(57)【要約】【課題】  回路構成を複雑にすることなくエラー発生率を抑えたデータの読み取りを行うことが可能な光ディスク再生装置を提供すること。【解決手段】  本発明における光ディスク再生装置は、光ディスクから読み取られ、クロックの整数倍の周期を有する信号に基づいてデータ信号を再生する光ディスク再生装置であって、光ディスクから読み取られた信号を二値化した入力信号に基づいて当該クロックを生成するクロック生成手段と、入力信号に含まれる誤差成分を検出する誤差成分検出手段と、閾値を記憶する閾値記憶手段と、誤差成分検出手段により検出された誤差成分と閾値記憶手段に記憶された閾値に基づいて入力信号に含まれるデータ信号を再生するデータ信号再生手段とを備えた光ディスク再生装置である。このような構成により、回路構成を複雑にすることなくエラー発生率を抑えたデータの読み取りを行うことが可能となる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクから読み取られ、クロックの整数倍の周期を有する信号に基づいてデータ信号を再生する光ディスク再生装置であって、
光ディスクから読み取られた信号を二値化した入力信号に基づいて、当該クロックを生成するクロック生成手段と、
前記入力信号に含まれる誤差成分を検出する誤差成分検出手段と、
誤差成分の判定のための閾値を記憶する閾値記憶手段と、
前記誤差成分検出手段により検出された誤差成分と、前記閾値記憶手段に記憶された閾値に基づいて、前記入力信号に含まれるデータ信号を再生するデータ信号再生手段とを備えた光ディスク再生装置。
【請求項２】
前記光ディスク再生装置は、更に、
前記クロック生成手段により生成されたクロックに基づいて当該クロックをＮ相に分割し、Ｎ相クロックを生成するＮ相クロック生成手段を備え、
前記誤差成分検出手段は、前記Ｎ相クロック生成手段により生成されたＮ相クロックに基づいて、当該入力信号に含まれる誤差成分を検出することを特徴とする請求項１記載の光ディスク再生装置。
【請求項３】
前記誤差成分検出手段は、
前記入力信号の立上り及び立下りエッジを検出する検出手段を備えることを特徴とする請求項１または２記載の光ディスク再生装置。
【請求項４】
前記閾値記憶手段に格納される閾値は、書き換え可能であることを特徴とする請求項１、２または３記載の光ディスク再生装置。
【請求項５】
光ディスクから読み取られ、クロックの整数倍の周期を有する信号に基づいてデータ信号を再生する光ディスク再生方法であって、
光ディスクから読み取られた信号を二値化した入力信号に基づいて、当該クロックを生成し、
前記入力信号に含まれる誤差成分を検出し、
検出された誤差成分と閾値を比較し、当該比較結果に応じて前記入力信号に含まれるデータ信号を再生する光ディスク再生方法。
【請求項６】
前記誤差成分の検出は、
生成されたクロックに基づいて当該クロックをＮ相に分割し、
分割されたクロックに基づいて当該入力信号に含まれる誤差成分を検出することを特徴とする請求項５記載の光ディスク再生方法。
【請求項７】
前記誤差成分の検出は、
前記入力信号の立上り及び立下りエッジを検出し、
検出した前記立上り及び立下りエッジに基づいて誤差成分を決定することを特徴とする請求項５または６記載の光ディスク再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク再生装置及び光ディスク再生方法に関するものであり、より詳細には、二値化した入力信号の再生を行う光ディスク再生装置及び光ディスク再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスクは近年、小型化及び記録情報の高密度化が要求されている。その対応方法として、エッジ記録方式が提案されている。
【０００３】
エッジ記録方式とは、記録データが１と０からなる２値符号列である場合、値が１のビットで光強度を反転させ、記録光ビーム発光パターンを作成し、これを光ディスクに照射する記録方式である。
【０００４】
このようなエッジ記録方式は、エッジの位置が重要であり、再生時にはエッジの位置が変化することなく読み取りを行う必要がある。
【０００５】
しかしながら、レーザーの照射パワーや、ディスク面の傾きなど様々な要因により読み取りを行うときには誤差が生じてしまい、正しくデータを再生できないことがあった。
【０００６】
そのため、エラー訂正機能を備えるなどの読み取り後の対応も行われるようになったが、最も重要なのは、読み取り時の誤差を最小限に抑えることである。
【０００７】
その方法として、エッジ検出時にパルス幅を計測し、計測結果に反比例してパルス幅を短くする手法が提案されている（例えば、特許文献１など）。この手法は、読み取られた信号のパルス幅が実際のデータのパルス幅よりも長くなることが多い状況に対応するために考えられた手法であるが、記録されたデータよりも短いパルス幅が計測された場合に補正することはできないという問題点があった。
