(57)【要約】【課題】  シャッタチャンスを極力生かしつつ、欠陥のある撮影を抑えた撮影装置を提供する。【解決手段】  上記目的を達成する本発明の撮影装置は、撮像素子の欠陥画素の位置データを記憶する記憶部１６６と、上記欠陥画素の画素データを修復する修復部１６５と、放射線量に相関のある物理量が所定の基準値を越えたか否かを判定して判定結果を記憶しておく判定部１６７と、上記欠陥画素を探索して上記記憶部１６６に記憶された欠陥画素の位置データを更新する欠陥探索部１６２と、電源投入操作を受けて上記判定部における判定結果を参照し、該判定結果が、上記物理量が所定の基準値を越えた旨の判定結果であったときに、上記欠陥探索部に欠陥画素の探索および欠陥画素の位置データの更新を行わさせ、しかる後に撮影操作を受け付けるシーケンス制御部１６１とを備えたことを特徴とする。【選択図】        図５
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮像素子上に被写体像を結像し撮影操作に応じて保存用の画像データを生成する撮影装置において、
前記撮像素子の欠陥画素の位置データを記憶する記憶部と、
前記撮像素子で得られた画像データから前記記憶部に位置データが記憶された欠陥画素の画素データを修復する修復部と、
放射線量に相関のある物理量を測定し該物理量が所定の基準値を越えたか否かを判定して判定結果を記憶しておく判定部と、
前記撮像素子の欠陥画素を探索して前記記憶部に記憶された欠陥画素の位置データを更新する欠陥探索部と、
電源投入操作を受けて前記判定部における判定結果を参照し、該判定結果が、前記物理量が所定の基準値を越えた旨の判定結果であったときに、前記欠陥探索部に欠陥画素の探索および欠陥画素の位置データの更新を行わさせ、しかる後に撮影操作を受け付けるシーケンス制御部とを備えたことを特徴とする撮影装置。
【請求項２】
前記シーケンス制御部は、電源投入操作を受けて前記判定部による判定結果を参照し、該判定結果が、前記物理量が前記所定の基準値に達しなかった旨の判定結果であったときに、電源遮断操作を受けて、前記欠陥探索部に欠陥画素の探索および欠陥画素の位置データの更新を行わさせるものであることを特徴とする請求項１記載の撮影装置。
【請求項３】
前記判定部は、この撮影装置が置かれた高度を判定するものであることを特徴とする請求項１記載の撮影装置。
【請求項４】
前記欠陥探索部は、遮光状態下で前記撮像素子によって撮像して得られるダーク画像データから欠陥画素の位置データを抽出する抽出部と、前記記憶部に記憶されている欠陥画素の位置データと前記抽出部により抽出された欠陥画素の位置データとを照合して、新規の欠陥画素が存在していた場合に、前記記憶部に当該新規の欠陥画素の位置データを追記する追記部とを備えたものであることを特徴とする請求項１記載の撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、撮像素子上に被写体像を結像し撮影操作に応じて保存用の画像データを生成する撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、上記撮影装置の一つであるデジタルカメラには、半導体で形成された撮像素子の一種であるＣＣＤ（Ｃｈａｒｇｅ  Ｃｏｕｐｌｅｄ  Ｄｅｖｉｃｅ）が主に用いられている。
デジタルカメラでは、構成部品の１つであるＣＣＤの製造段階で半導体の基板に不純物が混入するなどして、局所的な結晶欠陥等により異常なデータを出力する欠陥画素がわずかながら生じる。そこで、この欠陥画素を検査する装置を用いて欠陥画素を検出し、例えば、デジタルカメラに搭載した記憶素子内に欠陥画素の位置データを記憶させることにより、実際の撮影時に、この位置データをもとに欠陥画素データを補正するという方法が採用されている。
欠陥画素は、デジタルカメラの製造後であっても発生する。例えば、正常なＣＣＤの画素が放射線によって半導体の局所的な結晶欠陥が発生し、この結晶欠陥に起因して新たな欠陥画素が発生する。また、デジタルカメラ内部に塵埃が侵入して電荷を帯びたＣＣＤの受光面にこれら塵埃が付着することにより新たな欠陥画素が生じる。
