(57)【要約】【課題】  発光管が組込まれた装置を分解することなく、当該発光管の性能確認のための指標となる発光開始電圧を、極めて容易に測定してその健全性を確認することが可能なフラッシュランプ装置を得る。【解決手段】  フラッシュランプ装置１の内部に搭載された発光管２の性能確認を、装置１を分解することなく行うために、発光管２の電極間電圧をモニタ可能なモニタ端子ａ１，ａ２と、発光タイミング信号を供給する発光タイミング信号供給端子ｂ１，ｂ２とを、外部接続コネクタ８として設ける。発光タイミング信号供給端子ｂ１，ｂ２から、パルスジェネレータ９により周期の短い発光タイミング信号を供給し、そのときの発光管２の電極管電圧をモニタ端子ａ１，ａ２に接続したオシロスコープ１０により観測し、最初の発光直前のモニタ電圧を、発光管の性能の指標である発光開始電圧Ｖｓとして観測可能とする。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
発光管を有するフラッシュランプ装置であって、前記発光管の性能確認のために、前記発光管の電極間電圧をモニタ可能なモニタ端子と、前記発光管の発光タイミング信号を供給する発光タイミング信号供給端子とを有することを特徴とするフラッシュランプ装置。
【請求項２】
前記発光管の性能確認のための指標は発光開始電圧Ｖｓであり、前記モニタ端子は、前記Ｖｓを測定すべく前記発光管への供給電圧を生成するコンデンサの充電電圧をモニタ可能な端子であることを特徴とする請求項１記載のフラッシュランプ装置。
【請求項３】
前記モニタ端子は、モニタ電圧を分圧した後の電圧を導出するよう構成されていることを特徴とする請求項１または２記載のフラッシュランプ装置。
【請求項４】
請求項１〜３いずれか記載のフラッシュランプ装置の前記モニタ端子に接続されたオシロスコープと、前記発光タイミング信号供給端子に接続されたパルスジェネレータとを含むことを特徴とする発光管性能確認システム。
【請求項５】
前記パルスジェネレータの生成パルスの発生周期は、前記コンデンサの充電期間より短い周期であることを特徴とする請求項４記載の発光管性能確認システム。
【請求項６】
前記発光管の性能確認のための指標である発光開始電圧Ｖｓを、前記オシロスコープによりモニタするようにしたことを特徴とする請求項４または５記載の発光管性能確認システム。
【請求項７】
発光管を有するフラッシュランプ装置の性能確認装置であって、前記発光管の一対の放電電極に接続されたオシロスコープと、前記発光管の発光トリガー電極に接続されて発光トリガーを発生する外部回路とを含むことを特徴とする発光管性能確認システム。
【請求項８】
前記発光管の性能確認のための指標は発光開始電圧Ｖｓであり、前記Ｖｓを測定すべく前記発光管への供給電圧を生成するコンデンサの充電電圧を、前記オシロスコープにより測定するようにしたことを特徴とする請求項７記載の発光管性能確認システム。
【請求項９】
前記充電電圧を、分圧して前記オシロスコープにより測定するようにしたことを特徴とする請求項８記載の発光管性能確認システム。
【請求項１０】
前記発光トリガーの発生周期は、前記コンデンサの充電期間より短い周期であることを特徴とする請求項８または９記載の発光管性能確認システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はフラッシュランプ装置及び発光管性能確認システムに関し、特に衛星などの宇宙用の装置に搭載されるフラッシュランプ装置及びその発光管性能確認システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
フラッシュランプ装置に用いられるキセノン管（以下、Ｘｅ管と略記する）は、使用する毎にその性能が劣化するために、寿命管理が要求される寿命管理品である。また、その重要な部分を構成している発光管の材料にはガラスが用いられているために、振動や衝撃や、更には熱的ストレスなどによりクラックが発生して、ガラス管内に空気が混入し発光不可能となることがある。更に、微細なクラックにより、非常にゆっくりとしたレートで空気が混入するような場合には、発光しなくなるまでには長時間を要するために、その性能の劣化は容易に発見することが困難となっている。
【０００３】
上述した如く、極めてゆっくりとしたレートでガラス管内に空気が混入したような場合には、Ｘｅ管の発光開始できる最小電圧である発光開始電圧Ｖｓは徐々に上昇していき、やがては発光不能となる。そのために、Ｘｅ管の劣化状況を確認するためには、性能確認のための指標としての発光開始電圧Ｖｓを定期的に測定する必要がある。
【０００４】
