(57)【要約】【課題】一時的に見かけ上の焼き付き現象を見え難くできても劣化量差が拡大するおそれがあった。【解決手段】複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置として、（ａ）自発光素子の駆動条件に関する第１の入力情報に基づいて、対応画素の劣化量を継続的に算出する劣化量算出部と、（ｂ）第１の入力情報に基づいて次回補正期間の入力値を画素毎に予測する入力値予測部と、（ｃ）予測された入力値と算出された劣化量とに基づいて、自発光素子それぞれに対する補正量を算出する補正量算出部と、（ｄ）自発光素子の駆動条件に関する第２の入力情報を、対応する補正量で補正する駆動条件補正部とをするものを提案する。【選択図】図１
2006195311.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
自発光素子の駆動条件に関する第１の入力情報に基づいて、対応画素の劣化量を継続的に算出する処理と、
前記第１の入力情報に基づいて次回補正期間の入力値を画素毎に予測する処理と、
予測された予測入力値と算出された劣化量とに基づいて、自発光素子それぞれに対する補正量を算出する処理と、
自発光素子の駆動条件に関する第２の入力情報を、対応する補正量で補正する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項２】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記次回補正期間の入力値を画素毎に予測する処理は、
各補正期間について、自発光素子の駆動条件に関する第１の入力情報の平均値を画素毎に算出する処理と、
直前回の補正期間に算出された前記平均値と、今回の補正期間に算出された前記平均値との差分値を算出する処理と、
過去に算出された差分値の傾向と最新回の補正期間で算出された平均値に基づいて、次回補正期間の予測入力値を画素毎に算出する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項３】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記第１の入力情報は、輝度を指定する階調値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項４】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記第１の入力情報は、輝度を指定する階調値から導出される劣化率である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項５】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記第１の入力情報は、自発光素子に印加される駆動電流である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項６】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記第１の入力情報は、自発光素子のアノード・カソード間に印加される駆動電圧である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項７】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記第１の入力情報は、実測値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項８】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記第１の入力情報と前記第２の入力情報は同一の情報である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項９】
複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置であって、
自発光素子の駆動条件に関する第１の入力情報に基づいて、対応画素の劣化量を継続的に算出する劣化量算出部と、
前記第１の入力情報に基づいて次回補正期間の入力値を画素毎に予測する入力値予測部と、
予測された入力値と算出された劣化量とに基づいて、自発光素子それぞれに対する補正量を算出する補正量算出部と、
自発光素子の駆動条件に関する第２の入力情報を、対応する補正量で補正する駆動条件補正部と
を有することを特徴とする自発光装置。
【請求項１０】
複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象補正装置であって、
