(57)【要約】    【課題】従来の欠陥登録方法では、ディスクのＴＡ発生部（突起部）に起因するヘッド損傷を防止することができない。    【解決手段】初期欠陥登録時に、ＴＡ発生部１００と判定された個所に対し、ＴＡ発生部個所を中心として半径方向にＸ±Ａトラック、円周方向にＹ±Ｂセクタ（又はバイト）を登録し(１次登録)、続いてＴＡ発生部１００が検出されたトラック１１０を中心として半径方向に±数十〜数百トラック程度、かつ円周方向の全セクタ(またはバイト)を登録する(２次登録)。さらに、ＴＡ発生部１００が検出されたディスク以外の全ディスク２１０に対して、２次登録と同じ半径位置に相当する領域のシリンダ１２０を登録する（３次登録）。磁気ディスク装置のデータ使用容量が総容量に対して一定の割合を超えた場合には、３次登録及び２次登録を開放しＴＡ登録箇所から除外する。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスク媒体と、該磁気ディスク媒体を一定速度にて回転させるためのスピンドル・モータと、前記磁気ディスク媒体からデータを読み出すための素子に磁気抵抗効果素子を用いた磁気抵抗効果型ヘッドと、該磁気抵抗効果型ヘッドを前記磁気ディスク媒体上の所定のトラックに位置決めするためのキャリッジとを有し、前記磁気ディスク媒体の特定領域に、当該磁気ディスク媒体のサーマルアスペリティ（ＴＡ）発生部に対して半径方向の内外に数トラック、円周方向の前後に数バイト又は数セクタを１次欠陥領域として１次登録し、さらに前記１次登録よりも広い範囲のトラック及びその円周方向の全セクタを２次欠陥領域として２次登録したテーブルを有することを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項２】
前記２次登録の範囲は、数十〜数百トラックであることを特徴とする請求項１記載の磁気ディスク装置。
【請求項３】
前記２次登録の範囲は、前記磁気抵抗効果型ヘッドの磁気抵抗効果素子の幅に相当することを特徴とする請求項１記載の磁気ディスク装置。
【請求項４】
前記２次登録の範囲は、前記磁気抵抗効果型ヘッドの、ヨー角が付いた場合の前記半径方向の幅に相当することを特徴とする請求項１記載の磁気ディスク装置。
【請求項５】
前記２次登録は、前記磁気抵抗効果型ヘッドの番号を含むことを特徴とする請求項１記載の磁気ディスク装置。
【請求項６】
前記テーブルは、前記ＴＡ発生部、１次登録及び２次登録それぞれに対するフラッグ情報を有することを特徴とする請求項１記載の磁気ディスク装置。
【請求項７】
前記テーブルは、ＴＡ登録エリアと２次登録エリアを有し、前記ＴＡ登録エリアには前記ＴＡ発生部の位置情報と、前記１次登録と、前記２次登録のフラッグ情報を有することを特徴とする請求項１記載の磁気ディスク装置。
【請求項８】
前記１次登録及び２次登録は、後発的に発生したＴＡ発生部に対しても行われることを特徴とする請求項１記載の磁気ディスク装置。
【請求項９】
前記後発的に発生したＴＡ発生部に対して前記１次登録及び２次登録を行う場合、当該領域のデータを他の領域に移動した後に行われることを特徴とする請求項８記載の磁気ディスク装置。
【請求項１０】
磁気ディスク媒体と、該磁気ディスク媒体を一定速度にて回転させるためのスピンドル・モータと、前記磁気ディスク媒体からデータを読み出すための素子に磁気抵抗効果素子を用いた複数の磁気抵抗効果型ヘッドと、該磁気抵抗効果型ヘッドを前記磁気ディスク媒体上の所定のトラックに位置決めするためのキャリッジとを有し、前記磁気ディスク媒体の特定領域に、当該磁気ディスク媒体のサーマルアスペリティ（ＴＡ）発生部に対して半径方向の内外に数トラック、円周方向の前後に数バイト又は数セクタを１次欠陥領域として１次登録し、該１次登録よりも広い範囲のトラック及びその円周方向の全セクタを２次欠陥領域として２次登録し、さらに該２次登録と同じ半径位置に相当する領域のシリンダを３次欠陥領域として３次登録したテーブルを有することを特徴とする磁気ディスク装置。
