(57)【要約】      （修正有）【課題】  光ピックアップの収差などの特性を容易に測定し、且つ安価に構成される光ピックアップの出射光測定装置を提供する。【解決手段】  光ピックアップの出射光測定装置は、光ピックアップからの出射された平行光を集光レンズにより所定位置にビームスポットとして集光し、集光レンズを光軸上で所定量ずつ移動させるなどして光ピックアップからの出射光をデフォーカスさせ、そのデフォーカス状態を変化させて撮像された複数のビームスポット画像に基づいて、非点収差の度合いを示す非点隔差を検出する。上記の出射光測定装置ではビームスポットが撮像手段上に位置するように測定装置を配置させるだけでよい。これにより、出射光測定装置は、光ピックアップの測定操作を容易に行うことができる。また、高価な干渉計を用いる比較例と比較すると、出射光測定装置は格段に安価に構成することができる。【選択図】      図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ピックアップから出射される出射光の特性を測定する光ピックアップの出射光測定装置であって、
前記光ピックアップから出射された平行光を集光し、所定位置にビームスポットを形成する集光レンズと、
前記集光レンズを光軸方向に移動させる移動手段と、
前記所定位置に配置され、前記集光レンズにより集光されたビームスポットを撮像する撮像手段と、
前記撮像手段が撮像したビームスポットの画像に基づいて、非点隔差を検出する検出手段と、を備えることを特徴とする光ピックアップの出射光測定装置。
【請求項２】
前記集光レンズが出射した光ビームが通過する複数のレンズをさらに備えることを特徴とする請求項１に記載の光ピックアップの出射光測定装置。
【請求項３】
前記移動手段は、機械式に前記集光レンズを移動させる移動機構であることを特徴とする請求項１又は２に記載の光ピックアップの出射光測定装置。
【請求項４】
光ピックアップから出射される出射光の特性を測定する光ピックアップの出射光測定方法であって、
前記光ピックアップから出射された平行光を集光レンズによって集光して撮像手段上にビームスポットを形成する集光工程と、
前記集光レンズを光軸方向に移動させる移動工程と、
前記集光レンズを移動させつつ前記撮像手段により撮像した前記ビームスポットの画像に基づいて、前記出射光の特性を測定する測定工程と、を備えることを特徴とする光ピックアップの出射光測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ピックアップからの出射光の非点収差などの特性を測定する出射光測定装置、及び測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクなどを記録・再生する情報記録再生装置は、光ディスクにレーザ光を照射することにより情報を記録し、その反射光を受光することにより光ディスクに記録された情報を再生する。このため、情報記録再生装置に設けられる光ピックアップは、光ディスクの情報記録面にレーザ光を集光させる。このとき、レーザ光に収差が生じることにより、光ディスク上に形成されるビームスポットが真円とならずに楕円などになってしまう場合がある。ここでの収差としては、例えばコマ収差や非点収差や球面収差などが挙げられる。特に、非点収差は、光学部品の精度や光学調整具合により発生し、光ディスクからの情報の読み取り精度や情報の書き込み精度を低下させる。
【０００３】
上記のような不具合を生じさせないために、通常は、光ピックアップの収差を測定して、光ピックアップ内の光学系を調整したり、検査の結果が悪いものは破棄したりしている。一般的には、光ピックアップ内では平行光をビームスポットにするために集光する処理や平行光を真円に近づけるために成形する処理などが行われるが、まず最初に、このような処理の段階で生じる収差を含まない平行光そのものに対して収差の測定を行っている。こうするのは、上記の処理を行う前の収差を測定し、これに基づいて光学系の調節を行えば、光ピックアップから最終的に出射される光ビームの収差も低減されるからである。
【０００４】
例えば、特許文献１乃至４には、光ピックアップが出射する平行光の測定を干渉計などを用いて行う技術が記載されている。この場合、光ピックアップから出射された平行光を一端分岐して、分岐した光を重ね合わせることにより干渉縞を作り、この干渉縞に基づいて収差などの測定を行っている。
