(57)【要約】【課題】  内外周差の記録特性が異なるメディアに対する記録条件をリアルタイムで補正することにより、記録品位のマージンを向上させる。【解決手段】  長さｍ’Ｔを有するｍＴパルスをパワー制御用パルスとして用い、長さｎ’Ｔを有するｎＴパルスをパルス幅制御用パルスとして用いることで、パワーとパルス幅の調整要因を分離した検出および補正を行う。記録用レーザ光２０Ａを用いて、これらｍＴパルスとｎＴパルスを含む記録パルス列をメディア５００上に照射するとともに、再生用レーザ光２０Ｅを用いて、前記記録パルス列の照射により形成されたピットおよびスペースを再生し、パワーとパルス幅の影響を独立に検出して、ｍＴパルスのパワー補正とｎＴパルスの幅補正とをリアルタイムで実行する。【選択図】  図８１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置において、
前記光記録メディアに形成したピットおよび／またはスペースを再生する手段と、
前記再生結果に基づいて前記第１の記録パルスのパワーを変化させる手段と、
前記再生結果に基づいて前記第２の記録パルスの幅を変化させる手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項２】
トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置において、
前記光記録メディアに形成したピットおよび／またはスペースを再生して基準長からの長さずれ量を検出する手段と、
前記ずれ量に基づいて前記第１の記録パルスのパワーを決定する手段と、
前記ずれ量に基づいて前記第２の記録パルスの幅を決定する手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項３】
トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置において、
前記光記録メディアのテスト領域に形成したピットおよび／またはスペースを再生して前記第１および第２の記録パルスの基本記録条件を決定する手段と、
前記光記録メディアの記録領域に形成したピットおよび／またはスペースを再生して基準長からの長さずれ量を検出する手段と、
前記第１の記録パルスの幅を前記基本記録条件と同一条件に設定するとともに、該第１の記録パルスのパワーを前記ずれ量に基づいて調整する手段と、
前記第２の記録パルスのパワーを前記第１の記録パルスのパワーと同一条件に設定するとともに、前記第２の記録パルスの幅を前記ずれ量に基づいて調整する手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項４】
記録用レーザ光のパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースを形成すると同時に、再生用レーザ光の照射により前記ピットおよび／またはスペースの検出を行う光情報記録装置において、
前記光記録メディアのテスト領域に形成したピットおよび／またはスペースを再生してトップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスの基本記録条件を決定する手段と、
前記記録用レーザ光を用いて前記光記録メディアの記録領域に形成したピットおよび／またはスペースを前記再生用レーザ光により再生して基準長からの長さずれ量を検出する手段と、
前記第１の記録パルスの幅を前記基本記録条件と同一条件に設定するとともに、該第１の記録パルスのパワーを前記ずれ量に基づいて調整する手段と、
前記第２の記録パルスのパワーを前記第１の記録パルスのパワーと同一条件に設定するとともに、前記第２の記録パルスの幅を前記ずれ量に基づいて調整する手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項５】
トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置において、
前記光記録メディアに前記第２の記録パルスの幅に相当する間隔で２つの前記第１の記録パルスを配置した記録パルス列を照射する手段と、
前記記録パルス列の照射により形成されたピットおよび／またはスペースを再生して、２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号を取得する手段と、
２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号に基づいて、前記第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さを検出する手段と、
前記検出した第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さに基づいて、前記第１の記録パルスのパワーを調整する手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項６】
２つの前記第１の記録パルスに続いて該第１の記録パルスの幅に相当する間隔を備えた第１の記録パルス列を照射する手段と、
２つの前記第１の記録パルスに続いて該第１の記録パルスの幅よりも長い間隔を備えた第２の記録パルス列を照射する手段と、
前記第１の記録パルス列の照射により形成されたピットおよびスペースを再生して得られた信号と、前記第２の記録パルス列の照射により形成されたピットおよびスペースを再生して得られた信号とを比較する手段と、
前記比較結果に基づいて前記再生結果の真偽を判定する手段と
を具備することを特徴とする請求項５記載の光情報記録装置。
【請求項７】
記録用レーザ光のパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースを形成すると同時に、再生用レーザ光の照射により前記ピットおよび／またはスペースの検出を行う光情報記録装置において、
前記光記録メディアのテスト領域に形成したピットおよび／またはスペースを再生して第１の記録パルスと該第１の記録パルスより長い第２の記録パルスの記録条件を決定する手段と、
前記記録用レーザ光を用いて前記光記録メディアの記録領域に前記第２の記録パルスの幅に相当する間隔で２つの前記第１の記録パルスを配置した記録パルス列を照射する手段と、
前記記録パルス列の照射により形成されたピットおよび／またはスペースを前記再生用レーザ光により再生して、２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号を取得する手段と、
２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号に基づいて、前記第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さを検出する手段と、
前記検出した第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さに基づいて、前記第１の記録パルスのパワーを調整する手段と
２つの前記第１の記録パルスに続いて該第１の記録パルスの幅に相当する間隔を備えた第１の記録パルス列を照射する手段と、
２つの前記第１の記録パルスに続いて該第１の記録パルスの幅よりも長い間隔を備えた第２の記録パルス列を照射する手段と、
前記第１の記録パルス列の照射により形成されたピットおよびスペースを再生して得られた信号と、前記第２の記録パルス列の照射により形成されたピットおよびスペースを再生して得られた信号とを比較する手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項８】
トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録方法において、
前記光記録メディアに形成したピットおよび／またはスペースを再生するステップと、
前記再生結果に基づいて前記第１の記録パルスのパワーを変化させるステップと、
前記再生結果に基づいて前記第２の記録パルスの幅を変化させるステップと
を具備することを特徴とする光情報記録方法。
【請求項９】
トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録方法において、
前記光記録メディアに前記第２の記録パルスの幅に相当する間隔で２つの前記第１の記録パルスを配置した記録パルス列を照射するステップと、
前記記録パルス列の照射により形成されたピットおよび／またはスペースを再生して、２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号を取得するステップと、
２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号に基づいて、前記第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さを検出するステップと、
前記検出した第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さに基づいて、前記第１の記録パルスのパワーを調整するステップと
を具備することを特徴とする光情報記録方法。
【請求項１０】
トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置に組み込まれる信号処理回路において、
前記光記録メディアに形成したピットおよび／またはスペースを再生する手段と、
前記再生結果に基づいて前記第１の記録パルスのパワーを変化させる手段と、
前記再生結果に基づいて前記第２の記録パルスの幅を変化させる手段と
を具備することを特徴とする信号処理回路。
【請求項１１】
トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置に組み込まれる信号処理回路において、
前記光記録メディアに前記第２の記録パルスの幅に相当する間隔で２つの前記第１の記録パルスを配置した記録パルス列を照射する手段と、
前記記録パルス列の照射により形成されたピットおよび／またはスペースを再生して、２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号を取得する手段と、
２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号に基づいて、前記第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さを検出する手段と、
前記検出した第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さに基づいて、前記第１の記録パルスのパワーを調整する手段と
を具備することを特徴とする信号処理回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光情報記録装置および方法および信号処理回路に関し、特に、内外周差の記録特性が異なるメディアに対する記録条件の最適化に有効な光情報記録装置および方法および信号処理回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒ等に代表される光情報記録媒体（以下、「メディア」という）の記録においては、記録対象となるメディアと記録に使用する記録装置（以下、「ドライブ」という）との相性が個々の組み合わせにより異なる。この原因としては、メディアを構成する記録材料の種類の違いや製造時の成膜バラツキにより最適な記録条件が変化するといったメディア側の要因と、ドライブを構成するピックアップや半導体レーザの種類の違いや製造時の組立バラツキにより最適な条件が変化するといったドライブ側の要因が考えられ、実際はこれらの複合要因として各組み合わせに適した記録条件が存在する。
【０００３】
そこで、従来は、メディア側に当該メディアの種類がドライブ側から識別可能なＩＤ情報を格納しておくとともに、ドライブ側にはメディアの種類ごとに予め用意された記録条件を格納しておき、実際の記録を行う場合には、ドライブに装填されたメディアから当該メディアのＩＤ情報を読み込み、当該ＩＤ情報と関連づけられた記録条件（「ライトストラテジ」と称する）を使用するといった手法が使用されている。
【０００４】
しかし、この従来の手法では、予め検証された既知のメディアに対しては、ある程度適正のある記録条件が選択できるが、検証されていない未知のメディアに対しては、用意された記録条件では、対応しきれない場合もあり、また、既知のメディアであっても記録環境の変化、例えば、記録速度、外乱、経時変化によっては、用意された記録条件では対応できない場合があった。
【０００５】
このような未知メディアへの対応を図った手法としては、下記文献に記載された手法が知られている。
【特許文献１】特開２００３−３０８３７号公報
【特許文献２】特開２００４−１１０９９５号公報  上記特許文献１の段落００２０には、「・・・記録パターン毎に、チャネルクロックとの位相誤差を検出する。記録補償パラメータ調整部１２は、位相誤差検出部１１における検出結果に基づいて、発光波形規則を最適化する。・・・」との記載があり、チャネルクロックとの比較により位相誤差を検出し補正する手法が開示されている。
【０００６】
また、同文献の段落００２４には、「次に、発光波形規則を決定するためのテストパターンを記録する。そして、そのテストパターンを記録した領域を再生して、予め用意した発光波形規則と位相誤差量との関係を調べる。即ち、各種マークの長さとそのマークの直前の各種スペースの長さとのそれぞれの組み合わせにおける位相誤差量を測定する。測定した位相誤差量から、位相誤差量が零となる発光波形規則を予測して、所望の発光波形規則を決定する。・・・」との記載があり、マークとスペースの組み合わせごとに位相誤差量を測定し、位相誤差量が零となる発光波形規則を予測する手法が開示されている（図８および図１２参照）。
【０００７】
この特許文献１に記載された手法によれば、記録パターンの位相誤差に基づく補正が行われるため、ストラテジの最適化に有効な手法である。
【０００８】
しかし、上記特許文献１の手法では、従来と同じく、予めドライブに記憶されたストラテジの微調整を行っていることになるため、予め記憶されたストラテジに適合しないメディアに対しては、良好な記録品位を満足させることが困難であった。
【０００９】
また、上記特許文献２の段落００４５には、「・・・３Ｔ期間に相当するトップパルスと８Ｔ期間に相当するノンマルチパルスが一体的（連続的）に生成される・・・」との記載があり、さらに、同文献の段落００４６には、「・・・ライトパルスは２段階でレーザパワーが調整されるが、レーザパワー（トップパルスの波高値）Ｐｈとレーザパワー（ノンマルチパルスの波高値）Ｐｍとの比が最適である場合に、最適パワーが得られる・・・」との記載があり、Ｐｈ／Ｐｍの比率を最適化することの有用性が示唆されている。
【００１０】
しかし、上記特許文献２の手法では、同文献の段落００６７に記載されたように、ドライブまたはメディアに記憶された値に基づいて、ＰｈとＰｍの初期値を仮設定し、その後、Ｐｈ／Ｐｍ比率を求めているため、特許文献１の場合と同様に、仮設定の値に適合しないメディアに対しては、良好な記録品位を満足させることが困難である。
【００１１】
また、光ディスク等の光情報録媒体への情報記録は、記録データをＥＦＭ(Eight to Fourteen Modulation)方式や８−１６変調方式等で変調し、この変調信号に基づき記録パルスを形成し、この記録パルスに基づいてレーザ光の強度や照射タイミングを制御し、光ディスク上に記録ピットを形成することにより行われる。
【００１２】
ここで、記録ピットの形成は、レーザ光の照射により生ずる熱を利用して行われるため、記録パルスは、蓄熱効果や熱干渉等を考慮した設定が要求される。そこで、従来から、記録パルスを構成する各種パラメータの設定を光ディスクの種類ごとにストラテジという形で複数定義し、これらストラテジのうち当該記録環境に最適なものを選択して、光ディスクに対する記録を行っていた。
【００１３】
このストラテジは、例えば、ピックアップのスポット径ばらつき、機構精度ばらつき等の光情報記録装置の個体差に依存するだけでなく、記録再生に使用する光ディスクのメーカ種別および記録スピードにも依存するため、最適ストラテジを設定することが記録品位の向上になる。
【００１４】
このため、各メーカ種別に対応する光ディスクの最適ストラテジを求めて、これを各メーカ種別に対応して予めメモリに記憶し、光ディスクに対する情報の記録に際しては、光ディスクに記録されている光ディスクのメーカ種別を読み取り、この読み取ったメーカ種別に対応する最適ストラテジを上記メモリから読み出して使用する手法が提案されている。
【００１５】
しかし、上記手法によると、メモリに予め記憶されたメーカ種別の光ディスクに対しては最適記録が可能になるが、メモリに記憶されていないメーカ種別の光ディスクに対しては最適記録を行うことができず、また、メモリに予め記憶されたメーカ種別の光ディスクであっても記録スピードが異なると、この場合も最適記録を行うことができない。
【００１６】
そこで、下記の特許文献１乃至４に示されるように、記録条件毎に予めテスト記録を行い、このテスト記録に基づき最適ストラテジを決定することで各種光ディスクに対応できるようにした手法も多数提案されている。
【特許文献３】特開平５−１４４００１号公報
【特許文献４】特開平４−１３７２２４号公報
【特許文献５】特開平５−１４３９９９号公報
【特許文献６】特開平７−２３５０５６号公報  しかし、上記特許文献３乃至６に示された手法では、情報記録を開始する前にテスト記録を行う必要があるため、記録と同時にストラテジを補正することができず、内外周の最適条件が異なる場合への対応が困難である。
【００１７】
この課題、即ち、光ディスクは内周部から外周部にかけて若干記録特性が異なり、記録装置側でも内周部と外周部で記録速度が異なる場合があるため、記録品位に内外差が生じるという課題を解決する手法として、内外差をレーザ出力の調整によって緩和する技術が下記の特許文献に示されている。
【特許文献７】特開昭５３−０５０７０７号公報  この特許文献７には、補助ビームの光量変化を検出することによって自動的にレーザ出力の最適化を行う手法が開示されており、この種の手法はＯＰＣと称される。
【００１８】
上記のようなＯＰＣは、リアルタイムでパワーを調整するランニングＯＰＣと称される手法であり、アシンメトリ値等の統計的な指標で補正条件を求めることができるため、記録しながら補正を行うリアルタイム補正も可能であるが、パルス幅やパルスの位相条件を補正する場合は、記録パルスと光ディスク上に形成されたピットとのずれ量を検出する必要があるため、従来のＯＰＣでは対応が困難である。
【００１９】
よって、パルス条件のリアルタイム補正を行うためには、記録と同時にピットおよびスペースの位置や長さを検出する技術が必要になる。これに対する一つのアプローチとして、記録場所とほぼ同一場所を再生する技術が下記の特許文献６に開示されている。
【特許文献８】特開昭５１−１０９８５１号公報  しかし、この手法は、光磁気記録には適用可能であるが、磁気を用いない光記録に対しては適用が困難である。即ち、光磁気記録では、磁気の変調によって情報の記録が行われるため、レーザの出力は無変調になるが、光記録では、レーザの出力変調によって情報の記録が行われるため、この変調の影響が再生側に及ぶという課題が生じる。
【００２０】
この課題を解決する手法としては、下記文献に示された手法が知られている。
【特許文献９】特開平１−２８７８２５号公報
【特許文献１０】特開平７−１２９９５６号公報
【特許文献１１】特開２００４−２２０４４号公報
【特許文献１２】特開平９−１４７３６１号公報  特許文献９は、未記録エリア及び記録エリアに別個のビームを照射し、得られた別々の信号同士で除算することによって再生信号を取り出す技術であり、この手法によれば、情報の記録時にレーザの光強度変調による再生信号波形の崩れを補正することができる。
【００２１】
また、特許文献１０は、変調を受けた出力をＡＧＣ（Ａｕｔｏ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）によって適宜増幅されたレーザ出力と逆相クロックで相殺することによって再生信号を得る技術である。
【００２２】
また、特許文献１１は、記録パルスの波形変動に伴う再生信号の歪みを、当該記録パルスの波形変動に相当する信号を遅延反転等価回路により作成し相殺することによってキャンセルする技術である。
【００２３】
これら特許文献９乃至１１に示された手法は、いずれも演算によって変調成分をキャンセルする技術であり、理論上は相殺可能と考えられるが、相殺の精度や演算速度の点で実用化には各種の課題が残る。
【００２４】
また、特許文献１２は、記録に用いられるパルスを遅延した遅延パルス、及び被変調信号を反転したゲート信号を用い、再生パルスと共に位相比較器に入れることによって、記録状態のずれをリアルタイムに検出する技術である。
【００２５】
しかし、この特許文献１２に開示された手法では、記録パルスがＯＦＦの時にピットの再生を行っているため、サブビームの出力が低い場合には、十分な品位の再生信号を得ることが困難である。特に、再生用のサブビームを記録用のメインビームから分岐して生成する構成においては、分岐比率が２０：１や３０：１になると、サブビームに十分な出力を割り当てることが困難となる。
【００２６】
即ち、特許文献１２の分岐比率は８：１であるが、記録速度の高速化に伴ってこの分岐比が大きくなる傾向にあり、また、記録パルスのＯＦＦ時のビーム出力は、通常１ｍＷ以下であるため、記録パルスＯＦＦ時に検出できる記録面反射光の強度は非常に小さくなってしまう。検出できる光の強度が弱くなると、回路ノイズ、メディアノイズ等の影響を受けやすくなるため、結果として良好な検出信号が得られなくなる。
【００２７】
一方で、光ディスク上に記録されたピットおよびスペースの長さを検出する方法としては、再生ＲＦ信号の積分値を利用する積分検出方式と、ＲＦ信号の１回微分値を利用する振幅検出方式と、ＲＦ信号の２回微分値を利用するピーク検出方式が知られている。
【００２８】
しかし、比較的波長の短いレーザ光を用いて再生動作を行う光記録装置においては、低密度記録された光メディアではスポットとピットの干渉が起きないため、ＲＦ信号の積分検出方式で長さ情報を検出することは困難である。
【００２９】
また、ＲＦ信号の１回微分値を利用する手法では、記録速度の変化に伴って記録パワーが変化すると、同じスライスレベルで２値化した信号は、同じ長さのピットおよびスペースを検出した結果であるにも拘わらず異なる長さとして検出される。この課題を解決するために、記録速度に応じてスライスレベルを変化させる手段も考えられるが記録速度ごとに適切なスライスレベルを設定することは困難である。
【００３０】
また、ＲＦ信号の２回微分値を利用するピーク検出方式としては、例えば下記特許文献に示された手法が知られている。
