(57)【要約】【課題】  従来は出射光をモニタするための専用の光検出器を配置する必要があり、部品点数の増加、配置の制限による小型化の妨げになっている。また、対物レンズの球面収差補正の際に、半導体レーザの出射光量が一定でも、対物レンズからの光量が変動する。【解決手段】  対物レンズ１の基準面に対して入射面が傾斜するように、対物レンズ１と共に対物レンズアクチュエータ２の可動部に１／４波長板３が搭載される。１／４波長板３は、対物レンズ１の有効径に対応した大きさの中央部に光を透過させ、かつ、中央部以外の領域は光を反射させる構成である。光検出器９は、光ディスクで反射し、かつ、１／４波長板３の中央部を透過した第１の反射光を受光する第１の光検出部と、１／４波長板３の中央部以外の領域で反射した第２の反射光を受光する第２の光検出部とを有する。第２の反射光の光量に応じて、光源から出射する光出力を制御する。【選択図】            図１
2006209824.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から出射した光を対物レンズに入射して光ディスク上に集光させることにより情報信号を記録し、又は前記光ディスクからの反射光を前記対物レンズを通して検出光学系に入射して記録情報信号を再生する光ピックアップにおいて、
前記対物レンズの前記光ディスク側とは反対側面に対して光軸上離間対向する位置に、かつ、前記対物レンズの基準面に対して入射面が傾斜するように、前記対物レンズと共に対物レンズアクチュエータの可動部に１／４波長板を搭載し、前記１／４波長板は、入射面の前記対物レンズの有効径に対応した大きさの中央部に光を透過させて１／４波長板として機能させ、かつ、入射面の前記中央部以外の領域は光を反射させる構成とし、
前記検出光学系内の光検出器は、前記光ディスクで反射し、かつ、前記１／４波長板の中央部を透過した第１の反射光を受光する第１の光検出部と、前記１／４波長板の中央部以外の領域で反射した第２の反射光を受光する第２の光検出部とを有し、前記第２の反射光の光量に応じて、前記光源から出射する光出力を制御することを特徴とする光ピックアップ。
【請求項２】
前記第２の光検出部は、前記光ディスクのトラック方向に２分割された２分割受光部を有する構成であり、これら２分割受光部でそれぞれ受光して得られた２受光信号の差を演算して前記対物レンズのトラッキング方向の移動を検出する第１の演算手段と、前記２受光信号の和を演算して前記光源から出射する光出力を制御するための信号を生成する第２の演算手段とを更に有することを特徴とする請求項１記載の光ピックアップ。
【請求項３】
光源から出射した光を対物レンズに入射して光ディスク上に集光させることにより情報信号を記録し、又は前記光ディスクからの反射光を前記対物レンズを通して検出光学系に入射して記録情報信号を再生する光ピックアップにおいて、
前記対物レンズの前記光ディスク側とは反対側面に対して光軸上離間対向する位置に１／４波長板を設けると共に、前記対物レンズの有効径に対応した大きさの前記１／４波長板の中央部では光を透過させて１／４波長板として機能させ、かつ、前記１／４波長板の入射面の前記中央部以外の領域は光を反射させる構成とし、
前記検出光学系には、少なくとも入射光の偏光方向が前記光源から出射する直線偏光と同じときにはその光量の大部分を反射し、かつ、光量の一部を透過する特性を有するミラーと、前記ミラーを透過した前記光源から出射して前記対物レンズに向かう直線偏光を受光する第１の光検出器と、前記１／４波長板の中央部以外の領域で反射して前記ミラーを透過した第２の反射光を受光する第２の光検出器とを有し、前記第１の光検出器は、前記対物レンズに向かう光束の全体をモニタし、前記第２の光検出器は、前記対物レンズの有効径に入射しない部分に相当する光をモニタし、前記第１及び第２の光検出器の出力信号を演算して得た信号に基づき、前記光源から出射する光出力を制御することを特徴とする光ピックアップ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ピックアップに係り、特に光ディスクに対して情報信号を記録再生するための光ピックアップに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、光ピックアップ内の半導体レーザの出力を制御するために、当該半導体レーザから出射されたレーザ光の一部を、光出力のモニタ用として利用している。