これらの新たな欠陥画素を検出する手段の一例として、ＣＣＤの撮像面前方に配置されたレンズ絞りを閉じた状態で、撮影と同一のシーケンスを実行して生成したダーク画像データから欠陥画素を検出し、新たに検出した欠陥画素の位置データをデジタルカメラに搭載した記憶素子内に追加して記憶することがなされている。そして、これらの新たな欠陥画素を自動的に検出する技術として、デジタルカメラの電源投入操作後に直ちに実行する技術が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。また、デジタルカメラの電源遮断操作後に、新たな欠陥画素を自動的に検出する技術も提案されている（例えば、特許文献２参照。）。
【特許文献１】特開平６−６６８５号公報（第５頁、図１）
【特許文献２】特開２００３−２９８９４７号公報（第７頁、図３）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
上述した２つの技術の一方である、デジタルカメラの電源投入操作後に直ちに欠陥画素を自動的に検出する技術を採用すると、使用者は、欠陥画素による画質の劣化を気にすることなく撮影を実行することができる。しかし、欠陥画素の検出処理に一定時間を要するので、使用者が急なシャッタチャンスに撮影を実行したい場合に、使用者が電源投入操作直後のシャッタチャンスを逃してしまう恐れがあるという問題が生じてしまう。
【０００４】
他方、デジタルカメラの電源遮断操作直後に欠陥画素を自動的に検出する技術を採用すると、使用者が電源投入操作直後のシャッタチャンスに画像を撮影することができる。しかし、電源遮断操作直後に欠陥画素を自動的に検出する方法を採用すると、極めてまれな場合であるが、放射線の影響を受けて欠陥画素が生じる恐れのある高所にデジタルカメラを持って行った後のデジタルカメラの撮影については、新たに発生した欠陥画素データを含んだ画像データからなる画像が得られる恐れがあるという問題がある。
【０００５】
また、デジタルカメラを海外に輸出する場合に貨物飛行機等を利用すると、デジタルカメラは長時間高度の高い位置に置かれることになるので、放射線の影響により新たに欠陥画素が発生する恐れがある。このため、電源遮断操作直後に、撮影中に増加した欠陥画素の位置データを追加して記憶する技術を採用すると、使用者が購入後初めて撮影したときに、新たに発生した欠陥画素データを含んだ画像データからなる画像を撮影してしまう恐れがあるという問題がある。
【０００６】
本発明は、上記事情に鑑み、シャッタチャンスを極力生かしつつ、欠陥のある撮影を抑えた撮影装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成する本発明の撮影装置は、撮像素子上に被写体像を結像し撮影操作に応じて保存用の画像データを生成する撮影装置において、
上記撮像素子の欠陥画素の位置データを記憶する記憶部と、
上記撮像素子で得られた画像データから上記記憶部に位置データが記憶された欠陥画素の画素データを修復する修復部と、
放射線量に相関のある物理量を測定し該物理量が所定の基準値を越えたか否かを判定して判定結果を記憶しておく判定部と、
上記撮像素子の欠陥画素を探索して上記記憶部に記憶された欠陥画素の位置データを更新する欠陥探索部と、
電源投入操作を受けて上記判定部における判定結果を参照し、該判定結果が、上記物理量が所定の基準値を越えた旨の判定結果であったときに、上記欠陥探索部に欠陥画素の探索および欠陥画素の位置データの更新を行わさせ、しかる後に撮影操作を受け付けるシーケンス制御部とを備えたことを特徴とする。
【０００８】
本発明の撮影装置では、放射線の影響を受けて欠陥画素が生じるのは、例えば、かなり高い山に登ったりあるいは平常よりも放射線が極めて多い環境に置かれた場合など、かなり特殊な条件に置かれた場合である。本発明によれば、そのようなかなり特殊な条件下に置かれた極めてまれな場合を除いては、電源投入操作後直ちに撮影することができて、シャッタチャンスを逃す恐れが防止される。ただし、万一、上記のような特殊な環境に置かれた場合は、その場合に限ってはシャッタチャンスを逃す恐れが多少増加することにはなるが、新たに発生した欠陥画素についても補正を行われ、欠陥のないきれいな画像を得ることができる。
