(57)【要約】【課題】一時的に見かけ上の焼き付き現象を見え難くできても劣化量差が拡大するおそれがあった。【解決手段】複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置として、比較対象の各画素について単位時間内に発生する第１の劣化量と第２の劣化量を、各画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する単位劣化量算出部と、第１の劣化量から第２の劣化量を減算し、画素間の劣化量差を単位時間毎に算出する単位劣化量差算出部と、単位時間毎に算出された劣化量差を累積加算し、画素間に発生した総劣化量差を算出する総劣化量差算出部と、ある時点までに発生した総劣化量差と、当該時点に後続する補正発光期間に新たに発生する総劣化量との合計値を、当該補正発光期間内に解消又は縮小するのに必要な階調値を導出する補正量導出部とを有するものを提案する。【選択図】図１０
2006201628.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
自発光装置を構成する自発光素子間に発生する総劣化量差を算出する方法であって、
補正対象画素について単位時間内に発生する第１の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
基準画素について単位時間内に発生する第２の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
前記第１の劣化量から前記第２の劣化量を減算し、基準画素に対する補正対象画素の劣化量差を単位時間毎に算出する処理と、
単位時間毎に算出された劣化量差を累積加算し、補正対象画素と基準画素との間に発生する総劣化量差を算出する処理と
を有することを特徴とする総劣化量差算出方法。
【請求項２】
請求項１に記載の総劣化量差算出方法において、
前記補正対象画素に対応する自発光素子と前記基準画素に対応する自発光素子は、同一の駆動条件において同等輝度で発光する初期条件を満たす
ことを特徴とする総劣化量差算出方法。
【請求項３】
請求項１に記載の総劣化量差算出方法において、
前記基準画素は、同色で発光する複数の自発光素子毎に設定される
ことを特徴とする総劣化量差算出方法。
【請求項４】
請求項１に記載の総劣化量差算出方法において、
前記基準画素は、補正量の算出用に仮想的に設定した画素である
ことを特徴とする総劣化量差算出方法。
【請求項５】
請求項１に記載の総劣化量差算出方法において、
前記劣化率と前記階調値の対応関係は、時間の経過情報を加味して与えられる
ことを特徴とする総劣化量差算出方法。
【請求項６】
請求項１に記載の総劣化量差算出方法において、
個々の階調値に対応する劣化率は、個々の階調値による発光がある期間継続した場合に実測された輝度の低下量を単位時間当たりに換算した値として与えられる
ことを特徴とする総劣化量差算出方法。
【請求項７】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法であって、
補正対象画素について単位時間内に発生する第１の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
基準画素について単位時間内に発生する第２の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
前記第１の劣化量から前記第２の劣化量を減算し、基準画素に対する補正対象画素の劣化量差を単位時間毎に算出する処理と、
単位時間毎に算出された劣化量差を累積加算し、補正対象画素と基準画素との間の総劣化量差を算出する処理と、
ある時点までに発生した総劣化量差と、当該時点に後続する補正発光期間に新たに発生する基準画素についての総劣化量との合計値を、当該補正発光期間内に解消又は縮小するのに必要な階調値を導出する処理と、
補正発光期間の間、導出された階調値で補正対象画素を発光制御する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項８】
自発光装置を構成する自発光素子間に発生する総劣化量差を算出する総劣化量差算出装置であって、
補正対象画素について単位時間内に発生する第１の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出すると共に、基準画素について単位時間内に発生する第２の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する単位劣化量算出部と、
前記第１の劣化量から前記第２の劣化量を減算し、基準画素に対する補正対象画素の劣化量差を単位時間毎に算出する単位劣化量差算出部と、
単位時間毎に算出された劣化量差を累積加算し、補正対象画素と基準画素との間に発生した総劣化量差を算出する総劣化量差算出部と
を有することを特徴とする総劣化量差算出装置。
【請求項９】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象補正装置であって、
補正対象画素について単位時間内に発生する第１の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出すると共に、基準画素について単位時間内に発生する第２の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する単位劣化量算出部と、
