(57)【要約】  【課題】  検査対象を強調して、検査すべき対象の取り違え、検査漏れ、不具合箇所の見逃し、良否の誤判断等を低減することができる検査方法、及び低コストで汎用性が高い検査支援システムを提供する。  【解決手段】  作業者は、電子部品５１，５２，…が配置された回路基板５に対し液晶パネル２３を被せるようにして離隔配置する。液晶パネル２３は、電子部品５１の位置に対応する高透光領域２３１ａ、及び低透光領域２３１ｂが混在するパターン２３１を表示する。作業者は、液晶パネル２３に表示されたパターン２３１の内の高透光領域２３１ａから透けて見える電子部品５１を検査する。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査対象を光学的に検査する方法において、
１又は複数の検査対象が平面的に配置された空間を液晶パネルで覆い、該液晶パネルに、検査対象の位置に対応する高透光領域と、低透光領域とが混在するパターンを表示させ、前記高透光領域を介して前記検査対象を光学的に検査することを特徴とする検査方法。    
【請求項２】
前記液晶パネルに、複数の異なる前記パターンを順に表示させることを特徴とする請求項１に記載の検査方法。
【請求項３】
１又は複数の検査対象が平面的に配置された空間を覆うように配置されるべき液晶パネルと、透光率が夫々異なる領域が混在するパターンを前記液晶パネルに表示させるパターン表示手段とを備える検査支援システムであって、
前記パターン表示手段は、検査対象の位置に対応する高透光領域、及び低透光領域が混在するパターンを前記液晶パネルに表示させるようにしてあることを特徴とする検査支援システム。
【請求項４】
前記パターン表示手段は、複数の異なる前記パターンを前記液晶パネルに順に表示させるようにしてあることを特徴とする請求項３に記載の検査支援システム。
【請求項５】
前記パターン表示手段は、前記パターンに加えて情報を表示させるようにしてあることを特徴とする請求項３又は４に記載の検査支援システム。
【請求項６】
操作を受け付ける操作受付手段と、
該操作受付手段が受け付けた操作に応じた情報を記憶する情報記憶手段と
を備えることを特徴とする請求項３乃至５の何れか一項に記載の検査支援システム。
【請求項７】
操作を受け付ける操作受付手段と、
該操作受付手段が受け付けた操作に応じた情報を集計する集計手段と、
該集計手段の集計結果に応じた情報を出力する出力手段と
を備えることを特徴とする請求項３乃至５の何れか一項に記載の検査支援システム。
【請求項８】
操作を受け付ける操作受付手段を備え、
前記パターン表示手段は、前記操作受付手段が操作を受け付ける都度、複数の異なる前記パターンを前記液晶パネルに順に表示させるようにしてあることを特徴とする請求項４に記載の検査支援システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路基板の目視外観検査のような検査を行なう検査方法、及び検査を支援する検査支援システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
複数の電子部品を搭載する回路基板の生産工程では、回路基板を作業者が直接的に目視して、又は顕微鏡、拡大鏡等を介して目視して、良否を判断する目視外観検査が行なわれている。目視外観検査における不具合箇所の見逃し、良否の誤判断等を低減するために、生産現場では、複数の作業者による分業化、検査指示書での検査手順の統一化、検査自体に対する注意事項の文書掲示等が行なわれている。
【０００３】
回路基板の特定の箇所だけを検査する場合、検査する箇所を強調するために、回路基板の検査箇所に対応する位置に穴部が形成されている治具（テンプレート）を用いることがあり、テンプレートは、プラスチック板、ボール紙等で形成されている。作業者は、検査すべき回路基板にテンプレートを被せて、テンプレートの穴部から見える検査箇所だけを検査する。このようなテンプレートには、検査に関する注意事項、検査項目、検査順等が掲示される。
【０００４】
また、回路基板を撮像装置で撮像し、撮像した画像を表示装置に表示させることによって、作業者の外観検査を支援する検査支援システムが提案されている（特許文献１〜４参照）。
【特許文献１】特開平１１−３０４７２１号公報
【特許文献２】特開２０００−１６１９３１号公報
【特許文献３】特開２０００−１７１２２４号公報
【特許文献４】特開２００１−３０５０７５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
従来提案されている検査支援システムは、検査すべき回路基板を撮像する１又は複数の撮像装置と、撮像した画像を表示する表示装置とを備え、更には撮像装置に対する回路基板の相対位置を変更するための移動可能なテーブルか、回路基板に対する撮像装置の相対位置を変更するためのロボットを備える必要があったため、システムの構成が複雑であり、また、高コストであった。
【０００６】
一方、テンプレートは簡易で安価であるが、回路基板の全体を検査する場合には、例えば複数のテンプレートを使い分ける必要があるという問題があった。また、テンプレートは、異なる種類の回路基板毎に製作しなければならないという問題があった。更に、テンプレートは、回路基板の設計変更に伴う穴部の形成位置の変更、検査に関する注意事項の修正等が困難であるという問題があった。
【０００７】
本発明は斯かる事情に鑑みてなされたものであり、検査対象が配置された空間に液晶パネルを被せて、液晶パネルに表示されたパターンの内の高透光領域から透けて見える検査対象を検査することにより、検査すべき対象の取り違え、検査漏れ、不具合箇所の見逃し、良否の誤判断等を低減することができる検査方法、及び低コストで汎用性が高い検査支援システムを提供することを目的とする。
【０００８】
本発明の他の目的は、液晶パネルに順次的に表示される各パターンの内の高透光領域から透けて見える検査対象を検査することにより、検査すべき対象又は検査順の取り違え、検査漏れ、不具合箇所の見逃し、良否の誤判断等を低減することができる検査方法、及び異なるパターン夫々を表示する複数の液晶パネルを準備して使い分ける必要がない検査支援システムを提供することにある。
【０００９】
本発明の他の目的は、液晶パネルが、高透光領域及び低透光領域が混在するパターンに加えて、文字、画像等の情報を表示する構成とすることにより、検査に関する注意事項、検査項目等、検査に関する情報を液晶パネルに表示することができ、検査すべき対象の取り違え、検査漏れ、不具合箇所の見逃し、良否の誤判断等を更に低減することができる検査支援システムを提供することにある。
【００１０】
本発明の他の目的は、液晶パネルがパターンを表示し、また、操作に応じた情報を記憶する構成とすることにより、良品及び不良品夫々の個数、不良箇所等、検査結果に関する情報を作業者が記録する必要がない検査支援システムを提供することにある。
【００１１】
本発明の他の目的は、液晶パネルがパターンを表示し、また、操作に応じた情報を集計して集計結果に応じた情報を出力する構成とすることにより、良品及び不良品夫々の個数、検査対象の個数に対する不良品の個数の割合（以下、不良率という）等、検査結果に関する情報を、作業者が集計する必要がなく、また、集計結果に応じた情報を、作業者、システムの管理者等に自動的に報知することができる検査支援システムを提供することにある。
【００１２】
本発明の更に他の目的は、操作を受け付ける都度、複数の異なるパターンを液晶パネルが順に表示する構成とすることにより、異なるパターン夫々を表示する複数の液晶パネルを準備して使い分ける必要がなく、また、パターンを切り替えるタイミングを作業者が決定することができる検査支援システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
第１発明に係る検査方法は、検査対象を光学的に検査する方法において、１又は複数の検査対象が平面的に配置された空間を液晶パネルで覆い、該液晶パネルに、検査対象の位置に対応する高透光領域と、低透光領域とが混在するパターンを表示させ、前記高透光領域を介して前記検査対象を光学的に検査することを特徴とする。
