(57)【要約】【課題】  個々の部品の特性ばらつきを考慮したＬＳＩ間のインピーダンス調整方法を提供する。【解決手段】  第１のＬＳＩ１の出力回路３内に組み込まれたインピーダンス調整回路４と、インピーダンス調整回路４を介してランダムパターンのテスト用信号を第２のＬＳＩ２に対して送出するテストパターン発生回路５を備える。第２のＬＳＩ２の入力回路６の後段に配置され、入力される信号波形から特定の周波数成分を抽出するフィルタ７を備える。フィルタ７により抽出される周波数成分の大きさが最大となるようにインピーダンス調整回路４を制御するためのフィードバック信号を、該インピーダンス調整回路４に対してフィードバック出力するフィードバック信号出力回路８を備える。インピーダンス調整回路４は、前記フィードバック信号に基づき第１ＬＳＩ１の出力回路３の出力インピーダンスを決定する。【選択図】    図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
第２の半導体集積回路に対して信号を出力する第１の半導体集積回路の出力インピーダンスを調整するインピーダンス調整システムにおいて、
前記第１の半導体集積回路の信号出力回路と、
前記第１の半導体集積回路の信号出力回路内に組み込まれた出力インピーダンス調整回路と、
前記出力インピーダンス調整回路を介してランダムパターンのテスト用信号を前記第２の半導体集積回路に対して送出するテストパターン発生回路と、
前記第２の半導体集積回路の信号入力回路と、
前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の後段に配置され、入力される信号波形から特定の周波数成分を抽出するフィルタと、
前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさが最大となるように前記出力インピーダンス調整回路を制御するためのフィードバック信号を、該出力インピーダンス調整回路に対してフィードバック出力するフィードバック信号出力回路と、
を備え、
前記出力インピーダンス調整回路は、前記フィードバック信号出力回路から入力されるフィードバック信号に基づき前記第１の半導体集積回路の信号出力回路の出力インピーダンスを決定することを特徴とするインピーダンス調整システム。
【請求項２】
前記フィードバック信号出力回路は、前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさを保持し、該保持しているピーク値と、新たに前記フィルタから入力される前記特定の周波数成分の大きさと、を比較し、該比較結果を前記フィードバック信号として前記出力インピーダンス調整回路に対しフィードバック出力する比較回路からなり、
前記出力インピーダンス調整回路は、前記比較回路から入力される前記フィードバック信号が、新たに入力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示す場合には、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路の出力インピーダンス値を高くすることを特徴とする請求項１に記載のインピーダンス調整システム。
【請求項３】
前記出力インピーダンス調整回路は、前記比較回路から、新たに入力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示すフィードバック信号が入力される度に、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路の出力インピーダンス値を一定値ずつ高くすることを特徴とする請求項２に記載のインピーダンス調整システム。
【請求項４】
第１の半導体集積回路から信号が入力される第２の半導体集積回路の入力インピーダンスを調整するインピーダンス調整システムにおいて、
前記第１の半導体集積回路の信号出力回路と、
前記信号出力回路を介してランダムパターンのテスト用信号を前記第２の半導体集積回路に対して送出するテストパターン発生回路と、
前記第２の半導体集積回路の信号入力回路と、
前記第２の半導体集積回路の信号入力回路内に組み込まれた入力インピーダンス調整回路と、
前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の後段に配置され、入力される信号波形から特定の周波数成分を抽出するフィルタと、
前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさが最大となるように前記入力インピーダンス調整回路を制御するためのフィードバック信号を、該入力インピーダンス調整回路に対してフィードバック出力するフィードバック信号出力回路と、
を備え、
前記入力インピーダンス調整回路は、前記フィードバック信号出力回路から入力されるフィードバック信号に基づき前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の入力インピーダンスを決定することを特徴とするインピーダンス調整システム。
【請求項５】
前記フィードバック信号出力回路は、前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさを保持し、該保持しているピーク値と、新たに前記フィルタから入力される前記特定の周波数成分の大きさと、を比較し、該比較結果を前記フィードバック信号として前記入力インピーダンス調整回路に対しフィードバック出力する比較回路からなり、
前記入力インピーダンス調整回路は、前記比較回路から入力される前記フィードバック信号が、新たに入力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示す場合には、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の入力インピーダンス値を高くすることを特徴とする請求項４に記載のインピーダンス調整システム。
【請求項６】
前記入力インピーダンス調整回路は、前記比較回路から、新たに入力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示すフィードバック信号が入力される度に、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路のインピーダンス値を一定値ずつ高くすることを特徴とする請求項５に記載のインピーダンス調整システム。
【請求項７】
前記第１の半導体集積回路の内部論理回路と前記テストパターン発生回路とのうち何れか一方を前記第１の半導体集積回路の信号出力回路に対して選択的に接続させる第１のスイッチと、
前記第２の半導体集積回路の信号入力回路を前記第２の半導体集積回路の内部論理回路と前記フィルタとのうち何れか一方に対して選択的に接続させる第２のスイッチと、
を備えることを特徴とする請求項１乃至６の何れか一項に記載のインピーダンス調整システム。
【請求項８】
前記テストパターン発生回路の動作制御を行うテストパターン制御回路を備え、
前記テストパターン制御回路が前記テストパターン発生回路に対して前記テスト用信号の出力動作を行わせるタイミングと、