この光出力のモニタのために、レーザパッケージの内部に光モニタ用の受光素子を内蔵し、レーザチップの出射側と反対側に光が漏れるようにしたものがある。しかし、記録用の光ピックアップでは、出射側の光量を十分確保するため、また、記録用の光をパルスで制御するために、モニタ用の受光素子に、周波数帯域の高いものが必要などの理由から、レーザパッケージに内蔵した受光素子ではなく、出射側の光の一部の光路を分けて、専用の受光素子でモニタする方法が多く用いられている。モニタした光信号に基づいて、半導体レーザの駆動電流を制御することで半導体レーザの出力を制御することができる。
【０００３】
また、記録用光ディスクは、ＣＤ−Ｒから、ＤＶＤ(Digital Versatile Disc)、Ｂｌｕ−ｒａｙなど記録密度が高密度になるに従い、光ディスクの特性に対する要求が厳しくなると共に、記録再生におけるレーザパワーの制御も高精度化が求められている。
【０００４】
また、半導体レーザの出力を制御するための光検出器は、半導体レーザや、対物レンズ、ミラー等を取り付けている筐体の一部に固定されている。固定部から、対物レンズアクチュエータに向かう光は、対物レンズの移動を考慮し、対物レンズの有効径よりも大きい光束径で設定されている。光検出器は、対物レンズの有効径よりも大きい光束の部分で分割された光を使用して、半導体レーザの出力を制御している（例えば、特許文献１参照）。
【０００５】
通常、光ピックアップは、半導体レーザからの光をレンズ、プリズム、ミラー等を介して、対物レンズに入射させ、対物レンズにより光ディスクの信号面上に集光されたスポットを、光ディスク上のトラックに追従するように、対物レンズを光ディスクのフォーカス方向、ラジアル方向の２軸に駆動するアクチュエータに搭載し、回転するディスクの面振れ、偏芯に追従して、対物レンズが移動するようにサーボがかけられている。
【０００６】
しかしながら、光ディスクの周方向に光ピックアップを高速に移動させる場合に、アクチュエータ駆動部の慣性により、対物レンズが移動することがあり、これを検出する方法として、受光部と発光部を持った光センサ等を用いて対物レンズの位置を検出する方法などがとられている（例えば、特許文献２参照）。
【０００７】
図９は従来の光ピックアップの一例の構成図を示す。同図（Ａ）は対物レンズ３１付近の構成を示す平面図、同図（Ｂ）は検出光学系の構成図を示す。図９（Ａ）に示すように、対物レンズ３１は対物レンズアクチュエータ３３の可動部に固定されており、ミラー３２が対向して設けられている。
【０００８】
図９（Ｂ）において、半導体レーザ３４から出射した光はコリメータレンズ３５により平行光束となり、ビームスプリッタ３６を透過してミラー３２により光路を変換され対物レンズ３１へと向かう。対物レンズ３１で集光された光は図示しない光ディスク上にスポットを形成し、信号の記録再生を行う。光ディスクで反射した光は、再び対物レンズ３１、ミラー３２を通り、ビームスプリッタ３６で反射して、集光レンズ３７、検出レンズ３８を透過して光検出器３９へと導かれる。一方、半導体レーザ３４の出力を制御するため、往路の光の一部をビームスプリッタ３６で反射し、光量モニタ用の光検出器４０へと入射させている。
【０００９】
【特許文献１】特開２００４−５８９４号公報
