(57)【要約】【課題】  低コストかつ高精度で、走査線の多数の点において走査線曲りを測定する走査線曲り測定装置及び走査線曲がりを測定する機能を組み込んだ光走査装置を提供することにある。【解決手段】  受光手段からの出力に基づいて各像高での走査線曲がりを測定する走査線曲がり測定装置において、主走査方向に長い入射面を有する第１の導光手段２と、この第１の導光手段２から副走査方向にずれて近傍に配置された第２の導光手段３と、前記第１及び第２の導光手段２、３それぞれの端部から出射する光を受光しかつ受光量を電気信号に変換する第１及び第２の受光手段４、５と、前記第１及び第２の受光手段４、５からの出力より各像高での走査線曲がり量を求める演算手段２１とを備える。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
各像高での走査線曲がりを測定する走査線曲がり測定装置において、主走査方向に長い入射面を有する第１の導光手段と、該第１の導光手段の近傍であって副走査方向にずらした位置に配置された第２の導光手段と、前記第１及び第２の導光手段それぞれの端部から出射する光を受光し、且つ、受光量を電気信号に変換する第１及び第２の受光手段と、前記第１及び第２の受光手段からの出力に基づいて、前記各像高での走査線曲がり量を演算する演算手段と、を備えることを特徴とする走査線曲がり測定装置。
【請求項２】
前記第１及び第２の導光手段は、少なくとも出射面が鏡面に微小な凹凸を多数付けた面であることを特徴とする請求項１記載の走査線曲がり測定装置。
【請求項３】
前記第１及び第２の導光手段は、前記第１及び第２の受光手段が設置されている端部以外の端部の反射率が高いことを特徴とする請求項１又は２記載の走査線曲がり測定装置。
【請求項４】
各像高での走査線曲がりを測定する走査線曲がり測定装置において、主走査方向に長い棒状の第１の導光手段と、該第１の導光手段の近傍であって副走査方向にずらした位置に配置された第２の導光手段と、前記第１の導光手段の両端から出射する光を受光し、且つ、受光量を電気信号に変換する第１及び第３の受光手段と、前記第２の導光手段の両端から出射する光を受光し、且つ受光量を電気信号に変換する第２及び第４の受光手段と、前記第１〜第４の各受光手段からの出力に基づいて、前記各像高での走査線曲がり量を演算する演算手段と、を備えることを特徴とする走査線曲がり測定装置。
【請求項５】
前記第１及び第２の導光手段の入射面近傍に、前記主走査方向に等ピッチで設けられた複数の開口を有する空間光変調手段を配置し、前記演算手段が走査線曲がり及び倍率誤差を求めることを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか１項記載の走査線曲がり測定装置。
【請求項６】
前記各受光手段からの出力に対してローパスフィルタ処理を行うローパスフィルタを備え、前記演算手段は、前記各受光手段からの出力に対して前記ローパスフィルタによりローパスフィルタ処理を行ってから、走査線曲りを求めることを特徴とする請求項１乃至請求項４のいずれか１項記載の走査線曲がり測定装置。
【請求項７】
請求項１乃至請求項６のいずれか１項記載の走査線曲がり測定装置を含む光走査装置であって、光源と、該光源から出射された光束を偏向する偏向手段と、該偏向手段により偏向した光束を像面で集光する結像光学系と、透明部材とを備え、前記結像光学系を通過した光束の一部が前記透明部材を通過して被照射面に照射し、他の一部が前記透明部材で反射し、反射光束が前記走査線曲がり測定装置に入射されることを特徴とする光走査装置。
【請求項８】
前記透明部材は平行平板であり、その入射面の反射率が出射面の反射率よりも大きくなるように表面処理の条件を設定したことを特徴とする請求項７記載の光走査装置。
【請求項９】
