(57)【要約】 【課題】動作周波数を高くしてブルーレイディスクなどの倍速時にもディスクの欠陥を検出でき、また、反射率が増加する欠陥も検出すること。【解決手段】比較回路４により光ディスクの記録時の再生ＲＦ信号１５１と基準電位８０を比較して前記基準電位以下のＲＦ信号とし、ラッチ回路７により基準電位以下のＲＦ信号から前記光ディスクの記録時のイレーズ区間の信号をラッチする。これと共に、モノマルチ５により基準電位以下のＲＦ信号の再生区間を確定し、ノア回路８によりラッチ回路７の出力信号４００とモノマルチ５の出力信号３００のノアをとり、ディスク欠陥信号５００を得ることにより、動作周波数を高くしてブルーレイディスクなどの倍速時にもディスクの欠陥を検出でき、また、反射率が増加する欠陥も検出することができる。【選択図】図２
2006059395.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
書き換え可能な光ディスクの欠陥を検出するディスク欠陥検出回路であって、
前記光ディスクの記録時の再生ＲＦ信号と基準電位を比較して前記基準電位以下のＲＦ信号を出力する比較回路と、
前記基準電位以下のＲＦ信号の再生区間を確定するモノマルチと、
前記基準電位以下のＲＦ信号から前記光ディスクの記録時のイレーズ区間の信号をラッチするラッチ回路と、
前記ラッチ回路の出力信号と前記モノマルチの出力信号のノアをとるノア回路と、
を具備することを特徴とするディスク欠陥検出回路。
【請求項２】
前記書き換え可能な光ディスクの記録時の書き込み区間を示すライトパルスゲート信号を遅延して、前記ラッチ回路の動作クロックを生成するクロック生成手段を具備することを特徴とする請求項１記載のディスク欠陥検出回路。
【請求項３】
書き換え可能な光ディスクの欠陥を検出するディスク欠陥検出方法であって、
前記書き換え可能な光ディスクの記録時のイレーズ区間のイレーズ信号の有無により前記光ディスクの欠陥を検出することを特徴とするディスク欠陥検出方法。
【請求項４】
書き換え可能な光ディスクに書き込み信号により変調されたレーザ光を照射して前記光ディスクにデータを記録する光ディスク装置であって、
前記光ディスクの欠陥を検出する欠陥検出回路を具備し、
前記欠陥検出回路は、前記光ディスクの記録時の再生ＲＦ信号と基準電位を比較して前記基準電位以下のＲＦ信号を出力する比較回路と、前記基準電位以下のＲＦ信号の再生区間を確定するモノマルチと、前記基準電位以下のＲＦ信号から前記光ディスクの記録時のイレーズ区間の信号をラッチするラッチ回路と、前記ラッチ回路の出力信号と前記モノマルチの出力信号のノアをとるノア回路とを具備することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
前記レーザ光は青色で且つ、前記光ディスクはブルーレイ用ディスクであることを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に係り、特に光ディスクの表面に付けられた指紋や傷などの欠陥を検出するディスク欠陥検出回路及びディスク欠陥検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクなどの記録媒体にレーザ光を照射してデータの記録または再生を行う高密度の光ディスク記録／再生装置が出現してきている。例えばＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷなどの光ディスクや４５０ｎｍ付近の短波長光源を用いた高密度ディスクであるＤＶＲ−ＢＵＬＥ等のブルーレイディスクに対応する記録装置では、光ディスク上のトラックに対して記録データで変調されたレーザ光を照射し、これにより、例えば相変化記録方式で光データを光ディスク上に記録するようにしている。
【０００３】
ここで、上記のような光ディスクにデータの記録を行う際にして、その光ディスクの表面に欠陥がある場合、６８０ｎｍの光ディスク（ＤＶＤ−Ｒなど）においては、ディスクのカバー層が厚いこと、レーザ光のビーム径が大きいこと、記録波長が長いこと等で、光ディスクの表面に付いた指紋や傷、ゴミなどに関しては余裕がないものの、大きな弊害にはならなかった。
【０００４】
ところが、ＣＤ−Ｒ／ＲＷ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷやＤＶＲ−ＢＵＬＥなどの光ディスク自体は裸の状態でとり扱われるため、光ディスクの表面には指紋や傷または埃等が付き易く、これらが欠陥（ディフェクト）となって光ディスクへのデータの記録障害や読みとり障害の要因となる。例えば、光ディスクの記録面に到達するレーザ光の光量を低下させて正しい記録をできなくし、また、光ディスクからの反射光の光量を変化させて正確なデータの読み出しができなくなる。
