(57)【要約】【課題】  システムＬＳＩを用いて製品開発を行う際のデバッグ方法およびデバッグ装置に関し、異常発生個所を時間軸で視覚的に特定することができる。【解決手段】  発行された複数の制御コマンドを順次実行し、複数の制御コマンドがそれぞれもつＩＤを取得し、複数の制御コマンドのうちいずれかを実行している状態にあることを示すコマンド実行ステータスを取得し、制御コマンドの実行状態をコマンド実行パルスとして生成し、取得されたＩＤをパルスとして生成し、コマンド実行ステータスをパルスとして生成する。さらに、コマンド実行パルスと、ＩＤパルスと、ステータスパルスとを、外部の信号測定部へ出力して表示する。【選択図】  図１
2006163813.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
外部から入力される制御コマンドに応じて、所定の動作を行うシステムＬＳＩのデバッグ方法であって、
発行された複数の制御コマンドを順次実行するコマンド実行工程と、
前記複数の制御コマンドがそれぞれもつＩＤを取得する実行中コマンドＩＤ取得工程と、
前記コマンド実行工程において、前記複数の制御コマンドのうちいずれかを実行している状態にあることを示すコマンド実行ステータスを取得するコマンド実行ステータス取得工程と、
前記コマンド実行工程における前記制御コマンドの実行状態を、コマンド実行パルスとして生成するコマンド実行パルス生成工程と、
前記実行中コマンドＩＤ取得工程によって取得されたＩＤを、パルスとして生成するＩＤパルス生成工程と、
前記コマンド実行ステータス取得工程によって取得されたコマンド実行ステータスを、パルスとして生成するステータスパルス生成工程とを含むデバッグ方法。
【請求項２】
前記コマンド実行パルス生成工程によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ＩＤパルス生成工程によって生成されたＩＤパルスと、前記ステータスパルス生成工程によって生成されたステータスパルスとを、外部の信号測定部へ出力する出力工程を、さらに含む請求項１に記載のデバッグ方法。
【請求項３】
前記コマンド実行パルス生成工程によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ＩＤパルス生成工程によって生成されたＩＤパルスと、前記ステータスパルス生成工程によって生成されたステータスパルスとを、同時に外部の信号測定部にて表示する表示工程を、さらに含む請求項１に記載のデバッグ方法。
【請求項４】
外部から入力される制御コマンドに応じて、所定の動作を行うシステムＬＳＩのデバッグ方法であって、
発行された複数の制御コマンドを順次実行するコマンド実行工程と、
前記複数の制御コマンドがそれぞれもつＩＤを取得する実行中コマンドＩＤ取得工程と、
前記コマンド実行工程において、前記複数の制御コマンドのうちいずれかを実行している状態にあることを示すコマンド実行ステータスを取得するコマンド実行ステータス取得工程と、
前記コマンド実行工程における前記制御コマンドの実行状態を、コマンド実行パルスとして生成するコマンド実行パルス生成工程と、
前記実行中コマンドＩＤ取得工程によって取得されたＩＤを、前記コマンド実行ステータス取得工程によって取得されたコマンド実行ステータスの先頭に付してなる信号を、パルスとして生成するステータスパルス生成工程とを含むデバッグ方法。
【請求項５】
前記コマンド実行パルス生成工程によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ステータスパルス生成工程によって生成されたステータスパルスとを、外部の信号測定部へ出力する出力工程を、さらに含む請求項４に記載のデバッグ方法。
【請求項６】
前記コマンド実行パルス生成工程によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ステータスパルス生成工程によって生成されたステータスパルスとを、同時に外部の信号測定部にて表示する表示工程を、さらに含む請求項４に記載のデバッグ方法。
【請求項７】
前記複数の制御コマンドを発行する制御コマンド発行工程を、さらに含む請求項１または請求項４のいずれかに記載のデバッグ方法。
【請求項８】
前記制御コマンド発行工程にて発行する制御コマンドを外部装置から制御することを特徴とする請求項７に記載のデバッグ方法。
【請求項９】
前記制御コマンド発行工程にて発行される複数の制御コマンドに対して、それぞれＩＤを付与するＩＤ付与工程を、さらに含む請求項７に記載のデバッグ方法。
【請求項１０】
前記ＩＤ付与工程にて外部装置からＩＤを付与することを特徴とする請求項９に記載のデバッグ方法。
【請求項１１】
前記ＩＤパルス生成工程は、前記ＩＤを２値化パルスとして生成し、前記複数の制御コマンドごとに異なる数のパルスを生成することを特徴とする請求項１に記載のデバッグ方法。
【請求項１２】
前記ＩＤパルス生成工程は、前記ＩＤを多値化パルスとして生成し、前記複数の制御コマンドごとに異なる値のパルスを生成することを特徴とする請求項１に記載のデバッグ方法。
【請求項１３】
前記ＩＤパルス生成工程は、前記ＩＤを多値化パルスとして生成し、前記複数の制御コマンドごとに異なる数のパルスを生成することを特徴とする請求項１に記載のデバッグ方法。
【請求項１４】
前記ＩＤパルス生成工程は、前記ＩＤを２値化パルスまたは多値化パルスとして生成し、セレクタにより当該２値化パルスまたは多値化パルスを選択することを特徴とする請求項１に記載のデバッグ方法。
【請求項１５】
前記ＩＤパルス生成工程は、前記ＩＤを示す区間の前または後ろに、所定のパターンのパルスを付加したパルスを生成することを特徴とする請求項１に記載のデバッグ方法。
【請求項１６】
前記ＩＤパルス生成工程は、前記ＩＤを示す区間の前および後ろに、所定のパターンのパルスを付加したパルスを生成することを特徴とする請求項１に記載のデバッグ方法。
【請求項１７】
前記ＩＤパルス生成工程は、当該ＩＤパルス生成工程にて生成された個々のパルスの間に、特定の振幅および時間を持つパルスを挿入することを特徴とする請求項１に記載のデバッグ方法。
【請求項１８】
前記ＩＤパルス生成工程は、前記ＩＤが所定のＩＤである場合、前記所定のＩＤ以外のＩＤよりも振幅を増大もしくは減少させて前記所定のＩＤをパルスとして生成することを特徴とする請求項１に記載のデバッグ方法。
【請求項１９】
前記ＩＤパルス生成工程は、前記ＩＤが所定のＩＤである場合、当該所定のＩＤのみをパルスとして生成することを特徴とする請求項１に記載のデバッグ方法。
【請求項２０】
外部から入力される制御コマンドに応じて、所定の動作を行うシステムＬＳＩのデバッグ装置であって、
発行された複数の制御コマンドを順次実行するコマンド実行手段と、
前記複数の制御コマンドがそれぞれもつＩＤを取得する実行中コマンドＩＤ取得手段と、
前記コマンド実行手段において、前記複数の制御コマンドのうちいずれかを実行している状態にあることを示すコマンド実行ステータスを取得するコマンド実行ステータス取得手段と、
前記コマンド実行手段における前記制御コマンドの実行状態を、コマンド実行パルスとして生成するコマンド実行パルス生成手段と、
前記実行中コマンドＩＤ取得手段によって取得されたＩＤを、パルスとして生成するＩＤパルス生成手段と、
前記コマンド実行ステータス取得手段によって取得されたコマンド実行ステータスを、パルスとして生成するステータスパルス生成手段とを備えたデバッグ装置。
【請求項２１】
前記コマンド実行パルス生成手段によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ＩＤパルス生成手段によって生成されたＩＤパルスと、前記ステータスパルス生成手段によって生成されたステータスパルスとを、外部の信号測定部へ出力する出力手段を、さらに備えた請求項２０に記載のデバッグ装置。
【請求項２２】
前記コマンド実行パルス生成手段によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ＩＤパルス生成手段によって生成されたＩＤパルスと、前記ステータスパルス生成手段によって生成されたステータスパルスとを、同時に外部の信号測定部にて表示する表示手段を、さらに備えた請求項２０に記載のデバッグ装置。
【請求項２３】
外部から入力される制御コマンドに応じて、所定の動作を行うシステムＬＳＩのデバッグ装置であって、
発行された複数の制御コマンドを順次実行するコマンド実行手段と、
前記複数の制御コマンドがそれぞれもつＩＤを取得する実行中コマンドＩＤ取得手段と、
前記コマンド実行手段において、前記複数の制御コマンドのうちいずれかを実行している状態にあることを示すコマンド実行ステータスを取得するコマンド実行ステータス取得手段と、
前記コマンド実行手段における前記制御コマンドの実行状態を、コマンド実行パルスとして生成するコマンド実行パルス生成手段と、
前記実行中コマンドＩＤ取得手段によって取得されたＩＤを、前記コマンド実行ステータス取得手段によって取得されたコマンド実行ステータスの先頭に付してなる信号を、パルスとして生成するステータスパルス生成手段とを備えたデバッグ装置。
【請求項２４】
前記コマンド実行パルス生成手段によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ステータスパルス生成手段によって生成されたステータスパルスとを、外部の信号測定部へ出力する出力手段を、さらに備えた請求項２３に記載のデバッグ装置。
【請求項２５】
前記コマンド実行パルス生成手段によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ステータスパルス生成手段によって生成されたステータスパルスとを、同時に外部の信号測定部にて表示する表示手段を、さらに備えた請求項２３に記載のデバッグ装置。
【請求項２６】
前記複数の制御コマンドを発行する制御コマンド発行手段を、さらに備えた請求項２０または請求項２３のいずれかに記載のデバッグ装置。
【請求項２７】
前記制御コマンド発行手段にて発行する制御コマンドを外部装置から制御することを特徴とする請求項２６に記載のデバッグ装置。
【請求項２８】
前記制御コマンド発行手段にて発行される複数の制御コマンドに対して、それぞれＩＤを付与するＩＤ付与手段を、さらに備えた請求項２６に記載のデバッグ装置。
【請求項２９】
前記ＩＤ付与手段にて外部装置からＩＤを付与することを特徴とする請求項２８に記載のデバッグ装置。
【請求項３０】
前記ＩＤパルス生成手段は、前記ＩＤを２値化パルスとして生成し、前記複数の制御コマンドごとに異なる数のパルスを生成することを特徴とする請求項２０に記載のデバッグ装置。
【請求項３１】
