(57)【要約】【課題】  粒径分布測定装置のユーザが処理手順データの保存場所等について配慮を要することなく、直感的に容易な操作で処理手順データを管理及び保護でき、しかもシンプルに作成・編集・管理に係る操作を行え、更に処理手順データの再利用を促すことで効率的に改善が進み、ユーザ毎に最適な処理手順データを作成可能とする粒径分布測定装置を提供する。【解決手段】  制御測定装置が前記処理手順を示す処理手順データをユーザからの入力により受け付ける入力受付部３５と、その入力の支援をするための入力支援画面Ｃを表示する表示部３４と、メモリの所定領域にユーザの指示によることなくデータ格納部４を設定しそのデータ格納部４に前記入力受付部３５で受け付けた前記処理手順データを記録するとともに前記データ格納部４に格納されている１又は複数の前記処理手順データを取得しその内容を前記入力支援画面Ｃに表示するデータ管理部３３とを備えるようにした。【選択図】図１
2006071385.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一連の複数の処理を行って試料の粒径分布測定を行う装置本体と、前記装置本体における前記各処理の内容及び処理手順を制御するとともに前記装置本体からの測定結果をモニタする制御測定装置とを備えたものにおいて、
前記制御測定装置が、
前記処理手順を示す処理手順データを、ユーザからの入力により受け付ける入力受付部と、
その入力の支援をするための入力支援画面を表示する表示部と、
メモリの所定領域にユーザの指示によることなくデータ格納部を設定し、そのデータ格納部に、前記入力受付部で受け付けた前記処理手順データを記録するとともに、前記データ格納部に格納されている１又は複数の前記処理手順データを取得し、その内容を前記入力支援画面に表示するデータ管理部とを備えていることを特徴とする粒径分布測定装置。
【請求項２】
前記データ格納部に、少なくとも当該ユーザ専用のデータ格納領域である個人データ格納領域と、全てのユーザのためのデータ格納領域である汎用データ格納領域とが予め設定してあり、ユーザが設定した処理手順データを、前記入力支援画面において前記データ格納領域のいずれに格納するかを指定できるように構成している請求項１記載の粒径分布測定装置。
【請求項３】
前記各データ格納領域を階層構造化可能に構成してある請求項１又は２記載の粒径分布測定装置。
【請求項４】
前記処理毎の内容を示す処理データを格納している処理データ格納部を更に備え、前記表示部が、処理データ格納部から処理データを取得してその内容を前記入力支援画面に選択可能に一覧表示し、ユーザがその一覧の中から所望の処理を選択し並べることにより処理手順データを設定できるように構成している請求項１、２又は３記載の粒径分布測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、粒径分布測定に関する処理等の作成・編集・管理を支援する粒径分布測定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
今日の粒径分布測定装置は多機能化により、様々な種類の試料を様々な方法で測定することが可能であるが、一方、その利用には試料の種類や測定方法、測定後のデータ処理方法などに応じ、様々な操作や設定等の処理を所定の手順で行う必要がある。また、粒径分布の測定結果や、先行する処理の結果に応じて行うべき内容が変化する処理等もあり、粒径分布測定装置における処理の内容や処理手順を制御するためのプログラムの規模が拡大・複雑化しており、例えば開発の場で、仕様変更などに伴って類似機能の重複開発やバージョンの乱立などが起こっている。
【０００３】
そこで従来、特許文献１に示すように、機能毎の動作プログラムを有し互いに依存しない部品オブジェクトと、それらを関連付ける関連付けファイルとを利用し、関連付けファイルに基づいて展開され表示される部品オブジェクトをオペレータが操作し機能を実行できるようにしている。このようなものであれば、関連付けファイルや部品オブジェクトの修正や追加を行うことで部品オブジェクトに関する重複開発やバージョンの乱立を抑え、新たな処理手順を作成することができる。
【０００４】
