(57)【要約】      （修正有）【課題】  Ｘ−Ｙ波形の解析を容易に行なうことができる波形測定装置を実現する。【解決手段】複数の入力チャネルのそれぞれに割り当てられた測定部１で測定した波形データのうち、所望の２チャネルの波形データの一方をＸ軸データとし、他方の波形データをＹ軸データとして、表示部６の表示画面にＸ−Ｙ波形を表示する波形測定装置に改良を加えたものである。本装置は、Ｘ−Ｙ波形が表示される表示画面６に閉領域を生成する閉領域生成部９と、閉領域生成部９が生成した閉領域にＸ−Ｙ波形が入っているか否かを判断する判断部とを設けたものである。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の入力チャネルのそれぞれに割り当てられた測定部で測定した波形データのうち、所望の２チャネルの波形データの一方をＸ軸データとし、他方の波形データをＹ軸データとして、表示部の表示画面にＸ−Ｙ波形を表示する波形測定装置において、
前記Ｘ−Ｙ波形が表示される表示画面に閉領域を生成する閉領域生成部と、
この閉領域生成部が生成した閉領域にＸ−Ｙ波形が入っているか否かを判断する判断部と
を設けたことを特徴とする波形測定装置。
【請求項２】
閉領域生成部は、複数の閉領域を設定することを特徴とする請求項１記載の波形測定装置。
【請求項３】
判断部は、
前記閉領域生成部が生成したＸ−Ｙ座標上の閉領域を、Ｘ軸データを時間としＹ軸データを前記波形データとするｔ−Ｙ座標上の領域に変換する変換部と、
この変換部が変換した領域をトリガ条件とし、トリガ信号を発生するトリガ検出部と
を有することを特徴とする請求項１または２記載の波形測定装置。
【請求項４】
Ｘ−Ｙ波形を表示する波形データの組を複数保存する波形データ記憶部を設け、
判断部は、
前記閉領域生成部が生成したＸ−Ｙ座標上の閉領域を、Ｘ軸データを時間としＹ軸データを前記波形データとするｔ−Ｙ座標上の領域に変換する変換部と、
この変換部の変換した領域を検索条件とし、前記波形データ記憶部から所望の波形データの組を検索する検索部と
を有することを特徴とする請求項１または２記載の波形測定装置。
【請求項５】
判断部は、
前記閉領域生成部が生成したＸ−Ｙ座標上の閉領域を、Ｘ軸データを時間としＹ軸データを前記波形データとするｔ−Ｙ座標上の領域に変換する変換部と、
この変換部の変換した領域を波形判定の条件とし、Ｘ−Ｙ波形の波形判定を行なう波形判定部と
を有することを特徴とする請求項１または２記載の波形測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の入力チャネルのそれぞれに割り当てられた測定部で測定した波形データのうち、所望の２チャネルの波形データの一方をＸ軸データとし、他方の波形データをＹ軸データとして、表示部の表示画面にＸ−Ｙ波形を表示する波形測定装置に関し、詳しくは、Ｘ−Ｙ波形の解析を容易に行なうことができる波形測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
波形測定装置（例えば、デジタルオシロスコープやペーパーレスレコーダ等）は、被測定波形を測定してデジタル信号の波形データに変換し、波形メモリに格納する。そして、波形メモリに格納した波形データの解析を行うと共に、この解析結果および波形データを表示処理部を介して表示部の表示画面に波形表示するように構成されたものであり、各種分野の研究開発、品質管理、保守作業等において広く使用されている（例えば、特許文献１、特許文献２参照）。
【０００３】
図７は、従来の波形測定装置の構成を示した図である。図７において、入力チャネルＣＨ１〜ＣＨ４は、被測定波形が入力される。測定部１は、入力チャネルＣＨ１〜ＣＨ４のそれぞれに設けられ、入力チャネルＣＨ１〜ＣＨ４からの被測定波形が入力され、波形データを出力する。なお、装置に入力される被測定波形を入力波形と呼ぶ。
【０００４】
波形メモリ２は、波形データ記憶部であり、測定部１が出力する波形データを格納する。操作制御部３は、ユーザが装置に対して行なう操作を受け付け、操作内容（測定条件、表示条件等）を出力する。なお、ユーザは例えば、装置前面に設けられるパネルキーやロータリーノブ、装置に接続されるマウスやキーボード等を操作する。
