(57)【要約】【課題】光ディスクのＬａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅの両方へ記録する光ディスク及び光ディスク記録装置において、ＲＦ信号が最大となるように求めたラジアルチルトが、記録に最適なラジアルチルト状態からずれてしまい、記録品質を劣化させてしまうという課題があった。【解決手段】光ディスク記録装置が、初期ラジアルチルトに対して、レーザの発光タイミングを変えながらまた、ラジアルチルトを可変させながら記録を行い、記録された領域のＬａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅのエラーレートの差もしくは、ジッタの差が最小となるラジアルチルトを、最適なラジアルチルトとして探索することで、ラジアルチルトのズレを回避することが可能となり、隣接するトラックへの影響をなくした。【選択図】図１
2006065931.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録型の光ディスクに対し、レーザを照射してデータを記録する光ディスク記録装置であり、
記録中の光ディスクからの反射光を受光する反射光受光手段と、
受光した信号を演算しＲＦ信号を生成する反射光演算手段と、
生成されたＲＦ信号をＡ／Ｄ変換する反射光Ａ／Ｄ変換手段と、
Ａ／Ｄ変換された値からＲＦ信号振幅を測定し、比較する反射光Ａ／Ｄ変換値比較手段と、
ＲＦ信号から読み間違えたデータ数を算出するエラーレート測定手段またはＲＦ信号からジッタ値を検出するジッタ検出手段の少なくとも一方と、
レーザ発光タイミングを任意に変化させるレーザ制御手段と、
ピックアップモジュール内の対物レンズを、光ディスク半径方向へチルトさせる制御を行う、ラジアルチルト制御手段と、
前記ラジアルチルト制御により対物レンズを傾かせるフォーカス駆動手段と、を有することを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
Ｌａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅの両方にデータ記録を行う光ディスクに対し、
前記対物レンズをディスク半径方向に対して任意の角度に傾かせて複数記録を行い、
それぞれのエラーレートを測定し、
エラーレートの測定結果を基に最適なラジアルチルトを求めることを特徴とする請求項１記載の光ディスク記録装置。
【請求項３】
Ｌａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅの両方にデータ記録を実施する光ディスクに対し、
前記対物レンズをディスク半径方向に対して任意の角度に傾かせて複数記録を行い、
それぞれのジッタ値を検出し、
ジッタ値の測定結果を基に最適なラジアルチルトを求めることを特徴とする請求項１記載の光ディスク記録装置。
【請求項４】
前記対物レンズを光ディスク半径方向に対して任意の角度に傾かせて複数記録を行う際には、レーザの発光タイミングを複数パターン可変させて記録を行い、
それぞれのパターンのエラーレートもしくはジッタ値の平均値を算出し、
最適ラジアルチルト探索に用いるエラーレートもしくはジッタ値のラジアルチルトに対する変化の感度を持たせたことを特徴とする請求項１から請求項３記載の光ディスク記録装置。
【請求項５】
前記対物レンズを光ディスク半径方向に対して傾ける角度を、０．０３°〜０．０８°の範囲としたことを特徴とする請求項２から請求項４記載の光ディスク記録装置。
【請求項６】
前記レーザの発光パターンを複数パターン変化させながら記録する際のＬａｎｄのエラーレートの平均値と、Ｇｒｏｏｖｅのエラーレートの平均値を比較し、
前記Ｌａｎｄのエラーレートの平均値とＧｒｏｏｖｅのエラーレートの平均値の差を基に、最適なラジアルチルトを求めることを特徴とする請求項２、請求項４および請求項５のうちいずれかに記載の光ディスク記録装置。
【請求項７】
