(57)【要約】【課題】レーザーダイオードの周囲温度上昇による動作制限を抑制すること。【解決手段】レーザーダイオードの動作中に前記レーザーダイオードの周囲温度Ｔａを測定し（ステップＳ１０２）、予め定めたレーザーダイオードの保護温度Ｔｐと比較する（ステップＳ１０３）。そして、周囲温度Ｔａが保護温度Ｔｐ以上である場合には（ステップＳ１０３；Ｙｅｓ）、実測により求めたレーザーダイオードの駆動電流値Ｉｏｐと、予め定めたレーザーダイオードの最大駆動電流値Ｉｏｐ＿ｍａｘとを比較する（ステップＳ１０４）。レーザーダイオードの駆動電流値Ｉｏｐが最大駆動電流値Ｉｏｐ＿ｍａｘよりも小さい場合には（ステップＳ１０４；Ｎｏ）、保護温度Ｔｐの設定値を、それまでの設定値よりもΔＴだけ高くする。【選択図】        図６
2006202440.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源の動作中に測定した前記光源の周囲温度と、前記光源を保護するための予め設定した保護温度とを比較する温度比較手順と、
前記光源を駆動するための駆動電流値と、予め設定した最大駆動電流値とを比較する駆動電流比較手順と、
前記周囲温度が前記保護温度以上である場合に前記駆動電流値の比較結果に基づいて前記保護温度の設定値を変更する保護温度変更手順と、
を含むことを特徴とする光源の保護方法。
【請求項２】
前記保護温度変更手順では、前記駆動電流値が前記最大駆動電流値よりも小さい場合には、前記保護温度の設定値を、それまでの設定値よりも高くすることを特徴とする請求項１に記載の光源の保護方法。
【請求項３】
変更される前記保護温度の設定値は、予め定めた保護温度最大値以下の値とすることを特徴とする請求項２に記載の光源の保護方法。
【請求項４】
前記保護温度変更手順では、前記駆動電流値と前記最大駆動電流値との差に基づいて、前記保護温度の設定値の上昇幅を変更することを特徴とする請求項２又は３に記載の光源の保護方法。
【請求項５】
前記保護温度変更手順では、前記駆動電流値が前記最大駆動電流値以上である場合には、前記保護温度の設定値を、それまでの設定値よりも低くすることを特徴とする請求項１に記載の光源の保護方法。
【請求項６】
前記駆動電流値が前記最大駆動電流値以上である場合には、前記光源の保護動作に移行することを特徴とする請求項１又は５に記載の光源の保護方法。
【請求項７】
請求項１〜６のいずれか１項に記載の光源の保護方法をコンピュータに実行させることを特徴とする光源の保護用コンピュータプログラム。
【請求項８】
光源の動作中に測定した前記光源の周囲温度と、前記光源を保護するための予め設定した保護温度とを比較する温度比較部と、
前記光源を駆動するための駆動電流値と予め設定した最大駆動電流値とを比較する駆動電流比較部と、
前記周囲温度が前記保護温度以上である場合に前記駆動電流値の比較結果に基づいて前記保護温度の設定値を変更する保護温度変更部と、
を含むことを特徴とする光源の保護装置。
【請求項９】
前記保護温度変更部は、前記駆動電流が前記最大駆動電流値より小さい場合には、前記保護温度の設定値を、それまでの設定値よりも高くすることを特徴とする請求項８に記載の光源の保護装置。
【請求項１０】
前記保護温度変更部は、前記保護温度の設定値を、予め設定した保護温度最大値以下とすることを特徴とする請求項９に記載の光源の保護装置。
【請求項１１】
前記保護温度変更部は、前記駆動電流値と前記最大駆動電流値との差に基づいて、前記保護温度の設定値の上昇幅を変更することを特徴とする請求項９又は１０に記載の光源の保護装置。
【請求項１２】
前記保護温度変更部は、前記駆動電流値が前記最大駆動電流値以上である場合には、前記保護温度の設定値を、それまでの設定値よりも低くすることを特徴とする請求項８に記載の光源の保護装置。
【請求項１３】
前記駆動電流比較部は、前記駆動電流値が前記最大駆動電流値以上である場合に、前記光源の保護動作に移行する、光源の保護機能を備えることを特徴とする請求項８又は１２に記載の光源の保護装置。
【請求項１４】
