(57)【要約】【課題】  光ディスクに情報を記録する際に、光ディスクの外周側の機械特性が悪い場合でも、再生可能な情報を記録することができる光ディスクドライブ装置を提供する。【解決手段】  光ディスク２の機械特性を信号処理回路７で測定し、その測定結果に基づいて光ディスク２の記録不可領域を設定し、記録動作時、設定した光ディスク２の記録不可領域に情報を記録しないように制御することで、その領域には情報を記録しないので、光ディスク２に情報を記録している途中で記録エラーが生じることがない。【選択図】      図４
2006040485.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに情報を記録できると共に、光ディスクに記録された情報を再生できる光ディスクドライブ装置において、前記光ディスクの機械特性を測定する機械特性測定手段と、前記機械特性測定手段の測定結果に基づいて、前記光ディスクの記録不可領域を設定する設定手段と、記録動作時、前記設定手段により設定された前記光ディスクの記録不可領域に情報を記録しないように制御する制御手段と、を備えていることを特徴とする光ディスクドライブ装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスクドライブ装置において、前記機械特性測定手段は、前記光ディスクの最外周から内周側に向かって機械特性の測定を行い、前記設定手段は前記機械特性測定手段の測定結果に基づいて、前記光ディスクへの記録が可能であると判別したときは前記光ディスクの最外周から記録可能と判別した位置までの領域を記録不可領域に設定することを特徴とする光ディスクドライブ装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスクドライブ装置において、前記機械特性測定手段は前記光ディスクの最外周の機械特性を測定し、前記設定手段は前記機械特性測定手段の測定結果に基づいて、前記光ディスクへの記録が不可であると判断したときに前記光ディスクの再外周から所定領域だけ記録不可領域に設定することを特徴とする光ディスクドライブ装置。
【請求項４】
請求項１乃至３の何れか一項に記載の光ディスクドライブ装置において、前記機械特性測定手段は、光ディスクのチルト、及び／又は面振れを測定することを特徴とする光ディスクドライブ装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスクドライブ装置において、前記光ディスクの最外周に情報を記録し、記録した情報の再生結果に基づいて、前記光ディスクの機械特性を推定する推定手段を備えていることを特徴とする光ディスクドライブ装置。
【請求項６】
光ディスクに情報を記録できると共に、光ディスクに記録された情報を再生できる光ディスクドライブ装置の記録方法であって、光ディスクの機械特性を測定するステップと、前記機械特性の測定結果に基づいて前記光ディスクの記録不可領域を設定するステップと、記録動作時、設定した前記光ディスクの記録不可領域に情報を記録しないように制御するステップと、を備えていることを特徴とする光ディスクドライブ装置の記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ等の光ディスクに情報を記録し、かつ、記録された情報を再生できる光ディスクドライブ装置と、その記録方法に関わり、特に外周部の機械特性が悪い光ディスクに対して情報を記録する場合に好適なものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ等の各種光ディスクに情報を記録したり、記録した情報を再生したりする光ディスクドライブ装置が普及している。光ディスクは、指紋や傷等のディスク表面の欠陥や、チルトや面振れ、偏重心、偏心などの機械特性が悪いと、光ディスクに情報を記録したり、再生したりすることができない。
なお、先行文献としては、例えば特許文献１には、光ディスクの指紋や傷などのディフェクトを検出し、ディフェクトの測定結果に基づいて、記録可能時間を算出し、その記録可能時間を表示するようにした技術が開示されている。
【特許文献１】特開２０００−２９３８５０公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、通常、光ディスクドライブ装置では、記録可能な程度以上に外周の機械特性が悪い粗悪な光ディスクは使用することは出来ない。
しかしながら、市場には標準規格を満たさない、品質が悪い光ディスクも多く存在する。このため、このような光ディスクを使用して内周や中周から外周に亘ってデータを記録したときに、外周部を記録するときに初めて記録できないことが判るのでは情報の記録に失敗してしまうという問題がある。
特に、ＤＶＤ＋Ｒのビデオレコーディング規格のように、録画終了時にそのデータの後にファイルシステムを記録する場合、光ディスクの最大容量まで録画すると、ファイルシステムは最外周に記録されることになる。このとき、光ディスクの最外周の機械特性が悪く、記録品質が悪くて再生出来なければ、その光ディスクに録画した全データが再生できなくなってしまう。