【０００５】
しかしながら、上記の開示技術においては干渉計を用いているため、測定装置が高価になってしまっていた。また、上記の干渉計は、光ピックアップに対して厳密に光軸が合うようにセッティングを行う必要があり、非常に手間が取られるため、光ピックアップの生産工程における検査などの使用には不向きであった。
【０００６】
【特許文献１】特開２００３−２７００９０号公報
【特許文献２】特開２００２−３２３４０６号公報
【特許文献３】特開２００２−２２６０６号公報
【特許文献４】特開平１１−９６５８３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明が解決しようとする課題は上記のようなものが例として挙げられる。本発明は、光ピックアップの収差などの特性を容易に測定し、且つ安価な構成にて測定を行うことが可能な光ピックアップの出射光測定装置、及び測定方法を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
請求項１に記載の発明では、光ピックアップから出射される出射光の特性を測定する光ピックアップの出射光測定装置は、前記光ピックアップから出射された平行光を集光し、所定位置にビームスポットを形成する集光レンズと、前記集光レンズを光軸方向に移動させる移動手段と、前記所定位置に配置され、前記集光レンズにより集光されたビームスポットを撮像する撮像手段と、前記撮像手段が撮像したビームスポットの画像に基づいて、非点隔差を検出する検出手段と、を備えることを特徴とする。
【０００９】
請求項４に記載の発明では、光ピックアップから出射される出射光の特性を測定する光ピックアップの出射光測定方法は、前記光ピックアップから出射された平行光を集光レンズによって集光して撮像手段上にビームスポットを形成する集光工程と、前記集光レンズを光軸方向に移動させる移動工程と、前記集光レンズを移動させつつ前記撮像手段により撮像した前記ビームスポットの画像に基づいて、前記出射光の特性を測定する測定工程と、を備えることを特徴とする。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
本発明の好適な実施形態では、光ピックアップから出射される出射光の特性を測定する光ピックアップの出射光測定装置は、前記光ピックアップから出射された平行光を集光し、所定位置にビームスポットを形成する集光レンズと、前記集光レンズを光軸方向に移動させる移動手段と、前記所定位置に配置され、前記集光レンズにより集光されたビームスポットを撮像する撮像手段と、前記撮像手段が撮像したビームスポットの画像に基づいて、非点隔差を検出する検出手段と、を備える。
【００１１】
上記の光ピックアップの出射光測定装置は、光ピックアップから出射される出射光の非点収差などの収差を測定するために好適に使用される。この出射光測定装置では、光ピックアップから出射された平行光を集光レンズにより所定位置にビームスポットとして集光する。そして、出射光測定装置は、集光レンズを光軸上で所定量ずつ移動させるなどして光ピックアップからの出射光をデフォーカスさせ、そのデフォーカス状態を変化させて撮像された複数のビームスポット画像に基づいて、非点収差の度合いを示す非点隔差を検出する。このような出射光測定装置と、干渉計などを用いて光ピックアップの測定を行う比較例の構成とを比較した場合、光ピックアップに対して測定装置をセッティングする際、比較例における干渉計は光軸を厳密に調整しなければならないが、上記の出射光測定装置ではビームスポットが撮像手段上に位置するように測定装置を配置するだけでよい。これにより、出射光測定装置は、光ピックアップの測定操作を容易に行うことができる。また、高価な干渉計を用いる上記の比較例の構成と比較すると、出射光測定装置は格段に安価に構成することができる。
【００１２】
上記の光ピックアップの出射光測定装置の他の一態様では、前記集光レンズが出射した光ビームが通過する複数のレンズをさらに備える。集光レンズが出射した光ビームをさらに複数のレンズに通過させることにより、所定位置において得られる像の方向を元のビームスポットの方向と一致させることができ、測定における作業が容易となる。
【００１３】
