(57)【要約】【課題】外部ＩＣ接続前にテストを行う。【解決手段】ビデオ信号ラインＶＬ−Ｒ、ＢＬ−Ｇ、ＶＬ−Ｂに対し、スイッチＳＷ−Ｒ、ＳＷ−Ｇ、ＳＷ−Ｂを介し、テスト用データ端子Ｒ−ＤＡＴＡ、Ｇ−ＤＡＴＡ、Ｂ−ＤＡＴＡを供給する。スイッチＳＷ−Ｒ、ＳＷ−Ｇ、ＳＷ−Ｂは、テスト用の端子ＳＷからＨレベルを入力することでオンになる。外部ＩＣを接続したときには、これらのテスト用の端子をＬレベルに固定することで、異常な動作を禁止する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＲＧＢのビデオ信号をそれぞれ別に伝送する少なくとも３本のビデオ信号ラインと、
この３本のビデオ信号ラインのそれぞれに複数接続されるデータラインと、
各データラインにそれぞれに設けられ、ビデオ信号ラインと当該データラインとの接続を制御するサンプリングスイッチと、
このサンプリングビデオスイッチのオンオフを制御する水平ドライバ回路と、
を含み、
各ビデオ信号ラインのビデオ信号が対応するデータラインに順次供給されデータラインに接続される画素にビデオ信号供給が供給される表示パネルであって、
前記３本のビデオ信号ラインにそれぞれ接続され、外部からビデオ信号を受け入れる３つのビデオ信号端子と、
前記３本のビデオ信号ラインにそれぞれ接続され、外部からテスト用ビデオ信号を受け入れる３つのテスト用ビデオ信号端子と、
前記テスト用ビデオ信号端子に対応して設けられ、前記テスト用ビデオ信号端子と、前記ビデオ信号ラインとの接続を制御するテスト用スイッチと、
このテスト用スイッチのオンオフを制御するテスト用スイッチ信号を受け入れ、前記テスト用スイッチに供給するテスト用スイッチ信号入力端子と、
を含み、
前記ビデオ信号端子にビデオ信号が入力されない状態において、テスト用スイッチ信号によりテスト用スイッチをオンして、テスト用ビデオ入力端子からのＲＧＢ別のテスト用ビデオ信号を前記ビデオ信号ラインに供給することを特徴とする表示パネル。
【請求項２】
請求項１に記載の表示パネルにおいて、
前記３本のビデオ信号ラインにそれぞれ接続されるテスト用ビデオ端子としてさらに３つの計６本のテスト用ビデオ信号端子を有し、
前記テスト用スイッチは、これら６本のテスト用ビデオ端子に対応して設けられていることを特徴とする表示パネル。
【請求項３】
請求項１または２に記載の表示パネルにおいて、
さらに、
前記テスト用ビデオ信号端子に接続されるこれら端子の電位を固定するためのテスト用ビデオ信号固定端子と、
前記テスト用スイッチ信号入力端子に接続されるこれら端子の電位を固定するためのテスト用スイッチ信号固定端子と、
を有することを特徴とする表示パネル。
【請求項４】
請求項３に記載の表示パネルにおいて、
前記ビデオ信号端子と、前記テスト用ビデオ信号固定端子と、テスト用スイッチ信号固定端子と、に接続され、これら端子に対応する信号を供給する信号処理用半導体集積回路ＩＣ（外部ＩＣ）を有することを特徴とする表示パネル。