(57)【要約】【課題】記録媒体にエネルギーを注入して未記録部とは異なるマークを形成することによって情報を記録するための試し書き方法、及び情報記録装置において、高速記録条件下での最適記録パワーを正確に且つ短時間に求める試し書き方法を提供する。【解決手段】２Ｔ系ストラテジにおいて，偶数長マークと奇数長マークを別々に試し書きして各々の最適記録パワーを求める。【発明の効果】試し書きの精度を高めることができるため、良好な記録性能を得ることができる。【選択図】図１
2006221781.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学的情報記録媒体に情報を記録する記録条件を設定するための試し書き方法であって
、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の
整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを生成し、
前記記録パターンごとに、記録パワーを変えて記録再生し、変調度と記録パワーの関係
から前記変調度が実質的に０となる記録パワーＰ０をそれぞれ求め、Ｐ０に定数ｐを乗じ
た値を、前記各記録パターンの記録パワーとして設定することを特徴とする試し書き方法
。
【請求項２】
前記各記録パターンにて設定した記録パワーにて、前記分類される記録パターンが混在
した確認パターンを用いて試し書きを行い、前記各記録パターンの記録パワーの微調整を
行うことを特徴とする請求項１記載の試し書き方法。
【請求項３】
前記定数ｐは１．５≦ｐ≦３．０であることを特徴とする請求項１記載の試し書き方法
。
【請求項４】
前記定数ｐは２．０≦ｐ≦２．８であることを特徴とする請求項１記載の試し書き方法
。
【請求項５】
前記分類される記録パターンは、偶数長マークから成る記録パターンと、奇数長マーク
から成る記録パターンであることを特徴とする請求項１記載の試し書き方法。
【請求項６】
前記分類される記録パターンは、ｎＴ＝３ＬＴ（Ｌはパルス数、Ｔは検出窓幅）からな
るマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔからなるマークで形成され
た記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンであ
ることを特徴とする請求項１記載の試し書き方法。
【請求項７】
前記分類される記録パターンは、ｎＴ＝４ＬＴ（Ｌはパルス数、Ｔは検出窓幅）からな
るマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（４Ｌ−２）Ｔからなるマークで形成され
た記録パターンと、ｎＴ＝（４Ｌ−１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンと、
ｎＴ＝（４Ｌ＋１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンであることを特徴とする
請求項１記載の試し書き方法。
【請求項８】
光学的情報記録媒体に情報を記録する記録条件を設定するための試し書き方法であって
、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の
整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを生成し、
前記記録パターンのうち任意の記録パターンＡを選択し、所定の方法により設定した記
録パターンＡの記録パワーＰｗ（Ａ）での変調度mod(Ａ)と略同一の値となるよう、その
他の記録パターンの記録パワーを設定することを特徴とする試し書き方法。
【請求項９】
前記所定の方法は、前記記録パターンＡについて、記録パワーを変えて記録再生し、変
調度と記録パワーの関係から変調度が０となる記録パワーＰ０（Ａ）を求め、Ｐ０（Ａ）
に定数ｐを乗じた値を、記録パターンの記録パワーＰｗ（Ａ）として設定する方法である
ことを特徴とする請求項８記載の試し書き方法。
【請求項１０】
光学的情報記録媒体に情報を記録する記録条件を設定するための試し書き方法であって
、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の
整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを生成し、
前記記録パターンのうち任意の記録パターンＡを選択し、所定の方法により前記記録パ
ターンＡの記録パワーＰｗ（Ａ）を設定し、前記記録パターンＡを前記記録パワーＰｗ（
Ａ）で、かつ、その他の記録パターンの記録パワーを、Ｐｗ（Ａ）を含めた一定の範囲で
変化させ試し書きを行って、その他の記録パターンの記録パワーを設定することを特徴と
する試し書き方法。
【請求項１１】
前記一定の範囲は、a×Ｐｗ（Ａ）≦Ｐｗ≦b×Ｐｗ（Ａ）であり、０．８≦a≦１．０
であり、１．０≦ｂ≦１．２であることを特徴とする請求項１０記載の試し書き方法。
【請求項１２】
前記所定の方法は、前記記録パターンＡについて、記録パワーを変えて記録再生し、変
調度と記録パワーの関係から変調度が０となる記録パワーＰ０（Ａ）を求め、Ｐ０（Ａ）
に定数ｐを乗じた値を、記録パターンの記録パワーＰｗ（Ａ）として設定する方法である
ことを特徴とする請求項１０記載の試し書き方法。
【請求項１３】
前記記録パターンＡの前記記録パワーＰｗ（Ａ）における変調度を算出し、
前記その他の記録パターンの、前記記録パワーＰｗ（Ａ）を適用したときの変調度を算
出し、
前記Ｐｗ（Ａ）における変調度と、前記その他の記録パターンの変調度とを比較し、
前記比較結果に応じて、記録パワーの変化させる範囲を異ならせて試し書きを行うこと
を特徴とする請求項１０記載の試し書き方法。
【請求項１４】
光学的情報記録媒体に情報を記録する記録条件を設定するための試し書き方法であって
、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の
整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを生成し、
前記記録パターンのうち任意の記録パターンＡを用いて試し書きを行って、記録パワー
を求め、その記録パワーに定数ｑを乗じるあるいは定数ｒを加えて他方の記録パターンの
記録パワーを求めることを特徴とする試し書き方法。
【請求項１５】
光学的情報記録媒体に情報を記録する記録条件を設定するための試し書き方法であって
、
検出窓幅の自然数ｎ倍長の奇数長最小マークを含む第１の記録パターンと、検出窓幅の
自然数ｎ倍長の偶数長最小マークを含む第２の記録パターンを生成し、
奇数長最小マークのアシンメトリあるいはβあるいはγと、偶数長最小マークのアシン
メトリあるいはβあるいはγを算出し、これらの値が略同一になるように、前記第１の記
録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（odd）と、前記第２の記録パターンを記録
するための記録パワーＰｗ（even）を夫々設定することを特徴とする試し書き方法。
【請求項１６】
前記第１の記録パターンと前記第２の記録パターンは、同じマーク長のマークを含み、
前記アシンメトリあるいはβあるいはγは、前記同じマーク長のマークに基づいて、算出
されることを特徴とする請求項１５記載の試し書き方法。
【請求項１７】
光学的情報記録媒体に情報を記録する記録条件を設定するための試し書き方法であって
、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の
整数定数で除算した剰余にしたがって分類されるｍ個（ｍは２以上の自然数）の記録パタ
ーンとして区分し、記録パワー設定可能レベル値がｍ個より小さいレーザドライバを有す
るドライブを用いて記録する記録方法であって、
ｍ個の記録パターンにて各々の最適記録パワーを求めた後、ある判定式に従ってｍ個の
記録パターンの各記録パワーのばらつきの程度を求めるステップと、
そのばらつきの程度が所定の数値以下であった場合は算出式に従って共通最適パワーＰ
ｗ（ｏｐｔ）を設定するステップと、
所定の数値より大きい場合はパルス幅可変のドライブではパルス幅を変え、パルス幅変
化不可のドライブではライトエラーとして情報を記録させないようにするステップを有す
ることを特徴とする試し書き方法。
【請求項１８】
光学的情報記録媒体に情報を記録する記録条件を設定するための試し書き方法であって
、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の
整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを生成し、
前記記録パターンごとに、記録パワーを変えて記録再生し、変調度と記録パワーの関係
から前記変調度がa％（ただし０＜a）となる記録パワーＰｗ’をそれぞれ求め、Ｐｗ’に
定数ｐ’を乗じた値を、前記各記録パターンの記録パワーとして設定することを特徴とす
る試し書き方法。
【請求項１９】
前記各記録パターンにて設定した記録パワーにて、前記分類される記録パターンが混在
した確認パターンを用いて試し書きを行い、前記各記録パターンの記録パワーの微調整を
行うことを特徴とする請求項１８記載の試し書き方法。
【請求項２０】
前記分類される記録パターンは、偶数長マークから成る記録パターンと、奇数長マーク
から成る記録パターンであることを特徴とする請求項１８記載の試し書き方法。
【請求項２１】
前記分類される記録パターンは、ｎＴ＝３ＬＴ（Ｌはパルス数、Ｔは検出窓幅）からな
るマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔからなるマークで形成され
た記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンであ
ることを特徴とする請求項１８記載の試し書き方法。
【請求項２２】
前記分類される記録パターンは、ｎＴ＝４ＬＴ（Ｌはパルス数、Ｔは検出窓幅）からな
るマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（４Ｌ−２）Ｔからなるマークで形成され
た記録パターンと、ｎＴ＝（４Ｌ−１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンと、
ｎＴ＝（４Ｌ＋１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンであることを特徴とする
請求項１８記載の試し書き方法。
【請求項２３】
記録パワーを決定するための試し書きパターンを記録媒体に記録する試し書きパターン
記録手段と、
記録された前記試し書きパターンを検出する検出回路と、
前記検出回路からの信号に基づいて、記録パワーを調整する記録パワー調整回路を有し
、
前記試し書きパターン記録手段は、記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍
長のマークに対して、ｎを２以上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録
パターンを、記録する手段であり、
前記記録パワー調整回路は、前記分類される記録パターン毎に、変調度と記録パワーの
関係から前記変調度が実質的に０となる記録パワーＰ０をそれぞれ求め、Ｐ０に定数ｐを
乗じた値を、前記各記録パターンの記録パワーとして設定するものであることを特徴とす
る情報記録装置。
【請求項２４】
前記試し書きパターン記録手段は、予め分類された前記記録パターンを記録するもので
あることを特徴とする請求項２３記載の情報記録装置。
【請求項２５】
前記分類される記録パターンは、第１の記録パターンと第２の記録パターンを有し、
前記記録する手段は、前記第１の記録パターンと前記第２の記録パターンとが、ランダ
ムに組み合わされた組み合わせ記録パターンを記録する手段であり、
前記検出回路からの信号に基づいて、前記第１の記録パターンと第２の記録パターンを
分類する分類回路を、更に有することを特徴とする請求項２３記載の情報記録装置。
【請求項２６】
