(57)【要約】【課題】  フィルム原稿のゴミキズを並列処理にて高速に除去する画像処理装置、画像処理方法及び記憶媒体の提供。【解決手段】  事前に低解像度画像を取得、ゴミキズ判別手段にて低解像度画像のゴミキズ数を取得、分割サイズ決定手段にてゴミキズ数がほぼ等しくなるように画像の分割サイズを決定、可視画像補正並列処理手段にて分割サイズ決定手段にて決定した各分割画像を各々の可視画像補正並列処理部にて補正する。これにより、画像を均等分割して並列処理を実施した場合に起こり得る、一部の分割画像のゴミキズ量が多いためにその並列処理部におけるゴミキズ補正時間が長くなってしまい並列処理の効果が薄れてしまう問題を解決できる。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
可視光及び不可視光を照射する発光部と、前記発光部により照射された原稿からの光を検出して可視画像データを検出する可視画像検出手段と、前記発光部から不可視光を検出して原稿上のゴミキズを検出するゴミキズ検出手段と、前記可視画像検出手段から低解像度で可視画像データを出力する可視画像出力手段と、前記ゴミキズ検出手段から低解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ画像出力手段と、前記可視画像検出手段から高解像度で画像データを出力する可視画像出力手段と、前記ゴミキズ検出手段から高解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ出力手段と、ゴミキズ検出手段より出力された高解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手段と、ゴミキズ出力手段により出力された低解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手段と、低解像度ゴミキズ画像により判別されたゴミキズの状態に応じて可視画像並列処理補正手段にて並列処理するための各画像サイズを決定する分割サイズ決定手段と、決定結果に応じて前記画像検出手段から出力される高解像度可視画像データ及びゴミキズ画像データを分割し各並列処理部にて並列処理するための可視画像並列処理補正手段と、を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
請求項１記載の画像処理装置において、前記分割サイズ決定手段は、低解像度にてゴミキズの判別をおこなう判別手段から得られたゴミキズ判別結果に対して、判別されたゴミキズの数により高解像度の可視画像及びゴミキズ画像の分割サイズを決定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項３】
請求項１記載の画像処理装置において、高解像度ゴミキズ画像のゴミキズ判別手段は、注目するゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出、抽出した画素の濃度平均をとり、濃度の平均値と閾値を比較することにより注目するゴミキズ画素がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項４】
請求項１記載の画像処理装置において、高解像度ゴミキズ画像のゴミキズ判別手段は、閾値によってゴミキズと判定されたゴミキズに対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出し、抽出したＮ×Ｍ画素内にてゴミキズと判定された画素の数により、注目するゴミキズ画素がゴミキズであるかゴミキズでないかを判別することを特徴とする画像処理装置。
【請求項５】
可視光及び不可視光を照射する発光工程と、前記発光工程により照射された原稿からの光を検出して可視画像データを検出する可視画像検出工程と、前記発光工程から不可視光を検出して原稿上のゴミキズを検出するゴミキズ検出工程と、前記可視画像検出工程から低解像度で可視画像データを出力する可視画像出力工程と、前記ゴミキズ検出手段から低解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ画像出力工程と、前記可視画像検出工程から高解像度で画像データを出力する可視画像出力工程と、前記ゴミキズ検出手段から高解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ出力工程と、ゴミキズ検出工程より出力された高解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別工程と、ゴミキズ出力工程により出力された低解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別工程と、低解像度ゴミキズ画像により判別されたゴミキズの状態に応じて可視画像並列処理補正工程にて並列処理するための各画像サイズを決定する分割サイズ決定工程と、決定結果に応じて前記画像検出工程から出力される高解像度可視画像データ及びゴミキズ画像データを分割し各並列処理部にて並列処理するための可視画像並列処理補正工程と、を有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項６】