ディスクに光を照射するための光源と、
前記光源の周囲温度を検出する温度測定手段と、
前記光源の駆動電流値を検出する電流測定手段と、
前記温度測定手段から取得した前記光源の周囲温度と、前記電流測定手段から取得した前記光源の駆動電流値とを用いて、前記光源の保護を実行する請求項８〜１３のいずれか１項に記載の光源の保護装置と、
を含むことを特徴とするディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクの読み取り等に用いられる光源の保護に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク等の再生や光ディスク等に記録・再生するためのディスク装置では、情報の読み取り光あるいは情報の記録光に用いる光源として、レーザーダイオードが用いられる。レーザーダイオードは熱に弱いため、動作中にはレーザーダイオードの温度が過度に上昇しないような対策がとられる。例えば、特許文献１には、レーザーダイオード近傍の温度に応じた温度検出電圧が所定の基準電圧を超えると、レーザーダイオードの駆動を停止させる技術が開示されている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−２３２０７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、レーザーダイオードは、規定の寿命を保証する動作保証温度のばらつきが大きい。特許文献１に開示された技術のように、レーザーダイオードの周囲温度に基づき、レーザーダイオードの動作を停止させる制御を実行する場合、安全を考慮して、前記動作保障温度の下限値で、レーザーダイオードの動作を停止させる保護温度を決定する。このようにすると、動作保証温度が高いレーザーダイオードであっても、それよりも低い温度でその動作が制限されてしまう。
【０００５】
そこで、本発明は、上述した課題をその一例として解決するものであって、動作保証温度が高いレーザーダイオードにおいては、レーザーダイオードの周囲温度上昇による動作制限を抑制することができる光源の保護方法、光源の保護用コンピュータプログラム及び光源の保護装置、並びにディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
請求項１に記載の発明は、光源の動作中に測定した前記光源の周囲温度と、前記光源を保護するための予め設定した保護温度とを比較する温度比較手順と、前記光源を駆動するための駆動電流値と、予め設定した最大駆動電流値とを比較する駆動電流比較手順と、前記周囲温度が前記保護温度以上である場合に前記駆動電流値の比較結果に基づいて前記保護温度の設定値を変更する保護温度変更手順と、を含むことを特徴とする。
【０００７】
請求項８に記載の発明は、光源の動作中に測定した前記光源の周囲温度と、前記光源を保護するための予め設定した保護温度とを比較する温度比較部と、前記光源を駆動するための駆動電流値と予め設定した最大駆動電流値とを比較する駆動電流比較部と、前記周囲温度が前記保護温度以上である場合に前記駆動電流値の比較結果に基づいて前記保護温度の設定値を変更する保護温度変更部と、を含むことを特徴とする。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、この発明につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、この発明を実施するための最良の形態によりこの発明が限定されるものではない。また、以下に説明する実施の形態における構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、あるいは実質的に同一のものが含まれる。
【０００９】
（実施の形態）
