(57)【要約】【課題】  論理的なキー情報又はキー押下の間隔を、擬似的かつ忠実に再現することのできる試験支援装置を得る。【解決手段】  キー入力情報に基づく制御を実行する制御部、入力された上記キー入力情報を上記制御部へ通知するキー入力Ｉ／Ｆ部、操作されるキーの種類及び当該キーを押し続ける押下時間を対応付けたキー操作情報を記憶する記憶部、及びこの記憶部の記憶した上記キーの種類及び当該キーの押下開始を上記キー入力情報として上記キー入力Ｉ／Ｆ部へ出力し、当該キーに対応付けられた上記押下時間経過時に当該キーの押下終了を上記キー入力情報として上記キー入力Ｉ／Ｆ部へ出力する擬似キー操作発生部とを備えた。【選択図】          図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
キー入力情報に基づく制御を実行する制御部、
入力された上記キー入力情報を上記制御部へ通知するキー入力Ｉ／Ｆ部、
操作されるキーの種類及び当該キーを押し続ける押下時間を対応付けたキー操作情報を記憶する記憶部、
及びこの記憶部の記憶した上記キーの種類及び当該キーの押下開始を上記キー入力情報として上記キー入力Ｉ／Ｆ部へ出力し、当該キーに対応付けられた上記押下時間経過時に当該キーの押下終了を上記キー入力情報として上記キー入力Ｉ／Ｆ部へ出力する擬似キー操作発生部と
を備えたことを特徴とする試験支援装置。
【請求項２】
キー入力情報に基づく制御を実行する制御部、
入力された上記キー入力情報を上記制御部へ通知するキー入力Ｉ／Ｆ部、
操作されるキーの種類及び当該キーの押下と直前のキーの押下との間隙時間を対応付けたキー操作情報を記憶する記憶部、
及び上記直前のキーを押下してから上記間隙時間経過後に当該間隙時間に対応付けられた上記キーの種類を上記キー入力情報として上記キー入力Ｉ／Ｆ部へ出力する擬似キー操作発生部
を備えたことを特徴とする試験支援装置。
【請求項３】
記憶部は、１組のキー操作情報が同一かつ連続する回数を当該キー操作情報に対応付けて記憶し、
擬似キー操作発生部は、上記記憶部に記憶した上記キー操作情報に基づく処理を上記回数繰り返す
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の試験支援装置。
【請求項４】
記憶部は、キー操作情報を組み合わせることにより実現される試験項目の実行回数を記憶し、
擬似キー操作発生部は、上記記憶部に記憶した上記試験項目を上記実行回数繰り返す
ことを特徴とする請求項１又は２に記載の試験支援装置。
【請求項５】
記憶部は、試験実行開始のための特殊キー情報を記憶し、
擬似キー操作発生部は、上記記憶部の記憶した上記特殊キー情報が入力されることにより試験項目の実行を開始する
ことを特徴とする請求項４に記載の電子機器の試験方法。
【請求項６】
記憶部は、試験実行停止のための特殊キー情報を記憶し、
擬似キー操作発生部は、上記記憶部の記憶した上記特殊キー情報が入力されることにより試験項目の実行を停止する
ことを特徴とする請求項４記載の試験支援装置。
【請求項７】
記憶部は、試験項目をキー操作情報単位で実行するステップ実行のための特殊キー情報を記憶し、
擬似キー操作発生部は、上記記憶部の記憶した上記特殊キー情報が入力されることにより上記試験項目のステップ実行を開始する
ことを特徴とする請求項４記載の試験支援装置。
【請求項８】
記憶部は、間隙時間を変化するための係数を記憶し、
擬似キー操作発生部は、直前のキーを押下してから上記間隙時間及び上記係数に基づく時間経過後に当該間隙時間に対応付けられたキーの種類をキー入力情報としてキー入力Ｉ／Ｆ部へ出力する
を備えたことを特徴とする請求項２記載の試験支援装置。
【請求項９】
入力されたキー入力情報に基づいてキー操作情報を記憶部へ記憶させるキー操作記録部
を備えたことを特徴とする請求項４記載の試験支援装置。
【請求項１０】
記憶部に記憶したキー操作情報を変更させるキー操作情報編集部
