(57)【要約】【課題】  独立に調整できない２つのドライブパラメータの最適値を探索する処理を短時間に行うこと。【解決手段】  ドライブパラメータの変動領域を２本の対角線Ａ，Ｂで４領域に分割し、上記四隅のエラーレートの値から、最適値が存在する探索エリアを、上記対角線で区切られた４つの領域の内の一つの領域とする。ついで、例えば探索エリアが左側の１／４の領域であるとすると、パラメータＰ１，Ｐ２を上記対角線Ａに沿って、（０，０）から（７，７）まで振って、エラーレートの値を評価し、エラーレートが最小となる点（ｍ，ｍ）を探す。ついでパラメータＰ１，Ｐ２を対角線Ｂに平行な線に沿って、（ｍ，ｍ）から振って、エラーレートの値を評価し、エラーレートが最小値を取るパラメータの組み合わせ（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を最適パラメータとして決定する。【選択図】          図３
2006216166.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスク装置のドライブパラメータの設定方法であって、
２つの互いに関連するドライブパラメータの変動領域における四隅のエラーレートの値を求める第１のステップと、
上記エラーレートの値から、最適値が存在する探索エリアを、上記ドライブパラメータの変動領域を２本の対角線で分割した４領域の内の一つの領域として決定する第２のステップと、
上記最適値が存在する探索エリア内で、エラーレートの値が最も小さくなる点を求める第３のステップからなり、
上記探索エリア内においてエラーレート最も小さくなるパラメータの組合せを探索し、ドライブパラメータの最適値を決定する
ことを特徴とするドライブパラメータの決定方法。
【請求項２】
磁気ディスク装置のドライブパラメータの設定方法であって、
２つの互いに関連するドライブパラメータの変動領域における四隅のエラーレートの値を求める第１のステップと、
上記エラーレートの値から、最適値が存在する探索エリアを、上記ドライブパラメータの変動領域を２本の対角線で分割した４領域の内の一つの領域として決定する第２のステップと、
上記最適値が存在する探索エリアの境界となる上記一方の対角線に沿って２つのパラメータを変化させて、エラーレートの値が最も小さくなる第１の点を求める第３のステップと、
上記第１の点から、上記最適値が存在する探索エリア内で、探索エリアの境界となる他方の対角線に平行になるように２つのパラメータを変化させて、エラーレートの値が最も小さくなる第２の点を求める第４のステップからなり、
上記第２の点におけるパラメータの組合せをドライブパラメータの最適値と決定する
ことを特徴とするドライブパラメータの決定方法。
【請求項３】
ドライブパラメータの最適値が、既知の他のドライブパラメータの最適値の近傍に存在することがわかっている場合、
上記他のドライブパラメータの最適値を囲む最適値周辺エリアを設定し、
上記最適値周辺エリア内で、請求項１または請求項２記載の方法により、最適パラメータを探索する
ことを特徴とするドライブパラメータの決定方法。
【請求項４】
磁気ディスク装置のドライブパラメータの設定するためプログラムであって、
上記プログラムは、２つの互いに関連するドライブパラメータの変動領域における四隅のエラーレートの値を求める第１のステップと、
上記エラーレートの値から、最適値が存在する探索エリアを、上記ドライブパラメータの変動領域を２本の対角線で分割した４領域の内の一つの領域として決定する第２のステップと、
上記最適値が存在する探索エリアの境界となる上記一方の対角線に沿って２つのパラメータを変化させて、エラーレートの値が最も小さくなる第１の点を求める第３のステップと、
上記第１の点から、上記最適値が存在する探索エリア内で、上記探索エリアの境界となる他方の対角線に平行になるように２つのパラメータを変化させ、エラーレートの値が最も小さくなる第２の点を求め、該第２の点におけるパラメータの組合せを最適パラメータと決定する第４のステップからなる処理をコンピュータに実行させる
