(57)【要約】【課題】検査対象部分が透明であっても確実に包装不良を検出できる技術を提供する。【解決手段】包装物品１の検査対象部分１Ｆに対して紫外線を照射する紫外線照射装置１１と、検査対象部分１Ｆからの散乱紫外線を撮像し撮像データを生成する紫外線撮像装置１２と、撮像データに基づき包装不良の有無を判定する処理装置１３とにより包装不良検査装置を構成する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
包装の検査対象部分に対して紫外線を照射する紫外線照射装置と、
前記検査対象部分からの散乱紫外線を撮像し撮像データを生成する紫外線撮像装置と、
前記撮像データに基づき包装不良の有無を判定する処理装置と、
を備えたことを特徴とする包装不良検査装置。
【請求項２】
前記包装の検査対象部分が包装折目およびヒートシール接合部を含む部分であり、前記処理装置により、前記撮像データに基づき包装折目およびヒートシール接合部の線を算出し、予め設定した標準線とのズレが所定範囲内であるか否かに基づき、包装不良の有無を判定するように構成した、請求項１記載の包装不良検査装置。
【請求項３】
物品を包装してなる包装物品を、検査対象部分がＭＤ方向を向くようにコンベア上に間隔を空けて並べ、順に移送しつつ包装不良を検出する装置であって、
前記コンベアは、前記包装物品のＭＤ方向に先行または後続の包装物品が重ならなくなる方向転換部を有し、
この方向転換部へ導入される又は方向転換部から導出される包装物品に対して、そのＭＤ方向を除く周囲から紫外線を照射するように前記紫外線照射装置が設けられるとともに、当該包装物品の検査対象部分を正面から撮像するように前記紫外線撮像装置が設けられている、
請求項１または２記載の包装不良検査装置。
【請求項４】
検査対象部分の一部または全部が透明である、請求項１〜３のいずれか１項に記載の包装不良検査装置。
【請求項５】
第一の包装を施した物品を複数まとめた状態で第二の包装を施し、この第二の包装を検査する場合であって、かつ第二の包装の検査対象部分の一部または全部が透明である場合に用いられる、請求項１〜４のいずれか１項に記載の包装不良検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、包装不良の検査装置に関し、特に検査対象の一部または全部が透明の場合に好適に用いられる包装不良検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば、生理用ナプキンや紙おむつ等の吸収性物品の包装においては、所謂ガセット包装が汎用されている。このような包装においては、開口部のシール不良、例えば確実に密封されているか否かや、見栄え良くシールされているか否か等を検査するため、包装の検査対象部をＣＣＤカメラにより撮像し、この撮像結果を画像解析して不良の有無を判定する手法が開発されている。
【０００３】
個々の吸収性物品の包装の場合、シール部分の近傍では略全体に有色の簡素なデザインを施していることが多いため、その包装不良は従来の手法でも十分に検査可能である。
【０００４】
しかし、複数の包装製品をまとめて一つの包装を施す場合等においては、包装を通して内部を視認できるようにする等のため、透明の包装素材を用いることが多く、このような場合、従来の手法では不良を区別できるような撮像結果を得ることができない。そして、このよう場合は、作業員が目視で検品を行う他なく、検品精度の向上や省力化の観点から改善が望まれている。
【特許文献１】特開２００４−１０１３０号公報
【特許文献２】特開２００５−４７５７０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
そこで、本発明の主たる課題は、検査対象部分が透明であっても確実に包装不良を検出できる技術を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決した本発明は次記のとおりである。
