(57)【要約】【課題】演算処理装置及び書き換え可能メモリを搭載した基板を動作チェックするに際し、書き換え可能メモリの初期化処理によるタイムロスを無くすことが可能な基板検査方法を提供する。【解決手段】検査機２に被検査基板１を接続し、その接続に基づき、被検査基板１におけるモード検出手段が検査モードを検出し、マイコン１１が、基板側ＥＥＰＲＯＭ１２ではなく検査機側ＥＥＰＲＯＭ２３にアクセスして、検査機２とそれに接続した被検査基板１とで構成される電子機器に相当する機器を起動させ、被検査基板１の動作チェックを実行する。【選択図】図１
2006138745.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
演算処理装置と書き換え可能なメモリとを少なくとも搭載した基板に対し、該基板を被検査基板として検査機に接続して動作チェックを実行する基板検査方法であって、
前記検査機は、前記被検査基板を組み込む対象となる電子機器のうち該被検査基板を少なくとも除いた部分と、前記メモリの容量を少なくとも持つメモリである検査機側メモリとを備えた電子機器セットとし、
前記被検査基板の演算処理装置は、検査モードを検出するモード検出手段と、前記演算処理装置が、前記モード検出手段で検査モードを検出したときのみ前記検査機側メモリにアクセスし、それ以外のときは前記被検査基板側のメモリである基板側メモリにアクセスするよう設定する設定手段とを備え、
当該基板検査方法は、前記検査機に前記被検査基板を接続し、該接続に基づき、前記被検査基板におけるモード検出手段が検査モードを検出し、前記演算処理装置が、前記基板側メモリではなく前記検査機側メモリにアクセスして、前記電子機器セットと前記接続した被検査基板とで構成される前記電子機器に相当する機器を起動させ、前記被検査基板の動作チェックを実行することを特徴とする基板検査方法。
【請求項２】
前記検査機側メモリに、前記動作チェックを実行するのに最適なデータを予め記憶しておくことを特徴とする請求項１に記載の基板検査方法。
【請求項３】
前記動作チェックは、複数のチェック項目のチェックを含み、当該基板検査方法は、前記動作チェックにより不良と判定されたチェック項目に関する情報をエラー結果情報として、前記被検査基板の前記メモリに記憶するステップをさらに含むことを特徴とする請求項１又は２に記載の基板検査方法。
【請求項４】
前記エラー結果情報を記憶した被検査基板に対し、修理を行うステップをさらに含むことを特徴とする請求項３に記載の基板検査方法。
【請求項５】
請求項１乃至４のいずれか１項に記載の基板検査方法で検査された基板を搭載した電子機器。
【請求項６】
当該電子機器を最初に起動した際に、前記基板側メモリの初期化を実行する手段を設けたことを特徴とする請求項５に記載の電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基板検査方法及び電子機器に関し、より詳細には、演算処理装置及び書き換え可能なメモリを搭載した基板の動作チェックを行う基板検査方法、及びその方法で検査された基板を組み込んだ電子機器に関する。
【背景技術】
【０００２】
液晶テレビは、その生産ライン上で、液晶テレビに組み込む基板単体での動作確認検査を行う工程があり、この工程では、実際の液晶テレビのセットと同等に実装して検査がなされる。この工程は、その対象が液晶テレビでなくとも、様々な電子機器の基板に対して行われる。
【０００３】
さらに、マイクロコンピュータ（以下、マイコン）とＥＥＰＲＯＭ（Ｅｌｅｃｔｒｉｃａｌｌｙ  Ｅｒａｓａｂｌｅ  ａｎｄ  Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ  Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）等の書き換え可能なメモリが搭載された基板に対し、動作チェックを行う際も同様である。従来、このような基板の検査では、基板以外の電子機器のセットと同等なものを用意しておき、基板をそのセットに組み込んだ後で初めて電源を入れるが、基板上のメモリが全く新しい場合には、データが使えない状態であり初期化をかけ、初期化を実行した後で電源を入れることになる。
