(57)【要約】  【課題】溶接前の継手隙間のばらつきを考慮した良好な溶接を可能としたレーザ溶接装置を提供する。  【解決手段】  溶接直後のビードｂの形状をビード形状測定装置１１で測定し、その測定データをもとに制御装置１にてビードＢのアンダフィルをリアルタイムで算出する。アンダフィルの設定目標値と実測アンダフィルとを比較し、実測アンダフィルが設定目標値よりも大きい場合には、ワイヤ供給速度を段階的に高くするとともに、溶接速度を段階的に低下させる。逆に実測アンダフィルが設定目標値よりも小さい場合には、ワイヤ供給速度を段階的に小さくするとともに、溶接速度を段階的に増加させる。  【選択図】  図１
2006136904.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
溶接部位に対しレーザ光を照射するレーザ光学系と、
上記溶接部位に対しフィラーワイヤを供給するワイヤ供給手段と、
溶接動作と並行して溶接直後のビードの形状を測定するビード形状測定手段と、
上記ビード形状測定手段の測定データから得られた実測アンダフィルが所定の範囲内のものとなるように溶接動作中にフィラーワイヤの供給量および溶接速度を可変制御する制御手段と、
を備えていることを特徴とするレーザ溶接装置。
【請求項２】
上記ビード形状測定手段が非接触式のものであることを特徴とする請求項１に記載のレーザ溶接装置。
【請求項３】
溶接形態が重ね溶接またはすみ肉溶接であって、溶接部位において母材同士のなす隙間を矯正する隙間矯正手段を備えていることを特徴とする請求項１または２に記載のレーザ溶接装置。
【請求項４】
ビード形状測定手段とは別にビードの裏側での当該ビードの貫通度合いを測定する貫通度測定手段とを備えていて、
上記制御手段は、実測アンダフィルに応じてフィラーワイヤの供給量を、ビードの貫通度合いに応じて溶接速度をそれぞれ可変制御するものであることを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載のレーザ溶接装置。
【請求項５】
溶接部位に対しレーザ光を照射するとともに同部位に対しフィラーワイヤを供給しながら溶接を行う方法であって、
溶接動作と並行して溶接直後のビードの形状を測定し、
そのビード形状の測定データから得られた実測アンダフィルが所定の範囲内のものとなるようにフィラーワイヤの供給量および溶接速度を可変制御することを特徴とするレーザ溶接方法。
【請求項６】
ビード形状の測定とは別にビードの裏側での当該ビードの貫通度合いを測定し、
上記ビード形状測定に基づく実測アンダフィルに応じてフィラーワイヤの供給量を、上記ビードの貫通度合いに応じて溶接速度をそれぞれ可変制御することを特徴とする請求項５に記載のレーザ溶接方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、溶加材としてフィラーワイヤを併用するレーザ溶接装置およびレーザ溶接方法に関し、特に溶接動作と並行して溶接直後のビードの形状を測定し、その測定結果に応じてフィラーワイヤの供給量等の溶接条件を可変制御するようにしたレーザ溶接装置およびレーザ溶接方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
周知のように、レーザ溶接は局部加熱による溶接法であるが故に母材に対する入熱および溶接歪みが少なく、突き合わせ溶接や重ね溶接等に多用されている。その一方、レーザ溶接は母材におけるエネルギー入熱部のみを溶融して接合を行うために、溶融池での溶融金属の量が少なく、溶接継手としての母材間の隙間許容度（隙間余裕度もしくは隙間裕度）が小さいという欠点がある。例えば、板厚が１ｍｍ程度の薄鋼板の重ね溶接に際してフィラーワイヤを併用しない場合、その隙間許容度は０．３ｍｍ程度と言われている。そこで、一般的には特許文献１に記載のように溶加材としてフィラーワイヤを併用することで隙間許容度の拡大化が行われており、上記の例では、０．３ｍｍ程度であった隙間許容度が１．０ｍｍ程度まで拡大可能と言われている。
