(57)【要約】  【構成】  レーザダイオード２２から発せられたレーザ光は、光学レンズ１４によって光磁気ディスク６２の記録面に照射される。ＦＥ信号検出回路３６は、記録面で反射されたレーザ光に基づいて、光学レンズ１４の合焦点からのずれ量を検出する。フォーカス制御回路３８は、検出されたずれ量に対応する電圧値を有する制御電圧を出力する。出力された制御電圧の電圧値は、レジスタ４２に設定されたオフセット電圧の電圧値と加算器４０によって加算される。光学レンズ１４は、加算器４０から出力された制御電圧に対応する光軸方向の位置に配置される。加算器４０から出力された制御電圧はまた、ＬＰＦ４６によって平滑される。ＣＰＵ５４は、レジスタ４２に設定されたオフセット電圧の電圧値を平滑電圧値と基準電圧値との差分値によって更新する。  【効果】  再生信号／記録信号の品質の低下を防止できる。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光を発生する発生手段、
前記発生手段によって発生されたレーザ光をディスク記録媒体の記録面に照射する光学レンズ、
前記記録面で反射されたレーザ光に基づいて光軸方向における前記光学レンズの位置の合焦点からのずれ量を検出する検出手段、
前記検出手段によって検出されたずれ量に対応する電圧値を有する制御電圧を出力する出力手段、
オフセット電圧の電圧値を前記出力手段によって出力された制御電圧の電圧値に加算する加算手段、
前記加算手段から出力された制御電圧に対応する前記光軸方向の位置に前記光学レンズを配置する配置手段、
前記加算手段から出力された制御電圧を平滑する平滑手段、および
前記平滑手段によって平滑された電圧値と基準電圧値との差分値によって前記オフセット電圧の電圧値を更新する更新手段を備える、ディスク装置。
【請求項２】
前記基準電圧値は前記光学レンズを光軸方向の基準位置に配置するために必要な電圧値である、請求項１記載のディスク装置。
【請求項３】
前記記録面で反射されたレーザ光に基づいて再生信号を生成する生成手段をさらに備える、請求項１または２記載のディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、ディスク装置に関し、特にたとえば、レーザ光を光学レンズを通してディスク記録媒体の記録面に照射する、ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来のこの種の装置の一例が、特許文献１に開示されている。この従来技術によれば、シーク処理を行うときはＴＥ（Tracking Error）信号の振幅が最大になるオフセット値がレジスタに設定され、ＲＦ信号のデコード処理を行うときはＲＦ（Radio Frequency）信号の振幅が最大となるオフセット値がレジスタに設定される。フォーカスサーボ系は、レジスタに設定されたオフセット値を考慮したフォーカス制御を行う。これによって、異なる動作状態の各々で注目される信号を的確に検出することができる。
【特許文献１】特開２００２−１５７７５５号公報［G11B 7/09］
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、従来技術では、オフセット値がディスクの反りに応じて変更されることはない。すると、反りが生じているディスクを再生したときに、再生位置に応じたデフォーカスが定常偏差として現われる。再生信号の品質は、この定常偏差に起因して低下する。
【０００４】
それゆえに、この発明の主たる目的は、定常的なデフォーカスに起因する再生信号／記録信号の品質の低下を防止できる、ディスク装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
この発明に従うディスク装置は、レーザ光を発生する発生手段、発生手段によって発生されたレーザ光をディスク記録媒体の記録面に照射する光学レンズ、記録面で反射されたレーザ光に基づいて光軸方向における光学レンズの位置の合焦点からのずれ量を検出する検出手段、検出手段によって検出されたずれ量に対応する電圧値を有する制御電圧を出力する出力手段、オフセット電圧の電圧値を出力手段によって出力された制御電圧の電圧値に加算する加算手段、加算手段から出力された制御電圧に対応する光軸方向の位置に光学レンズを配置する配置手段、加算手段から出力された制御電圧を平滑する平滑手段、および平滑手段によって平滑された電圧値と基準電圧値との差分値によってオフセット電圧の電圧値を更新する更新手段を備える。