＜請求項１記載の発明＞
包装の検査対象部分に対して紫外線を照射する紫外線照射装置と、
前記検査対象部分からの散乱紫外線を撮像し撮像データを生成する紫外線撮像装置と、
前記撮像データに基づき包装不良の有無を判定する処理装置と、
を備えたことを特徴とする包装不良検査装置。
【０００７】
＜請求項２記載の発明＞
前記包装の検査対象部分が包装折目およびヒートシール接合部を含む部分であり、前記処理装置により、前記撮像データに基づき包装折目およびヒートシール接合部の線を算出し、予め設定した標準線とのズレが所定範囲内であるか否かに基づき、包装不良の有無を判定するように構成した、請求項１記載の包装不良検査装置。
【０００８】
＜請求項３記載の発明＞
物品を包装してなる包装物品を、検査対象部分がＭＤ方向を向くようにコンベア上に間隔を空けて並べ、順に移送しつつ包装不良を検出する装置であって、
前記コンベアは、前記包装物品のＭＤ方向に先行または後続の包装物品が重ならなくなる方向転換部を有し、
この方向転換部へ導入される又は方向転換部から導出される包装物品に対して、そのＭＤ方向を除く周囲から紫外線を照射するように前記紫外線照射装置が設けられるとともに、当該包装物品の検査対象部分を正面から撮像するように前記紫外線撮像装置が設けられている、
請求項１または２記載の包装不良検査装置。
【０００９】
＜請求項４記載の発明＞
検査対象部分の一部または全部が透明である、請求項１〜３のいずれか１項に記載の包装不良検査装置。
【００１０】
＜請求項５記載の発明＞
第一の包装を施した物品を複数まとめた状態で第二の包装を施し、この第二の包装を検査する場合であって、かつ第二の包装の検査対象部分の一部または全部が透明である場合に用いられる、請求項１〜４のいずれか１項に記載の包装不良検査装置。
【発明の効果】
【００１１】
検査対象部分に照射された紫外線は包装折目やヒートシール接合部等により散乱するため、この散乱紫外線を撮像することにより包装不良の有無を検出することができる。この際、包装の色は紫外線の散乱に影響しない。したがって、検査対象部分の一部または全部が透明であっても、また紛らわしいデザインが施されていても、確実に包装不良を検出できる。
【００１２】
よって、本発明は検査対象部分の一部または全部が透明である場合に好適である。なお、本発明の「透明」とは、ＪＩＳ−Ｐ８１３８−１９７６『紙の不透明度試験方法』で規定される不透明度が３０％以下のものをいう。
【００１３】
また、紫外線は包装折目やヒートシール接合部等により散乱紫外線が発生するため、検査対象部分に包装折目やヒートシール接合部を含む場合、これらの部分に基づき包装不良の有無を検出するのが好ましい。
【００１４】
包装物品をコンベア上に間隔を空けて並べ、順に移送しつつ包装不良を検出する場合において、検査対象部分がＭＤ方向を向いている場合がある。この場合、直線状のコンベアでは、対象の包装物品のＭＤ方向に先行または後続の包装物品が重なるため、検査対象部分を正面から撮像するのは困難である。そこで、このような場合には、包装物品のＭＤ方向に先行または後続の包装物品が重ならなくなる方向転換部で検査することにより、検査対象部分を正面から撮像することができ、正確かつ容易に検査することができる。
【００１５】
前述したように、第一の包装を施した物品を複数まとめた状態で第二の包装を施す場合であって、かつ第二の包装の検査対象部分の一部または全部が透明である場合、従来の手法では不良を区別できるような撮像結果を得ることができない。しかし、本発明に従って紫外線を用いると、照射光の殆どが表面近傍で反射し、内部まで透過しないため、第二の包装のみを捉えることができるようになる。よって、本発明はこのような二重包装に好適である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の一実施形態について添付図面を参照しながら詳説する。