前記第１の劣化量から前記第２の劣化量を減算し、基準画素に対する補正対象画素の劣化量差を単位時間毎に算出する単位劣化量差算出部と、
単位時間毎に算出された劣化量差を累積加算し、補正対象画素と基準画素との間に発生した総劣化量差を算出する総劣化量差算出部と、
ある時点までに発生した総劣化量差と、当該時点に後続する補正発光期間に新たに発生する基準画素についての総劣化量との合計値を、当該補正発光期間内に解消又は縮小するのに必要な階調値を導出する補正量導出部と、
補正発光期間の間、導出された階調値で補正対象画素を発光制御する階調値補正部と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。
【請求項１０】
複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置であって、
補正対象画素について単位時間内に発生する第１の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出すると共に、基準画素について単位時間内に発生する第２の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する単位劣化量算出部と、
前記第１の劣化量から前記第２の劣化量を減算し、基準画素に対する補正対象画素の劣化量差を単位時間毎に算出する単位劣化量差算出部と、
単位時間毎に算出された劣化量差を累積加算し、補正対象画素と基準画素との間に発生した総劣化量差を算出する総劣化量差算出部と、
ある時点までに発生した総劣化量差と、当該時点に後続する補正発光期間に新たに発生する基準画素についての総劣化量との合計値を、当該補正発光期間内に解消又は縮小するのに必要な階調値を導出する補正量導出部と、
補正発光期間の間、導出された階調値で補正対象画素を発光制御する階調値補正部と
を有することを特徴とする自発光装置。
【請求項１１】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に搭載したコンピュータに、
補正対象画素について単位時間内に発生する第１の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
基準画素について単位時間内に発生する第２の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
前記第１の劣化量から前記第２の劣化量を減算し、基準画素に対する補正対象画素の劣化量差を単位時間毎に算出する処理と、
単位時間毎に算出された劣化量差を累積加算し、補正対象画素と基準画素との間に発生する総劣化量差を算出する処理と
を実行させることを特徴とするプログラム。
【請求項１２】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に搭載したコンピュータに、
補正対象画素について単位時間内に発生する第１の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
基準画素について単位時間内に発生する第２の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
前記第１の劣化量から前記第２の劣化量を減算し、基準画素に対する補正対象画素の劣化量差を単位時間毎に算出する処理と、
単位時間毎に算出された劣化量差を累積加算し、補正対象画素と基準画素との間に発生する総劣化量差を算出する処理と、
ある時点までに発生した総劣化量差と、当該時点に後続する補正発光期間に新たに発生する基準画素についての総劣化量との合計値を、当該補正発光期間内に解消又は縮小するのに必要な階調値を導出する処理と、
補正発光期間の間、導出された階調値で補正対象画素を発光制御する処理と
を実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
発明の一つの形態は、自発光素子間に発生する総劣化量差を算出する方法に関する。
発明の一つの形態は、算出された劣化量差を用いて自発光装置の焼き付き現象を補正する方法に関する。
発明の一つの形態は、総劣化量差算出装置に関する。発明の一つの形態は、総劣化量差算出装置を搭載した焼き付き現象補正装置に関する。発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置を搭載した自発光装置に関する。
発明の一つの形態は、自発光装置に搭載されたコンピュータに総劣化量差の算出処理を実行させるプログラムに関する。
発明の一つの形態は、自発光装置に搭載されたコンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主には液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
【０００３】
ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子は、その発光量や時間に応じて劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
【０００４】
現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。以下、その幾つかを列記する。
