(57)【要約】【課題】  光走査装置からの漏れ光を抑制する。【解決手段】  ＬＤを光量制御するためのＬＤドライブ回路５２は、参照電圧Ｖｒｅｆが入力され、射出光量の光量モニタセンサ４２の出力信号が入力され、光量制御部５４において出力信号と参照電圧Ｖｒｅｆとの差分に基づき所定光量の光ビームが射出されるように制御する。出力信号は異常検知回路５８にも入力され、低光量の光ビームが検出されたとき異常信号を出力し、停止回路６０が光量制御部５４の動作を停止させる。これによって、光走査装置内部の部品が光量モニタセンサ４２の上流側に進入した場合であっても、光量調整時の不具合による異常発光が生じることはない。また、漏れ光として光ビームが射出されることはない。【選択図】  図７
2006154013.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の光ビームを射出する光源と、
前記光源から射出された光ビームの一部を反射して該光ビームの光量を検出する光量センサと、
前記光源から射出された光ビームを被走査面に向けて偏向する偏向手段、及び前記偏向手段で偏向された光ビームを複数回折り返して前記被走査面と走査端検出センサとに入射させる複数のミラーを含む光学系と、
を備える光走査装置であって、
前記光源から射出される各々の光ビームの光量を調整するときに、前記光量センサで検出した光ビームの光量が所定値未満の場合を異常発光状態と検出する検出手段と、
前記検出手段で異常発光状態と検出されたときに、前記光源からの光ビームの射出を制限する制限手段と、
を有することを特徴とする光走査装置。
【請求項２】
前記制限手段は、前記光源からの光ビームの射出を停止することを特徴とする請求項１に記載の光走査装置。
【請求項３】
前記検出手段は、前記光ビームの光量が所定値未満の光ビームの総数を検出しかつ検出数に対応する光ビームの総光量が規定値未満の場合には不安定発光状態と検出し、
前記制限手段は、前記不安定発光状態と検出されたときには前記光源からの光ビームの射出を制限しない
ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光走査装置。
【請求項４】
前記検出手段は、前記光ビームの光量が所定値未満の光ビームの総数を検出しかつ検出数に対応する光ビームの総光量が規定値以上の場合を異常発光状態と検出することを特徴とする請求項１または請求項２に記載の光走査装置。
【請求項５】
前記光学系は、前記偏向手段で偏向された光ビームを複数回折り返して複数の被走査面に入射させる複数のミラーを含むことを特徴とする請求項１乃至請求項４の何れか１項に記載の光走査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の発光点を有する光源から射出された複数の光ビームで被走査面を走査する光走査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年のレーザ光ビームプリンタでは、高速高密度の画像形成を行うために、複数の発光点から複数の光ビームを射出するレーザ光源（例えば面発光レーザ光源など）が用いられてきている。複数の光ビームを射出するレーザ光源は、各々の発光点の位置等により発光量が異なる場合がある。このため、複数の光ビームはその射出光量が不揃いになる場合がある。このため、走査面の光量が各光ビーム毎に異なり、濃度ムラや横筋等の画像不良が発生することを解消するために、被走査面における光量差を複数のミラーで相殺する方法等が提案されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
このように、複数のミラーによって光ビームを折り返す場合、その光路を遮る障害物が進入すると、障害物による反射光が設計時の光路を逸脱して光走査装置の外部へ射出される漏れ光を生じる場合がある。この漏れ光は、サービスマンやユーザーなどの操作者にとって不要のものであり、消灯することが好ましい。
【０００４】