図１及び図２は、本発明に係る包装不良検査装置例を示しており、包装物品１はコンベア１０上に間隔を空けて並べられ、順に移送されつつ包装不良が検査される。コンベア１０の検査位置においては、包装の検査対象部分に対して紫外線を照射する紫外線照射装置１１と、検査対象部分からの散乱紫外線を撮像し撮像データを生成する紫外線撮像装置１２とが設置されており、撮像装置１２による撮像データは処理装置１３で画像処理され、包装不良の有無が判定されるようになっている。
【００１７】
包装の形態は特に限定されるものではないが、図示形態では、吸収性物品において汎用されているガセット包装を採用している。この場合、ヒートシール接合部２がシール面の幅方向全体にわたり直線状に延在するとともに、幅方向両側にはガセット（三角形状のまち）、つまり裏側に折り込まれた袋状の折込部分３が形成される。また、折込部分３の折目４はシール面の四隅からヒートシール接合部２に向かって所定の傾斜角度で延在する。なお、本発明は、シュリンク包装のように対象物品にタイトに密着するものよりも、対象物品を緩く被覆するタイプの包装形態に適している。
【００１８】
包装素材は特に限定されるものではないが、例えばポリエチレンやポリプロピレン等のプラスチックフィルム素材の他、紙素材に対しても適用することができる。
【００１９】
包装における検査対象部分１Ｆは適宜定めることができるが、例えば図示形態のシール面のように、包装折目４やヒートシール接合部２を含む部分とすることができる。また、本発明は、検査対象部分１Ｆの一部または全部が透明である場合に好適であるが、不透明である場合、例えば有色のデザインが施されている場合にも適用することができる。特に、複数の包装製品をまとめて透明の包装素材により一つに包装する場合に本発明は好適である。ガセット包装では、折込部分３及びヒートシール接合部２を有する面を検査対象部分１Ｆとするのが好ましい。
【００２０】
紫外線照射装置１１は、いわゆるブラックライト等、紫外線を照射できるものであれば特に限定なく用いることができる。紫外線には、長波長紫外線（波長３２０〜４００ｎｍ)、中波長紫外線（波長２９０〜３２０ｎｍ)および短波長紫外線（波長２９０ｎｍ未満) の三種類があるが、特に長波長紫外線が好適に用いられる。紫外線照射装置１１は、撮像装置１２に対する直接入射や不要な反射線の入射を避けるために、撮像方向に対して直交する方向から入射するのが好ましい。特に、ガセット包装の場合には、折込口から折込方向に沿って紫外線が入射するように紫外線照射装置１１を設けるのが好ましく、このため図示形態では、紫外線照射装置１１を上方から下方に向かって設置するだけでなく、コンベア１０の両脇から中央に向かって横向きに設置している。
【００２１】
撮像装置１２としては、照射する紫外線に感度を有するものであれば静止画、動画のいずれでも良いが、紫外線に対して感度を有するＣＣＤ方式の白黒カメラを好適に用いることができる。撮像装置１２は、検査面１Ｆに対して正面から撮像するのが好ましい。具体的に、図示形態のように、検査対象部分１ＦがＭＤ方向（ライン流れ方向：図中矢印方向）後側面となる場合には、コンベア１０に、包装物品１のＭＤ方向に後続の包装物品１が重ならなくなるような方向転換部１０Ｃを設けるか、このような方向転換部１０Ｃを有する部分を検査位置とする。その上で、方向転換部１０Ｃから導出される包装物品１に対して、そのＭＤ方向を除く周囲、例えば上方および幅方向両側から紫外線を照射するように紫外線照射装置１１を設置するとともに、当該包装物品１の検査対象部分をＭＤ方向後側の正面から臨む位置に撮像装置１２を設置する。これにより、検査対象面１Ｆに対して垂直方向から撮像することができる。
【００２２】
