(57)【要約】【課題】焼き付き現象の補正のために画質が大幅に低下する問題がある。【解決手段】焼き付き現象の補正方法として、自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する処理と、算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する処理と、入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理と、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示する処理と、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する処理と、算出された補正量で対応する入力信号を補正する処理とを有するものを提案する。【選択図】図１
2006201630.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を、自発光装置の使用状態のまま補正する方法であって、
自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する処理と、
算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
前記入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理と、
累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示する処理と、
累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する処理と、
算出された補正量で対応する入力信号を補正する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項２】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
次の発光期間に対応する前記入力信号によって、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理は、
更新前の累積劣化量差と更新後の累積劣化量差とを比較する処理と、
更新後の累積劣化量差の方が小さい場合、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新後の累積劣化量差の方が大きい場合又は更新前後の累積劣化量差が同じ場合、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項３】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
次の発光期間に対応する前記入力信号によって、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理は、
更新前の累積劣化量差が正値か負値かを判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が正値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値が基準画素の入力信号値と同じか大きいとき、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が正値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値が基準画素の入力信号値より小さいとき、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が負値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値が基準画素の入力信号値より大きいとき、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が負値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値が基準画素の入力信号値と同じか小さいとき、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と、
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項４】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
次の発光期間に対応する前記入力信号によって、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理は、
更新前の累積劣化量差が正値か負値かを判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が正値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値から導出される劣化率が基準画素の入力信号値から導出される劣化率と同じか大きいとき、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が正値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値から導出される劣化率が基準画素の入力信号値から導出される劣化率より小さいとき、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が負値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値から導出される劣化率が基準画素の入力信号値から導出される劣化率より大きいとき、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定する処理と、
