(57)【要約】【課題】３値以上に多値化された情報を光ディスクに記録する際の適切な記録条件を決定する。【解決手段】Ｍ種類の多値化データのうち、記録面に記録マークが形成される少なくとも１つの多値化データが連続したデータ列を含むテストデータを、試し書き領域に記録パルス幅を段階的に変更しつつ試し書きする（ステップ６２１〜６３３）。そして、試し書き領域を再生し（ステップ６４１）、記録パルス幅毎にデータ列における同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きを求め（ステップ６４３〜６５１）、その直線の傾きが０に対応する記録パルス幅を最適な記録パルス幅とする（ステップ６５３、６５５）。これにより、記録面に記録される情報に連続する同一の多値化データが含まれていても、適切な熱量を記録面に供給することができるため、熱量不足あるいは熱量過剰が生じるのを抑制することが可能となる。【選択図】図１７
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクの記録面に記録パワー及び記録パルス幅で規定され前記記録面を加熱するための記録パルスを含むパルス状のレーザ光を光ピックアップ装置を用いて照射し、対応する再生信号の信号レベルが互いに異なる３以上のＭ種類の多値化データで表現された情報を記録する条件を決定する記録条件決定方法であって、
前記Ｍ種類の多値化データのうち、前記記録面に記録マークが形成される多値化データが連続したデータ列を少なくとも１つ含むテストデータを、前記記録面に設けられた試し書き領域に、前記記録パルス幅を段階的に変更しつつ試し書きする第１の工程と；
前記テストデータが試し書きされた領域を再生し、前記記録パルス幅毎に、前記データ列における同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線を求め、該直線の傾きに基づいて最適な記録パルス幅を決定する第２の工程と；を含む記録条件決定方法。
【請求項２】
前記テストデータは、前記記録面に記録マークが形成される第１の多値化データが連続した第１のデータ列と、前記第１の多値化データとは異なる記録マークが形成される第２の多値化データが連続した第２のデータ列とを含み、
前記第２の工程では、前記記録パルス幅毎に、前記第１のデータ列における各第１の多値化データに対応する再生信号を結ぶ第１の直線、及び前記第２のデータ列における各第２の多値化データに対応する再生信号を結ぶ第２の直線をそれぞれ求め、前記第１の直線の傾きに基づいて前記第１の多値化データを記録するときの最適な記録パルス幅を決定するとともに、前記第２の直線の傾きに基づいて前記第２の多値化データを記録するときの最適な記録パルス幅を決定することを特徴とする請求項１に記載の記録条件決定方法。
【請求項３】
前記第１の多値化データは、該第１の多値化データに対応する再生信号の信号レベルが、前記Ｍ種類の多値化データにそれぞれ対応するＭ種類の再生信号の信号レベルの中間値以上であり、
前記第２の多値化データは、該第２の多値化データに対応する再生信号の信号レベルが、前記中間値未満であることを特徴とする請求項２に記載の記録条件決定方法。
【請求項４】
前記第２の工程では、前記傾きと前記記録パルス幅との関係を示す一次式を近似演算により求め、該一次式を用いて前記傾きが０に対応する記録パルス幅を取得し、該記録パルス幅を最適な記録パルス幅と決定することを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の記録条件決定方法。
【請求項５】
前記Ｍ種類の多値化データには記録マークが形成されない特定の多値化データが含まれ、
前記テストデータは、前記特定の多値化データが連続した特定のデータ列を更に含み、
前記第２の工程では、前記記録マークが形成される同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きが、前記特定のデータ列における前記連続した特定の多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きと一致するときの記録パルス幅を最適な記録パルス幅と決定することを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の記録条件決定方法。
【請求項６】
前記データ列は、少なくとも５個の同一の多値化データが連続していることを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の記録条件決定方法。
【請求項７】
前記第１の工程に先立って、最適な記録パワーを取得する第３の工程を更に含み、
前記第１の工程では、前記第３の工程で取得された最適な記録パワーで、前記テストデータを試し書きすることを特徴とする請求項１〜６のいずれか一項に記載の記録条件決定方法。
【請求項８】
前記第１の工程に先立って、前記第３の工程で取得された最適な記録パワーで、前記Ｍ種類の多値化データについて同一の多値化データがそれぞれ連続したＭ個のデータ列を含むテストデータを、前記試し書き領域に試し書きする第４の工程と；
前記第４の工程で試し書きされた領域を再生し、前記データ列毎に同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線をそれぞれ求め、その直線の傾きが予め設定されている許容範囲外となる多値化データを取得する第５の工程と；を更に含み、
前記第１の工程では、前記許容範囲外となる多値化データが連続するデータ列を含むテストデータを、前記試し書き領域に試し書きすることを特徴とする請求項７に記載の記録条件決定方法。
【請求項９】
前記第１の工程では、前記光ディスクに予め記録されている記録パワーの推奨値で、前記テストデータを前記試し書き領域に試し書きすることを特徴とする請求項１〜６のいずれか一項に記載の記録条件決定方法。
【請求項１０】
前記光ディスクは、記録内容の書き換えが可能な光ディスクであることを特徴とする請求項１〜９のいずれか一項に記載の記録条件決定方法。
【請求項１１】
光ディスクの記録面に記録パワー及び記録パルス幅で規定され前記記録面を加熱するための記録パルスを含むパルス状のレーザ光を光ピックアップ装置を用いて照射し、対応する再生信号の信号レベルが互いに異なる３以上のＭ種類の多値化データで表現された情報を記録する記録方法であって、
請求項１〜１０のいずれか一項に記載の記録条件決定方法によって決定された記録パルス幅の記録パルスを含むパルス状のレーザ光を照射し、光ディスクに前記情報を記録する工程を含む記録方法。
【請求項１２】
光ディスクの記録面に記録パワー及び記録パルス幅で規定され前記記録面を加熱するための記録パルスを含むパルス状のレーザ光を用いて照射し、対応する再生信号の信号レベルが互いに異なる３以上のＭ種類の多値化データで表現された情報を記録可能な光ディスク装置に用いられるプログラムであって、
前記Ｍ種類の多値化データのうち、前記記録面に記録マークが形成される多値化データが連続したデータ列を少なくとも１つ含むテストデータを、前記記録面に設けられた試し書き領域に、前記記録パルス幅を段階的に変更しつつ試し書きする第１の手順と；
前記テストデータが試し書きされた領域を再生し、前記記録パルス幅毎に、前記データ列における同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線を求め、該直線の傾きに基づいて最適な記録パルス幅を決定する第２の手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラム。
【請求項１３】
前記テストデータは、前記記録面に記録マークが形成される第１の多値化データが連続した第１のデータ列と、前記第１の多値化データとは異なる記録マークが形成される第２の多値化データが連続した第２のデータ列とを含み、
前記第２の手順として、前記テストデータが試し書きされた領域を再生し、前記記録パルス幅毎に、前記第１のデータ列における各第１の多値化データに対応する再生信号を結ぶ第１の直線、及び前記第２のデータ列における各第２の多値化データに対応する再生信号を結ぶ第２の直線をそれぞれ求め、前記第１の直線の傾きに基づいて前記第１の多値化データを記録するときの最適な記録パルス幅を決定するとともに、前記第２の直線の傾きに基づいて前記第２の多値化データを記録するときの最適な記録パルス幅を決定する手順を、前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項１２に記載のプログラム。
【請求項１４】
前記第１の多値化データは、該第１の多値化データに対応する再生信号の信号レベルが、前記Ｍ種類の多値化データにそれぞれ対応するＭ種類の再生信号の信号レベルの中間値以上であり、
前記第２の多値化データは、該第２の多値化データに対応する再生信号の信号レベルが、前記中間値未満であることを特徴とする請求項１３に記載のプログラム。
【請求項１５】
前記第２の手順として、前記傾きと前記記録パルス幅との関係を示す一次式を近似演算により求め、該一次式を用いて前記傾きが０に対応する記録パルス幅を取得し、該記録パルス幅を最適な記録パルス幅と決定する手順を、前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項１２〜１４のいずれか一項に記載のプログラム。
【請求項１６】
前記Ｍ種類の多値化データには記録マークが形成されない特定の多値化データが含まれ、
前記テストデータは、前記特定の多値化データが連続した特定のデータ列を更に含み、
前記第２の手順として、前記記録マークが形成される同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きが、前記特定のデータ列における前記連続した特定の多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きと一致するときの記録パルス幅を最適な記録パルス幅と決定する手順を、前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項１２〜１４のいずれか一項に記載のプログラム。
【請求項１７】
前記第１の手順に先立って最適な記録パワーを取得する第３の手順を、前記制御用コンピュータに更に実行させ、
前記第１の手順として、前記第３の手順で取得された最適な記録パワーで、前記テストデータを試し書きする手順を、前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項１２〜１６のいずれか一項に記載のプログラム。
【請求項１８】
前記第１の手順に先立って、前記第３の手順で取得された最適な記録パワーで、前記Ｍ種類の多値化データについて同一の多値化データがそれぞれ連続したＭ個のデータ列を含むテストデータを、前記試し書き領域に試し書きする第４の手順と；
前記第４の手順で試し書きされた領域を再生し、前記データ列毎に同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線をそれぞれ求め、その直線の傾きが予め設定されている許容範囲外となる多値化データを取得する第５の手順と；を前記制御用コンピュータに更に実行させ、