なお、放電管が発光トリガーで発光しない場合に、連続する２発目の発光トリガーを印加するようにした技術が特許文献１に開示されている。また、放電管の劣化を検出して点灯不能になる前に、オペレータに対して放電管の交換を促すようにした技術が特許文献２に開示されている。
【特許文献１】特開平１−２６６５２１号公報
【特許文献２】特開平７−２０１４７１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
フラッシュランプ装置に用いられるＸｅ管が宇宙用の装置に組み込まれたような場合、このＸｅ管の健全性を確認するには、フラッシュランプ装置を分解することなく、当該装置内部のＸｅ管の発光開始電圧Ｖｓを測定する必要がある。なぜならば、特に宇宙用の装置においては、装置完成後に分解すると、再度の検査を行う必要があると共に、再度環境試験を実施することが要求され、よって装置に対してストレスを与えることになるので、分解することは極力さけることが望まれる。
【０００６】
従って、Ｘｅ管の様に、定期的に性能確認の必要がある部品が存在する場合、その性能確認の度に、分解、検査、試験を実施することになって、装置へのストレスが生ずるのみならず、分解組立を繰返す作業工程増に起因するヒューマンエラーの発生リスクやコストアップなどの問題が発生することになる。
【０００７】
なお、上述した特許文献１，２の技術においては、放電管の発光開始電圧Ｖｓを、装置分解することなく測定する技術の開示もなく、その示唆もない。
【０００８】
本発明の目的は、発光管であるＸｅ管が組み込まれた装置を分解することなく、当該発光管の性能確認のための指標となる発光開始電圧を、極めて容易に測定してその健全性を確認することが可能なフラッシュランプ装置及びその発光管性能確認システムを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明によるフラッシュランプ装置は、発光管を有するフラッシュランプ装置であって、前記発光管の性能確認のために、前記発光管の電極間電圧をモニタ可能なモニタ端子と、前記発光管の発光タイミング信号を供給する発光タイミング信号供給端子とを有することを特徴とする。
【００１０】
本発明による発光管性能確認システムは、上記のフラッシュランプ装置の前記モニタ端子に接続されたオシロスコープと、前記発光タイミング信号供給端子に接続されたパルスジェネレータとを含むことを特徴とする。
【００１１】
また本発明による他の発光管性能確認システムは、発光管を有するフラッシュランプ装置の性能確認装置であって、前記発光管の一対の放電電極に接続されたオシロスコープと、前記発光管の発光トリガー電極に接続されて発光トリガーを発生する外部回路とを含むことを特徴とする。
【００１２】
本発明の作用を述べる。フラッシュランプ装置内部に搭載された発光管の性能確認を、装置を分解することなく行うために、発光管の電極間電圧をモニタ可能なモニタ端子と、発光タイミング信号を供給する発光タイミング信号供給端子とを、外部接続コネクタとして設ける。発光タイミング信号供給端子から、周期の短い発光タイミング信号を供給し、そのときの発光管の電極管電圧をモニタ端子に接続したオシロスコープにより観測し、最初の発光直前のモニタ電圧を、発光管の性能の指標である発光開始電圧Ｖｓとして観測可能とする。
【００１３】
また、他の方法として、発光管はフラッシュランプ装置外部に露出して搭載されているので、発光管の電極は外部より容易にアクセス可能であることから、オシロスコープと、発光トリガー発生回路とを、発光管の各電極に接続することにより、発光管の性能確認が容易に行える。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、フラッシュランプ装置に組み込まれた発光管の性能（健全性）を、装置を分解することなく測定できるようにしたので、分解、組立及び試験の工程が不要となり、ヒューマンエラーのリスクやコストアップを回避できるという効果がある。
【００１５】
また、本発明によれば、発光管の測定開始電圧Ｖｓを測定するために、オシロスコープやパルスジェネレータなどの汎用的な計測器を用いることができ、特別な測定器が不要であるという効果もある。
【００１６】
更に、本発明によれば、宇宙用の装置である人工衛星にフラッシュランプ装置を搭載したままの状態でも、人工衛星からの司令がなくても容易に発光管の性能測定ができるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下に本発明の実施の形態について図面を参照しつつ説明する。図１は本発明の一実施の形態のブロック図であり、図１を参照すると、フラッシュランプ装置１は、発光管であるＸｅ管２と、このＸｅ管２に対して電力を供給するためのメインコンデンサ３と、Ｘｅ管２を発光させるためのトリガー電圧を発生させるための発光トリガー発生回路４と、メインコンデンサ３への充電を行うための高電圧を発生するＤＣ−ＤＣコンバータ５とを有している。
