(57)【要約】【課題】改めて収集することなく所望の周期で収集された計測データを取得する。【解決手段】計測データＤｘ〜Ｄｚを所定周期で収集する制御部３と、制御部３によって収集された複数の計測データＤｘ〜Ｄｚを記憶する記憶部４を備え、制御部３は、記憶部４に記憶されている各計測データＤｘ〜Ｄｚの中から所定のデータを抽出する際に、所定周期のＮ倍（Ｎは２以上の整数）の周期が指定されたときには、その周期で収集された計測データＤｘ〜Ｄｚを抽出する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
計測データを所定周期で収集するデータ収集部と、前記データ収集部によって収集された複数の前記計測データを記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶されている前記各計測データの中から所定のデータを抽出するデータ抽出部とを備え、
前記データ抽出部は、前記所定周期のＮ倍（Ｎは２以上の整数）の周期が指定されたときに、当該周期で収集された前記計測データを抽出するデータ記録装置。
【請求項２】
前記データ収集部は、複数種類の前記計測データを前記所定周期で収集し、
前記データ抽出部は、前記Ｎ倍の周期が前記種類毎に指定可能に構成されて、当該指定された各周期でそれぞれ収集された当該種類毎の前記各計測データを抽出する請求項１記載のデータ記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、計測データを記憶する記憶部を備えて構成されているデータ記録装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種のデータ記録装置として、特許第３４６２６４２号公報に開示された計測データ処理装置が知られている。この計測データ処理装置では、情報処理装置が計測系からの計測データを一定周期（６秒）でサンプリングしてサンプリングデータを生成する。この場合、この計測データ処理装置では、情報処理装置が、サンプリングデータに基づいて１分、１時間、１日および１月の各周期毎の平均値を算出する。また、この計測データ処理装置では、情報処理装置が算出した各周期毎の平均値をグラフ化して表示部に表示させる。
【特許文献１】特許第３４６２６４２号公報（第４−５頁、第５図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところが、上記のデータ処理装置には、以下の問題点がある。すなわち、このデータ処理装置では、計測データを一定周期でサンプリングしてサンプリングデータを生成すると共に、表示部に表示させるためにサンプリングデータに基づいて平均値を算出している。このため、このデータ処理装置では、上記した一定周期以外の周期では計測データがサンプリングされていない。したがって、このデータ処理装置には、別の周期でサンプリングされたデータが必要となったときには、サンプリングする周期の設定を変更して計測系からの計測データを改めて測定しなければならず、その設定変更および測定が煩雑であり、しかも、設定変更によって計測データの連続性が損なわれるという問題点がある。
【０００４】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、改めて収集することなく所望の周期で収集された計測データを取得し得るデータ記録装置を提供することを主目的とする。また、計測データの連続性を維持し得るデータ記録装置を提供することを他の目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成すべく請求項１記載のデータ記録装置は、計測データを所定周期で収集するデータ収集部と、前記データ収集部によって収集された複数の前記計測データを記憶する記憶部と、前記記憶部に記憶されている前記各計測データの中から所定のデータを抽出するデータ抽出部とを備え、前記データ抽出部は、前記所定周期のＮ倍（Ｎは２以上の整数）の周期が指定されたときに、当該周期で収集された前記計測データを抽出する。
【０００６】
請求項２記載のデータ記録装置は、前記データ収集部が、複数種類の前記計測データを前記所定周期で収集し、前記データ抽出部が、前記Ｎ倍の周期が前記種類毎に指定可能に構成されて、当該指定された各周期でそれぞれ収集された当該種類毎の前記各計測データを抽出する。なお、本明細書における「複数種類の計測データ」とは、計測対象（例えば、製造ラインや機器等）、および計測項目（例えば、温度、電圧、電流および電力等）の少なくとも一方が異なる複数の計測データをいう。したがって、計測項目の種類が同じである計測データであっても、計測対象が異なれば、本明細書における「複数種類の計測データ」に相当する。
