(57)【要約】【課題】  液晶パネルの画面上の不具合個所のアドレスを簡易的に取得可能とする。【解決手段】  アナログデータ信号が入力さるビデオプロセッサ１１と、パネルプロセッサ１４と、ＯＳＤ回路１５と、ＣＰＵ１６と、液晶パネル２１のソースドライバ２２及びゲートドライバ２３を制御するタイミングコントローラ１７とを含む１チップＩＣ１０であって、液晶パネル２１の画面上の輝点、滅点、輝線または滅線の位置を検査するために、横Ｘドット及び縦Ｙドットの1つのフォントデータからなる1つの検査パターンデータが格納されたメモリ部１８を備えており、検査工程時、ＣＰＵ１６は、検査パターンデータをメモリ部１８から取得し、ＯＳＤ回路１５により検査パターンを作成して液晶パネル２１の画面上の任意の位置に表示するとともに、その検査パターンの表示位置の原点のアドレス値を併せて表示する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
アナログデータ信号が入力さるビデオプロセッサと、パネルプロセッサと、ＯＳＤ回路と、ＣＰＵと、液晶パネルの液晶駆動部を制御するタイミングコントローラとが１チップＩＣ化された液晶テレビにおいて、
前記液晶パネルの画面上の輝点、滅点、輝線または滅線の位置を検査するために、縦２０ドット及び横１６ドットの１つのフォントデータであって、縦方向及び横方向の５ドットごとのラインの表示色が反転表示される１つの検査パターンデータが格納されたＥＥＰＲＯＭまたはフラッシュメモリからなるメモリ部を備えており、
検査工程時、前記ＣＰＵは、前記検査パターンデータを前記メモリ部から取得し、前記ＯＳＤ回路により検査パターンを作成して前記液晶パネルの画面上の任意の位置に表示するとともに、その検査パターンの表示位置の原点のアドレス値を併せて表示することを特徴とする液晶テレビ。
【請求項２】
アナログデータ信号が入力さるビデオプロセッサと、パネルプロセッサと、ＯＳＤ回路と、ＣＰＵと、液晶パネルの液晶駆動部を制御するタイミングコントローラとが１チップＩＣ化された液晶テレビにおいて、
前記液晶パネルの画面上の不具合個所の位置を検査するために、横Ｘドット及び縦Ｙドットの1つのフォントデータからなる1つの検査パターンデータが格納されたメモリ部を備えており、
検査工程時、前記ＣＰＵは、前記検査パターンデータを前記メモリ部から取得し、前記ＯＳＤ回路により検査パターンを作成して前記液晶パネルの画面上の任意の位置に表示するとともに、その検査パターンの表示位置の原点のアドレス値を併せて表示することを特徴とする液晶テレビ。
【請求項３】
前記不具合個所が、前記液晶パネルの画面上の輝点、滅点、輝線または滅線であることを特徴とする請求項２に記載の液晶テレビ。
【請求項４】
前記液晶パネルの画面上に表示される検査パターンは、縦方向及び横方向の所定ラインごとに表示色が反転表示されていることを特徴とする請求項２または請求項３に記載の液晶テレビ。
【請求項５】
前記検査パターンは、縦２０ドット及び横１６ドットの１つのフォントデータで形成されており、前記所定ラインが、縦方向及び横方向とも５ドットごとに反転表示されていることを特徴とする請求項４に記載の液晶テレビ。
【請求項６】
前記メモリ部が外付けのＥＥＰＲＯＭまたはフラッシュメモリであることを特徴とする請求項２ないし請求項４のいずれかに記載の液晶テレビ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は液晶テレビに係り、より詳細には、少なくともアナログデータ信号が入力さるビデオプロセッサと、パネルプロセッサと、ＯＳＤ回路と、ＣＰＵと、液晶パネルの液晶駆動部を制御するタイミングコントローラとが１チップＩＣ化された液晶テレビに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、液晶パネルの不具合個所である輝点、滅点、輝線、滅線の位置を特定するための手法として種々の手法が採用されている。
【０００３】
