(57)【要約】【課題】  情報処理装置の機能を追加・変更した場合に、追加・変更した機能のテストのためにテスト手段あるいはテスト手段の利用するテストスクリプトの変更が必要。【解決手段】  機能手段からのテスト制御通知に応じて該当機能手段のテストを実行可能な機能手段別テスト手段と、機能手段にテスト指示を通知可能なテスト手段も設けることにより、テスト手段を変更することなく追加・変更された機能手段のテストが可能となり、テスト処理の信頼性が向上する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
テスト処理以外の通常処理を実行する機能手段と、機能手段のテストをおこなうテスト処理を実行するテスト手段から成る情報処理装置において、
テスト対象とする機能手段の選択と、機能手段別テストの実行を機能手段に指示可能なテスト手段と、
テスト手段の指示に応じて、機能手段別テスト手段を制御可能な機能手段と、
機能手段の制御に応じて、機能手段毎のテストを実行可能な機能手段別テスト手段を設けたことを特徴とする情報処理装置。
【請求項２】
テスト処理以外の通常処理と、通常処理をおこなう機能のテストをおこなうテスト処理を実行可能な情報処理装置のテスト方法であって、
テスト対象とする機能手段の選択ステップと、
機能手段別テストの実行を機能手段に指示可能なテスト指示ステップと、
テスト指示ステップの指示に応じて、機能手段別テストステップを制御可能な機能手段のテスト制御ステップと、
テスト制御ステップの制御に応じて、機能手段毎のテストを実行可能な機能手段別テストステップを設けたことを特徴とする情報処理装置のテスト方法。
【請求項３】
請求項２記載の情報処理装置のテスト方法において、テスト対象の機能手段Aが利用する他の機能手段の提供機能である機能手段Aのインポート機能、他の機能手段が利用する機能手段Aの提供機能である機能手段Aのエクスポート機能の少なくとも一部の動作を任意の期間変更・代行・擬似実行などの制御可能な機能手段別テストステップを設けたことを特徴とする情報処理装置のテスト方法。
【請求項４】
請求項２記載の情報処理装置のテスト方法において、テスト対象の機能手段Aのインポート機能を提供する機能手段を利用可能な状態に制御可能な機能手段別テストステップを設けたことを特徴とする情報処理装置のテスト方法。
【請求項５】
請求項２記載の情報処理装置のテスト方法において、選択候補となる機能を検索する選択ステップを設けたことを特徴とする情報処理装置のテスト方法。
【請求項６】
請求項１記載の情報処理装置において、機能手段、テスト手段、機能手段別テスト手段の少なくとも1つの手段の生成・実行などの機能からの利用・消滅を管理可能な機能管理手段を設けたことを特徴する情報処理装置。
【請求項７】
請求項２乃至５のいずれかに記載の情報処理装置のテスト方法において、テスト指示ステップ、テスト制御ステップ、機能手段別テストステップの少なくとも１つのステップの生成・実行などの機能からの利用・消滅を機能管理手段で管理することを特徴とする情報処理装置。
【請求項８】
請求項１記載の情報処理装置において、テスト手段、機能手段別テスト手段の少なくとも一部を互いに接続された他の情報処理装置で実行可能とする分散処理手段を設けたことを特徴とする情報処理装置。
【請求項９】
請求項６記載の情報処理装置において、機能手段別テスト手段を追加・削除可能な機能管理手段を設けたことを特徴とする情報処理装置。
【請求項１０】
請求項１記載の情報処理装置において、情報処理装置のもつ1つ以上の機能手段の少なくとも一部の動作状況を検知可能なシステム状態検知手段を設けたことを特徴とする情報処理装置。
【請求項１１】
請求項２記載の情報処理装置のテスト方法において、機能手段を通知するステップと、通知されて機能手段を登録するステップを設けたことを特徴とする情報処理装置のテスト方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は情報処理装置で実行可能なプログラムのテスト方法と、該テスト方法を実行するテスト機能を内蔵した情報処理装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
