(57)【要約】【課題】液晶表示パネル２０の分割画像を正確に合成して、液晶表示パネル２０の表示品位を検出した検査結果位置の信頼性を高める。【解決手段】第１撮像ステップでは、液晶表示パネル２０を複数の撮像領域に分割し、各撮像領域を、撮像領域に含まれる全ての絵素を表示させた状態で分割画像としてそれぞれ撮像する。第２撮像ステップでは、各撮像領域を、撮像領域の一部において少なくとも１つのドットにより構成されたマーク４０のみを点灯させた状態で、マーク画像としてそれぞれ撮像する。合成ステップでは、マーク画像を基準として各分割画像を合成することにより、全体画像を形成する。判断ステップでは、全体画像に基づいて液晶表示パネル２０の表示不良の有無を判断する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のドットからなる絵素を複数有する表示パネルを、複数の撮像領域に分割し、上記各撮像領域を、該撮像領域に含まれる全ての絵素を表示させた状態で分割画像としてそれぞれ撮像する第１撮像ステップと、
上記各分割画像を合成することにより、上記表示パネルの全体画像を形成する合成ステップと、
上記全体画像に基づいて上記表示パネルの表示不良の有無を判断する判断ステップとを含む検査工程を具備した表示パネルの製造方法であって、
上記各撮像領域を、該撮像領域の一部において少なくとも１つの上記ドットにより構成されたマークのみを点灯させた状態で、マーク画像としてそれぞれ撮像する第２撮像ステップを備え、
上記合成ステップでは、上記マーク画像を基準として上記全体画像を形成する
ことを特徴とする表示パネルの製造方法。
【請求項２】
請求項１において、
上記第１撮像ステップ及び上記第２撮像ステップは、上記各撮像領域毎に順次行われる
ことを特徴とする表示パネルの製造方法。
【請求項３】
請求項１において、
上記点灯するマークは、複数の絵素により構成されている
ことを特徴とする表示パネルの製造方法。
【請求項４】
請求項１において、
上記表示パネルは、光源の光を透過して透過表示を行う液晶表示パネルである
ことを特徴とする表示パネルの製造方法。
【請求項５】
複数のドットからなる絵素を複数有する表示パネルを制御して、該表示パネルの一部において少なくとも１つの上記ドットをマークとして点灯させる制御手段と、
上記表示パネルを複数の撮像領域に分割し、上記各撮像領域を、該撮像領域に含まれる全ての絵素を表示させた状態で分割画像としてそれぞれ撮像する一方、上記各撮像領域を、上記マークのみを点灯させた状態で、マーク画像としてそれぞれ撮像する撮像手段と、
上記複数の分割画像を、上記マーク画像を基準として合成することにより、上記表示パネルの全体画像を形成する画像合成手段と、
上記全体画像に基づいて上記表示パネルの表示不良の有無を判断する演算手段とを備えている
ことを特徴とする表示パネルの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、表示パネルの製造方法及び表示パネルの検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、より高品位な画像を表示できる表示パネルが強く要望されている。しかしながら、現在の表示パネルの製造技術では、表示不良（表示欠損を含む）の発生を完全に防止することは極めて困難である。そこで、表示不良を含む表示パネルを選別するために、表示パネルの製造工程において、検査工程が行われている。
【０００３】
一般に、輝点不良（異常点灯）、黒点不良や線欠陥（不点灯）、表示ムラ等の表示不良の有無を検査する検査工程は、検査員の目視により行われる。検査員による目視検査は、良品として扱うことができる最低品位のサンプルであるいわゆる限界サンプルを用いて行われる。詳細には、検査員が表示パネルと限界サンプルとを見比べることにより、合否（表示不良の有無）の判定が行われる。しかし、目視検査では、各検査員の間で合否判定結果がばらつくことが避けられず、また、同一検査員によっても、日時や検査環境によって合否判定結果がばらついてしまうという問題がある。さらに、マンパワーを必要とするため、表示パネルの製造コストの上昇を招来するという問題がある。
【０００４】
このような問題に鑑み、表示パネルの表示不良の自動検査方法が種々提案されている（例えば、特許文献１及び２等参照）。以下、一般的な自動検査方法について図面を参照しながら説明する。
