(57)【要約】      （修正有）【課題】磁気記録媒体と、書き込みデータを変調し磁気記録媒体へ書き込み、磁気記録媒体からのデータを読み出し、読み出しデータを復調するリード・ライト・チャネルと、リード・ライト・チャネルに書き込みデータを供給し、読み出しデータがリード・ライト・チャネルから供給されるプロセッサを有する磁気記録装置を提供する。【解決手段】プロセッサは、書き込み時に連続する磁化反転を生成する第一パターンと、読み出し時に第一パターンによる信号よりも高いS／N比を有する信号を生成する第二パターンとを有する微小ディフェクト検出パターンを、リード・ライト・チャネルに供給し、リード・ライト・チャネルは、微小ディフェクト検出パターンを変調し、磁気記録媒体に書き込み、書き込まれた微小ディフェクト検出パターンを磁気記録媒体から読み出し、読み出された微小ディフェクト検出パターンの異常検出を行う。【選択図】図３
2006260732.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気記録媒体と、
書き込みデータを変調し前記磁気記録媒体へ書き込み、前記磁気記録媒体からのデータを読み出し、前記読み出しデータを復調するリード・ライト・チャネルと、
前記リード・ライト・チャネルに前記書き込みデータを供給し、前記読み出しデータが前記リード・ライト・チャネルから供給されるプロセッサを有する磁気記録装置において、
前記プロセッサは、書き込み時に連続する磁化反転を生成する第一パターンと、読み出し時に前記第一パターンによる信号よりも高いS／N比を有する信号を生成する第二パターンとを有する微小ディフェクト検出パターンを、前記リード・ライト・チャネルに供給し、
前記リード・ライト・チャネルは、前記微小ディフェクト検出パターンを変調し、前記磁気記録媒体に書き込み、書き込まれた前記微小ディフェクト検出パターンを前記磁気記録媒体から読み出し、読み出された前記微小ディフェクト検出パターンに対応する信号の異常検出を行い、異常が検出された場合に前記プロセッサに前記磁気記録媒体上の異常検出位置を通知し、
前記プロセッサは、通知された前記異常検出位置を使用不能領域として登録することを特徴とする磁気記録装置。
【請求項２】
請求項１において、
前記微小ディフェクト検出パターンを、前記磁気記録媒体の同一箇所に位相をずらして再び書き込むことを特徴とする磁気記録装置。
【請求項３】
磁気記録媒体と、
書き込みデータを変調し前記磁気記録媒体へ書き込み、前記磁気記録媒体からのデータを読み出し、前記読み出しデータを復調するリード・ライト・チャネルと、
前記リード・ライト・チャネルに前記書き込みデータを供給し、前記読み出しデータが前記リード・ライト・チャネルから供給されるプロセッサを有する磁気記録装置において、
書き込み時に連続する磁化反転を生成する第一パターンと、読み出し時に前記第一パターンによる信号よりも高いS／N比を有する信号を生成する第二パターンとを有する微小ディフェクト検出パターンが、前記プロセッサから前記リード・ライト・チャネルに供給され、前記リード・ライト・チャネルによって、前記微小ディフェクト検出パターンを変調し、前記磁気記録媒体に書き込む書込工程と、
前記リード・ライト・チャネルによって、書き込まれた前記微小ディフェクト検出パターンを前記磁気記録媒体から読み出す読出工程と、
前記リード・ライト・チャネルによって、読み出された前記微小ディフェクト検出パターンに対応する信号の異常検出を行い、異常が検出された場合に前記プロセッサに前記磁気記録媒体上の異常検出位置を通知する検出工程と、
前記プロセッサによって、通知された前記異常検出位置を使用不能領域として登録する登録工程とを有することを特徴とする微小ディフェクト検出方法。
【請求項４】
請求項３において、
前記微小ディフェクト検出パターンを、前記磁気記録媒体の同一箇所に位相をずらして再び書き込むことを特徴とする微小ディフェクト検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、磁気記録媒体における微小欠陥を検出する磁気記録装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