例えば、最も簡単な手法としては、画面端から上記不具合個所までの寸法を画面上で測定し、その測定値と予め用意されているアドレス換算表とを照らし合わせて、不具合個所のアドレス値を特定する手法がある。この手法では、不具合個所を特定するための特別の工夫が不要であるため、コスト的には有利であるが、寸法測定誤差等があるため、必ずしも正確なアドレス値が得られるとは限らないといった問題があった。
【０００４】
一方、図５に示すように、縦１ラインと横１ラインとがクロス状に交差するとともに、その交差部の座標値を表示するクロスカーソル画面を液晶パネルの画面上に表示する手法が用いられている。すなわち、上下左右の操作キーを適宜操作することによって、クロスカーソルの縦ライン及び／または横ラインを１画素（１ドット）ずつ移動させて、その交差部（クロスポイント）を不具合個所に重ね合わせることで、その不具合個所（クロスポイント）のアドレス値を画面から読み取るものである。
【０００５】
このようなクロスカーソル画面を表示する機能は、市販されているパターンジェネレータには既に組み込まれている機能であるが、非常に高価であり、低コスト化には不向きである。
【０００６】
一方、液晶テレビ等では、種々の表示を行うためのＯＳＤ（オンスクリーンディスプレイ）回路が搭載されている。このＯＳＤ回路を用いれば、例えば、コントラスト、明るさ、垂直／水平方向の大きさ、幾何学的形状等のパラメータを調整して表示品質を向上させるための情報を提供することができる。例えば、下記特許文献１には、このような情報を提供するためのＯＳＤ回路の構成例が開示されている。
【０００７】
また、液晶パネルの欠陥等を検査する場合に、コントロール回路内のレジスタの設定値を変更することにより、表示する検査パターンを変更するようにした映像表示装置も提案されている（例えば、特許文献２参照）。具体的には、７個のレジスタＡＡＡ〜ＧＧＧを用いて、例えばレジスタＡＡＡの設定値を「０００」から「０５５」に、レジスタＤＤＤの設定値を「００５」から「０４２」に、レジスタＦＦＦの設定値を「０３３」から「０６３」に各々変更したとき、標準パターンから任意の検査パターンに表示を変更するようになっている。この場合、このレジスタの設定値の変更を、マイコンのメモリに予め記憶した制御信号により行うことによって、レジスタを個別に設定変更する手間を省いている。また、検査パターンは、コントロール回路の有するパターンジェネレータ機能を利用して作成されるようになっている。
【特許文献１】特開２００２−１４００６１号公報
【特許文献２】特開平１１−２７２２２２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、上記特許文献２では、複数の検査パターンを切り替えて表示するために、複数個のレジスタを用意するとともに、コントロール回路に検査パターンを作成するためのパターンジェネレータ機能を追加する必要があり、価格的にも高価になり、回路構成上も複雑になるといった問題があった。
【０００９】
ところで、最近の電子機器では、複数の機能ブロックを１チップＩＣ化することによって、部品の小型化を図るとともに、製造コストの低減化を図っている。そのため、液晶テレビにおいても、アナログデータ信号が入力さるビデオプロセッサと、パネルプロセッサと、ＯＳＤ回路と、ＣＰＵと、液晶パネルの液晶駆動部を制御するタイミングコントローラとを１チップＩＣ化することで、小型化と低価格化を図っている。
【００１０】
一方、このように、アナログデータ信号が入力さるビデオプロセッサから液晶パネルの駆動部を制御するタイミングコントローラまでの複数の機能ブロックを１チップＩＣ化すると、デジタルデータ信号をタイミングコントローラに直接入力することができない。
【００１１】
そのため、例えば液晶テレビの製造工程の最後の工程で行われる検査工程時や、ユーザからの修理依頼による修理工程時において、液晶パネルの不具合個所（輝点、滅点、輝線、滅線等）を検査するための検査パターンを表示する場合、従来であれば、専用の検査装置を外部接続し、ＯＳＤ回路にてデジタル的に作成した上記クロスカーソル画面を液晶パネルに表示させて不具合個所を特定することが可能であったが、このようなクロスカーソル画面を用いての調整が不可能になるといった問題があった。
【００１２】
