(57)【要約】【課題】  マーク形態をさらに改善することができる消去パターンを有する記録波形でデータを記録する装置を提供すること。【解決手段】  光記録媒体２００にデータを記録する装置において、マルチパルスを含む消去パターンを有する記録波形を生成する記録波形生成部２と、生成された記録波形により光記録媒体２００に光を照射してマークを形成したりスペースを形成するピックアップ部１を含み、消去パターンの先頭パルスのパワーレベルは消去パターンを構成する単位パルス列のハイレベルであり、最後のパルスと次の１番目記録パルスとの間のパワーレベルが前記単位パルス列のハイレベルであることを特徴とする。【選択図】      図４Ａ
2006277949.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録媒体にデータを記録する装置において、
マルチパルスを含む消去パターンを有する記録波形を生成する記録波形生成部と、
生成された記録波形により前記光記録媒体に光を照射してマークを形成したりスペースを形成するピックアップ部を含み、
前記消去パターンの先頭パルスのパワーレベルは前記消去パターンを構成する単位パルス列のハイレベルであり、最後のパルスと次の１番目記録パルスとの間のパワーレベルが前記単位パルス列のハイレベルであることを特徴とする装置。
【請求項２】
光記録媒体に記録されている消去パターンのパルスレベル情報を読んで前記記録波形生成部に提供するパワー情報管理部をさらに含んで、
前記記録波形生成部は、前記消去パターンのパルスレベル情報に基づいてマルチパルスを含む消去パターンを有した記録波形を生成する、
ことを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項３】
前記パワー情報管理部は、ユーザーから前記消去パターンのパルスレベル情報を入力されて前記記録波形生成部に提供する、
ことを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項４】
前記パワー情報管理部は、
前記消去パルスの前記パルスレベル情報を基準に所定の範囲内で所定の値を間隔に前記光記録媒体のテスト領域に所定のテストデータに対するマークの記録及び前記マークの消去テストを実施し、
前記マークの記録及び前記マークの消去テストの結果に応じて最善の前記パルスレベル情報を選択し、
前記光記録波形生成部は、選択された最善の前記パルスレベル情報に基づいて前記消去パターンを含む前記記録波形を生成する、
ことを特徴とする請求項２に記載の装置。
【請求項５】
外部から提供されたデータをチャネル変調して生成したＮＲＺＩデータを前記記録波形生成部に出力するチャネル変調部をさらに含む、
ことを特徴とする請求項１に記載の装置。
【請求項６】
前記ピックアップ部は、
前記光記録媒体を回転させるモータと、
前記光記録媒体にレーザー光を照射させたり前記光記録媒体から反射されたレーザー光を受信するための光ヘッドと、
前記モータ及び光ヘッドをサーボ制御するサーボ回路と、
前記光ヘッドに設けられたレーザーを駆動するレーザー駆動回路とを備える、
ことを特徴とする請求項１または４に記載の装置。
【請求項７】
光記録媒体にデータを記録する装置において、
マルチパルスを含む消去パターンを有する記録波形を生成する記録波形生成部と、
生成された記録波形により前記光記録媒体に光を照射してマークを形成したりスペースを形成するピックアップ部を含み、
前記消去パターンの先頭パルスのパワーレベルは前記消去パターンを構成する単位パルス列のローレベルであり、前記最後のパルスの最後と次の１番目記録パルスとの間のパワーレベルが前記単位パルス列のハイレベルであることを特徴とする装置。
【請求項８】
光記録媒体にデータを記録する装置において、
マルチパルスを含む消去パターンを有する記録波形を生成する記録波形生成部と、
生成された記録波形により前記光記録媒体に光を照射してマークを形成したりスペースを形成するピックアップ部を含み、
前記消去パターンの先頭パルスのパワーレベルは前記消去パターンを構成する単位パルス列のハイレベルであり、前記最後のパルスの最後と次の１番目記録パルスとの間のパワーレベルが前記単位パルス列のローレベルであることを特徴とする装置。
【請求項９】
光記録媒体にデータを記録する装置において、
マルチパルスを含む消去パターンを有する記録波形を生成する記録波形生成部と、
生成された記録波形により前記光記録媒体に光を照射してマークを形成したりスペースを形成するピックアップ部を含み、
前記消去パターンの先頭パルスのパワーレベルは前記消去パターンを構成する単位パルス列のローレベルであり、前記最後のパルスの最後と次の１番目記録パルスとの間のパワーレベルが前記単位パルス列のローレベルであることを特徴とする装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光記録媒体にデータを記録する装置に係り、さらに詳細には光ディスクにマークを形成してデジタルデータを記録する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光記録媒体の一つである光ディスクにデータを記録するということは、光ディスクに形成されたトラックにマークを形成することを意味する。ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭなどの読出し専用ディスクの場合、マークはピットで形成される。ＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ／ＲＡＭ等記録可能ディスクの場合、記録層には温度によって結晶質または非晶質に変化される相変化膜が塗布されていてマークは相変化膜の相変化を通して形成される。