【特許文献１】特開２００３−７１５８３号公報（図５）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上記のようにフィラーワイヤの併用により隙間許容度の拡大化を図ろうとする場合、最大でもフィラーワイヤを併用しない場合の半分以下の溶接速度となり、生産性の低下が余儀なくされるほか、薄鋼板の溶接に多用される重ね溶接もしくはすみ肉溶接の場合には、継手隙間の度合いに応じた適正な溶接条件、特にワイヤ供給量や溶接速度等を設定しないと隙間許容度の拡大化の効果が十分に得られないだけでなく、場合によってはビードの外観が極端に悪化するおそれがある。
【０００４】
また、特許文献１に記載の技術では、フィラーワイヤの供給量や溶接速度等を積極的に可変調整することを前提としてはいても、その調整は溶接前の開先の状態に応じてワイヤ供給量等を調整するだけであるから、薄鋼板の溶接に多用される重ね溶接もしくはすみ肉溶接には適用することができず、溶接品質の向上と安定化の上でなおも課題を残している。
【０００５】
本発明はこのような課題に着目してなされたものであり、溶接後のビードの形状を測定して実測アンダフィルを求め、それに応じてフィラーワイヤの供給量等を可変制御することで溶接の高速化および溶接品質の向上と安定化を図ったレーザ溶接装置とレーザ溶接方法を提供するものである。特に本発明は、重ね溶接やすみ肉溶接においてとかく定量的に把握しにくい母材同士の隙間（継手隙間）の大きさにばらつきがある場合であっても、その隙間の大きさのばらつきを予め考慮した良好な溶接を行えるようにしたレーザ溶接装置とレーザ溶接方法を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
請求項１に記載の発明は、溶接部位に対しレーザ光を照射するレーザ光学系と、上記溶接部位に対しフィラーワイヤを供給するワイヤ供給手段と、溶接動作と並行して溶接直後のビードの形状を測定する例えば非接触式のビード形状測定手段と、上記ビード形状測定手段の測定データから得られた実測アンダフィルが所定の範囲内のものとなるように溶接動作中にフィラーワイヤの供給量および溶接速度を可変制御する制御手段とを備えていることを特徴とする。
【０００７】
すなわち、この請求項１に記載の発明では、とかく定量的に把握しにくい継手隙間とアンダフィルとの相関関係に着目し、特定の条件下では継手隙間がばらついても溶接後のビードでのアンダフィルは一定しているとの前提に下に成り立っている。
【０００８】
上記フィラーワイヤの供給量の可変制御には、フィラーワイヤの供給を停止する場合をも含むものとする。これは、例えば重ね継手を形成することになる母材間の隙間がきわめて小さい場合には、フィラーワイヤの供給をしなくても良好なビードのもとで適正な溶接が行われることもあるからである。
【０００９】
ここで、溶接形態が重ね溶接またはすみ肉溶接である場合には、請求項３に記載のように、溶接部位において母材同士のなす隙間を矯正する隙間矯正手段を備えていることが隙間の極小化の上で好ましい。
【００１０】
また、請求項４に記載のように、ビード形状測定手段とは別にビードの裏側での当該ビードの貫通度合いを測定する貫通度測定手段とを備えていて、上記制御手段は、実測アンダフィル量に応じてフィラーワイヤの供給量を、ビードの貫通度合いに応じて溶接速度をそれぞれ可変制御するものであることが望ましい。
【００１１】
さらに、請求項５に記載の発明は、実質的に請求項１に記載の発明を溶接方法として捉えたものであって、溶接部位に対しレーザ光を照射するとともに同部位に対しフィラーワイヤを供給しながら溶接を行うにあたり、溶接動作と並行して溶接直後のビードの形状を測定し、そのビード形状の測定データから得られた実測アンダフィルが所定の範囲内のものとなるようにフィラーワイヤの供給量および溶接速度を可変制御することを特徴とする。
【００１２】
したがって、少なくとも請求項１，５に記載の発明では、溶接直後のビードの形状の測定結果として得られた実測アンダフィルが所定範囲内のものとなるように、フィラーワイヤの供給量と溶接速度を積極的に可変制御することにより、例えば継手隙間である母材同士の隙間にばらつきがあったとしても全体としての溶接条件が適正化されて、溶接線全体を通して溶接品質が良好なものとなる。
