(57)【要約】      （修正有）【課題】部品実装ラインにおける不良原因等の分析をより正確、かつ速やかに得るようにする。【解決手段】はんだ印刷装置１、実装装置３Ａ，３Ｂ、リフロー炉５及びこれら各装置１，３Ａ，３Ｂ，５の各検査装置２，４，６を備えた部品実装ラインの情報管理システムであって、このシステムは、基板の検査装置２，４，６における検査画像及び検査結果を、それぞれ特定可能な識別情報と共に蓄積する中央管理装置８を有する。この中央管理装置８は、蓄積される情報を画面表示可能な表示手段を有するとともにその表示を制御する表示制御部を有しており、入力手段の操作により基板を指定すると、当該基板の各検査装置２，４，６による検査結果と検査画像が表示手段の同一の表示画面内に表示されるように構成されている。【選択図】図１
2006210729.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ペースト塗布装置、部品実装装置、リフロー装置のうち少なくとも部品実装装置を含む複数の処理装置を有し、かつ各処理装置の下流側に、画像認識に基づき当該基板を検査する検査装置を備えた部品実装ラインにおける情報管理システムであって、
各基板の各検査装置における検査結果および検査に用いられた画像情報を、各基板をそれぞれ特定可能な識別情報と共に蓄積するデータベースと、
このデータベースに蓄積される情報を画面表示可能な表示手段と、
この表示手段により情報表示させるべき対象基板を前記識別情報に基づき特定可能な特定手段と、
前記データベースに蓄積されたデータのうち、前記特定手段により特定される基板の各検査装置による検査結果および前記画像情報を、前記表示手段の同一の表示画面内に表示する表示制御手段とを備えている
ことを特徴とする部品実装ラインにおける情報管理システム。
【請求項２】
請求項１に記載の部品実装ラインにおける情報管理システムにおいて、
前記データベースに、各処理装置の処理に関する設定条件又は処理に関する各種履歴の少なくとも一方を含む情報である生産関連情報が蓄積され、
前記表示制御手段は、前記検査結果および画像情報と共に各処理装置の生産関連情報を前記同一の表示画面内に表示する
ことを特徴とする部品実装ラインにおける情報管理システム。
【請求項３】
請求項１又は２に記載の部品実装ラインにおける情報管理システムにおいて、
前記表示制御手段は、前記特定手段により特定される基板の情報と共に、当該基板の直前又は直後に処理された基板の情報を前記同一の表示画面内に表示する
ことを特徴とする部品実装ラインにおける情報管理システム。
【請求項４】
請求項１乃至３の何れかに記載の部品実装ラインにおける情報管理システムにおいて、
前記表示手段に表示される情報をスクロールさせるための操作手段を有し、
前記表示制御手段は、前記操作手段の操作に基づき連続して処理された複数の基板の前記情報をスクロール表示可能に構成されていることを特徴とする部品実装ラインにおける情報管理システム。
【請求項５】
請求項１又は２に記載の部品実装ラインにおける情報管理システムにおいて、
前記表示制御手段は、前記特定手段により特定される複数の基板の情報を同一の表示画面内に表示する
ことを特徴とする部品実装ラインにおける情報管理システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回路基板に電子部品を実装する部品実装ラインにおいて種々の情報を管理し表示する情報管理システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、はんだ印刷装置（又はディスペンサ）、実装装置、リフロー炉等を一列に配列して生産ライン（部品実装ライン）を構成し、回路基板を搬送しつつこれら各装置を経由させることにより基板上に電子部品を実装することが行われている。
【０００３】
この種の生産ラインでは、上記の装置毎にその下流側に検査装置を設け、回路基板に施された処理（作業）内容を検査することにより処理不良があると判断した場合には、必要に応じてその基板をライン落ちさせるとともに検査結果をフィードバックして次の基板の処理に反映させることが行われている。
【０００４】
また、各回路基板にバーコード等の識別情報を設け、各検査装置においてこの識別情報を読み取って検査結果と共に情報管理装置（上位計算機）に送信、格納（記憶）し、各回路基板の各検査装置における検査結果を情報管理装置において一元管理することも行われている（例えば特許文献１）。