【０００３】
信号検出の観点でデータ記録方式は、マークエッジ記録方式及びマークポジション記録方式に分けることができる。マークポジション記録方式によれば、検出されたＲＦ信号の振幅がマークが記録された位置で陽／陰から陰／陽に変更される。マークエッジ記録方式によれば、検出されたＲＦ信号の振幅がマークの両端で陽／陰から陰／陽に変更される。したがって、マークのエッジを正確に記録することは再生信号の品質を高めるにおいて重要な要素になる。
【０００４】
しかし、相変化膜が塗布されたディスクの場合、従来記録方法によって記録されたマークの端部を観察してみれば、マークの長さまたはマークの間隔、すなわちスペースの長さによってその形態が異なるようにあらわれることが分かる。換言すれば、マークの端部がマークの最初の部分に比べて大きく形成されて記録／再生特性を低下させている。記録マークの長さが相対的に長い場合には熱蓄積によりさらにそうである。
【０００５】
図１Ａは、従来方式による記録波形を示した参考図である。ＮＲＺＩ（Ｎｏｎ  Ｒｅｔｕｒｎ  ｔｏ  Ｚｅｒｏ  Ｉｎｖｅｒｔｅｄ）データを記録するための多様な記録波形が図示されている。最初の記録波形はＤＶＤ−ＲＡＭのためのものであって、記録波形（ｂ）及び（ｃ）はＤＶＤ−ＲＷのためのものである。ここで、Ｔは基準クロックの周期を意味する。マークエッジ記録方式によると、ＮＲＺＩデータのハイレベルはマークで記録されてローレベルはスペースで形成される。マークを記録するのに用いられる記録波形は記録パターンといってスペースを形成するのに用いられる（マークを消去するのに用いられる）記録波形は消去パターンと称する。従来記録波形（ａ）、（ｂ）及び（ｃ）は記録パターンとしてマルチパルスを用いて、各パルスのパワーレベルをＰｐｅａｋ、Ｐｂ１、Ｐｂ２及びＰｂ３の４種レベルに調節し、区間Ｅに図示されたように、消去パターンのパワーを所定ＤＣレベルに一定に維持する。
【０００６】
このように従来記録波形に含まれている消去パターンは、所定時間ＤＣレベルを一定に維持するために該領域に０〜２００℃程度の熱が持続的に加わるようになる。したがって、複数回反復記録するようになれば劣化が発生してマーク形態に歪曲をもたらすようになって記録／再生特性が著しく低下する問題点がある。特に、ディスクにさらに多くのデータを記録するための高密度、高線速化が進められることによって基準クロックの周期Ｔが減少するようになって記録波形を構成するパルス間の熱干渉が大きくなる環境でさらにそうである。
【０００７】
図１Ｂ及び図１Ｃは光記録媒体に形成されたマークの形態を示している。図１Ｂ及び図１Ｃを参照すると、光記録媒体のトラックはグルーブとランドとで構成されており、所定の情報を記録するためには上のグルーブまたはランドにマークを形成させたり除去する過程を経るようになる。ところで上のマークを形成させたり或いは除去するためにはレーザービームを用いて熱を加えるようになるが、この時に加わった熱が横のトラックや隣接した他のマークに影響を与えるようになる現象が発生しうる。図１Ｂは従来にグルーブとランドにすべてマークを形成させて所定のデータを記録する方式を示しているものであってこのような方式は上述した隣接トラックに加わった熱の影響を受ける現象が発生しやすい方式である。図１Ｃは現在大部分の光記録媒体で用いられる方式でグルーブにのみマークを形成させる方式で上の隣接トラックに加わった熱の影響を受ける現象による影響がほとんどない方式である。しかし図１Ｃのような方式の場合にも所定のマークを形成させる時に過度に加わった熱がその直前に形成されたマークに影響を与えうる問題点は相変わらず残っているようになる。
【０００８】
一方、従来には光ディスクの種、特にＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ等規格によって相異なる記録波形を用いる。なぜなら記録膜の特性が相異なるためである。ディスクごとに相異なる記録波形を用いることはすべての規格のディスクを記録／再生できるマルチドライブを製造する時に特に問題になる。マルチドライブは多種の記録波形を具現できねばならない。これは費用増加をもたらす。
【特許文献１】特開２０００−１２３３６７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
前記した問題点を解決するために、本発明の目的はマークの最初の部分及び端部の形態の歪曲をさらに抑制できて反復記録による劣化を抑制できる記録波形でデータを記録する装置を提供することにある。
【００１０】
本発明の他の目的はマーク形態をさらに改善することができる消去パターンを有する記録波形でデータを記録する装置を提供することにある。
【００１１】
本発明のさらに他の目的は多様な特性の記録膜を有したディスクに適用できる記録波形でデータを記録する装置を提供することにある。
【００１２】
本発明のさらに他の目的はパルス消去パワーレベルに関する情報に基づいて消去パルスを発生させる装置を提供することにある。
【００１３】
本発明のさらに他の目的は所定の消去パルスのパワーレベルを調節して記録マークの消去を均一にする装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記課題を解決するため、本発明は、光記録媒体にデータを記録する装置において、マルチパルスを含む消去パターンを有する記録波形を生成する記録波形生成部と、生成された記録波形により前記光記録媒体に光を照射してマークを形成したりスペースを形成するピックアップ部を含み、消去パターンの先頭パルスのパワーレベルは前記消去パターンを構成する単位パルス列のハイレベルであり、最後のパルスと次の１番目記録パルスとの間のパワーレベルが前記単位パルス列のハイレベルであることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１５】
