(57)【要約】【課題】  ＬＳＩをデバッグするときに、内部回路の信号を観察可能にし、かつ新たにＬＳＩに対し、外部端子を設ける必要のないデバッグ回路の提供。【解決手段】  ＬＳＩ１０１において、ＬＳＩ内部のバスの状態を監視するためのバスモニタ１０３と、情報を記憶するためのＲＦＩＤタグ１０５と、前記バスモニタ１０３がモニタリングした内部バスの状態を前記ＲＦＩＤタグ１０５に書き込むことが可能なＲＦＩＤライト部１０４と、を有することを特徴とするデバッグ回路。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＬＳＩにおいて、ＬＳＩ内部のバスの状態を監視するためのバスモニタと、情報を記憶するためのＲＦＩＤタグと、前記バスモニタがモニタリングした内部バスの状態を前記ＲＦＩＤタグに書き込むことが可能なＲＦＩＤライト部と、を有することを特徴とするデバッグ回路。
【請求項２】
前記デバック回路と、前記ＲＦＩＤタグに記憶された情報を読み込むことが出来るＲＦＩＤリード手段と、を有することを特徴とするＬＳＩデバッグシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はデバッグ回路、特にＬＳＩ（大規模集積回路）の論理回路の動作不具合時のＬＳＩの論理回路のタイミングをデバッグするためのＬＳＩのタイミングデバッグ回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＬＳＩは、一般に極めて多数の回路が高密度に集積されている為に、設計試作段階で各回路が正常に動作するのみならず、回路相互間の動作も保証する必要がある。特に、これら回路への信号路には不可避的に伝播遅遅等を伴うので、信号のタイミングのばらつきにより動作異常（不具合）を生じる場合がある。動作不具合が生じた場合には、デバッグを行い、その原因を究明して、解決する必要がある。
【０００３】
従来のＬＳＩの動作不具合のデバッグ技法としては、プログラムの手順とＬＳＩの外部端子をロジックアナライザ等の測定器による波形観測から得られる、限られた情報に基づき、内部状態を推定する手法が行われていた。またＬＳＩの内部バス信号をＬＳＩの外部端子に出力し、内部のタイミングを観察する手法も提案されている（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２０００−２５９４４１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述した従来技術にあっては、いくつかの問題がある。
【０００５】
先ず、前者の場合には、ＬＳＩの内部状態を少ない情報に基づいて推定／仮定しなければならない為に、ＬＳＩの動作不具合の原因究明に多くの時間がかかる。
【０００６】
また、後者の場合、内部バスの信号を外部端子に出力する必要があり、その為の特別な回路および外部端子を付加する必要がある。外部端子を増やすことはＬＳＩのコスト増大に繋がる。
【０００７】
本発明は上述の問題点に着目してなされたものであって、ＬＳＩの内部信号を観測することが可能となり、ＬＳＩのデバッグ時に通常では断定できない内部タイミング回路のバグを容易にデバッグすることが可能となる。
【０００８】
また本発明のＬＳＩデバッグシステムでは、ＬＳＩに対し新たに外部端子を追加することなく安価にデバッグ回路を構成することが可能となる。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上述した課題を解決するために、本発明は、ＬＳＩ内部のデバッグ回路において、前記ＬＳＩ内部のバスの状態を監視するためのバスモニタと、情報を記憶するためのＲＦＩＤタグと、前記バスモニタがモニタリングした内部バスの状態を前記ＲＦＩＤタグに書き込むことが可能なＲＦＩＤ書き込み手段と、を有することを特徴とする。
【００１０】
請求項２記載の発明においては、ＬＳＩデバッグシステムにおいて、前記デバック回路と、前記ＲＦＩＤタグに記憶された情報を読み込むことが出来るＲＦＩＤ読み込み手段と、を有すことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
本発明により、ＬＳＩの内部信号を観測することが可能となり、ＬＳＩのデバッグ時に通常では断定できない内部タイミング回路のバグを容易にデバッグすることが可能となる。
【００１２】
また本発明のＬＳＩデバッグシステムでは、ＬＳＩに対し新たに外部端子を追加することなく安価にデバッグ回路を構成することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下に本発明を実施するための最良の形態を、実施例に基づいて説明する。
【実施例１】
【００１４】
本発明によるＬＳＩデバッグシステムを添付図とともに示す実施例に基づき以下に説明する。
【００１５】