を備えたことを特徴とする請求項４記載の試験支援装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、例えば携帯電話機等の電子機器を試験する試験支援装置に関し、特に、電子機器におけるキー操作を擬似的に発生させて試験を自動化する試験支援装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来技術として、オペレータの操作キーコードを入力後、該キーコードを用いてオペレータの操作を代行して手順を再現し、さらに操作速度を変化させることにより局部の手順を分析チェックすることが可能となる情報処理装置の試験方法がある（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】特公平７−６９８５２号公報（第２〜４頁、図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従来技術において、物理的に実装可能なキーの数を制限して、キーの短押し、長押し又は連続押しなどによって論理的にキーの種類を増やすように工夫されている小型の電子機器に適用した場合、物理的なキー情報は再現できるが、論理的なキー情報は再現できないという問題点があった。
また、従来技術において、キーの操作速度を一律に変更できるものの、キー押下の間隔までは個別に調整することができないので、ユーザの操作を完全に再現することができない問題点があった。
【０００５】
この発明は、上記のような問題点を解消するためになされたもので、論理的なキー情報又はキー押下の間隔を擬似的かつ忠実に再現することのできる試験支援装置を得ることを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明の請求項１に係る試験支援装置は、キー入力情報に基づく制御を実行する制御部、入力された上記キー入力情報を上記制御部へ通知するキー入力Ｉ／Ｆ部、操作されるキーの種類及び当該キーを押し続ける押下時間を対応付けたキー操作情報を記憶する記憶部、及びこの記憶部の記憶した上記キーの種類及び当該キーの押下開始を上記キー入力情報として上記キー入力Ｉ／Ｆ部へ出力し、当該キーに対応付けられた上記押下時間経過時に当該キーの押下終了を上記キー入力情報として上記キー入力Ｉ／Ｆ部へ出力する擬似キー操作発生部とを備えたものである。
【０００７】
また、この発明の請求項２に係る試験支援装置は、キー入力情報に基づく制御を実行する制御部、入力された上記キー入力情報を上記制御部へ通知するキー入力Ｉ／Ｆ部、操作されるキーの種類及び当該キーの押下と直前のキーの押下との間隙時間を対応付けたキー操作情報を記憶する記憶部、及び上記直前のキーを押下してから上記間隙時間経過後に当該間隙時間に対応付けられた上記キーの種類を上記キー入力情報として上記キー入力Ｉ／Ｆ部へ出力する擬似キー操作発生部を備えたものである。
【発明の効果】
【０００８】
この発明の請求項１に係る試験支援装置は、記憶部の記憶したキーの種類及び当該キーの押下開始をキー入力情報としてキー入力Ｉ／Ｆ部へ出力し、当該キーに対応付けられた押下時間経過時に当該キーの押下終了を上記キー入力情報として上記キー入力Ｉ／Ｆ部へ出力するようにしたので、ユーザが操作するのと同じようにキーの長押しを再現することができる効果がある。
【０００９】
また、この発明の請求項２に係る試験支援装置は、直前のキーを押下してから間隙時間経過後に当該間隙時間に対応付けられたキーの種類をキー入力情報としてキー入力Ｉ／Ｆ部へ出力するようにしたので、ユーザが操作するのと同じようにキーを押下してから次のキーを押下する時間を再現することができる効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
実施の形態１．
図１は、この発明の実施の形態１に係る電子機器のブロック図であり、図において、複数のキーを有するキーボード等の入力装置からキー入力の情報を受け取ったキー入力Ｉ／Ｆ部１は、その情報を制御する他の機構へ受け取った情報を伝達する。基本キー操作情報記憶部２は操作するキーの種類、キーの押下時間及び間隙時間を記憶しており、擬似キー操作発生部３は基本キー操作情報記憶部２からキーの種類を読み出してキー入力情報を生成してキー入力Ｉ／Ｆ部１へ出力する。擬似キー操作発生部３は基本キー操作情報記憶部２からキーの押下時間を読み出し、キー押下タイマ４にキーの押下時間のカウントを開始させ、キー押下タイマ４から指定したキーの押下時間が経過したことを通知されると、キー入力Ｉ／Ｆ部１へ押下時間の経過を通知する。また、擬似キー操作発生部３は基本キー操作情報記憶部２からキーの間隙時間を読み出し、キー操作間隙タイマ５にキーの間隙時間のカウントを開始させ、キー操作間隙タイマ５から指定したキーの間隙時間が経過したことを通知されると、キー入力Ｉ／Ｆ部１へ間隙時間の経過を通知する。
