(57)【要約】  【課題】  冷熱衝撃試験において除霜運転に要する期間を最小限に抑制可能な冷熱衝撃試験装置の提供を目的とする。  【解決手段】  冷熱衝撃試験装置１は、高温試験槽２と低温試験槽３とを有し、両者の間を試料Ｗを載せたラック４が移動可能な構成とされている。冷熱衝撃試験装置１は、ラック４に吸湿手段２５が取り付けられている。吸湿手段２５は、シリカゲルやモレキュラーシーブ等の吸湿剤２７を収容部材２８に詰めたものをラック４に取り付けられた籠状部材２６内に配した構成とされている。吸湿手段２５は、空気中に存在する湿気を吸収することにより、低温試験槽３内における結露や霜の発生を防止できる。吸湿手段２５は、高温試験槽２内を循環する空気によって吸収している湿気を放出する。【選択図】  図１
2006329827.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
高温の雰囲気温度に調整された第１の試験環境に試料をさらす高温さらし運転と、雰囲気温度が第１の試験環境よりも低温である第２の試験環境に試料をさらす低温さらし運転とを順に実施する冷熱サイクル動作を繰り返し実施可能な冷熱衝撃試験装置であって、
試料を配置可能な試料配置手段と、試験環境に存在する水分を吸収可能であり、第１あるいは第２の試験環境のうちいずれか一方の試験環境下において水分を放出可能な吸湿手段とを有し、
当該吸湿手段が試料配置手段と同一の試験環境下に配されることを特徴とする冷熱衝撃試験装置。
【請求項２】
試験環境内に所定の温度に調整された気体の循環流を発生させることが可能であり、
吸湿手段が、前記気体の循環流にさらされる位置に配されていることを特徴とする請求項１に記載の冷熱衝撃試験装置。
【請求項３】
試験環境の雰囲気温度を所定温度に調整可能な高温試験部と、試験環境を高温試験部よりも低温に調整可能な低温試験部とを有し、前記高温試験部と低温試験部との間を試料配置手段が移動することにより試料がさらされる試験環境を切り替え可能であることを特徴とする請求項１又は２に記載の冷熱衝撃試験装置。
【請求項４】
試料配置手段が配される試験部と、当該試験部に対して供給する気体を高温に調整可能な高温気体調整手段と、試験部に対して供給する気体を低温に調整可能な低温気体調整手段とを有し、高温気体調整手段および低温気体調整手段のいずれか一方を作動させ試験部の雰囲気温度を調整することにより試験環境を切り替え可能であり、
高温気体調整手段から試験室に対して気体を導入するための高温気体導入路が、低温気体調整手段から試験室に対して気体を導入するための低温気体導入路よりも上方に設けられていることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の冷熱衝撃試験装置。
【請求項５】
吸湿手段が、シリカゲルあるいはモレキュラーシーブのいずれか一方あるいは双方を含む乾燥剤であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の冷熱衝撃試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、冷熱衝撃試験装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、電子部品や電子機器は、小型化・高機能化によって、その構成が複雑になっている。また、携帯電話や車載機器のように小型化された機器は、様々な環境で使用されるようになっている。機器の使用環境や動作・停止の繰り返しによる温度ストレスは、機器の信頼性に大きな影響を及ぼす可能性がある。そのため、温度ストレスによる影響が懸念される機器類やこれに使用される部品の製造や開発では、温度ストレスに対する信頼性評価試験が実施されることが多い。
【０００３】
そこで、かかる信頼性評価試験を実施すべく、従来より下記特許文献１に開示されているような冷熱衝撃試験装置が提供されている。特許文献１に開示されている冷熱衝撃試験装置は、雰囲気温度が高温に設定された高温試験室と雰囲気温度が低温に設定された低温試験室とを有し、そのうちの一つの試験室内に試料を収容してその雰囲気温度下に所定のさらし時間だけさらした後、その試料を別の試験室に移動させる冷熱サイクルを繰り返し実施可能な構成とされている。