しかし、新しく作成される関連付けファイルに関しては別途管理を行う必要がある。この場合、管理方針を定め、複数の保存場所に格納したファイルをファイル名に基づいて管理するのでは、例えば処理手順を表さないファイルなどに紛れ煩雑となる。また管理を支援する別個の管理用プログラムを利用するとしても、オペレーティングシステム（以下ＯＳ）標準のインタフェースを介して不用意なファイルの移動や削除、上書き等の操作が行われることによって関連付けファイルが失われることがあり、十分な注意を払う必要がある。
【特許文献１】特開２００３−１５０２１５公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
加えて、多機能化した粒径分布測定装置を容易且つ効率的に利用可能とするためには、ここで言う関連付けファイルである、処理の手順を制御する処理手順データを、汎用なものとして提供するよりも、個別のユーザが編集しその改善を行えるようなものとして提供するのが優れている。このようにするには、不用意な処理手順データの操作の防止や、作成した資産たる処理手順データの保護等を行うため積極的な管理を行い、不慣れなユーザにも容易に編集できるように支援する環境を提供するのが好ましい。
【０００６】
そこで本発明は、粒径分布測定装置のユーザが処理手順データの保存場所等について配慮を要することなく、直感的に容易な操作で処理手順データを管理及び保護でき、しかもシンプルに作成・編集・管理に係る操作を行え、更に処理手順データの再利用を促すことで効率的に改善が進み、ユーザ毎に最適な処理手順データを作成可能とする粒径分布測定装置の提供を主たる所期課題としたものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本願発明に係る分析装置は、一連の複数の処理を行って試料を分析測定する装置本体と、前記装置本体における前記各処理の内容及び処理手順を制御するとともに前記装置本体からの測定結果をモニタする制御測定装置とを備えたものにおいて、前記制御測定装置が、前記処理手順を示す処理手順データを、ユーザからの入力により受け付ける入力受付部と、その入力の支援をするための入力支援画面を表示する表示部と、メモリの所定領域にユーザの指示によることなくデータ格納部を設定し、そのデータ格納部に、前記入力受付部で受け付けた前記処理手順データを記録するとともに、前記データ格納部に格納されている１又は複数の前記処理手順データを取得し、その内容を前記入力支援画面に表示するデータ管理部とを備えていることを特徴としたものである。
【０００８】
このような粒径分布測定装置であれば、処理手順データが所定のデータ格納部へ自動的に格納されるため、複数の場所に分散されることがなく、ユーザは自らの用いる格納領域の場所を意識する必要がない。
【０００９】
また、各処理手順データが、分析測定機能から独立しているＯＳが備る汎用なファイルシステム等によって管理されるのでないため、ユーザの該ファイルシステムへの不用意な操作によるデータの消失を防げる。
【００１０】
そして、粒径分布測定装置が一元的に処理手順データを管理しているため、処理手順データの管理と編集とを同時に行え、例えば編集完了と同時又は編集作業中から処理手順データが管理されるため、他の管理プログラムや編集プログラムを併用することなくシンプルに利用できる。また、ある処理手順データの編集中に他の処理手順データの一部を引用することが容易であり、更に処理手順データの名称や作成日等の管理項目だけでなく、例えばその処理の内容等に応じた管理項目を用い積極的な管理を行うことが容易となるため、処理手順データの再利用を促すことができる。
【００１１】
そして、前記データ格納部に、少なくとも当該ユーザ専用のデータ格納領域である個人データ格納領域と、全てのユーザのためのデータ格納領域である汎用データ格納領域とが予め設定してあり、ユーザが設定した処理手順データを、前記入力支援画面において前記データ格納領域のいずれに格納するかを指定できるように構成しているものであれば、複数のユーザが一の粒径分布測定装置を共用する場合に好適に処理手順データの管理を行うことができる。
【００１２】
