(57)【要約】【課題】ＩＣカードの品質管理を容易に行う。【解決手段】ＩＣカードの製造管理装置１は、複数のＩＣカード１１０，…のＩＣチップ１０３ａからＩＣカード１１０のＩＣ固有情報を取得し、各ＩＣチップ１０３ａに対して発行管理情報を記録するとともにプロテクトをかける発行装置３４と、ＩＣ固有情報及び発行管理情報を対応付けて記憶する管理用データベース９１とを備えている。【選択図】図４
2006053785.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のＩＣカードのＩＣチップから前記ＩＣカードのＩＣ固有情報を取得し、各ＩＣチップに対して発行管理情報を記録するとともにプロテクトをかける発行工程と、
前記ＩＣ固有情報及び前記発行管理情報を対応付けて管理用データベースに記録する記録工程とを備えることを特徴とするＩＣカードの製造管理方法。
【請求項２】
請求項１記載のＩＣカードの製造管理方法において、
前記発行工程の後に、前記ＩＣカードの前記ＩＣチップから前記ＩＣ固有情報を取得し、このＩＣカードをカード収容器に収容するとともに、このカード収容器から容器識別情報を取得する収容工程を備え、
前記記録工程においては、前記ＩＣ固有情報、前記発行管理情報及び前記容器識別情報を対応付けて管理用データベースに記録することを特徴とするＩＣカードの製造管理方法。
【請求項３】
請求項１または２記載のＩＣカードの製造管理方法において、
前記発行工程の前に、
ＩＣチップとカード基材とが固着されたラミネートシート中の前記ＩＣチップの機能検査及び位置精度検査の少なくとも一方を行うとともに、検査対象の前記ＩＣチップ中の前記ＩＣ固有情報を取得する第１検査工程と、
前記第１検査工程の結果、機能及び位置精度が所定の基準を満たすと判断されたＩＣチップを有する領域で前記ラミネートシートをカード状に打抜いてＩＣカードを形成する打抜き工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第１検査工程の検査結果を用いることを特徴とするＩＣカードの製造管理方法。
【請求項４】
請求項１〜３の何れか一項に記載のＩＣカードの製造管理方法において、
前記発行工程の前に、
ＩＣチップとカード基材とが固着されたラミネートシートをカード状に打抜いてＩＣカードを形成する打抜き工程と、
前記打抜き工程での打抜き精度を検査するとともに、検査対象の前記ＩＣカードの前記ＩＣ固有情報を取得する第２検査工程と、
前記第２検査工程の結果、打抜き精度が所定の基準を満たさないと判断されたＩＣカードを廃棄する第２廃棄工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第２検査工程の検査結果を用いることを特徴とするＩＣカードの製造管理方法。
【請求項５】
請求項１〜４の何れか一項に記載のＩＣカードの製造管理方法において、
前記発行工程の前に、
前記ＩＣカードの表面または裏面に印刷を行う印刷工程と、
前記ＩＣカードの印刷状態の検査を行うとともに、検査対象の前記ＩＣカードの前記ＩＣ固有情報を取得する第３検査工程と、
前記第３検査工程の結果、印刷状態が所定の基準を満たさないと判断されたＩＣカードを廃棄する第３廃棄工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第３検査工程の検査結果を用いることを特徴とするＩＣカードの製造管理方法。
【請求項６】
請求項１〜５の何れか一項に記載のＩＣカードの製造管理方法において、
前記発行工程の後に、
前記ＩＣカードの外観検査を行うとともに、検査対象の前記ＩＣカードの前記ＩＣ固有情報を取得する第４検査工程と、
前記第４検査工程の結果、外観が所定の基準を満たさないと判断されたＩＣカードを廃棄する第４廃棄工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第４検査工程の検査結果を用いることを特徴とするＩＣカードの製造管理方法。
【請求項７】
複数のＩＣカードのＩＣチップから前記ＩＣカードのＩＣ固有情報を取得し、各ＩＣチップに対して発行管理情報を記録するとともにプロテクトをかける発行装置と、
前記ＩＣ固有情報及び前記発行管理情報を対応付けて記憶する管理用データベースとを備えることを特徴とするＩＣカードの製造管理装置。
【請求項８】
請求項７記載のＩＣカードの製造管理装置において、
前記発行装置によってプロテクトされた前記ＩＣカードの前記ＩＣチップから前記ＩＣ固有情報を取得し、このＩＣカードをカード収容器に収容するとともに、このカード収容器から容器識別情報を取得する収容装置を備え、
前記管理用データベースは、前記ＩＣ固有情報、前記発行管理情報及び前記容器識別情報を対応付けて記憶することを特徴とするＩＣカードの製造管理装置。
【請求項９】
請求項７または８記載のＩＣカードの製造管理装置において、
ＩＣチップとカード基材とが固着されたラミネートシート中の前記ＩＣチップの機能検査及び位置精度検査の少なくとも一方を行う第１検査装置と、
前記第１検査装置における検査対象の前記ＩＣチップ中の前記ＩＣ固有情報を取得する第１取得装置と、
前記第１検査装置による検査の結果、機能及び位置精度が所定の基準を満たすと判断されたＩＣチップを有する領域で前記ラミネートシートをカード状に打抜いてＩＣカードを形成する打抜き装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第１検査装置の検査結果を有することを特徴とするＩＣカードの製造管理装置。
【請求項１０】
請求項７〜９の何れか一項に記載のＩＣカードの製造管理装置において、
ＩＣチップとカード基材とが固着されたラミネートシートをカード状に打抜いてＩＣカードを形成する打抜き装置と、
前記打抜き装置での打抜き精度を検査する第２検査装置と、
前記第２検査装置における検査対象の前記ＩＣカードの前記ＩＣ固有情報を取得する第２取得装置と、
前記第２検査装置による検査の結果、打抜き精度が所定の基準を満たさないと判断されたＩＣカードを廃棄する第２廃棄装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第２検査装置の検査結果を有することを特徴とするＩＣカードの製造管理装置。
【請求項１１】
請求項７〜１０の何れか一項に記載のＩＣカードの製造管理装置において、
前記ＩＣカードの表面または裏面に印刷を行う印刷装置と、
前記ＩＣカードの印刷状態の検査を行う第３検査装置と、
前記第３検査装置における検査対象の前記ＩＣカードの前記ＩＣ固有情報を取得する第３取得装置と、
前記第３検査装置による検査の結果、印刷状態が所定の基準を満たさないと判断されたＩＣカードを廃棄する第３廃棄装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第３検査装置の検査結果を有することを特徴とするＩＣカードの製造管理装置。