【０００５】
ＲＯＭ（Read Only Memory）４は、装置を動作させるプログラムを格納する。ＲＡＭ（Random Access Memory）５は、波形データや操作内容等の各種データを一時的に格納する。表示部６は、波形データの波形表示や、波形データの解析結果の表示等を行なう。
【０００６】
トリガ検出部７は、測定部１からの波形データによって、波形データを波形メモリ２に格納するタイミングを検出し、波形メモリ２にトリガ信号を出力する。ＣＰＵ（Central Processing Unit）８は、ＲＯＭ４、ＲＡＭ５に接続され、ＲＯＭ４のプログラムを読み出し、このプログラムに従って装置全体を制御する。また、操作制御部３の操作内容に従って、トリガ検出部７にトリガ条件を設定したり、波形メモリ２から波形データを読み出して表示部６の表示画面に波形表示や解析結果の表示等を行なう。
【０００７】
このような装置の動作を説明する。
測定部１のそれぞれが、入力チャネルＣＨ１〜ＣＨ４の入力波形を、測定部１に設けられるＡＤ変換器でデジタル信号に変換して波形データとして波形メモリ２に出力する。また、トリガ検出部７が、予め設定されたトリガ条件となる入力波形を検出すると、トリガ信号を波形メモリ２に出力する。このトリガ信号に従って、波形メモリ２が所望の波形データを格納する。
【０００８】
そして、ＣＰＵ８が操作制御部３からの操作内容に従って波形メモリ２の波形データを読み出し、ＲＡＭ５に波形データや操作内容を一時格納してデータ処理を行い、表示処理部（図示せず）を介して表示部６の表示画面に波形表示や波形解析の結果を表示させる。
【０００９】
波形表示の方法は、Ｘ軸（横軸）データを時間とし、Ｙ軸（縦軸）データを各チャネルＣＨ１〜ＣＨ４の振幅値である電圧値とするｔ−Ｙ座標上に波形表示（ｔ−Ｙ波形と呼ぶ）するものがある。
【００１０】
さらに、ｔ−Ｙ波形とは別に、所望の２チャネル（例えば、チャネルＣＨ１とチャネルＣＨ２）の波形データの一方（例えば、チャネルＣＨ１の電圧値）をＸ軸データとし、他方の波形データ（例えば、チャネルＣＨ２の電圧値）をＹ軸データとするＸ−Ｙ座標上に波形表示（Ｘ−Ｙ波形と呼ぶ）するものもある。このようなＸ−Ｙ波形表示は、材料の強度試験、自動車のエンジン特性試験等に非常に有用である。例えば、材料試験では、鉄・鋼などの材料を伸ばす方向に徐々に力を加え、加えた力をＸ軸、そのときの材料の伸びをＹ軸とすることにより、「応力−ひずみ曲線」を表示することができる。また、自動車のエンジン特性試験では、ピストンの動きをＸ軸、シリンダ筒内圧をＹ軸とすることにより、エンジンの特性を容易に解析することができる。
【００１１】
続いて、トリガ検出部７に設定されるトリガ条件の説明をする。ここで、図８、図９は、トリガ条件の例を示した図である。
トリガ条件は、操作制御部３からユーザによって入力され、ＣＰＵ８を介してトリガ検出部７に設定される。トリガ条件は、ｔ−Ｙ座標上で、必要な入力チャネルＣＨ１〜ＣＨ４ごとに設定される。
【００１２】
トリガ条件の設定は、入力チャネルＣＨ１〜ＣＨ４ごとに電圧レベルで行なわれる。例えば、図８（ａ）に示すように、入力チャネルＣＨ１の電圧値が所定のトリガレベルＶ１を超える場合をトリガ条件とすれば、このトリガ条件を満たすとトリガ成立となり、トリガ検出部７がトリガ信号を出力する。
【００１３】
また、図８（ｂ）に示すように各チャネルごとにトリガ条件（チャネルＣＨ１の電圧レベルをＶ１、チャネルＣＨ２の電圧レベルをＶ２）を設定し、複数のトリガ条件をアンドまたはオアで組み合わせて、組み合わせたトリガ条件でトリガ成立となり、トリガ検出部７がトリガ信号を出力するようにしてもよい。
【００１４】
さらに、入力波形がトリガレベルＶ１を越えるとトリガ成立として、トリガ検出部７がトリガ信号を出力するトリガ条件をエッジトリガという（図９（ａ）参照）。一方、上限のトリガレベルＶＨと下限のトリガレベルＶＬを定め、この領域内に入力波形が入る（または出る）と、トリガ成立として、トリガ検出部７がトリガ信号を出力するようにしてもよい。このような領域によるトリガ条件は、ウィンドウトリガと呼ばれる（図９（ｂ）参照）。
