(57)【要約】  【課題】  １つの装置で１ＧＨｚ以下の周波数帯域を含む広範囲の周波数帯域に渡って連続的に電波の吸収特性を測定でき，特に大きな測定対象物を必要とせず，さらに装置及び信号処理が簡易な電波吸収特性測定を行えること。  【解決手段】  マジックティ１２により，信号発生器１１により開口（１）から入力された電波を各々逆位相で２分岐させ，その２分岐された電波各々をマジックティ１２の開口（２）及び開口（３）の各々へ出力させる。さらに，その出力電波を，前記マジックティ１２の開口（２）に接続された導波管２１の端部を塞ぐ金属板３０と同開口（３）に接続された導波管２２の端部を塞ぐ測定対象物４０との各々に反射させ，その反射によって開口（２）及び開口（３）の各々に戻ってくる両反射電波の合成電波を開口（４）に出力させ，その出力電波を信号受信器１４を通じて測定する。【選択図】図１
2006038759.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
４つの開口を備え，電波発生手段により第１の開口から入力された電波を各々逆位相で２分岐して第２の開口及び第３の開口各々へ出力するとともに，その出力電波が外部で反射して前記第２の開口及び第３の開口各々に入力される両反射電波の合成電波を第４の開口へ出力するマジックティと，
前記マジックティにおける前記第２の開口に接続されその接続端に対する反対側が前記電波の反射部材により塞がれる第１の導波管と，
前記マジックティにおける前記第３の開口に接続されその接続端に対する反対側が電波吸収特性の測定対象物を有する部材により塞がれる第２の導波管と，
を具備し，
前記マジックティにおける前記第４の開口から出力される前記合成電波に基づいて前記測定対象物の電波吸収特性が測定されてなることを特徴とする電波吸収特性測定装置。
【請求項２】
前記電波発生手段が，周波数掃引により電波を発生させてなる請求項１に記載の電波吸収特性測定装置。
【請求項３】
前記第２の導波管を塞ぐ前記測定対象物を有する部材を前記反射部材に置き換えた場合に，前記マジックティの前記第４の開口から出力される前記合成電波の信号レベルが略０である請求項１又は２に記載の電波吸収特性測定装置。
【請求項４】
前記第１の導波管における前記第２の開口から前記反射部材までの寸法と前記第２の導波管における前記第３の開口から前記測定対象物までの寸法とが略同一である請求項１〜３のいずれかに記載の電波吸収特性測定装置。
【請求項５】
前記第１の導波管における前記反射部材の位置及び／又は前記第２の導波管における前記測定対象物の位置を移動させる部材移動手段を具備してなる請求項１〜４のいずれかに記載の電波吸収特性測定装置。
【請求項６】
４つの開口を備え，第１の開口から入力された電波を各々逆位相で２分岐して第２の開口及び第３の開口各々へ出力するとともに，その出力電波が外部で反射して前記第２の開口及び第３の開口各々に入力される両反射電波の合成電波を第４の開口へ出力するマジックティと，前記マジックティにおける前記第２の開口及び第３の開口各々に接続された第１の導波管及び第２の導波管と，を用いて測定対象物の電波吸収特性を測定する電波吸収特性測定方法であって，
前記第１の導波管及び第２の導波管各々における前記マジックティとの接続端に対する反対側を前記電波の反射部材で塞いだ状態で電波を前記マジックティの前記第１の開口に入力させ，これにより前記マジックティの前記第４の開口から出力される前記合成電波のレベルが略０となるように前記第１の導波管における前記反射部材の位置及び／又は前記第２の導波管における前記反射部材の位置を調整する調整工程と，
前記調整工程により調整された状態から前記第２の導波管における前記反射部材を前記測定対象物を有する部材に置き換えた状態で前記電波を前記マジックティの前記第１の開口に入力させ，これにより前記マジックティの前記第４の開口から出力される前記合成電波のレベルを測定した結果に基づいて前記測定対象物の電波吸収特性を評価する測定工程と，
を有してなることを特徴とする電波吸収特性測定方法。
【請求項７】
