(57)【要約】【課題】  デジタルカメラ等の処理装置においては近年の撮像素子の多画素化等により、画像のノイズの補正データは増加する傾向にある。そのため記憶手段に記憶させるノイズの補正データの量も膨大になり、その転送時間だけでも無視できないほどに長くなっている。【解決手段】  撮影された１画面分の画像信号に含まれる欠陥画素信号を補正するために用いるデータを、第１のデータと第２のデータに分けて、前記第１のデータを第１の記憶手段から第２の記憶手段に転送するとともに、前記第２のデータを前記第１の記憶手段から前記第２の記憶手段に転送するか否かを判別し、該判別結果に応じて、前記第２のデータの前記第１の記憶手段から前記第２の記憶手段への転送を制御する制御手段を有することを特徴とする処理装置を提供する。【選択図】  図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
撮影された１画面分の画像信号に含まれる欠陥画素信号を補正するために用いるデータを、第１のデータと第２のデータに分けて、前記第１のデータを第１の記憶手段から第２の記憶手段に転送するとともに、前記第２のデータを前記第１の記憶手段から前記第２の記憶手段に転送するか否かを判別し、該判別結果に応じて、前記第２のデータの前記第１の記憶手段から前記第２の記憶手段への転送を制御する制御手段を有することを特徴とする処理装置。
【請求項２】
前記制御手段は、前記第２のデータを前記第１の記憶手段から前記第２の記憶手段に転送するか否かを撮影条件に基づいて判別することを特徴とする請求項１に記載の処理装置。
【請求項３】
前記撮影条件は、撮像素子の蓄積時間、温度、ＩＳＯ感度の少なくともいずれかを含むことを特徴とする請求項１及び請求項２に記載の処理装置。
【請求項４】
前記制御手段は、前記第２のデータを転送するときの転送速度を、前記第１のデータを転送するときの転送速度よりも遅くするように制御することを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれか１項に記載の処理装置。
【請求項５】
前記第２の記憶手段に転送されたデータを用いて、前記撮影された１画面分の画像信号に含まれる欠陥画素信号を補正する補正手段を有することを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか１項に記載の処理装置。
【請求項６】
被写体像を結像するレンズからの光を受光して画像信号を取得する撮像素子と、
前記撮像素子から出力された画像信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器とを有することを特徴とする請求項１乃至請求項５のいずれか１項に記載の処理装置。
【請求項７】
前記第１の記憶手段は、前記第２の記憶手段よりもデータの読み出し速度が遅いことを特徴とする請求項１乃至請求項６のいずれか１項に記載の処理装置。
【請求項８】
撮影された１画面分の画像信号に含まれる欠陥画素信号を補正するために用いるデータを、第１のデータと第２のデータに分けて、前記第１のデータを第１の記憶手段から第２の記憶手段に転送するとともに、前記第２のデータを前記第１の記憶手段から前記第２の記憶手段に転送するか否かを判別し、該判別結果に応じて、前記第２のデータの前記第１の記憶手段から前記第２の記憶手段への転送を制御することを特徴とする処理方法。
【請求項９】
請求項８に記載の処理方法を実現するためのプログラムコードを有することを特徴とする情報処理装置が実行可能なプログラム。
【請求項１０】
請求項９に記載のプログラムを記憶したことを特徴とする情報処理装置が読み取り可能な記憶媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタルカメラやデジタルビデオカメラ等の画像信号の補正を行う処理装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、デジタルカメラ等の撮像素子（ＣＣＤやＣＭＯＳ等）を用いた処理装置が様々な用途に使用されている。この撮像素子には、製造過程やその後に画素毎に欠陥が生じ、異常なレベルの信号を出力する欠陥画素が現れることがある。
【０００３】
これらの欠陥画素を補正する方法として、撮像素子における欠陥画素のアドレスと欠陥レベルや出力レベルを予め記憶しておき、記憶しておいたアドレスの画像情報は周囲画素の情報から補完することで補正する方法等が提案されている。
【０００４】
上記の補正方法を図４、９、１０を用いて具体的に説明する。
【０００５】
