(57)【要約】      （修正有）【課題】発光表示パネルにおいて、前記発光素子に対する静電気等のサージによる電荷の流れ込みを防ぎ、表示画素へのダメージを抑制することのできる発光表示パネル及び、発光表示パネルの検査方法を提供する。【解決手段】  互いに交差する複数の走査線Ｂおよび複数のデータ線Ａと、その交差位置に接続された複数の発光素子Ｅと、点灯駆動手段２，３とを有する発光表示パネル１において、表示画素領域２１ａの周辺部のうち少なくとも２辺には、ダイオード特性を有する複数の擬似発光素子Ｅｄが配置され、前記各擬似発光素子Ｅｄの一方の電極は、表示画素領域２１ａに配置された前記発光素子Ｅの一方の電極と前記走査線Ｂ１〜Ｂｍもしくはデータ線Ａ１〜Ａｎを介して共通接続されると共に、前記各擬似発光素子Ｅｄの他方の電極は、擬似発光素子Ｅｄを共通接続する走査線Ｂ（ｍ＋１）及びデータ線Ａ０に共通接続されている。【選択図】  図４
2006222015.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに交差する複数の走査線および複数のデータ線と、前記各走査線および各データ線の交差位置において前記各走査線と各データ線との間に接続された複数の発光素子とを有し、点灯駆動手段により前記各走査線と各データ線が駆動され、前記発光素子が点灯駆動制御される発光表示パネルにおいて、
点灯駆動制御される前記複数の発光素子により表示画素領域が形成され、前記表示画素領域の周辺部のうち少なくとも２辺には、ダイオード特性を有する複数の擬似発光素子が配置され、前記各擬似発光素子の一方の電極と表示画素領域に配置された前記発光素子の一方の電極は、前記走査線もしくはデータ線を介して共通接続されると共に、前記各擬似発光素子の他方の電極は、前記表示画素領域に配置された前記発光素子が接続されている前記走査線及びデータ線以外の、擬似発光素子を共通接続する走査線及びデータ線に共通接続されていることを特徴とする発光表示パネル。
【請求項２】
前記各走査線及び各データ線の端部には引き出し端子が形成され、
前記擬似発光素子を共通接続する前記走査線及びデータ線の引き出し端子は、前記表示画素領域の発光素子に接続されている前記走査線及びデータ線の引き出し端子よりも、それぞれ表面積が大きく形成されていることを特徴とする請求項１に記載された発光表示パネル。
【請求項３】
前記擬似発光素子を共通接続する前記走査線及びデータ線の引き出し端子は、前記点灯駆動手段に接続されていないことを特徴とする請求項１または請求項２に記載された発光表示パネル。
【請求項４】
前記表示画素領域の発光素子及び前記擬似発光素子は、有機ＥＬ素子により構成されることを特徴とする請求項１乃至請求項３のいずれかに記載された発光表示パネル。
【請求項５】
互いに交差する複数の走査線および複数のデータ線と、前記各走査線および各データ線の交差位置において前記各走査線と各データ線との間に接続された複数の発光素子とを有し、点灯駆動手段により前記各走査線と各データ線が駆動され、前記発光素子が点灯駆動制御される発光表示パネルにおいて、点灯駆動制御される前記複数の発光素子により表示画素領域が形成され、前記表示画素領域の周辺部のうち少なくとも２辺には、ダイオード特性を有する複数の擬似発光素子が配置され、前記各擬似発光素子の一方の電極と表示画素領域に配置された前記発光素子の一方の電極は、前記走査線もしくはデータ線を介して共通接続されると共に、前記各擬似発光素子の他方の電極は、前記表示画素領域に配置された前記発光素子が接続されている前記走査線及びデータ線以外の、擬似発光素子を共通接続する走査線及びデータ線に共通接続されている発光表示パネルの製造工程における検査方法であって、
前記複数の擬似発光素子を共通接続すると共に、前記点灯駆動手段に接続されていない前記走査線及びデータ線を、前記点灯駆動手段に接続する工程と、
