(57)【要約】  【課題】  冷熱衝撃試験において試料がさらされる試験環境の切り替えに伴う試料温度や試料に付与される熱ストレスのバラツキを最小限に抑制可能な冷熱衝撃試験装置の提供を目的とする。  【解決手段】  冷熱衝撃試験装置１は、高温試験室２と低温試験室３とを有し、両者の間を試料Ｗを載せたラック４が移動することにより、冷熱衝撃試験の試験環境を切り替え可能な構成とされている。冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替え時に送風機１１，１６を停止し、高温試験室２内および低温試験室３内における空気の循環流を停止させる。【選択図】  図１
2006329949.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
雰囲気温度を調整可能な複数の試験室を有し、試験室内に存在する気体を循環させることにより、当該気体の循環流に試料をさらすことが可能であり、複数の試験室間において試料を移動させることにより試料がさらされる試験環境を切り替え可能であり、
試験環境の切り替え中は、試料配置手段に配された試料が気体の循環流にさらされるのを防止可能であることを特徴とする冷熱衝撃試験装置。
【請求項２】
試験環境の切り替え中は、試験室内における気体の循環が実質的に停止されることを特徴とする請求項１に記載の冷熱衝撃試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、冷熱衝撃試験装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、電子部品や電子機器は、小型化・高機能化によってその構成が複雑になっている。また、携帯電話や車載機器のように小型化された機器は、様々な環境で使用されるようになっている。機器の使用環境や動作・停止の繰り返しによる熱ストレスは、機器の信頼性に大きな影響を及ぼす可能性がある。そのため、熱ストレスによる影響が懸念される機器類やこれに使用される部品の製造や開発では、熱ストレスに対する信頼性評価試験が実施されることが多い。
【０００３】
そこで、かかる信頼性評価試験を実施すべく、従来より下記特許文献１に開示されているような冷熱衝撃試験装置が提供されている。特許文献１に開示されている冷熱衝撃試験装置は、雰囲気温度が高温に設定された高温試験室と雰囲気温度が低温に設定された低温試験室と、試料を載置するためのラック等の試料配置手段を有し、試験室内に所定温度に調整された空気の循環流を発生させ、この循環流に試料をさらす構成とされている。上記した冷熱衝撃試験装置は、高温試験室あるいは低温試験室のいずれか一方に試料を配した試料配置手段を収容してその雰囲気温度下に所定のさらし時間だけ試料をさらした後、試料配置手段を他方の試験室に移動させ、この試験室内において発生している循環流に試料をさらす冷熱サイクルを繰り返し実施可能な構成とされている。
【０００４】
【特許文献１】特開２００２−３２３４２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記した特許文献１に開示されている冷熱衝撃試験装置では、試験環境を切り替えるべく高温試験室および低温試験室のうち一方側の試験室から他方側の試験室へ試料配置手段を移動させると、試料配置手段に配された試料が徐々に他方側の試験環境内を循環する循環流にさらされることとなる。そのため、従来技術の冷熱衝撃試験装置では、試料配置手段に配された試料の数が多い場合や試料の大きさが大きい場合に、試験環境の切り替え時に試料の一部が高温試験室および低温試験室のうち一方側の試験室内を循環する循環流にさらされ、試料の残部が他方側の試験室内を循環する循環流にさらされることとなる。そのため、従来技術の冷熱衝撃試験装置では、試験環境の切り替え時に試料配置手段に配されている試料に温度分布が発生し、試料に付与される熱ストレスのバラツキが発生する可能性がある。
【０００６】
