(57)【要約】【課題】入力信号についての波形不良の要因を正確かつ迅速に把握させ得る波形判定装置を提供する。【解決手段】入力信号を所定周期で測定して測定値を出力する測定部と、測定値に基づく信号波形ＷＳ１〜ＷＳ４、およびこの信号波形ＷＳ１〜ＷＳ４に対する許容エリアＦに基づいて入力信号の合否を判定する判定部とを備え、判定部は、許容エリアＦの外側に設定された位置判定エリアＺ１〜Ｚ５のうちの信号波形ＷＳ１〜ＷＳ４における許容エリアＦを外れた部位の一部または全部が属する位置判定エリアを特定すると共に、この特定した位置判定エリアの情報、およびこの特定した位置判定エリアに関連付けられた情報のうちの少なくとも一方を記憶部に記憶させる。【選択図】図２
2006184165.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号を所定周期で測定して測定値を出力する測定部と、前記測定値に基づく信号波形、および当該信号波形に対する許容エリアに基づいて前記入力信号の合否を判定する判定部とを備え、
前記判定部は、前記許容エリアの外側に設定された１または複数の位置判定エリアのうちの前記信号波形における当該許容エリアを外れた部位の一部または全部が属する位置判定エリアを特定すると共に、当該特定した位置判定エリアの情報、および当該特定した位置判定エリアに関連付けられた情報のうちの少なくとも一方を記憶部に記憶させる波形判定装置。
【請求項２】
前記判定部は、ｎ行×ｍ列（ｎ，ｍは１以上の整数：ただし一方が１のときには他方は２以上の整数）のマトリクス状に設定された複数の区画のうちの一部を前記位置判定エリアとして前記部位の一部または全部が属する前記位置判定エリアを特定する請求項１記載の波形判定装置。
【請求項３】
前記判定部は、前記測定部によって前記測定値が測定された日時を前記少なくとも一方の情報と共に前記記憶部に記憶させる請求項１または２記載の波形判定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、入力信号の合否判定を実行する波形判定装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の波形判定装置として、特開平１１−１１８５３２号公報に開示された記録計が知られている。この記録計では、入力信号を測定した波形（信号波形）の許容エリアを基準波形の上下方向に予め設定された所定幅で自動的に波形判定エリアとして生成して、信号波形と波形判定エリア（許容エリア）とを表示手段に表示すると共に信号波形が波形判定エリアをはみ出したときにアラーム等を出力する波形判定を実行している。
【特許文献１】特開平１１−１１８５３２号公報（第１−３頁）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところが、従来の記録計には、以下の問題点がある。すなわち、この記録計では、波形判定エリア（許容エリア）内から信号波形が外れたか否かに基づいて、単に入力信号の合否のみを判定している。したがって、例えば、矩形波の入力信号の立ち上がり（または立ち下がり）時に過大なレベルのオーバーシュート（またはアンダーシュート）が生じて波形判定エリアを外れたときや、矩形波の入力信号が全体的にレベルが過大（または過小）なために波形判定エリアを外れたときに、波形不良の要因が異なっていたとしても、共に単に不合格と判定している。この場合、測定者は、表示手段に表示される信号波形を観察して波形不良の要因を把握することが可能である。しかしながら、測定者がいちいち記録していない限り、合否判定後において波形不良の要因を把握することは困難である。また、判定対象体が大量に生産される生産ラインでは、測定者が波形不良の要因を正確に把握すること自体が困難である。したがって、例えば、判定対象体の生産ラインでオーバーシュートなどの特定の要因で不合格が頻発していたとしても、この特定の要因を直ちに把握させるのが困難なため、この特定の要因の発生を回避するための対策を迅速に講じて製造歩留まりの低下を回避するのが困難であるという問題点が存在する。
【０００４】
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、入力信号についての波形不良の要因を正確かつ迅速に把握させ得る波形判定装置を提供することを主目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成すべく請求項１記載の波形判定装置は、入力信号を所定周期で測定して測定値を出力する測定部と、前記測定値に基づく信号波形、および当該信号波形に対する許容エリアに基づいて前記入力信号の合否を判定する判定部とを備え、前記判定部は、前記許容エリアの外側に設定された１または複数の位置判定エリアのうちの前記信号波形における当該許容エリアを外れた部位の一部または全部が属する位置判定エリアを特定すると共に、当該特定した位置判定エリアの情報、および当該特定した位置判定エリアに関連付けられた情報のうちの少なくとも一方を記憶部に記憶させる。
【０００６】
また、請求項２記載の波形判定装置は、請求項１記載の波形判定装置において、前記判定部は、ｎ行×ｍ列（ｎ，ｍは１以上の整数：ただし一方が１のときには他方は２以上の整数）のマトリクス状に設定された複数の区画のうちの一部を前記位置判定エリアとして前記部位の一部または全部が属する前記位置判定エリアを特定する。
【０００７】
また、請求項３記載の波形判定装置は、請求項１または２記載の波形判定装置において、前記判定部は、前記測定部によって前記測定値が測定された日時を前記少なくとも一方の情報と共に前記記憶部に記憶させる。
【発明の効果】
【０００８】
請求項１記載の波形判定装置では、判定部が、許容エリアの外側に設定された１または複数の位置判定エリアのうちの信号波形における許容エリアを外れた部位（以下、この部位を不良部位ともいう）の一部または全部が属する位置判定エリアを特定すると共に、当該特定した位置判定エリアの情報、および当該特定した位置判定エリアに関連付けられた情報のうちの少なくとも一方（以下、特定結果に基づく情報ともいう）を記憶部に記憶させる。したがって、この波形判定装置によれば、記憶部に記憶させた特定結果に基づく情報をいつでも直ちに利用できるため、例えば電子機器などの判定対象体の生産ラインで同じ要因で不合格が頻発しているときには、この要因を測定者に正確かつ迅速に把握させることできるため、この要因に対する対策を迅速に講じさせて判定対象体の品質低下に起因する製造歩留まりの低下を回避することできる。この場合、例えば、許容エリアに接するように複数の位置判定エリアを設定し、判定部が不良部位の一部または全部が属する位置判定エリアを特定することにより、信号波形が許容エリアのどの位置で外れたかを具体的に特定することができる。また、位置判定エリアを許容エリアからの距離に対応させて複数に細分化して設定することにより、信号波形が許容エリアからどの程度外れているかを具体的に把握させることができるため、波形不良の要因のみならず、波形不良の要因の程度までも具体的に把握させることができる。