【０００４】
従来技術の冷熱衝撃試験では、試料のさらされる試験環境の切り替え時に高温試験室側に存在する湿気を含んだ空気が低温試験室側に流れ込み、低温試験室の内壁面や気体を冷却するための冷却器等が結露したり、これが凍結して霜が付着することがある。そのため、従来技術の冷熱衝撃試験装置では、低温試験室側にヒータ等の加熱手段を設け、所定のサイクル数にわたって冷熱サイクルが繰り返された時点で一旦冷熱衝撃試験を停止し、加熱手段等を作動させて霜を除去する除霜運転を実施している。
【０００５】
【特許文献１】特開平５−２０３５５５号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上記したように、従来技術の冷熱衝撃試験装置では、所定のサイクル数毎に冷熱衝撃試験を停止して除霜運転を実施しなければならず、所望のサイクル数だけ冷熱衝撃試験を実施するために要する期間が長期化してしまうという問題があった。また、一般的に、冷熱衝撃試験は、３００〜２０００サイクルといったような多数のサイクル数を重ねて実施されることが多いため、冷熱衝撃試験を途中で何度か中断して除霜運転を実施することになる。そのため、除霜運転の一回当たりの所要時間が僅かに延びるだけでも、冷熱衝撃試験の開始から完了までに要する期間が大幅に延びてしまうという問題があった。
【０００７】
かかる知見に基づき、本発明は冷熱衝撃試験において除霜運転に要する期間を最小限に抑制可能な冷熱衝撃試験装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記した課題を解決すべく提供される請求項１に記載の発明は、高温の雰囲気温度に調整された第１の試験環境に試料をさらす高温さらし運転と、雰囲気温度が第１の試験環境よりも低温である第２の試験環境に試料をさらす低温さらし運転とを順に実施する冷熱サイクル動作を繰り返し実施可能な冷熱衝撃試験装置であって、試料を配置可能な試料配置手段と、試験環境に存在する水分を吸収可能であり、第１あるいは第２の試験環境のうちいずれか一方の試験環境下において水分を放出可能な吸湿手段とを有し、当該吸湿手段が試料配置手段と同一の試験環境下に配されることを特徴とする冷熱衝撃試験装置である。
【０００９】
本発明の冷熱衝撃試験装置では、吸湿手段が設けられており、試験環境に存在する気体中に含まれている湿気を吸湿手段に吸収させることができる。そのため、本発明の冷熱衝撃試験装置は、試験環境の切り替えを繰り返しても結露や霜が発生しにくい。
【００１０】
本発明の冷熱衝撃試験装置は、試験環境の切り替えに伴う結露や霜の発生が起こりにくいため、霜を取り除く手間や、霜の除去に要する時間を最小限に抑制することができる。そのため、本発明の冷熱衝撃試験装置によれば、試料の冷熱衝撃試験に要する期間を最小限に抑制することができる。
【００１１】
本発明では、吸湿手段として、試験環境に存在する水分を吸収可能であり、第１あるいは第２の試験環境のうちいずれか一方の試験環境下において水分を放出可能なものが採用されている。また、本発明の冷熱衝撃試験装置は、試料を配置するための試料配置手段と吸湿手段とが同一の試験環境下に配される構成とされている。そのため、本発明の冷熱衝撃試験装置は、試験環境に存在する水分を吸収して結露や霜の発生を抑制することができると共に、吸湿手段に吸収された水分を第１あるいは第２の試験環境において放出させ、吸湿手段を再度、水分を吸収可能な状態に戻すことができる。
【００１２】
請求項２に記載の発明は、試験環境内に所定の温度に調整された気体の循環流を発生させることが可能であり、吸湿手段が、前記気体の循環流にさらされる位置に配されていることを特徴とする請求項１に記載の冷熱衝撃試験装置である。
【００１３】
かかる構成によれば、低温の試験環境内に存在する湿気を吸湿手段に効率よく吸収させることができ、結露や霜の発生を最小限に抑制することができる。さらに、上記した構成によれば、第１の試験環境内において循環する高温の空気の循環流により、吸湿手段に吸収されている水分を高効率かつ十分に放出させることができ、吸湿手段を再度、吸湿可能な状態に戻すことができる。