請求項５記載の画像処理方法において、前記分割サイズ決定工程は、低解像度にてゴミキズの判別をおこなう判別工程から得られたゴミキズ判別結果に対して、判別されたゴミキズの数により高解像度の可視画像及びゴミキズ画像の分割サイズを決定することを特徴とする画像処理方法。
【請求項７】
請求項５記載の画像処理方法において、高解像度ゴミキズ画像のゴミキズ判別工程は、注目するゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出、抽出した画素の濃度平均をとり、濃度の平均値と閾値を比較することにより注目するゴミキズ画素がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判定することを特徴とする画像処理方法。
【請求項８】
請求項５記載の画像処理方法において、高解像度ゴミキズ画像のゴミキズ判別工程は、閾値によってゴミキズと判定されたゴミキズに対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出し、抽出したＮ×Ｍ画素内にてゴミキズと判定された画素の数により、注目するゴミキズ画素がゴミキズであるかゴミキズでないかを判別することを特徴とする画像処理方法。
【請求項９】
画像処理装置内のコンピュータによって実行され、画像を補正するプログラムが格納された記憶媒体において、前記プログラムは、ゴミキズ検出工程より出力された高解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手順と、ゴミキズ出力工程により出力された低解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手順と、低解像度ゴミキズ画像により判別されたゴミキズの状態に応じて可視画像並列処理補正手順にて並列処理するための各画像サイズを決定する分割サイズ決定手順と、決定結果に応じて前記画像検出工程から出力される高解像度可視画像データ及びゴミキズ画像データを分割し各並列処理部にて並列処理するための可視画像並列処理補正手順と、を有することを特徴とする記憶媒体。
【請求項１０】
請求項９記載の記憶媒体において、前記分割サイズ決定手順は、低解像度にてゴミキズの判別をおこなう判別手順から得られたゴミキズ判別結果に対して、判別されたゴミキズの数により高解像度の可視画像及びゴミキズ画像の分割サイズを決定することを特徴とする記憶媒体。
【請求項１１】
請求項９記載の記憶媒体において、高解像度ゴミキズ画像のゴミキズ判別手順は、注目するゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出、抽出した画素の濃度平均をとり、濃度の平均値と閾値を比較することにより注目するゴミキズ画素がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判定することを特徴とする記憶媒体。
【請求項１２】
請求項９記載の記憶媒体において、高解像度ゴミキズ画像のゴミキズ判別手順は、閾値によってゴミキズと判定されたゴミキズに対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出し、抽出したＮ×Ｍ画素内にてゴミキズと判定された画素の数により、注目するゴミキズ画素がゴミキズであるかゴミキズでないかを判別することを特徴とする記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置、画像処理方法及び記憶媒体に係わり、画像中の欠損部を補正する画像処理装置、方法及びコンピュータを画像処理装置として機能させるためのプログラムが格納された装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
原稿には、本来の画像の他に、原稿の地肌汚れ等によるゴミキズが含まれていることが多い。そのような原稿のゴミキズを除去する場合、一般に赤外画像を用いゴミキズを判別するための閾値を算出、赤外画像を閾値により２値化することでゴミキズ画素の抽出をおこない、検出したゴミキズ部分の可視画像の補正をおこなう。その際、ゴミキズ除去の高速化を目的として一般的に用いられる方法の１つとして、画像を複数に分割し分割画像毎に並列処理をおこなう方法がある。
【０００３】
