(57)【要約】  【課題】  測定対象物の複数の測定点の座標値を順々に測定するに際して、測定プローブの移動回数を極力減らして、測定時間の短縮化を図ることができるようにすること。  【解決手段】  物体の表面に測定プローブを接触させて座標値を測定する工作機械の制御部に接続された数値制御装置において、工作機械の第２制御部のコンピュータを介して測定対象物の複数の測定点の測定を指示する第１測定指示プログラムを備え、第１測定指示プログラムは、ＮＣ言語で記述された測定対象物に関する諸条件を設定した設定データと、設定データに基づいて測定プローブを測定対象物の上端よりも低い所定の測定開始点に位置させる第１ステップと、測定プローブの高さ方向位置を保持した状態で、測定開始点（第１測定点）から順に、測定対象物の表面の第２測定点Ｋ２の座標値を測定する第２ステップとを備えた。【選択図】  図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
物体の表面に測定プローブを接触させて座標値を測定する工作機械の制御部に接続された数値制御装置において、
前記工作機械の制御部のコンピュータを介して測定対象物の複数の測定点の測定を指示する測定指示プログラムを備え、
前記測定指示プログラムは、
所定のプログラム言語で記述された測定対象物に関する諸条件を設定した設定データと、
前記設定データに基づいて前記測定プローブを測定対象物の上端よりも低い所定の測定開始点に位置させる第１ステップと、
前記測定プローブの高さ方向位置を保持した状態で、前記測定開始点から順に、測定対象物の表面の複数の測定点の座標値を測定する第２ステップと、
を備えたことを特徴とする数値制御装置。
【請求項２】
前記測定対象物が鉛直姿勢にされ各辺が座標軸方向と平行に設定された直方体であり、その直方体の２つの側面の座標値を測定する場合に、前記第２ステップは、
前記直交状に隣接する２つの側面のうち一方の第１側面の座標値を測定する測定ステップと、他方の第２側面の座標値を測定する測定ステップとを有することを特徴とする請求項１に記載の数値制御装置。
【請求項３】
前記測定対象物が鉛直向きにされた円柱であり、この円柱の表面の４つの測定点であって前記円柱の軸心を挟んで十文字状に位置する４つの測定点の座標値を測定する場合に、前記第２ステップは、
前記４つの測定点の座標値を平面視にて時計回り又は反時計回りに順次測定する測定ステップを有することを特徴とする請求項１に記載の数値制御装置。
【請求項４】
前記測定指示プログラムを第１の測定指示プログラムとした場合に、前記数値制御装置は第２の測定指示プログラムを有し、
前記第２の測定指示プログラムは、
前記設定データと、
前記設定データに基づいて前記測定プローブを測定対象物の上端よりも低い所定の測定開始点に位置させる第１ステップと、
前記測定開始点から順に、測定対象物の表面の複数の測定点の座標値を測定する第３ステップであって、
各測定点の測定後に測定プローブを測定対象物の上方を飛び越えさせ且つ次の各測定点の測定前に測定プローブを前記所定の測定高さまで下降させる第３ステップとを備え、
測定開始に際して第２の測定指示プログラムと第３の測定指示プログラムの何れか一方を選択可能に構成されたことを特徴とする請求項２又は３に記載の数値制御装置。
【請求項５】
工作機械を用いてこれに設けられた測定プローブを測定対象物の複数の測定点に接触させて座標値を測定する数値制御装置の測定方法において、
所定のプログラム言語で記述された測定対象物に関する諸条件を設定した設定データに基づいて前記測定プローブを測定対象物の上端よりも低い所定の測定開始点に位置させる第１ステップと、
前記測定プローブの高さ方向位置を保持した状態で、前記測定開始点から順に、測定対象物の表面の複数の測定点の座標値を測定する第２ステップと、
を備えたことを特徴とする数値制御装置の測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、数値制御装置に及びその測定方法関し、特に工作機械を用いてワークに加工を施すに際して、測定プローブをワークである測定対象物の複数の測定点に接触させながら順序移動させて、測定対象物の特定位置の座標値を順々に測定するようにしたものに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、数値制御（所謂、ＮＣ制御）可能な工作機械は、所定の加工プログラムに基づいて、主軸に装着した工具によりワークに切削や研磨、穴あけ等の各種の加工処理を施すことができる一方、主軸に装着した測定プローブを用いて、３次元測定機のように、測定対象物の特定位置の座標値を求めることができるようになっている。
【０００３】
例えば、特許文献１の芯出し機能を備えた数値制御装置は、「１：（ｘ, ｙ, z 端面）」、「２：（内径中心）」、「３：（外形中心）」・・等の複数種類のワーク芯出しパターンを表示手段に表示し、これら表示されたワーク芯出しパターンの中から、作業者により選択されたワーク芯出しパターンを用いて、パレット上に載置されたワークについて測定手段で測定された位置データを自動的に演算で求めるようにしてある。
【０００４】
そこで、そのワークについて測定手段で測定された位置データを自動的に演算で求める測定技術として、次に説明する測定技術が一般的に知られている。
【０００５】
この種の数値制御装置により、測定プローブを用いて測定対象物の特定位置として、例えば実施例に係る図１０に示すように、測定対象物が鉛直姿勢にされた直方体であって、測定対象物の角部Ａ（Ｘ，Ｙ）の座標値を求める場合には、実施例に係る図４に示すように、角部測定の第２測定指示プログラムに基づいて、測定プローブは、先ず図示の測定開始位置に移動され、その後、移動m1で示すＸＹ方向移動により第１測定位置Ｋ１においてＹ座標が求められる。
【０００６】
その後、測定プローブは、移動m2で示すＹ方向移動により所定距離だけ戻された後、移動m3で示すＺ方向移動により測定対象物の上端よりも若干高い位置まで上昇し、移動m4で示すＸＹ方向（斜め方向）に移動し、更に移動m5で示すＺ方向移動により次の第２測定位置Ｋ２の高さ位置まで下降し、移動m6で示すＸ方向移動により第２測定位置Ｋ２においてＸ座標が求められ、最後に、移動m7で示すＸ方向移動により所定距離だけ戻される。それ故、第２測定位置Ｋ２におけるＸ座標と、第１測定位置Ｋ１におけるＹ座標とで、角部Ａ（Ｘ，Ｙ）の座標が求められる。
【０００７】