ことを特徴とするドライブパラメータの決定プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気ディスク装置のデータＲ／Ｗ特性を左右するドライブパラメータの調整方法に関し、特に、２つの互いに関連するドライブパラメータについて、最適化を図るとともに、調整時間の短縮を実現することを可能としたパラメータ調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ストレージシステム、例えば磁気ディスク装置においては、ドライブパラメータによりデータのリード／ライト（Ｒ／Ｗ）特性が左右される。そこで、製品出荷時に、使用条件に応じた最適なドライブパラメータの値を設定して、この値を書き込んだテーブルを作成して、磁気ディスク装置の特定の領域（ＳＡ領域という）等に書き込んでおく。そして、磁気ディスク装置を起動した際、このテーブルをメモリなどに読み込み、Ｒ／Ｗ時に使用条件に応じた最適なパラメータを設定している。
【０００３】
磁気ディスク装置等の上記パラメータの調整方法については、従来から種々の方法が提案されている。例えば、特許文献１では、記録再生装置や通信装置などの伝送回路に用いられる等化器の特性パラメータを、初期パラメータの設定を行った後、特性パラメータを所定範囲で変化させ、パラメータの誤り率検出手段により検出される信号誤り率が小さくなる方向に等化器の特性パラメータを可変制御する動作を繰り返し行い、特性パラメータを最適に制御する技術が提案されている。
また、特許文献２では、磁気ディスク装置の動作温度に相当するテスト条件下で記録パラメータを変化させながらエラー率を調べ、最も低いエラー率を示す記録パラメータ値を選択するようにした磁気ディスク装置の記録電流最適化方法が提案されている。
【０００４】
ところで、磁気ディスク装置のエラーレートを左右するドライブパラメータの中には、ヘッド出力信号の波形等価回路やライト・プリコンペンセイション（Ｗｒｉｔｅ  Ｐｒｅｃｏｍｐｅｎｓａｔｉｏｎ）の各パラメータに見られるように、独立に調整できないものがある。
この場合には、２つのパラメータを変化させながら最適値（エラーレートを最小にする２つのパラメータの値）を探索することになる。例えば、２つのパラメータがＰ１，Ｐ２であるとすると、上記探索には、図７に示すように、パラメータＰ１，Ｐ２を０ｈからＦｈまでフルレンジで振って、虱潰しに最適値を探索する方法が考えられる。この方法は、パラメータＰ１，Ｐ２の変化範囲が０ｈからＦｈの場合、Ｆ×Ｆ回の評価を行うために多大な時間を要し、ハードディスク装置の試験工程において多大な支障をきたすことになる。
【０００５】
上記問題を解決するため、現状においては、以下の方法が採られている。
２つのパラメータがＰ１，Ｐ２であるとすると、等高線で表した図８のようなエラーレートの分布を想定する。そして、２つのパラメータを同時に例えば（０，０）から（Ｆ，Ｆ）方向に変化させて、線Ａ上でエラーレートが最も小さくなる点Ｍを探索する。次に、上記点Ｍを通る線Ｂ上で、エラーレートの最も小さくなる点を探索する。
エラーレートが図８の等高線で示される分布であれば、上記探索により、エラーレートの最も小さくなる最適パラメータを見つけることができる。
この方法であれば、２方向の探索で、最大で計２×Ｆ個の評価で最適パラメータを求めることができる。
【特許文献１】特開平３−１００９７１号公報
【特許文献２】特開２００４−１９９８６０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、最近の磁気ディスク装置においては各種使用環境への適応性が要求されており、例えば環境温度ごとにドライブパラメータを調整する等、環境条件や使用条件等に応じて、また、ヘッド、ゾーン毎にパラメータを調整することが必要となってきた。このため、これらの条件毎に、上記最適パラメータを探索する処理を行う必要があり、製品出荷時前のドライブパラメータの設定に多大な時間を要している。このため、さらなるパラメータ調整時間の短縮が重要な課題となっている。
本発明は上記事情に鑑みなされたものであって、独立に調整できない２つのドライブパラメータの最適値を探索する処理を従来より短時間に行うことができる磁気ディスク装置のドライブパラメータの設定方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明においては、上記課題を次のように解決する。
（１）実際の磁気ディスク装置のエラーレートの分布は全体的に偏っていることが多いことを利用し、後述する図３に示すようにドライブパラメータの変動範囲の四隅のエラーレートを評価して最適パラメータの探索エリアを全体の１／４に限定する。
