(57)【要約】【課題】検波出力が変動した場合でも十分にキャリアリークを調整することができる直交変調器のキャリアリーク調整装置を提供する。【解決手段】検波器７で測定されたキャリアリークに基づいて加算器１および４に供給する補正信号（補正量）を制御回路（ＣＴＲＬ）９にて特定する。その際、補正値候補の信号を所定ステップ毎に変化させて補正値を特定し、連続する補正値候補により測定されるキャリアリーク量の差分を、データの信頼性の指標として評価する。【選択図】図１
2006050331.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
直交変調器の出力を検波する検波手段と、
前記直交変調器に対して、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に与え、前記検波手段の出力結果をもってキャリアリーク量を逐次測定し、キャリアリーク量が最小となる補正信号を特定し、当該補正信号をもって前記直交変調器のキャリアリークを調整するキャリアリーク調整手段と、を有し、
前記キャリアリーク調整手段は、
信号レベルが異なる連続した２つの補正信号によって測定された各キャリアリーク量の差分が所定の閾値以下である場合に、キャリアリーク量の測定結果は有効であると判断する
直交変調器のキャリアリーク調整装置。
【請求項２】
前記キャリアリーク調整手段は、
前記連続した２つの補正信号であるＮ番目の補正信号（Ｎ：整数）とＮ＋１番目の補正信号に基づいて、前記キャリアリーク量の測定結果が有効であると判断しない場合には、Ｎ＋１番目の補正信号に基づいたキャリアリーク量を再度測定し、Ｎ番目とＮ＋１番目の補正信号に基づいた差分を再度算出する
請求項１記載の直交変調器のキャリアリーク調整装置。
【請求項３】
前記キャリアリーク調整手段は、
前記Ｎ番目およびＮ＋１番目の補正信号に基づいて、所定回数キャリアリーク量が有効であると判断しない場合には、キャリアリークの調整を行わない
請求項２記載の直交変調器のキャリアリーク調整装置。
【請求項４】
前記キャリアリーク調整手段は、
Ｎ番目およびＮ＋１番目の補正信号に基づいて、所定回数キャリアリーク量の測定結果が有効であると判断しない場合には、Ｎ＋１番目の補正信号を無効として、Ｎ＋２番目の補正信号からキャリアリーク量を測定し、キャリアリーク量の差分を算出する
請求項２記載の直交変調器のキャリアリーク調整装置。
【請求項５】
直交変調器の出力を検波する検波手段と、
前記直交変調器に対して、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に与え、前記検波手段の出力結果をもってキャリアリーク量を逐次測定し、キャリアリーク量が最小となる補正信号を特定し、当該補正信号をもって前記直交変調器のキャリアリークを調整するキャリアリーク調整手段と、を有し、
前記キャリアリーク調整手段は、
特定された補正信号によりキャリアリーク量を所定回数測定し、測定された所定回数分のキャリアリーク量のばらつきに基づいて前記特定された補正信号が有効であるか否かを判断する
直交変調器のキャリアリーク調整装置。
【請求項６】
前記キャリアリーク調整手段は、
前記キャリアリーク量のばらつきが所定値以上である場合には、再度キャリアリーク量が最小となる補正信号を特定する
請求項５記載の直交変調器のキャリアリーク調整装置。
【請求項７】
前記キャリアリーク調整手段は、
所定回数補正信号を特定し、特定された各補正信号によるキャリアリーク量のばらつきがすべて所定値以上である場合には、キャリアリークの調整を行わない
請求項６記載の直交変調器のキャリアリーク調整装置。
【請求項８】
直交変調器の出力を検波する検波手段と、
前記直交変調器に対して、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に与え、前記検波手段の出力結果をもってキャリアリーク量を逐次測定し、キャリアリーク量が最小となる補正信号を特定し、当該補正信号をもって前記直交変調器のキャリアリークを調整するキャリアリーク調整手段と、を有し、