また、冷熱衝撃試験装置は、一般的に３００〜２０００サイクルといったような多数のサイクル数を重ねて実施されることが多い。そのため、冷熱衝撃試験装置は、例え一回の試験環境の切り替えに伴って発生する熱ストレスのバラツキが小さいとしても、多数のサイクル数を重ねることにより熱ストレスのバラツキが増大される。そのため、従来技術の冷熱衝撃試験装置では、試料が配されている位置によって冷熱衝撃試験の開始から完了までに付与される熱ストレスの総量のバラツキが大きくなってしまうという問題がある。
【０００７】
かかる知見に基づき、本発明は冷熱衝撃試験において試料がさらされる試験環境の切り替えに伴う試料温度や試料に付与される熱ストレスのバラツキを最小限に抑制可能な冷熱衝撃試験装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記した課題を解決すべく提供される請求項１に記載の発明は、雰囲気温度を調整可能な複数の試験室を有し、試験室内に存在する気体を循環させることにより、当該気体の循環流に試料をさらすことが可能であり、複数の試験室間において試料を移動させることにより試料がさらされる試験環境を切り替え可能であり、試験環境の切り替え中は、試料配置手段に配された試料が気体の循環流にさらされるのを防止可能であることを特徴とする冷熱衝撃試験装置である。
【０００９】
本発明の冷熱衝撃試験装置では、試験環境の切り替えのために試料を移動させる際に気体の循環流が停止する。そのため、本発明の冷熱衝撃試験装置では、複数設けられた試験室の一つから他の試験室に試料を移動させても、試料の一部だけが他の試験室内の循環流にさらされるといった事態が発生しない。よって、本発明の冷熱衝撃試験装置によれば、試料が配されている位置や、試料の部位、配置位置、数量等に依存した温度分布や、熱ストレスの分布が発生せず、試料全体を略均等に加熱冷却し、熱ストレスを付与することができる。従って、本発明によれば、試料の大きさ等によらず試料全体に均一な熱ストレスを付与して冷熱衝撃試験を実施可能な冷熱衝撃試験装置を提供できる。
【００１０】
請求項２に記載の発明は、試験環境の切り替え中は、試験室内における気体の循環が実質的に停止されることを特徴とする請求項１に記載の冷熱衝撃試験装置である。
【００１１】
かかる構成によれば、試験環境の切り替え時に試料が気体の循環流にさらされるのを確実に防止することができる。従って、本発明によれば、試験環境の切り替えに伴う試料温度のバラツキや、試料に付与される熱ストレスのバラツキを最小限に抑制することができる。
【００１２】
上記請求項１又は２に記載の冷熱衝撃試験装置は、試験環境の切り替えに伴って試料が移動する方向に対して交差する方向に気体を吹き出すことにより循環流を形成可能なものであってもよい。
【００１３】
また、上記した本発明の冷熱衝撃試験装置は、試料配置手段に配された試料の温度を検知する試料温度検知手段を有し、試験環境の切り替えが完了した後、当該試料温度検知手段によって検知される検知温度が所定の設定温度領域に到達した時点を基準として所定のさらし時間が経過するまでの期間にわたって試料が試験室内に形成される気体の循環流にさらされるものであってもよい。
【００１４】
冷熱衝撃試験装置を上記したような構成とした場合、試験環境の切り替えを行っても、試料に温度分布が発生しにくい。そのため、冷熱衝撃試験装置を上記したような構成とした場合は、試験環境の切り替え後、試料温度検知手段によって検知される温度が所定の設定温度領域に到達した時点で試料全体の温度が当該設定温度領域に到達しているものと想定される。すなわち、上記したような構成を採用した場合は、試験環境の切り替え後、試料温度検知手段によって検知される温度が所定の設定温度領域に達しているにもかかわらず、試料温度検知手段が設置された部位を外れた位置の温度が設定温度領域に達していないといったような事態が発生しにくくい。換言すれば、試料温度検知手段によって検知される温度が所定の設定温度領域に達していれば、試料温度検知手段の取り付け位置によらず、試料全体の温度が当該設定温度領域に到達しているものと想定される。従って、冷熱衝撃試験装置を上記したような構成とすることにより、試料全体の温度が所定の設定温度領域に達してから所定のさらし時間にわたって試料を循環流にさらすことができ、試料温度検知手段の設置位置等によらず試料全体をほぼ同一の試験条件下で冷熱衝撃試験を実施できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、本発明の一実施形態である冷熱衝撃試験装置について図面を参照ながら説明する。図１において、１は本実施形態の冷熱衝撃試験装置である。冷熱衝撃試験装置１は、図１に示すように高温試験室２と、低温試験室３と、両試験室２，３の間を往復動可能なラック４（試料配置手段）とを備えている。