前記演算手段から出力された走査線曲がりの測定結果を基に、走査光学系の光学部品を機械的に調整することにより、走査線曲がりを略直線状にする走査線曲がり調整手段を有することを特徴とする請求項７又は８記載の光走査装置。
【請求項１０】
前記演算手段から出力された走査線曲がりの測定結果を基に、走査線曲りを相殺するように出力する画像データを補正するリサンプリングを行ってスポット位置を補正することを特徴とする請求項７又は８記載の光走査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザプリンタ、デジタル複写機、ファクシミリ等の画像形成装置、特にデジタルカラー画像形成装置における光走査装置の走査線曲がりを測定する走査線曲がり測定装置、及び走査線曲がりを測定する機能を組み込んだ光走査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、倍率誤差、走査線曲りに対する高精度化の要求が高まっている。特に、複数の光走査装置を含む画像形成装置を有し、複数の色のトナーを順次記録紙上に転写することで、単色の電子写真装置と同等の印刷速度でフルカラー印刷を行う電子写真装置（以下、タンデム方式）では、各色の印字位置の相対的なずれが、出力画像の品質に大きな影響を与えることが知られている（例えば、特許文献１及び３参照）。
光走査装置は光源から出射された光束を回転多面体鏡などの偏向手段で偏向して走査光束とし、ｆθレンズなどの光学系で集光させて、像面に光スポットを形成する。像面近傍で光スポットが走査した軌跡を走査線と呼ぶ。
走査線は直線で、光スポットは走査線上を等速に移動することが好ましい。しかし、光学系の形状精度や各光学素子の取り付け誤差、各部材の熱膨張などの影響で誤差が生じる。ここでは、走査線上各位置における光スポットの移動速度の変動を倍率誤差、そして走査線の直線からのずれを走査線曲りという。
特許文献１には、走査線の曲がり、傾きを測定する傾き測定手段と、測定結果に応じて画像データを補間して補正する画像形成装置が記載されている。しかし、特許文献１に記載されている走査線の曲がり及び傾きを測定する測定手段は複数の位置ずれ検出部を主走査方向に高精度に位置決めして並べたものである。
従来では、走査線曲がりを測定する測定手段は、所定の点におけるスポット光の位置ずれを測定する検出手段を走査線上の複数の点に設置して、その位置ずれの分布である走査線曲がりを測定していた。
特許文献２には、光走査装置の防塵ガラスの第１面で反射した光束を複数の検出手段で検出し、これを基に低コストで経時的なドット位置補正を行う光走査装置が開示されている。また、特許文献３には、光走査装置の走査線の曲り、及び傾きを測定して、これに応じて画像データを補正する画像形成装置が開示されている。
【特許文献１】特開平９−９０６９５号公報
【特許文献２】特開２００３−３１５７０８公報
【特許文献３】特許第３５５６３４９号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上述した特許文献１では、より空間周波数の高い成分を補正するには、多数の検出部を設ける必要があり、精度、コストの両面で不利である。また、特許文献２及び特許文献３でも、複数の検出手段を並べて設置するため、空間分解能の高い成分まで倍率誤差や走査線曲がりを測定するには、多数の検出手段を高精度で並べる必要があり、精度、コストともに不利になってしまう。
そこで、本発明の目的は、上述した実情を考慮して低コスト且つ高精度で、走査線の多数の点において走査線曲りを測定する走査線曲り測定装置及び走査線曲がりを測定する機能を組み込んだ光走査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