前記第１のスイッチが前記テストパターン発生回路を前記第１の半導体集積回路の信号出力回路に対して接続させるタイミングと、
前記第２のスイッチが前記第２の半導体集積回路の信号入力回路を前記フィルタ対して接続させるタイミングと、
の３つのタイミングが同期していることを特徴とする請求項７に記載のインピーダンス調整システム。
【請求項９】
前記テストパターン発生回路は、前記第１の半導体集積回路の内部に設けられていることを特徴とする請求項１乃至８の何れか一項に記載のインピーダンス調整システム。
【請求項１０】
前記テストパターン発生回路は、前記第１の半導体集積回路の外部に設けられていることを特徴とする請求項１乃至８の何れか一項に記載のインピーダンス調整システム。
【請求項１１】
第２の半導体集積回路に対して信号を出力する第１の半導体集積回路の出力インピーダンスを調整するインピーダンス調整方法において、
ランダムパターンのテスト用信号を、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路内に組み込まれた出力インピーダンス調整回路を介して前記第２の半導体集積回路に対して送出するとともに、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の後段に配置されたフィルタにより特定の周波数成分を抽出しながら、
前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさが最大となるように前記出力インピーダンス調整回路を制御するためのフィードバック信号を、該出力インピーダンス調整回路に対してフィードバック出力し、
前記出力インピーダンス調整回路にて、前記フィードバック信号に基づき前記第１の半導体集積回路の信号出力回路の出力インピーダンスを決定することを特徴とするインピーダンス調整方法。
【請求項１２】
前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさを保持し、該保持しているピーク値と、新たに前記フィルタから出力される前記特定の周波数成分の大きさと、を比較し、該比較結果を前記フィードバック信号として前記出力インピーダンス調整回路に対しフィードバック出力し、
前記出力インピーダンス調整回路では、前記フィードバック信号が、新たに前記フィルタから出力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示す場合には、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路の出力インピーダンス値を高くすることを特徴とする請求項１１に記載のインピーダンス調整方法。
【請求項１３】
前記出力インピーダンス調整回路では、新たに前記フィルタから出力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示すフィードバック信号が入力される度に、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路の出力インピーダンス値を一定値ずつ高くすることを特徴とする請求項１２に記載のインピーダンス調整方法。
【請求項１４】
第１の半導体集積回路から信号が入力される第２の半導体集積回路の入力インピーダンスを調整するインピーダンス調整方法において、
ランダムパターンのテスト用信号を、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路と、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路内に組み込まれた入力インピーダンス調整回路と、を介して送出するとともに、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の後段に配置されたフィルタにより特定の周波数成分を抽出しながら、
前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさが最大となるように前記入力インピーダンス調整回路を制御するためのフィードバック信号を、該入力インピーダンス調整回路に対してフィードバック出力し、
前記入力インピーダンス調整回路にて、前記フィードバック信号に基づき前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の入力インピーダンスを決定することを特徴とするインピーダンス調整方法。
【請求項１５】
前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさを保持し、該保持しているピーク値と、新たに前記フィルタから出力される前記特定の周波数成分の大きさと、を比較し、該比較結果を前記フィードバック信号として前記入力インピーダンス調整回路に対しフィードバック出力し、
前記入力インピーダンス調整回路では、前記フィードバック信号が、新たに前記フィルタから出力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示す場合には、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の入力インピーダンス値を高くすることを特徴とする請求項１４に記載のインピーダンス調整方法。
【請求項１６】
前記入力インピーダンス調整回路では、新たに前記フィルタから出力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示すフィードバック信号が入力される度に、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の入力インピーダンス値を一定値ずつ高くすることを特徴とする請求項１５に記載のインピーダンス調整方法。
【請求項１７】
インピーダンスの調整動作時には、
前記第１の半導体集積回路の内部論理回路と前記テストパターン発生回路とのうち前記テストパターン発生回路を前記第１の半導体集積回路の信号出力回路に対して選択的に接続し、
前記第２の半導体集積回路の信号入力回路を前記第２の半導体集積回路の内部論理回路と前記フィルタとのうち前記フィルタに対して選択的に接続することを特徴とする請求項１１乃至１６の何れか一項に記載のインピーダンス調整方法。
【請求項１８】
インピーダンスの調整動作の終了後は、
前記第１の半導体集積回路の内部論理回路と前記テストパターン発生回路とのうち前記第１の半導体集積回路の内部論理回路を前記第１の半導体集積回路の信号出力回路に対して選択的に接続し、
前記第２の半導体集積回路の信号入力回路を前記第２の半導体集積回路の内部論理回路と前記フィルタとのうち前記第２の半導体集積回路の内部論理回路に対して選択的に接続することを特徴とする請求項１７に記載のインピーダンス調整方法。
【請求項１９】
インピーダンスの調整動作時にのみ前記テストパターン発生回路に対して前記テスト用信号の出力動作を行わせることを特徴とする請求項１１乃至１８の何れか一項に記載のインピーダンス調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、インピーダンス調整システム及びインピーダンス調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、特許文献１，２には、半導体集積回路の出力インピーダンスを調整する技術が開示されている。
