(57)【要約】【課題】従来の２Ｔマルチパルスの記録パルス設定は、あらかじめ設定値を決めておくか、各マークの位相誤差量を検出して、各マークごとに調整する必要があり、メモリ量が多いことや調整のための調整時間がかかるという問題があり、記録開始までの時間がかかるという課題があった。【解決手段】マークの位相誤差検出を３Ｔ、４Ｔ、５Ｔおよび６Ｔ以上の偶数マークと７Ｔ以上の奇数マークグループに分け、それらのグループの平均の位相誤差量をもとに、奇数偶数グループでのトップパルスとラストパルスを調整することにより最適な記録パルス列を実現し、高品位なマーク形成が実現できる。【選択図】図１
2006216154.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の線速度において基準クロックの周期Ｔの整数倍のマーク長ｎＴ（ｎは１以上の整数）のマークを形成することにより情報を記録する光学的情報記録再生装置であって、
前記マークを形成するため、前記基準クロックの周期Ｔの整数倍の記録パルス生成周期ｍＴ（ｍは２以上の整数）ごとに記録パルスを生成する記録パルス生成手段と、
前記マークの記録状態を検出する記録マーク検出手段と、
前記記録マーク検出手段により検出された記録状態をもとに、前記記録パルス生成手段で生成される記録パルスを調整する記録パルス調整手段とを備え、
前記記録パルス調整手段は、前記記録パルスの数が２つ以下であるマークを第１のマークグループとし、前記記録パルスの数が３つ以上であるマークを第２のマークグループとし、前記第１のマークグループについては各記録パルスの位置および幅を個別に調整し、前記第２のマークグループについてはマーク長ｎＴを記録パルス生成周期ｍＴで割った余りの数に応じてｍ個のグループに細分化し、前記細分化されたグループ内では、３つ以上の記録パルスのうち前端パルス、後端パルスおよびそれ以外の中間パルスの位置および幅を同一に調整し、
前記記録マーク検出手段は、前記第１のマークグループについては各マークの記録状態を検出し、前記第２のマークグループについては細分化されたグループごとにマークの記録状態の平均値を検出する光学的情報記録再生装置。
【請求項２】
前記記録パルス生成手段は第２のマークグループの記録パルスの中間パルスの位置および幅を同一にすることを特徴とする請求項１に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項３】
前記記録パルス生成手段は第２のマークグループの記録パルスの前端パルスの位置および幅と後端パルスの位置および幅のどちらかを同一にすることを特徴とする請求項１または請求項２いずれかに記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項４】
前記記録パルス生成周期が２Ｔである請求項１〜３いずれかに記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項５】
記録マーク検出手段は、所定の再生速度において各マークの前端および後端と、再生クロックとの位相ずれ量を検出する請求項１から４いずれかに記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項６】
所定の線速度において基準クロックの周期Ｔの整数倍のマーク長ｎＴ（ｎは１以上の整数）のマークを形成することにより情報を記録する情報記録方法であって、
前記マークを形成するため、前記基準クロックの周期Ｔの整数倍の記録パルス生成周期ｍＴ（ｍは２以上の整数）ごとに記録パルスを生成し、上記記録パルスの数が２つ以下である第１のマークグループと３つ以上からなる第２のマークグループに分け、第１のマークグループにおいては、各記録パルスの位置および幅を個別に可変でき、第２のマークグループにおいてはマーク長ｎＴを記録パルス生成周期ｍＴで割った余りの数に応じてｍ個のグループに細分化し、細分化したグループ内においては３つ以上の記録パルスのうち前端パルス、後端パルスおよびそれ以外の中間パルスの位置および幅を同一にする記録パルス生成ステップと、
少なくとも上記第１のマークグループの各マークの記録状態と第２のマークグループの細分化した各グループごとのマークの平均記録状態を検出する記録マーク検出ステップと、
