(57)【要約】【課題】ＮＧとなった箇所のみ目視検査装置で不良箇所の画像を確認することで、迅速で確実性の高い目視検査支援システムを提供する。【解決手段】第１の検査装置４７より被検査物体を検査した外観状態を示すデータをデータ処理する第１のコンピューター２１と、第１の検査装置４７の検査後の被検査物体を目視検査する目視検査装置４とを備え、目視検査装置４は、被検査物体を載置して該被検査物を固定しＸＹ方向のいずれか一方向にのみ移動可能なテーブルと、被検査物上方に位置し、ズーム機能及び自動絞り機能を有する被検査物を撮像するカメラ５と、テーブルの垂直な面に対して３０°〜６０°の角度で傾斜し且つ前記被検査物の回りを３６０°回転する当該カメラの動きと連動して前記被検査物を照明する少なくとも２個のランプを有する。【選択図】図１
2006349540.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査物体の外観状態を検査して不良状態を判定する第１の検査装置と、
前記第１の検査装置より被検査物体を検査した外観状態を示すデータをデータ処理する第１のコンピューターと、
前記第１の検査装置の検査後の被検査物体の撮像画像を目視検査するためのカメラを有する目視検査装置とを備え、
前記第１の検査装置にて不良と判断された被検査物体の不良状態を示すデータに基づいて、前記目視検査装置のカメラの撮像状態を制御して得られる表示画像を目視して前記被検査物体を検査する目視検査支援システム。
【請求項２】
前記目視検査装置は、前記被検査物体を載置して該被検査物体を固定しＸＹ方向のいずれか一方向にのみ移動可能なテーブルと、前記被検査物体上方に位置し、ズーム機能及び自動絞り機能を有する前記被検査物体を撮像するカメラと、前記テーブルの垂直な面に対して３０°〜６０°の角度で傾斜し且つ前記被検査物の回りを回転する当該カメラの動きと連動して前記被検査物を照明する少なくとも２個のランプを有する請求項１に記載の目視検査支援システム。
【請求項３】
前記第１のコンピューターは、被検査物体の外観不良状態をデータ処理し、この処理された不良状態の不良項目に対応して前記被検査物体を撮像するカメラの倍率及び絞りの撮像条件を制御することを特徴とする請求項１に記載の目視検査支援システム。
【請求項４】
前記第１のコンピュータで処理されるデータを受ける第２のコンピュータを有し、当該第２のコンピュータは、第１のコンピュータでデータ処理された記被検査物体の不良箇所と不良項目に対応して前記カメラの傾斜角とランプ位置を制御することを特徴とする請求項１に記載の目視検査支援システム。
【請求項５】
第２のコンピューターで制御される前記カメラで撮像された不良箇所周辺の映像を映すモニタと該モニタに映し出される映像を保存することを特徴とする請求項１に記載の目視検査支援システム。
【請求項６】
前記２つのランプの１つは、前記テーブルに垂直に照射し、他の１つは、前記カメラと同様の傾斜角度をもって配置されるとともに、照度と消灯の制御を個別に制御を行うことを特徴とする請求項１に記載の目視検査支援システム。
【請求項７】
前記カメラで撮像された画像を通信手段を用いて、目視検査支援システムと異なる場所に配置される第３のコンピューターに送信することを特徴とする請求項１に記載の目視検査支援システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プリント基板に抵抗器、コンデンサ、ＩＣ等の電子部品の実装状態の不具合の検査（外観検査）に使用する、目視検査支援システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来のプリント基板１に実装された、抵抗器、コンデンサ、ＩＣ等の電子部品２の半田付け、外観状態を観察するための、目視検査支援システムを図６、図７に示す。図７において、４１は実装機であり、プリント基板１に抵抗器、コンデンサ、ＩＣ等の電子部品２を実装する装置である。電子部品２が実装されたプリント基板１は、リフローロ４２を通ることで半田付けがなされることになる。半田付けがなされたプリント基板１は、コンベア４３によって図６の目視検査装置４のテーブル３に運ばれてくる。
【０００３】
