(57)【要約】【課題】  記録媒体に対し、情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を好適に行う。【解決手段】  ピックアップ５００における光源５１０から出射したレーザ光は、回折素子５２０における回折格子５２２によってＲＦ信号光、フォーカス信号光、トラッキング信号光、及び欠陥検出光に回折される。この欠陥検出光は、情報の記録又は再生時において、ＲＦ信号光よりも書き込み又は読み出しの順序が後である位置に集光しており、実際に情報の書き込み又は読み出しが行われる以前に欠陥が検出される。検出された欠陥の位置に対し情報の書き込み又は読み出しが行われる際には、トラッキングサーボ及びフォーカスサーボがホールドされる。【選択図】  図１
2006092614.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を出射する光源と、
前記出射されたレーザ光を回折させることにより、第１及び第２回折光を生成する回折手段と、
前記第１及び第２回折光を、記録媒体上において相互に異なる位置に集光させる集光手段と、
前記第１回折光が、前記記録媒体上における、データの記録及び再生のうち少なくとも一方の処理に対応付けられた位置に集光するように、前記集光手段を制御する集光制御手段と、
前記記録媒体上で反射した前記第１の回折光を受光する第１受光手段と、
前記記録媒体上で反射した前記第２の回折光を受光する第２受光手段と、
前記受光された第２回折光に基づいて前記記録媒体の欠陥を検出する欠陥検出手段と、
前記第１回折光を信号光として用いて前記少なくとも一方の処理を行う処理手段と
を具備することを特徴とする記録媒体処理装置。
【請求項２】
前記回折手段は、前記出射されたレーザ光を回折させることにより、第３回折光を更に生成し、
前記集光手段は、前記第３回折光を前記記録媒体上において前記第１及び第２回折光と異なる位置に集光させ、
前記記録媒体上で反射した前記第３回折光を受光する第３受光手段と、
前記受光された第３回折光に基づいてトラッキングを行うトラッキング手段と
を更に具備する
ことを特徴とする請求項１に記載の記録媒体処理装置。
【請求項３】
前記集光手段は、前記少なくとも一方の処理が行われる過程において、現時点よりも未来の時点で前記第１回折光が集光する位置に前記第２回折光を集光させる
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の記録媒体処理装置。
【請求項４】
前記集光制御手段は、前記欠陥が検出された場合に、該検出された欠陥が前記少なくとも一方の処理に与える影響が軽減されるように前記集光手段を制御する
ことを特徴とする請求項１から３のいずれか一項に記載の記録媒体処理装置。
【請求項５】
前記集光制御手段は、前記欠陥が検出された場合に、前記第１回折光における集光状態を、現時点における状態にホールドする
ことを特徴とする請求項４に記載の記録媒体処理装置。
【請求項６】
前記欠陥が検出された場合に、前記欠陥が前記少なくとも一方の処理に影響を与えるタイミングを、前記第１及び第２回折光の各々に対応する前記記録媒体上の位置に基づいて推定する推定手段を更に具備する
ことを特徴とする請求項１から５のいずれか一項に記載の記録媒体処理装置。
【請求項７】
前記欠陥が検出された場合に、前記検出された欠陥の位置を前記記録媒体上の位置に対応付けて記憶する記憶手段を更に具備する
ことを特徴とする請求項１から６のいずれか一項に記載の記録媒体処理装置。
【請求項８】
光源からレーザ光を出射する出射工程と、
前記出射されたレーザ光を回折させることにより、第１及び第２回折光を生成する回折工程と、
前記第１及び第２回折光を記録媒体上において相互に異なる位置に集光させる集光手段を、前記第１回折光が、前記記録媒体上における、データの記録及び再生のうち少なくとも一方の処理に対応付けられた位置に集光するように制御する集光制御工程と、
前記記録媒体上で反射した前記第１の回折光を受光する第１受光工程と、
前記記録媒体上で反射した前記第２の回折光を受光する第２受光工程と、
前記受光された第２回折光に基づいて前記記録媒体の欠陥を検出する欠陥検出工程と、
前記第１回折光を信号光として用いて前記少なくとも一方の処理を行う処理工程と
を具備することを特徴とする記録媒体処理方法。
【請求項９】
光源から出射されたレーザ光を回折させることにより、（i）記録媒体に対し、データの記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を行うための信号光として用いられる第１回折光とは別に、（ii）前記記録媒体の欠陥を検出するための第２回折光を生成する回折工程と、
前記第２回折光を、前記記録媒体上において前記第１回折光とは異なる位置に集光させる集光工程と、
前記記録媒体上で反射した前記第２回折光を受光する受光工程と、
前記受光された第２回折光に基づいて前記記録媒体の欠陥を検出する欠陥検出工程と
を具備することを特徴とする欠陥検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えば、ＤＶＤやＣＤなどの記録媒体に対し情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を行うことが可能な記録媒体処理装置及び方法、並びにこのような記録媒体処理装置において記録媒体の欠陥の検出を行う欠陥検出方法の技術分野に関する。
【背景技術】
【０００２】
この種の記録媒体処理装置は各種提案されている（例えば、特許文献１参照）。特許文献１に開示された記録再生装置（以下、「従来の技術」と称する）によれば、グルーブトラック記録方式において、メインスポット及びその両隣のサイドスポットを、夫々に対応する光検出器で受光し、トラッキングエラー信号、及び当該トラッキングエラー信号と９０°位相のずれたクロストラック信号を算出することによって、グルーブ及びトラックが夫々同一の幅であっても良好な記録再生が可能であるとされている。
【０００３】
このように記録又は再生される記録媒体には、実使用上、傷や指紋などの様々な欠陥が生じ得る。記録媒体における記録領域上にこれら欠陥が生じていた場合には、トラッキングやフォーカシングのためのサーボが外れ、正常な記録再生が不可能となる場合がある。従って、欠陥を速やかに発見し、対処することが必要となる。
【０００４】
このため、従来技術では、情報記録再生用の信号光或いはトラッキング用の信号光自身を用いて、情報の記録再生或いはトラッキングを行う際に欠陥を発見するように構成されている。
【０００５】