前記レーザの発光タイミングを複数パターン変化させながら記録させた時の、Ｌａｎｄのジッタ値の平均値と、Ｇｒｏｏｖｅのジッタ値の平均値を比較し、
前記Ｌａｎｄのジッタ値の平均値とＧｒｏｏｖｅのジッタ値の平均値の差を基に、最適なラジアルチルトを求めることを特徴とする請求項３、請求項４および請求項５のうちいずれかに記載の光ディスク記録装置。
【請求項８】
Ｌａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅの両方にデータ記録を行う光ディスクに対し、
対物レンズを光ディスク半径方向に対して任意の角度に傾かせて複数記録を行い、
それぞれのエラーレートを測定し、
エラーレートの測定結果を基に、最適なラジアルチルトを求めることを特徴とする光ディスク記録装置のラジアルチルト探索方法。
【請求項９】
Ｌａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅの両方にデータ記録を行う光ディスクに対し、
対物レンズをディスク半径方向に対して任意の角度に傾かせて複数記録を行い、
それぞれのジッタ値を検出し、
ジッタ値の測定結果を基に最適なラジアルチルトを求めることを特徴とする光ディスク記録装置の最適ラジアルチルト探索方法。
【請求項１０】
前記対物レンズを光ディスク半径方向に対して任意の角度に傾かせて記録を行う際には、レーザの発光タイミングを複数パターン可変させた記録を行い、
それぞれのエラーレートもしくはジッタ値の平均値を算出し、
最適ラジアルチルト探索に用いるエラーレートもしくはジッタ値のラジアルチルトに対する変化の感度を持たせたことを特徴とする光ディスク記録装置の最適ラジアルチルト探索方法。
【請求項１１】
前記レーザの発光パターンを複数パターン変化させながら記録させた時の、Ｌａｎｄのエラーレートの平均値と、Ｇｒｏｏｖｅのエラーレートの平均値を比較し、平均値の差を基に、最適なラジアルチルトを求めることを特徴とする光ディスク記録装置の最適ラジアルチルト探索方法。
【請求項１２】
前記レーザの発光パターンを複数パターン変化させながら記録させた時の、Ｌａｎｄのジッタの平均値と、Ｇｒｏｏｖｅのジッタの平均値を比較し、平均値の差を基に、最適なラジアルチルトを求めることを特徴とする光ディスク記録装置の最適ラジアルチルト探索方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスクに情報を記録・再生する光ディスク記録装置および光ディスク記録装置のラジアルチルト探索方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクのうち、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅの両方に記録を実施する光ディスクにおいては、Ｇｒｏｏｖｅのみにデータを記録する光ディスクに比べて、隣接トラックの影響を受けやすく、記録される際のレーザ光が、記録すべきＬａｎｄもしくはＧｒｏｏｖｅに対してずれているか否かというところが大きく影響することが一般的である。そこでＬａｎｄもしくはＧｒｏｏｖｅに対して垂直にレーザ光が照射されるためには、光ピックアップモジュール内部の対物レンズのラジアルチルトが垂直に位置するように精度よく最適ラジアルチルトを合わせることが必要となる。
【０００３】
ここで従来の最適ラジアルチルト探索方法について、図６を用いて説明する。図６は、従来の光ディスク記録装置のラジアルチルト制御ブロック図である。図６において、１は光ディスク、２はピックアップモジュール、３はスピンドルモータ、４はフォーカス駆動コイル、５は対物レンズ、６は反射光受光手段、７はレーザダイオード、８は反射光演算手段、９は反射光Ａ／Ｄ変換手段、１０は反射光Ａ／Ｄ変換値比較手段、１１はラジアルチルト制御手段、１２はフォーカス駆動手段である。以上のように構成されたラジアルチルト制御ブロックにおいて、最適なラジアルチルトを探索する従来の処理を説明する。
【０００４】
