(57)【要約】【課題】測定システムによって得られる測定結果に対するノイズの影響を軽減すると共にスペクトル・アナライザの広範な測定能力を維持する測定システムを提供する。【解決手段】  第１のスペクトル・アナライザと、前記第１のスペクトル・アナライザとの周波数アライメントがとれた第２のスペクトル・アナライザと、受信した入力信号に応答して前記第１のスペクトル・アナライザによって提供される第１の測定信号を受信し、前記入力信号に応答して前記第２のスペクトル・アナライザによって提供される第２の測定信号を受信するコントローラであって、複数回にわたって取得された前記第１の測定信号及び前記第２の測定信号の相互相関の平均値を求めることによって前記入力信号の平均電力の近似値を求めるコントローラと、を具備するシステム。   【選択図】図２
2006329981.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
第１のスペクトル・アナライザと、
前記第１のスペクトル・アナライザとの周波数アライメントがとれた第２のスペクトル・アナライザと、
受信した入力信号に応答して前記第１のスペクトル・アナライザによって提供される第１の測定信号を受信し、前記入力信号に応答して前記第２のスペクトル・アナライザによって提供される第２の測定信号を受信するコントローラであって、複数回にわたって取得された前記第１の測定信号及び前記第２の測定信号の相互相関の平均値を求めることによって前記入力信号の平均電力の近似値を求めるコントローラと、
を具備するシステム。
【請求項２】
前記第１の測定信号及び前記第２の測定信号の複数回にわたる取得数が、入力信号の平均電力の指定誤差範囲内までの近似値を求めるのに十分なほど多い、請求項１に記載のシステム。
【請求項３】
前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザの周波数アライメントが、前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザに加えられる外部基準信号によってとられる、請求項１に記載のシステム。
【請求項４】
前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザの周波数アライメントが、前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザの一方の内部基準信号であって、前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザのもう一方に加えられる内部基準信号によってとられる、請求項１に記載のシステム。
【請求項５】
前記第１の測定信号及び前記第２の測定信号の時間アライメントが、前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザに加えられるトリガ信号によってとられる、請求項１に記載のシステム。
【請求項６】
前記コントローラが、前記複数回にわたって取得される前記第１の測定信号の平均値から入力信号の近似された平均電力を引いて、前記第１のスペクトル・アナライザのノイズの前記平均電力の近似値を求める、請求項１に記載のシステム。
【請求項７】
第１のスペクトル・アナライザで入力信号を測定することによって第１の測定信号を発生し、第２のスペクトル・アナライザで入力信号を測定することによって第２の測定信号を発生することであって、前記第１のスペクトル・アナライザと前記第２のスペクトル・アナライザの時間アライメント及び周波数アライメントがとられている、ことと、
複数回にわたって取得される、相互相関する前記第１の測定信号及び前記第２の測定信号の平均値を算出して、前記入力信号の平均電力の近似値を求めることと、
を含むシステム。
【請求項８】
前記第１の測定信号及び前記第２の測定信号の前記複数の取得回数が、指定誤差内までの前記入力信号の前記平均電力の近似値を求めるのに十分なほど多い、請求項７に記載のシステム。
【請求項９】
前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザの周波数アライメントが、前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザに加えられる外部基準信号によってとられる、請求項７に記載のシステム。
【請求項１０】
前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザの周波数アライメントが、前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザの一方の内部基準信号であって、前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザのもう一方に加えられる内部基準信号によってとられる、請求項７に記載のシステム。
【請求項１１】
前記第１の測定信号及び前記第２の測定信号の時間アライメントが、前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザに加えられるトリガ信号によってとられる、請求項７に記載のシステム。
【請求項１２】