図１は、本発明のＬＳＩ、バスモニタ、ＲＦＩＤタグ、ＲＦＩＤライト部、ＲＦＩＤリード部などにより構成されるＬＳＩデバッグシステムを概略的に示したブロック図である。
【００１６】
１０１はＬＳＩで、論理回路１０２や後述するデバッグ回路を備えている。論理回路１０２はＬＳＩ１０１の主機能を実現する回路である。ＬＳＩの設計者は、ＬＳＩの設計時に論理回路１０２が正常に動作しない時に備えて、その不具合の解析、原因究明に有効と考えられる論理回路１０２内部の信号を予め複数選択してバスモニタ１０３に接続する。バスモニタ１０３はＲＦＩＤライト部（ＲＦＩＤ書き込み部）１０４に接続され、バスモニタ１０３がモニタリングする論理回路１０２内部の信号がＲＦＩＤライト部１０４に送られる。ＲＦＩＤライト部１０４はバスモニタ１０３から送られてくる信号を随時ＲＦＩＤタグ１０５に無線通信により書き込む。１０５はＲＦＩＤタグであり、内部に情報を保持することが出来る。１０６はＲＦＩＤリード部（ＲＦＩＤ読み込み部）であり、ＲＦＩＤタグ１０５内の情報を無線通信で読み出すことが出来る。１０７はＰＣであり、ＰＣ１０７はＲＦＩＤリード部１０６と接続され、ＲＦＩＤリード部１０６が読み出したデータを受信し、不具合の解析に利用する。
【００１７】
図２においてＬＳＩ１０１に具備されたＲＦＩＤタグ部１０５への情報の書き込みを行うＲＦＩＤライト部１０４の詳細な説明を行う。ＲＦＩＤライト部１０４は、ＲＦＩＤタグ部１０５に対して電波を送信するための送信アンテナ部２０１と、送信アンテナから送信する電波の変調を行うための変調回路２０２と、送信アンテナ部２０１と変調回路２０２をするための制御部２０３と、上位機器との通信を行うI/F部２０４と、送信アンテナ部２０１に接続され、ＲＦＩＤタグ部１０５への電力供給を行う電源２０５から構成される。
【００１８】
前記制御部２０３は、外部からの指示により変調回路２０２を用いて電力を供給するための電波および、送信するデータを変調して、送信アンテナ部２０１より外部へ電波を送信する。
【００１９】
図３においてＬＳＩ１０１に具備されたＲＦＩＤタグ部１０５から情報の読み出しを行うＲＦＩＤリード部１０６の詳細な説明を行う。ＲＦＩＤリード部１０６は、ＲＦＩＤタグ部１０５から送られてくる電波を受信するための受信アンテナ部３０１、受信アンテナ部３０１より受信した信号を復調するための復調回路３０２、また受信アンテナ部３０１および復調回路３０２を制御するための制御部３０３と、上位機器との通信を行うI/F部３０４から構成される。前記制御部３０３は、外部より受信した電波信号を、受信アンテナ部３０１で受信して、復調回路３０２によって復調したのち、データ信号として扱えるように変換することが可能である。
【００２０】
次に図４において、ＲＦＩＤタグ部１０５の詳細な説明を行う。ＲＦＩＤタグ部１０５は、不揮発性メモリ４０１、電波４０２を送受信するためのアンテナ部と、共振コンデンサ部４０３、電源の整流・平滑を行うための電力形成部４０４と、電波の変調、復調を行うための復変調部４０５、制御部４０６とから構成される。
【００２１】
アンテナ部４０２は、共振コンデンサ４０３と組み合わされ、共振回路を構成できるようになっている。外部から電力を供給するための電波信号が送られることにより、これを共振回路で受けとって、電力形成部４０４へ供給し、電力形成部４０４はＲＦＩＤタグ部１０５を動作させるための電力を供給することが可能となる。前記電力は、不揮発性メモリ４０１や、復変調回路４０５へ供給される。制御部４０６は、ＲＦＩＤタグ部１０５の制御を行うためのものである。
【００２２】
外部から、電力を供給するための電波とあわせて、ＲＦＩＤタグ部１０５から読み出す、または書き着込むためのデータも同時に送受信され、ＲＦＩＤタグ部１０５へ送られてきた信号は、復変調回路４０５によって、復調され制御部４０６を介して、不揮発性メモリ４０１へ記憶される。また、制御部４０６によって、不揮発性メモリ４０１から読み出されたデータは、復変調回路４０５によって変調され、アンテナ部４０２から電波信号として送信可能である。
【図面の簡単な説明】
【００２３】
【図１】本発明によるＬＳＩデバッグシステムの構成を示すブロック図である。
【図２】本発明によるＬＳＩデバッグシステムを構成するＲＦＩＤライト部のブロック図である。
【図３】本発明によるＬＳＩデバッグシステムを構成するＲＦＩＤリード部のブロック図である。
【図４】本発明によるＬＳＩデバッグシステムを構成するＲＦＩＤタグのブロック図である。
【符号の説明】
【００２４】
１０１  ＬＳＩ
１０２  論理回路
１０３  バスモニタ
１０４  ＲＦＩＤライト部（ＲＦＩＤ書き込み部）
１０５  ＲＦＩＤタグ
１０６  ＲＦＩＤリード部（ＲＦＩＤ読み込み部）
１０７  ＰＣ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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