そこで、本発明は上記したような点を鑑みてなされたものであり、光ディスクに情報を記録する際に、光ディスクの外周側の機械特性が悪い場合でも、再生可能な情報を記録することができる光ディスクドライブ装置と記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的を達成するため、請求項１に記載の本発明は、光ディスクに情報を記録できると共に、光ディスクに記録された情報を再生できる光ディスクドライブ装置において、前記光ディスクの機械特性を測定する機械特性測定手段と、前記機械特性測定手段の測定結果に基づいて、前記光ディスクの記録不可領域を設定する設定手段と、記録動作時、前記設定手段により設定された前記光ディスクの記録不可領域に情報を記録しないように制御する制御手段と、を備えていることを特徴とする。
請求項２に記載の本発明は、請求項１に記載の光ディスクドライブ装置において、前記機械特性測定手段は前記光ディスクの最外周から内周側に向かって機械特性の測定を行い、前記設定手段は前記機械特性測定手段の測定結果に基づいて、前記光ディスクへの記録が可能であると判別したときは前記光ディスクの最外周から記録可能と判別した位置までの領域を記録不可領域に設定することを特徴とする。
請求項３に記載の本発明は、請求項１に記載の光ディスクドライブ装置において、前記機械特性測定手段は前記光ディスクの最外周の機械特性を測定し、前記設定手段は前記機械特性測定手段の測定結果に基づいて、前記光ディスクへの記録が不可であると判断したときに前記光ディスクの再外周から所定領域だけ記録不可領域に設定することを特徴とする。
請求項４に記載の本発明は、請求項１乃至３の何れか一項に記載の光ディスクドライブ装置において、前記機械特性測定手段は、光ディスクのチルト、及び／又は面振れを測定することを特徴とする。
請求項５に記載の本発明は、請求項１に記載の光ディスクドライブ装置において、前記光ディスクの最外周に情報を記録し、記録した情報の再生結果に基づいて、前記光ディスクの機械特性を推定する推定手段を備えていることを特徴とする。
請求項６に記載の本発明は、光ディスクに情報を記録できると共に、光ディスクに記録された情報を再生できる光ディスクドライブ装置の記録方法であって、光ディスクの機械特性を測定するステップと、前記機械特性の測定結果に基づいて前記光ディスクの記録不可領域を設定するステップと、記録動作時、設定した前記光ディスクの記録不可領域に情報を記録しないように制御するステップと、を備えていることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００５】
請求項１または請求項６に記載の本発明によれば、光ディスクに情報を記録する前に、機械特性測定手段により光ディスクの機械特性を測定し、その測定結果に基づいて、設定手段により光ディスクの記録不可領域を設定し、その領域には情報を記録しないようにしているので、光ディスクに情報を記録している途中で記録エラーが発生することがない。
特に、ＤＶＤ＋Ｒのビデオレコーディング規格のような場合において、最大容量まで録画しても最外周よりも内側の記録可能領域内にファイルシステムが記録されることになるので、ファイルシステムを記録する際に記録エラーが発生し、それまで録画した情報が無駄になるといったことがない。
請求項２に記載の本発明によれば、機械特性測定手段の測定結果に基づいて、設定手段により光ディスクへの記録が可能であると判別したときは、光ディスクの最外周から記録可能と判別した位置までの領域を記録不可領域として設定するようにしているので、機械特性が悪い領域だけを精度よく求めることができ、光ディスクの記録領域を無駄に減らすことがない。
請求項３に記載の本発明によれば、機械特性測定手段により光ディスクの最外周の機械特性を測定して、光ディスクへの記録が不可であると判断したときに光ディスクの再外周から所定領域だけ記録不可領域に設定するようにしているので、光ディスクの機械特性測定を最外周の１箇所のみ測定を行うだけでよく、記録開始前に行う機械特性測定が極めて短時間で済むため、ユーザにとって利便性の高い光ディスクドライブ装置を提供することができる。
請求項４に記載の本発明によれば、記録が不可能であるほどチルト又は／及び面振れが大きい光ディスクに対し、記録不可領域を決定することが出来るので、チルト又は／及び面振れが大きい光ディスクに対しても確実に情報を記録することができる。
請求項５に記載の本発明によれば、実際に記録し、その記録品質の良し悪しから、記録不可領域を決定することができるので、チルトや面振れの組み合わせによる記録品質への相乗作用やそれ以外の影響を加味して判断することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
図１は本発明の一実施形態に係る光ディスクドライブ装置の概略構成図である。
この図１に示す光ディスクドライブ装置１は、記録媒体である光ディスク２を回転駆動するためのスピンドルモータ３、光ピックアップ４、レーザ光源の発光コントロールを行うレーザコントロール回路５、スピンドルモータ３や光ピックアップ４などの各部の駆動をコントロールするドライバ６、信号処理回路７などを備えている。