【００１５】
【特許文献１】特開平１１−１１８５３２公報（段落番号０００２−００２２、第４−６図）
【特許文献２】特開平５−１４２２５９号公報（段落番号０００２−０００３、第３図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
このように様々な条件でトリガを設定するので、所望の入力波形の測定、表示を容易に行なうことができる。そして、Ｘ−Ｙ波形表示して表示画面上にトレースすることによって、２つの入力波形の相関を解析することもできる。
【００１７】
しかしながら、トリガ条件の設定は、ｔ−Ｙ波形表示されるｔ−Ｙ座標上で各チャンネルＣＨ１〜ＣＨ４ごとに行なわれ、電圧値の変動に対して設定される。従って、Ｘ−Ｙ波形表示では、所望のトレース位置にＸ−Ｙ波形が入った（または出た）かを判断することが困難であり、所望の条件となるＸ−Ｙ波形の解析を行なうことが難しいという問題があった。
【００１８】
そこで本発明の目的は、Ｘ−Ｙ波形の解析を容易に行なうことができる波形測定装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１９】
請求項１記載の発明は、
複数の入力チャネルのそれぞれに割り当てられた測定部で測定した波形データのうち、所望の２チャネルの波形データの一方をＸ軸データとし、他方の波形データをＹ軸データとして、表示部の表示画面にＸ−Ｙ波形を表示する波形測定装置において、
前記Ｘ−Ｙ波形が表示される表示画面に閉領域を生成する閉領域生成部と、
この閉領域生成部が生成した閉領域にＸ−Ｙ波形が入っているか否かを判断する判断部と
を設けたことを特徴とするものである。
【００２０】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、
閉領域生成部は、複数の閉領域を設定することを特徴とするものである。
【００２１】
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、
判断部は、
前記閉領域生成部が生成したＸ−Ｙ座標上の閉領域を、Ｘ軸データを時間としＹ軸データを前記波形データとするｔ−Ｙ座標上の領域に変換する変換部と、
この変換部が変換した領域をトリガ条件とし、トリガ信号を発生するトリガ検出部と
を有することを特徴とするものである。
【００２２】
請求項４記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、
Ｘ−Ｙ波形を表示する波形データの組を複数保存する波形データ記憶部を設け、
判断部は、
前記閉領域生成部が生成したＸ−Ｙ座標上の閉領域を、Ｘ軸データを時間としＹ軸データを前記波形データとするｔ−Ｙ座標上の領域に変換する変換部と、
この変換部の変換した領域を検索条件とし、前記波形データ記憶部から所望の波形データの組を検索する検索部と
を有することを特徴とするものである。
【００２３】
請求項５記載の発明は、請求項１または２記載の発明において、
判断部は、
前記閉領域生成部が生成したＸ−Ｙ座標上の閉領域を、Ｘ軸データを時間としＹ軸データを前記波形データとするｔ−Ｙ座標上の領域に変換する変換部と、
この変換部の変換した領域を波形判定の条件とし、Ｘ−Ｙ波形の波形判定を行なう波形判定部と
を有することを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００２４】
本発明によれば、以下のような効果がある。
請求項１〜５によれば、閉領域生成部が、Ｘ−Ｙ波形が表示される領域で、Ｘ−Ｙ波形のトレース位置として閉領域を設定し、判断部が、Ｘ−Ｙ波形が閉領域に入っているか否かを判断する。すなわちユーザは、２つの入力波形の相関を示すＸ−Ｙ波形を見ながら、視覚的に閉領域を設定することができる。これにより、所望の閉領域にＸ−Ｙ波形が入っているか否かを容易に判断でき、Ｘ−Ｙ波形の解析を容易に行なうことができる。
【００２５】
