(57)【要約】【課題】  研削される工具を測定のつど着脱することなく、工具の所要寸法を測定できるスコープ装置、工具の研削装置、工具の製造方法及び工具の検査方法を提供する。【解決手段】  工作機械４のテーブル６に着脱自在とされており、テーブル６に着脱可能とされたベース２１と、工具１の被測定部に対向して位置するようにベース２１に取り付けられたスコープ本体２５とを備えてなり、被測定部の中心を通り、スコープ本体２５側へ延びるように測定基準線Ｙを設定したときに、スコープ本体２５が、測定基準線Ｙの方向に移動自在であって、このＹを含む平面上において、Ｙに直交する方向Ｘに移動自在であって、且つ、このＹを通り、前記平面に直交する方向Ｚに移動自在に支持されると共に、スコープ本体２５の方向Ｘへの移動量を計測する計測手段２３を備えた。【選択図】  図１
2006082172.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
研削用の工作機械に取り付けられ、この工作機械により研削される工具の所要寸法を測定するために、前記工作機械のテーブルに着脱自在とされるスコープ装置であって、
前記テーブルに着脱可能とされたベースと、
前記工具の被測定部に対向して位置するように前記ベースに取り付けられるスコープ本体とを備えてなり、
前記被測定部の中心を通り、前記スコープ本体側へ延びるように測定基準線Ｙを設定したときに、
前記スコープ本体が、前記測定基準線Ｙの方向に移動自在であって、このＹを含む平面上において、Ｙに直交する方向Ｘに移動自在、且つ、このＹを通り、前記平面に直交する方向Ｚに移動自在に支持されると共に、
前記スコープ本体の前記方向Ｘへの移動量を計測する計測手段を備えることを特徴とするスコープ装置。
【請求項２】
前記スコープ本体は、前記測定基準線Ｙ上に配置可能とする第１の光路と、この第１の光路に直交する方向の第２の光路とを有するＬ字状の測定光路を備えた構成とされ、
前記第２の光路上に測定窓が設けられていることを特徴とする請求項１に記載のスコープ装置。
【請求項３】
工具を把持する工具把持部と、この工具把持部に把持された前記工具に対して進退自在に設けられた研削部と、前記工具把持部と前記研削部との間に配置されたテーブル上に着脱自在に設けられた請求項１または２記載のスコープ装置とを備えてなり、
前記工具把持部は、前記工具を回転可能とする回転機構を備えていることを特徴とする工具の研削装置。
【請求項４】
工具を回転可能に把持する工具把持部に把持された前記工具を、この工具に対して進退自在に設けられた研削部により研削し、
この研削部を後退させ、
前記工具把持部と前記研削部との間に配置されたテーブル上に請求項１または２記載のスコープ装置を取り付けて前記工具の所要寸法を測定することにより、前記研削が完了したか否かを確認することを特徴とする工具の製造方法。
【請求項５】
工具を回転可能に把持する工具把持部に把持された前記工具を、この工具に対して進退自在に設けられた研削部により研削し、
この研削部を後退させ、
前記工具把持部と前記研削部との間に配置されたテーブル上に請求項１または２記載のスコープ装置を取り付けて前記工具の所要寸法を測定することにより、前記研削が完了したか否かを確認することを特徴とする工具の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、研削盤等の工作機械に装着されて研削される工具の所要寸法を、当該工作機械の機上で測定できることを可能としたスコープ装置、このスコープ装置を用いた工具の研削装置並びに工具の製造方法及び工具の検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
磨耗した工具、例えばドリルを再研削する際には、当該ドリルが研削盤に取り付けられた後、所定寸法の逃げ面研削やシンニング研削等が施される。
従って、かかる再研削の工程では、前述の逃げ面研削やシンニング研削が所望の寸法にて施されているか否かが重要であり、これらの寸法を随時測定しながら再研削を行う必要がある。
【０００３】