【請求項１２】
請求項７〜１１の何れか一項に記載のＩＣカードの製造管理装置において、
前記発行装置によってプロテクトされた前記ＩＣカードの外観検査を行う第４検査装置と、
前記第４検査装置における検査対象の前記ＩＣカードの前記ＩＣ固有情報を取得する第４取得装置と、
前記第４検査装置による検査の結果、外観が所定の基準を満たさないと判断されたＩＣカードを廃棄する第４廃棄装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第４検査装置の検査結果を有することを特徴とするＩＣカードの製造管理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の工程によってＩＣカードを製造するＩＣカードの製造管理方法及びＩＣカードの製造管理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、社員証や学生証などのＩＤカードとして、ＩＣチップが内蔵されたＩＣカードがある。
このようなＩＣカードを製造するには、例えば、配列された複数のＩＣチップを挟んで２枚のカード基材を貼り合せることによりラミネートシートを形成し、複数の金型によってラミネートシートをそれぞれカード状に打抜いている（例えば、特許文献１参照）。また、基材を貼り合せる前後において、必要に応じて基材に印刷を行っている。
【０００３】
ところで、上記のように形成されたＩＣカードは、ラミネートシート中での列番号によって品質が異なる場合がある。そのため、ＩＣカードの品質管理を容易にすべく、形成されたＩＣカードを収容する収容器には、ラミネートシート中での列毎に異なる色の識別標識を入れている。
【特許文献１】特開平６−１０８５８４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、ＩＣカードの品質に影響を与え得る因子としては、例えば、カード基材、ＩＣインレット等のロットの違いや、複数列で並行して印刷や発行などの処理を行う場合の処理装置の違い等、多数のものがある。そのため、前記識別標識を用いるのみでは、ＩＣカードの品質を細かく区別して管理することが困難である。
【０００５】
本発明の課題は、ＩＣカードの品質管理を容易に行うことができるＩＣカードの製造管理方法及びＩＣカードの製造管理装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
請求項１記載の発明は、ＩＣカードの製造管理方法であって、
複数のＩＣカードのＩＣチップから前記ＩＣカードのＩＣ固有情報を取得し、各ＩＣチップに対して発行管理情報を記録するとともにプロテクトをかける発行工程と、
前記ＩＣ固有情報及び前記発行管理情報を対応付けて管理用データベースに記録する記録工程とを備えることを特徴とする。
【０００７】
ここで、ＩＣ固有情報とは、ＩＣカードの識別番号や製造メーカ、製造年月日などの情報である。
また、発行管理情報とは、記憶領域に関するデータや、暗号処理方式に関するデータ、パスワードに関するデータ、ＩＣカードの材料のロットに関するデータ、ＩＣカードに対して行われた検査結果に関するデータ等である。
【０００８】
請求項１記載の発明によれば、ＩＣ固有情報及び発行管理情報を対応付けて管理用データベースに記録することにより、ＩＣカードのＩＣ固有情報に基づいて、そのＩＣカードの発行管理情報を取得することが可能となる。また、各ＩＣカードのＩＣチップに対して発行管理情報を書き込むことにより、ＩＣカードから発行管理情報を取得することが可能となる。従って、ＩＣカードの材料のロットに関するデータやＩＣカードに対して行われた検査結果などを発行管理情報として用いることにより、前記識別標識の色を用いる従来の場合と比較して、ＩＣカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
【０００９】
請求項２記載の発明は、請求項１記載のＩＣカードの製造管理方法において、
前記発行工程の後に、前記ＩＣカードの前記ＩＣチップから前記ＩＣ固有情報を取得し、このＩＣカードをカード収容器に収容するとともに、このカード収容器から容器識別情報を取得する収容工程を備え、
前記記録工程においては、前記ＩＣ固有情報、前記発行管理情報及び前記容器識別情報を対応付けて管理用データベースに記録することを特徴とする。
【００１０】
請求項２記載の発明によれば、ＩＣ固有情報、発行管理情報及び容器識別情報を対応付けて管理用データベースに記録することにより、ＩＣカードのＩＣ固有情報に基づいて、そのＩＣカードを収容していたカード収容器の容器識別情報を取得することができる。従って、ＩＣカードに機能不良が生じた場合に、そのＩＣカードと同じカード収容器に収容されて同一のロットを構成していた他のＩＣカードのＩＣ固有情報を容易に取得することができる。
【００１１】
請求項３記載の発明は、請求項１または２記載のＩＣカードの製造管理方法において、
前記発行工程の前に、
ＩＣチップとカード基材とが固着されたラミネートシート中の前記ＩＣチップの機能検査及び位置精度検査の少なくとも一方を行うとともに、検査対象の前記ＩＣチップ中の前記ＩＣ固有情報を取得する第１検査工程と、
前記第１検査工程の結果、機能及び位置精度が所定の基準を満たすと判断されたＩＣチップを有する領域で前記ラミネートシートをカード状に打抜いてＩＣカードを形成する打抜き工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第１検査工程の検査結果を用いることを特徴とする。
【００１２】
請求項３記載の発明によれば、少なくとも第１検査工程の検査結果を発行管理情報として用いることにより、ＩＣカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行工程の前に打抜き工程によってラミネートシートからＩＣカードを打抜かずにラミネートシートごと廃棄する場合であっても、廃棄されたＩＣカードのＩＣ固有情報と廃棄されなかったＩＣカードのＩＣ固有情報とを区別して管理することができるため、ＩＣカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
【００１３】
なお、第１検査工程でのＩＣ固有情報の取得には、各ＩＣチップから別々にＩＣ固有情報を取得する方法を用いても良いし、ラミネートシートに記録されたシート識別情報と、ラミネートシート中の各ＩＣチップの位置及びＩＣ固有情報とを対応付けて管理しておき、前記シート識別情報を介して各ＩＣチップ中のＩＣ固有情報を一括して取得する方法を用いても良い。
また、前記所定の基準としては、任意の基準を設定することができる。
【００１４】
請求項４記載の発明は、請求項１〜３の何れか一項に記載のＩＣカードの製造管理方法において、
前記発行工程の前に、
ＩＣチップとカード基材とが固着されたラミネートシートをカード状に打抜いてＩＣカードを形成する打抜き工程と、