図８は、デジタルカメラやデジタルビデオカメラ等の処理装置の構成を示す図である。
【０００６】
１は撮像素子を含む撮像部からの信号のＡ／Ｄ変換を行うＡ／Ｄ変換器及び補正を含む信号処理を行う信号処理回路、各種記憶手段の記憶制御を行う回路、補正データの転送を行う転送手段、及び転送の制御等を行う回路を含むＤＳＰ（ＤｉｇｉｔａｌＳｉｇｎａｌＰｒｏｓｅｃｃｅｒ）である。２は、不図示の被写体像を結像するレンズからの光を電気信号に変換するＣＣＤまたはＣＭＯＳセンサ等の撮像素子を含む撮像部、３は撮影された画像を保存する記憶手段である外部記憶メモリ、２４はカメラの制御プログラムや各種補正データを記憶するＦｌａｓｈＲＯＭ（以下、ＦＲＯＭ）、２５は１のＤＳＰが信号処理を行う際にデータの１時保管や補正データなどを１時的に記憶するＳＤＲＡＭであり、ＦＲＯＭより高速にアクセスが可能である。
【０００７】
１０はＤＳＰの制御及び測光、測距などカメラ機能の他の部分の制御を行うＣＰＵで、１１はカメラを起動させるための電源スイッチ、１２はカメラのレリーズスイッチで、１１、１２ともにＧＮＤと短絡することでオンするものとする。
【０００８】
図９は、図８に示すカメラの制御を示したフローチャート図である。まず、ステップ８０１でカメラを起動する電源スイッチ１１がオンかどうか判定し、オフならステップ８０１を繰り返す。ここで電源スイッチ１１がオンしていればステップ８０２でカメラの電源（不図示）を立ち上げるとともに電源が安定するまで待機する。電源の安定待機が終了すると、ステップ８０３で２４のＦＲＯＭに記憶されている撮像素子の補正データなどを、高速にアクセス可能な２５のＳＤＲＡＭに転送することで、１のＤＳＰによる信号補正処理時の高速なアクセスに対する準備をする。
【０００９】
ここで２４のＦＲＯＭに記憶されている撮像素子の補正データには、撮像素子の欠陥画素情報が含まれている。欠陥画素情報としては、欠陥画素のアドレスと欠陥レベルを１画素の単位として、その情報を欠陥画素の数だけ記憶することになる。
【００１０】
ステップ８０４では再度電源スイッチ１１がオンかどうか判定し、オフならカメラ動作を終了する。ここでオンなら、ステップ８０５でレリーズスイッチ１２がオンかどうか判定し、オフならステップ８０４に戻る。ここでレリーズスイッチ１２がオンならステップ８０６で測光、測距を行うとともに必要ならカメラの撮影レンズ（不図示）を駆動する。
【００１１】
ステップ８０６の処理により、ステップ８０７で撮影レンズの繰り出し状態、絞り、撮像素子の蓄積時間、撮像素子からの信号を読み出す際のゲインなどの撮影条件を確定させ、ステップ８０８で撮像素子の蓄積を開始させる。
【００１２】
ここで、電源スイッチ１１とレリーズスイッチ１２が同時にオンされた場合を仮定し、この状態でステップ８０１でカメラの電源をオンされてから、ステップ８０８で撮像素子の蓄積を開始させるまでの時間を、このカメラの起動時間と定義する。
【００１３】
ステップ８０９では、ステップ８０７で確定された蓄積時間経過後に撮像素子の蓄積を停止させ、ステップ８１０ではステップ８０７で確定された読み出しゲインに設定した状態で撮像素子からの信号を読み出す。撮像素子からの信号の読み出しが終了した後または読み出しながら、ステップ８１１においては１のＤＳＰが２５のＳＤＲＡＭに記憶されている欠陥画素情報などを基に、欠陥画素の補正などの各種補正を行う。
【００１４】
その後ステップ８１２で補正処理後の画像データを外部記憶メモリ（記録媒体ともいう）に記憶した後、ステップ８０４に戻りステップ８０４〜ステップ８１２を繰り返す。なお、このとき不図示の表示手段に補正処理後の画像データを表示しても良い。
【００１５】
図９で説明した流れをイメージで説明するのが図４（ａ）であり、電源オン〜読み出し（補正処理）までの流れである。
【００１６】
電源をＯＮにした後、電源安定化待ち、及び、ＦＲＯＭ上の欠陥画素情報を含む全補正データのＳＤＲＡＭへの転送を行う。その後、撮像素子の蓄積、読み出しを行う。なお、カメラの起動時間は電源安定化待ちと全補正データの転送時間の和である。（例えば、文献１）
【特許文献１】特開平３−２２７１８５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
しかしながら、近年の撮像素子の多画素化により、欠陥画素数は増加する傾向にあるため、前記ＦＲＯＭに記憶する欠陥画素数も膨大になり、その転送時間だけでも無視できないほどに長くなっている。すなわち図９のステップ８０３だけで多くの時間を必要とするため、処理装置の各々の動作に要する時間が長くなる要因のひとつとなっていた。このことは、カメラの撮影者が撮影したい場面のシャッターチャンスを逃す原因ともなってしまう。