【発明の効果】
【００１３】
請求項１，５に記載の発明によれば、溶接直後のビード形状の測定結果として得られた実測アンダフィルが所定範囲内のものとなるように、フィラーワイヤの供給量および溶接速度を積極的に可変制御することにより、母材同士の隙間にばらつきがあったとしても全体としての溶接条件が適正化されることから、フィラーワイヤを併用しながらも高速溶接が可能になることによって生産性が向上するとともに、溶接品質の向上と安定化が図れる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
図１は本発明のより具体的な実施の形態として重ね溶接の場合を示している。
【００１５】
図１に示すように、制御手段たる制御装置１からの指示（レーザ出力指令および焦点深度指令等）によりＹＡＧレーザ発振器２から出力されたレーザ光３が光ファイバケーブル４を通してレーザ光学系５に導かれ、そのレーザ光３はレーザ光学系の一部を形成することになる集光レンズ６にて集光された上で母材（被溶接部材）Ｗ１，Ｗ２同士の重合部の溶接点（溶接部位）Ｐに照射される。
【００１６】
そして、上記のレーザ光学系５を母体として一体型のレーザヘッド７が構成されており、このレーザヘッド７には、ワイヤ供給手段として溶加材であるフィラーワイヤ８をワイヤガイド９を介して供給するワイヤ供給装置１０のほか、ビード形状測定手段たるビード形状測定装置１１がそれぞれ付帯していて、制御装置１からの指示によりレーザヘッド７が母材Ｗ１，Ｗ２に対して溶接方向に所定速度で移動することで溶接を施すことになる。なお、必要に応じてアシストガスを併用することもある。
【００１７】
ワイヤ供給装置１０は制御装置１からのワイヤ供給速度指令により制御されるもので、周知のように図示外のモータ駆動のローラにて所定速度でフィラーワイヤ８をワイヤガイド９を通して送り出しながら、レーザ光照射部位（溶接部位）Ｐにできている溶融池１２内にそのフィラーワイヤ８を順次供給する。
【００１８】
ビード形状測定装置１１は、溶接直後のビードＢの位置すなわちレーザ光３の照射によってできる溶融池１２の後方位置を指向して、その溶接直後のビードＢの形状を非接触にて光量変化もしくは画像情報として捉えて測定するためのもので、例えばレーザセンサ等が用いられる。ビード形状測定装置１１はビードＢ表面からの反射光を受光してビードＢ表面のプロファイルデータを取得する。そして、ビード形状測定装置１１の測定データは制御装置１に取り込まれ、内部処理により図２の（Ｂ）に示すようにビードＢの幅寸法ａのほかビードＢの表面にできる窪みの深さであるところのアンダフィルｂがリアルタイムで算出され、後述するようにこの実測アンダフィルｂの大きさに応じてフィラーワイヤ８の供給量であるところのワイヤ供給量と溶接速度が可変制御される。なお、図２の（Ｂ）に示すように例えば差厚鋼板である母材Ｗ３，Ｗ４同士の突き合わせ溶接の場合でも同様にアンダフィルｂが算出可能である。
【００１９】
ここで、図３〜６に示すように、溶接速度とその溶接の結果として形成されるビードＢの幅ａを４段階に変化させた時のフィラーワイヤ８の供給量であるワイヤ供給量と溶接可能な継手隙間Ｇの大きさとの関係を調べてみた。なお、レーザ出力および集光レンズ６の焦点距離は一定とした。また、ここではワイヤ供給量をワイヤ供給速度で管理している。
【００２０】
図２に示したように、アンダフィルｂはビードＢの表面にできる窪みの深さであり、しかもアンダフィルｂと溶接継手の強度との間には図７に示すような相関があることから、安定した溶接品質を確保する上ではアンダフィルｂを所定範囲内のものとなるように管理する必要がある。図３〜６から明らかなように、溶接状態が良好（図３〜６では「ＯＫ」と表示）であるためには、溶接速度やビード幅ａの大きさにかかわらずアンダフィルｂが０．１〜０．２ｍｍである必要がある。逆に、図８の（Ａ）に示すようにビードＢの表面が窪みとならずに盛り上がり（余盛）となった場合には、継手隙間が過大のためにビードＢが未形成で未溶着状態である蓋然性が高いことになる。なお、この傾向は同図（Ａ）の重ね溶接の場合だけでなく、同図（Ｂ），（Ｃ）の突き合わせ溶接およびすみ肉溶接の場合にも言い得ることである。