【特許文献１】特開２００３−２２８３２９号公報  この文献には、表示パネルを構成する各画素に対する入力データを一定周期で画素毎に積算し、それらの最大値から各画素の積算値を減算して各画素についての補正量を設定する方法が開示されている。また、非使用状態において補正量の大きさに比例する時間だけ各画素を一定輝度で発光することで各画素の表示特性を揃える方法が開示されている。
【０００５】
【特許文献２】特開２００３−２９５８２７号公報  この文献には、静止画の表示時にのみ表示データと表示時間を記憶し、その表示データと最大輝度との差ΔＹと、静止画が表示された時間Ｔとの積算量ΔＹ・Ｔを補正データに設定する方法が開示されている。また、この文献には、蓋が閉じられた状態や非使用状態の場合にのみ補正用の表示を実行することで、焼き付き現象を補正する方法が開示されている。
【特許文献３】特開２０００−１３２１３９号公報  この文献には、画素毎に入力データを積算し、補正テーブルを用いて積算値を補正値に変換する方法が開示されている。また、求められた補正値により各画素の入力データを補正し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。
【０００６】
【特許文献４】特開２００１−１７５２２１号公報  この文献には、画素の中で一番輝度が劣化した画素にあわせて、その他の画素の輝度データを下げるように補正値を決定する方法が開示されている。また、得られた補正値で各画素の輝度データを変換し、焼き付き現象を視認し難くする方法が開示されている。
【特許文献５】特開２００２−１６９５０９号公報  この文献には、静止画表示時にパネル全体の輝度を抑制したり、待機モード時にデバイスに逆バイアスを印加したりして、発光素子の電極間に不要な電荷が蓄積するのを抑制し、表示特性の劣化スピードを遅くして焼き付き現象の発生を抑制する方法が開示されている。
【０００７】
【特許文献６】特開２０００−３５６９８１号公報  この文献には、パネルが発光している時間を累積し、その時間に応じて全体輝度を抑制する補正方法が開示されている。この補正方法の場合、発光特性の劣化速度を抑制することにより、焼き付き現象の軽減を図る。
【特許文献７】特開２００３−３０８０４１号公報  この文献には、画面上で動画領域と静止画領域を判定し、静止画領域のみの輝度を抑制することで、静止画領域の焼き付きの発生を遅らせる補正方法が開示されている。
【特許文献８】特開２００３−２７４３１５号公報  この文献には、ある周期で画面全体を画素単位でずらすことにより、焼き付き部分の輪郭にぼかし効果を生じさせ、焼き付き現象を目立たなくする補正方法が開示されている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
前述した補正技術を含め、既存の補正技術は、おおよそ次の４つに分類することができる。
（１）焼き付き現象そのものを目立たなくする方法
（２）全体的に輝度を抑制し、焼き付き現象の発生スピードを遅らせる方法
（３）劣化した画素の階調データを上げたり、劣化していない画素の階調データを下げたりして輝度特性を均一化させることにより、焼き付き現象を見えなくする方法
（４）非使用状態の間に、入力データによってばらついた累積発光量の差を埋め合わせる補正表示を行う方法
【０００９】
ところで、（１）と（２）の方法は、焼き付き現象の発生原因が根本的に解決せず、いずれ焼き付き現象が視認される問題がある。
また、（３）の方法は、自発光素子間の劣化量差はむしろ拡大し、補正限界の時期が早まる問題や総輝度の低下による寿命の到来が早まる問題がある。
また、（４）の方法は、実際の使用態様では補正に十分な非使用状態を必ず確保できる保証がないために、補正が不完全となる可能性がある。これに加え、（４）の方法は、非使用状態であっても焼き付き補正のために電力を消費してしまう問題がある。
【００１０】
また、（４）の方法は、発光特性の劣化と表示階調との間に比例関係が成立するとの仮定に従って階調値の積算量を揃えている。しかし、この仮定は未だ実証されていない。例えば、高階調値（高輝度）側の１ステップの方が低階調値（低輝度）側の１ステップよりも劣化速度を促進させる場合があることが報告されている。このため、階調値の積算値を揃えることが、必ずしも発光特性の劣化を揃えることにつながらない問題がある。
また、（４）の方法は、階調値の積算量を少なくとも想定使用期間について管理しなければならない。しかし、全画素について階調値の積算値を数万時間にわって管理するには非常に大規模なシステム（メモリ容量）を必要とする問題がある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
発明者らは、以上の技術的課題に着目し、以下の技術手法を提案する。
すなわち、自発光装置を構成する自発光素子間に発生する総劣化量差を算出する方法として、
（ａ）補正対象画素について単位時間内に発生する第１の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
（ｂ）基準画素について単位時間内に発生する第２の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
（ｃ）第１の劣化量から第２の劣化量を減算し、基準画素に対する補正対象画素の劣化量差を単位時間毎に算出する処理と、
（ｄ）単位時間毎に算出された劣化量差を累積加算し、補正対象画素と基準画素との間に発生する総劣化量差を算出する処理と
