(57)【要約】【課題】  監視対象設備２のプラントデータを検出したアナログ値を取り込んで工学値に変換する際、センサ３の検出範囲全体において工学値に変換するための演算式あるいは工学値変換テーブル７を精度良く容易に生成する。【解決手段】  監視対象設備２に接続されプラントデータの工学値を計測するように校正された計測器４にて、監視対象設備２の通常計測可能範囲１１内で、それぞれ検出されたアナログ値と対応させて３点計測する。次いで、アナログ値、計測工学値からなる複数の２次座標値に基づいて、センサ３の検出範囲全体において第１、第２の直線１６ａ、１６ｂの式を求め、これらを合成してアナログ値を工学値に変換するための演算式を得る。【選択図】        図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
監視対象設備のプラントデータを検出したアナログ値から工学値に変換するプラントデータ工学値変換方法において、
上記監視対象設備に接続され上記プラントデータを工学値として計測するように校正された計測器からの計測値を、上記監視対象設備の通常運転状態における計測可能範囲内で、それぞれ検出されたアナログ値あるいは該アナログ値をＡ／Ｄ変換したカウント値と対応させて複数個取得する第１のステップと、
該アナログ値あるいはカウント値であるデータ値と上記計測値とからなる複数の２次座標値に基づいて、データ値を工学値に変換するための演算式あるいは工学値変換テーブルを生成する第２のステップとを有することを特徴とするプラントデータ工学値変換方法。
【請求項２】
上記第１のステップにて、上記計測値を３点取得し、該３点の計測値からデータ値の昇順に第１、第２、第３の２次座標値を取得し、上記第２のステップにて、該第２の２次座標値を起点として該第１の２次座標値を通る直線と、該第２の２次座標値を起点として該第３の２次座標値を通る直線とを合成して上記演算式あるいは工学値変換テーブルを生成することを特徴とする請求項１記載のプラントデータ工学値変換方法。
【請求項３】
上記第１のステップにて、上記計測値を２点取得し、該２点の計測値からデータ値の昇順に２次座標値Ａ、Ｂを取得し、上記第２のステップにて、上記アナログ値の検出範囲に基づいて予め設定された２次座標上下限値を用い、上記２次座標Ａから上記２次座標下限値に至る直線と、上記２次座標値Ｂから上記２次座標上限値に至る直線とを合成して上記演算式あるいは工学値変換テーブルを生成することを特徴とする請求項１記載のプラントデータ工学値変換方法。
【請求項４】
上記第１のステップにて、上記計測値を３点取得し、該３点の計測値からデータ値の昇順に第１、第２、第３の２次座標値を取得し、該第１のステップ後、上記第１、第３の２次座標値間の変化率Ａを求め、上記第２のステップにて、上記第２の２次座標値を起点として上記第１の２次座標値を通る第１の直線、上記第２の２次座標値を起点として上記第３の２次座標値を通る第２の直線、上記アナログ値の検出範囲に基づいて予め設定された２次座標上下限値を用いて得られる、上記第１の２次座標値から上記２次座標下限値に至る第３の直線、および上記第３の２次座標値から上記２次座標上限値に至る第４の直線の中から、上記第１の直線あるいは第３の直線のいずれか一の直線、および上記第２の直線あるいは第４の直線のいずれか一の直線を上記変化率Ａに基づいて選択し、該選択された２直線を合成して上記演算式あるいは工学値変換テーブルを生成することを特徴とする請求項１記載のプラントデータ工学値変換方法。
【請求項５】
監視対象設備のプラントデータを検出したアナログ値から工学値に変換して該設備の監視を行うプラント監視装置において、プラントデータとして検出したアナログ値を入力するアナログ信号入力手段と、アナログ値を工学値に変換するための演算式あるいは工学値変換テーブルを有して上記アナログ信号入力手段にて入力されたアナログ値を工学値に変換する工学値変換手段とを備え、上記演算式あるいは工学値変換テーブルは、上記請求項１〜４記載のいずれかのプラントデータ工学値変換方法にてアナログ値をデータ値として生成されたものであることを特徴とするプラント監視装置。
【請求項６】
監視対象設備のプラントデータを検出したアナログ値から工学値に変換して該設備の監視を行うプラント監視装置において、プラントデータとして検出したアナログ値を入力するアナログ信号入力手段と、アナログ値をＡ／Ｄ変換してカウント値を出力するＡ／Ｄ変換手段と、カウント値を工学値に変換するための演算式あるいは工学値変換テーブルを有して上記Ａ／Ｄ変換手段にて出力されたカウント値を工学値に変換する工学値変換手段とを備え、上記演算式あるいは工学値変換テーブルは、上記請求項１〜４記載のいずれかのプラントデータ工学値変換方法にてカウント値をデータ値として生成されたものであることを特徴とするプラント監視装置。
