(57)【要約】    【課題】  テスト工程の時間短縮とそれによるコストダウンを図ることができる半導体装置を得る。    【解決手段】  半導体装置１内の定電圧回路２〜４及び基準電圧発生回路５，６でそれぞれ生成される各アナログ信号を、半導体装置１内に設けたセレクタ回路７及び各アナログスイッチＳＷ１〜ＳＷ５を使用して、同じく半導体装置１に内蔵されているＡ／Ｄ変換器８の入力端に順次入力させてデジタル信号に変換し出力するようにした。【選択図】  図１
2006184229.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のアナログ信号を生成して出力するアナログ回路部と、
外部から入力される第１制御信号に応じて、該アナログ回路部から出力された各信号の１つを排他的に選択して出力する選択回路部と、
該選択回路部からの出力信号をＡ／Ｄ変換して出力するＡ／Ｄ変換回路部と、
を備えることを特徴とする半導体装置。
【請求項２】
前記選択回路部は、前記アナログ回路部からの各出力信号が正常であるか否かのテストを行うときに、前記第１制御信号として外部から入力されるテスト信号に応じて、アナログ回路部からの各出力信号を順次前記Ａ／Ｄ変換回路部に排他的に出力することを特徴とする請求項１記載の半導体装置。
【請求項３】
前記選択回路部は、
入力された第２制御信号に応じてスイッチングを行い、前記アナログ回路部から出力された対応するアナログ信号のＡ／Ｄ変換回路部への出力制御をそれぞれ行う各スイッチ回路と、
前記第１制御信号に応じて前記第２制御信号を出力して該各スイッチ回路のスイッチング制御を行い、前記アナログ回路部からの各アナログ信号の１つを選択して前記Ａ／Ｄ変換回路部に出力させるセレクタ回路と、
を備えることを特徴とする請求項１又は２記載の半導体装置。
【請求項４】
前記アナログ回路部、選択回路部及びＡ／Ｄ変換回路部は、１つのＩＣに集積されることを特徴とする請求項１、２又は３記載の半導体装置。
【請求項５】
前記アナログ回路部は、
所定のアナログ信号を生成して前記ＩＣの対応する端子から該ＩＣ外に出力する１つ以上の第１アナログ回路と、
所定のアナログ信号を生成して前記ＩＣ内の他の回路に出力する１つ以上の第２アナログ回路と、
を備えることを特徴とする請求項４記載の半導体装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ａ／Ｄ変換器を備えた半導体装置に関し、特にＡ／Ｄ変換器と、複数のアナログ信号を生成して出力するアナログ回路を備え、該各アナログ信号が正常であるか否かのテストを行うためのテスト工程の改善を行うことができる半導体装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図２は、Ａ／Ｄ変換器と複数のアナログ信号を生成するアナログ回路を備えた従来の半導体装置の例を示した図であり（例えば、特許文献１参照。）、図２では、半導体装置をテストする半導体テスタを接続した状態を示している。
図２において、１００は被測定用の半導体装置であり、１１０は半導体装置１００をテストする半導体テスタであり、半導体装置１００は、１つのＩＣで形成されている。
半導体装置１００は、測定が必要な出力電圧ＶｏＡ〜ＶｏＣを対応して出力する定電圧回路１０１〜１０３と、所定の基準電圧ＶｒＡを生成して出力する基準電圧発生回路１０４と、所定の基準電圧ＶｒＢを生成して出力する基準電圧発生回路１０５と、アナログスイッチＳＷａ，ＳＷｂと、アナログスイッチＳＷａ及びＳＷｂのオン／オフ制御を行うセレクタ回路１０６と、Ａ／Ｄ変換器１０７とを備えている。
【０００３】
また、半導体テスタ１１０は、入力された複数のアナログ信号の中から１つのアナログ信号を選択して出力するマルチプレクサ１１１と、マルチプレクサ１１１からの出力信号をデジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器１１２と、マルチプレクサ１１１及びＡ／Ｄ変換器１１２の動作制御を行う制御回路１１３とを備えている。
