(57)【要約】【課題】入力に応じて検出信号を出力する検出手段と、検出手段で検出された検出信号を処理する処理回路とを有する検出装置及びそのテスト方法に関し、簡単な構成で、正確に内蔵された処理回路のテストが行なえる検出装置、及び、そのテスト方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明は、入力に応じた検出信号を出力する検出手段（１１２−１〜１１２−４）と、検出手段（１１２−１〜１１２−４）で検出された検出信号を処理する処理回路（１１３−１〜１１３−４、１１４、１１５）とを有する検出装置において、検出手段（１１２−１〜１１２−４）と処理回路（１１３−１〜１１３−４、１１４、１１５）との接続点に接続されて、処理回路にテスト信号を入力するテスト端子を有することを特徴とする。【選択図】図１
2006275757.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力に応じた検出信号を出力する検出手段と、前記検出手段で検出された検出信号を処理する処理回路とを有する光検出装置において、
前記検出手段と前記処理回路との接続点に接続されて、前記処理回路にテスト信号を入力するテスト端子を有することを特徴とする検出装置。
【請求項２】
前記検出手段と前記処理回路との接続点と前記テスト端子との間に接続され、前記テスト端子に入力される電流を制限する制限抵抗を有することを特徴とする請求項１記載の検出装置。
【請求項３】
前記検出手段は、複数の検出素子を有し、
前記テスト端子は、前記複数の検出素子と前記処理回路との各接続点に各々接続された複数のテスト端子を有することを特徴とする請求項１又は２記載の光検出装置。
【請求項４】
入力に応じた検出信号を出力する検出手段と、前記検出手段で検出された検出信号を処理する処理回路とを有する検出装置のテスト方法であって、
前記検出装置は、前記検出手段と前記処理回路との接続点に接続されて、前記処理回路にテスト信号を入力するテスト端子を有し、
前記テスト端子にテスト信号を入力し、前記処理回路の出力信号を測定することにより前記処理回路の状態を検出することを特徴とする検出装置のテスト方法。
【請求項５】
前記検出手段は、複数の検出素子を有し、
前記テスト端子は、前記複数の検出素子と前記処理回路との各接続点に各々接続された複数のテスト端子を有し、
前記複数のテスト端子に供給する複数のテスト信号を異なるパターンで複数回、入力し、各パターンでの前記処理回路の出力信号を測定することにより前記処理回路の状態を検出することを特徴とする請求項４記載の検出装置のテスト方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は検出装置及びそのテスト方法に係り、特に、入力に応じた検出信号を出力する検出手段と、検出手段で検出された検出信号を処理する処理回路とを有する検出装置及びそのテスト方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
モータの回転制御を行う際の回転検出、例えば、ＦＧなどとして光検出装置が用いられている。
【０００３】
図４は従来の光検出装置の一例のブロック構成図を示す。
【０００４】
従来の光検出装置１は、基準電圧回路１１、フォトダイオード１２−１〜１２−４、アンプ１３−１〜１３−４、コンパレータ１４、１５を搭載した構成とされている。
【０００５】
基準電圧回路１１は、電源端子Ｔ1と接地端子Ｔ2との間に接続されており、電源端子Ｔ1と接地端子Ｔ2との間に印加される電源電圧Ｖccから基準電圧を生成する。基準電圧回路１１で生成された基準電圧は、フォトダイオード１２−１〜１２−４のカソードに印加される。
【０００６】
フォトダイオード１２−１〜１２−４は、入射光に応じた電流をアノードから出力する。フォトダイオード１２−１のアノードは、アンプ１３−１に接続されている。フォトダイオード１２−２のアノードは、アンプ１３−３に接続されている。フォトダイオード１２−３のアノードは、アンプ１３−２に接続されている。フォトダイオード１２−４のアノードは、アンプ１３−４に接続されている。
【０００７】