【０００６】
発生手段によって発生されたレーザ光は、光学レンズによってディスク記録媒体の記録面に照射される。検出手段は、記録面で反射されたレーザ光に基づいて光軸方向における光学レンズの位置の合焦点からのずれ量を検出し、出力手段は、検出されたずれ量に対応する電圧値を有する制御電圧を出力する。出力された制御電圧の電圧値は、加算手段によってオフセット電圧の電圧値と加算される。光学レンズは、加算手段から出力された制御電圧に対応する光軸方向の位置に、配置手段によって配置される。加算手段から出力された制御電圧はまた、平滑手段によって平滑される。更新手段は、平滑手段によって平滑された電圧値と基準電圧値との差分値によってオフセット電圧の電圧値を更新する。
【０００７】
オフセット電圧は、デフォーカス量に対応する電圧値を示す。光学レンズは、かかるオフセット電圧の電圧値が考慮された制御電圧に対応する光軸上の位置に配置される。この結果、生成手段によって生成される制御電圧から、デフォーカス量に相当する電圧が除去される。フォーカスは、合焦点に近づく。これによって、再生信号または記録信号の品質の低下が防止される。
【０００８】
請求項２の発明に従うディスク装置は、請求項１に従属し、基準電圧値は光学レンズを光軸方向の基準位置に配置するために必要な電圧値である。
【０００９】
請求項３の発明に従うディスク装置は、請求項１または２に従属し、記録面で反射されたレーザ光に基づいて再生信号を生成する生成手段をさらに備える。
【発明の効果】
【００１０】
この発明によれば、オフセット電圧は、デフォーカス量に対応する電圧値を示す。光学レンズは、かかるオフセット電圧の電圧値が考慮された制御電圧に対応する光軸上の位置に配置される。この結果、生成手段によって生成される制御電圧から、デフォーカス量に相当する電圧が除去される。フォーカスは、合焦点に近づく。これによって、再生信号または記録信号の品質の低下が防止される。
【００１１】
この発明の上述の目的，その他の目的，特徴および利点は、図面を参照して行う以下の実施例の詳細な説明から一層明らかとなろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
図１を参照して、この実施例の光ディスク装置１０は、光学レンズ１４が設けられた光ピックアップ（光学系）１２を含む。光学レンズ１４は、トラッキングアクチュエータ１６，チルトアクチュエータ１８およびフォーカスアクチュエータ２０によって支持される。レーザダイオード２２から放出されたレーザ光は、図２に示す光学系部品を経てＡＳＭＯ（Advanced Storage Magneto Optical disc）のような光磁気ディスク５６の記録面に照射される。なお、光磁気ディスク６２はスピンドル６４の上に搭載され、スピンドルモータ６６によって回転する。光磁気ディスク６２はＺＣＬＶ（Zone Constant Linear Velocity）方式のディスクであり、回転数は光ピックアップ１２が内周から外周へ移動するにつれて低下する。
【００１３】
レーザダイオード２２から放出されたレーザ光は、グレーティング（図示せず）によって分光される。これによって、１つのメインビームＭと２つのサブビームＳ１およびＳ２とが生成される。生成されたビームＭ，Ｓ１およびＳ２は、光学レンズ１４で収束された後、図２に示す要領で光磁気ディスク５６の記録面に照射される。メインビームＭは所望のトラックに照射され、サブビームＳ１およびＳ２は所望のトラックの両側に隣接するトラックに照射される。なお、光磁気ディスク５６の記録面には、凸状のランドトラックおよび凹状のグルーブトラックが交互に形成される。図２に示す“Ｌ”および“Ｇ”はそれぞれ、ランドトラックおよびグルーブトラックを意味する。
【００１４】