目視検査装置４のテーブル３に運ばれた電子部品２の半田付けがなされたプリント基板１は、目視検査装置４の２つのカメラ５ａ、５ｂにて、予め設定されたプリント基板１の要検査部をズームして、モニタ８に映像を映し出すことができる。作業者１３はモニタ８に映し出された映像によって、半田付け状態の確認を行い、リモコン４４のボタンを操作することで、プリント基板１を振り分けコンベア６６に流し、修理が必要な修理用ラック
５１もしくは、半田付け状態が問題ない良品用ラック５０に振り分ける。こうして、テーブル３のプリント基板１がなくなると次のプリント基板１を取り込み同様な作業を行う。
【０００４】
カメラ５ａ、５ｂで確認する要検査部は１箇所だけでなく複数設定することが可能であり、１箇所のチェックが終わればリモコン４４のボタンを押すことで別の要検査部に移行することができる。これとは別に、リモコン４４によってプリント基板１の任意の場所を任意の倍率で確認することも可能である。カメラ５ａ、５ｂによって映し出されるプリント基板１のチェックで半田付け状態がＮＧの場合には、修理用ラック５１に振り分ける。
【０００５】
プリント基板１の映像は保存することができ、検査時に適宜保存した映像を取り出すことが可能であり、良品の状態と不良品の状態を比べることで、作業者１３の判断を手助けすることができる。（特許文献１）
【特許文献１】特開２００１−２５５２７４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
従来技術の場合、予め要検査部に設定した箇所しか映像で確認することができない。その他の場所は、カメラで逐次基板の半田付け状態を確認していくしかなく、予期せぬ箇所の不良等に対応するのが困難な状態にあった。
【０００７】
これに対して、レーザー技術などの光学技術を応用した第１の検査装置と、目視検査装置とを組み合わせることで、第１の検査装置でＮＧとなった箇所のみ目視検査装置で不良箇所の画像を確認することで、迅速で確実性の高い目視検査支援システムを提供する。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
従来の課題を解決するために、本発明の目視検査支援システムは、被検査物体の外観状態を検査して不良状態を判定する第１の検査装置と、前記第１の検査装置より被検査物体を検査した外観状態を示すデータをデータ処理する第１のコンピューターと、前記第１の検査装置の検査後の被検査物体の撮像画像を目視検査するためのカメラを有する目視検査装置とを備え、前記第１の検査装置にて不良と判断された被検査物体の不良状態を示すデータに基づいて、前記目視検査装置のカメラの撮像状態を制御して得られる表示画像を目視して前記被検査物体を検査する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の目視検査支援システムによれば、プリント基板に抵抗器、コンデンサ、ＩＣ等の電子部品を実装した後の半田付け状態の確認を確実に、迅速に行うことが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下に、本発明の目視検査支援システムの実施の形態を図面とともに詳細に説明する。
【実施例１】
【００１１】
図１は、本発明の実施例１に用いる目視検査支援システム１００及びプリント基板１への抵抗器、コンデンサ及びＩＣ等の電子部品２の実装工程全体の概略図を示したものである。
【００１２】
実装工程を図１を用いて説明すると、まず印刷機４６にプリント基板１を投入するとプリント基板１の抵抗器、コンデンサ及びＩＣ等の電子部品２が実装される側にクリーム半田が印刷される。クリーム半田が印刷されたプリント基板はコンベア４３によって印刷機４６から運び出されて実装機４１に運び込まれる。コンベア４３の途中にはバーコードリーダー３９が取り付けられている。図２に示すように、プリント基板１に取り付けられたバーコード３８を読み取り第１のコンピューターに読み取ったことを通知する仕組みになっている。当然のことながらプリント基板１に貼られたバーコード３８の値は、個々のプリント基板１ごとに異なる数値が割り当てられておりプリント基板１のシリアル管理ができることになっている。
【００１３】
実装機４１に運び込まれたクリーム半田が印刷されたプリント基板１は、実装機４１によって、抵抗器、コンデンサ及びＩＣ等の電子部品２が、プリント基板１のクリーム半田が印刷された側に実装される。プリント基板１のどの箇所に、どの電子部品２を実装するかの情報は、予め実装機４１に記憶されている。
【００１４】