前記第１の手順として、前記許容範囲外となる多値化データが連続したデータ列を含むテストデータを、前記試し書き領域に試し書きする手順を前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項１７に記載のプログラム。
【請求項１９】
前記第１の手順として、前記光ディスクに記録されている記録パワーの推奨値で、前記テストデータを前記試し書き領域に試し書きする手順を前記制御用コンピュータに実行させることを特徴とする請求項１２〜１６のいずれか一項に記載のプログラム。
【請求項２０】
請求項１２〜１９のいずれか一項に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
【請求項２１】
光ディスクの記録面に記録パワー及び記録パルス幅で規定され前記記録面を加熱するための記録パルスを含むパルス状のレーザ光を照射し、対応する再生信号の信号レベルが互いに異なる３以上のＭ種類の多値化データで表現された情報を記録可能な光ディスク装置であって、
請求項１２〜１９のいずれか一項に記載のプログラムが記録されたメモリと；
前記メモリに記録されている前記プログラムに従って最適な記録パルス幅を決定する制御用コンピュータと；
前記レーザ光を出射する光ピックアップ装置と；
前記決定された記録パルス幅の記録パルスを含むパルス状のレーザ光を前記光ピックアップ装置を介して前記記録面に照射し、前記情報を記録する処理装置と；を備える光ディスク装置。
【請求項２２】
光ディスクの記録面に記録パワー及び記録パルス幅で規定され前記記録面を加熱するための記録パルスを含むパルス状のレーザ光を照射し、対応する再生信号の信号レベルが互いに異なる３以上のＭ種類の多値化データで表現された情報を記録可能な光ディスク装置であって、
前記レーザ光を出射する光ピックアップ装置と；
前記Ｍ種類の多値化データのうち、記録マークが形成される少なくとも１つの多値化データが連続したデータ列を含むテストデータを、前記記録面に設けられた試し書き領域に前記記録パルス幅を段階的に変更しつつ試し書きした後、前記試し書き領域を再生し、前記記録パルス幅毎に得られた前記データ列における同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きに基づいて、最適な記録パルス幅を決定する制御装置と；
前記決定された記録パルス幅の記録パルスを含むパルス状のレーザ光を前記光ピックアップ装置を介して前記記録面に照射し、前記情報を記録する処理装置と；を備える光ディスク装置。
【請求項２３】
前記テストデータは、前記Ｍ種類の多値化データのうち、記録マークが形成される第１の多値化データが連続した第１のデータ列と、前記第１の多値化データとは異なる記録マークが形成される第２の多値化データが連続した第２のデータ列とを含み、
前記制御装置は、前記第１のデータ列に対応する再生信号の傾きに基づいて前記第１の多値化データを記録するときの最適な記録パルス幅を決定するとともに、前記第２のデータ列に対応する再生信号の傾きに基づいて前記第２の多値化データを記録するときの最適な記録パルス幅を決定することを特徴とする請求項２２に記載の光ディスク装置。
【請求項２４】
前記第１の多値化データは、該第１の多値化データに対応する再生信号の信号レベルが、前記Ｍ種類の多値化データにそれぞれ対応するＭ種類の再生信号の信号レベルの中間値以上であり、
前記第２の多値化データは、該第２の多値化データに対応する再生信号の信号レベルが、前記中間値未満であることを特徴とする請求項２３に記載の光ディスク装置。
【請求項２５】
前記制御装置は、前記傾きと前記記録パルス幅との関係を示す一次式を近似演算により求め、該一次式を用いて前記傾きが０に対応する記録パルス幅を取得し、該記録パルス幅を最適な記録パルス幅と決定することを特徴とする請求項２２〜２４のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
【請求項２６】
前記Ｍ種類の多値化データには記録マークが形成されない特定の多値化データが含まれ、
前記テストデータは、前記特定の多値化データが連続した特定のデータ列を更に含み、
前記制御装置は、前記記録マークが形成される同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きが、前記特定のデータ列における前記連続した特定の多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きと一致するときの記録パルス幅を最適な記録パルス幅と決定することを特徴とする請求項２２〜２４のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
【請求項２７】
前記制御装置は、前記テストデータを試し書きするのに先立って最適な記録パワーを取得し、該最適な記録パワーで前記テストデータを試し書きすることを特徴とする請求項２２〜２６のいずれか一項に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録条件決定方法、記録方法、プログラム及び記録媒体、並びに光ディスク装置に係り、更に詳しくは、３値以上に多値化された情報を光ディスクに記録する際の記録条件を決定する記録条件決定方法、３値以上に多値化された情報を光ディスクに記録する記録方法及び光ディスク装置、光ディスク装置で用いられるプログラム及び該プログラムが記録された記録媒体、に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタル技術の進歩及びデータ圧縮技術の向上に伴い、音楽、映画、写真及びコンピュータソフトなどの情報（以下「コンテンツ」ともいう）を記録するための媒体として、ＣＤ（compact disc）や、ＣＤの約７倍相当のデータをＣＤと同じ直径のディスクに記録可能としたＤＶＤ（digital versatile disc）などの光ディスクが注目されるようになり、その低価格化とともに、光ディスクを情報記録の対象媒体とする光ディスク装置が普及するようになった。
【０００３】
この光ディスク装置では、光源からレーザ光を出射し、スパイラル状又は同心円状のトラックが形成された光ディスクの記録層に微小スポットを形成して情報の記録を行い、記録層からの反射光に基づいて情報の再生などを行っている。
【０００４】
光ディスクでは、互いに反射率の異なるマーク及びスペースのそれぞれの長さとそれらの組み合わせとによって情報が記録される。この場合には、情報は０と１の２種類の数値（２値）の組み合わせに変換（２値化）されて光ディスクに書き込まれる。以下では、このような記録方式を２値記録方式という。
【０００５】
例えば、記録層に特殊合金を含むＣＤ−ＲＷ（ＣＤ−rewritable）、ＤＶＤ−ＲＷ（ＤＶＤ−rewritable）、及びＤＶＤ＋ＲＷ（ＤＶＤ＋rewritable）などの書き換え可能な光ディスク（以下、便宜上「相変化ディスク」ともいう）では、マークを形成する時には、特殊合金を第１の温度に加熱したのち急冷し、アモルファス（非晶質）状態にしている。一方、スペースを形成する時には、特殊合金を第２の温度（＜第１の温度）に加熱したのち徐冷し、結晶状態にしている。これにより、マークではスペースよりも反射率が低くなる。このような特殊合金の温度制御はレーザ光の発光パワーを制御することによって行なわれる。特に、マークを形成するときには、前後のマーク及びスペースによる熱分布の変化を低減させるために、記録ストラテジと呼ばれる発光パワーのパルス形状等に関する規則（方式）に基づいて、発光パワーのパルス形状等を設定している。
【０００６】
そして、光ディスク装置では、記録に際して、光ディスクの目標位置に目標長さのマーク及びスペースがそれぞれ形成されるように、情報の記録に先立って、予め設定されているＰＣＡ（Power Calibration Area）と呼ばれる試し書き領域に試し書きを行って、最適な記録パワーを取得している（例えば、特許文献１参照）。この処理は、ＯＰＣ（Optimum Power Control）処理と呼ばれている。
【０００７】
ところで、前記コンテンツの情報量は、年々増加する傾向にあり、１枚の光ディスクに記録可能な情報量の更なる増加が期待されている。光ディスクに記録可能な情報量を増加させる手段の一つとして、情報を３種類以上の数値の組み合わせに変換して光ディスクに書き込むことが考えられ、実用化に向けて関連する各種技術の開発が精力的に行なわれている。以下では、情報を３種類以上の数値の組み合わせに変換することを多値化といい、多値化されたデータを多値化データという。また、このように、情報を多値化して記録する記録方式を多値記録方式という。この多値記録方式では、仮想的にトラックを同じ大きさのセルと呼ばれる複数の部分領域に分割し、各セル内にそれぞれ多値化データに応じてトラックの接線方向の長さが異なる１つのマーク（記録マーク）を形成することが考えられている。これにより、例えば、前記相変化ディスクでは、多値化データに応じて１つのセル内におけるアモルファス状態の部分と結晶状態の部分との比率が異なり、セルは多値化データに応じた反射率を有することとなる。
【０００８】
多値記録方式は、２値記録方式よりも記録線密度が高く、セルの大きさが光スポットのスポット径よりも小さいため、符号間干渉を生じ易いという特徴を有している。従って、多値記録方式では、２値記録方式以上に記録条件が記録品質に大きく影響するため、良好な記録品質を得るための記録方法が種々提案されている（例えば、特許文献２〜５参照）。しかしながら、特許文献２〜５で開示されている記録方法では、セルの大きさが更に小さくなるとともに、記録速度が更に高速になると、記録マークの形状が目標の形状に対して変形し、必ずしも良好な記録品質とはならないおそれがあった。
【０００９】
【特許文献１】特許第３１２４７２１号公報
【特許文献２】特開平８−１４７６９５号公報
【特許文献３】特開平１０−１３４３５３号公報
【特許文献４】特開平１１−２５４５６号公報
【特許文献５】特開２００３−９１８２２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
本発明は、かかる事情の下になされたもので、その第１の目的は、３値以上に多値化された情報を光ディスクに記録する際の適切な記録条件を決定することができる記録条件決定方法を提供することにある。
【００１１】
また、本発明の第２の目的は、３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録することができる記録方法及び光ディスク装置を提供することにある。
【００１２】
また、本発明の第３の目的は、光ディスク装置の制御用コンピュータにて実行され、３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録することを可能とするプログラム、及びそのプログラムが記録された記録媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
