(57)【要約】【課題】キャリブレーションに要する時間を減少し、装置の利用効率を向上させ操作性を向上する。【解決手段】記憶装置３３に記憶された本スキャン条件の実施頻度に基づいて、キャリブレーションスキャン条件を設定するキャリブレーションスキャン条件設定部５４を有し、そのキャリブレーションスキャン条件設定部５４が設定するキャリブレーションスキャン条件に基づいてキャリブレーションスキャンを実施する。【選択図】図６
2006034306.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
キャリブレーションスキャン条件に基づいて放射線を基準設定物に照射するキャリブレーションスキャンを実施して、前記放射線を検出する検出手段の特性を校正するためのキャリブレーションデータを生成し、本スキャン条件に基づいて照射され被検体を透過する放射線を前記検出手段にて検出して前記被検体の投影データを収集し、前記キャリブレーションデータに基づいて前記投影データを校正し、前記校正された前記投影データに基づいて前記被検体の画像を生成する放射線撮影装置であって、
前記本スキャン条件を設定する本スキャン条件設定手段と、
前記本スキャン条件設定手段により設定される前記本スキャン条件についての実施頻度を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段に記憶された前記本スキャン条件の実施頻度に基づいて前記キャリブレーションスキャン条件を設定するキャリブレーションスキャン設定手段と
を有し、
前記キャリブレーションスキャン条件設定手段が設定する前記キャリブレーションスキャン条件に基づいて前記キャリブレーションスキャンを実施する
放射線撮影装置。
【請求項２】
前記キャリブレーションスキャン条件設定部が設定したキャリブレーションスキャン条件が、前記本スキャン条件設定部により設定される本スキャン条件に対応していない場合、改めてキャリブレーションスキャン条件を設定するように警告を行う警告部
を有する
請求項１に記載の放射線撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、放射線撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
放射線撮影装置として、放射線であるＸ線を用いて被検体の断層面の画像を生成するＸ線ＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ  Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）装置が知られている。Ｘ線ＣＴ装置は、人体や物体などを被検体とし、医療用途や産業用途などの広範な用途で利用されている。
【０００３】
被検体の断層画像を撮影する本スキャンの際、Ｘ線ＣＴ装置は、被検体のスライス厚方向を軸として複数のビュー（ｖｉｅｗ）方向からＸ線を照射し、それぞれのビュー方向ごとに被検体を透過するＸ線をＸ線検出器で検出し投影データを生成する。そして、Ｘ線ＣＴ装置は、その生成される投影データを、たとえば、フィルタ補正逆投影法（ｆｉｌｔｅｒｅｄ  ｂａｃｋ  ｐｒｏｊｅｃｔｉｏｎ）により再構成して、被検体の断層画像を生成する。本スキャンの際においては、撮影部位に応じて、さまざまな条件の本スキャン条件が設定される。
【０００４】
ところで、Ｘ線ＣＴ装置のＸ線検出器は、複数の検出素子がアレイ状に形成されている。Ｘ線検出器を構成する各検出素子は、検出感度などの特性がそれぞれの間で異なりバラツキがある。このため、被検体の投影データには、Ｘ線検出器の特性のバラツキが含まれていることになるため、そのままの状態の投影データを再構成する場合、再構成される画像にリングアーチファクトなどの不具合が発生し、画像品質が低下する。
【０００５】
そこで、画像品質の低下を防止するために、本スキャンを行う前には、キャリブレーションスキャンを実施し、Ｘ線検出器の検出素子間における特性のバラツキを補正するためのキャリブレーションデータを生成する（たとえば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００１−７０２９７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
キャリブレーションスキャンを実施する際には、キャリブレーションスキャン条件に基づいてエアやファントムなどの基準設定物にＸ線管からＸ線を照射し、そのＸ線管からのＸ線をＸ線検出器が検出する。そして、そのキャリブレーションスキャン条件にて検出されるＸ線に基づいてＸ線検出器の特性を校正するためのキャリブレーションデータを生成する。