請求項３によれば、閉領域生成部が、Ｘ−Ｙ波形が表示される領域で、Ｘ−Ｙ波形のトレース位置としてトリガ条件の閉領域を設定し、変換部がＸ−Ｙ座標上のトリガ条件をｔ−Ｙ座標上のトリガ条件に変換する。すなわちユーザは、２つの入力波形の相関を示すＸ−Ｙ波形を見ながらトリガ条件を設定することができ、視覚的に閉領域を設定できる。これにより、所望の条件となるＸ−Ｙ波形を測定することができる。従って、Ｘ−Ｙ波形の解析を容易に行なうことができる。
【００２６】
請求項４によれば、閉領域生成部が、Ｘ−Ｙ波形が表示される領域で、Ｘ−Ｙ波形のトレース位置として検索条件の閉領域を設定し、変換部がＸ−Ｙ座標上の検索条件をｔ−Ｙ座標上の検索条件に変換する。すなわちユーザは、２つの入力波形の相関を示すＸ−Ｙ波形を見ながら検索条件を設定することができ、視覚的に閉領域を設定できる。これにより、所望の検索条件となる波形データの組を波形データ記憶部から容易に検索することができる。従って、Ｘ−Ｙ波形の解析を容易に行なうことができる。
【００２７】
請求項５によれば、閉領域生成部が、Ｘ−Ｙ波形が表示される領域で、Ｘ−Ｙ波形のトレース位置として判定条件の閉領域を設定し、変換部がＸ−Ｙ座標上の判定条件をｔ−Ｙ座標上の判定条件に変換する。すなわちユーザは、２つの入力波形の相関を示すＸ−Ｙ波形を見ながら判定条件を設定することができ、視覚的に閉領域を設定できる。これにより、所望の判定条件でＸ−Ｙ波形が異常な波形か正常な波形かを容易に判定することができる。従って、Ｘ−Ｙ波形の解析を容易に行なうことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２８】
以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
図１は、本発明の一実施例を示す構成図である。ここで、図７と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。図１において、閉領域生成部９、変換部１０が新たに設けられる。また、トリガ検出部７の代わりにトリガ検出部１１が設けられる。
【００２９】
閉領域生成部９は、ＣＰＵ８と接続され、Ｘ−Ｙ波形が表示される表示部６の表示画面に閉領域を生成し、表示する。変換部１０は、閉領域生成部９が生成したＸ−Ｙ座標上の閉領域をｔ−Ｙ座標上の領域（例えば、ウィンドウ）に変換し、トリガ検出部１１に出力する。トリガ検出部１１は、変換部９が変換した領域をトリガ条件とし、この領域にＸ−Ｙ表示される波形データのそれぞれが入ったと判断するとトリガ信号を発生し、波形メモリ２に出力する。なお、変換部１０とトリガ検出部１１とが判断部である。
【００３０】
このような装置の動作を説明する。まず、トリガ条件の設定を説明する。ここで、図２は、表示部６の表示画面に表示される閉領域の一例を示した図である。図２において、Ｘ軸をチャネルＣＨ１とし、Ｙ軸をチャネルＣＨ２とし、各軸の下限値を−５［Ｖ］、上限値を＋５［Ｖ］とする例を示している。また、図３は、閉領域１００を生成する動作を示したフローチャートである。
【００３１】
まず、Ｘ−Ｙ波形表示される状態で、閉領域生成部９が、Ｘ軸に２本のカーソルＣＸ１、ＣＸ２、Ｙ軸に２本のカーソルＣＹ１、ＣＹ２を表示し、これら４本のカーソルで閉領域１００を生成する。そして、ユーザの操作に従って、操作制御部３がトリガ条件に関する操作内容をＣＰＵ８を介して、閉領域生成部９に出力する。そして、閉領域生成部９が、閉領域のＸ軸方向の条件の変更を監視し、条件が変更されると、Ｘ軸に割り当てられているチャネル（図２では、ＣＨ１）のウィンドウトリガ条件を変更する（Ｓ１０、Ｓ１１）。
【００３２】
Ｘ軸方向の条件が変更されない場合またはＸ軸の変更終了後に、閉領域のＹ軸方向の条件が変更されると、Ｙ軸に割り当てられているチャネル（図２では、ＣＨ２）のウィンドウトリガ条件を変更する（Ｓ１２、Ｓ１３）
【００３３】
Ｙ軸方向の条件が変更されない場合またはＹ軸の変更終了後に、閉領域生成部９が、カーソルＣＸ１、ＣＸ２、ＣＹ１、ＣＹ２によるＸ−Ｙ表示画面上の閉領域１００を、例えば、図２に示すように再描画する（Ｓ１２、Ｓ１４）。
【００３４】