【０００４】
なお、基板検査に関する従来技術として、検査プログラムのためのＲＯＭ容量を減らし、検査プログラムを柔軟にすることを目的としたプリント基板の検査システム及び方法が提案されている（例えば、特許文献１を参照）。特許文献１に記載の技術においては、プリント基板に搭載されるＲＯＭに、ＲＯＭ，ＲＡＭ，ＩＦなど、外部検査装置からプログラムを受信するのに必要な資源を、検査する検査プログラムが格納されている。プリント基板の検査時には、外部検査装置がＲＯＭの検査プログラムを実行させて、正常であればＲＡＭにプリント基板全体の検査を行なうための検査プログラムを格納させ、それを実行させる。
【特許文献１】特開平１０−３１３１９９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、初期化処理には時間がかかり、大量生産を行う場合にはかなりのタイムロスとなる。例えば、マイコン及び１６〜６４ＫＢの容量をもつＥＥＰＲＯＭを搭載した基板を組み込む小型の液晶ディスプレィ（ＬＣＤ）では、初期化処理に基板毎に数秒かかっている。
【０００６】
このように、マイコン等の演算処理装置及び書き換え可能メモリを搭載した基板に対し、動作チェックを実行するためには、書き換え可能メモリの初期化を実行しながら検査を進める必要があり、この初期化処理によるタイムロスが大きく、結果として、検査に時間を要することとなる。
【０００７】
本発明は、上述のごとき実情に鑑みてなされたものであり、演算処理装置及び書き換え可能メモリを搭載した基板を動作チェックするに際し、書き換え可能メモリの初期化処理によるタイムロスを無くすことが可能な、基板検査方法、及びその方法で検査された基板を組み込んだ電子機器を提供すること、をその目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、上述のごとき課題を解決するために、以下の各技術手段でそれぞれ構成される。
第１の技術手段は、演算処理装置と書き換え可能なメモリとを少なくとも搭載した基板に対し、該基板を被検査基板として検査機に接続して動作チェックを実行する基板検査方法であって、前記検査機は、前記被検査基板を組み込む対象となる電子機器のうち該被検査基板を少なくとも除いた部分と、前記メモリの容量を少なくとも持つメモリである検査機側メモリとを備えた電子機器セットとし、前記被検査基板の演算処理装置は、検査モードを検出するモード検出手段と、前記演算処理装置が、前記モード検出手段で検査モードを検出したときのみ前記検査機側メモリにアクセスし、それ以外のときは前記被検査基板側のメモリである基板側メモリにアクセスするよう設定する設定手段とを備え、当該基板検査方法は、前記検査機に前記被検査基板を接続し、該接続に基づき、前記被検査基板におけるモード検出手段が検査モードを検出し、前記演算処理装置が、前記基板側メモリではなく前記検査機側メモリにアクセスして、前記電子機器セットと前記接続した被検査基板とで構成される前記電子機器に相当する機器を起動させ、前記被検査基板の動作チェックを実行することを特徴としたものである。
【０００９】
第２の技術手段は、第１の技術手段において、前記検査機側メモリに、前記動作チェックを実行するのに最適なデータを予め記憶しておくことを特徴としたものである。
【００１０】
第３の技術手段は、第１又は第２の技術手段において、前記動作チェックは、複数のチェック項目のチェックを含み、当該基板検査方法は、前記動作チェックにより不良と判定されたチェック項目に関する情報をエラー結果情報として、前記被検査基板の前記メモリに記憶するステップをさらに含むことを特徴としたものである。
【００１１】