【０００７】
その後、生成されたキャリブレーションデータに基づいて被検体の投影データを校正し、校正された投影データを再構成して被検体の断層画像を生成する。
【０００８】
従来において、上述のキャリブレーションスキャンは、本スキャン条件が撮影部位に応じてさまざまな条件で設定可能なために、全ての本スキャン条件に対応可能なキャリブレーションスキャン条件にて実施されている。たとえば、Ｘ線管電圧１００ｋＶと１２０ｋＶとで本スキャンすることが可能な場合、Ｘ線管電圧１００ｋＶと１２０ｋＶとの両者を含むようにキャリブレーションスキャン条件が設定される。
【０００９】
しかしながら、被検体の本スキャンが実施される撮影現場では、設定可能な全ての本スキャン条件にて本スキャンを実施することが少ない。たとえば、所定の患部を専門的に治療する医療分野においては、その専門としている患部の撮影に対し最適な本スキャン条件を、繰り返して実施する場合が多く、それぞれの本スキャン条件を実施する頻度は異なる場合が多数である。
【００１０】
このため、全ての本スキャン条件に対応可能なキャリブレーションスキャン条件にてキャリブレーションを実施する場合、実施されない条件を含むキャリブレーションスキャン条件にてキャリブレーションスキャンが実施されている。具体的には、たとえば、本スキャンにてＸ線管の管電圧１００ｋＶの条件のみしか実施しない場合であっても、装置が管電圧１００ｋＶと１２０ｋＶとを本スキャンすることが可能な場合、管電圧１００ｋＶと１２０ｋＶとの両者を含むようにキャリブレーションスキャン条件が設定され実施される。このために、従来においては、本スキャン条件として、たとえば、１００ｋＶの管電圧の実施が少ない場合であってもキャリブレーションスキャン条件として設定され、キャリブレーションに要する時間が増加し、装置の利用効率が下がって操作性が低下している。特に、近年においては、マルチスライスの実現のためにＸ線検出器の検出素子の数が増大するに伴い、キャリブレーションに要する時間が著しく増加し、装置の利用効率低下が顕著になっている。
【００１１】
したがって、本発明の目的は、キャリブレーションに要する時間を減少し、装置の利用効率を向上させ操作性を向上可能な放射線撮影装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記目的を達成するため、本発明の放射線撮影装置は、キャリブレーションスキャン条件に基づいて放射線を基準設定物に照射するキャリブレーションスキャンを実施して、前記放射線を検出する検出手段の特性を校正するためのキャリブレーションデータを生成し、本スキャン条件に基づいて照射され被検体を透過する放射線を前記検出手段にて検出して前記被検体の投影データを収集し、前記キャリブレーションデータに基づいて前記投影データを校正し、前記校正された前記投影データに基づいて前記被検体の画像を生成する放射線撮影装置であって、前記本スキャン条件を設定する本スキャン条件設定手段と、前記本スキャン条件設定手段により設定される前記本スキャン条件についての実施頻度を記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された前記本スキャン条件の実施頻度に基づいて前記キャリブレーションスキャン条件を設定するキャリブレーションスキャン設定手段とを有し、前記キャリブレーションスキャン条件設定手段が設定する前記キャリブレーションスキャン条件に基づいて前記キャリブレーションスキャンを実施する。
【００１３】
上記の本発明の放射線撮影装置によれば、本スキャン条件を本スキャン条件設定手段が設定し、本スキャン条件設定手段により設定される本スキャン条件についての実施頻度を記憶手段が記憶する。そして、記憶手段に記憶された本スキャン条件の実施頻度に基づいてキャリブレーションスキャン設定手段がキャリブレーションスキャン条件を設定する。そして、キャリブレーションスキャン条件設定手段が設定するキャリブレーションスキャン条件に基づいてキャリブレーションスキャンが実施される。
【発明の効果】
【００１４】
したがって、本発明によれば、キャリブレーションに要する時間を減少し、装置の利用効率を向上させ操作性を向上可能な放射線撮影装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下より、本発明にかかる実施形態について説明する。
【００１６】
