(57)【要約】【課題】  光記録媒体の再生耐久性の評価が短時間で精度高く評価することができる光記録媒体の評価方法を提供する。【解決手段】  記録層を記録動作温度に加熱するための動作レーザパワーを求めることと、データ再生時に所定の再生レーザパワーのレーザビームを照射した際の記録層の温度を、データ再生時の周囲温度及び再生レーザパワー並びに動作レーザパワーに基づいて求めることと、データ再生時の再生レーザパワーと再生耐久回数との関係を求めることと、データ再生時の再生レーザパワーと再生耐久回数との関係からデータ再生時の記録層の温度と上記再生耐久回数との関係を求めることとを含む光記録媒体の評価方法を提供することにより上記課題を解決する。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録層を備え、レーザビームを照射して情報を再生する光記録媒体の再生耐久性を評価する方法であって、
上記記録層を記録動作温度に加熱するための動作レーザパワーを求めることと、
データ再生時に所定の再生レーザパワーのレーザビームを照射した際の記録層の温度を、データ再生時の周囲温度及び再生レーザパワー並びに上記動作レーザパワーに基づいて求めることと、
上記データ再生時の再生レーザパワーと再生耐久回数との関係を求めることと、
上記データ再生時の再生レーザパワーと再生耐久回数との関係から上記データ再生時の記録層の温度と上記再生耐久回数との関係を求めることと、
上記記録層の温度と再生耐久回数との関係から、所望の周囲温度及び所望の再生レーザパワーの少なくとも一方における再生耐久回数を求めることを含む光記録媒体の評価方法。
【請求項２】
上記所望の周囲温度及び所望の再生レーザパワーの少なくとも一方における再生耐久回数を求めることが、上記データ再生時の記録層の温度及び再生耐久回数に基づいてアレニウスプロットを行うことを含むことを特徴とする請求項１に記載の光記録媒体の評価方法。
【請求項３】
上記記録層の記録動作温度をＴｍとし、上記動作レーザパワーをＰｍとし、上記動作レーザパワーＰｍを求めた際の周囲温度をＴｃとし、上記データ再生時の周囲温度をＴｔとし、且つ、上記データ再生時の再生レーザパワーをＰｒとしたとき、上記データ再生時の上記記録層の温度Ｔｒが、
Ｔｒ＝（Ｐｒ×（Ｔｍ−Ｔｃ）／Ｐｍ）＋Ｔｔ
の関係式から求めることを特徴とする請求項１または２に記載の光記録媒体の評価方法。
【請求項４】
上記記録層の記録動作温度が上記記録層の融点であることを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の光記録媒体の評価方法。
【請求項５】
上記記録層の記録動作温度が上記記録層の分解点であることを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の光記録媒体の評価方法。
【請求項６】
上記記録層の記録動作温度が上記記録層のキュリー点であることを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の光記録媒体の評価方法。
【請求項７】
上記動作レーザパワーが、レーザパワーに対する上記光記録媒体の反射率の変化特性から求められ、該変化特性の上記光記録媒体の反射率が変化しはじめるレーザパワーであることを特徴とする請求項４または５に記載の光記録媒体の評価方法。
【請求項８】
上記動作レーザパワーが、レーザパワーに対する上記光記録媒体の磁化方向の変化特性から求められ、該変化特性の上記光記録媒体の磁化方向が変化しはじめるレーザパワーであることを特徴とする請求項６に記載の光記録媒体の評価方法。
【請求項９】
上記動作レーザパワーが、レーザパワーに対する上記光記録媒体の反射率または磁化方向の変化特性から求められ、上記記録層の温度が上記記録動作温度より高い状態に相当する該変化特性のレーザパワー領域における複数の反射率または磁化方向の値に基づいて求められることを特徴とする請求項１〜８のいずれか一項に記載の光記録媒体の評価方法。
【請求項１０】
記録層を備え、レーザビームを照射して情報を再生する光記録媒体の再生耐久性を評価する方法であって、
上記記録層を動作点温度に加熱するための動作レーザパワーを求めることと、
複数の再生レーザパワーにおける再生耐久回数を求めることと、
各再生レーザパワーにおける記録層の温度を、各再生レーザパワー及び各再生レーザパワーを照射した際の周囲温度並びに上記動作レーザパワーに基づいて求めることと、
上記複数の再生レーザパワーにおける上記再生耐久回数と上記記録層の温度とに基づいてアレニウスプロットを行うことと、
上記アレニウスプロットの結果に基づいて、所望の周囲温度及び所望の再生レーザパワーの少なくとも一方における再生耐久回数を求めることとを含む光記録媒体の評価方法。
【請求項１１】
さらに、上記所望の周囲温度及び所望の再生レーザパワーの少なくとも一方における再生耐久回数を保証し得る再生レーザパワーの最大値を求めることを含む請求項１〜１０のいずれか一項に記載の光記録媒体の評価方法。
【請求項１２】
請求項１１に記載の光記録媒体の評価方法により求められた上記再生レーザパワーの最大値に関する情報が予め記録されていることを特徴とする光記録媒体。
【請求項１３】
上記光記録媒体に複数の記録速度に関する情報が記録されており、上記再生レーザパワーの最大値に関する情報が記録速度毎に記録されていることを特徴とする請求項１２に記載の光記録媒体。
【請求項１４】
請求項１１に記載の光記録媒体の評価方法により求められた上記再生レーザパワーの最大値に関する情報と、該再生レーザパワーの最大値を求めた際の記録速度に関する情報とが予め記録されている光記録媒体にレーザビームを照射して情報の記録再生を行なう情報記録再生装置であって、
上記再生レーザパワーの最大値に関する情報及び上記記録速度に関する情報を読み出す情報処理部と、
情報再生時の再生レーザパワーを上記再生レーザパワーの最大値以下に設定する制御部とを備え、
上記制御部が、上記記録速度に応じて、上記情報再生時の再生レーザパワーを変化させることを特徴とする情報記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザビームの照射により情報記録が可能な光記録媒体の再生耐久性を評価する方法、光記録媒体及び情報記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｖｉｄｅｏ等の再生専用型光ディスク市場が拡大している。また、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒといった追記型、あるいはＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷといった書き換え可能なＤＶＤディスクも市場に投入され、コンピュータ用バックアップ媒体、ＶＴＲに代わる映像記録媒体として、ＤＶＤの市場が拡大しつつある。また、光磁気（ＭＯ）ディスクでは、高密度化技術として磁気超解像技術が用いられ、今後、さらに高密度化に拍車がかかり市場の拡大が見込まれる。
【０００３】
上述のような光記録媒体では、記録層にレーザ光を集光して、光エネルギーを熱エネルギーに変換し、融解、分解、除去等によって記録層の性状（性質及び状態）を変化させる、あるいは、磁化の方向を変化させることにより記録を行なう。そして、記録部と未記録部の性状の違い、例えば反射光量の違いや磁化の方向の違いを利用して再生を行なう。通常、再生時のレーザパワーは記録マークの性状、または、磁化の方向に影響を与えない低いパワーであるが、繰り返し再生を行なうことにより、記録マークの性状の劣化、または、磁化の方向の変化が起こる。それゆえ、このような実用レベルの再生レーザパワーで再生耐久性を保証することは非常に重要である。しかしながら、例えば、再生耐久性として再生回数を１００万回保証するためには、実際に１００万回の繰り返し再生を行なう必要がある。それゆえ、光記録媒体を再生するための適切な再生レーザパワーを求める場合、あるいは、再生耐久性を確保する光記録媒体もしくは情報記録再生装置の開発を行なう場合には、膨大な数の繰り返し再生試験を行なう必要がある。
【０００４】
従来、光記録媒体の再生耐久性を精度良く且つ短時間で評価する方法として、加速試験方法がある（例えば、特許文献１を参照）。この試験方法では、まず、通常の情報再生時に用いられる再生パワーより高い再生パワーで再生耐久回数を複数点調べる。次いで、その結果を用いて、再生耐久回数の常用対数と再生パワーの関係式を最小二乗法によって一次の近似式として求め、この近似式から任意の再生パワーにおける再生耐久回数を推定する。
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−００６９４１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
光記録媒体の世界標準化を推進する欧州電子計算機学会（ＥＣＭＡ：Ｅｕｒｏｐｅａｎ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ  Ｍａｎｕｆａｃｔｕｒｅｒｓ  Ａｓｓｏｃｉａｔｉｏｎ）が要求する光ディスクの保証動作環境は、高温に関して記載すると、ＭＯは５０℃（ＥＣＭＡ−１５４）、ＤＶＤ−ＲＡＭは６０℃（ＥＣＭＡ−２７２）、ＤＶＤ＋ＲＷは５５℃（ＥＣＭＡ−２７４）、ＤＶＤ−Ｒは５５℃（ＥＣＭＡ−２７９）である。つまり、上記光記録媒体に対しては、室温環境のみならず、５０℃〜６０℃の高温環境において所定の再生耐久性を保障することが必要であり、高温環境における再生耐久試験を行なうことも非常に重要である。
