(57)【要約】【課題】  ＩＣが実装された基板上の任意の信号送信点から他の基板上の任意の信号受信点まで伝送される信号の伝送遅延時間の測定を簡易化する。【解決手段】  基板間の伝送路の周波数特性を測定し、信号送信点で観測される時間領域の第１の信号波形と、信号送信点から基板間の伝送路を通って信号受信点に到達した信号の時間領域の第２の信号波形とを測定し、測定された周波数特性から得られるインパルス応答と第１の信号波形とについて畳み込み演算を行い、畳み込み演算結果にもとづいて基板間の伝送路での遅延時間を検出し、畳み込み演算結果と第２の信号波形とにもとづいて基板上での遅延時間を検出し、基板間の伝送路での遅延時間と基板上での遅延時間とを加算する。【選択図】  図２
2006208060.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
周波数特性を測定する手段と、時間波形を測定する手段と、前記周波数特性から求まるインパルス応答と時間波形測定時の入力波形との畳み込みから得られる波形と、前記時間波形との相関を計算する手段と
を備えたことを特徴とする伝送遅延評価システム。
【請求項２】
高速広帯域な信号を伝送路を通して信号を伝送する系を対象として伝送信号の伝送遅延時間を評価する伝送遅延評価システムであって、
周波数特性を測定する手段と、
時間波形を測定する手段と、
前記周波数特性から求まるインパルス応答と時間波形測定時の入力波形との畳み込みから得られる波形と、前記時間波形との相関を計算する手段と
を備えたことを特徴とする伝送遅延評価システム。
【請求項３】
時間波形を測定する手段は、基板上の任意の場所の信号を読み込むためのプロービングシステムを備えている
請求項１または請求項２記載の伝送遅延評価システム。
【請求項４】
時間領域の波形測定に用いる信号が周期的な信号である
請求項１から請求項３のうちのいずれか１項に記載の伝送遅延評価システム。
【請求項５】
測定した時間波形もしくは周波数特性、または時間波形もしくは周波数特性に対して演算処理を施したデータを保存するデータ記憶手段を備えた
請求項１から請求項４のうちのいずれか１項に記載の伝送遅延評価システム。
【請求項６】
測定した時間波形もしくは周波数特性に対して平均化を行う手段を備えた
請求項１から請求項５のうちのいずれか１項に記載の伝送遅延評価システム。
【請求項７】
周波数特性から得られるインパルス応答と時間波形測定時の入力波形とから波形推定を行い、推定波形のピーク値を用いて遅延時間を算出する手段を備えた
請求項１から請求項６のうちのいずれか１項に記載の伝送遅延評価システム。
【請求項８】
周波数特性から得られるインパルス応答と時間波形測定時の入力波形とから波形推定を行い、推定波形における立ち上がり位置を用いて遅延時間を算出する手段を備えた
請求項１から請求項６のうちのいずれか１項に記載の伝送遅延評価システム。
【請求項９】
周波数特性を測定する手段と、時間波形を測定する手段と、測定した時間波形を周波数領域のデータに変換する手段と、前記周波数領域のデータと前記周波数特性とにもとづいて伝送路の受信端における信号波形を推定する手段と、推定された受信端における信号波形と測定した信号波形との相関を計算する手段と、計算された相関を時間領域のデータに変換する手段と
を備えたことを特徴とする伝送遅延評価システム。
【請求項１０】
測定対象の伝送線路と等価な他の伝送線路を用いて、前記測定対象の伝送線路を介する伝搬遅延時間を測定する
請求項１から請求項９のうちのいずれか１項に記載の伝送遅延評価システム。
【請求項１１】
伝送線路は複数の信号線を含み、前記複数の信号線のいずれかの送信端と他の信号線の受信端とを含む経路を評価対象とする
請求項１０記載の伝送遅延評価システム。
【請求項１２】
ＩＣが実装された基板上の任意の信号送信点から他の基板における任意の信号受信点までの測定対象伝送路における信号の伝送遅延時間を評価する伝送遅延評価システムにおいて、
基板間の伝送路の周波数特性を測定する周波数特性測定部と、
前記信号送信点で観測される時間領域の第１の信号波形と、前記信号送信点から前記基板間の伝送路を通って前記信号受信点に到達した信号の時間領域の第２の信号波形とを測定する時間波形測定部と、
前記周波数特性測定部で測定された周波数特性から得られるインパルス応答と前記第１の信号波形とについて畳み込み演算を行う畳み込み演算部と、
前記畳み込み演算部の演算結果にもとづいて前記基板間の伝送路での遅延時間を検出する第１の遅延時間検出部と、
前記畳み込み演算部の演算結果と前記第２の信号波形とにもとづいて基板上での遅延時間を検出する第２の遅延時間検出部と、
前記第１の遅延時間検出部が検出した遅延時間と前記第２の遅延時間検出部が検出した遅延時間とを加算する加算部と
を備えたことを特徴とする伝送遅延評価システム。
【請求項１３】
第１の遅延時間検出部は、畳み込み演算部に入力される第１の信号波形におけるピーク値の位置から、前記畳み込み演算部の演算結果による信号波形におけるピーク値の位置までを遅延時間とし、
第２の遅延時間検出部は、前記畳み込み演算部の演算結果と第２の信号波形との相関計算を行い、前記畳み込み演算部の演算結果による信号波形におけるピーク値の位置に対する相関計算結果におけるピーク値の位置までを遅延時間とする
請求項１２記載の伝送遅延評価システム。
【請求項１４】
周波数特性測定部と時間波形測定部とを含む測定装置と、
畳み込み演算部、第１の遅延時間検出部、第２の遅延時間検出部および加算部を含むデータ処理装置とで構成される
請求項１２または請求項１３記載の伝送遅延評価システム。
【請求項１５】
第１の遅延時間検出部は、基板上で信号の波形劣化がないとして、基板間の伝送路の受信端における信号波形を推定する
請求項１２から請求項１４のうちのいずれか１項に記載の伝送遅延評価システム。
【請求項１６】
高速広帯域な信号を伝送路を通して信号を伝送する系を対象として伝送信号の伝送遅延時間を評価する伝送遅延評価方法であって、