【０００３】
特許文献１、２では、半導体集積回路の出力インピーダンスを調整するときに「擬似配線パターン」や「ダミー負荷」を使用する。
【特許文献１】特開２００３−００８４１９号公報
【特許文献２】特開平１１−０１７５１８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、特許文献１、２での技術では、半導体集積回路の出力インピーダンスを調整するときに「擬似配線パターン」や「ダミー負荷」を使用しているため、インピーダンス調整の精度や調整後の伝送路の信号伝送品質が最適にならないという問題があった。
【０００５】
すなわち、特許文献１、２では、半導体集積回路の個体間におけるばらつきを考慮した調整ができないため、インピーダンス調整の精度や調整後の伝送路の信号伝送品質が最適にならない箇所が発生する。
【０００６】
本発明は、上記のような問題点を解決するためになされたもので、インピーダンス調整の精度や調整後の伝送路の信号伝送品質を最適にすることが可能なインピーダンス調整システム及びインピーダンス調整方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するため、本発明のインピーダンス調整システムは、第２の半導体集積回路に対して信号を出力する第１の半導体集積回路の出力インピーダンスを調整するインピーダンス調整システムにおいて、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路と、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路内に組み込まれた出力インピーダンス調整回路と、前記出力インピーダンス調整回路を介してランダムパターンのテスト用信号を前記第２の半導体集積回路に対して送出するテストパターン発生回路と、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路と、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の後段に配置され、入力される信号波形から特定の周波数成分を抽出するフィルタと、前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさが最大となるように前記出力インピーダンス調整回路を制御するためのフィードバック信号を、該出力インピーダンス調整回路に対してフィードバック出力するフィードバック信号出力回路と、を備え、前記出力インピーダンス調整回路は、前記フィードバック信号出力回路から入力されるフィードバック信号に基づき前記第１の半導体集積回路の信号出力回路の出力インピーダンスを決定することを特徴としている。
【０００８】
本発明のインピーダンス調整システムにおいては、前記フィードバック信号出力回路は、前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさを保持し、該保持しているピーク値と、新たに前記フィルタから入力される前記特定の周波数成分の大きさと、を比較し、該比較結果を前記フィードバック信号として前記出力インピーダンス調整回路に対しフィードバック出力する比較回路からなり、前記出力インピーダンス調整回路は、前記比較回路から入力される前記フィードバック信号が、新たに入力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示す場合には、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路の出力インピーダンス値を高くすることが好ましい。
【０００９】
本発明のインピーダンス調整システムにおいては、前記出力インピーダンス調整回路は、前記比較回路から、新たに入力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示すフィードバック信号が入力される度に、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路の出力インピーダンス値を一定値ずつ高くすることが好ましい。
【００１０】
また、本発明のインピーダンス調整システムは、第１の半導体集積回路から信号が入力される第２の半導体集積回路の入力インピーダンスを調整するインピーダンス調整システムにおいて、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路と、前記信号出力回路を介してランダムパターンのテスト用信号を前記第２の半導体集積回路に対して送出するテストパターン発生回路と、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路と、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路内に組み込まれた入力インピーダンス調整回路と、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の後段に配置され、入力される信号波形から特定の周波数成分を抽出するフィルタと、前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさが最大となるように前記入力インピーダンス調整回路を制御するためのフィードバック信号を、該入力インピーダンス調整回路に対してフィードバック出力するフィードバック信号出力回路と、を備え、前記入力インピーダンス調整回路は、前記フィードバック信号出力回路から入力されるフィードバック信号に基づき前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の入力インピーダンスを決定することを特徴としている。
【００１１】
本発明のインピーダンス調整システムにおいては、前記フィードバック信号出力回路は、前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさを保持し、該保持しているピーク値と、新たに前記フィルタから入力される前記特定の周波数成分の大きさと、を比較し、該比較結果を前記フィードバック信号として前記入力インピーダンス調整回路に対しフィードバック出力する比較回路からなり、前記入力インピーダンス調整回路は、前記比較回路から入力される前記フィードバック信号が、新たに入力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示す場合には、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の入力インピーダンス値を高くすることが好ましい。
【００１２】
本発明のインピーダンス調整システムにおいては、前記入力インピーダンス調整回路は、前記比較回路から、新たに入力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示すフィードバック信号が入力される度に、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路のインピーダンス値を一定値ずつ高くすることが好ましい。
