(57)【要約】【課題】  プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供する。【解決手段】  試験対象プログラムに試験を行い、合否結果が不合格となった試験を表す試験情報番号、およびこの試験を試験対象プログラムに行うことによって生じる現象を表す欠陥現象情報を含む欠陥情報を作成する。この欠陥現象情報に基づいて、欠陥現象情報が類似する欠陥現象情報を関連付ける第１関係情報を作成する。さらに、第１関係情報に基づいて、試験が不合格となった原因が同じである試験を関連付ける第２関係情報を作成する。プログラムを修正した後に行う回帰試験に用いる試験として、第２関係情報によって関係付けられた試験に関しては、第２関係情報によって関係付けられた試験のうち、１つの試験を選択する。【選択図】      図１
2006163519.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
コンピュータによって実行可能な試験対象プログラムに複数の試験を行うことによって得られる試験結果に基づいて試験対象プログラムが修正された後の、前記試験対象プログラムの再試験における試験を選択する試験選択方法であって、
試験対象プログラムに複数の試験を行うことによって得られる各試験の試験結果を取得する第１工程と、
各試験の試験結果に基づいて、複数の試験のうち、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた試験を検出する第２工程と、
第２工程で検出された試験のうち、試験結果が類似するものを、類似試験グループとする第３工程と、
類似試験グループに含まれる試験から、１つの試験を選択する第４工程と、
試験対象プログラムに、第４工程で選択された試験を行ったときに、得られるべき試験結果が得られるように試験対象プログラムを修正する第５工程と、
前記修正された試験対象プログラムに、第４工程で選択された試験が含まれる類似試験グループに属する試験のうち、前記選択された試験を除く残余の試験を行い、この残余の試験のうち、得られるべき試験結果が得られた試験を、第４工程で選択された試験と関連付けて、前記第４工程で選択された試験を含む回帰試験グループとする第６工程と、
回帰試験グループに属する試験の中から、回帰試験グループに含まれる試験の数よりも少ない数の試験を選択する第７工程とを含むことを特徴とする試験選択方法。
【請求項２】
第１工程において取得する試験結果は、試験対象プログラムに試験を行うことによって生じる現象を表す現象情報を含み、
第３工程では、現象情報に基づいて、現象情報が類似するものを、類似試験グループとすることを特徴とする請求項１記載の試験選択方法。
【請求項３】
コンピュータによって実行可能な試験対象プログラムに複数の試験手法に対応する各試験を行うことによって得られる試験結果に基づいて試験対象プログラムが修正された後の、前記試験対象プログラムの再試験における試験手法を選択する試験選択装置であって、
試験対象プログラムに行う複数の試験のそれぞれの試験手法を表す試験手法情報を入力する試験手法入力手段と、
試験手法情報が表す複数の試験手法を用いて試験対象プログラムに試験を行うことによって得られる試験結果のうち、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた試験手法、およびこの試験手法を用いて試験を行うことによって得られる試験結果を表す試験結果情報を入力する第１試験結果入力手段と、
得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた試験手法のうち、試験結果が類似するものを表す類似試験グループ情報を生成する類似試験生成手段と、
類似試験グループ情報が表す試験手法から、１つの試験手法を表す選択試験情報を入力する選択試験入力手段と、
試験対象プログラムに、選択試験入力手段から入力される選択試験情報が表す試験手法を用いて試験を行ったときに、得られるべき試験結果が得られるように修正された試験対象プログラムに、選択試験入力手段から入力される選択試験情報が表す試験手法が含まれる類似試験グループ情報が表す試験手法のうち、選択試験入力手段から入力される選択試験情報が表す試験手法を除く残余の試験手法を用いて試験を行うことによって得られる試験結果を表す試験結果情報を入力する第２試験結果入力手段と、
第２試験結果入力手段によって入力される試験結果情報に基づいて、前記残余の試験手法のうち、得られるべき試験結果が得られた試験手法を抽出し、抽出した試験手法と選択試験入力手段から入力される選択試験情報が表す試験手法とを表わす回帰試験グループ情報を生成する関連試験生成手段と、
回帰試験グループ情報が表す試験手法の中から、回帰試験グループ情報が表す試験手法の数よりも少ない数の試験手法を選択する回帰試験選択手段と、
回帰試験選択手段によって選択される試験手法を表す試験手法情報を出力する出力手段とを含むことを特徴とする試験選択装置。
【請求項４】
試験結果情報は、試験対象プログラムに試験を行うことによって生じる現象を表す現象情報を含み、
類似試験生成手段は、現象情報に基づいて、現象情報が類似するものを表す類似試験グループ情報を生成することを特徴とする請求項３記載の試験選択装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、試験対象プログラムを修正した後に行う回帰試験における試験選択方法および試験選択装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
プログラムの開発工程においては、プログラムが設計したとおりに動作するか否かを検証するために、開発したプログラムに試験を行う。プログラムに試験を行う前に、試験担当者は、プログラムに行う試験の情報、および試験を行ったときに得られるべき試験結果を、プログラムの仕様書およびプログラムのソースコードなどに基づいて予め作成しておく。
【０００３】
試験担当者は、予め作成した試験の情報に基づいてプログラムに試験を行う。行った試験に対して得られるべき試験結果が得られなかった場合、つまり、不合格であった場合、試験担当者は、修正担当者に、行った試験およびその試験結果を報告する。修正担当者は、試験が不合格となった原因を解明し、その原因となったプログラムに存在する欠陥を除去し、プログラムを修正する。プログラムの修正を行った後に、試験担当者は、回帰試験を行う。回帰試験とは、プログラムに存在する欠陥を除去またはプログラムの仕様を変更するためにプログラムを修正する際に、プログラムを修正することによって新たにプログラムに欠陥が発生していないかを確認する試験である。具体的には、プログラムの修正をする前に、プログラムに試験を行ったときに得られるべき結果が得られた試験、つまり合格であった試験を、再び修正後のプログラムに行うことによって確認する。プログラムの修正を行う毎に、プログラムの修正前に合格していた試験を、修正後のプログラムに対して全て行うことが理想であるが、プログラムの開発期間および開発コストなどの制約によって、全ての試験を再び行うことができない場合がある。この場合、回帰試験の精度を落とさずに、必要な試験を選択する必要がある。回帰試験の精度とは、回帰試験を行ったときに、プログラムに存在する欠陥をどの程度検出することができるかを意味する。
【０００４】
図２２は、試験対象プログラム１の構造を示す図である。試験対象プログラム１は、第１機能モジュール２Ａと第２機能モジュール２Ｂとから構成される。第１機能モジュール２Ａは、第１モジュール３Ａと第２モジュール３Ｂとから構成される。第２機能モジュール２Ｂは、第３モジュール３Ｃと第４モジュール３Ｄとから構成される。
【０００５】
図２３は、試験対象プログラム１に行う試験を示す図である。試験対象プログラム１に行う通常試験には、単体試験、結合試験および統合試験がある。第１〜第４モジュール３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄを試験対象としてそれぞれ行う試験を単体試験と記載し、第１機能モジュール２Ａと第２機能モジュール２Ｂとを試験対象としてそれぞれ行う試験を結合試験と記載し、試験対象プログラム１全体を試験対象として行う試験を統合試験と記載する。まず、第１〜第４モジュール３Ａ，３Ｂ，３Ｃ，３Ｄにそれぞれ単体試験を行う。具体的には、第１モジュール３Ａに第１単体試験Ｔ１を行い、第２モジュール３Ｂに第２単体試験Ｔ２を行い、第３モジュール３Ｃに第３単体試験Ｔ３を行い、第４モジュール３Ｄに第４単体試験Ｔ４を行う。次に、第１モジュール３Ａと第２モジュール３Ｂとを結合した第１機能モジュール２Ａに第１結合試験Ｔ５を行い、第３モジュール３Ｃと第４モジュール３Ｄとを結合した第２機能モジュール２Ｂに第２結合試験Ｔ６を行う。最後に、第１機能モジュール２Ａと第２機能モジュール２Ｂとを統合した試験対象プログラム１に、統合試験Ｔ７を行う。つまり、通常試験では、試験対象プログラム１に第１〜第４単体試験Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３，Ｔ４、第１結合試験Ｔ５、第２結合試験Ｔ６、および統合試験Ｔ７の合計７つの試験を行う。第１〜第４単体試験Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３，Ｔ４、第１結合試験Ｔ５、第２結合試験Ｔ６、および統合試験Ｔ７の試験を試験対象プログラムに行ったときに、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた試験があった場合、試験対象プログラム１を修正した後に、回帰試験として、再度第１〜第４単体試験Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３，Ｔ４、第１結合試験Ｔ５、第２結合試験Ｔ６、および統合試験Ｔ７の合計７つの試験を試験対象プログラムに行うことが望ましい。上述の試験対象プログラム１は、比較的簡素な構造を有するプログラムについて述べたが、プログラムの構造が複雑になるほど、回帰試験として行う試験の数は増加する。
【０００６】
図２４は、試験対象プログラムに試験を行ったときに、試験対象プログラムに欠陥が存在することによって現れる現象と、その現象の原因との関係を示す図である。ここでは、試験対象プログラムに欠陥が存在することによって現れる現象として、第１〜第４現象Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４および第５現象Ｂがあるとする。第１〜第４現象Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４は、それぞれ類似する現象である。第５現象Ｂは、第１〜第４現象Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４とは異なる現象である。第１〜第４現象Ａ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４は、それぞれ類似する現象ではあるが、第１〜第３現象Ａ１，Ａ２，Ａ３は、第１原因Ｃ１によって得られるべき現象とは異なる。一方、第４現象Ａ４は、第１〜第３現象Ａ１，Ａ２，Ａ３とそれぞれ類似する現象ではあるが、第２原因Ｃ２によって得られるべき現象とは異なる。第５現象Ｂは、第３原因Ｃ３によって得られるべき現象とは異なる。上述のように、現象が類似していても、その現象が生じる原因が異なるという関係は、プログラムにおいて多く起こる。
【０００７】
複数の試験担当者がプログラムに試験を行う場合、重複した試験、または類似する試験をプログラムに行う場合があり、同じまたは類似する現象を重複して報告することがある。これらの報告に基づいて、プログラムを修正し、プログラムを修正する毎に回帰試験を行うのは作業負担が大きくなる。
【０００８】
このような問題に鑑み、プログラムに試験を行った結果が、報告済みの現象と同じまたは類似する場合には、その現象を報告しないという方法も考えられるが、現象が同じであっても、その現象が生じる原因が同じとは限らない。したがって、この方法ではプログラムの欠陥の修正漏れが生じるおそれがある。
【０００９】
第１の従来の技術では、試験対象プログラムに試験を行ったときに、試験対象プログラムに欠陥が存在することによって生じる現象と、その現象が生じる原因とを一括して管理している。これによって、試験対象プログラムの欠陥を重複して調べることがなくなり、テスト担当者の負担を軽減することができる（たとえば特許文献１参照）。
【００１０】
第２の従来の技術では、予め複数の命令文を含むプログラムに複数の試験を行い、試験別に、プログラムに試験を行ったときの、プログラムの各命令文の実行回数を記録しておく。各命令文には、文番号が付与されている。プログラムを修正したときに、命令文の修正または削除がなされた文番号の命令文および当該文番号の前後の文番号の命令文のうち、少なくともいずれか１つの実行回数が１以上である試験を、修正の影響がある試験とする。また、プログラムの修正で命令文を挿入したときは、該挿入文番号の前後の文番号のうち、少なくともいずれか一方の文番号の命令文の実行回数が１以上である試験を、修正の影響がある試験とする。プログラムの修正の影響がある試験については、回帰試験として用いる。プログラムの修正の影響がある試験を除く残余の試験については、プログラムを修正しても回帰試験に用いない。これによって回帰試験に用いる試験の数を減らすことができ、試験担当者の負担を低減することができる（たとえば特許文献２参照）。