【０００５】
一方、４００ｎｍのブルーレイディスクでは、６８０ｎｍの光ディスクに比べて記録密度が約５倍、ディスクのカバー層の厚さが１／７となっているため、ディスク表面に付けられた欠陥の影響を受け易い。そこで、ＥＣＣ（Error Check and Correct ）部での欠陥判定処理を強くするため、１ＥＣＣ部（１ＲＵＢ）を６４ＫＢｙｔｅと大きくしてあるが、予想外の大きな指紋や大きな擦り傷がディスク表面に付いていると、これらの欠陥は１ＲＵＢ（Recording Unit Block）の１／３にも達し、１ＲＵＢのデータが破綻してしまう。この場合、ＲＵＢのアドレス領域にも指紋や擦り傷があってアドレスデータもエラーになれば、記録も停止されるので、記録ミスとはならない。しかしながら、ＲＵＢのアドレスは１ＲＵＢに３箇所挿入されており且つ、その周波数も２００ＫＨｚと低周波であるため、これらの外乱は受けにくい。
【０００６】
そのため、記録時にアドレスが読めれば、光ディクスの表面に指紋や擦り傷があっても記録されてしまう。すなわち、１ＲＵＢ内に存在する欠陥の数が１ＲＵＢのデータを破綻させる量のものか否かに拘らず順次記録されてしまうという問題がある。また、記録密度が５倍に上がったため、従来あまり問題でなかった記録膜の欠陥で、ＲＦ信号でプラス側に出るΦ１００μｍｍ以下のホワイトスポット（white spot）と呼ばれるものも問題となっている。このホワイトスポットは記録面の欠陥によるもので、図５に示すように反射率が最大１００％にも達する。その他、大きな傷や汚れ等でブラックベルト（black belt）状に反射率が最大０迄低下するもの、ディスク表面に傷や指紋で付くスクラッチ状の小さなもの、塵、傷等単発のものなどがある。
【０００７】
この図５に基づいて欠陥を検出しようとした場合、先願者で共通の方法は、図６に示すようにＲＦ信号をｄｃ結合でとり出し、とり出したＲＦ信号を積分して平均化し、この平均電位（ＡＶＥ）に基づいて負側にある電位シフトした電位を基準電位（ＲＥＦ）として上記した欠陥を検出する（例えば特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平５−２７４８１７号公報（第５頁、第１図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
しかしながら、従来の欠陥検出方法では、記録時の再生ＲＦを利用してのＣＤ−ＲやＭＯディスクの欠陥を検出するため、動作周波数が低く、ブルーレイディスクでの倍速対応ができないという問題があり、また、欠陥検出の感度が低いという問題があった。更に、ディスクの反射率の低下は検出できるが、反射率の増加を検出することは図６の方法では難しくできず、ホワイトスポットなどの欠陥を検出することができなかった。
【０００９】
本発明は前記事情に鑑み案出されたものであって、本発明の目的は、動作周波数を高くしてブルーレイディスクなどの倍速時にもディスクの欠陥を検出でき、また、反射率が増加する欠陥も検出することができるディスク欠陥検出回路、ディスク欠陥検出方法及びディスク欠陥検出回路を搭載した光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明は上記目的を達成するため、書き換え可能な光ディスクの欠陥を検出するディスク欠陥検出回路であって、前記光ディスクの記録時の再生ＲＦ信号と基準電位を比較して前記基準電位以下のＲＦ信号を出力する比較回路と、前記基準電位以下のＲＦ信号の再生区間を確定するモノマルチと、前記基準電位以下のＲＦ信号から前記光ディスクの記録時のイレーズ区間の信号をラッチするラッチ回路と、前記ラッチ回路の出力信号と前記モノマルチの出力信号のノアをとるノア回路とを具備することを特徴とする。
【００１１】
このように本発明では、光ディスクの記録時の再生ＲＦ信号のイレーズ区間のイレーズ信号の有無に対応する２値化信号をラッチ回路により生成し、この２値化信号とＲＦ信号信号の再生区間とのノアをとって光ディスクの欠陥検出信号を得ることにより、動作周波数を高くしてブルーレイディスクなどの４〜５倍速時にもディスクの欠陥を検出でき、また、反射率が増加する欠陥も検出することができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、光ディスクの記録時の再生ＲＦ信号のイレーズ区間のイレーズ信号の有無により光ディスクの欠陥を検出することにより、動作周波数を高くしてブルーレイディスクなどの４〜５倍速時にもディスクの欠陥を検出でき、また、反射率が増加する欠陥も検出することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