定電圧回路１０１〜１０３からの各出力電圧ＶｏＡ〜ＶｏＣは、半導体装置１００の出力端子ＴＡ〜ＴＣを介して半導体テスタ１１０のマルチプレクサ１１１の対応する入力端に入力されている。
【０００４】
基準電圧発生回路１０４から出力された基準電圧ＶｒＡは、アナログスイッチＳＷａを介して半導体装置１００のテスト出力端子ＴＧに出力され、基準電圧発生回路１０５から出力された基準電圧ＶｒＢは、アナログスイッチＳＷｂを介して半導体装置１００のテスト出力端子ＴＧに出力される。テスト出力端子ＴＧから出力された信号はマルチプレクサ１１１に入力される。
セレクタ回路１０６の入力端は、半導体装置１００の入力端子ＴＦに接続され、半導体テスタ１１０の制御回路１１３からのテスト信号Ｓｔが入力されている。また、セレクタ回路１０６から出力されたセレクト信号Ｓａ及びＳｂは、対応するアナログスイッチＳＷａ，ＳＷｂの制御電極にそれぞれ出力され、セレクタ回路１０６は、テスト信号Ｓｔに応じて、アナログスイッチＳＷａ又はＳＷｂのいずれか一方をオンさせて導通状態にする。
【０００５】
また、Ａ／Ｄ変換器１０７の入力端は、半導体装置１００の入力端子ＴＤに接続され、外部から半導体装置１００に入力されたアナログ信号、例えば電池電圧や機器内の温度等を示した信号をデジタル信号に変換して、半導体装置１００の出力端子ＴＥに出力する。なお、図２では、Ａ／Ｄ変換器１０７の測定回路を省略している。
このような構成において、半導体装置１００で生成されたアナログ信号に対するテスト方法について説明する。
制御回路１１３は、マルチプレクサ１１１に対して、マルチプレクサ１１１に入力されているアナログ信号の中から１つを指定してＡ／Ｄ変換器１１２に出力させる。Ａ／Ｄ変換器１１２は、入力された信号をデジタル信号に変換して制御回路１１３に出力し、制御回路１１３は、入力されたデジタル信号が規格内か否かの評価を行う。制御回路１１３は、マルチプレクサ１１１に入力されたすべてのアナログ信号に対して同様の評価を行い、半導体装置１００の良否を判定する。
【０００６】
一方、定電圧回路１０１〜１０３のように、半導体装置１００の出力端子に出力されるアナログ信号は、マルチプレクサ１１１を切り換えるだけで選択することができるが、基準電圧発生回路１０４及び１０５の各出力電圧のように、通常は半導体装置１００の外部に出力する必要のない信号の場合は、半導体装置１００にテスト専用のテスト出力端子ＴＧを設け、対応するアナログスイッチＳＷａとＳＷｂを介して基準電圧ＶｒＡ及びＶｒＢをテスト出力端子ＴＧに出力し、セレクタ回路１０６から出力されるセレクト信号Ｓａ及びＳｂでアナログスイッチＳＷａ又はＳＷｂのいずれか一方をオンさせて導通状態にすることにより、所望のアナログ信号がテスト出力端子ＴＧに出力される。
【０００７】
テスト出力端子ＴＧは、マルチプレクサ１１１の対応する入力端に接続されており、制御回路１１３から出力されるテスト信号Ｓｔでセレクタ回路１０６の出力信号を制御して所望のアナログスイッチをオンさせ、所望の基準電圧をマルチプレクサ１１１の対応する入力端に出力することができる。
このように、半導体装置１００内のセレクタ回路１０６と半導体テスタ１１０内のマルチプレクサ１１１を使用して、すべてのアナログ信号を、半導体テスタ１１０内のＡ／Ｄ変換器１１２でデジタル信号に変換して制御回路１１３で評価することができる。
【特許文献１】特開２００２−７４９８６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、従来の半導体テスタ１１０では、被測定装置である半導体装置１００がＡ／Ｄ変換器１０７を備えているか否かに関わらず、半導体テスタ１１０側に備えたＡ／Ｄ変換器１１２を使用して、アナログ信号をデジタル信号に変換し測定を行っていた。一般的に、半導体テスタ１１０はあらゆる測定に対応するように構成されているため、その制御が複雑になっていることから、半導体テスタ１１０で電圧を測定する場合は、半導体装置１００内のＡ／Ｄ変換器を用いて測定する場合と比較して測定に要する時間が長いという問題があった。