光ピックアップ４は対物レンズ９を移動させるアクチュエータ１０を備えている。アクチュエータ１０は、ドライバ６から出力されるアクチュエータ駆動信号により、対物レンズ９をフォーカス、トラッキング、チルト方向に独立に駆動する。
信号処理回路７はフォーカスエラー（ＦＥ）信号やトラッキングエラー（ＴＥ）信号を生成する。また、本実施の形態では、この信号処理回路７を光ディスク２の機械特性を測定する機械特性測定手段として機能させるようにしている。
ＣＰＵ８は、装置全体をコントロールしたり、或いはメモリ手段１１、スピンドル回転制御回路１２を備えている。スピンドル回転制御回路１２は、スピンドルモータ３が目標の回転周期になるように制御する。また、ＣＰＵ８は信号処理回路号７が機械特性測定手段として機能しているときに送られてくる測定結果に基づいて各種制御を行うようにしている。メモリ手段１１には、各種プログラムが格納されＲＯＭ、ワーク領域として用いられるＲＡＭやフラッシュメモリなどが設けられている。
光ディスク２の記録・再生を行うためには、光ディスク２の記録面にスポットＳの焦点を常に合わせておく必要がある。また同様にスポットＳの焦点を光ディスク２のトラックに常に追従させておく必要がある。そのためにＦＥ信号やＴＥ信号を用いてフォーカスサーボやトラックサーボを行っている。また、光ディスク２の記録面に略垂直にレーザ光が照射されるように対物レンズ９を駆動してチルト補正を行う。
【０００７】
ところで、光ディスク２の記録・再生品質を悪化させる要因の１つに機械特性の悪さがある。機械特性には、光ディスクの偏重心や偏芯、チルトや面振れなどがある。このうち、チルトや面振れは、光ディスク２の外周ほど、その程度が悪化する傾向にある。光ディスク２の外周部において、記録が不可能なほど劣悪な機械特性であったとしても、内周部や中周部においては記録ができることがある。このような、外周部のみ機械特性が悪い光ディスク２に記録しようとした場合、例えば、内周或いは中周から外周に亘ってデータを記録すれば、外周部で記録できずにエラーとなり、結局途中まで記録したデータを読み出すことが出来ない。同様なケースに、ＤＶＤ＋Ｒのビデオレコーディング規格フォーマットのように、録画終了時にそのデータの後にファイルシステムを記録する場合がある。このような場合、光ディスク２の最大容量まで録画すれば、そのファイルシステムは最外周に記録されることになる。このとき、最外周の機械特性が悪いために記録品質が悪く、再生が出来なければ、その光ディスクに録画した全データが再生できなくなってしまう。
このような事態を避けるためには、記録しようとしている光ディスク２の外周部が、記録が不可能なほど劣悪な機械特性かどうか予め調べておく必要がある。
そこで、本実施の形態の光ディスクドライブ装置では、記録を開始する前に、光ディスク２の機械特性を調べておき、もし記録品質が悪くなるほどの機械特性であれば、その領域を記録不可領域として、この記録不可領域を差し引いた容量を記録可能容量とし、記録不可領域には記録をしないようにしている。このようにすれば、外周部で機械特性が悪化し、記録途中でエラーとなるのを未然に防ぐことができる。
【０００８】
図２は光ディスクの半径位置とチルト量の関係を示した図であり、この図２に示すように、光ディスク２のチルトは、一般的には最外周付近において最も悪くなる傾向にある。光ディスク２の半径位置ごとにチルト量を検出して、そのチルト量が記録不可となるチルト量以上であれば、それより外周の領域を記録不可領域とする。こうすれば、チルト量が大きい光ディスク２の外周部に情報を記録するのを防止することができる。なお、チルト量の測定方法としては、チルトセンサを用いた方法や、ＴＥ信号を用いた方法などが各種提案されているので、本実施の形態ではその説明は省略する。
また、図２は光ディスクの半径位置と面振れ量の関係を示した図であり、この図３に示すように光ディスク２の面振れも、一般的には外周ほど悪くなる傾向にある。そこで、光ディスク２の半径位置ごとに面振れ量を検出し、その面振れ量が、記録不可となる面振れ量以上の大きさであれば、それより外周の領域を記録不可領域とする。こうすれば、面振れ量が大きい光ディスク２の外周部に情報を記録するのを防止することができる。なお、光ディスクの面振れ量は、アクチュエータ１０のフォーカス駆動量の大きさなどにより知ることができ、そのような測定方法も各種提案されているので、本実施の形態ではその説明は省略する。
また、光ディスク２のチルトと面振れの両方を測定し、少なくともどちらか一方が記録不可の量以上であれば、その半径位置より外周を記録不可領域とすれば、チルトと面振れのどちらか一方が悪い光ディスク２の検出が可能となる。
そして、このような本実施の形態の光ディスクドライブ装置においては、光ディスク２に対して記録動作を実行する前に光ディスク２の機械特性を測定する。その場合は、まず光ディスク２の最外周からある半径位置間隔で機械特性を測定していき、問題なく再生できる程度の記録品質を保障できると判断できる半径位置が見つかるまで測定を繰り返すようにしている。これにより、精度良く記録不可領域を検出することができ、必要以上に記録可能容量を減らさずに済むのでユーザメリットが高まる。なお、機械特性を測定する半径位置の間隔は密なほど精度が高まる。