記録面で反射されたメインビームＭ，サブビームＳ１およびＳ２は、光学レンズ１４，を経た後、ウォラストンプリズム（図示せず）によってさらに分光される。メインビームＭはビームＭａ，ＭｂおよびＭｃに分光され、サブビームＳ１はＳ１ａ，Ｓ１ｂおよびＳ１ｃに分光され、そしてサブビームＳ２はＳ２ａ，Ｓ２ｂおよびＳ２ｃに分光される。ビームＭａはメインビームＭと同じ成分を有するが、ビームＭｂおよびＭｃはそれぞれメインビームＭの垂直偏向成分および水平偏向成分のみを有する。サブビームＳ１およびＳ２についても同様であり、ビームＳ１ａ（Ｓ２ａ）はサブビームＳ１（Ｓ２）と同じ成分を有するが、ビームＳ１ｂ（Ｓ２ｂ）およびＳ１ｃ（Ｓ２ｃ）はそれぞれサブビームＳ１（Ｓ２）の垂直偏向成分および水平偏向成分のみを有する。
【００１５】
光検出器２２は、図３に示すように構成される。ビームＭａは検出素子２２ａ〜２２ｄによって検出され、ビームＭｂおよびＭｃはそれぞれ検出素子２２ｉおよび２２ｊによって検出される。一方、ビームＳ１ａは検出素子２２ｅおよび２２ｆによって検出され、ビームＳ２ａは検出素子２２ｇおよび２２ｈによって検出される。他方、ビーム１ｂ，１ｃ，２ｂおよび２ｃは、いずれの検出素子によっても検出されない。
【００１６】
図１に戻って、ＴＥ信号検出回路２６は、検出素子２２ａ〜２２ｈの出力に数１に従う演算を施し、ＤＰＰ（Differential Push Pull）方式でＴＥ信号を生成する。また、ＦＥ信号検出回路３６は、検出素子２２ａ〜２２ｄの出力に数２に従う演算を施し、ＦＥ（Focus Error）信号を検出する。さらに、ＲＦ信号検出回路４８は、検出素子２２ｉおよび２２ｊの出力に数３に従う演算を施し、ＲＦ信号を検出する。なお、数１〜数３における“Ａ”〜“Ｊ”はそれぞれ検出素子２２ａ〜２２ｊの出力に対応する。
【００１７】
【数１】
2006053969.tif 000003
【００１８】
【数２】
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【００１９】
【数３】
2006053969.tif 000005
【００２０】
トラッキング制御回路２８は、ＴＥ信号検出回路２６から出力されたＴＥ信号に基づいてシーク処理またはトラッキング制御処理を実行し、スレッドモータ制御電圧およびトラッキングアクチュエータ制御電圧を生成する。ＰＷＭ変調回路３０は、スレッドモータ制御電圧に対応するパルス幅のＰＷＭ信号を生成し、生成されたＰＷＭ信号をスレッドモータ３４に与える。ＰＷＭ変調回路３２は、トラッキングアクチュエータ制御電圧に対応するパルス幅のＰＷＭ信号を生成し、生成されたＰＷＭ信号をトラッキングアクチュエータ１６に与える。スレッドモータ３４の回転速度および回転方向、ならびに光学レンズ１４の径方向の位置は、このようなトラッキングサーボ系によって制御される。
【００２１】
フォーカス制御回路３８は、ＦＥ信号検出回路３６から出力されたＦＥ信号に基づいてフォーカスアクチュエータ制御電圧を生成し、生成されたフォーカスアクチュエータ制御電圧を加算器４０に与える。一方、レジスタ４２には、オフセット電圧の電圧値が設定される。加算器４０は、レジスタ４２に設定されたオフセット電圧の電圧値を、フォーカス制御回路３８から与えられたフォーカスアクチュエータ制御電圧の電圧値に加算する。
【００２２】
加算された電圧値を有するフォーカスアクチュエータ制御電圧は、ＰＷＭ変調回路４４に与えられる。ＰＷＭ変調回路４４は、このフォーカスアクチュエータ制御電圧に対応するパルス幅のＰＷＭ信号を生成し、生成されたＰＷＭ信号をフォーカスアクチュエータ２０に与える。フォーカスつまり光学レンズ１４の光軸方向の位置は、このようなフォーカスサーボ系によって調整される。
【００２３】
加算器４０から出力されたフォーカスアクチュエータ制御電圧はまた、ＬＰＦ４６に与えられる。ＬＰＦ４６は、このフォーカスアクチュエータ制御電圧を平滑し、平滑電圧ＶａｖをＣＰＵ５４に与える。ＣＰＵ５４は、与えられた平滑電圧Ｖａｖと基準電圧値Ｖｒｅｆ（＝２．５Ｖ）との差分値Ｖｄｉｆを算出し、現時点のオフセット電圧の電圧値を算出された差分値Ｖｄｉｆによって更新する。
【００２４】