しかしながら、ゴミキズが画像全体に均一にあることはごく稀で通常は局所的に存在する。そのためゴミキズの量が多い分割画像は処理時間が長くなり並列処理のボトルネックとなってしまう可能性がある。こうした問題を解決するために、例えば、画像データを処理しながら逐次処理の配分率を決めている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平５−３２４５８３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、フィルムスキャナのように画像毎にゴミキズの分布状態が異なる画像を補正する場合は、逐次処理によって各並列処理部への配分率を決めたとしても、各駒毎のゴミキズ分布に相関が無いため、各並列処理部の処理時間を均一にすることが出来ない。
【０００５】
本発明は、事前に低解像度にてスキャンした画像のゴミキズ状態から高解像度による本スキャン時の並列処理における画像データの分割サイズを決定することで、並列処理におけるボトルネックを軽減することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために成された本発明に関わる画像データ処理装置は、可視光及び不可視光を照射する発光部と、前記発光部により照射された原稿からの光を検出して可視画像データを検出する可視画像検出手段と、前記発光部から不可視光を検出して原稿上のゴミキズを検出するゴミキズ検出手段と、前記可視画像検出手段から低解像度で可視画像データを出力する可視画像出力手段と、前記ゴミキズ検出手段から低解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ画像出力手段と、前記可視画像検出手段から高解像度で画像データを出力する可視画像出力手段と、前記ゴミキズ検出手段から高解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ出力手段と、ゴミキズ検出手段より出力された高解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手段と、ゴミキズ出力手段により出力された低解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手段と、低解像度ゴミキズ画像により判別されたゴミキズの状態に応じて可視画像並列処理補正手段にて並列処理するための各画像サイズを決定する分割サイズ決定手段と、決定結果に応じて前記画像検出手段から出力される高解像度可視画像データ及びゴミキズ画像データを分割し各並列処理部にて並列処理するための可視画像並列処理補正手段と、を有することを特徴とする画像並列処理機能を備えるものである。
【０００７】
これに加えて更に、低解像度にてゴミキズの判別をおこなう判別手段から得られたゴミキズ判別結果に対して、判別されたゴミキズの数により高解像度の可視画像及びゴミキズ画像の分割サイズを決定する手段を備えても良い。
【０００８】
これに加えて更に、高解像度ゴミキズ画像の注目するゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出、抽出した画素の濃度平均をとり、濃度の平均値と閾値を比較することにより注目するゴミキズ画素がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判定する手段を備えても良い。
【０００９】
これに加えて更に、高解像度ゴミキズ画像において閾値によってゴミキズと判定されたゴミキズに対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出し、抽出したＮ×Ｍ画素内にてゴミキズと判定された画素の数により、注目するゴミキズ画素がゴミキズであるかゴミキズでないかを判別する手段を備えても良い。
【００１０】
上記課題を解決するために成された本発明に関わる画像処理データ処理方法は、可視光及び不可視光を照射する発光工程と、前記発光工程により照射された原稿からの光を検出して可視画像データを検出する可視画像検出工程と、前記発光工程から不可視光を検出して原稿上のゴミキズを検出するゴミキズ検出工程と、前記可視画像検出工程から低解像度で可視画像データを出力する可視画像出力工程と、前記ゴミキズ検出手段から低解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ画像出力工程と、前記可視画像検出工程から高解像度で画像データを出力する可視画像出力工程と、前記ゴミキズ検出手段から高解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ出力工程と、ゴミキズ検出工程より出力された高解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別工程と、ゴミキズ出力工程により出力された低解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別工程と、低解像度ゴミキズ画像により判別されたゴミキズの状態に応じて可視画像並列処理補正工程にて並列処理するための各画像サイズを決定する分割サイズ決定工程と、決定結果に応じて前記画像検出工程から出力される高解像度可視画像データ及びゴミキズ画像データを分割し各並列処理部にて並列処理するための可視画像並列処理補正工程と、を有することを特徴とする画像並列処理機能を備えるものである。
