(57)【要約】【課題】  同じサイズながらバンク構成などの仕様が異なるメモリモジュールに交換したり、同一メモリモジュールを装着し直したりする際にもメモリテストを実施できる情報処理装置を提供する。【解決手段】  起動時に、装着されるＲＡＭモジュールのメモリテストを実施する情報処理装置において、起動時にＲＡＭモジュールに前回起動時と比べて変化があるか否かが判断され、当該判断結果に基づいてＲＡＭモジュールのメモリテストの実行が制御される。【選択図】  図１
2006301917.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
起動時に、装着されるＲＡＭモジュールのメモリテストを実施する情報処理装置であって、
起動時に、前記ＲＡＭモジュールに前回起動時と比べて変化があるか否かを判断するＲＡＭモジュール変動検出手段と、
前記ＲＡＭモジュール変動検出手段による判断結果に基づいて、前記ＲＡＭモジュールのメモリテストの実行を制御するメモリテスト制御手段とを備える情報処理装置。
【請求項２】
前記ＲＡＭモジュール変動検出手段は、
起動時に、前記ＲＡＭモジュールのＳＰＤ情報を現ＳＰＤ情報として検出するＳＰＤ情報検出手段と、
前記検出された現ＳＰＤ情報を前ＳＰＤ情報として保持するＳＰＤ情報保持手段と、
前記現ＳＰＤ情報と、前記前ＳＰＤ情報とを比較するＳＰＤ情報比較手段とを含み、
前記メモリテスト制御手段は、前記ＳＰＤ情報比較手段による比較結果に基づいて、前記ＲＡＭモジュールのメモリテストの実行を制御することを特徴とする、請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項３】
前記現ＳＰＤ情報と前記前ＳＰＤ情報が同一である場合には、前記メモリテスト制御手段は前記ＲＡＭモジュールのメモリテストの実行を禁止することを特徴とする、請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項４】
前記現ＳＰＤ情報と前記前ＳＰＤ情報が異なる場合には、前記メモリテスト制御手段は前記ＲＡＭモジュールのメモリテストの必要性を提示することを特徴とする、請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項５】
前記現ＳＰＤ情報と前記前ＳＰＤ情報が異なる場合には、前記メモリテスト制御手段は前記ＲＡＭモジュールのメモリテストの実行を許可することを特徴とする、請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項６】
前記メモリテストの実行後に、前記ＳＰＤ情報保持手段に保持されている前ＳＰＤ情報は、前記検出された現ＳＰＤ情報で置き換えられることを特徴とする、請求項５に記載の情報処理装置。
【請求項７】
前記ＳＰＤ情報保持手段は、不揮発性メモリで構成されることを特徴とする、請求項２に記載の情報処理装置。
【請求項８】
前記ＲＡＭモジュール変動検出手段は、
前記ＲＡＭモジュールが装着されか否かを検出してメモリ装着情報を生成するＲＡＭモジュール装着検出手段と、
前記メモリ装着情報を保持するメモリ装着情報保持手段とを含み、
前記メモリテスト制御手段は、前記メモリ装着情報保持手段に保持されているメモリ装着情報に基づいて、前記ＲＡＭモジュールのメモリテストの実行を制御することを特徴とする、請求項１に記載の情報処理装置。
【請求項９】
前記メモリ装着情報が、前記ＲＡＭモジュールが装着されなかったことを示す場合には、前記メモリテスト制御手段は前記ＲＡＭモジュールのメモリテストの実行を禁止することを特徴とする、請求項８に記載の情報処理装置。
【請求項１０】
前記メモリ装着情報が、前記ＲＡＭモジュールが装着されたことを示す場合には、前記メモリテスト制御手段は前記ＲＡＭモジュールのメモリテストの必要性を提示することを特徴とする、請求項８に記載の情報処理装置。
【請求項１１】
