(57)【要約】【課題】再生時の光スポットの状態による多値検出信号の劣化を防ぐ。【解決手段】光記録媒体に光源からの光を集光照射する光ピックアップ１と、光記録媒体に照射する光スポット径を任意に可変する光スポット径可変装置２と、光ピックアップの検出信号の信号品質を評価する信号品質評価器３と、信号品質評価器３から出力される信号品質評価値に基づき最良の検出信号となるように光スポット径可変装置２を制御するコントローラ４とを備える。【選択図】図１
2006216180.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光記録媒体に記録された多値情報の再生を行う光情報処理装置において、
光源から出射された光を光記録媒体の記録面上に集光照射し、かつ集光照射した光スポットからの反射光を検出する光ピックアップと、
前記光ピックアップによって検出された多値信号からその検出信号の信号品質を評価する信号品質評価器と、
前記光スポットの径を任意に可変する光スポット径可変装置と、
を備え、前記信号品質評価器から出力される信号品質評価値に基づき、前記光ピックアップの検出信号の信号品質が最良となるように前記光スポット径可変装置を制御することを特徴とする光情報処理装置。
【請求項２】
請求項１記載の光情報処理装置において、
前記信号品質評価器が、多値レベルのうち任意の１値以上の検出信号レベルと対応する記録信号レベルとの差を検出し、
その差が略ゼロとなるように前記光スポット径可変装置によって光スポット径を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項３】
請求項１記載の光情報処理装置において、
前記信号品質評価器が、多値レベルのうち最大レベルと最小レベルと任意の１値以上の、検出信号レベルと対応する記録信号レベルとの差を検出し、
その差が略ゼロとなるように前記光スポット径可変装置によって光スポット径を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項４】
請求項１記載の光情報処理装置において、
前記信号品質評価器が、全ての多値レベルの検出信号レベルと対応する記録信号レベルとの差を検出し、
その差が略ゼロとなるように前記光スポット径可変装置によって光スポット径を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項５】
請求項１記載の光情報処理装置において、
前記信号品質評価器が、多値レベルの増加と共に検出信号が直線的に増加するか否かの線形性を評価する信号を検出し、
前記線形性を評価する信号に基づいて、前記検出信号が多値レベルに対して略線形性を示すように前記光スポット径可変装置によって光スポット径を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項６】
請求項５記載の光情報処理装置において、
前記線形性を評価する信号が、下記式（１）で表される量Σδ2であり、この量Σδ2が最小となるように光スポット径を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
Σδ2＝Σ{Ｖm′−Ｖ(ｍ)}2        …（１）
ただし、ｍ＝１，２，…，ｉであり、Ｖm′はサンプリングした多値レベルｍの検出信号であり、Ｖ(ｍ)は多値レベルｍの目標信号で、Ｖ(ｍ)＝ｍ(Ｖi′−Ｖ0′)／ｉ＋Ｖ0である。
【請求項７】
請求項１記載の光情報処理装置において、
前記信号品質評価器が、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差を検出し、
その差が最大となるように前記光スポット径可変装置により光スポット径を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項８】
請求項１記載の光情報処理装置において、
前記信号品質評価器が、多値レベル個別の検出信号の偏差を平均した値と、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差、との比を検出し、
その比が最小になるように前記光スポット径可変装置により光スポット径を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項９】
請求項１記載の光情報処理装置において、
前記信号品質評価器が、多値データ復調後のビットエラー率を検出し、
そのビットエラー率が最小になるように前記光スポット径可変装置により光スポット径を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項１０】
請求項１ないし９のいずれか１項に記載の光情報処理装置において、
前記光スポット径可変装置が、光記録媒体の記録面上に集光させる対物レンズの開口を可変する装置であることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項１１】
請求項１ないし９のいずれか１項に記載の光情報処理装置において、
前記光スポット径可変装置が、対物レンズ入射光のビーム径を可変する装置であることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項１２】
請求項１０又は１１記載の光情報処理装置において、
前記光スポット径可変装置が、複数の記録面が積層されている多層光記録媒体で発生する球面収差を補正する機能を有することを特徴とする光情報処理装置。
【請求項１３】
請求項１０又は１１記載の光情報処理装置において、
前記光ピックアップが、波長の異なる複数の光源と、該光源の数より少ない数の対物レンズを備え、
前記光スポット径可変装置が、波長の異なる光で生じる球面収差を補正する機能を有することを特徴とする光情報処理装置。
【請求項１４】
請求項１０記載の光情報処理装置において、
前記光ピックアップが、波長の異なる複数の光源と、該光源の数より少ない数の対物レンズを備え、
前記光スポット径可変装置が、異なる波長に応じて対物レンズの開口を切り替える機能を有することを特徴とする光情報処理装置。
【請求項１５】
光記録媒体に記録された多値情報の再生を行う光情報処理装置において、
光源から出射された光を光記録媒体の記録面上に集光照射し、かつ集光照射した光スポットからの反射光を検出する光ピックアップと、
前記光ピックアップによって検出された多値信号からその検出信号の信号品質を評価する信号品質評価器と、
前記光スポットの収差を任意に可変する収差可変装置と、
を備え、前記信号品質評価器から出力される信号品質評価値に基づき、前記光ピックアップの検出信号の信号品質が最良となるように前記収差可変装置を制御することを特徴とする光情報処理装置。
【請求項１６】
請求項１５記載の光情報処理装置において、
前記信号品質評価器が、多値レベルのうち任意の１値以上の検出信号レベルと対応する記録信号レベルとの差を検出し、
その差が略ゼロとなるように前記収差可変装置によって光スポットの収差を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項１７】
請求項１５記載の光情報処理装置において、
前記信号品質評価器が、多値レベルのうち最大レベルと最小レベルと任意の１値以上の、検出信号レベルと対応する記録信号レベルとの差を検出し、
その差が略ゼロとなるように前記収差可変装置によって光スポットの収差を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項１８】
請求項１５記載の光情報処理装置において、
前記信号品質評価器が、全ての多値レベルの検出信号レベルと対応する記録信号レベルとの差を検出し、
その差が略ゼロとなるように前記収差可変装置によって光スポットの収差を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項１９】
請求項１５記載の光情報処理装置において、
前記信号品質評価器が、多値レベルの増加と共に検出信号が直線的に増加するか否かの線形性を評価する信号を検出し、
前記線形性を評価する信号に基づいて、前記検出信号が多値レベルに対して略線形性を示すように前記収差可変装置によって光スポットの収差を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項２０】
請求項１９記載の光情報処理装置において、
前記線形性を評価する信号が、下記式（１）で表される量Σδ2であり、この量Σδ2が最小となるように光スポットの収差を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
Σδ2＝Σ{Ｖm′−Ｖ(ｍ)}2        …（１）
ただし、ｍ＝１，２，…，ｉであり、Ｖm′はサンプリングした多値レベルｍの検出信号であり、Ｖ(ｍ)は多値レベルｍの目標信号で、Ｖ(ｍ)＝ｍ(Ｖi′−Ｖ0′)／ｉ＋Ｖ0である。
【請求項２１】
請求項１５記載の光情報処理装置において、
前記信号品質評価器が、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差を検出し、
その差が最大となるように前記収差可変装置により光スポットの収差を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項２２】
請求項１５記載の光情報処理装置において、
前記信号品質評価器が、多値レベル個別の検出信号の偏差を平均した値と、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差、との比を検出し、
その比が最小になるように前記収差可変装置により光スポットの収差を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項２３】