【００１８】
また、撮影後にＦＲＯＭのデータを転送しようとすると、１枚目の撮影後、次の撮影を直ぐにすることが出来ず、２枚目の撮影のシャッターチャンスを逃すことになる。
【００１９】
本発明は、上記の点に鑑みなされたもので、その目的は、膨大なデータ量を転送する頻度を減らすことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
本発明の処理装置は、上記目的を達成するため、撮影された１画面分の画像信号に含まれる欠陥画素信号を補正するために用いるデータを、第１のデータと第２のデータに分けて、前記第１のデータを第１の記憶手段から第２の記憶手段に転送するとともに、前記第２のデータを前記第１の記憶手段から前記第２の記憶手段に転送するか否かを判別し、該判別結果に応じて、前記第２のデータの前記第１の記憶手段から前記第２の記憶手段への転送を制御する制御手段を有することを特徴としている。
【００２１】
また、本発明の処理方法は、撮影された１画面分の画像信号に含まれる欠陥画素信号を補正するために用いるデータを、第１のデータと第２のデータに分けて、前記第１のデータを第１の記憶手段から第２の記憶手段に転送するとともに、前記第２のデータを前記第１の記憶手段から前記第２の記憶手段に転送するか否かを判別し、該判別結果に応じて、前記第２のデータの前記第１の記憶手段から前記第２の記憶手段への転送を制御することを特徴としている。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、無駄な転送時間を少なくすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。
【実施例１】
【００２４】
図２は、常温下で撮像素子を遮光した状態で、１秒間蓄積した場合の画素出力特性を示した例である。
【００２５】
横軸には各画素の出力レベルをリニアスケールで、縦軸には累積画素数を対数スケールで示しており、出力レベルが高いほうから発生頻度の累積をとったものである。
【００２６】
理想的には、撮像素子を遮光状態にして信号の蓄積をすると、すべての画素で出力レベルが０（零）になるべきであるが、画素出力レベルが０（零）以上にある画素が存在する。画素出力レベルが０（零）以上にある画素は、欠陥画素であり、その程度の差が図２の横軸に現れている。つまり出力レベルの高い欠陥画素は少ないが、出力レベルの低い欠陥画素は多い。欠陥画素の出力レベルは環境温度や蓄積時間に依存して変化する。これは、欠陥画素が暗電流に起因しているためである。
【００２７】
ところで、すべての欠陥画素が画像の劣化に寄与するわけではない。すなわち出力レベルの高い欠陥画素は画像劣化に大きく寄与するが、レベルの低い欠陥画素は画像劣化にはほとんど寄与しない。
【００２８】
これらのことを考慮し、ここでは、画像劣化に寄与する出力レベルを蓄積時間毎に設定しており、破線（ａ）は蓄積時間が１／１００秒程度の短い場合、破線（ｂ）は蓄積時間が１秒程度の長い場合としており、破線より大きい出力の画素を欠陥画素として補正対象とする。
【００２９】
つまり、蓄積時間が１／１００秒の場合の補正対象画素数はｎ個、蓄積時間が１秒の場合の補正対象個数はｍ個となる。
【００３０】
１方、上記欠陥画素を補正するためには、補正対象となる画素のアドレスと出力レベルを記憶しておく必要があるが、蓄積時間が長い場合までカバーすると、ＦＲＯＭに記憶するべき情報が膨大になってしまう。また、従来例で説明したステップ８０３において、ＦＲＯＭ内のデータすべてをＳＤＲＡＭに転送していると、その転送時間だけでも無視できない時間になってしまう。
【００３１】
本実施例では、デジタルカメラやデジタルビデオカメラ等の処理装置の起動時にＦＲＯＭからＳＤＲＡＭへ転送する欠陥画素情報は、蓄積時間が短い場合に必要な欠陥画素情報のみとすることで、処理装置起動時に転送するデータ量を大幅に削減することができ、処理装置の起動時間を大幅に短縮できるようにしている。
【００３２】
以下、詳細に示す。
【００３３】
図１は本発明の実施例におけるデジタルカメラやデジタルビデオカメラ等の処理装置の構成を示す図で、図８と同一部は同一部番を付しており、説明を省略する。４は処理装置の制御プログラムや各種データを記憶する第１の記憶手段としてのＦＲＯＭであり、欠陥画素情報としては図２で説明した蓄積時間が１／１００秒の場合の補正対象画素情報と、蓄積時間が１秒の場合の補正対象画素情報を別々の領域に記憶している。５は１のＤＳＰが信号処理を行う際にデータの１時保管やデータなどを１時的に記憶する第２の記憶手段としてのＳＤＲＡＭ（ＦＲＯＭよりも高速に読み出しを行うことができる）であり、欠陥画素情報として蓄積時間が１／１００秒の場合の補正対象画素情報と、蓄積時間が１秒の場合の補正対象画素情報を別々の領域に記憶できるようにしている。