自発光素子の駆動条件に関する第１の入力情報に基づいて、対応画素の劣化量を継続的に算出する劣化量算出部と、
前記第１の入力情報に基づいて次回補正期間の入力値を画素毎に予測する入力値予測部と、
予測された予測入力値と算出された劣化量とに基づいて、自発光素子それぞれに対する補正量を算出する補正量算出部と、
自発光素子の駆動条件に関する第２の入力情報を、対応する補正量で補正する駆動条件補正部と
を有することを特徴とする自発光装置の焼き付き現象補正装置。
【請求項１１】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に搭載したコンピュータに、
自発光素子の駆動条件に関する第１の入力情報に基づいて、対応画素の劣化量を継続的に算出する処理と、
前記第１の入力情報に基づいて次回補正期間の入力値を画素毎に予測する処理と、
予測された入力値と算出された劣化量とに基づいて、自発光素子それぞれに対する補正量を算出する処理と、
自発光素子の駆動条件に関する第２の入力情報を、対応する補正量で補正する処理と
を実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
発明の一つの形態は、自発光装置に発生する焼き付き現象の補正方法に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置を搭載した自発光装置に関する。また、発明の一つの形態は、自発光装置に搭載されたコンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主には液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
【０００３】
ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子は、その発光量や発光時間に比例して劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
【０００４】
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
また、発光色を異にする複数種類の自発光素子を搭載する表示デバイスや複数種類の色を発生できる自発光素子を搭載する表示デバイスの場合、劣化特性の進行バラツキを原因とするホワイトバランスのズレが発生することがある。このズレは、着色現象として視認される。本明細書では、これらの現象も“焼き付き”現象として扱う。
【０００５】
この“焼き付き”現象の抑制には従来、自発光素子を構成する材料の発光寿命を改善するのが一番好ましいと考えられてきた。
しかし、発光寿命がどんなに長くなったとしても、いずれ“焼き付き”現象が視認されるのを避けることはできない。また、“焼き付き”現象を発生させ易い絵柄が専ら表示される場合もあり、このような場合には、発光寿命の改善だけでは対処できない。
加えて、“焼き付き”現象に対するこのアプローチは、その改善効果が発光寿命の改善度に依存する問題がある。
【０００６】
現在、材料の発光寿命を改善する以外の方法として、例えば下記文献の技術が提案されている。
【特許文献１】特開２０００−３５６９８１号公報  この文献には、表示デバイスにデータが表示された時間を計測して、その計測値に応じて自発光素子の輝度を落とし（すなわち、自発光素子の劣化速度を遅くし）、劣化の進行度合いのバラツキを目立たなくする技術が開示されている。
【０００７】
【特許文献２】特開２０００−１３２１３９号公報  この文献には、画素毎に入力データを積算し、補正テーブルを用いて積算値を補正量に変換する方法が開示されている。また、求められた補正量により各画素の入力データを補正し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。
【０００８】
【特許文献３】特開２００１−１７５２２１号公報  この文献には、画素の中で輝度劣化が一番進んだ画素に合わせるように、その他の画素の輝度データを下げる補正方法が開示されている。また、得られた補正量で各画素の輝度データを変換し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
焼き付き現象の補正とは、画素間の劣化量差を解消することである。このためには、画素毎に劣化量を監視し、適切な時期に劣化量差が解消されるように補正量を決定する必要がある。
しかし、入力画像は、実時間で内容が変動する。このため、既存の処理方法は、補正処理が間に合わず、本来の補正効果が十分に発揮されない場合がある。すなわち、入力画像の入力を待って補正量の算出が開始されるため、補正処理を短時間のうちに完了できない場合があった。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