上記目的を達成するため、請求項１に記載の発明は、各像高での走査線曲がりを測定する走査線曲がり測定装置において、主走査方向に長い入射面を有する第１の導光手段と、該第１の導光手段の近傍であって副走査方向にずらした位置に配置された第２の導光手段と、前記第１及び第２の導光手段それぞれの端部から出射する光を受光し、且つ、受光量を電気信号に変換する第１及び第２の受光手段と、前記第１及び第２の受光手段からの出力に基づいて、前記各像高での走査線曲がり量を演算する演算手段と、を備えることを特徴とする。
また請求項２に記載の発明は、前記第１及び第２の導光手段は、少なくとも出射面が鏡面に微小な凹凸を多数付けた面である請求項１記載の走査線曲がり測定装置を特徴とする。
また請求項３に記載の発明は、前記第１及び第２の導光手段は、前記第１及び第２の受光手段が設置されている端部以外の端部の反射率が高い請求項１又は２記載の走査線曲がり測定装置を特徴とする。
また請求項４に記載の発明は、各像高での走査線曲がりを測定する走査線曲がり測定装置において、主走査方向に長い棒状の第１の導光手段と、該第１の導光手段の近傍であって副走査方向にずらした位置に配置された第２の導光手段と、前記第１の導光手段の両端から出射する光を受光し、且つ、受光量を電気信号に変換する第１及び第３の受光手段と、前記第２の導光手段の両端から出射する光を受光し、且つ受光量を電気信号に変換する第２及び第４の受光手段と、前記第１〜第４の各受光手段からの出力に基づいて、前記各像高での走査線曲がり量を演算する演算手段と、を備えることを特徴とする。
また請求項５に記載の発明は、前記第１及び第２の導光手段の入射面近傍に、前記主走査方向に等ピッチで設けられた複数の開口を有する空間光変調手段を設け、前記演算手段が走査線曲がり及び倍率誤差を求める請求項１乃至請求項４のいずれか１項記載の走査線曲がり測定装置を特徴とする。
【０００５】
また請求項６に記載の発明は、前記各受光手段からの出力に対してローパスフィルタ処理を行うローパスフィルタを備え、前記演算手段は、前記各受光手段からの出力に対して前記ローパスフィルタによりローパスフィルタ処理を行ってから、走査線曲りを求める請求項１乃至請求項４のいずれか１項記載の走査線曲がり測定装置を特徴とする。
また請求項７に記載の発明は、請求項１乃至請求項６のいずれか１項記載の走査線曲がり測定装置を含む光走査装置であって、光源と、該光源から出射された光束を偏向する偏向手段と、該偏向手段により偏向した光束を像面で集光する結像光学系と、透明部材とを備え、前記結像光学系を通過した光束の一部が前記透明部材を通過して被照射面に照射し、他の一部が前記透明部材で反射し、反射光束が前記走査線曲がり測定装置に入射されることを特徴とする。
また請求項８に記載の発明は、前記透明部材は平行平板であり、その入射面の反射率が出射面の反射率よりも大きくなるように表面処理の条件を設定した請求項７記載の光走査装置を特徴とする。
また請求項９に記載の発明は、前記演算手段から出力された走査線曲がりの測定結果を基に、走査光学系の光学部品を機械的に調整することにより、走査線曲がりを略直線状にする走査線曲がり調整手段を有する請求項７又は請求項８記載の光走査装置を特徴とする。
また請求項１０に記載の発明は、前記演算手段から出力された走査線曲がりの測定結果を基に、走査線曲りを相殺するように出力する画像データを補正するリサンプリングを行ってスポット位置を補正する請求項７又は請求項８記載の光走査装置を特徴とする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、走査線曲がり測定装置は構成要素が少なく、演算も簡単なため、低コストで走査線上の多数の点における副走査位置ずれ量の分布、つまり走査線曲がりを測定可能であるため、より高精度に走査線の直線性を求められる光走査装置の評価をすることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下、図面を参照して本発明の実施形態を詳細に説明する。
