(57)【要約】【課題】  グライドハイトエラーの記録面相互間の分布相関の有無を判定することが可能な磁気ディスクの試験結果の分析方法を提供する。【解決手段】  個々のグライドハイトエラーを各記録面を含む２次元平面内に設定された座標系にマッピングするエラーマッピングステップ１０３と、個々のグライドハイトエラーの座標値から、記録面相互間のグライドハイトエラーの分布の相関に対応する相関評価値を算出する相関評価値算出ステップ１０４と、各記録面のグライドハイトエラーの発生個数に対応する相関評価値の期待値を算出する期待値算出ステップ１０５と、算出した相関評価値と期待値とを比較することにより、記録面相互間のグライドハイトエラーの分布相関の有無を判定する相関有無判定ステップ１０６〜１０８とを含む。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
両面に記録面を有する磁気ディスクの各記録面に対するグライドハイト試験の試験結果として得られたグライドハイトエラーの位置情報に基づいて、個々のグライドハイトエラーを各記録面を含む２次元平面内に設定された座標系にマッピングするエラーマッピングステップと、
前記座標系における個々のグライドハイトエラーの座標値から、前記両記録面相互間のグライドハイトエラーの分布の相関に対応する相関評価値を算出する相関評価値算出ステップと、
前記各記録面のグライドハイトエラーの発生個数に対応する前記相関評価値の期待値を算出する期待値算出ステップと、
前記算出した相関評価値と期待値とを比較することにより、前記両記録面相互間のグライドハイトエラーの分布相関の有無を判定する相関有無判定ステップとを含むことを特徴とする磁気ディスクの試験結果の分析方法。
【請求項２】
前記相関評価値算出ステップは、前記座標系における個々のグライドハイトエラーの座標値から、グライドハイトエラーの分布における前記両記録面相互間の平均相互最近隣距離を前記相関評価値として算出する平均相互最近隣距離算出ステップからなり、
前記期待値算出ステップは、前記各記録面のグライドハイトエラーの発生個数に対応する前記平均相互最近隣距離の期待値を前記相関評価値の期待値として算出することを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスクの試験結果の分析方法。
【請求項３】
前記相関有無判定ステップは、前記平均相互最近隣距離と前記期待値との比率が所定値未満であれば分布相関有り、そうでない場合は分布相関無し又は負の分布相関有りと判定することを特徴とする請求項２に記載の磁気ディスクの試験結果の分析方法。
【請求項４】
前記期待値算出ステップは、前記座標系における個々のグライドハイトエラーの座標値から、前記両記録面のグライドハイトエラー分布における相互Ｋ関数法に基づく評価関数値を前記相関評価値として算出する評価関数値算出ステップからなり、
前記期待値算出ステップは、前記各記録面のグライドハイトエラーの発生個数に対応する前記評価関数値の期待値を前記相関評価値の期待値として算出することを特徴とする請求項１に記載の磁気ディスクの試験結果の分析方法。
【請求項５】
前記期待値算出ステップは、前記評価関数値の期待値をモンテカルロシミュレーションにより算出することを特徴とする請求項４に記載の磁気ディスクの試験結果の分析方法。
【請求項６】
前記相関有無判定ステップは、前記評価関数値と前記期待値との比率が所定値以上であれば分布相関有り、そうでない場合は分布相関無し又は負の分布相関有りと判定することを特徴とする請求項４又は５に記載の磁気ディスクの試験結果の分析方法。
【請求項７】
