(57)【要約】【課題】試験装置に搭載する試験モジュールによらず適切な診断処理を行う。【解決手段】試験装置の制御装置により試験モジュールを診断させる診断プログラムであって、診断対象試験モジュールを診断させる対象診断ソフトウェアモジュールと、診断対象試験モジュールに対して診断用信号を出力させるべく非診断対象試験モジュールを制御させる診断用信号入出力ソフトウェアモジュールと、対象診断ソフトウェアモジュールからの呼び出しを受けたことに応じて、非診断対象試験モジュールの種類に応じた診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを特定させる種類特定ソフトウェアモジュールと、特定された診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを呼び出し、非診断対象試験モジュールから診断対象試験モジュールに対して診断用信号を出力させる呼出先切替ソフトウェアモジュールとを備える診断プログラムを提供する。【選択図】図３
2006275986.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試験信号を被試験デバイスに供給する複数の試験モジュールと、前記複数の試験モジュールを制御する制御装置とを備える試験装置において、前記制御装置により前記試験モジュールを診断させる診断プログラムであって、
診断対象となる診断対象試験モジュールを前記制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールと、
診断対象でない非診断対象試験モジュールの種類毎に設けられ、前記診断対象試験モジュールに対して診断用信号を出力させ、または前記診断対象試験モジュールが出力する診断用信号を入力させるべく前記非診断対象試験モジュールを前記制御装置により制御させる診断用信号入出力ソフトウェアモジュールと、
前記非診断対象試験モジュールとの間で前記診断用信号を入力または出力することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、当該非診断対象試験モジュールの種類に応じた前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを前記制御装置により特定させる種類特定ソフトウェアモジュールと、
前記種類特定ソフトウェアモジュールにより特定された前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを前記制御装置により呼び出させ、当該非診断対象試験モジュールにより前記診断対象試験モジュールから前記診断用信号を入力させ、または前記診断対象試験モジュールに対して前記診断用信号を出力させる呼出先切替ソフトウェアモジュールと
を備える診断プログラム。
【請求項２】
前記種類特定ソフトウェアモジュールは、前記制御装置上に記憶された、前記試験装置が備える前記複数の試験モジュールのそれぞれに応じた前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを識別するソフトウェアモジュール識別情報を格納する構成ファイルを検索し、前記非診断対象試験モジュールに応じた前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールの識別情報を読み出す請求項１に記載の診断プログラム。
【請求項３】
前記試験装置が備える前記複数の試験モジュールのそれぞれについて、当該試験モジュール内に記憶された当該試験モジュールの種類を識別する種類識別情報を前記制御装置により読み出させる種類識別情報読出ソフトウェアモジュールと、
前記試験装置が備える前記複数の試験モジュールのそれぞれについて、前記種類識別情報読出ソフトウェアモジュールが読み出した前記種類識別情報に基づいて、当該試験モジュールに応じた前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを識別するソフトウェアモジュール識別情報を前記構成ファイルに格納する構成ファイル書込ソフトウェアモジュールと
を更に備える請求項２に記載の診断プログラム。
【請求項４】
一の前記非診断対象試験モジュールが２以上の前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを前記制御装置上で実行させることにより前記診断用信号を入力または出力する場合において、前記呼出先切替ソフトウェアモジュールは、当該非診断対象試験モジュールとの間で前記診断用信号を入力または出力することを指示する呼び出しに応じて、当該２以上の前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを前記制御装置により順次呼び出させる請求項１に記載の診断プログラム。
【請求項５】
試験信号を被試験デバイスに供給する複数の試験モジュールと、前記複数の試験モジュールを制御する制御装置とを備える試験装置において、診断対象となる診断対象試験モジュールを前記制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールから呼び出される、診断対象でない非診断対象試験モジュールを前記制御装置により制御させる診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを切り替える切替プログラムであって、
前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールは、診断対象でない非診断対象試験モジュールの種類毎に設けられ、前記診断対象試験モジュールに対して診断用信号を出力させ、または前記診断対象試験モジュールが出力する診断用信号を入力させるべく前記非診断対象試験モジュールを前記制御装置により制御させるものであり、
当該切替プログラムは、
前記非診断対象試験モジュールとの間で前記診断用信号を入力または出力することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、当該非診断対象試験モジュールの種類に応じた前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを前記制御装置により特定させる種類特定ソフトウェアモジュールと、
前記種類特定ソフトウェアモジュールにより特定された前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを前記制御装置により呼び出させ、当該非診断対象試験モジュールにより前記診断対象試験モジュールから前記診断用信号を入力させ、または前記診断対象試験モジュールに対して前記診断用信号を出力させる呼出先切替ソフトウェアモジュールと
を備える切替プログラム。
【請求項６】
被試験デバイスを試験する試験装置であって、
試験信号を被試験デバイスに供給する複数の試験モジュールと、
前記複数の試験モジュールを制御する制御装置と
を備え、
前記制御装置は、前記試験モジュールを診断する診断プログラムを実行することにより、
診断対象となる診断対象試験モジュールを診断する対象診断部と、
診断対象でない非診断対象試験モジュールの種類毎に設けられ、前記非診断対象試験モジュールから前記診断対象試験モジュールに対して診断用信号を出力させ、または前記診断対象試験モジュールが出力する診断用信号を前記非診断対象試験モジュールにより入力させる診断用信号入出力部と、
前記非診断対象試験モジュールとの間で前記診断用信号を入力または出力することを指示する呼び出しを前記対象診断部から受けたことに応じて、当該非診断対象試験モジュールの種類に応じた前記診断用信号入出力部を特定する種類特定部と、