磁気記録装置は、強磁性体で構成される磁気ディスクを回転させ、磁気ディスク上に磁気ヘッドを走査させることによって情報の記録と再生を行うものであり、コンピュータにおける補助記憶装置として一般的に使用されている。
【０００３】
磁気記録装置の磁気記録媒体のデータ領域に対しては、工場出荷時に欠陥（ディフェクト）の検出処理が行われる。ここでディフェクトとは、磁気記憶媒体の表面の傷、汚れ、粒子の存在を意味し、ディフェクトが存在する箇所は、書き込み時の磁化の度合いが弱くなり、書き込みや読み出しが困難になる。工場出荷時のディフェクトの検出処理において発見されたディフェクト箇所は、磁気記録装置を制御するプロセッサのメモリ領域にスキップ登録される仕組みとなっている。
【０００４】
また、出荷後における磁気記録装置においては、データの読み出し、及び、書き込み中に、データの読み出し、及び、書き込みがしにくくなった箇所をスキップ登録するということも行なわれる。これにより、出荷後に発生したディフェクトに対し、その箇所に書き込まれるデータの破壊を未然に防ぐことが可能である。
【０００５】
従来のディフェクト検出方法として、通常のデータの書き込み、及び、読み出しを行う方法が考えられる。すなわち、通常データを書き込み、その後、読み出し、読み出された信号の振幅や位相の変化を観測することにより、ディフェクトの存在を検知することが可能である。
【０００６】
図１は、通常データの書き込み、及び、読み出しによるディフェクト検出時において、読み出された信号を示す図である。ディフェクトの存在する箇所DEFでは、信号が不連続となったり、位相や振幅に急激な変化がおこったりする。これを検出することにより、ディフェクトの位置を知ることが可能である。
【０００７】
また、通常のデータの書き込み、及び、読み出しの場合、データのパターンがランダム化されて、“0”と“1”の繰り返しは制約されており、長期にわたって連続するビット反転は稀である。
【０００８】
ここで、ランダム化とは、書き込みデータの規則性をなくすための処理である。たとえば、媒体に記録されるデータが“１”、“１”、“１”、“１”などの磁化反転を繰り返すパターンは、S／N比が悪くなり、エラーレートが高くなるため、できるだけ発生を抑えたい。そこで、通常データの書き込みにおいては、スクランブラを用いて規則性をなくす処理が行われる。
【０００９】
図２は、ランダム化を行うためのスクランブラの一例である。スクランブラ100は、２つのエクスクルーシブオア（以下ExOR）回路101a、101b、と10ビットのシフトレジスタ102から構成される。シフトレジスタ102に格納されるデータX9〜X0はX0からX9へ順次シフトされ、X9の値とX2の値をExOR回路101aに入力し、その出力をX0としてシフトレジスタ102に入力する。ランダマイズ前のデータBRは8ビットのパラレルデータで、シフトレジスタ102内の８ビットデータX2〜X9とともにExOR回路101ｂに入力し、ランダマイズ後のデータARとしてスクランブラ100から出力される。このスクランブラ100は、10ビットのシフトレジスタ102を用いているので、1024バイトの周期性をもつ。
【００１０】
磁気記録装置におけるディフェクトを検出する回路としては、特許文献１に記載の技術などが存在する。この技術において磁気記録装置は、通常のデータの書き込み、及び、読み出しを用いて、ディフェクトの検出を行う。
【特許文献１】特開平１１−３２８８７７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
しかしながら、このような通常データの書き込み、及び、読み出しによるディフェクト検出では、全てのディフェクトを検出することは困難である。ディフェクトの中には、従来の磁気記録装置に備えられているディフェクト検出機能では、位相や振幅の急激な変化として捉えることのできない微小なディフェクトが存在する。この微小ディフェクトは通常、エラー訂正機能により、補完できる場合が多い。しかし、ヘッド媒体の特性変化等により、微小ディフェクトが成長し大きくなった場合に、その箇所のデータ判別能力が低下し、エラー訂正能力を超えることになり、データの補完が出来なくなるという問題があった。
【００１２】