記録パワーを決定するための試し書きパターンを記録媒体に記録する試し書きパターン
記録手段と、
記録された前記試し書きパターンを検出する検出回路と、
記録された前記試し書きパターンを再生する再生回路と、
前記試し書きパターンの再生特性を判定する判定回路と、
前記判定回路にて記録不可能と判定された場合にライトエラーを表示するための回路と
、
前記判定回路にて記録可能と判定された場合、前記検出回路からの信号に基づいて、記
録パワーを調整する記録パワー調整回路を有し、
前記試し書きパターン記録手段は、記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍
長のマークに対して、ｎを２以上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録
パターンを、記録する手段であり、
前記記録パワー調整回路は、前記分類される記録パターン毎に記録パワーを設定するも
のであることを特徴とする情報記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録媒体にエネルギーを注入して未記録部とは異なるマークを形成すること
によって情報を記録するための試し書き方法、及び情報記録装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクに精度良く情報を記録するために試し書きが行われている。試し書きとは、
より良い品質の記録マークを形成するため、そのときの環境温度やドライブに搭載されて
いるレーザの特性等に応じて最適記録パラメータを求める動作を指す。ＤＶＤ−ＲＷ、Ｄ
ＶＤ＋ＲＷ、ＢＤ−ＲＥなどの光ディスクは、記録膜にいわゆる共晶系と呼ばれる組成の
材料を用いている。現在製品化されている記録装置では、通常、これらの光ディスクに試
し書きを行う場合、まず光ディスクに予め書かれた記録条件を読み出し、その後レーザパ
ワーの調整を行う。ここでいう記録条件とは、例えば、高レーザパワーである記録パワー
レベル（Ｐｗ）と中間パワーである消去パワーレベル（Ｐｅ）、バイアスパワーレベ
ル（Ｐｂ）で表されるレーザパワー設定値や、マルチパルス波形を構成している始端パル
スと後続する複数個の中間パルス及び後端パルスの各パルス幅などである。
実際の試し書きでは、これらの記録条件を元に、光ディスクに予め書き込まれたＰｗと
Ｐｅの比を固定し、レーザパワーをパラメータとして記録最適条件を求める手法を採用し
ている。この方法をＯｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃｏｎｔｒｏｌ（ＯＰＣ）という。Ｂ
Ｄ１倍速あるいはＤＶＤ−ＲＷ２．４倍速など、比較的低速での記録では、このようなＰ
ｗ／Ｐｅ一定でのレーザパワーのみを変化させた試し書きをすることで良好な記録品質を
得ることができた。
【０００３】
これらの光ディスクにおける高速記録再生技術の研究開発が進んでいる。例えば、Opti
cal Data Storage 2003、 Proceedings of SPIE Vol.5069(2003)、p130（非特許文献１）
には、ＢＤ6倍速に相当する記録速度２１６Ｍｂｐｓでの記録技術が述べられている。記
録速度の高速化に伴い、高速化に適した記録波形、いわゆる２T系ストラタジの研究も進
められてきている。２T系ストラタジとは、隣り合った１対の偶数長マークと奇数長マー
クの記録パルス数を同じにした記録波形をいう。具体的には、図２に示すように、例えば
最短マーク長が２Tマークの場合、２Tマークと３Tマークでは１つの矩形パルスを発生し
、４Tマークと５Tマークでは始端パルスと後端パルスの２つのパルスを発生する。６Tマ
ークと７Tマークは始端パルス、１個の中間パルス、後端パルスの計３個のパルスを発生
する。
この２T系ストラタジの例として、特開平９−１３４５２５号公報（対応USP5、732、06
2、特許文献１）には、始端パルスと後続する複数個の中間パルス及び後端パルスからな
るマルチパルス記録方式において、記録チャンネルクロック周期に対する偶数長と奇数長
のいずれか一方のマーク長を記録する場合に、始端パルスと後端パルスのパルス幅を記録
チャンネルクロック周期と略同一とすることが記載されている。
【０００４】
また、特開平１１−１７５９７６号公報（対応USP6、256、277、特許文献２）では、マ
ルチパルス中の最短パルス幅を検出窓幅の１/２倍より長くなるように記録波形を組むと
いう手法が提案されている。これにより、記録媒体の冷却時間が十分確保できるようにな
り、あるいはレーザ駆動電流の周波数成分が低減されるので、高転送速度時でもマークを
十分な精度で形成することができることが述べられている。
【０００５】
更に、特開２００３−３０８３３号公報（特許文献３）では、特開平１１−１７５９７
６号公報と同様に中間パルス列の周期を記録チャンネルクロック周期よりも長くするだけ
でなく、先行するスペースや後続のスペースに依存して始端パルスと後端パルスのエッジ
位置を変化させて記録する手法をとっている。本方法により、高密度・高転送レートで記
録する場合に問題となるトラック方向の熱干渉によるエッジシフトを極力抑制することが
できるため、高精度の記録制御を実現することができることが記載されている。
【０００６】
また、特開２００１−３３１９３６号（対応US2001/053115A1、特許文献４）には、偶
数符号列と奇数符号列で基準クロックをずらし、また、偶数用と奇数用の記録パルス波形
について、始端パルス及び後端パルスのデューティー比を奇数用と偶数用でそれぞれ変え
て生成することが記載されている。
なお、高転送レート記録時における２T系ストラテジの記録マーク形状制御効果は、例え
ば、Optical Data Storage 2000、 Proceedings of SPIE Vol.4090(2000)、p135（非特許
文献２）に詳述されている。
【０００７】
【特許文献１】特開平９−１３４５２５号
【０００８】
【特許文献２】特開平１１−１７５９７６号
【特許文献３】特開２００３−３０８３３号
【特許文献４】特開２００１−３３１９３６号
【非特許文献１】Optical Data Storage 2003、 Proceedings of SPIE Vol.5069(2003)、p130
【非特許文献２】Optical Data Storage 2000、 Proceedings of SPIE Vol.4090(2000)、p135
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
上記従来技術の試し書き方式、いわゆるＯＰＣ方式では、Ｐｗ／Ｐｅを一定としたレー
ザパワーの最適化を行い、その中で最良の品質の記録条件を求めていた。しかしながら、
本発明者らの検討の結果、新たに、ＢＤ４倍速、あるいはＤＶＤ±ＲＷ８倍速以上の記録
速度を達成しようとすると、Ｐｗ／Ｐｅ固定のレーザパワーをパラメータにするＯＰＣ方
式では、十分良好なマーク品質を得ることが困難となることがわかった。それは以下の理
由による。ＢＤ1倍速やＤＶＤ±ＲＷ２．４倍速のような低速記録の場合、上記始端パル
スを照射してから次のパルス（中間パルスあるいは後端パルス）を照射するまでの時間が
十分あるために、次のパルス照射時には、記録膜は十分に冷却される。しかしながら、高
速記録では、始端パルスを照射後次のパルスを照射するまでの時間が短くなるため、記録
膜の冷却速度が相対的に不十分となり、始端パルスで形成した前エッジ部分が十分冷えな
いという問題が生じる。前エッジ部分が十分冷却していない状態で次のパルスを照射する
と、前エッジ部分で結晶化が起こり、エッジゆらぎやエッジシフトが発生してしまう。こ
れはマーク品質が低下することに等しく、高速化によって記録性能が劣化するという問題
が発生した。
【００１０】
また、記録高速化に伴い、市販のドライブに搭載されているレーザ特性の個体ばらつき
も無視できなくなる。例えばＢＤ４倍速での記録チャンネルクロック周期Ｔは約３．８ｎ
ｓとなり、１ｎｓ以下でレーザ波形を制御する必要が生じる。しかしながら、現在のレー
ザの立ち上がり、立下り時間は１〜２ｎｓ程度であるので、１ｎｓの波形制御は物理限界
に近く、レーザの立ち上がり、立下りの個体差が記録マーク形状に大きく影響するように
なる。さらに、スポット径のドライブ間ばらつき等で発光波形がドライブ間で異なる場合
等、低速記録では媒体で装置の個体差を吸収できた問題が、高速記録では表面化してしま
うという問題が生じた。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
そこで、本発明では、以下の構成とする。
（１）記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以
上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを、それぞれ記録して
再生を行い、変調度と記録パワーの関係から変調度が０となる記録パワーＰ０を求め、Ｐ
０にある定数ｐを乗じた値を、各記録パターンの記録パワーとして設定する。
これにより、剰余に従って分類される記録パターン毎に記録パワーを調整できるので、
複数の記録パターンの記録パワーが全て同一に設定されたときよりも記録性能が向上し、
記録マージンを広げることができる。
即ち、２T系ストラテジの場合は、以下のようになる。基準クロック周期の偶数倍に対
応する長さの記録マークで構成された偶数長記録パターンと、奇数倍に対応する長さの記
録マークで構成された奇数長記録パターンとを、各々記録パワーを変えて記録再生を行い
、その再生結果を基に、偶数長の最適記録パワーと奇数長の最適記録パワーを設定する。
言い換えると、一つの記録マークの時間的な長さをｎＴとし（Ｔは基準クロック周期、ｎ
は２以上の自然数）、Ｌ個のパルスからなる記録用レーザビームを用いて試し書き用の記
録波形を形成する場合、記録パターンは、（１）ｎＴ＝２ＬＴなるマーク、すなわち前記
基準クロック周期の偶数倍に対応する長さの記録マークで形成された偶数長記録パターン
と、（２）ｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔなるマーク、すなわち奇数倍に対応する長さの記録マー
クで形成された奇数長記録パターンとし、（１）偶数長記録パターンと（２）奇数長パタ
ーンとを各々記録する。そして、これら記録パターンの再生を行い、記録パワーと再生信
号から求めた変調度の関係を、偶数長、奇数長記録パターン各々で求め、その結果得られ
た変調度が０となるパワーＰ０（記録開始パワー）に、ある定数ｐを乗じた値をもとに各
記録パターンにおける記録パワーを設定する。
【００１２】
続いて、３T系ストラテジの場合は、以下のようになる。ｎＴ＝３ＬＴ系の場合には、
（１）ｎＴ＝３ＬＴなるマークで形成された記録パターンと、（２）ｎＴ＝（３Ｌ−２）
Ｔなるマークで形成された記録パターンと、（３）ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔなるマークで形
成された記録パターンとを用い、これらを各々記録し、記録パワーと再生信号から求めた
変調度の関係を求め、各々の記録パターンで得られたＰ０をもとに記録パワーを設定する
。
【００１３】
また、４T系ストラテジの場合は、以下のようになる。ｎＴ＝４ＬＴの場合は、（１）
ｎＴ＝４ＬＴのマークで形成された記録パターンと、（２）ｎＴ＝（４Ｌ−２）Ｔなるマ
ークで形成された記録パターンと、（３）ｎＴ＝（４Ｌ−１）Ｔなるマークで形成された
記録パターンと、（４）ｎＴ＝（４Ｌ＋１）Ｔなるマークで形成された記録パターンとを
用い、これらを各々記録し、記録パワーと再生信号から求めた変調度の関係を求め、各々
の記録パターンで得られたＰ０をもとに記録パワーを設定する。
【００１４】
（２）また、前記各記録パターンにて設定した記録パワーにて確認パターンを用いて試
し書きを行い、各記録パターンの記録パワーの再調整を行うとよい。これにより、記録パ
ワーの微調整ができ、最適記録条件を得ることができる。
【００１５】
（３）変調度が０となる記録パワーＰ０に乗じる定数ｐは、１．５以上３．０以下が良