【００１３】
本発明のインピーダンス調整システムにおいては、前記第１の半導体集積回路の内部論理回路と前記テストパターン発生回路とのうち何れか一方を前記第１の半導体集積回路の信号出力回路に対して選択的に接続させる第１のスイッチと、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路を前記第２の半導体集積回路の内部論理回路と前記フィルタとのうち何れか一方に対して選択的に接続させる第２のスイッチと、を備えることが好ましい。
【００１４】
本発明のインピーダンス調整システムにおいては、前記テストパターン発生回路の動作制御を行うテストパターン制御回路を備え、前記テストパターン制御回路が前記テストパターン発生回路に対して前記テスト用信号の出力動作を行わせるタイミングと、前記第１のスイッチが前記テストパターン発生回路を前記第１の半導体集積回路の信号出力回路に対して接続させるタイミングと、前記第２のスイッチが前記第２の半導体集積回路の信号入力回路を前記フィルタ対して接続させるタイミングと、の３つのタイミングが同期していることが好ましい。
【００１５】
本発明のインピーダンス調整システムにおいては、前記テストパターン発生回路は、前記第１の半導体集積回路の内部に設けられていることが好ましい。
【００１６】
或いは、本発明のインピーダンス調整システムにおいては、前記テストパターン発生回路は、前記第１の半導体集積回路の外部に設けられていることも好ましい。
【００１７】
また、本発明のインピーダンス調整方法は、第２の半導体集積回路に対して信号を出力する第１の半導体集積回路の出力インピーダンスを調整するインピーダンス調整方法において、ランダムパターンのテスト用信号を、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路内に組み込まれた出力インピーダンス調整回路を介して前記第２の半導体集積回路に対して送出するとともに、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の後段に配置されたフィルタにより特定の周波数成分を抽出しながら、前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさが最大となるように前記出力インピーダンス調整回路を制御するためのフィードバック信号を、該出力インピーダンス調整回路に対してフィードバック出力し、前記出力インピーダンス調整回路にて、前記フィードバック信号に基づき前記第１の半導体集積回路の信号出力回路の出力インピーダンスを決定することを特徴としている。
【００１８】
本発明のインピーダンス調整方法においては、前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさを保持し、該保持しているピーク値と、新たに前記フィルタから出力される前記特定の周波数成分の大きさと、を比較し、該比較結果を前記フィードバック信号として前記出力インピーダンス調整回路に対しフィードバック出力し、前記出力インピーダンス調整回路では、前記フィードバック信号が、新たに前記フィルタから出力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示す場合には、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路の出力インピーダンス値を高くすることが好ましい。
【００１９】
本発明のインピーダンス調整方法においては、前記出力インピーダンス調整回路では、新たに前記フィルタから出力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示すフィードバック信号が入力される度に、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路の出力インピーダンス値を一定値ずつ高くすることが好ましい。
【００２０】
また、本発明のインピーダンス調整方法は、第１の半導体集積回路から信号が入力される第２の半導体集積回路の入力インピーダンスを調整するインピーダンス調整方法において、ランダムパターンのテスト用信号を、前記第１の半導体集積回路の信号出力回路と、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路内に組み込まれた入力インピーダンス調整回路と、を介して送出するとともに、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の後段に配置されたフィルタにより特定の周波数成分を抽出しながら、前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさが最大となるように前記入力インピーダンス調整回路を制御するためのフィードバック信号を、該入力インピーダンス調整回路に対してフィードバック出力し、前記入力インピーダンス調整回路にて、前記フィードバック信号に基づき前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の入力インピーダンスを決定することを特徴としている。
【００２１】
本発明のインピーダンス調整方法においては、前記フィルタにより抽出される周波数成分の大きさを保持し、該保持しているピーク値と、新たに前記フィルタから出力される前記特定の周波数成分の大きさと、を比較し、該比較結果を前記フィードバック信号として前記入力インピーダンス調整回路に対しフィードバック出力し、前記入力インピーダンス調整回路では、前記フィードバック信号が、新たに前記フィルタから出力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示す場合には、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の入力インピーダンス値を高くすることが好ましい。
【００２２】
本発明のインピーダンス調整方法においては、前記入力インピーダンス調整回路では、新たに前記フィルタから出力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示すフィードバック信号が入力される度に、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路の入力インピーダンス値を一定値ずつ高くすることが好ましい。
【００２３】
本発明のインピーダンス調整方法においては、インピーダンスの調整動作時には、
前記第１の半導体集積回路の内部論理回路と前記テストパターン発生回路とのうち前記テストパターン発生回路を前記第１の半導体集積回路の信号出力回路に対して選択的に接続し、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路を前記第２の半導体集積回路の内部論理回路と前記フィルタとのうち前記フィルタに対して選択的に接続することが好ましい。
【００２４】
本発明のインピーダンス調整方法においては、インピーダンスの調整動作の終了後は、前記第１の半導体集積回路の内部論理回路と前記テストパターン発生回路とのうち前記第１の半導体集積回路の内部論理回路を前記第１の半導体集積回路の信号出力回路に対して選択的に接続し、前記第２の半導体集積回路の信号入力回路を前記第２の半導体集積回路の内部論理回路と前記フィルタとのうち前記第２の半導体集積回路の内部論理回路に対して選択的に接続することが好ましい。
