(57)【要約】【課題】  本スキャン時に各画像毎にゴミキズ補正の強度を決める手間を省く。【解決手段】  事前に低解像度にてスキャンした各駒の画像のゴミキズ状態から本スキャンにおけるゴミキズ補正強度を決定する。【選択図】        図３
2006157809.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
可視光及び不可視光を照射する発光部と、前記発光部により照射された原稿からの光を検出して可視画像データを検出する可視画像検出手段と、前記発光部から不可視光を検出して原稿上のゴミキズを検出するゴミキズ検出手段と、前記可視画像検出手段から低解像度で可視画像データを出力する可視画像出力手段と、前記ゴミキズ検出手段から低解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ画像出力手段と、前記可視画像検出手段から高解像度で画像データを出力する可視画像出力手段と、前記ゴミキズ検出手段から高解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ出力手段と、ゴミキズ検出手段より出力された高解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手段と、ゴミキズ出力手段により出力された低解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手段と、低解像度ゴミキズ画像により判別されたゴミキズの状態に応じて高解像度可視画像データの補正方法を選択する選択手段と、選択結果に応じて前記画像検出手段から出力される高解像度可視画像データを補正する補正手段と、を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
請求項１において、前記選択手段は、低解像度にてゴミキズの判別をおこなう判別手段から得られたゴミキズ判別結果に対して、判別されたゴミキズの数により、ゴミキズの補正の強度を決定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項３】
請求項２において、前記選択手段は、低解像度いてゴミキズの判別をおこなう判別手段から得られたゴミキズ判別結果に対して、判別されたゴミキズの数により、ゴミキズの補正を実施するかしないかを決定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項４】
請求項１において、高解像度ゴミキズ画像のゴミキズ判別手段は、注目するゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出、抽出した画素の濃度平均をとり、濃度の平均値と閾値を比較することにより注目するゴミキズ画素がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項５】
請求項１において、高解像度ゴミキズ画像のゴミキズ判別手段は、閾値によってゴミキズと判定されたゴミキズに対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出し、抽出したＮ×Ｍ画素内にてゴミキズと判定された画素の数により、注目するゴミキズ画素がゴミキズであるかゴミキズでないかを判別することを特徴とする画像処理装置。
【請求項６】
可視光及び不可視光を照射する発光工程と、前記発光工程により照射された原稿からの光を検出して可視画像データを検出する可視画像検出工程と、前記発光工程から不可視光を検出して原稿上のゴミキズを検出するゴミキズ検出工程と、前記可視画像検出工程から低解像度で可視画像データを出力する可視画像出力工程と、前記ゴミキズ検出工程から低解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ画像出力工程と、前記可視画像検出工程から高解像度で画像データを出力する可視画像出力工程と、前記ゴミキズ検出工程から高解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ出力工程と、ゴミキズ検出工程より出力された高解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別工程と、ゴミキズ出力工程により出力された低解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別工程と、低解像度ゴミキズ画像により判別されたゴミキズの状態に応じて高解像度可視画像データの補正方法を選択する選択工程と、選択結果に応じて前記画像検出工程から出力される高解像度可視画像データを補正する補正工程と、を有することを特徴とする画像処理方法。
【請求項７】