前記ＩＤパルス生成手段は、前記ＩＤを多値化パルスとして生成し、前記複数の制御コマンドごとに異なる値のパルスを生成することを特徴とする請求項２０記載のデバッグ装置。
【請求項３２】
前記ＩＤパルス生成手段は、前記ＩＤを多値化パルスとして生成し、前記複数の制御コマンドごとに異なる数のパルスを生成することを特徴とする請求項２０に記載のデバッグ装置。
【請求項３３】
前記ＩＤパルス生成手段は、前記ＩＤを２値化パルスまたは多値化パルスとして生成し、セレクタにより当該２値化パルスまたは多値化パルスを選択することを特徴とする請求項２０に記載のデバッグ装置。
【請求項３４】
前記ＩＤパルス生成手段は、前記ＩＤを示す区間の前または後ろに、所定のパターンのパルスを付加したパルスを生成することを特徴とする請求項２０に記載のデバッグ装置。
【請求項３５】
前記ＩＤパルス生成手段は、前記ＩＤを示す区間の前および後ろに、所定のパターンのパルスを付加したパルスを生成することを特徴とする請求項２０に記載のデバッグ装置。
【請求項３６】
前記ＩＤパルス生成手段は、当該ＩＤパルス生成手段にて生成された個々のパルスの間に、特定の振幅および時間を持つパルスを挿入することを特徴とする請求項２０に記載のデバッグ装置。
【請求項３７】
前記ＩＤパルス生成手段は、前記ＩＤが所定のＩＤである場合、前記所定のＩＤ以外のＩＤよりも振幅を増大もしくは減少させて前記所定のＩＤをパルスとして生成することを特徴とする請求項２０に記載のデバッグ装置。
【請求項３８】
前記ＩＤパルス生成手段は、前記ＩＤが所定のＩＤである場合、当該所定のＩＤのみをパルスとして生成することを特徴とする請求項２０に記載のデバッグ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、システムＬＳＩを用いて製品開発を行う際のデバッグ方法、特にデバッグを行うためのモニタ信号生成方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、システムＬＳＩのデバッグ用途として、オンボードデバッガを用いて制御シーケンスを１ステップずつトレースする機能や、特定の制御時に中断するブレーク機能や、メモリ値をダンプする機能等を用いたデバッグ方式がある（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
図１１は、従来のデバッグ方式を備えたシステムＬＳＩのブロック図である。
【０００４】
図１１において、システムＬＳＩ部１０１は、ＣＰＵ部１０２と、コマンド受理部１０３と、コマンド解釈部１０４と、コマンド実行部１０５と、信号処理部１０６と、デバッガ部１０７とを備えている。また、信号処理部１０６の内部で行われている信号の処理は、信号測定部１０８により外部装置から確認できる。
【０００５】
システムＬＳＩ部１０１を制御するために、ＣＰＵ部１０２は、制御コマンドをコマンド受理部１０３へ送信する。コマンド受理部１０３は受理した制御コマンドをコマンド解釈部１０４へ送信する。コマンド解釈部１０４は受理した制御コマンドを解釈した上で、コマンド実行部１０５へ送信する。コマンド実行部１０５は受理したコマンドの処理を実行し、信号処理部１０６へ信号を送信してシステムＬＳＩ部１０１を制御する。信号測定部１０８は、信号の処理内容をモニタするために信号処理部１０６から信号を受理して時間軸で信号の波形を視覚的に表示する。
【特許文献１】特許公開２００３−１５９０９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、従来用いられているオンボードデバッガによるトレース機能では、外部からの逐次の操作が必要となり、制御が煩わしいという問題があった。
【０００７】
また、信号測定部１０８で異常な信号波形が確認された時、トレース機能により確認できるＬＳＩ制御コマンドシーケンスとの因果関係を把握する必要が生じ、異常波形と異常に至ったＬＳＩ制御コマンドとの関連を把握するために、絶えず異常波形とＬＳＩ制御コマンドを確認しなければならず煩わしいという問題があった。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明のデバッグ方法は、外部から入力される制御コマンドに応じて、所定の動作を行うシステムＬＳＩのデバッグ方法であって、発行された複数の制御コマンドを順次実行するコマンド実行工程と、前記複数の制御コマンドがそれぞれもつＩＤを取得する実行中コマンドＩＤ取得工程と、前記コマンド実行工程において、前記複数の制御コマンドのうちいずれかを実行している状態にあることを示すコマンド実行ステータスを取得するコマンド実行ステータス取得工程と、前記コマンド実行工程における前記制御コマンドの実行状態を、コマンド実行パルスとして生成するコマンド実行パルス生成工程と、前記実行中コマンドＩＤ取得工程によって取得されたＩＤを、パルスとして生成するＩＤパルス生成工程と、前記コマンド実行ステータス取得工程によって取得されたコマンド実行ステータスを、パルスとして生成するステータスパルス生成工程とを含むものである。
【０００９】
前記コマンド実行パルス生成工程によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ＩＤパルス生成工程によって生成されたＩＤパルスと、前記ステータスパルス生成工程によって生成されたステータスパルスとを、外部の信号測定部へ出力する出力工程をさらに含む。
【００１０】