前記キャリアリーク調整手段は、
特定された補正信号に基づいて測定されたキャリアリーク量と、前記特定された補正信号とのレベル差が所定量以下である複数の補正信号に基づいて測定された複数のキャリアリーク量と、のそれぞれのキャリアリーク量差分に基づいて、前記特定された補正信号が有効であるか否かを判断する
直交変調器のキャリアリーク調整装置。
【請求項９】
前記キャリアリーク調整手段は、
前記キャリアリーク量差分が所定値以上である場合には、キャリアリーク量が最小となる補正信号を再度特定する
請求項８記載の直交変調器のキャリアリーク調整装置。
【請求項１０】
前記キャリアリーク調整手段は、
前記キャリアリーク量差分がすべて所定値以上である場合には、キャリアリークの調整を行わない
請求項８記載の直交変調器のキャリアリーク調整装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタル方式の通信機等に用いられる直交変調器のキャリアリーク調整装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
移動体通信機器等のデジタル方式の通信機等では、直交変調器が頻繁に用いられるが、高い通信品質を確保する上で、キャリアリークを抑制することが重要な課題である。
そのため、キャリアリークを抑制するための様々な技術が開示されており、たとえば下記特許文献１に示すものがある。
【０００３】
一般に、キャリアリークは、Ｌ０（搬送波）のフィードスルーもしくは変調回路のトランジスタのミスマッチ、ＤＣバイアスのずれなどから生ずる。
たとえば、直交変調は、９０°の位相差を持つＬ０キャリア（搬送波）を必要とし、この９０°の位相差を持つＬ０キャリアを入力した同相チャンネルの入力信号（以下、Ｉｃｈ）と直交チャンネルの入力信号（以下、Ｑｃｈ）に乗算する処理を変調回路において行う。その乗算処理を行う回路では、理想的にはＬ０キャリアを抑圧するように作用するが、実際には、回路素子等の不均衡に起因して搬送波が漏れるフィードスルーが発生する。
また、ＩｃｈおよびＱｃｈのＤＣバイアスのずれが存在する場合でも、乗算処理において、Ｌ０キャリアを抑圧できないので、同様に搬送波が漏れる。
【０００４】
図１は、従来の一般的な送信機におけるキャリアリーク調整装置付き直交変調器の構成を示すブロック図である。
図１に示す直交変調器の基本的な動作は、次の通りである。
すなわち、Ｉｃｈ，ＱｃｈおよびＬ０の信号を入力し、乗算器２では、ＩｃｈとＬ０を乗算する。乗算器５では、Ｌ０と９０°位相差を持つ信号とＱｃｈを乗算する。乗算器２および乗算器５の乗算結果は、加算器６で合成されてＲＦ出力信号（ＲＦ  ＯＵＴ）が生成される。
【０００５】
図１に示す直交変調器のキャリアリークを打ち消すために、検波器（ＰＤ）７によりＲＦ出力信号を検波し、適切な補正信号を加算器１および４によりＩｃｈ，Ｑｃｈに加算する一連のフィードバック処理が形成される。
具体的には、Ｉｃｈ，Ｑｃｈが無信号状態において、以下の処理を行う。
すなわち、補正値に応じた複数のテストパターン（検査信号）が順に加算器１，４から入力され、Ａ／Ｄ変換器（ＡＤＣ）８は、検波器７で測定された電圧値をデジタル値に変換し、制御回路（ＣＴＲＬ）９に入力する。制御回路９は、そのデジタル値を用いて、キャリアリークが最小となる補正値を特定する。
算出された補正値は、Ｄ／Ａ変換器（ＤＡＣ）１０および１１によりアナログレベルの電圧もしくは電流（補正信号）に変換された上で、加算器１および４によりＩｃｈ，Ｑｃｈに加算される。これにより、キャリアリークが打ち消される。
【０００６】
制御回路９では、補正値を順にレベルを変化させてキャリアリークが最小となる補正値を探索する。従来の探索方法としては、（１）全探索法と、（２）一次元探索法（One dimensional search) が知られている。
以下、それぞれの探索方法について説明する。
【０００７】
（１）全探索法