【００１４】
請求項３に記載の発明は、試験環境の雰囲気温度を所定温度に調整可能な高温試験部と、試験環境を高温試験部よりも低温に調整可能な低温試験部とを有し、前記高温試験部と低温試験部との間を試料配置手段が移動することにより試料がさらされる試験環境を切り替え可能であることを特徴とする請求項１又は２に記載の冷熱衝撃試験装置である。
【００１５】
本発明の冷熱衝撃試験装置は、高温試験部が低温試験部よりも上方に配されているため、試験環境の切り替え時に高温試験部内に存在する気体が低温試験部側に流れ込みにくい。そのため、本発明の冷熱衝撃試験装置は、高温試験部内に存在する気体の湿度が高い場合であっても、これが低温試験部側に流入して結露が起こったり霜が発生するといった不具合が発生しにくい。
【００１６】
請求項４に記載の発明は、試料配置手段が配される試験部と、当該試験部に対して供給する気体を高温に調整可能な高温気体調整手段と、試験部に対して供給する気体を低温に調整可能な低温気体調整手段とを有し、高温気体調整手段および低温気体調整手段のいずれか一方または双方を作動させ試験部の雰囲気温度を調整することにより試験環境を切り替え可能であり、高温気体調整手段から試験室に対して気体を導入するための高温気体導入路が、低温気体調整手段から試験室に対して気体を導入するための低温気体導入路よりも上方に設けられていることを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の冷熱衝撃試験装置である。
【００１７】
本発明の冷熱衝撃試験装置は、高温気体導入路が低温気体導入路よりも上方に設けられているため、高温気体導入路を流れる気体が低温気体導入路側に流入しにくい。そのため、本発明の冷熱衝撃試験装置は、高温気体調整手段から試験部に導入される気体の湿度が高い場合であっても、この気体が低温気体調整手段側に流入して結露したり、霜が発生するといった不具合が発生しにくい。
【００１８】
ここで、上記請求項１乃至４に記載の冷熱衝撃試験装置は、いずれも試験環境の切り替えに伴って試料だけでなく、吸湿手段も急激な温度変化を起こす。そのため、本発明において採用される吸湿手段は、温度変化が激しい環境下にさらされても安定した吸湿性能を発揮可能なものであることが望ましい。
【００１９】
そこで、かかる知見に基づいて提供される請求項５に記載の発明は、吸湿手段が、シリカゲルあるいはモレキュラーシーブのいずれか一方あるいは双方を含む乾燥剤であることを特徴とする請求項１乃至４のいずれかに記載の冷熱衝撃試験装置である。
【００２０】
本発明において採用されるシリカゲルやモレキュラーシーブは、冷熱衝撃試験により急激な温度変化にさらされても、水分を安定して吸収あるいは放出することができる。従って、本発明によれば、冷熱衝撃試験を繰り返しても結露が発生したり霜が発生するのを最小限に抑制可能な冷熱衝撃試験装置を提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明の一実施形態である冷熱衝撃試験方法、並びに、冷熱衝撃試験装置について図面を参照ながら説明する。図１において、１は本実施形態の冷熱衝撃試験装置である。冷熱衝撃試験装置１は、図１に示すように高温試験槽２と、低温試験槽３と、両試験槽２，３の間を往復動可能なラック４とを備えている。
【００２２】
冷熱衝撃試験装置１は、ラック４を上下動させて試料Ｗを高温試験槽２あるいは低温試験槽３のいずれか一方に移動させることにより、試料Ｗがさらされる試験環境を切り替えることができる。すなわち、冷熱衝撃試験装置１は、異なる雰囲気温度に調整された温度環境間において試料Ｗを移動させる移動手段（図示せず）を備えている。冷熱衝撃試験装置１は、試料Ｗを高温の試験環境に所定時間にわたってさらす高温試験と、低温の試験環境に所定時間にわたってさらす低温試験を連続的に実施する冷熱サイクルを任意のサイクル数だけ繰り返す試験動作を行い、試料Ｗに熱ストレスを与えることができる。また、冷熱衝撃試験装置１は、試験動作に伴って低温試験槽３内に発生する霜等を除去する除霜運転を実施可能な構成とされている。
【００２３】