【００１６】
冷熱衝撃試験装置１は、ラック４を上下動させて試料Ｗを高温試験室２あるいは低温試験室３のいずれか一方に移動させることにより、試料Ｗがさらされる試験環境を切り替えることができる。すなわち、冷熱衝撃試験装置１は、異なる雰囲気温度に調整された温度環境間において試料Ｗを移動させる移動手段（図示せず）を備えている。冷熱衝撃試験装置１は、試料Ｗを高温の試験環境に所定時間にわたってさらす高温試験と、低温の試験環境に所定時間にわたってさらす低温試験を連続的に実施する冷熱サイクルを任意のサイクル数だけ繰り返す試験動作を行い、試料Ｗに熱ストレスを与えることができる。
【００１７】
高温試験室２および低温試験室３は、それぞれ内部の雰囲気温度を所定の温度幅内の任意の温度に独立的に設定することができる構成とされている。高温試験室２は、内部の雰囲気温度を例えば６０℃〜１５０℃のような高温の温度範囲内で任意の温度に調整することができる。また同様に、低温試験室３は、内部の雰囲気温度を例えば０℃〜−５５℃のような低温の温度範囲内で任意の温度に調整することができる。
【００１８】
高温試験室２および低温試験室３は、図１に示すように上下方向に積み重ねられたような状態とされている。さらに具体的には、高温試験室２は、低温試験室３に対して上方に積み重ねられた構成とされている。高温試験室２と低温試験室３との境界部分や、これらの試験室２，３の外周部分は、断熱性の高い断熱壁５と隔壁６で囲まれている。高温試験室２と低温試験室３の境界をなす隔壁６には連通孔７が設けられている。
【００１９】
高温試験室２には、槽内の雰囲気温度を所定の設定温度となるように調整可能なヒータ等の高温側温調手段８が設けられている。また、高温試験室２には、モータ１０によって駆動する送風機１１と、送風ダクト１２とが設けられている。高温試験室２の背面（図１において右側の壁面）には、外気導入口１４ａと、これを開閉するためのダンパ１４ｂとが設けられている。また、高温試験室２の天面側には、排気口１９が設けられている。
【００２０】
低温試験室３には、低温側温調手段１３と、モータ１５によって駆動する送風機１６と、送風ダクト１７とが設けられている。低温側温調手段１３は、雰囲気温度を低温に調整するための蓄冷器１３ａおよび蒸発器１３ｂと、冷熱衝撃試験の進行に伴って低温試験室３の内壁面や低温側温調手段１３等に付着する霜を融かす除霜動作を行うためのヒータ１３ｃとを備えた構成とされている。
【００２１】
高温試験室２および低温試験室３は、それぞれ各試験室２，３の背面側に設けられた送風部１２ａ，１７ａから高温側温調手段８や低温側温調手段１３において温度調整された空気を吹き出し、循環させる構成とされている。送風部１２ａ，１７ａは、図１〜図３に示すように、風向きを調整するためのレジスタ部材２６が配置された構成とされている。レジスタ部材２６は、図４に示すように、複数の羽根板２７を上下方向に並べ、羽根板２７の側方から送風部１２ａ，１７ａの幅方向に突出した軸２８によって回動自在に軸支したものであり、いわゆるルーバーに相当するものである。送風部１２ａ，１７ａは、図４に矢印で示すように、複数配された羽根板２７の一部又は全部を回転させて向きを適宜調整することにより、空気の吹き出し方向を微調整できる構成とされている。
【００２２】
高温試験室２および低温試験室３の内部には、各試験室２，３内の雰囲気温度を検知可能なように雰囲気温度センサ１８，２０が設けられている。冷熱衝撃試験装置１の制御装置（図示せず）は、雰囲気温度センサ１８，２０の検知温度に基づいて、高温試験室２や低温試験室３内の雰囲気温度を調整する。