全検索法では、補正値を少しずつ変化させ、逐次キャリアリークを測定し、最小のキャリアリークが得られる補正値を特定する方法である。
図２は、全検索法の処理を示すフローチャートである。
なお、Ｉｔは、順次変化させるＩｃｈ用補正値（変数）を、Ｑｔは、順次変化させるＱｃｈ用補正値（変数）を、Ｌｍｉｎは、キャリアリークの最小値を、Ｍｅａｓ（Ｉｔ，Ｑｔ）は、Ｉｃｈ用およびＱｃｈ用補正値がそれぞれＩｔおよびＱｔである場合の検波器出力値を、Ｉｃｏｒは、特定されたＩｃｈ用補正値を、Ｑｃｏｒは、特定されたＱｃｈ用補正値を、それぞれ示す。
また、以下の説明では、変数として順次変化させるＩｔおよびＱｔを、特定される前の補正値という意味で、補正値候補と称する。
【０００８】
図２では、まず、ステップＳＴ１において、Ｉｔ，Ｑｔ，Ｉｃｏｒ，Ｑｃｏｒ，Ｌｍｉｎの各値が初期化される。
図２に示すフローチャートでは、ＩｔおよびＱｔを、ｄ０〜ｄＭおよびｄ０〜ｄＮの間で所定のレベルｄ１毎に順次変化させる。そして、検波器出力値Ｍｅａｓ（Ｉｔ，Ｑｔ）が最小となる毎に、Ｌｍｉｎを入れ替える処理を行う（ステップＳＴ３および４）。
これにより、全探索が終了した時点でのＬｍｉｎに対応するＩｔおよびＱｔを、ＩｃｏｒおよびＱｃｏｒとして特定する。
【０００９】
（２）一次元探索法
一次元検索法では、同様に補正値を少しずつ変化させるが、キャリアリークが検波出力との関係で１つの極小値をとることに着目し、補正値の全探索をすることなく、補正値を特定する方法である。
図３は、一次元検索法の処理を示すフローチャートであり、図４は、補正値ＩｔまたはＱｔと検波出力Ｍｅａｓ（Ｉｔ，Ｑｔ）との関係である。図４に示すように、補正値ＩｔまたはＱｔに対して、検波出力Ｍｅａｓ（Ｉｔ，Ｑｔ）は極小値（Ａ点）を有し、このＡ点で検波出力が最小となるとともに、キャリアリークが最小となる。
【００１０】
図３のフローチャートでは、ステップＳＴ１０〜ＳＴ１３がＩｃｏｒを特定する処理であり、ステップＳＴ１４〜ＳＴ１８がＱｃｏｒを特定する処理である。
たとえば、Ｉｃｏｒを特定する処理では、Ｑｔ＝０として固定し、Ｉｔを所定のレベルｄ１毎に変化させ、ステップＳＴ１２に示す条件が成立するＩｔのひとつ手前のＩｔ（ステップＳＴ１４）をＩｃｏｒとして特定する。すなわち、ステップＳＴ１２に示す条件は、Ｉｔの変化に対して検波出力が単調減少となっている限り成立せず、この条件が成立する時は、図４に示すＡ点（極小値）を越え、単調増加に転じた場合であるため、ステップＳＴ１２の条件が成立した場合には、キャリアリークが最小となる補正値が一つ手前に存在したと判断する。
Ｑｃｏｒを特定する処理は、Ｉｔ＝Icorとして固定し、Ｑｔを所定のレベルｄ１毎に変化させて、同様な処理でＱｃｏｒを特定する。
【００１１】
【特許文献１】特開平５−１４４２９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
ところで、上述したキャリアリーク調整方法（補正値探索方法）が実際には正しく機能しない場合がある。
たとえば、図３に「ノイズ」として示すように、検波出力にノイズが発生すると、単調減少から単調増加へ切り替わる転換点であるＡ点を正しく把握できないので、誤った補正値を特定する場合がある。特に、キャリアリーク調整回路をＩＣ内に実装する場合には、電源変動やデジタル回路またはＡ／Ｄ変換器におけるパルス状のノイズが検波出力に重畳するため、誤った補正値が特定される確率が高くなる。
誤った補正値がＩｃｈおよびＱｃｈに加算されると、キャリアリークを十分に消去することができず、送信機の特性を劣化させることになる。
【００１３】