【０００５】
図１４は一般的な自動検査装置１００の構成を示す概念図である。
【０００６】
自動検査装置１００は、検査対象となる透過型の液晶表示パネル１０１を設置するための検査用テーブル１０２と、検査用テーブル１０２の背面に設けられたバックライト１０３と、液晶表示パネル１０１を撮影するためのＣＣＤカメラ１０４と、ＣＣＤカメラ１０４に接続された画像処理装置１０５とを備えている。画像処理装置１０５は、Ａ／Ｄコンバータ１０６と、画像メモリ１０７と、演算回路１０８とを備えている。
【０００７】
自動検査装置１００により自動検査を行う場合には、まず、検査用テーブル１０２に検査対象となる液晶表示パネル１０１を設置する。続いて、液晶表示パネル１０１の上方に設けられたＣＣＤカメラ１０４を用いて液晶表示パネル１０１を撮影することにより画像データを得る。得られた画像データは、画像処理装置１０５に取り込まれる。画像処理装置１０５では、得られた画像データが、Ａ／Ｄコンバータ１０６によりデジタル化され、輝度相対データとして画像メモリ１０７に記憶される。一方、画像メモリ１０７には閾値（基準データ）が予め記憶されており、演算回路１０８において、記憶された輝度相対データと閾値とが比較され、表示不良の有無が判断される。こうして、自動検査が行われる。
【０００８】
ところで、ＣＣＤカメラにより表示パネルをドット毎に確実に検査するためには、ＣＣＤカメラに所定値以上の分解能が必要となる。具体的には、サンプリング定理より、一回に撮像されるドット数の少なくとも２倍の分解能が必要となる。
【０００９】
ここで、サンプリング定理とは、「入力信号として最大周波数ｆMAXまでの交流信号をＡ／Ｄ変換した後、これをＤ／Ａ変換して戻したときに、原信号を忠実に再生できるためには、少なくとも２ｆMAX以上のサンプリング周波数ｆｓでサンプリングする必要がある」という定理をいい、標本化定理とも称される。
【００１０】
ところが、現状商品化されているＣＣＤカメラの分解能は、最も性能が良いものであっても、横４０００ドット×縦２６７２ドットである。これに対し、例えばＳＶＧＡパネルは、横２４００ドット×縦６００ドットであるから、横方向においてはパネルの１ドット当たりＣＣＤカメラの１．６７ドット（４０００／２４００）でしか撮像することができない。つまり、現状のＣＣＤカメラでは、サンプリング定理により要求される２ドット以上の分解能が得られないという問題がある。
【００１１】
そこで、表示パネルを複数の領域に分割して撮像することが一般に行われている。また、撮影された複数の分割画像を正確に合成して全体画像を再現するために、検査対象物に予め大きさが既知の複数のマークを付すようにし、分割画像を上記マークと同時に取り込むことが知られている（例えば、特許文献３等参照）。
【００１２】
上記特許文献３では、図１５に示すように、検査対象物である配管１１１の溶接痕１１２の周りに、マーク１１３を所定の間隔で設けている。そして、２つのマーク１１３を含む撮像範囲をカメラ１１４により複数撮影する。その後、撮影された複数の分割画像は、各マーク１１３を目印にして合成することにより、全体画像が正確に形成される。
【特許文献１】特開平４−４４４９３号公報
【特許文献２】特開平７−７２０３７号公報
【特許文献３】特開２００２−２３６１００号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
ところが、表示パネルのドットを精密に検査するためには、暗室の内部で表示パネルを表示させた状態で撮像する必要がある。したがって、上記特許文献３のように、単にマークを表示パネルに付したとしても、周囲が暗いために、撮影された分割画像においてマークを明確に識別することは極めて難しい。
【００１４】
すなわち、表示パネルのドットが検査対象である場合には、撮影された分割画像を合成して正確な全体画像を形成することが難しいという問題がある。
【００１５】
本発明は、斯かる諸点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、表示パネルの分割画像を正確に合成して、全体画像の情報を精度良く得られるようにし、表示不良検査された表示パネルの信頼性を高めることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記の目的を達成するために、この発明では、各撮像領域における少なくとも１つのドットによりマークを構成し、そのマークのみを点灯させた状態で、撮像領域をマーク画像として撮像するようにした。