請求項６において、前記選択工程は、低解像度にてゴミキズの判別をおこなう判別工程から得られたゴミキズ判別結果に対して、判別されたゴミキズの数により、ゴミキズの補正の強度を決定することを特徴とする画像処理方法。
【請求項８】
請求項６において、前記選択工程は、低解像度にてゴミキズの判定をおこなう判別工程から得られたゴミキズ判別結果に対して、判別されたゴミキズの数により、ゴミキズの補正を実施するかしないかを決定することを特徴とする画像処理方法。
【請求項９】
請求項６において、高解像度ゴミキズ画像のゴミキズ判別工程は、注目するゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出、抽出した画素の濃度平均をとり、濃度の平均値と閾値を比較することにより注目するゴミキズ画素がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判定することを特徴とする画像処理方法。
【請求項１０】
請求項６において、高解像度ゴミキズ画像のゴミキズ判別工程は、閾値によってゴミキズと判定されたゴミキズに対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出し、抽出したＮ×Ｍ画素内にてゴミキズと判定された画素の数により、注目するゴミキズ画素がゴミキズであるかゴミキズでないかを判別することを特徴とする画像処理方法。
【請求項１１】
画像処理装置内のコンピュータによって実行され、画像を補正するプログラムが格納された記憶媒体において、前記プログラムは、ゴミキズ検出工程より出力された高解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手順と、ゴミキズ出力工程により出力された低解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手順と、低解像度ゴミキズ画像により判別されたゴミキズの状態に応じて高解像度可視画像データの補正方法を選択する選択手順と、選択結果に応じて前記画像検出工程から出力される高解像度可視画像データを補正する補正手順と、を有することを特徴とする記憶媒体。
【請求項１２】
請求項１１において、前記選択手順は、低解像度にてゴミキズの判別をおこなう判別手順から得られたゴミキズ判別結果に対して、判別されたゴミキズの数により、ゴミキズの補正の強度を決定することを特徴とする記憶媒体。
【請求項１３】
請求項１１において、前記選択手順は、低解像度にてゴミキズの判別をおこなう判別手順から得られたゴミキズ判別結果に対して、判別されたゴミキズの数により、ゴミキズの補正を実施するかしないかを決定することを特徴とする記憶媒体。
【請求項１４】
請求項１１において、高解像度ゴミキズ画像のゴミキズ判別手順は、注目するゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出、抽出した画素の濃度平均をとり、濃度の平均値と閾値を比較することにより注目するゴミキズ画素がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判定することを特徴とする記憶媒体。
【請求項１５】
請求項１５において、高解像度ゴミキズ画像のゴミキズ判別手順は、閾値によってゴミキズと判定されたゴミキズに対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出し、抽出したＮ×Ｍ画素内にてゴミキズと判定された画素の数により、注目するゴミキズ画素がゴミキズであるかゴミキズでないかを判別することを特徴とする記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置、画像処理方法及び記録媒体に関し、特に画像中の欠損部を補正する画像処理装置、画像処理方法及びコンピュータを画像処理装置として機能させるためのプログラムが格納された記録媒体に関する。
【背景技術】
【０００２】
原稿には、本来の画像の他に、原稿の地肌汚れ等によるゴミキズが含まれていることが多い。そのような原稿のゴミキズを除去する場合、一般に赤外画像を用いゴミキズを判別するための閾値を算出、赤外画像を閾値により２値化することでゴミキズ画素の抽出をおこなっている。また、ゴミキズ画素を正確に検出するために２値化の際の閾値を適切に設定する必要がある。本スキャン時に赤外光の閾値を計測し、ゴミキズ検出に問題がある場合には、照射光又は閾値の制御をおこなうことによりゴミキズ補正の最適化を図る手法が用いられている（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２０００−３４１４７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、前記従来技術では、本スキャンにおいて正しくゴミキズ補正が出来なかった場合、再度スキャンし直すことになる。
