(57)【要約】【課題】画像読取装置および画像処理方法において、白基準板に付着することのある異物の大小に関わらず、良好な白基準値を得ることのできる、白基準値の読取り方法、異物の検知および補正方法を提供する。【解決手段】この発明は、画像読取装置１において、白基準板１２に付着することのある異物を検出し、異物が検出された場合に、基準値を補正する方法を提供するもので、読み取り値の平均値を算出し、算出した平均値と次の読取り位置のデータの差を、絶対値を決められた閾値と比較し、判定部により基準板に異物が付着していると判断できた場合、異物の付着の有無の判断に用いた平均値を読取ったデータを置き換えることを特徴とする。【選択図】  図１
2006262438.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも１つのラインセンサを含み、読み取り対象の画像情報を光電変換し、画像情報に対応する電気信号を出力する画像読取装置により読み取られた画像信号に基づいて画像濃度を検出する濃度検出手段ＣＣＤセンサと、
前記ＣＣＤセンサにより基準板を読取った値を用いて、シェーディング補正を行う際に、ライン毎にそのラインの読み取り値の平均値を求める平均値算出部と、
前記平均値算出部により算出された平均値と次の読取り位置のデータの差を比較する比較演算部と、
前記比較部の比較結果に基づき、前記基準板に異物が付着しているか否か、を判断する判定部と、
前記平均値算出部による平均値の算出し、前記比較演算部によるデータの比較と前記判定部による判定を、必要ライン数までその繰り返す制御部と、
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
前記比較演算部は、前記差の絶対値を決められた閾値と比較することを特徴とする請求項１記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記判定部により前記基準板に異物が付着していると判断された場合、異物の付着の有無の判断に用いた平均値を用い、異物を読取ったデータを置き換える基準値制御部をさらに有することを特徴とする請求項１記載の画像処理装置。
【請求項４】
前記基準値制御部は、前記基準板に異物が付着していると判断された場合、異物の付着した箇所を読取ったデータを破棄し、次のデータより引き続き基準板の基準値の読取りを行うことを特徴とする請求項３記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記制御部は、前記異物の補正を行った範囲を、異物の大きさや補正範囲に関し、基準値を読み取ったデータに補正を行ったことを報知可能であることを特徴とする請求項１記載の画像処理装置。
【請求項６】
少なくとも１つのラインセンサを含み、読み取り対象の画像情報を光電変換し、画像情報に対応する電気信号を出力するＣＣＤセンサと、
前記ＣＣＤセンサにより基準板を読取った値を用いて、シェーディング補正を行う際に、ライン毎にそのラインの読み取り値の平均値を求める平均値算出部と、
前記平均値算出部により算出された平均値と次の読取り位置のデータの差を比較する比較演算部と、
前記比較部の比較結果に基づき、前記基準板への異物が付着しているか否かを判断する判定部と、
前記平均値算出部による平均値の算出し、前記比較演算部によるデータの比較と前記判定部による判定を、必要ライン数までその繰り返す制御部と、
最初の基準となる平均値が、異物を読取ったデータかどうかを判定する比較部と、
を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項７】
前記比較演算部は、前記差の絶対値を決められた閾値と比較することを特徴とする請求項６記載の画像処理装置。
【請求項８】
前記判定部により前記基準板に異物が付着していると判断された場合、異物の付着の有無の判断に用いた平均値を用い、異物を読取ったデータを置き換える基準値制御部をさらに有することを特徴とする請求項６記載の画像処理装置。
【請求項９】
前記基準値制御部は、前記基準板に異物が付着していると判断された場合、異物の付着した箇所を読取ったデータを破棄し、次のデータより引き続き基準板の基準値の読取りを行うことを特徴とする請求項８記載の画像処理装置。
【請求項１０】