【請求項１１】
前記テーブルは、前記ＴＡ発生部、１次登録、２次登録及び３次登録それぞれに対するフラッグ情報を有することを特徴とする請求項１０記載の磁気ディスク装置。
【請求項１２】
前記テーブルは、ＴＡ登録エリアと２次登録エリアと３次登録エリアを有し、前記ＴＡ登録エリアには前記ＴＡ発生部の位置情報と、前記１次登録、２次登録及び３次登録のフラッグ情報を有することを特徴とする請求項１０記載の磁気ディスク装置。
【請求項１３】
前記磁気ディスク媒体の使用容量が一定の割合を超えた場合、前記ＴＡ発生部でＴＡが発生するかどうかを判定し、ＴＡが発生しなくなった領域から前記３次登録及び前記２次登録を開放することを特徴とする請求項１０記載の磁気ディスク装置。
【請求項１４】
前記ＴＡ発生部の全てでＴＡが発生する場合、前記３次登録を順次開放し、続いて前記２次登録を順次開放することを特徴とする請求項１３記載の磁気ディスク装置。
【請求項１５】
前記磁気ディスク媒体の使用容量が一定の割合を超えた場合、前記３次登録を順次開放し、続いて前記２次登録を順次開放することを特徴とする請求項１０記載の磁気ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、回転駆動する磁気ディスク媒体と磁気ディスク媒体に対して情報の記録あるいは再生を行う磁気抵抗効果型ヘッド（ＭＲヘッド）を有する磁気ディスク装置に係り、特に磁気ディスク上のサーマルアスペリティ（ＴＡ）発生部に起因するＭＲヘッドの素子部への障害を防止あるいは緩和する機能を備えた磁気ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
磁気ディスク装置の記録媒体である磁気ディスク（以下、単にディスクともいう）の表面は、ディスク基板側から下地層、磁性層、保護層、潤滑層等のように非常に薄い層が何層にもわたって積み重なって形成されている。またこのディスク表面は、ＭＲヘッド（以下、単にヘッドともいう）がディスク上を微小な高さで安定して浮上し、データの再生／記録（リード／ライト）ができるように精密な平面性をも有している。しかし、それでもディスク表面には微小高さの突起や傷等の欠陥が存在する。
【０００３】
ディスク上の突起の上をＭＲヘッドが通過する際に、突起の高さがＭＲヘッドの素子部の浮上量よりも高い場合、素子部と突起の接触が発生する。この時、ＭＲヘッドと突起の間に相対速度がある為に摩擦熱が発生し、その摩擦熱によりＭＲヘッドに急激な温度上昇が生じることでＭＲ素子部の電気抵抗値が上昇し、再生信号の直流成分の移動を引き起こす。この現象をサーマルアスペリティ（ＴＡ）といい、それによりリード・エラーが発生することになる。
【０００４】
現在の磁気ディスク装置においては、記録密度の増加に伴ってヘッド浮上量は低下しており、ヘッドとディスク間の距離が狭小化している。その為に、これまで問題にならなかった高さの突起がＴＡ発生部として検出されることになる。また、ヘッド浮上量の低下に伴って、これまで問題にならなかった微小な塵埃がヘッドとディスク間に噛み込まれ、ＴＡが発生する状況も発生している。これらのことからＴＡをなくすことは困難である。通常、そのような磁気ディスクを装置に組み込んだ場合には、欠陥箇所を除いてフォーマッティングを行い、欠陥箇所については通常使用時前において装置に登録（事前登録）をしておき、そこへのアクセスを禁止する等の方法が一般的に用いられている。
【０００５】
特許文献１には、ディスク媒体上のＴＡ発生部となる欠陥部の検出、及び欠陥部の登録方法が開示されている。ＴＡ発生部となる欠陥部の検出は、ＭＲヘッドのＭＲ素子部の熱抵抗変化を検出することにより行われる。欠陥部の登録は、後発ＴＡに対するリード・エラーを予防するために、ＴＡ発生部の隣接数トラックの同じセクタを欠陥セクタとして登録するものである。
【０００６】