この実施の形態に係る発明は、ディスク装置の光源が動作しているときに測定した光源の周囲温度と、予め設定した光源の保護温度とを比較し、光源の周囲温度が予め規定した光源の保護温度以上である場合には、光源の駆動電流値に基づいて光源の保護温度を変更する点に特徴がある。特に、この実施の形態に係る発明は、耐熱性が弱いレーザーダイオードを、光ディスクの情報読み取り光等の光源として用いる場合における、温度に対する光源の保護に関する。
【００１０】
図１は、この実施の形態に係るディスク装置を示す平面図である。この図は、ディスク取り付け側とは反対側からディスク装置を見た状態を示している。図２は、この実施の形態に係るディスク装置が備えるピックアップの光学系を示す斜視図である。このディスク装置１は、ＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等の光ディスク（以下ディスク）に記録された情報を再生する。なお、この実施の形態に係るディスク装置は、ディスクへ情報を記録する機能をさらに有していてもよい。
【００１１】
ディスク装置１は、通常は筺体の内部に格納される。ディスク装置１は、ディスク駆動手段や、ディスクに記録された情報を読み出す情報読み取り手段等を備えている。ディスク装置１が備える枠体１８には、ディスク駆動手段、情報読み取り手段、情報読み取り手段支持体、情報読み取り手段駆動手段等の機器が取り付けられる。
【００１２】
ディスク駆動手段である電気モータ８は、枠体１８に取り付けられており、ディスクを回転させる。ピックアップ２は、ディスクに記録された情報を読み取るための光学系２Ｌを備る。そして、情報読み取り手段であるピックアップ２は、ディスクの回転中にディスクの径方向（矢印Ｓ方向）に移動して、ディスクに記録された情報を読み取る。なお、ディスク装置１がディスクへ情報を記録する機能を有している場合には、ディスクの径方向に移動する過程でディスクへ情報を記録する。
【００１３】
ピックアップ２は、情報読み取り手段支持体である主軸３、副軸４によって支持される。なお、主軸３、副軸４は、枠体１８に取り付けられている。ここで、主軸３は、ピックアップ２の移動方向と傾きとを規制する軸である。ピックアップ２には、ピックアップ側支持部である第１軸受部１０1及び第２軸受部１０2が形成されており、主軸３がこれらの内部を貫通している。また、ピックアップ２には、副軸４と係合する副軸受部１１が形成されている。このような構成によって、ピックアップ２は、第１軸受部１０1、第２軸受部１０2及び副軸受部１１の３点で主軸３及び副軸４に支持されて、ディスクの径方向へ移動する。
【００１４】
第１軸受部１０1、第２軸受部１０2は、主軸３に嵌合して摺動する。このため、第１軸受部１０1及び第２軸受部１０2の内部へそれぞれジャーナル軸受を備えて、主軸３との摩擦を低減する。ピックアップ２は、情報読み取り手段駆動手段である送りモータ６によってディスクの径方向へ移動する。送りモータ６の出力軸には送りねじ５が取り付けられており、ピックアップ２に設けられる爪７が、前記送りねじ５の外周に形成されるねじ溝と系合する。これによって、送りモータ６を駆動すると、ピックアップ２がディスクの径方向外側又は内側へ移動する。
【００１５】
ピックアップ２を支持する主軸３及び副軸４は、枠体１８に固定支持される。主軸３は、第１支持端部３ｔ1及び第２支持端部３ｔ2が、第１固定ねじ９1及び第２固定ねじ９2によって枠体１８に固定されることによって取り付けられる。また、主軸３には油等の潤滑剤が塗布されており、第１軸受部１０1及び第２軸受部１０2の内部へ設けられるジャーナル軸受との摩擦を低減する。
【００１６】
図２に示すように、前記光学系２Ｌは、光学系ケース２Ｃ内に格納されている。光学系は、立ち上げミラー１２、合成プリズム１３、ハーフミラー１４、対物レンズ１５、第１集光レンズ１６ａ、第２集光レンズ１６ｂ、読み取り手段である受光素子１７、光源であるレーザーダイオード（以下ＬＤという）２０ａ、２０ｂとを含んでいる。また、ＬＤ２０ａ、２０ｂの周囲温度を測定する温度センサ２１が光学系ケース２Ｃ内に備えられる。
【００１７】