前記コマンド実行パルス生成工程によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ＩＤパルス生成工程によって生成されたＩＤパルスと、前記ステータスパルス生成工程によって生成されたステータスパルスとを、同時に外部の信号測定部にて表示する表示工程をさらに含む。
【００１１】
本発明のデバッグ装置は、外部から入力される制御コマンドに応じて、所定の動作を行うシステムＬＳＩのデバッグ装置であって、発行された複数の制御コマンドを順次実行するコマンド実行手段と、前記複数の制御コマンドがそれぞれもつＩＤを取得する実行中コマンドＩＤ取得手段と、前記コマンド実行手段において、前記複数の制御コマンドのうちいずれかを実行している状態にあることを示すコマンド実行ステータスを取得するコマンド実行ステータス取得手段と、前記コマンド実行手段における前記制御コマンドの実行状態を、コマンド実行パルスとして生成するコマンド実行パルス生成手段と、前記実行中コマンドＩＤ取得手段によって取得されたＩＤを、パルスとして生成するＩＤパルス生成手段と、前記コマンド実行ステータス取得手段によって取得されたコマンド実行ステータスを、パルスとして生成するステータスパルス生成手段とを備えたものである。
【００１２】
前記コマンド実行パルス生成手段によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ＩＤパルス生成手段によって生成されたＩＤパルスと、前記ステータスパルス生成手段によって生成されたステータスパルスとを、外部の信号測定部へ出力する出力手段をさらに備える。
【００１３】
前記コマンド実行パルス生成手段によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ＩＤパルス生成手段によって生成されたＩＤパルスと、前記ステータスパルス生成手段によって生成されたステータスパルスとを、同時に外部の信号測定部にて表示する表示手段をさらに備える。
【００１４】
本発明のデバッグ方法およびデバッグ装置によると、実行命令を出された制御コマンドのＩＤおよび実行ステータスを、例えば信号測定部で表示することにより、異常波形と異常に至ったＬＳＩ制御コマンドとの関連を視覚的に把握することができる。
【００１５】
本発明のデバッグ方法は、外部から入力される制御コマンドに応じて、所定の動作を行うシステムＬＳＩのデバッグ方法であって、発行された複数の制御コマンドを順次実行するコマンド実行工程と、前記複数の制御コマンドがそれぞれもつＩＤを取得する実行中コマンドＩＤ取得工程と、前記コマンド実行工程において、前記複数の制御コマンドのうちいずれかを実行している状態にあることを示すコマンド実行ステータスを取得するコマンド実行ステータス取得工程と、前記コマンド実行工程における前記制御コマンドの実行状態を、コマンド実行パルスとして生成するコマンド実行パルス生成工程と、前記実行中コマンドＩＤ取得工程によって取得されたＩＤを、前記コマンド実行ステータス取得工程によって取得されたコマンド実行ステータスの先頭に付してなる信号を、パルスとして生成するステータスパルス生成工程とを含むものである。
【００１６】
前記コマンド実行パルス生成工程によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ステータスパルス生成工程によって生成されたステータスパルスとを、外部の信号測定部へ出力する出力工程をさらに含む。
【００１７】
前記コマンド実行パルス生成工程によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ステータスパルス生成工程によって生成されたステータスパルスとを、同時に外部の信号測定部にて表示する表示工程をさらに含む。
【００１８】
本発明のデバッグ装置は、外部から入力される制御コマンドに応じて、所定の動作を行うシステムＬＳＩのデバッグ装置であって、発行された複数の制御コマンドを順次実行するコマンド実行手段と、前記複数の制御コマンドがそれぞれもつＩＤを取得する実行中コマンドＩＤ取得手段と、前記コマンド実行手段において、前記複数の制御コマンドのうちいずれかを実行している状態にあることを示すコマンド実行ステータスを取得するコマンド実行ステータス取得手段と、前記コマンド実行手段における前記制御コマンドの実行状態を、コマンド実行パルスとして生成するコマンド実行パルス生成手段と、前記実行中コマンドＩＤ取得手段によって取得されたＩＤを、前記コマンド実行ステータス取得手段によって取得されたコマンド実行ステータスの先頭に付してなる信号を、パルスとして生成するステータスパルス生成手段とを備えたものである。
【００１９】
前記コマンド実行パルス生成手段によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ステータスパルス生成手段によって生成されたステータスパルスとを、外部の信号測定部へ出力する出力手段をさらに備える。
【００２０】
前記コマンド実行パルス生成手段によって生成されたコマンド実行パルスと、前記ステータスパルス生成手段によって生成されたステータスパルスとを、同時に外部の信号測定部にて表示する表示手段をさらに備える。
【００２１】
本発明のデバッグ方法およびデバッグ装置によると、例えば信号合成部を追加して、ＩＤのパルスとステータスパルスの２種類の信号を合成して１つの信号とし、ＩＤとステータスを１本のモニタ信号で表示することで、モニタ信号出力に必要なシステムＬＳＩの端子を２本から１本に削減することができる。