い。１．５より小さい場合は十分な振幅を得ることが難しく、３．０より大きいとマーク
幅が大きくなり隣接したマークを結晶化してしまう、いわゆるクロスイレーズが生じてし
まうからである。なお、ｐを２．０以上２．８以下とすると、更に好ましい。ｐが２．０
以上にすることにより、記録パワーオフセットなどの記録条件による試し書き時のパワー
変動が原因のジッター増大を低減することができるのでより好ましい。またｐを２．８以
下とすることにより、オーバーパワーでの照射を防ぐことができるので、多数回書き換え
による性能低下を防ぐことができるので、より好ましい。
【００１６】
（４）記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２
以上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類される複数の記録パターンの中で、パタ
ーンＡを選択し、記録パワーを変えて記録再生し、変調度と記録パワーの関係から変調度
が０となる記録パワーＰ０（Ａ）を求め、Ｐ０（Ａ）にある定数ｐを乗じた値を、記録パ
ターンの記録パワーＰｗ（Ａ）として設定し、Ｐｗ（Ａ）での変調度mod(Ａ)と略同一の
値となるよう、その他の記録パターンの記録パワーを設定する。
これにより、剰余に従って分類される記録パターン毎に記録パワーが設定されることとな
り、記録パターンが異なっても略同一の変調度を得ることができるので、複数の記録パタ
ーンの記録パワーが全て同一に設定されたときよりも記録性能が向上し、記録マージンを
広げることができる。また、複数の記録パターンそれぞれについて、変調度が０となる記
録パワーＰ０（Ａ）を求める必要がないため、試し書きの時間を短くすることができる。
例えば、２Ｔ系ストラテジの場合の一例を示す。基準クロック周期の奇数倍に対応する
長さの記録マークで構成された奇数長記録パターンを用い、記録パワーを変えて記録再生
し、変調度と記録パワーの関係から変調度が０となる記録パワーＰ０（odd）を求め、Ｐ
０（odd）にある定数ｐを乗じた値を、記録パターンの記録パワーＰｗ（odd）として設定
する。Ｐｗ（odd）での変調度mod（odd）と略同一の値となるような偶数長記録パターン
の記録パワーを求め、偶数長記録パターンの記録パワーＰｗ（even）とする。ここでも、
Ｐｗ（odd）とＰｗ（even）の記録パワーを用い、確認パターンによる試し書きを行い、
各記録パターンの記録パワーの再調整を行うとよい。このとき、Ｐｗ（odd）を固定とし
て、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）のみ微調整するだけでも効果がある。このような確認パターンによ
る試し書きにより、記録パワーの微調整ができ、最適記録条件を得ることができる。
さらに、奇数長マークでの最適記録パワーＰｗ（ｏｄｄ）を求めたあと、偶数長マーク
のみからなる記録パターンでの最適記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ）を求める手法として、Ｐ
ｗ（ｏｄｄ）にある定数ｑを乗じるあるいは定数ｒを加算してＰｗ（ｅｖｅｎ）を求める
こともできる。
【００１７】
（５）２Ｔ系ストラテジの場合、偶数長からなる記録パターンあるいは奇数長から成る
記録パターンの試し書きを行って記録パワーを求め、その記録パワーに定数ｑを乗じるあ
るいは定数ｒを加えて他方の記録パターンの記録パワーを求めることを特徴とする。
すなわち、奇数長から成る記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（odd）と偶数
長から成る記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（even）との関係を、Ｐｗ（od
d）＝ｑ×Ｐｗ（even）あるいは、Ｐｗ（odd）＝  Ｐｗ（even）+ｒとする。２Ｔ系スト
ラテジでは、隣り合った１対の偶数長マークと奇数長マークを同じ数のパルス列で構成さ
れた記録波形を用いて記録する。例えば最短マーク長が２Tマークの場合、２Tマークと３
Tマークでは１つの矩形パルスを発生し、４Tマークと５Tマークでは始端パルスと後端パ
ルスの２つのパルスを発生する。このとき、記録波形形状と媒体の熱特性及び結晶化特性
などが影響して、偶数長マークと奇数長マークでは記録感度が異なる場合がある。
奇数長から成る記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（odd）と偶数長から成る
記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（even）との関係を、ある数式で関連付け
ておくことにより、片方の記録パターンのみ試し書きを行えばよいため、試し書きに要す
る時間を短縮することができる。定数ｑ、定数ｒの値はドライブを出荷する際に決めてお
くと良い。あるいは、媒体を初めてロードしたときにｑとｒの値を学習により求め、媒体
ＩＤとｑ、ｒを関連つけておいても良い。
【００１８】
（６）奇数長最小マークを含む記録パターン中の最小マーク長のアシンメトリと、偶数
長最小マークを含む記録パターン中の最小マーク長のアシンメトリを算出し、これらが略
同一になるように、奇数長から成る記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（odd
）と偶数長から成る記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（even）を夫々設定す
る。たとえば、最小マークが３Ｔマークの場合、３Ｔマークを含む記録パターン中の３Ｔ
マークのアシンメトリＡｓｙｍ（３Ｔ）と、４Ｔマークを含む記録パターン中の４Ｔマー
クのアシンメトリＡｓｙｍ（４Ｔ）とが略同一になる各々のパワーを記録パワーとする。
このとき、奇数長記録パターンでは３ＴマークのアシンメトリＡｓｙｍ（３Ｔ）、偶数長
マークのアシンメトリＡｓｙｍ（４Ｔ）のみ再生すればよい。
【００１９】
このようにアシンメトリを考慮した記録パワー設定とすることにより、 同時に記録さ
れた異なるマーク長を比較し求めた数値であるため、万が一試し書き時にデフォーカスな
どによるパワーオフセットや電気的なオフセット等が生じた場合でも、これらのオフセッ
トの影響を抑えることができる。一方、信号振幅、変調度などはこれらのオフセットの影
響を直接受けるために、記録パワー設定のための試し書き時には注意が必要である。
ここではアシンメトリという言葉で統一したが、実際は、βを用いると良い。βは以下の
式で定義され、ＤＶＤ−ＲＷ等の規格書に則る。
【００２０】
β＝(Ａ１+Ａ２)/（Ａ１-Ａ２）
βはＡＣカップリングしたＨＦ信号から算出した値で、Ａ１、Ａ２はそれぞれＡＣカップ
リングしたＨＦ信号のピークレベル（ハイレベルとローレベル）を示している。すなわち
(Ａ１+Ａ２)はピークレベルの差を表し、(Ａ１-Ａ２)はＨＦ信号のpeak-to-peak値を表す
。
また、γを用いて記録パワーを設定しても良い。γは以下の式で定義され、β同様、ＤＶ
Ｄ−ＲＷ等の規格書に則る。
【００２１】
γ＝（ｄｍ/ｄＰｗ）*（Ｐｗ/ｍ）
ここで、ｍはＨＦ信号の変調度を示す。
【００２２】
このような方法は、記録膜が1層あるタイプの光ディスクだけでなく、記録層が複数層
ある種類の光ディスクにも特に有効である。例えば、記録層が２層存在する光ディスクの
場合、各記録層での記録マージンが、記録層が単層のディスクのそれよりも狭くなってし
まうという課題が発生するが、本発明のように、記録パターンに応じて記録パワーを制御
することにより、記録マージンを広げることが可能となる。これらは、特に、ＤＶＤ−Ｒ
Ｗ、ＤＶＤ＋ＲＷ、ＢＤ−ＲＥなど、共晶系記録膜を用いた書換可能タイプの媒体を用い
たときの試し書きで有効である。
これらの試し書きを行うことにより、従来よりも試し書きに多少時間がかかる場合が生
じるが、ＤＶＤ±ＲＷやＢＤ−ＲＥのような、記録に“焼く”という言葉を用いる媒体の
場合、試し書きに要する時間は２〜３秒であり、“焼く”(記録する)作業に要する時間(
例えば１０分)のほうが圧倒的に長いため、試し書き所要時間が５倍に増えたとしても、
ユーザを待たせる時間はほとんど変わらず、光ディスクの使い勝手が悪くなることはなく
、またユーザのデメリットになることはない。
【００２３】
なお、本願は、特に高速記録に有効であり、特に、共晶系といわれる結晶成長型の記録
膜を用いた記録型媒体で、記録速度２０ｍ／ｓ以上の条件で記録するときにより効果を発
するものである。
また、変調度が０とは、マーク形成が全くなされないという物理現象を表している。し
たがって、記録膜が溶融温度に達しない程度に記録パワーが十分低ければ、変調度は０と
なるが、本特許では、変調度が実質０となる最大記録パワーが重要である。ドライブにて
変調度０を求めるには、記録パワーを変えたときの変調度を各々求め、記録パワーと変調
度の関係を所定の算出式に基づいて求めるとよい。即ち、記録パワーと変調度の関係を示
すグラフから、変調度が実質０（グラフでＸ切片が０）となる記録パワーを外挿して求め
るとよい。用いた算出式や測定データ数によって、多少、変調度が０となる記録パワーP0
が変動する場合があるが、この場合でも、P0は、最適パワーを求めるのに十分な誤差範囲
内にある。
【発明の効果】
【００２４】
本発明によれば、試し書きの精度を高めることができるので、より記録品質の良好な高
速対応光ディスクを提供することができる。
【実施例１】
【００２５】
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
まず、本実施例で用いる記録方式について述べる。光ディスクにデータを書き込む場合に
マルチパルスによるマークエッジ記録方式を用い、データをマークとスペースの長さ情報
としてディスクに書き込む。また、マークの長さが３Ｔから１４Ｔ、スペースの長さが３
Ｔから１４Ｔの整数値の組み合わせである変調方式を用いた。
【００２６】
図２に、本発明で用いた記録波形の一例を示す。本実施例では、２Ｔ系ストラテジを用
いた。３Ｔマークは単一パルスから形成され、４Ｔマーク及び５Ｔマークは始端パルスと
後端パルスの２つのパルスから形成される。６Ｔマーク及び７Ｔマークは始端パルスと後
端パルス、及び1つの中間パルスの計３つのパルスから構成され、８Ｔマークと９Ｔマー
クは始端パルスと後端パルス、及び２つの中間パルスの計４つの記録パルスからなる。以
降、マーク長が長くなるに従って中間パルス数が増える。ここで、記録マークをｎＴ（Ｔ
は基準クロック周期、ｎは２以上の自然数）とすると、４Ｔ、６Ｔマークなどの偶数長マ
ークはｎＴ＝２ＬＴで表され、３Ｔ、５Ｔマークなどの奇数長マークはｎＴ＝（２Ｌ＋１
）Ｔで表すことができる。このとき、Ｌは自然数で、記録パルス数を表す。
ディスクには、８倍速記録が可能な書換型ＤＶＤ（赤色光源対応相変化ディスク）を用
い、記録再生測定には波長６６０ｎｍの半導体レーザを搭載したドライブを使用した。線
速度は約２７．９ ｍ／ｓとした。図２でのクロック周期Ｔは約４．８ｎｓである。
【００２７】
本実施例での試し書き方法の動作を説明するフローチャートを図１に示し、これにした
がって本発明を説明する。まず、第１のステップ（Ｓ１０１）として、ディスクに記録し
てある推奨記録パワー、パルス幅等の記録条件を読み出し、レーザパワーとして記録パワ
ー（Ｐｗ）３８ｍＷ、消去パワー（Ｐｅ）８ｍＷ、バイアスパワー（Ｐｂ）０．１ｍＷを
得た。第２のステップ（Ｓ１０２）として、この付近のレーザパワー条件を設定し、第３
のステップ（Ｓ１０３〜Ｓ１０８）としてディスク上に試し書きを行った。レーザパワー
条件は、Ｐｂの値は固定し、ＰｗとＰｅの比（Ｐｗ／Ｐｅ）を固定値として、推奨記録パ
ワーの０．４倍から１．２倍までの記録パワー、すなわち１５．２ｍＷから４５．６ｍＷ
の間を変化させた。消去パワーＰｅはＰｗとともに３．２ｍＷから９．６ｍＷまで変化さ
せた。このとき、偶数長マークのみで構成される記録パターンと奇数長マークのみで構成
される記録パターンの２種類の試し書き用記録パターンを用い、別々に試し書きを行った