前記打抜き工程での打抜き精度を検査するとともに、検査対象の前記ＩＣカードの前記ＩＣ固有情報を取得する第２検査工程と、
前記第２検査工程の結果、打抜き精度が所定の基準を満たさないと判断されたＩＣカードを廃棄する第２廃棄工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第２検査工程の検査結果を用いることを特徴とする。
【００１５】
請求項４記載の発明によれば、少なくとも第２検査工程の検査結果を発行管理情報として用いることにより、ＩＣカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行工程の前に第２廃棄工程によってＩＣカードを廃棄する場合であっても、廃棄されたＩＣカードのＩＣ固有情報と廃棄されなかったＩＣカードのＩＣ固有情報とを区別して管理することができるため、ＩＣカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
【００１６】
なお、第２検査工程でのＩＣ固有情報の取得には、各ＩＣチップから別々にＩＣ固有情報を取得する方法を用いても良いし、ラミネートシートに記録されたシート識別情報と、ラミネートシート中の各ＩＣチップの位置及びＩＣ固有情報とを対応付けて管理しておき、前記シート識別情報を介して各ＩＣチップ中のＩＣ固有情報を一括して取得する方法を用いても良い。更に、ＩＣカードのカード収容器の容器識別情報と、カード収容器中の各ＩＣカードの位置及びＩＣ固有情報とを対応付けて管理しておき、前記容器識別情報を介して各ＩＣチップ中のＩＣ固有情報を一括して取得する方法を用いても良い。
また、前記所定の基準としては、任意の基準を設定することができる。
【００１７】
請求項５記載の発明は、請求項１〜４の何れか一項に記載のＩＣカードの製造管理方法において、
前記発行工程の前に、
前記ＩＣカードの表面または裏面に印刷を行う印刷工程と、
前記ＩＣカードの印刷状態の検査を行うとともに、検査対象の前記ＩＣカードの前記ＩＣ固有情報を取得する第３検査工程と、
前記第３検査工程の結果、印刷状態が所定の基準を満たさないと判断されたＩＣカードを廃棄する第３廃棄工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第３検査工程の検査結果を用いることを特徴とする。
【００１８】
請求項５記載の発明によれば、少なくとも第３検査工程の検査結果を発行管理情報として用いることにより、ＩＣカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行工程の前に第３廃棄工程によってＩＣカードを廃棄する場合であっても、廃棄されたＩＣカードのＩＣ固有情報と廃棄されなかったＩＣカードのＩＣ固有情報とを区別して管理することができるため、ＩＣカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
【００１９】
なお、第３検査工程でのＩＣ固有情報の取得には、各ＩＣチップから別々にＩＣ固有情報を取得する方法を用いても良いし、ＩＣカードのカード収容器の容器識別情報と、カード収容器中の各ＩＣカードの位置及びＩＣ固有情報とを対応付けて管理しておき、前記容器識別情報を介して各ＩＣチップ中のＩＣ固有情報を一括して取得する方法を用いても良い。
また、前記所定の基準としては、任意の基準を設定することができる。
【００２０】
請求項６記載の発明は、請求項１〜５の何れか一項に記載のＩＣカードの製造管理方法において、
前記発行工程の後に、
前記ＩＣカードの外観検査を行うとともに、検査対象の前記ＩＣカードの前記ＩＣ固有情報を取得する第４検査工程と、
前記第４検査工程の結果、外観が所定の基準を満たさないと判断されたＩＣカードを廃棄する第４廃棄工程とを備え、
前記発行管理情報として、少なくとも前記第４検査工程の検査結果を用いることを特徴とする。
【００２１】
請求項６記載の発明によれば、少なくとも第４検査工程の検査結果を発行管理情報として用いることにより、ＩＣカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行工程の前に第４廃棄工程によってＩＣカードを廃棄する場合であっても、廃棄されたＩＣカードのＩＣ固有情報と廃棄されなかったＩＣカードのＩＣ固有情報とを区別して管理することができるため、ＩＣカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
【００２２】
なお、第４検査工程でのＩＣ固有情報の取得には、各ＩＣチップから別々にＩＣ固有情報を取得する方法を用いても良いし、ＩＣカードのカード収容器の容器識別情報と、カード収容器中の各ＩＣカードの位置及びＩＣ固有情報とを対応付けて管理しておき、前記容器識別情報を介して各ＩＣチップ中のＩＣ固有情報を一括して取得する方法を用いても良い。
また、前記所定の基準としては、任意の基準を設定することができる。
【００２３】
請求項７記載の発明は、ＩＣカードの製造管理装置であって、
複数のＩＣカードのＩＣチップから前記ＩＣカードのＩＣ固有情報を取得し、各ＩＣチップに対して発行管理情報を記録するとともにプロテクトをかける発行装置と、
前記ＩＣ固有情報及び前記発行管理情報を対応付けて記憶する管理用データベースとを備えることを特徴とする。
【００２４】
請求項７記載の発明によれば、ＩＣ固有情報及び発行管理情報を対応付けて管理用データベースが記憶するので、ＩＣカードのＩＣ固有情報に基づいて、そのＩＣカードの発行管理情報を取得することが可能となる。また、各ＩＣカードのＩＣチップに対して発行管理情報を書き込むので、ＩＣカードから発行管理情報を取得することが可能となる。従って、ＩＣカードの材料のロットに関するデータやＩＣカードに対して行われた検査結果などを発行管理情報として用いることにより、前記識別標識の色を用いる従来の場合と比較して、ＩＣカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
【００２５】
請求項８記載の発明は、請求項７記載のＩＣカードの製造管理装置において、
前記発行装置によってプロテクトされた前記ＩＣカードの前記ＩＣチップから前記ＩＣ固有情報を取得し、このＩＣカードをカード収容器に収容するとともに、このカード収容器から容器識別情報を取得する収容装置を備え、
前記管理用データベースは、前記ＩＣ固有情報、前記発行管理情報及び前記容器識別情報を対応付けて記憶することを特徴とする。
【００２６】
請求項８記載の発明によれば、ＩＣ固有情報、発行管理情報及び容器識別情報を対応付けて管理用データベースが記憶するので、ＩＣカードのＩＣ固有情報に基づいて、そのＩＣカードを収容していたカード収容器の容器識別情報を取得することができる。従って、ＩＣカードに機能不良が生じた場合に、そのＩＣカードと同じカード収容器に収容されて同一のロットを構成していた他のＩＣカードのＩＣ固有情報を容易に取得することができる。