【００２１】
さらに、図２から明らかなようにビードＢが母材Ｗ２（同図（Ｂ）の突き合わせ溶接の場合には母材Ｗ３，Ｗ４）の裏面まで貫通していることもまた溶接継手としての強度の上で重要であり、図２，９に示すように貫通幅ｃがビードｂの全幅（図２の（Ａ）の幅寸法ａ）をもって貫通している状態を１００％とした場合、ビードＢの裏面貫通率が１０〜１００％（例えば０〜０．５ｍｍ程度）の範囲内であれば溶接継手としての強度が十分であることが判明している。逆に、ビードＢの裏面貫通率が１００％を越えてもビード幅ｂが貫通幅ｃとともに増加するだけでフィラーワイヤ８を余分に消費するだけであり、コスト的に不利になる。
【００２２】
そこで、図３〜６のうち「☆印（星印）」をもって表示した条件が「アンダフィルｂが０．１〜０．２ｍｍの範囲」で且つ「ビードＢの裏面貫通率が１０〜１００％の範囲内」を満たす最適条件ということになり、これを整理すると表１のようになる。ここで、表１は図３〜６のうち星印で表示された条件のみを抜粋して整理したものであって、継手隙間Ｇの大きさに応じてフィラーワイヤ８の供給量が最小となり且つ溶接速度が最大となるときの条件と、その条件下でのビードＢの形状を示している。つまり、表１からは、継手隙間ＧとビードＢの幅ａとは比例関係にあるものの、それらの継手隙間ＧおよびビードＢの幅ａの大小にかかわらずアンダフィルｂは一定していることが理解できる。
【００２３】
【表１】
2006136904.tif 000003
【００２４】
本実施の形態では「アンダフィルｂが０．１〜０．２ｍｍの範囲」の条件を満たすように当該範囲を設定目標値として、ワイヤ供給量であるところのフィラーワイヤ８の供給速度と溶接速度をそれぞれ可変制御するものとする。言い換えるならば、図３〜６から明らかなように、同じ溶接速度でも継手隙間Ｇが異なると「アンダフィルｂが０．１〜０．２ｍｍの範囲」となる領域が複数存在し、しかも図３〜６の星印以外の領域ではさらに溶接速度を高めることが可能なため、フィラーワイヤ８の供給量に応じた溶接速度を表１のように予め設定しておくものとする。
【００２５】
より詳しくは、図１の状態において、レーザ光３の照射部位付近には溶融池１２が形成され、レーザ光３の移動に伴い溶融池１２の後方側では溶融金属が再凝固してビードＢを形成することから、そのビードＢの形状をビード形状測定装置１１にて測定するとともに、その測定データに基づき制御装置１にてビードＢの該当部位の幅寸法ａ（図２参照）のほか実測アンダフィルｂをリアルタイムで算出する。さらに、制御装置１では予め設定されているアンダフィルｂの設定目標値と実測アンダフィルｂとを比較し、実測アンダフィルｂが設定目標値よりも大きい場合には、表１のようにフィラーワイヤ８の供給量であるワイヤ供給速度を段階的に高くする（ワイヤ供給量を増加させる）とともに、それに合わせて溶接速度を段階的に低下させる。
【００２６】
逆に、実測アンダフィルｂが設定目標値よりも小さい場合には、表１のようにワイヤ供給速度を段階的に小さくする（ワイヤ供給量を増加させる）とともに、それに合わせて溶接速度を段階的に増加させる。
【００２７】
また、表１のように、ワイヤ供給速度（ワイヤ供給量）が「０」の場合にアンダフィルｂも「０」になった場合、およびフィラーワイヤ８を供給している場合にアンダフィルｂに代えて逆に図８の（Ａ）のような盛り上がりが例えば許容限界である０．２ｍｍを越えたような場合には、同図で示したような未溶着が発生したものと判断して異常信号の発生、アラーム停止等の処理を行う。なお、上記のような盛り上がりの許容限界値は予め設定しておくものとする。
【００２８】
同様に、上記のような処理と並行して、表１の溶接速度ごとに予め設定されているビードＢの幅寸法の設定目標値と実測ビード幅ａとを比較して、実測ビード幅ａが設定目標値の範囲から外れた場合には、レーザ出力の低下、焦点の異常等が発生している可能性があるため、上記と同様に異常信号の発生、アラーム停止等の処理を行う。