【００１４】
第２発明に係る検査方法は、前記液晶パネルに、複数の異なる前記パターンを順に表示させることを特徴とする。
【００１５】
第３発明に係る検査支援システムは、１又は複数の検査対象が平面的に配置された空間を覆うように配置されるべき液晶パネルと、透光率が夫々異なる領域が混在するパターンを前記液晶パネルに表示させるパターン表示手段とを備える検査支援システムであって、前記パターン表示手段は、検査対象の位置に対応する高透光領域、及び低透光領域が混在するパターンを前記液晶パネルに表示させるようにしてあることを特徴とする。
【００１６】
第４発明に係る検査支援システムは、前記パターン表示手段は、複数の異なる前記パターンを前記液晶パネルに順に表示させるようにしてあることを特徴とする。
【００１７】
第５発明に係る検査支援システムは、前記パターン表示手段は、前記パターンに加えて情報を表示させるようにしてあることを特徴とする。
【００１８】
第６発明に係る検査支援システムは、操作を受け付ける操作受付手段と、該操作受付手段が受け付けた操作に応じた情報を記憶する情報記憶手段とを備えることを特徴とする。      
【００１９】
第７発明に係る検査支援システムは、操作を受け付ける操作受付手段と、該操作受付手段が受け付けた操作に応じた情報を集計する集計手段と、該集計手段の集計結果に応じた情報を出力する出力手段とを備えることを特徴とする。
【００２０】
第８発明に係る検査支援システムは、操作を受け付ける操作受付手段を備え、前記パターン表示手段は、前記操作受付手段が操作を受け付ける都度、複数の異なる前記パターンを前記液晶パネルに順に表示させるようにしてあることを特徴とする。
【００２１】
第１発明及び第３発明にあっては、１又は複数の検査対象が平面的に配置された空間を覆うように液晶パネルが配置される。また、パターン表示手段は、透光率が夫々異なる領域が混在するパターンを液晶パネルに表示させ、具体的には、検査対象の位置に対応する高透光領域、及び低透光領域が混在するパターンを液晶パネルに表示させる。
【００２２】
検査対象を光学的に検査する場合、例えば作業者が、検査すべき電子部品が搭載された回路基板に液晶パネルを手動で被せることによって、又は、固定された液晶パネルの下側に回路基板をベルトコンベヤで自動的に搬入することによって、１又は複数の検査対象が平面的に配置された空間を液晶パネルで覆う。更に、例えばパターン表示手段が、液晶パネルに、検査対象の位置に対応する高透光領域と、低透光領域とが混在するパターンを表示させる。この場合、液晶パネルは、検査対象の位置に対応する高透光領域と、低透光領域とが混在するパターンを表示し、このため、高透光領域を介して検査対象が透けて見える。
【００２３】
作業者は、液晶パネルの上側から検査対象を見て、液晶パネルに表示されたパターンの内の高透光領域から検査対象を透かし見て、光学的に検査する。この場合、作業者は目視で直接的に、若しくは顕微鏡、拡大鏡等を介して、又は撮像装置で撮像された画像によって、検査対象を視認し、検査する。
【００２４】
第２発明及び第４発明にあっては、パターン表示手段が、複数の異なるパターンを液晶パネルに順に表示させる。この場合、液晶パネルは、検査対象が透けて見える高透光領域と、低透光領域とが混在するパターンを、順次的に表示する。つまり、液晶パネルにて、複数の異なるパターンは、順次切り替えられて表示される。なお、パターン表示手段が液晶パネルに、パターンと同時的に文字、画像等の情報も表示させても良く、パターンを切り替える都度、情報も切り替えても良く、パターンと情報とを表示する場合とパターンのみを表示する場合とを切り替えても良い。
【００２５】
検査対象を光学的に検査する場合、例えば作業者が、検査対象が配置された空間を液晶パネルで覆う。液晶パネルは、一のパターンを表示する。作業者は、液晶パネルに表示された一のパターンの内の高透光領域から透けて見える検査対象を光学的に検査する。次に液晶パネルは、一のパターンの表示を終了して、他のパターンを表示する。作業者は、液晶パネルに表示された他のパターンの内の高透光領域から検査対象を透かし見て、光学的に検査する。
【００２６】
第５発明にあっては、液晶パネルが、１又は複数の検査対象が平面的に配置された空間を覆うように配置される。また、パターン表示手段は、検査対象の位置に対応する高透光領域、及び低透光領域が混在するパターンが表示された液晶パネルに、文字、画像等の情報も表示させる。この場合、液晶パネルは、検査対象が透けて見える高透光領域と、低透光領域とが混在するパターンを表示し、また、このパターンに加えて情報も表示する。この情報は、検査に関する注意事項、検査項目等、作業者に提示すべき情報であることが好ましい。作業者は、液晶パネルに表示された情報を視認して、また、液晶パネルに表示されたパターンの内の高透光領域から検査対象を透かし見て、光学的に検査する。
【００２７】
第６発明にあっては、検査対象を光学的に検査する場合、例えば作業者が、検査対象が配置された空間を液晶パネルで覆う。液晶パネルは、検査対象が透けて見える高透光領域、及び低透光領域が混在するパターン、又は、パターンと情報とを表示する。作業者は、液晶パネルに表示されたパターンの内の高透光領域から透けて見える検査対象を光学的に検査し、操作受付手段を操作する。操作受付手段は操作を受け付け、操作受付手段が受け付けた操作に応じた情報を情報記憶手段が記憶する。
【００２８】
第７発明にあっては、検査対象を光学的に検査する場合、例えば作業者が、検査対象が配置された空間を液晶パネルで覆う。液晶パネルは、検査対象が透けて見える高透光領域、及び低透光領域が混在するパターン、又は、パターンと情報とを表示する。作業者は、液晶パネルに表示されたパターンの内の高透光領域から透けて見える検査対象を光学的に検査し、操作受付手段を操作する。操作受付手段は操作を受け付け、操作受付手段が受け付けた操作に応じた情報を集計手段が集計し、集計手段の集計結果に応じた情報を出力手段が出力する。
【００２９】
第８発明にあっては、液晶パネルが、検査対象が透けて見える高透光領域、及び低透光領域が混在するパターン、又は、パターンと情報とを表示する。また、操作受付手段が操作を受け付ける。更に、パターン表示手段は、操作受付手段が操作を受け付ける都度、複数の異なるパターンを液晶パネルに順に表示させる。この場合、液晶パネルは、操作受付手段が操作を受け付ける都度、異なるパターンを順次的に表示する。
【００３０】
検査対象を光学的に検査する場合、例えば作業者が、検査対象が配置された空間を液晶パネルで覆う。液晶パネルは、一のパターンを表示する。作業者は、液晶パネルに表示された一のパターンの内の高透光領域から透けて見える検査対象を光学的に検査し、操作受付手段を操作する。この場合、液晶パネルは、一のパターンの表示を終了して、他のパターンを表示する。作業者は、液晶パネルに表示された他のパターンの内の高透光領域から検査対象を透かし見て、光学的に検査する。
【発明の効果】
【００３１】
第１発明の検査方法及び第３発明の検査支援システムによれば、検査対象の位置に対応する高透光領域と、低透光領域とが混在するパターンを表示する液晶パネルで、検査対象が配置された空間を覆う。作業者は、液晶パネルに表示されたパターンの内の高透光領域から検査対象を透かし見て、検査対象を光学的に検査することができる。
【００３２】
また、検査対象が配置された空間を覆うように配置される液晶パネルが、検査対象が透けて見える高透光領域と、低透光領域とが混在するパターンを表示する検査支援システムは、検査対象を撮像する１又は複数の撮像装置、検査対象の位置を変更するための移動可能なテーブル、撮像装置の位置を変更するためのロボット等を備える必要がないため、システムの構成が簡易であり、また、低コストである。
【００３３】
