(57)【要約】【課題】マルチスライス撮影時における散乱を補正する。【解決手段】散乱を生じさせる物体であって被検体以外の物体である被検体外物（４０〜４２）の投影長pro_exを求め、撮影対象（α）の投影長pro_ptを求め、検出器厚ｄｏと同等のビーム厚で撮影対象（α）を撮影してデータＩ(do,do)を測定し、検出器厚ｄｏより厚いビーム厚ｄで撮影対象（α）を撮影してデータＩ(do,d)を測定し、両データＩ(do,do)，Ｉ(do,d)の差に基づいて散乱量Ｓ(do,d)を求め、投影長和「pro_pt＋pro_ex」に対応付けて記憶しておく。被検体を撮影してデータを収集した後、被検体の投影長pro_ptを求めると共に対応する被検体外物の投影長pro_exを求め、投影長pro_ptと投影長pro_exの和に対応する散乱量Ｓ(do,d)を読み出し、データを散乱補正する。【効果】散乱に起因するＣＴ画像の画質の低下を抑制できる。【選択図】図３
2006239003.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体撮影時にＸ線通過経路に存在して無視できないＸ線散乱を生じさせる物体であって且つ被検体以外の物体である被検体外物の投影長pro_exを求め、撮影対象の投影長pro_ptを求め、前記被検体外物および前記撮影対象をＸ線通過経路に入れた状態で、検出器厚ｄｏと同等のビーム厚で撮影してデータＩ(do,do)を測定し、検出器厚ｄｏより厚いビーム厚ｄで撮影対象を撮影してデータＩ(do,d)を測定し、前記データＩ(do,do)と前記データＩ(do,d)の差に基づいて散乱量Ｓ(do,d)を求め、前記被検体外物の投影長pro_exと前記撮影対象の投影長pro_ptから前記散乱量Ｓ(do,d)を求めるための情報を記憶しておき、被検体を撮影してデータを収集し前記データから被検体の投影長pro_ptを求めると共に前記データに対応する被検体外物の投影長pro_exを求め、前記被検体の投影長pro_ptと前記被検体外物の投影長pro_exに対応する前記情報を読み出し該情報を用いて前記データを散乱補正することを特徴とする散乱補正方法。
【請求項２】
被検体撮影時にＸ線通過経路に存在して無視できないＸ線散乱を生じさせる物体であって且つ被検体以外の物体である被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptから散乱量Ｓ(do,d)を求めるための情報を記憶しておき、被検体を撮影してデータを収集し前記データから被検体の投影長pro_ptを求めると共に前記データに対応する被検体外物の投影長pro_exを求め、前記被検体の投影長pro_ptと前記被検体外物の投影長pro_exに対応する前記情報を読み出し該情報を用いて前記データを散乱補正することを特徴とする散乱補正方法。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の散乱補正方法において、前記情報が、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptの和である投影長和「pro_pt＋pro_ex」から前記散乱量Ｓ(do,d)を算出するための散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)であることを特徴とする散乱補正方法。
【請求項４】
請求項３に記載の散乱補正方法において、前記散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)が投影長和「pro_pt＋pro_ex」のｎ（≧１）次関数であり、前記情報が前記ｎ次関数の係数ａ０，…，ａｎの全部または一部であることを特徴とする散乱補正方法。
【請求項５】
請求項１から請求項４のいずれかに記載の散乱補正方法において、検出器列とチャネルによって特定される検出器毎に前記情報を用いて散乱量を求め、検出器毎の前記データから前記散乱量を減算することにより、前記データを散乱補正することを特徴とする散乱補正方法。
【請求項６】
請求項１から請求項５のいずれかに記載の散乱補正方法において、Ｘ線管出力Ｉｏと検出器厚ｄｏとビーム厚ｄと検出器列ｒとチャネルｃｈのうちの少なくとも１つについての２種類以上の異なる値について前記情報を記憶しておくことを特徴とする散乱補正方法。
【請求項７】
被検体撮影時にＸ線通過経路に存在して無視できないＸ線散乱を生じさせる物体であって且つ被検体以外の物体である被検体外物の投影長pro_exを求めるステップと、
撮影対象の投影長pro_ptを求めるステップと、
前記被検体外物および前記撮影対象をＸ線通過経路に入れ、検出器厚ｄｏと同等のビーム厚で撮影してデータＩ(do,do)を測定し、検出器厚ｄｏより厚いビーム厚ｄで撮影対象を撮影してデータＩ(do,d)を測定し、前記データＩ(do,do)と前記データＩ(do,d)の差に基づいて散乱量Ｓ(do,d)を求めるステップと、
前記被検体外物の投影長pro_exと前記撮影対象の投影長pro_ptから前記散乱量Ｓ(do,d)を求めるための情報を記憶するステップと
を有することを特徴とする散乱測定方法。
【請求項８】
請求項７に記載の散乱測定方法において、前記被検体外物の投影長pro_exを求めるステップが、前記被検体外物をＸ線通過経路に入れないで撮影してデータＩ_exoutを測定し、前記被検体外物をＸ線通過経路に入れて撮影してデータＩ_exinを測定し、前記データＩ_exoutおよび前記データＩ_exinより前記被検体外物の投影長pro_exを求めるステップであることを特徴とする散乱測定方法。
【請求項９】
請求項７に記載の散乱測定方法において、前記被検体外物の投影長pro_exを求めるステップが、前記被検体外物の材質と形状より前記被検体外物の投影長pro_exを算出するステップであることを特徴とする散乱測定方法。
【請求項１０】
請求項７から請求項９のいずれかに記載の散乱測定方法において、前記撮影対象の投影長pro_ptを求めるステップが、撮影対象をＸ線通過経路に入れないで撮影してデータＩ_ptoutを測定し、前記撮影対象をＸ線通過経路に入れて撮影してデータＩ_ptinを測定し、前記データＩ_ptoutおよび前記データＩ_ptinより前記撮影対象の投影長pro_ptを求めるステップであることを特徴とする散乱測定方法。
【請求項１１】
請求項７から請求項１０のいずれかに記載の散乱測定方法において、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptの和である投影長和「pro_pt＋pro_ex」から前記散乱量Ｓ(do,d)を算出するための散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)を求め、前記情報として記憶することを特徴とする散乱測定方法。
【請求項１２】
請求項１１に記載の散乱測定方法において、前記散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)が投影長和「pro_pt＋pro_ex」のｎ（≧１）次関数であり、前記情報として前記ｎ次関数の係数ａ０，…，ａｎの全部または一部を記憶することを特徴とする散乱測定方法。
【請求項１３】