【特許文献１】特開２０００−３５２５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の技術によれば、信号光自身を用いて記録再生或いはトラッキングの際に欠陥を発見するため、実際に、欠陥が発見されてから、欠陥に対する適切な対処、例えば、欠陥を避けて記録再生を行うことなどは不可能に近い。即ち、記録媒体上に生じ得る様々な欠陥に対し、適切な対処を行うことが困難であるという技術的な問題点がある。
【０００７】
本発明は、上述した課題に鑑みてなされたものであり、記録媒体の欠陥を検出しつつ、該記録媒体に対し情報の記録再生のうち少なくとも一方の処理を好適に行うことが可能な記録媒体処理装置及び方法、並びにこのような欠陥を検出する欠陥検出方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上述した課題を解決するため、請求項１の記録媒体処理装置は、レーザ光を出射する光源と、前記出射されたレーザ光を回折させることにより、第１及び第２回折光を生成する回折手段と、前記第１及び第２回折光を、記録媒体上において相互に異なる位置に集光させる集光手段と、前記第１回折光が、前記記録媒体上における、データの記録及び再生のうち少なくとも一方の処理に対応付けられた位置に集光するように、前記集光手段を制御する集光制御手段と、前記記録媒体上で反射した前記第１の回折光を受光する第１受光手段と、前記記録媒体上で反射した前記第２の回折光を受光する第２受光手段と、前記受光された第２回折光に基づいて前記記録媒体の欠陥を検出する欠陥検出手段と、前記第１回折光を信号光として用いて前記少なくとも一方の処理を行う処理手段とを具備することを特徴とする。
【０００９】
上述した課題を解決するため、請求項８の記録媒体処理方法は、光源からレーザ光を出射する出射工程と、前記出射されたレーザ光を回折させることにより、第１及び第２回折光を生成する回折工程と、前記第１及び第２回折光を記録媒体上において相互に異なる位置に集光させる集光手段を、前記第１回折光が、前記記録媒体上における、データの記録及び再生のうち少なくとも一方の処理に対応付けられた位置に集光するように制御する集光制御工程と、前記記録媒体上で反射した前記第１の回折光を受光する第１受光工程と、前記記録媒体上で反射した前記第２の回折光を受光する第２受光工程と、前記受光された第２回折光に基づいて前記記録媒体の欠陥を検出する欠陥検出工程と、前記第１回折光を信号光として用いて前記少なくとも一方の処理を行う処理工程とを具備することを特徴とする。
【００１０】
上述した課題を解決するため、請求項９の欠陥検出方法は、光源から出射されたレーザ光を回折させることにより、（i）記録媒体に対し、データの記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を行うための信号光として用いられる第１回折光とは別に、（ii）前記記録媒体の欠陥を検出するための第２回折光を生成する回折工程と、前記第２回折光を、前記記録媒体上において前記第１回折光とは異なる位置に集光させる集光工程と、前記記録媒体上で反射した前記第２回折光を受光する受光工程と、前記受光された第２回折光に基づいて前記記録媒体の欠陥を検出する欠陥検出工程とを具備することを特徴とする
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
＜記録媒体処理装置の実施形態＞
本発明の記録媒体処理装置に係る実施形態は、レーザ光を出射する光源と、前記出射されたレーザ光を回折させることにより、第１及び第２回折光を生成する回折手段と、前記第１及び第２回折光を、記録媒体上において相互に異なる位置に集光させる集光手段と、前記第１回折光が、前記記録媒体上における、データの記録及び再生のうち少なくとも一方の処理に対応付けられた位置に集光するように、前記集光手段を制御する集光制御手段と、前記記録媒体上で反射した前記第１の回折光を受光する第１受光手段と、前記記録媒体上で反射した前記第２の回折光を受光する第２受光手段と、前記受光された第２回折光に基づいて前記記録媒体の欠陥を検出する欠陥検出手段と、前記第１回折光を信号光として用いて前記少なくとも一方の処理を行う処理手段とを具備する。
【００１２】
本発明において「記録媒体」とは、ＤＶＤ、ＣＤ（Compact Disc）、ＢＤ（Blue-ray Disc）、ＭＤ（Mini Disc）、又はＡＯＤ（Advanced Optical Disc）など、レーザ光を使用して情報の記録及び再生を行う方式を採用する記録媒体を全て含んだ概念である。また、これら各種記録媒体の各々に対応して、書換え型、追記型、又は再生専用型などの各種態様を採ることが可能である。
【００１３】
また、このような記録媒体に対し、情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を行う記録媒体処理装置とは、例えば、ＤＶＤ−ＲＯＭドライブ若しくはＣＤ−ＲＯＭドライブなどの読み出し専用のドライブ装置、ＤＶＤ−ＲＡＭドライブなどの書換え可能なドライブ装置、或いはＤＶＤ録画再生装置などの記録再生装置などを指す。尚、「情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理」とは、再生専用或いは読み出し専用の装置に対しては再生或いは読み出しを、記録及び再生可能な或いは書き込み及び読み出し可能な装置に対しては、記録及び再生或いは書き込み及び読み出しを夫々表す趣旨である。文章の煩雑化を防ぐ目的から、このような「情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理」を、これ以降適宜「記録又は再生」或いは「書き込み又は読み出し」と称することとする。
【００１４】
本発明の記録媒体処理装置に係る実施形態によれば、その動作時には、光源からレーザ光が出射される。このレーザ光は、記録媒体に対応する波長を有している。ここで、「記録媒体に対応する波長」とは、記録媒体の種類によって予め定められている波長を指し、例えば、ＤＶＤであれば６５０ｎｍ付近、ＣＤであれば７８０ｎｍ付近の波長を指す。
【００１５】
この出射されたレーザ光からは、回折手段により第１回折光及び第２回折光が生成される。ここで、本発明において「回折手段」とは、入射するレーザ光を回折するための手段を指し、例えば回折格子（グレーティング）、或いはこのような回折格子が面部分に設けられている回折素子などを指す。また、本発明の「回折手段」とは、例えば単一の回折格子（回折素子）であってもよいし、単一の回折格子（回折素子）が複数対面配置されてなる総体的な意味での回折手段であってもよい。更には、例えば一つの面部分に複数種類の回折格子が合成されて配置されたような回折素子であってもよい。即ち、第１回折光及び第２回折光は、夫々同一の回折格子（素子）によって生成されてもよいし、相互に異なる回折格子（素子）によって生成されてもよい。詰まりは、本発明の回折手段を通過した結果として第１回折光及び第２回折光が生成される限りにおいて、回折手段の態様は如何様にも限定されない。
