(57)【要約】【課題】  主ビームのフォーカス誤差信号と副ビームのフォーカス誤差信号を用いてフォーカス位置を制御する光ピックアップ駆動装置において、溝横断出力レベルを簡単に抑制できる光ピックアップ駆動装置の調整方法を提供することを目的とする。【解決手段】  主ビームの位置検出信号（“ＭＦＥ  Ｐ”“ＭＦＥ  Ｎ”）と副ビームの位置検出信号（“ＳＦＥ  Ｐ”“ＳＦＥ  Ｎ”）を加算したフォーカス誤差信号（ＦＥ）またはその系の出力信号を計測するステップと、前記副ビームの位置検出信号（“ＳＦＥ  Ｐ”“ＳＦＥ  Ｎ”）の増幅度（ｋ値）を変更する第２ステップとを、繰り返してモニター計測値が低下したタイミングの前記増幅度（ｋ値）を特定し、この特定した増幅度（ｋ値）で副ビームの位置検出信号の系を運転するように初期設定する。【選択図】図１
2006209869.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ピックアップの対物レンズから得た主ビームの位置検出信号と、主ビームの位置検出信号とは位相が異なる副ビームの位置検出信号を加算した信号に基づいて前記対物レンズをフォーカス誤差を補正する方向に駆動するフォーカス駆動装置を調整するに際し、
主ビームの位置検出信号と副ビームの位置検出信号を加算したフォーカス誤差信号またはその系の出力信号を計測する第１ステップと、
前記副ビームの位置検出信号の増幅度を変更する第２ステップと
を繰り返して前記第１ステップの計測値が既定値に低下したタイミングの前記副ビームの位置検出信号の増幅度を特定し、
この特定した前記増幅度で副ビームの位置検出信号の系を運転するように初期設定する
フォーカス駆動装置の調整方法。
【請求項２】
光ピックアップの対物レンズから得た主ビームの位置検出信号と、主ビームの位置検出信号とは位相が異なる副ビームの位置検出信号を加算した信号に基づいて前記対物レンズをフォーカス誤差を補正する方向に駆動するフォーカス駆動装置を調整するに際し、
主ビームの位置検出信号と副ビームの位置検出信号を加算したフォーカス誤差信号またはその系の出力信号を計測する第１ステップと、
前記主ビームの位置検出信号の増幅度を変更する第２ステップと
を繰り返して前記第１ステップの計測値が既定値に低下したタイミングの前記主ビームの位置検出信号の増幅度を特定し、
この特定した前記増幅度で主ビームの位置検出信号の系を運転するように初期設定する
フォーカス駆動装置の調整方法。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載のフォーカス駆動装置の調整方法を実行して光ピックアップ駆動装置を初期設定する演算装置を搭載した光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はＤＶＤなどの光ディスクを取り扱う光ディスク装置における光ピックアップ駆動装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ピックアップから光ビームを対物レンズを介して光ディスクに照射し、前記光ビームによって形成される集光スポットの反射光を前記対物レンズを介して受光した光ビームに基づいて前記対物レンズのフォーカス制御を実施している光ピックアップ駆動装置は、（特許文献１）（特許文献２）などに記載されている。
【０００３】
ＤＶＤ−ＲＡＭディスクのようなランド部とグルーヴ部を再生、記録する光ディスク装置において、フォーカス位置制御が動作した状態で光ディスクのトラックを横断する際に、ランド部とグルーヴ部で段差が存在するため、フォーカス誤差信号に溝横断信号トラッキング誤差信号の成分が重畳され、アクセス時や記録再生時などの性能が低下し、フォーカス位置を安定して制御するためのアクチュエータにも大きな負荷がかかる。それらの影響を抑える光学構成が（特許文献１）（特許文献２）などに開示されている。