ＥＣＣデコーダ５０は、ＲＦ信号検出回路４８から出力されたＲＦ信号にデコード処理を施し、再生信号を生成する。ＲＦ信号はまた、ジッタ検出回路５２によってジッタ検出処理を施される。ＣＰＵ５４は、ジッタ検出回路５２によって検出されたジッタが減少するように、チルト補正回路５６に補正命令を与える。チルト補正回路５６は、補正命令に従うチルトアクチュエータ制御電圧を生成する。ＰＷＭ変調回路５８は、生成されたチルトアクチュエータ制御電圧に対応するパルス幅のＰＷＭ信号を生成し、生成されたＰＷＭ信号をチルトアクチュエータ１８に与える。チルトつまり光学レンズ１４の向きは、このようなチルトサーボ系によって調整される。
【００２５】
レジスタ４２に設定されたオフセット電圧の電圧値を更新するとき、ＣＰＵ５４は、図４に示すフロー図に従う処理を実行する。なお、このフロー図に対応する制御プログラムは、フラッシュメモリ６０に記憶される。まずステップＳ１で、ＬＰＦ４６から出力された平滑電圧Ｖａｖを取り込む。続くステップＳ３では、取り込まれた平滑電圧Ｖａｖと基準電圧値Ｖｒｅｆとの差分値Ｖｄｉｆ（＝Ｖａｖ−Ｖｒｅｆ）を算出する。ステップＳ５では、算出された差分値Ｖｄｉｆをレジスタ４２に書き込む。レジスタ４２に設定されたオフセット電圧の電圧値は、差分値Ｖｄｉｆによって更新される。
【００２６】
光磁気ディスク６２が図５に示すように反りを有している状態で、光学レンズ１４を位置Ａ→位置Ｂ→位置Ｃの順で光磁気ディスク６２の径方向に移動させるとき、レジスタ４２に設定されたオフセット電圧の電圧値は、０→ΔＦ１→ΔＦ１＋ΔＦ２の順で更新される。このときの動作を、図６（Ａ）〜図６（Ｃ），図７（Ａ）〜図７（Ｃ），および図８（Ａ）〜図８（Ｃ）を参照して説明する。
【００２７】
なお、図６（Ａ）〜図６（Ｃ）はフォーカスアクチュエータ制御電圧の時間的変化を表し、図７（Ａ）〜図７（Ｃ）は光学レンズ１４の位置に対するフォーカスアクチュエータ制御電圧の変化を表し、図８（Ａ）〜図８Ｃ）は光学レンズ１４の位置に対するＦＥ信号のレベルの変化を表す。
【００２８】
位置Ａでのフォーカス制御が反りの影響を全く受けないとき、フォーカスアクチュエータ制御電圧は、図６（Ａ）に示すように基準電圧値Ｖｒｅｆを中心として変化する。このとき、レジスタ４２のオフセット電圧値は“０”を示す。フォーカスは図７（Ａ）または図８（Ａ）に示す合焦点ＦＰ０（基準位置）を目指して調整される。
【００２９】
なお、合焦点ＦＰ０に対応するフォーカスアクチュエータ制御電圧の電圧値が、基準電圧値Ｖｒｅｆに相当する。また、図６（Ａ）〜図６（Ｃ）に示す波形の変化は、光磁気ディスク６２の面振れに起因する。
【００３０】
光学レンズ１４が位置Ａから位置Ｂに移動すると、フォーカス制御が反りの影響を受け、光学レンズ１４の光軸方向に“ＤＦ１”に相当するデフォーカスが発生する。フォーカスアクチュエータ制御電圧は、図６（Ｂ）に示すように基準電圧値Ｖｒｅｆよりも高い電圧値Ｖａｖ１を中心として変化する。フォーカスは、図７（Ｂ）または図８（Ｂ）に示す合焦点ＦＰ１に達することができず、非合焦点Ｐ１を中心として変化する。このようなデフォーカスＤＦ１が発生したとき、レジスタ４２のオフセット電圧値は、“０”から“ΔＦ１”に更新される。
【００３１】
オフセット電圧値の更新によって、図７（Ｂ）に示す非合焦点Ｐ１が、加算器４０から出力されるフォーカスアクチュエータ制御電圧を定義する垂直軸と光学レンズ１４の位置を定義する水平軸との交点となる。図８（Ｂ）に示すグラフ上の合焦点ＦＰ１は、原点に向かって移動する。この結果、フォーカスは、非合焦点Ｐ１からさらに合焦点ＦＰ１に近づくこととなる。
【００３２】
光学レンズ１４が位置Ｂから位置Ｃに移動すると、フォーカス制御が反りの影響をさらに受ける。“ΔＦ１”に相当するオフセット電圧が印加された状態では、光学レンズ１４の光軸方向に“ＤＦ２”に相当するデフォーカスが発生する。フォーカスアクチュエータ制御電圧は、図６（Ｃ）に示すように電圧値Ｖａｖ１よりも高い電圧値Ｖａｖ２を中心として変化する。フォーカスは、図７（Ｃ）または図８（Ｃ）に示す合焦点ＦＰ２に達することができず、非合焦点Ｐ２を中心として変化する。このようなデフォーカスＤＦ２が発生したとき、レジスタ４２のオフセット電圧値は、“ΔＦ１”から“ΔＦ１＋ΔＦ２”に更新される。
