(57)【要約】【課題】  光カードに反りが生じても、レーザ光をデータ領域に十分に入射させることができ、もって、記録層に対する再生を適正に行えるようにする。【解決手段】  サーボマークを記録層の幅方向に３箇所配し（サーボマーク１０３Ｌ、１０３Ｒ、１０３Ｃ）、これに応じてデータ領域を幅方向に２分割する（左データ領域１０１Ｌ、右データ領域１０１Ｒ）。左データ領域１０１Ｌを再生するときは、光センサ４０６Ｌ、４０６Ｃからの信号をもとに生成したエラー信号ＥＬ、ＥＣを用いて光ヘッドの左右端にサーボを掛け、右データ領域１０１Ｒを再生するときは、光センサー４０６Ｃ、４０６Ｒからの信号をもとに生成したエラー信号ＥＬ、ＥＣを用いて光ヘッドの左右端にサーボを掛ける。  これにより、扁平ビームの２つの扁平部を左データ領域１０１Ｌあるいは右データ領域１０１Ｒに適正に位置づけることができる。【選択図】    図１０
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
積層配置された複数の記録層と、前記記録層に対する入射光の積層方向の位置ずれを検出するための光学手段とを備え、
前記光学手段は、各記録層に対応付けて前記記録層の幅方向に少なくとも３箇所以上配置されている、
ことを特徴とする光記録媒体。
【請求項２】
請求項１において、
前記光学手段は、前記記録層の導波路内に配されるとともに当該記録層に入射された光を当該記録層の厚み方向に導くホログラムまたはグレーティングである、
ことを特徴とする光記録媒体。
【請求項３】
請求項１または２において、
前記記録層の光入射口近傍に前記光学手段が配されるとともに、前記幅方向に隣り合う前記光学手段の間の奥行き方向に当該記録層のデータ領域が配されている、
ことを特徴とする光記録媒体。
【請求項４】
複数の記録層が積層配置されるとともに前記記録層に対する入射光の積層方向の位置ずれを検出するための光学手段が各記録層に対応付けて前記記録層の幅方向に少なくとも３箇所以上配置された光記録媒体を再生する光再生装置であって、
前記幅方向に扁平なレーザ光を前記記録層の側面から入射させる光入射手段と、
前記レーザ光の幅方向両側縁を前記記録層に対し前記積層方向に相対変位させる駆動手段と、
前記光学手段によって導かれたそれぞれの光を個別に受光する光検出器と、
前記光検出器からの各検出信号に基づいて前記記録層に対する前記レーザ光両側縁の積層方向の位置ずれ補正するサーボ手段とを備える、
ことを特徴とする光再生装置。
【請求項５】
請求項４において、
前記サーボ手段は、前記光学手段の配置位置によって幅方向に分割される各データ領域のうち何れのデータ領域を再生するかに応じて、前記位置ずれ補正に用いる前記検出信号を設定する、
ことを特徴とする光再生装置。
【請求項６】
請求項５において、
前記サーボ手段は、再生対象の前記データ領域を幅方向に挟む２つの前記光学手段によって導かれた光を受光する前記光検出器からの検出信号に基づいて、前記レーザ光両側縁の積層方向の位置ずれ補正する、
ことを特徴とする光再生装置。
【請求項７】
請求項４ないし６の何れかにおいて、
前記駆動手段は、前記レーザ光の幅方向両側縁を個別に駆動し、
前記サーボ手段は、前記光学手段の配置位置によって幅方向に分割される各データ領域のうち何れのデータ領域を再生するかに応じて、前記駆動手段における前記幅方向両側縁の駆動レスポンスを設定する、
ことを特徴とする光再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の記録層が積層方向に配された記録媒体およびこの記録媒体に扁平ビームを入射して情報を再生する光再生装置に関するものであり、特に、平面光導波路ホログラムを積層したカード型光記録媒体およびこれを再生する光再生装置に用いて好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
平面光導波路ホログラムを積層したカード型光記録媒体およびその再生装置として、たとえば、特許文献１に記載のものが知られている。
【０００３】
かかるカード型光記録媒体には、所定の情報をホログラムとして保持する複数の記録層が積層して配置されている。所定の記録層にビームを入射すると、この記録層に形成されたホログラムによってビームが散乱され、この散乱光がカード型光記録媒体の上面から出射される。そして、出射された散乱光を、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）等の撮像素子によって受光することで、当該記録層に保持された情報が再生される。
【０００４】
再生装置側には、記録層に側方から扁平ビームを入射させるための光ヘッドが配備されており、さらに、この光ヘッドには、記録層に対する扁平ビームの積層方向のズレを補正するためのアクチュエータが配備されている。積層方向のズレ量に応じたエラー信号に応じてアクチュエータを駆動することにより、再生対象の記録層に扁平ビームがズレなく位置付けられる。
【０００５】
