(57)【要約】【課題】  カバーの電磁気的シールド性能に支障が少なく、しかも、狭ピッチに対応することができる、コンタクトの電気検査が可能なコネクタを提供する。【解決手段】  １１本のコンタクト５の上側におけるインシュレータ４の１１箇所には、検査用穴部４ａが形成されている。各検査用穴部は、コンタクトのピッチ方向に３列（４箇所と４箇所と３箇所）に各コンタクトに対向して配設されている。カバー７の内側には、ＩＣカード１１が挿入される。ＩＣカードには、１１個のカードパッド部（カード電気接点群）１２が１列に一定のピッチで設けられている。ＩＣカードがカバーの内側に挿入された（Ｂ）の状態において、カバーを一対のヒンジ６を支点として本体２に対して矢印方向に回転すると、（Ｃ）の嵌合状態に至る。この状態では、カバーは、ＩＣカードの各カードパッド部を各コンタクトに向けて押圧する。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
接続対象物と接続するコネクタにおいて、
前記コネクタは、インシュレータと、前記接続対象物と接続する接点部と前記インシュレータに保持される保持部とを有する複数のコンタクトと、前記接続対象物を前記各コンタクトの接点部に向けて押圧するカバーとを備え、
前記各コンタクトの保持部に対応する前記インシュレータの箇所と前記カバーの箇所とにそれぞれ検査用穴部が形成され、
隣接する前記各コンタクトの保持部に対応する前記各検査用穴部の形成位置が、前記各コンタクトのピッチ方向と直交する方向において異なることを特徴とするコンタクトの電気検査が可能なコネクタ。
【請求項２】
前記インシュレータに前記各検査用穴部が円錐内面状に形成されることを特徴とする請求項１記載のコンタクトの電気検査が可能なコネクタ。
【請求項３】
前記インシュレータの各検査用穴部に露出する前記各コンタクトの露出箇所は、前記各検査用穴部の直径よりも幅広であることを特徴とする請求項１又は２記載のコンタクトの電気検査が可能なコネクタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＩＣカード等の接続対象物と接続するコネクタに関し、詳しく述べると、コンタクトの電気検査が可能なコネクタに関する。
【背景技術】
【０００２】
第１の従来の技術のコネクタについて説明する（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
図５に示されるように、コネクタ３０の樹脂製のハウジング３２には、７本のコンタクト３６が保持されている。ハウジング３２には、平坦な長方形のハウジング基部（手前部３２ｄ及び奥部３２ｃ）と、左右の端部に垂直に延びる壁部３２ｅと、奥側の端部にある凹部３２ｂ及びこの凹部を形成する垂直な壁部と水平な天井部３２ａとが、配設される。この凹部３２ｂは、カードの先端部の挿入口となる。ハウジング基部には、７個の長方形の開口部３４が、それぞれの短手方向に並んで設けられている。
【０００４】
ハウジング基部の手前部３２ｄには、７個の円形の押圧痕（穴）３２ｄ１が、設けられている。
【０００５】
各コンタクト３６は、接続相手と接続する凸部３６ａ１を有するばね部３６ａと、ハウジング３２に保持される保持部と、押圧痕３２ｄ１に露出する押圧痕部と、リード線等に接続する端子部３６ｂとから構成される。
【０００６】
コネクタ３０の導通試験に使用されるプローブを各押圧痕３２ｄ１から挿入して各コンタクト３６の押圧痕部に接触させる。この結果、各コンタクト３６の導通性の良否が、検出される。
【０００７】
第２の従来の技術のコネクタについて説明する（例えば、特許文献２参照。）。
【０００８】
コネクタ４０のハウジング４１には、数本のコンタクト４４が１列に保持されている。ハウジング４１の一側縁には、回転軸４５が設けられ、金属製のカバー５０は回転軸４５の周りに１８０度回転可能に取り付けられている。
【０００９】
カバー５０は、ハウジング４１内に収容されたカード（図示せず）を被覆する。カバー５０の２箇所には、トラック状穴５４が各コンタクト４４のピッチ方向に設けられている。
【００１０】
