(57)【要約】【課題】  消費電力を抑えて長時間に亘って使用することができ、加えて、プローブが被検査体から浮き上がってしまうことのなく好適に押圧されて被検査体の探傷を行うことができる非破壊検査装置を提供する。【解決手段】  被検査体の傷を探すプローブを備える非破壊検査装置であって、前記プローブが被検査体に対して押圧されていることを検知する押圧検知部と、前記押圧検知部が前記押圧されていることを検知した場合に前記プローブへの電力供給をオンとし且つ前記押圧されていることを検知していない場合には前記プローブへの電力供給をオフとする制御部とを備えた。【選択図】    なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検査体の傷を探すプローブを備える非破壊検査装置であって、
前記プローブが被検査体に対して押圧されていることを検知する押圧検知部と、
前記押圧検知部が押圧されていることを検知した場合に前記プローブへの電力供給をオンとし且つ押圧されていることを検知していない場合には前記プローブへの電力供給をオフとする制御部とを備えたことを特徴とする非破壊検査装置。
【請求項２】
前記押圧検知部は、探傷時に前記プローブが前記被検査体に対し押圧される方向と同じ向きに押圧されることでオフからオンに切り換えされるスイッチで構成され、
前記スイッチがオンとなった場合に前記プローブへの電力供給をオンとすると共に該プローブを被検査体に押圧することを特徴とする請求項１に記載の非破壊検査装置。
【請求項３】
前記押圧検知部は互いに間隔を空けた複数の押圧検知部材から構成され、前記複数の押圧検知部材が同時に検知した場合に、該押圧検知部が検知したとすることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の非破壊検査装置。
【請求項４】
前記プローブに電力供給された場合に、該プローブに電力供給されていることを告知する告知部を設けたことを特徴とする請求項１から請求項３の何れか一項に記載の非破壊検査装置。
【請求項５】
前記告知部は、視認可能に構成されたことを特徴とする請求項４に記載の非破壊検査装置。
【請求項６】
前記告知部は、合図音を発するように構成されたことを特徴とする請求項４または請求項５に記載の非破壊検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、非破壊検査装置に関し、特にはプローブを備えた省電力に貢献する非破壊検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来から、探傷を行う非破壊検査の装置にあっては、被検査体に押し当てて傷を検出する（探傷）プローブを、接続コードを介して備えるものが提供されている。前記プローブにあっては、例えば、超音波を発して該超音波の跳ね返りの変化によって傷を探し出す方式や、渦電流を発生させて該渦電流の変化によって傷を探し出す方式等が採用されている。前記探傷が的確に行われるには、前記プローブを被検査体に対して適当に押圧して密着されることが必要である。前記プローブの下面に備えられる検出センシング部は、被検査体に接触していないと、正確な検出を行えなくなるからである。なお、本明細書における探傷における傷とは、文字通りの傷ばかりでなく亀裂や隙間等の被検査体の不連続な部分を意味する。
【０００３】
一方、前記非破壊検査装置にあっては、使用分野の観点から、携帯性に優れたポータブルタイプのものが提供されて普及している。このポータブルタイプの非破壊検査装置は、交流電源等に有線接続して電力供給されるのではなく、非破壊検査装置本体に備えられた電池によって電力供給される方式が採用されている。このタイプの非破壊検査装置の中には、探傷を行うことができる時間を長くすることを目的に、消費電力を抑えたものが提供されている（特許文献１参照）。すなわち、特許文献１に記載の非破壊検査装置では、ＦＩＧ．５に図示されるプローブを備えると共に、該プローブにはプローブの電力供給をオンまたはオフとするスイッチが設けられる。この種の非破壊検査装置にあっては、前記スイッチを押してオンとした場合に電力供給がされ、スイッチを離してオフとした場合に電力供給がストップする。なお、電力供給がオンとされた場合に、被検査体の探傷を行うことができる。
