(57)【要約】【課題】  高性能なバンドパスフィルタを採用する必要がなく、また、バンドパスフィルタの交換を必要とせずスム−ズな測定を行うことが可能な電磁妨害波測定装置を提供する。 【解決手段】  アンテナ２４とバンドパスフィルタ４１ａ１との間に合成回路４１ｄ１が接続され、また、近磁界プローブ４１ｃとバンドパスフィルタ４１ａ２との間に合成回路４１ｄ２が接続され、さらに、これら合成回路４１ｄ１、４１ｄ２は、共に発生させる周波数を可変設定可能な発振回路４１ｅに接続されている。そして、バンドパスフィルタ４１ａ１、４１ａ２により抽出された信号成分がシンクロスコ−プ４１ｂに入力されるように構成されている。そのため、発振回路４１ｅの生成周波数を調整することにより、広範囲の周波数帯のノイズについて測定する場合であっても、バンドパスフィルタ４１ａ１、４１ａ２に入力される信号の周波数を一定化させることが可能となる。【選択図】図１
2006337082.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定周波数帯域に対応した形状で被試験機から放射されるノイズを捕らえるアンテナと、上記ノイズを検知して電気信号を生成する近磁界プロ−ブと、上記アンテナからの周波信号から所定の周波数帯域の信号成分を抽出し、抽出された信号成分に基づいてトリガ信号を生成する第１のバンドパスフィルタと、上記近磁界プローブにて生成された電気信号から所定の周波数帯域の信号成分を抽出する第２のバンドパスフィルタと、上記第２のバンドパスフィルタにて抽出された信号成分について、上記第１のバンドパスフィルタにて生成された上記トリガ信号と比較した強度差または位相差が、上記近磁界プローブの配置位置の変化に応じて変動する様子を認識可能に表示するシンクロスコ−プとを具備する電磁妨害波測定装置において、
発振周波数を所定範囲で変更可能な発振回路と、
上記発振回路にて生成された信号、並びに、上記アンテナおよび上記近磁界プローブからの入力信号とを合成して中間周波数の信号を生成する合成回路とを具備し、
上記合成回路にて生成された同一の周波数の信号が、上記アンテナおよび上記近磁界プローブからの入力信号と合成されて、上記第１のバンドパスフィルタおよび上記第２のバンドパスフィルタにそれぞれ入力されることを特徴とする電磁妨害波測定装置。
【請求項２】
測定周波数帯域に対応した形状で被試験機から放射されるノイズを捕らえるアンテナと、上記ノイズを検知して電気信号を生成するプロ−ブからなるノイズ源特定手段と、上記アンテナからの周波信号から所定の周波数帯域の信号成分を抽出し、抽出された信号成分に基づいてトリガ信号を生成する第１の周波数選別手段と、上記ノイズ源特定手段にて生成された電気信号から所定の周波数帯域の信号成分を抽出する第２の周波数選別手段と、上記第２の周波数選別手段にて抽出された信号成分について、上記第１の周波数選別手段にて生成された上記トリガ信号と比較した強度差または位相差を認識可能に表示する表示手段とを具備する電磁妨害波測定装置において、
発振周波数を所定範囲で変更可能な発振回路と、
上記発振回路にて生成された信号、並びに、上記アンテナおよび上記ノイズ源特定手段からの入力信号とを合成して中間周波数の信号を生成する合成回路とを具備し、
上記合成回路にて生成された信号が上記第１の周波数選別手段および上記第２の周波数選別手段に入力されることを特徴とする電磁妨害波測定装置。
【請求項３】
上記ノイズ源特定手段は、狭い指向性のプロ−ブであることを特徴とする請求項２に記載の電磁妨害波測定装置。
【請求項４】
上記ノイズ源特定手段は、近磁界プロ−ブからなることを特徴とする請求項３に記載の電磁妨害波測定装置。
【請求項５】