一方、測定プローブを用いて測定対象物の特定位置として、例えば図１１に示すように、鉛直向きにされた円柱の中心の座標値Ｃ（Ｘ，Ｙ）を求める場合には、実施例に係る図４に示すように、芯出し測定の第２測定指示プログラムに基づいて、測定プローブは、先ず図示の測定開始位置に移動され、その後、移動m1で示すＸＹ方向移動により第１測定位置Ｋ１においてＸ座標（Ｘａ）が求められる。
【０００８】
その後、測定プローブは、移動m2で示すＸ方向移動により所定距離だけ戻された後、移動m3で示すＺ方向移動により測定対象物の上端よりも若干高い位置まで上昇し、移動m4で示すＸＹ方向（斜め方向）に移動し、移動m5で示すＺ方向移動により次の第２測定位置Ｋ２の高さ位置まで下降し、移動m6で示すＹ方向移動により第２測定位置Ｋ２においてＹ座標（Ｙｂ）が求められる。
【０００９】
次に、移動m7示すＹ方向移動により所定距離だけ戻された後、移動m8で示すＺ方向移動によりワークの上端よりも若干高い位置まで上昇し、移動m9で示すＸＹ方向に移動し、移動m10 で示すＺ方向移動により次の第３測定位置Ｋ３の高さ位置まで下降し、移動m11 で示すＸ方向移動により第３測定位置Ｋ３においてＸ座標（Ｘｃ）が求められる。
【００１０】
次に、移動m12 で示すＸ方向移動により所定距離だけ戻された後、移動m13 で示すＺ方向移動により測定対象物の上端よりも若干高い位置まで上昇し、移動m14 で示すＸＹ方向に移動し、移動m15 で示すＺ方向移動により次の第４測定位置Ｋ４の高さ位置まで下降し、移動m16 で示すＹ方向移動により第４測定位置Ｋ４においてＹ座標（Ｙｄ）が求められる。最後に、移動m17 で示すＹ方向移動により所定距離だけ戻される。
【００１１】
それ故、これら２つの第１，第３測定位置Ｋ１，Ｋ３におけるＸ座標（Ｘａ，Ｘｃ）と、これら２つの第２，第４測定位置Ｋ２，Ｋ４におけるＹ座標（Ｙｂ，Ｙｄ）とに基づいて、中心Ｃ（Ｘ，Ｙ）の座標値が求められる。
【特許文献１】特開平１−３０１０４２号公報  （第３〜４頁、図２，図３）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
前述した特許文献１に記載された従来の数値制御装置において、一般的な測定技術によれば、測定プローブを用いて測定対象物に対する複数の測定点の高さ方向位置が同じであるにも関わらず、測定プローブは、直方体の特定の角部の座標値を求める場合、移動m3により上昇して移動m5により下降し、また円柱からなる測定対象物の中心の座標値を求める場合にも、移動m3、移動m8、移動m13 により夫々上昇し、移動m5、移動m10 、移動m15 により夫々下降するようになっており、余分な移動を含んでいる。
【００１３】
一般的に、ＮＣ制御可能な工作機械においては、主軸はサーボモータからなるＸ軸駆動モータとＹ軸駆動モータとＺ軸駆動モータとで３次元的に駆動されるようになっており、測定モードでは、測定プローブは主軸に装着されている。そこで、各駆動モータは、測定プローブの各移動に際して、移動開始直後の加速状態を経て定速状態となり、最終的に減速状態を経て停止する。
【００１４】
即ち、測定プローブを移動させる場合に、測定プローブの移動距離が幾分長くなっても、定速状態の移動速度を高速化することで、測定に要する時間を短縮させることができるが、測定プローブを余分に上昇移動又は下降移動させる場合、つまり移動回数が増加する場合、その都度、各モータが加速状態と減速状態を経るため、測定時間が長期化するという問題がある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
請求項１に係る数値制御装置は、物体の表面に測定プローブを接触させて座標値を測定する工作機械の制御部に接続された数値制御装置において、工作機械の制御部のコンピュータを介して測定対象物の複数の測定点の測定を指示する測定指示プログラムを備え、測定指示プログラムは、所定のプログラム言語で記述された測定対象物に関する諸条件を設定した設定データと、設定データに基づいて測定プローブを測定対象物の上端よりも低い所定の測定開始点に位置させる第１ステップと、測定プローブの高さ方向位置を保持した状態で、測定開始点から順に、測定対象物の表面の複数の測定点の座標値を測定する第２ステップとを備えたものである。
【００１６】
測定指示プログラムに、設定データと、第１ステップ及び第２ステップとが設けられているので、第１ステップにより、設定データに基づいて測定プローブが測定対象物の上端よりも低い所定の測定開始点に位置され、第２ステップにより、測定プローブの高さ方向位置が保持された状態で、測定開始点から順に、測定対象物の表面の複数の測定点の座標値が測定される。即ち、測定プローブは、測定開始点からその他の複数の測定点に亙って、順々に水平移動して、つまり複数の測定点のための必要最小限の移動により、複数の測定点の座標値が測定される。
【００１７】
請求項２に係る数値制御装置は、請求項１の発明において、前記測定対象物が鉛直姿勢にされ各辺が座標軸方向と平行に設定された直方体であり、その直方体の２つの側面の座標値を測定する場合に、第２ステップは、直交状に隣接する２つの側面のうち一方の第１側面の座標値を測定する測定ステップと、他方の第２側面の座標値を測定する測定ステップとを有するものである。
【００１８】
請求項３に係る数値制御装置は、請求項１の発明において、前記測定対象物が鉛直向きにされた円柱であり、この円柱の表面の４つの測定点であって円柱の軸心を挟んで十文字状に位置する４つの測定点の座標値を測定する場合に、第２ステップは、４つの測定点の座標値を平面視にて時計回り又は反時計回りに順次測定する測定ステップを有するものである。
【００１９】
請求項４に係る数値制御装置は、請求項２又は３の発明において、前記測定指示プログラムを第１の測定指示プログラムとした場合に、数値制御装置は第２の測定指示プログラムを有し、第２の測定指示プログラムは、設定データと、設定データに基づいて測定プローブを測定対象物の上端よりも低い所定の測定開始点に位置させる第１ステップと、測定開始点から順に、測定対象物の表面の複数の測定点の座標値を測定する第３ステップであって、各測定点の測定後に測定プローブを測定対象物の上方を飛び越えさせ且つ次の各測定点の測定前に測定プローブを所定の測定高さまで下降させる第３ステップとを備え、測定開始に際して第２の測定指示プログラムと第３の測定指示プログラムの何れか一方を選択可能に構成されたものである。
【００２０】