を有するものを提案する。
【００１２】
また、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を補正する方法として、
（ａ）補正対象画素について単位時間内に発生する第１の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
（ｂ）基準画素について単位時間内に発生する第２の劣化量を、当該画素に対応する階調値から導出される劣化率を用いて算出する処理と、
（ｃ）第１の劣化量から第２の劣化量を減算し、基準画素に対する補正対象画素の劣化量差を単位時間毎に算出する処理と、
（ｄ）単位時間毎に算出された劣化量差を累積加算し、補正対象画素と基準画素との間の総劣化量差を算出する処理と、
（ｅ）ある時点までに発生した総劣化量差と、当該時点に後続する補正発光期間に新たに発生する基準画素についての総劣化量との合計値を、当該補正発光期間内に解消又は縮小するのに必要な階調値を導出する処理と、
（ｆ）補正発光期間の間、補正対象画素を導出された階調値で発光制御する処理と
を有するものを提案する。
【００１３】
ここで、劣化率とは、発光量の低下を単位時間当たりに換算した値をいう。劣化率は、発光特性の実測値より求められる。例えば、個々の階調値による発光がある期間継続した場合に実測された輝度の低下量を単位時間当たりに換算した値として与えられる。
また、自発光装置には、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＣＲＴ（cathode ray tube）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、プロジェクターを含む。
【発明の効果】
【００１４】
発明に係る方法は、個々の階調値を劣化率に換算して単位時間内に発生する劣化量を算出する。すなわち、実際の発光特性を反映したパラメータである劣化率を用いて単位時間内に発生する劣化量を算出する。これにより、補正対象画素と基準画素との間の劣化量差を正確に算出することができる。
また、発明に係る方法は、単位時間毎に算出される劣化量差を累積加算して補正動作を管理する。このため、補正機能の実現に必要なシステム規模を格段に小さくできる。
また、発明に係る方法は、使用状態のまま補正処理を実行できる。このため、無駄に電力が消費されるのを有効に回避できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。
【００１６】
（Ａ）焼き付き現象についての考察
“焼き付き現象”とは、同じ駆動条件であれば同じ輝度で発光する初期特性を有していた２つの画素が、同じ駆動条件でも異なる輝度で発光する現象である。
自発光デバイスにはそれぞれ寿命があり、劣化が進行すると、同じ駆動条件を印加しても初期輝度を次第に維持できなくなる発光特性がある。すなわち、画面が次第に暗くなる発光特性がある。
この発光特性は、現在のところ避けることができない現象である。すなわち、自発光デバイスの発光特性は一様に劣化の方向に進むことが知られており、発光特性が回復する現象は現在のところ確認されていない。
【００１７】
ところで、各画素の劣化が、いかなる状態においても時間に対して一様に進行するのであれば、同じ駆動条件における発光輝度差は生じない。すなわち、単に各画素が同じだけ暗くなるだけであり、焼き付き現象は視認されない。
ところで、昨今、画素の劣化の速度は一様でなく、発光輝度や発光時の環境要因（例えば、発熱温度）に応じて複雑に変化することが報告されている。そして、ある期間について異なる速度で劣化が進行した画素は、同じ駆動条件を印加しても異なる輝度で発光する現象が報告されている。すなわち、焼き付き現象が視認されることが報告されている。
【００１８】
（Ｂ）劣化量差の評価についての考察
一般に、発光デバイスの寿命は、発光輝度の低下に基づいて規定される。そこで、発明者らは、輝度の低下率を表す劣化率というパラメータを用い、焼き付き現象を発生する画素間の劣化量差を評価する方法を提案する。
具体的には、階調値を劣化率に換算して単位期間（例えばフレーム）当たりの劣化量を算出し、基準画素と補正対象画素の間に発生する劣化量差を累積加算する管理手法を提案する。
なお、劣化率は、発光輝度の低下を反映したパラメータであり、自発光デバイスで実際に生じる発光特性の劣化を正確に反映している。
【００１９】
焼き付き現象の補正は、ある期間に２つの画素間に発生した劣化量差を、指定された期間内に解消又は縮小することで実現する。補正方法には、以下の２つがある。
（１）任意の２点間で劣化量差を解消する場合
この場合、２点のうち一方を基準画素とし、他方を補正対象画素として扱う。補正処理では、基準画素について確定する発光条件と指定された期間を用い、劣化量差をゼロにできる又は縮小できる発光条件を求める。補正対象画素は、求められた発光条件で発光する。
（２）別に基準画素を設定又は想定し、２点間の劣化量差を解消する場合
この場合、２つの画素の他に基準画素を設定又は想定し、２つの画素を補正対象画素として扱う。劣化量差の解消には基準画素について確定する発光条件と指定された期間を用い、補正対象画素としての各画素との間に存在する発光量がそれぞれゼロになるように、補正対象画素の発光条件を求める。補正対象画素は、求められた発光条件で発光する。
【００２０】