マーク形態をさらに改善することができる消去パターンを有する記録波形でデータを記録する装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、添付された図面を参照しながら本発明の望ましい実施例を詳細に説明する。
【００１７】
図２Ａ及び図２Ｂは、本発明の望ましい実施例による記録装置のブロック図である。図２Ａを参照すると、記録装置は光記録媒体２００にマークを形成するか、スペースを形成することによってデータを記録する装置であって、ピックアップ部１、記録波形生成部２及びチャネル変調部３を備える。
【００１８】
チャネル変調部３は、外部から入力されたデータをチャネルビット列に変調する。記録波形生成部２はチャネルビット列及び消去パワーＰｂ１及びＰｂ２に関する情報を提供されて、上のチャネルビット列を記録するための記録波形を生成する。本発明によって生成された記録波形は消去マルチパルスを有する消去パターンを含む。記録波形に関する詳細な説明は後述する。ピックアップ部１は生成された記録波形によって光記録媒体１に光を照射してマークまたはスペースを形成する。
【００１９】
図２Ｂを参照すると、記録装置は光記録媒体２００にマークを形成するか、スペースを形成することによってデータを記録する装置であって、ピックアップ部１、記録波形生成部２、チャネル変調部３及びパワー情報管理部４を備える。
【００２０】
チャネル変調部３は、外部から入力されたデータをチャネルビット列に変調する。パワー情報管理部４は光記録体から消去パワーＰｂ１及びＰｂ２に関する情報を読んだりまたは外部から入力される。
【００２１】
前記消去パルスのレベル情報を基準に所定の範囲内で所定の値を間隔に前記光記録媒体のテスト領域に所定のテストデータに関する記録及び消去テストを実施して、前記テスト結果にしたがって前記テスト条件中から最善の条件を選択して前記記録波形生成部に提供することを特徴とする装置。
【００２２】
記録波形生成部２は、チャネルビット列及び消去パワーＰｂ１及びＰｂ２に関する情報を提供されて、上のチャネルビット列を記録するための記録波形を上の消去パワー情報に基づいて生成する。本発明によって生成した記録波形は消去マルチパルスを有する消去パターンを含む。記録波形に関する詳細な説明は後述する。ピックアップ部１は生成した記録波形によって光記録媒体１に光を照射してマークまたはスペースを形成する。
【００２３】
一方、パワー情報管理部４は、上から獲得された消去パワーＰｂ１及びＰｂ２に関する情報を基準に所定の範囲内（例えば±２０％の範囲）で所定の値（例えば上のレベル値の３〜４％値）を間隔に前記光記録媒体のテスト領域に所定のテストデータ（任意のデータまたは予め定まったデータ）に対する記録及び消去テストを実施して、前記テスト結果にしたがって前記テスト条件中から最善の条件（例えばジッタ値が最小になったり、分解能が最も大きかったり、変調度が最も最大になる等の条件）を選択して前記記録波形生成部に提供することができる。
【００２４】
図３Ａは図２Ａの、図３Ｂは図２Ｂの１具現例である。ただし、同一な機能を遂行するブロックに対しては図２Ａまたは図２Ｂのそれと同一な参照番号を付与して繰り返される説明は省略する。
【００２５】
図３Ａを参照すると、記録装置は、ピックアップ部１、記録波形発生回路２及びチャネル変調器３を含む。ピックアップ部１は光ディスク２００を回転させるためのモータ１１、光ディスク２００にレーザー光を照射させたり光ディスク２００から反射されたレーザー光を受信するための光ヘッド１３、モータ１及び光ヘッド１３をサーボ制御するサーボ回路１２及び光ヘッド１３に設けられたレーザー（図示せず）を駆動するレーザー駆動回路１４を備える。
【００２６】
チャネル変調器３は、入力されたデータをチャネルビット列に変調してＮＲＺＩデータを出力する。記録波形発生回路２はＮＲＺＩデータを記録するための記録波形を上の消去パワーに関する情報に基づいて発生させてピックアップ部１に備わったレーザー駆動回路１４に提供する。
【００２７】
レーザー駆動回路１４は、受信された記録波形を用いてレーザーを制御することによって光ディスク２００にマークまたはスペースを形成させる。
【００２８】
図３Ｂを参照すると、記録装置は、ピックアップ部１、記録波形発生回路２、チャネル変調器３及びパワー情報管理部４を含む。ピックアップ部１は光ディスク２００を回転させるためのモータ１１、光ディスク２００にレーザー光を照射させたり光ディスク２００から反射されたレーザー光を受信するための光ヘッド１３、モータ１及び光ヘッド１３をサーボ制御するサーボ回路１２及び光ヘッド１３に設けられたレーザー（図示せず）を駆動するレーザー駆動回路１４を備える。
【００２９】
チャネル変調器３は、入力されたデータをチャネルビット列に変調してＮＲＺＩデータを出力する。パワー情報管理部４は光記録媒体に記録されている消去パワーＰｂ１及びＰｂ２に関する情報を読み出したり、外部から上の消去パワーに関する情報を入力される。記録波形発生回路２はＮＲＺＩデータを記録するための記録波形を上の消去パワーに関する情報に基づいて発生させてピックアップ部１に備わったレーザー駆動回路１４に提供する。
【００３０】