そして、閉領域生成部９が、再描画した閉領域１００を変換部１０に出力する。つまり、各軸に割り当てられているチャネル、各軸のカーソルの位置を変換部１０に出力する。さらに、変換部１０がＸ−Ｙ座標上で生成された閉領域１００から、ｔ−Ｙ座標上の領域に変換する。具体的には、例えば、Ｘ軸の場合、Ｘ軸領域境界（カーソルＣＸ１、ＣＸ２で挟まれた領域とそれ以外の境界）の大きい方の数値をウィンドウトリガの上限値に、Ｘ軸領域境界の小さい方の数値をウィンドウトリガの下限値として設定する。図２では、カーソルＣＸ１が、チャネルＣＨ１のウィンドウトリガの上限値となる。カーソルＣＸ２が、チャネルＣＨ１のウィンドウトリガの下限値となる。同様にカーソルＣＹ１、ＣＹ２のそれぞれが、チャネルＣＨ２のウィンドウトリガの上限値と下限値になる。そして、チャネルＣＨ１、ＣＨ２のウィンドウトリガをアンドした条件をトリガ条件として、トリガ検出部１１に出力する（Ｓ１５）。
【００３５】
そして、閉領域１００の生成を終了する場合、トリガ条件の設定が終了し（Ｓ１６）、閉領域１００の生成を終了しない場合、再度各軸の変更、再描画、トリガ条件の出力（Ｓ１６、Ｓ１１〜Ｓ１５）を行なう。
【００３６】
続いて、トリガ信号を発生し、波形データを取得する動作を説明する。測定部１のそれぞれが、入力チャネルＣＨ１〜ＣＨ４の入力波形を、測定部１に設けられるＡＤ変換器でデジタル信号に変換して波形データとして波形メモリ２、トリガ検出部１１に出力する。
【００３７】
そして、トリガ検出部１１が、閉領域生成部９によって生成された閉領域（チャネルＣＨ１のウィンドウトリガとチャネルＣＨ２のウィンドウトリガをアンドした領域）１００にチャネルＣＨ１、ＣＨ２それぞれの入力波形が入いったと判断すると、つまりトリガ条件となる入力波形を検出すると、トリガ信号を波形メモリ２に出力する。このトリガ信号に従って、波形メモリ２が所望の波形データを格納する。
【００３８】
そして、ＣＰＵ８が操作制御部３からの操作内容に従って波形メモリ２の波形データを読み出し、ＲＡＭ５に波形データや操作内容を一時格納してデータ処理を行い、表示処理部（図示せず）を介して表示部６にＸ−Ｙ波形表示や波形解析の結果を出力する。なお、閉領域１００もＸ−Ｙ波形と共に表示しておくとよい。
【００３９】
つまり、トリガ信号を発生し、波形データを取得する動作は、図７に示す装置の動作とほぼ同様であり、異なる動作は、トリガ条件が変換部１０から入力される部分である。
【００４０】
このように、閉領域生成部９が、Ｘ−Ｙ波形が表示される領域で、Ｘ−Ｙ波形のトレース位置としてトリガ条件の閉領域１００を設定し、変換部１０がＸ−Ｙ座標上のトリガ条件をｔ−Ｙ座標上のトリガ条件に変換する。すなわちユーザは、２つの入力波形の相関を示すＸ−Ｙ波形を見ながらトリガ条件を設定することができ、視覚的に閉領域１００を設定できる。これにより、所望の条件となるＸ−Ｙ波形を測定することができる。従って、Ｘ−Ｙ波形の解析を容易に行なうことができる。
【００４１】
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、以下のようなものでもよい。
図１に示す装置において、トリガ検出部１１が、閉領域１００にＸ−Ｙ波形が入いったと判断すると、トリガ信号を波形メモリ２に出力する構成を示したが、例えば、図４に示すように閉領域１０１からＸ−Ｙ波形２００が出たと判断すると、トリガ信号を波形メモリ２に出力してもよい。
【００４２】
また、図１に示す装置において、閉領域生成部９が閉領域１００を１個だけ設ける構成を示したが、図５に示すように複数の閉領域１０２〜１０４を設けてもよい。もちろん変換部１０は、各閉領域１０２〜１０４をｔ−Ｙ座標上のウィンドウに変換し、トリガ検出部１１に出力する。
【００４３】
また、図１に示す装置において、閉領域１００をトリガ条件として、トリガ検出部１１がトリガ信号を出力する構成を示したが、図示しない検索部を設け、この検索部が閉領域を検索条件とし、波形データ記憶部である波形メモリ２から所望の波形データの組を検索してもよい。すなわち、波形メモリ２には、Ｘ−Ｙ波形を表示する波形データの組を複数個保存することが多い。なお、変換部１０と図示しない検索部とが判断部である。また、図示しない検索部は、トリガ検出部１１と同様にｔ−Ｙ座標上で検索を行なう。