前記点灯駆動手段により前記各擬似発光素子を点灯駆動させる工程とを実行することを特徴とする発光表示パネルの検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の走査選択線と複数のデータ線のそれぞれ交差位置に発光素子が配置された発光表示パネル、及びその発光表示パネルの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
発光素子をマトリクス状に配列して構成される表示パネルを用いたディスプレイの開発が広く進められている。このような表示パネルに用いられる発光素子として、有機材料を発光層に用いた有機ＥＬ（エレクトロルミネッセンス）素子が注目されている。これはＥＬ素子の発光層に、良好な発光特性を期待することができる有機化合物を使用することによって、実用に耐えうる高効率化および長寿命化が進んだことも背景にある。
【０００３】
かかる有機ＥＬ素子を用いた表示パネルとして、ＥＬ素子を単にマトリクス状に配列したパッシブマトリクス型表示パネル（例えば、特許文献１参照）と、マトリクス状に配列したＥＬ素子の各々に、ＴＦＴからなる能動素子を加えたアクティブマトリクス型表示パネル（例えば、特許文献２参照）が提案されている。
【特許文献１】特開２００３−２８８０５３号公報
【特許文献２】特開２００３−３１６３１５号公報
【０００４】
図１には、パッシブマトリックス駆動方式と、これにより発光制御される表示パネルの一例が示されている。このパッシブマトリックス駆動方式における有機ＥＬ素子のドライブ方法には、陰極線走査・陽極線ドライブ、および陽極線走査・陰極線ドライブの２つの方法があるが、図１に示す構成は前者の陰極線走査・陽極線ドライブの形態を示している。
【０００５】
すなわち、表示パネル１にはｎ本のドライブ線としての陽極線Ａ１〜Ａｎが縦方向に、ｍ本の走査線としての陰極線Ｂ１〜Ｂｍが横方向に配列され、各々の交差した部分（計ｎ×ｍ箇所）に、ダイオードのシンボルマークで示した有機ＥＬ素子Ｅが配置され、表示パネル１を構成している。そして、画素を構成する発光素子としての各ＥＬ素子は、格子状に配列され、垂直方向に沿う陽極線Ａ１〜Ａｎと水平方向に沿う陰極線Ｂ１〜Ｂｍとの交差位置に対応して、その一端（ＥＬ素子の陽極端子）が陽極線に、他端（ＥＬ素子の陰極端子）が陰極線に接続される。また、陽極線は陽極線ドライブ回路２に接続され、陰極線は陰極線走査回路３に接続されてそれぞれ駆動される。
【０００６】
前記陰極線走査回路３には、各陰極走査線Ｂ１〜Ｂｍに対応して走査スイッチＳｙ１〜Ｓｙｍが備えられ、素子のクロストーク発光を防止するための逆バイアス電圧生成回路５からの逆バイアス電圧ＶＭまたは基準電位点としてのアース電位のうちのいずれか一方を、対応する陰極走査線に接続するように作用する。また、陽極線ドライブ回路２には、各陽極線を通じて駆動電流を個々のＥＬ素子に供給する定電流回路Ｉ１〜ＩｎおよびドライブスイッチＳｘ１〜Ｓｘｎが備えられている。
【０００７】
前記ドライブスイッチＳｘ１〜Ｓｘｎは、定電流回路Ｉ１〜Ｉｎからの電流またはアース電位のうちのいずれか一方をそれぞれに対応する陽極線に接続するように作用する。したがって、ドライブスイッチＳｘ１〜Ｓｘｎが前記定電流回路側に接続されることにより、定電流回路Ｉ１ 〜Ｉｎ からの電流が、陰極走査線に対応して配置された個々のＥＬ素子に対して供給されるように作用する。
【０００８】
なお、前記定電流回路に代えて定電圧回路等の電圧源を用いることも可能であるが、ＥＬ素子の電流・輝度特性が温度変化に対して安定しているのに対し、電圧・輝度特性が温度変化に対して不安定であること、また過電流により素子を劣化させるおそれがあること等の理由により、図１に示したように定電流回路を用いるのが一般的である。
【０００９】
前記陽極線ドライブ回路２および陰極線走査回路３には、ＣＰＵを含む発光制御回路４よりコントロールバスが接続されており、表示すべき画像信号に基づいて、前記走査スイッチＳｙ１〜ＳｙｍおよびドライブスイッチＳｘ１〜Ｓｘｎが操作される。これにより、画像信号に基づいて陰極走査線を所定の周期でアース電位に設定しながら所望の陽極線に対して適宜定電流回路Ｉ１ 〜Ｉｎ が接続される。したがって、前記各ＥＬ発光素子は選択的に発光し、表示パネル１上に前記画像信号に基づく画像が表示される。