そこで、本発明の目的は、磁気記録装置における磁気記憶媒体上の微小ディフェクトを検知することである。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記課題を解決するため、本発明の第一の側面によれば、磁気記録媒体と、書き込みデータを変調し前記磁気記録媒体へ書き込み、前記磁気記録媒体からのデータを読み出し、前記読み出しデータを復調するリード・ライト・チャネルと、前記リード・ライト・チャネルに前記書き込みデータを供給し、前記読み出しデータが前記リード・ライト・チャネルから供給されるプロセッサを有する磁気記録装置であって、前記プロセッサは、書き込み時に連続する磁化反転を生成する第一パターンと、読み出し時に前記第一パターンによる信号よりも高いS／N比を有する信号を生成する第二パターンとを有する微小ディフェクト検出パターンを、前記リード・ライト・チャネルに供給し、前記リード・ライト・チャネルは、前記微小ディフェクト検出パターンを変調し、前記磁気記録媒体に書き込み、書き込まれた前記微小ディフェクト検出パターンを前記磁気記録媒体から読み出し、読み出された前記微小ディフェクト検出パターンの異常検出を行い、異常が検出された場合に前記プロセッサに前記磁気記録媒体上の異常検出位置を通知し、前記プロセッサは、通知された前記異常検出位置を使用不能領域として登録することを特徴とする。
【００１４】
上記発明の第一の側面において、好ましい実施例では、前記微小ディフェクト検出パターンを、前記磁気記録媒体の同一箇所に位相をずらして再び書き込むことを特徴とする。
【００１５】
上記発明の第一の側面において、さらに好ましい実施例では、前記プロセッサは、前記微小ディフェクト検出パターンの書き込みの際に、前記リード・ライト・チャネルの書き込み系のパラメータを調整することによって、前記磁気記録媒体の書き込み部分の磁化の度合いを弱くすることを特徴とする。
【００１６】
上記発明の第一の側面において、さらに好ましい実施例では、前記書き込み系のパラメータは、書き込み電流であることを特徴とする。
【００１７】
上記発明の第一の側面において、さらに好ましい実施例では、前記書き込み系のパラメータは、書き込み電流のオーバーシュートであることを特徴とする。
【００１８】
上記発明の第一の側面において、さらに好ましい実施例では、前記プロセッサは、前記微小ディフェクト検出パターンの読み出しの際に、前記リード・ライト・チャネルの読み出し系のパラメータを調整することによって、前記リード・ライト・チャネルの周波数特性を下げることを特徴とする。
【００１９】
上記発明の第一の側面において、さらに好ましい実施例では、前記読み出し系のパラメータは、カットオフ周波数であることを特徴とする。
【００２０】
上記発明の第一の側面において、さらに好ましい実施例では、前記読み出し系のパラメータは、ブーストであることを特徴とする。
【００２１】
上記発明の第一の側面において、さらに好ましい実施例では、通常データの読み出し時、もしくは、書き込み時のエラー発生によるリトライの際に、前記微小ディフェクト検出パターンの書き込み、及び、読み出しを行うことを特徴とする。
【００２２】
上記発明の第一の側面において、さらに好ましい実施例では、前記微小ディフェクト検出パターンの書き込み、及び、読み出しを定期的に行うことを特徴とする。
【００２３】
また、本発明の第二の側面によれば、磁気記録媒体と、書き込みデータを変調し前記磁気記録媒体へ書き込み、前記磁気記録媒体からのデータを読み出し、前記読み出しデータを復調するリード・ライト・チャネルと、前記リード・ライト・チャネルに前記書き込みデータを供給し、前記読み出しデータが前記リード・ライト・チャネルから供給されるプロセッサを有する磁気記録装置における微小ディフェクト検出方法であって、書き込み時に連続する磁化反転を生成する第一パターンと、読み出し時に前記第一パターンによる信号よりも高いS／N比を有する信号を生成する第二パターンとを有する微小ディフェクト検出パターンが、前記プロセッサから前記リード・ライト・チャネルに供給され、前記リード・ライト・チャネルによって、前記微小ディフェクト検出パターンを変調し、前記磁気記録媒体に書き込む書込工程と、前記リード・ライト・チャネルによって、書き込まれた前記微小ディフェクト検出パターンを前記磁気記録媒体から読み出す読出工程と、前記リード・ライト・チャネルによって、読み出された前記微小ディフェクト検出パターンの異常検出を行い、異常が検出された場合に前記プロセッサに前記磁気記録媒体上の異常検出位置を通知する検出工程と、前記プロセッサによって、通知された前記異常検出位置を使用不能領域として登録する登録工程とを有することを特徴とする。