周波数特性を測定し、
時間波形を測定し、
前記周波数特性から求まるインパルス応答と時間波形測定時の入力波形との畳み込みから得られる波形と、前記時間波形との相関を計算する
ことを特徴とする伝送遅延評価方法。
【請求項１７】
時間領域の波形測定に用いる信号が周期的な信号である
請求項１６記載の伝送遅延評価方法。
【請求項１８】
測定した時間波形もしくは周波数特性、または時間波形もしくは周波数特性に対して演算処理を施したデータを一時保存する
請求項１６または請求項１７記載の伝送遅延評価方法。
【請求項１９】
測定した時間波形もしくは周波数特性に対して平均化を行う
請求項１６から請求項１８のうちのいずれか１項に記載の伝送遅延評価方法。
【請求項２０】
周波数特性から得られるインパルス応答と時間波形測定時の入力波形とから波形推定を行い、推定波形のピーク値を用いて基板間の伝送路での遅延時間を算出する
請求項１６から請求項１９のうちのいずれか１項に記載の伝送遅延評価方法。
【請求項２１】
周波数特性から得られるインパルス応答と時間波形測定時の入力波形とから波形推定を行い、推定波形における立ち上がり位置を用いて遅延時間を算出する
請求項１６から請求項１９のうちのいずれか１項に記載の伝送遅延評価方法。
【請求項２２】
周波数特性を測定し、
時間波形を測定し、
測定した時間波形を周波数領域のデータに変換し、
前記周波数領域のデータと前記周波数特性とにもとづいて伝送路の受信端における信号波形を推定し、
推定された受信端における信号波形と測定した信号波形との相関を計算し、
計算された相関を時間領域のデータに変換する
ことを特徴とする伝送遅延評価方法。
【請求項２３】
ＩＣが実装された基板上の任意の信号送信点から他の基板における任意の信号受信点までの測定対象伝送路における信号の伝送遅延時間を評価する伝送遅延評価方法において、
基板間の伝送路の周波数特性を測定し、
前記信号送信点で観測される時間領域の第１の信号波形と、前記信号送信点から前記基板間の伝送路を通って前記信号受信点に到達した信号の時間領域の第２の信号波形とを測定し、
測定された周波数特性から得られるインパルス応答と前記第１の信号波形とについて畳み込み演算を行い、
畳み込み演算結果にもとづいて前記基板間の伝送路での遅延時間を検出し、
前記畳み込み演算結果と前記第２の信号波形とにもとづいて基板上での遅延時間を検出し、
前記基板間の伝送路での遅延時間と前記基板上での遅延時間とを加算する
ことを特徴とする伝送遅延評価方法。
【請求項２４】
第１の信号波形におけるピーク値の位置から、畳み込み演算結果による信号波形におけるピーク値の位置までを伝送路での遅延時間とし、
前記畳み込み演算結果と第２の信号波形との相関計算を行い、前記畳み込み演算結果による信号波形におけるピーク値の位置に対する相関計算結果におけるピーク値の位置までを基板上での遅延時間とする
請求項２３記載の伝送遅延評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電気信号の伝送遅延時間を評価する伝送遅延評価システムおよび伝送遅延評価方法に関し、特に、高速で広帯域な信号の伝送後の微弱な信号を効率的に抽出して、伝送遅延時間を精密に測定する伝送遅延評価システムおよび伝送遅延評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
伝送信号の高速広帯域化に伴って、印刷配線板（ボード、以下、基板という。）に実装されたＩＣの送信ピンから他の基板に実装されたＩＣの受信ピンまで伝送された信号の伝送遅延時間を正確に測定する需要が高まっている。このような伝送遅延時間の情報は、例えば、ＩＣ間で複数チャネルの並列伝送を行う際に、ＩＣに実装されるチャネル間クロストークキャンセル機能における正確なタイミング合わせを設計する際に必要になる。
【０００３】
送信ピンから受信ピンまで伝送された信号の伝送遅延時間を測定する方法として、主に２つの方法がある。１つは、サンプリングオシロスコープなどを用いて、直接、時間領域で波形を評価する方法である。もう１つは、ネットワークアナライザなどを用いて、周波数領域で精密評価した周波数特性を逆フーリエ変換し、変換結果にもとづいて、時間領域での伝送情報を得る方法である。例えば、特許文献１には、周波数領域で受信信号を分析し、分析結果にもとづいて伝送遅延時間を測定する方法（特許文献１の図４参照）と、時間領域で伝送遅延時間を測定する方法（特許文献１の図５参照）とが記載されている。
【０００４】
【特許文献１】特開２００４−１０４２３５号公報（図４、図５）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
広帯域な伝送信号を扱う場合、伝送信号は、伝送路における高域ロスの影響によって受信側では微弱になる。従って、雑音が多い系において送信ピンから受信ピンまでの伝送遅延時間を正確に測定しようとする場合に、通常のオシロスコープなどの時間波形測定装置を用いたときには、雑音成分を抑圧する必要がある。そのため、ランダムノイズの影響を低減するために、例えば、周期的な送信信号を長時間に渡って受信し、受信信号について平均化（Averaging ）を行って、ＳＮ比を大きくする必要がある。信号の平均化とは、送信信号の周期に同期したトリガーを用いて、信号を複数回捕捉し、捕捉した受信信号のデータ（振幅）を平均することである。そして、平均値を用いて評価を行う。ノイズの低減量は、平均化される受信信号の捕捉回数によって決まる。すなわち、微弱になった信号の波形を観測するときには、ＳＮ比を大きくするために捕捉回数を多くする。その結果、長時間にわたって、繰り返し信号を捕捉し続ける必要がある。
【０００６】
また、ネットワークアナライザなどを用いて、基板に実装されたＩＣの送信ピンから他の基板に実装されたＩＣの受信ピンまで伝送された信号の伝送遅延時間を、受信信号の周波数特性にもとづいて評価する場合には、周波数特性を精密に測定しようとすると、精密な校正を行なう必要がある。さらに、校正後の測定では、測定対象基板専用の測定ボード（測定用基板）を用いて測定する必要がある。
