたディスクそれぞれに対応できるが、記録時、読み取り時にチルト角を調整すれば、チルト機構の制御が安定するまで時間がかかり、シーク時間が増大する問題が生じる。
【０００５】
また、読み取り、記録する前のディスクのマウント時に予め調整値を測定し、その調整値を中心にして読み取り時、記録時に調整するものがある（例えば、特許文献２参照。）。そして、ディスクの反りの程度が予め分かっているので、記録時、読み取り時にチルト機構の制御が安定するまでの時間を短くすることができ、前述のシーク時間の増大を抑えることができる。また、後述の通り、読み取り時、記録時にディスクのチルト角を調整するのが困難な場合は、ディスクのマウント時に予め調整することが行われている。
【０００６】
また、特許文献１には、ピックアップの位置付けをディスクの最内周に代えて、中央に位置付けしてチルト補正を行わせ、チルト補正後に停止手段で動作を停止させてチルト機構の動作を停止させピックアップをディスクの外周方向に移動させてチルト値を測定することが開示されている。また、このディスクのマウント時において、チルト機構によるチルトの調整値の測定は、ディスクの最内周部および最外周部を測定するものが開示されている。
【０００７】
さらに、特許文献２には、チルト角制御回路は、ディスク最内周記録半径Ｒ１とディスク最外周記録半径Ｒ２とから、Ｒ＝（Ｒ１＋Ｒ２）／２を算出し、そのＲ位置もしくはその近傍にて駆動回路４によりチルト角制御機構３を制御しチルト角調整を行い、エラー数カウント回路より得られるエラー数が最小となるようにチルト角調整を行うことにより、確実にエラー数が最小となるチルト角調整値を得ることが開示されている。
【０００８】
一方、前記ピックアップのチルト機構として、所定の支点に回転支持されたピックアップを傾けるものが実用化されている。このように所定の支点に回転支持されるタイプのピックアップであれば、チルトの支点が対物レンズから遠いゆえ、また読み取りまたは記録を行うときにサーボをかけて動かすとフォーカスがずれ易い問題があった。さらに、最悪の場合、対物レンズがディスクに接触して壊れる恐れがあった。したがって、ディスクのマウント時に予め調整値した値を固定値として利用するしかない場合もあった。そこで、対物レンズ自体を回転駆動するピックアップが実用化されている。対物レンズ自体を回転するタイプであれば、前記チルトの支点は、対物レンズの中心部であるため、前述の恐れが少ない。したがって、前述の通り、記録時、読み取り時に調整するチルト角を調整する場合に好都合である。
【特許文献１】特開２００２−２６０２６３号公報
【特許文献２】特開２００３−２６３７６４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、ディスクのマウント処理においてチルト機構の調整値を測定すると、処理時間がかかり、光ディスク装置の起動が遅くなることが問題となる。例えば、ディスクのマウント処理において、ディスクの最内周部、最外周部を測定するとすれば、ディスクの最内周部を測定する場合は約６００ｍ秒、最外周部を測定する場合は８００〜１０００ｍｓ、さらに、ディスク外周への移動時間が約５００ｍ秒、ディスク内周への移動時間が約５００ｍ秒必要になり、これらを合計すれば、光ディスク装置の起動時には、無視できない時間の遅れが生じることになる。
【００１０】
一方、ディスクの反りは、最外周が最も反り角度が大きく、従来技術のように、必ずしも最内周部分のチルト角を測る必要がないと考えられる。図６に、あるディスクの実測例を示して、これを説明する。図６は、所定のディスク上のアドレスポジションで、チルト機構によるチルト調整値を、公知のＲＦ最大法（後述する。）で、ある一枚のディスクについて１０回測定した結果を示す。ここで、横軸は、１６進数でディスク上のポジション「ＰＳＮ」を示すもので、値が大きいほど外周を示す。また、縦軸は、「ＴＩＬＴ」で、測定器の生の値を示しており、１０進数の角度[ｄｅｇ]の５００倍の値となっている。この図６に示す通り、ディスクの反りは、最外周が最も反り角度が大きいと考えられる。一方内周部は、反りが小さく、チルト調整値としては、ディスクのばらつき範囲内で無視できると考えられる。なお、図６に示したディスクは一例であるが、一般的にこのような傾向があると考えられる。