【００２９】
このように継手隙間Ｇの変化に起因して溶接後のビードＢの形状が変化したとしても、常に継手隙間Ｇの大きさに応じたほぼ理想的な溶接条件で溶接が可能となり、フィラーワイヤ８の供給量の適正化と、許容される溶接速度の最大速度での溶接が可能となる。
【００３０】
なお、亜鉛めっき鋼板の重ね溶接では、常に継手隙間Ｇを確保していないとポロシテー（溶着金属中の小さなブローホールの群）が発生して溶接不良となる。そこで、このような場合には、例えば表１の最上段のようにフィラーワイヤ８を供給することなしに溶接が可能な条件下であっても極少量（極低速）にてフィラーワイヤ８を供給しながら溶接を行うものとする。
【００３１】
さらに、ビード形状測定装置１１として非接触式のものを採用したことにより、溶接部位の近くにビード形状測定装置１１を設置する必要がなく、スパッタやビードＢ生成直後の熱的影響による機能劣化を未然に防止できるほか、溶接部位の近くでの設計自由度を大きく確保することが可能となる。
【００３２】
図１０は本発明の第２の実施の形態を示し、図１と共通する部分には同一符号を付してある。
【００３３】
この第２の実施の形態では、ビード形状測定装置１１とは別にビードＢ裏面の貫通率（貫通度）を非接触で測定するする貫通度測定装置（貫通度測定手段）１３を併用するようにしたものである。
【００３４】
ここでの貫通度測定装置１３としてはビード形状測定装置１１と同様の非接触式のものが用いられ、ビード形状測定装置１１による測定部位の反対側において母材Ｗ１，Ｗ２の裏面まで貫通したビードＢの貫通幅ｃ（図２参照）を光学的もしくは画像情報として測定する。そして、貫通度測定装置１３にて得られた測定データもまた制御装置１に取り込まれて、ビードＢの幅寸法ａを１００％とした場合の百分率でビードＢの裏面貫通率をリアルタイムで算出した上で、予め設定されている設定目標値と照合することになる。
【００３５】
なお、貫通度測定装置１３は図１１に示すようにブラケット１４を介してレーザヘッド７に一体的に取り付けてある。ただし、貫通度測定装置１３がレーザヘッド７と一体であることは必ずしも必要ではなく、要はビード形状測定装置１１による測定部位と反対側の位置にてビードＢの貫通幅ｃを測定できればよく、例えば図１２のように母材Ｗ１，Ｗ２の裏面側に貫通度測定装置１３を独立配置して、その貫通度測定装置１３をレーザヘッド７と同期して移動させるようにしてもよい。
【００３６】
本実施の形態では、表１のようなワイヤ供給量と溶接速度との関係を予め設定しておくことなしに、アンダフィルｂの設定目標値と裏面貫通率の設定目標値のみを予め設定しておき、実測アンダフィルｂの度合いに応じてフィラーワイヤ８のワイヤ供給量（ワイヤ供給速度）を、実測裏面貫通率の度合いに応じて溶接速度をそれぞれ可変制御するものとする。より具体的には、実測アンダフィルｂが設定目標値よりも大きい場合には、ワイヤ供給速度を高くする（ワイヤ供給量を増加させる）一方、実測アンダフィルｂが設定目標値よりも小さい場合には、ワイヤ供給速度を小さくする（ワイヤ供給量を増加させる）。また、実測裏面貫通率が設定目標値よりも大きい場合には、溶接速度を増加させる一方、実測裏面貫通率が設定目標値よりも小さい場合には、溶接速度を低下させる。
【００３７】
この場合において、表１のようなワイヤ供給量と溶接速度との関係を予め設定しておき、ワイヤ供給量および溶接速度を先の第１の実施の形態と同様に段階的に可変制御するようにすることももちろん可能である。
【００３８】
図１３，１４は本発明の第３，第４の実施の形態を示し、図１と共通する部分には同一符号を付してあるとともに、要部以外の構成は図示省略してある。
【００３９】
図１３，１４に示す第３，第４の実施の形態では、溶接継手を形成することになる母材Ｗ１，Ｗ２同士の間にできる隙間Ｇを極小化するべく、溶接部位の近傍を強制的に加圧拘束する隙間矯正手段としての加圧ピン１５または加圧ローラ１６をブラケット１７を介してレーザヘッド７に付帯させたものである。
【００４０】