【００１６】
これら生成された第１及び第２回折光は、集光手段により記録媒体上における相互に異なる位置に集光する。
【００１７】
ここで、本発明における「集光手段」とは、これら回折光を記録媒体上に集光させるための機構を総称する概念であり、例えば、コリメータレンズ、ハーフミラー、又は対物レンズなどを含む光学系であり、例えば、光ピックアップの少なくとも一部である。集光手段の態様は、記録媒体の種類及び記録媒体処理装置の用途など諸条件に応じて多種多様な形態を採り得る。
【００１８】
この集光手段は、第１回折光が情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理に対応付けられた位置に集光するように集光制御手段により制御されている。そして、処理手段が、この第１回折光を使用して、情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を行う。
【００１９】
従って、「情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理に対応付けられた位置」とは、情報の記録時には情報を書き込むべき位置に、情報の再生時には情報を読み出すべき位置に夫々相当する。ここで、「位置」とは、記録媒体上におけるデータ単位と等価な概念であってもよく、例えば、セクタなどと置換されてもよい。
【００２０】
従って、このような位置に集光する「第１回折光」とは、例えば、記録媒体に対し情報の書き込み又は読み出しを行うためのＲＦ信号光であり、例えば記録媒体上でフォーカシング制御を行うためのフォーカス信号光である。場合によっては、記録媒体上でトラッキング制御を行うためのトラッキング信号光を指す。尚、このような第１回折光を使用したトラッキング制御方法としては、位相差法又はプッシュプル法などが挙げられる。また、第１回折光とは、このような情報の書き込み又は読み出しを行うための回折光である限りにおいて如何なる回折光であってもよいが、典型的には回折格子を直進する０次回折光を指す。
【００２１】
また、本発明において「集光制御手段」とは、第１回折光が上記位置へ集光するように集光手段を制御する手段であり、例えば、トラッキングサーボ、フォーカスサーボ、スレッドサーボ、及びスピンドルサーボなどの各種サーボを行うためのサーボ制御系、及び係るサーボ制御系を上位制御するコントロールユニットなどを指す。
【００２２】
ここで、第２回折光は、記録媒体上において第１回折光とは異なる位置に集光する。その位置は、第１回折光が集光する位置を上述の如く制御するに従い、それに追随して変化するため、特別の制御は必要とされない。但し、回折手段を設計する段階において、第１回折光と第２回折光との位置関係は概ね、或いは詳細に把握することが可能である。
【００２３】
第１及び第２回折光は、夫々が集光する記録媒体上の位置において反射する。この反射光は再び集光手段を通過し、夫々が、例えばフォトディテクタである第１及び第２受光手段によって受光される。
【００２４】
欠陥検出手段は、第２受光手段により受光された反射光に基づいて記録媒体上の欠陥を検出する。この際、係る検出の態様は自由であってよい。例えば、受光手段が、受光量の変化を、何らかの物理的、電気的或いは化学的な量の変化として出力可能である場合には、それらの出力値に欠陥検出のための基準値を設けておき、第２受光手段の出力と、係る基準値を相互に比較することによって係る検出が行われてもよい。
【００２５】
このように、本発明において「第２回折光」とは、記録媒体上の欠陥の検出を行うための回折光を指す。ここで、本発明における「欠陥」とは、傷、指紋、埃、又は汚れなど、記録媒体上に存在することによって、情報の正常な書き込み又は読み出しを妨げる可能性のあるもの全てを含む概念である。第２回折光は、欠陥の検出を行うことが可能なレーザ光であればよいため、その出力は第１回折光よりも著しく小さくてよい。望ましくは情報の書き込みを行うためのレーザ光の出力よりも低い出力を有するレーザ光である。このような出力比は、例えば予め実験的、経験的、或いはシミュレーションなどの手法によって決定されていてもよく、そのような出力比が実現されるように、回折手段による回折比率が決定されていてもよい。
【００２６】
ここで特に、情報の書き込み又は読み出しを行うための第１回折光が、欠陥の検出光としても使用される場合には、従来技術の如く、書き込み又は読み出し時のエラーの発生を回避することは困難である。然るに、本実施形態においては、光源から出射されたレーザ光から欠陥検出用のレーザ光（第２回折光）を生成し、現時点において情報の書き込み又は読み出しが行われている位置とは異なる位置に集光させると共に、その反射光を欠陥検出用の第２受光手段で受光している。従って、記録媒体上に存在する欠陥を速やかに且つ効率的に発見することが可能となり、記録媒体に対し、情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を好適に行うことが可能となるのである。
【００２７】
尚、例えば、光源を別途設けたり、何らかの欠陥検出手段を別途設けたりする場合にも、情報の書き込み又は読み出しに影響を与えないように欠陥を発見することは可能であるが、設置効率及びコストの面では明らかに不利であり、更には機構の複雑化を招くこともあって、本発明に係る、効率的な欠陥の発見を実現することは難しい。即ち、本発明は、従来の技術に対して明らかに有利である。
【００２８】
本発明の記録媒体処理装置に係る実施形態の一の態様では、前記回折手段は、前記出射されたレーザ光を回折させることにより、第３回折光を更に生成し、前記集光手段は、前記第３回折光を前記記録媒体上において前記第１及び第２回折光と異なる位置に集光させ、前記記録媒体上で反射した前記第３回折光を受光する第３受光手段と、前記受光された第３回折光に基づいてトラッキングを行うトラッキング手段とを更に具備する。
【００２９】
この態様によれば、回折手段は第１及び第２回折光の他に、更に第３回折光を生成する。この第３回折光は、集光手段及び集光制御手段によって、記録媒体上における第１及び第２回折光とは異なる位置に集光し、その反射光は第３受光手段によって受光される。
【００３０】
この態様では、トラッキングはこの第３受光手段により受光された第３回折光を使用して行われ、例えば、ＤＰＰ（Differential Push Pull）法などと称される態様を採ることとなる。例えばＤＰＰ法によれば、記録媒体が偏心した際の影響も考慮した比較的正確なトラッキングを行うことが可能であり、記録媒体への情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を一層好適に行うことが可能となる。例えば、この際に第３回折光が集光する位置とは、トラッキングの性質上、情報の書き込み又は読み出し対象となる位置に第１回折光を案内するための位置であり、例えば、係る第１回折光が集光する位置（記録領域内のトラック（グルーブ））の両側（ランド）付近である。