本発明はかかる事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、検波出力が変動した場合でも十分にキャリアリークを調整することができる直交変調器のキャリアリーク調整装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記目的を達成するための本発明の第１の観点は、直交変調器の出力を検波する検波手段と、前記直交変調器に対して、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に与え、前記検波手段の出力結果をもってキャリアリーク量を逐次測定し、キャリアリーク量が最小となる補正信号を特定し、当該補正信号をもって前記直交変調器のキャリアリークを調整するキャリアリーク調整手段と、を有し、前記キャリアリーク調整手段は、信号レベルが異なる連続した２つの補正信号によって測定された各キャリアリーク量の差分が所定の閾値以下である場合に、キャリアリーク量の測定結果は有効であると判断する直交変調器のキャリアリーク調整装置である。
【００１５】
上記目的を達成するための本発明の第２の観点は、直交変調器の出力を検波する検波手段と、前記直交変調器に対して、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に与え、前記検波手段の出力結果をもってキャリアリーク量を逐次測定し、キャリアリーク量が最小となる補正信号を特定し、当該補正信号をもって前記直交変調器のキャリアリークを調整するキャリアリーク調整手段と、を有し、前記キャリアリーク調整手段は、特定された補正信号によりキャリアリーク量を所定回数測定し、測定された所定回数分のキャリアリーク量のばらつきに基づいて前記特定された補正信号が有効であるか否かを判断する直交変調器のキャリアリーク調整装置である。
【００１６】
上記目的を達成するための本発明の第３の観点は、直交変調器の出力を検波する検波手段と、前記直交変調器に対して、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に与え、前記検波手段の出力結果をもってキャリアリーク量を逐次測定し、キャリアリーク量が最小となる補正信号を特定し、当該補正信号をもって前記直交変調器のキャリアリークを調整するキャリアリーク調整手段と、を有し、前記キャリアリーク調整手段は、特定された補正信号に基づいて測定されたキャリアリーク量と、前記特定された補正信号とのレベル差が所定量以下である複数の補正信号に基づいて測定された複数のキャリアリーク量と、のそれぞれのキャリアリーク量差分に基づいて、前記特定された補正信号が有効であるか否かを判断する直交変調器のキャリアリーク調整装置である。
【００１７】
本発明の第１の観点に係る直交変調器のキャリアリーク調整装置の作用は、以下の通りである。
すなわち、キャリアリーク調整手段は、直交変調器に対して、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に与え、検波手段は、直交変調器の出力としてキャリアリーク量を出力する。
キャリアリーク調整手段は、補正信号を所定の信号レベルの変化をもって順に直交変調器に与え、検波手段の出力であるキャリアリーク量が最小となる補正信号を特定し、当該補正信号をもって前記直交変調器のキャリアリークを調整する。
その際、キャリアリーク調整手段は、信号レベルが異なる連続した２つの補正信号によって測定された各キャリアリーク量の差分が所定の閾値以下である場合に、キャリアリーク量の測定結果は有効であると判断する。すなわち、補正信号の変化に対して測定されたキャリアリーク量の変化が所定の閾値より大きい場合には、測定結果を無効と判断するので、誤った補正信号を特定することがない。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、検波出力が変動した場合でも十分にキャリアリークを調整することができるので、直交変調器のキャリアリーク特性が安定する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
第１の実施形態
以下、本発明の一実施形態について説明する。
本実施形態に係るキャリアリーク調整装置の構成および全体的な動作は、図１に示した従来のキャリアリーク調整装置と同様であるが、制御回路（ＣＲＴＬ）９で行われる補正値の特定方法を、すでに述べた従来の全探索法／一次元探索法から改良した点に特徴があり、この点について以下説明する。