【００１１】
特許文献１では、最内周部および最外周部を測定することが開示されているが、前述の通り、光ディスク装置の起動が遅くなることが問題となる。また、特許文献１、２では、ディスクのトラックの中央部を測定し、この測定値を代表値としていることが開示されているが、このような実測例に鑑みれば、記録、読み取り前に、予めどの程度の反りが生じているかを測定する予備調整機能としては、反りの最大値を測定していないので十分でないと考えられる。したがって、いずれの文献においても、ディスクのマウント処理におけるチルト機構の初期調整において、当該初期調整の目的を果たせるよう必要十分な精度で調整して、ディスクの読取精度または記録精度を保ちつつ、チルト機構がチルト調整値を測定する時間を短縮する目的に対して十分でないと考えられる。
【００１２】
そこで、本発明は、上述の問題に鑑み、ディスクのマウント処理におけるチルト機構の初期調整において、当該初期調整の目的を果たせるよう必要十分な精度で調整して、ディスクの読取精度または記録精度を保ちつつ、チルト機構がチルト調整値を測定する時間を短縮して、光ディスク装置の起動を早くすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明は、上述の課題を解決するための手段を以下のように構成している。
【００１４】
（１）本体にセットされている光ディスクに対物レンズを介してレーザ光を照射し、前記光ディスクに記録されているデータを読み取るピックアップと、
前記対物レンズを回転駆動して前記ピックアップのチルト角の調整を行うチルト調整機構を備え、
当該チルト調整機構は、前記光ディスクに対し当該ディスクのデータの読み取りまたは当該光ディスクへのデータの記録を開始する前に、予め前記光ディスクのチルト角の初期調整値を決定するチルト角初期調整機能と、
前記読み取りまたは記録を行うときに、前記ピックアップのチルト角の前記初期調整値に基づいて、前記ピックアップのチルト角の調整を行うチルト角調整機能と、を有する光学ディスク装置において、
前記チルト角初期調整機能は、前記ピックアップをディスクの当該最外周部分近傍の位置に位置付けして前記ピックアップのチルト角の調整を行い、当該調整した結果得られた調整値である最外周部調整値のみを個々の光ディスク固有のパラメータとして用いて前記初期調整値を決定する。
【００１５】
このように構成すれば、前述図６の説明の通り、前記ピックアップを前記ディスクの最外周部分近傍に位置付けして、当該最外周部分近傍の位置で調整してその結果得られた値は、前述図６の説明の通り、個々のディスク固有のチルト角の略最大値が求められることになる。この最大値を個々のディスク固有のパラメータとして、それぞれの半径位置のチルト角の初期調整値を計算すれば、一回しかチルト角を調整しないので、マウント時間を短縮できる。チルト角の略最大値が求められるのであるから、例えば、内周に近づくに従い、段階的に前記初期調整値を減じる等の手段により、チルト角の調整精度に影響を与えることなく、容易に前記初期調整値を決定することができる。したがって、チルト機構によるチルト角の初期調整値を必要十分な精度で調整して、ディスクの読取精度または記録精度を保ちつつ、チルト機構がチルト調整値を測定する時間を短縮して、光ディスク装置の起動を早くすることができる。
【００１６】
前述の例では、ディスクの最内周部を測定する場合は約６００ｍ秒、ディスク内周への移動時間が約５００ｍ秒必要であったから、これらの合計時間を考えると、マウント時間を約１秒短縮することができる。係る起動時において１秒早くなれば、ディスクの交換時に、毎回ワンテンポ早くなることになり、操作性が向上する。
【００１７】