前記グライドハイトエラーの位置情報に基づいて、前記各記録面のグライドハイトエラーの発生個数をカウントするエラー個数カウントステップを備えることを特徴とする請求項１から６のいずれかに記載の磁気ディスクの試験結果の分析方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ディスク装置の記録媒体として用いられる磁気ディスクのグライドハイト試験における試験結果を分析するための磁気ディスクの試験結果の分析方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
コンピュータの外部記憶装置等として使用される磁気ディスク装置は、両面に記録面を有する円盤状の磁気ディスクを記録媒体とし、高速で回転する磁気ディスクの表面にサブミクロンオーダーのスペーシングを保って磁気ヘッドを浮上させデータの読み書きを行うので、磁気ディスクの表面には磁気ヘッドの浮上を阻害するような欠陥（バンプ、スクラッチ等）をなるべく含まないことが望ましい。そのため、磁気ディスクは、クリーン度を一定に保った環境で製造され、出荷前に表面欠陥の検査が行われる。
その表面欠陥の検査としては、グライドハイト試験が行われる。本試験は、試験用ヘッドスライダを磁気ディスク表面に一定のスペーシングを保ちながら浮上させ、これを内周から外周まで１トラックづつ移動させて突起の有無をチェックするものであり、ディスク表面に所定の高さ以上の突起が存在する場合は、ヘッドスライダがその上を通過する際に衝突するので、ヘッドスライダに備えられたＰＺＴセンサの端子間電圧をモニタすることにより、所定の高さ以上の突起の有無が分かる。
【０００３】
この試験では、内周から外周までヘッドスライダを移動させる間に、ＰＺＴセンサの端子間電圧が所定値を越えた場所をグライドハイトエラーとしてその都度マークすることにより、磁気ディスク表面の２次元的なグライドハイトエラーの分布（エラーマップ）を得ることが可能である。なお、通常本試験ではエラーが１個以上見つかった磁気ディスクは不良と判定する。
【特許文献１】特開２００２−１８３９４６号公報
【特許文献２】特開２００２−２５０５４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述のようなグライドハイト試験の結果、不良と判定された磁気ディスクの中には、図５に示すように、上下記録面Ａ，Ｂのグライドハイトエラーの分布Ａ，Ｂ（下側記録面Ｂは上側記録面Ａ側から透視した場合を示す。）が相関を示すものが含まれる場合がある。
この種の不良の発生頻度は現状はそれほど問題となる程ではないが、今後何らかの要因により増加することも予想されるため、その発生状況を常に監視することが求められている。そのため、オフラインで行われる試験結果の分析作業の中で、上下記録面のエラーの分布相関の有無をチェックする作業が日頃行われている。
このエラーの分布相関の有無の判定は、上下記録面のエラーマップを画面に表示させて目視により比較判定することにより行うことができるが、本方法は人為的な判断に基づくため、同一の磁気ディスクの判定結果が作業者により異なる場合があり、一貫性のある判定結果が得られない問題があった。また、自動化が困難なため、不良ディスクの数が多い場合は作業に時間がかかるという問題もあった。
【０００５】
本発明は、上述の点に鑑み、グライドハイト試験の試験結果として得られるグライドハイトエラーの位置情報に基づいて、グライドハイトエラーの記録面相互間の分布相関の有無を判定することが可能な磁気ディスクの試験結果の分析方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、上述の目的を達成するため、両面に記録面を有する磁気ディスクの各記録面に対するグライドハイト試験の試験結果として得られたグライドハイトエラーの位置情報に基づいて、個々のグライドハイトエラーを各記録面を含む２次元平面内に設定された座標系にマッピングするエラーマッピングステップと、前記座標系における個々のグライドハイトエラーの座標値から、前記両記録面相互間のグライドハイトエラーの分布の相関に対応する相関評価値を算出する相関評価値算出ステップと、前記各記録面のグライドハイトエラーの発生個数に対応する前記相関評価値の期待値を算出する期待値算出ステップと、前記算出した相関評価値と期待値とを比較することにより、前記両記録面相互間のグライドハイトエラーの分布相関の有無を判定する相関有無判定ステップとを含むことを特徴とする。