なお、図１に示した制御回路９は、本発明のキャリアリーク調整手段の一実施形態であり、検波器７は、本発明の検波手段の一実施形態である。
【００２０】
また、以下の説明では、一例として全探索法をベースとして説明するが、所定レベル毎に補正値を変化させる点では一次元探索法も同様であるため、一次元探索法にも適用可能である。
以下の説明では、図２および図３同様に、Ｉｔは、Ｉｃｈ用補正値候補（変数）を、Ｑｔは、Ｑｃｈ用補正値候補（変数）を、Ｌｍｉｎは、キャリアリークの最小値を、Ｍｅａｓ（Ｉｔ，Ｑｔ）は、Ｉｃｈ用およびＱｃｈ用補正値がそれぞれＩｔおよびＱｔである場合の検波出力を、Ｉｃｏｒは、特定されたＩｃｈ用補正値を、Ｑｃｏｒは、特定されたＱｃｈ用補正値を、それぞれ示す。
【００２１】
図４に示したように、ノイズの影響を受けない理想的な状態では、補正値の変化に対するキャリアリーク（検波出力）が示す曲線は予測可能なレベルである。すなわち、ある補正値候補であるＩｔ，Ｑｔと、その近隣の補正値候補のそれぞれに基づくキャリアリークの測定値（検波出力）の差分量の最大値は、シミュレーションや実際の測定結果などにより予め取得可能なデータである。
したがって、ある補正値候補に基づくキャリアリークの測定値と、１ステップ前の補正値候補群に基づくキャリアリークの測定値との差分量が予め規定された差分量よりも大きい場合には、パルス状のノイズの影響を受けたことによって図４に示す理想的な関係が崩れたものと見て、測定結果が信頼できないと判断することができる。
【００２２】
具体的には、補正値候補Ｉｔを所定のレベルｄ１毎に変化させる際に、隣接する測定値であるＭｅａｓ（Ｉｔ−ｄ１，Ｑｔ）とＭｅａｓ（Ｉｔ，Ｑｔ）の差分の絶対値Ｄｉｆを、データの信頼性に対する指標とし、このＤｉｆが所定値（後述するＤｉｆ＿ｔｈ）よりも小さい場合に、データとしての信頼性があると判断する。
すなわち、Ｄｉｆを下記数式１に示すように定義する。なお、同様に補正値候補Ｑｔに対してもＤｉｆが定義できることは言うまでもない。
【００２３】
【数１】
2006050331.tif 000003
【００２４】
図５は、上述したＤｉｆをデータの信頼性に対する指標とした場合の全探索法に基づく補正値特定処理を示すフローチャートである。図５（ａ）および（ｂ）は、それぞれフローチャートの一例である。
本実施形態に係る改良された全探索法は、図５（ａ）および（ｂ）に示す各フローチャートを、すでに図２で示した従来の全探索法のフローチャート上のステップＳＴ２〜４に入れ替えることにより実現される。
すなわち、ある補正値候補に対する検波出力Ｍｅａｓ（Ｉｔ，Ｑｔ）が最小値であるか否かを評価する（図２のステップＳＴ３）前にＤｉｆによるデータ信頼性評価を行うようにフローチャートを構成する。
【００２５】
図５（ａ）では、検波出力を測定（ステップＳＴ２０）した後に、補正値候補がＩｔである場合には、上記数式１に基づいてＤｉｆを算出し（ステップＳＴ２１）、算出したＤｉｆが所定の閾値（Ｄｉｆ＿ｔｈ）以下であるか否かを評価する（ステップＳＴ２２）。
その結果、Ｄｉｆが所定の閾値（Ｄｉｆ＿ｔｈ）以上である場合、すなわち、検波出力の変化量が予想より大きい場合には、データ信頼性がないと判断して、再度検波出力の測定（ステップＳＴ２０）を行う。
一方、Ｄｉｆが所定の閾値（Ｄｉｆ＿ｔｈ）より小さい場合、すなわち、検波出力の変化量が予想した範囲内である場合には、データ信頼性があると判断して、ステップＳＴ２３以降の処理（図２のステップＳＴ３以降と同様の処理）を行う。
【００２６】
図５（ｂ）では、Ｄｉｆによるデータ信頼性評価を図２のフローチャートのステップＳＴ３の後に行うように構成している。
【００２７】
ところで、ランダムなパルス状のノイズではなく定常的にノイズが発生している場合には、図５（ａ）のステップＳＴ２２および図５（ｂ）のステップＳＴ３３（Ｄｉｆの条件判断ステップ）において、常に条件を満足しない場合が考えられ、かかる場合には永久ループに陥り、補正値を長時間特定できない事態が想定しうる。したがって、Ｄｉｆの条件判断を所定回数行い、満足しない場合には回避処理を行う必要が生ずる。