なお、基準画素は、自発光装置を構成する実在の画素でも良いし、仮想的な画素として設定しても良い。例えば、画面平均値を基準画素の階調値としても良い。
また、基準画素の数は任意である。例えば、発光色毎に画面全体について１つ定めることもできる。この場合、画面全体について劣化の進行速度を揃えることができる。
また例えば、画面全体を複数の領域に分割して管理し、各領域内で発光色毎に１つを定めることもできる。例えば、静止画領域と動画領域に分割して管理しても良い。この場合、領域それぞれについて劣化の進行速度を揃えることができる。
また例えば、任意に選択した２つ又は複数の画素のいずれか一つに定めることもできる。この場合、任意の画素範囲について劣化の進行速度を揃えることができる。
【００２１】
（Ｃ）劣化量差の累積加算処理
この形態例では、自発光デバイスとしてフラットディスプレイパネルを使用する場合について説明する。
（ａ）総劣化量差の算出例
図１に、劣化量差の累積加算値（総劣化量差）の推移例を示す。なお、図１は、初期状態において、２つの画素（すなわち、基準画素と補正対象画素）が同じ初期状態を有す場合について表している。
図１は、画素１を補正対象画素とし、画素２を基準画素とする場合である。因みに、画素１及び２は、同色で発光する画素のうち、画素間の距離が最も短いものを選択している。ここでの発光色は、一般に赤、青、緑の三色をいう。もっとも、白色光源を使用する場合には白をいう。
【００２２】
図１は、各画素が以下の発光条件で発光された場合の劣化量の変化を表している。
＜発光期間ｔ１＞
・画素１：固定の階調値ａで発光
・画素２：固定の階調値ｂ（≠ａ）で発光
＜発光期間ｔ２＞
・画素１：固定の階調値ｃで発光
・画素２：固定の階調値ｄ（≠ｃ）で発光
＜発光期間ｔ３＞
・画素１：固定の階調値ｅで発光
・画素２：固定の階調値ｆ（≠ｅ）で発光
【００２３】
すなわち、図１は、画素１と画素２は、発光期間ｔ１、ｔ２、ｔ３においてそれぞれ異なる階調で発光した状態を表している。各発光期間は任意の期間で良い。もっとも、各発光期間は、いずれも１フレーム期間としても良い。
ここで、発光期間ｔ１に発生する各画素の劣化量は、画素の発光輝度（例えば、有機ＥＬデバイスに流れる電流量）やその時の発熱温度に影響される劣化率（単位時間当たりの劣化比率）に、発光期間ｔ１を乗算した値として表現される。
すなわち、画素１の劣化量Ｒ（α１）は、α１×ｔ１で表すことができる。なお、α１は、発光期間ｔ１の発光輝度を与える階調値ａから導出される劣化率である。
【００２４】
同様に、画素２の劣化量Ｒ（α２）は、α２×ｔ１で表すことができる。ここで、α２は、発光期間ｔ１の発光輝度を与える階調値ｂから導出される劣化率である。
この結果、発光期間ｔ１で発生する２つの画素間の劣化量差ΔＲ１は、Ｒ（α１）−Ｒ（α２）で表すことができる。すなわち、Ｙ＝Ｒ（α１）−Ｒ（α２）＝（α１−α２）×ｔ１と表すことができる。なお、α１−α２は、焼き付き率に相当する。
また、劣化量差ΔＲ１を、発光期間ｔ１に発生する焼き付き量Ｙ１と定義する。
【００２５】
同様に、発光期間ｔ２に新たに発生する画素１及び画素２間の劣化量差ΔＲ２は、Ｒ（β１）−Ｒ（β２）で表される。すなわち、画素１の劣化量Ｒ（β１）と画素２の劣化量Ｒ（β２）を用い、ΔＲ２＝Ｒ（β１）−Ｒ（β２）＝（β１−β２）×ｔ２で表すことができる。
なお、β１は、画素１の階調値ｃから導出される劣化率であり、β２は、画素２の階調値ｄから導出される劣化率である。
また、劣化量差ΔＲ２を、発光期間ｔ２に発生する焼き付き量Ｙ２と定義する。
【００２６】
また同様に、発光期間ｔ３に新たに発生する画素１及び画素２間の劣化量差ΔＲ３は、Ｒ（γ１）−Ｒ（γ２）で表される。すなわち、画素１の劣化量Ｒ（γ１）と画素２の劣化量Ｒ（γ２）を用い、ΔＲ２＝Ｒ（γ１）−Ｒ（γ２）＝（γ１−γ２）×ｔ２で表すことができる。
なお、γ１は、画素１の階調値ｃから導出される劣化率であり、γ２は、画素２の階調値ｄから導出される劣化率である。
また、劣化量差ΔＲ３を、発光期間ｔ２に発生する焼き付き量Ｙ３と定義する。
【００２７】
以上のように、焼き付き量Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３はいずれも劣化量の差として与えられる。すなわち、特別な重み付けは必要としない。このため、図１からも分かるように、焼き付き量をそのまま加減算するだけで、ｔ１＋ｔ２＋ｔ３期間の総劣化量差ΣΔＲｉ（ｉ＝１〜３）を算出することができる。
なお、階調値によっては、焼き付き量Ｙが負の値を示すこともある。例えば発光期間ｔ２の場合である。この場合、直前期間までの総焼き付き量が正であれば焼き付き量の差は縮まり、総焼き付き量が負であれば焼き付き量の差が広がることになる。
以上の結果、ｔ１＋ｔ２＋…＋ｔｎ期間に２画素間に発生した総焼き付き量Ｙtotal(n) （＝Ｙ１＋Ｙ２＋…＋Ｙｎ）は、同期間に発生した総劣化量差ΣΔＲｉ（ｉ＝１〜ｎ）で算出できる。
【００２８】
（ｂ）焼き付き現象の補正例
次に、焼き付き現象を補正するために必要な条件を説明する。ここで、焼き付き現象を補正するとは、少なくとも総焼き付き量が広がらないように補正対象画素の階調値を制御することをいう。より積極的な意味では、焼き付き現象を補正するとは、総焼き付き量がゼロになるように補正対象画素の階調値を制御することをいう。