実装機４１で電子部品２が実装されたプリント基板１はコンベア４３によって運び出され、バーコードリーダーでバーコード３８を読み取った後に、リフロー炉４２に運びこまれる。リフロー炉４２は高温の炉になっており、この中をクリーム半田が印刷され、電子部品２が実装されたプリント基板１が通ることで、プリント基板１の半田付けがなされることになる。
【００１５】
以上で半田付け作業は終了であるが、プリント基板１へ電子部品２がきちんと実装されているか充分に確認する必要がある。実装機４１、リフロー炉４２と通る工程においては、どうしても電子部品２の欠品、極性間違い、部品間違い、浮き、リード曲がり、半田過多、半田過少等の不具合が発生することは避けられない。近年では実装機４１、リフロー炉４２の性能が上がってきて、実装工程の不良率も下がってきているが、プリント基板１に実装される電子部品２の数は多い場合で数百点を超え、１日に実装されるプリント基板１の枚数も１０００枚を超える状況であり、思わぬ不具合が発生することもある。わずか１点の電子部品２の半田付け不良、ＱＦＰ、ＳＯＰ等の電子部品２であれば、数１０〜１００個以上のリードがあり、その１箇所でも半田付け不良があればそのプリント基板１は不良ということになる。
【００１６】
このため半田付け後においてはプリント基板１への電子部品２の半田付け状態を確認するのは必須の要件であるといえる。半田付け状態の確認をプリント基板１の１枚ごと、電子部品２の１個ごとに人が目視で確認するのは大変な労力であるため、本発明の第１の検査装置４７と目視検査装置４とを組み合わせた目視検査支援システムが必要になるのである。
【００１７】
リフロー炉４２で半田付けが完了したプリント基板１は、コンベア４３によって第１の検査装置４７に運び込まれる。リフロー炉４２から第１の検査装置４７へのコンベア４３の途中にもバーコードリーダー３９が取り付けられており、プリント基板１のバーコード３８を読み込み、その情報を第１のコンピューター２１に送信する。
【００１８】
第１の検査装置４７の構成は本発明と直接関係ないので詳細な説明は省略する。第１の検査装置４７は例えば半導体レーザーのスポット光をプリント基板１の１点に照射させ、その反射波、拡散光を受光する。この作業をプリント基板１の全体にわたって行うことで、プリント基板１の各点の状況がデータとして収集される。予め、第１の検査装置に記憶されているプリント基板１および実装される電子部品２を数値化したデータと比較し、実装されている部品の半田付け状態を検査することができる。
【００１９】
第１の検査装置４７でＮＧと判断されたプリント基板１については、ＮＧとなった半田付け箇所（外観不良箇所）の数値データ及びＮＧとなった箇所の座標の位置データが第１のコンピューター２１に送信される。ここでいう数値データとは、被検査対象のプリント基板１の各点の状態を表すデータである。前述のように、第１の検査装置４７はプリント基板１の検査される面全体に渡ってスキャンし、プリント基板１の各点のレーザーの反射光、拡散光のデータを取り込み、このデータを演算することでプリント基板１の各点の状態がわかるのである。例えば、電子部品２の半田付け部の半田の量、半田の位置等がわかる。
【００２０】
第１の検査装置４７で検査の終わったプリント基板１は、コンベア４３によって滞留用ラック４９に運び込まれる。第１の検査装置４７と滞留用ラック４９の間のコンベア４３にもバーコードリーダー３９が取り付けられており、通過するプリント基板１のバーコード３８を読み取り、そのデータ−を第１のコンピューター２１に送信する。また滞留用ラック４９の中にも図示省略のバーコードリーダーがついており、プリント基板１のバーコード３８を読み取り、そのデータを第１のコンピューター２１にデータ送信することができる仕組みになっている。
【００２１】
滞留用ラック４９は例えば１００枚のプリント基板１を保管することが可能であり、滞留用ラック４９がプリント基板１で満杯になると別の滞留用ラック４９と交換することも可能な構造になっている。このようにしているのは、後述の目視検査装置４で作業者１３が１枚のプリント基板１を確認する時間が、実装機４１や第１の検査装置４７で１枚のプリント基板１を実装、検査する時間に比べて長い場合が多く、実装機４１、第１の検査装置４７の運転が停止することを防ぐために、滞留用ラック４９にプリント基板１を一時収納する構造にしている。別の目的としては、図３のように第１の検査装置４７と目視検査装置４とがコンベア４３で接続されていない場合、つまりは目視検査装置４がオフライン状態にあるときでも、第１の検査装置４７で検査されたプリント基板１を貯めている滞留用ラック４９を取り外して、目視検査装置４とコンベア４３を介して接続してプリント基板１を目視検査装置４に搬入する他、搬送用コンベア４９から作業者１３が手作業で取り出し目視検査装置４にセットすることも想定している。