【００１１】
【特許文献１】特許第２６４３８１９号公報
【特許文献２】特公平８−１６０９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
第１の従来の技術では、試験対象プログラムに試験を行ったときに、試験対象プログラムに欠陥が存在することによって生じる現象と、その現象が生じる原因とを一括して管理しているが、回帰試験に用いる試験を選択する手段についての記載がない。
【００１３】
第２の従来の技術では、プログラムに複数の試験を行い、試験別に、プログラムに試験を行ったときの、プログラムの各命令文の実行回数を記録しておくが、プログラムの各命令文の実行回数を記録するためには、プログラムの中に、試験を行ったときにどの命令文を何回実行したかを記録するための命令文を追加実装する必要がある。前記追加実装する命令文は、プログラムの試験にのみ使用される。
【００１４】
プログラムを製品として出荷するときに、前記追加実装した命令文を取り外して出荷することができるが、この場合、試験を行ったプログラムと、製品として出荷するプログラムとは、プログラムの内部構造が異なるので、試験を行ったときのプログラムの動作と出荷するときのプログラムの動作とは、必ずしも同じであるとは保証することができず、前記追加実装した命令文を取り外すことによって新たな欠陥が生じる可能性がある。また、前記命令文を追加実装することによって、プログラムに新たな欠陥が生じるおそれがある。また、前記追加実装した命令文を外さずに、試験を行ったプログラムと同じプログラムを製品として出荷することができるが、前記追加実装した命令文の処理を実行するために、プログラム全体の処理時間が遅くなる。また、プログラムのサイズが大きくなる。たとえば、携帯電話機および家電製品などの場合、プログラムを記憶する記憶媒体の記憶容量が小さいほど部品単価が安いので、プログラムサイズが小さいほど、部品単価の安い記憶媒体を採用することができる。したがって、プログラムのサイズの小さいプログラムが望まれるが、製品出荷後に使用しない命令文を残すと、その分プログラムのサイズが大きくなるという問題がある。
【００１５】
本発明は、プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
本発明は、コンピュータによって実行可能な試験対象プログラムに複数の試験を行うことによって得られる試験結果に基づいて試験対象プログラムが修正された後の、前記試験対象プログラムの再試験における試験を選択する試験選択方法であって、
試験対象プログラムに複数の試験を行うことによって得られる各試験の試験結果を取得する第１工程と、
各試験の試験結果に基づいて、複数の試験のうち、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた試験を検出する第２工程と、
第２工程で検出された試験のうち、試験結果が類似するものを、類似試験グループとする第３工程と、
類似試験グループに含まれる試験から、１つの試験を選択する第４工程と、
試験対象プログラムに、第４工程で選択された試験を行ったときに、得られるべき試験結果が得られるように試験対象プログラムを修正する第５工程と、
前記修正された試験対象プログラムに、第４工程で選択された試験が含まれる類似試験グループに属する試験のうち、前記選択された試験を除く残余の試験を行い、この残余の試験のうち、得られるべき試験結果が得られた試験を、第４工程で選択された試験と関連付けて、前記第４工程で選択された試験を含む回帰試験グループとする第６工程と、
回帰試験グループに属する試験の中から、回帰試験グループに含まれる試験の数よりも少ない数の試験を選択する第７工程とを含むことを特徴とする試験選択方法である。
【００１７】
本発明に従えば、試験対象プログラムに複数の試験を行うことによって得られる各試験の試験結果を取得し、試験結果に基づいて、複数の試験のうち、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた試験を検出する。得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた試験のうち、試験結果が類似するものを類似試験グループとすることができる。類似試験グループに属する各試験を試験対象プログラムに行ったときに、得られるべき試験結果とは異なる結果が得られた原因は、各試験の試験結果が類似するので、それぞれ同じであると推測することができる。逆に、類似試験グループに属する各試験を試験対象プログラムに行ったときに、各試験の試験結果は互いに類似するので、類似試験グループに属する試験は、互いに類似する試験であり、類似する試験を試験対象プログラムに行っているものと推測することができる。
【００１８】
プログラムの試験においては、試験結果が互いに類似する場合であっても、得られるべき試験結果とは異なる結果が得られた原因が、それぞれ異なることがある。そこで、上述の推測の妥当性を確認する。類似試験グループに含まれる試験から、１つの試験を選択し、この選択した試験を試験対象プログラムに行ったときに、得られるべき試験結果となるように試験対象プログラムを修正する。修正された試験対象プログラムに、前記選択された試験が含まれる類似試験グループに属する試験のうち、前記選択された試験を除く残余の試験を行う。修正後の試験対象プログラムに前記残余の試験を行い、得られるべき試験結果が得られた試験を、前記選択された試験と関連付けて、前記選択された試験を含む回帰試験グループとする。
【００１９】
前記選択した試験を試験対象プログラムに行ったときに、得られるべき試験結果となるように修正された試験対象プログラムに、回帰試験グループに属する試験を行って、得られるべき試験結果が得られると、修正前の試験対象プログラムに回帰試験グループに属する試験を行うことによって、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた原因は、それぞれ同じであると推定することができる。逆に、回帰試験グループに属する試験を試験対象プログラムに行うと、同一の原因に起因して、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られることとなる。換言すると、回帰試験グループに属する試験は、互いに類似する試験であると推定することができる。回帰試験グループに属する試験は、互いに類似する試験であると推定されるので、試験対象プログラムを修正した後に行う回帰試験では、回帰試験グループに属する試験については、回帰試験グループに属する試験のうち、一部の試験のみを行えばよい。したがって、回帰試験グループに属する試験については、回帰試験グループに属する試験の中から、回帰試験グループに含まれる試験の数よりも少ない数の試験を選択する。
【００２０】
また本発明は、第１工程において取得する試験結果は、試験対象プログラムに試験を行うことによって生じる現象を表す現象情報を含み、
第３工程では、現象情報に基づいて、現象情報が類似するものを、類似試験グループとすることを特徴とする。
【００２１】
本発明に従えば、第１工程において取得する試験結果は、試験対象プログラムに試験を行うことによって生じる現象を表す現象情報を含み、この現象情報に基づいて、現象情報が類似するものを、類似試験グループとすることができる。類似試験グループに属する試験は、互いに類似する試験と推測されるものであるが、現象情報に基づいて現象情報が類似する試験を類似試験グループとするので、効率的に類似試験グループにグループ分けすることができ、かつ類似試験グループに属する試験が互いに類似する試験であると推測することの妥当性が高くなる。
【００２２】
また本発明は、コンピュータによって実行可能な試験対象プログラムに複数の試験手法に対応する各試験を行うことによって得られる試験結果に基づいて試験対象プログラムが修正された後の、前記試験対象プログラムの再試験における試験手法を選択する試験選択装置であって、
試験対象プログラムに行う複数の試験のそれぞれの試験手法を表す試験手法情報を入力する試験手法入力手段と、
試験手法情報が表す複数の試験手法を用いて試験対象プログラムに試験を行うことによって得られる試験結果のうち、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた試験手法、およびこの試験手法を用いて試験を行うことによって得られる試験結果を表す試験結果情報を入力する第１試験結果入力手段と、
得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた試験手法のうち、試験結果が類似するものを表す類似試験グループ情報を生成する類似試験生成手段と、
類似試験グループ情報が表す試験手法から、１つの試験手法を表す選択試験情報を入力する選択試験入力手段と、
試験対象プログラムに、選択試験入力手段から入力される選択試験情報が表す試験手法を用いて試験を行ったときに、得られるべき試験結果が得られるように修正された試験対象プログラムに、選択試験入力手段から入力される選択試験情報が表す試験手法が含まれる類似試験グループ情報が表す試験手法のうち、選択試験入力手段から入力される選択試験情報が表す試験手法を除く残余の試験手法を用いて試験を行うことによって得られる試験結果を表す試験結果情報を入力する第２試験結果入力手段と、
第２試験結果入力手段によって入力される試験結果情報に基づいて、前記残余の試験手法のうち、得られるべき試験結果が得られた試験手法を抽出し、抽出した試験手法と選択試験入力手段から入力される選択試験情報が表す試験手法とを表わす回帰試験グループ情報を生成する関連試験生成手段と、
回帰試験グループ情報が表す試験手法の中から、回帰試験グループ情報が表す試験手法の数よりも少ない数の試験手法を選択する回帰試験選択手段と、
回帰試験選択手段によって選択される試験手法を表す試験手法情報を出力する出力手段とを含むことを特徴とする試験選択装置である。
【００２３】
本発明に従えば、試験対象プログラムに行う複数の試験のそれぞれの試験手法を表す試験手法情報は、入力手段によって入力される。試験手法情報に基づいて複数の試験を試験対象プログラムに行うことによって得られる各試験の試験結果のうち、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた試験手法およびこの試験手法を用いて試験を行うことによって得られる試験結果を表す試験結果情報は、第１試験結果入力手段によって入力される。類似試験生成手段は、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた試験手法のうち、試験結果が類似するものを表す類似試験グループ情報を生成する。類似試験グループ情報が表す試験手法を用いて試験対象プログラムに試験を行ったときに、得られるべき試験結果とは異なる結果が得られた原因は、各試験の試験結果が類似するので、それぞれ同じであると推測することができる。逆に、類似試験グループ情報が表す試験手法を用いて試験対象プログラムに試験を行ったときに、各試験の試験結果は互いに類似するので、類似試験グループ情報が表す各試験手法は、互いに類似するものであり、類似する試験手法を用いて試験対象プログラムに試験を行っているものと推測することができる。
【００２４】
プログラムの試験においては、試験結果が互いに類似する場合であっても、得られるべき試験結果とは異なる結果が得られた原因が、それぞれ異なることがある。そこで、上述の推測の妥当性を確認する。類似試験グループ情報が表す試験手法から、１つの試験手法を表す選択試験情報は、選択試験入力手段によって入力される。選択試験入力手段から入力される選択試験情報が表す試験手法を用いて試験対象プログラムに試験を行ったときに、得られるべき試験結果となるように修正された試験対象プログラムに、選択試験入力手段から入力される選択試験情報が表す試験手法が含まれる類似試験グループ情報が表す試験手法のうち、選択試験入力手段から入力される選択試験情報が表す試験手法を除く残余の試験手法を用いて試験を行うことによって得られる試験結果は、第２試験結果入力手段によって入力される。関連試験生成手段は、第２試験結果入力手段によって入力される試験結果情報に基づいて、前記残余の試験手法のうち、得られるべき試験結果が得られた試験手法を抽出し、抽出した試験手法と選択試験入力手段から入力される選択試験情報が表す試験手法とを表わす回帰試験グループ情報を生成する。
【００２５】