請求項１５記載の光情報処理装置において、
前記信号品質評価器が、多値データ復調後のビットエラー率を検出し、
そのビットエラー率が最小になるように前記収差可変装置により光スポットの収差を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【請求項２４】
請求項１５ないし２３のいずれか１項に記載の光情報処理装置において、
前記収差可変装置が、球面収差を補正することを特徴とする光情報処理装置。
【請求項２５】
請求項１５ないし２３のいずれか１項に記載の光情報処理装置において、
前記収差可変装置が、コマ収差を補正することを特徴とする光情報処理装置。
【請求項２６】
請求項２５記載の光情報処理装置において、
前記収差可変装置が、複数の記録面が積層されている多層光記録媒体で発生する球面収差を補正する機能を有することを特徴とする光情報処理装置。
【請求項２７】
請求項２５記載の光情報処理装置において、
前記光ピックアップが、波長の異なる複数の光源と、該光源の数より少ない数の対物レンズを備え、
前記収差可変装置が、波長の異なる光で生じる球面収差を補正する機能を有することを特徴とする光情報処理装置。
【請求項２８】
請求項１５ないし２３のいずれか１項に記載の光情報処理装置において、
前記収差可変装置が、対物レンズの集光位置を変化させることを特徴とする光情報処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光記録媒体の多値情報の記録再生を行う光情報処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、情報を保存する手段として、ＣＤ、ＤＶＤなどの光記録媒体が普及しつつある。そして、さらなる記録密度の向上及び大容量化の要求が強い。この光記録媒体における記録密度の高密度化を図る方法のうち、光ピックアップとしては、光源の短波長化、対物レンズ開口数（ＮＡ）を大きくする手段等により光記録媒体上に形成されるスポット小径化があげられる。
【０００３】
また、情報の高密度化、さらには高速転送化を光ピックアップ以外で成し遂げる方法の一つとして、多値記録があげられる。相変化を用いた記録方法は、記録マークの有無で情報を記録する２値記録が一般的であるが、多値記録は一つの記録単位（セル）に複数の情報を記録する方法であり、一つのセル内に一つのマークを記録し、タンジェンシャル方向にマーク長を多段階に切り換えることにより、面積変調の多値記録を行っている。つまり、一つのセル内のアモルファスマークと結晶状態のベースとの比率を変化させ、その反射光強度の変化を検出することによって、多値情報を再生する。
【０００４】
しかし、このような多値記録方式では、セル長がスポット径より小さいと、再生時に、隣接する記録マークからの符号間干渉によって多値信号のレベル（以後多値レベル）の判定を誤りやすいという欠点がある。図３７に、多値記録の例を示す。記録マークがないセル（レベルゼロ）の再生信号出力値に注目すると、隣接している前後の多値レベル（マーク長）により、レベルゼロの出力値が異なる。この違いが符号間干渉となる。そこで、従来はこのような符号間干渉除去として、波形等化が行われ、この波形等化は入力信号に対して線形処理される。詳細を以下に示す。
【０００５】
図３８〜４０に対象セルとその隣接セルのレベルによる多値出力値を示す。多値数は８値、レベルゼロが未記録状態、レベル７が最大マークであり、横軸が多値レベル（０〜７）、縦軸が信号出力値である。目標値は四角、実測値は丸でプロットしている。図３８は、対象セルの隣接がレベルゼロ（未記録状態）の状態（以下、孤立波という。）、図３９は、対象セルの隣接が対象セルと同様のレベルである状態（以下、連続波という。）、図４０は隣接するセルがレベル７（最大マーク）の状態を示している。
【０００６】
ここで、図３８（ａ）に示すような孤立波は、同図（ｂ）に示すように実測値と目標値の多値レベルが線形関係にあるため、線形処理の波形等化の係数を見直すことにより、補正できる。また、図３９（ａ）に示すような連続波は、（ｂ）のグラフに示すように実測値と目標値が略一致しており、波形等化によって符号間干渉を除去できる。
【０００７】
一方、図３８（ａ）の孤立波や図３９（ａ）の連続波とは異なる図４０（ａ）の場合、図４０（ｂ）は、多値レベルが小さくなるほど、実測値と目標値の差が大きくなることを示している。このように検出信号が多値レベルの大きさに対して線形関係にならないような場合には、波形等化では、符号間干渉を除去できなくなる。
【０００８】
そこで、符号間干渉が非線形な成分を含む上述の場合（図３７，４０の場合）のように、十分に波形等化で干渉を除去できないという問題を解決するため、波形干渉による影響を、隣接セルを含めたすべての組合せパターンで予め学習する方法がある。情報装置が予め所有している学習データを再生し、全ての組合せパターンにおいて目標値と実測値の誤差が最小となるように、波形等化処理に補正を加える。しかし、個々の記録マークで誤差が最小となる収束条件を決定するのに時間を要するので、データの再生速度を高められないという問題があった。
【０００９】
このような課題を解決する手段として、波形等化の精度の向上（例えば、特許文献１参照。）や記録時のレーザ照射エネルギー（以下ストラテジ）を補正する方法（例えば、特許文献２、３参照。）が提案されている。特許文献２、３はレーザビーム照射エネルギーを対象セルの多値レベルに合わせて設定するだけでなく、直前セル、直後セル、又は直前及び直後セルの多値レベルとの組合せで、レーザビーム照射エネルギーを補正している。
【００１０】
しかしながら、光情報記憶媒体の情報は、記録時と再生時が必ずしも同一の光ピックアップを使用しない。つまり、記録時と再生時でスポットの大きさや形状が異なる。また、同一のピックアップであったとしても、周辺環境により、スポットの大きさや形状は変化する。このように記録時と再生時のスポットの大きさや形状が異なることによって、以下に示すような新たな課題が発生する。
【００１１】
図１６，１８，２５に孤立波の多値出力値を示す。多値数は８値、レベルゼロが未記録状態（レベルゼロ）、レベル７が最大マークであり、横軸が多値レベル（０〜７）、縦軸が信号出力値である。多値出力値は、ゲインコントロールにより、レベルゼロと最大マークのレベル７の出力値は常に一定になるようゲインがコントロールされている。通常、孤立波の実測値と目標値の多値レベルの関係は、図３８で示したように、線形となる。この多値レベルの実測値、目標値というのは、各多値レベルの検出信号値の平均値である。記録時のスポット形状と同様のスポットで再生すると、図１６，１８，２５の四角のプロット（スポット径０．５１μｍ、ＲＩＭ８０％）のように多値レベルは線形な関係で信号が出力される。しかしながら、記録時よりＲＩＭが低下したスポット（スポット径０．５５μｍ、ＲＩＭ３０％）で再生すると、多値信号出力は図１８の丸プロットのように、ＮＡが記録時より０．６５→０．６に低下すると（スポット径０．５１μｍ→０．５５μｍ）、図１６の丸プロットのように、また、球面収差が発生しているスポットで再生すると、図２５の丸プロットのようになり、非線形な関係の信号として出力され、さらに、多値レベル個別の検出信号値の分布も広がり、エラー率が増加してしまう。
【００１２】
実際の光ピックアップで形成されるスポットは、ＮＡの大きさずれや、ＲＩＭ強度ずれ、組みつけずれや部品の波面精度に起因する収差やフォーカスオフセットといった様々な要因により、大きさや形状が異なる。この非線形成分は、再生時と記録時のスポット形状ずれにより発生するため、従来の波形等化の精度の向上や記録時のレーザ照射エネルギーの補正では除去することはできない。また記録時のレーザ照射エネルギーの補正は、記録時のスポット形状で再生した時、非線形成分を除去するように補正される。そのため、再生時にスポット形状が異なると、記録時に補正したはずの非線形成分は除去されず、劣化する恐れもある。このように、記録方法を最適化したとしても、記録時と再生時のスポット形状が異なると、多値信号品質が劣化してしまうという問題が発生する。
【特許文献１】特開２００３−３１７２５６号公報
【特許文献２】特開２００３−１６２８１７号公報
【特許文献３】特開２００３−３１７２４８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
上述したように、多値記録再生において、特定の光ピックアップで記録の最適化が行われた記録情報媒体を、光スポットの状態が異なる光ピックアップで再生を行うと、多値レベルと検出信号との関係が異なって再生されたり、多値レベル個別の検出信号の偏差が広がったりして、信号品質が劣化するという問題があった。
【００１４】
本発明は、上記問題を解決するためになされたもので、記録時と再生時のスポットの状態の違いにより発生する多値再生信号の劣化を低減し、良好で安定した信号を得ることができる光情報処理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
請求項１の発明は、光記録媒体に記録された多値情報の再生を行う光情報処理装置において、光源から出射された光を光記録媒体の記録面上に集光照射し、かつ集光照射した光スポットからの反射光を検出する光ピックアップと、前記光ピックアップによって検出された多値信号からその検出信号の信号品質を評価する信号品質評価器と、前記光スポットの径を任意に可変する光スポット径可変装置とを備え、前記信号品質評価器から出力される信号品質評価値に基づき、前記光ピックアップの検出信号の信号品質が最良となるように前記光スポット径可変装置を制御することを特徴とする。
【００１６】