前記各データ格納領域を階層構造化可能に構成したものであれば、厳密な処理手順データの管理を行いながら、使い勝手を従来のファイルシステムと同様とできる。また例えば、ファイルシステムとの互換性が高まるため、使用者がデータ処理のため従来のファイルシステム上で動く各種汎用プログラム等を必要に応じて移植し、データ格納部が格納しているデータを編集等するために利用可能とすることができる。
【００１３】
前記処理毎の内容を示す処理データを格納している処理データ格納部を更に備え、前記表示部が、処理データ格納部から処理データを取得してその内容を前記入力支援画面に選択可能に一覧表示し、ユーザがその一覧の中から所望の処理を選択し並べることにより処理手順データを設定できるように構成しているものであれば、既存の処理手順データを参照したり引用したりするのに便利であり、処理手順データの継続的改善に適している。
【発明の効果】
【００１４】
このような粒径分布測定装置を用いてユーザにより効率的に処理手順データの改善が行われることで、ユーザ毎に最適化された効率的で、高精度な測定を可能とする処理手順が作成される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の実施の形態について説明する。
【００１６】
本粒径分布測定装置１は、図２に示すように、セル２１内に分散させている試料に光を照射することで、例えばドップラーやＭＩＥ散乱等の現象を起こし、射出される透過光や散乱光の検出結果を各種理論に基づいて演算することで試料に含まれる粒子の粒子径を測定するものである。図１に示すように、一連の複数の処理を行って試料を分析測定する装置本体２と、装置本体２における前記各処理の内容及び処理手順を制御するとともに前記装置本体２からの測定結果をモニタする制御測定装置３とを備えている。
【００１７】
以下に各部を説明する。
【００１８】
本実施形態に係る装置本体２は、図２に示すように、測定対象となる粒子群を内部に分散させたセル２１と、その粒子群にレンズ２２を介して光を照射する光源たる半導体レーザ２３と、セル２１を透過した透過光又はセル２１で散乱した散乱光の強度分布を検出する複数の検出器２４と、各検出器２４から出力される光強度信号に基づいて粒径分布を算出し、測定や通信を制御している制御部２６と、制御部２６より粒径分布を表す粒径分布データを受け付け、制御測定装置３へ送信し、また装置本体２を駆動するための駆動制御信号を受信する本体側送受信部２５とを備えるものである。
【００１９】
以下に装置本体２の各部を詳細に説明する
【００２０】
セル２１は、内部に分散媒に測定対象となる粒子群を分散させた透明のもので、図示しないセルホルダ等によって所定位置に着脱可能に取り付けられている。測定方法の違いに応じて代表的なものとして循環式セルやバッチ式セル等があり、循環式セルにはさらに湿式法用セル、乾式法用セル等様々な方式のものがある。本実施形態では湿式法用セルを用いており、装置本体２には図示しない、攪拌用モータや循環ポンプ等の循環系装置へ繋がれている流路が設けられており、循環式セルをこの流路へ接続することで、セル２４内部の試料を循環させている。
【００２１】
半導体レーザ２３はコヒーレントな光を発するものであり、光軸や、照射する光の強度を調整可能なものである。
【００２２】
検出器２４は、半導体レーザ２３の光軸上、及びセル２１を中心として光軸から所定角の範囲の例えば同一円周上に複数配置されているおり、光軸上を直進する透過光や試料により様々な角度へ散乱する散乱光を検出するものであり、各検出器２４は入射した光の強度に応じた光強度信号を出力する。
【００２３】
制御部２６は、半導体レーザ２３や前記循環系装置、本体側送受信部２５等を制御しているコンピュータである。検出器２４等から受け付けた光強度信号のインピーダンス変換やＡ／Ｄ変換等の処理を行い、ＭＩＥ散乱理論を用いて粒径分布を表す粒径分布データを算出し、本体側送受信部２５へ送信する。また、本体側送受信部２５より駆動制御信号を受け付け、半導体レーザ２３の光軸調整や前記攪拌用モータの回転制御等を行う。
【００２４】
本体側送受信部２５は、粒径分布データや駆動制御信号等を送受信するものであり、制御測定装置３の後述する送受信部３１と通信を行う。一時的に状況信号や駆動制御信号があらわす情報を記憶しておくバッファを備えている。
