(57)【要約】【課題】焼き付き現象が視認されない場合にも補正処理が原則的な補正量で実行されることで、画像の品質低下が恒常的に発生する。【解決手段】複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置として、（ａ）各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、（ｂ）劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する補正量決定部と、（ｃ）視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する視認度合い判定部と、（ｄ）劣化量差が閾値より大きいと判定されたとき、補正量による補正処理の実行を指示し、劣化量差が閾値以下と判定されたとき、補正量による補正処理の実行停止を指示する補正動作指示部と、（ｅ）補正処理の実行が指示されたとき、補正量に基づいて入力信号を補正する劣化量差補正部とを有するものを提案する。【選択図】図１
2006195312.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
前記劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する処理と、
視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する処理と、
前記劣化量差が閾値より大きいと判定されたとき、前記補正量による補正処理の実行を指示する処理と、
前記劣化量差が閾値以下と判定されたとき、前記補正量による補正処理の実行停止を指示する処理と、
補正処理の実行が指示されたとき、決定された補正量に基づいて入力信号を補正する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項２】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
前記劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する処理と、
視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する処理と、
前記劣化量差が閾値以下のとき、前記補正量を補正処理の不実行に対応する値に修正する処理と、
決定された補正量又は修正後の補正量に基づいて入力信号を補正する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項３】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
前記劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する処理と、
視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する処理と、
前記劣化量差が閾値以下のとき、前記補正量の決定処理を中止する処理と、
決定された補正量に基づいて入力信号を補正する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項４】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
前記劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する処理と、
視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する処理と、
前記劣化量差が閾値以下のとき、前記補正量をより小さい値に修正する処理と、
決定された補正量又は修正後の補正量に基づいて入力信号を補正する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか１項に記載の焼き付き現象補正方法は、
前記劣化量差が閾値より大きいと判定されたとき、前記補正量をより大きい値に修正する処理
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項６】
請求項１〜４のいずれか１項に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記劣化量差は、前記補正量による補正処理前の入力信号に基づいて算出される
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項７】
請求項１〜４のいずれか１項に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記劣化量差は、前記補正量による補正処理後の入力信号に基づいて算出される
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項８】
請求項１〜４のいずれか１項に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記基準画素は、同色で発光する複数の自発光素子毎に設定される
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項９】