選択試験入力手段から入力される選択試験情報が表す試験手法を用いて試験対象プログラムに試験を行ったときに、得られるべき試験結果となるように修正された試験対象プログラムに、回帰試験グループ情報が表す試験手法を用いて試験を行って、得られるべき試験結果が得られると、修正前の試験対象プログラムに回帰試験グループ情報が表す試験手法を用いて試験を行うことによって、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた原因は、それぞれ同じであると推定することができる。逆に、回帰試験グループ情報が表す試験手法を用いて試験対象プログラムに試験を行うと、同一の原因に起因して、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られることとなる。換言すると、回帰試験グループ情報が表す試験手法は、互いに類似する試験手法であると推定することができる。回帰試験グループ情報が表す試験手法は、互いに類似する試験手法であると推定されるので、試験対象プログラムを修正した後に行う回帰試験では、回帰試験グループ情報が表す試験手法については、回帰試験グループ情報が表す試験手法のうち、一部の試験手法のみを用いて試験を行えばよい。したがって、回帰試験選択手段は、回帰試験グループ情報が表す試験手法については、回帰試験グループ情報が表す試験手法の中から、回帰試験グループ情報に含まれる試験手法の数よりも少ない数の試験手法を選択する。選択された試験手法を表す試験手法情報は、出力手段によって出力される。
【００２６】
また本発明は、試験結果情報は、試験対象プログラムに試験を行うことによって生じる現象を表す現象情報を含み、
類似試験生成手段は、現象情報に基づいて、現象情報が類似するものを表す類似試験グループ情報を生成することを特徴とする。
【００２７】
本発明に従えば、試験結果情報は、試験対象プログラムに試験を行うことによって生じる現象を表す現象情報を含み、この現象情報に基づいて、類似試験グループ情報を生成することができる。類似試験グループ情報が表す試験手法は、互いに類似する試験手法であると推測されるが、現象情報に基づいて類似試験グループ情報を生成するので、効率的に類似試験グループ情報を生成することができ、かつ類似試験グループ情報が表す試験手法が互いに類似する試験手法であると推測することの妥当性が高くなる。
【発明の効果】
【００２８】
本発明によれば、回帰試験グループに属する試験の中から、回帰試験グループに含まれる試験の数よりも少ない数の試験を選択する。回帰試験グループに属する試験は、互いに類似する試験であると推定することができるので、回帰試験では、回帰試験グループに属する試験のうち、一部の試験のみを試験対象プログラムに行えばよい。したがって、回帰試験を行うときには、回帰試験グループに属する試験については、選択した試験のみを行う。これによって、試験対象プログラムに回帰試験を行うときの試験の数を減らすことができ、回帰試験の作業負担を低減することができる。
【００２９】
また、回帰試験に用いられる試験を選択するために、試験のためだけの余分な命令文を試験対象プログラムに実装する必要がない。余分な命令文を試験対象プログラムに実装すると、試験対象プログラムのサイズが大きくなる。また、余分な命令文を試験対象プログラムに実装することによって、試験対象プログラムに欠陥が生じる可能性がある。また、余分な命令文を試験対象プログラムに実装することによって、該余分な命令文を実行するためにプログラムの処理時間が遅くなる。また、試験対象プログラムの試験では、余分な命令文を追加した状態で試験を行い、製品として出荷するときに、該余分な命令文を取り外して出荷してもよいが、この場合には試験を行った試験対象プログラムと、製品として出荷するプログラムとは、プログラムの内部構造が異なり、製品として出荷するプログラムの品質を保証することはできない。本発明では、試験のためだけの余分な命令文を試験対象プログラムに実装する必要がないので、上述の問題は、生じない。
【００３０】
また、類似試験グループに含まれる試験から選択した試験を試験対象プログラムに行ったときに、得られるべき試験結果となるように修正された試験対象プログラムに、回帰試験グループに属する試験を行うと、得られるべき試験結果が得られるので、修正前の試験対象プログラムに回帰試験グループに属する試験を行うことによって、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた原因は、それぞれ同じであると推定することができる。つまり、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた原因を、逐次特定する必要がなく、原因を特定する作業負担を低減することができる。
【００３１】
また本発明によれば、類似試験グループに属する試験は、互いに類似する試験と推測されるが、現象情報に基づいて、現象情報が類似する試験を類似試験グループとするので、効率的に類似試験グループにグループ分けすることができる。したがって、類似試験グループにグループ分けする作業負担を低減することができる。
【００３２】
また、類似試験グループに属する試験が互いに類似する試験であると推測することの妥当性が高くなる。つまり、互いに類似しない試験が類似試験グループに含まれる可能性が低くなる。類似試験グループに含まれる互いに類似しない試験の数が少なくなるので、類似試験グループの中から回帰試験グループにグループ分けするときに行う試験が少なくなる。したがって、回帰試験に用いる試験を選択する作業負担を低減することができる。
【００３３】
また本発明によれば、回帰試験グループ情報が表す試験手法の中から、回帰試験グループ情報が表す試験手法の数よりも少ない数の試験手法を選択する。回帰試験グループ情報が表す試験手法は、互いに類似する試験手法であると推定することができるので、回帰試験グループ情報が表す試験手法のうち、一部の試験手法のみを用いて試験対象プログラムに試験を行えばよい。したがって、回帰試験を行うときは、回帰試験グループ情報が表す試験手法については、選択した試験手法のみを用いて試験を行う。これによって、試験対象プログラムに回帰試験を行うときの試験の数を減らすことができ、回帰試験の作業負担を低減することができる。
【００３４】
また、類似試験グループ情報が表す試験手法から選択した試験手法を用いて試験対象プログラムに試験を行ったときに、得られるべき試験結果となるように修正された試験対象プログラムに、回帰試験グループ情報が表す試験手法を用いて試験を行うと、得られるべき試験結果が得られるので、修正前の試験対象プログラムに回帰試験グループ情報が表す試験手法を用いて試験を行うことによって、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた原因は、それぞれ同じであると推定することができる。つまり、得られるべき試験結果とは異なる試験結果が得られた原因を、逐次特定する必要がなく、原因を特定する作業負担を低減することができる。
【００３５】
また本発明によれば、類似試験グループ情報が表す試験手法は、互いに類似する試験手法と推測されるが、現象情報に基づいて、類似試験グループ情報を作成するので、効率的に類似試験グループ情報を作成することができる。したがって、試験結果が類似するものを表す類似試験グループ情報を作成する作業負担を低減することができる。
【００３６】
また、類似試験グループ情報が表す試験手法が互いに類似する試験手法であると推測することの妥当性が高くなる。つまり、互いに類似しない試験手法が類似試験グループ情報に含まれる可能性が低くなる。類似試験グループ情報に含まれる互いに類似しない試験手法の数が少なくなるので、類似試験グループ情報の中から回帰試験グループ情報を作成するときに行う試験が少なくなる。したがって、回帰試験に用いる試験手法を選択する作業負担を低減することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３７】
プログラム開発者が開発したプログラムが、設計したとおりに作成されているか否かを確認するために、試験担当者は、開発したプログラムに試験を行う。試験を行うプログラムを試験対象プログラムと記載する。試験対象プログラム１０は、コンピュータによって実行することができる。
【００３８】
図１は、本発明の実施の一形態の試験選択装置１０の構成を示す機能ブロック図である。図２は、本発明の実施の一形態の試験選択装置１０の構成を示す図である。
【００３９】
試験担当者は、試験対象プログラムに行う試験の試験情報を試験選択装置１０から取得し、取得した試験情報に基づいて試験対象プログラムに試験を行う。試験選択装置１０は、処理手段１１、記憶手段１２、出力手段１３および入力手段１４を含んで構成される。処理手段１１と、記憶手段１２、出力手段１３および入力手段１４とは、電気的に接続されている。処理手段１１は、中央処理装置（Central Processing Unit：略称ＣＰＵ）などによって実現される。記憶手段１２は、ＲＡＭ（Random Access Memory）およびＲＯＭ（Read Only Memory）などによって実現される。記憶手段１２には、予め定めるプログラムが記憶されている。出力手段１３は、液晶ディスプレイおよびプリンタなどによって実現される。入力手段１４は、キーボードおよびマウスなどによって実現される。
【００４０】
試験選択装置１０は、試験内容入力部２０と、合否結果入力部２１と、試験情報記憶部２２と、試験情報抽出部２３と、欠陥内容入力部２４と、修正情報入力部２５と、欠陥抽出情報入力部２６と、欠陥情報抽出部２７と、欠陥情報記憶部２８と、第１関係情報入力部２９と、第１関係情報作成部３０と第１関係情報記憶部３１と、関連欠陥抽出部３２と、合否結果督促部３３と、第２関係情報作成部３４と、第２関係情報記憶部３５と、試験情報出力部３６と、欠陥情報出力部３７とを含んで構成される。
【００４１】
試験内容入力部２０は、入力手段１４を介して試験手法情報と、合否判定情報とを試験情報として入力する処理を行う。合否結果入力部２１は、入力手段１４を介して、試験対象プログラムに試験情報に基づいて試験を行うことによって得られる試験結果の判定結果を表す合否結果フラグ情報を、試験情報として入力する処理を行う。合否結果フラグ情報が表す情報を合否結果フラグと記載する。合否結果フラグには、「合格」、「不合格」および「未定」がある。試験情報記憶部２０は、前記試験情報を記憶手段１２に記憶する処理および記憶手段１２に記憶された試験情報を読み込む処理を行う。
【００４２】
試験情報抽出部２３は、記憶手段１２に記憶された試験情報から、試験に用いる試験情報を抽出する処理を行う。試験情報抽出部２３は、抽出情報入力部３８と、指定試験情報抽出部３９と回帰試験情報抽出部４０と、通常試験情報抽出部４１とを含んで構成される。抽出情報入力部３８は、入力手段１４を介して試験情報抽出フラグと、試験情報抽出パラメータとを入力する処理を行う。試験情報抽出フラグは、抽出すべき試験情報を切替える情報であり、試験情報抽出パラメータは抽出すべき試験情報を指定する情報である。試験対象プログラムに行う試験の種類は、指定試験、通常試験および回帰試験がある。指定試験、回帰試験および通常試験に対応する試験情報抽出フラグは、それぞれ「指定」、「回帰」、および「通常」である。通常試験情報抽出部４１は、通常試験に用いる試験情報を抽出する処理を行う。回帰試験情報抽出部４０は、回帰試験に用いる試験情報を抽出する処理を行う。指定試験情報抽出部３９は、試験情報抽出パラメータによって指定された試験情報を抽出する処理を行う。
【００４３】
欠陥内容入力部２４は、合否結果フラグが「不合格」の場合に、試験対象プログラムに試験を行ったときに生じる現象を表す欠陥現象情報などを欠陥情報として、入力手段１４を介して入力する処理を行う。欠陥情報記憶部２８は、欠陥情報を記憶手段１２に記憶する処理および記憶手段１２に記憶された欠陥情報を読み込む処理を行う。欠陥抽出情報入力部２６は、入力手段１４を介して抽出すべき欠陥情報を表す情報を入力する処理を行う。欠陥情報抽出部２７は、記憶手段１２に記憶されている欠陥情報のうち、抽出すべき欠陥情報を抽出する処理を行う。修正情報入力部２５は、試験対象プログラムを修正したときに、試験対象プログラムの修正に関する情報を表す修正情報を、欠陥情報として入力手段１４を介して入力する処理を行う。
【００４４】
第１関係情報入力部２９は、複数の欠陥情報を関係付ける第１関係情報を入力手段１４を介して入力する処理を行う。第１関係情報作成部３０は、第１関係情報を作成する処理を行う。第１関係情報記憶部３１は、第１関係情報を記憶手段１２に記憶する処理および記憶手段１２に記憶された第１関係情報を読み込む処理を行う。
【００４５】
関連欠陥抽出部３２は、第１関係情報によって関係付けられた欠陥情報を抽出する処理を行う。合否結果督促部３３は、出力手段１３を介して、再試験およびその再試験の結果の入力を促す処理などを行う。第２関係情報作成部３４は、第２関係情報を作成する処理を行う。第２関係情報記憶部３５は、第２関係情報を記憶手段１２に記憶する処理および記憶手段１２に記憶された第２関係情報を読み込む処理を行う。
【００４６】
試験情報出力部３６は、出力手段１３を介して試験情報を出力する処理を行う。欠陥情報出力部３７は、出力手段１３を介して欠陥情報を出力する処理を行う。
【００４７】
以上述べた処理は、記憶手段１２に記憶されたプログラムに基づいて、処理手段１１によって行われる。
【００４８】