【０００７】
本発明者らが、高温環境における光記録媒体の再生耐久性に関し鋭意検討を行なった結果、上記特許文献１の技術では、２５℃前後の室温における光記録媒体の再生耐久性を評価することは可能であったが、ＥＣＭＡが要求する５０℃〜６０℃のような高温における再生耐久性を正確に評価することができなかった。本発明は、上記問題点を解決するためになされたものであり、本発明の目的は、光記録媒体のデータを再生する時に、所望の温度及び所望の再生レーザパワーにおける再生耐久性を、簡便な方法で短時間に精度良く評価する方法を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明の第１の態様に従えば、記録層を備え、レーザビームを照射して情報を再生する光記録媒体の再生耐久性を評価する方法であって、上記記録層を記録動作温度に加熱するための動作レーザパワーを求めることと、データ再生時に所定の再生レーザパワーのレーザビームを照射した際の記録層の温度を、データ再生時の周囲温度及び再生レーザパワー並びに上記動作レーザパワーに基づいて求めることと、上記データ再生時の再生レーザパワーと再生耐久回数との関係を求めることと、上記データ再生時の再生レーザパワーと再生耐久回数との関係から上記データ再生時の記録層の温度と上記再生耐久回数との関係を求めることと、上記記録層の温度と再生耐久回数との関係から、所望の周囲温度及び所望の再生レーザパワーの少なくとも一方における再生耐久回数を求めることを含む光記録媒体の評価方法が提供される。
【０００９】
本発明の光記録媒体の評価方法では、上記所望の周囲温度及び所望の再生レーザパワーの少なくとも一方における再生耐久回数を求めることが、上記データ再生時の記録層の温度及び再生耐久回数に基づいてアレニウスプロットを行うことを含むことが好ましい。
【００１０】
本発明者らが、高温環境における光記録媒体の再生耐久性に関し鋭意検討を行なった結果、室温で行なった再生耐久性と高温で行なった再生耐久性とが大きく異なることが判明した。それゆえ、上述のように、上記特許文献１の評価方法では、２５℃前後の室温における光記録媒体の再生耐久性を評価することは可能であるが、ＥＣＭＡが要求する５０℃〜６０℃のような高温における再生耐久性を評価することはできないことが分かった。これは、上記特許文献１の評価方法では、再生耐久性の温度依存性が全く考慮されていないためである。本発明者らの検討結果では、５０℃〜６０℃のような高温環境で求めた再生耐久性は、２５℃前後の室温で求めた再生耐久性と比較して、はるかに低くなることが判明した。それゆえ、光記録媒体の再生耐久性を保証するにあたり、データを再生する環境の温度（周囲温度）を考慮することは重要である。
【００１１】
上述の課題を解決する方法として、光記録媒体および情報記録再生装置を５０℃〜６０℃のような高温の環境下で長時間試験を行う方法が考えられる。しかしながら、この方法では評価系統自体の劣化を伴うことから、経済的に考えても事実上困難である。
【００１２】
また、本発明者らは、再生耐久性の評価では再生速度も重要であることを見出した。例えば、ＤＶＤでは標準速から１６倍速まで再生速度は可変であり、１６倍速では標準速の再生レーザパワーより高い再生レーザパワーでレーザビームを照射する必要がある。すなわち、標準速において１ｍＷ程度の再生レーザパワーで所定の再生耐久回数の繰り返し再生が可能であったとしても、１６倍速では標準速より高い再生レーザパワーで繰り返し再生するので、１６倍速における再生耐久性は標準速のそれより著しく低下することが判明した。以上のことから、光記録媒体の再生耐久性を評価する際には、使用環境の温度と再生速度（すなわち、再生レーザパワー）の両面に渡って評価する必要があることが分かった。
【００１３】
本発明の光記録媒体の評価方法では、まず、所定の周囲温度及び所定の再生レーザパワーでデータ再生した際の記録層の温度を、該周囲温度及び該再生レーザパワー並びに記録層を記録動作温度に加熱するためのレーザパワー（動作レーザパワー）に基づいて求める。また、データ再生時の再生レーザパワーにおける再生耐久回数を求める。求められたデータ再生時の記録層の温度及び再生耐久回数との間にはアレニウスの式を導入することが可能であり、反応速度（再生耐久回数に対応する）の対数値が温度の逆数（１／Ｔ）に比例するという関係が成立する。それゆえ、例えば、記録層の温度及び再生耐久回数を、種々の周囲温度及び／または種々の再生レーザパワーの条件で求め、その結果を用いてアレニウスプロットを行い、記録層の温度と再生耐久回数との関係を求め、この関係から所望の記録層の温度における光記録媒体の再生耐久回数を求めることができる。
【００１４】
上述のように、本発明の光記録媒体の評価方法では、記録層の温度を求める際に、周囲温度及び再生レーザパワーを考慮しており、環境温度及び高パワー再生の条件を記録層の温度の条件として捉えている。すなわち、本発明の光記録媒体の評価方法では、周囲温度及び／または再生レーザパワーを記録層の温度に換算して再生耐久性を評価している。それゆえ、本発明の光記録媒体の評価方法では、求めた記録層の温度と光記録媒体の再生耐久回数の関係から、任意の周囲温度及び／または任意の再生レーザパワーにおける再生耐久回数を求める（推定する）ことが可能であり、使用環境の温度と再生速度（再生レーザパワー）の両面に渡った評価を効率的に行なうことができる。それゆえ、本発明の光記録媒体の評価方法では、所望の使用環境における再生耐久性を容易に且つ高精度に評価することができる。
【００１５】
なお、再生耐久回数を求める際の評価パラメータとしては、ジッタ値、エラーレート、信号の振幅、Ｓ／Ｎ、アシンメトリ等から任意の閾値を設定して用いることができる。
【００１６】
また、再生レーザパワーに関して、一般に、半導体レーザを使用した光ピックアップでは、ディスク面からの不規則な反射の戻り光により生じるノイズを低減する手法として、レーザダイオード駆動電流に数百ＭＨｚの高周波電流を重畳する高周波重畳法が用いられている。しかしながら、本明細書でいう「再生レーザパワー」とは、ＤＣ発光に換算したときの平均レーザパワーを意味する。
【００１７】
なお、本明細書でいう記録層の「記録動作温度」または後述する「動作点温度」とは、記録層に情報を記録できる温度の最小値のことを意味する。例えば、記録層が相変化記録材料で形成されている場合には記録層の記録動作温度（または動作点温度）は記録層の融点となり、記録層が色素材料で形成されている場合には記録層の記録動作温度（または動作点温度）は記録層の分解点となる。また、記録層が磁性材料で形成されている場合には記録層の記録動作温度（または動作点温度）は記録層のキュリー点となる。
【００１８】
本発明の光記録媒体の評価方法では、上記記録層の記録動作温度をＴｍ［℃］とし、上記動作レーザパワーをＰｍ［ｍＷ］とし、上記動作レーザパワーＰｍを求めた際の周囲温度をＴｃ［℃］とし、上記データ再生時の周囲温度をＴｔ［℃］とし、且つ、上記データ再生時の再生レーザパワーをＰｒ［ｍＷ］としたとき、上記データ再生時の上記記録層の温度Ｔｒ［℃］が、
Ｔｒ＝（Ｐｒ×（Ｔｍ−Ｔｃ）／Ｐｍ）＋Ｔｔ        ……（１）
の関係式から求めされることが好ましい。
【００１９】
上記（１）式の算出方法を説明する。ある周囲温度Ｔｃ［℃］において、動作レーザパワーＰｍ［ｍＷ］のレーザビームを光記録媒体に照射することにより記録層の温度がＴｃ［℃］からＴｍ［℃］まで上昇するので、レーザパワー１．０［ｍＷ］当たりの記録層の温度上昇は、（Ｔｍ−Ｔｃ）／Ｐｍ［℃／ｍＷ］と概算することができる。それゆえ、所定（データ再生時）の周囲温度Ｔｔ［℃］において、再生レーザパワーＰｒ［ｍＷ］のレーザビームを光記録媒体に照射したときに、記録層の温度Ｔｒ［℃］は、
Ｔｒ＝（レーザビーム照射による温度上昇）＋（周囲温度）
＝（Ｐｒ×（Ｔｍ−Ｔｃ）／Ｐｍ）＋Ｔｔ      ……（１）
により概算することができる。上記（１）式から明らかなように、記録層の温度Ｔｒは、再生レーザパワーＰｒと周囲温度Ｔｔとの関数となるので、上記（１）式では、再生レーザパワーＰｒ及び周囲温度Ｔｔを記録層の温度に換算していることになる。また、上記（１）式において再生レーザパワーＰｒと周囲温度Ｔｔのどちらか一方を固定した場合には、周囲温度または再生レーザパワーを記録層の温度に換算することになる。
【００２０】
上記（１）式を用いれば、データ再生時にレーザビームを照射した際の記録層の温度を簡便に概算することができる。そして、その記録層の温度の値と、該データ再生時の条件で求めた再生耐久回数とを使ってアレニウスプロットを行なうことにより、任意の記録層の温度における再生耐久回数を求めることができる。すなわち、上記（１）式を用いれば、任意の周囲温度Ｔｔ及び／または任意の再生レーザパワーＰｒにおける光記録媒体の再生耐久回数を簡便に求めることができる。
【００２１】
本発明の光記録媒体の評価方法では、上記記録層の記録動作温度が上記記録層の融点であることが好ましい。この場合、相変化系記録層を備える光記録媒体の評価を行なうことができる。書き換え可能の相変化系記録層の融点は材料によって異なるが、各構成材料の融点（例えば、Ｓｂが約６３１℃、Ｇｅが約９３７℃、ＧｅＴｅが約７２５℃、Ｂｉ２Ｇｅ３Ｔｅ６が約６５０℃）、及び、相変化系記録層を構成する各々の元素の組成比率から、Ａｇ−Ｉｎ−Ｓｂ−Ｔｅ系材料の記録層の融点は約６００℃、Ａｇ−Ｉｎ−Ｇｅ−Ｓｂ−Ｔｅ系あるいはＧｅ−Ｓｂ−Ｓｎ−Ｔｅ系材料の記録層の融点は約６５０℃、Ｂｉ−Ｇｅ−Ｔｅ系材料の記録層の融点は約７００℃であると推定できる。
【００２２】