【０００４】
しかしながら、上述した非破壊検査装置のプローブにあっては、電力供給スイッチが指で押してオンとする方向と、プローブを被検査体に押圧させる方向とは異なっている。従って、検査者が電力供給スイッチを指で押すと、前記プローブが被検査体から浮き上がってしまう場合があり、被検査体の探傷を的確に行うことができなくなる不具合がある。上述の非破壊検査装置にあっては、このような不具合があっても電力は供給され続ける。
【特許文献１】米国特許第６４２０８６７号明細書
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
本発明は、このような事情に鑑みなされたものであって、消費電力を抑えて長時間に亘って使用することができ、加えて、プローブが被検査体から浮き上がってしまうことのなく好適に被検査体の探傷を行うことができる非破壊検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、本発明は、以下の手段の非破壊検査装置を提供する。
請求項１に係る発明は、被検査体の傷を探すプローブを備える非破壊検査装置であって、前記プローブが被検査体に対して押圧されていることを検知する押圧検知部と、前記押圧検知部が押圧されていることを検知した場合に前記プローブへの電力供給をオンとし且つ押圧されていることを検知していない場合には前記プローブへの電力供給をオフとする制御部とを備えたことを特徴とする。
【０００７】
この発明に係る非破壊検査装置にあっては、プローブが被検査体に対して適当に押圧されると、前記プローブに電力が供給されて被検査体の探傷を行うことができるようになる。それに対して、プローブが押圧されなかったり、その押圧力が適当でなかったりする場合には、プローブに電力は供給されず、被検査体の探傷を行うことができない。従って、非破壊検査（探傷）時における無駄な電力供給を省くものとなる。加えて、この非破壊検査装置にあっては、プローブが被検査体から浮き上がった状態では探傷は行われない。従って、プローブが被検査体に対して適当に押圧される探傷に好適状態に限って、被検査体の探傷を行うことができる。
【０００８】
請求項２に係る発明は、請求項１に記載の非破壊検査装置において、前記押圧検知部は、探傷時に前記プローブが前記被検査体に対し押圧される方向と同じ向きに押圧されることでオフからオンに切り換えされるスイッチで構成され、前記スイッチがオンとなった場合に前記プローブへの電力供給をオンとすると共に該プローブを被検査体に押圧することを特徴とする。
【０００９】
この発明に係る非破壊検査装置にあっては、押圧検知部であるスイッチが押圧されて電力が供給される場合に、プローブは被検査体に対し押圧される。すなわち、プローブが探傷を行うに好ましい状態である場合に、プローブへの電力供給がなされる。従って、プローブが押圧されておらず、探傷を行うに好ましくないような状態の場合にはプローブに電力供給もなされないものとなって、非破壊検査（探傷）時における無駄な電力供給を省くものとなる。加えて、この非破壊検査装置にあっては、プローブが被検査体から浮き上がった状態では探傷は行われない。従って、プローブが被検査体に対して適当に押圧される探傷に好適状態に限って、被検査体の探傷を行うことができる。
【００１０】
請求項３に係る発明は、請求項１または請求項２に記載の非破壊検査装置において、前記押圧検知部は互いに間隔を空けた複数の押圧検知部材から構成され、前記複数の押圧検知部材が同時に検知した場合に、該押圧検知部が検知したとすることを特徴とする。
【００１１】
この発明に係る非破壊検査装置にあっては、プローブが被検査体に押圧されていることを複数箇所で検知できる。さらに、電力供給がオンとされるためには、前記複数箇所の押圧検知部材が同時に押圧されていることが必要とされる。従って、プローブの検査面全体が押圧されることとなって、プローブの被検査体からの浮き上がりを防止し、好適に探傷を行うことができる。
【００１２】
請求項４に係る発明は、請求項１から請求項３の何れか一項に記載の非破壊検査装置において、前記プローブに電力供給された場合に、該プローブに電力供給されていることを告知する告知部を設けたことを特徴とする。
【００１３】
