(57)【要約】【課題】電磁界センサーアレイを走査させて測定する場合においても、センサーアレイにおける各電磁界センサー測定値に誤差が生じない、正確な測定が行える近傍電磁界測定用センサーアレイの提供。【解決手段】電子機器近傍の電磁界を測定するために、複数の電磁界センサーが一定間隔で配置された電磁界センサーアレイにおいて、センサーが電磁界を乱す侵襲特性に応じて、アレイ最外周に所望の数だけ測定データを取得しない電磁界センサーを設置したことを特徴とする近傍電磁界測定用センサーアレイ。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子機器近傍の電磁界を測定するために、複数の電磁界センサーが一定間隔で配置された電磁界センサーアレイにおいて、センサーが電磁界を乱す侵襲特性に応じて、アレイ最外周に所望の数だけ測定データを取得しない電磁界センサーを設置したことを特徴とする近傍電磁界測定用センサーアレイ。
【請求項２】
請求項１記載の近傍電磁界測定用センサーアレイは、アレイ最外周に所望の数だけ設置された測定データを取得しない電磁界センサーが、測定系のインピーダンスで終端されることを特徴とする近傍電磁界測定用センサーアレイ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は近傍電磁界測定用センサーアレイに関し、複数の電磁界センサーを格子状に並べた電磁界センサーアレイにおいて、電磁界センサーアレイのセンサー位置によって生じる測定誤差を防ぐことで、電子機器近傍の電磁界を正確に測定するセンサーの設置方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、電子機器の高速化、高性能化などにより、電子機器からの不要電磁波放射による他の電子機器への影響が問題になっている。この不要電磁波放射による他の電子機器への影響はＥＭＩ（Ｅｌｅｃｔｒｏｍａｇｎｅｔｉｃ  Ｉｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ）と呼ばれ、主に無線機器、通信機器の受信障害や電子機器の誤動作を引き起こす。その為、各国では３０ＭＨｚ〜１ＧＨｚあるいは３０ＭＨｚ〜２ＧＨｚの周波数帯域において、電子機器からの不要電磁波放射の規制を行っており、電子機器メーカはこの規制に適合するように製品を設計製造する必要がある。
【０００３】
一般に不要電磁波を測定する方法として遠方界測定を行っているが、遠方界測定では不要な電磁波が電子機器内のどの部位から発生しているのか特定できるとは限らない。そこで、不要電磁波源の特定や発生メカニズムを解析するために電子機器近傍の電磁界を測定するシステムが提案されている。例えば、プリント配線板に対しては特許文献１で提案されている。
【０００４】
図４にプリント配線板に対する近傍電磁界を測定するシステムのイメージ図を示す。電磁界センサー１０１を格子状に配置し、配置された電磁界センサーを随時選択するセンサー切り替え手段１０４によって各センサーを順次切り替えて、プリント配線板における電磁界を測定器１０５にて測定し、各測定点に対応した測定値を演算処理及び画像出力装置１０６にて電磁界分布を表示するシステムである。このシステムによって、プリント配線板における高周波電流の分布を推測することが可能となり、不要電磁波源の特定やノイズ発生メカニズムの解析に使用されている。
【０００５】
一方、金属筐体に複数のプリント配線板を組み上げた電子機器本体に対しては、プリント配線板単体とは異なるメカニズムで不要電磁波が発生する可能性がある。そこで、プリント配線板同様、不要電磁波源の特定や発生メカニズムを解析するために、電子機器の測定に対応した近傍電磁界測定システムが特許文献２で提案されている。
【０００６】
図５に電子機器に対する近傍電磁界を測定するシステムのイメージ図を示す。電磁界センサー１０１が単一の電磁界センサー用の固定冶具５０１によって固定されている。電子機器の凹凸形状に合わせて走査可能なロボット２０２のような走査手段によって、任意の測定領域及び測定間隔で電磁界センサー１０１を走査し、電子機器２０１近傍の電磁界分布を測定器１０５によって測定し、各測定点に対応した測定値を演算処理及び画像出力装置１０６にて表示するシステムが提案されている。いずれの測定システムも，遠方貝測定だけでは判断が困難な不要電磁は源の特定やノイズ発生メカニズムの解明する手段として使用されている。
【特許文献１】特公平０５−０６７１８４号公報
【特許文献２】特開２０００−２３０９５４号公報
【非特許文献１】信学技報２００２−２０「近傍磁界測定における磁界プローブによる電磁界分布変化の検討」
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
ここで、近傍電磁界測定で主に使用される電磁界センサーであるシールディッドループプローブの特性については、非特許文献１に記載されているように、プローブを所定の電磁場に接近配置することで、センサー自体が持つ侵襲度に応じて電磁界分布に乱れが生じる。電子機器全体の近傍電磁界測定システムにおいては、図５に示すように単一の電磁界センサー１０１を測定対象上で走査するため、各測定点において同一の侵襲度で測定している。すなわち各測定点において電磁界センサーによる電磁界分布の変化は一定である。
【０００８】
