(57)【要約】【課題】  構成が複雑な目盛線が無くとも、原点からの各目盛の位置情報を信頼性高くしかも低コストに形成でき、ホームメジャーと言われる直尺／巻尺／分度器などに適用し得るような、安価で作業スピード性に優れる電子式長さ／角度測定器を得る。【解決手段】  各仮想目盛間ごとに絶対寸法記号を特定するビット符号が一列に形成されたスケールと、測定対象物の寸法等に対応して前記スケールと相対的に移動可能なスライドブロックと、スライドブロックに設置されスケール上のビット符号を電子情報化するＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子を有する撮像手段と、撮像手段を駆動して電子化した画像情報等を得るＣＣＤ／ＣＭＯＳ駆動手段と、得られた画像情報等に基づいて測定対象物の寸法値等を算出する演算処理手段とを備えている。【選択図】      図１
2006064686.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
各仮想目盛間ごとに絶対寸法記号を特定するビット符号が一列に形成されたスケールと、測定対象物の寸法等に対応して前記スケールと相対的に移動可能なスライドブロックと、前記スライドブロックに設置され前記スケール上のビット符号を電子情報化するＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子を有する撮像手段と、前記撮像手段を駆動して電子化した画像情報等を得るＣＣＤ／ＣＭＯＳ駆動手段と、得られた画像情報等に基づいて測定対象物の寸法値等を算出する演算処理手段とを備えていることを特徴とする電子式長さ／角度測定器。
【請求項２】
前記ビット符号は、前記各仮想目盛間で所定数のビットに分割され、このビットが、各仮想目盛のスタートビットと、前記スタートビットに続く一の位を含む前記絶対寸法記号のビットと、前記各仮想目盛のストップビットとからなり、前記撮像手段は、少なくとも１つの前記仮想目盛間寸法と少なくとも１つの前記スタートビットの幅寸法を跨ぐ視野を有するＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子を備えていることを特徴とする請求項１に記載の電子式長さ／角度測定器。
【請求項３】
前記ビット符号は、１ｃｍの前記仮想目盛間で２０ビットに分割され、前記２０ビットが、５ビットの暗と１ビットの明からなる前記各仮想目盛のスタートビットと、１乃至４ビットの明暗からなる一の位を含む絶対寸法記号のビットと、１ビットの明からなる前記各仮想目盛のストップビットとからなることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電子式長さ／角度測定器。
【請求項４】
前記ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子により前記スタートビットと測定点間の距離を測定し、得られた測定値に基づき、前記絶対寸法記号以下の寸法を算出することを特徴とする請求項１乃至請求項３何れかに記載の電子式長さ／角度測定器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】  本発明は、直定規／巻尺／分度器などの直線／円弧状スケールや分度器などを用いて、測定対象物の寸法或いは移動量などを電子式に測定する電子式長さ／角度測定器に関するものである。
【背景技術】
【０００２】  従来から、電子式の長さ測定器の一種として、光学的なスケール装置が知られている。この装置は、目盛線またはスリットを一定間隔で形成した直線状のスケールと、このスケールの長手方向に沿って可動可能に設けられ、スケールの目盛を光学的に検出する検出手段とを有している。そして検出手段により、測定対象物の寸法或いは一直線上の位置乃至移動量にともなって原点から移動する間に検出した目盛の数をカウントし、累計して、測定対象物の寸法或いは一直線上の位置乃至移動量を測定している。しかし、従来の光学的なスケール装置において、高精度に寸法或いは移動量の測定を行なうには、スケールに形成される目盛寸法をそれぞれ高精度に設定する必要があり、極めてコストの高いものになるという問題がある。【０００３】  一方、特許文献１には、図７に模式図で示す光学式スケール装置を開示している。図７に示す光学式スケール装置は、スケール７１の表面上をスライドブロック７２に搭載されたＣＣＤカメラ７３が測定対象物の寸法乃至位置に応じて移動され、スケール７１の表面においてカメラ７３に対向する部分の目盛線７１ａの画像が撮影され、パソコン７４に入力されている。