【特許文献１３】国際公開ＷＯ９６／２４１３０号公報  この特許文献１３に記載された手法は、光メディアの回転方向に対して光学的に垂直な分割線により区画された２つの領域を有する光ディテクタの差信号、いわゆるタンジェンシャルプッシュプル信号を微分することによって、ＲＦ信号を２回微分した値と等価の信号を生成し、この信号を利用することによってピットのエッジ位置の検出を可能としている。
【００３１】
しかし、この特許文献１３に記載された手法で、光密度型の光メディア、例えばＤＶＤクラスのメディアに記録されたピットおよびスペースの検出を行うと、干渉が生じ易い３Ｔや４Ｔといった短いピットおよびスペースのタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値に誤差が生じ、本来のピットおよびスペース長とは異なる値が検出される。
【００３２】
一方で、前述のランニングＯＰＣを改良させた手法が下記の特許文献１４に開示されている。
【特許文献１４】特開２００２−１１７５４４号公報  この特許文献１４には、特定のピット・ランドパターンを用いて最適パワーを検出する手法が開示されているが、同文献に開示されたピット・ランドパターンでは、パワーとパルス幅の調整要素の切り分けができないため、記録品位の十分なマージンが確保できず、高速記録への対応が困難である。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００３３】
そこで、本発明は、内外周差の記録特性が異なるメディアに対する記録条件の最適化手法を提供する。
【課題を解決するための手段】
【００３４】
上記目的を達成するため、請求項１記載の発明は、トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアに形成したピットおよび／またはスペースを再生する手段と、前記再生結果に基づいて前記第１の記録パルスのパワーを変化させる手段と、前記再生結果に基づいて前記第２の記録パルスの幅を変化させる手段とを具備することを特徴とする。
【００３５】
このように、トップパルスをパワー調整要素とし、後続パルスをパルス幅調整要素として使用することで、パワーとパルス幅の調整要素を独立させることができ、その結果として、記録品位のマージンが向上する。
【００３６】
ここで、トップパルスは、最も出現頻度が高く記録が困難な最短ピットに対応させて設定することが望ましく、例えば、ＣＤ−Ｒのように３Ｔ〜１１Ｔのピット列が定義されている場合や、ＤＶＤ−Ｒのように３Ｔ〜１１Ｔおよび１４Ｔが定義されている場合は、３Ｔピットに対応させておくことが望ましい。
【００３７】
また、後続パルスは、ノンマルチパルスおよびマルチパルスのいずれの形態を取ることも可能であり、ノンマルチパルスの場合は、トップパルスと後続パルスのパワー比で記録パルスの最適化を行い、マルチパルスの場合は、後続パルスを複数の分割パルスで構成し、該各分割パルスのデューティを調整することで記録パルスの最適化を行うことが望ましい。
【００３８】
トップパルスの条件と後続パルスの条件は、パルスパワー、パルス幅、デューティのいずれを組み合わせて定義しても良く、望ましくは、トップパルスと後続パルスの比を調整することで記録パルスの最適化を行う。
【００３９】
本発明では、まずトップパルスの条件を決定してから後続パルスの条件を決定することで、より安定した記録品位の実現を可能とする。即ち、記録品位への影響は、記録パルスのトップ側の方が後続側よりも大きく、特に、出現頻度の高い３Ｔパルスをトップパルスに設定した場合には、この影響が顕著に現れる。
【００４０】
従って、本発明では、まずトップパルスの最適条件を求めておくことで、より最適なトップパルス条件を見出すことを可能とし、その後、後続パルスの条件を求める手法を採用している。これに対し、前述の特許文献２に記載されたように、トップパルスと後続パルスの比率の最適化を先に行う手法では、トップパルスの最適解が得られない場合があり、未知メディアへの対応力が低下する。
【００４１】
尚、より精度を向上させるために、トップパルス条件の決定と後続パルス条件の決定を数回繰り返して行っても良い。
【００４２】
より望ましくは、記録パルス列を該記録パルス列の中で最も最短となるｍ’Ｔの長さを有するｍＴパルスと、下式で定義されるｎ’Ｔの長さを有するｎＴパルスとで構成し、  
ｎ’Ｔ＝ｍ’Ｔ＋（ｎ−ｍ）Ｔ  
Ｔ：クロック信号の周期、ｍ’：最短パルスのクロック数、ｎ’：該当パルスのクロック数、ｍＴ：最短ピットのデータ長、ｎＴ：最短ピットよりも長いピットのデータ長  
上記ｍＴパルスをトップパルスとし、（ｎ−ｍ）Ｔパルスを該トップパルスに続く後続パルスとし、これらを連続させたパルスをｎＴパルスとする。ｍＴパルスは最短パルスとなるため、記録が最も難しく、この条件を決定することが他のパルス条件を決定することよりも優先される。
【００４３】
ここで、ｍＴパルスの長さは、ｍ’Ｔとして定義され、最短ピットのデータ長であるｍＴから変化させたパルスとしている。これは、最短ピットを記録したときの理想からのずれを考慮して、最適な記録パルス長を求めた結果であり、ｎＴパルスの長さもこのｍ’Ｔの影響を受けてｎ’Ｔとなる。
【００４４】
例えば、最短長の３Ｔデータを２Ｔの記録パルスで記録する場合は、ｍＴ＝３Ｔ、ｍ’Ｔ＝２Ｔとなるため、５Ｔのデータを記録するための記録パルスｎ’Ｔは、２Ｔ＋（５−３）Ｔ＝４Ｔとなる。
【００４５】
また、請求項２記載の発明は、トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアに形成したピットおよび／またはスペースを再生して基準長からの長さずれ量を検出する手段と、前記ずれ量に基づいて前記第１の記録パルスのパワーを決定する手段と、前記ずれ量に基づいて前記第２の記録パルスの幅を決定する手段とを具備することを特徴とする。
【００４６】
このように、パワーの影響を長さずれ量で検出することにより、前後のピットやスペースとの関係を利用した長さずれ量の検出が可能になるため、より高精度なパワー調整を行うことができる。
【００４７】
また、請求項３記載の発明は、トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアのテスト領域に形成したピットおよび／またはスペースを再生して前記第１および第２の記録パルスの基本記録条件を決定する手段と、前記光記録メディアの記録領域に形成したピットおよび／またはスペースを再生して基準長からの長さずれ量を検出する手段と、前記第１の記録パルスの幅を前記基本記録条件と同一条件に設定するとともに、該第１の記録パルスのパワーを前記ずれ量に基づいて調整する手段と、前記第２の記録パルスのパワーを前記第１の記録パルスのパワーと同一条件に設定するとともに、前記第２の記録パルスの幅を前記ずれ量に基づいて調整する手段とを具備することを特徴とする。
【００４８】
このように、基準長からの長さずれ量に基づいて、パワーとパルス幅の影響を分離して検出し、それぞれを独立に調整することで、記録品位のマージンを向上させることができる。
【００４９】
また、請求項４記載の発明は、記録用レーザ光のパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースを形成すると同時に、再生用レーザ光の照射により前記ピットおよび／またはスペースの検出を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアのテスト領域に形成したピットおよび／またはスペースを再生してトップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスの基本記録条件を決定する手段と、前記記録用レーザ光を用いて前記光記録メディアの記録領域に形成したピットおよび／またはスペースを前記再生用レーザ光により再生して基準長からの長さずれ量を検出する手段と、前記第１の記録パルスの幅を前記基本記録条件と同一条件に設定するとともに、該第１の記録パルスのパワーを前記ずれ量に基づいて調整する手段と、前記第２の記録パルスのパワーを前記第１の記録パルスのパワーと同一条件に設定するとともに、前記第２の記録パルスの幅を前記ずれ量に基づいて調整する手段とを具備することを特徴とする。
【００５０】
このように、記録用レーザ光で形成したピットを再生用レーザ光で検出することで、長さずれ量のリアルタイム検出が可能となるため、長さずれ量に基づくリアルタイムなパワー補正を行うことができる。その結果、メディアの記録品位の内外周差への対応が図られる。
【００５１】
また、請求項５記載の発明は  トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアに前記第２の記録パルスの幅に相当する間隔で２つの前記第１の記録パルスを配置した記録パルス列を照射する手段と、前記記録パルス列の照射により形成されたピットおよび／またはスペースを再生して、２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号を取得する手段と、２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号に基づいて、前記第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さを検出する手段と、前記検出した第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さに基づいて、前記第１の記録パルスのパワーを調整する手段とを具備することを特徴とする。
【００５２】
このように、第２の記録パルスの幅に相当する間隔の信号を利用して、第１の記録パルスによって形成されたピットまたはスペースの長さを検出することで、例えば、アイパターンの開口が小さく検出が困難な３Ｔ信号であっても、第１の記録パルスの幅を３Ｔに設定し、第２の記録パルスの幅に相当する間隔を６Ｔに設定すれば、６Ｔの両端に位置する３Ｔ信号の影響が該６Ｔ信号に現れるため、信号量の大きな６Ｔ信号から３Ｔ長のピットまたはスペースの長さを予測することができる。
【００５３】
また、請求項６記載の発明は、請求項５記載の発明において、２つの前記第１の記録パルスに続いて該第１の記録パルスの幅に相当する間隔を備えた第１の記録パルス列を照射する手段と、２つの前記第１の記録パルスに続いて該第１の記録パルスの幅よりも長い間隔を備えた第２の記録パルス列を照射する手段と、前記第１の記録パルス列の照射により形成されたピットおよびスペースを再生して得られた信号と、前記第２の記録パルス列の照射により形成されたピットおよびスペースを再生して得られた信号とを比較する手段と、前記比較結果に基づいて前記再生結果の真偽を判定する手段とを具備することを特徴とする。
【００５４】
このように、後続するパルスの間隔が短い第１の記録パルス列の再生結果と、後続するパルスの間隔が長い第２の記録パルス列の再生結果とを比較することで、後続するパルスの間隔が短い場合に生じ得る歪みを検出することができる。その結果、この歪みが原因で生じ得る誤検出を避けることができる。
【００５５】
また、請求項７記載の発明は、記録用レーザ光のパルス照射により光記録メディアにピットおよび／またはスペースを形成すると同時に、再生用レーザ光の照射により前記ピットおよび／またはスペースの検出を行う光情報記録装置において、前記光記録メディアのテスト領域に形成したピットおよび／またはスペースを再生して第１の記録パルスと該第１の記録パルスより長い第２の記録パルスの記録条件を決定する手段と、前記記録用レーザ光を用いて前記光記録メディアの記録領域に前記第２の記録パルスの幅に相当する間隔で２つの前記第１の記録パルスを配置した記録パルス列を照射する手段と、前記記録パルス列の照射により形成されたピットおよび／またはスペースを前記再生用レーザ光により再生して、２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号を取得する手段と、２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号に基づいて、前記第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さを検出する手段と、前記検出した第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さに基づいて、前記第１の記録パルスのパワーを調整する手段と
２つの前記第１の記録パルスに続いて該第１の記録パルスの幅に相当する間隔を備えた第１の記録パルス列を照射する手段と、２つの前記第１の記録パルスに続いて該第１の記録パルスの幅よりも長い間隔を備えた第２の記録パルス列を照射する手段と、前記第１の記録パルス列の照射により形成されたピットおよびスペースを再生して得られた信号と、前記第２の記録パルス列の照射により形成されたピットおよびスペースを再生して得られた信号とを比較する手段とを具備することを特徴とする。
【００５６】
このように構成することで、信号量の小さな第１の記録パルスの影響をリアルタイムで精度良く検出することができるため、内外周差の記録品位が異なるメディアに対しても記録品位のマージンを大きく取ることができる。
【００５７】
また、請求項８記載の発明は、トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録方法において、前記光記録メディアに形成したピットおよび／またはスペースを再生するステップと、前記再生結果に基づいて前記第１の記録パルスのパワーを変化させるステップと、前記再生結果に基づいて前記第２の記録パルスの幅を変化させるステップとを具備することを特徴とする。
【００５８】
また、請求項９記載の発明は、トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録方法において、前記光記録メディアに前記第２の記録パルスの幅に相当する間隔で２つの前記第１の記録パルスを配置した記録パルス列を照射するステップと、前記記録パルス列の照射により形成されたピットおよび／またはスペースを再生して、２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号を取得するステップと、２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号に基づいて、前記第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さを検出するステップと、前記検出した第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さに基づいて、前記第１の記録パルスのパワーを調整するステップとを具備することを特徴とする。
【００５９】
また、請求項１０記載の発明は、トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置に組み込まれる信号処理回路において、前記光記録メディアに形成したピットおよび／またはスペースを再生する手段と、前記再生結果に基づいて前記第１の記録パルスのパワーを変化させる手段と、前記再生結果に基づいて前記第２の記録パルスの幅を変化させる手段とを具備することを特徴とする。
【００６０】
また、請求項１１記載の発明は、トップパルスのみから成る第１の記録パルスと該トップパルスと後続パルスとで構成された第２の記録パルスとを備えた記録パルス列に基づくレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよび／またはスペースの形成を行う光情報記録装置に組み込まれる信号処理回路において、前記光記録メディアに前記第２の記録パルスの幅に相当する間隔で２つの前記第１の記録パルスを配置した記録パルス列を照射する手段と、前記記録パルス列の照射により形成されたピットおよび／またはスペースを再生して、２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号を取得する手段と、２つの前記第１の記録パルスの間隔に対応するピットおよび／またはスペース信号に基づいて、前記第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さを検出する手段と、前記検出した第１の記録パルスに対応するピットおよび／またはスペースの長さに基づいて、前記第１の記録パルスのパワーを調整する手段とを具備することを特徴とする。
【発明の効果】
【００６１】
以上説明したように、本発明によれば、内外周差の記録特性が異なるメディアに対してもリアルタイムで記録条件の最適化を行うことができるため、記録品位のマージンを向上させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００６２】
以下、本発明に係る光情報記録装置を添付図面を参照して詳細に説明する。尚、本発明は、以下説明する実施形態に限らず適宜変更可能である。
【００６３】
図１は、本発明に係る記録パルスの構成と記録条件決定の全体フローを示す概念図である。同図（ａ）に示すように、本発明に係る記録パルス１０は、該記録パルスの先端に位置するトップパルス１２と、該トップパルスに続く後続パルス１４とで構成される。
【００６４】
ここで、記録パルス１０の長さをｎ’Ｔとすると、トップパルス１２はｍ’Ｔの長さを有し、後続パルス１４は（ｎ−ｍ）Ｔの長さを有する。本実施形態では、ｍ＝３、ｎ＝３〜１１および１４の値をとるものとする。Ｔは光ディスクシステムにて定義された単位時間であり、その周期はクロック信号によって決定される。
【００６５】
記録パルス１０の条件は、同図（ｂ）に示す一連のフローを実行することによって決定される。このフローは、光情報記録装置（以下、「記録装置」または「ドライブ」という）に光情報記録媒体（以下、「メディア」または「ディスク」という）を装填した状態でのテスト記録を伴って実行される。
【００６６】
同図（ｂ）に示すように、記録パルス１０の条件を決定する際には、まず、ｍ’Ｔ長のパルス条件を決定し（ステップＳ１００）、その後、このｍ’Ｔ長の条件を利用して、ｍ’Ｔ長のパルス条件と（ｎ−ｍ）Ｔ長のパルス条件との比率となるｍ’Ｔ／（ｎ−ｍ）Ｔを求める（ステップＳ２００）。その後、この比率に基づいてｎＴパルスを構成し（ステップＳ３００）、最後に位相ずれ補正を行ってｎ’Ｔ長の記録パルスの条件を決定する（ステップＳ４００）。
【００６７】
図２は、本発明に係るドライブの内部構成を示すブロック図である。同図に示すように、このドライブ１００は、レーザ発振器１１０３から出力されたレーザ光を用いて、メディア５０に対する情報の記録再生を行う。
【００６８】
メディア５００に対して情報の記録を行う場合は、所望の記録情報に対応した記録信号をエンコーダ１１０１でＥＦＭ方式で符号化し、この符号化した記録データをストラテジ回路１１０２に加える。
【００６９】
ここで、このストラテジ回路１１０２には、所定のストラテジの各種設定パラメータが設定されており、該ストラテジ回路１１０２は、ストラテジの各種設定パラメータを補正して、レーザ発振器１１０３から出力されるレーザ光の強度やパルス幅を制御し、所望の記録状態が得られるであろう記録パルスを生成する。
【００７０】
ストラテジ回路１１０２で形成された記録パルスは、レーザ発振器１１０３に加えらえ、レーザ発振器１１０３は、この記録パルスに対応して出力レーザ光を制御し、この制御されたレーザ光をレンズ１１０４、ハーフミラー１１０５、レンズ１１０６を介して線速一定若しくは回転速度一定で回転するメディア５００に照射し、これによりメディア５００に、所望の記録データに対応したピット、ランド列からなる記録パターンが記録される。
【００７１】
一方、メディア５００上に記録された情報の再生を行う場合は、レーザ発振器１１０３から一様な再生レーザ光がレンズ１１０４、ハーフミラー１１０５、レンズ１１０６を介して線速一定若しくは回転速度一定で回転するメディア５００に照射される。
【００７２】
この時、再生レーザ光は、記録時にレーザ発振器１１０３から出力されるレーザ光よりも強度の弱い再生レーザ光が用いられ、この再生レーザ光によるメディア５００からの反射光は、レンズ１１０６、ハーフミラー１１０５、レンズ１１０７を介して受光部１１０８で受光され、電気信号に変換される。
【００７３】
受光部１１０８から出力される電気信号は、メディア５００に記録されたピット、ランドからなる記録パターンに対応している。この受光部１１０８から出力される電気信号は、同期信号検出回路１１０９で該電気信号に含まれるウォブル成分から所定周期のクロック信号が生成され、その後、２値化回路１１１０で２値化され、さらにデコーダ１１１１でデコードされて再生信号として出力される。
【００７４】
このように、ドライブとメディアで構成された記録システムの記録品位は、ドライブの特性ばらつきとメディアの特性ばらつきに左右されるため、この影響を前述のストラテジが吸収することで記録品位の向上が図られる。尚、メディアとしては、ＣＤ−ＲやＤＶＤ−Ｒに代表される色素型メディアやＣＤ−ＲＷやＤＶＤ−ＲＷに代表される相変化型のメディア等の各種光情報記録媒体の適用が可能である。
【００７５】
以下、上述したドライブが実行する図１（ｂ）に示した記録パルス条件決定フローの詳細を説明する。
【００７６】
（ｍ’Ｔ条件の決定）
図３は、図１に示したｍ’Ｔ決定フローの詳細な実行手順を示すフローチャートである。同図に示すように、前述のドライブ１００は、該ドライブの初期設定を行うまでステップＳ１１０〜Ｓ１１４までを実行し、次に、テスト記録の条件を決めるまでのステップＳ１１６〜Ｓ１２２までを実行し、その後、決定した条件でテスト記録を行うステップＳ１２４を実行し、その結果に基づいてｍＴパルスの条件を決定するステップＳ１２６を実行する。以下、これら各ステップの詳細を説明する。
【００７７】
（基準条件の決定）
図３に示すステップＳ１１０では、まず、任意の標準的なメディアを用いて記録速度を変化させながらテスト記録を行い、１つのパルス幅と３つのパワー値を基準条件として求める。３つのパワー値としては、上記テスト記録の結果、ジッタが最小となった値と、その前後に位置する２つのパワー値を用いることが望ましい。前後２つのパワー値としては、ジッタ良否の基準となる閾値近傍の値を用いることが好ましい。ここで求めた基準条件が後の記録品位検査の際に利用される。
【００７８】
（基準閾値の決定）
後述するように、本発明ではジッタ閾値以下の領域をテスト記録条件の範囲（以下、「テスト領域」という）として設定することを意図しているため、この判断基準となる閾値を決定する必要がある。閾値の値としては、ドライブやメディアの種類に応じて標準的な値を用意しておいても良いが、ジッタの許容領域のミニマムラインを示す閾値は、図２に示したピックアップを構成する光学系部品やその他の要素の状態によって変化し、また、メディアを記録する速度によっても変化する。
【００７９】