【０００９】
本発明は、上記のような問題を解決するためになされたものであり、テスト工程の時間短縮とそれによるコストダウンを図ることができる半導体装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
この発明に係る半導体装置は、複数のアナログ信号を生成して出力するアナログ回路部と、
外部から入力される第１制御信号に応じて、該アナログ回路部から出力された各信号の１つを排他的に選択して出力する選択回路部と、
該選択回路部からの出力信号をＡ／Ｄ変換して出力するＡ／Ｄ変換回路部と、
を備えるものである。
【００１１】
具体的には、前記選択回路部は、前記アナログ回路部からの各出力信号が正常であるか否かのテストを行うときに、前記第１制御信号として外部から入力されるテスト信号に応じて、アナログ回路部からの各出力信号を順次前記Ａ／Ｄ変換回路部に排他的に出力するようにした。
【００１２】
また、前記選択回路部は、
入力された第２制御信号に応じてスイッチングを行い、前記アナログ回路部から出力された対応するアナログ信号のＡ／Ｄ変換回路部への出力制御をそれぞれ行う各スイッチ回路と、
前記第１制御信号に応じて前記第２制御信号を出力して該各スイッチ回路のスイッチング制御を行い、前記アナログ回路部からの各アナログ信号の１つを選択して前記Ａ／Ｄ変換回路部に出力させるセレクタ回路と、
を備えるようにした。
【００１３】
また、前記アナログ回路部、選択回路部及びＡ／Ｄ変換回路部は、１つのＩＣに集積されるようにした。
【００１４】
具体的には、前記アナログ回路部は、
所定のアナログ信号を生成して前記ＩＣの対応する端子から該ＩＣ外に出力する１つ以上の第１アナログ回路と、
所定のアナログ信号を生成して前記ＩＣ内の他の回路に出力する１つ以上の第２アナログ回路と、
を備えるようにした。
【発明の効果】
【００１５】
本発明の半導体装置によれば、測定を行う半導体装置内の回路で生成される各アナログ信号を、半導体装置内に設けた選択回路部を使用して、同じく半導体装置に内蔵されているＡ／Ｄ変換回路部の入力端に順次入力させてデジタル信号に変換し出力するようにしたことから、従来半導体テスタ側で行っていたＡ／Ｄ変換動作が不要になり、テストの簡略化と時間短縮を図ることができる。
また、従来の半導体装置に必要であった、テスト出力端子が不要になり、ＩＣピンの削減を行うことができるため、更に小型のＩＣパッケージが使用することができ、小型化とコストダウンを図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
次に、図面に示す実施の形態に基づいて、本発明を詳細に説明する。
第１の実施の形態．
図１は、本発明の第１の実施の形態における半導体装置の構成例を示した図である。なお、図１では、半導体装置をテストする半導体テスタを接続した状態を示している。
図１において、半導体装置１は、１つのＩＣで形成されており、測定が必要な出力電圧Ｖｏ１〜Ｖｏ３を対応して出力する定電圧回路２〜４と、所定の基準電圧Ｖｒ１及びＶｒ２を対応して生成し出力する基準電圧発生回路５，６と、アナログスイッチＳＷ１〜ＳＷ５と、アナログスイッチＳＷ１〜ＳＷ５のオン／オフ制御を行うセレクタ回路７と、Ａ／Ｄ変換器８とを備えている。なお、定電圧回路２〜４及び基準電圧発生回路５，６はアナログ回路部を、アナログスイッチＳＷ１〜ＳＷ５及びセレクタ回路７は選択回路部を、Ａ／Ｄ変換器８はＡ／Ｄ変換回路部をそれぞれなす。また、定電圧回路２〜４はそれぞれ第１アナログ回路をなし、基準電圧発生回路５，６はそれぞれ第２アナログ回路をなし、アナログスイッチＳＷ１〜ＳＷ５はそれぞれスイッチ回路をなす。