発明者は、前述した記録マークの変形の発生原因について鋭意研究した結果、光ディスクに記録された情報に、連続した同一の多値化データが含まれているときに熱量不足や熱量過剰が起こり易くなり、熱量不足の場合に記録マークの形状が目標の形状に対してトラック方向に関して縮小した形状となり、熱量過剰の場合に記録マークの形状が目標の形状に対してトラック方向に関して膨張した形状となるという知見を得た。本発明は、かかる発明者の得た新規知見に基づいてなされたもので、以下のような構成を採用する。
【００１４】
請求項１に記載の発明は、光ディスクの記録面に記録パワー及び記録パルス幅で規定され前記記録面を加熱するための記録パルスを含むパルス状のレーザ光を光ピックアップ装置を用いて照射し、対応する再生信号の信号レベルが互いに異なる３以上のＭ種類の多値化データで表現された情報を記録する条件を決定する記録条件決定方法であって、前記Ｍ種類の多値化データのうち、前記記録面に記録マークが形成される多値化データが連続したデータ列を少なくとも１つ含むテストデータを、前記記録面に設けられた試し書き領域に、前記記録パルス幅を段階的に変更しつつ試し書きする第１の工程と；前記テストデータが試し書きされた領域を再生し、前記記録パルス幅毎に、前記データ列における同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線を求め、該直線の傾きに基づいて最適な記録パルス幅を決定する第２の工程と；を含む記録条件決定方法である。
【００１５】
これによれば、Ｍ種類の多値化データのうち、記録面に記録マークが形成される少なくとも１つの多値化データが連続したデータ列を含むテストデータが、記録面に設けられた試し書き領域に、記録パルス幅を段階的に変更しつつ試し書きされる（第１の工程）。そして、テストデータが試し書きされた領域が再生されて、記録パルス幅毎にデータ列における同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線が求められ、その直線の傾きに基づいて最適な記録パルス幅が決定される（第２の工程）。この場合には、記録面に記録される情報に連続する同一の多値化データが含まれていても、適切な熱量を記録面に供給することができるため、熱量不足あるいは熱量過剰が生じるのを抑制することが可能となる。すなわち、３値以上に多値化された情報を光ディスクに記録する際の適切な記録条件を決定することが可能となる。
【００１６】
この場合において、請求項２に記載の記録条件決定方法の如く、前記テストデータが、前記記録面に記録マークが形成される第１の多値化データが連続した第１のデータ列と、前記第１の多値化データとは異なる記録マークが形成される第２の多値化データが連続した第２のデータ列とを含む場合には、前記第２の工程では、前記記録パルス幅毎に、前記第１のデータ列における各第１の多値化データに対応する再生信号を結ぶ第１の直線、及び前記第２のデータ列における各第２の多値化データに対応する再生信号を結ぶ第２の直線をそれぞれ求め、前記第１の直線の傾きに基づいて前記第１の多値化データを記録するときの最適な記録パルス幅を決定するとともに、前記第２の直線の傾きに基づいて前記第２の多値化データを記録するときの最適な記録パルス幅を決定することとすることができる。
【００１７】
この場合において、請求項３に記載の記録条件決定方法の如く、前記第１の多値化データは、該第１の多値化データに対応する再生信号の信号レベルが、前記Ｍ種類の多値化データにそれぞれ対応するＭ種類の再生信号の信号レベルの中間値以上であり、前記第２の多値化データは、該第２の多値化データに対応する再生信号の信号レベルが、前記中間値未満であることとすることができる。
【００１８】
上記請求項１〜３に記載の各記録条件決定方法において、請求項４に記載の記録条件決定方法の如く、前記第２の工程では、前記傾きと前記記録パルス幅との関係を示す一次式を近似演算により求め、該一次式を用いて前記傾きが０に対応する記録パルス幅を取得し、該記録パルス幅を最適な記録パルス幅と決定することとすることができる。
【００１９】
上記請求項１〜３に記載の各記録条件決定方法において、請求項５に記載の記録条件決定方法の如く、前記Ｍ種類の多値化データに記録マークが形成されない特定の多値化データが含まれ、前記テストデータが前記特定の多値化データが連続した特定のデータ列を更に含む場合には、前記第２の工程では、前記記録マークが形成される同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きが、前記特定のデータ列における前記連続した特定の多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きと一致するときの記録パルス幅を最適な記録パルス幅と決定することとすることができる。
【００２０】
上記請求項１〜５に記載の各記録条件決定方法において、請求項６に記載の記録条件決定方法の如く、前記データ列は、少なくとも５個の同一の多値化データが連続していることとすることができる。
【００２１】
上記請求項１〜６に記載の各記録条件決定方法において、請求項７に記載の記録条件決定方法の如く、前記第１の工程に先立って、最適な記録パワーを取得する第３の工程を更に含み、前記第１の工程では、前記第３の工程で取得された最適な記録パワーで、前記テストデータを試し書きすることとすることができる。
【００２２】
この場合において、請求項８に記載の記録条件決定方法の如く、前記第１の工程に先立って、前記第３の工程で取得された最適な記録パワーで、前記Ｍ種類の多値化データについて同一の多値化データがそれぞれ連続したＭ個のデータ列を含むテストデータを、前記試し書き領域に試し書きする第４の工程と；前記第４の工程で試し書きされた領域を再生し、前記データ列毎に同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線をそれぞれ求め、その直線の傾きが予め設定されている許容範囲外となる多値化データを取得する第５の工程と；を更に含み、前記第１の工程では、前記許容範囲外となる多値化データが連続するデータ列を含むテストデータを、前記試し書き領域に試し書きすることとすることができる。
【００２３】
上記請求項１〜６に記載の各記録条件決定方法において、請求項９に記載の記録条件決定方法の如く、前記第１の工程では、前記光ディスクに予め記録されている記録パワーの推奨値で、前記テストデータを、前記試し書き領域に試し書きすることとすることができる。
【００２４】
上記請求項１〜９に記載の各記録条件決定方法において、請求項１０に記載の記録条件決定方法の如く、前記光ディスクは、記録内容の書き換えが可能な光ディスクであることとすることができる。
【００２５】
請求項１１に記載の発明は、光ディスクの記録面に記録パワー及び記録パルス幅で規定され前記記録面を加熱するための記録パルスを含むパルス状のレーザ光を光ピックアップ装置を用いて照射し、対応する再生信号の信号レベルが互いに異なる３以上のＭ種類の多値化データで表現された情報を記録する記録方法であって、請求項１〜１０のいずれか一項に記載の記録条件決定方法によって決定された記録パルス幅の記録パルスを含むパルス状のレーザ光を照射し、光ディスクに前記情報を記録する工程を含む記録方法である。
【００２６】
これによれば、請求項１〜１０のいずれか一項に記載の記録条件決定方法によって決定された記録パルス幅の記録パルスを含むパルス状のレーザ光が照射されるため、３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録することが可能となる。
【００２７】
請求項１２に記載の発明は、光ディスクの記録面に記録パワー及び記録パルス幅で規定され前記記録面を加熱するための記録パルスを含むパルス状のレーザ光を用いて照射し、対応する再生信号の信号レベルが互いに異なる３以上のＭ種類の多値化データで表現された情報を記録可能な光ディスク装置に用いられるプログラムであって、前記Ｍ種類の多値化データのうち、前記記録面に記録マークが形成される多値化データが連続したデータ列を少なくとも１つ含むテストデータを、前記記録面に設けられた試し書き領域に、前記記録パルス幅を段階的に変更しつつ試し書きする第１の手順と；前記テストデータが試し書きされた領域を再生し、前記記録パルス幅毎に、前記データ列における同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線を求め、該直線の傾きに基づいて最適な記録パルス幅を決定する第２の手順と；を前記光ディスク装置の制御用コンピュータに実行させるプログラムである。
【００２８】
これによれば、本発明のプログラムが所定のメモリにロードされ、その先頭アドレスがプログラムカウンタにセットされると、光ディスク装置の制御用コンピュータは、Ｍ種類の多値化データのうち、記録マークが形成される少なくとも１つの多値化データが連続したデータ列を含むテストデータを、記録面に設けられた試し書き領域に、記録パルス幅を段階的に変更しつつ試し書きする。そして、テストデータが試し書きされた領域を再生し、記録パルス幅毎に、データ列における同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線を求め、該直線の傾きに基づいて最適な記録パルス幅を決定する。すなわち、本発明のプログラムによれば、光ディスク装置の制御用コンピュータに請求項１に記載の発明に係る記録条件決定方法を実行させることができ、これにより、３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録することが可能となる。
【００２９】
この場合において、請求項１３に記載のプログラムの如く、前記テストデータが、前記記録面に記録マークが形成される第１の多値化データが連続した第１のデータ列と、前記第１の多値化データとは異なる記録マークが形成される第２の多値化データが連続した第２のデータ列とを含む場合には、前記第２の手順として、前記テストデータが試し書きされた領域を再生し、前記記録パルス幅毎に、前記第１のデータ列における各第１の多値化データに対応する再生信号を結ぶ第１の直線、及び前記第２のデータ列における各第２の多値化データに対応する再生信号を結ぶ第２の直線をそれぞれ求め、前記第１の直線の傾きに基づいて前記第１の多値化データを記録するときの最適な記録パルス幅を決定するとともに、前記第２の直線の傾きに基づいて前記第２の多値化データを記録するときの最適な記録パルス幅を決定する手順を、前記制御用コンピュータに実行させることとすることができる。
【００３０】
この場合において、請求項１４に記載のプログラムの如く、前記第１の多値化データは、該第１の多値化データに対応する再生信号の信号レベルが、前記Ｍ種類の多値化データにそれぞれ対応するＭ種類の再生信号の信号レベルの中間値以上であり、前記第２の多値化データは、該第２の多値化データに対応する再生信号の信号レベルが、前記中間値未満であることとすることができる。
【００３１】
上記請求項１２〜１４に記載の各プログラムにおいて、請求項１５に記載のプログラムの如く、前記第２の手順として、前記傾きと前記記録パルス幅との関係を示す一次式を近似演算により求め、該一次式を用いて前記傾きが０に対応する記録パルス幅を取得し、該記録パルス幅を最適な記録パルス幅と決定する手順を、前記制御用コンピュータに実行させることとすることができる。