更新前の累積劣化量差が負値であると判定された場合に、補正対象画素の入力信号値から導出される劣化率が基準画素の入力信号値から導出される劣化率と同じか小さいとき、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定する処理と、
を有することを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項５】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記基準画素は、同色で発光する複数の自発光素子毎に設定される
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項６】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記基準画素は、補正量の算出用に仮想的に設定された画素である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項７】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記入力信号は、輝度を指定する階調値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項８】
請求項１に記載の焼き付き現象補正方法において、
前記入力信号は、自発光素子に印加される駆動電流値である
ことを特徴とする焼き付き現象補正方法。
【請求項９】
複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置であって、
自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する劣化量差算出部と、
算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する累積劣化量差算出部と、
前記入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する更新方向判定部と、
累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示し、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する補正動作指示部と、
決定された補正量で対応する入力信号を補正する劣化量差補正部と
を有することを特徴とする自発光装置。
【請求項１０】
複数の自発光素子が基体上にマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象補正装置であって、
自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する劣化量差算出部と、
算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する累積劣化量差算出部と、
前記入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する更新方向判定部と、
累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示し、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する補正動作指示部と、
決定された補正量で対応する入力信号を補正する劣化量差補正部と
を有することを特徴とする焼き付き現象補正装置。
【請求項１１】
複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置に搭載したコンピュータに、
自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する処理と、
算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
前記入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理と、
累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示する処理と、
累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する処理と、
算出された補正量で対応する入力信号を補正する処理と
を実行させることを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
発明の一つの形態は、自発光装置に発生する焼き付き現象の補正方法に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置に関する。また、発明の一つの形態は、焼き付き現象補正装置を搭載した自発光装置に関する。また、発明の一つの形態は、自発光装置に搭載されたコンピュータに焼き付き補正機能を実行させるプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
フラットパネルディスプレイは、コンピュータディスプレイ、携帯端末、テレビなどの製品で広く普及している。現在、主には液晶ディスプレイパネルが多く採用されているが、依然、視野角の狭さや応答速度の遅さが指摘され続けている。
一方、自発光素子で形成された有機ＥＬディスプレイは、前述した視野角や応答性の課題を克服できるのに加え、バックライト不要の薄い形態、高輝度、高コントラストを達成できる。このため、液晶ディスプレイに代わる次世代表示装置として期待されている。
【０００３】
ところで、有機ＥＬ素子その他の自発光素子は、その発光量と時間に比例して劣化する特性があることは一般的にも知られている。
一方で、ディスプレイに表示される画像の内容は一様ではない。このため、自発光素子の劣化が部分的に進行し易い。例えば時刻表示領域（固定表示領域）の自発光素子は、他の表示領域（動画表示領域）の自発光素子に比べて劣化の進行が速い。
