(57)【要約】【課題】プラズマディスプレイパネルにおいて発生する放電セル単位の輝度むらを、コンタクト不良により生じる断線と区別して、適切な評価、検査を可能とする。【解決手段】撮像手段によりプラズマディスプレイパネルの画像を撮像し、撮像した画像に対して孤立点除去処理を行うステップと、その後、対象画素の画像データとその周辺画素の画像データとの差分に基づく値を前記対象画素の画像データとする周辺比較処理を行うステップと、その後、設定された閾値と所定の関係にある画像データを有する画素が存在する領域を検出部として抽出する２値化処理を行うステップと、その後、前記検出部について不点灯領域か否かの判別を行うとともにプラズマディスプレイパネルの画像を評価するステップとを有する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの画像評価方法において、撮像手段によりプラズマディスプレイパネルの画像を撮像し、撮像した画像に対して孤立点除去処理を行うステップと、その後、対象画素の画像データとその周辺画素の画像データとの差分に基づく値を前記対象画素の画像データとする周辺比較処理を行うステップと、その後、設定された閾値と所定の関係にある画像データを有する画素が存在する領域を検出部として抽出する２値化処理を行うステップと、その後、前記検出部について不点灯領域か否かの判別を行うとともにプラズマディスプレイパネルの画像を評価するステップとを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの画像評価方法。
【請求項２】
検出部のアスペクト比または検出部平均差分和の少なくとも一方を用いて、前記検出部について不点灯領域か否かの判別を行うことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの画像評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラズマディスプレイパネルに表示される画像を評価するための画像評価方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
プラズマディスプレイパネルは、前面基板と背面基板とを、間に放電空間が形成されるように対向配置して周辺部を封着し、放電空間に希ガスを封入して構成されている。前面基板上には走査電極と維持電極とからなる表示電極が複数形成され、背面基板上には表示電極と直交する方向にアドレス電極が複数形成されており、表示電極とアドレス電極との立体交差部には単位発光領域である放電セルが形成される。このプラズマディスプレイパネルでは、表示電極とアドレス電極とに所定の電圧を印加して各放電セルで選択的に放電を発生させ、各放電セルに形成された蛍光体層が放電によって発光することにより、画像表示が行われる。
【０００３】
このようなプラズマディスプレイパネルを製造するときにはパネルの性能を評価する必要があり、例えば特許文献１には、プラズマディスプレイパネルの性能を評価する方法について開示されている。
【特許文献１】特開平１１−８６７３１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
プラズマディスプレイパネルには、輝度のばらつきが無い均一な表示画像が望まれる。しかしながら実際の表示画像においては、プラズマディスプレイパネルを構成する各放電セルにおける放電開始電圧のばらつきが顕著になることなどの原因によって、放電セル毎の発光輝度の差が大きくなるために輝度むらが発生する可能性があり、もし人がこのときの表示画像を目視した場合、表示画像にザラツキ感を感じることになる。ここでいう輝度むらは、放電セル毎の輝度差によって発生する輝度むら（放電セル単位の輝度むら）であり、微小な範囲内で生じる輝度むらである。このような輝度むらについてもパネル検査工程において評価する必要がある。
【０００５】
よって、このような放電セル単位の輝度むらを、カメラ撮像と画像処理を用いて、定量的に評価、検査する方法を検討してきた。しかしながら、パネル検査工程においてプラズマディスプレイパネルを点灯する際には、検査装置側端子をパネル側端子に接触させてパネルに点灯信号を供給しており、パネル側端子と検査装置側端子との電気的接続の不具合（コンタクト不良）が発生した場合、前記の画像処理を用いた方法では、コンタクト不良による断線と、放電セル単位の輝度むらとの区別をすることが困難になるという課題があった。
【０００６】