【請求項７】
上記監視対象設備に接続され上記プラントデータを工学値として計測するように校正された計測器からの計測値を入力し、該入力計測値に基づいて上記演算式あるいは工学値変換テーブルを生成する生成部を備え、該生成部にて上記演算式あるいは工学値変換テーブルを生成した後、それを用いて上記工学値変換手段にてデータ値（アナログ値／カウント値）を工学値に変換することを特徴とする請求項５または６記載のプラント監視装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、プラントデータを工学値に変換してプラント状態の監視する技術に関し、特にプラントデータを工学値に変換する方法、およびそれを用いて監視を行うプラント監視装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来のプラント監視制御装置を以下に示す。
プラントの状態変化量はアナログ値として、プラント側のセンサおよび制御装置などからケーブルを介して周期的に取り込まれる。取り込まれたアナログ値は、Ａ／Ｄ変換部によりカウント値に変換される。カウント値は工学値変換処理部において、工学値に変換されると共に、その工学値が工学値データ保存用データベースに保存される。また、工学値データにノイズの混入が発見されると、ケーブルの処理、アース処理、プラント側の状況、入力波形の確認などを行いノイズ除去を施す。また、ハード処理ができない場合やハード処理をしてもノイズ除去できない場合は、ソフト上で最小二乗法や一次遅れ処理などのスムージング処理により工学値の補正を行っていた（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】特開平１１−２４９７２８号公報（第２頁）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記のような従来のプラント監視において、工学値への変換処理は、例えば、プラントデータを検出するセンサの性能によって決まる公称計測上下限値に基づいて算出される計算式などにより変換されるものであった。しかしながら、監視対象設備の個体差やセンサの誤差などに起因して、得られた工学値にも誤差が生じる。このため、プラントデータの工学値を計測するように校正された計測器を監視対象設備にセンサと並列に接続して、該計測器からの計測値を用いて工学値への変換処理に対する補正を行っていたが、監視対象設備が通常状態の計測範囲以外のデータを実際に計測して補正するのは困難で、信頼性よく工学値変換が行えないという問題点があった。
【０００５】
この発明は、上記のような問題点を解消するために成されたものであって、センサで検出されるアナログ値のプラントデータを、センサの検出範囲全体において、工学値に変換するための演算式あるいは工学値変換テーブルを精度良く容易に生成できるプラントデータ工学値変換方法を得ることを目的とする。
また、このような工学値変換方法を用いて、監視対象設備のプラントデータ工学値を容易に高精度に取得し、信頼性よくプラント監視を行えるプラント監視装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
この発明に係るプラントデータ工学値変換方法は、監視対象設備のプラントデータを検出したアナログ値から工学値に変換する変換方法であって、第１のステップおよび第２ステップを有する。第１ステップでは、上記監視対象設備に接続され上記プラントデータの工学値を計測するように校正された計測器からの計測値を、上記監視対象設備の通常運転状態における計測可能範囲内で、それぞれ検出されたアナログ値あるいは該アナログ値をＡ／Ｄ変換したカウント値と対応させて複数個取得する。第２のステップでは、該アナログ値あるいはカウント値であるデータ値と上記計測値とからなる複数の２次座標値に基づいて、データ値を工学値に変換するための演算式あるいは工学値変換テーブルを生成する。
【０００７】
