(57)【要約】【課題】欠陥画素のアドレスを記憶する記憶装置を有しないで、欠陥画素の誤検出および誤補正を抑制することができるイメージセンサを提供する。【解決手段】欠陥検出補正回路７により画素部３の露光条件に応じて欠陥画素の検出精度を調整するとともに、欠陥画素の画素信号の補正量を調整する。【選択図】        図４
2006013988.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入射された光を画素信号として出力する複数の画素を有する画素部と、
前記画素部から出力された画素信号を増幅して出力する増幅部と、
前記増幅部から出力された信号について欠陥画素検出を行なう欠陥画素検出回路とを備え、
前記欠陥画素検出回路は、前記画素部の露光条件に応じて前記欠陥画素検出の検出精度を調整する、
ことを特徴とするイメージセンサ。
【請求項２】
入射された光を画素信号として出力する複数の画素を有し、フレーム毎に露光時間を設定する画素部と、
前記画素部から出力された画素信号をフレーム毎にゲインを設定し増幅する増幅器と、
前記増幅器により増幅された画素信号である注目画素および参照画素を参照し、検出精度をもって欠陥画素を検出する欠陥画素検出回路と、
前記増幅器により増幅された画素信号である注目画素および参照画素を参照し、前記欠陥画素検出回路により検出された欠陥画素の画素信号を補正する補正回路とを備えたイメージセンサであって、
前記欠陥画素検出回路は、前記画素部の露光条件に応じて前記検出精度を調整する、
ことを特徴とするイメージセンサ。
【請求項３】
入射された光を画素信号として出力する複数の画素を有し、フレーム毎に露光時間を設定する画素部と、
前記画素部から出力された画素信号をフレーム毎にゲインを設定し増幅する増幅器と、
前記増幅器により増幅された画素信号である注目画素および参照画素を参照し、欠陥画素を検出する欠陥画素検出回路と、
前記増幅器により増幅された画素信号である注目画素および参照画素を参照し、前記欠陥画素検出回路により検出された欠陥画素の画素信号を補正する補正回路とを備えたイメージセンサであって、
前記補正回路は、前記画素部の露光条件に応じて欠陥画素の画素信号の補正量を調整する、
ことを特徴とするイメージセンサ
【請求項４】
入射された光を画素信号として出力する複数の画素を有し、フレーム毎に露光時間を設定する画素部と、
前記画素部から出力された画素信号をフレーム毎にゲインを設定し増幅する増幅器と、
前記増幅器により増幅された画素信号である注目画素および参照画素を参照し、検出精度をもって欠陥画素を検出する欠陥画素検出回路と、
前記増幅器により増幅された画素信号である注目画素および参照画素を参照し、前記欠陥画素検出回路により検出された欠陥画素の画素信号を補正する補正回路とを備えたイメージセンサであって、
前記欠陥画素検出回路は、前記画素部の露光条件に応じて前記検出精度を調整し、
前記補正回路は、前記画素部の露光条件に応じて欠陥画素の画素信号の補正量を調整する、
ことを特徴とするイメージセンサ
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、欠陥画素のアドレスを記憶する記憶装置を有しないで欠陥画素を検出し補正するイメージセンサに関する。
【背景技術】
【０００２】
半導体基板上に形成されたＣＭＯＳイメージセンサ及びＣＣＤ(Charge Coupled Device)イメージセンサ等の固体撮像素子において、半導体基板上の局所的な結晶欠陥等により欠陥画素が発生することがある。このような欠陥画素は、その欠陥画素から出力される信号レベルの大きさが、入射される光の量に依存しない特異な信号出力レベルを示すために、欠陥画素から出力される信号により、撮像して得られた画像の画質が劣化するという問題がある。
【０００３】
従来のビデオカメラ及びデジタルカメラの撮像装置では、固体撮像素子内に存在する欠陥画素を検出し、その欠陥画素に関するアドレスデータ等を不揮発性メモリー等の記憶装置に記憶させ、撮影時に、この不揮発性メモリーに記憶されている欠陥画素のアドレスデータ等に基づいて、欠陥画素から出力される信号を補正している。