図１は、本発明にかかる実施形態の放射線撮影装置としてのＸ線ＣＴ装置１の全体構成を示すブロック図であり、図２は、本発明にかかる実施形態の放射線撮影装置としてのＸ線ＣＴ装置１の要部を示す構成図である。
【００１７】
図１に示すように、本実施形態のＸ線ＣＴ装置１は、走査ガントリ２と操作コンソール３と撮影テーブル４とを有する。
【００１８】
走査ガントリ２は、Ｘ線管２０とＸ線管移動部２１とコリメータ２２とＸ線検出器２３とデータ収集部２４とＸ線コントローラ２５とコリメータコントローラ２６と回転部２７と回転コントローラ２８とを有する。ここで、Ｘ線管２０とＸ線検出器２３とは、Ｘ線照射空間２９を挟んで対向して配置されている。
【００１９】
Ｘ線管２０は、Ｘ線を照射するために設けられている。Ｘ線管２０は、図２に示すように、Ｘ線コントローラ２５からの制御信号ＣＴＬ２５１に基づいて、所定強度のＸ線５を、コリメータ２２を介して被検体６の撮影領域Ｒに照射する。
【００２０】
Ｘ線管移動部２１は、図２に示すように、Ｘ線コントローラ２５からの制御信号ＣＴＬ２５２に基づいて、Ｘ線管２０の放射中心を、走査ガントリ２におけるＸ線照射空間２９内の撮影テーブル４に載置される被検体６のスライス厚方向ｚに移動させる。
【００２１】
コリメータ２２は、図１および図２に示すように、Ｘ線管２０とＸ線検出器２３との間に配置されている。コリメータ２２は、たとえば、図２に示すように、チャネル方向ｘとスライス厚方向ｚとにそれぞれ２枚ずつ設けられた板により構成されている。コリメータ２２は、コリメータコントローラ２６からの制御信号ＣＴＬ２６１に基づいて、各方向に設けられた２枚の板を独立して移動させ、Ｘ線管２０から照射されたＸ線５をそれぞれの方向において遮ってコーン状に成形し、Ｘ線５の照射範囲を調整する。
【００２２】
Ｘ線検出器２３は、Ｘ線管２０が照射するＸ線を検出するために設けられている。Ｘ線検出器２３は、たとえば、図２に示すように、８つのＸ線検出モジュール２３Ａ，２３Ｂ，２３Ｃ，２３Ｄ，２３Ｅ，２３Ｆ，２３Ｇ，２３Ｈを有している。８つのＸ線検出モジュール２３Ａ，２３Ｂ，２３Ｃ，２３Ｄ，２３Ｅ，２３Ｆ，２３Ｇ，２３Ｈは、Ａ列からＨ列の順にスライス厚方向ｚに隣接して並列している。
【００２３】
図３は、Ｘ線検出器２３を構成する８つのＸ線検出モジュール２３Ａ，２３Ｂ，２３Ｃ，２３Ｄ，２３Ｅ，２３Ｆ，２３Ｇ，２３Ｈのうち、Ａ列のＸ線検出モジュール２３Ａを示す構成図である。図３に示すように、Ｘ線検出モジュール２３Ａは、Ｘ線を検出する検出素子２３ａがチャネル方向ｘとスライス厚方向ｚとにアレイ状に配列されている。２次元的に配列された複数の検出素子２３ａは、円筒凹面状に湾曲したＸ線入射面を全体として形成している。ここで、チャネル方向ｘには、たとえば、１０００個の検出素子２３ａが配列されており、スライス厚方向ｚには、たとえば、８個の検出素子２３ａが配列されている。なお、Ｂ列からＨ列のＸ線検出モジュール２３Ｂ，２３Ｃ，２３Ｄ，２３Ｅ，２３Ｆ，２３Ｇ，２３Ｈも、図３に示すＡ列のＸ線検出モジュール２３Ａと同様である。
【００２４】
検出素子２３ａは、たとえば、検出したＸ線を光に変換するシンチレータ（図示なし）と、シンチレータが変換した光を電荷に変換するフォトダイオード（図示なし）とを有し、Ｘ線検出器２３は固体検出器として構成されている。なお、検出素子２３ａは、これに限定されるものではなく、たとえば、カドミウム・テルル（ＣｄＴｅ）等を利用した半導体検出素子、あるいはキセノン（Ｘｅ）ガスを利用した電離箱型の検出素子２３ａであって良い。
【００２５】
図４および図５は、Ｘ線管２０とコリメータ２２とＸ線検出器２３の相互関係を示す図である。図４において、図４（ａ）はスライス厚方向ｚを視線とした状態を示す図であり、図４（ｂ）はチャネル方向ｘを視線とした状態を示す図である。また、図５は、図４（ｂ）と同様にチャネル方向ｘを視線とした状態において、被検体６を撮影する様子を示す図である。
【００２６】
図４（ａ）および図４（ｂ）に示すように、Ｘ線管２０から放射されたＸ線５は、コリメータ２２によってコーン状に成形され、Ｘ線検出器２３に照射される。そして、図５に示すように、被検体６を撮影する場合においては、撮影テーブル４に被検体６を載置し、その載置された被検体６がＸ線照射空間２９に搬入される。そして、被検体６のスライス厚方向ｚを軸として被検体６の周囲の複数のビュー方向からＸ線５を照射し、コリメータ２２を介して、それぞれのビュー方向ごとに被検体６を透過するＸ線５をＸ線検出器２３で検出し投影データを生成する。
【００２７】