【０００４】
図７は（特許文献１）の図５に記載された光ピックアップ駆動装置の概略である。
１は記録再生用の光束を放射する半導体レーザなどの光源、２は光源１からの光ビームを平行ビームに変換するコリメータレンズ、３９は光源１からの光ビームを３本の光ビームに分割するとともに、そのうち２本の光ビームの略半面に略１８０度の位相差を与える回折格子である。４０はコリメータレンズ２からの平行ビームを反射すると共に光ディスク５からの反射ビームを透過させるビームスプリッタ、４は前記光源１からの出射光ビームを光ディスク５の情報記録面６上に集光するとともに光ディスク５からの反射ビームを平行ビームにする対物レンズである。
【０００５】
８は光ディスク５のトラックでｘ方向に平行である。ｙ方向とは情報記録媒体５と平行な面内にあり、かつトラック８に垂直な方向である。また、フォーカス制御するｚ方向は情報記録面６に垂直な方向である。９は集束レンズである。
【０００６】
対物レンズ４を通過して光ディスク５の面上に形成された３つの光スポットの反射光は、集束レンズ９を通過して光検知器２５，２８，４５で受光される。この光検知器２５，２８，４５の出力に基づいて信号処理回路１００を経てレンズ駆動機構１５を駆動して前記対物レンズ４を移動させてフォーカス制御を実行している。
【０００７】
図８は一般的な信号処理回路１００の構成を示している。
ここでは光検出器２５，２８，４５として受光面を４分割したものを使用しており、情報記録面６上での３つの集光スポット４１，４２，４３は光スポット４８，４９，５０として照射されている。
【０００８】
光検出器２５の４つの受光面ａ，ｂ，ｃ，ｄの出力信号は、アンプ１０１，１０２，１０３，１０４を介した後に、受光面ａの信号と受光面ｃの信号が加算器１０５で加算されて主ビームフォーカス誤差第１信号（以下、“ＭＦＥ  Ｐ”信号と称す）となる。受光面ｂの信号と受光面ｄの信号が加算器１０６で加算されて主ビームフォーカス誤差第２信号（以下、“ＭＦＥ  Ｎ”信号と称す）となる。
【０００９】
光検出器２８の４つの受光面ｅ，ｆ，ｇ，ｈの出力信号と光検出器４５の４つの受光面ｉ，ｊ，ｋ，ｌの出力信号は、受光面ｅの信号と受光面ｉの信号、受光面ｇの信号と受光面ｋの信号は、それぞれアンプ１０７，１０８を経て加算器１０９で加算されて副ビームフォーカス誤差第１信号（以下、“ＳＦＥ  Ｐ”信号と称す）となる。受光面ｈの信号と受光面ｌの信号、受光面ｆの信号と受光面ｊの信号は、それぞれアンプ１１０，１１１を経て加算器１１２で加算されて副ビームフォーカス誤差第２信号（以下、“ＳＦＥ  Ｎ”信号と称す）となる。
【００１０】
“ＭＦＥ  Ｐ”信号と“ＭＦＥ  Ｎ”信号は減算器１１３で減算されて主ビームフォーカス誤差信号（以下、“ＭＦＥ”信号と称す）となる。“ＳＦＥ  Ｐ”信号と“ＳＦＥ  Ｎ”信号は減算器１１４で減算されて副ビームフォーカス誤差信号（以下、“ＳＦＥ”信号と称す）となる。“ＳＦＥ”信号はアンプ１１５を経て加算器１１６において“ＭＦＥ”信号と加算されてフォーカス誤差信号（以下、“ＦＥ”信号と称す）となる。
【００１１】
“ＦＥ”信号は、フィルタ１１７とフォーカスドライバ１１８を介して前記レンズ駆動機構１５を駆動している。
前記アンプ１１５のゲインを“ｋ”とすると、“ＦＥ”信号は、
“ＦＥ”＝“ＭＦＥ”＋“ｋ”・“ＳＦＥ”
である。
【特許文献１】特開平９−８１９４２号公報
【特許文献２】特公平４−１４１２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
このように、主ビームから得られるフォーカス誤差信号と副ビームから得られるフォーカス誤差信号を加算することによって溝横断信号をキャンセルできる。