【００１０】
前記陽極線ドライブ回路２における各定電流回路Ｉ１〜Ｉｎには、例えば昇圧型のＤＣ−ＤＣコンバータによる駆動電圧源６からのＤＣ出力（出力電圧＝ＶＨ）が供給されるように構成されている。これにより、駆動電圧源６からの出力電圧ＶＨを受ける前記定電流回路Ｉ１〜Ｉｎにより生成される定電流が、陽極走査線に対応して配置された個々のＥＬ素子に対して供給されるように作用する。
【００１１】
一方、前記したＥＬ素子のクロストーク発光を防止するために利用される逆バイアス電圧ＶＭの値は、前記出力電圧ＶＨの値に比較的近いこと、また、出力電圧ＶＨの消費電流に比べて逆バイアス電圧ＶＭの消費電流が小さいことから、一般的に出力電圧ＶＨから、シリーズレギュレートすることで、逆バイアス電圧ＶＭを発生させている。図１において、このシリーズレギュレータとして機能するのが、逆バイアス電圧生成回路５である。このような構成を採用した方が、部品点数や消費電力の観点において有利であると考えられる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
ところで近年、ＥＬ素子を用いた発光表示パネルにおいては、より高精細な表示機能が要求され、これに伴って各画素の面積がより微細化される傾向にある。しかしながら、一画素が微細化（画素面積が小さくなる）すると、その静電容量も小さくなる。このため画素が微細な表示パネルにあっては、その製造工程等において、静電気等のサージにより帯電した電荷が画素に流れ込み、有機膜にダメージを与えることが危惧されている。
【００１３】
このサージによるダメージについて図２および図３を用いて説明する。図２は、図１に示した表示パネル１上に形成されている画素領域２０と陽極引き出し端子および陰極引き出し端子との配置関係を模式的に示した図である。図３は、図２の一部拡大図である。なお、引き出し端子とは、画素領域２０に形成された陽極線及び陰極線をそれぞれ陽極線ドライブ回路２、陰極線走査回路３に電気的に接続するため、画素領域２０外に設けられた端子である。
【００１４】
例えば図１に示したように、走査線（陰極線）を画素領域２０の左側から引き出し、ドライブ線（陽極線）を上側から引き出しているパネル構造の場合、画素領域２０と陽極引き出し端子７および陰極引き出し端子８との配置関係は図２に示すようになる。また、図３の拡大図に示すように、画素領域２０上の画素（Ｅ）と引き出し端子７，８との配置関係は図３に示すようになる。ここで静電気等のサージにより陽極引き出し端子７や陰極引き出し端子８が帯電すると、陽極線や陰極線を介して電気的に接続されている画素に電荷が流れ込む。画素が微細な場合、その静電容量が小さいため、わずかな電圧（例えば数十Ｖ）でも画素はダメージ（絶縁破壊等）を受ける。なお、どの画素がダメージ（絶縁破壊等）を受けるかは、層の厚さ、耐圧等の要因により決まるため、予め特定することは困難である。
【００１５】
また、画素に対するダメージ（絶縁破壊等）が大きい場合に、画素の耐圧が低下することでリーク電流が発生し、その画素が不良化するという問題が発生する。その場合、例えば、図１に示す画素Ｅ１にリーク電流が発生し不良となると、その画素Ｅ１に逆バイアス電圧が印加された場合に、図中、破線の矢印で示す方向に電流が流れる。すなわち、走査ライン上の素子に逆バイアス印加による電流が流れ、走査ライン抵抗に電圧が生じて走査電位が変化する現象が発生する。この現象にあっては、発光ＤＵＴＹが長いときには、定電流が支配的であるために問題はないが、発光ＤＵＴＹが短いときには、発光エリアの輝度が低下するという問題があった。
【００１６】
なお、前記したリーク電流の発生を抑制するための従来技術として、ダメージ（絶縁破壊等）を受けた画素にレーザ照射を行い、その画素を潰す方法がある。しかしながら、この方法を用いた場合、画素面積が小さいほど、レーザ処理後の発光面積の割合が大きく減少するという問題があった。したがって、画素面積が小さい場合には、いかに表示画素のダメージ（絶縁破壊等）を抑制するかが課題となっている。