この場合、上記のように１チップＩＣ化した場合には、ビデオプロセッサに入力されるアナログデータ信号を用いて上記クロスカーソル画面を内部のＯＳＤ回路でデジタル的に作成することも考えられるが、アナログデータ信号から作成する場合、波形がなまってしまうため、縦方向及び横方向に１ラインだけ白黒反転させるようなシャープなスクカーソル画面（クロスポイントパターン）を作成することができない。
【００１３】
従って、このようなアナログデータ入力信号を用いずに、１チップＩＣ内部で検査パターンを作成し表示させる必要が生じる。この場合、縦ラインと横ラインを１画素ずつ移動させるような上記のクロスカーソル画面を作成しようとすると、液晶パネルの画素（ドット）の数だけクロスポイントパターンを作成して内部のメモリに保存しておく必要があるため、メモリ容量が大きくなってしまうといった問題が発生する。
【００１４】
本発明はかかる問題点を解決すべく創案されたもので、その目的は、アナログデータ信号が入力さるビデオプロセッサと、パネルプロセッサと、ＯＳＤ回路と、ＣＰＵと、液晶パネルの液晶駆動部を制御するタイミングコントローラとが１チップＩＣ化された液晶テレビにおいて、当該液晶テレビの検査工程時や修理工程時に、簡単な構成の検査パターンを液晶パネルの画面に表示することで、液晶パネルの不具合個所（輝点、滅点、輝線、滅線等）のアドレス値を低コストで簡単に特定することのできる液晶テレビを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記課題を解決するため、本発明の液晶テレビは、アナログデータ信号が入力さるビデオプロセッサと、パネルプロセッサと、ＯＳＤ回路と、ＣＰＵと、液晶パネルの液晶駆動部を制御するタイミングコントローラとが１チップＩＣ化された液晶テレビにおいて、前記液晶パネルの画面上の不具合個所の位置を検査するために、横Ｘドット及び縦Ｙドットの1つのフォント（キャラクタ）データからなる1つの検査パターンデータが格納されたメモリ部を備えており、検査工程時、前記ＣＰＵは、前記検査パターンデータを前記メモリ部から取得し、前記ＯＳＤ回路により検査パターンを作成して前記液晶パネルの画面上の任意の位置に表示するとともに、その検査パターンの表示位置の原点のアドレス値を併せて表示することを特徴とする。
【００１６】
この場合、前記不具合個所は、前記液晶パネルの画面上の輝点、滅点、輝線または滅線であり、前記液晶パネルの画面上に表示される検査パターンは、縦方向及び横方向の所定ラインごとに表示色が反転表示されるようになっている。具体的には、前記検査パターンは、縦２０ドット及び横１６ドットの１つのフォントデータで形成されており、前記所定ラインが、縦方向及び横方向とも５ドットごと（すなわち、５ラインごと）に反転表示されるようになっている。
【００１７】
このように、本発明では、検査パターンを１フォント（１キャラクタ）に対応した縦２０ドット、横１６ドットの全３２０ドットで構成し、かつ、縦方向及び横方向の５ラインごとに反転表示して、例えば全体が白色の検査パターン上に５ラインごとに黒色のラインを表示（または、全体が黒色の検査パターン上に５ラインごとに白色のラインを表示）している。
【００１８】
そして、液晶パネルの不具合個所の特定時には、この検査パターンを、不具合個所を含むように液晶パネルの画面上に表示する。このとき、その検査パターンの例えば左上隅の原点のアドレス値（Ｘ値，Ｙ値）が画面上に表示されているので、検査担当者は、検査パターン内の不具合個所（例えば、滅点）の位置を上記原点から横方向（Ｘ方向）及び縦方向（Ｙ方向）に数えることで、その不具合個所のアドレス値を簡単に求めることができる。この場合、検査パターン内は、５ラインごとに表示色が反転されている。つまり、検査パターンの全体が縦５ドット横５ドットの正方形に区切られて表示されているので、この反転色のラインが不具合個所を数えるときの区切り（目安）となり、原点から不具合個所までのドット数を容易に数えることができる。
【００１９】
なお、前記メモリ部としては、外付けのＥＥＰＲＯＭまたはフラッシュメモリを使用することが可能であるが、このメモリ部も当然１チップＩＣの内部に設けてもよい。
【発明の効果】
【００２０】