【０００７】
ここで、前記相関評価値算出ステップは、前記座標系における個々のグライドハイトエラーの座標値から、グライドハイトエラーの分布における前記両記録面相互間の平均相互最近隣距離を前記相関評価値として算出する平均相互最近隣距離算出ステップからなり、前記期待値算出ステップは、前記各記録面のグライドハイトエラーの発生個数に対応する前記平均相互最近隣距離の期待値を前記相関評価値の期待値として算出することができ、前記相関有無判定ステップは、前記平均相互最近隣距離と前記期待値との比率が所定値未満であれば分布相関有り、そうでない場合は分布相関無し又は負の分布相関有りと判定することができる。
また、前記期待値算出ステップは、前記座標系における個々のグライドハイトエラーの座標値から、前記両記録面のグライドハイトエラー分布における相互Ｋ関数法に基づく評価関数値を前記相関評価値として算出する評価関数値算出ステップからなり、前記期待値算出ステップは、前記各記録面のグライドハイトエラーの発生個数に対応する前記評価関数値の期待値を前記相関評価値の期待値として算出し、前記評価関数値の期待値をモンテカルロシミュレーションにより算出することができ、前記相関有無判定ステップは、前記評価関数値と前記期待値との比率が所定値以上であれば分布相関有り、そうでない場合は分布相関無し又は負の分布相関有りと判定することができる。
【０００８】
そして、前記グライドハイトエラーの位置情報に基づいて、前記各記録面のグライドハイトエラーの発生個数をカウントするエラー個数カウントステップを備えることが、グライトハイト試験の試験結果としてのエラー個数の登録有無に左右されることなく分析できるので好ましい。
【発明の効果】
【０００９】
本発明に係る磁気ディスクの試験結果の分析方法によれば、エラー分布の相関評価値と、その期待値とを算出して比較することにより、グライドハイトエラーの記録面相互間の分布相関の有無を判定するので、不良磁気ディスクの分析作業を行う人間が誰であっても常に一貫性のある判定結果が得られるようになる。
また、本発明の分析方法は自動化が容易である。プログラムにより自動化した場合、従来の手作業（目視）による方法に対して分析の所要時間は大幅に減少するため、不良ディスクの数が多い場合でも分析作業の所要時間が問題となることはない。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
＜グライドハイト試験＞
まず、本発明の分析対象とする試験結果を得るためのグライドハイト試験の試験方法の実施形態について説明する。
〔グライドハイト試験装置〕
図２は、このグライドハイト試験の試験方法を説明するための説明図である。図において、グライドハイト試験装置１０には磁気ディスク１の上下両面の記録面を検査するためのそれぞれのヘッドスライダ４が対向するように取り付けられている。ヘッドスライダ４はアーム８によって支持され、アーム８が矢印の方向に移動することよりヘッドスライダ４が磁気ディスク１の記録面内を半径方向に移動できるようになっている。ヘッドスライダ４にはさらに衝撃センサとしてのＰＺＴセンサ３が取り付けられている。
【００１１】
磁気ディスク１の記録面には仮想的な同心円状のトラック５ａ〜５ｃとセクタ６が設けられている。図ではトラック数を省略して示しているが、実際は一定の間隔で５０本〜１００本程度設けられている。セクタ６はトラック５ａ〜５ｃを等間隔に分割するように設けられている。図では便宜上セクタの数を省略して示しているが、実際のセクタの数は１０２４個程度となっている。