またこの発明に係るプラント監視装置は、監視対象設備のプラントデータを検出したアナログ値から工学値に変換して該設備の監視を行う装置であり、プラントデータとして検出したアナログ値を入力するアナログ信号入力手段と、アナログ値を工学値に変換するための演算式あるいは工学値変換テーブルを有して上記アナログ信号入力手段にて入力されたアナログ値を工学値に変換する工学値変換手段とを備える。そして、上記演算式あるいは工学値変換テーブルは、上記プラントデータ工学値変換方法にてアナログ値をデータ値として生成されたものである。
【発明の効果】
【０００８】
この発明によるプラントデータ工学値変換方法は、プラントデータを工学値として計測するように校正された計測器を用いて、監視対象設備の通常運転状態における計測可能範囲内で工学値である計測値を複数個取得し、該計測値に基づいて工学値に変換するための演算式あるいは工学値変換テーブルを生成するため、センサの検出範囲全体において、工学値変換のための演算式あるいは工学値変換テーブルを精度良く容易に生成できる。
また、この発明によるプラント監視装置は、このような工学値変換方法を用いて、監視対象設備のプラントデータ工学値を容易に高精度に取得できるため、信頼性よくプラント監視を行える。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
実施の形態１．
以下、この発明の実施の形態１について説明する。
図１はこの発明の実施の形態１によるプラント監視装置の概略構成を示したブロック図である。図１に示すように、プラント監視装置１は、監視対象設備２に取り付けられてプラントデータを検出するセンサ３−１〜３−ｎからのデータを取り込んで監視対象設備２を監視する。また、プラント監視装置１は、センサ３−１〜３−ｎからのデータをアナログ値５ａとして取り込むためのアナログ信号入力手段としての信号入力手段５と、該信号入力手段５からのアナログ値５ａを工学値に変換する工学値変換手段６と、工学値変換手段６においてアナログ値５ａを工学値に変換する際に用いるアナログ値−工学値変換テーブル７とを備える。
一方、監視対象設備２には、該設備２のプラントデータの工学値を計測するように設備２の個体差などを考慮して校正された計測器４が、センサ３（３−１〜３−ｎ）と並列に接続される。
【００１０】
このように構成されるプラント監視装置１では、センサ３からのプラントデータである電流値（例えば４〜２０ｍＡ）または電圧値（例えば１〜５Ｖ）をアナログ値５ａとして取り込み、工学値変換手段６において、予め設定されたアナログ値−工学値変換テーブル７を参照して入力されたアナログ値５ａを工学値に変換する。
【００１１】
工学値変換手段６での工学値変換に用いるアナログ値−工学値変換テーブル７について以下に説明する。
アナログ値−工学値変換テーブル７は、アナログ値を工学値に変換するための演算式に基づいて生成され、この演算式の生成方法を図２に示すグラフ、および図３に示すフローチャートに基づいて以下に詳述する。なお、プラント監視装置１では、アナログ値−工学値変換テーブル７の替わりに演算式を記憶して工学値変換手段６での工学値変換に用いるようにしても良い。
監視対象設備２に接続された計測器４は、上述したようにプラントデータの工学値を計測するように校正されたものであり、監視対象設備２の通常運転状態における計測可能範囲１１（以下、通常計測可能範囲と称す）内で、３点計測する。この計測値は、それぞれセンサ３からのアナログ値に対応して計測し、この２次座標値（アナログ値、計測値）をアナログ値の昇順に、第１の２次座標値１５ａ、第２の２次座標値１５ｂ、第３の２次座標値１５ｃとする（ステップＳ１）。
【００１２】
次に、第２の２次座標値１５ｂを起点として第１の２次座標値１５ａを通る第１の直線１６ａの式を求め、また第２の２次座標値１５ｂを起点として第３の２次座標値１５ｃを通る第２の直線１６ｂの式を求める。この第１の直線１６ａと第２の直線１６ｂとを組み合わせた線を表す式が、横軸のアナログ値を縦軸の工学値に変換する演算式となる。
この演算式の具体的な求め方は、例えば、第１、第２の２次座標値１５ａ、１５ｂ間の変化率と第２、第３の２次座標値１５ｂ、１５ｃ間の変化率とをそれぞれ求めて（ステップＳ２）、第１の直線１６ａと第２の直線１６ｂとの式をそれぞれ求め、センサ３によるアナログ値の検出範囲に基づいて第１の直線１６ａの終点（計測下限値）１７および第２の直線１６ｂの終点（計測上限値）１８も決定する（ステップＳ３）。
アナログ値−工学値変換テーブル７を作成するには、生成された演算式を満足する複数個の２次座標値（アナログ値、計測値）から作成するが、計測下限値１７、計測上限値１８および第２の２次座標値１５ｂを含むように作成するのが望ましい。
【００１３】