しかし、光ピックアップの光学部品の取り付け位置や光ピックアップを移動させるためのトラバースメカ等の取り付け位置がばらつくことによって、光ピックアップからの出力である“ＭＦＥ”信号と“ＳＦＥ”信号の位相が目論見通りの１８０°ずれた信号にはならず、同相（０°）から１８０°まで、様々存在し、加算されたフォーカス制御に用いるフォーカス誤差信号に溝横断の交流成分が現れ、本来得られるはずの、主ビームのフォーカス誤差信号と副ビームのフォーカス誤差信号を加算したフォーカス位置制御に用いられる信号加算フォーカス誤差信号に溝横断信号の残差が生じ、溝横断信号成分による制御性能の劣化を低減する効果が得られない場合がある。
【００１３】
また、このような場合には、フォーカス位置制御を行うための制御信号(電流)が大きくなりレンズ駆動機構１５への負荷が大きくなる。
また、従来では、前記アンプ１１５のゲインを“ｋ”の明確な決め方がなく、量産開始前の試作工程において試行錯誤しながら適値と思われる値を見つけ出した予測値を、量産中の各光ディスク装置の光ピックアップ駆動装置のアンプ１１５のゲインとして“ｋ”を設定して生産しているのが現状である。また、適切な“ｋ”を設定して製品として出荷した場合であっても、光ディスクのバラツキによって十分な光ピックアップ駆動装置が十分な性能を発揮できないのが現状である。
【００１４】
本発明は、主ビームのフォーカス誤差信号と副ビームのフォーカス誤差信号を用いてフォーカス位置を制御する光ディスク装置における光ピックアップ駆動装置において、溝横断出力レベルを簡単に抑制できる光ピックアップ駆動装置とその調整方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明の請求項１記載のフォーカス駆動装置の調整方法は、光ピックアップの対物レンズから得た主ビームの位置検出信号と、主ビームの位置検出信号とは位相が異なる副ビームの位置検出信号を加算した信号に基づいて前記対物レンズをフォーカス誤差を補正する方向に駆動するフォーカス駆動装置を調整するに際し、主ビームの位置検出信号と副ビームの位置検出信号を加算したフォーカス誤差信号またはその系の出力信号を計測する第１ステップと、記副ビームの位置検出信号の増幅度を変更する第２ステップとを繰り返して前記第１ステップの計測値が既定値に低下したタイミングの前記副ビームの位置検出信号の増幅度を特定し、この特定した前記増幅度で副ビームの位置検出信号の系を運転するように初期設定することを特徴とする。
【００１６】
本発明の請求項２記載のフォーカス駆動装置の調整方法は、光ピックアップの対物レンズから得た主ビームの位置検出信号と、主ビームの位置検出信号とは位相が異なる副ビームの位置検出信号を加算した信号に基づいて前記対物レンズをフォーカス誤差を補正する方向に駆動するフォーカス駆動装置を調整するに際し、主ビームの位置検出信号と副ビームの位置検出信号を加算したフォーカス誤差信号またはその系の出力信号を計測する第１ステップと、前記主ビームの位置検出信号の増幅度を変更する第２ステップとを繰り返して前記第１ステップの計測値が既定値に低下したタイミングの前記主ビームの位置検出信号の増幅度を特定し、の特定した前記増幅度で主ビームの位置検出信号の系を運転するように初期設定することを特徴とする。
【００１７】
本発明の請求項３記載の光ディスク装置は、請求項１または請求項２に記載のフォーカス駆動装置の調整方法を実行して光ピックアップ駆動装置を初期設定する演算装置を搭載したことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
本発明のフォーカス駆動装置の調整方法によると、光ピックアップの光学部品の取り付け位置や光ピックアップを移動させるためのトラバースメカ等の取り付け位置がばらついても、光ピックアップ駆動装置を自動で適値に初期設定できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明のフォーカス駆動装置の調整方法を具体的な各実施の形態に基づいて説明する。