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＲＧＢのビデオ信号をそれぞれ別に伝送する少なくとも３本のビデオ信号ラインと、このビデオ信号ラインに接続される複数のデータラインのそれぞれに設けられ、これらの接続を制御するサンプリングスイッチと、前記サンプリングスイッチのオンオフを制御する水平ドライバ回路と、を含み、ビデオ信号を各データラインに順次供給しデータラインに接続される画素にビデオ信号を供給する表示パネルに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、ＬＣＤ、有機ＥＬディスプレイなどの１つの基板上に多数の画素を形成するフラットディスプレイが広く普及している。このフラットディスプレイには、マトリクス配置された画素毎に選択トランジスタを配置して、各画素における表示を制御するアクティブマトリクス型のパネルがあり、高精細な表示に好適である。
【０００３】
このアクティブマトリクス型のパネルにおいては、表示対象となるビデオ信号を二次元の各画素に供給するために、表示ラインを垂直方向にシフトさせる垂直ドライバと、水平方向の１画素ずつに順次ビデオ信号を供給するために水平ドライバが必要になる。
【０００４】
水平ドライバにおいては、水平シフトレジスタにおいて、１水平期間の開始を示すストローブ信号のＨレベルを取り込み、これを水平転送クロックに従って転送する。
【０００５】
そして、水平転送クロックを、ビデオ信号を画素毎のビデオ信号と同期させることで、水平シフトレジスタの出力により、ビデオ信号ラインと、パネルの各列毎のデータラインとの間のサンプリングスイッチを開き、画素毎のビデオ信号を対応するデータラインに供給することができる。
【０００６】
一方、垂直ドライバ回路において、ビデオ信号を供給すべきパネルの行の画素を選択しておくことで、各画素のビデオ信号が、その画素に供給される。
【０００７】
ここで、これら垂直、水平ドライバをすべて表示パネルに内蔵する場合も多いが、水平ドライバは１水平期間内においてビデオ信号を処理して各列のデータラインに供給する動作を制御しなければならず、比較的高速の処理が要求される。そこで、水平ドライバの全部または一部を、別の半導体集積回路（ＩＣ）内に設け、その外部ＩＣからのビデオ信号データラインを供給するという構成をとる場合も多い。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかし、このように、外部ＩＣを別に設けてパネルに接続する構成とした場合には、外部ＩＣを取り付けない段階での動作状態のテストを行うことができない。一方、表示パネルにおいては、内蔵されるトランジスタなどに不良が発生する場合も多くあり、外部ＩＣを取り付けない状態においてテストを行いたいという要求がある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、ＲＧＢのビデオ信号をそれぞれ別に伝送する少なくとも３本のビデオ信号ラインと、この３本のビデオ信号ラインのそれぞれに複数接続されるデータラインと、各データラインにそれぞれに設けられ、ビデオ信号ラインと当該データラインとの接続を制御するサンプリングスイッチと、このサンプリングビデオスイッチのオンオフを制御する水平ドライバ回路と、を含み、各ビデオ信号ラインのビデオ信号が対応するデータラインに順次供給されデータラインに接続される画素にビデオ信号供給が供給される表示パネルであって、前記３本のビデオ信号ラインにそれぞれ接続され、外部からビデオ信号を受け入れる３つのビデオ信号端子と、前記３本のビデオ信号ラインにそれぞれ接続され、外部からテスト用ビデオ信号を受け入れる３つのテスト用ビデオ信号端子と、前記テスト用ビデオ信号端子に対応して設けられ、前記テスト用ビデオ信号端子と、前記ビデオ信号ラインとの接続を制御するテスト用スイッチと、このテスト用スイッチのオンオフを制御するテスト用スイッチ信号を受け入れ、前記テスト用スイッチに供給するテスト用スイッチ信号入力端子と、を含み、前記ビデオ信号端子にビデオ信号が入力されない状態において、テスト用スイッチ信号によりテスト用スイッチをオンして、テスト用ビデオ入力端子からのＲＧＢ別のテスト用ビデオ信号を前記ビデオ信号ラインに供給することを特徴とする。
【００１０】
また、前記３本のビデオ信号ラインにそれぞれ接続されるテスト用ビデオ端子としてさらに３つの計６本のテスト用ビデオ信号端子を有し、前記テスト用スイッチは、これら６本のテスト用ビデオ端子に対応して設けられていることが好適である。
【００１１】
さらに、前記テスト用ビデオ信号端子に接続されるこれら端子の電位を固定するためのテスト用ビデオ信号固定端子と、前記テスト用スイッチ信号入力端子に接続されるこれら端子の電位を固定するためのテスト用スイッチ信号固定端子と、を有することが好適である。
【００１２】
また、前記ビデオ信号端子と、前記テスト用ビデオ信号固定端子と、テスト用スイッチ信号固定端子と、に接続され、これら端子に対応する信号を供給する信号処理用半導体集積回路ＩＣ（外部ＩＣ）を有することが好適である。
【発明の効果】
【００１３】
このように、本発明においては、テスト時において、テスト用スイッチ信号によってテスト用スイッチを切り替えることで、ＲＧＢのビデオ信号を対応するデータラインにテスト用のＲＧＢ信号をそれぞれ供給することができる。従って、水平ドライバにおいて順次ビデオ信号に対応するデータラインに供給して表示動作を行わせることができ、パネルのテストが可能になる。
【００１４】
また、ドット反転方式を採用した場合には、ビデオ信号の極性を順次反転する必要がある。テスト用のＲＧＢビデオ信号を２種類用意することで、このようなパネルについてもテストが可能になる。
【００１５】
また、テスト用の端子について、テスト後において、その電位を固定することで誤動作発生を効果的に防止することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の実施形態について、図面に基づいて説明する。
【００１７】
図１は、実施形態の回路構成を示す図である。このパネルは、１ライン毎にビデオ信号の極性を反転するライン反転方式を採用している。
【００１８】
ビデオ信号ラインＶＬは、ＲＧＢそれぞれについて１本（ＶＬ−Ｒ、ＶＬ−Ｇ、ＶＬ−Ｂ）ある。これらビデオ信号ラインＶＬ−Ｒ、ＶＬ−Ｇ、ＶＬ−Ｂに対して、それぞれサンプリングスイッチＨＳＷを介し、ＲＧＢそれぞれのデータラインＤＬが接続されている。また、各サンプリングスイッチＨＳＷの制御端には、水平ドライバＨＤＲが接続されており、この水平ドライバＨＤＲがビデオ信号ラインＶＬ−Ｒ、ＶＬ−Ｇ、ＶＬ−Ｂに供給されているビデオ信号に対応するデータラインＤＬのサンプリングスイッチＨＳＷをオンする。これによって、各ビデオ信号ラインＶＬ−Ｒ、ＶＬ−Ｇ、ＶＬ−Ｂのビデオ信号が順次データラインＤＬに供給される。なお、サンプリングスイッチＨＳＷは、ｎチャネルおよびｐチャネルＴＦＴ（薄膜トランジスタ）が並列接続した構成になっている。なお、サンプリングスイッチＨＳＷは、ｎチャネルＴＦＴのみで構成しても、ｐチャネルＴＦＴのみで構成してもよい。
