(57)【要約】  【課題】自己診断機能を備えた光ディスク装置において、使用期間が保証期間の直前に到達したことを認識可能として、自己診断機能により故障等が発見された場合でも、ユーザがそれを修理に出すタイミングが、費用負担が発生しない保証期間内になるようにする。  【解決手段】初回起動時に、光ディスクからの読み取りデータのエラーレートＥａを計測して保存する（Ｓ１２）と共に、ＣＰＵ内の経過時間カウント手段のカウントを開始させる（Ｓ１３）。経過時間が、予め格納された保証期間の値に近づいた時に（Ｓ１４）、自己診断を実行させる（Ｓ１５）。自己診断の実行によって得られたエラーレートの計測値Ｅｂと初回起動時のエラーレートの計測値Ｅａに基づいて光ピックアップの動作診断を行う。自己診断の結果、診断項目のいずれかに動作不良が発見されれば（Ｓ１６）、その旨をディスプレイ装置に表示すると共に音声でユーザへ報知する（Ｓ１７）。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
装置の自己診断を行う機能を備えた光ディスク装置において、
ユーザが時刻合わせを行い、年月日に関する時計機能を有した基準時計と、
初回起動時の年月日を記憶しておく初回起動日時記憶手段と、
製品出荷時又は販売時に当該製品の保証期間を格納された記憶手段と、
前記基準時計による現在日時が、前記初回起動日時記憶手段に記憶された初回起動日時に、前記記憶手段に格納された保証期間を足した日時に近づいた時に、前記自己診断機能を作動させる自己診断開始手段と、
前記自己診断開始手段によって開始された自己診断の結果を、映像及び／又は音声によりユーザに報知する診断結果報知手段と、
前記自己診断機能を実行するために、光ピックアップからのデータ読み取り出力を検査する光ピックアップ検査手段と、を備え、
前記光ピックアップ検査手段が、
初回起動時に装填された光ディスクから読取ったデータのエラーレートを計測して、その計測値を保存する初回エラーレート計測・保存手段と、
自己診断時に装填された光ディスクから読取ったデータのエラーレートを計測して、その計測値を記憶するエラーレート計測・記憶手段と、
前記初回エラーレート計測・保存手段によって保存された初回エラーレート値と、前記エラーレート計測・記憶手段によって記憶された自己診断時のエラーレート値とを比較するエラーレート比較手段と、
前記エラーレート比較手段による比較の結果に基づいて光ピックアップの診断をする判定手段と、を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
自己診断機能を備えた電気機器において、
初回起動時からの経過時間をカウントする経過時間カウント手段と、
前記経過時間カウント手段による経過時間が、当該電気機器の保証期間よりも若干短い時間に到達した時に、前記自己診断機能を作動させる自己診断開始手段と、
前記自己診断開始手段によって開始された自己診断の結果を、映像及び／又は音声によりユーザに報知する診断結果報知手段と、を備えたことを特徴とする電気機器。
【請求項３】
装置の自己診断を行う機能を備えた光ディスク装置において、
初回起動時からの経過時間をカウントする経過時間カウント手段と、
製品出荷時又は販売時に当該製品の保証期間を格納された記憶手段と、
前記経過時間カウント手段による経過時間が、前記記憶手段に格納された保証期間に近づいた時に、前記自己診断機能を作動させる自己診断開始手段と、
前記自己診断開始手段によって開始された自己診断の結果を、映像及び／又は音声によりユーザに報知する診断結果報知手段と、
前記自己診断機能を実行するために、光ピックアップからのデータ読み取り出力を検査する光ピックアップ検査手段と、を備え、
前記光ピックアップ検査手段が、
初回起動時に装填された光ディスクから読取ったデータのエラーレートを計測して、その計測値を保存する初回エラーレート計測・保存手段と、
自己診断時に装填された光ディスクから読取ったデータのエラーレートを計測して、その計測値を記憶するエラーレート計測・記憶手段と、
前記初回エラーレート計測・保存手段によって保存された初回エラーレート値と、前記エラーレート計測・記憶手段によって記憶された自己診断時のエラーレート値とを比較するエラーレート比較手段と、