請求項１〜４のいずれか１項に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記基準画素は、補正量の算出用に仮想的に設定された画素である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項１０】
請求項１〜４のいずれか１項に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記入力信号は、輝度を指定する階調値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項１１】
請求項１〜４のいずれか１項に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記入力信号は、自発光素子に印加される駆動電流値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項１２】
請求項１〜４のいずれか１項に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記入力信号は、自発光素子のアノード・カソード間に印加される駆動電圧値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項１３】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置であって、
各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
前記劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する補正量決定部と、
視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する視認度合い判定部と、
前記劣化量差が閾値より大きいと判定されたとき、前記補正量による補正処理の実行を指示し、前記劣化量差が閾値以下と判定されたとき、前記補正量による補正処理の実行停止を指示する補正動作指示部と、
補正処理の実行が指示されたとき、決定された補正量に基づいて入力信号を補正する劣化量差補正部と
を有することを特徴とする自発光装置。
【請求項１４】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置であって、
各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
前記劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する補正量決定部と、
視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する視認度合い判定部と、
前記劣化量差が閾値以下のとき、前記補正量を補正処理の不実行に対応する値に修正する補正量修正部と、
決定された補正量又は修正後の補正量に基づいて入力信号を補正する劣化量差補正部と
を有することを特徴とする自発光装置。
【請求項１５】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置であって、
各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
前記劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する補正量決定部と、
視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する視認度合い判定部と、
前記劣化量差が閾値以下のとき、前記補正量決定部に決定処理の中止を指示する決定処理制御部と、
決定された補正量に基づいて入力信号を補正する劣化量差補正部と
を有することを特徴とする自発光装置。
【請求項１６】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置であって、
各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する劣化量差算出部と、
前記劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する補正量決定部と、
視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する視認度合い判定部と、
前記劣化量差が閾値以下と判定されたとき、前記補正量をより小さい値に修正する補正量修正部と、
決定された前記補正量又は修正後の補正量に基づいて入力信号を補正する劣化量差補正部と
を有することを特徴とする自発光装置。
【請求項１７】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に搭載したコンピュータに、
各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
前記劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する処理と、
視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する処理と、
前記劣化量差が閾値より大きいと判定されたとき、前記補正量による補正処理の実行を指示する処理と、
前記劣化量差が閾値以下と判定されたとき、前記補正量による補正処理の実行停止を指示する処理と、
補正処理の実行が指示されたとき、決定された補正量に基づいて入力信号を補正する処理と