本発明の光記録媒体の評価方法では、上記記録層の記録動作温度が上記記録層の分解点であることが好ましい。この場合、色素系記録層を備える光記録媒体の評価を行なうことができる。追記型の色素系記録層の分解点は、示差熱熱重量同時測定装置（ＴＧ／ＤＴＡ）を用いて、温度に対する質量変化から求めることができる。色素材料により分解点は異なるが、例えばアゾ系色素材料の分解点は約３００℃である。なお、色素系記録層では、記録層の状態変化が、分解、昇華と複雑な工程をとることが知られているが、レーザパワーの上昇と、常温から分解点までの温度上昇との間にほぼ線形の関係が存在する場合には本発明の評価方法は特に有効である。
【００２３】
また、本発明の光記録媒体の評価方法では、上記記録層の記録動作温度が上記記録層のキュリー点であることが好ましい。この場合、光磁気記録層を備える光記録媒体の評価を行なうことができる。記録層の組成によりキュリー点は異なるが、組成がＴｂＦｅＣｏの場合、約３００℃である。
【００２４】
本発明の光記録媒体の評価方法では、上記動作レーザパワーが、レーザパワーに対する上記光記録媒体の反射率の変化特性から求められ、該変化特性の上記光記録媒体の反射率が変化しはじめるレーザパワーであることが好ましい。
【００２５】
記録層が相変化系記録層である場合には、光記録媒体の反射率の変化特性から記録層を融点まで加熱するために必要なレーザパワー（動作レーザパワー：以下、記録動作温度に相当するレーザパワーともいう）を求めることができる。記録層が相変化系記録層である場合、記録層の温度が融点に達すると、記録層の性状が結晶状態からアモルファス状態に、あるいはアモルファス状態から結晶状態に変化するので、光記録媒体の光の反射強度、すなわち、反射率が変化する。それゆえ、光記録媒体に対してレーザパワーを徐々に上げてレーザビームを照射して反射率の変化を検出し、反射率が変化しはじめるレーザパワーを求めれば、そのレーザパワーを照射したときの記録層の温度が記録層の融点に相当すると考えられる。なお、ここでいうレーザパワーとは、再生レーザパワーと同様に、ＤＣ発光に換算したときの平均レーザパワーを意味する。
【００２６】
記録層が色素系記録層の場合も同様に、光記録媒体の反射率の変化特性から記録層を分解点（記録動作温度）に相当するレーザパワーを求めることができる。色素系記録層にレーザが照射されると、色素が光を吸収し熱エネルギーに変わり、色素が分解して気体が発生する。そして、発生した気体の圧力で熱的に基板が軟化し変形することで、色素が分解する前と較べて光の位相差が生じ、光の反射強度、すなわち反射率が変化する。それゆえ、光記録媒体に対してレーザパワーを徐々に上げてレーザビームを照射して反射率の変化を検出し、反射率が変化しはじめるレーザパワーを求めれば、そのレーザパワーを照射したときの記録層の温度が記録層の分解点に相当すると考えられる。
【００２７】
また、本発明の光記録媒体の評価方法では、上記動作レーザパワーが、レーザパワーに対する上記光記録媒体の磁化方向の変化特性から求められ、該変化特性の上記光記録媒体の磁化方向が変化しはじめるレーザパワーであることが好ましい。
【００２８】
記録層が光磁気記録層である場合には、光記録媒体の磁化方向の変化特性から記録層をキュリー点（記録動作温度）に相当するレーザパワーを求めることができる。記録層が光磁気記録層である場合には、記録層の温度がキュリー点に達したとき、外部磁界により磁化反転が起こる。それゆえ、光記録媒体に対して外部磁界を印加した状態でレーザパワーを徐々に上げてレーザビームを照射し、磁化方向の変化を検出し、磁化方向が変化しはじめるレーザパワーを求めれば、そのレーザパワーを照射したときの記録層の温度が記録層のキュリー点に相当すると考えられる。一般には、磁化方向の変化は、記録された磁区の磁化方向に応じて磁気光学効果により光の偏光が回転することを利用した電気信号の変化を検出することにより検出することができる。
【００２９】
なお、本明細書でいう「光記録媒体の反射率が変化しはじめるレーザパワー」とは、レーザパワーに対する光記録媒体の反射率の変化特性において、記録層が一方の性状にある場合の反射率を示すレーザパワー領域と、記録層が他方の性状にある場合の反射率を示すレーザパワー領域との境界におけるレーザパワーのことである。また、本明細書でいう「光記録媒体の磁化方向が変化しはじめるレーザパワー」とは、レーザパワーに対する光記録媒体の磁化方向の変化特性において、記録層が一方の磁化方向にある場合に相当するレーザパワー領域と、記録層が他方の磁化方向にある場合に相当するレーザパワー領域との境界におけるレーザパワーのことである。
【００３０】
本発明の光記録媒体の評価方法では、上記動作レーザパワーが、レーザパワーに対する上記光記録媒体の反射率または磁化方向の変化特性から求められ、上記記録層の温度が上記記録動作温度より高い状態に相当する該変化特性のレーザパワー領域における複数の反射率または磁化方向の値に基づいて求められることが好ましい。これにより、記録層の記録動作温度に相当するレーザパワー（動作レーザパワー）をより正確に求めることができる。
【００３１】
光記録媒体の記録層が相変化系記録層である場合、記録層に照射したレーザビームのレーザパワーが記録層を溶融するレーザパワーに達したとしても、記録層が溶融後、再結晶化が起こるために、反射率が変化し始めるレーザパワーを明確に規定することは難しい。このような場合、次のようにして、記録層の記録動作温度に相当するレーザパワー（動作レーザパワー）を求めても良い。
【００３２】
まず、反射率が、記録層が溶融する前のレーザパワーにおける反射率の例えば１０％から３０％程度まで変化し、反射率の変化が明確に認識できる（記録層の性状が明確に変化したと認識できる）レーザパワー領域において２点以上（複数）の反射率を求め、これらの測定点におけるレーザパワーと反射率との関係を満足する近似式を求める。次いで、求めた近似式から反射率が変化しはじめるレーザパワーを求める。具体的には、例えば、反射率の変化特性において、記録層が溶融する前のレーザパワー領域における反射率のレベルと、上記近似式で表される直線との交点に対応するレーザパワーを反射率が変化しはじめるレーザパワーとすることができる。この方法を用いることにより、より正確に反射率の変化が起こり始めるレーザパワーの値を求めることができる。また、光記録媒体の記録層が色素系記録層の場合も、記録層が相変化系記録層の場合と同様にして反射率の変化特性から、動作レーザパワーを求めても良い。
【００３３】
光記録媒体の記録層が光磁気記録層である場合には、レーザパワーに対する磁化方向の変化特性において、磁化方向の変化が明確に認識できる（記録層の磁化方向が明確に変化したと認識できる）レーザパワー領域における特性値（電気信号レベル）を２点以上求め、これらの測定点におけるレーザパワーと特性値との関係を満足する近似式を求める。次いで、求めた近似式から磁化方向が変化しはじめるレーザパワーを求める。具体的には、例えば、磁化方向の変化特性において、記録層が磁化反転する前のレーザパワー領域における電気信号レベルと、上記近似式で表される直線との交点に対応するレーザパワーを磁化方向が変化しはじめるレーザパワーとすることができる。この方法を用いることにより、より正確に磁化方向の変化が起こり始めるレーザパワーの値を求めることができる。
【００３４】
本発明の第２の態様に従えば、記録層を備え、レーザビームを照射して情報を再生する光記録媒体の再生耐久性を評価する方法であって、上記記録層を動作点温度に加熱するための動作レーザパワーを求めることと、複数の再生レーザパワーにおける再生耐久回数を求めることと、各再生レーザパワーにおける記録層の温度を、各再生レーザパワー及び各再生レーザパワーを照射した際の周囲温度並びに上記動作レーザパワーに基づいて求めることと、上記複数の再生レーザパワーにおける上記再生耐久回数と上記記録層の温度とに基づいてアレニウスプロットを行うことと、上記アレニウスプロットの結果に基づいて、所望の周囲温度及び所望の再生レーザパワーの少なくとも一方における再生耐久回数を求めることとを含む光記録媒体の評価方法が提供される。
【００３５】
本発明の光記録媒体の評価方法では、さらに、上記所望の周囲温度及び所望の再生レーザパワーの少なくとも一方における再生耐久回数を保証し得る再生レーザパワーの最大値を求めることを含むことが好ましい。
【００３６】
また、本発明の光記録媒体の評価方法では、さらに、記録層の記録動作温度（動作点温度）を求めることを含むことが好ましい。記録層が相変化系記録層である場合には、その記録動作温度（融点）は、例えば、示差熱天秤等の示差熱分析装置を用いて、記録層材料の融解に伴う吸熱ピークを調べることにより求めることができる。記録層が色素系記録層である場合には、その記録動作温度（融点）は、上述のように、例えば、示差熱熱重量同時測定装置（ＴＧ／ＤＴＡ）を用いて、温度に対する質量変化から求めることができる。また、記録層が光磁気記録層である場合には、その記録動作温度（キュリー点）は、例えば、キュリー点測定装置等を用いて、記録層材料の磁化や誘電率の温度特性を調べることにより求めることができる。
【００３７】
上述した光記録媒体の評価方法を用いることにより、光記録媒体の任意の周囲温度及び／または任意の再生パワーにおける再生耐久性を、簡便な方法で短時間に精度良く評価することができる。
【００３８】
本発明の第３の態様に従えば、第１または第２の態様に従う光記録媒体の評価方法により求められた上記再生レーザパワーの最大値に関する情報が予め記録されていることを特徴とする光記録媒体が提供される。また、本発明の光記録媒体では、上記光記録媒体に複数の記録速度に関する情報が記録されており、上記再生レーザパワーの最大値に関する情報が記録速度毎に記録されていることが好ましい。