図３は、試験情報記憶部２２によって記憶手段１２に記憶される試験情報のデータ構造を表す図である。試験情報は、試験情報番号情報と、合否結果フラグ情報と、試験手法情報と、合否判定情報とを含む。試験情報番号情報は、記憶手段１２に記憶される試験情報を識別するための番号を表す情報である。試験情報番号情報が表す番号を試験情報番号と記載する。試験情報番号は、１以上の整数値によって表される。試験情報番号の初期値は、１である。試験情報番号は、試験内容入力部２０によって試験情報が入力された順に、１加算された値が割り当てられる。具体的には、初めて試験情報が入力された場合、入力された試験情報に対応する試験情報番号は、１である。次に試験情報が入力された場合、入力された試験情報に対応する試験情報番号は、初期値の１に１を加算した値の２である。試験手法情報は、試験情報番号に対応する試験を試験対象プログラムに行うときの、試験対象プログラムを操作する手順を表す操作命令を時系列順に列挙した情報である。合否判定情報は、試験手法情報に基づいて、試験対象プログラムに試験を行ったときに得られる結果が、得られるべき結果か否かを判断する基準、すなわち合否判定基準を列挙した情報である。合否結果フラグ情報は、試験対象プログラムに試験を行ったときに生じる現象を合否判定情報に基づいて判断した情報である。合否結果フラグ情報が表す情報を合否結果フラグと記載する。合否結果フラグ情報は「合格」、「不合格」または「未定」である。合格結果フラグの初期値は「未定」である。すなわち、試験情報番号が表す試験を行っていない場合の合格結果フラグは、「未定」である。
【００４９】
図４は、欠陥情報記憶部２８によって記憶手段１２に記憶される欠陥情報のデータ構造を表す図である。欠陥情報は、欠陥情報番号情報と、試験情報番号情報と、第１関係番号情報と、第２関係番号情報と、属性フラグ情報と、欠陥現象情報と、修正内容情報とを含む。欠陥情報番号情報は、記憶手段１２に記憶される欠陥情報を識別するための番号を表す情報である。欠陥情報番号情報が表す番号を欠陥情報番号と記載する。欠陥情報番号は、１以上の整数値によって表される。欠陥情報番号の初期値は１である。欠陥情報番号は、欠陥内容入力部２４によって欠陥情報が入力された順に１加算された値が割り当てられる。具体的には、初めて欠陥情報が入力された場合、入力された欠陥情報に対応する欠陥情報番号は、１である。次に欠陥情報が入力された場合、入力された欠陥情報に対応する欠陥情報番号は、初期値の１に１を加算した値の２である。欠陥現象情報は、試験情報番号が表す試験を試験対象プログラムに行ったときに生じる現象を、自然言語文字列で表した情報である。第１関係番号情報は、第１関係情報と欠陥情報とを関連付ける番号を表す情報である。第１関係番号情報が表す番号を第１関係番号と記載する。第１関係番号の値は、０以上の整数値で表される。初期値は「０」である。第１関係番号の値が「０」の場合は、関係する他の欠陥情報がないことを表す。第２関係番号情報は、第２関係情報と欠陥情報とを関係付ける番号を表す情報である。第２関係番号情報が表す番号を第２関係番号と記載する。第２関係番号の値は、０以上の整数値で表される。初期値は「０」である。第２関係番号の値が「０」の場合は、関係する他の欠陥情報がないことを表す。属性フラグ情報は、試験対象プログラムを修正したか否かを表す情報である。属性フラグ情報が表す情報を属性フラグと記載する。属性フラグの初期値は、「未対応」である。試験対象プログラムを修正した場合の属性フラグは、「対応済」である。修正内容情報は、試験対象プログラムを修正したときの、修正に関する情報を自然言語文字列によって表した情報である。
現象情報は、欠陥現象情報に対応する。
【００５０】
図５は、第１関係情報記憶部３１によって記憶手段１２に記憶される第１関係情報のデータ構造を表す図である。第１関係情報は、第１関係番号情報と、第１関係パラメータ情報とを含む。第１関係情報は、試験情報番号が表す試験を試験対象プログラムに行ったときに生じる現象が、類似する試験情報を関係付ける情報である。第１関係番号は、第１関係情報を識別するための番号である。第１関係番号は、１以上の整数値で表される。第１関係番号の初期値は、１である。第１関係番号は、第１関係情報が作成された順に１加算された値が割り当てられる。具体的には、初めて第１関係情報が作成された場合、作成された第１関係情報に対応する第１関係番号は、１である。次に第１関係情報が作成された場合、作成された第１関係情報に対応する第１関係番号は、初期値の１に１を加算した値の２である。第１関係パラメータ情報は、欠陥情報番号を、カンマで区切って列挙した文字列を表す情報である。第１関係パラメータ情報が表す情報を第１関係パラメータと記載する。例えば、欠陥情報番号が１の欠陥情報の欠陥現象情報、欠陥情報番号が２の欠陥情報の欠陥現象情報、欠陥情報番号が３の欠陥情報の欠陥現象情報および欠陥情報番号が４の欠陥情報の欠陥現象情報がそれぞれ類似する場合、第１関係パラメータは、「１，２，３，４」と表される。
類似試験グループは、第１関係情報に対応する。
【００５１】
図６は、第２関係情報記憶部３５によって記憶手段１２に記憶される第２関係情報のデータ構造を表す図である。第２関係情報は、第２関係番号情報と、第２関係パラメータ情報とを含む。第２関係情報は、試験情報番号に対応する試験を試験対象プログラムに行ったときに、得られるべき試験とは異なる試験結果が得られた原因、つまり合否結果フラグが「不合格」となった原因が、同一である各試験情報を関連付ける情報である。第２関係番号は、１以上の整数値で表される。第２関番号の初期値は１である。第２関係番号は、第２関係情報作成部３４によって第２関係情報が作成された順に１加算された値が割り当てられる。具体的には、初めて第２関係情報が作成された場合、作成された第２関係情報に対応する第２関係番号は、１である。次に第２関係情報が作成された場合、作成された第２関係情報に対応する第２関係番号は、初期値の１に１を加算した値の２である。第２関係パラメータ情報は、欠陥情報番号を、カンマで区切って列挙した文字列を表す情報である。第２関係パラメータ情報が表す情報を第２関係パラメータと記載する。たとえば、欠陥情報番号が１の欠陥情報の試験情報番号が表す試験、欠陥情報番号が２の欠陥情報の試験情報番号が表す試験、欠陥情報番号が３の欠陥情報の試験情報番号が表す試験、および欠陥情報番号が４の欠陥情報の試験情報番号が表す試験をそれぞれ試験対象プログラムに行ったときの試験結果を表す合否結果フラグが「不合格」となり、かつ「不合格」となった原因が同一である場合、第２関係パラメータは、「１，２，３，４」と表される。
回帰試験グループは、第２関係パラメータに対応する。
【００５２】
試験選択装置１０に、試験手法情報および合否判定情報を含む試験情報を入力する手順を説明する。プログラム開発者は、試験対象プログラムをコンピュータによって実行するときの操作方法を記述した操作仕様書、試験対象プログラムの構造を記述した構造仕様書、および試験対象プログラムの設計情報を記述した内部仕様書を、予め作成する。設計情報は、試験対象プログラムが有する機能に関する情報、および試験対象プログラムの内部処理に関する情報などを含む。試験担当者は、操作仕様書、構造仕様書、および内部仕様書のうち、少なくともいずれか１つの仕様書に基づいて、試験手法情報および合否判定情報を含む試験情報を作成する。試験担当者は、作成した試験情報を、入力手段１４から試験選択装置１０に入力する。
【００５３】
図７は、試験選択装置１０が試験情報を記憶する手順を示すフローチャートである。
試験内容入力部２０から入力手段１４を介して試験手法情報および合否判定情報を含む試験情報が入力されると、ステップＡ０からステップＡ１に移る。
【００５４】
ステップＡ１では、試験内容入力部２３が、入力された試験情報を試験情報記憶部２２に与え、ステップＡ２に移る。試験情報は、試験手法情報および合否判定情報を含む。
【００５５】
ステップＡ２では、試験情報記憶部２２が、与えられた試験情報と試験情報番号とを記憶手
段１２に記憶し、ステップＡ３に移る。試験情報番号は、記憶手段１２に記憶された試験情報の試験情報番号のうち、最大の番号に１を加算した番号である。試験情報番号の初期値は、１である。つまり、初めて試験情報を記憶する場合の試験情報番号は、１である。
ステップＡ３では、試験情報を記憶する処理を終了する。
【００５６】
第１工程は、ステップＡ１の処理に対応する。試験手法入力手段は、入力手段１４と処理手段１１と記憶手段１２とを含んで構成され、入力手段１４から試験情報が入力されると、ステップＡ１の処理を行う。
【００５７】
次に試験担当者は、試験選択装置１０に記憶された試験情報に基づいて、試験対象プログラムに試験を行い、試験結果を試験選択装置１０に入力する。試験担当者は、試験を行うために必要な試験情報を試験選択装置１０から取得する。試験対象プログラムに行う試験には、通常試験、回帰試験および指定試験がある。通常試験は、試験選択装置１０に記憶された試験情報が表す試験のうち、まだ試験対象プログラムに試験を行っていない試験を試験対象プログラムに行う試験である。具体的には、試験情報の合否結果フラグが「未定」である試験を、試験対象プログラムに行う試験である。回帰試験は、試験対象プログラムを修正する際に、プログラムを修正することによって、新たにプログラムに欠陥が生じていないことを確認する試験である。指定試験は、試験選択装置１０に記憶された試験情報が表す試験のうち、試験担当者が指定する試験を試験対象プログラムに行う試験である。
【００５８】
試験担当者は、試験を行うために必要な試験情報を取得するために、入力手段１４から試験選択装置１０に試験情報抽出フラグを入力する。入力する試験情報抽出フラグは、「通常」、「回帰」または「指定」である。試験情報抽出フラグが「指定」の場合は、試験情報抽出パラメータも同時に入力する。通常試験に用いる試験情報を取得するためには、試験情報抽出フラグとして、「通常」と入力する。回帰試験に用いる試験情報を取得するためには、試験情報抽出フラグとして、「回帰」と入力する。指定試験に用いる試験情報を取得するためには、試験情報抽出フラグとして、「指定」と入力する。入力する試験情報抽出パラメータは、取得すべき試験を表す試験情報番号である。
【００５９】
図８は、試験選択装置１０が試験情報を出力する手順を示すフローチャートである。
抽出情報入力部３８から入力手段１４を介して試験情報抽出フラグが入力されると、ステップＢ０からステップＢ１に移る。試験情報抽出フラグは、「通常」、「回帰」または「指定」である。
【００６０】
ステップＢ１では、抽出情報入力部３８が、入力手段１４を介して入力された試験情報抽出フラグを取得する。また、試験情報抽出フラグが「指定」の場合は、試験情報抽出パラメータも取得する。次にステップＢ２に移る。
【００６１】
ステップＢ２では、試験情報抽出フラグを判断する。試験情報抽出フラグが「通常」の場合は、試験情報抽出フラグが、通常試験情報抽出部４１に与えられ、ステップＢ３に移る。
【００６２】
ステップＢ３では、通常試験情報抽出部４１が、試験情報記憶部２２によって記憶された試験情報の中から、前回取得した試験情報の試験情報番号の値に１を加算した試験情報番号の試験情報を取得しステップＢ３に移る。初めて試験情報を取得する場合は、試験情報番号が１の試験情報を取得する。
【００６３】
ステップＢ４では、取得した試験情報の合否結果フラグを確認する。合否結果フラグは、「合格」、「不合格」または「未定」である。合否結果フラグが「合格」または「不合格」の場合は、ステップＢ３で取得した試験情報に基づいて、試験対象プログラムに試験を行ったことがあることを示すので、通常試験に必要のない試験情報である。したがって、ステップＢ３に移る。合否結果フラグが「未定」の場合は、ステップＢ３で取得した試験情報に基づいて、試験対象プログラムに未だ試験を行っていないことを示すので、通常試験に必要な試験情報である。したがって、取得した試験情報を試験情報出力部３６に与え、ステップＢ５に移る。
【００６４】
ステップＢ５では、試験情報出力部３６は、与えられた試験情報を出力手段１３を介して出力し、ステップＢ６に移る。
【００６５】
ステップＢ６では、通常試験情報抽出部４１が、全ての試験を照合したか否かを確認する。つまり、ステップＢ３において、試験情報記憶部２２によって記憶された試験情報のうち、全ての試験情報の合否結果フラグを確認したか否かを判断する。全ての試験を照合していない場合、ステップＢ３に移る。全ての試験を照合した場合、ステップＢ７に移る。
ステップＢ７では、試験情報を出力する処理を終了する。
【００６６】
前述したステップＢ２において、試験情報抽出フラグが「回帰」の場合は、回帰試験情報抽出部４０に試験情報抽出フラグが与えられ、ステップＢ８に移る。
【００６７】
ステップＢ８では、回帰試験選択処理を行う。回帰処理選択処理は、後述する図１８に示すフローチャートのステップＬ０〜ステップＬ１６の処理に該当する。回帰試験選択処理を行うことによって、回帰試験に用いるべき試験の試験情報が出力される。次に、ステップＢ７に移る。
【００６８】
前述したステップＢ２において、試験情報抽出フラグが「指定」の場合は、試験情報抽出フラグおよび試験情報抽出パラメータが指定試験情報抽出部３９に与えられ、ステップＢ９に移る。
【００６９】
ステップＢ９では、指定試験情報抽出部３９が、試験情報記憶部２２によって記憶された試験情報のうち、試験情報抽出パラメータが表す情報、つまり試験情報番号が表す試験情報を取得する。指定試験情報抽出部３９は、取得した試験情報を試験情報出力部３６に与える。次にステップＢ１０に移る。