【０００４】
例えば、ＣＭＯＳイメージセンサを搭載した撮像装置の場合、製造段階において撮像装置のレンズを遮光し、ＣＭＯＳイメージセンサに光が入射されない状態で、ＣＭＯＳイメージセンサの各画素から出力される信号と被検査画素の周辺画素から出力される信号とを比較し、それらの信号出力レベルの値の差が所定の閾値を超えると、この特異な信号出力レベルを出力した画素を欠陥画素として検出する。
【０００５】
そして、この欠陥画素のアドレスデータが不揮発性メモリーに記憶される。欠陥画素の検出が終了すると、ＣＭＯＳイメージセンサと欠陥画素のアドレスデータが記憶された不揮発性メモリーとが一対となり撮像装置に内蔵されて出荷される。そして、ユーザーがこの撮像装置を用いて撮像する場合には、不揮発性メモリーに記憶されているＣＭＯＳイメージセンサの欠陥画素のアドレスデータに基づいて、ＣＭＯＳイメージセンサから出力される映像信号における欠陥画素に対応する信号が欠陥画素の近傍の画素の信号によって補正される。
【０００６】
しかし、前述のように、固定撮像素子の欠陥画素の補正では、製造段階において撮像装置のレンズを遮光して、ＣＭＯＳイメージセンサ等に光が入射しない状態で欠陥画素の検出を行い、欠陥画素のアドレスデータ等をメモリーに記憶しなければならない。このため、製造段階での工数が増加するという問題がある。また、工場からＣＭＯＳイメージセンサを搭載した撮像装置の製品の出荷後に、宇宙船の照射等によって生じるＣＭＯＳイメージセンサの欠陥画素については補正が出来ないという問題もある。
【０００７】
このような問題に対して、例えば、撮像装置の電源投入時に、撮像装置に搭載されているレンズの絞りを閉じて遮光状態とし、固体撮像素子の撮像出力信号によって欠陥画素の検出を行い、この欠陥画素からの検出信号に基づいて欠陥データを記録し保持して、撮影時にこの最新の欠陥データを用いて欠陥画素の補正を行う欠陥補正装置が開示されている（特許文献１参照）。
【０００８】
しかしながら、この欠陥補正装置では、欠陥画素のアドレスデータ等をメモリーに記憶するため、撮像装置に欠陥画素のアドレスデータを記憶するためのメモリー等の記憶装置を搭載する必要がある。また、補正できる欠陥画素の数は、欠陥画素のアドレスデータの記憶を行う不揮発性メモリー等の記憶装置の記憶容量に依存するという問題もある。
【０００９】
このような問題に対して、例えば、メモリー等の記憶装置を搭載することなく、出荷後に生じた欠陥画素についても、その欠陥画素を検出し、補正を行う固体撮像素子の自動欠陥検出補正装置及びそれを用いた撮像装置が開示されている（特許文献２参照）。
【特許文献１】特開平６−６６８５号公報
【特許文献２】特開平２００２−２２３３９１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、上記（特許文献２）の撮像装置では、欠陥画素と欠陥画素の周囲の複数画素との信号レベルの差を予め設定された第１の欠陥検出閾値と第２の欠陥検出閾値と比較判定し、欠陥画素からの信号出力レベルを欠陥画素の近傍画素の平均値で置換するが、前記第１欠陥検出閾値と第２欠陥検出閾値の値及び前記固体撮像素子の撮像装置の撮影条件によっては、欠陥画素の検出／未検出の判定を繰り返すことで、欠陥画素の点滅といった画質の劣化を引き起こす可能性があるという問題もある。
【００１１】
本発明は、このような事情に鑑みなされたものであり、その目的は、欠陥画素のアドレスを記憶する記憶装置を有しないで、欠陥画素の誤検出および誤補正を抑制することができるイメージセンサを提供するにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記目的を達成するため、本発明のイメージセンサは、入射された光を画素信号として出力する複数の画素を有する画素部と、前記画素部から出力された画素信号を増幅して出力する増幅部と、前記増幅部から出力された信号について欠陥画素検出を行なう欠陥画素検出回路とを備え、前記欠陥画素検出回路は、前記画素部の露光条件に応じて前記欠陥画素検出の検出精度を調整する、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【００１３】