しかしながら、図２に示すように測定の高速化のために電磁界センサーを電子機器に対して複数並べた電磁界センサーアレイを使用する場合、図３における同一測定点３０１に対して電磁界センサーアレイが図３（ａ）のように最外周に配置された電磁界センサーで測定データを取得した場合と、図３（ｂ）のようにアレイ中央に配置された電磁界センサーで測定データを取得した場合で、隣り合う電磁界センサーの数の違いから侵襲度合いが異なるために、図３（ａ）（ｂ）の各場合で測定値が異なるという問題があった。
【０００９】
近傍電磁界測定では、ノイズ対策部品を追加する前後の電磁界分布を比較検討することで不要電磁波源の特定や発生メカニズムを解析する場合があり、測定条件・環境を常に一定にしておくことが重要である。つまり電磁界センサーが侵襲特性を持っていたとしても、ノイズ対策部品の追加前後で測定条件が同じであれば比較検討を行うことができる。
【００１０】
従来技術のプリント配線板における近傍電磁界測定システムは電磁界センサーアレイすなわち測定領域よりも測定対象が小さいために、プリント配線板の設置個所を固定してしまえばノイズ対策部品の追加前後で測定条件が一定となる。しかし、膨大な測定点数を有する大型電子機器となると、高速化のために電磁界センサーアレイを使用したとしても、電磁界センサーアレイよりも測定領域が大きいために、アレイを走査させる必要があった。
【００１１】
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたものであって、近傍電磁界センサーを複数配置した状態において、正確な測定を可能とする近傍電磁界測定用センサーアレイを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記目的を達成するために、本発明による近傍電磁界測定用センサーアレイは、センサーが電磁界を乱す侵襲特性に応じて、測定領域において均一な電磁界センサーの侵襲度とするために、アレイ最外周に所望の数だけ測定データを取得しない電磁界センサーを設置する。これによって、同一地点の測定においてセンサーアレイ中央、外周で測定値が異なることなく、電子機器近傍の電磁界を正確に測定することが可能になる。
【００１３】
なお、さらに説明すれば、本発明の第一の発明について下記のように示す。
【００１４】
（１）電子機器近傍の電磁界を測定するために、複数の電磁界センサーが一定間隔で配置された電磁界センサーアレイにおいて、センサーが電磁界を乱す侵襲特性に応じて、アレイ最外周に所望の数だけ測定データを取得しない電磁界センサーを設置したことを特徴とする近傍電磁界測定用センサーアレイ。
【発明の効果】
【００１５】
本発明による近傍電磁界測定用センサーアレイによって、測定に用いる電磁界センサーと同一のセンサーをアレイ外周に設けることで、電磁界センサーの侵襲度によって生じるセンサー位置における測定値の誤差を防ぎ、電子機器近傍の電磁界を正確に測定することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下本発明を実施するための最良の形態を、実施例により詳しく説明する。
【実施例】
【００１７】
本発明による近傍電磁界測定用センサーアレイについて図１を用いて説明する。複数の近傍電磁界センサー１０１が任意の距離を持つ一定間隔で配置されたセンサーアレイにおいて、使用する電磁界センサーの侵襲度に応じて、測定領域全面において均一な電磁界侵襲度を作り出すために、測定用電磁界センサー１０１と同一の電磁界センサーをアレイの最外周に配置する。最外周に配置したセンサー１０２は、測定用電磁界センサーと同一のケーブル固定冶具１０３にて固定され、同一ケーブル長にて配線される。測定用電磁界センサーはセンサーを順次選択する切り替え手段１０４に接続され測定器１０５に接続され、測定した各電磁界センサー位置の測定値を演算処理及び画像出力装置１０６にて出力する。
【００１８】
一方、最外周に配置したセンサーは測定系と同一のインピーダンスの終端器１０７によって終端される。この構造によって、測定領域において均一な電磁界センサーの侵襲度を実現することになる。
【００１９】
その結果、図２に示す大型電子機器のような電磁界センサーアレイが有する測定領域よりも測定対象が大きい場合、電磁界センサーアレイを走査して測定を行う必要があるが、走査後の電磁界センサーの位置によって測定値が異なることなく正確な測定を行う測定環境が実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００２０】
【図１】本発明の実施例の説明図
【図２】本発明の実施例の説明図
【図３】本発明の実施例の説明図
【図４】従来のプリント配線板に対する近傍電磁界を測定するシステムのイメージ図
【図５】従来の電子機器に対する近傍電磁界を測定するシステムのイメージ図
【符号の説明】
【００２１】
１０１  測定用電磁界センサー
１０２  測定面を均一侵襲度にするための電磁界センサー
１０３  電磁界センサーアレイ固定冶具
１０４  電磁界センサー切り替え手段
１０５  測定器
１０６  演算処理及び画像出力装置
１０７  終端器
２０１  電子機器
２０２  センサー走査用ロボット
３０１  測定点
３０２  電子機器筐体
３０３  電子機器筐体に接続されたプリント配線板
４０１  プリント配線板
５０１  電磁界センサー固定冶具
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図１】
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