前記種類特定部により特定された前記診断用信号入出力部を呼び出して、当該非診断対象試験モジュールにより前記診断対象試験モジュールから前記診断用信号を入力させ、または前記診断対象試験モジュールに対して前記診断用信号を出力させる呼出先切替部と
して機能する試験装置。
【請求項７】
試験信号を被試験デバイスに供給する複数の試験モジュールと、前記複数の試験モジュールを制御する制御装置とを備える試験装置において、前記制御装置により前記試験モジュールを診断させる診断方法であって、
診断対象となる診断対象試験モジュールを前記制御装置により診断させる対象診断段階と、
診断対象でない非診断対象試験モジュールの種類毎に設けられ、前記診断対象試験モジュールに対して診断用信号を出力させ、または前記診断対象試験モジュールが出力する診断用信号を入力させるべく前記非診断対象試験モジュールを前記制御装置により制御させる診断用信号入出力段階と、
前記非診断対象試験モジュールとの間で前記診断用信号を入力または出力することを前記対象診断段階から指示されたことに応じて、当該非診断対象試験モジュールの種類に応じた前記診断用信号入出力段階を前記制御装置により特定させる種類特定段階と、
前記種類特定段階により特定された前記診断用信号入出力段階の処理を前記制御装置により行わせ、当該非診断対象試験モジュールにより前記診断対象試験モジュールから前記診断用信号を入力させ、または前記診断対象試験モジュールに対して前記診断用信号を出力させる呼出先切替段階と
を備える診断方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、診断プログラム、切替プログラム、試験装置、および診断方法に関する。特に本発明は、試験信号を被試験デバイスに供給する複数の試験モジュールと、複数の試験モジュールを制御する制御装置とを備える試験装置において、試験モジュールを診断するための診断プログラム、切替プログラム、試験装置、および診断方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
メモリ、ロジックＬＳＩ、又はＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ  ｏｎ  Ｃｈｉｐ）等のＤＵＴ（Ｄｅｖｉｃｅ  Ｕｎｄｅｒ  Ｔｅｓｔ：被試験デバイス）を試験する試験装置は、一例として、ＤＵＴの入力端子に対して試験信号を供給し、試験信号に応じて出力端子から出力される出力信号を期待値と比較することによりＤＵＴの良否を判定する。従来の試験装置においては、ＤＵＴとの間で信号を入出力する試験モジュールの種類は、当該試験モジュールを試験装置本体に挿入するスロット位置に応じて固定的に定められていた。
【０００３】
試験装置は、異常有無を判定することを目的として診断機能を有する。試験装置は、診断の過程において、各試験モジュールの機能に異常があるかどうかについても診断する。診断対象の試験モジュールの診断においては、当該試験モジュールが出力した診断用信号を他の試験モジュールに入力して期待値と比較し、他の試験モジュールが出力した診断用信号を当該試験モジュールに入力して期待値と比較する等の入出力試験等を行う。
【０００４】
従来、試験装置の障害有無を検出することを目的として、試験装置の制御装置上で診断プログラムを実行し、試験装置の各部を診断する方法が用いられる。ここで、従来の試験装置においては、各スロットに挿入される試験モジュールの種類は予め定められている。このため従来においては、診断対象の試験モジュールを診断する対象診断プログラムは、診断対象の試験モジュールと既知の他の試験モジュールとの間で診断用信号を入出力させていた。すなわち、当該対象診断プログラムは、予め定められた種類の他の試験モジュールを制御する診断用信号入出力プログラムを呼び出すことにより、当該他の試験モジュールと診断対象の試験モジュールの間で診断用信号の入出力を行っていた。
【０００５】
これに対し、近年、試験装置の構成の自由度を高めることを目的として、例えば非特許文献１に示すOPENSTAR（登録商標）等のオープンアーキテクチャが提案されている。
【非特許文献１】Semiconductor Test Consortium、"STC ANNOUNCES PUBLIC ACCESS TO THE OPENSTAR(tm) SPECS"、[online]、平成１６年１２月７日、［平成１７年３月１６日検索］、インターネット＜URL:http://www.semitest.org/site/News/STC_Spec_Open_to_Public＞
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
オープンアーキテクチャを採用する試験装置の場合、試験装置の各スロットには、オープンアーキテクチャに基づく各種の試験モジュールを搭載することができる。このような試験装置において、従来と同様にして診断対象の試験モジュールの対象診断プログラムから予め定められた種類の他の試験モジュールを制御する診断用信号入出力プログラムを呼び出すようにプログラムした場合、試験装置が搭載する他の試験モジュールが変更されると適切な診断ができなくなる。したがって、他の試験モジュールを変更する度に、対象診断プログラムを変更する必要が生じていた。
【０００７】
そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる診断プログラム、切替プログラム、試験装置、および診断方法を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の第１の形態によると、試験信号を被試験デバイスに供給する複数の試験モジュールと、前記複数の試験モジュールを制御する制御装置とを備える試験装置において、前記制御装置により前記試験モジュールを診断させる診断プログラムであって、診断対象となる診断対象試験モジュールを前記制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールと、診断対象でない非診断対象試験モジュールの種類毎に設けられ、前記診断対象試験モジュールに対して診断用信号を出力させ、または前記診断対象試験モジュールが出力する診断用信号を入力させるべく前記非診断対象試験モジュールを前記制御装置により制御させる診断用信号入出力ソフトウェアモジュールと、前記非診断対象試験モジュールとの間で前記診断用信号を入力または出力することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、当該非診断対象試験モジュールの種類に応じた前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを前記制御装置により特定させる種類特定ソフトウェアモジュールと、前記種類特定ソフトウェアモジュールにより特定された前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを前記制御装置により呼び出させ、当該非診断対象試験モジュールにより前記診断対象試験モジュールから前記診断用信号を入力させ、または前記診断対象試験モジュールに対して前記診断用信号を出力させる呼出先切替ソフトウェアモジュールとを備える診断プログラムを提供する。
【０００９】
前記種類特定ソフトウェアモジュールは、前記制御装置上に記憶された、前記試験装置が備える前記複数の試験モジュールのそれぞれに応じた前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを識別するソフトウェアモジュール識別情報を格納する構成ファイルを検索し、前記非診断対象試験モジュールに応じた前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールの識別情報を読み出してもよい。