本発明のイメージセンサによれば、前記欠陥画素検出回路により前記画素部の露光条件に応じて前記欠陥画素検出の検出精度を調整する。したがって、欠陥画素の誤検出および誤補正を抑制する上で有利となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
欠陥画素の誤検出および誤補正を抑制するという目的を達成するため、画素部の露光条件に応じて欠陥画素の検出精度を調整する欠陥画素検出回路と、画素部の露光条件に応じて欠陥画素の画素信号の補正量を調整する補正回路とを設ける。
【実施例１】
【００１５】
以下、本発明の実施例１のイメージセンサについて図面を参照して説明する。
図１は、本発明の実施例１のイメージセンサの構成を示す図である。
図１に示すように、実施例１のイメージセンサは、例えば固体撮像素子であるＣＭＯＳイメージセンサ２からなる。イメージセンサ２は、撮像装置の被写体を結像させるレンズ１を通して入射される光を画素信号（電気信号）に変換するものであり、画素部３、ＡＦＥ（Analog Front End）４、ＡＤＣ（Analog to Digital Converter）５、前処理部６、本発明の欠陥画素検出補正方法を実現した欠陥検出補正回路７、後処理部８及び機能制御・タイミング制御部９を備える。
【００１６】
被写体から得られた入射光は、レンズ１を介して、ＣＭＯＳイメージセンサ２の画素部３に入力される。画素部３において光電変換されて電気信号となり、ＡＦＥ４に入力される。入力された電気信号はＡＦＥ４により、相関２重サンプリング処理(ＣＤＳ:Correlated Double Sampling)、自動利得制御処理(ＡＧＣ:Auto Ｇain Control)が行われた電気信号として出力される。ＡＦＥ２で出力された電気信号はＡＤＣ５にてＡ／Ｄ変換処理が行われディジタル信号として出力される。そのディジタル信号は前処理部６にて種々のディジタル処理が行われ、出力される。そのディジタル信号に欠陥画素信号が存在する場合には、欠陥検出補正回路７にて本発明の欠陥画素検出補正方法により欠陥画素信号を補正し、補正後のディジタル信号を出力する。そのディジタル信号は後処理部８に入力され、種々のディジタル処理が行われ、出力される。そのディジタル信号がＣＭＯＳイメージセンサ２の出力信号となる。なお、機能制御・タイミング制御部９にて、ＣＭＯＳイメージセンサ２の各部の制御動作を行う。
【００１７】
図２は、図１に示される画素部３の構成を示す図である。
図２に示すように、画素部３は、ＲＧＢの何れかの色のカラーフィルタを有する複数の有効画素３１を有する有効画素領域２１と、ブランキング領域２２および２３とを備える。ブランキング領域２２および２３は、複数のＯＢ(Optical Black)画素３２を有するＯＢ画素領域２４と複数のダミー画素３３を有するダミー画素領域２５とを備える。
【００１８】
有効画素領域２１の有効画素３１を、Ｒ（赤色）透過フィルタの画素１０、Ｂ（青色）透過フィルタの画素１１、Ｇ（緑色）透過のフィルタの画素１２で示す。Ｒ透過フィルタの画素１０とＧ透過フィルタの画素１２とを水平方向（Ｘ方向）に交互に繰り返す第１フィルタ行１３と、Ｇ透過フィルタの画素１２とＢ透過フィルタの画素１１とを水平方向に交互に繰り返す第２フィルタ行１４とが垂直方向（Ｙ方向）にも交互に繰り返し配置されている。第１フィルタ行１３のＧ透過フィルタの画素１２と第２フィルタ配列１４のＧ透過フィルタの画素１２とは、垂直方向に重ならないように配置されている。このフィルタ配列は一般的にベイヤー配列として用いられている。
【００１９】
また、ＯＢ画素３２を遮光状態にしているＯＢ行１５には、ＲＧＢのフィルタを有する有効画素３１と同様に欠陥画素が存在する可能性がある。ダミー画素行１６には欠陥が存在しない。これらの画素出力は、ダミー画素行１６が複数行、ＯＢ行１５が複数行、第１フィルタ行１３と第２フィルタ行１４が交互の順番で出力される。欠陥検出補正処理はＯＢ行１５の複数行及び有効画素領域２１の複数行で行われる。