請求項５に係る数値制御装置の測定方法は、工作機械を用いてこれに設けられた測定プローブを測定対象物の複数の測定点に接触させて座標値を測定する測定方法において、所定のプログラム言語で記述された測定対象物に関する諸条件を設定した設定データに基づいて測定プローブを測定対象物の上端よりも低い所定の測定開始点に位置させる第１ステップと、測定プローブの高さ方向位置を保持した状態で、測定開始点から順に、測定対象物の表面の複数の測定点の座標値を測定する第２ステップとを備えたものである。
【００２１】
工作機械を用いてこれに設けられた測定プローブを定対象物の複数の測定点に接触させて座標値を測定する数値制御装置の測定方法において、所定のプログラム言語で記述された測定対象物に関する諸条件を設定した設定データに基づいて測定プローブを測定対象物の上端よりも低い所定の測定開始点に位置させる第１ステップと、測定プローブの高さ方向位置を保持した状態で、測定開始点から順に、測定対象物の表面の複数の測定点の座標値を測定する第２ステップとを備えたので、請求項１と同様に作用する。
【発明の効果】
【００２２】
請求項１の発明によれば、物体の表面に測定プローブを接触させて座標値を測定する工作機械の制御部に接続された数値制御装置において、工作機械の制御部のコンピュータを介して測定対象物の複数の測定点の測定を指示する測定指示プログラムを備え、その測定指示プログラムに、設定データと、第１ステップ及び第２ステップとが設けられているので、これら第１ステップと第２ステップにより、測定プローブの必要最小限の水平な移動により、上下移動のためのＺ軸駆動モータが一切駆動されずに、複数の測定点の座標値が測定されるので、測定に要する時間を格段に短縮させることができる。
【００２３】
請求項２の発明によれば、前記測定対象物が鉛直姿勢にされ各辺が座標軸方向と平行に設定された直方体であり、その直方体の２つの側面の座標値を測定する場合に、第２ステップは、直交状に隣接する２つの側面のうち一方の第１側面の座標値を測定する測定ステップと、他方の第２側面の座標値を測定する測定ステップとを有するので、これら測定ステップにより、第１側面を測定した座標値と、第２側面を測定した座標値が測定されるので、これら２つの座標値に基づいて、測定対象物である鉛直姿勢にされた直方体の特定の角度の座標値を容易に且つ迅速に求めることができる。その他請求項１と同様の効果を奏する。
【００２４】
請求項３の発明によれば、前記測定対象物が鉛直向きにされた円柱であり、この円柱の表面の４つの測定点であって円柱の軸心を挟んで十文字状に位置する４つの測定点の座標値を測定する場合に、第２ステップは、４つの測定点の座標値を平面視にて時計回り又は反時計回りに順次測定する測定ステップを有するので、その第２ステップにより、十文字状に位置する４つの測定点の座標値が夫々測定されるので、これら４つの座標値に基づいて、測定対象物である鉛直向きの円柱の中心の座標値を容易に且つ迅速に求めることができる。その他請求項１と同様の効果を奏する。
【００２５】
請求項４の発明によれば、前記測定指示プログラムを第１の測定指示プログラムとした場合に、数値制御装置は第２の測定指示プログラムを有し、第２の測定指示プログラムは、設定データと、第１ステップと、第３ステップとを備え、測定開始に際して第２の測定指示プログラムと第３の測定指示プログラムの何れか一方を選択可能に構成されたので、測定プローブが測定の為の移動に際して、測定対象物を保持する保持具と干渉しないため、測定プローブを上昇及び下降させない方が良い場合には、第１の測定指示プログラムにより測定を実行して、優先的に測定時間の短縮化を図ることができる。
【００２６】
一方、測定プローブが測定対象物を保持する保持具と干渉しないように、測定プローブの上昇動作及び下降動作を伴う方が良い場合には、第２の測定指示プログラムにより測定を実行して、測定プローブと保持具とが干渉するのを積極的に防止することができる。その他請求項２又は３と同様の効果を奏する。
【００２７】
請求項５に係る装置制御装置の測定方法によれば、工作機械を用いてこれに設けられた測定プローブを測定対象物の複数の測定点に接触させて座標値を測定する装置制御装置の測定方法において、所定のプログラム言語で記述された測定対象物に関する諸条件を設定した設定データに基づいて測定プローブを測定対象物の上端よりも低い所定の測定開始点に位置させる第１ステップと、測定プローブの高さ方向位置を保持した状態で、測定開始点から順に、測定対象物の表面の複数の測定点の座標値を測定する第２ステップとを備えたので、請求項１と同様の効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２８】
本実施形態における数値制御装置は、測定プローブの高さ方向位置を保持しながら、測定開始点から順に、複数の測定点の各々の座標値を測定プローブにより測定するようにしてある。
【実施例】
【００２９】
数値制御装置３０（以下、単にＮＣ装置と言う）は、図１に示すように、パレット９上に載置されたワークに加工を施す工作機械１に接続され、ドリルやタップ等の工具８を装着した主軸を数値制御するものである。
【００３０】
工作機械１は、主軸２を直交するＸ方向とＹ方向とに移動させるＸＹ軸移動装置３と、Ｚ軸移動装置４と、主軸２を回転駆動させる主軸駆動装置５と、工具交換装置６と、パレット交換装置７等から構成されている。
【００３１】
但し、この工作機械１は、後述するように、３次元測定機としての機能を有し、主軸２に測定プローブ１０（図５，図６参照）を装着することで、その測定プローブ１０の接触により、パレット９上に載置された測定対象物の複数の測定点における座標値を測定可能になっている。
【００３２】
ＸＹ軸移動装置３は、工具８を装着した主軸２を、Ｘ軸モータ１１によりＸ軸方向（左右方向）と、Ｙ軸モータ１２によりＸ軸方向と直交するＹ軸方向とに夫々個別に移動させるようになっている。Ｚ軸移動装置４は、主軸２をＺ軸モータ１５によりＺ軸方向（上下方向）に移動させるようになっている。
【００３３】
主軸駆動装置５は、主軸２を主軸モータ１７により回転駆動し、主軸２に装着された工具８を回転可能になっている。工具交換装置６は、多数の工具８を複数の工具ポットに着脱自在に収納保持する工具マガジン２０を有し、マガジンモータ２１により回転可能に構成され、工具ポットに保持された工具８の一つを主軸２に対して交換可能な位置への割出しを行うとともに、主軸２から工具８を取外して工具マガジン２０に戻した後、上記割り出された工具８を主軸２に装着するようになっている。
【００３４】
パレット交換装置７は、水平なワークテーブル２５をパレット交換モータ２６により鉛直軸回りに間欠的に回転させるものである。即ち、ワークテーブル２５の左半部分に第１パレット９ａが設けられ、その右半分部分に第２パレット９ｂが設けられており、ワークテーブル２５を１８０度ずつ回転させることにより、第１パレット９ａと第２パレット９ｂの何れか一方が主軸２に対応するようになっている。