すなわち、上記ドライブパラメータの変動領域を２本の対角線で４領域に分割し、上記四隅のエラーレートの値から、最適値が存在する探索エリアを、上記対角線で区切られた４つの領域の内の一つの領域とする。
そして、図３に示すように探索エリア内で２方向にパラメータを振って最適値を求める。
例えば、２つのパラメータＰ１，Ｐ２の値をそれぞれ０ｈ−Ｆｈの範囲で振る場合、エラーレートの値をＶ（Ｐ１，Ｐ２）で表すとすると、Ｖ（０，０）＞Ｖ（Ｆ，Ｆ）かつ  Ｖ（Ｆ，０）＜Ｖ（０，Ｆ）ならばＶ（１，１），Ｖ（２，２），・・・Ｐ（７，７）を評価し、最小となるＶ（ｍ，ｍ）を探す。引き続き  Ｖ（ｍ，ｍ），Ｖ（ｍ−１，ｍ＋１),・・・，Ｖ（０，２×ｍ）を評価し、この中で最小値を取るパラメータの組み合わせ（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を最適パラメータとして決定する。
（２）パラメータの調整は通常ヘッド・ゾーンごとに行うが、隣あったゾーンでは最適値が近いところに存在する。
そこで、ドライブパラメータの最適値が、既知の他のドライブパラメータの最適値の近傍に存在することがわかっている場合、図５に示すように、上記他のドライブパラメータの最適値を囲む最適値周辺エリアを設定し、そのエリア内で、上記（１）の方法により、ドライブパラメータの最適値を探索する。
【発明の効果】
【０００８】
本発明においては、以下の効果を得ることができる。
（１）最適パラメータの探索エリアを全体の１／４に限定し、その中でドライブパラメータを２方向に振って、独立に調整できない２つのドライブパラメータの最適値を求めているので、従来に比べ、ドライブパラメータの最適値の探索処理に要する時間を短くすることができる。
（２）ドライブパラメータの最適値が、既知の他のドライブパラメータの最適値の近傍に存在することがわかっている場合、図５に示すように、上記他のドライブパラメータの最適値を囲む最適値周辺エリアを設定し、そのエリア内で、上記（１）のようにしてドライブパラメータの最適値を探索しているので、更に探索処理に要する時間を短縮することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
図１は本発明の実施例におけるドライブパラメータ調整時の磁気ディスク装置のハードウェアの概略構成を示す図である。同図において、１は磁気ディスク記録媒体である。磁気ディスク記録媒体１（以下記録媒体１という）は、半径方向に複数のゾーンに分割され、各ゾーンは、数百〜千程度の複数のシリンダに分割されている。
２はヘッドであり、図示しないアクチュエータによって磁気ディスク記録媒体の半径方向に移動し、移動した位置において、回転している磁気ディスク記録媒体１に対してデータの読み書きを行う。
３はプリアンプ等を備えたヘッドＩＣ、４はイコライザー／復号器、５はハードディスクコントローラ、６はこれらを制御するＭＰＵ等から構成される制御部である。７は制御部６のＭＰＵなどに内蔵されるバッファメモリであり、製品出荷時におけるパラメータ調整作業において、上記バッファメモリ７を使用して、ドライブパラメータ、エラーレート等を更新しながら、エラーレートが最も小さくなるドライブパラメータの最適値が探索される。
【００１０】
製品出荷時におけるパラメータ調整作業においては、前記したように、環境条件、使用条件等に応じて、また必要に応じてヘッド、ゾーン毎にドライブパラメータが設定される。上記のように探索されたドライブパラメータの最適値は、ドライブパラメータを切り替える条件とともに、上記バッファメモリ７のテーブルに格納される。そして、パラメータの調整作業が終わると、バッファメモリ７に設定された上記テーブルは、記憶媒体１の特定の領域（ＳＡ領域）に格納される。
上記記憶媒体１の特定領域に格納されたテーブルは、磁気ディスク装置が起動されると、制御部６が内蔵するメモリに読み込まれ、制御部６はこのテーブルを参照してドライブパラメータを切り替える。
【００１１】
上記ドライブパラメータは、単独で調整可能なものもあるが、中には前記したヘッド出力信号の波形等価回路やライト・プリコンペンセイションのように独立して調整できないものもある。ここでは、上記ドライブパラメータの調整において、独立に調整できない２つのパラメータＰ１，Ｐ２を調整してエラーレートが最も小さくなる最適値を探索する処理について説明する。
図２は、独立に調整できない２つのパラメータＰ１，Ｐ２の調整処理の概要を示すフローチャートである。