上記発振回路にて生成された同一の周波数の信号が、上記アンテナおよび上記ノイズ源特定手段からの入力信号と合成されることを特徴とする請求項２〜４のいずれかに記載の電磁妨害波測定装置。
【請求項６】
上記表示手段は、上記ノイズ源特定手段の配置位置の変化に応じて変動する上記強度差または位相差を可変表示可能であることを特徴とする請求項２〜５のいずれかに記載の電磁妨害波測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電磁妨害波測定装置に関し、特に、ノイズ対策を容易とした電磁妨害波測定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、電気機器から発生するノイズの時間波形成分や周波数成分を検出し、且つ、その大きさを視認可能なように構成した電磁妨害波測定装置が知られている（例えば、特許文献１、２参照）。
【特許文献１】特開平８−２４８９３５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、近時、アンテナにてノイズを捕らえるとともに、バンドパスフィルタにて所望の周波数帯域のみを抽出する一方、被試験機近傍を近磁界プローブを用いて走査するとともに得た入力から、同様にバンドパスフィルタを用いて同一の周波数帯域の信号成分を抽出し、これら２つの信号成分を比較することにより、被試験機におけるノイズの発生部位を特定することができるように構成された電磁妨害波測定装置が検討されている。
【０００４】
このような電磁妨害波測定装置においては、抽出すべき周波数帯域が広範囲に亘る測定を行う場合には、抽出可能な周波数帯域が広い高性能なバンドパスフィルタを用いるか、または、測定する周波数帯域毎にバンドパスフィルタを取り替える必要が生じ、前者の場合には、電磁妨害波測定装置のコストが増大してしまうこととなり、後者の場合には、スム−ズな測定を行うことができないという問題が発生してしまう。
【０００５】
本発明は、上記課題にかんがみてなされたものであり、高性能なバンドパスフィルタを採用する必要がなく、また、バンドパスフィルタの交換を必要とせずスム−ズな測定を行うことが可能な電磁妨害波測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するため、請求項２にかかる発明は、測定周波数帯域に対応した形状で被試験機から放射されるノイズを捕らえるアンテナと、上記ノイズを検知して電気信号を生成するプロ−ブからなるノイズ源特定手段と、上記アンテナからの周波信号から所定の周波数帯域の信号成分を抽出し、抽出された信号成分に基づいてトリガ信号を生成する第１の周波数選別手段と、上記ノイズ源特定手段にて生成された電気信号から所定の周波数帯域の信号成分を抽出する第２の周波数選別手段と、上記第２の周波数選別手段にて抽出された信号成分について、上記第１の周波数選別手段にて生成された上記トリガ信号と比較した強度差または位相差を認識可能に表示する表示手段とを具備する電磁妨害波測定装置において、
発振周波数を所定範囲で変更可能な発振回路と、
上記発振回路にて生成された信号と、上記アンテナおよび上記ノイズ源特定手段からの入力信号とを合成して中間周波数の信号を生成する合成回路とを具備し、
上記合成回路にて生成された信号が上記第１の周波数選別手段および上記第２の周波数選別手段に入力される構成としてある。
【０００７】
上記のように構成した請求項２にかかる発明において、電磁妨害波測定装置は、測定周波数帯域に対応した形状で被試験機から放射されるノイズを捕らえるアンテナと、このノイズを検知して電気信号を生成するプロ−ブからなるノイズ源特定手段とを具備している。上記アンテナは、被試験機から所定距離離間した位置に設置され、被試験機外に放出されるノイズを捕らえる。一方、プロ−ブからなる上記ノイズ源特定手段は、被試験機の近傍または被試験機の内部に移動可能に配置される。