【００２２】
滞留用ラック４９と目視検査装置４とはコンベア４３で接続されており、その途中にバーコードリーダー３９が取り付けられており、プリント基板１のバーコード３８を読み込みそのデータを第１のコンピューター２１に送信することができる。
【００２３】
目視検査装置４は図４に示すようになっており、図５のフローチャートを用いて、目視検査装置４の動きを詳細に説明していく。滞留用ラック４９にストック第１の検査装置４７で検査が終わった実装済のプリント基板１は、滞留用ラック４９と目視検査装置４との間に接続されているコンベア４３によって、目視検査装置4に運び込まれる。このコンベア４３にもバーコードリーダー３９がついており、プリント基板１のバーコード３８を読み取りそのデータを、第１のコンピューター２１に送信する。
【００２４】
目視検査装置４においてプリント基板１の流れは、１２ａから１２ｂの方向に移動する。滞留用ラック４９に接続されたコンベア４３からプリント基板１が目視検査装置４に運び込まれる状態にあるときは（図５のフローチャートではＳ２）、テーブル３は１２ａの方向に移動しており、プリント基板１を受け入れる状態にある。テーブル３は、図示省略のテーブル移動用モーターによってテーブル軌道上を１２の方向に移動することができる。テーブル３にはテーブルレール３２が一対ついており、プリント基板１の幅（１１の方向）にあわせて、レール幅寄せ３３を操作することで１１の方向に移動させることができるようになっている。なお、テーブルレール３２の移動する詳細な説明は本発明と直接関係ないのでここでは省略している。
【００２５】
テーブルレール３２の各々の内側には基板搬送用コンベア３５がついており、図示省略のモーターで回転させることができる構造になっている。滞留用ラック４９と目視検査装置４の間のコンベア４３と、テーブルレール３２の基板搬送用コンベア３５の回転により、プリント基板１は１２ａから１２ｂの方向に移動してテーブル３に運び込まれる。テーブル３の１２ｂの方向にはストッパー３４がついておりプリント基板１を止める役割を果たしている。テーブル３には図示省略のセンサがついており、プリント基板１がストッパー３４で止められていることを感知し、滞留用ラック４９と目視検査装置４との間のコンベア４３と、基板搬送用コンベア３５の回転を止めるようになっている。また、テーブル３にはピン３６がついており、前述のように基板搬送用コンベア３５の回転が止まるとピンが上昇して、プリント基板１に開けられているピン規正用穴３７に上がることで、プリント基板１を固定するようになっている。ピン規正用穴３７がないプリント基板１の場合には、ピン３６を外すことで対応する。
【００２６】
目視検査装置４には、アーム支え１５によって固定アーム１４が１１の方向に設置されており、固定アーム１４にはカメラ移動固定部９が１１の方向に移動することができる図示省略の軌道が設けられている。カメラ移動固定部９にはカメラ部７が取り付けられており、カメラ部７にはズーム機能及び自動絞り機能を有するカメラ５が取り付けられている他、プリント基板１を照射するためのランプ１０がついている。カメラ部７はカメラ移動固定部９の廻りに３６０°回転できる構造になっている。
【００２７】
カメラ部７に搭載されているズーム機能及び自動絞り機能を有するカメラ５は、垂直な方向に対して４５°傾いている。本実施例においては垂直な方向に対して、４５°の傾きとしているが、垂直な方向に対して３０〜６０°の範囲であっても特段問題ない。また、カメラ部５に搭載されているランプは、垂直方向の向きのランプ甲１０ａと、垂直方向に対してカメラ５と同一の傾き、つまりはカメラと同じ傾斜角であるランプ乙１０ｂの２つのランプがついている。
【００２８】
カメラ５及びランプ乙１０ｂが垂直な方向に対して４５°傾いている理由はプリント基板１に実装されている電子部品２、特にはＳＯＰ、ＱＦＰ等のリード部の死角をなくすことが主な理由である。ＳＯＰ、ＱＦＰ等のリード部の死角がある場合には、カメラ部７が１８０°回転して１８０°反対の方向から見ることができるようになっている。また、照明の具合によってはっきりと目視確認できない場合に備えて、ランプ甲１０ａ、ランプ乙１０ｂの照度を個別に変化させることができるようになっている。