このため、サービスマンやユーザーが、内部点検やメンテナンス等を行うときの筐体に設けられた開閉蓋にインターロック機構を設けて、開閉蓋の開閉状態を監視している（例えば、特許文献２参照）。このインターロック機構では、動作中における開閉蓋の開放を検出して、電力の供給を機械的に遮断している。これにより、開閉蓋が開放されたときには、漏れ光を消灯することが可能となる。
【特許文献１】特開２００２−２３０８３号公報
【特許文献２】特開２０００−１５３９５５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、インターロック機構と連動してレーザ光源を制御する場合、そのレーザ光源を消灯するための構成と、インターロック機構との双方を備える必要があると共に、装置本体とレーザ光源を備えた部分との配線が必要である。これは、近年の装置の小型化や簡略化に逆行するもので、装置として複雑かつ組み立て作業では煩雑さを伴う結果となる。
【０００６】
本発明は上記事実を考慮してなされたものであり、簡単な構成で漏れ光を抑制できる光走査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するため本発明の光走査装置は、複数の光ビームを射出する光源と、前記光源から射出された光ビームの一部を反射して該光ビームの光量を検出する光量センサと、前記光源から射出された光ビームを被走査面に向けて偏向する偏向手段、及び前記偏向手段で偏向された光ビームを複数回折り返して前記被走査面と走査端検出センサとに入射させる複数のミラーを含む光学系と、を備える光走査装置であって、前記光源から射出される各々の光ビームの光量を調整するときに、前記光量センサで検出した光ビームの光量が所定値未満の場合を異常発光状態と検出する検出手段と、前記検出手段で異常発光状態と検出されたときに、前記光源からの光ビームの射出を制限する制限手段と、を有することを特徴とする。
【０００８】
本発明の光走査装置では、光源から射出された複数の光ビームが、偏向手段で被走査面に向けて偏向され、そして、複数のミラーによって複数回折り返されて被走査面又は走査端検出センサに入射される。また、光源から射出された光ビームの一部は、反射されて該光ビームの光量を検出する光量センサに入射される。
【０００９】
その光源から光量センサに至るまでの光路を遮る障害物が進入すると、障害物による反射光が光走査装置の外部へ射出される漏れ光を生じる場合がある。そこで、検出手段は、光源から射出される各々の光ビームの光量を調整するときに、光量センサで検出した光ビームの光量が所定値未満の場合を異常発光状態として検出する。すなわち、光量調整のためには例えば画像形成時に必要とされる予め定めておいた所定値以上の光量を得るべく光ビームを射出する。そして、光源から射出される各々の光ビームの光量を光量センサで検出するが、その光量が所定値未満であるとき、光量センサより入射側において漏れ光を生じさせる状況を含む何らかの異常があることが予測される。この状態を異常発光状態と検出して、制限手段によって、光源からの光ビームの射出を制限する。これにより、装置側の扉などに検出スイッチなどの別個の検出器を配線を介して設けることなく、光走査装置において漏れ光が生じる状態を制限することができ、操作者にとって快適な環境を提供することができる。
【００１０】
前記制限手段は、前記光源からの光ビームの射出を停止することを特徴とする。
【００１１】
前記制限手段によって、光源からの光ビームの射出を制限する場合、最も効果的であるのは、光源からの光ビームの射出を停止することである。光ビームの射出を停止することにより、光源から光ビームが射出されることはなく、漏れ光自体が生じることもない。
【００１２】
前記検出手段は、前記光ビームの光量が所定値未満の光ビームの総数を検出しかつ検出数に対応する光ビームの総光量が規定値未満の場合には不安定発光状態と検出し、前記制限手段は、前記不安定発光状態と検出されたときには前記光源からの光ビームの射出を制限しないことを特徴とする。
【００１３】