図１は本発明の光走査装置に適用される走査線曲がり測定装置の第１の実施形態を示す概略斜視図である。
図１において、走査線曲がり測定装置１０の支持部材１には直線上の凸部１ａがあり、これに沿って第１の導光部材２と第２の導光部材３が取り付けられている。
第１の導光部材２の片側端部には第１の受光手段４が、第２の導光部材３の片側端部には第２の受光手段５が取り付けられている。第１及び第２の受光手段４、５には演算手段２１が接続されている。
図２は本実施形態に係る光走査装置の主走査方向の断面図、図３は副走査方向の断面図であり、これら図２及び図３を参照して走査線曲がりの測定動作について説明する。
これら図２及び図３において光源１１から出射した光束は、コリメータレンズ１２、開口絞り１３、シリンドリカルレンズ１４を透過して、ポリゴンモータ１５の反射面上に線像を形成する。ポリゴンモータ１５からの反射光束は結像光学系１６を透過して像面１７に点像を形成する。
像面１７から所定量だけ焦点をずらした（デフォーカスした）位置に走査線曲がり測定装置１０を設置する。このように像面１７から所定量だけデフォーカスして設置すると、光束幅が数百μｍから数ｍｍに広がって、導光部材２、３に入射するので、像面１７の湾曲など光軸方向の光学特性の影響を受けにくくなるので良い。
走査線曲がり測定装置１０の導光部材２、３に光束が到達すると、その表面を透過して裏面の一部で乱反射する。乱反射した光束の一部は、導光部材２、３の中を伝播して受光手段４、５に到達する。
第１及び第２の受光手段４、５は、その光量に応じて第１及び第２の電気信号Ｕ１、Ｕ２を出力する。この第１及び第２の電気信号Ｕ１、Ｕ２は図１に示す演算手段２１に送られる。
演算手段２１は、具体的には一般的なオペアンプなどを用いたアナログ回路で実現しても良いし、Ａ／Ｄ変換器を介してデジタル量に変換して、コンピュータのソフトウエアで実現しても良い。
図４は演算手段の説明に対応する機能ブロック図である。
図４において演算手段２１は２つの電気信号Ｕ１、Ｕ２の比Ｕを求める。例えば、以下の式に示すような演算を行うと良い。
Ｕ＝（Ｕ２−Ｕ１）／（Ｕ２＋Ｕ１）
【０００８】
図５は第１及び第２の電気信号Ｕ１、Ｕ２の出力を説明する模式図である。
ここで、図５を用いて出力信号について説明する。
光束は照射される走査方向の位置から第１及び第２の導光部材２、３を伝播して受光手段４、５（図１参照）に到達する。この場合、光量は減衰するが、その減衰の度合いは第１及び第２の導光部材２、３でほとんど変わらない。
従って、走査線曲りがない場合、電気信号（出力信号）Ｕ１と出力信号Ｕ２は走査線全域にわたってほぼ同じ値を出力するので、演算手段の出力Ｕは常に０となる。この状態は図５に示す（ｃ）の状態となる。光束が第１の導光部材２側にずれた場合、図５に示す（ｂ）の状態となり、光束のずれ量にしたがって出力信号Ｕ１が出力信号Ｕ２より大きくなる。
出力信号Ｕ１、Ｕ２の比は走査線上どの位置でも一定となるので、前述の演算によって走査線の位置に関係なく副走査方向のスポット位置ずれ量が求まる。光束の位置ずれと第１及び第２の受光手段４、５の各出力信号Ｕ１、Ｕ２、演算手段２１の出力信号Ｕの関係は図５に示すようになり（ｃ）近傍に略線形の範囲ができる。
つまり、演算手段２１の出力信号Ｕは、副走査方向のスポット位置誤差に対応した出力となる。この略線形の範囲の傾きを示すセンサ（図示せず）の感度は、走査線曲がり測定装置１０をどれだけ像面１７からデフォーカスして設置するかにより調整することができる。
実際の走査線曲がりの測定動作について図１乃至図５を参照して説明する。