【００３３】
オフセット電圧値の更新によって、図７（Ｃ）に示す非合焦点Ｐ２が、加算器４０から出力されるフォーカスアクチュエータ制御電圧を定義する垂直軸と光学レンズ１４の位置を定義する水平軸との交点となる。図８（Ｃ）に示すグラフ上の合焦点ＦＰ２は、原点に向かって移動する。この結果、フォーカスは、非合焦点Ｐ２からさらに合焦点ＦＰ２に近づくこととなる。
【００３４】
以上の説明から分かるように、レーザダイオード２２から発せられたレーザ光は、光学レンズ１４によって光磁気ディスク６２の記録面に照射される。ＦＥ信号検出回路３６は、記録面で反射されたレーザ光に基づいて、光学レンズ１４の合焦点からのずれ量を検出する。フォーカス制御回路３８は、検出されたずれ量に対応する電圧値を有するフォーカスアクチュエータ制御電圧を出力する。
【００３５】
出力されたフォーカスアクチュエータ制御電圧の電圧値は、レジスタ４２に設定されたオフセット電圧の電圧値と加算器４０によって加算される。光学レンズ１４は、加算器４０から出力されたフォーカスアクチュエータ制御電圧に対応する光軸方向の位置に、フォーカスアクチュエータ２０によって配置される。
【００３６】
加算器４０から出力されたフォーカスアクチュエータ制御電圧はまた、ＬＰＦ４６によって平滑される。ＣＰＵ５４は、レジスタ４２に設定されたオフセット電圧の電圧値を平滑電圧値と基準電圧値との差分値によって更新する。
【００３７】
オフセット電圧は、デフォーカス量に対応する電圧値を示す。光学レンズ１４は、かかるオフセット電圧の電圧値が考慮されたフォーカスアクチュエータ制御電圧に対応する光軸上の位置に配置される。この結果、フォーカス制御回路３８から出力されるフォーカスアクチュエータ制御電圧からデフォーカス量に相当する電圧が除去され、光学レンズ１４は合焦点に近づく。これによって、ＥＣＣデコーダ５０から出力される再生信号の品質が向上する。
【００３８】
なお、この実施例では再生動作について説明したが、この発明は記録動作にも適用することができる。また、この実施例では、ディスク記録媒体としてＡＳＭＯを採用しているが、これに代えてＤＶＤ（Digital Versatile Disc）を採用してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】この発明の一実施例の構成を示すブロック図である。
【図２】メインビームおよびサブビームが記録面に照射されている状態を示す図解図である。
【図３】図１実施例に適用される光検出器の構成の一例を示す図解図である。
【図４】図１実施例に適用されるＣＰＵの動作の一部を示すフロー図である。
【図５】図１実施例に適用される光学レンズのフォーカス制御動作の一例を示す図解図である。
【図６】（Ａ）は図５に示す位置Ａでのフォーカスアクチュエータ制御電圧の変化の一例を示す波形図であり、（Ｂ）は図５に示す位置Ｂでのフォーカスアクチュエータ制御電圧の変化の一例を示す波形図であり、（Ｃ）は図５に示す位置Ｃでのフォーカスアクチュエータ制御電圧の変化の一例を示す波形図である。
【図７】（Ａ）は図５に示す位置Ａでのフォーカス制御動作の一部を示すグラフであり、（Ｂ）は図５に示す位置Ｂでのフォーカス制御動作の一部を示すグラフであり、（Ｃ）は図５に示す位置Ｃでのフォーカス制御動作の一部を示すグラフである。
【図８】（Ａ）は図５に示す位置Ａでのフォーカス制御動作の他の一部を示すグラフであり、（Ｂ）は図５に示す位置Ｂでのフォーカス制御動作の他の一部を示すグラフであり、（Ｃ）は図５に示す位置Ｃでのフォーカス制御動作の他の一部を示すグラフである。
【符号の説明】
【００４０】
１０  …ディスク装置
１２  …光プックアップ
１４  …光学レンズ
２６  …ＴＥ信号検出回路
３６  …ＦＥ信号検出回路
４２  …レジスタ
４８  …ＲＦ信号検出回路
５０  …ＥＣＣデコーダ
５４  …ＣＰＵ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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