撮像データは、画像処理のために処理装置１３、例えば所定の画像処理プログラムに従って作動するコンピュータに送信され、包装不良の有無が判定される。以下、この処理例について詳説する。
【００２３】
図３は、包装不良の検査フローを示している。取得した撮像データは、後の処理を容易にするために、予め濃度やコントラスト等を調整することができる。撮像装置１２において、絞りやゲインを調節できる場合には、これらを調節し良好な撮像データが得られるようにするのが好ましい。
【００２４】
（ワーク検出）
しかる後、本処理例では、先ず包装物品の検査対象部分（以下、ワークという）の形状検出を行う。具体的には、図４に示すように、ワークを左上領域Ｗ１、右上領域Ｗ２、左下領域Ｗ３および右下領域Ｗ４の４つに分割して形状を検出する。先ず、横長長方形をなす画像Ｐ（左上の角を原点Ｏ(0,0)とし、右方向にxmax、下方向にymaxの長さを有するものとする）の左右方向の中央付近ＰＣで、画像Ｐの上端から下方に向かって順に画素の階調を取得し、先行して読み出した画素の階調を基準として階調変化の傾きを算出し、この傾きが所定の検出レベルに達した時、すなわち階調の淡い方向への変化が急激に発生した時に当該画素の位置座標(Lx0,Ly0)を検出する。以下、これと同様の検出処理をサーチという。
【００２５】
サーチに際しては、図５に矢印で示すように、複数箇所、例えばワークの端縁の検出においては、端縁に沿う方向に間隔を空けて三箇所程度サーチを行い、平均を検出座標とするのが好ましい（他のサーチでも同様である）。
【００２６】
次に、この画像中央部におけるワーク上端の検出座標に基づき画像下端（ymax）からのワークの暫定高さ((ymax-Ly0)/2))を算出する。そして、このワークの暫定高さの上半分を暫定的にワークの上半分の高さ範囲とし、この高さ範囲内で、画像Ｐの左端から右方、および右端から左方に向かって画素をサーチＳ１，Ｓ２し、左上領域Ｗ１の左端および右上領域Ｗ２の右端の位置座標(Lx1,Ly1)、(Rx1,Ry1)をそれぞれ検出する。また、両検出座標の左右方向中央の位置座標(Lx1+(Rx1-Lx1)/2)を算出し、ワークの上半分の左右方向センターラインＣ１を算出する。
【００２７】
次に、ワークの左上領域Ｗ１の左端からセンターラインＣ１までの範囲、およびワークの右上領域Ｗ２の右端からセンターラインＣ１までの範囲で、それぞれ画像の上端から下方に向かってサーチＳ３，Ｓ４し、左上領域Ｗ１の上端および右上領域Ｗ２の上端の位置座標(Lx2,Ly2)、(Rx2,Ry2)をそれぞれ検出する。そして、両位置の平均をワークの上端の位置座標((Lx2+Rx2)/2,(Ly2+Ry2)/2))として算出する。
【００２８】
次に、このワーク上端の位置座標((Lx2+Rx2)/2,(Ly2+Ry2)/2))に基づき、画像下端（ymax）からのワークの暫定高さ(ymax-(Ly2+Ry2)/2))を再び算出し、その下半分の高さをワークの下半分のサーチ範囲として算出し、この高さ範囲内で、画像Ｐの左端から右方、および右端から左方に向かって画素をサーチＳ５，Ｓ６し、左下領域Ｗ３の左端および右下領域Ｗ４の右端の位置座標(Lx3,Ly3)、(Rx3,Ry3)をそれぞれ検出する。そして、両検出座標の左右方向中央の位置座標(Lx3+(Rx3-Lx3)/2)を算出し、ワークの下半分の左右方向センターラインＣ２を算出する。
【００２９】
次に、左下領域Ｗ３の左端からセンターラインＣ２までの範囲、および右下領域Ｗ４の右端からセンターラインＣ２までの範囲で、それぞれ画像の下端から上方に向かってサーチＳ７，Ｓ８し、左下領域Ｗ３の下端およびワーク右下領域Ｗ４の下端の位置座標(Lx4,Ly4)、(Rx4,Ry4)をそれぞれ検出する。そして、両位置の平均をワークの下端の位置座標((Lx4+Rx4)/2,(Ly4+Ry4)/2))として算出する。また、ワークの上端の位置座標((Lx2+Rx2)/2,(Ly2+Ry2)/2))と、ワークの下端の位置座標((Lx4+Rx4)/2,(Ly4+Ry4)/2))のとの差をとることにより、ワークの高さＨを算出できる。