【００７０】
ステップＢ１０では、試験情報出力部３６が、与えられた試験情報を出力部を介して出力し、ステップＢ７に移る。
【００７１】
図９は、試験担当者が通常試験、指定試験または回帰試験を行うときの手順を示すフローチャートである。
【００７２】
試験担当者が通常試験、指定試験または回帰試験を始めると、ステップＣ０からステップＣ１に移る。
【００７３】
ステップＣ１では、試験担当者は、入力手段１４から試験選択装置１０に試験情報抽出フラグとして、「通常」、「指定」および「回帰」のうちのいずれか１つを入力する。指定試験の場合は、試験情報抽出パラメータも入力する。試験情報抽出フラグを入力すると、試験選択装置１０は、図８のフローチャートが表す処理を行い、試験情報を出力する。これによって、試験担当者は、入力した試験情報抽出フラグが表す試験に用いるべき試験情報を取得することができる。次にステップＣ２に移る。
【００７４】
ステップＣ２では、試験担当者は、取得した試験情報に基づいて、試験対象プログラムに試験を行い、ステップＣ３に移る。
【００７５】
ステップＣ３では、試験担当者は、試験対象プログラムに試験を行うことによって生じる現象と、合否判定情報とを比較し、試験の合否判定を行う。試験結果が合格であればステップＣ４に移る。
【００７６】
ステップＣ４では、試験担当は、合格した試験の試験情報番号と、合否結果フラグとを試験情報として試験選択装置１０に入力し、ステップＣ５に移る。入力する合否結果フラグは、「合格」である。
【００７７】
ステップＣ５では、試験担当者は、ステップＣ１において取得した試験情報に基づいて、全ての試験を試験対象プログラムに行ったか否かを確認する。まだ全ての試験を行っていない場合は、ステップＣ２に移る。全ての試験を行った場合は、ステップＣ６に移る。
ステップＣ６では、通常試験、指定試験または回帰試験を終了する。
【００７８】
前述したステップＣ３において、試験結果が不合格である場合、ステップＣ７に移る。
ステップＣ７では、試験担当者は、不合格となった試験の試験情報番号と、合否結果フラグとを試験情報として入力手段１４を介して試験選択装置１０に入力し、ステップＣ８に移る。入力する合否結果フラグは、「不合格」である。
【００７９】
ステップＣ８では、試験担当者は、不合格となった試験の試験情報番号と欠陥現象情報とを欠陥情報として入力手段１４を介して試験選択装置１０に入力する。欠陥現象情報は、試験対象プログラムに試験を行うことによって生じた現象を自然言語文字列で表した文字列である。
【００８０】
試験対象プログラム１０は、コンピュータによって試験対象プログラムを実行したときに、第１入力情報を入力すると、第１発光ダイオードを１回点灯させる命令を出力し、第２入力情報を入力すると、第２発光ダイオードを１回点灯させる命令を出力し、第３入力情報を入力すると、第３発光ダイオードを１回点灯させる命令を出力するように設計されていたとする。試験対象プログラムに試験を行い、コンピュータによって試験対象プログラムを実行したときに、第１入力情報を入力すると、試験対象プログラムが、第３発光ダイオードを１回点灯させる命令を出力したとする。このとき、試験担当者は、欠陥現象情報として、たとえば「点灯させるべき発光ダイオードの指定間違い」と入力する。または、試験対象プログラムに試験を行い、コンピュータによって試験対象プログラムを実行したときに、第１入力情報を入力すると、試験対象プログラムが、第１発光ダイオードを５回点灯させる命令を出力したとする。このとき、試験担当者は、欠陥現象情報として、たとえば「点灯回数間違い」と入力する。次にステップＣ５に移る。
【００８１】
試験担当者が、図９のフローチャートが表す処理を行うことによって、通常試験、指定試験または回帰試験を試験対象プログラムに行い、試験情報および欠陥情報を試験選択装置１０に入力することができる。試験担当者によって入力された試験情報および欠陥情報は、試験選択装置１０に記憶される。
【００８２】
図１０は、試験選択装置１０が、入力された試験情報および欠陥情報を記憶する手順を示すフローチャートである。
【００８３】
試験情報番号および合否結果フラグを含む試験情報が、合否結果入力部２１から入力手段１４を介して入力されると、ステップＤ０からステップＤ１に移る。
【００８４】
ステップＤ１では、合否結果入力部２１が、試験情報番号および合否結果フラグを含む試験情報を取得し、取得した試験情報を試験情報記憶部２２に与え、ステップＤ２に移る。
【００８５】
ステップＤ２では、試験情報記憶部２２が、記憶手段１２に記憶された試験情報のうち、与えられた試験情報番号が表す試験情報の合否結果フラグを、与えられた合否結果フラグに更新して記憶手段１２に記憶し、ステップＤ３に移る。
【００８６】
ステップＤ３では、与えられた試験情報の合否結果フラグを確認する。合否結果フラグが「合格」であれば、ステップＤ４に移る。
ステップＤ４では、処理を終了する。
【００８７】
前述したステップＤ３において、与えられた試験情報の合否結果フラグが「不合格」であれば、ステップＤ５に移る。
【００８８】
ステップＤ５では、欠陥内容入力部２４が、入力手段１４を介して試験情報番号と欠陥現象情報とを含む欠陥情報を取得し、取得した欠陥情報を欠陥情報記憶部２８に与え、ステップＤ６に移る。
【００８９】
ステップＤ６では、欠陥情報記憶部２８が、与えられた欠陥情報に基づいて欠陥情報を記憶手段１２に記憶し、ステップＤ４に移る。記憶する欠陥情報の欠陥情報番号は、前回記憶した欠陥情報番号の値に１を加えた番号が割り当てられる。初めて欠陥情報を記憶する場合の欠陥情報番号は、１である。
【００９０】
試験選択装置１０が、図１０のフローチャートが表す処理を行うことによって、合否結果フラグを含む試験情報および欠陥現象情報と試験情報番号とを含む欠陥情報を記憶することができる。
【００９１】
第２工程は、ステップＤ３の処理に対応する。第１試験結果入力手段は、入力手段１４と処理手段１１と記憶手段１２とを含んで構成され、ステップＤ３〜ステップＤ５の処理を行う。
【００９２】
次に、第１関係情報を作成する手順を説明する。第１関係情報は、試験対象プログラムに試験を行うことによって生じる現象が類似する試験を関係付ける情報である。
【００９３】
まず、試験担当者は、入力手段１４を介して試験選択装置１０に入力フラグを入力する。試験選択装置１０に入力する入力フラグは、「直接指定」または「検索指定」である。入力フラグが「直接指定」の場合は、欠陥情報番号を試験担当者が直接指定し、指定した欠陥情報番号の欠陥情報の試験情報番号が表す試験を関係付ける。入力フラグが「直接指定」の場合は、指定する欠陥情報番号を表す入力文字列を入力する。入力文字列は、１以上の整数値をカンマで区切った書式で表される。入力文字列として、連続する欠陥情報番号を入力する場合は、「Ａ−Ｂ」の書式でもよい。Ａは、連続する整数値のうち、最も小さい数であり、Ｂは、連続する整数値のうち、最も大きい数を表す。たとえば欠陥現象番号の１と２と３と４とを関係付ける場合、入力文字列として「１，２，３，４」または「１−４」と入力する。入力フラグが「検索指定」の場合は、欠陥現象情報に基づいて、各試験を関係付ける。検索指定の場合は、検索すべき現象を表す検索文字列を入力する。
【００９４】
たとえば、試験対象プログラムに試験を行ったときに、試験対象プログラムが、期待していた点灯回数とは異なる回数を発光ダイオードに点灯するように命令を出力した試験を検索したい場合、検索文字列として「点灯回数間違い」と入力する。検索文字列として「点灯回数間違い」と入力すると、欠陥現象情報の中に「点灯回数間違い」という文字列が含まれる欠陥情報を、関連付けることができる。
【００９５】
図１１は、試験選択装置１０が、第１関係情報を作成する手順を示すフローチャートである。
【００９６】
第１関係情報入力部２９から入力手段１４を介して入力フラグが入力されると、ステップＥ０からステップＥ１に移る。
【００９７】
ステップＥ１では、第１関係情報入力部２９が、入力手段１４から入力された入力フラグを取得し、取得した入力フラグを第１関係情報作成部３０に与え、ステップＥ２に移る。入力フラグは、「直接指定」または「検索指定」である。
【００９８】
ステップＥ２では、入力フラグを判断し、入力フラグが「検索指定」の場合は、ステップＥ３に移る。
【００９９】
ステップＥ３では、第１関係情報作成部３０が、第１関係情報入力部２９から入力手段１４を介して入力された検索文字列を取得し、ステップＥ４に移る。
【０１００】
ステップＥ４では、第１関係情報作成部３０が、記憶手段１２に記憶された欠陥情報を欠陥情報記憶部２８から取得し、ステップＥ５に移る。。取得する欠陥情報の欠陥情報番号は、前回取得した欠陥情報の欠陥情報番号の値に１加算した番号である。初めて取得する場合は、欠陥情報番号の値が１の欠陥情報を取得する。
【０１０１】
ステップＥ５では、第１関係情報作成部３０が、取得した検索文字列と、ステップＥ４で取得した欠陥情報の欠陥現象情報とを比較する。検索文字列が欠陥現象情報に含まれない場合は、ステップＥ４に移る。検索文字列が欠陥現象情報に含まれる場合は、ステップＥ６に移る。
【０１０２】
ステップＥ６では、第１関係情報作成部３０が、ステップＥ４で取得した欠陥情報番号を第１関係情報記憶部２９を介して一時的に記憶手段１２に記憶し、ステップＥ７に移る。
【０１０３】
ステップＥ７では、記憶手段１２に記憶された欠陥情報のうち、全ての欠陥現象情報と、検索文字列とを比較したかを確認する。比較していない欠陥現象情報がある場合、ステップＥ４に移る。全ての欠陥現象情報と、検索文字列とを比較した場合、第１関係情報作成部３０は、ステップＥ６で一時的に記憶手段１２に記憶した欠陥情報番号を取得し、ステップＥ８に移る。
【０１０４】
ステップＥ８では、第１関係情報作成部３０が、取得した欠陥情報番号に基づいて第１関係パラメータを作成する。第１関係パラメータは、欠陥情報番号を、カンマで区切って列挙した文字列である。たとえば、取得した欠陥情報番号が、１と３と５と７と９とである場合、第１関係パラメータは、「１，３，５，７，９」である。次にステップＥ９に移る。
【０１０５】
ステップＥ９では、第１関係情報作成部３０が、作成した第１関係パラメータを第１関係情報記憶部３１に与え、ステップＥ１０に移る。
【０１０６】
ステップＥ１０では、第１関係情報記憶部３１が、第１関係番号と、与えられた第１関係パラメータとを第１関係情報として記憶手段１２に記憶する。第１関係情報を識別するための第１関係番号は、１以上の整数値で表す。第１関係番号は、記憶手段１２に記憶された第１関係情報のうち、第１関係番号のもっとも大きい値に１加算された値が割り当てる。第１関係番号の初期値は１である。つまり、初めて第１関係情報を記憶する場合の第１関係番号は、１である。次にステップＥ１１に移る。
ステップＥ１１では、第１関係情報を作成する処理を終了する。
【０１０７】
前述したステップＥ２において、入力フラグが「直接指定」の場合は、ステップＥ１２に移る。
【０１０８】
ステップＥ１２では、第１関係情報作成部３０が、第１関係情報入力部２９から入力手段１４を介して入力された入力文字列を取得し、ステップＥ１３に移る。入力文字列は、第１関係情報によって関係付ける欠陥情報番号を表す。入力文字列は、１以上の整数値をカンマで区切った文字列、または、「Ａ−Ｂ」の書式の文字列である。
【０１０９】
ステップＥ１３では、第１関係情報作成部３０が、取得した入力文字列を解釈し、欠陥情報番号を取得する。入力文字列が、１以上の整数値をカンマで区切って表した文字列の場合は、カンマとカンマとの間の数を欠陥情報番号と解釈する。入力文字列が、「Ａ−Ｂ」の書式の文字列の場合は、ＡからＢまでの連続する整数値を、欠陥情報番号と解釈する。Ａは、連続する整数値のうち、最も小さい数であり、Ｂは、連続する整数値のうち、最も大きい数を表す。たとえば、「１−５」なる入力文字列を取得すると、欠陥情報番号として１、２、３、４、５の５件を指定したと解釈する。次にステップＥ８に移る。
【０１１０】
試験選択装置１０が、図１１のフローチャートが表す処理を行うことによって、第１関係情報を作成することができる。
【０１１１】
第３工程は、ステップＥ３〜ステップＥ１０の処理に対応する。類似試験生成手段は、入力手段１４と処理手段１１と記憶手段１２とを含んで構成され、ステップＥ３〜ステップＥ１０の処理を行う。
【０１１２】
次に、修正担当者が、試験対象プログラムを修正するために必要な欠陥情報を取得する手順を説明する。欠陥情報を取得するために、欠陥情報抽出フラグを、入力手段１４を介して試験選択装置１０に入力する。欠陥情報抽出フラグは、「未対応欠陥」または「現象検索」である。属性フラグが「未対応」の欠陥情報を取得したい場合は、欠陥情報抽出フラグとして「未対応欠陥」と入力する。欠陥情報の欠陥現象情報に基づいて欠陥情報を取得したい場合は、欠陥情報抽出フラグとして、「現象検索」と入力する。欠陥情報抽出フラグとして「現象検索」と入力する場合、欠陥情報抽出パラメータも入力する。欠陥情報抽出パラメータは、抽出すべき欠陥情報を指定する文字列である。
【０１１３】