前記記録マーク検出ステップにおいて検出された記録状態をもとに、記録マークを最適に形成できるよう記録パルスを調整する記録パルス調整ステップを有する記録パルス調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光学的記録媒体に情報を記録する光学的情報記録再生装置および記録パルス調整方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、光学的情報記録再生装置、特に大容量のディジタルデータを高速に記録する光学的記録装置が注目されている。
【０００３】
たとえば、相変化型光ディスク媒体は光ビームを照射することにより加熱溶解し、その後急激に冷却することによりアモルファス化したり、また徐々に冷却することにより結晶化する。通常アモルファス化した部分は反射率が低くなり結晶化した部分は反射率が高いため、アモルファス化した部分をマークと呼び、結晶化した部分をスペースと呼ぶ。
【０００４】
情報を記録する場合は、強度の強い光パルスを照射後強度の弱い光パルスを照射する一連の記録パルスを繰り返す記録パルス列により所望のマーク長を形成するとともに、強度の中程度の光を連続して照射することにより所望のスペース長を形成するが、マーク部以外はスペース部となるため、一般にはマークを形成することにより情報を記録すると考えてよい。
【０００５】
高速に記録する場合は、前記記録パルスの強度の強い光パルスや強度の弱い光パルスの幅が細くなりすぎて実際の光学的情報記録再生装置ではこの細いパルスを出力するのが難しくなり記録ができなくなるという問題が生じる。
【０００６】
この問題を解決するために、たとえば、特許文献１は記録パルスの繰り返し周期を基準クロック周期より長くする方法を示している。
【０００７】
図３および図４に、種々の長さのマークを形成するために用いられる記録パルス列の波形を示す。たとえば情報を記録する場合、情報を変調方式により３Ｔから１１Ｔまでの記録変調符号に変換し、３Ｔから１１Ｔまでのマークおよびスペースにより記録する。
【０００８】
図３は７Ｔマークを記録するための記録パルス列を示す。記録変調符号である記録データの波形に対して始端の記録パルス（以下、トップパルスと記す）２５は強度の強い記録パワーＰｐの光パルス（以下、ピークパルスと記す）２３と強度の弱い記録パワーＰｂの光パルス（以下、クーリングパルスと記す）２４からなる記録パルスからなる。同様に終端の記録パルス（以下、ラストパルスと記す）２７およびトップパルスとラストパルスの間にある記録パルス（以下、ミドルパルスと記す）２６もピークパルスとクーリングパルスからなる。
【０００９】
また、トップパルス２５の位置および幅はトップパルス２３の始端位置で基準Ａからの時間ｄＴｔｐで表され、幅はＴｔｏｐで表される。同様に、ミドルパルス、ラストパルスの始端および幅は、各基準であるＢ，Ｃからの時間ｄＴｍｐ、Ｔｍｐ、ｄＴｌｐ、Ｔｌｐで表され、ラストパルスにおいてはクーリングパルス終端をＴcｐで表す。
【００１０】
このように、各記録パルスの周期は基準クロックの周期Ｔに対して２Ｔの周期で発生しマークを形成する。スペース部は中程度の光強度Ｐｅを照射することにより生成する。
【００１１】
図４は３Ｔから１１Ｔまでの記録パルス列を示す。図４の記録パルスは記録パルス周期が２Ｔの場合で、３Ｔマークを形成する記録パルスはトップパルスの１つの記録パルスからなり、４Ｔおよび５Ｔマークを形成する記録パルスはトップパルスとラストパルスの２つの記録パルスからなる。６Ｔ以上のマークを形成する記録パルスはトップパルスとラストパルスおよびそれらの中間にあるミドルパルスからなる。
【００１２】
また、光学的情報記録再生装置は装置ごとのばらつきが大きな場合があり、各記録パルスの位置および幅を装置ごとに調整しないと高品位にマークを記録することができない。そこで、従来の技術においてはたとえば特許文献２のように各マークの記録位置を検出してそれぞれの記録パルス位置を調整する方法がある。
【００１３】
以下、図２および図５から図７を用いて従来の技術による記録パルス位置調整方法を説明する。
