(57)【要約】【課題】製品検査における自由度を高め，検査に要する費用を軽減する電子部品検査方法及び，これを用いる電子部品検査システムを提供する。【解決手段】キャリアテープに一定間隔で搭載された複数の電子部品を順次に撮像する工程と，  前記撮像された複数の電子部品の画像データを記録媒体に保存する工程と，前記記録媒体に保存された複数の電子部品の画像データをディスプレイ装置に表示する工程と，前記ディスプレイ装置に表示された複数の電子部品の個々の画像を目視観察して欠陥が検知された個々の電子部品を識別する記号を含む検査結果データを記録保存する工程と，前記記録保存された検査結果データに基づき，前記キャリアテープに搭載された複数の電子部品から欠陥が検知された電子部品を検索する工程と，を有する。【選択図】  図８
2006308351.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
保持部材に載置された複数の電子部品を順次に撮像する工程と，
前記撮像された複数の電子部品の画像データを記録媒体に保存する工程と，
前記記録媒体に保存された複数の電子部品の画像データをディスプレイ装置に表示する工程と，
前記ディスプレイ装置に表示された複数の電子部品の個々の画像を目視観察して欠陥が検知された個々の電子部品を識別する記号を含む検査結果データを記録保存する工程と，
前記記録保存された検査結果データに基づき，前記保持部材に載置された複数の電子部品から欠陥が検知された電子部品を検索する工程と，
を有することを特徴とする電子部品検査方法。
【請求項２】
キャリアテープに一定間隔で搭載された複数の電子部品を順次に撮像する工程と，
前記撮像された複数の電子部品の画像データを記録媒体に保存する工程と，
前記記録媒体に保存された複数の電子部品の画像データをディスプレイ装置に表示する工程と，
前記ディスプレイ装置に表示された複数の電子部品の個々の画像を目視観察して欠陥が検知された個々の電子部品を識別する記号を含む検査結果データを記録保存する工程と，
前記記録保存された検査結果データに基づき，前記キャリアテープに搭載された複数の電子部品から欠陥が検知された電子部品を検索する工程と，
を有することを特徴とする電子部品検査方法。
【請求項３】
第１の場所において，
キャリアテープに搭載された複数の電子部品を順次に撮像する工程と，
前記撮像された複数の電子部品の画像データを記録媒体に保存する工程とを実行し，
第２の場所において，
前記記録媒体に保存された複数の電子部品の画像データをディスプレイ装置に表示する工程と，
前記ディスプレイ装置に表示された複数の電子部品の個々の画像を目視観察して欠陥が検知された個々の電子部品を識別する記号を含む検査結果データを記録保存する工程とを実行し，
更に前記第１の場所において，
前記記録保存された検査結果データに基づき，前記キャリアテープに搭載された複数の電子部品から欠陥が検知された電子部品を検索する工程を実行する，
ことを特徴とする部品検査方法。
【請求項４】
請求項３において，
前記第２の場所において実行される工程は，前記複数の電子部品を所定数づつに分割して，同時並行して実行されることを特徴とする電子部品検査方法。
【請求項５】
請求項２又は３において，
前記キャリアテープは，リールに巻かれ，前記一定間隔で前記複数の電子部品を収容する透明コンテナを有し，
前記複数の電子部品を個々に識別する記号は，対応する電子部品のロット番号であることを特徴とする電子部品検査方法。
【請求項６】
電子部品の組み立てを行う第１のシステムと，
前記第１のシステムから独立され，前記組み立てられた電子部品の欠陥検査を行う第２のシステムと，
前記第２のシステムにより欠陥が検知された電子部品を良品に置き換える第３のシステムを有し，
前記第１のシステムは，組み立てられた複数の電子部品をキャリアテープにロット番号順に搭載し，前記複数の電子部品を前記ロット番号順に撮像し，前記撮像された複数の電子部品の画像データを記録媒体に保存し，
前記第２のシステムは，前記記録媒体に保存された複数の電子部品の画像データをディスプレイ画面に表示して，欠陥有無の検出のための目視観察を可能とし，更に目視観察により検出された欠陥のある電子部品を特定する番号を記録保存し，
前記第３のシステムは，前記記録保存された欠陥のある電子部品を特定する番号に基づき，前記キャリアテープに搭載された複数の電子部品から欠陥が検知された電子部品を検索して，良品との交換を可能とする