請求項７から請求項１２のいずれかに記載の散乱測定方法において、Ｘ線管出力Ｉｏと検出器厚ｄｏとビーム厚ｄと検出器列ｒとチャネルｃｈのうちの少なくとも１つについて２種類以上の異なる値で測定を行い、それぞれについて前記情報を記憶することを特徴とする散乱測定方法。
【請求項１４】
Ｘ線管と、多列Ｘ線検出器と、前記Ｘ線管および前記多列Ｘ線検出器の少なくとも一方を被検体の周りに相対回転させながらデータを収集するスキャン手段と、被検体撮影時にＸ線通過経路に存在して無視できないＸ線散乱を生じさせる物体であって且つ被検体以外の物体である被検体外物の投影長pro_exを求める被検体外物投影長取得手段と、撮影対象の投影長pro_ptを求める撮影対象投影長取得手段と、前記被検体外物および前記撮影対象をＸ線通過経路に入れて検出器厚ｄｏと同等のビーム厚で撮影してデータＩ(do,do)を収集すると共に検出器厚ｄｏより厚いビーム厚ｄで撮影対象を撮影してデータＩ(do,d)を測定し前記データＩ(do,do)と前記データＩ(do,d)の差に基づいて散乱量Ｓ(do,d)を求める散乱量取得手段と、前記被検体外物の投影長pro_exと前記撮影対象の投影長pro_ptから前記散乱量Ｓ(do,d)を求めるための情報を記憶する情報記憶手段と、ビーム厚ｄのＸ線ビームで且つ検出器厚ｄｏの検出器でデータを収集し前記データから被検体の投影長pro_ptを求めると共に前記データに対応する被検体外物の投影長pro_exを求め両者に対応する情報を読み出して該情報を用いて前記データを散乱補正する散乱補正手段とを具備したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項１５】
Ｘ線管と、多列Ｘ線検出器と、前記Ｘ線管および前記多列Ｘ線検出器の少なくとも一方を被検体の周りに相対回転させながらデータを収集するスキャン手段と、被検体撮影時にＸ線通過経路に存在して無視できないＸ線散乱を生じさせる物体であって且つ被検体以外の物体である被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptから散乱量Ｓ(do,d)を求めるための情報を記憶する情報記憶手段と、被検体を撮影してデータを収集し前記データから被検体の投影長pro_ptを求めると共に前記データに対応する被検体外物の投影長pro_exを求め両者に対応する前記情報を読み出し該情報を用いて前記データを散乱補正する散乱補正手段とを具備したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項１６】
請求項１４または請求項１５に記載のＸ線ＣＴ装置において、前記情報が、前記投影長和「pro_pt＋pro_ex」から前記散乱量Ｓ(do,d)を算出するための散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)であることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項１７】
請求項１６に記載のＸ線ＣＴ装置において、前記散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)が投影長和「pro_pt＋pro_ex」のｎ（≧１）次関数であり、前記情報が前記ｎ次関数の全部または一部であることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項１８】
請求項１４から請求項１７のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置において、前記散乱補正手段は、検出器列とチャネルによって特定される検出器毎に前記情報を用いて散乱量を求め、検出器毎の前記データから前記散乱量を減算することにより、前記データを散乱補正することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項１９】
請求項１４から請求項１８のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置において、前記情報記憶手段は、Ｘ線管出力Ｉｏと検出器厚ｄｏとビーム厚ｄと検出器列ｒとチャネルｃｈのうちの少なくとも１つについての２種類以上の異なる値について前記情報を記憶しておくことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、散乱補正方法、散乱測定方法およびＸ線ＣＴ（Computer Tomography）装置に関し、さらに詳しくは、マルチスライス撮影時における散乱の影響を補正するための散乱補正方法、散乱量を測定するための散乱測定方法およびＸ線ＣＴ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、単列Ｘ線検出器を用いたＸ線ＣＴ装置における各種の散乱補正方法が知られている（例えば、特許文献１、特許文献２参照。）。
また、多列Ｘ線検出器を用いたＸ線ＣＴ装置に適用可能な散乱補正方法が提案されている（例えば、特許文献３参照。）。
【０００３】
【特許文献１】特開平７−２１３５１７号公報
【特許文献２】特開平８−１３１４３１号公報
【特許文献３】特開平１１−２９９７６８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
複数の検出器列を有する多列Ｘ線検出器を用いてマルチスライス撮影を行う場合、個々の検出器厚（または検出器列厚）よりもビーム厚が大きくなるため、散乱の影響が大きくなる。
しかし、単列Ｘ線検出器を用いたＸ線ＣＴ装置における従来の散乱補正方法は、このような場合について考慮しておらず、適用できない問題点がある。
また、多列Ｘ線検出器を用いたＸ線ＣＴ装置における従来の散乱補正方法は、このような場合にも適用可能であるが、画像再構成を２回行う必要があり、処理の負担が大きい問題点がある。
そこで、本発明の目的は、マルチスライス撮影時における散乱の影響を補正するための散乱補正方法、散乱量を測定するための散乱測定方法およびＸ線ＣＴ装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
第１の観点では、本発明は、被検体撮影時にＸ線通過経路に存在して無視できないＸ線散乱を生じさせる物体であって且つ被検体以外の物体である被検体外物の投影長pro_exを求め、撮影対象の投影長pro_ptを求め、前記被検体外物および前記撮影対象をＸ線通過経路に入れた状態で、検出器厚ｄｏと同等のビーム厚で撮影してデータＩ(do,do)を測定し、検出器厚ｄｏより厚いビーム厚ｄで撮影対象を撮影してデータＩ(do,d)を測定し、前記データＩ(do,do)と前記データＩ(do,d)の差に基づいて散乱量Ｓ(do,d)を求め、前記被検体外物の投影長pro_exおよび前記撮影対象の投影長pro_ptから前記散乱量Ｓ(do,d)を求めるための情報を記憶しておき、被検体を撮影してデータを収集し前記データから被検体の投影長pro_ptを求めると共に前記データに対応する被検体外物の投影長pro_exを求め、前記被検体の投影長pro_ptと前記被検体外物の投影長pro_exに対応する前記情報を読み出し該情報を用いて前記データを散乱補正することを特徴とする散乱補正方法を提供する。