【００２４】
上記発明の第二の側面において、好ましい実施例では、前記微小ディフェクト検出パターンを、前記磁気記録媒体の同一箇所に位相をずらして再び書き込むことを特徴とする。
【００２５】
上記発明の第二の側面において、さらに好ましい実施例では、前記書込工程において、前記プロセッサが、前記リード・ライト・チャネルの書き込み系のパラメータを調整することによって、前記磁気記録媒体の書き込み部分の磁化の度合いを弱くすることを特徴とする。
【００２６】
上記発明の第二の側面において、さらに好ましい実施例では、前記書き込み系のパラメータは、書き込み電流であることを特徴とする。
【００２７】
上記発明の第二の側面において、さらに好ましい実施例では、前記書き込み系のパラメータは、書き込み電流のオーバーシュートであることを特徴とする。
上記発明の第二の側面において、さらに好ましい実施例では、前記読出工程において、前記プロセッサが、前記リード・ライト・チャネルの読み出し系のパラメータを調整することによって、前記リード・ライト・チャネルの周波数特性を下げることを特徴とする。
【００２８】
上記発明の第二の側面において、さらに好ましい実施例では、前記読み出し系のパラメータは、カットオフ周波数であることを特徴とする。
【００２９】
上記発明の第二の側面において、さらに好ましい実施例では、前記読み出し系のパラメータは、ブーストであることを特徴とする。
【発明の効果】
【００３０】
本発明の磁気記録装置は、書き込み時に連続する磁化反転を生成する第一パターンと、読み出し時に第一パターンによる信号よりも高いS／N比を有する信号を生成する第二パターンとを有する微小ディフェクト検出パターンを、磁気記録媒体に書き込み、その後、読み出すことにより、微小ディフェクトを検出することができる。これによって、微小ディフェクトが大きくなり、記憶されるデータのエラー訂正が不可能になる以前に、微小ディフェクト箇所を使用不能領域に登録し、データの破壊を未然に防ぐことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３１】
以下、図面に従って本発明の実施の形態について説明する。但し、本発明の技術的範囲はこれらの実施の形態に限定されず、特許請求の範囲に記載された事項とその均等物まで及ぶものである。
【００３２】
図３は、本発明の実施の形態における磁気記録装置のブロック図である。本実施の形態における磁気記録装置10は、磁気記録装置全体を制御するプロセッサ１、エラー訂正機能などを有するハードディスクコントローラ（図ではHDC）２、ディフェクト検出機能などを有するリード・ライト・チャネル３、書き込み信号、及び、読み出し信号を増幅するプリアンプ４、データが記録される磁気記憶媒体５によって構成されている。
【００３３】
通常のデータ書き込み時においては、磁気記録装置10に接続されるホストコンピュータ20から書き込み用データとアドレスを受け取り、磁気記録媒体５上のサーボ情報から、ハードディスクコントローラ２がヘッド位置を確認し、目的のアドレス上で書き込みデータがハードディスクコントローラ２、リード・ライト・チャネル３、プリアンプ４を通じて書き込まれる。この時、ハードディスクコントローラ２において、エラー訂正コードが書き込みデータに付加される。また、ハードディスクコントローラ２において、データの規則性をなくすためのランダム化も行われている。
【００３４】
また、通常データの読み出し時において、磁気記録装置10は、ホストコンピュータ20からアドレスを受け取り、磁気記録媒体５上のサーボ情報から、ハードディスクコントローラ２がヘッド位置を確認し、目的のアドレス上でデータを読み出す。読み出されたデータ信号は、プリアンプ４で増幅され、リード・ライト・チャネル３においてディフェクトの検出が行われ、ハードディスクコントローラ２において、書き込み時に付加されたエラー訂正コードを用いてエラー訂正が行われる。