図１９に示す如く、扁平ビームの幅方向両側縁は、それぞれ厚み方向に変位した２段の段差となっている。この段差部分が記録層に等しく掛かるようにして積層方向のサーボが掛けられる。２段の段差部分が記録層に対して等しく掛からなくなると、段差部分のそれぞれが記録層内のサーボマークによって導かれる光の光量に差が生じ、これを受光する光検出器の検出信号にも差が生じる。この差をもとにエラー信号が生成され、生成されたエラー信号に応じて扁平ビームが積層方向に動的に変位される。これにより、扁平ビームの幅方向中央部が記録層に対して積層方向にずれなく位置づけられる。
【特許文献１】特開２００３−５１１２２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしこの場合、たとえば図２０に示すように、光カードに反りが生じると、段差部分が記録層に等しく掛かっていても、扁平ビームの幅方向中央部が記録層に対して積層方向にずれてしまうとの問題が生じる。この場合、データ領域に入射されるレーザ光の光量が不十分となり、その結果、当該記録層に対する再生を適正に行えないとの問題が起こり得る。
【０００７】
そこで、本発明は、光カードに反りが生じても、レーザ光をデータ領域に十分に入射させることができ、もって、記録層に対する再生を適正に行える光記録媒体およびその再生装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題に鑑み本発明は、以下の特徴を有する。
【０００９】
第１の発明は、光記録媒体に関するものであって、積層配置された複数の記録層と、前記記録層に対する入射光の積層方向の位置ずれを検出するための光学手段とを備える。ここで、光学手段は、各記録層に対応付けて当該記録層の幅方向に少なくとも３箇所以上配置されている。
【００１０】
このように構成すると、各記録層は、それぞれの光学手段によって幅方向に分割されることとなる。このとき、たとえば、隣り合う２つの光学手段から導かれた光の光量をもとに積層方向のサーボを掛けるようにすれば、少なくともこれら２つの光学手段によって幅方向に挟まれた領域に対しては、扁平ビームを略ズレなく位置づけることができるようになる。よって、幅方向に分割された各領域を個別に読み取り、且つ、この読み取りの際に、当該領域を幅方向に挟む光学手段からの光をもとにサーボを掛けるようにすれば、当該領域に十分な光量の光を入射させることができ、当該領域を良好に再生することができる。
【００１１】
なお、以下に示す実施の形態では、「光学手段」は、各記録層の幅方向に３箇所配されており、それぞれ、サーボマーク１０３Ｌ、１０３Ｒ、１０３Ｃとして示されている。この場合、記録層は、幅方向に２つの領域に分割される。
【００１２】
かかる第１の発明において、前記光学手段は、前記記録層の導波路内に配されるとともに当該記録層に入射された光を当該記録層の厚み方向に導くホログラムまたはグレーティングにて構成することができる。
【００１３】
また、かかる第１の発明において、光学手段を記録層の光入射口近傍に配するとともに、幅方向に隣り合う前記光学手段の間の奥行き方向に各記録層のデータ領域を配するよう構成することができる。すなわち、光学手段が配されている部分の奥行き方向にはデータ領域を配さずに、幅方向に隣り合う光学手段の間の奥行き方向に各記録層のデータ領域を配するようにする。
【００１４】
この場合、光学手段が配されている部分の奥行き方向にデータ領域を配さない分だけ各記録層のデータ容量は減少するが、反面、それぞれのデータ領域からデータを良好に読み出すことができるとの効果をあげることができる。光学手段の奥行き方向は、光学手段による影響を受けて、光の入射状態が不安定になる。よって、この部分にはデータ領域を配さずに、光の入射状態が良好な光学手段の間の奥行き方向にのみ各記録層のデータ領域を配する。
【００１５】
第２の発明は、複数の記録層が積層配置されるとともに前記記録層に対する入射光の積層方向の位置ずれを検出するための光学手段が各記録層に対応付けて前記記録層の幅方向に少なくとも３箇所以上配置された光記録媒体を再生する光再生装置であって、前記幅方向に扁平なレーザ光を前記記録層の側面から入射させる光入射手段と、前記レーザ光の幅方向両側縁を前記記録層に対し前記積層方向に相対変位させる駆動手段と、前記光学手段によって導かれたそれぞれの光を個別に受光する光検出器と、前記光検出器からの各検出信号に基づいて前記記録層に対する前記レーザ光両側縁の積層方向の位置ずれ補正するサーボ手段を備えることを特徴とする。
【００１６】
上記第１の発明において述べたように、たとえば、隣り合う２つの光学手段から導かれた光の光量をもとに積層方向のサーボを掛けるようにすれば、少なくともこれら２つの光学手段によって幅方向に挟まれた記録層領域に対しては、扁平ビームを略ズレなく位置づけることができるようになる。よって、幅方向に分割された各領域を個別に読み取り、且つ、この読み取りの際に、当該領域を幅方向に挟む光学手段からの光をもとにサーボを掛けるようにすれば、当該領域に十分な光量の光を入射させることができ、当該領域を良好に再生することができる。