ことを特徴とする電子部品検査システム。
【請求項７】
請求項６において，
前記第２のシステムの前記第１のシステムからの独立は，前記第１のシステムと遠隔地に前記第２のシステムを配置することにより行われることを特徴とする電子部品検査システム。
【請求項８】
キャリアテープに搭載された複数の電子部品の欠陥を検査する電子部品検査システムにおいて実行されるプログラムであって，
前記キャリアテープに搭載された複数の電子部品の個々の画像を記録した記録媒体のドライブ装置から画像データを読み取らせ，
前記読み取った画像データに含まれる複数のサムネイル画像を順次にディスプレイ装置に表示させ，
前記ディスプレイ装置に表示される複数のサムネイル画像の所定の一に表示されるサムネイル画像に対応する拡大された電子部品の画像を前記サムネイル画像とともに，前記ディスプレイ装置に表示させ，
前記拡大されて表示される画像の目視観察の結果として入力される欠陥情報に対応して，前記ディスプレイ装置に前記欠陥情報入力に対応する電子部品のロット番号を表示させる
ことを特徴とするプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子部品検査方法及び，これを用いる電子部品検査システムに関する。特に，電子部品の組み立て製造の最終工程として，出荷前のキャリアテープに保持された電子部品のキズや汚れを検査する検査方法及び，この方法を用いる電子部品検査システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電子部品として例えば，コネクタ組み立て製造工程において、電気的性能および品質を確保するために、寸法測定やリード曲り等を，撮影画像を用いて検査するための自動化は早くから実用化されてきた。
【０００３】
例えば，特許文献１には，図１に概略構成を示すような電子部品実装用フィルムキャリアテープの検査装置の発明が開示されている。同図１に示したように、検査装置は、検査する電子部品が実装された，図２に示すようなフィルムキャリアテープ（以下、単に「キャリアテープ」という）１００を巻き出す巻き出し部２００を有している。
【０００４】
巻き出し部２００からキャリアテープ１００のスプロケット穴１０１のタイミングでキャリアテープ１００が巻き出される。巻き出されたキャリアテープ１００上の各ピース１０２について，画像処理部２０１によりそれぞれの撮像領域１０３が撮像され，画像処理される。
【０００５】
画像処理部２０１における画像処理によって，キャリアテープ１００の各ピースの配線パターン不良を検出して不良部分のサイズを算出する。ついで，画像処理部２０１で検出された不良について，不良確認部２０３で真性不良と擬似不良の判別を行う。不良マーキング部２０４は，不良確認部２０３で確定した不良信号に基づき不良ピースに不良マークを施し、検査を終えたキャリアテープ１００は，巻き取り部２０５により巻き取られる。
【０００６】
搬送制御部２０６は，画像処理部２０１、不良確認部２０３および不良マーキング部２０４４からの通信データに基づきキャリアテープ１００の搬送を制御する。このように，撮影画像を用いて電子部品の検査を自動化することが可能である。
【０００７】
しかしながら最終製品の汚れやキズ等の外観検査にあっては、特許文献１に記載されるような自動検査化の適用はこれまで困難であった。すなわち，リール等に納められたキャリアテープに保持される最終製品を実体顕微鏡を使用して1つずつ目視による全品の外観検査を行う方法がとられていた。
【０００８】
かかる従来の外観目視検査を行う方法を，図面を用いて更に説明する。図３は，従来の外観検査を行う方法の処理手順の流れ図である。図４に示すように部品組み立て装置１により，電子部品の組み立て製造が行われ（ステップＳ１），キャリアテープ１００の一駒ずつに電子部品が搭載され，キャリアテープ１００はリール２（図４）に巻き取られる（ステップＳ２）。
【０００９】
ここで，キャリアテープ１００は，例えば，図５に示す態様のものが使用される。図５において，キャリアテープ１００は，透明体で形成され，一定間隔にテープ長さに沿って複数のコンテナ１１０を備えている。キャリアテープ１００の両側または、一方側のリールから巻き出し，巻き取りを行うためのスプロケット穴１０１が形成されている。
【００１０】
コンテナ１１０のそれぞれに組み立て製造された電子部品が自動機により収容される。小さな部品では自動機においてコンテナ１１０の底面に開けられた図示省略している穴から吸引してコンテナ１１０へ電子部品を収容する。コンテナ１１０へ電子部品を収容した後，蓋体となる透明フィルム１１１が被せられる。