そして、パンコン７４で、カメラ７３の視野内の特定の測定点と目盛線７１ａの位置関係が認識され、原点からの測定点の寸法値を求める処理が行なわれている。また、目盛線７１ａに付属して、原点からの寸法値を示す寸法値記号７１ｂが形成されている。寸法値記号７１ｂは、２進数の表現形態に限らず、線を複数列にしたり、太さを複数種類に設定したりして、より複雑な表現形態によって、小さなスペースでより大きな数値まで示すこともできるとしている。そして、この特許文献１によれば、スケール７１の目盛線７１ａの寸法値が高精度に設定されていなくても、高精度に測定を行なうことができるとしている。【０００４】
【特許文献１】  特開２００１−２２１６５９号公報
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】  しかしながら、特許文献１に開示される光学式スケール装置においては、スケール７１上に、全ての目盛線７１ａと、この各目盛線７１ａに対応した寸法値記号７１ｂを設けておく必要があり、構成が複雑なものとなっている。また、各目盛線７１ａに対応して寸法値記号７１ｂを形成するとしているが、その具体的な手段については何ら明確に示されていない。
【０００６】  ところで、ホームメジャーと言われる直尺／巻尺／分度器などは、家庭内に留まらずあらゆるところで用いられている。例えば、直尺は、鉄骨・木工・石材の切断機のスケールとして、或いは道路のガイドレールや交通標識を施工後の高さ検査のスケールとして広く用いられている。また巻尺は、測量のとき或いは和洋裁の体形採寸などに広く用いられている。さらに分度器は、角度をつけた切断或いは人間型ロボットの関節センサーなどの測定器として、あらゆる場面で広く使われている。このようなホームメジャーにあっては、ほどほどの精度として、安価で作業スピードに優れる電子式長さ／角度測定器の実現が要望されている。
【０００７】  したがって、本発明の課題は、構成が複雑な目盛線が無くとも、原点からの各目盛の位置情報を信頼性高くしかも低コストに形成でき、ホームメジャーと言われる直尺／巻尺／分度器などに適用し得るような、安価で作業スピード性に優れる電子式長さ／角度測定器を得ることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】  上記課題を解決するため、本発明の電子式長さ／角度測定器は、各仮想目盛間ごとに絶対寸法記号を特定するビット符号が一列に形成されたスケールと、測定対象物の寸法等に対応して前記スケールと相対的に移動可能なスライドブロックと、前記スライドブロックに設置され前記スケール上のビット符号を電子情報化するＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子を有する撮像手段と、前記撮像手段を駆動して電子化した画像情報等を得るＣＣＤ／ＣＭＯＳ駆動手段と、得られた画像情報等に基づいて測定対象物の寸法値等を算出する演算処理手段とを備えていることを特徴とする。
【０００９】  以下、説明を簡略化するために、直線状または巻尺状のスケールを使用する長さ測定器について説明するが、分度器を使用する角度測定器も同様な構成・作用であり、これを含むものとする。
【００１０】  本発明において、スケールは、直線状または巻尺状であり、このスケールに沿ってスライドブロックが摺動できることが好ましい。本発明において、仮想目盛とは、スケールの表面に、例えば０．５ｃｍ、１ｃｍ、１インチ（２．５４ｃｍ）など一定の間隔で仮想的に形成され、実際には形成されていない目盛を言う。また、絶対寸法記号とは、原点または基準からの位置情報を特定した記号であり、本発明ではスケール方向一列に形成されたビット符号としている。ここで一列とは、後述するＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子が認識できる範囲で、ビット符号の高さを極小にでき、このようなビット符号を列を持って配置していることを言う。そして、ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子により一列のビット符号を画像情報として認識し、原点または基準から測定点までの寸法値或いは測定起点位置から測定点までの移動距離等の測定値を演算処理して求めるように構成している。このビット符号により、常に測定開始時の測定点の絶対位置を検知することで、通常のインクリメント型の長さ／角度測定器のように、測定の都度、原点までスライドブロックを戻す必要がなくなる。