複数の光ビームが射出される場合、各々の光ビームが微弱であるとき、複数の光ビームがまとまった光ビーム群の総光量までを、漏れ光として影響がない許容範囲として定めることが可能な場合がある。例えば、レーザ製品の被爆放出限界として「クラス１」で規定される光量や発光時間をその許容範囲として定めることができる。
【００１４】
そこで、検出手段は、光ビームの光量が所定値未満の光ビームの総数を検出しかつ検出数に対応する光ビームの総光量が規定値未満の場合には不安定発光状態として検出する。この検出結果によって、制限手段では、不安定発光状態と検出されたときに光源からの光ビームの射出を制限しない。これによって、漏れ光として影響がない許容範囲では、複数の光ビームを射出することが可能となる。
【００１５】
前記検出手段は、前記光ビームの光量が所定値未満の光ビームの総数を検出しかつ検出数に対応する光ビームの総光量が規定値以上の場合を異常発光状態と検出することを特徴とする。
【００１６】
前記のように、漏れ光として影響がない許容範囲を超えた場合、漏れ光が発生している確度が高い。そこで、光ビームの光量が所定値未満の光ビームの総数を検出しかつ検出数に対応する光ビームの総光量が規定値以上の場合を異常発光状態と検出することで、漏れ光が生じた場合であっても、確実に漏れ光を制限することができる。
【００１７】
前記光学系は、前記偏向手段で偏向された光ビームを複数回折り返して複数の被走査面に入射させる複数のミラーを含むことを特徴とする。
【００１８】
本発明の光走査装置は、画像形成装置に用いて好適であり、その画像形成装置は、単色画像及び多色画像の何れでもよい。多色画像を形成する場合、光走査装置としては、各色毎に光走査装置を備えることが簡単である。一方、装置の小型化を図る場合、パーツの兼用化が好ましい。そこで、光走査装置の光学系として、複数の被走査面に入射させる複数のミラーを含むように構成する。これによって、例えば、多色画像形成要に光走査装置を構成した場合、各色に対応する被走査面に光ビームを入射させることができると共に、光量検出器は、１つで各色を兼用することができる。
【発明の効果】
【００１９】
以上説明したように本発明によれば、光源から射出される各々の光ビームの光量を調整するときに、光量センサで検出してその結果に基づいて光源からの光ビームの射出を制限するので、装置側の扉などに検出スイッチなどの別個の検出器を配線を介して設けることなく、光走査装置において漏れ光が生じる状態を制限することができる、という効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下に図面を参照しながら本発明の実施形態について説明する。
【００２１】
図１に示すように、本発明の光走査装置１０を備えるレーザ光ビームプリンタ１２では、感光体１４の周囲に、感光体１４の回転方向（図中時計回り方向）に順に帯電ユニット１６、現像ユニット１８、転写ユニット２０、クリーナユニット２２が配置されている。感光体１６と転写ユニット２０との間には中間転写ベルト２４が搬送される。また、帯電ユニット１６は感光体１４の上方に配置されている。光走査装置１０は、この帯電ユニット１６の上方に配置されており、帯電ユニット１６と現像ユニット１８との間から感光体１４へ光ビームを射出する。
【００２２】
このレーザプリンタ１２では、まず、感光体１４が帯電ユニット１６によって一様に帯電され、感光体１４の帯電面が光走査装置１０によって複数の光ビームで走査されて潜像が形成される。そして、感光体１４の潜像が現像ユニット１８によってトナーで現像され、感光体１４上のトナー像が転写ユニット２０によって中間転写ベルト２４に転写される。そして、中間転写ベルト２４に転写されずに感光体１４に残留した未転写残留トナーがクリーナユニット２２によって感光体１４から除去される。
【００２３】
本実施の形態の光走査装置１０は、複数のレーザダイオードが縦横に配列されたマルチスポットレーザダイオード（以下、ＭＳＬＤと言う）２６を備えている。図６に示すように、ＭＳＬＤ２６の例としては、８個のレーザダイオード（ＬＤ）の発光点が４列並んだ３２個のものがあり、副走査方向のピッチ（例えば１０．６μｍ）及び途中の光学系の倍率により、画像形成時の解像度が決定される。なお、ＭＳＬＤ２６は本発明の光源に対応する。