【０００９】
また、請求項２記載の波形判定装置によれば、判定部が、ｎ行×ｍ列のマトリクス状に設定された複数の区画のうちの一部を位置判定エリアとして不良部位の一部または全部が属する位置判定エリアを特定することにより、ｎやｍの値を適宜設定することで不良部位の位置や不良の程度を詳細に特定することができる。また、許容エリアの形状に合わせて位置判定エリアの形状を設定する必要がなく単にｎやｍの値を設定することによって位置判定エリアを簡単に設定することができるため、位置判定エリアを迅速に設定することができる結果、判定対象体に対する測定を迅速に開始することができる。
【００１０】
また、請求項３記載の波形判定装置では、判定部が、特定結果に基づく情報と共に測定値が測定された日時を記憶部に記憶させる。したがって、この波形判定装置によれば、例えば電子機器などの判定対象体の生産ラインにおいて、特定の季節、特定の月および特定の時間帯などの日時に同じ要因の不合格が頻発しているときには、この要因と日時との相関関係を正確かつ迅速に把握させることができるため、この要因に対する対策を迅速に講じさせて判定対象体の品質低下に起因する製造歩留まりの低下を回避することできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明に係る波形判定装置について添付図面を参照して説明する。
【００１２】
最初に、波形判定装置１の構成について、図面を参照して説明する。
【００１３】
図１に示す波形判定装置１は、判定対象体（一例として、電子機器：図示せず）からの入力信号Ｓ１の電気的パラメータ（例えば電圧）を所定周期で測定して、入力信号Ｓ１についての信号波形ＷＳを許容エリアＦおよび位置判定エリアＺ１〜Ｚ５と共に表示させる画像表示処理、並びに入力信号Ｓ１についての合否判定および入力信号Ｓ１が不合格であるときに位置判定エリアＺ１〜Ｚ５のうちの信号波形ＷＳにおける許容エリアＦを外れた部位（以下、この部位を不良部位ともいう）の一部または全部が属するエリアを特定する合否判定／エリア特定処理などを実行する。
【００１４】
波形判定装置１は、測定部２、操作部３、制御部４、表示部５、ＶＲＡＭ６、ＲＯＭ７、ＲＡＭ８，９およびタイマ部１０を備えて構成されている。測定部２は、Ａ／Ｄ変換器を備えて構成され、予め設定された所定条件が満たされたときに（一例として、予め設定された電圧を超える電圧の入力信号Ｓ１を入力したときに）、入力信号Ｓ１の電圧を所定周期で所定時間だけ測定（サンプリング）して２値データの測定値ＶＳを出力する。以下、予め設定された電圧を超える電圧の入力信号Ｓ１を「トリガ信号」ともいう。操作部３は、許容エリアＦを設定するための許容エリア設定キー、位置判定エリアＺ１〜Ｚ５を設定するための位置判定エリア設定キー、判定履歴表を表示させるための判定履歴表示キー、および数値入力キーなどを備えて構成され、各操作キーのキー操作に応じた操作信号Ｓ２を出力する。
【００１５】
制御部４は、本発明における判定部に相当し、波形判定装置１を総括的に制御すると共に、予め設定された動作条件に従って各種の処理を実行する。具体的には、制御部４は、条件設定処理では、許容エリアＦおよび位置判定エリアＺ１〜Ｚ５を設定する。また、制御部４は、画像表示処理では、図２に示すように、入力信号Ｓ１についての信号波形ＷＳ１〜ＷＳ４（以下、各信号波形ＷＳ１〜ＷＳ４を区別しないときには信号波形ＷＳともいう）、合否判定用の許容エリアＦ、および５つの位置判定エリアＺ１〜Ｚ５等を表示部５の表示画面に表示させる。この場合、制御部４は、信号波形ＷＳ、許容エリアＦおよび位置判定エリアＺ１〜Ｚ５等をＶＲＡＭ６内に仮想的に描画することにより、これらを表示部５に表示させるための表示用データＤをＶＲＡＭ６内に生成する。ここで、信号波形ＷＳは、測定値ＶＳに基づく入力信号Ｓ１の信号波形を表している。また、許容エリアＦは、正常な入力信号Ｓ１（信号波形ＷＳ）の信号波形が存在する領域を表している。また、位置判定エリアＺ１〜Ｚ５は、信号波形ＷＳの波形不良の要因に対応する領域を表している。
【００１６】
また、制御部４は、合否判定／エリア特定処理を実行して、信号波形ＷＳが許容エリアＦを外れるか否かに基づいて入力信号Ｓ１を合否判定すると共にこの合否結果を表す合否結果表示Ａ１（図２参照）を表示部５の表示画面に表示させる。この場合、制御部４は、信号波形ＷＳのすべてが許容エリアＦに含まれているときには、入力信号Ｓ１を合格と判定し、信号波形ＷＳの一部でも許容エリアＦに含まれていないときには、入力信号Ｓ１を不合格と判定する。また、制御部４は、入力信号Ｓ１を不合格と判定するときには、不良部位の一部または全部が属する位置判定エリア（Ｚ１〜Ｚ５のうちのいずれか１つ以上であって、不良部位が複数の位置判定エリアに亘って属しているときには、いずれか１つ以上の位置判定エリアでもよいし全部の位置判定エリアでもよい）を特定（エリア特定）すると共に、不良部位の属する位置判定エリアを表す特定結果表示Ａ２を表示部５の表示画面に表示させる。一方、不良部位が位置判定エリアＺ１〜Ｚ５のいずれにも属しないときには、制御部４は、一例として、「×」で表示させる。この際に、制御部４は、表示部５の表示画面に対応するＲＡＭ９内の仮想平面上に入力信号Ｓ１についての合否判定用の許容エリアＦとエリア特定用の位置判定エリアＺ１〜Ｚ５を描画して、入力信号Ｓ１に対する合否判定／エリア特定処理を実行する。また、制御部４は、後述する判定履歴表示処理も実行する。
【００１７】