ところで図６において、例えばドリル１のシンニング研削を行う際、押込み抵抗を低減するためにはチゼル部２を極力小寸法とすることが望ましい一方、ドリル１の強度を保つためにはウェブの厚みもある程度必要とされる。
従って、図６に示されるＡ寸法とＢ寸法を随時測定し、所望の範囲内に管理することが望まれるのであるが、これらＡ寸法、Ｂ寸法の値は非常に小さく、肉眼で正確に測定することは極めて困難である。
【０００４】
このため従来は、再研削を行っている途中であっても、一旦ドリルを研削盤から取り外し、この取り外したドリルのＡ寸法とＢ寸法を別途設置されている工作顕微鏡にて測定し、その後、改めてドリルを研削盤に取り付けて最終的な所望の寸法まで再研削をすることが繰り返されていた。
一方、例えば特許文献１に記載されているように、工作機械から工具を着脱することなしに、工具の所要寸法の測定を行えるようにしようとする試みも知られている。
【特許文献１】特開２００１−５９７１３号公報
【０００５】
この特許文献１に記載されている工具の測定装置においては、複数のテレビカメラにより撮影された画像から、測定すべき形状パラメータの算出に必要な複数個の測定点が選定され、この複数個の測定点のそれぞれの三次元座標が測定され、これに基づいて工具の先端部における形状パラメータを測定する処理が行われている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところが、一旦ドリルを研削盤から取り外して所要寸法を測定する場合には、再度ドリルを研削盤に取り付ける際に取り付け誤差が生じるため、精度の良い再研削を行うために、砥石とドリルの当たりを微調整しなければならないという煩わしさがあった。
【０００７】
一方、特許文献１に記載されている測定装置においては、例えばドリルのような工具のシンニング研削を行う際に、図６のＡ寸法とＢ寸法のような寸法を測定する場合には、好ましくは測定装置の複数のテレビカメラの軸線は、被測定物たる工具の測定部位の正面に配置されることが望ましい。
しかしながら、工具の測定部位の正面には、複数のテレビカメラを設置するだけのスペースは無く、テレビカメラを工具の測定部位の正面から外れた位置に配置せざるを得なかった。
【０００８】
このため、テレビカメラの視点座標系に測定点を投影し、工具の先端寸法を算出しなければならず、測定装置が大がかり且つ高価となっていた。
また、特許文献１に記載されている測定装置は取り付け、取り外しにも多大な工数を要していた。
【０００９】
本発明は、かかる課題に鑑みて為されたものであり、研削される工具を測定のつど着脱することなく、再研削を行っている途中であっても、当該工具の所要寸法を測定できるスコープ装置、工具の研削装置、工具の製造方法及び工具の検査方法を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
上記課題を解決して、このような目的を達成するために、請求項１記載のスコープ装置は、研削用の工作機械に取り付けられ、この工作機械により研削される工具の所要寸法を測定するために、前記工作機械のテーブルに着脱自在とされるスコープ装置であって、前記テーブルに着脱可能とされたベースと、前記工具の被測定部に対向して位置するように前記ベースに取り付けられるスコープ本体とを備えてなり、前記被測定部の中心を通り、前記スコープ本体側へ延びるように測定基準線Ｙを設定したときに、前記スコープ本体が、前記測定基準線Ｙの方向に移動自在であって、このＹを含む平面上において、Ｙに直交する方向Ｘに移動自在、且つ、このＹを通り、前記平面に直交する方向Ｚに移動自在に支持されると共に、前記スコープ本体の前記方向Ｘへの移動量を計測する計測手段を備えることを特徴とする。
【００１１】
この請求項１記載のスコープ装置によると、ベースは、工作機械のテーブルに着脱可能とされているので、研削される工具を工作機械に取り付けたままで、工具の所要寸法がスコープ本体の方向Ｘへの移動量として測定される。
また、スコープ本体が、前記方向Ｘ、方向Ｙ及び方向Ｚの各方向に移動自在に支持されているので、スコープ本体の位置調節が任意に行われる。