この実施の形態によれば、継手隙間Ｇが小さくなることで溶接速度の向上とともにワイヤ供給量の低減化を実現でき、生産性が一段と向上するほか、矯正前の継手隙間Ｇが隙間許容度を超えている場合でも矯正により溶接可能となる。その上、母材とレーザ光学系の距離を一定に保てることで溶接品質が安定化する。特に、焦点距離のずれによるビードＢの形状の変化を未然に防止できることで、そのビードＢの形状の変化による継手隙間Ｇの変化を高精度で検知可能となる利点がある。
【００４１】
ここで、上記の各実施の形態において溶接品質をより厳格に管理する必要がある場合には、例えば特開２００３−３２０４６７号公報に開示されているようなモニタリングシステムを併用することが望ましい。
【００４２】
すなわち、レーザ溶接のために溶接部位に照射されたＹＡＧレーザ光３の反射光および同溶接部位で発生するプラズマ光を光センサにて検出し、これを電気信号に変換した上でその電気信号の経時変化として記憶し、当該信号のＦＦＴ波形を算出する。そして、算出されたＦＦＴ波形周波数帯（α）における信号強度の総和ｆ（α）と周波数帯（β）における信号強度の総和ｆ（β）とを算出し、それぞれの信号強度の総和ｆ（α）とｆ（β）を、二次元座標系を構成するＸ軸とＹ軸にそれぞれプロットして、直線Ｘ＝ｆ（α）とＹ＝ｆ（β）の交点を求める。さらに、ＹＡＧレーザ光によって溶接されたワークの溶接部の品質の検査結果に基づいて、求められた交点の品質の種類を特定し、上記一連の段階を繰り返すことによって品質の種別（良品、ポロシテー、アンダフィル、未溶着）の領域を二次元座標系内に作成するようにするのが望ましい。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】本発明に係るレーザ溶接装置のより具体的な第１の実施の形態を示す構成説明図。
【図２】（Ａ）は重ね溶接継手の断面説明図、（Ｂ）は突き合わせ溶接継手の断面説明図。
【図３】溶接速度とビード幅を一定としたときのワイヤ供給速度と溶接可能な継手隙間との関係を示す特性図。
【図４】溶接速度とビード幅を一定としたときのワイヤ供給速度と溶接可能な継手隙間との関係を示す特性図。
【図５】溶接速度とビード幅を一定としたときのワイヤ供給速度と溶接可能な継手隙間との関係を示す特性図。
【図６】溶接速度とビード幅を一定としたときのワイヤ供給速度と溶接可能な継手隙間との関係を示す特性図。
【図７】アンダフィルと溶接継手としての強度との関係を示す特性図。
【図８】（Ａ）は重ね溶接継手の断面説明図、（Ｂ）は突き合わせ溶接継手の断面説明図。（Ｃ）はすみ肉溶接継手の断面説明図。
【図９】ビードの裏面貫通度と溶接継手としての強度との関係を示す特性図。
【図１０】本発明の第２の実施の形態を示す構成説明図。
【図１１】図１０の要部の詳細説明図。
【図１２】図１１の変形例を示す説明図。
【図１３】本発明の第３の実施の形態を示す要部構成説明図。
【図１４】本発明の第４の実施の形態を示す要部構成説明図。
【符号の説明】
【００４４】
１…制御装置（制御手段）
２…ＹＡＧレーザ発振器
３…レーザ光
５…レーザ光学系
６…集光レンズ（レーザ光学系）
７…レーザヘッド
８…フィラーワイヤ
１０…ワイヤ供給装置（ワイヤ供給手段）
１１…ビード形状測定装置
１３…貫通度測定装置（貫通度測定手段）
１５…加圧ピン（隙間矯正手段）
１６…加圧ローラ（隙間矯正手段）
ａ…ビード幅
Ｂ…ビード
ｂ…アンダフィル
ｃ…裏面貫通幅
Ｇ…継手隙間
Ｐ…溶接部位
Ｗ１，Ｗ２…母材
【図１】
2006136904.tif 000004
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
2006136904.tif 000013
【図１１】
2006136904.tif 000014
【図１２】
2006136904.tif 000015
【図１３】
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【図１４】
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