【００２９】
プリント基板１がピン３６で固定されるとテーブル３はテーブル移動用軌道３１を１２ａ〜１２ｂの方向で移動することが可能となる。テーブルは１２ａ〜１２ｂの方向でしか移動できなく、カメラ固定部１１ａ〜１１ｂの方向でしか移動できない為、プリント基板１の任意の場所を見るためには、テーブル３が１２ａ〜１２ｂの方向で移動及びカメラ移動固定部１１ａ〜１１ｂの方向で互いに移動してさらにカメラ部７がカメラ移動固定部９に対して３６０°回転することでプリント基板１の任意の場所を確認することができる。
それに加えてカメラ５のズーム及び自動絞り機能により、的確にプリント基板の１の任意の場所の電子部品２を撮像することができる。
【００３０】
プリント基板１の目視検査装置４からの搬出の場合は、テーブル３が１２ｂの方向に移動する。良品用ラック５０、修理用ラック５１と目視検査装置４との間の振り分けコンベア６６とテーブルレール３２の内側の基板搬送用コンベア３５面がつながる程度、つまりはプリント基板１が移動できる程度の位置まで移動する。テーブル３が移動後、まずピン３６がさがりプリント基板１の固定が解除され、次にストッパー３４が下がり、良品用ラック５０、修理用ラック５１と目視検査装置４との間のコンベア４３と基板搬送用コンベア３５が回転することで、プリント基板１は目視検査装置４から搬出され、振り分けコンベア６６によって良品用ラック５０もしくは修理用ラック５１に振り分けられ収容される。プリント基板１の良品用ラック５０、修理用ラック５１への区分けについては後述するとともに、振り分けコンベア６６、良品用ラック５０、修理用ラック５１の構造の説明は本発明と直接関係ないので省略する。良品用ラック５０は半田付け状態が問題ないプリント基板１を収容するものであり、修理用ラックは半田付け状態に問題があり修理が必要なプリント基板１が収容されるラックである。
【００３１】
図５のフローチャートによって、目視検査支援システム１００の動きを説明すると、リフロー炉４２から出てきたプリント基板１（この状態はＳ０）は、ステップＳ１において第１の検査装置４７によって半田付け状態を自動検査する。第１の検査装置４７で検査された検査データはステップＳ１１において、通信回線によって第１のコンピューターにデータ送信され、データ処理がなされる。ここでいうデータ処理とは、第１の検査装置４７での測定データ（プリント基板１にレーザを照射した反射光、拡散光のデータ）を第１の検査装置に取り込み、プリント基板１の被検査面の状態を数値データとして表し、予め記憶させておく正しい実装状態を表す数値データと比較して、数値データが設定した閾値を超えていた場合、ＮＧと判断し、閾値内であればＯＫと判断する。
【００３２】
ステップＳ１２において、データ処理がなされたデータは目視検査装置４の制御を行う第２のコンピューター２２にデータ送信される。本実施例では目視検査装置４を制御するのは第２のコンピューター２２としているが、第１のコンピューター２１に第２のコンピューター２２の機能を入れて、目視検査装置４を第１のコンピューター２１で制御するようにしてもよい。
【００３３】
次に、ステップＳ２において、目視検査装置４には前記第２のコンピューターの他、画像及び映像を確認するモニタ８、キーボード６３及びマウス６４が具備されている。滞留用ラック４９を経由してプリント基板１は目視検査装置４に搬入される。（この状態はＳ２）。
【００３４】
第１の検査装置４７の検査でＮＧ箇所があり、なしの違いによって動きが変わってくるので、ステップＳ３において、ＮＧ箇所の有無の判定を行う。つまりは、目視検査支援システム１００の役割は、第１の検査装置４７で自動検査によってＮＧであった箇所を、作業者１３が最終的に目視でプリント基板１を確認してＯＫ、ＮＧの判断をすることにあるからである。第１の検査装置４７の自動検査は、自動検査で得られた数値データを過去の経験等によって閾値を設定してＯＫ、ＮＧの判断をするものである。完全に不良品（ＮＧ）のプリント基板１をなくそうと思えば、閾値をある程度きつめ方向に設定しないとＮＧ品が漏れてしまう可能性がある。このため、第１の検査装置４７の自動検査工程においては、最終的に作業者１３が目視検査によってＯＫと判断するプリント基板であっても、ＮＧと判断してしまうのが出ることはやむ得ないことである。