本発明の液晶テレビによれば、アナログデータ信号が入力さるビデオプロセッサと、パネルプロセッサと、ＯＳＤ回路と、ＣＰＵと、液晶パネルの液晶駆動部を制御するタイミングコントローラとを１チップＩＣ化するとともに、横Ｘドット及び縦Ｙドットの1つのフォント（キャラクタ）データからなる1つの検査パターンデータを格納したメモリ部を備えている。そして、液晶パネルの不具合個所の特定時には、この検査パターンを、不具合個所を含むように液晶パネルの画面上に表示し、その検査パターンの例えば左上隅の原点のアドレス値（Ｘ値，Ｙ値）から検査パターン内の不具合個所までの位置のドット数を横方向（Ｘ方向）及び縦方向（Ｙ方向）に数えることで、その不具合個所のアドレス値を簡単に求めることができる。この場合、検査パターンの全体が縦５ドット横５ドットの正方形に区切られて表示されているので、この区切りのラインが不具合個所を数えるときの目安となり、原点から不具合個所までのドット数を容易かつ確実に数えることができる。さらに、格納しておく検査パターンは、１つのフォント（キャラクタ）データからなる１つの検査パターンのみで良いので、コスト的にも安価に作製することができ、ひいてはこれを搭載した液晶テレビをユーザに安価に提供することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
【００２２】
図１は、本実施形態に係わる液晶テレビの主要部の構成を示す機能ブロック図である。
【００２３】
この液晶テレビは、大別すると、１チップＩＣ１０と、液晶パネル（ＬＣＤパネル）モジュール２０とからなる。
【００２４】
液晶パネルモジュール２０は、データが供給される複数のソースライン及びスキャン信号が供給される複数のゲートラインのそれぞれの交差部に液晶セルを駆動するためのＴＦＴが形成された液晶パネル２１と、ソースラインにデータを供給するためのソースドライバ２２と、ゲートラインにスキャン信号（パルス）を供給するためのゲートドライバ２３とからなる。
【００２５】
また、１チップＩＣ１０は、アナログデータ信号が入力さるビデオプロセッサ１１と、入力されたインタレース方式のビデオ信号をプログレッシブ方式に変換するＩＰ変換回路（走査線変換機能部）１２と、プログレッシブ映像をパネル解像度に適合させるためのスケーラー１３と、パネルプロセッサ１４と、ＯＳＤ回路１５と、ＣＰＵ１６と、前記ソースドライバ２２及びゲートドライバ２３にそれぞれ制御信号を供給するタイミングコントローラ１７とからなる。
【００２６】
また、この１チップＩＣ１０には、外付けのメモリ部１８として本実施形態ではＥＥＰＲＯＭが設けられており、このＥＥＰＲＯＭ１８には、液晶パネル２１の不具合個所である輝点、滅点、輝線、滅線の位置（アドレス値）を特定するための簡易的な１つの検査パターンデータが格納されている。
【００２７】
図２は、ＥＥＰＲＯＭ１８に格納されている検査パターンデータに従ってＯＳＤ回路１５にてソフトウェア的に作成される検査パターン３０の一例を示している。
【００２８】
本実施形態では、横１６ドット、縦２０ドットの単位（１６×２０ドット）で１キャラクタ（フォント）が形成されているものとし、検査パターン３０は、この１キャラクタに対応させて、横１６ドット、縦２０ドットで形成されている。
【００２９】
また、この検査パターン３０は、縦方向及び横方向の５ラインごとに表示色が反転表示されるようになっている。図２では、検査パターン３０の全体を白色で表示し、縦方向及び横方向の５ライン目ごとに１ライン分を黒色で表示した、全体として５ドット区切りの格子状パターン形状となっている。
【００３０】
図３は、この検査パターン３０を液晶パネル２１の画面に表示した状態の一例を示している。この表示状態では、液晶パネル２１の画面全体が黒色で表示されており、検査パターン３０は、図２に示す白色部分と黒色部分とを反転させて表示（すなわち、パターンの全体を黒色表示とし、各ラインを白色表示として表示）している。このとき、その検査パターン３０の例えば左上隅の原点Ｐのアドレス値（Ｘ値，Ｙ値）が画面上に表示されているようになっている。図３に示す例では、原点のアドレスが（３２０，２４０）となっている。本実施形態では、この検査パターン３０を、図５に示す従来のクロスカーソル画面（クロスポイントパターン）の代用として使用する。