【００１１】
図２は基本キー操作情報記憶部２に予め記憶されている試験項目の例を示す図である。１組のキー操作情報としてキーの種類、キーの押下時間及び間隙時間が対応付けて記憶されており、複数のキー操作情報がそれぞれのキー操作情報を実行する順序とともに記憶されている。例えば、実行順序１は、キー”０”が直前のキー操作から２００ｍｓ後に５０ｍｓ押下されることを示している。ここで、キーの種類は０〜９、＊、＃、カメラシャッター、又はフリップ開閉等の電子機器の全入力情報を含み、キーの押下時間はキーが押下されてからキー押下が解除された時間であり、間隙時間は直前のキーが押下されてから目的のキーを押下するまでの時間である。また、基本キー操作情報記憶部２は、電子機器内部に保持されていてもよいし、ＰＣ等の外部機器に保持されていてもよい。
【００１２】
以降、論理的なキーの長押し及びキーの押下間隔を再現する方法について説明する。
まず、電子機器の電源がＯＮされると、擬似キー操作発生部３は基本キー操作情報記憶部２に記憶されている試験項目を読み込む。
擬似キー操作発生部３は、実行順序１の間隙時間２００ｍｓをキー操作間隙タイマ５に通知すると、キー操作間隙タイマ５は２００ｍｓの時間のカウントを開始する。２００ｍｓ経過すると、キー操作間隙タイマ５は指定された間隙時間が経過したことを擬似キー操作発生部３に通知する。間隙時間経過の通知を受けた擬似キー操作発生部３は、実行順序１のキー”０”を押下することをキー入力Ｉ／Ｆ部１へ通知するとともに、実行順序１の押下時間５０ｍｓをキー押下タイマ４に通知する。キー”０”が押下されたことを通知されたキー入力Ｉ／Ｆ部１がキー”０”が押下されたことを制御部（図示せず）に通知すると、制御部は電子機器の表示部の画面を更新する等、キー”０”の押下に応じた処理を実行する。また、押下時間の通知を受けたキー押下タイマ４は５０ｍｓの時間のカウントを開始し、５０ｍｓが経過すると、指定された押下時間が経過したことを擬似キー操作発生部３に通知する。押下時間経過の通知を受けた擬似キー操作発生部３は、実行順序１の押下時間５０ｍｓが経過したことをキー入力Ｉ／Ｆ部１へ通知するとともに、実行順序２の間隙時間４００ｍｓをキー操作間隙タイマ５に通知する。以下、試験項目の実行順序に従ってキー操作情報毎に実行処理を繰り返し、基本キー操作情報記憶部２から読み込んだ試験項目が全て終了した時点で、自動試験が完了する。
【００１３】
このように、予め記憶したキーの種類、キーの押下時間及び間隙時間に基づいて、キー操作を擬似的に実行させることにより、キーの押下時間及び間隙時間を自由に調整することができ、一般ユーザが実際に操作するのに近い状態による試験を自動化することができる。また、既存のキー入力Ｉ／Ｆ部１をそのまま流用することが可能なため、電子機器を大幅に改修することなく、試験を自動化できる。
【００１４】
実施の形態２．
図３は、この発明の実施の形態２に係る電子機器のブロック図であり、連続キー押下回数記憶部６が新たに設けられている。この連続キー押下回数記憶部６は、同一キーを連続押下するときの繰り返し回数を記憶している。
【００１５】
図４は連続キー操作情報記憶部６に予め記憶されている試験項目の例を示す図であり、図２のキー操作情報に対応する繰り返し回数が記憶されている。例えば、実行順序１は、図２においてキー”０”を直前の操作から２００ｍｓ後に５０ｍｓ押下し、図４において当該操作を２回繰り返すことを示している。
【００１６】
以降、図２〜４に基づいて、同一キーを連続押下するキー操作を再現する方法について説明する。
まず、電子機器の電源がＯＮされると、擬似キー操作発生部３は基本キー操作情報記憶部２及び連続キー押下回数記憶部６に記憶されている試験項目を読み込む。