光ディスク記録装置は、光ディスク１が挿入されると、まずスピンドルモータ３を所望の回転数にて回転させ、レーザダイオード７を発光し、フォーカスサーボ、トラッキングサーボをかける。次にディスク最内周のエンボス（ＲＯＭ）ゾーンへピックアップモジュールを移動させる。そして、エンボスゾーンで再生動作を行い、光ディスク１からの反射光を反射光受光手段６にて受光する。反射光受光手段６にて受光された信号は、反射光演算手段８にて反射光の総和であるＲＦ信号へと演算される。得られたＲＦ信号を、反射光Ａ／Ｄ変換手段９にてＡ／Ｄ変換し、ＲＦ信号の信号振幅を測定し、ＲＦ信号振幅値と現在のラジアルチルト値とをペアで保持する。同様の処理を、ラジアルチルト制御手段１１にてフォーカス駆動手段１２へ対物レンズ５を傾かせる信号を出力し、ラジアルチルトを５つの傾きで可変させながら、都度ＲＦ信号振幅を測定する。
【０００５】
図８にラジアルチルトとＲＦ信号振幅の関係を示す図を示す。図８（ｂ）に示すようにラジアル方向にラジアルチルトを行うと、得られた５つの傾きでのラジアルチルト値とそれぞれに対応したＲＦ信号振幅値は、図８（ａ）に示す点となる。これらの点を最小二乗法を用いて放物線近似すれば、上に凸の放物線が得られるため、その放物線の頂点を最適なラジアルチルト値とし決定する。
【０００６】
また、上記のようにＲＦ信号が最大となる求め方以外に、最適なラジアルチルトを探索する方法として、例えば、（特許文献１）などに公示されるようなフォーカス駆動電圧の変化から探索する方法や、（特許文献２）などに公示されるような、エラーレートやジッタ値が最小となるラジアルチルトを探索する方法などがある。
【特許文献１】特開２００１−１９５７６３号公報
【特許文献２】特開２００３−２６３７６４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、従来の光ディスク記録装置の図６に示す構成で、エンボス領域でＲＦ信号振幅が最大となるラジアルチルト値を最適ラジアルチルト値として決定した場合、実際にデータ記録領域で、求められたラジアルチルト値にて記録・再生動作を行った場合、ＲＦ信号の測定誤差や放物線近似誤差により、最適なラジアルチルト値からのズレが生じる場合がある。また、図７に光ディスクへのレーザ発光の照射パターンを示す参考図を示す。図７に示すように、光ディスクのＬａｎｄやＧｒｏｏｖｅに対して、垂直にレーザ光が照射されないことがあり、理想的な状態Ａから、状態Ｂや状態Ｃのようにずれた状態でレーザが照射されてしまうと、隣接するトラックの記録品質を悪化させ、再生しづらい、記録品質の悪いディスクとなってしまうという課題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、光ディスク記録装置が、エンボスゾーンでのＲＦ信号最大となるラジアルチルト値を最適なラジアルチルトとして決定した後で、データ記録領域で、さらに最適なラジアルチルトを探索しなおすことで、ラジアルチルトが光ディスクに対して、さらに最適なラジアルチルトとすることができ、データを記録する際に、隣接トラックへの影響を少なくし、記録品質の悪化の少ない光ディスク記録装置を提供することを目的とする。
【０００９】
上記課題を解決するために、本発明の光ディスク記録装置は、記録型の光ディスクに対し、レーザを照射してデータを記録する光ディスク記録装置であり、記録中の光ディスクからの反射光を受光する反射光受光手段と、受光した信号を演算しＲＦ信号を生成する反射光演算手段と、生成されたＲＦ信号をＡ／Ｄ変換する反射光Ａ／Ｄ変換手段と、Ａ／Ｄ変換された値からＲＦ信号振幅を測定し、比較する反射光Ａ／Ｄ変換値比較手段と、ＲＦ信号から読み間違えたデータ数を算出するエラーレート測定手段およびＲＦ信号からジッタ値を検出するジッタ検出手段の少なくとも一方と、レーザ発光タイミングを任意に変化させることができるレーザ制御手段と、ピックアップモジュール内の対物レンズを、ラジアルチルトさせる制御を行う、ラジアルチルト制御手段と、前記ラジアルチルト制御により対物レンズを傾かせるフォーカス駆動手段とを有する構成とする。