を実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項１８】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に搭載したコンピュータに、
各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
前記劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する処理と、
視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する処理と、
前記劣化量差が閾値以下のとき、前記補正量を補正処理の不実行に対応する値に修正する処理と、
決定された補正量又は修正後の補正量に基づいて入力信号を補正する処理と
を実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項１９】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に搭載したコンピュータに、
各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
前記劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する処理と、
視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する処理と、
前記劣化量差が閾値以下のとき、前記補正量の決定処理を中止する処理と、
決定された補正量に基づいて入力信号を補正する処理と
を実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項２０】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に搭載したコンピュータに、
各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
前記劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する処理と、
視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する処理と、
前記劣化量差が閾値以下のとき、前記補正量をより小さい値に修正する処理と、
決定された補正量又は修正後の補正量に基づいて入力信号を補正する処理と
を実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
発明の一つの形態は、自発光装置に発生する焼き付き現象の補正方法に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置を搭載した自発光装置に関する。また、発明の一つの形態は、自発光装置に搭載されたコンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主には液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
【０００３】
ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子は、その発光量や発光時間に比例して劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
【０００４】
現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。以下、その幾つかを列記する。
【特許文献１】特開２００３−２２８３２９号公報  この文献には、表示パネルを構成する各画素に対する入力データを一定周期で画素毎に積算し、それらの最大値から各画素の積算値を減算して各画素についての補正量を設定する方法が開示されている。また、非使用状態において補正量の大きさに比例する時間だけ各画素を一定輝度で発光することで各画素の表示特性を揃える方法が開示されている。
【０００５】
【特許文献２】特開２００３−２９５８２７号公報  この文献には、静止画の表示時にのみ表示データと表示時間を記憶し、その表示データと最大輝度との差ΔＹと、静止画が表示された時間Ｔとの積算量ΔＹ・Ｔを補正データに設定する方法が開示されている。また、この文献には、蓋が閉じられた状態や非使用状態の場合にのみ補正用の表示を実行することで、焼き付き現象を補正する方法が開示されている。  この補正方法にも、特許文献１の場合とまったく同様の問題が存在する。
【特許文献３】特開２０００−１３２１３９号公報  この文献には、画素毎に入力データを積算し、補正テーブルを用いて積算値を補正値に変換する方法が開示されている。また、求められた補正値により各画素の入力データを補正し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。
【０００６】
【特許文献４】特開２００１−１７５２２１号公報  この文献には、画素の中で一番輝度が劣化した画素にあわせて、その他の画素の輝度データを下げるように補正値を決定する方法が開示されている。また、得られた補正値で各画素の輝度データを変換し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