アンプ１３−１は、フォトダイオード１２−１から供給された電流に応じた信号を出力する。アンプ１３−１の出力は、コンパレータ１４の反転入力端子に供給される。アンプ１３−２は、フォトダイオード１２−３から供給された電流に応じた信号を出力する。アンプ１３−２の出力は、コンパレータ１４の非反転入力端子に供給される。
【０００８】
アンプ１３−３は、フォトダイオード１２−２から供給された電流に応じた信号を出力する。アンプ１３−３の出力は、コンパレータ１５の反転入力端子に供給される。アンプ１３−４は、フォトダイオード１２−４から供給された電流に応じた信号を出力する。アンプ１３−４の出力は、コンパレータ１５の非反転入力端子に供給される。
【０００９】
コンパレータ１４は、アンプ１３−１の出力がアンプ１３−２の出力より大きければ出力をローレベルとし、アンプ１３−１の出力がアンプ１３−２の出力より小さければ出力ハイレベルとする。コンパレータ１４の出力は、端子Ｔ3より出力される。
【００１０】
コンパレータ１５は、アンプ１３−３の出力がアンプ１３−４の出力より大きければ出力をローレベルとし、アンプ１３−３の出力がアンプ１３−４の出力より小さければ出力ハイレベルとする。コンパレータ１５の出力は、端子Ｔ4より出力される。
【００１１】
なお、このような光検出装置１において内部回路の動作をテストする場合、図４に示すようにスリット板２を挟んで発光ダイオード３を配置し、スリット板２を矢印Ａ方向に移動させつつ、出力端子Ｔ３、Ｔ４の出力を検出する。このとき、スリット板２のスリット２１に対応した出力端子Ｔ３、Ｔ４の出力パターンに基づいて光検出装置１の動作が正常か否かを判定していた。
【００１２】
図５〜図７は従来の光検出装置のテスト時の動作を説明するための図を示す。なお、図６（Ａ）は出力端子Ｔ３の出力電圧ＶoutA、図６（Ｂ）は出力端子Ｔ４の出力電圧ＶoutBを示している。
【００１３】
まず、スリット板２のスリット２１の幅は、図５に示すようにフォトダイオード１２−１〜１２−４の２つ分の幅を有しており、フォトダイオード１２−１〜１２−４のうち２つのフォトダイオードに発光ダイオード３から光が入射するようにされている。
【００１４】
まず、スリット２１を通して光がフォトダイオード１２−１、１２−２に照射された状態では、フォトダイオード１２−３、１２−４には光は照射されない。このとき、フォトダイオード１２−１の出力をＰＤＡ、フォトダイオード１２−２の出力をＰＤＢ、フォトダイオード１２−３の出力をＰＤＡ´、フォトダイオード１２−４の出力をＰＤＢ´とすると、
ＰＤＡ＞ＰＤＡ´
ＰＤＢ＞ＰＤＢ´
となる。このため、出力端子Ｔ３の出力電圧ＶoutA、及び、出力端子Ｔ４の出力電圧ＶoutBは共に、ローレベルとなる。
【００１５】
また、スリット板２が矢印Ａ方向に移動し、スリット２１を通して光がフォトダイオード１２−２、１２−３に照射された状態では、フォトダイオード１２−１、１２−４に光が照射されないことになる。このような状態では、
ＰＤＡ＜ＰＤＡ´
ＰＤＢ＞ＰＤＢ´
となる。このため、出力端子Ｔ３の出力電圧ＶoutAはハイレベルとなり、出力端子Ｔ４の出力電圧ＶoutBはローレベルとなる。
【００１６】
スリット板２が、さらに、矢印Ａ方向に移動し、スリット２１を通して光がフォトダイオード１２−３、１２−４に照射された状態では、フォトダイオード１２−１、１２−２に光が照射されないことになる。このような状態では、
ＰＤＡ＜ＰＤＡ´
ＰＤＢ＜ＰＤＢ´
となる。このため、出力端子Ｔ３の出力電圧ＶoutA、及び、出力端子Ｔ４の出力電圧ＶoutBは共に、ハイレベルとなる。
【００１７】
スリット板２が、さらに、矢印Ａ方向に移動し、スリット２１を通して光がフォトダイオード１２−１に照射されるとともに、他のスリット２１を通して光が１２−４に照射された状態では、フォトダイオード１２−２、１２−３に光が照射されないことになる。このような状態では、
ＰＤＡ＞ＰＤＡ´
ＰＤＢ＜ＰＤＢ´
となる。このため、出力端子Ｔ３の出力電圧ＶoutAはローレベルとなり、出力端子Ｔ４の出力電圧ＶoutBはハイレベルとなる。
【００１８】