情報処理装置で実行可能なプログラムは、プログラム自体の不具合、プログラムを記憶する記憶手段の不具合、プログラムを実行する処理手段の不具合などいろいろな要因で正常に動作しない可能性があり、特許文献１に記載されているように、情報処理装置上でプログラムをテストする手法が広く用いられている。
またテストをおこなう目的も、プログラム開発のためのテスト、プログラム開発完了後の診断のためのテスト、新しい機能を加えたときの該当機能のテスト、該当しない機能のテストなど各種あり、このような各種目的のためにテストをおこなう手法が広く用いられている。
【０００３】
【特許文献１】特開２００５−２９０００９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記したように、個々のテストはそれぞれ対象とする各種不具合要因、あるいは想定する各種目的をもつが、テスト方法の構成自体は一般的にはテストを実行するプログラム（以下、テスト手段と称する）とテストの対象となるプログラム（以下、ターゲット機能手段と称する）があり、テスト手段が予め規定されているテスト手順とテストデータから成るテストスクリプトを実行するという共通の構成をもつ。またテスト方法も、テストの対象となる機能手段の初期化、テストの実行、テスト結果の通知という共通のステップをもつ。
【０００５】
しかし上記テスト手段を用いたテスト方法では、テスト手段およびテストスクリプトで予め規定されたターゲット機能手段に対するテストしか実行できず、例えば既存の機能手段の仕様を変更した場合や、新しい機能手段を情報処理装置に追加した場合にはテスト手段あるいはテスト手段で利用するテストスクリプトの変更が必要になる。
また上記テスト方法ではテスト処理と通常の処理は独立しており、通常の処理をおこないながらテスト処理をおこなうことができない。従ってテスト処理ではテスト手段の動作を規定するテストスクリプトで、テストに必要なテスト手順とテストデータを全て定義する必要がある。
【０００６】
解決しようとする課題は、情報処理装置の機能を変更した場合や、機能を追加・削除した場合に、変更した機能や追加した機能をテストするためにテスト手段あるいはテスト手段の利用するテストスクリプトの変更が必要となる点である。
さらに通常の処理からテスト処理への移行、テスト処理から通常の処理への移行が困難な点である。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記の課題を解決するため本発明では、通常の処理を実現する機能手段とテスト処理を実現するテスト手段から成る情報処理装置において、機能手段ごとのテストを実行可能な機能手段別テスト手段、該機能手段別テスト手段を制御可能な機能手段、機能手段の把握と機能手段に対して機能手段別テストを指示可能なテスト手段を設けたことを主要な特徴とする。
さらに通常処理とテスト処理の移行のために、情報処理装置の機能手段の状態を検知可能なシステム状態検知部を設けたことを主要な特徴とする。
【０００８】
そして、機能手段を把握可能なテスト手段は、例えば機能手段の一覧リスト、機能手段の検索機能、あるいは機能手段の管理をおこなう機能管理手段への問い合わせなどにより情報処理装置がもつ機能手段を把握可能である。これにより機能手段の追加時に、追加された機能手段に対するテスト指示の通知が可能となる。また、このテスト指示通知に応じて、選択された機能手段は対応する機能手段別テスト手段にテスト制御の通知が可能となる。また、このテスト制御通知に応じて機能手段別テスト手段は該当する機能手段のテスト実行が可能となる。
【０００９】
以上の構成により、情報処理装置に新たな機能手段が追加された場合において、テスト手段に変更することなく、追加された機能手段のテストが可能となり、テスト処理の信頼性が向上する。さらに、機能手段別テスト手段を機能手段と合わせて管理可能となり、この面からもテスト処理の信頼性が向上する。さらに、機能手段別テスト手段が不要な場合には機能手段の生成・削除などを管理可能な機能管理手段を用いて該当機能手段別テスト手段を削除可能となり、要求リソースの低減、使い勝手が向上などの効果が期待できる。
【００１０】