【発明の効果】
【０００７】
請求項１記載のデータ記録装置によれば、計測データを収集した所定周期のＮ倍の周期が指定されたときに、データ抽出部がその周期で収集された計測データを記憶部に記憶されている複数の計測データの中から抽出することにより、その周期で収集された計測データを取得することができる。したがって、計測データの収集を改めて行うことなく、所望の周期で収集された計測データを確実かつ容易に取得することができる。また、計測データを抽出する周期を変更する必要が生じたとしても、所望の計測データの収集を改めて行うことなく記憶部に記憶されている複数の計測データを用いて変更した周期で抽出することができるため、計測データの収集を続行させることができる。したがって、記憶部に記憶されている計測データのデータの連続性を維持することができる。
【０００８】
また、請求項２記載のデータ記録装置によれば、計測データを収集した所定周期のＮ倍の周期を種類毎に指定すると共に、指定された各周期でそれぞれ収集された種類毎の各計測データを抽出することにより、その種類に適した所望周期の計測データを確実かつ容易に抽出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、本発明に係るデータ記録装置の最良の形態について、添付図面を参照して説明する。
【００１０】
最初に、データ記録装置１の構成について説明する。
【００１１】
データ記録装置１は、図１に示すように、制御部３、記憶部４、操作部５および表示部６を備えて構成されると共に、複数（例えば３つ）の計測モジュール２ｘ〜２ｚが接続可能に構成されている。なお、このデータ記録装置１は、例えば、図２に示すような工場Ｘの室温などの計測を継続的に実施することにより、その工場Ｘにおいて製品の各々がどのような温度条件下で製造されたかを監視するのに用いられる。
【００１２】
計測モジュール２ｘ〜２ｚは、工場Ｘにおける所定位置の温度を所定の周期で計測すると共に、計測した温度にタイムスタンプとして計測時間ｔを付した計測データＤｘ〜Ｄｚ（以下、区別しないときには「計測データＤ」ともいう）を制御部３に出力する。また、計測モジュール２ｘ〜２ｚは、計測データＤｘ〜Ｄｚを出力する周期（本発明における所定周期）を設定可能に構成され、本例では１分毎に計測データＤを出力するように計測データＤの出力周期が設定されている。なお、図１，２に示すように、計測モジュール２ｘは、工場Ｘの所定位置における室温を計測してその室温を示す計測データＤｘを出力する。計測モジュール２ｙは、製造ラインＹの所定位置に配置された機器Ｙ１の内部温度を計測して、その内部温度を示す計測データＤｙを出力する。計測モジュール２ｚは、製造ラインＺの所定位置に配置された機器Ｚ１の内部温度を計測して、その内部温度を示す計測データＤｚを出力する。
【００１３】
制御部３は、本発明におけるデータ収集部として機能し、計測モジュール２ｘ〜２ｚから出力された複数種類の計測データＤｘ〜Ｄｚを１分毎に収集する。この場合、制御部３は、複数種類の計測データＤｘ〜Ｄｚに基づいて収集データＤｃを生成して記憶部４に記憶させる。この場合、収集データＤｃは、図３に示すように、タイムスタンプとして付された計測時間ｔ（ｔ１〜ｔ９・・・）と、その各計測時間ｔに対応付けられたデータＤｘ（Ｄｘ１〜Ｄｘ９・・・），Ｄｙ（Ｄｙ１〜Ｄｙ９・・・），Ｄｚ（Ｄｚ１〜Ｄｚ９・・・）とで構成されている。また、制御部３は、各計測モジュール２ｘ〜２ｚに計測データＤｘ〜Ｄｚを出力させる周期、すなわち制御部３が計測データＤｘ〜Ｄｚを収集する周期を任意に設定可能に構成されている。
【００１４】
一方、制御部３は、本発明におけるデータ抽出部としても機能し、計測データＤの出力周期のＮ倍（Ｎは２以上の整数）の周期が操作部５を介して指定されたときに、記憶部４に記憶されている収集データＤｃの中からその周期で収集された計測データＤを抽出する。この場合、制御部３は、抽出したデータをグループ化することにより、図３に示すように、製造ラインＹに関する検査データＤｉ１と製造ラインＺに関する検査データＤｉ２とを計測時間ｔに対応付けて生成して記憶部４に出力する。また、制御部３は、検査データＤｉ１，Ｄｉ２（以下、区別しないときには「検査データＤｉ」ともいう）を生成する際に計測データＤを抽出するためのＮ倍の周期を任意に指定可能に構成されている。なお、制御部３は、このＮ倍の周期を計測データＤの種類毎に指定可能に構成されると共に、このＮ倍の周期を１つの種類の計測データＤに対しても複数指定可能に構成されている。また、制御部３は、操作部５で操作された操作内容に従い、生成した検査データＤｉ１，Ｄｉ２を計測時間ｔと共に表示部６に表示させる。