【００３２】
上記請求項１２〜１４に記載の各プログラムにおいて、請求項１６に記載のプログラムの如く、前記Ｍ種類の多値化データには記録マークが形成されない特定の多値化データが含まれ、前記テストデータは、前記特定の多値化データが連続した特定のデータ列を更に含み、前記第２の手順として、前記記録マークが形成される同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きが、前記特定のデータ列における前記連続した特定の多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きと一致するときの記録パルス幅を最適な記録パルス幅と決定する手順を、前記制御用コンピュータに実行させることとすることができる。
【００３３】
上記請求項１２〜１６に記載の各プログラムにおいて、請求項１７に記載のプログラムの如く、前記第１の手順に先立って最適な記録パワーを取得する第３の手順を、前記制御用コンピュータに更に実行させ、前記第１の手順として、前記第３の手順で取得された最適な記録パワーで、前記テストデータを試し書きする手順を、前記制御用コンピュータに実行させることとすることができる。
【００３４】
この場合において、請求項１８に記載のプログラムの如く、前記第１の手順に先立って、前記第３の手順で取得された最適な記録パワーで、前記Ｍ種類の多値化データについて同一の多値化データがそれぞれ連続したＭ個のデータ列を含むテストデータを、前記試し書き領域に試し書きする第４の手順と；前記第４の手順で試し書きされた領域を再生し、前記データ列毎に同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線をそれぞれ求め、その直線の傾きが予め設定されている許容範囲外となる多値化データを取得する第５の手順と；を前記制御用コンピュータに更に実行させ、前記第１の手順として、前記許容範囲外となる多値化データが連続したデータ列を含むテストデータを、前記試し書き領域に試し書きする手順を前記制御用コンピュータに実行させることとすることができる。
【００３５】
上記請求項１２〜１６に記載の各プログラムにおいて、請求項１９に記載のプログラムの如く、前記第１の手順として、前記光ディスクに記録されている記録パワーの推奨値で、前記テストデータを前記試し書き領域に試し書きする手順を前記制御用コンピュータに実行させることとすることができる。
【００３６】
請求項２０に記載の発明は、請求項１２〜１９のいずれか一項に記載のプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能な記録媒体である。
【００３７】
これによれば、請求項１２〜１９のいずれか一項に記載のプログラムが記録されているために、コンピュータに実行させることにより、３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録することが可能となる。
【００３８】
請求項２１に記載の発明は、光ディスクの記録面に記録パワー及び記録パルス幅で規定され前記記録面を加熱するための記録パルスを含むパルス状のレーザ光を照射し、対応する再生信号の信号レベルが互いに異なる３以上のＭ種類の多値化データで表現された情報を記録可能な光ディスク装置であって、請求項１２〜１９のいずれか一項に記載のプログラムが記録されたメモリと；前記メモリに記録されている前記プログラムに従って最適な記録パルス幅を決定する制御用コンピュータと；前記レーザ光を出射する光ピックアップ装置と；前記決定された記録パルス幅の記録パルスを含むパルス状のレーザ光を前記光ピックアップ装置を介して前記記録面に照射し、前記情報を記録する処理装置と；を備える光ディスク装置である。
【００３９】
これによれば、制御用コンピュータにより、メモリに記録されている請求項１２〜１９のいずれか一項に記載のプログラムが実行され、最適な記録パルス幅が決定される。そして、処理装置により、決定された記録パルス幅の記録パルスを含むパルス状のレーザ光が光ピックアップ装置を介して記録面に照射され、情報が記録される。この場合には、記録面に記録される情報に連続する同一の多値化データが含まれていても、適切な熱量が記録面に供給されるため、熱量不足あるいは熱量過剰が生じるのを抑制でき、その結果として、３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録することが可能となる。
【００４０】
請求項２２に記載の発明は、光ディスクの記録面に記録パワー及び記録パルス幅で規定され前記記録面を加熱するための記録パルスを含むパルス状のレーザ光を照射し、対応する再生信号の信号レベルが互いに異なる３以上のＭ種類の多値化データで表現された情報を記録可能な光ディスク装置であって、前記レーザ光を出射する光ピックアップ装置と；前記Ｍ種類の多値化データのうち、記録マークが形成される少なくとも１つの多値化データが連続したデータ列を含むテストデータを、前記記録面に設けられた試し書き領域に前記記録パルス幅を段階的に変更しつつ試し書きした後、前記試し書き領域を再生し、前記記録パルス幅毎に得られた前記データ列における同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きに基づいて、最適な記録パルス幅を決定する制御装置と；前記決定された記録パルス幅の記録パルスを含むパルス状のレーザ光を前記光ピックアップ装置を介して前記記録面に照射し、前記情報を記録する処理装置と；を備える光ディスク装置である。
【００４１】
これによれば、制御装置により、Ｍ種類の多値化データのうち、記録マークが形成される少なくとも１つの多値化データが連続したデータ列を含むテストデータが、記録面に設けられた試し書き領域に記録パルス幅を段階的に変更しつつ試し書きされた後、試し書き領域が再生され、記録パルス幅毎に得られたデータ列における同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きに基づいて、最適な記録パルス幅が決定される。そして、処理装置により、決定された記録パルス幅の記録パルスを含むパルス状のレーザ光が光ピックアップ装置を介して記録面に照射され、情報が記録される。この場合には、記録面に記録される情報に連続する同一の多値化データが含まれていても、適切な熱量が記録面に供給されるため、熱量不足あるいは熱量過剰が生じるのを抑制でき、その結果として、３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録することが可能となる。
【００４２】
この場合において、請求項２３に記載の光ディスク装置の如く、前記テストデータが、前記Ｍ種類の多値化データのうち、記録マークが形成される第１の多値化データが連続した第１のデータ列と、前記第１の多値化データとは異なる記録マークが形成される第２の多値化データが連続した第２のデータ列とを含む場合には、前記制御装置は、前記第１のデータ列に対応する再生信号の傾きに基づいて前記第１の多値化データを記録するときの最適な記録パルス幅を決定するとともに、前記第２のデータ列に対応する再生信号の傾きに基づいて前記第２の多値化データを記録するときの最適な記録パルス幅を決定することとすることができる。
【００４３】
この場合において、請求項２４に記載の光ディスク装置の如く、前記第１の多値化データは、該第１の多値化データに対応する再生信号の信号レベルが、前記Ｍ種類の多値化データにそれぞれ対応するＭ種類の再生信号の信号レベルの中間値以上であり、前記第２の多値化データは、該第２の多値化データに対応する再生信号の信号レベルが、前記中間値未満であることとすることができる。
【００４４】
上記請求項２２〜２４に記載の各光ディスク装置において、請求項２５に記載の光ディスク装置の如く、前記制御装置は、前記傾きと前記記録パルス幅との関係を示す一次式を近似演算により求め、該一次式を用いて前記傾きが０に対応する記録パルス幅を取得し、該記録パルス幅を最適な記録パルス幅と決定することとすることができる。
【００４５】
上記請求項２２〜２４に記載の各光ディスク装置において、請求項２６に記載の光ディスク装置の如く、前記Ｍ種類の多値化データに記録マークが形成されない特定の多値化データが含まれ、前記テストデータが、前記特定の多値化データが連続した特定のデータ列を更に含む場合には、前記制御装置は、前記記録マークが形成される同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きが、前記特定のデータ列における前記連続した特定の多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きと一致するときの記録パルス幅を最適な記録パルス幅と決定することとすることができる。
【００４６】
上記請求項２２〜２６に記載の各光ディスク装置において、請求項２７に記載の光ディスク装置の如く、前記制御装置は、前記テストデータを試し書きするのに先立って最適な記録パワーを取得し、該最適な記録パワーで前記テストデータを試し書きすることとすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４７】
以下、本発明の一実施形態を図１〜図２４に基づいて説明する。図１には、本発明の一実施形態に係る光ディスク装置２０の概略構成が示されている。
【００４８】
この図１に示される光ディスク装置２０は、光ディスク１５を回転駆動するためのスピンドルモータ２２、光ピックアップ装置２３、該光ピックアップ装置２３をスレッジ方向に駆動するためのシークモータ２１、レーザ制御回路２４、エンコーダ２５、駆動制御回路２６、再生信号処理回路２８、バッファＲＡＭ３４、バッファマネージャ３７、インターフェース３８、フラッシュメモリ３９、ＣＰＵ４０及びＲＡＭ４１などを備えている。なお、図１における矢印は、代表的な信号や情報の流れを示すものであり、各ブロックの接続関係の全てを表すものではない。また、光ディスク装置２０は、多値記録方式に対応し、本実施形態では一例として、記録用データ（情報）は８種類の数値（０〜７）の組み合わせに変換されるものとする。すなわち、８値（０〜７）に多値化されるものとする。
【００４９】
前記光ディスク１５は、一例として約４０５ｎｍの波長に対応する相変化ディスクである。この光ディスク１５は、Ｇｅ−Ｓｂ−Ｔｅ系合金（特殊合金）を含む記録層を有している。そして、この記録層には、スパイラル状のトラックが周期的に蛇行（ウォブリング）して形成されている。なお、トラックピッチは一例として約０．４４μｍに設定されている。
【００５０】
前記光ピックアップ装置２３は、スピンドルモータ２２によって回転している光ディスク１５の記録層にレーザ光を照射するとともに、記録層からの反射光を受光するための装置である。この光ピックアップ装置２３は、一例として図２に示されるように、光源ＬＤ、コリメートレンズ５２、偏光ビームスプリッタ５４、立ち上げミラー５３、１／４波長板５５、対物レンズ６０、検出レンズ５８、受光器ＰＤ、及び駆動系（図示省略）などを備えている。
【００５１】