従って、この閾値も実際に使用するドライブとメディアの組み合わせごとに求め、より的確な判断基準を持たせることで、より的確なテスト領域の設定を行うことが推奨される。
【００８０】
もっとも、この閾値をドライブとメディアの組み合わせごとに設定することは、記録工程の増加要因にもなるため、ドライブ個体ごとのバラツキが閾値変動の主要因と仮定して、ドライブ製造時に個体ごとに適した閾値を記憶領域１１１５に格納しておいても良い。
【００８１】
図４は、図３に示す基準閾値の決定ステップの詳細を示すフローチャートである。同図に示すように、基準閾値の決定は、所定の記録条件による記録再生を行い、その結果に基づいてシステムとしての基準値を決定し、該基準値から所定のマージンを確保した値をテスト領域決定の際に使用する閾値とすることで行われる。以下、各ステップを順に説明する。
【００８２】
まず、記録条件設定を行うステップＳ１５０を実行し、このステップでは、パルス幅、パワー、記録再生速度、記録アドレス等の記録再生に必要な条件を所定のパターン用意し、この記録条件をドライブに設定した後、該ドライブ内に基準メディアを装填する。基準メディアとしては、各種のメディアがある中から特性が標準的なものを選ぶことが望ましい。
【００８３】
次に、上記のステップＳ１５０で設定した記録条件で装填した基準メディアに対して、記録と再生を行うステップＳ１５２を実行し、各記録条件における記録再生特性値、例えばジッタを取得する。ここで取得する特性値としては記録品位を示す値を選択する。
【００８４】
続いて、上記ステップＳ１５２で取得した記録再生特性値から最良の値、例えば、ジッタの最小値を求め、これをシステム基準値とするステップＳ１５４を実行する。これにより、当該ドライブで最適値に近いと思われるジッタ値が基準値として設定される。尚、この基準値はジッタ最適点ではなく、所定の閾値と交差する２点の中間値、即ちパワーマージンの中間値としても良い。
【００８５】
最後に、上記ステップＳ１５４で決定したシステム基準値に対して、所定の係数α（α＞１とすることが望ましい）を掛け合わせた値を閾値として算出するステップＳ１５６を実行する。これにより、システム基準値に対して所定のマージンを持たせた形で判断が行われる。即ち、システム基準値を用いた閾値の算出は、閾値＝システム基準値×αで行われ、係数αとしては、およそ１．５程度の値を用いることが望ましい。尚、この係数αはドライブやメディアの種類に応じて適切な値を設定すれば良く、α＝０．８〜１．２のようにシステム基準値に近い値を設定しても良いし、α＝２．０〜３．０のように、大きめに設定しても良い。
【００８６】
図５は、図４に示したフローの一実施例を示す概念図である。同図に示す例は、記録品位を示す特性値としてジッタ値を用い、Ｗ１〜Ｗ４までの各パルス幅に対してパワーをＰ１〜Ｐ６まで変化させて、再生特性２０２−１〜２０２−４までを得たときの例である。同図に示す例では、パルス幅Ｗ１〜Ｗ４とパワーＰ１〜Ｐ６が記録条件となり、最も低いジッタ値が得られた再生特性１０２−３の極がシステム基準値となり、このシステム基準値に例えば１．５を乗じて得られた値が閾値となる。尚、同図中のマトリクス内に示された矢印はテスト条件を変化させる方向を示し、以下の説明においても同様の意味で使用する。
【００８７】
図６は、図４に示したフローの一実施例を示す概念図である。同図に示す例は、記録品位を示す特性値としてジッタ値を用い、Ｗ１〜Ｗ４までの各パルス幅ごとにパワーの変化範囲を変えて、再生特性２０２−１〜２０２−４までを得たときの例である。同図に示す例では、最も低いジッタ値が得られた再生特性２０２−２の極がシステム基準値となり、このシステム基準値に例えば１．５を乗じて得られた値が閾値となる。このように、閾値の決定は、パルス幅ごとにパワー条件を変更して求めることも可能である。
【００８８】
図７は、ドライブごとに閾値を求める場合の例を示す概念図である。ドライブの個体ばらつきに応じた閾値設定が所望される場合には、同図に示すように、各ドライブ１００−１〜１００−５のそれぞれで共通の基準メディア５０を記録再生し、各ドライブごとに固有の閾値１〜５を記憶させておく。
【００８９】
尚、閾値の設定工程を簡易化したい場合は、標準的なドライブ数個のそれぞれで共通の基準メディアを記録再生して得られた閾値１〜５の平均を取り、この平均閾値を他のドライブの閾値として使用してもよい。
【００９０】
このとき、平均閾値を求めるために使用したドライブは、同一設計のものでも、完全に同一設計ではなく類似設計のものであっても良い。また、これらドライブの閾値として平均閾値を使用することも可能である。さらに、一度求めた平均閾値を、以後製造される同一または類似設計のドライブの閾値として汎用的に使用しても良い。また、バラツキを持った複数台のドライブを意図的に用意し、これらの平均値を求めてもよい。
【００９１】
（記録装置の初期設定）
以上説明した図３のステップＳ１１０およびステップＳ１１２で求めた基準条件と基準閾値をドライブ１００内の記録領域１１５に格納するステップＳ１１４を実行する。この工程はドライブ１００の製造時に行っておくことが望ましい。
【００９２】
（記録対象メディアの装填）
続いて、ステップＳ１１４の初期設定が完了したドライブ１００内に、情報記録を行うメディア５０を装填するステップＳ１１６を実行する。
【００９３】
（基準条件による記録再生）
次に、ステップＳ１１４で設定した条件を用いて、ステップＳ１１６で装填したメディア５０に記録を行うステップＳ１１８を実行する。具体的には、基準条件として定義された１つのパルス幅と３種類のパワー値を用いて３回の記録再生を行い３点のジッタ値を得る。この３点のジッタ値をパワー軸との関係でプロットすると、ドライブ１００とメディア５０の組み合わせに応じた記録特性の傾向が明らかになる。
【００９４】
（記録品位の検査）
図８は、図３のステップＳ１２０で実行した記録品位検査の結果、谷型パターンが得られた例を示す概念図である。同図に示すように、記録品位の検査は、前述までのステップで得られた各基準条件に対するジッタ値と閾値とを用いて行う。同図に示す例は、基準条件としてパワーＰ１、Ｐ２、Ｐ３を用いたときの例であり、各パワー値で得られたジッタ値を結ぶ仮想線が谷型のパターンとなる。このような谷型のパターンが得られたときは、ステップＳ１１０で使用した基準メディアとステップＳ１１６で装填した記録対象メディアとが同感度であり、記録特性が類似していることを意味する。
【００９５】
ここで、同図（ａ）は谷型パターンの最小値が閾値以下となる例であり、同図（ｂ）は谷型パターンの最小値が閾値以上となる例であり、いずれのパターンにおいても基準メディアと記録対象メディアは同感度と考えられる。このように、基準メディアと記録対象メディアが同感度であった場合は、後述するように、テスト記録で使用する条件は、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域で設定する。
【００９６】
ここで、同図（ａ）と（ｂ）とでは、各記録ポイントＰ１、Ｐ２、Ｐ３でそれぞれ得られた再生値と再生基準値との差分量、即ち、同図の例ではジッタ値とジッタ閾値との差分量が異なり、同図（ａ）の方が得られた再生値が再生基準値に近くなる。
【００９７】
このことは、同図（ａ）の方が同図（ｂ）よりも最適条件の発見が容易であると考えられるため、同図（ａ）の記録特性が得られたときの方が同図（ｂ）の記録特性が得られたときよりも、テスト回数を少なく設定し、より少ないテスト回数でより適した解を見出す構成としても良い。
【００９８】
即ち、再生値と再生基準値との差分量が少なかった場合は、最適条件が前述の基準条件に近くなり、再生値と再生基準値との差分量が多かった場合は、最適条件が前述の基準条件から遠くなるため、テスト回数をより少なくしたい場合には、再生値と再生基準値との差分量に応じてテスト回数を変化させることが望ましい。
【００９９】
図９は、図３のステップＳ１２０で実行した記録品位検査の結果、右下がりのパターンが得られた例を示す概念図である。同図に示す例では、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３とパワーが上昇するにつれてジッタ値が下がってゆく右下がりのパターンとなる。このような右下がりのパターンが得られたときは、基準メディアよりも記録対象メディアの方が低感度であることを意味する。
【０１００】
ここで、同図（ａ）は右下がりパターンの最小値が閾値以下となる例であり、同図（ｂ）は右下がりパターンの最小値が閾値以上となる例であり、いずれのパターンにおいても基準メディアより記録対象メディアの方が低感度であると考えられる。このように、記録メディアの方が低感度であった場合は、後述するように、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域で区画されたテスト領域を高パワー、広パルス幅側にシフトさせてテスト記録を行う。
【０１０１】
また、同図に示すような右下がりパターンが得られた場合は、ジッタの最小値がより高パワー側に存在すると考えられるため、Ｐ３よりも高パワーで追記を行って、再度記録特性を確認しても良い。この場合、記録回数は１回増えるが記録品位の検査精度を向上させることができる。尚、このパターンが得られた場合も、前述の谷型パターンが得られた場合と同様に、再生値と再生基準値との差分量に応じてテスト回数を変化させても良い。
【０１０２】
また、同図に示すような右下がりパターンが得られた場合は、前述の図８に示した谷型のパターンよりも、最適解が基準条件から遠くなると考えられるため、谷型パターンの場合よりもテスト回数を増加させておくことが望ましい。
【０１０３】
図１０は、図２のステップＳ１２０で実行した記録品位検査の結果、右上がりのパターンが得られた例を示す概念図である。同図に示す例では、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３とパワーが上昇するにつれてジッタ値が上がってゆく右上がりのパターンとなる。このような右上がりのパターンが得られたときは、基準メディアよりも記録対象メディアの方が高感度であることを意味する。
【０１０４】
ここで、同図（ａ）は右上がりパターンの最小値が閾値以下となる例であり、同図（ｂ）は右上がりパターンの最小値が閾値以上となる例であり、いずれのパターンにおいても基準メディアより記録対象メディアの方が高感度であると考えられる。このように、記録メディアの方が高感度であった場合は、後述するように、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域で区画されたテスト領域を低パワー、狭パルス幅側にシフトさせてテスト記録を行う。
【０１０５】
また、同図に示すような右上がりパターンが得られた場合は、ジッタの最小値がより低パワー側に存在すると考えられるため、Ｐ１よりも低パワーで追記を行って、再度記録特性を確認しても良い。この場合、記録回数は１回増えるが記録品位の検査精度を向上させることができる。尚、このパターンが得られた場合も、前述の谷型パターンが得られた場合と同様に、再生値と再生基準値との差分量に応じてテスト回数を変化させても良い。
【０１０６】
また、同図に示すような右上がりパターンが得られた場合は、前述の図８に示した谷型のパターンよりも、最適解が基準条件から遠くなると考えられるため、谷型パターンの場合よりもテスト回数を増加させておくことが望ましい。
【０１０７】
（テスト領域の決定）
図１１は、図３のステップＳ１２０で谷型パターンが得られた場合に、ステップＳ１２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。同図に示すように、谷型パターンが得られた場合は、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３のそれぞれで得られたジッタ値が描く近似曲線２０６と閾値とのクロスポイントをテスト記録で使用するパワーの変化領域とし、この変化領域がパワーレンジとなる。尚、本発明においては、実際にテスト記録で使用するパワーの範囲を「パワーレンジ」と定義し、ジッタが閾値以下となるパワーの範囲を「パワーマージン」と定義する。
【０１０８】
ここで、近似曲線２０６は、パルス幅ごとに異なるため、基準条件で用いたパルス幅をＷ４とすると、このＷ４を中心としたパルス幅Ｗ１〜Ｗ６のそれぞれに対して、パワーＰ１、Ｐ２、Ｐ３で記録し、その結果得られた近似曲線２０６と閾値とのクロスポイントを確認してゆく。これにより同図のマトリクスイメージに示すように、各パルス幅ごとに閾値以下となるパワーレンジが得られ、同図のハッチで示した領域がテスト領域となる。ここで、基準条件として使用したＰ１、Ｐ２、Ｐ３のパワー３条件と、パルス幅Ｗ４をマトリクス中のイメージで示すと、同図の２０８−１、２０８−２、２０８−３となり、決定されたテスト領域は、基準条件を中心としたパワー×パルス幅の面領域として設定される。
【０１０９】
このように、パルス幅ごとにパワーレンジを求めることで、閾値以下となる領域を集中してテストすることができるため、少ないテスト回数でより適した条件を見出すことが可能になる。
【０１１０】
尚、パワーマージンが広く取れた場合には、パワー変化のステップを大きめに設定し、パワーマージンが狭かった場合には、パワー変化のステップを小さく設定することでもテスト回数の低減を図ることができる。例えば、１０ｍＷのマージンが取れた場合には、ラフにテストしても最適値が得られるものと仮定して２ｍＷステップで５回のテストを行い、１ｍＷのマージンが取れた場合には、より精密なテストが必要と判断して０．１ｍＷステップで１０回テストするような構成も可能である。
【０１１１】
図１２は、図３のステップＳ１２０で右下がりパターンが得られた場合に、ステップＳ１２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。同図に示すように、右下がりパターンが得られた場合は、最適条件がより高パワー側にあると考えられるため、Ｐ３よりも高いパワー値Ｐ＋で追加記録を行い、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ＋のそれぞれで得られたジッタ値が描く近似曲線２０６と閾値とのクロスポイントをパワーレンジとする。この処理をパルス幅Ｗ１〜Ｗ６のそれぞれで行って、同図のマトリクスイメージに示すようなテスト領域を得る。
【０１１２】
ここで、上記の手順により決定されたテスト領域は、基準条件２０８−１、２０８−２、２０８−３を中心としたパワー×パルス幅の面領域が高パワー側にシフトされた形となる。この例では、谷型パターンで使用したＷ１〜Ｗ６をそのまま用いたが、右下がりパターンの場合は、低感度傾向にあるため、Ｗ１〜Ｗ６よりも広いパルス幅領域にシフトさせてパワーレンジを決めても良い。
【０１１３】
図１３は、図３のステップＳ１２０で右上がりパターンが得られた場合に、ステップＳ１２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。同図に示すように、右上がりパターンが得られた場合は、最適条件がより低パワー側にあると考えられるため、Ｐ１よりも低いパワー値Ｐ＋で追加記録を行い、Ｐ＋、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３のそれぞれで得られたジッタ値が描く近似曲線２０６と閾値とのクロスポイントをパワーレンジとする。この処理をパルス幅Ｗ１〜Ｗ６のそれぞれで行って、同図のマトリクスイメージに示すようなテスト領域を得る。
【０１１４】
ここで、上記の手順により決定されたテスト領域は、基準条件２０８−１、２０８−２、２０８−３を中心としたパワー×パルス幅の面領域が低パワー側にシフトされた形となる。この例でも谷型パターンで使用したＷ１〜Ｗ６をそのまま用いたが、右上がりパターンの場合は、高感度傾向にあるため、Ｗ１〜Ｗ６よりも狭いパルス幅領域にシフトさせてパワーレンジを決めても良い。
【０１１５】
即ち、上述した手法では、各パルス幅ごとに記録品位の検査が行われ、その結果に基づいて、各パルス幅ごとにテスト回数が決定されるため、テスト回数の低減が期待できる。以上説明した記録品位の検査は、基準条件での記録によるジッタ変化をパターニングすることで行う例であり、より望ましくは、下記に示す８パターンを用いて行うことが推奨される。
【０１１６】
図１４は、図３のステップＳ１２０を８つのパターンを用いて実行する場合の例を示す図である。同図に示すように、パターン１は、谷型、右上がり、右下がり等のどのようなパターンであっても、ジッタの最大値が閾値以下となったときに適用されるパターンである。このパターンが得られたときは、基準メディアと同程度の感度であると見なすとともに、閾値以下となるマージンが広く取れると判断し、パワー条件を低パワー側と高パワー側のそれぞれに拡張する。即ち、このパターン１では、閾値近傍の値が取れていないため、低パワー側と高パワー側の両方に追加記録が行われることになる。
【０１１７】
その後、この追加記録の結果得られたジッタ特性を曲線近似し、この近似曲線がジッタ閾値と交差する大小２点の間隔をパワーレンジの基準値とする。
【０１１８】
さらに、このパターンが得られたときは、基準値±０．２Ｔのパルス幅領域をテスト領域として決定し、テスト記録時には、このテスト領域内を０．２Ｔごとに変化させて最適記録条件の検出を行う。尚、Ｔは記録ピットの単位時間長を示す。
【０１１９】
ここで、基準値となるパルス幅をパルス条件１とし、拡張した２点をパルス条件２および３とすると、パターン１のパルス条件２および３は±０．２Ｔ拡張された後のパルス幅となる。このパルス幅の条件変更に伴って、テスト条件として使用するパワーレンジにも若干の変更を行う。
【０１２０】
即ち、パルス幅を０．１Ｔ変更したときは、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×１）ｍＷを当該パルス幅におけるパワーレンジとし、パルス幅を０．２Ｔ変更したときは、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×２）ｍＷを当該パルス幅におけるパワーレンジとし、パルス幅を−０．１Ｔ変更したときは、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−１））ｍＷを当該パルス幅におけるパワーレンジとする。
【０１２１】
よって、このパターン１に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【０１２２】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×(−２)）ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
尚、本発明では、上記（１）に示した基準条件は、実際のテスト記録で使用しなくても良い。
【０１２３】
パターン２は、谷型パターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値以下であるときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアと同感度であると判断し、基準値±０．１Ｔをパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン２に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【０１２４】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−１））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋１））ｍＷ
パターン３は、谷型パターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアと同感度、かつメディアの素性差が大きいと判断し、基準値±０．２Ｔをパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン３に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【０１２５】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
パターン４は、右下がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値以下であるときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりやや低感度であると判断し、基準値、＋０．１Ｔおよび＋０．２Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン４に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【０１２６】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値＋０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋１））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
パターン５は、右下がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりかなり低感度であると判断し、基準値、＋０．２Ｔおよび＋０．４Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン５に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【０１２７】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．４Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋４））ｍＷ
パターン６は、右上がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値以下となったときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりやや高感度であると判断し、基準値、−０．１Ｔおよび−０．２Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン６に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【０１２８】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．１Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−１））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