【００１２】
請求項２記載のスコープ装置は、前記スコープ本体は、前記測定基準線Ｙ上に配置可能とする第１の光路と、この第１の光路に直交する方向の第２の光路とを有するＬ字状の測定光路を備えた構成とされ、前記第２の光路上に測定窓が設けられていることを特徴とする。
【００１３】
この請求項２記載のスコープ装置によると、スコープ本体の第１の光路は、研削される工具の測定基準線Ｙ上に配置され、この第１の光路に直交する第２の光路上に測定窓が設けられているので、測定基準線Ｙと直交する方向Ｘから研削される工具の所要寸法が測定される。
【００１４】
請求項３記載の工具の研削装置は、工具を把持する工具把持部と、この工具把持部に把持された前記工具に対して進退自在に設けられた研削部と、前記工具把持部と前記研削部との間に配置されたテーブル上に着脱自在に設けられた請求項１または２記載のスコープ装置とを備えてなり、前記工具把持部は、前記工具を回転可能とする回転機構を備えていることを特徴とする。
【００１５】
また、請求項４記載の工具の製造方法は、工具を回転可能に把持する工具把持部に把持された前記工具を、この工具に対して進退自在に設けられた研削部により研削し、この研削部を後退させ、前記工具把持部と前記研削部との間に配置されたテーブル上に請求項１または２記載のスコープ装置を取り付けて前記工具の所要寸法を測定することにより、前記研削が完了したか否かを確認することを特徴とする。
【００１６】
また、請求項５記載の工具の検査方法は、工具を回転可能に把持する工具把持部に把持された前記工具を、この工具に対して進退自在に設けられた研削部により研削し、この研削部を後退させ、前記工具把持部と前記研削部との間に配置されたテーブル上に請求項１または２記載のスコープ装置を取り付けて前記工具の所要寸法を測定することにより、前記研削が完了したか否かを確認することを特徴とする。
【００１７】
請求項３記載の工具の研削装置、請求項４記載の工具の製造方法、及び請求項５記載の工具の検査方法によると、工具を研削している途中であっても、研削部を一旦後退させて、工具把持部と研削部との間にスコープ装置を取り付けることにより、研削される工具を工作機械に取り付けたままで所要寸法が測定される。
また、互いに直交する第１の光路と第２の光路を有するスコープ装置を備えているので、第１の光路を研削される工具の測定基準線Ｙ上に配置することにより、この第１の光路に直交する第２の光路上、すなわち、測定基準線Ｙと直交する方向Ｘから研削される工具の所要寸法が観察・測定される。
さらに、工具把持部は、工具を回転可能とする回転機構を備えているので、工具の複数の所要寸法を測定する際にも、工具自体を回転させることにより、当該複数の所要寸法が測定される。
【発明の効果】
【００１８】
請求項１記載の発明によれば、スコープ装置は、工作機械のテーブルに着脱可能とされており、工具を測定のつど取り外さなくても所要の寸法の測定を行うことができるので、工具の着脱に伴う取り付け誤差が生じることが無く、かかる取付け誤差に伴う再調整を不要とすることができる。
【００１９】
また、スコープ本体は、前記方向Ｘ、方向Ｙ及び方向Ｚの各方向に移動自在に支持されているので、研削される工具の所要寸法を測定する際に、スコープ本体の位置調節を任意に行うことができる。
【００２０】
請求項２記載の発明によれば、請求項１の効果に加えて、測定基準線Ｙと直交する方向Ｘから研削される工具の所要寸法を測定できるので、測定者が肉眼で正面視することが困難な工具の測定部位を、無理の無い姿勢で正面視しながら測定することが可能となる。
【００２１】
請求項３記載の工具の研削装置、請求項４記載の工具の製造方法、及び請求項５記載の工具の検査方法によると、工具を研削している途中であっても、研削部を一旦後退させて、工具把持部と研削部との間にスコープ装置を取り付けることにより、研削される工具を工作機械に取り付けたままで所要寸法を測定することができるので、工具の着脱に伴う取り付け誤差が生じることが無く、かかる取付け誤差に伴う再調整を不要とすることができる。
【００２２】