データ収集部２４は、Ｘ線検出器２３が検出した放射線によるデータを収集するために設けられている。データ収集部２４は、たとえば、図２に示すように、本スキャン条件にて、Ｘ線検出器２３のそれぞれの検出素子２３ａが検出したＸ線５に基づいて被検体６の投影データを収集して、操作コンソール３に出力する。データ収集部２４は、たとえば、選択・加算切換回路（ＭＵＸ，ＡＤＤ）２４１とアナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）２４２とを有する。選択・加算切換回路２４１は、Ｘ線検出器２３の検出素子２３ａによる投影データを、中央処理装置３０からの制御信号ＣＴＬ３０３に応じて選択し、あるいは組み合わせを変えて足し合わせ、その結果をアナログ−デジタル変換器２４２に出力する。アナログ−デジタル変換器２４２は、選択・加算切換回路２４１において選択あるいは任意の組み合わせで足し合わされた投影データをアナログ信号からデジタル信号に変換して中央処理装置３０に出力する。
【００２８】
Ｘ線コントローラ２５は、図２に示すように、中央処理装置３０からの制御信号ＣＴＬ３０１に応じて、Ｘ線管２０に制御信号ＣＴＬ２５１を出力し、Ｘ線の照射を制御する。また、Ｘ線コントローラ２５は、中央処理装置３０による制御信号ＣＴＬ３０１に応じて、Ｘ線管移動部２２１に対し制御信号ＣＴＬ２５２を出力し、Ｘ線管２０の放射中心をスライス厚方向ｚに移動するように制御する。
【００２９】
コリメータコントローラ２６は、図２に示すように、中央処理装置３０からの制御信号ＣＴＬ３０２に応じてコリメータ２２に制御信号ＣＴＬ２６１を出力し、Ｘ線管２０から放射されたＸ線５を成形するようにコリメータ２２を制御する。
【００３０】
回転部２７は、図１に示すように、回転コントローラ２８からの制御信号ＣＴＬ２８に応じて所定の方向に回転する。この回転部２７には、Ｘ線管２０とＸ線管移動部２１とコリメータ２２とＸ線検出器２３とデータ収集部２４とＸ線コントローラ２５とコリメータコントローラ２６とが搭載されており、これらは、回転部２７の回転に伴ってＸ線照射空間２９に搬入される被検体６に対する位置が変化する。回転部２７を回転させることにより、被検体６のスライス厚方向ｚを軸として複数のビュー方向からＸ線５が照射され、被検体６を透過したＸ線５が検出される。
【００３１】
回転コントローラ２８は、図２に示すように、操作コンソール３の中央処理装置３０による制御信号ＣＴＬ３０４に応じて、回転部２７に制御信号ＣＴＬ２８を出力し、回転部２７を回転するように制御する。
【００３２】
操作コンソール３は、中央処理装置３０と入力装置３１と表示装置３２と記憶装置３３とを有する。
【００３３】
図６は、操作コンソール３の中央処理装置３０の構成を示す構成図である。
【００３４】
中央処理装置３０は、たとえば、コンピュータによって構成されており、図６に示すように、制御部４１と、データ処理部５１とを有する。ここで、制御部４１は、本スキャン制御部４２と、キャリブレーションスキャン制御部４３とを有し、データ処理部５１は、本スキャン条件設定部５２と、キャリブレーションデータ生成部５３と、キャリブレーションスキャン条件設定部５４と、校正部５５と、画像生成部５６と、警告部５７とを有する。
【００３５】
制御部４１の本スキャン制御部４２は、本スキャン条件に基づいて、Ｘ線管２０からＸ線５を被検体６に照射し、被検体６を透過するＸ線５をＸ線検出器２３にて検出するように、各部を制御して走査を行う。具体的には、本スキャン制御部４２は、本スキャン条件に基づいて制御信号ＣＴＬ３０ａを各部に出力し、本スキャンを実行させる。たとえば、本スキャン制御部４２は、撮影テーブル４に制御信号ＣＴＬ３０ｂを出力し、撮影テーブル４を走査ガントリ２のＸ線照射空間２９に搬入または搬出させる。また、本スキャン制御部４２は、回転コントローラ２８に制御信号ＣＴＬ３０４を出力して、走査ガントリ２の回転部２７を回転させる。また、本スキャン制御部４２は、Ｘ線管２０からＸ線５の照射するように、制御信号ＣＴＬ３０１をＸ線コントローラ２５に出力する。そして、本スキャン制御部４２は、制御信号ＣＴＬ３０２をコリメータコントローラ２６に出力し、コリメータ２２を制御してＸ線５を成形する。また、本スキャン制御部４２は、制御信号ＣＴＬ３０３をデータ収集部２４に出力し、Ｘ線検出器２３の検出素子２３ａが得る投影データを収集するように制御する。本実施形態においては、本スキャン制御部４２は、本スキャン条件設定部５２が設定する本スキャン条件に基づいて走査を行う。
【００３６】