【００１７】
かかる第２の発明において、前記サーボ手段は、前記光学手段の配置位置によって幅方向に分割される各データ領域のうち何れのデータ領域を再生するかに応じて、前記位置ずれ補正に用いる前記検出信号を設定するよう構成することができる。
【００１８】
さらに、前記サーボ手段は、再生対象の前記データ領域を幅方向に挟む２つの前記光学手段によって導かれた光を受光する前記光検出器からの検出信号に基づいて、前記レーザ光両側縁の積層方向の位置ずれ補正するよう構成することもできる。
【００１９】
なお、前記駆動手段によって、前記レーザ光の幅方向両側縁を個別に駆動するようにした場合には、各側縁を一定のレスポンスにて駆動したとしても、各側縁から各分割領域までの距離差に起因して、各分割領域における前記レーザ光の変位レスポンスが相違する。たとえば、図２１を参照して、一方の側縁Ａ１をレスポンスＲ１で駆動した場合、位置Ａ２、Ａ３、Ａ４のレスポンスＲ２、Ｒ３、Ｒ４は、Ｒ１＞Ｒ２＞Ｒ３＞Ｒ４となる。つまり、左側縁Ａ１をレスポンスＲ１で駆動した場合、領域１の左側縁Ａ１、領域２の左側縁Ａ２、領域３の左側縁Ａ３、領域４の左側縁Ａ４のレスポンスＲ２、Ｒ３、Ｒ４は、左側縁Ａ１からの距離差に応じて、Ｒ１＞Ｒ２＞Ｒ３＞Ｒ４となる。
【００２０】
このようなレスポンスのアンバランスを回避するために、第２の発明においては、前記駆動手段によって前記レーザ光の幅方向両側縁を個別に駆動する場合に、幅方向に分割される各データ領域のうち何れのデータ領域を再生するかに応じて、前記駆動手段における前記幅方向両側縁の駆動レスポンスを設定するようにするのが好ましい。こうすると、各データ領域におけるサーボのレスポンスを安定化することができ、データの読み出しを円滑に行うことができるようになる。
【発明の効果】
【００２１】
以上のように本発明によれば、光カードに反りが生じても、レーザ光をデータ領域に十分に入射させることができ、もって、記録層に対する再生を適正に行える光記録媒体およびその再生装置を提供することができる。
【００２２】
本発明の効果ないし意義は、以下に示す実施形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下の実施形態は、本発明の一実施形態であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義は、以下の実施形態に記載されたものに制限されるものではない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。
【００２４】
図１は、実施の形態に係る光カード１００の上面図である。
【００２５】
光カード１００は、複数の記録層を積層した積層構造を透明基板内に内包した構成を有している。それぞれの記録層は平面光導波路として形成されており、その導波路内に、記録情報に応じたパターンのホログラムが形成されている。かかるホログラムは、図中の左データ領域１０１Ｌ、右データ領域１０１Ｒに対応する位置に形成されている。
【００２６】
また、各記録層には、当該記録層が初期位置から何層目に当たるかを示すアドレス情報がアドレスマーク１０２として記録されている。図示の如く、アドレスマーク１０２は、左データ領域１０１Ｌの左側と右データ領域１０１Ｒの右側に２組配されている。各組のアドレスマークには、それぞれ同一のアドレス情報が記録されている。
【００２７】
一組のアドレスマーク１０２は７つの領域からなっており、これら各領域にはアドレス情報に応じて選択的にホログラムが形成されている。すなわち、ホログラムが形成されている領域と形成されていない領域の組み合わせによってアドレス情報が保持されている。たとえば、ホログラムが形成されている領域を“１”とし、形成されていない領域を“０”としてアドレスを２進数にて保持させれば、一組のアドレスマーク１０２によって０から２7（＝１２８）のアドレスを各記録層に付することができる。
【００２８】
なお、後述の光再生装置には、これら各領域に対向するようにして７つの光センサが２組配されている。各領域のうち、ホログラムが形成された領域からは対応する光センサに散乱光が導かれ、電気信号が出力される。何れの光センサから電気信号が出力されたかを検出することで、レーザ光が入射されている記録層のアドレス（記録層番号）が識別される。
【００２９】
さらに、各記録層には、記録層に対する入射レーザ光の積層方向のずれを検出するためのサーボマーク１０３Ｌ、１０３Ｒ、１０３Ｃが配されている。サーボマーク１０３Ｌ、１０３Ｒ、１０３Ｃの配置領域には、上記アドレスマーク１０２と同様、ホログラムが形成されており、入射ビームは、当該ホログラムによって散乱され、対応するセンサに導かれる。
【００３０】
図示の如く、サーボマーク１０３Ｌ、１０３Ｒは、左右のアドレスマーク１０２よりもさらに側縁に位置するようにして、データ領域１０１Ｌ、１０１Ｒの左右に配されている。サーボマーク１０３Ｌ、１０３Ｒの配置位置は、ビーム入射口側から見て左右に並ぶように設定されている。また、図示の如く、中央のサーボマーク１０３Ｃによってデータ領域が左右のデータ領域１０１Ｌ、１０１Ｒに分割されている。ビーム入射口側から見て中央のサーボマーク１０３Ｃの奥方向の領域にはデータ領域が配されていない。