【００１１】
図６は，このようにそれぞれのコンテナ１１０に電子部品１０が収容された状態のキャリアテープ１００を上面から見た概略図（図６Ａ）と，横断面図（図６Ｂ）を示す図である。コンテナ１１０に収容された電子部品１０は，リード端子１１，固定端子１２等を有している。
【００１２】
図７は，図６に示すようなキャリアテープ１００のコンテナ１１０に収容された電子部品１０の外観検査を行い，不良品を選別して，良品と置き換えるために実施する従来の部品検査方法を説明する図である。
【００１３】
一方のリール２1に巻回されたキャリアテープ１００を収容し，これからキャリアテープ１００が引き出され，他方のリール２2に巻き取り収容される。電子部品としてコネクタの形状が，例えば５mm2程度と小さいため、リール２1とリール２2との間で，検査員２０が高倍率の実体顕微鏡２１を使用して電子部品１０の外観検査をしていた（図３：ステップＳ３）。
【００１４】
次いで，外観検査において，電子部品１０に外観上の傷，汚れ，あるいはゴミ等が付着していると判定されると，当該検査員２０が良品の電子部品１０との交換を行い（ステップＳ４），製品出荷される（ステップＳ５）。
【特許文献１】特開２００５−５６１９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
上記したような従来の電子部品検査方法では，顕微鏡を使っての外観検査を行い，不良品を選別し，良品の交換を行うという作業を繰り返すものであった。すなわち，顕微鏡で製品を見ながら両手で製品を送り、製品リールを巻き取っていた。そして不良品を見つけると、目印として紙テープ等を不良個所に貼りつけ、必要に応じてマジック等で内容を明記していた。また，かかる従来の顕微鏡を使った目視検査では、キャリアテープ１００が，１個あたり０．５〜１秒の検査時間で走行するので，人によっては酔いやすく検査に向かないなどの問題もあった。
【００１６】
さらに，生産量が多いコネクタ等の電子部品にあって、顕微鏡２１による目視検査の全数検査は、多くの人手を必要とする。このため，製品出荷までの全工数において，検査作業における時間と費用の割合が高くならざるを得ない状況であった。
【００１７】
したがって，本発明の目的は，かかる不都合を解決し，製品検査における自由度を高め，検査に要する費用を軽減する電子部品検査方法及び，これを用いる電子部品検査システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
上記の本発明の課題を達成する電子部品検査方法の基本的態様は，保持部材に載置された複数の電子部品を順次に撮像する工程と，前記撮像された複数の電子部品の画像データを記録媒体に保存する工程と，前記記録媒体に保存された複数の電子部品の画像データをディスプレイ装置に表示する工程と，前記ディスプレイ装置に表示された複数の電子部品の個々の画像を目視観察して欠陥が検知された個々の電子部品を識別する記号を含む検査結果データを記録保存する工程と，前記記録保存された検査結果データに基づき，前記保持部材に載置された複数の電子部品から欠陥が検知された電子部品を検索する工程と，を有することを特徴とする。
【００１９】
上記の本発明の課題を達成する電子部品検査方法の第１の態様は，キャリアテープに一定間隔で搭載された複数の電子部品を順次に撮像する工程と，前記撮像された複数の電子部品の画像データを記録媒体に保存する工程と，前記記録媒体に保存された複数の電子部品の画像データをディスプレイ装置に表示する工程と，前記ディスプレイ装置に表示された複数の電子部品の個々の画像を目視観察して欠陥が検知された個々の電子部品を識別する記号を含む検査結果データを記録保存する工程と，前記記録保存された検査結果データに基づき，前記キャリアテープに搭載された複数の電子部品から欠陥が検知された電子部品を検索する工程と，を有することを特徴とする。
【００２０】
上記の本発明の課題を達成する電子部品検査方法の第２の態様は，第１の場所において，キャリアテープに搭載された複数の電子部品を順次に撮像する工程と，前記撮像された複数の電子部品の画像データを記録媒体に保存する工程とを実行し，第２の場所において，前記記録媒体に保存された複数の電子部品の画像データをディスプレイ装置に表示する工程と，前記ディスプレイ装置に表示された複数の電子部品の個々の画像を目視観察して欠陥が検知された個々の電子部品を識別する記号を含む検査結果データを記録保存する工程とを実行し，更に前記第１の場所において，前記記録保存された検査結果データに基づき，前記キャリアテープに搭載された複数の電子部品から欠陥が検知された電子部品を検索する工程を実行する，ことを特徴とする。