第４の技術手段は、第３の技術手段において、前記エラー結果情報を記憶した被検査基板に対し、修理を行うステップをさらに含むことを特徴としたものである。
【００１２】
第５の技術手段は、第１乃至第４のいずれかの技術手段における基板検査方法で検査された基板を搭載した電子機器である。
【００１３】
第６の技術手段は、第５の技術手段において、当該電子機器を最初に起動した際に、前記基板側メモリの初期化を実行する手段を設けたことを特徴としたものである。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、演算処理装置及び書き換え可能メモリを搭載した基板を動作チェックするに際し、書き換え可能メモリの初期化処理によるタイムロスを無くすことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
本発明に係る基板検査方法で検査する被検査基板は、ＭＣＵ（マイクロコントローラユニット）等の演算処理装置とＥＥＰＲＯＭ等の書き換え可能なメモリとを少なくとも搭載した基板であり、最終的に、製品である電子機器の制御部などとして組み込まれる基板である。また、最終的な製品である電子機器としては、ＬＣＤ等の各種ディスプレイやテレビ受信機、さらには各種レコーダ、コピー機、複合機、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）（例えば被検査基板がマザーボードとなる）、携帯電話など、様々な機器が挙げられ、その種類や用途を問わず、本発明に適用可能である。
【００１６】
ここで、ＭＣＵは、ＣＰＵ（中央演算処理装置）等のプロセッサと、ＲＯＭ，ＲＡＭ（Ｒａｎｄａｍ  Ａｃｃｅｓｓ  Ｍｅｍｏｒｙ）等のメモリ、Ｉ／Ｏ（入出力）インターフェース、タイマコントローラなどの周辺機器と、それらのデータ経路となるバスとで構成されるマイクロコンピュータであり、以下、マイコンとして例示する。また、本発明において被検査基板に搭載される書き換え可能なメモリは、同じ被検査基板に搭載される演算処理装置を制御するための設定データ（制御パラメータ）などを主として格納するための不揮発性メモリであり、以下、ＥＥＰＲＯＭを例に挙げて説明するが、ＦＬＡＳＨでもよく、その他のＥＰＲＯＭであっても書き換え可能であればよい。なお、このメモリには、基板を搭載する電子機器によっては演算処理装置の制御プログラムの一部を格納することもある。
【００１７】
図１は、本発明の一実施形態に係る基板検査方法を実行するための基板検査システムの一構成例を示す概略図で、図中、１は被検査基板、２は検査機、１０は基板側コネクタ、１１はマイコン、１２はＥＥＰＲＯＭ（基板側ＥＥＰＲＯＭ）、２０は検査機側コネクタ、２１は基板を含まない電子機器、２２はシステムコントローラ、２３はＥＥＰＲＯＭ（検査機側ＥＥＰＲＯＭ）である。
【００１８】
本発明に係る基板検査方法は、上述のごとき基板を被検査基板１として検査機２に接続して動作チェックを実行する基板検査方法である。この基板検査方法では、検査機２として、基板１以外の電子機器のセットと同等なものを用意しておき、基板１をそのセット（検査機２）に組み込んだ後で電源を入れるが、基板１上のＥＥＰＲＯＭ１２が全く新しい場合でも後述するようにマイコン１１に検査機２上のＥＥＰＲＯＭ２３へアクセスさせることで、検査時に初期化をかける必要性を無くしている。基板１以外の電子機器のセットと同等なものとは、被検査基板１を組み込む対象となる電子機器のうち、その被検査基板１を少なくとも除いた部分と、基板側ＥＥＰＲＯＭ１２の容量以上の容量を持つメモリである検査機側メモリ（検査機側ＥＥＰＲＯＭ２３で例示）とを少なくとも備えた電子機器セットを指す。図１では、基板１を少なくとも除いた部分の電子機器２１として、電源部２１ｃ，信号処理部２１ｂ，液晶パネル２１ａを構成要素とした例を挙げており、この例では最終的な製品は液晶テレビとなる。
【００１９】