【特許文献２】特開２０００−１１４０５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかし、従来の光ピックアップでは、半導体レーザの光量をモニタするために、半導体レーザから光ディスクに向かう光の一部の光路を分割して取り出すため、半導体レーザの出射光をすべて使うことができない。また、出射光をモニタするために、専用に光検出器を配置する必要があり、部品点数の増加、配置の制限による小型化の妨げになっている。更に、対物レンズの移動を検出するためには、受光部と発光部を持った光センサ等を、対物レンズアクチュエータに搭載する必要があり、これも、部品点数の増加、配置の制限による小型化の妨げになる。
【００１１】
また、従来の光ピックアップでは、対物レンズの位置によらず、固定部で半導体レーザの出射光量の一部をモニタして、出力を制御している。しかし、対物レンズに入射する光束は、半導体レーザの出射パターンと、コリメーション等の光学的な条件により、光量の分布をもっている。従って、半導体レーザからの出射光量は一定であっても、対物レンズから出射される光量は、対物レンズのトラッキング方向の位置により、僅かであるが変動をきたしてしまう。
【００１２】
また、Ｂｌｕ−ｒａｙなどの高密度ディスクでは、記録密度を上げるため、対物レンズに開口数が０.８５程度の非常に高いものが使用されている。このような光学系では、使用するディスクの厚さ誤差や、半導体レーザの波長ばらつきに対応するために、球面収差を補正する光学系が必要となる。
【００１３】
球面収差を補正する方法として、負のパワーをもつレンズと正のパワーをもつレンズを組合せ、両者のレンズ間隔を可動とすることにより、対物レンズに入射する光束を、平行から、拡散、収束に変化させることで、ディスクの厚み誤差や、半導体レーザの波長ばらつきにより発生する球面収差を、対物レンズの倍率誤差により発生する球面収差によりキャンセルすることにより補正する方法が用いられることが多い。しかしながら、このような補正方法では、上記のレンズ間隔を変えることで、対物レンズに入射する光束が平行光束から変動する分、半導体レーザの出力が一定であっても、対物レンズから出射される光量が変動してしまう。
【００１４】
本発明は以上の点に鑑みなされたもので、半導体レーザから出射した光を、有効に使用すると共に、専用の受光素子を必要とせず、部品点数の削除、小型化を実現し得る光ピックアップを提供することを目的とする。
【００１５】
また、本発明の他の目的は、対物レンズの移動や、球面収差補正等の光学系に変化がある場合にも、対物レンズから出射する光量が一定になるよう、半導体レーザの出力を制御する光ピックアップを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
上記の目的を達成するため、第１の発明は、光源から出射した光を対物レンズに入射して光ディスク上に集光させることにより情報信号を記録し、又は光ディスクからの反射光を対物レンズを通して検出光学系に入射して記録情報信号を再生する光ピックアップにおいて、対物レンズの光ディスク側とは反対側面に対して光軸上離間対向する位置に、かつ、対物レンズの基準面に対して入射面が傾斜するように、対物レンズと共に対物レンズアクチュエータの可動部に１／４波長板を搭載し、１／４波長板は、入射面の対物レンズの有効径に対応した大きさの中央部に光を透過させて１／４波長板として機能させ、かつ、入射面の中央部以外の領域は光を反射させる構成とし、検出光学系内の光検出器は、光ディスクで反射し、かつ、１／４波長板の中央部を透過した第１の反射光を受光する第１の光検出部と、１／４波長板の中央部以外の領域で反射した第２の反射光を受光する第２の光検出部とを有し、第２の反射光の光量に応じて、光源から出射する光出力を制御することを特徴とする。
【００１７】
この発明では、所定の構成とした１／４波長板を対物レンズの光ディスク側とは反対側面に対して光軸上離間対向する位置に、かつ、対物レンズの基準面に対して入射面が傾斜するように、対物レンズと共に対物レンズアクチュエータの可動部に１／４波長板を搭載するようにしたため、一つの光検出器が、少なくとも光ディスクの信号を読み取るための第１の光検出部と、光源の光出力を制御するためのモニタ用の第２の光検出部とを備えることができる。