キャリブレーションスキャン制御部４３は、キャリブレーションスキャン条件に基づいてＸ線管２０からＸ線５をエアやファントムなどの基準設定物に照射しＸ線検出器２３にてＸ線管２０からのＸ線５を検出するように、各部を制御して走査を行う。本実施形態においては、キャリブレーションスキャン制御部４３は、キャリブレーションスキャン条件設定部５４が設定するキャリブレーションスキャン条件に基づいて走査を行う。
【００３７】
データ処理部５１の本スキャン条件設定部５２は、オペレータにより入力装置３１から入力される被検体６の撮影方法などの指令に基づいて、本スキャン条件を設定する。本スキャン条件設定部５２により設定される本スキャン条件の履歴は、後述する記憶装置３３に記憶される。
【００３８】
キャリブレーションデータ生成部５３は、キャリブレーションスキャン条件にて検出されるＸ線に基づいて、Ｘ線検出器２３の検出感度などの特性を校正するためのキャリブレーションデータを生成する。
【００３９】
キャリブレーションスキャン条件設定部５４は、後述の記憶装置３３に記憶される本スキャン条件の実施頻度に基づいてキャリブレーションスキャン条件を設定する。たとえば、キャリブレーションスキャン条件設定部５４は、記憶装置３３に記憶される本スキャン条件のうち実施頻度が大きな第１本スキャン条件に対応するように、キャリブレーションスキャン条件を設定する。具体的には、記憶装置３３に記憶されている複数の本スキャン条件の履歴を解析し、たとえば、過去２か月など、過去の所定期間内で実施頻度が高い本スキャン条件を上位から抽出し、その抽出された本スキャン条件群に対応するようにキャリブレーションスキャン条件を設定する。また、キャリブレーションスキャン条件設定部５４は、本スキャン条件設定部５２がその第１本スキャン条件と異なる第２本スキャン条件を設定する場合には、その第２本スキャン条件に対応するようにキャリブレーションスキャン条件を再度設定する。
【００４０】
校正部５５は、キャリブレーションデータ生成部５３にて生成されたキャリブレーションデータに基づいて、本スキャンにて得られた被検体６の投影データを校正する。
【００４１】
画像生成部５６は、校正部５５にて校正される投影データに基づいて、被検体６の画像を生成する。たとえば、画像生成部５６は、複数のビュー方向からの投影データをフィルタ補正逆投影法により画像再構成を行い、被検体６の断層像の画像データを生成する。
【００４２】
警告部５７は、キャリブレーションスキャン条件設定部５４が設定したキャリブレーションスキャン条件が、本スキャン条件設定部５２により設定される本スキャン条件に対応していない場合、改めてキャリブレーションスキャン条件を設定するように警告を行う。たとえば、キャリブレーションスキャン条件設定部５４が、記憶装置３３に記憶される本スキャン条件のうち実施頻度が大きな第１本スキャン条件に対応するように、キャリブレーションスキャン条件を設定した場合、警告部５７は、本スキャン条件設定手段が第１本スキャン条件と異なる第２本スキャン条件を設定したデータに基づいて、キャリブレーションスキャン条件を変更する旨を表示装置３２に表示することにより警告を実施する。
【００４３】
操作コンソール３の入力装置３１は、撮影方法などの本スキャン条件を中央処理装置３０に入力するために設けられており、たとえば、キーボードやマウスにより構成される。
【００４４】
表示装置３２は、中央処理装置３０からの指令に基づき、再構成により生成された断層像やその他の各種情報を表示する。
【００４５】
記憶装置３３は、各種のデータや再構成画像およびプログラム等を記憶し、その記憶されたデータが、必要に応じて中央処理装置３０にアクセスされる。たとえば、記憶装置３３は、本スキャン条件設定部５２により設定される本スキャン条件について、本スキャン制御部４２が実施する本スキャン条件の履歴を記憶し、その本スキャン条件の実施頻度を記憶する。記憶装置３３は、たとえば、過去２か月分など、過去の所定期間内における本スキャン条件の履歴を記憶する。
【００４６】
つぎに、上記の本実施形態のＸ線ＣＴ装置１を用いてキャリブレーション条件を設定する方法について説明する。
【００４７】
図７は、本実施形態においてキャリブレーション条件を設定する方法のフロー図である。
【００４８】
図７に示すように、まず、はじめに、本スキャン条件の実施履歴を取得する（Ｓ１１）。
【００４９】