また、情報処理装置の機能手段の状態を検知可能なシステム状態検知手段を用いることで、テスト対象の機能手段が特定の条件を満足したときに通常の処理からテスト処理への切換え、あるいはその逆の切換えを機能手段別テスト手段のもつインポート機能・エクスポート機能の制御機能で実行可能となり、通常の処理からテスト処理への切換え、あるいはテスト処理から通常の処理への切換えが可能となり、テストスクリプト作成の規模を軽減可能となり信頼性が向上する。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、テスト処理の使い勝手および信頼性の向上を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
情報処理装置にテスト手段、機能手段別テスト手段、該機能手段別テスト手段を制御可能な機能手段を設けた。
【実施例１】
【００１３】
以下、本発明の一実施例を図１から図８を用いて説明する。
図１は本実施例の情報処理装置の機能手段の構成を示す機能ブロック図、図２は情報処理装置のハードウェア構成を示すシステム構成図、図３は表示入力制御手段１１１の動作を示すフローチャート、図４はターゲット機能手段１０２の動作を示すフローチャート、図５はテスト機能手段１０３の動作を示すフローチャート、図６はテスト条件設定部１０５のランスルー動作を示すフローチャート、図７はテスト条件設定部１０５のステップイン動作を示すフローチャート、図８はテスト条件設定部１０５のステップアウト動作を示すフローチャートである。
【００１４】
図１において、１０１は本実施例の情報処理装置、１０２は機能手段のなかでテストの対象となっているターゲット機能手段、１０３は機能手段毎にテスト機能を提供する機能手段別テスト手段であるテスト機能手段、１０４はターゲット機能手段のテストに必要となる関連必要機能手段、１０５はランスルーテストなどのテスト条件に応じて必要なテストを実行するテスト条件設定部、１０６はターゲット機能手段１０２からのテスト制御通知を処理するテスト機能部、１０７はターゲット機能手段１０２が単体テスト実行時などに必要となる他の機能手段の動作を擬似実行するスタブ部、１０８はターゲット機能手段１０２が組み合わせテスト実行時などに必要となる他の機能手段の検索をおこなう必要モジュール検索部、１０９は機能手段１１０や関連必要機能手段１０４の動作状態を検知するシステム状態検知部、１１０はその他の機能手段、１１１は機能手段に対するテスト処理を利用者が選択可能なテスト手段である指示入力制御手段である。
【００１５】
図２において、２０２は情報処理装置２０１の制御をおこなうＣＰＵ、２０２はプログラム・データなどを記憶するメモリ、２０３は同様にプログラム・データなどを格納可能な２次記憶手段、２０５はマウス・キーボード・リモコン・パネルボタンなどの入力手段、２０６は液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイなどの表示手段、２０７はイーサーネットコントローラ・モデム・シリアルなどの通信手段である。
本実施例においては図１のターゲット機能手段１０２、テスト機能手段１０３、関連必要機能手段１０４など各種手段はＣＰＵ２０２が実行可能なプログラムの形式で２次記憶手段２０４に記憶されている。情報処理装置２０１が動作を開始すると、２次記憶手段２０４に記憶されている該プログラムはメモリ２０３上に配置され、適宜ＣＰＵ２０２で実行される。またテスト条件設定部１０５の処理３０２などで利用する利用者の選択情報は入力手段２０５を用いて取得する。またテスト条件設定部１０５の処理３０１などで利用する利用者に対する表示情報は表示手段２０６を用いて表示する。
【００１６】
以下、本実施例の動作を図３から図８を用いて説明する。まず図３を用いてテスト手段である指示入力制御手段１１１の動作を説明する。
処理３０１で表示手段２０６を用いてテスト対象として選択可能な機能手段を表示する。機能手段を表示する際に図示していないデータとして指示入力制御手段１１１がもっている情報処理装置１０１にある機能手段１１０の一覧、あるいは同じく図示していない機能手段１１０の検知機能などを用いて取得した情報処理装置１０１にある機能手段１１０の一覧を利用する。処理３０２で利用者の機能手段選択が前記機能手段の一覧に含まれていれば処理３０３で選択した機能手段１１０に対するテスト実施の可否を利用者に確認する。「可」であれば処理３０４で該当機能手段１１０のテスト実施の可否を選択された機能手段１１０（以下、ターゲット機能手段１０２と称する）に「テスト機能状態確認」コマンドを用いて問い合わせ、結果を取得する。