回避処理としては、キャリアリークの調整処理を終了（キャリブレーションの異常終了）する処理と、Ｄｉｆの条件判断をクリアできない補正値候補をスキップする処理の２通りの処理が考えられる。
【００２８】
図６は、図５（ａ）のフローチャートをベースに、上述した回避処理を付加したフローチャートであり、（ａ）は、キャリブレーションの異常終了処理を付加し、（ｂ）Ｄｉｆの条件判断をクリアできない補正値候補をスキップする処理を付加している。
図６（ａ）では、Ｄｉｆの条件判断（ステップＳＴ４３）が所定回数Ｋだけ成立しない（ステップＳＴ４８）時には、キャリブレーション異常終了（ステップＳＴ４９）として、キャリアリークの調整処理を中止する。
図６（ｂ）のケ−スでは、Ｄｉｆの条件判断（ステップＳＴ５３）が所定回数Ｋだけ成立しない（ステップＳＴ５８）時には、その補正値候補は異常であると判断して、その補正値候補をスキップし、次の補正値候補（スキップした補正値候補をＩｔとすると、Ｉｔ＋ｄ１）に対して、検波出力の測定を行う。
【００２９】
以上説明したように、本実施形態に係るキャリアリーク調整装置によれば、変調回路や周辺回路により検波出力にノイズが重畳した場合であっても、キャリアリークの調整のための補正値を誤って特定することがないので、キャリアリークを適切に除去できる。
特に、本実施形態に係るキャリアリーク調整装置がＩＣ内に実装される場合には、ＩＣ内部で発生する電源やデジタル回路、Ａ／Ｄ変換回路等の影響によるパルス状のノイズが検波出力に発生しやすくなるが、かかる場合にも直交変調器のキャリアリーク特性を安定させることができる。
【００３０】
第２の実施形態
本実施形態に係るキャリアリーク調整装置は、パルス状のノイズがランダムに発生することに着目し、ある補正値探索アルゴリズムで特定された補正値のデータ信頼性を確認する方法として、その補正値により複数回検波出力（キャリアリーク）を測定し、これらのキャリアリーク量のばらつきを評価することを行う。
なお、補正値探索アルゴリズムとして、前述した全探索法、一次元探索法、その他の探索法を問わず、適用可能である。
【００３１】
図７は、上述したキャリアリークのばらつきを評価するための処理を示すフローチャートである。図７（ａ）および（ｂ）は、それぞれフローチャートの一例である。
図７（ａ）において、まず補正値探索アルゴリズムにより補正値を特定する。たとえば、図２に示した全探索法法や、図３に示した一次元探索法により補正値を特定する（ステップＳＴ６０およびＳＴ６１）。
ステップＳＴ６２〜ＳＴ６４は、所定回数（Ｋ）分、ステップＳＴ６１で設定された補正値に基づいてキャリアリークを測定するためのデータ取得処理である。すなわち、ｋがインクリメントされてＫに達するまでステップＳＴ６３における測定が繰り返される。なお、各回毎のキャリアリークの値は、図示しないメモリに保持しておく。
【００３２】
ステップＳＴ６６では、ステップＳＴ６２〜ＳＴ６４で取得した所定回数分の測定値のばらつき（Ｅｒｒｏｒ）を算出する。
測定値のばらつき（Ｅｒｒｏｒ）を算出する方法としては、様々な方法が考えられるが、たとえば、以下の方法を適用することができる。
【００３３】
（ｉ）測定値の平均値に基づいて算出する方法
複数の測定値の平均値からの偏差に基づいてＥｒｒｏｒを算出する方法であり、たとえば、下記の数式２および数式３により算出する。
【００３４】
【数２】
2006050331.tif 000004
【００３５】
【数３】
2006050331.tif 000005
【００３６】
（ii）予め設定された値との差分に基づいて算出する方法
複数の測定値の平均値と予め設定された値との差分に基づいてＥｒｒｏｒを算出する方法であり、たとえば、下記の数式４〜６により算出する。なお、Ａは、予め設定された値である。
【００３７】
【数４】
2006050331.tif 000006
【００３８】
【数５】
2006050331.tif 000007
【００３９】
【数６】
2006050331.tif 000008
【００４０】