上記構成において、撮影対象は、通常はファントムであるが、被検体であってもよい。また、データＩ(do,do)，データＩ(do,d)，散乱量Ｓ(do,d)中の（,）は、(検出器厚，ビーム厚)を表している。
【０００６】
上記第１の観点による散乱補正方法では、検出器厚ｄｏは変えずにビーム厚ｄだけを変えるから、データＩ(do,do)からデータＩ(do,d)への増分はもっぱら散乱に起因すると考えられる。よって、データＩ(do,do)とデータＩ(do,d)の差に基づいて散乱量Ｓ(do,d)を求めることが出来る。なお、データＩ(do,do)に含まれる散乱は無視する。あるいは、データＩ(do,do)は単列Ｘ線検出器のデータと見なせるから、従来公知の散乱補正方法を適用してデータＩ(do,do)に含まれる散乱をさらに補正してもよい。
【０００７】
被検体撮影時のＸ線の散乱は、Ｘ線通過経路に存在しているフィルタやカバーなどの被検体外物および被検体によって生じる。そして、被検体外物の投影長（＝Ｘ線吸収係数×Ｘ線透過長）proj_exおよび被検体の投影長pro_ptは被検体外物の特性および被検体の特性を表しており、散乱量Ｓ(do,d)と相関があると考えられる。そこで、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptと散乱量Ｓ(do,d)の相関関係を求め、その情報を被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptに対応付けて記憶しておく。
【０００８】
この情報としては、直接的に散乱量Ｓ(do,d)そのものを記憶してもよいし、いわば間接的に、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptから散乱量Ｓ(do,d)を算出する関数式またはその関数式を規定するパラメータ（係数など）を記憶してもよいし、データ中の散乱量Ｓ(do,d)の割合またはその割合を「１」から引いた値つまりデータから散乱量Ｓ(do,d)を引いた量の割合を記憶してもよい。
【０００９】
また、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptとに直接的に対応付けて記憶しておく他に、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptから求められるパラメータにいわば間接的に対応付けて記憶しておいてもよい。このパラメータとしては、例えば、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptの和である投影長和「pro_pt＋pro_ex」（検出器毎の情報となる）や、その投影長和「pro_pt＋pro_ex」を、対応する検出器と同一チャネルで全検出器列について加算した値（チャネル毎の情報となる）や、同一チャネルで同一検出器列を含む複数検出器列について加算した値（検出器毎の情報となる）や、対応する検出器と同一検出器列で全チャネルについて加算した値（検出器列毎の情報となる）や、同一検出器列で同一チャネルを含む複数チャネルについて加算した値（検出器毎の情報となる）や、対応する検出器と同一検出器列を含む複数検出器列および同一チャネルを含む複数チャネルについて加算した値（検出器毎の情報となる）や、全検出器について加算した値（全検出器で一つの情報を共有することになる）が挙げられる。
【００１０】
被検体を撮影してデータを収集し、そのデータから被検体の投影長pro_ptを求めると共にそのデータに対応する被検体外物の投影長pro_exを求める（そのデータを得た検出器と被検体外物の幾何学的関係から対応する投影長pro_exが求まる）。そして、被検体の投影長pro_ptと被検体外物の投影長pro_exとに対応して記憶しておいた情報を読み出せば、その情報から散乱量を推定できるから、収集したデータを散乱補正することが出来る。
【００１１】
第２の観点では、本発明は、被検体撮影時にＸ線通過経路に存在して無視できないＸ線散乱を生じさせる物体であって且つ被検体以外の物体である被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptから散乱量Ｓ(do,d)を求めるための情報を記憶しておき、被検体を撮影してデータを収集し前記データから被検体の投影長pro_ptを求めると共に前記データに対応する被検体外物の投影長pro_exを求め、前記被検体の投影長pro_ptと前記被検体外物の投影長pro_exに対応する前記情報を読み出し該情報を用いて前記データを散乱補正することを特徴とする散乱補正方法を提供する。
上記第２の観点による散乱補正方法では、被検体を撮影してデータを収集し、そのデータから被検体の投影長pro_ptを求めると共にそのデータに対応する被検体外物の投影長pro_exを求める。そして、被検体の投影長pro_ptと被検体外物の投影長pro_exとに対応して記憶しておいた情報を読み出せば、その情報から散乱量を推定できるから、収集したデータを散乱補正することが出来る。
【００１２】
第３の観点では、本発明は、上記第１または上記第２の観点による散乱補正方法において、前記情報が、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptの和である投影長和「pro_pt＋pro_ex」から前記散乱量Ｓ(do,d)を算出するための散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)であることを特徴とする散乱補正方法を提供する。
上記第３の観点による散乱補正方法では、被検体の投影長pro_ptと被検体外物の投影長pro_exの和「pro_pt＋pro_ex」に対応して記憶しておいた散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)を読み出せば、その散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)から散乱量Ｓ(do,d)を算出できるから、収集したデータを散乱補正することが出来る。
【００１３】
第４の観点では、本発明は、上記第３の観点による散乱補正方法において、前記散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)が投影長和「pro_pt＋pro_ex」のｎ（≧１）次関数であり、前記情報が前記ｎ次関数の係数ａ０，…，ａｎの全部または一部であることを特徴とする散乱補正方法を提供する。
上記構成において、「係数ａ０，…，ａｎの一部」とは、値が「０」の係数は記憶しておく必要がない、という意味である。例えば、定数項がなければ、係数ａ０を記憶しておく必要がない。
上記第４の観点による散乱補正方法では、被検体の投影長pro_ptと被検体外物の投影長pro_exの和「pro_pt＋pro_ex」に対応して記憶しておいた係数ａ０，…，ａｎを読み出せば、その係数によるｎ次関数から散乱量Ｓ(do,d)を算出できるから、収集したデータを散乱補正することが出来る。
【００１４】