【００２５】
本発明のインピーダンス調整方法においては、インピーダンスの調整動作時にのみ前記テストパターン発生回路に対して前記テスト用信号の出力動作を行わせることが好ましい。
【発明の効果】
【００２６】
本発明によれば、インピーダンス調整を行うときに、実際に信号を伝播させる伝送路を用いて調整するので、半導体集積回路の個体間におけるばらつきを考慮した調整が可能となる。よって、インピーダンス調整の精度や調整後の伝送路の信号伝送品質を最適にすることができる。このように、信号伝送路の特性に合わせたインピーダンス調整を行うことにより、伝送信号の品質向上が図れ、データ伝送の品質を高めることにより、伝送効率の向上が図れる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下、図面を参照して、本発明に係る実施形態について説明する。
【００２８】
〔第１の実施形態〕
図１及び図２は第１の実施形態に係るインピーダンス調整システム１００の構成を示す図であり、このうち図１はインピーダンス調整動作時の状態を、図２はＬＳＩの通常動作時の状態を示す。
【００２９】
図１及び図２に示すように、第１の実施形態に係るインピーダンス調整システム１００は、第１のＬＳＩ（第１の半導体集積回路）１及び第２のＬＳＩ（第２の半導体集積回路）２に設けられている。
【００３０】
インピーダンス調整システム１００は、第２のＬＳＩ２に対して信号を出力する第１のＬＳＩ１の出力インピーダンスを調整するシステムであり、図１及び図２に示すように、第１のＬＳＩ１の信号出力回路３と、この信号出力回路３内に組み込まれた出力インピーダンス調整回路４と、この出力インピーダンス調整回路４を介してテスト用信号を第２のＬＳＩ２に対して送出するテストパターン発生回路５と、第２のＬＳＩ２の信号入力回路６と、この信号入力回路６の後段に配置され、入力される信号波形から特定の周波数成分の信号を抽出するフィルタ７と、このフィルタ７により抽出された信号の大きさのピーク値を保持しておき、該保持したピーク値と、後でフィルタ７から入力される前記特定の周波数成分の信号の大きさと、を比較し、該比較結果を出力インピーダンス調整回路４に対してフィードバック出力する比較回路（フィードバック信号出力回路）８と、テストパターン発生回路５の動作制御を行うテストパターン制御回路１０と、インピーダンス調整動作時にテストパターン発生回路５を信号出力回路３に対して接続させる第１のスイッチ１２と、この第１のスイッチ１２の切替制御を行う第１のスイッチ切替回路１３と、インピーダンス調整動作時に信号入力回路６をフィルタ７及び比較回路８に対して接続させる第２のスイッチ１４と、この第２のスイッチ１４の切替制御を行う第２のスイッチ切替回路１６と、を備えて構成されている。
【００３１】
このうち第１のＬＳＩ１の信号出力回路３は、他のＬＳＩ（第２のＬＳＩ２など）や、その他回路構成部品に対して信号を送り出す役目を担う。
【００３２】
また、第２のＬＳＩ２の信号入力回路６は、他のＬＳＩ（第１のＬＳＩ１など）や、その他回路構成部品からの信号を受け取る役目を担う。
【００３３】
テストパターン制御回路１０は、インピーダンス調整動作時に、テストパターン発生回路５に対し動作指令を送信し、テスト用信号を所定時間の間だけ連続的に出力させる。
【００３４】
テストパターン発生回路５が出力するテスト用信号は、該信号の周波数成分の分布（周波数成分の経時的な変化）がランダムな信号（ランダムパターンの信号）である。
【００３５】
テストパターン発生回路５から出力されるテスト用信号は、信号出力回路３、該信号出力回路３内の出力インピーダンス調整回路４、信号出力回路３から信号入力回路６までの信号伝送路１１及び信号入力回路６を介して、フィルタ７に入力される。
【００３６】
ここで、信号伝送路１１は、詳細には、第１のＬＳＩ１の信号パッドから（プリント基板を経由して）第２のＬＳＩ２の信号パッドまでの間を指す。
【００３７】
フィルタ７は、該フィルタ７に入力される信号波形から特定の周波数成分の信号を抽出し、該抽出した周波数成分の信号を比較回路８に対して出力する。
【００３８】
比較回路８は、インピーダンス調整動作時に、フィルタ７から入力される信号の大きさのピーク値を保持しておき、新たにフィルタ７から入力される信号の大きさが該保持しているピーク値よりも大きくなった場合には、その旨を示すフィードバック信号を出力インピーダンス調整回路４に対してフィードバック出力する。
【００３９】
具体的には、例えば、比較回路８は、後からフィルタ７から入力される信号の大きさが、既に保持しているピーク値よりも大きい場合には、ハイレベルの信号を、その他の場合にはローレベルの信号を、それぞれ出力インピーダンス調整回路４に対してフィードバック出力する。
【００４０】
出力インピーダンス調整回路４は、比較回路８から入力されるフィードバック信号が、新たに入力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示す場合には、すなわち、具体的には、例えば、比較回路８からハイレベルの信号が入力された場合には、第１のＬＳＩ１の信号出力回路３の出力インピーダンス値を高くする。
【００４１】
より具体的には、出力インピーダンス調整回路４は、比較回路８から、新たに入力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示すフィードバック信号（具体的には、例えば、ハイレベルの信号）が入力される度に、第１のＬＳＩ１の信号出力回路３の出力インピーダンス値を一定値ずつ高くする。
【００４２】
このように、比較回路８は、フィルタ７により抽出される周波数成分のピーク値の大きさが最大となるように出力インピーダンス調整回路４を制御するためのフィードバック信号を、該出力インピーダンス調整回路４に対してフィードバック出力する。
【００４３】
なお、テストパターン制御回路１０及び第１のスイッチ切替回路１３は、例えば、第１のＬＳＩ１が備える初期化回路９内に備えられている。また、第２のスイッチ切替回路１６は、例えば、第２のＬＳＩ２が備える初期化回路１５内に備えられている。
【００４４】
なお、第１のＬＳＩ１は内部論理回路１７を備えている。そして、第１のスイッチ切替回路１３は、第１及び第２のＬＳＩ１，２の通常動作時には、テストパターン発生回路５ではなく内部論理回路１７を信号出力回路３に対して接続させるように、第１のスイッチ１２の切替制御を行う。
【００４５】
すなわち、第１のスイッチ１２は、第１のＬＳＩ１の内部論理回路１７とテストパターン発生回路５とのうち何れか一方を第１のＬＳＩ１の信号出力回路３に対して選択的に接続させる。
【００４６】
また、第２のＬＳＩ２は内部論理回路１８を備えている。そして、第２のスイッチ切替回路１６は、第１及び第２のＬＳＩ１，２の通常動作時には、信号入力回路６をフィルタ７（及び比較回路８）ではなく内部論理回路１８に対して接続させるように、第２のスイッチ１４の切替制御を行う。
【００４７】