被検査基板１は、ＲＯＭ（図示せず）を内蔵したマイコン１１と基板側ＥＥＰＲＯＭ１２とを少なくとも備え、マイコン１１と基板側ＥＥＰＲＯＭ１２とのデバイス間は、例えば、ＳＣＬ（ｓｅｒｉａｌ  ｃｌｏｃｋ）端子１１ｂ及びＳＤＡ（ｓｅｒｉａｌ  ｄａｔａ）端子１１ｃの２本の信号線だけをバスとして共有して通信を行う。これら端子１１ｂ，１１ｃに接続された２本の信号線より、マイコン１１から基板側ＥＥＰＲＯＭ１２にアクセス可能となっている。また、基板１は、基板側コネクタ１０を検査機側コネクタ２０に接続することで、検査機２に接続され、双方で電子機器の製品に相当する機器を起動させて基板１の動作チェックの実行を可能にする。
【００２０】
上述した電子機器セットでなる検査機２は、検査機側コネクタ２０と基板側コネクタ１０との接続により、基板１と接続され、映像データ，音声データの送受や電源の基板１への供給を行う。また、検査機２は、コネクタ１０，２０同士の接続或いは別経路で接続されるシステムコントローラ２２を備える。システムコントローラ２２は、マイコン１１の端子１１ｂ，１１ｃ及び検査モード検出を行う端子１１ａに接続して、基板１を含まない電子機器２１とマイコン１１（基板１）との中継、並びに後述するマイコン１１でのモード検出の補助を行うコントローラである。
【００２１】
被検査基板１のマイコン１１は、検査モード（検査機モードともいえる）を検出するモード検出手段とアクセスするＥＥＰＲＯＭをいずれかに設定するアクセス設定手段とを備えるものとする。これらの手段は、例えば、その一部をマイコン１１内のＲＯＭ（図示せず）にプログラムとして実行可能に格納されてなる。マイコン１１に設けられるモード検出手段は、例えば次のようにポート検出により実現してもよい。すなわち、検査機２側のシステムコントローラ２２に、端子１１ｂ，１１ｃからの２本の信号線に接続するための２つの端子を設けておき、システムコントローラ２２側で、基板１が検査機２に接続されたこと、すなわちマイコン１１の２つの端子１１ｂ，１１ｃがシステムコントローラ２２の２つの端子に接続されたことを検出し、マイコン１１側の別端子（モード検出端子１１ａ）に検出を通知することで、マイコン１１が検査モードを検出する。なお、このモード検出手段は、検査モードと通常モードとを判定するモード判定手段であってもよく、検査モードが何らかの形で検出されればよい。
【００２２】
上述のアクセス設定手段は、マイコン１１が、モード検出手段で検査モードを検出したときのみ検査機側ＥＥＰＲＯＭ２３にアクセスし、それ以外のとき（すなわち通常時）は基板側ＥＥＰＲＯＭ１２にアクセスするよう設定する手段である。ここで、通常時とは、基板１を、基板１を含まない電子機器２１に組み込んで、実際に製品として完成させ、その製品を起動したときを指し、通常動作時ともいえる。
【００２３】
本発明に係る基板検査方法は、上述のごとき構成の基板検査システムにおいて、まず、検査機２に被検査基板１を接続し、その接続に基づき、被検査基板１におけるモード検出手段が検査モードを検出し、マイコン１１が、基板側ＥＥＰＲＯＭ１２ではなく検査機側ＥＥＰＲＯＭ２３にアクセスして、検査機２（電子機器セット）とそれに接続した被検査基板１とで構成される電子機器に相当する機器を起動させ、被検査基板１の動作チェックを実行する。ここで、動作チェックの内容（チェック項目）や項目数は問わない。なお、ここでの動作チェックの実行前に、検査機２は異常無いものと動作チェックが済んでいるものとする。また、ここでの動作チェックのチェック項目に、マイコン１１と基板側ＥＥＰＲＯＭ１２との接続確認などの動作確認も組み込んでもよいし、ここでの動作チェックの実行前に、この動作確認について単独でチェック済みとしておいてもよい。
【００２４】
図２は、本発明の一実施形態に係る基板検査方法の一例を説明するためのフロー図で、図１の基板検査システムによる基板検査方法の一例を、液晶テレビを電子機器とした場合の基板上のマイコン内部において実行される主要な処理手順を中心に説明したフロー図である。
【００２５】
