(57)【要約】【課題】  クロム等の金属の混入がなく、一定の分散性を有し、かつ超微細なスズ粉が得られるスズ粉含有コロイド液及びその製造方法を提供すること。【解決手段】  金属を含まないスズ粉を含有するコロイド液であって、該スズ粉の平均粒径（ＤＩＡ）が２μｍ以下であることを特徴とするスズ粉含有コロイド液等を採用する。また極性を有する非水溶液に可溶性スズ化合物を添加してスズイオン含有溶液を調製し、次いで該スズイオン含有溶液を攪拌して、水素化ホウ素ナトリウム溶液を緩やかに添加することを特徴とするスズ粉含有コロイド液の製造方法等を採用する。【選択図】  なし【特許請求の範囲】
【請求項１】
スズ及び不可避不純物からなるスズ粉を含有するコロイド液であって、
該スズ粉の平均粒径（ＤＩＡ）が２．０μｍ以下であることを特徴とするスズ粉含有コロイド液。
【請求項２】
上記スズ粉の平均粒径（ＤＩＡ）が０．０１μｍ〜１．０μｍである請求項１に記載のスズ粉含有コロイド液。
【請求項３】
上記スズ粉は、体積累積粒径平均値（Ｄ５０）／平均粒径（ＤＩＡ）で表される凝集度が５以下であり、最大粒径（Ｄｍａｘ）が５．０μｍ以下である請求項１又は請求項２に記載のスズ粉含有コロイド液。
【請求項４】
極性を有する非水溶液に可溶性スズ化合物を添加してスズイオン含有溶液を調製し、次いで該スズイオン含有溶液を攪拌しつつ、水素化ホウ素ナトリウム溶液を緩やかに添加することを特徴とするスズ粉含有コロイド液の製造方法。
【請求項５】
上記水素化ホウ素ナトリウム溶液の添加時間が１０分〜１２０分である請求項４に記載のスズ粉含有コロイド液の製造方法。
【請求項６】
上記非水溶液がメタノール又はエタノールであり、水分含有量が３０重量％以下である請求項４又は請求項５に記載のスズ粉含有コロイド液の製造方法。
【請求項７】
上記可溶性スズ化合物の濃度が０．００１モル／ｌ〜０．５モル／ｌである請求項４〜請求項６のいずれかに記載のスズ粉含有コロイド液の製造方法。
【請求項８】
上記可溶性スズ化合物１．０モルに対して、上記水素化ホウ素ナトリウムを０．５モル〜５．０モル添加する請求項４〜請求項７のいずれかに記載のスズ粉含有コロイド液の製造方法。
【請求項９】
上記水素化ホウ素ナトリウムの濃度が１．０モル／ｌ以下である請求項４〜請求項８のいずれかに記載のスズ粉含有コロイド液の製造方法。
【請求項１０】
上記非水溶液に分散剤を添加する請求項４〜請求項９のいずれかに記載のスズ粉含有コロイド液の製造方法。
【請求項１１】
上記分散剤は、ケトン類、アミン類、ポリオール類、エーテル類から選ばれる１種又は２種以上である請求項１０に記載のスズ粉含有コロイド液の製造方法。
【請求項１２】
上記可溶性スズ化合物１．０モルに対して、上記分散剤を３．０モル以下添加する請求項１０又は請求項１１に記載のスズ粉含有コロイド液の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、スズ粉含有コロイド液及びその製造方法に関する。さらに詳細には、クロム等の金属の混入がなく、一定の分散性を有し、かつ超微細なスズ粉を含有するスズ粉含有コロイド液及びその製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、多層プリント配線板のビアホール充填用やプリント配線板へのＩＣ部品等の部品実装時の位置決めに用いる導電性接着剤の構成粉体として、半田粉が広く用いられている。
【０００３】