【００１７】
具体的に、本発明に係る表示パネルの製造方法は、複数のドットからなる絵素を複数有する表示パネルを、複数の撮像領域に分割し、上記各撮像領域を、該撮像領域に含まれる全ての絵素を表示させた状態で分割画像としてそれぞれ撮像する第１撮像ステップと、上記各分割画像を合成することにより、上記表示パネルの全体画像を形成する合成ステップと、上記全体画像に基づいて上記表示パネルの表示不良の有無を判断する判断ステップとを含む検査工程を具備した表示パネルの製造方法であって、上記各撮像領域を、該撮像領域の一部において少なくとも１つの上記ドットにより構成されたマークのみを点灯させた状態で、マーク画像としてそれぞれ撮像する第２撮像ステップを備え、上記合成ステップでは、上記マーク画像を基準として上記全体画像を形成する。
【００１８】
上記第１撮像ステップ及び上記第２撮像ステップは、上記各撮像領域毎に順次行われることが好ましい。
【００１９】
上記点灯するマークは、複数の絵素により構成されていてもよい。
【００２０】
上記表示パネルは、光源の光を透過して透過表示を行う液晶表示パネルであってもよい。
【００２１】
また、本発明に係る表示パネルの検査装置は、複数のドットからなる絵素を複数有する表示パネルを制御して、該表示パネルの一部において少なくとも１つの上記ドットをマークとして点灯させる制御手段と、上記表示パネルを複数の撮像領域に分割し、上記各撮像領域を、該撮像領域に含まれる全ての絵素を表示させた状態で分割画像としてそれぞれ撮像する一方、上記各撮像領域を、上記マークのみを点灯させた状態で、マーク画像としてそれぞれ撮像する撮像手段と、上記複数の分割画像を、上記マーク画像を基準として合成することにより、上記表示パネルの全体画像を形成する画像合成手段と、上記全体画像に基づいて上記表示パネルの表示不良の有無を判断する演算手段とを備えている。
【００２２】
−作用−
次に、本発明の作用について説明する。
【００２３】
表示パネルは複数の絵素を有し、各絵素は複数のドットにより構成されている。この表示パネルの製造方法には、検査工程が含まれる。検査工程では、第１撮像ステップと、第２撮像ステップと、合成ステップと、判断ステップとを行う。第１撮像ステップでは、検査対象である表示パネルを複数の撮像領域に分割し、各撮像領域を、その撮像領域に含まれる全ての絵素を表示させた状態で分割画像としてそれぞれ撮像する。
【００２４】
第２撮像ステップでは、まず、撮像領域の一部において少なくとも１つのドットにより構成されたマークのみを点灯させる。マークは複数の絵素により構成すると、より明確に撮像できるために好ましい。そして、マークを点灯させた状態で、各撮像領域をマーク画像としてそれぞれ撮像する。
【００２５】
第１撮像ステップ及び第２撮像ステップは、各撮像領域毎に順次行うことが好ましい。すなわち、所定の撮像領域に対し、第１撮像ステップと第２撮像ステップとを行った後に、次の撮像領域に対して、第１撮像ステップと第２撮像ステップとを行う。これを複数の撮像領域の全てについて行う。このことにより、各撮像領域は、検査対象の画像である分割画像として撮像されると共に、その分割画像に対応したマーク画像として撮像される。
【００２６】
次に、合成ステップでは、上記各分割画像を、上記マーク画像を基準として合成することにより、表示パネルの全体画像を形成する。その後、判断ステップでは、上記全体画像に基づいて表示パネルの表示不良の有無を判断する。以上の各ステップにより表示パネルの検査が行われる。
【００２７】
また、上記表示パネルの検査装置により検査を行う場合には、制御手段により表示パネルを制御して、少なくとも１つのドットをマークとして点灯させる。そして、撮像手段により、分割画像とマーク画像とを撮像する。上述したように、分割画像には全ての絵素が表示された撮像領域が撮像されており、マーク画像にはマークのみが点灯した撮像領域が撮像されている。続いて、画像合成手段により、上記各分割画像をマーク画像を基準として合成し、表示パネルの全体画像を形成する。その後、演算手段により、上記全体画像に基づいて表示パネルの表示不良の有無を判断する。