【発明の効果】
【００１０】
本発明は上記した構成によって、ＲＦ信号振幅が最大となるように求められたラジアルチルトが光ディスクのＬａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅ溝に対してずれることを回避することが可能となるため、隣接トラックに影響を及ぼし記録品質を悪化させることのない光ディスク記録装置を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
請求項１に記載の発明は、記録型の光ディスクに対し、レーザを照射してデータを記録する光ディスク記録装置であり、記録中の光ディスクからの反射光を受光する反射光受光手段と、受光した信号を演算しＲＦ信号を生成する反射光演算手段と、生成されたＲＦ信号をＡ／Ｄ変換する反射光Ａ／Ｄ変換手段と、Ａ／Ｄ変換された値からＲＦ信号振幅を測定し、比較する反射光Ａ／Ｄ変換値比較手段と、ＲＦ信号から読み間違えたデータ数を算出するエラーレート測定手段およびＲＦ信号からジッタ値を検出するジッタ検出手段の少なくとも一方と、レーザ発光タイミングを任意に変化させることができるレーザ制御手段と、ピックアップモジュール内の対物レンズを、光ディスク半径方向へチルトさせる制御を行う、ラジアルチルト制御手段と、ラジアルチルト制御により対物レンズを傾かせるフォーカス駆動手段と、を有する構成とする。
【００１２】
かかる構成によれば、レーザの発光タイミングを複数パターン可変させながら記録を実施し、同様の記録を、ラジアルチルトを可変させながら実施し、各ラジアルチルト値に対するエラーレートもしくはジッタの測定結果をし、その結果から、最適なラジアルチルト
値を得ることができる。
【００１３】
請求項２に記載の発明は、請求項１の光ディスク記録装置において、光ディスクのＬａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅの両方にデータ記録を実施する光ディスクにおいて、対物レンズをディスク半径方向に対して任意の角度に傾かせた状態で複数記録を実施し、それぞれのエラーレートを測定し、エラーレートの測定結果を基に最適なラジアルチルトを求める構成を採る。
【００１４】
かかる構成によれば、ラジアルチルトを可変させながらエラーレートを測定することで、ラジアルチルトに対するエラーレートの関係から、最適なラジアルチルト値を探索することができる。
【００１５】
請求項３に記載の発明は、請求項１の光ディスク記録装置において、光ディスクのＬａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅの両方にデータ記録を実施する光ディスクにおいて、対物レンズをディスク半径方向に対して任意の角度に傾かせた状態で複数記録を実施し、それぞれのジッタを測定し、ジッタの測定結果を基に最適なラジアルチルトを求める構成を採る。
【００１６】
かかる構成によれば、ラジアルチルトを可変させながらジッタを測定することで、ラジアルチルトに対するジッタの関係から、最適なラジアルチルト値を探索することができる。
【００１７】
請求項４に記載の発明は、請求項１から請求項３記載の光ディスク記録装置において、対物レンズを光ディスク半径方向に対して任意の角度に傾かせた状態での記録は、レーザの発光タイミングを複数パターン可変させて記録を実施し、それぞれのパターンのエラーレートもしくはジッタ値の平均値を算出し、最適ラジアルチルト探索に用いるエラーレートのラジアルチルトに対する変化の感度を持たせた構成を採る
かかる構成によれば、レーザの発光タイミングを変えた複数種類の記録を実施することで、ラジアルチルトの変化に対して、エラーレートもしくはジッタ値の変化がダイナミックになり、測定誤差の低減を図ることができる。
【００１８】
請求項５に記載の発明は、請求項２から請求項４記載の光ディスク記録装置において、対物レンズを光ディスク半径方向に対して傾ける角度を、０．０３°〜０．０８°の範囲とした構成を採る。
【００１９】