【００３１】
本発明の記録媒体処理装置に係る実施形態の他の態様では、前記集光手段は、前記少なくとも一方の処理が行われる過程において、現時点よりも未来の時点で前記第１回折光が集光する位置に前記第２回折光を集光させる。
【００３２】
この態様によれば、第２回折光が集光する位置は、情報の書き込み又は読み出しの過程において、現時点よりも未来の時点で第１回折光が集光する位置に設定される。従って、記録媒体上に存在する欠陥を、係る欠陥が存在する位置に情報の書き込み又は読み出しを行う以前に発見することが可能となり、適切な対処が可能となる。従って、極めて好適に情報の書き込み又は読み出しを行うことが可能となる。
【００３３】
例えば、記録媒体がＤＶＤである場合には、通常ディスク内周側から外周側へ向って情報の書き込み又は読み出しが行われる。この場合、第２回折光が第１回折光よりも外周側に集光するように、回折手段における回折構造が決定されていれば、書き込み又は読み出し時において、比較的良好に欠陥を発見することが可能となる。
【００３４】
尚、このような第２回折光の集光位置は、回折手段の構造によって概ね与えられるものであるが、その場合であっても、最終的に回折光を集光させるのは集光手段であり、その意味において、本態様における第２回折光の集光位置は集光手段によって与えられるとしても構わない。
【００３５】
本発明の記録媒体処理装置に係る実施形態の他の態様では、前記集光制御手段は、前記欠陥が検出された場合に、該検出された欠陥が前記少なくとも一方の処理に与える影響が軽減されるように前記集光手段を制御する。
【００３６】
この態様によれば、欠陥検出された場合には、集光制御手段が、係る欠陥が情報の書き込み又は読み出しに与える影響が軽減されるように集光手段を制御するため、情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を好適に行うことが可能となる。
【００３７】
ここで、「軽減される」とは、何らの対策又は対処を施さない場合と比較して、欠陥が情報の書き込み又は読み出しに与える影響がその規模によらず減少することを、好適には解消されることを指す。この場合の、「影響」とは、例えば、トラッキング外れ、フォーカシング外れ、誤った情報の書き込み又は読み出し、又は記録媒体の破損、損傷、若しくは損壊などを指す。
【００３８】
また、この態様において、前記集光制御手段は、前記欠陥が検出された場合に、前記第１回折光における集光状態を、現時点における状態にホールドしてもよい。
【００３９】
この場合、集光制御手段によって、第１回折光における集光状態が現時点における状態にホールドされるので、欠陥による影響を回避することが可能となり、情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を好適に行うことが可能となる。
【００４０】
第１回折光の集光状態が現時点における状態にホールドされた場合には、例えば、本来追従すべきではない突発的なエラー信号（例えば、傷上におけるトラッキングエラー信号或いはフォーカスエラー信号）に無理に追従しようとすることによって生じるトラッキングサーボ外れやフォーカスサーボ外れなどが防止される。ここで、集光状態を現時点における状態に「ホールド」する制御とは、例えば、トラッキングサーボ或いはフォーカスサーボを一時的に中断し、夫々トラッキングエラー信号或いはフォーカシングエラー信号へ追従しないようにアクチュエータなどを制御することを指す。
【００４１】
尚、トラッキングサーボ外れなどを防止する観点から言えば、トラッキングが前述の第３回折光を使用して行われる場合には、係る第３回折光の集光状態が現時点における状態にホールドされてもよい。
【００４２】
本発明の記録媒体処理装置に係る実施形態の他の態様では、前記欠陥が検出された場合に、前記欠陥が前記少なくとも一方の処理に影響を与えるタイミングを、前記第１及び第２回折光の各々に対応する前記記録媒体上の位置に基づいて推定する推定手段を更に具備する。
【００４３】
この態様によれば、推定手段によって、欠陥が情報の書き込み又は読み出しに影響を与えるタイミングが推定されるので、欠陥に対する効率的な対処が可能となり、情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を好適に行うことが可能となる。
【００４４】
ここで、推定手段による推定の態様は、例えばＣＬＶ（Constant Linear Velocity：線速度一定方式）、ＣＡＶ（Constant Angular Velocity：角速度一定方式）、ＺＣＬＶ（Zoned CLV）、又はＺＣＡＶ（Zoned CAV）など記録媒体の回転方式に応じて各種態様を採り得る。尚、推定手段によって推定されるタイミングは、欠陥領域に対し、書き込み或いは読み出しが行われる厳密な時刻でなくともよい。例えば、「近い」或いは「遠い」といった予め設定された複数段階の距離概念で表されてもよい。
【００４５】
本発明の記録媒体処理装置に係る実施形態の他の態様では、前記欠陥が検出された場合に、前記検出された欠陥の位置を前記記録媒体上の位置に対応付けて記憶する記憶手段を更に具備する。
【００４６】
この態様によれば、記録媒体上の欠陥の位置が、記録媒体上の位置（セクタアドレスなど）に対応付けられて記憶されるので、後々情報の書き込み又は読み出しが行われる際に、係る欠陥を回避することも容易にして可能となり、情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を好適に行うことが可能となる。
【００４７】
尚、本発明の記録媒体処理装置において、記録媒体は適宜交換されるものであり、個々の記録媒体の欠陥情報を記録媒体毎に記憶しておくことは容易ではない。従って、本態様において、記憶手段は、記録媒体が記録媒体処理装置から取り外されるまで、即ち一連の情報の書き込み又は読み出しが行われている期間のみ、言わば揮発的にこれら欠陥情報を記憶していてもよい。また、本発明において、判別手段によって存在が確認された欠陥は、その都度、或いは所定のタイミング毎に、記録媒体の所定領域にディフェクトリスト（Defect List：DL）として記録されてもよい。
＜記録媒体処理方法の実施形態＞