コネクタ４０の導通試験に使用されるプローブを各トラック状穴５４から挿入して各コンタクト４４に接触させる。この結果、各コンタクト４４の導通性の良否が、検出される。
【００１１】
【特許文献１】特開２００４−１４６１６６号公報（第７頁第４８行〜第８頁第３５行、図１〜３）
【特許文献２】特開２０００−３４０２８０号公報（第４頁左欄第１行〜右欄第１８行、図１〜３）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
第１の従来の技術では、ハウジング３２の各押圧痕（穴）３２ｄ１は小さいので、金属製のカバーに形成された各検査用穴部も小さいことと推察される。したがって、カバーの電磁気的シールド性能には、支障が少ない。
【００１３】
しかし、各押圧痕（穴）３２ｄ１は、ハウジング３２において各コンタクト３６のピッチ方向の１列上に配設されているため、狭ピッチには対応することが困難である。
【００１４】
第２の従来の技術では、各トラック状穴５４が各コンタクト４４のピッチ方向の１列上に配設されているので、狭ピッチに対応することができる。
【００１５】
しかし、カバー５０に形成されている各トラック状穴５４が大きいため、カバー５０の電磁気的シールド性能に大きい支障を及ぼす。
【００１６】
そこで、本発明は、前記両従来の技術の長所を活用し、短所を除去し、カバーの電磁気的シールド性能に支障が少なく、しかも、狭ピッチに対応することができる、コンタクトの電気検査が可能なコネクタを提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本発明は、前記課題を解決するため、次の手段を採用する。
【００１８】
１．接続対象物と接続するコネクタにおいて、前記コネクタは、インシュレータと、前記接続対象物と接続する接点部と前記インシュレータに保持される保持部とを有する複数のコンタクトと、前記接続対象物を前記各コンタクトの接点部に向けて押圧するカバーとを備え、前記各コンタクトの保持部に対応する前記インシュレータの箇所と前記カバーの箇所とにそれぞれ検査用穴部が形成され、隣接する前記各コンタクトの保持部に対応する前記各検査用穴部の形成位置が、前記各コンタクトのピッチ方向と直交する方向において異なるコンタクトの電気検査が可能なコネクタ。
【００１９】
２．前記インシュレータに前記各検査用穴部が円錐内面状に形成される前記１記載のコンタクトの電気検査が可能なコネクタ。
【００２０】
３．前記インシュレータの各検査用穴部に露出する前記各コンタクトの露出箇所は、前記各検査用穴部の直径よりも幅広である前記１又は２記載のコンタクトの電気検査が可能なコネクタ。
【発明の効果】
【００２１】
明細書の説明から明らかなように、本発明は、次の効果を奏する。
【００２２】
１．カバーに形成される各検査用穴部が小さいので、カバーの電磁気的シールド性能を維持することができる。
【００２３】
２．隣接する各コンタクトの保持部に対応するインシュレータ及びカバーの各検査用穴部の形成位置が、各コンタクトのピッチ方向と直交する方向において異なるので、狭ピッチに対応することができる。
【００２４】
３．狭ピッチの場合でも、各検査用穴部は従来と同径で、検査を行うことができるため、導通試験に使用されるプローブに既存品を採用することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
本発明の一実施例のコンタクトの電気検査が可能なコネクタについて説明する。
【実施例１】
【００２６】
本発明の実施例１のＩＣカード用コネクタについて図１〜図４を参照して説明する。
【００２７】
図１は、ＩＣカード用コネクタ１の斜視図であり、（Ａ）は正面側から見た斜視図、（Ｂ）は底面側から見た斜視図である。
【００２８】
図２（Ａ）〜（Ｃ）は、それぞれＩＣカード用コネクタ１の諸状態の斜視図を示す。
【００２９】
図２（Ａ）は、ＩＣカード用コネクタ１の本体２に対して金属製のカバー７が開放された状態を示す。本体２のフレーム３内には、平板状のインシュレータ４が設けられ、インシュレータ４には、１１本のコンタクト５が１列に一定のピッチで保持されている。各コンタクト５の上側におけるインシュレータ４の１１箇所には、検査用穴部４ａが形成されている。１１箇所の検査用穴部４ａは、コンタクト５のピッチ方向に３列（４箇所と４箇所と３箇所）に１１本のコンタクト５に対向して配設されている。