【００２４】
また、図２乃至図４に示すように、光走査装置１０では、ＭＳＬＤ２６の射出側には、ＭＳＬＤ２６から射出された複数の光ビームを平行光に変換するコリメータレンズ２８、コリメータレンズ２８を通過した光ビームを副走査方向に集光するシリンドリカルレンズ３０、及びシリンドリカルレンズ３０によって集光された光ビームを偏向する回転多面鏡３２が順に配設されている。回転多面鏡３２の偏向側には、回転多面鏡３２によって偏向された光ビームを集光するＦθレンズ３４、及びＦθレンズ３４によって集光された光ビームを複数回折り返して感光体１４に入射させる複数のミラー３６で構成されるミラー群３８が順に配設されている。ミラー群３８の射出側には、感光体１４が配置されており、複数のミラー群３８の最終のミラー３６と感光体１４との間には、この最終のミラー３６で反射された光ビームが通過するカバーガラス３９が設けられている。
【００２５】
なお、本実施の形態の光走査装置１０では、ＭＳＬＤ２６の光ビームによって複数（２個）の感光体１４を走査可能な構成である。すなわち、複数のミラー３６で構成されるミラー群３８として、第１の感光体１４Ａを担当するミラー３６Ａと、第２の感光体１４Ｂを担当するミラー３６Ｂとを含んでいる。これら第１の感光体１４Ａ及び第２の感光体１４Ｂは、多色画像の色に対応する。第１の感光体１４Ａを担当するミラー３６Ａにより反射された光ビームは第１のカバーガラス３９Ａを透過して第１の感光体１４Ａ至る。また、第２の感光体１４Ｂを担当するミラー３６Ｂにより反射された光ビームは第２のカバーガラス３９Ｂを透過して第２の感光体１４Ｂに至る（図３参照）。以下の説明では、複数の感光体について差異を説明するとき以外は、感光体１４及び、ミラー３６と総称して説明する。
【００２６】
また、光走査装置１０は、画像形成領域外の所定位置を通過する光ビームを受光して光ビームの書き出しタイミングを検出するＳＯＳセンサ４１（走査端検出センサ）と、ＳＯＳセンサ４１に向けて光ビームを折り返すＳＯＳピックアップミラー４３と、を備える（図４参照）。また、ＳＯＳセンサ４１には複数本の光ビームが入射されるように、複数本の光ビーム検出センサとして１個のセンサで兼用している。またＳＯＳセンサ４１に入射される複数本の光ビームは、同時入射でもよく、クロック等と同期しつつ入射する同期入射でもよい。この場合、ＳＯＳセンサ４１により同期タイミングを検出し、走査線の書き出し位置のずれを抑制できる構成であれば何れでもよい。
【００２７】
また、図５に示すように、光走査装置１０は、コリメータレンズ２８を通過した光ビームの一部を光ビームの進行方向と反対側に反射するハーフミラー４０と、ハーフミラー４０によって反射された光ビームを受光し、光ビームの光量を検出する光量モニタセンサ４２を備える。この光量モニタセンサ４２は、回転多面鏡３２より上流側に設けられているため、回転多面鏡３２による偏向（走査）の影響を受けることなく常時検出することができる。
【００２８】
なお、本実施の形態の回転多面鏡３２は本願発明の偏向手段に対応し、ＳＯＳセンサ４１は走査端検出センサに対応する。また、回転多面鏡３２乃至カバーガラス３９までのミラー等の光学素子により形成される系は、本発明の光学系に対応する。
【００２９】
本実施の形態にかかる光走査装置１０は、制御回路５０を備えている（図１参照）。制御回路５０は、光走査装置１０の駆動制御をする回路であり、コンピュータを含んで構成されている。また、制御回路５０は、ＭＳＬＤ２６から射出される複数の光ビームの駆動、特に光量制御を行うＬＤドライブ回路を含んでいる。
【００３０】
図７に示すように、１個のＬＤについての光量制御を実施するためのＬＤドライブ回路５２は、ＭＳＬＤ２６から射出される光ビームの基準光量として予め定めた参照電圧Ｖｒｅｆが入力されると共に、光量モニタセンサ４２及びＭＳＬＤ２６が接続されている。ＬＤドライブ回路５２は、光量モニタセンサ４２の検出信号を増幅して出力する増幅回路５６、及びＭＳＬＤ２６の駆動（光量）を制御する光量制御部５４を備えている。光量制御部５４は、光量モニタセンサ４２の検出信号の電圧と参照電圧Ｖｒｅｆとを比較して、ＭＳＬＤ２６から所定光量の光ビームが射出されるように制御する、所謂オートパワーコントロール（ＡＰＣ）回路である。