【００３５】
第１の検査装置４７での自動検査でＯＫであったプリント基板１は、前述のようにあえて作業者１３が目視で検査する必要がないので、ステップＳ７において、目視検査装置４からはこのまま搬出され、振り分けコンベア６６によって良品用ラック５０に搬入される。また別の方法として第１の検査装置４７の自動検査でＯＫであっても、作業者１３がキーボード６３で確認入力しないと目視検査装置４から自動搬出させない構成にしてもよい。作業者１３は第２のコンピューター２２に接続のマウス６４、キーボード６３操作によって、プリント基板１の好みの位置を好みの角度から好みの倍率でプリント基板１の映像、画像をモニタ８で確認して、問題ないと判断するとキーボード６３、マウス６４の操作でプリント基板１を目視検査装置１から搬出させる。
【００３６】
第１の検査装置４７での自動検査がＮＧであったプリント基板１は、目視検査装置でＮＧであった箇所を作業者１３が確認して最終的にＮＧであるのか、ＯＫであるのか確認する必要がある。第１の検査装置４７での自動検査でのＮＧの結果については、数値データとして第１のコンピューター２１に送られデータ処理され、第２のコンピューター２２に送られ目視検査装置４の制御を行う。第１の検査装置４７から第１のコンピューター２１を経由して第２のコンピューター２２に送信されるデータ-は、第１の検査装置４７でＮＧとなった位置情報（座標情報）とＮＧとなっている電子部品２の種類と数値データから推測されるＮＧの状況のデータ等である。ここでいうＮＧの状況とは数値データから推測して、電子部品２の欠品であるのか、リードの半田不良であるのか、極性の間違いであるのか、半田過多であるか等の情報のことである。
【００３７】
第１の検査装置４７での自動検査がＮＧであったプリント基板１の目視検査装置４での実際の動きを説明すると、目視検査装置４を制御する第２のコンピューター２２に第１の検査装置４７でのＮＧ箇所の位置（座標）データが送信されているので、ステップＳ４において、カメラ移動固定部９が１１ａ〜１１ｂの方向に動き、テーブル３が１２ａ〜１２ｂの方向に移動して、さらにカメラ部７が回転してＮＧ箇所の位置（座標）を撮像する最適の位置に移動する。そして次にそのＮＧ箇所の電子部品２の種類、ＮＧ部位のデータにより、カメラ５のズーム及び自動絞り機能により最適な撮像を行い、モニタ８に表示する。電子部品２の種類、ＮＧ部位のデータによる違いとは、例えば該当の電子部品２がＳＯＰ、ＱＦＰなのかそれともチップ抵抗器なのか等の違いのことである。また、該当ＮＧ部位の違いとは、ＱＦＰのリード部なのか、チップ抵抗器なのかの違いである。このように電子部品２の種類が違ったり、ＮＧ箇所の部位が異なればＮＧ箇所を確認すべきカメラ５のズーム倍率は当然異なるので、ステップＳ５において、作業者１３がモニタ８の画像をみてカメラ５のズーム倍率を変えなくてもよいようにしている。
【００３８】
作業者１３が第１の検査装置４７でＮＧであった箇所の１つをモニタ８の画像を確認し、
目視検査レベルでＯＫ、ＮＧであるかの判断を行う。ＯＫ、ＮＧの判断を行う操作を行った時点の画像は、第２のコンピューター２２に保存される。ここで、ＯＫの場合にはステップＳ６に進む。目視検査レベルでもＮＧと判断した場合には、ステップＳ２１に進む。ここでの一連の操作は、作業者１３が第２のコンピューター２２に接続しているキーボード６３、マウス６４を操作することで行われる。
【００３９】
ステップＳ６においては、１つのプリント基板１上の第１の検査装置４７でのＮＧ箇所がさらにある場合には、ステップ４に戻り、第１の検査装置４７でのＮＧ箇所がもうない場合には、プリント基板１の基板検査工程は終了となり、ステップＳ７の振り分けコンベア６６によって良品用ラック５０に搬入される。そして次のプリント基板１が目視検査装置４に搬入されステップ２から開始される。
【００４０】
ステップＳ５においてＮＧ箇所ありの場合は、ステップＳ２１に進み、第１の検査装置４７でのＮＧ箇所がさらにある場合には、ステップ４に戻り、第１の検査装置４７でのＮＧ箇所がもうない場合には、プリント基板１の基板検査工程は終了となりステップＳ２２の振り分けコンベア６６によって修理用ラック５１に搬入される。
【００４１】