【００１４】
図５は光学的記録媒体である光ディスクの記録領域配置を示すものである。光ディスク１は情報を記録するデータ領域２１の内周部に光強度等の記録条件学習領域２２が設けられている。この学習領域２２では、最適パワーや最適なマークを形成するため所定の記録パルス列により試し書きを行い、その部分を再生することにより各マークの記録状態を検出する。
【００１５】
図２は従来の技術による光学的情報記録再生装置である光ディスク装置の構成を示しており、光学的記録媒体である光ディスク１、前記光ディスク１に光ビームを照射するレーザダイオード(以下、ＬＤ（Laser Diode）と記す)を搭載しているピック２、前記ピック２内のＬＤを駆動するレーザ駆動回路３、前記レーザ駆動回路３に対し所望のレーザ出力を指令するレーザ出力制御回路４、前記光ディスク１を所定の線速になるよう回転するスピンドルモータ５、光ディスク１上に記録された信号をもとに再生クロックを生成するＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ）回路等で構成された再生クロック生成回路１０、前記記録条件学習領域２２に記録された試し書き信号を再生することにより各マークの始端および終端と再生クロックとのずれ量である位相誤差量を検出する位相誤差検出回路６、前記位相誤差検出回路６から検出せれた各マーク長の位相誤差量から最適マーク長を形成するための記録パルスの位置および幅を演算し決定する最適記録パルス決定回路７、前記最適記録パターン発生回路７から送られた情報をもとに基準クロック生成回路９で生成されたクロックを基準に最適なマークを形成するよる各マークの記録パルスを発生する記録パルス列発生回路８からなる。
【００１６】
所定の条件で記録条件学習領域２２に記録された試し書きデータを再生し、前記位相誤差検出回路６により各マークの位相誤差が検出される。例えば図６に示すような３Ｔから１１Ｔの各マークの前端および後端の位相誤差量が検出される。これらの位相誤差量のうち例えば、６Ｔマークの終端の位相誤差量ｄ６ｅの値が大きなときは、最適記録パルス決定回路７により、６Ｔマークのラストパルス位置および幅である６ｄＴｔｐおよび６Ｔｔｏｐ、６Ｔｃｌの調整量を決定し、記録パルス列発生回路８にその指令を出す。記録パルス列発生回路８は６Ｔマーク形成のためのラストパルスの位置および幅を調整した記録パルス列を発生し、６Ｔマークが正常に形成されるようにする。
【００１７】
このように、最適記録パルス決定回路７は図７に示すごとく、３Ｔから１１Ｔまでのトップパルスと４Ｔから１１Ｔまでのラストパルスと５Ｔから１１Ｔまでのミドルパルスの位置および幅を調整するための調整量を記憶しておくメモリを有しており、位相誤差検出回路６の検出量から各マークを最適に形成するための調整量を演算し決定する。
【特許文献１】特開２００４−１７１７３５号公報
【特許文献２】特開２００３−３０８３７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１８】
このような光学的情報記録再生装置においてドライブ毎の記録特性ばらつきに対して高品位なマークを形成するため各マーク長でのマーク始端、終端を検出し、各マークごとの記録パルス列の始端パルスおよび終端パルスの位置および幅を調整するため、各マーク長の位相誤差量を保存するメモリや前記各マークの位相誤差量をもとに各マークを形成する記録パルス位置および幅を求める演算を行うため時間かかかるという問題を有していた。
【００１９】
本発明は、基準クロックのｎＴ周期ごとに記録パルスを用いて記録する場合のマーク始端、終端位置検出量を減らすとともに、調整する記録パルス位置および幅をグループ化した単位で調整することにより、メモリ量を少なくするとともに演算時間を短縮し、最適記録パルス学習時間を短くすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