【００３５】
ところで、ＮＣ装置３０は、工作機械１の側部に一体的に取付けられており、コンピュータを主体として構成されている。そこで、次に、工作機械１の第２制御部４０と、この第２制御部４０に接続されたＮＣ装置３０の第１制御部３０Ａについて、図２のブロック図に基づいて説明する。ここで、これら第１，第２制御部３０Ａ，４０は、夫々マイクロコンピュータにより構成されている。
【００３６】
第１制御部３０Ａは、マスタＣＰＵ３１とマスタＲＡＭ３２及びマスタＲＯＭ３３等からなるマイクロコンピュータで構成されている。マスタＣＰＵ３１は、ＮＣ装置３０全体を総合的に制御する。マスタＲＡＭ３２には、図３に示すように、加工制御の為の複数種類のＮＣ制御プログラム（第１ＮＣ制御プログラム、第２ＮＣ制御プログラム、第３ＮＣ制御プログラム、第４ＮＣ制御プログラム・・・）、加工制御に必要な各種パラメータ、加工処理に使用される各種工具８の半径情報等が記憶されている。
【００３７】
ここで、各ＮＣ制御プログラムはＮＣ言語で記載されており、このＮＣ制御プログラムには複数のブロックのデータからなる加工制御プログラムが記載されている。但し、これらＮＣ制御プログラムの幾つかには、図３に示すように、その先頭部（又は末尾部）に、測定対象物の複数の測定点における座標値を測定するように指令する測定指令（所謂、Ｇ指令）の為のブロックのデータが含まれている。そこで、マスタＲＯＭ３３には、ＮＣ制御プログラムを実行する際に、測定指令で指示される測定動作の動作内容を列挙した測定動作テーブル（図４参照）が記憶されている。
【００３８】
ここで、測定動作テーブルには、測定プローブ１０が測定の為の移動に際して、測定対象物Ｗ１，Ｗ２を保持する保持具（図示略）と干渉しない為に測定プローブ１０の上昇及び下降を伴わない一連の測定動作を記憶した角部測定の第１測定指示プログラム及び芯出し測定の第１測定指示プログラムと、測定プローブ１０が測定の為の移動に際して、測定対象物Ｗ１，Ｗ２を保持する保持具と干渉しないように測定プローブ１０の上昇及び下降を伴う一連の測定動作を記憶した角部測定の第２測定指示プログラム及び芯出し測定の第２測定指示プログラム・・等が格納されている。
【００３９】
ここで、これら角部測定の第１測定指示プログラムと、芯出し測定の第１測定指示プログラムが第１の測定指示プログラムに相当し、これら角部測定の第２阻止指示プログラムと、芯出し測定の第２測定指示プログラムが第２の測定指示プログラムに相当する。
【００４０】
但し、マスタＲＡＭ３２に記憶された各種のデータは、電源がＯＦＦされた後でも記憶保持されるようになっている。マスタＣＰＵ３１には、更に、後述するＮＣ制御プログラムや他の定数等の各種の諸条件のデータを入力する入力手段３５（例えば、キーボード）、ＮＣ制御プログラム等を表示する為の表示手段（例えば、液晶画面）３６が接続されている。これら入力手段３５及び表示手段３６は、図１に示すように、工作機械１の前面に設けられた操作パネル３７に設けられている。
【００４１】
第２制御部４０は、スレーブＣＰＵ４１と、スレーブＲＯＭ４２及びスレーブＲＡＭ４３等からなるマイクロコンピュータで構成されている。スレーブＣＰＵ４１は、各種ワークの加工及びパレット９交換を制御する。
【００４２】
スレーブＲＯＭ４２には、各種ワークの加工およびパレット交換のためのモータ駆動プログラム，定数等が予め記憶されている。また、スレーブＲＡＭ４３には、加工制御実行中の変数やフラグ等が一時的に記憶される。スレーブＣＰＵ４１には、更に、Ｘ軸モータ１１と、Ｙ軸モータ１２と、Ｚ軸モータ１５と、主軸モータ１７と、パレット交換モータ２６及びマガジンモータ２１等が接続されている。
【００４３】
ここで、マスタＣＰＵ３１とスレーブＣＰＵ４１とを相互に接続する為のＭＳ共通（マスタ- スレーブ共通）ＲＡＭ４４が設けられている。このＭＳ共通ＲＡＭ４４より、マスタＣＰＵ３１とスレーブＣＰＵ４１の双方から、各種情報の書き込み及び読み出しが行われ、両ＣＰＵ３１，４１間で指令情報やその他の定数データ等が相互に通信可能である。それ故、マスタＣＰＵ３１は、ＮＣ制御プログラムや各種パラメータ等のデータに基づいて、ＭＳ共通ＲＡＭ４４とスレーブＣＰＵ４１を介して、これらモータ１１，１２，１５，１７，２１，２６を夫々制御可能である。
【００４４】
次に、アドレス「Ｇ」を有する測定指令で指示される測定指示プログラムについて説明する。先ず、Ｇ指令「Ｇｎｎｎ」で指示される測定指令について説明する。但し、符号ｎは指令動作を規定する指令番号である。図４に示すＧ指令の測定指示プログラムにおいて、「Ｇ００」は早送り、「Ｇ０１」は切削送り、「Ｇ３１」はスキップ送り、「Ｇ９０」はアブソリュート指令、「Ｇ９１」はインクリメンタル指令である。
【００４５】
また、パラメータ「ｂ」は測定に際して測定対象物Ｗ１，Ｗ２に当接した測定プローブ１０を逆方向に戻す戻し距離であり、パラメータ「ｅ」は測定時における測定プローブ１０の送り速度、パラメータ「ｆ」は切削最高速度である。
【００４６】
ところで、Ｇ指令「Ｇ１２１」は、図３に示すように、７つのワード（Ｘｎｎ，Ｙｎｎ，Ｉｎｎ，Ｊｎｎ，Ｚｎｎ，Ｒｎｎ，Ｐｎｎ）を付属的に有しており、直方体の角部の座標を２つの測定点により測定した座標値に基づいて求める測定指令である。
【００４７】
ここで、アルファベット文字（Ｘ，Ｙ，Ｉ，Ｊ，Ｚ，Ｒ，Ｐ）に後続する符号ｎは、２桁又は３桁の設定値である。文字「Ｘ」は予測角部のＸ座標値、文字「Ｙ」は予測角部のＹ座標値、文字「Ｉ」は測定点のＸ座標値、文字「Ｊ」は測定点のＹ座標値、文字「Ｚ」はＺ軸方向の下降移動距離、文字「Ｒ」はＺ軸方向の上昇移動距離、文字「Ｐ」は測定指示プログラムの種別を指定するアドレスである。
【００４８】
ここで、７つのワード（Ｘ，Ｙ，Ｉ，Ｊ，Ｚ，Ｒ，Ｐ）のデータが、測定対象物Ｗ１に関する諸条件を設定した設定データに相当する。即ち、図５に基づいて、Ｇ指令「Ｇ１２１」により直方体の特定の角部の座標値が測定により求められる第１測定指示プログラムについて簡単に説明する。この場合、直方体である測定対象物Ｗ１は、鉛直姿勢で且つその各辺が座標軸（Ｘ軸，Ｙ軸，Ｚ軸）方向と平行にパレット９上に載置されている。
【００４９】
更に、測定プローブ１０が主軸２に装着されている。この場合、直交状に隣接する２つの側面のうち、Ｘ軸に平行な一方の第１側面ＷａにおけるＹ座標値と、他方の第２側面ＷｂにおけるＸ座標値を測定するものである。
【００５０】