レーザー駆動回路１４は、受信された記録波形を用いてレーザーを制御することによって光ディスク２００にマークまたはスペースを形成させる。
【００３１】
図４Ａないし図４Ｃは、記録波形発生回路２によって発生する記録波形の１例で、図４Ａは２〜１４の整数中任意の数であるＮ個の基準クロック長さの間マークを記録する場合に必要なパルスをＮ−２個用いており、任意の数であるＮ個の基準クロック長さの間既存のマークを消去するスペースを生成させる場合に必要なパルスをＮ−１個用いた類型の例である。そして、図４Ｂは２〜１４の整数中任意の数であるＮ個の基準クロック長さＴの間マークを記録する場合に必要なパルスをＮ−１個用いており、任意の数であるＮ個の基準クロック長さの間既存のマークを消去するスペースを生成させる場合も必要なパルスをＮ−１個用いて記録パルスの最初のパルスの終端位置が最初のクロックパルスの端部と一致するようにした例であって、図４Ｃは２〜１４の整数中任意の数であるＮ個の基準クロック長さＴの間マークを記録する場合に必要なパルスをＮ−１個用いており、任意の数であるＮ個の基準クロック長さの間既存のマークを消去するスペースを生成させる場合は必要なパルスをＮ−２個用いて記録パルスの最初のパルスの終端位置が二番目のクロックパルスの端部と一致して記録パルスの最終のパルスがＮＲＺＩの端部と一致するようにした例を示している。
【００３２】
図４Ａを再び参照すると、ＮＲＺＩデータは、チャネル変調器３の変調方式によって変わる。すなわち、ＲＬＬ  ２、１０系列で変調する場合、すなわちＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）、ＥＦＭ＋（Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ  ｐｌｕｓ）、Ｄ（８−１５）及びデュアル変調によると最小マーク長さは３Ｔであって最大マーク長さは１１Ｔになる。ここで、Ｄ（８−１５）は２００１年ＯＤＳ（Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｄａｔａ  Ｓｔｏｒａｇｅ）で松下が“Ｏｐｔｉｃａｌ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅｃｏｒｄｉｎｇ  Ｓｙｓｔｅｍ  ｏｆ  ２５ＧＢ  Ｃａｐａｃｉｔｙ”で発表した変調方式をいう。デュアル変調は本出願人によって１９９９年９月３０日付で出願されて２０００年１１月２５日付で公開された韓国特許出願第９９−４２０３２号“改善されたＤＣ抑圧能力を有するＲＬＬコード配置方法、変復調方法及び復調装置”に開示されている。ＲＬＬ
１、７系列を用いて記録すれば最小記録マークは２Ｔであって最大記録マークは８Ｔになる。
【００３３】
ＮＲＺＩデータのハイレベルをマークで形成してローレベルをスペースで形成する時に記録波形は７Ｔの長さを有するマークを記録するための記録パターン、３Ｔの長さを有するスペースを形成するための消去パターン及び３Ｔの長さを有するマークを記録するための記録パターンを含む。
【００３４】
記録パターンはパルス列で構成される。消去パターンも、区間Ｆに図示されたように、パルス列で構成される。Ｔｍｐは記録パターンを構成するマルチパルスの幅を指す。ここで、マルチパルスは幅とパワーの大きさが同一な少なくとも一つのパルスを指す。本実施例でＴｍｐは０．５Ｔである。Ｔｌｐは記録パターンを構成する最後のパルスの幅を指す。Ｔｃｌは冷却パルスの持続時間を指す。冷却パルスは記録パターンと消去パターンとにかけて存在する。Ｔｅｍｐは消去パターンを構成する消去マルチパルスの幅を指す。本実施例でＴｅｍｐは０．５Ｔである。ＴｓｆｐはＮＲＺＩデータがローレベルからハイレベルにスイッチングされる時点から記録パターンを構成する先頭パルスが始まるまでの時間を意味する。Ｔｓｆｐは消去パターンのパワーレベルに影響を及ぼす。すなわち、図示されたようにＴｓｆｐが０．５Ｔより大きい場合、消去パターンに含まれたマルチパルスがローレベルＰｂ１で終了されるとつづくＴｓｆｐはマルチパルスのハイレベルＰｂ２で始まる。反対に、Ｔｓｆｐが０．５Ｔより小さい場合、消去パターンに含まれたマルチパルスがローレベルＰｂ１で終了されるとつづくＴｓｆｐはマルチパルスのローレベルＰｂ１を継続維持する。
【００３５】
図４Ｂを参照すると、図４ＢのＮＲＺＩデータのハイレベルをマークで形成してローレベルをスペースで形成する時に記録波形は７Ｔの長さを有するマークを記録するための記録パターン、３Ｔの長さを有するスペースを形成するための消去パターン及び２Ｔの長さを有するマークを記録するための記録パターンの最初の例と、ＮＲＺＩデータのハイレベルをマークで形成してローレベルをスペースで形成する時に記録波形は７Ｔの長さを有するマークを記録するための記録パターン、５Ｔの長さを有するスペースを形成するための消去パターン及び２Ｔの長さを有するマークを記録するための記録パターンの二番目の例を含み、図面から分かるように記録マーク部分のパルス数が上の図４Ａの例より１個多い。
【００３６】
図４Ｃを参照すると、図４ＣのＮＲＺＩデータのハイレベルをマークで形成してローレベルをスペースで形成する時に記録波形は７Ｔの長さを有するマークを記録するための記録パターン、３Ｔの長さを有するスペースを形成するための消去パターン及び２Ｔの長さを有するマークを記録するための記録パターンの最初の例と、ＮＲＺＩデータのハイレベルをマークで形成してローレベルをスペースで形成する時に記録波形は７Ｔの長さを有するマークを記録するための記録パターン、５Ｔの長さを有するスペースを形成するための消去パターン及び２Ｔの長さを有するマークを記録するための記録パターンの二番目の例を含み、図面から分かるように記録マーク部分のパルス数が上の図４Ａの例より１個多くてスペースマーク部分のパルス数が上の図４Ａの例より１個少ない。