この発明に係る非破壊検査装置にあっては、検査者は、非破壊検査装置が、探傷を行うことができる状態か否かを、告知部によって判断することができる。従って、検査者は、プローブが電力供給されていない状態に電力供給されていると、勘違いを起こすことがなくなり、被検査体の検査（探傷）効率を上げる。
【００１４】
請求項５に係る発明は、請求項４に記載の非破壊検査装置において、前記告知部は、視認可能に構成されたことを特徴とする。
【００１５】
この発明に係る非破壊検査装置にあっては、検査者は、被検査体に対してプローブが適当に押圧されて電力供給されていることを、視覚的に知ることができる。従って、検査者は、自分がプローブを被検査体に適当に押圧しているか否かを一目で確認でき、被検査体の探傷を的確に行うことができる。
【００１６】
請求項６に係る発明は、請求項４または請求項５に記載の非破壊検査装置において、前記告知部は、合図音を発するように構成されたことを特徴とする。
【００１７】
この発明に係る非破壊検査装置にあっては、検査者は、プローブが被検査体に適当に押圧されてプローブへの電力供給されていることを、聴覚的に知ることができる。従って、検査者は、プローブの被検査体への押圧が適当なものであるか否かを、耳で確認できるものとなって、被検査体の探傷を的確に行うことができる。
【発明の効果】
【００１８】
この発明に係る非破壊検査装置によれば、無駄な消費電力が抑えられるため、従来に比して長時間に亘る被検査体の探傷を行うことができる。加えて、非破壊検査装置のプローブは被検査体から浮き上がることなく押圧されるため、探傷を好適に行えることができる非破壊検査装置となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下に、本発明に係る非破壊検査装置の実施形態を、図示しながら説明する。
図１は、本発明に係る非破壊検査装置の第１実施例の斜視図である。図１に示す非破壊検査装置１０は、大きく分けて装置本体１１とプローブ２０とから形成される。具体的には、装置本体１１は中に各種の制御装置（本発明における制御部）１６を内蔵する筐体で形成され、プローブ２０は被検査体に押し当てて探傷を行う部分であり、以下に詳述する構成で形成される。また、前記装置本体１１の前面中央には、探傷を行った内容を視認することができるように形成されたＬＣＤ１２が設けられる。前記ＬＣＤ１２の両側には、各種の役割を担うスイッチ１３が複数設けられる。装置本体１１の上面には、様々な入力機器及び出力機器を接続する接続部１４が複数設けられる。なお、前記接続部１４の一つは、後に詳述するプローブ２０を、接続コード１５を介して接続している。前記装置本体１１に内蔵される制御装置は、前記プローブ２０から検出された数値に基づいて、被検査体の探傷結果を導出する処理を行う。加えて、前記制御装置は、プローブ２０の電力供給をオンまたはオフとする処理も行う。
【００２０】
次に、前記非破壊検査装置１０のプローブ２０について説明する。すなわち、図２に示すプローブ２０は、プローブ筐体２１と、該プローブ筐体２１の上面端から突出して形成されるコード接続部２９とを有する。前記プローブ筐体２１の内部は、図３に示すように、中空となるように中空内部２２が形成される。前記中空内部２２は、探傷に用いるための図示しない検出器、例えばマルチコイルや超音波発生器等が装置される。なお、前記コード接続部２９は、前記プローブ２０が検出した数値を前記装置本体１１に送信する前記接続コード１５を接続する部分であり、前記プローブ筐体２１と一体で形成される。
【００２１】
前記プローブ２０のプローブ筐体２１の下面２３は、被検査体に接触する接触面である。そして、前記下面２３には、前記プローブ筐体２１に内蔵された探傷検出器本体に接続される検出センシング部が設けられる。前記検出センシング部は、被検査体に密着して該被検査体から返ってくる数値を受け取る部分である。また、前記下面２３には、クッション材２４が設けられると共に、該クッション材２４と同じ厚みの検知器２５（本発明における押圧検知部）が、該クッション材２４に形成される孔に、並べられて設けられる。前記クッション材２４は、弾性を有する適宜の弾性樹脂で形成される。前記検知器２５は、該プローブ２０が被検査体に対して押圧されているか否かを検知することを目的として設けられる。前記本実施例の検知器２５は、水晶等の結晶体やセラミックス等の適宜の圧電素子を用いて形成される。そして、クッション材２４及び検知器２５の下側には、前記プローブ筐体２１とは別体で平面垂直方向に移動可能な保護板２６が設けられる。前記保護板２６は、前記クッション材２４及び検知器２５を保護することを目的に設けられるものであって、前記クッション材２４に固着されている。