【０００８】
また、請求項２の発明にかかる電磁妨害波測定装置は、上記アンテナからの周波信号から所定の周波数帯域の信号成分を抽出し、抽出された信号成分に基づいてトリガ信号を生成する第１の周波数選別手段と、上記ノイズ源特定手段にて生成された電気信号から所定の周波数帯域の信号成分を抽出する第２の周波数選別手段とを具備している。なお、上記第１の周波数選別手段および上記第２の周波数選別手段は、共に、バンドパスフィルタ等により構成することが可能である。そして、電磁妨害波測定装置は、上記第２の周波数選別手段にて抽出された信号成分について、上記第１の周波数選別手段にて生成された上記トリガ信号と比較した強度差または位相差を認識可能に表示する表示手段を具備している。
【０００９】
そしてさらに、電磁妨害波測定装置は、発振周波数を所定範囲で変更可能な発振回路と、この発振回路にて生成された信号、並びに、上記アンテナおよび上記ノイズ源特定手段からの入力信号とを合成して中間周波数の信号を生成する合成回路とを具備し、この合成回路にて生成された信号が上記第１の周波数選別手段および上記第２の周波数選別手段に入力されるように構成されている。すなわち、発生する周波数を任意に設定可能な発振回路にて発生した所定周波数の信号を、上記アンテナからの入力信号および上記ノイズ源特定手段からの入力信号とそれぞれ合成させて中間周波数の信号を生成させる。そして、所定周波数の信号とアンテナからの入力信号との合成信号を上記第１の周波数選別手段に、また、所定周波数の信号とノイズ源特定手段からの入力信号との合成信号を上記第２の周波数選別手段にそれぞれ入力させるのである。
【００１０】
上述したように、発振回路の周波数は可変であるため、バンドパスフィルタ等からなる第１の周波数選別手段および第２の周波数選別手段の抽出可能な周波数帯に合わせて、生成する中間周波数を設定することが可能となる。このようにすることにより、測定すべきノイズの周波数帯が広い場合であっても、任意の中間周波数の信号に変換することにより、第１および第２の周波数選別手段の抽出可能な周波数帯に合わせることが可能となる。その結果、広範囲の周波数帯の信号成分を抽出可能な高性能なバンドパスフィルタ等を採用する必要がなくなるとともに、それぞれ異なる範囲の周波数帯の信号成分を抽出可能なバンドパスフィルタ等を、測定するノイズの周波数帯に合わせて取り替える必要がなくなる。
【００１１】
また、請求項３にかかる発明は、上記ノイズ源特定手段が、狭い指向性のプローブである構成としてある。
上記のように構成した請求項３にかかる発明においては、上記プローブにより被試験機上のノイズ源近傍を特定することが可能となる。
すなわち、上記ノイズ源の特定においてはプローブのように狭い範囲での電界強度の変化を検出し入力できるものを介して上記表示手段に出力すれば、所望の信号成分が上記出力に存在した場合にノイズ源付近であると特定することができる。
ここで、上記プローブを被試験機上で移動させなければならず、上記被試験機が上記プローブに対して大きく上記プローブの移動が広範囲に及ぶ場合がある。このような場合、まず広範囲に亘る検出が容易であるアンテナや近磁界プローブ等によって大まかにノイズ発生範囲を抽出し、上記範囲を絞り込んだのち抽出した上記ノイズ発生範囲内ではさらに狭い範囲でノイズが拾えるプローブを使用してピンポイントにノイズ源を特定する。
【００１２】
また、請求項４にかかる発明は、上記ノイズ源特定手段は、近磁界プローブからなる構成としてある。
上記のように構成した請求項４にかかる発明において、狭い範囲での磁界の大きさを検出して電気信号を生成することが可能となる。
【００１３】
また、請求項５にかかる発明は、上記発振回路にて生成された同一の周波数の信号が、上記アンテナおよび上記ノイズ源特定手段からの入力信号と合成される構成としてある。