被検体６の断層画像を撮影する際においては、オペレータによって、入力装置３１に本スキャン条件の各設定項目を入力され、中央処理装置３０に出力される。具体的には、本スキャン条件として、スライス厚、スライス数、その他、コンベンショナルスキャンとヘリカルスキャンなどの撮影方式がオペレータによって入力装置３１に入力され、中央処理装置３０の本スキャン条件設定部５２に操作信号が出力される。そして、本スキャン条件設定部５２が操作信号を本スキャン制御部４２に出力し、本スキャン制御部４２が走査ガントリ２と撮影テーブル４へ制御信号ＣＴＬ３０ａ，ＣＴＬ３０ｂを出力する。たとえば、本スキャン制御部４２は、撮影テーブル４に制御信号ＣＴＬ３０ｂを出力し、撮影テーブル４を走査ガントリ２のＸ線照射空間２９に搬入または搬出させる。また、本スキャン制御部４２は、回転コントローラ２８に制御信号ＣＴＬ３０４を出力して、走査ガントリ２の回転部２７を回転させる。また、本スキャン制御部４２は、Ｘ線管２０からＸ線５の照射するように、制御信号ＣＴＬ３０１をＸ線コントローラ２５に出力する。そして、本スキャン制御部４２は、制御信号ＣＴＬ３０２をコリメータコントローラ２６に出力し、コリメータ２２を制御してＸ線５を成形する。また、本スキャン制御部４２は、制御信号ＣＴＬ３０３をデータ収集部２４に出力し、Ｘ線検出器２３の検出素子２３ａが得る投影データを収集するように制御する。
【００５０】
この時、記憶装置３３は、本スキャン条件設定部５２により設定される本スキャン条件について、本スキャン制御部４２が実施する本スキャン条件の履歴を記憶し、その本スキャン条件の実施頻度を記憶する。記憶装置３３は、たとえば、過去２か月分など、過去の所定期間内における本スキャン条件の履歴を記憶する。
【００５１】
つぎに、本スキャン条件の実施頻度を解析する（Ｓ２１）。
【００５２】
ここでは、記憶装置３３に記憶される本スキャン条件の実施頻度に基づいて、キャリブレーションスキャン条件設定部５４が解析を行う。たとえば、キャリブレーションスキャン条件設定部５４は、記憶装置３３に記憶されている複数の本スキャン条件の履歴を解析し、過去２か月など、過去の所定期間内で実施頻度が高い本スキャン条件を上位から抽出する。
【００５３】
つぎに、キャリブレーションスキャン条件の設定を行う（Ｓ３１）。
【００５４】
ここでは、記憶装置３３に記憶される本スキャン条件の履歴や実施頻度の解析結果に基づいて、キャリブレーションスキャン条件設定部５４が、キャリブレーションスキャン条件を設定する。たとえば、キャリブレーションスキャン条件設定部５４は、上記にて抽出された本スキャン条件群に対応するようにキャリブレーションスキャン条件を設定する。具体的には、装置が管電圧１００ｋＶと１２０ｋＶとを本スキャンすることが可能な場合であって、本スキャンにて１００ｋＶのみが実施されている履歴を記憶している場合、１２０ｋＶには対応せずに、１００ｋＶに対応するようなキャリブレーションスキャン条件を設定する。
【００５５】
図８は、本スキャン条件の実施頻度の解析と、キャリブレーションスキャンの条件の設定とを示すフロー図である。
【００５６】
図８に示すように、本スキャン条件の実施履歴を取得する（Ｓ１０１）。そして、たとえば、管電圧が１００Ｖであってスモールフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去Ｎ日以内に実施したか否かを判定する（Ｓ１１１）。
【００５７】
そして、管電圧が１００Ｖであってスモールフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去Ｎ日以内に実施していない場合には、さらに、その本スキャンが過去Ｘ日以内にＹ回以下実施されたか否かを判定する（Ｓ１１２）。そして、その本スキャンが過去Ｘ日以内にＹ回以下でない場合には、その本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを実施するように設定する（Ｓ２０１）。
【００５８】
一方、管電圧が１００Ｖであってスモールフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去Ｎ日以内に実施した場合には、その本スキャン条件に対応したキャリブレーションスキャンを省略するように設定する（Ｓ３０１）。そして、同様に、その本スキャンが過去Ｘ日以内にＹ回以下の場合には、その本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを省略するように設定する（Ｓ３０１）。
【００５９】
つぎに、たとえば、管電圧が１２０Ｖであってラージフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去Ｎ日以内に実施したか否かを判定する（Ｓ２１１，Ｓ３１１）。