この半田粉は、いわゆる鉛フリー半田素材で構成されたものであることが一般化している。従来の半田は、スズ６３重量％、鉛３７重量％の共晶半田が用いられてきた。ところが、テレビのブラウン管に代表される家電製品部品、その他電子機器中に含まれる鉛が、廃棄された後に水質汚染を起こす等の環境負荷の大きさが問題になり、家電製品等に含まれるトータル鉛量を削減する観点から、上記のように鉛フリー半田の使用が主流となってきたのである。
【０００４】
半田粉等は金属微粒子粉末から構成されており、このような金属微粒子粉末の製造方法としては、機械的粉砕法、アトマイズ法、気相還元法、ガス蒸発法等があるが、上記半田粉又は半田粉を構成するスズ粉の製造には、特許文献１（特開２０００−１５４８２号公報）に示されるように、アトマイズ法を用いるのが一般的である。このアトマイズ法は、スズ等の金属を含有する溶液を霧化し、この霧化溶液を個々の液滴とし、さらにこの液滴を冷却することで製造するものである。この製造方法で得られる半田粉やスズ粉の利点は、湿式法で得られる粉体と比べて、粉粒の分散性に優れているという点にある。
【０００５】
しかしながら、アトマイズ法で製造されるスズ粉は、粒度分布が極めてブロードであり、かつ粉粒を微粒化しようとしたときの粒度分布の限界が１μｍ〜１０μｍの範囲にあるのが一般的であり、粗粒を含むことなく、電子顕微鏡で直接観察したときの平均粒径が５μｍ以下の微粒粉を得ることが困難である。このようなブロードな粒度分布を持ち、平均粒径が５μｍを超えるスズ粉に関しては、次のような問題が存在している。
【０００６】
すなわち、第１の問題は、ブロードな粒度分布を持ち、平均粒径が５μｍを超えるスズ粉を用いた導電性ペーストでは、微細回路形成及び微小ビアホールの穴埋め性に欠けるという欠点が存在する。
【０００７】
第２の問題は、アトマイズ法で得られた粗いスズ粉を、多層プリント配線板のビアホールの充填用に用いると、ビアホール内の充填性に劣ることになる。しかも、粒径が大きいため低温での焼結性が劣るため、そのビアホールの外層に位置する外層回路との接続信頼性が失われる場合がある。
【０００８】
以上のことから、従来のアトマイズ法で得られるスズ粉と同様の用途で使用でき、微小配線回路の微小ビアホールの穴埋め性に優れ、低温融着性を確保できる微粒のスズ粉が求められてきたのである。
【０００９】
特許文献２には、金属化合物溶液に還元剤を添加して金属微粒子を析出沈殿させる際に、最初に独立分散状態にあるナノレベルの核を生成させ、この核をもとに還元金属を析出させる方法が記載されており、その実施例では、銀及びパラジウムについて１００ｎｍ〜２００ｎｍの核粒子が得られるとされている。
【００１０】
この特許文献２には、スズが金属種の一つとして例示されているが、スズ微粒子を得るには、還元剤の影響が大きく、例示されているヒドラジン等のヒドラジン類や硫酸第一鉄等の金属塩類を用いる方法では、粒子分散性に優れた状態で１００ｎｍレベルのスズ粉末を得ることが困難であり、また実施例も示されていない。
【００１１】
一方、特許文献３には、２価のクロムイオン溶液を還元剤として用い、スズ粒子の凝集を抑制する保護剤の存在下で、スズ化合物溶液に２価クロムイオン溶液を加えてスズを還元析出させ、平均粒径１００ｎｍ以下の金属スズ粒子が得られるとされている。
【００１２】
【特許文献１】特開２０００−１５４８２号公報
【特許文献２】特開平１０−３１７０２２号公報
【特許文献３】特開２００３−３０６７０７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
しかしながら、上記特許文献３に開示の製造方法では、ナノサイズのスズ粉が製造可能であるが、得られるスズ粉にクロムの混入の懸念が生じる。近年、クロム等の環境汚染物質の電子機器、電子部品への使用規制が強化されており、クロムを含有するスズ粉を用いて導電性ペーストとして半田材料の代替えとすることが出来ない状況が生じている。