たとえば、試験対象プログラムに試験を行ったときに、試験対象プログラムが、期待していた点灯回数とは異なる回数を発光ダイオードに点灯するように命令を出力した試験を検索したい場合、欠陥情報抽出パラメータとして「点灯回数間違い」と入力する。欠陥情報抽出パラメータとして「点灯回数間違い」と入力すると、欠陥現象情報の中に「点灯回数間違い」という文字列が含まれる欠陥情報を取得することができる。
【０１１４】
図１２は、試験選択装置１０が、欠陥情報を出力する手順を示すフローチャートである。
【０１１５】
欠陥抽出情報入力部２６から入力手段１４を介して欠陥情報抽出フラグが入力されると、ステップＦ０からステップＦ１に移る。
【０１１６】
ステップＦ１では、欠陥抽出情報入力部２６が、入力手段１４を介して入力された欠陥情報抽出フラグおよび欠陥情報抽出パラメータを欠陥情報抽出部２７に与え、ステップＦ２に移る。
【０１１７】
ステップＦ２では、欠陥情報抽出フラグが「未対応欠陥」の場合、ステップＦ３に移る。
【０１１８】
ステップＦ３では、欠陥情報抽出部２７が、欠陥情報記憶部２８を介して、記憶手段１２に記憶された欠陥情報の中から、前回取得した欠陥情報の欠陥情報番号に１を加えた番号の欠陥情報番号が表す欠陥情報を取得し、ステップＦ４に移る。初めて欠陥情報を取得する場合は、欠陥情報番号が１である欠陥情報を取得する。
【０１１９】
ステップＦ４では、ステップＦ３で取得した欠陥情報の属性フラグが「対応済」の場合は、ステップＦ３に移る。ステップＦ３で取得した欠陥情報の属性フラグが「未対応」の場合は、ステップＦ５に移る。
【０１２０】
ステップＦ５では、欠陥情報抽出部２７が、ステップＦ３で取得した欠陥情報を欠陥情報出力部３７に与え、ステップＦ６に移る。
【０１２１】
ステップＦ６では、欠陥情報抽出部２７が、欠陥情報記憶部２８に記憶された欠陥情報の全てを照合したか否かを確認する。つまり、欠陥情報記憶部２８に記憶された欠陥情報のうち、全ての欠陥情報の属性フラグを確認したか否かを確認する。属性フラグを確認していない欠陥情報がある場合、ステップＦ３に移る。全ての属性フラグを確認している場合、ステップＦ７に移る。
【０１２２】
ステップＦ７では、欠陥情報出力部３７が、与えられた欠陥情報を出力手段１３を介して出力し、ステップＦ８に移る。
ステップＦ８では、欠陥情報を出力する処理を終了する。
【０１２３】
前述したステップＦ２において、欠陥情報抽出フラグが「現象探索」の場合、ステップＦ９に移る。
【０１２４】
ステップＦ９では、欠陥情報抽出部２７が、欠陥情報記憶部２８を介して、記憶手段１２に記憶された欠陥情報の中から、前回取得した欠陥情報の欠陥情報番号に１を加えた番号の欠陥情報番号が表す欠陥情報を取得し、ステップＦ１０に移る。初めて欠陥情報を取得する場合は、欠陥情報番号が１である欠陥情報を取得する。
【０１２５】
ステップＦ１０では、与えられた欠陥情報抽出パラメータの文字列が、取得した欠陥情報の欠陥現象情報の文字列に含まれるか否かを比較する。欠陥情報抽出パラメータがステップＦ９で取得した欠陥情報の欠陥現象情報の文字列に含まれない場合、ステップＦ９に移る。欠陥情報抽出パラメータが、ステップＦ９で取得した欠陥情報の欠陥現象情報の文字列に含まれる場合、ステップＦ１１に移る。
【０１２６】
ステップＦ１１では、欠陥情報抽出部２７が、ステップＦ９で取得した欠陥情報を欠陥情報出力部３７に与え、ステップＦ１２に移る。
【０１２７】
ステップＦ１２では、欠陥情報抽出部２７が、記憶手段１２に記憶された欠陥情報の全てを照合したか否かを確認する。つまり、記憶手段１２に記憶された欠陥情報のうち、全ての欠陥情報の欠陥現象情報と欠陥情報抽出パラメータとを比較したか否かを判断する。欠陥現象情報と欠陥情報抽出パラメータとを比較していない欠陥情報がある場合、ステップＦ９に移る。全ての欠陥情報の欠陥現象情報と欠陥情報抽出パラメータとを比較している場合、ステップＦ７に移る。
【０１２８】
試験選択装置１０が、図１２のフローチャートが表す処理を行うことによって、必要な欠陥情報を出力することができる。
【０１２９】
次に試験担当者および修正担当者が、欠陥情報を取得し、取得した欠陥情報に基づいて試験対象プログラムを修正する手順を説明する。
【０１３０】
図１３は、試験担当者および修正担当者が、試験対象プログラムを修正する手順を示すフローチャートである。
【０１３１】
試験対象プログラムの修正を開始すると、ステップＧ０からステップＧ１に移る。
ステップＧ１では、修正担当者は、属性フラグが「未対応」の欠陥情報を取得する。欠陥情報を取得するために、修正担当者は、入力手段１４を介して試験選択装置１０に欠陥情報抽出フラグとして、「未対応欠陥」と入力する。すると、試験選択装置１０が、図１２のフローチャートが表す処理を行い、欠陥情報を取得することができる。次にステップＧ２に移る。
【０１３２】
ステップＧ２では、修正担当者は、ステップＧ１で取得した欠陥情報の中から１つの欠陥情報を選択し、選択した欠陥情報の欠陥現象情報に基づいて、試験対象プログラムのソースコードを修正する。つまり、選択した欠陥情報の試験情報番号が表す試験情報に基づいて、試験対象プログラムに試験を行ったときに、欠陥現象情報が表す現象が生じないように、試験対象プログラムを修正する。次にステップＧ３に移る。
【０１３３】
試験担当者は、試験対象プログラムが正しく修正されたか否かを確認する。つまり、試験対象プログラムに試験を行い、試験情報の合否判定情報に基づいて合否判定を行い、試験に合格することを確認する。そのために、ステップＧ３では、試験情報を試験選択装置１０から取得する。試験担当者は、ステップＧ２において選択した欠陥情報の試験情報番号が表す試験情報を取得するために、試験情報抽出フラグおよび試験情報抽出パラメータを、入力手段１４を介して試験選択装置１０に入力する。試験選択装置１０に入力する試験情報抽出フラグは、「指定」である。試験選択装置１０に入力する試験情報抽出パラメータは、ステップＧ２において選択した欠陥情報の試験情報番号である。試験担当者が試験情報抽出フラグおよび試験情報抽出パラメータを試験選択装置１０に入力すると、試験選択装置１０が図８のフローチャートが表す処理を行うことによって、試験情報を取得することができる。次にステップＧ４に移る。
【０１３４】
ステップＧ４では、試験担当者が、取得した試験情報に基づいて試験対象プログラムに試験を行い、試験を行うことによって生じる現象と、合否判定情報と比較して、合否判定を行い、ステップＧ５に移る。
【０１３５】
ステップＧ５では、ステップＧ４において行った試験の結果が不合格の場合は、試験対象プログラムが正しく修正されていないので、ステップＧ２に移る。ステップＧ４において行った試験の結果が合格の場合は、試験対象プログラムが正しく修正されたので、ステップＧ６に移る。
【０１３６】
ステップＧ６では、試験担当者が、合格となった試験の試験情報番号と、合否結果フラグとを試験情報として入力手段１４を介して試験選択装置１０に入力する。試験選択装置１０に入力する合否結果フラグは、「合格」である。試験選択装置１０に試験情報番号と、合否結果フラグとを含む試験情報が入力されると、試験選択装置１０が図１０のフローチャートが表す処理を行うことによって、記憶手段１２に記憶された試験情報は、入力された試験情報に更新される。次にステップＧ７に移る。
【０１３７】
ステップＧ７では、修正担当者または試験担当者が、ステップＧ２において選択した欠陥情報番号と、属性フラグと、ステップＧ２において試験対象プログラムに対して行った修正の内容を自然言語文字列によって記述した修正内容情報とを、欠陥情報として試験選択装置１０に入力する。試験選択装置１０に入力する属性フラグは、「対応済」である。次にステップＧ８に移る。
ステップＧ８では、試験対象プログラムの修正を終了する。
【０１３８】
試験担当者および修正担当者が図１３のフローチャートが表す処理を行うことによって、試験対象プログラムの修正を行うことができる。
【０１３９】
第４工程および第５工程は、ステップＧ２〜ステップＧ５までの処理に対応する。
次に、第２関係情報を作成する手順について説明する。第２関係情報の作成は、前述の、ステップＧ６において、修正担当者または試験担当者が修正内容情報を試験選択装置１０に入力することによって始まる。第２関係情報は、試験情報の合否結果フラグが「不合格」となった原因が、同じである試験情報を関連付けて表す情報である。
【０１４０】
図１４、図１５および図１６は、試験選択装置１０が、第２関係情報を作成する手順を示すフローチャートである。
【０１４１】
欠陥内容入力部２４から入力手段１４を介して、欠陥情報番号、修正内容情報、および属性フラグを含む欠陥情報が入力されると、ステップＨ０からステップＨ１に移る。
【０１４２】
ステップＨ１では、修正情報入力部２５が、入力手段１４を介して入力された欠陥情報を、欠陥情報記憶部２８、関連欠陥抽出部３２および合否結果督促部３３に与え、ステップＨ２に移る。
【０１４３】
ステップＨ２では、欠陥情報記憶部２８が、欠陥情報番号と、修正内容情報と、属性フラグとを含む欠陥情報が与えられると、記憶手段１２に記憶された欠陥情報のうち、与えられた欠陥情報番号が表す欠陥情報を、与えられた欠陥情報に更新して記憶手段１２に記憶し、ステップＨ３に移る。
【０１４４】
ステップＨ３では、関連欠陥抽出部３２が、記憶手段１２に記憶された欠陥情報のうち、ステップＨ１において与えられた欠陥情報番号が表す欠陥情報を、欠陥情報記憶部２８を介して取得し、ステップＨ４に移る。
【０１４５】
ステップＨ４では、関連欠陥抽出部３２が、記憶手段１２に記憶された第１関係情報のうち、ステップＨ３において取得した欠陥情報の第１関係番号が表す第１関係情報を、第１関係情報記憶部３１を介して取得し、ステップＨ５に移る。
【０１４６】
ステップＨ５では、関連欠陥抽出部３２が、ステップＨ４において取得した第１関係情報の第１関係パラメータを解釈し、複数の欠陥情報番号を取得する。たとえば、第１関係パラメータが、「１，３，５，７，９」の場合、欠陥情報番号は、１と３と５と７と９とであると解釈する。次にステップＨ６に移る。
【０１４７】
ステップＨ６では、関連欠陥抽出部３２が、ステップＨ５において取得した欠陥情報番号が表す欠陥情報を、欠陥情報記憶部２８を介して記憶手段１２から取得し、ステップＨ７に移る。
【０１４８】
ステップＨ７では、関連欠陥抽出部３２が、ステップＨ５において取得した欠陥情報番号が表す欠陥情報を全て取得したか確認する。未取得の欠陥情報がある場合は、ステップＨ６に移る。全ての欠陥情報を取得済みの場合は、ステップＨ８に移る。
【０１４９】
ステップＨ８では、関連欠陥抽出部３２が、ステップＨ５において取得した欠陥情報番号のうち、ステップＨ３において取得した欠陥情報を除く残余の欠陥情報を関連欠陥情報として合否結果督促部３３に与える。
【０１５０】
ステップＨ９では、合否結果督促部３３は、合否結果督促インタフェース４２を介して、与えられた関連欠陥情報と試験担当者に試験を督促する文字列とを提示し、試験担当者に再試験を促す。
【０１５１】
図１７は、合否結果督促インタフェース４２の構成を表す図である。合否結果督促インタフェース４２は、出力手段１３に表示される。合否結果督促インタフェース４２は、関連欠陥情報を提示する関連欠陥情報表示領域４３と、合否結果を試験選択装置１０に入力する合否結果入力領域４３とを備える。合否結果督促インタフェース４２は、試験担当者に試験を督促する文字列を提示する。提示する文字列は、たとえば「以下の項目を再試験し、結果を入力下さい」であり、これによって試験担当者に再試験を促す。関連欠陥情報表示領域４３では、関連欠陥情報の欠陥情報の試験情報番号と欠陥情報番号とを対応付けて表示する。試験情報番号および欠陥情報番号は、行列状に表示される。試験情報番号は、１列目に表され、欠陥情報番号は、２列目に表される。各行の試験情報番号と欠陥情報番号とがそれぞれ対応し、関連欠陥情報として表示される。合否結果入力領域４４では、対応する試験情報番号と欠陥情報番号ごとに、「合格」と「不合格」とを表すチェックボックスを表示する。「合格」または「不合格」を表すチェックボックスのどちらか一方を試験担当者が入力手段１４を介してチェックすることによって、関連欠陥情報に対応する合否結果フラグを試験選択装置１０に入力することができる。「合格」を表すチェックボックスにチェックが入ると、合否結果督促部３３が、合否結果フラグとして「合格」の情報を入力する処理を行う。「不合格」を表すチェックボックスにチェックが入ると、合否結果督促部３３が、合否結果フラグとして「不合格」の情報を入力する処理を行う。
【０１５２】
関連欠陥情報を提示された再試験担当者は、関連欠陥情報の試験情報番号に基づいて図９のフローチャートが表す処理を行い、さらに合否結果督促インタフェース４２の「合格」または「不合格」を表すチェックボックスにチェックをすることによって試験情報番号および合否結果フラグを入力する。
【０１５３】
ステップＨ１０では、合否結果督促部３３が、合否結果督促インタフェース４２を介して、関連欠陥情報と、関連欠陥情報に対応する再試験の結果である合否結果フラグとを取得し、ステップＨ１１に移る。合否結果フラグは、「合格」または「不合格」である。
【０１５４】
次にステップＨ１１では、合否結果督促部３３が、ステップＨ１０において取得した関連欠陥情報の試験情報番号と、試験情報番号に対応する合否結果を表す合否結果フラグとを試験情報記憶部２２に与え、ステップＨ１２に移る。