かかる構成によれば、ラジアルチルトの変化に対して、エラーレートもしくはジッタ値の変化がダイナミックになり、さらに測定誤差の低減を図ることができる。
【００２０】
請求項６に記載の発明は、請求項２、請求項４および請求項５の光ディスク記録装置において、レーザの発光タイミングを複数パターン変化させながら記録させた時の、Ｌａｎｄのエラーレートの平均値と、Ｇｒｏｏｖｅのエラーレートの平均値を比較し、Ｌａｎｄのエラーレートの平均値とＧｒｏｏｖｅのエラーレートの平均値の差を基に、最適なラジアルチルトを求める構成を採る。
【００２１】
かかる構成によれば、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅの、エラーレートの平均値の差を評価することで、最適なラジアルチルト値を求めることができる。
【００２２】
請求項７に記載の発明は、請求項３、請求項４および請求項５記載の光ディスク記録装置において、レーザの発光タイミングを複数パターン変化させながら記録させた時の、Ｌａｎｄのジッタの平均値と、Ｇｒｏｏｖｅのジッタの平均値を比較し、Ｌａｎｄのジッタの平均値とＧｒｏｏｖｅのジッタの平均値の差を基に、最適なラジアルチルトを求める構
成を採る。
【００２３】
かかる構成によれば、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅの、ジッタの平均値の差を評価することで、最適なラジアルチルト値を求めることができる。
【００２４】
請求項８に記載の発明は、光ディスクのＬａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅの両方にデータ記録を実施する光ディスクにおいて、対物レンズを光ディスク半径方向に対して任意の角度に傾かせた状態で記録を実施し、それぞれのエラーレートを測定し、エラーレートの測定結果を基に、最適なラジアルチルトを求めることを特徴とする、光ディスク記録装置のラジアルチルト探索方法であり、ラジアルチルトを可変させながらエラーレートを測定することで、ラジアルチルトに対するエラーレートの関係から、最適なラジアルチルト値を探索できるという作用を有する。
【００２５】
請求項９に記載の発明は、光ディスクのＬａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅの両方にデータ記録を実施する光ディスクにおいて、対物レンズを光ディスク半径方向に対して任意の角度に傾かせた状態で記録を実施し、それぞれのジッタを測定し、ジッタの測定結果を基に、最適なラジアルチルトを求めることを特徴とする、光ディスク記録装置のラジアルチルト探索方法であり、ラジアルチルトを可変させながらジッタを測定することで、ラジアルチルトに対するジッタの関係から、最適なラジアルチルト値を探索できるという作用を有する。
【００２６】
請求項１０に記載の発明は、対物レンズをディスク半径方向に対して任意の角度に傾かせた状態での記録は、レーザの発光タイミングを複数パターン可変させた記録を実施し、それぞれのエラーレートもしくはジッタ値の平均値を算出することで、ラジアルチルト探索に用いるエラーレートもしくはジッタ値の、ラジアルチルトに対する変化の感度を持たせ、測定誤差を防ぐことを特徴とする、光ディスク記録装置のラジアルチルト探索方法であり、レーザの発光タイミングを変えた複数種類の記録を実施することで、ラジアルチルトの変化に対して、エラーレートもしくはジッタ値の変化がダイナミックになり、測定誤差がなくなるという作用を有する。
【００２７】
請求項１１に記載の発明は、レーザの発光パターンを複数パターン変化させながら記録させた時の、Ｌａｎｄのエラーレートの平均値と、Ｇｒｏｏｖｅのエラーレートの平均値を比較し、平均値の差を基に、最適なラジアルチルトを求めることを特徴とする、光ディスク記録装置のラジアルチルト探索方法であり、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅの、エラーレートの平均値の差を評価することで、最適なラジアルチルト値を求めることができるという作用を有する。