４つの開口を備え，第１の開口から入力された電波を各々逆位相で２分岐して第２の開口及び第３の開口各々へ出力するとともに，その出力電波が外部で反射して前記第２の開口及び第３の開口各々に入力される両反射電波の合成電波を第４の開口へ出力するマジックティと，前記マジックティにおける前記第２の開口及び第３の開口各々に接続された第１の導波管及び第２の導波管と，を用いて測定対象物の電波吸収特性を測定する電波吸収特性測定方法であって，
前記第１の導波管及び第２の導波管各々における前記マジックティとの接続端に対する反対側を各々前記電波の反射部材及び前記測定対象物を有する部材で塞いだ状態で電波を前記マジックティの前記第１の開口に入力させるとともに，前記第１の導波管における前記反射部材の位置及び／又は前記第２の導波管における前記反射部材の位置を順次移動させ，これにより前記マジックティの前記第４の開口から出力される前記合成電波のレベルを測定した結果に基づいて前記測定対象物の電波吸収特性を評価してなることを特徴とする電波吸収特性測定方法。
【請求項８】
前記マジックティの前記第１の開口に入力させる前記電波を周波数掃引により発生させてなる請求項６又は７に記載の電波吸収特性測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，測定対象物の電波吸収特性を測定するための電波吸収特性測定装置及びその方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
携帯電話機や無線ＬＡＮ，ＥＴＣ（自動料金収受システム）等の無線通信機器が普及し，電波の利用が広がるにつれて電波吸収体の需要も増大してきている。これに伴い，電波吸収体の電波吸収特性を効率的に測定する技術の開発が望まれている。
従来の電波吸収特性の測定（評価）方法として，以下の（ａ）〜（ｄ）に示すものがあることが非特許文献１（特に，６〜７頁）等に示されている。
（Ａ）Ｑ値に着目する方法
これは，筐体内に測定対象物（吸収材）を配置しない場合と配置した場合との各々についてＱ値を測定し，両者のＱ値の差異に着目して測定対象物の電波吸収度合いを評価（測定）するものである。
（Ｂ）入出力特性に着目する方法
これは，筐体内に測定対象物を配置しない場合と配置した場合との各々について，その筐体内に対する電波（電磁界）の入出力特性（電力の減衰量）を測定し，両者の入出力特性の差異から測定対象物の電波吸収度合いを評価するものである。
（Ｃ）結合特性に着目する方法
これは，基本的には上記（ｂ）と同様の原理であるが，筐体の代わりに電波の入力用及び出力用の微小ループアンテナを設け，その微小ループアンテナに測定対象物を近接配置した場合と配置しない場合との各々について，両微小ループアンテナの結合特性によって変化する微小ループアンテナの入出力特性を測定し，測定対象物の電波吸収度合いを評価するものである。
（Ｄ）伝送特性に着目する方法
これは，ストリップ線路において，ストリップライン導体とグランド面導体との間に測定対象物を設けない場合と設けた場合とにおける伝送特性（高周波信号の通過特性）の変化から，測定対象物の電波吸収度合いを評価するものである。
【非特許文献１】橋本  修  監修「次世代電波吸収体の技術と応用展開」（エレクトロニクス材料・技術シリーズ），シーエムシー出版，２００３年３月発行
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら，上記（Ａ）「Ｑ値に着目する方法」では，測定対象物を収容する筐体の共振周波数帯の電波については吸収特性を測定できるが，それ以外の周波数帯の電波についてはＱ値を正確に測定できないため，１つの装置で広範囲の周波数帯域に渡って連続的に電波の吸収特性を測定できないという問題点があった。
同様に，上記（Ｂ）「入出力特性に着目する方法」でも，筐体の共振周波数帯の電波については，筐体内に蓄積されるエネルギーが大きく出力電力が小さいため，測定対象物の電波吸収による出力電力の変化を比較的高分解能で検出できる。しかし，筐体の共振周波数帯以外の電波については，筐体内に蓄積されるエネルギーが小さくなって出力電力が大きくなるため，これに対する測定対象物の電波吸収による電力変化量が小さくなり，電波吸収特性の評価精度が悪化する。このため，１つの装置で広範囲の周波数帯域に渡って連続的に電波の吸収特性を測定できないという問題点があった。