【００１７】
この発明は、前記した技術的な問題点に着目してなされたものであり、互いに交差する複数の走査線および複数のデータ線の交差位置に発光素子が配置された発光表示パネルにおいて、点灯駆動される前記発光素子に対するサージによる電荷の流れ込みを防ぎ、表示画素へのダメージを抑制することのできる発光表示パネル及び、発光表示パネルの検査方法を提供することを課題とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１８】
前記課題を解決するためになされた本発明にかかる発光表示パネルは、請求項１に記載のとおり、互いに交差する複数の走査線および複数のデータ線と、前記各走査線および各データ線の交差位置において前記各走査線と各データ線との間に接続された複数の発光素子とを有し、点灯駆動手段により前記各走査線と各データ線が駆動され、前記発光素子が点灯駆動制御される発光表示パネルにおいて、点灯駆動制御される前記複数の発光素子により表示画素領域が形成され、前記表示画素領域の周辺部のうち少なくとも２辺には、ダイオード特性を有する複数の擬似発光素子が配置され、前記各擬似発光素子の一方の電極と表示画素領域に配置された前記発光素子の一方の電極は、前記走査線もしくはデータ線を介して共通接続されると共に、前記各擬似発光素子の他方の電極は、前記表示画素領域に配置された前記発光素子が接続されている前記走査線及びデータ線以外の、擬似発光素子を共通接続する走査線及びデータ線に共通接続されていることに特徴を有する。
【００１９】
また、前記課題を解決するためになされた本発明にかかる発光表示パネルの検査方法は、請求項５に記載のとおり、互いに交差する複数の走査線および複数のデータ線と、前記各走査線および各データ線の交差位置において前記各走査線と各データ線との間に接続された複数の発光素子とを有し、点灯駆動手段により前記各走査線と各データ線が駆動され、前記発光素子が点灯駆動制御される発光表示パネルにおいて、点灯駆動制御される前記複数の発光素子により表示画素領域が形成され、前記表示画素領域の周辺部のうち少なくとも２辺には、ダイオード特性を有する複数の擬似発光素子が配置され、前記各擬似発光素子の一方の電極と表示画素領域に配置された前記発光素子の一方の電極は、前記走査線もしくはデータ線を介して共通接続されると共に、前記各擬似発光素子の他方の電極は、前記表示画素領域に配置された前記発光素子が接続されている前記走査線及びデータ線以外の、擬似発光素子を共通接続する走査線及びデータ線に共通接続されている発光表示パネルの製造工程における検査方法であって、  前記複数の擬似発光素子を共通接続すると共に、前記点灯駆動手段に接続されていない前記走査線及びデータ線を、前記点灯駆動手段に接続する工程と、前記点灯駆動手段により前記各擬似発光素子を点灯駆動させる工程とを実行することに特徴を有する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、この発明にかかる発光表示パネル及び、その製造工程における検査方法について、図に示す実施の形態に基づいて説明する。尚、以下の説明においてはすでに説明した図１乃至図３に示された各部に相当する部分を同一符号で示しており、したがって個々の機能および動作については適宜説明を省略する。
【００２１】
図４はこの発明にかかる発光表示パネルを有する陰極線走査・陽極線ドライブ回路の一形態を示す図である。従来の形態を示した図１との違いを説明すると、図４ではまず、陽極線Ａ１〜Ａｎの左側に陽極線Ａ０を追加し、陰極線Ｂ１〜Ｂｍの下に陰極線Ｂ（ｍ＋１）を追加した構成となされる。そして、陽極線Ａ０と陰極線Ｂ１〜Ｂｍの各交点においては、擬似発光素子としてのＥＬ素子Ｅｄがそれぞれ配置される。また、陰極線Ｂ（ｍ＋１）と陽極線Ａ１〜Ａｎの各交点においても、擬似発光素子としてのＥＬ素子Ｅｄがそれぞれ配置される。
【００２２】