パターン７は、右上がりパターンが得られた場合であって、ジッタの最小値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、記録対象メディアが基準メディアよりかなり高感度であると判断し、基準値、−０．２Ｔおよび−０．４Ｔの３点をパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン７に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【０１２９】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値−０．４Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−４））ｍＷ
パターン８は、山型パターンが得られた場合であって、ジッタの最大値が閾値を超えたときに適用されるパターンである。このパターンが得られた場合は、異常パターンであると判断し、基準値±０．２Ｔをパルス幅条件として選択する。その後、パターン１と同様の手順により、これらパルス条件ごとにパワーレンジの設定を行う。その結果、このパターン８に該当した場合のテスト条件は下記の３セットとなる。
【０１３０】
（１）パルス幅の基準値、パワーレンジの基準値
（２）パルス幅の基準値−０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（−２））ｍＷ
（３）パルス幅の基準値＋０．２Ｔ、パワーレンジの基準値×（１−０．０５×（＋２））ｍＷ
尚、以上説明した８つのパターンのうち、基準メディアに最も近くなるパターン２以外のパターンが検出された場合は、再生誤動作によるものでないことを確認するために、このパターンの基になった記録結果を再度再生し、ジッタを再検出する構成としても良い。この場合、再度の再生によりパターン２以外の特性が検出された場合は、図１４に示す条件に従って、記録条件の追加と拡張を行えば良い。
【０１３１】
ここで、上記再生誤動作の確認を行った結果、パターン８が検出された場合は、記録誤動作の可能性が考えられるため、追加記録およびパルス幅の拡張を行う前に、パルス幅の基準値で再度記録を行う。この再記録結果を再生してもパターン８となった場合は、追加記録、即ち、パルス条件１のマージン測定を行うためのパワー拡張は行わずに、パルス条件の拡張、即ち、パルス条件２および３の拡張を行う。これらパルス条件２および３の拡張に応じたパワーの拡張は前述の手法で行えば良い。
【０１３２】
即ち、パターン８の場合、パルス条件１ではマージンが取れず、拡張の基準となるパワーレンジを求めることができないため、初期のパワー条件範囲を基準となるパワーレンジとして設定する。
【０１３３】
（テスト領域の決定：近似法によるパワーレンジの決定）
前述の手順を実行することにより、少ないテスト回数で最適解を得るに有効なテスト領域が決定されるが、このテスト領域決定の際に重要となるパワーレンジの決定手法について以下説明を加える。
【０１３４】
本発明では可能な限り少ないテスト回数で最適解発見の精度を上げたいため、閾値以下の領域にテスト条件を集中させることは前述したとおりである。この考え方に基づけば、テスト記録の際に使用されるパワーレンジは、閾値に対するマージンを示す大小２点のパワー値から求めればよいこととなる。ここで、閾値に対するマージンとは、その領域であれば、閾値以下の特性値が得られる幅を意味し、大小２点のパワー値とは、このマージンの幅を決める低パワー側の値と、高パワー側の値を意味する。
【０１３５】
ここで、各種メディアのテスト記録時間の短縮およびライトワンスメディアのようにテスト記録領域に制限の有るメディアのテスト領域の効率化を考えると、テスト記録に要する記録ポイントはより少ないことが望ましいが、ここで求めるパワーレンジは、最適記録条件の判断基準となる重要なパラメータであるため、高精度であることが望まれる。
【０１３６】
このパワーレンジを精度良く求めることは、より選択された領域の集中したテストを意味するため、テスト回数の低減にも寄与する。例えば、０．１ｍＷに１回の頻度でテスト記録を行う場合には、パワーレンジが１ｍＷだと１０回のテスト記録が行われ、２ｍＷだと２０回のテスト記録が行われるため、パワーレンジを絞ることがテスト回数の低減に寄与することになる。
【０１３７】
そこで、本発明では、記録再生信号の記録品位が記録パワーに対して最適点を極値とする２次曲線的な変化を描くことに着目し、数点の記録ポイントを用いて特性曲線を近似算出することで、求めたいマージン量を得る手法を提唱する。このような近似手法を適用することにより、数点の記録ポイントでパワーレンジを高精度かつ容易に求めることが可能になり、テスト回数の低減が図られる。
【０１３８】
図１５は、図３のステップＳ１２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める方法を説明した概念図である。同図に示すように、近似を行うにあたっては、まず、記録特性の判断基準とするジッタ値が閾値近傍となる低パワー側のａおよび高パワー側のｃの２点と、これらの間に位置し、かつ、これらａ、ｃおよび閾値のいずれの値よりも小さなジッタ値となるｂを選択する。即ち、ここで選択されるａ、ｂ、ｃは、下記の関係を有することになる。
【０１３９】
ａ＞ｂ、ｃ＞ｂ、閾値＞ｂ
ここで、上記の閾値近傍は、同図に示すように、閾値からある幅を持った上限値と下限値の間として定義し、望ましくは、上限値を閾値の４０％、下限値を閾値の５％に設定する。その後、これらａ，ｂ，ｃの値を２次関数で近似し、該２次関数と閾値がクロスする大小２点の差分をパワーレンジとする。尚、閾値近傍として定義する範囲は、−５％〜＋４０％や−１０％〜３０％等、記録ポイントの間隔等を考慮して適宜変更可能である。
【０１４０】
図１６は、図３のステップＳ１２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める別の例を説明した概念図である。同図に示すように、Ａ、Ｂ、Ｃの３条件でのみでは、前述の「ａ＞ｂ、ｃ＞ｂ、閾値＞ｂ」の条件を満たす関係が得られなかった場合、高パワー側のＤを追記することで、閾値近傍の値を得ることが望ましい。
【０１４１】
さらに、同図に示すように、Ｂ＞Ｃの関係がある場合は、Ｂを用いずに、Ａ、Ｃ、Ｄの３点で近似式を算出することが望ましい。
【０１４２】
このとき記録ポイント３点と閾値の関係は、「Ａ＞Ｃ、Ｄ＞Ｃ、閾値＞Ｃ」となり、近似曲線を描くに適した関係となるため、３点近似で高精度な近似曲線を得ることができる。尚、Ｄに示した追加記録条件は、追記前の記録ポイントが示すＡ＞Ｂ、Ｂ＞Ｃおよび閾値によって決定すれば良い。
【０１４３】
また、図１５とは逆に、低パワー側に閾値近傍の値がなかった場合は、Ａより低パワー条件で追記を行えば良く、記録ポイントと閾値の関係によっては、適宜１点以上の記録条件を追加しても良い。
【０１４４】
また、追加記録条件で用いるパワーの範囲は、所定のパワーステップに対して一定の変化を持たせても良いし、予めパワーの変動に対するジッタ変動の関係を求めておき、その関係からパワー条件を設定しても良い。
【０１４５】
尚、上記記録条件の追加を行っても、パワーレンジを求めるに十分な記録ポイントが得られない場合は、上述と同様の手順により再度記録条件の追加を行って記録ポイントを変更する。
【０１４６】
また、ライトワンスメディアのようにテスト記録領域に制限のある場合や、膨大なテスト時間の使用を回避するため、上記再度記録条件の追加回数に上限値を持たせても良く、記録条件の追加によって記録パワーがレーザ出力値を超えないように、追記パワーの上限値を持たせておいても良い。
【０１４７】
また、上述の例では、３点近似によりパワーレンジを求めたが、最も閾値に近い２点を選択し、これら２点がそれぞれ示す大小２点のパワー値の差分よりパワーレンジを決定しても良い。
【０１４８】
その他、閾値近傍の２点を選択する手法としては、閾値をまたぐ大小２点が見つかるまでパワーを変化させて記録し、該記録した中で最も閾値に近い２点を選択しても、この２点をそのまま選択しても良い。この方法については以下詳細な説明を加える。
【０１４９】
（テスト領域の決定：サンプリングによるパワーレンジの決定）
図１７は、図３のステップＳ１２２で使用されるパワーレンジをサンプリングによって求める例を説明した概念図である。同図に示す例では、前述した３点近似ではなく、閾値に近い値が得られるまでパワーを徐々に変化させて、閾値に近い大小２点のパワー値を基準にパワーレンジが求められる。
【０１５０】
つまり、同図に示すように、記録パワーをＰ１からＰ２、Ｐ３・・・と順に増加させて記録再生を行い、閾値以上の値が得られたパワー値Ｐ６まで記録再生を繰り返す。この処理のイメージをマトリクスで示すと、パワー変化はＰ１〜Ｐ６まで行うが、パワーレンジは、閾値に最も近い低パワー側のＰ２と高パワー側のＰ６との間となる。このように、閾値をまたぐ２点を選択することによってもパワーレンジを決定することができる。
【０１５１】
ここで、閾値に近い大小２点を選択する方法としては、下記のような形態を適宜選択して使用することができる。
【０１５２】
１）パワーマージンを成す大小２点を選択する方法、即ち、再生基準値を満たすパワー領域内であって、夫々再生基準値と最も近い２点を選択
２）パワーマージンのやや外にはなるが再生基準に最も近い２点を選択
３）低パワー側で再生基準値を跨ぐ大小２点を選択
４）高パワー側で再生基準値を跨ぐ大小２点を選択
５）低パワー側および高パワー側で再生基準値を跨ぐ形となる２点であって、夫々再生基準値と最も近い２点を選択
また、上記各手法により選択した２点を用いて記録特性を近似し、再生基準値と交差する大小２点を求めても良い。
【０１５３】
（ｍ’Ｔ／（ｎ−ｍ）Ｔ比率の決定）
図１８は、図１（ｂ）に示したステップＳ２００の比率決定で使用するテスト用記録パルスの例を示す概念図である。同図（ａ）は、単一のパルスパターンで構成されたシングルパルスを用いる場合の例であり、同図（ｂ）は、複数のパルスパターンで構成されたマルチパルスを用いる場合の例である。同図に示すように、シングルパルス１０−１およびマルチパルス１０ー２は、記録パルスの先頭に配置されたトップパルス１２と、それに続く後続パルス１４とで構成され、後続パルス１４は、記録パルスの最後尾に配置された後端パルス１４を備える。
【０１５４】
ここで、メインパワーＰＷが示す高さで記録パルス全体のエネルギー量が規定され、トップパルス幅Ｔｔｏｐが示す長さで記録ピット先端に与える初段のエネルギー量が規定される。このメインパワーＰＷは、記録パルス１０−１、１０ー２の中で最も高い値とすることが望ましく、トップパルスの幅Ｔｔｏｐは、３Ｔの長さを有する最短記録ピットに対応した幅を有する。この最短幅の記録パルスが最も出現確率が高く、記録品位への影響が大きいため、まずは、前述したｍ’Ｔ条件決定フローによって、このトップパルス１２のパワーＰＷと幅Ｔｔｏｐの最適条件を確定させる。
【０１５５】
続いて、ｍ’Ｔ／（ｎ−ｍ）Ｔ比率決定フローによって、後続パルス１４の条件決定を行う。後続パルスの条件としては、シングルパルス１０−１の場合には、同図（ａ）に示すように、メインパワーＰＷよりもＰＷＤだけ低い低パワー領域を設け、この量を規定することで、記録ピットが涙型になることを防止する。同様に、マルチパルス１０−２の場合には、同図（ｂ）に示すように、先頭パルス１２と後端パルス１４との間に位置する中間パルスの幅Ｔｍｐを規定するか、または、ＴｍｐとＴｓｍｐのデューティ比を規定することで、記録ピットが涙型になることを防止する。これら後続パルスの条件決定は、トップパルスの条件を基準として行われる。
【０１５６】
図１９は、  図１（ｂ）に示したステップＳ２００の比率決定フローの実行手順を示すフローチャートである。同図に示すように、図２に示したドライブは、まず最初に、ストラテジ回路１０２が実行する記録ストラテジの各種パラメータを設定するために、メディア５０に対して（ｎ−ｍ）Ｔの条件を変更した複数の記録パターンによるテスト記録を行う（ステップＳ２１０）。このときｍＴパルスの条件は、前述のｍ’Ｔ条件決定フローで得られた値に固定しておく。、
その後、このテスト記録により形成された記録パターンを再生し（ステップＳ２１２）、その結果として２値化回路１１０から得られた再生２値化信号を記録ずれ検出部１１２が所定クロックに同期したカウンタで計数して（ステップＳ２１４）、該再生２値化信号に含まれたピットおよびランドの長さを計数データとして記録領域１１５に格納する（ステップＳ２１６）。
【０１５７】
その後、記録ずれ検出部１１２は、記録領域１１５に蓄積された計数データを用いて、計数値ごとの出現頻度を示すヒストグラムを作成し（ステップＳ２１８）、このヒストグラムからピット長とランド長の判定基準となる計数結果の閾値を決定する（ステップＳ２２０）。
【０１５８】
その後、記録ずれ検出部１１２は、前記閾値を基準に記録領域１１５に格納された計数データの中から特定のピット／ランドパターンを含む複数種の特定パターンを検索し（ステップＳ２２２）、この特定パターンに含まれた同一ピット長と思われる計数結果を平均化するとともに、同一ランド長と思われる計数結果を平均化して、特定パターンを構成する各ピットと各ランドの平均長を求める（ステップＳ２２４）。
【０１５９】
その後、記録ずれ検出部１１２は、抽出した複数の特定パターンのうちの一つを抽出パターンに設定し、この抽出パターンに含まれる対象記録ピットの長さを基準長と比較して（ステップＳ２２６）、記録パルスに対するピットの長さずれ量を検出する（ステップＳ２２８）。
【０１６０】
その後、演算式導出部１１３は、記録ずれ検出部１１２が検出したずれ量に基づいて、最適ストラテジを決定するための演算式を導出し、ストラテジ決定部１１４は、この演算式導出部１１３が導出した演算式を用いて各種パラメータの制御結果を予測し（ステップＳ２３０）、この予測結果に基づいて、図１８に示したＰＷＤまたはＴｍｐを決定し、これをストラテジ回路１０２に設定する（ステップＳ２３２）。
【０１６１】
図２０は、図１９に示したテスト記録から再生データの計数までの動作概念を示す概念図である。同図に示すように、まず、テスト記録が行われると、同図（ａ）に示すような記録ピットが光ディスク上に形成される。そして、この記録ピットを再生すると、同図（ｂ）に示すように、この記録ピットに対応した再生ＲＦ信号が得られる。この再生ＲＦ信号を２値化すると、同図（ｃ）に示したような再生２値化信号が得られ、この２値化信号の極性反転間のパルス長を同図（ｄ）に示すようなクロック信号で計数すると、同図（ｅ）に示したような計数結果が得られる。
【０１６２】
図２１は、図１９に示した計数結果の格納イメージを示す概念図である。同図に示すようにクロック信号で計数された２値化信号は、極性反転部を区切りとして、その計数結果がピット、ランドの区別とともに記憶領域１１１５に設けられたテーブル内に順次時系列で格納される。この同図に示すテーブルは、後に検索可能なアドレスが付された状態で格納される。
【０１６３】
図２２は、図１９に示したヒストグラム作成のイメージを示す概念図である。同図に示すように、計数値の出現頻度をグラフ化するとヒストグラムが得られ、ピットとランドをそれぞれ区別してヒストグラムを作成すると、同図（ａ）に示したピットの計数傾向を示すピットヒストグラムと、同図（ｂ）に示したランドの計数傾向を示すランドヒストグラムの２種類を得ることができる。このように、光ディスクでは基準クロックに対する各単位長ｎＴ（ｎ＝３、４、５、・・・１４）の長さが必然的に決まるため、各単位長ｎＴに対して、出現頻度分布の山が得られることになる。
【０１６４】
図２３は、図１９に示した閾値決定のイメージを示す概念図である。同図に示すように、ヒストグラム中の各山と山の間に形成された谷の部分が各単位長ｎＴの長さ判定閾値として使用できるため、ピットヒストグラムおよびランドヒストグラムのそれぞれについて、ピット長の判断基準となるピット長閾値と、ランド長の判断基準となるランド長閾値を設定する。
【０１６５】
図２４は、図２３に示した手法によって得られた閾値の例を示す概念図である。同図（ａ）に示すように、各ピット長の境界ごとにピット長閾値が定義され、同図（ｂ）に示すように、各ランド長の境界ごとにランド長閾値が定義される。同図（ａ）に示す例では、２Ｔと３Ｔの境界となる閾値は「計数値＝２」となり、３Ｔと４Ｔの境界となる閾値は「計数値＝９」となり、以降、１４Ｔと１５Ｔの境界まで設定される。また、同図（ｂ）に示す例では、２Ｔと３Ｔの境界となる閾値は「計数値＝２」となり、３Ｔと４Ｔの境界となる閾値は「計数値＝１０」となる。以降、１４Ｔと１５Ｔの境界まで設定される。
【０１６６】
次に、図１９に示した特定パターンの検索（ステップＳ２２２）からずれ量の検出（ステップＳ２２８）までの各工程の詳細について説明を加える。これらの工程は、記録ずれ検出部１１２における各種ずれの検出原理に基づいて行われる。
【０１６７】
図２５は、ピットバランスによるずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。ここで、ピットバランスとは、前述のトップパルスと後続パルスのバランスを示す。同図に示すように、ピットバランスによるずれ量を検出する場合には、同図（ａ）に示す記録パルスを用いてテスト記録を行う。この記録パルスは、ランドＬｘＴ、ピットＰｙＴ、ランドＬｚＴが連続するパターンを含み、固定ランドＬｙＴのランド長および固定ランドＬｚＴのランド長を固定して、可変ピットＰｘＴのピット長を、同図（ｂ）から同図（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・７Ｔと変化させたものである。尚、図示しないが可変ランド長の変化は１４Ｔまで行うものとする。
【０１６８】
ここで、この記録パターンの可変長のピットＰｙＴの長さを測定すると、この可変長のピットＰｙＴの長さは、理想の記録状態ではそれぞれ理想のピット長に対応するはずである。
【０１６９】
しかし、この可変長のピットＰｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ランドＬｘＴのランド長およびランドＬｚＴのランド長は固定されているので、この可変長のピットＰｙＴの規定長さからのずれ量は記録時のストラテジにおける３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔの記録パルスに対する長さずれ量に対応することになる。
【０１７０】
したがって、あるストラテジを用いてテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、同図（ｂ）〜（ｆ）に示すように、可変長のピットＰｙＴの記録結果と各ピットの基準長とを比較し、各ピット長の理想の長さからのずれ量を検出すれば、各ピット長の長さずれ量を検出することができる。
【０１７１】
図２６は、ピットバランスずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。ピットバランスずれの検出を行う場合には、特定パターンごとに設定されたランドＬｘＴ、ピットＰｙＴ、ランドＬｚＴに関する閾値範囲を基準に、図２の記憶領域１１１５内に格納されたデータを検索し（図１９のステップＳ２２２に相当）、該閾値を満たすデータ列を抽出する。
【０１７２】
その後、ランドＬｘＴ、ピットＰｙＴ、ランドＬｚＴのぞれぞれに該当する計数結果を分別し、ランドＬｘＴ、ピットＰｙＴ、ランドＬｚＴごとに平均値を求める（図１９のステップＳ２２４に相当）。この計数結果の平均値を用いて、図２５に示したパターン比較を行えば、各ピット長における前側位相ずれ量が得られる。
【０１７３】
図２７は、計数結果の絶対比較により長さずれ量を検出する場合の具体例を示す概念図である。同図に示すように、理想の基準長との比較でずれ量を検出する場合は、まず記憶領域内に格納されたデータ群の中から、同図（ａ）に示した特定パターンを検索抽出し、同図（ｂ）および（ｃ）に示すように、比較対象となる部位に対する両者の計数値を比較する。同図に示す例では、ピット３Ｔが比較部位になるため、特定パターンの計数結果である同図（ｃ）に示す「９」と、基準長に相当する計数結果である同図（ｄ）に示す「８」との差分を求め、得られた差分「１」が３Ｔピットのずれ量になる。
【０１７４】
図２８は、図１９に示した制御量予測の実行例を示すフローチャートである。同図に示すように、制御量の予測は、記録条件の異なるＳ１とＳ２の２種以上の条件でテスト記録を行い（ステップＳ２５０）、その結果得られた記録ピットを再生し（ステップＳ２５２）、その結果得られた再生パターンの比較によって、条件Ｓ１に対応するずれ量Ｄ１と、条件Ｓ２に対応するずれ量Ｄ２とを求め（ステップＳ２５４）、これらＳ１およびＳ２とＤ１およびＤ２との関係を直線近似し（ステップＳ２５６）、該直線を用いて最適補正量を決定する（ステップＳ２５８）一連の手順を実行することによって行われる。
【０１７５】
ところで、上記のように検出されるずれ量Ｄ１およびＤ２は、ストラテジの各種設定パラメータにより変動する。そして、このストラテジの各種設定パラメータにより変動するずれ量Ｄ１およびＤ２は、解析の結果ほぼ直線状に変化することが解明された。
【０１７６】
すなわち、上記記録ずれ検出部１１２で検出されるそれぞれのテスト記録におけるずれ量は、最小二乗法に基づき近似された直線状の変化として捉えることができることになる。
【０１７７】
そこで、本実施形態に係るドライブにおいては、例えば、２回のテスト記録を行った場合には、ストラテジの各種設定パラメータと検出したずれ量Ｄ１およびＤ２との直線関係に着目して最適なストラテジを決定することができる。もっとも、本発明では、直線近似に替えて曲線で近似しても良い。
【０１７８】
即ち、シングルパルスの場合にはＰＷＤが、マルチパルスの場合はＴｍｐが記録条件Ｓ１およびＳ２で変化させる代表的なパラメータとなり、これらのパラメータをＳ１、Ｓ２と変化させて、その影響をＤ１、Ｄ２として検出し、これら４点を用いて直線近似を行い、該直線を用いてずれがキャンセルできる補正量を得る。
【０１７９】
図２９は、ＰＷＤを変化させる場合の記録条件Ｓ１、Ｓ２の変化とずれ量Ｄ１、Ｄ２との関係を示す概念図である。ここで、同図（ａ）に示す記録パルスは、ＰＷＤをＳ１だけ変化させた記録パルスＳ１であり、同図（ｂ）に示す記録パルスは、ＰＷＤをＳ２だけ変化させた記録パルスＳ２であり、これらの２条件を使用してテスト記録を行う。
【０１８０】
その結果、同図（ａ）の記録パルスに対応して同図（ａ１）に示すパターンＳ１が得られ、同図（ｂ）の記録パルスに対応して同図（ｂ１）に示すパターンＳ２が得られる。ここで、パターンＳ１は、制御量Ｓ１に対応してＤ１のすれ量が生じ、パターンＳ２は、制御量Ｓ２に対応してＤ２のずれが生じる。