上記のように構成した請求項５にかかる発明において、合成回路にて生成される合成信号が、同一の中間周波数の信号となるため、第１および第２の周波数選別手段として同一範囲の周波数帯を抽出可能なバンドパスフィルタ等を採用することができる。
【００１４】
また、請求項６にかかる発明は、上記表示手段が、上記ノイズ源特定手段の配置位置の変化に応じて変動する上記強度差または位相差を可変表示可能である構成としてある。
上記のように構成した請求項６にかかる発明において、ノイズ源特定手段を走査してノイズの発生源を特定する作業を行うに際し、信号の強度差または位相差の変動を認識することができるため、ノイズの発生源が特定し易くなる。
【発明の効果】
【００１５】
本発明の請求項２にかかる発明では、広範囲の周波数帯の信号成分を抽出可能な高性能なバンドパスフィルタ等を採用する必要がなくなるとともに、それぞれ異なる範囲の周波数帯の信号成分を抽出可能なバンドパスフィルタ等を、測定するノイズの周波数帯に合わせて取り替える必要がなくなる。
請求項３にかかる発明では、上記プローブにより被試験機上のノイズ源近傍を特定することが可能となる。
請求項４にかかる発明では、狭い範囲での磁界の大きさを検出して電気信号を生成することが可能となる。
請求項５にかかる発明では、第１および第２の周波数選別手段として同一範囲の周波数帯を抽出可能なバンドパスフィルタ等を採用することができる。
請求項６にかかる発明では、ノイズの発生源が特定し易くなる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、下記の順序に従って本発明の実施形態を説明する。
（１）電磁妨害波測定装置の構成：
（２）前提となるＥＭＩ測定装置の説明：
（３）プロ−ブによるノイズ源特定：
（４）まとめ：
【００１７】
（１）電磁妨害波測定装置の構成：
図１は、実施形態にかかる電磁妨害波測定装置１０の概略構成を示すブロック図である。
同図において、電磁妨害波測定装置１０は、アンテナ２４およびこのアンテナ２４を可動とするアンテナ駆動機構からなるアンテナ装置２０と、アンテナ２４から所定の距離に配置されたタ−ンテ−ブル３０と、ノイズ源特定装置４１とを具備している。電磁妨害波測定装置１０は、他からの放射ノイズを防ぐために、通常外部からの放射をシ−ルドし同時に内部を電波吸収材で囲むことによって無反射とした電波暗室の中に設置されており、上述したアンテナ装置２０およびタ−ンテ−ブル３０からは接続ケ−ブルにより上記電波暗室の外のコントロ−ル部４４に接続されている。また、コントロ−ル部４４は、中央制御装置４８と接続されている。
【００１８】
アンテナ装置２０は、床面に安定して設置するための脚部を兼ねた昇降機２１を有しており、昇降機２１から支柱２２が略鉛直に立設している。支柱２２にはアンテナ保持部２３が取り付けられており、このアンテナ保持部２３は、床面に対して略水平にタ−ンテ−ブル３０側へ突出するようにアンテナ２４を着脱可能となっている。アンテナ装置２０におけるアンテナ２４の高さおよび回転角度を制御するコントロ−ル部４４により、アンテナ２４は、支柱２２に沿って上方へ数メ−トルの垂直移動と、移動停止時に縦方向の回転を行うことが可能である。
また、アンテナ２４は、例えば、３０〜３００ＭＨｚまでの放射ノイズを測定する際にはバイコニカルアンテナ、そして、３００〜１０００ＭＨｚまでの放射ノイズを測定する際にはログペリオディックアンテナというように、測定周波数帯域により適宜取り替える必要がある。なお、一般的には、放射ノイズの測定は、３０ＭＨｚ〜５ＧＨｚの周波数帯域について行われることが多い。
【００１９】