以上のように正常に動作している場合には、出力端子Ｔ３、Ｔ４の出力電圧ＶoutA、ＶoutBの波形は、図６に示すように変化する。
【００１９】
したがって、出力端子Ｔ３、Ｔ４から出力される出力電圧ＶoutA、ＶoutBが図７に示すような関係となっていれば、光検出装置１に内蔵されたアンプ１３−１〜１３−４及びコンパレータ１４、１５は正常に動作していると判断できる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２０】
しかるに、従来の光検出装置１のテストを行う場合、発光ダイオード３から出射された光をスリット板２のスリット２１を通してフォトダイオード１２−１〜１２−４に照射しており、光検出装置１、スリット板２、発光ダイオード３とは離間して配置されている。このため、図４に破線で示すようにフォトダイオード１２−１、１２−２に対応する位置にスリット板２のスリット２１が位置する状態であっても、隣接するフォトダイオード１２−３に光が入射したり、あるいは、スリット２１の位置がずれて、フォトダイオード１２−１〜１２−４のうちの所望のフォトダイオードに光を入射させることができなかったりすることにより、アンプ１３−１〜１３−４及びコンパレータ１４、１５の動作の測定を正確に行なえない。
【００２１】
また、スリット板２を矢印Ａ方向に移動させるための駆動手段及び光を発光する発光ダイオード３などが必要となり、測定システムが複雑化するなどの課題があった。
【００２２】
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、簡単な構成で、正確に内蔵された処理回路のテストが行なえる検出装置、及び、そのテスト方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２３】
本発明は、入力に応じた検出信号を出力する検出手段（１１２−１〜１１２−４）と、検出手段（１１２−１〜１１２−４）で検出された検出信号を処理する処理回路（１１３−１〜１１３−４、１１４、１１５）とを有する検出装置において、検出手段（１１２−１〜１１２−４）と処理回路との接続点に接続されて、処理回路（１１３−１〜１１３−４、１１４、１１５）にテスト信号を入力するテスト端子を有することを特徴とする。
【００２４】
また、検出手段（１１２−１〜１１２−４）と処理回路（１１３−１〜１１３−４、１１４、１１５）との接続点に接続され、テスト端子（Ｔ31〜Ｔ34）に入力される電流を制限する制限抵抗（Ｒ１〜Ｒ４）を有することを特徴とする。
【００２５】
さらに、検出手段（１１２−１〜１１２−４）は、複数の検出素子（１１２−１〜１１２−４）を有し、テスト端子（Ｔ31〜Ｔ34）は複数の検出素子（１１２−１〜１１２−４）と処理回路（１１３−１〜１１３−４、１１４、１１５）との各接続点に各々接続された複数のテスト端子（Ｔ31〜Ｔ34）を接続されたことを特徴とする。
【００２６】
また、入射光に応じた検出信号を出力する検出手段（１１２−１〜１１２−４）と、前記光検出手段（１１２−１〜１１２−４）で検出された検出信号を処理する処理回路（１１３−１〜１１３−４、１１４、１１５）とを有する検出装置（１００）のテスト方法であって、検出装置（１００）は検出手段（１１２−１〜１１２−４）と処理回路（１１３−１〜１１３−４、１１４、１１５）との接続点に接続されて、処理回路（１１３−１〜１１３−４、１１４、１１５）にテスト信号を入力するテスト端子（Ｔ31〜Ｔ34）を有し、テスト端子（Ｔ31〜Ｔ34）にテスト信号を入力し、処理回路（１１３−１〜１１３−４、１１４、１１５）の出力信号を測定することにより処理回路（１１３−１〜１１３−４、１１４、１１５）の状態を検出することを特徴とする。
【００２７】
さらに、検出手段（１１２−１〜１１２−４）は複数の検出素子（１１２−１〜１１２−４）を有し、テスト端子（Ｔ31〜Ｔ34）は複数の検出素子（１１２−１〜１１２−４）と処理回路（１１３−１〜１１３−４、１１４、１１５）との各接続点に各々接続された複数のテスト端子（Ｔ31〜Ｔ34）を有し、複数のテスト端子（Ｔ31〜Ｔ34）に供給する複数のテスト信号を異なるパターンで複数回、入力し、各パターンでの処理回路（１１３−１〜１１３−４、１１４、１１５）の出力信号を測定することにより処理回路（１１３−１〜１１３−４、１１４、１１５）の状態を検出することを特徴とする。