ステップＳＴ６７では、ステップＳＴ６６で算出された測定値のばらつき（Ｅｒｒｏｒ）の評価が行われる。具体的には、測定値のばらつき（Ｅｒｒｏｒ）が予め設定した閾値（Ｅｒｒｏｒ＿ｔｈ）より小さい場合、すなわち、ばらつきが小さい場合には、ステップＳＴ６０で特定された補正値の信頼性が高いと判断し、この補正値に基づいてキャリアリークの調整を行う。
一方、測定値のばらつき（Ｅｒｒｏｒ）が予め設定した閾値（Ｅｒｒｏｒ＿ｔｈ）以上である場合、すなわち、ばらつきが大きい場合には、ステップＳＴ６０で特定された補正値の信頼性が低いと判断し、この補正値に基づいてキャリアリークの調整は行わずに、かかる場合には、ステップＳＴ６０に戻り再度補正値を計算する。
【００４１】
なお、上記数式６のようなＥｒｒｏｒの算出方法を適用した場合には、キャリアリークの測定値を算出する毎に判断を行う逐次処理が可能となる。図７（ｂ）は、その場合の処理を示すフローチャートである。
図７（ｂ）に示すフローチャートでは、Ｅｒｒｏｒの判断処理（ステップＳＴ７５）がｋのインクリメントを行うループ内（ステップＳＴ７３〜７６）に組み込まれている。
【００４２】
図７に示したフローチャートに対して、さらに補正値の再計算を行う際の最大回数を設定することにより、キャリブレ−ションの異常動作（無限ループ）を回避するように構成することもできる。その回避処理を付加したフローチャートを図８に示す。
図８では、ステップＳＴ８０で変数ｌの初期化を行い、Ｅｒｒｏｒの判断条件（ステップＳＴ８７）を所定回数（Ｌ）満足しない場合には（ステップＳＴ８９ａ）、キャリブレ−ションを終了する（ステップＳＴ８９ｂ）。すなわちキャリアリークの調整を中止する。
【００４３】
以上説明したように、本実施形態に係るキャリアリーク調整装置によれば、キャリアリークの調整のために算出した補正値に対する信頼性を評価する処理を行うので、誤った補正値によりキャリアリークの調整を行うことがなくなり、直交変調器のキャリアリーク特性を安定させることができる。
【００４４】
第３の実施形態
本実施形態に係るキャリアリーク調整装置は、図４に示したように、キャリアリーク特性が極小値を持つことに着目し、ある補正値探索アルゴリズムで特定された補正値のデータ信頼性を確認する方法として、その補正値による検波出力（キャリアリーク）と、その補正値近辺の値（補正値候補）による検波出力との差分を算出し、この差分を評価することを行う。
なお、補正値探索アルゴリズムとして、前述した全探索法、一次元探索法、その他の探索法を問わず、適用可能である。
【００４５】
図９は、本実施形態に係るキャリアリーク調整装置の処理を示すフローチャートであり、（ａ）は、キャリブレーションの異常終了がない場合を、（ｂ）キャリブレーションの異常終了がある場合を、それぞれ示す。
図９（ａ）において、まず補正値探索アルゴリズムにより補正値を特定する。たとえば、図２に示した全探索法法や、図３に示した一次元探索法により補正値を特定する（ステップＳＴ９０およびＳＴ９１）。
次に、特定した補正値によりキャリアリークの測定を行い（ステップＳＴ９２）、その測定値を保持しておく。なお、ステップＳＴ９０で取得したキャリアリークの測定値を保持している場合には、ステップＳＴ９２で再度キャリアリークの測定を行う必要はない。
【００４６】
次に、その補正値近辺の値（補正値候補）によるキャリアリークの測定を行う。
まず、ステップＳＴ９３において、ステップＳＴ９０で特定された補正値の近辺の値（補正値候補）を設定する。たとえば、ステップＳＴ９０で特定された補正値を、ＩｃｏｒおよびＱｃｏｒとすると、補正値候補として、１ビット分（ｄ１）ずれた値である（Ｉｃｏｒ−ｄ１，Ｑｃｏｒ）もしくは（Ｉｃｏｒ，Ｑｃｏｒ−ｄ１）が設定される。
なお、ｄ１は、たとえば図２および図３で示したように、全探索法や一次元探索法を行う際の補正値候補の単位変化量である。
また、ステップＳＴ９３において設定する補正値候補は、上述した１ビット分（ｄ１）ずれた値に拘泥せず、特定された補正値の近辺の値であれば、たとえば２ビット分（ｄ１×２）や３ビット分（ｄ１×３）ずれた値でも構わない。ステップＳＴ９３において設定する補正値候補は１つのみに限定せず、複数設定しても構わない。