同図に示すように、ドライブパラメータＰ１，Ｐ２を設定し（ステップＳ１）、データをライト／リードして、制御部６においてエラーレートＶを評価する（ステップＳ２）。ついで、後述する図３または図５に示すようにドライブパラメータＰ１，Ｐ２を更新し、上記と同様に、エラーレートＶを評価する（ステップＳ３）。
これらドライブパラメータＰ１，Ｐ２、エラーレートＶの評価結果は、図１に示すバッファメモリ７に格納される。
上記ステップＳ１からＳ３の処理を繰り返し、ドライブパラメータＰ１，Ｐ２の最適値を探索する。
【００１２】
図３は、本発明の第１の実施例のドライブパラメータを探索処理を説明する図、図４は、本発明の第１の実施例のドライブパラメータ探索処理の一例を示すフローチャートであり、図３、図４により本発明の第１の実施例について説明する。
実際の磁気ディスク装置のエラーレートの分布は全体的に偏っていることが多い。これを利用して、図３に示すように、最初にドライブパラメータＰ１，Ｐ２の変化範囲（この例では０ｈ〜Ｆｈ）の四隅を評価して最適パラメータの探索エリアを全体の１／４に限定する。
例えば、図３において、Ｖ（０，０）＜Ｖ（Ｆ，Ｆ）かつ  Ｖ（０，Ｆ）＜Ｖ（Ｆ，０）ならば、図３の（０，Ｆ）と（Ｆ，０）を結ぶ対角線Ｂと、（０，０）と（Ｆ，Ｆ）を結ぶ対角線Ａと、点（０，０）と点（０，Ｆ）を結ぶ直線で囲まれるエリアに最適値の探索エリアがあると想定する。
なお、図３の横軸、縦軸は２つのドライブパラメータＰ１，Ｐ２の値を示し、図３はドライブパラメータＰ１，Ｐ２の値をそれぞれ０ｈ−Ｆｈの範囲で振る場合を示している。  以下では、点（０，０），点（０，Ｆ），点（Ｆ，０），点（Ｆ，Ｆ）で囲まれるエリアをパラメータ変化エリアという。また、２つのドライブパラメータがＰ１，Ｐ２のときのエラーレートの値をＶ（Ｐ１，Ｐ２）で表す。
【００１３】
ついで、図３に示すように、上記探索エリア内で２方向にパラメータを振って最適値を求める。
例えば、まずパラメータＰ１，Ｐ２を上記対角線Ａに沿って、（１，１），（２，２），・・・（７，７）と振って、Ｖ（１，１），Ｖ（２，２），・・・Ｐ（７，７）を評価し、最小となるＶ（ｍ，ｍ）を探す。
引き続き、パラメータＰ１，Ｐ２を対角線Ｂに平行な線に沿って、（ｍ，ｍ），（ｍ−１，ｍ＋１）, ・・・，（０，２×ｍ）と振って、Ｖ（ｍ，ｍ），Ｖ（ｍ−１，ｍ＋１）, ・・・，Ｖ（０，２×ｍ）を評価し、この中で最小値を取るパラメータの組み合わせ（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を最適パラメータとして決定する。
【００１４】
上記最適値の探索処理を図４のフローチャートにより説明する。
まず、Ｖ（０，０）−Ｖ（Ｆ，Ｆ）＜０であるかを調べる（ステップＳ１）。
Ｖ（０，０）−Ｖ（Ｆ，Ｆ）＜０であれば、Ｖ（０，Ｆ）−Ｖ（Ｆ，０）＜０であるかを調べる（ステップＳ２）。また、Ｖ（０，０）−Ｖ（Ｆ，Ｆ）＜０でない場合には、Ｖ（０，Ｆ）−Ｖ（Ｆ，０）＜０であるかを調べる（ステップＳ３）。
（i ）Ｖ（０，０）−Ｖ（Ｆ，Ｆ）＜０であり、かつ、Ｖ（０，Ｆ）−Ｖ（Ｆ，０）＜０であれば、図３に示したように探索エリアは対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの左辺で囲まれるエリア（Ｒ１）にある。
（ii）Ｖ（０，０）−Ｖ（Ｆ，Ｆ）＜０であり、かつ、Ｖ（０，Ｆ）−Ｖ（Ｆ，０）＜０でなければ、探索エリアは、図３において対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの下辺で囲まれるエリア（Ｒ２）にある。
（iii ）Ｖ（０，０）−Ｖ（Ｆ，Ｆ）＜０でなく、かつ、Ｖ（０，Ｆ）−Ｖ（Ｆ，０）＜０であれば、探索エリアは、図３において対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの上辺で囲まれるエリア（Ｒ３）にある。
（iv）Ｖ（０，０）−Ｖ（Ｆ，Ｆ）＜０でなく、かつ、Ｖ（０，Ｆ）−Ｖ（Ｆ，０）＜０でなければ、探索エリアは、図３において対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの右辺で囲まれるエリア（Ｒ４）にある。
【００１５】
以下、上記(i) 〜(iv)の場合について、ステップＳ４〜Ｓ１１でドライブパラメータの最適値を探索する。