【００３１】
なお、左右のアドレスマーク１０２と、サーボマーク１０３Ｌ、１０３Ｒ、１０３Ｃは、上記の如くホログラムにて構成される他、当該領域にグレーティングを形成することにより構成するようにしても良い。
【００３２】
図２は、ビーム入射口１０４側から見た光カード１００の側面図である。図示のとおり、光カード１００の記録層は、コア１０５とクラッド１０６を積層して形成されている。ビームは、コア１０５に入射され、コア１０５内に形成されたホログラムによって散乱される。コア１０５内に、上述のデータ領域１０１Ｌ、１０１Ｒ、アドレスマーク１０２、サーボマーク１０３Ｌ、１０３Ｒ、１０３Ｃが配され、それぞれホログラムが形成されている。
【００３３】
図３は、コア１０５に対するビームの入射状態を示す図である。なお、同図は、光カード１００をビーム入射側から見たときの状態を示すものである。また、サーボマークは、同図に示すコア１０５の入り口よりもさらに奥に配されている。同図では、サーボマークの配置を点線にて示してある。
【００３４】
再生時には、コア１０５に対して、同図点線に示すような断面の段差ビームが入射される。ここで、段差ビームの扁平部ＡＬ、ＡＲがコア１０５に対し積層方向に位置ずれなく入射されているとき、これらを挟む左右の段差部ＢＬ１およびＢＬ２、ＢＲ１およびＢＲ２、ＢＣ１およびＢＣ２は、それぞれほぼ同量だけコア１０５に入射され、対応するサーボマークによって同じ量だけ散乱される。よって、このときサーボマークによって散乱される散乱光を、たとえば図４に示す如く、一対の光センサＳ１、Ｓ２によって受光すると、センサＳ１、Ｓ２の出力差はゼロとなる。
【００３５】
これに対し、段差ビームの扁平部ＡＬ、ＡＲがコアに対し積層方向にずれている場合は、段差部ＢＬ１、ＢＲ１、ＢＣ１がコアに入射される光量と、段差部ＢＬ２、ＢＲ２、ＢＣ２がコアに入射される光量の間に差が生じ、それぞれのサーボマークによって散乱される光量に差が生じる。このため、センサＳ１、Ｓ２の出力差はゼロとならず、ズレの方向および大きさに応じた正負の値を持つようになる。
【００３６】
かかる差信号をエラー信号として、後述の如く光ヘッドの左右両端部にサーボを掛けることで、段差ビームの扁平部ＡＬ、ＡＲを、コア１０５に対し、積層方向にズレなく位置づけることができる。
【００３７】
図５および図６に、光ヘッド２００の構成を示す。なお、図５は上面図、図６は図５のＡ−Ａ’断面図である。
【００３８】
光ヘッド２００は、レーザ光を光カードに入射させるための光学系と、記録層に対するレーザ光の位置を調整するためのアクチュエータから構成されている。
【００３９】
シャーシ２０１には、支持部２０２が配されており、この支持部２０２に、２組の板バネ２０４を介して、レンズホルダー２０３が装着されている。かかるレンズホルダー２０３には、レーザ光を扁平ビームに収束して記録層に入射させるシリンドリカルレンズ３０６が装着されている。また、レンズホルダー２０３の両端部には、それぞれ一定方向に巻回されたコイル２０５Ｌ、２０５Ｒが固着されている。
【００４０】
なお、シリンドリカルレンズ３０６は、コア１０５に対する入射ビームの断面形状が図３に示すような段差形状となるよう、面形状の曲率ないし屈折率が調整されている。
【００４１】
さらに、シャーシ２０１には、コイル２０５Ｌを挟むようにして磁石２０６Ｌ、２０７Ｌが配されている。同様に、コイル２０５Ｒを挟むようにして磁石２０６Ｒ、２０７Ｒが配されている。各コイルを挟む２つの磁石を対としたとき、一対の磁石は、コイルを挟む対向面が同一の極性を有するように配置されている。したがって、各コイルに電流を流入すると、上方向または下方向の駆動力が各コイルに発生する。この駆動力により、レンズホルダー２０３の左右端が駆動される。
【００４２】
また、シャーシ２０１には、断面楕円状の出射ビームの長軸が水平になるようにして、半導体レーザ３０１が配置されている。半導体レーザ３０１から出射されたレーザ光は、コリメータ３０２によって並行光とされる。そして、ビームエキスパンダ３０３によって水平方向に拡張される。しかる後、ミラー３０４によって上方に反射される。しかる後、レーザ光は、レンズホルダー２０３に配されたミラー３０５によって側方に反射される。そして、シリンドリカルレンズ３０６によって上下方向に収束され、図３に示すような断面形状にて光カード１００の記録層に収束される。
【００４３】
図７および図８に、光ヘッド２００を装着した装置本体の構成を示す。図７は装置本体の上面図、図８はそのＡ−Ａ’断面図である。
【００４４】
光ヘッド２００は、シャーシ２０１の底面がベース４０１上に載置されるようにして、ベース４０１上に装着されている。ベース４０１上にはフレーム４０２が植設されており、このフレーム４０２には、光カード１００の側縁を支持する一対のガイド４０３が形成されている。ガイド４０３は、光カード１００を挿入しやすいようにその前端部にテーパが形成されている。また、ガイド４０３のギャップは、光カード１００の厚みよりも少許だけ大きく設定されている。