主軸２の移動により、測定プローブ１０が、先ず測定準備位置ｐ０に移動され、次に移動ｍ１により第１側面Ｗａの第１測定点（測定開始点）Ｋ１に移動して、Ｙ座標値が読み込まれる。その後、測定プローブ１０は、移動ｍ２により測定準備位置ｐ０まで戻り、次に移動ｍ３によりＸ軸方向の測定準備位置ｐ１に移動され、更に、移動ｍ４によりＹ軸方向の測定準備位置ｐ２に移動される。
【００５１】
そして、移動ｍ５により第２側面Ｗｂの第２測定点Ｋ２に移動して、Ｘ座標値が読み込まれ、最終的に、測定準備位置ｐ２まで戻る。これにより、第２測定点Ｋ２におけるＸ座標値と、第１測定点Ｋ１におけるＹ座標値とで、角部Ａ（Ｘ，Ｙ）の座標値が求められる。但し、角部Ａの高さ位置は、図示外のＺ座標値により規定されるようになっている。
【００５２】
次に、Ｇ指令「Ｇ１２７」は、図３に示すように、６つのワード（Ｘｎｎ，Ｙｎｎ，Ｉｎｎ，Ｚｎｎ，Ｒｎｎ，Ｐｎｎ）を付属的に有しており、円柱の中心の座標を十字状の４つの測定点の測定により求める測定指令である。ここで、文字「Ｘ」は予測中心のＸ座標値、文字「Ｙ」は予測中心のＹ座標値、文字「Ｉ」は円柱の直径、文字「Ｚ」はＺ軸方向の下降移動距離、文字「Ｒ」はＺ軸方向の上昇移動距離、文字「Ｐ」は測定指示プログラムの種別を指定するアドレスである。
【００５３】
ここで、６つのワード（Ｘ，Ｙ，Ｉ，Ｚ，Ｒ，Ｐ）のデータが、円柱である測定対象物Ｗ２に関する諸条件を設定した設定データに相当する。即ち、図６に基づいて、Ｇ指令「Ｇ１２７」により測定対象物Ｗ２の中心の座標値が測定により求められる第２測定指示プログラムについて簡単に説明する。この場合、円柱である測定対象物Ｗ２は、鉛直向きにパレット９上に載置されている。更に、測定プローブ１０が主軸２に装着されている。
【００５４】
主軸２の移動により、測定プローブ１０が、先ず測定準備位置ｐ０に移動され、次に移動ｍ１により第１測定点（測定開始点）Ｋ１に移動して、Ｘ座標値が読み込まれる。その後、測定プローブ１０は、移動ｍ２により測定準備位置ｐ０まで戻り、次に移動ｍ３によりＹ軸方向の測定準備位置ｐ１に移動され、更に、移動ｍ４によりＸ軸方向の測定準備位置ｐ２に移動される。
【００５５】
そして、移動ｍ５により第２測定点Ｋ２に移動して、Ｙ座標値が読み込まれる。その後、測定プローブ１０は、移動ｍ６により測定準備位置ｐ２まで戻り、次に移動ｍ７によりＸ軸方向の測定準備位置ｐ３に移動され、更に、移動ｍ８によりＹ軸方向の測定準備位置ｐ４に移動される。そして、移動ｍ９により第３測定点Ｋ３に移動して、Ｘ座標値が読み込まれる。
【００５６】
その後、測定プローブ１０は、移動ｍ１０により測定準備位置ｐ４まで戻り、次に移動ｍ１１によりＹ軸方向の測定準備位置ｐ５に移動され、更に、移動ｍ１２によりＸ軸方向の測定準備位置ｐ６に移動される。そして、移動ｍ１３により第４測定点Ｋ４に移動して、Ｙ座標値が読み込まれる。
【００５７】
最終的に、移動ｍ１４により測定準備位置ｐ６まで戻る。このように、十文字状の４つの測定点の座標値が平面視にて反時計回りに順次測定され、これら第１，第３測定点Ｋ１，３におけるＸ座標値と、第２，第４測定点Ｋ２，４におけるＹ座標値とで、円柱の中心Ｃ（Ｘ，Ｙ）の座標値が求められる。
【００５８】
次に、ＮＣ装置３０の第１制御部３０Ａにより実行される座標値測定制御のルーチンについて、図７のフローチャートに基づいて、測定方法を含めて説明する。但し、図中の符号Ｓｉ（ｉ＝１１、１２、１３・・・）は各ステップである。
【００５９】
図３に示す何れかのＮＣ制御プログラムが選択されて実行されると、先ずＮＣ制御プログラムから最初の１ブロック分のデータに読込まれ、その１ブロックの動作指令が解析される（Ｓ11）。その解析の結果、測定指令でない場合には（Ｓ12：No）、その読み込まれた１ブロックで指示される加工動作が実行され（Ｓ24）、ＮＣ制御プログラムが終了でなければ（Ｓ19：No）、次の１ブロック分のデータが読込まれて解析される（Ｓ20）。
【００６０】
一方、解析の結果、１ブロック分のデータが測定指令の場合であって（Ｓ12：Yes ）、角部測定指令の場合で（Ｓ13）、しかも測定指示プログラムの種別を指定するアドレスＰの指令値が「１」の場合には（Ｓ14）、測定動作テーブルから角部測定の第１測定指示プログラムが読み込まれ（Ｓ15）、その測定指示プログラムに基づいて測定動作が実行される（Ｓ17）。次に、測定指示プログラムにより求められたＸ座標値及びＹ座標値に基づいて、特定位置の座標値演算が実行される（Ｓ18）。
【００６１】
次に、ＮＣ制御プログラムが終了でなければ（Ｓ19：No）、Ｓ20以降が繰り返して実行される。一方、ＮＣ制御プログラムが終了の場合には（Ｓ19：Yes ）、この制御が終了される。ところで、アドレスＰの指令値が「２」の場合には（Ｓ14）、測定動作テーブルから角部測定の第２測定指示プログラムが読み込まれ（Ｓ16）、Ｓ17以降が同様にして実行される。
【００６２】
一方、１ブロック分のデータが測定指令の場合であって（Ｓ12：Yes ）、芯出し測定指令の場合で（Ｓ13）、しかも測定指示プログラムの種別を指定するアドレスＰの指令値が「１」の場合には（Ｓ21）、測定動作テーブルから芯出し測定の第１測定指示プログラムが読み込まれ（Ｓ22）、Ｓ17以降が繰り返して実行される。ところで、アドレスＰの指令値が「２」の場合には（Ｓ21）、測定動作テーブルから芯出し測定の第２測定指示プログラムが読み込まれ（Ｓ23）、Ｓ17以降が同様にして実行される。
【００６３】
次に、直方体である測定対象物Ｗ１の角部測定のうちの第１測定指示プログラムの作用について、図８に基づいて、図４の測定指示プログラムを参照しながら説明する。この場合の測定指示プログラムの内容を次に示す。但し、この第１測定指示プログラムにおいては、測定プローブ１０が測定の為の移動に際して、測定対象物Ｗ１を保持する保持具と干渉しない為に測定プローブ１０の上昇及び下降を伴わないようになっている。
【００６４】
＜第１測定指示プログラム＞
ブロック１・・G90 G00 X[x1] Y[y1] 
ブロック２・・G91 G31 Y[a] F[e]   
ブロック３・・G01 Y[b] F[f] 
ブロック４・・G90 G00 X[x2] 
ブロック５・・G00 Y[y2] 
ブロック６・・G91 G31 x[a] F[e] 
ブロック７・・G01 X[b] F[f] 
ここで、ブロック１とブロック２とが第１ステップに相当し、ブロック３〜ブロック７が第２ステップに相当する。
【００６５】