【０００７】
例えば、ネットワークアナライザを用いる場合には、特性が既知の標準器を使用してネットワークアナライザの校正が行われる。ネットワークアナライザの校正方法として、オープン（open）標準器、ロード（load）標準器、ショート（short ）標準器、およびスルー（through ）標準器を使用する方法がある。
【０００８】
特に、基板上のＩＣの送信ピンから他の基板上のＩＣの受信ピンまで伝送された信号の伝送遅延時間を精密に測定しようとする場合には、測定対象のＩＣが実装される基板専用の標準器としての校正用基板を作製する必要がある。
【０００９】
例えば、図８（ａ）に示すように、送信側のＩＣが実装される基板専用であって、オープン状態の微小長配線１６１が接続されたコネクタ１５１が搭載された校正用基板１８１と、受信側のＩＣが実装される基板専用であって、オープン状態の微小長配線１６５が接続されたコネクタ１５５が搭載された校正用基板１８５とを作成する。また、図８（ｂ）に示すように、送信側のＩＣが実装される基板専用であって、微小長配線１６２を介して特性インピーダンス（５０Ω）１７０で終端されたコネクタ１５２が搭載された校正用基板１８２と、受信側のＩＣが実装される基板専用であって、微小長配線１６６を介して特性インピーダンス（５０Ω）１７１で終端されたコネクタ１５６が搭載された校正用基板１８６とを作成する。また、図８（ｃ）に示すように、送信側のＩＣが実装される基板専用であって、微小長配線１６３を介して接地されたコネクタ１５３が搭載された校正用基板１８３と、受信側のＩＣが実装される基板専用であって、微小長配線１６７を介して接地されたコネクタ１５７が搭載された校正用基板１８７とを作成する。さらに、図８（ｄ）に示すように、微小長配線１６４を介して接続されたコネクタ１５４，１５８を搭載した校正用基板１８４を作成する。
【００１０】
校正に際して、コネクタ１５１，１５２，１５３，１５４は、ネットワークアナライザなどの周波数特性測定器１９０の一方の入出力ポート（ポート１）に接続される。コネクタ１５５，１５６，１５７，１５８は、周波数特性測定器１９０の他方の入出力ポート（ポート２）に接続される。なお、周波数特性測定器１９０におけるポートのように測定器から直で出ているポートに接続するか、延長ケーブル１９３によって測定器から離れた箇所で接続可能にした構成の周波数特性測定器１９２におけるポートに接続するか、コネクタを接続しやすい構成で測定システムを使用することができる。
【００１１】
そして、周波数特性を精密に測定するために、測定対象となる基板が複数ある場合に、それらの基板における配線パターンや基板材料の差がわずかであっても、それぞれの測定対象となる基板毎に、図８に示す校正用基板や図９に示す測定用基板４０２，４１２を用意する必要がある。従って、測定に際して手間がかかる。測定用基板４０２，４１２には、周波数特性測定器４１４のポート１，２（ポート４２６，４２８）を基板に接続するためのコネクタ４０１，４１３が実装され、測定対象伝送路Ｄの両端から信号を入出力できる構成になっている。そして、図８に示す校正用基板と合わせて、伝送路特性を精密に測定することができる。なお、図９において、ポート４２６，４２８は測定器の入出力端子４１６，４１８から延長ケーブル４１７，４１９で延伸されている。また、符号４０３は測定対象伝送路４００（測定対象伝送路Ｄ）の信号入力ポートを示し。符号４１１は測定対象伝送路Ｄの信号出力ポートを示す。符号４０４は信号入力ポート４０３とコネクタ４０５との間の配線を示し、符号４１０は信号出力ポート４１１とコネクタ４０９との間の配線を示す。符号１０７は、基板４０２，４１２間のケーブルなどの伝送路を示す。
【００１２】
そこで、本発明は、基板上の任意の信号送信点から他の基板上の任意の信号受信点まで伝送される信号の伝送遅延時間の測定を簡易化できる伝送遅延評価システムおよび伝送遅延評価方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
基板上の信号送信点（例えば、基板に実装されたＩＣの送信ピン）から他の基板上の信号受信点（例えば、基板に実装されたＩＣの受信ピン）までの測定対象伝送路のうち、基板間のケーブル等の伝送路での伝送特性が主たる波形劣化要因であることに着目し、本発明では、その部分を対象に周波数特性測定を行なう。そして、ケーブル等の伝送路の周波数特性から信号受信点での波形を推定し、時間領域で評価した伝送路の出力波形との相関演算を行い、信号受信点における信号成分を抽出し、基板上で生ずる遅延時間を求めて加算し、信号送信点から信号受信点までの全体の遅延時間を求める。
【００１４】
従って、伝送遅延評価システムは、周波数特性を測定する手段と、時間波形を測定する手段と、周波数特性から求まるインパルス応答と時間波形測定時の入力波形との畳み込みから得られる波形と、時間波形との相関を計算する手段とを備える。
【００１５】
特に、高速広帯域な信号（例えば、１００ＭＨｚ程度以上の周波数の矩形波）を伝送路を通して信号を伝送する系を対象として伝送信号の伝送遅延時間を評価する伝送遅延評価システムであって、周波数特性を測定する手段と、時間波形を測定する手段と、周波数特性から求まるインパルス応答と時間波形測定時の入力波形との畳み込みから得られる波形と、時間波形との相関を計算する手段とを備えたことを特徴とする。
【００１６】