【００１７】
定電圧回路２〜４の各出力端は、半導体装置１の出力端子Ｔ１〜Ｔ３に対応して接続されると共に対応するアナログスイッチＳＷ１〜ＳＷ３を介して半導体装置１の出力端子Ｔ４に接続されている。基準電圧発生回路５，６の各出力端は、対応するアナログスイッチＳＷ４，ＳＷ５を介して出力端子Ｔ４に接続されている。アナログスイッチＳＷ１〜ＳＷ５の各制御電極は、セレクタ回路７の対応する出力端に接続され、セレクタ回路７の入力端は、半導体装置１の入力端子Ｔ６に接続され、半導体テスタ１０の制御回路１１からテスト信号Ｓｔ１が入力されている。
【００１８】
また、セレクタ回路７から出力されたセレクト信号Ｓ１〜Ｓ５は、対応するアナログスイッチＳＷ１〜ＳＷ５の制御電極に出力され、セレクタ回路７は、テスト信号Ｓｔ１に応じて、アナログスイッチＳＷ１〜ＳＷ５のいずれか１つを排他的にオンさせる。また、アナログスイッチＳＷ１〜ＳＷ５の接続部、すなわち出力端子Ｔ４は、Ａ／Ｄ変換器８の入力端に接続され、Ａ／Ｄ変換器８の出力端は半導体装置１の出力端子Ｔ５に接続されている。出力端子Ｔ５は、制御回路１１の入力端に接続されている。なお、テスト信号Ｓｔ１は第１制御信号を、セレクト信号Ｓ１〜Ｓ５はそれぞれ第２制御信号をなす。
【００１９】
このような構成において、制御回路１１がテスト信号Ｓｔ１をセレクタ回路７に出力すると、セレクタ回路７は、入力されたテスト信号Ｓｔ１に応じて、アナログスイッチＳＷ１〜ＳＷ５の所望の１つを排他的にオンさせて導通状態にするようにセレクト信号Ｓ１〜Ｓ５を出力する。セレクト信号Ｓ１〜Ｓ５によって、定電圧回路２〜４及び基準電圧発生回路５，６の内、いずれか１つからの出力信号が、Ａ／Ｄ変換器８の入力端に入力され、Ａ／Ｄ変換器８でデジタル信号に変換されて出力端子Ｔ５を介して制御回路１１に出力される。制御回路１１は、入力されたデジタル信号が規格内か否かの判定を行う。制御回路１１は、テスト信号Ｓｔ１を使用してアナログスイッチＳＷ１〜ＳＷ５を順次排他的にオンさせて、定電圧回路２〜４及び基準電圧発生回路５，６からの各出力電圧を順次排他的にＡ／Ｄ変換器８でＡ／Ｄ変換させ、該Ａ／Ｄ変換器８から出力されるデジタル信号が規格内か否かの判定を行って、定電圧回路２〜４及び基準電圧発生回路５，６からの各出力電圧のテストを行う。
【００２０】
このように、本第１の実施の形態における半導体装置は、半導体装置１内の回路で生成される各アナログ信号を、半導体装置１内に設けたセレクタ回路７及び各アナログスイッチＳＷ１〜ＳＷ５を使用して、同じく半導体装置１に内蔵されているＡ／Ｄ変換器８の入力端に順次排他的に入力させてデジタル信号に変換し出力するようにした。このことから、従来、半導体テスタで行っていたＡ／Ｄ変換が不要になり、半導体テスタにおいて、すべてデジタル信号処理を行うようにしたことから、半導体テスタを簡単な回路構成で形成することができると共に、テストの効率アップやテスト時間の短縮を図ることができる。また、従来半導体装置に必要であったテスト出力端子が不要になり、ＩＣピンの削減を図ることができるため、更に小型のＩＣパッケージを使用することができ、小型化とコストダウンを図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２１】
【図１】本発明の第１の実施の形態における半導体装置の構成例を示した図である。
【図２】従来の半導体装置の構成例を示した図である。
【符号の説明】
【００２２】
１  半導体装置
２〜４  定電圧回路
５，６  基準電圧発生回路
７  セレクタ回路
８  Ａ／Ｄ変換器
１０  半導体テスタ
１１  制御回路
ＳＷ１〜ＳＷ５  アナログスイッチ
Ｔ１〜Ｔ５  出力端子
Ｔ６  入力端子
【図１】
2006184229.tif 000003
【図２】
2006184229.tif 000004