【００１８】
また、上記の目的を達成するため、第２の発明は、第１の発明の第２の光検出部を、前記光ディスクのトラック方向に２分割された２分割受光部を有する構成とし、これら２分割受光部でそれぞれ受光して得られた２受光信号の差を演算して対物レンズのトラッキング方向の移動を検出する第１の演算手段と、上記の２受光信号の和を演算して光源から出射する光出力を制御するための信号を生成する第２の演算手段とを更に有することを特徴とする。この発明では、光源の光出力を制御するためのモニタ用の第２の光検出部を、対物レンズのトラッキング方向の移動検出用としても兼用できる。
【００１９】
また、上記の目的を達成するため、第３の発明は、光源から出射した光を対物レンズに入射して光ディスク上に集光させることにより情報信号を記録し、又は光ディスクからの反射光を対物レンズを通して検出光学系に入射して記録情報信号を再生する光ピックアップにおいて、対物レンズの光ディスク側とは反対側面に対して光軸上離間対向する位置に１／４波長板を設けると共に、対物レンズの有効径に対応した大きさの１／４波長板の中央部では光を透過させて１／４波長板として機能させ、かつ、１／４波長板の入射面の中央部以外の領域は光を反射させる構成とし、検出光学系には、少なくとも入射光の偏光方向が光源から出射する直線偏光と同じときにはその光量の大部分を反射し、かつ、光量の一部を透過する特性を有するミラーと、ミラーを透過した光源から出射して対物レンズに向かう直線偏光を受光する第１の光検出器と、１／４波長板の中央部以外の領域で反射してミラーを透過した第２の反射光を受光する第２の光検出器とを有し、第１の光検出器は、対物レンズに向かう光束の全体をモニタし、第２の光検出器は、対物レンズの有効径に入射しない部分に相当する光をモニタし、第１及び第２の光検出器の出力信号を演算して得た信号に基づき、光源から出射する光出力を制御することを特徴とする。
【００２０】
この発明では、所定の特性としたミラーを透過した光源から出射して対物レンズに向かう直線偏光を受光する第１の光検出器と、１／４波長板の中央部以外の領域で反射してミラーを透過した第２の反射光を受光する第２の光検出器とを有し、第１の光検出器は、対物レンズに向かう光束の全体をモニタし、第２の光検出器は、対物レンズの有効径に入射しない部分に相当する光をモニタするようにしたため、第１及び第２の光検出器の出力信号を演算して対物レンズの有効径に入射する光に相当する光量を検出し、その検出信号に基づき、光源から出射する光出力を制御することができる。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、一つの光検出器が、光ディスクの信号を読み取るための第１の光検出部と、光源の光出力を制御するためのモニタ用の第２の光検出部とを備える構成としたため、光源から出射した光を、有効に使用できると共に、光出力のモニタや対物レンズの移動検出用に専用の受光素子を不要とし、光ピックアップの部品点数を従来に比べて削減できると共に小型化を実現できる。
【００２２】
また、本発明によれば、対物レンズに向かう光束の全体をモニタする第１の光検出器の出力信号と、対物レンズの有効径に入射しない部分に相当する光をモニタする第２の光検出器の出力信号を演算して対物レンズの有効径に入射する光に相当する光量を検出し、その検出信号に基づき、光源から出射する光出力を制御するようにしたため、トラッキングによる対物レンズの移動や、光学系による対物レンズへ入射する光束の変化に対応して、対物レンズからの出射光量を一定になるように、半導体レーザの光出力を細かく制御することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
次に、本発明の実施の形態について図面と共に説明する。
【００２４】
（第１の実施の形態）