劣化が進行した自発光素子の輝度は、他の表示領域の輝度に比して相対的に低下する。一般に、この現象は“焼き付き”と呼ばれる。以下、部分的な自発光素子の劣化を“焼き付き”と表記する。
【０００４】
現在、“焼き付き”現象の改善策として様々な手法が検討されている。例えば、以下のような処理技術が開示されている。
【特許文献１】特開２００３−２２８３２９号公報  この文献には、表示パネルを構成する各画素に対する入力データを一定周期で画素毎に積算し、それらの最大値から各画素の積算値を減算して各画素についての補正量を設定する方法が開示されている。また、非使用状態において補正量の大きさに比例する時間だけ各画素を一定輝度で発光することで各画素の表示特性を揃える方法が開示されている。すなわち、補正専用のパターンを表示して各画素の表示特性を揃える方法が開示されている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
確かに、補正専用のパターンを表示する方法は、焼き付き現象の改善に効果的である。
しかし、この方法は、入力画像を全く無視した補正方法である。このため、補正動作の実行が非使用状態時に限られる問題がある。また、非使用状態が補正に十分な期間存在しなかった場合、焼き付き現象の補正残りが発生する可能性がある。また、焼き付き現象の補正のためだけに電力を消費する問題がある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
発明者らは、以上の技術的課題に着目し、以下の技術手法を提案する。
すなわち、複数の自発光素子がマトリクス状に配置された自発光装置の焼き付き現象を、自発光装置の使用状態のまま補正する方法として、
（ａ）自発光素子の駆動条件に関する入力信号に基づいて、補正対象画素と基準画素との間に発生する劣化量差を逐次算出する処理と、
（ｂ）算出された劣化量差を補正対象画素毎に累積加算し、各補正対象画素についての累積劣化量差を算出する処理と、
（ｃ）入力信号による自発光素子の発光により、累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理と、
（ｄ）累積劣化量差の大きさが縮小する方向に更新されると判定された場合、対応する入力信号に対する補正動作の実行停止を指示する処理と、
（ｅ）累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新されると判定された場合、累積劣化量差の大きさが縮小する補正量の算出を指示する処理と、
（ｆ）算出された補正量で対応する入力信号を補正する処理と
を有するものを提案する。
なお、自発光装置は、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＣＲＴ（cathode ray tube）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、プロジェクターを含むものとする。
【発明の効果】
【０００７】
発明に係る方法は、累積劣化量差の大きさが拡大する方向に更新される場合には対応する入力信号を補正し、累積劣化量差の大きさが縮小される方向に更新する場合には対応する入力信号に対する補正を停止する。
すなわち、焼き付き現象を改善できる画素はそのまま表示し、焼き付き現象が改善しない画素は補正したものを表示する。
この結果、自発光装置の使用中も、原画像の画質をある程度維持したまま、自発光装置の焼き付き現象を改善できる。
また、自発光装置を使用状態のまま焼き付き現象を補正できるため、非使用状態の期間不足を原因とする補正残りの発生を無くすことができる。
また、焼き付き補正のためだけに非使用状態中に電力が消費される事態を無くすことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
以下、発明に係る技術手法を採用する焼き付き現象補正技術の実施形態例を説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。
また以下に説明する実施形態は、発明の一つの実施形態であって、これらに限定されるものではない。
【０００９】
（Ａ）形態例１
（ａ）焼き付き現象補正装置の構成
図１に、焼き付き現象補正装置（以下、「補正装置」という。）の構成例を示す。
なお、以下に示す補正処理は、同色で発光する画素について実行されるものとする。なお、発光色は、一般に赤、青、緑の三色をいう。もっとも、白色光源を使用する場合には白をいう。
また、入力信号には、輝度を指定する階調値、自発光素子に印加される駆動電流値その他の自発光素子の駆動条件に関する信号が与えられるものとする。
【００１０】
補正装置１は、劣化量差算出部３、累積劣化量差算出部５、補正効果予測部７、累積劣化量差蓄積部９、補正動作選択部１１、補正量決定部１３、劣化量差補正部１５を主要な構成要素とする。
劣化量差算出部３は、補正処理前の入力信号に基づいて各画素（補正対象画素）と基準画素との劣化量差ΔＲを算出する処理デバイスである。劣化量差ΔＲの算出には、任意の手法を適用できる。例えば、補正対象画素に対応する入力信号値と基準画素に対応する入力信号値との差分を算出する方法を適用できる。
【００１１】
この形態例の場合、補正対象画素の劣化が基準画素に対して進んでいる場合、劣化量差ΔＲはプラスで表現されるものとする。反対に、補正対象画素の劣化が基準画素に対して遅れている場合、劣化量差ΔＲはマイナスで表現されるものとする。算出された劣化量差ΔＲは、劣化量差算出部３から累積劣化量差算出部５に与えられる。
なお、基準画素は、自発光装置を構成する実在の画素でも良いし、仮想的な画素として設定しても良い。実在の画素には、例えば累積劣化量が最大の画素、累積劣化量が最小の画素を適用する。また、仮想の画素には、例えば累積劣化量の平均値を与える画素を適用する。
【００１２】
累積劣化量差算出部５は、画素毎の累積劣化量差ΣΔＲを算出する処理デバイスである。累積劣化量差算出部５は、入力信号に基づいて算出された劣化量差を加算情報として扱う。一方、累積劣化量差算出部５は、補正効果予測部７から与えられる劣化量差（補正効果）を減算情報として扱う。累積劣化量差算出部５は、劣化量差ΔＲの加算又は減算により累積劣化量差ΣΔＲの更新処理を実行する。