【特許文献１】特開平５−２２５２０２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
各回路基板の検査装置における検査結果を情報管理装置により一元的に管理する特許文献１に係る情報管理システムによると、基板に処理不良が発生した場合には、情報管理装置に格納されている検査結果を分析することにより不良原因を解析することが可能となる。
【０００６】
しかしながら、特許文献１のような情報管理システムでは、不良原因の分析や評価は、各検査装置の検査結果のみに基づいて行われるため、不良原因を正確に特定するのは必ずしも容易ではなく、信頼性の高い分析結果を速やかに得ることは難しかった。従って、この点に改良の余地が残されている。
【０００７】
本発明は上記の事情に鑑みてなされたものであって、部品実装ラインにおける不良原因等の分析をより正確に、かつ速やかに行えるようにすることを目的としている。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明の情報管理システムは、ペースト塗布装置、部品実装装置、リフロー装置のうち少なくとも部品実装装置を含む複数の処理装置を有し、かつ各処理装置の下流側に、画像認識に基づき当該基板を検査する検査装置を備えた部品実装ラインにおける情報管理システムであって、各基板の各検査装置における検査結果および検査に用いられた画像情報を、各基板をそれぞれ特定可能な識別情報と共に蓄積するデータベースと、このデータベースに蓄積される情報を画面表示可能な表示手段と、この表示手段により情報表示させるべき対象基板を前記識別情報に基づき特定可能な特定手段と、前記データベースに蓄積されたデータのうち、前記特定手段により特定される基板の各検査装置による検査結果および前記画像情報を、前記表示手段の同一の表示画面内に表示する表示制御手段とを備えているものである（請求項１）。
【０００９】
この構成によれば、各検査装置の検査結果とその検査に用いられた画像情報がデータベースに蓄積されて一元管理される。そして、オペレータが特定手段により基板を特定すると、表示制御手段により当該基板の各検査装置における検査結果および画像情報が表示手段による同一の表示画面内に表示される。これよりオペレータは、各検査装置における検査結果および画像情報を同一の表示画面内で確認しながら多面的に処理不良等の発生原因を解析することが可能となる。
【００１０】
この情報管理システムにおいては、前記データベースに、各処理装置の処理に関する設定条件又は処理に関する各種履歴の少なくとも一方を含む情報である生産関連情報が蓄積され、前記表示制御手段は、前記検査結果および画像データと共に各処理装置の生産関連情報を同一の表示画面内に表示するように構成されているのが好適である（請求項２）。
【００１１】
この構成によれば、表示制御手段によりさらに各処理装置の生産関連情報も同一の表示画面内に表示される。そのため、オペレータは、生産関連情報を参考にしつつ処理不良等の発生原因を解析することが可能となり、より多面的な解析を行うことが可能となる。
【００１２】
また、前記表示制御手段は、前記特定手段により特定される基板の情報と共に、当該基板の直前又は直後に処理された基板の情報を前記同一の表示画面内に表示するように構成されているのが好適である（請求項３）。
【００１３】
この構成によれば、表示制御手段により、連続して処理された複数の基板に関する検査結果等の情報が同一の表示画面内に表示される。そのため、オペレータは、連続的に処理された各基板の処理状況を事後的に経過観察することが可能となる。
【００１４】
また、上記の情報管理システムにおいては、表示手段に表示される情報をスクロールさせるための操作手段を有し、前記表示制御手段は、前記操作手段の操作に基づき連続して処理された複数の基板の前記情報をスクロール表示可能に構成されているものであるのが好適である（請求項４）。
【００１５】
この構成によれば、必要に応じて、オペレータによる操作手段の操作に基づき、連続して処理された基板に関する情報が表示画面内にスクロール表示される。そのため、連続的に処理された複数の基板に関する情報を限られた表示画面を使って効率的に表示させながら不良原因等の解析に当ることが可能となる。
【００１６】
一方、上記の情報管理システムにおいて、前記表示制御手段は、前記特定手段により特定される複数の基板の情報を同一の表示画面内に表示するものであってもよい（請求項５）。
【００１７】