【０００４】
本発明は、このような問題点に鑑みて為されたものであり、その目的とする処は、事前に低解像度にてスキャンした各駒のフィルムのゴミキズ状態により、自動的にゴミキズ補正の強度を決定することができる画像処理装置、画像処理方法及び記録媒体を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
本発明は、下記の技術的構成により前記目的を達成できたものである。
【０００６】
上記課題を解決するために成された本発明に関わる画像処理装置は、可視光及び不可視光を照射する発光部と、前記発光部により照射された原稿からの光を検出して可視画像データを検出する可視画像検出手段と、前記発光部から不可視光を検出して原稿上のゴミキズを検出するゴミキズ検出手段と、前記可視画像検出手段から低解像度で可視画像データを出力する可視画像出力手段と、前記ゴミキズ検出手段から低解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ画像出力手段と、前記可視画像検出手段から高解像度で画像データを出力する可視画像出力手段と、前記ゴミキズ検出手段から高解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ出力手段と、ゴミキズ検出手段より出力された高解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手段と、ゴミキズ出力手段により出力された低解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手段と、低解像度ゴミキズ画像により判別されたゴミキズの状態に応じて高解像度可視画像データの補正方法を選択する選択手段と、選択結果に応じて前記画像検出手段から出力される高解像度可視画像データを補正する補正手段と、を有することを特徴とするゴミキズ補正強度決定機能を備えるものである。
【０００７】
これに加えて更に、ゴミキズ判別手段により判別された低解像ゴミキズ画増のゴミキズの数により、ゴミキズの補正の強度を決定する手段を備えても良い。
【０００８】
これに加えて更に、ゴミキズ判別手段により判別された低解像ゴミキズ画像のゴミキズの数により、ゴミキズの補正を実施するかしないかを決定する手段を備えても良い。
【０００９】
これに加えて更に、高解像度ゴミキズ画像の注目するゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出、抽出した画素の濃度平均をとり、濃度の平均値と閾値を比較することにより注目するゴミキズ画素がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判定する手段を備えても良い。
【００１０】
これに加えて更に、高解像度ゴミキズ画像において閾値によってゴミキズと判定されたゴミキズに対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出し、抽出したＮ×Ｍ画素内にてゴミキズと判定された画素の数により、注目するゴミキズ画素がゴミキズであるかゴミキズでないかを判別する手段を備えても良い。
【００１１】
上記課題を解決するために成された本発明に関わる画像処理方法は、可視光及び不可視光を照射する発光工程と、前記発光工程により照射された原稿からの光を検出して可視画像データを検出する可視画像検出工程と、前記発光工程から不可視光を検出して原稿上のゴミキズを検出するゴミキズ検出工程と、前記可視画像検出工程から低解像度で可視画像データを出力する可視画像出力工程と、前記ゴミキズ検出工程から低解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ画像出力工程と、前記可視画像検出工程から高解像度で画像データを出力する可視画像出力工程と、前記ゴミキズ検出工程から高解像度でゴミキズ画像を出力するゴミキズ出力工程と、ゴミキズ検出工程より出力された高解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別工程と、ゴミキズ出力工程により出力された低解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別工程と、低解像度ゴミキズ画像により判別されたゴミキズの状態に応じて高解像度可視画像データの補正方法を選択する選択工程と、選択結果に応じて前記画像検出工程から出力される高解像度可視画像データを補正する補正工程と、を有することを特徴とする画像データのゴミキズ補正機能を備えるものである。
【００１２】
これに加えて更に、ゴミキズ判別工程により判別されたゴミキズの数により、ゴミキズの補正の強度を決定する工程を備えても良い。