【００３４】
図３は、実施例１における図１に示す処理装置内のＣＰＵの制御を示したフローチャート図である。
【００３５】
まず、ステップ３０１で処理装置の撮像系（ＣＰＵ等）を起動する電源スイッチ１１がオンかどうか判別し、オフならステップ３０１を繰り返す。ここで電源スイッチ１１がオンしていればステップ３０２で処理装置の電源（不図示）を立ち上げるとともに電源が安定するまで待機する。電源の安定待機が終了すると、ステップ３０３で４のＦＲＯＭに記憶されている撮像素子の補正のために必要なデータなどを、高速にアクセス可能な５のＳＤＲＡＭに転送するが、ここでは欠陥画素情報として蓄積時間が１／１００秒の場合（蓄積時間が所定時間よりも短い場合）の補正対象画素情報ｎ個分を転送する。
【００３６】
ここでステップ３０３では４のＦＲＯＭに記憶された欠陥画素情報をすべて５のＳＤＲＡＭに転送するのではなくその一部を転送するだけなので、その転送時間は無視できるほど短い。
【００３７】
ステップ３０４では再度電源スイッチ１１がオンかどうか判別し、オフなら処理装置動作を終了する。ここでオンなら、ステップ３０５でレリーズスイッチ１２がオンかどうか判別し、オフならステップ３０４に戻る。ここでレリーズスイッチ１２がオンならステップ３０６で測光、測距を行うとともに必要なら処理装置の撮影レンズ（不図示）を駆動する。
【００３８】
ステップ３０６の処理により、ステップ３０７で撮影レンズの繰り出し状態、絞り、撮像素子の蓄積時間、撮像素子からの信号を読み出す際のゲインなどの撮影条件を確定させ、ステップ３０８で撮像素子の蓄積を開始させる。
【００３９】
ステップ３０９ではステップ３０７で確定した撮影条件のうち蓄積時間について、所定の時間（ここでは１／１００秒）よりも長いかどうかを判別し、同じか短いと判別されるとステップ３１１へ移行し、長いと判別された場合はステップ３１０で４のＦＲＯＭに記憶されている欠陥画素情報のうち、蓄積時間が１秒の場合の補正対象画素情報ｍ個分を５のＳＤＲＡＭに転送する。
【００４０】
ステップ３０７で確定された蓄積時間経過後にステップ３１１で撮像素子の蓄積を停止させ、ステップ３１２ではステップ３０７で確定された読み出しゲインに設定した状態で撮像素子からの信号を読み出す。撮像素子からの信号の読み出しが終了した後または読み出しながら、ステップ３１３においては１のＤＳＰが５のＳＤＲＡＭに記憶されている欠陥画素情報などを基に、欠陥画素の補正などの各種補正を行う。その後ステップ３１４で補正処理後の画像データを外部記憶メモリに記憶した後、ステップ３０４に戻りステップ３０４〜ステップ３１４を繰り返す。
【００４１】
ここで注目すべきは、ステップ３１０でのデータ転送は撮像素子の蓄積時間中であり、すべてのデータ転送時間は蓄積時間よりも短いようにすることで、大量のデータ転送にもかかわらずその時間を無視させることができる点である。
【００４２】
上記実施例では、欠陥画素情報の分割を１／１００秒と１秒に設定し、蓄積間の判別は１／１００秒に設定しているが、このことに限定されるものではなく、欠陥画素情報の分割や蓄積時間の判別を更に細分化することも可能である。
【００４３】
また、ステップ３１０で撮像素子の蓄積時間中にデータ転送しているが、データ転送に起因するノイズが撮像素子に与える影響を考慮し、ステップ３１０でのデータ転送速度をステップ３０３でのデータ転送速度よりも遅くする。これにより、データ転送に起因するノイズの影響を抑えることができる。
【００４４】
なお、転送速度を遅くする場合であっても、すべてのデータ転送時間は蓄積時間よりも短いように設定する。例えば、データ転送速度＝１６ＭＢｙｔｅ／ｓで、Ｔｏｔａｌ  ６４ｋＢｙｔｅのデータを転送すると仮定する。６４ｋＢｙｔｅのデータ転送にかかる時間は、６４０００／１６００００００＝４ｍＳである。つまり蓄積時間が４ｍＳ以上（例えば１／５０ｓ）の場合であれば、蓄積時間中にすべてのデータを転送することができる。ただし、実際には、１ｋＢｙｔｅ＝１０２４Ｂｙｔｅであるので若干の誤差を考慮する必要がある。
【００４５】
これを関係式にすると、
Ｔ＞Ｄ／Ｖ
Ｖ：データ転送速度（Ｂｙｔｅ／ｓ）
Ｄ：全データ数（Ｂｙｔｅ）・・・処理装置によりデータ数は変わる
Ｔ：蓄積時間（ｓ）
となる。
【００４６】