【００２０】
図３は、図１に示される欠陥検出補正回路７の構成を示す図である。
図３に示すように、欠陥検出補正回路７は、ダミー画素算出部５１、閾値参照部５２、画素レベル算出部５３、第１の欠陥処理判定部５４、第２の欠陥処理判定部５５、欠陥補正レベル算出部５６および欠陥補正部５７を有する。
【００２１】
ダミー画素算出部５１は、後述する図４のフローチャートにおけるステップＳ１〜Ｓ３の処理を行なう。閾値算出部５２は、後述する図４のフローチャートにおけるステップＳ４の処理を行なう。画素レベル算出部５３は、後述する図４のフローチャートにおけるステップＳ５およびＳ６の処理を行なう。第１の欠陥処理判定部５４は、後述する図４のフローチャートにおけるステップＳ７の処理を行なう。第２の欠陥処理判定部５５は、後述する図４のフローチャートにおけるステップＳ８の処理を行なう。
欠陥補正レベル算出部５６は、後述する図４のフローチャートにおけるステップＳ９の処理を行なう。欠陥補正部５７は、後述する図４のフローチャートにおけるステップＳ１０の処理を行なう。
【００２２】
図４は、実施例１の欠陥検出補正処理を示すフローチャートである。
ここでは、例として、有効画素３１のデータ参照領域４１の中央画素を欠陥画素の検出対象である注目画素とし、それと隣接する同色フィルタ水平±２画素と異色フィルタの水平±２画素の場合について説明する。
【００２３】
図４において、まず、ダミー画素ノイズレベル（D1）が、図２のダミー画素データ参照領域４３の複数のダミー画素３２が参照され、複数のダミー画素３２の内の最大値と最小値の差分値によって算出される。なお、ダミー画素データ参照領域４３の設定範囲は、ダミー画素領域２４の一部または全部でよい（ステップＳ１）。
【００２４】
次に、前フレームより図１のＡＦＥ４内部のＧain（ゲイン）及び、図１の前処理部６にてＧainが変更されたかどうかを確認する（ステップＳ２）。
【００２５】
ステップＳ２で、Ｇainに変更が無ければ、前フレームに算出したダミー画素ノイズレベル（D1）を加算し、平均することでダミー画素ノイズレベル（D1）の精度を上げていく演算処理を行う（ステップＳ３）。つまり、この演算処理は、Ｇainの変更が無い場合には常に行われるが、１フレームもしくは複数フレームで停止することも可能にする。演算処理が行われた後に、図２のダミー画素３２での演算処理を終了する。
【００２６】
一方、ステップＳ３で、Ｇainの変更があった場合には、そのままダミー画素３３の演算処理を終了する。
【００２７】
欠陥検出補正領域は、図２の有効画素領域２１およびＯＢ画素領域２２である。実施例１の自動欠陥画素検出補正方法を実現する図１の欠陥検出補正回路７に入力されるデータは、ＯＢ画素領域２２、有効画素領域２１の順に入力されるものとする。
【００２８】
次に、周辺レベル閾値（C1）及び欠陥画素レベル閾値（E1）が算出される。周辺レベル閾値（C1）及び欠陥画素レベル閾値（E1）は、ＯＢ画素領域２２のデータが入力される時と、有効画素領域のデータが入力される時とは、同じもしくは異なる値を示す。いわゆる、ＯＢ画素領域２２の欠陥画素と有効画素領域２１の欠陥画素は、同じもしくは異なる欠陥画素検出感度で欠陥検出処理を行うことが可能である。また、周辺レベル閾値（C1）及び欠陥画素レベル閾値（E1）は、ＯＢ画素領域２２の出力及び有効画素領域２１の出力が、図１の欠陥検出補正回路７に入力される前までに算出される。
【００２９】
周辺レベル閾値（C1）は、ステップＳ１で算出されたダミー画素ノイズレベル（D1）と欠陥検出係数（X1）によって算出される。欠陥検出係数（X1）は、予め設定しておいた値、もしくは、センサーＧain及びセンサー蓄積時間に依存した値が設定することが可能であり、ＯＢ画素領域２２及び有効画素領域２１において別々の設定することも可能である。欠陥検出係数（X1）をＯＢ画素領域２２及び有効画素領域２１において別々の設定を可能にすることで、ＯＢ画素領域２２の欠陥画素及び有効画素領域２１の欠陥画素の欠陥画素検出感度を、同じもしくは異なる欠陥画素検出感度で、欠陥検出処理を行うことを可能としており、任意の値に設定することで、任意の欠陥画素検出感度で、欠陥検出処理を行うことが可能である（ステップＳ４）。