【００１４】
従って、本発明の目的は、市場の要求を鑑み、使用が忌避されるクロム等の異種金属の混入がなく、良好な分散性を有し、かつ超微細なスズ粉を含むスズ粉含有コロイド液及びその製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
そこで、本発明者等は、検討の結果、非水溶液中のスズイオンを特定の還元剤を用いることによって、クロム等の異種金属の混入がなく、一定の分散性を有する超微細なスズ粉が得られることに想到した。
【００１６】
スズ粉含有コロイド液：  本発明は、スズ及び不可避不純物からなるスズ粉を含有するコロイド液であって、該スズ粉の平均粒径（ＤＩＡ）が２．０μｍ以下であることを特徴とするスズ粉含有コロイド液を提供するものである。
【００１７】
本発明に係る上記スズ粉含有コロイド液において、上記スズ粉の平均粒径（ＤＩＡ）は０．０１μｍ〜１．０μｍであることが好ましい。
【００１８】
本発明に係る上記スズ粉含有コロイド液において、上記スズ粉の体積累積粒径平均値（Ｄ５０）／平均粒径（ＤＩＡ）で表される凝集度が５以下であり、最大粒径（Ｄｍａｘ）が５．０μｍ以下であることが好ましい。
【００１９】
スズ粉含有コロイド液の製造方法：  本発明は、極性を有する非水溶液に可溶性スズ化合物を添加してスズイオン含有溶液を調製し、次いで該スズイオン含有溶液を攪拌しつつ、水素化ホウ素ナトリウム溶液を緩やかに添加することを特徴とするスズ粉含有コロイド液の製造方法を提供する。
【００２０】
本発明に係る上記製造方法において、上記水素化ホウ素ナトリウム溶液の添加時間は１０分〜１２０分であることが好ましい。
【００２１】
本発明に係る上記製造方法において、上記非水溶液はメタノール又はエタノールであることが望ましく、水分含有量は３０重量％以下であることが好ましい。
【００２２】
本発明に係る上記製造方法において、上記可溶性スズ化合物の濃度が０．００１モル／ｌ〜０．５モル／ｌであることが好ましい。
【００２３】
本発明に係る上記製造方法において、上記可溶性スズ化合物１．０モルに対して、上記水素化ホウ素ナトリウムを０．５モル〜５．０モル添加することが好ましい。
【００２４】
本発明に係る上記製造方法において、上記水素化ホウ素ナトリウムの濃度が１．０モル／ｌ以下であることが好ましい。
【００２５】
本発明に係る上記製造方法において、還元析出したスズ粒子の分散性を向上させるために分散剤を添加してもよく、これら分散剤としては、ケトン類、アミン類、ポリオール類、エーテル類から選ばれる１種又は２種以上であることが望ましい。
【００２６】
本発明に係る上記製造方法において、上記可溶性スズ化合物１．０モルに対して、上記分散剤を３．０モル以下添加することが好ましい。
【発明の効果】
【００２７】
本発明に係るスズ粉含有コロイド液は、微粒のスズ粉が大気雰囲気中で酸化されにくく、微粒スズ粉の長期間保存が可能である。そして、そこに含まれるスズ粉は、クロム等の異種金属を含有せず、また平均粒径２．０μｍ以下、さらには１．０μｍ以下の微細な微粉であり、かつ良好な分散性を有する。また、本発明に係る製造方法により、工業的生産性に優れ、上記スズ粉含有コロイド液を効率よく安定して大量生産することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２８】
以下、本発明を実施するための最良の形態について説明する。
【００２９】