【００２１】
上記の本発明の課題を達成する電子部品検査方法の第３の態様は，第２の態様において，前記第２の場所において実行される工程は，前記複数の電子部品を所定数づつに分割して，同時並行して実行されることを特徴とする。
【００２２】
上記の本発明の課題を達成する電子部品検査方法の第４の態様は，第１又は第２の態様において，前記キャリアテープは，リールに巻かれ，前記一定間隔で前記複数の電子部品を収容する透明コンテナを有し，前記複数の電子部品を個々に識別する記号は，対応する電子部品のロット番号であることを特徴とする。
【００２３】
上記の本発明の課題を達成する電子部品検査システムは，その第１に態様として電子部品の組み立てを行う第１のシステムと，前記第１のシステムから独立され，前記組み立てられた電子部品の欠陥検査を行う第２のシステムと，前記第２のシステムにより欠陥が検知された電子部品を良品に置き換える第３のシステムを有し，前記第１のシステムは，組み立てられた複数の電子部品をキャリアテープにロット番号順に搭載し，前記複数の電子部品を前記ロット番号順に撮像し，前記撮像された複数の電子部品の画像データを記録媒体に保存し，前記第２のシステムは，前記記録媒体に保存された複数の電子部品の画像データをディスプレイ画面に表示して，欠陥有無の検出のための目視観察を可能とし，更に目視観察により検出された欠陥のある電子部品を特定する番号を記録保存し，前記第３のシステムは，前記記録保存された欠陥のある電子部品を特定する番号に基づき，前記キャリアテープに搭載された複数の電子部品から欠陥が検知された電子部品を検索して，良品との交換を可能とすることを特徴とする。
【００２４】
上記の本発明の課題を達成する電子部品検査システムの第２の態様は，第１の態様において，前記第２のシステムの前記第１のシステムからの独立は，前記第１のシステムと遠隔地に前記第２のシステムを配置することにより行われることを特徴とする。
【００２５】
上記の本発明の課題を達成する電子部品検査システムにおいて実行されるプログラムは，キャリアテープに搭載された複数の電子部品の個々の画像を記録した記録媒体のドライブ装置から画像データを読み取らせ，前記読み取った画像データに含まれる複数のサムネイル画像を順次にディスプレイ装置に表示させ，前記ディスプレイ装置に表示される複数のサムネイル画像の所定の一に表示されるサムネイル画像に対応する拡大された電子部品の画像を前記サムネイル画像とともに，前記ディスプレイ装置に表示させ，前記拡大されて表示される画像の目視観察の結果として入力される欠陥情報に対応して，前記ディスプレイ装置に前記欠陥情報入力に対応する電子部品のロット番号を表示させる，ことを特徴とする。
【００２６】
本発明の特徴は，以下に図面に従う実施の形態例の説明から更に明らかになる。
【発明の効果】
【００２７】
本発明によれば，目視観察をディスプレイ画面上で行うものであるから，作業者によって検査に困難を生じることもない。また，電子部品を撮像した画像データの移動が容易であり，検査場所が部品組み立て装置の置かれる場所に限定されることがない。よって，場所と作業者について検査費用の好ましい選択が可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２８】
以下に，図面に従い本発明の実施の形態例を説明する。なお，実施の形態例は，本発明の理解のためのものであり，本発明の技術的範囲がこれに限定されるものではない。
【００２９】
図８は，本発明に従う電子部品検査方法の手順を説明するフロー図である。また，図９Ａ及び図９Ｂは，本発明に従う電子部品検査システムを説明する図である。
【００３０】
図８において，電子部品検査方法の手順は，製造工程Ｐ０に続き，撮像工程Ｐ１，検査工程Ｐ２及び部品交換工程Ｐ３より成り，特に撮像工程Ｐ１及び検査工程Ｐ２において本発明の特徴を有する。
【００３１】
製造工程Ｐ０は，既存の方法であり部品組み立て装置により電子部品を組み立て製造し（ステップＳ１１），製造された電子部品は，キャリアテープに一定間隔に搭載され，リール状に巻回される（ステップＳ１２）。