【００２７】
請求項９記載の発明は、請求項７または８記載のＩＣカードの製造管理装置において、
ＩＣチップとカード基材とが固着されたラミネートシート中の前記ＩＣチップの機能検査及び位置精度検査の少なくとも一方を行う第１検査装置と、
前記第１検査装置における検査対象の前記ＩＣチップ中の前記ＩＣ固有情報を取得する第１取得装置と、
前記第１検査装置による検査の結果、機能及び位置精度が所定の基準を満たすと判断されたＩＣチップを有する領域で前記ラミネートシートをカード状に打抜いてＩＣカードを形成する打抜き装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第１検査装置の検査結果を有することを特徴とする。
【００２８】
請求項９記載の発明によれば、少なくとも第１検査装置の検査結果を発行管理情報として用いるので、ＩＣカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行装置の前に打抜き装置によってラミネートシートからＩＣカードを打抜かずにラミネートシートごと廃棄する場合であっても、廃棄されたＩＣカードのＩＣ固有情報と廃棄されなかったＩＣカードのＩＣ固有情報とを区別して管理することができるため、ＩＣカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
【００２９】
請求項１０記載の発明は、請求項７〜９の何れか一項に記載のＩＣカードの製造管理装置において、
ＩＣチップとカード基材とが固着されたラミネートシートをカード状に打抜いてＩＣカードを形成する打抜き装置と、
前記打抜き装置での打抜き精度を検査する第２検査装置と、
前記第１検査装置における検査対象の前記ＩＣカードの前記ＩＣ固有情報を取得する第２取得装置と、
前記第２検査装置による検査の結果、打抜き精度が所定の基準を満たさないと判断されたＩＣカードを廃棄する第２廃棄装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第２検査装置の検査結果を有することを特徴とする。
【００３０】
請求項１０記載の発明によれば、少なくとも第２検査装置の検査結果を発行管理情報として用いるので、ＩＣカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行装置の前に第２廃棄装置によってＩＣカードを廃棄する場合であっても、廃棄されたＩＣカードのＩＣ固有情報と廃棄されなかったＩＣカードのＩＣ固有情報とを区別して管理することができるため、ＩＣカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
【００３１】
請求項１１記載の発明は、請求項７〜１０の何れか一項に記載のＩＣカードの製造管理装置において、
前記ＩＣカードの表面または裏面に印刷を行う印刷装置と、
前記ＩＣカードの印刷状態の検査を行う第３検査装置と、
前記第３検査装置における検査対象の前記ＩＣカードの前記ＩＣ固有情報を取得する第３取得装置と、
前記第３検査装置による検査の結果、印刷状態が所定の基準を満たさないと判断されたＩＣカードを廃棄する第３廃棄装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第３検査装置の検査結果を有することを特徴とする。
【００３２】
請求項１１記載の発明によれば、少なくとも第３検査装置の検査結果を発行管理情報として用いるので、ＩＣカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行装置の前に第３廃棄装置によってＩＣカードを廃棄する場合であっても、廃棄されたＩＣカードのＩＣ固有情報と廃棄されなかったＩＣカードのＩＣ固有情報とを区別して管理することができるため、ＩＣカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
【００３３】
請求項１２記載の発明は、請求項７〜１１の何れか一項に記載のＩＣカードの製造管理装置において、
前記発行装置によってプロテクトされた前記ＩＣカードの外観検査を行う第４検査装置と、
前記第４検査装置における検査対象の前記ＩＣカードの前記ＩＣ固有情報を取得する第４取得装置と、
前記第４検査装置による検査の結果、外観が所定の基準を満たさないと判断されたＩＣカードを廃棄する第４廃棄装置とを備え、
前記発行管理情報は、少なくとも前記第４検査装置の検査結果を有することを特徴とする。
【００３４】
請求項１２記載の発明によれば、少なくとも第４検査装置の検査結果を発行管理情報として用いるので、ＩＣカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
また、発行装置の前に第４廃棄装置によってＩＣカードを廃棄する場合であっても、廃棄されたＩＣカードのＩＣ固有情報と廃棄されなかったＩＣカードのＩＣ固有情報とを区別して管理することができるため、ＩＣカードが廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
【発明の効果】
【００３５】
請求項１，７記載の発明によれば、前記識別標識の色を用いる従来の場合と比較して、ＩＣカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
【００３６】
請求項２，８記載の発明によれば、請求項１，７記載の発明と同様の効果を得ることができるのは勿論のこと、ＩＣカードに機能不良が生じた場合に、そのＩＣカードと同じカード収容器に収容されて同一のロットを構成していた他のＩＣカードのＩＣ固有情報を容易に取得することができる。
【００３７】
請求項３〜６，９〜１２記載の発明によれば、請求項１または２，７または８記載の発明と同様の効果を得ることができるのは勿論のこと、ＩＣカードの品質を細かく区別して管理することが容易となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３８】
以下に、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。
まず、ＩＣカードについて説明する。本実施の形態におけるＩＣカードは、図１（ａ），（ｂ）に示されるラミネートシート１００を鎖線部分でカード状に打抜くことにより形成されるものである。
【００３９】
これらの図に示すように、ラミネートシート１００は、第１基材１０１と第２基材１０２との間に、複数のＩＣインレット１０３，…を備えている。
【００４０】
第１基材１０１及び第２基材１０２としては、熱収縮によるカール等が生じないよう、熱収縮及びそのバラツキが小さいものが用いられており、本実施の形態においてはＰＥＴ製のものが用いられている。
【００４１】