前記制御部は、前記異物の補正を行った範囲を、異物の大きさや補正範囲に関し、基準値を読み取ったデータに補正を行ったことを報知可能であることを特徴とする請求項６記載の画像処理装置。
【請求項１１】
少なくとも１つのラインセンサを含み、読み取り対象の画像情報を光電変換して、画像情報に対応する電気信号を取得し、
基準板を読取った値を用いてシェーディング補正を行う際に、ライン毎にそのラインの読み取り値の平均値を求め、
平均値算出部により算出された平均値と次の読取り位置のデータの差を比較し；
比較結果に基づき、基準板へ異物が付着しているか否かを判断し、
平均値の算出、データの比較および判定を、必要ライン数までその繰り返す
ことを特徴とする画像処理方法。
【請求項１２】
前記比較結果に基づく判定は、    
ｉ：読取りを行っているライン    
Ｉ（ｉ）：ｉライン目の画像データ    
Ｈ：ｉライン目までの副走査方向の平均値    
Ａ：異物データの判定を行う閾値    
ｎ：白基準値を求めるために読取るラインの総数    
とし、１ライン目の読取り、ＨをＩ（１）に置き換え；  
ｉ＋１ライン目の読取り；    
ＨとＩ（ｉ）の差分の絶対値をとり、「１Ｈ−Ｉ（ｉ）１」と「閾値Ａ」と比較し；ａｎｄ    
１Ｈ−Ｉ（ｉ）１＜Ａ    
である場合、「異物がある領域である（異物を読み取ったデータである）」と判定し、Ｉ（ｉ）のデータをＨと置き換える    
ことを特徴とする請求項１１記載の画像処理方法。
【請求項１３】
前記比較結果に基づく判定は、    
ｉ：読取りを行っているライン数    
Ｃ：読取りライン数のカウンタ    
Ｉ（ｉ）：ｉライン目のデータ    
Ｈ：ｉライン目までの副走査方向の平均値    
Ａ：異物データの判定を行う閾値１    
Ｂ：異物データの判定を行う閾値２    
ｎ：白基準値を求めるために読取るラインの総数    
とし、ｉ＝１、ｃ＝０として１ライン目の読取り、Ｈ＝Ｉ（１）に置き換え；    
ｉ＋１ライン目の読取り；    
ＨとＩ（ｉ）の差分と閾値Ｂと比較し；    
Ｈ−Ｉ（ｉ＋１）＞Ｂ    
により、１ライン目のデータが異物を読取ったデータか否かを判定し、
閾値Ｂより大きい値であれば、Ｈを、異物を読取ったデータではないと判断する    
ことを特徴とする請求項１１記載の画像処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、例えば電子写真装置やレーザプリンタ等の画像形成装置が出力する画像を読み取る画像読取装置および読み取った画像を処理する画像処理方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
画像読取装置においては、読み取り対象の画像情報を光電変換するための基準とすべき基準値を、画像情報の読み取り毎に／もしくは所定タイミングで、逐次設定する。多くの場合、読み取られた画像情報（基準値）は、複数ライン分、平均化される。
【０００３】
特許文献１には、数ラインの白基準データを読み取って得られたデータを平均する際に、統計的な処理を用いて、基準値を求める方法が記載されている。この方法により、白基準板に付着している異物の影響が低減できる、とされている。
【特許文献１】特開平１１−２８９４３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
平均を用いる方法または統計的な処理を用いる方法において、異物検知、除去ならびに補正等を行った場合、白基準板に付着している異物がある程度小さいものであれば白基準値に大きな変動を与えることが少ない。反面、白基準板に付着している異物の大きさが複数の画素にまたがるような大きなものであった場合、白基準値が不正確になる問題がある。
【０００５】
この発明の目的は、画像読取装置および画像処理方法において、白基準板に付着することのある異物の大小に関わらず、良好な白基準値を得ることのできる、白基準値の読取り方法、異物の検知および補正方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明は、上記問題点に基づきなされたもので、少なくとも１つのラインセンサを含み、読み取り対象の画像情報を光電変換し、画像情報に対応する電気信号を出力する画像読取装置により読み取られた画像信号に基づいて画像濃度を検出する濃度検出手段ＣＣＤセンサと、前記ＣＣＤセンサにより基準板を読取った値を用いて、シェーディング補正を行う際に、ライン毎にそのラインの読み取り値の平均値を求める平均値算出部と、前記平均値算出部により算出された平均値と次の読取り位置のデータの差を比較する比較演算部と、前記比較部の比較結果に基づき、前記基準板に異物が付着しているか否か、を判断する判定部と、前記平均値算出部による平均値の算出し、前記比較演算部によるデータの比較と前記判定部による判定を、必要ライン数までその繰り返す制御部と、を有することを特徴とする画像処理装置、を提供するものである。
