(57)【要約】【課題】ＤＡコンバータ等の試験において、試験時間を短縮することができる試験装置を提供する。【解決手段】入力信号を変換した出力信号を出力する変換装置を試験する試験装置であって、所定の周期を有する入力信号を生成するパターン発生部と、所定の周期を有する測定クロックを生成するクロック発生部と、測定クロックを受け取り、測定クロックに同期して出力信号の値を順次測定する測定部と、測定部が順次測定した値を、異なるアドレスに順次格納する格納部とを備える試験装置を提供する。【選択図】図１
2006266837.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号を変換した出力信号を出力する変換装置を試験する試験装置であって、
所定の周期を有する測定クロックを生成するクロック発生部と、
前記測定クロックと略同一の周期を有する前記入力信号を生成し、前記変換装置に入力するパターン発生部と、
前記測定クロックを受け取り、前記測定クロックに同期して前記出力信号の値を順次測定する測定部と、
前記測定部が順次測定した値を、異なるアドレスに順次格納する格納部と
を備える試験装置。
【請求項２】
前記入力信号のパルスと、当該パルスに対応する前記測定クロックのパルスとの位相差をそれぞれ検出する位相差検出部を更に備え、
前記格納部は、前記入力信号のパルスと、前記測定クロックのパルスとの位相差が、予め定められた値より大きい場合に、前記測定クロックの当該パルスに応じて前記測定部が測定した前記出力信号の値を格納しない
請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
前記入力信号のパルスと、当該パルスに対応する前記測定クロックのパルスとの位相差をそれぞれ検出する位相差検出部を更に備え、
前記格納部は、前記入力信号のパルスと、前記測定クロックのパルスとの位相差が、予め定められた値より大きい場合に、前記測定クロックの当該パルスに応じて前記測定部が測定した前記出力信号の値に対応付けて、当該出力信号の値が無効であることを示す情報を格納する
請求項１に記載の試験装置。
【請求項４】
所定のパターンを有する前記入力信号に応じて、前記測定部が測定した前記出力信号のそれぞれの値が、前記入力信号に応じて予め定められた範囲内であるか否かを判定する判定部を更に備え、
前記パターン発生部は、前記判定部が前記出力信号の値が前記範囲内でないと判定した場合に、前記所定のパターンを有する前記入力信号を前記変換装置に更に入力する
請求項１に記載の試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、入力信号を変換した出力信号を出力する変換装置を試験する試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、ＡＤコンバータ、ＤＡコンバータ等の変換装置を試験する場合、変換装置に所定の入力信号を入力し、変換装置の出力信号が所定の値を示すか否かを検出している。また、変換装置の試験を精度よく行なうためには、数十から数万パターンの入力信号を入力する必要がある。
【０００３】
従来の試験装置は、例えばＤＡコンバータの出力信号の電圧値を測定する測定部と、測定部が測定した値を格納するレジスタを有している。また、当該試験装置は、ＤＡコンバータの出力信号のレベルが確定する毎に、入力信号の印加を停止し、レジスタに格納した電圧値を読み出している。
【０００４】
関連する特許文献等は、現在認識していないので、その記載を省略する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、ＤＡコンバータ等の変換装置において、入力信号の印加を停止し、新たな入力信号を入力する場合、変換装置を初期化する必要がある。このため、数十から数万パターンの入力信号を用いて試験を行う場合、入力信号を変更する毎に、変換装置を初期化する必要があり、非常に長い試験時間を必要とする。
【０００６】
このため本発明は、上述した課題を解決することのできる試験装置を提供することを目的とする。この目的は、請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明の第１の形態においては、入力信号を変換した出力信号を出力する変換装置を試験する試験装置であって、所定の周期を有する入力信号を生成するパターン発生部と、所定の周期を有する測定クロックを生成するクロック発生部と、測定クロックを受け取り、測定クロックに同期して出力信号の値を順次測定する測定部と、測定部が順次測定した値を、異なるアドレスに順次格納する格納部とを備える試験装置を提供する。
【０００８】
試験装置は、入力信号のパルスと、当該パルスに対応する測定クロックのパルスとの位相差をそれぞれ検出する位相差検出部を更に備え、格納部は、入力信号のパルスと、測定クロックのパルスとの位相差が、予め定められた値より大きい場合に、測定クロックの当該パルスに応じて測定部が測定した出力信号の値を格納しなくてよい。
【０００９】