【０００８】
また、エッジの両端を検出し、より正確にデータを読み取る両エッジ検出方式も提案されている（例えば、特許文献２など）。しかしながら、この方式は、エッジの立上りと立下りの両方を検出しなければならず、回路構成が複雑になるという問題点があった。
【特許文献１】特開平５−８１６７８号公報
【特許文献２】特開平７−１６９０５９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
このように、従来の光ディスク再生方法は、記録されたデータよりも短いパルス幅が計測された場合に補正することはできないという問題点があった。また、両エッジ検出方式は回路構成が複雑になってしまうという問題点があった。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明における光ディスク再生装置は、光ディスクから読み取られ、クロックの整数倍の周期を有する信号に基づいてデータ信号を再生する光ディスク再生装置であって、光ディスクから読み取られた信号を二値化した入力信号に基づいて、当該クロックを生成するクロック生成手段と、前記入力信号に含まれる誤差成分を検出する誤差成分検出手段と、誤差成分の判定のための閾値を記憶する閾値記憶手段と、前記誤差成分検出手段により検出された誤差成分と、前記閾値記憶手段に記憶された閾値に基づいて、前記入力信号に含まれるデータ信号を再生するデータ信号再生手段とを備えた光ディスク再生装置である。このような構成により、閾値に基づいてデータを修正することができるので、回路構成を複雑にすることなくエラー発生率を抑えたデータの読み取りを行うことが可能となる。
【００１１】
本発明における光ディスク再生方法は、光ディスクから読み取られ、クロックの整数倍の周期を有する信号に基づいてデータ信号を再生する光ディスク再生方法であって、光ディスクから読み取られた信号を二値化した入力信号に基づいて、当該クロックを生成し、前記入力信号に含まれる誤差成分を検出し、検出された誤差成分と閾値を比較し、当該比較結果に応じて前記入力信号に含まれるデータ信号を再生する光ディスク再生方法である。このような構成により、閾値に基づいてデータを修正することができるので、回路構成を複雑にすることなくエラー発生率を抑えたデータの読み取りを行うことが可能となる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、回路構成を複雑にすることなく、記録されたデータよりも長いパルス幅のデータも短いパルス幅のデータも補正可能にすることにより、エラー発生率を抑えたデータの読み取りを行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
発明の実施の形態１．
図１は、本発明の実施の形態１における光ディスク再生装置のデータ入力部の構成を示すブロック図である。本発明における光ディスク再生装置１は、ＰＬＬ１０、Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１、閾値設定レジスタ１２、Ｔ判定回路１３、スペース／ピット境界決定回路１４、デコード回路１５を備える。
【００１４】
ＰＬＬ１０は、２値化されたＲＦ信号に基づいて読み出し用のクロックを生成するクロック生成手段である。Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１は、読み出し用クロックに基づいて２値化ＲＦ信号のＨｉ幅及びＬｏｗ幅を測定する回路である。具体的な測定方法については後述する。
【００１５】
閾値設定レジスタ１２は、Ｔ判定回路１３において判定に利用するための閾値を記録するためのレジスタである。ここで記録される閾値は、予め定められた値を固定値としてもっていてもよいし、外部から書き換え可能にしてもよい。
【００１６】
Ｔ判定回路１３は、Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１により測定されたＨｉ幅／Ｌｏｗ幅を閾値設定レジスタ１２により設定された値に基づいて判定を行う回路である。具体的な判定方法については後述する。
【００１７】
スペース／ピット境界決定回路１４は、２値化されたＲＦ信号及びＴ判定回路１３の判定結果に基づいて再生用データの決定を行う回路である。決定したデータは接続したデコード回路１５に出力されてデコードが行われる。
【００１８】
デコード回路１５は、スペース／ピット境界決定回路１４の決定したデータに基いてデコードを行う回路である。デコードの方法は、エンコード時の方式に準拠する。このとき、デコード回路１５がエラー訂正機能を備えるようにしてもよい。こうすることにより、データエラーの発生を抑制することが可能となる。