【００１３】
これに加えて更に、ゴミキズ判別工程により判別されたゴミキズの数により、ゴミキズの補正を実施するかしないかを決定する工程を備えても良い。
【００１４】
これに加えて更に、高解像度ゴミキズ画像の注目するゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出、抽出した画素の濃度平均をとり、濃度の平均値と閾値を比較することにより注目するゴミキズ画素がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判定する工程を備えても良い。
【００１５】
これに加えて更に、高解像度ゴミキズ画像の閾値によってゴミキズと判定されたゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出し、抽出したＮ×Ｍ画素内にてゴミキズと判定された画素の数により、注目するゴミキズ画素がゴミキズであるかゴミキズでないかを判別する工程を備えても良い。
【００１６】
上記課題を解決するために成された本発明に関わる画像処理方法は、画像処理装置内のコンピュータによって実行され、画像を補正するプログラムが格納された記憶媒体において、前記プログラムは、ゴミキズ検出工程より出力された高解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手順と、ゴミキズ出力工程により出力された低解像度ゴミキズ画像からゴミキズの判別をおこなう判別手順と、低解像度ゴミキズ画像により判別されたゴミキズの状態に応じて高解像度可視画像データの補正方法を選択する選択手順と、選択結果に応じて前記画像検出工程から出力される高解像度可視画像データを補正する補正手順と、を有することを特徴とする記憶媒体を備えるものである。
【００１７】
これに加えて更に、低解像度にてゴミキズの判別をおこなう判別手順により判別されたゴミキズの数により、ゴミキズの補正の強度を決定する手順を記憶媒体に備えても良い。
【００１８】
これに加えて更に、低解像度にてゴミキズの判別をおこなう判別手順により判別されたゴミキズの数により、ゴミキズの補正を実施するかしないかを決定する手順を記憶媒体に備えても良い。
【００１９】
これに加えて更に、高解像度ゴミキズ画像の注目するゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出、抽出した画素の濃度平均をとり、濃度の平均値と閾値を比較することにより注目するゴミキズ画素がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判定する手順を記憶媒体に備えても良い。
【００２０】
これに加えて更に、高解像度ゴミキズ画像の閾値によってゴミキズと判定されたゴミキズ画素に対して、周辺のＮ×Ｍ画素を抽出し、抽出したＮ×Ｍ画素内にてゴミキズと判定された画素の数により、注目するゴミキズ画素がゴミキズであるかゴミキズでないかを判別する手順を記憶媒体に備えても良い。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、事前に低解像度にてスキャンした各駒のフィルムのゴミキズ状態により、自動的にゴミキズ補正の強度を決定することができる画像処理装置、画像処理方法及び記録媒体を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下本発明の実施例について、図面を参照しながら説明する。
【実施例１】
【００２３】
以下に図面を参照して、本発明の実施例を説明する。
【００２４】
図１は、本発明の第１の実施例に係る画像のゴミキズ補正装置の構造を示すブロック図である。図２は、本発明の第一の実施例に係る低解像度ゴミキズ画像及び高解像度ゴミキズ画像を示す図である。図３は、本発明の第１の実施例に係るゴミキズ補正方法を選択する手段を示した図である。
【００２５】
本発明の第１の実施例に係る画像処理装置は、図１に示すように、可視光発光部１と、赤外光発光部２と、原稿３を通過した可視光を受光するイメージセンサ４と、原稿３を通過した赤外光を受光するイメージセンサ５と、イメージセンサ４にて受光した可視光を検出する検出手段６と、イメージセンサ５にて受光した赤外光を検出する検出手段７と、検出手段６及び７から得られた可視及び赤外データ検出結果を低解像度の可視画像データ及び赤外画像データに変換し出力する低解像度画像出力手段８と、検出手段６及び７から得られた可視及び赤外データ検出結果を高解像度の可視画像データ及び赤外画像データに変換し出力する高解像度画像出力手段９と、低解像度赤外画像及び可視画像から２値化によりゴミキズの判別をおこなうゴミキズ判別手段１０と、高解像度赤外画像及び可視画像から２値化によりゴミキズの判別をおこなうゴミキズ判別手段１１と、ゴミキズ判別手段１０により判別されたゴミキズの数によりゴミキズの補正強度を選択する選択手段１２と、補正強度選択手段１２により選択されたゴミキズ補正強度により可視画像のゴミキズを補正する可視画像補正手段１３と、を備えている。