【００３７】
図５は、記録波形発生回路２によって発生する記録波形の他の例である。ＮＲＺＩデータのハイレベルをマークで形成してローレベルをスペースで形成する時に記録波形は７Ｔの長さを有するマークを記録するための記録パターン、５Ｔの長さを有するスペースを形成するための消去パターン及び３Ｔの長さを有するマークを記録するための記録パターンを含む。
【００３８】
同様に、記録パターンはパルス列で構成される。消去パターンも、区間Ｇに図示されたように、パルス列で構成される。Ｔｍｐは記録パターンを構成するマルチパルスの幅を指す。マルチパルスは幅とパワーの大きさが同一な少なくとも一つのパルスを指す。本実施例でＴｍｐは０．５Ｔである。Ｔｌｐは記録パターンを構成する最後のパルスの幅を指す。Ｔｃｌは冷却パルスの持続時間を指す。冷却パルスは記録パターンと消去パターンとにかけて存在する。Ｔｅｍｐは消去パターンを構成する消去マルチパルスの幅を指す。本実施例でＴｅｍｐは０．５Ｔである。ＴｓｆｐはＮＲＺＩデータがローレベルからハイレベルにスイッチングされる時点から記録パターンを構成する先頭パルスが始まるまでの時間を意味する。Ｔｓｆｐは消去パターンのパワーレベルに影響を及ぼす。すなわち、図示されたようにＴｓｆｐが０．５Ｔより大きい場合、消去パターンに含まれたマルチパルスがローレベルＰｂ１で終了されるとつづくＴｓｆｐはマルチパルスのハイレベルＰｂ２で始まる。反対に、Ｔｓｆｐが０．５Ｔより小さい場合、消去パターンに含まれたマルチパルスがローレベルＰｂ１で終了されるとつづくＴｓｆｐはマルチパルスのローレベルＰｂ１を継続維持する。
【００３９】
図６は、本発明の望ましい実施例による４種のタイプの消去パターンを説明するための波形図である。本発明による消去パターンは（ａ）ＬＨ、（ｂ）ＨＨ、（ｃ）ＨＬ及び（ｄ）ＬＬの４種のタイプに分類される。各消去パターンの差異点を容易に区分できるように円で表示した。まず、（ａ）ＬＨは消去パターンを構成する先頭パルスのパワーがつづく消去マルチパルスのローレベルＰｂ１と同じで消去パターンを構成する最後の消去マルチパルスがローレベルＰｂ１で終了された後でつづくＴｓｆｐのパワーレベルが消去マルチパルスのハイレベルＰｂ２と同一な時をいう。（ｂ）ＨＨは消去パターンを構成する先頭パルスのパワーがつづく消去マルチパルスのハイレベルＰｂ２と同一であって消去パターンを構成する最後の消去マルチパルスがハイレベルＰｂ２で終了された後でつづくＴｓｆｐのレベルが消去マルチパルスのハイレベルＰｂ２に持続される時をいう。（ｃ）ＨＬは消去パターンを構成する先頭パルスのパワーがつづく消去マルチパルスのハイレベルＰｂ２と同一であって消去パターンを構成する最後の消去マルチパルスがハイレベルＰｂ２で終了された後でつづくＴｓｆｐのレベルが消去マルチパルスのローレベルＰｂ１と同一な時をいう。最後に、（ｄ）ＬＬは消去パターンを構成する先頭パルスのパワーがつづく消去マルチパルスのローレベルＰｂ１と同一であって消去パターンを構成する最後の消去マルチパルスがローレベルＰｂ１で終了された後でつづくＴｓｆｐのレベルが消去マルチパルスのローレベルＰｂ１に持続される時をいう。
【００４０】
一方、上の図４Ａないし図６の記録波形の実施例ではすべて記録波形の最後のパルスのＴｃｌのレベルが記録パルスの下位レベルと同一に図示されているが、Ｔｃｌのレベル値は必要に応じては上の記録パルスの下位レベルと消去パルスの下位レベル間のレベル値の中間値中いずれか一つの値を有することができる。
【００４１】
図７は、図６の（ａ）ＬＨの他の例である。（ｅ）ＬＨ２は図６の（ａ）ＬＨと同一であるが１周期を構成する消去マルチパルスのハイレベルＰｂ２の持続時間Ｔｅｍｐ１とローレベルＰｂ１の持続時間Ｔｅｍｐ２の値が各々０．７Ｔ及び０．３Ｔに相異なる。（ｆ）ＬＨ３も図６の（ａ）ＬＨと同一であるが消去マルチパルスのハイレベルＰｂ２とローレベルＰｂ１の持続時間Ｔｅｍｐが１．０Ｔである。ここで、１周期を構成する消去マルチパルスのハイレベルＰｂ２の持続時間Ｔｅｍｐ１とローレベルＰｂ１の持続時間Ｔｅｍｐ２の比率はｍ：ｎと多様に変更できる（ｍ、ｎは整数）。
【００４２】
このように、本発明による記録波形は、そのパワーがハイレベルＰｂ１とローレベルＰｂ２とを有する消去マルチパルスを含む消去パターンを有することによってマークの端部の歪曲を減少させて再生特性の向上をもたらす。特に、前述した実施例で示した記録波形は、消去マルチパルスのハイレベルＰｂ１とローレベルＰｂ２の持続時間をクロック周期Ｔに対して０．２５〜０．７５Ｔの範囲内で調節してディスク２００の熱特性に適する持続時間を選択して構成したものであるのでさらにそうである。
【００４３】
一方、このような４種のタイプの消去パターンに関する情報（タイプ情報または消去パルスレベルＰｂ１及びＰｂ２情報）は記録可能ディスクのリード−イン領域に記録されたりウォブル信号にヘッダ情報の一つとして載せられうる。それにより、記録装置はデータを記録する時にリード−イン領域やウォブル信号からタイプ情報または消去パルスのレベル情報を読み込んで該記録波形を発生させてマーク及びスペースを形成することができる。
【００４４】
ひいては、４種のタイプの消去パターンは、記録再生時にディスクの倍速やマークの種を示す記号で用いられうる。例えば、「ＬＨタイプの消去パターンを用いるディスクは倍速を２０にする」という情報を表示することができる。
【００４５】