第５の観点では、本発明は、上記第１から上記第４のいずれかの観点による散乱補正方法において、検出器列とチャネルによって特定される検出器毎に前記情報を用いて散乱量を求め、検出器毎の前記データから前記散乱量を減算することにより、前記データを散乱補正することを特徴とする散乱補正方法を提供する。
データから散乱量を減算することにより、散乱の影響を抑制することが出来る。
【００１５】
第６の観点では、本発明は、上記第１から上記第５のいずれかの観点による散乱補正方法において、Ｘ線管出力Ｉｏと検出器厚ｄｏとビーム厚ｄと検出器列ｒとチャネルｃｈのうちの少なくとも１つについての２種類以上の異なる値について前記情報を記憶しておくことを特徴とする散乱補正方法を提供する。
上記第６の観点による散乱補正方法では、例えばＸ線管出力Ｉｏを変えた場合や、検出器厚ｄｏを変えた場合や、ビーム厚ｄを変えた場合などに対応できる。
【００１６】
第７の観点では、本発明は、被検体撮影時にＸ線通過経路に存在して無視できないＸ線散乱を生じさせる物体であって且つ被検体以外の物体である被検体外物の投影長pro_exを求めるステップと、撮影対象の投影長pro_ptを求めるステップと、前記被検体外物および前記撮影対象をＸ線通過経路に入れ、検出器厚ｄｏと同等のビーム厚で撮影してデータＩ(do,do)を測定し、検出器厚ｄｏより厚いビーム厚ｄで撮影対象を撮影してデータＩ(do,d)を測定し、前記データＩ(do,do)と前記データＩ(do,d)の差に基づいて散乱量Ｓ(do,d)を求めるステップと、前記被検体外物の投影長pro_exと前記撮影対象の投影長pro_ptから前記散乱量Ｓ(do,d)を求めるための情報を記憶するステップとを有することを特徴とする散乱測定方法を提供する。
上記第７の観点による散乱測定方法では、検出器厚ｄｏは変えずにビーム厚ｄだけを変えるから、データＩ(do,do)からデータＩ(do,d)への増分はもっぱら散乱に起因すると考えられる。よって、データＩ(do,do)とデータＩ(do,d)の差に基づいて散乱量Ｓ(do,d)を求めることが出来る。なお、データＩ(do,do)に含まれる散乱は無視する。あるいは、データＩ(do,do)は単列Ｘ線検出器のデータと見なせるから、従来公知の散乱補正方法を適用してデータＩ(do,do)に含まれる散乱をさらに補正してもよい。
【００１７】
被検体撮影時のＸ線の散乱は、Ｘ線通過経路に存在しているフィルタやカバーなどの被検体外物および被検体によって生じる。そして、被検体外物の投影長（＝Ｘ線吸収係数×Ｘ線透過長）proj_exおよび被検体の投影長pro_ptは被検体外物の特性および被検体の特性を表しており、散乱量Ｓ(do,d)と相関があると考えられる。そこで、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptと散乱量Ｓ(do,d)の相関関係を求め、その情報を被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptに対応付けて記憶しておく。
【００１８】
この情報としては、直接的に散乱量Ｓ(do,d)そのものを記憶してもよいし、いわば間接的に、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptから散乱量Ｓ(do,d)を算出する関数式またはその関数式を規定するパラメータ（係数など）を記憶してもよいし、データ中の散乱量Ｓ(do,d)の割合またはその割合を「１」から引いた値つまりデータから散乱量Ｓ(do,d)を引いた量の割合を記憶してもよい。
【００１９】
また、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptとに直接的に対応付けて記憶しておく他に、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptから求められるパラメータにいわば間接的に対応付けて記憶しておいてもよい。このパラメータとしては、例えば、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptの和である投影長和「pro_pt＋pro_ex」（検出器毎の情報となる）や、その投影長和「pro_pt＋pro_ex」を、対応する検出器と同一チャネルで全検出器列について加算した値（チャネル毎の情報となる）や、同一チャネルで同一検出器列を含む複数検出器列について加算した値（検出器毎の情報となる）や、対応する検出器と同一検出器列で全チャネルについて加算した値（検出器列毎の情報となる）や、同一検出器列で同一チャネルを含む複数チャネルについて加算した値（検出器毎の情報となる）や、対応する検出器と同一検出器列を含む複数検出器列および同一チャネルを含む複数チャネルについて加算した値（検出器毎の情報となる）や、全検出器について加算した値（全検出器で一つの情報を共有することになる）が挙げられる。
【００２０】
第８の観点では、本発明は、上記第７の観点による散乱測定方法において、前記被検体外物の投影長pro_exを求めるステップが、前記被検体外物をＸ線通過経路に入れないで撮影してデータＩ_exoutを測定し、前記被検体外物をＸ線通過経路に入れて撮影してデータＩ_exinを測定し、前記データＩ_exoutおよび前記データＩ_exinより前記被検体外物の投影長pro_exを求めるステップであることを特徴とする散乱測定方法を提供する。
上記第８の観点による散乱測定方法では、被検体外物をＸ線通過経路に入れないときのデータＩ_exoutと入れたときのデータＩ_exinを測定するから、データＩ_exoutとデータＩ_exinの差はもっぱら被検体外物の投影長pro_exに起因すると考えられる。よって、データＩ_exoutとデータＩ_exinから被検体外物の投影長pro_exを求めることが出来る。
【００２１】
第９の観点では、本発明は、上記第７の観点による散乱測定方法において、前記被検体外物の投影長pro_exを求めるステップが、前記被検体外物の材質と形状より前記被検体外物の投影長pro_exを算出するステップであることを特徴とする散乱測定方法を提供する。
上記第９の観点による散乱測定方法では、被検体外物の材質よりＸ線吸収係数が判り、被検体外物の形状よりＸ線透過長が判るから、Ｘ線吸収係数×Ｘ線透過長により被検体外物の投影長pro_exを算出することが出来る。
【００２２】
第１０の観点では、本発明は、上記第７から上記第９のいずれかの観点による散乱測定方法において、前記撮影対象の投影長pro_ptを求めるステップが、撮影対象をＸ線通過経路に入れないで撮影してデータＩ_ptoutを測定し、前記撮影対象をＸ線通過経路に入れて撮影してデータＩ_ptinを測定し、前記データＩ_ptoutおよび前記データＩ_ptinより前記撮影対象の投影長pro_ptを求めるステップであることを特徴とする散乱測定方法を提供する。
上記第１０の観点による散乱測定方法では、撮影対象をＸ線通過経路に入れないときのデータＩ_ptoutと入れたときのデータＩ_ptinを測定するから、データＩ_ptoutとデータＩ_ptinの差はもっぱら撮影対象の投影長pro_ptに起因すると考えられる。よって、データＩ_ptoutとデータＩ_ptinから撮影対象の投影長pro_ptを求めることが出来る。
【００２３】