また，上記（Ｃ）「結合特性に着目する方法」では，測定対象物の有無によって２つの微小ループアンテナ間の電波の伝播状態が変わるため，測定対象物の配置前後における微小ループアンテナの入出力信号の差分を単純に比較するだけでは評価できず，電波吸収特性評価のための信号処理が複雑になるという問題点があった。
また，上記（Ｄ）「伝送特性に着目する方法」では，１ＧＨｚ以下の電波については，大きな測定対象物（サンプル）が必要となるという問題点があった。また，金属部材の表面に電波吸収体の膜が形成されたような測定対象物である場合，ストリップ線路におけるストリップライン導体とグランド面導体との間に金属部材が近接することによってストリップ線路上の信号の伝播モードが変化するため，測定が困難になるという問題点があった。
従って，本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり，その目的とするところは，１つの装置で１ＧＨｚ以下の周波数帯域を含む広範囲の周波数帯域に渡って連続的に電波の吸収特性を測定でき，特に大きな測定対象物を必要とせず，さらに装置及び信号処理が簡易な電波吸収特性測定装置及びその方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的を達成するために本発明は，４つの開口を備えたマジックティの１つの開口（第１の開口）から入力された電波を各々逆位相で２分岐出力する２つの開口（第２の開口及び第３の開口）各々に導波管を設けた簡易な構成によって測定対象物の電波吸収特性を測定する装置及びその測定方法として適用されるものである。
即ち，前記マジックティの信号入力用の開口（第１の開口）から電波を入力することによってその電波を前記マジックティの機能によって各々逆位相で２分岐させ，その分岐した電波各々を第２の開口に接続された導波管（第１の導波管）及び第３の開口に接続された導波管（第２の導波管）に出力させる。これにより，その出力電波が，前記導波管各々の一方（前記マジックティとの接続端に対する反対側）を塞ぐ電波の反射部材と測定対象物を有する部材との各々に反射して戻ってくる（反射して前記第２の開口及び第３の開口各々に入力される）。そして，戻ってきた両反射電波の合成電波が前記マジックティの機能によって第４の開口に出力されるので，その出力される前記合成電波を受信して測定するものである。ここで，測定対象物を有する部材には，測定対象物そのもの，及び測定対象物が設けられた部材（電波の反射部材の表面に測定対象物が配置されたもの等）を含む。
このような測定は，測定対象物を収容する筐体の共振に依存するものでなく，また，ストリップ線路を用いるものでもないので，マジックティ及び導波管で伝送できる周波数帯域の電波である限り，１つの装置で１ＧＨｚ以下の周波数帯域を含む広範囲の周波数帯域に渡って連続的に電波の吸収特性を測定できる。
また，導波管の一方を塞ぐ程度の大きさ或いはそれ以下の大きさの測定対象物を用意すれば足り，特に大きな被測定物を必要としない。
さらに，装置は簡易であり，また，前記合成電波は，その合成前の２つの反射電波相互の逆位相状態が維持されている限り，その信号レベル（振幅或いは電力ともいえる）は，前記電波の反射部材（金属板等）と測定対象物との電波吸収量の差分を表すものとなり，ごく簡易な信号処理によって測定対象物の電波吸収特性を評価できる。
ここで，周波数掃引により前記マジックティに入力する電波を発生させれば，測定対象物の電波吸収の周波数特性を容易に測定できる。
また，一方の前記導波管（第２の導波管）を塞ぐ前記測定対象物を有する部材を前記電波の反射部材に置き換えた場合（即ち，２つの導波管両方を前記反射部材で塞いだ場合）に，前記マジックティの前記第４の開口から出力される前記合成電波の信号レベルが略０となるよう構成する。即ち，前記合成電波の合成前の２つの反射電波が相互に逆位相となるようにする。
これにより，前記測定対象物を前記導波管の一方に設け，他方に前記反射部材を設けたときの前記合成電波の信号レベル（振幅或いは電力ともいえる）は，前記反射部材（金属板等）が電波を全反射するものと近似すれば，測定対象物の電波吸収量を直接的に表すことになる。