図２に、焼き付き補正の原理を示す。図２は、発光期間ｔ４の開始までの総焼き付き量をＹtotal(3)として表している。また、図２は、発光期間ｔ４に総焼き付き量をゼロに補正するために必要とされる各劣化量の関係を表している。
【００２９】
因みに、Ｒ（ζ１）は画素１の劣化量であり、Ｒ（ζ２）は画素２の劣化量である。また、ζ１は画素１の階調値に対応する劣化率であり、ζ２は画素２の階調に対応する劣化率である。
さらに、焼き付き量Ｙ４（＝ΔＲ４）は、Ｒ（ζ１）−Ｒ（ζ２）＝（ζ１−ζ２）×ｔ４として与えられる。
この場合、発光期間ｔ４の総焼き付き量Ｙtotal(4)がゼロになる条件は、Ｙtotal(3)＋Ｙ４＝０を満たすことである。すなわち、焼き付き量Ｙ４＝−Ｙtotal(3)を満たすことである。
よって、発光期間ｔ４における補正対象画素である画素１の劣化量Ｒ（ζ１）は、Ｒ（ζ２）−Ｙtotal(3)を満たすように定めれば総焼き付き量Ｙtotal(4)を完全にゼロに戻すことができる。
【００３０】
ただし、この補正は、算出された劣化量を、階調値の指定により発生できる場合にのみ実現できる。
図３に、総焼き付き量Ｙtotal を完全にゼロに戻せない場合を示す。図３は、補正の開始時点で総焼き付き量Ｙtotal が補正発光期間内の最大補正範囲だけ広がっている場合である。
この場合は、補正発光期間内の基準画素の劣化量がゼロでない限り、図３に示すように補正残りが発生する。このような場合は、補正発光期間がさらに延長されれば総焼き付き量を解消できる。
【００３１】
一方、図４は、基準画素が最高輝度で発光する場合である。この場合は、基準画素の劣化量は最大となる。従って、補正対象画素を最高輝度で発光させて、補正開始時点の総焼き付き量を維持するのが最大の補正効果となる。すなわち、少なくとも総焼き付き量が広がらないように補正できるのみとなる。
もっとも、基準画素の輝度が低下すれば、前述のようにある補正発光期間内に総焼き付き量をゼロにすることができる。
また、図５に示すように、補正対象画素だけでなく基準画素の劣化量を積極的に低下させる補正を実行すれば、限られた時間内に総焼き付き量をゼロとする補正を可能にできる。
【００３２】
（Ｄ）階調値−劣化率変換テーブル
前述した補正処理では、階調値から劣化率を導出する処理及び劣化率から階調値を導出する処理が不可欠となる。
ここでは、この変換処理を実現する方法の一例として、変換テーブルを用いる場合を提案する。
図６に、変換テーブルの一例を示す。テーブル情報は、事前の実験で取得された階調値と劣化率の対応関係に基づいて設定する。
【００３３】
発明者らは、テーブル情報を決める実験例として以下の手法を一例として提案する。
例えば、ある固定の階調値で自発光デバイスを一定期間点灯し、その際に実測される輝度が最大階調値（８ビットの場合は２５５）の初期輝度に対してどれだけ低下しているかを実測する作業（すなわち、輝度低下率）を全ての階調値について繰り返す。
なお、階調数が多い場合には、適当な階調値をサンプリングし、その結果から得られる関係式を利用して算出するという方法も考えられる。
【００３４】
図６は、この階調値と劣化率との対応関係を表している。例えば、階調値“ｎ”に対応する劣化率を“Ｘｎ
”として表している。なお、図６は８ビットの場合であるので、ｎは０〜２５５までの値として与えられる。
また、図６は、劣化率と劣化量との換算関係も表している。発光期間“ｔ”とすると、劣化率“Ｘｎ
”に対応する劣化量“Ｒｎ ”は“Ｘｎ ×ｔ”として与えられる。発光期間ｔ１及びｔ２が固定の場合には、これらに対応する値を登録しておけば演算処理を省略できる。
なお、この変換テーブルは、階調値から劣化率を読み出すことも、劣化率から階調値を読み出すことも可能である。
【００３５】
（Ｅ）焼き付き現象の補正例
以下、ある条件の階調表示が続いた場合の補正例を説明する。
図７は、図６で説明した変換テーブルの具体例である。この変換テーブルは、階調情報が８ビットの場合である。因みに、最大階調値（２５５）の劣化率は０．０３％であり、中間階調値（１２７）の劣化率は０．０１％である。また、発光期間が１の場合の劣化量は、それぞれ３００×１０-4％と１００×１０-4％である。
図８に、補正対象画素と基準画素の発光輝度を与える階調値の推移例を示す。図８の場合、画素１を基準画素とし、画素２を補正対象画素とする。
【００３６】
図８は、非補正発光期間（補正情報取得期間）と補正発光期間とが、単位発光周期の２回毎に入れ替わる場合について表している。すなわち、単位発光期間ｔ１、ｔ２、ｔ５、ｔ６を劣化量差の発生期間とし、単位発光期間ｔ３、ｔ４、ｔ７、ｔ８を劣化量差の補正発光期間とする場合について表している。図には、各発光期間の階調値と劣化量を一組として表している。
図９に、メモリに保存されるデータ値の推移例を示す。なお、図９（Ａ）は、画素毎に階調値の累積加算値を保存する従来例に対応する。また、図９（Ｂ）は、劣化量差の累積加算値を保存する場合に対応する。
【００３７】
図９（Ｂ）の場合、補正発光期間内に総劣化量差をゼロに戻すことができる。図９（Ｂ）では、発光期間ｔ２までの総劣化量差“５００”と単位発光期間ｔ３に発生する劣化量“１００”の合計値“６００”が解消すべき劣化量差となる。そこで、単位発光期間に採り得る劣化量の最大値“３００”を単位発光期間ｔ３及びｔ４の劣化量に設定する。すなわち、画素２に割り当てるべき階調値を“２５５”に設定する。
単位発光期間ｔ７及びｔ８に対応する補正発光期間についても同様に、画素２に割り当てるべき階調値が決定される。