【００３２】
ついで，リール状に巻回されたキャリアテープに搭載された電子部品は，撮像工程Ｐ１において，それぞれ画像撮像され（ステップＳ１３），撮像された画像データが保存される（ステップＳ１４）。
【００３３】
図９Ａは，電子部品検査システムにおける撮像工程Ｐ１を説明する図である。図９Ａにおいて，巻き出しリール２1から巻回されているキャリアテープ１００が巻き出され，撮像速度に同期して反対側の巻き取りリール２2に巻き取られる。
【００３４】
巻き出しリール２1と巻き取りリール２2の中間には，撮像カメラ３０，３０1が配置されている。撮像カメラ３０1は，キャリアテープ１００に搭載された電子部品を表裏面同時に撮影する場合に用意される。
【００３５】
撮像カメラ３０，３０1で撮影された電子部品の撮影画像データは，コンピュータ３１に送られ保存される。ここで，撮影画像データの保存の方法は種々可能である。
【００３６】
例えば，撮像カメラ３０，３０1として，顕微鏡の画面と同等もしくはそれより高解像度の画像を得るために、メガピクセルのカラーカメラとマクロレンズを使用して高画質を実現できる。
【００３７】
撮影画像データの容量について考察すると，一般的な電子部品，例えば５mm2の大きさの部品を想定すると，１リールの製品数が4,000個前後であるために、通常のメガピクセルカメラのデータをビットマップ形式で保存すると約１０ギガバイト程度の記憶容量になり保存する記録媒体が限定されてしまう。
【００３８】
また1日の生産量から考えても、膨大な記録媒体を使用するので、コストダウンの観点からみても好ましくない。そこで，検査画質として十分な品質を保ち、かつ圧縮された画像データを得るために、撮影画面の不要部分のトリミングとJPEGデータの50〜80%圧縮により保存する。
【００３９】
これにより，１部品１画像を20〜30キロバイト程度にすることができ、１枚の記録可能のコンパクトディスク（ＣＤ−Ｒ）等の記録媒体３３に撮影画像とそのサムネイル(簡易画像リスト)を保存しても２リール分の8,000画像以上も記録保存する事が可能である。
【００４０】
また撮像工程Ｐ１の撮影画像データを保存する際（ステップＳ１４）は，次の検査工程で行われる画像検査及び製品交換作業に使用する、画面ごとに部品識別番号を付与して保存する。
【００４１】
上記の画像撮影（ステップＳ１３）及び画像データ保存（ステップＳ１４）の処理は，所定のプログラムによって実行される。
【００４２】
図９Ｂは，コンピュータ３１としてパーソナルコンピュータ（ＰＣ）を用いる場合の構成例である。
【００４３】
図９Ｂにおいて，ハードディスク３１２にインストールされたプログラムをＣＰＵ３１０が実行することにより前記撮像工程Ｐ１が実行される。
【００４４】
撮像カメラ３０により撮影された撮影画像データは，インターフェースＩ／Ｆを通してメインメモリ３１４にバッファ保存される。
【００４５】
メインメモリ３１４にバッファ保存された撮影画像データに対し，前記プログラムによりサムネイルと，撮影順序に対応して画面番号が付与される。撮影画像データは，所定のトリミング及び画像調整されて，メインメモリ３１４に更新書き込みされる。
【００４６】
このように撮影画像データに対し，画像処理が行われた画像が所定枚数分，上記例では8,000画像分のデータがメインメモリ３１４に一時バッファされると，ドライブ装置３１１により一ファイルとして記録媒体３３例えば，ＣＤ−Ｒに書き込みを行う。ＣＤ−Ｒに変え，ＤＶＤ（デジタル多用途ディスク），ＭＯ（磁気光ディスク），ＨＤＤ等任意の記録媒体の使用が可能である。したがって，以下，単に記録媒体３３として説明する。
【００４７】
また，同様に前記一ファイルを，記録媒体３３への記録と共にあるいは，記録媒体３３への記録に代えてハードディスク３１２に保存しておくことも可能である。
【００４８】
次に，図８のフローに戻り，検査工程Ｐ２の処理が行われる。ここで，本発明の特徴として，撮像工程Ｐ１までの実行が行われる場所に対し，検査工程Ｐ２の処理を，国内，海外を問わず遠隔地で実行することが可能である。すなわち，検査工程Ｐ２の実行のための設備は，記録媒体３３に又はハードディスク３１２に保存された撮影画像データを表示できる程度の設備でよいので，検査工程Ｐ２を低コストで実行できる地域を選択することができる。
【００４９】
図１０Ａは，検査工程Ｐ２の実施場所（検査所）１０１を部品組み立て工場１００と異なる場所に置く例である。
【００５０】