【００１１】  本発明において、ビット符号は各仮想目盛間で所定数のビットに分割され、このビットが、各仮想目盛のスタートビットと、前記スタートビットに続く一の位を含む絶対寸法記号のビットと、前記各仮想目盛のストップビットとからなり、前記撮像手段は、少なくとも１つの前記仮想目盛間寸法と少なくとも１つの前記スタートビットの幅寸法を跨ぐ視野を有するＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子を備えていることが好ましい。ビット符号での、スタートビットは、各仮想目盛の開始点であり、隣接するストップビットとで各仮想目盛を区分している。スタートビットに続く一の位を含む絶対寸法記号のビットは、各仮想目盛ごとに絶対寸法記号を特定している。ストップビットは各仮想目盛の終了点であり、隣接するスタートビットとで、各仮想目盛を区分している。また、ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子を上記構成とすれば、スタートビットの中心と測定点間を認識できて、絶対寸法記号以下の寸法を求めることができる。
【００１２】  例えば、ビット符号として、１ｃｍの仮想目盛間を２０ビットに分割し、この２０ビットが、５ビットの暗と１ビットの明からなるスタートビットと、１乃至４ビットの明暗からなる一の位を含む絶対寸法記号のビットと、１ビットの明からなるストップビットとすることができる。ここで、１ｃｍの仮想目盛間を２０ビットに分割すれば、１ビットあたり０．５ｍｍとなって、スケール上に形成しやすくなる。また、スタートビットで５ビットの暗とすれば、これが１乃至４ビットの明暗からなる一の位を含む各位のビットにはないため、次の一の位を含む絶対寸法記号と明確に区分される。一の位を含む各位を１乃至４ビットの明暗とすれば、２進数を、１〜９の範囲の１０進数に置換することができる。例えば、４ビットの明（０）暗（１）として、２進数から１０進数への置換は、０００１が１、００１０が２、００１１が３、０１００が４、０１０１が５、０１１０が６、０１１１が７、１０００が８、１００１が９、とすることができる。そして、各位の１０進数を表示して測定点の絶対寸法記号とすることができる。なお、ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子が認識できれば、１ｃｍの仮想目盛間を２０ビット（１ビットあたり０．５ｍｍ）を超える４０ビット（１ビットあたり０．２５ｍｍ）などに分割してもよく、この場合は、より上の位までの絶対寸法記号を形成することができる。
【００１３】  スケールの表面には、測定時の目安のため、その表面に目安目盛線や目安寸法記号が形成されているのが好ましいが、特に形成されていなくても良い。なお、目安目盛線が形成されたスケールとしては、市販の直定規のほか、巻尺、或いは分度器等を用いることができ、このようなスケールに、レール状のベースが取り付けられたスライドブロックを摺動させる構成としても良い。目安目盛線を形成する場合、単一の間隔で形成された基準単位目安目盛線（例えば１ｍｍ）のみであっても良いが、基準単位目安目盛線の所定本数間隔（例えば０．５ｃｍ、１ｃｍ、或いは１インチ（２．５４ｃｍ））毎の上位単位目安目盛線、また目安寸法記号を形成し、これを絶対寸法記号を特定するビット符号に関連づけて形成することが好ましい。
【００１４】  本発明において、撮像手段は、直線／円弧状スケールの表面上を測定対象物の寸法または位置等に対応して相対的に移動するように構成されている。また、撮像手段には、スケールの表面上に形成されたビット符号を視野内に納めることのできる、好ましくは一次元ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子を備えている。前述した特許文献１においては、スケール７１上の寸法値記号７１ｂが面情報であるので、縦横で約２００ビット以上のＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子を必要とする。これに対し、本発明においては、スケール上の絶対寸法記号が一列のビット符号情報であるので、撮像手段は、ＦＡＸ、コピー機でよく使われている一次元ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子として、画素数も少なく構造も簡単で安価にすることができる。