請求項１の発明においては、信号品質評価器の評価結果が良好となるように光スポット径が光スポット径可変装置により調整されるため、記録時と再生時のスポット径の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００１７】
請求項２の発明は、請求項１の光情報処理装置において、前記信号品質評価器が、多値レベルのうち任意の１値以上の検出信号レベルと対応する記録信号レベルとの差を検出し、その差が略ゼロとなるように前記光スポット径可変装置によって光スポット径を変化させることを特徴とする。
【００１８】
請求項２の発明においては、任意の多値レベルの検出信号と記録信号との差がゼロとなるように光スポット径が設定されるため、容易な構成で、記録時と再生時のスポット径の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００１９】
請求項３の発明は、請求項１の光情報処理装置において、前記信号品質評価器が、多値レベルのうち最大レベルと最小レベルと任意の１値以上の、検出信号レベルと対応する記録信号レベルとの差を検出し、その差が略ゼロとなるように前記光スポット径可変装置によって光スポット径を変化させることを特徴とする。
【００２０】
請求項３の発明においては、最大多値レベルと、最小多値レベルと、任意の多値レベルについて、検出信号と記録信号との差がゼロとなるように光スポット径が設定されるため、容易な構成で、記録時と再生時のスポット径の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００２１】
請求項４の発明は、請求項１の光情報処理装置において、前記信号品質評価器が、全ての多値レベルの検出信号レベルと対応する記録信号レベルとの差を検出し、その差が略ゼロとなるように前記光スポット径可変装置によって光スポット径を変化させることを特徴とする。
【００２２】
請求項４の発明においては、全ての多値レベルの検出信号と記録信号との差がゼロとなるように光スポット径が設定されるため、容易な構成で、記録時と再生時のスポット径の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００２３】
請求項５の発明は、請求項１の光情報処理装置において、前記信号品質評価器が、多値レベルの増加と共に検出信号が直線的に増加するか否かの線形性を評価する信号を検出し、前記線形性を評価する信号に基づいて、前記検出信号が多値レベルに対して略線形性を示すように前記光スポット径可変装置によって光スポット径を変化させることを特徴とする。
【００２４】
請求項６の発明は、請求項５の光情報処理装置において、前記線形性を評価する信号が、下記式（１）で表される量Σδ2であり、この量Σδ2が最小となるように光スポット径を変化させることを特徴とする。
Σδ2＝Σ{Ｖm′−Ｖ(ｍ)}2        …（１）
ただし、ｍ＝１，２，…，ｉであり、Ｖm′はサンプリングした多値レベルｍの検出信号であり、Ｖ(ｍ)は多値レベルｍの目標信号で、Ｖ(ｍ)＝ｍ(Ｖi′−Ｖ0′)／ｉ＋Ｖ0である。
【００２５】
請求項５，６の発明においては、検出信号が多値レベルに対して線形性を有するように光スポット径が調整されるため、容易な構成で、記録時と再生時のスポット径の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００２６】
請求項７の発明は、請求項１の光情報処理装置において、前記信号品質評価器が、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差を検出し、その差が最大となるように前記光スポット径可変装置により光スポット径を変化させることを特徴とする。
【００２７】
請求項７の発明においては、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差ＤＲが最大となるように光スポット径が設定されるため、記録時と再生時のスポット径の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００２８】
請求項８の発明は、請求項１の光情報処理装置において、前記信号品質評価器が、多値レベル個別の検出信号の偏差を平均した値と、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差、との比を検出し、その比が最小になるように前記光スポット径可変装置により光スポット径を変化させることを特徴とする。
【００２９】
請求項８の発明においては、多値レベル個別の検出信号の偏差を平均した値σと、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差ＤＲとの比σ/ＤＲが最小になるように光スポット径が設定されるため、記録時と再生時のスポット径の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００３０】
請求項９の発明は、請求項１の光情報処理装置において、前記信号品質評価器が、多値データ復調後のビットエラー率を検出し、そのビットエラー率が最小になるように前記光スポット径可変装置により光スポット径を変化させることを特徴とする。
【００３１】
請求項９の発明においては、多値データ復調後のビットエラー率が最小になるように光スポット径が設定されるため、記録時と再生時のスポット径の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００３２】
請求項１〜９の発明において、光スポット径可変装置としては、対物レンズの開口を可変する装置や、対物レンズ入射光のビーム径を可変する装置を挙げることができる。
【００３３】
請求項１５の発明は、光記録媒体に記録された多値情報の再生を行う光情報処理装置において、光源から出射された光を光記録媒体の記録面上に集光照射し、かつ集光照射した光スポットからの反射光を検出する光ピックアップと、前記光ピックアップによって検出された多値信号からその検出信号の信号品質を評価する信号品質評価器と、前記光スポットの収差を任意に可変する収差可変装置とを備え、前記信号品質評価器から出力される信号品質評価値に基づき、前記光ピックアップの検出信号の信号品質が最良となるように前記収差可変装置を制御することを特徴とする。
【００３４】
請求項１５の発明においては、信号品質評価器の評価結果が良好となるように光スポットの収差を収差可変装置により変化させるため、記録時と再生時のスポット形状の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００３５】
請求項１６の発明は、請求項１５の光情報処理装置において、前記信号品質評価器が、多値レベルのうち任意の１値以上の検出信号レベルと対応する記録信号レベルとの差を検出し、その差が略ゼロとなるように前記収差可変装置によって光スポットの収差を変化させることを特徴とする。
【００３６】
請求項１６の発明においては、任意の多値レベルの検出信号と記録信号との差がゼロとなるように光スポットの収差が調整されるため、容易な構成で、記録時と再生時のスポット形状の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００３７】
請求項１７の発明は、請求項１５の光情報処理装置において、前記信号品質評価器が、多値レベルのうち最大レベルと最小レベルと任意の１値以上の、検出信号レベルと対応する記録信号レベルとの差を検出し、その差が略ゼロとなるように前記収差可変装置によって光スポットの収差を変化させることを特徴とする。
【００３８】
請求項１７の発明においては、任意の多値レベルの検出信号と記録信号との差がゼロとなるように光スポットの収差が調整されるため、容易な構成で、記録時と再生時のスポット形状の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００３９】
請求項１８の発明は、請求項１５の光情報処理装置において、前記信号品質評価器が、全ての多値レベルの検出信号レベルと対応する記録信号レベルとの差を検出し、その差が略ゼロとなるように前記収差可変装置によって光スポットの収差を変化させることを特徴とする。
【００４０】
請求項１８の発明においては、全ての多値レベルの検出信号と記録信号との差がゼロとなるように光スポットの収差が調整されるため、容易な構成で、記録時と再生時のスポット形状の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００４１】
請求項１９の発明は、請求項１５の光情報処理装置において、前記信号品質評価器が、多値レベルの増加と共に検出信号が直線的に増加するか否かの線形性を評価する信号を検出し、前記線形性を評価する信号に基づいて、前記検出信号が多値レベルに対して略線形性を示すように前記収差可変装置によって光スポットの収差を変化させることを特徴とする。
【００４２】
請求項２０の発明は、請求項１９の光情報処理装置において、前記線形性を評価する信号が、下記式（１）で表される量Σδ2であり、この量Σδ2が最小となるように光スポットの収差を変化させることを特徴とする。
Σδ2＝Σ{Ｖm′−Ｖ(ｍ)}2        …（１）
ただし、ｍ＝１，２，…，ｉであり、Ｖm′はサンプリングした多値レベルｍの検出信号であり、Ｖ(ｍ)は多値レベルｍの目標信号で、Ｖ(ｍ)＝ｍ(Ｖi′−Ｖ0′)／ｉ＋Ｖ0である。
【００４３】
請求項１９，２０の発明においては、検出信号が多値レベルに対して線形性を有するように光スポットの収差が調整されるため、容易な構成で、記録時と再生時のスポット形状の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００４４】