２個のＬＤ２０ａ、２０ｂから出射したレーザー光は、合成プリズム１３で合成された後、ハーフミラー１４で反射される。そして、第１集光レンズ１６ａを通って立ち上げミラー１２で反射されてから、立ち上げミラー１２と対向する位置に配置される対物レンズ１５で集光されてディスクの記録面へ照射される。このレーザー光はディスクの記録面で反射され、対物レンズ１５、立ち上げミラー１２、第１集光レンズ１６ａ、ハーフミラー１４、第２集光レンズ１６ｂ通って受光素子１７に導かれる。以下の説明においては、ＬＤ２０ａ、ＬＤ２０ｂを特に区別することなく、ＬＤ２０と表記する。
【００１８】
光源として用いられるＬＤ２０は一般に熱に弱く、高温環境下で動作させると、ＬＤ２０の寿命が短くなる。このため、ＬＤ２０の動作中において、ＬＤ２０の周囲温度がある温度に達すると、例えば、自動的にＬＤ２０の動作を停止するというような、光源の保護動作を実行する。ここで、ＬＤ２０の駆動電流値と、寿命との関係を説明する。
【００１９】
図３は、ＬＤの駆動電流値とＬＤの寿命との関係、及びＬＤの駆動電流値と発生頻度との関係を示す説明図である。ここで、ＬＤの駆動電流値は、ＬＤが動作するときの駆動電流値をいう。図３の上図に示すように、ＬＤの駆動電流値ＩｏｐとＬＤの寿命θとは相関があり、ＬＤの駆動電流値Ｉｏｐが大きくなるほど、ＬＤの寿命θは短くなる。また、ある母集団に属するＬＤについては、ＬＤの駆動電流値Ｉｏｐの発生頻度は、図３の下図に示すような分布となる。
【００２０】
光源であるＬＤの動作を保証する動作保証温度がＴｐ1のときにおいて、ディスク装置１の光源として、ＬＤの寿命が最低限θ3を満たす必要があるとする。このθ3を、要求最低寿命とする。図３の上図に示すように、ＬＤの駆動電流値がＩｏｐ３よりも大きいＬＤの寿命は要求最低寿命θ3を下回る。このため、ＬＤの駆動電流値がＩｏｐ３より大きい固体は、ディスク装置１の光源として用いることはできない。すなわち、ディスク装置１の光源として用いることができるＬＤは、ＬＤの駆動電流値がＩｏｐ３よりも小さい固体となる。ここで、Ｉｏｐ３を、ＬＤの最大駆動電流値（Ｉｏｐ＿ｍａｘ）といい、あるＬＤの母集団の中で、要求最低寿命θ3を保証可能な駆動電流の最大値である。
【００２１】
ＬＤの駆動電流値がＩｏｐ３のＬＤは寿命がθ3であるが、ＬＤの駆動電流値がＩｏｐ２のＬＤは、寿命がθ3よりも長くなる。さらに、ＬＤの駆動電流値がＩｏｐ１のＬＤは、ＬＤの駆動電流値がＩｏｐ２のＬＤよりも寿命が長くなる。ＬＤの駆動電流値がＩｏｐ３よりも小さければ要求最低寿命θ3を満たすので、ＬＤの駆動電流値がＩｏｐ３よりも小さいＬＤは、Ｉｏｐ３より大きい電流値で駆動しても、その値がＩｏｐ３よりも小さければ、要求最低寿命θ3を満たす。例えば、図３の上図に示すように、ＬＤの駆動電流値がＩｏｐ１のＬＤ（寿命はθ1）をＩｏｐ２で駆動すると、そのときの寿命はθ2となるが、この値は、要求最低寿命θ3よりも長い。
【００２２】
ＬＤの動作を保証する動作保証温度がＴｐ2のときにおいては（Ｔｐ2＞Ｔｐ1）、同じＬＤであっても寿命が短くなる（図３上図の一点鎖線）。この場合、ＬＤの駆動電流値がＩｏｐ１、あるいはＩｏｐ２のＬＤであれば、ＬＤの寿命は要求最低寿命θ3を満たす。したがって、ＬＤの駆動電流値に余裕がある場合、すなわち、ＬＤの駆動電流値が最大駆動電流値よりも小さく、かつＬＤの駆動電流値と最大駆動電流値との差が大きいＬＤほど、より高い温度の環境下で使用することができる。なお、図３に示す例において、動作保証温度が最も低いのは、ＬＤの駆動電流値がＩｏｐ３のＬＤである。
【００２３】
動作保証温度が最も低いＬＤを基準として、光源の保護動作を実行する温度（保護温度）を決定すると、動作保証温度が高いＬＤは、余裕のある状態で使用されることになる。この実施の形態では、ＬＤの駆動電流値が小さく、動作保証温度が高いＬＤについては、動作保証温度を引き上げて使用する。これによって、動作保証温度が高いＬＤは、より高い環境下で使用できるようにするものである。すなわち、動作保証温度の異なるＬＤに対して、一律に動作保証温度を設定するのではなく、各ＬＤの動作保証温度のばらつきを考慮して、前記保護温度を設定するものである。
【００２４】