焼き付き現象の補正の基本は、画素間に生じた劣化量差を解消することである。このため、既存の補正方法は、劣化量差が存在する限り、その多少によらず補正動作が実行される。しかし、補正動作の実行は、入力信号値の変更を伴い、画質が劣化するのを避け得ない問題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
発明者らは、以上の技術的課題に着目し、以下の技術手法を提案する。
（１）技術手法１
例えば、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法として、
（ａ）各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
（ｂ）劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する処理と、
（ｃ）視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する処理と、
（ｄ）劣化量差が閾値より大きいと判定されたとき、補正量による補正処理の実行を指示する処理と、
（ｅ）劣化量差が閾値以下と判定されたとき、補正量による補正処理の実行停止を指示する処理と、
（ｆ）補正処理の実行が指示されたとき、決定された補正量に基づいて入力信号を補正する処理と
を実行する手法を提案する。
【０００９】
（２）技術手法２
例えば、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法として、
（ａ）各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
（ｂ）劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する処理と、
（ｃ）視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する処理と、
（ｄ）劣化量差が閾値以下のとき、補正量を補正処理の不実行に対応する値に修正する処理と、
（ｅ）決定された補正量又は修正後の補正量に基づいて入力信号を補正する処理と
を実行する手法を提案する。
【００１０】
（３）技術手法３
また例えば、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法として、
（ａ）各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
（ｂ）劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する処理と、
（ｃ）視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する処理と、
（ｄ）劣化量差が閾値以下のとき、補正量の決定処理を中止する処理と、
（ｅ）決定された補正量に基づいて入力信号を補正する処理と
を実行する手法を提案する。
【００１１】
（４）技術手法４
また例えば、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法として、
（ａ）各画素と基準画素との間の劣化量差を算出する処理と、
（ｂ）劣化量差に基づいて、自発光素子の駆動条件に関する入力信号の補正量を決定する処理と、
（ｃ）視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する処理と、
（ｄ）劣化量差が閾値以下のとき、補正量をより小さい値に修正する処理と、
（ｅ）決定された補正量又は修正後の補正量に基づいて入力信号を補正する処理と
を実行する手法を提案する。
なお、自発光装置は、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＣＲＴ（cathode ray tube）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、プロジェクターを含むものとする。
【発明の効果】
【００１２】
前述のように、焼き付き現象が視覚的に認識されるほど劣化量差が大きくなった場合にのみ補正処理を実行する方法を採用すれば、原画像の画質が低下する期間を必要最小限にできる。すなわち、劣化量差の発生具合に応じて補正処理の実行タイミングを最適化できる。
もっとも、焼き付き現象が視覚的に認識されない期間には、劣化量差に対応する補正量をより小さい値に修正して補正する方法を採用すれば、補正処理の実行による画質低下を最小化できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。
【００１４】
（Ａ）焼き付き現象補正装置の形態例
（Ａ−１）形態例１
（ａ）装置構成
図１に、焼き付き現象補正装置の一つの形態例を示す。以下、焼き付き現象補正装置
を「補正装置」という。ここで、補正装置１は、同色で発光する画素について配置される。なお、発光色は、一般に赤、青、緑の三色をいう。もっとも、白色光源を使用する場合には白をいう。
補正装置１は、劣化量差算出部３、補正量決定部５、視認度合い判定部７、補正動作指示部９、劣化量差補正部１１を主要な構成要素とする。
【００１５】
劣化量差算出部３は、補正処理前の入力信号に基づいて各画素と基準画素との劣化量差を算出する処理デバイスである。基準画素に対して劣化が進んでいる場合、劣化量差はプラスで与えられ、基準画素に対して劣化が遅れている場合、劣化量差はマイナスで与えられる。