【００１９】
続いて、図２に示すフローチャートを用いて、本発明における光ディスク再生装置のデータ決定時の処理の流れについて説明する。
【００２０】
まず、ピックアップ（図示しない）が光ディスクの記録面の読み取りを行い、ＲＦアンプ（図示しない）により補正が行われ、２値化されたＲＦ信号となりＰＬＬ１０、Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１、スペース／ピット境界決定回路１４に対して出力される（Ｓ１１）。
【００２１】
ＰＬＬ１０は、２値化されたＲＦ信号を入力すると、２値化ＲＦ信号のＲｉｓｅエッジに対してＦａｌｌエッジが同期したクロックを生成する（Ｓ１２）。この時のクロック周波数は予め定められており、理想的なＲＦ信号が入力された場合、ＲＦ信号のＨｉ幅／Ｌｏｗ幅は、ＰＬＬ１０が生成するクロックのクロック周期の整数倍となる。ところが実際には入力されたＲＦ信号のＨｉ幅／Ｌｏｗ幅はクロック周期の整数倍とならない場合が多い。これは、レーザーの照射パワーや、ディスク面の傾きなど様々な要因により読み取りを行うときに誤差が生じるのが原因である。
【００２２】
ＰＬＬ１０は、クロックを生成すると、生成したクロックをＨｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１、スペース／ピット境界決定回路１４に対して出力する。Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１は、入力したＲＦ信号が入力したクロックの何倍であるかを測定する（Ｓ１３）。測定の方法については後述する。測定は１クロックの１／Ｎ（Ｎは２以上の整数）単位で行われる。例えばＮが１６の場合は、クロックの周期をＴとすると、Ｈｉ幅は３Ｔ＋３／１６Ｔのように１／１６Ｔ単位で測定される。この３／１６Ｔなどの１クロック周期よりも短い部分が誤差成分となる。
【００２３】
Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１は、入力したＲＦ信号が入力したクロックの何倍であるかを測定すると、測定結果をＴ判定回路１３に対して出力する。Ｔ判定回路１３は、Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１から測定結果を入力すると、閾値設定レジスタ１２に格納された閾値に基づいて測定結果の判定を行う（Ｓ１４）。
【００２４】
Ｔ判定回路１３による判定は以下のようにして行う。図３は、本発明におけるＴ判定回路の処理の流れを示すタイミングチャートである。まず、Ｔ判定回路１３がＨｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１から入力した測定結果が３Ｔ＋８／１６Ｔであるとする。このとき、閾値設定レジスタ１２に格納された閾値が１０／１６Ｔであるとすると、Ｔ判定回路１３は、入力した測定結果の分数部分である８／１６Ｔと閾値の１０／１６Ｔを比較する。比較の結果、８／１６Ｔ<１０／１６Ｔであるから、判定結果は３Ｔとなる。
【００２５】
また、Ｔ判定回路１３がＨｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１から入力した測定結果が４Ｔ＋１４／１６Ｔである場合は、Ｔ判定回路１３は、入力した測定結果の分数部分である１４／１６Ｔと閾値の１０／１６Ｔを比較し、１４／１６Ｔ>１０／１６Ｔであるから、判定結果を５Ｔとする。
【００２６】
Ｔ判定回路１３による判定が完了するとＴ判定回路１３は、判定結果をスペース／ピット境界決定回路１４に対して出力する。スペース／ピット境界決定回路１４は、Ｔ判定回路１３から判定結果を入力すると、入力した判定結果とＲＦ信号から最終的なデータを決定する（Ｓ１５）。スペース／ピット境界決定回路１４は、決定したデータをデコード回路１５に対して出力する。
【００２７】
デコード回路１５は、決定したデータをスペース／ピット境界決定回路１４から入力すると、入力したデータのデコード処理を行う（Ｓ１６）。このとき、デコード回路１５がエラー訂正処理を備え、エラー訂正を行った後にデコードを行うようにしてもよいが、上述のように閾値に基づいてＴ判定を行い最終的なデータを決定するため、エラー発生率は従来の方法に比べて低下しており、訂正の回数を抑えることが可能となる。デコードが行われたデータは、デコード回路１５より接続された再生手段（図示しない）により再生される。
【００２８】