表示部５は、一例としてカラー液晶パネルを備えて構成され、制御部４の制御に従い、信号波形ＷＳ、合否判定用の許容エリアＦ、位置判定エリアＺ１〜Ｚ５、合否結果表示Ａ１、特定結果表示Ａ２、判定履歴表、電圧スケールＶおよび時間スケールＴ等を表示画面上にカラー表示する。ＶＲＡＭ６は、制御部４によって生成された表示用データＤを記憶する。ＲＯＭ７は、フラッシュＲＯＭで構成されて、制御部４の動作プログラムを記憶すると共に、許容エリアＦおよび位置判定エリアＺ１〜Ｚ５を表示部５の表示画面にそれぞれ表示するための許容エリアデータＤｆおよびエリアデータＤｚ１〜Ｄｚ５を記憶する。ＲＡＭ８は、測定部２から出力されて制御部４の制御下で転送された測定値ＶＳ，ＶＳ・・を記憶する。ＲＡＭ９は、制御部４によって仮想平面に描画された許容エリアＦおよび位置判定エリアＺ１〜Ｚ５を記憶する。また、ＲＡＭ９は、本発明における記憶部に相当し、トリガ信号が入力した日付や時刻（測定値ＶＳが測定された日時）を示す時刻データＤｔ、合否判定／エリア特定処理の合否判定結果を示す合否判定情報Ｄａ、および特定したエリアの情報を示す特定結果情報Ｄｚ（例えば、Ｚ１等）を記憶する。タイマ部１０は、ＲＴＣ（Ｒｅａｌ  Ｔｉｍｅ  Ｃｌｏｃｋ）を用いて構成されて、例えば、現在の日付や時刻を示す時刻データＤｔを出力する。
【００１８】
次に、波形判定装置１の全体的な動作について、図面を参照して説明する。
【００１９】
まず、入力信号Ｓ１の合否判定／エリア特定処理の事前準備として、入力信号Ｓ１に対する許容エリアＦおよび位置判定エリアＺ１〜Ｚ５を波形判定装置１に設定する条件設定処理を実行する。この場合、操作部３の許容エリア設定キーおよび数値入力キーを操作することで、許容エリアＦの領域を示す数値あるいは図形の情報を入力する。この例では、許容エリアＦとして、標準的な矩形波の信号波形ＷＳに対して例えば検査規格に基づく所定の許容幅を持たせた矩形波状の帯状領域を設定する。この際に、制御部４が、この操作に従って操作部３から出力された数値あるいは図形の情報に基づいて、許容エリアＦを示す許容エリアデータＤｆを生成してＲＯＭ７に記憶させる。
【００２０】
続いて、操作部３の位置判定エリア設定キーおよび数値入力キーを操作して、各位置判定エリアＺ１〜Ｚ５を示す数値あるいは図形の情報を入力する。例えば、位置判定エリアＺ１として、入力信号Ｓ１の立ち上がり時に過大なレベルのオーバーシュートが発生して許容エリアＦを外れるときに、この不良部位が属するように領域を設定する。また、位置判定エリアＺ２として、入力信号Ｓ１の矩形波におけるハイレベルを示す部分が部分的にまたは全体的にレベルが過大で許容エリアＦを外れるときに、この不良部位が属するように領域（ただし、位置判定エリアＺ１が既に設定されていることから位置判定エリアＺ１の領域を除いた領域）を設定する。この場合、入力信号Ｓ１のハイレベル部分が全体的に大きいレベルのときには、入力信号Ｓ１が位置判定エリアＺ１，Ｚ２の両者に属することになる。また、位置判定エリアＺ３として、入力信号Ｓ１のハイレベル部分が部分的にまたは全体的にレベルが過小で許容エリアＦを外れるときに、この不良部位が属する領域を設定する。また、位置判定エリアＺ４として、入力信号Ｓ１の立ち下がり時に過大なレベルのアンダーシュートが発生して許容エリアＦを外れるときに、この不良部位が属する領域を設定する。また、位置判定エリアＺ５として、入力信号Ｓ１が所定幅（所定時間）を超えるパルス幅を有するために許容エリアＦを外れるときに、この不良部位が属する領域を設定する。この際に、制御部４は、この操作に従って操作部３から出力された数値に基づいて、位置判定エリアＺ１〜Ｚ５を示すエリアデータＤｚ１〜Ｄｚ５を生成してＲＯＭ７に記憶させる。以上により、条件設定処理が終了する。
【００２１】
次いで、判定対象の電子機器における信号出力部と波形判定装置１の測定部２とを相互に接続した状態で電子機器を作動させる。この際には、測定部２が、電子機器からトリガ信号が出力されたとき、すなわち、所定電圧を超える入力信号Ｓ１が測定部２に入力したときに、入力信号Ｓ１を所定周期でサンプリングすることによって測定値ＶＳ，ＶＳ・・を順次生成して出力する。また、制御部４が、測定部２から出力された測定値ＶＳ，ＶＳ・・をＲＡＭ８に順次記憶させる。また、制御部４は、トリガ信号を入力した際に、タイマ部１０から時刻データＤｔを読み込んでＲＡＭ９に記憶させる。
【００２２】
また、制御部４は、信号波形ＷＳ１、許容エリアＦおよび位置判定エリアＺ１〜Ｚ５等を表示させる画像表示処理を実行する。この画像表示処理では、制御部４は、最初に、ＲＯＭ７に記憶させた許容エリアデータＤｆおよびエリアデータＤｚ１〜Ｄｚ５にそれぞれ基づく許容エリアＦおよび位置判定エリアＺ１〜Ｚ５等をＶＲＡＭ６の仮想平面上に仮想的に描画することにより、これらを表示させるための表示用データＤをＶＲＡＭ６内に生成する。この場合、制御部４は、許容エリアＦおよび各位置判定エリアＺ１〜Ｚ５の各領域がそれぞれ異なる色で表示されるように表示用データＤを生成する。また、制御部４は、ＲＡＭ８に記憶させた測定値ＶＳ，ＶＳ・・に基づく信号波形ＷＳ１を許容エリアＦ等と重ね合わさるようにして仮想平面上に仮想的に描画して表示用データＤをＶＲＡＭ６内に生成する。この場合、制御部４は、許容エリアＦおよび各位置判定エリアＺ１〜Ｚ５の各領域の色とは異なる色で信号波形ＷＳ１が表示されるように表示用データＤを生成する。
【００２３】
続いて、表示部５は、ＶＲＡＭ６から表示用データＤを読み出して、表示用データＤに基づいて、信号波形ＷＳ１、許容エリアＦおよび位置判定エリアＺ１〜Ｚ５等を表示画面に表示する。この場合、図２に示すように、許容エリアＦは、所定幅を有する矩形波状で帯状の領域として表示部５の表示画面にカラー表示される。また、位置判定エリアＺ１は、許容エリアＦにおける入力信号Ｓ１の立ち上がり部分に対応する部分の上側に接するように表示画面に表示される。また、位置判定エリアＺ２は、許容エリアＦにおける入力信号Ｓ１のハイレベル部分に対応する部分の上側であって位置判定エリアＺ１を除いた部分に接するように表示画面に表示される。また、位置判定エリアＺ３は、許容エリアＦにおける入力信号Ｓ１のハイレベル部分に対応する部分の下側に接するように表示画面に表示される。また、位置判定エリアＺ４は、許容エリアＦにおける入力信号Ｓ１の立ち下がり部分に対応する部分の下側に接するように表示画面に表示される。さらに、位置判定エリアＺ５は、許容エリアＦにおける立ち下がった入力信号Ｓ１のローレベル部分に対応する部分の上側に接するように、言い替えれば許容エリアＦにおける入力信号Ｓ１の立ち下がり部分に対応する部分の右側に接するように表示画面に表示される。一方、信号波形ＷＳ１は、２カ所で不良部位が許容エリアＦから外れており、そのうちの１カ所が位置判定エリアＺ１に属し、他の１カ所が位置判定エリアＺ４に属する状態で表示画面に表示される。