また、互いに直交する第１の光路と第２の光路を有するスコープ装置を備えているので、第１の光路を研削される工具の測定基準線Ｙ上に配置することにより、この第１の光路に直交する第２の光路上、すなわち、測定基準線Ｙと直交する方向Ｘから研削される工具の所要寸法を観察・測定することができる。
従って、測定者が肉眼で正面視することが困難な工具の測定部位を、無理の無い姿勢で正面視しながら測定することが可能となる。
【００２３】
さらに、工具把持部は、工具を回転可能とする回転機構を備えているので、工具自体を回転させることにより、スコープ装置側でスコープ本体の方向Ｘへの移動量を計測すれば、工具の複数の所要寸法を測定することができる。
従って、スコープ装置を大掛かりで高価なものとする必要が無い。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、本発明によるスコープ装置、工具の研削装置、工具の製造方法及び工具の検査方法を図１乃至図６に基づき説明する。
図１は、本発明を研削装置に適用した一実施形態であり、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図を示すものである。
【００２５】
図１において、研削装置３は、万能研削盤４、スコープ装置５から構成されている。
万能研削盤４は、図示しない研削盤本体から紙面左右方向に伸延する定盤６、研削盤本体に設けられ、定盤６の上方に配された回転機構を有するスピンドル７、このスピンドル７に設けられたチャック（工具把持部）８を備えている。
【００２６】
ここで、本実施の形態においては、説明の便宜上、以下のように、Ｘ，Ｙ，Ｚの各方向を定義し、各図面には、研削装置３におけるＸ，Ｙ，Ｚの各方向が記載されている。
（１）チャック８の軸線を測定基準線Ｙとし、この測定基準線Ｙに平行な方向を方向Ｙとする。
（２）測定基準線Ｙを含み、定盤６に平行な平面内において、当該測定基準線Ｙに直交する方向を方向Ｘとする。
（３）測定基準線Ｙを通り、定盤６に平行な平面に直交する方向を方向Ｚとする。
【００２７】
チャック８と方向Ｙに対向する側には砥石９が設けられており、この砥石９の中心９ａは、測定基準線Ｙより上側（方向Ｚ側）にオフセットされている。
また、砥石９は、図示しない送り機構により方向Ｙの紙面左右に移動自在とされると共に、図示しないモータ等の駆動手段により、測定基準線Ｙを通るＹ−Ｚ平面に平行な平面内を図中のＣ方向に回転駆動されて、ドリル１の先端を研削するように配置されている。
【００２８】
定盤６の幅方向中央には、ガイド溝１０が、定盤６の長手方向に延在して形成されている。
また、定盤６のスピンドル７が設けられている端部と反対側の端部には、ストッパブロック１１が取り付けられている。このストッパブロック１１の図示しない底面には、ガイド溝１０に嵌合させるための凸部が形成されており、この凸部とガイド溝１１の嵌合により、ストッパブロック１１の方向Ｘへの動きが規制される構成となっている。
【００２９】
次に、スコープ装置５の構成について、図１乃至図４に基づいて説明する。
本実施の形態におけるスコープ装置５は、ベース２１と、ステージ２２、ダイアルゲージ（計測手段）２３、スタンド２４、スコープ本体２５から、主として構成されるものである。
【００３０】
ベース２１は、ブロック状に形成されており、このベース２１の図示しない底面には、ガイド溝１０に嵌合させるための凸部が形成されており、この凸部とガイド溝１１を嵌合させることにより、ベース２１の方向Ｘへの動きが規制できるようにされている。
【００３１】
このベース２１の上側平坦面２１ａ上には、ステージ２２の固定部２２ａが、ネジなどにより取り付けられている。
【００３２】
図２においてステージ２２は、複数の凹凸部を備えた固定部２２ａに対し、この固定部２２ａの複数の凹凸部に係合する凹凸部を備える可動部２２ｂが、図中の方向Ｘにスライド可能に構成されている。
すなわち、固定部２２ａと可動部２２ｂが互いに対向する面には、図示しないＶ溝とクロスローラが設けられており、固定部２２ａと可動部２２ｂが滑らかにスライドできる微動ユニットとされている。
