(57)【要約】【課題】エレベータ制御システムを使用することなくスレーブ基板単独で診断する。【解決手段】呼び釦８、１０と表示器９、１１を制御するサブ制御部２５と伝送ドライバ回路１２とが組込まれた複数のスレーブ基板２１、２３と、エレベータの動作を制御する主制御部が組込まれたマスタ基板２とを備えたエレベータ制御システムにおいて、  各スレーブ基板のサブ制御部２５は、通常動作モードと自己診断モードとを有し、自己診断モード時に、伝送ドライバ回路１２のマスタ基板２に対する入出力端子に制御情報ＬＡＮ３が接続されていなくてかつこの入出力端子間が接続された状態で、伝送ドライバ回路１２のサブ制御部側の送信端子に試験信号を印加して、伝送ドライバ回路１２のサブ制御部側の受信端子からの応答信号に基づいて伝送ドライバ回路の良否を判定する。【選択図】図２
2006264890.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
建屋の各階及びエレベータのかご内に設けられた呼び釦と表示器を制御するサブ制御部と伝送ドライバ回路とが組込まれた複数のスレーブ基板と、前記各スレーブ基板のサブ制御部に対して信号線及び前記伝送ドライバ回路を介して接続され、前記各スレーブ基板のサブ制御部との間で制御情報を送受信することによりエレベータの動作を制御する主制御部が組込まれたマスタ基板とを備えたエレベータ制御システムの自己診断装置において、
前記各スレーブ基板のサブ制御部は、通常動作モードと自己診断モードとを有し、自己診断モード時に、前記伝送ドライバ回路の前記マスタ基板に対する入出力端子に前記信号線が接続されていなくてかつこの入出力端子間が接続された状態で、前記伝送ドライバ回路のサブ制御部側の送信端子に試験信号を印加して、前記伝送ドライバ回路のサブ制御部側の受信端子からの応答信号に基づいて前記伝送ドライバ回路の良否を判定する自己診断手段を有する
ことを特徴とするエレベータ制御システムの自己診断装置。
【請求項２】
前記各スレーブ基板は、前記呼び釦に対する入力回路と、前記表示器に対する出力回路と、前記入力回路の入力端子と前記出力回路の出力端子とを選択的に接続する短絡スイッチとを有し、
前記各スレーブ基板のサブ制御部は、前記自己診断モード時に、前記入力回路及び出力回路に呼び釦及び表示器が接続されていなくてかつ前記短絡スイッチが閉じられた状態で、前記出力回路のサブ制御部側の送信端子に試験信号を印加して、前記入力回路のサブ制御部側の受信端子からの応答信号に基づいて前記出力回路及び入力回路の良否を判定する自己診断手段を有する
ことを特徴とする請求項１記載のエレベータ制御システムの自己診断装置。
【請求項３】
前記各スレーブ基板のサブ制御部は、前記自己診断モード時に、前記伝送ドライバ回路の良否判定結果と前記出力回路及び入力回路の良否判定とを互いに異なる形態で出力する良否判定結果出力手段を有する
ことを特徴とする請求項２記載のエレベータ制御システムの自己診断装置。
【請求項４】
前記複数のスレーブ基板は、建屋の各階のエレベータホールに設けられた乗場呼び釦及び表示器を制御するサブ制御部が組込まれた複数の乗場スレーブ基板と、エレベータのかごに設けられたかご呼び釦及び表示器を制御するサブ制御部が組込まれたかごスレーブ基板とを含む
ことを特徴とする請求項１から３のいずれか１項記載のエレベータ制御システムの自己診断装置。
【請求項５】
前記マスタ基板の主制御部と前記各スレーブ基板のサブ制御部との間でアドレスを指定した半二重のサイクリックシリアル伝送方式を用いて前記制御情報を送受信し
前記伝送ドライバ回路内において前記マスタ基板に対する入出力端子端子間が常時接続されている