動作周波数を高くしてブルーレイディスクなどの４〜５倍速時にもディスクの欠陥を検出でき、また、反射率が増加する欠陥も検出する目的を、光ディスクの記録時の再生ＲＦ信号のイレーズ区間のイレーズ信号の有無に対応する２値化信号を生成し、この２値化信号とＲＦ信号の再生区間とのノアをとって光ディスクの欠陥検出信号を得ることによって実現した。
【実施例１】
【００１４】
図１は本発明の一実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示したブロック図である。光ディスク装置１０１は、ＤＶＤ±Ｒ／ＲＷやＣＤ−Ｒ／ＲＷ、またはブルーレイディスクのような光ディスク１０２を回転駆動するスピンドルモータ１０３、光電変換素子（フォトダイオード）１０４Ａやレーザ光源１０４Ｂを有する光ピックアップ１０４、この光ピックアップ１０４を光ディスク１０２の半径方向に移動する送りモータ１０５、装置全体及び信号処理やサーボ制御などの個別制御を行うシステムコントローラ１０７、信号の変調、復調及びＥＣＣ（エラー訂正符号）の付加、ＥＣＣに基づくエラー訂正処理を行う信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８、スピンドルモータ１０３及び送りモータ１０５を駆動制御するサーボ制御部１０９、外部コンピュータ１３０を接続するためのインターフェース１１１、Ｄ／Ａ，Ａ／Ｄ変換器１１２、オーディオビュジュアル処理部１１３、オーディオビュジュアル信号入出力処理部１１４、光ピックアップ１０４の光電変換素子１０４Ａから出力される各種の信号に基づいてフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ＲＦ信号を増幅し生成するプリアンプ１２０、レーザ光源１０４Ｂを駆動するレーザ制御部１２１、再生時に信号変復調器＆ＥＣＣ部１０８から出力される再生ＲＦ信号を基に同期信号（クロック）を生成するＰＬＬ回路１２２を有し、更に光ディスク１０２の欠陥を検出する欠陥検出回路１０を有している。
【００１５】
図２は図１に示した欠陥検出回路１０の構成を示したブロック図である。欠陥検出回路１０は電流／電圧変換回路（Ｉ／Ｖアンプ）１、イコライザアンプ２、基準レベル発生回路３、比較回路４、リトリガブルモノステーブルマルチバイブレ−タ（モノマルチ）５、遅延回路６、ラッチ回路７、ノア（ＮＯＲ）回路８を有している。
【００１６】
次に本実施の形態の光ディスクの欠陥検出動作について説明する。記録時、光ピックアップ１０４の光電変換素子１０４Ａの受光信号１５０はプリアンプ１２０に入力されると共に、欠陥検出回路１０に入力される。プリアンプ１２０は入力信号からフォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号、ＲＦ信号及び欠陥信号を生成して信号変復調回路１０８に出力し、以降の各種処理により典型的な光ディスク装置の記録時の動作が行われる。  
【００１７】
一方、欠陥検出回路１０の電流／電圧変換回路１は光電変換素子１０４Ａから入力される受光信号１５０を電圧信号（ＲＦ信号）に変換してからイコライザアンプ２により周波数特性を是正した後、比較回路４に出力する。比較回路４はイコライザアンプ２から入力されるＲＦ信号１５１を基準レベル発生回路３から発生される基準電位（ＲＥＦ）８０と比較し、その比較結果をモノモルチ５とラッチ回路７に出力する。
【００１８】
ここで、図３（Ａ）は、基準レベル発生回路３から発生する基準電位８０と光ディスク１０２の表面に発生する欠陥との関係を示した図である。基準電位８０と表面に発生する欠陥との関係は従来と変わらない。しかし、比較回路４では、この基準電位８０とＲＦ信号１５１が比較されるため、上記欠陥によりＲＦ信号１５１が検出できない部分が欠陥として検知されることになる。従って図３（Ｂ）に示すように、比較回路４の出力２００は光ディスク１０１の欠陥によりＲＦ信号１５１が再生されない部分（図中、白い歯抜け部分）がローレベルになる信号となる。
【００１９】