前記エラーレート比較手段による比較の結果に基づいて光ピックアップの診断をする判定手段と、を備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、自己診断機能を備えた電気機器及び自己診断機能を備えた光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
装置の故障箇所や性能の低下してきている箇所を、装置自身が検出・発見して、その旨を映像及び／又は音声によってユーザへ報知する電気機器がある。例えば、特許文献１には、リードエラー数の増加等を計測して故障を予測するハードディスク記録装置が開示されている。この装置では、ハードディスクドライブの検査を、装置が使用されていない時期に実行させることによって、ハードディスクドライブへの記録再生動作が中断されることがないように図っている。特許文献２には、装置の各部に温度や、埃量や、モータ電流の環境検知用センサを設けて、それらセンサからの検知信号に基づいて装置の故障の発生を予測する電気装置が開示されている。
【０００３】
また、特許文献３には、フロッピィ・ディスク・ドライブ装置において、磨耗部材から発せられるパルスをカウントし、そのパルスの積算値が許容使用時間に基づいて設定された所定数に達した時に、ユーザにその旨を報知することにより、装置が故障を起こす前にユーザに適宜のメンテナンスを促す技術が開示されている。
【特許文献１】特開２００３−２５７１３５号公報
【特許文献２】特開平６−３４９２６１号公報
【特許文献３】特開昭６２−４７８６５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上述のような自己診断機能により故障あるいは性能低下箇所を発見された電気機器は、多くの場合、ユーザが当該機器を購入した販売店へ持ち込んだり直接メーカへ連絡したりして修理等適正なメンテナンスを受け、故障あるいは性能の回復を得られるが、販売店あるいはメーカへ連絡する時期が、メーカが定めた保証期間（無償により製品の故障、不具合箇所を修理することを誓約した期間）を過ぎている場合には、ユーザは修理メンテナンス費用として相当額の出費を強いられる。従って、折角自己診断によって不具合箇所が発見されたにも拘わらず、修理メンテナンス費用が嵩む場合には、ユーザは故障内容が深刻なものでなければ（例えば、光ディスク再生装置であれば画質の低下等）、修理をあきらめ不完全な状態で機器を使用し続ける場合がある。
【０００５】
このようにユーザにとっては、特にメンテナンス費用面で、購入日は重要な意味をもった情報なのであるが、多くのユーザは購入日に無関心であって、それをメモ等していない限り、購入時から多くの場合の保証期間である１年近くの後には購入日は不明になってしまうのが実情である。そして、自己診断を行う時期についても、通常はユーザが、不特定の時期に、電気機器に何らかの異常を感じて自己診断を実行する指示をリモコン等の操作手段を介して行うだけであるので、特に保証期間に関連して行うものではない。また、自己診断機能を備えた電気機器のなかには、予め決められたタイミング（例えば、特許文献１のように電源をオンするたび）で自己診断機能を実行するものもあるが、装置自体は購入時期を認識できないこともあって、特に保証期間に関連して自己診断を実行するものではない。
【０００６】
なお、特許文献３に記載の技術は、ユーザにメンテナンスを促すためのメッセージを報知するタイミングの目安として、モータの回転信号の積算値を用いたものであり、使用開始からの物理時間の経過を計測して行うものではない。
【０００７】