さらに、前記複数回にわたって取得される前記第１の測定信号の平均値から前記入力信号の近似平均電力を引いて、前記第１のスペクトル・アナライザのノイズの前記平均電力の近似値を求めることを含む、請求項７に記載のシステム。
【請求項１３】
時間アライメント及び周波数アライメントがとられた２つのスペクトル・アナライザによって第１の信号を測定することであって、前記２つのスペクトル・アナライザのうち第１のスペクトル・アナライザによって第１の測定信号を発生し、前記２つのスペクトル・アナライザのうち第２のスペクトル・アナライザによって第２の測定信号を発生する、測定することと、
複数回にわたって取得される前記第１の測定信号及び前記第２の測定信号について、相互相関する前記第１の測定信号及び前記第２の測定信号の平均値を算出し、前記第１の信号の平均電力の近似値を求めることと、
前記複数回にわたって取得される第１の測定信号の平均値から前記第１の信号の前記近似された平均電力を引いて、前記第１のスペクトル・アナライザのノイズの前記平均電力の近似値を求めることと
を含むシステム。
【請求項１４】
前記第１のスペクトル・アナライザに加えられる第２の信号に応答して、前記第１のスペクトル・アナライザによって前記複数回にわたる取得による測定信号を捕捉することと、
前記複数回にわたって取得される測定信号の平均値から前記第１のスペクトル・アナライザのノイズの前記近似された電力を引いて、前記第２の信号の平均電力の近似値を求めることと、をさらに含む、請求項１３に記載のシステム。
【請求項１５】
前記第１の測定信号及び前記第２の測定信号の複数の取得回数が、指定誤差内までの前記第１の信号の前記平均電力の近似値を求めるのに十分なほど多い、請求項１３に記載のシステム。
【請求項１６】
前記測定信号の複数の取得回数が、指定誤差内までの前記第２の信号の前記平均電力の近似値を求めるのに十分なほど多い、請求項１４に記載のシステム。
【請求項１７】
前記２つのスペクトル・アナライザの周波数アライメントが、前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザに加えられる外部基準信号によってとられる、請求項１３に記載のシステム。
【請求項１８】
前記２つのスペクトル・アナライザの周波数アライメントが、前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザに加えられる外部基準信号によってとられる、請求項１４に記載のシステム。
【請求項１９】
前記２つのスペクトル・アナライザの周波数アライメントが、前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザの一方の内部基準信号であって、前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザのもう一方に加えられる内部基準信号によってとられる、請求項１３に記載のシステム。
【請求項２０】
前記第１の測定信号及び前記第２の測定信号の時間アライメントが、前記第１のスペクトル・アナライザ及び前記第２のスペクトル・アナライザに加えられるトリガ信号によってとられる、請求項１３に記載のシステム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、二重スペクトル・アナライザ測定システムに関し、詳しくは、入力信号の平均電力の近似値を求める二重スペクトル・アナライザ測定システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
多くの測定用途において、スペクトル・アナライザによって得られる測定結果に対するノイズの影響を軽減することにより、スペクトル・アナライザの測定感度を向上させることが可能である。ノイズの影響を軽減するために用いられる技法の１つである、ノイズ除去には、スペクトル・アナライザのノイズを正確に特性解明し、スペクトル・アナライザによって得られる測定結果から特性解明されたノイズを取り除くことが必要とされる。しかし、このタイプのノイズ特性解明は、一般に、スペクトル・アナライザによる多数回にわたる反復して測定した結果の平均に依存するので、多大な時間を要する可能性がある。さらに、反復測定には、典型的なスペクトル・アナライザの広範な測定能力に伴う、さまざまな動作状態に適応するため、広範囲にわたる搬送測定周波数及びオフセット周波数も含まれる。
【０００３】
信号源アナライザは、得られる測定結果に対するノイズの影響を軽減する二重チャネル測定システムである。信号源アナライザは、測定感度が高く、受信信号の低ノイズ測定結果をもたらすことが可能であるが、より汎用性があり、より普遍性のあるタイプの計測装置であるスペクトル・アナライザの周波数選択性、イメージ周波数排除、及び、広範な測定能力に欠ける。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
従って、本発明の目的は、測定システムによって得られる測定結果に対するノイズの影響を軽減し、同時に、スペクトル・アナライザの広範な測定能力を維持する測定システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明の実施態様に基づく二重スペクトル・アナライザ測定システムによれば、得られた測定結果に対するノイズの影響が軽減され、受信した入力信号の電力（power;強さ）、及び、二重スペクトル・アナライザ測定システムにおける各スペクトル・アナライザのノイズを測定することが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００６】