第１基材１０１の縦横の長さは、本実施の形態においては横５００×縦６５０ｍｍとなっており、ＩＣカードを横方向に５列、縦方向に１０列だけ形成可能となっている。また、第１基材１０１の厚さは、総厚で５０〜２５０μとなっている。但し、第１基材１０１の寸法はこれに限らない。
この第１基材１０１は、枚葉シートとして後述のラミネートシートのラミネートシート製造部２（図２参照）に供給されている。
【００４２】
なお、第１基材１０１の表面（図１（ｂ）の上側の面）には、偽造や変造の防止のために、透かし印刷やホログラム、細紋等の画像が記録されていても良いし、枠や文字、記号等の画像が記録されていても良い。
【００４３】
第２基材１０２は、第１基材１０１とほぼ等しい寸法を有しており、枚葉シートとしてラミネートシート製造部２に供給されるようになっている。なお、第２基材１０２としては、所定間隔ごとに第１基材１０１と貼合される長尺なロールシートを用いることも可能である。第２基材１０２の表面（図１（ｂ）の下側の面）には、情報を書き込むための筆記層が設けられている。
【００４４】
ＩＣインレット１０３は、ＩＣチップ１０３ａ及びアンテナ１０３ｂを備えている。なお、ＩＣインレット１０３としては、印刷やエッチング等によりアンテナ回路を設けたフィルム上にＩＣチップ１０３ａを搭載したものや、更にフィルム上のＩＣチップ１０３ａ等を予め樹脂で封止したものを用いることも可能である。
【００４５】
ＩＣインレット１０３と第１基材１０１及び第２基材１０２との間には、接着剤１０４が介在している。接着剤１０４は、例えばホットメルト接着剤であり、好ましくは反応性ホットメルト接着剤である。
【００４６】
続いて、本発明に係るＩＣカードの製造管理装置について説明する。
図２は、ＩＣカードの製造管理装置（以下、製造管理装置とする）１の概略構成を示すブロック図である。
この図に示すように、製造管理装置１は、第１基材１０１、第２基材１０２及びＩＣインレット１０３からラミネートシート１００を形成するラミネートシート製造部２と、ラミネートシート１００からＩＣカード１１０（図４参照）を製造するＩＣカード製造部３等とを備えている。なお、製造管理装置１には、図示しない搬送装置が設けられており、この搬送装置によって各材料が搬送方向Ｘに搬送されるようになっている。
【００４７】
ラミネートシート製造部２は、図３に示すように、第１基材１０１を１枚ずつ印刷部２１に供給する第１基材供給部（図示せず）を備えている。
第１基材供給部は、堆積された枚葉シート状の第１基材１０１の上面を検出する検出装置と、第１基材１０１を持ち上げる吸着パッドとを備えている。
【００４８】
印刷部２１は、印刷ローラ２１ａによって第１基材１０１の表面（図１の上面）に印刷を行うものである。
【００４９】
印刷部２１よりも搬送方向Ｘの下流側には、バーコード印字装置２１０が配設されている。
バーコード印字装置２１０は、第１基材１０１の端部にバーコード１０６（図１参照）を印字するものである。バーコード印字装置２１０によって印字されるバーコード１０６は、後述の検査装置２２，２８等において検査対象の第１基材１０１やラミネートシート１００を識別するためのものである。
【００５０】
バーコード印字装置２１０よりも搬送方向Ｘの下流側には、検査装置２２及びバーコード読取装置２３が配設されている。
【００５１】
検査装置２２は、画像カメラ等によって第１基材１０１の不良領域を識別し、第１基材１０１の不良領域に関する情報（以下、不良領域情報とする）を後述の管理用コンピュータ９（図２参照）に送信するものである。なお、検査装置２２によって識別される不良領域としては、印刷状態の不良な領域や、キズの有る領域などがある。
【００５２】
バーコード読取装置２３は、第１基材１０１のバーコード１０６を読み取り、検査装置２２の検査対象となっている第１基材１０１の識別情報を前記不良領域情報と併せて前記管理用コンピュータ９に送信するものである。
【００５３】
バーコード読取装置２３よりも搬送方向Ｘの下流側には、第１基材１０１を集積して上下反転する反転装置（図示せず）が配設され、この反転装置よりも搬送方向Ｘの下流側には、第１基材１０１の裏面（図１の上面）に接着剤を塗布する接着剤塗布部２４が配設されている。
【００５４】
接着剤塗布部２４は、接着剤１０４を所定の厚さで塗布するダイ２４ａを備えている。なお、塗布方式としては、ダイ方式に限らず、グラビア方式、ロール方式などを用いることができる。
【００５５】
接着剤塗布部２４よりも搬送方向Ｘの下流側には、バーコード読取装置２４０が配設されている。
このバーコード読取装置２４０は、第１基材１０１のバーコード１０６を読み取り、接着剤塗布部２４の塗布対象となっている第１基材１０１の識別情報を前記管理用コンピュータ９に送信するものである。
【００５６】
バーコード読取装置２４０よりも搬送方向Ｘの下流側には、接着剤塗布後の第１基材１０１の裏面にＩＣインレット１０３を載置するＩＣインレット供給部２０３が配設されている。
【００５７】
ＩＣインレット供給部２０３は、ＩＣインレット１０３を載置する前に、ＩＣカード１１０のＩＤ番号や製造メーカ、製造年月日などの情報（以下、ＩＣ固有情報とする）をＩＣチップ１０３ａに記録するようになっている。また、ＩＣインレット供給部２０３は、バーコード読取装置２４０によって識別された第１基材１０１に関する前記不良領域情報を前記管理用コンピュータ９の管理用データベース９１から受信し、この不良領域情報に基づいて第１基材１０１の不良領域にはＩＣインレット１０３を載置しないようになっている。
【００５８】
ＩＣインレット供給部よりも搬送方向Ｘの下流側には、第２基材１０２を接着剤塗布部２５に供給する第２基材供給部（図示せず）が配設されている。この第２基材供給部は、前記第１基材供給部と同様の構成を有している。
【００５９】
接着剤塗布部２５は、後述の貼合せ装置２６におけるローラ２６ａの側周面上に保持された第２基材１０２に対し、ダイ２５ａによって接着剤１０４を塗布するものである。
【００６０】
なお、塗布される接着剤１０４の厚さは、第１基材１０１に塗布される接着剤１０４の厚さと同じであることが好ましく、製造されるラミネートシート１００の非対称性も考慮して設定されることがより好ましい。
【００６１】
接着剤塗布部２５よりも搬送方向Ｘの下流側には、ＩＣインレット１０３を介在させて第１基材１０１及び第２基材１０２を貼合せる貼合せ装置２６が配設されている。
【００６２】
貼合せ装置２６は、第１基材１０１及び第２基材１０２にそれぞれ塗布された接着剤１０４を加熱する加熱保温装置（図示せず）と、第１基材１０１，ＩＣインレット１０３及び第２基材１０２の積層物をニップするローラ２６ａ，２６ｂとを備えている。
【００６３】
前記加熱保温装置は、ローラ２６ａ，２６ｂよりも搬送方向Ｘの上流側に配設されている。これら加熱保温装置は、加熱により第１基材１０１及び第２基材１０２の表面がダメージを受けてしまうのを防止するため、接着剤１０４の温度に基づき加熱温度を調節するようになっている。
【００６４】