すなわち、第２のスイッチ１４は、第２のＬＳＩ２の信号入力回路６を第２のＬＳＩ２の内部論理回路１８とフィルタ７とのうち何れか一方に対して選択的に接続させる。
【００４８】
次に、インピーダンス調整システム１００の動作を説明する。
【００４９】
先ず、インピーダンス調整システム１００による出力インピーダンスの調整動作を説明する。
【００５０】
出力インピーダンスの調整動作は、例えば、ＬＳＩの初期化の際に行う。
【００５１】
図１に示すように、出力インピーダンスの調整動作時には、第１のスイッチ１２は、第１のスイッチ切替回路１３の制御下で、信号出力回路３に対してテストパターン発生回路５を接続する状態に切り替わる。
【００５２】
また、第２のスイッチ１４は、第２のスイッチ切替回路１６の制御下で、信号入力回路６をフィルタ７（及び比較回路８）に対して接続する状態に切り替わる。
【００５３】
更に、テストパターン発生回路５は、テストパターン制御回路１０の制御下で、上記のようなランダムパターンのテスト用信号を出力する。
【００５４】
テストパターン発生回路５から出力されるランダムパターンのテスト用信号は、第１のＬＳＩ１内の出力インピーダンス調整回路４を経由して第２のＬＳＩ２に対して出力される。
【００５５】
出力インピーダンス調整回路４を介してテスト用信号が入力される第２のＬＳＩ１の内部では、フィルタ７により、該テスト用信号の信号波形から特定の周波数成分が抽出され、該抽出された信号が比較回路８に出力される。
【００５６】
比較回路８は、フィルタ７から入力される信号の大きさのピーク値を保持しておき、新たにフィルタ７から入力される信号の大きさが該保持しているピーク値よりも大きくなった場合には、その旨を示すフィードバック信号として、例えば、ハイレベルの信号を出力インピーダンス調整回路４に対しフィードバック出力する。
【００５７】
また、比較回路８は、新たにフィルタ７から入力される信号の大きさが該保持しているピーク値よりも大きくなると、保持する値を更新する。すなわち、新たにフィルタ７から入力される信号の大きさを新たに保持する。
【００５８】
出力インピーダンス調整回路４では、比較回路８からフィードバックされた信号に基づいて、第１のＬＳＩ１内部の信号出力回路３の出力インピーダンスを決定する。
【００５９】
すなわち、出力インピーダンス調整回路４は、比較回路８から入力されるフィードバック信号が、新たに入力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示す信号となる度に（例えば、比較回路８からハイレベルの信号が入力される度に）、第１のＬＳＩ１の信号出力回路３の出力インピーダンス値を一定値ずつ高くする。
【００６０】
このように、テスト用信号を用いて信号出力回路３の出力インピーダンスを変化させることにより、フィルタ７を通した信号の大きさが最大となるインピーダンス値が探索される。
【００６１】
このようなインピーダンス調整動作を所定時間の間継続することにより、フィルタ７を通した信号の大きさが最大となるように出力インピーダンス調整回路４を動作させて、出力インピーダンスの値を最適な値に調整することができる。
【００６２】
なお、比較回路８にて、フィルタ７から入力される信号の大きさのピーク値を保持するタイミングは、フィルタ７を通過した信号の振幅が落ち着いたタイミングである。
【００６３】
また、比較回路８に対して新たにフィルタ７から信号が入力されるタイミングは、出力インピーダンス調整回路４による出力インピーダンス値の変更後にテスト用信号が信号出力回路３、出力インピーダンス調整回路４、信号入力回路６及びフィルタ７を介して比較回路８に到達するタイミングである。
【００６４】
ここで、このようなインピーダンスの調整動作に用いられるフィルタ７の特性は、実際に使用される伝送路にＬＳＩ１，２を搭載した状態で、すなわち、プリント基板（図示略）上の接続パッドに第１及び第２のＬＳＩ１，２を半田付けした状態で、該ＬＳＩ１，２の動作状態を調査し、該調査により予め「調整に最適な周波数特性、応答特性、フィルタ出力信号の特性」を確定しておくことにより、伝送される信号の波形を考慮したインピーダンス調整を短時間で行うことが可能となる。
【００６５】
すなわち、第１及び第２のＬＳＩ１，２のそれぞれについて幾つかのサンプルを用いてフィルタ７の特性とＬＳＩの動作状態との関係を調査し、その結果を基にしてインピーダンス調整に最適な周波数特性、応答特性といった、フィルタ７の特性を決めることにより、インピーダンス調整に適したフィルタ特性の入手が可能となり、その結果として、伝送される信号の波形を考慮したインピーダンス調整を短時間で行うことが可能となる。
【００６６】
次に、上記のようなインピーダンス調整動作が終了すると、図２に示すように、第１のスイッチ１２は、第１のスイッチ切替回路１３の制御下で、信号出力回路３に対して内部論理回路１７を接続する状態に切り替わる。
【００６７】
また、第２のスイッチ１４は、第２のスイッチ切替回路１６の制御下で、信号入力回路６を内部論理回路１８に対して接続する状態に切り替わる。
【００６８】
更に、テストパターン発生回路５は、テストパターン制御回路１０の制御下で、テスト用信号の出力を終了する。
【００６９】
図２に示すように、インピーダンス調整動作の終了後は、内部論理回路１７、１８がそれぞれ信号伝送路１１に接続され、インピーダンス調整用の回路であるテストパターン発生回路５、フィルタ７及び比較回路８は信号伝送路１１から切断された状態であるため、第１及び第２のＬＳＩ１、２は通常の動作が可能である。すなわち、インピーダンス調整動作の終了後は、第１及び第２のＬＳＩが協働して信号処理や情報処理を行う状態となる。
【００７０】
以上のような第１の実施形態によれば、出力インピーダンスの調整を、実際に信号を伝播させる信号伝送路（信号伝送路１１を含む）を用いて行うので、信号伝送路１１の特性のばらつきを補正できる。すなわち、第１及び第２のＬＳＩ１、２の個体間におけるばらつきを考慮した調整が可能となる。よって、インピーダンス調整の精度や調整後の伝送路の信号伝達品質を最適にし、従来技術よりも向上させることができる。
【００７１】
また、このように、信号伝送路の特性に合わせたインピーダンス調整を行うことにより、伝送信号の品質向上が図れ、データ伝送の品質を高めることにより、伝送効率の向上が図れる。
【００７２】
なお、第１のＬＳＩ１と第２のＬＳＩ２との間の伝送路１１は、具体的には、複数の伝送路からなっており、このうち全ての伝送路をインピーダンスの調整動作に使用しても良いし、或いは、このうち一部の（何れか任意の）伝送路のみをインピーダンスの調整動作に使用しても良い。ここで、複数の伝送路をインピーダンスの調整動作に使用する場合も、テストパターン発生器５は１つで良いが、出力インピーダンス調整回路４，第１のスイッチ１２及び第２のスイッチ１４は、それぞれインピーダンスの調整動作に使用する伝送路の数量分が必要となる。また、フィルタ７及び比較回路８は、１つでも良いし、或いは複数（最大で出力インピーダンス調整回路４の数量）備えるようにしても良い。複数の伝送路をインピーダンスの調整動作に使用する場合において、フィルタ７及び比較回路８が１つであれば、該フィルタ７及び比較回路８を接続する伝送路を順次切り替えながら、各伝送路について順次にインピーダンスの調整動作を行う必要があるため、スイッチ（第１及び第２のスイッチ１２，１４とは別のスイッチ（図示略））が必要となるとともに、調整動作には、より多くの時間が必要となる。他方、複数の伝送路をインピーダンスの調整動作に使用する場合において、フィルタ７及び比較回路８の数量が多いほど、調整動作に要する時間を短縮できる。特に、フィルタ７及び比較回路８の数量が出力インピーダンス調整回路４の数量と等しい場合には、各伝送路と、フィルタ７及び比較回路８との接続を切り替えるための上記スイッチ（図示略）も不要となる。