【００３１】
光量制御を実施する時期は、常時行っても良いが、一般的には、画像記録時以外（画像形成領域外を走査）の時期に実施される。この時期は、ＡＰＣ信号として生成されてＬＤドライブ回路５２に入力される。このＡＰＣ信号の入力によって光量制御部５４が動作可能になる。なお、参照電圧ＶｒｅｆにＡＰＣ信号を重畳した信号をＬＤドライブ回路５２に入力して１つの信号で兼用してもよい。
【００３２】
光量制御部５４と増幅回路５６との間すなわち増幅回路５６の出力側は、異常検知回路５８の入力側が接続されている。異常検知回路５８の出力側は、停止回路６０を介して光量制御部５４に接続されている。また、異常検知回路５８にはＡＰＣ信号が入力されるようになっている。
【００３３】
なお、本実施の形態の異常検知回路５８は本願発明の検出手段に対応し、停止回路６０は制限手段に対応する。
【００３４】
異常検知回路５８は、ウィンドウコンパレータなどの所定電圧を検出する回路であり、参照電圧Ｖｒｅｆ近傍の電圧レベルによりＭＳＬＤ２６から射出された光ビームの所定光量に相当する電圧出力が、光量モニタセンサ４２の出力信号として得られたか否かを検知する。また、異常検知回路５８にはＡＰＣ信号が入力され、異常検知回路５８はＡＰＣ信号が入力されているときにのみ異常検知を行う。例えば、ＭＳＬＤ２６が異常発光して高光量の光ビームとなるときや、光量モニタセンサ４２に光ビームが入射されずに低光量の光ビームとなるとき、増幅回路５６の出力信号は上限値または下限値になる。従って、これら上限値または下限値を検知することで、異常を検知することができる。この検知結果（異常信号）は停止回路６０へ出力される。
【００３５】
停止回路６０は、光量制御部５４の動作を停止する、すなわちＭＳＬＤ２６から光ビームが射出されることを停止する回路である。図７の例では、停止回路６０の出力側は光量制御部５４に接続している。この例では、光量制御部５４が光量制御の停止を受け付ける入力端（動作停止入力端）を有する場合を想定している。
【００３６】
すなわち異常検知回路５８において異常検知されると異常信号が停止回路６０へ出力され、停止回路６０では、入力された異常信号に対応して光量制御部５４の動作停止入力端へ停止信号を出力する。これによって、ＭＳＬＤ２６からの光ビームについて射出停止するように、光量制御部５４の動作が停止される。
【００３７】
なお、停止回路６０の適用例としては次のものがある。第１適用例はＬＤドライブ回路５２の電源遮断である。すなわちＬＤドライブ回路５２はその駆動のために電源供給されている。その電源を供給する電源線にスイッチを設け、スイッチをオフすることで電源供給を遮断する。これによってＭＳＬＤ２６からの光ビームについて射出を停止させる。この電源遮断は、個別回路（光量制御部５４のみ）で行っても良い。なお、復帰処理は装置全体の初期化やリセットなど別途作業により実施できる。第２適用例は参照電圧ＶｒｅｆをＭＳＬＤ２６から光ビームが射出されない所定値（例えば０Ｖ）に設定することである。この場合には、光量制御部５４の参照電圧Ｖｒｅｆ入力側に所定値に切り替える切替部を設けて停止回路６０がその切替部を制御すればよい。
【００３８】
本実施の形態の光走査装置１０は、３２個のＬＤを有するＭＳＬＤ２６を備えている。このため、制御回路５０は、図８に示すように、ＬＤドライブ回路５２（図７）を、ＭＳＬＤ２６のＬＤ毎に、各々個別に制御可能な３２チャンネルの個別回路（ＬＤドライブ回路５２−１〜５２−３２）を含んでいる。すなわち、ＭＳＬＤ２６が３２個のレーザダイオード（図６）からなり、各々のＬＤの光量制御を可能とする構成である。これらの３２チャンネルの個別回路は、順次個別に点滅制御して光量調整を行うように制御回路５０が制御してもよく、所定数のＬＤを同時に点滅制御して光量調整を行ってもよい。
【００３９】
次に、本実施の形態にかかる光走査装置１０の作動を説明する。
【００４０】