この構成によれば、特定手段により特定された任意の複数の基板に関する検査結果等の情報が表示制御手段により同一の表示画面内に表示される。そのため、基板の処理順序に拘わらず、任意の複数の基板に関する情報を表示させて不良原因等の解析に当ることが可能となる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明の請求項１〜５に係る情報管理システムによると、基板の各検査装置における検査結果および検査に用いた画像情報を同一の表示画面内に表示させることができるため、各検査装置の検査結果及び画像情報を比較しつつ多面的に処理不良の発生原因を解析することができる。従って、検査装置の検査結果だけに基づいて処理不良の発生原因を分析する従来のこの種のシステムに比べると、より信頼性の高い分析結果を得ることができるようになる。特に、請求項３〜５に係る情報管理システムによると、複数の基板に関する情報を同一の表示画面内に表示させることができるため、基板の処理状況を事後的に経過観察することにより処理不良の発生原因をより正確に、かつ速やかに探知することができるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。
【００２０】
図１は、本発明の情報管理システムが適用される部品実装ラインを概略的に示している。この生産ラインは、ローダー（図示省略）、はんだ印刷装置（又はディスペンサ）１、印刷検査装置２、２種類の実装装置３Ａ，３Ｂ、実装検査装置４、リフロー炉５、はんだ付検査装置６およびアンローダー（図示省略）を一列に備え、これらを互いにコンベア７で連結した構成となっている。そして、コンベア７により回路基板（以下、単に基板という）を搬送しながら、順次はんだ印刷、部品実装およびリフローの各処理を施すとともに、検査装置２，４，６により各処理後の基板を検査するように構成されている。
【００２１】
各検査装置２，４，６は、図示を省略するがＣＣＤカメラを搭載したヘッドとこのヘッドを平面的に移動させる駆動装置等を備えており、基板の被実装面を撮像することによりその画像データに基づいて各処理の検査、具体的には、印刷検査装置２では印刷ずれ等の検査、実装検査装置４およびリフロー炉５では部品の実装ずれ等の検査が実施されるようになっている。
【００２２】
各装置１〜６は、それぞれ制御装置が搭載された自律型の装置であって、各装置の動作が各自の制御装置により個別に駆動制御されるが、この部品実装ラインでは、さらに各装置１〜６（制御装置）に対してオンラインで接続される中央管理装置８（データベース）が設けられており、各種データがこの中央管理装置８により集中管理されるとともにこの中央管理装置８と各装置１〜６（制御装置）との間で必要なデータの送受信が行われるようになっている。
【００２３】
図２は、中央管理装置８の構成の一例を示すブロック図である。
【００２４】
この図に示すように、中央管理装置８は、その動作制御を司るための制御部本体１０を有している。この制御部本体１０は、論理演算を実行するＣＰＵ１２、そのＣＰＵ１２を制御する種々のプログラムなどを予め記憶するＲＯＭ１３、装置動作中に種々のデータを一時的に記憶するＲＡＭ１４、ＨＤＤ１５およびＩ／Ｏコントローラ（ＩＯＣ）１６等からなり、これらＣＰＵ１２等が互いに内部バスにより接続された構成となっている。
【００２５】
ＨＤＤ１５には、各種アプリケーションソフト用のプログラムや上記各装置１〜６の生産に関する各種情報、例えば基板データ、部品データ、印刷および実装位置データ、リフロー温度データ等の種々のデータが格納（記憶）されている。
【００２６】
ＩＯＣ１６には、キーボードやマウス等の入力手段１８、ＣＲＴモニタやＬＣＤモニタからなる表示手段１９が接続されるとともに上記各装置１〜６が接続されており、制御部本体１０は、入力手段１８により入力される所定の指示情報や、各装置１〜６からの各種操作信号を受けて当該管理装置全体の制御を行うようになっている。
【００２７】
なお、制御部本体１０には、さらに光磁気ディスク等の外部記憶装置１７が設けられており、上記各装置１〜６における生産履歴等の種々の情報がこの外部記憶装置１７に蓄積（記憶）されている。具体的には、各基板の検査装置２，４，６における検査結果および各検査に用いられた基板の画像データ（画像情報）等の検査情報、各処理装置（装置１，３Ａ，３Ｂ，５）で発生したエラーやメンテナンスに関する情報等が記憶されている。
【００２８】