上記事情に鑑み、本発明は、自己診断機能を備えた電気機器及び光ディスク装置において、初回起動時からの経過時間を計測するか、あるいは初回起動時の年月日を記憶しておき、事後に現在時間（現在の年月日）と記憶してある初回起動時の年月日に保証期間を足した年月日を比較することにより、当該電気機器及び光ディスク装置が保証期間の直前に到達したことを認識可能として、当該電気機器及び光ディスク装置の保障期間が終了する直前に自己診断機能が作動するようにし、故障あるいは性能低下箇所が自己診断により発見され、ユーザがそれを修理に出す場合でもユーザの費用負担が発生せず、したがって気軽に機器の修理が行え、常に良い状態での使用が行いやすい電気機器及び光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するための請求項１の発明は、装置の自己診断を行う機能を備えた光ディスク装置において、ユーザが時刻合わせを行い、年月日に関する時計機能を有した基準時計と、初回起動時の年月日を記憶しておく初回起動日時記憶手段と、製品出荷時又は販売時に当該製品の保証期間を格納された記憶手段と、前記基準時計による現在日時が、前記初回起動日時記憶手段に記憶された初回起動日時に、前記記憶手段に格納された保証期間を足した日時に近づいた時に、前記自己診断機能を作動させる自己診断開始手段と、前記自己診断開始手段によって開始された自己診断の結果を、映像及び／又は音声によりユーザに報知する診断結果報知手段と、前記自己診断機能を実行するために、光ピックアップからのデータ読み取り出力を検査する光ピックアップ検査手段と、を備え、前記光ピックアップ検査手段が、初回起動時に装填された光ディスクから読取ったデータのエラーレートを計測して、その計測値を保存する初回エラーレート計測・保存手段と、自己診断時に装填された光ディスクから読取ったデータのエラーレートを計測して、その計測値を記憶するエラーレート計測・記憶手段と、前記初回エラーレート計測・保存手段によって保存された初回エラーレート値と、前記エラーレート計測・記憶手段によって記憶された自己診断時のエラーレート値とを比較するエラーレート比較手段と、前記エラーレート比較手段による比較の結果に基づいて光ピックアップの診断をする判定手段と、を備えたことを特徴とする。
【０００９】
また、請求項２の発明は、自己診断機能を備えた電気機器において、初回起動時からの経過時間をカウントする経過時間カウント手段と、前記経過時間カウント手段による経過時間が、当該電気機器の保証期間よりも若干短い時間に到達した時に、前記自己診断機能を作動させる自己診断開始手段と、前記自己診断開始手段によって開始された自己診断の結果を、映像及び／又は音声によりユーザに報知する診断結果報知手段と、を備えたことを特徴とする。
【００１０】
また、請求項３の発明は、装置の自己診断を行う機能を備えた光ディスク装置において、初回起動時からの経過時間をカウントする経過時間カウント手段と、製品出荷時又は販売時に当該製品の保証期間を格納された記憶手段と、前記経過時間カウント手段による経過時間が、前記記憶手段に格納された保証期間に近づいた時に、前記自己診断機能を作動させる自己診断開始手段と、前記自己診断開始手段によって開始された自己診断の結果を、映像及び／又は音声によりユーザに報知する診断結果報知手段と、前記自己診断機能を実行するために、光ピックアップからのデータ読み取り出力を検査する光ピックアップ検査手段と、を備え、前記光ピックアップ検査手段が、初回起動時に装填された光ディスクから読取ったデータのエラーレートを計測して、その計測値を保存する初回エラーレート計測・保存手段と、自己診断時に装填された光ディスクから読取ったデータのエラーレートを計測して、その計測値を記憶するエラーレート計測・記憶手段と、前記初回エラーレート計測・保存手段によって保存された初回エラーレート値と、前記エラーレート計測・記憶手段によって記憶された自己診断時のエラーレート値とを比較するエラーレート比較手段と、前記エラーレート比較手段による比較の結果に基づいて光ピックアップの診断をする判定手段と、を備えたことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１１】