すなわち、擬似発光素子としてのＥＬ素子Ｅｄの一方の電極は、擬似ではない他のＥＬ素子Ｅの一方の電極と陰極線Ｂ１〜Ｂｍもしくは陽極線Ａ１〜Ａｎのいずれかを介して共通接続される。そして、各ＥＬ素子Ｅｄの他方の電極は、陰極線Ｂ（ｍ＋１）または陽極線Ａ０に共通接続される。なお、図４においては、陰極線Ｂ（ｍ＋１）と陽極線Ａ０との交差位置にも、ＥＬ素子Ｅｄが配置される形態を示している。
【００２３】
また、前記陽極線Ａ０の一端には引き出し端子１１が形成され、この引き出し端子１１は点灯駆動手段である陽極線ドライブ回路２、すなわち定電流回路Ｉ１〜Ｉｎ、およびドライブスイッチＳＸ１〜ＳＸｎには接続されない状態（開放状態）となされる。また、陰極線Ｂ（ｍ＋１）の一端には引き出し端子１３が形成され、この引き出し端子１３は点灯駆動手段である陰極線走査回路３、すなわち走査スイッチＳＹ１〜ＳＹｍには接続されない状態（開放状態）となされる。
【００２４】
このように、前記複数のＥＬ素子Ｅｄは、構造的に、通常は点灯駆動されることがないダミー素子（ダミー素子Ｅｄと称呼する）として設けられている。なお、以下の説明においては、図４に示す表示パネル１上の画素領域２１において、陽極線ドライブ回路２及び陰極線走査回路３により点灯駆動されるＥＬ素子Ｅが配置された領域を表示画素領域２１ａと称呼する。一方、画素領域２１において、ダミー素子Ｅｄの配置された領域をダミー画素領域２１ｂと称呼する。すなわち、画素領域２１は、表示画素領域２１ａとダミー画素領域２１ｂとに分けられる。
【００２５】
図５は、図４に示した本発明にかかる発光表示パネルにおける、画素領域と陽極引き出し端子および陰極引き出し端子との配置関係を示す模式図である。図６は、図５の一部拡大図である。図示するように、陽極線Ａ１〜Ａｎから引き出された陽極引き出し端子７は、画素領域２１の上側に並べて配置され、陰極線Ｂ１〜Ｂｍから引き出された複数の陰極引き出し端子８は表示パネル１の左側に並べて配置されている。
【００２６】
一方、陽極線ドライブ回路２に接続されない陽極線Ａ０から引き出された引き出し端子１１は、図５、図６（ａ）に示すように表示パネル１の陽極引き出し端子７に並んで、その左端部に配置される。また、陰極線走査回路３に接続されない陰極線Ｂ（ｍ＋１）から引き出された引き出し端子１３は、図５、図６（ｂ）に示すように陰極引き出し端子８に並んで、その下端部に配置されている。また、図６の拡大図に示すように、前記引き出し端子１１、１３はそれぞれ、各陽極引き出し端子７及び各陰極引き出し端子８よりも幅広く、長くすることで、その表面積が大きく形成されている。
【００２７】
このように、ダミー画素領域２１ｂから引き出された引き出し端子１１、１３の表面積が大きく形成されているため、例えば、表示パネル１の製造工程等において、静電気等のサージが表示パネル１に対し放出されたとしても、放出される電荷は、各陽極接続端子７や各陰極接続端子８よりも、より容量成分が大きい接続端子１１、１３に導かれる。その結果、サージによる電荷はダミー画素領域２１ｂに流れ込み、ダミー素子Ｅｄのいずれかがダメージを受けることとなる。したがって、実際に点灯駆動されて発光する表示パネル１上の表示画素領域２１ａはダメージを受けることがないため、表示画素の絶縁破壊を抑制することができる。また、引き出し端子１１、１３は開放（電気的に切断）されているため、絶縁破壊されているダミー素子Ｅｄが存在する場合に、そのダミー素子を介してリーク電流が発生する現象を回避することができる。
【００２８】
なお、図４、図５に示した形態においては、表示画素領域２１ａの下側と左側の２辺にダミー画素領域２１ｂが形成された例を示したが、これに限らず図７に示すように、表示画素領域２１ａの上側と左側の２辺にダミー画素領域２１ｂを形成してもよい。ただし、この場合には図示するように、引き出し端子１３は陰極引き出し端子８に並んで、その上端部に配置される。
【００２９】