外部記憶装置１７に記憶される情報のうち上記検査情報は、部品実装ラインの稼動中、各検査装置２，４，６から自動送信され、各基板の識別情報と共に外部記憶装置１７に順次記憶される。基板の識別情報は、例えばバーコードやＱＲコードとして基板毎に記されており、各検査装置２，４，６における基板の画像認識の際に同時に読み取られ、検査結果および画像データと共に中央管理装置８に送信されるようになっている。なお、エラー関連情報やメンテナンス関連情報等は、各装置１〜６に設けられるキーボード等の入力手段１８をオペレータが操作し、エラー内容やメンテナンス内容を入力することにより中央管理装置８に送信されるようになっている。
【００２９】
図３は、制御部本体１０に含まれる機能構成のうち、外部記憶装置１７に記憶されている情報を表示手段１９により画像表示させるための機能構成をブロック図で示している。
【００３０】
この図に示すように、制御部本体１０は、上記の機能構成として主制御部２１と表示制御部２２とを有している。
【００３１】
主制御部２１は、画像表示のための各種処理を統括的に制御するものである。表示制御部２２は、予め記憶されているプログラムに従って前記表示手段１９に所定の画面表示を行うとともに、オペレータの前記入力手段１８の操作による表示指示に応じて、前記外部記憶装置１７に記憶されている各種情報を表示手段１９に表示させるべく表示制御を行うものである。具体的には、基板の識別情報の入力に応じ、この識別情報により特定される基板およびその前後（直前、直後）に生産された基板の各検査結果とその際の検査画像（画像データ）、さらに表示可能なメンテナンス関連情報等がある場合には当該情報を表示手段１９の同一画面内に表示させる。なお、当実施形態では、前記入力手段１８が本発明に係る特定手段に相当する。
【００３２】
図４は、表示制御部２２の制御に基づく表示手段１９の表示画面の一例を示している。
【００３３】
この図に示すように、表示画面３０は、その右側から順に上記各装置１〜６にそれぞれ対応する表示スペース３０１〜３０６とされている。
【００３４】
画面３０の中段左端には、入力された識別情報３１（図示の例ではｎ）が表示され、当該識別情報３１に対応する基板（識別情報がｎの基板；以下、指定基板という）の各検査装置２，４，６における検査画像および検査結果がそれぞれ横並びに表示される。
【００３５】
具体的には、印刷検査装置２、実装検査装置４およびはんだ付検査装置６の各検査画像Ｐ１〜Ｐ３が、それぞれ対応する検査スペース３０２，３０４，３０６に右側から順に横並びに表示されるとともに、各検査画像Ｐ１〜Ｐ３の直ぐ下側にそれぞれの検査結果３２が表示される。なお、図示の例は、電子部品として集積回路チップＩＣ１，チップ抵抗Ｒ１，チップコンデンサＣ１を実装する場合の例であって、従って、検査画像Ｐ１は基板上ランドにはんだが塗布された直後、検査画像Ｐ２は部品の実装処理が終了した直後、検査画像Ｐ３はリフロー処理が終了した直後の基板をそれぞれ示す画像である。
【００３６】
また、画面３０の上段には、指定基板（識別情報ｎの基板）の直後に生産された基板（識別情報がｎ＋１の基板）の各検査画像Ｐ１〜Ｐ３および検査結果３２が同様にして横並び表示され、さらに画面３０の下段には、指定基板の直前に生産された基板（識別情報がｎ−１の基板）の各検査画像Ｐ１〜Ｐ３および検査結果３２が同様にして横並びに表示される。これにより指定基板を含む連続して生産された３つの基板の各検査装置２，４，６における検査画像Ｐ１〜Ｐ３および検査結果が同一表示画面３０内に表示される。
【００３７】
画面３０には、さらにはんだ印刷装置１、実装装置３Ａ，３Ｂおよびリフロー炉５のメンテナンスに関する情報（メンテナンス関連情報３４という）とエラーに関する情報（エラー関連情報３５）とが表示される。
【００３８】
これらの表示３４，３５のうちメンテナンス関連情報３４は、メンテナンス内容、メンテナンス時間等のメンテナンスに関する種々の情報であって、メンテナンスが行われた装置に対応する表示スペース３０１，３０３，３０５であって、かつその実施時期に対応した位置に表示される。例えば、はんだ印刷装置１において、指定基板（ｎ）とその次の基板（ｎ＋１）との処理の間にメンテナンスによる停止期間があった場合には、はんだ印刷装置１の表示ペース３０１であって、中段の表示部分と上段の表示部分との間にメンテナンス関連情報３４が表示される（図示の例では「ライン停止ため２０分停止」というメンテナンス関連情報３４が表示されている）。
【００３９】