この課題を解決するため、本発明は、所定の線速度において基準クロックの周期Ｔの整数倍のマーク長ｎＴ（ｎは１以上の整数）のマークを形成することにより情報を記録する光学的情報記録再生装置であって、マークを形成するため、基準クロックの周期Ｔの整数倍の記録パルス生成周期ｍＴ（ｍは２以上の整数）ごとに記録パルスを生成する記録パルス生成手段と、マークの記録状態を検出する記録マーク検出手段と、記録マーク検出手段により検出された記録状態をもとに、記録パルス生成手段で生成される記録パルスを調整する記録パルス調整手段とを備え、記録パルス調整手段は、記録パルスの数が２つ以下であるマークを第１のマークグループとし、記録パルスの数が３つ以上であるマークを第２のマークグループとし、第１のマークグループについては各記録パルスの位置および幅を個別に調整し、第２のマークグループについてはマーク長ｎＴを記録パルス生成周期ｍＴで割った余りの数に応じてｍ個のグループに細分化し、細分化されたグループ内では、３つ以上の記録パルスのうち前端パルス、後端パルスおよびそれ以外の中間パルスの位置および幅を同一に調整し、記録マーク検出手段は、第１のマークグループについては各マークの記録状態を検出し、第２のマークグループについては細分化されたグループごとにマークの記録状態の平均値を検出するものである。
【００２１】
また本発明は、所定の線速度において基準クロックの周期Ｔの整数倍のマーク長ｎＴ（ｎは１以上の整数）のマークを形成することにより情報を記録する情報記録方法であって、マークを形成するため、基準クロックの周期Ｔの整数倍の記録パルス生成周期ｍＴ（ｍは２以上の整数）ごとに記録パルスを生成し、記録パルスの数が２つ以下である第１のマークグループと３つ以上からなる第２のマークグループに分け、第１のマークグループにおいては、各記録パルスの位置および幅を個別に可変でき、第２のマークグループにおいてはマーク長ｎＴを記録パルス生成周期ｍＴで割った余りの数に応じてｍ個のグループに細分化し、細分化したグループ内においては３つ以上の記録パルスのうち前端パルス、後端パルスおよびそれ以外の中間パルスの位置および幅を同一にする記録パルス生成ステップと、少なくとも上記第１のマークグループの各マークの記録状態と第２のマークグループの細分化した各グループごとのマークの平均記録状態を検出する記録マーク検出ステップと、記録マーク検出ステップにおいて検出された記録状態をもとに、記録マークを最適に形成できるよう記録パルスを調整する記録パルス調整ステップを有するものである。
【発明の効果】
【００２２】
本発明の光学的情報記録再生装置および記録パルス調整方法によれば、記録パルス生成周期ｍＴの記録パルス列でマークを形成する場合、マーク始端および終端検出量と記録パルス列始端および終端位置および幅の調整量を減らすことが可能となり、最適な記録パルス学習の高速化が可能となる効果が得られる。
【００２３】
また、最適記録パルス学習時間の短縮により、光学的情報記録再生装置の記録開始までの時間が短縮できシステムのパフォーマンスが向上するという効果が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
（実施の形態１）
図１は本発明の光学的情報記録再生装置の一実施例を示し、１は光学的記録媒体である光ディスクで、情報を記録するデータ領域の内周部に光強度等の記録条件学習領域が設けられている。この記録条件学習領域では、例えば基準クロック周期Ｔに対し３Ｔから１１Ｔまでの信号に変換された試し書き信号を最適パワーと最適なマーク長を形成するため所定の記録パルス列により試し書きを行い、その記録パルス列により形成された各マークを再生することにより記録状態を検出する。２は前記光ディスク１に光ビームを照射するＬＤを搭載しているピック、３は前記ピック２内のＬＤを駆動するレーザ駆動回路、４は前記レーザ駆動回路３に対し所望のレーザ出力を指令するレーザ出力制御回路、５は前記光ディスク１に情報を記録する場合の線速度を所定の線速度に保つスピンドルモータ、１１、１２、１３、１４、１５は記録マーク検出手段でそれぞれ前記記録条件学習領域に記録された試し書き信号を再生することにより３Ｔ、４Ｔ、５Ｔと６Ｔ以上の偶数、７Ｔ以上の奇数マークの始端および終端と再生クロックとのずれ量である位相誤差量を検出する３Ｔマーク位相誤差検出回路１１、４Ｔマーク位相誤差検出回路１２、５Ｔマーク位相誤差検出回路１３、偶数マーク位相誤差検出回路１４、奇数マーク位相誤差検出回路