前記光源ＬＤは、波長が約４０５ｎｍの直線偏光（ここでは一例として、Ｓ偏光とする）の光束を出射する半導体レーザである。なお、本実施形態では、光源ＬＤから出射される光束の最大強度出射方向を＋Ｘ方向とする。
【００５２】
前記コリメートレンズ５２は、光源ＬＤの＋Ｘ側に配置され、光源ＬＤから出射された光束を略平行光とする。
【００５３】
前記偏光ビームスプリッタ５４は、コリメートレンズ５２の＋Ｘ側に配置され、光ディスク１５で反射した光束（戻り光束）を−Ｚ方向に分岐する。ここでは一例として、この偏光ビームスプリッタ５４は、Ｓ偏光に対して高い透過率を有し、Ｐ偏光に対して高い反射率を有している。
【００５４】
前記立ち上げミラー５３は、偏光ビームスプリッタ５４の＋Ｘ側に配置され、偏光ビームスプリッタ５４を透過した光束の光路を＋Ｚ方向に曲げる。この立ち上げミラー５３の＋Ｚ側に前記１／４波長板５５が配置され、該１／４波長板５５の＋Ｚ側に前記対物レンズ６０が配置されている。本実施形態では、一例として対物レンズ６０の開口数ＮＡは０．６５、記録層に形成される光スポットのスポット径は約０．５４μｍであるものとする。
【００５５】
前記検出レンズ５８は、偏光ビームスプリッタ５４の−Ｚ側に配置され、偏光ビームスプリッタ５４で−Ｚ方向に分岐された戻り光束を前記受光器ＰＤの受光面に集光する。受光器ＰＤは、通常の３軸駆動型の光ピックアップ装置と同様に、ウォブル信号情報、再生データ情報、フォーカスエラー情報、トラックエラー情報及びラジアルチルト情報などを含む信号を出力する複数の受光素子（又は受光領域）を含んで構成されている。なお、ラジアルチルトとは、光ディスク１５の半径方向に関する、対物レンズ６０に対する記録層の傾きをいう。
【００５６】
前記駆動系（図示省略）は、対物レンズ６０の光軸方向であるフォーカス方向に対物レンズ６０を微少駆動するためのフォーカシングアクチュエータ、トラックの接線方向に直交する方向であるトラッキング方向に対物レンズ６０を微少駆動するためのトラッキングアクチュエータ、及びトラックの接線方向の軸回りに対物レンズ６０を回動するためのラジアルチルトアクチュエータなどから構成されている。
【００５７】
上記のように構成される光ピックアップ装置２３の作用を簡単に説明すると、光源ＬＤから出射された直線偏光（ここではＳ偏光）の光束は、コリメートレンズ５２で略平行光とされた後、偏光ビームスプリッタ５４に入射する。そして、偏光ビームスプリッタ５４を透過した光束は、その光路が立ち上げミラー５３で曲げられ、１／４波長板５５で円偏光とされた後、対物レンズ６０を介して光ディスク１５の記録層に微小スポットとして集光される。
【００５８】
光ディスク１５の記録層で反射した反射光は往路とは反対回りの円偏光となり、戻り光束として対物レンズ６０で再び略平行光とされ、１／４波長板５５で往路と直交した直線偏光（ここではＰ偏光）とされる。そして、１／４波長板５５を透過した戻り光束は立ち上げミラー５３を介して偏光ビームスプリッタ５４に入射する。さらに、偏光ビームスプリッタ５４で−Ｚ方向に分岐された戻り光束は、検出レンズ５８で集光され、受光器ＰＤで受光される。受光器ＰＤを構成する複数の受光素子（又は受光領域）は受光量に応じた光電変換信号をそれぞれ生成し、再生信号処理回路２８に出力する。
【００５９】
図１に戻り、前記再生信号処理回路２８は、前記受光器ＰＤの出力信号（複数の光電変換信号）に基づいて、サーボ信号（フォーカスエラー信号、トラックエラー信号、ラジアルチルト信号など）、アドレス情報、各種クロック（記録クロック、再生クロックなど）、及びＲＦ信号（再生信号）などを取得する。さらに、再生信号処理回路２８は、ＲＦ信号に対して復号処理及び誤り検出処理などを行い、誤りが検出されたときには誤り訂正処理を行った後、再生データとして前記バッファマネージャ３７を介して前記バッファＲＡＭ３４に格納する。また、再生信号処理回路２８は、ＣＰＵ４０の指示に応じてＲＦ信号をサンプリングし、その結果をＡＤ変換してＣＰＵ４０に通知する。
【００６０】
前記駆動制御回路２６は、再生信号処理回路２８からのトラックエラー信号に基づいて、トラッキング方向に関する対物レンズ６０の位置ずれを補正するための前記トラッキングアクチュエータの駆動信号を生成するとともに、フォーカスエラー信号に基づいて、対物レンズ６０のフォーカスずれを補正するための前記フォーカシングアクチュエータの駆動信号を生成する。また、駆動制御回路２６は、再生信号処理回路２８からのラジアルチルト信号に基づいて、ラジアルチルトを補正するための前記ラジアルチルトアクチュエータの駆動信号を生成する。ここで生成された各駆動信号は光ピックアップ装置２３に出力される。これにより、トラッキング制御、フォーカス制御及びラジアルチルト制御が行われる。
【００６１】
さらに、駆動制御回路２６は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、シークモータ２１を駆動するための駆動信号、及びスピンドルモータ２２を駆動するための駆動信号を生成する。各駆動信号は、それぞれシークモータ２１及びスピンドルモータ２２に出力される。
【００６２】
前記バッファＲＡＭ３４には、光ディスク１５に記録するデータ（記録用データ）、及び光ディスク１５から再生したデータ（再生データ）などが一時的に格納される。このバッファＲＡＭ３４へのデータの入出力は、前記バッファマネージャ３７によって管理されている。
【００６３】
前記エンコーダ２５は、ＣＰＵ４０の指示に基づいて、バッファＲＡＭ３４に蓄積されている記録用データをバッファマネージャ３７を介して取り出し、データの変調及びエラー訂正コードの付加などを行ない、光ディスク１５への書き込み信号を生成する。ここで生成された書き込み信号はレーザ制御回路２４に出力される。
【００６４】
前記レーザ制御回路２４は、光源ＬＤの発光パワーを制御する。例えば記録の際には、前記書き込み信号、記録クロック、記録条件、及び光源ＬＤの発光特性などに基づいて、光源ＬＤの駆動信号がレーザ制御回路２４にて生成される。
【００６５】
前記インターフェース３８は、上位装置９０（例えば、パソコン）との双方向の通信インターフェースであり、ＡＴＡＰＩ（AT Attachment Packet Interface）、ＳＣＳＩ（Small Computer System Interface）及びＵＳＢ（Universal Serial Bus）などの標準インターフェースに準拠している。
【００６６】
前記フラッシュメモリ３９は、プログラム領域及びデータ領域を含んで構成されている。プログラム領域には、ＣＰＵ４０にて解読可能なコードで記述された本発明に係るプログラムを含む各種プログラムが格納されている。また、データ領域には、光源ＬＤの発光特性及び記録条件などが格納されている。
【００６７】
前記ＣＰＵ４０は、フラッシュメモリ３９のプログラム領域に格納されているプログラムに従って前記各部の動作を制御するとともに、制御に必要なデータなどをＲＡＭ４１及びバッファＲＡＭ３４に保存する。
【００６８】
《多値記録方式》
次に、上記のようにして構成された光ディスク装置２０における多値記録方式について説明する。一例として図３に示されるように、光ディスク１５のトラックは、仮想的にトラックの接線方向に関して所定の長さ（ここでは、約０．２４μｍとする）毎に複数の領域（セル）に分割される。そして、１つのセルには１つの多値化データが格納される。多値化データの値（ｍとする）が１〜７のときは、その値に対応する長さの記録マーク（アモルファス状態の領域）がセルの中央部に形成される。なお、ｍが０のときには、記録マークは形成されない。すなわち、多値化データ０は特定の多値化データである。また、隣り合うセルの中心間距離はセル周期（Ｔｃとする）と呼ばれている。
【００６９】
前記記録マークが形成された部分では、記録マークの面積が大きいほどレーザ光の反射率が低下するため、一例として図４に示されるように、戻り光束の強度（反射光強度）は、記録マークの面積が大きいほど低くなる。従って、光ディスクの記録面で反射されたレーザ光から生成される再生信号（ＲＦ信号）は、ｍ＝０のときに最大レベルとなり、ｍ＝７のときに最小レベルとなる。なお、ここでは、一例として図５に示されるように、再生信号の信号レベル（以下「再生信号レベル」ともいう）の目標値（目標レベル）を、ｍ＝０でＩ0、ｍ＝１でＩ1、ｍ＝２でＩ2、ｍ＝３でＩ3、ｍ＝４でＩ4、ｍ＝５でＩ5、ｍ＝６でＩ6、ｍ＝７でＩ7とする。そこで、Ｉ0−Ｉ7が目標とするダイナミックレンジ（Ｄｍとする）となる。ここでは、一例として、Ｉ0に対するＤｍを０．６３（６３％）とする。また、ｍが１だけ変化したときの再生信号レベルの変化（以下「検出窓」ともいう）ｋｗは、Ｄｍ／７であり、Ｉ0に対しては０．０９（９％）となる。さらに、（Ｉ0＋Ｉ7）／２が再生信号レベルの中間値である。
【００７０】
《記録ストラテジ》
ここで、多値記録方式における記録ストラテジについて説明する。
【００７１】
光ディスク１５に記録マークを形成する際の光源ＬＤの発光パワーは、多値化データに応じてパルス状に変化する。その発光パルスは、一例として図６に示されるように、１セル毎に３つのパルス（記録パルスＷｐ、冷却パルスＣｐ、消去パルスＥｐ）から構成されている。記録パルスＷｐでの発光パワーは記録パワー（Ｗｐとする）、その発光時間は記録パルス幅（Ｔonとする）と呼ばれ、冷却パルスＣｐでの発光パワーは冷却パワー（Ｐｃとする）、その発光時間は冷却パルス幅（Ｔoffとする）と呼ばれ、消去パルスＥｐでの発光パワーは消去パワー（Ｐｅとする）と呼ばれている。各発光パワーの大小関係は、Ｐｗ＞Ｐｅ＞Ｐｃである。記録層にある特殊合金は、記録パルスＷｐによって溶融状態となり、冷却パルスＣｐによって急冷されてアモルファス状態（記録マーク）となり、消去パルスＥｐによって徐冷されて結晶状態（「記録スペース」とも呼ばれる）となる。
【００７２】
前記消去パワーＰｅは記録パワーＰｗに定数ε（通常は約０．５）を乗じたパワーである。また、記録パルスＷｐの立上がりタイミングをＴａ、立下りタイミングをＴｂ、消去パルスＥｐの立上がりタイミングをＴｄとすると、記録パルス幅Ｔon＝Ｔb−Ｔａ、冷却パルス幅Ｔoff＝Ｔｄ−Ｔｂとなる。光ディスク１５における記録パワーＰｗ、冷却パワーＰｃ、定数ε、Ｔａ、Ｔｂ、及びＴｄの推奨値は、プリフォーマット情報の一部として光ディスク１５に記録されている。また、これらのデフォルト値がフラッシュメモリ３９に格納されている。そこで、光ディスク１５が光ディスク装置２０にセットされると、記録パワーＰｗ、冷却パワーＰｃ、定数ε、Ｔａ、Ｔｂ、及びＴｄの推奨値は光ディスク１５から読み出され、ＲＡＭ４１に格納される。なお、前記推奨値の最新情報がプリフォーマット情報以外に記録されている場合には、該最新情報がＲＡＭ４１に格納される。
【００７３】
《記録処理》
次に、上記のようにして構成された光ディスク装置２０が、上位装置９０から記録要求コマンドを受信したときの処理（記録処理）について図７を用いて説明する。図７のフローチャートは、ＣＰＵ４０によって実行される一連の処理アルゴリズムに対応している。
【００７４】