発明者らは、以上の技術的課題に着目し、以下の技術手法を提案する。
すなわち、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法として、
（ａ）自発光素子の駆動条件に関する第１の入力情報に基づいて、対応画素の劣化量を継続的に算出する処理と、
（ｂ）第１の入力情報に基づいて次回補正期間の入力値を画素毎に予測する処理と、
（ｃ）予測された入力値と算出された劣化量とに基づいて、自発光素子それぞれに対する補正量を算出する処理と、
（ｄ）自発光素子の駆動条件に関する第２の入力情報を、対応する補正量で補正する処理と
を有するものを提案する。
【００１１】
ここでの自発光装置は、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＣＲＴ（cathode ray tube）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、プロジェクターを含む。
また、自発光素子の駆動条件に関する入力情報には、例えば輝度を指定する階調値、階調値から導出される劣化率、自発光素子に印加される駆動電流値、自発光素子のアノード・カソード間に印加される駆動電圧値、駆動電流値や駆動電圧値の実測値、発光輝度の実測値が含まれる。
【発明の効果】
【００１２】
この発明の場合、次回補正期間の入力値を画素毎に予測する。このため、補正対象とする入力画像の入力を待つことなく補正量の算出を開始できる。
この結果、適切な時期に適切な補正量で入力値を補正することが可能となり、短時間のうちに補正処理を完了することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。
【００１４】
（Ａ）形態例１
図１に、焼き付き現象補正装置（以下、「補正装置」という。）の形態例を示す。補正処理は、同色で発光する画素について実行する。なお、発光色は、一般に赤、青、緑の三色をいう。もっとも、白色光源を使用する場合には白をいう。
図１は、補正量の算出に使用する入力データと補正対象の入力データとが同一の場合について表している。
【００１５】
補正装置１は、劣化量算出部３、劣化量保存メモリ５、入力値予測部７、補正量算出部９、劣化補正部１１で構成される。
劣化量算出部３は、入力データに基づいて、自発光素子の劣化量を個別に算出する処理デバイスである。ここでの算出手法には任意の手法を適用できる。例えば、入力値を画素毎に積算する方法、入力値の差分を積算する方法、入力値の換算値を積算する方法その他が考えられる。いずれも、周知の手法を適用できる。
【００１６】
ここでの入力データは、自発光素子の駆動条件に関するデータをいう。例えば各自発光素子（画素）に対応する階調値、階調値の累積値、階調値から導出される劣化率、駆動電流値、自発光素子のアノード・カソード間に印加される駆動電圧値、駆動電流や駆動電圧の実測値をいう。
これらのデータは、いずれも自発光素子の発光輝度や劣化量を与えるパラメータとして既存の技術においても利用されている。なお、特定のパラメータについての形態例は後述する。
【００１７】
劣化量保存メモリ５は、劣化量算出部３で算出された劣化量を保存する記憶デバイスである。記憶媒体には、半導体記憶装置、ハードディスク装置その他の記憶デバイスを使用する。
入力値予測部７は、補正期間に入力された入力データを基に次回補正期間の入力データを予測する処理デバイスである。この予測処理は、補正期間と補正期間の隙間（補正情報取得期間）を用いて実行される。ここでは、入力データを平均値として予測する方法について説明する。
【００１８】
図２に、入力値予測部７の形態例を示す。この場合、入力値予測部７は、補正期間平均算出部７Ａ、バッファメモリ７Ｂ、差分算出部７Ｃ、平均差分算出部７Ｄ、次回補正期間入力予測部７Ｅで構成する。
補正期間平均算出部７Ａは、各補正期間について、入力データの平均値を画素毎に算出する処理デバイスである。補正期間が例えば１フレームで与えられる場合であれば、入力データがそのまま出力される。これに対し、補正期間が例えば複数フレームで与えられる場合であれば、入力データの加算値を対応フレーム数で除算した値が出力される。
【００１９】
図３（Ａ）に、補正期間と補正情報取得期間との関係を示す。また図３（Ｂ）に、各補正期間に算出される平均値を示す。ある画素の補正期間ｎについての平均値はＡavg(n)と表している。
バッファメモリ７Ｂは、算出された平均値を補正情報取得期間の間保持する記憶デバイスである。記憶媒体には、半導体記憶装置、ハードディスク装置その他の記憶デバイスを使用する。
【００２０】