また、ステージ２２の内部には図示しないバネの引き込み圧力による復帰機構が設けられており、図２のように、可動部２２ｂが固定部２２ａに対して完全に対向している状態から、可動部２２ｂを相対的にスライドさせても、当該復帰機構により、この可動部２２ｂは図２の対向状態に復帰可能にされている。
【００３３】
更に、固定部２２ａからは、クランプ部３１が突設して設けられており、可動部２２ｂからは、突片部３２が突設して設けられている。
クランプ部３１には、マイクロメータ３３のスリーブ部３３ａが取り付けられている。
また、マイクロメータ３３のスピンドル部３３ｂは、可動部２２ｂから突設された突片部３２に当接させられており、前述の復帰機構の働きにより、スピンドル部３３と可動部２２ｂ及び突片部３２とは、方向Ｘ前後に一体的に移動可能とされている。 
【００３４】
また、ベース２１の上側平坦面２１ａ上には、図１に示されるように、ダイアルゲージ２３のステム部２３ａが、押さえプレート３４によって固定されている。
そして、ダイアルゲージ２３のスピンドル部２３ｂの先端に形成された測定子２３ｃは、ステージ２２の可動部２２ｂの上面２２ｃに取り付けられる後述するスタンド２４の第１の固定部４２ａの一端に当接させられており、この第１の固定部４２ａの方向Ｘの変位、すなわち、ステージ２２の方向Ｘの変位を読み取り可能に配置されている。
【００３５】
ステージ２２の可動部２２ｂの上面２２ｃには、ネジなどの方法により、スタンド２４の台座４１（図３参照）が取り付けられている。
【００３６】
図３に示されるスタンド２４は、方向Ｘのラックアンドピニオン部４２、方向Ｙのラックアンドピニオン部４４、方向Ｚのラックアンドピニオン部４６、鏡筒受け４８から主として構成されている。
方向Ｘのラックアンドピニオン部４２は、台座４１に固定された第1の固定部４２ａ、ラックが形成された第1の従動部４２ｂから構成されており、Ｘ軸ハンドル４３を回転させることにより、このＸ軸ハンドル４３の先端に設けられた図示しないピニオンが、第1の従動部４２ｂのラックと噛み合って、方向Ｘへの粗動が行えるようにされている。
【００３７】
方向Ｙのラックアンドピニオン部４４は、第1の従動部４２ｂに固定された第２の固定部４４ａ、ラックが形成された第２の従動部４４ｂから構成されており、Ｙ軸ハンドル４５を回転させることにより、このＹ軸ハンドル４５の先端に設けられた図示しないピニオンが、第２の従動部４４ｂのラックと噛み合って、方向Ｙへの粗動が行えるようにされている。
【００３８】
同様に、方向Ｚのラックアンドピニオン部４６は、第２の従動部４４ｂに固定された第３の固定部４６ａ、ラックが形成された第３の従動部４６ｂから構成されており、Ｚ軸ハンドル４７を回転させることにより、このＺ軸ハンドル４７の先端に設けられた図示しないピニオンが、第３の従動部４６ｂのラックと噛み合って、方向Ｚへの粗動が行えるようにされている。
また、第３の従動部４６ｂには、スコープ本体２５を取り付けるための鏡筒受け４８が連設されており、この鏡筒受け４８には、鏡筒クランプねじ４９が設けられている。
【００３９】
図４に示されるスコープ本体２５は、鏡筒６１、対物レンズ６２、接眼レンズ（測定窓）６３から主に構成されている。また、鏡筒６１の対物レンズ６２側の端部近傍には、鏡筒受け４８に支持される被支持部６４が形成されている。
【００４０】
この実施の形態のスコープ本体２５においては、対物レンズ６２の軸線Ｌ１を中心として形成される第１の光路Ｐ１と、接眼レンズ６３の軸線Ｌ２を中心として形成される第２の光路Ｐ２が直交されてＬ字状に設けられており、これら第１の光路Ｐ１と第２の光路Ｐ２により、測定光路Ｐが構成されている。
ここで、接眼レンズ６３には、観察される対象と測定光路Ｐの中心とが一致したことが判別できるように、図示しない十字線が形成されている。
【００４１】
なお、本実施の形態においては、スコープ本体２５の光路Ｐ２の軸線Ｌ２は、Ｘ−Ｙ平面に対して約４５°上方に傾斜されているが、この角度は、測定の際に適宜設定されるものである。
【００４２】