請求項１の発明によれば、当該光ディスク装置の保障期間が終了する直前に自己診断機能が作動する。そして、その結果、故障あるいは性能低下箇所が発見されたとしても、保証期間内であるので、ユーザが当該不具合箇所を修理するための費用負担が発生せず、したがって気軽に機器の修理が行え、常に良いメンテナンス状態での使用が行われやすい。また、光ピックアップの診断をする際の判定基準として初回起動時のエラーレートを用いるので、長期間に亘って徐々に変化する相対的な性能の低下であっても発見することができる。さらに、保証期間が終了する直前に近づいてきたかどうかは、経過時間カウンタで計測する経過時間に基づくのではなく、ユーザが時刻合わせを行う基準時計に基づくので、光ディスク装置へ電源が投入されていない期間があったとしても、保証期間終了に近づいてきたかどうかが正しく判断される。
【００１２】
請求項２の発明によれば、当該電気機器の保障期間が終了する直前に自己診断機能が作動する。そして、その結果、故障あるいは性能低下箇所が発見されたとしても、保証期間内であるので、ユーザが当該不具合箇所を修理するための費用負担が発生せず、したがって気軽に機器の修理が行え、常に良いメンテナンス状態での使用が行われやすい。
【００１３】
請求項３の発明によれば、当該光ディスク装置の保障期間が終了する直前に自己診断機能が作動する。そして、その結果、故障あるいは機能低下箇所が発見されたとしても、保証期間内であるので、ユーザが当該不具合箇所を修理するための費用負担が発生せず、したがって気軽に機器の修理が行え、常に良いメンテナンス状態での使用が行われやすい。また、光ピックアップの診断をする際の判定基準として初回起動時のエラーレートを用いるので、長期間に亘って徐々に変化する相対的な性能の低下であっても発見することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置について図１から図３を参照して説明する。図１は光ディスク装置１の電気的ブロック構成を示す。本実施形態の光ディスク装置１は、光ディスク７０に対して記録及び再生を行う装置である。
【００１５】
光ディスク装置１は、図示しないディスクトレイに載置された光ディスク７０が所定の挿入位置に挿入されたことを検知するディスク挿入検知部２と、光ディスク７０のターンテーブルを回転するスピンドルモータ３と、光ディスク７０への記録、再生用レーザ光を発生、照射する光ピックアップ４と、光ピックアップ４の移動モータ５と、レーザ光源である半導体レーザ４１のレーザ駆動部６と、光ピックアップ４からの出力信号を処理する信号処理部７と、データスライス信号生成部８と、対物レンズ４４のレンズホルダ４７に設けたトラッキングコイル４９及びフォーカシングコイル４８へ電流供給を行って対物レンズ４４を所望の方向へ移動するサーボ制御部９と、ディスク挿入検知部２、スピンドルモータ３、レーザ駆動部６、信号処理部７、データスライス信号生成部８、及びサーボ制御部９のそれぞれを制御するマイクロコンピュータからなるＣＰＵ２０とを備えている。
【００１６】
光ピックアップ４は半導体レーザ４１からのレーザ光をコリメートレンズ４２、ビームスプリッタ４３及び対物レンズ４４を介して光ディスク７０上にレーザ光を集光照射する。また、光ディスク７０からの反射光を対物レンズ４４、ビームスプリッタ４３及び集光レンズ４５を介して光検知器４６で受光する。そして、光検知器４６からの出力信号が信号処理部７によってＲＦ信号に変換され、さらにＲＦ信号がデータスライス信号生成部８によって２値化されてＣＰＵ２０へ入力されて光ディスク７０に記録されたデータ（映像・音声情報）が読取られる。
【００１７】
光ディスク装置１は、さらにディスプレイ装置３０とのインターフェイスとなる映像・音声信号入出力部１０と、液晶表示板からなり現在時刻等を７セグメント形式で表示する表示部１３と、リモコン１１からの指令信号（赤外線信号）を受光するリモコン受信部１２を備えている。リモコン１１から発せられた指令信号がリモコン受信部１２を介してＣＰＵ２０へ入力され、光ディスク装置１が種々の動作を行う。具体的には、電源オン・オフ、現在時刻の時刻合わせ、あるいは録画モード、再生モードの切替え等の動作がリモコン１１を介して指示される。表示部１３には、録画モード、再生モード等の状態モードの表示１３ａとして「ＲＥＣ」「ＰＬＡＹ」等の文字が表示され、現在時刻の表示１３ｂが「２０：１５」等の数字で表示される。現在時刻の時刻合わせ操作やタイマー録画の予約操作は、ディスプレイ装置３０の画面上に公知のＯＳＤ（Ｏｎ  Ｓｃｒｅｅｎ  Ｄｉｓｐｌａｙ）機能によって表示される操作説明に沿って、リモコン１１の十字キー、アップダウンキー等を操作することによって行われる。なお、現在時刻はユーザによって現在年月日についてもそれぞれ設定され、一旦設定された時刻はＣＰＵ２０内の時計機能によって計時される。これを基準時計と呼ぶ。