そして４種のタイプの消去パターンに対する記録条件を最適化するためにディスクの定められたテスト領域に上の消去パルスのレベル値を一定範囲（例えば±２０％範囲）内で一定単位（例えば、消去パルスレベルの３〜４％単位）ごとに記録再生を遂行して最適化された記録再生条件を得て、この結果から該記録波形を発生させてマーク及びスペースを形成させることができる。この時に最適の記録条件を判断する方法には多様な種があり得るがその方法には、第一にジッタを測定して試験条件中ジッタ値が最小になる条件を選択する方法があり、第二にビットエラー率を測定してビットエラー率が最小になる条件を選択する方法があり、第三に分解能（最も短い信号の振幅値を最も長い信号の振幅値で割った値）が最も大きい記録条件を導出する方法があり、第四に変調度（最も長い信号のhｉｇh  ｌｅｖｅｌ値を最も長い信号のｌｏｗ  ｌｅｖｅｌ値で割った値）を測定して最大になる記録条件を導出する方法があり、第五に非対称を測定して定められた規格内の記録条件を導出する方法などがあり得る。そしてテスト方法には任意のパターンを用いることができ、所定の予め定められたパターンを用いる場合もある。
【００４６】
本発明の効果を調べるためにシミュレーションを通して記録されたマークの形状を観察した。シミュレーションに用いられた構造は次の表１のようである。用いられたディスクは４層膜構造を有する。
【００４７】
【表１】
2006277949.tif 000003
シミュレーション条件は、波長４０５ｎｍ、開口数ＮＡ０．６５、線速度６ｍ／sとした。マーク形状を観察するために８Ｔのマークを記録した後に４Ｔが重ねるように再び８Ｔのマークを記録した。従来の記録波形を用いた場合と本発明による記録波形を用いた場合、各々マーク形状を比較した結果は図８ないし１０に示した。図８の（ａ）はシミュレーションによって形成されたマークを示して、（ｂ）は（ａ）上に本発明による記録波形によって形成されたマークを示して（ｃ）は（ａ）上に従来による記録波形によって形成されたマークを示す。同様に、図９の（ｄ）はシミュレーションによって形成されたマークを示して、（ｅ）は（ｄ）上に本発明による消去パターンを有する記録波形によって形成されたマークを示して、（ｆ）は（ｄ）上に従来によるＤＣ消去パターンを有する記録波形によって形成されたマークを示す。図１０の（ｇ）はシミュレーションによって形成されたマークを示して、（h）は（ｇ）のマークを本発明による消去パターンで消去した後を示して（ｉ）は（ｇ）上に従来によるＤＣ消去パターンで消去した後を示す。
【００４８】
次に、表２は熱解析のためにシミュレーションに用いられた薄膜のパラメータである。
【００４９】
【表２】
2006277949.tif 000004
再び図８ないし図１０のシミュレーション結果を参照すると、図８の（ｃ）の従来の方式の従来のＤＣ消去パターンを有する記録波形で形成されたマークの端部に比べて、（ｂ）の本発明による消去パターンを有する記録波形で形成されたマークのそれがさらに良好なことが分かる。マークの最初の部分の形状は図９で確認されるように端部と同様に本発明による消去パターンを用いることによってさらに良好なことが分かる。以上のシミュレーション結果から本発明によって消去マルチパルスで構成された消去パターンを有する記録波形を用いることによってマークの形状が従来に比べて改善されることを確認した。消去マルチパルスの形態、幅、パワーレベルの調節によってマークの形態歪曲をさらに減少させることができる。
【００５０】
本発明の効果を実験的に検証するためにｌａｓｅｒ波長６５０ｎｍ、開口数ＮＡ０．６０であるＤＶＤ評価機を用いて４．７ＧＢ  ＤＶＤ−ＲＡＭと４．７ＧＢ  ＤＶＤ−ＲＷディスクに図４及び５に図示した記録波形を得るために必要なパラメータ、すなわち持続時間及びパワーレベルを求めた後で反復記録／再生特性を既存の方式と比較した。
【００５１】
図１１ないし図１５は、ＤＶＤ−ＲＡＭに対する特性を示したグラフである。図１１から図１３は、ＤＶＤ−ＲＡＭディスクで既存ＤＣ消去においてパワー及びＴｓｆｐなどの時間変化による記録特性データを示しており、図１１から図１３のＤＣ消去に対する実験データであってパワー条件はＰＷ＝１４．５ｍＷ、Ｐｂ１＝６．０ｍＷ、Ｐｂ２＝４．５ｍＷ、Ｐｂ３＝３．２ｍＷである。
【００５２】
各図面を参照して説明すると、図１１の（ａ）及び（ｂ）は、既存ＤＣ消去においてマークの開始部分、後端部分及び両部分に対する記録パワー及び消去パワーによるジッタ特性を各々示す。
【００５３】
図１２及び１３は、既存ＤＣ消去において測定された結果を示す。図１２の（ａ）、（ｂ）、（ｃ）及び１４の（ａ）及び（ｂ）を参照すると、３Ｔと４Ｔ以上に対して各々Ｔｓｆｐ＝０．５Ｔ、０．４Ｔが最も望ましいジッタ特性を示して、Ｔｌｐは０．７Ｔで良好であり、Ｔｌｅは特性に大した差が無いことがわかる。
【００５４】
このように実験的に求められたパラメータに基づいて前述した４種のタイプの消去パターンを有する記録波形でマークを形成した後で形成されたマークの特性を測定しており、その結果は次のとおりである。
【００５５】
図１４は、図６に表示した４種のタイプの消去パターンのジッタ特性を示している。図１４の（ａ）を参照すると、４種のタイプ中ＬＨタイプが最も優秀なことが分かる。図１４（ａ）の本発明の方式による記録特性を測定する時、パワー条件はＰｗ＝１４．５ｍＷ、Ｐｂ２＝７．０ｍＷ、Ｐｂ１＝５．０ｍＷ、Ｐｃ＝３．２ｍＷを得ており、この時にΔＰｂ（Ｐｂ２−Ｐｂ１）＝２．０ｍＷである。本発明におけるＰｂ１及びＰｂ２のパワーはＤＣ消去時の記録条件であるＰｅと次のようなＰｃ≦Ｐｂ１≦Ｐｅ、Ｐｅ≦Ｐｂ２≦Ｐｗ関係を有してＰｂ１がＰｅよりあまり低いパワーでは記録マークが完全に消されず、Ｐｂ２があまり高ければ消去時に記録マークが生成されて再生信号が悪くなる。したがって、Ｐｂ１はＰｅに対して０．５×Ｐｅより大きくて、Ｐｂ２はＰｅに対して１．５×Ｐｅより小さい値にすることが望ましい。