光源１１を全点灯させて、ポリゴンミラー１５を回転させながら演算手段２１の出力信号Ｕを１走査内で逐次記憶する。
走査線は略一定の走査速度で移動するから横軸の時間を対応する主走査方向位置に変換とすると、走査線の各位置での副走査方向のスポット位置ずれ量の分布、即ち像面１７の湾曲が得られる。
また走査線上の所定の位置のみに光源１１を点灯するように光走査装置を駆動させ、そのときの演算手段２１の出力信号Ｕを記憶する。これを複数の位置で行うことでも像面１７の湾曲が得られる。
【０００９】
第１及び第２の導光部材２、３は、光束の一部を裏面で乱反射させ、それを第１及び第２の受光素子４、５まで伝播させる。このため、第１及び第２の導光部材２、３は少なくともその裏面の鏡面に多数の微小な凹凸を付けたものとしている。
このようにすると、凹凸部（図示せず）が入射光束を乱反射させ、鏡面部（図示せず）が乱反射した光束を全反射して第１及び第２の受光素子４、５へ向けて伝播させるので到達する光量が増えるので好都合である。
第１及び第２の導光部材２、３の表面が鏡面であるため、十分な光量が裏面まで到達し、裏面は鏡面に微小な凹凸を付けてあるため凹凸部で光束の一部が乱反射し、その光束は第１及び第２の導光部材２、３の側面及び表面及び裏面の鏡面部に到達するときの入射角が十分大きいので全反射する。
従って、効率良く第１及び第２の導光部材２、３の端部まで光束が伝播し、第１及び第２の受光素子４、５での受光量が増えるため、より安定して走査線曲りを測定可能である。
ここで、第１及び第２の導光部材２、３は、第１及び第２の受光素子４、５に近い部分では遠い部分に比べてより光束を伝播させる機能を要求される。そのため、第１及び第２の受光素子４、５から遠い部分に比べて凹凸部の占める面積が少なく、鏡面部の占める面積が多い構成にすると、第１及び第２の受光素子４、５から遠い部分に光束が入射したときの第１及び第２の受光素子４、５での受光量の減衰が小さくなるので好都合である。
第１及び第２の導光部材２、３の第１及び第２の受光素子４、５の設置してある端部以外の端部は、金属膜を付けるなどで反射率を高めておくと、第１及び第２の受光素子４、５で受光する光量が増えるのでさらに都合が良い。
このように第１及び第２の導光部材２、３の第１及び第２の受光素子４、５側以外の端部の反射率を高め、より大量の光を受光素子４、５に導くことで、より多くの光束が受光素子４、５に向けて伝播するようになり、受光素子４、５での受光量が多くなる。したがって、出力信号を安定化させ、信号のＳＮ比が向上して、より安定して走査線曲りを測定可能となる。
本発明では２本の導光部材２、３を精度良く直線に近接して設置するところに特徴があり、その手段としてここでは支持部材１の凸部１ａに沿わせるような構成としたが、この条件に適うものであれば他の方法でも良い。例えば、２本の溝にそれぞれの導光部材を埋め込んで設置するような構成でも良い。
【００１０】
図６は走査線曲がり測定装置の第２の実施形態を示す概略斜視図である。
図６において、第１の導光部材２の両端部には、それぞれ第１の受光手段４と第３の受光手段６が取り付けられている。同様に第２の導光部材３の両端部には、それぞれ第２の受光手段５と第４の受光手段７が取り付けられている。
各受光手段４、５、６、７からの出力信号Ｕ１、Ｕ２、Ｕ３、Ｕ４は図示しない演算手段に送られる。演算手段は、以下のような演算を行う。
Ｕ＝（Ｕ２＋Ｕ４−（Ｕ１＋Ｕ３））／（Ｕ１＋Ｕ２＋Ｕ３＋Ｕ４）
これにより、走査線の位置による受光量の偏りが緩和され、信号のＳＮが高まる。この走査線曲がり測定装置１０は、導光部材２、３の両端から出射される光の和を電気信号に変えることに特徴がある。
従って、例えば導光部材２、３の両端部にそれぞれ光ファイバを接続して、それぞれの光ファイバの両端部から出射する光を１つの受光素子で受光するような構成でも良い。