【発明の効果】
【０００７】
以上説明した通り、この発明を用いることで、白基準板に付着している異物の大小に関わらず良好な白基準値を得ることが可能となる。
【０００８】
また、基準とする値を持たず、リアルタイムに平均値を更新するため、ラインメモリを減らすことが可能となり、また、最後に更新した平均値をそのまま白基準値として、シェーディングに用いることが可能となる。
【０００９】
白基準板読取り位置の最初のラインに異物が付着している場合においても、判定式を２つに増やすことにより、検知、補正が可能となり、良好な白基準値を得ることができる。
【００１０】
白基準板に付着している異物の検知、補正処理を行っているか否か、またその異物の大きさ等によってレベルを規定することにより、利用者にとって満足できるものかどうかを利用者自身で判断することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。
【００１２】
図１は、この発明の実施の形態が適用される画像読取装置および画像読取装置に組み込まれる画像処理装置の一例を示す。
【００１３】
図１に示されるように、画像読取装置（スキャナ）は、矢印Ｓと直交する方向に所定の長さが与えられ、所定波長分布（色）の光を出力するランプ（光源）１を有する。は、リフレクタ２と第１ミラー３とともに矢印Ｓ方向に移動される第１キャリッジ４に保持されている。リフレクタ２は、光源１から出力される光の光源１の長手方向の配光特性を補正するとともに、その光を所定の方向（矢印Ｅ方向）に集光するために利用される。
【００１４】
第１キャリッジ４に保持された第１ミラー３からの光が案内される方向（矢印Ｓ方向）には、第１ミラー３により反射される光を９０°折り曲げる第２ミラー５、第２ミラー５で折り曲げられた光をさらに９０°折り曲げる第３ミラー６が設けられている。第２ミラー５および第３ミラー６は、第１キャリッジ４に連動して矢印Ｓ方向に移動される第２キャリッジ７に保持されている。
【００１５】
第３ミラー６により反射された光は、集光レンズ（倍率設定レンズ）８により、ＣＣＤセンサ９の受光面に結像される。ＣＣＤセンサ９は、駆動回路基板（ＣＣＤセンサ基板）１０を介して、筐体１５の所定の位置に固定されている。ＣＣＤセンサ基板１０から出力されるセンサ出力は、信号処理基板１１に供給される。
【００１６】
光源１およびリフレクタ２による照明光は、筐体１５の所定の位置に設けられた白基準板１２および原稿ガラス１３に集光される。
【００１７】
原稿ガラス１３には、読み取るべき画像情報を有する読取対象物すなわち原稿ＯＲＧがセットされる。原稿ＯＲＧは、例えばシート状の媒体や本、もしくは立体物に代表される任意の形状および厚さを有することができる。原稿ＯＲＧは、原稿押さえ（カバー）１４により原稿ガラス１３に密着される。
【００１８】
光源１およびリフレクタ２からの光すなわち照明光は、矢印Ｅを中心とした所定の方向に集束され、原稿ガラス１３に支持された原稿ＯＲＧに照射される。原稿ガラス１３は、照明光が透過可能であることはいうまでもない。光源１から照射される光の配光は、光源１の長手方向の全長において一様ではない。従って、原稿ＯＲＧに照射された際に、長手方向において、照度のムラを含むことが知られている。このため、リフレクタ２を用いて反射させた反射光も原稿ＯＲＧに照射することで、原稿ＯＲＧ上の配光を一様にすることができる。
【００１９】
原稿ＯＲＧからの反射光は、第１ミラー３、第２ミラー５および第３ミラー６で順に反射され、集光レンズ８を透過して、ＣＣＤセンサ（ラインセンサ）９の受光面に結像される。ＣＣＤセンサ９は、例えば加法混色に用いられる３原色であるＲ、ＧおよびＢのそれぞれに対応するラインセンサが独立に設けられた３ラインＣＣＤセンサである。
【００２０】