【００２２】
前記プローブ２０を用いて非破壊検査装置１０（第１実施例）が構成されると、次の通りに作動する。すなわち、前記プローブ２０が被検査体に押圧されると、前記保護板２６は、前記クッション材２４を圧縮しながら、図３における上方へ移動する。これによって、前記検知器２５内の圧電素子は押圧されることとなって、起電してプローブ２０が被検査体に押圧されている旨の検知電気信号が形成される。そして、前記検知電気信号は前記接続コード１５を介して前記装置本体１１に内蔵される制御装置（制御部）に送信され、前記非破壊検査装置１０は前記プローブ２０が被検査体に押圧された旨を判断することとなる。また逆に、前記プローブ２０が被検査体に押圧されていないときには、前記クッション材２４の弾性によって、前記保護板２６はプローブ筐体下部２７よりも下側に僅かばかり突出している。なお、以下同様に扱うが、前記検知電気信号が形成されて制御装置（制御部）に送信されることが、本発明においての押圧されていることの検知に相当するものである。
【００２３】
そうすると、前記装置本体１１に内蔵される制御装置は、前記プローブ２０への電力供給をオンとして、被検査体に傷があるか否かの探傷を行うことができる状態にする。また逆に、前記プローブ２０が被検査体に押圧されず、押圧された旨の検知電気信号を形成しない場合にあっては、前記制御装置に前記検知電気信号も送信されない。従って、前記制御装置も、前記プローブ２０への電力供給をオフとしたままとなる。すなわち、被検査体を検査しない場合には、無駄な電力供給を止めて電池の消費電力を抑えることができる。
【００２４】
次に、前記第１実施例の非破壊検査装置１０のプローブが変形した場合の非破壊検査装置（第２実施例）を説明する。なお、第２実施例の非破壊検査装置に設けられるプローブ３０以外の構成は、上述の第１実施例の非破壊検査装置１０と同様な構成であるため、プローブ３０のみを取り上げて説明し、上述の非破壊検査装置１０と同様の構成についての説明は、同一符号を付す等して省略する。すなわち、第１実施例に設けられるプローブ２０にあっては長さ方向一方にのみに検知器２５を設けるようにしたが、第２実施例に設けられるプローブ３０にあっては下面３３の幅方向の両側方のそれぞれに検知器３５ａ，３５ｂを設ける例である。また、前記検知器３５ａ，３５ｂ二つで、本発明における押圧検知部３５を構成する。なお、符号３１はプローブ筐体を示し、符号３４はクッション材を示す。
【００２５】
前記プローブ３０を用いて非破壊検査装置１０（第２実施例）が構成されると、次の通りに作動する。すなわち、前記プローブ３０が被検査体に押圧されると、前記検知器３５ａ，３５ｂ内の圧電素子も押圧されて起電してプローブ３０が被検査体に押圧されている旨の検知電気信号が形成される。そして、前記検知電気信号は、前記接続コード１５を介して前記装置本体１１に内蔵される制御装置に送信され、前記非破壊検査装置１０は、前記プローブ３０が被検査体に押圧されたことを判断する。
【００２６】
そうすると、前記装置本体１１に内蔵される制御装置は、前記プローブ３０への電力供給をオンとして、被検査体に傷があるか否かの探傷を行うことができる状態にする。また逆に、前記プローブ３０が被検査体に押圧されず、押圧された旨の検知電気信号を形成しない場合にあっては、前記制御装置に前記検知電気信号も送信されない。従って、前記制御装置も、前記プローブ３０への電力供給をオフとしたままとなる。すなわち、被検査体の探傷を行わない場合には、無駄な電力供給を止めて電池の消費電力を抑えることができる。
【００２７】
なお、第２実施例におけるプローブ３０にあっては、前記押圧検知部３５は、長さ方向両方に設けられた検知器３５ａ，３５ｂが押圧された場合にのみ、プローブ３０が被検査体に押圧された旨の検知電気信号を形成する。従って、前記検知器３５ａ，３５ｂの何れか一方のみが押圧されたとしても、プローブ３０が押圧された旨の検知電気信号を形成せず、検知したものとはされない。前記第２実施例に設けられるプローブ３０にあっては、プローブ３０の検査面となる下面３３の全体が被検査体に押圧されるものとなって、被検査体の探傷を好ましく行うことができる。