【００２６】
本実施例は、低解像度のゴミキズ画像１４が高解像度ゴミキズ画像１５のゴミキズの割合とほぼ等しくなることを利用するものである。つまり、画像を高解像度にてゴミキズ補正する前に、高解像度にスキャンする画像の低解像度画像を取得、ゴミキズ判別手段１０で標準閾値にて低解像度画像のゴミキズの数を判別、ゴミキズの数に応じて補正方法選択手段１２により高解像度にスキャンする画像のゴミキズ補正強度、つまりゴミキズ補正するための閾値のレベルを決定する。これにより、カメラのフィルムをスキャンするような大量な画像のゴミキズを補正する場合において、駒毎にゴミキズの補正強度を自動で決めることが可能となる。
【実施例２】
【００２７】
図３は、本発明の第２の実施例に関わる画像のゴミキズ補正手段を示す図である。本実施例が示すゴミキズ補正手段は、ゴミキズ判別手段１０によって標準閾値にて低解像度画像のゴミキズ画素を検出、検出したゴミキズ画素数１６がｎ以上の場合、高解像度スキャンの閾値を強１７に設定、ｎ未満ｍ以上の場合、標準１８に設定、ｍ未満の場合、弱１９に設定する。
【００２８】
このようにゴミキズの数によって閾値を変化させるのは、ゴミキズが多い場合の画像は、ヒストグラム２０及び、赤外濃度分布２１のように赤外画素の濃度変化が少なく小さなゴミキズを取りこぼす可能性があるためであり、ゴミキズが少ない場合は、ヒストグラム２２及び、赤外濃度分布２３のように、ヒストグラムが急峻となるため、ゴミキズでない個所をゴミキズと判断してしまうためである。
【００２９】
本実施例を用いれば、低解像度にて各画像のゴミキズの状態を事前に検出しているため、高解像度による本スキャンにおいて、各画像毎に閾値を決定し直すことなく、ゴミキズ補正が可能となる。
【実施例３】
【００３０】
図４は、本発明の第３の実施例に関わる画像のゴミキズ補正手段を示す図である。本実施形態が示すゴミキズ補正手段は、ゴミキズ判別手段１０によって標準閾値にて低解像度画像のゴミキズ画素を検出、検出したゴミキズ画素数がゴミキズ除去可能なゴミキズ画素量Ｚより多い場合、補正強度選択手段１２にてゴミキズ補正を実施しないよう設定する。
【００３１】
検出したゴミキズ画素数がゴミキズ除去可能なゴミキズ画素量Ｚより少ない場合、実施例２のように高解像度画像のゴミキズを補正するための閾値を決定する。
【００３２】
このようにゴミキズ補正の可否を低解像度画像にて事前に判別することにより、高解像度による本スキャンにおいて、各駒毎にゴミキズ補正の可否を決定することなくゴミキズ補正が可能となる。
【実施例４】
【００３３】
図５、図６、図１１は、本発明の第４の実施例に係る画像のゴミキズ補正手段を示す図である。
【００３４】
本実施例を示すゴミキズ補正手段は、高解像度画像出力手段９により出力される赤外画像に対して、注目画素２４周辺のＮ×Ｍ画素の赤外画像２５を抽出する。抽出した赤外画素濃度２６の平均濃度２７を算出し、予め設定された閾値ｈ２８と比較、アルゴリズム２９の手順で、注目画素２４がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判定する。
【００３５】
赤外画像の全ての画素に対して上記ゴミキズ判定を実施し、ゴミキズ判定結果３０を得る。単純に閾値を用いた２値化を実施すると、閾値が厳しい値の場合、赤外画像のノイズ成分を多く拾ってしまうためゴミキズを誤検出する割合が多くなる。
【００３６】
しかしながら、本実施例のような、注目画素とその周りの画素の平均値を用いた２値化においては、そのようなノイズ成分は平均化による広域遮断フィルタ効果により、ノイズ成分をゴミキズとして誤検出しない。また、上記のように平均値を用いた２値化を用いることで、高解像度画像の２値化を行う場合に、閾値が高くても赤外画像３１のようにノイズが多い画像ではなく、３２のようにノイズの少ない赤外画像を得ることができ、低解像度にて検出したゴミキズの割合３３と、高解像度にて検出したゴミキズの割合３２をほぼ等しくできる。
【００３７】
そのため、本実施例を用いれば、低解像度赤外画像にて決定する駒毎の本スキャン時の閾値設定の信頼性を向上させることが可能となる。
【実施例５】
【００３８】
図７、図８、及び図１１は、本発明の第５の実施例に係る画像のゴミキズ補正手段を示す図である。
【００３９】
本実施例を示すゴミキズ補正手段は、ゴミキズ判別手段１１によってゴミキズ画素であると判定された赤外２値化画素３４に対して、周辺のＮ×Ｍ画素の赤外２値化画像３５を抽出する。
【００４０】