【００４５】
また、フレーム４０２には、光カード１００の下面側のデータ領域１０１Ｌ、１０１Ｒに臨む位置にＣＣＤ４０４Ｌ、４０４Ｒが装着されている。データ領域１０１Ｌ、１０１Ｒによって散乱され光カード１００の下面から出射されたビームは、それぞれＣＣＤ４０４Ｌ、４０４Ｒによって受光され、電気信号に変換される。変換された電気信号は、再生回路に供給され、所定の情報に再生される。
【００４６】
また、フレーム４０２には、上記一組のアドレスマーク１０２を構成する７つのホログラム形成領域に対向する位置に７つの光センサ４０５Ｌ、４０５Ｒが配されている。それぞれの光センサ４０５Ｌ、４０５Ｒは、対応するホログラム形成領域にホログラムが形成されている場合に、その散乱光を受光して電気信号を出力する。
【００４７】
さらに、フレーム４０２には、一組のサーボマーク１０３Ｌ、１０３Ｒ、１０３Ｃを構成する２つのホログラム形成領域に対向する位置に、それぞれ図４に示す一対の光センサ４０６Ｌ、４０６Ｒ、４０６Ｃが配されている。それぞれの光センサ４０６Ｌ、４０６Ｒ、４０６Ｃは、対応するホログラム形成領域からの散乱光を受光して電気信号を出力する。
【００４８】
シリンドリカルレンズ３０６によって収束されたビームのうち、コア１０５内に進入したビームは、コア１０５内に配されたデータ領域１０１Ｌ、１００Ｒ、左右のアドレスマーク１０２および３組のサーボマーク１０３Ｌ、１０３Ｒ、１０３Ｃによって散乱され、光カード１００の下面から出射される。このうち、データ領域１０１Ｌおよび１０１Ｒによって散乱されたビームは、上記の如く、ＣＣＤ４０４Ｌおよび４０４Ｒによって受光される。
【００４９】
また、左右のアドレスマーク１０２によって散乱されたビームは、上記の如く、光センサ４０５Ｌ、４０５Ｒによって受光され電気信号に変換される。変換された電気信号は、アドレスデコーダに供給されアドレス情報（層番号）として再生される。上記の如く、アドレスマーク１０２によってアドレス情報が２進数（ホログラムが形成されている領域が“１”、形成されていない領域が“０”）として保持されている場合、アドレスデコーダは、７つの光センサ４０５Ｌ、４０５Ｒからの電気信号の有無から７桁の２進数を取得し、これを１０進数に変換する処理を行い、当該記録層のアドレス情報（記録層番号）を再生する。
【００５０】
さらに、３組のサーボマーク１０３Ｌ、１０３Ｒ、１０３Ｃによって散乱されたビームは、上記の如く光センサ４０６Ｌ、４０６Ｒ、４０６Ｃによって受光され電気信号に変換される。そして、変換された電気信号の差をとることによって、上記の如く、記録層（コア）に対する収束ビームの積層方向のズレが検出され補正される。
【００５１】
図９に、本実施の形態に係る光再生装置の構成例を示す。なお、記録層に対する扁平ビームの積層方向のズレを補正するサーボ回路の構成は、図１０に示してある。
【００５２】
図９および図１０において、１０Ｌ、１０Ｒ、１０Ｃは、光センサ４０６Ｌ、４０６Ｒ、４０６Ｃを構成する各センサ（Ｓ１、Ｓ２）からのセンサ出力を減算してエラー信号を生成出力するエラー信号生成回路、２０Ｌは、エラー信号生成回路１０Ｌまたは１０Ｃの何れかからのエラー信号をもとにビーム収束位置を記録層に位置づけるサーボ信号を生成し、これに位相補償を施した後、コイル２０５Ｌに供給するＬドライバ、２０Ｒは、エラー信号生成回路１０Ｒまたは１０Ｃの何れかからのエラー信号をもとにビーム収束位置を記録層に位置づけるためのサーボ信号を生成し、これに位相補償を施した後、コイル２０５Ｒに供給するＲドライバである。
【００５３】
３０Ｌは、光センサ４０５Ｌからの検出出力からアドレス情報を生成するＬアドレスデコーダ、３０Ｒは、光センサ４０５Ｒからの検出出力からアドレス情報を生成するＲアドレスデコーダ、４０は、ＣＣＤ４０４ＬまたはＣＣＤ４０４ＲからのＣＣＤ再生信号を処理して情報を再生する再生信号処理回路、５０は、各部を制御するコントローラである。
【００５４】
６０Ｌは、コントローラ５０からの選択信号に応じてエラー信号生成回路１０Ｌからのエラー信号ＥＬまたはエラー信号生成回路１０Ｃからのエラー信号ＥＣの何れかを選択するスイッチング回路、６０Ｒは、コントローラ５０からの選択信号に応じてエラー信号生成回路１０Ｒからのエラー信号ＥＲまたはエラー信号生成回路１０Ｃからのエラー信号ＥＣの何れかを選択するスイッチング回路である。
【００５５】
７０Ｌ、７０Ｒは、スイッチング回路６０Ｌ、６０Ｒによって選択されたエラー信号のゲインを、コントローラ５０からの設定指令に応じて設定し、設定したゲインによるエラー信号をそれぞれＬドライバ２０Ｌ、Ｒドライバ２０Ｒに供給するゲイン設定回路である。
【００５６】
なお、Ｌドライバ２０ＬおよびＲドライバ２０Ｒは、上記サーボ動作の他、コントローラ５０からの指令に応じて、光ヘッド２００の左右端を、それぞれ記録層の積層方向に走査またはジャンプさせるためのバイアス信号を、対応するコイル２０５Ｌおよびコイル２０５Ｒに供給する。この際、コントローラ５０は、エラー信号生成回路１０Ｌ、１０Ｒから供給されるエラー信号ＥＬ、ＥＲをもとに、扁平ビームの左右端が記録層を横切った層数をカウントする。