劣化量の算出には任意の手法を適用できる。例えば、ある期間内に入力された入力信号を画素毎に累積加算したものを劣化量とする手法を適用する。なお、劣化量差は、各画素の劣化量と基準画素の劣化量との差分として与えられる。
【００１６】
なお、基準画素には、例えば全画素のうち最も劣化が進んだ画素、最も劣化が遅れた画素、画面中央の画素、その他任意の実在する画素を想定する。もっとも、基準画素には、例えば劣化量の平均値を与える仮想的な画素を想定することも可能である。
また、入力信号は、自発光素子の駆動条件に関する信号であれば任意の信号を適用できる。例えば各自発光素子（画素）に対応する階調値、階調値の累積値、階調値から導出される劣化率、駆動電流値、自発光素子のアノード・カソード間に印加される駆動電圧値を適用できる。
これらのデータは、いずれも自発光素子の発光輝度や劣化量を与えるパラメータとして既存の技術においても利用されている。なお、特定のパラメータについての形態例は後述する。
【００１７】
補正量決定部５は、入力信号に対する補正量を画素毎に決定する処理デバイスである。補正量決定部５は、現存する劣化量差がある期間内に解消される方向で補正量を決定する。なお、劣化量差には、単位フレームだけでなく複数フレームについて算出される累積劣化量差が含まれる。
この形態例の場合、補正量の算出には任意の手法を適用することができる。この形態例は、補正処理の実行と停止の判定に特徴があり、どのような手法で補正量を算出するかは関係しないためである。これは、劣化量差の算出手法についても同様である。
従って、補正量の算出には、例えば、最も劣化の進んだ基準画素に他の画素の劣化が追いつくように補正量を決定する手法を適用しても良い。この場合、基準画素以外の画素は輝度を上げるように補正量が決定される。また例えば、最も劣化の遅れた基準画素に他の画素の劣化が追いつくように補正量を決定する手法を適用しても良い。この場合、基準画素以外の画素は輝度を下げるように補正量が決定される。
なお、決定された補正量は、劣化量差補正部１１に与えられる。
【００１８】
視認度合い判定部７は、視覚上の許容範囲として設定した閾値と算出された劣化量差とを比較し、焼き付きの視認度合いを判定する処理デバイスである。
焼き付き現象には、画素間に劣化量差がある程度進行しなければが視認されないという性質がある。すなわち、画素間に劣化量差が存在してもその量が小さい間は人間に視認されない性質がある。
そこで、発明者らは、焼き付き現象が視覚的に確認される劣化量差を判定用の閾値に設定する。
閾値は、視覚上の許容範囲として設定された値である。従って、システム設計時や視聴者が任意に設定することも可能である。
なお、閾値は、焼き付き現象が視認される境界値であることが望ましいが、必ずしも物理的に一意に特定される値である必要はない。
【００１９】
この形態例の場合、閾値は、表示デバイスの発光特性についての測定結果に基づいて設定する。すなわち、どの程度の劣化量差によって、どの程度の焼き付き現象が視認されるかについて測定された結果に基づいて設定する。
なお、閾値は、発光特性の変動に応じて可変できることが望ましい。この場合、発光特性の変動に応じて常に適当な閾値を設定できる。
視認度合い判定部７は、閾値に対する劣化量差の大小関係を補正動作指示部９に与える。
【００２０】
補正動作指示部９は、劣化量差補正部１１における補正動作の実行と停止を劣化量差の大きさに応じて（すなわち、判定結果に応じて）指示する処理デバイスである。
なお、劣化量差が閾値より大きい場合、補正動作指示部９は、焼き付き現象が視認されると判定する。このとき、補正動作指示部９は、算出された補正量による補正処理の実行を劣化量差補正部１１に指示する。
一方、劣化量差が閾値以下の場合、補正動作指示部９は、焼き付き現象が視認されないと判定する。このとき、補正動作指示部９は、算出された補正量による補正処理の実行停止を劣化量差補正部１１に指示する。
【００２１】
なお、補正処理の実行停止を指示する場合には、例えばその情報を補正量決定部５に与え、次回以降の補正量の決定に反映させる仕組みを採用することが望ましい。また例えば、補正処理の実行停止を劣化量差算出部３に与え、対応画素についての劣化量差の算出に反映させることが望ましい。
劣化量差補正部１１は、与えられた補正量に基づいて入力信号を補正する処理デバイスである。例えば、入力信号に対して補正量を加減算することで入力信号を補正する。また例えば、補正量に応じて調整したゲインで入力信号を増幅又は減衰する。
なお、この補正処理の実行と停止は、補正動作指示部９により制御される。補正後の入力信号は、自発光素子が配列された表示パネルの駆動信号として出力される。
【００２２】
（ｂ）補正処理動作
図２に、以上説明した補正装置１で実行される処理手順を示す。
まず、劣化量差算出部３が、各画素と基準画素との劣化量差を算出する（Ｓ１）。この処理は、入力信号値に基づいて実行される。
次に、補正量決定部５が、算出された劣化量差に基づいて対応する入力信号の補正量を画素毎に決定する（Ｓ２）。
この後又はＳ２の処理と並行して、劣化量差が閾値より大きいか否かが判定される（Ｓ３）。この判定処理は、視認度合い判定部７で実行される。
【００２３】
劣化量差が閾値より大きいと判定されたとき、補正動作指示部９は、補正量による補正処理の実行を劣化量差補正部１１に指示する（Ｓ４）。
これに伴い、劣化量差補正部１１が補正処理を実行する（Ｓ５）。
一方、劣化量差が閾値以下と判定されたとき、補正動作指示部９は、補正量による補正処理の実行停止を劣化量差補正部１１に指示する（Ｓ６）。