【００３０】
ワークが傾斜していると、正確な検査が行えず、また包装不良のおそれもあるため、ここでワークの斜め検出を行うのが好ましい。具体的には、図６に示すように、左上領域Ｗ１の上端および右上領域Ｗ２の上端の位置座標(Lx1,Ly2)、(Rx1,Ry2)に基づき、高さの差(Ly2-Ry2)が予め設定された許容範囲を超えた場合、ワークが斜めに傾いているため、ワーク検出エラーとして不良品と判定する。この高さの差および許容範囲は、画素数等により算出することができる。
【００３１】
また、検査対象部分１Ｆにヒートシール２が施されている場合、シール位置を検出することにより、シールの検査を行うのが好ましい。具体的には、ワーク上端から下方に向かってサーチＳ９，Ｓ１０を行い、シール部分２の上端の位置座標(x5,y5)を検出するとともに、ワーク下端から上方に向かってサーチを行い、シール部分の下端の位置座標(x5,y6)を検出し、これら両座標の高さ方向中間の位置座標(y5+(y6-y5)/2)をシール部分２の高さ位置として算出する。サーチ際しては、ワークの左右両側に折目等が検出される場合は、これらの検出されない左右方向中央近傍Ｃ３でサーチを行うのが好ましい。また、サーチは、一箇所ではなく左右方向に複数箇所行い、平均値をシール上端の位置座標とするのが好ましい。
【００３２】
一方、ワークの上端および下端の位置座標（左右の一方の値または平均値とする）より、ワークの高さ方向中間位置ＭＰ(((Ly4+Ry4)/2-(Ly2+Ry2)/2)/2+(Ly2+Ry2)/2)を算出し、この中間位置に対して上側および下側にそれぞれ所定距離離れた位置をシール上限位置ＵＰ及び下限位置ＬＰとして算出する。しかる後、検出したシール部分の高さ位置(x5,y6-y5)が、シール上限位置ＵＰと下限位置ＬＰとの間の範囲に収まっていない場合には、ワーク検出エラーとして不良品と判定する。
【００３３】
（ワーク外形検査）
包装不良は、検査対象部分の幅、高さ、周囲長に影響を及ぼすことがある。よって、このような外形に基づいて包装不良を判断するのは好ましい。具体的には、上記のワーク検出に基づいて、ワークの左上領域Ｗ１における左端位置座標(Lx1,Ly1)と右上領域Ｗ２における右端位置座標(Rx1,Ry1)とからワークの上端の長さ(Rx1-Lx1)を算出し、左下領域Ｗ３における左端位置座標(Lx3,Ly3)と右下領域Ｗ４における右端位置座標(Rx3,Ry3)とからワークの下端の長さ(Rx3-Lx3)を算出し、これらの平均値をワークの幅(((Rx3-Lx3)+ (Rx1-Lx1))/2)として算出する。また、ワークの高さＨについては前述したとおりである。さらに、ワークの左上領域Ｗ１における上端位置座標(Lx2,Ly2)と左下領域Ｗ３における下端位置座標(Lx4,Ly4)とからワークの左端の長さ(Ly4-Ly2)を算出し、右上領域Ｗ２における上端位置座標(Rx2,Ry2)と右下領域Ｗ４における下端位置座標(Rx4,Ry4)とからワークの右端の長さ(Ry4-Ry2)を算出し、ワークの上端、下端、左端および右端の総和をワークの周囲長（(Rx1-Lx1)+(Rx3-Lx3)+(Ly4-Ly2)+(Ry4-Ry2)）として算出する。
【００３４】
一方、予め同様の方法により、多数（例えば千個程度）の良品について幅、高さ、周囲長を検出し、平均値を標準外形データとして算出するとともに、標準外形データに対する許容範囲を定めておく。そして、検出された幅、高さ、周囲長がこの許容範囲内に無い場合にはワーク外形エラーとして不良品と判定する。
【００３５】
（マトリクス検査）