補正効果予測部７は、補正量決定部１３で決定された補正量の補正効果を予測する処理デバイスである。補正効果は劣化量差ΔＲとして予測される。補正効果予測部７は、補正効果を累積劣化量差ΣΔＲに反映させるために設けられている。
【００１３】
累積劣化量差蓄積部９は、算出された累積劣化量差ΣΔＲを保存する記憶デバイスである。なお、保存される累積劣化量差ΣΔＲは、累積劣化量差算出部５によって逐次更新される。すなわち、累積劣化量差ΣΔＲは累積劣化量差算出部５に読み出され、前述した加減算処理により逐次更新される。
補正動作選択部１１は、次回発光期間の入力信号によって累積劣化量差ΣΔＲの大きさが縮小する方向に更新されるか、それとも拡大する方向に更新されるかを判定する処理デバイスである。
【００１４】
この形態例の場合、補正動作選択部１１は、次回発光期間の入力信号による更新後の累積劣化量差ΣΔＲＡとその更新前の累積劣化量差ΣΔＲＢとを比較し、その大小関係によって累積劣化量差ΣΔＲの更新方向を判定する。
更新前の累積劣化量差ΣΔＲＢは、累積劣化量差蓄積部９から補正動作選択部１１に読み出される。また、更新後の累積劣化量差ΣΔＲＡは、累積劣化量差算出部５から補正動作選択部１１に読み出される。
補正動作選択部１１は、更新後の累積劣化量差ΣΔＲＡ≧更新前の累積劣化量差ΣΔＲＢのとき、累積劣化量差が拡大する方向に更新されると判定し、更新後の累積劣化量差ΣΔＲＡ＜更新前の累積劣化量差ΣΔＲＢのとき、累積劣化量差が縮小する方向に更新されると判定する。
図２に、この判定条件と補正動作の関係を示す。この補正動作選択部１１が、請求項における更新方向判定部と補正動作指示部に対応する機能を実行する。
【００１５】
補正量決定部１３は、入力信号に対する補正量を画素毎に決定する処理デバイスである。補正量決定部１３は、累積劣化量差がある期間内に解消される方向で補正量を決定する。補正量の演算手法は任意である。
なお、決定された補正量は、補正効果予測部７と劣化量差補正部１５に与えられる。
劣化量差補正部１５は、与えられた補正量によって入力信号を補正する処理デバイスである。補正後の入力信号は、自発光素子が配列された表示パネルの駆動信号として出力される。ここでの補正処理は、補正量の加減算の他、入力信号のゲインの増減、補正量との置換などにより実現する。
【００１６】
（ｂ）焼き付き補正処理例
図３に、補正装置１で実行される一連の処理動作を示す。
次発光期間の入力信号が入力される度、補正動作選択部１１が、前発光期間の累積劣化量差ΣΔＲＢを確認する（Ｓ１）。
これと並行して、次発光期間の入力信号について、劣化量差算出部３が補正対象画素と基準画素の劣化量差を算出する。この後、劣化量差算出部３は、前発光期間に算出された累積劣化量差に新たに算出された劣化量差を加算し、次発光期間に対応する累積劣化量差ΣΔＲＡを算出する。
この累積劣化量差ΣΔＲＡは、補正動作選択部１１において確認される（Ｓ２）。
【００１７】
更新前後の累積劣化量差が確認されると、補正動作選択部１１は、次発光期間の累積劣化量差ΣΔＲＡが前発光期間の累積劣化量差ΣΔＲＢより小さいか否かが判定される（Ｓ３）。この判定処理は補正対象画素ごとに実行される。
ここで肯定結果が得られた場合、補正動作選択部１１は、補正量決定部１３に補正処理の停止を指示する（補正量をゼロに制御する指示を含む。）。劣化量差補正部１５は、次発光期間に対応する入力信号を補正せず、そのまま次発光装置に出力する（Ｓ４）。
【００１８】
一方、否定結果が得られた場合、補正動作選択部１１は、補正量決定部１３に補正処理の実行を指示する。この指示を受けて、補正量決定部１３は、累積劣化量差ΣΔＲがある期間内に補正されるように補正量を決定する。この後、劣化量差補正部１５が入力信号の補正処理を実行する（Ｓ５）。
この処理に続き、補正効果予測部７は、補正量を劣化量差に換算し、累積劣化量差算出部５に与える。累積劣化量差算出部５は、換算された劣化量差を累積劣化量差から減算し、補正効果を累積劣化量差に反映する（Ｓ６）。
【００１９】
（ｃ）形態例の効果
一連の処理の実行により、そのままでも焼き付き現象を改善できる画素については、原画像のまま自発光装置に表示できる。このため、画質の維持と焼き付き現象の補正とを同時に実行できる。
勿論、原画像をそのまま自発光装置に表示したのでは累積劣化量差が拡大する場合（焼き付き現象が目立ち易くなる場合）には、累積劣化量差が縮小するように補正動作が実行される。
ここで、補正動作の実行は、補正対象画素の入力信号値を変更することを意味する。従って、補正動作が実行された画素の画質は一般に低下する。
【００２０】
しかし、場合分けした各状態の存在確率から、自発光装置を構成する全画素が同時に補正される可能性はほとんど無い。従って、補正動作の部分的な実行によってもある程度の画質は確保される。例えば、約半分程度の画素については原画像の画質のまま表示できる。
また、使用中（画像の表示中）も焼き付き現象の補正動作が実行されるため、非使用状態での補正時間が短くて済む。すなわち、非使用状態が短くても、焼き付き補正動作を完了できる。また、非使用状態での補正期間が短く済むため、無駄な電力消費を無くすことができる。
【００２１】
（Ｂ）形態例２
（ａ）焼き付き現象補正装置の構成
続いて、補正装置の他の構成例について説明する。前述の形態例１では、累積劣化量差の更新前後の変化方向により補正処理の実行と停止を選択する場合について説明したが、この形態例では他の判定手法について説明する。
ここでは、前発光期間までに補正対象画素と基準画素のどちらがより劣化が進んでいるかと、次発光期間の入力信号値の大小関係に基づいて補正動作の実行と停止を選択する場合について説明する。
この形態例では、前発光期間までに生じた劣化の関係を、累積劣化量差の符号（正値／負値）により判定するものとして説明する。
【００２２】
図４に、この方式を採用する補正装置の構成例を示す。
