(57)【要約】【課題】  端子部の各リード端子にプローブを同時に接触させて有機ＥＬパネルを全面点灯検査するにあたって、接触不良個所が発生した場合でも、特定の画素部分に過電流が流れないようにする。【解決手段】  有機ＥＬパネル１を全面点灯検査するため、その端子部１１に形成されている複数のリード端子２５の各々に同時に点灯電流を供給する有機ＥＬパネルの点灯検査装置において、リード端子２５の各々に接触し得る検査用プローブ６０と、検査用プローブ６０に対して点灯電流を供給する給電部３０とを含み、検査用プローブ６０と給電部３０との間に電流制限用の保護抵抗５０（好ましくは導電ゴム５１）を配置する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
有機ＥＬパネルを全面点灯検査するため、上記有機ＥＬパネルの端子部に形成されている複数のリード端子の各々に同時に点灯電流を供給する有機ＥＬパネルの点灯検査装置において、
上記リード端子の各々に接触し得る検査用プローブと、上記検査用プローブに対して上記点灯電流を供給する給電部とを含み、上記検査用プローブと上記給電部との間に電流制限用の保護抵抗が接続されていることを特徴とする有機ＥＬパネルの点灯検査装置。
【請求項２】
上記検査用プローブとして、電気絶縁性の柔軟な支持フィルムに柱状の導電体を上記リード端子間に跨らないピッチで多数貫設してなる異方性導電フィルムを用いることを特徴とする請求項１に記載の有機ＥＬパネルの点灯検査装置。
【請求項３】
上記保護抵抗は、導電ゴムからなることを特徴とする請求項１または２に記載の有機ＥＬパネルの点灯検査装置。
【請求項４】
上記保護抵抗の抵抗値が、１００Ω〜１ｋΩ±１０％であることを特徴とする請求項１，２または３に記載の有機ＥＬパネルの点灯検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、有機ＥＬパネルの点灯検査装置に関し、さらに詳しく言えば、有機ＥＬパネルを全面点灯検査する際、プローブの接触不良により特定の画素部分（有機ＥＬ素子）に過電流が流れないようにする技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
有機ＥＬパネル（ｏｒｇａｎｉｃ  ｅｌｅｃｔｒｏｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｃｅ  ｐａｎｅｌ）は、パネル本体部分に自発光する有機ＥＬ素子がマトリクス状に配置されて構成されるが、図３に有機ＥＬパネルの１画素分の構成を示し、これについて説明する。
【０００３】
有機ＥＬパネル１は、光透過性基板（多くの場合、ガラス基板）１０を備え、その反観察面側である裏面側に陽極電極２１，有機発光材を含むＥＬ形成層２２および陰極電極２３を順次積層してなる有機ＥＬ素子２０がマトリクス状に配置され、その全体を覆うように光透過性基板１０の裏面側に封止基板２４が被せられる。なお、光透過性基板１０の観察面側には偏光板１２が貼着される。
【０００４】
封止基板２４は、主としてＥＬ形成層２２の水分による劣化を防止する目的で用いられる。通常、封止基板２４はガラス材よりなり、その内面側にはフロスト処理やフッ酸エッチングなどにより凹部２４ａが形成され、その凹部２４ａ内に例えば窒素ガスが封入された状態で周縁が図示しないシール材にて封止される。
【０００５】
光透過性基板１０には、陽極電極２１と陰極電極２３の各リード端子が形成された端子部が設けられている。図４に陽極電極２１側（セグメント側）のリード端子２５が形成された端子部１１を示す。図示しないが、陰極電極２３側（コモン側）の端子部は光透過性基板１０の別の辺に設けられている。
【０００６】
有機ＥＬパネル１は、各有機ＥＬ素子２０に電流を流すことにより発光する。パネル作製後に、パネルを全面点灯させて、その輝度や点灯状態（点灯ムラや断線の有無を含む）の検査が行われるが、各リード端子に針状のプローブピンを当てるピン接触方式では、各機種ごとにコストをかけてピンボードを作成する必要がある。また、各プローブピンを正確にリード端子に位置合わせするため、治具に高精度のアライメント機構が要求されることなどから、ピン接触方式はコスト的に好ましくない。
【０００７】
パネルを全面点灯させる場合、各リード端子にプローブピンを個別的に接触させる必要はない。そこで、パネルの全面点灯検査には、特に位置合わせすることなく各リード端子に一括して接触するベタプローブ方式が好ましく採用されている。図４にベタプローブ方式の一例を示す。