【００２４】
一方、制御部４は、合否判定／エリア特定処理を開始する。この合否判定／エリア特定処理では、制御部４は、許容エリアＦおよび位置判定エリアＺ１〜Ｚ５をＶＲＡＭ６内の仮想平面上に仮想的に描画する際に、許容エリアＦおよび位置判定エリアＺ１〜Ｚ５をＲＡＭ９内の仮想平面上にも仮想的に描画する。また、制御部４は、信号波形ＷＳ１をＶＲＡＭ６内の仮想平面上に描画する際に、ＲＡＭ９内の仮想平面上に信号波形ＷＳ１を描画させたとしたときにその描画すべき位置に許容エリアＦが存在するか否かを判定して入力信号Ｓ１の合否判定を実行する。この場合、制御部４は、ＲＡＭ９内における信号波形ＷＳ１を描画すべきすべての位置に許容エリアＦが存在するとき（信号波形ＷＳ１が許容エリアＦに含まれるとき）に、入力信号Ｓ１を合格と判定し、信号波形ＷＳ１を描画すべき位置の一部でも許容エリアＦが存在しないとき（信号波形ＷＳ１が許容エリアＦを外れるとき）に、入力信号Ｓ１を不合格と判定する。この例では、制御部４は、図２に示すように、信号波形ＷＳ１が許容エリアＦを２カ所で外れるため、入力信号Ｓ１を不合格と判定する。
【００２５】
また、制御部４は、ＲＡＭ９内における信号波形ＷＳ１を描画すべき位置に許容エリアＦが存在しないと判定した際に（不合格と判定した際に）、信号波形ＷＳ１を描画すべき位置に位置判定エリアＺ１〜Ｚ５のうちのいずれのエリアが存在するか、つまり信号波形ＷＳ１が位置判定エリアＺ１〜Ｚ５のうちのいずれのエリアに属するかを特定する。この場合、制御部４は、図２に示すように、信号波形ＷＳ１を描画すべき位置に位置判定エリアＺ１〜Ｚ５のうちの位置判定エリアＺ１，Ｚ４が存在するため、信号波形ＷＳにおける不良部位の各一部がそれぞれ属するエリアを位置判定エリアＺ１，Ｚ４と特定する。
【００２６】
続いて、制御部４は、上記した入力信号Ｓ１の合否判定の結果を表す合否結果表示Ａ１（例えば、図２に示す「不合格」の表示）および不良部位の属するエリアを表す特定結果表示Ａ２（例えば、図２に示す「Ｚ１，Ｚ４」の表示）が信号波形ＷＳ等と重ね合わさるようにＶＲＡＭ６内に仮想的に描画して表示用データＤをＶＲＡＭ６内に生成する。なお、合否判定結果が合格のときには、合否結果表示Ａ１（例えば、「合格」の表示）のみをＶＲＡＭ６内に描画する。また、制御部４は、合否判定情報Ｄａ（この場合、不合格を示す情報）および特定結果情報Ｄｚ（この場合、Ｚ１，Ｚ４を示す情報）と既に記憶させている時刻データＤｔとを対応付けてＲＡＭ９に記憶させる。なお、合否判定結果が合格のときには、合否判定情報Ｄａ（例えば、合格を示す情報）のみを時刻データＤｔに対応付けてＲＡＭ９に記憶させる。続いて、表示部５は、ＶＲＡＭ６から表示用データＤを読み出して、図２に示すように、信号波形ＷＳ１、許容エリアＦおよび位置判定エリアＺ１〜Ｚ５等と共に合否結果表示Ａ１（「不合格」の文字）および特定結果表示Ａ２（「Ｚ１，Ｚ４」の文字）を表示部５の表示画面に表示する。以上により、合否判定／エリア特定処理が終了する。
【００２７】
次いで、電子機器を順次交換して、上記と同様にして、入力信号Ｓ１を波形判定装置１に入力させる。この際には、制御部４が、各電子機器から出力される入力信号Ｓ１についての測定値ＶＳ，ＶＳ・・をＲＡＭ８に記憶させる。また、制御部４は、トリガ信号が出力された際に、タイマ部１０から時刻データＤｔを読み込んで、既に記憶されている時刻データＤｔとは区別可能にＲＡＭ９に記憶させる。また、制御部４は、各電子機器から出力された入力信号Ｓ１に対して、画像表示処理および合否判定／エリア特定処理を実行する。これに応じて、図２に示すように、各電子機器に対応する信号波形ＷＳ２〜ＷＳ４が表示部５の表示画面に順次表示される。なお、実際には多くの電子機器について画像表示処理等を実行して合格と判定される電子機器も多数存在するが、発明の理解を容易にするために、信号波形ＷＳ１後の信号波形については、不合格と判定した電子機器から出力された信号波形ＷＳ２〜ＷＳ４のみを図２に表示して、以下に説明する。
【００２８】
この場合、制御部４は、信号波形ＷＳ２については、不良部位の各一部がそれぞれ属するエリアを位置判定エリアＺ１，Ｚ２と特定して、「Ｚ１，Ｚ２」との特定結果表示Ａ２を表示部５の表示画面に表示させる。また、制御部４は、信号波形ＷＳ３については、不良部位の全部が属するエリアを位置判定エリアＺ３と特定して、「Ｚ３」との特定結果表示Ａ２を表示部５の表示画面に表示させる。また、制御部４は、信号波形ＷＳ４については、不良部位の全部が属するエリアを位置判定エリアＺ５と特定して、「Ｚ５」との特定結果表示Ａ２を表示部５の表示画面に表示させる。また、制御部４は、合否判定情報Ｄａ（この場合、不合格を示す情報）および各信号波形ＷＳ２〜ＷＳ４に対する特定結果情報Ｄｚ（それぞれ「Ｚ１，Ｚ２」、「Ｚ３」および「Ｚ５」を示す情報）と各信号波形ＷＳ２〜ＷＳ４に対応させて既に記憶させている時刻データＤｔとを関連付けてＲＡＭ９に記憶させる。なお、合格と判定された電子機器については、制御部４は、合否判定情報Ｄａ（この場合、合格を示す情報）と既に記憶させている時刻データＤｔとを関連付けてＲＡＭ９に記憶させる。以上の処理により、例えば合否判定の処理を行うべき所定数の電子機器に対する測定および合否判定が終了したものとする。
【００２９】
次に、操作部３の判定履歴表示キーを操作して、表示部５の表示画面に判定履歴表を表示させる。この際に、この操作に従って操作部３から操作信号Ｓ２が出力されて、制御部４が、操作信号Ｓ２に従って判定履歴表示処理を実行する。この判定履歴表示処理では、最初に、制御部４が、ＲＡＭ９に記憶させている合否判定情報Ｄａ，Ｄａ・・、時刻データＤｔ，Ｄｔ・・および特定結果情報Ｄｚ，Ｄｚ・・を読み出して、各々の合否判定情報Ｄａ、時刻データＤｔおよび特定結果情報Ｄｚに基づいて合否結果列Ｈ、トリガ時刻列Ｉ、ＮＧエリア列Ｊの表形式で表した判定履歴表をＶＲＡＭ６の仮想平面上に仮想的に描画することにより、これらを表示させるための表示用データＤをＶＲＡＭ６内に生成する。続いて、表示部５が、ＶＲＡＭ６から表示用データＤを読み出して、表示部５の表示画面に表示させていた信号波形ＷＳ等の表示に代えて、図３に示すように、合格を「ＯＫ」および不合格を「ＮＧ」で示す合否結果列Ｈ、年月日および時刻を示すトリガ時刻列Ｉ、並びに電子機器が不合格のときに特定したエリアを示すＮＧエリア列Ｊをそれぞれ表形式で表した判定履歴表を表示する。以上により、判定履歴表示処理が終了する。なお、判定対象体に対する測定や合否判定／エリア特定処理などを実行中であったとしても、判定履歴表示キーを操作することによっていつでも直ちに判定履歴表が表示部５の表示画面に表示される。また、ＮＧエリア毎にグループ分けして並べ替えて判定履歴表を作成することにより、特定の不具合の発生状況を確実かつ容易に把握することが可能となる。このように並べ替えて判定履歴表を作成することにより、例えば、同じＮＧエリア（一例として位置判定エリアＺ１）が特定の時刻に集中しているときには、その特定の時刻にオーバーシュートが多発していることが測定者によって確実かつ容易に把握される。