（本発明に係るスズ粉含有コロイド液）
本発明に係るスズ粉含有コロイド液は、平均粒径（ＤＩＡ）が２．０μｍ以下、好ましくは０．０１〜１．０μｍのスズ粉を含有する。スズ粉の平均粒径が２．０μｍを超えると、上記したアトマイズにより得られるスズ粉と同様に、微細回路形成及び微小ビアホールの穴埋め性に欠ける等の問題が生じる。この平均粒径は、スズ粉粒子をＦＥ−ＳＥＭ（電界放射型走査電子顕微鏡）又はＳＥＭ（走査型電子顕微鏡）により撮像し、その像からスズ微粉粒子の直径を測り、撮像倍率から換算して、直接的にスズ粉粒子の粒径を複数個（例えば２０個〜１００個）測定し、その平均値（ＤＩＡ）により求められる。
【００３０】
上記スズ粉は、その製造方法に起因するクロム等の金属を含まない。ここで金属を含まないとは、スズ粉中の各不純物含有量が概ね５．０ｐｐｍ以下であることを意味する。このように有害な金属を含まないことによって、使用環境悪化等の不具合を回避することができる。
【００３１】
また、上記スズ粉の体積累積粒径平均値（Ｄ５０）／平均粒径（ＤＩＡ）で表される凝集度は５以下であることが望ましい。上記凝集度が５を超えると、粒子分散性が悪く、ペースト化できない、もしくはペースト化できても充填性が極めて悪い等の問題がある。上記体積累積粒径平均値（Ｄ５０）は、レーザー回折散乱式粒度分布測定装置を用いて測定した値である。
【００３２】
このＤ５０／ＤＩＡで規定される凝集度は、下記の理由から採用したパラメータである。すなわち、Ｄ５０の値は、真に粒子の一つ一つの径を直接観察したものではない。殆どの金属粉を構成する粒子は、個々の粒子が完全に分離した単分散粉ではなく、複数個の粒子が凝集して集合した状態になっているからである。レーザー回折散乱式粒度分布測定法は、凝集した粒子をも一個の粒子（凝集粒子若しくは一次粒子）として捉えて、体積累積粒径を算出していると言い得る。
【００３３】
一方、平均粒径（ＤＩＡ）は、走査型電子顕微鏡を用いて観察される金属粉の観察像を画像処理することにより得られる。この平均粒径（ＤＩＡ）はＦＥ−ＳＥＭ又はＳＥＭ観察像から直接測定し倍率で換算した粒径であり、一次粒子が確実に捉えられることになるが、粒子の凝集状態の存在を全く反映させていないことになる。
【００３４】
これらのことを鑑みて、本発明者等は、Ｄ５０とＤＩＡとを用いて、Ｄ５０／ＤＩＡで算出される値を凝集度として捉えることとした。すなわち、同一製造条件のスズ粉において、Ｄ５０とＤＩＡとの値が同一精度で測定できるものと仮定して、上述した理論で考えると、凝集状態のあることを測定値に反映させるＤ５０の値はＤＩＡの値よりも大きな値になると考えられる。
【００３５】
このとき、Ｄ５０の値は、金属粉の粒子の凝集状態が全くなくなると、限りなくＤＩＡの値に近づいてゆき、凝集度であるＤ５０／ＤＩＡの値が１に近づく。凝集度が１となった段階で、粒子の凝集状態が全く無くなった単分散粉と言える。
【００３６】
本発明に係る上記スズ粉の最大粒径（Ｄｍａｘ）は５．０μｍ以下であることが望ましい。最大粒径（Ｄｍａｘ）は５．０μｍを超えると、導電性ペーストとしたときに、微細回路形成及び微小ビアホールの穴埋め性に欠け、またビアホールの内部に充填した場合に、融着温度が高くなり、収縮挙動による寸法変化が大きく、そのビアホールの外層に位置する外層回路との接続信頼性が失われる傾向となる。上記最大粒径（Ｄｍａｘ）は、レーザー回折散乱式粒度分布測定装置を用いて測定した値である。
【００３７】
（本発明に係るスズ粉含有コロイド液の製造方法）
次に、本発明に係るスズ粉含有コロイド液の製造方法について説明する。