【００５７】
図１１に、再生動作時の処理フローを示す。
【００５８】
再生動作が開始されると、まず、光ヘッド２００が、１層目の記録層よりもさらに積層方向に外れた初期位置に移動される（Ｓ１１）。しかる後、コントローラ５０からスイッチング回路６０Ｌに対し、Ｌドライバ２０Ｌ用のエラー信号としてエラー信号ＥＬを選択する選択信号が入力され（Ｓ１２）、さらに、ゲイン設定回路７０Ｌに対し、Ｌドライバ２０Ｌ用のゲインとしてゲインＧ０を設定する指令が入力される（Ｓ１３）。同時に、コントローラ５０からスイッチング回路６０Ｒに対し、Ｒドライバ２０Ｒ用のエラー信号としてエラー信号ＥＲを選択する選択信号が入力され（Ｓ１６）、ゲイン設定回路７０Ｒに対し、Ｒドライバ２０Ｒ用のゲインとしてゲインＧ０を設定する指令が入力される（Ｓ１７）。
【００５９】
かかる設定が終了した後、光ヘッド２００の左右端が、再生目標の層（ターゲット層）に向けてアクセスされる（Ｓ１４、Ｓ１８）。そして、ターゲット層に対する左右端のサーボ引き込みが完了した後（Ｓ１５、Ｓ１９：ＹＥＳ）、当該ターゲット層の再生が行われる（Ｓ２０）。なお、再生動作の詳細については、後述する。
【００６０】
ターゲット層の再生が終了すると（Ｓ２１：ＹＥＳ）、再生すべき全ターゲット層の再生が終了したかが判別される（Ｓ２２）。ここで、再生すべきターゲット層が残存する場合（Ｓ２２：ＮＯ）は、Ｓ１２およびＳ１６に戻り、上記の処理が繰り返される。全ターゲット層の再生が終了した（Ｓ２２：ＹＥＳ）場合は、当該再生動作がクローズされる。
【００６１】
図１２に、上記Ｓ２０における処理の詳細を示す。
【００６２】
まず、当該再生処理において再生すべきデータ領域がターゲット層の左データ領域１０１Ｌであるかが判別される（Ｓ２０１）。ここで、再生すべきデータ領域が左データ領域１０１Ｌでない場合は、図１３に示す右データ領域１０１Ｒの再生処理が行われる。
【００６３】
再生すべきデータ領域が左データ領域１０１Ｌである場合（Ｓ２０１：ＹＥＳ）、コントローラ５０からスイッチング回路６０Ｌに対し、Ｌドライバ２０Ｌ用のエラー信号としてエラー信号ＥＬを選択する選択信号が入力され（Ｓ２０２）、さらに、ゲイン設定回路７０Ｌに対し、Ｌドライバ２０Ｌ用のゲインとしてゲインＧ１を設定する指令が入力される（Ｓ２０３）。同時に、コントローラ５０からスイッチング回路６０Ｒに対し、Ｒドライバ２０Ｒ用のエラー信号としてエラー信号ＥＣを選択する選択信号が入力され（Ｓ２０６）、ゲイン設定回路７０Ｒに対し、Ｒドライバ２０Ｒ用のゲインとしてゲインＧ２を設定する指令が入力される（Ｓ１７）。
【００６４】
かかるエラー信号の選択設定により、再生対象の左データ領域１０１Ｌを記録層の幅方向に挟むサーボマーク１０３Ｌおよび１０３Ｃをもとにしたサーボ動作が行われる。すなわち、光ヘッド２００の左端は、３つの光センサのうち、左側の光センサ４０６Ｌからの検出信号をもとに生成されるエラー信号をもとにサーボが掛けられ、また、光ヘッド２００の右端は、中央の光センサ４０６Ｃからの検出信号をもとに生成されるエラー信号をもとにサーボが掛けられる。
【００６５】
また、Ｓ２０３およびＳ２０７におけるゲイン設定によって、サーボ引き込み時における、左データ領域１０１Ｌの左端側位置における扁平ビームの駆動レスポンスと、左データ領域１０１Ｌの右端側位置における扁平ビームの駆動レスポンスが整合される。すなわち、Ｓ２０３およびＳ２０７において設定される左端側のゲインＧ１と右端側のゲインＧ２は、Ｇ１＜Ｇ２となっており、かかるゲイン設定によって、光ヘッド２００の右端を駆動することによる左データ領域１０１Ｌの右端位置における駆動レスポンスがゲインＧ１の場合に比べて高められる。これにより、光ヘッドの左右の駆動位置と左データ領域１０１Ｌの左右端位置との間の距離差に基づく駆動レスポンスの不均一性が是正される。
【００６６】
なお、左データ領域１０１Ｌの左右端位置における駆動レスポンスをほぼ整合させるには、ゲインＧ１、Ｇ２を、Ｇ１：Ｇ２＝１：２に設定すれば良い。
【００６７】
かかる設定が終了した後、光ヘッド２００の左右端を駆動することによるサーボ引き込みが行われる（Ｓ２０４、Ｓ２０８）。このとき、扁平ビームは、上記エラー信号の選択設定によって、図３に示す扁平部ＡＬの両端が左データ領域１０１Ｌの幅方向両端部に引き込まれるようになる。これにより、ターゲット層に図１９に示すような反りが生じていても、扁平部ＡＬは、左データ領域１０１Ｌの傾きに応じて同様に傾き、左データ領域１０１Ｌに適正に入射される。
【００６８】
しかして、左右端のサーボ引き込みが終了すると（Ｓ２０５、Ｓ２０９：ＹＥＳ）、左データ領域１０１Ｌの読み出しが行われる（Ｓ２０１）。そして、左データ領域１０１Ｌの読み出しが適正に行われると、当該ステップの処理がクローズされ、図１１のＳ２１の処理へと引き継がれる。
【００６９】