請求項２１の発明は、請求項１５の光情報処理装置において、前記信号品質評価器が、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差を検出し、その差が最大となるように前記収差可変装置により光スポットの収差を変化させることを特徴とする。
【００４５】
請求項２１の発明においては、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差ＤＲが最大となるように光スポットの収差が調整されるため、記録時と再生時のスポット形状の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００４６】
請求項２２の発明は、請求項１５の光情報処理装置において、前記信号品質評価器が、多値レベル個別の検出信号の偏差を平均した値と、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差、との比を検出し、その比が最小になるように前記収差可変装置により光スポットの収差を変化させることを特徴とする。
【００４７】
請求項２２の発明においては、多値レベル個別の検出信号の偏差を平均した値σと、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差ＤＲとの比σ/ＤＲが最小になるように光スポットの収差が調整されるため、記録時と再生時のスポット形状の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００４８】
請求項２３の発明は、請求項１５の光情報処理装置において、前記信号品質評価器が、多値データ復調後のビットエラー率を検出し、そのビットエラー率が最小になるように前記収差可変装置により光スポットの収差を変化させることを特徴とする。
【００４９】
請求項２３の発明においては、多値データ復調後のビットエラー率が最小になるように光スポットの収差が調整されるため、記録時と再生時のスポット形状の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、良好で安定した多値再生信号を得ることが可能となる。
【００５０】
請求項１５〜２３の発明において、収差可変装置としては、球面収差を補正する装置や、コマ収差を補正する装置が挙げられる。
【発明の効果】
【００５１】
本発明の光情報処理装置によれば、多値再生の検出信号の信号品質を評価する信号品質評価器を設け、その評価結果に基づいて光スポットの径及び／又は収差を調整するように構成することにより、記録時と再生時のスポット径やスポット形状の違いにより発生する多値再生信号の劣化を防ぐことができ、光記録媒体に記録された多値情報の再生を正確に安定して行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５２】
以下、図面に基づいて本発明を実施するための最良の形態を説明する。
＜第１の実施の形態＞
第１の実施の形態の光情報処理装置は、図１に示すように、光記録媒体に光源からの光を集光照射する光ピックアップ１と、光記録媒体に照射する光スポット径を任意に可変する光スポット径可変装置２と、光ピックアップの検出信号の信号品質を評価する信号品質評価器３と、信号品質評価器３から出力される信号品質評価値に基づき最良の検出信号となるように光スポット径可変装置２を制御するコントローラ４とを備える。
【００５３】
図２は、光ピックアップ１の光学系の概略構成例を示すもので、光源の半導体レーザ１０１と、コリメートレンズ１０２と、偏光ビームスプリッタ１０３と、プリズム１０４と、1/4波長板１０５と、対物レンズ１０６と、光情報媒体１０７からの反射光を検出するための検出レンズ１０８及び受光素子１０９より構成される。光源の中心波長は光記録媒体１０７への記録が可能な波長が選択され、例えば４０５ｎｍである。半導体レーザ１０１の出射光は、コリメートレンズ１０２により略平行光にされる。コリメートレンズ１０２を通過した光は偏光ビームスプリッタ１０３に入射し、プリズム１０４より偏向される。そして、1/4波長板１０５、対物レンズ１０６を介して集光されることにより、情報の記録、再生がされる。光情報媒体１０７からの反射光は対物レンズ１０６、1/4波長板１０５を通過した後、偏光ビームスプリッタ１０３により入射光と分離して偏向され、検出レンズ１０８により受光素子１０９上に導びかれ、再生信号、非点収差法によるフォーカス誤差信号、プッシュプル法によるトラック誤差信号が検出される。
【００５４】
光記録媒体１０７は、例えば波長４０５ｎｍで記録可能な相変化型光ディスクである。このような光ディスクは、例えば、表面上に射出成形によりグルーブが形成された直径１２０ｍｍ、厚さ０．６ｍｍのポリカーボネート基板上に、誘電体膜、Ｇｅ−Ｓｂ−Ｔｅからなる相変化記録膜、誘電体膜、反射膜を順次積層して作成することができる。
【００５５】
まず、光記録媒体への多値記録の記録方法を説明する。
図３は、レーザ照射のタイミングの設定動作を概略的に示すもので、設定開始（Ｓ１）により、記録信号（テストデータ；すべてのパターンが含まれている。）を発生させる（Ｓ２）。これに対応するレーザ照射のタイミングと初期多値テスト記録用の記録パワーＰw、消去パワーＰe、冷却パワーＰbを読み出し（Ｓ３）、データをテスト記録する（Ｓ４）。次に、記録した信号を再生し（Ｓ５）、多値レベルに対して信号出力値が線形になるよう、または理想波形になるように（Ｓ６）、レーザ照射のタイミングを補正して（Ｓ７）、レーザ照射の最適なタイミングを決定する（Ｓ８）。
【００５６】
上記処理についてさらに詳細に説明する。多値記録のパルス列は、図４に示すように、記録パルス立ち上がりＴa、記録パルス立下りＴb、消去パルス立ち上がりＴcで定義している。多値記録のパルス列の設定としては、トップパルス幅Ｔon＝Ｔb−Ｔa、オフパルス幅Ｔoff＝Ｔc−Ｔbである。トップパルス幅Ｔonに相当するレーザ照射で、記録膜が加熱されて記録マークが形成され、熱拡散の影響でオフパルス幅Ｔoffの領域にも記録マークが広がる。オフパルス後方に配置した消去パルスにより、広がったマークが消去されることで、記録マークが形成される
【００５７】
多値テストパターンの再生は、所定の周波数で再生信号をサンプリング（例えば記録セルの中心位置）し、サンプリングした信号出力値から多値レベルを判別する。このパターンを再生した時、多値レベルに対して再生信号が略線形になるように、Ｔa、Ｔb、Ｔcを設定する。例えば、再生信号が線形になっているかどうかを示す指標として、以下の式で表される量Σδ2を定義し、このΣδ2が最小となるＴa、Ｔb、Ｔcを設定すればよい。
【００５８】
Σδ2＝Σ{Ｖm′−Ｖ(ｍ)}2
ただし、ｍ＝１，２，…，７であり、
Ｖm´は、サンプリングした多値レベルｍの再生信号であり、
Ｖ(ｍ)は、
Ｖ(ｍ)＝ｍ（Ｖ7′−Ｖ0′）／７＋Ｖ0
で表される多値レベルｍの目標信号である。
【００５９】
以下、３通りのＴa、Ｔb、Ｔcの設定方法を示す。
［Ｔa、Ｔb、Ｔcの設定方法（１）］
この時用いる試し書きのテストパターン（Ｓ２）として、表１に示す前後多値データ（ＹＸＺ）パターンがすべて（５１２通り）含まれているデータを準備する。信号レベルが非線形に変動する原因として、マーク記録時における熱干渉が考えられる。例えば、直前あるいは直後の記録マークが大きい場合、それらのマーク記録時の熱が、対象マークにも伝わり、対象マークが設計値より大きく形成されてしまうことがある。このように記録時における隣接マークによる熱干渉を考慮し、隣接マーク長あるいはスペース長に対応してレーザ照射のタイミングを設定する場合は、表１のような５１２通りのパターンが含まれるテストデータの記録再生を行い、波形等化後のΣδ2が小さくなるように、５１２通りのＴa、Ｔb、Ｔcを設定すればよい。この設定方法を用いると、符号間干渉による目標値と実測値の非線形な関係を補正することができ、正確に多値データを再生できるマークが記録されることになる。しかし、正確に再生できる多値データは、記録時のスポット形状で再生した時に限られてしまう。すなわち、試し書きで用いた再生時のスポット形状と異なるピックアップで再生する場合に誤差となる。
【００６０】
【表１】
2006216180.tif 000003
【００６１】
［Ｔa、Ｔb、Ｔcの設定方法（２）］
簡易に設定するには、表２に示すように、８通りのパターンが含まれるテストデータの記録再生を行い、Σδ2が小さくなるように、８通りのＴa、Ｔb、Ｔcを設定し、前後セルに関係ないレーザ照射のタイミングを設定すればよい。
【００６２】
【表２】
2006216180.tif 000004
【００６３】
［Ｔa、Ｔb、Ｔcの設定方法（３）］
記録した信号を再生し（Ｓ５）、再生信号波形と理想信号波形とを比較し（Ｓ６）、Ｔa、Ｔb、Ｔcを設定してもよい。この比較結果が既定値以上の場合、レーザ照射のタイミングを補正し（Ｓ７）、Ｓ４のステップに戻る。比較結果が既定値以上でない場合は処理を終了する（Ｓ８）。
【００６４】
以上のように設定されたＴa、Ｔb、Ｔcを用いれば、あらゆるパターンにおいて、ほぼ理想信号波形に等しい、正確に多値データが再生できるマークが記録されることになる。しかし、正確に再生できる多値データは、記録時のスポット形状で再生した時に限られてしまう。ここで、理想信号波形とは、各多値データ信号が、パターンによらず確実に判別できる波形とする。
以上のように設定された記録条件で、ユーザーデータを記録する。
上述のようにして光記録媒体１０７に記録された多値情報は、図１に示す光情報処理装置によって再生される。この光情報処理装置においては、多値情報の再生に当たって、信号品質評価器３によって、光ピックアップ１によって検出される再生信号（検出信号）の信号品質が良好か否かの評価がなされ、その評価結果に基づいて、コントローラ４により光ピックアップ１内に設けられた光スポット径可変装置２を介して信号品質が良好となる最適な光スポット径に調整される。