（ａ）上記（i ）場合（ステップＳ４−Ｓ５，Ｓ１２）。
前記図３で説明したように、探索エリアは対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの左辺で囲まれるエリア（Ｒ１）にあり、探索エリアＲ１内で、ステップＳ４に示すように、２つのパラメータＰ１，Ｐ２を（０，０）から（Ｆ／２，Ｆ／２）に変化させながら、エラーレートＶの最小値Ｖ（ｍ，ｍ）を探索する。
最小値Ｖ（ｍ，ｍ）が見つかったら、パラメータＰ１，Ｐ２を（ｍ，ｍ）から（ｍ−ｉ，ｍ＋ｉ）［ｉ＝０〜ｍ］と変化させてエラーレートＶを評価し、Ｖ（ｍ−ｉ，ｍ＋ｉ）が最小となるＶ（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を探索し、（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を最適なパラメータと決定する。
（ｂ）上記（ii）場合（ステップＳ６−Ｓ７，Ｓ１２）。
探索エリアは前記図３における対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの下辺で囲まれるエリア（Ｒ２）にあり、探索エリアＲ２内で、ステップＳ５に示すように、２つのパラメータＰ１，Ｐ２を（Ｆ，０）から（Ｆ／２，Ｆ／２）に変化させながら、エラーレートＶの最小値Ｖ（Ｆ−ｍ，ｍ）を探索する。
最小値Ｖ（Ｆ−ｍ，ｍ）が見つかったら、パラメータＰ１，Ｐ２を（Ｆ−ｍ，ｍ）から（Ｆ−ｍ−ｉ，ｍ−ｉ）［ｉ＝０〜ｍ］と変化させてエラーレートＶを評価し、Ｖ（Ｆ−ｍ−ｉ，ｍ−ｉ）が最小となるＶ（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を探索し、（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を最適なパラメータと決定する。
【００１６】
（ｃ）上記（iii ）場合（ステップＳ８−Ｓ９，Ｓ１２）。
探索エリアは前記図３における対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの上辺で囲まれるエリア（Ｒ３）にあり、探索エリアＲ３内で、ステップＳ６に示すように、２つのパラメータＰ１，Ｐ２を（０，Ｆ）から（Ｆ／２，Ｆ／２）に変化させながら、エラーレートＶの最小値Ｖ（ｍ，Ｆ−ｍ）を探索する。
最小値Ｖ（ｍ，Ｆ−ｍ）が見つかったら、パラメータＰ１，Ｐ２を（ｍ，Ｆ−ｍ）から（ｍ＋ｉ，Ｆ−ｍ＋ｉ）［ｉ＝０〜ｍ］と変化させてエラーレートＶを評価し、Ｖ（ｍ＋ｉ，Ｆ−ｍ＋ｉ）が最小となるＶ（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を探索し、（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を最適なパラメータと決定する。
（ｄ）上記（i ｖ）場合（ステップＳ１０−Ｓ１１，Ｓ１２）。
探索エリアは前記図３における対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの右辺で囲まれるエリア（Ｒ４）にあり、探索エリアＲ４内で、ステップＳ７に示すように、２つのパラメータＰ１，Ｐ２を（Ｆ，Ｆ）から（Ｆ／２，Ｆ／２）に変化させながら、エラーレートＶの最小値Ｖ（Ｆ−ｍ，Ｆ−ｍ）を探索する。
最小値Ｖ（Ｆ−ｍ，Ｆ−ｍ）が見つかったら、パラメータＰ１，Ｐ２を（Ｆ−ｍ，Ｆ−ｍ）から（Ｆ−ｍ＋ｉ，Ｆ−ｍ−ｉ）［ｉ＝０〜ｍ］と変化させてエラーレートＶを評価し、Ｖ（Ｆ−ｍ＋ｉ，Ｆ−ｍ−ｉ）が最小となるＶ（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を探索し、（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を最適なパラメータと決定する。
【００１７】
本実施例によれば、上記したように、最適パラメータの探索エリアを全体の１／４に限定し、上記最適値が存在するエリアの一方の対角線に沿って２つのパラメータを変化させて、エラーレートの値が最も小さくなる第１の点を求め、該第１の点から、上記最適値が存在するエリア内で、他方の対角線に平行になるように２つのパラメータを変化させて、エラーレートの値が最も小さくなる第２の点を求めているので、図８に示した従来例では最大（２×Ｆ）回、エラーレートを評価する必要があったが、本実施例では、最大Ｆ＋２回（探索エリアを全体の１／４に限定する際の評価回数が加わる）のエラーレートの評価でドライブパラメータの最適値を求めることができる。