【００７３】
〔第２の実施形態〕
図３及び図４は第２の実施形態に係るインピーダンス調整システム２００の構成を示す図であり、このうち図３はインピーダンス調整動作時の状態を、図４はＬＳＩの通常動作時の状態を示す。
【００７４】
図３及び図４に示すように、第２の実施形態に係るインピーダンス調整システム２００は、第１のＬＳＩ（第１の半導体集積回路）１及び第２のＬＳＩ（第２の半導体集積回路）２に設けられている。
【００７５】
インピーダンス調整システム２００は、第１のＬＳＩ１から信号が入力される第２のＬＳＩ２の入力インピーダンスを調整するシステムであり、図３及び図４に示すように、第１のＬＳＩ１の信号出力回路３と、この信号出力回路３を介してテスト用信号を第２のＬＳＩ２に対して送出するテストパターン発生回路５と、第２のＬＳＩ２の信号入力回路６と、この信号入力回路６内に組み込まれた入力インピーダンス調整回路１９と、信号入力回路６の後段に配置され、入力される信号波形から特定の周波数成分の信号を抽出するフィルタ７と、このフィルタ７により抽出された信号の大きさのピーク値を保持しておき、該保持したピーク値と、後でフィルタ７から入力される前記特定の周波数成分の信号の大きさと、を比較し、該比較結果を入力インピーダンス調整回路１９に対してフィードバック出力する比較回路（フィードバック信号出力回路）８と、テストパターン発生回路５の動作制御を行うテストパターン制御回路１０と、インピーダンス調整動作時にテストパターン発生回路５を信号出力回路３に対して接続させる第１のスイッチ１２と、この第１のスイッチ１２の切替制御を行う第１のスイッチ切替回路１３と、インピーダンス調整動作時に信号入力回路６をフィルタ７及び比較回路８に対して接続させる第２のスイッチ１４と、この第２のスイッチ１４の切替制御を行う第２のスイッチ切替回路１６と、を備えて構成されている。
【００７６】
なお、第２の実施形態に係るインピーダンス調整システム２００の各構成要素のうち、上記の第１の実施形態に係るインピーダンス調整システム１００におけるのと同様の構成要素には同一の符号を付し、その説明を省略する。
【００７７】
本実施形態の場合、テストパターン制御回路１０の制御下でテストパターン発生回路５から出力されるテスト用信号は、信号出力回路３、信号出力回路３から信号入力回路６までの信号伝送路１１、信号入力回路６及び信号入力回路６内の入力インピーダンス調整回路４を介して、フィルタ７に入力される。
【００７８】
フィルタ７は、該フィルタ７に入力される信号波形から特定の周波数成分の信号を抽出し、該抽出した周波数成分の信号を比較回路８に対して出力する。
【００７９】
比較回路８は、インピーダンス調整動作時に、フィルタ７から入力される信号の大きさのピーク値を保持しておき、新たにフィルタ７から入力される信号の大きさが該保持しているピーク値よりも大きくなった場合には、その旨を示すフィードバック信号を入力インピーダンス調整回路１９に対してフィードバック出力する。
【００８０】
具体的には、例えば、比較回路８は、後からフィルタ７から入力される信号の大きさが、既に保持しているピーク値よりも大きい場合には、ハイレベルの信号を、その他の場合にはローレベルの信号を、それぞれ入力インピーダンス調整回路１９に対してフィードバック出力する。
【００８１】
入力インピーダンス調整回路１９は、比較回路８から入力されるフィードバック信号が、新たに入力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示す場合には、すなわち、具体的には、例えば、比較回路８からハイレベルの信号が入力された場合には、第２のＬＳＩ２の信号入力回路６の入力インピーダンス値を高くする。
【００８２】
より具体的には、入力インピーダンス調整回路１９は、比較回路８から、新たに入力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示すフィードバック信号（具体的には、例えば、ハイレベルの信号）が入力される度に、第２のＬＳＩ２の信号入力回路６の出力インピーダンス値を一定値ずつ高くする。
【００８３】
このように、比較回路８は、フィルタ７により抽出される周波数成分のピーク値の大きさが最大となるように入力インピーダンス調整回路１９を制御するためのフィードバック信号を、該入力インピーダンス調整回路１９に対してフィードバック出力する。
【００８４】
次に、インピーダンス調整システム２００の動作を説明する。
【００８５】
先ず、インピーダンス調整システム２００による入力インピーダンスの調整動作を説明する。
【００８６】
入力インピーダンスの調整動作は、例えば、ＬＳＩの初期化の際に行う。
【００８７】
図３に示すように、入力インピーダンスの調整動作時には、第１のスイッチ１２は、第１のスイッチ切替回路１３の制御下で、信号出力回路３に対してテストパターン発生回路５を接続する状態に切り替わる。
【００８８】
また、第２のスイッチ１４は、第２のスイッチ切替回路１６の制御下で、信号入力回路６をフィルタ７（及び比較回路８）に対して接続する状態に切り替わる。
【００８９】
更に、テストパターン発生回路５は、テストパターン制御回路１０の制御下で、ランダムパターンのテスト用信号を出力する。
【００９０】
テストパターン発生回路５から出力されるランダムパターンのテスト用信号は、第１のＬＳＩ１内の信号出力回路３を経由して第２のＬＳＩ２に対して出力される。
【００９１】
第２のＬＳＩ１の内部では、信号出力回路３を介して入力されるテスト用信号が、信号入力回路６内の入力インピーダンス調整回路１９を経由してフィルタ７に入力される。
【００９２】
フィルタ７は、入力インピーダンス調整回路１９を介して入力されるテスト用信号の信号波形から特定の周波数成分を抽出し、該抽出した信号を比較回路８に出力する。
【００９３】
比較回路８は、フィルタ７から入力される信号の大きさのピーク値を保持しておき、新たにフィルタ７から入力される信号の大きさが該保持しているピーク値よりも大きくなった場合には、その旨を示すフィードバック信号として、例えば、ハイレベルの信号を入力インピーダンス調整回路１９に対しフィードバック出力する。
【００９４】
また、比較回路８は、新たにフィルタ７から入力される信号の大きさが該保持しているピーク値よりも大きくなると、保持する値を更新する。すなわち、新たにフィルタ７から入力される信号の大きさを新たに保持する。
【００９５】
入力インピーダンス調整回路１９では、比較回路８からフィードバックされた信号に基づいて、第２のＬＳＩ２内部の信号入力回路６の入力インピーダンスを決定する。
【００９６】