【００２２】
本発明のデバッグ方法は、前記複数の制御コマンドを発行する制御コマンド発行工程をさらに含む。前記制御コマンド発行工程にて発行する制御コマンドを外部装置から制御する。
【００２３】
本発明のデバッグ方法は、前記制御コマンド発行工程にて発行される複数の制御コマンドに対して、それぞれＩＤを付与するＩＤ付与工程をさらに含む。前記ＩＤ付与工程にて外部装置からＩＤを付与する。
【００２４】
本発明のデバッグ装置は、前記複数の制御コマンドを発行する制御コマンド発行手段をさらに備える。前記制御コマンド発行手段にて発行する制御コマンドを外部装置から制御する。
【００２５】
本発明のデバッグ装置は、前記制御コマンド発行手段にて発行される複数の制御コマンドに対して、それぞれＩＤを付与するＩＤ付与手段をさらに備える。前記ＩＤ付与手段にて外部装置からＩＤを付与する。
【００２６】
本発明のデバッグ方法およびデバッグ装置によると、単一制御コマンド毎にＩＤを付与する場合に比べて必要なＩＤ用信号の種類が少なくて済み、かつ、異常が発生した時に実行している制御コマンドの絞込みを機能単位で実施することができる。
【００２７】
本発明のデバッグ方法は、前記ＩＤパルス生成工程が、前記ＩＤを２値化パルスとして生成し、前記複数の制御コマンドごとに異なる数のパルスを生成するものである。また、前記ＩＤを多値化パルスとして生成し、前記複数の制御コマンドごとに異なる値のパルスを生成するものである。また、前記ＩＤを多値化パルスとして生成し、前記複数の制御コマンドごとに異なる数のパルスを生成するものである。また、前記ＩＤを２値化パルスまたは多値化パルスとして生成し、セレクタにより当該２値化パルスまたは多値化パルスを選択するものである。また、前記ＩＤを示す区間の前または後ろに、所定のパターンのパルスを付加したパルスを生成するものである。また、前記ＩＤを示す区間の前および後ろに、所定のパターンのパルスを付加したパルスを生成するものである。また、ＩＤパルス生成工程にて生成された個々のパルスの間に、特定の振幅および時間を持つパルスを挿入するものである。
【００２８】
本発明のデバッグ装置は、前記ＩＤパルス生成手段が、前記ＩＤを２値化パルスとして生成し、前記複数の制御コマンドごとに異なる数のパルスを生成するものである。また、前記ＩＤを多値化パルスとして生成し、前記複数の制御コマンドごとに異なる値のパルスを生成するものである。また、前記ＩＤを多値化パルスとして生成し、前記複数の制御コマンドごとに異なる数のパルスを生成するものである。また、前記ＩＤを２値化パルスまたは多値化パルスとして生成し、セレクタにより当該２値化パルスまたは多値化パルスを選択するものである。また、前記ＩＤを示す区間の前または後ろに、所定のパターンのパルスを付加したパルスを生成するものである。また、前記ＩＤを示す区間の前および後ろに、所定のパターンのパルスを付加したパルスを生成するものである。また、ＩＤパルス生成手段にて生成された個々のパルスの間に、特定の振幅および時間を持つパルスを挿入するものである。
【００２９】
本発明のデバッグ方法およびデバッグ装置によると、振幅と時間幅を組み合わせてユーザがＩＤの表示方法を視覚的に見やすいようにカスタマイズしたり、単位パルスの区間を視覚的に見やすいようにカスタマイズすることができる。
【００３０】
本発明のデバッグ方法は、前記ＩＤパルス生成工程が、前記ＩＤが所定のＩＤである場合、前記所定のＩＤ以外のＩＤよりも振幅を増大もしくは減少させて前記所定のＩＤをパルスとして生成するものである。また、前記ＩＤが所定のＩＤである場合、当該所定のＩＤのみをパルスとして生成するものである。
【００３１】
本発明のデバッグ装置は、前記ＩＤパルス生成手段が、前記ＩＤが所定のＩＤである場合、前記所定のＩＤ以外のＩＤよりも振幅を増大もしくは減少させて前記所定のＩＤをパルスとして生成するものである。また、前記ＩＤが所定のＩＤである場合、当該所定のＩＤのみをパルスとして生成するものである。
【００３２】
本発明のデバッグ方法およびデバッグ装置によると、特定のＩＤ信号のみを際立たせることで、例えば信号測定部でトリガをかけることができ、特定の制御コマンドのデバッグが容易となる。
【発明の効果】
【００３３】
本発明のシステムＬＳＩデバッグ方法およびデバッグ装置によると、デバッグ時に、本デバッグ用モニタ信号を他の信号波形と同時に測定することにより、異常発生個所を時間軸で視覚的に特定することが容易になる。また、本機能をあらかじめシステムＬＳＩに搭載しておくことにより、特別な操作をすることなく、デバッガ制御装置等の特殊なツールを用いることなくデバッグを実施できるため、システムＬＳＩを用いた製品を自社開発する外販カスタマ製品のデバッグに特に有効である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３４】
（実施の形態１）
本発明の実施の形態１について、図１ないし図３を用いて説明する。なお、本実施の形態１は、特許請求の範囲の請求項１〜３，２０〜２２のシステムＬＳＩデバッグ方法およびデバッグ装置に対応するものである。
【００３５】
図１はデバッグ方式を備えたシステムＬＳＩのブロック図、図２はシステムＬＳＩデバッグ方法の手順を示すフローチャート、図３は２値化パルス信号によるコマンドＩＤを視覚化して表示する例の図である。