【００２８】
次に、前記第１実施例の非破壊検査装置１０のプローブが変形した場合の非破壊検査装置（第３実施例）を説明する。なお、第３実施例の非破壊検査装置におけるプローブ以外の構成は、上述の第１実施例の非破壊検査装置１０と同様な構成であるため、プローブのみを取り上げて説明する。従って、上述の非破壊検査装置１０と同様の構成についての説明は、同一符号を付す等して省略する。すなわち、第１実施例に設けられるプローブ２０は圧電素子を用いる構成としたが、これに代わり、第３実施例に設けられるプローブ４０はマイクロスイッチ４３を用いる構成とした例である。なお、本実施例においては、このマイクロスイッチ４３が本発明における押圧検知部に相当する。
【００２９】
具体的には、前記プローブ４０は、プローブ筐体４１の中空内部４２に公知のマイクロスイッチ４３を装置する。前記マイクロスイッチ４３は、大きく分けて、固定部材４４と押圧部材４５とから形成される。前記固定部材４４は、前記プローブ筐体４１に二つのネジ部材４４ａによって螺着される。また、前記固定部材４４の下側には、後述する接点４５ｂと接する接点４４ｂが下方に突出して設けられる。また、前記固定部材４４には、前記押圧部材４５を下側に付勢する板バネ４４ｃが、該固定部材４４の横側から回動自在で設けられる。
【００３０】
前記押圧部材４５は、プローブ筐体４１の下面４６に内部に突出して設けられる枠体４６ａに、上下移動可能に設けられる。そして、前記押圧部材４５は、上側に、前記固定部材４４の接点４４ｂと接する接点４５ｂが上方に突出して設けられる。加えて、前記押圧部材４５は、上側に前記板バネ４４ｃを固着し、前記板バネ４４ｃの付勢力によって前記押圧部材４５は下方へ付勢されている。また、前記押圧部材４５は、下側に被検査体接点４５ａが設けられ、前記プローブ筐体４１の下面４６から下側に突出して形成されている。なお、符号４８は、枠体４６ａと前記押圧部材４５とを密着させて、前記プローブ筐体４１内部に異物が混入するのを防ぐことを目的として配設されるＯ型のリングゴムである。
【００３１】
前記プローブ４０を用いて非破壊検査装置１０（第３実施例）が構成されると、次の通りに作動する。すなわち、前記プローブ４０が被検査体に押圧されると、前記押圧部材４５の被検査体接点４５ａを上方に押して、前記押圧部材４５自体を前記プローブ筐体４１内に移動させる。この移動に伴って、前記固定部材４４の接点４４ｂに、前記押圧部材４５の接点４５ｂが接触して、前記マイクロスイッチ４５は通電状態となる。すなわち、前記接触により検知電気信号を、前記接続コード１５を介して前記装置本体１１に内蔵される制御装置（制御部）に送信する。従って、前記非破壊検査装置１０は、前記プローブ４０が被検査体に押圧された旨を判断する。
【００３２】
そうすると、前記制御装置は、前記プローブ４０への電力供給をオンとして、被検査体に傷があるか否かの探傷を行うことができる状態にする。また逆に、前記プローブ４０が被検査体に押圧されないと、押圧された旨の検知電気信号が前記制御装置に送信されない。従って、前記装置本体１１に内蔵される制御装置も、前記プローブ４０への電力供給をオフとしたままとなる。すなわち、被検査体を検査しない場合には、無駄な電力供給を止めて電池の消費電力を抑えることができる。また、上述のプローブ４０に用いられるマイクロスイッチ４３は、安価に作成することができるため、非破壊検査装置１０の製造コストを削減することができる。
【００３３】
次に、前記第１実施例の非破壊検査装置１０のプローブが変形した場合の非破壊検査装置（第４実施例）を説明する。すなわち、第４実施例に設けられるプローブ５０は、前記第３実施例におけるプローブ４０の押圧検知部であるマイクロスイッチ４３を、フォトセンサ５３としたものである。なお、第４実施例の非破壊検査装置におけるプローブ５０以外の構成は、上述の第１実施例の非破壊検査装置１０と同様な構成であるため、プローブ５０のみを取り上げて説明する。従って、上述の非破壊検査装置１０と同様の構成についての説明は、同一符号を付す等して省略する。