【００１８】
また、ＣＰＵ２０内のＲＯＭ２０ａには当該光ディスク装置１の出荷時に、メーカによって当該製品に固有の保証期間（通常１年）の情報が格納されている。ＲＯＭ２０ａは、ＣＰＵ２０の外部に設けられたフラッシュメモリ等の記憶媒体であってもよい。保証期間は、当該製品に固有の期間であるので、製品によっては１年に限られず、例えば６ヶ月、１８ヶ月等である場合もありうる。また、ユーザが製品を購入してから初回の起動を行うまでの時間を考慮して意図的に「保証期間マイナス１日」を保証期間として格納することもあり得る。つまり、ユーザによる実際の使用実態を反映した期間を保証期間として格納することができる。さらに、ＲＯＭ２０ａをＥＥＰＲＯＭ等の書込み自在なタイプにすることによって、当該光ディスク装置１の販売店における販売時点でのＲＯＭ２０ａへの保証期間情報の書込みを可能とすることができる。この場合には、製品メーカが設定した保証期間とは異なった、販売店独自の保証期間情報を格納することができる。
【００１９】
自己診断機能は、例えば、スピンドルモータ３に流れる電流の値を検出する手段（不図示）からの検出値をＣＰＵ２０が取り込んで、予めＣＰＵ２０内に記憶させた閾値との比較を行うことにより、検出値が閾値を超えていた場合に、モータの異常と判断する等、基本的には、光ディスク装置１内の種々の部分から得られる信号及び出力値等をＣＰＵ２０が取り込んで、その取り込んだ信号及び出力値と予めＣＰＵ２０内に記憶されている閾値との比較に基づいてＣＰＵ２０によって行われる判断機能である。本実施形態では、光ピックアップ４の動作に問題が発生していないかどうかを検査するために、装填された光ディスク７０から読取ったデータのエラーレートを計測し、その計測値を、予めＣＰＵ２０内に記憶された閾値と比較するだけではなく初回起動時の計測値と比較できるようにした光ピックアップ検査手段（後に詳述）を備えている。
【００２０】
次に、ＣＰＵ２０により光ディスク装置１の購入時からの経過時間を管理することによって保証期間の終了直前に自己診断機能が実行される手順について、図２のフローチャートに基づいて説明する。まず、ユーザが光ディスク装置１を購入し、電源を入れて初めて装置を起動する（Ｓ１１）。この初回起動時には、ユーザはディスプレイ装置３０に表示される操作説明に従って現在時刻等の初期設定を行い、光ディスク７０をディスクトレイに装填して再生又は記録動作を行い、ディスプレイ装置３０に再生画像を表示させる等の動作を行う。現在時刻の設定は前述のとおり年月日及び時刻に亘ってそれぞれ設定される。
【００２１】
初回起動の際の、光ディスク７０からのデータの読取り動作時には、ＣＰＵ２０はデータスライス信号生成部８からの信号を受信し、光ディスク７０に書き込まれた映像・音声情報をディジタル情報として得、映像・音声信号入出力部１０へ出力するが、その際のエラーレートを計測し、計測した値ＥａをＣＰＵ２０内のメモリに保存する（Ｓ１２）。そして、同じくＣＰＵ２０内に備えられた経過時間カウント手段が初回起動と同時にカウントを開始する（Ｓ１３）。経過時間カウント手段は、電源が投入されている限り、単純に時間をアップカウントするタイマーであって、少なくとも１年間の時間経過を計測できるものである。
【００２２】
そして、ＣＰＵ２０が、経過時間カウント手段によるカウント（経過時間）がＲＯＭ２０ａ内に格納された保証期間の値に近づいたと判断したならば（ステップＳ１４でイエス）、自己診断を実行する（Ｓ１５）。具体的には、例えば保証期間の値が１年であったとすると、経過時間カウント手段によるカウントが１１ヶ月に到達した際に、自己診断を実行する。もちろん、１１ヶ月プラス２週間とか、１１ヶ月プラス３週間等の、より保証期間（１年）に近い経過時間を自己診断の実行開始の基準時間としてもよい。
【００２３】