【００６０】
そして、管電圧が１２０Ｖであってラージフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去Ｎ日以内に実施していない場合には、さらに、その本スキャンが過去Ｘ日以内にＹ回以下実施されたか否かを判定する（Ｓ２１２，Ｓ３１２）。そして、その本スキャンが過去Ｘ日以内にＹ回以下でない場合には、その本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを実施するように設定する（Ｓ４０１，Ｓ５０１）。
【００６１】
一方、管電圧が１２０Ｖであってラージフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去Ｎ日以内に実施した場合には、その本スキャン条件に対応したキャリブレーションスキャンを省略するように設定する（Ｓ６０１，Ｓ７０１）。そして、同様に、その本スキャンが過去Ｘ日以内にＹ回以下の場合には、その本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを省略するように設定する（Ｓ６０１，Ｓ７０１）。
【００６２】
そして、キャリブレーションスキャンを実施する際においては、キャリブレーションスキャン条件設定部５４にて設定されたキャリブレーションスキャン条件にて、キャリブレーションスキャン制御部４３が、Ｘ線管２０からＸ線５をエアやファントムなどの基準設定物に照射し、Ｘ線検出器２３にてＸ線管２０からのＸ線５を検出するように、各部を制御して走査を行う。なお、キャリブレーションスキャンは、たとえば、１日に１回程度、Ｘ線ＣＴ装置を立ち上げる際に実施される。
【００６３】
そして、そのキャリブレーションスキャン条件にて検出されるＸ線に基づいて、キャリブレーションデータ生成部５３が、Ｘ線検出器２３の検出感度などの特性を校正するためのキャリブレーションデータを生成する。
【００６４】
そして、キャリブレーションスキャン条件設定部５４が設定したキャリブレーションスキャン条件が、本スキャン条件設定部５２により設定される本スキャン条件に対応していない場合には、上述のようにキャリブレーションデータ生成部５３にて生成されたキャリブレーションデータに基づいて、校正部５５が、本スキャンにて得られた被検体６の投影データを校正する。たとえば、記憶装置３３に記憶される本スキャン条件のうち実施頻度が大きな第１本スキャン条件に対応するように、キャリブレーションスキャン条件設定部５４がキャリブレーションスキャン条件を設定する。
【００６５】
そして、校正部５５にて校正される投影データに基づいて、画像生成部５６が、フィルタ補正逆投影法により画像再構成を行い、被検体６の断層像の画像データを生成する。
【００６６】
なお、キャリブレーションスキャン条件設定部５４が設定したキャリブレーションスキャン条件が、本スキャン条件設定部５２により設定される本スキャン条件に対応していない場合においては、警告部５７が、改めてキャリブレーションスキャン条件を設定するように警告を行う。たとえば、キャリブレーションスキャン条件設定部５４が、記憶装置３３に記憶される本スキャン条件のうち実施頻度が大きな第１本スキャン条件に対応するように、キャリブレーションスキャン条件を設定した場合、警告部５７は、本スキャン条件設定手段が第１本スキャン条件と異なる第２本スキャン条件を設定したデータに基づいて、キャリブレーションスキャン条件を変更する旨を表示装置３２に表示することにより警告を実施する。そして、キャリブレーションスキャン条件設定部５４が、その第２本スキャン条件に対応するようにキャリブレーションスキャン条件を再度設定する。そして、同様に、キャリブレーションスキャン条件設定部５４が再設定したキャリブレーションスキャン条件に基づいて、キャリブレーションスキャン制御部４３は走査を行い、そのキャリブレーションスキャン条件にて検出されるＸ線５に基づいて、キャリブレーションデータ生成部５３がキャリブレーションデータを生成する。
【００６７】
図９は、警告部５７によって警告が実施される際のフロー図を示す。
【００６８】
図９に示すように、管電圧が１００ｋＶであってスモールフォーカスの本スキャンを実施する指令を、警告部５７が取得する（Ｓ８０１）。そして、管電圧１００ｋＶであってスモールフォーカスの本スキャンに対応するキャリブレーションスキャンを過去Ｎ日以内に実施したか否かを警告部５７が判定する（Ｓ８０２）。
【００６９】