【０００９】
ここで、上記シーケンス制御部は、電源投入操作を受けて上記判定部による判定結果を参照し、該判定結果が、上記物理量が上記所定の基準値に達しなかった旨の判定結果であったときに、電源遮断操作を受けて、上記欠陥探索部に欠陥画素の探索および欠陥画素の位置データの更新を行わさせるものであることが好ましい。
【００１０】
この、電源遮断操作を受けて欠陥画素の探索および位置データの更新を行わさせる構成によれば、使用者は欠陥画素の更新を待たずして、電源投入操作後から電源遮断操作の間の時間帯におけるシャッタチャンスに画像を撮影することができる。また、この構成によれば、電源投入操作後から電源遮断操作の間に極めてまれであるが、新たな欠陥画素が発生する恐れがある場合でも、電源遮断操作を受けて、欠陥画素の位置データの更新が行われる。こうすることにより、次のシャッタチャンスには最新の欠陥画素の位置データに基づく補正が行われることになる。
【００１１】
ここで、上記判定部は、この撮影装置が置かれた高度を判定するものであることが好ましい。
【００１２】
高度を判定することにより、放射線量に相関のある物理量としての高度を測定して所定の基準値を越えたか否かを高い精度で判定することができる。
【００１３】
ここで、上記欠陥探索部は、遮光状態下で前記撮像素子によって撮像して得られるダーク画像データから欠陥画素の位置データを抽出する抽出部と、上記記憶部に記憶されている欠陥画素の位置データと前記抽出部により抽出された欠陥画素の位置データとを照合して、新規の欠陥画素が存在していた場合に、上記記憶部に当該新規の欠陥画素の位置データを追記する追記部とを備えたものであることが好ましい。
【００１４】
上記欠陥探索部を備えると、ＣＣＤに新たに発生する欠陥画素の位置データが上記記憶部に追加されて記憶されるので、記憶部に最新の欠陥画素の位置データが記憶されている。
【発明の効果】
【００１５】
以上説明したように、本発明の撮影装置によれば、シャッタチャンスを極力生かしつつ、欠陥のある撮影を抑えた撮影装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
【００１７】
図１は、本発明の撮影装置の一実施形態であるデジタルカメラ１の、前方斜め上から見たときの外観斜視図である。
【００１８】
また、図２は、図１に示すデジタルカメラ１と同一のデジタルカメラ１の、後方斜め上から見たときの外観斜視図である。
【００１９】
図１、図２に示すデジタルカメラ１は、撮像素子上に被写体像を結像し画像データを生成して画像を表示するとともに撮影操作に応じて保存用の画像データを生成する撮影装置である。
【００２０】
図１に示されるように、デジタルカメラ１の前面２には、撮影レンズ３、光学式ファインダ対物窓４、および閃光発光部５が備えられ、デジタルカメラ１の上面６には、シャッタボタン７が備えられている。
【００２１】
また、このデジタルカメラ１の内部には、高度計８が備えられている。
【００２２】
また、図２に示されるように、このデジタルカメラ１の背面２１には、電源ボタン２２、メニュー切替えおよび実行キー２３が備えられている。このメニュー切替えおよび実行キー２３は、静止画撮影、動画撮影、静止画再生、および動画再生等に使用されるメニューを自在に切り替えて設定条件を選択して実行するキーである。
【００２３】
また、このデジタルカメラ１の背面２１には、モードスイッチ２５が設けられている。モードスイッチ２５は、撮影モードと再生モードとを切り換えるスイッチである。
【００２４】
また、このデジタルカメラ１の背面２１には、光学式ファインダ接眼窓２４、広角ズームキー２６、望遠ズームキー２７、スピーカ２８、および液晶表示パネル２９が備えられている。
【００２５】
ここで、図３は、図１、図２に示すデジタルカメラの、内部構成を示す図である。
【００２６】