【００１９】
各ビデオ信号ラインＶＬ−Ｒ、ＶＬ−Ｇ、ＶＬ−Ｂには、対応する端子がそれぞれ設けられ、個々にビデオ信号を供給する外部ＩＣがＣＯＧ（チップ・オン・グラス）により接続されている。
【００２０】
一方、各ビデオ信号ラインＶＬ−Ｒ、ＶＬ−Ｇ、ＶＬ−Ｂには、テスト用スイッチＳＷ−Ｒ、ＳＷ−Ｇ、ＳＷ−Ｂの一端がそれぞれ接続され、他端はテスト用データ端子Ｒ−ＤＡＴＡ、Ｇ−ＤＡＴＡ、Ｂ−ＤＡＴＡに接続されている。なお、テスト用スイッチＳＷ−Ｒ、ＳＷ−Ｇ、ＳＷ−Ｂは、ｎチャネルＴＦＴで構成されている。なお、テスト用スイッチＳＷ−Ｒ、ＳＷ−Ｇ、ＳＷ−Ｂは、ｐチャネルＴＦＴで構成で構成してもよく、その場合には、オンするためにＬレベルを入力する。
【００２１】
さらに、各テスト用スイッチＳＷ−Ｒ、ＳＷ−Ｇ、ＳＷ−Ｂの制御端（ゲート）には、テスト用スイッチ端子ＳＷが接続されている。従って、テスト用スイッチ端子ＳＷにＨが入力されると、テスト用スイッチＳＷ−Ｒ、ＳＷ−Ｇ、ＳＷ−Ｂがオンして、ビデオ信号ラインＶＬ−Ｒ、ＶＬ−Ｇ、ＶＬ−Ｂが、テスト用データ端子Ｒ−ＤＡＴＡ、Ｇ−ＤＡＴＡ、Ｂ−ＤＡＴＡに接続され、外部から入力されるテストデータＲ−ＤＡＴＡ、Ｇ−ＤＡＴＡ、Ｂ−ＤＡＴＡがビデオ信号ラインＶＬ−Ｒ、ＶＬ−Ｇ、ＶＬ−Ｂに供給される。
【００２２】
また、テスト用データ端子Ｒ−ＤＡＴＡ、Ｇ−ＤＡＴＡ、Ｂ−ＤＡＴＡからテスト用スイッチＳＷ−Ｒ、ＳＷ−Ｇ、ＳＷ−Ｂのゲートに至る経路に対しては、高電圧電源ＶＤＤと低電圧電源ＶＳＳの間に配置した２つのダイオードの直列接続の中間点が接続されている。ダイオードはＶＳＳからＶＤＤ側に電流を流す方向に設定されており、これによってテスト用データ端子の電位がＶＳＳ〜ＶＤＤの範囲に保持され、静電気などによる悪影響を排除することができる。なお、電源ＶＳＳ、ＶＤＤは、端子ＶＳＳ、ＶＤＤから供給される。さらに、低電圧ＶＶＥＥ端子も設けられており、テスト用スイッチ端子ＳＷには、電源ＶＤＤとＶＶＥＥの間に配置した２つのダイオードの中間点が接続されている。なお、ＶＶＥＥを省略して、ＶＳＳを利用してもよい。
【００２３】
テスト用データ端子Ｒ−ＤＡＴＡ、Ｇ−ＤＡＴＡ、Ｂ−ＤＡＴＡ、テスト用スイッチ端子ＳＷには、それぞれ対応した外部ＩＣ側端子（Ｒ−ＤＡＴＡｚ、Ｇ−ＤＡＴＡｚ、Ｂ−ＤＡＴＡｚ、テスト用スイッチ端子ＳＷｚ：テスト用信号固定端子）が設けられており、これら端子は外部ＩＣに接続されている。そして、外部ＩＣは、これら端子を例えば−４．５Ｖやグランド電圧に接続し、電圧を固定する。
【００２４】
次に、このようなパネルにおける外部ＩＣを取り付ける前の段階でのテストについて、説明する。
【００２５】
このテストを行う時は、外部ＩＣは取り付けられておらず、外部ＩＣ用の端子は、オープン状態になっている。この状態で、フレキシブルプリント配線板（ＦＰＣ）により、テスト用データ端子Ｒ−ＤＡＴＡ、Ｇ−ＤＡＴＡ、Ｂ−ＤＡＴＡ、テスト用スイッチ端子ＳＷに外部のテスト装置を接続する。また、パネルには、通常動作用の電源、クロックなどを供給しておく。