更に、テンプレートの穴部から検査対象を見るかのように、高透光領域から検査対象を透かし見ることによって、検査対象が強調され、検査すべき対象の取り違え、検査漏れ、不具合箇所の見逃し、良否の誤判断等を低減することができる。更にまた、液晶パネルに表示するパターンを変更することによって、高透光領域の配置を容易に変更することができ、このため、例えば一人の作業者が、異なる種類の検査対象毎に複数の液晶パネルを準備して使い分ける必要がない。
【００３４】
また、複数の作業者夫々が同一種類の液晶パネルを使用し、各液晶パネルに、異なるパターンを表示することによって、検査の分業化を低コストで容易に行なうことができる。更に、プラスチック板、ボール紙等を切り抜くようにして形成されるテンプレートの穴部の形状に比べて、液晶パネルにパターンを表示して設けられる高透光領域の形状は、自由度が高い。
【００３５】
つまり、本発明の検査支援システムによれば、液晶パネルを汎用性が高いテンプレートとして用いることができる。
【００３６】
第２発明の検査方法及び第４発明の検査支援システムによれば、異なるパターンを切り替えて順次的に表示する液晶パネルで、検査対象が配置された空間を覆う。作業者は、液晶パネルに表示された一のパターンの内の高透光領域から検査対象を透かし見て、一の検査対象を光学的に検査し、また、一のパターンの次に表示された他のパターンの内の高透光領域から検査対象を透かし見て、他の検査対象を光学的に検査することができる。複数の検査対象夫々が、順次、対応する高透光領域から透けて見えることによって、各検査対象を強調することができ、検査すべき対象又は検査順の取り違え、検査漏れ、不具合箇所の見逃し、良否の誤判断等を低減することができる。
【００３７】
また、液晶パネルが、例えば所定時間が経過する都度、異なるパターンを順次的に表示する。このため、作業者は、異なるパターンを表示する複数の液晶パネルを準備して使い分ける必要がない。以上の結果、作業者の利便性及び検査の効率を向上させることができる。
【００３８】
第５発明の検査支援システムによれば、検査対象が配置された空間を覆うように配置される液晶パネルが、検査対象が透けて見える高透光領域、及び低透光領域が混在するパターンと、作業者に提示すべき情報とを同時的に表示する。このため、液晶パネルに、検査に関する注意事項、検査項目、検査対象と比較すべき良品のサンプルの画像等を明示することができ、作業者は検査対象の検査を容易かつ正確に行なうことができる。この結果、検査すべき対象の取り違え、検査漏れ、不具合箇所の見逃し、良否の誤判断等を低減することができる。
【００３９】
また、液晶パネルに表示させるべき情報の配置、内容等を容易に変更することができ、例えば一人の作業者が、異なる種類の検査対象毎に複数の液晶パネルを準備して使い分ける必要がない。
【００４０】
つまり、本発明の検査支援システムによれば、液晶パネルを、更に汎用性が高いテンプレートとして用いることができる。
【００４１】
第６発明の検査支援システムによれば、作業者の操作を受け付け、受け付けた操作に応じた情報を記憶することができる。作業者は、良品及び不良品夫々の個数、不良箇所等、検査に関する情報を、検査対象の検査と同時的に、操作受付手段を介して情報記憶手段に記憶させることができるため、検査に関する情報を、作業者が自筆で記録する必要がない。この結果、作業者の利便性、検査の効率、及び検査に関する情報の正確さを向上させることができる。
【００４２】
また、情報記憶手段に記憶された情報は、作業者が自筆で記録した情報に比べて、情報の集計、再利用等が容易である。このため、例えば検査に関する情報を加工して、検査の更なる効率化、不良箇所の低減方法等を考察することができる。
【００４３】
第７発明の検査支援システムによれば、作業者の操作を受け付け、受け付けた操作に応じた情報を集計し、集計結果に応じた情報を出力する。作業者は、良品及び不良品夫々の個数、不良率等、検査に関する情報を、検査対象の検査と同時的に、又は検査終了後に集計させ、集計結果に応じた情報を、例えば液晶パネル、記録用紙等に出力させることによって、作業者自身、システムの管理者等に報知させることができる。このため、検査に関する情報を、作業者が自分で集計する必要がなく、また、集計結果に応じた情報を他者に報知する必要もない。この結果、作業者の利便性、検査の効率、及び集計結果の正確さを向上させることができる。
【００４４】
第８発明の検査支援システムによれば、液晶パネルが、作業者の操作を受け付ける都度、異なるパターンを順次的に表示する。このため、作業者は、異なるパターンを表示する複数の液晶パネルを準備して使い分ける必要がない。また、例えば所定時間が経過する都度、異なるパターンを順次的に表示する液晶パネルではなく、作業者の操作を受け付ける都度、異なるパターンを順次的に表示する液晶パネルを用いることによって、作業者が、液晶パネルに表示されるパターンを切り替えるタイミングを決定することができる。以上の結果、作業者の利便性及び検査の効率を向上させることができる等、本発明は優れた効果を奏する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４５】
以下、本発明を、その実施の形態を示す図面に基づいて詳述する。
【００４６】
実施の形態  １．
図１は、本発明の実施の形態１に係る検査支援システムの構成を示す斜視図であり、図２は、同じくブロック図である。図中５は矩形の回路基板であり、回路基板５は目視外観検査における検査対象である。回路基板５には、Ｊ個（Ｊは自然数）の電子部品５１，５２，５３，…が配置されている。また、回路基板５は図示しない作業台に載置されている。更に、回路基板５を上側から覆うように、表示装置２が適長離隔して配置されている。      
【００４７】
表示装置２は、回路基板５のサイズよりも大きいサイズを有する矩形の液晶パネル２３、及び液晶パネル２３の周縁に嵌合する枠体２６を備える。枠体２６の内部には、データ記憶部２１、パネル駆動部２２等が設けられている。
【００４８】
データ記憶部２１はパターンデータを記憶する。パターンデータは、液晶パネル２３の各画素の透光率の高低を示すデータ、即ち液晶パネル２３の各画素が、透明の高透光領域であるか半透明の低透光領域であるか黒色の遮光領域であるかを示すデータである。パネル駆動部２２は、パネル駆動部２２自身に、後述する表示信号が入力された場合に、データ記憶部２１に記憶されているパターンデータに応じて、液晶パネル２３の図示しない複数の画素電極毎に高電圧／低電圧を印加するか、又は電圧を印加しないよう構成されている。
【００４９】
表示装置２は通信ケーブルを介して有線でハブ３に接続されており、ハブ３は更に通信ケーブルを介して有線で制御装置１に接続されている。表示装置２のＩ／Ｆ２４は表示装置２とハブ３とを接続するインタフェースであり、制御装置１から出力されたパターンデータ及び表示信号がハブ３を介して表示装置２に入力される。表示装置２に入力されたパターンデータはデータ記憶部２１に記憶され、表示装置２に入力された表示信号はパネル駆動部２２に入力される。
【００５０】
表示装置２の操作部２５は、枠体２６に設けられたハードキーであるＯＫキー２５１及びＮＧキー２５２を備え、キー２５１，２５２が操作された場合、夫々異なる信号（以下、ＯＫ信号，ＮＧ信号という）を、ハブ３を介して制御装置１へ出力する。
【００５１】
検査支援システムは、複数台の表示装置２，２，…を備える。表示装置２，２，…は夫々固有の識別情報（例えばＭＡＣアドレス）を有する。ハブ３は複数の接続部（ポート）を有するスイッチングハブであり、表示装置２，２，…が接続されているポートの番号と、表示装置２，２，…夫々の識別情報とを関連付けて記憶している。ハブ３は、表示装置２から出力された信号を受け付け、受け付けた信号と、信号を出力した表示装置２の識別情報とを制御装置１へ送出する。
【００５２】
制御装置１からハブ３へは、表示装置２に与えるべきパターンデータ及び表示信号と、これらを与えられるべき表示装置２の識別情報とが送出される。ハブ３は、制御装置１から送出されたパターンデータ及び表示信号と識別情報とを受け付け、受け付けた識別情報を有する表示装置２へ、受け付けたパターンデータ及び表示信号を出力する。
【００５３】