ことを特徴とする請求項１から４のいずれか１項記載のエレベータ制御システムの自己診断装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、エレベータの動作を制御するエレベータ制御システムに係わり、特に、建屋の各階に設けられた乗場呼び釦と表示器を制御するサブ制御部が搭載された乗場スレーブ基板、及び各エレベータのかご内に設けられたかご呼び釦と表示器を制御するサブ制御部が搭載されたかごスレーブ基板を自己診断するエレベータ制御システムの自己診断装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
図９は、建屋に設置されたエレベータシステムにおける各エレベータの動作を制御するエレベータ制御システムの概略構成を示す模式図である。
【０００３】
機械室に設置された制御盤１には、各エレベータの動作を制御する主制御部が組込まれたマスタ基板２と電源部６とが収納されている。マスタ基板２には、信号線としての制御情報ＬＡＮ３を介して複数の乗場スレーブ基板４及び複数のかごスレーブ基板５とが接続されている。各乗場スレーブ基板４及び各かごスレーブ基板５には電源部６から電源線７を介して駆動電源が供給される。
【０００４】
各乗場スレーブ基板４には、建屋の各階に設けられ、乗場呼び釦８と表示器としての応答ランプ９を制御するサブ制御部が搭載されている。また、各かごスレーブ基板５には各エレベータのかご内に設けられ、かご呼び釦１０と表示器としての応答ランプ１１を制御するサブ制御部が搭載されている。
【０００５】
マスタ基板２に設けられた主制御部は、各階の乗場スレーブ基板４から乗場呼び釦８操作による乗場呼びが入力されると、この乗場呼びを最良のエレベータへ割当て該当エレベータを乗場呼び登録階へ移動させるとともに、各エレベータのかごスレーブ基板５からかご呼び釦１０操作によるかご呼びが入力されると該当かご（エレベータ）をかご呼びの指定階へ移動させる。また、マスタ基板２に設けられた主制御部は、各スレーブ基板４、５を介して各応答ランプ９、１０を点灯させる。
【０００６】
各スレーブ基板４、５において、図１０に示すように、マスタ基板２から制御情報ＬＡＮ３を介して入力された例えばランプ点灯制御指令は伝送ドライバ回路１２の一方のドライバ１３を介してサブ制御部１４へ入力される。サブ制御部１４は、出力回路１５を介して各応答ランプ９、１１を点灯する。
【０００７】
各乗場呼び釦８、各かご呼び釦１０操作による、乗場呼び、かご呼びは入力回路１６を介してサブ制御部１４へ入力される。サブ制御部１４は、乗場呼び、かご呼びの情報を、伝送ドライバ回路１２の他方のドライバ１７を介して、制御情報ＬＡＮ３へ送出する。制御情報ＬＡＮ３へ送出された乗場呼び、かご呼びの情報はマスタ基板２の主制御部へ入力される。
【０００８】
また、基板電源回路１８は、電源線７から供給された電源を、伝送ドライバ回路１２、サブ制御部１４、出力回路１５、入力回路１６へ供給する。
【０００９】
このエレベータ制御システムにおけるマスタ基板２の主制御部と各スレーブ基板４、５のサブ制御部１４との間においては、アドレスを指定した半二重のサイクリックシリアル伝送方式を用いて制御情報を送受信する。
【００１０】
この半二重のサイクリックシリアル伝送方式においては、マスタ基板２が各スレーブ基板４、５のアドレスを出力し、このアドレスの後に該当スレーブ基板４、５に送受信する情報を設定する。先頭アドレスから終了アドレスまで送信した後、再び先頭アドレスから繰り返し送信する。スレーブ基板４、５の各サブ制御部１４は、自己のアドレスの次の情報を自己宛の情報として取込む。
【００１１】
次に、このような構成のスレーブ基板４、５が正常に作動することを診断する診断手順を説明する。
【００１２】
