(57)【要約】      （修正有）【課題】被測定体の設置状態を正確かつ確実に繰り返し再現できる電波暗室を提供する。【解決手段】電波暗室１０は、ターンテーブル１４上に机１７を介して載置された被測定体５０を真上から撮像する撮像カメラ１９と、この撮像カメラ１９で撮像された画像を机１７上に投影する投影カメラ２０と、を備え、投影カメラ２０で机１７上に撮像カメラ１９による撮像画像を投影して被測定体５０と等倍の投影画像を形成するように構成されている。【選択図】図１
2006201093.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
設置体上に設置された被測定体を上方から撮像する撮像機と、この撮像機で撮像された画像を上記設置体上に投影する投影機と、を備えた電波暗室であって、上記投影機で上記設置体上に上記画像を投影して上記被測定体と等倍の投影画像を形成することを特徴とする電波暗室。
【請求項２】
上記撮像機と上記投影機を交互に切り替える切り替え機構が上記天井に設けられ、且つ、上記切り替え機構は、上記撮像機及び上記投影機それぞれを支持する支持体と、この支持体を回転させる回転機構と、を有することを特徴とする請求項１に記載の電波暗室。
【請求項３】
上記撮像機による撮像画像を記憶する記憶装置を備えたことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電波暗室。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電波暗室に関し、更に詳しくは、被測定体から発生する不要電磁波を繰り返し測定する際に被測定体の設置状態を正確に再現することができる電波暗室に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電波暗室において電子機器等の被測定体から発生する不要電磁波（ノイズ）を測定する時には、ターンテーブル上に配置された設置体上に被測定体を設置し、ターンテーブルを回転させて、３ｍまたは１０ｍ離れた距離に設置された受信アンテナでノイズを受信する。
【０００３】
ノイズ対策では、電子機器等の被測定体のノイズを削減するために被測定体に様々なノイズ対策を施し、被測定体から発生するノイズの測定（ＥＭＩ測定）を繰り返し行い、測定結果からノイズ対策の効果を確認している。ノイズ対策前後の被測定体についてＥＭＩ測定を繰り返し行うためには、ノイズ対策前の被測定体を一旦引き上げ、ノイズ対策後の被測定体を設置する際に元の設置状態を正確に再現することが重要で、再設置状態が元の設置状態と異なるとノイズのレベルが変動することが多い。特に、電源ケーブルや周辺機器との接続ケーブルの再配置状態の違いがＥＭＩ測定の結果に大きく影響する。例えば、電源ケーブルの蛇行状態が少し異なるだけでノイズのレベルが大きく変動することもある。そのため、従来から被測定体の設置状態を写真や絵、イラストレーション等として残し、これらの写真や絵等を参照して被測定体の設置状態を極力正確に再現するようにしている。
【０００４】
特許文献1にはイミュニティ測定用モニターシステムについて記載され、このイミュニティ測定用モニターシステムは、電波暗室内の供試体（被測定体）への放射妨害電波による影響を視覚的に監視するモニターシステムで、被測定体を回転する設置体（ターンテーブル）に設けられた監視カメラで供試体を連続的に監視するようにしている。
【０００５】
【特許文献１】特開平０４−０２９０６９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、電波暗室内で被測定体を再設置する際に、従来のように写真や絵、イラストレーション等を用いて被測定体の設置状態を再現する方法では、蛇行する電源ケーブルや接続ケーブル等のように複雑な設置状態を有する被測定体の場合にはその設置状態を正確に再現することが極めて難しいという課題があった。