２値化手段８によりゴミキズ画素であると判定された赤外２値化画素は、ゴミキズ判別手段１１にて、アルゴリズム３６の手順で、赤外２値化画素３４がゴミキズ画素であるかゴミキズ画素でないかを判別される。ゴミキズ判別手段１１によりゴミキズ画素であると判定された全ての赤外２値化画素に対して上記ゴミキズ判別を実施し、ゴミキズ判定結果３７を得る。一般に閾値を用いた２値化を実施すると、閾値が厳しい値の場合、赤外画像のノイズ成分を多く拾ってしまうためゴミキズを誤検出する割合が多くなる。
【００４１】
しかしながら、そのようなゴミキズは一般的に小さなゴミキズとして検出されるため、本実施例を用いれば、ゴミキズであると誤検出された画素を取り除くことができる。
【００４２】
また、上記のような２値化を実施することで、高解像度にて２値化を実施した場合、閾値が高くても、赤外画像３１のようにノイズが多い画像ではなく、３２のようにノイズの少ない赤外画像を得ることができ、低解像度にて検出したゴミキズの割合３３と、高解像度にて検出したゴミキズの割合３２をほぼ等しくできる。そのため、本実施例を用いれば、低解像度赤外画像にて決定する本スキャン時の駒毎の閾値設定の信頼性を向上させることが可能となる。
【００４３】
尚、以上が本発明の実施例の説明であるが、本発明は、これらの実施例の構成に限られるものではなく、特許請求の範囲で示した機能、または、実施例の構成を持つ機能が達成できる構成であればどのようなものであっても適用可能である。
【００４４】
例えば、スキャナ、フィルムスキャナ、複写機、ファクシミリ装置、デジタルカメラなどにも適用可能である。また、以上の実施例のソフトウェア構成とハードウェア構成は、適宜置き換えることも可能である。
【００４５】
さらに、本発明は、特許請求の範囲又は、実施例の構成の全体もしくは、一部が１つの装置を形成するものであっても、他の装置と結合するようなものであっても、さらには、装置を構成する要素となるようなものであってもよい。
【００４６】
また、本発明は、複数の機器から構成されるシステムに適用してもよいし、１つの機器からなる装置に適用してもよい。また、本発明はシステムあるいは装置にプログラムを供給することによって達成される場合にも適用できることはいうまでもない。この場合、本発明を達成するためのソフトウェアによって表されるプログラムを格納した記憶媒体をシステムあるいは装置に読み出すことによってそのシステムあるいは装置が本発明の効果を享受することが可能となる。
【００４７】
図９はＰＣにプログラムを供給することによって可視画像のゴミキズ補正を達成する場合の装置の構造を示す図である。本実施例の画像処理装置は、図９に示すように可視光発光部３８と、赤外光発光部３９と、原稿４０を通過した可視光を受光するイメージセンサ４１と原稿４０を通過した赤外光を受光するイメージセンサ４２と、イメージセンサ４１にて受光した可視光を可視画像データに変換しＰＣへ出力する可視画像出力手段４３と、イメージセンサ４２にて受光した赤外光を赤外画像データに変換しＰＣへ出力する赤外画像出力手段４４と、可視画像出力手段４３及び赤外画像出力手段４４から出力される可視画像及び赤外画像を取り込む画像入力Ｉ／Ｆ４５と、ゴミキズ補正処理をするプログラムが格納されている記憶媒体４６と、記憶媒体４６に記録されているプログラムを呼び出してゴミキズ補正処理を実施するＣＰＵ４７と、を備えている。
【００４８】
図１０は記憶媒体としてのＲＯＭ４６のメモリマップを示す図である。ＲＯＭには、２値化処理プログラム４８、ゴミキズ判定処理プログラム４９、補正方法選択処理プログラム５０、可視画像補正処理プログラム５１などが格納されている。
【００４９】
プログラムモジュールを供給する記憶媒体としては、ＲＯＭに限らず、例えばフロッピー（登録商標）ディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード等を用いることができる。
【００５０】
本願の請求項１、請求項６、請求項１１に記載した発明においては、低解像度のゴミキズ画像と高解像度のゴミキズ画像のゴミキズの割合がほぼ等しくなることを利用しており、事前に低解像度にて各駒のゴミキズ状態を判別することで、カメラのフィルムをスキャンするような大量の画像数のゴミキズを補正する場合においスキャン毎にゴミキズ補正強度を設定することなく、各駒のゴミキズ補正強度を事前で決めることが可能となる。
【００５１】
本願の請求項２、請求項７、請求項１２に記載した発明においては、事前にスキャンした低解像度ゴミキズ画像から検出したゴミキズの数によって閾値レベルを決定することにより、本スキャン時の高解像度画像にゴミキズが多い場合においての赤外画素の濃度変化の小さなゴミキズを取りこぼしてしまった場合のゴミキズ補正強度の再設定及び、ゴミキズが少ない場合においてのヒストグラムが急峻であることが原因でゴミキズでない個所をゴミキズと判断してしまった場合のゴミキズ補正強度の再設定を軽減することが可能となる。
【００５２】