また、各トラックにおいて先頭セクタが開始する位置は、磁気ディスク１の中心から放射状に延びるセクタ数と同数のセクタライン９の中の特定の一本に整列するようになっている。この特定のセクタライン９は磁気ディスク１をスピンドルモータ２の回転軸７に固定する際の回転軸７の回転角との関係により決定される。
〔グライドハイト試験の手順〕
このグライドハイト試験装置１０を用いるグライドハイト試験の手順は次のとおりである。
【００１２】
まず、検査対象の磁気ディスク１をスピンドルモータ２の回転軸７に固定して回転させる。そしてヘッドスライダ４を磁気ディスクの上側と下側の記録面のそれぞれの最内周のトラック５aの位置に移動させて浮上させる。そして磁気ディスク１が回転し、ヘッドスライダ４が最内周のトラックの先頭セクタから最終セクタ間を浮上しながら通過したら、次にヘッドスライダ４を外周側へ１トラック移動させる。そしてこれをヘッドスライダ４が最外周トラック５ｃの位置に到達するまで繰り返し行う。そしてこの間ＰＺＴセンサ３の端子間電圧をモニタし、端子間電圧の振幅が所定値を越えた場所をその都度グライドハイトエラーとしてマークする。
マークされたグライドハイトエラーは、グライドハイト試験装置１０が管理するエラーリストに登録される。図４はエラーリストの例を示したものである。エラーリストの各行は１個のエラーに対応している。各行はエラーの見つかった場所の記録面（Ａ（上側）又はＢ（下側））、トラック番号、セクタ番号を含んでいる。
【００１３】
ここで、トラック番号は、磁気ディスクの最内周をトラック番号０とし、外周に向けて増加するように割り当てられており、セクタ番号は、開始セクタをセクタ番号０とし、磁気ディスクの回転方向と逆方向に増加するように割り当てられている。
なお、製造ラインでは通常複数のグライドハイト試験装置１０が並列に稼動しており、各試験装置が作成したディスク毎のエラーリストは一定時間置きに図示しないサーバーに吸い上げられ一括して管理されている。
＜試験結果の分析＞
次に、本発明に係る磁気ディスクの試験結果の分析方法の実施形態について説明する。
〔エラーマップの座標系〕
まず、本実施形態で磁気ディスクの記録面内の位置を定義するために使用する座標系について説明する。図３は本実施形態で使用する座標系を示している。本座標系は磁気ディスク１の各記録面Ａ又はＢを含む２次元平面内に直交座標として設定している。その原点Ｏは磁気ディスクの中心に設定し、磁気ディスク１の先頭セクタ（セクタ番号０）の開始位置のセクタライン９がＹ軸と一致するように設定している。また、下側の記録面Ｂは上側の記録面Ａ側から透視しているものと仮定している。
〔試験結果分析の手順〕
次に、磁気ディスクの試験結果の分析の手順について説明する。
（１）実施形態１
図１は、相関評価値として平均相互最近隣距離を算出する実施形態１の手順を示すフローチャートである。分析は、グライドハイト試験の結果、不良と判定された磁気ディスクを対象に行う。不良ディスクのエラーリストは、上述のとおり、図示しないサーバーの外部記憶装置にファイルとして保存されている。
（分析の準備）
分析の準備として、まず、図示しないサーバーの外部記憶装置から図４に示すようなエラーリストを取り出す（ステップ１００）。
【００１４】
次に、このエラーリストを参照することにより、上側と下側の記録面Ａ，Ｂのエラー個数をカウントし、これらをそれぞれna、nbとして記憶する（ステップ１０１）。なお、エラーリストに各記録面のエラー個数がグライドハイト試験の試験結果として登録されている場合には、そのエラー個数を参照することでよい。
ここで、上側と下側の記録面Ａ，Ｂのエラー個数を判別し（ステップ１０２）、いずれも０でない場合には次の処理（ステップ１０３）に進み、そうでない場合は上側と下側の記録面Ａ，Ｂのエラーに分布相関が無いと判定する（ステップ１０９）。
（エラーのマッピング）
次に、エラーリストに登録されているエラーを図３に示したＸＹ座標系に記録面毎にマッピングする（ステップ１０３）。本処理は、エラーリストの先頭から順番に、登録されているエラー毎に、トラック番号、セクタ番号を調べ、x,y座標値を次式（１ａ）（１ｂ）により算出することによりなされる。