図４は、本発明における光ディスク再生装置の処理の流れを示すタイミングチャートである。ＲＦ信号のＨｉ幅／Ｌｏｗの測定結果が図４に示すような値であったとすると、修正なしの場合は、出力データは出力１のように４Ｔ、３Ｔ、５Ｔとなる。ここでは、更にＲＦ信号のＲｉｓｅに応じてリセットされ、ＣＬＫのＲｉｓｅに応じてカウントされるカウンタを利用する。このカウンタの値とＴ判定回路１３による判定結果が一致するところでＦａｌｌが行われる。このように修正を行うことにより、修正後の出力データは出力２のように３Ｔ、４Ｔ、５Ｔとなる。このように、記録されたデータよりも短いパルスが計測された場合、データよりも長いパルスが計測された場合の何れにおいても、データを適正なパルス幅に修正することができる。
【００２９】
続いて、Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１によるＲＦ信号の測定方法について具体的に説明する。
【００３０】
Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１は、周期が同じで位相が３６０度／ＮずつずれたＮ種類のクロックを用いて測定を行う。ここではＮ＝１６とするが、Ｎの値は特に限定されない。ただし、回路構成を考えると、Ｎの値は２，４，８，１６，３２など２の累乗であることが好ましい。この１６種類のクロックをそれぞれＣＬＫ１〜ＣＬＫ１６とする。ＣＬＫ１〜ＣＬＫ１６は、内部でクロック生成回路を備えて生成するようにしてもよいし、外部から入力するようにしてもよい。
【００３１】
図５は、本発明におけるＨｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１の構成例を示す図である。Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１は、ＦＦ１１０、Ｈｉ幅カウンタ１１１、Ｌｏｗ幅カウンタ１１２、ＲｉｓｅエッジＦａｌｌエッジ検出回路１１３、Ｈｉ幅&Ｌｏｗ幅演算回路１１４を備える。
【００３２】
ＦＦ１１０は、それぞれＣＬＫ１〜ＣＬＫ１６の一つ及びＲＦ信号を入力し、入力信号のＨｉ、Ｌｏｗに応じた演算を行う。Ｈｉ幅カウンタ１１１、Ｌｏｗ幅カウンタ１１２は、基準クロック、例えばＣＬＫ１を入力し、それぞれＨｉ幅、Ｌｏｗ幅のカウントを行う。カウント方法はエッジのＲｉｓｅ、Ｆａｌｌ毎に行われる。ＲｉｓｅエッジＦａｌｌエッジ検出回路１１３は、ＦＦ１１０の演算結果を入力し、ＲＦ信号のＲｉｓｅエッジ、ＦａｌｌエッジがＣＬＫ１〜ＣＬＫ１６のどのＲｉｓｅエッジの間にあるかを検出する。Ｈｉ幅&Ｌｏｗ幅演算回路１１４は、Ｈｉ幅カウンタ１１１、Ｌｏｗ幅カウンタ１１２、ＲｉｓｅエッジＦａｌｌエッジ検出回路１１３の結果を入力し、Ｈｉ幅及びＬｏｗ幅の演算を行う。
【００３３】
Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１は、ＣＬＫ１〜ＣＬＫ１６のクロックを利用して入力したＲＦ信号のＲｉｓｅエッジ及びＦａｌｌエッジを測定する。図６は本発明におけるＨｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１の動作の流れを示すタイミングチャートである。例えば、図６の例では、ＲＦ信号のＲｉｓｅエッジはＣＬＫ８のＲｉｓｅエッジとＣＬＫ９のＲｉｓｅエッジの間にあるためＲｉｓｅエッジ検出回路は「８」と判定する。また、ＲＦ信号のＦａｌｌエッジは、ＣＬＫ１４のＲｉｓｅエッジとＣＬＫ１５のＲｉｓｅエッジの間にあるためＦａｌｌエッジ検出回路は「１４」と判定する。
【００３４】
また、Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１はカウンタも備えており、ＣＬＫ１の立上りに応じてカウンタの値を増加させる。図６の例では、ＲＦ信号の立上りから立下りの間にカウンタの値は「３」となる。
【００３５】
Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１は、これらの値を利用してＲＦ信号の測定を行う。図６の例では、カウンタの値「３」と、Ｒｉｓｅエッジ検出回路の値「８」と、Ｆａｌｌエッジ検出回路の値「１４」からＨｉ幅の値を測定する。
【００３６】
Ｈｉ幅の値は、図６に示すａ，ｂ，ｃを用いると、ａ＋ｂ−ｃという式で表すことができる。ここで、図６の例の場合、Ｒｉｓｅエッジ検出回路の値は「８」であるから、ａは１Ｔ−８／１６Ｔとなる。ｂは、カウンタの値が「３」であることから、ｂは３Ｔとなる。ｃは、Ｆａｌｌエッジ検出回路の値が「１４」であることから、ｃは１Ｔ−１４／１６Ｔとなる。これらの値からａ＋ｂ−ｃを計算すると、３Ｔ＋６／１６Ｔとなる。つまり、Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路１１は、Ｈｉ幅の値を３Ｔ＋６／１６Ｔと測定することが可能となる。
【００３７】
発明の実施の形態２．