具体的には、伝送遅延評価システムは、基板上の信号送信点（例えば、基板に実装されたＩＣの送信ピン）から他の基板上の信号受信点（例えば、基板に実装されたＩＣの受信ピン）までの測定対象伝送路における信号の伝送遅延時間を評価する伝送遅延評価システムであって、基板間の伝送路の周波数特性を測定する周波数特性測定部と、信号送信点で観測される時間領域の第１の信号波形（グラフ３４の例示を参照。）と信号送信点から基板間の伝送路を通って信号受信点に到達した信号の時間領域の第２の信号波形（グラフ３７の例示を参照。）とを測定する時間波形測定部と、周波数特性測定部で測定された周波数特性から得られるインパルス応答と第１の信号波形とについて畳み込み演算を行う畳み込み演算部と、畳み込み演算部の演算結果（グラフ３５の例示を参照。）にもとづいて基板間の伝送路での遅延時間を検出する第１の遅延時間検出部（例えば、ピーク座標検出部１２１で実現される。）と、畳み込み演算部の演算結果と第２の信号波形とにもとづいて基板上での遅延時間を検出する第２の遅延時間検出部（例えば、相関演算部１１９とピーク座標検出部１２０とで実現される。）と、第１の遅延時間検出部が検出した遅延時間と第２の遅延時間検出部が検出した遅延時間とを加算する加算部とを備える。
【００１７】
第１の遅延時間検出部は、例えば、畳み込み演算部に入力される第１の信号波形におけるピーク値の位置から、畳み込み演算部の演算結果による信号波形におけるピーク値の位置までを遅延時間（遅延時間ｔｄ）とし、第２の遅延時間検出部は、例えば、畳み込み演算部の演算結果と第２の信号波形との相関計算を行い、畳み込み演算部の演算結果による信号波形におけるピーク値の位置に対する相関計算結果におけるピーク値の位置までを遅延時間（遅延時間Δｔｄ）とする。
【００１８】
また、第１の遅延時間検出部は、基板上で信号の波形劣化がないとして、基板間の伝送路の受信端における信号波形（例えば推定波形Ｅｒ２（ｔ））を推定する。
【発明の効果】
【００１９】
本発明の第１の効果は、測定時間を大幅に低減することができ、測定の効率化が図れることある。その理由は、相関演算により信号を検出することにより、信号成分がランダムノイズにうもれた状態であっても、ランダムなノイズ成分が抑圧され、感度よく信号を検出できるためである。
【００２０】
第２の効果は、測定対象とする伝送路の基板毎に校正用の基板や測定用の基板を用意することなく、簡易かつ精度の高い測定が行なえることである。その理由は、遅延時間評価対象とする伝送路の両端で専用の校正用基板や測定用の基板を必要とする測定を行わず、簡易測定が可能な中央の伝送路部分（基板間の伝送路）を対象に精密な周波数特性測定を行なうため、特別な治具などを用いる必要がないためである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図１は、本発明の測定対象の一例を示すブロック図である。ＩＣ１０１（ＩＣ  Ａ）が実装された基板１０２とＩＣ１１３（ＩＣ  Ｂ）が実装された基板１１２とがあり、基板１０２と基板１１２との間は、ケーブルなどの伝送路１０７（伝送路Ｄｐ）で接続されている。本発明では、基板１０２に実装されたＩＣ１０１の信号出力ポート（送信ピン）１０３から基板１１２に実装されたＩＣ１１３の信号入力ポート（受信ピン）１１１までを測定対象伝送路１００（測定対象伝送路Ｄ）として、測定対象伝送路Ｄでの伝送遅延時間を測定する。なお、信号出力ポート１０３をＡ点とし、信号入力ポート１１１をＢ点とする。また、測定対象伝送路Ｄから見ると、Ａ点は信号入力ポートに相当し、Ｂ点は信号出力ポートに相当する。
【００２２】
基板１０２には、基板１０２と伝送路Ｄｐとを接続するための接続用コネクタ（以下、コネクタという。）１０５が実装されている。基板１１２には、基板１１２と伝送路Ｄｐとを接続するための接続用コネクタ（以下、コネクタという。）１０９が実装されている。ＩＣ１０１の信号出力ポート１０３とコネクタ１０５との間の配線を伝送路１０４とする。ＩＣ１１３の信号入力ポート１１１とコネクタ１０９との間の配線を伝送路１１０とする。基板１０２，１１２上では、信号波形は変化せず、伝播遅延のみ生ずる。波形劣化は、測定対象伝送路Ｄにおける基板１０２，１１２間の伝送路である伝送路Ｄｐで生ずる。
【００２３】
図２は、本発明による伝送遅延評価システムの最良の実施の形態の構成を示すブロック図である。伝送遅延評価システムは、伝送路の特性を測定する測定装置１２３と、測定装置１２３で得られた測定結果を演算処理するパーソナルコンピュータなどのデータ処理装置１２４とを含む。測定装置１２３は、ネットワークアナライザなどで実現可能な周波数特性測定部１１４とオシロスコープなどで実現可能な時間波形測定部１１５とを備えている。時間波形測定部１１５は、任意の基板における任意の箇所から信号をポートに入力可能なプローブ（プロービングシステム）を備えている。
【００２４】
測定装置１２３における周波数特性測定部１１４は、周波数特性測定対象の伝送路Ｄｐにおける送信端に対して高周波信号を送出する。そして、送信端における信号振幅および位相に対する受信端におけるそれらの変化などを測定し、伝送路ＤｐのＳ（Scattering）パラメータを測定する。送信端と受信端との間で校正を行うことにより、高精度な周波数特性測定を行なうことができる。測定装置１２３における時間波形測定部１１５は、オシロスコープなどの測定装置に備えられている機能にもとづいて、測定対象伝送路Ｄの両端における各々の信号を高精度でサンプリングし、横軸が時間、縦軸が電圧である信号波形を高精度で測定する。
【００２５】
データ処理装置１２４は、逆フーリエ変換部１１７、データ記憶部１３０、畳み込み演算部１１８、相関計算部１１９、ピーク検出部１２０，１２１、および加算部１２２を備えている。
【００２６】
逆フーリエ変換部１１７は、周波数特性測定部１１４からの周波数特性測定データを入力として逆フーリエ変換処理を行い、横軸が時間で表されるインパルス応答特性を出力する。データ記憶部１３０は、入力された信号を一時保存し、要求に応じてデータを出力する。畳み込み演算部１１８は、２つの入力データに対して畳み込み演算を行い、演算結果を出力する。
【００２７】
相関計算部１１９は、横軸が時間で表され電圧が縦軸で表される２つの入力波形データに対して相関を計算し、計算結果を出力する。ピーク検出部１２０，１２１は、入力データのピーク値の位置情報（横軸の値）を検出する。そして、加算部１２２は、ピーク検出部１２０，１２１からの２つの入力データの値を加算する。
【００２８】