このデジタルカメラ１には、撮影レンズ３、第１モータドライバ１２１、第２モータドライバ１２３、メカニカルシャッタ１０２、ＣＣＤ１０３、およびタイミングジェネレータ１２２が備えられている。ＣＣＤ１０３は、本発明にいう撮像素子の一例に相当し、レンズ３を経由してきた被写体光を捉える固体撮像素子である。第１モータドライバ１２１はメカニカルシャッタ１０２の開閉を行ない、第２モータドライバ１２３は撮影レンズ３を駆動する。タイミングジェネレータ１２２は、所定のタイミングでＣＣＤ１０３を駆動する。
【００２７】
このデジタルカメラ１には、図２に示したように高度計８が備えられている。なお、この高度計８には、電源ボタン２２による電源投入操作および電源遮断操作とは独立に常時給電されており、高度計８は、このデジタルカメラ１の置かれている高度を常に監視している。
【００２８】
さらに、この高度計８には、判定部１６７が設けられている。この判定部１６７は、放射線量に相関のある物理量としての高度を測定して高度が所定の基準値を１回でも越えたか否かを判定して判定結果を高度計８内のメモリに記憶するものである。
【００２９】
このデジタルカメラ１には、ＣＰＵ１２４が備えられている。このＣＰＵ１２４には、ＥＥＰＲＯＭ１２４ｂが備えられている。このＥＥＰＲＯＭ１２４ｂは書き換え可能な不揮発性メモリで構成されている。さらに、このＥＥＰＲＯＭ１２４ｂ上には、デジタルカメラ１の製造段階で検出した欠陥画素の位置データを記憶するとともに、工場出荷後に発生する欠陥画素の位置データを記憶する記憶部１６６が設けられている。
【００３０】
また、このＣＰＵ１２４にはＲＯＭ１２４ａが内蔵されており、このＲＯＭ１２４ａ内にはプログラムが格納されている。このプログラムの手順にしたがってデジタルカメラ１の動作がＣＰＵ１２４により制御される。
【００３１】
ここで、図４は、ＲＯＭ１２４ａ内に格納されているプログラムの一部分の構成を示す図である。
【００３２】
このＲＯＭ１２４ａ内に格納されているプログラムには、ＣＰＵ１２４に欠陥探索部１６２としての動作を行なわさせるプログラムが組み込まれている。ここでは分かりやすさのため、そのプログラム自体も欠陥探索部１６２と称する。この欠陥探索部１６２は、ＣＣＤ１０３の欠陥画素を探索して記憶部１６６に記憶された欠陥画素の位置データを更新するものである。この欠陥探索部１６２は、抽出部１６３と追記部１６４とから構成されており、抽出部１６３は、ダーク画像データから欠陥画素の位置データを抽出し、また、この追記部１６４は、記憶部１６６に記憶されている欠陥画素の位置データと抽出部１６３により抽出された欠陥画素の位置データとを照合して、新規の欠陥画素が存在していた場合に、記憶部１６６にこの新規の欠陥画素の位置データを追加して記憶するものである。
【００３３】
また、このＲＯＭ１２４ａ内に格納されているプログラムには、ＣＰＵ１２４にシーケンス制御部１６１としての動作を行なわさせるプログラムも組み込まれており、分かりやすさのため、そのプログラム自体もシーケンス制御部１６１と称する。
【００３４】
このシーケンス制御部１６１は、電源ボタン２２の電源投入操作を受けた後、判定部１６７における判定結果を参照する。そして、この判定結果が予め設定した基準値を１回でも越えた旨の判定結果であったときに、このシーケンス制御部１６１は、欠陥探索部１６２に欠陥画素の探索および欠陥画素の位置データの更新を行わさせて、しかる後に撮影操作を受け付けるシーケンス処理を実行する。また、このシーケンス制御部１６１は、その判定結果が予め定めた基準値に達しなかった旨の判定結果であったときには、電源ボタン２２の電源遮断操作を受けた後に欠陥探索部１６２に欠陥画素の探索および欠陥画素の位置データの更新を行わさせるシーケンス処理を実行する。シーケンス制御部１６１の処理の詳細については、後で説明する。
【００３５】
再び図３に戻り説明する。このデジタルカメラ１には、ＣＤＳＡＭＰ１０４、およびＡ／Ｄ変換部１０５が備えられている。ＣＤＳＡＭＰ１０４はＣＣＤ１０３から出力されたアナログ画像信号の雑音を低減する処理等を行ない、Ａ／Ｄ変換部１０５はこのアナログ画像信号をデジタル画像信号に変換する。
【００３６】