ＣＣＤセンサ９に照射された光は、制御基板１１から入力する制御信号に従ってＣＣＤセンサ基板１０によりそれぞれの光の強度に対応する大きさの電気信号に変換され、制御基板１１に供給される。ＣＣＤセンサ基板１０は、ＣＣＤセンサ９を保持するとともに、ＣＣＤセンサ９を駆動するためのＣＣＤセンサ制御回路１０Ａと、ＣＣＤセンサ制御回路１０Ａからの指示（駆動制御信号）を受け、ＣＣＤセンサ９の駆動条件に合わせるＣＣＤドライバ１０Ｂを少なくとも含む。
【００２１】
図２は、図１に示した画像読取装置に組み込まれる画像処理装置の一例を示す。
【００２２】
制御基板１１は、ＣＣＤセンサ９から出力された光電変換出力を、所定の規則に従って処理する処理ＩＣ（ＣＰＵ）１１Ａと、個々の動作（処理）に要求される各種タイミングを生成するタイミング生成回路１１Ｂと、ＣＣＤセンサ９からのＲ、ＧおよびＢのアナログ信号をデジタル信号に変換するアナログ処理回路１１Ｃと、アナログ処理回路１１Ｃから出力されるデジタル信号に含まれる高周波および低周波歪を補正するシェーディング補正および／または個々のＲ、ＧおよびＢラインセンサ間のライン位置ズレを補正するためのライン間補正処理に代表される画像補正に用いられる画像処理回路部１１Ｅと、ライン間補正処理に際してライン単位で画像データを遅延させるためのラインメモリ回路１１Ｄ等を含む。
【００２３】
タイミング生成回路１１Ｂと画像処理回路部１１Ｅは、ＣＣＤセンサ基板１０に実装されるＣＣＤセンサ制御回路１０Ａに接続されている。ＣＣＤセンサ基板１０には、ＣＣＤセンサ９およびＣＣＤセンサ制御回路１０Ａに加え、ＣＣＤドライバ１０Ｂが設けられている。
【００２４】
なお、ＣＣＤセンサ９から出力されるアナログ信号は、一般に、個々の光電変換素子の変換効率のばらつきに起因する高周波歪や、画像光が集光レンズ８を用いる縮小光学系を介して結像されるために発生する収差の影響を含むことに起因する低周波歪を含む。このため、多くの場合、ＣＣＤセンサ９から出力されるアナログ信号は、正規化補正される。この場合、その基準として用いるデータが必要となる。基準データは、一般には、白基準板１２からの反射光の光強度、すなわち白基準板１２を取った際の画像データである。
【００２５】
次に、本発明のシェーディング補正の基本となる方法を図３に、示す。
【００２６】
まず、光源（ランプ）１を保持した第１キャリッジ４をホームポジション（図示せず、読み取り開始位置よりも原稿ＯＲＧから離れる方向の所定位置）に移動する（Ｓ１１）。
【００２７】
ここで、シェーディング補正に必要な黒基準データの読取りを行う。黒基準データの読取り方法としては、例えば光源（ランプ）１を消灯した状態で読取る（ＣＣＤセンサからランプ非点灯時のデータを得る）または光源を点灯し黒基準板を読取る等の方法がある（Ｓ１２）。
【００２８】
ステップＳ２で読取った黒基準データを黒メモリ（例えば、図２に示す「画像処理回路部１１Ｅのファーム」）に格納する（Ｓ１３）。
【００２９】
次に、キャリッジ４を、白基準板１２を照明可能な位置に移動する（Ｓ１４）。
【００３０】
次に、白基準データ（以後、白基準板を読取った値を白基準データと呼ぶ）の読取りを行う。白基準データを読取る方法としては、例えば光源（ランプ）１を点灯し、白基準板１２を読取る（白基準板１２を照明して得られる反射光を光電変換する）等の方法がある（Ｓ１５）。
【００３１】
ここで、読取った白基準データを、詳述しないが、白メモリ（例えば、図２に示す「画像処理回路部１１Ｅのファーム」）に格納する（Ｓ１６）。
【００３２】
次に、原稿ガラス１３にセットされた原稿（読み取り対象物）ＯＲＧの画像情報を読取りを行う（Ｓ１７、すなわち、原稿ＯＲＧにランプ１からの照明光を照射して得られる反射光を検出し、ＣＣＤセンサ９の各ラインセンサ（Ｒラインセンサ）、（Ｇラインセンサ）および（Ｂラインセンサ）により、画像データを得る（Ｓ１７）。
【００３３】
ステップＳ１７において読取った画像データを画像メモリ（例えば、図２に示す「画像処理回路部１１Ｅのファーム」）に格納する（Ｓ１８）。なお、図２に示す画像処理装置に、画像メモリ１１Ｆが独立に設けられてもよいことはいうまでもない。この場合、「黒基準データ」、「白基準データ」および「画像データ」は、画像メモリ１１に格納される。
【００３４】
黒基準データ、白基準データ、画像データは、画像処理回路部１１Ｅにおいて、シェーディング補正される（Ｓ１９）。なお、シェーディング補正に、関しては既に公知であるから、説明は省略する。