一方、エラー関連情報３５は、エラーの内容、対処方法等のエラーに関する種々の情報であって、エラーが発生した基板に対応し、かつ当該エラーが検出された検査装置２，４，６に対応する表示スペース３０２，３０４，３０６に表示される（図示の例では、指定基板（ｎ）についてチップ抵抗Ｒ１の実装ミスが発生したためこれを手作業で実装することにより処理した旨の表示（「Ｒ１手実装」）が表示スペース３０４にされている）。
【００４０】
次に、上記制御部本体１０の制御に基づく表示手段１９の表示動作の一例について図５のフローチャートに基づいて説明する。
【００４１】
まず、中央管理装置８が起動すると、表示制御部２２により表示手段１９に所定のメニュー画面が表示される（ステップＳ１）。メニュー画面には、中央管理装置８において実行可能な各種演算、表示等のメニューが、入力手段１８の操作により選択可能に表示される。この際、メニューの一つとして外部記憶装置１７の各種情報を表示させるための例えば「工程分析画面表示」の選択欄が表示される。
【００４２】
次いで、上記メニューから「工程分析画面表示」が選択されたか否かが判断され、ここでＹＥＳと判断されると、基板を特定するための識別情報の入力画面が表示され、さらに当該識別情報の入力有無が判断される（ステップＳ２〜Ｓ４）。ここで、ＹＥＳと判断されると、すなわちオペレータが入力手段１８を操作して基板の識別情報を入力すると、表示制御部２２により図４に示したような画面が表示手段１９に表示される（ステップＳ５）。具体的には、指定した基板（入力された識別情報により特定される基板）及びその前後に生産された基板の各検査装置２，４，６の検査画像、検査結果が同一の表示画面内に表示されるとともに、各装置１，３Ａ，３Ｂ，５においてメンテナンスが実施され、あるいは各検査装置２，４，６においてエラーが発生していた場合には、これらメンテナンス関連情報３４及びエラー関連情報３５がこの表示画面内に併せて表示される。
【００４３】
次いで、画面切換入力の有無が判断される（ステップＳ６）。図示を省略するが、上記表示画面内には、例えば「画面切換」の選択欄が表示されており、オペレータが入力手段１８を操作してこの欄を選択した場合には、ステップＳ６においてＹＥＳと判断され、この場合には、ステップＳ３に移行されて識別情報の入力画面が表示される。これにより、オペレータが再度、別の識別情報を入力すると、他の基板に関する検査画像等の情報が表示手段１９に表示されることとなる。
【００４４】
ステップＳ６でＮＯと判断された場合には、さらに終了入力の有無が判断される（ステップＳ７）。図示を省略するが、ステップＳ５の表示画面内には、上記の「画面切換」欄に加えて「表示終了」の欄が表示されており、オペレータが入力手段１８を操作してこの欄を選択した場合には、ステップＳ７でＹＥＳと判断され、この場合には、ステップＳ１に移行されて表示手段１９にメニュー画面が表示される。なお、ステップＳ７においてＮＯと判断された場合には、ステップＳ６に移行される。
【００４５】
以上のような部品実装ラインによると、各基板の各検査装置２，４，６における検査結果および検査画像が中央管理装置８に蓄積され、必要な場合には、オペレータが当該中央管理装置８の入力手段１８を操作して所望の基板を指定することにより、当該基板の各検査装置２，４，６における検査結果および検査画像を表示手段１９の同一の表示画面内に表示させることができる。そのため、処理不良が発生した場合などには、同一の表示画面内に表示された各検査画像等を見比べながら当該基板の各工程の作業状況、すなわちはんだ印刷装置１、実装装置３Ａ，３Ｂおよびリフロー炉５の各処理状況を確認することにより、多面的に不良原因を解析することができる。
【００４６】
特に、この中央管理装置８では、オペレータによる指定基板に加えて、その前後に生産された基板の検査結果および検査画像を同一の表示画面内に表示させ、さらにはんだ印刷装置１、実装装置３Ａ，３Ｂおよびリフロー炉５の各メンテナンス関連情報３４およびエラー関連情報３５についてもその表示画面内に併せて表示させるようにしているので、オペレータは、連続的に生産された基板に関するはんだ印刷装置１、実装装置３Ａ，３Ｂおよびリフロー炉５における処理状況を、各装置１，３Ａ，３Ｂ，５のメンテナンス情報およびエラー情報を参考にしつつ事後的に経過観察することができる。
【００４７】
従って、処理不良等が発生した際に、単にその検査結果のみに基づいて不良要因等を解析し得るように構成されている従来のこの種の情報管理システムと比較すると、不良要因の解析をより正確に、かつ速やかに行うことができるようになる。