補正装置２１は、劣化量差算出部３、累積劣化量差算出部５、補正効果予測部７、累積劣化量差蓄積部９、補正動作選択部２３、補正量決定部１３、劣化量差補正部１５を主要な構成要素とする。
図１との対応部分には同一符号を付して示すように、形態例１との違いは補正動作選択部２３のみである。従って、形態例１と同じ構成部分についての説明は省略する。
補正動作選択部２３は、入力信号値と累積劣化量差ΣΔＲに基づいて補正動作の実行と停止を選択する処理デバイスである。
補正動作選択部２３は、累積劣化量差ΣΔＲの符号が正値か負値かにより、補正対象画素と基準画素のいずれの劣化が進んでいるかを最初に判定する。
【００２３】
次に、次発光期間の入力信号値の大小関係により累積劣化量差の変更方向を判断する。
例えば、基準画素に対する補正対象画素の累積劣化量差が正の場合に（補正対象画素の方が相対的に劣化していることを意味する。）、補正対象画素についての入力信号値の方が基準画素についての入力信号値よりも小さいとき、補正動作選択部２３は、累積劣化量差が自然に縮小されると判断する。すなわち、焼き付き現象が自然に改善される入力信号値であると判断する。
また例えば、基準画素に対する補正対象画素の累積劣化量差が正の場合に、補正対象画素と基準画素の入力信号値が同じか、補正対象画素についての入力信号値の方が基準画素についての入力信号値よりも大きいとき、補正動作選択部２３は、累積劣化量差が縮小されないと判断する。すなわち、補正処理が必要であると判断する。このとき、補正対象画素に対応する入力信号値は、基準画素に対応する入力信号値よりも小さくなるように補正量が決定される。
【００２４】
また例えば、基準画素に対する補正対象画素の累積劣化量差が負の場合に（基準画素の方が相対的に劣化していることを意味する。）、補正対象画素についての入力信号値の方が基準画素についての入力信号値よりも大きいとき、補正動作選択部２３は、累積劣化量差が自然に縮小されると判断する。すなわち、焼き付き現象が自然に改善される入力信号値であると判断する。
また例えば、基準画素に対する補正対象画素の累積劣化量差が負の場合に、補正対象画素と基準画素の入力信号値が同じか、補正対象画素についての入力信号値の方が基準画素についての入力信号値よりも小さいとき、補正動作選択部２３は、累積劣化量差が縮小されないと判断する。すなわち、補正処理が必要であると判断する。このとき、補正対象画素に対応する入力信号値は、基準画素に対応する入力信号値よりも大きくなるように補正量が決定される。
図５に、この判定動作と補正動作の関係を示す。やはり、この補正動作選択部２３が、請求項における更新方向判定部と補正動作指示部に対応する機能を実行する。
【００２５】
（ｂ）焼き付き補正処理例
図６に、補正装置２１で実行される一連の処理動作を示す。
次発光期間の入力信号が入力される度、補正動作選択部２３が、前発光期間の累積劣化量差ΣΔＲＢを確認する（Ｓ１１）。
また、補正動作選択部２３は、次発光期間の入力信号値を、補正対象画素と基準画素のそれぞれについて確認する（Ｓ１２）。
次に、補正動作選択部２３は、前発光期間の累積劣化量差ΣΔＲＢが非ゼロか否かを判定する（Ｓ１３）。
このステップＳ１３で否定結果が得られたとき（すなわち、累積劣化量差ΣΔＲＢ＝０のとき）、補正動作選択部２３は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する（Ｓ１４）。
【００２６】
これに対し、肯定結果が得られたとき、補正動作選択部２３は、累積劣化量差ΣΔＲＢが負か否かを判定する（Ｓ１５）。
なお、ステップＳ１５で肯定結果が得られた場合、補正動作選択部２３は、補正対象画素の入力信号値が基準画素以下か否か判定する（Ｓ１６）。
このステップＳ１６で否定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲＡが縮小されることを意味する。従って、補正動作選択部２３は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する（Ｓ１４）。
一方、ステップＳ１６で肯定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲＡが拡大されることを意味する。従って、補正動作選択部２３は、累積劣化量差ΣΔＲＡが縮小されるように補正対象画素の入力信号値が基準画素より大きい値に変更されるように補正処理の実行を指示する（Ｓ１７）。そして、算出された補正量により入力信号の補正が実行される。
【００２７】
また、ステップＳ１５で否定結果が得られた場合、補正動作選択部２３は、補正対象画素の入力信号値が基準画素以上か否か判定する（Ｓ１８）。
このステップＳ１８で否定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲ１が縮小されることを意味する。従って、補正動作選択部２３は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する（Ｓ１４）。
一方、ステップＳ１８で肯定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲ１が拡大されることを意味する。従って、補正動作選択部２３は、累積劣化量差ΣΔＲ１が縮小されるように補正対象画素の入力信号値が基準画素より小さい値に変更されるように補正処理の実行を指示する（Ｓ１９）。そして、算出された補正量により入力信号の補正が実行される。
この後、補正効果予測部７は、補正量を劣化量差に換算し、累積劣化量差算出部５に与える。累積劣化量差算出部５は、換算された劣化量差を累積劣化量差から減算し、補正効果を累積劣化量差に反映する（Ｓ２０）。
【００２８】
（ｃ）形態例の効果
このような処理方法を採用する場合にも、そのままでも焼き付き現象を改善できる画像（又は画素）については、原画像のまま自発光装置に表示できる。このため、画質の維持と焼き付き現象の補正とを同時に実行できる。
勿論、原画像をそのまま自発光装置に表示したのでは累積劣化量差が拡大する（焼き付き現象が目立ち易くなる）場合には、累積劣化量差が縮小するように補正動作が実行される。