実施の形態１の実行順序１で押下時間経過の通知を受けた擬似キー操作発生部３は、実行順序１の押下時間５０ｍｓが経過したことをキー入力Ｉ／Ｆ部１へ通知するとともに、再度、実行順序１の間隙時間２００ｍｓをキー操作間隙タイマ５に通知し、実行順序１の処理を繰り返す。次に押下時間経過の通知を受けた擬似キー操作発生部３は、実行順序１の押下時間５０ｍｓが経過したことをキー入力Ｉ／Ｆ部１へ通知するとともに、実行順序２の間隙時間４００ｍｓをキー操作間隙タイマ５に通知する。その後、実行順序２の処理を１０回繰り返し、実行順序３の処理へ移行する。以降、試験項目の実行順序に従ってキー操作情報毎の実行処理を繰り返し、基本キー操作情報記憶部２及び連続キー押下回数記憶部６から読み込んだ試験項目が全て終了した時点で、自動試験が完了する。
【００１７】
このように、予め記憶したキーの種類、キーの押下時間、間隙時間及び繰り返し回数に基づいて、キー操作を擬似的に実行させることにより、キーの押下時間、間隙時間及び繰り返し回数を自由に調整することができ、一般ユーザが実際に操作するのに近い状態による試験を自動化することができる。
また、連続するキー押下の操作を繰り返し回数として集約したので、キー操作の情報量及び記憶領域を削減することができる。
【００１８】
実施の形態３．
図５は、この発明の実施の形態３に係る電子機器のブロック図であり、連続試験回数記憶部７が設けられている。この連続試験回数記憶部７は、基本キー操作情報記憶部２に記憶した試験項目の繰り返し回数を記憶している。
【００１９】
電子機器の電源がＯＮされると、擬似キー操作発生部３は基本キー操作情報記憶部２に記憶されている試験項目及び連続試験回数記憶部７に記憶されている繰り返し回数を読み込み、実施の形態１と同様の自動試験を、連続試験回数記憶部７に記憶されている繰り返し回数分繰り返し実行する。
【００２０】
このように、予め記憶したキーの種類、キーの押下時間、間隙時間に基づいた自動試験を自動的に繰り返して実行することができるので、電子機器の連続負荷試験又は連続操作による性能劣化の見極めを効率化することができる。
【００２１】
実施の形態４．
図６は、この発明の実施の形態４に係る電子機器のブロック図であり、試験実行開始キー情報記憶部８及び実行開始判定部９が設けられている。この試験実行開始キー情報記憶部８は、試験実行開始指示を入力する特殊キー情報を記憶しており、実行開始判定部９は、試験実行開始キー情報記憶部８に記憶された特殊キー情報に対応する特殊キーに基づいて擬似キー操作発生部３における自動試験を開始させる。
【００２２】
まず、電子機器の電源がＯＮされると、実行開始判定部９は試験実行開始キー情報記憶部８に記憶されている特殊キー情報と、入力装置から入力されたキー押下通知との比較を開始する。特殊キーとしては、例えば、予め決められた３種類のキーの同時押下など、電子機器の通常動作では使用しないような操作を設定しておくものとする。
試験実行開始キー情報記憶部８に記憶されている特殊キー情報と、入力装置から入力されたキー押下通知とが合致すると、実行開始判定部９は擬似キー操作発生部３に自動試験の開始を通知する。通知を受けた擬似キー操作発生部３は、実施の形態１〜３の自動試験を実行する。
【００２３】
このように、特殊キーを押下することで自動試験を開始することができるので、手動で、自動試験を開始したい状態に遷移した後で、自動試験を開始することができる。
【００２４】
実施の形態５．
図７は、この発明の実施の形態５に係る電子機器のブロック図であり、試験実行終了キー情報記憶部１０及び実行終了判定部１１が設けられている。この試験実行終了キー情報記憶部１０は、試験実行終了指示を入力する特殊キー情報を記憶しており、実行終了判定部１１は、試験実行終了キー情報記憶部１０に記憶された特殊キー情報に対応する特殊キーに基づいて擬似キー操作発生部３における自動試験を終了させる。
【００２５】
実施の形態１〜４の自動試験が開始されると、実行終了判定部１１は試験実行終了キー情報記憶部１０に記憶されている特殊キー情報と、入力装置から入力されたキー押下通知との比較を開始する。
試験実行終了キー情報記憶部１０に記憶されている特殊キー情報と、入力装置から入力されたキー押下通知とが合致すると、実行終了判定部１１は擬似キー操作発生部３に自動試験の停止を通知する。通知を受けた擬似キー操作発生部３は、実行中の自動試験を停止する。
一旦停止した処理は、実施の形態４の特殊キー押下による試験実行開始により、停止した時点から再開するようにしてもよい。