すなわち、入力インピーダンス調整回路１９は、比較回路８から入力されるフィードバック信号が、新たに入力された値が今までのピーク値よりも大きい旨を示す信号となる度に（例えば、比較回路８からハイレベルの信号が入力される度に）、第２のＬＳＩ２の信号出力回路６の入力インピーダンス値を一定値ずつ高くする。
【００９７】
このように、テスト用信号を用いて信号入力回路６の入力インピーダンスを変化させることにより、フィルタ７を通した信号の大きさが最大となるインピーダンス値が探索される。
【００９８】
このようなインピーダンス調整動作を所定時間の間継続することにより、フィルタ７を通した信号の大きさが最大となるように入力インピーダンス調整回路１９を動作させて、入力インピーダンスの値を最適な値に調整することができる。
【００９９】
なお、比較回路８にて、フィルタ７から入力される信号の大きさのピーク値を保持するタイミングは、フィルタ７を通過した信号の振幅が落ち着いたタイミングである。
【０１００】
また、比較回路８に対して新たにフィルタ７から信号が入力されるタイミングは、入力インピーダンス調整回路１９による出力インピーダンス値の変更後にテスト用信号が信号出力回路３、信号入力回路６及び入力インピーダンス調整回路１９及びフィルタ７を介して比較回路８に到達するタイミングである。
【０１０１】
ここで、このようなインピーダンスの調整動作に用いられるフィルタ７の特性は、実際に使用される伝送路にＬＳＩ１，２を搭載した状態で、すなわち、プリント基板（図示略）上の接続パッドに第１及び第２のＬＳＩ１，２を半田付けした状態で、該ＬＳＩ１，２の動作状態を調査し、該調査により予め「調整に最適な周波数特性、応答特性、フィルタ出力信号の特性」を確定しておくことにより、伝送される信号の波形を考慮したインピーダンス調整を短時間で行うことが可能となる。
【０１０２】
次に、上記のようなインピーダンス調整動作が終了すると、図４に示すように、第１のスイッチ１２は、第１のスイッチ切替回路１３の制御下で、信号出力回路３に対して内部論理回路１７を接続する状態に切り替わる。
【０１０３】
また、第２のスイッチ１４は、第２のスイッチ切替回路１６の制御下で、信号入力回路６を内部論理回路１８に対して接続する状態に切り替わる。
【０１０４】
更に、テストパターン発生回路５は、テストパターン制御回路１０の制御下で、テスト用信号の出力を終了する。
【０１０５】
図４に示すように、インピーダンス調整動作の終了後は、内部論理回路１７、１８がそれぞれ信号伝送路１１に接続され、インピーダンス調整用の回路であるテストパターン発生回路５、フィルタ７及び比較回路８は信号伝送路１１から切断された状態であるため、第１及び第２のＬＳＩ１、２は通常の動作が可能である。すなわち、インピーダンス調整動作の終了後は、第１及び第２のＬＳＩが協働して信号処理や情報処理を行う状態となる。
【０１０６】
以上のような第２の実施形態によれば、入力インピーダンスの調整を、実際に信号を伝播させる信号伝送路（信号伝送路１１を含む）を用いて行うので、信号伝送路１１の特性のばらつきを補正できる。すなわち、第１及び第２のＬＳＩ１、２の個体間におけるばらつきを考慮した調整が可能となる。よって、インピーダンス調整の精度や調整後の伝送路の信号伝達品質を最適にし、従来技術よりも向上させることができる。
【０１０７】
また、このように、信号伝送路の特性に合わせたインピーダンス調整を行うことにより、伝送信号の品質向上が図れ、データ伝送の品質を高めることにより、伝送効率の向上が図れる。
【０１０８】
なお、第１のＬＳＩ１と第２のＬＳＩ２との間の伝送路１１は、具体的には、複数の伝送路からなっており、このうち全ての伝送路をインピーダンスの調整動作に使用しても良いし、或いは、このうち一部の（何れか任意の）伝送路のみをインピーダンスの調整動作に使用しても良い。ここで、複数の伝送路をインピーダンスの調整動作に使用する場合も、テストパターン発生器５は１つで良いが、入力インピーダンス調整回路１９，第１のスイッチ１２及び第２のスイッチ１４は、それぞれインピーダンスの調整動作に使用する伝送路の数量分が必要となる。また、フィルタ７及び比較回路８は、１つでも良いし、或いは複数（最大でインピーダンス調整回路４の数量）備えるようにしても良い。複数の伝送路をインピーダンスの調整動作に使用する場合において、フィルタ７及び比較回路８が１つであれば、該フィルタ７及び比較回路８を接続する伝送路を順次切り替えながら、各伝送路について順次にインピーダンスの調整動作を行う必要があるため、スイッチ（第１及び第２のスイッチ１２，１４とは別のスイッチ（図示略））が必要となるとともに、調整動作には、より多くの時間が必要となる。他方、複数の伝送路をインピーダンスの調整動作に使用する場合において、フィルタ７及び比較回路８の数量が多いほど、調整動作に要する時間を短縮できる。特に、フィルタ７及び比較回路８の数量が入力インピーダンス調整回路１９の数量と等しい場合には、各伝送路と、フィルタ７及び比較回路８との接続を切り替えるための上記スイッチ（図示略）も不要となる。
【０１０９】
また、上記の各実施形態では、テストパターン発生回路５が第１のＬＳＩ１の内部に設けられている例についてそれぞれ説明したが、テストパターン発生回路５は、第１のＬＳＩ１の外部に設けられていても良い。
【０１１０】
また、上記の各実施形態では、比較回路８は、後からフィルタ７から入力される信号の大きさが、既に保持しているピーク値よりも大きい場合には、ハイレベルの信号を、その他の場合にはローレベルの信号を、それぞれフィードバック出力する例を説明したが、それとは逆に、比較回路８は、後からフィルタ７から入力される信号の大きさが、既に保持しているピーク値よりも大きい場合には、ローレベルの信号を、その他の場合にはハイレベルの信号を、それぞれフィードバック出力するのであっても良い。
【図面の簡単な説明】
【０１１１】
【図１】第１の実施形態に係るインピーダンス調整システムの構成を示す図であり、特に、インピーダンス調整動作時の状態を示す。
【図２】第１の実施形態に係るインピーダンス調整システムの構成を示す図であり、特に、ＬＳＩの通常動作時の状態を示す。
【図３】第２の実施形態に係るインピーダンス調整システムの構成を示す図であり、特に、インピーダンス調整動作時の状態を示す。
【図４】第２の実施形態に係るインピーダンス調整システムの構成を示す図であり、特に、ＬＳＩの通常動作時の状態を示す。
【符号の説明】
【０１１２】
１００  インピーダンス調整システム
１      第１のＬＳＩ（第１の半導体集積回路）
２      第２のＬＳＩ（第２の半導体集積回路）
３      信号出力回路
４      出力インピーダンス調整回路
５      テストパターン発生回路
６      信号入力回路
７      フィルタ
８      比較回路（フィードバック信号出力回路）
１０    テストパターン制御回路
１２    第１のスイッチ
１３    第１のスイッチ切り替え回路
１４    第２のスイッチ
１６    第２のスイッチ切り替え回路
１７    内部論理回路
１８    内部論理回路
２００  インピーダンス調整システム
１９    入力インピーダンス調整回路
【図１】
2006275939.tif 000003
【図２】
2006275939.tif 000004
【図３】
2006275939.tif 000005
【図４】
2006275939.tif 000006