次に、図３の流れ図を参照して伝送遅延評価システムの動作を説明する。
伝送遅延評価システムによる伝送遅延評価では、図３に示すように、周波数特性測定部１１４で周波数特性が測定されると（ステップＳ２１）、データ処理装置１２４によって、測定結果を用いて時間波形推定のための演算が実行される（ステップＳ２３）。また、時間波形測定部１１５で、時間波形が測定される（ステップＳ２２）。
【００２９】
具体的には、下記のステップＳ１〜Ｓ１１の処理が実行されることによって、測定対象伝送路Ｄでの伝送遅延時間が求められる。まず、測定対象伝送路Ｄの一部である伝送路Ｄｐの周波数特性ｈｐ（ｆ）を周波数特性測定部１１４を用いて測定する（ステップＳ１）。例えば、周波数特性測定部１１４から信号入力点１０６に高周波信号を印加して信号入力点１０６における反射波信号および信号入力点１０８における受信波信号を入力し、周波数特性測定部１１４から信号入力点１０８に高周波信号を印加して信号入力点１０８における反射波信号および信号入力点１０６における受信波信号を入力し、入力した信号にもとづいて、周波数特性としてのＳパラメータを算出する。ただし、本実施の形態では、Ｓ１１（反射係数）、Ｓ２１（伝達係数）、Ｓ１２（伝達係数）およびＳ２２（反射係数）のうちＳ２１だけ測定すればよい。そして、周波数特性測定部１１４が測定した伝送路Ｄｐの周波数特性を、逆フーリエ変換部１１７に入力する。逆フーリエ変換部１１７は、伝送路Ｄｐの周波数特性の逆フーリエ変換を行い、（１）式のようにインパルス応答Ｈｐ（ｔ）を計算する（ステップＳ２）。
【００３０】
Ｈｐ（ｔ）＝Ｆ−１（ｈｐ（ｆ））                              （１）
【００３１】
逆フーリエ変換部１１７は、計算結果としてのインパルス応答Ｈｐ（ｔ）を、データ記憶部１３０に出力し、データ記憶部１３０は、インパルス応答Ｈｐ（ｔ）を一時保存しておく（ステップＳ３）。
【００３２】
また、基板１０２に実装されたＩＣ１０１から信号を送出させる（ステップＳ４）。時間波形測定部１１５を用いて、測定対象伝送路Ｄの送信側の信号入力点である信号出力ポート１０３において、ＩＣ１０１から送出された信号の時間領域の波形（時間波形）Ｅｔ（ｔ）を測定し、同時に、測定対象伝送路Ｄの受信側の信号入力点である信号入力ポート１１１において、ＩＣ１０１から送出された信号の時間領域の波形Ｅｒ（ｔ）を測定する（ステップＳ５，Ｓ６）。
【００３３】
そして、畳み込み演算部１１８は、ステップＳ３で保存されていたインパルス応答Ｈｐ（ｔ）と、ステップＳ５で測定された時間波形Ｅｔ（ｔ）とについて、（２）式のように畳み込み演算を行い、伝送路Ｄｐの出力側で得られると予想される推定波形Ｅｒ２（ｔ）を求める（ステップＳ７）。なお、本実施の形態では、上述したように、基板１０２では信号波形は変化しないとしているので、信号出力ポート１０３における波形と伝送路Ｄｐの入力側である信号入力点１０６での波形は同じである。
【００３４】
Ｅｒ２（ｔ）＝∫Ｅｔ（τ）Ｈｐ（ｔ−τ）dτ                    （２）
【００３５】
ピーク座標検出部１２１は、畳み込み演算部１１８によって得られた横軸を時間とし縦軸を振幅とする推定波形Ｅｒ２（ｔ）からピーク値を検出し、横軸のピーク値の位置を時間座標ｔｄとして求める（ステップＳ８）。このようにして求められたｔｄは、伝送路Ｄｐで生ずる遅延時間である。
【００３６】
なお、ここでは、伝送路Ｄｐについての伝送前の波形のピーク値の位置を時間０としている。従って、遅延時間ｔｄはステップＳ７で求められた推定波形Ｅｒ２（ｔ）のみにもとづいて計算されたが、伝送前の波形のピーク値の位置を任意の時間にし、遅延時間ｔｄを、ステップＳ５で測定された波形Ｅｔ（ｔ）におけるピーク位置とステップＳ７で求められた推定波形Ｅｒ２（ｔ）におけるピーク位置との時間差として算出することもできる。
【００３７】
一方、ステップＳ６で得られた波形Ｅｒ（ｔ）は伝送後の微弱な信号であるから、波形Ｅｒ（ｔ）における信号成分とノイズとを見分けづらい。そこで、信号成分を抽出するために、相関演算部１１９は、（３）式のように、Ｅｒ（ｔ）とステップＳ７で得られた推定波形Ｅｒ２（ｔ）との相関を計算する（ステップＳ９）。
【００３８】
Ｃｏｒ（ｔ）＝∫Ｅｒ（ｔ−τ）Ｅｒ２（τ）dτ                  （３）
【００３９】
ピーク座標検出部１２０は、相関演算部１１９によって得られた相関Cｏｒ（ｔ）のピークの時間座標Δｔｄを検出する（ステップＳ１０）。相関Cｏｒ（ｔ）のピークの時間座標Δｔｄは、波形Ｅｒ（ｔ）に含まれる波形Ｅｒ２（ｔ）の時間方向の位置を示す。すなわち、測定対象伝送路Ｄの中で伝送路Ｄｐ以外の部分での伝送遅延時間を示す。
【００４０】
測定対象伝送路Ｄで生じた遅延時間Ｔ＿ｔｏｔａｌは、伝送路Ｄｐでの遅延時間ｔdとその他の部分での遅延時間Δｔdの和である。加算部１２２は、ステップＳ１０で求められたΔｔdとステップＳ８で求められたｔdとを加算して、測定対象伝送路Ｄで生じた遅延時間Ｔ＿ｔｏｔａｌ＝ｔｄ＋Δｔｄを求める（ステップＳ１１）。
【００４１】
図４は、周波数特性測定部１１４と時間波形測定部４１５とを含む測定装置４２３において、時間波形測定部４１５として、一つの波形測定ポート（ポート１）しか備えていないものを用いる場合の実施の形態を示すブロック図である。
【００４２】
そのような時間波形測定部４１５を用いる場合には、測定対象伝送路Ｄに入力する波形を測定するときには、時間波形測定部４１５の測定結果を切り替えて出力するスイッチ４２５を、測定結果が畳み込み演算部１１８に出力されるように設定する。また、測定対象伝送路Ｄから出力される波形を測定するときには、スイッチ４２５を、測定結果が相関演算部１１９に出力されるように設定する。このようなスイッチ４２５を設けることによって、図２に示された測定装置１２３を用いた場合と同様に、測定対象伝送路Ｄで生じた遅延時間Ｔ＿ｔｏｔａを求めることができる。
【実施例１】
【００４３】
次に、本発明の第１の実施例を図５および図６を参照して説明する。