この処理が補正対象範囲内の全画素について繰り返し実行される。補正対象範囲は、表示デバイスの全画素（有効画像領域）であることが望ましいが、特定の画素や領域を指定することも可能である。特定の領域には、例えば静止画領域がある。
【００２４】
（ｃ）実施形態の効果
この補正装置１を用いれば、算出された劣化量差が閾値より大きい場合にのみ補正処理が実行される。
すなわち、焼き付き現象が視覚的に認識されるほど劣化量差が大きくなった場合にのみ補正処理が実行される。勿論、この補正処理により、焼き付き現象の原因となる劣化量差が解消されるように入力信号を補正できる。
また、この補正装置１を用いれば、劣化量差が閾値より小さい間は、算出された補正量による補正処理の実行を停止できる。すなわち、原画像の入力信号そのものにより表示デバイスを駆動できる。この結果、少なくとも焼き付き現象が視認されない間は、自然に近い状態で原画像を表示できる。すなわち、従来技術に比して画質の向上を実現できる。
【００２５】
（Ａ−２）形態例２
（ａ）装置構成
図３に、焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す。なお、図３には、図１との対応部分に同一符号を付して示す。
補正装置２１は、劣化量差算出部３、補正量決定部５、視認度合い判定部７、補正量修正部２３、劣化量差補正部１１を主要な構成要素とする。
このうち、補正量修正部２３がこの形態例に特有の構成であり、他の構成要素は形態例１と同じである。従って、補正量修正部２３について説明する。
【００２６】
補正量修正部２３は、劣化量差に応じて（すなわち、判定結果に応じて）、補正量を選択的に修正する処理デバイスである。
この形態例の場合、補正量修正部２３は、劣化量差が閾値以下と判定されたとき、補正量をより小さい値に修正する。これは、補正処理の実行による画質の改変を最小限に抑制するためである。修正方法には任意の方法を適用できる。例えば、入力された補正量をｎ分の１（ｎは実数）に修正する手法を適用する。
一方、劣化量差が閾値より大きいと判定されたとき、補正量修正部２３は、補正量を修正せずに出力する。このため、劣化量差の解消が速やかに進む。
【００２７】
（ｂ）補正処理動作
図４に、以上説明した補正装置２１で実行される処理手順を示す。
まず、劣化量差算出部３が、各画素と基準画素との劣化量差を算出する（Ｓ１１）。この処理は、入力信号値に基づいて実行される。
次に、補正量決定部５が、算出された劣化量差に基づいて対応する入力信号の補正量を決定する（Ｓ１２）。
この後又はＳ１２の処理と並行して、劣化量差が閾値より大きいか否かが判定される（Ｓ１３）。この判定処理は、視認度合い判定部７で実行される。
【００２８】
劣化量差が閾値より大きいと判定されたとき、補正量修正部２３は、入力された補正量を無修正のまま劣化量差補正部１１に与える（Ｓ１４）。一方、劣化量差が閾値以下と判定されたとき、補正量修正部２３は、補正量を小さい値に修正して劣化量差補正部１１に与える（Ｓ１５）。
そして、劣化量差補正部１１が修正された補正量又は算出されたままの補正量によって補正処理を実行する（Ｓ１６）。
この処理が補正対象範囲内の全画素について繰り返し実行される。
【００２９】
（ｃ）実施形態の効果
この補正装置２１を用いれば、劣化量差がゼロでない限り、補正処理が実行される。ただし、焼き付き現象が視覚的に認識されるほど劣化量差が大きくなっていない場合には、画質を優先して補正量を小さく修正する。このため、劣化量差の修正に必要な時間は長くなるが、その分、原画像に近い自然な画像の維持と補正動作との両立を可能にできる。
【００３０】
（Ａ−３）形態例３
（ａ）装置構成
図５に、焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す。図５の場合も、図１との対応部分に同一符号を付して示す。この形態例は、形態例２の変形例である。
補正装置３１は、劣化量差算出部３、補正量決定部５、視認度合い判定部７、補正量修正部３３、劣化量差補正部１１を主要な構成要素とする。
この形態例における補正量修正部３３も、劣化量差に応じて（すなわち、判定結果に応じて）、補正量を選択的に修正する。
【００３１】
ただし、この補正量修正部３３は、劣化量差が閾値より大きいと判定されたとき、補正量を大きな値に修正する方式を採用する。
焼き付き現象が視認されるということは、それだけで画質の低下が認められるということである。従って、この形態例では、劣化量差が閾値を超える場合に劣化量差を積極的に解消する手法を採用する。
なお、修正方法には任意の方法を適用できる。例えば、入力された補正量をｎ倍（ｎは実数）に修正する手法を適用する。
一方、補正量修正部３３は、劣化量差が閾値以下と判定されたとき、補正量をより小さい値に修正し、画質の改変を最小限に抑制する。この点は、形態例２と同様である。
【００３２】
（ｂ）補正処理動作
図６に、以上説明した補正装置３１で実行される処理手順を示す。
この場合も、劣化量差算出部３が、各画素と基準画素との劣化量差を算出する（Ｓ２１）。この処理は、入力信号値に基づいて実行される。
次に、補正量決定部５が、算出された劣化量差に基づいて対応する入力信号の補正量を決定する（Ｓ２２）。
この後又はＳ２２の処理と並行して、劣化量差が閾値より大きいか否かが判定される（Ｓ２３）。この判定処理は、視認度合い判定部７で実行される。
【００３３】