【００２６】
そして、テスト用スイッチ端子ＳＷにＨレベルを供給し、テスト用スイッチＳＷ−Ｒ、ＳＷ−Ｇ、ＳＷ−Ｂをオンして、ビデオ信号ラインＶＬ−Ｒ、ＶＬ−Ｇ、ＶＬ−Ｂをテスト用データ端子Ｒ−ＤＡＴＡ、Ｇ−ＤＡＴＡ、Ｂ−ＤＡＴＡに接続する。この状態で、テスト装置からＲ−ＤＡＴＡ、Ｇ−ＤＡＴＡ、Ｂ−ＤＡＴＡをテスト用データ端子Ｒ−ＤＡＴＡ、Ｇ−ＤＡＴＡ、Ｂ−ＤＡＴＡに供給することで、これらがビデオ信号ラインＶＬ−Ｒ、ＶＬ−Ｇ、ＶＬ−Ｂに供給される。これによって、Ｒ画素、Ｇ画素、Ｂ画素がそれぞれテストデータに応じて駆動され、テストが行われる。
【００２７】
ここで、この例では、水平ドライバＨＤＲを１つだけ示した。しかし、１つの水平ドライバＨＤＲのみですべての列のデータラインＤＬへのデータ供給を制御すると時間がかかる。そこで、水平ドライバＨＤＲを複数個（例えば３２個）設け、これらを並列して駆動することが好適である。この場合、ビデオ信号ラインＶＬ−Ｒ、ＶＬ−Ｇ、ＶＬ−Ｂも各水平ドライバＨＤＲに対応して１つずつ（合計３２本）設ける必要があり、また外部ＩＣからのビデオ信号ＲＧＢも同じ個数（３２個）必要であり、これが各ビデオ信号ラインＶＬ−Ｒ、ＶＬ−Ｇ、ＶＬ−Ｂに対し並列して供給される。
【００２８】
一方、テスト用データ端子Ｒ−ＤＡＴＡ、Ｇ−ＤＡＴＡ、Ｂ−ＤＡＴＡは、それぞれ１本でよい。そして、テスト用スイッチＳＷ−Ｒ、ＳＷ−Ｇ、ＳＷ−Ｂをビデオ信号ラインの本数分設け、各ビデオ信号ラインを対応する色のテスト用データ端子Ｒ−ＤＡＴＡ、Ｇ−ＤＡＴＡ、Ｂ−ＤＡＴＡに接続する。これによって、テスト時には、ＲＧＢ毎に１つのレベルでのテスト表示が行われる。
【００２９】
このようなテストが終了した場合には、ＦＰＣを外して、外部ＩＣをＣＯＧ接続する。これによって、ビデオ信号ラインＶＬ−Ｒ、ＶＬ−Ｇ、ＶＬ−Ｂに各画素に対応したビデオ信号が供給される。一方、テスト用スイッチ端子ＳＷおよびテスト用データ端子Ｒ−ＤＡＴＡ、Ｇ−ＤＡＴＡ、Ｂ−ＤＡＴＡは、Ｌレベルに固定される。
【００３０】
図２は、１ドット毎にビデオ信号の極性を反転するドット反転方式を採用した実施形態の回路構成を示す図である。
【００３１】
この例では、テスト用データ端子としてＲ−ＤＡＴＡ１、Ｇ−ＤＡＴＡ１、Ｂ−ＤＡＴＡ１、Ｒ−ＤＡＴＡ２、Ｇ−ＤＡＴＡ２、Ｂ−ＤＡＴＡ２の６つの端子を用意してある。そして、このＲ−ＤＡＴＡ１、Ｇ−ＤＡＴＡ１、Ｂ−ＤＡＴＡ１について第１の極性のテストデータ、Ｒ−ＤＡＴＡ２、Ｇ−ＤＡＴＡ２、Ｂ−ＤＡＴＡ２に第２の極性のテストデータを供給する。これによって、ドット毎に第１または第２の極性のテストデータが交互に選択され、ドット反転方式における表示が行われる。
【００３２】
このように、本実施形態によれば、ドット反転方式のＬＣＤパネルにおいて、外部ＩＣ搭載前のテストを行うことができる。
【００３３】
図３は、他の構成例を示す図である。このパネルでは、外部ＩＣから一括してすべてのデータラインＤＬにビデオ信号を書き込むＨＳＷ方式を採用している。
【００３４】