【００１５】  本発明において、演算処理手段は、撮像手段のＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子により得られたビット符号と測定点との位置関係、スライドブロックの移動方向および移動基準単位量等を認識し、この認識情報に基づいて、原点から測定点までの寸法値、或いは測定起点位置から測定点までの移動距離等の測定値を演算処理して求めるようにしている。
【００１６】  本発明において、ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子は、少なくとも１つの仮想目盛間と少なくとも１つのスタートビットの幅寸法を跨ぐ大きさの視野を有することが好ましい。ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子によりスタートビットと測定点間の距離を測定し、得られた測定値に基づき、絶対寸法記号以下の寸法を算出することができる。例えば、仮想目盛間が１ｃｍ（１０ｍｍ）で、スタートビットの幅が３ｍｍであれば、ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子のスケール方向の長さを、（１０＋３）ｍｍを超える大きさの視野、例えば１４ｍｍ以上あれば良い。そして、このＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子により、スタートビットと測定点と間の距離を測定し、測定点がスタートビットより後ろにあるときは、その距離を絶対寸法記号に加算し、一方、測定点がスタートビットより前にあるときは、その距離を絶対寸法記号から減算することで、絶対寸法記号以下の寸法を求めることができる。
【００１７】  なお、ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子のスケール方向の長さを、２つのスタートビットを常に跨ぐ大きさの視野とし、このＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子により、測定点を挟み両側に１以上隔てたスタートビットと測定点と間の距離を測定し、測定点を挟む両側のスタートビットと測定点との距離の比の測定値を算出することで、絶対寸法記号以下の寸法を更に精度よく求めることができる。
【００１８】  本発明において、測定対象物の寸法値或いは移動量の表示または印刷は、演算処理手段から、周知の表示手段或いは印刷手段に出力すれば良い。
【発明の効果】
【００１９】  本発明の電子式長さ／角度測定器によれば、構成が複雑な目盛線が無くとも、原点からの各目盛の位置情報を信頼性高くしかも低コストに形成でき、ホームメジャーと言われる直尺／巻尺／分度器などに適用し得るような、安価で作業スピード性に優れる。
【発明の実施するための最良の形態】
【００２０】  以下、本発明の実施の形態の数例を、図面に基き詳細に説明する。
（実施の形態１）
図１は、実施の形態１に係る電子式長さ／角度測定器の全体概略構成図である。図１に示す電子式長さ／角度測定器は、スケール１、スライドブロック２、および撮像手段３からなる測定部４と、演算処理部５などから構成されている。撮像手段３は、ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子１４を有し、測定対象物の寸法乃至移動に応じて移動するスライドブロック２に設置されている。
【００２１】  スケール１は、金属材料または樹脂材料で一直線のレール状に形成されており、その表面上には、一定間隔１５の各仮想目盛１６（形成されず）間ごとに、絶対寸法記号を特定するビット符号１２（１２ａ、１２ｂ、１２ｃ）が、金属材料に対しては例えばレーザー加工で、一列に形成されている。
【００２２】  演算処理部５は、ＣＣＤ／ＣＭＯＳ駆動手段６、画像情報処理手段７、演算処理手段８、および記憶手段９などから構成されている。スライドブロック２を測定点まで移動した状態において、撮像手段３が演算処理部５のＣＣＤ／ＣＭＯＳ駆動手段６により駆動され、撮像手段３のＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子１４により撮像領域のビット符号１２が画像情報処理手段に取り込まれ、演算処理手段８に出力されている。また、各ビット符号１２に係るパターン判別情報は、あらかじめ演算処理部５の記憶手段８に教示され、保存されている。演算処理手段８により求められた測定値出力は、表示・印刷手段１０に入力され、表示或いは印刷により測定者が目視できる情報として提供できるように構成されている。