また別の機能として、ＱＦＰのように多数のリードがある電子部品２の場合で、第１の検査装置４７での自動検査がＮＧであると判断された場合には、同じＱＦＰで他のリードのＮＧの可能性もあるため、同じＱＦＰのリード全てをゆっくりと移動しながら撮像し画像を確認できるようになっている。この途中でキーボード６３、マウス６４の操作で移動速度を変えたり、停止させたり、全てのリードを確認するのを途中で停止させたりする機能も有している。
【００４２】
目視検査装置４での確認の際に、第２のコンピューターに保存された第１の検査装置４７での自動検査でＮＧとなった箇所の画像、映像データは、第１のコンピューター２１で確認することができることはもちろんのこと、目視検査支援システム１００とは別の場所にある第３のコンピューターにもデータ送信できる構造になっている。このとき併せてプリント基板１のＮＧ箇所の位置（座標）データも同時に送信される。この目的は、修理用ラック５１に収納されたプリント基板１の修理を、目視検査支援システム１００とは別の場所で行う場合に有効である。すなわち、別の場所で修理を行う時にＮＧ箇所がわからず探さなくても、第３のコンピューターに接続の図示省略のモニタで、ＮＧ箇所の位置及び画像、映像を確認して修理すべき箇所の特定に役立てることが可能である。
【００４３】
目視検査装置４には非常停止スイッチ６０がついており、非常時においては非常停止スイッチ６０を作業者１３が押すことで、目視検査装置４の電源が落ちる仕組みになっている。また、目視検査装置１００を構成する第１の検査装置４７、コンベア４３、滞留用ラック４９、振り分けコンベア６６、良品用ラック５０及び修理用ラック５１にもそれぞれ図示省略の非常停止スイッチがついており、それぞれ該当の装置のみの電源を落とすことができる仕組みになっている。
以上に詳細に説明したように、本発明によれば、プリントに電子部品を実装する実装工程において、第１の検査装置にいおいて自動でプリント基板の半田付け状態を検査し、第１の検査装置での検査でＮＧであった箇所を、目視検査装置で作業者が目視確認を行い、半田付け状態の不良を見逃さない実装工程を提供することができる。
【００４４】
また、目視検査装置で第１の検査装置でプリント基板の半田付けＮＧ箇所を確認するとき、プリント基板のＮＧ箇所の部位、焦点を自動で合わせることができる仕組みになっており、作業者に負担をかけず、かつ迅速な実装プリント基板の目視検査を提供することができる。
【産業上の利用可能性】
【００４５】
本願発明は、プリント基板にコンデンサ、抵抗器及びＩＣ等の電子部品を実装する実装工程の、実装済みプリント基板の検査に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明の目視検査支援システムの概略構成図
【図２】本発明の目視検査支援システムにおける被検査物のプリント基板を示す図
【図３】本発明の目視検査支援システムの他の概略構成図
【図４】本発明の目視検査装置を表す図
【図５】本発明の目視検査支援システムの動作のフローチャート
【図６】従来の目視検査装置の概略を表す図
【図７】従来の目視検査支援システムの概略構成図
【符号の説明】
【００４７】
1  プリント基板
２  電子部品
３  テーブル
４  目試検査装置
５、５ａ、５ｂ  カメラ
７  カメラ部
８  モニタ
９  カメラ移動固定部
１０  ランプ
１０ａ  ランプ甲
１０ｂ  ランプ乙
１１  Ｘ軸方向
１１ａ  Ｘ軸方向（一方の向き）
１１ｂ  Ｘ軸方向（一方の向き）
１２  Ｙ軸方向
１２ａ  Ｙ軸方向（一方の向き）
１２ｂ  Ｙ軸方向（一方の向き）
１３  作業者
１４  固定アーム
１５  アーム支え
２１  第１のコンピューター
２２  第２のコンピューター
３１  テーブル移動軌道
３２  テーブルレール
３３  レール幅寄せ
３４  ストッパー
３５  基板搬送用コンベア
３６  ピン
３７  ピン規正用穴
３８  バーコード
３９  バーコードリーダー
４１  実装機
４２  リフロー炉
４３  コンベア
４４  リモコン
４６  印刷機
４７  第１の検査装置
４９  滞留用ラック
５０  良品用ラック
５１  修理用ラック
６０  非常停止スイッチ
６３  キーボード
６４  マウス
６６  振り分けコンベア
１００  目視検査支援システム
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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