前記メモリ装着情報が、前記ＲＡＭモジュールが装着されたことを示す場合には、前記メモリテスト制御手段は前記ＲＡＭモジュールのメモリテストの実行を許可することを特徴とする、請求項８に記載の情報処理装置。
【請求項１２】
前記メモリテストの実行後に、前記メモリ装着情報保持手段に保持されているメモリ装着情報は前記ＲＡＭモジュールが装着されなかったことを示すように変更されることを特徴とする、請求項１１に記載の情報処理装置。
【請求項１３】
前記メモリ装着情報保持手段は、不揮発性メモリで構成されることを特徴とする、請求項８に記載の情報処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は情報処理装置における主記憶装置のテスト方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の情報処理装置においては、起動時の主記憶装置のテストは以下の３つの様態の何れかで実施されている。第１の様態では、毎起動時に全領域のテストが実施される。第２の様態では、起動時にはテストはまったく実施されない。第３の様態では、起動時に検出されたメモリのサイズが前回起動時と変化した場合にテストが実施される。
【特許文献１】特開昭６１−２５９３５５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかしながら、上述の第２の様態では、ユーザが情報処理装置の主記憶装置であるメモリモジュールを増設した場合には、起動後のシステム稼動中にエラーが発生する可能性がある。一方、第１の様態では、主記憶装置の容量がメモリテストに長時間を要する場合には、情報処理装置の起動が毎回遅くなるので使い勝手が損なわれる。
【０００４】
第３の様態は、第１の様態および第２の様態の中間的な方式と言える。つまり、第３の様態では、起動時に検出されたメモリのサイズが、前回起動時のメモリモジュールのサイズと変化した場合にのみメモリテストが実施される。それゆえに、例えば、同じサイズの別のメモリモジュールと換装した場合、またはメモリモジュールを一旦取り外して再度装着し直した（メモリモジュールが脱着される）場合などは、その後のシステム起動時にメモリテストは実行されない。
【０００５】
それゆえに、第３の様態においては、サイズは同じであっても、バンク構成などの仕様が異なるメモリモジュールが装着された際の相性問題や、メモリモジュール装着時の接触不良などを検出することが不可能であることが、システム稼動中のエラー等を誘因する。つまり、起動時にメモリモジュール関連のエラーを検出できないので、システム稼動中にエラーが発生する場合には、そのエラーがメモリモジュールに起因するものなのか、使用しているソフトウェアによる障害なのか、もしくは情報処理装置の他の故障によるものなのかを、ユーザが判断することが困難である。結果、ユーザの業務効率性は低下し、情報処理装置メーカーのサポートコストも上昇する。
【０００６】
よって、本発明は、同じサイズながらバンク構成などの仕様が異なるメモリモジュールをメモリスロットに装着した場合や、同一メモリモジュールを装着し直した際にもメモリテストを実施でき、ユーザの使い勝手を損なうことなくシステムが安定的に稼動できる情報処理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明に係る  起動時に、装着されるＲＡＭモジュールのメモリテストを実施する情報処理装置、起動時に、前記ＲＡＭモジュールに前回起動時と比べて変化があるか否かを判断するＲＡＭモジュール変動検出手段と、
前記ＲＡＭモジュール変動検出手段による判断結果に基づいて、前記ＲＡＭモジュールのメモリテストの実行を制御するメモリテスト制御手段とを備える。
【発明の効果】
【０００８】
本発明に係る情報処理装置は、上記構成を有し、メモリモジュールのサイジング情報の変化時のみメモリのテストを実施する従来の方法に比較して、同じサイズながらバンク構成などの仕様が異なるメモリモジュールをメモリスロットに装着した場合や、同一メモリモジュールを装着し直した際にもメモリテストを実施でき、ユーザの使い勝手を損なうことなくシステムの安定稼動を実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