差分算出部７Ｃは、直前回の補正期間に算出された平均値と、今回算出された平均値との差分値を算出する処理デバイスである。この算出処理も画素毎に実行される。差分値ΔＡ(n) は、平均値の変化率に対応する。図３（Ｃ）に、差分値ΔＡ(n) の算出式を示す。差分値ΔＡ(n) は、Ａavg(n)−Ａavg(n-1)で与えられる。
図４に、各補正期間の平均値Ａavg(n)と差分値ΔＡ(n) との関係を示す。図４の縦軸は入力レベルであり、横軸は発光期間である。
【００２１】
平均差分算出部７Ｄは、過去に算出された差分値の傾向を算出する処理デバイスである。この形態例の場合、過去に算出された差分値の傾向を平均値として算出する。
図３（Ｄ）に、平均差分値ΔＡＶＧ(n)の算出式を示す。図３（Ｄ）は、差分平均値を過去３回分の差分値で算出する場合について表している。
図５に、差分平均値と過去３回分の差分値との関係を示す。図５の縦軸は差分レベル、横軸は発光期間を示す。
【００２２】
次回補正期間入力予測部７Ｅは、算出された差分平均値と最新回の補正期間で算出された平均値に基づいて、次回補正期間ｎ＋１の入力値Ａpre(n+1)を画素毎に予測する処理デバイスである。図３（Ｅ）に、予測入力値Ａpre(n+1)の算出式を示す。予測入力値Ａpre(n)は、ΔＡＶＧ(n)＋Ａavg(n)で与えられる。
図６に、補正期間ｎ＋１の予測入力値Ａpre(n+1)と、これを与える補正期間ｎの平均値Ａavg(n)と差分平均値ΔＡＶＧ(n)との関係を示す。
【００２３】
補正量算出部９は、算出された予測入力値ΔＡpre(n+1) と補正期間ｎ＋１の開始時点までに算出された劣化量に基づいて、各画素（自発光素子）それぞれに対応する補正量を算出する処理デバイスである。
例えば、次回補正期間の終了時に各画素の劣化量が揃うように各画素に対する補正量を決定する処理が実行される。この場合、予測入力値ΔＡpre(n)は、次回補正期間中に新たに発生する劣化量の算出に使用される。
もっとも、補正量算出部９で採用する補正量の演算手法は任意である。
【００２４】
劣化補正部１１は、算出された補正量で対応する入力データを補正する処理デバイスである。例えば、図７に示す回路構成で実現される。図７に示す劣化補正部１１は、補正データメモリ１１Ａ、補正演算部１１Ｂで構成される。
補正データメモリ１１Ａは、補正演算用に補正量を保持する記憶デバイスである。補正演算部１１Ｂは、補正処理を実行する処理デバイスである。具体的な補正処理の内容は、採用する補正原理や補正量の内容に応じて定まる。例えば、元データに対する補正量の加算処理又は減算処理が実行される。
【００２５】
以上のように、この形態例では、自発光型の表示パネルを構成する各画素（自発光素子）の輝度劣化の度合いを予め予測する手法を採用する。すなわち、補正期間の開始と同時に、適切な補正量で各自発光素子の駆動条件を補正することができる。よって、補正処理時間の短縮を実現できる。例えば、１〜数個の単位発光期間内に補正処理を完了できる。
以上のように、この形態例を採用すれば、自発光型の表示パネルを構成する全画素（自発光素子）の焼き付き現象を実用的な演算量とシステム規模で実現することができる。
【００２６】
（Ｂ）形態例２
続いて、入力データが各画素の輝度を与える階調値で与えられる場合の形態例を説明する。図８に、補正量の算出に階調値の累積値を使用する補正装置の形態例を示す。
この補正装置２１は、階調値累算部２３、劣化量保存メモリ２５、入力階調予測部２７、補正量算出部２９、劣化補正部３１で構成される。
なお、図８の階調値累算部２３、劣化量保存メモリ２５、入力階調予測部２７、補正量算出部２９、劣化補正部３１はそれぞれ、図１の劣化量算出部３、劣化量保存メモリ５、入力値予測部７、補正量算出部９、劣化補正部１１に対応する。
【００２７】
従って、各部の基本的な処理内容は形態例１と同様である。
この形態例の場合、劣化量は、階調値の累積加算値で与えられる。このため、この形態例では、階調値の累積加算処理用に階調値累算部２３を配置する。
また、この形態例では、次回補正期間に入力された階調値の予測用に、入力階調予測部２７を配置する。
この場合、入力階調予測部２７は、各補正期間に入力された階調値の平均値を画素毎に算出する。次に、入力階調予測部２７は、直前回の補正期間に算出された平均階調値と今回の補正期間で算出された平均階調値との差分値を算出する。
【００２８】
そして、複数回分の差分値が算出されると、入力階調予測部２７は、これら差分値の傾向から次回補正期間の差分値を予測する。この後、入力階調予測部２７は、予測された差分値を今回の補正期間で入力された平均階調値に加算し、次回補正期間の入力階調値（平均階調値）とする。
補正量算出部２９は、各画素に対応する劣化量（階調値の累積値）に予測された入力階調値（平均階調値）を加算し、各自発光素子（画素）に対応する劣化量を算出する。
【００２９】