なお、第１の２次座標値１５ａは通常計測可能範囲１１の下限値あるいはそれに近いアナログ値における２次座標値、また第３の２次座標値１５ａは通常計測可能範囲１１の上限値あるいはそれに近いアナログ値における２次座標値であることが望ましく、工学値変換のために生成される演算式の信頼性が向上する。
【００１４】
また、第１〜第３の２次座標値１５ａ〜１５ｃを全て用いて演算式を生成する方法を説明したが、両端の値である第１の２次座標値１５ａと第３の２次座標値１５ｃとを用いて、以下のように演算式を生成しても良い。
図２に示すように、アナログ値の検出範囲に基づいて予め設定された２次座標上下限値としての公称上下限値１３、１２を用い、２次座標値Ａとなる第１の２次座標値１５ａから公称下限値１２に至る第３の直線１９ａの式と、２次座標値Ｂとなる第３の２次座標値１５ｃから公称上限値１３に至る第４の直線１９ｂの式とをそれぞれ求め、これらの組み合わせに基づいて、横軸のアナログ値を縦軸の工学値に変換する演算式を生成する（ステップＳ４）。
【００１５】
この場合、通常計測可能範囲１１内の演算式は、上記第３の直線１９ａと第４の直線１９ｂとを互いに交わるまでそれぞれ延長して用いても良いし、通常計測可能範囲１１内に限定して第１の直線１６ａおよび第２の直線１６ｂを用いても良い。前者の場合、ステップＳ１での計測値の計測を２点計測とすることができる。
この場合も、アナログ値−工学値変換テーブル７を作成するには、生成された演算式を満足する複数個の２次座標値（アナログ値、計測値）から作成するが、公称上下限値１３、１２および計測値に基づく２点あるいは３点の２次座標値を含むように作成するのが望ましい。
【００１６】
以上のように生成された演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル７は、公称上下限値１３、１２から得られる理論上の演算式が示す直線１４とは異なり、実際の監視対象設備２の個体の実体に合致した工学計測値に基づく信頼性の高いものとなる。また、通常計測可能範囲１１内のみで計測値を取得するため、計測値を容易に取得して、センサの検出範囲全体で用いる演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル７を容易に生成できると共に、高い精度の必要な通常計測可能範囲１１において、特に高精度な工学値変換が可能となる。
このように、容易で効率的に精度の高い演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル７が生成でき、このような演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル７を用いて工学値を取得するプラント監視装置１では、容易に精度の高い工学値を取得しでき、プラント監視の信頼性が向上する。
【００１７】
実施の形態２．
上記実施の形態1では、通常計測可能範囲１１外の工学値変換のために求める演算式を、第１の直線１６ａと第２の直線１６ｂとの合成、あるいは第３の直線１９ａと第４の直線１９ｂとの合成としたが、この実施の形態では、通常計測可能範囲１１の下限側の場合と上限側の場合とに分けて、それぞれの場合で選択させるようにした。
この実施の形態においても、アナログ値−工学値変換テーブル７は、アナログ値を工学値に変換するための演算式に基づいて生成され、この演算式の生成方法を図２に示すグラフ、および図４に示すフローチャートに基づいて以下に詳述する。
監視対象設備２に接続され、プラントデータの工学値を計測するように校正された計測器４は、監視対象設備２の通常計測可能範囲１１内で、３点計測する。この計測値は、それぞれセンサ３からのアナログ値に対応して計測し、この２次座標値（アナログ値、計測値）をアナログ値の昇順に、第１の２次座標値１５ａ、第２の２次座標値１５ｂ、第３の２次座標値１５ｃとする（ステップＳＳ１）。
【００１８】
次に、第１、第３の２次座標値１５ａ、１５ｃ間の変化率Ａを求める（ステップＳＳ２）。この段階から、通常計測可能範囲１１の下限側の場合と上限側の場合とに分けて演算式を生成するが、まず通常計測可能範囲１１の下限側の場合には、第１、第２の２次座標値１５ａ、１５ｂ間の変化率ａ１２と、第１の２次座標値１５ａ、公称下限値１２間の変化率ａＬとをそれぞれ求め（ステップＳＳ３）、変化率ａ１２、変化率Ａの差と変化率ａＬ、変化率Ａの差とをそれぞれの絶対値で比較し（ステップＳＳ４）、等しいか前者が小さい場合、第２の２次座標値１５ｂを起点として第１の２次座標値１５ａを通る第１の直線１６ａの式、およびセンサ３によるアナログ値の検出範囲に基づいて第１の直線１６ａの終点（計測下限値）１７を求める（ステップＳＳ５）。ステップＳＳ４にて、後者が小さい場合は、第１の２次座標値１５ａから公称下限値１２に至る第３の直線１９ａの式を求める（ステップＳＳ６）。これにより、通常計測可能範囲１１の下限側で、第１、第３の２次座標値１５ａ、１５ｃ間の変化率Ａに基づいて、第１、第３の直線１６ａ、１９ａの内、変化率Ａに近い変化率を有するいずれかの直線が選択される。