以上の構成とされたスコープ装置５を万能研削盤４に取り付ける際には、図１に示されるように、スコープ本体２５の第１の光路Ｐ１の軸線Ｌ１を、方向Ｙに一致させながら、ベース２１の一の側面２１ｂを、ストッパブロック１１のドリル１と対向する側の側面１１ａに当接させる。
そして、ベース２１を図示しないクランプ等の手段により定盤６と固定させることにより、ベース２１の方向Ｙの位置決めがされる。
【００４３】
また、前述のように、ベース２１の図示しない底面には、ガイド溝１０に嵌合させるための凸部が形成されており、この凸部とガイド溝１１を嵌合させることにより、ベース２１の方向Ｘへの動きが規制される。
また、ベース２１をクランプ等の手段により定盤６と固定させるので、ベース２１の方向Ｚの位置決めもなされる。
このようにスコープ装置５が、万能研削盤４に取り付けられて研削装置３が構成される。
【００４４】
次に、研削装置３の使用方法（使用手順）について説明すると、
（手順１）  スコープ装置５を取り付けない状態で、砥石９をＣ方向に回転させつつ方向Ｙからドリル１に接触させることにより、シンニング研削を行う。
【００４５】
（手順２）  シンニング寸法が所望の値に近づいたら、一旦、砥石９を後退させ、ドリル１と砥石９との間のスペースにスコープ装置５を前述の手順に従って取り付ける。
【００４６】
（手順３）  次に、図６（ａ）におけるドリル１の先端のＡ寸法の基準線Ｄ１が、方向Ｚと平行になるように図示しない冶具により調整する。
【００４７】
（手順４）  Ａ寸法を測定するために、接眼レンズ（測定窓）６３から、ドリル１の先端を観察しながら、Ｘ軸ハンドル４３、Ｙ軸ハンドル４５及びＺ軸ハンドル４７の調節により、測定光路Ｐの中心（前述した図示しない十字線の中心）を、Ａ寸法のスタート線Ｄ１に合わせる。この際、ピント調整も同時に行う。
【００４８】
（手順５）  ダイアルゲージ２３のゼロ点をセットした後、接眼レンズ（測定窓）６３から、ドリル１の先端を観察しながら、マイクロメータ３３を方向Ｘに向けて、図６において、スタート線Ｄ１からエンド線Ｄ２まで送ることにより、スコープ本体２５上でのＡ寸法をダイアルゲージ２３により読み取る。
【００４９】
なお、マイクロメータ３３を備えているにも拘わらず、ダイアルゲージ２３でＡ寸法を読み取ることとしているのは、マイクロメータ３３では、測定光路Ｐの中心（前述した図示しない十字線の中心）を、Ａ寸法の基準線Ｄ１に合わせたときに、マイクロメータ３３の読みをゼロにリセットすることができないため、ダイアルゲージ２３を用いた方が、Ａ寸法を瞬時に読み取るのに好適だからである。
【００５０】
一例として、光学系の倍率が１０倍で、スコープ本体２５上でのＡ寸法の読み取り値が０．４ｍｍであったとすると、実際のＡ寸法は０．０４ｍｍということになる。
【００５１】
（手順６）  次に、図６（ａ）の状態から、ドリル１が取り付けられているスピンドル（回転機構）８を、Ｂ寸法のスタート線Ｄ３が方向Ｚと平行になるように反時計方向に所定角度回転させる。
【００５２】
（手順７）  Ｂ寸法を測定するために、接眼レンズ（測定窓）６３から、ドリル１の先端を観察しながら、Ｘ軸ハンドル４３、Ｙ軸ハンドル４５及びＺ軸ハンドル４７の調節により、測定光路Ｐの中心（前述した図示しない十字線の中心）を、Ｂ寸法のスタート線Ｄ３に合わせる。
【００５３】
（手順８）  Ａ寸法と同様に、スコープ本体２５上でのスタート線Ｄ３からエンド線Ｄ４までのＢ寸法を測定し、光学系の倍率に基づいて、実際のＢ寸法を得る。
【００５４】
以上の手順により、ドリル１のシンニングのＡ寸法及びＢ寸法が所望の値に到達していないときは、スコープ装置５を取り外し、（手順１）から（手順８）が再度繰り返される。
【００５５】
本実施の形態によれば、スコープ装置５は、万能研削盤４の定盤６に着脱可能とされており、ドリル１を測定のつど取り外さなくてもシンニング寸法Ａ及びＢの測定を行うことができるので、ドリル１の着脱に伴う取り付け誤差が生じることが無く、かかる取付け誤差に伴う再調整を不要とすることができる。
【００５６】
また、スコープ本体２５は、方向Ｘ、方向Ｙ及び方向Ｚの各方向に移動自在に支持されているので、研削されるドリル１のシンニング寸法Ａ及びＢを測定する際に、スコープ本体２５の位置調節を任意に行うことができる。