また、このデジタルカメラ１には、画像入力コントローラ１０６が備えられている。画像入力コントローラ１０６は、Ａ／Ｄ変換部１０５でデジタル画像信号に変換された画像データをデータバス１２５を介してＳＤＲＡＭ１３３に転送する。
【００３７】
また、このデジタルカメラ１には、ＡＦ検出部１３１およびＡＥ＆ＡＷＢ検出部１３２が備えられている。ＡＦ検出部１３１は画像のピント情報を検出し、ＡＥ＆ＡＷＢ検出部１３２は画像の輝度情報と白色バランス情報を検出する。
【００３８】
また、このデジタルカメラ１には、画像信号処理部１０７が備えられている。この画像信号処理部１０７は、ＳＤＲＡＭ１３３に記憶された画像データの画像処理を実行する。この画像信号処理部１０７には、修復部１６５が備えられている。この修復部１６５は、記憶部１６６に記憶された欠陥画素の位置データを抽出して、この欠陥画素の位置データに対応する欠陥画素データを欠陥画素周辺の画素データで補正することにより、欠陥画素の画素データを修復する。
【００３９】
また、このデジタルカメラ１には、圧縮処理部１０８およびＶＲＡＭ１３４が備えられている。圧縮処理部１０８は、画像信号処理部１０７での画像処理が終了した後に画像データの圧縮を行なう。ＶＲＡＭ１３４は、液晶表示パネル２９に表示される内容を保持しているメモリであり、Ａ領域、Ｂ領域の２つのバッファ領域を有している。また、このデジタルカメラ１には、Ｖｉｄｅｏ／ＬＣＤエンコーダ１０９およびメディア記録制御部１３５が備えられている。Ｖｉｄｅｏ／ＬＣＤエンコーダ１０９は、画像データをビデオ信号に変換して液晶表示パネル２９に導く。メディア記録制御部１３５は、画像データを記録メディア１３６に記憶するための制御を行なう。
【００４０】
また、このデジタルカメラ１には、音声出力処理部１３７、スピーカ２８、および閃光発光制御部１１０が備えられている。この音声出力処理部１３７は、音声出力処理をおこなう。この音声出力処理部１３７は、判定部１６７の判定結果が閾値以上に１回でも達した場合に、その判定結果を使用者に知らせるためにスピーカ２８からアラーム音を鳴らすことができる。なお、このアラーム音を鳴らすか否かは、前述のメニュー切替えおよび実行キー２３で選択する。
【００４１】
このデジタルカメラ１には、電源部１５１が備えられており電源投入操作を受けて各ブロックへ給電される。ただし、高度を常に監視する必要があるため、高度計８には、電源投入操作および電源遮断操作とは別に常に給電されている。
【００４２】
このデジタルカメラ１には、操作部１４１が備えられている。この操作部１４１は、図２に既に説明したデジタルカメラ１の背面２１および上面６に備えられている各操作子の操作を受け付けてＣＰＵ１２４に各操作子の処理の命令を出す。
【００４３】
次に、本発明の実施形態である、このデジタルカメラ１の撮影動作について説明する。
【００４４】
このデジタルカメラ１の撮影動作は統合的にＣＰＵ１２４により制御される。
【００４５】
先ず、使用者が電源ボタン２２を押して電源投入操作をすると、操作部１４１が電源投入操作を受け付けて、この操作部１４１がＣＰＵ１２４に内蔵されたＲＯＭ１２４ａのプログラムを起動する。続いて、シーケンス制御部１６１の処理が実行される。
【００４６】
このシーケンス制御部１６１の詳細については、以下、フローチャートを用いて説明する。
【００４７】
図５は、電源投入操作を受けたときの、シーケンス制御部１６１における処理ルーチンを表わすフローチャートである。
【００４８】
電源投入操作を受けると、この図５に示す処理ルーチンが開始され、先ずステップ４００において判定部１６７での判定結果が参照される。ステップ４０２において、この判定結果が閾値以上に１回でも達しなかったと判定された場合には、何もせずにこの処理ルーチンは終了する。
【００４９】
一方、この判定結果が閾値以上に１回でも達したと判定された場合は、次のステップ４０４のダーク画像撮影が実行される。すなわち、メカシャッタ１０２が第１モータドライバ１２１によって閉じられた後に、遮光状態下で撮影のシーケンスが実行されてダーク画像データが生成される。このダーク画像データが生成されると、次に、ダーク画像データの欠陥画素が抽出部１６３より抽出される（ステップ４０６）。