そして、補正量算出部２９は、各自発光素子（画素）の劣化量差を解消するのに必要な階調値差（補正量）を算出する。
ここで、補正量算出部２９は、補正期間長で階調値差を除算することにより、単位発光期間当たりの補正量を決定する。例えば、補正期間を単位発光期間の３回分とするのであれば、算出された階調値差を３で除算し、単位発光期間当たりの補正量とする。
劣化補正部３１は、補正期間について、各画素に対応する階調値を補正量で補正する処理を実行する。この形態例の場合、補正処理は、階調値に対する補正量の加算又は減算により実現する。
【００３０】
（Ｃ）形態例３
次に、入力データが階調値として与えられる場合に、階調値から導出される劣化率を用いて補正量を算出する形態例を説明する。
ここで、劣化率とは、発光輝度の低下を正確に反映できるパラメータとして、発明者らが推奨するパラメータである。現在、発光特性の劣化と階調値との間には必ずしも比例関係が成立しないことが報告されている。そこで、発明者らは、劣化率を用いて補正量を算出する手法を提案する。以下、この原理を説明する。
【００３１】
（ａ）補正条件の導出
まず、劣化率を用いる場合の補正条件を説明する。図９に、焼き付き現象の発生から解消されるまでを示す。なお、図９では、初期状態において、画素１と画素２が同じ初期状態を有するものとする。因みに、画面平均値は、補正対象画素と同色で発光する画素について算出されている。ここでの発光色は、一般に赤、青、緑の三色をいう。もっとも、白色光源を使用する場合には白をいう。
【００３２】
図９は、画素１と画素２が、それぞれ以下の条件で発光された場合の劣化量の変化を表している。
＜発光期間ｔ１＞
・画素１：固定の階調値ａで発光
・画素２：固定の階調値ｂ（≠ａ）で発光
＜発光期間ｔ２＞
・画素１：固定の階調値ｃで発光（補正動作）
・画素２：固定の階調値ｄ（≠ｃ）で発光
【００３３】
図９の場合、発光期間ｔ１が経過した時点で、画素１の劣化量Ｒ（α１）と画素２の劣化量Ｒ（α２）との間に劣化量差Ｙが認められる。すなわち、焼き付き現象の発生が認められる。
ここで、発光期間ｔ１に発生する各画素の劣化量は、画素の発光輝度（例えば、有機ＥＬデバイスに流れる電流量）やその時の発熱温度に影響される劣化率（単位時間当たりの劣化比率）に、発光期間ｔ１を乗算した値として表現される。
従って、画素１の劣化量Ｒ（α１）は、α１×ｔ１で表される。ここで、α１は、発光期間ｔ１の発光輝度を与える階調値ａから導出される劣化率である。
同様に、画素２の劣化量Ｒ（α２）は、α２×ｔ１で表される。ここで、α２は、発光期間ｔ１の発光輝度を与える階調値ｂから導出される劣化率である。
この結果、発光期間ｔ１に画素１と画素２との間に発生する劣化量差Ｙは、Ｒ（α１）−Ｒ（α２）で表すことができる。すなわち、Ｙ＝Ｒ（α１）−Ｒ（α２）＝（α１−α２）×ｔ１と表すことができる。なお、α１−α２は、焼き付き率に相当する。
【００３４】
次に、発光期間ｔ２について説明する。なお、発光期間ｔ２に発生する画素１の劣化量をＲ（β１）、画素２の劣化量をＲ（β２）とする。また、β１は、画素１について発光期間ｔ２の発光輝度を与える階調値ｃから導出される劣化率とする。また、β２は、画素２について発光期間ｔ２の発光輝度を与える階調値ｄから導出される劣化率とする。
この場合、発光期間ｔ２に新たに発生する画素１の劣化量Ｒ（β１）は、Ｒ（β１）＝β１×ｔ２で表される。
また、発光期間ｔ２に新たに発生する画素２の劣化量Ｒ（β２）は、Ｒ（β２）＝β２×ｔ２で表される。
【００３５】
従って、発光期間ｔ２に画素１と画素２との間に発生する劣化量差Ｈは、Ｒ（β２）−Ｒ（β１）で表される。すなわち、Ｈ＝Ｒ（β２）−Ｒ（β１）＝（β２−β１）×ｔ２で表すことができる。なお、β２−β１は、補正率に相当する。
ここで、焼付き量Ｙ＝補正量Ｈを満たすならば、補正対象画素と画面平均値との間の劣化量差は、完全にゼロに戻すことができる。すなわち、発光期間ｔ２の経過後に、画素１は画素２と同じ輝度で発光する状態を作り出すことができる。
この形態例の場合、発光期間ｔ２に劣化量差を解消するのに必要な補正対象画素の劣化率β１は、Ｙ＝Ｈという条件式より、β１＝β２−（α１−α２）×ｔ１／ｔ２という式で算出することができる。
なお、自発光デバイスは階調値に基づいて駆動される。従って、劣化量差を解消する条件を満たす劣化率β１及びβ２を階調値に戻して自発光デバイスに与えれば良い。
【００３６】
（ｂ）階調値−劣化率変換テーブル
前述したように、補正処理では、階調値から劣化率を導出する処理及び劣化率から階調値を導出する処理が必要となる。
ここでは、この変換処理を実現する方法の一例として、変換テーブルを用いる場合を提案する。
図１０に、変換テーブルの一例を示す。テーブル情報は、事前の実験で取得された階調値と劣化率の対応関係に基づいて設定する。
【００３７】