【０００９】
図４は、上記したような機械特性の測定動作を実現するための処理を示したフローチャートである。なお、以下に説明する処理は、ＣＰＵ８がメモリ手段１１に格納されるプログラムを実行することにより実現されるものである。
この場合、ＣＰＵ８は、まずステップＳ１において、光ピックアップ４の対物レンズ９を光ディスク２の最外周に移動させる。そしてステップＳ２において例えば光ディスク２のチルト量や面振れ量といった光ディスク２の機械特性の測定を行い、ステップＳ３において、その測定結果に基づいて、光ディスク２に対して情報を記録可能かどうかの判別を行うようにする。ステップＳ３において否定結果が得られたときは、ステップＳ４に進み、対物レンズ９を光ディスク２の内周側に所定距離だけ移動させてステップＳ２に戻り、ステップＳ２から処理を行うようにする。一方、ステップＳ３において肯定結果が得られたときは、ステップＳ５に進んで、光ディスク２の最外周から現在の対物レンズの位置までを記録不可領域に設定した後、ステップＳ６に進んで、光ディスク２の記録不可領域以外の領域に情報を記録する記録動作を開始すればよい。
ところで、上記のようにして機械特性を測定する場合は、問題なく再生できる程度の記録品質を保証できると判断できる半径位置が見つかるまで測定を繰り返す必要がある。そこで、光ディスク２の最外周の機械特性を測定し、最外周の測定結果が記録不可であると判断した場合は最外周から所定の固定領域を記録不可領域と見なすようにする。
この場合の固定領域の固定量は任意に設定可能であり、例えば市場に出回っている光ディスクを評価して設定するといったことが考えられる。このようにすると、機械特性が悪い光ディスク２に対しては一定量を記録不可とするので、精度が良くないが、何回も測定を繰り返すことがなく、１回のみの測定なので短時間で済むという利点がある。
【００１０】
図５は、上記した機械特性の測定動作を実行するための処理を示したフローチャートである。なお、以下に説明する処理も、ＣＰＵ８がメモリ手段１１に格納されるプログラムを実行することにより実現されるものである。
この場合、ＣＰＵ８は、まずステップＳ１１において、光ピックアップ４の対物レンズ９を光ディスク２の最外周に移動させる。続くステップＳ１２において機械特性の測定を行い、機械特性の測定結果に基づいて、ステップＳ１３において光ディスク２に記録可能かどうかの判別を行うようにする。ステップＳ１３において否定結果が得られたときは、ステップＳ１４に進み、光ディスク２の最外周から所定領域だけ記録不可領域に設定した後、ステップＳ１５に進む。一方、ステップＳ１３において肯定結果が得られたときは、ステップＳ１４の処理を行うことなくステップＳ１５に進む。そしてステップＳ１５において光ディスクに情報を記録する記録動作を開始すればよい。
ところで、光ディスク２の機械特性のうち、記録品質に影響を及ぼすものに、チルトや面振れ以外にも考えられる。このような機械特性の中には、光ディスクドライブ装置での測定が十分な精度で得ることが困難である場合もあり得る。また、記録不可と判定する量に関しても、複数の機械特性の相乗作用を考慮して判定することは困難である。このように、複数の機械特性要素によって記録できないことを考慮した場合、限られた要素の機械特性の測定で判断するのは十分ではない。このような場合は、試験的に光ディスク２に情報を記録し、その記録した部分の情報を再生し、その再生結果に基づいて、ＣＰＵ８が光ディスク２の機械特性を推定することにより、光ディスク２が再生可能かどうか判断するようにしても良い。
なお、本実施の形態においては光ディスクを例に挙げて説明したが、これはあくまでも一例であり、機械特性の影響を受けるようなディスク状記録媒体であれば適用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１１】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスクドライブ装置の概略構成図である。
【図２】光ディスクの半径位置とチルト量の関係を示した図である。
【図３】光ディスクの半径位置と面振れ量の関係を示した図である。
【図４】本実施の形態の光ディスクドライブ装置の処理動作を示したフローチャートである。
【図５】本実施の形態の光ディスクドライブ装置の処理動作を示したフローチャートである。
【符号の説明】
【００１２】
１  光ディスクドライブ装置、２  光ディスク、３  スピンドルモータ、４  光ピックアップ、５  レーザコントロール回路、６  ドライバ、７  信号処理回路、８  ＣＰＵ、９  対物レンズ、１０  アクチュエータ、１１  メモリ手段、１２  スピンドル回転制御装置
【図１】
2006040485.tif 000003
【図２】
2006040485.tif 000004
【図３】
2006040485.tif 000005
【図４】
2006040485.tif 000006
【図５】
2006040485.tif 000007