【００５７】
また、測定基準線Ｙと直交する方向Ｘに接眼レンズ（測定窓）が設けられているため、この方向Ｘから、測定者が肉眼で正面視することが困難なドリル１のシンニング寸法Ａ及びＢを測定できることに加え、スコープ本体２５の光路Ｐ２の軸線Ｌ２は、Ｘ−Ｙ平面に対して約４５°上方に傾斜されているので、測定者は、無理の無い姿勢で正面視しながら測定することが可能となる。
【００５８】
また、ドリル１を研削している途中であっても、砥石９を一旦後退させて、チャック８と砥石９との間にスコープ装置５を取り付けることにより、ドリル１を万能研削盤４に取り付けたままでシンニング寸法Ａ及びＢを測定することができるので、ドリル１の着脱に伴う取り付け誤差が生じることが無く、かかる取付け誤差に伴う再調整を不要とすることができる。
なお、この際に、スコープ装置５のベース２１の一の側面２１が、ストッパブロック１１の側面１１ａに当接させられるので、スコープ装置５と定盤６との位置関係がずれることが防止できる。
【００５９】
また、方向Ｘに微動可能なステージ２２と、方向Ｘ、方向Ｙ及び方向Ｚの各方向に粗動可能なスタンド２４を併用しているので、スコープ本体２５の初期位置設定はスタンド２４により速やかに行うことができる一方、シンニング寸法Ａ及びＢは、ステージ２２とダイアルゲージ２３により正確に行うことができる。
【００６０】
また、スピンドル（工具把持部）８は、ドリル１を回転可能とする回転機構を備えているので、ドリル１のシンニング寸法Ａ及びＢを測定する際にも、Ａ寸法を測定した後に、ドリル１自体を所定角度回転させることにより、方向Ｘのみへスコープ本体２５を送ることによりＢ寸法も測定することができる。従って、スコープ装置５を大掛かりで高価なものとする必要が無い。
【００６１】
本発明は、上述した実施の形態に限られるものではなく、例えばエンドミルのギャッシュ位置の測定等にも適用が可能なものである。
また、上述した実施の形態では、方向Ｘに微動可能なステージ２２を設けたが、方向Ｘ、方向Ｙ及び方向Ｚの各方向に動作可能なスタンド２４だけでも所要の寸法測定が行える場合は、ステージ２２は無くても差し支えない。
また、マイクロメータ３３によってもスコープ本体２５の方向Ｘへの微動を読み取ることは可能であるので、ダイアルゲージ２３を省略しても差し支えない。
更に、スコープ本体２５を画像処理手段と結合させることにより、自動的に所望の寸法を測定させるようにしても構わない。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】本発明の実施形態の研削装置を示す図であって、（ａ）は平面図、（ｂ）は正面図である。
【図２】本発明の実施形態の研削装置を構成するスコープ装置に用いられるステージを示す図であって、（ａ）は平面図、（ｂ）は側面図である。
【図３】本発明の実施形態の研削装置を構成するスコープ装置に用いられるスタンドを示す図であって、（ａ）は正面図、（ｂ）は側面図である。
【図４】本発明の実施形態の研削装置を構成するスコープ装置に用いられるスコープ本体を示す図である。
【図５】本発明の実施形態の研削装置により、ドリルを研削している様子を示す図である。
【図６】本発明の実施形態の研削装置により研削されるドリルの測定部位を示す図であって、（ｂ）は、（ａ）を約９０°反時計方向に回転させた図である。
【符号の説明】
【００６３】
１  ドリル  ３  研削装置  ４  万能研削盤  ５  スコープ装置  ７  スピンドル（回転機構）  ８  チャック（工具把持部）  １１  ストッパブロック  ２１  ベース  ２２  ステージ  ２３  ダイアルゲージ（計測手段）  ２４  スタンド  ２５  スコープ本体  Ａ，Ｂ  ドリル１のシンニング寸法  Ｐ１  第１の光路  Ｐ２  第２の光路  Ｙ  測定基準線
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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