【００１７】
処理３０６で取得したテスト機能手段１０３の状態からテスト機能手段１０３の利用が「可」であれば処理３０７でターゲット機能手段１０２にテスト指示を「テスト実行」コマンドを用いて通知し、テストを実行する。テスト実行完了後に処理３０８でテスト結果の有無を確認し、ターゲット機能手段１０２からの通知されたテスト結果があれば、処理３０９でターゲット機能手段１０２のテスト実行結果を表示手段２０６を用いて表示する。
【００１８】
次にターゲット機能手段１０２の動作を図４を用いて説明する。処理４０１でターゲット機能手段１０２から通知されたコマンドが「テスト機能状態確認」であれば処理４０４でテスト機能手段１０３のテスト機能部１０６に「テスト機能状態確認」コマンドを通知し、テスト機能の状態を取得する。次に処理４０５でテスト機能部１０６からテスト機能の状態を指示入力制御手段１１１に通知する。
【００１９】
処理４０１でターゲット機能手段１０２から通知されたコマンドが「テスト機能状態確認」ではない場合には、処理４０２でターゲット機能手段１０２から通知されたコマンドが「テスト実行」コマンドか判定する。「テスト実行」コマンドであった場合には、処理４０７でテスト機能部１０６に「テスト実行」コマンドを通知する。次に処理４０８でテスト機能部１０６に「テスト結果取得」コマンドを通知する。次に処理４０９でテスト機能部１０６から取得したテスト結果を指示入力制御手段１１１に通知する。
【００２０】
処理４０２でターゲット機能手段１０２から通知されたコマンドが「テスト実行」コマンドではなかった場合には、処理４０３でターゲット機能手段１０２の通常の処理として通知されるコマンドかを判定し、通常の処理で対応しているコマンドの場合には処理４１０、処理４１１で通常の処理を実施し、結果を通知する。
【００２１】
次にテスト機能手段１０３のテスト機能部１０６の動作を図５を用いて説明する。なお図５の処理は周期的に実行されるものとする。処理５０１でターゲット機能手段１０２から取得したコマンドが「テスト機能状態確認」であるか判定する。「真」の場合、処理５０２でテスト条件設定部１０５からテスト機能手段１０３の状態を取得し、処理５０３で取得した状態をテスト機能の状態としてターゲット機能手段１０２に通知する。
【００２２】
処理５０１の判定が「偽」の場合、処理５０４でターゲット機能手段１０２から取得したコマンドが「テスト実行」であるか判定する。「真」の場合、処理５０５でテスト条件設定部１０５にテスト実行を通知し、処理５０６でテスト結果を取得する。
処理５０４の判定が「偽」の場合、処理５０７でターゲット機能手段１０２から取得したコマンドが「テスト結果取得」であるか判定する。「真」の場合、処理５０８でテスト結果をターゲット機能手段１０２に通知する。なお、処理５０７、処理５０８に関してはテスト実行が完了し、テスト結果があるかの確認が必要だが、ここでは簡素化のため図示していない。
【００２３】
なお、処理５０５のテスト条件設定部１０５へのテスト実行を通知では、図示していない指示入力制御手段１１１の処理３０２でテストプロセス条件として（１）通常の処理はなくテスト処理のみで対象機能手段のテストをおこなうランスルーテスト、（２）通常の処理が予め設定された特定の条件に達したときにテスト処理に切り替わるステップインテスト、（３）テスト処理完了後に通常の処理を特定の条件まで実行するステップアウトテストのうち１つがすでに選択されているとする。
さらに、同様に図示していない指示入力制御手段１１１の処理３０２でテスト構成条件として（１）ターゲット機能手段１０２のみをテストする単体テスト、（２）1つ以上のターゲット機能手段１０２が利用するあるいは利用される機能手段と組み合わせてテストをする組み合わせテストのうち１つがすでに選択されているとする。
処理５０５でテスト実行テスト条件設定部１０５にテスト実行を通知すると、図６〜図８に示したテスト条件設定部１０５の処理が起動する。まず処理６０１でテストプロセス条件として、ランスルーテストが指定されているか判定し、「否」の場合には図７の処理７０１を実行する。処理７０１ではテストプロセス条件として、ステップインテストが指定されているか判定し、「否」の場合には図８の処理８０１を実行する。処理８０１ではテストプロセス条件として、ステップアウトテストが指定されているか判定し、「否」の場合には処理を終了する。