【発明の効果】
【００２８】
本発明によれば、各撮像領域における少なくとも１つのドットによりマークを構成し、そのマークのみを点灯させた状態で、撮像領域をマーク画像として撮像するようにしたので、表示パネルの周囲を暗くしても、マーク画像のマークを確実に識別することができる。したがって、点灯しているマークに基づいて各マーク画像を正確に合成できるため、それらマーク画像に対応した分割画像同士を正確に合成して、全体画像を形成することができる。その結果、表示パネルの全体画像の情報を精度良く得ることができるため、表示不良検査された表示パネルの信頼性を高めることができる。そのことに加え、表示パネルのドットを分割画像の合成のためのマークとして利用するようにしたので、マークを表示パネルと別個独立に設ける必要がない。つまり、より簡単な構成によって検査を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。尚、本発明は、以下の実施形態に限定されるものではない。
【００３０】
《発明の実施形態１》
図１〜図１３は、本発明に係る表示パネルの製造方法、及び表示パネルの検査装置の実施形態１を示している。図２は、例えば液晶表示パネル等の表示パネルに対し、表示不良の有無を検査するための検査装置（輝度測定装置）１０の構成を示す模式図である。
【００３１】
検査装置１０は、検査対象となる液晶表示パネル２０が装着される検査用テーブル１２と、検査用テーブル１２の下方（背面側）に設けられた光源であるバックライト１１と、検査用テーブル１２の上方に設けられた撮像手段であるカメラ１４と、カメラ１４と検査用テーブル１２との間に設けられたレンズ群１３と、カメラ１４に接続された画像処理装置１５と、検査時における表示パネルの表示状態を制御するドライバ等の制御手段２３とを備えている。
【００３２】
上記液晶表示パネル２０は、バックライト１１の光を透過して透過表示を少なくとも行う例えばＳＶＧＡ型の液晶表示パネルであり、例えば、マトリクス状に配置された複数の絵素を有している。各絵素は、Ｒ，Ｇ，Ｂの三色をそれぞれ表示する一組のドットにより構成されている。液晶表示パネル２０には、横方向に２４００個のドットが設けられると共に、縦方向に６００個のドットが設けられている。
【００３３】
上記バックライト１１は液晶表示パネル２０に適宜光を供給する。バックライト１１から供給されて液晶表示パネル２０を透過した光は、レンズ群１３により集光されてカメラ１４へ入射するようになっている。
【００３４】
上記検査用テーブル１２は、平面図である図３に示すように、その中央に上記液晶表示パネル２０が装着される装着部２１を有する。装着部２１は、液晶表示パネル２０の形状と同じ四角形に形成され、バックライト１１の光を透過するように構成されている。
【００３５】
図４は、液晶表示パネル２０が検査用テーブル１２に装着された状態を示している。上記制御手段２３は、液晶表示パネル２０を制御して、その液晶表示パネル２０の一部において少なくとも１つのドットをマーク４０として点灯させるように構成されている。本実施形態では、１つのドットによって１つのマーク４０を構成している。そして、マーク４０は、液晶表示パネル２０の表示領域において所定の間隔で配置された４つのマーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄにより構成され、時計回りにこの順で並んでいる。
【００３６】
尚、複数の隣り合うドットを１つのまとまりとし、これを１つのマーク４０としてもよい。また、各マーク４０は、複数の絵素により構成してもよい。このことにより、各マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄを大きくして明確に撮像することが可能となる。
【００３７】
上記カメラ１４には、ＣＣＤ（charge-coupled device：電荷結合素子）が設けられている。カメラ１４のＣＣＤの分解能は、例えば、横方向が４０００ドットであり、縦方向が２６７２ドットである。そして、カメラ１４は、上記検査用テーブル１２に装着された液晶表示パネル２０を例えば９つの撮像領域３１〜３９に分割し、各撮像領域３１〜３９をそれぞれ撮像するようになっている。撮像領域は９つに限らず、複数設けられていればよい。
【００３８】