診断方法は、図１０に示すエレベータ制御システムそのものを稼働させて、ランプ出力方向１９ａと呼び入力方向１９ｂが正常に応答するかを確認する。具体的には、乗場呼び釦８、及びかご呼び釦１０を操作して、マスタ基板２の主制御部の動作を利用し、各エレベータが正常に動作するか、各応答ランプ９、１１が正常に点灯するかを確認する。
【００１３】
スレーブ基板４、５単体のハードウェアの診断を行う場合も、上述したエレベータ制御システムにおける診断方法と同様な手法で実施している。
【００１４】
なお、特許文献１には、エレベータかごを運転制御するマイコン制御部に異常が生じてエレベータが停止した場合に、このマイコン制御部に自己診断を実施させ、自己診断結果に基づいて、マイコン制御部のエレベータ運転制御を自動復旧させる技術が開示されている。
【特許文献１】特開２００１−５８７６９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
しかしながら上述したエレベータ制御システムにおける故障診断手法においては、まだ改良すべき次のような課題があった。
【００１６】
すなわち、従来の故障診断手法においては、スレーブ基板４、５単体の診断を行う場合においても、エレベータ制御システムの実機、もしくは、実機相当のエレベータ制御システムが必要で、診断対象のスレーブ基板４、５を図９、図１０に示すように、実際のエレベータ制御システムに組込んで、すなわち、伝送ドライバ回路１２の入力端子及び出力端子を制御情報ＬＡＮ３に接続し、出力回路１５を応答ランプ９、１１に接続し、さらに、入力回路１６を乗場呼び釦８、かご呼び釦１０に接続した後、エレベータの実際の運転を実施する。
【００１７】
このように、実際のエレベータ制御システムを用いて、診断対象のスレーブ基板４、５の診断を実施する場合、診断対象のスレーブ基板４、５が不具合品の場合に、エレベータ制御システムを破損させる恐れがあった。
【００１８】
エレベータ制御システムでシステム破損が生じると、エレベータの運行上、停止時間の増大や修理する時間発生などの損失が発生する。
【００１９】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、簡単な操作で、スレーブ基板単独でこのスレーブ基板に組込まれた伝送ドライバ回路を含む各構成部材を自己診断でき、診断作業能率を向上でき、最終的にこのスレーブ基板が組込まれるエレベータ制御システムに悪影響が生じることを未然に防止できるエレベータ制御システムの自己診断装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２０】
上記課題を解消するために、本発明は、建屋の各階及びエレベータのかご内に設けられた呼び釦と表示器を制御するサブ制御部と伝送ドライバ回路とが組込まれた複数のスレーブ基板と、前記各スレーブ基板のサブ制御部に対して信号線及び前記伝送ドライバ回路を介して接続され、各スレーブ基板のサブ制御部との間で制御情報を送受信することによりエレベータの動作を制御する主制御部が組込まれたマスタ基板とを備えたエレベータ制御システムの自己診断装置において、
各スレーブ基板のサブ制御部は、通常動作モードと自己診断モードとを有する。そして、サブ制御部は、自己診断モード時に、伝送ドライバ回路のマスタ基板に対する入出力端子に信号線が接続されていなくてかつこの入出力端子間が接続された状態で、伝送ドライバ回路のサブ制御部側の送信端子に試験信号を印加して、伝送ドライバ回路のサブ制御部側の受信端子からの応答信号に基づいて伝送ドライバ回路の良否を判定する自己診断手段を有する。
【００２１】