【００３６】
図１において、システムＬＳＩ部１１は、ＣＰＵ部１２と、コマンド受理部１３と、コマンド解釈部１４と、コマンド実行部（コマンド実行手段）１５と、信号処理部（コマンド実行パルス生成手段，出力手段）１６と、実行中コマンドＩＤ取得部（実行中コマンドＩＤ取得手段）１７と、パルス信号生成部（ＩＤパルス生成手段，出力手段）１８と、コマンド実行ステータス取得部（コマンド実行ステータス取得手段）１９と、パルス信号生成部（ステータスパルス生成手段，出力手段）２０とを備えている。また、信号処理部（表示手段）１６の内部で行われている信号の処理は、信号測定部２１により外部装置から確認できる。
【００３７】
システムＬＳＩ部１１を制御するために、ＣＰＵ部１２は、制御コマンドをコマンド受理部１３へ送信する。コマンド受理部１３は受理した制御コマンドをコマンド解釈部１４へ送信する。コマンド解釈部１４は受理した制御コマンドを解釈した上で、コマンド実行部１５へ送信する。コマンド実行部１５は受理したコマンドの処理を実行し、信号処理部１６へ信号を送信してシステムＬＳＩ部１１を制御する。信号測定部２１は、信号の処理内容をモニタするために信号処理部１６から信号を受理して時間軸で信号の波形を視覚的に表示する。
【００３８】
また、実行中コマンドＩＤ取得部１７はコマンド実行部１５から制御コマンドのＩＤを取得し、パルス信号生成部１８は実行中コマンドＩＤ取得部１７からの出力信号を受理する。コマンド実行ステータス取得部１９はコマンド実行部１５から制御コマンドの実行ステータスを取得し、パルス信号生成部２０はコマンド実行ステータス取得部１９からの出力信号を受理する。さらに、信号測定部１８は、信号処理部１６から信号に加え、パルス信号生成部１８からの出力信号と、パルス信号生成部２０からの出力信号を受理する。
【００３９】
このように構成されたシステムＬＳＩ部１１において、実行命令を出された制御コマンドのＩＤおよび実行ステータスを信号測定部２１で表示する一連の動作について、図２を用いて説明する。
【００４０】
コマンド実行部１５は受理した制御コマンドを実行し（ステップ３１）、信号処理部１６へ信号を送信するのと同時に、制御コマンドのＩＤを実行中コマンドＩＤ取得部１７へ送信し（ステップ３２）、かつ、制御コマンドの実行ステータスをコマンド実行ステータス取得部１９へ送信する（ステップ３３）。
【００４１】
コマンド実行時の信号パルスを信号処理部１６で生成し（ステップ３４）、外部の信号測定部２１へ送信する。
【００４２】
また、実行中コマンドＩＤ取得部１７は受理したＩＤ情報をパルス信号生成部１８へ送信して、パルス信号生成部１８は実行中コマンドＩＤ情報を取得後、パルス信号に変換してＩＤ信号を生成し（ステップ３５）、外部の信号測定部２１へ送信する。
【００４３】
さらに、コマンド実行ステータス取得部１９は受理した実行ステータス情報をパルス信号生成部２０へ送信して、パルス信号生成部２０は実行ステータス情報を取得後、パルス信号に変換して実行ステータス信号を生成し（ステップ３６）、外部の信号測定部２１へ送信する。
【００４４】
図３に示すように、信号測定部２１は、信号処理部１６から受理したコマンド実行パルス（図３（ａ））と、パルス信号に変換されたＩＤ信号（図３（ｂ））と、パルス信号に変換された実行ステータス信号（図３（ｃ））とを受理して、これら３種類の信号を同時に表示する。
【００４５】
このように構成されたシステムＬＳＩデバッグ方法およびデバッグ装置によると、信号処理部１６からの信号に加えて、当該信号が生成された時に実行中のＬＳＩ制御コマンドのＩＤを把握することで、出力信号と制御コマンドの因果関係を同じ時間軸上で視覚的に把握することができる。
【００４６】
（実施の形態２）
本発明の実施の形態２について、図４および図５を用いて説明する。なお、本実施の形態２は、特許請求の範囲の請求項４〜６，２３〜２５のシステムＬＳＩデバッグ方法およびデバッグ装置に対応するものである。
【００４７】
図４はデバッグ方式を備えたシステムＬＳＩのブロック図、図５は２値化パルス信号によるコマンドＩＤとコマンド実行ステータスを合成して視覚化して表示する例の図である。
【００４８】
図４において、システムＬＳＩ部４１は、信号合成部４２を備え、パルス信号生成部１８からの出力信号を信号合成部４２へ送信する経路と、パルス信号生成部２０からの出力信号を信号合成部４２へ送信する経路と、信号合成部４２からの出力信号を外部の信号測定部２１へ出力する経路が追加される点以外は、図１のシステムＬＳＩ部１１と同様に構成されており、同一部分には同一符号を付してその説明を省略する。
【００４９】
このように構成されたシステムＬＳＩ部４１において、実行命令を出された制御コマンドのＩＤおよび実行ステータスを信号測定部２１で表示する一連の動作について説明する。
【００５０】
システムＬＳＩ部４１では、信号合成部４２が、パルス信号生成部１８から出力される制御コマンドＩＤ信号と、パルス信号生成部２０から出力される制御コマンドステータス信号の２種類の信号を受信する。
【００５１】
受信した前記いずれかの２種類の信号に対して、例えば、制御コマンドＩＤ信号の後に制御コマンドステータス信号を付加することで２種類の信号を１本の信号に合成する（図５（ｂ））。
【００５２】