前述したように、直方体である測定対象物Ｗ１は各辺が座標軸（Ｘ軸，Ｙ軸，Ｚ軸）方向と平行にパレット９上に載置されている。但し、寸法「ｔ」は測定プローブ１０の半径であり、寸法「ｓ」は測定準備位置ｐ０から測定プローブ１０による測定の為の移動距離であり、寸法「ａ」は測定プローブ１０により測定を行う為のオーバーランである。
【００６６】
そこで、先ず、ブロック１により、測定プローブ１０は、測定開始に先立って、測定準備位置ｐ０に移動される。次に、ブロック２により、測定プローブ１０は移動ｍ１で図示のように、第１側面Ｗａの第１測定点（測定開始点）Ｋ１に移動して、Ｙ座標値が測定される。その後、ブロック３により、測定プローブ１０は移動ｍ２で図示のように、測定準備位置ｐ０まで戻る。次に、ブロック４により、測定プローブ１０は移動ｍ３で図示のように、Ｘ軸方向の測定準備位置ｐ１に移動される。
【００６７】
次に、ブロック５により、測定プローブ１０は移動ｍ４で図示のように、Ｙ軸方向の測定準備位置ｐ２に移動される。次に、ブロック６により、測定プローブ１０は移動ｍ５で図示のように、第２側面Ｗｂの第２測定点Ｋ２に移動して、Ｘ座標値が読み込まれる。そして、ブロック７により、測定プローブ１０は移動ｍ６で図示のように、最終的に、測定準備位置ｐ２まで戻る。このようにして、第２測定点Ｋ２におけるＸ座標値と、第１測定点Ｋ１におけるＹ座標値とに基づいて、ｍｄ対象物（直方体）Ｗ１の角部Ａ（Ｘ，Ｙ）の座標値が求められる。但し、角部Ａの高さ位置は、図示外のＺ座標値により規定されるものである。
【００６８】
次に、円柱である測定対象物Ｗ２の芯出し測定のうちの第１測定指示プログラムの作用について、図９に基づいて、図４の測定指示プログラムを参照しながら説明する。この場合の第２測定指示プログラムの内容を次に示す。但し、この第１測定指示プログラムにおいても、測定プローブ１０が測定の為の移動に際して、測定対象物Ｗ２を保持する保持具と干渉しない為に測定プローブ１０の上昇及び下降を伴わないものである。
【００６９】
＜第１測定指示プログラム＞
ブロック１・・G90 G00 X[x1] Y[y1] 
ブロック２・・G91 G31 Y[a] F[e] 
ブロック３・・G01 X[b] F[f] 
ブロック４・・G90 G00 Y[y2] 
ブロック５・・G00 X[x2] 
ブロック６・・G91 G31 Y[a] F[e] 
ブロック７・・G01 Y[b] F[f] 
ブロック８・・G90 G00 X[x3] 
ブロック９・・G00 Y[y3] 
ブロック10・・G91 G31 X[a] F[e] 
ブロック11・・G01 X[b] F[f] 
ブロック12・・G90 G00 Y[y4] 
ブロック13・・G00 X[x4] 
ブロック14・・G91 G31 Y[a] F[e] 
ブロック15・・G01 X[b] F[f] 
ここで、ブロック１とブロック２とが第１ステップに相当し、ブロック３〜ブロック１５が第２ステップに相当する。
【００７０】
前述したように、円柱である測定対象物Ｗ２は鉛直向きでパレット９上に載置されている。但し、この場合にも、寸法「ｔ」は測定プローブ１０の半径であり、寸法「ｓ」は測定準備位置ｐ０から測定プローブ１０による測定の為の移動距離であり、寸法「ａ」は測定プローブ１０により測定を行う為のオーバーランである。
【００７１】
先ず、ブロック１により、測定プローブ１０は、測定開始に先立って、測定準備位置ｐ０に移動される。次に、ブロック２により、測定プローブ１０は移動ｍ１で図示のように、第１測定点（測定開始点）Ｋ１に移動して、Ｘ座標値（Ｘａ）が測定される。その後、ブロック３により、測定プローブ１０は移動ｍ２で図示のように、測定準備位置ｐ０まで戻る。次に、ブロック４により、測定プローブ１０は移動ｍ３で図示のように、Ｙ軸方向の測定準備位置ｐ１に移動される。
【００７２】
次に、ブロック５により、測定プローブ１０は移動ｍ４で図示のように、Ｘ軸方向の測定準備位置ｐ２に移動される。次に、ブロック６により、測定プローブ１０は移動ｍ５で図示のように、第２測定点Ｋ２に移動して、Ｙ座標値（Ｙｂ）が読み込まれる。その後、ブロック７により、測定プローブ１０は移動ｍ６で図示のように、測定準備位置ｐ２まで戻る。
【００７３】
次に、ブロック８により、測定プローブ１０は移動ｍ７で図示のように、Ｘ軸方向の測定準備位置ｐ３に移動される。ブロック９により、測定プローブ１０は移動ｍ８で図示のように、Ｙ軸方向の測定準備位置ｐ４に移動される。次に、ブロック１０により、測定プローブ１０は移動ｍ９で図示のように、第３測定点Ｋ３に移動して、Ｘ座標値（Ｘｃ）が読み込まれる。
【００７４】
次に、ブロック１１により、測定プローブ１０は移動ｍ１０で図示のように、測定準備位置ｐ４まで戻る。次に、ブロック１２により、測定プローブ１０は移動ｍ１１で図示のように、Ｙ軸方向の測定準備位置ｐ５に移動され、更に、ブロック１３により、測定プローブ１０は移動ｍ１２で図示のように、Ｘ軸方向の測定準備位置ｐ６に移動される。
【００７５】
次に、ブロック１４により、測定プローブ１０は移動ｍ１３で図示のように、第４測定点Ｋ４に移動して、Ｙ座標値（Ｙｄ）が読み込まれる。そして、ブロック１５により、測定プローブ１０は移動ｍ１４で図示のように、最終的に、測定準備位置ｐ６まで戻る。このようにして、第１，第３測定点Ｋ１，３におけるＸ座標値（Ｘａ，Ｘｃ）と、第２，第４測定点Ｋ２，４におけるＹ座標値（Ｙｂ，Ｙｄ）とに基づいて、測定対象物（円柱）Ｗ２の中心Ｃ（Ｘ，Ｙ）の座標値が求められる。
【００７６】
ところで、測定対象物（直方体）Ｗ１の角部測定のうちの第２測定指示プログラムの作用について、図１０に基づいて、図４の測定指示プログラムを参照しながら説明する。この場合の測定指示プログラムの内容を次に示す。但し、この第２測定指示プログラムにおいては、測定プローブ１０が測定の為の移動に際して、測定対象物Ｗ１を保持する保持具と干渉する為に測定プローブ１０の上昇及び下降を伴うようになっている。
【００７７】
＜第２測定指示プログラム＞
ブロック１・・G90 G00 X[x1] Y[y1] 
ブロック２・・G91 G31 Y[a] F[e] 
ブロック３・・G01 Y[b] F[f] 
ブロック４・・G90 G00 Z[r]
ブロック５・・G00 X[x2] Y[y2] 
ブロック６・・G00 Z[z]
ブロック７・・G91 G31 x[a] F[e] 
ブロック８・・G01 X[b] F[f] 
ここで、ブロック１とブロック２とが第１ステップに相当し、ブロック３〜ブロック８が第３ステップに相当する。
【００７８】