本発明はこのような課題を解決するためになされたものであり、プラズマディスプレイパネルにおいて発生する放電セル単位の輝度むらを、コンタクト不良により生じる断線と区別して、適切な評価、検査を可能とすることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために本発明のプラズマディスプレイパネルの画像評価方法は、撮像手段によりプラズマディスプレイパネルの画像を撮像し、撮像した画像に対して孤立点除去処理を行うステップと、その後、対象画素の画像データとその周辺画素の画像データとの差分に基づく値を前記対象画素の画像データとする周辺比較処理を行うステップと、その後、設定された閾値と所定の関係にある画像データを有する画素が存在する領域を検出部として抽出する２値化処理を行うステップと、その後、前記検出部について不点灯領域か否かの判別を行うとともにプラズマディスプレイパネルの画像を評価するステップとを有することを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明によれば、プラズマディスプレイパネルに発生し得る、放電セル単位の輝度むらについての評価を、コンタクト不良による断線と区別して、定量的に行うことができ、その輝度むらについての適切な評価、検査を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
本発明の請求項１に記載の発明は、一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの画像評価方法において、撮像手段によりプラズマディスプレイパネルの画像を撮像し、撮像した画像に対して孤立点除去処理を行うステップと、その後、対象画素の画像データとその周辺画素の画像データとの差分に基づく値を前記対象画素の画像データとする周辺比較処理を行うステップと、その後、設定された閾値と所定の関係にある画像データを有する画素が存在する領域を検出部として抽出する２値化処理を行うステップと、その後、前記検出部について不点灯領域か否かの判別を行うとともにプラズマディスプレイパネルの画像を評価するステップとを有することを特徴とする。
【００１０】
また請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、検出部のアスペクト比または検出部平均差分和の少なくとも一方を用いて、前記検出部について不点灯領域か否かの判別を行うことを特徴とする。
【００１１】
以下、本発明の一実施の形態について、図面を参照して説明する。
【００１２】
まず、プラズマディスプレイパネルの構造について要部を示す斜視図である図１を用いて説明する。図１に示すように、前面パネル１は、ガラス製の前面基板２上に、走査電極３および維持電極４からなる表示電極を複数形成し、その表示電極を覆うように誘電体ガラスからなる誘電体層５を形成し、誘電体層５上に酸化マグネシウム（ＭｇＯ）からなる保護層６を形成して構成されている。
【００１３】
一方、前面パネル１に対向配置された背面パネル７は、ガラス製の背面基板８上に、アドレス電極９を複数形成し、そのアドレス電極９を覆うように誘電体層１０を形成し、その誘電体層１０上にアドレス電極９と平行な複数の隔壁１１を形成し、さらに隣接する隔壁１１の間にそれぞれ赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の各色に発光する蛍光体層１２を形成して構成されている。アドレス電極９は隣接する隔壁１１の間に位置している。
【００１４】
走査電極３および維持電極４とアドレス電極９とが直交するように、一対の基板である前面基板２と背面基板８とが対向配置され、これら基板の周辺部を封着部材（図示せず）を用いて封着しており、前面基板２と背面基板８との間に形成された放電空間にネオンおよびキセノンからなる放電ガスを封入している。走査電極３および維持電極４とアドレス電極９との立体交差部に放電セルが形成される。放電セルは画像を表示するときの単位発光領域であり、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色に発光する蛍光体層１２が形成された隣接する３つの放電セルによって１つの画素を形成する。
【００１５】