【００３５】
ここで、微小ディフェクトの検出に用いられる微小ディフェクト検出パターンについて説明する。微小ディフェクト検出パターンは、書き込み時に連続する磁化反転を生じさせるパターンである第一パターンと、読み出し時に第一パターンによる信号よりも高いS／N比を有する信号を生成する第二パターンからなる。第一パターンは、たとえば、“１１１１”や、“００００”などのデータである。また、第二パターンは、たとえば、“１０１０１”などのデータである。
【００３６】
図４は、書き込みデータに対応する変調後データと磁化の方向を示す図である。ここでは、一例として、MFM（Modified Frequency Modulation）変調方式を用いて説明する。本実施の形態ではMFM変調方式を用いて説明するが、他の変調方式を適用することも可能である。MFM変調方式では、原則として、書き込みデータWDの“１”は“０１”に、“０”は“００”に変換される。ただし、書き込みデータWDの“０”は、直前のデータが“０”であった場合に“１０”に変換される。それに対応して、書き込まれる磁化の方向は、変調後データMDに“１”が出現するたびに反転する。そのため、“１１１１”が書き込まれる場合は、“０１０１０１０１”に変換されるため、磁化の反転は連続して起こる。同様に、“００００”が書き込まれる場合も、“００１０１０１０”と変換されるため、磁化の反転が連続して起こる。また、書き込みデータWDが“１０１０１”の場合は、“０１０００１０００１”に変換される。尚、この変調処理は、リード・ライト・チャネル３によって行われる。
【００３７】
次に、微小ディフェクトを検出する手順について述べる。
【００３８】
図５は、微小ディフェクトを検出する際のフローチャートである。微小ディフェクトの検出が開始されると、まず、ハードディスクコントローラ２におけるランダム化機能が停止される（ステップS1）。エラー訂正機能の停止は、ディフェクトが検出された際にエラーが補完されないようにするために行われる。また、エラー訂正機能によって余計なコードが書き込みデータに付加されることを避けるために行われる。ランダム化機能の停止は、微小ディフェクトの検出のために用いられる微小ディフェクト検出パターンの書き込みを可能にするために行われる。微小ディフェクト検出パターンは、連続して磁化反転を起こすために“１１１１”や“００００”などのパターンを含んでおり、ランダム化機能が働くとそのパターンを壊してしまう。
【００３９】
次に、書き込み系のパラメータが設定される（ステップS2）。
【００４０】
図６は、書き込み系のパラメータの設定を示す表である。ここで、書き込み系のパラメータとは書き込み電流Iwと、書き込み電流のオーバーシュートOsである。書き込み電流Iwや、書き込み電流のオーバーシュートOsを大きくすると、磁気記憶媒体における磁化の度合いが強くなる。そこで、逆に、これらの値を通常よりも小さく設定することによって、書き込みによる磁化の度合いを弱くし、書き込み能力を下げ、読み出し時に微小ディフェクトを検出しやすくすることができる。尚、ここで設定される検出感度は、予め決められており、それに応じて書き込み系パラメータを変更する。
【００４１】
次に、微小ディフェクト検出パターンが磁気記録媒体５に対して書き込まれる（ステップS3）。微小ディフェクト検出パターンは、プロセッサ１内のメモリ領域に格納されており、ハードディスクコントローラ２、リード・ライト・チャネル３、プリアンプ４を通じて磁気記録媒体５に対して書き込まれる。
【００４２】
その後、読み出し系のパラメータが設定される（ステップS4）。
【００４３】
図７は、読み出し系のパラメータの設定を示す表である。ここで、読み出し系のパラメータとはカットオフ周波数Fcと、ブーストBsである。カットオフ周波数FcやブーストBsを低く設定し、周波数特性を下げることによって、読み出し能力を下げ、読み出し時に微小ディフェクトを検出しやすくすることができる。尚、ここで設定される検出感度は、予め決められており、それに応じて読み出し系パラメータを変更する。
【００４４】