【００３４】
具体的には、前記プローブ５０は、プローブ筐体５１の中空内部５２に公知のフォトセンサ５３を装置する。前記フォトセンサ５３は、大きく分けて、固定部材５４と押圧部材５５とから形成される。前記固定部材５４は、前記プローブ筐体５１に二つのネジ部材５４ａによって螺着される。また、前記固定部材５４の下側には、光を発する発光部５４ｂと、該光を受ける受光部５４ｃとが設けられる。
【００３５】
前記押圧部材５５は、プローブ筐体５１の下面５６に内部に突出して設けられる枠体５６ａに、上下移動可能に設けられる。そして、前記押圧部材５５は、上側に、前記発光部５４ｂから発せられた光を受光部５４ｃが受けられないように遮断する遮断板５５ｂが上方に突出して設けられる。加えて、前記押圧部材５５は、自重によって下方に下がったものとされている。また、前記押圧部材５５は、下側に被検査体接点５５ａが設けられ、前記プローブ筐体５１の下面５６から下側に突出して形成されている。なお、符号５８は、上述したように、枠体５６ａと前記押圧部材５５とを密着させて、前記プローブ筐体５１内部に異物が混入するのを防ぐことを目的として配設されるＯ型のリングゴムである。
【００３６】
前記プローブ５０を用いて非破壊検査装置１０（第４実施例）が構成されると、次の通りに作動する。すなわち、前記プローブ５０が被検査体に押圧されると、前記押圧部材５５の被検査体接点５５ａを上方に押して、前記押圧部材５５自体を前記プローブ筐体５１内に移動させる。この移動に伴って、前記遮断板５５ｂが、前記固定部材５４の発光部５４ｂから発せられた光を受光部５４ｃが受けられないように遮断する。この遮断によって、前記フォトセンサ５３は、検知電気信号を、前記接続コード１５を介して前記装置本体１１に内蔵される制御装置（制御部）に送信する。従って、前記非破壊検査装置１０は、前記プローブ４０が被検査体に押圧された旨を判断する。
【００３７】
そうすると、前記制御装置は、前記プローブ５０への電力供給をオンとして、被検査体に傷があるか否かの探傷を行うことができる状態にする。また逆に、前記プローブ５０が被検査体に押圧されないと、押圧された旨の検知電気信号が前記制御装置に送信されない。従って、前記装置本体１１に内蔵される制御装置も、前記プローブ５０への電力供給をオフとしたままとなる。すなわち、被検査体を検査しない場合には、無駄な電力供給を止めて電池の消費電力を抑えることができる。
【００３８】
次に、前記第１実施例の非破壊検査装置１０のプローブが変形した場合の非破壊検査装置（第５実施例）を説明する。なお、第５実施例の非破壊検査装置に設けられるプローブ６０以外の構成は、上述の第１実施例の非破壊検査装置１０と同様な構成であるため、プローブ３０のみを取り上げて説明し、上述の非破壊検査装置１０と同様の構成についての説明は、同一符号を付す等して省略する。すなわち、第５実施例におけるプローブ６０は、前記第１実施例である非破壊検査装置１０におけるプローブ２０の押圧方向に前進後退可能なスイッチを設けた例である。具体的には、プローブ６０は、プローブ筐体６１の上面に、くり貫き部６４が設けられる。そして、前記くり貫き部６４に、上下移動自在のスイッチ本体６５が突出して設けられる。前記スイッチ本体６５は、前記プローブ筐体６１に内蔵される付勢手段によって上方に付勢されており、スイッチ本体６５に対する押す力を外すと、上方の所定位置に戻るものとなっている。なお、前記スイッチ本体６５はプローブ６０への電力供給のスイッチであり、前記スイッチ本体６５は本発明における押圧検知部に相当する。
【００３９】
前記プローブ６０を用いて非破壊検査装置１０（第５実施例）が構成されると、次の通りに作動する。すなわち、前記プローブ６０のスイッチ本体が下方に押されると、被検査体に押圧されている旨の検知電気信号が形成される。そして、前記検知電気信号は前記接続コード１５を介して前記装置本体１１に内蔵される制御装置（制御部）に送信され、前記非破壊検査装置１０は前記プローブ２０が被検査体に押圧された旨を判断することとなる。なお、前記スイッチ本体６５を下方に押した場合には、その下方に押される力によって、被検査体の探傷を好適に行うことができる程度にプローブ６０が被検査体に押圧される状態となる。
【００４０】