前面基板２および背面基板８の平面形状は長方形であり、通常、走査電極３および維持電極４は前面基板２の長辺に対して平行（水平方向）に形成され、アドレス電極９は背面基板８の短辺に対して平行（垂直方向）に形成されている。そして、前面基板２の短辺側の端部（左端部、右端部）には、走査電極３または維持電極４につながった端子が形成され、背面基板８の長辺側の端部（上端部、下端部）には、アドレス電極９につながった端子が形成されている。これらの端子は前述したパネル側端子である。なお、アドレス電極９につながった端子が背面基板８の上端部または下端部のどちらか一方に形成されたタイプ（シングルスキャンタイプ）と、アドレス電極９が背面基板８の上半分と下半分とに分けて形成され、上半分のアドレス電極９につながった端子が背面基板８の上端部に形成され、下半分のアドレス電極９につながった端子が背面基板８の下端部に形成されたタイプ（デュアルスキャンタイプ）とがある。
【００１６】
このプラズマディスプレイパネルでは、走査電極３に順次走査パルスを印加するとともに画像データに基づいてアドレス電極９にアドレスパルスを印加することで表示する放電セルを選択する。その後、走査電極３と維持電極４とに交互に維持パルスを印加することによって、選択した放電セルにおいて維持放電を起こす。これにより、維持放電が起こった放電セルでは、紫外線が発生し、その紫外線で励起された蛍光体層１２から各色の可視光が放出されて、画像表示が行われる。
【００１７】
次に、このようなプラズマディスプレイパネルについてパネル検査を行うときの、放電セル単位の輝度むらを評価する方法について説明する。図２は、本発明の一実施の形態における、放電セル単位の輝度むらを定量的に評価するシステムの全体構成図である。
【００１８】
図２に示すように、検査対象のプラズマディスプレイパネル１３はパネル保持部１４に装着され、駆動回路１５によって駆動される。電源１６は駆動回路１５に電力を供給し、信号発生装置１７は駆動回路１５に信号を供給するものであり、電源１６および信号発生装置１７は制御装置１８によって制御される。また、撮像手段であるＣＣＤカメラなどのカメラ１９はプラズマディスプレイパネル１３に表示された画像を撮像して、カメラ１９の画素ごとにＲ、Ｇ、Ｂそれぞれの強度データを有するデジタルの画像データとして出力する。ここで、カメラ１９は、プラズマディスプレイパネル１３の１つの画素に対して、カメラ１９の画素が少なくとも１つ以上の画素で測定できる解像度を有するものが望ましい。また、画像記憶手段としての画像メモリ２０は、カメラ１９で撮像されたプラズマディスプレイパネル１３の画像を画像データとして一時記憶する。そして、画像処理部２１は例えばＣＰＵを主体にして構成されており、画像メモリ２０に記憶された画像データを用いて各種の処理を行って評価結果を出力する。
【００１９】
図３は本実施の形態における画像評価のフローチャートであり、ステップ１からステップ７までの各ステップを順次行い、評価結果が出力される。この評価方法を用いて、プラズマディスプレイパネル１３を製造する際のパネル検査工程においてパネルの良否を判定することができる。以下、各ステップについて説明する。
【００２０】
まずステップ１では、パネル保持部１４に設置されたプラズマディスプレイパネル１３に、信号発生装置１７からの信号に対応する画像を表示させる。このとき、駆動回路１５に電気的に接続された検査装置側端子（例えばフレキシブルプリント基板の端子）をプラズマディスプレイパネル１３のパネル側端子に接触させ、駆動回路１５によってプラズマディスプレイパネル１３を駆動する。そして、カメラ１９を用いてプラズマディスプレイパネル１３に表示された画像を撮像し、カメラ１９の各画素における赤色、緑色、青色それぞれの強度データであるデジタルの画像データＲ（赤色のデータ）、Ｇ（緑色のデータ）、Ｂ（青色のデータ）を画像メモリ２０に格納する。ここで、プラズマディスプレイパネル１３に表示する画像は、例えば、すべての放電セルを点灯させて白色表示にする。
【００２１】
次に、ステップ２において、画像メモリ２０に記憶されている画像データに対して、輝度変換処理を施す。輝度変換処理は、撮像画像における各画素の画像データＲ、Ｇ、Ｂを用いて、例えば以下のような数１を用いて変換することにより、各画素の輝度を表す画像データＹを求める。
【００２２】
【数１】
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【００２３】