【００１１】
これに加えて更に、低解像度にてゴミキズの判別をおこなう判別工程から得られたゴミキズ判別結果に対して、判別されたゴミキズの数により高解像度の可視画像及びゴミキズ画像の分割サイズを決定する工程を備えても良い。
【００１２】
これに加えて更に、高解像度ゴミキズ画像の注目するゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出、抽出した画素の濃度平均をとり、濃度の平均値と閾値を比較することにより注目するゴミキズ画素がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判定する工程を備えても良い。
【００１３】
これに加えて更に、高解像度ゴミキズ画像の閾値によってゴミキズと判定されたゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出し、抽出したＮ×Ｍ画素内にてゴミキズと判定された画素の数により、注目するゴミキズ画素がゴミキズであるかゴミキズでないかを判別する工程を備えても良い。
【００１４】
上記課題を解決するために成された本発明に関わる画像データ処理方法は、画像処理装置内のコンピュータによって実行され、画像を補正するプログラムが格納された記憶媒体において、前記プログラムは、ゴミキズ検出工程より出力された高解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手順と、ゴミキズ出力工程により出力された低解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手順と、低解像度ゴミキズ画像により判別されたゴミキズの状態に応じて可視画像並列処理補正手順にて並列処理するための各画像サイズを決定する分割サイズ決定手順と、決定結果に応じて前記画像検出工程から出力される高解像度可視画像データ及びゴミキズ画像データを分割し各並列処理部にて並列処理するための可視画像並列処理補正手順と、を有することを特徴とする画像並列処理機能を備えるものである。
【００１５】
これに加えて更に、低解像度にてゴミキズの判別をおこなう判別手順から得られたゴミキズ判別結果に対して、判別されたゴミキズの数により高解像度の可視画像及びゴミキズ画像の分割サイズを決定する手順を記憶媒体に備えても良い。
【００１６】
これに加えて更に、高解像度ゴミキズ画像の注目するゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出、抽出した画素の濃度平均をとり、濃度の平均値と閾値を比較することにより注目するゴミキズ画素がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判定する手順を記憶媒体に備えても良い。
【００１７】
これに加えて更に、高解像度ゴミキズ画像の閾値によってゴミキズと判定されたゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出し、抽出したＮ×Ｍ画素内にてゴミキズと判定された画素の数により、注目するゴミキズ画素がゴミキズであるかゴミキズでないかを判別する手順を記憶媒体に備えても良い。
【発明の効果】
【００１８】
本願の請求項１、請求項５、請求項９に記載した発明においては、低解像度のゴミキズ画像と高解像度のゴミキズ画像のゴミキズ分布に相関があることを利用しており、事前に低解像度の赤外画像のゴミキズ分布により本スキャン時の可視画像の分割サイズを決定している。こうすることで、画像を分割して並列処理をおこなった場合に一部の分割画像のゴミキズの量が多くなってしまい多くなってしまったゴミキズ補正部の処理時間が増大するような事態を軽減することが可能となる。
【００１９】
本願の請求項２、請求項６、請求項１０に記載した発明においては、低解像度のゴミキズ画像と高解像度のゴミキズ画像のゴミキズ分布に相関があることを利用しており、事前に低解像度の赤外画像のゴミキズ数が出来るだけ均一になるように本スキャン時の可視画像の分割サイズを決定している。こうすることで、画像を分割して並列処理をおこなった場合に一部の分割画像のゴミキズの量が多くなってしまい多くなってしまったゴミキズ補正部の処理時間が増大するような事態を軽減することが可能となる。
【００２０】