制御装置１はパーソナルコンピュータを用いてなり、表示装置２，２，…夫々の作動を制御する。ＣＰＵ１０は制御装置１の制御中枢であり、バス又は信号線を介して、ＲＯＭ１１、ＲＡＭ１２等、制御装置１の各部に接続されている。ＣＰＵ１０はＲＯＭ１１に記憶された制御プログラム及びデータに従って各部を制御し、ＲＡＭ１２を作業領域として用いて各種処理を実行する。この場合、ＣＰＵ１０は各部を作動させる信号及びデータを各部へ送出し、各部は受け付けた信号及びデータに従って作動する。
【００５４】
制御装置１の表示部１５は液晶パネル、ＣＲＴディスプレイ等を用いてなり、ＣＰＵ１０に制御されて、表示装置２，２，…の作動状況、制御装置１のオペレータ（例えば作業者、検査支援システムの管理者等）に対する入力指示、不良率が高いことを報知する情報等を表示する。制御装置１の操作部１６はキーボード、マウス等を用いてなり、制御装置１のオペレータは操作部１６を用いて各種データを制御装置１に与える。
【００５５】
制御装置１のハードディスク（ＨＤＤ）１４は内蔵型ハードディスクであり、電子部品５１，５２，…の検査に関するデータを記憶する記憶領域である検査記憶部１４１、電子部品５１，５２，…の検査結果に関するデータを記憶する記憶領域である集計記憶部１４２、パターンデータを記憶する記憶領域であるパターン記憶部１４３を有する。また、ＨＤＤ１４には、１枚の回路基板５上の電子部品５１，５２，…の個数Ｊ、及び表示装置２，２，…の識別情報も記憶される。更に、本実施の形態における目視外観検査では、複数の作業者が並列的に夫々表示装置２を使用して各自Ｉ枚（Ｉは自然数）の回路基板５，５，…の検査を行なう。このため、ＨＤＤ１４には、検査すべき回路基板５，５，…の枚数Ｉも記憶される。
【００５６】
図３は、制御装置１のＨＤＤ１４に記憶してあるデータの一例を示す模式図である。図３（ａ）に示すように、検査記憶部１４１には、「検査対象」、「検査対象の位置」、「検査順」、「検査情報」、「パターンデータ」等のデータが関連付けて記憶される。本実施の形態においては、Ｉ枚の回路基板５，５，…夫々に配置されている電子部品５１，５２，…の種類、位置等は同一である。このため、検査記憶部１４１には、１枚の回路基板５に関するデータが記憶される。
【００５７】
「検査対象」の欄には検査対象であるＪ個の電子部品５１，５２，…夫々の名称、識別番号等のデータが記憶され、「検査対象の位置」の欄には回路基板５に配置されている電子部品５１，５２，…夫々の位置に対応する仮想的な座標が記憶される。この座標は、電子部品５１，５２，…夫々のサイズ（回路基板５に対する投影面積）に対応する範囲を特定する複数点夫々の座標であるが、特に電子部品５１，５２，…夫々のサイズが略同一である場合は、電子部品５１，５２，…夫々の中心点を示す座標でも良い。また、「検査順」の欄には電子部品５１，５２，…夫々の検査順が記憶される。
【００５８】
「検査情報」の欄には、目視外観検査の際に液晶パネル２３に表示することによって作業者に提示すべき情報として、検査に関する注意事項、検査項目等（以下、検査情報という）が記憶される。検査情報としては、文字、記号等のテキストのみならず、例えば検査対象である電子部品５３と比較すべき電子部品５３の良品のサンプルの画像も用いられる。更に、図示はしないが、液晶パネル２３における検査情報の表示位置も、検査情報に対応して検査記憶部１４１に記憶される。なお、表示位置が検査記憶部１４１に記憶されていない場合、ＣＰＵ１０が表示位置を適宜算出しても良い。
【００５９】
以上のような「検査対象」、「検査対象の位置」、「検査順」、「検査情報」等の欄に記憶される各種のデータは、例えば制御装置１のオペレータが操作部１６を用いて制御装置１に与えたデータであり、ＣＰＵ１０は、与えられたデータを検査記憶部１４１に記憶させる。
【００６０】
ＣＰＵ１０は、検査記憶部１４１に記憶されているデータの内、「検査対象の位置」のデータを用いて、又は、「検査対象の位置」のデータと「検査情報」のデータとを用いて、図示しないバッファメモリを作業領域として用いてパターンデータを作成する。また、ＣＰＵ１０は、作成したパターンデータをパターン記憶部１４３に記憶させ、更にパターン記憶部１４３に記憶されたパターンデータのアドレスを検査記憶部１４１の「パターンデータ」の欄に記憶させる。なお、パターンデータを制御装置１内で作成せずに、外部から与えられたパターンデータをパターン記憶部１４３に記憶させても良い。
【００６１】
ＣＰＵ１０は、検査記憶部１４１に記憶された「検査対象の位置」のデータに「検査情報」のデータが関連付けられていない場合、「検査対象の位置」のデータに基づいて、高透光領域及び低透光領域が混在するパターンのパターンデータを作成する。ここで作成されるパターンデータによって、回路基板５の電子部品５１，５２，…が配置されている一面全体を液晶パネル２３で覆った場合に、例えば電子部品５１と電子部品５１の周縁とに対応する液晶パネル２３の画素群が高透光領域となり、高透光領域以外の画素群が低透光領域となる。
【００６２】
また、検査記憶部１４１に記憶された「検査対象の位置」のデータに「検査情報」のデータが関連付けられている場合、ＣＰＵ１０は、「検査対象の位置」のデータと「検査情報」のデータとに基づいて、遮光領域、高透光領域及び低透光領域が混在するパターンのパターンデータを作成する。本実施の形態における検査情報は、遮光領域として液晶パネル２３に表示され、遮光領域は、例えば高透光領域の近傍に設けられる。
【００６３】
ここで作成されるパターンデータによって、例えば電子部品５２と電子部品５２の周縁とに対応する液晶パネル２３の画素群が高透光領域となり、高透光領域以外の画素群の内、例えば高透光領域近傍の画素群の一部が遮光領域となり、高透光領域及び遮光領域以外の画素群が低透光領域となる。つまり、高透光領域の近傍の低透光領域に検査情報を重ねたかのようにして、検査情報を表わす遮光領域と、高透光領域及び低透光領域とが設けられる。なお、「検査対象の位置」のデータの代わりに、高透光領域の位置のデータを検査記憶部１４１に記憶しても良い。
【００６４】
制御装置１のＩ／Ｆ１３は制御装置１とハブ３とを接続するインタフェースである。ＣＰＵ１０は、パターン記憶部１４３から読み出したパターンデータと、液晶パネル２３にパターンを表示させるための信号である表示信号と、パターンデータを与えるべき表示装置２の識別情報とをハブ３へ出力することによって、ハブ３を介して、パターンデータ及び表示信号を与えるべき表示装置２へパターンデータ及び表示信号を出力する。ここで表示信号とは、パネル駆動部２２が表示信号として受け付ける波形の信号であり、例えば予めＨＤＤ１４に記憶してある。
【００６５】
また、ＣＰＵ１０は、ハブ３から送出された信号と識別情報とを受け付けることによって、受け付けた識別情報を有する表示装置２から、受け付けた信号が送出されてきたと判定する。
【００６６】
図３（ｂ）に示すように、集計記憶部１４２には、「検査対象」、「検査数」、「良品数」、「不良品数」、「不良率」、「備考」等のデータが関連付けて記憶される。「検査対象」の欄には検査対象であるＪ個の電子部品５１，５２，…夫々の名称、識別番号等のデータが記憶され、「検査数」の欄には検査が完了した電子部品５１，５２，…夫々の個数が記憶される。また、「良品数」／「不良品数」の欄には検査が完了した電子部品５１，５２，…夫々の内、良品／不良品の個数が記憶される。
【００６７】
以上のような「検査対象」の欄に記憶されるデータは、制御装置１のオペレータが操作部１６を用いて制御装置１に与え、ＣＰＵ１０は与えられたデータを検査記憶部１４１に記憶させる。また、「検査数」、「良品数」及び「不良品数」の欄に記憶される各種のデータは、検査開始前は“０”であり、ＣＰＵ１０がＯＫ信号又はＮＧ信号を受け付けた場合に「検査数」のデータと「良品数」又は「不良品数」のデータとが夫々“１”ずつ加算される。
【００６８】