【００６５】
信号品質評価器３による評価方法としては、例えば以下の（１）〜（７）の方法が挙げられる。
（１）任意の１値の検出信号と、対応する記録信号（目標値）との差を評価値とする。
記録時は上述のような記録方法でレーザ照射時間等を最適化するため、テスト記録を行い、その多値信号を検出している。そこで、最後に行うテスト記録の際、信号処理後の多値検出信号のうち任意の１値を記録信号として光記録媒体に記録する。このときに記録するレベルは、レベルゼロからレベル７までの８値の多値信号の場合は、レベル３やレベル４といった中心に近い方が好ましい。また、テスト記録用のデータではなく、ユーザデータを用いてもよい。再生時は、記録時に光記録媒体に記録された多値レベルと同様の多値レベルを検出する。この再生時と記録時の検出信号の差を評価値として用いる。この差がゼロに近いほど、記録時に最適化した多値信号品質に近づけることができ、良質な多値信号品質を得ることができる。
【００６６】
（２）最大レベルと最小レベルと任意の１値の検出信号と、それぞれ対応する記録信号（目標値）との差を評価値とする。
記録時は上述のような記録方法でレーザ照射時間等を最適化するため、テスト記録を行い、その多値信号値を検出している。そこで、最後に行ったテスト記録の際、信号処理後の最大レベルと最小レベルと任意の１値の多値再生信号値を記録信号として光記録媒体に記録する。このときに記録する任意の１値のレベルは、レベルゼロからレベル７までの８値の多値信号の場合は、レベル３やレベル４といった中心に近い方が好ましい。また、テスト記録用のデータではなく、ユーザデータを用いてもよい。再生時は、記録時に光記録媒体に記録された多値レベルと同様の多値レベルを検出する。この再生時と記録時の検出信号の差を評価値として用いる。この差がゼロに近いほど、記録時に最適化した多値信号品質に近づけることができ、良質な多値信号品質を得ることができる。
【００６７】
（３）全多値レベルの検出信号と、対応する記録信号（目標値）の差を評価値とする。
記録時は上述のような記録方法でレーザ照射時間等を最適化するため、テスト記録を行い、その多値信号値を検出している。そこで、最後に行ったテスト記録の際、信号処理後の全多値レベルの多値再生信号値を記録信号として光記録媒体に記録する。また、テスト記録用のデータではなく、ユーザデータを用いてもよい。再生時は、全多値レベルを検出し、この再生時と記録時の検出信号の差を評価値として用いる。この差がゼロに近いほど、記録時に最適化した多値信号品質に近づけることができ、良質な多値信号品質を得ることができる。
【００６８】
（４）多値レベルと検出信号の線形性を示す量Σδ2を評価値とする。
検出信号が多値レベルに対して線形になっているかどうかを示す指標として、例えば、記録時と同様に以下の式で表される量Σδ2を定義する。
Σδ2＝Σ{Ｖm′−Ｖ(ｍ)}2
ただし、ｍ＝１，２，…，ｉであり、Ｖm′はサンプリングした多値レベルｍの検出信号であり、Ｖ(ｍ)は多値レベルｍの目標信号で、Ｖ(ｍ)＝ｍ(Ｖi′−Ｖ0′)／ｉ＋Ｖ0である。
【００６９】
Σδ2が最小となるようにすることで、多値レベルと検出信号の線形性を得ることができ、良質な多値信号品質を得ることができる。
【００７０】
（５）最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差ＤＲを評価値とする。
テスト記録用のデータまたはユーザデータの最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差を検出する。多値信号の場合は、この差が大きいほど、一値当りの信号値の偏差σ′が大きくてもエラー率は少なくなるため、良質な多値信号品質を得ることができる。
【００７１】
（６）多値レベル個別の検出信号の偏差を平均した値σと、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差ＤＲとの比σ/ＤＲを評価値とする。
テスト記録用のデータまたはユーザデータにおける多値レベル個別の検出信号の偏差を平均した値σと最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差ＤＲとの比（σ/ＤＲ）を検出する。多値信号の場合は、σ/ＤＲが小さいほどエラー率は小さくできるため、良質で安定した多値信号品質を得ることができる。
【００７２】
（７）多値データ復調後のビットエラー率を評価値とする。
テスト記録用のデータのエラー率を検出する。
【００７３】
信号品質評価器３が（１）〜（４）の評価方法を採用する場合の基本的な構成を、図５を用いて説明する。
図２に示す光ピックアップ１の受光素子１０９により検出された検出信号は、波形等化等の所望の信号処理された後、信号品質評価器３へ送られる。信号品質評価器３は入力した検出信号に基づいて、比較器３ａにより目標値との比較演算処理を行って、差信号又はΣδ2を信号品質評価値として出力する。ここで、目標値とは、記録時の再生信号値（記録時に記録信号として光記録媒体に記憶されている。）や、Ｖ(ｍ)のことである。コントローラ４は、信号品質評価器３の出力に基づいて光ピックアップ１の中にある光スポット径可変装置２を制御し、信号品質評価値が最もよくなる光スポット径にする。
【００７４】
（１）〜（３）の評価方法の基本的な動作の代表例を、図６を用いて説明する。
初期状態では、光スポット径可変装置２は、例えば光スポット径変化量ゼロとなる設定となっている（Ｓ１１）。初期値は光スポット径変化量ゼロである必要はなく、前回の設定値をそのまま動かさずに初期設定値としてもよい。まず、記録時に光記録媒体に記録されたデータを読み出し目標値として設定する（Ｓ１２）。次に、テスト記録のデータまたはユーザデータを再生し、対象となる検出信号を抽出し（Ｓ１３）、目標値と比較する（Ｓ１４）。比較結果がゼロでなければ（Ｓ１５）、光スポット径可変装置２で光スポット径を変化させ（Ｓ１６）、Ｓ１３からＳ１６を繰り返す。比較結果がゼロ又は最もゼロに近いところで終了する（１７）。
【００７５】
このように光スポット径を可変させながら検出信号の信号品質の変化を観測し、信号品質が最良となったところ（比較結果がゼロ）で光スポット径を固定することにより、最適な光スポット径にすることができる。
【００７６】
信号品質評価器３が（４）〜（７）の評価方法を採用する場合の基本的な構成を、図７を用いて説明する。
受光素子１０９（図２）により検出された検出信号は、波形等化等の所望の信号処理された後、まず信号品質評価器３へ送られる。信号品質評価器３で演算された信号品質評価値はコントローラ４に出力され、メモリ（１）に記憶される。コントローラ４は、光ピックアップ１の中にある光スポット径可変装置２を制御し、メモリ（１）に記憶したときの光スポット径とは異なる光スポット径に変化させ、その光スポット径を変化させた状態で信号品質評価器３より算出された信号品質評価値を今度はメモリ（２）に記憶する。コントローラ４は、メモリ（１）とメモリ（２）の評価値を比較器４ａで比較して、その比較結果をもとに光スポット径可変装置２を制御し、信号品質評価値が最もよくなる光スポット径に設定する。
【００７７】
（４）〜（７）の評価方法の基本的な動作の代表例を、図８を用いて説明する。
初期状態では、光スポット径可変装置２は例えば光スポット径の変化量ゼロになるよう設定となっている（Ｓ２１）。初期値は光スポット径変化量ゼロである必要はなく、前回の設定値をそのまま動かさずに初期設定値としてもよい。信号品質評価値を算出し、メモリ（１）に記憶する（Ｓ２２）。光スポット径可変装置２で、ある一方向に光スポット径を変化させ（Ｓ２３）、再び信号品質評価値を算出し、メモリ（２）に記憶する（Ｓ２４）。ついで、メモリ（１）とメモリ（２）の値を比較する（Ｓ２５）。
【００７８】
（４）、（６）、（７）の評価方法における信号品質評価値については、Ｓ２５において（２）＜（１）となった時、（２）の値を（１）へ置換する（Ｓ２６）。そして、再度同じ方向に光スポット径を変化させ（Ｓ２３）、信号品質評価値を算出し、メモリ（２）に記憶する（Ｓ２４）というように、Ｓ２３からＳ２６を繰り返す。Ｓ２５において、評価結果が（２）＞（１）となった時、光スポット径可変装置２を逆方向へ１ステップ稼働させ（Ｓ２７）、終了とする（Ｓ２８）。
【００７９】
このように光スポット径を可変させながら信号品質評価値の変化を観測し、信号品質評価値が最良となったところで光スポット径を固定することにより、最適な光スポット径にすることができる。また、評価結果が（２）＞（１）となってすぐスポット径の掃引を停止する方法もある。あるいは、評価結果が（２）＞（１）となってすぐ光スポット径の掃引を停止するのではなく、しばらく同一方向に稼動させ、評価結果が十分に（２）＞（１）を満たすようになってから掃引停止し、その最適値が得た光スポット径まで戻すという方法もある。このような、かなり行き過ぎてから戻すという方法は、サンプル点が多くなり処理に時間がかかる反面、評価値最適となる光スポット径を誤差が少なく設定できるという利点がある。
【００８０】
（５）の評価方法による信号品質評価値については、（２）＞（１）となった時、（２）の値を（１）へ置換し、光スポット径可変装置２を再度同じ方向へ稼働させ、（２）＜（１）となった時、光スポット径可変装置２を逆方向へ稼働させ、終了となる。
【００８１】
＜第２の実施の形態＞
第２の実施の形態の光情報処理装置は、図９に示すように、光記録媒体に光源からの光を集光照射する光ピックアップ１１と、光記録媒体に照射する光スポットの収差を任意に可変する収差可変装置１２と、光ピックアップの検出信号の信号品質を評価する信号品質評価器１３と、信号品質評価器１３から出力される信号品質評価値に基づき最良の検出信号となるように収差可変装置１２を制御するコントローラ１４とを備える。