【００２５】
本実施形態に係る制御測定装置３は、図１が示すように、例えば汎用コンピュータであり、図３に示すように、ＣＰＵ１０１、内部メモリ１０２、ＨＤＤ等の外部記憶装置１０３、通信ネットワークに接続するためのモデム等の通信インタフェース１０４、ディスプレイ１０５、マウスやキーボードといった入力手段１０６等を具備する。
【００２６】
しかして本実施形態では、図１に示すように、前記コンピュータに所定のプログラムをインストールし、そのプログラムに基づいてＣＰＵ１０１や周辺機器を共働させることにより、送受信部３１、制御測定装置本体３２、データ管理部３３、表示部３４、入力受付部３５等として機能するようにしている。
【００２７】
以下に制御測定装置３の各部を詳細に説明する。
【００２８】
送受信部３１は、前記装置本体２を制御するためのコマンドである制御コマンドに基づいて駆動制御信号を生成し装置本体２へ送信し、測定結果である粒径分布データ等を受信するものである。装置本体２や制御測定装置本体３２から受け付けたデータを一時的に格納するバッファを有し、通信インタフェース１０４を駆動する。
【００２９】
制御測定装置本体３２は、送受信部３１が受信する粒径分布データ等をデータ管理部３３へ送信するものであり、また処理手順データ及びユーザからの操作を表す指示データに応じて制御コマンドに生成し、順次、送受信部３１のバッファへ制御コマンドを送信することで装置本体２を制御するものである。
【００３０】
データ管理部３３は、ＯＳの機能を利用することなく処理手順データを管理する機能を有するものであり、処理手順データを格納しているデータ格納部４と、粒径分布データなどの測定に関するデータを格納している図示しない測定データ格納部と、処理データを格納している図示しない処理データ格納部とを備え、データ記憶部４のデータの入出力を管理するものである。測定時には制御測定装置本体３２より受け付けた粒径分布データを前記測定データ格納部へ記録し、表示部３４に所定の画面を表示させる。処理手順の編集・管理時には入力受付部３５で受け付けた前記処理手順データを記録するとともに、前記データ格納部に格納されている１又は複数の前記処理手順データを取得し、その内容を表示部３４を制御することで前記入力支援画面に表示させ、更に、外部からの要求に応じ、オペレータの権限等に関わる制約を満たしつつ、データ格納部４及び前記測定データ格納部の記憶するデータの追加／変更／削除等のデータ操作を行う。以下にデータ格納部４について説明する。
【００３１】
データ格納部４は、内部メモリ１０２及び外部記憶装置１０３の所定領域にユーザの指示によることなく設定されており、外部記憶装置１０２上では一つのファイルとなっている。登録されたユーザ数個の処理手順データを格納する領域である個人用データ格納領域と、全てのユーザが共有する処理手順データを格納する領域である１つの汎用データ格納領域とを有している。各領域はファイルシステム様に階層構造を作成することが可能である。ここで、ユーザの指示によることなく設定されているとは、処理手順データの編集や実行に関わりなく常に内部メモリ１０２及び外部記憶装置１０３上に領域が確保され、データ管理部３３により管理されているということであり、これにより、例えば従来のファイルシステム上の領域に常にロックを掛けた状態とし、しかも処理手順データを扱う複数のアプリケーションがデータを破壊する危険性なしに同時利用できるようにしている。
【００３２】
処理手順データは、粒径分布測定装置１の個別の処理を表す機能毎に作成された再利用可能なプログラム部品である処理データ格納部に格納されている処理データを関係づけているものであり、各処理の行われる順序を表すデータを有している。
【００３３】
ここで個別の処理とは、例えば前記攪拌用モータの回転数の設定や前記循環ポンプを制御することによる流速の設定、半導体レーザ２３を制御することによる光軸合わせ、粒径分布の所定のフォーマットでの印刷等、測定やメンテナンス、データ処理などに関する一連の処理であるが、これら複数を合わせて行う自動化処理なども含むものである。
【００３４】