本発明の記録方法に係る実施形態は、光源からレーザ光を出射する出射工程と、前記出射されたレーザ光を回折させることにより、第１及び第２回折光を生成する回折工程と、前記第１及び第２回折光を、記録媒体上において相互に異なる位置に集光させる集光手段を、前記第１回折光が、前記記録媒体上における、データの記録及び再生のうち少なくとも一方の処理に対応付けられた位置に集光するように、制御する集光制御工程と、前記記録媒体上で反射した前記第１の回折光を受光する第１受光工程と、前記記録媒体上で反射した前記第２の回折光を受光する第２受光工程と、前記受光された第２回折光に基づいて前記記録媒体の欠陥を検出する欠陥検出工程と、前記第１回折光を信号光として用いて前記少なくとも一方の処理を行う処理工程とを具備する。
【００４８】
本発明の記録方法に係る実施形態によれば、その動作時には、上述した記録媒体処理装置の実施形態に係る各手段に対応する各工程における動作によって、記録媒体に対し情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を好適に行うことが可能となる。
＜欠陥検出方法の実施形態＞
本発明の欠陥検出方法に係る実施形態は、光源から出射されたレーザ光を回折させることにより、（i）記録媒体に対し、データの記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を行うための信号光として用いられる第１回折光とは別に、（ii）前記記録媒体の欠陥を検出するための第２回折光を生成する回折工程と、前記第２回折光を、前記記録媒体上において前記第１回折光とは異なる位置に集光させる集光工程と、前記記録媒体上で反射した前記第２回折光を受光する受光工程と、前記受光された第２回折光に基づいて前記記録媒体の欠陥を検出する欠陥検出工程とを具備する。
【００４９】
本発明の欠陥検出方法に係る実施形態によれば、その動作時には、上述した記録媒体処理装置の実施形態に係る各手段に一部対応する各工程における動作によって、記録媒体の欠陥を効率的に検出することが可能となる。
【００５０】
以上、説明したように、本発明の記録媒体処理装置に係る実施形態は、光源、回折手段、集光手段、集光制御手段、第１受光手段、第２受光手段、及び検出手段を具備するので、記録媒体に対し情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を好適に行うことが可能である。本発明の記録媒体処理方法に係る実施形態は、出射工程、回折工程、集光制御工程、第１受光工程、第２受光工程、欠陥検出工程、及び処理工程を具備するので、記録媒体に対し情報の記録及び再生のうち少なくとも一方の処理を好適に行うことが可能である。本発明の欠陥検出方法に係る実施形態は、回折工程、集光工程、受光工程、及び欠陥検出工程を具備するので、記録媒体の欠陥を効率的に検出することが可能となる。
【００５１】
本発明のこのような作用及び他の利得は次に説明する実施例から明らかにされる。
【実施例】
【００５２】
以下、図面を参照して本発明の好適な実施例について説明する。
【００５３】
＜実施例の構成＞
始めに、図１を参照して、本発明の実施例に係る光ディスク装置の構成を説明する。ここに、図１は光ディスク装置１０のブロック図である。尚、これ以降実施例の構成について説明する際には、適宜本実施例の動作の一部についての説明を伴うものとする。
【００５４】
図１において、光ディスク装置１０は、例えば、ＤＶＤなどの記録媒体２０に対し、様々な情報の記録及び再生を行うことが可能に構成された、本発明に係る「記録媒体処理装置」の一例である。尚、様々な情報とは、例えば、映像若しくは音楽に係るコンテンツ、又は画像若しくは文字データなどを指す。
【００５５】
光ディスク装置１０は、制御部１００、インターフェイス２００、データ処理部３００、サーボ制御系４００、及びピックアップ５００を備える。
【００５６】
制御部１００は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１１０、及びメモリ１２０を備える。ＣＰＵ１１０は、光ディスク装置１０の動作を制御する制御ユニットであり、本発明に係る「集光制御手段」、及び「判別手段」の夫々一例として機能するように構成されている。メモリ１２０は、ＣＰＵ１１０が光ディスク装置１０の書き込み動作及び読み出し動作を実行する過程で生じるデータを一時的に格納することが可能な揮発性のストレージデバイスであり、本発明に係る「記憶手段」の一例である。
【００５７】
インターフェイス２００は、例えば情報の記録時には、例えば外部接続されるパーソナルコンピュータなどのホストから供給される情報（或いはデータ）を、その情報（データ）の書き込みを指示するコマンド信号と共に取得することが可能に構成されている。また情報の再生時には、記録媒体２０から読み出した情報（或いはデータ）、或いはそれと対応する情報をホストに対し供給することが可能に構成されている。
【００５８】
データ処理部３００は、例えば情報の記録時には、インターフェイス２００を介して取得された情報（或いはデータ）に基づいて、後述するピックアップ５００を制御するための制御データを生成し、ピックアップ５００に供給することが可能に構成されている。また、情報の再生時には、記録媒体２０から読み出した情報から、ホストに供給するべき情報（データ）を生成することが可能に構成されている。本実施例では、本発明に係る「処理手段」の一例が、データ処理部３００、制御部１００及びインターフェイス２００から構成されている。
【００５９】
サーボ制御系４００は、サーボ制御部４１０、スイッチ４２０、サーボドライバ４３０、及びホールド部４４０を備えており、前述の制御部１００におけるＣＰＵ１１０と共に、本発明に係る「集光制御手段」の一例を構成する。
【００６０】
サーボ制御部４１０は、ＣＰＵ１１０によって上位制御されると共にサーボ制御系４００を制御する制御ユニットである。サーボ制御部４１０は、例えば、ピックアップ５００からトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号などを取得し、トラッキングサーボ又はフォーカスサーボをかけるためのフィードバック信号を生成すると共に、スピンドルサーボ、或いはスレッドサーボなど各種サーボ制御を行うための制御信号を生成して、サーボドライバ４３０に供給することが可能に構成されている。また、サーボ制御部４１０は、ピックアップ５００において受光される後述する欠陥検出光の受光結果を取得し、制御部１００に対し供給することが可能に構成されている。
【００６１】
スイッチ４２０は、サーボ制御部４１０の制御に従って、サーボ制御系４００内の信号系統を選択するスイッチングデバイスである。通常、スイッチ４２０は、サーボドライバ４３０に直結する側の端子に接続されている。
【００６２】