光走査装置１０は、制御回路５０によって、所定時期（例えば、画像露光時以外のタイミング）にＭＳＬＤ２６から射出される光ビームの光量調整を実行する。具体的には、ＭＳＬＤ２６が有するＬＤについて個別に光量を制御しつつ光量調整を実行する。
【００４１】
まず、制御回路５０は、光量調整を実行させるために、ＡＰＣ信号をＬＤドライブ回路５２へ出力する。ＬＤドライブ回路５２では、ＭＳＬＤ２６の１ＬＤを指定し（例えば１ＣＨ）、光量制御部５４においてＬＤを光量調整のために駆動する駆動信号をＭＳＬＤ２６へ出力する。ＬＤドライブ回路５２には、ＭＳＬＤ２６が所定光量の光ビームを射出するために予め設定された参照電圧Ｖｒｅｆが入力されている。この参照電圧Ｖｒｅｆは光量モニタセンサ４２の出力信号に対応し、光量制御部５４では、増幅回路５６により増幅された光量モニタセンサ４２の出力信号と参照電圧Ｖｒｅｆとの差分値が所定値（例えば約零）となるまで、ＭＳＬＤ２６の駆動信号（例えば電流値）を増減する。この処理を繰り返すことにより、ＭＳＬＤ２６の全てのＬＤの光量調整が完了する。
【００４２】
ここで、装置を移動したり装置に振動が与えられたりしたとき、光走査装置１０の内部で部品に移動が生じたり、部品の破損が生じたりすることがある。移動したり破損したりした部品が、ＭＳＬＤ２６から射出される光ビームの光路中で光量モニタセンサ４２の上流側に進入すると、光ビームが設計時に意図しない光路（または予期しない光路）を伝搬する。この意図しない光路を伝搬した光ビームは、漏れ光として光走査装置１０の外部へ射出される可能性を有している。
【００４３】
すなわち、本実施の形態の光走査装置１０は、ＭＳＬＤ２６の光量モニタセンサ４２をＭＳＬＤ２６の射出光路から分岐した光路上に設けて、ＭＳＬＤ２６と別体の構成としている。従って、光量モニタセンサ４２の上流側の光路は、独立光路であり、その光路上に部品等が進入すると、光量調整に不具合が生じる。また、進入部品による反射光の光路が装置外部へ向かうものであれば、光走査装置１０の外部へ光ビームが射出される。
【００４４】
そこで、本実施の形態では、ＭＳＬＤ２６の光量調整中（ＡＰＣ動作中）に、光量モニタセンサ４２の出力信号を監視することによって、漏れ光の発生を予測し、その予測結果からＭＳＬＤ２６からの光ビームの射出を停止する。すなわち、増幅回路５６により増幅された光量モニタセンサ４２の出力信号を異常検知回路５８に入力し、異常検知回路５８において、参照電圧Ｖｒｅｆ近傍の電圧レベルによりＭＳＬＤ２６から射出された光ビームの所定光量に相当する電圧出力が、光量モニタセンサ４２の出力信号として得られたか否かを検知する。例えば、ＭＳＬＤ２６の異常発光や光量モニタセンサ４２に光ビームが非入射のとき、増幅回路５６の出力信号が上限値または下限値になることを検出することで、異常を検知する。
【００４５】
異常検知がなされると異常信号が停止回路６０へ出力されて、停止回路６０は、光量制御部５４の動作を停止させる。これにより、ＭＳＬＤ２６からの光ビームの射出が停止される。
【００４６】
このように、光量モニタセンサ４２の出力信号を監視し、異常が検出された場合に、ＭＳＬＤ２６からの光ビームの射出を停止する。これによって、光走査装置１０内部で、移動したり破損したりした部品が、ＭＳＬＤ２６から射出される光ビームの光路中で光量モニタセンサ４２の上流側に進入した場合であっても、光量調整不具合による異常発光が生じることはない。また、光路への進入部品による反射光、すなわち漏れ光として光走査装置１０の外部へ向かう光ビームが射出されることはない。
【００４７】
上記実施の形態では、ＬＤドライブ回路５２が３２チャンネルの個別のＬＤドライブ回路を有し、各々異常検知回路等を有した場合を説明した。これら異常検知回路を個別に有することが複雑である場合、異常検知回路等を１つのみで構成することも可能である。図９には、ＭＳＬＤ２６に対して１つの異常検知回路５８及び停止回路６０を有する一例を示した。
【００４８】
図９に示すＬＤドライブ回路５２は、光量制御部５４としてＭＳＬＤ２６のＬＤ毎に、各々３２チャンネルの個別回路（光量制御部５４−１〜５４−３２）で構成されている。光量モニタセンサ４２の出力信号は、増幅回路５６を介して異常検知回路５８に入力され、その結果により停止回路６０が光量制御部５４を停止または維持させる信号を出力する。