先ず、ブロック１により、測定プローブ１０は、測定開始に先立って、測定準備位置ｐ０に移動される。次に、ブロック２により、測定プローブ１０は移動ｍ１で図示のように、第１側面Ｗａの第１測定点（測定開始点）Ｋ１に移動して、Ｙ座標値が測定される。その後、ブロック３により、測定プローブ１０は移動ｍ２で図示のように、測定準備位置ｐ０まで戻る。次に、ブロック４により、測定プローブ１０は移動ｍ３で図示のように、Ｚ方向移動により測定対象物Ｗ１，Ｗ２の上端よりも高い測定準備位置ｐ２まで上昇し、次のブロック５により、測定プローブ１０は移動ｍ４で図示のように、ＸＹ方向（斜め方向）の測定準備位置ｐ３に移動される。
【００７９】
次に、ブロック６により、測定プローブ１０は移動ｍ５で図示のように、Ｚ方向移動により次の第２測定位置Ｋ２の高さ位置である測定準備位置ｐ４まで下降し、次のブロック７により、測定プローブ１０は移動ｍ６で図示のように、第２側面Ｗｂの第２測定点Ｋ２に移動して、Ｘ座標値が読み込まれる。そして、ブロック８により、測定プローブ１０は移動ｍ７で図示のように、最終的に、測定準備位置ｐ４まで戻る。
【００８０】
このようにして、第２測定点Ｋ２におけるＸ座標値と、第１測定点Ｋ１におけるＹ座標値とに基づいて、測定対象物（直方体）Ｗ１の角部Ａ（Ｘ，Ｙ）の座標値が求められる。但し、角部Ａの高さ位置は、図示外のＺ座標値により規定されるようになっている。
【００８１】
一方、測定対象物（円柱）Ｗ２の芯出し測定のうちの第２測定指示プログラムの作用について、図１１に基づいて、図４の測定指示プログラムを参照しながら説明する。この場合の測定指示プログラムの内容を次に示す。但し、この第２測定指示プログラムにおいては、測定プローブ１０が測定の為の移動に際して、測定対象物Ｗ２を保持する保持具と干渉する為に測定プローブ１０の上昇及び下降を伴うようになっている。
【００８２】
＜第２測定指示プログラム＞
ブロック１・・G90 G00 X[x1] Y[y1] 
ブロック２・・G91 G31 Y[a] F[e] 
ブロック３・・G01 X[b] F[f] 
ブロック４・・G90 G00 Z[r]
ブロック５・・G00 X[x2] Y[y2] 
ブロック６・・G00 Z[z]  
ブロック７・・G91 G31 Y[a] F[e] 
ブロック８・・G01 Y[b] F[f] 
ブロック９・・G90 G00 Z[r]
ブロック10・・G00 X[x3] Y[y3] 
ブロック11・・G00 Z[z]
ブロック12・・G91 G31 Y[a] F[e] 
ブロック13・・G01 X[b] F[f] 
ブロック14・・G90 G00 Z[r]
ブロック15・・G00 X[x4] Y[y4] 
ブロック16・・G00 Z[z]  
ブロック17・・G91 G31 Y[a] F[e] 
ブロック18・・G01 X[b] F[f] 
ここで、ブロック１とブロック２とが第１ステップに相当し、ブロック３〜ブロック１８が第３ステップに相当する。
【００８３】
先ず、ブロック１により、測定プローブ１０は、測定開始に先立って、測定準備位置ｐ０に移動される。次に、ブロック２により、測定プローブ１０は移動ｍ１で図示のように、第１測定点（測定開始点）Ｋ１に移動して、Ｘ座標値（Ｘａ）が測定される。その後、ブロック３により、測定プローブ１０は移動ｍ２で図示のように、測定準備位置ｐ０まで戻る。次に、ブロック４により、測定プローブ１０は移動ｍ３で図示のように、Ｚ方向移動により測定対象物Ｗ２の上端よりも高い測定準備位置ｐ１まで上昇し、次のブロック５により、測定プローブ１０は移動ｍ４で図示のように、測定対象物Ｗ２の上方を飛び越えてＸＹ方向の測定準備位置ｐ２に移動される。
【００８４】
次に、ブロック６により、測定プローブ１０は移動ｍ５で図示のように、Ｚ方向移動により次の第２測定位置Ｋ２の高さ位置である測定準備位置ｐ３まで下降し、次のブロック７により、測定プローブ１０は移動ｍ６で図示のように、第２測定点Ｋ２に移動して、Ｙ座標値（Ｙｂ）が読み込まれる。
【００８５】
その後、ブロック８により、測定プローブ１０は移動ｍ７で図示のように、測定準備位置ｐ３まで戻る。次に、ブロック９により、測定プローブ１０は移動ｍ８で図示のように、Ｚ方向移動により測定対象物Ｗ２の上端よりも高い測定準備位置ｐ２まで上昇し、次のブロック１０により、測定プローブ１０は移動ｍ９で図示のように、測定対象物Ｗ２の上方を飛び越えてＸＹ方向の測定準備位置ｐ４に移動される。
【００８６】
次に、ブロック１１により、測定プローブ１０は移動ｍ１０で図示のように、Ｚ方向移動により次の第３測定位置Ｋ３の高さ位置である測定準備位置ｐ５まで下降し、次のブロック１２により、測定プローブ１０は移動ｍ１１で図示のように、第３測定点Ｋ３に移動して、Ｘ座標値（Ｘｃ）が読み込まれる。その後、ブロック１３により、測定プローブ１０は移動ｍ１２で図示のように、測定準備位置ｐ５まで戻る。
【００８７】
次に、ブロック１４により、測定プローブ１０は移動ｍ１３で図示のように、Ｚ方向移動により測定対象物Ｗ２の上端よりも高い測定準備位置ｐ４まで上昇し、次のブロック１５により、測定プローブ１０は移動ｍ１４で図示のように、測定対象物Ｗ２の上方を飛び越えてＸＹ方向の測定準備位置ｐ６に移動される。
【００８８】
次に、ブロック１６により、測定プローブ１０は移動ｍ１５で図示のように、Ｚ方向移動により次の第４測定位置Ｋ４の高さ位置である測定準備位置ｐ７まで下降し、次のブロック１７により、測定プローブ１０は移動ｍ１６で図示のように、第４測定点Ｋ４に移動して、Ｙ座標値（Ｙｄ）が読み込まれる。
【００８９】
その後、最終的に、ブロック１８により、測定プローブ１０は移動ｍ１７で図示のように、測定準備位置ｐ７まで戻る。このようにして、第１，第３測定点Ｋ１，３におけるＸ座標値（Ｘａ，Ｘｃ）と、第２，第４測定点Ｋ２，４におけるＹ座標値（Ｙｂ，Ｙｄ）とに基づいて、測定対象物（円柱）Ｗ２の中心Ｃ（Ｘ，Ｙ）の座標値が求められる。
【００９０】
このように、工作機械１の第２制御部４０のコンピュータを介して、鉛直姿勢にされ各辺が座標軸（Ｘ，Ｙ，Ｚ）方向と平行に設定された直方体である測定対象物Ｗ１の複数の測定点の測定を指示する測定指示プログラムを備え、その測定指示プログラムに、設定データと、第１ステップと、直交状に隣接する２つの側面のうち一方の第１側面Ｗａの座標値を測定する測定ステップと、他方の第２側面Ｗｂの座標値を測定する測定ステップとを有する第２ステップとが設けられているので、これら第１ステップと第２ステップにより、測定プローブ１０の必要最小限の水平な移動により、上下移動のためのＺ軸駆動モータ１５が一切駆動されずに、第２側面Ｗｂを測定したＸ座標値と、第１側面Ｗａを測定したＹ座標値が夫々測定されるので、測定に要する時間を格段に短縮させることができる。