試験装置は、入力信号のパルスと、当該パルスに対応する測定クロックのパルスとの位相差をそれぞれ検出する位相差検出部を更に備え、格納部は、入力信号のパルスと、測定クロックのパルスとの位相差が、予め定められた値より大きい場合に、測定クロックの当該パルスに応じて測定部が測定した出力信号の値に対応付けて、当該出力信号の値がダミーであることを示す情報を格納してよい。
【００１０】
所定のパターンを有する入力信号に応じて、格納部が格納した出力信号のそれぞれの値が、予め定められた範囲内であるか否かを判定する判定部を更に備え、パターン発生部は、判定部が出力信号の値が範囲内でないと判定した場合に、所定のパターンを有する入力信号を変換装置に更に供給してよい。
【００１１】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００１３】
図１は、本発明の実施形態に係る試験装置１００の構成の一例を示す図である。試験装置１００は、入力信号を変換した出力信号を出力する変換装置２００を試験する装置であって、レート発生部１０、駆動部２０、パターン発生部３０、クロック発生部４０、測定部５０、及び格納部６０を備える。変換装置２００は、例えばＤＡコンバータ、又はＡＤコンバータである。
【００１４】
駆動部２０は、変換装置２００を動作させるための電源電力、駆動クロック等を生成し、変換装置２００に供給する。レート発生部１０は、パターン発生部３０が動作するためのレートクロックを生成する。
【００１５】
パターン発生部３０は、レートクロックに応じて動作し、所定の周期を有する入力信号を生成する。例えば入力信号は、当該所定の周期毎に、変換装置２００に順次入力するべきデジタル値を順次示す信号である。パターン発生部３０は、当該入力信号を生成するプログラムが与えられ、レートクロックに応じて当該プログラムを実行することにより、所定のパターンの入力信号を生成する。例えば、パターン発生部３０は、当該所定の周期毎に、デジタル値が順次増加する入力信号を生成する。入力信号の周期は、当該プログラムにより定められてよい。駆動部２０は、当該プログラムにより生成される入力信号が全て変換装置２００に入力され、変換装置２００が当該入力信号に応じて出力信号を出力するまで、電源電力、駆動クロック等の供給を継続する。
【００１６】
クロック発生部４０は、入力信号と略同一の周期を有する測定クロックを生成する。クロック発生部４０が生成するべき測定クロックの周期は、クロック発生部４０に予め設定されてよく、またパターン発生部３０からクロック発生部４０に与えられてもよい。また、パターン発生部３０は、測定クロックの生成を開始させるトリガ信号を、クロック発生部４０に供給してもよい。
【００１７】
測定部５０は、測定クロックを受け取り、受け取った測定クロックに同期して、変換装置２００の出力信号の値を順次測定する。例えば、測定部５０は、測定クロックのそれぞれのパルスの位相における、出力信号の電圧値を順次検出する。また、試験装置１００は、測定部５０に出力信号の測定を開始させるトリガ信号を供給する制御部を更に備えてもよく、パターン発生部３０が、当該トリガ信号を生成してもよい。
【００１８】
格納部６０は、測定部５０が順次測定した値を、異なるアドレスに順次格納する。格納部６０は、測定クロックを受け取り、当該測定クロックに応じて、異なるアドレスを順次生成してよい。判定部８０は、格納部６０が格納した値に基づいて、変換装置２００の良否を判定する。
【００１９】
本例における試験装置１００によれば、入力信号と測定クロックの周期が略同一であるので、変換装置２００の出力信号と測定部５０における測定周期が略同一となる。このため、変換装置２００に入力信号を供給し続けても、測定部５０は、出力信号のそれぞれのサイクルにおける電圧値を連続して検出することができる。このため、変換装置２００に、異なる値を順次示す入力信号を継続して供給することができる。入力信号が継続して供給されるので、変換装置２００を初期化する必要がなく、試験時間を短縮することができる。
【００２０】
また、位相差検出部７０は、入力信号のパルスと、当該パルスに対応する測定クロックのパルスとの位相差を、それぞれのパルス毎に検出する。当該位相差が予め定められた値より大きい場合、格納部６０は、当該パルスに対応して測定部５０が測定した出力信号の値を格納しなくてよい。位相差検出部７０及び格納部６０の動作は、図３において後述する。
【００２１】
図２は、従来の試験装置の動作と、試験装置１００の動作とを比較する図である。従来の試験装置は、ＤＡコンバータ等に継続して入力信号を入力しないので、ＤＡコンバータ等に異なる信号値を入力する毎に、ＤＡコンバータ等のデバイスを初期化する必要がある。このため、Ｎ種類の信号値をＤＡコンバータ等に順次入力する場合、ＤＡコンバータ等のデバイスをＮ回初期化する必要があり、非常に長い試験時間を必要とする。
【００２２】
これに対し、試験装置１００は、所定の周期毎に順次Ｎ種類の信号値を示す入力信号を継続してＤＡコンバータ等に入力することができるので、入力信号の印加前にＤＡコンバータ等を初期化すれば、当該入力信号についての測定が終わるまで、ＤＡコンバータ等を初期化しなくてよい。このため、Ｎ−１回分のデバイス初期化時間を削減することができ、試験時間を短縮することができる。