【０００８】
ベタプローブ方式では、例えばフレキシブル基板３１の一端側に、端子部１１の各リード端子２５に跨る長さを有する帯状のベタプローブ電極３２を銅箔材により形成し、図示しない駆動手段にてベタプローブ電極３２を端子部１１に押し付けて各リード端子２５に点灯電流を一斉に供給する。なお、コモン側の端子部にも同様にベタプローブ電極が適用される。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
このベタプローブ方式において、ベタプローブ電極３２がすべてのリード端子２５に接触している場合には問題はない。しかしながら、数箇所にわたって接触不良が発生した場合には、接触していないリード端子に流される分の電流が接触しているリード端子に流されることになる。そのため、正常に接触しているリード端子は過電流となり、これが原因で特定の画素部分が破壊されることがある。
【００１０】
したがって、本発明の課題は、端子部の各リード端子にプローブを同時に接触させて有機ＥＬパネルを全面点灯検査するにあたって、接触不良個所が発生した場合でも、特定の画素部分に過電流が流れないようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記課題を解決するため、本発明は、有機ＥＬパネルを全面点灯検査するため、上記有機ＥＬパネルの端子部に形成されている複数のリード端子の各々に同時に点灯電流を供給する有機ＥＬパネルの点灯検査装置において、上記リード端子の各々に接触し得る検査用プローブと、上記検査用プローブに対して上記点灯電流を供給する給電部とを含み、上記検査用プローブと上記給電部との間に電流制限用の保護抵抗が接続されていることを特徴としている。
【００１２】
本発明において、上記検査用プローブとして、電気絶縁性の柔軟な支持フィルムに柱状の導電体を上記リード端子間に跨らないピッチで多数貫設してなる異方性導電フィルムを用いることが好ましい。
【００１３】
また、上記保護抵抗として導電ゴムを用いることが好ましい。また、上記保護抵抗の抵抗値が低すぎると過電流阻止の効果が認められず、また、高すぎると正常に接触しているリード端子に対して適正な点灯電流を印加することができないことがあるため、上記保護抵抗の抵抗値は１００Ω〜１ｋΩ±１０％であることが好ましい。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、検査用プローブと給電部との間に電流制限用の保護抵抗を接続するようにしたことにより、パネル端子部のリード端子側のいくつかに接触不良が生じたとしても、その分の電流が正常に接触しているリード端子に回り込むことがないため、過電流による画素の破壊が防止される。
【００１５】
また、検査用プローブとして、電気絶縁性の柔軟な支持フィルムに柱状の導電体をリード端子間に跨らないピッチで多数貫設してなる異方性導電フィルムを用いることにより、厳密な位置合わせを要することなく、各リード端子に検査用プローブを個別的に接触させることができる。
【００１６】
また、保護抵抗に導電ゴムを用いることにより、検査用プローブと給電部との間に一括して保護抵抗を設けることができるとともに、導電ゴムの弾性を利用して検査用プローブとリード端子との接触をより確実なものとすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
次に、図１および図２を参照して、本発明の実施形態について説明するが、本発明はこれに限定されるものではない。図１は本発明の要部を示す断面図で、図２は本発明の作用を説明するための模式図である。
【００１８】
検査対象のパネルは先に説明した図３の有機ＥＬパネル１であるが、図１にはその端子部１１のみが示されている。この場合、有機ＥＬパネル１はその観察面側（発光面側）が上向きとして検査装置の図示しない支持台上にセットされるため、端子部１１はリード端子２５が下向きとして配置される。
【００１９】
この検査装置は、端子部１１の下方に配置される昇降テーブル４０を備え、この昇降テーブル４０上には点灯電流供給用の給電部３０が設けられている。この例では、その給電部３０として、先の図４で説明した銅箔材よりなるベタプローブ電極３２を有するフレキシブル基板３１が用いられている。この場合、フレキシブル基板３１はベタプローブ電極３２を上側として昇降テーブル４０上に配置される。
【００２０】