【００３５】
本発明では、図３の領域Ｓの処理にあたる、白基準データ読取りと白メモリへの格納の部分に、特徴を有する。
【００３６】
通常、シェーディング補正の白基準データを読み取る場合、第１キャリジ４を白基準板１２からの反射光を検知可能に移動させ、決められたライン数の白基準データを読取り、平均化して白基準データとして白メモリに格納する。
【００３７】
ここで、問題となるのが白基準板についている異物（ゴミ、汚れ等）である。
【００３８】
以下、白基準板１２に異物が付着している場合のシェーディング補正について説明する。
【００３９】
既に説明した通り、白基準データは、第１キャリジ４を白基準板１２からの反射光を受光可能な位置に移動させ、白基準板１２をランプ１からの光により照明した際に得られる反射光をＣＣＤセンサ９で受光した結果に基づく。
【００４０】
図４に、白基準板の読取り位置と、白基準板に付着することのある異物との関係を示す。
【００４１】
例えば、シェーディング補正の白基準値（以後、読取りを行った白基準データをライン数で割ったもの、実際にシェーディング補正に用いる「白基準の値」を白基準値と呼ぶ）を、Ｌ１〜Ｌ８までの平均値をとるものとする。
【００４２】
図４に示すように、Ｌ２列上に異物Ｐ１が、Ｌ３〜Ｌ７列上に、異物Ｐ２が付着している場合、Ｌ１〜Ｌ８までの８ラインの平均により白基準値を求めた時のプロファイルは、図５に示す通りである。図５において、「ｐ１」は、図４のＰ１に、「ｐ２」が図４のＰ２に、それぞれ対応される。
【００４３】
Ｐ１（図４）のようなあまり大きくない異物であれば、８ラインの平均により白基準値を求めるため、その部分だけが少し暗くなり、輝度部が下がる。また、Ｐ２（図４）のように副走査方向に大きくまたがる異物の場合、平均により白基準値を求めた場合でも値の輝度レベルが大きく下がる。図５に示すような白基準値より、画像のシェーディング補正を行った場合、白基準値の輝度レベルの低下により、画像の副走査方向に線ができ、画質劣化につながる。また、白基準値の輝度レベルが低ければ低いほど、基準となる白が暗いものとなり、画像に白線となって大きな画質劣化につながる。
【００４４】
この問題を解決するため、以下に提案する方法を用いる。
【００４５】
図６のフローチャートを用いて、本発明のシェーディング補正の白基準板についている異物の読取りデータの検知し、除去する方法について説明する。
【００４６】
図６において、それぞれ    
ｉ：読取りを行っているライン（Ｌ１〜Ｌ８のいずれか）    
Ｉ（ｉ）：ｉライン目の画像データ    
Ｈ：ｉライン目までの副走査方向の平均値（ｉ＝５であれば、５ライン分の平均値）
Ａ：異物データの判定を行う閾値    
ｎ：白基準値を求めるために読取るラインの総数    
とする。
【００４７】
まず、ｉ＝２とし（Ｓ２０）、１ライン目の読取りを行う（Ｓ２１）。
【００４８】
１ラインのみであるから、平均は、１ライン目のデータに一致するため、ＨをＩ（１）とする（Ｓ２２）。
【００４９】
次に、ｉライン目の読取りを行う（Ｓ２３）。
【００５０】
次に、ＨとＩ（ｉ）の差分の絶対値をとり、閾値Ａと比較を行う（Ｓ２４）。
【００５１】
ここで、    
ｌＨ−Ｉ（ｉ）ｌ＜Ａ  …  （１）    
を用い、（１）式の結果が閾値Ａよりも値が大きい場合（Ｓ２４−Ｎｏ）には、Ｉ（ｉ）を、「異物がある領域である（異物を読み取ったデータである）」と判定し、Ｉ（ｉ）のデータをＨと置き換える（Ｓ２６）。一方、（１）式の結果が、閾値Ａよりも小さい場合には、通常の読取りが行われたと判断し、そのままのデータとする（Ｓ２４−Ｙｅｓ）。
【００５２】
以下、ｉライン目までの平均Ｈを求め（Ｓ２５）、ｉ＝ｉ＋１としてステップＳ２３からＳ２６までが繰り返される（Ｓ２７）。
【００５３】
この処理を行うことにより、異物を読取ったデータを、それまでに読取ったデータまでの平均と置き換えることができ、基準板上の異物による画質劣化を防ぐことが可能となる。そして、ｎライン目までの平均Ｈをそのまま白基準値として、シェーディング補正を行うことが可能となる。
【００５４】
この処理は、基準となる平均Ｈをある一定の定数とするのではなく、読み取りに応じて更新していくことにより、白基準板読取り位置にある異物に対してリアルタイムに処理を行うことが可能となる。
【００５５】