【００３１】
すなわち、製造工程の最終検査工程時や修理工程時において、液晶パネル２１の不具合個所を特定する場合には、この検査パターン３０を、不具合個所を含むように液晶パネル２１の画面上に表示する。このとき、その検査パターンの左上隅の原点Ｐのアドレス値（Ｘ値，Ｙ値）が画面上に表示されているので、検査担当者は、検査パターン３０内の不具合個所（例えば、滅点）の位置を上記原点Ｐから横方向（Ｘ方向）及び縦方向（Ｙ方向）に数えることで、その不具合個所のアドレス値を簡単に求めることができる。この場合、検査パターン３０内は、５ライン目ごとに表示色が反転されている（つまり、検査パターン３０の全体が５ドット区切りの格子状パターンに区切られて表示されているので、この反転色のラインが不具合個所を数えるときの目安となり、原点Ｐから不具合個所までのドット数を容易に数えることができる。
【００３２】
図４は、検査パターン３０内の輝点のアドレス値を特定する場合を例示している。
【００３３】
この例では、液晶パネル２１の画面上に表示された検査パターン３０の原点Ｐが（１７７，３４１）となっている。因みに、図４では、検査パターン３０を右に１個分ずらせたときの次の検査パターンの原点のアドレス値（１９３，３４１）も表示されているが、この表示は必ずしも必要なものではない。
【００３４】
ここで、図４の符号４１，４２で示す位置が輝点であるとすると、輝点４１は、検査パターン３０の原点（１７７，３４１）から右（Ｘ方向）に１ドット、下（Ｙ方向）に１ドットであるから、輝点４１のアドレスは、（１７７＋１，３４１＋１）＝（１７８，３４２）となる。また、輝点４２は、検査パターン３０の原点（１７７，３４１）から右（Ｘ方向）に１２ドット、下（Ｙ方向）に７ドットであるから、輝点４２のアドレスは、（１７７＋１２，３４１＋７）＝（１８９，３４８）となる。
【００３５】
なお、図４に示す例では、検査パターン３０の全体を白色表示とし、各ラインを黒色表示としている。この場合に、例えば黒色表示のライン上に滅点があった場合には、これを確認することができない。そこで、この場合には、検査パターン３０の表示色を白黒反転させ、パターン全体を黒色表示とし、各ラインを白色表示とすればよい。これにより、滅点が、白色のライン上で黒いドットとして表示されるので、滅点の位置を数えることが可能となる。
【００３６】
なお、上記実施形態では、検査パターン３０を、横１６ドット、縦２０ドットで構成しているが、必ずしもこのドット数に限定されるものではない。例えば、横の区切りを５ドットで割り切れる１５ドットとしてもよい。また、数える手間は増えるものの、例えばパターン全体を横３２ドット、縦４０ドット等で構成してもよい。
【００３７】
また、上記実施形態では、外付けのメモリ部１８としてＥＥＰＲＯＭを用いているが、ＥＥＰＲＯＭに限定されるものではなく、例えばフラッシュメモリ等も使用可能である。また、このメモリ部１８は、必ずしも外付けである必要はなく、図１に破線で示すように、１チップＩＣ１０に含まれていてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明液晶テレビの主要部の構成を示す機能ブロック図である。
【図２】検査パターンの一構成例を示す説明図である。
【図３】検査パターンを液晶パネルの画面上に表示した例を示す説明図である。
【図４】検査パターン内の不具合個所のアドレスを特定する例を示す説明図である。
【図５】従来の検査パターンの一例であるクロスカーソル画面の例を示す説明図である。
【符号の説明】
【００３９】
１０  １チップＩＣ
１１  ビデオプロセッサ
１２  ＩＰ変換回路（走査線変換機能部）
１３  スケーラー
１４  パネルプロセッサ
１５  ＯＳＤ回路
１６  ＣＰＵ
１７  タイミングコントローラ
１８  メモリ部（ＥＥＰＲＯＭ）
２０  液晶パネルモジュール
２１  液晶パネル
２２  ソースドライバ
２３  ゲートドライバ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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