【０１８１】
制御量Ｓ１およびＳ２に対するずれ量Ｄ１およびＤ２がわかれば、どのパラメータに関してどれだけの制御量を持たせれば、どれだけのずれが生じるかが予測可能となるため、これらの関係を利用して、制御量の予測と補正値の決定を行う。
【０１８２】
図３０は、シングルパルスの形状に関する直線近似を利用した長さずれ補正の一例を示す概念図である。当該長さずれに対する補正量ＰＷＤを決める場合には、まず、同図（ａ）に示すように、基準となるパルス長を基準波形ｎＴとしたとき、同図（ｂ）に示すように、ＰＷＤだけパルスの中央を欠いた波形でテスト記録を行い、その結果、同図（ｃ）に示すように、得られた再生信号の長さずれΔを検出する。
【０１８３】
同図に示す例では、このＰＷＤの変化をＳ１＝＋０．３とＳ２＝＋０．１の２種類行い、その結果得られた長さずれΔをずれ量Ｄ１＝＋０．１およびＤ２＝−０．１として得る。そして、これら得られたＳ１、Ｓ２、Ｄ１、Ｄ２を用いて、同図（ｅ）に示す如く、制御量ＰＷＤに対する制御結果Δの関係を直線で近似し、この直線を利用して長さずれがキャンセルできる補正量ＰＷＤ＝＋０．２を最適補正値として決定する。このとき、トップパルスの条件は変化させずに固定しておく。
【０１８４】
このように、ストラテジの変化Ｓ１、Ｓ２とずれ量の変化Ｄ１、Ｄ２との関係は、変化点を少なくとも２点求めれば、直線または曲線による近似が可能になるため、この直線を用いてずれ量が零になる最適補正量を求めることができる。
【０１８５】
具体的には、ストラテジＳを数点変化させたときのずれ量Ｄを求め、このときのストラテジＳとずれ量Ｄとの関係を一般式「Ｄ＝ａ×Ｓ＋ｂ」に代入し、連立方程式を解くことにより定数ａ、ｂを求め、最終的に理想のずれ量Ｄに対応するストラテジＳを求め、このストラテジＳを図１に示したストラテジ回路１０２に設定することにより記録パルスの最適補正を行う。
【０１８６】
例えば、図２に示した記録ずれ検出部１１２で、あるストラテジＳ１を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がＤ１、他のストラテジＳ２を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がＤ２であるとすると、
Ｄ１＝ａ×Ｓ１＋ｂ
Ｄ２＝ａ×Ｓ２＋ｂ
からａおよびｂを算出し、該算出したａおよびｂを用いた関数
Ｓ＝（Ｄ−ｂ）／ａ
を求め、この関数に、記録品位を改善させるための、例えば、イコライザ等において生じる初期的な出力ずれ等を補正するための出力ずれ量Ｄを代入することで最適ストラテジＳを決定する。
【０１８７】
図３１は、マルチパルスの形状に関する直線近似を利用した長さずれ補正の一例を示す概念図である。当該長さずれに対する補正量Ｔｍｐを決める場合には、まず、同図（ａ）に示すように、基準となるパルス長を基準波形ｎＴとしたとき、同図（ｂ）に示すように、中間パルス長をＴｍｐとした波形でテスト記録を行い、その結果、同図（ｃ）に示すように、得られた再生信号の長さずれΔを検出する。このとき、トップパルスの条件は変化させずに固定しておく。
【０１８８】
同図に示す例では、このＴｍｐの変化をＳ１＝＋０．３とＳ２＝＋０．１の２種類行い、その結果得られた長さずれΔをずれ量Ｄ１＝＋０．１およびＤ２＝−０．１として得る。そして、これら得られたＳ１、Ｓ２、Ｄ１、Ｄ２を用いて、同図（ｅ）に示す如く、制御量Ｔｍｐに対する制御結果Δの関係を直線で近似し、この直線を利用して長さずれがキャンセルできる補正量Ｔｍｐ＝＋０．２を最適補正値として決定する。
【０１８９】
図３２は、補正量ＰＷＤとＴｍｐを格納するためのテーブル構造を示す概念図である。同図（ａ）に示すように、補正量ＰＷＤおよびＴｍｐは、補正対象となるピット長ごとに定義される。例えば、補正対象ピットが３Ｔである場合の補正量ＰＷＤは、図中「ＰＷ３」と示した領域に補正量が格納され、補正対象ピットが３Ｔである場合の補正量Ｔｍｐは、図中「Ｔｍ３」と示した領域に補正量が格納される。以下、４Ｔ、５Ｔ、・・・１４Ｔまで３Ｔと同様に格納される。
【０１９０】
図３３は、図１のステップＳ３００で実行されるｎＴパルスの構成概念を示す概念図である。同図（ａ）に示すように、例えば５Ｔピットを形成する場合の記録データは、クロック信号５周期分の長さを有するｎＴの長さを有するパルス信号として出力される。この記録データに対して補正後のパルスは、同図（ｂ）および（ｃ）に示すように、ｍ’Ｔのトップパルスで始まり、ｎ’Ｔの長さを有するパルス信号として出力され、シングルパルスの場合は、（ｎ−ｍ）Ｔパルス内にＰＷＤが定義され、マルチパルスの場合は、（ｎ−ｍ）Ｔパルス内にＴｍｐが定義される。
【０１９１】
このとき、ＰＷＤおよびＴｍｐは、トップパルスの条件を固定して求められた値であるため、ｍＴパルスの条件を基準とした最適ｍ’Ｔ／（ｎ−ｍ）Ｔ比率に準拠した値となる。その結果、トップパルスと後続パルスとで構成されるｎＴパルスは、記録品位の向上に望ましい値となる。ただし、この時点では未だ位相条件は定義されていないため、後述する位相条件の決定に関するフローをさらに実行することで最適化されたストラテジを得る。
【０１９２】
（位相ずれ補正）
図３４は、図１（ｂ）に示したステップＳ４００の位相ずれ補正で使用するテスト用記録パルスの例を示す概念図である。同図（ａ）は、単一のパルスパターンで構成されたシングルパルスを用いる場合の例であり、同図（ｂ）は、複数のパルスパターンで構成されたマルチパルスを用いる場合の例である。
【０１９３】
同各図に示すように、シングルパルス１０−１とマルチパルス１０−２のいずれの場合も、記録パルスの位相条件として、トップパルス１２の開始位置を調整するＴｔｏｐｒと、後端パルス１６の終了位置を調整するＴｌａｓｔを設定する。これらの値を調整することで、記録後のピット長がより最適化される。尚、これらの位相条件は、前述までのフローで決定されたトップパルスの条件と後続パルスの条件とを基準としたテスト記録を行うことで決定される。
【０１９４】
図３５は、図１（ｂ）に示したステップＳ４００の位相条件決定フローの実行手順を示すフローチャートである。同図に示すように、図２に示したドライブは、まず最初に、メディア５０に対して、ｍＴパルスと（ｎ−ｍ）Ｔパルスとで構成されるｎＴパルスの位相条件を変更した複数の記録パターンによるテスト記録を行う（ステップＳ４１０）。このとき、ｍＴパルスの条件および（ｎ−ｍ）Ｔパルスの条件は、前述までのフローで得られた値に固定しておく。、
その後、このテスト記録により形成された記録パターンを再生し（ステップＳ４１２）、その結果として２値化回路１１０から得られた再生２値化信号を記録ずれ検出部１１２が所定クロックに同期したカウンタで計数して（ステップＳ４１４）、該再生２値化信号に含まれたピットおよびランドの長さを計数データとして記録領域１１５に格納する（ステップＳ４１６）。
【０１９５】
その後、記録ずれ検出部１１２は、記録領域１１５に蓄積された計数データを用いて、計数値ごとの出現頻度を示すヒストグラムを作成し（ステップＳ４１８）、このヒストグラムからピット長とランド長の判定基準となる計数結果の閾値を決定する（ステップＳ４２０）。
【０１９６】
その後、記録ずれ検出部１１２は、前記閾値を基準に記録領域１１５に格納された計数データの中から特定のピット／ランドパターンを含む複数種の特定パターンを検索し（ステップＳ４２２）、この特定パターンに含まれた同一ピット長と思われる計数結果を平均化するとともに、同一ランド長と思われる計数結果を平均化して、特定パターンを構成する各ピットと各ランドの平均長を求める（ステップＳ４２４）。
【０１９７】
その後、記録ずれ検出部１１２は、抽出した複数の特定パターンのうちの一つを基準パターンに設定し、この基準パターンと他のパターンとを比較して（ステップＳ４２６）、下記のずれ量をそれぞれ独立に検出する（ステップＳ４２８）。
【０１９８】
１）記録パルスに対するピットの前側位相ずれ量
２）記録パルスに対するピットの後側位相ずれ量
３）熱干渉による記録パルスからのピットずれ量
その後、演算式導出部１１３は、記録ずれ検出部１１２が検出したずれ量に基づいて、最適ストラテジを決定するための演算式を導出し、ストラテジ決定部１１４は、この演算式導出部１１３が導出した演算式を用いて各種パラメータの制御結果を予測し（ステップＳ４３０）、この予測結果に基づいて、図３４に示したＴｔｏｐｒおよびＴｌａｓｔを決定し、これをストラテジ回路１０２に設定する（ステップＳ４３２）。
【０１９９】
ここで、ステップＳ４１０のテスト記録からステップＳ４２４の平均化までの手順は、前述の図２０〜図２４までに示した手法と同様に行われるため、ここでは詳細な説明を省略する。
【０２００】
図３６は、各ピット長における前側位相ずれ量を検出するための記録パターンおよび再生パターンの一例を示す概念図である。同図に示すように、各ピット長における前側位相ずれ量を検出する場合には、同図（ａ）に示す記録パルスを用いてテスト記録を行う。この記録パルスは、固定ピットＰｘＴ、固定ランドＬｙＴ、可変ピットＰｚＴが連続するパターンを含み、固定ピットＰｘＴのピット長と固定ランドＬｙＴのランド長を固定して、可変ピットＰｚＴのピット長を、同図（ｂ）から（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・７Ｔと変化させたものである。尚、図示しないが可変ピット長の変化は１４Ｔまで行うものとする。
【０２０１】
ここで、この記録パターンの固定ランドＬｙＴの長さを測定すると、この固定ランドＬｙＴの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。しかし、この固定ランドＬｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ピットＰｘＴのピット長は固定されているので、この固定ランドＬｙＴ長の理想の規定長さのずれ量は記録時のストラテジにおける３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔの記録パルスに対する前側位相ずれ量に対応することになる。
【０２０２】
従って、可変ピットＰｚＴが３Ｔとなる同図（ｂ）のパターンを基準パターンに設定し、同図（ｃ）〜（ｆ）までの残りのパターンを比較パターンに設定し、これら比較パターンの固定ランドＬｙＴの長さと、基準パターンの固定ランドＬｙＴの長さとを比較すると、同各図に示すように、基準パターンに対する前側位相ずれ量ＦＰＳ４Ｔ〜ＦＰＳ７Ｔが得られる。
【０２０３】
ここで、各ずれ量ＦＰＳ３Ｔ〜ＦＰＳ７Ｔは、ある部位を基準とした相対的な値として検出できれば良いため、基準パターンの前側位相ずれ量ＦＰＳ３Ｔは零と定義しても良く、また、理想の長さからのずれ量として検出しても良い。また、同図（ｂ）のパターンに替えて、同図（ｃ）〜（ｆ）に示したパターンのいずれかを基準パターンに設定しても良い。
【０２０４】
図３７は、各ピット長における後側位相ずれ量を検出するための記録パターンおよび再生パターンの一例を示す概念図である。同図に示すように、各ピット長における後側位相ずれ量を検出する場合には、同図（ａ）に示す記録パルスを用いてテスト記録を行う。この記録パルスは、可変ピットＰｘＴ、固定ランドＬｙＴ、固定ピットＰｚＴが連続するパターンを含み、固定ランドＬｙＴのランド長と固定ピットＰｚＴのピット長とを固定して、可変ピットＰｘＴのピット長を、同図（ｂ）から（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・７Ｔと変化させたものである。尚、図示しないが可変ピット長の変化は１４Ｔまで行うものとする。
【０２０５】
ここで、この記録パターンの固定ランドＬｙＴの長さを測定すると、この固定ランドＬｙＴの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。しかし、この固定ランドＬｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ピットＰｚＴのピット長は固定されているので、この固定ランドＬｙＴ長の理想の規定長さのずれ量は記録時のストラテジにおける３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔの記録パルスに対する後側位相ずれ量に対応することになる。
【０２０６】
従って、可変ピットＰｘＴが３Ｔとなる同図（ｂ）のパターンを基準パターンに設定し、同図（ｃ）〜（ｆ）までの残りのパターンを比較パターンに設定し、これら比較パターンの固定ランドＬｙＴの長さと、基準パターンの固定ランドＬｙＴの長さとを比較すると、同各図に示すように、基準パターンに対する後側位相ずれ量ＲＰＳ４Ｔ〜ＲＰＳ７Ｔが得られる。
【０２０７】
ここで、各ずれ量ＲＰＳ３Ｔ〜ＲＰＳ７Ｔは、ある部位を基準とした相対的な値として検出できれば良いため、基準パターンの後側位相ずれ量ＲＰＳ３Ｔは零と定義しても良く、また、理想の長さからのずれ量として検出しても良い。また、同図（ｂ）のパターンに替えて、同図（ｃ）〜（ｆ）に示したパターンのいずれかを基準パターンに設定しても良い。
【０２０８】
図３８は、熱干渉によるピットずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。同図に示すように、熱干渉によるピットずれ量を検出する場合には、同図（ａ）に示す記録パルスを用いてテスト記録を行う。この記録パルスは、ランドＬｘＴ、ピットＰｙＴ、ランドＬｚＴが連続するパターンを含み、固定ピットＰｙＴのピット長および固定ランドＬｚＴのランド長を固定して、可変ランドＬｘＴのランド長を、同図（ｂ）から同図（ｆ）に示すように、３Ｔ、４Ｔ、・・・７Ｔと変化させたものである。尚、図示しないが可変ランド長の変化は１４Ｔまで行うものとする。
【０２０９】
ここで、この記録パターンの固定ピットＰｙＴの長さを測定すると、この固定長のピットＰｙＴの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。しかし、この固定ピットＰｙＴの長さが理想の規定の長さからずれていると、ランドＬｚＴのランド長は固定されているので、この固定ピットＬｙＴの理想の規定長さのずれ量は、可変ランドＬｘＴの直前に形成されたピットの熱干渉によるずれ量に対応することになる。
【０２１０】
従って、可変ランドＬｘＴが３Ｔとなる同図（ｂ）のパターンを基準パターンに設定し、同図（ｃ）〜（ｆ）までの残りのパターンを比較パターンに設定し、これら比較パターンの固定ピットＰｙＴの長さと、基準パターンの固定ピットＰｙＴの長さとを比較すると、同各図に示すように、基準パターンに対する前側位相ずれ量ＨＩＤ３Ｔ〜ＨＩＤ７Ｔが得られる。
【０２１１】
ここで、各ずれ量ＨＩＤ３Ｔ〜ＨＩＤ７Ｔは、ある部位を基準とした相対的な値として検出できれば良いため、基準パターンの前側位相ずれ量ＨＩＤ３Ｔは零と定義しても良く、また、理想の長さからのずれ量として検出しても良い。また、同図（ｂ）のパターンに替えて、同図（ｃ）〜（ｆ）に示したパターンのいずれかを基準パターンに設定しても良い。
【０２１２】
図３９は、ピット前位相ずれ検出と後位相ずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。ピット前位相ずれの検出を行う場合には、特定パターンごとに設定されたピットＰｘＴ、ランドＬｙＴ、ピットＰｚＴに関する同図（ａ）に示した閾値範囲を基準に、図２の記憶領域１１１５内に格納されたデータを検索し（図３５のステップＳ４２２に相当）、該閾値を満たすデータ列を抽出する。
【０２１３】
その後、ピットＰｘＴ、ランドＬｙＴ、ピットＰｚＴのぞれぞれに該当する計数結果を分別し、ピットＰｘＴ、ランドＬｙＴ、ピットＰｚＴごとに平均値を求める（図３５のステップＳ４２４に相当）。この計数結果の平均値を用いて、前述のパターン比較を行えば、各ピット長における前側位相ずれ量が得られる。同図（ｂ）は、ピット後位相ずれの検出を行う場合の閾値例であるが、考え方と動作は、ピット前位相ずれの検出を行う場合と同様である。
【０２１４】
図４０は、ピット干渉ずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。同図に示すように、ピット干渉ずれの検出は、図３９を用いて説明したピット前位相ずれおよび後位相ずれと同様の手法で行われる。
【０２１５】
図４１は、計数結果の相対比較によりずれ量を検出する場合の具体例を示す概念図である。同図は、ピット前位相ずれを検出する場合の例であるが、他のずれ量を検出する場合も同様の手法で行われる。ずれ量を検出する場合は、まず記憶領域内に格納されたデータ群の中から、同図（ａ）および（ｂ）に示した基準パターンと比較パターンを検索抽出し、同図（ｃ）および（ｄ）に示すように、本来固定長であるはずの部位に対する計数値を比較する。同図に示す例では、ランドＬｙＴが比較部位になるため、基準パターンの計数結果である同図（ｃ）に示す「１２」と、比較パターンの計数結果である同図（ｄ）に示す「１１」との差分を求め、得られた差分「１」がずれ量ＦＰＳ４Ｔの値となる。
【０２１６】
図４２は、図３５に示した制御量の予測によるＴｔｏｐｒ、Ｔｌａｓｔ決定の実行例を示すフローチャートである。同図に示すように、制御量の予測は、記録条件の異なるＳ１とＳ２の２種以上の条件でテスト記録を行い（ステップＳ４５０）、その結果得られた記録ピットを再生し（ステップＳ４５２）、その結果得られた再生パターンの比較によって、条件Ｓ１に対応するずれ量Ｄ１と、条件Ｓ２に対応するずれ量Ｄ２とを求め（ステップＳ４５４）、これらＳ１およびＳ２とＤ１およびＤ２との関係を直線近似し（ステップＳ４５６）、該直線を用いて最適なＴｔｏｐｒとＴｌａｓｔを決定する（ステップＳ４５８）一連の手順を実行することによって行われる。
【０２１７】
図４３は、記録条件Ｓ１、Ｓ２の変化とずれ量Ｄ１、Ｄ２との関係を示す概念図である。同図（ａ）に示す記録パルスを「ＰｚＴ＝３Ｔ」の基準パルスとすると、比較対象となる「ＰｚＴ＝４Ｔ」の記録パルスは、ＰｚＴの先端をＳ１変化させた同図（ｂ）の記録パルスＳ１と、ＰｚＴの先端をＳ２変化させた同図（ｃ）の記録パルスＳ２の２条件でテスト記録を行う。
【０２１８】
その結果、同図（ａ）の記録パルスに対応して同図（ａ１）に示す基準パターンが得られ、同図（ｂ）の記録パルスに対応して同図（ｂ１）に示す比較パターンＳ１が得られ、同図（ｃ）の記録パルスに対応して同図（ｃ１）に示す比較パターンＳ２が得られる。ここで、比較パターンＳ１は、制御量Ｓ１に対応してＤ１のすれ量が生じ、比較パターンＳ２は、制御量Ｓ２に対応してＤ２のずれが生じる。
【０２１９】
制御量Ｓ１およびＳ２に対するずれ量Ｄ１およびＤ２がわかれば、どのパラメータに関してどれだけの制御量を持たせれば、どれだけのずれが生じるかが予測可能となるため、これらの関係を利用して、制御量の予測と補正値の決定を行う。
【０２２０】
図４４は、直線近似を利用した前側位相ずれ補正の一例を示す概念図である。前側位相ずれに対する補正量Ｔｔｏｐを決める場合には、まず、同図（ａ）に示すように、基準となるパルス位置を基準位相φとしたとき、同図（ｂ）に示すように、Ｔｔｏｐだけパルスの位置をずらした波形でテスト記録を行い（記録条件Ｓ１、Ｓ２に相当）、その結果、同図（ｃ）に示すように、得られた再生信号の位相ずれΔφｔｏｐを検出する（ずれ量Ｄ１、Ｄ２に相当）。
【０２２１】
同図に示す例では、このＴｔｏｐの変化をＳ１＝＋０．１とＳ２＝＋０．３の２種類行い、その結果得られた検出位相Δφｔｏｐをずれ量Ｄ１＝−０．１およびＤ２＝＋０．１として得る。そして、これら得られたＳ１、Ｓ２、Ｄ１、Ｄ２を用いて、同図（ｅ）に示す如く、制御量Ｔｔｏｐに対する制御結果Δφｔｏｐの関係を直線で近似し、この直線を利用して位相ずれがキャンセルできる補正位相Ｔｔｏｐ＝＋０．２を最適補正値として決定する。
【０２２２】
このように、ストラテジの変化Ｓ１、Ｓ２とずれ量の変化Ｄ１、Ｄ２との関係は、変化点を少なくとも２点求めれば、直線または曲線による近似が可能になるため、この直線を用いてずれ量が零になる最適補正量を求めることができる。
【０２２３】
具体的には、ストラテジＳを数点変化させたときのずれ量Ｄを求め、このときのストラテジＳとずれ量Ｄとの関係を一般式「Ｄ＝ａ×Ｓ＋ｂ」に代入し、連立方程式を解くことにより定数ａ、ｂを求め、最終的に理想のずれ量Ｄに対応するストラテジＳを求め、このストラテジＳを図１に示したストラテジ回路１０２に設定することにより記録パルスの最適補正を行う。
【０２２４】
例えば、図１に示した記録ずれ検出部１１２で、あるストラテジＳ１を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がＤ１、他のストラテジＳ２を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がＤ２であるとすると、
Ｄ１＝ａ×Ｓ１＋ｂ
Ｄ２＝ａ×Ｓ２＋ｂ
からａおよびｂを算出し、該算出したａおよびｂを用いた関数
Ｓ＝（Ｄ−ｂ）／ａ
を求め、この関数に、記録品位を改善させるための、例えば、イコライザ等において生じる初期的な出力ずれ等を補正するための出力ずれ量Ｄを代入することで最適ストラテジＳを決定する。
【０２２５】
なお、この最適ストラテジＳを求める関数は、３Ｔ、４Ｔ、・・・１４ＴのそれぞれのピットＰ３Ｔ、Ｐ４Ｔ、・・・Ｐ１４Ｔに対応して求めることができる。また、この最適ストラテジＳを求める関数は、記録速度に対応してそれぞれ求めることもできる。
【０２２６】
図４５は、直線近似を利用した後側位相ずれ補正の一例を示す概念図である。後側位相ずれに対する補正量Ｔｌａｓｔを決める場合には、まず、同図（ａ）に示すように、基準となるパルス位置を基準位相φとしたとき、同図（ｂ）に示すように、Ｔｌａｓｔだけパルスの位置をずらした波形でテスト記録を行い、その結果、同図（ｃ）に示すように、得られた再生信号の位相ずれΔφｌａｓｔを検出する。
【０２２７】
同図に示す例では、このＴｌａｓｔの変化をＳ１＝−０．１とＳ２＝−０．３の２種類行い、その結果得られた検出位相Δφｌａｓｔをずれ量Ｄ１＝＋０．１およびＤ２＝−０．１として得る。そして、これら得られたＳ１、Ｓ２、Ｄ１、Ｄ２を用いて、同図（ｅ）に示す如く、制御量Ｔｌａｓｔに対する制御結果Δφｌａｓｔの関係を直線で近似し、この直線を利用して位相ずれがキャンセルできる補正位相Ｔｌａｓｔ＝−０．２を最適補正値として決定する。
【０２２８】
図４６は、補正量ＴｔｏｐとＴｌａｓｔを格納するためのテーブル構造を示す概念図である。同図（ａ）に示すように、補正量Ｔｔｏｐは、補正対象となるピット長ごとに、該各ピットの前方ランド長との組み合わせで定義される。例えば、補正対象ピットが３Ｔであり、該ピットの前方ランドが３Ｔである場合は、図中「３−３」と示した領域に補正量が格納され、補正対象ピットが４Ｔであり、該ピットの前方ランドが３Ｔである場合は、図中「３−４」と示した領域に補正量が格納される。以下、５Ｔ、・・・１４Ｔまで３Ｔおよび４Ｔと同様に格納される。