シール部の位置や、検査対象部分の外形（輪郭）、後述する折込部分等のように必須的に現れる要素ではなく、夾雑物やシール部不良等のように不良品にのみ現れるような要素について検査する場合、次のような手法を適用するのが好ましい。
【００３６】
すなわち、ワーク領域（左上、右上、左下、右下の全領域）Ｗ１〜Ｗ４を所定数の升目Ｚ，Ｚ…により縦横に分割し、各枡目Ｚについて枡内の全画素の階調の平均値を算出する（以下、階調データという）。升目Ｚのサイズは適宜選択できるが、検出される包装折目線の最小幅以上とするのが好ましい。また本実施形態のようにワーク領域を分割した場合には各領域Ｗ１〜Ｗ４をそれぞれ同じ数（図示例では縦6枡×横20枡）の升目で分割する。このことからも判るように、一つの升目Ｚが包含する画素の数は、ワーク毎や領域毎に異なる場合がある。
【００３７】
一方、予め同様の方法により、多数（例えば千個程度）の良品について階調データを集め、その平均値を標準階調データとして算出するとともに、標準階調データに対する許容範囲を定めておく。そして、検出された階調データがこの許容範囲内に無い場合にはパターンエラーとする。パターンエラーが発生した升目Ｚの数に関係なく不良品と判定しても良いが、パターンエラーの発生数が所定数以上となったときに不良品とする方が好ましい。また、頻繁にエラーが検出される升目Ｚについては、実際に不良か否かを調べ、不良が発生していない場合には、当該升目Ｚについては検出対象から除外（無視）するのが好ましい。
【００３８】
さらに、上記升目Ｚよりも広い範囲Ｂを検出単位とする場合、当該範囲Ｂに含まれる全ての升目Ｚ，Ｚ…の階調の平均値をとり、これを階調データとして対比することができる。この場合における検出単位は、ブロック状に集まっていても良く、また相互に離間する升目を複数組み合わせであっても良い。
【００３９】
（折込検査）
ガセット包装の場合、左右の折込部分３のバランスが崩れるといった包装不良が発生することがあり、このような不良を検査する場合、次のように折込頂点を指標とした折込検査を適用するのが好ましい。
【００４０】
左上領域Ｗ１、右上領域Ｗ２、左下領域Ｗ３および右下領域Ｗ４のそれぞれにおいて、角部(Lx1,Ly2)、(Rx1,Ry2)、(Lx3,Ly4)、(Rx3,Ry4)を中心として円周方向にサーチを行う。より詳細には図１０に示すように、ワーク検出により検出された左上領域Ｗ１の左端位置座標と上端位置座標とに基づき、左上の角部の位置座標(Lx1,Ly2)を算出する。そして、この角部(Lx1,Ly2)を中心とし、角部(Lx1,Ly2)から所定距離離間した位置を始点とし、折込部分側に向かって円周方向にサーチＳ１１を行い、当該円周方向と折込線４との交点Ｘ１の位置座標(Lx7,Ly7)を検出し、この検出結果と角部の座標(Lx1,Ly2)とから折込線４の傾きを算出する。このサーチ及び傾きの算出は、径方向位置の異なる複数箇所で行うのが好ましい。また、円周方向のサーチ範囲は、ワークの端縁近傍（上端及び左端）を除くように設定するのが好ましい。折込線４の傾きが算出されたならば、続いてこの傾きを有し且つ角部(Lx1,Ly2)を通る直線と、ワーク検出により検出された高さ方向中間位置ＭＰ(((Ly4+Ry4)/2-(Ly2+Ry2)/2)/2+(Ly2+Ry2)/2)との交点を算出し、これを左上領域における折込頂点の位置座標(Lx8,Ly8)とする。同様に、左下領域Ｗ３、右上領域Ｗ２および右下領域Ｗ４のそれぞれにおいてサーチＳ１２〜Ｓ１４を行い折込頂点の位置座標(Lx9,Ly9)、(Lx10,Ly10)、(Lx11,Ly11)を検出し、左右各側における平均値を折込頂点の位置座標Ｑ１((Lx8+Lx9)/2,(Ly8+Ly9)/2)、Ｑ２((Lx10+Lx11)/2,(Ly10+Ly11)/2) とする。また、ワーク検出により検出された左上領域Ｗ１および左下領域Ｗ３の左端の平均値((Lx1+Lx3)/2,(Ly1+Ly3)/2)をワークの左端とし、右上領域Ｗ２および右下領域Ｗ４の右端の平均値((Rx1+Rx3)/2,(Ry1+Ry3)/2)をワークの右端として算出する。