第１１の観点では、本発明は、上記第７から上記第１０のいずれかの観点による散乱測定方法において、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptの和である投影長和「pro_pt＋pro_ex」から前記散乱量Ｓ(do,d)を算出するための散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)を求め、前記情報として記憶することを特徴とする散乱測定方法を提供する。
上記第１１の観点による散乱測定方法では、被検体の投影長pro_ptと被検体外物の投影長pro_exの和「pro_pt＋pro_ex」から散乱量Ｓ(do,d)を算出する散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)を求めて記憶しておく。この散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)を読み出すことにより、散乱量Ｓ(do,d)を算出でき、収集したデータを散乱補正することが出来る。
【００２４】
第１２の観点では、本発明は、上記第１１の観点による散乱測定方法において、前記散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)が投影長和「pro_pt＋pro_ex」のｎ（≧１）次関数であり、前記情報として前記ｎ次関数の係数ａ０，…，ａｎの全部または一部を記憶することを特徴とする散乱測定方法を提供する。
上記構成において、「係数ａ０，…，ａｎの一部」とは、値が「０」の係数は記憶しておく必要がない、という意味である。例えば、定数項がなければ、係数ａ０を記憶しておく必要がない。
上記第１２の観点による散乱測定方法では、被検体の投影長pro_ptと被検体外物の投影長pro_exの和「pro_pt＋pro_ex」から散乱量Ｓ(do,d)を算出するｎ次関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)の係数ａ０，…，ａｎを求めて記憶しておく。この係数ａ０，…，ａｎを読み出すことにより、ｎ次関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)から散乱量Ｓ(do,d)を算出でき、収集したデータを散乱補正することが出来る。
【００２５】
第１３の観点では、本発明は、上記第７から上記第１２のいずれかの観点による散乱測定方法において、Ｘ線管出力Ｉｏと検出器厚ｄｏとビーム厚ｄと検出器列ｒとチャネルｃｈのうちの少なくとも１つについて２種類以上の異なる値で測定を行い、それぞれについて前記情報を記憶することを特徴とする散乱測定方法を提供する。
上記第１３の観点による散乱測定方法では、例えばＸ線管出力Ｉｏを変えた場合や、検出器厚ｄｏを変えた場合や、ビーム厚ｄを変えた場合などに対応できる。
【００２６】
第１４の観点では、本発明は、Ｘ線管と、多列Ｘ線検出器と、前記Ｘ線管および前記多列Ｘ線検出器の少なくとも一方を被検体の周りに相対回転させながらデータを収集するスキャン手段と、被検体撮影時にＸ線通過経路に存在して無視できないＸ線散乱を生じさせる物体であって且つ被検体以外の物体である被検体外物の投影長pro_exを求める被検体外物投影長取得手段と、撮影対象の投影長pro_ptを求める撮影対象投影長取得手段と、前記被検体外物および前記撮影対象をＸ線通過経路に入れて検出器厚ｄｏと同等のビーム厚で撮影してデータＩ(do,do)を収集すると共に検出器厚ｄｏより厚いビーム厚ｄで撮影対象を撮影してデータＩ(do,d)を測定し前記データＩ(do,do)と前記データＩ(do,d)の差に基づいて散乱量Ｓ(do,d)を求める散乱量取得手段と、前記被検体外物の投影長pro_exと前記撮影対象の投影長pro_ptから前記散乱量Ｓ(do,d)を求めるための情報を記憶する情報記憶手段と、ビーム厚ｄのＸ線ビームで且つ検出器厚ｄｏの検出器でデータを収集し前記データから被検体の投影長pro_ptを求めると共に前記データに対応する被検体外物の投影長pro_exを求め両者に対応する情報を読み出して該情報を用いて前記データを散乱補正する散乱補正手段とを具備したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第１４の観点によるＸ線ＣＴ装置では、検出器厚ｄｏは変えずにビーム厚ｄだけを変えるから、データＩ(do,do)からデータＩ(do,d)への増分はもっぱら散乱に起因すると考えられる。よって、データＩ(do,do)とデータＩ(do,d)の差に基づいて散乱量Ｓ(do,d)を求めることが出来る。なお、データＩ(do,do)に含まれる散乱は無視する。あるいは、データＩ(do,do)は単列Ｘ線検出器のデータと見なせるから、従来公知の散乱補正方法を適用してデータＩ(do,do)に含まれる散乱をさらに補正してもよい。
【００２７】
被検体撮影時のＸ線の散乱は、Ｘ線通過経路に存在しているフィルタやカバーなどの被検体外物および被検体によって生じる。そして、被検体外物の投影長proj_exおよび被検体の投影長pro_ptは被検体外物の特性および被検体の特性を表しており、散乱量Ｓ(do,d)と相関があると考えられる。そこで、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptと散乱量Ｓ(do,d)の相関関係を求め、その情報を被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptに対応付けて記憶しておく。
【００２８】
この情報としては、直接的に散乱量Ｓ(do,d)そのものを記憶してもよいし、いわば間接的に、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptから散乱量Ｓ(do,d)を算出する関数式またはその関数式を規定するパラメータ（係数など）を記憶してもよいし、データ中の散乱量Ｓ(do,d)の割合またはその割合を「１」から引いた値つまりデータから散乱量Ｓ(do,d)を引いた量の割合を記憶してもよい。
【００２９】
また、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptとに直接的に対応付けて記憶しておく他に、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptから求められるパラメータにいわば間接的に対応付けて記憶しておいてもよい。このパラメータとしては、例えば、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptの和である投影長和「pro_pt＋pro_ex」（検出器毎の情報となる）や、その投影長和「pro_pt＋pro_ex」を、対応する検出器と同一チャネルで全検出器列について加算した値（チャネル毎の情報となる）や、同一チャネルで同一検出器列を含む複数検出器列について加算した値（検出器毎の情報となる）や、対応する検出器と同一検出器列で全チャネルについて加算した値（検出器列毎の情報となる）や、同一検出器列で同一チャネルを含む複数チャネルについて加算した値（検出器毎の情報となる）や、対応する検出器と同一検出器列を含む複数検出器列および同一チャネルを含む複数チャネルについて加算した値（検出器毎の情報となる）や、全検出器について加算した値（全検出器で一つの情報を共有することになる）が挙げられる。