【００４８】
なお、上述した部品実装ラインは、本発明に係る情報管理システムが適用された部品実装ラインの一実施形態であって、その具体的な構成は、本発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。例えば、次のようなものであってもよい。
（１）実施形態では、図４に示すように、表示手段１９の同一の表示画面３０内に、指定基板を含みその前後に生産された基板の検査画像、検査結果を表示しているが次のように表示してもよい。
【００４９】
ａ）指定基板を上段（又は下段）に表示し、その下側（又は上側）に、指定基板の前（又は後）に連続して生産された一乃至複数の基板の検査画像等を表示する。
【００５０】
ｂ）指定基板として、オペレータが任意に指定した複数の基板の検査画像等を表示する。
【００５１】
ｃ）指定基板の検査画像等だけを表示する。
【００５２】
要は、指定基板の各検査装置２，４，６における検査結果および検査画像（検査に用いられた画像情報）を表示するものであればよい。
（２）実施形態では、各検査装置２，４，６の検査画像等を横並びに表示しているが、縦並びに表示するようにしてもよい。
（３）表示手段１９に表示される基板の検査画像等をマウス等の操作手段を使ってスクロールさせるように構成してもよい。具体的には、表示制御部２２により表示画面３０内にスクロールバーを表示させ、これをマウスにより操作させたり、キーボードの「PageUp」「PageDown」キーを押すことにより、連続して生産された基板の検査画像等をスクロール表示させるように構成してもよい。この構成によれば、連続的に処理された複数の基板に関する検査画像等の情報を限られた表示画面を使って効率的に表示させながら不良原因等の解析に当ることができる。
（４）実施形態では、生産関連情報として、はんだ印刷装置１、実装装置３Ａ，３Ｂおよびリフロー炉５のメンテナンス関連情報３４やエラー関連情報３５を表示するようにしているが、この情報に加えて（又はこの情報に代えて）、各装置１，３Ａ，３Ｂ，５の処理に関する設定条件を表示するようにしてもよい。例えば、図４において、はんだ印刷装置１の表示スペース３０１のうち各基板に対応する箇所（段）に、印刷処理に使用したマスク番号等の情報を、実装装置３Ａ，３Ｂの表示スペース３０３のうち各基板に対応する箇所）に、使用されたノズル番号や段取り（部品供給装置の配列）等の情報を、リフロー炉５の表示スペース３０５うち各基板に対応する箇所に、温度に関する情報等をそれぞれ表示するようにしてもよい。このようにすれば、不良原因等の解析をこれらの設定条件を考慮しながら行うことが可能となるため、よりスムーズに原因解析を行うことが可能となる。
（５）実施形態では、入力手段１８の操作により指定された基板（その前後に生産された基板を含む）の検査画像の全体を表示するようにしているが、例えば、さらに入力手段１８の操作により検査画像のうち特定の実装ポイントのみの検査画像を表示させるようにしてもよい。この場合、当該検査画像を拡大表示する等して認識容易に表示するのが好ましい。これによれば、基板の特定の実装ポイントについて問題がある場合に有用となる。
【図面の簡単な説明】
【００５３】
【図１】本発明に係る情報管理システムが適用される部品実装ラインを示す模式図である。
【図２】中央管理装置の制御系を示すブロック図である。
【図３】制御部本体に含まれる機能構成のうち、外部記憶装置に記憶されている情報を表示手段により画像表示させるための機能構成を示すブロック図である。
【図４】表示制御部による表示手段の表示制御の一例を示す図である。
【図５】制御部本体の制御に基づく表示手段の表示動作の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００５４】
１  クリームはんだ印刷装置
２  印刷検査装置
３Ａ，３Ｂ  実装装置
４  実装検査装置
５  リフロー炉
６  はんだ付検査装置
８  中央管理装置
１０  制御部本体
１７  外部記憶装置
１８  入力手段
１９  表示手段
２１  主制御部
２２  表示制御部
【図１】
2006210729.tif 000003
【図２】
2006210729.tif 000004
【図３】
2006210729.tif 000005
【図４】
2006210729.tif 000006
【図５】
2006210729.tif 000007