このように構成されたエレベータ制御システムの自己診断装置においては、各スレーブ基板のサブ制御部の自己診断モード時においては、伝送ドライバ回路のマスタ基板に対する入出力端子に信号線が接続されていなくてかつこの入出力端子間が接続された状態である。この状態においては、伝送ドライバ回路のサブ制御部側の送信端子に試験信号を印加すると、この試験信号は伝送ドライバ回路内を経由して、この伝送ドライバ回路のマスタ基板側の出力端子から出力して、この伝送ドライバ回路のマスタ基板側の入力端子へ入力し、この伝送ドライバ回路内を逆方向に経由して、伝送ドライバ回路のサブ制御部側の受信端子に出力される。
【００２２】
したがって、伝送ドライバ回路のサブ制御部側の送信端子に印加した試験信号と、伝送ドライバ回路のサブ制御部側の受信端子から出力された応答信号とを比較対照することによって、伝送ドライバ回路の良否を判定可能となる。
【００２３】
また、別の発明は、上述した発明のエレベータ制御システムの自己診断装置において、各スレーブ基板は、呼び釦に対する入力回路と、表示器に対する出力回路と、入力回路の入力端子と出力回路の出力端子とを選択的に接続する短絡スイッチとを有する。
【００２４】
さらに、各スレーブ基板のサブ制御部は、自己診断モード時に、入力回路及び出力回路に呼び釦及び表示器が接続されていなくてかつ短絡スイッチが閉じられた状態で、出力回路のサブ制御部側の送信端子に試験信号を印加して、入力回路のサブ制御部側の受信端子からの応答信号に基づいて出力回路及び入力回路の良否を判定する自己診断手段を有する。
【００２５】
このように構成されたエレベータ制御システムの自己診断装置においては、自己診断モード時に、入力回路及び出力回路に呼び釦及び表示器が接続されていなくてかつ短絡スイッチが閉じられているので、出力回路のサブ制御部側の送信端子に印加した試験信号は出力回路及び入力回路を経由して、入力回路のサブ制御部側の受信端子へ出力される。
【００２６】
したがって、出力回路のサブ制御部側の送信端子に印加した試験信号と、入力回路のサブ制御部側の受信端子から出力された応答信号とを比較対照することによって、出力回路及び入力回路の良否を判定可能となる。
【００２７】
また、別の発明は、上述した発明のエレベータ制御システムの自己診断装置において、各スレーブ基板のサブ制御部は、自己診断モード時に、伝送ドライバ回路の良否判定結果と出力回路及び入力回路の良否判定とを互いに異なる形態で出力する良否判定結果出力手段を有する。
【００２８】
このように構成されたエレベータ制御システムにおいては、操作者（試験実施者）は、スレーブ基板の不良発生回路を簡単に特定できる。
【００２９】
また、別の発明は、上述した発明のエレベータ制御システムの自己診断装置において、複数のスレーブ基板は、建屋の各階のエレベータホールに設けられた乗場呼び釦及び表示器を制御するサブ制御部が組込まれた複数の乗場スレーブ基板と、エレベータのかごに設けられたかご呼び釦及び表示器を制御するサブ制御部が組込まれたかごスレーブ基板とを含む。
【００３０】
また、別の発明は、上述した発明のエレベータ制御システムの自己診断装置において、マスタ基板の主制御部と各スレーブ基板のサブ制御部との間でアドレスを指定した半二重のサイクリックシリアル伝送方式を用いて送受信している。そして、半二重のサイクリックシリアル伝送方式を採用することによって、伝送ドライバ回路内においてマスタ基板に対する入出力端子端子間が常時接続されていることも可能となる。
【発明の効果】
【００３１】
本発明においては、各スレーブ基板のサブ制御部は、自己診断モード時に、伝送ドライバ回路のサブ制御部側の送信端子に試験信号を印加して、伝送ドライバ回路のサブ制御部側の受信端子からの応答信号に基づいて伝送ドライバ回路の良否を判定する。
【００３２】
したがって、簡単な操作で、スレーブ基板単独でこのスレーブ基板に組込まれた伝送ドライバ回路を含む各構成部材を自己診断でき、診断作業能率を向上でき、最終的にこのスレーブ基板が組込まれるエレベータ制御システムに悪影響が生じることを未然に防止できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３３】