【００３０】
被検体を撮影してデータを収集し、そのデータから被検体の投影長pro_ptを求めると共にそのデータに対応する被検体外物の投影長pro_exを求める（そのデータを得た検出器と被検体外物の幾何学的関係から対応する投影長pro_exが求まる）。そして、被検体の投影長pro_ptと被検体外物の投影長pro_exとに対応して記憶しておいた情報を読み出せば、その情報から散乱量を推定できるから、収集したデータを散乱補正することが出来る。
【００３１】
第１５の観点では、本発明は、Ｘ線管と、多列Ｘ線検出器と、前記Ｘ線管および前記多列Ｘ線検出器の少なくとも一方を被検体の周りに相対回転させながらデータを収集するスキャン手段と、被検体撮影時にＸ線通過経路に存在して無視できないＸ線散乱を生じさせる物体であって且つ被検体以外の物体である被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptから散乱量Ｓ(do,d)を求めるための情報を記憶する情報記憶手段と、被検体を撮影してデータを収集し前記データから被検体の投影長pro_ptを求めると共に前記データに対応する被検体外物の投影長pro_exを求め両者に対応する前記情報を読み出し該情報を用いて前記データを散乱補正する散乱補正手段とを具備したことを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第１５の観点によるＸ線ＣＴ装置では、被検体を撮影してデータを収集し、そのデータから被検体の投影長pro_ptを求めると共にそのデータに対応する被検体外物の投影長pro_exを求める。そして、被検体の投影長pro_ptと被検体外物の投影長pro_exとに対応して記憶しておいた情報を読み出せば、その情報から散乱量を推定できるから、収集したデータを散乱補正することが出来る。
【００３２】
第１６の観点では、本発明は、上記第１４または上記第１５の観点によるＸ線ＣＴ装置において、前記情報が、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptの和である投影長和「pro_pt＋pro_ex」から前記散乱量Ｓ(do,d)を算出するための散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)であることを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第１６の観点によるＸ線ＣＴ装置では、被検体の投影長pro_ptと被検体外物の投影長pro_exの和「pro_pt＋pro_ex」に対応して記憶しておいた散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)を読み出せば、その散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)から散乱量Ｓ(do,d)を算出できるから、収集したデータを散乱補正することが出来る。
【００３３】
第１７の観点では、本発明は、上記第１６の観点によるＸ線ＣＴ装置において、前記散乱関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)が投影長和「pro_pt＋pro_ex」のｎ（≧１）次関数であり、前記情報が前記ｎ次関数の係数ａ０，…，ａｎの全部または一部であることを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記構成において、「係数ａ０，…，ａｎの一部」とは、値が「０」の係数は記憶しておく必要がない、という意味である。例えば、定数項がなければ、係数ａ０を記憶しておく必要がない。
上記第１７の観点によるＸ線ＣＴ装置では、被検体の投影長pro_ptと被検体外物の投影長pro_exの和「pro_pt＋pro_ex」から散乱量Ｓ(do,d)を算出するｎ次関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)の係数ａ０，…，ａｎを求めて記憶しておく。この係数ａ０，…，ａｎを読み出すことにより、ｎ次関数ｆ(pro_pt＋pro_ex)から散乱量Ｓ(do,d)を算出でき、収集したデータを散乱補正することが出来る。
【００３４】
第１８の観点では、本発明は、上記第１４から上記第１７のいずれかの観点によるＸ線ＣＴ装置において、前記散乱補正手段は、検出器列とチャネルによって特定される検出器毎に前記情報を用いて散乱量を求め、検出器毎の前記データから前記散乱量を減算することにより、前記データを散乱補正することを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
データから散乱量を減算することにより、散乱の影響を抑制することが出来る。
【００３５】
第１９の観点では、本発明は、上記第１４から上記第１８のいずれかの観点によるＸ線ＣＴ装置において、前記情報記憶手段は、Ｘ線管出力Ｉｏと検出器厚ｄｏとビーム厚ｄと検出器列ｒとチャネルｃｈのうちの少なくとも１つについての２種類以上の異なる値について前記情報を記憶しておくことを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第１９の観点によるＸ線ＣＴ装置では、例えばＸ線管出力Ｉｏを変えた場合や、検出器厚ｄｏを変えた場合や、ビーム厚ｄを変えた場合などに対応できる。
【発明の効果】
【００３６】
本発明の散乱補正方法およびＸ線ＣＴ装置によれば、マルチスライス撮影時における散乱を補正することが出来る。
また、本発明の散乱測定方法およびＸ線ＣＴ装置によれば、マルチスライス撮影時における散乱を測定することが出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３７】
以下、図に示す実施例により本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
【実施例１】
【００３８】
図１は、実施例１に係るＸ線ＣＴ装置１００を示す構成ブロック図である。
このＸ線ＣＴ装置１００は、操作コンソール１と、撮影テーブル１０と、走査ガントリ２０とを具備している。
【００３９】
操作コンソール１は、操作者の入力を受け付ける入力装置２と、散乱測定処理，スキャン処理，散乱補正処理，前処理，画像再構成処理，後処理などを実行する中央処理装置３と、走査ガントリ２０で取得したデータを収集するデータ収集バッファ５と、収集したデータを前処理して求めた投影データから再構成した断層像を表示する表示装置６と、プログラムやデータや断層像を記憶する記憶装置７とを具備している。
【００４０】
撮影テーブル１０は、被検体を乗せて走査ガントリ２０の開口部に入れ出しするクレードル１２を具備している。クレードル１２は、撮影テーブル１０に内蔵するモータで昇降および直線移動される。
【００４１】