そうすると、前記装置本体１１に内蔵される制御装置は、前記プローブ６０への電力供給をオンとして、被検査体に傷があるか否かの探傷を行うことができる状態にする。また逆に、前記スイッチ本体６５を下方に押さない場合には、前記制御装置に前記検知電気信号も送信されないため、電力供給もオフとしたままとなる。また、このとき、前記プローブ６０は、被検査体に押圧されない状態である。すなわち、被検査体を検査しない場合には、無駄な電力供給を止めて電池の消費電力を抑えることができる。
【００４１】
次に、上述した第５実施例の変形例（第６実施例）を図８に示して説明する。すなわち、前記第５実施例に設けられるプローブ６０にあっては、スイッチ本体６５が上下に移動自在に形成されるものであったが、第６実施例に設けられるプローブ７０にあっては、前記プローブ筐体７１内部に軸支部材を設け、前記軸支部材を軸として回動可能なスイッチ本体７５が形成される。具体的には、プローブ７０は、プローブ筐体７１の上面に、くり貫き部７４が設けられる。そして、前記くり貫き部７４に、前記スイッチ本体７５が突出して設けられる。前記スイッチ本体７５は、回転方向Ａに向かって倒すとスイッチがオンとなるように形成されており、回転方向Ａとは逆方向に内蔵される付勢手段によって付勢されており、スイッチ本体７５に対する押す力を外すと、回転方向Ａとは反対に回転して所定位置に戻るものとなっている。なお、上述のスイッチ本体６５と同様に、前記スイッチ本体７５はプローブ７０への電力供給のスイッチであり、前記スイッチ本体７５は本発明における押圧検知部に相当する。
【００４２】
前記プローブ７０を用いて非破壊検査装置１０（第６実施例）が構成されると、次の通りに作動する。すなわち、前記スイッチ本体７５をオンにしようと回転方向Ａに回転させると、被検査体に押圧されている旨の検知電気信号が形成される。そして、前記検知電気信号は前記接続コード１５を介して前記装置本体１１に内蔵される制御装置（制御部）に送信され、前記非破壊検査装置１０は前記プローブ２０が被検査体に押圧された旨を判断することとなる。なお、前記スイッチ本体７５を回転方向Ａに回転させた場合には、その回転方向Ａの分力によって、被検査体の探傷を好適に行うことができる程度にプローブ７０が被検査体に押圧される状態となる。
【００４３】
そうすると、前記装置本体１１に内蔵される制御装置は、前記プローブ７０への電力供給をオンとして、被検査体に傷があるか否かの探傷を行うことができる状態にする。また逆に、前記スイッチ本体７５を回転方向Ａに回転させない場合には、前記制御装置に前記検知電気信号も送信されないため、電力供給もオフとしたままとなる。また、このとき、前記プローブ７０は、被検査体に押圧されない状態である。すなわち、被検査体を検査しない場合には、無駄な電力供給を止めて電池の消費電力を抑えることができる。
【００４４】
次に、上述した第５実施例の変形例（第７実施例）を図９に示して説明する。なお、図９（ａ）は第７実施例に設けられるプローブ８０の上斜視図、図９（ｂ）は第７実施例に設けられるプローブ８０の下斜視図である。すなわち、上述した第５実施例におけるプローブ６０には、スイッチ本体を１つのみで設けるものであったが、本実施例ではプローブ筐体８１の上面に、上述したように構成されるスイッチ本体を３つ設ける。そして、前記スイッチ本体はそれぞれ押されると、検知電気信号を前記制御装置（制御部）に送信するばかりでなく、制御装置に各種の処理を行わせるように指示する役割も担っている。具体的には、前記スイッチとして、バランススイッチ８２、フリーズスイッチ８３、セーブスイッチ８４が設けられる。そして、前記プローブ筐体８１の下面８５には、検知器（押圧検知部）８６が設けられる。
【００４５】
前記バランススイッチ８２は、プローブ８０が被検査体を探傷するにあたって、検出部位の基準設定（ゼロ設定）をするためのスイッチである。前記バランススイッチ８２が押されると、前記装置本体１１に内蔵される制御装置（制御部）が、被検査体からプローブ８０が検出した検出データをゼロ基準とする処理を行う。また、前記フリーズスイッチ８３は、プローブ８０が被検査体から検出した検出データを一時的に保存するためのスイッチである。前記フリーズスイッチ８３が押されると、前記装置本体１１に内蔵される制御装置が、被検査体からプローブ８０が検出した検出データを前記制御装置に一時的に保存する処理を行う。さらに、前記セーブスイッチ８４は、被検査体から検出された検出データを保存するスイッチである。前記セーブスイッチ８４が押されると、前記装置本体１１に内蔵される制御装置が、被検査体からプローブ８０が検出した検出データを前記制御装置に保存する処理を行う。