【００３０】
この場合、図３に示すように、信号波形ＷＳ１〜ＷＳ４に対する合否判定の際に合否判定／エリア特定処理で特定されたエリアがＮＧエリア列Ｊに表示されている。したがって、この波形判定装置１では、このＮＧエリア列Ｊを表示することにより、判定対象体の生産ラインで発生した波形不良の要因を正確かつ迅速に測定者に把握させることができると共に、例えば波形不良の要因毎に不合格とされた機器の台数を確実かつ容易に集計させることができる。この場合、ＮＧエリア列Ｊに表示された「１，４」から、それぞれの位置判定エリアＺ１，Ｚ４に対応付けられている「過大なレベルのオーバーシュート」および「過大なレベルのアンダーシュート」を要因として不合格と判定されたことが正確かつ迅速に測定者によって把握される。また、ＮＧエリア列Ｊに表示された「１，２」から、両位置判定エリアＺ１，Ｚ２に対応付けられている「過大なレベル」を要因として不合格と判定されたことが正確かつ迅速に測定者によって把握される。また、ＮＧエリア列Ｊに表示された「３」から、この位置判定エリアＺ３に対応付けられている「過小のレベル」を要因として不合格と判定されたことが正確かつ迅速に測定者によって把握される。また、ＮＧエリア列Ｊに表示された「５」から、この位置判定エリアＺ５に対応付けられている「所定幅（所定時間）を超えるパルス幅」を要因として不合格と判定されたことが正確かつ迅速に測定者によって把握される。また、上記した各波形不良の要因によって不合格と判定された電子機器が各１台存在したことも測定者によって正確かつ迅速に把握される。さらに、トリガ時刻列Ｉを表示させたことにより、各波形不良の要因が発生した日時も測定者によって正確かつ迅速に把握される。
【００３１】
このように、この波形判定装置１では、制御部４が、許容エリアＦの外側に設定された位置判定エリアＺ１〜Ｚ５のうちの不良部位の一部または全部が属するエリア（Ｚ１〜Ｚ５のいずれか１つ以上）を特定すると共に、この特定したエリアの特定結果情報ＤｚをＲＡＭ９に記憶させる。したがって、この波形判定装置１によれば、ＲＡＭ９に記憶させた特定結果情報Ｄｚをいつでも直ちに利用できるため、例えば電子機器などの判定対象体の生産ラインで同じ要因で不合格が頻発しているときには、この要因を測定者に正確かつ迅速に把握させることできるため、この要因に対する対策を迅速に講じさせて判定対象体の品質低下に起因する製造歩留まりの低下を回避することできる。この場合、例えば、許容エリアＦに接するように複数の位置判定エリアＺ１〜Ｚ５を設定し、制御部４が不良部位の一部または全部が属するエリア（Ｚ１〜Ｚ５のいずれか１つ以上）を特定することにより、信号波形ＷＳが許容エリアＦのどの位置で外れたかを具体的に特定することができる。
【００３２】
また、この波形判定装置１では、制御部４が、特定したエリア（Ｚ１〜Ｚ５のいずれか１つ以上）の特定結果情報Ｄｚと共に測定値ＶＳ，ＶＳ・・の測定日時（トリガ信号が入力された日時）をＲＡＭ９に記憶させる。したがって、この波形判定装置１によれば、例えば電子機器などの判定対象体の生産ラインにおいて、特定の季節、特定の月および特定の時間帯などの日時に同じ要因の不合格が頻発しているときには、この要因と日時との相関関係を正確かつ迅速に把握させることができるため、この要因に対する対策を迅速に講じさせて判定対象体の品質低下に起因する製造歩留まりの低下を回避することできる。
【００３３】
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、位置判定エリアＺ１〜Ｚ５を任意の形状に設定する構成について説明したが、表示部５の表示画面をｎ行×ｍ列（ｎ，ｍは１以上の整数：ただし一方が１のときには他方は２以上の整数）のマトリクス状に設定された複数の区画のうちの一部または全部を位置判定エリアとして（以下、エリアともいう）として設定する構成を採用することができる。この構成を採用した波形判定装置１Ａを図１に示す。なお、以下、波形判定装置１における構成要素と同一の機能を有する構成要素については同一の符号を付して重複した説明を省略する。
【００３４】
波形判定装置１Ａは、図１に示すように、操作部３の構成とは異なり、位置判定エリア設定キーに代えてエリア配列設定キーが配設された操作部３Ａを備えている。また、制御部４Ａは、波形判定装置１におけるエリアデータＤｚ１〜Ｄｚ５に代えて、エリア配列データＤｚｍをＲＯＭ７に記憶させる。
【００３５】
次に、波形判定装置１Ａの全体的な動作について、図面を参照して説明する。なお、波形判定装置１と同様の動作については重複した説明を省略する。
【００３６】
まず、入力信号Ｓ１の合否判定／エリア特定処理の事前準備として、条件設定処理を実行する。この場合、波形判定装置１における動作と同様にして、波形判定装置１で設定した許容エリアＦと同じ領域の許容エリアＦを設定する。次いで、操作部３Ａのエリア配列設定キーおよび数値入力キーを操作して表示部５の表示画面を縦方向に等間隔のｎ行に分割し、表示部５の表示画面を横方向に等間隔のｍ列に分割するためのエリア配列データＤｚｍを入力する。次いで、制御部４Ａが、入力されたエリア配列データＤｚｍをＲＯＭ７に記憶させる。この場合、エリア配列データＤｚｍは、一例として、入力信号Ｓ１において発生する不良部位の位置を許容エリアＦに対して十分に特定できるように、ｎが５で、ｍが６の値に設定されたものとする。この際に、制御部４Ａが、後述する画像表示処理を実行して、図４に示すように（図４の信号波形ＷＳ１１，ＷＳ１２は表示されていないものとする）、表示部５の表示画面に許容エリアＦおよびｎ行×ｍ列のマトリクス状に区画されたエリアを表示させる。以上により、条件設定処理が終了する。また、各エリアの表記については、行番号と列番号とをエリアの文字の後ろに付して示すものとする。具体的には、例えば、同図に示す２行目とＢ列目とが交差する位置のエリアについてはエリア２Ｂとする。