走査ガントリ２０は、Ｘ線管２１と、Ｘ線コントローラ２２と、コリメータ２３と、多列Ｘ線検出器２４と、ＤＡＳ（Data Acquisition System）２５と、回転中心軸の周りを回転するＸ線管２１などを制御する回転部コントローラ２６と、制御信号などを操作コンソール１や撮影テーブル１０とやり取りする制御コントローラ２９と、電源，制御信号，収集したデータを転送するスリップリング３０とを具備している。また、走査ガントリ傾斜コントローラ２７により、走査ガントリ２０は前方または後方に±３０゜ほど傾斜させることが出来る。
【００４２】
Ｘ線通過経路には、フィルタ４０およびカバー４１，４２が存在している。これらは、被検体撮影時にＸ線通過経路に存在して無視できないＸ線散乱を生じさせる物体であって且つ被検体以外の物体である被検体外物である。
【００４３】
図２は、実施例１に係る散乱測定処理を示すフロー図である。
ステップＰ１では、図３の（ａ）に示すように、フィルタ４０およびカバー４１，４２すなわち被検体外物を外した状態で、検出器det(r,ch,do)の検出器厚ｄｏと同等のビーム厚ｄｏで空気を撮影し、データＩ(Io,θ,r,ch,do,do,exout)を収集する。
検出器det(r,ch,do)中の(r,ch,do)は、（検出器列番号，チャネル番号，検出器厚)を表している。
また、データＩ(Io,θ,r,ch,do,do,exout)中の(Io,θ,r,ch,do,do,exout)は、（Ｘ線管出力，ビュー角度，検出器列番号，チャネル番号，検出器厚，ビーム厚，被検体外物無し)を表している。
【００４４】
ステップＰ２では、図３の（ｂ）に示すように、フィルタ４０およびカバー４１，４２すなわち被検体外物を装着し、検出器det(r,ch,do)の検出器厚ｄｏと同等のビーム厚ｄｏで空気を撮影して撮影し、データＩ(Io,θ,r,ch,do,do,exin)を収集する。
なお、データＩ(Io,θ,r,ch,do,do,exin)中の(…,exin)は、（…，被検体外物有り)を表している。
【００４５】
ステップＰ３では、図３の（ｃ）に示すように、検出器det(r,ch,do)の検出器厚ｄｏと同等のビーム厚ｄｏでファントムαを撮影してデータＩ(Io,θ,r,ch,do,do,pt)を収集する。これを、異なる大きさのファントムαについて繰り返す。
なお、データＩ(Io,θ,r,ch,do,do,pt)中の(…,pt)は、（…，ファントム及び被検体外物有り)を表している。
【００４６】
ステップＰ４では、図３の（ｄ）に示すように、検出器det(r,ch,do)の検出器厚ｄｏより厚いビーム厚ｄでファントムαを撮影してデータＩ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)を収集する。これを、異なる大きさのファントムαについて繰り返す。
【００４７】
ステップＰ５では、データＩ(Io,θ,r,ch,do,do,exout)とデータＩ(Io,θ,r,ch,do,do,exin)から被検体外物の投影長pro_ex(θ,r,ch)を算出する。そして、図４に示すように記憶する。
pro_ex(θ,r,ch)＝−log{Ｉ(Io,θ,r,ch,do,do,exin)／Ｉ(Io,θ,r,ch,do,do,exout)}
【００４８】
ステップＰ６では、データＩ(Io,θ,r,ch,do,do,exin)とデータＩ(Io,θ,r,ch,do,do,pt)からファントムαの投影長pro_pt(θ,r,ch)を算出する。これを、異なる大きさのファントムαについて収集したデータについて繰り返し、異なる投影長pro_pt(θ,r,ch)を得る。
pro_pt(θ,r,ch)＝−log{Ｉ(Io,θ,r,ch,do,do,pt)／Ｉ(Io,θ,r,ch,do,do,exin)}
【００４９】
ステップＰ７では、データＩ(Io,θ,r,ch,do,do,pt)とデータＩ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)の差を散乱量Ｓ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)として算出する。これを、異なる大きさのファントムαについて収集したデータについて繰り返し、異なる投影長pro_pt(θ,r,ch)についての散乱量Ｓを得る。
Ｓ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)＝Ｉ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)−Ｉ(Io,θ,r,ch,do,do,pt)
【００５０】
ステップＰ８では、被検体外物の投影長pro_ex(θ,r,ch)とファントムαの投影長pro_pt(θ,r,ch)の和である投影長和Ｗ＝pro_pt(θ,r,ch)＋pro_ex(θ,r,ch)のｎ次関数として散乱量Ｓを近似し、ｎ次関数の係数ａ０，…，ａｎを求める。そして、図５に示すように記憶する。
Ｓ＝ａ０＋ａ１・Ｗ＋ａ２・Ｗ2＋ａ３・Ｗ3＋…＋ａｎ・Ｗn
【００５１】
図６は、被検体の撮影状態を示す概念図である。
まず、図６の（ａ）に示すように、被検体を入れないで撮影し、キャリブレーション用データＩ(Io,θ,r,ch,do,d,air)を収集する。
次に、図６の（ｂ）に示すように、被検体βを入れて撮影し、断層像再構成用データＩ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)を収集する。
【００５２】
図７は、実施例１に係る散乱補正処理を示すフロー図である。
ステップＱ１では、キャリブレーション用データＩ(Io,θ,r,ch,do,d,air)と断層像再構成用データＩ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)から被検体βの投影長pro_pt(θ,r,ch)を算出する。
pro_pt(θ,r,ch)＝−log{Ｉ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)／Ｉ(Io,θ,r,ch,do,d,air)}
【００５３】
ステップＱ２では、被検体外物の投影長pro_ex(θ,r,ch)を読み出す。
ステップＱ３では、投影長和Ｗ＝pro_pt(θ,r,ch)＋pro_pt(θ,r,ch)を算出する。
【００５４】
ステップＱ４では、条件［Io,θ,r,ch,do,d］での投影長和Ｗ＝pro_pt＋pro_ptに対応する散乱係数ａ０，ａ１，…，ａｎを読み出す。
【００５５】
ステップＱ５では、読み出した係数ａ０，ａ１，…，ａｎを用いて散乱量Ｓ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)を算出する。
Ｓ＝ａ０＋ａ１・Ｗ＋ａ２・Ｗ2＋ａ３・Ｗ3＋…＋ａｎ・Ｗn
【００５６】
ステップＱ６では、算出した散乱量Ｓ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)を検出器列方向およびチャネル方向に平滑化処理し、平滑化した散乱量Ｓ'(Io,θ,r,ch,do,d,pt)を算出する。
Ｓ'(Io,θ,r,ch,do,d,pt)＝smooth_rj_chk{Ｓ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)}