次に、書き込まれた微小ディフェクト検出パターンの読み出しを行う（ステップ５）。
【００４５】
図８は、微小ディフェクト検出パターンを読み出したときの信号を示す図である。微小ディフェクト検出パターンは、書き込み時に連続する磁化反転を生じさせるパターンである第一パターンと、読み出し時に第一パターンによる信号よりも高いS／N比を有する信号を生じさせる第二パターンからなる。第一パターンを読み出した場合、高周波で位相の変化する第一信号SG1が検出される。また、第二パターンを読み出した場合、第一信号SG1よりも高いS／N比をもつ第二信号SG２が検出される。
【００４６】
微小ディフェクトが存在する場合、第一信号SG1における位相や振幅の急激な変化として、リード・ライト・チャネル３におけるディフェクト検出機能によってとらえることが可能である。加えて、微小ディフェクトが存在する場合、第一信号SG1における振幅の最大値が小さくなるピークつぶれとして、リード・ライト・チャネル３におけるディフェクト検出機能によってとらえることも可能である。
【００４７】
図９は、書き込み周波数とS／N比の対応を示す図である。微小ディフェクト検出パターン内の第一パターンは、第一信号SG1を作り出すが、その周波数はその信号を書き込む位置における最高の周波数F1である。また、第二パターンの作り出す第二信号SG２の周波数は、書き込む位置において2番目に高い周波数F2である。微小ディフェクトの検出には、周波数F1で書き込みを行うことが望まれるが、周波数F1において書き込みを続けると、S/N比が悪いためにエラーレートが高くなってしまう。そこで、第二信号SG２を混ぜることにより、周波数を図６中のF1.5程度に保ち、エラーレートを低く抑える。
【００４８】
書き込まれた微小ディフェクト検出パターンの読み出しの後、位相や振幅の急激な変化、及び、ピークつぶれにより起こる訂正不可能なエラーを検出し、それを微小ディフェクトが存在すると判断する（ステップS6）。微小ディフェクトが存在すると判断された場合は、その微小ディフェクトが登録可能であるかを判断する（ステップS7）。多数のディフェクトが登録されている場合には、登録できないケースがある。登録可能と判断された場合は、リード・ライト・チャネル３から微小ディフェクトの位置に関する情報が、プロセッサ１に送られ、プロセッサ１のメモリ領域に記録される（ステップS8）。記録された磁気記録媒体５の位置は、書き込みできない領域として回避される。
【００４９】
ステップS6で微小ディフェクトが発生していない場合、ステップS7で微小ディフェクトの登録ができない場合、そして、ステップS8の微小ディフェクトの登録が終わった後は、再書き込みの判断を行う（ステップS9）。再書き込みは、以前の書き込みにおいて第二パターンが書き込まれた位置に、第一パターンを書き込む処理である。
【００５０】
図１０は、磁気記録媒体に対する微小ディフェクト検出パターンの書き込みの例である。第一の書き込みにおいは、区間A、C、Eに第一パターンが書き込まれ、区間B、Dに第二パターンが書き込まれる。第一パターンは、第二パターンよりも微小ディフェクトの検出において有利であるため、第一の書き込みにおいて第二パターンが書き込まれた区間B、Dには、第一パターンが書き込まれる必要がある。そこで、第二の書き込みにおいて、位相をずらして書き込みを行うことにより、第一の書き込みにおいて第二パターンが書き込まれた区間に第一パターンを書き込むことが可能である。
【００５１】
ステップS9における再書き込みの確認において、第二の書き込みが行われていない場合は、ステップS2に戻る。また、第二の書き込みが終了した場合は、微小ディフェクトの検出が終了する。尚、第二の書き込みにおける書き込み系パラメータの設定（ステップS2）、微小ディフェクト検出パターンの書き込み（ステップS3）、読み出し系パラメータの設定（ステップS4）、微小ディフェクト検出パターンの読み出し（ステップS5）、微小ディフェクト発生の確認（ステップS6）、ディフェクト登録可能確認（ステップS7）、ディフェクト登録（ステップS8）の一連の動作は、書き込みの位相がずれること以外は、第一の書き込みと同様である。
【００５２】