【００３７】
また、図４に示すように、入力信号Ｓ１の立ち上がり時に許容エリアＦを外れてオーバーシュートが発生したときには、不良部位の一部がエリア２Ｂに属するか、または不良部位の一部がエリア１Ｂ，２Ｂにそれぞれ属することとなる。この場合、軽度のオーバーシュートが発生したときには、不良部位の全部がエリア２Ｂに属し、重度のオーバーシュートが発生したときには、不良部位がエリア１Ｂ，２Ｂに属する。また、入力信号Ｓ１の立ち下がり時に許容エリアＦを外れてアンダーシュートが発生したときには、不良部位がエリア４Ｅまたはエリア４Ｅ，５Ｅに属する。この場合、軽度のアンダーシュートが発生したときには、不良部位の全部がエリア４Ｅに属し、重度のアンダーシュートが発生したときには、不良部位がエリア４Ｅ，５Ｅに属する。また、例えば、入力信号Ｓ１におけるハイレベル部分のレベルが低下するパルス欠けが発生しているときには、不良部位がエリア２Ｃ，３Ｃ，４Ｃ，２Ｄ，３Ｄ，４Ｄのいずれかに属する。この場合、立ち上がりエッジに近い部分でパルス欠けが発生したときには、不良部位がエリア２Ｃ，３Ｃ，４Ｃのいずれかに属し、立ち上がりエッジから遠い部分でパルス欠けが発生したときには、不良部位がエリア２Ｄ，３Ｄ，４Ｄのいずれかに属する。さらに、軽度のパルス欠けのときには、不良部位がエリア２Ｃまたはエリア２Ｄに属し、中度のパルス欠けのときには、不良部位がエリア２Ｃ，３Ｃまたはエリア２Ｄ，３Ｄに属し、重度のパルス欠けのときには、不良部位がエリア２Ｃ，３Ｃ，４Ｃまたはエリア２Ｄ，３Ｄ，４Ｄに属する。このように、波形不良の要因や波形不良の要因の程度によって不良部位の一部または全部の属するエリアが異なることとなる。
【００３８】
次いで、波形判定装置１と同様にして、測定部２が、入力信号Ｓ１を所定の周期でサンプリングして測定値ＶＳを順次出力し、制御部４Ａが、その測定値ＶＳ，ＶＳ・・をＲＡＭ８に転送して順次記憶させる。また、制御部４Ａは、電子機器からトリガ信号が出力された際に、タイマ部１０から時刻データＤｔを読み込んでＲＡＭ９に記憶させる。また、制御部４Ａは、信号波形ＷＳ１１（信号波形ＷＳ１１および後述する信号波形ＷＳ１２〜ＷＳ２０を区別しないときには信号波形ＷＳともいう）、許容エリアＦおよび５行×６列のマトリクス状に区画された３０個のエリアを表示させる画像表示処理を実行する。この画像表示処理では、制御部４Ａは、最初に、ＲＯＭ７に記憶させている許容エリアデータＤｆに基づく許容エリアＦ、およびエリア配列データＤｚｍに基づくエリア境界線Ｌｍ，Ｌｍ・・をＶＲＡＭ６の仮想平面上に仮想的に描画することにより、これらを表示させるための表示用データＤをＶＲＡＭ６内に生成する。また、制御部４Ａは、ＲＡＭ８に記憶させている測定値ＶＳ，ＶＳ・・に基づく信号波形ＷＳ１１を許容エリアＦ等と重ね合わさるようにして仮想平面上に仮想的に描画して表示用データＤをＶＲＡＭ６内に生成する。続いて、表示部５は、図４に示すように、ＶＲＡＭ６から表示用データＤを読み出して、信号波形ＷＳ１１、許容エリアＦ、および各エリアの境界を表すエリア境界線Ｌｍ，Ｌｍ・・等を表示画面に表示する。なお、図４〜７では、電圧スケールＶおよび時間スケールＴの図示は省略する。
【００３９】
次に、制御部４Ａは、合否判定／エリア特定処理を開始する。この合否判定／エリア特定処理では、制御部４Ａは、許容エリアＦおよびマトリクス状のエリアをＶＲＡＭ６内の仮想平面上に仮想的に描画する際に、許容エリアＦ、およびエリア境界線Ｌｍ，Ｌｍ・・で区分けされたマトリクス状の各エリアをＲＡＭ９内の仮想平面上にも仮想的に描画する。また、制御部４Ａは、信号波形ＷＳ１１をＶＲＡＭ６内の仮想平面上に描画する際に、ＲＡＭ９内の仮想平面上に信号波形ＷＳ１１を描画させたとしたときにその描画すべき位置に許容エリアＦが存在するか否かを判定して入力信号Ｓ１の合否判定を実行する。この場合、制御部４Ａは、ＲＡＭ９内における信号波形ＷＳ１１を描画すべきすべての位置に許容エリアＦが存在するとき（信号波形ＷＳ１１が許容エリアＦに含まれるとき）に、入力信号Ｓ１を合格と判定し、信号波形ＷＳ１１を描画すべき位置の一部でも許容エリアＦが存在しないとき（信号波形ＷＳ１１が許容エリアＦを外れるとき）に、入力信号Ｓ１を不合格と判定する。この場合、制御部４Ａは、図４に示すように、２カ所の不良部位が存在するため、入力信号Ｓ１を不合格と判定する。
【００４０】
また、制御部４Ａは、ＲＡＭ９内における信号波形ＷＳ１１を描画すべき位置に許容エリアＦが存在しないと判定した際に（不合格と判定した際に）、信号波形ＷＳ１１を描画すべき位置に存在するエリアを特定する。この場合、制御部４Ａは、図４に示すように、２カ所の不良部位を描画すべき位置にエリア１Ｂ，２Ｂおよびエリア４Ｅ，５Ｅが存在するため、各不良部位が属するエリアをエリア１Ｂ，２Ｂおよびエリア４Ｅ，５Ｅと特定する。
【００４１】
また、制御部４Ａは、合否判定情報Ｄａ（この場合、不合格を示す情報）および特定結果情報Ｄｚ（この場合、エリア１Ｂ，２Ｂ，４Ｅ，５Ｅを示す情報）と既に記憶させている時刻データＤｔとを対応付けてＲＡＭ９に記憶させる。また、波形判定装置１における動作と同様にして、合否結果表示Ａ１（この場合、「不合格」の文字）および特定結果表示Ａ２（この場合、「１Ｂ，２Ｂ，４Ｅ，５Ｅ」の文字）を表示部５の表示画面に表示させる。
【００４２】
次いで、電子機器を順次交換して、上記と同様にして、制御部４Ａが、各電子機器から出力される入力信号Ｓ１についての測定値ＶＳ，ＶＳ・・をＲＡＭ８に記憶させる。また、を制御部４Ａは、トリガ信号が出力された際に、タイマ部１０から時刻データＤｔを読み込んで、既に記憶されている時刻データＤｔとは区別可能にＲＡＭ９に記憶させる。また、制御部４Ａは、各電子機器から出力された入力信号Ｓ１に対して、画像表示処理および合否判定／エリア特定処理を実行する。これに応じて、図４〜６に示すように、各電子機器に対応する信号波形ＷＳ１２〜ＷＳ２０が表示部５の表示画面に表示されたものとする。
【００４３】