【００２８】
なお、上記参照符号はあくまでも参考であり、これによって、特許請求の範囲が限定されるものではない。
【発明の効果】
【００２９】
本発明によれば、入力に応じた検出信号を出力する検出手段と、検出手段で検出された検出信号を処理する処理回路との接続点に処理回路にテスト信号を入力するテスト端子を設けることにより、テスト信号により直接、処理回路の出力を測定できるので、検出手段への入力の状態を考慮せずに処理回路の動作をテストできるので、正確なテストが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３０】
〔検出装置〕
図１は本発明の検出装置の一実施例のブロック構成図を示す。
【００３１】
本実施例では、検出装置の一例として光検出装置について説明する。本実施例の光検出装置１００は、１チップの半導体チップに、基準電圧回路１１１、フォトダイオード１１２−１〜１１２−４、アンプ１１３−１〜１１３−４、コンパレータ１１４、１１５を搭載した構成とされている。アンプ１１３−１〜１１３−４及びコンパレータ１１４、１１５は、光検出装置１００の処理回路を構成している。
【００３２】
基準電圧回路１１１は、電源端子Ｔ11と接地端子Ｔ12との間に接続されており、電源端子Ｔ11と接地端子Ｔ12との間に印加される電源電圧Ｖccから基準電圧を生成する。基準電圧回路１１１で生成された基準電圧は、フォトダイオード１１２−１〜１１２−４のカソードに印加される。
【００３３】
フォトダイオード１１２−１〜１１２−４は、入射光に応じた電流をアノードから出力する。フォトダイオード１１２−１のアノードは、アンプ１１３−１に接続されている。フォトダイオード１１２−２のアノードは、アンプ１１３−３に接続されている。フォトダイオード１１２−３のアノードは、アンプ１１３−２に接続されている。フォトダイオード１１２−４のアノードは、アンプ１１３−４に接続されている。
【００３４】
アンプ１１３−１は、フォトダイオード１１２−１から供給された電流に応じた信号を出力する。アンプ１１３−１の出力は、コンパレータ１１４の反転入力端子に供給される。アンプ１１３−２は、フォトダイオード１１２−３から供給された電流に応じた信号を出力する。アンプ１１３−２の出力は、コンパレータ１１４の非反転入力端子に供給される。
【００３５】
アンプ１１３−３は、フォトダイオード１１２−２から供給された電流に応じた信号を出力する。アンプ１１３−３の出力は、コンパレータ１１５の反転入力端子に供給される。アンプ１１３−４は、フォトダイオード１１２−４から供給された電流に応じた信号を出力する。アンプ１１３−４の出力は、コンパレータ１１５の非反転入力端子に供給される。
【００３６】
コンパレータ１１４は、アンプ１１３−１の出力がアンプ１１３−２の出力より大きければ出力をローレベルとし、アンプ１１３−１の出力がアンプ１１３−２の出力より小さければ出力ハイレベルとする。コンパレータ１１４の出力は、端子Ｔ21より出力される。
【００３７】
コンパレータ１１５は、アンプ１１３−３の出力がアンプ１１３−４の出力より大きければ出力をローレベルとし、アンプ１１３−３の出力がアンプ１１３−４の出力より小さければ出力ハイレベルとする。コンパレータ１１５の出力は、端子Ｔ22より出力される。
【００３８】
また、本実施例の光検出装置１００には、テスト端子Ｔ31〜Ｔ34を有する。テスト端子Ｔ31は、フォトダイオード１１２−１のアノードとアンプ１１３−１の入力との接続点に接続されている。テスト端子Ｔ32は、フォトダイオード１１２−２のアノードとアンプ１１３−３の入力との接続点に接続されている。テスト端子Ｔ33は、フォトダイオード１１２−３のアノードとアンプ１１３−２の入力との接続点に接続されている。テスト端子Ｔ34は、フォトダイオード１１２−４のアノードとアンプ１１３−４の入力との接続点に接続されている。
【００３９】