例えば，前記２つの導波管の一方（第１の導波管）における前記開口（第２の開口）から前記反射部材までの寸法と，他方（第２の導波管）における前記開口（第３の開口）から測定対象物までの寸法とを略同一とすれば，前記合成電波の信号レベルが測定対象物の電波吸収量そのものを表すことになる。
【０００５】
また，前記導波管（第１の導波管又は第２の導波管）における前記反射部材の位置や測定対象物の位置を移動させる機構（部材移動手段）を設ければ，さらに多用な測定が可能となる。
例えば，前記２つの導波管の両方に前記反射部材を設けた状態で前記合成電波の信号レベルが略０となるように事前校正を行うことができる。
その場合の測定手順としては，まず，前記２つの導波管（第１の導波管及び第２の導波管）各々における前記マジックティとの接続端に対する反対側を前記反射部材で塞いだ状態で，電波を前記マジックティの前記第１の開口に入力させ，これにより前記マジックティの前記第４の開口から出力される前記合成電波のレベルが略０となるように，一方の前記導波管（第１の導波管）における前記反射部材の位置を調整する（事前校正）。
次に，そのようにして調整された状態から他方の前記導波管（第２の導波管）における前記反射部材を測定対象物に置き換え，その状態で電波を前記マジックティの前記第１の開口に入力させる。さらに，これにより前記マジックティの前記第４の開口から出力される前記合成電波のレベルを測定し，その測定結果に基づいて測定対象物の電波吸収特性を評価すればよい。
また，他の例としては，前記２つの導波管（第１の導波管及び第２の導波管）各々における前記マジックティとの接続端に対する反対側を各々前記反射部材及び測定対象物を有する部材で塞いだ状態で電波を前記マジックティの前記第１の開口に入力させるとともに，前記導波管各々における前記反射部材の位置と前記測定対象物を有する部材の位置の一方又は両方を順次移動させ，これにより前記マジックティの前記第４の開口から出力される前記合成電波のレベルを測定し，その測定結果に基づいて測定対象物の電波吸収特性を評価すること等も考えられる。
また，前記マジックティの前記第１の開口に入力させる前記電波を周波数掃引により発生させれば，所望の周波数帯域に渡って連続的に電波の吸収特性を測定できる。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば，マジックティとこれに接続される導波管を備えた簡易な装置により，その１つの装置で１ＧＨｚ以下の周波数帯域を含む広範囲の周波数帯域に渡って連続的に電波の吸収特性を測定でき，特に大きな測定対象物を必要としない。さらに，前記マジックティから出力される合成電波の信号レベル，即ち，電波の反射部材に対する反射電波と測定対象物に対する反射電波との合成電波の信号レベルは，測定対象物の電波吸収量に相当するレベルとなるので，簡易な信号処理で電波吸収特性を評価できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下添付図面を参照しながら，本発明の実施の形態について説明し，本発明の理解に供する。尚，以下の実施の形態は，本発明を具体化した一例であって，本発明の技術的範囲を限定する性格のものではない。
ここに，図１は本発明の第１実施形態に係る電波吸収特性測定装置Ｘ１の概略構成を表す図，図２は本発明の第２実施形態に係る電波吸収特性測定装置Ｘ２の概略構成を表す図，図３はマジックティの斜視図である。
【０００８】
（第１実施形態）
まず，図１を用いて，本発明の第１実施形態に係る電波吸収特性測定装置Ｘ１（以下，測定装置Ｘ１という）について説明する。
図１に示すように測定装置Ｘ１は，電波（高周波信号）を発生する信号発生器１１と，マジックティ１２と，電波を受信する信号受信器１３と，前記マジックティ１２に接続された２つの導波管２１，２２とを具備している。
前記信号発生器１１は，周波数掃引により，連続的に周波数を変化させて電波を発生させることがきりるものである（電波発生手段の一例）。
前記マジックティ３の斜視図を図３に示す。
前記マジックティ３は，４つの開口（１〜４）を備え，開口（１）から入力された電波を各々逆位相で２分岐して開口（２）及び開口（３）の各々へ出力する。また，前記開口（２）及び前記開口（３）から電波が入力された場合，その合成電波を開口（４）へ出力するものである。
【０００９】