図３で説明した流れをイメージで説明するのが図４（ｂ）、（ｃ）であり、電源オン〜読み出し（補正処理）までの流れである。
【００４７】
図４（ｂ）は、蓄積時間が１／１００秒時の流れであり、電源ＯＮに後に電源安定化待ち、ＦＲＯＭ上の欠陥画素情報のうち一部のデータをＳＤＲＡＭに転送。その後撮像素子の蓄積１／１００秒、読み出しを行っており、処理装置の起動時間は、図４（ａ）の従来例に比べてデータ転送時間が短くなった分だけ短くなっていることがわかる。
【００４８】
図４（ｃ）は、蓄積時間が１秒時の流れであり、電源ＯＮに後に電源安定化待ち、ＦＲＯＭ上の欠陥画素情報のうち一部のデータをＳＤＲＡＭに転送。その後撮像素子の蓄積を１秒行うが、その間に残りの欠陥画素情報をＦＲＯＭからＳＤＲＡＭに転送し、その後読み出しを行う。処理装置の起動時間は、図４（ａ）の従来例に比べてデータ転送時間が短くなった分だけ短くなっているとともに、ＦＲＯＭ上の欠陥画素情報を含む全データを効率良くＳＤＲＡＭに転送している。
【００４９】
本実施例では、補正のために必要であるデータを記憶する為の第１及び第２の記憶手段としてのＤＲＯＭ及びＳＤＲＡＭを有し、撮影開始前（処理装置の電源を投入時等）には必要最小限のデータをＤＲＯＭからＳＤＲＡＭに転送し、その後残りのデータを転送するようにしているので、従来同様高精度な補正を行うことができるとともに、画像の撮影までに要する時間についても大幅に短縮させることが可能となる。また、撮像素子の蓄積時間によって他のデータの転送を行うかどうかを判別することで、更に効率良く処理装置の各々の動作に要する時間を短縮させることができる。
【００５０】
また、記憶内容の一部を撮像素子の蓄積時間が短いときのみ必要な情報とすることで、蓄積時間が短い場合において十分な補正ができる。また、蓄積時間が所定時間より長いかどうかを比較することで、他のデータを転送するかどうか判別し、所定時間よりも蓄積時間が長い場合には、更に他のデータを蓄積期間中に転送することで、蓄積時間が長い場合でも十分な補正ができるとともに、転送を蓄積と並行して行うため、転送のために要する時間が余計にかからなくて済む。
【００５１】
また、更に他のデータを転送する場合に、データ転送に起因するノイズが撮像素子に与える影響を考慮し、撮像素子の蓄積中にデータを転送するときの転送速度を、撮影開始前の処理装置の電源投入時等の所定のタイミングでの必要最小限のデータのデータ転送速度よりも遅く設定することで、データ転送時のノイズが画像に影響することを抑えられる。
【実施例２】
【００５２】
実施例２におけるデジタルカメラやデジタルビデオカメラ等の処理装置の構成は図１と同様であるので、構成要素についての説明は省略する。
【００５３】
図５は、実施例２における図１に示す処理装置内のＣＰＵの制御を示したフローチャート図である。まず、ステップ５０１で処理装置の撮像系を起動する電源スイッチ１１がオンかどうか判別し、オフならステップ５０１を繰り返す。ここで電源スイッチ１１がオンしていればステップ５０２で処理装置の電源（不図示）を立ち上げるとともに電源が安定するまで待機する。電源の安定待機が終了すると、ステップ５０３で４のＦＲＯＭに記憶されている撮像素子の補正に必要なデータなどを、高速にアクセス可能な５のＳＤＲＡＭに転送するが、ここでは欠陥画素情報として蓄積時間が１／１００秒の場合の補正対象画素情報ｎ個分を転送する。
【００５４】
ここでステップ５０３では４のＦＲＯＭに記憶された欠陥画素情報をすべて５のＳＤＲＡＭに転送するのではなくその一部を転送するだけなので、その転送時間は無視できるほど短い。
【００５５】
ステップ５０４では再度電源スイッチ１１がオンかどうか判別し、オフなら処理装置動作を終了する。
【００５６】
ステップ５０８でレリーズスイッチ１２がオンかどうか判別し、オフならステップ５０５に進む。ステップ５０５では撮像素子の温度を不図示の温度計により測定し、温度の撮影条件を検出する。ステップ５０６では、ステップ５０５で測定した温度が予め設定した所定値よりも大きいか否かを判別する。ステップ５０５で測定した温度が予め設定した所定値よりも大きくない場合には、ステップ５０４に戻る。ステップ５０５で測定した温度が予め設定した所定値よりも大きい場合には、測定した温度における欠陥画素データを５のＳＤＲＡＭに転送する（ステップ５０７）。その後、ステップ５０４に戻る。このように、いつでも撮影できる状態だが、まだｓｗ１＿ＯＮされていない無動状態の時に、データを転送することにより画像の撮影に要する時間を短縮することができる。
【００５７】