【００４７】
次に、ステップＳＴ９３において設定した補正値候補のキャリアリークを測定し（ステップＳＴ９４）、ステップＳＴ９２で測定した値との差分（Ｄｉｆ）を算出する（ステップＳＴ９５）。
すなわち、Ｄｉｆを、以下の数式７に示すように算出する。
【００４８】
【数７】
2006050331.tif 000009
【００４９】
次に、算出したＤｉｆが所定の閾値（Ｄｉｆ＿ｔｈ）以下であるか否かを評価する（ステップＳＴ９６）。
その結果、Ｄｉｆが所定の閾値（Ｄｉｆ＿ｔｈ）以上である場合、すなわち、一度特定した補正値によるキャリアリークの測定値と、その近辺の補正値候補によるキャリアリークの測定値との差分が大きい場合には、特定した補正値の信頼性がないと判断して、再度補正値探索アルゴリズムによる補正値の特定を行う（ステップＳＴ９０）。
一方、Ｄｉｆが所定の閾値（Ｄｉｆ＿ｔｈ）より小さい場合、すなわち、一度特定した補正値によるキャリアリークの測定値と、その近辺の補正値候補によるキャリアリークの測定値との差分が小さい場合には、特定した補正値の信頼性があると判断して、ステップＳＴ９０で特定した補正値を確定させ（ステップＳＴ９７）、これに基づくキャリアリークの調整を行う。
【００５０】
以上、図９（ａ）に示すフローチャートについて説明した。
なお、図９（ａ）に示したフローチャートに対して、さらに補正値の再計算を行う際の最大回数を設定することにより、キャリブレ−ションの異常動作（無限ループ）を回避するように構成することもできる。その回避処理を付加したフローチャートを図９（ｂ）に示す。
図９（ｂ）では、ステップＳＴ１００で変数ｌの初期化を行い、Ｄｉｆの判断条件（ステップＳＴ１０７）を所定回数（Ｌ）満足しない場合には（ステップＳＴ１０９ａ）、キャリブレ−ションを終了する（ステップＳＴ１０９ｂ）。すなわちキャリアリークの調整を中止する。
【００５１】
以上説明したように、本実施形態に係るキャリアリーク調整装置によれば、第２の実施形態に係るキャリアリーク調整装置と同様に、キャリアリークの調整のために算出した補正値に対する信頼性を評価する処理を行うので、誤った補正値によりキャリアリークの調整を行うことがなくなり、直交変調器のキャリアリーク特性を安定させることができる。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】従来の一般的な送信機におけるキャリアリーク調整装置付き直交変調器の構成を示すブロック図である。
【図２】従来の補正値探索アルゴリズムである全検索法の処理を示すフローチャートである。
【図３】従来の補正値探索アルゴリズムである一次元検索法の処理を示すフローチャートである。
【図４】補正値と検波出力との関係を示す。
【図５】本発明の第１の実施形態に係るキャリアリーク調整装置の処理を示すフローチャートの一例である。
【図６】本発明の第１の実施形態に係るキャリアリーク調整装置の処理を示すフローチャートの一例である。
【図７】本発明の第２の実施形態に係るキャリアリーク調整装置の処理を示すフローチャートの一例である。
【図８】本発明の第２の実施形態に係るキャリアリーク調整装置の処理を示すフローチャートの一例である。
【図９】本発明の第３の実施形態に係るキャリアリーク調整装置の処理を示すフローチャートの一例である。
【符号の説明】
【００５３】
１，４，６…加算器、２，５…乗算器、３…位相変換器、７…検波器、８…Ａ／Ｄ変換器、９…制御回路、１０，１１…Ｄ／Ａ変換器
【図１】
2006050331.tif 000010
【図２】
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【図３】
2006050331.tif 000012
【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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