【００１０】
前記試験装置が備える前記複数の試験モジュールのそれぞれについて、当該試験モジュール内に記憶された当該試験モジュールの種類を識別する種類識別情報を前記制御装置により読み出させる種類識別情報読出ソフトウェアモジュールと、前記試験装置が備える前記複数の試験モジュールのそれぞれについて、前記種類識別情報読出ソフトウェアモジュールが読み出した前記種類識別情報に基づいて、当該試験モジュールに応じた前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを識別するソフトウェアモジュール識別情報を前記構成ファイルに格納する構成ファイル書込ソフトウェアモジュールとを更に備えてもよい。
【００１１】
一の前記非診断対象試験モジュールが２以上の前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを前記制御装置上で実行させることにより前記診断用信号を入力または出力する場合において、前記呼出先切替ソフトウェアモジュールは、当該非診断対象試験モジュールとの間で前記診断用信号を入力または出力することを指示する呼び出しに応じて、当該２以上の前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを前記制御装置により順次呼び出させてもよい。
【００１２】
本発明の第２の形態によると、試験信号を被試験デバイスに供給する複数の試験モジュールと、前記複数の試験モジュールを制御する制御装置とを備える試験装置において、診断対象となる診断対象試験モジュールを前記制御装置により診断させる対象診断ソフトウェアモジュールから呼び出される、診断対象でない非診断対象試験モジュールを前記制御装置により制御させる診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを切り替える切替プログラムであって、前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールは、診断対象でない非診断対象試験モジュールの種類毎に設けられ、前記診断対象試験モジュールに対して診断用信号を出力させ、または前記診断対象試験モジュールが出力する診断用信号を入力させるべく前記非診断対象試験モジュールを前記制御装置により制御させるものであり、当該切替プログラムは、前記非診断対象試験モジュールとの間で前記診断用信号を入力または出力することを指示する呼び出しを前記対象診断ソフトウェアモジュールから受けたことに応じて、当該非診断対象試験モジュールの種類に応じた前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを前記制御装置により特定させる種類特定ソフトウェアモジュールと、前記種類特定ソフトウェアモジュールにより特定された前記診断用信号入出力ソフトウェアモジュールを前記制御装置により呼び出させ、当該非診断対象試験モジュールにより前記診断対象試験モジュールから前記診断用信号を入力させ、または前記診断対象試験モジュールに対して前記診断用信号を出力させる呼出先切替ソフトウェアモジュールとを備える切替プログラムを提供する。
【００１３】
本発明の第３の形態によると、被試験デバイスを試験する試験装置であって、試験信号を被試験デバイスに供給する複数の試験モジュールと、前記複数の試験モジュールを制御する制御装置とを備え、前記制御装置は、前記試験モジュールを診断する診断プログラムを実行することにより、診断対象となる診断対象試験モジュールを診断する対象診断部と、診断対象でない非診断対象試験モジュールの種類毎に設けられ、前記非診断対象試験モジュールから前記診断対象試験モジュールに対して診断用信号を出力させ、または前記診断対象試験モジュールが出力する診断用信号を前記非診断対象試験モジュールにより入力させる診断用信号入出力部と、前記非診断対象試験モジュールとの間で前記診断用信号を入力または出力することを指示する呼び出しを前記対象診断部から受けたことに応じて、当該非診断対象試験モジュールの種類に応じた前記診断用信号入出力部を特定する種類特定部と、前記種類特定部により特定された前記診断用信号入出力部を呼び出して、当該非診断対象試験モジュールにより前記診断対象試験モジュールから前記診断用信号を入力させ、または前記診断対象試験モジュールに対して前記診断用信号を出力させる呼出先切替部として機能する試験装置を提供する。
【００１４】
本発明の第４の形態によると、試験信号を被試験デバイスに供給する複数の試験モジュールと、前記複数の試験モジュールを制御する制御装置とを備える試験装置において、前記制御装置により前記試験モジュールを診断させる診断方法であって、診断対象となる診断対象試験モジュールを前記制御装置により診断させる対象診断段階と、診断対象でない非診断対象試験モジュールの種類毎に設けられ、前記診断対象試験モジュールに対して診断用信号を出力させ、または前記診断対象試験モジュールが出力する診断用信号を入力させるべく前記非診断対象試験モジュールを前記制御装置により制御させる診断用信号入出力段階と、前記非診断対象試験モジュールとの間で前記診断用信号を入力または出力することを前記対象診断段階から指示されたことに応じて、当該非診断対象試験モジュールの種類に応じた前記診断用信号入出力段階を前記制御装置により特定させる種類特定段階と、前記種類特定段階により特定された前記診断用信号入出力段階の処理を前記制御装置により行わせ、当該非診断対象試験モジュールにより前記診断対象試験モジュールから前記診断用信号を入力させ、または前記診断対象試験モジュールに対して前記診断用信号を出力させる呼出先切替段階とを備える診断方法を提供する。
【００１５】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、試験装置に搭載する試験モジュールによらず適切な診断処理を行うことができる診断プログラムを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００１８】
図１は、本実施形態に係る試験装置１０の構成を示す。試験装置１０は、試験信号を生成してＤＵＴ１００（Ｄｅｖｉｃｅ  Ｕｎｄｅｒ  Ｔｅｓｔ：被試験デバイス）に供給し、ＤＵＴ１００が試験信号に基づいて動作した結果出力する出力信号が期待値と一致するか否かに基づいてＤＵＴ１００の良否を判断する。本実施形態に係る試験装置１０は、オープンアーキテクチャにより実現され、ＤＵＴ１００に試験信号を供給する試験モジュール１７０等として、オープンアーキテクチャに基づく各種のモジュールを用いることができる。
【００１９】
試験装置１０は、システム制御装置１１０と、通信ネットワーク１２０と、サイト制御装置１３０ａ〜ｃと、バススイッチ１４０と、同期モジュール１５０ａ〜ｂと、同期接続モジュール１６０ａ〜ｂと、試験モジュール１７０ａ〜ｂと、ロードボード１８０とを備え、ＤＵＴ１００ａ〜ｂに接続される。同期モジュール１５０ａ〜ｂ、同期接続モジュール１６０ａ〜ｂ、および試験モジュール１７０ａ〜ｂは、本発明に係る試験モジュールの一例である。
【００２０】
システム制御装置１１０は、試験装置１０がＤＵＴ１００ａ〜ｂの試験に用いる試験制御プログラム、試験プログラム及び試験データ等と、試験装置１０の内部を診断するための診断プログラム等とを外部のネットワーク等を介して受信し、格納する。通信ネットワーク１２０は、システム制御装置１１０、サイト制御装置１３０ａ〜ｃ、及び試験エミュレート装置１９０を接続し、これらの間の通信を中継する。