表示部３４は、所定の画面を作成し表示するものである。処理手順の編集・管理時には処理手順に関するデータをデータ格納部４から取得するとともに、その処理手順に関するデータに基づいて図４に示すような入力支援画面Ｃを生成し、ディスプレイ１０５内に表示するものである。
【００３５】
入力受付部３５は、処理手順を示す処理手順データをユーザからの入力により受け付けるものであり、例えばキーボードなどの入力手段１０６を備えたものである。処理手順の編集時には処理手順データの、測定の制御時には指示データの入力に用いられる。
【００３６】
図４は入力支援画面Ｃの一例を示している。入力支援画面Ｃには、例えばボタンやツリービュー等、データ操作可能に表示されるソフトウェアコンポーネント又はこれら複数を機能的に統合してなるものが配置されており、これらを用いてデータ格納部４が格納している処理手順データを表すデータ格納部表示領域Ｃ４と、前記処理手順データの詳細を表す処理手順データ表示領域Ｃ５と、処理手順データを構成する各個別処理を表す処理パレット領域Ｃ６とを表示するようにしている。
【００３７】
以下に各部を説明する。
【００３８】
データ格納部表示領域Ｃ４は、データ格納部４を表すツリービューであり、データ格納部４が格納している処理手順データの存在を、格納領域や分類の階層構造に従って階層的に表示するものである。階層構造を整理する「整理」ボタンＣ３をクリックすることで処理手順データの内容を操作可能とする整理用画面Ｃ４０を開くことができる。また、ドラッグ・アンド・ドロップにより階層構造内での処理手順データの位置を変えることができる。処理手順データには名称の他にコメントを設定することができ、対応するデータ格納部表示領域Ｃ４上の表示をポイントすることで表示させたり、検索の対象としたりすることができる。そして、処理手順データを、処理手順データ表示領域Ｃ５に表れる編集中の処理手順データの所定の位置へドラッグ・アンド・ドロップすることで、階層構造を有する処理手順データを作成することができる。
【００３９】
以下に整理用画面Ｃ４０を説明する。
【００４０】
図５の（ａ）はデータ格納部４の管理を行う整理用画面Ｃ４０を示している。新たな階層を作成する「新しいフォルダ」ボタンＣ４１と、処理手順データの名称を変更する「名前の変更」ボタンＣ４２と、処理手順データが整理し管理されている階層を移動させる「移動」ボタンＣ４３と、処理手順データを削除する「削除」ボタンＣ４４と、処理データをＯＳ標準のファイルシステムへファイルとして保存する「ファイルへ保存」ボタンＣ４５と、前記ファイルから処理手順データを読み出す「ファイルから読出」ボタンＣ４６と、データ格納部表示領域Ｃ４と、整理用画面Ｃ４０を閉じる「ＯＫ」ボタンＣ４７とを備えている。
【００４１】
図４に示す処理手順データ表示領域Ｃ５は、前記データ格納部表示領域Ｃ４に含まれる一の処理手順データの内容を表すツリービューであり、処理データを処理されるべき時系列で編集可能に表示するものである。データ格納部表示領域Ｃ４が表示している一の処理手順データを選択し、データ格納部４から読み出するための「読み出し」ボタンＣ２をクリックすることで前記処理手順データの詳細が表示され編集可能状態となる。各処理をダブルクリックすると、処理設定画面Ｃ５０が表示され、処理の名称や、例えば処理の内容を表すツールチップ、処理毎に定められた項目等の設定を行える。ここで設定されたツールチップは、処理手順データを実行するものであるナビゲータの使用時に、ユーザが各処理を表す表示をポイントすることで画面に現れるものであるが、もちろん処理手順データの編集時に各処理をポイントすることで現れ、処理の内容を表すようにしても構わない。そして、ドラッグ・アンド・ドロップやで各処理手順の処理される順序等を変えることができるようにしている。また、コピー・アンド・ペーストにより一時的な記憶領域に取り込み、後で他の処理手順データへ挿入できるようにすることも可能である。データ格納部４へ追加を行う「追加」ボタンＣ１をクリックすることで編集内容を保存し該処理手順データの編集を終了する。
【００４２】
以下に処理設定画面Ｃ５０を説明する。
【００４３】