発明者らは、テーブル情報を決める実験例として以下の手法を一例として提案する。
例えば、ある固定の階調値で自発光デバイスを一定期間点灯し、その際に実測される輝度が最大階調値（８ビットの場合は２５５）の初期輝度に対してどれだけ低下しているかを実測する作業（すなわち、輝度低下率）を全ての階調値について繰り返す。
なお、階調数が多い場合には、適当な階調値をサンプリングし、その結果から得られる関係式を利用して算出するという方法も考えられる。
【００３８】
図１０は、この階調値と劣化率との対応関係を表している。例えば、階調値“ｎ”に対応する劣化率を“Ｘｎ
”として表している。なお、図１０は８ビットの場合であるので、ｎは０〜２５５までの値として与えられる。
なお、この変換テーブルは、階調値から劣化率を読み出すことも、劣化率から階調値を読み出すことも可能である。
【００３９】
（ｃ）補正装置例
図１１に、補正量の算出に階調値から導出される劣化率を使用する補正装置の形態例を示す。
この補正装置４１は、劣化率累算部４３、劣化量保存メモリ４５、劣化率予測部４７、補正量算出部４９、劣化補正部５１、階調値・劣化率変換部５３、変換テーブル５５、劣化率・階調値変換部５７で構成される。
図１１の劣化率累算部４３、劣化量保存メモリ４５、劣化率予測部４７、補正量算出部４９、劣化補正部５１もそれぞれ、図１の劣化量算出部３、劣化量保存メモリ５、入力値予測部７、補正量算出部９、劣化補正部１１に対応する。
【００４０】
このため、この形態例の場合も各部の基本的な処理内容は形態例１と同様である。ただし、各部での演算対象は劣化率を用いて算出された劣化量である点で形態例１と異なる。
この形態例の場合も、入力データは階調値で与えられる。
階調値・劣化率変換部５３は、変換テーブル５５を用い、入力された階調値を劣化率に変換する処理を実行する。ここでの変換テーブル５５は、図１０に示す階調値−劣化率変換テーブルに対応する。
変換後の劣化率は、劣化率累算部４３と劣化率予測部４７に与えられる。
【００４１】
このうち、劣化率累算部４３は、与えられた劣化率に発光期間ｔを乗算し、各画素に対応する劣化量を算出する。なお、劣化率が単位発光期間である１フレーム単位で与えられる場合、劣化率累算部４３は、与えられた劣化率を累積加算して各画素に対応する劣化量を算出する。
他方、劣化率予測部４７は、各補正期間に入力された劣化率の平均値を画素毎に算出する。次に、劣化率予測部４７は、直前回の補正期間に算出された平均劣化率と今回の補正期間で算出された平均劣化率との差分値を算出する。
【００４２】
そして、複数回分の差分値が算出されると、劣化率予測部４７は、これら差分値の傾向から次回補正期間の差分値を予測する。この後、劣化率予測部４７は、予測された差分値を今回の補正期間に入力された平均劣化率に加算し、次回補正期間に入力される劣化率（平均劣化率）とする。
また、補正量算出部４９は、予測された劣化率（平均劣化率）に基づいて次回補正期間の劣化量を予測する。その後、補正量算出部４９は、予測された劣化量をそれぞれ対応する劣化量に加算し、各自発光素子（画素）の劣化量を算出する。
【００４３】
図１２に、この形態例における補正動作を示す。ここでは、画素１と画素２のそれぞれについて、次回補正期間の予測劣化量を破線で示す。
図１２において、各予測劣化量に対応する劣化率をβ１’及びβ２’で示す。なお、補正期間ｔ２の開始時点の劣化量差は、劣化量保存メモリ４５から与えられる画素間の劣化量差に対応する。
【００４４】
図１２に示すように、補正期間の間に劣化量差Δが発生することが予測される。そこで、補正量算出部４９は、この劣化量差Δを補正期間ｔ２で除算し、劣化量差Δを解消するのに必要な劣化率（補正量）を算出する。
劣化率・階調値変換部５７は、劣化量差を解消する劣化率を補正量として入力し、変換テーブル３５を用いてそれぞれ対応する補正量（階調値）に変換する。
劣化補正部５１は、次回補正期間について、各画素に対応する入力階調値を補正量で補正する処理を実行する。この形態例の場合、補正処理は、階調値に対する補正量の加算又は減算により実現する。
この補正処理により、同色画素間の劣化量差は、次回補正期間の間に確実に解消される。
【００４５】
（Ｄ）自発光装置への搭載例
図１３に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置６１は、筐体６３に焼き付き現象補正装置６５と表示デバイス６７を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置６５は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように階調値の補正動作を実行する。例えば、形態例１〜形態例３に示す構成の回路デバイスが用いられる。
【００４６】