図１に戻って，前記導波管２１（第１の導波管）は，前記マジックティ１２における前記開口（２）に接続され，その接続端に対する反対側が電波の反射部材である金属板３０により塞がれている。
また，前記導波管２２（第２の導波管）は，前記マジックティ１２における前記開口（３）に接続され，その接続端に対する反対側が電波吸収特性の測定対象物４０により塞がれている。この導波管２２は，前記測定対象物４０を着脱可能に構成されており，前記測定対象物４０の代わりに，電波の反射部材である前記金属板３０を取り付けることも可能である。
このような構成により，前記マジックティ１２において，前記信号発生器１１により開口（１）から入力された電波が各々逆位相で２分岐され，その２分岐された電波各々が開口（２）及び開口（３）の各々へ出力される。さらに，その出力電波が前記マジックティ１２の外部，即ち，前記導波管２１の端部を塞ぐ前記金属板３０と前記導波管２２の端部を塞ぐ前記測定対象物４０との各々に反射し，その反射によって前記開口（２）及び開口（３）の各々に入力される（戻ってくる）両反射電波の合成電波が，前記開口（４）に出力される。
【００１０】
そして，前記信号受信器１３は，前記マジックティ１２における前記開口（４）から出力される前記合成電波を受信し，その受信レベル（受信電力）を測定する電波測定手段である。この信号受信器１３により測定された前記合成電波の受信レベルは，不図示の計算機等に入力され，該計算機等によって前記受信レベルを前記測定対象物の電波吸収量に換算する処理，即ち，電波吸収特性の評価が行われる。
ここで，２つの前記導波管２１，２２は，各々同一寸法（長さも同一）同一材料のものであり，その端部（前記マジックティ１２との接続端に対して反対側の端部）に前記金属板３０，前記測定対象物４０が設けられる。即ち，前記２つの導波管の一方（２１，第１の導波管）における前記開口（２）から前記金属板３０までの寸法と，他方（２２，第２の導波管）における前記開口（３）から測定対象物４０までの寸法とが同一である。
これにより，前記マジックティ１２において，前記開口（１）から入力され，それが２分岐されて各々逆位相で前記開口（２）及び開口（３）へ出力された電波は，各々前記金属板３０と測定対象物４０とに反射して前記開口（１），（３）各々に戻ってきた時点で，相互に逆位相の状態が維持されるよう構成されている。
従って，前記導波管２２（第２の導波管）を塞ぐ測定対象物４０を前記金属板４０（反射部材）に置き換えた場合，前記マジックティ１２の前記開口（４）から出力される前記合成電波の信号レベルは０（ゼロ）となる。
このため，前記金属板３０を前記導波管２１の端部に，測定対象物４０を前記導波管２２の端部に各々設けた状態（図１の状態）では，前記信号受信器１３により測定される前記合成電波の信号レベルは，前記金属板３０が電波を全反射するものと近似できるので，測定対象物４０の電波吸収量を直接的に表すことになり，ごく簡易な信号処理によって測定対象物４０の電波吸収特性を評価できる。。
尚、信号レベルを完全に“０”とすることが測定精度上は好ましいが、測定結果に大きな影響を及ぼさない程度であれば、“０”とする必要はなく、“０”でないレベル（略０とする）でもよい。
【００１１】
また，前記測定装置Ｘ１は，測定対象物４０を収容する筐体の共振に依存するものでなく，また，ストリップ線路を用いるものでもないので，前記マジックティ１２及び前記導波管２１，２２で伝送できる周波数帯域の電波である限り，１つの前記測定装置Ｘ１で，１ＧＨｚ以下の周波数帯域を含む広範囲の周波数帯域に渡って連続的に電波の吸収特性を測定できる。
また，前記導波管２２の一方を塞ぐ程度の大きさ或いはそれ以下の大きさの測定対象物４０を用意すれば足り，特に大きな被測定物を必要としない。
また，前記信号発生器１１により，周波数掃引を行って連続的（多段階で）に発生電波の周波数を変更すれば，測定対象物４０の電波吸収の周波数特性を容易に測定できる。
【００１２】
（第２実施形態）
次に，図２を用いて，本発明の第２実施形態に係る電波吸収特性測定装置Ｘ２（以下，測定装置Ｘ２という）について説明する。
本測定装置Ｘ２は，前記測定装置Ｘ１の構成に加え，一方の前記導波管２１（第１の導波管）に，該導波管２１における前記金属板３０（反射部材）の位置を該導波管２１の長手方向に移動させるスライド機構５０（反射部材移動手段の一例）を設けたものである。