【００２３】
ラック４は、図示しない昇降機構により、連通孔７を介して高温試験室２と低温試験室３との間を上下方向に往復動可能な構成とされている。ラック４は、試料Ｗの形状や大きさ、伝熱効率等を勘案し、試料Ｗを載置するための本体部４ａをかご状や棚状等の適宜の形状としたり、適宜の大きさとすることができる。ラック４の本体部４ａは、高温試験室２と低温試験室３とを隔てる隔壁６に設けられた連通孔７を通過可能な大きさとされている。連通孔７のうち、高温試験室２側の開口部分および低温試験室３側の開口部分の外周には、断熱パッキン２１，２２が取り付けられている。
【００２４】
本体部４ａには、環境温度検知センサ９が取り付けられている。環境温度検知センサ９は、ラック４に載置されている試料Ｗがさらされる試験環境の温度を検知するためのものである。
【００２５】
ラック４の本体部４ａの天面側および底面側には、遮熱部４ｂ，４ｃが設けられている。遮熱部４ｂ，４ｃは、隔壁６とほぼ同一の高さを有し、断熱壁５や隔壁６と同様に断熱特性が優れている。遮熱部４ｂの上方には、天板部４ｄが設けられている。また遮熱部４ｃの下方には底板部４ｅが設けられている。天板部４ｄや底板部４ｅは、それぞれ図１に示すようにそれぞれ本体部４ａや遮熱部４ｂ，４ｃよりも外側に張り出しており、ラック４を昇降させる際に連通孔７を通過できない大きさとされている。そのため、ラック４を天板部４ｄや底板部４ｅが隔壁６に突き当たるまで昇降させることにより、連通孔７を天板部４ｄや底板部４ｅによって塞ぎ、高温試験室２と低温試験室３とを熱的に遮断することができる。
【００２６】
冷熱衝撃試験装置１には、試料Ｗに取り付け可能であり、試料Ｗ自体の温度を検知するための試料温度センサ２５（試料温度検知手段）が設けられている。冷熱衝撃試験装置１は、試料温度センサ２５によって検知される試料Ｗの温度に基づいて冷熱衝撃試験を実施する試料温度制御モードと、環境温度検知センサ９によって検知される試験環境の雰囲気温度に基づいて冷熱衝撃試験を実施する雰囲気温度制御モードとから任意の試験モードを選択して冷熱衝撃試験を実施可能な構成とされている。
【００２７】
続いて、本実施形態の冷熱衝撃試験装置１の動作について説明する。冷熱衝撃試験装置１は、上記したようにラック４を上下動させて、試料Ｗがさらされる試験環境を所定の時間毎に順次切り替える冷熱サイクルを、操作者によって設定された任意のサイクル数だけ繰り返すことができる。
【００２８】
さらに具体的に説明すると、冷熱衝撃試験装置１は、冷熱衝撃試験が開始されると、送風機１１，１６を作動させ、図１や図２に矢印で示すように高温試験室２や低温試験室３内に空気の循環流を発生させると共に、高温試験室２や低温試験室３内の雰囲気温度が操作者によって設定された設定温度に対して所定の誤差範囲（以下、必要に応じて高温設定温度範囲、低温設定温度範囲と称す）の温度となるように高温側温調手段８や低温側温調手段１３を作動させる。ラック４に配された試料Ｗは、図１や図２に示すように高温試験室２あるいは低温試験室３内を流れる所定温度に調整された空気の循環流にさらされる。
【００２９】
試料Ｗは、ラック４が高温試験室２あるいは低温試験室３に収容された後、各試験室２，３内の雰囲気温度、あるいは、試料Ｗ自身の温度が所定の設定温度に対して高温設定温度範囲内あるいは低温設定温度範囲内の温度に到達した時点を基準として、操作者によって設定された所定のさらし時間が経過するまで試料Ｗが各試験室２，３内を循環する循環流にさらされる。
【００３０】
さらに具体的には、上記したように、本実施形態の冷熱衝撃試験装置１は、試験モードとして試料温度制御モードと、雰囲気温度制御モードとを含む試験モード群から任意の試験モードを選択して動作させることができるものである。そのため、操作者により設定された試験モードが試料温度制御モードである場合は、試料温度センサ２５によって検知される試料Ｗ自身の温度が高温設定温度範囲内あるいは低温設定温度範囲内の温度に到達した時点を基準として、予め設定された所定のさらし時間が経過するまで試料Ｗが所定温度に調整された空気の循環流にさらされる。
【００３１】