なお、前記「最外周部」、「最内周部」の意義は、読み込みまたは記録可能なディスク上の半径方向の位置を指すものである。または、ディスク上のアドレスがそれぞれ最後と最初を指すものでもよい。前記「最外周部分近傍」とは、最外周部分と最内周部分との間を半径方向に分配して、最外周部分からその２５％内側までの範囲をいうものとする。または、ディスク上のアドレスがこれに相当する位置であれば良い。また、前記チルト角調整機能は、前記「読み取りまたは記録を行うとき」において、前記初期調整値を初期値としてさらに調整を行うものであっても良く、また、初期値をそのまま用いるものであっても良い。さらに、前記「パラメータ」とは個々のディスクそれぞれに対応させるための変数であって、初期値の計算は、その他の固定値との組み合わせによって求めるものであっても良い。
【００１８】
（２）前記チルト角初期調整機能の前記チルト角の初期調整値は、前記ディスクの最内周部では予め設定した値として、前記ディスクの前記最外周部分近傍の間の位置では前記最外周部調整値として、前記ディスクの最内周部と最外周部分の間の位置ではこれらの値を補間した値とする。
【００１９】
このように構成しても、前述図６の説明の通り、前記ディスクの最内周部ではディスクのばらつきの範囲内だから、内周部において、前記「予め設定した値」として固定しても、ディスクの読取精度に影響を及ぼすものでない。したがって、このように構成すれば、前記チルト角の初期調整値を計算できるから、ディスクのマウント処理において、チルト機構によるチルト調整値を予め測定する機能を十分確保しつつ、前記（１）の発明と同様、チルト機構がチルト調整値を測定する時間を短縮して、光ディスク装置の起動を早くすることができる。
【００２０】
なお、前記「予め設定した値」は、工場出荷時の初期設定値であり、光ディスク装置ごと、ディスクの種別、大きさごとに設定しても良いが、マウントするディスクごとに変化させるものではない。例えばこの値は、０とすることができる。また、「補間した値」は、前記「予め設定した値」以上であって、前記最外周部調整値以下の値とする。
【００２１】
（３）前記チルト角初期調整機能の前記チルト角の初期調整値は、前記補間した値を前記予め設定した値と前記最外周部調整値とで半径方向の距離に比例分配した値とする。
【００２２】
このように構成すれば、前記（２）の構成において、の前記チルト角の初期調整値を容易に決定できる。
【発明の効果】
【００２３】
本発明によれば、ディスクのマウント処理におけるチルト機構の初期調整において、チルト機構によるチルト角の初期調整値を必要十分な精度で調整して、ディスクの読取精度または記録精度を保ちつつ、チルト機構がチルト調整値を測定する時間を短縮して、光ディスク装置の起動を早くすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
図１を用いて、本実施形態の光ディスク装置に係る内部構成について説明する。光ディスク装置１は、ピックアップ２付属の図示しない半導体レーザが、光ディスク装置１本体にマウントされたディスク１００にレーザ光７を当てて、データの読み取りまたは記録を行うものである。光ディスク装置１の内部構成には、ディスク１００を回転させるディスク回転モータ１１と、回転軸３を中心として半径方向の回転方向６の方向にチルト可能に支持されたピックアップ２と、ピックアップ２を通る図外のボールねじを回転させることによりピックアップ２をディスク半径方向に移動させるスレッドモータ５とを含んでいる。
【００２５】
ピックアップ２は対物レンズ４と、図示しない複数の受光素子と、対物レンズ４を上下左右に移動させ、前記チルト回転させる図示しないコイルと、図示しない半導体レーザを含んでいる。ピックアップ２は、半導体レーザによるレーザ光７をディスク表面に照射し、ディスク上のデータを読み取り、またはディスク上にデータを記録する機能を有している。そして、ピックアップ２の前記受光素子は、ディスク表面の反射光を電圧に変換して、再生／記録回路１３に送る。
【００２６】