各撮像領域３１〜３９は、隣接する領域同士が互いに重なるように配置されている。図１に示すように、各マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄは、隣接する４つの撮像領域同士が重なる部分に配置されている。すなわち、マーク４０ａは、撮像領域３１，３２，３８，３９が重なる部分に設けられている。マーク４０ｂは、撮像領域３２，３３，３４，３９が重なる部分に配置されている。マーク４０ｃは、撮像領域３４，３５，３６，３９が重なる部分に設けられている。また、マーク４０ｄは、撮像領域３６，３７，３８，３９が重なる部分に配置されている。
【００３９】
カメラ１４は、各撮像領域３１〜３９を、各撮像領域３１〜３９に含まれる全ての絵素を表示させた状態で分割画像としてそれぞれ撮像する。さらに、カメラ１４は、各撮像領域３１〜３９を、マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄのみを点灯させた状態で（つまり、マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄ以外のドットを消灯させた状態で）、マーク画像としてそれぞれ撮像するようになっている。
【００４０】
上記画像処理装置１５は、図２に示すように、Ａ／Ｄコンバータ１６と、メモリ１７と、演算手段である演算回路１８と、画像合成手段である画像合成回路１９とを備えている。
【００４１】
上記Ａ／Ｄコンバータ１６は、カメラ１４に接続され、カメラ１４のＣＣＤに入射した光の量に応じて蓄積された電荷の量をデジタル化して輝度相対データに変換するように構成されている。上記メモリ１７は、Ａ／Ｄコンバータ１６に接続され、上記輝度相対データを記憶するようになっている。
【００４２】
上記画像合成回路１９は、上記メモリ１７に接続され、そのメモリ１７に記憶されている複数の分割画像を、同じくメモリ１７に記憶されているマーク画像を基準として合成することにより、液晶表示パネル２０の全体画像を形成するようになっている。
【００４３】
上記演算回路１８は、上記画像合成回路１９及び、メモリ１７に接続され、上記画像合成回路１９により合成された上記全体画像に基づいて、液晶表示パネル２０の表示不良の有無を判断するように構成されている。表示不良の判断結果は、例えば上記メモリ１７に記憶される。
【００４４】
次に、液晶表示パネル２０の製造方法について説明する。
【００４５】
液晶表示パネル２０は、複数のＴＦＴ（薄型トランジスタ）等が形成されたＴＦＴアレイ基板（図示省略）と、カラーフィルタや共通電極等が形成された対向基板（図示省略）とがスペーサを介して貼り合わされると共に、上記各基板の間に液晶を封入することにより形成される。その後、後述の検査工程を行うことにより、製造工程が完了する。つまり、検査工程は、液晶表示パネル２０の製造方法に含まれている。
【００４６】
上記検査工程は、装着ステップと、第１撮像ステップと、第２撮像ステップと、合成ステップと、判断ステップとを含んでいる。
【００４７】
装着ステップでは、図４に示すように、液晶表示パネル２０を検査用テーブル１２の装着部２１に装着する。また、液晶表示パネル２０を透過表示させるために、バックライト１１を発光させる。
【００４８】
その後、第１撮像ステップでは、液晶表示パネル２０を複数の撮像領域に分割して、分割画像を撮像する。すなわち、図４に示すように、例えば撮像領域３１の上方にカメラ１４を移動させて固定する。続いて、制御手段２３から液晶表示パネル２０へ制御信号を供給して、各撮像領域３１〜３９に含まれる全ての絵素（全てのドット）を点灯させて表示させる。
【００４９】
ここで、図１０は、各撮像領域３１〜３９を撮像するＣＣＤのドット２５を模式的に示している。尚、図１０では、説明のために、ドット２５が全部で１００個（１０×１０）であるとして模式的に示している。このように、カメラ１４のＣＣＤは、マトリクス状に配置された複数のドット２５を有している。
【００５０】
図１１は、液晶表示パネル２０のドット３０ｒ，３０ｇ，３０ｂに、上記ＣＣＤのドット２５を重ね合わせた状態を示している。尚、ドット３０ｒは、赤色（Ｒ）のドットであり、ドット３０ｇは、緑色（Ｇ）のドットであり、ドット３０ｂは、青色（Ｂ）のドットである。図１１に示されるように、本実施形態では、例えば、ドット３０ｒ，３０ｇ，３０ｂの１つに対し、６（２×３）個のＣＣＤのドット２５が対応している。したがって、サンプリング定理により最低限要求される２個以上のドットの条件は、十分に満たしている。