上述のごとく本発明は、生産工程において、基板の動作チェック時（動作チェッカー検査時）に、基板１に内蔵するＥＥＰＲＯＭ初期化動作実行中のウェイトによるタイムロスを削減するために、基板１に内蔵するマイコン１１による通常モード／検査モードの判定機能と、基板１に内蔵するＥＥＰＲＯＭと同じ又はより大きいＲＯＭ容量のＥＥＰＲＯＭを検査機２（チェッカー）側に内蔵し、検査モード（チェッカーモードともいう）時はチェッカーに内蔵したＥＥＰＲＯＭ（初期化実施済）にアクセスすることで、基板１に内蔵するＥＥＰＲＯＭの初期化を実行しないようにしている。
【００２６】
マイコン１１内部の処理例として、まず、基板１が検査機２に接続されると、マイコン１１のハードウェアリセット（ＲＥＳＥＴ）の解除がなされ（ステップＳ１）、リセット処理がなされる。そして、マイコン１１の内部の初期設定処理が施される（ステップＳ２）。
【００２７】
次に、検査モードか否かをモード判定手段が判定する（ステップＳ３）。ここでは、基板１と検査機２との接続（配線）に起因するシステムコントローラ２２からの接続通知によって検査モードと判定され、この通知がない状態では通常モードと判定される。例えば、検出ポートが通常時に“Ｈ”、検査モード時に“Ｌ”となるように検査機２（のシステムコントローラ２２）から制御される。従って、ここで説明する構成例の基板検査システムで且つ本実施形態に係る基板検査方法に則って基板検査がなされた基板１（及びその基板１を備えた電子機器）には、この通知を受け取るためのポートが、他の必要ポートのいずれかで兼用されているか、或いは他の必要ポートとは別に具備されている。なお、ステップＳ３での判定は、ＲＥＳＥＴ解除後、最初に、後述のＥＥＰＲＯＭへのアクセスを実行する前に行う必要があり、またこの判定は、ＲＥＳＥＴ解除時のみ行い、再度ＲＥＳＥＴがかかるまでそのモードを保持する。
【００２８】
次に、アクセス設定手段が、ステップＳ３での判定に基づき、検出ポートが“Ｌ”のとき、検査機２に内蔵の検査機側ＥＥＰＲＯＭ２３へのアクセスを設定し（ステップＳ４）、逆に“Ｈ”のときに、被検査基板１に内蔵の基板側ＥＥＰＲＯＭ１２へのアクセスを設定する（ステップＳ５）。このとき、例えば、基板側ＥＥＰＲＯＭ１２にアドレス情報としてスレーブアドレス“Ａ０ｈ”を、検査機側ＥＥＰＲＯＭ２３にスレーブアドレス“Ａ２ｈ”をそれぞれ与えておき、マスタ側となるマイコン１１が、アクセス設定として、通常モード時に基板側ＥＥＰＲＯＭ１２を表す“Ａ０ｈ”のアドレス情報を、チェッカーモード時に検査機側ＥＥＰＲＯＭ２３を表す“Ａ２ｈ”のアドレス情報をそれぞれ送出するようにしてもよい。基板側ＥＥＰＲＯＭ１２及び検査機側ＥＥＰＲＯＭ２３は、マイコン１１から送られてきたアドレス情報が自分のアドレスと一致したときだけ、データの送受信が可能となる。
【００２９】
ステップＳ４，Ｓ５のいずれのステップを経た場合でも、ＥＥＰＲＯＭの後述する特定アドレスデータを読み出し、マイコン１１の内部（図示しないＲＯＭ内）のデータと比較する（ステップＳ６）。ステップＳ６での特定アドレスデータの読出し元は、ステップＳ４，Ｓ５で設定されたアクセス先であり、検査モードのときは検査機側ＥＥＰＲＯＭ２３であり、通常モードのときは基板側ＥＥＰＲＯＭ１２である。
【００３０】
ステップＳ６に続き、機種が同じであるか否か（ステップＳ７）、並びにパネルサイズが同じであるか否か（ステップＳ８）が判定される。ステップＳ７での機種判定は、ステップＳ６で、例えば、ＥＥＰＲＯＭ内のマイコン部品コード情報をリードし、そのコード情報とマイコン１１内部のＲＯＭで保持している部品コードとを、「Ａ６４５」等のアスキーコード比較などで比較し、その一致判定により遂行するとよい。ステップＳ８でのパネルサイズ判定（インチ判定）は、ステップＳ６で、ポートの設定とＥＥＰＲＯＭ内の情報を比較判定することで遂行すればよい。
【００３１】