第１の実施例は、測定対象の系として、図５に示すような系２２５を対象とする。系２２５は、基板２０２にＩＣ２０１（ＩＣ  Ａ）が実装され、基板２１２にＩＣ２１３（ＩＣ  Ｂ）が実装され、２つの基板２０２，２１２は、両端にＳＭＡコネクタ２０６，２０８が装着された同軸ケーブル２０７で接続されている。基板２０２，２１２上には、ＳＭＡコネクタ２０５，２０９が実装され、ＳＭＡコネクタ２０５とＩＣ２０１の送信ピン２０３（Ａ点とする。）との間に基板配線２０４が引かれている。また、ＳＭＡコネクタ２０９とＩＣ２１３の受信ピン２１１（Ｂ点とする。）との間に基板配線２１０が引かれている。基板配線２０４，２１０上ではほとんど波形は劣化せず、伝播遅延のみ生ずる。
【００４４】
測定対象の伝送路２２６は、ＩＣ２０１の送信ピン２０３からＩＣ２１３の受信ピン２１１までの間の伝送路である。伝送路２２６における信号の波形劣化は、主として同軸ケーブル２０７を伝送中に生ずる。
【００４５】
測定対象の伝送路２２６の一部であり、周波数特性が簡易かつ精密に測定できる両端にＳＭＡコネクタ２０６，２０８が装着された同軸ケーブル２０７を周波数特性測定対象伝送路２３６（伝送路Ｄｐ）とする。この例では、伝送路Ｄｐを、測定対象の系から簡単に取り外すことができるので、取り外された同軸ケーブル２０７を対象として、測定装置２３５で、周波数特性を精密に測定する。すなわち、ＳＭＡコネクタ２０６を測定装置２３５における周波数特性測定部２１４の一方のポートに接続し、ＳＭＡコネクタ２０８を周波数特性測定部２１４の他方のポートに接続する。
【００４６】
この実施の形態では、ＩＣ２０１の送信ピン２０３からＩＣ２１３の受信ピン２１１までの間の伝送遅延時間を測定するために特別な校正用基板や測定用基板などを用意する必要はない。なお、高精度で周波数特性を測定するために必要な周波数特性測定部２１４の２つのポート間の校正冶具は汎用的に用意されている。例えば、周波数特性測定部２１４としてネットワークアナライザを用いる場合には、ネットワークアナライザの付属品として校正用キットが供給される。
【００４７】
また、同軸ケーブル２０７が基板２０２，２１２に装着された状態で、ＩＣ２０１の送信ピン２０３を測定装置２３５における時間波形測定部２１５の一方のポート２１９に接続し、ＩＣ２１３の受信ピン２１１を時間波形測定部２１５の他方のポート２２０に接続する。具体的には、時間波形測定部２１５に設けられポート２１９に信号を入力させるためのプローブを送信ピン２０３に当て、ポート２２０に信号を入力させるためのプローブを受信ピン２１１に当てる。
【００４８】
なお、図５に示す周波数特性測定部２１４は図２に示された周波数特性測定部１１４に相当するものであり、図５に示す時間波形測定部２１５は図２に示された時間波形測定部１１５に相当するものである。また、図６の流れ図に示すステップＳ１〜Ｓ１１の処理は、図３におけるステップＳ１〜Ｓ１１の処理と同じである。
【００４９】
まず、測定対象の伝送路２２６の一部である伝送路Ｄｐの周波数特性を周波数特性測定部２１４を用いて測定する（ステップＳ１）。伝送路Ｄｐの周波数特性を測定した場合に得られるデータの例を図６においてグラフ３１に示す。グラフ３１には、振幅情報のみが示されているが、位相情報の周波数特性も測定される。次に、同軸ケーブル２０７が基板２０２，２１２に装着された状態で、ＩＣ２０１から信号を送出させる（ステップＳ４）。ここでは、一例としてパルス信号を送出した場合の波形を示す。送出された信号の時間領域での波形を、測定対象伝送路２２６の信号入力部である送信ピン２０３と信号出力部である受信ピン２１１との２箇所について、時間波形測定部２１５を用いて測定し、グラフ３４，３７に示すような波形を得る（ステップＳ５，Ｓ６）。グラフ３４に示す波形はＩＣ２０１からの送出直後の信号波形であり、ＳＮ比が十分高い信号である。グラフ３７に示す波形は伝送後の波形であり、信号振幅が微弱になるので、信号成分とノイズ成分との区別がしにくい波形である。測定より取得された３種類のデータ（グラフ３１，３４，３７参照）について、データ処理装置は、以下の演算処理を行なう。
【００５０】
ステップＳ１で測定された伝送路の入力損失特性データ（周波数特性測定データ）に対して逆フーリエ変換を行なうと、横軸が時間で表される伝送路Ｄｐのインパルス応答が得られる（ステップＳ２、グラフ３２参照）。インパルス応答と、グラフ３４に示す波形とについて畳み込み演算を行なうと（ステップＳ７）、周波数特性測定対象の伝送路Ｄｐにグラフ３４に示す波形の信号が入力された場合に、伝送路Ｄｐの出力側で得られる推定波形Ｅｒ２（ｔ）が計算できる（グラフ３５参照）。推定波形Ｅｒ２（ｔ）のピーク値とグラフ３４に示す波形Ｅｔ（ｔ）のピーク値の差が、伝送路Ｄｐにおける遅延時間ｔｄとなる。また、基板配線２０４，２１０上ではほとんど波形は劣化しないとしているので、推定波形Ｅｒ２（ｔ）は受信ピン２１１で得られる波形と相似である。従って、推定波形Ｅｒ２（ｔ）を求めることによって、受信ピン２１１での波形を推定していることにもなる。
【００５１】
なお、ここでは、遅延時間ｔｄをグラフ３４に示す波形Ｅｔ（ｔ）におけるピーク値の位置とグラフ３５に示す推定波形Ｅｒ２（ｔ）におけるピーク値の位置の差としたが、遅延時間ｔｄの決定方法はこれに限るものではない。例えば、グラフ３４に示す波形Ｅｔ（ｔ）における立ち上がり位置とグラフ３５に示す推定波形Ｅｒ２（ｔ）における立ち上がり位置との差とすることもできる。
【００５２】
また、伝送路Ｄｐについての伝送前の波形のピーク値の位置を時間０として波形を測定することにより、ステップＳ７で求められた推定波形Ｅｒ２（ｔ）のみにもとづいて計算することもできる。
【００５３】