（実施の形態１）
図１は本発明の（実施の形態１）の調整方法を実行できるフォーカス駆動装置を示し、アンプ１１５の“ｋ”値を初期設定する演算装置としてのマイクロコンピュータ１１９が設けられている点が従来例で説明した図８とは異なっており、光ピックアップ駆動装置の基本的な構成は図８と同じであって、同一の作用を成すものには同一の符号を付けて説明する。
【００２０】
マイクロコンピュータ１１９は図２に示すように構成されている。
量産途中の光ピックアップ駆動装置に初期設定が指示されたことを検出したマイクロコンピュータ１１９は、ステップＳ０で自己の光ピックアップ駆動装置のフォーカスサーボをオンし、ステップＳ１で前記“ＦＥ”信号を読み込む。さらに、ステップＳ２とステップＳ３を繰り返して、スクリプト(ソフト的) に自己の光ピックアップ駆動装置のアンプ１１５の“ｋ”値を例えば小さい値から大きな値に時間経過とともに変更して、その都度に前記“ＦＥ”信号を読み込んで記憶する。
【００２１】
図３はステップＳ２とステップＳ３を繰り返してアンプ１１５の“ｋ”値を、“ｋ１”〜“ｋｎ”とシフトさせた場合の具体例を示しており、この際にマイクロコンピュータ１１９は時々の“ＦＥ”信号である“ＦＥ１”〜“ＦＥｎ”を記憶している。
【００２２】
“ｋ”値のシフトが完了したマイクロコンピュータ１１９は、ステップＳ４において、“ＦＥ”信号が最小値になった時の“ｋ”値を初期設定値として記憶して自己の光ピックアップ駆動装置のアンプ１１５の“ｋ”値を決定して初期設定を完了する。図３に示した場合には最小値の“ＦＥ３”を示した時の“ｋ３”または最小値の“ＦＥ３”の近傍の“ＦＥ４”を示した時の“ｋ４”を、マイクロコンピュータ１１９がアンプ１１５の“ｋ”値の初期設定として決定する。
【００２３】
このようにアンプ１１５の“ｋ”値を自己の光ピックアップ駆動装置の適正値に生産ラインにおいて自動的に初期設定をすることができ、 光ピックアップの光学部品の取り付け位置や光ピックアップを移動させるためのトラバースメカ等の取り付け位置がばらつきが発生して“ＭＦＥ”信号と“ＳＦＥ”信号の位相が目論見通りの１８０°ずれた信号になっていない場合であっても、溝横断信号をキャンセルアウトして溝横断信号成分による制御性能の劣化を回避できる。
【００２４】
さらに、ステップＳ２とステップＳ３を繰り返して実行してステップＳ４を実行する際に、図３に破線で示したように“ＦＥ”信号の履歴に変曲点を見つけられないような場合には、これをステップＳ４において検出してエラー信号を発生するようにマイクロコンピュータ１１９を構成することによって不良品の出荷を防止できる。
【００２５】
なお、マイクロコンピュータ１１９は光ピックアップ駆動装置専用のものでなくてもよく、光ディスク装置に搭載されて運転制御用に使用するマイクロコンピュータに必要な初期設定プログラムのルーチンを追加してアンプ１１５のｋ”値を初期設定をすることもできる。
【００２６】
なお、ディスクを再生や記録をするために起動ごとの初期設定の際に図２に示したルーチンを実行するように、光ピックアップ駆動装置専用のマイクロコンピュータまたは光ディスク装置に搭載されて運転制御用に使用するマイクロコンピュータを構成することによって、アンプ１１５のｋ”値の適正値を求めることができるので、光ディスクのもつ溝の深さのばらつきも吸収される。
【００２７】
（実施の形態２）
図４は本発明の別のフォーカス駆動装置を示す。
図１ではアンプ１１５のゲインをマイクロコンピュータ１１９が初期設定していたのに対して、この図４では、加算器１１３と加算器１１６の間に設けたアンプ１２０の“ｋ”値をマイクロコンピュータ１１９が上記と同様にして初期設定する点だけが異なっている。