ステップ５０８でレリーズスイッチ１２がオンならステップ５０９で測光、測距を行うとともに、必要ならは処理装置の撮影レンズ（不図示）を駆動する。ステップ５０９の処理により、ステップ５１０で撮影レンズの繰り出し状態、絞り、撮像素子の蓄積時間、撮像素子からの信号を読み出す際のゲインなどの撮影条件を確定させ、ステップ５１１で撮像素子の蓄積を開始させる。
【００５８】
ステップ５１２では撮像素子の温度を不図示の温度計により測定し、温度の撮影条件を検出する。ステップ５１３では、ステップ５１２で測定した温度が予め設定した所定値よりも大きいか否かを判別する。ステップ５１２で測定した温度が予め設定した所定値よりも大きくない場合には、ステップ５１６に進む。ステップ５１２で測定した温度が予め設定した所定値よりも大きい場合には、測定した温度における欠陥画素データを５のＳＤＲＡＭに既に転送してあるか否かを判別する（ステップ５１４）。測定した温度における欠陥画素データが５のＳＤＲＡＭに転送を終えていない場合には、測定した温度における欠陥画素データを５のＳＤＲＡＭに転送する（ステップ５１５）。測定した温度における欠陥画素データが既に５のＳＤＲＡＭに転送されている場合には、ステップ５１０で確定された蓄積時間が経過した後、撮像素子の蓄積を停止する（ステップ５１６）。
【００５９】
ステップ５１７ではステップ５１０で確定された読み出しゲインに設定した状態で撮像素子からの信号を読み出す。撮像素子からの信号の読み出しが終了した後または読み出しながら、ステップ５１８においては１のＤＳＰが５のＳＤＲＡＭに記憶されている欠陥画素情報などを基に、欠陥画素の補正などの各種補正を行う。その後ステップ５１９で補正処理後の画像データを外部記憶メモリに記憶した後、ステップ５０４に戻りステップ５０４〜ステップ５１９を繰り返す。
【００６０】
以上説明したように、必要最小限のデータをＳＲＡＭに転送し、撮影開始後に残りのデータの転送を開始するようにしているので、従来同様高精度な補正を行うことができるとともに、画像の撮影までに要する時間についても大幅に短縮させることが可能となる。
【００６１】
また、温度が高いほど、より多くの画素欠陥補正が必要であり、補正のためのデータを転送する必要があるため、温度に応じて追加のデータを転送するかどうかを判別することは有効である。
【００６２】
なお、本実施例では追加の欠陥画素データの転送をステップ５０７またはステップ５１５で行っているが、この転送で追加の欠陥画素データを転送しきれなかった場合には、その後、画像信号の読み出し期間以外の期間（例えば、ステップ５１６とステップ５１７の間）に転送するようにしてもよい。このように複数回に分けてデータを転送することにより、効率的にデータの転送を行うことができる。
【実施例３】
【００６３】
実施例３におけるデジタルカメラやデジタルビデオカメラ等の処理装置の構成も図１と同様であるので、構成要素についての説明はここでは省略する。
【００６４】
図６は、実施例３における図１に示す処理装置内のＣＰＵの制御を示したフローチャート図である。まず、ステップ６０１で処理装置の撮像系を起動する電源スイッチ１１がオンかどうか判別し、オフならステップ６０１を繰り返す。ここで電源スイッチ１１がオンしていればステップ６０２で処理装置の電源（不図示）を立ち上げるとともに電源が安定するまで待機する。電源の安定待機が終了すると、ステップ６０３で４のＦＲＯＭに記憶されている撮像素子の補正に必要なデータなどを、高速にアクセス可能な５のＳＤＲＡＭに転送するが、ここでは欠陥画素情報として蓄積時間が１／１００秒の場合の補正対象画素情報ｎ個分を転送する。
【００６５】
ここでステップ６０３では４のＦＲＯＭに記憶された欠陥画素情報をすべて５のＳＤＲＡＭに転送するのではなくその一部を転送するだけなので、その転送時間は無視できるほど短い。
【００６６】
ステップ６０４では再度電源スイッチ１１がオンかどうか判別し、オフなら処理装置動作を終了する。
【００６７】
ステップ６０８でレリーズスイッチ１２がオンかどうか判別し、オフならステップ６０５に進む。ステップ６０５ではＩＳＯ感度の設定条件である撮影条件を検出する。ステップ６０６では、ステップ６０５で検出したＩＳＯ感度が予め設定した所定値よりも大きいか否かを判別し、ステップ６０５で検出したＩＳＯ感度が予め設定した所定値よりも大きい場合には、検出したＩＳＯ感度における欠陥画素データを５のＳＤＲＡＭに転送し（ステップ６０７）、ステップ６０４に戻る。ステップ６０５で検出したＩＳＯ感度が予め設定した所定値よりも大きくない場合にはステップ６０４に戻る。
【００６８】