。第３のステップ（Ｓ１０３）にて偶数長マークからなる試し書きパターンを用いて記録
・消去パワーを変化させながら試し書きを複数回行い、第３のステップにて得られた記録
パワーと変調度の関係から、第４のステップ（Ｓ１０４）にて、変調度が０となる記録パ
ワーＰ０（ｅｖｅｎ）として１７．５ｍＷを得た。第５のステップとして、Ｐ０（ｅｖｅ
ｎ）に定数ｐとして２．１を乗算し、偶数長マーク記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ）として３
６．８ｍＷを得た。
同様にして、奇数長マークから構成される試し書き用記録パターンを用いて記録を行っ
て、記録パワーと変調度の関係を求め（Ｓ１０６）、変調度が０となる記録パワーＰ０（
ｏｄｄ）を決定（Ｓ１０７）、その後、Ｐ０（ｏｄｄ）に定数ｐ２．１を乗算して奇数長
マーク記録パワーＰｗ（ｏｄｄ）として３８．９ｍＷを得た。
【００２８】
第３のステップから第８のステップから得られた奇数長マーク用記録パワーと偶数長マ
ーク用記録パワーを用いて、第９のステップ（Ｓ１０９）として偶数長マークと奇数長マ
ークの混在した試し書き用記録パターンを用いて記録、第１０のステップ（Ｓ１１０）と
して記録性能の確認を行ったところ、実用上十分なジッター５．１％を得ることができた
。
従来方法との比較として、奇数長マークと偶数長マークが混在した試し書き用記録パタ
ーンを用いて変調度が０となるパワーＰ０を求め、Ｐ０に定数ｐ＝２．１をかけた結果、
記録パワーＰｗ＝３７．８ｍＷを得た。偶数長マークと奇数長マークいずれの記録パワー
も同一の３７．８ｍＷとして記録再生したところ、ジッターは６．５％であり、偶数長マ
ークと奇数長マークの記録パワーを別々に設定したほうが良好な記録性能を得ることがで
きた。
【００２９】
本実施例では、第９のステップの段階で良好なジッターを得ることができたため、第１
１のステップ（Ｓ１１１）は行う必要はなかったが、Ｓ１１０にて良好なジッターが得ら
れなかった場合は、Ｐｗ（ｏｄｄ）とＰｗ（ｅｖｅｎ）の微調整を行うと良い。
本実施例で用いた偶数長／奇数長マーク用試し書きパターンは、マークのみが偶数長／奇
数長で構成されており、スペース部分は偶数長と奇数長を混在していてもよい。すなわち
、スペース長に関しては、例えば偶数長用試し書きパターンに偶数長スペースだけ設ける
などの限定を設ける必要はない。
【００３０】
本実施例では、記録開始パワーＰ０に乗する定数ｐを２．１としたが、定数ｐを１．５
より小さくした場合、図１９に示すように、十分な振幅を得ることができないため再生ジ
ッターは急激に悪化し、ｐ＝１．２のとき再生ジッターは１３．０％となってしまった。
また、ｐ＝３．３ではジッター１２．８％と、定数ｐを３．０より大きくした場合もジッ
ターは大幅に悪化した。これは記録マーク幅が広くなり、クロスイレーズの影響が無視で
きなくなってしまったためである。従って、定数ｐは１．５以上３．０以下が良い。さら
に、定数ｐを２．０とした場合、試し書き時を数回行った際のジッターは５．１〜６．０
％と良好な範囲にあったが、定数ｐを２．０より小さくした場合、例えば１．８にしたと
ころ、試し書き時を数回行った際のジッターは５．４〜７．０％と得られたジッターの範
囲が広がったと同時に最大ジッターが増大した（図２０）。定数ｐが２より小さい場合、
ホコリや汚れなど何らかの原因で記録パワーオフセットなどが生じてしまった場合のジッ
ター増大の影響を大きく受けてしまう。従って、定数ｐは２．０以上にすることがより好
ましい。また図２１には５００回多数回記録を行ったときのジッターと定数ｐとの関係を
示した。ｐが２．８より大きくなると、オーバーパワーによる記録膜の破壊が生じ、ジッ
ターは悪化する。ｐを２．８以下とすることにより、オーバーパワーでの照射を防ぐこと
ができるので、多数回書き換えによる性能低下を防ぐことができるので、より好ましい。
【００３１】
２Ｔ系ストラテジでは、隣り合う１対の偶数長マークと奇数長マークの記録パルス数が
等しい。例えば、図２をみるとわかるように、４Ｔマークと５Ｔマークは各々２つの記録
パルスから構成されており、６Ｔマークと７Ｔマークは３つの記録パルスから成り立って
いる。ここで特徴的なのは、４Ｔマークの始端パルス照射後のＰｂレベルパルス幅（Ｗ１
）と６Ｔマークのそれ（Ｗ１）とはほぼ同じ長さであり、同様に、５Ｔマークの始端パル
ス照射後のＰｂレベルパルス幅（Ｗ２）と７Ｔマークのそれ（Ｗ２）とはほぼ同じ長さと
なることである。始端パルスが形成する記録マークの前エッジ位置は、始端パルスの次に
くる記録パルスの開始位置に影響される。例えば、始端パルスの次にくる記録パルスが始
端パルスから遠くなると、記録膜が溶融した後に再結晶化してしまう領域が少なくなるた
め、前エッジ位置のシュリンクが少なく、溶融領域前端に近い位置に固定される。反対に
、始端パルスの次にくる記録パルスが始端パルスから近くなると、記録膜が溶融した後に
再結晶化してしまう領域が広くなるため、前エッジ位置のシュリンクが激しく、溶融領域
よりも後方に前エッジ位置が固定される。
【００３２】
４Ｔマークと６Ｔマーク、５Ｔマークと７Ｔマークはそれぞれ、始端パルスの次にくる
記録パルス（中間パルスあるいは後端パルス）照射による前エッジ位置への影響が各々ほ
ぼ同じであると考えられる。図２のように、８Ｔマークは４Ｔおよび６Ｔマークと類似し
た前エッジ位置となる。このような、類似の熱的特性をもつマークのみで構成した試し書
き用記録パターンを用いることで、複数種類の記録パルス形状から生じるエッジ位置変動
分によるジッタ増大が見えにくくなるため、正確かつ効率的に最適記録パルス幅を求める
ことができる。
【００３３】
本実施例では、図２に示したように、単一パルスで形成される３Ｔマークに関しては、
始端パルス位置を含む記録パルス条件を独立に設定した。３Ｔマークは単一パルスから成
るために、他の複数の記録パルスから構成されるマークとは、前エッジ位置が決まるプロ
セスが異なるからである。本実施例では、ステップＳ１０９の試し書きにて、第１０のス
テップ（Ｓ１１０）でΔＴを求めると同時に、３Ｔマークの記録パルス条件も求めた。
また、本実施例では、４Tマークと５Tマークが同じ記録パルス数となるような、ｎＴ＝
２ＬＴとｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔの記録パルスが等しい場合としたが、５Ｔと６Ｔが同じパ
ルス数となるような、ｎＴ＝２ＬＴとｎＴ＝（２Ｌ−１）Ｔの記録パルスが等しい場合も
、本発明の効果は変わらない。
さらに、本実施例では、偶数長マークと奇数長マークの記録パワーを算出するときに、
変調度が０となるパワーＰ０（even）とＰ０（odd）に定数ｐを乗算したが、偶数長マー
ク記録時と奇数長マーク記録時の変調度とパワーとの関係が大幅に異なるとき、乗算値ｐ
を異なる値にしてもよい。すなわち、媒体の特性に応じて、定数ｐを偶数長マーク用と奇
数長マーク用に各々異なる値に設定することも可能である。
【００３４】
また、本実施例では、変調度が実質０となる記録パワーＰ０に定数ｐを乗することによ
りＰｗ（ｅｖｅｎ）を設定したが、変調度が０ではなく、変調度０から飽和変調度に達す
るまでの所定の値を有するＰｗ’を求め、Ｐｗ’に定数ｐ’を乗することによりＰｗを求
める方法でもよい。一例を図２８に示す。図２８では、所定の変調度を３５％とした場合
の試し書き方法を示している。設定変調度は記録パワーの変化に対して変調度の変化が急
峻でかつかすれ書きになりにくい変調度２５％から４０％の範囲が好ましい。記録パワー
に対して変調度の変化が急峻であるということは、記録パワーを精度良く設定できること
を意味している。定数ｐ’は、用いるディスクやドライブにより設定される定数であるが
、１．２≦ｐ’≦２．５になることが多い。本実施例で用いたドライブと媒体では、図２
８のステップＳ１８０４にて求めたＰｗ’（ｅｖｅｎ）は２３．０ｍＷ、Ｐｗ’（ｏｄｄ
）は２４．３ｍＷとなり、ｐ’=１．６としてＰｗ（ｅｖｅｎ）を３６．５ｍＷ、Ｐｗ（
ｏｄｄ）を３８．９ｍＷと算出した。ステップＳ１８１０にて記録性能を確認したところ
、ジッターが５．１％であり、実用上問題ない記録性能を得ることができた。このように
、Ｐ０とＰｗ’から各々算出した記録パワー値は必ずしも同じになることはない。図１の
ステップＳ１１０あるいは図２８のステップＳ１８１０で記録性能の確認を行い、記録性
能が十分でない場合は、図１のステップＳ１１１あるいは図２８のステップＳ１８１１に
て微調整を行うことが望ましい。
【実施例２】
【００３５】
実施例１では、隣り合った偶数長マークと奇数長マークの記録パルス数が同一である、
いわゆる２Ｔ系ストラテジを用いたが、本実施例では３Ｔ系ストラテジを用いた場合を示
す。３Ｔ系ストラテジとは、ｎＴ＝３ＬＴ、ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔ、ｎＴ＝（３Ｌ−１）
Ｔで表されるマークの記録パルス数を同一にした記録系である。このとき、Ｌは自然数で
、記録パルス数を表す。例えば、４Ｔ〜６Ｔマークは２つの記録パルスで構成され、７Ｔ
〜９Ｔマークは３つの記録パルスで構成される。このような３Ｔ系ストラテジを図４に示
す（ただし、実施例２では３Ｔ〜１４Ｔマークから構成される記録波形を用いている）。
【００３６】
本実施例では、光ディスクは１０倍速記録が可能な書換型ＤＶＤを用い、記録再生測定
には波長６６０ｎｍの半導体レーザを搭載したドライブを用いた。このドライブは記録パ
ワーＰｗレベルを最大３レベル設定することができる特徴をもつ。線速度は３４．９ｍ／
ｓとした。３Ｔ系ストラテジも２Ｔ系ストラテジと同様、ｎＴ＝３ＬＴマークからなる試
し書き用記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔマークからなる試し書き用記録パターン
、及びｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔマークからなる試し書き用記録パターンの３種類のパターン
を具備しており、それぞれのパターンを用いて記録したときの記録パワーと変調度の関係
を、図５のフローチャートに従って求めた。
【００３７】
まず、ステップＳ２０１として、ディスクに記録してある推奨記録パワー、パルス幅等
の記録条件を読み出し、レーザパワーとして記録パワー（Ｐｗ）５６ｍＷ、消去パワー（
Ｐｅ）１１ｍＷ、バイアスパワー（Ｐｂ）０．３ｍＷを得た。ステップＳ２０２として、
この付近のレーザパワー条件を設定し、Ｓ２０３〜Ｓ２１１としてディスク上に試し書き
を行った。レーザパワー条件は、Ｐｂの値は固定し、ＰｗとＰｅの比（Ｐｗ／Ｐｅ）を固
定値として、推奨記録パワーの０．４倍から１．２倍までの記録パワー、すなわち２２．
４ｍＷから６７．２ｍＷの間を変化させた。消去パワーＰｅはＰｗとともに４．４ｍＷか
ら１３．２ｍＷまで変化させた。このとき、偶数長マークのみで構成される記録パターン
と奇数長マークのみで構成される記録パターンの２種類の試し書き用記録パターンを用い
、別々に試し書きを行った。ステップＳ２０３にてｎＴ＝３ＬＴマークからなる試し書き
パターンを用いて記録・消去パワーを変化させながら試し書きを複数回行い、ステップＳ
２０３にて得られた記録パワーと変調度の関係から、ステップＳ２０４にて、ｎＴ＝３Ｌ
Ｔマークからなる試し書き用記録パターンを記録した場合、変調度が０となる記録パワー
Ｐ０（３ＬＴ）として２０．９ｍＷを得た。同様に、ステップＳ２０７にて、ｎＴ＝（３
Ｌ−２）Ｔマーク記録時の変調度が０となる記録パワーＰ０（（３Ｌ−２）Ｔ）として１
９．１ｍＷ、ステップＳ２１０にて、ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔマーク記録時の変調度が０と
なる記録パワーＰ０（（３Ｌ−１）Ｔ）として２０．２ｍＷを得た。その後、各々のＰ０
に定数ｐとして２．８を乗算し、記録パワーＰｗ（３ＬＴ）として５８．５ｍＷ、Ｐｗ（
（３Ｌ−２）Ｔ）として５３．５ｍＷ、Ｐｗ（（３Ｌ−１）Ｔ）として５６．６ｍＷを得
た (ステップＳ２０５、Ｓ２０８、Ｓ２１１)。
【００３８】