また、使用中（画像の表示中）も焼き付き現象の補正動作が実行されるため、非使用状態での補正時間が短くて済む。すなわち、非使用状態が短くても、焼き付き補正動作を完了できる。また、非使用状態での補正期間が短く済むため、無駄な電力消費を無くすことができる。
【００２９】
（Ｃ）形態例３
（ａ）焼き付き現象補正装置の構成
この形態例では、劣化量差の算出に劣化率を用いる場合について補正処理の選択動作を説明する。
劣化率とは、発光量の低下を単位時間当たりに換算した値をいい、発光特性の実測値より求められる。例えば、個々の階調値による発光がある期間継続した場合に実測された輝度の低下量を単位時間当たりに換算した値として与えられる。
なお、劣化率（単位時間あたりの劣化比率）は、各画素の発光輝度（例えば、駆動電流量）やその時の発熱温度が影響する特性がある。
これは、発光特性の劣化が、入力信号値に比例して進行しない場合に非常に有効な処理手法であり、発明者らが提案する算出手法である。
【００３０】
（ａ）焼き付き現象補正装置の構成
図７に、補正装置の他の形態例を示す。図７に示す補正装置３１は、階調値−劣化率変換テーブル３３、劣化量差算出部３５、累積劣化量差算出部５、補正効果予測部７、累積劣化量差蓄積部９、補正動作選択部３７、補正量決定部３９、劣化量差補正部１５を主要な構成要素とする。
（ａ−１）階調値−劣化率変換テーブル
このうち、階調値−劣化率変換テーブル３３、劣化量差算出部３５、補正動作選択部３７の３つがこの形態例に特有の構成要素である。以下では、これらの構成要素を主に説明する。なお、他の構成は形態例１と同じであるため説明を省略する。
【００３１】
階調値−劣化率変換テーブル３３（以下、「変換テーブル３３」という。）は、入力信号が階調値で与えられる場合に、これを劣化率に変換するためのルックアップテーブルである。
ここで、テーブル情報は、事前の実験で取得された階調値と劣化率の対応関係に基づいて設定する。発明者らは、テーブル情報を決める実験例として以下の手法を一例として提案する。例えば、ある固定の階調値で自発光デバイスを一定期間点灯し、その際に実測される輝度が最大階調値（８ビットの場合は２５５）の初期輝度に対してどれだけ低下しているかを実測する作業（すなわち、輝度低下率）を全ての階調値について繰り返す。
なお、階調数が多い場合には、適当な階調値をサンプリングし、その結果から得られる関係式を利用して算出するという方法も考えられる。
【００３２】
図８は、この階調値と劣化率との対応関係を表している。例えば、階調値“ｎ”に対応する劣化率を“Ｘｎ
”として表している。なお、図８は８ビットの場合であるので、ｎは０〜２５５までの値として与えられる。
図９に、具体例を示す。この例の場合、大階調値（２５５）の劣化率は０．０３％であり、中間階調値（１２７）の劣化率は０．０１％である。また、発光期間が１の場合の劣化量は、それぞれ３００×１０-4％と１００×１０-4％である。
なお、この変換テーブルは、階調値から劣化率を読み出すことも、劣化率から階調値を読み出すことも可能である。
【００３３】
（ａ−２）劣化量差算出部
劣化量算出部３５は、各画素に対応する入力信号値（階調値）から各発光期間の劣化量を算出する処理デバイスである。
劣化量算出部３５は、階調値に対応する劣化率を階調値−劣化率変換テーブル３３を参照して読み出すと共に、読み出された劣化率に発光時間ｔを乗算して導出される劣化量の差を算出する処理デバイスである。
図１０に、劣化量差算出部３５で実行される信号処理例を示す。なお、補正対象画素を画素１、基準画素を画素２として説明する。
まず、劣化量算出部３５は、画素１及び２それぞれについて、各階調値と発光期間ｔ１を検出する（Ｓ２１）。
【００３４】
次に、劣化量差算出部３５は、検出された各階調値に対応する劣化率を導出する（Ｓ２２）。ここでは、画素１に対応する劣化率をα１、画素２に対応する劣化率をα２と示す。
劣化量差算出部３５は、導出された各劣化率α１、α２に発光期間ｔ１を乗算し、画素１の劣化量Ｒ（α１）と、画素２の劣化量Ｒ（α２）を算出する（Ｓ２３）。
この後、劣化量差算出部３５は、Ｒ（α１）−Ｒ（α２）で与えられる演算処理を実行し、画素１と画素２の２画素間における劣化量差ΔＲを算出する（Ｓ２４）。
このように算出された劣化量差ΔＲが累積劣化量差算出部５に与えられ、累積劣化量差ΣΔＲの更新に用いられる。
【００３５】
（ａ−３）補正動作選択部
補正動作選択部３７は、前発光期間までの累積劣化量差ΔＲと次発光期間の階調値に対応する劣化率α１、α２に基づいて補正動作の実行と停止を選択する処理デバイスである。
まず、補正動作の実行と停止の判断基準を与える補正条件を説明する。
図１１及び図１２に、補正動作の選択原理を説明する。図１０の場合と同様に、補正対象画素を画素１、基準画素を画素２として説明する。また、現在の発光期間をｔ１、次の発光期間をｔ２として説明する。なお、以下に示す条件を満たす場合、発光期間ｔ２は、発光期間ｔ１までに発生した累積劣化量差を補正する期間となる。
【００３６】
以下では、発光期間ｔ１及びｔ２が任意の長さであるとして説明する。もっとも、ｔ１とｔ２は同じ１フレーム期間でも良い。ここでも、画素１に対応する劣化率をα１、画素２に対応する劣化率をα２とする。
この場合、画素１の発光期間ｔ１における劣化量Ｒ（α１）は、α１×ｔ１で与えられ、画素２の発光期間ｔ１における劣化量Ｒ（α２）は、α２×ｔ２で与えられる。従って、画素２に対する画素１の劣化量差ΔＲ１は、Ｒ（α１）−Ｒ（α２）（＝（α１−α２）×ｔ１）で与えられる。
【００３７】
図１１に、発光期間ｔ１の劣化率α１がα２より大きい場合（すなわち、画素１の劣化が画素２より進んでいる場合）の特性変化を示す。この場合、劣化量差ΔＲ１は正値となる。なお、図１１は、発光期間ｔ１の開始時において画素１と画素２の劣化量が同じであるものとして表している。
図１２に、発光期間ｔ１の劣化率α１がα２より小さい場合（すなわち、画素１の劣化が画素２より遅れている場合）の特性変化を示す。この場合、劣化量差ΔＲ１は負値となる。この図１２も、発光期間ｔ１の開始時において画素１と画素２の劣化量が同じであるものとして表している。