【００３０】
図５に、図２のＯＢ画素領域２２及び有効画素領域２１（図５は例として有効画素領域２１を示している）の任意の水平９画素のデータ参照領域４１と欠陥検出補正処理に必要な各パラメータを定義した図を示す。
【００３１】
各パラメータを以下のように定義する。
P(t)は、データ参照領域の中央画素の出力値、
Ａ：欠陥画素レベル
Ａ＝P(t)−ｍａｘ｛P(t-4)，P(t-2)，P(t+2)，P(t+4)｝
；欠陥画素が周辺画素に対し高いレベルを示している場合、
Ａ＝｜P(t)−ｍｉｎ｛P(t-4)，P(t-2)，P(t+2)，P(t+4)｝｜
；欠陥画素が周辺画素に対し低いレベルを示している場合、
【００３２】
Ｂ_same：同色フィルタ周辺レベル
Ｂ_same＝ｍａｘ｛P(t-4)，P(t-2)，P(t+2)，P(t+4)｝
−ｍｉｎ｛P(t-4)，P(t-2)，P(t+2)，P(t+4)｝、
Ｂ_diff：異色フィルタ周辺レベル
Ｂ_diff＝ｍａｘ｛P(t-3)，P(t-1)，P(t+1)，P(t+3)｝
−ｍｉｎ｛P(t-3)，P(t-1)，P(t+1)，P(t+3)｝、
【００３３】
Ｃ１：周辺レベル閾値
Ｃ１＝Ｘ１×Ｄ１、
Ｄ１：ダミー画素ノイズレベル
Ｄ１＝ｍａｘ｛ダミー画素参照領域｝−ｍｉｎ｛ダミー画素参照領域｝、
【００３４】
Ｅ１：欠陥画素レベル閾値
Ｅ１は、Ｇainに依存、
Ｅ１は、露光時間依存、
Ｅ１は、ＯＢ画素領域２２と有効画素領域２１とでは異なる値または同じ値、
【００３５】
Ｆ１：欠陥画素補正レベル
Ｆ１＝Ａ−Ｅ１
Ｐ１‘（t）：欠陥画素補正後の欠陥画素の出力値
【００３６】
Ｘ１：欠陥画素係数
Ｅ１は、Ｇainに依存、
Ｅ１は、露光時間依存、
Ｅ１は、ＯＢ画素領域２２と有効画素領域２１とでは異なる値または同じ値。
【００３７】
図４に戻り、次に、有効画素領域２１の場合、データ参照領域４１の中央画素（図５は、図２のＧ透過フィルタの画素１２の場合）を注目画素とし、その出力値をP(t)とし、その両側２画素離れた画素の出力値をP(t-2)、P(t+2)とし、さらにその２画素離れた画素の出力値をP(t-4)、P(t-4)とする。そして、P(t-4)、P(t-2)、P(t)、P(t+2)、P(t+4)の水平５画素をモニターする。つまり、水平５画素は全て同色透過フィルタの画素出力（図５の場合は、Ｇ透過フィルタの画素１２）である。また、注目画素の両側隣接画素の出力値をP(t-1)、P(t+1)とし、さらにその２画素離れた画素の出力値をP(t-3)、P(t+3)とした場合、その水平４画素は全て注目画素と異なる同色透過フィルタの画素出力（図５の場合は、Ｒ透過フィルタの画素１０）である。但し、ＯＢ画素領域２２のデータは遮光した画素出力であるために同色フィルタ、異色フィルタは関係ない（ステップＳ５）。
【００３８】
欠陥画素レベル（A）は、P(t)が、P(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)に対して、レベルが高い場合には、P(t)とP(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)の内の最大値との差分値により算出され、P(t)が、P(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)に対して、レベルが低い場合には、P(t)とP(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)の内の最小値との差分値の絶対値により算出される。
【００３９】