テスト端子Ｔ31にテスト信号を入力することにより、フォトダイオード１１２−１に光が照射されたのと同等に作用する。テスト端子Ｔ32にテスト信号を入力することにより、フォトダイオード１１２−２に光が照射されたのと同等に作用する。テスト端子Ｔ33にテスト信号を入力することにより、フォトダイオード１１２−３に光が照射されたのと同等に作用する。テスト端子Ｔ34にテスト信号を入力することにより、フォトダイオード１１２−４に光が照射されたのと同等に作用する。
【００４０】
これによって、フォトダイオード１１２−１〜１１２−４に実際に光を照射しなくてもアンプ１１３−１〜１１３−４及びコンパレータ１１４、１１５から構成される処理回路の動作をテストすることが可能となる。
【００４１】
〔テストシステム〕
次に、上記テスト端子付き光検出装置１００のテストシステムについて説明する。
【００４２】
図２はテストシステムのブロック構成図を示す。
【００４３】
テストシステム２００は、制御装置２１１、操作部２１２、駆動装置２１３、測定装置２１４、表示部２１５から構成されている。
【００４４】
制御装置２１１は、操作部２１２からの指示に基づいてテスト制御信号を駆動装置２１３に供給する。駆動装置２１３は、電源２２１、キャパシタ２２２、信号発生部２２３−１〜２２３−４、制限抵抗Ｒ１〜Ｒ４から構成されている。
【００４５】
電源２２１は、プローブやコネクタなどを介して光検出装置１００の電源端子Ｔ11、接地端子Ｔ12に接続されており、光検出装置１００に駆動電圧Ｖccを供給する。キャパシタ２２２は、電源２２１に並列に接続された電源２２１で発生される電源電圧Ｖccの脈動を吸収する。
【００４６】
信号発生部２２３−１には、制御装置２１１からテスト制御信号Ｃt1が供給されている。信号発生部２２３−１は、制御装置２１１から供給されたテスト制御信号Ｃt1に基づいてテスト信号Ｓt1を発生する。信号発生部２２３−１で発生されたテスト信号Ｓt1は、制限抵抗Ｒ１を介して光検出装置１００のテスト端子Ｔ31に供給される。テスト信号Ｓt1によりテスト端子Ｔ31には、電流ＩinAが供給される。
【００４７】
信号発生部２２３−２には、制御装置２１１からテスト制御信号Ｃt2が供給されている。信号発生部２２３−２は、制御装置２１１から供給されたテスト制御信号Ｃt2に基づいてテスト信号Ｓt2を発生する。信号発生部２２３−２で発生されたテスト信号Ｓt2は、制限抵抗Ｒ２を介して光検出装置１００のテスト端子Ｔ32に供給される。テスト信号Ｓt2によりテスト端子Ｔ32には、電流ＩinBが供給される。
【００４８】
信号発生部２２３−３には、制御装置２１１からテスト制御信号Ｃt3が供給されている。信号発生部２２３−３は、制御装置２１１から供給されたテスト制御信号Ｃt3に基づいてテスト信号Ｓt3を発生する。信号発生部２２３−３で発生されたテスト信号Ｓt3は、制限抵抗Ｒ３を介して光検出装置１００のテスト端子Ｔ33に供給される。テスト信号Ｓt3によりテスト端子Ｔ33には、電流ＩinA´が供給される。
【００４９】
信号発生部２２３−４には、制御装置２１１からテスト制御信号Ｃt4が供給されている。信号発生部２２３−４は、制御装置２１１から供給されたテスト制御信号Ｃt4に基づいてテスト信号Ｓt4を発生する。信号発生部２２３−４で発生されたテスト信号Ｓt4は、制限抵抗Ｒ４を介して光検出装置１００のテスト端子Ｔ34に供給される。テスト信号Ｓt4によりテスト端子Ｔ34には、電流ＩinB´が供給される。
【００５０】
測定装置２１４は、光検出装置１００の出力端子Ｔ21、Ｔ22に接続されており、出力端子Ｔ21、Ｔ22の出力信号を測定する。測定装置２１４の測定結果は、制御装置２１１に供給される。制御装置２１１は、測定装置２１４の測定結果を表示部２１５に表示する。
【００５１】
〔動作〕
図３はテストシステム２００の測定動作を説明するための図を示す。
【００５２】
まず、テスト端子Ｔ31、Ｔ33への入力電流ＩinA、ＩinA´を
ＩinA＞ＩinA´
とし、
かつ、テスト端子Ｔ32、Ｔ34への入力電流ＩinB、ＩinB´を
ＩinB＞ＩinB´
とすると、出力端子Ｔ21の出力電圧ＶoutAがローレベルＬであり、かつ、出力端子Ｔ22の出力電圧ＶoutBもローレベルＬであれば、正常な出力となる。
【００５３】