この検査装置は、給電部３０としてのベタプローブ電極３１とは別に、端子部１１の各リード端子２５に対して実際に接触する検査用プローブ６０を有し、この検査用プローブ６０とベタプローブ電極３１との間に電流制限用の保護抵抗５０を介在させている。
【００２１】
検査用プローブ６０として、例えば各リード端子２５ごとに個別的に接触するプローブピンを用いてもよいが、電気絶縁性の柔軟な支持フィルム６２に柱状の導電体６３をリード端子２５間に跨らないピッチで多数貫設してなる異方性導電フィルム６１を用いることが好ましい。
【００２２】
この異方性導電フィルム６１によれば、厳密な位置合わせを要することなく、各リード端子２５に柱状の導電体６３（検査用プローブ）を個別的に接触させることができる。また、リード端子２５間で導電体６３を介して電流が流れることもない。なお、この種の異方性導電フィルムには、例えば日東電工社製の異方性導電フィルムＣｕｐｉｌ（商品名）がある。
【００２３】
保護抵抗５０として、コストを無視して例えばリード端子２５に接触する部分の導電体６３ごとに保護抵抗素子を接続してもよいが、例えばシリコーンゴムなどを基材とする導電ゴム５１を用いることが好ましい。
【００２４】
これによれば、異方性導電フィルム６１（検査用プローブ６０）とベタプローブ電極３１（給電部３０）との間に一括して保護抵抗を設けることができるとともに、導電ゴム５１の弾性を利用して検査用プローブ６０とリード端子２５との接触をより確実なものとすることができる。
【００２５】
なお、導電ゴム５１は必ずしも異方性導電フィルム６１の裏面全面にわたって配置される必要はなく、各リード端子２５に対する異方性導電フィルム６１の接触範囲内において一連の帯状として配置されればよい。
【００２６】
有機ＥＬパネル１を全面点灯検査する場合、昇降テーブル４０を上昇させて検査用プローブ６０としての異方性導電フィルム６１を端子部１１に接触させ、給電部３０（この例では、フレキシブル基板３１のベタプローブ電極３２）から導電ゴム５１および異方性導電フィルム６１の導電体６３を介して各リード端子２５に点灯電流を供給する。なお、有機ＥＬパネル１の図示しないコモン側の端子部には、図４に示すベタプローブ電極３２が適用されてよい。
【００２７】
このとき、図２の拡大図に例示されている隣接する３つのリード端子２５ａ〜２５ｃのうちのリード端子２５ａが接触不良を起こしていると、そのリード端子２５ａに供給される分の電流が隣の正常に接触しているリード端子２５ｂに流れ込もうとするが、その流れ込もうとする電流経路内には導電ゴム５１の抵抗が存在し、そのほとんどがジュール熱に変換されて消失するため、正常に接触しているリード端子２５ｂに過電流が集中するおそれはない。
【００２８】
なお、通常の有機ＥＬパネルで要求される点灯電流は１００ｍＡ程度である。この電流値との関係から、導電ゴム５１の抵抗値は１００Ω〜１ｋΩ±１０％であることが好ましい。これより低すぎると過電流阻止の効果が認められず、また、高すぎると正常に接触しているリード端子２５に対して適正な点灯電流を印加することができないことがある。
【００２９】
また、検査用プローブ６０を用いることなく、導電ゴム５１を各リード端子２５に直接的に接触させるようにしても、上記の例と同じく、接触不良部分から正常に接触しているリード端子への電流の回り込みを防止することができるが、特に導電ゴム５１がシリコーンゴムからなる場合、端子部１１がシリコーンによって汚染されることがあり、また、導電ゴム５１のリード端子２５との接触面がジュール熱によって溶け出すことなどがあるため、導電ゴム５１を各リード端子２５に直接的に接触させることは好ましくない。
【図面の簡単な説明】
【００３０】
【図１】本発明の要部を示す断面図。
【図２】本発明の作用を説明するための模式図。
【図３】有機ＥＬパネルの１画素分の構成を示す概略的な断面図。
【図４】有機ＥＬパネルの端子部とともに、従来の全面点灯検査用の給電部の一例を示す斜視図。
【符号の説明】
【００３１】
１  有機ＥＬパネル
１１  端子部
２０  有機ＥＬ素子
２５  リード端子
３０  給電部
３１  フレキシブル基板
３２  ベタプローブ電極
４０  昇降テーブル
５０  保護抵抗
５１  導電ゴム
６０  検査用プローブ
６１  異方性導電フィルム
６２  支持フィルム
６３  導電体
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
2006210233.tif 000006