高温試験槽２および低温試験槽３は、それぞれ内部の雰囲気温度を所定の温度幅内の任意の温度に独立的に設定することができる構成とされている。高温試験槽２は、内部の雰囲気温度を例えば６０℃〜２００℃のような高温の温度範囲内で任意の温度に調整することができる。また同様に、低温試験槽３は、内部の雰囲気温度を例えば０℃〜−６５℃のような低温の温度範囲内で任意の温度に調整することができる。
【００２４】
高温試験槽２および低温試験槽３は、図１に示すように上下方向に積み重ねられたような状態とされている。さらに具体的には、高温試験槽２は、低温試験槽３に対して上方に積み重ねられた構成とされている。高温試験槽２と低温試験槽３との境界部分や、これらの試験槽２，３の外周部分は、断熱性の高い断熱壁５と隔壁６で囲まれている。高温試験槽２と低温試験槽３の境界をなす隔壁６には連通孔７が設けられている。
【００２５】
高温試験槽２には、槽内の雰囲気温度を所定の設定温度となるように調整可能なヒータ等の高温側温調手段８が設けられている。また、高温試験槽２には、モータ１０によって駆動する送風機１１と、送風ダクト１２とが設けられている。高温試験槽２の背面（図１において右側の壁面）には、外気導入口１４ａと、これを開閉するためのダンパ１４ｂとが設けられている。また、高温試験槽２の天面側には、排気口１９が設けられている。
【００２６】
低温試験槽３には、低温側温調手段１３と、モータ１５によって駆動する送風機１６と、送風ダクト１７とが設けられている。低温側温調手段１３は、雰囲気温度を低温に調整するための蓄冷器１３ａおよび蒸発器１３ｂと、冷熱衝撃試験の進行に伴って低温試験槽３の内壁面や低温側温調手段１３等に付着する霜を融かす除霜動作を行うためのヒータ１３ｃとを備えた構成とされている。
【００２７】
高温試験槽２および低温試験槽３は、それぞれ各試験槽２，３の背面側に設けられた送風口１２ａ，１７ａから高温側温調手段８や低温側温調手段１３において温度調整された空気を吹き出し、循環させる構成とされている。高温試験槽２および低温試験槽３内において空気を循環させると、図１や図２に矢印で示すような空気の循環流が発生する。
【００２８】
高温試験槽２および低温試験槽３の内部には、各試験槽２，３内の雰囲気温度を検知可能なように雰囲気温度センサ１８，２０が設けられている。冷熱衝撃試験装置１の制御装置（図示せず）は、雰囲気温度センサ１８，２０の検知温度に基づいて、高温試験槽２や低温試験槽３内の雰囲気温度を調整する。
【００２９】
ラック４は、図示しない昇降機構により、連通孔７を介して高温試験槽２と低温試験槽３との間を上下方向に往復動可能な構成とされている。ラック４は、試料Ｗの形状や大きさ、伝熱効率等を勘案し、試料Ｗを載置するための本体部４ａをかご状や棚状等の適宜の形状としたり、適宜の大きさとすることができる。ラック４の本体部４ａは、高温試験槽２と低温試験槽３とを隔てる隔壁６に設けられた連通孔７を通過可能な大きさとされている。連通孔７のうち、高温試験槽２側の開口部分および低温試験槽３側の開口部分の外周には、断熱パッキン２１，２２が取り付けられている。
【００３０】
本体部４ａには、環境温度検知センサ９が取り付けられている。環境温度検知センサ９は、ラック４に載置されている試料Ｗがさらされる試験環境の温度を検知するためのものである。
【００３１】
ラック４の本体部４ａの天面側および底面側には、遮熱部４ｂ，４ｃが設けられている。遮熱部４ｂ，４ｃは、隔壁６とほぼ同一の高さを有し、断熱壁５や隔壁６と同様に断熱特性が優れている。遮熱部４ｂの上方には、天板部４ｄが設けられている。また遮熱部４ｃの下方には底板部４ｅが設けられている。天板部４ｄや底板部４ｅは、それぞれ図１に示すようにそれぞれ本体部４ａや遮熱部４ｂ，４ｃよりも外側に張り出しており、ラック４を昇降させる際に連通孔７を通過できない大きさとされている。そのため、ラック４を天板部４ｄや底板部４ｅが隔壁６に突き当たるまで昇降させることにより、連通孔７を天板部４ｄや底板部４ｅによって塞ぎ、高温試験槽２と低温試験槽３とを熱的に遮断することができる。
【００３２】