【００１８】
図５は本発明の第２の実施例のドライブパラメータを探索処理を説明する図、図６は、本発明の第２の実施例のドライブパラメータ探索処理の一例を示すフローチャートであり、図５、図６により本発明の第２実施例について説明する。
パラメータの調整は通常ヘッド・ゾーンごとに行われるが、例えば隣あったゾーンでは最適値が近いところに存在する。そこで、あるゾーンについてドライブパラメータの最適値が探索されたら、図５に示すように、同一ヘッドの隣接するゾーンの最適パラメータを囲むエリアを設け、前記第１の実施例で説明した探索エリアとの重なるエリアのみを探索エリアとする。
例えば、図５において、前記したように、Ｖ（０，０）＜Ｖ（Ｆ，Ｆ）かつ  Ｖ（０，Ｆ）＜Ｖ（Ｆ，０）ならば、図５の（０，Ｆ）と（Ｆ，０）を結ぶ対角線Ｂと、（０，０）と（Ｆ，Ｆ）を結ぶ対角線Ａと、パラメータ変化エリアの左辺で囲まれるエリアに最適値の探索エリアＲ１があると想定する。
【００１９】
一方、上記したように例えば隣あったゾーンでは最適値が近いところに存在するので、先の探索処理でドライブパラメータの最適値が探索済みである場合、図５に示すようにその最適値を囲む、矩形状の隣接ゾーン最適値周辺エリアＱを設定する。この例では（ａ１，ｂ１），（ａ１，ｂ２），（ａ２，ｂ１），（ａ２，ｂ２）で囲まれるエリアを上記最適値周辺エリアＱとする。なお、このエリアは過去の経験値などに基づいて設定することができる。
ついで、図５に示すように、上記探索エリア内で２方向にパラメータを振って最適値を求める。ここでは探索エリアＲ１と最適値周辺エリアＱが重なった領域が探索エリアである。
まず、第１の実施例と同様、例えばパラメータＰ１，Ｐ２を上記対角線Ａに沿って、（１，１），（２，２），・・・，（７，７）と振って、Ｖ（１，１），Ｖ（２，２），・・・Ｐ（７，７）を評価し、最小となるＶ（ｍ，ｍ）を探す。
引き続き、パラメータＰ１，Ｐ２を上記対角線Ｂに平行な線に沿って振るが、この場合は最適値周辺エリアＱが設定されているので、該エリアＱ内を探索する。この例では、パラメータＰ１，Ｐ２を（ｍ−１，ｍ＋１），（ｍ−２，ｍ＋２），・・・，（１，２×ｍ−１）と振って、Ｖ（ｍ−１，ｍ＋１），Ｖ（ｍ−２，ｍ＋２），・・・，Ｖ（１，２×ｍ−１）を評価し、この中で最小値を取るパラメータの組み合わせ（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を最適パラメータとして決定する。
【００２０】
上記最適値の探索処理を図６のフローチャートにより説明する。
まず、前記したようにステップＳ１〜ステップＳ３で、探索エリアが対角線で区切られた１／４の領域のどのエリアにあるかを調べる。
すなわち、探索エリアを次のように定める。
（i ）Ｖ（０，０）−Ｖ（Ｆ，Ｆ）＜０であり、かつ、Ｖ（０，Ｆ）−Ｖ（Ｆ，０）＜０であれば、図５に示したように探索エリアは対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの左辺で囲まれるエリア（Ｒ１）にある。
（ii）Ｖ（０，０）−Ｖ（Ｆ，Ｆ）＜０であり、かつ、Ｖ（０，Ｆ）−Ｖ（Ｆ，０）＜０でなければ、探索エリアは、図５において対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの下辺で囲まれるエリア（Ｒ２）にある。
（iii ）Ｖ（０，０）−Ｖ（Ｆ，Ｆ）＜０でなく、かつ、Ｖ（０，Ｆ）−Ｖ（Ｆ，０）＜０であれば、探索エリアは、図５において対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの上辺で囲まれるエリア（Ｒ３）にある。
（iv）Ｖ（０，０）−Ｖ（Ｆ，Ｆ）＜０でなく、かつ、Ｖ（０，Ｆ）−Ｖ（Ｆ，０）＜０でなければ、探索エリアは、図５において対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの右辺で囲まれるエリア（Ｒ４）にある。
【００２１】
ついで、上記(i) 〜(iv)について、ステップＳ４〜Ｓ１２でドライブパラメータの最適値を探索する。なお、以下の説明では、図５の横軸をＸ軸とし、縦軸をＹ軸とする。