特許文献２には、欠陥情報用リストを保持する領域を大幅に削減するとともに、スキップ処理を短時間で行えるように、傷等によってデータを正しく記録・再生できない欠陥部位の生じた欠陥トラックが属するシリンダを欠陥シリンダとして欠陥シリンダリストに予め登録しておき、上位装置からのアクセス要求を受けると、この欠陥シリンダリストに登録されている欠陥シリンダをスキップし、欠陥トラックを含まない正常シリンダのみを使用することが記載されている。
【０００７】
【特許文献１】特開平１０−３６０３号公報
【特許文献２】特開２０００−２９３９４６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
特許文献１記載の方法は磁気ディスク上の欠陥部がヘッドとの接触等によって成長・拡大し、欠陥部及びその隣接領域の情報が読めなくなる事を防止するために行われているものであり、あくまでも磁気ディスク上のデータ保護を主体として行われている方法である。
一方、現在の磁気ディスク装置において、磁気ディスク上のＴＡ発生部（初期ＴＡ発生部及び後発ＴＡ発生部）の上をＭＲヘッドが通過することにより、ヘッド素子部へのスクラッチの発生や、素子部ＡＢＳ保護膜の磨耗が発生する事が確認されている。これらのヘッド素子部の損傷が原因となって、ヘッドに障害が発生する場合がある。また、複数のヘッドを備えた磁気ディスク装置においては、同じシリンダ内の他のヘッドとディスクでリード/ライトを行う際に、ＴＡ発生部が存在するトラックに対応するＭＲヘッドはＴＡ発生部を通過してしまい、ヘッド素子部への損傷が発生する要因となってしまう。
【０００９】
特許文献２記載の発明は、いずれかのトラックに傷等によってデータを正しく記録・再生できない欠陥部位がある場合、ＴＡ発生部（突起）が存在していなくてもそのトラックが属するシリンダを欠陥シリンダとするために、ディスクの記録領域を減少させることになる。また、欠陥登録の対象が、欠陥部位の生じた欠陥トラックが属するシリンダのみであるために、欠陥が突起の場合は、ヘッドの突起に対する接触を防止あるいは緩和することはできない。
【００１０】
このように、これまで用いられてきた欠陥登録方法では、ディスクのＴＡ発生部（突起部）に起因するヘッド損傷を防止することができない。
本発明の目的は、磁気ディスク上のＴＡ発生部をＭＲヘッドが通過することにより発生するＭＲヘッドの損傷を、防止あるいは緩和することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために、本発明の磁気ディスク装置においては、磁気ディスク媒体と、該磁気ディスク媒体を一定速度にて回転させるためのスピンドル・モータと、前記磁気ディスク媒体からデータを読み出すための素子に磁気抵抗効果素子を用いた磁気抵抗効果型ヘッドと、該磁気抵抗効果型ヘッドを前記磁気ディスク媒体上の所定のトラックに位置決めするためのキャリッジとを有し、前記磁気ディスク媒体の特定領域に、当該磁気ディスク媒体のサーマルアスペリティ（ＴＡ）発生部に対して半径方向の内外に数トラック、円周方向の前後に数バイト又は数セクタを１次欠陥領域として１次登録し、さらに前記１次登録よりも広い範囲のトラック及びその円周方向の全セクタを２次欠陥領域として２次登録したテーブルを有することを特徴とする。
【００１２】
前記２次登録の範囲は、数十〜数百トラックであることが望ましい。
【００１３】
前記２次登録の範囲は、前記磁気抵抗効果型ヘッドの磁気抵抗効果素子の幅に相当するものであっても良い。
【００１４】
前記２次登録の範囲は、前記磁気抵抗効果型ヘッドの、ヨー角が付いた場合の前記半径方向の幅に相当するものであっても良い。
【００１５】
前記２次登録は、前記磁気抵抗効果型ヘッドの番号を含んでいても良い。
【００１６】
前記テーブルは、前記ＴＡ発生部、１次登録及び２次登録それぞれに対するフラッグ情報を有する。
【００１７】
前記テーブルは、ＴＡ登録エリアと２次登録エリアを有し、前記ＴＡ登録エリアには前記ＴＡ発生部の位置情報と、前記１次登録と、前記２次登録のフラッグ情報を有するものであっても良い。
【００１８】