【００４６】
また、前記プローブ筐体８１の下面８５に設けられる検知器（押圧検知部）８６は、上述したようなマイクロスイッチ（第３実施例）やフォトセンサ（第４実施例）等をプローブ筐体８１に内蔵した場合に、下面８５に突出して形成される部分である。前記プローブ筐体８１が被検査体に押圧されると、前記検知器８６はプローブ筐体８１内部に押し込まれて、上述したように検知した旨の検知電気信号を、前記接続コード１５を介して前記制御装置に送信する。これにより、前記非破壊検査装置１０は、前記プローブ８０が被検査体に押圧された旨を判断する。
【００４７】
前記プローブ８０を用いて非破壊検査装置１０（第７実施例）が構成されると、被検査体の探傷を行う場合において、装置本体１１に内蔵される制御装置によってなされる各種の処理を、プローブ８０から指示することができる。また、前記各種のスイッチは、上述の第５実施例と同様に、前記各種スイッチ８２，８３，８４をオンにしようと下方に押すと、電力供給がオンとされると共に、前記プローブ８０は被検査体に対して押圧される。また逆に、前記スイッチ８２，８３，８４を下方に押さない場合には、電力供給がオフとされると共に、前記プローブ８０も前記被検査体に対し押圧されない。従って、被検査体の探傷を行わない場合には無駄な電力供給を止めて電池の消費電力を抑え、被検査体の探傷を行う場合には電力供給されて被検査体の探傷を好適に行うことができる。
【００４８】
次に、上述した非破壊検査装置１０に設けられるプローブの上面にＬＥＤランプを設けた例について説明する。すなわち、図１０に示すプローブ９０は、プローブ筐体９１の上面にＬＥＤランプ９２が設けられる。前記ＬＥＤランプ９２は、上述したように、プローブ９０が被検査体に押圧されて電力供給されると、発光するように構成されるものである。
【００４９】
このように、プローブ９０の上面にＬＥＤランプ９２が設けられて非破壊検査装置１０が構成されることによって、検査者は、前記プローブ９０が被検査体に押圧されて電力が供給されていることを視認することができ、プローブの押圧が的確なものであるか否かを判断できるものとなる。なお、前記ＬＥＤランプ９２は、本発明における告知部に相当する。
【００５０】
なお、本発明は上記の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において適宜の選択が可能である。
例えば、上述の第７実施例の告知部は、視認可能なＬＥＤランプで構成したが、これに限定されず、検査者が被検査体を的確に探傷できることを知らせるような合図音が発せられるように、音声発生器を設けて構成されるものであってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】本発明に係る非破壊検査装置の斜視図である。
【図２】図１に示す非破壊検査装置（第１実施例）が備えるプローブの斜視図である。
【図３】図２に示すプローブの切り欠き斜視図である。
【図４】非破壊検査装置（第２実施例）が備えるプローブの斜視図である。
【図５】非破壊検査装置（第３実施例）が備えるプローブの斜視図である。
【図６】非破壊検査装置（第４実施例）が備えるプローブの斜視図である。
【図７】非破壊検査装置（第５実施例）が備えるプローブの斜視図である。
【図８】非破壊検査装置（第６実施例）が備えるプローブの斜視図である。
【図９】非破壊検査装置（第７実施例）が備えるプローブの斜視図である。
【図１０】非破壊検査装置（第８実施例）が備えるプローブの斜視図である。
【符号の説明】
【００５２】
１０    非破壊検査装置
１１    装置本体
１２    ＬＣＤ
１３    スイッチ
１４    接続部
１５    接続コード
２０    プローブ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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