【０１５５】
ステップＨ１２では、試験情報記憶部２２が、記憶手段１２に記憶された試験情報のうち、与えられた試験情報番号が表す試験情報の合否結果フラグを、与えられた合否結果フラグに更新して記憶手段１２に記憶し、ステップＨ１３に移る。
【０１５６】
ステップＨ１３では、合否結果督促部３３が、関連欠陥情報の欠陥情報番号と属性フラグとを欠陥情報記憶部２８に与える。与える属性フラグは、ステップＨ１０において取得した合否結果フラグに応じて決定する。合否結果フラグが「合格」の場合は、与える属性フラグは、「対応済」であり、合否結果フラグが「不合格」の場合は、与える属性フラグは、「未対応」である。次にステップＨ１４に移る。
【０１５７】
ステップＨ１４では、欠陥情報記憶部２８が、記憶手段１２に記憶された欠陥情報のうち、与えられた欠陥情報番号が表す欠陥情報の属性フラグを、与えられた属性フラグに更新して記憶手段１２に記憶し、ステップＨ１５に移る。
【０１５８】
ステップＨ１５では、合否結果督促部３３が、ステップＨ１０において取得した合否結果フラグが「合格」となった試験に対応する欠陥情報番号を取得するとともに、取得した欠陥情報番号の数を数える。取得した欠陥情報番号の数が０件の場合は、図１５のステップＨ１６に移る。取得した欠陥情報番号の数が１件以上の場合は、図１６のステップＨ２６に移る。
【０１５９】
ステップＨ１６では、合否結果督促部３３が、ステップＨ１０で取得した合否結果フラグが「不合格」となった試験に対応する欠陥情報番号を取得するとともに、取得した欠陥情報番号の数を数える。取得した欠陥情報番号の数が１件の場合は、ステップＨ１７に移る。
【０１６０】
ステップＨ１７では、合否結果督促部３３が、ステップＨ１において入力された欠陥情報番号と、第１関係番号とを欠陥情報として欠陥情報記憶部２８に与える。欠陥情報記憶部２８に与える第１関係番号の値は、「０」である。また、合否結果督促部３３は、ステップＨ１６において取得した欠陥情報番号と、第１関係番号とを欠陥情報として欠陥情報記憶部２８に与える。欠陥情報記憶部２８に与える第１関係番号の値は、「０」である。次にステップＨ１８に移る。
【０１６１】
ステップＨ１８では、欠陥情報記憶部２８が、記憶手段１２に記憶された欠陥情報のうち、与えられた欠陥情報番号が表す欠陥情報の第１関係番号の値を、与えられた第１関係番号の値、すなわち「０」に更新して記憶手段１２に記憶し、ステップＨ１９に移る。
【０１６２】
ステップＨ１９では、合否結果督促部３３が、ステップＨ３において取得した欠陥情報の第１関係番号と、この第１関係番号が表す第１関係情報を削除する命令とを第１関係情報記憶部３１に与え、ステップＨ２０に移る。
【０１６３】
ステップＨ２０では、第１関係情報記憶部３１は、記憶手段１２に記憶された第１関係情報のうち、与えられた第１関係番号が表す第１関係情報を削除し、ステップＨ２１に移る。
ステップＨ２１では、第２関係情報を作成する処理を終了する。
【０１６４】
前述したステップＨ１６において、合否結果督促部３３が取得した欠陥情報番号の数が２件以上の場合は、ステップＨ２２に移る。
【０１６５】
ステップＨ２２では、合否結果督促部３３が、ステップＨ１において入力された欠陥情報の欠陥情報番号と第１関係番号とを、欠陥情報として欠陥情報記憶部２８に与え、ステップＨ２３に移る。欠陥情報記憶部２８に与える第１関係番号の値は、「０」である。
【０１６６】
ステップＨ２３では、欠陥情報記憶部２８は、記憶手段１２に記憶された欠陥情報のうち、与えられた欠陥情報番号が表す欠陥情報の第１関係番号の値を、与えられた第１関係番号の値、すなわち「０」に更新して記憶手段１２に記憶し、ステップＨ２４に移る。
【０１６７】
次にステップＨ２４では、合否結果督促部３３が、ステップＨ１６において取得した欠陥情報番号をカンマで区切って列挙する書式である第１関係パラメータに変換する。合否結果督促部３３は、ステップＨ３において取得した欠陥情報の第１関係番号と変換した第１関係パラメータとを第１関係情報として第１関係情報記憶部３１に与え、ステップＨ２５に移る。
【０１６８】
ステップＨ２５では、第１関係情報記憶部３１が、記憶手段１２に記憶された第１関係情報のうち、与えられた第１関係番号が表す第１関係情報の第１関係パラメータを、与えられた第１関係パラメータに更新して記憶手段１２に記憶し、ステップＨ２１に移る。
【０１６９】
前述したステップＨ１５では、取得した欠陥情報番号の数が１件以上の場合は、ステップＨ２６に移る。
【０１７０】
ステップＨ２６では、合否結果督促部３３が、ステップＨ１０で取得した合否結果フラグが「不合格」となった試験に対応する欠陥情報番号を取得するとともに、取得した欠陥情報番号の数を数える。取得した欠陥情報番号の数が１件の場合は、ステップＨ２７に移る。
【０１７１】
ステップＨ２７では、合否結果督促部３３が、ステップＨ２６において取得した欠陥情報番号と、第１関係番号とを欠陥情報として、欠陥情報記憶部２８に与え、ステップＨ２８に移る。欠陥情報記憶部２８に与える第１関係番号の値は、「０」である。
【０１７２】
ステップＨ２８では、欠陥情報記憶部２８が、記憶手段１２に記憶された欠陥情報のうち、与えられた欠陥情報番号が表す欠陥情報の第１関係番号の値を、与えられた第１関係番号の値、すなわち「０」に更新して記憶手段１２に記憶し、ステップＨ２９に移る。
【０１７３】
ステップＨ２９では、合否結果督促部３３が、ステップＨ１５において取得した欠陥情報番号と、ステップＨ１において入力された欠陥情報の欠陥情報番号とを第１関係パラメータに変換する。合否結果督促部３３は、ステップＨ３において取得した第１関係番号と、変換した第１関係パラメータとを第１関係情報記憶部３１に与え、ステップＨ３０に移る。
【０１７４】
ステップＨ３０では、第１関係情報記憶部３１が、記憶手段１２に記憶された第１関係情報のうち、与えられた第１関係番号が表す第１関係情報の第１関係パラメータを、与えられた第１関係パラメータに更新して記憶手段１２に記憶し、ステップＨ３１に移る。
【０１７５】
ステップＨ３１では、合否結果督促部３３が、第２関係情報作成部３４に、ステップＨ１において入力された欠陥情報の欠陥情報番号と、ステップＨ１５において取得した欠陥情報番号とを関連欠陥情報として与え、ステップＨ３２に移る。
【０１７６】
ステップＨ３２では、第２関係情報作成部３４が、与えられた複数の欠陥情報番号を、カンマで区切って列挙する書式である第２関係パラメータに変換する。たとえば、与えられた欠陥情報番号が、１と２と３と４である場合、第２関係パラメータは、「１，２，３，４」と表される。さらに、第２関係情報作成部３４は、記憶手段１２に記憶された第２関係情報の第２関係番号のうち、最も大きい番号を、第２関係情報記憶部３５を介して取得し、取得した番号に１加算した数を第２関係番号として新しく割り当てる。第２関係情報作成部３４は、新しく割り当てた第２関係番号と、変換した第２関係パラメータとを第２関係情報として第２関係情報記憶部３５に与える。また、第２関係情報作成部３４は、与えられた複数の欠陥情報番号と、新しく割り当てた第２関係番号とを欠陥情報として欠陥情報記憶部２８に与える。次にステップＨ３３に移る。
【０１７７】
ステップＨ３３では、第２関係情報記憶部３５が、与えられた第２関係情報を記憶手段１２に記憶し、ステップＨ３４に移る。
【０１７８】
ステップＨ３４では、欠陥情報記憶部２８が、記憶手段１２に記憶された欠陥情報のうち、与えられた欠陥情報番号が表す欠陥情報の第２関係番号を、新しく割り当てた第２関係番号の値に更新して記憶手段１２に記憶し、ステップＨ３５に移る。
ステップＨ３５では、第２関係情報を作成する処理を終了する。
【０１７９】
前述したステップＨ２６において、取得した欠陥情報番号の数が２件以上の場合は、ステップＨ３６に移る。
【０１８０】
ステップＨ３６では、合否結果督促部３３が、ステップＨ２６において取得した欠陥情報番号を、第１関係パラメータに変換する。合否結果督促部３３は、記憶手段１２に記憶された第１関係情報の第１関係番号のうち、最も大きい番号を第１関係情報記憶部３１を介して取得し、取得した番号に１加算した数を第１関係番号として新しく割り当てる。合否結果督促部３３は、新しく割り当てた第１関係番号と、変換した第１関係パラメータとを第１関係情報として第１関係情報記憶部３１に与える。また、合否結果督促部３３は、新しく割り当てた第１関係情報とステップＨ２６において取得した欠陥情報番号とを欠陥情報として欠陥情報記憶部２８に与える。次にステップＨ３７に移る。
【０１８１】
ステップＨ３７では、第１関係情報記憶部３１が、与えられた第１関係情報を記憶手段１２に記憶し、ステップＨ３８に移る。
【０１８２】
ステップＨ３８では、欠陥情報記憶部２８が、記憶手段１２に記憶された欠陥情報のうち、与えられた欠陥情報番号が表す欠陥情報の第１関係番号の値を、与えられた第１関係番号の値に更新して記憶手段１２に記憶し、ステップＨ２９に移る。
【０１８３】
前述したステップＨ２６において、取得した欠陥情報番号の数が０件の場合は、ステップＨ３１に移る。
【０１８４】
本発明の実施の形態では、ステップＨ１０において入力された合否判定フラグが「合格」となった試験に関しては、前回合否判定フラグが「不合格」となった原因を特定する必要がない。これによって、合否判定フラグが「不合格」となった原因を特定する作業負担を低減することができる。
【０１８５】
選択試験入力手段は、入力手段１４と処理手段１１と記憶手段１２とを含んで構成され、ステップＨ１の処理を行う。選択試験情報は、ステップＨ１の処理において入力される欠陥情報番号に対応する。第２試験結果入力手段は、入力手段１４と処理手段１１と記憶手段１２と出力手段１３とを含んで構成され、ステップＨ１０の処理を行う。関連試験生成手段は、処理手段１１と記憶手段１２と入力手段１４とを含んで構成され、ステップＨ３１〜ステップＨ３４までの処理を行う。
第６工程は、ステップＨ３１〜ステップＨ３４までの処理に対応する。
【０１８６】
次に、試験担当者が回帰試験を行う手順を説明する。まず、試験担当者が、回帰試験に用いるべき試験情報を取得する処理を説明する。試験担当者は、回帰試験に用いる試験情報を取得するために、試験選択装置１０に、試験情報抽出フラグを入力する。試験選択装置１０に入力する試験情報抽出フラグは、「回帰」である。
【０１８７】
図１８は、試験選択装置１０が、回帰試験に用いる試験情報を出力する処理を表すフローチャートである。この処理は、図８のステップＢ８の回帰試験選択処理に該当する。
【０１８８】
試験情報抽出部２３から入力手段１４を介して、試験情報抽出フラグとして、「回帰」と入力されると、入力された試験情報抽出フラグが回帰試験情報抽出部４０に与えられ、ステップＬ０からステップＬ１に移る。
【０１８９】
ステップＬ１では、回帰試験情報抽出部４０が、記憶手段１２に記憶された欠陥情報のうち、前回取得した欠陥情報の欠陥情報番号の値に１加算した値の欠陥情報番号が表す欠陥情報を、欠陥情報記憶部２８を介して取得し、ステップＬ２に移る。初めて欠陥情報を取得する場合は、欠陥情報番号の値が１の欠陥情報を取得する。
【０１９０】
ステップＬ２では、ステップＬ１において取得した欠陥情報の第２関係番号の値を確認する。第２関係番号の値が「０」以外の場合、ステップＬ１に移る。第２関係番号の値が「０」の場合は、ステップＬ３に移る。
【０１９１】
ステップＬ３では、ステップＬ１において取得した欠陥情報の属性フラグを確認する。属性フラグが「未対応」の場合は、ステップＬ１に移る。属性フラグが「対応済」の場合は、ステップＬ４に移る。
【０１９２】
ステップＬ４では、回帰試験情報抽出部４０が、記憶手段１２に記憶された試験情報の中から、ステップＬ１において取得した欠陥情報の試験情報番号が表す試験情報を、試験情報記憶部２２を介して取得し、試験情報出力部３６に取得した試験情報を与え、ステップＬ５に移る。
【０１９３】
ステップＬ５では、試験情報出力部３６が、与えられた試験情報を出力手段１３を介して出力し、ステップＬ６に移る
ステップＬ６では、回帰試験情報抽出部４０が、記憶手段１２に記憶された欠陥情報の全てを照合したか否かを確認する。未照合の欠陥情報がある場合は、ステップＬ１に移る。全ての欠陥情報を照合した場合は、ステップＬ７に移る。
【０１９４】
ステップＬ７では、回帰試験情報抽出部４０が、記憶手段１２に記憶された第２関係情報のうち、前回取得した第２関係番号の値に１加算した値の第２関係番号が表す第２関係情報を取得し、ステップＬ８に移る。始めて第２関係情報を取得する場合は、第２関係番号の値が１の第２関係情報を取得する。
【０１９５】
ステップＬ８では、回帰試験情報抽出部４０が、ステップＬ７において取得した第２関係情報の第２関係パラメータを解釈し、第２関係パラメータが表す欠陥情報番号を取得し、ステップＬ９に移る。
【０１９６】
ステップＬ９では、回帰試験情報抽出部２３が、ステップＬ８で取得した欠陥情報番号のうち、最小の値の欠陥情報番号を選択して取得し、ステップＬ１０に移る。
【０１９７】
ステップＬ１０では、回帰試験情報抽出部４０が、記憶手段１２に記憶された欠陥情報のうち、ステップＬ９において取得した欠陥情報番号が表す欠陥情報を、欠陥情報記憶部２８を介して取得し、ステップＬ１１に移る。
【０１９８】