レリーズスイッチ１２がオンならステップ６０９で測光、測距を行うとともに必要なら処理装置の撮影レンズ（不図示）を駆動する。
【００６９】
ステップ６０９の処理により、ステップ７１０で撮影レンズの繰り出し状態、絞り、撮像素子の蓄積時間、撮像素子からの信号を読み出す際のゲインなどの撮影条件を確定させ、ステップ６１１で撮像素子の蓄積を開始させる。
【００７０】
ステップ６１２ではＩＳＯ感度の設定条件である撮影条件を検出する。ステップ６１３では、ステップ６１２で測定したＩＳＯ感度が予め設定した所定値よりも大きいか否かを判別する。ステップ５１２で測定したＩＳＯ感度が予め設定した所定値よりも大きくない場合には、ステップ６１６に進む。ステップ６１２で測定したＩＳＯ感度が予め設定した所定値よりも大きい場合には、測定したＩＳＯ感度における欠陥画素データを５のＳＤＲＡＭに既に転送してあるか否かを判別する（ステップ６１４）。測定したＩＳＯ感度における欠陥画素データが５のＳＤＲＡＭに転送を終えていない場合には、測定したＩＳＯ感度における欠陥画素データを５のＳＤＲＡＭに転送する（ステップ６１５）。測定したＩＳＯ感度における欠陥画素データが既に５のＳＤＲＡＭに転送されている場合には、ステップ５１０で確定された蓄積時間が経過した後、撮像素子の蓄積を停止する（ステップ６１６）。
【００７１】
ステップ６１７ではステップ６１０で確定された読み出しゲインに設定した状態で撮像素子からの信号を読み出す。撮像素子からの信号の読み出しが終了した後または読み出しながら、ステップ６１８においては１のＤＳＰが５のＳＤＲＡＭに記憶されている欠陥画素情報などを基に、欠陥画素の補正などの各種補正を行う。その後ステップ６１９で補正処理後の画像データを外部記憶メモリに記憶した後、ステップ６０４に戻りステップ６０４〜ステップ６１９を繰り返す。
【００７２】
必要最小限のデータをＳＤＲＡＭに転送し、撮影開始後に残りのデータの転送を開始するようにしているので、従来同様高精度な補正を行うことができるとともに、画像の撮影までに要する時間についても大幅に短縮させることが可能となる。
【００７３】
また、ＩＳＯ感度が高いほど、より多くの画素欠陥補正が必要で、補正のためのデータを転送する必要があるため、設定ＩＳＯ感度に応じて追加のデータを転送するかどうかを判別することは有効である。
【００７４】
なお、本実施例では追加の欠陥画素データの転送をステップ６０７またはステップ６１５で行っているが、この転送で追加の欠陥画素データを転送しきれなかった場合には、その後、画像信号の読み出し期間以外の期間（例えば、ステップ６１６とステップ６１７の間）に転送するようにしてもよい。このように複数回に分けてデータを転送することにより、効率的にデータの転送を行うことができる。
【００７５】
なお、実施例１〜３では、撮影条件として、蓄積時間・撮像素子の温度・ＩＳＯ感度をとりあげてそれぞれの条件が変化した時について説明したが、いずれかの条件の組み合わせによって、データの転送タイミングを制御してもよい。
【実施例４】
【００７６】
実施例４におけるデジタルカメラやデジタルビデオカメラ等の処理装置の構成は図１と同様であるので、構成要素についての説明はここでは省略する。
【００７７】
図７は、実施例４における図１に示す処理装置内のＣＰＵの制御を示したフローチャート図である。
【００７８】
以下では、実施例２の動作と異なる動作について説明する。実施例２では、ＳＷ１が押されていないときであって、温度測定を行い測定結果が所定値よりも大きい場合のみ追加データを転送し、さらに、撮影開始後の蓄積時間に、温度測定を行い測定結果が所定値よりも大きく、追加データの転送が終了していない場合のみ追加データを転送する構成となっている。これに対して、本実施例では、撮影条件確定前の電源立ち上げ直後に温度測定を行うとともに、測定結果が所定値よりも大きい場合のみ追加データを転送する構成となっている（ステップ９０２〜９０５）。
【００７９】
そして、その後は、温度測定や測定結果に応じた追加データの転送は行わない。
【００８０】
本実施例では、測定温度が所定値よりも大きい場合は、撮影可能になるまでに時間（起動時間）がかかることになるが、測定温度が所定値よりも小さい場合は、実施例１〜３と同様に撮影可能になるまでの時間を短縮できる。
【００８１】
また、本実施例では、電源投入直後にステップ９０２〜９０５の動作を行う構成を説明したが、例えば、ステップ３１２とステップ３１３の間にステップ９０２〜９０５の動作を行うようにしてもよい。
【００８２】