【００５０】
ステップ４０８では、抽出部１６３により抽出されたすべての欠陥画素の位置データのうちで、記憶部１６６に記憶されている欠陥画素の位置データとの照合が済んでいない欠陥画素の位置データが１つ読み出されて、記憶部１６６に記憶されている欠陥画素の位置データと照合される。
【００５１】
ステップ４１０では、新規欠陥画素の有無の判定がなされる。ステップ４０８で抽出部１６３により抽出された欠陥画素の位置データが、記憶部１６６に記憶されている位置データと一致せずに新規欠陥画素の位置データであると判定された場合は、ステップ４１２において追記部１６４が新規欠陥画素の位置データを記憶部１６６に追加して記憶する。一方、その抽出された欠陥画素の位置データが、記憶部１６６に記憶されている位置データと一致したと判定された場合は、記憶部１６６の位置データは更新されない。
【００５２】
ステップ４１４では、抽出部１６３で抽出されたすべての欠陥画素の位置データが記憶部１６６に記憶されている位置データと照合されたか否かが判定される。抽出部１６３で抽出されたすべての欠陥画素の位置データが照合されていないと判定された場合は、ステップ４０８に戻されて、すべての欠陥画素の位置データが照合されるまでステップ４０８〜ステップ４１４における処理が繰り返される。一方、抽出部１６３で抽出されたすべての欠陥画素の位置データが照合されたと判定された場合は、この処理ルーチンは終了して撮影が受け付けられる体制に移行する。
【００５３】
次に、シャッタボタン７が押された場合の処理ルーチンについて説明する。
【００５４】
図６は、デジタルカメラ１のシャッタボタン７が押されるたびに実行される処理ルーチンのフローチャートである。
【００５５】
ステップ６００では、使用者によりシャッタボタン７が押されたことを受けて、撮影が実行される。すなわち、ここでは、操作部１４１からＣＰＵ１２４に撮影開始の信号が送られ、この撮影開始の信号を受けて、メカシャッタ１０２がモータドライバによって開けられると共にタイミングジェネレータ１２２が作動することによりＣＣＤ１０３が露光されてＣＣＤ１０３に入射されている被写体光が光電変換される。そして、光電変換された信号はアナログ画像信号としてＣＣＤ１０３から出力される。さらに、ＣＤＳＡＭＰ１０４によって、このＣＣＤ１０３から出力されたアナログ画像信号の雑音を低減する処理等が実行される。次に、Ａ／Ｄ変換部１０５によって、その処理等が施されたアナログ画像信号がデジタル画像信号に変換される。次に、このデジタル画像信号は、画像入力コントローラ１０６によって、データバス１２５を介してＳＤＲＡＭ１３３に記憶される。
【００５６】
ステップ６０２では、画像信号処理部１０７での画像処理が実行される。具体的には、修復部１６５が、まず記憶部１６６に記憶されているＣＣＤ１０３の欠陥画素の位置データを参照してその欠陥画素周辺の画素データを用いて欠陥画素データの補正を行う。
【００５７】
ステップ６０４では、圧縮処理部１０８により画像データの圧縮が行われて、Ｖｉｄｅｏ／ＬＣＤエンコーダ１０９を介して、欠陥画素の補正がなされた画像が液晶表示パネル２９に出力されて、撮影の処理ルーチンが終了する。
【００５８】
次に、電源遮断操作がなされた場合のシーケンス制御部１６１の処理ルーチンについて説明する。
【００５９】
図７は、電源遮断操作を受けた場合のシーケンス制御部１６１の処理ルーチンのフローチャートである。
【００６０】
ここで、前述したように、図５は、電源投入操作を受けて実行される処理ルーチンであるが、この図７に示す処理ルーチンは電源遮断操作を受けて実行される処理ルーチンである。ここでも、まず図５の処理ルーチンと同様にステップ５００で判定部１６７の判定結果が参照されて、高度計８の値が閾値以上に一回でも達したか否かについて判定される。ただし、ここでは、図５に示したステップ４０２での電源投入操作を受けた場合と比較して、判定結果が閾値以上に一回でも達しなかった場合に欠陥画素の補正の処理がなされる。すなわち、図５における電源投入操作を受けて実行される処理ルーチンでは、判定結果が閾値以上に一回でも達していた場合に欠陥画素の補正の処理が既になされているので、ここでは、判定結果が閾値以上に一回でも達しなかった場合に欠陥画素の補正の処理が実行される。ここで、ステップ５０４〜ステップ５１４の処理ルーチンは、図５のステップ４０４〜ステップ４１４の処理と同じであるので、説明は省略する。