図１は本発明になる光ピックアップの第１の実施の形態の構成図を示し、同図（Ａ）は対物レンズ付近の構成を示す上面図、同図（Ｂ）は光ピックアップ内の半導体レーザ６からミラー４及び光検出器９までの検出光学系の構成図を示す。本実施の形態では、図１（Ａ）に示すように、対物レンズ１を駆動する対物レンズアクチュエータ２の可動部に、１／４波長板３を所定の角度傾けて取り付けている。図１（Ｂ）に示す検出光学系は、光ディスクからの反射光を受光する領域と、所定の距離に１／４波長板３からの反射光を受光する領域をもつ。１／４波長板３は対物レンズ１に対して傾いているため、光ディスクからの反射光と分離して、１／４波長板３からの反射光を検出することができる。
【００２５】
すなわち、図１（Ｂ）において、半導体レーザ６から出射した光は、コリメータレンズ５により平行光束に変換され、回折格子１１、偏光ビームスプリッタ１０を透過し、ミラー４で反射して、図１（Ａ）に示す対物レンズアクチュエータ２へ導かれる。対物レンズアクチュエータ２は、図示しない光ディスクに対して、フォーカス方向、トラッキング方向の２軸に駆動できる可動部をもち、その可動部には、光ディスクの信号面に光を集光させるための対物レンズ１と、１／４波長板３が搭載されている。
【００２６】
これにより、ミラー４で反射した光は、対物レンズアクチュエータ２の可動部に搭載された１／４波長板３で円偏光にされた後、対物レンズ１により図示しない光ディスクの信号面に集光して光スポットを形成する。光ディスクで反射した光は、再び対物レンズ１を通り、１／４波長板３で偏光を直線偏光とされる。偏光方向は往路のミラー４で反射した光に対して９０度変えられる。
【００２７】
１／４波長板３で直線偏光とされた光ディスクからの反射光は、図１（Ｂ）に示すように、ミラー４で反射して光路が変えられ、更に偏光ビームスプリッタ１０で反射し、集光レンズ７で集光されて、検出レンズ８を透過して光検出器９へと導かれ、光電変換され、得られた電気信号に基づいて読み取り信号が得られると共にサーボ信号が生成される。
【００２８】
この実施の形態では、対物レンズアクチュエータ２をフォーカス方向、トラッキング方向に駆動するための、サーボ信号を生成する方法として、公知のフォーカスに非点収差法、トラッキングに公知の差動プッシュプル法を用いている。
【００２９】
ここで、前記１／４波長板３は、対物レンズアクチュエータ２の可動部に、対物レンズ１と対向して取り付けられ、また、図２に示すように、対物レンズ１の基準面に対して、光ディスクのラジアル方向に所定の角度θ傾けて取り付けられている。
【００３０】
また、１／４波長板３は、図３（Ａ）の平面図に示すように、中心部の対物レンズ１の有効径に相当する領域３ａには、光を透過するように反射防止膜１５が施され、また、同図（Ｂ）の側面図に示すように、両面共に反射防止膜１５が施され、通常の１／４波長板の効果をもたせる構成としている。なお、１／４波長板３の光源側の面（図３（Ｂ）の下側の面）の全面に反射防止膜１５が形成されている。
【００３１】
一方、図３（Ａ）の平面図及び図３（Ｂ）の側面図に示すように、１／４波長板３の外周部の領域３ｂで、対物レンズ１に近い側の面には全反射膜１６が施され、対物レンズ１の有効径よりも外側の部分の光は当該全反射膜１６で反射して、検出光学系へ向かう構成としている。なお、１／４波長板３は対物レンズアクチュエータ２の可動部に取り付けられているが、全反射膜１６は対物レンズアクチュエータ２の可動部に設けてもよい。
【００３２】
光ピックアップの、ミラー４から対物レンズアクチュエータ２に向かう部分の光束は、対物レンズ１の、トラッキング方向の移動などを考慮して、対物レンズ１の有効径よりも大きい光束が入射している。このため、通常は、対物レンズアクチュエータ２の可動部に対物レンズ１の有効径に相当する絞りを設けている。
【００３３】
これに対し、本実施の形態では、絞りの外側の光、すなわち、対物レンズ１の有効径よりも外側の部分の光は１／４波長板３を透過した後に全反射膜１６で反射させ、その反射光を更にミラー４で反射し、図１（Ｂ）に示した偏光ビームスプリッタ１０で反射して、集光レンズ７及び検出レンズ８を介して光検出器９に導かれる。すなわち、本実施の形態では、図２に示すように１／４波長板３を傾けて、全反射膜１６で反射された光は、１／４波長板３を２度通過して、偏光方向が９０度変換された直線偏光となる。反射光は１／４波長板３の傾き角の２倍（すなわち、２θ）傾いて検出光学系へ導かれる。