部品組み立て工場１００から検査所１０１に撮影画像データを送る（Ａ）。ここで，検査所１０１に撮影画像データを送る方法として，撮影画像データが記録媒体３３に保存されている場合は，記録媒体３３自体を検査所１０１に郵送等により送付する。撮影画像データがハードディスク３１２に格納されている場合は，データ自体をインターネット等の通信手段により検査所１０１側に送ることができる。
【００５１】
図１１は，かかる部品組み立て工場１００からの画像データを用いて不良品の検査を実行するコンピュータ４０の構成例ブロック図である。図９Ｂに示した組み立て工場１００に置かれるパーソナルコンピュータ３１の構成と基本的に同じである。
【００５２】
記録媒体３３が郵送等により検査所１０１に送られた場合は，ドライブ装置４０１により撮影画像データが読み込まれ，ＣＰＵ４００により読み込まれた撮影画像データがメインメモリ４０４に一時格納される。また，インターネット等の通信手段によりモデム４０３を通して撮影画像データが受信される場合は，ＣＰＵ４００により同様にメインメモリ４０４に一時格納される。
【００５３】
ハードディスク４０２に本発明に従う検査工程Ｐ２の実施を制御するプログラムがインストールされている。このプログラムをＣＰＵ４００により実行制御して検査工程Ｐ２の処理ステップＳ１５〜Ｓ１８が実行される。
【００５４】
メインメモリ４０４に一時格納された画像データは，読み出されて，ディスプレイ装置４１に表示される。ここで，ディスプレイ装置４１に表示される画面の構成例は，図１２に示す例から理解できる。
【００５５】
図１２に示すディスプレイ装置４１に表示される画面において，サムネイル像の表示領域５０，サムネイル像の一つの拡大像を表示する拡大表示領域５１，検査員により表示領域５１の拡大像を目視観察して，欠陥が見つけられた電子部品識別番号及び欠陥の種類等の情報を表示する欠陥情報表示領域５２を有している。
【００５６】
表示領域５０のサムネイル像は，一つの電子部品に対する所要検査時間の速度で，左方向にシフトして新たなサムネイルが表示される。拡大表示領域５１には，検査対象となる電子部品１０に対応するサムネイルの拡大像が表示される（ステップＳ１５）。
【００５７】
通常，新たなサムネイルが表示される都度，対応して新たな拡大像が拡大表示領域５１に表示される。図１２には，拡大表示領域５１にコンテナ１１０とこれに納められた電子部品１０が表示されている。
【００５８】
検査者２０はディスプレイ装置４１に表示された拡大画像を目視観察して欠陥の有無を判定する（ステップＳ１６）。欠陥有りと判定される場合は，欠陥情報表示領域５２に不良品を識別する識別番号がマーク登録される（ステップＳ１７）。
【００５９】
なお，図１２において，各部品の識別番号５０1は，対応する部品のサムネイル表示の下に表示される。また，スライドバー５０2をスライドすることにより，サムネイル表示が移動され，任意のサムネイルを指示することにより，拡大画像表示領域５１に対応する拡大像が表示される。
【００６０】
図１３Ａ，図１３Ｂに欠陥有りと判定される場合の拡大画像の例を示す。図１３Ａに示す例では，左上に糸状の異物（５５）が付着していることが観察される。また，図１３Ｂに示す例では，右上に金属屑（５６）が付着していることが観察される。なお，図１２と，図１３Ａ，図１３Ｂは，同じ電子部品の表裏面を撮像した表示像である。
【００６１】
このように観察される欠陥（不良品）について，欠陥情報表示領域５２に表示される不良品のマーク登録は，次のように行われる。拡大画像に対応するサムネイルのそれぞれには，固有の識別番号５０1が付されている。したがって，検査者は，図示しないマウス等で拡大表示されている画像の電子部品に対応するサムネイルの画像上を指示し，また，欠陥の種類の識別情報をキー入力する。これにより対応する識別番号５０1が欠陥情報表示領域５２に順に表示される。
【００６２】
この際，識別番号５０1に対応するメインメモリ４０４に一時格納される電子部品の撮影画像データに欠陥ありの情報と当該欠陥の種類の識別情報が付帯して登録される。
【００６３】
このようにして検査が終了すると，検査結果データが記録媒体３３又は，ハードディスク４０２に保存される（ステップＳ１８）。
【００６４】
保存された検査結果データは，検査済みデータとして部品組み立て工場１００に戻される（図１０Ａ，Ｂ参照）。部品組み立て工場１００に検査済みデータを戻す方法は，先に部品組み立て工場１００から検査所１０１に画像データを送った方法と同様に行われる。