劣化量差が閾値より大きいと判定されたとき、補正量修正部３３は、入力された補正量をより大きな値に修正して劣化量差補正部１１に与える（Ｓ２４）。一方、劣化量差が閾値以下と判定されたとき、補正量修正部３３は、補正量を小さい値に修正して劣化量差補正部１１に与える（Ｓ２５）。
そして、劣化量差補正部１１が修正された補正量によって補正処理を実行する（Ｓ２６）。
この処理が補正対象範囲内の全画素について繰り返し実行される。
【００３４】
（ｃ）実施形態の効果
この補正装置３１を用いれば、劣化量差の大きさに応じて補正量を適応的に修正できる。
例えば、焼き付き現象が視認されない程度の劣化量差の場合には、本来必要な補正量よりも小さい値に修正して、画質の低下を抑制することができる。すなわち、原画像に近い状態で画像を表示できる。
また例えば、焼き付き現象が視認される程に進んだ場合には、本来必要な補正量よりも大きな値に修正して、焼き付き現象を積極的に改善することができる。
【００３５】
（Ａ−４）形態例４
図７に、焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す。図７にも、図１との対応部分に同一符号を付して示す。
補正装置４１は、劣化量差算出部３、補正量決定部５、視認度合い判定部７、補正動作指示部９、劣化量差補正部１１を主要な構成要素とする。すなわち、主要な構成要素は、形態例１と同じである。
この形態例と前述した３つの形態例との違いは、劣化量差の算出に使用する入力信号の取り込み位置である。
【００３６】
すなわち、この形態例は、焼き付き補正後の入力信号に基づいて劣化量差を算出する点で、前述した３つの形態例と異なっている。因みに、前述した形態例は、いずれも焼き付き補正前の入力信号に基づいて劣化量差を算出する方式を採用する。
このように、焼き付き補正後の入力信号を用いて画素間の劣化量差を算出する場合、劣化量差に実際の発光状態を直接反映される利点がある。このため、前述した３つの形態例に比べて更に正確な劣化量差の算出可能になる。
また、補正効果を劣化量差に反映するための処理を別途設ける必要がなく、システム規模の削減とコストダウンを実現できる。
【００３７】
（Ａ−５）形態例５
図８に、焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す。図８には、図３との対応部分に同一符号を付して示す。
補正装置４１は、劣化量差算出部３、補正量決定部５、視認度合い判定部７、補正量修正部２３、劣化量差補正部１１を主要な構成要素とする。すなわち、主要な構成要素は、形態例２と同じである。
この形態例も、前述した形態例４と同様、劣化量差の算出に使用する入力信号の取り込み位置を焼き付き補正後とする場合に対応する。
【００３８】
形態例５は形態例１に対応したが、この形態例は形態例２に対応する。従って、前述した形態例４と同様、焼き付き補正前の入力信号を用いて画素間の劣化量差を算出する形態例２に比して正確な劣化量差の算出を実現できる。
また、補正効果を劣化量差に反映するための処理を別途設ける必要がなく、システム規模の削減とコストダウンを実現できる。
なお言うまでもなく、形態例２と同じ接続形態を採用する形態例３についても、この形態例５の接続形態を適用できる。
【００３９】
（Ａ−６）形態例６
次に、劣化量の算出に劣化率を使用する場合の形態例を説明する。これは、発光特性の劣化が、入力信号値に比例して進行しない場合に非常に有効な処理手法であり、発明者らが提案する算出手法である。
ここで、劣化率とは、発光量の低下を単位時間当たりに換算した値をいい、発光特性の実測値より求められる。例えば、個々の階調値による発光がある期間継続した場合に実測された輝度の低下量を単位時間当たりに換算した値として与えられる。
【００４０】
図９に、この形態例に係る焼き付き現象補正装置の形態例を示す。なお、図９には、図１との対応部分に同一符号を付して示している。また、この形態例は、前述した他の４つの形態例にも全て適用可能であるが、ここでは形態例１への応用例についてのみ説明する。
補正装置６１は、階調値−劣化率変換テーブル６３、劣化量差算出部６５、補正量決定部５、視認度合い判定部７、補正動作指示部９、劣化量差補正部１１を主要な構成要素とする。
このうち、階調値−劣化率変換テーブル６３と劣化量差算出部６５の２つがこの形態例に特有の構成要素である。以下では、これらの構成要素を主に説明する。
【００４１】
階調値−劣化率変換テーブル６３（以下、「変換テーブル６３」という。）は、入力信号が階調値で与えられる場合に、これを劣化率に変換するためのルックアップテーブルである。
ここで、テーブル情報は、事前の実験で取得された階調値と劣化率の対応関係に基づいて設定する。発明者らは、テーブル情報を決める実験例として以下の手法を一例として提案する。例えば、ある固定の階調値で自発光デバイスを一定期間点灯し、その際に実測される輝度が最大階調値（８ビットの場合は２５５）の初期輝度に対してどれだけ低下しているかを実測する作業（すなわち、輝度低下率）を全ての階調値について繰り返す。
なお、階調数が多い場合には、適当な階調値をサンプリングし、その結果から得られる関係式を利用して算出するという方法も考えられる。
【００４２】
図１０に、テーブル情報の一例を示す。図１０は８ビットの場合であるので、ｎは０〜２５５までの値として与えられる。この例の場合、大階調値（２５５）の劣化率は０．０３％であり、中間階調値（１２７）の劣化率は０．０１％である。また、発光期間が１の場合の劣化量は、それぞれ３００×１０-4％と１００×１０-4％である。