次のステップ３において、ステップ２で求めた画像データＹを有する画像に対し、孤立点除去処理を行う。孤立点除去処理は図４または図５に示す２通りの方法のうち、いずれかを用いることが望ましい。図４、図５において、入力画像は孤立点除去処理を行う前の画像であり、図中の数値は一部分の画素についての画像データＹの値、すなわち入力画像の画像データｆ（ｘ、ｙ）の値を表している。ここで、ｘ、ｙは画素の位置を特定するもので、横方向をｘ、縦方向をｙとしている。また出力画像は、入力画像に対して孤立点除去処理を行った後の画像であり、図中の数値は対象画素についての画像データの値、すなわち出力画像の画像データＦ（ｘ、ｙ）の値を表している。ここで対象画素とは、孤立点除去処理を行う対象となる画素であり、ステップ４以降においても各処理を行う対象となる画素を対象画素という。
【００２４】
孤立点除去処理の１つ目の方法は、図４に示すように、入力画像の対象画素における画像データを、近傍領域内の画素における画像データの中間値で置き換える中間値フィルタ処理である。図４の例では、近傍領域内の画素として、対象画素および対象画素を囲む８つの画素を採用している。すなわち、ｘ方向フィルタサイズおよびｙ方向フィルタサイズをいずれも３としているが、この値は適宜変更することができる。そして、対象画素における中間値フィルタ処理後の画像データＦ（ｘ、ｙ）の値は、入力画像での対象画素およびその周囲８つの画素における画像データｆ（ｘ、ｙ）を大きさの順に並べたとき中央にくる値（１９）となっている。
【００２５】
孤立点除去処理の２つ目の方法は、図５に示すように、入力画像の対象画素における画像データを、近傍領域内の画素における画像データの平均値で置き換える平滑化フィルタ処理である。図５においても図４の場合と同様に、近傍領域内の画素として、対象画素および対象画素を囲む８つの画素を採用しているが、適宜変更することができる。そして、対象画素における平滑化フィルタ処理後の画像データＦ（ｘ、ｙ）の値は、入力画像での対象画素およびその周囲８つの画素における画像データｆ（ｘ、ｙ）の平均値（２４）となっている。
【００２６】
これらの中間値フィルタ処理、平滑化フィルタ処理はいずれも孤立点を除去し、画像に入ったノイズを除去、抑制することを目的とした孤立点除去処理である。
【００２７】
次のステップ４では、ステップ３において孤立点除去処理を行った画像に対して周辺比較処理を行う。周辺比較処理としては、入力画像の対象画素の画像データを２方向に存在する画素の画像データと比較する１次微分処理、または４方向に存在する画素の画像データと比較する２次微分処理を用いることができる。以下、周辺比較処理について図６、図７を用いて説明するが、各図においてｘ、ｙで特定される画素での入力画像の画像データをｆ（ｘ、ｙ）とし、出力画像の画像データをＦ（ｘ、ｙ）とする。
【００２８】
１次微分処理は、図６に示すように、或る対象画素の画像データをｆ（ｘ、ｙ）、その対象画素の右隣に位置する画素の画像データをｆ（ｘ＋１、ｙ）、前記対象画素の下隣に位置する画素の画像データをｆ（ｘ、ｙ＋１）とすると、例えば以下に示す数２により求められるＧ（ｘ、ｙ）の絶対値を画像データＦ（ｘ、ｙ）とするものである。ここでは、周辺画素として、対象画素の右隣および下隣に位置する画素を選択している。
【００２９】
【数２】
2006210043.tif 000004
【００３０】
そして、図６に示した入力画像のデータ例について数２を用いて計算すると、
Ｇ（ｘ、ｙ）＝２×１１−３０−５＝−１３
となるので、対象画素における出力画像の画像データＦ（ｘ、ｙ）は１３となる。
【００３１】
また、２次微分処理は、図７に示すように、或る対象画素の画像データをｆ（ｘ、ｙ）、その対象画素の左隣に位置する画素の画像データをｆ（ｘ−１、ｙ）、前記対象画素の右隣に位置する画素の画像データをｆ（ｘ＋１、ｙ）、前記対象画素の上隣に位置する画素の画像データをｆ（ｘ、ｙ−１）、前記対象画素の下隣に位置する画素の画像データをｆ（ｘ、ｙ＋１）とすると、例えば以下に示す数３により求められるＧ（ｘ、ｙ）の絶対値を画像データＦ（ｘ、ｙ）とするものである。ここでは、周辺画素として、対象画素の左隣、右隣、上隣および下隣に位置する画素を選択している。
【００３２】
【数３】
2006210043.tif 000005
【００３３】
そして、図７に示した入力画像のデータ例について数３を用いて計算すると、
Ｇ（ｘ、ｙ）＝４×１１−５１−３０−５５−５＝−９７
となるので、対象画素における出力画像の画像データＦ（ｘ、ｙ）は９７となる。
【００３４】