【００２８】
請求項１２に記載の発明は、レーザの発光パターンを複数パターン変化させながら記録させた時の、Ｌａｎｄのジッタの平均値と、Ｇｒｏｏｖｅのジッタの平均値を比較し、平均値の差を基に、最適なラジアルチルトを求めることを特徴とする光ディスク記録装置のラジアルチルト探索方法であり、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅの、ジッタの平均値の差を評価することで、最適なラジアルチルト値を求めることができるという作用を有する。
【００２９】
（実施の形態１）
図１は本発明の実施の形態１における光ディスク記録装置のラジアルチルト制御ブロック図である。図１において、１は光ディスク、２はピックアップモジュール、３はスピンドルモータ、４はフォーカス駆動コイル、５は対物レンズ、６は反射光受光手段、７はレーザダイオード、８は反射光演算手段、９は反射光Ａ／Ｄ変換手段、１０は反射光Ａ／Ｄ変換値比較手段、１１はラジアルチルト制御手段、１２はフォーカス駆動手段、１３はエラーレート測定手段、１４はレーザ制御手段、１５はジッタ検出手段である。以上のよう
に構成されたラジアルチルト制御ブロックにおいて、光ディスクへの最適なラジアルチルトを探索する処理について説明する。
【００３０】
図２に、処理手順流れ図を示す。
【００３１】
光ディスク記録装置は、まず従来と同様にして初期ラジアルチルトを求める（Ｓ１〜Ｓ３）。光ディスク１が挿入されると（Ｓ１）、スピンドルモータ３を所望の回転数にて回転させ、レーザダイオード７を発光し、フォーカスサーボ、トラッキングサーボをかける。次にディスク最内周のエンボス（ＲＯＭ）ゾーンへピックアップモジュール２を移動させる（Ｓ２）。そして、エンボスゾーンで再生動作を行い、光ディスク１からの反射光を反射光受光手段６にて受光する。反射光受光手段６にて受光された信号より、反射光演算手段８にて反射光の総和であるＲＦ信号が演算される。得られたＲＦ信号を、反射光Ａ／Ｄ変換手段９にてＡ／Ｄ変換し、ＲＦ信号の信号振幅を測定し、現在のラジアルチルト値とＲＦ信号振幅値とをペアで保持する。同様の処理を、ラジアルチルト制御手段１１にてフォーカス駆動手段１２へ対物レンズ５を傾かせる信号を出力し、ラジアルチルトを５つの傾きで可変させながら、都度ＲＦ信号振幅を測定する。得られた５つの傾きでのラジアルチルト値とそれぞれに対応したＲＦ信号振幅値を、最小二乗法を用いて放物線近似すれば、上に凸の放物線が得られるため、その放物線の頂点を初期ラジアルチルト値と決定する（Ｓ３）。
【００３２】
次に、光ディスク記録装置は、光ディスク１に設けられた試し書き領域を用いて、記録動作を行う。
【００３３】
図３に光ディスクへの記録レーザ発光パターンを示す波形図を示す。光ディスク１へ形成する最短のマークである３Ｔ記録を形成するためのレーザ発光パターンは、バイアスレベルからピークレベルまで達するパルスが１パルスであり、４Ｔでは２パルス、以下同様に１１Ｔでは９パルスとなる。一般的に光ディスクへランダムデータを記録した場合、最も多く存在するのは３Ｔであるため、３Ｔの形成如何でエラーレートの良し悪しが左右されるため、３Ｔを形成するためのレーザ発光パターンのバイアスレベルからピークレベルへのパルスの立ち上がりタイミングを可変させる。
【００３４】
図４は光ディスク１への記録レーザ発光パターンとラジアルチルトの関係を示すエラーレート特性図である。図４に示すように、レーザ発光パターンをＡ，Ｂ，Ｃのように立ち上がりタイミングを可変させることとする。発光タイミングＴ１が最も立ち上がりが早く、次に発光タイミングＴ２、次に発光タイミングＴ３と変化させる。すなわち光ディスク１への記録時間が発光パターンＡが最も長く、次に発光パターンＢ，発光パターンＣとしている。
【００３５】