【００２１】
サイト制御装置１３０ａ〜ｃは、本発明に係る制御装置の一例であり、同期モジュール１５０、同期接続モジュール１６０、及び試験モジュール１７０を制御することによりＤＵＴ１００の試験を制御する。ここで、複数のサイト制御装置１３０は、それぞれ一のＤＵＴ１００の試験を制御する。例えば、図１においては、サイト制御装置１３０ａはＤＵＴ１００ａの試験を制御し、サイト制御装置１３０ｂはＤＵＴ１００ｂの試験を制御する。これに代えて、複数のサイト制御装置１３０は、それぞれ複数のＤＵＴ１００の試験を制御してもよい。
【００２２】
より具体的には、サイト制御装置１３０は、通信ネットワーク１２０を介してシステム制御装置１１０から試験制御プログラムを取得し実行する。次に、サイト制御装置１３０は、試験制御プログラムに基づいて、当該ＤＵＴ１００の試験に用いる試験プログラム及び試験データをシステム制御装置１１０から取得し、バススイッチ１４０を介して当該ＤＵＴ１００の試験に用いる同期モジュール１５０及び１又は複数の試験モジュール１７０等のモジュールに格納する。次に、サイト制御装置１３０は、試験プログラム及び試験データに基づく試験の開始をバススイッチ１４０を介して同期モジュール１５０に指示する。そして、サイト制御装置１３０は、試験が終了したことを示す割込み等を例えば同期モジュール１５０から受信し、試験結果に基づいて次の試験を各モジュールに行わせる。以上において、サイト制御装置１３０は、同期モジュール１５０および複数の試験モジュール１７０のそれぞれについて、試験用ソフトウェアモジュール（以下「ソフトウェアモジュール」を「ＳＷモジュール」と示す）を実行することにより、当該モジュールによる試験動作を制御する。
【００２３】
また、サイト制御装置１３０ａ〜ｃは、診断プログラムを実行し、試験装置１０の各部を診断する。診断処理において、複数のサイト制御装置１３０のそれぞれは、バススイッチ１４０により当該サイト制御装置１３０に接続される同期モジュール１５０、同期接続モジュール１６０、及び試験モジュール１７０を診断する。それぞれの試験モジュール１７０の診断において、サイト制御装置１３０は、診断対象の試験モジュール１７０と診断対象でない非診断対象試験モジュール１７０との間で診断用の信号を授受させる。そして、診断対象試験モジュール１７０が出力し非診断試験モジュール１７０により取得された診断用信号と期待値との比較結果に基づいて、診断対象試験モジュール１７０の出力チャネルの良否を診断する。また、非診断対象試験モジュール１７０が出力し診断対象試験モジュール１７０により取得された診断用信号と期待値との比較結果に基づいて、診断対象試験モジュール１７０の入力チャネルの良否を診断する。
【００２４】
バススイッチ１４０は、複数のサイト制御装置１３０のそれぞれを、当該サイト制御装置１３０が制御する同期モジュール１５０及び１又は複数の試験モジュール１７０に接続し、これらの間の通信を中継する。ここで、予め定められた一のサイト制御装置１３０は、試験装置１０の使用者または試験制御プログラム等の指示に基づいて、複数のサイト制御装置１３０のそれぞれを、当該サイト制御装置１３０がＤＵＴ１００の試験に用いる同期モジュール１５０及び１以上の試験モジュール１７０に接続させるべくバススイッチ１４０を設定してよい。例えば、図１においては、サイト制御装置１３０ａは、同期モジュール１５０ａ及び複数の試験モジュール１７０ａに接続する様に設定され、これらを用いてＤＵＴ１００ａの試験を行う。また、サイト制御装置１３０ｂは、同期モジュール１５０ｂ及び複数の試験モジュール１７０ｂに接続する様に設定され、これらを用いてＤＵＴ１００ｂの試験を行う。
【００２５】
ここで、サイト制御装置１３０ｂが同期モジュール１５０ｂ、同期接続モジュール１６０ｂ、及び１又は複数の試験モジュール１７０ｂを用いてＤＵＴ１００ｂを試験するための構成及び動作は、サイト制御装置１３０ａが同期モジュール１５０ａ、同期接続モジュール１６０ａ、及び１又は複数の試験モジュール１７０ａを用いてＤＵＴ１００ａを試験するための構成及び動作と略同様であるので、以下相違点を除きサイト制御装置１３０ａがＤＵＴ１００ａを試験するための構成及び動作を中心に説明する。
【００２６】
同期モジュール１５０ａは、サイト制御装置１３０ａの指示に基づいて、ＤＵＴ１００ａの試験に用いる複数の試験モジュール１７０ａが試験信号を生成すべき試験信号生成タイミングを生成する。また、同期モジュール１５０ａは、同期接続モジュール１６０ａを介して１又は複数の試験モジュール１７０ａから試験結果を受信し、試験結果の良否に対応した試験プログラムのシーケンスを１又は複数の試験モジュール１７０ａに実行させる。
【００２７】
同期接続モジュール１６０ａは、同期モジュール１５０ａが生成した試験信号生成タイミングを、当該試験信号生成タイミングに対応して動作させるべき試験モジュール１７０ａに通知し、１又は複数の試験モジュール１７０ａのそれぞれを指定したタイミングで動作させる。また、同期接続モジュール１６０ａは、１又は複数の試験モジュール１７０ａから試験結果を受信し、同期モジュール１５０ａに送信する。
【００２８】
複数の試験モジュール１７０ａは、ＤＵＴ１００ａが有する複数の端子の一部ずつにそれぞれ接続され、サイト制御装置１３０ａにより格納された試験プログラム及び試験データに基づいてＤＵＴ１００ａの試験を行う。ＤＵＴ１００ａの試験において、試験モジュール１７０ａは、試験プログラムにより定められたシーケンスに基づいて試験データから試験信号を生成し、当該試験モジュール１７０ａに接続されたＤＵＴ１００ａの端子に試験信号を供給する。次に、試験モジュール１７０ａは、ＤＵＴ１００ａが試験信号に基づいて動作した結果出力する出力信号を取得し、期待値と比較する。そして、試験モジュール１７０ａは、出力信号と期待値との比較結果を、試験結果として同期接続モジュール１６０ａに送信する。ここで複数の試験モジュール１７０ａは、試験プログラム及び試験データに基づいて、試験信号のサイクル周期を動的に変化させるため、異なるサイクル周期に基づいて試験信号を生成する。
【００２９】
また、試験モジュール１７０ａは、試験プログラムの処理が完了した場合、または試験プログラムの実行中に異常が生じた場合等において、サイト制御装置１３０ａに対して割込みを発生する。この割込みは、バススイッチ１４０を介して当該試験モジュール１７０ａに対応するサイト制御装置１３０ａに通知され、サイト制御装置１３０ａが有するプロセッサにより割込み処理が行われる。
【００３０】
ロードボード１８０は、複数のＤＵＴ１００を載置し、複数の試験モジュール１７０を対応するＤＵＴ１００の端子に接続する。ここで、試験装置１０の診断をする場合には、通常試験用のロードボード１８０に代えて、診断用のロードボード１８０を用いてもよい。この診断用のロードボード１８０は、診断対象試験モジュール１７０と非診断対象試験モジュール１７０との間を直接接続する構成を採ってよい。
【００３１】
以上において、試験装置１０は、オープンアーキテクチャにより実現され、オープンアーキテクチャ規格を満たす各種のモジュールを使用することができる。そして、試験装置１０は、同期モジュール１５０、同期接続モジュール１６０、及び試験モジュール１７０等のモジュールを、バススイッチ１４０が有する任意の接続スロットに挿入して使用することができる。この際、試験装置１０の使用者等は、例えばサイト制御装置１３０ａを介してバススイッチ１４０の接続形態を変更し、ＤＵＴ１００の試験に用いる複数のモジュールを、当該ＤＵＴ１００の試験を制御するサイト制御装置１３０に接続させることができる。これにより、試験装置１０の使用者は、複数のＤＵＴ１００のそれぞれの端子数、端子の配置、端子の種類、又は試験の種類等に応じて適切なモジュールを選択し、試験装置１０に実装することができる。