以上のように周辺比較処理では、対象画素の画像データと周辺画素の画像データとの差分の和の大きさを対象画素の画像データとしている。このような周辺比較処理を行うと、対象画素の輝度がその周辺の画素の輝度に比べて大きく異なる場合には、その対象画素における出力画像の画像データが大きな値となる。すなわち、周辺比較処理を行ったときの出力画像においては、周辺の画素との輝度差が大きい画素では大きな画像データを有しており、周辺画素との輝度差が小さな画素では小さな画像データを有している。このため、大きな画像データを有している画素とその周辺近傍では放電セル単位の輝度むらが発生している可能性があると判断できる。
【００３５】
なお、前述の説明では、周辺比較処理を行うときの一例として、対象画素と周辺画素とは隣接するものとしたが、例えば、対象画素の３画素右に位置する画素や、５画素上に位置する画素を周辺画素として、対象画素の画像データと周辺画素の画像データを用いて周辺比較処理を行うようにしてもよい。ただし、検出対象が放電セル単位の輝度むらであるので、対象画素と周辺画素との間に存在する画素は１０画素以下であることが望ましい。
【００３６】
次に、ステップ４の周辺比較処理を施されて得られた画像に対して、ステップ５において、画像データが或る設定された閾値以上となっている画素を抽出するという２値化処理を行う。その結果を画像に表したときの一例を図８に示す。図８において黒い点で表された領域（破線２２ａ、２２ｂの内側に存在する黒色の領域）は、２値化処理によって抽出した領域（検出部）であり、画像データが閾値以上となっている画素が存在する領域、すなわち周辺画素との輝度差が大きい画素が存在する領域である。このように２値化処理では、或る設定された閾値と所定の関係にある画像データを有する画素が存在する領域を検出部として抽出しており、画像データが閾値よりも大きくなっている画素を抽出するようにしてもよい。
【００３７】
ここで図８の破線２２ａ、２２ｂで囲んだ部分のように、もし抽出した領域が点在していれば、放電セル単位の輝度むらを精度よく評価することが困難となる。そこで、次のステップ６において、ステップ５で２値化処理を行った画像に対して、近距離間に存在する複数の検出部を結合して一つの検出部として取り扱う結合化処理を行い、放電セル単位の輝度むらを精度よく評価できるようにする。ここで、例えば横方向がｍ画素（ｍ＝１０）であり縦方向がｎ画素（ｎ＝１０）の範囲内に存在する検出部について結合化処理を行えばよいが、このｍとｎについては適宜設定することができる。なお、図８において、抽出した領域２３ａ、２３ｂはパネル側端子と検査装置側端子とのコンタクト不良による断線箇所を表しており、これはデュアルスキャンタイプの場合である。
【００３８】
図９は、図８の画像に対してステップ６の結合化処理を行った後の出力画像の一例を示している。図９において、検出部Ａ〜検出部Ｄは、前記閾値以上の画像データを有する画素が存在する領域であるが、検出部Ａと検出部Ｂは、放電セル単位の輝度むらが存在する部分、検出部Ｃと検出部Ｄはコンタクト不良による断線を検出しているものである。
【００３９】
次のステップ７において、ステップ１〜ステップ６の一連の処理によって抽出された検出部Ａ〜検出部Ｄを用いて、プラズマディスプレイパネル１３の放電セル単位の輝度むらについて判定する判定処理を行うが、ここで、放電セル単位の輝度むらとコンタクト不良による断線とを区別する必要がある。
【００４０】
この判定処理において使用する判定指標に関しては、検出部の特徴を表す特徴量である検出部面積、検出部総差分和、検出部平均差分和、アスペクト比などを用いる。ここで、検出部が複数個（図９の場合は４個）検出された場合には、検出部面積、検出部総差分和、検出部平均差分和、アスペクト比はそれぞれの検出部について定義される。以下では検出部Ａについて説明するが、検出部Ｂ〜検出部Ｄについても同様に定義される。
【００４１】
検出部面積は検出部Ａに含まれる総画素数である。また検出部総差分和は、ステップ４終了時の出力画像において、検出部Ａの全画素について画像データの総和をとったものである。検出部平均差分和は、ステップ４終了時の出力画像において、検出部Ａの全画素の画像データについての平均値であり、
検出部平均差分和＝検出部総差分和／検出部面積
で計算されるものである。また、アスペクト比は、検出部の縦方向の長さ（Ｌ）に対する横方向の長さ（Ｗ）の比率（Ｗ／Ｌ）である。これらの判定指標のいずれか、あるいは複数の判定指標を組み合わせて用いることで、プラズマディスプレイパネルの放電セル単位の輝度むらを定量的に精度よく検査することが可能となる。例えば、判定指標である検出部面積、検出部総差分和、検出部平均差分和のそれぞれについて所定の判定基準値を決めておき、検出部面積、検出部総差分和および検出部平均差分和のいずれか１つでも判定基準値より大きくなる場合には、放電セル単位の輝度むらが大きく、パネルとしては不良であると判定するなど、上記判定指標を用いることで放電セル単位の輝度むらに関してパネルの良否を判定することができる。