本願請求項３、請求項８、請求項１３に記載した発明においては、ゴミキズ補正の可否を低解像度画像にて事前に判別することにより、高解像度による本スキャンにおいて、ゴミキズ除去の可否を画像毎に調べる必要がなくなり、ゴミキズ除去が不可能な画像に対しては、ゴミキズ除去をしないといった設定を高解像度による本スキャン前におこなうことが可能となる。
【００５３】
本願請求項４、請求項９、請求項１４に記載した発明においては、平均値を用いた２値化をゴミキズ検出に用いることで、高解像度画像においてノイズの少ない赤外画像を得ることができ、低解像度にて検出したゴミキズの割合と、高解像度にて検出したゴミキズの割合をほぼ等しくできる。そのため、本発明を用いれば、低解像度赤外画像にて決定する駒毎の本スキャン時の閾値設定の信頼性を向上させることが可能となる。
【００５４】
本願請求項５、請求項１０、請求項１５に記載した発明においては、周辺の画素を利用した２値化を実施することで、高解像度画像において、ノイズの少ない赤外画像を得ることができ、低解像度にて検出したゴミキズの割合、高解像度にて検出したゴミキズの割合をほぼ等しくできる。そのため、本発明を用いれば、低解像度赤外画像にて決定する本スキャン時の駒毎の閾値設定の信頼性を向上させることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】本発明の第１の実施例に係る画像処理装置を示す図
【図２】本発明の全ての実施例に係る低解像度及び高解像度ゴミキズ画像を示す図
【図３】本発明の第２の実施例に係るゴミキズ補正手段を示す図
【図４】本発明の第３の実施例に係るゴミキズ補正手段を示す図
【図５】本発明の第４の実施例に係るゴミキズ補正手段を示す図
【図６】本発明の第４の実施例に係るゴミキズ補正手段を示す図
【図７】本発明の第５の実施例に係るゴミキズ補正手段を示す図
【図８】本発明の第５の実施例に係るゴミキズ補正手段を示す図
【図９】ＰＣにプログラムを供給することによって可視画像のゴミキズ補正を達成する場合の装置の構造を示す図
【図１０】記憶媒体としてのメモリマップを示す図
【図１１】本発明の第４及び第５の実施例に係るゴミキズ画像を示す図
【符号の説明】
【００５６】
１  可視光発光部
２  赤外光発光部
３  原稿
４  イメージセンサ
５  イメージセンサ
６  可視画像検出手段
７  赤外画像検出手段
８  低解像度画像出力手段
９  高解像度画像出力手段
１０  ゴミキズ判別手段
１１  ゴミキズ判別手段
１２  補正強度選択手段
１３  可視画像補正手段
１４  低解像度にて標準閾値で検出したゴミキズ画素
１５  高解像度にて標準閾値で検出したゴミキズ画素
１６  ゴミキズ画素数
１７  ゴミキズ補正強度（強）
１８  ゴミキズ補正強度（標準）
１９  ゴミキズ補正強度（弱）
２０  ゴミキズが多い場合のヒストグラム
２１  ゴミキズが多い場合の赤外画像の濃度変化の様子
２２  ゴミキズが少ない場合のヒストグラム
２３  ゴミキズが少ない場合の赤外画像の濃度変化の様子
２４  注目画素
２５  Ｎ×Ｍ画素の赤外画像
２６  赤外（不可視）画素濃度
２７  濃度平均
２８  閾値ｈ
２９  アルゴリズム
３０  ゴミキズ判定結果
３１  ノイズが多いゴミキズ画像
３２  ノイズ除去後のゴミキズ画像
３３  低解像度でのゴミキズ画像
３４  赤外（不可視）２値化画素
３５  Ｎ×Ｍ画素の赤外画像
３６  アルゴリズム
３７  ゴミキズ判定結果
３８  可視光発光手段
３９  赤外光発光手段
４０  原稿
４１  イメージセンサ
４２  イメージセンサ
４３  可視画像出力手段
４４  不可視画像出力手段
４５  画像入力Ｉ／Ｆ
４６  ＲＡＭ
４７  ＣＰＵ
４８  ２値化処理プログラムモジュール
４９  ゴミキズ判別処理プログラムモジュール
５０  補正方法選択処理プログラムモジュール
５１  可視画像補正処理プログラムモジュール
【図３】
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【図４】
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【図９】
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【図１０】
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【図１】
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【図２】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図１１】
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