前記１次登録及び２次登録は、後発的に発生したＴＡ発生部に対しても行われることが望ましい。
【００１９】
前記後発的に発生したＴＡ発生部に対して前記１次登録及び２次登録を行う場合、当該領域のデータを他の領域に移動した後に行われる。
【００２０】
上記目的を達成するために、本発明の磁気ディスク装置においては、磁気ディスク媒体と、該磁気ディスク媒体を一定速度にて回転させるためのスピンドル・モータと、前記磁気ディスク媒体からデータを読み出すための素子に磁気抵抗効果素子を用いた複数の磁気抵抗効果型ヘッドと、該磁気抵抗効果型ヘッドを前記磁気ディスク媒体上の所定のトラックに位置決めするためのキャリッジとを有し、前記磁気ディスク媒体の特定領域に、当該磁気ディスク媒体のサーマルアスペリティ（ＴＡ）発生部に対して半径方向の内外に数トラック、円周方向の前後に数バイト又は数セクタを１次欠陥領域として１次登録し、該１次登録よりも広い範囲のトラック及びその円周方向の全セクタを２次欠陥領域として２次登録し、さらに該２次登録と同じ半径位置に相当する領域のシリンダを３次欠陥領域として３次登録したテーブルを有することを特徴とする。
【００２１】
前記テーブルは、前記ＴＡ発生部、１次登録、２次登録及び３次登録それぞれに対するフラッグ情報を有する。
【００２２】
前記テーブルは、ＴＡ登録エリアと２次登録エリアと３次登録エリアを有し、前記ＴＡ登録エリアには前記ＴＡ発生部の位置情報と、前記１次登録、２次登録及び３次登録のフラッグ情報を有するものであっても良い。
【００２３】
前記磁気ディスク媒体の使用容量が一定の割合を超えた場合、前記ＴＡ発生部でＴＡが発生するかどうかを判定し、ＴＡが発生しなくなった領域から前記３次登録及び前記２次登録を開放する。
【００２４】
前記ＴＡ発生部の全てでＴＡが発生する場合、前記３次登録を順次開放し、続いて前記２次登録を順次開放する。
【００２５】
前記磁気ディスク媒体の使用容量が一定の割合を超えた場合、前記３次登録を順次開放し、続いて前記２次登録を順次開放するようにしても良い。
【発明の効果】
【００２６】
本発明によれば、ＭＲヘッドの損傷を防止あるいは緩和することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
図２は本発明の一実施例による磁気ディスク装置２００の構成図である。ディスク２１０はスピンドル・モータ２３４によって回転され、ＭＲヘッド２１２はディスク２１０の対応する１つの表面にそれぞれ配置される。ＭＲヘッド２１２はキャリッジ２１４からディスク２１０に延びる対応するヘッド・アーム２１１上に取り付けられている。キャリッジ２１４はヘッド・アーム２１１を駆動してそれによってＭＲヘッド２１２の位置を変化させ、１つあるいは複数のディスク２１０上の特定の位置からデータを読み取ったり、その特定の位置にデータを書き込むためのボイス・コイル・モータ（ＶＣＭ）２３０を有している。
【００２８】
プリアンプ２１６はＭＲヘッド２１２によってピックアップされた信号を増幅して、読み取り／書き込みチャネル２１８に提供する。書き込み操作中には、プリアンプ２１６は符号化された書き込みデータ信号を読み取り／書き込みチャネル２１８から受け取り、ＭＲヘッド２１２に送る。読み取り操作において、読み取り／書き込みチャネル２１８はプリアンプ２１６によって提供された読み取り信号からデータ・パルスを検出し、そのデータ・パルスを復調する。読み取り／書き込みチャネル２１８はその復調されたデータ・パルスをディスク・データ制御装置（ＤＤＣ）２２０に送る。さらに、読み取り／書き込みチャネル２１８はＤＤＣ２２０から受信した書き込みデータを符号化して、その符号化したデータをプリアンプ２１６に提供する。
【００２９】