【００４２】
次に、放電セル単位の輝度むらを有する領域（検出部Ａ、検出部Ｂ）とコンタクト不良による断線を表す領域（検出部Ｃ、検出部Ｄ）とを区別する方法について説明する。
【００４３】
コンタクト不良による断線を検出している部分である検出部Ｃ、検出部Ｄには、アスペクト比が小さいという特徴がある。すなわち、コンタクト不良が発生した場合、コンタクト不良となった電極（図９の場合にはアドレス電極）によって形成される放電セルでは点灯しないために、検出部Ｃおよび検出部Ｄのようにコンタクト不良による断線の領域は縦方向のライン状の領域となり、アスペクト比が検出部Ａ、検出部Ｂに比べて小さくなる。また、コンタクト不良となった電極が走査電極または維持電極の場合、コンタクト不良による断線の領域は横方向のライン状の領域となり、アスペクト比が検出部Ａ、検出部Ｂに比べて大きくなる。よって、アスペクト比において、放電セル単位の輝度むらとコンタクト不良による断線とを区別できる新たな閾値を適宜設定し、その閾値を用いて判定することで、放電セル単位の輝度むらとコンタクト不良による断線とを区別することができる。
【００４４】
また、コンタクト不良による断線を検出している部分は、その検出部平均差分和が大きいという特徴がある。これは、コンタクト不良による断線の部分の輝度はほぼ０であり、輝度むらによる輝度が小さい部分よりも明らかに輝度が低いからである。よって、検出部平均差分和において、放電セル単位の輝度むらとコンタクト不良による断線とを区別できる新たな閾値を設定し、その閾値を用いて判定することで、放電セル単位の輝度むらとコンタクト不良による断線とを区別することができる。
【００４５】
さらに、アスペクト比および検出部平均差分和の両方を用いて判定してもよい。これにより、例えば放電セル単位の輝度むらを有する領域とコンタクト不良による断線を表す領域とが重なって存在する場合に、それらを効果的に区別することができる。
【００４６】
このように、ステップ７の判定処理では、検出部Ａ〜検出部Ｄについて不点灯領域か否かの判別を行うとともにプラズマディスプレイパネルの画像を評価しており、検出部Ａ〜検出部Ｄのアスペクト比または検出部平均差分和の少なくとも一方を用いて、検出部Ａ〜検出部Ｄについて不点灯領域か否かの判別を行うことができる。
【産業上の利用可能性】
【００４７】
以上のように本発明によれば、プラズマディスプレイパネルに発生し得る、放電セル単位の輝度むらについての評価を、コンタクト不良による断線と区別して定量的に行うことができ、プラズマディスプレイパネルの検査に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００４８】
【図１】本発明の一実施の形態におけるプラズマディスプレイパネルの一部を示す斜視図
【図２】本発明の一実施の形態における放電セル単位の輝度むらを評価するシステムの全体構成図
【図３】本発明の一実施の形態における画像処理の流れを説明するフローチャート
【図４】中間値フィルタ処理の説明図
【図５】平滑化フィルタ処理の説明図
【図６】１次微分処理の説明図
【図７】２次微分処理の説明図
【図８】周辺比較処理後の画像データを２値化処理したときの画像の一例を示す図
【図９】結合化処理後の画像の一例を示す図
【符号の説明】
【００４９】
２  前面基板
８  背面基板
１９  カメラ
２０  画像メモリ
２１  画像処理部
【図１】
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【図２】
2006210043.tif 000007
【図３】
2006210043.tif 000008
【図４】
2006210043.tif 000009
【図５】
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【図６】
2006210043.tif 000011
【図７】
2006210043.tif 000012
【図８】
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【図９】
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