【００１５】
【数１】
2006114191.tif 000003
ここで、Ｔｉはトラック番号、Ｓｉはセクタ番号、Ｎｓはトラック当たりのセクタ数、δはトラックピッチ、Ｒｉｎは最内周トラックの半径値である。そして、上式（１ａ）（１ｂ）により決定された上側記録面Ａの各エラーのx,y座標値をxa,i、ya,i(i＝1,2,…,na)とし、下側記録面Ｂの各エラーのx,y座標値をxb,i、yb,i(i＝1,2,…,nb)としてそれぞれ記憶する。
（平均相互最近隣距離の算出）
次に、エラー分布の上側と下側の記録面Ａ，Ｂの間の平均相互最近隣距離Ｄを次式（２）により相関評価値として算出する（ステップ１０４）。
【００１６】
【数２】
2006114191.tif 000004
ここで、da,iは記録面Ａの分布Ａの点iから記録面Ｂの分布Ｂの最寄の点までの距離（最近隣距離）、db,iは記録面Ｂの分布Ｂの点iから記録面Ａの分布Ａの最寄の点までの距離（最近隣距離）である。
平均相互最近隣距離Ｄを算出する具体的な手順は次のとおりである。
まず、上側記録面Ａのna個のエラーの各々について、下側記録面Ｂのエラーとの間の最近隣距離da,iを次式（３）により算出する。
【００１７】
【数３】
2006114191.tif 000005
同様に、下側記録面Ｂのnb個のエラーの各々について、上側記録面Ａのエラーとの間の最近隣距離db,iを次式（４）により算出する。
【００１８】
【数４】
2006114191.tif 000006
そして、平均相互最近隣距離Ｄを式（２）により計算する。以上が平均相互最近隣距離Ｄを算出するための手順である。
（平均相互最近隣距離の期待値の算出）
次に、分布Ａと分布Ｂがいずれもランダム分布であると仮定した場合の平均相互最近隣距離Ｄの期待値Ｅ[Ｄ]を次式（５）により算出する（ステップ１０５）。
【００１９】
【数５】
2006114191.tif 000007
ここで、λa,λbは、それぞれ、分布Ａと分布Ｂの点の密度であり、磁気ディスクの半径値をＲとした場合、λa＝na／πR2、λb＝nb／πR2として与えられる。
（分布相関有無の判定）
次に、平均相互最近隣距離Ｄと、その期待値Ｅ[Ｄ]を比較して、分布相関の有無の判定を行う（ステップ１０６）。すなわち、Ｄ／Ｅ[Ｄ]が所定値α未満の場合に、分布相関有りと判定し（ステップ１０７）、α以上の場合に分布相関無し（又は負の分布相関が有る）と判定する（ステップ１０８）。ここで、所定値αは０．７〜０．９程度の値とすることが望ましい。
【００２０】
このように、ＤとＥ[Ｄ]を比較することにより２種類の点の分布相関の有無を判断することができる。すなわち、Ｄ≪Ｅ[Ｄ]の場合は分布相関が強い、Ｄ≒Ｅ[Ｄ]の場合は無相関、Ｄ≫Ｅ[Ｄ]の場合は負の分布相関が強いと判定される。
上記手順により１枚の不良ディスクの分析処理が完了する。他の不良ディスクについても同様の手順を適用する。
（２）実施形態２
次に、磁気ディスクの試験結果の分析手順の別の実施形態について説明する。
図１０は、相関評価値として相互Ｋ関数法に基づく評価関数値を算出する実施形態２のの手順を示すフローチャートである。この実施形態２は、エラーマッピングまで（ステップ１００〜１０３，１０９）は上述の実施形態１と同じであるので、それ以降の手順について以下に説明する。
（相互Ｋ関数法に基づく評価関数値の算出）
この実施形態２においては、エラーマッピング（ステップ１０３）の次に、周知の相互Ｋ関数法に基づき、エラー分布の上側と下側の記録面Ａ，Ｂ間の評価関数値Ｄを相関評価値として算出する（ステップ２０４）。この具体的な手順は次のとおりである。
【００２１】