【０２２９】
また、同図（ｂ）に示すように、補正量Ｔｌａｓｔは、補正対象となるピット長ごとに、該各ピットの後方ランド長との組み合わせで定義される。例えば、補正対象ピットが３Ｔであり、該ピットの後方ランドが３Ｔである場合は、図中「３−３」と示した領域に補正量が格納され、補正対象ピットが４Ｔであり、該ピットの後方ランドが３Ｔである場合は、図中「３−４」と示した領域に補正量が格納される。以下、５Ｔ、・・・１４Ｔまで３Ｔおよび４Ｔと同様に格納される。
【０２３０】
図４７は、補正後のシングルパルスの例を示す概念図である。同各図に示すように、同図（ａ）に示す記録データを光ディスク上に記録する場合には、各ピット長ごとに最適な補正値が適用されたストラテジが設定される。例えば、３Ｔピットを記録する場合には、同図（ｂ）に示すように、図４６に示したテーブルより前方のランド長に応じて３Ｔピットの前端補正値Ｔｔｏｐを読み出すとともに、後方ランド長に応じて３Ｔピットの後端補正値Ｔｌａｓｔを読み出して、記録パルスの前端および後端を当該ＴｔｏｐおよびＴｌａｓｔで補正する。
【０２３１】
また、４Ｔピット以上を補正する場合は、同図（ｃ）〜（ｆ）に示すように、ＴｔｏｐおよびＴｌａｓｔに加えて、該当ピット長のＰＷＤ補正値を図３２のテーブルから読み出し、当該ＰＷＤの値に応じたパルス形状の補正を行う。
【０２３２】
図４８は、補正後のマルチパルスの例を示す概念図である。同各図に示すように、マルチパルスの場合には、前述の図４７に示したシングルパルスのＰＷＤ補正値に替えて、Ｔｍｐ補正値を図３２のテーブルから読み出し、当該Ｔｍｐの値に応じたパルス形状の補正を行う。その他はシングルパルスの場合と同様である。
【０２３３】
尚、以上説明した実施形態では、最適ストラテジＳを求める関数に、ずれ量Ｄを代入することで最適ストラテジＳを決定したが、これに替えて、上記関数から求めた補正テーブルを用意し、この補正テーブルに基づき最適ストラテジＳを決定するように構成してもよい。
【０２３４】
また、上記最適ストラテジの設定処理は、光ディスクの種別を変更する毎に、あるいは、記録速度を変更する毎に行っても良く、さらに、上記最適ストラテジの設定処理で決定された最適ストラテジの条件を光ディスクの種別および記録速度に対応させてメモリに記憶しておき、再度同一の種別の光ディスクで記録を行う場合、あるいは、同一の記録速度で記録を行う場合は、このメモリに記憶した最適ストラテジを読み出して使用する構成としてもよい。
【０２３５】
図４９は、本発明に係るドライブの内部構成を示すブロック図である。同図に示すように、このドライブ１００は、レーザダイオード１１０から出力されたレーザ光を用いて、光ディスク５００に対する情報の記録再生を行い、パーソナルコンピュータ６００等の外部装置との間でデータの送受信を行う。
【０２３６】
光ディスク５００に対して情報の記録を行う場合は、パーソナルコンピュータ６００からインターフェース回路２１８を介して受信した記録データをＥＦＭエンコーダ／デコーダ２１６で符号化し、この符号化した記録データをＣＰＵ２１２で処理することで、当該光ディスク５００に対する記録条件となるストラテジを決定し、このストラテジをパルス生成回路３００で記録パルスに変換し、この記録パルスをＬＤドライバ１２４に出力する。
【０２３７】
ＬＤドライバ１２４は、入力された記録パルスに基づいてレーザダイオード１１０を駆動し、レーザダイオード１１０は、この記録パルスに対応して出力レーザ光を制御し、この制御されたレーザ光をコリメータレンズ１１２、回折格子１１４、ハーフミラー１１６、対物レンズ１１８を介して、線速一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク５００に照射し、これにより光ディスク５００に、所望の記録データに対応したピット、スペース列からなる記録パターンが記録される。
【０２３８】
一方、光ディスク５００上に記録された情報の再生を行う場合は、レーザダイオード１１０から再生レーザ光がコリメータレンズ１１２、回折格子１１４、ハーフミラー１１６、対物レンズ１１８を介して、光ディスク１０に照射される。
【０２３９】
この時、再生レーザ光は、記録時のレーザ光よりも強度の低いレーザ光が用いられ、この再生レーザ光による光ディスク５００からの反射光が対物レンズ１１８、ハーフミラー１１６、受光レンズ１２０を介してディテクタ１２２で受光され、電気信号に変換される。
【０２４０】
ディテクタ１２２から出力される電気信号は、光ディスク５００に記録されたピット、スペースからなる記録パターンに対応しており、この電気信号がスライサ２１０で２値化され、さらにＥＦＭエンコーダ／デコーダ２１６で、デコードされて再生信号として出力される。
【０２４１】
図５０は、図４９に示したドライブ内に組み込まれるピックアップ部の構造を示す分解斜視図である。同図に示すように、レーザダイオード１１０と光ディスク５００の盤面との間に設けられた回折格子は、２枚の回折格子１１４−１、１１４−２で構成され、各回折格子には、方向の異なる溝１１５−１、１１５−２がそれぞれ形成される。
【０２４２】
このように構成される回折格子にレーザ光２０が入射すると、第１の回折格子１１５−１で３つのレーザ光に分岐し、さらに、第２の回折格子１１５−２で３つのレーザ光に分岐して、５つのスポット２０Ａ〜２０Ｅが光ディスクの盤面に照射される。
【０２４３】
図５１は、光ディスクの盤面上に照射されたスポットの配置を示す平面図である。同図に示すように、光ディスク５００の盤面上には、記録用メインビーム２０Ａ、トラッキング用先行サブビーム２０Ｂ、トラッキング用後行サブビーム２０Ｃ、再生用先行サブビーム２０Ｄ、再生用後行サブビーム２０Ｅが照射される。
【０２４４】
ここで、記録用メインビーム２０Ａは、光ディスク５００に形成されたグループ５０２−２上に照射され、このビームスポットの照射によって、グルーブ５０２−２内にピット５０６が形成される。この記録用メインビーム２０Ａは、ヒートモードによるピットの形成を可能とするために最も発光強度が高く設定される。
【０２４５】
トラッキング用先行サブビーム２０Ｂは、メインビーム２０Ａが照射されたグルーブ５０２−２と隣接するランド５０４−３上に照射され、トラッキング用後行サブビーム２０Ｃは、メインビーム２０Ａが照射されたグルーブ５０２−２と隣接するランドであって、サブビーム２０Ｂが照射されたランドとは反対側のランド５０４−２に照射される。
【０２４６】
再生用先行サブビーム２０Ｄは、メインビーム２０Ａが照射されたグルーブと同一のグルーブ５０２−２上であって、メインビーム２０Ａよりも先行した位置に照射され、再生用後行サブビーム２０Ｅは、メインビーム２０Ａが照射されたグルーブと同一のグルーブ５０２−２上であって、メインビーム２０Ａよりも後ろの位置に照射される。
【０２４７】
各スポットをこのように配置することで、メインビーム２０Ａによって形成された記録パターン、即ち、ピット５０６とスペース５０８の組み合わせで構成される記録パターンを再生用後行サブビーム２０Ｅで検出することが可能になる。
【０２４８】
図５２は、光ディスクの盤面上に照射されるスポットとディテクタとの関係を示す概念図である。同図に示すように、図４９に示したディテクタ１２２は、１２２Ａ〜１２２Ｅまでの５つの受光部で構成され、各受光部には、スポット２０Ａ〜２０Ｅに対応する反射光２２Ａ〜２２Ｅがそれぞれ照射され、電気信号に変換される。
【０２４９】
図５３は、記録パルスの形状と安定領域との関係を示す概念図である。同各図に示すように、図４９に示したＬＤドライバ１２４から出力される記録パルスには、様々な形状があり、それぞれ、記録パルスのＯＮ状態を示す高出力領域５０と、ＯＦＦ状態を示す低出力領域５２と、ＯＮ状態であって変調が少ない定出力領域５４とを備える。
【０２５０】
より具体的には、同図（ａ）は、ＯＮ状態で一定の出力となる記録パルスであり、同図（ｂ）は、先頭部と後続部で高さが異なる記録パルスであり、同図（ｃ）は、先頭部、中間部、後端部で高さが異なる記録パルスであり、同図（ｄ）は、先頭部に定出力部が形成された後、後続部で出力を数回変化させた記録パルスである。
【０２５１】
本発明では、記録パルスがＯＮとなった状態で、再生信号を取り込むことを意図しているため、後述するゲート信号は、高出力領域５０に対応させて生成することが望ましいが、より望ましくは、変調の影響を受けにくい定出力領域５４に対応させて生成する。この定出力領域５４は、便宜上、高出力領域５０の中で最も安定した状態の長い区間と定義するが、安定状態が最も長い区間よりも短い安定領域であっても、定出力領域として使用することが可能である。尚、以後の説明では、同図（ｃ）のキャッスル型と称されるパルス形状を例に説明するが、本発明は、他の記録パルスにも適用可能である。
【０２５２】
例えば、同図に示すような相変化型の光ディスクで用いられる記録パワーに適用する場合には、高出力と低出力との繰り返しにより相変化材料が急冷されてアモルファス（非結晶）状態となる高出力領域５０と、メインビームでサーボがかかる程度の０．７〜１ｍＷ程度のパワーが出力される低出力領域５２と、ゆっくり冷却されて結晶状態になる定出力領域５４とで構成される記録パルスのうち、消去パワーに相当する定出力領域５４に対応させてゲート信号を生成し、この定出力領域５４にサブビームで再生された信号を取り込む構成とすれば良い。
【０２５３】
図５４は、図４９に示したパルス生成回路の内部構成を示す回路ブロック図である。同図に示すように、本パルス生成回路３００では、図４９のＣＰＵ２１２から送出されたストラテジ条件ＳＤ１、ＳＤ２をパルスユニット生成回路３１０−１、３１０−２でそれぞれ受信し、クロック信号ＣＬＫに同期したパルス信号ＰＷ１、ＰＷ２を生成する。
【０２５４】
ここで、ストラテジ条件ＳＤ１、ＳＤ２は、パルスのＯＮ期間とＯＦＦ期間の長さをクロック数で示した数値データとして定義されており、これらのデータを受けたパルスユニット生成回路３１０−１、３１０−２は、ドライブ内で生成されたクロック信号ＣＬＫを用いて、ストラテジ条件ＳＤ１、ＳＤ２が示す条件のパルス信号を生成する。
【０２５５】
これらのパルス信号ＰＷ１、ＰＷ２は、図４９のＬＤドライバ１２４に出力されるとともに、ＡＮＤ演算器３１６でパルス信号ＰＷ１の反転信号とパルス信号ＰＷ２との論理積が取られ、ゲート信号Ｇａｔｅとして図４９のマスク回路４００に出力される。尚、パルス信号ＰＷ１の反転信号は、反転回路３１４によって生成される。
【０２５６】
図５５は、図５４に示したゲート信号の生成概念を示すタイミングチャートである。同各図に示すように、記録パルスの定出力領域に対応したゲート信号は、記録パルスの構成要素となるパルス信号ＰＷ１、ＰＷ２を用いて生成される。即ち、同図（ｂ）および（ｃ）に示すように、パルス信号ＰＷ１、ＰＷ２は、同図（ａ）のクロック信号ＣＬＫと同期して生成され、このパルス信号ＰＷ１から、同図（ｄ）に示す反転信号が生成される。
【０２５７】
そして、同図（ｃ）のパルス信号ＰＷ２と同図（ｄ）に示す反転信号とのレベルを同各図に示すように定義して論理積を取ると、同図（ｅ）に示すゲート信号が得られる。その結果、このようにして得られたゲート信号は、記録パルスの定出力領域に対応したものとなる。
【０２５８】
図５６は、図４９に示したＬＤドライバの内部構成を示す回路図である。同図に示すように、ＬＤドライバ１２４は、抵抗Ｒ１、Ｒ２を用いた分圧回路と、これらの出力電圧を合成する合成器１２６とで構成され、パルス生成回路３００からのパルス信号ＰＷ１、ＰＷ２は、抵抗Ｒ１、Ｒ２を介して所定の出力レベルに増幅された後、合成器１２６にて論理和合成され、記録パルスＰＷＲが生成されて、図４９のレーザダイオード１１０に出力される。
【０２５９】
図５７は、図４９に示したマスク回路の内部構成を示す回路ブロック図である。同図に示すように、マスク回路４００は、２つのＡＮＤ演算器４１０−１、４１０−２で構成され、初段のＡＮＤ演算器４１０−１には、図４９のパルス生成回路３００で生成されたゲート信号Ｇａｔｅと、図４９のＣＰＵ２１２で生成されたフラグ信号Ｆｌａｇとが入力され、これらの論理積を取ったゲート信号Ｇａｔｅ’が後段のＡＮＤ演算器４１０−２に出力される。
【０２６０】
ＡＮＤ演算器４１０−２は、このゲート信号Ｇａｔｅ’を用いて、図５２のディテクタ１２２Ｅが出力する再生用後行サブビーム２０Ｅで再生されたＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂにマスクをかけ、ゲート信号Ｇａｔｅ’に対応した部分のＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂ’を抽出して、図４９のスライサ２１０に出力する。その結果、記録パルスの定出力領域で再生されたＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂ’が選択的に抽出されるため、精度の高いピット検出が行われる。
【０２６１】
そして、この検出されたピットの長さや位相情報に基づいて、図４９のＣＰＵ２１２がストラテジの補正条件を算出し、パルス生成回路３００に出力するストラテジ条件に補正をかける。その結果、データの記録中に記録条件が補正されるリアルタイム補正が行われる。
【０２６２】
図５８は、記録パルスとゲートパルスと再生信号との関係を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、記録パルスＰＷＲは、所定のデータパターンに対応してＯＮ／ＯＦＦが変化するパルスパターンとなる。ここで、最も長い無変調領域を有するピット１４Ｔの定出力領域５４をゲート信号として使用する場合を想定すると、図４９のパルス回路３００で生成されるゲート信号Ｇａｔｅは、同図（ｂ）に示すタイミングで出力され、図４９のＣＰＵ２１２で生成されるフラグ信号Ｆｌａｇは、同図（ｃ）に示すタイミングで出力され、図５７のマスク回路４００内で生成されるゲート信号Ｇａｔｅ’は、同図（ｄ）に示すタイミングで出力され、このゲート信号Ｇａｔｅ’を用いて同図（ｅ）のＲＦ−Ｓｕｂ信号を抽出した結果が同図（ｆ）のＲＦ−Ｓｕｂ’信号となる。
【０２６３】
このように、最終的に抽出された再生信号ＲＦ−Ｓｕｂ’は、記録パルスＰＷＲの定出力領域５４で再生された信号であるため、この信号を用いることで高精度なピットの検出が可能となり、ひいてはストラテジの正確な補正が可能となる。
【０２６４】
図５９は、図４９に示したＣＰＵが実行するフラグ信号の生成手法を示す概念図である。同図に示す例は、ピット１４Ｔの定出力領域内に存在するスペース４Ｔを選択的に検出する場合の例である。同図に示すように、ＣＰＵ２１２は、記録パルスのデータ長に対応する数値を順次メモリ２１４に蓄積し、ピット１４Ｔ（同図中、「Ｐ１４」と示す）の定出力領域内にスペース４Ｔ（同図中、「Ｌ４」と示す）が存在するデータを特定し、この特定したピット１４Ｔのデータにフラグを立てる。
【０２６５】
ここで、記録用のメインビームと再生用のサブビームとの時間差をτと定義すると、ＣＰＵ２１２は、時間差τをクロック数で換算し、ピット１４Ｔからスペース４Ｔまでの間に存在するデータ長を時間差τと比較する。その結果、ピット１４Ｔから時間差τ離れた領域であって、かつ、このピット１４Ｔの定出力領域に相当する範囲内にスペース４Ｔのデータが存在していれば、当該ピット１４Ｔにフラグを立て、図５８に示したタイミングでフラグ信号Ｆｌａｇを出力する。
【０２６６】
図６０は、記録用のメインビームと再生用のサブビームとの関係を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、記録用メインビームの出力は、ピットの形成に必要な高出力のパルスパターンとなり、このパルス照射によって光ディスク上に形成されたピットパターンは、同図（ｂ）に示すようになる。
【０２６７】
一方、同図（ｃ）に示すように、再生用サブビームの出力は、記録用メインビームの出力パターンと同一のタイミングであって、記録用メインビームよりも分岐比率分だけ出力が縮小されたパルスパターンとなり、この再生用サブビームで再生されるピットパターンは、同図（ｄ）に示すように、記録中のピットから時間差τだけ遅れたパターンとなる。
【０２６８】
従って、ピット１４Ｔの記録中に再生されたスペース４Ｔを検出する場合には、同図（ｅ）に示すように、記録パルスのパターンを時間差τだけ遅延させたパルスのスペース４Ｔと、記録パルスのピット１４Ｔの定出力領域とが重なる位置を特定すれば良いことになる。即ち、記録パルスのうち長いピットの定出力領域から第１のゲート信号を生成するとともに、記録パルスを時間差τだけ遅延させたパルスパターンのうち、検出対象とする短いピットまたはスペースに相当するパルスから第２のゲート信号を生成し、これら第１および第２のゲート信号を用いて、再生用サブビームから得られたＲＦ信号にマスクをかける構成が有用となる。
【０２６９】
図６１は、記録パルスと、該記録パルスを遅延させたパルスと、ＲＦ信号との関係を示すタイミングチャートである。同各図に示すように、記録パルスＰＷＲを時間τだけ遅延させたパルスＰＷＲ’を生成し、記録パルスＰＷＲのピット１４Ｔの定出力領域内に、遅延パルスＰＷＲ’のスペース４Ｔが含まれる部分をゲート信号Ｇａｔｅ’とすれば、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを選択的に検出することが可能になり、その結果、ピットの長さズレや位相ズレを正確に検出することができる。
【０２７０】
図６２は、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の例を示したブロック図である。同図は、図４９のＥＦＭエンコーダ／デコーダ２１６により、メインビームが１４Ｔピットを記録する間にサブビーム下に存在する４Ｔスペースを検出する場合の構成例である。
【０２７１】
このように構成する場合、ＥＦＭエンコーダ／デコーダ２１６は、同図に示すように、図４９のスライサ２１０から入力された８ビットの２値化信号を一旦バッファ２５０−１に蓄積し、このバッファから出力された８ビットデータを変換テーブル２５２に従って１６ビットのデータに変換してバッファ２５０−２に出力する。このとき、遅延器２５４による時間Ｔの遅延操作が一変換ごとに行われる。
【０２７２】
バッファ２５０−２に蓄積されたデータは、カウンタ２５６に出力され、パルス長ｎＴ（ｎ＝３〜１４）を示すデータとして、図４９に示すＣＰＵ２１２を経て、パルス生成回路３００に出力され、該当する記録パルスが生成される。
【０２７３】
図６３は、図６２に示したカウンタ２５６と図４９のパルス生成回路３００との関係を示すブロック図である。同図に示すように、カウンタ２５６は、バッファ２５０−２からパルス生成回路３００に向けて流れるデータストリームの中から、１４Ｔピットに相当するビット列を特定する１４Ｔデコーダ２５８と、４Ｔスペースに相当するビット列特定する４Ｔデコーダ２５９とを具備する。
【０２７４】
図６４は、図６２に示したバッファ２５０−２がビット列を蓄積する際の例を示す概念図である。同図（ｃ）に示すように、バッファ２５０−２には、同図（ａ）に示すクロック信号と同期した形でピットまたはスペースの長さを示すデータが格納される。
【０２７５】
例えば、３Ｔの長さは、「１００」で表現し、４Ｔの長さは「１０００」で表現し、５Ｔの長さは「１００００」で表現し、１４Ｔの長さは「１０００００００００００００」で表現する。
【０２７６】
よって、同図（ｂ）に示すようなパルスが入力された場合には、バッファ２５０−２に格納されるビット列は、同図（ｃ）に示すように、４Ｔスペースに相当する部分が「１０００」となり、１４Ｔピットに相当する部分が「１０００００００００００００」となり、各々のパルス幅がビット数で表現された形式で蓄積される。
【０２７７】
ここで、記録用のメインビームと再生用のサブビームとの間隔が３００ビットに相当する場合には、同図（ｃ）に示すように、バッファ２５０−２に蓄積されたビット列の中から、現在記録中の１４Ｔピットの位置を特定し、該１４Ｔピットから３００ビット離れた位置に４Ｔスペースのビット列があるか否かを判定する。
【０２７８】
その結果、４Ｔスペースのビット列があった場合には、メインビームによる１４Ｔピットの記録中に、サブビームによって４Ｔスペースを検出することができるタイミングと判断し、このタイミングで得られた信号を用いてリアルタイム補正の条件を決定する。
【０２７９】
図６５は、１４Ｔピットの記録中に検出対象となる４Ｔスペースのバリエーションを示す概念図である。同図（ａ）に示すように、１４Ｔピットの記録パルスが高出力の３Ｔパルスと、安定出力の９Ｔパルスと、高出力の２Ｔパルスとで構成される場合には、安定出力領域内に収まる４Ｔスペースが検出対象となる。
【０２８０】
よって、１４Ｔパルスの中央部に出現した４Ｔスペースを抽出することが最も望ましいが、これでは出現確率が低くなるため、４Ｔスペースの両端が１４Ｔピットの安定出力領域をはみ出さない場合も抽出対象となるようにカウンタ回路を設けておく。
【０２８１】
例えば、同図（ａ）に示した１４Ｔピットのパルスから、同図（ｂ）に示したゲート信号を生成し、このゲート信号の中に収まる同図（ｃ）のハッチで示した４Ｔスペースが特定できるデータパターンを用意しておき、このデータパターンに合致するビット列を抽出する。
【０２８２】
図６６は、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の別の例を示したブロック図である。同図に示す例は、ある時間内で発生するパルス数を基準として、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースが存在するか否かを判定する例である。
【０２８３】
同図に示した回路ブロックでは、スライサ２１０から出力された２値化信号ＳＬ  ＲＦ−Ｓｕｂ’を反転回路４２０−１を介してＡＮＤ演算器４２２に入力するとともに、図４９のパルス生成回路３００から出力されるゲート信号ＧａｔｅをＡＮＤ演算器４２２に入力する。
【０２８４】
ＡＮＤ演算器４２２は、これら入力された信号の論理積をカウンタ４２４のセット端子に出力し、この信号を受けたカウンタ４２４は、反転回路４２０−２で反転されたゲート信号が示す区間内に生じたパルス数を計数し、その結果を判定信号Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ  Ｅｎａｂｌｅとして、図４９のＣＰＵ２１２に出力する。尚、反転回路４２０−２で反転されたゲート信号は、カウンタ４２４のリセット信号として使用される。
【０２８５】
ＣＰＵ２１２は、この判定信号が示すパルス数が所定の数以上、例えば２回以上発生されたかを基準に１４Ｔピットの記録中に４Ｔスペースが存在するか否かを判定し、存在すると判定した場合に当該４Ｔスペースから得られた信号の取り込みを行う。
【０２８６】