【００２３】  図２は、実施の形態１に係る電子式長さ／角度測定器でのビット符号１２の説明図であり、（ａ）はビット符号１２の部分平面拡大図、（ｂ）ビット符号１２の配置図、（ｃ）は１つのビット符号１２の一例を示す図である。
【００２４】  図２（ａ）に示すように、スケール１の表面上には、１ｃｍ間隔の各仮想目盛１６（形成されず）ごと、ビット符号１２がスケール１方向（矢印１ａで示す）一列に形成され、このビット符号１２が絶対寸法記号（例えば、１０進数で・・６１、６２・・）とされている。ビット符号１２は、１９９９ｍｍまで形成されている。
【００２５】  ビット符号１２は、図２（ｂ）（ｃ）に示すように、１ｃｍの各仮想目盛１６（形成されず）間が、スケール１方向（矢印１ａで示す）に、０．５ｍｍ単位で２０ビットに分割され、この２０ビットが、５ビットの暗と１ビットの明からなるスタートビット１２ａと、１乃至４ビットの明暗からなる一の位を含む絶対寸法記号のビット１２ｂと、１ビットの明からなるストップビット１２ｃとから構成されている。ビット符号１２は、幅を３ｍｍとされている。図示しないが、スライドブロックには、１つの仮想目盛間と１つのスタートビットの幅寸法とに、２ビット以上を加えた視野を持つＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子１４が配置されている。
【００２６】  １つのビット符号１２で、スタートビット１２ａは、各仮想目盛１６の開始点であり、左に隣接するストップビット１２ｃとで各仮想目盛１６を区分している。スタートビット１２ａに続く、千、百、十、一の各位の絶対寸法記号のビット１２ｂは、各仮想目盛１６ごとの絶対寸法記号を特定している。ストップビット１２ｃは各仮想目盛１６の終了点であり、隣接するスタートビット１２ａとで各仮想目盛１６を区分している。
【００２７】  図３は、実施の形態１および後述する実施の形態２に係る電子式長さ／角度測定器での、各位のビット１２ｂの説明図であり、（ａ）は、１つのビット符号１２、（ｂ）は千、百、十、一の各位のビット１２ｂから置換される１０進数、（ｃ）（ｄ）は、千、百、十、一の各位のビット１２ｂ、（ｅ）は各位のビットでの７と８の組み合わせの例を示している。図３（ａ）で、千の位は１ビットとし、明が０、暗を１としている。図３（ｃ）または（ｄ）に示すように、百、十、一の各位を４ビットとし、この４ビットを２進数の明（０）暗（１）としている。そして、図示しないＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子により、この２進数の明（０）暗（１）を撮像し、演算処理し、１０進数に置換している。すなわち、２進数の明（０）暗（１）の１０進数への置換は、図３（ｂ）（ｃ）で、０００１を１、００１０を２、００１１を３、０１００を４、０１０１を５、０１１０を６、０１１１を７、１０００を８、１００１を９、として演算処理し、１０進数に置換している。ここで、スタートビットを５ビットの暗としているのは、例えば、図３（ｅ）に示すように、１０進数での７８は、図７（ｃ）では２進数の７［０１１１］と８［１０００］となり、暗（１）が４ビット連続し、１０進数での７９も、２進数の７［０１１１］と９［１００１］となり、暗（１）が４ビット連続するが、暗（１）がこの４を超えて、すなわち、５ビット以上連続するものはないため、千、百、十、一の各位の絶対寸法記号１２ｂと明確に区分されるからである。なお、２進数での表示方法としては、図３（ｂ）（ｄ）に示すように、１０００を１、０１００を２、１１００を３、００１０を４、１０１０を５、０１１０を６、１１１０を７、０００１を８、１００１を９、とすることもできる。
【００２８】  ビット符号１２で特定された絶対寸法記号以下の寸法は、ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子によりスタートビット１２ａと測定点間の距離を測定して求めている。図４は、実施の形態１に係る電子式長さ／角度測定器での絶対寸法記号以下の寸法を求める説明図である。図４で、１４は一次元ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子であり、この一次元ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子１４の視野（Ａ）は、ｐ［１つの仮想目盛１６間（１０ｍｍ）］と、ｗ［１つのスタートビットの幅（３ｍｍ）］と、α［両側にそれぞれ１ビット（０．５ｍｍ）以上、合計２ビット（１ｍｍ）以上］とを加えた大きさ、Ａ＝（ｐ＋ｗ＋α）＝１４ｍｍ以上としている。そして、一次元ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子１４によりストップビット１２ｃとスタートビット１２ａの境界（Ｃ）を認識させ、この境界（Ｃ）と測定点（Ｘ）間の距離Ｌ１（０．３４）を測定し、これをビット符号で認識した絶対寸法記号（６３）に加え、測定値（６３＋０．３４）＝６３．３４（ｍｍ）としている。