一方、操作者により設定された試験モードが雰囲気温度制御モードである場合は、環境温度検知センサ９によって検知される温度が高温設定温度範囲内あるいは低温設定温度範囲内の温度に到達した時点を基準として、予め設定された所定のさらし時間が経過するまで試料Ｗが所定温度に調整された空気の循環流にさらされる。
【００３２】
冷熱衝撃試験装置１は、上記したようにして所定のさらし時間が経過するまで試料Ｗを循環流にさらした後、図３に矢印で示すようにラック４を下方あるいは上方に移動させ、試料Ｗがさらされる試験環境の切り替えを行う。この際、高温試験室２および低温試験室３に設けられた送風機１１，１６は動作を実質的に停止した状態とされる。すなわち、試験環境の切り替え時は、モータ１０，１５が作動停止状態とされたり、空気の循環流が起こらない程度までモータ１０，１５の回転量が低減される。そのため、冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替え時に空気の循環流が停止し、高温試験室２および低温試験室３内がほぼ無風状態となる。従って、試験環境の切り替えのためにラック４を移動させても、ラック４に配されている試料Ｗは、空気の循環流にさらされない。
【００３３】
上記したようにして高温試験室２および低温試験室３内を無風状態にした状態でラック４を移動させ、図１や図２に示すようにラック４が低温試験室３側あるいは高温試験室２側に移動した状態になると、送風機１１，１６のモータ１０，１５が再度所定の回転数で回転するように調整され、高温試験室２内および低温試験室３内に空気の循環流が発生する。このようにして、試料Ｗがさらされる試験環境の切り替えが完了すると、上記したのと同様に、冷熱衝撃試験の試験モードにあわせて環境温度検知センサ９あるいは試料温度センサ２５の検知温度が監視され、この検知温度が所定の温度範囲内に到達するように試験環境が調整される。そして、環境温度検知センサ９あるいは試料温度センサ２５の検知温度が所定の温度範囲内に到達すると、その時点を基準として所定のさらし時間が経過するまで試料Ｗが空気の循環流にさらされる。試験環境の切り替え後、所定のさらし時間が経過すると、１サイクル分の冷熱サイクルが完了する。
【００３４】
１サイクル分の冷熱サイクルが完了すると、送風機１１，１６が実質的に送風を停止した状態とされ、高温試験室２および低温試験室３内がほぼ無風状態にされた状態でラック４が移動し、次の冷熱サイクルが開始される。冷熱衝撃試験装置１は、このようにして操作者によって設定されたサイクル数にわたって冷熱サイクルを繰り返す。
【００３５】
上記したように、本実施形態の冷熱衝撃試験装置１は、試料Ｗを高温試験室２と低温試験室３との間で移動させる際の移動方向（高さ方向）に対して交差する方向（水平方向）に空気を吹き出して発生する循環流に試料Ｗをさらす構成とされている。そのため、冷熱衝撃試験装置１は、仮に試験環境の切り替え中も高温試験室２および低温試験室３において循環流を停止させない構成とした場合に、試料Ｗの移動に伴って試料Ｗの一部が高温試験室２あるいは低温試験室３のうち一方を流れる循環流にさらされ、試料Ｗの残部が他方を流れる循環流にさらされた状態になる。そのため、冷熱衝撃試験装置１のように、ラック４の移動方向と、空気の吹き出し方向とが交差する場合は、試験環境の切り替え時に試料Ｗに温度分布が発生する可能性が高いと想定される。
【００３６】
しかし、上記したように、本実施形態の冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替え中に送風機１１，１６を実質的に停止状態にして高温試験室２および低温試験室３の内部をほぼ無風状態とし、試料Ｗが空気の循環流にさらされるのを防止する構成とされている。そのため、冷熱衝撃試験装置１は、高温試験室２あるいは低温試験室３のいずれか一方から他方に試料Ｗを移動させても、試料Ｗの一部が高温の空気にさらされ、残りが低温の空気にさらされるといったような現象が起こらない。従って、冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替えを行っても、試料Ｗの配置や、試料Ｗの部位、試料Ｗの数量等によらず温度分布が発生したり、付与される熱ストレスの分布が発生するといったような不具合が発生しない。