（第１の実施の形態）
図１および図２を参照して、本発明の第１の実施の形態に係る情報処理装置について説明する。図１に示すように、本実施の形態に係る情報処理装置１００ａは、ＣＰＵ１、制御器２、ＲＡＭスロット３、ＲＡＭモジュール４、および不揮発性メモリ５を含む。制御器２は、メモリや周辺機器をコントロールする。ＲＡＭモジュール４は、ＲＡＭスロット３に装着される。
【００１０】
ＲＡＭモジュール４には、ＳＰＤ（Ｓｅｒｉａｌ  Ｐｒｅｓｅｎｃｅ  Ｄｅｔｅｃｔ）情報Ｉｓｐｄが格納されている。そして、不揮発性メモリ５は、システムに別途用意されており、そのＳＰＤ情報格納領域５１には、前回起動時のＳＰＤ情報Ｉｓｐｄが格納される。なお、ＳＰＤ情報格納領域５１に格納されているＳＰＤ情報Ｉｓｐｄを、前ＳＰＤ情報Ｉｓｐｄ（Ｐ）と表現し、今回の起動時に検出されるＳＰＤ情報Ｉｓｐｄを現ＳＰＤ情報Ｉｓｐｄ（Ｃ）と表現する。
【００１１】
図２に示すフローチャートを参照して、情報処理装置１００ａの起動時の処理について説明する。情報処理装置１００ａは起動すると、先ず、
ステップＳ２において、情報処理装置１００ａは、ＲＡＭスロット３に装着されたＲＡＭモジュール４上に存在する現ＳＰＤ情報Ｉｓｐｄ（Ｃ）と、不揮発性メモリ５内に割り当てられたＳＰＤ情報格納領域５１に格納されている前ＳＰＤ情報Ｉｓｐｄ（Ｐ）とが同一であるか否かを判断する。
【００１２】
現ＳＰＤ情報Ｉｓｐｄ（Ｃ）と前ＳＰＤ情報Ｉｓｐｄ（Ｐ）が同一でない場合は、Ｎｏと判断、制御は次のステップＳ４に進む。これは、前回起動時のＲＡＭモジュール４の構成と、現在システムに装着されたＲＡＭモジュール４の構成が変化したことが検出されたことを示している。
【００１３】
よって、ステップＳ４において、ＳＰＤ情報Ｉｓｐｄ（Ｃ）をＳＰＤ情報格納領域５１に転送することを指示するＳＰＤ情報転送フラグＦｓｐｄがＯＮにされる。そして、制御は、次のステップＳ６に進む。
【００１４】
ステップＳ６において、メモリテストが実行される。これは、ステップＳ１１でＲＡＭモジュール４の構成が変化しているとの検出を受けての処理である。なお、本ステップにおいてメモリテストが実行されるためには、上述のステップＳ４における処理を経ることが必須である。この意味から、ＳＰＤ情報転送フラグＦｓｐｄは、本ステップにおけるメモリテストを許可或いは実行を指示するフラグでもある。そして、制御は次のステップＳ１０に進む。
【００１５】
一方、上述のステップＳ２においてＹｅｓ、つまり前回起動時のＲＡＭモジュール４の構成と、現在システムに装着されたＲＡＭモジュール４の構成とが同一であること検出された場合には、制御はステップＳ８に進む。
【００１６】
ステップＳ８において、ＳＰＤ情報転送フラグＦｓｐｄがＯＦＦにされる。そして、制御はステップＳ１０に進む。
【００１７】
ステップＳ１０においては、システムの初期化が開始される。システムの初期化にはメモリの初期化も含まれており、メモリの初期化処理の後に、制御は次のステップＳ１２に進む。
【００１８】
ステップＳ１２において、ＳＰＤ情報転送フラグＦｓｐｄがＯＮか否かが判断される。ＯＮの場合は、Ｙｅｓと判断されて、制御はステップＳ１４に進む。
【００１９】
ステップＳ１４において、次回起動時のチェックために、不揮発性メモリ５に格納されている前ＳＰＤ情報Ｉｓｐｄ（Ｐ）が現ＳＰＤ情報Ｉｓｐｄ（Ｃ）で置き換えられる。そして、制御が終了する。
【００２０】
一方、上述のステップＳ１２において、ＳＰＤ情報転送フラグＦｓｐｄがＯＦＦでないと判断される場合、制御はステップＳ１４をスキップして終了する。
【００２１】
上述のように、ステップＳ１６において、メモリテストを実行する代わりに、ユーザに情報処理装置に装着されているＲＡＭモジュールの構成が変更されている旨の警告メッセージを表示してメモリテストを促し、実際にテストするかどうかをユーザが選択できるように構成してもよい。