図６７は、図６６に示した回路ブロックの処理例を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、スライサ２１０に入力された信号ＲＦ−Ｓｕｂ’は、あるレベルで２値化されて、同図（ｂ）に示すようなパルス信号ＳＬ  ＲＦ−Ｓｕｂ’が生成される。
【０２８７】
そして、図４９に示したパルス生成回路３００にて同図（ｃ）および（ｄ）に示す信号から生成された同図（ｅ）に示すゲート信号Ｇａｔｅと、反転回路４２０−１にて生成された同図（ｆ）に示す反転信号との論理積が取られることで、同図（ｇ）に示す判定信号Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ  Ｅｎａｂｌｅが生成される。
【０２８８】
図６８は、図６６の回路ブロックにより生成された判定信号の判定基準を示す概念図である。同各図に示すように、この例では、同図（ａ）の区間内に２回以上のパルスをカウントした場合に、１４Ｔピットの記録中に１４Ｔの安定領域を示すゲート信号Ｇａｔｅ内に収まるスペース、例えば、３Ｔ〜７Ｔのスペースが存在すると判定され、この４Ｔスペースから得られた信号の取り込みが行われる。
【０２８９】
よって、同図（ｂ）に示すように、ゲート信号内にパルスが２回カウント出来た場合は、１４Ｔピットの記録中に１４Ｔの安定領域を示すゲート信号Ｇａｔｅ内に収まるスペース、例えば、３Ｔ〜７Ｔのスペースが存在すると判定され、この４Ｔスペースから得られた信号が取り込まれる。他方、同図（ｃ）および（ｄ）に示すように、１回しかカウントできなかった場合は、１４Ｔピットの記録中に４Ｔスペースが存在しないと判定され、信号の取り込みは行われない。
【０２９０】
図６９は、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の別の例を示したブロック図である。同図に示す例は、ゲート信号内で発生したパルスの長さを測定することで、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースが存在するか否かを判定する例である。
【０２９１】
同図に示した回路ブロックでは、ＡＮＤ演算器４２２により、スライサ２１０から出力された２値化信号ＳＬ  ＲＦ−Ｓｕｂ’と、図４９のパルス生成回路３００から出力されたゲート信号Ｇａｔｅと、クロック信号ＣＬＫとの論理積が取られ、計数可能な信号Ｃｏｕｎｔａｂｌｅ  Ｐｕｌｓｅとしてカウンタ４２４のセット端子に入力され、カウンタ４２４によって当該信号の長さが計数される。尚、このカウンタには、リセットパルス生成回路４２６が生成したリセットパルスが入力される。
【０２９２】
図７０は、図６９に示した回路ブロックの処理例を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、スライサ２１０に入力された信号ＲＦ−Ｓｕｂ’は、あるレベルで２値化されて、同図（ｂ）に示すようなパルス信号ＳＬ  ＲＦ−Ｓｕｂ’が生成される。
【０２９３】
そして、図４９に示したパルス生成回路３００にて生成された同図（ｃ）に示すゲート信号Ｇａｔｅと、同図（ｄ）に示すクロック信号ＣＬＫとの論理積が取られることで、同図（ｅ）に示す計数可能な信号Ｃｏｕｎｔａｂｌｅ  Ｐｕｌｓｅが生成される。尚、ここで取り上げたクロック信号は、「１Ｔ＝１周期」とした場合の例を用いて説明したが、より高速のクロック、例えば、「１Ｔ＝４０周期」のクロックを用いて長さ検出の分解能を向上させても良い。
【０２９４】
図７１は、図６９に示したリセットパルス生成回路４２６の処理例を示すタイミングチャートである。同図に示すように、リセットパルス生成回路４２６は、同図（ａ）に示すクロック信号ＣＬＫを２回に１回カウントして同図（ｂ）に示す中間信号ＣＬＫ／２を生成し、さらに、この中間信号ＣＬＫ／２を２回に１回カウントして同図（ｃ）に示す中間信号ＣＬＫ／４を生成する。
【０２９５】
そして、同図（ｄ）に示すように、同図（ｃ）の２回目の立ち上りに同期させて立ち上がり、ゲート信号Ｇａｔｅ相当の長さを走査したときに立ち下がるリセット信号Ｒｅｓｅｔを生成する。このリセット信号が図６９に示したカウンタ４２４のリセット端子に入力されることで、カウンタの計数結果がリセットされる。
【０２９６】
尚、同図（ａ）に示すクロック信号として「１Ｔ＝４０周期」の信号を用いる場合であって、ゲート信号Ｇａｔｅが９Ｔ相当の幅を有するときは、クロック信号を３６０回カウントしたときに同図（ｄ）に示すリセット信号Ｒｅｓｅｔが立ち下がり、カウンタ４２４がリセットされる。
【０２９７】
同様に、同図（ａ）に示すクロック信号として「１Ｔ＝２．５周期」の信号を用いる場合であって、ゲート信号Ｇａｔｅが９Ｔ相当の幅を有するときは、クロック信号を２２．５回カウントしたときに同図（ｄ）に示すリセット信号Ｒｅｓｅｔが立ち下がり、カウンタ４２４がリセットされる。ただし、「１Ｔ＝２．５周期」のようにクロック信号の周期が単位長Ｔの整数倍でない場合は、「２Ｔ＝５周期」のように整数倍として扱われる。
【０２９８】
図７２は、図４９に示したマスク回路の別の構成例を示す回路ブロック図である。同図に示すマスク回路は、タンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐを利用して長さ検出を行う場合の例である。
【０２９９】
同図に示すように、このマスク回路４００は、４つの分割領域を備えたディテクタ１２２からの信号を用いてタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐを生成するタンジェンシャルプッシュプル信号生成回路４３０と、このタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐの振幅を一定にするＶＧＡ回路４３２（ＶＧＡ：Ｖｏｌｕｍｅ  Ｇａｉｎ  Ａｍｐ）と、タンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐを微分する微分回路４３４と、タンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐの微分値とゲート信号Ｇａｔｅとの論理積を取るＡＮＤ演算器４２２とで構成される。
【０３００】
ここで、タンジェンシャルプッシュプル信号生成回路４３０は、ディタクタ１２２の分割領域を同図に示すように光メディアの回転接線方向Ｔａｎとの関係でＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄとした場合に、回転方向の前方に位置するＡおよびＢから得られた信号の合計と、回転方向の後方に位置するＣおよびＤから得られた信号の合計との差を求め、この差信号をタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐとして出力する。この関係を式で記述すると、同図に示すように、「Ｔｐｐ＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）」となる。
【０３０１】
ＶＧＡ回路４３２は、上記タンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐの振幅を一定化させた信号Ｔｐｐ−Ｓｕｂを生成し、この信号を受けた微分回路４３４は、該Ｔｐｐ−Ｓｕｂ信号を微分してΔ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）信号を生成する。
【０３０２】
ＡＮＤ演算器４２２は、上記Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）信号とゲート信号Ｇａｔｅとの論理積を取ることで、記録パルスの光出力安定領域に相当する信号Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）を抽出し、スライサ２１０がこのΔ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）信号をゼロレベルでスライスしてＳＬ  Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）信号を生成する。
【０３０３】
図７３は、図７２に示した回路の動作を示す第１のタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、図７２に示したディテクタが検出したＲＦ信号は、符号Ｘ１．０で示した１倍速記録の信号と符号Ｘ１．５で示した１．５倍速記録の信号とで、それぞれ振幅とゼロ点が異なる波形となる。
【０３０４】
また、図７２に示したＶＧＡ回路４３２が出力するタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐ−Ｓｕｂは、同図（ｂ）に示すように、符号Ｘ１．０で示した１倍速記録の信号と符号Ｘ１．５で示した１．５倍速記録の信号とで、振幅は異なるがゼロ点が一致した波形となる。このタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐ−Ｓｕｂのゼロ点は、同図（ａ）に示したＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂのピーク位置に相当する。
【０３０５】
また、図７２に示した微分回路４３４が出力するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）は、同図（ｃ）に示すように、符号Ｘ１．０で示した１倍速記録の信号と符号Ｘ１．５で示した１．５倍速記録の信号とで、振幅は異なるがゼロ点が一致した波形となる。このタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）のゼロ点は、同図（ｂ）に示したタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐ−Ｓｕｂのピーク位置に相当し、同図（ａ）に示したＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂの傾きが最大点となる位置に相当する。
【０３０６】
図７４は、図７２に示した回路の動作を示す第２のタイミングチャートである。同図（ａ）は、図７２に示した微分回路４３４が出力するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）を示す図であり、この微分値は、同図（ｂ）に示すゲート信号Ｇａｔｅでマスクされ、同図（ｃ）に示すように、タンジェンシャルプッシュプル信号の微分値Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）がゲート信号Ｇａｔｅで切り出された信号Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）となる。
【０３０７】
そして、図７２に示したスライス回路２１０によって、信号Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）のゼロクロス点が抽出され、同図（ｄ）に示すようなパルス信号ＳＬ  Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）が生成される。このパルス信号が前述した記録用パルスの高出力安定期間内に存在する短いピットまたはスペース信号となり、前述の例では４Ｔスペースの検出信号となる。
【０３０８】
以上説明したタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を利用して、ピットまたはスペースの長さを検出する構成により、リアルタイムで長さのズレを検出し、このズレを補正しながら記録を行う。
【０３０９】
ここで、前述したように、単にタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を利用するだけでは、３Ｔや４Ｔといった短い信号の干渉が生じ、正確な長さを検出することができない。
【０３１０】
そこで、本実施形態では、予めテスト領域へのテスト記録により、補正基準とするタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を求めておき、記録領域への本記録の際には、記録用レーザ光で記録したピットまたはスペースを再生用レーザ光で再生し、得られた再生信号からタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を求め、この記録領域で求めた微分値とテスト領域で求めた微分値との差異を長さズレ量とみなして、このズレ量の補正に適した記録条件を設定する。
【０３１１】
図７５は、テスト領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値と実際の物理長との関係を示すグラフである。同図（ａ）に示すように、例えば３Ｔ〜８Ｔの長さを有するピットをテスト記録によりテスト領域内に形成すると、各ピット長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得ることができ、この微分値から各ピット長の長さを予測することができる。ここで、比較的長い５Ｔ〜８Ｔピットについては、図中の点線で示す本来の物理長に相当する長さが得られるが、干渉が生じ易い３Ｔ、４Ｔピットについては、本来の物理長とは異なる長さとして検出される。
【０３１２】
同様に、同図（ｂ）に示すように、例えば３Ｔ〜８Ｔの長さを有するスペースをテスト記録により形成すると、各スペース長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得ることができ、この微分値から各スペース長の長さを予測することができる。ここで、比較的長い５Ｔ〜８Ｔスペースについては、図中の点線で示す本来の物理長に相当する長さが得られるが、干渉が生じ易い３Ｔ、４Ｔスペースについては、本来の物理長とは異なる長さとして検出される。
【０３１３】
よって、同図（ａ）に示した各ピット長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を補正基準とするか、同図（ｂ）に示した各スペース長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を補正基準とすることで、干渉の影響を回避することができる。
【０３１４】
図７６は、記録領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値とテスト領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値との関係を示すグラフである。同図（ａ）に示すように、例えば３Ｔ〜８Ｔの長さを有するピットパターンを記録用レーザ光により記録領域内に記録しつつ再生用レーザ光により再生すると、図中に黒丸で示した各ピット長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値が得られ、この微分値をテスト記録で得た図中に白丸で示す微分値に合わせる補正を行うことで、本来の物理長に適合したピットおよびスペースから成る記録パターンを形成することができる。
【０３１５】
同様に、同図（ｂ）に示すように、例えば３Ｔ〜８Ｔの長さを有するスペースパターンを記録用レーザ光により記録領域内に記録しつつ再生用レーザ光により再生すると、図中に黒丸で示した各スペースに対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値が得られ、この微分値をテスト記録で得た図中に白丸で示す微分値に合わせる補正を行うことで、本来の物理長に適合したピットおよびスペースから成る記録パターンを形成することができる。
【０３１６】
図７７は、テスト領域内のタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得るために行うテスト記録の一例を示した概念図である。同図に示すように、記録パルスの前位相ズレ、後位相ズレ、熱干渉に対する影響の検査が可能なパターンを用いたテスト記録によって、各ピットまたはスペース長ごとにＲＦ長ａ０１〜ａ１５およびタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値ｂ０１〜ｂ１５を求め、これらを所定の記憶領域に格納しておく。
【０３１７】
図７８は、記録領域内のタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得るために行うテスト記録の一例を示した概念図である。同図に示すように、記録領域に形成されたピットおよびスペースのパターンから記録パルスの前位相ズレ、後位相ズレ、熱干渉に対する影響の検査が可能なパターンを抽出することによって、各ピットまたはスペース長ごとにタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値ｃ０１〜ｃ１５および図７７に示したテスト記録で得たタンジェンシャルプッシュプル信号との差分ｄ０１〜ｄ１５を求め、これらを所定の記憶領域に格納する。
【０３１８】
図７９は、  図７８に示したタンジェンシャルプッシュプル信号の差分を用いて記録パルスの補正を行う例を示した概念図である。同各図に示すように、同図（ａ）に示す記録データを光ディスク上に記録する場合には、各ピット長ごとに最適な補正値が適用されたストラテジが設定される。例えば、３Ｔピットを記録する場合には、同図（ｂ）に示すように、図７８に示した記憶データの前位相ズレ３Ｔピットの前端補正値Ｔｔｏｐを読み出すとともに、３Ｔピットの後端補正値Ｔｌａｓｔを読み出して、記録パルスの前端および後端を当該ＴｔｏｐおよびＴｌａｓｔで補正する。
【０３１９】
また、４Ｔピット以上を補正する場合は、同図（ｃ）〜（ｆ）に示すように、ＴｔｏｐおよびＴｌａｓｔに加えて、該当ピット長の安定領域の高さＰＷＤを加えてパルス形状の補正を行う。
【０３２０】
図８０は、図４９に示したマスク回路の別の構成例を示す回路ブロック図である。同図に示すマスク回路は、ＲＦ信号の２回微分値を利用して長さ検出を行う場合の例である。
【０３２１】
同図に示すように、このマスク回路４００は、４つの分割領域を備えたディテクタ１２２からの信号を用いてＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成回路４３６と、このＲＦ信号の振幅を一定にするＶＧＡ回路４３２と、ＲＦ信号を２回微分する微分回路４３４−１および４３４−２と、該２回微分値とゲート信号Ｇａｔｅとの論理積を取るＡＮＤ演算器４２２とで構成される。
【０３２２】
ここで、ＲＦ信号生成回路４３６は、ディタクタ１２２の分割領域Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄから得られた信号の合計をＲＦ信号Ｔｐｐとして出力する。この関係を式で記述すると、同図に示すように、「ＲＦ＝（Ａ＋Ｂ）＋（Ｃ＋Ｄ）」となる。
【０３２３】
ＶＧＡ回路４３２は、上記ＲＦ信号の振幅を一定化させた信号ＲＦ−Ｓｕｂを生成し、この信号を受けた微分回路４３４−１は、該ＲＦ−Ｓｕｂ信号を微分してΔＲＦ−Ｓｕｂ信号を生成し、微分回路４３４−２が該ΔＲＦ−Ｓｕｂ信号を微分してΔΔＲＦ−Ｓｕｂ信号を生成する。
【０３２４】
ＡＮＤ演算器４２２は、上記ΔΔＲＦ−Ｓｕｂ信号とゲート信号Ｇａｔｅとの論理積を取ることで、記録パルスの光出力安定領域に相当する信号ΔΔＲＦ−Ｓｕｂ’を抽出し、スライサ２１０がこのΔΔＲＦ−Ｓｕｂ’信号をゼロレベルでスライスしてＳＬ  ΔΔＲＦ−Ｓｕｂ’信号を生成する。
【０３２５】
図８１は、本発明に係るパワーおよびパルス幅のリアルタイム制御概念を示す概念図である。同図に示すように、本実施形態では、長さｍ’Ｔを有するｍＴパルスをパワー制御用パルスとして用い、長さｎ’Ｔを有するｎＴパルスをパルス幅制御用パルスとして用いることで、パワーとパルス幅の調整要因を分離した検出および補正を可能としている。ｍＴパルスとｎＴパルスの構成については前述と同様である。
【０３２６】
ここで、記録用レーザ光２０Ａを用いて、これらｍＴパルスとｎＴパルスを含む記録パルス列をメディア５００上に照射するとともに、再生用レーザ光２０Ｅを用いて、前記記録パルス列の照射により形成されたピットおよびスペースを再生し、パワーとパルス幅の影響を独立に検出して、ｍＴパルスのパワー補正とｎＴパルスの幅補正とをリアルタイムで実行する。
【０３２７】
ｍＴパルスのパワー補正は、同図に示すように、該ｍＴパルスの高さを調整することで行われ、該パルスの最適高さＰｏは、再生用レーザ光の検出結果に基づき設定される。このｍＴパルスの幅は、例えば、前述したように最も出現頻度の高い３Ｔに対応させてテスト記録で最適化した条件が用いられる。
【０３２８】
ｎＴパルスの幅補正は、前述したように、該パルスの前端および後端の位相をそれぞれ調整することにより行われ、該パルスの前端補正量Ｔｔｏｐおよび後端補正量Ｔｌａｓｔは、再生用レーザ光の検出結果に基づき設定される。このｎＴパルスの高さは、ｍＴパルスと同条件のＰｏが用いられ、中央部の高さＰＷＤは前述した手法により設定される。
【０３２９】
図８２は、パワーとパルス幅の調整要素を分離して得られる記録品位の拡大イメージを示す概念図である。同図に示すように、出現頻度の高いｍＴパルスの幅を固定し、位相条件はｎＴパルスの幅を変化させて調整すると、パワーの変化に対して低ジッタが確保できる領域が広い特性、即ち、マージンの大きな再生特性２０２−２が得られるが、全パルスの幅を変化させる手法やパワーのみを調整する手法では、再生特性２０２−１または２０２−３のようなマージンの小さな特性しか得られない。
【０３３０】
図８３は、ｍＴパルスの検出信号量を確保する手法の概念を示した概念図である。同図（ａ）に示すように、ｍＴパルスを例えば３Ｔパルスに設定したとすると、この３Ｔパルスで記録されたピットの形状は同図（ｂ）に示すように小さく、このピットから得られるＲＦ信号も同図（ｃ）に示すように小振幅の開口が小さな信号となるため、特に高速記録では３Ｔピットの検出が困難になる。
【０３３１】
そこで、本実施形態では、同図（ａ）に示すように、検出対象とする２つのｍＴパルスを該ｍＴパルスよりも長い間隔を隔てて配置し、この間隔に相当する信号を検出することで、ｍＴパルスによって形成されたピットの長さを検出する。例えば、同図（ｂ）に示すように、３Ｔピット、６Ｔスペース、３Ｔピットの順に形成することで、６Ｔスペースが両側の３Ｔピットの影響を受けるように配置し、６Ｔスペースに対応した大振幅の信号を検出することで、間接的に３Ｔピットの長さずれを検出する。
【０３３２】
図８４は、３Ｔピットの長さずれ量を６Ｔスペースの信号を用いて検出する例を示したタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、３Ｔ、６Ｔ、３Ｔの順で記録パルスを照射した結果、同図（ｂ）に示すように、基準長よりも長い３Ｔピットが形成されると、同図（ｃ）〜（ｅ）に示すように、６ＴスペースのＲＦ信号から得られた２値化信号は、基準長よりも短く検出される。その結果、同図（ｆ）に示すようなずれ量ΔａおよびΔｂが検出され、これらの合計が３Ｔピットの長さずれ量Δになる。