【００３７】
本実施形態の冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替えを行っても、これに伴う温度分布が発生しないため、多数回にわたって冷熱サイクルを繰り返しても試料Ｗの配置や、試料Ｗの部位等による冷熱衝撃試験の試験誤差が発生しにくい。
【００３８】
また、本実施形態の冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替え時に試料Ｗに温度分布が発生しないため、試料温度センサ２５の検知温度に試料Ｗ全体の温度が到達しているものと想定される。そのため、冷熱衝撃試験装置１は、冷熱衝撃試験の試験モードとして試料温度制御モードを選択することにより、試料Ｗ全体の温度が所定の設定温度に達してから所定のさらし時間にわたって試料Ｗを空気の循環流にさらすことができる。従って、冷熱衝撃試験装置１によれば、試験モードとして試料温度制御モードを選択することにより、試料温度検知手段の設置位置等によらず試料Ｗ全体をほぼ同一の試験条件下で冷熱衝撃試験を実施でき、正確な試験データを得ることができる。
【００３９】
また、冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替え時に送風機１１，１６は動作を停止した状態にするため、連通孔７を介して高温試験槽２と低温試験槽３とが連通しても、各試験槽２，３における空気の出入りが起こりにくい。そのため、冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替え後、各試験槽２，３内の雰囲気温度が安定するまでに要する期間が短い。
【００４０】
上記実施形態では、送風部１２ａ，１７ａにレジスタ部材２６を配した構成を例示したが、この構成は本発明の一例を示したものに過ぎず、例えばレジスタ部材２６に加えて、これよりも空気の流れ方向上流側あるいは下流側に、図５に示すような空気の吹き出し用の開口２３を多数有する板体２４を配した構成とすることができる。また、冷熱衝撃試験装置１は、レジスタ部材２６に代わって板体２４を配した構成としたり、送風部１２ａ，１７ａにレジスタ部材２６や板体２４を配さない構成としてもよい。すなわち、冷熱衝撃試験装置１は、送風部１２ａ，１７ａにレジスタ部材２６や板体２４のいずれか一方又は双方を設けた構成としても、レジスタ部材２６や板体２４を設けない構成としてもよい。
【００４１】
送風部１２ａ，１７ａに板体２４を配する場合、開口２３の大きさや位置は、高温試験室２や低温試験室３内の温度分布を考慮して調整されることが望ましい。さらに具体的には、開口２３は、ラック４の本体部４ａに配された試料Ｗが送風部１２ａ，１７ａから吹き出される空気に直接的にさらされる位置に形成されていることが望ましい。換言すれば、開口２３は、ラック４の移動方向に対して交差（本実施形態では略直交）する方向に所定温度に温度調整された空気を吹き出すことが可能なように形成されることが望ましい。
【００４２】
また、板体２４に形成される開口２３の形状は適宜のものとすることが可能であるが、例えば図５に示すようにラック４の移動方向、すなわち上下方向に長い縦長でスリット状の形状とすることができる。このような構成とした場合、送風部１２ａ，１７ａは、正面視した際に前記した縦長の開口２３が上下左右に多数並ぶように形成され、格子状となる。そのため、送風部１２ａ，１７ａに板体２４を配した構成とした場合、空気はラック４の幅方向（図５において左右方向）全域において高温試験室２や低温試験室３の背面側（図１，図２において右側）から正面側（図１，２において左側）に向かって勢いよく噴出することとなる。従って、送風部１２ａ，１７ａに板体２４を配することにより、試料Ｗが晒される高温試験室２や低温試験室３内を、背面側と正面側とでムラ無く略均一な温度雰囲気に調整することができる。
【００４３】