なお、上記Ｓ２０において右データ領域１０１Ｒの再生処理が行われる場合には、図１３に示すフローチャート従って、右データ領域１０１Ｒの読み出しが行われる。ここでは、Ｓ２２２において、Ｌドライバ２０Ｌ用のエラー信号としてエラー信号ＥＣが選択設定され、また、Ｓ２２６において、Ｒドライバ２０Ｌ用のエラー信号としてエラー信号ＥＲが選択設定される。かかる設定により、ターゲット層に図１９に示すような反りが生じていても、扁平部ＡＲが、右データ領域１０１Ｒの傾きに応じて同様に傾き、右データ領域１０１Ｒに適正に入射されるようになる。
【００７０】
また、かかるフローチャートでは、Ｓ２２３において、Ｌドライバ２０Ｌ用のゲインとしてＧ２が選択設定され、また、Ｓ２２７において、Ｒドライバ２０Ｌ用のゲインとしてＧ１が選択設定される。ここで、両ゲインは、上記のようにＧ１＜Ｇ２の関係にあり、より具体的には、Ｇ１：Ｇ２＝１：２となっているため、右データ領域１０１Ｒの左右端位置における駆動レスポンスはほぼ整合される。これにより、図３に示す扁平部ＡＲの左右端を、右データ領域１０１Ｒの幅方向左右端に円滑に引き込むことができる。
【００７１】
なお、その他のステップにおける処理は、図１２に示す対応ステップにおける処理と同様である。すなわち、再生すべきデータ領域が右データ領域１０１Ｒであると判別されると（Ｓ２２１：ＹＥＳ）、上記エラー信号の選択設定とゲイン設定が行われた後（Ｓ２２２、Ｓ２２３、Ｓ２２６、Ｓ２２７）、光ヘッドのサーボ引き込みが行われ（Ｓ２２４、Ｓ２２５、Ｓ２２８、Ｓ２２９）、右データ領域１０１Ｒの読み出しが行われる（Ｓ２３０、Ｓ２３１）。
【００７２】
以上、本発明に係る実施の形態について説明したが、本発明は、かかる実施の形態に限定されるものではなく、他に種々の変更が可能であることは言うまでもない。
【００７３】
たとえば、上記実施形態では、サーボマークを記録層の幅方向に３箇所配し（サーボマーク１０３Ｌ、１０３Ｒ、１０３Ｃ）、これに応じてデータ領域を幅方向に２分割するようにした（左データ領域１０１Ｌ、右データ領域１０１Ｒ）が、サーボマークを記録層の幅方向に４箇所以上配し、これに応じてデータ領域を幅方向に分割するようにしても良い。
【００７４】
図１４に、サーボマークを記録層の幅方向に４箇所配し、これに応じてデータ領域を幅方向に３分割する場合の変更例を示す。かかる変更例において、左データ領域１０１Ｌを読み出す場合には、スイッチング回路６０Ｌおよび６０Ｒによって、それぞれエラー信号ＥＬおよびＥＣ１が選択され、また、右データ領域１０１Ｒを読み出す場合は、スイッチング回路６０Ｌおよび６０Ｒによって、それぞれエラー信号ＥＣ２およびＥＲが選択される。さらに、中データ領域１０１Ｒを読み出す場合は、スイッチング回路６０Ｌおよび６０Ｒによって、それぞれエラー信号ＥＣ１およびＥＣ２が選択される。
【００７５】
また、この変更例において、左データ領域１０１Ｌを読み出す場合には、ゲイン設定回路７０Ｌおよび７０Ｒによって、それぞれゲインＧ１、Ｇ２が設定され、また、右データ領域１０１Ｒを読み出す場合には、ゲイン設定回路７０Ｌおよび７０Ｒによって、それぞれゲインＧ２、Ｇ１が設定される。さらに、中データ領域１０１Ｃを読み出す場合には、ゲイン設定回路７０Ｌおよび７０Ｒによって、それぞれゲインＧ１、Ｇ１が設定される。ここで、ゲインＧ１、Ｇ２は、上記実施の形態と同様、左データ領域１０１Ｌの左右両端部および右データ領域１０１Ｒの左右両端部における扁平ビームの駆動レスポンスを整合させるべく、Ｇ１＜Ｇ２に設定され、より具体的には、Ｇ１：Ｇ２＝１：３に設定される。
【００７６】
なお、サーボマークを記録層の幅方向に５箇所、６箇所、…、配する場合にも、これと同様に、各データ領域の左右両端部における扁平ビームの駆動レスポンスが整合されるよう、各領域再生時における光ヘッド両端部の駆動ゲインを調整するようにすればよい。
【００７７】
図１５、１６、１７は、図１４に示す変更例において、左データ領域、右データ領域、中データ領域を読み出す際の処理フローを示すものである。これら処理フローの構成は、上記実施の形態のおける図１２および図１３の処理フローと同様である。これらの処理フローでは、再生対象のデータ領域に応じて、エラー信号の選択とゲインの設定が適宜調整されている（図１５：Ｓ２０２、Ｓ２０３、Ｓ２０６、Ｓ２１２。図１６：Ｓ２２２、Ｓ２３２、Ｓ２２６、Ｓ２２７。図１７：Ｓ２４２、Ｓ２４３、Ｓ２４６、Ｓ２４７）
かかる変更例では、上記実施の形態に比べ、サーボマークの配置箇所が１箇所多くなっている分、扁平ビームの各平坦部を対応するデータ領域により適正に入射させることができる。ただし、サーボマークの奥方向にデータ領域を配しない場合には、サーボマークの配置箇所が１箇所多くなっている分だけ、上記実施形態よりも記録層のデータ容量が小さくなってしまう。
【００７８】
サーボマークの奥側の領域は、サーボマークによる影響を受けて、入射ビームの状態が不安定となるため、データ領域を配さないようにするのが好ましい。ただし、再生装置側（回路側）にサーボマークによる影響を解消または低減する手段を配せる場合には、この領域にデータ領域を配することもできる。