上述の例では、Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路が測定に利用する１６種類のクロックは、ＰＬＬから入力したクロックに基づいて生成していたが、１６種類のクロックは、特にＰＬＬの生成するクロックと同期を取る必要がない。そのため、本発明における光ディスク再生装置は、図７のような構成をとることも可能である。
【００３８】
図７は、本発明の実施の形態２における光ディスク再生装置のデータ入力部の構成を示すブロック図である。本発明における光ディスク再生装置２は、ＰＬＬ２０、Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路２１、閾値設定レジスタ２２、Ｔ判定回路２３、スペース／ピット境界決定回路２４、デコード回路２５、水晶発振器２６、ＰＬＬ２７を備える。
【００３９】
ＰＬＬ２０は、２値化されたＲＦ信号に基づいて読み出し用のクロックを生成するクロック生成手段である。Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路２１は、読み出し用クロックに基づいて２値化ＲＦ信号のＨｉ幅及びＬｏｗ幅を測定する回路である。具体的な測定方法については発明の実施の形態１と同様である。
【００４０】
閾値設定レジスタ２２は、Ｔ判定回路２３において判定に利用するための閾値を記録するためのレジスタである。ここで記録される閾値は、予め定められた値を固定値としてもっていてもよいし、外部から書き換え可能にしてもよい。
【００４１】
Ｔ判定回路２３は、Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路２１により測定されたＨｉ幅／Ｌｏｗ幅を閾値設定レジスタ２２により設定された値に基づいて判定を行う回路である。具体的な判定方法については発明の実施の形態１と同様である。
【００４２】
スペース／ピット境界決定回路２４は、２値化されたＲＦ信号及びＴ判定回路２３の判定結果に基づいて再生用データの決定を行う回路である。決定したデータは接続したデコード回路２５に出力されてデコードが行われる。
【００４３】
デコード回路２５は、スペース／ピット境界決定回路２４の決定したデータに基いてデコードを行う回路である。デコードの方法は、エンコード時の方式に準拠する。このとき、デコード回路２５がエラー訂正機能を備えるようにしてもよい。こうすることにより、データエラーの発生を抑制することが可能となる。
【００４４】
水晶発振器２６は、ＰＬＬ２７にクロックの供給を行う。
【００４５】
ＰＬＬ２７は、周期が同じで位相が３６０度／ＮずつずれたＮ種類のクロックの生成を行う。この時のクロック周波数は、水晶発振器２６のクロックに基づいて、ＰＬＬ２０の生成するクロックと同一の周波数になるように生成される。
【００４６】
続いて、図８に示すフローチャートを用いて、本発明における光ディスク再生装置のデータ決定時の処理の流れについて説明する。
【００４７】
まず、ピックアップ（図示しない）が光ディスクの記録面の読み取りを行い、ＲＦアンプ（図示しない）により補正が行われ、２値化されたＲＦ信号となりＰＬＬ２０、Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路２１、スペース／ピット境界決定回路２４に対して出力される（Ｓ２１）。
【００４８】
ＰＬＬ２０は、２値化されたＲＦ信号を入力すると、２値化ＲＦ信号のＲＩＳＥエッジに対してＦＡＬＬエッジが同期したクロックを生成する（Ｓ２２）。この時のクロック周波数は予め定められており、理想的なＲＦ信号が入力された場合、ＲＦ信号のＨｉ幅／Ｌｏｗ幅は、クロック周期の整数倍となる。ところが実際には入力されたＲＦ信号のＨｉ幅／Ｌｏｗ幅はクロック周期の整数倍とならない場合が多い。これは、レーザーの照射パワーや、ディスク面の傾きなど様々な要因により読み取りを行うときに誤差が生じるのが原因である。
【００４９】
ＰＬＬ２０は、クロックを生成すると、生成したクロックをスペース／ピット境界決定回路１４に対して出力する。また、ＰＬＬ２７は、水晶発振器２６の生成するクロックを入力し、周期が同じで位相が３６０度／ＮずつずれたＮ種類のクロックの生成を行う（Ｓ２３）。ここではＮの値を１６とする。ＰＬＬ２７は、生成したクロックをＨｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路２１に対して出力する。
【００５０】
Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路２１は、入力したＲＦ信号が入力したクロックの何倍であるかを測定する（Ｓ２４）。測定の方法については後述する。測定は１クロックの１／Ｎ（Ｎは２以上の整数）単位で行われる。例えばＮが１６の場合は、クロックの周期をＴとすると、Ｈｉ幅は３Ｔ＋３／１６Ｔという範囲で測定される。