【００４９】
図９のＬＤドライブ回路５２における作動は上記実施の形態と同様であるが、光量制御部５４に個別に異常検知するのではなく、１つの異常検知回路５８で兼用する点で異なる。光量調整は、３２チャンネルで個別に実行されるので、兼用が可能となる。
【００５０】
ところで、１本の光ビーム単体では、微弱な光量であり、漏れ光として扱うまでもない場合がある。しかし、ＭＳＬＤ２６のように複数の光ビームを射出する光源では、同時に複数本の光ビームが射出されることがあり、使用本数によっては総光量が漏れ光に足る光量となる場合がある。
【００５１】
つまり、光ビームの本数が増加すると、上記規定値は本数に対応して変化する。例えば、常時点灯時に５６６μＷまで光量が許容される場合（クラス１）、１本が１００μＷ程度とした場合、５本のレーザ（光ビーム）までは許容範囲である。
【００５２】
また、光走査装置１０で用いるＭＳＬＤ２６について、漏れ光として基準に採用可能なものに、レーザセーフティがある。このレーザセーフティでは、光ビームの被爆放出限界をエネルギとして規定している。例えば、レーザセーフティ上問題とする基準値は、５．０４ｍＪ（１０秒以下）である。この値を総光量が３ｍＷのレーザで考えると、０．１６８秒の射出時間まで許容される。
【００５３】
そこで、上述の異常検知を、光ビームの本数まで拡張することで、ＭＳＬＤ２６を最大限有効に利用することが可能となる。
【００５４】
異常検知を光ビームの本数まで拡張する場合、光ビームの本数を計測する必要がある。ここでは、図９の異常検知回路５８をコンピュータ構成とした制御部を有するものとして、異常検知回路５８において図１０に示す処理ルーチンを実行する。なお、この場合の異常検知回路５８は、光量制御部５４の各チャンネルに光量調整の指示信号を個別に出力することが好ましい。
【００５５】
図１０のステップ１００では、光量調整を開始するための初期化（ｎ＝０：ｎは光ビームの本数を表す変数）し、次のステップ１０２においてＭＳＬＤ２６の内の１つのＬＤについて光量調整を指示する。この指示によって、光量制御部５４では何れか１つのＬＤに対する光量制御部（例えば１ＣＨ）を作動させてＬＤを発光させる。この発光により光ビームが射出されて光量モニタセンサ４２へ入射される。
【００５６】
次のステップ１０４では、光量モニタセンサ４２に入射された光ビームの光量値である出力信号を読み取ることで、光量測定（値Ｉ）を行う。次のステップ１０６では、Ｉ＜Ｉｔｈか否かを判断する。この判断は、対象の光ビームの光量が参照電圧Ｖｒｅｆに対応する光量に到達しているか否かを判断するものである。従って、値Ｉｔｈは、参照電圧Ｖｒｅｆに対応する光量が入射されたときの光量モニタセンサ４２の出力値である。この出力値は許容範囲を定めることができる。
【００５７】
ステップ１０６で否定された場合、所定光量が得られずに、光量モニタセンサ４２の上流側で、現在対象としているＬＤの光路上に進入物が存在する可能性があるとして、次のステップ１０８で変数ｎをインクリメントする。一方、ステップ１０６で肯定された場合はそのままステップ１１０へ進む。
【００５８】
上記光量測定処理をＭＳＬＤ２６の全ＬＤについて実行し、実行が完了すると（ステップ１１０で肯定）、ステップ１１２において、ｎ＞ｎ０か否かを判断する。定数ｎ０は、総光量が漏れ光に足る光量となる光ビームの本数であり、その数は予め定められている。ステップ１１２で肯定された場合、漏れ光が発生する可能性があるため、ステップ１１６へ進み、異常検知モードに移行して異常検知信号を出力する。異常検知モードとは、光ビーム単体では微弱光量であって、漏れ光となっても安全性は確保されるが、複数本の光ビームの合成によって、漏れ光となったときに安全性が損なわれることが予測される環境を検出した状態をいう。この異常検知モードでは、異常信号を停止回路６０へ出力することにより、停止回路６０が停止信号を光量制御部５４に出力する。これにより、ＭＳＬＤ２６から光ビームが射出されることを停止する。