このように走査線曲がり測定装置１０は、主走査方向に長い棒状の第１の導光部材２と、この第１の導光部材２の近傍で副走査方向にずれた位置に配置された第２の導光部材３と、第１の導光部材２の両端から出射する光を受光し、受光量を電気信号に変換する第１及び第２の受光素子４、５とを含んでいる。
さらに第２の導光部材３の両端から出射する光を受光し、且つ受光量を電気信号に変換する第３及び第４の受光素子６、７と、各受光手段からの出力より各像高での走査線曲がり量を求める演算手段（図１参照）よりなる。
導光部材２、３の両端からの出射光を受光素子４、５、６、７に導くことで、導光部材２、３の両端部から出射した光を受光して、電気信号に変換できるので、より安定して走査線曲りを測定可能である。
【００１１】
図７は走査線曲がり測定装置の第３の実施形態を示す概略斜視図である。
図７を用いて、第３の実施形態について説明する。第１及び第２の導光部材２、３の上に等ピッチで開口が開けられたマスク８を設置する。また、演算手段（図１参照）は前述の演算結果Ｕとともに第１及び第２の受光手段４、５の出力信号Ｕ１、Ｕ２の和信号Ｕ１＋Ｕ２を出力する。
マスク８の開口は等ピッチで作成してあるので、倍率誤差が無い場合は、和信号Ｕ１＋Ｕ２は一定の時間間隔のパルスとなるが、倍率誤差がある場合はパルスの時間間隔に誤差が生じる。従って、各主走査位置で時間間隔を計測することによって各主走査位置での速度分布を得る。
具体的には、和信号Ｕ１＋Ｕ２を図示しないコンパレータ等でパルス化し、各パルス間の時間を基準クロックでカウントし、マスク８のピッチを時間間隔で除算すること、もしくは規定時間内にカウントされるパルス数に相当する距離を前記規定時間で除算することで実現できる。
なお、前記規定時間はＣＰＵやＤＳＰの割込み処理によって実現できる。この速度分布から理想的な速度を引き、速度誤差分布、つまり倍率誤差を得ることができる。従って、本実施形態では走査線曲りと倍率誤差の両方を測定可能となる。ここで、各受光手段４、５、６、７からの出力は、図示していないが低帯域（ローパス）フィルタ処理を行ってから演算処理を行うと、電気的ノイズの影響を低減できてさらに好都合である。また、速度誤差分布も差分データなので、ローパスフィルタ処理をするとノイズの影響を低減できてなお好都合である。
このように本実施形態の走査線曲がり測定装置は、第１及び第２の導光部材２、３の入射面近傍に主走査方向に等ピッチで設けられた複数の開口を有する空間光変調手段（マスク）８を設け、演算手段が走査線曲がり及び倍率誤差を求める。
空間変調手段であるマスク８を付加することで、出力信号がパルス状になり、そのパルス間隔の分布を測定することで倍率誤差も測定可能となるので、１つの装置で倍率誤差と走査線曲がりの両方を測定可能となる。
このように演算手段では、各受光手段からの出力に対して、ローパスフィルタ処理を行ってから、走査線曲りを求める。したがって、受光素子で光量信号を電気信号に変換した後、ローパスフィルタ処理をすることで、高周波の電気的ノイズの影響を低減し、よりノイズに強い出力信号を獲得し、より安定して走査線曲がり等を測定可能となる。
【００１２】
図８は走査線曲がり測定機能を付加した光走査装置の実施形態を説明する概略図である。図８を用いて、走査線曲がり測定機能を付加した光走査装置の実施形態を説明する。
ポリゴンモータ１５で反射した光束は結像光学系１６を透過して、そのほとんどが光軸に対して傾斜を持たせて設置した光学窓１８を透過して像面１７に結像する。また光学窓１８の入射面で反射した光束の一部は走査線曲がり測定装置１０に入射する。光学窓１８以外の部分は光学箱１９内に設置され、トナーや埃等の異物から守られている。