ローラ２６ａ，２６ｂは、第１基材１０１及び第２基材１０２の温度を調節する温調機（図示せず）を内部に備えている。これらローラ２６ａ，２６ｂの表面は、ともに金属製でも良いし、一方がゴム製でも良い。
【００６５】
貼合せ装置２６よりも搬送方向Ｘの下流側には、貼合された第１基材１０１、ＩＣインレット１０３及び第２基材１０２を加熱圧着により一体化してラミネートシート１００を形成する加熱圧着装置２７が配設されている。
【００６６】
加熱圧着装置２７は、貼合された第１基材１０１、ＩＣインレット１０３及び第２基材１０２を上下から挟むローラ２７ａ，２７ｂと、ローラ２７ａ，２７ｂの間に熱風を送り込む温風送風機（図示せず）とを備えている。
【００６７】
なお、本実施の形態においては、加熱圧着装置２７による加圧時間は２０〜３０ｓｅｃ、加圧力は０．４〜０．６ｋｇ／ｃｍ2、加熱温度は５０〜７０℃となっているが、これらの値は適宜変更可能であり、例えば加熱時間を１０〜６０ｓｅｃ、加圧力を０．２〜１ｋｇ／ｃｍ2、温度を５０〜１００℃としても良い。また、加熱圧着装置２７により一体化された積層物は、図示しない冷却装置によって冷却されるようになっている。また、第２基材１０２として長尺なロールシートを用いる場合には、加熱圧着装置２７よりも搬送方向Ｘの下流側には、積層物の切断装置が設けられる。
【００６８】
加熱圧着装置２７よりも搬送方向Ｘの下流側には、検査装置（第１検査装置）２８及びバーコード読取装置（第１取得装置）２９が配設されている。
【００６９】
検査装置２８は、ラミネートシート１００の各アンテナ１０３ｂと通信することにより、ＩＣインレット１０３の位置精度及び機能を検査し、ＩＣインレット１０３の位置精度不良情報や、機能不良情報を前記管理用コンピュータ９に送信するものである。なお、ＩＣインレット１０３が機能不良になる場合としては、加熱圧着装置２７による加熱温度が高すぎる場合や、加圧力が大きすぎる場合などがある。
【００７０】
バーコード読取装置２９は、ラミネートシート１００中の第１基材１０１のバーコード１０６を読み取り、検査装置２８の検査対象となっているラミネートシート１００の識別情報を、前記位置精度不良情報や機能不良情報と併せて前記管理用コンピュータ９に送信するものである。
【００７１】
バーコード読取装置２９よりも搬送方向Ｘの下流側には、所定枚数のラミネートシート１００，…を収容する収容器４Ａが配設されている。なお、本実施の形態においては、収容器４Ａによるラミネートシート１００，…の収容枚数は４０枚となっている。
【００７２】
収容器４Ａよりも搬送方向Ｘの下流側には、図２に示すように、前記ＩＣカード製造部３が配設されている。
ＩＣカード製造部３は、図４に示すように、図示しないシート供給装置によって収容器４Ａから供給されるラミネートシート１００のバーコード１０６を読み取るバーコード読取装置（第２取得装置）３０を備えている。
【００７３】
バーコード読取装置３０は、ラミネートシート１００中の第１基材１０１のバーコード１０６を読み取り、ラミネートシート１００の識別情報を前記管理用コンピュータ９に送信するものである。
【００７４】
バーコード読取装置３０よりも搬送方向Ｘの下流側には、打抜き装置３１が配設されている。
打抜き装置３１は、搬送方向Ｘと直交して配列された５つの打抜き金型３１ａ，…をそれぞれ上下に移動させてラミネートシート１００，…をカード状に打抜くことにより、最大５枚のＩＣカード１１０を一度に形成するものである。この打抜き装置３１は、バーコード読取装置３０によって識別されたラミネートシート１００に関する前記不良領域情報や位置精度不良情報、機能不良情報を前記管理用コンピュータ９から受信し、これらの情報に基づいて、ＩＣインレット１０３の載置されていない領域や、ＩＣインレット１０３の位置精度または機能の不良領域では、ラミネートシート１００を打抜かないようになっている。このような打抜き装置３１としては、例えば、特開平７−３１５６２４号公報に開示のものを用いることができる。
【００７５】
打抜き装置３１よりも搬送方向Ｘの下流側には、検査装置（第２検査装置）３１０が配設されている。
検査装置３１０は、打抜き装置３１によるＩＣカード１１０の打抜き精度を検査し、検査結果を管理用コンピュータ９に送信するものである。
なお、検査装置３１０により打抜き精度が不良であると判断されたＩＣカード１１０は、図示しない第２廃棄装置によって廃棄されるようになっている。
【００７６】
検査装置３１０よりも搬送方向Ｘの下流側には、形成されたＩＣカード１１０，…を収容器４Ｂに収容して印刷装置３２に搬送する搬送装置（図示せず）が配設されている。
【００７７】
ここで、収容器４Ｂは、５つの収容部４１Ｂ，…に分けてＩＣカード１１０，…を収容するようになっている。各収容部４１Ｂは、ラミネートシート１００における打抜き領域、つまり図１（ａ）の鎖線内の領域の列と対応している。収容器４Ｂの側面には、収容器の識別情報を示すバーコード４２Ｂが貼付されている。
【００７８】
印刷装置３２は、収容器４Ｂの各収容部４１Ｂから取出したＩＣカード１１０，…を一列に並べて搬送しつつ、これらＩＣカード１１０，…の裏面に印刷を行うものである。
【００７９】
印刷装置３２よりも搬送方向Ｘの上流側にはバーコード読取装置（第３取得装置）３３０が配設されており、下流側には検査装置（第３検査装置）３３が配設されている。
【００８０】
バーコード読取装置３３０は、収容器４Ｂのバーコード４２Ｂを読み取り、収容器４Ｂの識別情報を前記管理用コンピュータ９に送信するものである。
【００８１】
検査装置３３は、画像カメラ等によってＩＣカード１１０の裏面の印刷状態を検査し、検査結果を管理用コンピュータ９に送信するものである。
なお、検査装置３３により印刷不良と判断されたＩＣカード１１０は、図示しない第３廃棄装置によって廃棄されるようになっている。
【００８２】
検査装置３３よりも搬送方向Ｘの下流側には、発行装置３４及び検査装置（第４検査装置）３５が配設されている。
【００８３】
発行装置３４は、ＩＣインレット１０３の機能検査と、機能の正常なＩＣチップ１０３ａからの前記ＩＣ固有情報の取得と、このＩＣチップ１０３ａに対する発行とを行うものである。ここで、発行とは、ＩＣチップ１０３ａに発行管理情報を書き込んだ後、不正な書き込みを防止するためのプロテクトをかけることである。発行管理情報としては、記憶領域に関するデータや、暗号処理方式に関するデータ、パスワードに関するデータ、ＩＣカードの材料のロットに関するデータ、検査装置２８，３１０，３３によってＩＣカード１１０等に対して行われた検査結果に関するデータ等がある。
【００８４】
検査装置３５は、発行されたＩＣカード１１０の外観をカメラ等によって検査し、検査結果を管理用コンピュータ９に送信するものである。
なお、発行装置３４により機能不良と判断されたＩＣカード１１０や、検査装置３５により外観不良と判断されたＩＣカード１１０は、図示しない第４廃棄装置によって廃棄されるようになっている。