また、タ−ンテ−ブル３０は、アンテナ装置２０からＥＭＩ測定の基準に準拠して設定された距離の床面に配置され、コントロ−ル部４４からの制御により水平方向に３６０度回転が可能である。また、タ−ンテ−ブル３０上には、床面から所定高さの台３１が載置され、さらに、台３１の上面には測定対象となる被試験機５０が載置されている。このような構成により、被試験機５０に対してアンテナ２４の高さおよび角度を変更させることが可能であり、また、被試験機５０のアンテナ２４に対する測定角度もタ−ンテ−ブル３０の回転により変更可能となり、その結果、適切な状況下でノイズ測定を行うことが可能となる。
【００２０】
ノイズ源特定装置４１は、アンテナ２４に接続された上記第１の周波数選別手段としてのバンドパスフィルタ４１ａ１と、狭い範囲での磁界の大きさを計測する近磁界プローブ４１ｃと、この近磁界プローブ４１ｃに接続された上記第２の周波数選別手段としてのバンドパスフィルタ４１ａ２とを具備している。これらバンドパスフィルタ４１ａ１、４１ａ２は、共に、予め設定されている周波数帯域から、所望の周波数成分を抽出することが可能となっている。なお、バンドパスフィルタは、抽出可能な周波数帯域が大きい程、高性能であり、高価なものとなる。また、ノイズ源特定装置４１は、バンドパスフィルタ４１ａ１、４１ａ２にそれぞれ接続され、バンドパスフィルタ４１ａ１、４１ａ２からの信号を入力するシンクロスコ−プ４１ｂを具備している。このシンクロスコ−プ４１ｂは、バンドパスフィルタ４１ａ１、４１ａ２からの入力を比較し、これらの信号間の強度差や位相差を検出するとともに、その差を視認可能に表示する。
【００２１】
上述したアンテナ２４とバンドパスフィルタ４１ａ１との間には、合成回路４１ｄ１が接続され、また、近磁界プローブ４１ｃとバンドパスフィルタ４１ａ２との間には合成回路４１ｄ２が接続されており、さらに、これら合成回路４１ｄ１、４１ｄ２は、それぞれ発振回路４１ｅと接続されている。発振回路４１ｅは、利用者による所定の操作により設定された周波数の信号を生成することができる。すなわち、利用者の所望の周波数の信号を生成することができる。そして、合成回路４１ｄ１は、アンテナ２４からの信号と、発振回路４１ｅからの信号を合成してバンドパスフィルタ４１ａ１に出力し、また、合成回路４１ｄ２は、近磁界プローブ４１ｃにて生成された信号と、発振回路４１ｅからの信号を合成してバンドパスフィルタ４１ａ２に出力する。
【００２２】
例えば、周波数が１０００ＭＨｚのノイズの測定を行おうとする場合に、発振回路４１ｅにて９００ＭＨｚの信号を生成するように設定すると、合成回路４１ｄ１にて合成された信号は、１０００ＭＨｚ−９００ＭＨｚ＝１００ＭＨｚに周波数変換される。したがって、バンドパスフィルタ４１ａ１には１００ＭＨｚの信号が入力されるのである。このように、発振回路４１ｅにて生成する信号の周波数を設定することにより、バンドパスフィルタ４１ａ１に入力される周波数を所望の値に変換することが可能となる。そのため、広範囲の周波数帯のノイズの測定する際に、バンドパスフィルタ４１ａ１の抽出可能な周波数帯が狭い範囲に限定されていても、測定すべき周波数のノイズをバンドパスフィルタにて抽出可能な周波数に変換することが可能となる。その結果、高性能なバンドパスフィルタを採用する必要がなく、また、ノイズの周波数に合わせてバンドパスフィルタを交換する必要もない。なお、発振回路４１ｅにて生成された信号は、合成回路４１ｄ２にて近磁界プローブ４１ｃで生成された信号と合成されてバンドパスフィルタ４１ａ２に入力されるため、同様に、バンドパスフィルタ４１ａ２に入力される周波数も所望の値に変換することが可能である。
【００２３】
（２）前提となるＥＭＩ測定装置の説明：