劣化量差算出部６５は、階調値に対応する劣化率を階調値−劣化率変換テーブル６３を参照して読み出すと共に、読み出された劣化率に発光時間ｔを乗算して導出される劣化量の差を算出する。
例えば、画素１の階調値に対応する劣化率がα１、画素２の階調値に対応する劣化率がα２で与えられる場合、劣化量差算出部６５は、画素１と画素２の劣化量差を（α１−α２）×ｔとして算出する。
このように算出した劣化量差は、実際の発光特性を反映したものであるため、正確な補正量の算出が可能となる。
【００４３】
（Ｄ）自発光装置への搭載例
図１１に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置７１は、筐体７３に焼き付き現象補正装置７５と表示デバイス７７を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置７５は、前述した形態例のいずれかに対応する。焼き付き現象補正装置７５は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように入力信号の補正動作を実行する。
【００４４】
また、表示デバイス７７は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、ＣＲＴが用いられる。
図１１の場合、自発光装置７１に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置７５が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。
【００４５】
（Ｆ）他の形態例
（ａ）前述の形態例１においては、劣化量差が閾値以下と判定されたとき、補正動作の実行を停止するものとして説明した。
しかし、劣化量差が閾値以下と判定された場合には、補正量の算出自体を停止する又は補正量をゼロ（補正しないことを意味すれば、必ずしもゼロである必要はない。）に設定する手法を採用しても良い。
なお、補正量をゼロに修正する処理方法を採用する補正装置は、形態例２で実現できる。
【００４６】
一方、補正量の算出自体を停止する処理方法を採用する補正装置は、図１２に示す形態により実現できる。図１２は、図１との対応部分に同一符号を付して示している。補正装置８１と形態例１の補正装置１との違いは、補正動作指示部９に代えて決定処理制御部８３を用いる点だけである。
ここで、決定処理制御部８３は、劣化量差が閾値以下と判定された場合、補正量の決定中止を補正量決定部５に指示する処理デバイスである。なお、劣化量差が閾値より大きいと判定された場合、決定処理制御部８３は、なんらの指示を出力しないか、補正量の決定処理の実行を補正量決定部５に指示する。
【００４７】
（ｂ）前述の形態例１〜３においては、劣化量差に基づいて算出した補正量を補正処理にのみ用いる場合について説明した。
しかし、算出した補正量を次回の劣化量差の算出用にフィードバックしても良い。この場合、補正残りの情報が次回以降の劣化量差に反映されるため、補正処理の精度を向上できる。
（ｃ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】焼き付き現象補正装置の形態例を示す図である。
【図２】劣化量差補正部の補正動作例を示すフローチャートである。
【図３】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図４】劣化量差補正部の他の補正動作例を示すフローチャートである。
【図５】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図６】劣化量差補正部の他の補正動作例を示すフローチャートである。
【図７】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図８】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図９】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図１０】階調値と劣化率との対応関係を保持する変換テーブル例を示す図である。
【図１１】自発光装置の構成例を示す図である。
【図１２】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【符号の説明】
【００４９】
１、２１、３１、４１、５１、６１、８１  焼き付き現象補正装置
３、６５    劣化量差算出部
５          補正量決定部
７          視認度合い判定部
９          補正動作指示部
１１        劣化量差補正部
２３、３３  補正量修正部
６３        階調値−劣化率変換テーブル
８３        決定処理制御部
【図１】
2006195312.tif 000003
【図２】
2006195312.tif 000004
【図３】
2006195312.tif 000005
【図４】
2006195312.tif 000006
【図５】
2006195312.tif 000007
【図６】
2006195312.tif 000008
【図７】
2006195312.tif 000009
【図８】
2006195312.tif 000010
【図９】
2006195312.tif 000011
【図１０】
2006195312.tif 000012
【図１１】
2006195312.tif 000013
【図１２】
2006195312.tif 000014