これにより、寿命に余裕のあるＬＤは、保護温度をより高く設定できるので、使用温度条件の厳しい環境化でも保護動作を実行する頻度を低減できる。特に、ディスク装置１が、ナビゲーションシステムや音響装置として車両に搭載される場合には周囲の温度が高温になるが、かかる場合に、寿命に余裕のあるＬＤについては、保護動作を実行する頻度が低減される。次に、この実施の形態に係る光源の保護のための制御について説明する。
【００２５】
まず、ＬＤの駆動電流値を検出する回路の一例について説明する。図４は、ＬＤの駆動電流検出回路を示す概略図である。この実施の形態に係るＬＤの駆動電流検出回路２２は、抵抗２３と、オペアンプ２４とを含んで構成される。ＬＤ２０の入力側には、抵抗２３が直列に接続されている。抵抗２３の両端の電圧は、オペアンプ２４へ入力され、ここで、電流値に変換されてから出力される。このオペアンプ２４の出力を取得することによって、ＬＤ２０のＬＤの駆動電流値を知ることができる。次に、この実施の形態に係る光源の保護装置について説明する。
【００２６】
図５は、この実施の形態に係る光源の保護装置を示す説明図である。この実施の形態に係る光源の保護制御は、この実施の形態に係る光源の保護装置３０によって実現できる。図５に示すように、光源の保護装置３０は、処理部３０ｐと、記憶部３０ｍと、入力部３５及び出力部３６とから構成される。
【００２７】
光源の保護装置３０の処理部３０ｐは、温度比較部３１と、駆動電流比較部３２と、保護温度変更部３３とを含んで構成される。これらが、この実施の形態に係る光源の保護を実行する部分となる。処理部３０ｐは、例えば、メモリ及びＣＰＵにより構成されている。この実施の形態に係る光源の保護制御においては、入力部３５へ入力されるデータに基づいて、処理部３０ｐがこの実施の形態に係る光源の保護制御を実行するコンピュータプログラムを、処理部３０ｐに組み込まれたメモリに読み込んで演算する。その際に、処理部３０ｐは、適宜記憶部３０ｍへ演算途中の数値を格納し、また格納した数値を取り出して演算を進める。なお、この処理部３０ｐは、前記コンピュータプログラムの代わりに専用のハードウェアを用いて、温度比較部３１、駆動電流比較部３２及び保護温度変更部３３の機能を実現するものであってもよい。
【００２８】
処理部３０ｐと、記憶部３０ｍとは、入力部３５及び出力部３６を介して接続される。これにより、光源の保護装置３０の処理部３０ｐを構成する温度比較部３１と駆動電流比較部３２と保護温度変更部３３とは、相互に制御データをやり取りしたり、一方に命令を出したりできるように構成される。
【００２９】
入力部３５には、ＬＤの駆動電流検出回路２２や、温度センサ２１により測定したＬＤの周囲温度（光源周囲温度）を取り込んで、電気信号に変換するＬＤ周囲温度検出回路２５等が接続されている。これにより、処理部３０ｐは、この実施の形態に係る光源の保護制御に必要な情報を取得することができる。出力部３６には、ＬＤ２０の動作を制御するＬＤ制御回路２６が接続されている。これにより、処理部３０ｐは、ＬＤ２０の動作を制御することができる。
【００３０】
記憶部３０ｍには、この実施の形態に係る光源の保護制御の処理手順を含むコンピュータプログラム等が格納されている。ここで、記憶部３０ｍは、ＲＡＭ（Random Access Memory）のような揮発性のメモリ、フラッシュメモリ等の不揮発性のメモリ、あるいはこれらの組み合わせにより構成することができる。
【００３１】
上記コンピュータプログラムは、ＣＰＵ３０ｐへすでに記録されているコンピュータプログラムとの組み合わせによって、この実施の形態に係る光源の保護制御の処理手順を実現できるものであってもよい。また、この光源の保護装置３０は、前記コンピュータプログラムの代わりに専用のハードウェアを用いて、温度比較部３１、駆動電流比較部３２及び保護温度変更部３３の機能を実現するものであってもよい。次に、この実施の形態に係る光源の保護制御について説明する。なお、次の説明においては、適宜図４、５を参照されたい。
【００３２】