モノモルチ（例えば１０Ｔ以上の時定数）５はこの比較回路４の出力信号２００からＲＦ信号１５１の再生区間を示した信号を生成するもので、図３（Ｄ）に示すような信号（ローレベル部分はＲＦ信号１５１が再生されない区間を示している。）３００をノア回路８に出力する。また、記録時に記録信号を光ディスク１０１に記録する期間を示す図４（Ａ）に示すようなライトパルスゲート信号（図示されない書き込み用プロセッサから出力される）４０が遅延回路６により遅延されてラッチ回路７に動作クロックとして入力される。この遅延回路６は入力信号を遅延させることによりラッチ回路７に入力されるライトパルスゲート信号４０のタイミングを調整して、ラッチ回路７のラッチタイミングがＲＦ信号のイレーズ区間のセンターとなるように調整するものである。
【００２０】
ラッチ回路７は、イレーズ区間のセンターで比較回路４の出力信号２００をラッチし、図３（Ｃ）に示すような信号４００をノア回路８に出力する。ノア回路８はモノマルチ５の出力３００とラッチ回路７の出力４００のノアをとり、図３（Ｅ）に示すような欠陥検出信号５００を出力する。この欠陥検出信号５００はローレベルの部分が光ディスク１０２の欠陥を示している。
【００２１】
次に上記した欠陥検出回路１０の詳細動作について図４を参照して説明する。光ディスク１０２に記録される図４（Ｃ）に示すようなマルチパルス６００は図４（Ａ）に示したライトパルスゲート信号４０と図４（Ｂ）に示したライトパルス６０とにより生成され、このマルチパルス６００がＲＦ信号１５１として再生されて、イコライザアンプ２から比較回路４のＲＦ端子に入力される。
【００２２】
このＲＦ信号１５１が基準レベル発生回路３から発生される基準電位８０と比較され、ＲＦ信号１５１の基準電位８０以下が図４（Ｄ）に示すように比較回路４から出力される。この比較回路４の出力２００はイレーズ区間のセンター（図４（Ｃ）の５０の位置）でラッチ回路７によりラッチされる。従って、図４の例ではラッチ回路７の出力４００は図４（Ｅ）に示すようにハイレベルとなり、欠陥がないことが示される。しかし、欠陥がある場合ではイレーズ区間のイレーズ信号がないため、ラッチ回路７の出力はローレベルとなる。なお、遅延回路６は図４に示したライトパルスゲート信号４０を遅延して、ラッチ回路７が上記したイレーズ信号をラッチできるように、ライトパルスゲート信号のラッチ回路７への入力タイミングを調整している。このラッチ回路７の遅延量はディスク１０２の倍速により調整されるもので、倍速に応じて２００Ｍｂｐｓまでは動作可能である。
【００２３】
本実施の形態によれば、ＲＦ信号１５１を基準電位８０と比較して光ディスク１０２の表面に付けられた欠陥の有無を検出するため、動作周波数が高く、ブルーレイディスクでの４倍速記録時にも対応することができる。また、ＲＦ信号１５１の有無により欠陥を検出しているため、欠陥により反射率が低くなる場合でも、逆に反射率が高くなる場合でも、その欠陥によりＲＦ信号１５１が再生できない場合はこれを欠陥として検出できるため、回路を複雑にすることなくホワイトスポットなどの反射率が高くなる欠陥を回路を複雑にすることなく容易且つ確実に検出することができると共に、欠陥検出の感度を高感度とすることができる。その他、大きな傷や汚れ等でブラックベルト状に反射率が最大０迄低下するもの、ディスク表面に傷や指紋で付くスクラッチ状の小さなもの、塵、傷等単発の欠陥を検出できることは言うまでもない。
【００２４】
尚、本発明は上記実施の形態に限定されることなく、その要旨を逸脱しない範囲において、具体的な構成、機能、作用、効果において、他の種々の形態によっても実施することができる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本発明の一実施の形態に係る光ディスク装置の構成を示したブロック図である。
【図２】図１に示した欠陥検出回路の構成を示したブロック図である。
【図３】図１に示した欠陥検出回路の動作を説明する波形図である。
【図４】図２に示した比較回路とラッチ回路の動作を説明する波形図である。
【図５】従来のディスクの欠陥の種類を説明する図である。
【図６】従来のディスク欠陥検出方法を説明する図である。
【符号の説明】
【００２６】
１……電流／電圧変換回路（Ｉ／Ｖアンプ）、２……イコライザアンプ、３……基準レベル発生回路、４……比較回路、５……リトリガブルモノステーブルマルチバイブレ−タ（モノマルチ）、６……遅延回路、７……ラッチ回路、８……ノア（ＮＯＲ）回路、１０……欠陥検出回路、１０４……光ピックアップ、１０４Ａ……光電変換素子、１０８……信号変復調器＆ＥＣＣ部、１２０……プリアンプ。
【図１】
2006059395.tif 000003
【図２】
2006059395.tif 000004
【図３】
2006059395.tif 000005
【図４】
2006059395.tif 000006
【図５】
2006059395.tif 000007
【図６】
2006059395.tif 000008