本発明に係る製造方法では、極性を有する非水溶液に可溶性スズ化合物を添加してスズイオン含有溶液を調製する。可溶性スズ化合物は特に制限されず、塩化第一スズ（ＳｎＣｌ２・２Ｈ２Ｏ）、硫酸スズ（ＳｎＳＯ４）等が挙げられるが、取り扱い性等の点から塩化第一スズが好ましく用いられる。
【００３８】
ここに用いられる極性を有する非水溶液としては、アルコール、グリコール等が挙げられるが、メタノール、エタノールが好ましく用いられる。反応性から考えるとエタノールが最適である。アルコールでもプロパノール等は、スズ化合物、水素化ホウ素ナトリウムの溶解度が低いという問題がある。
【００３９】
また、極性を有する非水溶液中の水分含有量は３０重量％以下であることが好ましく、１０重量％以下であることがさらに好ましい。水分含有量が３０重量％を超えると、未反応のスズ化合物が残留し、またスズ水酸化物等の副反応が進行し易くなる。
【００４０】
上記可溶性スズ化合物の濃度は、好ましくは０．００１モル／ｌ〜０．５モル／ｌ、さらに好ましくは０．００５モル／ｌ〜０．１モル／ｌである。濃度が０．５モル／ｌを超えると、凝集が起こりやすく、０．００１モル／ｌ未満では効率が悪くなると共に、反応性が低くなり、収率が低下する。
【００４１】
上記非水溶液にスズ粒子の分散性を向上させるための分散剤をさらに添加してもよい。これら分散剤としては、ケトン類、アミン類、ポリオール類、エーテル類から選ばれる１種又は２種以上を用いる。ケトン類としてはアセチルアセトン、シクロヘキサノン、アミン類としてはエタノールアミン、ポリオール類としてはグリセリン、エーテル類としてはジエチレングリコールモノブチルエーテルアセタートを用いることが好ましい。これら分散剤の添加量は、上記可溶性スズ化合物１．０モルに対して、上記分散剤３．０モル以下であることが好ましい。上記分散剤の添加量が３．０モルを超えても、それ以上のスズ粒子の粒子分散性向上効果は得られず、粒子分散性が悪化する場合もあり、経済的に不利でもある。
【００４２】
次いで、上記のようにして得られたスズイオン含有溶液を攪拌しつつ、水素化ホウ素ナトリウム溶液を緩やかに添加する。ここで言う水素化ホウ素ナトリウム溶液とは、水素化ホウ素ナトリウムを、アルコール又はアルコールと水との混合溶媒に溶解させたものである。このアルコールとしては、メタノール、エタノール等が用いられる。最も好ましくは、溶媒にエタノールを単独で使用することが好ましい。しかしながら、これらアルコールを水と混合して用いることも可能である。水を用いることで、溶媒に係るコスト増を防ぎ、より安価で高品質の製品の供給が可能となる。そして、水とアルコールとを同時に用いる場合には、添加終了後の溶液に於いて、アルコールと水の配合割合は、重量比でアルコール／水＝２．５以上となるようにすることが好ましい。より好ましくは、４．０以上である。これは、本来水分量は、少ない方が好ましいからである。即ち、ここで言う重量比の値が２．５未満となるように水を増量すると、製品コストとしては安価になるが、高品質のスズ粉を得ることが出来ず、粒度分布がブロードになり、且つ、最終的なスズ粉含有コロイド液としての保存性も悪くなる。一方、水の量を可能な限り減少させることが好ましいのは当然であるが、製品品質を維持したままコストを可能な限り削減することを考えると、アルコール／水＝２０程度が上限値とみなせる。以上に述べたような溶媒を用いた水素化ホウ素ナトリウム溶液をスズイオンの還元剤として用いることで、クロム等の異種金属の混入が防止でき、良好な分散性を有する微細なスズ粉が得られる。
【００４３】