【００１９】
また、通常計測可能範囲１１の上限側の場合には、第２、第３の２次座標値１５ｂ、１５ｃ間の変化率ａ２３と、第３の２次座標値１５ｃ、公称上限値１３間の変化率ａＨとをそれぞれ求め（ステップＳＳ７）、変化率ａ２３、変化率Ａの差と変化率ａＨ、変化率Ａの差とをそれぞれの絶対値で比較し（ステップＳＳ８）、等しいか前者が小さい場合、第２の２次座標値１５ｂを起点として第３の２次座標値１５ｃを通る第２の直線１６ｂの式、およびセンサ３によるアナログ値の検出範囲に基づいて第２の直線１６ｂの終点（計測上限値）１８を求める（ステップＳＳ９）。ステップＳＳ８にて、後者が小さい場合は、第３の２次座標値１５ｃから公称上限値１３に至る第４の直線１９ｂの式を求める（ステップＳＳ１０）。これにより、通常計測可能範囲１１の上限側で、第１、第３の２次座標値１５ａ、１５ｃ間の変化率Ａに基づいて、第２、第４の直線１６ｂ、１９ｂの内、変化率Ａに近い変化率を有するいずれかの直線が選択される。
【００２０】
このようにして、通常計測可能範囲１１の下限側の場合と上限側の場合とに分けて、それぞれの場合で上記変化率Ａに近い変化率を有する直線を選択して、これらの２直線の組み合わせに基づいて、横軸のアナログ値を縦軸の工学値に変換する演算式を生成する。
なお、ステップＳＳ４、ＳＳ８での比較において、両者が等しい場合は、ステップＳＳ５、ＳＳ９に進み第１、第２の直線１６ａ、１６ｂを選択させたが、ステップＳＳ６、ＳＳ１０に進み第３、第４の直線１９ａ、１９ｂを選択させるようにしても良い。
【００２１】
この実施の形態においても、通常計測可能範囲１１内の演算式は、上記選択された２直線を、互いに交わるまでそれぞれ延長して用いても良いし、第１の直線１６ａおよび第２の直線１６ｂを用いても良い。
また、アナログ値−工学値変換テーブル７を作成するには、生成された演算式を満足する複数個の２次座標値（アナログ値、計測値）から作成し、計測下限値１７、計測上限値１８、公称上下限値１３、１２、計測値に基づく３点の２次座標値など、既に決定された値を含むように作成するのが望ましい。
【００２２】
以上のように生成された演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル７は、公称上下限値１３、１２から得られる理論上の演算式が示す直線１４とは異なり、実際の監視対象設備２の個体の実体に合致した工学計測値に基づく信頼性の高いものとなる。また、通常計測可能範囲１１内のみで計測値を取得するため、計測値を容易に取得して、センサの検出範囲全体で用いる演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル７を容易に生成できると共に、高い精度の必要な通常計測可能範囲１１において、特に高精度な工学値変換が可能となる。また、通常計測可能範囲１１全体の変化率を代表する値である第１、第３の２次座標値１５ａ、１５ｃ間の変化率Ａに基づいて、変化率Ａに近い変化率を有する直線を選択して演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル７を生成しているため、より精度が高く信頼性の高いものとなる。
このように、容易で効率的に精度の高い演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル７が生成でき、このような演算式あるいはアナログ値−工学値変換テーブル７を用いて工学値を取得するプラント監視装置１では、容易に精度の高い工学値を取得しでき、プラント監視の信頼性が向上する。
【００２３】
実施の形態３．
以下、この発明の実施の形態３について説明する。
図５はこの発明の実施の形態３によるプラント監視装置の概略構成を示したブロック図である。