【００３２】
なお、以上に代えて、同期接続モジュール１６０ａ及び同期接続モジュール１６０ｂは、試験装置１０に用いられる全ての試験モジュール１７０に共通して設けられた一の同期接続部により実現されてもよい。この場合において、試験装置１０の使用者等は、バススイッチ１４０の接続形態の変更と共に同期接続部と試験モジュール１７０との接続形態を変更することにより、複数のＤＵＴ１００の特性に応じて適切なモジュールを選択することができる。
【００３３】
図２は、本実施形態に係るサイト制御装置１３０のハードウェア構成を示す。サイト制御装置１３０として動作するコンピュータ１９００は、ホスト・コントローラ２０８２により相互に接続されるＣＰＵ２０００、ＲＡＭ２０２０、グラフィック・コントローラ２０７５、及び表示装置２０８０を有するＣＰＵ周辺部と、入出力コントローラ２０８４によりホスト・コントローラ２０８２に接続される通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、及びＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を有する入出力部と、入出力コントローラ２０８４に接続されるＲＯＭ２０１０、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０を有するレガシー入出力部とを備える。
【００３４】
ホスト・コントローラ２０８２は、ＲＡＭ２０２０と、高い転送レートでＲＡＭ２０２０をアクセスするＣＰＵ２０００及びグラフィック・コントローラ２０７５とを接続する。ＣＰＵ２０００は、ＲＯＭ２０１０及びＲＡＭ２０２０に格納されたプログラムに基づいて動作し、各部の制御を行う。グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等がＲＡＭ２０２０内に設けたフレーム・バッファ上に生成する画像データを取得し、表示装置２０８０上に表示させる。これに代えて、グラフィック・コントローラ２０７５は、ＣＰＵ２０００等が生成する画像データを格納するフレーム・バッファを、内部に含んでもよい。
【００３５】
入出力コントローラ２０８４は、ホスト・コントローラ２０８２と、比較的高速な入出力装置である通信インターフェイス２０３０、ハードディスクドライブ２０４０、ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０を接続する。通信インターフェイス２０３０は、ネットワークを介して他の装置と通信する。ハードディスクドライブ２０４０は、コンピュータ１９００内のＣＰＵ２０００が使用するプログラム及びデータを格納する。ＣＤ−ＲＯＭドライブ２０６０は、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。
【００３６】
また、入出力コントローラ２０８４には、ＲＯＭ２０１０と、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０、及び入出力チップ２０７０の比較的低速な入出力装置とが接続される。ＲＯＭ２０１０は、コンピュータ１９００が起動時に実行するブート・プログラムや、コンピュータ１９００のハードウェアに依存するプログラム等を格納する。フレキシブルディスク・ドライブ２０５０は、フレキシブルディスク２０９０からプログラム又はデータを読み取り、ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供する。入出力チップ２０７０は、フレキシブルディスク・ドライブ２０５０や、例えばパラレル・ポート、シリアル・ポート、キーボード・ポート、マウス・ポート等を介して各種の入出力装置を接続する。
【００３７】
ＲＡＭ２０２０を介してハードディスクドライブ２０４０に提供される診断プログラム等のプログラムは、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５、又はＩＣカード等の記録媒体に格納されて利用者によって提供される。プログラムは、記録媒体から読み出され、ＲＡＭ２０２０を介してコンピュータ１９００内のハードディスクドライブ２０４０にインストールされ、ＣＰＵ２０００において実行される。
【００３８】
以上に示したプログラム又はモジュールは、外部の記憶媒体に格納されてもよい。記憶媒体としては、フレキシブルディスク２０９０、ＣＤ−ＲＯＭ２０９５の他に、ＤＶＤやＣＤ等の光学記録媒体、ＭＯ等の光磁気記録媒体、テープ媒体、ＩＣカード等の半導体メモリ等を用いることができる。また、専用通信ネットワークやインターネットに接続されたサーバシステムに設けたハードディスク又はＲＡＭ等の記憶装置を記録媒体として使用し、ネットワークを介してプログラムをコンピュータ１９００に提供してもよい。
【００３９】
図３は、本実施形態に係るサイト制御装置１３０上で動作する診断プログラム２０の構成を示す。診断プログラム２０は、サイト制御装置１３０により同期モジュール１５０、同期接続モジュール１６０、及び試験モジュール１７０を診断させるプログラムである。以下、試験モジュール１７０を診断する場合を例として説明する。
【００４０】
診断プログラム２０は、試験装置１０が診断用のロードボード１８０を搭載した状態においてサイト制御装置１３０により実行されて、診断対象の試験モジュール１７０と診断対象でない試験モジュール１７０とを制御し診断用の信号を授受させる。そして、診断用信号を授受した結果に基づいて、診断対象の試験モジュール１７０の入出力チャネルが正常か否かを診断する。
【００４１】
診断プログラム２０は、対象診断ＳＷモジュール３００ａ〜ｂと、診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０ａ〜ｂと、切替ＳＷモジュール３２０と、診断制御ＳＷモジュール３４０とを備える。これらのソフトウェアモジュールは、サイト制御装置１３０のＣＰＵ２０００等により実行され、サイト制御装置１３０を、１又は複数の対象診断部、１又は複数の対象診断用信号入出力部、切替部、および診断制御部としてそれぞれ機能させるプログラムである。
【００４２】
１又は複数の対象診断ＳＷモジュール３００（３００ａ〜ｂ）のそれぞれは、サイト制御装置１３０により実行され、診断対象となる試験モジュール１７０をサイト制御装置１３０により診断させる。これらの対象診断ＳＷモジュール３００は、試験モジュール１７０の種類毎に試験モジュール１７０の設計者等により記述され、試験モジュール１７０内の各部のハードウェアが正常に動作するか否かをサイト制御装置１３０により診断させる。診断処理において、対象診断ＳＷモジュール３００は、切替ＳＷモジュール３２０を介して非診断対象の試験モジュール１７０を制御する診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を呼び出して、診断対象の試験モジュール１７０と当該非診断対象の試験モジュール１７０との間で診断用信号を授受させる。そして対象診断ＳＷモジュール３００は、診断用信号を授受した結果に基づいて、診断対象の試験モジュール１７０の入出力チャネルが正常か否かを診断する。
【００４３】
１又は複数の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０（３１０ａ〜ｂ）のそれぞれは、診断対象でない非診断対象試験モジュール１７０の種類毎に設けられる。各診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０は、サイト制御装置１３０により実行され、診断対象試験モジュール１７０に対して診断用信号を出力させ、または診断対象試験モジュール１７０が出力する診断用信号を入力させるべく非診断対象試験モジュール１７０をサイト制御装置１３０により制御させる。