【００２２】
（第２の実施の形態）
図３および図４を参照して、本実施の第２の実施の形態に係る情報処理装置について説明する。図３に示すように、情報処理装置１００ｂは、図１に示した情報処理装置１００ａにいて、ＲＡＭモジュール装着検出センサ６が追加されると共に、不揮発性メモリ５がメモリ装着情報保持レジスタ７に置き換えられている。ＲＡＭモジュール装着検出センサ６は、ＲＡＭモジュール４がＲＡＭスロット３に装着されたことを検出して、メモリ装着情報Ｉｍを生成する。具体的には、ＲＡＭモジュール装着検出センサ６は、ユーザがＲＡＭモジュール４をＲＡＭスロット３に対して脱着する動作を検出すると、メモリ装着情報ＩｍのレベルをＨｉｇｈからＬｏｗに変化させる。
【００２３】
メモリ装着情報保持レジスタ７は、ＲＡＭモジュール装着検出センサ６から出力されるメモリ装着情報Ｉｍを保持する。なお、メモリ装着情報保持レジスタ７は、コイン電池などの独立した電源により、情報処理装置１００ｂの電源状態に関わらず、情報を保持できるように構成されている。つまり、メモリ装着情報保持レジスタ７に保持されるメモリ装着情報Ｉｍは、制御器２によってクリアされるまではシステムの電源状態に関わらず不変である。
【００２４】
図４に示すフローチャートを参照して、情報処理装置１００ｂにおける起動時の処理例について説明する。情報処理装置１００ｂは起動すると、先ず、
ステップＳ１２において、メモリ装着情報保持レジスタ７に保持されているメモリ装着情報ＩｍのレベルがＬｏｗであるいか否かが判断される。Ｌｏｗの場合、Ｙｅｓと判断されて、制御は次のステップＳ１４に進む。
【００２５】
ステップＳ１４において、次回起動時のメモリ装着チェックのために、制御器２によって、メモリ装着情報保持レジスタ７に保持されるメモリ装着情報ＩｍのレベルをＬｏｗからＨｉｇｈに変更する。そして、制御は、次のステップＳ１６に進む。
【００２６】
ステップＳ１６において、メモリテストが実行される。なお、本ステップにおけるメモリテストは、上述のステップＳ６において実行されるメモリテストと基本的に同じである。そして、制御は次のステップＳ２０に進む。
【００２７】
一方、上述のステップＳ１２においてＮｏ、つまりメモリ装着情報ＩｍがＬｏｗではないと判断される場合、制御は上述のステップＳ１４およびＳ１６をスキップして、ステップＳ２０に進む。
【００２８】
ステップＳ２０においては、状鬱のステップＳ１０におけるのと同様に、システムの初期化が行われる。そして、制御は、終了する。
【００２９】
なお、上述のように、ステップＳ１６においてメモリテストを実行する代わりに、ユーザに対して、情報処理装置１００ｂに装着されているＲＡＭモジュール４の構成が変更されている旨の警告メッセージを表示してメモリテストを促し、実際にテストするかどうかをユーザが選択できるように構成してもよい。
【産業上の利用可能性】
【００３０】
本発明に係る情報処理装置は、メモリモジュールが変更されるコンピュータに代表される電子機器に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係る情報処理装置の構成を示すブロック図
【図２】図１に示した情報処理装置の起動時の動作を表すフローチャート
【図３】本発明の第２の実施の形態に情報処理装置の構成を示すブロック図
【図４】図１に示した情報処理装置の起動時の動作を表すフローチャート
【符号の説明】
【００３２】
１００ａ、１００ｂ  情報処理装置
１  ＣＰＵ
２  制御器
３  ＲＡＭスロット
４  ＲＡＭモジュール
Ｉｓｐｄ（Ｃ）  現ＳＰＤ情報
Ｉｓｐｄ（Ｐ）  前ＳＰＤ情報
５  不揮発性メモリ
６  ＲＡＭモジュール装着検出センサ
７  メモリ装着情報保持レジスタ
【図１】
2006301917.tif 000003
【図２】
2006301917.tif 000004
【図３】
2006301917.tif 000005
【図４】
2006301917.tif 000006