ドライバ１２は、信号２０〜２３を介して各部を駆動する。信号２０は、前記対物レンズ４のチルト角をドライブする信号を送る。信号２１は、フォーカス調整およびトラッキング調整行うための図示しないアクチュエータをドライブする信号を送る。信号２２は、スレッドモータ５をドライブする信号を送る。信号２３は、ディスク回転モータ１１をドライブする信号を送る。
【００２７】
再生／記録回路１３は、図示しないＲＦアンプと、フォーカスエラー信号生成部１３１と、トラッキングエラー信号生成部１３２と、チルト角信号生成部１３３とを含んでいる。ＲＦアンプは、前記受光素子で生成した電圧からＲＦ信号を生成し、これを増幅して変調／復調回路１５に送る。また、フォーカスエラー信号生成部１３１とトラッキングエラー信号生成部１３２、チルト角信号生成部１３３は、それぞれ、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、チルト角信号を生成して、サーボ回路１４に送る。フォーカスエラー信号は、前記対物レンズ４のフォーカスがずれていることを検出するものであり、トラッキングエラーは、トラックからの半径方向のずれを検出するものである。チルト角信号は、現在のチルト角を検出するものである。さらに、再生／記録回路１３は、記録時には前記半導体レーザの記録パワーを調整する機能を有している。
【００２８】
なお、ピックアップ２のこれらの検出手段は公知である。フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号は、前記複数の受光素子により得られた電圧を比較することにより行うことが考えられるが、詳細は省略する。また、チルト角信号を検出する手段については後述する。
【００２９】
サーボ回路１４は、再生／記録回路１３から送られたトラッキングエラー信号、フォーカスエラー信号、チルト角信号に基づいて、それぞれトラッキング調整を行うためのトラッキングサーボ信号と、スレッドモータ５を駆動するスレッドモータ駆動信号、フォーカス調整を行うためのフォーカスサーボ信号と、チルト角調整を行うためのチルト角サーボ信号とを生成する。
【００３０】
変調／復調回路１５は、読み取り再生時においては、再生／記録回路から与えられるＲＦ信号に対して、誤り検出および訂正処理などを施し、これをデコードして再生信号を生成し、外部へ出力する。また、変調／復調回路１５は、記録時には、外部から入力された信号を復調処理してディジタル信号に変換し、誤り検出および訂正処理などを施して、これを再生／記録回路１３へ送る。
【００３１】
操作部１８は、操作者からの操作を受付け、制御部１０は、操作部１８の指示を受けて、符号１３〜１５の各部を制御する。バッファＲＡＭ１９は、各種の制御パラメータを記憶しており、制御部１０は、前記各部の制御の際、バッファＲＡＭ１９を参照する。バッファＲＡＭ１９には、後述のチルト角をディスク読み取り前または記録前に初期調整するための初期調整値も記憶している。
【００３２】
次に、同じく図１を用いて、上述で説明した光ディスク装置１の内部構成を基に、光ディスク装置１の動作を説明する。前述の通り、光ディスク装置１は、対物レンズ４付属の図示しない半導体レーザがディスク１００にレーザ光７を当てて、データの読み取りまたは記録を行うものである。ディスク１００の読み取り時には、対物レンズ４に付属の前記半導体レーザにより、レーザ光７を対物レンズ４を介してディスク１００表面に照射して、その反射光を図示しない受光素子により電圧に変換する。そして、再生／記録回路１３は、この電圧からＲＦ信号を生成し、これを再生／記録回路１３内のＲＦアンプにより増幅して変調／復調回路１５に送り、変調／復調回路１５はディスク上のデータをデコード等して、外部機器に映像等を出力する。ディスク１００の記録時には、対物レンズ４に付属の前記半導体レーザを照射することにより、変調／復調回路１５でデコードされたディジタルデータをディスク上に記録する。その際、再生／記録回路１３は、前記半導体レーザの強度を調整する。
【００３３】