この判定で、同一機種且つ同一パネルサイズであった場合、初期化を実行せずに次の処理に移行し、各チェック項目の動作チェック（検査モード時）或いは通常動作（通常モード時）を実行する（ステップＳ１０）。その基板１に対して動作チェックが終了した後は、基板を次のものに入れ替え、ステップＳ１〜Ｓ１０と同様の処理で動作チェックを遂行すればよい。
【００３２】
また、動作チェック（良／不良の判定）は、マイコン１１内のＲＯＭ、或いはシステムコントローラ２２内のＲＯＭ、或いは検査機側ＥＥＰＲＯＭ２３に格納させた検査プログラムを実行させることで遂行するような構成としてもよい。若しくは、単純に、基板１の組み込みによって電子機器が正常に起動するか否かをチェックし、その後、検査員が操作或いはいずれかに格納された自動操作プログラムにより、電子機器の状態（例えばビデオ入力やテレビ入力）を変化させ、目視で確認して良／不良を判定するものも含めてもよい。必要な検査項目としては、より典型的な例として、基板１においてある場所からある場所までのパターン（プリントパターン）が繋がっているか否かといったチェックの内容と、通常に画面に映し出して、例えば入力切替の操作を行ったときにきちんと映像が映し出されるか否かといったチェックの内容と、の２種類のチェック内容がある。また、不良品があった場合には、通常、修理工程にまわすことになる。
【００３３】
一方、ステップＳ７，Ｓ８の判定で、同一機種でない場合及び同一パネルサイズでなかった場合、ＥＥＰＲＯＭの全エリア初期化を実行し（ステップＳ９）、その後に各チェック項目の動作チェック（検査モード時）或いは通常動作（通常モード時）を実行する（ステップＳ１０）。ステップＳ９での初期化処理は、ステップＳ４，Ｓ５で設定されたアクセス先のＥＥＰＲＯＭに対して施され、検査モードのときは検査機側ＥＥＰＲＯＭ２３を初期化し、通常モードのときは基板側ＥＥＰＲＯＭ１２を初期化する。
【００３４】
ここで、初期化処理は、必要な調整データやテレビの場合では正確に映像を映し出すためのデータなど初期データをＥＥＰＲＯＭに入れる処理である。初期化処理は、基本的にＥＥＰＲＯＭの全エリアに対して最終的に実行すべき処理であり、実行しておかないとテレビセット内のＩＣに送るデータが最適なものとならない。従って、通常、ＥＥＰＲＯＭが全く新しい状態ではデータとして例えば“ＦＦ”が全部格納されているので、初期化処理を実行せずにそのままの状態で行うと機器が破損する場合もある。
【００３５】
検査モードの場合、生産する機種が変わった最初は、ステップＳ７で同一機種でないと判定、すなわちステップＳ６での比較結果が不一致となり、ＥＥＰＲＯＭ（検査機側ＥＥＰＲＯＭ２３）の全エリア初期化を実行する。勿論、同一機種２台目からは一致となり初期化を実行せずに済む。一方、通常モードの場合、通常モードで初めて電源を入れたときは、比較結果が必ず不一致となるので、必ずＥＥＰＲＯＭ（基板側ＥＥＰＲＯＭ１２）の初期化を実行する。ここで、通常モード時は、ＥＥＰＲＯＭの全エリア初期化時にインチ情報などを参照することとなるが、検査モード時は、インチ情報の相違により全エリア初期化を行うという処理が異なる。
【００３６】
なお、初期データとしては、ホワイトバランス等、電子機器（ここでは液晶テレビ）用の調整データなども通常含まれるが、このようなデータは、モデル（機種やパネルサイズ）毎のデータではなく、単体毎のデータである。従って、基板１を検査後、それ以外の電子機器２１に組み込んだ後に起動したときには、このような調整データの存在により、通常モードで且つステップＳ６の比較結果が不一致となる。このようなモードを調整工程モードといい、調整データがステップＳ９の初期化処理により基板側ＥＥＰＲＯＭ１２に書き込まれることとなる。その後、すなわちＥＥＰＲＯＭ初期化実行後は、調整工程モードではなく、ユーザーモード（通常モードであっても比較結果が一致するモード）で、初期化終了表示を行えばよい。なお、ＥＥＰＲＯＭ初期化実行後は、モードに係わらず、電源オンし、初期化終了表示を行うとよく、このとき、検査モード／通常モードの状態は保持しておく。
【００３７】