１５、７は記録パルス調整手段で前記各マークの位相誤差検出回路で検出された位相誤差をもとに最適な記録マークを形成するよう記録パルス列の位置や幅を決定する最適記録パルス決定回路、９は記録データを記録パルスとして記録するための基準クロックを生成する基準クロック生成回路、１６、１７、１８、１９、２０は記録パルス生成手段で最適記録パルス決定回路７の各マークに対する調整量をもとにそれぞれ３Ｔ、４Ｔ、５Ｔの各マークと６Ｔ以上の偶数マーク、７Ｔ以上の奇数マークの記録パルス列を発生する３Ｔマーク記録パルス発生回路１６、４Ｔ記録パルス列発生回路１７、５Ｔ記録パルス列発生回路１８、偶数記録パルス列発生回路１９、奇数記録パルス列発生回路２０である。
【００２５】
以上のように構成された光学的情報記録再生装置について、以下、本発明の記録パルス調整方法とともに図１および図８〜図１０を用いて説明する。
【００２６】
高速に情報を記録する場合、背景の技術で説明したようにマークを形成するために用いられる記録パルスの繰り返し周期を基準のクロック周期より長くする方法がある。
ｎＴ（ｎは１以上の整数）長のマークを形成する場合にｍＴ（ｍは２以上の整数）周期で記録パルスを生成した記録パルス列を用いてマークを形成する場合がある。特にｍ＝２の場合には、各マークを奇数と偶数に分けられ記録パルスの場合分けが容易である特徴がある。
【００２７】
まず、記録条件学習領域に予め決めてある初期条件で試し書きパターンを記録条件学習領域に記録する。記録した各マークの記録品位を検出するため、３Ｔから５Ｔマークまでの前端と後端の位相誤差を３Ｔマーク位相誤差検出回路１１と４Ｔマーク位相誤差検出回路１２、５Ｔマーク位相誤差検出回路１３で検出する。６Ｔ以上の偶数マークの平均誤差量と７Ｔ以上の奇数マークの平均誤差量はそれぞれ偶数マーク位相誤差検出回路１４、奇数マーク位相誤差検出回路１５で検出する。平均誤差量はたとえば６Ｔ以上の偶数マークの前端の位相誤差量の総和をその検出回数で割れば簡単に求まる。最適記録パルス決定回路７は、これらの検出された位相誤差量を図８に示す位相誤差検出テーブルにより管理し、記録した試し書きパターンのどのマークの位相誤差が大きいかを判定する。たとえば、６Ｔ以上の偶数マークの前端の位相誤差ｄＥＶｓが大きな場合、最適記録パルス決定回路７は６Ｔ以上の偶数のトップパルス位置およびトップパルス幅を調整することにより６Ｔ以上の偶数マークの前端の位相誤差を減らすように調整する。図９に最適記録パルス決定回路７の記録パルス調整テーブルの一例を示す。記録パルス調整テーブルは各マークを形成するための記録パルスの位置および幅を示す。６Ｔ以上の偶数のトップパルス位置およびトップパルス幅を調整するためにはＥＶｄＴｔｐよびＥＶＴｔｏｐの値を調整する。
【００２８】
調整後の最適記録パルスに決定された３Ｔマーク、４Ｔマーク、５Ｔマークの記録パルス位置および幅はそれぞれ３Ｔ記録パルス列発生回路１６、は４Ｔ記録パルス列発生回路１７、５Ｔ記録パルス列発生回路１８に、６Ｔマーク以上の偶数マークの記録パルス位置および幅は偶数記録パルス列発生回路１９、７Ｔマーク以上の偶数マークの記録パルス位置および幅は奇数記録パルス列発生回路２０に伝わり各マークを形成する記録パルス列を発生する。これらの記録パルス列はレーザ駆動回路３に送られピック２を通して光ディスク１上の記録条件学習領域に照射され、マークが形成される。
【００２９】
再度、各マークの位相誤差量が検出され、最適記録パルス決定回路７により最適なマークが形成される各記録パルスの位置および幅の調整量が演算され決定される。この調整量が所定の許容値より小さな値であれば、最適記録マークが形成可能な記録パルスとして最終決定される。
【００３０】
また、マルチパルスにおいては、マークの始端、終端位置がトップパルスおよびラストパルスの調整で最適化される場合には、ミドルパルスの位置および幅を６Ｔ以上のマークに関して同一の位置および幅を設定しても差し支えない。この場合、図９のミドルパルス位置調整量ＥＶｄＴｍｐとＯＤｄＴｍｐおよびＥＶＴｍｐとＯＤＴｍｐが同一値となり、メモリを共有化できる。
【００３１】