また、このようなディスクのデータを読取、記録するためには、渦巻状に形成されるディスクのトラックに対物レンズ４を追従させる必要があり、係る追従動作は以下の動作により行う。ディスク回転モータ１１によりディスクを回転させると共に、ピックアップ２を通る図示しないボールねじをスレッドモータ５により回転させる。係る動作は信号２２、２３を介してドライバ１２が駆動することにより行う。また、前述の通り、ピックアップ２上にある前記コイルにより、対物レンズ４を上下左右に微調整することができ、トラックへの高速の追従を可能とすると共に、フォーカスを常に適正に保つことができる。係るコイルの動作は、ドライバ１２が信号２１を介して駆動することにより行う。そして、係るドライバ１２による駆動は、前記複数の受光素子が反射光を電圧に変換した信号に基づいてフィードバックされる。即ち、再生／記録回路１３は、公知の手段により前記受光素子の電圧に基づいて、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、チルト角エラー信号を生成して、サーボ回路１４に送り、サーボ回路１４は、トラッキングサーボ信号、スレッドモータ駆動信号、フォーカスサーボ信号、チルト角調整を行うためのチルト角サーボ信号を生成し、ドライバ１２にフィードバックされる。
【００３４】
なお、係る対物レンズ４のチルトの回転動作と、回転軸３と、再生／記録回路１３、特にチルト角信号生成部１３３と、サーボ回路１４と、ドライバ１２と、信号２０と、制御部１０との働きによるチルトの調整動作は、本発明の「チルト調整機構」に相当する。
【００３５】
次に、図２を用いて、本実施形態の光ディスク装置の対物レンズ４のチルト機構についてさらに詳しく説明する。図２は、このチルト機構の動作の概念を表す図である。ピックアップ２ａは、ディスク１００ａの半径方向（２ａ〜２ｂの方向、２ｂの位置は最外周部分近傍の位置８。）に移動することができる。ディスクは、図２に示すディスク１００ａの通り反っていることがあり、前述図６の説明の通り、ディスクの外周の方が反りの角度が大きくなると考えられる。そこで、前記レーザ光７の適正な光の強度を維持するためには、前記フォーカスを調整するだけでなく、対物レンズ４のチルト角を回転方向６の方向に回転させて、常に適正に保つ必要がある。ただし、ディスクは、図２と逆側に反ることもありうるので、その場合方向６ａと逆側に回転させる必要がある。このように、ディスクの反りはディスクごとに異なりうるから、工場設定値ではなく適正なチルト角に調整する手段が必要となる。係る適正なチルト角に調整する手段は、例えば、対物レンズ４のチルト角を予め定めた角度の範囲で、制御部１０の制御により段階的に変化させ、前記ＲＦ信号の振幅が最大であったときの対物レンズ４の傾きを適正なチルト角（以下「チルト角調整値」という。）とすることが考えられる。係る調整方法が前述図６で説明した「ＲＦ最大法」である。係るチルト角調整値の検出も、現在のチルト角の生成と同様、制御部１０の制御により再生／記録回路１３内のチルト角信号生成部１３３が行う。
【００３６】
さらに、本実施形態の光ディスク装置では、チルト角の調整をディスクの再生時または記録時に行うだけでなく、当該再生時または記録時を行う前のディスクのマウント時に、予め初期調整値を決定しておく。対物レンズ４のチルト角を制御して安定化するのに時間がかかる故、ディスクの再生時または記録時に、何の事前情報もなく前記調整を行っていたのではシークタイムが遅くなるからである。
【００３７】
以下、図３を用いて、ディスクのマウント時において、本実施形態の光ディスク装置に係るチルト角の初期調整値を取得する方法を説明する。図３は、ディスクのマウント時において、本実施形態の光ディスク装置に係るチルト角の初期調整値を取得する処理フローを示す図である。なお、ディスクのマウント時には、前記光ディスク装置は、図示しないディスク判別等も行うが、図３のフローは制御部１０（図１参照。）の係る初期調整値を取得する処理のみを表している。
【００３８】