以下、本発明の一実施形態を図面を用いて説明する。
【００３４】
図１は本発明の一実施形態に係わる自己診断装置が組込まれたエレベータ制御システムの概略構成を示す模式図である。図９に示す従来のエレベータ制御システムと同一部分には、同一符号を付して詳細説明を省略する。
【００３５】
機械室に設置された制御盤１には、各エレベータの動作を制御する主制御部が組込まれたマスタ基板２と電源部６とが収納されている。マスタ基板２には、信号線としての制御情報ＬＡＮ３を介して複数の乗場スレーブ基板２１及び複数のかごスレーブ基板２３とが接続されている。各乗場スレーブ基板２１及び各かごスレーブ基板２３には電源部６から電源線７を介して駆動電源が供給される。
【００３６】
各乗場スレーブ基板２１は建屋２０の各階に設けられ、乗場呼び釦８と表示器としての応答ランプ９を制御するサブ制御部が搭載されている。また、各かごスレーブ基板２３は昇降路２２内を上下移動する各エレベータのかご内に設けられ、かご呼び釦１０と表示器としての応答ランプ１１を制御するサブ制御部が搭載されている。
【００３７】
各スレーブ基板２１、２３内には、図２に示すように、一対のドライバ１３、１７からなる伝送ドライバ回路１２、サブ制御部２５、出力回路１５、入力回路１６、出力回路１５の各応答ランプ９、１１に対する出力端子２６と入力回路１６の各乗場呼び釦８、各かご呼び釦１０に対する入力端子２７との間を選択的に短絡する短絡スイッチとしてのテスト用スイッチ２８、基板電源回路１８が設けられている。基板電源回路１８は、電源線７から供給された電源を、伝送ドライバ回路１２、サブ制御部２５、出力回路１５、入力回路１６へ供給する。
【００３８】
伝送ドライバ回路１２のマスタ基板側のドライバ１７の出力端子３１はマスタ基板側のドライバ１３の入力端子３２へ接続されている。
【００３９】
図３（ａ）は出力回路１５の回路図である。サブ制御部２５からハイレベルの点灯信号がトランジスタ３３のベースに印加されると、駆動電流が抵抗３４、トランジスタ３３を介して応答ランプ９、１１に供給され、応答ランプ９、１１は点灯する。
【００４０】
図３（ｂ）は入力回路１６の回路図である。乗場呼び釦８、かご呼び釦１０が押されると、抵抗３５を介してハイレベルの呼び信号がトランジスタ３６のベースに印加される。すると抵抗３７、トランジスタ３６を介してハイレベルの呼び信号（乗場呼び、かご呼び）がサブ制御部２５へ入力される。
【００４１】
図２において、例えばコンピュータ等で構成されたサブ制御部２５には、設定スイッチ２９及びテスト用ランプ３０が取付けられている。図４（ａ）に設定スイッチ２９及びテスト用ランプ３０の状態一覧を示す。設定スイッチ２９をＯＦＦにするとサブ制御部２５は「通常動作モード」となり、設定スイッチ２９をＯＮにするとサブ制御部２５は「自己診断モード」となる。なお、この「自己診断モード」は、伝送ドライバ回路１２の動作試験を行う「伝送ドライバテストモード」と、出力回路１５と入力回路１６との動作試験を行う「入出力テストモード」とに分割される。
【００４２】
テスト用ランプ３０は、「通常動作モード」時においては消灯しており、「自己診断モード」時においては、伝送ドライバ回路１２に対する自己診断結果と入出力回路１６、１５に対する自己診断結果とを異なる表示形態で表示する。
【００４３】
テスト用スイッチ２８は、図４（ｂ）に示すように、「通常動作モード」時においてはＯＦＦ（開放）しておき、「自己診断モード」時においてはＯＮ（閉鎖）しておく。
【００４４】