【００８５】
検査装置３５よりも搬送方向Ｘの下流側には、検査装置（第４検査装置）３６及びＩＣ情報読取部（第４取得装置）３７が配設されている。
【００８６】
検査装置３６は、ＩＣカード１１０の外観をカメラ等によって検査し、検査結果を管理用コンピュータ９に送信するものである。
なお、検査装置３６により外観不良と判断されたＩＣカード１１０は、前記第４廃棄装置によって廃棄されるようになっている。
【００８７】
ＩＣ情報読取部３７は、検査装置３６における検査対象のＩＣカード１１０のＩＣ固有情報を取得し、前記管理用コンピュータ９に送信するものである。
【００８８】
ＩＣ情報読取部３７よりも搬送方向Ｘの下流側には、製品として完成されたＩＣカード１１０，…を収容器（カード収容器）４Ｅに収容する収容装置５Ｅが配設されている。この収容装置５Ｅは、収容器４Ｅに記録されたバーコード４２Ｅから、収容器４Ｅの容器識別情報を取得するようになっている。
シール部３８は、収容器４Ｅの開口部をシールするものである。
【００８９】
以上のラミネートシート製造部２及びＩＣカード製造部３には、図１に示すように、管理用コンピュータ（第１〜第４取得装置）９が接続されている。
【００９０】
管理用コンピュータ９は、ラミネートシート製造部２及びＩＣカード製造部３の動作を制御するものである。また、管理用コンピュータ９は、管理用データベース９１を有している。
管理用データベース９１は、前記ＩＣ固有情報、前記発行管理情報及び前記容器識別情報などを対応付けて記憶するようになっている。
【００９１】
続いて、本発明に係るＩＣカードの製造管理方法について説明する。
まず、前記第１基材供給部が第１基材１０１を印刷部２１に供給し、印刷部２１が第１基材１０１の表面に印刷を行う。また、バーコード印字装置２１０が第１基材１０１の端部にバーコード１０６を印字する。
【００９２】
次に、検査装置２２が第１基材１０１の不良領域を識別して前記不良領域情報を管理用コンピュータ９に送信する。また、この不良領域情報と併せて、バーコード読取装置２３が検査対象の第１基材１０１の識別情報を管理用コンピュータ９に送信する。これにより、不良領域情報と第１基材１０１とが対応付けられて管理用データベース９１に記録され、管理用コンピュータ９で管理される。
【００９３】
次に、前記反転送置が第１基材１０１を反転させて接着剤塗布部２４に供給し、接着剤塗布部２４が第１基材１０１の裏面に接着剤１０４を塗布する。また、バーコード読取装置２４０が第１基材１０１のバーコード１０６を読み取り、接着剤塗布部２４の塗布対象となっている第１基材１０１の識別情報を管理用コンピュータ９に送信する。
【００９４】
次に、ＩＣインレット供給部２０３は、管理用コンピュータ９によって設定されたＩＣ固有情報をＩＣチップ１０３ａに記録した後、ＩＣインレット１０３を第１基材１０１の裏面上に載置する。このとき、ＩＣインレット供給部２０３は、バーコード読取装置２４０によって識別された第１基材１０１に関する前記不良領域情報を管理用コンピュータ９の管理用データベース９１から受信し、この不良領域情報に基づいて第１基材１０１の不良領域にはＩＣインレット１０３を載置しない。また、管理用コンピュータ９の管理用データベース９１には、第１基材１０１の識別情報と、第１基材１０１上でのＩＣインレット１０３の位置及びＩＣ固有情報とが対応付けて記録される。
【００９５】
次に、前記第２基材供給部が第２基材１０２を接着剤塗布部２５に供給し、接着剤塗布部２５が第２基材１０２の裏面に接着剤１０４を塗布する。
【００９６】
次に、貼合せ装置２６が前記加熱保温装置によって接着剤１０４を加熱した後、ＩＣインレット１０３を介在させて第１基材１０１と第２基材１０２とを貼合せ、これらの積層物を加熱圧着装置２７が加熱圧着する。これにより、ラミネートシート１００が形成される。
【００９７】
次に、検査装置２８がアンテナ１０３ｂと通信して前記ＩＣ固有情報を読み取ることにより、第１基材１０１の裏面上におけるＩＣインレット１０３の位置精度及び機能を検査し（第１検査工程）、検査結果を管理用コンピュータ９に送信する。また、この検査結果と併せて、検査装置２８の検査対象となっているラミネートシート１００の識別情報をバーコード読取装置２９が管理用コンピュータ９に送信する。これらの情報を受信したら、管理用コンピュータ９は、前記バーコード読取装置２９からのラミネートシート１００の識別情報に基づいて検査装置２８における検査対象のＩＣカード１１０のＩＣ固有情報を管理用データベース９１から取得し、検査装置２８から送信される検査結果と、ＩＣチップ１０３ａ中のＩＣ固有情報とを対応付けて管理用データベース９１に記録する（記録工程）。
【００９８】
次に、図示しない搬送装置がラミネートシート１００，…を４０枚ごとに収容器４Ａに収容した後、前記シート供給装置がＩＣカード製造部３のバーコード読取装置３０及び打抜き装置３１にラミネートシート１００を供給する。
【００９９】
次に、バーコード読取装置３０がバーコード１０６を読み取り、ラミネートシート１００の識別情報を管理用コンピュータ９に送信する。また、打抜き装置３１がラミネートシート１００をカード状に打抜いてＩＣカード１１０を形成する（打抜き工程）。このとき、打抜き装置３１は、バーコード読取装置３０によって識別されたラミネートシート１００に関して検査装置２２，２８による検査結果を管理用コンピュータ９から受信し、これらの検査結果に基づいて、ＩＣチップ１０３ａの存在しない領域と、ＩＣインレット１０３の位置精度または機能の不良領域とでは、ラミネートシート１００を打抜かない。なお、打抜きのされなかった領域中のＩＣインレット１０３は、ラミネートシート１００ごと廃棄される。
【０１００】
次に、検査装置３１０が打抜き装置３１によるＩＣカード１１０の打抜き精度を検査し、検査結果を管理用コンピュータ９に送信する（第２検査工程）。この検査結果に基づき、前記第２廃棄装置は、打抜き精度の不良なＩＣカード１１０，…を廃棄する（第２廃棄工程）。また、管理用コンピュータ９は、前記バーコード読取装置３０からのラミネートシート１００の識別情報に基づいて検査装置３１０における検査対象のＩＣカード１１０のＩＣ固有情報を管理用データベース９１から取得し、検査装置３１０から送信される検査結果と、ＩＣカード１１０のＩＣ固有情報とを対応付けて管理用データベース９１に記録する（記録工程）。
【０１０１】
検査装置３１０によって打抜き精度の検査が行われたＩＣカード１１０，…は、収容器４Ｂの各収容部４１Ｂに収容される。このとき、管理用コンピュータ９は、収容器４Ｂのバーコード４２Ｂによって示される識別情報と、収容器４Ｂ中でのＩＣカード１１０，…の位置及びＩＣ固有情報とを対応付けて管理用データベース９１に記録する。
【０１０２】
次に、印刷装置３２は、収容器４Ｂにより搬送されたＩＣカード１１０を収容部４１Ｂ毎に一列に並べて搬送しつつ、これらＩＣカード１１０の裏面に印刷を行う（印刷工程）。また、バーコード読取装置３３０が収容器４Ｂのバーコード４２Ｂを読み取り、収容器４Ｂの識別情報を管理用コンピュータ９に送信する。