サーボドライバ４３０は、トラッキングサーボ、及びフォーカスサーボなどの各種サーボ制御を行うために、後述するピックアップ５００における不図示のアクチュエータを駆動するドライバである。
【００６３】
ホールド部４４０は、記録媒体２０上に欠陥が存在する場合、一時的にトラッキングサーボ及びフォーカスサーボをホールドするための回路である。
【００６４】
ピックアップ５００は、記録媒体２０に対して情報の書き込み及び読み出しを行うための光学系である。ここで、図２を参照して、ピックアップ５００の詳細構成について説明する。ここに、図２はピックアップ５００の模式図である。
【００６５】
図２において、ピックアップ５００は、光源５１０、回折素子５２０、ハーフミラー５３０、コリメータレンズ５４０、反射ミラー５５０、対物レンズ５６０、及びディテクタ５７０を備えて構成されている。
【００６６】
光源５１０は、例えば、波長６５０ｎｍのレーザ光を出射することが可能に構成されたレーザダイオードであり、本発明に係る「光源」の一例である。
【００６７】
回折素子５２０は、光源５１０から出射するレーザ光から複数の回折光を生成することが可能に構成された、本発明に係る「回折手段」の一例である。ここで、図３を参照して、回折素子５２０の詳細な構成について説明する。ここに、図３は、回折素子５２０の模式図である。
【００６８】
図３において、回折素子５２０は、光源５１０側の面部分及びハーフミラー５３０側の面部分に、夫々異なる回折格子を有している。尚、例えば、回折素子５２０は、平板形状を有する光学ガラスの表面に樹脂材料を蒸着後、例えば数μｍ〜数１０μｍ程度のピッチで数百ｎｍ程度の深さの溝をエッチングなどにより形成することによって構成されている。
【００６９】
光源５１０側の回折格子５２１は、トラッキングエラー検出用の回折光（以降、適宜「トラッキング信号光」と称する）を生成するための回折格子である（図３（ａ））。図３（ａ）において、回折格子５２１によって生成される回折光のうちの一である１次回折光がトラッキング信号光として使用される。この１次回折光と、回折格子５２１を直進する０次回折光との回折比率は、概ね１：１５程度に設定されている。尚、図３（ａ）は、便宜上光源５１０側にレーザ光が出射するように描かれているが、実際はハーフミラー５３０側に（即ち、回折格子５２２に向って）回折光が出射する。また、係るトラッキング信号光は本発明に係る「第３回折光」の一例である。
【００７０】
ハーフミラー５３０側の回折格子５２２は、その形成されている面部分において、回折格子５２１と平面視的に直交する方向に形成されており、情報の書き込み及び読み出しを行うためのＲＦ信号光（即ち、本発明に係る「第１回折光」の一例）、フォーカスエラー検出用の回折光（以降、適宜「フォーカス信号光」と称する）、並びに欠陥検出用の欠陥検出光（即ち、本発明に係る「第２回折光」の一例）を生成するための回折格子である（図３（ｂ））。
【００７１】
図３（ｂ）において、回折格子５２２によって生成される回折光のうちの一である０次回折光が、本発明に係る「信号光」の夫々一例である、ＲＦ信号光及びフォーカス信号光として使用される。一方、１次回折光は、欠陥検出光として使用される。本実施例において、この１次回折光と０次回折光との回折比率は、概ね１：２０程度に設定されている。尚、ここで述べる０次回折光とは、即ち、回折格子５２１を直進してきた０次回折光を意味する。尚、この回折格子５２１を直進してきた０次回折光は、トラッキングエラーを補正するためのトラッキング信号光の一部としても使用される。
【００７２】
尚、回折格子５２１及び５２２における夫々の回折比率は、上述の数値に限定されることはなく、例えば、記録媒体２０に対し、情報の書き込み及び読み出し、並びにトラッキング及び欠陥検出が良好に行えるように、予め実験的、経験的、或いはシミュレーションなどによって決定されていてもよい。
【００７３】
図２に戻り、ハーフミラー５３０は、光源５１０側からのレーザ光は透過させ、コリメータレンズ５４０側からのレーザ光については反射させる機能を有する反面鏡である。
【００７４】
コリメータレンズ５４０は、入射光を平行光に整形するレンズである。また、反射ミラー５５０は、入射光を反射するミラーであり、光源５１０側からの入射光については記録媒体２０側に、記録媒体２０側からの入射光については光源５１０側に、夫々反射するミラーである。
【００７５】
対物レンズ５６０は、入射光を記録媒体２０上に集光させるためのレンズである。対物レンズ５６０は、サーボドライバ４３０から供給される駆動信号に従って、図示せぬアクチュエータによって駆動され、記録媒体２０のラジアル方向（記録媒体の半径方向）、及びフォーカス方向（上下方向）に移動することが可能に構成されている。
【００７６】
ディテクタ５７０は、例えばフォトダイオードから構成されており、記録媒体２０上で反射したレーザ光を受光すると共に当該受光量に応じた電気信号を生成することが可能に構成されている。この変換された電気信号（光出力）は、サーボ制御部４１０に供給される。ここで、ディテクタ５７０の詳細な構成について図４を参照して説明する。ここに、図４は、ディテクタ５７０の平面模式図である。
【００７７】
図４において、ディテクタ５７０は、第１ディテクタ５７１、第２ディテクタ５７２及び５７３、並びに第３ディテクタ５７４及び５７５が相互に一体に形成されてなる。
【００７８】
第１ディテクタ５７１は、本発明に係る「第１受光手段」の一例であり、回折格子５２２により生成されるＲＦ信号光及びフォーカス信号光を受光するディテクタである。本実施例において、フォーカシングは非点収差法に基づいて実行される。従って、第１ディテクタ５７１は図示の如く４分割された受光面を有する。
【００７９】
第２ディテクタ５７２及び５７３は、図中第１ディテクタ５７１の上下に一対に配されており、回折格子５２１により生成されるトラッキング信号光を受光するディテクタである。本実施例において、トラッキングはＤＰＰ法に基づいて実行されており、従って、第２ディテクタ５７２及び５７３は、２分割された受光面を有する。
【００８０】
第３ディテクタ５７４及び５７５は、図中第１ディテクタ５７１の左右に一対に配されており、回折格子５２２により生成される欠陥検出光を受光するディテクタである。
【００８１】
以上の構成の下、ピックアップ５００においては、光源５１０から出射されたレーザ光が回折素子５２０を通過した後、ハーフミラー５３０を透過し、コリメータレンズ５４０に入射する。コリメータレンズ５４０により平行光に修正されたレーザ光は更に、反射ミラー５５０によって反射され、対物レンズ５６０で集光されて記録媒体２０上に集光する（図２実線参照）。また、この集光位置において反射したレーザ光は、同じく対物レンズ５６０、反射ミラー５５０、及びコリメータレンズ５４０を通過し、ハーフミラー５３０に入射する。ハーフミラー５３０に入射したレーザ光はハーフミラー５３０によって反射され、ディテクタ５７０によって受光される（図２点線参照）。