上位装置９０から記録要求コマンドを受信すると、フラッシュメモリ３９のプログラム領域に格納されている図７のフローチャートに対応するプログラム（以下、「記録処理プログラム」という）の先頭アドレスがＣＰＵ４０のプログラムカウンタにセットされ、記録処理がスタートする。なお、ここでは、記録／再生の線速度は６ｍ／ｓ、記録クロックの周期は２．７ｎｓであり、セル周期Ｔｃは１６記録クロックに対応するものとする。
【００７５】
最初のステップ４０１では、ＲＡＭ４１に格納されている光ディスク１５における記録パワーＰｗ、冷却パワーＰｃ、定数ε、Ｔａ、Ｔｂ、Ｔｄの推奨値を取得する。
【００７６】
次のステップ４０３では、最適な記録パワーを取得する処理（以下「最適記録パワー取得処理」と略述する）を行う。推奨された記録条件で記録をしても、光ディスク装置の特性によって、一例として図８（Ｂ）に示されるように、再生信号の信号レベルが前記目標レベルにならないことがある。そこで、一例として図８（Ａ）に示されるように、再生信号の信号レベルが前記目標レベルとなるように、先ず、最適な記録パワーを取得する。ここでの処理の詳細については後述する。
【００７７】
次のステップ４０５では、上記最適記録パワー取得処理で取得された最適な記録パワーに最適な記録パルス幅を取得する処理（以下「最適記録パルス幅取得処理」と略述する）を行う。ここでの処理の詳細については後述する。
【００７８】
次のステップ４０７では、上記最適記録パワー取得処理で取得された最適な記録パワーと、上記最適記録パルス幅取得処理で取得された最適な記録パルス幅を、光ディスク１５に記録する。従って、次回光ディスク１５がセットされたときには、ここで記録された記録パワー及び記録パルス幅が、それらの推奨値となる。
【００７９】
次のステップ４０９では、最適な記録パワー及び最適な記録パルス幅を用いて記録条件を設定する。ここで設定された記録条件は、レーザ制御回路２４に出力される。
【００８０】
次のステップ４１１では、記録要求コマンドで指定されたアドレスに対応する目標位置近傍に光スポットが形成されるように、駆動制御回路２６に指示する。これにより、シーク動作が行なわれる。なお、シーク動作が不要であれば、ここでの処理はスキップされる。
【００８１】
次のステップ４１３では、記録を許可する。これにより、前記エンコーダ２５、前記レーザ制御回路２４及び前記光ピックアップ装置２３を介して光ディスク１５への記録が開始される。ここでは、最適な記録パワー及び最適な記録パルス幅の記録パルスを含むパルス状のレーザ光が光ディスク１５の記録層に照射される。
【００８２】
次のステップ４１５では、記録が完了したか否かを判断する。完了していなければ、ここでの判断は否定され、所定時間経過後に再度判断する。完了していれば、ここでの判断は肯定され、記録処理を終了する。
【００８３】
《最適記録パワー取得処理》
ここで、前記最適記録パワー取得処理の詳細について図９のフローチャートを用いて説明する。なお、ここでは、一例として前記記録パワーの推奨値（以下「推奨記録パワー」ともいう）は８ｍＷであるものとする。
【００８４】
最初のステップ５０１では、最適な記録パワーを取得する方法として、γ法及び線形法の一方を選択する。ここでは、一例として線形法が選択されたものとする。なお、いずれの方法を選択するかは、ユーザが上位装置９０を介して指定することが可能である。また、光ディスクの種類に応じて、光ディスク装置２０側で選択しても良い。あるいは、推奨する方法が光ディスクにプリフォーマット情報の一つとして記録されている場合には、その情報に基づいて光ディスク装置２０側で選択しても良い。
【００８５】
次のステップ５０３では、試し書きのテストデータを設定する。ここでは、線形法用のテストデータとして、全ての多値化データ（ｍ＝０〜７）について、同じ多値化データがそれぞれ５個ずつ繰り返されたデータ列をテストデータとする。すなわち、「０００００１１１１１２２２２２３３３３３４４４４４５５５５５６６６６６７７７７７」がテストデータとなる。なお、同じ多値化データの個数は、符号間干渉の影響を受けていない再生信号レベルが３セル分あれば良いので、符号間干渉の影響を受けるセル分を前後に１つずつ加え、５個とした。符号間干渉の影響は、スポット径（光強度が最大値の１／ｅ2となるところの大きさ）と記録マークの大きさとの関係に依存するので、前後に加える個数は、スポット径とセルの大きさとによって決定される。すなわち、光源から出射されるレーザ光の波長と対物レンズの開口数ＮＡとセルの線密度とによって決定される。
【００８６】
次のステップ５０５では、試し書きの回数（ｎとする）を設定する。本実施形態では、一例として、テストデータを試し書きするときの記録パワー（以下、便宜上「試し書き記録パワーＰt」という）を６ｍＷから１１ｍＷまで１ｍＷ間隔で変化させて試し書きを行うものとする。従って、ｎ＝６が設定される。なお、試し書きは、推奨記録パワー（ここでは８ｍＷ）の値をほぼ中心に、その値の−（１５〜３０）％〜＋（１５〜３０）％の範囲を少なくとも４分割するような記録パワーで行われるのが好ましい。
【００８７】
次のステップ５０７では、試し書き記録パワーＰtの初期値を設定する。ここでは、試し書き記録パワーＰtの初期値として６ｍＷが設定される。
【００８８】
次のステップ５０９では、試し書きの回数をカウントするためのカウンタ（ＣＮＴとする）の初期値として０をセットする。
【００８９】
次のステップ５１１では、光ディスク１５に設けられている試し書き領域の最小単位領域（１セクタ）にテストデータを記録する。なお、記録パワー以外は推奨値を用いる。
【００９０】
次のステップ５１３では、カウンタＣＮＴの値に１を加算する。
【００９１】
次のステップ５１５では、カウンタＣＮＴの値がｎ（ここでは６）であるか否かを判断する。ここでは、ＣＮＴ＝１であるので、ここでの判断は否定され、ステップ５１７に移行する。
【００９２】
このステップ５１７では、試し書き記録パワーＰtに増分ｐ（ここでは１ｍＷ）を加算し、新たな試し書き記録パワーＰtとする。そして、前記ステップ５１１に戻る。
【００９３】
以下、カウンタＣＮＴの値がｎと等しくなるまで、ステップ５１１〜５１７の処理を繰り返し行う。カウンタＣＮＴの値がｎと等しくなると、ステップ５１５での判断は肯定され、ステップ５１９に移行する。
【００９４】
このステップ５１９では、発光パワーを０．５ｍＷの再生パワーとし、テストデータが記録された試し書き領域を再生する。ここでは、一例として図１０に示されるように、そのレベルがほぼステップ状に変化する再生信号が取得される。
【００９５】
次のステップ５２１では、再生信号処理回路２８を介してセルの中央部に対応するタイミングで再生信号をサンプリングする。
【００９６】
次のステップ５２３では、再生信号処理回路２８を介して各サンプリング値をデジタル値に変換（ＡＤ変換）する。ここでは、ｍ＝０に対応するデジタル値をＩ（０）、ｍ＝１に対応するデジタル値をＩ（１）、ｍ＝２に対応するデジタル値をＩ（２）、ｍ＝３に対応するデジタル値をＩ（３）、ｍ＝４に対応するデジタル値をＩ（４）、ｍ＝５に対応するデジタル値をＩ（５）、ｍ＝６に対応するデジタル値をＩ（６）、ｍ＝７に対応するデジタル値をＩ（７）とする。また、以下では、各デジタル値を特に区別する必要がないときは、便宜上、Ｉ（ｍ）と記述する。なお、１つの多値化データについて５個のデジタル値Ｉ（ｍ）が得られるが、符号間干渉の影響を避けるため、最初と最後の値は用いずに残り３個の平均値を多値化データｍのデジタル値Ｉ（ｍ）とする。
【００９７】
次のステップ５２５では、試し書き記録パワーＰt毎に、次の（１）式に基づいて、全てのデジタル値Ｉ（ｍ）を正規化し、正規化値（Ｉｄ（ｍ）とする）を取得する（図１１参照）。これにより、光ディスクの種類、基板の複屈折や記録感度の周内変動、などに起因する信号レベルの変化を補正することができる。
【００９８】
Ｉｄ（ｍ）＝Ｉ（ｍ）／Ｉ（０）×１００  ……（１）
【００９９】
次のステップ５２７では、最適な記録パワーを取得する方法が線形法であるか否かを判断する。ここでは、線形法が選択されているので、ステップ５２７での判断は肯定され、ステップ５２９に移行する。
【０１００】
このステップ５２９では、一例として図１２に示されるように、試し書き記録パワーＰt毎に、多値化データｍと正規化値Ｉｄとの関係が次の（２）式の近似式で示されるように、２次回帰演算を行う。ここで得られた各近似式の各係数（ａ、ｂ、ｃ）が、図１３に示されている。
【０１０１】
Ｉｄ＝ａ×ｍ2＋ｂ×ｍ＋ｃ  ……（２）
【０１０２】
次のステップ５３１では、一例として図１４に示されるように、試し書き記録パワーＰtと係数ａとの関係が次の（３）式の近似式で示されるように、２次回帰演算を行う。本実施形態では、Ａ＝０．０８２、Ｂ＝−０．８８、Ｃ＝１．７１となる。すなわち、次の（４）式が得られる。
【０１０３】
ａ＝Ａ×Ｐt2＋Ｂ×Ｐt＋Ｃ  ……（３）
ａ＝０．０８２×Ｐt2−０．８８×Ｐt＋１．７１  ……（４）
【０１０４】
次のステップ５３３では、上記（４）式の解を求める。すなわち、同じ多値化データが連続しているセルの再生信号が平坦になるような試し書き記録パワーＰtを求める。ここでは、２つの解（２．５ｍＷ、８．２ｍＷ）が得られる。
【０１０５】
次のステップ５３５では、最適な記録パワーを決定する。ここでは、図１４に示されるように、ａはＰtの増加に応じて増加しているので、上記２つの解のうち大きい方の解（８．２ｍＷ）を最適な記録パワーとする。なお、推奨記録パワー（ここでは８ｍＷ）との差が小さい方の解を最適な記録パワーとしても良い。そして、最適記録パワー取得処理を終了する。
【０１０６】
なお、上記ステップ５０１において、最適な記録パワーを取得する方法としてγ法が選択されると、上記ステップ５０３では、再生信号レベルが最も大きい多値化データ０と、再生信号レベルが最も小さい多値化データ７とからなるデータ列、「０００００７７７７７」がテストデータとなる。そして、上記ステップ５２７での判断は否定され、ステップ５４１に移行する。
【０１０７】
このステップ５４１では、次の（５）式に基づいて変調度（Ｍｏｄとする）を求める。一例として図１５に示されるように、変調度Ｍｏｄは、試し書き記録パワーＰtが大きくなると、ほぼ一定となる（飽和する）。
【０１０８】
Ｍｏｄ＝｛Ｉｄ（７）−Ｉｄ（０）｝／Ｉｄ（０）×１００  ……（５）
【０１０９】
次のステップ５４３では、次の（６）式に基づいて、Ｐｔに対する変調度Ｍｏｄの変化率（γとする）を求める。
【０１１０】
γ＝（ｄＭｏｄ／ｄＰｗ）×（Ｐｗ／Ｍｏｄ）  ……（６）
【０１１１】
次のステップ５４５では、一例として図１６に示されるように、γとＰｔとの関係を示す近似式を求める。
【０１１２】
次のステップ５４７では、γとＰｔとの関係を示す近似式から、γが所定値γt （ここでは１．２）となるときのＰｔを求める。ここでは、Ｐｔ＝７．４５ｍＷとなる。
【０１１３】
次のステップ５４９では、γが所定値γtとなるときのＰｔに所定の係数ｋ（ここでは１．１０）をかけた値、すなわち８．２ｍＷを最適な記録パワーとする。なお、所定値γt及び所定の係数ｋは、プリフォーマット情報の一部として光ディスク１５に記録されている。そして、最適記録パワー取得処理を終了する。
【０１１４】
《最適記録パルス幅取得処理》
ここで、前記最適記録パルス幅取得処理の詳細について図１７のフローチャートを用いて説明する。