【０１０３】
次に、検査装置３３がＩＣカード１１０の裏面の印刷状態を検査し、検査結果を管理用コンピュータ９に送信する（第３検査工程）。この検査結果に基づき、前記第３廃棄装置は印刷不良のＩＣカード１１０，…を廃棄する（第３廃棄工程）。また、管理用コンピュータ９は、前記バーコード読取装置３３０からの収容器４Ｂの識別情報に基づいて検査装置３３における検査対象のＩＣカード１１０のＩＣ固有情報を管理用データベース９１から取得し、検査装置３３から送信される検査結果と、ＩＣカード１１０のＩＣ固有情報とを対応付けて管理用データベース９１に記録する（記録工程）。
【０１０４】
次に、発行装置３４は、ＩＣインレット１０３の機能検査を行った後、機能の正常なＩＣチップ１０３ａに発行を行う（発行工程）。また、発行装置３４は、発行を行ったＩＣカード１１０のＩＣチップ１０３ａから前記ＩＣ固有情報を取得して管理用コンピュータ９に送信する。ＩＣ固有情報を取得したら、管理用コンピュータ９はＩＣ固有情報と発行管理情報とを対応付けて管理用データベース９１に記録する（記録工程）。
【０１０５】
このように、ＩＣ固有情報及び発行管理情報を対応付けて管理用データベース９１に記録することにより、ＩＣカード１１０のＩＣ固有情報に基づいて、そのＩＣカード１１０の発行管理情報を取得することが可能となる。
【０１０６】
ＩＣチップ１０３ａに発行が行われたら、検査装置３５がＩＣカード１１０の外観を検査し、検査結果を管理用コンピュータ９に送信する（第４検査工程）。この検査結果に基づき、前記第４廃棄装置は、外観不良のＩＣカード１１０，…を廃棄する（第４廃棄工程）。また、管理用コンピュータ９は、前記バーコード読取装置３３０からの収容器４Ｂの識別情報に基づいて検査装置３５における検査対象のＩＣカード１１０のＩＣ固有情報を管理用データベース９１から取得し、検査装置３５から送信される検査結果と、ＩＣカード１１０のＩＣ固有情報とを対応付けて管理用データベース９１に記録する（記録工程）。
【０１０７】
次に、検査装置３６がＩＣカード１１０の外観を検査し、検査結果を管理用コンピュータ９に送信する（第４検査工程）。この検査結果に基づき、前記第４廃棄装置は、外観不良のＩＣカード１１０，…を廃棄する（第４廃棄工程）。また、管理用コンピュータ９は、前記バーコード読取装置３３０からの収容器４Ｂの識別情報に基づいて検査装置３６における検査対象のＩＣカード１１０のＩＣ固有情報を管理用データベース９１から取得し、検査装置３６から送信される検査結果と、ＩＣカード１１０のＩＣ固有情報とを対応付けて管理用データベース９１に記録する（記録工程）。
【０１０８】
次に、ＩＣ情報読取部３７は、廃棄されなかったＩＣカード１１０の前記ＩＣ固有情報を読み取り、管理用コンピュータ９に送信する。また、収容装置５Ｅは、ＩＣカードを収容器４Ｅに収容するとともに、収容器４Ｅの容器識別情報をバーコード４２Ｅから取得して管理用コンピュータ９に送信する（収容工程）。ＩＣ固有情報及び容器識別情報を取得したら、管理用コンピュータ９はＩＣ固有情報と、検査装置２８，３１０，３３，３５，３６による検査結果と、容器識別情報とを対応付けて管理用データベース９１に記録する（記録工程）。
【０１０９】
これにより、ＩＣカード１１０のＩＣ固有情報に基づいて、そのＩＣカード１１０を収容していた収容器４Ｅの容器識別情報を取得することが可能となる。
【０１１０】
そして、シール部３８が収容器４Ｅの開口部をシールすることにより、製品としてのＩＣカード１１０，…が１つにまとめられて出荷待機状態となる。
【０１１１】
以上のＩＣカードの製造管理方法によれば、ＩＣカード１１０のＩＣ固有情報に基づいて、そのＩＣカード１１０の発行管理情報、つまり検査装置２８，３１０，３３，３５，３６による検査結果などを取得可能とすることができるため、従来と比較して、ＩＣカード１１０の品質を細かく区別して管理することが容易となる。
【０１１２】
また、ＩＣカード１１０のＩＣ固有情報に基づいて、そのＩＣカード１１０を収容していた収容器４Ｅの容器識別情報を取得することができるため、ＩＣカード１１０に機能不良が生じた場合に、そのＩＣカード１１０と同じ収容器４Ｅに収容されて同一のロットを構成していた他のＩＣカード１１０のＩＣ固有情報を容易に取得することができる。
【０１１３】
また、打抜き工程によってラミネートシートからＩＣカード１１０を打抜かずにラミネートシートごと廃棄する場合であっても、廃棄されたＩＣカード１１０のＩＣ固有情報と廃棄されなかったＩＣカード１１０のＩＣ固有情報とを区別して管理することができるため、ＩＣカード１１０が廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
【０１１４】
また、前記第２〜第４廃棄装置によってＩＣカード１１０を廃棄する場合であっても、廃棄されたＩＣカード１１０のＩＣ固有情報と廃棄されなかったＩＣカード１１０のＩＣ固有情報とを区別して管理することができるため、ＩＣカード１１０が廃棄されているのか、紛失しているのかを容易に判別することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１１５】
【図１】ラミネートシートを示す図であり、（ａ）は平面図、（ｂ）は断面図である。
【図２】本発明に係るＩＣカードの製造管理装置を示すブロック図である。
【図３】ラミネートシート製造部の概略構成を示す図である。
【図４】ＩＣカード製造部の概略構成を示す図である。
【符号の説明】
【０１１６】
１          製造管理装置（ＩＣカードの製造管理装置）
４Ｅ        収容器（カード収容器）
５Ｅ        収容装置
９          管理用コンピュータ（第１〜第４取得装置）
２８        検査装置（第１検査装置）
２９        バーコード読取装置（第１取得装置）
３０        バーコード読取装置（第２取得装置）
３１        打抜き装置
３２        印刷装置
３３        検査装置（第３検査装置）
３３０      バーコード読取装置（第３取得装置）
３４        発行装置
３５，３６  検査装置（第４検査装置）
３７        ＩＣ情報読取部（第４取得装置）
９１        管理用データベース
１００      ラミネートシート
１０１      第１基材（カード基材）
１０２      第２基材（カード基材）
１０３ａ    ＩＣチップ
１１０      ＩＣカード
３１０      検査装置（第２検査装置）
【図１】
2006053785.tif 000003
【図２】
2006053785.tif 000004
【図３】
2006053785.tif 000005
【図４】
2006053785.tif 000006