【００３４】
また、１／４波長板３は図２に示したように、対物レンズ１の基準面に対して所定の角度θ傾けられているため、光検出器上９では、１／４波長板３の中央部の領域３ａを透過した、光ディスクから反射した光が集光される位置に対して、全反射膜１６で反射された光は異なる位置にスポットが集光される。
【００３５】
図４は本実施の形態の光ピックアップで使用する光検出器９の受光部を示すものである。同図に示すように、光検出器９は、中央の４分割光検出部９ａと、上下に配置された２つの２分割光検出部９ｂ及び９ｃと、４分割光検出部９ａに対して所定距離、離れた位置に配置された非分割光検出部９ｄとからなる。
【００３６】
４分割光検出部９ａは、１／４波長板３の中央部の領域３ａを透過した、光ディスクから反射した光（０次回折光であるメイン光）を、４つの受光部でそれぞれ受光してそれぞれ光電変換し、得られた４信号に基づいて、光ディスクに記録されている情報信号を読み取ると共に、非点収差法によるフォーカスサーボ信号を生成させる。また、２分割光検出部９ｂ及び９ｃは、上記の光ディスクから反射した光（±１次回折光であるサブ光）を、各２つの受光部でそれぞれ受光してそれぞれ光電変換し、得られた各２信号に基づいて、差動プッシュプル法によるトラッキングエラー信号を生成させる。
【００３７】
更に、非分割光検出部９ｄは、上記１／４波長板３の全反射膜１６で反射した光を受光する検出部で、その入射光を光電変換して得られた信号を用いて、半導体レーザ６の駆動電流を制御することで、その光出力パワーを制御する。
【００３８】
なお、光検出器９は、図５に示すように、図４に示した非分割光検出部９ｄの替わりに、光ディスク上のトラック方向に対して２分割した受光部９ｅ１、９ｅ２を持つ２分割光検出部９ｅを設ける構成でもよい。この例では、対物レンズ１がトラッキング方向（ラジアル方向）に移動した場合に、２分割光検出部９ｅの２つの受光部９ｅ１、９ｅ２でそれぞれ受光して光電変換して得た信号の差を、差動アンプ１７で演算し、その差信号に基づいて、対物レンズ１のトラッキング方向の移動量を検出することが可能となる。また、２つの受光部９ｅ１、９ｅ２でそれぞれ受光して光電変換して得た信号を加算器１８で加算して得た信号に基づいて、半導体レーザ６の光出力を制御する。
【００３９】
なお、１／４波長板３を１度（θ＝１°）傾けて配置し、検出光学系の焦点距離を２０ｍｍとした場合、１／４波長板３で反射した光は、０.７（＝２０・ｔａｎ２°）ｍｍだけ、光ディスクの反射光から得られるメインのスポットから離れた位置にスポットを作る。
【００４０】
このように、本実施の形態によれば、一つの光検出器９が、光ディスクの信号を読み取ると共に対物レンズ１の光ディスクに対するフォーカス位置を検出するための４分割光検出部９ａと、対物レンズ１の光ディスク上のトラックに対するトラッキング位置を検出するための２分割光検出部９ｂ及び９ｃと、半導体レーザ６の光出力を制御するためのモニタ用の光検出部９ｄ又は９ｅとを備えて、光ディスクの信号読み取りと、フォーカス位置及びトラッキング位置の検出と、モニタ用とを兼用することができる。
【００４１】
従って、本実施の形態によれば、半導体レーザ６から出射した光を、有効に使用できると共に、光出力のモニタや対物レンズの移動検出用に専用の受光素子を必要としないため、光ピックアップの部品点数を従来に比べて削減できると共に小型化を実現できる。
【００４２】
（第２の実施の形態）
図６は本発明になる光ピックアップの第２の実施の形態の構成図を示し、同図（Ａ）は対物レンズ付近の構成を示す上面図、同図（Ｂ）は光ピックアップ内の半導体レーザ６からミラー２３及び光検出器２６までの検出光学系の構成図を示す。同図中、図１と同一構成部分には同一符号を付してある。