ここで、smooth_rj_chk{Ｓ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)}は、散乱量Ｓ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)に対応する検出器det(r,ch,do)を中心として同一チャネルで検出器列方向に±ｊ列の検出器det(r-j,ch,do)〜det(r+j,ch,do)に対応する散乱量Ｓ(Io,θ,r-j,ch,do,d,pt)〜Ｓ(Io,θ,r+j,ch,do,d,pt)および散乱量Ｓ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)に対応する検出器det(r,ch,do)を中心として同一検出器列でチャネル方向に±ｋ個の検出器det(r,ch-k,do)〜det(r,ch+k,do)に対応する散乱量Ｓ(Io,θ,r,ch-k,do,d,pt)〜Ｓ(Io,θ,r,ch+k,do,d,pt)を平滑化処理する関数（例えば平均値を求める関数）である。
【００５７】
ステップＱ７では、断層像再構成用データＩ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)から散乱量Ｓ'(Io,θ,r,ch,do,d,pt)を減算し、散乱補正した断層像再構成用データＩ'(Io,θ,r,ch,do,d,pt)を算出する。そして、散乱補正処理を終了する。
Ｉ'(Io,θ,r,ch,do,d,pt)＝Ｉ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)−Ｓ'(Io,θ,r,ch,do,d,pt)
【００５８】
実施例１で散乱補正した断層像再構成用データＩ'(Io,θ,r,ch,do,d,pt)から再構成した断層像は、散乱補正しない断層像再構成用データＩ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)から再構成した断層像よりも画質が向上した。なお、ｎ＝４，ａ０＝０として良好な散乱補正結果が得られることを確認した（この場合、ａ０は記憶しておく必要がない）。
【００５９】
実施例１によれば、マルチスライス撮影時における散乱を好適に測定し、補正することが出来る。これにより、マルチスライス撮影時における散乱に起因するアーチファクトを抑制したマルチスライス画像を得ることが出来る。
【実施例２】
【００６０】
実施例２では、被検体外物の投影長pro_exを、実測でなく、計算により求める。
図８は、実施例２に係る散乱測定処理を示すフロー図である。
この実施例２に係る散乱測定処理は、実施例１の散乱測定処理（図２）からステップＰ１を省略し、ステップＰ５の代わりにステップＰ５’を行う点のみが相違している。そこで、ステップＰ５’のみ説明する。
【００６１】
ステップＰ５’では、被検体外物のＸ線吸収係数μとＸ線透過長Ｌ(θ,r,ch)より被検体外物の投影長pro_ex(θ,r,ch)を算出し、図４に示すように記憶する。
pro_ex(θ,r,ch)＝μ・Ｌ(θ,r,ch)
【００６２】
実施例２によれば、被検体外物を外してデータを収集する必要がなくなる。
【実施例３】
【００６３】
実施例３では、投影長和Ｗのｎ次関数として散乱量Ｓを近似するｎ次関数の係数ａ０，…，ａｎを全ビュー，全検出器で共通とする。
すなわち、実施例１，２のステップＰ８（図２，図８）では条件［Io,θ,r,ch,do,d］毎にｎ次関数の係数ａ０，…，ａｎを求めたが、実施例３では条件［Io,do,d］毎にｎ次関数の係数ａ０，…，ａｎを求め、記憶する。
【００６４】
実施例３によれば、ビュー角度θ毎に且つ検出器det(r,ch,do)毎に係数ａ０，…，ａｎを記憶しないで済み、構成を簡単化できる。
【実施例４】
【００６５】
実施例１〜３では、投影長和Ｗのｎ次関数として散乱量Ｓを近似するｎ次関数の係数ａ０，…，ａｎを記憶したが、その代わりに、散乱量Ｓ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)そのものを記憶しておいてもよい。あるいは、データＩ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)に対する散乱量Ｓ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)の割合（つまり、データ中の散乱量の割合）を記憶しておいてもよい。あるいは、「１」からデータＩ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)に対する散乱量Ｓ(Io,θ,r,ch,do,d,pt)の割合を引いた値を記憶しておいてもよい。
【実施例５】
【００６６】
実施例１〜４では、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptの和である投影長和「pro_pt＋pro_ex」に対応付けて係数ａ０，…，ａｎなどを記憶したが、被検体外物の投影長pro_exと撮影対象の投影長pro_ptとに直接的に対応付けて記憶してもよい。あるいは、投影長和「pro_pt＋pro_ex」を、対応する検出器と同一チャネルで全検出器列について加算した値（チャネル毎の情報となる）や、同一チャネルで同一検出器列を含む複数検出器列について加算した値（検出器毎の情報となる）や、対応する検出器と同一検出器列で全チャネルについて加算した値（検出器列毎の情報となる）や、同一検出器列で同一チャネルを含む複数チャネルについて加算した値（検出器毎の情報となる）や、対応する検出器と同一検出器列を含む複数検出器列および同一チャネルを含む複数チャネルについて加算した値（検出器毎の情報となる）や、全検出器について加算した値（全検出器で一つの情報を共有することになる）に対応付けて記憶してもよい。
【産業上の利用可能性】
【００６７】
本発明の散乱補正方法、散乱測定方法およびＸ線ＣＴ装置は、マルチスライス撮影時における散乱に起因するＣＴ画像の画質の低下を抑制するのに利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００６８】
【図１】実施例１に係るＸ線ＣＴ装置を示すブロック図である。
【図２】実施例１に係る散乱測定処理を示すフロー図である。
【図３】散乱測定状況を示す説明図である。
【図４】被検体外物の投影長の記憶形式を示す概念図である。
【図５】散乱係数の記憶形式を示す概念図である。
【図６】被検体撮影状況を示す説明図である。
【図７】実施例１に係る散乱補正処理を示すフロー図である。
【図８】実施例２に係る散乱測定処理を示すフロー図である。
【符号の説明】
【００６９】
３        中央処理装置
５        データ収集バッファ
７        記憶装置
２４      多列Ｘ線検出器
２５      ＤＡＳ
１００    Ｘ線ＣＴ装置
【図１】
2006239003.tif 000003
【図２】
2006239003.tif 000004
【図３】
2006239003.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
2006239003.tif 000008
【図７】
2006239003.tif 000009
【図８】
2006239003.tif 000010