１つの好適な例では、前記移動手段は、機械式に前記集光レンズを移動させる移動機構とすることができる。例えば、移動手段としては、モータとボールネジなどの機構により集光レンズを移動させる構造を採用することができる。これにより、装置を安価で構成することができると共に、移動手段の操作にもそれほど高い精度が要求されないため、作業を容易かつ迅速に行うことができる。
【００１４】
本発明の他の実施形態では、光ピックアップから出射される出射光の特性を測定する光ピックアップの出射光測定方法は、前記光ピックアップから出射された平行光を集光レンズによって集光して撮像手段上にビームスポットを形成する集光工程と、前記集光レンズを光軸方向に移動させる移動工程と、前記集光レンズを移動させつつ前記撮像手段により撮像した前記ビームスポットの画像に基づいて、前記出射光の特性を測定する測定工程と、を備える。このような光ピックアップの出射光測定方法によっても、ビームスポットが撮像手段上に位置するようにセッティングを行うだけでよいので、簡易な手順で迅速に測定を行うことができる。
【実施例】
【００１５】
以下、図面を参照して本発明の好適な実施例について説明する。
【００１６】
［出射光測定装置の構成］
まず、本発明の実施例に係る出射光測定装置１００の構成について、図１を用いて説明する。出射光測定装置１００は、光学ヘッド２０と画像処理システム４０とを備え、光ピックアップ１０などから出射される光ビームｂ２の収差、例えば非点収差などを測定する装置である。
【００１７】
光ピックアップ１０は、特定の波長のビームを出射するレーザダイオード１を有する。光ピックアップ１０内に設けられた光学系は、レーザダイオード１が出射した光ビームの平行度や光軸角度などを調整し、ミラーにより光ビームを所定の経路に誘導する。そして、光ピックアップ１０は、ケーシング１１に設けられた開口部１２より光ビームｂ２を光学ヘッド２０に対して出射する。
【００１８】
なお、光ピックアップ１０は、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）やＣＤ（Compact Disc）などの光ディスクに情報を記録する際又は情報を再生する際に、光ディスクの情報記録面上に光ビームを照射する装置であり、情報記録装置や情報再生装置などに搭載される。
【００１９】
光ピックアップ１０が出射した光ビームｂ２は、光学ヘッド２０のケーシング２７に設けられた開口部２９から光学ヘッド２０の内部に入射する。詳細は後述するが、光学ヘッド２０内では、光ビームｂ２を集光レンズで集光してＣＣＤカメラなどの撮像手段に照射する。そして、集光レンズにより集光された光ビームのビームスポットをＣＣＤカメラで撮像し、撮像したビームスポットの画像データＳ１を画像処理システム４０に供給する。
【００２０】
画像処理システム４０は、ＰＣ（パーソナルコンピュータ）４１とモニタ４２を有する。ＰＣ４１は、光学ヘッド２０から画像データＳ１を取得して、これをモニタ４２に表示する。ユーザ（例えば、光ピックアップ１０の検査を行う者）は、モニタ４２に表示されたビームスポットの形状を目視し、ＰＣ４１を操作することで光学ヘッド２０内の集光レンズの位置を変化させることにより、光学ヘッド２０内の光ビームのデフォーカスの度合いを調節することができる。この場合、ＰＣ４１は、ユーザの操作に応じた制御信号Ｓ２を光学ヘッドに供給する。
【００２１】
なお、光学ヘッド２０内の集光レンズ位置の調節は、ＰＣ４１を操作して行うことに限定はされず、ユーザが直接光学ヘッド２０を操作するように構成してもよい。
【００２２】
［光ピックアップの構成］
以下では、光ピックアップ１０の構成について、図２を用いて説明する。光ピックアップ１０の説明を行う前に、まず同様の基本構成を有する光ピックアップ１０ａに基づいて、基本的な動作などを説明する。図２（ａ）は、光ピックアップ１０ａの構成を示す図である。
【００２３】
光ピックアップ１０ａは、レーザダイオード１と、コリメータレンズ２と、ハーフミラー３及び４と、ミラー５と、マルチレンズ６と、受光素子７と、対物レンズ８と、アクチュエータ９と、ケーシング１１と、を備える。
【００２４】
レーザダイオード１は、特定波長の光ビームｂ１を出射して、コリメータレンズ２に光ビームｂ１を入射させる。コリメータレンズ２は光ビームｂ１を平行光とする。コリメータレンズ２を通過した光ビームｂ２は、ハーフミラー３、４を通過してミラー５に入射して、対物レンズ８に入射する。
【００２５】