まず、上側記録面Ａのｉ番目のエラーから距離ｈ以内に存在する下側記録面Ｂのエラーの個数Nａ,iを求める。このためまず、上側記録面Ａのｉ番目のエラーと下側記録面Ｂの個々のエラーとの間の距離を計算する。ここで、上側記録面Ａのｉ番目のエラーと下側記録面Ｂのｊ番目のエラーとの間の距離djiは次式（６）により与えられる。
【００２２】
【数６】
2006114191.tif 000008
そして計算されたnb個の距離dji(j＝1,2,…,nb)の中から、dji≦hを満足するものの個数を求め、これをNa,iとする。同様にして上側記録面Ａの全てのエラーについて距離h以内に存在する下側記録面Ｂのエラーの個数Na,i（i＝1,2,…,na）を求める。
そして次式（７）により、上側記録面Ａから下側記録面Ｂへの評価関数値Kba(h)を計算する。
【００２３】
【数７】
2006114191.tif 000009
ここで、Ｓは磁気ディスクの記録面の面積である。
同様にして、次式（８）により、下側記録面Ｂから上側記録面Ａへの評価関数値Kab(h)を計算する。
【００２４】
【数８】
2006114191.tif 000010
そして、次式（９）により記録面Ａ，Ｂ間の評価関数値Ｄを算出する。
【００２５】
【数９】
2006114191.tif 000011
なお、判定距離ｈは磁気ディスクの直径に応じた適切な値を使用する。例えば３．５インチサイズの磁気ディスクの場合は、ｈ＝１０〜２０ｍｍ程度とするのが好ましい。
（評価関数値の期待値の算出）
次に、分布Ａと分布Ｂがいずれもランダム分布であると仮定した場合の評価関数値Ｄの期待値Ｅ[Ｄ]をモンテカルロシミュレーションにより求める（ステップ２０５）。この具体的な手順は次のとおりである。
まず、周知の擬似乱数発生アルゴリズムにより、仮想的な磁気ディスクの上側記録面Ａにランダムに分布するna個の点と、下側記録面Ｂにランダムに分布するnb個の点の座標値を計算する。次に、ステップ２０４に示した手順により、点分布の上側と下側の記録面Ａ，Ｂ間の評価関数値Ｄを算出する。そしてこれを１０００回〜３０００回程度繰り返し行い、得られた評価関数値Ｄの平均値を求め、これを期待値Ｅ[Ｄ]とする。
（分布相関有無の判定）
次に、評価関数値Ｄと、その期待値Ｅ[Ｄ]を比較して、分布相関の有無の判定を行う（ステップ２０６）。すなわち、Ｄ／Ｅ[Ｄ]が所定値α以上の場合に、分布相関有りと判定し（ステップ２０７）、α未満の場合に分布相関無し（又は負の分布相関が有る）と判定する（ステップ２０８）。ここで、所定値は２．０〜３．０程度の値とすることが望ましい。
【００２６】
このように、ＤとＥ[Ｄ]を比較することにより２種類の点の分布相関の有無を判断することができる。すなわち、Ｄ≫Ｅ[Ｄ]の場合は分布相関が強い、Ｄ≒Ｅ[Ｄ]の場合は無相関、Ｄ≪Ｅ[Ｄ]の場合は負の分布相関が強いと判定される。
上記手順により１枚の不良ディスクの分析処理が完了すると、他の不良ディスクについても同様の手順を適用する。
上述した各実施形態の手順における各操作はプログラムを組むことにより自動化することが可能である。プログラムにより自動化した場合、従来の方法に対して分析の所要時間は１０分の１以下に減少することは容易に予想される。
【実施例】
【００２７】
次に、本発明の磁気ディスクの試験結果の分析方法を実際に適用した実施例について説明する。
〔実施例１〕
この実施例１は、上述の実施形態１の分析方法を適用した実施例であり、図６〜９は、グライドハイト試験で不良と判定された公称直径３．５インチサイズの４枚の磁気ディスクＡ〜Ｄのエラーマップをそれぞれ示したものである。
図において、ディスクＣ（図８）とＤ（図９）は明らかにエラーの分布相関が認められるが、ディスクＡ（図６）とＢ（図７）では認められない。
表１はそれらの分析結果である。相関有り無しの判定の閾値αは０．８としている。結果はディスクＡ、Ｂでは比率Ｄ／Ｅ[Ｄ]がそれぞれ１．０９、１．１１となり判定結果は分布相関無し、ディスクＣ、Ｄでは比率Ｄ／Ｅ[Ｄ]がそれぞれ０．６２、０．２９となり判定結果は分布相関有りとなった。このように望ましい判定結果が得られることが証明された。