【００３８】
以上のように、劣化量差の累積加算値を保存する本方式の場合には、メモリに保存される劣化量差の最大値は、一方の画素の階調値が“０”で他方の画素の階調値が“２５５”が２回連続する場合の“６００”で済む。単位発光期間ｔ６が対応する。
これに対し、画素毎に階調値を累積する図９（Ａ）の場合には、非補正発光期間と補正発光期間が２回繰り返されただけでも“１１４７”となる。この値は、図９（Ｂ）の約２倍である。すなわち、約２倍の記憶容量が必要となる。
【００３９】
しかも、この加算処理は、自発光装置が使用されている間は続ける必要がある。記憶容量の最大値は自発光装置の使用寿命を想定して決めることになるが、現在の一般的なフラットディスプレイパネルの使用寿命が数万時間程度であるとすると、その記憶容量が非常に膨大になることは容易に想像がつく。
これに対し、画素間の劣化量差のみを蓄積する方法の場合には、補正処理により定期的に劣化量差をゼロに戻すことができる。すなわち、本方式の場合、劣化量差の発生期間に発生し得る最大劣化量差分の記憶容量を確保するだけで良い。
【００４０】
このように記憶容量が少なく済むことは、商品競争力を高める上で非常に有効である。その理由は、焼き付き現象（同一の駆動条件で知覚される輝度差）の視認性に関するスペック許容値が今後ますます重要になると予想されるためである。
特に、今後は高画質化のために階調値が一段と高ビット化される可能性があり、階調値の高ビット化は記憶容量の増大に直結する。このため、ある発光期間で発生し得る最大劣化量差分に制限できることは、記憶容量の削減効果が大きい。
また、フラットディスプレイパネルの使用寿命は今後ますます延びると考えられるが、使用寿命に比例して記憶容量が増えない本方式は、システム規模を削減する上でも有利である。
【００４１】
（Ｆ）焼き付き現象補正装置例
次に、前述した焼き付き現象の評価技術を採用する焼き付き現象補正装置の形態例を説明する。
（ａ）形態例１
図１０に、焼き付き現象補正装置をハードウェア的に実現する場合の形態例を示す。この形態例は、階調値から劣化率への変換処理と劣化率から階調値への変換処理を演算により実現する場合に対応する。
この場合、焼き付き現象補正装置１は、単位劣化量算出部３と、変換テーブル５と、単位劣化量差算出部７と、総劣化量差算出部９と、補正値算出部１１と、階調値補正部１３とで構成することができる。
【００４２】
単位劣化量算出部３は、単位時間に発生する各画素の劣化量Ｒを算出する処理デバイスである。ここで、劣化量Ｒは、階調値に対応する劣化率×１として算出される。この形態例の場合、劣化量Ｒは劣化率に一致する。従って、単位劣化量算出部３は、変換テーブル５から読み出した劣化率をそのまま劣化量として使用する。なお、変換テーブル５には、図７に示すルックアップテーブルを適用する。
単位劣化量差算出部７は、各単位時間に発生する２画素間の劣化量差ΔＲを算出する処理デバイスである。
【００４３】
総劣化量差算出部９は、使用開始から累積的に加算された劣化量差の総和、すなわち総劣化量差ΣΔＲを算出する処理デバイスである。なお、総劣化量差の保存に用いられる記憶媒体の記憶容量は、前述したように少なくとも発光期間に発生し得る最大劣化量差分に設定する。
補正値算出部１１は、補正処理時に動作する処理デバイスである。補正値算出部１１は、補正発光期間の開始時点の総劣化量差ΣΔＲと補正発光期間を構成する各単位発光期間に発生する基準画素の劣化量Ｒとを加算した合計値を、当該補正発光期間内に解消又は縮小するのに必要な階調値を算出する処理を実行する。すなわち、補正用の劣化量＝Ｒ−ΣΔＲとして算出する。
【００４４】
なお、補正値算出部１１は、算出された補正用の劣化量に対応する階調値を変換テーブルから読み出し、階調値補正部１３に与える。算出された補正用の劣化量は、単位劣化量算出部３に通知される。
階調値補正部１３は、補正対象画素の入力階調値を補正用に算出された階調値に置換する処理デバイスである。なお、この置換動作は補正発光期間内にのみ実行され、非補正発光期間では入力された階調値がそのまま出力される。
このハードウェア構成により、前述した補正処理を実現できる。
【００４５】
（ｂ）形態例２
図１１に、焼き付き現象補正装置をハードウェア的に実現する場合の他の形態例を示す。この形態例は、階調値から劣化率への変換処理と劣化率から階調値への変換処理を、変換テーブル５を用いることなく実現する場合に対応する。
この形態例の場合、単位劣化量算出部３と補正値算出部１１は、階調値と劣化率（＝劣化量）との変換処理を演算処理によって実現する点で形態例１と異なっている。その他の処理は、形態例１と同様である。
なお、階調値と劣化率の変換処理は、例えば変換用の関数を用いて実現すれば良い。
【００４６】
（ｃ）自発光装置への搭載例
図１２に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置３１は、筐体３３に焼き付き現象補正装置３５と表示デバイス３７を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置３５は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように階調値の補正動作を実行する。例えば、形態例１や形態例２に示す構成の回路デバイスが用いられる。
【００４７】
また、表示デバイス３７は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、ＣＲＴが用いられる。