【００８２】
また、ピックアップ５００にはスピンドルモータ及びスレッドモータ（いずれも不図示）が搭載されており、記録媒体２０の回転速度、及びピックアップ５００の粗移動が制御されている。
＜実施例の動作＞
次に、本実施例の動作について説明する。
【００８３】
始めに、図５を参照して、記録媒体２０上の各回折光の集光状態について説明する。ここに、図５は、書き込み動作時における記録媒体２０の拡大模式図である。
【００８４】
図５において、書き込み用のＲＦ信号光及びフォーカシング用のフォーカス信号光は、記録媒体２０上のトラックＴｋ上の一点に集光している。同時に、二つのトラッキング信号光Ｔｒ１及びＴｒ２は、夫々が隣接するランド部分に集光している。
【００８５】
一方、二つの欠陥検出光Ｄ１及びＤ２は、夫々ＲＦ信号光からラジアル方向にある程度の距離を隔てたトラックＴｋ−ｉ、及びトラックＴｋ+ｉに集光している。本実施例において、書き込みの方向は、図示の通り内周から外周に向かう方向であり、従って、欠陥検出光Ｄ１は、未だ情報の書き込みが行われていないトラックに集光していることになる。本実施例においては、係る欠陥検出光Ｄ１を使用して欠陥の検出を行うものとする。これ以降、特に断りの無い限り、欠陥検出光Ｄ１を、単に欠陥検出光と称することとする。
【００８６】
尚、欠陥検出光Ｄ２は、ＲＦ信号光よりも内周側のトラックに集光しており、従って、本実施例においては、情報の書き込み以前に欠陥の検出を行うことはできない。しかしながら、例えば、２層型の記録媒体が使用される場合には、記録媒体の外周側から内周側へ向かって書き込みが行われることがあり、そのような場合には、係る欠陥検出光Ｄ２を使用することによって効率的な欠陥の検出を行うことも可能である。
【００８７】
このようなＲＦ信号光の集光位置（スポット位置）の制御は、トラッキングサーボ制御及びフォーカスサーボ制御などによって実現されている。具体的にトラッキング制御を例に取ると、ＲＦ信号光及びフォーカス信号光が、トラッキング信号光Ｔｒ０として機能し、このトラッキング信号光Ｔｒ０の反射光、並びにトラッキング信号光Ｔｒ１及びＴｒ２の反射光が、夫々第１ディテクタ５７１、並びに第２ディテクタ５７２及び５７３によって受光され、受光量に対応する電気信号が、トラッキングエラー信号としてサーボ制御部４１０に入力される。サーボ制御部４１０では、これらのトラッキングエラー信号を比較し、トラッキングのずれを修正するような制御信号を生成してサーボドライバ４３０にフィードバックする。このフィードバックを受けたサーボドライバ４３０がアクチュエータを駆動し、トラッキングエラーが修正されるように対物レンズ５６０を動かすことによって、ＣＰＵ１１０から指示される正しい書き込み位置にＲＦ信号光が案内され、集光している。また、フォーカシングについても同様であり、４分割の受光面を有する第１ディテクタ５７１から供給される電気信号がフォーカスエラー信号となり、同様にサーボ制御部４１０によってフィードバック制御が行われている。
【００８８】
ところで、このようなトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号は、記録媒体２０上に欠陥（傷、指紋、又は汚れなど）が存在する場合、係る欠陥が外乱要素となって、無理に追従しようとすると、トラッキングサーボ及びフォーカスサーボが外れ、正しい書き込み位置にＲＦ信号を集光させることが困難になる。そこで、本実施例では、書き込み動作時には、以下の如き欠陥検出処理が行われている。
【００８９】
ここで、図６を参照して欠陥検出処理の詳細について、説明する。ここに、図６は、欠陥検出処理のフローチャートである。尚、同図において、上述した各図と重複する箇所にはそれらと同一の符号を付してその説明を省略することとする。尚、係る欠陥検出処理は、本発明に係る「欠陥検出処理」の一例である。
【００９０】
図６において、始めに、欠陥検出光の出力が所定レベル以上であるかが判別される（ステップＡ１０）。ＣＰＵ１１０は、サーボ制御部４１０を介して、所定のクロック信号に基づいたタイミング毎に欠陥検出光の出力レベルを取得している。この出力レベルが所定レベル以上である場合、記録媒体２０上に何らかの欠陥が存在している可能性がある。尚、係る「所定レベル」は、記録媒体２０上に欠陥があると推察される出力レベルとして、予めＣＰＵ１１０が参照可能なように、例えば、ＲＯＭ（Read Only Memory）などに格納されている。
【００９１】
欠陥検出光の出力レベルが所定レベル未満である場合（ステップＡ１０：ＮＯ）には、ステップＡ１０が繰り返されると共に、欠陥検出光の出力レベルが所定レベル以上であった場合（ステップＡ１０：ＹＥＳ）、所定レベル以上である回数がカウントされる（ステップＡ１１）。更に、所定の時間内でカウントされた回数が所定値以上であるかが判別される（ステップＡ１２）。
【００９２】
ここで、記録媒体２０上の欠陥は、例えば目視可能な傷などである場合には、当然ながら相互に隣接する複数トラックに跨って存在する可能性が大きい。従って、書き込み動作中は、当該箇所近傍は、記録媒体２０の複数回転にわたって欠陥検出光の出力レベルが大きくなることが容易に推察可能である。従って、係る回数をカウントすることにより、トラッキングサーボ又はフォーカスサーボが外れる程度の欠陥であるか否かを推察することが可能となる。係る「所定の時間」とは、従って、欠陥であると判別可能な時間であり、その値は、予めＣＰＵ１１０が参照可能な形でＲＯＭなどに格納されている。尚、この際、所定レベル以上の出力が連続してカウントされる回数に基づいて、欠陥の程度を推察することも可能である。
【００９３】
出力レベルの異常（所定レベル以上の出力）が所定の回数に満たなかった場合（ステップＡ１２：ＮＯ）、対処すべき欠陥は存在しないと判別され、処理はステップＡ１０に戻り、再び欠陥検出光の出力レベルが判別される。一方、所定回数以上であった場合（ステップＡ１２：ＹＥＳ）、更にディフェクト信号であるか否かが判別される（ステップＡ１３）。
【００９４】
ここで、「ディフェクト信号であるか否か」とは、単に欠陥検出光の出力レベル異常の検出回数のみで欠陥の存在が判別される訳ではないことを指す。例えば、偶然記録媒体２０上に埃が載っていただけなら、正常な状態に復帰する可能性も高いから、わざわざ欠陥であると判別して処理負荷を増大させる必要はない。このような判別の基準は、予めＣＰＵ１１０が参照可能な形で与えられている。無論、ステップA１３に係る処理を介さずに欠陥を検出することも可能である。
【００９５】