図６は、この実施の形態に係る光源の保護制御の手順を示すフローチャートである。この実施の形態に係る光源の保護制御を実行するにあたって、保護温度Ｔｐは、予め設定した最小保護温度Ｔｐｍｉｎに設定され（ステップＳ１０１）、光源の保護装置３０が備える記憶部３０ｍ内に格納されている。最小保護温度Ｔｐｍｉｎは、例えば、ディスク装置１の光源として要求されるＬＤの要求最低寿命θ3を保証する温度とする。次に、温度比較部３１は、ＬＤ周囲温度検出回路２５を介して温度センサ２１の出力を取得することにより、ＬＤ２０の周囲温度Ｔａを測定する（ステップＳ１０２）。そして、温度比較部３１は、前記周囲温度Ｔａと、保護温度Ｔｐとを比較する（ステップＳ１０３）。
【００３３】
前記比較の結果、周囲温度Ｔａが保護温度Ｔｐよりも低い場合（ステップＳ１０３；Ｎｏ）、温度比較部３１は、ＬＤ２０の周囲温度Ｔａの監視を継続する。周囲温度Ｔａが保護温度Ｔｐ以上である場合（ステップＳ１０３；Ｙｅｓ）、駆動電流比較部３２は、ＬＤの駆動電流検出回路２２から、光源であるＬＤ２０のＬＤの駆動電流値Ｉｏｐを取得する。そして、ＬＤの駆動電流値Ｉｏｐと、最大駆動電流値Ｉｏｐ＿ｍａｘとを比較する（ステップＳ１０５）。ここで、最大駆動電流値Ｉｏｐ＿ｍａｘは、例えば、ディスク装置１の光源として要求されるＬＤの要求最低寿命θ3を保証する駆動電流値とする。
【００３４】
前記比較の結果、ＬＤの駆動電流値Ｉｏｐが最大駆動電流値Ｉｏｐ＿ｍａｘ以上である場合（ステップＳ１０４；Ｙｅｓ）、駆動電流比較部３２は、光源の保護動作を実行する（ステップＳ１０７）。このように、駆動電流比較部３２は、光源であるＬＤ２０の保護機能を備える。周囲温度Ｔａが保護温度Ｔｐ以上であり（ステップＳ１０３；Ｙｅｓ）、かつＬＤの駆動電流値Ｉｏｐが最大駆動電流値Ｉｏｐ＿ｍａｘ以上である場合（ステップＳ１０４；Ｙｅｓ）、このままＬＤ２０の動作を継続すると、ＬＤ２０の寿命を短くしてしまうからである。光源の保護動作には、例えば、ＬＤ２０の動作を停止したり、ＬＤ２０のＬＤの駆動電流値を低減したりするものがある。
【００３５】
ここで、周囲温度Ｔａが保護温度Ｔｐ以上であり（ステップＳ１０３；Ｙｅｓ）、かつＬＤの駆動電流値Ｉｏｐが最大駆動電流値Ｉｏｐ＿ｍａｘ以上である場合（ステップＳ１０４；Ｙｅｓ）、ＬＤ２０の寿命は急激に短くなるおそれがある。このため、光源の保護動作を実行するとともに、保護温度Ｔｐの設定値を、それまでの設定値よりも低くしてもよい。例えば、それまでの保護温度Ｔｐの設定値から保護温度減少分ΔＴ２を減じた値（Ｔｐ−ΔＴ２）を、新たな保護温度Ｔｐとする。これにより、それまでよりも低い周囲温度で光源の保護動作を実行するので、ＬＤ２０の寿命低下を抑制できる。
【００３６】
ＬＤの駆動電流値Ｉｏｐが最大駆動電流値Ｉｏｐ＿ｍａｘよりも小さい場合（ステップＳ１０４；Ｎｏ）、保護温度変更部３３は、保護温度Ｔｐの設定値を、それまでの設定値よりも高くする。このため、それまでの保護温度Ｔｐの設定値に、保護温度増加分ΔＴ１を加算した値（Ｔｐ＋ΔＴ１）を新たな保護温度Ｔｐの設定値とする（ステップＳ１０５）。ＬＤの駆動電流値Ｉｏｐが最大駆動電流値Ｉｏｐ＿ｍａｘよりも小さい場合（ステップＳ１０４；Ｎｏ）、このＬＤは、現状の保護温度Ｔｐよりも高い周囲温度で動作させても、上述した要求最低寿命θ3を満たすからである。
【００３７】
前記保護温度増加分ΔＴ１は、実験や解析によって予め定めることができる。また、測定したＬＤ２０のＬＤの駆動電流値Ｉｏｐと、最大駆動電流値Ｉｏｐ＿ｍａｘとの差に基づいて、前記保護温度増加分ΔＴ１を決定してもよい。例えば、ＬＤの駆動電流値Ｉｏｐと、最大駆動電流値Ｉｏｐ＿ｍａｘとの差の絶対値｜Ｉｏｐ−Ｉｏｐ＿ｍａｘ｜が大きくなる程、保護温度増加分ΔＴ１を大きくする。
【００３８】
次に保護温度変更部３３は、新たに設定した保護温度Ｔｐの設定値が、予め定めた保護温度最大値Ｔｐ＿ｍａｘよりも大きいか否かを判定する（ステップＳ１０６）。これは、新たに設定した保護温度Ｔｐの設定値に上限値を設け、過度に高い周囲温度の下ではＬＤ２０を動作させないようにして、ディスク装置１全体の過熱等を防止するためである。新たに設定した保護温度Ｔｐの設定値が、予め定めた保護温度最大値Ｔｐ＿ｍａｘ以下である場合（ステップＳ１０６；Ｎｏ）、温度比較部３１は、ＬＤ２０の周囲温度Ｔａの監視を継続する。