更にＣＰＵ１０は、ＮＧ信号を受け付けた場合に、「検査数」の欄に記憶されている検査が完了した個数に対する「不良品数」の欄に記憶されている不良品の個数の割合である不良率ｍ（ｍは“０”以上“１００”以下の実数）を算出し、算出結果を「不良率」の欄に記憶させる。更にまた、ＣＰＵ１０は、不良率ｍと不良率の上限値Ｍ（Ｍは“０”超過“１００”以下の適宜の実数）とを比較し、比較結果に応じて、「備考」の欄に、不良率が高すぎることを示す情報を記憶させる。上限値Ｍは、例えば制御装置１のオペレータが操作部１５を介して予め制御装置１に与えておく。
【００６９】
目視外観検査を行なう際、回路基板５は図示しない照明装置によって照明される。この場合、回路基板５に反射した反射光が液晶パネル２３に適宜入射するように、照明装置から回路基板５への入射光の入射角が調整される。
【００７０】
図４は、液晶パネル２３に表示されるパターンの一例を示す模式図であり、表示装置２の正面図でもある。
【００７１】
図４（ａ）は、電子部品５１を検査する場合に液晶パネル２３に表示されるパターン２３１を示しており、パターン２３１には、液晶パネル２３の略全面に設けられた低透光領域２３１ｂと、低透光領域２３１ｂを矩形に切り抜いたかのようにして設けられた高透光領域２３１ａとが混在している。高透光領域２３１ａは、作業者が液晶パネル２３を介して電子部品５１及び電子部品５１の周縁を目視可能であるように設けられている。
【００７２】
図４（ｂ）は、電子部品５２を検査する場合に液晶パネル２３に表示されるパターン２３２を示しており、パターン２３２には、低透光領域２３２ｂと矩形の高透光領域２３２ａとが混在している。更に、パターン２３２に加えて高透光領域２３２ａ近傍の低透光領域２３２ｂに重ねるかのようにして検査情報２３２ｃが設けられている。高透光領域２３２ａは、表示装置２のユーザが液晶パネル２３を介して電子部品５２及び電子部品５２の周縁を目視可能であるように設けられている。また、検査情報２３２ｃは、例えば注意事項を示す文字を形成する遮光領域である。なお、高透光領域２３１ａ，２３２ａの形状は矩形に限るものではなく、例えば円形でも良い。
【００７３】
作業者は、目視外観検査をすべき回路基板５，５，…の内、１枚の回路基板５を作業台に載置し、載置した回路基板５を液晶パネル２３で覆うようにして表示装置２を把持する。この場合、例えば回路基板５と液晶パネル２３との位置合わせのためのガイド部材を作業台に設けて、回路基板５と液晶パネル２３との位置関係を固定することが望ましい。なお、作業者が表示装置２を保持するのではなく、例えば枠体２６に脚部を設け、表示装置２を脚部で支持する構成でも良い。また、作業者が手動で回路基板５及び表示装置２を準備するのではなく、表示装置２を固定しておき、回路基板５が液晶パネル２３に覆われるように回路基板５をベルトコンベヤで液晶パネル２３の下側へ自動的に搬入する構成でも良い。
【００７４】
作業者は、検査を開始する前に、ＯＫキー２５１をまず操作する。この場合、液晶パネル２３には図４（ａ）又は図１に示すパターン２３１が表示される。作業者は、パターン２３１に含まれる高透光領域２３１ａを介して、高透光領域２３１ａから透かし見える電子部品、ここでは電子部品５１を注視して外観検査を行なう。この検査の際、電子部品５１以外の電子部品５２，５３，…は低透光領域２３１ｂに遮られて作業者には見えない。このため作業者は１番目に外観検査を行なうべき電子部品５１だけを注目し、この結果、正確な検査が実行される。電子部品５１を検査して、電子部品５１が良品であると判断した作業者はＯＫキー２５１を操作し、不良品であると判断した作業者はＮＧキー２５２を操作する。
【００７５】
作業者がＯＫキー２５１を操作した場合、液晶パネル２３には図４（ｂ）に示すパターン２３２が表示される。作業者は、パターン２３２に含まれる検査情報２３２ｃを注視し、更に、高透光領域２３２ａを介して、高透光領域２３２ａから透かし見える電子部品、ここでは電子部品５２を注視して外観検査を行なう。
【００７６】
この検査の際、電子部品５２以外の電子部品５１，５３，…は検査情報２３２ｃ及び低透光領域２３２ｂに遮られて作業者には見えない。このため作業者は２番目に外観検査を行なうべき電子部品５２だけを注目し、この結果、正確な検査が実行される。また、検査情報２３２ｃによって、作業者には、例えば検査に対する注意が喚起され、更に正確な検査が実行される。電子部品５２を検査して、電子部品５２が良品であると判断した作業者はＯＫキー２５１を操作し、不良品であると判断した作業者はＮＧキー２５２を操作する。作業者がＯＫキー２５１を操作した場合、液晶パネル２３には３番目に検査すべき電子部品５３を検査するための新たなパターンが表示される。
【００７７】
以上の操作を繰り返して、回路基板５上のＪ個全ての電子部品５１，５２，…の検査が終了した場合、液晶パネル２３には、回路基板５の検査が終了したため、次の回路基板５に交換するよう指示する指示情報が表示される。この指示情報を視認した作業者は、検査を終えた回路基板５を作業台から除去し、まだ検査をしていない回路基板５を作業台に載置し、載置した回路基板５を液晶パネル２３で覆うようにして表示装置２を把持して、ＯＫキー２５１を操作する。この場合、液晶パネル２３には図４（ａ）に示すパターン２３１が再び表示される。
【００７８】
また、作業者がＮＧキー２５２を操作した場合、即ち回路基板５上の電子部品５１，５２，…の内、１個でも不良品であると作業者が判断した場合、ＣＰＵ１０は、不良品が搭載された回路基板５の検査を即座に終了して、まだ検査をしていない新たな回路基板５の検査を開始する。即ち、液晶パネル２３には、回路基板５の検査が終了したため、次の回路基板５に交換するよう指示する指示情報が表示される。この指示情報を視認した作業者は、検査を終えた回路基板５を作業台から除去し、まだ検査をしていない回路基板５を作業台に載置し、載置した回路基板５を液晶パネル２３で覆うようにして表示装置２を把持して、ＯＫキー２５１を操作する。この場合、液晶パネル２３には図４（ａ）に示すパターン２３１が再び表示される。
【００７９】
なお、回路基板５上の電子部品５１，５２，…が不良品であると判断された場合でも、回路基板５上の全ての電子部品５１，５２，…に対する検査を最後まで実行しても良い。この場合、目視外観検査の下流側の工程で、不良品であると判断された回路基板５の不良箇所を修理しても良い。
【００８０】
また、例えば操作部２５にテンキー又はバーコードリーダ等の入力手段を設け、回路基板５の検査を開始する前に、検査する回路基板５のシリアルナンバーを入力してからＯＫキー２５１を操作し、回路基板５のシリアルナンバーと回路基板５の検査結果とを関連付けてＨＤＤ１７に記憶しても良い。この場合、良品／不良品である回路基板５が確実に特定される。
【００８１】
図５及び図６は、制御装置１のＣＰＵ１０が実行するパターン表示処理の手順を示すフローチャートである。以下では、ＣＰＵ１０による１台の表示装置２に対するパターン表示処理を例示し、この表示装置２が有する識別情報を、以下では所定識別情報という。このようなパターン表示処理は、複数台の表示装置２，２，…に対して、各表示装置２の識別情報を併用して同時的に実行される。
【００８２】
ＣＰＵ１０は、まず、ＯＫ信号及び所定識別情報を受け付けたか否かを判定し（Ｓ１１）、ＯＫ信号及び所定識別情報を受け付けていない場合（Ｓ１１でＮＯ）、液晶パネル２３にパターンを表示しないと判定して、ＯＫ信号を受け付けるまで待機する。ＯＫ信号及び所定識別情報を受け付けた場合（Ｓ１１でＹＥＳ）、ＣＰＵ１０は、検査記憶部１４１から、検査すべき回路基板５，５，…の枚数Ｉと回路基板５上の電子部品５１，５２，…の個数Ｊとを読み出す（Ｓ１２）。また、ＣＰＵ１０は、変数ｉ，ｊ夫々に“０”をセットする（Ｓ１３）。ＣＰＵ１０は、変数ｉを、検査が終了した回路基板５，５，…の枚数を計数するために用い、変数ｊを、検査が終了した電子部品５１，５２，…の個数を計数するために用いる。
【００８３】
更にＣＰＵ１０は、集計記憶部１４２に記憶すべき検査結果をリセットする（Ｓ１４）。この場合、ＣＰＵ１０は、集計記憶部１４２に記憶すべき検査結果、即ち「検査数」、「良品数」、「不良品数」、「不良率」等の値を“０”にリセットする。