図１Ａには、スペクトル・アナライザの特徴が示されている。典型的なスペクトル・アナライザＳＡには、入力信号ｓ（ｔ）を受信し、受信した入力信号ｓ（ｔ）に応答して中間周波数（ＩＦ）信号（不図示）を送り出すフロント・エンド／ＩＦ変換器１２が含まれている。直角位相成分（ＩＱ）検出器１４が、ＩＦ信号を受信して、ＩＱ検出器１４に結合された表示装置１６に測定信号ｄ（ｔ）を供給する。測定信号ｄ（ｔ）は、一般に、入力信号ｓ（ｔ）の大きさ及び位相を周波数と対比して表わしたサンプル集合を含むディジタル信号である。表示装置１６は、測定信号ｄ（ｔ）に処理を施して、ディスプレイ１８または他の出力装置に入力信号ｓ（ｔ）のスペクトル内容を表示する。
【０００７】
スペクトル・アナライザＳＡは、スペクトル・アナライザによって得られる測定信号ｄ（ｔ）に対するノイズｎ（ｔ）の一因となる。図１Ｂには、ノイズｎ（ｔ）によって影響される、測定信号ｄ（ｔ）のフェーザ表現が示されている。測定信号ｄ（ｔ）は、スペクトル・アナライザＳＡの入力信号ｓ（ｔ）とノイズｎ（ｔ）のベクトル和として示されている。ノイズｎ（ｔ）は、大きさφ（ｔ）の位相成分及び大きさの振幅成分α（ｔ）を有する時変ベクトルによって表わされる。測定信号ｄ（ｔ）は、入力信号ｓ（ｔ）、大きさの位相成分φ（ｔ）、及び、大きさの振幅成分α（ｔ）に基づき、方程式（１）で表現される。方程式（１）の信号は、一般に、周波数依存及び時間依存である。
ｄ（ｔ）＝ｓ（ｔ）＋α（ｔ）＋ｊφ（ｔ）                    （１）
【０００８】
測定信号ｄ（ｔ）の電力ｐは、方程式（２）によって表わすことが可能である。
【０００９】
【数１】
2006329981.tif 000003
【００１０】
測定信号ｄ（ｔ）に対するノイズｎ（ｔ）の影響を軽減するため、スペクトル・アナライザＳＡは、一般に、入力信号ｓ（ｔ）のＮの反復測定結果を取得して、Ｎの測定結果の平均をとり、測定結果の分散を最小限に抑える。測定信号ｄ（ｔ）の電力の平均値を求めると、方程式（３）に従って表わされる測定信号ｄ（ｔ）の平均電力ｐｍｅａｎが得られるが、この式において、スペクトル・アナライザＳＡによって得られるＮの反復測定結果に関連した信号には、添え字ｉが付けられている。
【００１１】
【数２】
2006329981.tif 000004
【００１２】
方程式（３）によれば、入力信号ｓ（ｔ）の反復測定数Ｎが十分に大きければ、測定信号ｄ（ｔ）の平均電力ｐｍｅａｎは、入力信号ｓ（ｔ）の平均電力ｐｓｍｅａｎにほぼ等しくなるが、この式では、
【００１３】
【数３】
2006329981.tif 000005
【００１４】
に、大きさの振幅成分α（ｔ）の平均電力
【００１５】
【数４】
2006329981.tif 000006
【００１６】
と、大きさの位相成分φ（ｔ）の平均電力
【００１７】
【数５】
2006329981.tif 000007
【００１８】
が加えられる。方程式（３）における最後の２項である振幅成分の平均電力
【００１９】
【数６】
2006329981.tif 000008
【００２０】
と位相成分の平均電力
【００２１】
【数７】
2006329981.tif 000009
【００２２】
の和は、スペクトル・アナライザＳＡが一因となるノイズｎ（ｔ）の平均電力ｐｎｏｉｓｅを表わしている。
【００２３】
図３には、測定信号ｄ（ｔ）の平均電力ｐｍｅａｎと入力信号ｓ（ｔ）の反復測定回数Ｎを対比したグラフの一例が示されている。図３に示すように、この例では、測定信号ｄ（ｔ）の平均電力ｐｍｅａｎは、入力信号ｓ（ｔ）の平均電力ｐｓｍｅａｎよりかなり大きい。従って、この例におけるスペクトル・アナライザのノイズｎ（ｔ）は、入力信号ｓ（ｔ）のマスキングに十分なほど高い。
【００２４】
図２には、本発明の実施態様による、測定システム２０と表示された二重スペクトル・アナライザ測定システム２０が示されている。図２の構成では、電力分割器、カプラ、及び、他のタイプの信号分配器２２によって、入力２４が２つのスペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２のそれぞれに結合される。信号分配器２２は、入力２４で供給される、加えられた入力信号ｓ’（ｔ）を２つの入力信号ｓ（ｔ）に分割する。この例の場合、信号分配器２２は、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２のそれぞれに対して経路長及び結合係数が等価の信号経路を形成するので、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２のそれぞれに対して供給される信号は、振幅が等しく、等しい位相を備えることになる。信号分配器２２の平衡によって、スペクトル・アナライザに加えられる入力信号が生じ、それぞれ、入力信号ｓ（ｔ）と表示される。
【００２５】
スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２の測定周波数は、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２の両方に共通した基準信号ＲＥＦを介して周波数アライメントがとられる。周波数アライメントは、一般に、基準信号ＲＥＦと共に、２つのスペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２の時間軸をロックすることによって実現される。実施態様の１つでは、基準信号ＲＥＦは、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２の両方の外部にあって、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２のそれぞれの外部基準ポートに結合された信号源（不図示）によって加えられる。代替態様では、基準信号ＲＥＦは、スペクトル・アナライザの一方によって加えられ、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２のもう一方の外部基準ポートに結合される内部基準信号である。図２に示す例の場合、周波数アライメントは、スペクトル・アナライザＳＡ２の外部基準ポートＥＸＴ２に結合されるスペクトル・アナライザＳＡ１の内部基準信号ＲＥＦによって施される。
【００２６】
一般に、基準信号ＲＥＦは、それぞれ、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２によって得られる測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）の位相ノイズの一因となる。基準信号ＲＥＦは、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２の両方に共通しているので、基準信号ＲＥＦによって測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）に加えられるノイズはコヒーレントである。従って、測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）の相互相関の平均値算出では、基準信号ＲＥＦによる位相ノイズは除去されない。基準信号ＲＥＦに起因すると考えられる位相ノイズは、一般に、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２の搬送測定周波数から１００ヘルツ以内の周波数オフセットに含まれる。なぜならば、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２内の基準位相ロック・ループ（不図示）のループ帯域幅が通常は狭いからである。
【００２７】
測定システム２０には、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２に結合されたコントローラ２６が含まれている。コントローラ２６は、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２の外部に設けることもできるし、あるいはスペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２の一方または両方に含まれるコンピュータまたは他のプロセッサとすることも可能である。コントローラ２６は、スペクトル・アナライザＳＡ１から測定信号ｄ１（ｔ）を受信して、処理し、スペクトル・アナライザＳＡ２から測定信号ｄ２（ｔ）を受信して、処理する。コントローラ２６は、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２によって得られる入力信号ｓ（ｔ）の測定結果に関して、一般に、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２に対するトリガ信号ＴＲＩＧを介して、時間アライメントを施す。トリガ信号ＴＲＩＧは、外部信号源（不図示）または図２に示すコントローラ２６によって供給可能である。時間アライメントによって、測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）が入力信号ｓ（ｔ）のそれぞれの対応する時間及び位置において得られるように、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２による測定値取得に調整が施される。一般に、測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）は、指定時間に得られ、周波数の関数として入力信号ｓ（ｔ）の振幅及び位相を表わすサンプル集合を含んでいる、ディジタル信号である。スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２のそれぞれに対する入力信号ｓ（ｔ）の振幅及び位相が、信号分配器２２の不均衡のため等価でない場合、コントローラ２６は、例えば、測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）によって表わされる振幅または位相を調整することにより、その不均衡に適応するように、測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）を補償する（compensate；補正する）ことが可能である。