図５の（ｂ）は処理の項目を設定する処理設定画面Ｃ５０を示している。名前を入力する名前入力領域Ｃ５１と、説明を入力するツールチップ入力領域Ｃ５２と、全ての入力を確定させる「ＯＫ」ボタンＣ５３とキャンセルする「キャンセル」ボタンＣ５４とを備えている。上記の他処理に予め定められた項目がある場合には、名前入力領域Ｃ５１等と同様に各項目を入力する特性入力領域が表示され、その項目に入力し設定を行うことにより、例えば実行時の処理の内容を修飾することができる。
【００４４】
処理パレット領域Ｃ６は、粒径分布測定装置１の個別機能を実現するプログラム部品である処理データの一覧を表示するリストビューである。ユーザはこの一覧から選んだ処理データを例えばドラッグ・アンド・ドロップ操作等により、処理手順データ表示領域Ｃ５に表示される処理手順データの所定箇所へ追加することができる。
【００４５】
以下に図１を参照しながら、図６のフローチャートを用いて本粒径分布測定装置の処理手順編集に係る一連の動作の一例を説明する。
【００４６】
ユーザが、プログラムを起動すると、データ管理部３３が、外部記憶装置１０３より処理手順データを内部メモリ１０２へ自動的に読み込み（ステップＳａ１）、表示部３４が、図４に示す入力支援画面Ｃを表示し、処理手順データに基づいてデータ格納部表示領域Ｃ４を表示する。
【００４７】
ユーザが、編集を行う処理手順データをデータ格納部表示領域Ｃ４から選択し（ステップＳａ２）読出ボタンＣ２を押すと、表示部３４が、処理手順データ表示領域Ｃ５の内容を表示させる。
【００４８】
ユーザが、処理パレット領域Ｃ６から処理データを処理手順データ表示領域Ｃ５へドラッグ・アンド・ドロップすることなどにより、処理手順データを編集する（ステップＳａ３）。
【００４９】
ユーザが、処理手順データ表示領域Ｃ５から処理部品を選択し、その項目を設定する（ステップＳａ４）。
【００５０】
ユーザが、追加ボタンＣ１を押し、編集した処理手順データを登録する（ステップＳａ５）。
【００５１】
ユーザによりＯＫボタンＣ９が押されると、データ管理部３３が、内部メモリ１０２に格納されている変更された処理手順データを外部記憶装置１０３へ保存すし（ステップＳａ６）、プログラムが終了する。
【００５２】
このようにして作成又は変更された処理手順データは、ユーザが、表示部３４が表示する図示しないナビゲータ編集画面を用いて、測定実行時にユーザへ測定手順をガイドするものであるナビゲータへ実行可能な処理手順データとして登録する。
【００５３】
処理手順データ実行時には、図７に示すように、主に制御測定装置３２が、処理手順データをデータ管理部３３より取り出し、解釈・処理し、更に入力受付部３５から入力される指示データに基づいて制御コマンドを発行及び送信する。そして、前記制御コマンドに基づいて本体側制御部２６が、装置本体２を制御することで粒径分布の測定が行われ、得られる粒径分布データがデータ格納部４の備える前記測定データ格納部へ格納される。なお、階層構造を持つ処理手順データは、例えばより深い階層の処理がより浅い階層の処理へ割り込むように展開され順序付けられるようにすることで、実行可能とすることができる。
【００５４】
本実施形態にある粒径分布測定装置１であれば、ユーザが個人用であるか汎用であるかを指示するだけで処理手順データを所定の格納領域へ自動的に格納するため、例えば処理手順を表さないファイルに紛れることがなく、また、当該ユーザの個人用格納領域と、汎用又は他人の処理手順データとが区別されているため、ユーザは保存場所を意識する必要がない。しかも、必要に応じて例えば個人的な階層構造を作成することで柔軟に管理することができる。
【００５５】
また、各処理手順データが、分析測定に係る機能から独立しているＯＳが備える汎用なファイルシステム等によって管理されるのでなくいため、該ユーザの不用意な操作によるデータの消失を防げ、また盗用なども防ぐことができる。
【００５６】