以上得られた３種類の記録パワーを用いて、ステップＳ２１２として、３Ｔから１４Ｔ
までのマーク長およびスペース長がランダムに配置された試し書きパターンを記録、ステ
ップＳ２１３として記録性能の確認を行ったところ、実用上問題のないジッター７．５％
が得られた。さらに、ステップＳ２１４にて、Ｐｗ（３ＬＴ）を５８．５ｍＷから５９．
１ｍＷに微調整することにより、ジッターを７．０％に抑えることができた。
【００３９】
本実施例では定数ｐを２．８としたが、定数ｐを２．８より大きくした場合、書換可能
回数が低下した。例えば、初回ランダム信号ジッターを比較すると、ｐ＝２．８では７．
５％、ｐ＝３．０では８．１％と両者とも実用上問題はなかった。しかしながら、ｐ＝２
．８とした場合、書換回数１０００回まで再生ジッターは変化せず実用上問題なかったが
、ｐ＝３．０とした場合、８００回でジッター１３％を超えてしまった。従って、ｐ＝２
．８以下がより好ましい。
【００４０】
また、本実施例では、再生特性の評価要素としてジッターを用いたが、評価要素の種類
を変えたとしても、本発明の効果に変わりはない。例えば再生性能評価にＰＲＭＬなどを
用いてもよい。
実際のユーザデータの記録は、これら試し書きの結果、得られた記録パワーを用いて行
われる。
【実施例３】
【００４１】
実施例１においては、試し書き用記録パターンを、ｎＴ＝２ＬＴで表される偶数長マー
クと、ｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔで表される奇数長マークとに分けて、各々試し書きを行い、
変調度が０となるそれぞれの記録パワーＰ０に定数ｐを乗算することにより、奇数長マー
クと偶数長マークの最適記録パワーを得た。本実施例では、一方の試し書きパターンのみ
、記録パワーを大きくふって変調度と記録パワーの関係を求め、求めた記録パワーでの変
調度と略同一になるように、もう一方の記録パターンの記録パワーを求めて記録パワーを
設定する方法を示す。
【００４２】
本発明では、実施例１と同様の記録波形、８倍速記録が可能な書換型ＤＶＤディスク、
波長６６０ｎｍの半導体レーザを搭載したドライブを用いた。線速度は約２７．９ ｍ／
ｓとした。
【００４３】
本実施例での試し書き方法の動作を説明するフローチャートを図６に示し、これにした
がって本発明を説明する。ステップＳ３０１からステップＳ３０５は実施例１と同様であ
り、ここでの詳細な説明は省く。実施例１と同様、ステップＳ３０４にて、変調度が０と
なる記録パワーＰ０（ｅｖｅｎ）として１７．５ｍＷを得た。ステップＳ３０５にて、Ｐ
０（ｅｖｅｎ）に定数ｐとして２．１を乗算し、偶数長マーク記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ
）として３６．８ｍＷを得た。また、記録パワー３６．８ｍＷとしたときの変調度ｍｏｄ
（ｅｖｅｎ）を算出、ｍｏｄ（ｅｖｅｎ）＝５９％を得た。
【００４４】
次のステップＳ３０６にて、ｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔで表される奇数長マークからなる試
し書きパターンを用い、記録パワーをＰｗ（ｅｖｅｎ）である３６．８ｍＷとして記録し
、そのときの変調度ｍｏｄを算出したところ、５７％であった。奇数長マークからなる試
し書きパターンでの変調度ｍｏｄがｍｏｄ（ｅｖｅｎ）=５９％よりも小さかったことか
ら、ステップＳ３０８からステップＳ３１０に進んだ。３６．８ｍＷより高いパワーで奇
数長マークからなる試し書きパターンを記録した。このとき、記録パワーＰｗはＰｗ（ｅ
ｖｅｎ）の１．２倍まで変化させて記録した。本実施例では、Ｐｗ＝Ｐｗ（ｅｖｅｎ）＋
Ｐｗ（ｅｖｅｎ）＊０．０２ｘ、（１≦ｘ≦１０）としてＰｗを変化させた。その結果、
ｘ＝４であるＰｗ＝３９．７ｍＷのとき変調度が５９％となったことから、Ｐｗ（ｏｄｄ
）＝３９．７ｍＷを選択した。ｘ＝５であるＰｗ＝４０．５ｍＷでも変調度は５９％であ
ったが、本実施例では、所望の変調度となる記録パワーで、最もＰｗ（ｅｖｅｎ）に近い
パワーをＰｗ（ｏｄｄ）として選択した。
奇数長マーク用記録パワーＰｗ（ｏｄｄ）と偶数長マーク用記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ
）を用いて、ステップＳ３１１として偶数長マークと奇数長マークの混在した試し書き用
記録パターンを用いて記録、ステップＳ３１２として記録性能の確認を行ったところ、実
用上十分なジッター５．４％を得ることができた。
【００４５】
本実施例では、偶数長マークの試し書きで求めた記録パワーでの変調度を求め、その変
調度になるように奇数長マークの記録パワーを設定したが、反対に、奇数長マークの試し
書きを行って変調度を求め、求めた変調度と略同一になるように偶数長マークの記録パワ
ーを設定しても、本発明の効果は変わらない。また、２Ｔ系ストラテジだけでなく、３Ｔ
系、４Ｔ系ストラテジなど、複数種類の試し書き記録パターンを有する場合でも同様の効
果がある。具体的には、３Ｔ系ストラテジの場合、ｎＴ＝３ＬＴなるマークで形成された
記録パターンを用いて記録開始パワーＰ０（３ＬＴ）を求め、Ｐ０（３ＬＴ）に定数ｐを
乗算して最適記録パワーＰｗ（３ＬＴ）を得る。ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔなるマークで形成
された記録パターンで記録したときの変調度と、ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔなるマークで形成
された記録パターンで記録したときの変調度が、ｎＴ＝３ＬＴなるマークで形成された記
録パターンをＰｗ（３ＬＴ）で記録したときの変調度mod(３ＬＴ)と同じになるように、
各々の記録パワーＰｗ（３Ｌ−２）とＰｗ（３Ｌ−１）を設定する。
【００４６】
本実施例では、偶数長マークの記録パターンから試し書きを開始しているが、これは一
例であり、奇数長マークからなる記録パターンから試し書きを開始し、Ｐｗ（ｏｄｄ）を
求め、その後、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）を求めても、本発明の効果は変わらない。
【００４７】
また、本実施例では、変調度が実質０となる記録パワーＰ０に定数ｐを乗することによ
りＰｗ（ｅｖｅｎ）を設定したが、変調度が０ではなく、変調度０から飽和変調度に達す
るまでの所定の値を有するＰｗ’を求め、Ｐｗ’に定数ｐ’を乗することによりＰｗを求
める方法でもよい。一例を図２２に示す。図２２では、所定の変調度を４０％とした場合
の試し書き方法を示している。さらに図２３は、ジッターが所定の値となったときの記録
パワーからＰｗを算出する例を示している。ジッターと記録パワーの一般的な関係を図２
９に示す。図２３の場合、記録パワーを変化させて記録したときのジッター値を求め、ジ
ッターが１３％となったときの記録パワーＰｗ”（ｅｖｅｎ）に、定数ｐ”を乗すること
により記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ）を求める。本実施例と同様の装置とディスクを用いた
場合、所定のジッターは１３％から１７％とすることが好ましい。また、リミットイコラ
イザを用いた場合は所定ジッター値を６％から１０％の間に設定するとよい。定数ｐ”も
、用いるディスクやドライブにより設定される定数であるが、１．２≦ｐ”≦２．０にな
ることが多い。
【００４８】
このように、選択した任意の記録パターンの記録パワーを決める方法は、変調度が実質
０になる記録パワーＰ０から算出してもいいし、所定の変調度（例えば図２２では４０％
）から算出してもいいし、ジッターから算出してもよい。もちろん、これらの方法に限定
したものでなく、所定の方法により任意の記録パターンの記録パワーを決めることができ
ればよい。
【実施例４】
【００４９】
本実施例では、図７、図８を用いて２Ｔ系ストラテジでの試し書きの一例を示す。用い
たドライブ、光ディスクなどは実施例１と同様であり、実施例１と共通した動作（ステッ
プ）の説明は省略する。
【００５０】
実施例３では、ｍｏｄ（ｅｖｅｎ）と略同一の変調度をとるようなＰｗ（ｏｄｄ）を求
め、その後偶数長、奇数長マークが混在した試し書きパターンを用いて記録性能を確認し
た。ここでは、図７に示したような方法、すなわち、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）を求めた後、奇数
長マークからなる試し書きパターンを用いず、奇数長マークと偶数長マークが混在した試
し書きパターンを用いて、直接的に記録性能の良好なＰｗ（ｏｄｄ）を求める手法を用い
た。本実施例では、ステップＳ４０５で得られた偶数長マーク記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ
）＝３６．８ｍＷを中心に、２９．４ｍＷから４４．１ｍＷまで記録パワーを変化させて
、ステップＳ４０６にて偶数長マークと奇数長マークが混在した記録パターンを記録した
。その結果、ステップＳ４０７として、ジッター最小となるＰｗ（ｏｄｄ）として３９．
０ｍＷを得た。このときの混在パターン記録によるジッターは５．２％であり、実用上問
題ない良好な性能であった。
【００５１】
ステップＳ４０６にて変化させる記録パワーＰｗは、偶数長記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ
）の０．８倍以上から１．２倍以下、すなわち、a＊Ｐｗ（ｅｖｅｎ）≦Ｐｗ≦b＊Ｐｗ（
ｅｖｅｎ）であり、０．８≦a≦１．０、１．０≦ｂ≦１．２であることが好ましい。aが
０．８より小さいと記録パワー不足が明らかであるため、本方法による試し書きでは必要
のない試し書きとなり、限られた試し書き領域の無駄使いとなる場合がある。また、ｂが
１．２より大きい場合、図３からもわかるように変調度は最適記録パワーとあまり変わら
ないが、オーバーパワーとなり繰り返し書き換え特性が劣化するなどの現象が生じるため
、好ましくない。
【００５２】
図８には、図７で実施した試し書き回数をさらに少なくする方法の一例を示した。図８
のような試し書きでは、図７のa、ｂのいずれかが１．０の場合に相当するため、試し書
きに必要な領域を少なくすることができ、また試し書きに要する時間を短縮できるという
利点がある。
【００５３】
図７、８ではジッターが最小となる記録パワーを選択するとしているが、ジッターが、
例えば１３％以下など所定値以下となる記録パワー範囲の中央値としてもよく、あるいは
ジッター指標でなくＰＲＭＬとしてもよい。本発明は記録性能指標をジッターに限ったも
のではない。
【００５４】
さらに、図７、８では、Ｐ０（ｅｖｅｎ）をもとにＰｗ（ｅｖｅｎ）を算出したが、Ｐ
ｗ（ｅｖｅｎ）を算出する方法はこれに限ったものではない。図２４には、変調度を４０
％となる記録パワーＰｗ’を求め、Ｐｗ’に定数ｐ’を乗することによりＰｗを求める一
例を示した。このように、複数の記録パターンのうちの任意の記録パターンにおける記録
パワーを算出する際の方法は唯一ではなく、そのドライブ、媒体、用途に応じて選択する
ことが好ましい。
【実施例５】
【００５５】
本実施例では、偶数長マークに用いる記録パワーと奇数長マークに用いる記録パワーと
の間にある一定の関係が成り立っている媒体に適する試し書きの一例を、図９を用いて説
明する。用いたドライブ、光ディスクなどは実施例２と同様であり、線速度は３４．９ｍ
／ｓとした。また、ここでは、実施例２で用いた３Ｔ系ストラテジではなく２Ｔ系ストラ
テジを用いた。ステップＳ６０１からステップＳ６０３までは、記録波形が２Ｔ系ストラ
テジを用いていることを除いて実施例２と同様であるため、ここでは省略する。ステップ
Ｓ６０４にて、偶数長マークからなる試し書き用記録パターンを記録した場合、変調度が
０となる記録パワーＰ０（ｅｖｅｎ）として２０．０ｍＷを得た。その後、ステップＳ６
０５にて、Ｐ０（ｅｖｅｎ）に定数ｐとして２．８を乗算し、記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ
）として５６．０ｍＷを得た。