ディフェクト信号ではないと判別された場合（ステップＡ１３：ＮＯ）、処理は再びステップＡ１０に復帰する。一方、ディフェクト信号であると判別された場合には（ステップＡ１３：ＹＥＳ）、現在のＲＦ信号の集光位置と、係る検出された欠陥の位置とに基づいて、ＲＦ信号が係る欠陥に到達するまでの時間、及びそれが回避されるまでの時間が算出される（ステップＡ１４）。
【００９６】
ここで、図７を参照して、係る時間の算出について説明する。ここに、図７は、欠陥への到達時間の算出方法を示す図である。尚、ここでは、線速度が「ｖ」である場合のＣＬＶ記録方式について説明することとする。
【００９７】
図７において、記録媒体２０の中心からＲＦ信号光の集光位置までの直線距離を「Ｒ」とする。また、トラックピッチを「ｐ」とし、欠陥検出光とＲＦ信号光との直線距離を「Ｌ」とする。また、変数「ｎ」を規定し、ｎは「Ｌ／ｐ」であるとする。更に、ＲＦ信号光の集光位置に順次隣接する位置と、記録媒体２０の中心との直線距離はｒ１、ｒ２，・・・，ｒｎとする。
【００９８】
ここで、ＲＦ信号光が欠陥の位置に辿り着くまでの距離ｘは、下記（１）式として表される。また、ＲＦ信号光が欠陥の位置まで辿り着くのに要する時間は、「ｘ／ｖ」として表される。
【００９９】
ｘ＝２πｒ１＋２πｒ２＋，…，＋２πｒｎ
＝２π（ｒ１＋ｒ２＋，・・・，＋ｒｎ）
＝２π（ｎＲ＋（１＋２＋，・・・，＋ｎ）ｐ）・・・・・（１）
尚、回避時間は、例えば、予め欠陥検出光の出力レベル、若しくは所定レベル以上の出力レベルが連続した回数などに応じて、予め適当に定められている値の中から適宜選択されてもよいし、欠陥が検出されたトラックを通過するまでの時間が上記（１）式と同様の手法に基づいて算出されてもよい。
【０１００】
欠陥に到着するまでの到達時間が経過すると、ＣＰＵ１１０は、サーボ制御部４１０に対し、スイッチ４２０をホールド部４４０側に切替えるように指示を与え、係る指示に基づいてサーボ制御部４１０がスイッチ４２０をサーボドライバ４３０側からホールド部４４０側に切替える（ステップＡ１５）。
【０１０１】
ホールド部４４０は、トラッキングサーボ及びフォーカスサーボを現時点の状態に維持する。従って、サーボドライバ４３０に入力される信号は、サーボ制御部４１０から供給されるトラッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号とは無関係となり、これらに対する追従制御（サーボ制御）は行われない。
【０１０２】
ＣＰＵ１１０は、スイッチ４２０がホールド部４４０側に切り替えられて後、前述の回避時間が経過したか否かを判別する（ステップＡ１６）。未だ回避時間が経過していない場合（ステップＡ１６：ＮＯ）、トラッキングサーボ及びフォーカスサーボのホールドは継続される。回避時間が経過すると（ステップＡ１６：ＹＥＳ）、ＣＰＵ１１０は再びサーボ制御部４１０に指示を与え、スイッチ４２０を再びサーボドライバ４３０側に切り替える（ステップＡ１７）。そして処理はステップＡ１０に戻り、上述した処理が繰り返される。このような欠陥検出処理は、情報の書き込み中において常時実行されている。当該書き込みが終了した際には、係る欠陥検出処理も終了する。
【０１０３】
尚、図６のステップＡ１３において、ディフェクト信号であった場合には、検出された欠陥の位置（例えば、セクタアドレス）は、メモリ１２０に記憶される。また、実際、ステップＡ１４からステップＡ１５に移行するまでの期間においては、ステップＡ１０からステップＡ１４までの処理が継続されている。従って、その期間内に検出された欠陥については、順次到達時間及び回避時間が算出されている。無論、メモリ１２０にも記憶される。よって、ピックアップ５００による書き込みに先立って、このようにメモリ１２０に記録された欠陥の位置については、実際にピックアップ５００が通過する際には、書き込まないで飛ばすといった、欠陥に基づく書き込みエラーを回避する処理を容易に行うことができる。更に、メモリ１２０に記録された欠陥の位置に関する情報を、既存のディフェクトマネジメントで利用することも可能である。
【０１０４】
尚、以上説明した欠陥検出処理は、上述の書き込み時のみならず、読み出し時にも同様に実行されるものである。
【０１０５】
以上説明したように、本実施例に係る光ディスク装置１０によれば、光源５１０から出射されるレーザ光から欠陥検出用の回折光が生成されている。従って、欠陥の検出は、記録媒体２０に対する情報の書き込み及び読み出しを行うＲＦ信号光、トラッキング制御用のトラッキング信号光、及びフォーカシング制御用のフォーカス信号光とは無関係に行うことが可能であり、これらが欠陥に到達する際には適切な対処（ホールドなど）を行うことが容易にして可能となっている。また、欠陥検出光は、回折素子５２０を介して極めて効率的に生成されており、余分な部品の追加によるコストの上昇及び機構の複雑化も招かない。即ち、記録媒体２０に対し、極めて好適に情報の記録及び再生を行うことが可能となっているのである。
【０１０６】
本発明は、上述した実施例に限られるものではなく、請求の範囲及び明細書全体から読み取れる発明の要旨或いは思想に反しない範囲で適宜変更可能であり、そのような変更を伴う記録媒体処理装置及び方法、並びに欠陥検出方法もまた本発明の技術的範囲に含まれるものである。
【図面の簡単な説明】
【０１０７】
【図１】本発明の実施例に係る光ディスク装置のブロック図である。
【図２】図１の光ディスク装置におけるピックアップの模式図である。
【図３】図２のピックアップにおける回折素子の模式図である。
【図４】図２のピックアップにおけるディテクタの平面模式図である。
【図５】図1の光ディスク装置の書き込み動作時における記録媒体の拡大模式図である。
【図６】図１の光ディスク装置における欠陥検出処理のフローチャートである。
【図７】図６の欠陥検出処理における、欠陥への到達時間の算出方法を示す図である。
【符号の説明】
【０１０８】
１０…光ディスク装置、２０…記録媒体、１００…制御部、１１０…ＣＰＵ、１２０…メモリ、２００…インターフェイス、３００…データ処理部、４００…サーボ制御系、４１０…サーボ制御部、４２０…スイッチ、４３０…サーボドライバ、４４０…ホールド部、５００…ピックアップ、５１０…光源、５２０…回折素子、５２１…回折格子、５２２…回折格子、５３０…ハーフミラー、５４０…コリメータレンズ、５５０…反射ミラー、５６０…対物レンズ、５７０…ディテクタ、５７１…第１ディテクタ、５７２、５７３…第２ディテクタ、５７４、５７５…第３ディテクタ。
【図１】
2006092614.tif 000003
【図２】
2006092614.tif 000004
【図３】
2006092614.tif 000005
【図４】
2006092614.tif 000006
【図５】
2006092614.tif 000007
【図６】
2006092614.tif 000008
【図７】
2006092614.tif 000009