また、本体部４ａの天面側には、吸湿手段２５が取り付けられている。吸湿手段２５は、底が浅く、いわゆるバットや桶のような形状の籠状部材２６の内側に吸収部材３０を入れたものである。吸収部材３０は、図３に示すように、水分を吸収、放出可能な吸湿剤２７を袋状や籠状の収容部材２８に詰めたものである。籠状部材２６や収容部材２８は、いずれも高温試験槽２や低温試験槽３内を循環する空気が通過可能な通風性に優れたものであり、例えば網状のものやパンチングメタルのように多数の孔を持つような部材で作製されている。また、籠状部材２６や収容部材２８は、冷熱衝撃試験に伴う熱衝撃に耐えうるものである必要がある。そのため、籠状部材２６や収容部材２８は、例えば金属製としたり、耐熱性に優れた樹脂等で作製されることが望ましい。
【００３３】
吸湿剤２７には、試験環境となる低温試験槽３内において水分を吸収可能であり、高温試験槽２側の雰囲気下にさらされることによって既に吸収されている水分を放出可能なものが採用されている。さらに具体的には、吸湿剤２７には、例えばシリカゲルや、モレキュラーシーブ、活性炭等を採用することができる。
【００３４】
上記したように、吸湿手段２５は、本体部４ａの天面側に配されているため、高温試験槽２や低温試験槽３内に空気の循環流が発生すると、この循環流に吸湿剤２７がさらされる。そのため、高温試験槽２や低温試験槽３に存在する湿気を効率よく吸湿剤２７に吸収させることができる。また、吸湿剤２７に湿気が吸収されている場合は、高温試験槽２内を循環する高温の空気にさらして吸湿剤２７を昇温させ、既に吸収されている水分を放出させ、再度水分を吸収可能な状態に戻すことができる。
【００３５】
冷熱衝撃試験装置１は、上記したようにラック４を上下動させて、試料Ｗがさらされる試験環境を所定の時間毎に順次切り替える冷熱サイクルを、操作者によって設定された任意のサイクル数だけ繰り返すことができる。
【００３６】
冷熱衝撃試験装置１は、上記した冷熱サイクルを繰り返すと、低温試験槽３内に存在する水分が冷却され、低温試験槽３の内壁面や低温側温調手段１３に結露したり、霜が付着することがある。低温試験槽３内において結露や霜の付着が起こると、低温試験槽３内を循環する空気の循環流が不安定になったり、低温試験槽３内の雰囲気温度の調整が不安定になったりするおそれがある。そのため、冷熱衝撃試験装置１は、冷熱サイクルが所定サイクル数だけ実施される毎に試験運転を一時停止し、低温側温調手段１３のヒータ１３ｃによって低温試験槽３内を４０〜６０℃程度に昇温する除霜運転を実施する構成とされている。
【００３７】
上記したように、本実施形態の冷熱衝撃試験装置１では、試料Ｗを載せたラック４と共に高温試験槽２と低温試験槽３との間を往来する際に、高温試験槽２側から低温試験槽３側に湿気を含む空気が流れ込むと、結露や霜の原因となる可能性がある。しかし、本実施形態の冷熱衝撃試験装置１は、ラック４に吸湿手段２５が取り付けられているため、試験環境の切り替え時に高温試験槽２側から低温試験槽３側に湿気を含む空気が流れ込んだとしても、この空気中に含まれる水分の多くを吸湿手段２５で捕捉できる。従って、冷熱衝撃試験装置１は、低温試験槽３側において結露したり霜が発生するなどの不具合が起こりにくい。
【００３８】
上記したように、本実施形態の冷熱衝撃試験装置１は、結露や霜の発生が起こりにくいため、除霜運転の頻度や、１回の除霜運転に要する時間を最小限に抑制でき、冷熱衝撃試験に要する期間が短期間で済む。また、冷熱衝撃試験装置１は、結露や霜が発生しにくいため、これらが原因となって低温試験槽３内を流れる空気の循環流が不安定になったり、低温試験槽３内の雰囲気温度が不安定になるなどの不具合が起こりにくい。
【００３９】
また、本実施形態の冷熱衝撃試験装置１は、ラック４が高温試験槽２側に移動すると、これに伴って吸湿手段２５の吸湿剤２７に吸収されている水分が放出される。放出された水分は、空気と共に排気口１９から排出される。そのため、冷熱衝撃試験装置１は、ラック４が高温試験槽２側に移動し、高温の雰囲気下にさらされることによって、水分を再度吸収可能な状態に戻る。従って、冷熱衝撃試験装置１は、吸湿手段２５を取り出して乾かすといったような特別なメンテナンスを実施しなくてもよい。
【００４０】