【００２６】
このように、特殊キーを押下することで自動試験を終了することができるので、任意の状態で自動試験を停止することができる。これによって、自動試験を停止した時点でのシステム内部の情報、例えばメモリ使用状況等を確認することでき、電子機器のデバッグ性を向上することができる。
【００２７】
実施の形態６．
図８は、この発明の実施の形態６に係る電子機器のブロック図であり、試験ステップ実行キー情報記憶部１２及びステップ実行判定部１３が設けられている。この試験ステップ実行キー情報記憶部１２は、試験のステップ実行開始及び終了指示を入力する特殊キー情報を記憶しており、ステップ実行判定部１３は、試験ステップ実行キー情報記憶部１２に記憶された特殊キー情報に対応する特殊キーに基づいて擬似キー操作発生部３における自動試験のステップ実行を開始又は終了させる。
【００２８】
実施の形態１〜４の自動試験が開始されると、ステップ実行判定部１３は試験ステップ実行キー情報記憶部１２に記憶されている特殊キー情報と、入力装置から入力されたキー押下通知との比較を開始する。
試験ステップ実行キー情報記憶部１２に記憶されているステップ実行開始を指示する特殊キー情報と、入力装置から入力されたキー押下通知とが合致すると、ステップ実行判定部１３は擬似キー操作発生部３に自動試験のステップ実行開始を通知する。通知を受けた擬似キー操作発生部３は、実行中の自動試験を停止し、ステップ実行を開始する。
擬似キー操作発生部３は、ステップ実行判定部１３を介して通知される入力装置からのキー押下通知に同期して、試験項目のキー操作情報をステップ実行し、ステップ実行中の状態又は変数等を図示しない記憶媒体に保持する。
【００２９】
その後、試験ステップ実行キー情報記憶部１２に記憶されているステップ実行終了を指示する特殊キー情報と、入力装置から入力されたキー押下通知とが合致すると、ステップ実行判定部１３は擬似キー操作発生部３に自動試験のステップ実行終了を通知する。通知を受けた擬似キー操作発生部３は、自動試験のステップ実行を停止し、自動試験を再開又は自動試験を終了する。
【００３０】
このように、特殊キーを押下することで自動試験をステップ実行することができるので、キー操作とそのキー操作によって遷移した画面を目視によって確認することができ、デバッグを容易に実施することができる。
【００３１】
実施の形態７．
図９は、この発明の実施の形態７に係る電子機器のブロック図であり、キー操作間隙時間係数記憶部１４及びキー操作間隙時間調整部１５が設けられている。このキー操作間隙時間係数記憶部１４は、間隙時間を調整するための調整係数を記憶しており、キー操作間隙時間調整部１５は、キー操作間隙時間係数記憶部１４に記憶される調整係数に基づいて擬似キー操作発生部３における擬似キー操作の間隙時間を調整する。
【００３２】
まず、電子機器の電源がＯＮされると、擬似キー操作発生部３は基本キー操作情報記憶部２に記憶されている試験項目を読み込む。
擬似キー操作発生部３は、実行順序１の間隙時間２００ｍｓをキー操作間隙時間調整部１５に通知すると、キー操作間隙時間調整部１５は２００ｍｓにキー操作間隙時間係数記憶部１４から読み出した調整係数をかけた時間のカウントを開始するようキー操作間隙タイマ５に指示する。２００ｍｓ×調整係数の時間が経過すると、キー操作間隙タイマ５は指定された間隙時間が経過したことを、キー操作間隙時間調整部１５を介して擬似キー操作発生部３に通知する。
以降の処理は実施の形態１と同様である。
【００３３】
このように、キー操作情報に記載される操作間隙時間に任意の係数を掛けて間隙時間を変化させたので、試験時間を短縮したり、間隙時間の増減による不具合を容易に発見したりすることができる。
【００３４】
実施の形態８．
図１０は、この発明の実施の形態８に係る電子機器のブロック図であり、キー操作記録部１６が設けられている。
【００３５】
まず、入力装置から入力されたキーの種類、押下時間及び間隙時間のキー操作情報が入力されると、キー操作記録部１６は入力されたキーの種類、押下時間及び間隙時間のキー操作情報を基本キー操作情報記憶部２に記憶させる。また、基本キー操作情報記憶部２に記憶させたキー操作情報が基本キー操作情報記憶部２に直前に記憶したキー操作情報と同一であれば、キー操作記録部１６は、連続キー押下回数記憶部６の記憶している繰り返し回数を加算して記憶させる。