本発明を実施する上で、被試験機５０が発生するノイズがＥＭＩ規定値に対してどの程度のレベルであるかとその周波数を把握する必要があり、例えば、図３に示すようなＥＭＩ測定の結果が必要となる。図２はＥＭＩ測定で一般的に使用される電磁妨害波測定装置１１０の概略構成を示している。同図において電磁妨害波測定装置１１０は、概略、上記電磁妨害波測定装置１０と同様に、アンテナ装置１２０とアンテナ１２４から所定の距離に配置されたターンテーブル１３０と測定装置１４０が備えられている。電磁妨害波測定装置１１０は他からの放射ノイズを防ぐために、通常外部からの放射をシールドし同時に内部を電波吸収材１３２で囲むことによって無反射とした電波暗室の中に設置されており、アンテナ装置２０およびターンテーブル１３０からは接続ケーブルにより上記電波暗室の外の測定装置１４０と接続している。
【００２４】
ここで、測定装置１４０は、概略、スペクトル分布を表示可能なスペクトルアナライザ１４５と、測定ダイナミックレンジを拡大するプリアンプ１４６と、ＥＭＩテストレシーバ１４７と、アンテナ１２４の昇降機１２１および上記ターンテーブル１３０のコントロール部１４４と、これらの測定機器を制御する中央制御装置１４８とから構成されている。
このような構成で、被試験機１５０より空中に放射される漏洩電波について、アンテナ１２４を使用して放射電界強度を測定する。被試験機１５０を上記ターンテーブル１３０により回転させ、機器外に放射される放射電界強度の水平及び垂直成分の最大値を求める。また、各試験周波数について測定値が最大となるようにアンテナ１２４の高さを１ｍ〜４ｍの範囲で変化させ測定する。
【００２５】
一般に上述の測定は中央制御装置１４８に所定の設定を行えば、あとは自動測定となる。上記スペクトルアナライザ１４５の表示部には計測中の周波数におけるノイズレベルがピークホールド表示され、表示された結果は中央制御装置１４８を介して、図３に示すような測定結果として中央制御装置１４８の表示部に表示され、図示しないプロッタ等に出力される。
図３においては横軸が測定周波数帯を示し、縦軸が各周波数での電界強度を示しており各周波数での電界強度のピーク値を示す波形が測定結果として与えられる。また、測定結果内にはＥＭＩ規定の既定値が示されており、上記波形と照らし合わせて規定値のリミットからのマージンが少ない周波数について対策することになる。
このように、上記構成により測定された結果、ＥＭＩ規制の規制値を超えた場合は当該ノイズに対して対策が必要となるため、本実施形態にかかる上記電磁妨害波測定装置１０によってノイズ源を特定する。
【００２６】
（３）プロ−ブによるノイズ源特定：
実施形態にかかる電磁妨害波測定装置１０では、被試験機５０のどの場所からノイズが強く放射されているかについて知ることが可能となる。
ノイズ源特定に際しては、まず、アンテナ２４の高さやタ−ンテ−ブル３０の角度、すなわち、被試験機５０の機器外に放射される電界強度が最大である位置を予め取得しておく。そして、この結果に基づいて、電磁妨害波測定装置１０において被試験機５０をタ−ンテ−ブル３０上の台３１に載置し、アンテナ装置２０では、図２にて示した装置を用いて特定されたノイズが発生している周波数（測定周波数）に対応したアンテナ２４を取り付ける。そして、中央制御装置４８にてコントロ−ル４４を介して、アンテナ２４の高さとタ−ンテ−ブル３０の回転位置を、上記予め取得された条件に設定する。
【００２７】
そして、アンテナ２４に接続されたバンドパスフィルタ４１ａ１を、周波数帯域を調整するボリュ−ム等により当該周波数に設定すると、バンドパスフィルタ４１ａ１により設定した目的周波数成分であるノイズ成分のみが抽出される。このとき、目的周波数成分が、バンドパスフィルタ４１ａ１により抽出不可能な周波数帯域である場合には、発振回路４１ｅにて所定の周波数の信号を発生させるとともに、合成回路４１ｄ１にてアンテナ２４からの信号と合成して、規定内の周波数の信号をバンドパスフィルタ４１ａ１に入力させるようにする。