【００３８】
発光期間ｔ２の劣化量差ΔＲ２も同様に表すことができる。すなわち、ΔＲ２は、画素１に対応する劣化率β１と画素２に対応する劣化率β２を用い、Ｒ（β１）−Ｒ（β２）（＝（β１−β２）×ｔ２）で表すことができる。
図１１及び図１２から分かるように、焼き付き現象を改善するには、その原因である劣化量差が小さくなるように更新されること、すなわち、｜ΔＲ１｜よりも｜ΔＲ１＋ΔＲ２｜の方が小さくなるように更新されることが必要である。
この条件は、｜ΔＲ１｜＞｜ΔＲ１＋ΔＲ２｜で与えられる。
この条件式を満たせば、補正動作を特に実行しなくても原画像をそのまま表示するだけで画素間の劣化量差を縮小することができる。
従って、補正動作の実行と停止の選択は、この条件式を満たすか否かで判定できる。
【００３９】
以下では、補正動作選択部３７で実行される処理動作の具体例を示す。
まず、補正動作選択部３７は、現発光期間（この場合は、発光期間ｔ１）での補正対象画素の累積劣化量差ΣΔＲＢが正値か負値か判定する。すなわち、補正対象画素の劣化が基準画素に対して進んでいる状態か、それとも遅れている状態かを判定する。
次に、補正動作選択部３７は、次発光期間（この場合は、発光期間ｔ２）において、補正対象画素の劣化率と基準画素の劣化率との大小関係を判定する。
例えば、累積劣化量差が正値の場合に、補正対象画素の劣化率β１が基準画素β２の劣化率より低ければ、劣化量差ΔＲは縮小する。
従って、補正動作選択部３７は、原画像信号のうちでこの条件を満たす画素を、画質低下を引き起こす補正動作が不要であると判断する。
【００４０】
また例えば、累積劣化量差が正値の場合に、補正対象画素の劣化率β１が基準画素β２の劣化率より大きいとき又は両階調値が同じとき、劣化量差ΔＲは拡大するか現状のままである。
この場合、補正動作選択部３７は、補正対象画素の劣化率β１を基準画素β２の劣化率より低くするように補正動作を指示する。
また例えば、累積劣化量差が負値の場合に、補正対象画素の劣化率β１が基準画素β２の劣化率より大きければ、劣化量差ΔＲは縮小する。
従って、補正動作選択部３７は、原画像信号のうちでこの条件を満たす画素を、画質低下を引き起こす補正動作が不要であると判断する。
【００４１】
また例えば、累積劣化量差が負値の場合に、補正対象画素の劣化率β１が基準画素β２の劣化率より小さいとき又は両階調値が同じとき、劣化量差ΔＲは拡大するか現状のままである。
この場合、補正動作選択部３７は、補正対象画素の劣化率β１を基準画素β２の劣化率より大きくなるように補正動作を指示する。
図１３に、この判定動作と補正動作の関係を示す。やはり、この補正動作選択部３７が、請求項における更新方向判定部と補正動作指示部に対応する機能を実行する。
【００４２】
（ａ−４）補正量決定部
補正量決定部３９は、補正動作の実行が指示されたとき、累積劣化量差蓄積部９から読み出した累積劣化量差ΣΔＲが解消されるように劣化率β１を算出する処理デバイスである。
なお、補正量決定部３９は、補正用の劣化率β１に対応する階調値（補正量）を階調値−劣化率変換テーブル３３を参照して決定する。すなわち、変換テーブルを逆引きすることにより、劣化率に対応する階調値を導出する。
導出された階調値は、補正量として劣化量差補正部１５に与えられる。
【００４３】
（ｂ）焼き付き補正処理例
図１４に、補正装置３１で実行される一連の処理動作を示す。
次発光期間の入力信号が入力される度、補正動作選択部３７が、前発光期間の累積劣化量差ΣΔＲＢを確認する（Ｓ３１）。
また、補正動作選択部３７は、次発光期間の階調値に対応する劣化率を、補正対象画素と基準画素のそれぞれについて確認する（Ｓ３２）。
次に、補正動作選択部３７は、前発光期間の累積劣化量差ΣΔＲＢが非ゼロか否かを判定する（Ｓ３３）。
このステップＳ３３で否定結果が得られたとき（すなわち、累積劣化量差ΣΔＲ１＝０のとき）、補正動作選択部３７は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する（Ｓ３４）。
【００４４】
これに対し、肯定結果が得られたとき、補正動作選択部３７は、累積劣化量差ΣΔＲ１が負か否かを判定する（Ｓ３５）。
なお、ステップＳ３５で肯定結果が得られた場合、補正動作選択部３７は、補正対象画素の劣化率β１が基準画素の劣化率β２以上か否か判定する（Ｓ３６）。
このステップＳ３６で否定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲＡが縮小されることを意味する。従って、補正動作選択部３７は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する（Ｓ３４）。
一方、ステップＳ３６で肯定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲＡが拡大されることを意味する。従って、補正動作選択部２３は、累積劣化量差ΣΔＲＡが縮小されるように補正対象画素の劣化率が基準画素より大きい値に変更されるように補正処理の実行を指示する（Ｓ３７）。そして、同劣化率について導出された補正量により入力信号の補正が実行される。
【００４５】
また、ステップＳ３５で否定結果が得られた場合、補正動作選択部２３は、補正対象画素の劣化率β１が基準画素の劣化率β２以上か否か判定する（Ｓ３８）。
このステップＳ３８で否定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲＡが縮小されることを意味する。従って、補正動作選択部３７は、入力信号をそのまま補正せずに出力するように指示する（Ｓ３４）。
一方、ステップＳ３８で肯定結果が得られれば、そのことは累積劣化量差ΣΔＲＡが拡大されることを意味する。従って、補正動作選択部３７は、累積劣化量差ΣΔＲＡが縮小されるように補正対象画素の劣化率が基準画素より小さい値に変更されるように補正処理の実行を指示する（Ｓ３９）。そして、算出された補正量により入力信号の補正が実行される。