【００２８】
（実施の形態３）
図５は本発明の別のフォーカス駆動装置を示す。
図１ではアンプ１１５のゲインをマイクロコンピュータ１１９が初期設定していたのに対して、この図５では、加算器１１４の手前に設けたアンプ１２１，１２２のそれぞれの“ｋ１”値，“ｋ２”値をマイクロコンピュータ１１９が上記と同様にして初期設定する点だけが異なっている。なお、“ｋ１”値，“ｋ２”値は同じであっても、異なる値であっても良い。その他は先の実施の形態と同様である。
【００２９】
（実施の形態４）
図６は本発明の別のフォーカス駆動装置を示す。
図４ではアンプ１１５のゲインをマイクロコンピュータ１１９が初期設定していたのに対して、この図６では、加算器１１３の手前に設けたアンプ１２３，１２４のそれぞれの“ｋ１”値，“ｋ２”値をマイクロコンピュータ１１９が上記と同様にして初期設定する点だけが異なっている。なお、“ｋ１”値，“ｋ２”値は同じであっても、異なる値であっても良い。その他は先の実施の形態と同様である。
【００３０】
なお、上記の各実施の形態では、マイクロコンピュータ１１９はステップＳ３で“ＦＥ”信号をモニターしてステップＳ４でＦＥ”信号の履歴に基づいて該当するアンプの“ｋ”を初期設定したが、“ＦＥ”信号をモニターせずに、“ＦＥ”信号の系の別の出力信号を計測しても同様に実施することができる。具体的には、フィルタ１１７の出力信号またはフォーカスドライバ１１８の出力信号などをモニターして同様に実施できる。
【００３１】
なお、上記の各実施の形態における増幅度“ｋ”値，“ｋ１”値，“ｋ２”値は、入力信号の振幅を大きくして出力するだけでなく、入力信号の振幅を小さくして出力する場合も含んでいる。
【産業上の利用可能性】
【００３２】
本発明は光ピックアップ駆動装置を搭載した光ディスク装置、ならびにこの種の光ディスク装置を搭載した機器の性能の向上に有効である。
【図面の簡単な説明】
【００３３】
【図１】本発明の（実施の形態１）のフォーカス駆動装置の要部構成図
【図２】同実施の形態のマイクロコンピュータのフォーカス駆動部の初期設定にかかわるルーチンのフローチャート図
【図３】同実施の形態の初期設定の動作説明図
【図４】本発明の（実施の形態２）のフォーカス駆動装置の要部構成図
【図５】本発明の（実施の形態３）のフォーカス駆動装置の要部構成図
【図６】本発明の（実施の形態４）のフォーカス駆動装置の要部構成図
【図７】従来の光ピックアップの説明図
【図８】一般的なフォーカス駆動装置の構成図
【符号の説明】
【００３４】
１    光源
２    コリメータレンズ
４    対物レンズ
５    光ディスク
６    光ディスクの情報記録面６
８    光ディスクのトラック
９    集束レンズ
１５    レンズ駆動機構
２５，２８，４５    光検知器
３９    回折格子
４０    ビームスプリッタ
１００    信号処理回路
１１５，１２０〜１２４    アンプ
１０５，１０６，１０９，１１２〜１１４，１１６  加算器
１１７    フィルタ
１１８    フォーカスドライバ
“ＭＦＥ  Ｐ”    主ビームフォーカス誤差第１信号
“ＭＦＥ  Ｎ”    主ビームフォーカス誤差第２信号
“ＳＦＥ  Ｐ”    副ビームフォーカス誤差第１信号
“ＳＦＥ  Ｎ”    副ビームフォーカス誤差第２信号
“ＭＦＥ”    主ビームフォーカス誤差信号
“ＦＥ”    フォーカス誤差信号
【図１】
2006209869.tif 000003
【図２】
2006209869.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
2006209869.tif 000009
【図８】
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