【００５６】
図１４の（ｂ）を参照すると、本発明による消去マルチパルスで構成された消去パターンを用いて消去する場合、消去マルチパルスのハイレベルとローレベルの差ΔＰｂ（Ｐｂ２−Ｐｂ１）についてそのジッタ特性を見ることができる。５ｍＷまでは大した差がないことが確認できる。
【００５７】
図１５は、本発明による消去パターンを有する記録パルスを用いて反復記録／再生した結果のジッタ特性を示す。容易に分かるように本発明によって消去マルチパルスを用いて消去した場合、特に反復記録特性側面で優秀な結果を示している。
【００５８】
図１６ないし２０は、ＤＶＤ−ＲＷに対する特性を示したグラフである。図１６ないし図１８は、ＤＶＤ−ＲＷ
ディスクで既存ＤＣ消去においてパワー及びＴｓｆｐなどの時間変化による記録特性データであり、図１６で図１８のＤＣ消去における実験ｄａｔａであってパワー条件はＰｗ＝１４．０ｍＷ、Ｐｅ＝６．０ｍＷ、Ｐｃ＝０．５ｍＷであることが分かる。
【００５９】
図１６の（ａ）及び（ｂ）は、各々既存ＤＣ消去においてマークの開始部分、端部及び両部分に対する記録パワー及び消去パワーによるジッタ特性を示す。
【００６０】
図１７及び図１８は、既存ＤＣ消去において測定された結果を示す。図１７及び図１８を参照すると、３Ｔと４Ｔ以上に対して各々Ｔｔｏｐ＝１．２Ｔ、１．４５Ｔが最も望ましかったが、記録パターンを構成する最後のパルスであるＴｌｐは０．５５Ｔで良好であって、Ｔｌｅは１．０Ｔ、１．１Ｔが良好なことが分かる。
【００６１】
このように実験的に求められたパラメータに基づいて前述した４種のタイプの消去パターンを有する記録波形でマークを形成した後で形成されたマークの再生特性を測定してその結果は次のとおりである。
【００６２】
図１９は、図６に表示した４種のタイプの消去パターンのジッタ特性を示している。４種のタイプ中ＨＨタイプが最も優秀なことが分かる。図１９の本発明の方式による記録特性を測定する時、パワー条件はＰｗ＝１４．０ｍＷ、Ｐｂ２＝６．５ｍＷ、Ｐｂ１＝５．５ｍＷ、Ｐｃ＝０．５ｍＷを得ており、この時にΔＰｂ（Ｐｂ２−Ｐｂ１）＝１．０ｍＷである。本発明におけるＰｂ１及びＰｂ２のパワーはＤＣ消去時の記録条件であるＰｅと次のようなＰｃ≦Ｐｂ１≦Ｐｅ、Ｐｅ≦Ｐｂ２≦Ｐｗの関係を有してＰｂ１がＰｅよりあまり低いパワーでは記録マークが完全に消されず、Ｐｂ２があまり高ければ消去時に記録マークが生成されて再生信号が悪くなる。したがって、Ｐｂ１はＰｅに対して０．７×Ｐｅより大きくて、Ｐｂ２はＰｅに対して１．３×Ｐｅより小さい値にすることが望ましい。
【００６３】
また、本発明による消去マルチパルスで構成された消去パターンを用いて消去する場合、消去マルチパルスのハイレベルとローレベルの差ΔＰｂ（Ｐｂ２−Ｐｂ１）についてそのジッタ特性を見ることができる。３ｍＷから特性が急激に劣化するので、反復記録／再生実験の条件としては１ｍＷを選択した。
【００６４】
図２０は、本発明による消去パターンを有する記録パルスを用いて反復記録／再生した結果のジッタ特性を示す。容易に分かるように本発明によって消去マルチパルスを用いて消去した場合、特に反復記録特性側面で優秀な結果を示している。しかし〜２０００回以上ではむしろジッタ特性が急激に悪化する。これから、通常ＤＶＤ−ＲＷで保証する１０００回の反復記録までは本発明によるパルス消去方法が有利なことが分かる。
【００６５】
一方、上の実験は、ＤＶＤフォーマットによったのでＥＦＭ＋変調方式を用いたが、記録マークを安定に記録するために一般的に用いられるその他の変調方式、例えば、ＲＬＬ
１、７、Ｄ（８−１５）、デュアル変調などを適用しても同一結果を得ることができる。
【００６６】
図２１Ａは、ＡｇＩｎＳｂＴｅ記録膜の温度、図２１ＢはＧｅＳｂＴｅ記録膜の温度による核生成及び結晶成長率のグラフである。上の図４Ａないし７で示したように本発明では消去パターンパルスの消去パワーＰｂ１は消去パワーＰｅより大きく生成させ、消去パワーＰｂ２は消去パワーＰｅより小さく生成させる等消去パワーを記録膜の特性にしたがって調節するようにしている。また、このような消去パワーＰｂ１及びＰｂ２に関する情報は光記録媒体に記録されてドライブで上のＰｂ１及びＰｂ２情報を読み込んで消去パルスを生成する基準情報で用いることができ、消去パワーＰｂ１またはＰｂ２が記録されていない光記録媒体の場合には外部から上のＰｂ１及びＰｂ２に関する情報を入力されて消去パルスを生成する基準情報で用いることができる。
【００６７】
図２１Ａを参照すると、ＤＶＤ−ＲＷで主に用いられるＡｇＩｎＳｂＴｅ記録膜では結晶成長率と核生成率との温度が同一であり、ＤＣ消去パワーで消去時には熱の蓄積によって消去が始まる部分に比べて消去が終わる部分の温度が高まるようになって結晶成長が差が出るようになって再生信号の品質が劣化されうる短所がある。しかし、本発明による方式では結晶成長が最大になるｐｕｌｓｅ消去パワーＰｂ２及びＰｂ１の設定が可能であってこの時に消去領域の温度が消去が始まる部分と消去が終わる部分の温度がほとんど同一に維持され、これにより記録マークの消去が均一になってｎｏｉｓｅが減少する効果があって再生信号の品質を向上させることができる。
【００６８】