【００８４】
ＣＰＵ１０は変数ｊをインクリメントし（Ｓ１５）、ｊ番目に検査すべき電子部品（以下、ｊ番目の電子部品という）のパターンデータを読み出す（Ｓ１６）。この場合ＣＰＵ１０は、検査記憶部１４１の「検査順」の欄に記憶されているｊ番のデータに関連付けられているパターンデータのアドレスを得て、得られたアドレスに基づきパターン記憶部１４３からパターンデータを読み出す。
【００８５】
更にＣＰＵ１０は、Ｓ１６で読み出したパターンデータを表示装置２のデータ記憶部２１に書き込むべく、パターンデータ及びＨＤＤ１４から読み出した所定識別情報をハブ３へ出力する（Ｓ１７）。更にＣＰＵ１０は、表示装置２の液晶パネル２３に、Ｓ１７で出力したパターンデータに基づくパターンを表示させるべく、ＨＤＤ１４から読み出した表示信号及び所定識別情報をハブ３へ出力する（Ｓ１８）。
【００８６】
例えばＳ１６の時点でｊ＝１の場合、ＣＰＵ１０は、検査順が１番目の電子部品５１のデータ（図３（ａ）中「検査対象」の「部品１」）に関連付けて検査記憶部１４１に記憶してあるパターンデータのアドレスを読み出し、読み出したアドレスに基づいて、パターン記憶部１４３に記憶してあるパターンデータを読み出す。次に、ＣＰＵ１０は、パターン記憶部１４３から読み出したパターンデータ及び所定識別情報をハブ３へ送出する。ハブ３は、送出されたパターンデータ及び所定識別情報を受け付け、受け付けた所定識別情報に対応する表示装置２へ、受け付けたパターンデータを送出する。表示装置２にはパターンデータが入力され、入力されたパターンデータはデータ記憶部２１に記憶される。
【００８７】
更にＣＰＵ１０は、表示信号及び所定識別情報をハブ３へ送出する。ハブ３は、送出された表示信号及び所定識別情報を受け付け、受け付けた所定識別情報に対応する表示装置２へ、受け付けた表示信号を送出する。表示装置２には表示信号が入力され、入力された表示信号を受け付けたパネル駆動部２２は、液晶パネル２３に対し、データ記憶部２１に記憶されているパターンデータに応じて、高透光領域に対応する画素電極には電圧を印加せず、低透光領域／遮光領域に対応する画素電極には低電圧／高電圧を印加する。つまり、Ｓ１８の処理が完了した場合に、液晶パネル２３には図４（ａ）に示すパターン２３１が表示される。
【００８８】
Ｓ１８の処理の完了後、ＣＰＵ１０は、ＯＫ信号及び所定識別情報を受け付けたか否かを判定し（Ｓ１９）、ＯＫ信号及び所定識別情報を受け付けていない場合（Ｓ１９でＮＯ）、ＮＧ信号及び所定識別情報を受け付けたか否かを判定し（Ｓ２０）、ＮＧ信号及び所定識別情報を受け付けていない場合（Ｓ２０でＮＯ）、処理をＳ１９へ戻して、ＯＫ信号又はＮＧ信号と所定識別情報とを受け付けるまで待機する。
【００８９】
ＯＫ信号及び所定識別情報を受け付けた場合（Ｓ１９でＹＥＳ）、ＣＰＵ１０は、集計記憶部１４２のｊ番目の電子部品に対応する「検査数」及び「良品数」夫々の値をインクリメントする（Ｓ３１）。例えばＳ３１の時点でｊ＝１の場合、ＣＰＵ１０は、検査順が１番目の電子部品５１のデータ（図３（ａ）中「検査対象」の「部品１」）に関連付けて集計記憶部１４２に記憶してある「検査数」及び「良品数」夫々の値に“１”を加算する。
【００９０】
次に、ＣＰＵ１０は変数ｊが個数Ｊ以上であるか否かを判定し（Ｓ３２）、ｊ＜Ｊである場合（Ｓ３２でＮＯ）、１枚の回路基板５に対するＪ個の電子部品全ての検査がまだ終了していないと判定し、処理をＳ１５へ戻す。この後、Ｓ１８の処理が完了したときに、液晶パネル２３には例えば図４（ｂ）に示すパターン２３２が表示される。また、ｊ≧Ｊである場合（Ｓ３２でＹＥＳ）、ＣＰＵ１０は、１枚の回路基板５に対するＪ個の電子部品５１，５２，…全ての検査が終了したと判定する。
【００９１】
次にＣＰＵ１０は、変数ｉをインクリメントし（Ｓ３３）、変数ｉが枚数Ｉ以上であるか否かを判定する（Ｓ３４）。ｉ＜Ｉである場合（Ｓ３４でＮＯ）、ＣＰＵ１０は、Ｉ枚全ての回路基板５，５，…の検査がまだ終了していないと判定し、作業者に対し、回路基板５の検査が終了したため、次の回路基板５に交換するよう指示する指示情報が液晶パネル２３に表示されるように表示装置２へ指示情報を表示させるためのデータを出力する（Ｓ３５）。
【００９２】
更にＣＰＵ１０は、変数ｊを“０”にリセットして（Ｓ３６）、次に、ＯＫ信号及び所定識別情報を受け付けたか否かを判定し（Ｓ３７）、ＯＫ信号及び所定識別情報を受け付けていない場合（Ｓ３７でＮＯ）、ＯＫ信号及び所定識別情報を受け付けるまで待機する。ＯＫ信号及び所定識別情報を受け付けた場合（Ｓ３７でＹＥＳ）、ＣＰＵ１０は、処理をＳ１５へ戻す。この後、Ｓ１８の処理が完了したときに、液晶パネル２３には図４（ａ）に示すパターン２３１が表示される。ｉ≧Ｉである場合（Ｓ３４でＹＥＳ）、ＣＰＵ１０は、Ｉ枚の回路基板全ての検査が全て終了したと判定し、パターン表示処理を終了する。
【００９３】
ＮＧ信号及び所定識別情報を受け付けた場合（Ｓ２０でＹＥＳ）、ＣＰＵ１０は、集計記憶部１４２のｊ番目の電子部品に対応する「検査数」及び「不良品数」夫々の値をインクリメントする（Ｓ４１）。例えばＳ４１の時点でｊ＝１の場合、ＣＰＵ１０は、検査順が１番目の電子部品５１のデータ（図３（ａ）中「検査対象」の「部品１」）に関連付けて集計記憶部１４２に記憶してある「検査数」及び「不良品数」夫々の値に“１”を加算する。更にＣＰＵ１０は、Ｓ４１で求めた「検査数」の値と「不良品数」の値とを用いて、不良率ｍを算出する（Ｓ４２）。
【００９４】
次に、ＣＰＵ１０は、Ｓ４２にて求めた不良率ｍが不良率の上限値Ｍ以上であるか否かを判定し（Ｓ４３）、ｍ≧Ｍである場合（Ｓ４３でＹＥＳ）、不良率が高すぎると判定して、電子部品の不良率が高すぎることを示す高不良率情報を出力する（Ｓ４４）。この場合、ＣＰＵ１０は、集計記憶部１４２におけるｊ番目の電子部品に対応する「備考」の欄に、不良率が高すぎることを示す情報（例えば図３中（ｂ）の「高不良率」）を記憶させ、また、表示部１５に、ｊ番目の電子部品の不良率が高すぎることを制御装置１のオペレータに報知する情報を表示させる。更に、液晶パネル２３にも、ｊ番目の電子部品の不良率が高すぎることを作業者に報知する情報を表示させる。
【００９５】
なお、Ｓ４３にて不良率が高すぎると判定した場合はパターン表示処理を一時停止又は強制終了しても良い。また、Ｓ４３にて高不良率であると判定した場合でも、検査が終了したｊ番目の電子部品の個数、即ちｊ番目の電子部品の「検査数」の値が所定の下限値を下回る場合は、統計的に偏りがあると判定して、Ｓ４４にて高不良率情報を出力しないようにしても良い。更に、不良率ｍが上限値Ｍ以上になった後で、上限値Ｍを下回った場合、不良率が許容範囲内に収まったことを報知する情報を出力しても良い。
【００９６】
Ｓ４４の処理完了後、又はｍ＜Ｍである場合（Ｓ４３でＮＯ）、ＣＰＵ１０は処理をＳ３３へ移す。この場合、回路基板５の（ｊ＋１）番目〜Ｊ番目の電子部品に対する検査は行なわれないため、検査効率が向上される。
【００９７】
以上のようなパターン表示処理におけるパネル駆動部２２は、データ記憶部２１に記憶されたパターンデータに基づいて液晶パネル２３の各画素電極に印加する電圧の高低を変化させる。このことによって、パネル駆動部２２は、透光率が夫々異なる領域が混在するパターンを、１又は複数の検査対象が平面的に配置された空間を覆うように配置されるべき液晶パネル２３に表示させるパターン表示手段として機能する。
【００９８】
具体的には、ＣＰＵ１０がＳ１６にて検査記憶部１４１から電子部品５１の検査に関するパターンデータを読み出し、Ｓ１７にて、Ｓ１６で読み出したパターンデータをデータ記憶部２１に記憶させることによって、パネル駆動部２２は、検査対象である電子部品５１の位置に対応する高透光領域２３１ａ、及び低透光領域２３１ｂが混在するパターン２３１を液晶パネル２３に表示させるパターン表示手段として機能する。
【００９９】