【００９１】
また、工作機械１の第２制御部４０のコンピュータを介して、鉛直向きにされた円柱である測定対象物Ｗ２の４つの測定点Ｋ１〜Ｋ４の測定を指示する測定指示プログラムを備え、その測定指示プログラムに、設定データと、第１ステップと、円柱Ｗ２の軸心を挟んで十文字状に位置する４つの測定点の座標値を測定する第２ステップとが設けられているので、これら第１ステップと第２ステップにより、測定プローブ１０の必要最小限の水平な移動により、上下移動のためのＺ軸駆動モータ１５が一切駆動されずに、４つの測定点Ｋ１〜Ｋ４の座標値が夫々測定されるので、測定に要する時間を格段に短縮させることができる。
【００９２】
更に、直方体や円柱の測定対象物Ｗ１，Ｗ２の測定に際して、測定プローブ１０を水平に移動させる第１測定指示プログラムと、測定プローブ１０を測定対象物Ｗ１，Ｗ２の上方を飛び越えさせる第２測定指示プログラムとを備え、測定開始に際して第１測定指示プログラムと第２測定指示プログラムの何れか一方を選択可能に構成されたので、測定プローブ１０が測定の為の移動に際して、測定対象物Ｗ１，Ｗ２を保持する保持具と干渉しないため、測定プローブ１０を上昇及び下降させない方が良い場合には、第１測定指示プログラムにより測定を実行して、優先的に測定時間の短縮化を図ることができる。
【００９３】
一方、測定プローブ１０が測定対象物Ｗ１，Ｗ２を保持する保持具と干渉しないように、測定プローブ１０の上昇動作及び下降動作を伴う方が良い場合には、第２測定指示プログラムにより測定を実行して、測定プローブ１０と保持具とが干渉するのを積極的に防止することができる。
【００９４】
次に、前記実施の形態の変更形態について説明する。
【００９５】
１〕測定対象物（直方体）Ｗ１の角部Ａの座標値を測定する測定指示プログラムとして、図１２に示すように、測定プローブ１０を円弧状に移動させながら測定するようにしてもよい。即ち、主軸２の移動により、測定プローブ１０が、先ず測定準備位置ｐ０に移動され、次に移動ｍ１により第１測定点（測定開始点）Ｋ１に移動して、Ｙ座標値（Ｙａ）が読み込まれる。
【００９６】
その後、測定プローブ１０は、移動ｍ２により測定準備位置ｐ０まで戻り、次に移動ｍ３のＸ軸及びＹ軸の同時移動により円弧状に測定準備位置ｐ１に移動される。そして、移動ｍ４により第２測定点Ｋ２に移動して、Ｘ座標値が読み込まれ、最終的に、移動ｍ５により測定準備位置ｐ１まで戻る。
【００９７】
これにより、第２測定点Ｋ２におけるＸ座標値と、第１測定点Ｋ１におけるＹ座標値とで、測定対象物（直方体）Ｗ１の角部Ａ（Ｘ，Ｙ）の座標値が求められる。この場合にも角部Ａの高さ位置は、図示外のＺ座標値により規定されるようになっている。
【００９８】
２〕測定対象物（円柱）Ｗ２の中心Ｃの座標値を測定する測定指示プログラムとして、図１３に示すように、測定プローブ１０を円弧状に移動させながら測定するようにしてもよい。即ち、主軸２の移動により、測定プローブ１０が、先ず測定準備位置ｐ０に移動され、次に移動ｍ１により第１測定点（測定開始点）Ｋ１に移動して、Ｘ座標値（Ｘａ）が読み込まれる。
【００９９】
その後、測定プローブ１０は、移動ｍ２により測定準備位置ｐ０まで戻り、次に移動ｍ３のＸ軸及びＹ軸の同時移動により円弧状に測定準備位置ｐ１に移動さる。そして、移動ｍ４により第２測定点Ｋ２に移動して、Ｙ座標値（Ｙｂ）が読み込まれる。
【０１００】
次に、移動ｍ５により測定準備位置ｐ１まで戻り、次に移動ｍ６のＸ軸及びＹ軸の同時移動により円弧状に測定準備位置ｐ２に移動さる。そして、移動ｍ７により第３測定点Ｋ３に移動して、Ｘ座標値（Ｘｃ）が読み込まれる。
【０１０１】
次に、移動ｍ８により測定準備位置ｐ２まで戻り、次に移動ｍ９のＸ軸及びＹ軸の同時移動により円弧状に測定準備位置ｐ３に移動さる。そして、移動ｍ１０により第４測定点Ｋ４に移動して、Ｙ座標値（Ｙｄ）が読み込まれ、最終的に、移動ｍ１１により測定準備位置ｐ３まで戻る。
【０１０２】
これにより、第１，第３測定点Ｋ１，３におけるＸ座標値（Ｘａ，Ｘｃ）と、第２，第４測定点Ｋ２，Ｋ４におけるＹ座標値（Ｙｂ，Ｙｄ）とで、円柱Ｗ２の中心Ｃ（Ｘ，Ｙ）の座標値が求められる。
【０１０３】
３〕数値制御装置は、各種の工作機械の制御部に接続されたものであってもよい。
【０１０４】
４〕本発明は以上説明した実施の形態に限定されるものではなく、当業者であれば、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、前記実施例に種々の変更を付加して実施することができ、本発明はそれらの変更形態をも包含するものである。
【図面の簡単な説明】
【０１０５】
【図１】本発明の実施例に係る数値制御装置を備えた工作機構の側面図である。
【図２】数値制御装置の制御系のブロック図である。
【図３】ＮＣ制御プログラムの制御内容を説明する図表である。
【図４】測定指令に基づく測定指示プログラムを説明する図表である。
【図５】直方体の角部測定の概略説明図である。
【図６】円柱の芯出し測定の概略説明図である。
【図７】座標値測定制御のフローチャートである。
【図８】直方体の角部測定の第１測定指示プログラムを説明する説明図である。
【図９】円柱の芯出し測定の第１測定指示プログラムを説明する説明図である。
【図１０】直方体の角部測定の第２測定指示プログラムを説明する説明図である。
【図１１】円柱の芯出し測定の第２測定指示プログラムを説明する説明図である。
【図１２】変更形態に係る図８相当図である。
【図１３】変更形態に係る図９相当図である。
【符号の説明】
【０１０６】
１      工作機械
３０    数値制御装置
１０    測定プローブ
３０Ａ  第１制御部
４０    第２制御部
Ｗ１    測定対象物（直方体）
Ｗ２    測定対象物（円柱）
【図１】
2006277181.tif 000003
【図２】
2006277181.tif 000004
【図３】
2006277181.tif 000005
【図４】
2006277181.tif 000006
【図５】
2006277181.tif 000007
【図６】
2006277181.tif 000008
【図７】
2006277181.tif 000009
【図８】
2006277181.tif 000010
【図９】
2006277181.tif 000011
【図１０】
2006277181.tif 000012
【図１１】
2006277181.tif 000013
【図１２】
2006277181.tif 000014
【図１３】
2006277181.tif 000015