【００５６】
次に、ステップＳ６０６にて、奇数長マークの記録パワーを設定する。本実施例で用い
たディスクと記録条件の組み合わせでは、Ｐｗ（ｏｄｄ）＝ｑ×Ｐｗ（ｅｖｅｎ）の関係
式が適しており、定数ｑを０．９６としたときが最も良好な記録性能が得られた。本実施
例ではＰｗ（ｏｄｄ）＝ｑ×Ｐｗ（ｅｖｅｎ）の関係式が適していたが、ディスク構造や
用いる記録波形に依存して、Ｐｗ（ｏｄｄ）＝Ｐｗ（ｅｖｅｎ）+ｒの関係式が好ましい
場合もある。どちらの関係式を選択するかは、予め媒体の種類によってドライブ出荷時に
設定しておいてもよい。あるいは、媒体を初めてロードしたときに、適する関係式を選択
しても良い。
【００５７】
ステップＳ６０６にて、関係式Ｐｗ（ｏｄｄ）＝０．９６×Ｐｗ（ｅｖｅｎ）からＰｗ
（ｏｄｄ）を５３．８ｍＷに設定したあと、Ｓ６０７にて奇数長マークと偶数長マークの
混在した試し書きパターンにより偶数長マークの記録パワーをＰｗ（ｅｖｅｎ）とし、奇
数長マークの記録パワーをＰｗ（ｏｄｄ）として記録し、記録性能を評価した（ステップ
Ｓ６０８）。その結果、ジッター７．８％と実用上問題のない記録性能を得ることができ
た。
【００５８】
このように、奇数長マークから成る記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（ｏ
ｄｄ）と偶数長マークから成る記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ
）との関係を、ある数式で関連付けておくことにより、片方の記録パターンのみ試し書き
を行えばよいため、試し書きに要する時間を大幅に短縮することができる。定数ｑ、定数
ｒの値はドライブを出荷する際に決めておくと良い。あるいは、媒体を初めてロードした
ときにｑとｒの値を学習により求め、媒体ＩＤとｑ、ｒを関連つけておいても良い。数種
類の媒体と記録波形の組み合わせで試し書きの動作をしたところ、定数ｑは０．９から１
．１の範囲で、定数ｒは−３．０から３．０の範囲で良好な記録性能が得られた。
【００５９】
本実施例では、Ｐ０（ｅｖｅｎ）をもとにＰｗ（ｅｖｅｎ）を算出したが、Ｐｗ（ｅｖ
ｅｎ）を算出する方法はこれに限ったものではない。ジッター性能を指標としてもよいし
、ＰＲＭＬから算出してもよい。図２５には、βが略５％となる記録パワーＰｗ（ｅｖｅ
ｎ）を求める一例を示した。本方法は記録パワーの変化に対してβの変化が急峻であるよ
うな媒体に用いることが好ましい。図２５にてβの値を５％としたが、媒体やドライブの
特性により最適なβ値を設定することが好ましい。βからＰｗを算出する本方法は、図９
に示したＰ０から算出する方法と比較して、所望の記録パワーを直接求めることができる
ので、精度よく記録パワーを求めることができるという利点がある。このように、複数の
記録パターンのうちの任意の記録パターンにおける記録パワーを算出する際の方法は唯一
ではなく、そのドライブ、媒体、用途に応じて選択することが好ましい。
【００６０】
本実施例では２Ｔ系ストラテジを用いたが、３Ｔ系ストラテジあるいは４Ｔ系ストラテ
ジでも有効な試し書き方法である。複数の記録パターンを数式で関連付けておき、１つの
記録パターンの試し書きを行い、他の記録パターンの記録パワーは定められた数式から求
める本方法は、試し書きの所要時間及び試し書き領域が少なくなる、という利点がある。
【実施例６】
【００６１】
実施例１から５では、指標に変調度を用いて最適記録パワーを求めた。本実施例では、
変調度ではなく、βを用いて最適記録パワーを設定する試し書き方法を述べる。
本実施例では、６倍速記録が可能な青色光源対応ディスクを用いた。線速度は約３１．
７ｍ／ｓとし、２Ｔ〜９Ｔマークから構成される記録波形を用いた。本実施例での試し書
き方法の動作を説明するフローチャートを図１０に示す。まず、ステップＳ７０１として
、ディスクに記録してある推奨記録パワー等記録条件を読み出し、記録パワー（Ｐｗ）１
８ｍＷ、消去パワー（Ｐｅ）３．４ｍＷ、バイアスパワー（Ｐｂ）０．１ｍＷを得た。ス
テップＳ７０２としてこの付近のレーザパワー条件を設定し、ステップＳ７０３、ステッ
プＳ７０５としてディスク上に試し書きを行った。レーザパワー条件は、Ｐｂの値は０．
１ｍＷで固定、ＰｅとＰｗの比を固定とし、Ｐｗを１５ｍＷから２１ｍＷの間を０．２ｍ
Ｗ刻みで変化させた。このとき、ステップＳ７０３では、偶数長マークの最短マークであ
る２Ｔマークを含んだ試し書きパターンを用い、ステップＳ７０５では、奇数長マークの
最短マークである３Ｔマークを含んだ試し書きパターンを用いた。具体的には、ステップ
Ｓ７０３で用いたパターンとは、２Ｔマークと８Ｔマーク、及び２Ｔから９Ｔの長さのス
ペースから構成された記録パターンであり、ステップＳ７０５で用いたパターンとは、３
Ｔマークと８Ｔマーク、及び２Ｔから８Ｔの長さのスペースから構成された記録パターン
である。このように、記録パターンの中に共通マーク長（ここでは８Ｔマーク）を配する
ことにより、各々の最小マークである２Ｔと３Ｔマークのβを同じ８Ｔマークをベースに
算出できる利点がある。ステップＳ７０３及びＳ７０５で記録パワーを変えて記録し、２
Ｔマークのβであるβ（２Ｔ）と３Ｔマークのβであるβ（３Ｔ）を各々算出した。図１
１に、記録パワーとβ（２Ｔ）、β（３Ｔ）の関係を示す。このように、βと記録パワー
との関係は、一般的にマークの長さに依存して異なる。
【００６２】
本実施例では、所望のβを０とし、ステップＳ７０４及びステップＳ７０６にて、β（
２Ｔ）＝０となる記録パワーとしてＰｗ（ｅｖｅｎ）＝１８．２ｍＷ、β（３Ｔ）＝０と
なる記録パワーとしてＰｗ（ｏｄｄ）＝１８．４ｍＷを設定した。次にステップＳ７０７
にて、ｎＴ＝２ＬＴマークとｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔマークが混在した試し書きパターン（
確認パターン）を、ｎＴ＝２ＬＴマークの記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ）を１８．２ｍＷと
し、ｎＴ＝（２Ｌ＋１）Ｔマークは記録パワーＰｗ（ｏｄｄ）を１８．４ｍＷで記録した
。その結果、ジッターは４．９％となり実用上問題のない良好な値となった。
本実施例では、奇数長最小マークと偶数長最小マークを別々に試し書きしたが、図１２
に示したように、２Ｔ、３Ｔを含んだ記録パターン、例えばランダムパターンを用いて、
記録パワーを変化させて記録し、β（２Ｔ）とβ（３Ｔ）を別々に検出し求めることで、
β（２Ｔ）とβ（３Ｔ）が所望の値となる奇数長マーク用記録パワーＰｗ（ｏｄｄ）と偶
数長マーク用記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ）を求めてもよい。
【００６３】
本実施例で示した試し書き方法は、最小マークとその次に大きいマークのアシンメトリ
あるいはβ、あるいはγが略等しくなるように記録パワーをそれぞれ設定することが重要
であり、２Ｔマークが最小か３Ｔマークかといった変調方式（最小マークの大きさ）の違
いは重要ではない。従って、３Ｔマークが最小となる変調方式でも本発明の効果は変わら
ない。ここで、略等しいとは、厳密に一致した数値である必要はなく、例えばアシンメト
リであれば±１％の範囲で同じであればよいということを表している。記録パワーの設定
刻みの範囲で最も近しいアシンメトリあるいはβあるいはγを設定すればよい。
【実施例７】
【００６４】
実施例１から６までは、ドライブがもつレーザドライバが所望の複数レベルの記録パワ
ーＰｗを選択することができる場合における試し書き方法の一例を述べた。ここでは、レ
ーザドライバが所望の設定個数だけしかＰｗレベルを持っていない場合における試し書き
の一例を示す。
本実施例での試し書き方法の動作を説明するフローチャートを図１３に示し、これにし
たがって説明する。光ディスクは実施例１と同じものを用いており、記録再生測定には波
長６６０ｎｍの半導体レーザを搭載したドライブを用いた。このドライブはＰｗレベルを
１値のみ設定できる。図１３のステップＳ９０１からステップＳ９０８までは図１のステ
ップＳ１０１からステップＳ１０８までと同一なので、ここでの説明は省略する。Ｓ９０
８までのステップにより、ステップＳ９０５にて偶数長マーク記録パワーＰｗ（ｅｖｅｎ
）として３６．８ｍＷ、ステップＳ９０８にて奇数長マーク記録パワーＰｗ（ｏｄｄ）と
して３８．９ｍＷを得た。
【００６５】
本実施例では、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）とＰｗ（ｏｄｄ）の差を、これらの記録パワーの平均
値で除した値をパラメータｘとし、その値の大小により試し書きの方法を選択することと
した。ステップＳ９０９にて、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）とＰｗ（ｏｄｄ）の差である｜Ｐｗ（ｅ
ｖｅｎ）―Ｐｗ（ｏｄｄ）｜を、（Ｐｗ（ｅｖｅｎ）＋Ｐｗ（ｏｄｄ））/２で表される
２つの記録パワーの平均値で除した。その結果、本実施例でのパラメータｘは５．５％と
なり、ステップＳ９１０での判定に従って、ステップＳ９１４に進んだ。
【００６６】
ステップＳ９１４にて算出式を用い、記録パワーＰｗ（ｏｐｔ）を求める。ここで用い
る算出式は一例として以下の式が挙げられる。
Ｔｙｐｅ１  Ｐｗ（ｏｐｔ）＝Ｐｗ（ｅｖｅｎ）
Ｔｙｐｅ２  Ｐｗ（ｏｐｔ）＝Ｐｗ（ｏｄｄ）
Ｔｙｐｅ３  Ｐｗ（ｏｐｔ）＝（Ｐｗ（ｅｖｅｎ）＋Ｐｗ（ｏｄｄ））/２
Ｔｙｐｅ４  Ｐｗ（ｏｐｔ）＝Ｍａｘ（Ｐｗ（ｅｖｅｎ）、Ｐｗ（ｏｄｄ））
Ｔｙｐｅ５  Ｐｗ（ｏｐｔ）＝Ｍｉｎ（Ｐｗ（ｅｖｅｎ）、 Ｐｗ（ｏｄｄ））Ｔｙｐｅ１は偶数長マークを重視する算出式であり、最小マークが２Ｔマークの変調方式
をとっている場合に適している。Ｔｙｐｅ２は奇数長マークを重視する算出式であり、最
小マークが３Ｔマークの変調方式を採用している場合に適する。さらに、Ｔｙｐｅ３は、
Ｐｗ（ｅｖｅｎ）とＰｗ（ｏｄｄ）の平均パワーを最適パワーＰｗ（ｏｐｔ）としており
、記録時のばらつきが小さくなる利点がある。Ｔｙｐｅ４は最適パワーＰｗ（ｏｐｔ）を
Ｐｗ（ｅｖｅｎ）かＰｗ（ｏｄｄ）のどちらか大きい記録パワーを選択するという算出式
である。Ｓ/Ｎが低く変調度を稼ぎたい媒体を用いたときなど、Ｓ/Ｎ重視の場合、Ｔｙｐ
ｅ４が適している。反対に、Ｔｙｐｅ５は、最適パワーＰｗ（ｏｐｔ）をＰｗ（ｅｖｅｎ
）かＰｗ（ｏｄｄ）のどちらか小さい記録パワーを選択するという算出式である。これは
隣接トラックからのクロストークが大きく、マークを幅広く記録することができない媒体
に適用すると良い。言い換えれば、クロストークによるジッター劣化が激しい場合はＴｙ
ｐｅ５の算出式が適しているといえる。これらの算出式は用いるドライブやディスクに合
わせて選択すると良い。また、ここで挙げた算出式は一例であって、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）と
Ｐｗ（ｏｄｄ）から最適パワーＰｗ（ｏｐｔ）を求める式を用いるのであれば、本発明の
範囲内である。
【００６７】
本実施例では、Ｔｙｐｅ３を用いた。Ｐｗ（ｅｖｅｎ）＝３６．８ｍＷ、Ｐｗ（ｏｄｄ
）＝３８．９ｍＷであるので、最適パワーＰｗ（ｏｐｔ）は、Ｐｗ（ｏｐｔ）＝（３６．
８＋３８．９）/２＝３７．９ｍＷとなる。ステップＳ９１４で算出したＰｗ（ｏｐｔ）
を用いて、ステップＳ９１５にてランダムパターンを用いて試し書きを行ったところ、ジ
ッターは６．５％であり、実用上問題のない記録性能を得ることができた。
【００６８】
本実施例ではステップＳ９１０での判定基準として、パラメータｘが１０％より大きい
か否かとしたが、より安全な記録を行うため閾値を例えば５％としてもよい。閾値はその
ドライブと用いる媒体に合わせて決定することが好ましい。閾値を５％とした場合、本実
施例では、図１３のステップＳ９１０にて「Ｙｅｓ」と判定され、ステップＳ９１１に進
む。本実施例で用いたドライブはパルス可変機能を具備していないため、ステップＳ９１
１にて「Ｎｏ」と判定され、ＮＧ、つまりライトエラー（記録不可能）となる。このよう