外部ＩＣには、Ｓ１〜Ｓ２４０のデータ出力端子があり、この１つ１つがそれぞれ３つのサンプリングスイッチＨＳＷを介し、３本のデータラインＤＬに接続されている。従って、データラインは７２０本である。また、外部ＩＣには、Ｒ＿ＥＮ、Ｇ＿ＥＮ、Ｂ＿ＥＮの３つのイネーブル信号の出力端子があり、これらの３つのイネーブル信号が、上述した３つのサンプリングスイッチＨＳＷにそれぞれ接続されている。Ｒ＿ＥＮ、Ｇ＿ＥＮ、Ｂ＿ＥＮの３つのイネーブル信号は、１水平期間において、順番にＨレベルになる信号であり、Ｒ＿ＥＮがＨレベルとなっているときにデータ出力端子Ｓ１〜Ｓ２４０にはＲのビデオ信号が供給され、Ｇ＿ＥＮがＨレベルとなっているときにデータ出力端子Ｓ１〜Ｓ２４０にはＧのビデオ信号が供給され、Ｂ＿ＥＮがＨレベルとなっているときにデータ出力端子Ｓ１〜Ｓ２４０にはＢのビデオ信号が供給される。従って、ＲＧＢのデータがそれぞれ対応するＲＧＢのデータラインに順に供給される。すなわち、Ｒ＿ＥＮがＨレベルの時に、Ｓ１〜Ｓ２４０からは各行の画素についてのビデオ信号が順に出力され、Ｒの列のデータラインに供給され、これをＧＢについても同様に行う。このようにして、全画素において、ＲＧＢの表示が行われる。
【００３５】
また、テスト用端子として、テスト用データ端子ＤＡＴＡ、テスト用スイッチ端子ＳＷと、テスト用の３つのＲＧＢイネーブル端子Ｒ＿ＥＮｔ、Ｇ＿ＥＮｔ、Ｂ＿ＥＮｔが設けられている。さらに、テスト用データ端子ＤＡＴＡ、イネーブル端子Ｒ＿ＥＮｔ、Ｇ＿ＥＮｔ、Ｂ＿ＥＮｔ、テスト用データ端子ＤＡＴＡ、テスト用スイッチ端子ＳＷには、高電圧電源ＶＤＤと低電圧電源ＶＳＳの間に配置した２つのダイオードの直列接続の中間点が接続されており、静電気などによる端子電圧の大幅な変動を抑制している。
【００３６】
そして、テスト用データ端子ＤＡＴＡ、テストモードへの切り替えのためのテスト用スイッチ端子ＳＷが設けられ、テスト用データ端子ＤＡＴＡがテスト用スイッチＳＷを介し、端子Ｓ１〜２４０からサンプリングスイッチＨＳＷに至る経路に接続されている。また、テスト用スイッチＳＷのゲートには、テスト用スイッチ端子ＳＷが接続されている。従って、テスト用スイッチ端子ＳＷにＨレベルを入力することで、テストモードになり、テスト用データ端子ＤＡＴＡからのデータが全サンプリングスイッチＨＳＷに供給される。
【００３７】
さらに、テスト終了後に、テスト用データ端子ＤＡＴＡ、テスト用スイッチ端子ＳＷの電圧変動の影響を除去するために、端子ＤＡＴＡｚ、ＳＷｚが設けられている。テスト終了後にこれら端子を−４．５Ｖ等十分低い電圧に維持することによって、テスト用の配線をサンプリングスイッチＨＳＷなどから完全に切り離すことができる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】実施形態の構成を示す図である。
【図２】他の実施形態の構成を示す図である。
【図３】他の構成例を示す図である。
【符号の説明】
【００３９】
ＤＡＴＡ  テスト用データ端子、ＤＬ  データライン、ＨＤＲ  水平ドライバ、ＨＳＷ  サンプリングスイッチ、Ｒ−ＤＡＴＡ，Ｇ−ＤＡＴＡ，Ｂ−ＤＡＴＡ  テスト用データ端子、Ｓ１〜Ｓ２４０  データ出力端子、ＳＷ  テスト用スイッチ端子、ＶＬ  ビデオ信号ライン。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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