次に、自己診断機能のうちの１つである光ピックアップの検査手順について図３のフローチャートに基づいて説明する。ＣＰＵ２０によって自己診断が実行開始されると、その時に装填されている光ディスク７０からの読取り動作を実行し、初回起動時と同様にして、読取ったデータのエラーレートを計測し、計測値ＥｂをＣＰＵ２０内のメモリに記憶する（Ｓ２１）。そして、この計測値Ｅｂと、初回起動時の計測値Ｅａ及びＣＰＵ２０内のメモリに予め格納されている固定閾値Ｅｃとの比較を行い（Ｓ２２）、光ピックアップ４の動作に問題がないかどうかが判定される（Ｓ２３）。具体的には、例えば、まず計測値Ｅｂと固定閾値Ｅｃとの比較が行われ、計測値Ｅｂの方が固定閾値Ｅｃより大であれば光ピックアップ４の動作不良とし、計測値Ｅｂの方が固定閾値Ｅｃより小であっても、計測値Ｅｂの初回起動時の計測値Ｅａに対する増加割合が所定の割合を超えている場合には、光ピックアップ４の動作不良とする。その他の場合はいずれも光ピックアップの動作は正常とする。もちろん、計測値Ｅｂ、初回起動時の計測値Ｅａ及び固定閾値Ｅｃに基づく、光ピックアップ４が正常か不良かの判断は上記の手法以外にも種々変形が可能である。光ピックアップ４の動作診断は以上のようになされるが、その他の診断項目（例えば、前述のスピンドルモータの動作診断等）についても同様に実行される。
【００２４】
自己診断の実行の結果、診断項目のいずれかについて動作不良が発見されれば（ステップＳ１６においてイエス）、動作不良が発見された箇所と診断結果がディスプレイ装置３０の画面に表示されると共にスピーカ（不図示）を通して音声としても発せられ、ユーザに報知される（Ｓ１７）。全ての診断項目に亘って動作不良が発見されなければ（ステップＳ１６においてノー）、報知をせずに終了する。ディスプレイ装置３０の表示を見たユーザは、当該光ディスク装置１を販売店あるいは直接メーカへ持ち込んで、保証期間内であるので無償でその不具合箇所を修理してもらうことができる。特に、エラーレートの計測値Ｅｂの初回起動時のエラーレート計測値Ｅａに比較した増加割合が大きい場合、ユーザはディスプレイ装置３０の画面を常時見続けているので、ユーザにとっては気づきにくい不具合であるが、このような長期間に亘って徐々に変化する相対的な性能の低下であっても、初回起動時の計測値Ｅａと比較することによって発見でき、それを修理することによって、光ディスク装置１をよりよい状態で動作させることができる。
【００２５】
以上、第１の実施形態では、ＣＰＵ２０内の経過時間カウント手段によって初回起動時（購入時）からの経過時間を計測し、それによる経過時間が保証期間に近づいた場合に自己診断を開始させたので、当該光ディスク装置１への電源投入が途中で途切れた場合（ＡＣ電源へのコンセント接続を外す場合）には、経過時間カウント手段のカウントも途切れてしまい保証期間直前への到達を正しく認識できなくなる不具合がある。次に、経過時間カウント手段を用いず、電源投入が途中で途切れる場合にも、ユーザが時刻合わせを行う基準時計を基準にすることによって、正しく保証期間直前への到達を認識できる第２の実施形態について説明する。
【００２６】
第２の実施形態における光ディスク装置１の電気的ブロック構成は、図１に示された第１の実施形態と同一であるので説明を省略し、ＣＰＵ２０による保証期間の管理手順を図４のフローチャートに基づいて説明する。まず、ユーザが光ディスク装置１を購入し、電源を入れて初めて装置を起動する（Ｓ３１）。この初回起動時には、ユーザはディスプレイ装置３０に表示される操作説明に従って、基準時計に対する現在時刻の設定を行う。現在時刻の設定は年月日及び時刻に亘ってそれぞれ設定される。
【００２７】
そして、ステップＳ３１で設定された基準時計の年月日と時刻は、初回起動日時としてＣＰＵ２０内のメモリに保存され、同じく初回起動時の光ディスク７０からの読取りエラーレートが計測されて、その計測値ＥａがＣＰＵ２０内のメモリに保存される（Ｓ３２）。なお、基準時計の時刻部分については、光ディスク装置１の表示部１３に時刻表示１３ｂとして表示される。
【００２８】