なお、スタートビット１２ａとストップビット１２ｃとの境界（Ｃ）を一次元ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子１４で判別する場合には、使用するＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子の画素の大きさやスタートビット１２ｂの輪郭の鮮明度などが測定精度に影響する。このため、本発明においては、５ビットから成るスタートビット１２ａ全体の幅をＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子で検出・判別し、その中心位置を算出して、例えば、該中心位置から２．５ビット分離れた位置を境界（Ｃ）として認識するなどの方法を採用することが好ましい。スタートビット全体の幅を検出し、スタートビットの中心位置を基準にして測定を行う場合には、画素の大きさやビット符号の輪郭の不鮮明さによる影響を少なく出来る利点があり、実用的である。
【００２９】  上述したとおり、実施の形態１の電子式長さ／角度測定器は、スケール１の各仮想目盛１６間ごとに絶対寸法記号を特定するビット符号１２を一列に設け、このビット符号１２を一次元ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子１４により撮像すればよいので、構成が複雑な目盛線が無くとも、原点からの各目盛の位置情報を信頼性高くしかも低コストに形成でき、ホームメジャーと言われる直尺／巻尺／分度器などに適用し得るような、安価で作業スピード性に優れる電子式長さ／角度測定器となる。また、測定開始時、測定点の絶対位置を検知しているため、通常のインクリメント型の長さ／角度測定器のように、測定の都度、原点までスライドブロックを戻す必要がなくなる。
【００３０】（実施の形態２）
図５は、実施の形態２に係る電子式長さ／角度測定器の全体概略構成図である。図５に示す電子式長さ／角度測定器は、スケール１、スライドブロック２、および前述した実施の形態１と同様に、撮像手段３からなる測定部４と、演算処理部５などから構成されている。演算処理部５は、ＣＣＤ／ＣＭＯＳ駆動手段６、画像情報処理手段７、演算処理手段８、および記憶手段９などから構成されている。ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子１４を有する撮像手段３は、測定対象物の寸法乃至移動に応じて移動するスライドブロック２に搭載されている。また、演算処理手段８により求められた測定値出力は、表示・印刷手段１０に入力され、表示或いは印刷により測定者が目視できる情報として提供できるように構成されている。
【００３１】  スケール１は、金属材料または樹脂材料で一直線のレール状に形成されており、その表面上には、一定間隔１５の各仮想目盛１６（形成されず）間ごとに、絶対寸法記号を特定するビット符号１２が、金属材料に対しては例えばレーザー加工で、一列に形成されている。ビット符号１２は、１９９９ｍｍまで形成されている。また、スケール１の表面上には、測定時の目安のため、目安目盛線１１として、１ｍｍ間隔で形成された基準単位目安目盛線１１ａと１ｃｍ間隔で形成された上位目安目盛線１１ｂが形成され、また目安寸法記号１３も形成されている。なお、目安目盛線１１は、通常、測定者がオリジン設定を必ず行った後、測定するので、各仮想目盛１６とは多少ズレがあっても良いように形成されている。
【００３２】  ビット符号１２は、実施の形態１と同様に、各仮想目盛１６間の１ｃｍがスケール１方向に０．５ｍｍ単位で２０ビットに分割され、この２０ビットが、５ビットの暗と１ビットの明からなるスタートビット１２ａと、１乃至４ビットの明暗からなる一の位を含む絶対寸法記号のビット１２ｂと、１ビットの明からなるストップビット１２ｃとから構成されている。ビット符号１２は、幅を３ｍｍとされている。図示しないが、スライドブロック２には、視野内に少なくとも１つ以上のスタートビット１２ａが撮像される一次元ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子１４が配置されている。