【００５１】
Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路２１は、入力したＲＦ信号が入力したクロックの何倍であるかを測定すると、測定結果をＴ判定回路２３に対して出力する。Ｔ判定回路２３は、Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路２１から測定結果を入力すると、閾値設定レジスタ２２に格納された閾値に基づいて測定結果の判定を行う（Ｓ２５）。
【００５２】
Ｔ判定回路２３による判定が完了するとＴ判定回路２３は、判定結果をスペース／ピット境界決定回路２４に対して出力する。スペース／ピット境界決定回路２４は、Ｔ判定回路２３から判定結果を入力すると、入力した判定結果とＲＦ信号から最終的なデータを決定する（Ｓ２６）。スペース／ピット境界決定回路２４は、決定したデータをデコード回路２５に対して出力する。
【００５３】
デコード回路２５は、決定したデータをスペース／ピット境界決定回路１４から入力すると、入力したデータのデコード処理を行う（Ｓ２７）。このとき、デコード回路２５がエラー訂正処理を備え、エラー訂正を行った後にデコードを行うようにしてもよいが、上述のように閾値に基づいてＴ判定を行い最終的なデータを決定するため、エラー発生率は従来の方法に比べて低下しており、訂正の回数を抑えることが可能となる。デコードが行われたデータは、デコード回路１５より接続された再生手段（図示しない）により再生される。
【００５４】
その他の発明の実施の形態．
上述の例では、Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路が測定に利用するクロックは全て同一周波数であったが、これをＲｉｓｅエッジが全て同期しており、Ｆａｌｌエッジの位相が異なるクロックにより測定を行うようにしてもよい。
【００５５】
以上の説明ではＨｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路はクロックのＲｉｓｅエッジを用いてＲＦ信号のＲｉｓｅエッジおよびＦａｌｌエッジを検出してきたが、クロックのＲｉｓｅエッジの代わりにクロックのＦａｌｌエッジを用いてＲＦ信号の各エッジを検出するように構成してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明における光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明における光ディスク再生装置の処理の流れを示すフローチャートである。
【図３】本発明におけるＴ判定回路の処理の流れを示すタイミングチャートである。
【図４】本発明における光ディスク再生装置の処理の流れを示すタイミングチャートである。
【図５】本発明におけるＨｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路の構成を示すブロック図である。
【図６】本発明におけるＨｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路の動作の流れを示すタイミングチャートである。
【図７】本発明における光ディスク再生装置の構成を示すブロック図である。
【図８】本発明における光ディスク再生装置の処理の流れを示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００５７】
１      光ディスク再生装置
１０    ＰＬＬ
１１    Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路
１１０  ＦＦ
１１１  Ｈｉ幅カウンタ
１１２  Ｌｏｗ幅カウンタ
１１３  ＲｉｓｅエッジＦａｌｌエッジ検出回路
１１４  Ｈｉ幅&Ｌｏｗ幅演算回路
１２    閾値設定レジスタ
１３    Ｔ判定回路
１４    スペース／ピット境界決定回路
１５    デコード回路
２      光ディスク再生装置
２０    ＰＬＬ
２１    Ｈｉ幅／Ｌｏｗ幅測定回路
２２    閾値設定レジスタ
２３    Ｔ判定回路
２４    スペース／ピット境界決定回路
２５    デコード回路
２６    水晶発信器
２７    ＰＬＬ
【図１】
2006236404.tif 000003
【図２】
2006236404.tif 000004
【図３】
2006236404.tif 000005
【図４】
2006236404.tif 000006
【図５】
2006236404.tif 000007
【図６】
2006236404.tif 000008
【図７】
2006236404.tif 000009
【図８】
2006236404.tif 000010