【０００７】
また、特許文献１に記載された監視カメラは、イミュニティ測定を行うために被測定体を載置するターンテーブルに設けられた監視カメラで、ターンテーブルと一緒に回転する被測定体を同一方向から連続的に監視するだけであって、被測定体の再設置状態を再現するために用いられるものではない。
【０００８】
本発明は、上記課題を解決するためになされたもので、被測定体の設置状態を正確且つ確実に繰り返し再現することができる電波暗室を提供することを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明の請求項１に記載の電波暗室は、設置体上に設置された被測定体を上方から撮像する撮像機と、この撮像機で撮像された画像を上記設置体上に投影する投影機と、を備えた電波暗室であって、上記投影機で上記設置体上に上記画像を投影して上記被測定体と等倍の投影画像を形成することを特徴とするものである。
【００１０】
また、本発明の請求項２に記載の電波暗室は、請求項１に記載の発明において、上記撮像機と上記投影機を交互に切り替える切り替え機構が上記天井に設けられ、且つ、上記切り替え機構は、上記撮像機及び上記投影機それぞれを支持する支持体と、この支持体を回転させる回転機構と、を有することを特徴とするものである。
【００１１】
また、本発明の請求項３に記載の電波暗室は、請求項１または請求項２に記載の発明において、上記撮像機による撮像画像を記憶する記憶装置を備えたことを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１２】
本発明の請求項１〜請求項３に記載の発明によれば、被測定体の設置状態を正確且つ確実に繰り返し再現することができる電波暗室を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、図１〜図４に示す実施形態に基づいて本発明を説明する。尚、図１は本発明の電波暗室の一実施形態を示す垂直方向の断面図、図２は図１に示す電波暗室を示す水平方向の断面図、図３は図１に示す電波暗室の要部を示す断面図、図４の（ａ）、（ｂ）はそれぞれ図１に示す電波暗室の設置体に被測定体を再設置する方法を示す図で、（ａ）は設置体に被測定体を設置した状態を示す斜視図、（ｂ）は（ａ）に示す被測定体の設置状態を再現する方法を示す平面図である。
【００１４】
本実施形態の電波暗室１０は、例えば図１、図２に示すように、シールド構造の側壁面１１と、側壁面１１の上端に形成されたシールド構造の天井１２と、側壁面１１及び天井１２それぞれの内面に被覆されたピラミッド型の電波吸収体１３と、電波吸収体１３で包囲された室内の所定位置に配置された回転可能なターンテーブル１４と、ターンテーブル１４に対して所定の距離を隔てて配置され且つ支柱１５に固定された送受信アンテナ１６と、を備え、ターンテーブル１４上に配置された設置体１７上に電子機器等の被測定体５０を設置してＥＭＩ測定を行うように構成されている。設置体１７としては、例えば木製の机等を用いることができる。そこで、以下では、設置体１７を机１７として説明する。
【００１５】
シールド構造の側壁面１１、シールド構造の天井１２及びシールド構造の床面１８は、いずれも外来電磁波を遮断するように従来公知の金属材料によって形成されている。また、電波吸収体１３は、従来公知の材料、例えばウレタンフォームやスチロール等の樹脂にカーボンを含浸させた樹脂材料等によって形成されている。
【００１６】
図示してないが、電波暗室１０の側壁面１１には開閉扉が設けられ、開閉扉が被測定体５０等の搬出入口として形成されている。また、電波暗室１０には測定室が隣接して設けられており、この測定室において被測定体５０のＥＭＩ測定を行う。測定結果は、測定室に設けられたパーソナルコンピュータ（パソコン）の記憶装置に格納する。尚、図１〜図３には被測定体５０としてパソコンが図示されている。