【００２８】
【表１】
2006114191.tif 000012
〔実施例２〕
この実施例２は、上述の実施形態２の分析方法を適用した実施例であり、図１１〜１４は、グライドハイト試験で不良と判定された公称直径３．５インチサイズの４枚の磁気ディスクＥ〜Ｈのエラーマップをそれぞれ示したものである。
図において、ディスクＧ（図１３）とＨ（図１４）は明らかにエラーの分布相関が認められるが、ディスクＥ（図１１）とＦ（図１２）では認められない。
表２はそれらの分析結果である。判定距離ｈは２０ｍｍ、相関有り無しの判定の閾値αは２．０とした。結果はディスクＥ、Ｆでは比率Ｄ／Ｅ[Ｄ]がそれぞれ０．９８、１．０２となり判定結果は分布相関無し、ディスクＧ、Ｈでは比率Ｄ／Ｅ[Ｄ]がそれぞれ４．４３、３．４２となり判定結果は分布相関有りとなった。このように望ましい判定結果が得られることが証明された。
【００２９】
【表２】
2006114191.tif 000013
【産業上の利用可能性】
【００３０】
本発明に係る磁気ディスクの試験結果の分析方法は、磁気ディスクの不良品解析の一環としてエラーの発生状況を把握し、分布相関のあるエラーが頻発した場合にその原因を調査するために利用することができる。その調査は、例えば各製造工程の様々なパラメータと分布相関エラーの発生頻度との関係を調査することが主体となる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明に係る磁気ディスクの試験結果の分析方法の相関評価値として平均相互最近隣距離を算出する実施形態１を示すフローチャートである。
【図２】本発明の前提とするグライドハイト試験の実施形態を説明するための説明図である。
【図３】本発明によりグライドハイトエラーをマッピングするための座標系の実施形態を示す説明図である。
【図４】本発明の分析対象とするグライドハイト試験の試験結果の一例を示すエラーリストである。
【図５】本発明の分析対象とする不良ディスクのエラーマップの一例である。
【図６】本発明により分析した実施例１の不良ディスクＡのエラーマップである。
【図７】本発明により分析した実施例１の不良ディスクＢのエラーマップである。
【図８】本発明により分析した実施例１の不良ディスクＣのエラーマップである。
【図９】本発明により分析した実施例１の不良ディスクＤのエラーマップである。
【図１０】本発明に係る磁気ディスクの試験結果の分析方法の相関評価値として相互Ｋ関数法に基づく評価関数値を算出する実施形態２を示すフローチャートである。
【図１１】本発明により分析した実施例２の不良ディスクＥのエラーマップである。
【図１２】本発明により分析した実施例２の不良ディスクＦのエラーマップである。
【図１３】本発明により分析した実施例２の不良ディスクＧのエラーマップである。
【図１４】本発明により分析した実施例２の不良ディスクＨのエラーマップである。
【符号の説明】
【００３２】
１    磁気ディスク
２    スピンドルモータ
３    ＰＺＴセンサ
４    ヘッドスライダ
５ａ〜５ｃ    トラック
６    セクタ
１０    グライドハイト試験装置
【図１】
2006114191.tif 000014
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
2006114191.tif 000022
【図１０】
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【図１１】
2006114191.tif 000024
【図１２】
2006114191.tif 000025
【図１３】
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【図１４】
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