同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）は、P(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)の最大値と最小値の差分値として算出され、異色フィルタ周辺レベル（Ｂ_diff）は、P(t-3)、P(t-1)、P(t+1)及びP(t+3)の最大値と最小値の差分値として算出される（ステップＳ６）。
【００４０】
次に、欠陥検出判定処理を行うが、設定によって、第１の欠陥検出判定処理と第２の欠陥検出判定処理の２種類を選択することが可能である。各処理は、下記に示す。
【００４１】
第１の欠陥検出判定処理は、欠陥画素レベル（A）、同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）、周辺レベル閾値（C1）、予め設定していた欠陥画素レベル閾値（E1）を用いて行われる。第２の欠陥検出判定条件は、欠陥画素レベル（A）が、欠陥画素レベル閾値（E1）より大きい場合、かつ、同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）のみが、周辺レベル閾値（C1）より小さい場合、注目画素が欠陥であると判断され、下記に示す欠陥補正処理が行われる（ステップＳ７）。
【００４２】
次に、ステップＳ７で、第１の欠陥検出判定条件が満たされない場合は、現在のデータ参照領域での欠陥検出処理を終了し、欠陥検出補正領域が終了したかどうかの確認処理が行われる（ステップＳ１１）。
【００４３】
一方、ステップＳ７で、第１の欠陥検出判定条件が満たされた場合は、第２の欠陥検出判定処理に進む。第２の欠陥検出判定処理は、欠陥画素レベル（A）、同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）、異色フィルタ周辺レベル（Ｂ_diff）、周辺レベル閾値（C1）、予め設定していた欠陥画素レベル閾値（E1）を用いて行われる。第１の欠陥検出判定条件は、欠陥画素レベル（A）が、欠陥画素レベル閾値（E1）より大きい場合、かつ、同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）と異色フィルタ周辺レベル（Ｂ_diff）が、周辺レベル閾値（C1）より小さい場合、注目画素（データ参照領域の中央画素）が欠陥であると判断される（ステップＳ８）。
【００４４】
第１および第２の欠陥検出判定は、共に、水平９画素のモニターしか行っていないため、解像度の高いレンズで解像度の高い文字・線を撮像した場合には、縦線・斜め線を誤検出／誤補正してしまう可能性がある。
【００４５】
第１の欠陥検出判定では、単色の縦線および斜め線は誤検出／誤補正する可能があり、なおかつ同色フィルタのモニターのみを行っているため、白い線等の複数の色でできた縦線および斜め線も誤検出／誤補正する可能性があり、白い線を異なった色の線に変えてしまう可能性があるが、エッジ付近での欠陥画素の点滅頻度は低い。
【００４６】
第２の欠陥検出判定では、第１の欠陥検出判定と同様、単色（赤・青・緑）のみでできた縦線および斜め線は誤検出／誤補正する可能性はあるが、白い線といった複数の色でできた縦線および斜め線の誤検出／誤補正は回避できるが、エッジ付近（高い出力と低い出力の境界）での欠陥画素の点滅頻度は、異なる色のフィルタのモニターを行っている分、増す可能性がある。
【００４７】
ただし、縦線および斜め線の誤検出および誤補正は、注目画素に対して、縦および斜めの複数画素を同時にモニターし、同様の欠陥検出補正処理を行うことで回避することが可能であるが、縦および斜めの画素出力を同時にモニターすることでＣＭＯＳイメージセンサとして、複数のラインメモリーが必要になり、回路規模を増大させることになる。
【００４８】
次に、ステップＳ７およびステップＳ８で、第１および第２の欠陥検出判断条件が満たされた場合、欠陥補正レベル（F1）が算出される。欠陥補正レベル（F1）は、欠陥画素レベル（A）と欠陥画素レベル閾値（E1）の差分値として算出される。この演算処理にて、欠陥画素レベル（A）が、欠陥画素レベル閾値（E1）とほぼ同じ値を示す欠陥画素の場合の欠陥画素の補正／未補正の交互の処理による、出力画像での欠陥画素点滅を抑制する効果があり、欠陥画素レベル（A）が、欠陥画素レベル閾値（E1）に対して大きければ大きいほど、欠陥補正力が大きいことになり、欠陥画素レベル（A）が、ＯＢ欠陥画素レベル閾値（E1）とほぼ同じ時にはほとんど補正されないことになる（ステップＳ９）。