この後、補正効果予測部７は、補正量を劣化量差に換算し、累積劣化量差算出部５に与える。累積劣化量差算出部５は、換算された劣化量差を累積劣化量差から減算し、補正効果を累積劣化量差に反映する（Ｓ４０）。
【００４６】
（Ｄ）自発光装置への搭載例
図１５に、焼き付き現象補正装置の自発光装置への搭載例を示す。
自発光装置４１は、筐体４３に焼き付き現象補正装置４５と表示デバイス４７を搭載する。
ここで、焼き付き現象補正装置４５は、前述した補正装置１、２１、３１のいずれかに対応する。焼き付き現象補正装置４５は、外部端子又は内部で発生された映像信号を入力し、補正対象画素と基準画素との間に劣化量差が発生しないように入力信号の補正動作を実行する。
【００４７】
また、表示デバイス４７は、表示デバイスとその駆動回路とで構成されるものとする。表示デバイスには、有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）パネル、ＰＤＰ（プラズマディスプレイパネル）、ＦＥＤ（電界放出ディスプレイ）パネル、ＬＥＤパネル、ＣＲＴが用いられる。
図１４の場合、自発光装置４１に、焼き付き現象の補正専用の処理デバイスである焼き付き現象補正装置４５が搭載されているものとして表しているが、当該機能がソフトウェア的に全て実行される場合には、これらの機能は自発光装置に搭載されたコンピュータにより実現される。
【００４８】
（ｃ）形態例の効果
このような処理方法を採用する場合にも、画質の維持と焼き付き現象の補正を同時に実行できる。
更に、この形態例の場合、劣化率を用いて各発光期間の劣化量を正確に算出することができる。すなわち、発光特性の劣化が入力信号値に比例して進行しない場合にも、高い精度で補正量を決定でき、焼き付き現象を無くすことができる。
勿論、使用中（画像の表示中）も焼き付き現象の補正動作が実行されるため、非使用状態での補正時間が短くて済む。また、非使用状態での補正期間が短く済むため、無駄な電力消費を無くすことができる。
【００４９】
（Ｆ）他の形態例
（ａ）前述の形態例では、発光期間ｔ１と補正期間ｔ２が任意長の場合について説明した。
しかし、発光期間ｔ１と補正期間ｔ２は同じでも良い。例えば、単位フィールド又は単位フレームでも良い。この場合、劣化量は、各入力信号値又はその換算値（例えば劣化率）で算出できる。
（ｂ）前述の形態例では、累積劣化量差ΣΔＲを保管するように補間量を決定する方法を選択した。
しかし、各発光期間に前発光期間に発生した劣化量差を解消する場合には、累積劣化量差に代えて前発光期間の劣化量差を用いる仕組みを採用すれば良い。すなわち、劣化量差を管理する仕組みを無くし得る。
【００５０】
（ｃ）前述の形態例３では、変換テーブルとして単位フレームの階調値と劣化率の対応関係を保存する場合について説明した。
しかし、複数フレームに対応する階調値の積算値と劣化率の対応関係を保存しても良い。この場合、発光期間ｔ１と補正期間ｔ２をそれぞれ複数フレームで与える場合に効果的である。
（ｄ）前述の形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される各種の変形例及び応用例も考えられる。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】焼き付き現象補正装置の形態例を示す図である。
【図２】判定条件と補正動作との関係を示す。
【図３】焼き付き補正処理例を示すフローチャートである。
【図４】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図５】判定条件と補正動作との関係を示す。
【図６】焼き付き補正処理例を示すフローチャートである。
【図７】焼き付き現象補正装置の他の形態例を示す図である。
【図８】累積劣化量−補正値変換テーブルを示す図である。
【図９】累積劣化量−補正値変換テーブルの具体例を示す図である。
【図１０】劣化量差の算出処理例を示すフローチャートである。
【図１１】補正対象画素の劣化が基準画素に対して進んでいる場合の劣化量差の発生と縮小を説明する図である。
【図１２】基準画素の劣化が基準画素に対して進んでいる場合の劣化量差の発生と縮小を説明する図である。
【図１３】判定条件と補正動作との関係を示す。
【図１４】焼き付き補正処理例を示すフローチャートである。
【図１５】自発光装置の構成例を示す図である。
【符号の説明】
【００５２】
１              焼き付き現象補正装置
３              劣化量差算出部
５              累積劣化量差算出部
７              補正効果予測部
９              累積劣化量差蓄積部
１１            補正動作選択部
１３            補正量決定部
１５            劣化量差補正部
２１            焼き付き現象補正装置
２３            補正動作選択部
３１            焼き付き現象補正装置
３３            階調値−劣化率変換テーブル
３５            劣化量差算出部
３７            補正動作選択部
３９            補正量決定部
【図１】
2006201630.tif 000003
【図２】
2006201630.tif 000004
【図３】
2006201630.tif 000005
【図４】
2006201630.tif 000006
【図５】
2006201630.tif 000007
【図６】
2006201630.tif 000008
【図７】
2006201630.tif 000009
【図８】
2006201630.tif 000010
【図９】
2006201630.tif 000011
【図１０】
2006201630.tif 000012
【図１１】
2006201630.tif 000013
【図１２】
2006201630.tif 000014
【図１３】
2006201630.tif 000015
【図１４】
2006201630.tif 000016
【図１５】
2006201630.tif 000017