以下，この測定装置Ｘ２を用いた電波吸収特性の測定手順について説明する。
＜調整工程＞
まず，前記導波管２１，２２両方における前記マジックティ１２との接続端に対する反対側を，前記金属板４０（反射部材）で塞いだ状態（図２における測定対象物４０を前記金属板４０に置き換えた状態）で，前記信号発生器１１により電波を前記マジックティ１２の前記開口（１）に入力させる。
そして，前記マジックティ１２の前記開口（４）から出力される前記合成電波のレベルが０となるように，前記スライド機構５０により，前記導波管２１（第１の導波管）の長手方向における前記金属板３０の位置を調整する。
【００１３】
＜測定工程＞
次に，前述の調整工程により調整された状態（前記スライド機構５０での位置決めがなされた状態）から，前記導波管２２（第２の導波管）の端部に設けられた前記金属板４０を測定対象物４０に置き換え，その状態で前記信号発生器１１により電波を前記マジックティ１２の前記開口（１）に入力させる。
そして，これによって前記マジックティ１２の前記開口（４）から出力される前記合成電波のレベルを前記信号受信器１３によって測定し，その測定結果に基づいて測定対象物４０の電波吸収特性を評価する。
これにより，測定対象物４０の形状の違いや，その取り付け誤差等によって前記開口（２），（３）各々に戻ってくる反射電波相互の逆位相状態がくずれ，測定誤差が生じることを防止できる。
また，例えば，測定対象物４０の電波吸収量が小さい等の場合には，図２に示すように，測定対象物４０を前記導波管２２の端部とその内側の側壁部とに配置すれば，電波吸収量が増えて測定感度を高めることができる。しかしこの場合，前記導波管２２内の実質的な内部寸法が前記導波管２１の内部寸法と異なることになる。このような場合に，前記導波管２２の端部とその内側の側壁部とに，測定対象物４０と同形状（同寸法）の金属部材を設けた状態で前述の調整工程を実施しておけば，前記開口（２），（３）各々に戻ってくる反射電波の位相を調整でき，測定誤差が生じることを防止できる。
【００１４】
また，前記導波管２１における前記金属板３０の位置を順次移動させて測定を行うことも考えられる。
即ち，２つの前記導波管２１，２２各々における前記マジックティとの接続端に対する反対側を各々前記金属板３０（反射部材）及び測定対象物４０で塞いだ状態で，前記信号発生器１１により電波を前記マジックティ１２の前記開口（１）に入力させるとともに，前記導波管２１における前記金属板３０のを前記スライド機構５０により順次移動させ，これによって前記マジックティ１２の前記開口（４）から出力される前記合成電波のレベルを前記信号受信器１３によって測定し，その測定結果に基づいて測定対象物４０の電波吸収特性を評価する。
この場合，例えば，前記金属板３０を順次移動させたときに得られる前記合成波電波のレベルについて，それらの最小レベルや平均レベル等を用いて電波吸収特性を評価すること等が考えられる。
また，図２に示した第２実施形態では，前記導波管２１における前記金属板３０の位置を移動可能とする前記スライド機構５０を設けたが，その代わりに，同様の構成を前記導波管２２における測定対象物４０の位置を移動可能とする機構を設けたものも考えられる。また，両方の前記導波管２１，２２に前記スライド機構５０を設けたものも考えられる。
【産業上の利用可能性】
【００１５】
本発明は，電波吸収特性測定装置に利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】本発明の第１実施形態に係る電波吸収特性測定装置Ｘ１の概略構成を表す図。
【図２】本発明の第２実施形態に係る電波吸収特性測定装置Ｘ２の概略構成を表す図。
【図３】マジックティの斜視図。
【符号の説明】
【００１７】
Ｘ１，Ｘ２…電波吸収特性測定装置
１〜４…マジックティの開口
１１…信号発生器
１２…マジックティ
１３…信号受信器
２１，２２…導波管
３０…金属板（電波の反射部材）
４０…測定対象物（電波吸収体）
５０…スライド機構
【図１】
2006038759.tif 000003
【図２】
2006038759.tif 000004
【図３】
2006038759.tif 000005