【００４９】
次に、欠陥画素と判断された注目画素の出力値P(t)を、欠陥画素補正後の欠陥画素の出力値P1’(t)に置き換える。欠陥画素補正後の欠陥画素の出力値P1’(t)は、注目画素の出力値P(t)が、P(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)より大きい場合は、P(t)から欠陥補正レベル（F1）の差分値として算出される。但し、この場合、欠陥画素補正後の欠陥画素の出力値P1’(t)は、最大でもP(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)の最大値もしくは平均値までしか補正されない。
【００５０】
また、注目画素の出力値P(t)が、P(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)より小さい場合は、P(t)と前記欠陥補正レベル（F1）の加算値として算出される。但し、この場合では、最大でもP(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)の最小値もしくは平均値までしか補正されない。ゆえに、周辺画素に対して、極端にレベルが高い欠陥画素とレベルの低い欠陥画素を、前記の加算／減算の処理を切り替えることで、両方とも補正することが可能である。（ステップＳ１０）
【００５１】
次に、欠陥検出補正領域が終了したかどうかを確認するが（ステップＳ１１）、終了していない場合には、次の出力に対して、前記の欠陥検出補正処理を行う。欠陥検出補正領域が終了次第、次のフレームについて、前記と同様の欠陥検出補正処理を繰り返すことになる。
【実施例２】
【００５２】
図６は、実施例２のイメージセンサの欠陥検出補正回路の構成を示す図である。
図６に示すように、実施例２のイメージセンサの欠陥検出補正回路６０は、実施例１のＣＭＯＳイメージセンサ２の欠陥検出補正回路７を欠陥検出補正回路６０に置き換えたものである。なお、他の部分は実施例１のＣＭＯＳイメージセンサ２の各部と同様であり、その説明を省略する。
【００５３】
欠陥検出補正回路６０は、欠陥検出係数算出部６１、参照画素算出部６２、画素レベル算出部６３、閾値算出部６４、第３の欠陥処理判定部６５、第４の欠陥処理判定部６６、画素分布算出部６７、第１の欠陥補正量算出部６８、第２の欠陥補正量算出部６９および欠陥補正部７０を有する。
【００５４】
欠陥検出係数算出部６１は、後述する図７および図８のフローチャートにおけるステップＳ２１の処理を行なう。参照画素算出部６２は、後述する図７および図８のフローチャートにおけるステップＳ２２および２３の処理を行なう。画素レベル算出部６３は、後述する図７および図８のフローチャートにおけるステップＳ２４の処理を行なう。閾値算出部６４は、後述する図７および図８のフローチャートにおけるステップＳ２５の処理を行なう。第３の欠陥処理判定部６５は、後述する図７および図８のフローチャートにおけるステップＳ２６の処理を行なう。第４の欠陥処理判定部６６は、後述する図７および図８のフローチャートにおけるステップＳ２７の処理を行なう。画素分布算出部６７は、後述する図７および図８のフローチャートにおけるステップＳ２８の処理を行なう。第１の欠陥補正量算出部６８は、後述する図７および図８のフローチャートにおけるステップＳ２９〜Ｓ３２の処理を行なう。第２の欠陥補正量算出部６９は、後述する図７および図８のフローチャートにおけるステップＳ３５〜Ｓ３８の処理を行なう。欠陥補正部７０は、後述する図７および図８のフローチャートにおけるステップＳ３３の処理を行なう。
【００５５】
図７および図８は、実施例２の欠陥検出補正処理を示すフローチャートである。