【００４３】
図６において、半導体レーザ６から出射した光はコリメータレンズ５により平行光束となり、偏光ビームスプリッタ１０を透過し、球面収差補正のための、ビームエキスパンダ２５に入射する。ビームエキスパンダ２５は凹レンズと凸レンズの組合せで構成されており、両レンズの間隔が、光軸方向に移動可能になっており、光ディスク１００の厚み誤差、半導体レーザ６の波長ばらつきに応じて、出射する光束の平行度を変化させることができる。
【００４４】
ビームエキスパンダ２５を出た光は、ミラー２３により光路を曲げられ、対物レンズアクチュエータ２０に向かう。ここで、ミラー２３は、入射する光がＰ偏光のときには、Ｐ偏光の大部分を反射するが一部を透過し、入射する光がＳ偏光のときには、入射光を全反射するような膜で構成されている。例えば、ミラー２３は、Ｐ偏光については透過率Ｔｐが９５％、反射率Ｒｐが５％である膜で、Ｓ偏光については透過率Ｔｓが０％、反射率Ｒｓが１００％である膜により構成されている。
【００４５】
従って、ビームエキスパンダ２５を出て上記の構成のミラー２３に入射する光はＰ偏光であるので、ミラー２３で大部分が反射して図６（Ａ）に示した対物レンズアクチュエータ２０に向かうが、一部が透過して、図６（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、ミラー２３の先に配置された第一の光検出器２４ａの受光面に図７に２７で示す光スポットを形成して受光される。この第一の光検出器２４ａには、対物レンズアクチュエータ２０に向かう光束の全体に相当する光の５％が入射することになる。
【００４６】
一方、ミラー２３により反射されて対物レンズアクチュエータ２０に向かった光は、対物レンズ１の有効径に相当する部分の光は、１／４波長板２２により直線偏光が円偏光に変換された後、対物レンズ１により光ディスク１００上に集光されて信号を記録、または、ディスクの信号を再生するために使用される。
【００４７】
ここで、対物レンズアクチュエータ２０の可動部には、対物レンズ１の有効径の外側の部分の光を反射する反射部２１が設けられているため、対物レンズ１に向かう光のうち、対物レンズ１の有効径の外側の部分の光は反射部２１により反射して、ミラー２３に戻る。ミラー２３はＰ偏光の一部を透過するようになっているため、反射部２２で反射された光はＰ偏光であるので、その５％は、ミラー２３を透過して、第二の光検出器２４ｂに入射し、その受光面に図７に２８で示す光スポットを形成して受光される。
【００４８】
この例では、対物レンズアクチュエータ２０の可動部に１／４波長板２２が取り付けられているが、上記の反射部２１は、１／４波長板２２よりも、ミラー２３側に設けられる必要がある。反射した光がＰ偏光である必要があるからである。１／４波長板２２を透過した光は、直線偏光（ここではＰ偏光）から円偏光になって対物レンズ１に入射するが、光ディスク１００で反射した光は、１／４波長板２２を透過することで再び円偏光から直線偏光になる。
【００４９】
このとき、１／４波長板２２を透過した光ディスク１００からの反射光は、往路とは偏光方向が９０度回転した直線偏光となるため、この例のように、往路がＰ偏光の場合、光ディスク１００からの反射光は１／４波長板２２を透過することでＳ偏光となる。従って、１／４波長板２２を透過した光ディスク１００からの反射光は、ミラー２３を透過せず、ミラー２３で全反射して検出光学系へ向かうことになる。
【００５０】
ミラー２３で全反射した、１／４波長板２２を透過した光ディスク１００からの反射光は、図６（Ｂ）に示すビームエキスパンダ２５を透過し、偏光ビームスプリッタ１０で反射して光路が変えられた後、集光レンズ７で集光され、更に検出レンズ８を透過して光検出器２６へと導かれ、ここで光電変換され、得られた電気信号に基づいて公知の方法で読み取り信号が得られると共にサーボ信号が生成される。
【００５１】