【００１５】
記憶部４は、複数の計測データＤｘ，Ｄｙ，Ｄｚを含む収集データＤｃ、および検査データＤｉ１，Ｄｉ２を記憶する。操作部５は、作業者によって操作された操作内容に応じた指示信号を制御部３に出力する。表示部６は、制御部３による制御に従って検査データＤｉ１，Ｄｉ２を表示する。
【００１６】
次に、データ記録装置１の動作について図面を参照して説明する。
【００１７】
図２に示す製造ラインＹ，Ｚにおいて製品がどのような温度条件下で製造されたかを監視する際には、まず、作業者は、操作部５を操作して計測モジュール２ｘ〜２ｚにおける計測データＤｘ〜Ｄｚの出力周期（１分毎）を設定する。したがって、計測モジュール２ｘ〜２ｚは、計測データＤｘ〜Ｄｚを１分毎に制御部３に出力する。この状態において、制御部３は、計測モジュール２ｘ〜２ｚから１分毎に出力された計測データＤｘ〜Ｄｚに基づいて収集データＤｃを生成して記憶部４に記憶させる。この結果、図３に示すように、記憶部４には、計測モジュール２ｘから１分毎に出力された工場Ｘの室温を示す計測データＤｘ１，Ｄｘ２・・、計測モジュール２ｙから１分毎に出力された機器Ｙ１の内部温度を示す計測データＤｙ１，Ｄｙ２・・、および計測モジュール２ｚから１分毎に出力された機器Ｚ１の内部温度を示す計測データＤｚ１，Ｄｚ２・・を計測時間ｔ（ｔ１〜ｔ９・・・）に対応付けた収集データＤｃが順次蓄積記憶される。
【００１８】
この場合、例えば、製造ラインＹでは製品が２分毎に機器Ｙ１内を通過すると共に製造ラインＺでは製品が３分毎に機器Ｚ１内を通過するものとする。したがって、作業者によって操作部５が操作されて、例えば、製造ラインＹについては２分（本発明における所定周期の２倍）毎に収集された計測データＤｙの抽出が指定され、かつ製造ラインＺについては３分（本発明における所定周期の３倍）毎に収集された計測データＤｚの抽出が指定されたものとする。この際には、制御部３は、記憶部４に記憶されている収集データＤｃに基づき、工場Ｘの室温と機器Ｙ１，Ｚ１の内部温度との対応関係を示す検査データＤｉ１，Ｄｉ２を生成する。
【００１９】
この際に、制御部３は、工場Ｘの室温および機器Ｙ１の内部温度を示す計測データＤｘ，Ｄｙの中から２分毎、すなわち制御部３が計測データＤｘ，Ｄｙを収集する周期（１分）の２倍の周期で収集された計測データＤｘ，Ｄｙを抽出してグループ化することにより、製造ラインＹに関する検査データＤｉ１を生成する。この場合、製造ラインＹの検査データＤｉ１は、図３に示すように、計測時間ｔ（ｔ２，ｔ４，ｔ６・・・）と、各計測時間ｔに対応する工場Ｘの２分毎の室温を示す計測データＤｘ２，Ｄｘ４，Ｄｘ６・・と、各計測時間ｔに対応する機器Ｙ１の２分毎の内部温度を示す計測データＤｙ２，Ｄｙ４，Ｄｙ６・・とで構成される。したがって、作業者は、製造ラインＹの検査データＤｉ１の内容を表示部６に表示させることにより、製造ラインＹにおいて製品の各々が各計測時間ｔのときにどのような温度条件下で製造されたかを特定することができる。
【００２０】
また、制御部３は、工場Ｘの室温および機器Ｚ１の内部温度を示す計測データＤｘ，Ｄｚの中から３分毎の計測データＤｘ，Ｄｚを抽出してグループ化することにより、製造ラインＺに関する検査データＤｉ２も生成する。この場合、製造ラインＺの検査データＤｉ２は、図３に示すように、計測時間ｔ（ｔ３，ｔ６，ｔ９・・・）と、各計測時間ｔに対応する工場Ｘの３分毎の室温を示す計測データＤｘ３，Ｄｘ６，Ｄｘ９・・と、各計測時間ｔに対応する機器Ｚ１の３分毎の内部温度を示す計測データＤｚ３，Ｄｚ６，Ｄｚ９・・とで構成される。したがって、作業者は、製造ラインＺの検査データＤｉ２の内容を表示部６に表示させることにより、製造ラインＺにおいて製品の各々が各計測時間ｔのときにどのような温度条件下で製造されたかを特定することができる。
【００２１】