また、テスト端子Ｔ31、Ｔ33への入力電流ＩinA、ＩinA´を
ＩinA＞ＩinA´
とし、
かつ、テスト端子Ｔ32、Ｔ34への入力電流ＩinB、ＩinB´を
ＩinB＜ＩinB´
とすると、出力端子Ｔ21の出力電圧ＶoutAがローレベルＬであり、かつ、出力端子Ｔ22の出力電圧ＶoutBはハイレベルＨであれば、正常な出力となる。
【００５４】
さらに、テスト端子Ｔ31、Ｔ33への入力電流ＩinA、ＩinA´を
ＩinA＜ＩinA´
とし、
かつ、テスト端子Ｔ32、Ｔ34への入力電流ＩinB、ＩinB´を
ＩinB＞ＩinB´
とすると、出力端子Ｔ21の出力電圧ＶoutAがハイレベルＨであり、かつ、出力端子Ｔ22の出力電圧ＶoutBがローレベルＬであれば、正常な出力となる。
【００５５】
また、テスト端子Ｔ31、Ｔ33への入力電流ＩinA、ＩinA´を
ＩinA＜ＩinA´
とし、
かつ、テスト端子Ｔ32、Ｔ34への入力電流ＩinB、ＩinB´を
ＩinB＜ＩinB´
とすると、出力端子Ｔ21の出力電圧ＶoutAがハイレベルＨであり、かつ、出力端子Ｔ22の出力電圧ＶoutBがハイレベルＨであれば、正常な出力となる。
【００５６】
以上のように、入力端子Ｔ31〜Ｔ34に入力される入力電流ＩinA、ＩinB、ＩinA´、ＩinB´に対して出力端子Ｔ21、Ｔ22から出力される出力電圧ＶoutA、ＶoutBが図３に示すような関係となれば、光検出装置１００に内蔵されたアンプ１１３−１〜１１３−４及びコンパレータ１１４、１１５からなる処理回路が正常に動作していると判断できる。
【００５７】
〔効果〕
本実施例によれば、テスト端子Ｔ31〜Ｔ34からフォトダイオード１１２−１〜１１２−４とアンプ１１３−１〜１１３−４との接続点に直接、テスト信号を入力できるため、フォトダイオード１１２−１〜１１２−４に実際に光を照射する必要がなく、よって、発光ダイオードやスリット板、スリット板を駆動する駆動機構が不要となるので、簡単な構成で、アンプ１１３−１〜１１３−４、コンパレータ１１４、１１５などの光検出装置１００に搭載される処理回路を正確にテストすることが可能となる。
【００５８】
〔その他〕
なお、本実施例では、光検出装置１００を例に説明を行なったが、光検出装置に限定されるものではなく、例えば、音波や超音波検出装置など他の検出装置などにも提供可能である。また、本実施例では、４つのフォトダイオード１１２−１〜１１２−４を内蔵した光検出装置１００について説明を行なったが、フォトダイオードの数は１つ以上あれば、これに限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００５９】
【図１】本発明の検出装置の一実施例のブロック構成図である。
【図２】テストシステムのブロック構成図である。
【図３】テストシステム２００の測定動作を説明するための図である。
【図４】従来の光検出装置の一実施例のブロック構成図である。
【図５】従来の光検出装置のテスト時の動作を説明するための図である。
【図６】従来の光検出装置のテスト時の動作を説明するための図である。
【図７】従来の光検出装置のテスト時の動作を説明するための図である。
【符号の説明】
【００６０】
１００  光検出装置
１１１  基準電圧生成回路、１１２−１〜１１２−４  フォトダイオード
１１３−１〜１１３−４  アンプ、１１４、１１５  コンパレータ
Ｔ11  電源端子、Ｔ12  接地端子、Ｔ21、Ｔ22  出力端子、Ｔ31〜Ｔ34  テスト端子
２００  テストシステム
２１１  制御装置、２１２  操作部、２１３  駆動回路、２１４  測定装置
２１５  表示部
２２１  電源、２２２  キャパシタ、２２３−１〜２２３−４  信号発生部
Ｒ１〜Ｒ４  制限抵抗
【図１】
2006275757.tif 000003
【図２】
2006275757.tif 000004
【図３】
2006275757.tif 000005
【図４】
2006275757.tif 000006
【図５】
2006275757.tif 000007
【図６】
2006275757.tif 000008
【図７】
2006275757.tif 000009