また、記録媒体の熱干渉が少ない場合などは、記録パルス位置および幅をそれほど厳密に調整する必要がなく、トップパルスかラストパルスのどちらかの位置および幅を調整するだけでも充分な品位の記録状態が実現できる場合があり、この場合においては、図９のトップパルス位置調整量ＥＶｄＴｔｐとＯＤｄＴｔｐおよびＥＶＴｔｐとＯＤＴｔｐを同一値にするかラストパルス位置調整量ＥＶｄＴｌｐとＯＤｄＴｌｐおよびＥＶＴｌｐとＯＤＴｌｐ、ＥＶＴｃｌとＯＤＴｃｌを同一値にすることが可能になり更なるメモリを共有化が可能となる。
【００３２】
なお、以上の説明では２Ｔ周期で記録パルスが発生する場合で説明したが、３Ｔ周期で記録パルスを発生する場合においても記録パルスがトップパルスのみの場合とトップパルスとラストパルスの２つの場合とトップパルスとラストパルスと１つ以上のマルチパルス列からなる記録パルス列のグループに分け、それぞれのマーク長（ｎＴ）を３で割った余りの数により再度グループ分けした詳細グループごとに各マークの位相誤差を検出し、その位相誤差量をもとに最適記録パルス位置および幅を求め、記録パルス位置および幅を設定することによりに各マーク長での最適記録品位が得られることは言うまでもない。
【００３３】
また、３Ｔ以上の周期で記録パルスを発生する場合においても同様な方法で最適な記録マークが実現できることは言うまでもない。
【産業上の利用可能性】
【００３４】
本発明の光学的情報記録再生装置および記録パルス調整方法は、２Ｔ以上の周期で記録パルスを発生させマークを形成する場合、記録パルスが３つ以上の記録マークにおいてはグループ分けを行うことにより記録位相誤差および誤差量の演算、メモリ量の削減が可能であり、最適記録パルスの決定時間を短縮できるため、光学的情報記録再生装置の記録開始時間の短縮にも効果がある。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明の一実施例の形態による光学的情報記録再生装置を示すブロック図
【図２】従来の技術による光学的情報記録再生装置を示すブロック図
【図３】２Ｔ周期の７Ｔマークの記録パルス位置および幅を示す説明図
【図４】２Ｔ周期の各マーク長形成記録パルス列を示す説明図
【図５】光ディスクの記録条件学習領域を示す説明図
【図６】従来の技術による位相誤差検出テーブルの説明図
【図７】従来の技術による記録パルス調整テーブルの説明図
【図８】本発明の一実施例の形態による位相誤差検出テーブルの説明図
【図９】本発明の一実施例の形態による記録パルス調整テーブルの説明図
【図１０】本発明の一実施例の形態による記録パルス調整方法の説明図
【符号の説明】
【００３６】
１    光ディスク
２    ピック
３    レーザ駆動回路
４    レーザ出力制御回路
５    スピンドルモータ
６    位相誤差検出回路
７    最適記録パルス決定回路
８    記録パルス列発生回路
９    基準クロック発生回路
１０    再生クロック生成回路
１１    ３Ｔマーク位相誤差検出回路
１２    ４Ｔマーク位相誤差検出回路
１３    ５Ｔマーク位相誤差検出回路
１４    偶数マーク位相誤差検出回路
１５    奇数マーク位相誤差検出回路
１６    ３Ｔマーク記録パルス発生回路
１７    ４Ｔマーク記録パルス列発生回路
１８    ５Ｔマーク記録パルス列発生回路
１９    偶数マーク記録パルス列発生回路
２０    奇数マーク記録パルス列発生回路
２１    データ領域
２２    記録条件学習領域
２３    強度の強い光パルス部
２４    強度の弱い光パルス部
２５    トップパルス
２６    マルチパルス
２７    ラストパルス
【図１】
2006216154.tif 000003
【図２】
2006216154.tif 000004
【図３】
2006216154.tif 000005
【図４】
2006216154.tif 000006
【図５】
2006216154.tif 000007
【図６】
2006216154.tif 000008
【図７】
2006216154.tif 000009
【図８】
2006216154.tif 000010
【図９】
2006216154.tif 000011
【図１０】
2006216154.tif 000012