【００７９】
また、図１８に示すように、サーボマークの奥側の領域にアドレス情報を記録するようにすることもできる。上記のように、アドレス情報は、ホログラムが形成されている領域と形成されていない領域の組み合わせによって記録されるため、入射ビームの状態が多少不安定でも、適正に読み出すことができる。このようにサーボマークの奥側の領域にアドレス情報を記録するようにすると、その分、データ領域の記録容量を大きくすることができる。
【００８０】
加えて、図１８に示すように、中央のサーボマーク１０３Ｃの奥側の領域にもアドレス情報を記録するようにすると、各データ領域の読み出し時に行われるサーボ引き込み（図１２：Ｓ２０４、２０８、図１３：Ｓ２２４、２２８）によって、扁平ビームの扁平部ＡＬ、ＡＲの幅方向端部がターゲット層の上下に位置する記録層に誤って引き込まれたような場合に、これを円滑に識別することができる。図１の場合、中央のサーボマーク１０３Ｃの隣接位置にはアドレス情報が記録されていないため、図３において、扁平ビームの扁平部ＡＬの右端あるいは扁平部ＡＲの左端がターゲット層の上下に位置する記録層に誤って引き込まれた場合、これを適正に識別することはできない。
【００８１】
記録層の反りがそれ程大きくないような場合には、図１２のＳ２０４および２０８、または、図１３のＳ２２４および２２８にて引き込みを行うと、通常、扁平部ＡＬの右端あるいは扁平部ＡＲの左端はターゲット層方向に引き込まれる。しかし、記録層の反りが大きい場合や、サーボ引き込み時に振動等の外乱が生じた場合には、扁平部ＡＬの右端あるいは扁平部ＡＲの左端がターゲット層の上下に位置する記録層に誤って引き込まれる恐れがある。この場合、上記実施形態の構成では、再生エラーとなってしまう。
【００８２】
これに対し、図１８に示すように、中央のサーボマーク１０３Ｃの奥側の領域にもアドレス情報を記録するようにすると、扁平部ＡＬの右端あるいは扁平部ＡＲの左端がターゲット層の上下に位置する記録層に誤って引き込まれた場合にも、これを適正に識別することができる。そして、その識別結果に応じて、当該端部に層間ジャンプを掛けることにより、当該端部をターゲット層に引き込むことができる。
【００８３】
このように、図１８の構成によれば、データ容量の増大と、ターゲット層の円滑な再生を同時に達成することができる。
【００８４】
この他、サーボマークは、各記録層のビーム入射口の入り口近傍に配する他、各記録層の最奥部等に配するようにしても良い。また、積層方向にビームズレは、上記実施形態におけるサーボマークと段差ビームによる検出手法の他、他のサーボマークや光学手段あるいはビーム形状を用いて検出するようにすることもできる。
【００８５】
本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００８６】
【図１】実施の形態に係る光カード１００の上面図
【図２】実施の形態に係る光カード１００の側面図
【図３】実施の形態に係るビーム入射状態を説明する図
【図４】実施の形態に係るエラー信号の生成方法を説明する図
【図５】実施の形態に係る光ヘッド２００の上面図
【図６】実施の形態に係る光ヘッド２００の断面図
【図７】実施の形態に係る光再生装置本体の上面図
【図８】実施の形態に係る光再生装置本体の断面図
【図９】実施の形態に係る光再生装置の回路構成を示す図
【図１０】実施の形態に係る光再生装置の回路構成を示す図
【図１１】実施の形態に係る再生動作時の処理フローチャート
【図１２】実施の形態に係る再生動作時（左データ領域）の処理フローチャート
【図１３】実施の形態に係る再生動作時（右データ領域）の処理フローチャート
【図１４】変更例に係る光再生装置の回路構成を示す図
【図１５】変更例に係る再生動作時（左データ領域）の処理フローチャート
【図１６】変更例に係る再生動作時（右データ領域）の処理フローチャート
【図１７】変更例に係る再生動作時（中データ領域）の処理フローチャート
【図１８】他の変更例に係る光カード１００の上面図
【図１９】従来技術を説明する図
【図２０】従来技術の問題点を説明する図
【図２１】本発明の効果を説明する図
【符号の説明】
【００８７】
１００    …光カード
１０１Ｌ  …左データ領域
１０１Ｒ  …右データ領域
１０１Ｃ  …中データ領域
１０３Ｌ、１０３Ｒ、１０３Ｃ  …サーボマーク
２００    …光ヘッド
２０５Ｌ、２０５Ｒ  …コイル
４０６Ｌ、４０６Ｒ  …光センサ
１０Ｌ、１０Ｒ、１０Ｃ、１０Ｃ１、１０Ｃ２  …エラー信号生成回路
２０Ｌ    …Ｌドライバ
２０Ｒ    …Ｒドライバ
５０      …コントローラ
６０Ｌ、６０Ｒ  …スイッチング回路
７０Ｌ、７０Ｒ  …ゲイン設定回路
【図１】
2006195505.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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