また、パターン２３１の表示後、ＣＰＵ１０がＳ１６にて検査記憶部１４１から電子部品５２の検査に関するパターンデータを読み出し、Ｓ１７にて、Ｓ１６で読み出したパターンデータをデータ記憶部２１に記憶させることによって、パネル駆動部２２は、検査対象である電子部品５２の位置に対応する高透光領域２３２ａ、及び低透光領域２３２ｂが混在するパターン２３２に加えて検査情報２３２ｃを液晶パネル２３に表示させるパターン表示手段として機能する。
【０１００】
このようなパネル駆動部２２は、複数の異なるパターン２３１，２３２，…を液晶パネル２２に順に表示させるパターン表示手段として機能する。
【０１０１】
更に、Ｓ１９及びＳ２０におけるＣＰＵ１０は、操作部２５を介し、操作を受け付ける操作受付手段として機能する。また、Ｓ３１及びＳ４１における集計記憶部１４２は、操作受付手段が受け付けた操作に応じた情報を記憶する情報記憶手段として機能する。更に、Ｓ３１、Ｓ４１及びＳ４２におけるＣＰＵ１０は、集計記憶部１４２を用いて、操作受付手段が受け付けた操作に応じた情報を集計する集計手段として機能し、Ｓ４４におけるＣＰＵ１０は、集計手段の集計結果に応じた情報を出力する出力手段として機能する。
【０１０２】
更にまた、ＣＰＵ１０がＳ１６にて検査記憶部１４１から例えば電子部品５２の検査に関するパターンデータを読み出し、Ｓ１７にて、Ｓ１６で読み出したパターンデータをデータ記憶部２１に記憶させた後、Ｓ１９でＯＫ信号を受け付けるか、Ｓ２０でＮＧ信号を受け付けるかした場合、Ｓ３２でｊ＜Ｊ又はＳ３４でｉ＜Ｉであるとき、再びＳ１６にて検査記憶部１４１から電子部品５３の検査に関するパターンデータを読み出し、Ｓ１７にて、Ｓ１６で読み出したパターンデータをデータ記憶部２１に記憶させる。このことによって、パネル駆動部２２は、操作受付手段が操作を受け付ける都度、複数の異なるパターン２３１，２３２，…を液晶パネル２３に順に表示させるパターン表示手段として機能する。
【０１０３】
以上のような検査支援システムを用いて、作業者は検査対象を光学的に検査する。作業者は、１又は複数の検査対象が平面的に配置された空間、即ち電子部品５１，５２，…が配置された回路基板５の上側を液晶パネル２３で覆い、液晶パネル２３に、検査対象の位置に対応する高透光領域、例えば電子部品５１の位置に対応する高透光領域２３１ａと、低透光領域２３１ｂとが混在するパターン２３１を表示させ、高透光領域２３１ａを介して電子部品５１の外観を目視で検査する。また、作業者は、操作部２５を操作することによって、液晶パネル２３に、複数の異なるパターン２３１，２３２，…を順に表示させる。
【０１０４】
本実施の形態では、複数の作業者夫々が表示装置２を使用してＩ枚の回路基板５，５，…の検査を行ない、各作業者が検査する回路基板５，５，…の構成は同一である目視外観検査を例示しているが、作業者毎に異なる構成／枚数の回路基板５，５，…を検査しても良い。
【０１０５】
以上のような検査支援システムを用いる場合、作業者が表示装置２を従来のテンプレートと同様に使用して検査を行なうことができる。このとき、高透光領域２３１ａ，２３２ａ，…によって電子部品５１，５２，…が強調されるため、作業者が検査すべき電子部品５１，５２，…を取り違えること、検査漏れが生じること等を防止することができる。
【０１０６】
しかも、作業者が操作部２５を操作する都度、高透光領域／低透光領域の配置、検査情報の内容等が変更され、検査すべき対象に応じたパターンが液晶パネル２３に表示されるため、作業者が、例えば複数のテンプレートを取り替えながら検査を行なう必要がなく、検査が簡便である。また、電子部品５１，５２，…に対応し、検査すべき順に高透光領域２３１ａ，２３２ａ，…が設けられるため、作業者は電子部品５１，５２，…の検査順を考慮する必要がなく、検査に集中することができる。
【０１０７】
このように、作業者による操作部２５の操作に応じてパターン２３１，２３２，…を切り替えるため、作業者がパターン２３１，２３２，…を切り替えるタイミングを決定できる。なお、一のパターンの表示後、所定の時間が経過した場合に他のパターンを表示する構成でも良い。この場合、例えば電子部品５１，５２，…が不良品であると判断した場合にのみ作業者がＮＧキー２５２を操作すれば良い。
【０１０８】
また、検査すべき回路基板５の設計変更、検査対象の削除、注意事項の追加等に応じて、パターン記憶部１４３に記憶されるパターンデータを変更することによって、更に異なるパターンを液晶パネル２３に表示させることができる。本実施の形態においては、回路基板５，５，…に配置されている電子部品５１，５２，…の種類、位置等は同一である場合を例示しているが、これに限らず、回路基板５毎に、配置されている電子部品５１，５２，…の種類、位置等が変更されていても良い。この場合、一の回路基板５に対して表示されるパターン２３１，２３２，…と、他の回路基板５に対して表示されるパターンとが異なるように、制御装置１から表示装置２へ、異なるパターンデータが出力される。
【０１０９】
以上の結果、表示装置２は汎用のテンプレートであるかのように使用することができ、種々の検査に流用することができ、検査内容の変更にも柔軟に対処することができ、また、繰り返し使用することができる。このため、例えば複数の作業者による検査箇所の分業化を行なう場合でも、各作業者が同一種類の表示装置２を使用して異なる検査対象を検査することができる。更に、液晶パネル２３に設けられる高透光領域の形状及び配置、検査情報の表示内容及び配置等は、テンプレートに形成される穴部の形状及び配置、テンプレートに添付／記載される情報の内容及び配置等に比べて自由度が高いため、表示装置２はテンプレートよりも利便性が向上されている。
【０１１０】
また、液晶パネル２３に、従来は検査指示書に記載されていた検査手順、検査自体に対する注意事項の文書及び／又は画像を表示することができ、検査すべき対象の取り違え、検査漏れ、不具合箇所の見逃し、良否の誤判断等を低減することができ、この結果、作業者の検査効率、検査精度等を向上させることができる。更に検査の精度を向上させるために、液晶パネル２３に、検査対象と比較すべき良品／不良品のサンプルの画像を表示させることもできる。このような文書及び画像の表示は、パターン２３２，…の表示と同時的に行なうだけでなく、例えば作業者による表示部２５の操作に応じて、パターン２３１，２３２，…の表示に割り込んで適宜実行させても良い（オンラインヘルプ機能）。
【０１１１】
また、作業者は、良品の個数、不良品の個数等を、操作部２５を操作して、電気部品５１，５２，…夫々の検査と同時的に、集計記憶部１４２に記憶させることができる。更に、作業者は、不良率を集計させて集計記憶部１４２に記憶させ、不良率が所定の上限値を超えた場合に、不良率が高すぎることを示す情報を表示部１５に出力させることによって、不良率が所定の上限値以上になったことを制御装置１のオペレータに自動的に報知させることができる。このような集計記憶部１４２には検査結果に関する情報が蓄積され、また、検査記憶部１４１には検査に関する情報が記憶されているため、制御装置１のオペレータが、検査／検査結果に関する情報を容易に管理することができる。
【０１１２】
以上のような検査支援システムは、検査対象を撮像する１又は複数の撮像装置、検査対象の位置を変更するための移動可能なテーブル等を備える必要がないため、システムの構成が簡易であり、また、低コストである。更に、表示装置２に、ＣＰＵ１０、ＨＤＤ１４等が備えられておらず、制御装置２の制御に従って作動するため、表示装置２の構成は簡易であり、表示装置２，２，…を低コストで量産することができる。また、部品点数が少ない分、表示装置２は軽量である。
【０１１３】
なお、検査支援システムは、制御装置１と表示装置２とハブ３とを無線で接続する構成でも良い。また、パターンデータを送出すべき表示装置２をハブ３が判定する構成ではなく、表示装置２が、受け付けるべきパターンデータであるか否かを判定し、制御装置１、更にはハブ３は、表示装置２，２，…全てにパターンデータを送出する構成でも良い。更に、制御装置１と表示装置２とは一対一対応でも良く、この場合、ハブ３は不要である。      
【０１１４】