【００２８】
そして、一例として、上記抽出したノイズ信号をもとにシュミットトリガ回路によって絶対値処理を行い全て正方向のパルス信号を生成し、その出力に対ＧＮＤに接地した抵抗とコンデンサでパルス間に時定数を持たせると上記信号の変動成分になる。さらに、Ｈレベルの信号の歪みを解消するため比較器で上記出力と任意に設定した基準電圧を比較し矩形波を生成する。このように、上記ノイズ信号から図４に示すようなタイミングと発生周期が上記ノイズ成分と同一の矩形波を生成し、発生タイミングを特定するトリガ信号としてシンクロスコープ４１ｂに出力する。シンクロスコ−プ４１ｂは、多チャンネルの入力端子を有しており、このなかの１つのチャンネル入力端子に、バンドパスフィルタ４１ａ１からの信号を入力するようにする。
【００２９】
また、シンクロスコ−プ４１ｂの他のチャンネルには、合成回路４１ｄ２を介して近磁界プローブ４１ｃが接続されており、この近磁界プローブ４１ｃは、被試験機５０の近傍を移動させることができる。近磁界プローブ４１ｃは、ノイズ源の放射電界強度が強い場所か遠ざかるとシンクロスコ−プ４１ｂへの入力レベルが小さくなり、表示された信号波形も小さくなる。従って、近磁界プローブ４１ｃが移動した位置で得た信号から、トリガ信号にタイミングとその発生周期に同期した信号を検出することにより当該周波数におけるノイズの発生部位を推定していくことが可能となる。この近磁界プローブ４１ｃの移動手段は、手動で行うものであってもよく、自動で行うものであってもよい。
【００３０】
近磁界プローブ４１ｃで走査していき、その移動により得られた信号は、バンドパスフィルタ４２ａ２にて所望の周波数成分に抽出された後、シンクロスコ−プ４１ｂに入力される。なお、目的周波数成分が、バンドパスフィルタ４１ａ２により抽出不可能な周波数帯域である場合には、アンテナ２４からの信号に対する処理と同様に、発振回路４１ｅにて所定の周波数の信号を発生させるとともに、合成回路４１ｄ２にて近磁界プローブ４１ｃからの信号と合成して、規定内の周波数の信号をバンドパスフィルタ４１ａ２に入力させるようにする。
なお、本実施形態においては、発振回路４１ｅにて生成された同一の周波数の信号が、合成回路４１ｄ１、４１ｄ２の両方に入力されるように構成されている。従って、バンドパスフィルタ４１ａ１、４１ａ２には、同じ周波数の信号が入力されることとなり、このようにすることにより、２つのバンドパスフィルタ４１ａ１、４１ａ２について、同一性能のものを適用することが可能となる。
【００３１】
シンクロスコ−プ４１ｂに入力されたバンドパスフィルタ４２ａ２からの信号は、通常、シンクロスコ−プ４１ｂの表示部にその像が表示されるが、他チャンネルに入力されている上記トリガ信号に対してトリガをかけるため、同トリガ信号に同期した信号が入力されないとトリガがかからず、上記表示部に像を結ばない。そのため、シンクロスコ−プ４１ｂの上記表示部に像を結んだ入力信号がトリガ信号に同期した信号であり、すなわち、ノイズ信号となる。
【００３２】
よって、上記トリガ信号に同期した入力信号が検出できた位置がノイズ源と考えられるため、さらに、近磁界プローブ４１ｃによる走査を続行させ、上記表示部に像を結ぶ頻度が高い範囲を絞り込んでいく。被試験機５０上のノイズ源の範囲が絞り込まれたら、図５に示すように、被試験機５０の回路基板における当該範囲においてノイズ源と推定される範囲を走査してさらに範囲を限定し、そして、次に、近磁界プローブ４１ｃでピンポイントにノイズ源を走査していく。このように走査範囲を狭めていった結果、ノイズ源をピンポイントに特定することが可能となる。
【００３３】
次に、上述した近磁界プローブ４１ｃによる走査が行われているときに、シンクロスコ−プ４１ｂの表示部の表示内容について説明する。