にライトエラーになることは一見ユーザにとって不利益となるように見える。しかしなが
ら、不適切な記録パワーを照射して記録しようとした結果、以前記録したデータや管理領
域のデータを破壊する可能性もある。このようなデータ破壊を防ぐためにも重要なフロー
であり、ユーザの財産である記録情報を守ることができる。図１３では、ステップＳ９１
１にてＮｏと判定された場合、ＮＧとなる場合を一例として示したが、ステップＳ９１１
にてＮｏと判定された場合、ステップＳ９１４に進み、Ｐｗを見つけるフローでももちろ
んよい。この場合は、ステップＳ９１６にて十分な記録性能が得られるまでＰｗを見つけ
るのではなく、ステップＳ９１７にてリトライ回数ｚを設定しておくことが好ましい。リ
トライ回数はそのドライブや用いる媒体にあわせて決定するとよい。本実施例ではｚ＝１
とした。
【００６９】
また、本実施例では、ステップＳ９０９にて、パラメータｘを以下の式から求めた。
【００７０】
ｘ＝｜Ｐｗ（even）―Ｐｗ（odd）｜／（Ｐｗ（even）＋Ｐｗ（odd））/２しかしながら、本発明は上の式に限定されたものではなく、偶数長マークの最適パワーと
奇数長マークの最適パワーの差を何らかの形で示すことができる数式であればよい。
本実施例では、パルス幅可変のドライブではなかったため、ステップＳ９１１にてＮｏと
判定されたが、パルス幅可変のドライブを用いた場合、ステップＳ９１２にてパルス幅を
変えることが可能となる。例えば、本実施例のように、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）＜Ｐｗ（ｏｄｄ
）の場合、追記型媒体では奇数長マークのパルス幅を広げる方向がよい。追記型媒体では
一般的に照射エネルギーに比例してマークが大きくなる。したがって、パルス幅を広げる
ことで、記録パワーを低くすることができ、結果として、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）に近いパワー
とすることができる。反対に、Ｐｗ（ｅｖｅｎ）のパルス幅を狭くしても同様の効果があ
る。また、書換可能型媒体では、奇数長マークのパルス幅を狭くする方向がよい。書換可
能相変化媒体では、再結晶化といわれる溶融領域の結晶化が起こる。パルス幅が広いとこ
の際結晶化が激しくなり、エネルギーを注入しすぎることで振幅が小さくなることがある
。このようなときは、パルス幅を狭くすることで振幅を大きくすることができる。パルス
幅は１ｎｓ程度の単位で変化させることが好ましい。これは大凡レーザの立ち上がり時間
あるいはたち下がり時間に相当する時間となる。あるいはＴｗ/１６などＴｗをｎ分割し
た単位でパルス可変としてもよく、どちらの場合も媒体のロットばらつきやレーザドライ
バーの個体ばらつきを吸収できる。
【００７１】
本実施例では、変調度が実質０となる記録パワーＰ０からＰｗを設定したが、変調度が
０ではなく、所定の変調度となる記録パワーＰｗ’を求め、Ｐｗ’に定数ｐ’を乗するこ
とによりＰｗを求める方法でもよい。一例を図２６に示す。図２６では、所定の変調度を
３０％とした場合の試し書き方法を示している。
【実施例８】
【００７２】
実施例７では、Ｐｗを１レベルしかもたないドライブで２Ｔ系ストラテジを用いた場合
について述べた。本実施例では、Ｐｗを２レベルもつドライブで３Ｔ系ストラテジを用い
た場合について述べる。Ｐｗレベルが２値に設定できるドライブでは、２Ｔ系ストラテジ
では偶数長マークと奇数長マークのそれぞれに記録パワーを割り振ることができるが、３
Ｔ系ストラテジを用いた場合、３種類の記録パターンそれぞれに記録パワーレベルを割り
振ることができなくなる。このような場合でも、図１３と同様のフローにて記録パワーを
設定することが可能である。たとえば、Ｐｗ（Ａ）とＰｗ（Ｂ）の２値の記録パワーを設
定できるドライブで、３Ｔストラテジを用いる場合の一例を、図１４を用いて説明する。
【００７３】
光ディスクは１０倍速記録が可能な書換型ＤＶＤを用い、ドライブは実施例１と同じも
のを用いた。ステップＳ１１０１からステップＳ１１１１までは、実施例２で説明したフ
ローチャートと同様であるのでここでは省略する。実施例２で用いたドライブは記録パワ
ーＰｗレベルを３値もつことができるため、ステップＳ１１０５、ステップＳ１１０８、
ステップＳ１１１１にて求めた３種類の記録パターンの最適パワーをそれぞれ設定し、実
際の記録に用いることができた。しかしながら、ここでは２値しかＰｗレベル設定できな
いドライブを用いているため、３種類の記録パターン全てに最適パワーレベルを割り振る
ことができない。そこで、ステップＳ１１１２にて、３種類の記録パターンでの最適パワ
ーの平均パワーＰｗ（ｙ）を求め、ステップＳ１１１３にて、３種類の記録パターンの最
適記録パワーＰｗ（３ＬＴ）＝５７．７ｍＷ、Ｐｗ（（３Ｌ−１）Ｔ）＝５４．０ｍＷ、
Ｐｗ（（３Ｌ−２）Ｔ）＝５６．３ｍＷの中で、Ｐｗ（ｙ）と最も離れた値となる記録パ
ターンＡを判定する。本実施例では、Ｐｗ（ｙ）＝５６．０ｍＷであり、各々の記録パタ
ーンの記録パワーとＰｗ（ｙ）との差は、Ｐｗ（３ＬＴ）で１．７ｍＷ、Ｐｗ（（３Ｌ−
１）Ｔ）で２．０ｍＷ、Ｐｗ（（３Ｌ−２）Ｔ）＝０．３ｍＷとなり、最も離れた記録パ
ワーをもつ記録パターンＡはｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔマークからなる記録パターンであるこ
とがわかった（ステップＳ１１１３）。
【００７４】
次にステップＳ１１１４にて、記録パターンＡの記録パワーＰｗ（Ａ）をｎＴ＝（３Ｌ
−１）Ｔマークからなる記録パターンの記録パワーＰｗ（（３Ｌ−１）Ｔ）とし５４．０
ｍＷに設定、ステップＳ１１１５にて、ｎＴ＝３ＬＴマークとｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔマー
クからなる記録パターンＢを用いて、パワーを変えて記録した。その結果、ステップＳ１
１１６にてジッター最小となるＰｗ（Ｂ）として５６．７ｍＷを得た。このときのジッタ
ーは６．８ｍＷであった。ステップＳ１１１７にて、ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔマークは記録
パワーＰｗ（Ａ）として５４．０ｍＷに、ｎＴ＝３ＬＴマーク及びｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔ
マークは記録パワーＰｗ（Ｂ）として５６．７ｍＷに設定し、ランダムパターンを用いて
記録した。その結果、ジッターは７．２ｍＷであり実用上問題のない記録性能を得ること
ができた。ステップＳ１１１８にて「Ｙｅｓ」と判定され、試し書きを終了した。
本実施例で示したステップＳ１１１６（図１４）では、Ｐｗ（Ｂ）はジッター最小値とな
るＰｗとしたが、簡便のため、２種類の記録パターンの最適パワーの平均値としてもよい
。さらにPRMLに適用されるレベルジッタなどを用いても同様である。あるいは実施例７で
示したようなＴｙｐｅ１からＴｙｐｅ５に示したような算出式を用いてもよいし、アシン
メトリまたはβを用いて、各々のｎＴ＝３ＬＴマークの最小マークとｎＴ＝（３Ｌ−２）
Ｔマークの最小マークのβが略同一になる記録パワーをＰｗ（Ｂ）と設定しても良い（図
１５）。本実施例では最小マークが３Ｔ、最長マークが１４Ｔの変調方式を用いているの
で、具体的には、ｎＴ＝３ＬＴマークの最小マークは３Ｔマーク、ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔ
マークの最小マークは４Ｔマークとなる。ステップＳ１１１６でのＰｗ（Ｂ）の選択方法
は、用いる媒体とドライブとの相性で決定するとよい。
【００７５】
図１４では、変調度が０となる記録パワーＰ０から記録パワーＰｗを求めたが、図２７
には、βが略１０％となるパワーをＰｗに設定した場合の試し書き方法の一例を示した。
図２７のステップＳ１７０３、Ｓ１７０５、Ｓ１７０７で用いる試し書きパターンは、ｎ
Ｔ＝３ＬＴからなるマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔからなる
マークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔからなるマークで形成された
記録パターン３種類をそれぞれ用いた。しかしながら、本発明は、この試し書きパターン
に限定されたものではない。例えば実施例６で示したような、各記録パターンの最短マー
クと各記録パターンに共通したマーク長からなる試し書きパターン、具体的には、ステッ
プＳ１７０３では最短マークである３Ｔマークと共通マークである１１Ｔマーク、及び３
Ｔから１１Ｔの長さのスペースから構成された記録パターンを、ステップＳ１７０５では
最短マークである４Ｔマークと共通マークである１１Ｔマーク、及び３Ｔから１１Ｔの長
さのスペースから構成された記録パターンを、ステップＳ１７０７では最短マークである
５Ｔマークと共通マークである１１Ｔマーク、及び３Ｔから１１Ｔの長さのスペースから
構成された記録パターンを用いてもよい。また、図２７ではβが１０％のときの記録パワ
ーを各記録パターンのＰｗとしたが、βの値は、媒体やドライブにより最適値が異なる場
合がある。βの値は媒体の種類やドライブの特性などに応じて設定することが好ましい。
【実施例９】
【００７６】
本実施例は、上記実施例で行った試し書きや実際の記録を行う上での装置を説明する。
ここでは、装置の一例として、実施例１のような２T系ストラテジの装置の例を示す。装
置の全体図を図１６、図１７及び図１８に示す。記録データは、符号化回路で記録符号語
に変換され、同期信号発生回路で発生した同期信号と合成回路で合成され、パルス変換回
路に入力される。引き続き、パルス変換回路でパルスデータに変換され、記録パルス整形
回路でパルス状に整形され、光源を駆動させる。ここまでは、図１６、図１７及び図１８
で共通している。
【００７７】
２値の記録パワーレベルをもち、偶数長マークと奇数長マークを分類して記録パターン
を発生させる、偶奇分類試し書きパターン発生回路を具備した装置を図１６に示す。偶奇
分類試し書きパターン発生回路は、偶数長マークから成る試し書き用記録パターンと奇数
長マークから成る試し書き用記録パターンを各々発生しディスクに記録する。記録された
信号は、検出回路にて検出され、再生回路にて記録性能を評価、再生特性記憶手段にて記
録条件と記録性能との関係を記憶する。その後、記録パワー調整回路で次の記録パワーを
決定、記録パルス整形回路に戻る。なお、図１６では、偶奇分類試し書きパターン発生回
路について説明したが、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の整数定
数で除算した剰余にしたがって分類された試し書きパターン発生回路であれば良い。この
ようにして各々の記録パターンでの最適記録パワーが求められ、実際の記録では、奇数長
マーク、偶数長マークにおいて、それぞれの記録パワーが設定される。
【００７８】
図１７は、２Ｔ系ストラテジを用いる場合の記録パワーレベルの設定値が１値である装
置の構成図（一例）を示している。実施例７、８のような、記録パターンの数よりも記録
パワーの設定レベル値が少ない場合の装置構成の一例である。図１６と同様、２種類の記
録パターンを各々発生しディスクに記録、記録された信号を検出、再生回路にて記録性能
を評価する。２種類の記録パワーの最適値が設定された後、判定回路にて判定式記録回路
に記録された判定式を用いて、２種類の記録パターンの記録パワーについて判定、記録パ
ワーの判定値が所定値以下であった場合、記録パワー算出式記憶回路に記憶している算出
式を用いて記録パワー調整回路にて最適記録パワーを調整する。また、記録パワーの判定
値が所定値より大きかった場合、ライトエラーと判断、記録不可能であることを表示する
機能を有することが特徴である。図１７では、２Ｔ系ストラテジ（２個の記録パターン）
を１値の記録パワー設定レベルを有する装置の一例を示したが、ｎ個の記録パターンをｎ
個未満の記録パワー設定レベルを有する装置も、同様に適用できる。
【００７９】