合成後の信号を外部の信号測定部２１へ送信する。この際、制御コマンドステータス信号が制御コマンド実行中であることを示す時間、すなわち制御コマンド実行時間に加えて、ＩＤ信号を表示する時間がオーバーヘッドとなる（図５（ａ））。しかし、本信号はデバッグ用途となるため、実使用においては当該信号を使用しないようにすることで、システムＬＳＩ部４１の性能に影響を与えることはない。
【００５３】
信号測定部２１は、信号処理部１６から受理した信号（図５（ａ））と、パルス信号にＩＤと実行ステータスを意味する１本の前記合成後の信号（図５（ｂ））とを同時に表示する。
【００５４】
このように構成されたシステムＬＳＩデバッグ方法およびデバッグ装置によると、実施の形態１のデバッグ用信号よりも表示信号を削減できるため、システムＬＳＩ部４１で使用する端子を削減することができる。
【００５５】
（実施の形態３）
本発明の実施の形態３について、図６および図７を用いて説明する。なお、本実施の形態３は、特許請求の範囲の請求項７〜１０，２６〜２９のシステムＬＳＩデバッグ方法およびデバッグ装置に対応するものである。
【００５６】
図６はデバッグ方式を備えたシステムＬＳＩのブロック図、図７はシステムＬＳＩデバッグ方法の手順を示すフローチャートである。
【００５７】
図６において、システムＬＳＩ部５１は、ＩＤ付与部（ＩＤ付与手段）５２を備え、出力信号をＩＤ付与部５２が受理した後、ＩＤ付与部５２からの出力信号を実行中コマンドＩＤ取得部１７へ送信する経路が追加される点以外は、図１のシステムＬＳＩ部１１と同様に構成されており、同一部分には同一符号を付してその説明を省略する。
【００５８】
このように構成されたシステムＬＳＩ部５１において、実行命令を出された制御コマンドのＩＤおよび実行ステータスを信号測定部２１で表示する一連の動作について説明する。
【００５９】
システムＬＳＩ部５１では、ある一連の機能を実現させるために使用する制御コマンドの手順をひとかたまりとして定義する。当該定義内容をＩＤ付与部５２に送信する。ＩＤ付与部５２は、前記定義後のＩＤに従って制御コマンドのＩＤを割り当てる（ステップ６１）。前記定義に従ったＩＤ信号を実行中コマンドＩＤ取得部１７へ送信する。そして、前記定義に従った制御コマンド発行後（ステップ６２）、信号測定部２１はＩＤ信号を表示する。なお、図７において、ステップ３１〜３６は、図２と同様であり、その説明を省略する。
【００６０】
このように構成されたシステムＬＳＩデバッグ方法およびデバッグ装置によると、単一制御コマンド毎にＩＤを付与する場合に比べ、必要なＩＤ用信号の種類が少なくて済むとともに、異常が発生した時に実行している制御コマンドの絞込みを機能単位で実施することができる。
【００６１】
（実施の形態４）
本発明の実施の形態４について、図８および図９を用いて説明する。なお、本実施の形態４は、特許請求の範囲の請求項１１〜１７，３０〜３６のシステムＬＳＩデバッグ方法およびデバッグ装置に対応するものである。
【００６２】
図８はデバッグ方式を備えたシステムＬＳＩのブロック図、図９はＩＤ＝６ｈのコマンドのＩＤ信号を視覚化して表示する例の図である。
【００６３】
図８において、システムＬＳＩ部７１は、パルス信号生成部１８の代わりに、パルス信号精製部７２を備える点以外は、図１のシステムＬＳＩ部１１と同様に構成されており、同一部分には同一符号を付してその説明を省略する。
【００６４】
このように構成されたシステムＬＳＩ部７１において、実行命令を出された制御コマンドのＩＤおよび実行ステータスを信号測定部２１で表示する一連の動作について説明する。
【００６５】
システムＬＳＩ部７１では、パルス信号精製部７２が、実行中コマンドＩＤ取得部１７より受信するＩＤ信号を信号測定部２１に送信する前に、信号測定部２１で視覚的に見やすい信号になるように信号を整形する。
【００６６】
波形の整形例について図９を用いて説明する。図９は、例として制御コマンドＩＤが６ｈである場合の信号測定部２１でのＩＤ信号視覚化の図を示している。信号波形には、一定間隔で振幅および時間幅を自由に変えることができる矩形パルス波を使用する。
【００６７】
図９（ａ）は、２値の矩形パルス波を６個表示させるように整形することで、パルスの個数を見て実行中の制御コマンドのＩＤを把握するものである。
【００６８】
図９（ｂ）は、６ｈ＝０１１０ｂ（２進数）とコマンドＩＤを２進数に変換して、２値の矩形パルス波をＬｏｗパルス、Ｈｉｇｈパルス、Ｈｉｇｈパルス、Ｌｏｗパルスと順番に表示させるように整形することで、パルスの一連を見て実行中の制御コマンドのＩＤを把握するものである。
【００６９】
図９（ｃ）は、例えば振幅を８分割して８分の６の振幅を持つ単一パルスを表示させるように整形することで、パルスの振幅を見て実行中の制御コマンドのＩＤを把握するものである。
【００７０】
図９（ｄ）は、６ｈ＝１２ｑ（４進数）とコマンドＩＤを４進数に変換して、４値の矩形パルス波を４分の１パルス、４分の２パルスと順番に時間幅一定で表示させるように整形するものであり、振幅の分割数が大きくなりすぎて視覚的に見づらくなることを防ぐことができる。
【００７１】
図９（ｅ）は、パルスを使用してＩＤ信号を表示する時、ＩＤ信号を表すパルスの開始の前にスタートパルスと、終了の後にエンドパルスを付加するものであり、ＩＤ信号の区間を視覚的に把握し易くすることができる。スタートパルスとエンドパルスには、ＩＤ信号で使用していない振幅または時間幅のパルスを使用することで、スタートパルス，エンドパルスと、ＩＤ信号との区別が視覚的に容易になる。
【００７２】