【００３９】
光記録媒体の高速記録再生時には高線速となるので、情報記録再生装置内の回転部等からの機器ノイズが増大する。通常、そのノイズ増大による位置情報に関するアドレス信号品質の劣化を補うために、高線速でアドレス信号を読み取る際の再生レーザパワーを低線速時より高くして、アドレス信号品質を改善することが考えられるが、再生レーザパワーを上げ過ぎると、光記録媒体に記録された情報の信号品質を加速度的に劣化させる恐れがある。しかしながら、本発明の光記録媒体では、通常の再生レーザパワーの値とともに、各記録速度における再生耐久性を保証し得る再生レーザパワーの最大値が予め記録されているので、その情報に基づいて高線速時のアドレス信号を読み取るための再生レーザパワーを各記録速度における再生耐久性を保証し得る再生レーザパワーの最大値以下にすることができ、光記録媒体の再生耐久性を保証することができる。
【００４０】
本発明の第４の態様に従えば、第１または第２の態様に従う光記録媒体の評価方法により求められた上記再生レーザパワーの最大値に関する情報と、該再生レーザパワーの最大値を求めた際の記録速度に関する情報とが予め記録されている光記録媒体にレーザビームを照射して情報の記録再生を行なう情報記録再生装置であって、上記再生レーザパワーの最大値に関する情報及び上記記録速度に関する情報を読み出す情報処理部と、情報再生時の再生レーザパワーを上記再生レーザパワーの最大値以下に設定する制御部とを備え、上記制御部が、上記記録速度に応じて、上記情報再生時の再生レーザパワーを変化させることを特徴とする情報記録再生装置が提供される。
【００４１】
本発明の情報記録再生装置では、高速記録再生時の線速に応じて再生レーザパワーを上げることにより、光記録媒体の記録再生の位置情報に関するアドレス信号の品質を改善することができるとともに、その再生レーザパワーを該光記録媒体が保証し得る再生レーザパワー以下に設定することができる。それゆえ、本発明の情報記録再生装置によれば、高速記録再生時においても光記録媒体の記録データの信号品質の劣化を防止しつつ確実に情報再生することができる。
【発明の効果】
【００４２】
本発明の光記録媒体の評価方法によれば、データ再生時にレーザビームを照射した際の記録層の温度と再生耐久回数との関係から、任意の周囲温度及び／または任意の再生レーザパワーにおける再生耐久回数を求めることができるので、所望の使用環境における光記録媒体の再生耐久性を簡便な方法で、短時間で、且つ高精度で評価することができる。
【００４３】
また、本発明の評価方法で得られた再生耐久性を保証し得る再生レーザパワーの最大値に関する情報を予め記録した光記録媒体およびその光記録媒体の情報記録再生装置では、高線速で情報の記録再生を行なっても、光記録媒体の記録信号の品質を損ねることなく再生レーザパワーを上げることができ、且つ再生耐久性を保証することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４４】
以下、本発明の光記録媒体の評価方法の実施例について図面を参照しながら具体的に説明するが、本発明はこれに限定されない。
【実施例１】
【００４５】
［光記録媒体］
実施例１の評価方法で用いた光記録媒体には、４．７ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭを用いた。この例の光記録媒体は、基板上に、第１保護層、第１界面層、記録層、第２界面層、第２保護層、熱吸収率補正層及び熱拡散層をこの順で積層した構造を有し、次のようにして作製した。
【００４６】
まず、トラックピッチ１．２μｍ、溝深さ６３ｎｍの案内溝が表面全体に渡って形成されている半径１２０ｍｍ、厚さ０．６ｍｍのポリカーボネート基板を用意し、次いで、その基板上に、上記構成層をスパッタリングプロセスにより形成した。具体的には、まず、基板上に、第１保護層としてＺｎＳ−ＳｉＯ２を膜厚１００ｎｍで形成し、そして、第１保護層上に、第１界面層としてＧｅＣｒＮを膜厚５ｎｍで形成した。次いで、第１界面層上に、記録層としてＢｉＧｅＴｅを膜厚１０ｎｍで形成した。次いで、記録層上に、第２界面層としてＧｅＣｒＮを膜厚５ｎｍで形成し、そして、第２界面層上に、第２保護層としてＺｎＳ−ＳｉＯ２を膜厚５０ｎｍで形成した。次に、第２保護層上に、熱吸収率補正層としてＧｅＣｒを膜厚５０ｎｍで形成した。最後に、熱吸収率補正層上に、熱拡散層としてＡｇＰｄＰｔを膜厚１００ｎｍで形成した。以上のようにして、この例で用いた光記録媒体を得た。また、上記作製方法で得られた光記録媒体に対して、レーザ初期化装置（不図示）を用いて全面結晶化した（初期化した）。
【００４７】
［情報記録再生装置］
次に、上記作製方法で得られた光記録媒体の再生耐久性を調べるために用いた情報記録再生装置について説明する。その情報記録再生装置の概略構成図を図１に示した。
【００４８】
この例の情報記録再生装置は、図１に示すように、主に、この例で作製した光記録媒体１を回転させるためのモータ２と、光記録媒体１にレーザビームを照射する光ヘッド３と、トラッキング制御のためのＬ／Ｇサーボ回路８と、再生信号処理系１１と、記録信号処理系１１と、最適な記録条件を求めるための最適記録条件演算部１０とから構成される。
【００４９】
再生信号処理系１１は、図１に示すように、再生信号を増幅するプリアンプ回路４と、増幅された再生信号から情報を復号するための８−１６復調器９とから構成される。また、記録信号処理系１２は、図１に示すように、入力信号を所定の変調方式で変調する８−１６変調器７と、記録信号波形を生成する記録波形発生回路５と、レーザ光の発光を制御するレーザ駆動回路６とから構成される。
【００５０】
また、この例で用いた光ヘッド３は、情報記録用のレーザビームとして波長６５５ｎｍの半導体レーザを備え、また、開口数ＮＡが０．６の対物レンズを備えている（不図示）。また、最適記録条件演算部１０では、再生信号特性から記録マーク間の熱影響を極力排除するように、マーク間の記録パルスの長さおよび記録パワーが調整され、ジッタ、エラーレートが最小となるような最適記録条件が演算される。
【００５１】
また、この例の情報記録再生装置は、光記録媒体１のグルーブ（Ｇ）とランド（Ｌ）（グルーブ間の領域）の両方に情報を記録する方式（いわゆるランドグルーブ記録方式）に対応している。この例の情報記録再生装置ではＬ／Ｇサーボ回路８により、ランドとグルーブに対するトラッキングを任意に選択することができる。
【００５２】
次に、本実施例で用いた情報記録再生装置１００の動作、すなわち、記録再生過程を説明する。記録過程は次の通りである。まず、情報記録再生装置１００の外部から、８ビットを１単位とした情報が８−１６変調器７に入力される。この例では、光記録媒体１に情報を記録する際には、８ビットの情報を１６ビットに変換する変調方式、いわゆる８−１６変調方式を使う。この変調方式では、８ビットの情報に対応させた３Ｔ〜１４Ｔのマーク長の記録マークを光記録媒体１上に形成して情報記録を行う。図１中の８−１６変調器７は、このような変調を行なっている。なお、ここでＴとは情報記録時のデータのクロック長を表しており、本実施例では、記録の線速度２４．６ｍ／ｓｅｃの条件で、Ｔ＝５．７ｎｓｅｃとした。
【００５３】
次いで、８−１６変調器７により変換された３Ｔ〜１４Ｔのデジタル信号は、記録波形発生回路５に入力される。この際、最適記録条件演算部１０で求められた最適記録条件もまた８−１６変調器７を介して記録波形発生回路５に入力され、その最適記録条件に基づき、記録波形発生回路５で記録波形が生成される。次いで、記録波形発生回路５で生成された記録波形は、レーザ駆動回路６に入力され、レーザ駆動回路６はこの記録波形に基づいて、光ヘッド３内の半導体レーザを発光させる。そして、光ヘッド３内の対物レンズによりレーザビームを光記録媒体１の記録層上に絞込み、上記記録波形に対応したレーザビームを照射して情報を記録する。上記記録条件で光記録媒体１に記録を行なった場合、最短マークである３Ｔマークのマーク長は約０．４２μｍ、最長マークである１４Ｔマークのマーク長は約１．９６μｍとなる。
【００５４】
次に、再生過程を説明する。上述のようにして光記録媒体１に記録された情報の再生も光ヘッド３を用いて行なう。レーザビームを記録されたマーク上に照射し、マークとマーク以外の部分からの反射光を検出することにより、再生信号を得る。得られた再生信号の振幅はプリアンプ回路４に増幅され、その後、８−１６復調器９に入力される。８−１６復調器９では１６ビットごとに得られる情報を８ビットの情報に変換する。以上の動作により、記録されたマークの再生が完了する。
【００５５】
［光記録媒体の再生耐久性の評価方法］
この例では、任意の周囲温度及び／または再生レーザパワーにおける再生耐久回数を求めることにより光記録媒体の再生耐久性を評価した。なお、この例では、光記録媒体の再生耐久性を評価する（再生耐久回数を求める）指標として、ジッタ値を用いた。それゆえ、この例の光記録媒体の評価方法を説明する前に、ジッタ値の測定方法を説明する。
【００５６】
まず、この例の光記録媒体に対して、３Ｔ〜１４Ｔを含むランダムパターンの信号の記録再生を行なった。次いで、記録情報からの再生信号を検出し、その再生信号に対して波形等価、２値化及びＰＬＬ（Ｐｈａｓｅ  Ｌｏｃｋｅｄ  Ｌｏｏｐ）処理を行ないジッタ値を測定した。なお、この際、信号の再生は、線速度８．２ｍ／ｓｅｃ一定の条件で行った。
【００５７】