そして図２１Ｂを参照すると、ＤＶＤ−ＲＡＭで主に用いられるＧｅＳｂＴｅ記録膜は結晶成長率が核生成率の温度より高いのでｐｕｌｓｅ  ｅｒａｓｅによって核生成された後で高温のＰｅより高いＰｂ２（hｉｇh  ｌｅｖｅｌ）によって既存のマーク上にオーバーライトする時に結晶成長率が高まって消去（結晶化）がよくできる。したがって本発明のＰｕｌｓｅ  ｅｒａｓｅ方式による記録時に記録マークの前後のエッジ特性の向上のみならず記録マークの消去時にも記録マークの消去が均一になってノイズが減少する効果があって再生信号の品質を向上させることができる。
【００６９】
前記のような構成を基礎として本発明の望ましい実施例による記録方法を説明すると次のとおりである。
【００７０】
図２２Ａ及び図２２Ｂは、本発明の望ましい実施例による記録方法を説明するためのフローチャートである。図２２Ａを参照すると、記録装置は、外部からデータを入力されて変調してＮＲＺＩデータを生成する（１８０１段階）。次に、消去マルチパルスを含む消去パターンを有する記録波形を生成する（１８０２段階）。続いて、生成した記録波形を用いて光ディスク２００にマークを形成するか、スペースを形成する（１８０３段階）。
【００７１】
図２２Ｂを参照すると、記録装置は外部からデータを入力されて変調してＮＲＺＩデータを生成して、消去パワーのＰｂ１及びＰｂ２に関する情報を得る（２２０１段階）。次に、消去パターンを有する記録波形を上の消去パワーに関する情報を基礎として生成する（２２０２段階）。続いて、生成した記録波形を用いて光ディスク２００にマークを形成するか、スペースを形成する（２２０３段階）。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１Ａ】従来方式による記録波形を示した参考図である。
【図１Ｂ】光記録媒体に形成されたマークの形態を示した参考図である。
【図１Ｃ】光記録媒体に形成されたマークの形態を示した参考図である。
【図２Ａ】本発明の望ましい実施例による記録装置のブロック図である。
【図２Ｂ】本発明の望ましい実施例による記録装置のブロック図である。
【図３Ａ】図２Ａの１具現例である。
【図３Ｂ】図２Ｂの１具現例である。
【図４Ａ】記録波形発生回路によって発生する記録波形の１例である。
【図４Ｂ】記録波形発生回路によって発生する記録波形の１例である。
【図４Ｃ】記録波形発生回路によって発生する記録波形の１例である。
【図５】記録波形発生回路によって発生する記録波形の他の例である。
【図６】本発明の望ましい実施例による４種のタイプの消去パターンを説明するための波形図である。
【図７】図６の（ａ）ＬＨの他の例である。
【図８】シミュレーションを通して記録されたマークの形状である。
【図９】シミュレーションを通して記録されたマークの形状である。
【図１０】シミュレーションを通して記録されたマークの形状である。
【図１１】ＤＶＤ−ＲＡＭに対する特性を示したグラフである。
【図１２】ＤＶＤ−ＲＡＭに対する特性を示したグラフである。
【図１３】ＤＶＤ−ＲＡＭに対する特性を示したグラフである。
【図１４】ＤＶＤ−ＲＡＭに対する特性を示したグラフである。
【図１５】ＤＶＤ−ＲＡＭに対する特性を示したグラフである。
【図１６】ＤＶＤ−ＲＷに対する特性を示したグラフである。
【図１７】ＤＶＤ−ＲＷに対する特性を示したグラフである。
【図１８】ＤＶＤ−ＲＷに対する特性を示したグラフである。
【図１９】ＤＶＤ−ＲＷに対する特性を示したグラフである。
【図２０】ＤＶＤ−ＲＷに対する特性を示したグラフである。
【図２１Ａ】ＡｇＩｎＳｂＴｅ記録膜の温度による核生成及び結晶成長率のグラフである。
【図２１Ｂ】ＧｅＳｂＴｅ記録膜の温度による核生成及び結晶成長率のグラフである。
【図２２Ａ】本発明の望ましい実施例による記録方法を説明するためのフローチャートである。
【図２２Ｂ】本発明の望ましい実施例による記録方法を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
【００７３】
１    ピックアップ部
２    記録波形生成部
３    チャネル変調部
４    パワー情報管理部
１１  モータ
１２  サーボ回路
１３  光ヘッド
１４  レーザー駆動回路
【図１Ａ】
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【図１Ｂ】
2006277949.tif 000006
【図１Ｃ】
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【図２Ａ】
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【図２Ｂ】
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【図３Ａ】
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【図３Ｂ】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図４Ｃ】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１Ａ】
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【図２１Ｂ】
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【図２２Ａ】
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【図２２Ｂ】
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