対物レンズ８は、アクチュエータ９上に固定されており、入射した光ビームｂ２を集光し、光ビームｂ２ｃとして出射する。アクチュエータ９は、移動可能にケーシング１１上に配置されており、矢印９ａで示すように対物レンズ８を光ディスクＤの半径方向に移動させることができる。これにより、対物レンズ８から出射される光ビームｂ２ｃのスポットを光ディスクＤの目標トラック上に配置する、いわゆるトラッキングサーボを行うことが可能となる。
【００２６】
対物レンズ８から出射された光ビームｂ２ｃは光ディスクＤの情報記録面に照射される。このとき、光ディスクＤにて反射された反射光ｂ３は対物レンズ８に入射する。この反射光ｂ３は、ミラー５にて反射されてハーフミラー４を通過し、マルチレンズ６に入射する。そして、反射光ｂ３は、マルチレンズ６により集光されて受光素子７により受光される。これにより、光ディスクＤに記録された情報を読み取ることが可能となる。
【００２７】
次に、本実施例に係る出射光測定装置１００にて測定される光ピックアップ１０について、図２（ｂ）を用いて説明する。なお、上記した光ピックアップ１０ａと同一の構成要素については同一の符号を付し、その説明は省略する。
【００２８】
光ピックアップ１０は、対物レンズ８及びアクチュエータ９を有しない点で光ピックアップ１０ａと異なる。即ち、本実施例に係る出射光測定装置１００は、対物レンズ８などが装着される前の状態の光ピックアップ１０に対して収差の測定を行う。この理由は以下の通りである。光ディスクＤを記録・再生する際に実際に用いられる光ピックアップ１０ａは、上記の光ビームｂ２を集光する対物レンズ８や、この対物レンズ８を移動させるアクチュエータ９などが開口部１２上に設けられる構成を有する。よって、最終的に対物レンズ８が取り付けられた状態で対物レンズ８からの出射光ビームｂ２ｃが有する収差が当該光ピックアップ１０ａの最終的な収差である。しかし、光ビームｂ２ｃが対物レンズ８を通過する前の平行光の状態での収差を低減できれば、対物レンズ８が取り付けられた後の最終的な状態における収差も低減することができる。また、光ピックアップ１０ａから出射される光ビームｂ２ｃをできるだけ理想的な真円に近づけるために光ピックアップ１０ａ内に成形プリズムなどを設ける手法が知られているが、そうするとレーザ光源と光学部品の位置の微小なずれにより非点収差が発生しやすくなる。よって、光ピックアップ１０ａの製造工程上、対物レンズ８を通過する前の平行光の状態で非点収差を管理することが重要である。このような理由により、本実施例の出射光測定装置１００は、対物レンズ８にて集光される前の平行光を出射する光ピックアップ１０に対してまず収差の測定を行う。
【００２９】
ここで、光ピックアップ１０にて発生する非点収差について、図３に示す具体例を用いて説明する。
【００３０】
例えば、対物レンズ８に光ビームｂ２ａが入射する場合、対物レンズ８から出射される光ビームｂ２ｂは非点収差を有しており、焦点位置によってその形状（断面形状）が異なる。具体的には、光ビームｂ２ｂの形状は、対物レンズ８側の焦点付近では符号５０で示すような一方向に伸びた楕円となり、対物レンズ８から離れた側の焦点付近では符号５２で示すような先の一方向と垂直方向に伸びた楕円となり、両焦点位置の概ね中間位置では符号５１で示すような真円となる。光ビームｂ２ｂの形状が真円となる位置５３を「合焦点」と呼ぶ。また、上記の焦点位置間の距離Ｅを「非点隔差」と呼ぶ。なお、光ピックアップは、この非点隔差Ｅが概ね１μｍ以下であることが好ましい。
【００３１】
本実施例に係る出射光測定装置１００は、光ピックアップ１０からの出射光のＣＣＤカメラ上における集光ポイントを変化させて（即ち、光ビームをデフォーカスさせて）ビームスポットの形状を撮影し、このビームスポットの形状に基づいて非点隔差Ｅを測定する。得られた非点隔差Ｅに基づいて光ピックアップ１０の評価が行われる。
【００３２】
［光学ヘッドの構成］
以下では、本実施例に係る出射光測定装置１００の光学ヘッド２０の構成について説明する。図１に示す光学ヘッド２０の説明を行う前に、まず同様の基本構成を有する光学ヘッド２０ａに基づいて、基本的な動作などを説明する。図４は、光学ヘッド２０ａの構成を示す図である。図４は、光学ヘッド２０ａの光軸方向に平行な面に沿った断面図を示す。なお、図１においては光学ヘッド２０はその下方から光ピックアップ１０の出射光を受光するが、図４に示す基本構成においては、理解を容易にするために、光学ヘッド２０ａの長さ方向に沿って光ピックアップの出射光が供給されるものとする。