ＤＤＣ２２０はホスト・コンピュータ（図示せず）から受信したデータを、読み取り／書き込みチャネル２１８及びプリアンプ２１６を通じてディスク２１０上に書き込むと共に、ディスク２１０からの読み取りデータを上記ホスト・コンピュータに転送する。ＤＤＣ２２０は上記ホスト・コンピュータとマイクロコントローラ２２４間の仲立ちも行う。バッファＲＡＭ２２２はＤＤＣ２２０とホスト・コンピュータ、マイクロコントローラ２４、及び読み取り／書き込みチャネル１８間で転送されるデータを一時的に保存する。マイクロコントローラ２２４はホスト・コンピュータからの読み取り及び書き込みコマンドに応じて、トラック・シーキング及びトラック・フォローイング機能を制御する。
【００３０】
ＲＯＭ２２６はマイクロコントローラ２２４の制御プログラム及び種々の設定値を記憶する。ＶＣＭドライバ２２８はＭＲヘッド２１２の位置を制御するマイクロコントローラ２２４から発生する制御信号に応じてＶＣＭ２３０の駆動電流を発生させる。その駆動電流はＶＣＭ２３０のボイス・コイルに与えられる。ＶＣＭ２３０はＶＣＭドライバ２２８から供給される駆動電流の方向と量に従って、ディスク２１０に対するＭＲヘッド２１２の位置決めを行う。スピンドル・モータ・ドライバ２３２はスピンドル・モータ２３４を駆動し、このスピンドル・モータ２３４はディスク２１０を制御するためのマイクロコントローラ２２４から発生する制御値に従ってディスク２１０を回転させる。
【００３１】
前述したように、磁気ディスク装置の検査工程内で発見された初期的なＴＡ発生部のこれまでの登録方法は、ＴＡ発生部個所を中心として半径方向にＸ±Ａトラック、円周方向にＹ±Ｂセクタ（又はバイト）を欠陥領域として登録しその領域でデータのリード／ライトを行わない様にする方法が用いられている。しかし、この方法では、円周方向においては、欠陥登録以外の領域でリード／ライトを実施する場合に、ＴＡ発生部上をＭＲヘッドが通過することになり、接触が発生してしまう。さらに半径方向においては、欠陥登録範囲は通常±数トラック程度であるため、ＴＡ発生部近傍のトラックでリード／ライトを行う場合、ＭＲヘッドの素子部近傍でＴＡ発生部との接触が発生する。そのため、これまでの登録方法ではＴＡ発生部とＭＲヘッド素子部との接触を防ぐことは出来ない。
以下に本発明の実施例によるＴＡ発生部の登録方法を説明する。図１（ａ）に示すように、初期欠陥登録時にＴＡ発生部１００と判定された個所に対し、上記欠陥登録(１次欠陥領域の１次登録)とは別に、ＴＡ発生部１００が検出されたトラック１１０を中心として半径方向に±数十〜数百トラック程度、かつ円周方向の全セクタ(またはバイト)を２次欠陥領域として登録する(２次登録)。なお、半径方向の登録幅は、ＭＲヘッド２１２の磁気抵抗効果素子の幅、ＭＲヘッド２１２のヨー角（Ｙａｗ角）を考慮して決めるのが望ましい。磁気抵抗効果素子の幅とは、感磁部の幅から磁気シールドの幅までを意味する。
【００３２】
この登録方法を用いることにより、ＴＡ発生部１００上をＭＲヘッド２１２の素子部が通過する確率を減らすことが可能となり、ＭＲヘッド２１２の素子部への損傷を防止することができる。しかし、この方法ではＭＲヘッド２１２が複数存在する場合には対応が出来ない。すなわち他のヘッド/ディスクでリード/ライトを行う場合、ＴＡ発生部１００に相当する領域の登録は行われていないため、ＴＡ発生部１００上をＭＲヘッド２１２が通過する。そこで図１（ｂ）に示すように、ＴＡ発生部１００が検出されたディスク以外の全ディスク２１０に対して、２次登録と同じ半径位置に相当する領域のシリンダ１２０を３次欠陥領域として登録する（３次登録）。この方法を用いることで、複数のヘッド/ディスクを備えた磁気ディスク装置に対してもＴＡ発生部１００とＭＲヘッド２１２の素子部の接触を軽減させることが可能となる。
これまでに述べた方法は初期的な欠陥（ＴＡ発生部）に対して行われる方法であるが、ＴＡ発生部１００は磁気ディスク装置２００の稼動中にヘッド/ディスク間に塵埃を噛み込んだ場合や、初期的な欠陥が成長して後発ＴＡ発生部となる場合がある。この場合にも対策が必要となる。磁気ディスク装置内に特許文献１（特開平10-3603号公報）や特開2003-123204号公報に記載されたようなＴＡ検出機能を持っている場合には、後発的にＴＡ発生部１００と判断された領域に対し前述した登録方法を用いることが望ましい。その場合、新たな領域のデータを他の領域に移行してから２次登録及び３次登録を実施する。