ラジアルチルトが、Ｌａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅに対して最適な状態になっていれば、図４に示す状態２のようにレーザの発光パターンのタイミングをＴ１，Ｔ２，Ｔ３と変更してもエラーレートは大差なく、ラジアルチルトが最適状態からずれれば、状態１や状態３のように、レーザの発光パターンのタイミングを変えた際に、エラーレートが悪化する。従って、レーザの発光タイミングを３パターン可変させて記録することで、よりラジアルチルトに対しての感度を向上させることができる。
【００３６】
従って光ディスク１への試し書き領域の記録を行う際のラジアルチルトとして、まずＲＦ信号振幅が最大となるように求められた初期ラジアルチルト値にて、前記図４のレーザ光発光パターンＡ、Ｂ、Ｃのレーザ発光タイミングＴ１，Ｔ２，Ｔ３でＬａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅそれぞれに記録を実施する。レーザ光発光パターンＡ、Ｂ，Ｃで記録された領域のエラーレートをＬａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅ各々測定し、Ｌａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅのレ
ーザ光発光パターンＡ、Ｂ，Ｃの測定結果の、それぞれの平均値を算出しておく。この時得られたエラーレートの平均値を、Ｌａｎｄ側：Ｌ１、Ｇｒｏｏｖｅ側：Ｇ１とする（Ｓ４）。
【００３７】
次に、ラジアルチルトを初期ラジアルチルトから例えば０．０５°光ディスクに対して内側へ傾かせ、前述したレーザの発光パターンをＴ１，Ｔ２，Ｔ３と３タイミング変化させて記録を実施し、Ｌａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅのエラーレートを測定し、それぞれの平均値を算出する。この時得られたエラーレートの平均値を、Ｌａｎｄ側：Ｌ２、Ｇｒｏｏｖｅ側：Ｇ２とする（Ｓ５）。
【００３８】
続いて、ラジアルチルトを初期ラジアルチルトから例えば０．０５°光ディスクに対して外側へ傾かせ、レーザの発光パターンをＴ１，Ｔ２，Ｔ３と３タイミング変化させて記録を実施し、Ｌａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅのエラーレートを測定し、それぞれの平均値を算出する。この時得られたエラーレートの平均値を、Ｌａｎｄ側：Ｌ３、Ｇｒｏｏｖｅ側：Ｇ３とする（Ｓ６）。
【００３９】
ここで、ラジアルチルト値を初期ラジアルチルトから任意の角度傾ける角度は、たとえば０．０５°としたが、０．０３°〜０．０８°の範囲の角度としたが望ましい。最適ラジアルチルトは、ＲＦ信号振幅が最大となるように求められた初期ラジアルチルトから０．０８°を超えてずれることはなく、また０．０３°以内の誤差であれば、記録品質を大幅に劣化させるようなことはない。
【００４０】
以上のようにして得られたＬ１〜Ｌ３及びＧ１〜Ｇ３を用いて、最適ラジアルチルトを探索する。
【００４１】
図５は、光ディスクのＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅのラジアルチルトに対するエラーレート特性図を示す。図５に示すように、ラジアルチルトに対して、Ｌａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅのエラーレートの特性は、必ずしも同様に悪化していくのではなく、Ｌａｎｄ側は緩やかに悪化するのに対して、ＧｒｏｏｖｅはＬａｎｄに比べて急峻に悪化する。またＬａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅのラジアルチルトに対するエラーレート最良点についても、必ずしも一致するわけではない。ラジアルチルトがＬａｎｄ及びＧｒｏｏｖｅに対して最適な状態にある場合は、ＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅの、エラーレートの平均値の差が最も小さくなる場合である。
【００４２】