【００４１】
そして、これらの検出結果に基づいて、折込検出不良、折込の左右バランス不良、折込の交差不良および折込深さ不良の少なくとも１項目、好ましくは全項目を検査し、折込不良が検出された場合には不良品と判定する。
【００４２】
折込検出不良は、左右一方の折込線４が検出されなかった場合、不良と判定するものである。
【００４３】
折込の左右バランス不良は、ワークの左端((Lx1+Lx3)/2,(Ly1+Ly3)/2)から左側の折込頂点Ｑ１までの距離Lq1と、ワークの右端((Rx1+Rx3)/2,(Ry1+Ry3)/2)から右側の折込頂点Ｑ２までの距離Lq2とを算出し、これらの差(Lq2-Lq1)が、予め定められた所定のバランス許容範囲内にあるか否かにより検出することができる。
【００４４】
また、折込の交差不良は、左側の折込頂点Ｑ１の横方向座標と右側の折込頂点Ｑ２の横方向座標との大小関係によって検出することができる。具体的に、座標の原点が左側にある本実施形態の場合には、左側の折込頂点Ｑ１の横方向座標((Lx8+Lx9)/2)が右側の折込頂点Ｑ２の横方向座標（(Lx10+Lx11)/2）よりも大きい場合には折込部分が交差しており、不良と判定できる。
【００４５】
また、折込深さの不良は、折込頂点Ｑ１，Ｑ２間の距離Lq12、すなわち左側の折込頂点Ｑ１の横方向座標と右側の折込頂点Ｑ２の横方向座標との差((Lx10+Lx11)/2-(Lx8+Lx9)/2)が、予め定められた所定の許容範囲内にあるか否かにより検出することができる。
【００４６】
これらのいずれか一つのみで不良品の判定を行うこともできるが、複数を組み合わせて不良品の判断を行うこともできる。
【００４７】
他方、不良品が検出された場合には、処理装置１３において表示出力したり、処理装置１３に図示しない警告ランプや警告スピーカー等を接続して警告を発したりするように構成することができる。この場合、作業員が不良品を除去する。省力化の観点からは、ライン下流側に不良品の排出装置を設け、処理装置により不良品が検出されたときには、その信号を処理装置１３から排出装置に送信し、排出装置により不良品を自動排出するように構成するのが好ましい。
【００４８】
（その他）
上記例では、外形検査、マトリクス検査、折込バランス検査を全て行っているが、必要に応じてこれらのいずれかを省略したり、また別の検査を組み合わせたりすることができる。
【産業上の利用可能性】
【００４９】
本発明は、紫外線が包装内部まで及ばないことを利用したものであり、包装全般に適用できるものであるが、特に透明包装の不良を検出するのに好適なものである。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】本発明に係る包装不良検査装置例を概略的に示す平面図である。
【図２】図１のII−II断面図である。
【図３】不良品判定フロー図である。
【図４】ワーク検出要領を示す取込画像の図である。
【図５】図４の要部拡大図である。
【図６】傾斜の検出要領を示す取込画像の図である。
【図７】シール位置の検出要領を示す取込画像の図である。
【図８】マトリクス検査の要領を示す取込画像の図である。
【図９】折込部分検査の要領を示す取込画像の図である。
【図１０】図９の要部拡大図である。
【符号の説明】
【００５１】
１…包装物品、２…ヒートシール接合部、３…折込部分、４…折込線、１０…コンベア、１１…紫外線照射装置、１２…紫外線撮像装置、１３…処理装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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