【００５１】
そして、図１２に示すように、撮像領域３１に含まれるドット３０ｒ，３０ｇ，３０ｂを全て点灯させた状態で、この撮像領域３１を、カメラ１４により分割画像５１として撮像する。
【００５２】
続いて、第２撮像ステップでは、制御手段２３から液晶表示パネル２０へ制御信号を供給して、図１３に示すように、上記撮像領域３１において所定のドット（例えば１つのドット３０ｒ）のみをマーク４０ａとして点灯させ、他のドットを消灯させる。このマーク４０ａのみを点灯させた状態で、上記撮像領域３１をマーク画像５２として撮像する。このとき、カメラ１４は移動させず、上記分割画像５１を撮像した位置に固定維持しておく。マーク４０ａは、少なくとも１つ以上のドットにより構成してもよい。
【００５３】
マーク画像５２は、対応する分割画像５１の位置を正確に識別するための画像であり、上記撮像領域３１の分割画像５１を他の撮像領域３２，３８，３９の分割画像と合成する際の目印として用いる。尚、第１撮像ステップ及び第２撮像ステップは、どちらを先に行っても構わない。こうして、１つの撮像領域３１について例えば一組の分割画像５１及びマーク画像５２を撮像する。
【００５４】
その後に、次の撮像領域３２の上方位置へカメラ１４を平行移動させて固定する。そして、図５に示すように、撮像領域３２について、上記と同様に、第１撮像ステップを行って分割画像を撮像すると共に、第２撮像ステップを行ってマーク画像を撮像する。このとき、撮像領域３２におけるマーク画像には、２つのマーク４０ａ，４０ｂが撮像されている。マーク４０ｂも、マーク４０ａと同様に、液晶表示パネル２０のドットにより構成されている。
【００５５】
続いて、カメラ１４を平行移動させて、図６に示すように、撮像領域３３について、上記と同様に、分割画像とマーク画像とを撮像する。このとき、撮像領域３３におけるマーク画像には、マーク４０ｂが撮像されている。さらに、カメラ１４を平行移動させ、図７に示すように、撮像領域３８について、同様に、分割画像とマーク画像とを撮像する。このとき、撮像領域３８におけるマーク画像には、２つのマーク４０ａ，４０ｄが撮像されている。
【００５６】
さらに、同様に、図８に示すように、カメラ１４を平行移動させて、撮像領域３９について、同様に、分割画像とマーク画像とを撮像する。このとき、撮像領域３９におけるマーク画像には、マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄが撮像されている。その後、図９に示すように、残りの他の撮像領域３４〜３７についても、上記と同様に、第１撮像ステップ及び第２撮像ステップを行って、各撮像領域３４〜３７に対し、分割画像及びマーク画像を撮像する。以上のようにして、第１撮像ステップ及び第２撮像ステップを各撮像領域毎に順次行い、液晶表示パネル２０の表示領域を複数の画像に分割して撮像する。
【００５７】
また、マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄを複数のマーク画像に重複するように撮像したので、各分割画像は、その一部が重複して撮像されている。撮像された各分割画像は、Ａ／Ｄコンバータ１６により輝度相対データに変換されてメモリ１７に記憶される。尚、撮像する順序は、これに限らない。
【００５８】
続いて、合成ステップでは、画像合成回路１９によって、上記複数の分割画像を、マーク画像を基準として合成することにより、液晶表示パネル２０の全体画像を形成する。
【００５９】
例えば、撮像領域３１のマーク画像と、撮像領域３２のマーク画像とを、これらに共通のマーク４０ａが互いに重なって一致するように合成する。撮像領域３１，３２における各マーク画像及び分割画像は、その位置が対応してそれぞれ一致しているため、マーク４０ａが重なるような上記各マーク画像の合成によって、撮像領域３１の分割画像と、撮像領域３２の分割画像とは、正確に合成されることとなる。
【００６０】