（ａ）上記（i ）場合（ステップＳ４−Ｓ６，Ｓ１６）。
まず、探索エリアＲ１内で、２つのパラメータＰ１，Ｐ２を（０，０）から（Ｆ／２，Ｆ／２）に変化させながら、エラーレートＶの最小値Ｖ（ｍ，ｍ）を探索する。
最小値Ｖ（ｍ，ｍ）が見つかったら、前記したように、探索エリア（Ｒ１）と、矩形状の隣接ゾーン最適値周辺エリアＱとが重なった領域を探索する。
まず、ｍａｘ（ｍ，ｂ１）からｍを引き、ｐ１を求める。図５の例ではｍ＜ｂ１なので、ｐ１はｂ１−ｍとなる。この値は、点（ｍ，ｍ）から最適値周辺エリアＱの下辺までのＹ軸方向の距離を表す。なお、最適値周辺エリアＱの下辺が点（ｍ，ｍ）より下にある場合には、ｐ１は０となる。
ついで、ｍからｍｉｎ（ｍ，ａ２）を引きｐ２を求める。図５の例ではｍ＜ａ２なので、ｐ２は０となる。なお、最適値周辺エリアＱの右辺が点（ｍ，ｍ）より左側にある場合にはｐ２は０とはならず、例えば、ｍ＞ａ２であれば、ｍ−ａ２となる。この値は、点（ｍ，ｍ）から最適値周辺エリアＱの右辺までのＸ軸方向の距離を表す。
ついで、ｍａｘ（ｐ１，ｐ２）をｐとする。図５の例では、ｐ１＞ｐ２でありｐ＝ｂ１−ｍである。このｐの値は、上述したように点（ｍ，ｍ）から最適値周辺エリアＱの下辺までのＹ軸方向の距離を表す。この例では、ｐ＝１であり、点（ｍ−１，ｍ＋１）が探索開始点となる。
なお、点（ｍ，ｍ）が最適値周辺エリアＱ内にある場合には、ｐ＝０となり、点（ｍ，ｍ）から探索を開始することになる。
【００２２】
次に、２×ｍから、ｍｉｎ（２×ｍ，ｂ２）を引きｑ１を求める。２×ｍは点（ｍ，ｍ）を通り対角線Ｂに平行な線が、パラメータ変化エリアの左辺もしくはその延長線と交差する点であり、図５の例では、２×ｍ＜ｂ２であるので、ｑ１＝０となる。
ついで、ｑ２＝ａ１とし、ｍａｘ（ｑ１，ｑ２）をｑとする。図５の例では、ｑ１＜ｑ２であるので、ｑ＝ａ１となる。この値は最適値周辺エリアＱの左辺のＸ座標を表し、このＸ座標が探索の終了点となる。
以上のようにｐ，ｑが求まったら、パラメータＰ１，Ｐ２を点（ｍ−ｐ，ｍ＋ｐ）から（ｍ−ｉ，ｍ＋ｉ）［ｉ＝ｐ〜ｍ−ｑ］と変化させてエラーレートＶを評価し、Ｖ（ｍ−ｉ，ｍ＋ｉ）が最小となるＶ（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を探索し、（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を最適なパラメータと決定する。
図５の例では、ｐ＝１，ｑ＝１であり、パラメータＰ１，Ｐ２を点（ｍ−１，ｍ＋１）から点（１，２ｍ−１）まで変化させて、エラーレートＶを評価し、Ｖ（ｍ−ｉ，ｍ＋ｉ）が最小となるＶ（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を探索する。
【００２３】
（ｂ）上記（ii）場合（ステップＳ７−Ｓ９，Ｓ１６）。
探索エリアは前記図５における対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの下辺で囲まれるエリア（Ｒ２）にあり、探索エリアＲ２内で、２つのパラメータＰ１，Ｐ２を（Ｆ，０）から（Ｆ／２，Ｆ／２）に変化させながら、エラーレートＶの最小値Ｖ（Ｆ−ｍ，ｍ）を探索する。
最小値Ｖ（Ｆ−ｍ，ｍ）が見つかったら、前記したように、探索エリア（Ｒ２）と、隣接ゾーン最適値周辺エリア（図５では図示されていない）とが重なった領域を探索する。  まず、ｍからｍｉｎ（ｍ，ｂ２）を引き、ｐ１を求める。
ついで、Ｆ−ｍからｍｉｎ（Ｆ−ｍ，ａ２）を引きｐ２を求める。そして、ｍａｘ（ｐ１，ｐ２）をｐとする。
【００２４】
次に、ｍａｘ（Ｆ−２×ｍ，ａ１）から、Ｆ−２ｍを引きｑ１を求める。
ついで、ｑ２＝ｂ１とし、ｍａｘ（ｑ１，ｑ２）をｑとする。
以上のようにｐ，ｑが求まったら、パラメータＰ１，Ｐ２を点（Ｆ−ｍ−ｐ，ｍ−ｐ）から（Ｆ−ｍ−ｉ，ｍ−ｉ）［ｉ＝ｐ〜ｍ−ｑ］と変化させてエラーレートＶを評価し、Ｖ（Ｆ−ｍ−ｉ，ｍ−ｉ）が最小となるＶ（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を探索し、（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を最適なパラメータと決定する。
（ｃ）上記（iii ）場合（ステップＳ１０−Ｓ１２，Ｓ１６）。