そして、管電圧が１００Ｖであってスモールフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去Ｎ日以内に実施した場合には、その本スキャンの実施を許可し、警告部５７は警告しない（Ｓ９０１）。
【００７０】
一方、管電圧が１００Ｖであってスモールフォーカスでの本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンを過去Ｎ日以内に実施していない場合には、警告部５７は警告を実施し、その本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンの実施を促す（Ｓ８１１）。そして、本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンの実施の有無を判定し、実施が有る場合には、その本スキャンの実施を許可し、警告部５７は警告しない（Ｓ９０１）。また、そのキャリブレーションスキャンの実施がない場合には、再度、警告部５７が警告を実施し、その本スキャンに対応したキャリブレーションスキャンの実施を促す（Ｓ８１１）。
【００７１】
以上のように、上記の本実施形態のＸ線ＣＴ装置１によれば、本スキャン条件設定部５２が、本スキャン条件を設定し、記憶装置３３が、その本スキャン条件設定部５２により設定される本スキャン条件についての実施頻度を記憶する。そして、キャリブレーションスキャン条件設定部５４が、記憶装置３３に記憶された本スキャン条件の実施頻度に基づいてキャリブレーションスキャン条件を設定する。そして、キャリブレーションスキャン条件設定部５４が設定するキャリブレーションスキャン条件に基づいて、キャリブレーションスキャン制御部４３がキャリブレーションスキャンを実施する。このように、本実施形態は、記憶装置３３に記憶された本スキャン条件の実施頻度に対応するようにキャリブレーションスキャン条件を設定して実施するため、キャリブレーションに要する時間を減少し、装置の利用効率を向上させ操作性を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【００７２】
【図１】図１は、本発明にかかる実施形態のＸ線ＣＴ装置の全体構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、本発明にかかる実施形態のＸ線ＣＴ装置の要部を示す構成図である。
【図３】図３は、本発明にかかる実施形態のＸ線ＣＴ装置において、Ｘ線検出器を構成する８つのＸ線検出モジュールのうち、Ａ列のＸ線検出モジュールを示す構成図である。
【図４】図４は、本発明にかかる実施形態のＸ線ＣＴ装置において、Ｘ線管とコリメータとＸ線検出器の相互関係を示す図である。
【図５】図５は、本発明にかかる実施形態のＸ線ＣＴ装置において、Ｘ線管とコリメータとＸ線検出器の相互関係を示す図である。
【図６】図６は、本発明にかかる実施形態のＸ線ＣＴ装置において、操作コンソールの中央処理装置の構成を示す構成図である。
【図７】図７は、本発明にかかる実施形態のＸ線ＣＴ装置において、キャリブレーション条件を設定する方法のフロー図である。
【図８】図８は、本発明にかかる実施形態において、本スキャン条件の実施頻度の解析と、キャリブレーションスキャンの条件の設定とを示すフロー図である。
【図９】図９は、本発明にかかる実施形態において、警告部によって警告が実施される際のフロー図を示す。
【符号の説明】
【００７３】
１…Ｘ線ＣＴ装置、
２…走査ガントリ、
３…操作コンソール、
４…撮影テーブル、
５…Ｘ線、
６…被検体、
２０…Ｘ線管、
２１…Ｘ線管移動部、
２２…コリメータ、
２３…Ｘ線検出器、
２３ａ…検出素子、
２４…データ収集部、
２４１…選択・加算切換回路、
２４２…アナログ−デジタル変換器、
２５…Ｘ線コントローラ、
２６…コリメータコントローラ、
２７…回転部、
２８…回転コントローラ、
２９…Ｘ線照射空間、
３０…中央処理装置、
３１…入力装置、
３２…表示装置、
３３…記憶装置、
４１…制御部、
４２…本スキャン制御部、
４３…キャリブレーションスキャン制御部、
５１…データ処理部、
５２…本スキャン条件設定部、
５３…キャリブレーションデータ生成部、
５４…キャリブレーションスキャン条件設定部、
５５…校正部、
５６…画像生成部、
５７…警告部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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