【００８２】
本実施の形態においては、光記録媒体に記録された多値情報の再生に当たって、信号品質評価器１３によって、光ピックアップ１１によって検出される再生信号（検出信号）の信号品質が良好か否かの評価がなされ、その評価結果に基づいて、コントローラ１４により光ピックアップ１１内に設けられた収差可変装置１２を介して信号品質が良好となるよう光スポットの収差が調整される。
【００８３】
光ピックアップ１１の光学系の概略的構成は図２に示す通りで、光記録媒体、及び光記録媒体への多値記録方法についても、第１の実施の形態と共通であり、詳しい説明は省略する。
【００８４】
信号品質評価器１３による評価方法としては、例えば以下の（１）〜（７）の方法が挙げられる。
（１）任意の１値の検出信号と、対応する記録信号（目標値）との差を評価値とする。
記録時は上述のような記録方法でレーザ照射時間等を最適化するため、テスト記録を行い、その多値信号を検出している。そこで、最後に行うテスト記録の際、信号処理後の多値検出信号のうち任意の１値を記録信号として光記録媒体に記録する。このときに記録するレベルは、レベルゼロからレベル７までの８値の多値信号の場合は、レベル３やレベル４といった中心に近い方が好ましい。また、テスト記録用のデータではなく、ユーザデータを用いてもよい。再生時は、記録時に光記録媒体に記録された多値レベルと同様の多値レベルを検出する。この再生時と記録時の検出信号の差を評価値として用いる。この差がゼロに近いほど、記録時に最適化した多値信号品質に近づけることができ、良質な多値信号品質を得ることができる。
【００８５】
（２）最大レベルと最小レベルと任意の１値の検出信号と、それぞれ対応する記録信号（目標値）との差を評価値とする。
記録時は上述のような記録方法でレーザ照射時間等を最適化するため、テスト記録を行い、その多値信号値を検出している。そこで、最後に行ったテスト記録の際、信号処理後の最大レベルと最小レベルと任意の１値の多値再生信号値を記録信号として光記録媒体に記録する。このときに記録する任意の１値のレベルは、レベルゼロからレベル７までの８値の多値信号の場合は、レベル３やレベル４といった中心に近い方が好ましい。また、テスト記録用のデータではなく、ユーザデータを用いてもよい。再生時は、記録時に光記録媒体に記録された多値レベルと同様の多値レベルを検出する。この再生時と記録時の検出信号の差を評価値として用いる。この差がゼロに近いほど、記録時に最適化した多値信号品質に近づけることができ、良質な多値信号品質を得ることができる。
【００８６】
（３）全多値レベルの検出信号と、対応する記録信号（目標値）の差を評価値とする。
記録時は上述のような記録方法でレーザ照射時間等を最適化するため、テスト記録を行い、その多値信号値を検出している。そこで、最後に行ったテスト記録の際、信号処理後の全多値レベルの多値再生信号値を記録信号として光記録媒体に記録する。また、テスト記録用のデータではなく、ユーザデータを用いてもよい。再生時は、全多値レベルを検出し、この再生時と記録時の検出信号の差を評価値として用いる。この差がゼロに近いほど、記録時に最適化した多値信号品質に近づけることができ、良質な多値信号品質を得ることができる。
【００８７】
（４）多値レベルと検出信号の線形性を示す量Σδ2を評価値とする。
検出信号が多値レベルに対して線形になっているかどうかを示す指標として、例えば、記録時と同様に以下の式で表される量Σδ2を定義する。
Σδ2＝Σ{Ｖm′−Ｖ(ｍ)}2
ただし、ｍ＝１，２，…，ｉであり、Ｖm′はサンプリングした多値レベルｍの検出信号であり、Ｖ(ｍ)は多値レベルｍの目標信号で、Ｖ(ｍ)＝ｍ(Ｖi′−Ｖ0′)／ｉ＋Ｖ0である。
【００８８】
Σδ2が最小となるようにすることで、多値レベルと検出信号の線形性を得ることができ、良質な多値信号品質を得ることができる。
【００８９】
（５）最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差ＤＲを評価値とする。
テスト記録用のデータまたはユーザデータの最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差を検出する。多値信号の場合は、この差が大きいほど、一値当りの信号値の偏差σ′が大きくてもエラー率は少なくなるため、良質な多値信号品質を得ることができる。
【００９０】
（６）多値レベル個別の検出信号の偏差を平均した値σと、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差ＤＲとの比σ/ＤＲを評価値とする。
テスト記録用のデータまたはユーザデータにおける多値レベル個別の検出信号の偏差を平均した値σと最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差ＤＲとの比（σ/ＤＲ）を検出する。多値信号の場合は、σ/ＤＲが小さいほどエラー率は小さくできるため、良質で安定した多値信号品質を得ることができる。
【００９１】
（７）多値データ復調後のビットエラー率を評価値とする。
テスト記録用のデータのエラー率を検出する。
【００９２】
信号品質評価器１３が（１）〜（４）の評価方法を採用する場合の基本的な構成を、図１０を用いて説明する。
光ピックアップ１１の受光素子１０９（図２）により検出された検出信号は、波形等化等の所望の信号処理された後、信号品質評価器１３へ送られる。信号品質評価器１３は入力した検出信号に基づいて、比較器１３ａにより目標値との比較演算処理を行って、差信号又はΣδ2を信号品質評価値として出力する。ここで、目標値とは、記録時の再生信号値（記録時に記録信号として光記録媒体に記憶されている。）や、Ｖ(ｍ)のことである。コントローラ１４は、信号品質評価器１３の出力に基づいて光ピックアップ１の中にある光スポットの収差可変装置１２を制御し、信号品質評価値が最もよくなる収差を発生させる。
【００９３】
（１）〜（３）の評価方法の基本的な動作の代表例を、図１１を用いて説明する。
初期状態では、収差可変装置１２は、例えば収差ゼロを発生させる設定となっている（Ｓ３１）。初期値は収差ゼロである必要はなく、前回の設定値をそのまま動かさずに初期設定値としてもよい。まず、記録時に光記録媒体に記録されたデータを読み出し目標値として設定する（Ｓ３２）。次に、テスト記録のデータまたはユーザデータを再生し、対象となる検出信号を抽出し（Ｓ３３）、目標値と比較する（Ｓ３４）。比較結果がゼロでなければ（Ｓ３５）、収差可変装置で収差を変化させ（Ｓ３６）、Ｓ３３からＳ３６を繰り返す。比較結果がゼロ又は最もゼロに近いところで終了する（３７）。
【００９４】
このように収差を可変させながら検出信号の信号品質の変化を観測し、信号品質が最良となったところ（比較結果がゼロ）で収差を固定することにより、最適な収差を発生することができる。
【００９５】
信号品質評価器１３が（４）〜（７）の評価方法を採用する場合の基本的な構成を、図１２を用いて説明する。
受光素子１０９（図２）により検出された検出信号は、波形等化等の所望の信号処理された後、まず信号品質評価器１３へ送られる。信号品質評価器１３で演算された信号品質評価値はコントローラ１４に出力され、メモリ（１）に記憶される。コントローラ１４は、光ピックアップ１１の中にある収差可変装置１２を制御し、メモリ（１）に記憶したときの収差とは異なる収差に変化させ、その収差を変化させた状態で信号品質評価器１３より算出された信号品質評価値を今度はメモリ（２）に記憶する。コントローラ１４は、メモリ（１）とメモリ（２）の評価値を比較器１４ａで比較して、その比較結果をもとに収差可変装置１２を制御し、信号品質評価値が最もよくなる収差を発生させる。
【００９６】
（４）〜（７）の評価方法の基本的な動作の代表例を、図１３を用いて説明する。
初期状態では、収差可変装置１２は例えば収差ゼロを発生させる設定となっている（Ｓ４１）。初期値は収差ゼロである必要はなく、前回の設定値をそのまま動かさずに初期設定値としてもよい。信号品質評価値を算出し、メモリ（１）に記憶する（Ｓ４２）。収差可変装置１２で、ある一方向に収差を変化させ（Ｓ４３）、再び信号品質評価値を算出し、メモリ（２）に記憶する（Ｓ４４）。ついで、メモリ（１）とメモリ（２）の値を比較する（Ｓ４５）。
【００９７】
（４）、（６）、（７）の評価方法における信号品質評価値については、Ｓ４５において（２）＜（１）となった時、（２）の値を（１）へ置換する（Ｓ４６）。そして、再度同じ方向に収差を変化させ（Ｓ４３）、信号品質評価値を算出し、メモリ（２）に記憶する（Ｓ４４）というように、Ｓ４３からＳ４６を繰り返す。Ｓ４５において、評価結果が（２）＞（１）となった時、収差可変装置１２を逆方向へ１ステップ稼働させ（Ｓ４７）、終了とする（Ｓ４８）。
【００９８】
このように収差を可変させながら信号品質評価値の変化を観測し、信号品質評価値が最良となったところで収差を固定することにより、最適な収差を発生することができる。また、評価結果が（２）＞（１）となってすぐ収差の掃引を停止する方法もある。あるいは、評価結果が（２）＞（１）となってすぐ収差の掃引を停止するのではなく、しばらく同一方向に稼動させ、評価結果が十分に（２）＞（１）を満たすようになってから掃引停止し、その最適値が得た収差まで戻すという方法もある。このような、かなり行き過ぎてから戻すという方法は、サンプル点が多くなり処理に時間がかかる反面、評価値最適となる収差を誤差が少なく設定できるという利点がある。
【００９９】
（５）の評価方法による信号品質評価値については、（２）＞（１）となった時、（２）の値を（１）へ置換し、収差可変装置１２を再度同じ方向へ稼働させ、（２）＜（１）となった時、収差可変装置１２を逆方向へ稼働させ、終了となる。
【実施例】
【０１００】