この場合、制御部４Ａは、図４に示すように、信号波形ＷＳ１２については、不良部位の各一部がそれぞれ属するエリアをエリア２Ｂ，４Ｅと特定する。同様にして、制御部４Ａは、図５〜７に示すように、信号波形ＷＳ１３〜ＷＳ２０については、不良部位の一部または全部が属するエリアを、エリア２Ｃ、エリア２Ｃ，３Ｃ、エリア２Ｃ，３Ｃ，４Ｃ、エリア２Ｄ，３Ｄ、エリア１Ｂ，２Ｂ，１Ｃ，１Ｄ，１Ｅ，２Ｅ、エリア３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅ、エリア２Ｅ，２Ｆ，３Ｆ，４Ｆおよびエリア２Ｄ，３Ｄ，４Ｄ，４Ｅとそれぞれ特定する。また、制御部４Ａは、合否判定情報Ｄａ（この場合、不合格を示す情報）、および各信号波形ＷＳ１２〜ＷＳ２０に対する特定結果情報Ｄｚ（「２Ｂ，４Ｅ」、「２Ｃ」、「２Ｃ，３Ｃ」、「２Ｃ，３Ｃ，４Ｃ」、「２Ｄ，３Ｄ」、「１Ｂ，２Ｂ，１Ｃ，１Ｄ，１Ｅ，２Ｅ」、「３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅ」、「２Ｅ，２Ｆ，３Ｆ，４Ｆ」および「２Ｄ，３Ｄ，４Ｄ，４Ｅ」を示す情報）と、それぞれ既にＲＡＭ９に記憶させている各信号波形ＷＳ１２〜ＷＳ２０に対応する時刻データＤｔとを関連付けてＲＡＭ９に記憶させる。なお、合格と判定された電子機器については、制御部４Ａは、合否判定情報Ｄａ（この場合、合格を示す情報）と既に記憶させている時刻データＤｔとを関連付けてＲＡＭ９に記憶させる。また、波形判定装置１における動作と同様にして、合否結果表示Ａ１（この場合、「不合格」の文字）、および各信号波形ＷＳに対応する特定結果表示Ａ２（この場合、「２Ｂ，４Ｅ」、「２Ｃ」、「２Ｃ，３Ｃ」、「２Ｃ，３Ｃ，４Ｃ」、「２Ｄ，３Ｄ」、「１Ｂ，２Ｂ，１Ｃ，１Ｄ，１Ｅ，２Ｅ」、「３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅ」、「２Ｅ，２Ｆ，３Ｆ，４Ｆ」および「２Ｄ，３Ｄ，４Ｄ，４Ｅ」の文字）を表示部５の表示画面に表示させる。以上の処理により、例えば合否判定等の処理を行うべき所定数の電子機器の処理が終了したものとする。
【００４４】
次に、操作部３Ａの判定履歴表示キーを操作する。この際に、制御部４Ａが、判定履歴表示処理を実行して、上記した波形判定装置１における動作と同様にして、図８に示すように、判定履歴表を表示部５の表示画面に表示させる。この場合、同図に示すように、信号波形ＷＳ１１〜ＷＳ２０に対する合否判定の際に合否判定／エリア特定処理で特定されたエリアがＮＧエリア列Ｊに表示されている。したがって、この波形判定装置１Ａでは、このＮＧエリア列Ｊを表示することにより、判定対象体の生産ラインで発生した波形不良の要因を正確かつ迅速に測定者に把握させることができると共に、例えば波形不良の要因毎に不合格とされた機器の台数を確実かつ容易に集計させることができる。この場合、ＮＧエリア列Ｊに表示された「１Ｂ，２Ｂ，４Ｅ，５Ｅ」から、エリア１Ｂ，２Ｂに対応付けられている「重度のオーバーシュート」およびエリア４Ｅ，５Ｅに対応付けられている「重度のアンダーシュート」を要因として不合格と判定されたことが正確かつ迅速に測定者によって把握される。また、ＮＧエリア列Ｊに表示された「２Ｂ，４Ｅ」から、エリア２Ｂ，４Ｅにそれぞれ対応付けられている「軽度のオーバーシュート」および「軽度のアンダーシュート」を要因として不合格と判定されたことが正確かつ迅速に測定者によって把握される。また、ＮＧエリア列Ｊに表示された「２Ｃ」、「２Ｃ，３Ｃ」および「２Ｃ，３Ｃ，４Ｃ」から、エリア２Ｃ、エリア２Ｃ，３Ｃおよびエリア２Ｃ，３Ｃ，４Ｃにそれぞれ対応付けられている「立ち上がりエッジに近い部位の軽度のパルス欠け」、「立ち上がりエッジに近い部位の中度のパルス欠け」および「立ち上がりエッジに近い部位の重度のパルス欠け」を要因として不合格と判定されたことが正確かつ迅速に測定者によって把握される。
【００４５】
また、ＮＧエリア列Ｊに表示された「２Ｄ，３Ｄ」から、エリア２Ｄ，３Ｄに対応付けられている「立ち上がりエッジから遠い部位の中度のパルス欠け」を要因として不合格と判定されたことが正確かつ迅速に測定者によって把握される。また、ＮＧエリア列Ｊに表示された「１Ｂ，２Ｂ，１Ｃ，１Ｄ，１Ｅ，２Ｅ」から、エリア１Ｂ，２Ｂ，１Ｃ，１Ｄ，１Ｅ，２Ｅに対応付けられている「過大なレベル」（入力信号Ｓ１のハイレベル部分におけるレベルが全体的に過大）を要因として不合格と判定されたことが正確かつ迅速に測定者によって把握される。また、ＮＧエリア列Ｊに表示された「３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅ」から、エリア３Ｂ，３Ｃ，３Ｄ，３Ｅに対応付けられている「やや過小なレベル」（入力信号Ｓ１のハイレベル部分におけるレベルが全体的にやや過小）を要因として不合格と判定されたことが正確かつ迅速に測定者によって把握される。また、ＮＧエリア列Ｊに表示された「２Ｅ，２Ｆ，３Ｆ，４Ｆ」から、エリア２Ｅ，２Ｆ，３Ｆ，４Ｆに対応付けられている「所定幅（所定時間）を大きく超えるパルス幅」を要因として不合格と判定されたことが正確かつ迅速に測定者によって把握される。また、ＮＧエリア列Ｊに表示された「２Ｄ，３Ｄ，４Ｄ，４Ｅ」から、エリア２Ｄ，３Ｄ，４Ｄ，４Ｅに対応付けられている「所定幅（所定時間）よりもやや短いパルス幅」を要因として不合格と判定されたことが正確かつ迅速に測定者によって把握される。また、上記した各波形不良の要因によって不合格と判定された電子機器が各１台存在したことも測定者によって正確かつ迅速に把握される。さらに、トリガ時刻列Ｉを表示させたことにより、各波形不良の要因が発生した日時も測定者によって正確かつ迅速に把握される。
【００４６】
このように、この波形判定装置１Ａでは、制御部４Ａが、許容エリアＦの外側に設定されたマトリクス状のエリアのうちの不良部位の一部または全部が属するエリアを特定すると共に、この特定したエリアの特定結果情報ＤｚをＲＡＭ９に記憶させる。したがって、この波形判定装置１Ａによれば、ＲＡＭ９に記憶させた特定結果情報Ｄｚをいつでも直ちに利用できるため、例えば電子機器などの判定対象体の生産ラインで同じ要因で不合格が頻発しているときには、この要因を測定者に正確かつ迅速に把握させることできるため、この要因に対する対策を迅速に講じさせて判定対象体の品質低下に起因する製造歩留まりの低下を回避することできる。この場合、例えば、許容エリアＦに接するようにマトリクス状のエリアが設定され、制御部４Ａが不良部位の一部または全部が属するエリアを特定することにより、信号波形ＷＳが許容エリアＦのどの位置で外れたかを具体的に特定することができる。また、マトリクス状のエリアが許容エリアＦからの距離に対応させて複数に細分化して設定されることにより、信号波形ＷＳが許容エリアＦからどの程度外れているかを具体的に把握させることができるため、波形不良の要因のみならず、波形不良の要因の程度までも具体的に把握させることができる。