また、走査線（陰極線）を表示パネル１の左右両側から引き出す構造の場合には、図８、図９に示すように、陰極引き出し端子８、９が表示画素領域２１ａの左右に配置されるため、ダミー画素Ｅｄを表示画素領域２１ａの左右の２辺に配置し、上下いずれかの１辺に配置すればよい。その場合、陽極線ドライブ回路２に接続されない陽極線から引き出された引き出し端子１１、１２が配置され、陰極線走査回路３に接続されない陰極線から引き出された引き出し端子１３、１４が配置される構造となる。このような構成によれば、静電気等のサージから放出される電荷は、それぞれの表面積が小さい陽極引き出し端子７、陰極引き出し端子８よりも、表面積が大きい（より容量成分が大きい）引き出し端子１１、１２、１３、１４に導かれる。その結果、電荷はダミー画素領域２１ｂに流れ、ダミー素子Ｅｄがダメージを受け、他の表示用素子は静電破壊から免れることができる。
【００３０】
また、走査線（陰極線）を表示パネル１の左右両側から引き出す構造の場合において、図１０に示すように、ダミー画素Ｅｄを表示画素領域２１ａの左右の２辺に配置し、上下の２辺にもダミー画素Ｅｄを配置する構成としてもよい。その場合、図示するように陽極線ドライブ回路２に接続されない陽極線から引き出された引き出し端子１１、１２が配置され、陰極線走査回路３に接続されない陰極線から引き出された引き出し端子１３、１４、１５、１６が配置される構造となる。このように構成すれば、表示画素領域２１ａの周辺は、完全にダミー画素領域２１ｂに囲まれ、サージから放出される電荷をより確実にダミー画素Ｅｄに導くことができる。
【００３１】
以上のように、本発明にかかる発光表示パネルの一実施の形態によれば、点灯駆動手段に接続されない陽極線及び陰極線上にダミーの発光素子を配列し、それら陽極線及び陰極線からの引き出し端子の表面積を、点灯駆動される発光素子に接続された陽極線及び陰極線からの引き出し端子の表面積よりも大きく形成することにより、静電気等のサージによる電荷の流れをダミーの発光素子に導くことができる。その結果、各画素が微細であっても、サージによるダメージは、ダミーの発光素子に与えられ、実際に点灯駆動される発光素子に対するサージの悪影響を回避することができる。
【００３２】
続いて、本発明に係る発光表示パネルの製造工程における検査方法の一実施の形態について図１１に基づいて説明する。図１１は、図４の表示パネル１の検査時における形態について示した検査用回路図である。図１１に示す回路構成は、図４の回路に、検査用の回路として検査用陽極ドライブ回路２ａ、及び検査用陰極線走査回路３ａを追加した構成となされる。
【００３３】
図示するように、検査用陽極線ドライブ回路２ａは、定電流回路Ｉ０とドライブスイッチＳｘ０により構成される。そして、定電流回路Ｉ０には、他の定電流回路ｌ１〜Ｉｎと同様に、駆動電圧源６からのＤＣ出力が供給されるようになされ、ドライブスイッチＳｘ０は、定電流回路Ｉ０と陽極線Ａ０の引き出し端子１１とを接続している。また、検査用陰極線走査回路３ａは、走査スイッチＳｙ（ｍ＋１）を有し、このスイッチは陰極線Ｂ（ｍ＋１）の引き出し端子１３に接続されている。
【００３４】
表示パネル１の製造工程において、その検査工程は次の手順で行われる。先ず、点灯駆動手段としての陽極線ドライブ回路２に接続されていない陽極線Ａ０の引き出し端子１１を、点灯駆動手段としての検査用陽極線ドライブ回路２ａに接続すると共に、点灯駆動手段としての陰極線走査回路３に接続されていない陰極線Ｂ（ｍ＋１）の引き出し端子１３を、点灯駆動手段としての検査用陰極線走査回路３ａに接続する。次いで、検査用陽極線ドライブ回路２ａ及び検査用陰極線走査回路３ａを駆動することにより、ダミー画素領域２１ｂにおけるダミー素子Ｅｄを点灯駆動する。
【００３５】
以上の工程により、ダミー素子Ｅｄを含む発光素子のうち、静電気等のサージによるダメージを受けて絶縁破壊された素子がある場合には、その画素にリーク電流が発生するため輝点もしくは暗点として確認することができる。これによりダミー画素領域２１ｂにおいてダメージ（絶縁破壊等）を受けたダミー素子の有無と、表示画素領域２１ａにおいてダメージを受けたＥＬ素子の有無を検査することができ、サージの発生及びその影響の傾向を知ることができる。なお、検査終了時においては、検査用陽極線ドライブ回路２ａ及び検査用陰極線走査回路３ａは、引き出し端子１１、１３から切断される。また、表示画素領域２１ａにおいて、ダメージを受けたＥＬ素子が存在する場合には、必要に応じてリペアされる。