このように構成された各スレーブ基板２１、２３におけるサブ制御部２５の「通常動作モード」時の動作を説明する。操作者（実験者）は、伝送ドライバ回路１２のマスタ基板側のドライバ１７の入出力端子３１、３２を制御情報ＬＡＮ３に接続し、出力回路１５の出力端端子２６に応答ランプ９、１１を接続し、さらに、入力回路１６の入力端子２７に乗場呼び釦８、かご呼び釦１０を接続する。そして、設定スイッチ２９及びテスト用スイッチ２８をＯＦＦ状態とする。
【００４５】
このような「通常動作モード」時においては、マスタ基板２の主制御部と各スレーブ基板２１、２３のサブ制御部２５との間においては、アドレスを指定した半二重のサイクリックシリアル伝送方式を用いて制御情報を送受信する。
【００４６】
この半二重のサイクリックシリアル伝送方式においては、マスタ基板２が各スレーブ基板２１、２３のサブ制御部２５へデータ（情報）を送信期間中はドライバ１７の動作は禁止され、各スレーブ基板２１、２３のサブ制御部２５がマスタ基板２へデータ（情報）を送信期間中はドライバ１３の動作は禁止される。
【００４７】
そして、マスタ基板２が各スレーブ基板２１、２３のアドレスを出力し、このアドレスの後に該当スレーブ基板２１、２３に送受信する情報を設定する。先頭アドレスから終了アドレスまで送信した後、再び先頭アドレスから繰り返し送信する。スレーブ基板２１、２３の各サブ制御部２５は、自己のアドレスの次の情報を自己宛の情報として取込む。
【００４８】
マスタ基板２から制御情報ＬＡＮ３を介して入力された例えばランプ点灯制御指令は伝送ドライバ回路１２の一方のドライバ１３を介してサブ制御部２５へ入力される。サブ制御部２５は、出力回路１５を介して各応答ランプ９、１１を点灯する。
【００４９】
各乗場呼び釦８、各かご呼び釦１０操作による乗場呼び、かご呼びは入力回路１６を介してサブ制御部２５へ入力される。サブ制御部２５は、乗場呼び、かご呼びの情報を、伝送ドライバ回路１２の他方のドライバ１７を介して、制御情報ＬＡＮ３へ送出する。制御情報ＬＡＮ３へ送出された乗場呼び、かご呼びの情報はマスタ基板２の主制御部へ入力される。
【００５０】
次に、各スレーブ基板２１、２３におけるサブ制御部２５の「自己診断モード」時の動作を説明する。操作者（実験者）は、伝送ドライバ回路１２のマスタ基板側のドライバ１７の入出力端子３１、３２を制御情報ＬＡＮ３から切り離し、出力回路１５の出力端子２６から応答ランプ９、１１を切り離し、さらに、入力回路１６の入力端子２７から乗場呼び釦８、かご呼び釦１０を切り離す。そして、設定スイッチ２９及びテスト用スイッチ２８をＯＮ状態とする。このような「自己診断モード」時においては、半二重のサイクリックシリアル伝送方式は採用されていない。
【００５１】
サブ制御部２５は、図５、図６、図７の流れ図に従って、スレーブ基板２１、２３の自己診断処理を実施する。
【００５２】
図５のメインルーチンにおいて、電源線７を基板電源回路１８に接続すると、スレーブ基板２１、２３の各部が動作可能状態に移行する。サブ制御部２５は、設定スイッチ２９の設定状態を調べる（Ｓ１）。設定スイッチ２９がＯＦＦの場合は、前述した通常動作モードに移行する（Ｓ２）。設定スイッチ２９がＯＮの場合は自己診断モードに移行する（Ｓ３）。
【００５３】
自己診断モードが開始されると、先ず、「伝送ドライバテストモード」を実施する（Ｓ４）。この「伝送ドライバテストモード」においては、図６のサブルーチンに示すように、先ず、テスト用ランプ３０を消灯状態に設定する（Ｑ１）。次に、サブ制御部２５は、伝送ドライバ回路１２の一方のドライバ１７のサブ制御部２５側の送信端子に試験信号としてＨレベル信号を印加する（Ｑ２）。伝送ドライバ回路１２においては、マスタ基板側のドライバ１７の出力端子３１はマスタ基板側のドライバ１３の入力端子３２へ接続されているので、Ｈレベル信号は、各ドライバ１７、１３を経由して、ドライバ１３のサブ制御部２５側の受信端子から出力して、応答信号として、サブ制御部２５へ入力される（Ｑ３）。