また、ＥＥＰＲＯＭ初期化は、ステップＳ８での判定の結果にも基づいて、機種とパネルサイズに合った初期値で実行する。同一マイコン１１をパネルサイズの異なる同一機種に採用する場合は、（１）マイコンポートのＨ／Ｌによる設定、（２）ＥＥＰＲＯＭ特定アドレスデータによる設定（図３及び図４を参照して後述する）など、サイズを設定する手段を設けておくとよい。
【００３８】
また、ステップＳ７，Ｓ８の判定の他に、電子機器（或いは基板）のバージョンの判定を行うようにしてもよい。このバージョン判定は、検査モードでも通常モードでも同じ処理であり、判定の結果、一致したとき次の処理に移行し、逆に不一致のとき、ＥＥＰＲＯＭ初期化（特定エリアを除く）を実行する。
【００３９】
さらに、検査機２内部のＲＯＭに、予めモデル毎やそのバージョン毎に異なるデータを書き込んでおき、さらにモデル（及びバージョン）の判定も実行する機能を備えておき、判定によりそれが全く新しい状態であった場合（検査するモデルが切り替わった場合）には、モデルのデータをＥＥＰＲＯＭ２３の或るエリアに格納するようにしておけば、モデルが切り替わったことを検出して初期化をかけることもできる。
【００４０】
このように、本発明では、検査モードの場合には、基板側ＥＥＰＲＯＭ１２の初期化を施さないで済み、検査機側ＥＥＰＲＯＭ２３の初期化処理も同一機種及び同一パネルであった場合には、すなわち同一モデルの電子機器の基板を次々と検査している間は必要ない。上述のごとく本発明では、従来、１つの基板のチェック毎に数秒ずつかかる初期化処理が必要なくなるため、動作チェックの所要時間をその分だけ短縮することができる。また、従来は、モデル毎に必ず用意した検査機を少なくより汎用性のある検査機にすることも可能となる。
【００４１】
さらに、ここで説明する構成例の基板検査システムで且つ本実施形態に係る基板検査方法に則って基板検査がなされた基板１（及びその基板１を備えた電子機器）は、基板１内のＥＥＰＲＯＭ１２に対し初期化処理が施されていないことが、従来の基板検査方法で検査された基板と異なる。実際に、基板１を電子機器に組み込んだ後で起動したときに、図２のマイコン内のフローで説明したように基板１内のＥＥＰＲＯＭ１２が初期化されることとなるが、この初期化処理は、例えばユーザ（場合によっては検査員）が電源を初めて投入した際に存在する調整待ちの時間に実行されることとなる。このように、例えば出荷時に、基板上のメモリの初期化がなされておらず、最初に起動したときに初期化がなされることとなり、換言すると、本発明に係る方法で検査した電子機器を最初に起動した際に、基板側メモリの初期化を実行する手段を設けておく必要がある。
【００４２】
図３は、同一マイコンを異なる機種及び異なるパネルサイズの製品に共用する場合のＥＥＰＲＯＭのマップの一例を示す図で、図４は、図３のＥＥＰＲＯＭマップに基づく、ＥＥＰＲＯＭ内データによる機種及びパネルサイズの設定方法を説明するための図である。
【００４３】
図３及び図４を参照して、同一の検査機２を用いて複数の機種（及びパネルサイズ）用の基板を検査する場合について、さらに詳述する。この処理は、主に、図２におけるステップＳ７〜Ｓ９の処理に相当する。なお、チェッカーモードと通常モードの違いは、上述した通り、初期化処理を除き、アクセスするＥＥＰＲＯＭの違いのみである。
【００４４】
図３で例示するＥＥＰＲＯＭ  ＭＡＰ３０では、アドレス３１に対するデータ内容３２は、「０００Ｈｅｘ」が機種データ（初期化判定用）となっている。ここでは、多機種に共用するため、代表機種データを設定する。また、「００１Ｈｅｘ」がパネルサイズデータ（初期化判定用）となっている。ここでは、多種パネルに共用するため、代表サイズデータを設定する。さらに、「００２Ｈｅｘ」が機種サイズデータ、「００３Ｈｅｘ」がパネルサイズデータで、これらは、ＥＥＰＲＯＭ初期化処理対象外エリアとする。ここで例示するようなＥＥＰＲＯＭ  ＭＡＰ３０のように、機種データとパネルサイズデータのエリアを確保し、このアドレス位置を固定とし、また、このアドレスは、ＥＥＰＲＯＭ初期化処理を行わない対象外エリアとする。
