(57)【要約】【課題】  比較的短い時間でセルの遅延量を精度よく求めることのできるキャラクタライズ方法を提供する。【解決手段】  セルに離散的な複数の入力鈍りと離散的な複数の出力負荷を与えてこれらの入力鈍りと出力負荷の各組合せからなる各測定ポイントごとの遅延量を計算し、測定ポイントごとの遅延量に沿って変化する第１の遅延式および低次の第２の遅延式を求め、これら第１の遅延式と第２の遅延式との間での遅延量誤差が所定誤差を越える誤差ポイントを求め、上記所定誤差を越える誤差ポイントが無くなるように追加された測定ポイントについて遅延量の追加測定を行なう。【選択図】    図２
2006195820.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
トランジスタベースで構成されて１つの機能を実現する回路の単位であるセルに入力鈍りと出力負荷を与え該セルを構成するトランジスタベースのシミュレートを行なうことにより該セルの遅延量を計算するキャラクタライズ方法において、
前記セルに離散的な複数の入力鈍りと離散的な複数の出力負荷を与えてこれらの入力鈍りと出力負荷の各組合せからなる各測定ポイントごとの遅延量を計算し、
前記測定ポイントの遅延量に沿って変化する第１の遅延式を求めるとともに、前記測定ポイントの遅延量に沿って変化する、前記第１の遅延式よりも低次の第２の遅延式を求め、
前記第１の遅延式と前記第２の遅延式との間での遅延量誤差が所定誤差を越える誤差ポイントを求め、
前記誤差ポイントが無くなるように追加された測定ポイントについて遅延量の追加測定を行なうことを特徴とするキャラクタライズ方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、トランジスタベースで構成されて１つの機能を実現する回路の単位であるセルに入力鈍りと出力負荷を与えそのセルを構成するトランジスタベースのシミュレートを行なうことによりそのセルの遅延量を計算するキャラクタライズ方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＬＳＩ等の論理回路の論理設計において、設計対象の論理回路をハードウェアとして実際に作成する前に、その論理回路の論理の正誤を検証するということが行なわれている。近年、製造プロセスの益々の微細化に伴い、上記検証にあたり、特に論理回路の遅延量を精度よく求めることは重要である。ここで、論理回路の単位であるセルに入力鈍りと出力負荷を与え、そのセルを構成するトランジスタベースのシミュレートを行なうことにより、そのセルの遅延量を計算するキャラクタライザーが知られている。このようなキャラクタライザーでは、一般に、ＳＰＩＣＥ（Ｓｉｍｕｌａｔｉｏｎ  Ｐｒｏｇｒａｍ  ｗｉｔｈ  Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｃｉｒｃｕｉｔ  Ｅｍｐｈａｓｉｓ）ソフトを使用して、セルの遅延量の計算が行なわれる。例えば、特許文献１には、ＳＰＩＣＥソフトを用いて、入力鈍りを直線近似して直線的に立ち上がる（もしくは立ち下がる）波形を求め、この波形に対して出力される波形の遅延情報や鈍り情報を得る技術が提案されている。
【特許文献１】特開平１０−１０５５９６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
上述したキャラクタライザーにおいて、セルの遅延量を精度よく求めるためには、セルの種類，温度条件，電圧条件等を考慮して、セルに多数の入力鈍りと多数の出力負荷を与えてこれら多数の入力鈍りと多数の出力負荷の組合せからなる多数の測定ポイントごとに遅延量を求める必要がある。このため、セルの遅延量を求めるにあたり、長い時間が必要とされる。そこで、セルに離散的な複数の入力鈍りと離散的な複数の出力負荷を与え、それら離散的な複数の入力鈍りと離散的な複数の出力負荷の各組合せからなる各測定ポイントごとに遅延量を計算し、各測定ポイント間における遅延量は、各測定ポイントごとの遅延量を例えば直線近似することにより求めるということが行なわれている。このため、各測定ポイント間におけるセルの遅延量の精度が低いという問題がある。
【０００４】
本発明は、上記事情に鑑み、比較的短い時間でセルの遅延量を精度よく求めることのできるキャラクタライズ方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成する本発明のキャラクタライズ方法は、トランジスタベースで構成されて１つの機能を実現する回路の単位であるセルに入力鈍りと出力負荷を与えそのセルを構成するトランジスタベースのシミュレートを行なうことによりそのセルの遅延量を計算するキャラクタライズ方法において、
上記セルに離散的な複数の入力鈍りと離散的な複数の出力負荷を与えてこれらの入力鈍りと出力負荷の各組合せからなる各測定ポイントごとの遅延量を計算し、