【００５４】
サブ制御部２５は、応答信号がＨレベルの場合は（Ｑ４）、伝送ドライバ回路１２の一方のドライバ１７の送信端子に試験信号としてＬレベル信号を印加する（Ｑ５）。そして、ドライバ１３のサブ制御部２５側の受信端子から出力される応答信号を取込む（Ｑ６）。
【００５５】
サブ制御部２５は、応答信号がＬレベルの場合は（Ｑ７）、伝送ドライバ回路１２は正常と判定して、テスト用ランプ３０を点滅させる（Ｑ８）。次のソフトウェアが動作する前に２秒間点滅を保持し、伝送ドライバ回路１２が正常であることを表示する（Ｑ９）。そして、図５のメインルーチンへ戻る。
【００５６】
伝送ドライバ回路１２が異常な場合、試験信号の信号レベルと応答信号の信号レベルとが異なる状態になる。その場合はテスト用ランプ３０は消灯のままで保持する（Ｑ１１）。上記異常の場合はソフトウェアが無限ループ状態となる。そして、図５のメインルーチンへ戻る。
【００５７】
図５のメインルーチンのＳ４における「伝送ドライバテストモード」が終了し、伝送ドライバ回路１２が異常な場合（Ｓ５）、テスト用ランプ３０は消灯のままで保持する（Ｓ６）。伝送ドライバ回路１２が正常な場合（Ｓ５）、次の「入出力テストモード」を実施する（Ｓ７）。
【００５８】
この「入出力テストモード」においては、図７のサブルーチンに示すように、サブ制御部２５は出力回路１５のサブ制御部２５側の送信端子に試験信号としてＨレベル信号を印加する（Ｒ１）。テスト用スイッチ２８がＯＮしているので、そのＨレベル信号は出力回路１５の出力端子２６から入力端子２７を介して入力回路１６に入力され、この入力回路１６のサブ制御部２５側の受信端子から応答信号として出力される（Ｒ２）。
【００５９】
サブ制御部２５は、この入力回路１６からの応答信号を取込み、この応答信号がＨレベルの場合は（Ｒ３）、今度は、出力回路１５のサブ制御部２５側の送信端子に試験信号としてＬレベル信号を印加する（Ｒ４）。サブ制御部２５は、入力回路１６からの応答信号を取込み（Ｒ５）、この応答信号がＬレベルの場合は（Ｒ６）、出力回路１５と入力回路１６とは正常であると判定して、テスト用ランプ３０を点灯させる（Ｒ７）。正常の場合はソフトウェアが無限ループになる。そして、図５のメインルーチンへ戻る。
【００６０】
出力回路１５と入力回路１６との少なくとも一方の回路が異常な場合、試験信号の信号レベルと応答信号の信号レベルとが異なる状態になる。その場合はテスト用ランプ３０を点滅のままで保持する（Ｒ８）。異常の場合はソフトウェアが無限ループになる。そして、図５のメインルーチンへ戻る。
【００６１】
図５のメインルーチンのＳ７における「入出力テストモード」が終了し、出力回路１５と入力回路１６とが正常の場合（Ｓ８）、テスト用ランプ３０の点灯を維持する（Ｓ１０）。出力回路１５と入力回路１６との少なくとも一方の回路が異常な場合（Ｓ８）、テスト用ランプ３０の点滅を維持する（Ｓ９）。
【００６２】
このように構成されたエレベータ制御システムの自己診断装置におけるテスト用ランプ３０の表示状態を図４（ａ）を用いる説明する。設定スイッチ２９がＯＦＦの場合、スレーブ基板２１、２３のサブ制御部２５は、通常動作モードとなり、前述した通常時のエレベータ制御システムの動作をする。
【００６３】
設定スイッチ２９がＯＮの場合、自己診断モードになる。自己診断モードで伝送ドライバ回路１２、出力回路１５、入力回路１６が全て正常動作している場合は、テスト用ランプ３０は点滅を２秒間行い、その後、点灯を保持する。
【００６４】
自己診断モードで伝送ドライバ回路１２が異常である場合、テスト用ランプ３０は消灯のまま保持する。自己診断モードで伝送ドライバ回路１２は正常で、出力回路１５もしくは入力回路１６が異常である場合、テスト用ランプ３０は点滅のまま保持する。