以下、第１の実施の形態における光スポット径可変装置２及び第２の実施の形態における収差可変装置１２について実施例を挙げて説明する。なお、光記録媒体は、波長４０５ｎｍで記録可能な相変化型光ディスクで、表面上に射出成形によりグルーブが形成された直径１２０ｍｍ、厚さ０．６ｍｍのポリカーボネート基板上に、誘電体膜、Ｇｅ−Ｓｂ−Ｔｅからなる相変化記録膜、誘電体膜、反射膜を順次積層して作成した。トラックピッチは０．４６μｍ、セル長は０．３２μｍである。
【０１０１】
＜実施例１−１＞（開口制限）
本実施例の光ピックアップ光学系を図１４に示す。光スポット径可変装置として開口変換素子１１０を挿入した構成になっている。開口変換素子１１０は、例えば液晶素子と偏光子を用いるとよい。液晶素子の電極パターンは、図１５（ａ）のように同心円状となっている。本実施例の光ピックアップは、偏光光学系のため、プリズム１０４により偏向された光はＰ偏光であり、液晶素子は必要に応じて、Ｐ偏光の光に位相差を与え、Ｓ偏光にする。液晶素子の後にはＰ偏光の偏光子が挿入されているため、位相差を与えられたＳ偏光部は図１５（ｂ）、（ｃ）に示すように不透明となる。このように、液晶素子と偏光子を用いて、透明にしたり、不透明にしたりすることで、対物レンズのＮＡを切り変えることができ、光スポット径を制御することができる。つまり、信号品質評価器３（図１、５、７）の演算結果をもとに位相差を変化させ、光スポット径を最適化する。例えば、図７において、初期値の信号値として、多値レベル個別の検出信号の偏差を平均した値と、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差との比σ/ＤＲを検出する。この評価値をメモリ（１）に記憶し、コントローラ４により開口の大きさに変化を与える。そして、再度検出信号を評価し、評価値をメモリ（２）に記憶する。この（１）と（２）の値を比較し、（２）が小さければ再度、同じ方向へ開口の大きさを変化させ、（２）が（１）より大きくなるまで繰り返す。（１）の方が大きくなった時、開口の大きさを逆方向へコントロールし、開口の変換を終える。
【０１０２】
例えば液晶素子の不透明部が図１５（ｂ）のような時の光スポット径が０．５５μｍの時、信号値は図１６の丸プロットのようになり、多値レベルと信号値の線形性に乱れが生じている。しかし、液晶素子により開口を図１５（ｃ）のように制御すると、信号値が図１６の四角プロットのようになる。このように、記録時に最適化した状態と略同等の線形性が得られ、σ/ＤＲは、２．７%から２．２%に改善した。ただし、図１６の多値出力値は、ゲインコントロールにより、レベルゼロと最大マークのレベル７の出力値は常に一定になるようコントロールされている。
【０１０３】
このように、液晶素子と偏光子を用いた開口変換を用いると、再生時のスポット形状を記録時に近づけることができ、良好な信号品質を得ることができる。
【０１０４】
＜実施例１−２＞（ＲＩＭ変換）
本実施例の光ピックアップ光学系を図１７に示す。エキスパンダ１２０を挿入した。エキスパンダ１２０は、ダブレットの凹レンズ（焦点距離−２５ｍｍ）と凸レンズとにより構成されており、これらのレンズ間隔調整手段（図示せず）を備えている。エキスパンダ１２０の凸レンズを、焦点方向に移動させることで、対物レンズ１０６の入射ビーム径を変換することができる。ＲＩＭ強度が３０%の時、信号値は図１８の丸プロットのようになり、多値レベルと信号値の線形性に乱れが生じている。しかし、エキスパンダ１２０の凸レンズを光源側と反対側へ調整すると、対物レンズ１０６のビーム径が大きくなり、ＲＩＭ強度が大きくなる。このとき、信号値が四角プロットのようになり、記録時に最適化した状態と略同等の線形性が得られた。エキスパンダ１２０の凸レンズは、信号品質評価器３の演算結果をもとに制御され、光スポット径を最適化する。このように光スポット径を最適化することで、良好な多値信号品質を得ることができる。
【０１０５】
＜実施例１−３＞（複数の光源）
実施例１−１で開口変換素子１１０として用いた液晶素子は、波長と開口が異なる光を一つの対物レンズで集光させる時の開口制限素子として併用することができる。光ピックアップ光学系を図１９に示す。半導体レーザ１３１の中心波長は６６０ｎｍであり、ＮＡは０．６５である。一方半導体レーザ１０１の波長は４０５ｎｍであり、ＮＡは０．８５である。このような光スポットを一つの対物レンズで作るには、開口を切り替える必要がある。そこで開口変換素子１４０を挿入し、６６０ｎｍの光が対物レンズ１０６へ入射する時は、開口を制限する。ただし対物レンズ１０６は、４０５ｎｍと６６０ｎｍの両方の波長で波面精度が最適化されている。
【０１０６】
このように開口変換素子１４０が、異なる波長で開口の異なる場合に用いる開口制限素子と併用できるため、部品点数の増加を低減でき、小型で低コストな光情報処理装置を提供することができる。
【０１０７】
＜実施例１−４＞（複数の光源、多層記録媒体）
実施例１−１で開口変換素子１１０として用いた液晶素子は、波長の異なる光を一つの対物レンズ１０６で集光させる時に発生する球面収差も合わせて補正することが可能である。光ピックアップ光学系を図２０に示す。半導体レーザ１３１の中心波長は６６０ｎｍでありＮＡは０．６５である。また半導体レーザ１０１の波長は４０５ｎｍであり、ＮＡは０．６５である。このような光学系において、液晶素子１５０を挿入し位相差を調整することで球面収差を補正できる。
【０１０８】
対物レンズ１０６は、４０５ｎｍの半導体レーザ１０１で最適化されている。この対物レンズに、６６０ｎｍの光が透過すると図２１（ａ）のような波面になる。そこに、例えば液晶素子１５０を導入すると、図２１（ｂ）のように、波面収差は補正される。
【０１０９】
同様に、図２２のような複数の記録面を有する多層ディスクの場合の中間層に起因する球面収差も補正することができる。
【０１１０】
＜実施例２−１＞（球面収差補正）
本実施例の光ピックアップ光学系を図２３に示す。光ピックアップ光学系に球面収差を補正する素子として例えば液晶素子１６０を導入した。液晶素子１６０の電極パターンは、図２４のように同心円状となっている。液晶素子１６０は必要に応じて、位相差を与え、ビームが有する球面収差を補正または発生させる。信号品質評価器１３（図９、１０、１２）の演算結果をもとに位相差を変化させ、スポット形状を最適化する。再生時の光ピックアップが球面収差を持っているとき、位相差を与えていない場合の信号値は図２５の丸プロットのようになり、多値レベルと信号値の線形性に乱れが生じている。しかし、液晶素子１６０により球面収差０．０３λrmsで、図２６のような位相差を与えてやると、信号値が図２５の四角プロットのようになる。このように、記録時に最適化した状態と同等の線形性が得られ、σ/ＤＲは、２．７%から２．２%に改善した。
【０１１１】
またこの液晶素子１６０を用いることで、光学記録媒体１０７の厚み誤差や、レンズの製造誤差、組付け誤差、温度変化、経時変化により発生する球面収差をも補正することができる。
【０１１２】
また、球面収差を補正する装置として、発散角変換素子を用いてもよい。その光ピックアップ光学系の一例を図２７に示す。図２７のコリメートレンズ１０２′は焦点方向に移動する手段（図示せず）を備えている。焦点方向を調整することで、対物レンズ１０６入射光の発散角度を変換する。焦点距離１０ｍｍのコリメートレンズ１０２′を、焦点位置から１５０μｍ光源から離した時、信号値は図２８の丸プロットのようになり、多値レベルと信号値の線形性に乱れが生じている。しかし、１５０μｍ光源側へ調整すると、信号値が四角プロットのようになる。このように、記録時に最適化した状態と略同等の線形性が得られる。すなわち、コリメートレンズ１０２′を焦点方向に移動させる収差可変装置を信号品質評価結果に基づいてコントロールすることで、良好な多値信号品質を得ることができる。また、コリメートレンズ１０２′の焦点方向を調整することで、多値レベルの非線形性だけではなく、光記録媒体１０７の厚み誤差や、レンズの製造誤差により発生する球面収差をも補正することができる。
【０１１３】
コリメートレンズの焦点方調整のほかに、図１７に示すようにビームエキスパンダ１２０を用いてもよい。
【０１１４】
このように、球面収差補正素子を用いると、再生時のスポット形状を記録時に近づけることができ、良好な信号品質を得ることができる。また、同時に光学部品の製造誤差、組付け誤差、温度変化、経時変化により発生する球面収差をも補正することができるため、マージンの大きな光情報処理装置を提供することができる。
【０１１５】
＜実施例２−２＞（コマ収差補正）
本実施例ではコマ収差を補正する手段を有する。コマ収差を補正する手段として、対物レンズが光軸に対してチルトしたときに生じるコマ収差を利用することができる。その様子を図２９に示す。対物レンズをチルトさせると、波面収差が大きくなっているのが分かる。
【０１１６】
図３０に、コマ収差が無いとき（ａ）と、０．０３λrmsのコマ収差発生時（ｂ）のスポット形状をそれぞれ示す。図３０はスポット強度分布をｄＢ表示したものである。記録時と再生時とでこのように形状が異なると、記録時に最適化された記録マークが、再生時に劣化する。このスポット形状を対物レンズのチルトにより補正する。第２の実施の形態で説明した信号品質評価方法のいずれかを用い、評価値が所望の値になるよう、対物レンズのチルトをコントロールする。なお、コマ収差を変化させる手段として、液晶素子を用いてもよい。
【０１１７】
このように、コマ収差の補正を行うことで、良好な多値信号品質を得ることができる。また、光記録媒体のチルトや、レンズの製造誤差、ピックアップ組付け誤差により発生するコマ収差も同時に補正することができる。
【０１１８】
＜実施例２−３＞（デフォーカスを制御）