一方、対物レンズアクチュエータ２０の可動部に設けられた反射部２１で反射した光は、半導体レーザ６からミラー２３に入射する光束の９５％の外周部分の光で、さらにミラー２３を透過率５％で透過するので、半導体レーザ６からミラー２３に入射する光束の４.７５％の光が第二の光検出器２４ｂに入射する。
【００５２】
ここで、第二の光検出器２４ｂに入射する光は、対物レンズ１の有効径に相当する部分以外の光に相当するので、第一の光検出器２４ａに入射した光から、第二の光検出器２４ｂに入射した光を差し引くことで、実際に対物レンズ１に入射する光量を計算することができる。ただし、第二の光検出器２４ｂに入射する光量は、前記のとおり、第一の光検出器２４ａに入射する光量が５％なのに対して、４.７５％相当になるので、係数をかけて、演算する必要がある。また、この係数は、反射部２１の反射率に応じて適切な値とする。
【００５３】
第一の光検出器２４ａにより光電変換されて得られた第一の光検出信号から、第二の光検出器２４ｂにより光電変換されて得られた第二の光検出信号に適切な値の係数をかけて差し引く演算を行うことにより、実際に対物レンズ１に入射する光量を示す信号が得られるので、この光量を示す信号に基づいて半導体レーザ６の駆動電流を、図示しない駆動制御回路により実際に対物レンズ１に入射する光量が一定になるように制御する。これにより、半導体レーザ６から出射される光出力パワーは、実際に対物レンズ１に入射する光量が一定になるように可変制御される。
【００５４】
このように、本実施の形態では、トラッキングによる対物レンズ１の移動や、光学系による対物レンズ１へ入射する光束の変化に対応して、対物レンズ１に入射する光量が一定になるように半導体レーザ６の光出力を細かく可変制御することができる。
【００５５】
なお、上記の実施の形態では、反射部２１は、対物レンズアクチュエータ２０の可動部に直接形成するように説明したが、図８に示すように、１／４波長板２９のミラー２３側の入射面の一部に形成してもよい。また、１／４波長板２９とは別に中央部を透過、外周部を反射する部材を１／４波長板２２のミラー２３側入射面に取り付けてもよい。
【００５６】
また、半導体レーザ６から出射される直線偏光はＰ偏光であるものとして説明したが、Ｓ偏光であってもよい。ただし、この場合は、ミラー２３の特性を入射するＰ偏光を全反射し、入射するＳ偏光は一部分のみ透過し、残りは反射する特性とする必要がある。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本発明の光ピックアップの第１の実施の形態の構成図である。
【図２】図１の光ピックアップの要部の構成の説明図である。
【図３】図１の光ピックアップの１／４波長板に施される膜の説明図である。
【図４】図１の光ピックアップの光検出器の構成の一例を示す図である。
【図５】図１の光ピックアップの光検出器の構成の他の例を示す図である。
【図６】本発明の光ピックアップの第２の実施の形態の構成図である。
【図７】図６の光ピックアップ内の光検出器とその光スポットを示す図である。
【図８】図６の光ピックアップ内の反射膜の取り付け位置の他の例を示す図である。
【図９】従来の光ピックアップの一例の構成図である。
【符号の説明】
【００５８】
１  対物レンズ
２、２０  対物レンズアクチュエータ
３、２２、２９  １／４波長板
４、２３  ミラー
５  コリメータレンズ
６  半導体レーザ
７  集光レンズ
８  検出レンズ
９、２６  光検出器
９ａ  ４分割光検出部
９ｂ、９ｃ、９ｄ  ２分割光検出部
９ｅ  非分割光検出部
１０  偏光ビームスプリッタ
１１  回折格子
１５  反射防止膜
１６  全反射膜
１７  差動アンプ
１８  加算器
２１  反射部
２３  ミラー
２４ａ  第一の光検出器
２４ｂ  第二の光検出器
２５  ビームエキスパンダ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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