次に、図４に示す異物の付着した白基準板を、上記で説明した方法により読取りを行った場合の詳細を示す。
【００５６】
まず、副走査Ｌ１の読取りデータを、それぞれ、主走査方向の平均値として設定する。
【００５７】
次に、Ｌ２を読取る。
【００５８】
ここで、異物Ｐ１が（１）式、すなわち（ｌＨ−Ｉ（ｉ＝Ｌ２）ｌ＜Ａ）により異物と判断され、Ｌ１の値と同じ値に置き換えられる。
【００５９】
次に、Ｌ３を読取った時、異物Ｐ２がｌＨ−Ｉ（ｉ＝Ｌ３）ｌ＜Ａの判定式により、Ｌ２までの平均値に置き換えられる。
【００６０】
同様に、Ｌ４、Ｌ５、Ｌ６、Ｌ７の値が、それぞれＬ３、Ｌ４、Ｌ５、Ｌ６までの平均値と置き換えられる。
【００６１】
以下、Ｌ８までの読取りを終了し、Ｈ（Ｌ８）を白基準値とする。
【００６２】
この方法を用いた場合、平均値により白基準値を作成した時のプロファイルとして、図７に示すような白基準データが作成される（図５に示したプロファイルが図７に示すプロファイルに変換される）。
【００６３】
この方法により、白基準板の異物による画質劣化を防ぐことが可能となる。
【００６４】
なお、この方法は、それぞれの読取りデータに基づいて補正を行っているため、Ｒ読取りセンサ（Ｒラインセンサ）、Ｇ読取りセンサ（Ｇラインセンサ）、Ｂ読取りセンサ（Ｂラインセンサ）を用いるカラー画像読取り装置や、（図示しないが）Ｋ（Ｂｋ）読取りセンサを用いたモノクロ画像読取り装置等、センサの種類による制限を受けることはなく、白基準値を得ることが可能である。
【００６５】
なお、異物には、図８に示すような副走査方向の複数のラインにまたがり、かつ、主走査方向の複数のラインにまたがるものも存在する。この場合、８ラインの平均から白基準値を求めた場合は、図９に示すようなプロファイルが得られる。
【００６６】
本発明は、主走査のライン毎に処理を行うため、副走査方向に長い異物、主走査方向に長い異物、また主走査、副走査の大きな範囲にまたがる異物等、異物の大きさや長さに拘わりなく、異物を検知可能で、しかも好適な補正が可能である。
【００６７】
例外的に、図１０に示すように、白基準板読取り位置の最初のラインに異物が付着している場合がある。図１１に示すプロファイルが得られる。
【００６８】
図１１に示すプロファイルは、単独では、図５に示したプロファイルとの識別が困難であるが、その場合の補正方法として、図１２に示すフローチャートを示す。
【００６９】
既に説明したと同様に読み取られた白基準データにおいて、先頭（Ｌ１）に異物が存在する場合、そのデータを用いてシェーディング補正を行った場合、白基準値の輝度レベルの低下により、画像の副走査方向に線ができ、画質劣化につながる。
【００７０】
この問題を解決するため、図１２により以下に説明する通り、    
ｉ：読取りを行っているライン数    
Ｃ：読取りライン数のカウンタ    
Ｉ（ｉ）：ｉライン目のデータ    
Ｈ：ｉライン目までの副走査方向の平均値（ｉが５であれば、５ライン分の平均値）    
Ａ：異物データの判定を行う閾値１    
Ｂ：異物データの判定を行う閾値２    
ｎ：白基準値を求めるために読取るラインの総数    
とする。
【００７１】
まず、ｉ＝１、ｃ＝０とし（Ｓ３０）１ライン目の読取りを行う（Ｓ３１）。
【００７２】
１ライン目までの平均は１ライン目のデータと同じであるのでＨをＩ（１）とする（１ラインのみであるから、平均は、１ライン目のデータに一致するため、Ｈ＝Ｉ（１）である（Ｓ３２））。
【００７３】
次に、ｉ＋１ライン目の読取りを行う（Ｓ３３）。
【００７４】
次に、ＨとＩ（ｉ）の差分と閾値Ｂと比較を行う。ここで、    
Ｈ−Ｉ（ｉ＋１）＞Ｂ  …  （２）    
を用い、式（２）により、１ライン目のデータ１（１）が異物を読取ったデータかどうかの判断を行う。なお、通常の白基準データは、白の基準となるものを読取るため、輝度が高い値となる。Ｈの値が異物を読取ったデータかつ、１（ｉ＋１）の値が通常の白基準板を読取ったデータであれば、その差分の値は負の値となる（Ｓ３４）。一方、既に説明した通り、閾値Ｂより大きい値であれば、Ｈは、異物を読取ったデータではないと判断して、次の処理に進む（Ｓ３４−Ｙｅｓ）。よって、閾値Ｂにより負の値を設定しておき、それ以下の値である場合は、Ｈを、異物を読取ったデータと判断する（Ｓ３４−Ｎｏ）。その場合、「ｃ」の値を０、ｉの値をｉ＋１として最初の処理に戻る（Ｓ３９）。