光ピックアップは、フォーカス誤差信号に基づいて対物レンズ１０６（図２）の焦点方向が制御される。非点収差法により得られる集光位置とフォーカス誤差信号の関係を図３１に示す。通常、対物レンズの集光位置は、フォーカス誤差信号がゼロになる焦点位置に、制御される。しかしながら、多値信号の場合、再生時のフォーカス誤差信号がゼロになる位置が、必ずしも良好な信号を得られるとは限らない。これは上述したように、再生時のスポット形状が記録時と同じとは限らないからである。したがって、図９、１０、１２のいずれかの信号品質評価器１３を用い、評価結果が所望の値になるよう、フォーカス誤差信号にオフセットを与え、対物レンズ１０６を制御する。
【０１１９】
以下、詳細に説明する。
初期値の信号をまず評価する。評価項目は例えば、多値レベル個別の検出信号の偏差を平均した値と、最大多値レベルと最小多値レベルの検出信号の差との比σ/ＤＲとする。この評価値を、図１２に示すように、メモリ（１）に記憶し、コントローラ１４で集光位置にオフセット量を与える。そして、再度信号を評価し、評価値をメモリ（２）に記憶する。この（１）と（２）の値を比較し、（２）が小さければ再度、同じ方向へオフセットを加え、（２）が（１）より大きくなるまで繰り返す。（１）の方が大きくなった時、オフセットを逆方向へコントロールし、オフセット量の補正を終える。
【０１２０】
例えばスポット形状が図３２（ａ）のような時、信号値は図３３の丸プロットのようになり、多値レベルと信号値の線形性に乱れが生じているが、このような補正を加えることで、スポット形状が図３２（ｂ）のようになり、信号値が図３３の四角プロットのようになる。このように、記録時に最適化した状態と同等の線形性が得られ、σ/ＤＲは、２．７%から２．４%に改善した。なお、図３２はスポット強度分布をｄＢ表示したものである。
【０１２１】
また、図３４に、同様の光ピックアップを用いて、２値信号と多値信号を再生した時のジッターとσ/ＤＲのデフォーカス依存性を示す。再生可能なエラー率となる許容値は、σ/ＤＲが２．７%、ジッターが９%である。図３４より、多値信号は、２値信号に比較して、デフォーカスマージンが狭いことがわかる。しかし、本発明は対物レンズのデフォーカス制御機構が備わっているため、フォーカスオフセットが発生した場合にも、集光位置を最適に補正することができ、かつマージンが大きい光ピックアップが提供できるため、安定で良好な多値信号を得ることができる。
【０１２２】
＜実施例２−４＞（複数の光源、多層記録媒体）
本発明の球面収差を変化させる収差変可変装置は、波長の異なる光を一つの対物レンズで集光させる時に発生する球面収差も合わせて補正することが可能である。例えば、図３５に示すように、中心波長が４０５ｎｍの半導体レーザ１０１と、中心は長が６６０ｎｍの半導体レーザ１３１を備えた光ピックアップ光学系において、液晶素子１６０、ビームエキスパンダ１２０のいずれかの素子を挿入するか、またはコリメートレンズ１３２を焦点方向に調整することで補正できる。
【０１２３】
この光ピックアップにおいて、対物レンズ１０６は、４０５ｎｍの半導体レーザ１０１で最適化されている。この対物レンズ１０６に、６６０ｎｍの光が透過すると図３６（ａ）のような波面になる。そこに、例えば液晶素子１６０を導入すると、図３６（ｂ）のように、波面収差は補正される。
【０１２４】
同様に、図２２のような複数の記録面を有する多層ディスクの場合の中間層に起因する球面収差も補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【０１２５】
【図１】本発明の第１の実施の形態の光情報処理装置を概略的に示すブロック図である。
【図２】光ピックアップ光学系の概略構成例を示す図である。
【図３】多値記録時のレーザ照射のタイミングの設定動作を示すフロー図である。
【図４】多値記録のパルス列を示す図である。
【図５】第１の実施の形態の光情報処理装置の構成例（その１）を示すブロック図である。
【図６】第１の実施の形態の動作例（その１）を示すフロー図である。
【図７】第１の実施の形態の光情報処理装置の構成例（その２）を示すブロック図である。
【図８】第１の実施の形態の動作例（その２）を示すフロー図である。
【図９】本発明の第２の実施の形態の光情報処理装置を概略的に示すブロック図である。
【図１０】第２の実施の形態の光情報処理装置の構成例（その１）を示すブロック図である。
【図１１】第２の実施の形態の動作例（その１）を示すフロー図である。
【図１２】第２の実施の形態の光情報処理装置の構成例（その２）を示すブロック図である。
【図１３】第２の実施の形態の動作例（その２）を示すフロー図である。
【図１４】実施例１−１の光ピックアップ光学系を示す図である。
【図１５】液晶素子の同心円状の電極パターンを示す図である。
【図１６】多値レベルに対する検出信号出力値の変化を示す図である。
【図１７】実施例１−２の光ピックアップ光学系を示す図である。
【図１８】多値レベルに対する検出信号出力値の変化を示す図である。
【図１９】実施例１−３の光ピックアップ光学系を示す図である。
【図２０】実施例１−４の光ピックアップ光学系を示す図である。
【図２１】対物レンズ透過光の波面収差を示す図である。
【図２２】複数の記録面を有する多層ディスクを示す断面図である。
【図２３】実施例２−１の球面収差を補正する光ピックアップ光学系を示す図である。
【図２４】液晶素子の同心円状の電極パターンを示す図である。
【図２５】多値レベルに対する検出信号出力値の変化を示す図である。
【図２６】図２４の液晶素子に与える位相差を示す図である。
【図２７】球面収差を補正する光ピックアップ光学系の他の例を示す図である。
【図２８】多値レベルに対する検出信号出力値の変化を示す図である。
【図２９】対物レンズチルトによる波面収差の変化を示す図である。
【図３０】コマ収差の無いとき（ａ）と、コマ収差発生時（ｂ）のスポット形状の違いを示す図である。
【図３１】デフォーカスとフォーカス誤差信号の関係を示す図である。
【図３２】デフォーカス制御によるスポット形状の変化を示す図である。
【図３３】多値レベルに対する検出信号出力値の変化を示す図である。
【図３４】２値信号と多値信号を再生した時のジッターとσ/ＤＲのデフォーカス依存性を示す図である。
【図３５】実施例２−４の光ピックアップ光学系を示す図である。
【図３６】対物レンズ透過光の波面収差を示す図である。
【図３７】多値記録の例を示す図である。
【図３８】隣接セルがレベルゼロの場合（孤立波）のレベルによる多値出力値を示す図である。
【図３９】対象セルのレベルが隣接セルのレベルと同じ場合（連続波）のレベルによる多値出力値を示す図である。
【図４０】対象セルとその隣接セルのレベルによる多値出力値を示す図である。
【符号の説明】
【０１２６】
１，１１    光ピックアップ
２    光スポット径可変装置
３，１３    信号品質評価器
４，１４    コントローラ
１０１，１３１    半導体レーザ
１０２，１０２′，１３２    コリメートレンズ
１０３，１３３    偏光ビームスプリッタ
１０４    プリズム
１０５    1/4波長板
１０６    対物レンズ
１０７    光記録媒体
１０８    検出レンズ
１０９    受光レンズ
１１０，１４０    開口変換素子
１２０    ビームエキスパンダ
１５０，１６０    液晶素子
【図１】
2006216180.tif 000005
【図２】
2006216180.tif 000006
【図３】
2006216180.tif 000007
【図４】
2006216180.tif 000008
【図５】
2006216180.tif 000009
【図６】
2006216180.tif 000010
【図７】
2006216180.tif 000011
【図８】
2006216180.tif 000012
【図９】
2006216180.tif 000013
【図１０】
2006216180.tif 000014
【図１１】
2006216180.tif 000015
【図１２】
2006216180.tif 000016
【図１３】
2006216180.tif 000017
【図１４】
2006216180.tif 000018
【図１５】
2006216180.tif 000019
【図１６】
2006216180.tif 000020
【図１７】
2006216180.tif 000021
【図１８】
2006216180.tif 000022
【図１９】
2006216180.tif 000023
【図２０】
2006216180.tif 000024
【図２１】
2006216180.tif 000025
【図２２】
2006216180.tif 000026
【図２３】
2006216180.tif 000027
【図２４】
2006216180.tif 000028
【図２５】
2006216180.tif 000029
【図２６】
2006216180.tif 000030
【図２７】
2006216180.tif 000031
【図２８】
2006216180.tif 000032
【図２９】
2006216180.tif 000033
【図３０】
2006216180.tif 000034
【図３１】
2006216180.tif 000035
【図３２】
2006216180.tif 000036
【図３３】
2006216180.tif 000037
【図３４】
2006216180.tif 000038
【図３５】
2006216180.tif 000039
【図３６】
2006216180.tif 000040
【図３７】
2006216180.tif 000041
【図３８】
2006216180.tif 000042
【図３９】
2006216180.tif 000043
【図４０】
2006216180.tif 000044