【００４４】
従って、閉領域生成部９が生成した閉領域を、変換部１０がｔ−Ｙ座標上の領域に変換し、図示しない検索部に変換した領域を出力する。そして、図示しない検索部が、波形メモリ２の波形データの組から検索を行なう。例えば、変換部１０によって変換された領域内にチャネルＣＨ１、ＣＨ２それぞれの入力波形が入いっている（一部または全部）と判断すると、検索条件に合致した波形データの組を抽出する。
【００４５】
ここで、図６を用いて説明する。図６（ａ）において、各波形２０２〜２０７は、波形メモリ２に格納される波形データの組である。また、閉領域１０５は、閉領域生成部９によって生成され、検索条件となる領域である。そして、図示しない検索部が、検索条件に合致した波形データの組（波形２０６）を抽出し、図６（ｂ）に示すようにＸ−Ｙ波形表示する。
【００４６】
このように、閉領域生成部９が、Ｘ−Ｙ波形が表示される領域で、Ｘ−Ｙ波形のトレース位置として検索条件の閉領域１０５を設定し、変換部１０がＸ−Ｙ座標上の検索条件をｔ−Ｙ座標上の検索条件に変換する。すなわちユーザは、２つの入力波形の相関を示すＸ−Ｙ波形を見ながら検索条件を設定することができ、視覚的に閉領域１０５を設定できる。これにより、所望の検索条件となる波形データの組を波形メモリ２から容易に検索することができる。従って、Ｘ−Ｙ波形の解析を容易に行なうことができる。
【００４７】
また、図１に示す装置において、閉領域１００をトリガ条件として、トリガ検出部１１がトリガ信号を出力する構成を示したが、図示しない波形判定部を設け、閉領域を波形の判定条件とし、Ｘ−Ｙ波形の波形判定（正常な波形か異常な波形かを判定）をしてもよい。なお、変換部１０と図示しない波形判定部とが判断部である。また、図示しない波形判定部は、トリガ検出部１１と同様にｔ−Ｙ座標上で波形判定を行なう。
【００４８】
従って、閉領域生成部９が生成した閉領域を、変換部１０がｔ−Ｙ座標上の領域に変換し、図示しない波形判定部に変換した領域を出力する。そして、図示しない波形判定部が、Ｘ−Ｙ波形の波形判定を行なう。例えば、変換部１０によって変換された領域内からチャネルＣＨ１、ＣＨ２それぞれの入力波形が一部でも出ている（または入っている）と判断すると、異常波形と判定し、アラームを出力する。
【００４９】
このように、閉領域生成部９が、Ｘ−Ｙ波形が表示される領域で、Ｘ−Ｙ波形のトレース位置として判定条件の閉領域を設定し、変換部１０がＸ−Ｙ座標上の判定条件をｔ−Ｙ座標上の判定条件に変換する。すなわちユーザは、２つの入力波形の相関を示すＸ−Ｙ波形を見ながら判定条件を設定することができ、視覚的に閉領域を設定できる。これにより、所望の判定条件でＸ−Ｙ波形が異常な波形か正常な波形かを容易に判定することができる。従って、Ｘ−Ｙ波形の解析を容易に行なうことができる。
【００５０】
さらに、図１に示す装置において、閉領域１００を４角形とする構成を示したが、閉領域はどのような形でもよく、曲線で囲まれた閉領域であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】本発明の一実施例を示す構成図である。
【図２】閉領域の一例を説明した図である。
【図３】図１に示す装置の動作を説明したフローチャートである。
【図４】トリガ条件のその他の例を示した図である。
【図５】閉領域を複数設けた一例を示した図である。
【図６】波形データの組の検索の一例を示した図である。
【図７】従来の波形測定装置の構成を示した図である。
【図８】ｔ−Ｙ波形におけるトリガ条件の例を示した図である。
【図９】ｔ−Ｙ波形におけるトリガ条件のその他の例を示した図である。
【符号の説明】
【００５２】
１  測定部
２  波形メモリ
６  表示部
９  閉領域生成部
１０  変換部
１１  トリガ検出部
ＣＨ１〜ＣＨ４  入力チャネル
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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