本願請求項３、請求項７、請求項１１に記載した発明においては、平均値を用いた２値化をゴミキズ検出に用いることで、高解像度画像においてノイズの少ない赤外画像を得ることができ、低解像度にて検出したゴミキズ画像のゴミキズ分布と、高解像度にて検出したゴミキズゴミキズ画像のゴミキズ分布の相関をより高めることができる。そのため、本発明を用いれば、低解像度赤外画像にて決定した分割画像サイズを基に分割した高解像度画像の各々の分割画像のゴミキズ画素の量をより均一にすることが可能となる。
【００２１】
本願請求項４、請求項８、請求項１２に記載した発明においては、周辺の画素を利用した２値化を実施することで、高解像度画像において、ノイズの少ない赤外画像を得ることができ、低解像度にて検出したゴミキズ画像のゴミキズ分布と、高解像度にて検出したゴミキズゴミキズ画像のゴミキズ分布の相関をより高めることができる。そのため、本発明を用いれば、低解像度赤外画像にて決定した分割画像サイズを基に分割した高解像度画像の各々の分割画像のゴミキズ画素の量をより均一にすることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明に関わる各実施の形態を説明する。
【実施例】
【００２３】
［実施の形態１］
本発明の第１の実施形態に係る画像処理装置は、図１に示すように、可視光発光部１と、赤外光発光部２と、原稿３を通過した可視光を受光するイメージセンサ４と、原稿３を通過した赤外光を受光するイメージセンサ５と、イメージセンサ４にて受光した可視光を検出する検出手段６と、イメージセンサ５にて受光した赤外光を検出する検出手段７と、検出手段６及び７から得られた可視及び赤外データ検出結果を低解像度の可視画像データ及び赤外画像データに変換し出力する低解像度画像出力手段８と、可視画像検出手段６及び赤外画像検出手段７から得られた可視及び赤外データ検出結果を高解像度の可視画像データ及び赤外画像データに変換し出力する高解像度画像出力手段９と、低解像度赤外画像及び貸し画像から２値化によりゴミキズの判別をおこなうゴミキズ判別手段１０と、高解像度赤外画像及び可視画像から２値化によりゴミキズの判別をおこなうゴミキズ判別手段１１と、ゴミキズ判別手段１０により判別されたゴミキズの数により可視及び赤外画像の分割サイズを決定する分割サイズ決定手段１２と、分割サイズ決定手段１２により決定した各分割画像のゴミキズ補正をおこなうための可視画像補正並列処理手段１３と、を備えている。
【００２４】
本実施形態は、低解像度のゴミキズ画像１５と高解像度ゴミキズ画像１６のゴミキズの分布が似た傾向になることを利用するものである。つまり、高解像度画像のゴミキズ補正する前に、低解像度画像を取得、ゴミキズ判別手段１０にて低解像度画像のゴミキズの数を取得、分割サイズ決定手段１２にてゴミキズの数がほぼ等しくなるように画像を画像の分割サイズを決定し、可視画像補正並列処理手段１３にて図２の１４のように各分割画像を並列処理にてゴミキズ補正する。これにより、図３の１６のように画像を均等分割し並列処理にてゴミキズ補正をおこなった場合に起こり得る、一部の分割画像のゴミキズ量が多いためにその並列処理部におけるゴミキズ補正時間が長くなってしまい並列処理の効果が薄れてしまうという問題を解決できる。
【００２５】
［実施の形態２］
図３及び図４は、本発明の第２の形態に関わる画像のゴミキズ補正手段を示す図である。
【００２６】
本実施形態が示す分割サイズ決定手段は、１ライン目より順に低画質にてスキャンしたゴミキズ画像のゴミキズ画素数をカウント、ゴミキズ画素数ｉが総画素数ｍを分割数Ｎで割った整数部分の値を越えたライン数までを分割画像１とし、次のラインから再びゴミキズ画素数をカウント、ゴミキズ画素数ｉが総画素数ｍを分割画像Ｎで割った整数部分の値を越えたライン数までを分割画像２とし、これを繰り返すことにより画像をＮ分割する。上記の内容を図４のアルゴリズムを例に説明する。ｋライン目のゴミキズ画素数をカウントしｋ−１ライン目までのゴミキズ画素数ｉに加算（１９）、ｋライン目までのゴミキズ画素数ｉが総ゴミキズ画素数ｍをＮで割った整数部分の値を超えているかを確認（２０）、超えていない場合は次のラインに移り（２１）、ｋ＋１ライン目のゴミキズ画素数をカウントしゴミキズ画素数ｉに加算、再びｋ＋１ライン目までのゴミキズ画素数ｉが総ゴミキズ画素数ｍをＮで割った整数部分の値を越えているかを確認（２０）、超えていない場合は超えるまで上記の操作を繰り返す。ｋライン目までのゴミキズ画素数が総ゴミキズ画素数ｍをＮで割った整数部分の値を越えた場合、ｋライン目までを分割画像ｓとして決定する（２１）。次の分割画像（ｓ＋１）のライン数は、これまでのゴミキズ画素数ｉを初期化（２４）、ｋ＋１ライン目から再び、総ゴミキズ画素数ｍをＮで割った整数部分の値を越えるまでゴミキズ画素数のカウントをおこなうことでｓ＋１番目の分割画像のサイズを決定する。Ｎ−１分割目までの分割画像サイズが決定した場合、残りのライン数をＮ分割目の分割画像とする（２５）。