探索エリアは前記図５における対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの上辺で囲まれるエリア（Ｒ３）にあり、探索エリアＲ３内で、２つのパラメータＰ１，Ｐ２を（０，Ｆ）から（Ｆ／２，Ｆ／２）に変化させながら、エラーレートＶの最小値Ｖ（ｍ，Ｆ−ｍ）を探索する。
最小値Ｖ（ｍ，Ｆ−ｍ）が見つかったら、前記したように、探索エリア（Ｒ３）と、隣接ゾーン最適値周辺エリア（図５では図示されていない）とが重なった領域を探索する。  まず、ｍａｘ（Ｆ−ｍ，ｂ１）からＦ−ｍを引き、ｐ１を求める。
ついで、ｍａｘ（ｍ，ａ１）からｍを引きｐ２を求める。そして、ｍａｘ（ｐ１，ｐ２）をｐとする。
【００２５】
次に、２×ｍからｍｉｎ（２×ｍ，ａ２）を引きｑ１を求める。
ついで、ｑ２＝Ｆ−ｂ２とし、ｍａｘ（ｑ１，ｑ２）をｑとする。
以上のようにｐ，ｑが求まったら、パラメータＰ１，Ｐ２を点（ｍ＋ｐ，Ｆ−ｍ＋ｐ）から（ｍ＋ｉ，Ｆ−ｍ＋ｉ）［ｉ＝ｐ〜ｍ−ｑ］と変化させてエラーレートＶを評価し、Ｖ（Ｆ−ｍ−ｉ，ｍ−ｉ）が最小となるＶ（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を探索し、（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を最適なパラメータと決定する。
（ｄ）上記（iv）場合（ステップＳ１3 −Ｓ１5 ，Ｓ１６）。
探索エリアは前記図５における対角線Ａと対角線Ｂとパラメータ変化エリアの右辺で囲まれるエリア（Ｒ４）にあり、探索エリアＲ４内で、２つのパラメータＰ１，Ｐ２を（Ｆ，Ｆ）から（Ｆ／２，Ｆ／２）に変化させながら、エラーレートＶの最小値Ｖ（Ｆ−ｍ，Ｆ−ｍ）を探索する。
最小値Ｖ（Ｆ−ｍ，Ｆ−ｍ）が見つかったら、探索エリア（Ｒ４）と、隣接ゾーン最適値周辺エリア（図５では図示されていない）とが重なった領域を探索する。
まず、Ｆ−ｍからｍｉｎ（Ｆ−ｍ，ｂ２）を引き、ｐ１を求める。
ついで、ｍａｘ（Ｆ−ｍ，ａ１）からＦ−ｍを引きｐ２を求める。そして、ｍａｘ（ｐ１，ｐ２）をｐとする。
【００２６】
次に、ｍａｘ（Ｆ−２×ｍ，ｂ１）からＦ−２×ｍを引きｑ１を求める。
ついで、ｑ２＝Ｆ−ａ２とし、ｍａｘ（ｑ１，ｑ２）をｑとする。
以上のようにｐ，ｑが求まったら、パラメータＰ１，Ｐ２を点（Ｆ−ｍ＋ｐ，Ｆ−ｍ−ｐ）から（Ｆ−ｍ＋ｉ，Ｆ−ｍ−ｉ）［ｉ＝ｐ〜ｍ−ｑ］と変化させてエラーレートＶを評価し、Ｖ（Ｆ−ｍ−ｉ，Ｆ−ｍ−ｉ）が最小となるＶ（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を探索し、（Ｐｏ１，Ｐｏ２）を最適なパラメータと決定する。
【００２７】
本実施例においては、最適値を囲む、矩形状の隣接ゾーン最適値周辺エリアを設定し、この中で、前記第１の実施例の方法を用いて最適なドライブパラメータを探索しているので、評価回数を第１の実施例よりさらに小さくすることができ、さらなるパラメータ調整時間を短縮を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本実施例におけるドライブパラメータ調整時の磁気ディスク装置のハードウェアの概略構成を示す図である。
【図２】独立に調整できない２つのパラメータＰ１，Ｐ２の調整処理の概要を示すフローチャートである。
【図３】本発明の第１の実施例のドライブパラメータを探索処理を説明する図である。
【図４】本発明の第１の実施例のドライブパラメータ探索処理の一例を示すフローチャートである。
【図５】本発明の第２の実施例のドライブパラメータを探索処理を説明する図である。
【図６】本発明の第２の実施例のドライブパラメータ探索処理の一例を示すフローチャートである。
【図７】独立に調整できない２つのドライブパラメータの最適値の従来の探索方法（虱潰しに探索）を説明する図である。
【図８】独立に調整できない２つのドライブパラメータの最適値の従来の探索方法（等高線に沿って探索）を説明する図である。
【符号の説明】
【００２９】
１  磁気ディスク記録媒体
２  ヘッド
３  ヘッドＩＣ
４  イコライザー／復号器
５  ハードディスクコントローラ
６  制御部（ＭＰＵ）
７  バッファメモリ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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