【００２３】
図３は、入力信号と測定クロックの波形の一例を示す図である。本例において、入力信号及び測定クロックの周期は１００μＳとして説明する。図３（ａ）に示すように、クロック発生部４０は、入力信号に対して所定の範囲の位相差を有する測定クロックを生成する。例えば、クロック発生部４０は、測定部５０におけるセットアップタイム又はホールドタイムを確保できる位相差を、入力信号に対して有する。
【００２４】
しかし、入力信号と測定クロックの周期に誤差が生じている、又はその他の原因により、測定クロックのパルスと、対応する入力信号のパルスとの位相差が所定の範囲にない場合がある。位相差検出部７０は、測定クロックのそれぞれのパルスと、対応する入力信号のパルスとの位相差を、それぞれのパルス毎に検出し、当該位相差が予め定められた値より大きくなった場合に、当該パルスに応じて測定部５０が測定した出力信号の値を、格納部６０に格納させないように、格納部６０を制御してよい。この場合、パターン発生部３０は、当該パターンに対応するデータ値を、当該位相差が予め定められた値より小さくなるまで継続して出力してよい。
【００２５】
また、図３（ｂ）に示すように、測定クロックの周期が、入力信号の周期より小さい場合、入力信号のうちの一つのデータを、２回測定することがある。この場合においても、位相差検出部７０が、検出した位相差に基づいて格納部６０を制御することにより、格納部６０に重複したデータを格納することを防ぐことができる。
【００２６】
また、格納部６０は、入力信号のパルスと、測定クロックのパルスとの位相差が、予め定められた値より大きい場合に、測定クロックの当該パルスに応じて測定部が測定した出力信号の値に対応付けて、当該出力信号の値がダミーであることを示す情報を格納してもよい。
【００２７】
図４は、判定部８０の動作の一例を示す図である。図４において、横軸は、格納部６０のアドレスを示し、縦軸は、それぞれのアドレスに格納されたデータ値を示す。本例において、パターン発生部３０は、所定の周期毎に、デジタル値が所定の値ずつ順次増加する入力信号を生成する。また、格納部６０は、測定部５０が測定した値を、先頭アドレスから順次格納する。
【００２８】
変換装置２００が正常である場合、格納部６０が格納したデータ値は、図４（ａ）に示すように、直線で近似される。しかし、変換装置２００が正常でない場合、格納部６０が格納したデータ値は、直線で近似されない。
【００２９】
判定部８０は、当該入力信号に応じて、格納部６０が格納した出力信号のそれぞれの値が、予め定められた範囲内であるか否かを判定する。当該範囲は、入力信号のパターンに応じて、それぞれのアドレスで異なる範囲であってよい。例えば、図４に示すように、所定の傾きを有する直線を基準とする範囲であってよい。
【００３０】
また、パターン発生部３０は、判定部８０が出力信号の値が当該範囲内でないと判定した場合に、同一のパターンを有する入力信号を変換装置２００に更に入力してよい。すなわち、同一のパターンの入力信号を用いて、変換装置２００を繰り返して試験してよい。このような制御により、変換装置２００の不良でなく、例えばノイズ等の影響でデータ値が当該範囲内にない場合であっても、繰り返して試験を行うので、ノイズ等の影響を排除して、精度よく変換装置２００の試験を行うことができる。
【００３１】
また、パターン発生部３０は、判定部８０が出力信号の値が当該範囲内でないと判定した場合に、変換装置２００に入力した入力信号のうち、当該範囲内でない出力信号の値に対応するパターンを抽出して、変換装置２００に更に入力してもよい。
【００３２】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【産業上の利用可能性】
【００３３】
以上から明らかなように、本発明によれば、ＤＡコンバータ等の試験において、試験時間を短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本発明の実施形態に係る試験装置１００の構成の一例を示す図である。
【図２】従来の試験装置の動作と、試験装置１００の動作とを比較する図である。
【図３】入力信号と測定クロックの波形の一例を示す図である。
【図４】判定部８０の動作の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００３５】
１０・・・レート発生部、２０・・・駆動部、３０・・・パターン発生部、４０・・・クロック発生部、５０・・・測定部、６０・・・格納部、７０・・・位相差検出部、８０・・・判定部、１００・・・試験装置、２００・・・変換装置
【図１】
2006266837.tif 000003
【図２】
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【図３】
2006266837.tif 000005
【図４】
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