図１１は、通常データパターンと、微小ディフェクト検出パターンによって検出されたのディフェクトマップの例である。上図は通常データパターンを用いてディフェクト検出を行ったものであり、下図は微小ディフェクト検出パターンを用いてディフェクト検出を行ったものである。両図の横軸はシリンダ番号であり、縦軸はセクタ番号である。通常データパターンにおいて、検出されたディフェクトが数個であるのに対し、微小ディフェクト検出パターンでは、通常データパターンでは見えないディフェクトまで検出できる。
【００５３】
このように、書き込み時に連続する磁化反転を生成する第一パターンと、読み出し時に第一パターンによる信号よりも高いS／N比を有する信号を生成する第二パターンとを有する微小ディフェクト検出パターンを、磁気記録媒体に書き込み、その後、読み出すことにより、微小ディフェクトを検出することができる。これによって、微小ディフェクトが大きくなり、記憶されるデータのエラー訂正が不可能になる以前に、微小ディフェクト箇所を使用不能領域に登録し、データの破壊を未然に防ぐことができる。また、この磁気記録装置はハードウェアの追加や改良なしに実現することができる。
【００５４】
以上の実施の形態をまとめると以下の付記の通りである。
【００５５】
（付記１）
磁気記録媒体と、
書き込みデータを変調し前記磁気記録媒体へ書き込み、前記磁気記録媒体からのデータを読み出し、前記読み出しデータを復調するリード・ライト・チャネルと、
前記リード・ライト・チャネルに前記書き込みデータを供給し、前記読み出しデータが前記リード・ライト・チャネルから供給されるプロセッサを有する磁気記録装置において、
前記プロセッサは、書き込み時に連続する磁化反転を生成する第一パターンと、読み出し時に前記第一パターンによる信号よりも高いS／N比を有する信号を生成する第二パターンとを有する微小ディフェクト検出パターンを、前記リード・ライト・チャネルに供給し、
前記リード・ライト・チャネルは、前記微小ディフェクト検出パターンを変調し、前記磁気記録媒体に書き込み、書き込まれた前記微小ディフェクト検出パターンを前記磁気記録媒体から読み出し、読み出された前記微小ディフェクト検出パターンに対応する信号の異常検出を行い、異常が検出された場合に前記プロセッサに前記磁気記録媒体上の異常検出位置を通知し、
前記プロセッサは、通知された前記異常検出位置を使用不能領域として登録することを特徴とする磁気記録装置。
【００５６】
（付記２）
付記１において、
前記微小ディフェクト検出パターンを、前記磁気記録媒体の同一箇所に位相をずらして再び書き込むことを特徴とする磁気記録装置。
【００５７】
（付記３）
付記１において、
前記プロセッサは、前記微小ディフェクト検出パターンの書き込みの際に、前記リード・ライト・チャネルの書き込み系のパラメータを調整することによって、前記磁気記録媒体の書き込み部分の磁化の度合いを弱くすることを特徴とする磁気記録装置。
【００５８】
（付記４）
付記３において、
前記書き込み系のパラメータは、書き込み電流であることを特徴とする磁気記憶装置。
【００５９】
（付記５）
付記３において、
前記書き込み系のパラメータは、書き込み電流のオーバーシュートであることを特徴とする磁気記憶装置。
【００６０】
（付記６）
付記１において、
前記プロセッサは、前記微小ディフェクト検出パターンの読み出しの際に、前記リード・ライト・チャネルの読み出し系のパラメータを調整することによって、前記リード・ライト・チャネルの周波数特性を下げることを特徴とする磁気記録装置。
【００６１】
（付記７）
付記６において、
前記読み出し系のパラメータは、カットオフ周波数であることを特徴とする磁気記憶装置。
【００６２】
（付記８）
付記６において、
前記読み出し系のパラメータは、ブーストであることを特徴とする磁気記憶装置。
【００６３】
（付記９）
付記１において、
通常データの読み出し時、もしくは、書き込み時のエラー発生によるリトライの際に、前記微小ディフェクト検出パターンの書き込み、及び、読み出しを行うことを特徴とする磁気記録装置。
【００６４】
（付記１０）
付記１において
前記微小ディフェクト検出パターンの書き込み、及び、読み出しを定期的に行うことを特徴とする磁気記録装置。
【００６５】
（付記１１）
磁気記録媒体と、