ステップＬ１１では、ステップＬ１０において取得した欠陥情報の属性フラグを確認する。属性フラグが「未対応」の場合は、ステップＬ７に移る。属性フラグが「対応済」の場合はステップＬ１２に移る。
【０１９９】
ステップＬ１２では、回帰試験情報抽出部４０が、記憶手段１２に記憶された試験情報の中から、ステップＬ１０において取得した欠陥情報の試験情報番号が表す試験情報を、試験情報記憶部２２を介して取得し、取得した試験情報を試験情報出力部３６に与え、ステップＬ１３に移る。
【０２００】
ステップＬ１３では、試験情報出力部３６が、与えられた試験情報を出力手段１３を介して出力し、ステップＬ１４に移る。
【０２０１】
ステップＬ１４では、回帰試験情報抽出部４０が、記憶手段１２に記憶された欠陥情報の全てを照合したか否かを確認する。未照合の欠陥情報がある場合は、ステップＬ７に移る。全ての欠陥情報を照合した場合は、ステップＬ１５に移る。
ステップＬ１５では、回帰試験選択処理を終了する。
【０２０２】
第７工程は、ステップＬ７〜ステップＬ１４の処理に対応する。回帰試験選択手段は、処理手段１１と記憶手段１２と出力手段１３とを含んで構成され、ステップＬ７〜ステップＬ１４の処理を行う。出力手段は、処理手段１１と記憶手段１２と出力手段１３とを含んで構成され、ステップＬ１３の処理を行う。
【０２０３】
次に試験担当者が回帰試験を行う手順について説明する。
図１９は、試験担当者が、回帰試験を行う手順を示すフローチャートである。
試験担当者が回帰試験を開始すると、ステップＭ０からステップＭ１に移る。
【０２０４】
ステップＭ１では、試験担当者が、試験対象プログラムに対して試験を行い、その試験結果を試験情報および欠陥情報として試験選択装置１０に入力する。ステップＭ１は、図９のフローチャートが表す処理に該当する。ステップＣ１では、試験担当者は、入力手段１４を介して試験選択装置１０に試験情報抽出フラグとして、「回帰」と入力する。次にステップＭ２に移る。
【０２０５】
ステップＭ２では、試験選択装置１０が、入力された試験情報および欠陥情報に基づいて、試験情報を更新する。ステップＭ２は、図１０のフローチャートが表す処理に該当する。次にステップＭ３に移る。
ステップＭ３では、回帰試験の処理を終了する。
【０２０６】
本発明の実施の形態では、ステップＬ７〜ステップＬ１４までの処理を行うことによって、回帰試験に用いる試験の数を減らすことができ、回帰試験の作業負担を低減することができる。
【０２０７】
また、回帰試験に用いられる試験を選択するために、試験のためだけの余分な命令文を試験対象プログラムに実装する必要がない。余分な命令文を試験対象プログラムに実装すると、試験対象プログラムのサイズが大きくなる。また、余分な命令文を試験対象プログラムに実装することによって、試験対象プログラムに欠陥が生じる可能性がある。また、余分な命令文を試験対象プログラムに実装することによって、該余分な命令文を実行するためにプログラムの処理時間が遅くなる。また、試験対象プログラムの試験では、余分な命令文を追加した状態で試験を行い、製品として出荷するときに、該余分な命令文を取り外して出荷してもよいが、この場合には試験を行った試験対象プログラムと、製品として出荷するプログラムとは、プログラムの内部構造が異なり、製品として出荷するプログラムの品質を保証することはできない。本発明では、試験のためだけの余分な命令文を試験対象プログラムに実装する必要がないので、上述の問題は、生じない。
【０２０８】
また、本実施の形態では、欠陥現象情報に基づいて第１関係情報を作成するので、効率的に類似する試験をグループ分けすることができる。また、欠陥現象情報に基づいて第１関係情報を作成するので、第１関係情報が表す試験が互いに類似する試験であると推測することの妥当性が高くなる。つまり、互いに類似しない試験が第１関係情報が表す試験に含まれる可能性が低くなり、第１関係情報が表す試験に含まれる互いに類似しない試験の数が少なくなるので、第１関係情報に基づいて第２関係情報を作成するときに行う試験が少なくなる。したがって、回帰試験に用いる試験を選択する作業負担を低減することができる。
【０２０９】
次に試験担当者が、試験対象プログラムのソースコードを修正し、回帰試験を行う手順を説明する。
【０２１０】
図２０は、試験対象プログラムを修正する手順および試験対象プログラムに修正を行った後に行う回帰試験を行う手順を示すフローチャートである。
試験対象プログラムの修正を開始すると、ステップＮ０からステップＮ１に移る。
【０２１１】
ステップＮ１では、試験対象プログラムの修正処理を行う。ステップＮ１は、図１３のフローチャートが表す処理に該当する。次にステップＮ２に移る。
【０２１２】
ステップＮ２では、試験担当者が、試験対象プログラムに対して試験を行い、その試験結果を試験情報および欠陥情報として試験選択装置１０に入力する。ステップＮ２は、図９のフローチャートが表す処理に該当する。ステップＣ１では、試験担当者は、入力手段１４を介して試験選択装置１０に試験情報抽出フラグとして、「回帰」と入力する。
【０２１３】
ステップＮ３では、試験選択装置１０が、入力された試験情報および欠陥情報に基づいて、試験情報を更新する。ステップＮ３は、図１０のフローチャートが表す処理に該当する。次にステップＮ４に移る。
【０２１４】
ステップＮ４では、試験対象プログラムの修正を終了する。
【０２１５】
本発明の他の実施の形態では、試験対象プログラムに試験を行うときに、試験担当者は、試験選択装置１０に関係情報を入力してもよい。
【０２１６】
図２１は、試験対象プログラムに試験を行う手順を示すフローチャートである。
本実施の形態のステップＰ０〜ステップＰ７までの処理は、前述の実施の形態のステップＣ０〜ステップＣ７までの処理にそれぞれ対応する。対応する部分に関しては、重複する説明を省略する。
【０２１７】
ステップＰ８では、試験担当者は、不合格となった試験の試験情報番号と、試験対象プログラムに試験を行うことによって生じた現象を自然言語文字列で表した欠陥現象情報とを欠陥情報として入力手段１４を介して試験選択装置１０に入力し、ステップＰ９に移る。
【０２１８】
ステップＰ９では、試験担当者は、第１関係情報を作成するために、関係情報として入力フラグと検索文字列とを入力する。試験選択装置１０に入力する入力フラグは、「検索指定」である。試験選択装置１０に入力する検索文字列は、ステップＰ８において入力した欠陥現象情報の中から、検索すべき現象を表す検索文字列を入力する。
【０２１９】
次にステップＰ５に移る。
試験担当者が、図２１のフローチャートが表す処理を行うと、試験情報、欠陥情報および関係情報が試験選択装置１０に入力される。次に、試験選択装置１０は、試験情報および欠陥情報が入力されると、図１０のフローチャートが表す処理をおこない、入力された試験情報および欠陥情報を記憶する。次に、試験選択装置１０は、関係情報が入力されると、図１１のフローチャートが表す処理を行い、第１関係情報を作成する。
【０２２０】
欠陥現象情報は、欠陥の現象の特徴を抽出して表す自然言語文字列であるため、欠陥の現象を漏れなく記すことは困難である。このため、欠陥の現象を表す情報量が減る。全ての試験を終えた後に欠陥現象情報を関係付ける場合、欠陥の現象を表す情報量が減った欠陥現象情報に基づいて試験の類似性を判断するため、各試験が類似する試験であると関係付けることの妥当性が低くなる。一方、ステップＰ８の処理において欠陥現象情報を入力した後に、ステップＰ９において関係情報を入力する場合、つまり、欠陥現象情報を入力した直後に関係情報を入力して各試験を関係付ける場合、関係付ける２つの欠陥現象情報のうち一方は、試験担当者自身が欠陥の現象を確認しているので、欠陥の現象を表す情報量が減らない状態で、各試験を比較することができる。これによって、各試験が類似する試験であると関係付けることの妥当性がより高くなる。
【０２２１】
本発明のさらに他の実施の形態では、前述の実施の形態のステップＬ１０において、回帰試験情報抽出部２３が、ステップＬ８で取得した欠陥情報番号のうち、取得した欠陥情報番号の数よりも少ない数の欠陥情報番号を選択して取得してもよい。これによって、回帰試験に用いる試験の数を減らすことができ、試験担当者が回帰試験を行う負担を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【０２２２】
【図１】本発明の実施の一形態の試験選択装置１０の構成を示す機能ブロック図である。
【図２】本発明の実施の一形態の試験選択装置１０の構成を示す図である。
【図３】試験情報記憶部２２によって記憶手段１２に記憶される試験情報のデータ構造を表す図である。
【図４】欠陥情報記憶部２８によって記憶手段１２に記憶される欠陥情報のデータ構造を表す図である。
【図５】第１関係情報記憶部３１によって記憶手段１２に記憶される第１関係情報のデータ構造を表す図である。
【図６】第２関係情報記憶部３５によって記憶手段１２に記憶される第２関係情報のデータ構造を表す図である。
【図７】試験選択装置１０が、試験情報を記憶する手順を示すフローチャートである。
【図８】試験選択装置１０が、試験情報を出力する手順を示すフローチャートである。
【図９】試験担当者が、通常試験、指定試験または回帰試験を行うときの手順を示すフローチャートである。
【図１０】試験選択装置１０が、入力された試験情報および欠陥情報を記憶する手順を示すフローチャートである。
【図１１】試験選択装置１０が、第１関係情報を作成する手順を示すフローチャートである。
【図１２】試験選択装置１０が、欠陥情報を出力する手順を示すフローチャートである。
【図１３】試験担当者および修正担当者が、試験対象プログラムを修正する手順を示すフローチャートである。
【図１４】試験選択装置１０が、第２関係情報を作成する手順を示すフローチャートである。
【図１５】試験選択装置１０が、第２関係情報を作成する手順を示すフローチャートである。
【図１６】試験選択装置１０が、第２関係情報を作成する手順を示すフローチャートである。
【図１７】合否結果督促インタフェース４２の構成を表す図である。
【図１８】試験選択装置１０が、回帰試験に用いる試験情報を出力する処理を表すフローチャートである。
【図１９】試験担当者が、回帰試験を行う手順を示すフローチャートである。
【図２０】試験対象プログラムを修正する手順および試験対象プログラムに修正を行った後に行う回帰試験を行う手順を示すフローチャートである。
【０２２３】
【図２１】試験対象プログラムに試験を行う手順を示すフローチャートである。
【図２２】試験対象プログラム１の構造を示す図である。
【図２３】試験対象プログラム１に行う試験を示す図である。
【図２４】試験対象プログラムに試験を行ったときに、試験対象プログラムに欠陥が存在することによって現れる現象と、その現象の原因との関係を示す図である。
【符号の説明】
【０２２４】
１０  試験選択装置
１１  処理手段
１２  記憶手段
１３  出力手段
１４  入力手段
２０  試験内容入力部
２１  合否結果入力部
２２  試験情報記憶部
２３  試験情報抽出部
２４  欠陥内容入力部
２５  修正情報入力部
２６  欠陥抽出情報入力部
２７  欠陥情報抽出部
２８  欠陥情報記憶部
２９  第１関係情報入力部
３０  第１関係情報作成部
３１  第１関係情報記憶部
３２  関連欠陥抽出部
３３  合否結果督促部
３４  第２関係情報作成部
３５  第２関係情報記憶部
３６  試験情報出力部
３７  欠陥情報出力部
３８  抽出情報入力部
３９  指定試験情報抽出部
４０  回帰試験情報抽出部
４１  通常試験情報抽出部
４２  合否結果督促インタフェース
４３  関連欠陥情報表示領域
４４  合否結果入力領域
【図１】
2006163519.tif 000003
【図２】
2006163519.tif 000004
【図３】
2006163519.tif 000005
【図４】
2006163519.tif 000006
【図５】
2006163519.tif 000007
【図６】
2006163519.tif 000008
【図７】
2006163519.tif 000009
【図８】
2006163519.tif 000010
【図９】
2006163519.tif 000011
【図１０】
2006163519.tif 000012
【図１１】
2006163519.tif 000013
【図１２】
2006163519.tif 000014
【図１３】
2006163519.tif 000015
【図１４】
2006163519.tif 000016
【図１５】
2006163519.tif 000017
【図１６】
2006163519.tif 000018
【図１７】
2006163519.tif 000019
【図１８】
2006163519.tif 000020
【図１９】
2006163519.tif 000021
【図２０】
2006163519.tif 000022
【図２１】
2006163519.tif 000023
【図２２】
2006163519.tif 000024
【図２３】
2006163519.tif 000025
【図２４】
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