【００２４】
テストプロセス条件がランスルーテストの場合には処理６０１の判定が「真」となり、処理６０２でテスト構成条件が単体テストか組み合わせテストかどうかを判定する。単体テストの場合、処理６０５でターゲット機能手段１０２のインポート機能・エクスポート機能の情報に基づいて、必要な機能手段の擬似実行手段であるスタブ部１０７を特定し、処理６０６で特定したスタブ部１０７の初期化と該当するインポート機能・エクスポート機能の機能手段からスタブ部１０７への切換えをおこなう。
【００２５】
次に処理６０７で、ターゲット機能手段１０２に関連する変数の設定値変更などターゲット機能手段１０２のテスト条件を設定し、処理６０８でテストを実行し、処理６０９でテスト結果をテスト機能部１０６に通知する。
テスト構成条件が組み合わせテストの場合に処理６０２の判定後、処理６０３で組み合わせテストに必要となる機能手段１１０（以下、関連必要機能手段１０４と称する）を特定し、処理６０４で特定した関連必要機能手段１０４の初期化をおこなう。以降の処理は、前述の単体テストの処理と同様である。
なお、実際の処理ではスタブ部１０７や関連必要機能手段１０４を決定する際に、単にターゲット機能手段１０２がインポート機能・エクスポート機能として関連する機能手段だけではなく、さらにターゲット機能手段１０２と関連する関連必要機能手段１０４がインポート機能・エクスポート機能として関連する機能手段といったように、対象範囲を広げて決定する必要がある。本実施例では説明の簡素化のために、ターゲット機能手段１０２が直接関係する機能手段のみが関連必要機能手段１０４となる例を用いている。
【００２６】
次にテストプロセス条件がステップインテストの場合の動作を図７を用いて説明する。処理７０１でステップインテストと判定すると、処理７０３で処理６０３と類似の処理をおこない、ターゲット機能手段１０２がインポート機能・エクスポート機能として関連する関連必要機能手段１０４を特定する。次に処理７０４で特定した関連必要機能手段１０４の通常の処理に準じた初期化をおこなう。次に処理７０５で、特定条件をシステム状態検知部１０９が検知するまで、通常の処理をおこなう。
なおここで特定条件とは、システム状態検知部１０９で検知可能なプログラムやＣＰＵ２０２、メモリ２０３などのあらかじめ規定された状態全般を指し、例えば、プログラムで実装されたある特定の関連必要機能手段１０４の実行が特定のプログラムの箇所に達した場合とか、メモリ２０３の特定箇所のデータが特定の値に変化してから１０ｍＳ後、といった任意の条件を想定する。
【００２７】
特定条件を検知すると、処理７０２でテスト構成条件が単体テストの場合は処理７０９が、組み合わせテストの場合には処理７０６が実行される。以降の処理７０９・７１０、あるいは処理７０６・７０７・７０８は、図６の処理６０２移行の処理を同様の処理であるので、説明を省略する。
【００２８】
次に、テストプロセス条件がステップアウトテストの場合の動作を図８を用いて説明する。処理８０１でプロセス条件の判定をおこない、処理８０２でテスト構成条件の判定をおこなう。判定結果に応じて、単体テストであれば処理８０７に、組み合わせテストであれば処理８０３を実行する。ここで処理８０２から処理８０８までの処理は、図６で説明した処理６０２から処理６０８までの動作と同等となるので、ここでは説明を割愛する。
【００２９】
次に処理８０９でテスト構成条件が単体テストかどうかを判定し、単体テストの場合には、処理８１０で使用していたスタブ部１０７を解除し、対応する関連必要機能手段１０４に該当するインポート機能・エクスポート機能をスタブ部１０７から関連必要機能手段１０４への切換えをおこなう。
次に処理８１１で特定条件が発生するまで関連必要機能手段１０４およびターゲット機能手段１０２を動作させ、特定条件をシステム状態検知部１０９が検知した時点で動作を停止し、処理８１２であらかじめ規定されているテスト項目の期待値との比較判定結果や動作結果の取得をおこないテスト結果として通知する。
【００３０】
以上、本実施例によれば情報処理装置の機能手段が追加・変更・削除された場合も、テスト手段を変更することなく、追加・変更・削除された機能手段のテストが可能となり、テスト処理の信頼性が向上する。