このように、このデータ記録装置１では、計測データＤの出力周期のＮ倍の周期が指定されたときに、制御部３がその周期で収集された計測データＤを記憶部４に記憶されている収集データＤｃの中から抽出してグループ化する。このため、このデータ記録装置１によれば、収集データＤｃを構成する計測データＤの周期の任意の整数倍の周期で収集された計測データＤを取得することができる。したがって、計測データＤの収集を改めて行うことなく、所望の周期で収集された計測データＤを確実かつ容易に取得することができる。
【００２２】
また、このデータ記録装置１によれば、検査データＤｉ１，Ｄｉ２を構成する計測データＤの種類や周期などを変更する必要が生じたとしても、所望の計測データＤの収集を改めて行うことなく記憶部４に記憶されている収集データＤｃを用いて検査データＤｉ１，Ｄｉ２を生成できるため、計測モジュール２ｘ〜２ｚによる計測を続行させることができる。したがって、収集データＤｃのデータの連続性を維持することができる。さらに、収集データＤｃを構成する各計測データＤに計測時間ｔがタイムスタンプとして対応付けられているため、計測時間ｔを基にして抽出することで、過去に計測した計測データＤについて作業者が所望の期間の検査データを確実かつ容易に生成することができる。
【００２３】
また、このデータ記録装置１によれば、計測データＤの出力周期のＮ倍の周期を種類毎に指定すると共に、指定された各周期でそれぞれ収集された種類毎の各計測データＤを抽出してグループ化することにより、その種類に適した所望周期の計測データＤを確実かつ容易に抽出することができる。
【００２４】
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。本例では、３つの計測モジュール２ｘ〜２ｚを用いて計測データＤｘ〜Ｄｚを収集する構成について説明したが、１つまたは任意の複数の計測モジュールを用いて計測データを収集する構成を採用することができる。また、本例では計測データＤの出力周期を１分に設定しているが、それよりも短い０．１秒や１秒などの任意の周期に設定することもできる。この場合、計測データＤを抽出する際の周期選択の自由度を高めるためには、計測データＤの出力周期が指定周期に比べて短いほど好ましい。また、検査データＤｉを構成する計測データＤの種類および周期は任意に設定可能である。例えば、図４に示すように、２分毎に抽出した計測データＤｘ２，Ｄｘ４・・と５分毎に抽出した計測データＤｙ５，Ｄｙ１０・・とで構成される検査データＤｉ３を生成することができる。この場合、検査データＤｉ３は、同図に示すように、計測時間ｔ（ｔ２，ｔ４，ｔ５，ｔ６，ｔ８・・・）と、各計測時間ｔ（ｔ２，ｔ４，ｔ６・・・）に対応する工場Ｘの２分毎の室温を示す計測データＤｘ２，Ｄｘ４，Ｄｘ６・・と、各計測時間ｔ（ｔ５，ｔ１０・・・）に対応する機器Ｙ１の５分毎の内部温度を示す計測データＤｙ５，Ｄｙ１０・・とで構成される。さらに、計測データＤｘ〜Ｄｚのいずれか１つだけを計測データＤの出力周期のＮ倍の周期で抽出して検査データＤｉを生成することも当然可能である。
【００２５】
また、本発明におけるデータ収集部およびデータ抽出部の機能を１つの制御部３によって実現する構成について説明したが、データ収集部およびデータ抽出部を独立させた構成を採用することもできる。さらに、外部に設けられた計測モジュール２ｘ〜２ｚをデータ記録装置１に接続する構成を上記したが、計測モジュール２ｘ〜２ｚをデータ記録装置１の一部とする構成を採用することもできる。また、本例では温度を計測する計測モジュール２ｘ〜２ｚを例に挙げて説明したが、計測モジュール２ｘ〜２ｚによって計測される計測項目としては、電圧、電流および電力等の各種パラメータが含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】データ記録装置１の構成を示すブロック図である。
【図２】計測モジュール２ｘ〜２ｚの配置例を示す配置図である。
【図３】収集データＤｃおよび検査データＤｉ１，Ｄｉ２の構成を示す説明図である。
【図４】収集データＤｃおよび検査データＤｉ３の構成を示す説明図である。
【符号の説明】
【００２７】
１  データ記録装置
２ｘ〜２ｚ  計測モジュール
３  制御部
４  記憶部
５  操作部
６  表示部
Ｄｉ１〜Ｄｉ３  検査データ
Ｄｘ〜Ｄｚ  計測データ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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