【００４５】
生産上では、以下の流れにより、機種及びパネルサイズの設定が可能となる。まず、（１）基板１への実装ＥＥＰＲＯＭ１２内のデータは、不定（一般的には、図４の符号４１で例示するように全て”ＦＦＨｅｘ“）となっている。さらに、（２）検査機２内のＥＥＰＲＯＭ２３には、図４の符号４２で例示するように、生産する機種及びパネルサイズに必要なデータを事前に書き込んでおく。
【００４６】
（３）検査モードで電源を入れた場合は、検査機２内のＥＥＰＲＯＭ２３にアクセスするため、その機種及びパネルデータに従い、マイコン１１は動作する。（４）検査機２内のシステムコントローラ２２から、被検査基板１内のＥＥＰＲＯＭ１２に機種データ（００２Ｈｅｘ）とパネルサイズデータ（００３Ｈｅｘ）を書き込み、図４の符号４３で例示するような格納データとする。（５）製品としての組み立て終了後の工程において、電源を入れると通常モードでの電源オンとなるため、ＥＥＰＲＯＭ１２の初期化を実行するが、このときＥＥＰＲＯＭ１２内のデータは図４の符号４３で例示するようになっており、機種データ（００２Ｈｅｘ）とパネルサイズデータ（００３Ｈｅｘ）を読み込んで、マイコンＲＯＭに持つ初期値の中で、対応する初期値データで初期化する。
【００４７】
また、本発明の他の実施形態として、上述した実施形態において、検査機側メモリに、動作チェックを実行するのに最適なデータを予め記憶しておくようにしてもよい。通常の初期化を実行したデータでは、例えばテレビ受像機では、テレビ映像が映し出される方が立ち上がるが、検査機側ＥＥＰＲＯＭに、検査をビデオモードで実行したい場合には、ビデオ入力となるようなデータを書き込んでおく。こうすることで、わざわざテレビ映像からビデオ映像への手動での入力切り替えを実行せずに済む。このように、検査に最適な状態を書き込んでおくことで、これによっても検査時間の短縮が可能となり、さらには検査の自動化も可能となる。
【００４８】
また、本発明の他の実施形態として、上述した各実施形態において、動作チェックは、複数のチェック項目のチェックを含むものとし、且つ、基板検査方法は、検査の最終工程として、動作チェックにより不良と判定されたチェック項目に関する情報をエラー結果情報として被検査基板側のメモリに記憶するステップをさらに含むようにしてもよい。エラー結果情報としては、例えば、検査機による検査により得られる、どの項目（どの段階）でＮＧだったかという情報が挙げられる。このように、エラー結果情報を、基板側のＥＥＰＲＯＭに記憶しておくことで、後段の修理工程にてそこからエラー結果情報を読み込んで利用すればよい。本実施形態によれば、後段の修理工程での時間短縮が可能となるだけでなく、これによって、検査の自動化も可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明の一実施形態に係る基板検査方法を実行するための基板検査システムの一構成例を示す概略図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る基板検査方法の一例を説明するためのフロー図である。
【図３】同一マイコンを異なる機種及び異なるパネルサイズの製品に共用する場合のＥＥＰＲＯＭのマップの一例を示す図である。
【図４】図３のＥＥＰＲＯＭマップに基づく、ＥＥＰＲＯＭ内データによる機種及びパネルサイズの設定方法を説明するための図である。
【符号の説明】
【００５０】
１…被検査基板、２…検査機、１０…基板側コネクタ、１１…マイコン、１２…ＥＥＰＲＯＭ（基板側ＥＥＰＲＯＭ）、２０…検査機側コネクタ、２１…基板を含まない電子機器、２２…システムコントローラ、２３…ＥＥＰＲＯＭ（検査機側ＥＥＰＲＯＭ）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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