【００５９】
なお、停止回路６０の停止信号を出力する場合、光量制御部５４に含まれる全てのＬＤの光量制御部５４（５４−１〜５４−３２）に出力して、ＭＳＬＤ２６から全光ビームの射出を停止してもよく、該当するＬＤのみ停止してもよい。該当するＬＤのみ停止するのには、停止回路６０から各チャンネルの光量制御部に独立配線することで達成できる。また、光量制御部５４で光量調整中のＬＤを把握しておき、現在把握しているＬＤの光量制御部５４−ｉ（１≦ｉ≦３２）で停止回路６０からの通知を受けたときに順次停止することでも達成できる。
【００６０】
一方、ステップ１１２で否定された場合、漏れ光が発生する可能性はあるものの安全性は確保できることが予測できるため、ステップ１１４へ進み、予測モードに移行して異常検知信号を出力することなく本ルーチンを終了する。予測モードとは、複数本の光ビームの総光量が微弱光量であって、現時点で漏れ光となっても安全性は確保されるが、将来、安全性が損なわれる漏れ光となることが予測される環境を検出した状態をいう。この予測モードでは、異常信号を停止回路６０へ出力することがないので、光量制御部５４は通常の動作を継続する。なお、より安全性を確保する要求が高まった場合は、予測モードにおいて、前記異常検知モードと同様の処理を行うことができる。
【００６１】
上記のように、異常である可能性が高いＬＤの光ビーム本数を計測し、安全性を考慮して定めた総光量に見合う光ビームの本数を閾値として異常検知しているので、光走査装置１０内部で、移動したり破損したりした部品が、ＭＳＬＤ２６から射出される光ビームの光路中で光量モニタセンサ４２の上流側に進入した場合であっても、安全性が確保できる場合にＭＳＬＤ２６を稼働することができる。このため、ＭＳＬＤ２６を最大限有効に使用することができる。
【００６２】
以上説明したように、本実施の形態の光走査装置１０は、外部スイッチを備えることなく、ＭＳＬＤ２６から射出される光ビームの光量調整時に、光量モニタセンサ４２の出力信号を監視して異常検知を実行し、以上のときにＭＳＬＤ２６からの光ビームの射出を停止する。これによって、光走査装置１０単体で、漏れ光抑制の対処を実行することができる。また、安全性の基準となる総光量に相当する光ビームの本数を閾値として光ビーム射出停止の判断に用いるので、安全性を確保しつつ漏れ光を抑制して、ＭＳＬＤ２６を効率的に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００６３】
【図１】本実施形態の光走査装置を備えるカラーレーザプリンタの概略構成を示す図である。
【図２】本実施形態の光走査装置を示す斜視図である。
【図３】本実施形態の光走査装置の概略を示す側面図である。
【図４】本実施形態の光走査装置を示す斜視図である。
【図５】本実施形態の光走査装置の概略を示す平面図である。
【図６】ＭＳＬＤの外観図である。
【図７】本発明の実施の形態にかかり、ＬＤの光量制御を実施するためのＬＤドライブ回路の概念ブロック図である。
【図８】ＭＳＬＤのＬＤ毎のＬＤドライブ回路に、異常検知回路及び停止回路を有する一例を示すブロック図である。
【図９】ＭＳＬＤに対して１つの異常検知回路及び停止回路を有する一例を示すブロック図である。
【図１０】異常検知回路の実行処理の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００６４】
１０    光走査装置
１４    感光体（被走査面）
２６    ＭＳＬＤ（光源）
３２    回転多面鏡（偏向手段）
３６    ミラー
４０    ハーフミラー
４１    ＳＯＳセンサ
４２    光量モニタセンサ
４３    ＳＯＳピックアップミラー
５２    ＬＤドライブ回路
５４    光量制御部
５８    異常検知回路
６０    停止回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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