【００６５】
自己診断が終了すると、操作者（試験者）は、電源線７を取外し、設定スイッチ２９をＯＦＦし、テスト用スイッチ２８をＯＦＦする。その状態で、伝送ドライバ回路１２のマスタ基板側のドライバ１７の入出力端子３１、３２を制御情報ＬＡＮ３に接続し、出力回路１５の出力端子２６に応答ランプ９、１１を接続し、さらに、入力回路１６の入力端子２７に乗場呼び釦８、かご呼び釦１０を接続する。そして、再び電源線７を接続すると、通常動作モードで動作する。
【００６６】
このように構成されたエレベータ制御システムの自己診断装置においては、エレベータ制御システムを用いることなく、スレーブ基板２１、２３単体で、このスレーブ基板２１、２３に対する自己診断を実施できる。したがって、たとえ、診断対象のスレーブ基板２１，２３が不具合品の場合であっても、エレベータ制御システムを破損させることはない。よって、エレベータの運行上、停止時間の増大や修理する時間発生などの損失が発生することを未然に防止できる。
【００６７】
また、スレーブ基板２１、２３単体で自己診断を実施できるので、スレーブ基板２１、２３に対する試験作業効率を向上できる。
【００６８】
さらに、新規のスレーブ基板２１、２３を、エレベータ制御システムに組込むに際して、スレーブ基板２１、２３に電源線７のみを接続した状態で、先行の自己診断試験を実施したのち、制御情報ＬＡＮ３に接続することによって、エレベータ制御システムの安全性を確保した状態で、効率的にエレベータ制御システムの改修ができる。
【００６９】
なお、本発明は上述した実施形態に限定されるものではない。入力回路１６と出力回路１５のインターフェースが多く、テスト用スイッチ２８を設けない場合は、スレーブ基板２１、２３の外部に専用ケーブルを接続して同様な試験が行える。スレーブ基板２１、２３の内部に表示回路がある場合は、テスト用ランプ３０の替わりにその表示回路を使用することが出来る。
【００７０】
さらに、全二重シリアル伝送方式等の他の通信方式を採用することも可能である。この場合、図８に示すように、伝送ドライバ回路１２ａの出力端子３８と入力端子３９とを選択的に接続するテスト用スイッチ４０を使用すれば同様な試験が行える。
【図面の簡単な説明】
【００７１】
【図１】本発明の一実施形態の自己診断装置が組込まれたエレベータ制御システムの概略構成を示す模式図
【図２】同実施形態の自己診断装置が組込まれたスレーブ基板の回路構成図
【図３】同スレーブ基板に組込まれた出力回路及び入力回路の具体的回路図
【図４】同同実施形態の自己診断装置における各スイッチ及びテスト用ランプの状態を示す図
【図５】同実施形態の自己診断装置の動作を示す流れ図
【図６】同じく同実施形態の自己診断装置の動作を示す流れ図
【図７】同じく同実施形態の自己診断装置の動作を示す流れ図
【図８】本発明の実施形態の自己診断装置における変形例を説明するための図
【図９】従来のエレベータ制御システムの概略構成を示す模式図
【図１０】同従来のエレベータ制御システムに組込まれたスレーブ基板の回路構成図
【符号の説明】
【００７２】
１…制御盤、２…マスタ基板、３…制御情報ＬＡＮ、６…電源部、７…電源線、８…乗場呼び釦、９，１１…応答ランプ、１０…かご呼び釦、１２…伝送ドライバ回路、１３，１７…ドライバ、１５…出力回路、１６…入力回路、１８…基板電源回路、２１…乗場スレーブ基板、２３…かごスレーブ基板、２５…サブ制御部、２８…テスト用スイッチ、２９…設定スイッチ、３０…テスト用ランプ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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