ジッタとしてはクロスイレーズジッタを評価した。具体的には次のようにして評価した。まず、所定のトラックにランダムパターンを１０回記録した（書き換えを行なった）。次いで、所定トラックの両隣のトラック、および、該両隣のトラックの所定トラック側とは反対側に位置するトラックに対して内周から外周に順番にランダムパターンを１０回記録する書きこみを行った。その後、ランダムパターンを書き込んだ５本のトラック内の中心トラック（上記所定トラック）で、ジッタ値を測定した。なお、この例では、５本のトラック内の中心トラック（上記所定トラック）としてグルーブを用いた。
【００５８】
次に、この例の光記録媒体の再生耐久性の評価方法について図２を参照しながら説明する。この例の評価方法は、主に、下記の工程（Ａ）〜（Ｃ）で構成され、この順で実施される。
（Ａ）記録層の動作点温度に相当するレーザパワー（記録層を動作点温度に加熱するために必要なレーザパワー）を求める工程（図２中のステップＳ１１）。
（Ｂ）再生レーザパワーを変化させて、再生耐久回数を求める工程（図２中のステップＳ１２）。
（Ｃ）再生レーザパワーを記録層の温度に換算し、求められた記録層の温度と上記再生耐久回数とを用いてアレニウスプロットを行なうことにより所望の周囲温度及び／または再生レーザパワー（所望の使用環境）における再生耐久回数を求める工程（図２中のステップＳ１３〜Ｓ１５）。
【００５９】
まず、工程（Ａ）（図２中のステップＳ１１）について説明する。なお、本実施例では、光記録媒体の記録層として相変化系記録層（ＢｉＧｅＴｅ）を用いているので、記録層の動作点温度は記録層の融点となる。
【００６０】
工程（Ａ）では、まず、光記録媒体の初期状態（記録を行っていない状態）における反射率レベルＩｏｔの最小電圧値Ｉｏｔｍｉｎ１［ｍＶ］をオシロスコープで調べる。ここでＩｏｔとは、和信号で観測された溝（ランド、グルーブ）の反射光レベルである。次に、ＤＣ発光の一定レベルの記録レーザパワーＰｗ［ｍＷ］を有するレーザビームを光記録媒体に照射して、書き込みを行なう。次いで、記録が行なわれた光記録媒体にレーザビームを照射して反射率レベルの検出し、その最小電圧値Ｉｏｔｍｉｎ２［ｍＶ］をオシロスコープで調べる。そして、記録レーザパワーＰｗ［ｍＷ］における反射率変化量αを、下記の定義式を用いて求める。
α＝（Ｉｏｔｍｉｎ２）／（Ｉｏｔｍｉｎ１）  ……（２）
【００６１】
次いで、記録レーザパワーを変化させながら反射率変化量αを求め、反射率変化量αの記録レーザパワーＰｗ依存性を測定した。この際、記録レーザパワー毎にレーザビームを照射するトラックを変えて反射率変化量αを調べた。その結果、記録レーザパワーが小さい領域では反射率変化量αは一定であるが、記録レーザパワーが大きくなると、反射率変化量αが該一定値から変化しはじめる。その反射率変化量αが変化しはじめる領域は、記録層の性状が変化し始める領域である。本実施例で用いた記録層のように相変化系記録層では、結晶状態からアモルファス状態に変化し始める領域である。すなわち、反射率変化量αの記録レーザパワーＰｗ依存性（反射率の変化特性）において、反射率変化量αが変化しはじめる境界の記録レーザパワーＰｗが、記録層の融点（動作点温度）に相当するレーザパワー（記録層を融点まで加熱するために必要なレーザパワー）となる。なお、本実施例で用いた記録層は相変化膜であるので、初期状態は結晶状態であるが、記録層が一度溶融したのち凝固することでアモルファス状態になることから、性状が変化した後は反射率が変化する。
【００６２】
なお、上記（２）式で初期状態の反射率レベルの最小電圧値Ｉｏｔｍｉｎ１［ｍＶ］を基準としたのは、初期化時のビーム形状によりディスクの周方向もしくは径方向に生じる反射率のばらつき、および、各トラックにおける初期状態の反射率のばらつきを考慮するためである。
【００６３】
本実施例では、実際に、線速２４．６ｍ／ｓｅｃの条件で、ＤＣ発光の記録レーザパワーを８．５ｍＷから１２．５ｍＷまで変化させて、反射率変化量αの変化を調べた。その結果を図３に示した。反射率変化量α（反射率）の変化が起こり始めるのは、図３に示すように、記録レーザパワーＰｗが１０．５ｍＷから１１．０ｍＷの範囲であるが、実際には、記録層が溶融した後に再結晶化が生じるので、この記録レーザパワー領域では反射率が変動する。それゆえ、反射率の変化が起こり始める記録レーザパワーＰｗを明確に規定することは難しい。
【００６４】
そこで、本実施例では、図３に示した反射率変化量αの記録レーザパワーＰｗ依存性から、記録層の性状が初期状態（結晶状態）から明確に変化している（アモルファス状態にある）記録レーザパワーＰｗの領域の測定結果を用いて線形近似を行い、反射率の変化が起こり始める記録レーザパワーＰｗを求めた。具体的には、図３に示すように、反射率変化量αが０．９０から０．７５の範囲となる記録レーザパワー領域の測定点を用いて線形近似（図２中の太実線）を行ない、反射率変化量α＝１．０となる線（図２中の太破線：初期状態の反射率変化量α）と交わる点を、反射率が変化しはじめる境界点すなわち記録層の記録動作温度である融点とした。上記概算方法を用いると、この例では、反射率の変化が起こり始める記録レーザパワーは１０．７ｍＷであった。それゆえ、本実施例で使用した記録層の融点Ｔｍは約７００℃であるので、上記線形近似により求めた反射率の変化が起こり始める記録レーザパワー１０．７ｍＷが、７００℃（融点）に相当する記録レーザパワーＰｍとなる。以上のようにして、工程（Ａ）（図２中のステップＳ１１）を行なった。なお、上記工程（Ａ）を行なった際の光記録媒体の周囲の試験環境温度（周囲温度）は、Ｔｃ＝２５℃であった。
【００６５】
次に、工程（Ｂ）（図２中のステップＳ１２：再生レーザパワーと再生耐久回数との関係を求めるステップ）について説明する。本実施例では、クロスイレーズジッタ＝１２％を再生耐久性の判定基準とし、ある再生レーザパワーを連続照射したときに、クロスイレーズジッタが１２％となる再生回数を、その再生レーザパワーにおける再生耐久回数とした。なお、クロスイレーズジッタ＝１２％を再生耐久性の判定基準とした根拠は、一般に、クロスイレーズジッタが１２％を超えるとドライブで情報再生ができなくなる恐れがあるためである。
【００６６】
工程（Ｂ）では、まず、線速２４．６ｍ／ｓｅｃ（６倍速）の条件（半径ｒ＝５１．７ｍｍの位置で回転数４５４４ｒｐｍ）で、再生レーザパワーを１．０ｍＷに設定した。次いで、所定のトラックにランダムパターンを１０回記録した（書き換えた）。次いで、所定トラックの両隣のトラック、および、該両隣のトラックの所定トラック側とは反対側に位置するトラックに対して内周から外周に順番にランダムパターンを１０回記録した（クロスイレーズ書きこみを行なった）。なお、上記ランダムパターンの記録は、クロスイレーズ書きこみ後のジッタが最小となるように記録レーザパワーを調節して行った。
【００６７】
次いで、上記クロスイレーズ書き込みを行った５本のトラックの中心トラック（上記所定トラック）において、再生レーザパワーを２．９ｍＷまで上げて、所定時間再生した後、再生レーザパワーを再度１．０ｍＷに戻した。その後、線速を８．２ｍ／ｓｅｃの条件（回転数１５１５ｒｐｍ）に設定して、ジッタ値を測定した。そして、ジッタ値が１２％を超えるまで上記ジッタ測定を繰り返した。なお、ジッタ値を測定する際に、線速を２４．６ｍ／ｓｅｃから８．２ｍ／ｓｅｃに落としたのは、本実施例で使用したＰＬＬの特性では、線速８．２ｍ／ｓｅｃで再生した方がジッタが安定して評価できるためである。
【００６８】
また、本実施例の光記録媒体は、ＤＶＤ−ＲＡＭフォーマットであるので、トラックは、ランドとグルーブが存在するが、上記ジッタ測定では、上記５本のトラックの中心トラック（上記所定トラック）としてグルーブを用いた。なお、上記ジッタ測定は、試験環境温度２５℃で行った。
【００６９】
上記ジッタ測定を、再生レーザパワーＰｒを２．９ｍＷ、２．８ｍＷ及び２．７ｍＷと変化させて行なった。その結果（再生回数とジッタ値の関係）を図４に示した。図４では、横軸を再生回数の対数表示とし、縦軸をジッタ値とした。なお、再生回数は、再生時の１分間あたりの回転数４５４４ｒｐｍと時間の掛け算により求めた。図４の結果から、再生レーザパワーＰｒを２．９ｍＷ、２．８ｍＷ及び２．７ｍＷに設定したとき、ジッタ値が１２％をとなる再生耐久回数は、それぞれ、９６５００回、２１１０００回及び６２００００回であった。以上のようにして、工程（Ｂ）（図２中のステップＳ１２）を行なった。
【００７０】
次に、工程（Ｃ）（図２中のステップＳ１３〜Ｓ１５）について説明する。工程（Ｃ）では、まず、ある試験環境温度（周囲温度）Ｔｔ［℃］において、ある再生レーザパワーＰｒ［ｍＷ］のレーザビームを照射したときの記録層の温度Ｔｒ［℃］を、上記工程（Ａ）で求めた所定の試験環境温度Ｔｃ（この例では２５℃）における記録層の記録動作温度Ｔｍ（この例では７００℃）及びその記録動作温度Ｔｍに相当するレーザパワーＰｍ（この例では１０．７ｍＷ）から、
Ｔｒ＝（Ｐｒ×（Ｔｍ―Ｔｃ）／Ｐｍ）＋Ｔｔ  ……（１）
で求める（図２中のステップＳ１３）。
【００７１】
上記（１）式では、所定の周囲温度ＴｃにおいてレーザパワーＰｍが記録層の記録動作温度Ｔｍの温度に相当するという考えに基づいて、再生レーザパワー１．０ｍＷあたりの記録層の温度上昇を、（Ｔｍ−Ｔｃ）／Ｐｍ［℃／ｍＷ］として計算している。それゆえ、試験環境（ディスク周囲）の温度がＴｔ［℃］であるときに、再生時に再生レーザパワーＰｒ［ｍＷ］を光記録媒体に照射したときの記録層の温度Ｔｒは、Ｐｒ×（レーザパワー１ｍＷあたりの記録層の温度上昇）＋（周囲温度Ｔｔ）となり、上記（１）式が得られる。
【００７２】
この例では、上記工程（Ａ）から、周囲の試験環境温度Ｔｃ＝２５℃において、記録層の記録動作温度（融点）Ｔｍ＝７００℃に相当するレーザパワーＰｍは１０．７ｍＷであるので、周囲温度Ｔｃ＝Ｔｔ＝２５℃の環境下で、情報再生時に再生レーザパワーＰｒ＝２．９ｍＷを光記録媒体に照射した際の記録層の温度Ｔｒ［℃］を概算すると、