図３のＳ１において、制御部１０は、図１で示したサーボ部１４に最外周部への移動目標値を与えて（図２の符号８参照。）、ドライバ１２の駆動によりピックアップ２（図１参照。）を最外周部へ移動させる。その際、制御部１０は最外周部への移動目標値のデータをバッファＲＡＭ１９（図１参照。）で参照する（フローの図示は省略する。）。ここで、最外周部への移動目標値は、ディスクの半径で与えても良く、またアドレスで与えても良い。
【００３９】
図３のＳ２において、ディスクの最外周部で、前述のＲＦ最大法により、適正なチルト角に調整する。即ち、対物レンズ４のチルト角を予め定めた角度の範囲で、制御部１０の制御により段階的に変化させ、前記ＲＦ信号の振幅が最大であったときの対物レンズ４の傾きを適正なチルト角（以下「最外周部調整値」という。）とすることが考えられる。
【００４０】
そして、係るチルト角調整値の検出も、現在のチルト角の生成と同様、再生／記録回路１３内のチルト角信号生成部１３３が行う。この最外周部調整値は、図示しない手段により、図１のバッファＲＡＭ１９に記憶される。
【００４１】
図３のＳ３において、チルト角の初期調整値を、図３のＳ２で得られた最外周部調整値に基づいて計算する。
【００４２】
図３のフローをまとめると、Ｓ１でチルト角の初期調整値の計算フローは最外周部にピックアップを移動させて、Ｓ２でその最外周部でチルト角を調整し、Ｓ３でその調整結果である最外周部調整値のみを個々の光ディスク固有のパラメータとして用いて初期調整値を計算する。
【００４３】
なお、図３のＳ２において適正なチルト角に調整する手法は、前述のＲＦ最大法に限定する必要はない。
【００４４】
以下、この初期調整値の計算方法を図４を用いて具体的に例示する。図４は、チルト角の初期調整値を最外周部調整値に基づいて計算する方法例を表した図である。図４の通り、チルト角の初期調整値を、前記ディスクの最外周部において前記最外周部調整値とし、前記ディスクの最内周部で予め設定した値（図４の通り、例えば０とする。）として、これらの間の位置では、これらの値を直線補間で結んで、半径方向の距離に比例配分した値としている。このようにすれば、前述の通り光ディスク装置のマウントに必要な時間が約１秒節約できる。即ち、光ディスク装置の起動が１秒早くなる。係る起動時において、１秒早くなれば、ディスクの交換時に、毎回ワンテンポ早くなることになり、操作性が向上する。このように、最外周部調整した結果のみに基づいてチルト角の初期調整値を調整しても、前述図６の説明に示す通り、ディスクの読取精度に影響を及ぼすものでなく、許容範囲であると考えられる。
【００４５】
なお、図３で示したフローにおける制御部１０の働きおよび関連する部分の動作は、「チルト角初期調整機能」に相当する。また、図３のＳ２で得られた最外周部調整値は、本発明の「最外周部調整値」に相当する。また、図３で得られた初期調整値および図４で得られた初期調整値は、本発明の「初期調整値」に相当する。また、図４で示した比例配分による計算方法は、本発明の「比例配分」に相当する。また、本実施形態の装置において最内周部において予め設定した値（図４では０としている。）は本発明の「予め設定した値」に相当する。かかる値は、工場設定値であり、光ディスク装置ごと、ディスクの種別、大きさごとに設定しても良いが、マウントするディスクごとに変化させるものではない。また、図３のＳ１２で測定した値のみが、ディスク固有の特性に対応させるパラメータであり、これは本発明の「パラメータ」に相当する。
【００４６】
また、図３のＳ３のチルト角の初期調整値の計算は、説明の容易のためディスクのマウント時のフローとして表したが、その初期調整値は、図３のＳ３のステップとして初期調整値を図１のバッファＲＡＭ１９に半径方向の距離と初期調整値をテーブルとして記憶するものであって、ディスクの再生時または記録時にこの初期調整値テーブルを参照することが考えられる。また、ディスクの再生時または記録時に、後述図５のＳ１１において、最内周部からの半径方向の距離を計算し、またはアドレスを取得することにより、図４のように比例計算で求めることが考えられ、係る比例計算の傾きをアドレスの増加に応じて差分をインクリメントすることが考えられる。