【００３３】
次に図３、図４を参照してＴＡ発生部１００を登録するテーブル３００，３００′の例を説明する。テーブル３００，３００′は磁気ディスク２１０の特定の領域に記憶される。図３は磁気ディスク２１０のＴＡ管理領域３１０に、ＴＡ Flag３２０とＴＡ位置３３０、１次登録Flag３４０と１次登録データ３５０、２次登録Flag３６０と２次登録データ３７０、３次登録Flag３８０と３次登録データ３９０で構成されるテーブル３００を作成する例である。Flagを立てる場合は各Flag領域に“１”を記録する。ＴＡ位置３２０と１次登録データ３５０は、ヘッド番号、トラック番号１１０、セクタ番号を含む（図１（ａ）参照）。２次登録データ３７０は、ヘッド番号とトラック番号１１０を含む。３次登録データ３８０は、シリンダ番号１２０を含む（図１（ｂ）参照）。図４は磁気ディスク２１０のＴＡ管理領域３１０を、ＴＡ登録エリア４００、２次登録エリア４１０、３次登録エリア４２０に分け、ＴＡ登録エリア４００には２次登録Flag３６０と３次登録Flag３８０を持つテーブル３００′の例である。
【００３４】
磁気ディスク装置２００の起動時に、磁気ディスク２１０から上記テーブル３００あるいは３００′を読み取り、マイクロコントローラ２２４の内部メモリに格納することにより、３次登録されたシリンダ１２０上をＭＲヘッド２１２が通過する機会を激減させることができるので、ＴＡ発生部１００に起因するヘッド損傷を防止あるいは緩和することが可能であり、ヘッド損傷に起因するヘッドの出力低下やヘッドノイズの発生を防止することが可能となる。
【００３５】
ところで、上記の方法を実施した場合、磁気ディスク２１０の総容量が減少してしまうことになる。容量不足が問題になる場合は、ＴＡ発生部１００として登録した領域を部分的に開放することができる。これは、上記ＴＡ発生部１００の登録方法は、ＴＡ発生部１００上をＭＲヘッド２１２の素子部が通過する確率を減らしヘッド損傷を防止する方法であるが、登録箇所が磁気ディスク２１０のデータゾーンの最両端でない限り、シーク時にヘッド２１２がＴＡ発生部１００上を通過する事は避けられないことに基づく対処法である。すなわち、磁気ディスク装置２００の容量が不足するほどの長時間使用を行った場合は、ＴＡ発生部（突起部）１００の上部がＭＲヘッド２１２との接触により削られてＴＡ発生部１００ではなくなっているか、若しくはＴＡ発生部１００とＭＲヘッド２１２が接触してもヘッド損傷が発生し難くなっている可能性が高いと考えられる。したがって、登録領域を部分的に開放して当初のＴＡ発生部１００上をＭＲヘッドが通過しても、初期状態のＴＡ発生部１００上を通過するよりは危険性は低くなっているはずである。
【００３６】
図５に磁気ディスク装置内にＴＡ検出機能がある場合の登録部開放処理のフローチャートを示す。この処理は磁気ディスク装置２００のＤＤＣ２２０あるいはマイクロコントローラ２２４で実行される。磁気ディスク装置のデータ使用容量が総容量に対して一定の割合を超えた状態になると（ステップ５１）、テーブル３００あるいは３００′のＴＡ Flag３２０を参照し、ＴＡ登録箇所の有無の判断を行い（ステップ５２）、ＴＡ登録箇所がある場合はその箇所がＴＡ状態か判定を行う(ステップ５３)。ＴＡ登録箇所がＴＡ発生部で無くなった場合は、その場所の３次登録Flag及び２次登録Flagを探し、Flagが立っている場合には３次登録及び２次登録を開放しＴＡ登録箇所から除外する（ステップ５４、５５）。ステップ５３においてＴＡ登録箇所がＴＡ状態である場合には、他にＴＡ登録箇所があるか判定を行い（ステップ５６）、ＴＡ登録箇所がある場合にはその箇所がＴＡ状態か判定を繰り返す。ステップ５４，５５を実施し、データ使用容量が総容量に対して一定の割合以上であるか判断を行い(ステップ５７)、一定の割合以下になれば処理を終了する。一定の割合以上であった場合は、ステップ５２から再度処理を行う。以上の処理を行い、ＴＡ登録箇所が全て無くなると処理は終了する。また、ステップ５６において残ったＴＡ登録箇所が全てＴＡ状態であると判断された場合は、図６のフローチャートＡへ移行する。