この動作の場合は、撮像素子からの信号の読み出し直後に補正ができるわけではないため、撮影した後、次の撮影を行うことができるようになるまでに時間がかかる。しかしながら、測定温度が所定値よりも小さい場合は、一部のデータしか送らないため、常に全部のデータを転送するのに比べ、次の撮影が可能になるまでの時間を短縮できる。
【００８３】
また、本実施例では、撮影条件として温度条件に基づき、残りのデータを転送するか否かを判別しているが、撮影条件ではなく、例えば、残りのデータを転送するか否かを入力できる操作ボタンを設け、撮影者がそのボタンを操作することによって、処理装置が操作ボタンの操作に基づき残りのデータを転送するか否かを判別する構成であってもよい。
【００８４】
実施例１〜３では、露光時間、温度、ＩＳＯ感度等の撮影条件に基づいて、データを分けて転送する構成としたが、撮影条件に基づかない、例えば単独して存在する欠陥画素のデータと連続して存在する欠陥画素のデータに分けて、データ転送を行ってもよい。
【００８５】
また、実施例１〜４では、ＲＯＭ及びＲＡＭは１つずつの構成としたが、複数のＲＯＭや複数のＲＡＭにデータを分けて記憶する構成としてもよい。
【００８６】
〔本発明の他の実施例〕
本発明は複数の機器から構成されるシステムに適用しても１つの機器からなる装置に適用しても良い。
【００８７】
また、上述した実施例の機能を実現するように各種のデバイスを動作させるように、上記各種デバイスと接続された装置あるいはシステム内のコンピュータに対し、記憶媒体から、またはインターネット等の伝送媒体を介して上記実施例の機能を実現するためのソフトウェアのプログラムコードを供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（ＣＰＵあるいはＭＰＵ）に格納されたプログラムに従って上記各種デバイスを動作させることによって実施したものも、本発明の範疇に含まれる。
【００８８】
また、この場合、上記ソフトウェアのプログラムコード自体が上述した実施例の機能を実現することになり、そのプログラムコード自体、及びそのプログラムコードをコンピュータに供給するための手段、例えばかかるプログラムコードを格納した記憶媒体も本発明の範疇に含まれる。かかるプログラムコードを記憶する記憶媒体としては、例えばフレキシブルディスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、ＲＯＭ等を用いることができる。
【００８９】
また、コンピュータが供給されたプログラムコードを実行することにより、上述の実施例で説明した機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードがコンピュータにおいて稼働しているＯＳ（オペレーティングシステム）あるいは他のアプリケーションソフト等と共同して上述の実施例で示した機能が実現される場合にもかかるプログラムコードは本発明の実施例に含まれることは言うまでもない。
【００９０】
さらに、供給されたプログラムコードがコンピュータの機能拡張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わるメモリに格納された後、そのプログラムコードの指示に基づいてその機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって上述した実施例の機能が実現される場合にも本発明に含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００９１】
【図１】本発明の実施例におけるデジタルカメラの構成図である。
【図２】撮像素子の画素出力特性図である。
【図３】蓄積時間が長秒になったときに追加のデータを転送するフローを表す図である。
【図４】本発明の実施例及び従来例の説明を模式的に表した図である。
【図５】撮像素子の温度変化に応じて、追加のデータを転送するフローを表す図である。
【図６】処理装置のＩＳＯ感度設定に応じて、追加のデータを転送するフローを表す図である。
【図７】実施例４における図１に示す処理装置内のＣＰＵの制御を示したフローチャート図である。
【図８】従来例におけるデジタルカメラの構成図である。
【図９】従来例を説明するフローチャートである。
【符号の説明】
【００９２】
１  ＤＳＰ
２  撮像素子
３  外部記憶メモリ
４、２４  ＦＲＯＭ
５、２５  ＳＤＲＡＭ
１０  ＣＰＵ
１１、１２  スイッチ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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