【０３３３】
図８５は、長さずれ量に基づいてパワー補正を行う概念を示した概念図である。同図に示すように、テスト記録によって得られたアシンメトリ特性は線形特性になり、このアシンメトリ特性のゼロ点が最適パワーＰｏになるため、この得られたアシンメトリ特性上で長さずれ量Δを適合させると、Ｐ１−Ｐｏのパワーずれが発生していることがわかる。よって、この最適値からのパワーずれ量に応じて現在のパワーを補正し、最適記録条件に戻した状態で記録を継続する。
【０３３４】
図８６は、ＲＦ信号を用いて３Ｔスペースによる歪みの影響を検出する例を示したタイミングチャートである。同図（ａ）および（ｂ）に示すように、３Ｔピット、６Ｔスペース、３Ｔピット、３Ｔスペースのパターンを有する記録パルスＡを照射すると、最後尾の３Ｔスペースの影響が直前の３Ｔピットに歪みを与える場合がある。
【０３３５】
このような歪みが発生すると、基準長からずれのない３Ｔピットが形成された場合であっても、同図（ｃ）に示したように、ＲＦ信号のゼロクロス点が本来の位置よりも遠くに現れ、その結果として２値化信号のパルス幅が大きくなる。
【０３３６】
そこで、同図（ｄ）〜（ｇ）に示すように、最後尾のスペース長を３Ｔよりも長い５Ｔに設定することで、歪みの発生を抑えた記録パルスＢの照射結果を再生し、この記録パルスＢから得られた６Ｔスペースの長さと記録パルスＡから得られた６Ｔスペースの長さとのずれ量Δを検出する。
【０３３７】
このように、記録パルスＡから得られた結果と記録パルスＢから得られた結果との間にずれ量Δが生じた場合には、記録パルスＡから得られた結果は、誤りであると想定できるため、この結果を使用しない構成とすることで誤検出を回避することができる。
【０３３８】
図８７は、タンジェンシャルプッシュプル信号を用いて３Ｔスペースによる歪みの影響を検出する例を示したタイミングチャートである。前述した３Ｔスペースによる歪みの影響は、ＲＦ信号だけでなくタンジェンシャルプッシュプル信号を用いることでも検出することができる。以下この例をＲＦ信号を用いた例と同様に説明する。
【０３３９】
同図（ａ）および（ｂ）に示すように、３Ｔピット、６Ｔスペース、３Ｔピット、３Ｔスペースのパターンを有する記録パルスＡを照射すると、基準長からずれのない３Ｔピットが形成された場合であっても、同図（ｃ）に示したように、タンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐのゼロクロス点が本来の位置よりも近くに現れ、その結果として２値化信号のパルス幅が小さくなる。
【０３４０】
そこで、同図（ｄ）〜（ｇ）に示すように、最後尾のスペース長を３Ｔよりも長い５Ｔに設定することで、歪みの発生を抑えた記録パルスＢの照射結果を再生し、この記録パルスＢから得られた６Ｔスペースの長さと記録パルスＡから得られた６Ｔスペースの長さとのずれ量Δを検出する。
【０３４１】
このように、記録パルスＡから得られた結果と記録パルスＢから得られた結果との間にずれ量Δが生じた場合には、記録パルスＡから得られた結果は、誤りであると想定できるため、この結果を使用しない構成とすることで誤検出を回避することができる。
【０３４２】
図８８は、３Ｔスペースによる歪みの影響を回避する構成例を示した概念図である。前述したように、歪みの影響を回避するためには、歪みの影響を受けやすいパターンの再生結果と受けにくいパターンの再生結果とを比較する構成が有効であるため、同図に示すように、２つのパターンのＲＦ信号またはタンジェンシャルプッシュプル信号を比較し、この比較の結果、両者に差異が生じたときは、３Ｔピット、６Ｔスペース、３Ｔピット、３Ｔスペースのパターンから得られた再生結果をマスクする構成とする。
【産業上の利用可能性】
【０３４３】
本発明によれば、より最適に近い記録条件のリアルタイムな補正が可能になるため、内外周差の記録特性が異なるメディアや高速記録等のより厳しい記録環境への適用が期待される。
【図面の簡単な説明】
【０３４４】
【図１】本発明に係る記録パルスの構成と記録条件決定の全体フローを示す概念図である。
【図２】本発明に係るドライブの内部構成を示すブロック図である。
【図３】図１に示したｍＴ決定フローの詳細な実行手順を示すフローチャートである。
【図４】図３に示す基準閾値の決定ステップの詳細を示すフローチャートである。
【図５】図４に示したフローの一実施例を示す概念図である。
【図６】図４に示したフローの一実施例を示す概念図である。
【図７】ドライブごとに閾値を求める場合の例を示す概念図である。
【図８】図３のステップＳ１２０で実行した記録品位検査の結果、谷型パターンが得られた例を示す概念図である。
【図９】図３のステップＳ１２０で実行した記録品位検査の結果、右下がりのパターンが得られた例を示す概念図である。
【図１０】図２のステップＳ１２０で実行した記録品位検査の結果、右上がりのパターンが得られた例を示す概念図である。
【図１１】図３のステップＳ１２０で谷型パターンが得られた場合に、ステップＳ１２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。
【図１２】図２のステップＳ１２０で右下がりパターンが得られた場合に、ステップＳ１２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。
【図１３】図３のステップＳ１２０で右上がりパターンが得られた場合に、ステップＳ１２２で実行されるテスト領域決定の一例を示す概念図である。
【図１４】図３のステップＳ１２０を８つのパターンを用いて実行する場合の例を示す図である。
【図１５】図３のステップＳ１２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める方法を説明した概念図である。
【図１６】図３のステップＳ１２２で使用されるパワーレンジを曲線近似によって求める別の例を説明した概念図である。
【図１７】図３のステップＳ１２２で使用されるパワーレンジをサンプリングによって求める例を説明した概念図である。
【図１８】図１（ｂ）に示したステップＳ２００の比率決定で使用するテスト用記録パルスの例を示す概念図である。
【図１９】図１（ｂ）に示したステップＳ２００の比率決定フローの実行手順を示すフローチャートである。
【図２０】図１９に示したテスト記録から再生データの計数までの動作概念を示す概念図である。
【図２１】図１９に示した計数結果の格納イメージを示す概念図である。
【図２２】図１９に示したヒストグラム作成のイメージを示す概念図である。
【図２３】図１９に示した閾値決定のイメージを示す概念図である。
【図２４】図２３に示した手法によって得られた閾値の例を示す概念図である。
【図２５】ピットバランスによるずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図２６】ピットバランスずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。
【図２７】計数結果の絶対比較により長さずれ量を検出する場合の具体例を示す概念図である。
【図２８】図１９に示した制御量予測の実行例を示すフローチャートである。
【図２９】ＰＷＤを変化させる場合の記録条件Ｓ１、Ｓ２の変化とずれ量Ｄ１、Ｄ２との関係を示す概念図である。
【図３０】シングルパルスの形状に関する直線近似を利用した長さずれ補正の一例を示す概念図である。
【図３１】マルチパルスの形状に関する直線近似を利用した長さずれ補正の一例を示す概念図である。
【図３２】補正量ＰＷＤとＴｍｐを格納するためのテーブル構造を示す概念図である。
【図３３】図１のステップＳ３００で実行されるｎＴパルスの構成概念を示す概念図である。
【図３４】図１（ｂ）に示したステップＳ４００の位相ずれ補正で使用するテスト用記録パルスの例を示す概念図である。
【図３５】図１（ｂ）に示したステップＳ４００の位相条件決定フローの実行手順を示すフローチャートである。
【図３６】各ピット長における前側位相ずれ量を検出するための記録パターンおよび再生パターンの一例を示す概念図である。
【図３７】各ピット長における後側位相ずれ量を検出するための記録パターンおよび再生パターンの一例を示す概念図である。
【図３８】熱干渉によるピットずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図３９】ピット前位相ずれ検出と後位相ずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。
【図４０】ピット干渉ずれ検出で使用される特定パターン検索用のテーブル構成を示す概念図である。
【図４１】計数結果の相対比較によりずれ量を検出する場合の具体例を示す概念図である。
【図４２】図３５に示した制御量の予測によるＴｔｏｐｒ、Ｔｌａｓｔ決定の実行例を示すフローチャートである。
【図４３】記録条件Ｓ１、Ｓ２の変化とずれ量Ｄ１、Ｄ２との関係を示す概念図である。
【図４４】直線近似を利用した前側位相ずれ補正の一例を示す概念図である。
【図４５】直線近似を利用した後側位相ずれ補正の一例を示す概念図である。
【図４６】補正量ＴｔｏｐとＴｌａｓｔを格納するためのテーブル構造を示す概念図である。
【図４７】補正後のシングルパルスの例を示す概念図である。
【図４８】補正後のマルチパルスの例を示す概念図である。
【図４９】本発明に係るドライブの内部構成を示すブロック図である。
【図５０】図４９に示したドライブ内に組み込まれるピックアップ部の構造を示す分解斜視図である。
【図５１】光ディスクの盤面上に照射されたスポットの配置を示す平面図である。
【図５２】光ディスクの盤面上に照射されるスポットとディテクタとの関係を示す概念図である。
【図５３】記録パルスの形状と安定領域との関係を示す概念図である。
【図５４】図４９に示したパルス生成回路の内部構成を示す回路ブロック図である。
【図５５】図５４に示したゲート信号の生成概念を示すタイミングチャートである。
【図５６】図４９に示したＬＤドライバの内部構成を示す回路図である。
【図５７】図４９に示したマスク回路の内部構成を示す回路ブロック図である。
【図５８】記録パルスとゲートパルスと再生信号との関係を示すタイミングチャートである。
【図５９】図４９に示したＣＰＵが実行するフラグ信号の生成手法を示す概念図である。
【図６０】記録用のメインビームと再生用のサブビームとの関係を示すタイミングチャートである。
【図６１】記録パルスと、該記録パルスを遅延させたパルスと、ＲＦ信号との関係を示すタイミングチャートである。
【図６２】長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の例を示したブロック図である。
【図６３】図６２に示したカウンタ２５６と図４９のパルス生成回路３００との関係を示すブロック図である。
【図６４】図６２に示したバッファ２５０−２がビット列を蓄積する際の例を示す概念図である。
【図６５】１４Ｔピットの記録中に検出対象となる４Ｔスペースのバリエーションを示す概念図である。
【図６６】長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の別の例を示したブロック図である。
【図６７】図６６に示した回路ブロックの処理例を示すタイミングチャートである。
【図６８】図６６の回路ブロックにより生成された判定信号の判定基準を示す概念図である。
【図６９】長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の別の例を示したブロック図である。
【図７０】図６９に示した回路ブロックの処理例を示すタイミングチャートである。
【図７１】図６９に示したリセットパルス生成回路４２６の処理例を示すタイミングチャートである。
【図７２】図４９に示したマスク回路の別の構成例を示す回路ブロック図である。
【図７３】図７２に示した回路の動作を示す第１のタイミングチャートである。
【図７４】図７２に示した回路の動作を示す第２のタイミングチャートである。
【図７５】テスト領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値と実際の物理長との関係を示すグラフである。
【図７６】記録領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値と記録領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値との関係を示すグラフである。
【図７７】テスト領域内のタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得るために行うテスト記録の一例を示した概念図である。
【図７８】記録領域内のタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得るために行うテスト記録の一例を示した概念図である。
【図７９】図７８に示したタンジェンシャルプッシュプル信号の差分を用いて記録パルスの補正を行う例を示した概念図である。
【図８０】図４９に示したマスク回路の別の構成例を示す回路ブロック図である。
【図８１】本発明に係るパワーおよびパルス幅のリアルタイム制御概念を示す概念図である。
【図８２】パワーとパルス幅の調整要素を分離して得られる記録品位の拡大イメージを示す概念図である。
【図８３】ｍＴパルスの検出信号量を確保する手法の概念を示した概念図である。
【図８４】３Ｔピットの長さずれ量を６Ｔスペースの信号を用いて検出する例を示したタイミングチャートである。
【図８５】長さずれ量に基づいてパワー補正を行う概念を示した概念図である。
【図８６】ＲＦ信号を用いて３Ｔスペースによる歪みの影響を検出する例を示したタイミングチャートである。
【図８７】タンジェンシャルプッシュプル信号を用いて３Ｔスペースによる歪みの影響を検出する例を示したタイミングチャートである。
【図８８】３Ｔスペースによる歪みの影響を回避する構成例を示した概念図である。
【符号の説明】
【０３４５】
１０…記録パルス、１２…トップパルス、１４…後続パルス、１６…後端パルス、２０…レーザ光、２０Ａ…記録用メインビーム、２０Ｂ…トラッキング用先行サブビーム、２０Ｃ…トラッキング用後行サブビーム、２０Ｄ…再生用先行サブビーム、２０Ｅ…再生用後行サブビーム、２２…反射光、５０…高出力領域、５２…低出力領域、５４…定出力領域、１００…ドライブ、１１０…レーザダイオード、１１２…コリメータレンズ、１１４…回折格子、１１５…溝、１１６…ハーフミラー、１１８…対物レンズ、１２０…受光レンズ、１２２…ディテクタ、１２４…ＬＤドライバ、１２６…合成器、２００…テスト領域、２０２…再生特性、２０４…記録条件、２０６…近似曲線、２０８…基準条件、２１０…スライサ、２１２…ＣＰＵ、２１４…メモリ、２１６…ＥＦＭエンコーダ／デコーダ、２１８…インターフェース回路、２５０…バッファ、２５２…変換テーブル、２５４…遅延器、２５６…カウンタ、２５８…１４Ｔデコーダ、２５９…４Ｔデコーダ、３００…パルス生成回路、３１０…パルスユニット生成回路、３１４…反転回路、３１６…ＡＮＤ演算器、４００…マスク回路、４１０…ＡＮＤ演算器、４２０…反転回路、４２２…ＡＮＤ演算器、４２４…カウンタ、４２６…リセットパルス生成回路、４３０…タンジェンシャルプッシュプル信号生成回路、４３２…ＶＧＡ回路、４３４…微分回路、４３６…ＲＦ信号生成回路、５００…光ディスク、５０２…グループ、５０４…ランド、５０６…ピット、５０８…スペース、６００…パーソナルコンピュータ、１１０１…エンコーダ、１１０２…ストラテジ回路、１１０３…レーザ発振器、１１０４…レンズ、１１０５…ハーフミラー、１１０６…レンズ、１１０７…レンズ、１１０８…受光部、１１０９…同期信号検出回路、１１１０…２値化回路、１１１１…デコーダ、１１１２…記録ずれ検出部、１１１３…演算式導出部、１１１４…ストラテジ決定部、１１１５…記憶領域
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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【図４０】
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【図４１】
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【図４２】
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【図４３】
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【図４４】
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【図４５】
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【図４６】
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【図４７】
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【図４８】
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【図４９】
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【図５０】
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【図５１】
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【図５２】
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【図５３】
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【図５４】
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【図５５】
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【図５６】
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【図５７】
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【図５８】
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【図５９】
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【図６０】
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【図６１】
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【図６２】
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【図６３】
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【図６４】
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【図６５】
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【図６６】
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【図６７】
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【図６８】
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【図６９】
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【図７０】
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【図７１】
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【図７２】
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【図７３】
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【図７４】
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【図７５】
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【図７６】
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【図７７】
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【図７８】
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【図７９】
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【図８０】
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【図８１】
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【図８２】
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【図８３】
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【図８４】
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【図８５】
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【図８６】
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【図８７】
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【図８８】
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