撮像領域３２，３３及び撮像領域３３，３４については、上記と同様に、マーク４０ｂを基準として各マーク画像を合成することにより、各分割画像を正確に合成する。また、例えば、撮像領域３９と撮像画像３１〜３４とについては、マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃを基準として各マーク画像を合成することにより、各分割画像を正確に合成する。このように、マーク４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄを基準として、各マーク画像を合成することにより、各分割画像を合成する。尚、各分割画像を合成する順番については、特に限定されるものではない。
【００６１】
以上のようにして、画像合成回路１９により、各分割画像が互いに合成されて全体画像が形成され、その全体画像の輝度相対データがメモリ１７に記憶される。
【００６２】
次に、判断ステップでは、合成された上記全体画像の輝度相対データに基づいて液晶表示パネル２０の表示不良の有無を判断する。すなわち、メモリ１７には閾値（基準データ）が予め記憶されており、演算回路１８において、上記全体画像の輝度相対データと閾値とが比較され、特定のドットにおける表示不良の有無が正確に判断される。こうして、表示不良の検査が行われる。
【００６３】
−実施形態１の効果−
液晶表示パネル２０の表示不良を詳細に検査するためには、周囲を暗くする必要があるが、本実施形態ではマーク４０を点灯可能に構成しているために、マーク４０をマーク画像に明確に撮像することができる。したがって、マーク画像のマーク４０に基づいて、液晶表示パネル２０の各分割画像を正確に合成できるため、正確な全体画像を形成することができる。その結果、上記全体画像の情報を精度良く得ることができるため、表示不良のドットを確実に検出して、製造された表示パネルの信頼性を高めることが可能となる。
【００６４】
そのことに加え、液晶表示パネル２０のドット自体をマーク４０として利用するようにしたので、分割画像の合成のためのマークを別個独立に設ける必要がない。つまり、より簡単な構成で検査を行うことができる。
【００６５】
《その他の実施形態》
上記実施形態１では、液晶表示パネル２０について説明したが、本発明はこれに限らず有機ＥＬ表示パネル等の他の表示パネルに適用することもできる。
【産業上の利用可能性】
【００６６】
以上説明したように、本発明は、表示パネルの製造方法及び表示パネルの検査装置について有用であり、特に、表示パネルの分割画像を正確に合成して、全体画像の情報を精度良く得られるようにし、表示不良検査された表示パネルの信頼性を高める場合に適している。
【図面の簡単な説明】
【００６７】
【図１】９つに分割して撮像される実施形態１の液晶表示パネルを示す平面図である。
【図２】検査装置の概略構成を示す模式図である。
【図３】検査用テーブルを示す平面図である。
【図４】第１の撮像領域を示す平面図である。
【図５】第１〜２の撮像領域を示す平面図である。
【図６】第１〜３の撮像領域を示す平面図である。
【図７】第１〜４の撮像領域を示す平面図である。
【図８】第１〜５の撮像領域を示す平面図である。
【図９】第１〜９の撮像領域を示す平面図である。
【図１０】カメラのＣＣＤのドットを模式的に示す平面図である。
【図１１】液晶表示パネルのドットを拡大して示す平面図である。
【図１２】第１の分割画像を拡大して示す図である。
【図１３】第１のマーク画像を拡大して示す図である。
【図１４】従来の検査装置の概略構成を示す模式図である。
【図１５】従来の分割画像の撮影方法を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００６８】
１０      検査装置
１４      カメラ（撮像手段）
１５      画像処理装置
１８      演算回路（演算手段）
１９      画像合成回路（画像合成手段）
２３      制御手段
３０ｒ，３０ｇ，３０ｂ      ドット
３１〜３９      撮像領域
４０，４０ａ，４０ｂ，４０ｃ，４０ｄ    マーク
５１      分割画像
５２      マーク画像
【図１】
2006337662.tif 000003
【図２】
2006337662.tif 000004
【図３】
2006337662.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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