【００３７】
図６はフローチャートＡを示した図であり、この処理は図５のステップ５６においてＴＡ登録箇所が全てＴＡ状態であると判断された場合、あるいは磁気ディスク装置にＴＡ検出機能がない場合に適用される。磁気ディスク装置のデータ使用容量が総容量に対して一定の割合を超えた場合（ステップ６１）、ＴＡ登録部の３次登録箇所が存在するかテーブルを検索し（ステップ６２）、３次登録箇所が存在する場合はまずその領域から開放する（ステップ６３）。１つのＴＡ登録部の３次登録領域を開放した状態で、データ使用容量が総容量に対して一定の割合以上であるか判断を行い（ステップ６４）、一定の割合以上であればステップ６２に戻る。一定の割合以下であれば終了する。またステップ６２においてＴＡ登録部の３次登録領域が全て開放されていた場合は、２次登録箇所が存在するか検索を行う（ステップ６５）。２次登録箇所が存在する場合は、１つの２次登録領域を開放し（ステップ６６）、データ使用容量が総容量に対して一定の割合以上であるか判断を行う（ステップ６４）。一定の割合以上であればステップ６２に戻り、一定の割合以下であれば終了する。
【００３８】
なお、さらなる信頼性確保のために３次登録領域は開放するが、２次登録領域は開放しないという方法も考えられる。さらに、３次登録及び２次登録の範囲を段階的に行い、開放を段階的に行うことも考えられる。
【００３９】
上記本発明の実施例によれば、ＴＡ発生部との接触によって発生するヘッド素子部への障害を防止あるいは緩和することが可能となる。また、磁気ディスク装置の容量も大幅に減ずることなく実現が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本発明の一実施例によるＴＡ発生部の登録方法を示す図である。
【図２】本発明の一実施例による磁気ディスク装置の構成図である。
【図３】ＴＡ発生部を登録するテーブルの一例を示す図である。
【図４】ＴＡ発生部を登録するテーブルの一例を示す図である。
【図５】磁気ディスク装置内にＴＡ検出機能がある場合のＴＡ登録領域開放処理のフローチャートである。
【図６】ＴＡ登録箇所が全てＴＡ状態であると判断された場合、あるいはＴＡ検出機能が無い場合のＴＡ登録領域開放処理のフローチャートである。
【符号の説明】
【００４１】
１００…ＴＡ発生部（突起部）、
１１０…トラック、
１２０…シリンダ、
２００…磁気ディスク装置、
２１０…磁気ディスク、
２１１…ヘッド・アーム、
２１２…磁気抵抗効果型ヘッド（ＭＲヘッド）、
２１４…キャリッジ、
２１６…プリアンプ、
２１８…読み取り／書き込みチャネル、
２２０…ディスク・ドライブ・コントローラ（ＤＤＣ）、
２２４…マイクロコントローラ、
２２８…ＶＣＭドライバ、
２３０…ボイス・コイル・モータ（ＶＣＭ）、
２３２…スピンドル・モータ・ドライバ、
２３４…スピンドル・モータ、
３００，３００′…テーブル、
３１０…ＴＡ管理領域、
３２０…ＴＡ Flag、
３３０…ＴＡ位置、
３４０…１次登録Flag、
３５０…１次登録データ、
３６０…２次登録Flag、
３７０…２次登録データ、
３８０…３次登録Flag、
３９０…３次登録データ、
４００…ＴＡ登録エリア、
４１０…２次登録エリア、
４２０…３次登録エリア。
【図１】
2006236519.tif 000003
【図２】
2006236519.tif 000004
【図３】
2006236519.tif 000005
【図４】
2006236519.tif 000006
【図５】
2006236519.tif 000007
【図６】
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