次に、グラフ３７に示す波形に含まれるグラフ３５に示す波形を検出するために相関計算を行う（ステップＳ９）。相関計算によって、グラフ３８に示されるように、ある時間Δｔｄのところでピークを持つ信号が得られる。なお、グラフ３８における時間０の点は、グラフ３５に示す波形におけるピーク値の位置に相当する。このピークは、グラフ３５に示す時間軸にΔｔｄのオフセットを加えたところにグラフ３７に示す波形の信号成分が存在することを意味する。すなわち、グラフ３５に示す波形におけるピーク値の位置に対する相関計算結果におけるピーク値の位置に相当するΔｔｄは基板２０２，２１２上の伝送路で生じる遅延時間に相当する。
【００５４】
Δｔｄに、推定波形Ｅｒ２（ｔ）にもとづいて得られた遅延時間ｔｄを加えると、信号が、ＩＣ２０１の送信ピン２０３からＩＣ２１３の受信ピン２１１に到達するのに要した遅延時間Ｔ＿ｔｏｔａｌが求まる。
【実施例２】
【００５５】
次に、本発明の第２の実施例を図７を参照して説明する。
第２の実施例は、測定対象の系における基板間に接続されるケーブルがＵＴＰ（Unshielded twisted Pair ）線路であり、かつ、ケーブルを測定対象の系から容易に外せないときの例である。
【００５６】
図７に示す例では、測定対象の系３２５において、基板３０２にＩＣ３０１が実装され、基板３１２にＩＣ３１３が実装され、２つの基板３０２，３１２は、ＵＴＰ線４対によるＵＴＰ線路３０７で接続されている。基板３０２，３１２上には、ＲＪ４５コネクタ３０５，３０９が実装されている。ＲＪ４５コネクタ３０５とＩＣ３０１（ＩＣ  Ａ）の送信ピン３０３（Ａ点とする。）との間に基板配線３０４が引かれている。また、ＲＪ４５コネクタ３０９とＩＣ３１３（ＩＣ  Ｂ）の受信ピン３１１（Ｂ点とする。）との間に基板配線３１０が引かれている。基板配線３０４，３１０上ではほとんど波形は劣化せず、伝播遅延のみ生ずる。
【００５７】
測定対象の伝送路３２６は、ＩＣ３０１の送信ピン３０３からＩＣ３１３の受信ピン３１１までの間の伝送路である。伝送路３２６における信号の波形劣化は、主としてＵＴＰ線路３０７を伝送中に生ずる。
【００５８】
このような基板３０２，３１２間のケーブルを容易に外せないような場合には、周波数測定用に、基板３０２，３１２間のケーブルと長さが同じで同品種のケーブル（測定対象の伝送線路と等価な他の伝送線路）を別途用意して周波数測定対象伝送路３３６（伝送路Ｄｐ）とする。
【００５９】
なお、図７に示す周波数特性測定部３１４は図２に示された周波数特性測定部１１４に相当するものであり、図７に示す時間波形測定部３１５は図２に示された時間波形測定部１１５に相当するものである。
【００６０】
図７には、一端に１００Ω終端抵抗器３４１，３４３，３４４が接続され他端に１００Ω終端抵抗器３４５，３４７，３４８が１００Ω終端抵抗器が接続されたＵＴＰ線（周波数測定対象伝送路３３６以外のＵＴＰ線）と、周波数測定対象伝送路３３６とを含む４対のＵＴＰ線からなるＵＴＰケーブル３３７が別途用意された例が示されている。そして、周波数測定対象伝送路３３６の一端（信号入力点）３３１が、測定装置３３５における周波数特性測定部３１４の一方のポート３４２に接続され、周波数測定対象伝送路３３６の他端３３４が、周波数特性測定部３１４の他方のポート３４６に接続される。すなわち、２番目のＵＴＰ線が伝送路Ｄｐである場合が例示されている。なお、周波数特性測定部３１４のポート３４２，３４６は、それぞれ、バラン（平衡不平衡変換器）などでシングル差動変換されたポートである。
【００６１】
また、ＩＣ３０１の送信ピン３０３を測定装置３３５における時間波形測定部３１５の一方のポート３１９に接続し、ＩＣ３１３の受信ピン３１１を時間波形測定部３１５の他方のポート３２０に接続する。具体的には、時間波形測定部３１５に設けられポート３１９に信号を入力させるためのプローブを送信ピン３０３に当て、ポート３２０に信号を入力させるためのプローブを受信ピン３１１に当てる。
【００６２】
具体的な測定方法は第１の実施例の場合と同様であるが、本実施例では、基板３０２，３１２間に接続されているＵＴＰ線路３０７とは物理的には別の伝送路を用いて周波数特性を測定するので、ＵＴＰ線路３０７で伝播中の信号を止めなくても伝送遅延時間を測定することができる。
【００６３】
以上に説明したように、本発明では、基板間のケーブルの周波数特性から受信ピンでの波形を推定し、推定された波形と時間軸で評価した伝送路の出力での波形との相関演算を行って基板上で生じる遅延時間を求め、その遅延時間に、ケーブルでの遅延時間を加算することによって、送信ピンから受信ピンまでの全体の遅延時間を求めるので、測定に要する時間を低減することができ、測定の効率化を図ることができる。
【００６４】
なお、図５や図７に示された例では、伝送路が金属媒体である場合が示されたが、伝送路に相当するものが空間カップリングなどであってもよい。例えば、図７に示す例では、送信ピン３０３から受信ピン３１１までの基板配線３０４，３１０およびＵＴＰ線路３０７からなる伝送路を示したが、送信ピン３０３から他のポート３２１（送信ピン３０３からの信号を受信する受信ピン３１１以外の受信ピン）へのクロストーク信号などを測定対象にすることもできる。このとき、周波数測定対象伝送路は、信号入力点３３１から、例えば他のＵＴＰ線の１００Ω終端抵抗器３４８に相当する点へのクロストーク伝送路（複数の信号線のいずれかの送信端と他の信号線の受信端とを含む経路）となる。
【００６５】
また、送信ピンから送出される送信信号は、パルス信号でなく、長い周期のビット列である場合もある。その場合、ステップＳ５の測定結果およびステップＳ７の演算結果に、複数のピークが現れることがある。そのような場合には、ステップＳ５の測定結果の波形とステップＳ７の演算結果の波形との間で、対応するピーク値の差の時間を遅延時間ｔｄとすればよい。
【００６６】
また、高精度な周波数特性測定や時間波形測定を行なうために、すなわちランダムノイズの影響を低減するために、平均化を行なうようにしてもよい。平均化を行なう場合には、例えば、平均化のためのデータ保存部や平均値計算部を含む測定装置を用い、複数回捕獲した測定結果を随時保存して平均を計算する。また、平均化を行なうときには、時間波形測定に用いられる信号として、一定周期の繰り返し信号を用いる。そして、その周期に同期したトリガー信号を時間波形測定部に入力する。または、時間波形測定部がトリガー信号を生成し、それを信号送信側のＩＣに入力し、ＩＣはその信号に同期した信号を送出する。