図１８は、偶数長と奇数長で試し書き用記録パターンを分けずに、ランダム信号を利用
したときの装置の構成図（一例）を示している。試し書きにて記録されたランダム信号は
、検出回路にて検出され、その後、偶奇分類回路で、偶数長マークと奇数長マークに分類
される。図１８では、偶数長マーク、奇数長マークそれぞれ専用の再生回路、再生特性記
憶手段、記録パワー調整回路を具備していることが特徴である。これらの回路は、１つの
回路の中に容易に実現でき、また、２個以上の複数個に増やすことも容易である。また、
図１８では、偶奇分類回路について説明したが、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対し
て、ｎを２以上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類する分類回路でも、同様に適
用できる。再生特性記憶回路では変調度、βなど諸特性の再生特性の記憶が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００８０】
【図１】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図２】本発明で用いた記録パルス波形の一例。
【図３】本発明の一実施例にかかる記録パワーと変調度の関係を示した図。
【図４】本発明で用いた記録パルス波形の一例。
【図５】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図６】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図７】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図８】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図９】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図１０】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図１１】本発明の一実施例にかかる記録パワーとβの関係を示した図。
【図１２】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図１３】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図１４】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図１５】本発明の一実施例にかかる記録パワーとβの関係を示した図。
【図１６】本発明に用いた装置の一例。
【図１７】本発明に用いた装置の一例。
【図１８】本発明に用いた装置の一例。
【図１９】本発明の一実施例にかかる記録パワーと定数ｐの関係を示した図。
【図２０】本発明の一実施例にかかる記録パワーと定数ｐの関係を示した図。
【図２１】本発明の一実施例にかかる記録パワーと定数ｐの関係を示した図。
【図２２】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図２３】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図２４】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図２５】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図２６】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図２７】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図２８】本発明の一実施例にかかる試し書き方式の処理フロー図。
【図２９】本発明の一実施例にかかる記録パワーとジッターの関係を示した図。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【手続補正書】
【提出日】平成17年7月5日(2005.7.5)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光学的情報記録媒体に情報を記録する記録条件を設定するための試し書き方法であって、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを生成し、
前記記録パターンのうち任意の記録パターンＡを選択し、所定の方法により設定した記録パターンＡの記録パワーＰｗ（Ａ）での変調度mod(Ａ)と略同一の値となるよう、その他の記録パターンの記録パワーを設定することを特徴とする試し書き方法。
【請求項２】
前記所定の方法は、前記記録パターンＡについて、記録パワーを変えて記録再生し、変調度と記録パワーの関係から変調度が０となる記録パワーＰ０（Ａ）を求め、Ｐ０（Ａ）に定数ｐを乗じた値を、記録パターンの記録パワーＰｗ（Ａ）として設定する方法であることを特徴とする請求項１記載の試し書き方法。
【請求項３】
光学的情報記録媒体に情報を記録する記録条件を設定するための試し書き方法であって、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを生成し、
前記記録パターンのうち任意の記録パターンＡを選択し、所定の方法により前記記録パターンＡの記録パワーＰｗ（Ａ）を設定し、前記記録パターンＡを前記記録パワーＰｗ（Ａ）で、かつ、その他の記録パターンの記録パワーを、Ｐｗ（Ａ）を含めた一定の範囲で変化させ試し書きを行って、その他の記録パターンの記録パワーを設定することを特徴とする試し書き方法。
【請求項４】
前記一定の範囲は、a×Ｐｗ（Ａ）≦Ｐｗ≦b×Ｐｗ（Ａ）であり、０．８≦a≦１．０であり、１．０≦ｂ≦１．２であることを特徴とする請求項３記載の試し書き方法。
【請求項５】
前記所定の方法は、前記記録パターンＡについて、記録パワーを変えて記録再生し、変調度と記録パワーの関係から変調度が０となる記録パワーＰ０（Ａ）を求め、Ｐ０（Ａ）に定数ｐを乗じた値を、記録パターンの記録パワーＰｗ（Ａ）として設定する方法であることを特徴とする請求項３記載の試し書き方法。
【請求項６】
前記記録パターンＡの前記記録パワーＰｗ（Ａ）における変調度を算出し、
前記その他の記録パターンの、前記記録パワーＰｗ（Ａ）を適用したときの変調度を算出し、
前記Ｐｗ（Ａ）における変調度と、前記その他の記録パターンの変調度とを比較し、
前記比較結果に応じて、記録パワーの変化させる範囲を異ならせて試し書きを行うことを特徴とする請求項３記載の試し書き方法。
【請求項７】
光学的情報記録媒体に情報を記録する記録条件を設定するための試し書き方法であって、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを生成し、
前記記録パターンのうち任意の記録パターンＡを用いて試し書きを行って、記録パワーを求め、その記録パワーに定数ｑを乗じるあるいは定数ｒを加えて他方の記録パターンの記録パワーを求めることを特徴とする試し書き方法。
【請求項８】
光学的情報記録媒体に情報を記録する記録条件を設定するための試し書き方法であって、
検出窓幅の自然数ｎ倍長の奇数長最小マークを含む第１の記録パターンと、検出窓幅の自然数ｎ倍長の偶数長最小マークを含む第２の記録パターンを生成し、
奇数長最小マークのアシンメトリあるいはβあるいはγと、偶数長最小マークのアシンメトリあるいはβあるいはγを算出し、これらの値が略同一になるように、前記第１の記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（odd）と、前記第２の記録パターンを記録するための記録パワーＰｗ（even）を夫々設定することを特徴とする試し書き方法。
【請求項９】
前記第１の記録パターンと前記第２の記録パターンは、同じマーク長のマークを含み、
前記アシンメトリあるいはβあるいはγは、前記同じマーク長のマークに基づいて、算出されることを特徴とする請求項８記載の試し書き方法。
【請求項１０】
光学的情報記録媒体に情報を記録する記録条件を設定するための試し書き方法であって、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類されるｍ個（ｍは２以上の自然数）の記録パターンとして区分し、記録パワー設定可能レベル値がｍ個より小さいレーザドライバを有するドライブを用いて記録する記録方法であって、
ｍ個の記録パターンにて各々の最適記録パワーを求めた後、ある判定式に従ってｍ個の記録パターンの各記録パワーのばらつきの程度を求めるステップと、
そのばらつきの程度が所定の数値以下であった場合は算出式に従って共通最適パワーＰｗ（ｏｐｔ）を設定するステップと、
所定の数値より大きい場合はパルス幅可変のドライブではパルス幅を変え、パルス幅変化不可のドライブではライトエラーとして情報を記録させないようにするステップを有することを特徴とする試し書き方法。
【請求項１１】
光学的情報記録媒体に情報を記録する記録条件を設定するための試し書き方法であって、
記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを生成し、
前記記録パターンごとに、記録パワーを変えて記録再生し、変調度と記録パワーの関係から前記変調度がa％（ただし０＜a）となる記録パワーＰｗ'をそれぞれ求め、Ｐｗ'に定数ｐ'を乗じた値を、前記各記録パターンの記録パワーとして設定することを特徴とする試し書き方法。
【請求項１２】
前記各記録パターンにて設定した記録パワーにて、前記分類される記録パターンが混在した確認パターンを用いて試し書きを行い、前記各記録パターンの記録パワーの微調整を行うことを特徴とする請求項１１記載の試し書き方法。
【請求項１３】
前記分類される記録パターンは、偶数長マークから成る記録パターンと、奇数長マークから成る記録パターンであることを特徴とする請求項１１記載の試し書き方法。
【請求項１４】
前記分類される記録パターンは、ｎＴ＝３ＬＴ（Ｌはパルス数、Ｔは検出窓幅）からなるマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−２）Ｔからなるマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（３Ｌ−１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンであることを特徴とする請求項１１記載の試し書き方法。
【請求項１５】
前記分類される記録パターンは、ｎＴ＝４ＬＴ（Ｌはパルス数、Ｔは検出窓幅）からなるマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（４Ｌ−２）Ｔからなるマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（４Ｌ−１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンと、ｎＴ＝（４Ｌ＋１）Ｔからなるマークで形成された記録パターンであることを特徴とする請求項１１記載の試し書き方法。
【請求項１６】
記録パワーを決定するための試し書きパターンを記録媒体に記録する試し書きパターン記録手段と、
記録された前記試し書きパターンを検出する検出回路と、
記録された前記試し書きパターンを再生する再生回路と、
前記試し書きパターンの再生特性を判定する判定回路と、
前記判定回路にて記録不可能と判定された場合にライトエラーを表示するための回路と、
前記判定回路にて記録可能と判定された場合、前記検出回路からの信号に基づいて、記録パワーを調整する記録パワー調整回路を有し、
前記試し書きパターン記録手段は、記録符号列中のマーク長を、検出窓幅の自然数ｎ倍長のマークに対して、ｎを２以上の整数定数で除算した剰余にしたがって分類される記録パターンを、記録する手段であり、
前記記録パワー調整回路は、前記分類される記録パターン毎に記録パワーを設定するものであることを特徴とする情報記録装置。