Ｔｒ＝（２．９×（７００−２５）÷１０．７）＋２５＝２０７．９４［℃］
となる。
【００７３】
上記概算方法と同様にして、周囲温度Ｔｃ＝Ｔｔ＝２５℃の環境下で、再生レーザパワーＰｒ＝２．８ｍＷ及び２．７ｍＷのレーザビームを光記録媒体に照射した際の記録層の温度Ｔｒを求めると、それぞれ、２０１．６４℃及び２０７．９４℃となる。上述の概算方法を用いると、任意の周囲温度（試験環境温度）で、任意の再生レーザパワーを照射したときの記録層の温度を概算することができる。すなわち、周囲温度及び／または再生レーザパワーを記録層の温度に換算することができる。なお、この例の工程（Ｃ）では、上述のように周囲温度＝２５℃一定で、再生レーザパワーを２．７〜２．９ｍＷに変化させているので、再生レーザパワーを記録層の温度に換算していることになる。
【００７４】
次いで、工程（Ｂ）で求めた再生レーザパワーＰｒ＝２．７、２．８及び２．９ｍＷにおける再生耐久性回数と、上記概算方法で求められた各再生レーザパワーＰｒにおける記録層の温度を用いて、アレニウスプロットを行なった（図２中のステップＳ１４：記録層の温度と再生耐久回数との関係を求めるステップ）。アレニウスプロットは、反応速度の対数値が絶対温度Ｔの逆数（１／Ｔ）に比例するという関係を示すものである。上述の温度Ｔｒ［℃］と絶対温度Ｔ［Ｋ］の関係は、Ｔ［Ｋ］＝Ｔｒ［℃］＋２７３．１５である。本実施例の光記録媒体では相変化系記録層を用いているので、その再生耐久回数は記録層の性状の変化（化学的な変化）に基づくものである。それゆえ、本実施例の光記録媒体では、再生耐久回数の対数値と記録層の温度の逆数との間にも、アレニウスの関係式が成立する。すなわち、再生耐久回数の対数値は記録層の温度の逆数に比例するような関係を有する。このことを、以下により具体的に説明する。
【００７５】
工程（Ａ）、（Ｂ）及び上記記録層の温度の概算方法で求めた試験環境温度２５℃における、再生レーザパワーＰｒ、記録層の温度Ｔｒ、１０００／Ｔ、及び再生耐久性回数を表１にまとめた。なお、表１中の換算温度とは上記（１）式で求めた記録層の温度Ｔｒであり、換算絶対温度Ｔとは換算温度Ｔｒを絶対温度に変換した値である。
【００７６】
【表１】
2006309921.tif 000003
【００７７】
また、上記表１の結果を用いて、アレニウスプロットを行なった。その結果を図５に示した。図５では、横軸に１０００／Ｔをとり、縦軸に再生耐久回数の対数をとった。図５から明らかなように、１０００／Ｔと再生耐久回数の対数との間には比例関係が成立し、本プロットは直線となった。このことから、１０００／Ｔの値と再生耐久回数に非常に強い相関があることが分かる。
【００７８】
ここで、１０００／Ｔと再生耐久性の関係に対して指数近似を行なうと、
（再生耐久回数）＝９．０８×１０Ｅ−２６×ｅｘｐ（３３．２４×（１０００／Ｔ））
という関係式が導きだせた。例えば、この式から逆に、再生耐久回数が１００万回を満足する１０００／Ｔの値を求めると、
（１０００／Ｔ）＝ｌｎ［１０Ｅ＋６／（９．０８Ｘ１０Ｅ−２６）］／３３．２４＝２．１５０３
となる。それゆえ、このときの記録層の温度Ｔｒは、
Ｔｒ＝Ｔ−２７３．１５＝１０００／２．１５０３−２７３．１５＝１９１．９０［℃］
となる。このことから、この例の光記録媒体では、記録層の温度Ｔｒを１９１．９０℃以下となるような条件で再生することにより、１００万回の再生耐久回数を保証することができることが分かる。
【００７９】
上述のように、本発明の光記録媒体の評価方法では、所定の周囲温度で求められた再生耐久回数と記録層の温度とを用いてアレニウスプロットを行うことにより任意の記録層の温度における再生耐久回数を求めることができる。それゆえ、本発明の光記録媒体の評価方法では、上述のように、周囲温度及び／または再生レーザパワーを記録層の温度に換算しているので、上記アレニウスプロットから任意の周囲温度及び／または任意の再生レーザパワーにおける再生耐久回数を求めること（図２中のステップＳ１５）ができる。すなわち、所望の使用環境における光記録媒体の再生耐久性を評価することができる。この例では、以上のようにして、工程（Ｃ）を行なった。
【００８０】
次に、上記結果に基づいて、任意の周囲温度において再生耐久回数１００万回を満足するために必要な再生レーザパワーの条件（再生耐久回数１００万回を保証し得る再生レーザパワーの最大値）を求める方法について説明する。
【００８１】
まず、上記結果に基づいて、試験環境６０℃における１００万回の再生耐久回数を保証し得る再生レーザパワーの最大値を求める。上述のように、試験環境６０℃においても再生耐久回数１００万回を保証するためには、記録層の温度１９１．９０℃以下に設定する必要がある。試験環境６０℃において記録層の温度を１９１．９０℃に設定するための再生レーザパワーをＰｒ１［ｍＷ］とすると、上記関係式（１）より、
１９１．９０＝（Ｐｒ１×（７００−２５）／１０．７）＋６０
の式が導かれ、この式から
Ｐｒ１＝（（１９１．９０−６０）Ｘ１０．７）／（７００−２５）＝２．０９［ｍＷ］
が求まる。すなわち、上記結果から、この例で作製した光記録媒体を線速２４．６ｍ／ｓｅｃ、周囲温度６０℃の環境下で再生する場合に、再生耐久回数を１００万回以上保証するには、再生レーザパワーを２．０９［ｍＷ］以下にする必要があることが分かる。
【００８２】
次に、上記方法で求めた周囲温度６０℃の環境下における再生耐久回数１００万回を保証し得る再生レーザパワーＰｒ１から逆に、周囲温度２５℃の環境下における再生耐久回数１００万回を保証し得る再生レーザパワーＰｒ２を求める。これは、周囲温度６０℃の環境下で再生レーザパワーＰｒ１＝２．０９［ｍＷ］のレーザを照射したときと同じ記録層の温度を得るために必要な周囲温度２５℃の環境下における再生レーザパワーＰｒ２の値を計算することにより得られる。具体的には、上記（１）式を用いて下記式の関係から求められる。
（２．０９×（７００−２５）／１０．７）＋６０＝（Ｐｒ２×（７００−２５）／１０．７）＋２５
上記式から、Ｐｒ２＝２．６４［ｍＷ］となる。すなわち、試験環境温度６０℃において再生レーザパワー２．０９［ｍＷ］を照射したときと、試験環境温度２５℃において再生レーザパワー２．６４［ｍＷ］を照射したときにおける記録層の温度は等しいことになる。
【００８３】
上記計算結果から、本実施例の光記録媒体（ＤＶＤ−ＲＡＭ）に対して６０℃以下の周囲温度及び線速２４．６ｍ／ｓｅｃの条件で情報再生する場合に、ジッタが１２％以下となる再生耐久回数を１００万回以上に保証するための最大再生レーザパワー（最大許容再生レーザパワー）の値が２．０９ｍＷであることが分かる。上述のような方法を用いることにより、所望の周囲温度において再生耐久回数１００万回を保証し得る最大許容再生レーザパワーを求めることができる。
【００８４】
［本発明の評価方法の検証］
以上で説明したこの例の評価方法で得られた結果（計算結果）の精度を検証するために、実際に、次に述べる３種類の環境下で光記録媒体の再生耐久性試験（以下では、第１〜３の検証試験ともいう）を行った。なお、この検証試験では、図１に示した情報記録再生装置を用いた。
【００８５】
第１の検証試験では、試験環境温度２５℃の状態で、再生レーザパワーを２．０９［ｍＷ］に設定し、再生回数とジッタの関係を調べた。第２の検証試験では、試験環境温度２５℃の状態で、再生レーザパワーを２．６４［ｍＷ］に設定し、再生回数とジッタの関係を調べた。そして、第３の検証試験では、情報記録再生装置に温風をあて、試験環境温度を６０℃に保った状態で、再生レーザパワーを２．０９［ｍＷ］に設定し、再生回数とジッタの関係を調べた。これらの結果を図６に示した。図６では、横軸に再生回数の対数をとり、縦軸にジッタをとった。また、図６中の白丸印の特性が第１の検証試験の結果であり、黒丸印の特性が第２の検証試験の結果であり、そして、白四角印の特性が第３の検証試験の結果である。
【００８６】
図６から明らかなように、第１の検証試験の結果（図６中の白丸印の特性）と第２の検証試験の結果（図６中の黒丸印の特性）を比較すると、再生レーザパワーＰｒが同じでも、試験環境温度が異なると（２５℃と６０℃）再生耐久性が大きく異なることが分かる。このことから、光記録媒体の再生耐久性を評価する際には、本発明の評価方法のように再生耐久性の温度依存性を考慮することが重要であり、温度依存性を考慮しない再生耐久性の評価方法（例えば、上記特許文献１の評価方法）では、正確に再生耐久性を評価することができないことが分かる。
【００８７】
また、第３の検証試験の結果（図６中の白四角印の特性）から、試験環境温度６０℃において、再生レーザパワー２．０９［ｍＷ］で１００万回再生した際のジッタは約１１．８％であった。この結果は、上述した試験環境温度２５℃における実験結果（図４）から、この例の評価方法（工程（Ａ）〜（Ｃ））を用いて導き出した結果、すなわち、周囲温度６０℃、再生レーザパワー２．０９［ｍＷ］の条件で再生した場合にジッタが１２％となる再生耐久性回数が１００万回であるという結果と、ほぼ合致した。
【００８８】
さらに、第２の検証試験の結果と第３の検証試験の結果とを比較すると、図６から明らかなように、ほぼ同じ特性が得られており、第２の検証試験と第３の検証試験とでは、再生時の記録層の温度がほぼ同じになっていることが分かる。すなわち、上述したこの例の評価方法（工程（Ａ）〜（Ｃ））で導き出した結果、すなわち、試験環境温度６０℃において再生レーザパワー２．０９［ｍＷ］を照射したときの記録層の温度と、試験環境温度２５℃において再生レーザパワー２．６４［ｍＷ］を照射したときの記録層の温度とが等しくなるという結果とほぼ合致する結果が得られた。