【００６７】
上記の実施の形態および実施例では、データ記憶部１３０は、逆フーリエ変換部１１７の演算結果を保存した。逆フーリエ変換部１１７の出力と時間波形測定部の出力とを同時に畳み込み演算部１１８に入力させることが難しいからである。しかし、データ記憶部１３０が保存するデータは、逆フーリエ変換部１１７の出力に限られず、伝送遅延評価方法を円滑に実施するために他のデータを記憶するようにしてもよい。例えば、時間波形測定部１１５の測定結果を畳み込み演算部１１８に入力させる前に保存することによって、時間波形測定を周波数特性測定より先に行うこともできる。さらに、測定された時間波形もしくは周波数特性、または時間波形もしくは周波数特性に対して演算処理を施した任意のデータを保存するようにしてもよい。特に、平均化を行なう場合に平均値計算部を含む測定装置を用いる場合には、測定された時間波形および周波数特性のデータ（グラフ３１，３４，３７参照）が所定のデータ記憶部に保存され、平均値計算部が、データ記憶部に保存されている各データに対して平均化を行うことが好ましい。
【００６８】
また、上記の実施の形態および実施例では、信号発信源であるＩＣ  Ａとコネクタとの間の伝送路を基板配線としたが、信号発信源とコネクタとの間に１つ以上のデバイスが含まれていてもよい。また、伝送路Ｄｐとして金属媒体のみを示したが、その伝送路に１つ以上のデバイスが含まれていてもよい。
【００６９】
また、上記の実施の形態および実施例では、２ポートを有する周波数特性測定部を用いた場合について説明したが、差動信号測定のための４ポートを有する周波数特性測定部を用いることもできる。
【００７０】
さらに、上記の実施の形態および実施例では、Ｅｒ（ｔ）の時間波形から遅延時間を評価したが、この限りではない。たとえば、時間波形Ｅｒ２（ｔ）を逆フーリエ変換して周波数特性ｅｒ２（ｆ）を求め、その微分により群遅延を計算し、各周波数の群遅延を各周波数の遅延時間ｔｄとして評価し、これにステップＳ１０で求まるΔｔｄを加算したものを遅延時間として評価することもできる。
【００７１】
また、上記の実施の形態および実施例では、測定された波形Ｅｔ（ｔ）、波形Ｅｒ（ｔ）および周波数特性ｈｐ（ｆ）から、推定波形Ｅｒ２（ｔ）および相関Cｏｒ（ｔ）のピークの時間座標Δｔｄを求める手順として、周波数特性ｈｐ（ｆ）を逆フーリエ変換によって時間領域の応答特性に変換してから、全ての計算を時間領域で計算してΔｔｄを求める方法を示したが、この限りではない。
【００７２】
例えば、（４）式のように変換できるので、周波数領域で演算した後に、最後に時間領域に戻すことも可能である。
【００７３】
Ｃｏｒ（ｔ）＝∫Ｅｒ（ｔ−τ）Ｅｒ２（τ）dτ＝Ｆ−１（ｅｒ（ｆ）×ｅｒ２（ｆ））
＝Ｆ−１（Ｆ（Ｅｒ（ｔ））×（ｅｔ（ｆ）×ｈｐ（ｆ）））
＝Ｆ−１（Ｆ（Ｅｒ（ｔ））×（Ｆ（Ｅｔ（ｔ））×ｈｐ（ｆ）））        （４）
【００７４】
つまり、Ｅｔ（ｔ）およびＥｒ（ｔ）をフーリエ変換して、ｅｔ（ｆ）とｅｒ（ｆ）に変換したのち、推定波形Ｅｒ２（ｔ）のフーリエ変換であるｅｒ２（ｆ）を、
ｅｒ２（ｆ）＝ｅｔ（ｆ）×ｈｐ（ｆ）
で求め、周波数領域での相関を、
ｃｏｒ（ｆ）＝ｅｒ（ｆ）×ｅｒ２（ｆ）
よりを求めて、ｃｏｒ（ｆ）を逆フーリエ変換してＣｏｒ（ｔ）を求めることができる。
【００７５】
この場合には、伝送遅延評価システムは、周波数特性ｈｐ（ｆ）を測定する手段と、時間波形Ｅｔ（ｆ），Ｅｒ（ｆ）を測定する手段と、測定した時間波形を周波数領域のデータｅｔ（ｆ），ｅｒ（ｆ）に変換する手段と、周波数領域のデータｅｔ（ｆ）と周波数特性ｈｐ（ｆ）とにもとづいて伝送路の受信端における信号波形ｅｒ２（ｆ）を推定する手段と、推定された信号波形ｅｒ２（ｆ）と測定した時間波形ｅｒ（ｆ）との相関ｃｏｒ（ｆ）を計算する手段と、相関ｃｏｒ（ｆ）を時間領域のデータＣｏｒ（ｔ）に変換する手段とを備える。その後、Ｃｏｒ（ｔ）のピーク時間座標Δｔｄを求め、ｅｒ２（ｆ）を逆フーリエ変換して得られるＥｒ２（ｆ）のピーク値（ｔｄ）を求める。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】本発明の測定対象の一例を示すブロック図である。
【図２】本発明による伝送遅延評価システムの最良の実施の形態の構成を示すブロック図である。
【図３】伝送遅延評価システムの動作を説明するための流れ図である。
【図４】本発明による伝送遅延評価システムの他の実施の形態の構成を示すブロック図である。
【図５】第１の実施例を示す説明図である。
【図６】第１の実施例の動作を説明するための流れ図である。
【図７】第２の実施例を示す説明図である。
【図８】校正用の専用冶具を説明するための説明図である。
【図９】測定用の基板を説明するためのブロック図である。
【符号の説明】
【００７７】
１０１，１１３  ＩＣ
１０２，１１２  基板
１０３  信号出力ポート（送信ピン）
１１１  信号入力ポート（受信ピン）
１０７  周波数特性測定対象伝送路
１０４，１１０コネクタとＩＣを接続する配線
１０５，１０９  コネクタ
１１４，２１４，３１４  周波数特性測定部
１１５，２１５，３１５，４１５  時間波形測定部
１１７  逆フーリエ変換部
１１８  畳み込み演算部
１１９  相関演算部
１２０  ピーク座標検出部
１２１  ピーク座標検出部
１２２  加算部
１２３，２３５，３３５，４２３  測定装置
１２４  データ処理装置
４２５  スイッチ
【図１】
2006208060.tif 000003
【図２】
2006208060.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2006208060.tif 000010
【図９】
2006208060.tif 000011