【００４４】
切替ＳＷモジュール３２０は、サイト制御装置１３０により実行され、診断対象試験モジュール１７０と非診断対象試験モジュール１７０との間で診断用信号を授受することを指示する呼び出しを対象診断ＳＷモジュール３００から受けて、非診断対象試験モジュール１７０を制御する診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を呼び出す。切替ＳＷモジュール３２０は、種類識別情報読出ＳＷモジュール３２２と、構成ファイル書込ＳＷモジュール３２４と、種類特定ＳＷモジュール３２６と、呼出先切替ＳＷモジュール３２８とを有する。これらのプログラム又はＳＷモジュールは、サイト制御装置１３０のＣＰＵ２０００等により実行され、サイト制御装置１３０を、種類識別情報読出部と、構成ファイル書込部と、種類特定部と、呼出先切替部としてそれぞれ機能させるプログラムである。
【００４５】
種類識別情報読出ＳＷモジュール３２２は、サイト制御装置１３０により実行され、試験装置１０が備える複数の試験モジュール１７０のそれぞれから、当該試験モジュール１７０の種類を識別する種類識別情報をサイト制御装置１３０により読み出させる。構成ファイル書込ＳＷモジュール３２４は、それぞれの試験モジュール１７０について、種類識別情報読出ＳＷモジュール３２２が読み出した種類識別情報に基づいて、当該試験モジュール１７０に応じた診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を識別するＳＷモジュール識別情報を構成ファイル３３０に格納する。ここで、構成ファイル３３０は、例えばハードディスクドライブ２０４０上のファイルとして設けられ、例えば試験装置１０の各スロットに挿入されたそれぞれの試験モジュール１７０の種類等の構成情報をサイト制御装置１３０上に記憶する。
【００４６】
種類特定ＳＷモジュール３２６は、サイト制御装置１３０により実行され、診断対象試験モジュール１７０と非診断対象試験モジュール１７０との間で診断用信号を入力または出力することを指示する呼び出しを対象診断ＳＷモジュール３００から受ける。そして、種類特定ＳＷモジュール３２６は、当該呼び出しを受けたことに応じて、当該非診断対象試験モジュール１７０の種類に応じた診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０をサイト制御装置１３０により特定させる。
【００４７】
呼出先切替ＳＷモジュール３２８は、サイト制御装置１３０により実行され、種類特定ＳＷモジュール３２６により特定された診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０をサイト制御装置１３０により呼び出させる。これにより呼出先切替ＳＷモジュール３２８は、当該非診断対象試験モジュール１７０により診断対象試験モジュール１７０から診断用信号を入力させ、または診断対象試験モジュール１７０に対して診断用信号を出力させる。
【００４８】
診断制御ＳＷモジュール３４０は、サイト制御装置１３０により実行され、複数の試験モジュール１７０の診断を制御する。
【００４９】
以上に示した診断プログラム２０によれば、試験装置１０に挿入する他の試験モジュール１７０を変更することにより試験装置１０の構成を変更した場合においても、診断対象の試験モジュール１７０を診断する対象診断ＳＷモジュール３００を変更する必要がなくなる。これにより診断プログラム２０は、試験装置１０に搭載する試験モジュール１７０の種類によらず適切な診断処理を行うことができる。
【００５０】
図４は、本実施形態に係る診断プログラム２０による構成ファイル３３０の作成フローを示す。
まず、試験対象となるＤＵＴ１００に応じて、試験装置１０の各スロットに同期モジュール１５０、同期接続モジュール１６０、および試験モジュール１７０が挿入され、試験装置１０のハードウェアが構成される（Ｓ４００）。次に、１又は複数のサイト制御装置１３０のそれぞれにおいて診断プログラム２０が起動され、診断処理が開始される。それぞれのサイト制御装置１３０上で実行される診断プログラム２０は、当該サイト制御装置１３０に対応付けられた複数の試験モジュール１７０のそれぞれについて順次Ｓ４２０からＳ４４０の処理を行う（Ｓ４１０、Ｓ４５０）。
【００５１】
次に、種類識別情報読出ＳＷモジュール３２２は、処理対象の試験モジュール１７０内のレジスタ又はフラッシュメモリ等に記憶された、当該試験モジュール１７０の種類識別情報をサイト制御装置１３０により取得させる（Ｓ４２０）。この種類識別情報は、例えば試験モジュール１７０の製造者および製品番号等を識別する情報であってよい。
【００５２】
次に、構成ファイル書込ＳＷモジュール３２４は、Ｓ４２０において種類識別情報読出ＳＷモジュール３２２が読み出した種類識別情報に基づいて、当該試験モジュール１７０に応じたＳＷモジュール識別情報を特定し（Ｓ４３０）、当該試験モジュール１７０に対応付けて構成ファイル３３０に格納する（Ｓ４４０）。
【００５３】
複数の試験モジュール１７０のそれぞれについて上記のＳ４２０からＳ４４０の処理を行うことにより、サイト制御装置１３０は、試験装置１０に挿入された試験モジュール１７０の構成を示す構成ファイル３３０を作成することができる。これに代えて、試験装置１０の使用者は、構成ファイル３３０を人手で作成してもよい。
【００５４】
図５は、本実施形態に係る診断プログラム２０による試験装置１０の診断フローを示す。図４に示した構成ファイル３３０の生成を終えると、サイト制御装置１３０上で実行される診断制御ＳＷモジュール３４０は、複数の試験モジュール１７０のそれぞれについて対象診断ＳＷモジュール３００を順次実行させる（Ｓ５１０）。これにより診断制御ＳＷモジュール３４０は、複数の試験モジュール１７０のそれぞれを順次サイト制御装置１３０により診断させる（Ｓ５００、Ｓ５２０）。
【００５５】
全ての試験モジュール１７０の診断を終えると、診断制御ＳＷモジュール３４０は、それぞれの対象診断ＳＷモジュール３００から取得した診断結果を出力する（Ｓ５３０）。試験装置１０の使用者は、当該診断結果に基づいて、試験装置１０が正常に動作するか否かの情報、および、不良である試験モジュール１７０を特定する情報等を得ることができる。
【００５６】
図６及び図７は、本実施形態に係る診断プログラム２０によるＳ５１０の動作フローを示す。診断プログラム２０内の対象診断ＳＷモジュール３００、診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０、及び切替ＳＷモジュール３２０は、サイト制御装置１３０上で実行されることにより、図４のＳ５１０において、図６及び図７に示した処理を行う。
【００５７】
まず、診断プログラム２０内の対象診断ＳＷモジュール３００は、診断対象の試験モジュール１７０の内部の機能を診断する（Ｓ６００）。次に、診断プログラム２０は、診断対象の試験モジュール１７０が有する１又は複数の入力端子のそれぞれについて、Ｓ６２０からＳ６６０の処理を行う（Ｓ６１０、Ｓ６７０）。
【００５８】