更にまた、操作部２５は表示装置２とは別体に設けても良い。また、制御装置１と表示装置２とが一対一対応である場合、表示装置２が操作部２５を備えず、代わりに制御装置１の操作部１６を用いる構成でも良い。
【０１１５】
更に、集計記憶部１４２には、表示装置２，２，…の検査結果を個々に集計しても良く、表示装置２，２，…の検査結果を合計して集計しても良い。
【０１１６】
更にまた、操作部２５が、液晶パネル２３に積層してあるタッチパネルを備え、各種キーをタッチパネル上のソフトキーとして設ける構成でも良い。ＯＫキー２５１及びＮＧキー２５２をソフトキーとして高透光領域２３１，２３２，…の近傍に、又は高透光領域２３１，２３２，…に重ねるようにして設ける場合、一般に、作業者は検査対象である電子部品５１，５２，…を指差し確認しつつ検査を行なうため、良否を判断した作業者がＯＫキー２５１又はＮＧキー２５２を即座に操作することができる。
【０１１７】
また、ＮＧキー２５２を高透光領域２３１，２３２，…に重ねるようにして設け、タッチパネルが操作された位置を記録する構成でも良い。この場合、電子部品５１，５２，…が不良品であるという情報だけでなく、電子部品５１，５２，…の不良箇所の位置情報も蓄積することができる。
【０１１８】
本実施の形態では、低透光領域に重ねるようにして、低透光領域よりも低い透光率で検査情報を表示する場合を例示しているが、低透光領域よりも高い透光率で検査情報を表示しても良く、高透光領域に重ねるようにして検査情報を表示しても良い。更に、検査対象に対応する高透光領域と、高透光領域を囲む線状の低透光領域と、検査対象には対応しないが透光率が高い領域とが混在するパターンでも良い。更にまた、高透光領域が低透光領域を囲むようなパターンでも良い。また、液晶パネル２３に表示されるパターンはカラー表示されても良い。即ち、検査対象である電子部品５１，５２，…を作業者に明示するための高透光領域、及び低透光領域が混在するパターンであれば、どのようなパターンでも良く、検査情報の表示形態も、本実施の形態に限定されるものではない。
【０１１９】
本実施の形態では、作業者は液晶パネル２３を介して直接的に電子部品５１，５２，…を目視外観検査する場合を例示したが、液晶パネル２３と作業者との間に、顕微鏡、拡大鏡等を介在して電子部品５１，５２，…を検査しても良く、液晶パネル２３を介して撮像装置で電子部品５１，５２，…を撮像しても良い。
【０１２０】
また、液晶パネル２３のサイズよりも回路基板５のサイズの方が大きくても良い。この場合、又は顕微鏡、拡大鏡等を用いて検査をする場合、回路基板５の電子部品５１，５２，…の位置に応じて、表示装置２（及び顕微鏡、拡大鏡等）の位置を移動させても良いが、表示装置２（及び顕微鏡、拡大鏡等）の位置に応じて、回路基板５を移動させても良い。回路基板５を移動させる場合、特許文献１〜３に開示されているような回路基板５を移動させるためのテーブルを用いても良い。
【０１２１】
更に、平面上に配置される検査対象に限らず線上に配置される検査対象、立体的に配置される検査対象等を検査しても良い。また、液晶パネル２３は、矩形でなくても良く、平板状でなくても良い。
【０１２２】
実施の形態  ２．
図７は、本発明の実施の形態２に係る検査支援システムの構成を示すブロック図である。実施の形態１における検査支援システムは、制御装置１と、制御装置１による作動制御なしでは液晶パネル２３にパターンが表示されない表示装置２と、ハブ３と照明装置とを備える構成であったが、本実施の形態における検査支援システムは、他の装置による作動制御なしにパターンを表示する表示装置４と図示しない照明装置とで構成されている。即ち、表示装置４は制御装置１及び表示装置２の両方の機能を兼ね備えている。
【０１２３】
表示装置４は、制御装置１のＣＰＵ１０、ＲＯＭ１１、ＲＡＭ１２及びＨＤＤ１４に対応するＣＰＵ４０、ＲＯＭ４１、ＲＡＭ４２及びＨＤＤ４４と、表示装置２のデータ記憶部２１、パネル駆動部２２、液晶パネル２３及び操作部２５に対応するデータ記憶部４５、パネル駆動部４６、液晶パネル４７及び操作部４３とを備える。また、操作部２５のＯＫキー２５１及びＮＧキー２５２には操作部４３のＯＫキー４３１及びＮＧキー４３２が対応し、ＨＤＤ１４の検査記憶部１４１、集計記憶部１４２及びパターン記憶部１４３にはＨＤＤ４４の検査記憶部４４１、集計記憶部４４２及びパターン記憶部４４３が対応する。
【０１２４】
作業者は、回路基板５，５，…の検査開始前に、例えば検査に関するデータを記憶する外部のデータベースサーバに表示装置４を接続して、検査記憶部４４１の「検査対象」、「検査対象の位置」、「検査順」、「検査情報」、パターン記憶部１４３の「検査対象」等の欄に記憶される各種のデータを予めダウンロードしておく。ここで、パターン記憶部４４３に記憶されるパターンデータもダウンロードする場合、パターンデータを作成しない分、ＣＰＵ４０の負担が軽減される。
【０１２５】
また、作業者は、回路基板５，５，…の検査終了後に、例えば検査結果に関するデータを記憶する外部のデータベースサーバに表示装置４を接続して、集計記憶部４４３に記憶された検査結果をアップロードする。
【０１２６】
更に、ＣＰＵ４０は高不良率情報を集計記憶部４４２及び液晶パネル４７へ出力し、液晶パネル４７に高不良率情報を表示させることによって、不良率が高すぎることを作業者に報知する。その他、実施の形態１に対応する部分の説明は省略する。
【０１２７】
以上のような検査支援システムを用いる場合、作業者が表示装置４を表示装置２と同様に使用して検査を行なうことができる。また、制御装置１、ハブ３等が不要であるため、検査支援システムはコンパクトである。更に、表示装置４は検査中に他の装置と通信する必要がないため、生産現場に検査支援システム用の通信網を構築する必要がなく、他の通信網の負担を増加させることもない。
【０１２８】
なお、ＨＤＤ４４の代わりに、可搬性を有するメモリカードを挿入するカードスロットとメモリカードに対してデータを読み書きする外部記憶部とを備え、メモリカードに、検査記憶部４４１、集計記憶部４４２、及びパターン記憶部４４３を設ける構成でも良い。この場合、検査に関するデータを記憶してあるメモリカードを作業者がカードスロットに挿入し、外部記憶部を用いてＣＰＵ４０が必要なデータをメモリカードから読み出す。また、検査結果に関するデータをＣＰＵ４０がメモリカードに書き込んだ後、作業者がメモリカードをカードスロットから排出させて、排出されたメモリカードを例えば検査支援システムの管理者に提出し、また、カードスロットに新たなメモリカードを挿入する。
【図面の簡単な説明】
【０１２９】
【図１】本発明の実施の形態１に係る検査支援システムの構成を示す斜視図である。
【図２】本発明の実施の形態１に係る検査支援システムの構成を示すブロック図である。
【図３】本発明の実施の形態１に係る検査支援システムが備える制御装置のＨＤＤに記憶してあるデータの一例を示す模式図である。
【図４】本発明の実施の形態１に係る検査支援システムの液晶パネルに表示されるパターンの一例を示す模式図である。
【図５】本発明の実施の形態１に係る検査支援システムのパターン表示処理の手順を示すフローチャートである。
【図６】本発明の実施の形態１に係る検査支援システムのパターン表示処理の手順を示すフローチャートである。
【図７】本発明の実施の形態２に係る検査支援システムの構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【０１３０】
１０，４０  ＣＰＵ（操作受付手段，集計手段，出力手段）
１４２，４４２  集計記憶部（情報記憶手段）
２２，４６  パネル駆動部（パターン表示手段）
２３，４７  液晶パネル
２３１，２３２  パターン
２３１ａ，２３２ａ  高透光領域
２３１ｂ，２３２ｂ  低透光領域
２３２ｃ  検査情報（情報）
２５  操作部（操作受付手段）
５  回路基板
５１，５２，５３  電子部品（検査対象）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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