また、本実施例によれば機能手段別テスト手段によりテスト機能を対象とする機能手段と連携しながら管理・テストが実行可能となりテスト管理の使い勝手・信頼性が向上する。
さらに、本実施例によれば通常の処理とテスト処理の混在したテストが可能となりテストの信頼性が向上する。
【実施例２】
【００３１】
以下本発明の他の実施例を図９を用いて説明する。図９は本実施例の情報処理装置の機能手段の構成を示す機能ブロック図である。
本実施例は機能手段、テスト手段、機能手段別テスト手段などのソフトウェアモジュールを管理可能な機能管理手段を用いたテスト方法に関する実施例である。
【００３２】
図９において、９０１は情報処理装置、９０２は情報処理装置の特定の機能Ａを提供するターゲット機能手段１０２と同等のターゲット機能手段Ａ、９０３はターゲット機能手段９０２のテスト機能をもつテスト機能手段Ａ、９２０はターゲット機能手段Ａ９０２・テスト機能手段Ａ９０３・ターゲット機能手段Ｂ９３０、テスト機能手段Ｂ９３１などの機能の管理をおこなう機能管理手段、９０４は関連必要機能手段、９１０は機能手段、９３０は情報処理装置の特定の機能Ｂを提供するターゲット機能手段Ｂ、９３１はターゲット機能手段Ｂのテスト機能ものつテスト機能手段Ｂである。
【００３３】
以下、本実施例の動作を図９を用いて説明する。機能管理手段９２０は情報処理装置を構成する各機能の管理のための、機能の発見・生成・実行・他の機能との連携支援・消滅などの機能を提供する。
機能がハードウェアとして提供される場合には、例えば（１）プログラマブルハードウェアにロードする回路情報データの検索・発見、（２）発見した回路情報データのハードウェアへのロード（生成）、（３）ロードした回路機能の実行、（４）他のハードウェア機能との接続（連携支援）、（５）不要となったハードウェア機能のプログラマブルハードウェアからの削除（消滅）などを管理する。
【００３４】
機能がソフトウェアとして提供される場合には、例えば（１）特定のファイル領域からの機能を実装したプログラムの検索・発見、（２）発見したプログラムのＣＰＵが実行可能なメモリ領域へのロード（生成）、（３）ロードしたプログラムの実行、（４）他の機能プログラムからの相互利用（連携支援）、（５）不要となったプログラムのメモリ領域からの削除（消滅）などを管理する。
【００３５】
以下、本実施例では機能手段Ｂ９３０が追加された場合の動作を説明する。機能管理手段９２０は、機能手段Ｂ９３０が追加された時点で、機能手段Ｂ９３０を発見し、管理対象として記憶すると同時に機能手段Ｂ９３０が情報処理装置９０１の機能として利用できるようにする。
指示入力制御手段９１１は図３と類似の処理をおこなう。指示選択画面の情報を作成する際に指示入力制御手段９１１が管理するテスト対象となる機能手段の一覧情報に加えて、機能管理手段９２０に機能手段の問い合わせをおこない、機能手段Ｂ９３０の情報を取得する。
【００３６】
利用者が機能手段Ｂ９３０のテストを選択した場合には、図１の実施例と類似の動作により、指示入力制御手段９１１が機能手段Ｂ９３０にテスト機能の状態を確認する。「テスト機能状態確認」コマンドを受けた機能手段Ｂ９３０は、テスト機能手段Ｂ９３１を用いてテスト機能の状態を確認する。
テストの実行動作などは、前述の実施例を同等の処理となるので、ここでは詳細は割愛する。
【００３７】
本実施例の機能管理手段を利用することで、情報処理装置９０１の機能手段９１０の追加・交換・削除などが可能となる。さらに指示入力制御手段９１１が、機能管理手段と連携することで追加・交換・削除した機能手段９１０に関する情報を取得する構成が可能となる。さらに最初テスト機能手段９０３・９３１を全て削除しておき、機能手段９１０がテスト対象となったテスト機能手段９３１のみ追加する構成なども可能である。このように情報処理装置の機能変更に柔軟に対応可能なテスト方法が実現可能となりテストの信頼性が向上する。
【００３８】
以上、本実施例によれば情報処理装置の機能手段の追加・変更などを機能管理手段で管理可能となり、テスト手段はテストの対象となる機能手段を管理する際に、この機能管理手段への問い合わせで機能手段に関する情報を取得可能となり、テスト方法の信頼性・使い勝手が向上する。