【００３９】
新たに設定した保護温度Ｔｐの設定値が、予め定めた保護温度最大値Ｔｐ＿ｍａｘよりも大きい場合（ステップＳ１０６；Ｙｅｓ）、温度比較部３１は、新たに設定する保護温度Ｔｐの設定値を、予め定めた保護温度最大値Ｔｐ＿ｍａｘとする（ステップＳ１０８）。これにより、保護温度Ｔｐが際限なく上昇することを防止して、ディスク装置１を安全に動作させることができる。このように、変更される保護温度Ｔｐの設定値は、予め定めた保護温度最大値Ｔｐ＿ｍａｘ以下の値となる。
【００４０】
以上、この実施の形態に係る光源の保護方法は、光源であるレーザーダイオードの動作中に測定した前記レーザーダイオードの周囲温度と、前記レーザーダイオードを保護するための予め設定した保護温度とを比較する温度比較手順と、前記レーザーダイオードを駆動するための駆動電流値と、予め設定した最大駆動電流値とを比較する駆動電流比較手順と、前記周囲温度が前記保護温度以上である場合に前記駆動電流値の比較結果に基づいて前記保護温度の設定値を変更する保護温度変更手順とを含む。これによって、寿命に余裕のあるレーザーダイオードは、保護温度をより高く設定できるので、要求される寿命を満足しつつ、使用温度条件の厳しい環境化でも光源の保護動作による動作制限の頻度を低減できる。その結果、寿命に余裕のあるレーザーダイオードは、より高い温度まで動作制限なく動作を続けることができる。
【００４１】
また、この実施の形態に係る光源の保護装置は、光源であるレーザーダイオードの動作中に測定した前記レーザーダイオードの周囲温度と、前記レーザーダイオードを保護するための予め設定した保護温度とを比較する温度比較部と、前記レーザーダイオードを駆動するための駆動電流値と予め設定した最大駆動電流値とを比較する駆動電流比較部と、前記周囲温度が前記保護温度以上である場合に前記駆動電流値の比較結果に基づいて前記保護温度の設定値を変更する保護温度変更部とを含む。これによって、寿命に余裕のあるレーザーダイオードは、保護温度をより高く設定できるので、要求される寿命を満足しつつ、使用温度条件の厳しい環境化でも光源の保護動作による動作制限の頻度を低減できる。その結果、寿命に余裕のあるレーザーダイオードは、より高い温度まで動作制限なく動作を続けることができる。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】この実施の形態に係るディスク装置を示す平面図である。
【図２】この実施の形態に係るディスク装置が備えるピックアップの光学系を示す斜視図である。
【図３】ＬＤの駆動電流値とＬＤの寿命との関係、及びＬＤの駆動電流値と発生頻度との関係を示す説明図である。
【図４】ＬＤの駆動電流検出回路を示す概略図である。
【図５】この実施の形態に係る光源の保護装置を示す説明図である。
【図６】この実施の形態に係る光源の保護制御の手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００４３】
１  ディスク装置
２  ピックアップ
２Ｌ  光学系
２Ｃ  光学系ケース
１２  ミラー
１３  合成プリズム
１４  ハーフミラー
１５  対物レンズ
１６ａ、１６ｂ  集光レンズ
１７  受光素子
２０、２０ａ、２０ｂ  レーザーダイオード（ＬＤ）
２１  温度センサ
２２  駆動電流検出回路
２３  抵抗
２４  オペアンプ
２５  周囲温度検出回路
２６  制御回路
３０  保護装置
３０ｍ  記憶部
３０ｐ  処理部
３１  温度比較部
３２  駆動電流比較部
３３  保護温度変更部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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