書き込みデータを変調し前記磁気記録媒体へ書き込み、前記磁気記録媒体からのデータを読み出し、前記読み出しデータを復調するリード・ライト・チャネルと、
前記リード・ライト・チャネルに前記書き込みデータを供給し、前記読み出しデータが前記リード・ライト・チャネルから供給されるプロセッサを有する磁気記録装置において、
書き込み時に連続する磁化反転を生成する第一パターンと、読み出し時に前記第一パターンによる信号よりも高いS／N比を有する信号を生成する第二パターンとを有する微小ディフェクト検出パターンが、前記プロセッサから前記リード・ライト・チャネルに供給され、前記リード・ライト・チャネルによって、前記微小ディフェクト検出パターンを変調し、前記磁気記録媒体に書き込む書込工程と、
前記リード・ライト・チャネルによって、書き込まれた前記微小ディフェクト検出パターンを前記磁気記録媒体から読み出す読出工程と、
前記リード・ライト・チャネルによって、読み出された前記微小ディフェクト検出パターンに対応する信号の異常検出を行い、異常が検出された場合に前記プロセッサに前記磁気記録媒体上の異常検出位置を通知する検出工程と、
前記プロセッサによって、通知された前記異常検出位置を使用不能領域として登録する登録工程とを有することを特徴とする微小ディフェクト検出方法。
【００６６】
（付記１２）
付記１１において、
前記微小ディフェクト検出パターンを、前記磁気記録媒体の同一箇所に位相をずらして再び書き込むことを特徴とする微小ディフェクト検出方法。
（付記１３）
付記１１において、
前記書込工程において、前記プロセッサが、前記リード・ライト・チャネルの書き込み系のパラメータを調整することによって、前記磁気記録媒体の書き込み部分の磁化の度合いを弱くすることを特徴とする微小ディフェクト検出方法。
（付記１４）
付記１３において、
前記書き込み系のパラメータは、書き込み電流であることを特徴とする微小ディフェクト検出方法。
（付記１５）
付記１３において、
前記書き込み系のパラメータは、書き込み電流のオーバーシュートであることを特徴とする微小ディフェクト検出方法。
（付記１６）
付記１１において、
前記読出工程において、前記プロセッサが、前記リード・ライト・チャネルの読み出し系のパラメータを調整することによって、前記リード・ライト・チャネルの周波数特性を下げることを特徴とする微小ディフェクト検出方法。
（付記１７）
付記１６において、
前記読み出し系のパラメータは、カットオフ周波数であることを特徴とする微小ディフェクト検出方法。
（付記１８）
付記１６において、
前記読み出し系のパラメータは、ブーストであることを特徴とする微小ディフェクト検出方法。
【産業上の利用可能性】
【００６７】
本発明によると、磁気記録装置内の磁気記録媒体における微小なディフェクトを検出することができる。その結果、微小なディフェクトが大きくなり、エラー訂正が不可能になる以前に、その記憶領域を除外登録し、大切なデータの喪失を未然に防ぐことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００６８】
【図１】通常データの書き込み、及び、読み出しによるディフェクト検出時において、読み出された信号を示す図である
【図２】ランダム化を行うためのスクランブラの一例である。
【図３】本発明の実施の形態における磁気記録装置のブロック図である。
【図４】書き込みデータに対応する変調後データと磁化の方向を示す図である。
【図５】微小ディフェクトを検出する際のフローチャートである。
【図６】書き込み系のパラメータの設定を示す表である。
【図７】読み出し系のパラメータの設定を示す表である。
【図８】微小ディフェクト検出パターンを読み出したときの信号を示す図である。
【図９】書き込み周波数とS／N比の対応を示す図である。
【図１０】磁気記録媒体に対する微小ディフェクト検出パターンの書き込みの例である。
【図１１】通常データパターンと、微小ディフェクト検出パターンによって検出されたのディフェクトマップの例である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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