【０１１５】
最初のステップ６０１では、上記最適記録パワー取得処理で取得された最適な記録パワーを試し書き記録パワーに設定する。
【０１１６】
次のステップ６０３では、試し書きのテストデータ（以下「第１のテストデータ」ともいう）を設定する。ここでは、全ての多値化データ（ｍ＝０〜７）について、同じ多値化データがそれぞれ５個ずつ繰り返されたデータ列をテストデータとする。すなわち、「０００００１１１１１２２２２２３３３３３４４４４４５５５５５６６６６６７７７７７」が第１のテストデータとなる。
【０１１７】
次のステップ６０５では、試し書き領域の最小単位領域（１セクタ）に第１のテストデータを記録（以下「第１の試し書き」ともいう）する。なお、記録パワー以外は推奨値を用いる。
【０１１８】
次のステップ６０７では、発光パワーを０．５ｍＷの再生パワーとし、第１のテストデータが記録された試し書き領域を再生する。
【０１１９】
次のステップ６０９では、再生信号処理回路２８を介してセルの中央部に対応するタイミングで再生信号をサンプリングする。
【０１２０】
次のステップ６１１では、再生信号処理回路２８を介して各サンプリング値をＡＤ変換し、デジタル値Ｉ（ｍ）を取得する。なお、ここでは、符号間干渉の影響を避けるため、最初と最後の値は用いずに残り３個の多値化データｍのデジタル値Ｉ（ｍ）を有効とする。
【０１２１】
次のステップ６１３では、一例として図１８に示されるように、前記（１）式に基づいて、全てのデジタル値Ｉ（ｍ）を正規化し、正規化値Ｉｄ（ｍ）を取得する。なお、Ｐｏｓは、同一の多値化データが記録されている５つのセルのうち何番目のセルであるか（以下「セル位置」ともいう）を示すものであり、Ｐｏｓ＝２は２番目のセル、Ｐｏｓ＝３は３番目のセル、Ｐｏｓ＝４は４番目のセルを示している。１番目のセルと５番目のセルは符号間干渉の影響があるため、Ｐｏｓ＝１及びＰｏｓ＝５に対応する再生信号は利用されない。
【０１２２】
次のステップ６１５では、多値化データｍ毎に、セル位置Ｐｏｓと正規化値Ｉｄ（ｍ）との関係が次の（７）式の近似式で示されるように、１次回帰演算を行い、係数ａ及びｂを求める（図１８参照）。
【０１２３】
Ｉｄ（ｍ）＝ａ×Ｐｏｓ＋ｂ  ……（７）
【０１２４】
次のステップ６１７では、ａの許容範囲を求める。ここでは、一例として図１９に示されるように、Ｐｏｓ＝２〜４の３個の再生信号におけるレベル変動の最大許容値を前記検出窓ｋｗの３５％とする。そこで、係数ａの許容範囲は、−１．６（≒−９×０．３５÷２）＜ａ＜＋１．６（≒９×０．３５÷２）となる。なお、前記最大許容値は検出窓ｋｗの３５％に限定されるものではなく、例えば試し書きの速度に応じて変更しても良い。
【０１２５】
次のステップ６１９では、係数ａが許容範囲外となる多値化データｍを抽出する。図１８では、ｍ＝７でａ＝＋３．０となっている。
【０１２６】
次のステップ６２１では、係数ａが許容範囲外となる多値化データｍが５個繰り返されたデータ列を含む試し書きのテストデータ（以下「第２のテストデータ」ともいう）を設定する。ここでは、「０００００７７７７７」が第２のテストデータとなる。
【０１２７】
次のステップ６２３では、試し書きの回数ｎを設定する。本実施形態では、一例として、テストデータを試し書きするときの記録パルス幅（以下、便宜上「試し書き記録パルス幅Ｗt」という）を４．０ｎｓから６．５ｎｓまで０．５ｎｓ間隔で変化させて試し書きを行うものとする。従って、ｎ＝６が設定される。なお、試し書き記録パルス幅Ｗtは、記録パルス幅の推奨値がほぼ中心の値となるように変化させるのが好ましい。
【０１２８】
次のステップ６２５では、試し書き記録パルス幅Ｗtの初期値を設定する。ここでは、試し書き記録パルス幅Ｗtの初期値として４．０ｎｓが設定される。
【０１２９】
次のステップ６２７では、試し書きの回数をカウントするためのカウンタＣＮＴの初期値として０をセットする。
【０１３０】
次のステップ６２９では、試し書き領域の最小単位領域（１セクタ）に第２のテストデータを記録する（以下「第２の試し書き」ともいう）。
【０１３１】
次のステップ６３１では、カウンタＣＮＴの値に１を加算する。
【０１３２】
次のステップ６３３では、カウンタＣＮＴの値がｎ（ここでは６）であるか否かを判断する。ここでは、ＣＮＴ＝１であるので、ここでの判断は否定され、ステップ６３５に移行する。
【０１３３】
このステップ６３５では、試し書き記録パルス幅Ｗtに増分ｗ（ここでは０．５ｎｓ）を加算し、新たな試し書き記録パルス幅Ｗtとする。そして、前記ステップ６２９に戻る。
【０１３４】
以下、カウンタＣＮＴの値がｎと等しくなるまで、ステップ６２９〜６３５の処理を繰り返し行う。カウンタＣＮＴの値がｎと等しくなると、ステップ６３３での判断は肯定され、ステップ６４１に移行する。
【０１３５】
このステップ６４１では、発光パワーを０．５ｍＷの再生パワーとし、第２のテストデータが記録された試し書き領域を再生する。
【０１３６】
次のステップ６４３では、再生信号処理回路２８を介してセルの中央部に対応するタイミングで再生信号をサンプリングする。
【０１３７】
次のステップ６４５では、再生信号処理回路２８を介して各サンプリング値をＡＤ変換し、デジタル値Ｉ(ｍ)を取得する。なお、符号間干渉の影響を避けるため、最初と最後の値は用いずに残り３個の多値化データのデジタル値Ｉ(ｍ)を有効とする。
【０１３８】
次のステップ６４７では、一例として図２０に示されるように、試し書き記録パルス幅Ｗt毎に、前記（１）式に基づいて、デジタル値Ｉ（７）を正規化し、正規化値Ｉｄ（７）を取得する。
【０１３９】
次のステップ６４９では、試し書き記録パルス幅Ｗt毎に、セル位置Ｐｏｓと正規化値Ｉｄ（７）との関係が次の（８）式の近似式で示されるように、１次回帰演算を行い、一例として図２１及び図２２に示されるように、係数ａ’及びｂ’を求める。すなわち、ａ’は、データ列における同一の連続した多値化データに対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾き（平坦度）である。
【０１４０】
Ｉｄ（７）＝ａ’×Ｐｏｓ＋ｂ’  ……（８）
【０１４１】
次のステップ６５１では、係数ａ’と試し書き記録パルス幅Ｗｔとの関係が次の（９）式の近似式で示されるように、１次回帰演算を行い、係数ａ”及びｂ”を求める。本実施形態では、一例として図２３に示されるように、ａ”＝−２．５、ｂ”＝１４．９となり、次の（１０）式が得られる。
【０１４２】
ａ’＝ａ”×Ｗｔ＋ｂ”  ……（９）
ａ’＝−２．５×Ｗｔ＋１４．９  ……（１０）
【０１４３】
次のステップ６５３では、係数ａ’＝０に対応する試し書き記録パルス幅Ｗｔを得る。ここでは、上記（１０）式の解を求めると、Ｗｔ＝６．０ｎｓとなる。
【０１４４】
次のステップ６５５では、最適な記録パルス幅を決定する。ここでは、６．０ｎｓが最適な記録パルス幅となる。
【０１４５】
これにより、一例として図２４に示されるように、多値化データｍ＝７が繰り返し記録されたときに、熱量が不足し、記録マークが目標の形状に対して後半部分が縮小した形状となることを抑制することができる。
【０１４６】
以上の説明から明らかなように、本実施形態に係る光ディスク装置２０では、エンコーダ２５とレーザ制御回路２４とによって処理装置が構成されている。また、ＣＰＵ４０によって制御用コンピュータが構成されている。さらに、ＣＰＵ４０及び該ＣＰＵ４０によって実行されるプログラムとによって、制御装置が実現されている。すなわち、図１７のフローチャートによって、制御装置が実現されている。なお、ＣＰＵ４０によるプログラムに従う処理によって実現した制御装置の少なくとも一部をハードウェアによって構成することとしても良いし、あるいは全てをハードウェアによって構成することとしても良い。
【０１４７】
また、本実施形態では、フラッシュメモリ３９（メモリ）に格納されているプログラムのうち、前記記録処理プログラムに、本発明のプログラムが含まれている。すなわち、図１７のステップ６２１〜６３５の処理に対応するプログラムによって第１の手順が構成され、図１７のステップ６４１〜６５５の処理に対応するプログラムによって第２の手順が構成されている。また、図９の処理に対応するプログラムによって第３の手順が構成され、図１７のステップ６０１〜６０５の処理に対応するプログラムによって第４の手順が構成され、図１７のステップ６０７〜６１９の処理に対応するプログラムによって第５の手順が構成されている。
【０１４８】
そして、上記記録処理において、本発明に係る記録条件決定方法及び記録方法が実施されている。すなわち、図１７のステップ６２１〜６３５の処理によって記録条件決定方法の第１の工程が実施され、図１７のステップ６４１〜６５５の処理によって第２の工程が実施されている。また、図９の処理によって記録条件決定方法の第３の工程が実施され、図１７のステップ６０１〜６０５の処理によって第４の工程が実施され、図１７のステップ６０７〜６１９の処理によって第５の工程が実施されている。さらに、図７のステップ４０９〜４１３の処理によって記録方法の記録する工程が実施されている。
【０１４９】
以上説明したように、本実施形態に係る光ディスク装置２０によると、ユーザデータを８種類（０〜７）の多値化データで表現し、光ディスク１５の記録面に記録する際に、第２のテストデータ「０００００７７７７７」が、記録面に設けられた試し書き領域に、記録パルス幅を４．０ｎｓから６．５ｎｓまで０．５ｎｓ間隔で変化させつつ試し書きされる。そして、第２のテストデータが試し書きされた領域が再生されて、記録パルス幅毎にデータ列における連続した多値化データ７に対応する複数の再生信号を結ぶ直線の傾きが求められる。続いて、記録パルス幅と直線の傾きとの関係を示す一次式が近似演算により求められ、直線の傾きがほぼ０となるときの記録パルス幅が算出される。そして、算出された記録パルス幅が最適な記録パルス幅に決定される。これにより、記録面に記録される情報に連続する同一の多値化データが含まれていても、適切な熱量を記録面に供給することができるため、熱量不足あるいは熱量過剰が生じるのを抑制することが可能となる。すなわち、３値以上に多値化された情報を光ディスクに記録する際の適切な記録条件を決定することが可能となる。
【０１５０】
また、本実施形態によると、第２のテストデータを試し書きするのに先立って、ＯＰＣ（Optimum Power Control）処理を行い、最適な記録パワーを求めている。そして、その最適な記録パワーで第２のテストデータを試し書きしている。これにより、最適な記録パルス幅を容易に決定することができる。
【０１５１】
また、本実施形態によると、第２のテストデータを試し書きするのに先立って、第１のテストデータ「０００００１１１１１２２２２２３３３３３４４４４４５５５５５６６６６６７７７７７」を最適な記録パワーで試し書きし、多値化データ毎に再生信号の傾きが所定の許容範囲内であるか否かを判断し、許容範囲外となった多値化データ７を第２のテストデータに含ませている。これにより、効率良く最適な記録パルス幅を決定することができる。
【０１５２】