次に、ＣＰＵ２０は、ＲＯＭ２０ａに格納されている保証期間情報を読み出すと共に、ステップＳ３２で保存した初回起動日時の情報を読み出し、両者を足した上、余裕期間を引いて自己診断開始日時とする（Ｓ３３）。具体的には、例えば、保証期間情報が「１年」であり、初回起動日時情報が「２００４年８月３０日２０時１５分」、余裕期間が「１ヶ月」であった場合には、自己診断開始日時は「２００５年７月３０日２０時１５分」となる。余裕期間は、自己診断の実行の結果、不具合箇所が発見され、それを知ったユーザが販売店へ持ち込む等の対処をするための期間であり、従って「１ヶ月」に限られず、数週間や数日等の任意の日数に設定してもよい。決定された自己診断開始日時はＣＰＵ２０内のメモリに保存される。
【００２９】
そして、基準時計の計時する日時が、決定された自己診断開始日時に到達すれば（ステップＳ３４においてイエス）、自己診断を実行する（Ｓ３５）。ここで、基準時計は当該光ディスク装置１に電源が投入されている間は計時し続けるので、途中で電源の中断が無い限り、正しく自己診断開始日時への到達を検出するが、この第２の実施形態では、ユーザが時刻合わせを行う基準時計を基準として自己診断開始日時への到達を判断するので、仮に途中で電源の中断が発生した場合であっても、正しく自己診断開始日時への到達を判断できる。つまり、例えば、ユーザの都合（長期の旅行等）により初回起動時から６ヶ月目に１ヶ月間の電源不投入期間が生じたとしても、電源復帰時にはユーザは必ず基準時計の時刻合わせを行うので、その時点で基準時計は正しい時刻（年月日を含む）に修正され、その基準時計の計時に従って自己診断開始日時を検出することになる。
【００３０】
ステップＳ３５において自己診断が実行される際の手順は、図３のフローチャートで示したとおりであり、第１の実施形態と同一であるので説明を省略する。そして、自己診断の実行の結果、診断項目のいずれかについて動作不良が発見されれば（ステップＳ３６においてイエス）、動作不良が発見された箇所と診断結果がディスプレイ装置３０の画面に表示されると共にスピーカ（不図示）を通して音声としても発せられ、ユーザに報知される（Ｓ３７）。全ての診断項目に亘って動作不良が発見されなければ（ステップＳ３６においてノー）、報知をせずに終了する。ディスプレイ装置３０の表示を見たユーザは、当該光ディスク装置１を販売店あるいは直接メーカへ持ち込んで、保証期間内であるので無償でその不具合箇所を修理してもらうことができる。この第２の実施形態の場合も、初回起動時のエラーレートの計測値Ｅａをメモリに保存しておき、自己診断実行時の計測値Ｅｂと比較してその間の増加割合が大きい場合には、光ピックアップの動作不良としてユーザに報知するので、ユーザにとっては気づきにくい長期間に亘って徐々に変化する相対的な性能低下であっても、それに対処することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の第１の実施形態に係る光ディスク装置の電気的ブロック構成図。
【図２】同第１の実施形態に係る光ディスク装置における保証期間管理の手順を示すフローチャート。
【図３】同第１の実施形態に係る光ディスク装置における光ピックアップの自己診断手順を示すフローチャート。
【図４】同第２の実施形態に係る光ディスク装置における保証期間管理の手順を示すフローチャート。
【符号の説明】
【００３２】
１  光ディスク装置
４  光ピックアップ
１１  リモコン
１３  表示部
１３ｂ  現在時刻の表示（基準時計）
２０  ＣＰＵ（初回起動日時記憶手段、自己診断開始手段、診断結果報知手段、光ピックアップ検査手段、初回エラーレート計測・保存手段、エラーレート計測・記憶手段、エラーレート比較手段、光ピックアップの診断判定手段、経過時間カウント手段、）
２０ａ  ＲＯＭ（保証期間記憶手段）
３０  ディスプレイ装置
７０  光ディスク
Ｅａ  初回起動時のエラーレート値
Ｅｂ  自己診断時のエラーレート値
【図１】
2006099849.tif 000003
【図２】
2006099849.tif 000004
【図３】
2006099849.tif 000005
【図４】
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