図１２の場合、自発光装置３１に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置３５が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。
【００４８】
（Ｇ）形態例の効果
以上のように、発光輝度の低下を反映するパラメータである劣化率を用いて各画素の劣化量を測定するため、従来技術に比して発光特性の劣化量を正確に測定し補正することができる。すなわち、発光特性の劣化が表示階調に対して比例関係で発生しない場合でも、２つの画素間で劣化量差を確実にゼロに補正できる。
また、補正処理は発光時間中に並行して実行され、補正のための非発光時間を必要としない。このため、電力が無駄に消費されるのを回避できる。
また、単位時間に発生する画素間の劣化量差のみを累積的に加算して管理する手法を採用するため、焼き付き現象の補正値の算出に必要な記憶容量を大幅に削減できる。
【００４９】
（Ｈ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、図６に示す変換テーブル、すなわち階調値と劣化率との対応関係が１つの変換テーブルを用いる場合について説明した。しかし、経年変化を加味する場合には、時間情報を加味して複数の変換テーブルを用意すれば良い。
（ｂ）前述の形態例では、非補正発光期間と補正発光期間がそれぞれ２つの単位発光期間で構成され、非補正発光期間と補正発光期間が交互に繰り返す場合について説明した。
しかし、非補正発光期間と補正発光期間は交互に実行されなくても良い。また、非補正発光期間と補正発光期間は、それぞれ３つ以上の単位発光期間で構成されても良い。また、非補正発光期間と補正発光期間は必ずしも同数で構成される必要はない。
【００５０】
（ｃ）前述の形態例では、変換テーブルとしてフレーム（単位発光期間）の階調値と劣化率の対応関係を保存した。
しかし、複数フレームに対応する階調値の積算値と対応する劣化率との対応関係を保存しても良い。
（ｄ）前述の形態例では、補正発光期間に補正すべき劣化量差が、当補正期間に補正可能な劣化量差の最大値（すなわち“６００”）と一致する場合について説明した。
しかし、補正すべき劣化量差は、当補正期間に補正可能な範囲内の任意の値でも良い。この場合、各単位発光期間の補正量（劣化量）が均等になるように割り当てても良い。
例えば補正すべき補正量が“５００”の場合、各単位発光期間の補正量を“２５０”としても良い。もっとも、補正量の分配は任意である。例えば“３００”と“２００”に分配しても良い。
なお、補正量の分配は、予め定めた分配規則に基づいて実行しても良いし、前述のように補正すべき劣化量差が等分になるように算出しても良い。
【００５１】
（ｅ）前述の形態例では、使用状態のまま焼き付き現象を補正する場合について説明したが、非使用状態において焼き付きを補正することもできる。
（ｆ）前述の形態例では、変換テーブル５を一つ搭載した。しかし、時間経過に応じて劣化率と階調値が変動する場合には、時間経過に応じて複数種類の変換テーブルを用意しても良い。この場合、発光時間長を測定するタイマーを用意することが望ましい。
初期状態からの発光時間長に応じて参照する変換テーブルを切り替えることにより、劣化率と階調値の関係が変動する場合にも正確な劣化量及び劣化量差の算出を可能にできる。
（ｇ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】総劣化量差の推移を示す図である。
【図２】焼き付き現象の補正原理を示す図である。
【図３】補正残りの発生例を示す図である。
【図４】補正残りの発生例を示す図である。
【図５】補正残りの生じない補正例を示す図である。
【図６】階調値と劣化率との対応関係を保持するテーブル例を示す図である。
【図７】変換テーブルの具体例を示す図である。
【図８】階調値と劣化率の時間推移を示す図である。
【図９】従来方式による記憶領域の使用例と形態例方式による記憶領域の使用例を示す図である。
【図１０】焼き付き現象補正装置の形態例を示す図である。
【図１１】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図１２】自発光装置の構成例を示す図である。
【符号の説明】
【００５３】
１、１２    焼き付き現象補正装置
３          単位劣化量算出部
５          変換テーブル
７          単位劣化量差算出部
９          総劣化量差算出部
１１        補正値算出部
１３        階調値補正部
【図１】
2006201628.tif 000003
【図２】
2006201628.tif 000004
【図３】
2006201628.tif 000005
【図４】
2006201628.tif 000006
【図５】
2006201628.tif 000007
【図６】
2006201628.tif 000008
【図７】
2006201628.tif 000009
【図８】
2006201628.tif 000010
【図９】
2006201628.tif 000011
【図１０】
2006201628.tif 000012
【図１１】
2006201628.tif 000013
【図１２】
2006201628.tif 000014