【００６１】
また、ステップ５０２で判定結果が閾値以上に一回でも達していた場合には、上述した通り、電源投入時の欠陥画素の補正の処理が既に実行されているので、ステップ５０４〜ステップ５１４における欠陥画素の補正の処理はスキップされる。
【００６２】
ただし、図７に示す処理ルーチンでは、図５に示す処理ルーチンになかった処理として、
次の電源投入時までに、高度計が再度閾値以上に達する可能性があるので、スキップ５１６では、判定部１６７の判定結果をリセットしておく。そして、電源遮断操作時でのシーケンス制御部１６１の処理が終了する。
【００６３】
このシーケンス制御部１６１の処理の終了を受けて、ＣＰＵ１２４は、高度計８への給電を除いて、電源部１５１の給電をＯＦＦにする。
【００６４】
以上説明したように、本実施形態のデジタルカメラ１によれば、シャッタチャンスを極力生かしつつ、欠陥のある撮影を抑えた撮影装置を提供することができる。
なお、本発明の実施形態は、高度計８を備えてデジタルカメラ１が置かれた高度を測定する構成であるが、放射線量計を用いて放射線量を直接に測定し、その放射線量が所定の基準値を越えたか否かを判定する構成であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００６５】
【図１】本発明の実施形態であるデジタルカメラの、前方斜め上から見たときの外観斜視図である。
【図２】本発明の実施形態であるデジタルカメラの、外観を後方斜上から見たときの外観斜視図である。
【図３】本発明の実施形態であるデジタルカメラの内部構成を示す図である。
【図４】デジタルカメラのＲＯＭ内に格納されているプログラムの一部分の構成を示す図である。
【図５】電源投入操作を受けた場合のシーケンス制御部の処理ルーチンのフローチャートである。
【図６】本発明の実施形態であるデジタルカメラのシャッタボタンが押された場合の処理ルーチンのフローチャートである。
【図７】電源遮断操作を受けた場合のシーケンス制御部の処理ルーチンのフローチャートである。
【符号の説明】
【００６６】
１    デジタルカメラ
２    デジタルカメラ１の前面
３    撮影レンズ
４    光学式ファインダ対物窓
５    閃光発光部
６    デジタルカメラ１の上面
７    シャッタボタン
８    高度計
２１  デジタルカメラ１の背面２１
２２  電源ボタン
２３  メニュー切替および実行キー
２４  光学式ファインダ接眼窓
２５  モードスイッチ
２６  広角ズームキー
２７  望遠ズームキー
２８  スピーカ
１０２  メカニカルシャッタ
１０３  ＣＣＤ
１０４  ＣＤＳＡＭＰ
１０５  Ａ／Ｄ変換部
１０６  画像入力コントローラ
１０７  画像信号処理部
１０８  圧縮処理部
１０９  Ｖｉｄｅｏ／ＬＣＤエンコーダ
１１０  閃光発光制御部
１２１  第１モータドライバ
１２２  タイミングジェネレータ
１２３  第２モータドライバ
１２４  ＣＰＵ
１２４ａ  ＣＰＵ
１２４ｂ  ＥＥＰＲＯＭ
１２５  データバス
１３１  ＡＦ検出部
１３２  ＡＥ＆ＡＷＢ検出部
１３３  ＳＤＲＡＭ
１３４  ＶＲＡＭ
１３５  メディア記録制御
１３６  記録メディア
１３７  音声出力処理部
１４１  操作部
１５１  電源部
１６１  シーケンス制御部
１６２  欠陥探索部
１６３  抽出部
１６４  追記部
１６５  修復部
１６６  記憶部
【図１】
2006262370.tif 000003
【図２】
2006262370.tif 000004
【図３】
2006262370.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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