上記したように、吸湿手段２５は、高温試験槽２や低温試験槽３内を循環する空気の循環流にさらされる位置に配されているため、水分の吸収や放出がスムーズに行われる。そのため、上記した構成によれば、高温試験槽２や低温試験槽３内の湿度が常に試験に適した状態に維持できると共に、吸湿手段２５についても最適な状態に維持することができる。
【００４１】
上記実施形態の冷熱衝撃試験装置１は、高温試験槽２と低温試験槽３とを有し、これらの間をラック４を移動させることにより、試料Ｗがさらされる試験環境を切り替えるものであったが、本発明はこれに限定されるものではない。さらに具体的には、例えば図４に示す冷熱衝撃試験装置５０のように、試料Ｗを収容する試験槽５１と、高温側温調手段８を備えた加熱部５２と、低温側温調手段１３を備えた冷却部５３と、試験槽５１と加熱部５２や冷却部５３との間で空気を循環させる循環系統５５，５６を設け、試験槽５１内に上記した吸湿手段２５を設けた構成としてもよい。
【００４２】
このような構成とした場合、加熱部５２や冷却部５３と循環系統５５，５６との境界部に設けられたダンパ６２，６３のいずれか一方と、試験槽５１と循環系統５５，５６との間に空気の流入口５７や流出口５８に設けられたダンパ６０，６１を開くと、図４に矢印Ａあるいは矢印Ｂで示すような空気の循環流が発生するものと想定される。そのため、冷熱衝撃試験装置５０のような構成とする場合、例えば図４に示すように試験槽５１への空気の流入口５７や流出口５８のいずれか一方あるいは双方に吸湿手段２５を設けた構成とすれば、試験槽５１に導入される空気中に含まれている水分を吸収して結露や霜の発生を抑制できる。また、冷熱衝撃試験装置５０においても、高温に加熱された空気が導入されることにより、吸湿手段２５に吸収されている水分を放出させ、再度水分を吸収可能な状態に戻すことができる。
【００４３】
上記実施形態の冷熱衝撃試験装置１，５０は、一般的に、暖気が上昇しやすい傾向にあることを考慮し、高温試験槽２や加熱部５２側の循環系統５５を、低温試験槽３や冷却部５３側の循環系統５６よりも上方に配置する構成としている。そのため、上記した冷熱衝撃試験装置１，５０は、試験環境の切り替え時等に高温試験槽２や加熱部５２内に存在する空気と、低温試験槽３や冷却部５３に存在する空気との混合が起こりにくい。従って、上記した構成によれば、試験環境の切り替え時に各試験槽２，３，５１の雰囲気温度をスムーズに安定させることが可能である。
【００４４】
また、高温試験槽２や加熱部５２側の循環系統５５を、低温試験槽３や冷却部５３側の循環系統５６よりも上方配すれば、湿気を含む可能性がある高温試験槽２内や加熱部５２内の空気が低温試験槽３や冷却部５３側に流入するのを防止できる。従って、上記した構成によれば、冷熱衝撃試験装置１，５０において結露が発生したり、霜が発生するのを抑制でき、除霜運転に要する時間を最小限に抑制できる。
【００４５】
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、高温試験槽２や加熱部５２と低温試験槽３や冷却部５３との上下関係が入れ替わったものや、これらがほぼ同一平面上に並んだ構成であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明の一実施形態である冷熱衝撃試験装置の第一の動作状態を概念的に示す断面図である。
【図２】本発明の一実施形態である冷熱衝撃試験装置の第二の動作状態を概念的に示す断面図である。
【図３】本発明の一実施形態である吸湿部材の構成を概念的に示す模式図である。
【図４】本発明の他の実施形態である冷熱衝撃試験装置の構成を概念的に示す断面図である。
【符号の説明】
【００４７】
１  冷熱衝撃試験装置
２  高温試験槽
３  低温試験槽
４  ラック
８  高温側温調手段
１３  低温側温調手段
２５  吸湿手段
３０  吸収部材
５０  冷熱衝撃試験装置
５１  試験槽
５２  加熱部
５３  冷却部
５５，５６  循環系統
【図１】
2006329827.tif 000003
【図２】
2006329827.tif 000004
【図３】
2006329827.tif 000005
【図４】
2006329827.tif 000006