それぞれの入力端子について、対象診断ＳＷモジュール３００は、当該入力端子に接続された非診断対象の試験モジュール１７０から診断用の信号を出力することを指示する呼び出しをサイト制御装置１３０により行う（Ｓ６２０）。次に、切替ＳＷモジュール３２０内の種類特定ＳＷモジュール３２６は、当該呼び出しに応じて、対象診断ＳＷモジュール３００により指定された非診断対象の試験モジュール１７０の種類に応じた診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０をサイト制御装置１３０により特定する（Ｓ６３０）。すなわち種類特定ＳＷモジュール３２６は、非診断対象試験モジュール１７０の種類をサイト制御装置１３０により特定し、当該種類を用いて構成ファイル３３０をサイト制御装置１３０により検索する。そして切替ＳＷモジュール３２０は、当該種類の非診断対象試験モジュール１７０に応じた診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０の識別情報を読み出す。
【００５９】
例えば対象診断ＳＷモジュール３００は、診断対象の試験モジュール１７０の当該入力端子に接続された出力端子を有する試験モジュール１７０のスロット位置等から当該試験モジュール１７０のモジュール番号を特定する。そして、対象診断ＳＷモジュール３００は、当該モジュール番号及び当該試験モジュール１７０内における出力端子の番号等を含むパラメータを用いて切替ＳＷモジュール３２０の呼び出しを行ってよい。この場合、種類特定ＳＷモジュール３２６は、当該モジュール番号に基づいて当該モジュール番号が割り当てられた非診断対象試験モジュール１７０を特定し、当該非診断対象試験モジュール１７０の種類に応じた診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を特定する。これに代えて、対象診断ＳＷモジュール３００は、診断対象の試験モジュール１７０の入力端子を特定する情報を含むパラメータを用いて切替ＳＷモジュール３２０を呼び出す構成を採ってもよい。この場合、切替ＳＷモジュール３２０は、当該診断対象試験モジュール１７０のモジュール番号及び当該試験モジュール１７０内における当該入出力端子の情報に基づいて、当該入出力端子に接続された出力端子を有する試験モジュール１７０を特定する。そして、切替ＳＷモジュール３２０は、当該試験モジュール１７０の種類に応じた診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を特定する。
【００６０】
また、種類特定ＳＷモジュール３２６は、対象診断ＳＷモジュール３００からの呼び出しに対し、同一種類又は異なる種類の２以上の試験モジュール１７０をそれぞれ制御する２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を特定してもよい。
【００６１】
また、種類特定ＳＷモジュール３２６は、一の非診断対象試験モジュール１７０が２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０をサイト制御装置１３０上で実行させることにより診断用信号を出力する場合において、対象診断ＳＷモジュール３００からの一の呼び出しに対し、２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を特定してもよい。
【００６２】
次に、呼出先切替ＳＷモジュール３２８は、種類特定ＳＷモジュール３２６により特定された診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を呼び出す（Ｓ６４０）。この呼び出しを受けた診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０は、制御対象の非診断対象試験モジュール１７０を制御し、当該非診断対象試験モジュール１７０から診断対象試験モジュール１７０に対して診断用信号を出力させる。この結果、診断対象試験モジュール１７０は、診断用信号を入力することができる（Ｓ６５０）。
【００６３】
ここで、呼出先切替ＳＷモジュール３２８は、対象診断ＳＷモジュール３００からの一の呼び出しに対し、同一種類又は異なる種類の２以上の試験モジュール１７０をそれぞれ制御する２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を呼び出してもよい。一例として、対象診断ＳＷモジュール３００が２以上の試験モジュール１７０のリセットを指示した場合、又は２以上の非診断対象試験モジュール１７０から診断対象試験モジュール１７０に対して同期して診断用信号を供給することを指示した場合において、呼出先切替ＳＷモジュール３２８は、２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を呼び出す。
【００６４】
また、一の非診断対象試験モジュール１７０が２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０をサイト制御装置１３０上で実行させることにより診断用信号を出力する場合において、呼出先切替ＳＷモジュール３２８は、対象診断ＳＷモジュール３００からの呼び出しに応じて、当該２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０をサイト制御装置１３０により順次呼び出させる。これにより、呼出先切替ＳＷモジュール３２８は、２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０の処理により非診断対象試験モジュール１７０から診断用信号を出力させる。
【００６５】
次に、対象診断ＳＷモジュール３００は、診断対象試験モジュール１７０が入力した診断用信号を期待値と比較して、診断対象試験モジュール１７０の入力チャネルの良否を診断する（Ｓ６６０）。
【００６６】
診断プログラム２０は、サイト制御装置１３０上で実行されることにより、診断対象試験モジュール１７０の各入力端子について、以上に示したＳ６２０からＳ６６０の処理を行う。これにより、診断プログラム２０は、診断対象試験モジュール１７０の各入力チャネルを診断することができる。
【００６７】
次に、診断プログラム２０は、診断対象の試験モジュール１７０が有する１又は複数の出力端子のそれぞれについて、Ｓ７１０からＳ７５０の処理を行う（Ｓ７００、Ｓ７６０）。ここで、出力端子についてのＳ７１０からＳ７５０の処理は、入力端子についてのＳ６２０からＳ６６０の処理にそれぞれ対応するので、以下相違点を除き説明を省略する。
【００６８】
それぞれの出力端子について、対象診断ＳＷモジュール３００は、当該出力端子に接続された非診断対象の同期モジュール１５０、同期接続モジュール１６０、又は試験モジュール１７０に対し、診断用の信号を入力することを指示する呼び出しをサイト制御装置１３０により行う（Ｓ７１０）。次に、切替ＳＷモジュール３２０内の種類特定ＳＷモジュール３２６は、当該呼び出しに応じて、対象診断ＳＷモジュール３００により指定された非診断対象の試験モジュール１７０の種類に応じた診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０をサイト制御装置１３０により特定する（Ｓ７２０）。ここで、種類特定ＳＷモジュール３２６は、対象診断ＳＷモジュール３００からの呼び出しに対し、同一種類又は異なる種類の２以上の試験モジュール１７０を制御する２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を特定してもよい。また、種類特定ＳＷモジュール３２６は、一の非診断対象試験モジュール１７０が２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０をサイト制御装置１３０上で実行させることにより診断用信号を入力する場合において、対象診断ＳＷモジュール３００からの一の呼び出しに対し、２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を特定してもよい。