また、表示デバイス６７は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、ＣＲＴが用いられる。
図１３の場合、自発光装置６１に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置６５が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。
【００４７】
（Ｅ）他の形態例
（ａ）前述の形態例２は、階調値を入力データとする場合について説明した。しかし、駆動電流値や駆動電圧値を入力データとし、それぞれについて算出した補正量により、各自発光素子に印加される駆動電流値や駆動電圧値を補正しても良い。
（ｂ）前述の形態例２は、補正量の導出に使用するデータと、補正対象とするデータとが一致する場合について説明した。しかし、補正量の導出に使用するデータと、補正対象とするデータとは必ずしも一致する必要はない。
【００４８】
例えば、各画素に対応する階調値を用いて補正量を導出し、駆動電流値や駆動電圧値を補正しても良い。
また例えば、階調値の累積値を用いて補正量を導出し、個々の階調値を補正しても良い。
また例えば、実測値を用いて補正量を導出し、自発光素子の駆動条件に関するデータを補正しても良い。
【００４９】
（ｃ）前述の形態例３は、図１０に示すように変換テーブル、すなわち階調値と劣化率との対応関係が１つの変換テーブルを用いる場合について説明した。しかし、経年変化を加味する場合には、時間情報を加味して複数の変換テーブルを用意すれば良い。
（ｄ）前述の形態例では、使用状態のまま焼き付き現象を補正する場合について説明した。すなわち、画像を表示デバイス上に表示したまま焼き付き現象を補正する場合について説明した。しかし、焼き付き現象の補正は、非使用状態において実行する場合にも適用できる。
（ｅ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】焼き付き現象補正装置の形態例を示す図である。
【図２】入力値予測部の形態例を示す図である。
【図３】各部で実行される演算式を示す図である。
【図４】差分算出部で実行される算出動作の概念図である。
【図５】平均差分算出部で実行される算出動作の概念図である。
【図６】次回補正期間入力算出部で実行される算出動作の概念図である。
【図７】劣化補正部の形態例を示す図である。
【図８】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図９】焼き付き現象の補正原理を示す図である。
【図１０】階調値と劣化率との対応関係を保持するテーブル例を示す図である。
【図１１】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図１２】劣化率を用いた補正動作例を示す図である。
【図１３】自発光装置の構成例を示す図である。
【符号の説明】
【００５１】
１、２１、４１    焼き付き現象補正装置
３                劣化量算出部
５                劣化量保存メモリ
７                入力値予測部
７Ａ              補正期間平均算出部
７Ｂ              バッファメモリ
７Ｃ              差分算出部
７Ｄ              平均差分算出部
７Ｅ              次回補正期間入力予測部
２３              階調値累算部
２５、４５        劣化量保存メモリ
２７              入力階調予測部
９、２９、４９    補正量算出部
１１、３１、５１  劣化補正部
４３              劣化率累算部
４７              劣化率予測部
５３              階調値・劣化率変換部
５５              変換テーブル
５７              劣化率・階調値変換部
【図１】
2006195311.tif 000003
【図２】
2006195311.tif 000004
【図３】
2006195311.tif 000005
【図４】
2006195311.tif 000006
【図５】
2006195311.tif 000007
【図６】
2006195311.tif 000008
【図７】
2006195311.tif 000009
【図８】
2006195311.tif 000010
【図９】
2006195311.tif 000011
【図１０】
2006195311.tif 000012
【図１１】
2006195311.tif 000013
【図１２】
2006195311.tif 000014
【図１３】
2006195311.tif 000015