上記水素化ホウ素ナトリウム溶液の添加時間は１０分〜１２０分であることが好ましい。添加時間が１０分未満では、一時に一括添加した場合と同様に生成するスズ粉の粉粒同士が凝集する。また、添加時間が１２０分を超えても、粉粒の凝集を防止し、粒子分散性を高めるという意味での効果は向上しなくなり、経済的に不利である。
【００４４】
上記水素化ホウ素ナトリウムは、上記可溶性スズ化合物１．０モルに対して、０．５モル〜３．０モル添加することが好ましい。水素化ホウ素ナトリウムの添加量が０．５モル未満では、未反応のスズ化合物が多量に残留し、析出する粉粒が凝集しやすくなる。一方、水素化ホウ素ナトリウムの添加量が３．０モルを超えても、スズ粉の析出が速くなりすぎて、析出する粉粒同士の凝集が激しくなり、いずれも好ましくない。
【００４５】
本発明に係る上記製造方法において、還元剤としての上記水素化ホウ素ナトリウムの濃度が１．０モル／ｌ以下であることが好ましく、０．０１モル／ｌ〜０．５モル／ｌの範囲であることが、より好ましい。水素化ホウ素ナトリウムの濃度が１．０モル／ｌを超えると、スズ濃度に対して還元剤濃度が高すぎ、還元析出速度が過剰になり、析出する粉粒同士の凝集が激しくなる。一方、水素化ホウ素ナトリウムの濃度が０．０１モル／ｌ未満の場合には、スズイオンの還元析出速度が遅く、工業的生産性を満足しない。
【００４６】
工業的には、スズイオン含有溶液（Ａ液）と水素化ホウ素ナトリウム溶液（Ｂ液）の２液をそれぞれ調製し、バッチ式又は連続式でＡ液にＢ液を添加し、スズ粉含有コロイド液を製造することが好ましい。
【００４７】
このようにして得られた本発明に係るスズ粉含有コロイド液は、静置し、上澄液を取り除き、エタノール等の溶媒で数回リパルプ洗浄を行い、必要に応じ遠心分離を行い、スズ粉を濾別採取する。また、必要に応じて、セラミック膜フィルター、高分子膜フィルター等を用いて濾過、洗浄しても良い。このようにして得られるスズ粉は、例えば導体ペーストとし、半田の構成材料とされる。
【００４８】
以下、実施例及び比較例に基づいて本発明を具体的に説明する。
【実施例１】
【００４９】
表１に示されるように、２リットルビーカーにエタノール８００ｇ（１０００ｍｌ）と塩化第一スズ・２水和物１６ｇ（０．０７モル）とを混合し、スズ化合物濃度０．０７モル／ｌの溶液を調製し、これをＡ液とした。エタノール５００ｍｌに水素化ホウ素ナトリウム（ＳＢＨ）５ｇ（０．１３モル）を溶解し、ＳＢＨ溶液を調製し、これをＢ液とした。
【００５０】
Ａ液を攪拌しながらＢ液を３０℃で２０分で添加し、さらに２０分攪拌を行い、その後、リパルプ洗浄を行ったスズ粉を、テルピネオール９０ｗｔ％と純水１０ｗｔ％との混合溶媒中に入れ、スズ粉含有コロイド液を調製した。得られたスズ粉の平均粒径（ＤＩＡ）、体積累積粒径平均値（Ｄ５０）、最大粒径（Ｄｍａｘ）及び不純物含有量を測定した。結果を表２に示す。
【００５１】
平均粒径ＤＩＡ（μｍ）については、上述した方法によって測定した。また、体積累積粒径平均値（Ｄ５０）、最大粒径（Ｄｍａｘ）は、スズ粉０．１ｇをＳＮディスパーサント５４６８の０．１％水溶液（サンノプコ社製）と混合し、超音波ホモジナイザ（日本精機製作所製  ＵＳ−３００Ｔ）で５分間分散させた後、レーザー回折散乱式粒度分布測定装置  Ｍｉｃｒｏ  Ｔｒａｃ  ＨＲＡ  ９３２０−Ｘ１００型（Ｌｅｅｄｓ＋Ｎｏｒｔｈｒｕｐ社製）を用いて測定した。
【００５２】
また、不純物含有量（ｐｐｍ）は、スズ粉を塩酸酸性溶液で全溶解し、その溶液をイオンプラズマ発光分光分析装置（ＩＣＰ）で分析し、その分析値から算出した。
【実施例２】
【００５３】