【００６９】
次に、呼出先切替ＳＷモジュール３２８は、種類特定ＳＷモジュール３２６により特定された診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を呼び出す（Ｓ７３０）。この呼び出しを受けた診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０は、制御対象の非診断対象試験モジュール１７０を制御し、診断対象試験モジュール１７０から当該診断対象試験モジュール１７０に対して出力される診断用信号を入力可能な状態とする。この状態において対象診断ＳＷモジュール３００は、診断対象試験モジュール１７０を制御し、診断用信号を出力させる（Ｓ７４０）。
【００７０】
ここで、呼出先切替ＳＷモジュール３２８は、対象診断ＳＷモジュール３００からの一の呼び出しに対し、同一種類又は異なる種類の２以上の試験モジュール１７０を制御する２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を呼び出してもよい。一例として、診断対象の同期接続モジュール１６０から２以上の試験モジュール１７０に対して出力される同期信号を当該２以上の試験モジュール１７０により入力させる場合、呼出先切替ＳＷモジュール３２８は２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０を呼び出す。
【００７１】
また、一の非診断対象試験モジュール１７０が２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０をサイト制御装置１３０上で実行させることにより診断用信号を入力する場合において、呼出先切替ＳＷモジュール３２８は、対象診断ＳＷモジュール３００からの呼び出しに応じて、当該２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０をサイト制御装置１３０により順次呼び出させる。これにより、呼出先切替ＳＷモジュール３２８は、２以上の診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０の処理により診断対象試験モジュール１７０から診断用信号を入力させる。
【００７２】
次に、診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０は、非診断対象試験モジュール１７０が入力した診断用信号を期待値と比較して、診断対象試験モジュール１７０の出力チャネルの良否を診断する（Ｓ７５０）。
【００７３】
診断プログラム２０は、サイト制御装置１３０上で実行されることにより、診断対象試験モジュール１７０の各出力端子について、以上に示したＳ７１０からＳ７５０の処理を行う。これにより、診断プログラム２０は、診断対象試験モジュール１７０の各出力チャネルを診断することができる。
【００７４】
次に、診断プログラム２０は、診断対象試験モジュール１７０の内部機能の診断結果（Ｓ６００）、各入力チャネルの診断結果（Ｓ６１０からＳ６７０）、および各出力チャネルの診断結果（Ｓ７００からＳ７６０）を試験装置１０の使用者に対して出力する。この診断結果を受けて、試験装置１０の使用者は、不良である試験モジュール１７０を交換し、試験装置１０を正常な状態に保つことができる。
【００７５】
サイト制御装置１３０は、例えば試験装置１０の電源が投入された場合、または試験装置１０の使用者により診断処理を指示された場合に、以上に示した診断処理を行う。そして、当該診断処理の後、試験装置１０は、１又は複数のＤＵＴ１００の試験を行ってよい。
【００７６】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【００７７】
例えば、以上に示した対象診断ＳＷモジュール３００および診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０は、それぞれの試験モジュール１７０に対応して設けられ、ＤＵＴ１００の試験時に対応する試験モジュール１７０を制御する試験用ＳＷモジュールとは別に実装されてよい。これに代えて、対象診断ＳＷモジュール３００および診断用信号入出力ＳＷモジュール３１０は、試験用ＳＷモジュールに組み込まれ、試験用ＳＷモジュールの一部の機能として実現されてもよい。
【００７８】
また、同期モジュール１５０および同期接続モジュール１６０も試験信号をＤＵＴ１００に供給するために用いられるものであるから、診断プログラム２０は、試験モジュール１７０と同様にして診断を行ってよい。すなわち、診断プログラム２０は、同期モジュール１５０および同期接続モジュール１６０等の他のモジュールについても診断対象の試験モジュールとして試験モジュール１７０と同様にして診断を行ってよい。また、診断プログラム２０は、同期モジュール１５０および同期接続モジュール１６０等の他のモジュールを非診断対象の試験モジュールとして、診断対象試験モジュール１７０との間で診断用信号を授受してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００７９】
【図１】本発明の実施形態に係る試験装置１０の構成を示す。
【図２】本発明の実施形態に係るサイト制御装置１３０の構成を示す。
【図３】本発明の実施形態に係るサイト制御装置１３０上で動作する診断プログラム２０の構成を示す。
【図４】本発明の実施形態に係る診断プログラム２０による構成ファイル３３０の作成フローを示す。
【図５】本発明の実施形態に係る診断プログラム２０による試験装置１０の診断フローを示す。
【図６】本発明の実施形態に係る診断プログラム２０によるＳ５１０の動作フローの前半部分を示す。
【図７】本発明の実施形態に係る診断プログラム２０によるＳ５１０の動作フローの後半部分を示す。
【符号の説明】
【００８０】
１０  試験装置
２０  診断プログラム
１００ａ〜ｂ  ＤＵＴ
１１０  システム制御装置
１２０  通信ネットワーク
１３０ａ〜ｃ  サイト制御装置
１４０  バススイッチ
１５０ａ〜ｂ  同期モジュール
１６０ａ〜ｂ  同期接続モジュール
１７０ａ〜ｂ  試験モジュール
１８０  ロードボード
３００ａ〜ｂ  対象診断ＳＷモジュール
３１０ａ〜ｂ  診断用信号入出力ＳＷモジュール
３２０  切替ＳＷモジュール
３２２  種類識別情報読出ＳＷモジュール
３２４  構成ファイル書込ＳＷモジュール
３２６  種類特定ＳＷモジュール
３２８  呼出先切替ＳＷモジュール
３３０  構成ファイル
３４０  診断制御ＳＷモジュール
１９００  コンピュータ
２０００  ＣＰＵ
２０１０  ＲＯＭ
２０２０  ＲＡＭ
２０３０  通信インターフェイス
２０４０  ハードディスクドライブ
２０５０  フレキシブルディスク・ドライブ
２０６０  ＣＤ−ＲＯＭドライブ
２０７０  入出力チップ
２０７５  グラフィック・コントローラ
２０８０  表示装置
２０８２  ホスト・コントローラ
２０８４  入出力コントローラ
２０９０  フレキシブルディスク
２０９５  ＣＤ−ＲＯＭ
【図１】
2006275986.tif 000003
【図２】
2006275986.tif 000004
【図３】
2006275986.tif 000005
【図４】
2006275986.tif 000006
【図５】
2006275986.tif 000007
【図６】
2006275986.tif 000008
【図７】
2006275986.tif 000009