図９（ｆ）は、個々のパルス間に目印パルスを挿入するものであり、個々のパルスの境が把握できるため視覚的な把握が容易になり、複数のＩＤ信号パルスを単一パルスと誤って視覚的に捕らえてしまう等の誤認識を回避することができる。目印パルスには、ＩＤ信号で使用していない振幅または時間幅のパルスを使用することで、目印パルスとＩＤ信号との区別が視覚的に容易になる。
【００７３】
以上の各整形手段をパルス信号精製部７２が備えており、いずれかの整形手段を選択できる機構をシステムＬＳＩ部７１が備えている。なお、このように整形手段を選択するものではなく、前記整形手段の内のいずれかをパルス信号精製部７２が備えているものであってもよい。
【００７４】
このように構成されたシステムＬＳＩデバッグ方法およびデバッグ装置によると、ユーザが視覚的に見やすくなるようにＩＤ信号をカスタマイズした上で、信号測定部２１でＩＤ信号をモニタ信号として表示することができる。
【００７５】
（実施の形態５）
本発明の実施の形態５について、図１０を用いて説明する。なお、本実施の形態５は、特許請求の範囲の請求項１８，１９，３７，３８のシステムＬＳＩデバッグ方法およびデバッグ装置に対応するものである。
【００７６】
図１０はデバッグ方式を備えたシステムＬＳＩのブロック図である。
【００７７】
図１０において、システムＬＳＩ部８１は、指定ＩＤ誇示部８２を備え、指定ＩＤ誇示部８２がパルス信号生成部１８からの信号を受理する経路と、指定ＩＤ誇示部８２からの出力信号を外部の信号測定部２１へ出力する経路が追加される点以外は、図１のシステムＬＳＩ部１１と同様に構成されており、同一部分には同一符号を付してその説明を省略する。
【００７８】
このように構成されたシステムＬＳＩ部８１において、実行命令を出された制御コマンドのＩＤおよび実行ステータスを信号測定部２１で表示する一連の動作について説明する。
【００７９】
システムＬＳＩ部８１では、特に動作を確認したい制御コマンドのＩＤを指定して、当該指定ＩＤの内容を指定ＩＤ誇示部８２へ送信する。指定ＩＤ誇示部８２は、実行中コマンドＩＤ取得部１７から受信するＩＤ信号のＩＤ情報を確認する。確認の結果、前記ＩＤ情報が前記指定ＩＤと同一のＩＤを示すと判別された時は、前記ＩＤ信号が目立つように信号を変換する。例えば、指定ＩＤの信号のみ振幅もしくは時間幅を増減させることで、他のＩＤ信号との差別化を図る。もしくは、指定ＩＤの信号以外のＩＤの信号をすべてマスクして消去することで、指定ＩＤの信号のみを生成する。指定ＩＤ誇示部８２は、前記変換後のＩＤ信号を信号測定部２１へ送信して、信号測定部２１はＩＤ信号を表示する。
【００８０】
このように構成されたシステムＬＳＩデバッグ方法およびデバッグ装置によると、特定のＩＤ信号のみを際立たせることで、信号測定部２１でトリガをかけることができ、特定の制御コマンドのデバッグが容易となる。
【産業上の利用可能性】
【００８１】
本発明のシステムＬＳＩデバッグ方法およびデバッグ装置は、制御コマンドを介して動作させるシステムＬＳＩすべての用途に応用できる。
【図面の簡単な説明】
【００８２】
【図１】本発明の実施の形態１におけるデバッグ方式を備えたシステムＬＳＩのブロック図
【図２】本発明の実施の形態１におけるシステムＬＳＩデバッグ方法の手順を示すフローチャート
【図３】本発明の実施の形態１における２値化パルス信号によるコマンドＩＤ視覚化表示例を示す図
【図４】本発明の実施の形態２におけるデバッグ方式を備えたシステムＬＳＩのブロック図
【図５】本発明の実施の形態２における２値化パルス信号によるコマンドＩＤとコマンド実行ステータスの合成視覚化表示例を示す図
【図６】本発明の実施の形態３におけるデバッグ方式を備えたシステムＬＳＩのブロック図
【図７】本発明の実施の形態３におけるシステムＬＳＩデバッグ方法の手順を示すフローチャート
【図８】本発明の実施の形態４におけるデバッグ方式を備えたシステムＬＳＩのブロック図
【図９】本発明の実施の形態４におけるＩＤ＝６ｈのコマンドのＩＤ信号視覚化表示例を示す図
【図１０】本発明の実施の形態５におけるデバッグ方式を備えたシステムＬＳＩのブロック図
【図１１】従来の技術におけるデバッグ方式を備えたシステムＬＳＩのブロック図
【符号の説明】
【００８３】
１１，４１，５１，７１，８１  システムＬＳＩ部
１２  ＣＰＵ部
１３  コマンド受理部
１４  コマンド解釈部
１５  コマンド実行部（コマンド実行手段）
１６  信号処理部（コマンド実行パルス生成手段，出力手段）
１７  実行中コマンドＩＤ取得部（実行中コマンドＩＤ取得手段）
１８  パルス信号生成部（ＩＤパルス生成手段，出力手段）
１９  コマンド実行ステータス取得部（コマンド実行ステータス取得手段）
２０  パルス信号生成部（ステータスパルス生成手段，出力手段）
２１  信号測定部（表示手段）
４２  信号合成部
５２  ＩＤ付与部（ＩＤ付与手段）
７２  パルス信号精製部
８２  指定ＩＤ誇示部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
2006163813.tif 000010
【図９】
2006163813.tif 000011
【図１０】
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【図１１】
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