【００７５】
ステップＳ３４において、「Ｈ−Ｉ（ｉ）」がＢより大きい場合（Ｓ３４−Ｙｅｓ）、続いて「ｌＨ−Ｉ（ｉ）ｌ」がＡより大きいか否かが判断される（Ｓ３５）。すなわち、閾値Ａよりも値が大きかった場合には、Ｉ（ｉ）を、異物を読取ったデータ（読み取ったラインに異物が存在する）と判定し、Ｉ（ｉ）をＨと置き換える（Ｓ３５−Ｎｏ）。
【００７６】
閾値Ａよりも小さい場合には（Ｓ３５−Ｙｅｓ）、通常の読取りが行われたと判断し、そのままのデータとする。
【００７７】
以下、ＨとＩ（ｉ）の差分の絶対値をとり、閾値Ａと比較を行う。なお、個々では、前に説明した（１）式    
ｌＨ−Ｉ（ｉ）ｌ＜Ａ  …  （１）    
を用い、閾値Ａよりも値が大きかった場合（Ｓ３５−Ｎｏ）には、Ｉ（ｉ）を異物を読取ったデータと判定し、Ｉ（ｉ）のデータをＨと置き換える（Ｓ３７）。
【００７８】
閾値Ａよりも小さい場合（Ｓ３５−Ｙｅｓ）には、通常の読取りが行われたと判断し、そのままのデータとする。
【００７９】
以下、ｉライン目までの平均Ｈを求め、ｃ＝ｃ＋１、ｉ＝ｉ＋１として作業を繰り返す（Ｓ３６）。
【００８０】
この処理を行うことにより、異物を読取ったデータを、それまでに読取ったデータまでの平均と置き換えることができ、基準板上の異物による画質劣化を防ぐことが可能となる。
【００８１】
ここで、「ｃ」はカウンタの役割を果たしており、例えば８ラインの平均により白基準値を求める場合には、「ｃ」が８となるまで繰り返す。この時、最初の読取り位置に異物がある場合には、９ライン以上のデータを読取る必要があるが、この方式では比較の基準となる値Ｈを随時更新するため、シェーディングメモリ量を増やす必要がなく良好な白基準値を得ることが可能である。
【００８２】
ここで、図１０に示す異物の付着した白基準板を、上記で説明した方法により読取りを行った場合の詳細を示す。
【００８３】
まず、副走査Ｌ１の読取りデータを、それそれ、主走査方向の平均値として設定する。次に、Ｌ２を読取る。
【００８４】
Ｐ３の位置の異物は、Ｌ１、Ｌ２にまたがっているため、Ｈ−Ｉ（ｉ＋１）＜Ｂ、ｌＨ−Ｉ（ｉ＝Ｌ２）ｌ＜Ａの判定式により異物とは判断されず、次の処理に進む。
【００８５】
Ｌ３を読取った時、異物Ｐ３がある副走査方向のラインでは、ｌＨ−Ｉ（ｉ＋１）ｌ＜Ｂの判定式により、異物と判断される。
【００８６】
この時、異物Ｐ３のあるＬ１およびＬ２のラインのデータは消去され、新たにＬ３からのデータが基準データに用いられる。
【００８７】
この方法により、異物Ｐ３の付着している副走査方向の白基準値以外は、Ｌ１〜Ｌ８までのデータの平均により求められ、異物Ｐ３の付着している副走査方向の白基準値については、Ｌ３〜Ｌ１０までのデータの平均により求められる。
【００８８】
この時、白基準板の読取り範囲を２ライン分広げる必要があるが、基準のデータを随時更新するため、余分なラインメモリは必要とせず、白基準板の異物による画質劣化を防ぐことが可能となる。
【００８９】
なお、この方法は、それぞれの読取りデータにより補正を行っているため、ＲＥＤ読取りセンサ、ＧＲＥＥＮ読取りセンサ、ＢＬＵＥ読取りセンサを用いたカラー画像読取り装置、ＢＬＡＣＫ読取りセンサを用いたモノクロ画像読取り装置等、センサの種類による制限を受けることはなく、良好な白基準値を得ることが可能である。また、この実施例においてはＬ１およびＬ２に異物が付着している場合は、Ｌ３〜Ｌ１０までのデータにより白基準値を求めると説明したが、白基準板の読取り範囲を可変としたくない場合は、Ｈ−Ｉ（ｉ＋１）＜Ｂの判定式で異物と判断されたデータを、その次のラインのデータで全て埋める、または、そのあとＬ８までのラインの平均を求め、その値でＬ１およびＬ２を埋める等の方法を用いることも可能である。
【００９０】
なお、これまでに説明した白基準板の異物検知、補正を行っている内容を利用者に通知することが好ましい。すなわち、白基準板読取りの異物検知と補正を行った場合、現在、基準板の補正処理を行っています等、補正の有無を、付属の表示装置１１１（図２参照）や（図示しないが）ランプ等を用いて利用者に伝えることが有益である。なお、表示は、例えばデータバスを介して画像処理回路部１１Ｅおよび処理ＩＣ（画像処理ＣＰＵ）１１Ａと接続される制御装置（主制御部）１０１により、表示装置１１１に上述の表示を表示させることが容易である。
【００９１】