【００４７】
さらに、図３のＳ１において、最外周部でなく前記最外周部近傍へ移動してＳ２で調整した場合には、当該調整を行って得た値を最外周部調整値として、最内周部については予め設定した値（例えば、図４と同様０とすることができる。）として、これらの位置の間を補間するものであってもよい。例えば、図４と同様直線で結んで、直線的に補間した値とすることが考えられる。前記最外周部近傍より外側は、その直線の延長線上の値を初期調整値とする。
【００４８】
次に、図５を用いて前記チルト角をディスクの再生時または記録時に調整する方法を説明する。図５は、本実施形態の光ディスク装置に係るチルト角の調整を、再生時または記録時に行う処理のフローを表す図である。係るフローの動作主体は制御部１０（図１参照。）である。
【００４９】
図５のＳ１１において、図３のＳ３のステップで記憶した初期調整値をバッファＲＡＭ１９内の初期調整値テーブルから参照する。この初期調整値テーブルは、半径方向の距離と初期調整値の対応関係を表すテーブルである。また、初期調整値の別の計算方法として、前述の通り最内周部からの半径方向の距離またはアドレスを取得することにより、図４のような比例計算、または前記インクリメントを利用して求めることも可能である。
図５のＳ１２において、チルト角をＳ１１で求めた初期調整値に設定する。
図５のＳ１３において、Ｓ１２で調整した初期調整値を中心として、対物レンズ４のチルト角を少しづつ段階的に傾けて最適な角度を検知することにより、チルト角を調整する。
【００５０】
図５のＳ１４において、読み取り、記録が終了したかを判断する。終了している場合にはＹとなりフローは終了する。終了していない場合にはＮとなりフローはＳ１１に戻って繰り返す。
【００５１】
図５のフローをまとめると、Ｓ１４で読み取り、記録の終了となるまでは、図３で作成した初期調整値をＳ１１で参照し、この値を初期調整値に設定して、その値を中心として、読み取り、記録中に、随時チルト調整を行うものである。
【００５２】
なお、図５で示した前記初期調整値を決定する制御部１０（図１参照。）および関連する部分の機能は本発明の「チルト角調整機能」に相当する。また、Ｓ１３においては、Ｓ１２で調整した初期調整値を中心として最適な角度を検知することはせず、初期調整値そのままの値を調整値とするものであっても良い。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】本実施形態の光ディスク装置の内部構成図を示す。
【図２】本実施形態の光ディスク装置のチルト機構の動作の概念を表す図を示す。
【図３】ディスクのマウント時において、本実施形態の光ディスク装置に係るチルト角の初期調整値を取得する処理のフローを表す図を示す。
【図４】本実施形態の光ディスク装置に係るチルト角の初期調整値を最外周部調整値に基づいて計算する方法例を表した図を示す。
【図５】本実施形態の光ディスク装置に係るチルト角の調整を、再生時または記録時に行う処理のフローを表す図を示す。
【図６】所定のディスク上のアドレスポジションで、チルト機構によるチルト調整値を、公知のＲＦ最大法で、ある一枚のディスクについて１０回測定した結果を示す。
【符号の説明】
【００５４】
１−光ディスク装置
２、２ａ、２ｂ−ピックアップ
３−回転軸
４、４ａ、４ｂ−対物レンズ
５−スレッドモータ
６、６ａ−回転方向
７−レーザ光
８−最外周部分近傍の位置
１０−制御部
１１−ディスク回転モータ
１２−ドライバ
１３−再生/記録回路
１３１−フォーカスエラー信号生成部
１３２−トラッキングエラー信号生成部
１３３−チルト角信号生成部
１４−サーボ回路
１５−変調／復調回路
１８−操作部
１９−バッファＲＡＭ
２０〜２３−信号
１００、１００ａ−ディスク
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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