【００３０】
フレーム３の一端側には、一対のヒンジ６が設けられ、カバー７は、図２（Ｂ）に示されるように、一対のヒンジ６に回転可能に取り付けられている。
【００３１】
カバー７の内側には、ＩＣカード１１が図２（Ａ）の矢印方向に挿入される。ＩＣカード１１には、１１個のカードパッド部（カード電気接点群）１２が１列に一定のピッチで設けられている。
【００３２】
ＩＣカード１１がカバー７の内側に挿入された図２（Ｂ）の状態において、カバー７を一対のヒンジ６を支点として本体２に対して矢印方向に回転すると、図２（Ｃ）の嵌合状態に至る。この嵌合状態では、カバー７は、ＩＣカード１１の各カードパッド部１２をＩＣカード用コネクタ１の各コンタクト５に向けて押圧する。
【００３３】
図３（Ａ）は、ＩＣカード用コネクタ１をコンタクト５の長さ方向に切断して示す全体の斜視図である。図３（Ｂ）は、図３（Ａ）における長方形で囲った部分の拡大図である。各検査用穴部４ａは、インシュレータ４に円錐内面状に形成されているので、プローブを各検査用穴部４ａに容易に挿入することができる。各コンタクト５は、全体的には細長いが、各検査用穴部４ａに露出する露出箇所５ｃ１だけは部分的に各検査用穴部４ａの直径よりも幅広である。各コンタクト５の露出箇所５ｃ１をこのように幅広く構成すると、プローブが各コンタクト５に確実に接触し、接触の安定性が向上する。
【００３４】
図４（Ａ）〜（Ｆ）は、ＩＣカード用コネクタ１の６面図である。各コンタクト５は、図４（Ｅ）に示されるように、ＩＣカード１１の各カードパッド部１２と接続する接点部５ａ、ばね部５ｂ、インシュレータ４に保持される保持部５ｃ及び基板等に接続する結線部５ｄから連続して一体に構成される。
【００３５】
カバー７には、図４（Ｃ）に示されるように、インシュレータ４の１１箇所の検査用穴部４ａに対応する１１箇所に検査用穴部７ａが形成されている。
【００３６】
本実施例１では、カバー７は、本体２に対して回転することができるが、本体２に固定されるように設計変更することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３７】
【図１】本発明の実施例１のＩＣカード用コネクタの斜視図であり、（Ａ）は正面側から見た斜視図、（Ｂ）は底面側から見た斜視図を、それぞれ示す。
【図２】同コネクタの諸状態の斜視図であり、（Ａ）は同コネクタの本体に対してカバーが開放された状態、（Ｂ）は同カバーにＩＣカードが挿入された状態、（Ｃ）は同コネクタと同ＩＣカードとの嵌合状態を、それぞれ示す。
【図３】同コネクタをコンタクトの長さ方向に切断して示す斜視図であり、（Ａ）は全体図、（Ｂ）は（Ａ）における長方形で囲った部分の拡大図である。
【図４】同コネクタの６面図であり、（Ａ）は背面図、（Ｂ）は左側面図、（Ｃ）は正面図、（Ｄ）は右側面図、（Ｅ）は底面図、（Ｆ）は前面図を、それぞれ示す。
【図５】第１の従来のコネクタの要部の斜視図である。
【図６】第２の従来のコネクタの要部の斜視図である。
【符号の説明】
【００３８】
１  ＩＣカード用コネクタ
２  本体
３  フレーム
４  インシュレータ
４ａ  検査用穴部
５  コンタクト
５ａ  接点部
５ｂ  ばね部
５ｃ  保持部
５ｃ１  露出箇所
５ｄ  結線部
６  ヒンジ
７  カバー
７ａ  検査用穴部
１１  ＩＣカード
１２  カードパッド部
【図１】
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【図２】
2006100157.tif 000004
【図３】
2006100157.tif 000005
【図４】
2006100157.tif 000006
【図５】
2006100157.tif 000007
【図６】
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