【００６５】
ついで，部品組み立て工場１００に戻された検査結果データに基づき，キャリアテープ巻き取り装置を用いて交換不良品の交換が行われ（ステップＳ１９），一連の作業が終了する。すなわち，図７及び図９Ａに示したように，キャリアテープ巻き取り装置は，一方のリールから巻き出されるキャリアテープを他方のリールに巻き取るように構成され，且つ欠陥情報表示領域５２に登録された欠陥が指摘されたサムネイルの識別番号位置で巻き取り動作を停止するように制御される。したがって，作業者は停止した位置にある不良品の電子部品を欠陥のない電子部品と交換して，巻き取りを再開することにより交換作業を終了する。
【００６６】
このように，本発明は，撮影画像データの移動が容易であるので，検査工程Ｐ２を容易に部品組み立て工程Ｐ０と分離することができる。したがって，経済的に好ましい検査場所で，目視による部品の検査を行う検査システムを構築することができる。
【００６７】
ここで，上記実施の形態例説明において，検査工程Ｐ２を他の工程と異なる場所で実施することを主眼に説明した。しかし，本発明の適用は，かかる場合に限定されない。目視による検査工程は一部品あたり０．５〜１秒の単位で行われる。したがって，先に説明したように１リールあたり約４,０００画像，従って，４,０００個の電子部品の画像が収容される。これにより１リールについての目視検査に０．５乃至１時間を要することになる。
【００６８】
図１０Ｂは，かかる検査時間を短縮可能とする実施例構成である。部品組み立て工場１００から同じ撮影画像データＡを複数ｎ個の検査所１０１1，１０１2，・・・１０１nに並列に送る。このとき，検査対象を複数ｎ個の検査所１０１1，１０１2，・・・１０１nに均等となるように分割して，それぞれの検査所に置いて分割された範囲のみについて検査工程Ｐ２を実行する。これにより，検査時間は，検査所の数分に短縮することが可能である。
【００６９】
なお，上記説明において，電子部品としてコネクタを例にしたが，本発明の適用はこれに限定されず，電子部品一般にも応用が可能である。
【００７０】
ここで上記に実施例において，電子部品がキャリアテープ１００に搭載される例について説明した。しかし本発明の適用においてはかかる実施例に限定されない。
【００７１】
すなわち，キャリアテープ１００に代え，例えば図１４Ａに示すように透明の筒状のマガジンスティック１００Ａを用意する。マガジンスティック１００Ａは図１４Ａの右側断面図に示すように中空に形成され，中空内に電子部品９Ａが順次挿入され保持できるように形成されている。
【００７２】
したがって，透明の筒状に挿入保持された電子部品１０Ａを順に図９Ａにおいて説明したようにカメラ３０で撮像することができる。この撮像された電子部品１０Ａの画像を先に説明した目視検査の対象とすることができる。
【００７３】
図１４Ｂは，電子部品１０Ｂをラジアルテープ１００Ｂに保持する例である。ラジアルテープ１００Ｂは，ベーステープ１００ａと保持テープ１００ｂとの間に電子部品１０Ｂの端子脚を挟んで保持する形態を有する。このように複数の電子部品１０Ｂを一定間隔で保持した状態でラジアルテープ１００Ｂは，通常折りたたまれた状態で保管される。ラジアルテープ１００Ｂに形成されたスプロケット孔１０１により，必要な回路基板に電子部品１０Ｂを挿入する際に繰り出される。
【００７４】
このようにラジアルテープ１００Ｂに電子部品１０Ｂを保持する場合も，先の図９Ａにおいて説明したようにカメラ３０で電子部品１０Ｂを撮像することができる。この撮像された電子部品１０Ｂの画像を先に説明した目視検査の対象とすることができる。図１４Ｃは，電子部品１０Ｃを透明トレイ１００Ｃに保持する例である。図１４Ｃにおいて，上部と左部に断面を示すように，透明トレイ１００Ｃには，縦横に個別に電子部品１０Ｃを保持することのできるようにエンボス１００ｃが形成されている。
【００７５】
したがって，エンボス１００ｃに電子部品１０Ｃが載置された状態で，透明トレイ１００ＣをＸ，Ｙ方向に移動し，個々の電子部品１０Ｃを図９Ａに説明したようにカメラ３０に位置づけることにより，電子部品１０Ｃの撮影画像を得ることができる。この撮像された電子部品１０Ｃの画像を先に説明した目視検査の対象とすることができる。
【００７６】