本実施形態の冷熱衝撃試験装置１は、試験環境の切り替え中に送風機１１，１６の動力源であるモータ１０，１５の回転を停止させたり、回転数を低下させることにより、空気の循環流を実質的に停止させ、ほぼ無風状態にするものであったが、本発明はこれに限定されない。さらに具体的には、冷熱衝撃試験装置１は、モーターやシリンダー等のアクチュエータの動力を利用してレジスタ部材２６の羽根板２７の向きを調整可能な構成としておき、試験環境の切り替え時に前記したアクチュエータを作動させ、空気の循環流が高温試験槽２や低温試験槽３内に発生しないように羽根板２７の向きを調整したり、ラック４やこれに配されている試料Ｗに循環流が直接的に吹き付けられないように羽根板２７の向きを調整する構成としてもよい。かかる構成とした場合についても、送風機１１，１６による送風を停止する場合と同様に、試験環境の切り替え時に試料Ｗが空気の循環流にさらされるのを防止でき、試料Ｗの温度のバラツキ等を最小限に抑制することができる。
【００４４】
また、上記したようにレジスタ部材２６を設けず、板体２４を設けた構成とする場合についても、図６に示すように、高温試験室２および低温試験室３の背面側に設けられた開口２３を開閉可能なシャッターやダンパ等の開閉機構３０のような気流遮断手段を設けた構成とし、試験環境の切り替え時に図６（ｂ）のように開閉機構３０を閉じる構成としてもよい。かかる構成とした場合についても、送風機１１，１６による送風を停止する場合と同様に、試験環境の切り替え時に試料Ｗが空気の循環流にさらされるのを防止することができ試料Ｗの温度のバラツキ等を最小限に抑制することができる。
【００４５】
上記した冷熱衝撃試験装置１において、レジスタ部材２６は、羽根板２７の向きを手動で調整可能なものであっても、上記したように何らかのアクチュエータの動力を利用して向きを調整可能なものであってもよい。さらに、レジスタ部材２６は、羽根板２７を送風部１２ａ，１７ａに対して上下方向（高さ方向）に傾斜させることができるものであったが、本発明はこれに限定されず、例えば左右方向（幅方向）に調整可能なものであってもよい。
【００４６】
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、高温試験室２と低温試験室３との上下関係が入れ替わったものや、これらがほぼ同一平面上に並んだ構成であってもよい。
【００４７】
また、上記した冷熱衝撃試験装置１は、雰囲気温度や空気の循環流の温度を高温に調整可能な高温試験室と、これよりも雰囲気温度や空気の循環流の温度を低温に調整可能な低温試験室とを備え、１サイクルの冷熱サイクルにおいて試験環境を２段階に切り替え可能なものであったが、本発明はこれに限定されるものではなく、さらに多数の試験室を設けるなどして試験環境を多段階に切り替え可能な構成としてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の一実施形態である冷熱衝撃試験装置の第一の動作状態を概念的に示す断面図である。
【図２】本発明の一実施形態である冷熱衝撃試験装置の第二の動作状態を概念的に示す断面図である。
【図３】本発明の一実施形態である冷熱衝撃試験装置の第三の動作状態を概念的に示す断面図である。
【図４】本発明の一実施形態である冷熱衝撃試験装置において採用されているレジスタ部材の構成を示す斜視図である。
【図５】送風部の変形例を示す断面図である。
【図６】（ａ），（ｂ）は、それぞれ本発明の別の実施形態である冷熱衝撃試験装置の第一および第二の動作状態を概念的に示す断面図である。
【符号の説明】
【００４９】
１  冷熱衝撃試験装置
２  高温試験室
３  低温試験室
４  ラック（試料配置手段）
１０，１５  モータ
１１，１６  送風機
２３  開口
２５  試料温度センサ（試料温度検知手段）
３０  開閉機構（気流遮断手段）
【図１】
2006329949.tif 000003
【図２】
2006329949.tif 000004
【図３】
2006329949.tif 000005
【図４】
2006329949.tif 000006
【図５】
2006329949.tif 000007
【図６】
2006329949.tif 000008