図６は、実施形態にかかるシンクロスコ−プの表示部の表示内容の一例を示す図である。同図において、シンクロスコ−プ４１ｂの表示部Ａには、上記トリガ信号に同期した信号がシンクロスコ−プ４１ｂに入力されたときの像が表示されている。すなわち、表示部Ａには、近磁界プローブ４１ｃからバンドパスフィルタ４２ａ２を介して入力された信号が、上記トリガ信号に同期しているときにのみ、同図に示すような波形が表示されるのである。従って、このような波形が表示されていることから、近磁界プローブ４１ｃからの信号が、上記トリガ信号に同期していることが示されるとともに、この波形のピ−ク高さから、ノイズ信号の強度を把握することができるのである。
【００３４】
なお、図６に示したように、上記トリガ信号に同期した信号が入力されているときにのみ、トリガをかけて表示部に像が結ばれるように表示させる態様のほか、例えば、図７に示すように、上記トリガ信号の波形と、バンドパスフィルタ４２ａ２からの信号の波形とを並べて表示させるようにしてもよい。このように表示させても、トリガ信号に対する、バンドパスフィルタ４２ａ２からの入力信号の強度差や、位相差を認識することができるからである。
【００３５】
（４）まとめ：
以上説明したように、実施形態にかかる電磁妨害波測定装置１０では、アンテナ２４とバンドパスフィルタ４１ａ１との間に合成回路４１ｄ１が接続され、また、近磁界プローブ４１ｃとバンドパスフィルタ４１ａ２との間に合成回路４１ｄ２が接続され、さらに、これら合成回路４１ｄ１、４１ｄ２は、共に発生させる周波数を可変設定可能な発振回路４１ｅに接続されている。そして、バンドパスフィルタ４１ａ１、４１ａ２により抽出された信号成分がシンクロスコ−プ４１ｂに入力されるように構成されている。そのため、発振回路４１ｅの生成周波数を調整することにより、広範囲の周波数帯のノイズについて測定する場合であっても、バンドパスフィルタ４１ａ１、４１ａ２に入力される信号の周波数を一定化させることが可能となる。その結果、広範囲の周波数帯の信号成分を抽出可能な高性能なバンドパスフィルタ等を採用する必要がなくなるとともに、それぞれ異なる範囲の周波数帯の信号成分を抽出可能なバンドパスフィルタ等を、測定するノイズの周波数帯に合わせて取り替える必要がなくなる。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】実施形態にかかる電磁妨害波測定装置の概略構成図である。
【図２】ＥＭＩ測定で一般的に使用される電磁妨害波測定装置の概略構成図である。
【図３】測定結果を表す図である。
【図４】入力信号に対するトリガ生成の概略図である。
【図５】近磁界プローブによるノイズ源特定の概略図である。
【図６】シンクロスコ−プの表示部の表示内容の一例を示す図である。
【図７】シンクロスコ−プの表示部の表示内容の他の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００３７】
１０…電磁妨害波測定装置
２０…アンテナ装置
２１…昇降機
２２…支柱
２３…アンテナ保持部
２４…アンテナ
３０…ターンテーブル
３１…台
３２…電波吸収材
４１…ノイズ源特定装置
４１ａ、４１ａ２…バンドパスフィルタ
４１ｂ…シンクロスコープ
４１ｃ…近磁界プローブ
４１ｄ１、４１ｄ２…合成回路
４１ｅ…発振回路
４４…コントロール部
４８…中央制御装置
５０…被試験機
【図１】
2006337082.tif 000003
【図２】
2006337082.tif 000004
【図３】
2006337082.tif 000005
【図４】
2006337082.tif 000006
【図５】
2006337082.tif 000007
【図６】
2006337082.tif 000008
【図７】
2006337082.tif 000009