さらに，図１４Ｄは，端子部材１０Ｄを同じ部材１００Ｄで一定間隔に連鎖状に繋ぎ形成された例を示している。連鎖状の端子部材１０Ｄを電線１０４の導電部１０４Ａに図示しない圧着機で結線することができる。連鎖状の端子部材１０Ｄの状態を目視検査する場合も，部材１００Ｄのスプロケット孔１０１でカメラ位置に連鎖状の端子部材１０Ｄを順位に送ることにより，撮像が可能である。この撮像された端子部材１０Ｄの画像を先に説明した目視検査の対象とすることができる。
【産業上の利用可能性】
【００７７】
上記したように，本発明により，検査工程に要する費用と，時間を低減することが可能である。また，目視検査を，顕微鏡を使用せずにディスプレイ装置画面上で実施することが可能であり，検査者の検査作業に伴う疲労を軽減することが可能である。よって，小型部品製造において有利な運用を可能とでき，産業上寄与するところ大である。
【図面の簡単な説明】
【００７８】
【図１】特許文献１に記載される発明を説明する図である。
【図２】フィルムキャリアテープを説明する図である。
【図３】従来の外観検査を行う方法の処理手順の流れ図である。
【図４】部品組み立て装置とリールの関係を説明する図である。
【図５】キャリアテープを説明する図である。
【図６】コンテナ１１０に電子部品１０が収容された状態のキャリアテープ１００を上面から見た概略図（図６Ａ）と，横断面図（図６Ｂ）を示す図である。
【図７】従来の電子部品検査方法を説明する図である。
【図８】本発明に従う電子部品検査方法の手順を説明するフロー図である。
【図９Ａ】本発明に従う電子部品検査システムを説明する図である。
【図９Ｂ】本発明に従う電子部品検査システムにおけるコンピュータ３１の構成例である。
【図１０Ａ】検査工程Ｐ２の実施場所（検査所）１０１を部品組み立て工場１００と異なる場所に置く例である。
【図１０Ｂ】検査工程Ｐ２の処理時間を短縮する実施例構成である。
【図１１】部品組み立て工場１００からの画像データを用いて不良品の検査を実行するコンピュータ４０の構成例ブロック図である。
【図１２】ディスプレイ装置４１に表示される画面の構成例を示す図である。
【図１３Ａ】ディスプレイ装置４１に表示される欠陥有と判定される拡大画像の例を示す図（その１）である。
【図１３Ｂ】ディスプレイ装置４１に表示される欠陥有と判定される拡大画像の例を示す図（その２）である。
【図１４Ａ】透明の筒状のマガジンスティック１００Ａに電子部品１０Ａを挿入保持する例を示す図である。
【図１４Ｂ】電子部品１０Ｂをラジアルテープ１００Ｂに保持する例を示す図である。
【図１４Ｃ】電子部品１０Ｃを透明トレイ１００Ｃに保持する例を示す図である。
【図１４Ｄ】端子部材１０Ｄを同じ部材１００Ｄで連鎖状に繋ぎ形成された例を示す図である。
【符号の説明】
【００７９】
１００  フィルムキャリアテープ
１０１  スプロケット穴
２1，２2 リール
３０，３０1  撮像カメラ
３１  パーソナルコンピュータ
３３  記録媒体
【図１】
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【図２】
2006308351.tif 000004
【図３】
2006308351.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９Ａ】
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【図９Ｂ】
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【図１０Ａ】
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【図１０Ｂ】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３Ａ】
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【図１３Ｂ】
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【図１４Ａ】
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【図１４Ｂ】
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【図１４Ｃ】
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【図１４Ｄ】
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