なお、上記実施形態では、前記最適記録パルス幅取得処理において、「０００００７７７７７」を第２のテストデータとする場合について説明したが、光ディスク１５における前記周内変動が小さい場合には、「７７７７７」を第２のテストデータとしても良い。この場合には、前記正規化は行われない。
【０１５３】
また、上記実施形態では、前記最適記録パルス幅取得処理において、ｍ＝７で係数ａが許容範囲外となる場合について説明したが、例えば、一例として図２５に示されるように、ｍ＝１で係数ａが許容範囲外となる場合には、前記ステップ６２１では、「０００００１１１１１」が第２のテストデータとなる。そして、前記ステップ６４７では、一例として図２６に示されるように、正規化値Ｉｄ（１）が得られ、前記ステップ６４９では、一例として図２７及び図２８に示されるように、係数ａ’及びｂ’が算出される。さらに、前記ステップ６５１では、一例として図２９に示されるように、ａ”＝−１．７、ｂ”＝７．９が得られ、前記ステップ６５３では、Ｗｔ≒４．５ｎｓとなる。すなわち、最適な記録パルス幅は４．５ｎｓである。この場合には、一例として図３０に示されるように、多値化データｍ＝１が繰り返し記録されたときに、熱量が過剰となり、記録マークが目標の形状に対して後半部分が膨張した形状となることを抑制することができる。
【０１５４】
また、上記実施形態では、前記最適記録パルス幅取得処理において、係数ａが許容範囲外となるｍが１つの場合について説明したが、これに限定されるものではない。例えば、ｍ＝２とｍ＝７で係数ａが許容範囲外となるときには、第２のテストデータは「０００００２２２２２７７７７７」としても良い。なお、ｍ＝２は前記中間値以上の再生信号レベルに対応し、ｍ＝７は中間値未満の再生信号レベルに対応している。
【０１５５】
また、上記実施形態では、第２のテストデータが、多値化データ０と係数ａが許容範囲外となる多値化データとから成る場合について説明したが、これに限らず、前記第１のテストデータと同じデータ列「０００００１１１１１２２２２２３３３３３４４４４４５５５５５６６６６６７７７７７」を第２のテストデータとして用いても良い。この場合には、前記ステップ６４１では、一例として図３１に示されるように、そのレベルがステップ状に変化する再生信号が取得される。そして、前記ステップ６４９では、一例として図３２に示されるように、多値化データ毎に係数ａ’が算出される。さらに、前記ステップ６５１では、多値化データ毎にａ”、ｂ”が算出され、前記ステップ６５３では、ｍ＝１及び２のときにＷｔ＝４．５ｎｓ、ｍ＝３及び４のときにＷｔ＝５．０ｎｓ、ｍ＝５及び６のときにＷｔ＝５．５ｎｓ、ｍ＝７のときにＷｔ＝６．０ｎｓとなる。この場合には、図３３のフローチャートに示されるように、前記第１の試し書きを省略することが可能なため、最適記録パルス幅取得処理での処理時間を短縮できるとともに、試し書き領域を効率良く使用することができる。
【０１５６】
なお、この場合において、光ディスクにおける光学的位相差（複屈折）や基板厚さの周内変動が大きいときには、ｍ＝０についても係数ａ’を算出しても良い。実際の再生信号レベルは、前記周内変動によって、同じ多値化データであってもその再生信号レベルに変動を生じることがある。そこで、試し書き領域でそのレベル変動があると、係数ａ’は全ての多値データに対して、一定のずれ（オフセット）を生じてしまう。しかしながら、ｍ＝０では冷却パルスを含まないため、記録パルス幅Ｔｏｎに依存した再生信号レベルの変化は生じない。すなわち、ｍ＝０について得られた係数ａ’は、前述した光ディスクの周内変動だけを反映することとなる。そこで、係数ａ’が、ｍ＝０における係数ａ’と同一となるような解Ｗｔを、各ｍ（１〜７）について算出することで、周内変動が補正された最適な記録パルス幅を算出することができる。
【０１５７】
また、上記実施形態では、ＯＰＣ処理で得られた最適な記録パワーで第２のテストデータを試し書きする場合について説明したが、これに限らず、例えば光ディスクにプリフォーマット情報の一つとして記録されている記録パワーの推奨値で第２のテストデータを試し書きしても良い。これにより、記録処理に要する時間を短縮することができる。さらに、例えば光ディスクにプリフォーマット情報とは別に記録パワーの最新の推奨値が記録されている場合には、その最新の推奨値で第２のテストデータを試し書きしても良い。なお、光ディスクに記録パワーの推奨値が記録されていない場合には、フラッシュメモリ３９に格納されている前記デフォルト値で第２のテストデータを試し書きしても良い。
【０１５８】
また、上記実施形態では、特殊合金としてＧｅ−Ｓｂ−Ｔｅ系の合金を用いる場合について説明したが、例えば、Ｇｅ-Ｔｅ-Ｓｂ-Ｓ系、Ｔｅ-Ｇｅ-Ｓｎ-Ａｕ系、Ｇｅ-Ｔｅ-Ｓｎ系、Ｓｂ-Ｓｅ系、Ｓｂ-Ｓｅ-Ｔｅ系、Ｓｎ-Ｓｅ-Ｔｅ系、Ｇａ-Ｓｅ-Ｔｅ系、Ｇａ-Ｓｅ-Ｔｅ-Ｇｅ系、Ｉｎ-Ｓｅ系、Ｉｎ-Ｓｅ-Ｔｅ系、Ａｇ-Ｉｎ-Ｓｂ-Ｔｅ系、Ｇｅ-Ｓｂ-Ｔｅ形などを用いても良い。
【０１５９】
また、上記実施形態では、ユーザデータが８種類（０〜７）の多値化データで表現される場合について説明したが、これに限定されるものではなく、８種類以外の多値化データで表現されても良い。すなわち、８値化でなくてもよい。
【０１６０】
また、上記実施形態では、本発明に係るプログラムは、フラッシュメモリ３９に記録されているが、他の記録媒体（ＣＤ、光磁気ディスク、ＤＶＤ、メモリカード、ＵＳＢメモリ、フレキシブルディスク等）に記録されていても良い。この場合には、各記録媒体に対応する再生装置（又は専用インターフェース）を介して本発明に係るプログラムをフラッシュメモリ３９にロードすることとなる。また、ネットワーク（ＬＡＮ、イントラネット、インターネットなど）を介して本発明に係るプログラムをフラッシュメモリ３９に転送しても良い。要するに、本発明に係るプログラムがフラッシュメモリ３９に格納されていれば良い。
【０１６１】
また、上記実施形態では、光ディスクが約４０５ｎｍの波長の光に対応した情報記録媒体の場合について説明したが、本発明がこれに限定されるものではなく、例えば、ＣＤやＤＶＤであっても良い。
【０１６２】
また、上記実施形態では、光ディスクが相変化ディスクの場合について説明したが、これに限らず、いわゆる追記ディスクであっても良い。
【０１６３】
また、上記実施形態では、光ピックアップ装置が１つの半導体レーザを備える場合について説明したが、これに限らず、例えば互いに異なる波長の光束を発光する複数の半導体レーザを備えていても良い。この場合に、例えば波長が約４０５ｎｍの光束を発光する半導体レーザ、波長が約６６０ｎｍの光束を発光する半導体レーザ及び波長が約７８０ｎｍの光束を発光する半導体レーザの少なくとも１つを含んでいても良い。すなわち、光ディスク装置が互いに異なる規格に準拠した複数種類の光ディスクに対応する光ディスク装置であっても良い。このときには、複数種類の光ディスクのうち少なくとも１種類の光ディスクで多値記録方式が用いられれば良い。
【産業上の利用可能性】
【０１６４】
以上説明したように、本発明の記録条件決定方法によれば、３値以上に多値化された情報を光ディスクに記録する際の適切な記録条件を決定するのに適している。また、本発明の記録方法及び光ディスク装置によれば、３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録するのに適している。また、本発明のプログラム及び記憶媒体によれば、光ディスク装置に、３値以上に多値化された情報を高い記録品質で光ディスクに記録させるのに適している。
【図面の簡単な説明】
【０１６５】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図１における光ピックアップ装置の構成を説明するための図である。
【図３】情報の多値化を説明するための図である。
【図４】多値記録方式で記録された情報を再生したときの反射光強度を説明するための図である。
【図５】目標のダイナミックレンジを説明するための図である。
【図６】多値記録方式での記録ストラテジを説明するための図である。
【図７】記録処理を説明するためのフローチャートである。
【図８】図８（Ａ）は目標とする再生信号の信号レベルを説明するための図であり、図８（Ｂ）は実際に得られた再生信号の信号レベルを説明するための図である。
【図９】図７における最適な記録パワーの取得処理を説明するためのフローチャートである。
【図１０】図９の最適な記録パワーの取得処理における再生信号を説明するための図である。
【図１１】図９の最適な記録パワーの取得処理における正規化を説明するための図である。
【図１２】図９の最適な記録パワーの取得処理におけるＩｄとｍとの関係を説明するための図である。
【図１３】図９の最適な記録パワーの取得処理における係数ａ、ｂ、ｃを説明するための図である。
【図１４】図９の最適な記録パワーの取得処理における係数ａとＰｔとの関係を説明するための図である。
【図１５】図９の最適な記録パワーの取得処理における変調度Ｍｏｄを説明するための図である。
【図１６】図９の最適な記録パワーの取得処理におけるγｔを説明するための図である。
【図１７】図７における最適な記録パルス幅の取得処理を説明するためのフローチャートである。
【図１８】図１７の最適な記録パルス幅の取得処理における係数ａ、ｂを説明するための図である。
【図１９】図１７のａの許容範囲を説明するための図である。
【図２０】図１７の最適な記録パルス幅の取得処理における正規化を説明するための図である。
【図２１】図１７の最適な記録パルス幅の取得処理における係数ａ'、ｂ'を説明するための図（その１）である。
【図２２】図１７の最適な記録パルス幅の取得処理における係数ａ'、ｂ'を説明するための図（その２）である。
【図２３】図１７の最適な記録パルス幅の取得処理における係数ａ'とＷｔとの関係を説明するための図である。
【図２４】熱量不足による記録マークの変形を説明するための図である。
【図２５】ｍ＝１で係数ａが許容範囲外となる場合を説明するための図である。
【図２６】図２４におけるＩｄを説明するための図である。
【図２７】図２５における係数ａ'、ｂ'を説明するための図（その１）である。
【図２８】図２５における係数ａ'、ｂ'を説明するための図（その２）である。
【図２９】図２５における係数ａ'とＷｔとの関係を説明するための図である。
【図３０】熱量過剰による記録マークの変形を説明するための図である。
【図３１】図７における最適な記録パルス幅の取得処理の変形例を説明するための図（その１）である。
【図３２】図７における最適な記録パルス幅の取得処理の変形例を説明するための図（その２）である。
【図３３】図７における最適な記録パルス幅の取得処理の変形例を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
【０１６６】
１５…光ディスク、２０…光ディスク装置、２３…光ピックアップ装置、２４…レーザ制御回路（処理装置の一部）、２５…エンコーダ（処理装置の一部）、３９…フラッシュメモリ（記録媒体、メモリ）、４０…ＣＰＵ（制御装置、制御用コンピュータ）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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