この実施の形態では、図５に示すように、上記実施の形態１、２で示すプラント監視装置１の内部にアナログ値−工学値変換テーブル生成手段８を備えて、アナログ値−工学値変換テーブル７を生成させる。この場合、プラント監視装置１は、実際にプラントを監視する処理に先立って、アナログ値−工学値変換テーブル生成手段８にてアナログ値−工学値変換テーブル７を生成し、該テーブル７を記憶する。その後、センサ３からのプラントデータをアナログ値５ａとして取り込み、工学値変換手段６において、設定されたアナログ値−工学値変換テーブル７を参照して入力されたアナログ値５ａを工学値に変換する。
【００２４】
アナログ値−工学値変換テーブル生成手段８でアナログ値−工学値変換テーブル７を生成するには、上記実施の形態１、２で示した生成方法を用いるもので、この場合、計測器４が通常計測可能範囲１１内で２点あるいは３点計測した計測値４ａは、計測器４からプラント監視装置１内のアナログ値−工学値変換テーブル生成手段８に入力される。また、この計測値４ａと対応したセンサ３からのアナログ値５ｂは、信号入力手段５を介してプラント監視装置１に入力されてアナログ値−工学値変換テーブル生成手段８に送信される。この後、アナログ値−工学値変換テーブル生成手段８において、取得された２次座標値（アナログ値、計測値）および予め設定されている公称上下限値１３、１２に基づいて、上記実施の形態１、２で示した生成方法によりアナログ値−工学値変換テーブル７を生成する。
これにより、プラント監視装置１内で、人手を介さず自動的にアナログ値−工学値変換テーブル７を生成でき、生成されたアナログ値−工学値変換テーブル７をプラント監視装置１内に保持して工学値変換に用いる。
【００２５】
なお、この場合も、アナログ値−工学値変換テーブル生成手段８はアナログ値を工学値に変換するための演算式の生成手段であっても良く、その場合、生成された演算式を保持して工学値変換に用いる。
【００２６】
実施の形態４．
上記実施の形態１〜３では、アナログ値５ａを工学値に変換するものを説明したが、図５に示すように、アナログ値５ａを、Ａ／Ｄ変換手段９によりカウント値９ａに変換した後、カウント値−工学値変換テーブル１０を用いて工学値に変換しても良い。
カウント値−工学値変換テーブル１０は、カウント値９ａを工学値に変換するための演算式に基づいて生成され、この演算式の生成は、上記実施の形態１、２で示した演算式の生成方法の手順で、アナログ値の替わりにアナログ値をＡ／Ｄ変換したカウント値を用いて同様に行うものである。カウント値−工学値変換テーブル１０の替わりに演算式を記憶させて工学値変換に用いても良い。
この場合も、上記実施の形態１、２と同様に容易で効率的に精度の高い演算式あるいはカウント値−工学値変換テーブル１０が生成でき、このような演算式あるいはカウント値−工学値変換テーブル１０を用いて工学値を取得するプラント監視装置１では、容易に精度の高い工学値を取得しでき、プラント監視の信頼性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【００２７】
【図１】この発明の実施の形態１によるプラント監視装置の概略構成を示したブロック図である。
【図２】この発明の実施の形態１による工学値変換の演算式をグラフで説明する図である。
【図３】この発明の実施の形態１による工学値変換の演算式生成方法を説明するフローチャートである。
【図４】この発明の実施の形態２による工学値変換の演算式生成方法を説明するフローチャートである。
【図５】この発明の実施の形態３によるプラント監視装置の概略構成を示したブロック図である。
【図６】この発明の実施の形態４によるプラント監視装置の概略構成を示したブロック図である。
【符号の説明】
【００２８】
１  プラント監視装置、２  監視対象設備、３（３−１〜３−ｎ）  センサ、
４  計測器、４ａ  計測工学値、５  アナログ信号入力手段としての信号入力手段、
５ａ，５ｂ  アナログ値、６  工学値変換手段、
７  工学値変換テーブルとしてのアナログ値−工学値変換テーブル、
９  Ａ／Ｄ変換手段、９ａ  カウント値、
１０  工学値変換テーブルとしてのカウント値−工学値変換テーブル、
１１  通常計測可能範囲、１２  ２次座標下限値としての公称下限値、
１３  ２次座標上限値としての公称上限値、
１５ａ  第１の２次座標値（２次座標値Ａ）、１５ｂ  第２の２次座標値、
１５ｃ  第３の２次座標値（２次座標値Ｂ）、１６ａ  第１の直線、
１６ｂ  第２の直線、１９ａ  第３の直線、１９ｂ  第４の直線。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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