【００３３】  図６は、実施の形態２に係る電子式長さ／角度測定器でのオリジン設定とその後の測定の一例を示す図である。先ず、図６（ａ）で、（１）スイッチを入れて測定を開始しようとした時の測定点Ｘの読取値が１．２０ｃｍのとき、（２）これを０ｃｍと表示させることで、オリジン点が設定される。次いで、測定に入り、図６（ｂ）のように、（１）読取値が３２．３４ｃｍのとき、（２）演算処理手段で演算され、３２．３４−１．２０＝３１．１４ｃｍと表示される。別の測定で、図６（ｃ）のように、（１）読取値が９６．９４ｃｍのとき、（２）演算処理手段で演算され、９６．９４−１．２０＝９５．７４ｃｍを表示される。上記図６（ａ）において、絶対寸法記号以下の寸法値は、ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子１４により、測定点Ｘから隣接するスタートビット１２ａ、１２ａまでの距離の比（Ｌ１：Ｌ２）を認識させ、Ｌ１／（Ｌ１＋Ｌ２）として算出し、測定精度を向上させている。
【００３４】  上述したとおり、実施の形態２の電子式長さ／角度測定器は、スケールの各仮想目盛１６間ごとに絶対寸法記号を特定するビット符号１２を一列に設け、このビット符号１２をＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子１４により撮像すればよいので、目安としての目盛線が多少ずれていても、原点からの各目盛の位置情報を信頼性高くしかも低コストに形成でき、ホームメジャーと言われる直尺／巻尺／分度器などに適用し得るような、安価で作業スピード性に優れる電子式長さ／角度測定器となる。また、測定開始時、測定点の絶対位置を検知しているため、通常のインクリメント型長さ／角度測定器のように、測定の都度、原点までスライドブロックを戻す必要がなくなる。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】  実施の形態１に係る電子式長さ／角度測定器の全体概略構成図である。
【図２】  実施の形態１に係る電子式長さ／角度測定器でのビット符号１２の説明図であり、（ａ）はビット符号１２の部分平面拡大図、（ｂ）ビット符号１２の配置図、（ｃ）は１つのビット符号１２の一例を示す図である。
【図３】  実施の形態１および後述する実施の形態２に係る電子式長さ／角度測定器での、各位のビット１２ｂの説明図であり、（ａ）は、１つのビット符号１２、（ｂ）は千、百、十、一の各位のビット１２ｂから置換される１０進数、（ｃ）（ｄ）は、千、百、十、一の各位のビット１２ｂ、（ｅ）は各位のビットでの７と８の組み合わせの例を示している。
【図４】  、実施の形態１に係る電子式長さ／角度測定器での絶対寸法記号以下の寸法を求める説明図である。
【図５】  実施の形態２に係る電子式長さ／角度測定器の全体概略構成図である。
【図６】  実施の形態２に係る電子式長さ／角度測定器でのオリジン設定とその後の測定の一例を示す図である。
【図７】  特許文献１に開示している光学式スケール装置の模式図である。
【符号の説明】
【００３６】１：スケール
２：スライドブロック
３：撮像手段
４：測定部
５：演算処理部
６：ＣＣＤ／ＣＭＯＳ駆動手段
７：画像情報処理手段
８：演算処理手段
９：記憶手段
１０：表示・印刷手段
１１：目安目盛線
１１ａ：基準単位目安目盛線
１１ｂ：上位単位目安目盛線
１２：ビット符号
１２ａ：スタートビット
１２ｂ：絶対寸法記号のビット
１２ｃ：ストップビット
１３：目安寸法記号
１４：ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子（一次元ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子）
１５：一定間隔
１６：仮想目盛（形成されず）
７１：スケール
７１ａ：目盛線
７１ｂ：寸法値記号
７２：スライドブロック
７３：ＣＣＤカメラ
７４：パソコン
Ａ：一次元ＣＣＤ／ＣＭＯＳ素子の視野
α：合計２ビット以上
Ｃ：スタートビット１２ａとストップビット１２ｃの境界
Ｌ１、Ｌ２：測定点から隣接するスタートビットまでの距離
ｐ：仮想目盛間
ｗ：スタートビットの幅寸法
Ｘ：測定点
【図１】
2006064686.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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