【００２７】
このように低解像度画像にてＮ分割する画像の分割サイズを決定することで（１７、１８）、高解像度画像の各々の分割画像内のゴミキズ画素数に偏りがなくなるため、図３の１５のように画像を均等分割し並列処理にてゴミキズ補正をおこなった場合に起こり得る、一部の分割画像のゴミキズ量が多いためにその並列処理部におけるゴミキズ補正時間が長くなってしまい並列処理の効果が薄れてしまうという問題を解決できる。
【００２８】
［実施の形態３］
図５、図６、図７は、本発明の第３の形態に係る画像のゴミキズ補正手段を示す図である。本実施形態を示すゴミキズ補正手段は、高解像度画像出力手段９により出力される赤外画像に対して、注目画素２９周辺のＮ×Ｍ画素の赤外画像３０を抽出する。抽出した赤外画素濃度３１の平均濃度３２を算出し、予め設定された閾値ｈ３３と比較、アルゴリズム３４の手順で、注目画素２９がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判定する。赤外画像の全ての画素に対して上記ゴミキズ判定を実施し、ゴミキズ判定結果３５を得る。単純に閾値を用いた２値化を実施すると、閾値が厳しい値の場合、赤外画像のノイズ成分を多く拾ってしまうためゴミキズを誤検出する割合が多くなる。
【００２９】
しかしながら、本実施形態のような、注目画素とその周りの画素の平均値を用いた２値化においては、そのようなノイズ成分は平均化による広域遮断フィルタ効果により、ノイズ成分をゴミキズとして誤検出しない。また、上記のように平均値を用いた２値化を用いることで、高解像度画像の２値化を行う場合に、閾値が高くても赤外画像２７のようにノイズが多い画像ではなく、２８のようにノイズの少ない赤外画像を得ることができ、低解像度にて検出したゴミキズ分布状態２６と、高解像度にて検出したゴミキズ分布状態２８の相関が高くなる。そのため、本実施の形態を用いれば、低解像度赤外画像にて決定した分割画像サイズを基に分割した高解像度画像の各々の分割画像のゴミキズ画素の量をより均一にすることが可能となる。
【００３０】
［実施の形態４］
図５、図８、及び図９は、本発明の第４の形態に係る画像のゴミキズ補正手段を示す図である。本実施形態を示すゴミキズ補正手段は、ゴミキズ判別手段１１によってゴミキズ画素であると判定された赤外２値化画素３６に対して、周辺のＮ×Ｍ画素の赤外２値化画像３７を抽出する。赤外２値化画素は、ゴミキズ判別手段１１にて、アルゴリズム３８の手順で、赤外２値化画素３６がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判別する。ゴミキズ判別手段１１によりゴミキズ画素であると判定された全ての赤外２値化画素に対して上記ゴミキズ判別を実施し、ゴミキズ判定結果３９を得る。一般に閾値を用いた２値化を実施すると、閾値が厳しい値の場合、赤外画像のノイズ成分を多く拾ってしまうためゴミキズを誤検出する割合が多くなる。
【００３１】
しかしながら、そのようなゴミキズは一般的に小さなゴミキズとして検出されるため、本実施の形態を用いれば、ゴミキズであると誤検出された画素を取り除くことができる。また、上記のような２値化を実施することで、高解像度にて２値化を実施した場合、閾値が高くても、赤外画像２７のようにノイズが多い画像ではなく、２８のようにノイズの少ない赤外画像を得ることができ、低解像度にて検出したゴミキズ分布状態２６と、高解像度にて検出したゴミキズ分布状態２８をほぼ等しくできる。そのため、本実施の形態を用いれば、低解像度赤外画像にて決定した分割画像サイズを基に分割した高解像度画像の各々の分割画像のゴミキズ画素の量をより均一にすることが可能となる。
【００３２】
尚、以上が本発明の実施形態の説明であるが、本発明は、これらの実施の形態の構成に限られるものではなく、クレームで示した機能、または、実施の形態の構成を持つ機能が達成できる構成であればどのようなものであっても適用可能である。例えば、スキャナ、フィルムスキャナ、複写機、ファクシミリ装置、デジタルカメラなどにも適用可能である。また、以上の実施の形態のソフトウェア構成とハードウェア構成は、適宜置き換えることも可能である。さらに、本発明は、クレーム又は、実施形態の構成の全体もしくは、一部が１つの装置を形成するものであっても、他の装置と結合するようなものであっても、さらには、装置を構成する要素となるようなものであってもよい。
【００３３】
また、本発明は、複数の機器から構成されるシステムに適用してもよいし、１つの機器からなる装置に適用してもよい。また、本発明はシステムあるいは装置にプログラムを供給することによって達成される場合にも適用できることはいうまでもない。この場合、本発明を達成するためのソフトウェアによって表されるプログラムを格納した記憶媒体をシステムあるいは装置に読み出すことによってそのシステムあるいは装置が本発明の効果を享受することが可能となる。