そして、粒径分布測定装置１が一元的に処理手順データを管理しているため、処理手順データの管理と編集とを同時に行え、例えば編集完了と同時に管理されるためシンプルな操作となる。そして、入力支援画面Ｃが処理パレット領域Ｃ６とデータ格納部表示領域Ｃ４とを同時に表示しているため、例えばある処理手順データの編集中に他の処理手順データの一部をコピー・アンド・ペーストにより引用することが容易である。また、処理手順データ表示領域Ｃ５へ、隣接するデータ格納部表示領域Ｃ４や処理パレット領域Ｃ６から、処理手順データや処理データをドラッグ・アンド・ドロップすることで容易に階層構造を有する処理手順データを作成することができ、更に処理パレット領域Ｃ６や、処理手順データ表示領域Ｃ５が、処理の内容の説明を表示するようできるため、積極的な管理を行え、処理手順データの再利用を促すことができる。また、メモリの所定領域にユーザの指示によることなくデータ格納部を設定しているので、例えば従来のファイルシステム上の領域に常にロックを掛けた状態としながら、処理手順データを扱う複数のアプリケーションがデータを破壊する危険性なしに同時利用できるようになる。このため、例えば従来のファイルシステムからの不用意なアクセスを禁止しつつ、粒径分布測定装置１の使用中に処理手順データの編集を行うことも可能となり、ユーザはデータへのアクセスについて考慮する必要がなく、また使いやすい。
【００５７】
なお、本発明は上記実施形態に限られない。
【００５８】
ユーザ管理機能を併用し、制御測定装置が測定者を自動判別することで、データ管理部へのアクセスを制限するようにすれば、各処理手順データについて編集可能や実行可能等のユーザの権限を設定し、利用可能なユーザを限定できるため、複数人が粒径分布測定装置を共用する場合に都合がよい。
【００５９】
上記施形態では処理手順は分岐することがないが、分岐させても構わない。このようにする場合、処理手順データに含まれる順序を表すデータを、分岐を表すツリー上での位置を示すものとすればよい。
【００６０】
処理パレット領域に表示される管理項目は、処理の内容の説明と形式とに限られるものでなく、作成日や作成者等を表示させてもよい。また、処理データの内容を解析し、例えば処理データ中に含まれるコメント等を自動的に管理項目へ設定するものであれば、ユーザが別途説明を設定することなく処理データの概要を把握できるようになる等、より積極的な管理が行え、再利用の促進に供する。
【００６１】
また、例えば分析測定時には、測定データ格納部に格納されている測定結果や測定過程で得られるデータと、処理手順データが備える各処理とを対応付けて格納しておくことで、このデータを測定手順の継続的改善や自動化等に供することができる。
【００６２】
作成した処理手順を、処理パレット領域に登録可能とすれば、再利用がより容易になる。このような場合は、処理の依存関係を管理し、処理パレット領域が依存対象である処理を表示するようにし、また整理画面が依存対象の削除を抑制するようにすれば好ましい。
【００６３】
前記各構成の一部又は全部を適宣組み合わせてもよい。
【００６４】
その他本発明の趣旨を逸脱しない範囲で様々な変形が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】本願発明の実施形態における粒径分布測定装置の各部を示す粒径分布測定装置説明図。
【図２】同実施形態における装置本体の各部を示す装置本体説明図。
【図３】同実施形態における制御測定装置のハードウェア構成を示すハードウェア構成図。
【図４】同実施形態における入力支援画面の構成を示す入力支援画面説明図
【図５】同実施形態における入力支援画面に付随する画面を説明する付随画面説明図
【図６】同実施形態における動作の一例を示すフローチャート。
【図７】同実施形態における測定実行時の、制御管理装置の各部間の情報の流れを示す測定実行状態説明図。
【符号の説明】
【００６６】
１…粒径分布測定装置
２…装置本体
３…制御測定装置
３３…データ管理部
３４…表示部
３５…入力受付部
４…データ格納部
Ｃ…入力支援画面
【図１】
2006071385.tif 000003
【図２】
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【図３】
2006071385.tif 000005
【図４】
2006071385.tif 000006
【図５】
2006071385.tif 000007
【図６】
2006071385.tif 000008
【図７】
2006071385.tif 000009