【００２８】
スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２は、一般に、スペクトル・アナライザの動作状態のプログラミング及び測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）の処理を容易にするため、同様のプログラマビリティ及びＩ／Ｏ（入力／出力）機能を備えている。スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２は、一般に、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２が両方とも基準信号ＲＥＦ及びトリガ信号ＴＲＩＧに適応できるように、十分によく似た動作特性も備えている。スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２のノイズは、異なる特性を備えることがあり得、一般に、スペクトル・アナライザＳＡ１のノイズｎ１（ｔ）は、スペクトル・アナライザＳＡ２のノイズｎ２（ｔ）に対しコヒーレントではない。
【００２９】
スペクトル・アナライザＳＡ１は、入力信号ｓ（ｔ）を受信し、受信した入力信号ｓ（ｔ）に応答して、ＩＦ信号（不図示）を送り出すフロント・エンド／中間周波数（ＩＦ）変換器１２（不図示）を備えている。スペクトル・アナライザＳＡ１内の直角位相成分（ＩＱ）検出器１４（不図示）が、ＩＦ信号を受信して、コントローラ２６に測定信号ｄ１（ｔ）を供給する。
【００３０】
スペクトル・アナライザＳＡ１は、スペクトル・アナライザＳＡ１によって得られる測定信号ｄ１（ｔ）にノイズｎ１（ｔ）を付与する。測定信号ｄ１（ｔ）は、スペクトル・アナライザＳＡ１の入力信号ｓ（ｔ）とノイズｎ１（ｔ）のベクトル和として表わすことが可能であり、ここで、ノイズｎ１（ｔ）は、大きさの位相成分φ１（ｔ）と大きさの振幅成分α１（ｔ）を備える時変ベクトルによって表わされる。測定信号ｄ１（ｔ）は、入力信号ｓ（ｔ）、大きさの位相成分φ１（ｔ）、及び、大きさの振幅成分α１（ｔ）に基づき、方程式（４）で表現される。方程式（４）の信号は、一般に、周波数依存及び時間依存である。
ｄ１（ｔ）＝ｓ（ｔ）＋α１（ｔ）＋ｊφ１（ｔ）                  （４）
【００３１】
スペクトル・アナライザＳＡ２によって得られる測定信号ｄ２（ｔ）は、スペクトル・アナライザＳＡ２の入力信号ｓ（ｔ）とノイズｎ２（ｔ）のベクトル和として表わすことが可能であり、ここで、ノイズｎ２（ｔ）は、大きさの位相成分φ２（ｔ）と大きさの振幅成分α２（ｔ）を備える時変ベクトルによって表わされる。測定信号ｄ２（ｔ）は、入力信号ｓ（ｔ）、大きさの位相成分φ２（ｔ）、及び、大きさの振幅成分α２（ｔ）に基づき、方程式（５）で表現される。方程式（５）の信号は、一般に、周波数依存及び時間依存である。
ｄ２（ｔ）＝ｓ（ｔ）＋α２（ｔ）＋ｊφ２（ｔ）                  （５）
【００３２】
コントローラ２６は、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２の動作状態をプログラムして、入力信号ｓ（ｔ）の測定値が繰り返し取得され、その結果として、測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）が、それぞれ、Ｎ回にわたって得られるようにする。コントローラ２６は、測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）を受信して、測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）に処理を加え、反復して測定した結果に基づいて、測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）の相互相関の平均値を算出し、平均相互相関信号Ｃｍｅａｎを送り出す。平均相互相関信号Ｃｍｅａｎは、方程式（６）で表現されるが、ここで、取得した測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）のＮ回にわたる反復測定に伴う信号には、ｉの添え字が付けられている。
【００３３】
【数８】
2006329981.tif 000010
【００３４】
方程式（６）によれば、測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）の反復測定数であるＮが十分に大きければ、平均相互相関信号Ｃｍｅａｎは、入力信号ｓ（ｔ）の平均電力ｐｓｍｅａｎにほぼ等しくなる。従って、反復測定による取得数Ｎが十分であれば、２つの測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）の相互相関の平均値算出によって、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２のノイズｎ１（ｔ）、ｎ２（ｔ）とは無関係で、指定誤差ｅ範囲内まで正確な、入力信号ｓ（ｔ）の平均電力ｐｓｍｅａｎの近似値が得られる。