【００３４】
図１０はＰＣにプログラムを供給することによって可視画像のゴミキズ補正を達成する場合の装置の構造を示す図である。本実施形態の画像処理装置は、図１０に示すように可視光発光部４０と、赤外光発光部４１と、原稿４２を通過した可視光を受光するイメージセンサ４３と原稿４２を通過した赤外光を受光するイメージセンサ４４と、イメージセンサ４３にて受光した可視光を可視画像データに変換しＰＣへ出力する可視画像出力手段４５と、イメージセンサ４４にて受光した赤外光を赤外画像データに変換しＰＣへ出力する赤外画像出力手段４６と、可視画像出力手段４５及び赤外画像出力手段４６から出力される可視画像及び赤外画像を取り込む画像入力Ｉ／Ｆ４７と、ゴミキズ補正処理をするプログラムが格納されている記憶媒体４８と、記憶媒体４８に記録されているプログラムを呼び出してゴミキズ補正処理を実施するＣＰＵ４９と、を備えている。
【００３５】
図１１は記憶媒体としてのＲＯＭ４８のメモリマップを示す図である。ＲＯＭには、２値化処理プログラム５０、ゴミキズ判定処理プログラム５１、画像分割サイズ決定プログラム５２、可視画像ゴミキズ補正処理プログラム５２などが格納されている。
【００３６】
プログラムモジュールを供給する記憶媒体としては、ＲＯＭに限らず、例えばフロッピー(登録商標)ディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード等をもちいることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る画像処理装置を示す図
【図２】本発明の全ての実施形態に係る可視画像を分割しゴミキズ補正を並列処理にておこなう可視画像ゴミキズ補正並列処理手段を示す図
【図３】画像を均等分割した場合とゴミキズ数によって分割した場合の各々の分割画像のゴミキズ画素数の分布状態を示す図
【図４】本発明の第２の実施形態に係る画像分割サイズ決定方法を示すアルゴリズム
【図５】本発明の第３及び第４の実施形態に係るゴミキズ画像を示す図
【図６】本発明の第３の実施形態に係るゴミキズ補正手段を示す図
【図７】本発明の第３の実施形態に係るゴミキズ補正手段を示す図
【図８】本発明の第４の実施形態に係るゴミキズ補正手段を示す図
【図９】本発明の第４の実施形態に係るゴミキズ補正手段を示す図
【図１０】ＰＣにプログラムを供給することによって可視画像のゴミキズ補正を達成する場合の装置の構造を示す図
【図１１】記憶媒体としてのメモリマップを示す図
【符号の説明】
【００３８】
１    可視光発光部
２    赤外光発光部
３    原稿
４    イメージセンサ
５    イメージセンサ
６    可視画像検出手段
７    赤外画像検出手段
８    低解像度画像出力手段
９    高解像度画像出力手段
１０    ゴミキズ判別手段
１１    ゴミキズ判別手段
１２    分割サイズ決定手段
１３    可視画像補正並列処理手段
１４    可視画像補正並列処理手段
１５    低解像度にて検出したゴミキズ画素
１６    高解像度にて検出したゴミキズ画素
１７    低解像度にて検出したゴミキズ画素
１８    高解像度にて検出したゴミキズ画素
１９    ｋライン目のゴミキズ画素をゴミキズ画素ｉにプラスする
２０    ｋライン目までのゴミキズ画素数ｉがｉ≧ｍ／Ｎ
２１    ｋライン目までを分割画像ｓとする
２２    Ｎ−１分割目まで終了
２３    次の分割画像のライン数を決定する
２４    ゴミキズ画素数のカウンタを初期化ｉ＝０
２５    残りのライン数を分割画像Ｎとする
２６    低解像度にて検出したゴミキズ画像
２７    高解像度にて検出したゴミキズ画像
２８    ノイズ除去後のゴミキズ画像
２９    注目画素
３０    Ｎ×Ｍ画素の赤外画像
３１    赤外（不可視）画素濃度
３２    濃度平均
３３    閾値ｈ
３４    アルゴリズム
３５    ２値化画像
３６    赤外（不可視）画素
３７    Ｎ×Ｍ画素の赤外画像
３８    アルゴリズム
３９    ゴミキズ判定結果
４０    可視光発光手段
４１    赤外光発光手段
４２    原稿
４３    イメージセンサ
４４    イメージセンサ
４５    可視画像出力手段
４６    不可視画像出力手段
４７    画像入力Ｉ／Ｆ
４８    ＲＡＭ
４９    ＣＰＵ
５０    ２値化処理プログラムモジュール
５１    ゴミキズ判別処理プログラムモジュール
５２    画像分割サイズ決定プログラムモジュール
５３    可視画像ゴミキズ補正処理プログラムモジュール
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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