【００８９】
上述のように、この例の再生耐久性の温度依存性を考慮した評価方法により求められた再生耐久性の評価結果と、上記検証試験で得られた再生耐久性の実測結果とがほぼ等しい結果であった。それゆえ、この例の光記録媒体の評価方法を用いることにより、光記録媒体の再生耐久性の評価が短時間で且つ高精度で評価することができることが分かる。
【００９０】
上記実施例１では、アレニウスプロットを行なうために、試験環境温度（周囲温度）が一定（２５℃）の条件で再生レーザパワーを変化（２．７〜２．９ｍＷ：表１参照）させて、記録層の温度と再生耐久回数を求めた例、すなわち、再生レーザパワーを記録層の温度に換算する例を説明したが、本発明はこれに限定されない。再生レーザパワー一定の条件で周囲温度を変化させて記録層の温度と再生耐久回数を求め、アレニウスプロットを行なっても良い。すなわち、周囲温度を記録層の温度に換算して再生耐久性を評価しても良い。また、周囲温度及び再生レーザパワーをともに変化させて記録層の温度と再生耐久回数を求め、アレニウスプロットを行なっても良い。すなわち、周囲温度及び再生レーザパワーを記録層の温度に換算して再生耐久性を評価しても良い。
【００９１】
［変形例］
実施例１では、光記録媒体の再生耐久性の評価するためにジッタ特性を用い、クロスイレーズジッタが１２％となる再生回数を再生耐久回数としたが、本発明はこれに限定されない。例えば、実施例１の規定よりさらに厳しい規定として、ジッタ特性においてジッタが上昇しはじめるときの再生回数を再生耐久回数としても良い。この規定方法による再生耐久回数の求め方を、図４に示した試験環境温度２５℃、再生レーザパワー２．７ｍＷの実験結果（図４中の白丸印の特性）を例にとり説明する。また、ジッタが上昇しはじめるときの再生回数を求める方法を具体的に図７に示した。
【００９２】
まず、図７に示すように、ジッタ特性において、再生回数の少ない領域でジッタの初期値が一定である領域に接線（図７中の太破線）を引く。次いで、ジッタが直線的に上昇している領域で近似接線（図７中の太点線）を引く。そして、両近似接線が交わる点の再生回数をジッタが上昇しはじめる再生回数、すなわち、再生耐久回数とする。その結果、図７に示した試験環境温度２５℃、再生レーザパワー２．７ｍＷの実験結果では、再生耐久回数は５８０００回であった。
【００９３】
また、図４に示した再生レーザパワーＰｒが２．８ｍＷ及び２．９ｍＷの場合のジッタ特性からも、上記方法と同様にして、ジッタが上昇しはじめるときの再生耐久回数を求めた。その結果を表２に示した。
【００９４】
【表２】
2006309921.tif 000004
【００９５】
表２に示したジッタが上昇しはじめる再生耐久回数と１０００／Ｔとを用いてアレニウスプロットを行なった結果を図８に示した。図８に示すように、この場合も、図５（実施例１）と同様に、ジッタが上昇しはじめる再生耐久回数と１０００／Ｔとの間に比例関係が成立し、プロットが直線となることが分かった。このことから、本発明の評価方法では、この例のようにジッタが上昇しはじめるときの再生耐久回数を用いても良く、クロスイレーズジッタが１２％となる再生回数を再生耐久回数とした場合と同様の効果を得ることが可能であることが分かる。
【実施例２】
【００９６】
上述のように、実施例１では、実施例１の光記録媒体（ＤＶＤ−ＲＡＭ）に対して６０℃以下の周囲温度及び線速２４．６ｍ／ｓｅｃの条件で情報再生する場合に、ジッタが１２％以下となる再生耐久回数を１００万回以上に保証するための最大再生レーザパワー（最大許容再生レーザパワー）の値が２．０９ｍＷであることを示した。実施例２では、上記最大許容再生レーザパワーに関する情報を予め記録した光記録媒体を情報記録再生装置に装着し、２．０９ｍＷの再生レーザパワーで予め情報記録媒体に記録されているデータ部を１００万回再生した後に、ジッタ特性（劣化特性）がどのように変化するかを調べた。
【００９７】
一般に、記録速度が高速になるほどスピンドルモータの回転数も上昇し、それに伴い、スピンドルモータやスピンドルモータ制御部のドライバＩＣからの発熱量が増大する。この結果、回転部等の機器ノイズが大きくなり、光記録媒体の記録再生の位置情報に関するアドレス信号のＳ／Ｎが低下する。それゆえ、記録速度が高速になるほど、正確な情報記録が困難になりライトエラーを引き起こし、信号品質等に悪影響を及ぼす。アドレス信号のＳ／Ｎを上げる方法として、アドレス信号を再生する際の再生レーザパワーを高くする方法が挙げられるが、この方法では、再生レーザパワーを上げ過ぎると光記録媒体に記録されているデータの信号品質を加速度的に劣化させる恐れがある。これらの事情から、光記録媒体に記録されているデータの信号品質を劣化させない範囲において、できるだけ大きな再生レーザパワーでアドレス信号を再生し、アドレス信号の品質を上げることは重要である。
【００９８】
この例で用いた光記録媒体は、実施例１と同様に、４．７ＧＢのＤＶＤ−ＲＡＭフォーマットを有する光ディスクである。ただし、この例の光記録媒体では、そのコントロールデータ部に、記録速度２４．６ｍ／ｓｅｃ（６倍速）の値と、その記録速度における記録波形に関する情報（マーク間の記録パルスの長さ等の情報）、記録パワーに関する情報および最大許容再生レーザパワーの値（２．０９ｍＷ）と、記録速度６５．６ｍ／ｓｅｃ（１６倍速）の値と、その記録速度における記録波形に関する情報、記録パワーに関する情報および最大許容再生レーザパワーの値（３．３０ｍＷ）と、記録速度２４．６ｍ／ｓｅｃおよび６５．６ｍ／ｓｅｃのときの通常の再生レーザパワーの値（１．００ｍＷ）とを予め記録した。なお、記録速度（線速）６５．６ｍ／ｓｅｃにおける最大許容再生レーザパワーの値３．３０ｍＷは、上記実施例１と同様にして、再生耐久性回数１００万回後にジッタが１２％以下となる再生レーザパワーの上限値としてアレニウスプロットから求めた値である。上記情報を予め記録したこの例の光記録媒体は次のようにして作製した。なお、この例の光記録媒体の膜構成は実施例１と同様とした。
【００９９】
まず、スタンパを用いて、射出成形により、トラックピッチ１．２μｍ、溝深さ６３ｎｍの案内溝が表面全体に渡って形成されている半径１２０ｍｍ、厚さ０．６ｍｍのポリカーボネート基板を成形した。次いで、基板上にスパッタリングプロセスにより実施例１と同様にして各構成膜を形成した。その後、レーザ初期化装置を用いて全面結晶化させて初期化し、この例の光記録媒体を作製した。この例で作製した光記録媒体のフォーマット構成の概略図を図９に示した。この例の光記録媒体８１では、図９に示すように、内周側からコントロールデータ部８２と情報記録部８３とも設けた。光記録媒体に予め記録される上記種々の情報は、コントロールデータ部８２に記録されており、具体的には、射出成形時に基板のコントロールデータ部８２に対応する領域にプリピットを形成して記録した。
【０１００】
上記方法で作製した光記録媒体を情報記録再生装置（以下、ドライブともいう）に装着し、記録速度２４．６ｍ／ｓｅｃで記録を行なった後、再生レーザパワーを２．０９ｍＷに設定して１００万回再生し、ジッタの劣化特性を調べた。また、記録速度６５．６ｍ／ｓｅｃで記録を行なった後、再生レーザパワーを３．３０ｍＷに設定して１００万回再生し、ジッタの劣化特性を調べた。なお、この例で用いたドライブの基本構成は実施例１（図１の装置）と同様である。
【０１０１】
ここで、この例でジッタの劣化特性を調べる際のドライブのデータ記録までの基本動作を図１及び１０を用いて説明する。図１０は、この例のドライブの基本動作の流れを示した図である。まず、ドライブの再生処理系１１（情報処理部）で、光記録媒体のコントロールデータ部に記録されている各記録速度における記録波形に関する情報、記録パワー、および通常の再生レーザパワーの値を読み出した（図１０中のステップＳ２１）。次いで、ドライブの最適記録条件演算部１０（制御部）で、再生レーザパワーを通常の再生レーザパワー１．００ｍＷに設定し（図１０中のステップＳ２２）、データエラーが最小となるように記録波形と記録パワーの最適化を行なった（図１０中のステップＳ２３）。次に、ドライブの再生処理系１１で、各記録速度における最大許容再生レーザパワーの情報を光記録媒体のコントロールデータ部から読み出し、ドライブの最適記録条件演算部１０で、再生レーザパワーを各記録速度における最大許容再生レーザパワーに設定した（図１０中のステップＳ２４）。具体的には、記録速度２４．６ｍ／ｓｅｃにおいては、再生レーザパワーを２．０９ｍＷに設定し、記録速度６５．６ｍ／ｓｅｃにおいては、再生レーザパワーを３．３０ｍＷに設定した。次いで、上記ステップＳ２３で求めた各記録速度における最適条件で光記録媒体の情報記録部にデータ記録を行なった（図１０中のステップＳ２５）。
【０１０２】
本実施例では、各記録速度において、それぞれデータ記録（書き換え）を１０回行なった。そして、データ記録後、各記録速度における最大許容再生レーザパワーで、各記録速度の回転数に応じて記録されたデータをそれぞれ１００万回再生した。また、この例では、記録直後のジッタ値（初期ジッタ）と、ドライブで１００万回再生後、再生したトラックのジッタ値を測定して、ジッタの劣化特性を調べた。なお、１００万回再生後は、再生レーザパワーを通常の再生レーザパワー１．００ｍＷに戻した。
【実施例３】
【０１０３】
実施例３では、ジッタの劣化特性を調べる際のドライブのデータ記録までの動作を実施例２と異なる動作にした。ドライブの動作を変えたこと以外は、実施例２と同様にして、ジッタの劣化特性を調べた。また、この例の光記録媒体及びドライブの構成は実施例２と同じとした。
【０１０４】