ここで、光学窓１８の入射面は、特にコーティングされていない場合は数％の反射率しかないが、これでは走査線曲がり測定装置１０に必要な光量が得られない場合がある。その場合は、反射率を高めるような適宜なコーティングがなされるとなお良い。また出射面はできるだけ全ての光が透過するように、減反射コーティングがなされていると好都合である。
光学窓１８から反射した光束は走査線曲がり測定装置１０に入射し、第１及び第２の受光手段からの出力信号Ｕ１、Ｕ２は走査線曲がり演算手段２１に送られる。ここで走査線曲がりが求められ、求められた走査線曲がりが走査線曲がり制御手段２２に送られる。この走査線曲がり制御手段２２は走査線曲がり調整手段２３を制御して走査線曲がりを小さくする。
【００１３】
図９はレンズと走査線曲がり調整手段を光軸方向から見た状態を示す概略図である。図９において、レンズ１６はその中央部がベース２４の突起２４ａに対して突き当てられ、板ばね２５との間で挟まれて支持されている。
第１及び第２のアクチュエータ２６、２７はそれぞれ伸縮可能なプローブ部分２６ａ、２７ａを備えており、これらのプローブ部分２６ａ、２７ａを介してレンズ１６と接触しており、第１及び第２の板ばね２８、２９とで挟むことによってレンズ１６を支持している。
走査線曲がり制御手段２２（図８参照）は走査線曲がり演算手段２１（図８参照）の出力に基づいて、第１及び第２のアクチュエータ２６、２７を制御し、各プローブ部分２６ａ、２７ａの長さを変えることによってレンズ１６を傾斜させたり、曲げたりして走査線曲がりを小さくする。走査線曲がりが所定の幅になるまでこれを繰り返す。
図１０は走査線曲がり調整の動作を示すフローチャートである。図１０において、走査線曲がり演算手段２１（図８参照）から出力する（Ｓ１）。この出力に基づいて、走査線曲がりが所定の幅内かどうか判断し（Ｓ２）、所定の幅内ならば、動作を終了する。また、所定の幅内でないならば、走査線曲がり制御手段２２（図８参照）でさらに制御を繰り返す（Ｓ３）。
走査線曲がり測定装置１０から得られた走査線曲がり、倍率誤差を用いてこれを補正する方法は、既存の方法が適用可能である。例えば、特許文献２に記載されているように、結像光学系の一部の光学素子を傾けたり、撓ませたりすることで走査線曲がりを補正する。
また特許文献１に記載されているように、測定した走査線曲りを関数などでモデル化して、これを相殺するように画像データを副走査方向にずらしてから出力することで、補正を行っても良い。
特に、本発明では走査線曲がりの多点測定が可能であるため、高い空間周波数の走査線曲りまでモデル化可能である。本発明とこの補正方法の組み合わせは高い空間周波数の走査線曲りまで補正可能であるので、従来例に比べて補正効果が高い。
【００１４】
本発明による光走査装置は、図８に示したように、光源（図示せず）と、この光源から出射された光束を偏向する偏向手段（ポリゴンモータ）１５と、この偏向手段１５によって偏向した光束を像面１７で集光する結像光学系１６と、透明部材（光学窓）１８と、上述した走査線曲がり測定装置１０を含んでいる。
結像光学系１６を通過した光束の一部が透明部材（光学窓）１８を通過して被照射面に照射し、他の一部が透明部材（光学窓）１８で反射し、反射光束が走査線曲がり測定装置１０に入射する構成になっている。
このように、防塵を目的として従来の光走査装置に付いている光学窓１８からの反射光束を利用して走査線曲がり等を測定することで、低コストで前述の走査線曲がり測定装置１０を光走査装置に組み込むことができる。したがって、低コストで多数の点における走査線曲がりの測定機能を有する光走査装置を提供可能となる。
また、前述の透明部材（光学窓）１８は平行平板であり、その入射面の反射率が出射面の反射率よりも大きくなるように表面処理（コーティング）の条件を適切に設定している。