したがって、先ほど求めたＬ１〜Ｌ３及びＧ１〜Ｇ３の値に対して、初期ラジアルチルトでのＬ１とＧ１の差（Ｄ１＝Ｌ１−Ｇ１）を求める。同様にして、初期ラジアルチルトから任意の角度、例えば０．０５°傾けたＤ２＝Ｌ２−Ｇ２およびＤ３＝Ｌ３−Ｇ３を求める。ここでＤ１〜Ｄ３は絶対値扱いとし、符号なしで以下評価を行う（Ｓ７）。
【００４３】
初期ラジアルチルトでのＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅのエラーレートの差：Ｄ１と、ラジアルチルトを光ディスク１に対して内側に例えば０．０５°傾けた時のＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅのエラーレートの差：Ｄ２を比較する（Ｓ８）。もしＤ１＞Ｄ２の関係であれば、ラジアルチルトを光ディスクに対して内側に例えば０．０５°傾けた場合の方が最適なラジアルチルト状態であることとなるため、ＲＦ信号振幅が最大となるように求められた初期ラジアルチルト値より内側に例えば０．０５°傾けた状態を最適なラジアルチルトとする（Ｓ９）。
【００４４】
次に、Ｄ１＜Ｄ２となった場合、Ｄ１とＤ３を比較する（Ｓ１０）。もしＤ１＜Ｄ３となれば、初期のラジアルチルトが最適であるということになるため、ＲＦ信号振幅が最大となるように求められた初期ラジアルチルト値を、最適なラジアルチルトとする（Ｓ１１
）。
【００４５】
最後に、Ｄ１＞Ｄ３となった場合、ラジアルチルトを光ディスク１に対して外側に例えば０．０５°傾けた場合の方が最適なラジアルチルト状態であることとなるため、ＲＦ信号振幅が最大となるように求められた初期ラジアルチルト値より外側に例えば０．０５°傾けた状態を最適なラジアルチルトとする（Ｓ１２）。
【００４６】
本発明の（実施の形態１）では、エラーレートの測定結果をもとに説明したが、エラーレートの測定結果をもとに最適ラジアルチルト値を求めるかわりに、ジッタの検出結果によって最適ラジアルチルト値を求めることもできる。
【００４７】
以上の構成により、光ディスク記録装置が、エンボスゾーンでのＲＦ信号最大となる初期ラジアルチルトをラジアルチルト値として決定した後で、さらに最適なラジアルチルトを探索しなおすことで、探索しなおしたラジアルチルト値が光ディスクに対して最適な位置となり、隣接トラックへの影響をなくし、記録品質の悪化が回避され、安定した記録品質を得ることができるようになる。
【産業上の利用可能性】
【００４８】
本発明は、記録可能な光ディスク装置に利用することができ、書き込み信頼性の高い光ディスク装置を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク記録装置のラジアルチルト制御ブロック図
【図２】処理手順を示す流れ図
【図３】光ディスクへの記録レーザ発光パターンを示す波形図
【図４】光ディスクへの記録レーザ発光パターンとラジアルチルトの関係を示すエラーレート特性図
【図５】光ディスクのＬａｎｄとＧｒｏｏｖｅのラジアルチルトに対するエラーレート特性図
【図６】従来の光ディスク記録装置のラジアルチルト制御ブロック図
【図７】光ディスクへのレーザ発光の照射パターンを示す参考図
【図８】ラジアルチルトとＲＦ信号振幅の関係を示す図
【符号の説明】
【００５０】
１    光ディスク
２    ピックアップモジュール
３    スピンドルモータ
４    フォーカス駆動コイル
５    対物レンズ
６    反射光受光手段
７    レーザダイオード
８    反射光演算手段
９    反射光Ａ／Ｄ変換手段
１０    反射光Ａ／Ｄ変換値比較手段
１１    ラジアルチルト制御手段
１２    フォーカス駆動手段
１３    エラーレート測定手段
１４    レーザ制御手段
【図１】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図２】
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