【００３５】
図３には、本発明の実施態様によって得られる平均相互相関信号Ｃｍｅａｎの一例が示されている。図３が示唆するように、反復測定数Ｎが増すにつれて、平均相互相関信号Ｃｍｅａｎは入力信号ｓ（ｔ）の平均電力ｐｓｍｅａｎに収束する。さらに、図３に例示されているように、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２のノイズｎ１（ｔ）、ｎ２（ｔ）が、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２に対する入力信号ｓ（ｔ）をマスキングするのに十分なほど大きい場合でも、入力信号ｓ（ｔ）の平均電力ｐｓｍｅａｎを求めることが可能である。
【００３６】
コントローラ２６によって施される相互相関平均値算出は、一般に、Ｎ回にわたって測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）の取得が反復されるので、測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）の相互相関の移動平均として実施される。このため、Ｎ回にわたって反復取得される測定信号ｄ１（ｔ）、ｄ２（ｔ）の全てを記憶しなくても、平均相互相関信号Ｃｍｅａｎを見つけることが可能になる。
【００３７】
本発明の代替実施態様によれば、平均相互相関信号Ｃｍｅａｎを用いて、スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２のそれぞれのノイズ・電力が求められる。例えば、方程式（３）が示唆するように、Ｎが十分に大きければ、スペクトル・アナライザＳＡ１によって得られる測定信号ｄ１（ｔ）の平均電力ｐ１ｍｅａｎは、入力信号ｓ（ｔ）の平均電力ｐｓｍｅａｎとスペクトル・アナライザＳＡ１のノイズｎ１（ｔ）の電力ｐ１ｎｏｉｓｅの和によって近似値を求めることが可能である。平均相互相関信号Ｃｍｅａｎによって、入力信号ｓ（ｔ）の平均電力ｐｓｍｅａｎの近似値が求められるので、スペクトル・アナライザＳＡ１のノイズｎ１（ｔ）の電力ｐ１ｎｏｉｓｅは、測定信号ｄ１（ｔ）の平均電力ｐ１ｍｅａｎから平均相互相関信号Ｃｍｅａｎを引いた値にほぼ等しくなる。同様に、Ｎが十分に多ければ、スペクトル・アナライザＳＡ２によって得られる測定信号ｄ２（ｔ）の平均電力ｐ２ｍｅａｎは、入力信号ｓ（ｔ）の平均電力ｐｓｍｅａｎとスペクトル・アナライザＳＡ２のノイズｎ２（ｔ）の電力ｐ２ｎｏｉｓｅの和によって近似値を求めることが可能である。平均相互相関信号Ｃｍｅａｎによって、入力信号ｓ（ｔ）の平均電力ｐｓｍｅａｎの近似値が求められるので、スペクトル・アナライザＳＡ２のノイズｎ２（ｔ）の電力ｐ２ｎｏｉｓｅは、測定信号ｄ２（ｔ）の平均電力ｐ２ｍｅａｎから平均相互相関信号Ｃｍｅａｎを引いた値にほぼ等しくなる。
【００３８】
スペクトル・アナライザＳＡ１、ＳＡ２のいずれかのノイズ・電力を見つけることによって、そのスペクトル・アナライザによって得られる後続測定信号にノイズ除去を施すことが可能になる。例えば、図１Ａに示す測定構成において、スペクトル・アナライザＳＡ１を利用して、加えられる入力信号を測定する場合、スペクトル・アナライザＳＡ１によって得られる測定信号ｄ１（ｔ）の反復測定値の平均からスペクトル・アナライザＳＡ１のノイズｎ１（ｔ）の電力ｐ１ｎｏｉｓｅを引くことによって、スペクトル・アナライザＳＡ１に加えられる入力信号の電力が求められる。従って、いったん、二重スペクトル・アナライザ測定システム２０を利用して、平均相互相関信号Ｃｍｅａｎが求められ、本発明の実施態様に従って、スペクトル・アナライザＳＡ１のノイズｎ１（ｔ）の電力ｐ１ｎｏｉｓｅが見つけられると、単一スペクトル・アナライザ測定構成において、スペクトル・アナライザＳＡ１を用いて、加えられる入力信号の測定を行う場合に、ノイズ除去を利用してスペクトル・アナライザＳＡ１のノイズｎ１（ｔ）の影響を軽減することが可能になる。この方法で用いられるノイズ除去によれば、スペクトル・アナライザＳＡ１によって得られる測定信号ｄ１（ｔ）の反復測定数を適度に少なくして、指定誤差内で入力信号のｓ（ｔ）の平均電力ｐｓｍｅａｎを求めることが可能になる。
【００３９】
本発明の実施態様について詳細に例示してきたが、当然明らかなように、当該技術者には、付属の請求項に記載の本発明の範囲を逸脱することなく、これらの実施態様に対する修正及び改変を思いつく可能性がある。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１Ａ】スペクトル・アナライザ測定の特徴を示す図である。
【図１Ｂ】スペクトル・アナライザ測定の特徴を示す図である。
【図２】本発明の実施態様による二重スペクトル・アナライザ測定システムを示す図である。
【図３】本発明の実施態様に従って生じる平均相互相関信号の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００４１】
２０  測定システム
２２  信号分配器
２４  入力
【図１Ａ】
2006329981.tif 000011
【図１Ｂ】
2006329981.tif 000012
【図２】
2006329981.tif 000013
【図３】
2006329981.tif 000014