表１に示されるように、実施例１でＳＢＨ溶液の調製に用いたエタノール５００ｍｌに代えて、エタノール４００ｍｌ及び水１００ｍｌの混合溶液を用いた以外は、実施例１と同様にしてスズ粉含有コロイド液を調製した。得られたスズ粉の平均粒径（ＤＩＡ）、体積累積粒径平均値（Ｄ５０）、最大粒径（Ｄｍａｘ）及び不純物含有量を実施例１と同様に測定した。結果を表２に示す。
【実施例３】
【００５４】
表１に示されるように、Ａ液に、分散剤としてアセチルアセトン１０ｇ（０．０１モル）をさらに添加した以外は、実施例１と同様にしてスズ粉含有コロイド液を調製した。得られたスズ粉の平均粒径（ＤＩＡ）、体積累積粒径平均値（Ｄ５０）、最大粒径（Ｄｍａｘ）及び不純物含有量を実施例１と同様に測定した。結果を表２に示す。
【比較例】
【００５５】
（比較例１）
表１に示されるように、実施例１でＳＢＨ溶液の調製に用いたエタノール５００ｍｌに代えて、水５００ｍｌを用いた以外は、実施例１と同様にしてスズ粉含有コロイド液を調製した。得られたスズ粉の平均粒径（ＤＩＡ）、体積累積粒径平均値（Ｄ５０）、最大粒径（Ｄｍａｘ）及び不純物含有量を実施例１と同様に測定した。結果を表２に示す。
【００５６】
（比較例２）
表１に示されるように、Ａ液にＢ液を一括で添加した以外は、実施例３と同様にしてスズ粉含有コロイド液を調製した。得られたスズ粉の平均粒径（ＤＩＡ）、体積累積粒径平均値（Ｄ５０）、最大粒径（Ｄｍａｘ）及び不純物含有量を実施例１と同様に測定した。結果を表２に示す。
【００５７】
（比較例３）
特開２００３−３０６７０７号公報に記載の方法によりスズ粒子を調製した。
塩化第一スズ・２水和物１０ｇとポリビニルピロリドン３０ｇを純水２リットルに溶解させ、塩酸を用いて溶液のｐＨを１．０以下に調整し、これを母液とした。
【００５８】
三塩化クロム・６水和物３０ｇを純水１リットルに溶解させ、クロム水溶液を調製した。上記母液にクロム水溶液を亜鉛粉末中を通して添加し、スズ粒子を合成した。得られたスズ粉の平均粒径（ＤＩＡ）、体積累積粒径平均値（Ｄ５０）、最大粒径（Ｄｍａｘ）及び不純物含有量を実施例１と同様に測定した。結果を表２に示す。
【００５９】
【表１】
2006307263.tif 000002
【００６０】
【表２】
2006307263.tif 000003
【００６１】
表２の結果から明らかなように実施例１〜３により得られたスズ粉は、平均粒径（ＤＩＡ）が０．１μｍオーダーにあり、最大粒径（Ｄｍａｘ）も３μｍ以下であり、凝集度も３．５以下と良好な範囲にある。
【００６２】
これに対して、比較例１では、還元反応において白色沈殿が多数生じ、最大粒径（Ｄｍａｘ）が７μｍオーダーとなった。また、比較例２では、得られたスズ粉は凝集が著しく固まり状となった。比較例３は、還元剤として三塩化クロム・６水和物を用いたものであるが、得られたスズ粉中に、環境汚染物質として忌避されるクロムが混入していた。
【産業上の利用可能性】
【００６３】
本発明に係るスズ粉含有コロイド液によって、クロム等の金属を含まず、一定の分散性を有し、超微細なスズ粉が得られる。従って、このスズ粉を用いた導電性ペーストは、半田材料等の代替素材として好適に使用される。そして、本発明に係るスズ粉含有コロイド液から分離して得られるスズ粉は、微粒で粒子分散性に優れているため、多層プリント配線板のビアホールの充填用、プリント配線板へのＩＣ部品等の部品実装時の位置決めに用いる導電性接着剤の用途に好適である。また、本発明に係る製造方法は、複雑且つ特殊な方法を採用しているものではなく、新たな設備投資も必要としない。従って、既存の設備を用いての工業的生産性に優れ、本件発明に係るスズ粉含有コロイド液を効率よく安定して大量生産することが可能となる。