この処理を行うことにより、基準板が汚れているかどうかを、利用者に通知することが可能であり、また、補正を行っている画質が利用者にとって満足いくものかどうか判断することが可能である。
【００９２】
また、本発明である白基準板の異物検知、除去では、白基準板に付着している異物の大きさをｌＨ−Ｉ（ｉ）ｌ＜Ａの判定式を満たすか否かの判定回数により、副走査方向の異物の大きさ、数、主走査方向の異物の大きさ、数等を知ることが可能となる。
【００９３】
この大きさにより、例えば通知の方法を３段階（ここでは、補正レベル１、補正レベル２、補正レベル３とする）に分けることが可能となる。例えば、特に「小さな異物の補正を行っている場合は補正レベル１」、「ある程度の大きさの異物の補正を行っている場合は補正レベル２」、「大きな異物の補正を行っている場合は補正レベル３」等と表示することにより利用者に注意を促すことが可能となる。
【００９４】
このレベルの表示は、例えばシェーディング補正に用いる白基準板上に大きな異物があり、「補正レベル３」と表示した場合においても、利用者にとって画質の面で満足行くものであれば、基準板を拭く、あるいはサービスコール等を減らすために有益である。
【００９５】
また、逆に、基準板上に小さな異物があり、「補正レベル１」であるとの表示があった場合、利用者にとって画質の面で不満があるのであれば、基準板を拭く、サービスコールを行う等の対処法をとることが可能となる。
【００９６】
以上説明した通り、この発明を用いることで、白基準板に付着している異物の大小に関わらず良好な白基準値を得ることが可能となる。
【００９７】
また、基準とする値を持たず、リアルタイムに平均値を更新するため、ラインメモリを減らすことが可能となり、また、最後に更新した平均値をそのまま白基準値として、シェーディングに用いることが可能となる。
【００９８】
白基準板読取り位置の最初のラインに異物が付着している場合においても、判定式を２つに増やすことにより、検知、補正が可能となり、良好な白基準値を得ることができる。
【００９９】
白基準板に付着している異物の検知、補正処理を行っているか否か、またその異物の大きさ等によってレベルを規定することにより、利用者にとって満足できるものかどうかを利用者自身で判断することが可能となる。
【０１００】
なお、この発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々な変形もしくは変更が可能である。また、個々の実施の形態は、可能な限り適宜組み合わせて実施されてもよく、その場合、組み合わせによる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【０１０１】
【図１】この発明の実施の形態が適用される画像読取装置の一例を説明する概略図。
【図２】図１に示した画像読取装置に組み込まれる画像処理装置の一例を説明する概略図。
【図３】この発明の実施形態の一例を示すフローチャート。
【図４】図１に示した画像読取装置により読み取る基準板の一例を示す概略図。
【図５】図４に示した読み取り結果から得られるプロファイルを示す概略図。
【図６】図４に示した読み取り結果を補正するルーチンの一例を示すフローチャート。
【図７】図４に示した補正ルーチンにより図５に示したプロファイルを補正して得られるプロファイルを示す概略図。
【図８】図１に示した画像読取装置により読み取る基準板の一例を示す概略図。
【図９】図８に示した読み取り結果から得られるプロファイルを示す概略図。
【図１０】図１に示した画像読取装置により読み取る基準板の一例を示す概略図。
【図１１】図１０に示した読み取り結果から得られるプロファイルを示す概略図。
【図１２】図１１に示した読み取り結果を補正するルーチンの一例を示すフローチャート。
【符号の説明】
【０１０２】
１…ランプ（光源）、２…リフレクタ、３…第１ミラー、４…第１キャリッジ、５…第２ミラー、６…第３ミラー、７…第２キャリッジ、８…集光レンズ（倍率設定レンズ）、９…ＣＣＤセンサ、１０…駆動回路基板（ＣＣＤセンサ基板）、１１…信号処理基板、１２…白基準板、１３…原稿ガラス、１４…原稿押さえ（カバー）、１５…筐体。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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