【００３３】
光学ヘッド２０ａは、集光レンズ２３と、集光レンズ保持部２４と、アクチュエータ２５と、ＣＣＤカメラ２６と、ケーシング２７と、開口部２９と、を備えている。
【００３４】
光ピックアップ１０の開口部１２より出射された光ビームｂ２は、光学ヘッド２０ａのケーシング２７上に設けられた開口部２９から入射する。そして、開口部２９より入射した光ビームｂ２は、集光レンズ２３に入射する。
【００３５】
集光レンズ２３は、光ビームｂ２に対して略垂直に配置され、集光レンズ保持部２４に固定されている。集光レンズ保持部２４は、アクチュエータ２５により移動可能に保持されている。アクチュエータ２５は、例えばモータとボールネジなどの機械式移動機構を備えて構成されており、矢印５５で示す方向、即ち光軸方向に集光レンズ保持部２４を移動させる。これにより、集光レンズ２３を移動させて、光ビームｂ２のデフォーカスの度合いを変化させることができる。なお、アクチュエータ２５は、ＰＣ４１から供給される制御信号Ｓ２によって移動方向や移動量などが制御され、移動手段として機能する。
【００３６】
集光レンズ２３は、光ビームｂ２を集光して、ＣＣＤカメラ２６に光ビームｂ４を照射してビームスポットを形成する。ＣＣＤカメラ２６は、供給される光ビームｂ４のビームスポットを撮像し、撮像したビームスポットの画像データＳ１をＰＣ４１に供給する。
【００３７】
次に、本実施例に係る光学ヘッド２０ａを用いたビームスポット形状の測定例を図５を用いて具体的に説明する。
【００３８】
図５（ａ）は、集光レンズ２３の移動方法を示している。ＰＣ４１は、集光レンズ２３が矢印６０で示す方向に移動するようにアクチュエータ２５を制御する。そして、集光レンズ２３が符号Ｋ１、Ｋ２、Ｋ３、Ｋ４、Ｋ５で示す位置に達したときに、ビームスポットの形状をＣＣＤカメラ２６にて撮像する。これらの位置にて撮像された画像は、それぞれ図５（ｂ）〜（ｆ）で示すようにモニタ４２に表示される。なお、上記の撮像する位置は等間隔である。
【００３９】
図５（ｂ）、（ｃ）、（ｄ）、（ｅ）、（ｆ）は、それぞれ集光レンズ２３を符号Ｋ１、Ｋ２、Ｋ３、Ｋ４、Ｋ５で示す位置に配置した場合にＣＣＤカメラ２６により撮像されたビームスポットＳＰａ、ＳＰｂ、ＳＰｃ、ＳＰｄ、ＳＰｅ（以下、「ビームスポットＳＰ」と記した場合は、これら全てを含むものとする）の形状を示している。なお、ビームスポットＳＰは、レーザパワーに応じて色が段階的に変化するようにモニタ４２に表示される。図５（ｂ）〜（ｆ）では、ハッチングにて色の変化を大まかに示している。具体的には、図５（ｂ）に示すように、ビームスポットＳＰａの中心にある符号６１ａで示す領域は最もレーザパワーが強く、符号６１ｂで示す領域、符号６１ｃで示す領域へと中心から外周側に離れるにつれてレーザパワーは弱くなっていく。位置Ｋ１に対応するビームスポットＳＰａは、一方向に伸びた楕円の形状を有しており、上記のレーザパワーの分布が広がっている。
【００４０】
図５（ｃ）に示すように、位置Ｋ２に対応するビームスポットＳＰｂも、同一の方向に伸びた楕円の形状を有しており、レーザパワーの分布が広がっている。但し、その長辺はビームスポットＳＰａよりも緩やかであり、レーザパワーの分布の広がり具合は小さい。図５（ｄ）に示すように、位置Ｋ３に対応するビームスポットＳＰｃは、真円の形状を有しており、最もレーザパワーが強い領域が占める割合が大きいことがわかる。即ち、ビームスポットＳＰｃは、図３の合焦点の位置５３に相当する。
【００４１】
図５（ｅ）に示すように、位置Ｋ４に対応するビームスポットＳＰｄは、ビームスポットＳＰｂと概ね垂直な方向に伸びた楕円の形状を有しており、レーザパワーの分布が広がっている。また、図５（ｆ）に示すように、位置Ｋ５に対応するビームスポットＳＰｅは、ビームスポットＳＰａと概ね垂直方向に伸びた楕円の形状を有しており、レーザパワーの分布が広がっている。即ち、ビームスポットＳＰの形状及びレーザパワーの分布は、合焦点位置５３を挟んで概ね線対称になっていることがわかる。図５（ｂ）及び図５（ｆ）に対応する位置Ｋ１及びＫ５がそれぞれ焦点であるとすると、非点隔差Ｅは図５（ａ）におけるＫ１とＫ５の距離に相当する。従って、アクチュエータ２５の移動距離に基づいて位置Ｋ１〜Ｋ５の距離を算出することにより、非点隔差Ｅを求めることができる。このように、ビームスポットＳＰをモニタ４２に表示させることにより、非点隔差Ｅを測定して光ピックアップ１０を評価することが可能となる。