上記測定ポイントの遅延量に沿って変化する第１の遅延式を求めるとともに、上記測定ポイントの遅延量に沿って変化する、上記第１の遅延式よりも低次の第２の遅延式を求め、
上記第１の遅延式と上記第２の遅延式との間での遅延量誤差が所定誤差を越える誤差ポイントを求め、
上記誤差ポイントが無くなるように追加された測定ポイントについて遅延量の追加測定を行なうことを特徴とする。
【０００６】
本発明のキャラクタライズ方法は、セルに離散的な複数の入力鈍りと離散的な複数の出力負荷を与えてこれらの入力鈍りと出力負荷の各組合せからなる各測定ポイント間における、上記第１の遅延式と上記第２の遅延式との間での遅延量誤差が所定誤差を超えた場合に、新たに追加ポイントを追加してその追加ポイントにおける遅延量を求める方法である。このため、多数の入力鈍りと多数の出力負荷の組合せからなる多数の測定ポイントごとに遅延量を求める場合と比較し、セルの遅延量を求めるための時間が短くて済む。また、離散的な複数の入力鈍りと離散的な複数の出力負荷の各組合せからなる各測定ポイント間における遅延量を例えば直線近似する場合と比較し、セルの遅延量を精度よく求めることができる。従って、本発明のキャラクタライズ方法によれば、比較的短い時間でセルの遅延量を精度よく求めることができる。
【０００７】
ここで、上記第２の遅延式は、論理設計で使用する遅延計算ツールに用いられている関数の係数を求めることにより求められるものであることが好ましい。
【発明の効果】
【０００８】
本発明のキャラクタライズ方法は、セルに離散的な複数の入力鈍りと離散的な複数の出力負荷を与えてこれらの入力鈍りと出力負荷の各組合せからなる各測定ポイント間における、第１の遅延式と低次の第２の遅延式との間での遅延量誤差が所定誤差を超えた場合に、新たに追加ポイントを追加してその追加ポイントにおける遅延量を求めるものであるため、比較的短い時間でセルの遅延量を精度よく求めることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
【００１０】
図１は、本発明のキャラクタライズ方法の一実施形態が組み込まれたパーソナルコンピュータの外観斜視図である。
【００１１】
図２は、図１のパーソナルコンピュータ１０内で実行される本発明によるキャラクタライズ方法のフローチャートである。
【００１２】
先ず、ステップＳ１において、キャラクタライズを行なう。即ち、セルデータ（セルを構成するトランジスタレベルのネットリスト）および各測定ポイント（出力負荷と入力鈍りの各組合せからなる各測定ポイント）を与えて、各測定ポイントごとの遅延量を求める。
【００１３】
図３は、図２に示すステップＳ１におけるキャラクタライズを説明するためのグラフである。
【００１４】
図３には、説明を簡単にするために、ある入力鈍りにおける出力負荷と遅延値との関係が示されている。ここでは、出力負荷Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３（ｐＦ）に対する遅延値Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３（ｎｓ）が示されている。
【００１５】
ここで、出力負荷Ｃ１＝０．１ｐＦ
出力負荷Ｃ２＝０．２ｐＦ
出力負荷Ｃ３＝０．４ｐＦ
とする。ステップＳ１において、キャラクタライズを行なった結果、各出力負荷Ｃ１、Ｃ２，Ｃ３に対する遅延値は、
遅延値Ｄ１＝１ｎｓ
遅延値Ｄ２＝２ｎｓ
遅延値Ｄ３＝２．２ｎｓ
になるものとする。
【００１６】
次に、図２に示すステップＳ２において、遅延式を決定する。具体的には、以下に示す第１の遅延式および第２の遅延式を入力し、これら第１の遅延式，第２の遅延式に、ステップＳ１で求めた測定ポイントの遅延値を代入して、第１の遅延式，第２の遅延式の係数を求める。
【００１７】
第１の遅延式：Ｔ１＝ａ＋ｂ×ｘ＋ｃ×ｘ2（ａ，ｂ，ｃ：係数、ｘ：出力負荷）
第２の遅延式：Ｔ２＝ｄ＋ｅ×ｘ          （ｄ，ｅ：係数、ｘ：出力負荷）
例えば、出力負荷Ｃ１（０．１ｐＦ），Ｃ２（０．２ｐＦ），Ｃ３（０．４ｐＦ）における第１の遅延式の係数ａ，ｂ，ｃは、以下のようにして求める。
【００１８】
１．０＝ａ＋ｂ×０．１＋ｃ×０．１2
２．０＝ａ＋ｂ×０．２＋ｃ×０．２2
２．２＝ａ＋ｂ×０．４＋ｃ×０．４2
これより、係数ａ、ｂ，ｃは、以下のようになる。
【００１９】
ａ＝−０．６
ｂ＝１９
ｃ＝−３０
同様にして、第２の遅延式の係数ｄ，ｅを求める。
【００２０】
１．０＝ｄ＋ｅ×０．１
２．０＝ｄ＋ｅ×０．２
これより、係数ｄ，ｅは、以下のようになる。
【００２１】
ｄ＝０
ｅ＝１０
図４は、図２に示すステップＳ２において決定された第１の遅延式，第２の遅延式から求めた波形Ａ，Ｂを示す図である。
【００２２】
図４には、第１の遅延式から求めた波形Ａと、第２の遅延式から求めた波形Ｂが示されている。