【００３６】
基本キー操作情報記憶部２に記憶したキー操作情報及び連続キー押下回数記憶部６に記憶した繰り返し回数は実施の形態２と同様の方法で実行することができる。
【００３７】
このように、入力装置から入力したキー操作情報に基づいて試験項目を記録するようにしたので容易に自動試験項目を生成することができ、また、キー操作情報をユーザが直接作成するよりも試験項目の作成時間を短縮することができる。
【００３８】
実施の形態９．
図１１は、この発明の実施の形態９に係る電子機器のブロック図であり、キー操作情報編集部１７が設けられている。キー操作情報編集部１７は、基本キー操作情報記憶部２、連続キー押下回数記憶部６、連続試験操作記憶部７、試験実行開始キー情報記憶部８、試験実行終了キー情報記憶部１０、試験ステップ実行キー情報記憶部１２又はキー操作間隙時間係数記憶部１４に記載されるキー操作情報を編集する。
【００３９】
まず、キー操作情報編集部１７は、基本キー操作情報記憶部２、連続キー押下回数記憶部６、連続試験操作記憶部７、試験実行開始キー情報記憶部８、試験実行終了キー情報記憶部１０、試験ステップ実行キー情報記憶部１２及びキー操作間隙時間係数記憶部１４の情報を読み込んで、一時的に保持する。
その後、一時的に保持した情報を、ＧＵＩ（Ｇｒａｐｈｉｃａｌ  Ｕｓｅｒ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）等のユーザインタフェースを用いて表示する。ユーザが、表示された情報を編集すると、キー操作情報編集部１７は、ユーザの編集結果に従って基本キー操作情報記憶部２、連続キー押下回数記憶部６、連続試験操作記憶部７、試験実行開始キー情報記憶部８、試験実行終了キー情報記憶部１０、試験ステップ実行キー情報記憶部１２及びキー操作間隙時間係数記憶部１４の情報を書き換える。
【００４０】
基本キー操作情報記憶部２、連続キー押下回数記憶部６、連続試験操作記憶部７、試験実行開始キー情報記憶部８、試験実行終了キー情報記憶部１０、試験ステップ実行キー情報記憶部１２及びキー操作間隙時間係数記憶部１４に記憶された情報は実施の形態１〜７と同様の方法で実行することができる。
【００４１】
このように、入力装置から入力したキー操作情報に基づいて試験項目を編集するようにしたので容易に自動試験項目を編集することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】この発明の実施の形態１に係る電子機器のブロック図である。
【図２】基本キー操作情報記憶部２に予め記憶されている試験項目の例を示す図である。
【図３】この発明の実施の形態２に係る電子機器のブロック図である。
【図４】連続キー操作情報記憶部６に予め記憶されている試験項目の例を示す図である。
【図５】この発明の実施の形態３に係る電子機器のブロック図である。
【図６】この発明の実施の形態４に係る電子機器のブロック図である。
【図７】この発明の実施の形態５に係る電子機器のブロック図である。
【図８】この発明の実施の形態６に係る電子機器のブロック図である。
【図９】この発明の実施の形態７に係る電子機器のブロック図である。
【図１０】この発明の実施の形態８に係る電子機器のブロック図である。
【図１１】この発明の実施の形態９に係る電子機器のブロック図である。
【符号の説明】
【００４３】
１  キー入力Ｉ／Ｆ部
２  基本キー操作情報記憶部
３  擬似キー操作発生部
６  連続キー押下回数記憶部
７  連続試験操作記憶部
８  試験実行開始キー情報記憶部
１０  試験実行終了キー情報記憶部
１２  試験ステップ実行キー情報記憶部
１４  キー操作間隙時間係数記憶部
１６  キー操作記録部
１７  キー操作情報編集部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2006285912.tif 000009
【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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