なお、以上の実施例において１０２はテスト対象の機能手段としたが、複数の機能手段がテスト対象となる構成も可能である。また、プログラムあるいは利用者の選択指示に応じてテスト対象の機能手段が動的に変化する構成も可能であり、テスト対象となる機能手段の指定方法・数などは特にこれを限定しない。また、テスト対象となる機能手段の変更や単体テスト・組み合わせテストなどテスト条件の変更に応じて、対象となる関連必要機能手段１０４やその他の機能手段である機能手段１１０も変化する。
【００３９】
また、以上の実施例では図１のターゲット機能手段１０２、テスト機能手段１０３、関連必要機能手段１０４などの情報処理装置１０１の構成要素をプログラムとしてＣＰＵ２０２で実行する構成としたが、構成要素の一部をハードウェアとして実装する方式や、構成要素の全てをハードウェアとして実装する構成も可能であり、図１に示した本発明の構成要素の実装方式は特にこれを限定しない。
また、以上の実施例ではテスト構成条件として、単体テストと組み合わせテストを規定したが、システム全体のテストなど他のテスト構成も可能であり、テスト構成は特にこれを限定するのもではない。
また、以上の実施例ではテストプロセス条件としてランスルーテスト、ステップインテスト、ステップアウトテストを規定したが、通常の処理とテスト処理が混在するプロセスなど他のテストプロセス条件も可能であり、テストプロセスは特にこれを限定するものではない。
【００４０】
また、以上の実施例ではあらかじめ規定されているテスト項目の期待値との比較結果や動作結果の取得をテスト結果として通知する構成としたが、テスト結果の通知において通知する内容に関しては、たとえば合否の通知といった他の構成も可能であり、テスト結果の内容に関しては特にこれを限定するものではない。
また、以上の実施例において複数のＣＰＵ２０２上の処理が連携可能な分散処理手段を儲け、例えばテスト機能手段１０３をターゲット機能手段１０２と別のＣＰＵ２０２の上で実行する構成も可能である。この構成によれば、処理負荷の分散による信頼性の向上や、使い勝手の向上が可能となる。
また、以上の実施例ではテスト手段あるいは機能管理手段が追加・変更・削除された機能手段を検索する構成としたが、機能手段が追加・変更・削除された場合にテスト手段あるいは機能管理手段に通知し、テスト手段あるいは機能管理手段が通知された機能手段に関する情報を登録する構成も可能であり、テスト手段あるいは機能管理手段の機能手段の管理方法に関しては特にこれを限定するものではない。
【産業上の利用可能性】
【００４１】
情報処理装置の機能手段が追加・変更された場合において、テスト手段の変更なく、テスト手段、機能手段と機能手段別テスト手段の連携動作により追加・変更された機能手段のテストが可能となり、テスト処理の信頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】情報処理装置の機能手段の構成を示す機能ブロック図。
【図２】ハードウェア構成を示すシステム構成図。
【図３】表示入力制御手段１１１の動作を示すフローチャート。
【図４】ターゲット機能手段１０２の動作を示すフローチャート。
【図５】テスト機能手段１０３の動作を示すフローチャート。
【図６】テスト条件設定部１０５のランスルー動作を示すフローチャート。
【図７】テスト条件設定部１０５のステップイン動作を示すフローチャート。
【図８】テスト条件設定部１０５のステップアウト動作を示すフローチャート。
【図９】情報処理装置の機能手段の構成を示す機能ブロック図。
【符号の説明】
【００４３】
１０１  情報処理装置
１０２  ターゲット機能手段
１０３  テスト機能手段
１０４  関連必要機能手段
１０５  テスト条件設定部
１０６  テスト機能部
１１１  指示入力制御手段
２０２  ＣＰＵ
２０３  メモリ
【図１】
2006301983.tif 000003
【図２】
2006301983.tif 000004
【図３】
2006301983.tif 000005
【図４】
2006301983.tif 000006
【図５】
2006301983.tif 000007
【図６】
2006301983.tif 000008
【図７】
2006301983.tif 000009
【図８】
2006301983.tif 000010
【図９】
2006301983.tif 000011