【００１７】
図２、図３に示すように、上記天井１２には撮像機（撮像カメラ）１９及び投影機（投影カメラ）２０が設けられていると共に窓部材２１が設けられ、天井１２の外側に配置された撮像カメラ１９と投影カメラ２０が交互に窓部材２１と対向するようにしてある。また、天井１２の外側には撮像カメラ１９と投影カメラ２０が交互に切り替える切り替え機構２２が設けられ、この切り替え機構２２を介して撮像カメラ１９と投影カメラ２０が交互に窓部材２１に臨むようにしてある。この切り替え機構２２は、図２、図３に示すように、撮像カメラ１９と投影カメラ２０を所定の距離を隔てて支持する支持部材２２Ａと、この支持部材２２Ａに回転軸２２Ｂを介して連結された回転機構（例えば、モータ）２２Ｃと、を有している。撮像カメラ１９としては、例えばデジタルカメラを用いることができる。
【００１８】
窓部材２１は、例えば筒状に形成され、その軸芯がターンテーブル１４の中心の延長線上に位置すると共に撮像カメラ１９及び投影カメラ２０それぞれの光軸と一致するように配置されている。回転機構２２Ｂの回転軸２２Ｃは、撮像カメラ１９と投影カメラ２０の中間位置で支持体２２Ａに連結されている。支持体２２Ａは、例えば円盤状に形成され、撮像カメラ１９及び投影カメラ２０はそれぞれこの円盤の直径の両端に位置するように取り付けられている。支持体２２Ａは、円盤状ではなく、棒状のものであっても良い。要は、支持体２２Ａが回転機構２２Ｃを介して回転することによって、撮像カメラ１９と投影カメラ２０が交互に窓部材２１と対向すれば良い。
【００１９】
撮像カメラ１９及び投影カメラ２０は、それぞれ信号ケーブル２３を介して測定室内に配置されたパソコン（図示せず）に接続され、信号ケーブル２３を介してパソコンと撮像カメラ１９及び投影カメラ２０との間で画像信号を伝送するようにしてある。また、パソコンは、記憶装置（図示せず）を有し、撮像カメラ１９から信号ケーブル２３を介して伝送される撮像画像を記憶装置内に格納するようにしてある。投影カメラ２０は、撮像カメラ１９による撮像画像を机１７上に投影し、撮像時の被測定体５０と等倍の投影画像を形成するように設定されている。従って、被測定体５０の設置状態を再現する時には、撮像画像を記憶装置から読み出し、投影カメラ２０によって机１７上に撮像画像を投影すると、その投影画像は被測定体５０と等倍の画像になる。
【００２０】
次に、本実施形態の電波暗室１０を用いて被測定体５０の設置状態を再現する方法について説明する。
【００２１】
まず、図１〜図４の（ａ）に示すようにターンテーブル１４の机１７上に被測定体５０としてパソコン５０を設置し、ターンテーブル１４から例えば３ｍまたは１０ｍ離れて配置された受信アンテナ１６によってパソコン５０の本体５１、キーボード５２、接続ケーブル５３及びマウス５４等から発生するノイズを受信してＥＭＩ測定を行う。
【００２２】
ＥＭＩ測定を行った後、切り替え機構２２を介して撮像カメラ１９を窓部材２１の真上に配置し、この撮像カメラ１９で机１７上の被測定体５０を撮像し、この撮像画像を測定室内のパソコンの記憶装置に格納する。
【００２３】
被測定体５０に所定のノイズ対策を施した後、ノイズ対策後の被測定体５０のＥＭＩ測定を行う場合には、ターンテーブル１４の机１７上に対策後の被測定体５０を再設置する。これに先立って、切り替え機構２２を介して撮像カメラ１９から投影カメラ２０に切り替えて、投影カメラ２０を窓部材２１に対向させる。次いで、パソコンの記憶装置から撮像画面を読み出し、この撮像画像を投影カメラ２０から真下の机１７上に投影し、図４の（ｂ）に一点鎖線で示すように机１７上で元の被測定体５０と等倍の投影画像を形成する。
【００２４】