【００３６】
以上のように、本発明にかかる表示パネルの検査方法の一実施の形態によれば、点灯駆動手段に接続されていない陽極線Ａ０の引き出し端子１１を点灯駆動手段に接続すると共に、点灯駆動手段に接続されていない陰極線Ｂ（ｍ＋１）の引き出し端子１３を点灯駆動手段に接続し、点灯駆動手段を駆動することにより、ダミー画素領域２１ｂ及び表示画素領域２１ａにおいてサージによる破壊を受けた素子の有無を検査することができる。また、これにより、表示パネル１に対するサージの影響を知ることができるため、その検査結果を製造工程におけるサージ対策にフィードバックすることができる。
【００３７】
なお、以上説明した実施の形態においては、パッシブマトリックス駆動方式における陰極線走査・陽極線ドライブの場合を例に示したが、陽極線走査・陰極線ドライブの場合、あるいはアクティブマトリックス駆動方式の場合であっても、本発明にかかる表示パネル及びその検査方法を好適に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】パッシブマトリックス駆動方式により発光制御される従来の表示パネル及び、その駆動回路の一例を示すブロック図である。
【図２】図１の表示パネルにおける画素領域と陽極引き出し端子および陰極引き出し端子との配置関係を模式的に示した図である。
【図３】図２の一部拡大図である。
【図４】本発明にかかる発光表示パネル及び、その駆動回路の一実施形態を示したブロック図である
【図５】図４の表示パネルにおける画素領域と陽極引き出し端子および陰極引き出し端子との配置関係を模式的に示した図である。
【図６】図５の一部拡大図である。
【図７】図４の表示パネルにおける画素領域と陽極引き出し端子および陰極引き出し端子との配置関係の他の形態を模式的に示した図である。
【図８】図４の表示パネルにおける画素領域と陽極引き出し端子および陰極引き出し端子との配置関係の他の形態を模式的に示した図である。
【図９】図４の表示パネルにおける画素領域と陽極引き出し端子および陰極引き出し端子との配置関係の他の形態を模式的に示した図である。
【図１０】図４の表示パネルにおける画素領域と陽極引き出し端子および陰極引き出し端子との配置関係の他の形態を模式的に示した図である。
【図１１】本発明に係る発光表示パネルの検査方法を説明するための発光駆動回路の一実施形態を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００３９】
１        発光表示パネル
２        陽極線ドライブ回路（点灯駆動手段）
３        陰極線走査回路（点灯駆動手段）
４        発光制御回路
５        逆バイアス電圧生成回路
６        駆動電圧源
７        陽極引き出し端子
８        陰極引き出し端子
９        陰極引き出し端子
１１      引き出し端子
１２      引き出し端子
１３      引き出し端子
１４      引き出し端子
１５      引き出し端子
１６      引き出し端子
２１      画素領域
２１ａ    表示画素領域
２１ｂ    ダミー画素領域
Ａ        走査線（陰極線）
Ｂ        データ線（陽極線）
Ｅ        有機ＥＬ素子（発光素子）
Ｅｄ      ダミー素子（擬似発光素子）
Ｉ        定電流回路
Ｓｘ      ドライブスイッチ
Ｓｙ      走査スイッチ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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