【００４７】
また、この波形判定装置１Ａによれば、制御部４Ａが、５行×６列のマトリクス状に設定された複数の区画をそれぞれエリアとして不良部位の一部または全部が属するエリアを特定することにより、マトリクスの行および列の数を適宜設定することで不良部位の位置や不良の程度を詳細に特定することができる。また、許容エリアＦの形状に合わせてエリアの形状を設定する必要がなく単に行や列の値を設定することによってエリアを簡単に設定することができるため、エリアを迅速に設定することができる結果、電子機器に対する測定を迅速に開始することができる。
【００４８】
なお、本発明は、上記の波形判定装置１，１Ａの構成に限定されない。例えば、波形判定装置１については、許容エリアＦに接するように位置判定エリアＺ１〜Ｚ５を設定する例について説明したが、許容エリアＦからの距離に応じて複数に細分化したエリアを設定することもできる。この場合、信号波形ＷＳが許容エリアＦからどの程度外れているかを具体的に把握させることができるため、例えばオーバーシュートなどの波形不良の要因のみならず、軽度または重度等の波形不良の要因の程度までも具体的に把握させることができる。また、波形判定装置１Ａについては、５行×６列のマトリクス状のエリアを設定する例について説明したが、行および列の数（ｎおよびｍの数）はそれぞれ１以上（ただし、一方が１のときには、他方は２以上）の任意の数に設定することができる。この場合、マトリクス状に設定された複数の区画はｎおよびｍの数を大きく設定するのに従って細分化されるが、区画を細分化するのに伴って区画全域が許容エリアＦ内に含まれる区画が存在することとなる。このような許容エリアＦ内に含まれる区画は、本発明における位置判定エリアとしては機能しないで、この許容エリアＦ内に含まれる区画を除いた区画が本発明における「複数の区画のうちの一部」に相当して位置判定エリアとして機能する。なお、複数の区画が許容エリアＦ内にのみ含まれるようにｎおよびｍの数を大きく設定し、信号波形ＷＳが許容エリアＦ内のいずれの区画に属するかを特定することにより、信号波形ＷＳが許容エリアＦに属しているか否かの合否判定のみならず、十分に余裕があるのか、あるいはぎりぎりの余裕なのかの余裕度を把握させることもできる。また、表示部５の表示画面にマトリクス状に表示する時間目盛り線や電圧目盛り線をエリア境界線Ｌｍと共用してエリアを設定することもできる。この構成を採用したときには、制御部４Ａによってマトリクス状の位置判定用エリアが自動的に設定される。
【００４９】
また、エリアを特定した情報（例えば、「Ｚ１」や「２Ｃ」等を示す情報）を特定結果情報ＤｚとしてＲＡＭ９に記憶させる構成について説明したが、特定したエリアに関連付けられた情報（例えば、「オーバーシュート」や「軽度のパルス欠け」等を示す情報）をＲＡＭ９に記憶させる構成を採用することができる。また、判定履歴表を表示画面に表示するときに、特定結果情報Ｄｚの表すエリアをＮＧエリア列Ｊにそのまま表示する構成について説明したが、特定結果情報Ｄｚに基づいて特定したエリアに関連付けられた情報を示す文字（例えば、「オーバーシュート」や「軽度のパルス欠け」等の文字）を表示させる構成を採用することもできる。また、特定結果情報Ｄｚおよび時刻データＤｔをＲＡＭ９に記憶させる構成について説明したが、例えば、リムーバブルメディア（メモリカード等）などを装着可能な外部記録装置を備えると共に装着された記録媒体に特定結果情報Ｄｚおよび時刻データＤｔを記録する構成を採用することもできる。また、特定結果情報Ｄｚおよび時刻データＤｔをパソコン等の外部機器に出力する構成を採用することもできる。また、本発明における測定値についても、上記の電圧に限定されず、入力信号についての電流値や位相値等の各種電気的パラメータを測定値とすることができる。また、位置判定エリアＺ１〜Ｚ５を用いて合否判定／エリア特定処理を行う波形判定装置１、およびマトリクス状にエリアを設定して合否判定／エリア特定処理を行う波形判定装置１Ａについて説明したが、操作部３，３Ａの各機能を有する操作部と、制御部４，４Ａの各機能を有する制御部とを備えて波形判定装置を構成することで、両エリアを用いた２種類の合否判定／エリア特定処理を１つの波形判定装置に実行させることもできる。
【００５０】
また、波形判定装置１Ａでは、５行×６列のマトリクス状のエリアとは別に許容エリアＦが設けられているが、上記の図４〜図７の例では、マトリクス状のエリアのうちのエリア４Ａ，４Ｂ，３Ｂ，２Ｂ，２Ｃ，２Ｄ，２Ｅ，３Ｅ，４Ｅ，４Ｆを許容エリアＦとして用いることもできる。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】波形判定装置１（１Ａ）の構成を示すブロック図である。
【図２】信号波形ＷＳ１〜ＷＳ４、許容エリアＦおよび位置判定位置判定エリアＺ１〜Ｚ５が表示された状態の表示部５の表示画面図である。
【図３】判定履歴表が表示された状態の表示部５の表示画面図である。
【図４】信号波形ＷＳ１１，ＷＳ１２、許容エリアＦおよびエリア境界線Ｌｍ（マトリクス状のエリア）が表示された状態の表示部５の表示画面図である。
【図５】信号波形ＷＳ１３〜ＷＳ１６、許容エリアＦおよびエリア境界線Ｌｍ（マトリクス状のエリア）が表示された状態の表示部５の表示画面図である。
【図６】信号波形ＷＳ１７，ＷＳ１８、許容エリアＦおよびエリア境界線Ｌｍ（マトリクス状のエリア）が表示された状態の表示部５の表示画面図である。
【図７】信号波形ＷＳ１９，ＷＳ２０、許容エリアＦおよびエリア境界線Ｌｍ（マトリクス状のエリア）が表示された状態の表示部５の表示画面図である。
【図８】判定履歴表が表示された状態の表示部５の表示画面図である。
【符号の説明】
【００５２】
１，１Ａ  波形判定装置
２  測定部
３，３Ａ  操作部
４，４Ａ  制御部
５  表示部
６  ＶＲＡＭ
７  ＲＯＭ
８，９  ＲＡＭ
Ｄｔ  時刻データ
Ｆ  許容エリア
Ｌｍ  エリア境界線
ＷＳ１〜ＷＳ４，ＷＳ１１〜ＷＳ２０  信号波形
Ｚ１〜Ｚ５  位置判定エリア
【図１】
2006184165.tif 000003
【図２】
2006184165.tif 000004
【図３】
2006184165.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2006184165.tif 000010