したがって、透明部材（光学窓）１８の多重反射の影響を低減して、ここからの反射率を所定の値にすることができ、走査線曲がり測定装置に必要な光量を反射させることができるので、より安定して走査線曲がり等を測定する機能を有した光走査装置を提供可能となる。
光走査装置は、演算手段２１から出力された走査線曲がりの測定結果を基に、走査光学系の光学部品を機械的に調整することにより、走査線曲がりを略直線状にする走査線曲がり調整手段２３を有している。
構成要素が少ないため、低コストで、かつ走査線の多数の点における副走査位置ずれ量を測定可能であるため多数の点における走査線曲りを測定、補正可能な光走査装置を提供可能となる。
光走査装置は、さらに、演算手段２１から出力された走査線曲がりの測定結果を基に、走査線曲りを相殺するように出力する画像データを補正するリサンプリングを行ってスポット位置を補正するように構成されている。
これにより、構成要素が少ないため低コストに、かつ走査線の多数の点における副走査位置ずれ量を測定可能であるため空間周波数の高い走査線曲りを測定、補正可能な光走査装置を提供可能となる。
【００１５】
さらに、本発明をまとめれば、原理的には走査線上の全ての点でのスポット光の位置ずれを測定する。これは、電子写真装置がその内部で光走査装置の走査線曲がりを測定して、デジタルデータ処理で補正して、画像のゆがみやカラーでの色ずれの無い高品質のプリントを可能にする方向に向かう傾向にあるので、その場合、走査線曲がりの測定点数を増やせば、より高精度な補正が可能となる。
実際に何点でスポット光の位置ずれを測って補正を行うかは、設計者が自由に設定できるため、ハイエンド（最高級品）からローエンド（低価格品）まで同一の部品で対応でき、部品の共通化によるコストダウンも期待できる。
本発明では、光走査装置でスポット光を走査したときの走査線曲がりが、アナログ信号としてリアルタイムに出力される。したがって、これを何点での位置ずれとしてデジタルデータに変換するかは自由である。したがって、特に多数の点での位置ずれを検出して、走査線曲がりを測定したい場合に、まったくコストアップ無くこれを達成できる。
さらにまた、本発明では高精度を要求するのは、支持部材の凸部の真直度と、２つの導光部材の取り付けのみであるで、従来例のように多数の検出部を高精度で並べる組み立て工程が無く、比較的容易に高精度が達成できる。
【図面の簡単な説明】
【００１６】
【図１】走査線曲がり測定装置の第１の実施形態を示す概略斜視図。
【図２】光走査装置の主走査断面の走査線曲がりの測定動作を説明する概略図。
【図３】光走査装置の副走査断面の走査線曲がりの測定動作を説明する概略図。
【図４】演算手段の説明に対応する機能ブロック図。
【図５】第１及び第２の電気信号Ｕ１、Ｕ２の出力を説明する模式図。
【図６】走査線曲がり測定装置の第２の実施形態を示す概略斜視図。
【図７】走査線曲がり測定装置の第３の実施形態を示す概略斜視図。
【図８】走査線曲がり測定機能を付加した光走査装置の実施形態を説明する概略図。
【図９】レンズと走査線曲がり調整手段を光軸方向から見た状態を示す概略図。
【図１０】走査線曲がり調整の動作を示すフローチャート。
【符号の説明】
【００１７】
２  第１の導光手段
３  第２の導光手段
４  第１受光手段
５  第２の受光手段
６  第３の受光手段
７  第４の受光手段
８  空間光変調手段（マスク）
１１  光源
１５  偏向手段（ポリゴンミラー）
１６  結像光学系（レンズ）
１８  透明部材（光学窓）
２１  演算手段
２２  走査線曲がり制御手段
２３  走査線曲がり調整手段
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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