この例のドライブにおけるデータ記録までの基本動作の流れを図１１を用いて説明する。まず、ドライブの再生処理系１１で、光記録媒体のコントロールデータ部に記録されている各記録速度における記録波形に関する情報、記録パワー、および最大許容再生レーザパワーの情報を読み出した（図１１中のステップＳ３１）。次いで、ドライブの最適記録条件演算部１０で、再生レーザパワーを最大許容再生レーザパワーに設定した（図１１中のステップＳ３２）。具体的には、記録速度２４．６ｍ／ｓｅｃにおいては、再生レーザパワーを２．０９ｍＷに設定し、記録速度６５．６ｍ／ｓｅｃにおいては、再生レーザパワーを３．３０ｍＷに設定した。次いで、ステップＳ３２で設定された再生レーザパワーで、データエラーが最小となるように、各記録速度における記録波形と記録パワーの最適化を行なった（図１１中のステップＳ３３）。次いで、ステップＳ３３で求めた各記録速度における最適条件で光記録媒体の情報記録部にデータを記録した（図１０中のステップＳ３４）。
【０１０５】
本実施例においても、実施例２と同様に、各記録速度において、それぞれデータ記録（書き換え）を１０回行った。そして、各記録速度における最大許容再生レーザパワーで、各記録速度の回転数に応じて記録されたデータをそれぞれ１００万回再生した。この例においても、実施例２と同様に、記録直後のジッタ値（初期ジッタ）と、ドライブで１００万回再生後、再生したトラックのジッタ値を測定して、ジッタの劣化特性を調べた。なお、１００万回再生後は、再生レーザパワーを通常の再生レーザパワー１．００ｍＷに戻した。
【０１０６】
上記実施例２及び３で調べたジッタ特性の結果を表３及び４に示した。表３は、データ記録直後のジッタ値を示した。表４には１００万回再生後のジッタ値を示した。
【０１０７】
【表３】
2006309921.tif 000005
【０１０８】
【表４】
2006309921.tif 000006
【０１０９】
表３の結果から明らかなように、実施例２及び３とも、線速２４．６ｍ／ｓｅｃ及び線速６５．６ｍ／ｓｅｃのいずれの記録速度においても、ジッタ値（初期ジッタ）が９．０％以下となり、良好な記録特性が得られていることが分かった。
【０１１０】
また、表３から明らかなように、記録速度２４．６ｍ／ｓｅｃにおいては、最大許容再生レーザパワー２．０９ｍＷで記録条件の最適化を行なった場合（実施例３）の方が、通常の再生レーザパワー１．００ｍＷで記録条件の最適化を行なった場合（実施例２）よりも、初期ジッタが０．４％下がった。また、記録速度６５．６ｍ／ｓｅｃにおいても、最大許容再生レーザパワー３．３０ｍＷで記録条件の最適化を行なった場合（実施例３）の方が、通常の再生レーザパワー１．００ｍＷで記録条件の最適化を行なった場合（実施例２）よりも、初期ジッタが０．８％下がっており、記録速度２４．６ｍ／ｓｅｃの場合よりも、一層初期ジッタ値が下がる（ジッタ特性が良好になる）効果が現れた。
【０１１１】
これは、記録速度が２４．６ｍ／ｓｅｃや６５．６ｍ／ｓｅｃのような高速記録になると、上述したようにスピンドルモータやスピンドルモータ制御部のドライバＩＣからの発熱量が増大し、回転部等の機器ノイズが大きくなるので、最適な情報の記録条件を求めることが困難になる。このため、最適な記録条件をより正確に求めるためには、再生レーザパワーの値が高い方が有利であり、その結果、表３に示したように、記録条件を求める際の再生レーザパワーの大きい方の実施例３において、記録ジッタが下がったものと考えられる。ただし、実施例３では、記録条件を求める際の再生レーザパワーが、再生耐久回数を１００万回以上に保証するための最大再生レーザパワーであるので、光記録媒体に記録されているデータの信号品質を劣化させることはない。
【０１１２】
また、表４から明らかなように、線速２４．６ｍ／ｓｅｃにおける最大許容再生レーザパワー２．０９ｍＷで１００万回再生した後のジッタ値は、実施例２及び３ともに、１２．０％以下であった。また、線速６５．６ｍ／ｓｅｃにおける最大許容再生レーザパワー３．３０ｍＷで１００万回再生した後のジッタ値もまた、実施例２及び３とも、１２．０％以下であった。この結果から、実施例２及び３で用いた光記録媒体及び情報記録再生装置では、最大許容再生レーザパワー以下の再生レーザパワーで情報再生する限り、１００万回再生した場合にもジッタ値が１２％以下となり、再生耐久性を保証できることが分かった。
【０１１３】
上記実施例１〜３では、グルーブでデータの再生耐久実験を行なっているが、本発明はこれに限定されず、ランドで再生耐久実験を行なった場合でも同様の効果が得られる。また、実施例１では線速度２４．６ｍ／ｓｅｃにおける再生耐久性を調べているが、再生速度における記録層の融点もしくは分解点に相当するレーザパワーを求めることにより、再生速度に応じて光記録媒体の再生耐久性を評価することができ、その場合も実施例１と同様の効果を得ることができる。
【０１１４】
また、上記実施例１〜３では、光記録媒体として、波長６５５ｎｍの赤色レーザを用いるＤＶＤ−ＲＡＭを用いた例を説明したが、本発明はこれに限定されない。記録層に実施例１〜３と同じ相変化系膜を用いるＤＶＤ＋ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷ、さらには記録層に追記型の色素系材料を用いるＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒに対しても本発明の光記録媒体の評価方法は同様に適用可能であり、同様の効果を得ることができる。具体的には、記録層が色素系記録層である場合は、記録層の記録動作温度を分解点とし、実施例１と同様にして反射率の変化特性から記録層の記録動作温度に相当するレーザパワーを求め、その後は、実施例１と同様の方法で評価すれば良い。
【０１１５】
また、本発明の光記録媒体の評価方法は、記録層を光磁気記録層としたＭＯディスクに対しても適用可能であり、同様に効果が得られる。この場合には、記録層の記録動作温度をキュリー点とし、光記録媒体の磁化方向の変化あるいは光の偏光が回転することを利用した電気信号の変化特性から記録層の記録動作温度に相当するレーザパワーを求め、その後は、実施例１と同様の方法で評価すれば良い。
【０１１６】
さらに、本発明の光記録媒体の評価方法は上述のように、レーザ波長に依存しないので、Ｂｌｕ−ｒａｙ及びＨＤ−ＤＶＤのような青色レーザを使用する光ディスクに対しても適用可能であり、同様の効果が得られる。
【０１１７】
また、上記実施例１〜３では、記録層が単層である場合について説明しているが、本発明はこれに限定されない。記録層を複数有する光記録媒体に対しても適用可能であり、同様の効果が得られる。この場合には、各々の記録層においてレーザによるデータの記録再生が可能であれば、記録層の層数によらず本発明を適用することが可能である。
【０１１８】
なお、上記実施例１〜３では、特に相対湿度に関して言及していないが、できるだけ相対湿度が一定の条件で、アレニウスプロットを行ない光記録媒体の再生耐久性評価を行なうことが好ましい。
【産業上の利用可能性】
【０１１９】
本発明の光記録媒体の評価方法では、任意の周囲温度及び／または任意の再生レーザパワーにおける再生耐久性が短時間で且つ高精度で評価することができるので、記録層を有するあらゆる光記録媒体の再生耐久性の評価方法として最適である。
【図面の簡単な説明】
【０１２０】
【図１】図１は、実施例１で再生耐久性を調べるために用いた情報記録再生装置の概略構成図である。
【図２】図２は、実施例１における光記録媒体の再生耐久性の評価方法を示すフローチャートである。
【図３】図３は、実施例１で測定した反射率変化とレーザパワーとの関係から、記録層の記録動作温度に相当するレーザパワーを求める手法を説明するための図である。
【図４】図４は、実施例１で測定した試験環境温度２５℃におけるジッタと再生回数の関係を示した図である。
【図５】図５は、実施例１で行なったアレニウスプロットの結果を示した図である。
【図６】図６は、実施例１で測定した試験環境温度が２５℃及び６０℃におけるジッタと再生回数との関係を表した図である。
【図７】図７は、変形例における光記録媒体の再生耐久回数の求め方を説明するための図である。
【図８】図８は、変形例で行なったアレニウスプロットの結果を示す図である。
【図９】図９は、実施例２で作製した光記録媒体の概略平面図である。
【図１０】図１０は、実施例２における情報記録再生装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図１１】図１１は、実施例３における情報記録再生装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
【０１２１】
１  光記録媒体
２  モータ
３  光ヘッド
４  プリアンプ回路
５  記録波形発生回路
６  レーザ駆動回路
７  ８−１６変調器
８  Ｌ／Ｇサーボ回路
９  ８−１６復調器
１０  最適記録条件演算部
【図１】
2006309921.tif 000007
【図２】
2006309921.tif 000008
【図３】
2006309921.tif 000009
【図４】
2006309921.tif 000010
【図５】
2006309921.tif 000011
【図６】
2006309921.tif 000012
【図７】
2006309921.tif 000013
【図８】
2006309921.tif 000014
【図９】
2006309921.tif 000015
【図１０】
2006309921.tif 000016
【図１１】
2006309921.tif 000017