然る後、図４の（ｂ）に示すように机１７上にノイズ対策後の被測定体５０を設置する。被測定体５０を再設置する時には、被測定体５０としてのパソコン本体５１、キーボード５２、接続ケーブル５３及びマウス５４をそれぞれ投影画像に倣って設置する。投影画像は被測定体５０と等倍になっているため、パソコン本体５１、キーボード５２、接続ケーブル５３及びマウス５４それぞれを投影画像に重ねて設置することにより、寸分の狂いもなく正確に再設置することができる。被測定体５０を再設置する場合には、同図に示すように投影画像に倣って投影画像から多少ずらせて設置しても良い。特に、蛇行した接続ケーブル５３等のように設置状態が複雑でその再現が難しい被測定体５０であってもその被測定体５０の設置状態を正確且つ確実に再現することができ、繰り返し行われるＥＭＩ測定の測定条件を正確に再現することができる。
【００２５】
以上説明したように本実施形態によれば、ターンテーブル１４上に机１７を介して載置された被測定体５０をその真上から撮像する撮像カメラ１９と、この撮像カメラ１９で撮像された画像を机１７上に被測定体５０投影する投影カメラ２０と、を備え、投影カメラ２０で机１７上に撮像カメラ１９による撮像画像を投影して被測定体５０と等倍の投影画像を形成するようにしたため、ノイズ対策後の被測定体５０を机１７上に再設置する時に、投影画像に重ねてノイズ対策後の被測定体５０を再設置することによって、ノイズ対策前の被測定体５０の設置状態と寸分の狂いもなく設置状態を再現することができ、延いては被測定体５０のＥＭＩ測定の測定条件を正確且つ確実に再現することができる。従って、被測定体５０に種々の対策を施し、繰り返しＥＭＩ測定を行う場合であっても、同一の設置状態を正確且つ確実に繰り返し再現することができる。
【００２６】
また、本実施形態によれば、撮像カメラ１９と投影カメラ２０を交互に切り替える切り替え機構２２が天井１２の外側に設けられ、且つ、切り替え機構２２は、撮像カメラ１９及び投影カメラ２０それぞれを支持する支持体２２Ａと、この支持体２２Ａを回転させる回転機構２２Ｃと、を有するため、回転機構２２Ｃを介して撮像カメラ１９と投影カメラ２０を交互に切り替えて被測定体５０の撮像及び投影を繰り返し行うことができ、種々の被測定体５０を正確且つ確実に再設置することができる。また、撮像カメラ１９による撮像画像を記憶する記憶装置が設けられているため、記憶装置に撮像画像を格納しておくことができ、被測定体５０を繰り返し設置する場合には、その都度、記憶装置から撮像画像を読み出すことによって設置状態を正確且つ確実に再現することができる。
【００２７】
尚、本発明は上記実施形態に何等制限されるものではなく、本発明の各構成要素は必要に応じて適宜設計変更することができる。要は、電波暗室の天井に配置された撮像機及び投影機を用いて、電波暗室内に設置された被測定体の設置状態を再現できる電波暗室であれば全て本発明に含まれる。
【産業上の利用可能性】
【００２８】
本発明は、例えばノイズ対策等の対策前後の被測定体のＥＭＩ測定を繰り返す場合に好適に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の電波暗室の一実施形態を示す垂直方向の断面図である。
【図２】図１に示す電波暗室を示す水平方向の断面図である。
【図３】図１に示す電波暗室の要部を示す断面図である。
【図４】（ａ）、（ｂ）はそれぞれ図１に示す電波暗室の設置体に被測定体を再設置する方法を示す図で、（ａ）は設置体に被測定体を設置した状態を示す斜視図、（ｂ）は（ａ）に示す被測定体の設置状態を再現する方法を示す平面図である。、図２は、
【符号の説明】
【００３０】
１０    電波暗室
１２    天井
１４    設置体
１９    撮像カメラ（撮像機）
２０    投影カメラ（投影機）
２２    切り替え機構
２２Ａ  支持体
２２Ｃ  回転機構
５０    被測定体
【図１】
2006201093.tif 000003
【図２】
2006201093.tif 000004
【図３】
2006201093.tif 000005
【図４】
2006201093.tif 000006