【００２３】
さらに、ステップＳ３において、各刻みポイント（各測定ポイント間におけるポイント）を測定する。詳細には、各刻みポイント毎に出力負荷と入力鈍りを与えて、刻みポイント毎の遅延量をそれぞれ求める。出力負荷Ｃ１、Ｃ２間に対して評価用刻み値を０．０２ｐＦとして、各出力負荷を第１，第２の遅延式Ｔ１，Ｔ２にそれぞれ代入すると、
出力負荷（ｃ１１）：０．１２ｐＦでは、
ｔ１１（ｄ１）＝−０．６＋１９×０．１２−３０×０．１２2＝１．２４８
ｔ１１（ｄ２）＝０＋１０×０．１２＝１．２
出力負荷（ｃ１２）：０．１４ｐＦでは、
ｔ１２（ｄ１）＝−０．６＋１９×０．１４−３０×０．１４2＝１．４７２
ｔ１２（ｄ２）＝０＋１０×０．１４＝１．４
出力負荷（ｃ１３）：０．１６ｐＦでは、
ｔ１３（ｄ１）＝−０．６＋１９×０．１６−３０×０．１６2＝１．６７２
ｔ１３（ｄ２）＝０＋１０×０．１６＝１．６
出力負荷（ｃ１４）：０．１８ｐＦでは、
ｔ１４（ｄ１）＝−０．６＋１９×０．１８−３０×０．１８2＝１．８４８
ｔ１４（ｄ２）＝０＋１０×０．１８＝１．８
となる。
【００２４】
図５は、図２に示すステップＳ３において求めた刻みポイント毎の遅延量を、図４に示す波形Ａ，Ｂ上に示した図である。
【００２５】
ここで、波形Ａを表わす第１の遅延式の値と波形Ｂを表わす第２の遅延式の値とを比較すると、出力負荷（ｃ１２），（ｃ１３）における遅延値が大きいことが判る。
【００２６】
ステップＳ４では、許容精度（本発明にいう所定誤差の一例に相当）を入力し、第１の遅延式と第２の遅延式との間での遅延量誤差が許容精度を超える誤差ポイントを求める。ここで、許容精度を０．０５ｎｓとする。また、出力負荷（ｃ１２），（ｃ１３）における遅延値［ｔ１２（ｄ１）−ｔ１２（ｄ２）］，［ｔ１３（ｄ１）−ｔ１３（ｄ２）］がこれを満たしていない誤差ポイントとする。このため、ステップＳ５において、測定ポイントを追加し、追加された測定ポイントについて遅延量の追加測定を行なってステップＳ１に戻る。
【００２７】
図６は、図２に示すステップＳ５において追加測定された遅延量から求めた、波形Ｂに代わる波形Ｃを示す図である。
【００２８】
ステップＳ５では、詳細には、出力負荷（ｃ１２），（ｃ１３）の中間点［（ｃ１２＋ｃ１３）／２］を追加測定ポイントとし、ステップＳ１において再度キャラクタライズを行なう。このようにして、誤差ポイントが無くなるまで測定ポイントを追加し、追加された測定ポイントについて遅延量の追加測定を行なって、最終的にセルライブラリを作成する。
【００２９】
以上説明したように、本実施形態のキャラクタライズ方法は、セルに離散的な複数の入力鈍りと離散的な複数の出力負荷Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３を与えてこれらの入力鈍りと出力負荷の各組合せからなる各測定ポイント間における、第１の遅延式と第２の遅延式との間での遅延量誤差が所定誤差を超えた場合に、新たに追加ポイントを追加してその追加ポイントにおける遅延量を求めるものである。このため、多数の入力鈍りと多数の出力負荷の組合せからなる多数の測定ポイントごとに遅延量を求める場合と比較し、セルの遅延量を求めるための時間が短くて済む。また、離散的な複数の入力鈍りと離散的な複数の出力負荷の各組合せからなる各測定ポイント間における遅延量を例えば直線近似する場合と比較し、セルの遅延量を精度よく求めることができる。従って、本実施形態のキャラクタライズ方法によれば、比較的短い時間でセルの遅延量を精度よく求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明のキャラクタライズ方法の一実施形態が組み込まれたパーソナルコンピュータの外観斜視図である。
【図２】本発明によるキャラクタライズ方法のルーチンのフローチャートである。
【図３】図２に示すステップＳ１におけるキャラクタライズを説明するためのグラフである。
【図４】図２に示すステップＳ２において決定された第１の遅延式，第２の遅延式から求めた波形Ａ，Ｂを示す図である。
【図５】図２に示すステップＳ３において求めた刻みポイント毎の遅延量を、図４に示す波形Ａ，Ｂ上に示した図である。
【図６】図２に示すステップＳ５において追加測定された遅延量から求めた、波形Ｂに代わる波形Ｃを示す図である。
【符号の説明】
【００３１】
１０  パーソナルコンピュータ
１１  本体装置
１２  画像表示装置
１３  キーボード
１４  マウス
【図１】
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【図２】
2006195820.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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