【００４２】
以上のように、本実施例に係る光学ヘッド２０は、光ピックアップ１０が出射した平行光（光ビームｂ２）を集光レンズ２３にて集光し、この集光レンズ２３を移動させてデフォーカスの度合いを変化させることにより非点隔差Ｅを測定している。したがって、本実施例に係る出射光測定装置１００と、干渉計などを用いて光ピックアップ１０の測定を行う比較例の構成とを比較した場合、光ピックアップ１０に対して測定装置をセッティングする際、比較例における干渉計は光軸を厳密に調整しなければならないが、出射光測定装置１００ではビームスポットがＣＣＤカメラ２６上に位置するように装置を配置させるだけでよい。即ち、出射光測定装置１００においてビームスポットをＣＣＤカメラ２６上に位置させる際に要求される精度は、比較例における干渉計の光軸を調整する際に要求される精度に比べてかなり低くて済む。これにより、出射光測定装置１００は、光ピックアップ１０の測定操作を容易に行うことができる。また、高価な干渉計を用いる上記の比較例の構成と比較すると、本実施例に係る出射光測定装置１００は格段に安価に構成することができる。
【００４３】
次に、図１に示す光学ヘッド２０について説明する。
【００４４】
図６は、図１に示す光学ヘッド２０の概略構成図を示す。図６は、光学ヘッド２０の光軸方向に平行な面に沿った断面図を示す。なお、上記した光学ヘッド２０ａと同一の構成要素については同一の符号を付し、その説明は省略する。
【００４５】
光学ヘッド２０は、開口部２９から入射した光ビームｂ２をミラー２８にて反射させて、集光レンズ２３に入射させる点で光学ヘッド２０ａと異なる。これにより、光ピックアップ１０を光学ヘッド２０の下方に配置することが可能となり、測定環境の省スペース化が可能となる。
【００４６】
また、光学ヘッド２０は、集光レンズ２３から出射されたビームｂ４を、更に対物レンズ３０及び集光レンズ３１に入射させている点で光学ヘッド２０ａと異なる。具体的には、集光レンズ２３が出射したビームｂ４を対物レンズ３０に入射させ、対物レンズ３０から出射された平行光ｂ５ａを集光レンズ３１に入射させる。そして、集光レンズ３１は、ＣＣＤカメラ２６に光ビームｂ５ｂを供給する。集光レンズ２３のみを通過してＣＣＤカメラ２６により撮像されるビームスポットは上下左右が逆転したものとなっているため、集光レンズ２３から出射した光ビームを更に対物レンズ３０と集光レンズ３１を通過させることにより上下左右の方向を再度逆転させる。これにより、光ピックアップ１０から出射した光ビームの移動方向と、ＣＣＤカメラ２６により撮像されるビームスポットの移動方向とを一致させることができ、ユーザはモニタ４２を目視しながら装置の調節を行いやすくなる。
【００４７】
なお、図６に示す光学ヘッド２０では、説明の単純化のために光ビームの経路を直線的に配置しているが、実際には、複数のミラーなどを用いて、光ビームの経路を光学ヘッド２０内で迂回させることができる。光学的に同一の構成であっても、光学ヘッド２０に搭載される他の光学部品や移動機構などとの関係で、光ビームの経路を迂回させることにより、実際の光学ヘッドの長さを短くすることができ、光学ヘッドを小型化することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の実施例に係る出射光測定装置の概略構成を示す図である。
【図２】光ピックアップの概略構成を示す斜視図である。
【図３】光ピックアップにて生じる非点収差を説明するための図である。
【図４】本発明の実施例に係る光学ヘッドの基本構成を示す図である。
【図５】モニタに表示されるビームスポット形状の具体例を示す図である。
【図６】図１に示す光学ヘッドの概略構成を示す図である。
【符号の説明】
【００４９】
１  レーザダイオード
１０  光ピックアップ
２０、２０ａ  光学ヘッド
２３、３１  集光レンズ
２５  アクチュエータ
４０  画像処理システム
４１  ＰＣ（パーソナルコンピュータ）
４２  モニタ
１００  出射光測定装置
【図１】
2006023219.tif 000003
【図２】
2006023219.tif 000004
【図３】
2006023219.tif 000005
【図４】
2006023219.tif 000006
【図５】
2006023219.tif 000007
【図６】
2006023219.tif 000008