【００１８】
Ｘｅ管２とメインコンデンサ３とは並列に接続されており、この並列接続点２０，２１を、コンデンサ３の充電電圧モニタ用端子として導出し、この端子２０，２１間の電圧を、分圧用抵抗６，７により分圧して抵抗７の両端電圧（分圧電圧）を、検査用コネクタ８のモニタ端子ａ１，ａ２より装置１の外部へ取出すことができるようになっている。なお、発光タイミング信号は、発光トリガー発生回路４へ、衛星からの司令として、装置１の外部から供給されるものとする。
【００１９】
検査用コネクタ８のモニタ端子ａ１，ａ２には、外部のオシロスコープ１０が接続可能であり、また検査用コネクタ８の端子ｂ１，ｂ２には、外部のパルスジェネレータ９が接続可能であり、この端子ｂ１，ｂ２は、装置１の内部において、発光トリガー発生回路４の入力へ接続されており、よってこの端子ｂ１，ｂ２は発光タイミング信号供給端子となる。
【００２０】
かかる構成において、通常は、ＤＣ−ＤＣコンバータ３に対して、そのＨｏｔ端子とＲｔｎ（Return）端子間に電力が供給されると、メインコンデンサ３の充電が開始される。その様子が図２に示されており、時刻ｔ０において電力供給が開始されている。時刻ｔ０〜ｔ１の間、メインコンデンサ３の充電が行われており、時刻ｔ１〜ｔ２の間は、メインコンデンサ３が満充電の状態となっている。
【００２１】
この満充電状態の時刻ｔ２において、発光トリガー発生回路４へ、発光タイミング信号が、そのＨｏｔ端子とＲｔｎ端子間に供給されると、Ｘｅ管２の内部電極で放電が生じて発光し、メインコンデンサ３の電力が、瞬時にＸｅ管２を通じて消費され、メインコンデンサ３の電圧は零ボルトになる。
【００２２】
以上は通常動作を説明したものであるが、以下にＸｅ管２の性能確認、すなわち発光開始電圧Ｖｓの測定のための動作について、図３を用いて説明する。この発光開始電圧Ｖｓは、図２に示したメインコンデンサ３への充電期間ｔ０〜ｔ１の間に存在するものであるから、図３に示す如く、発光タイミング信号を連続的に（メインコンデンサ３の充電周期よりも短い周期で）入力することにより、メインコンデンサ３の充電電圧が、Ｘｅ管２のそのときの発光開始電圧Ｖｓに達したときに、初めてＸｅ管２は発光することになる。図３では、時刻ｔ１で示している。このときのＶｓが、当該Ｘｅ管２の発光開始電圧となる。
【００２３】
そこで、図１の検査用コネクタ８のモニタ端子ａ１，ａ２間にオシロスコープ１０を接続し、発光タイミング信号供給端子ｂ１，ｂ２間にパルスジェネレータ９を接続する。このとき、パルスジェネレータ９の出力を、オシロスコープ１０へも供給して、パルスジェネレータ９の発光タイミング信号に同期して動作するようにしている。こうすることにより、図３に示した如く、Ｘｅ管２が発光した時刻ｔ１でのメインコンデンサ３の電圧が、当該Ｘｅ管２の現在の発光開始電圧Ｖｓとして、オシロスコープ１０により容易に読み取ることができることになる。
【００２４】
図４は本発明の他の実施の形態を示すブロック図であり、図１と同等部分は同一符号により示している。本例では、図１の検査用コネクタ８を設ける代りに、Ｘｅ管２は外部露出している（外部露出部３０として示している）ので、その電極に対して外部より直接アクセス可能であることを利用している。すなわち、Ｘｅ管２の一対の放電電極（端子３１，３２として示す）から、分圧用抵抗６，７を介してオシロスコープ１０へ直接接続し、また、Ｘｅ管２の発光トリガー用電極に、外部の発光トリガー発生回路１１を直接接続するようにしている。なお、パルスジェネレータ９の出力が、発光トリガー発生回路１１の入力に供給されている。
【００２５】
この例においても、図１の例と同様な作用効果があることは明らかである。
【図面の簡単な説明】
【００２６】
【図１】本発明の一実施の形態のブロック図である。
【図２】Ｘｅ管の通常動作を説明するタイミングチャートである。
【図３】Ｘｅ管の発光開始電圧Ｖｓを測定する際のタイミングチャートである。
【図４】本発明の他の実施の形態のブロック図である。
【符号の説明】
【００２７】
１  フラッシュランプ装置
２  Ｘｅ（キセノン）管
３  メインコンデンサ
４，１１  発光トリガー発生回路
５  ＤＣ−ＤＣコンバータ
６，７  分圧用抵抗
８  検査用コネクタ
９  パルスジェネレータ
１０  オシロスコープ
３０  外部露出部
３１，３２  Ｘｅ管の放電電極アクセス端子
【図１】
2006114257.tif 000003
【図２】
2006114257.tif 000004
【図３】
2006114257.tif 000005
【図４】
2006114257.tif 000006