図７および図８において、まず、欠陥検出係数（X2）の算出処理は、が図２のＯＢ画素領域２２及び有効画素領域２１の出力が、図６の欠陥検出補正回路６０に入力される前に行われ、欠陥検出補正処理の際に使用され、ＯＢ画素領域２２の欠陥検出及び有効画素領域２１の欠陥検出の際には、異なる値もしくは同じ値が参照することが可能であり、この処理を行うことで、ＯＢ画素領域２２と有効画素領域２１において異なった欠陥画素検出感度で欠陥画素を検出することを可能にしている。
【００５６】
また、この欠陥検出係数（X2）は、図１のＡＦＥ４内部のＧain設定及び、図１の前処理部６のＧain設定に依存する値が自動算出されるか、前記の任意のＧainに対する値を予め設定された値が設定されるか、もしくは、外部から任意に設定することが可能である（ステップＳ２１）。
【００５７】
図９および図１０に、図２のＯＢ領域及２２び有効画素領域２１の任意の水平９画素のデータ参照領域４１と実施例２の欠陥検出補正処理に必要な各パラメータを定義した図（図９および図１０は、有効画素３１を例にした図である。）を示す。
【００５８】
各パラメータを以下のように定義する。
P(t)は、データ参照領域の中央画素の出力値、
Ａ：欠陥画素レベル
Ａ＝P(t)−ｍａｘ｛P(t-4)，P(t-2)，P(t+2)，P(t+4)｝
；欠陥画素が周辺画素に対し高いレベルを示している場合、
Ａ＝｜P(t)−ｍｉｎ｛P(t-4)，P(t-2)，P(t+2)，P(t+4)｝｜
；欠陥画素が周辺画素に対し低いレベルを示している場合、
【００５９】
Ｂ_same：同色フィルタ周辺レベル
Ｂ_same＝ｍａｘ｛P(t-4)，P(t-2)，P(t+2)，P(t+4)｝
−ｍｉｎ｛P(t-4)，P(t-2)，P(t+2)，P(t+4)｝、
【００６０】
Ｃ２：欠陥検出判定閾値
Ｃ２＝Ａ−Ｘ２、
Ｄ２：閾値追従補正量
Ｄ２＝Ｃ２−Ｂ_same
＝Ａ−Ｘ２−Ｂ_same、
Ｅ２：傾き推定補正量
Ｅ２＝P(t)−P2(t)−Ｘ２、
【００６１】
P2（t）：傾き推定後の欠陥画素の出力値
P2（t）＝｛（２×（P(t-2)−P(t-4)）
＋（２×（P(t+2)−P(t+4)）｝／２、
P'2（t）：欠陥画素補正後の欠陥画素の出力値、
【００６２】
Ｘ２：欠陥画素検出減衰係数
Ｘ２は、Ｇainに依存（Ｇain：大→Ｘ：小、Ｇain：小→Ｘ：大）、
Ｘ２は、ＯＢ画素領域２２と有効画素領域２１とでは異なる値または同じ値。
【００６３】
図７および図８に戻り、次に、データ参照領域の中央画素を注目画素とし、その出力値をP(t)とし、その両側２画素離れた画素の出力値をP(t-2)、P(t+2)とし、さらにその両側２画素離れた画素の出力値をP(t-4)、P(t+4)とする。ここでは、P(t-4)、P(t-2)、P(t)、P(t+2)、P(t+4)の水平９画素をモニターする。つまり、前記の有効画素水平５画素は全て同色透過フィルタの画素出力（図９および図１０の場合は、Ｇ透過フィルタの画素１２）である。
【００６４】
また、注目画素の両側隣接画素の出力値をP(t-1)、P(t+1)とし、さらにその２画素離れた画素の出力値をP(t-3)、P(t+3)とした場合、その水平４画素は全て注目画素と異なる同色透過フィルタの画素出力（図８および図９の場合は、Ｒ透過フィルタの画素１０）である。
【００６５】
また、図９と図１０の違いは、図９は、P(t)が、P(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t-4)の４画素より大きく、かつ、P(t-2)及びP(t+2)の２画素が、P(t-4)及びP(t+4)より大きいときの出力状態（以下、出力状態１と記述する）を示した図である。図１０は、図９の出力状態１以外の出力状態（以下、出力状態２と記述する）の一例を示した図である（ステップＳ２２）。
【００６６】
次に、データ参照領域内の注目画素の出力値P(t)が、データ参照領域内の注目画素と同色フィルタのその他の４画素(P(t-4)、P(t-2)、P(t+2)、P(t+4))の全てに対して、大きい（小さい）かどうかを確認する（ステップＳ２３）。
【００６７】
ステップＳ２３で、この条件を満足しない場合には、現在のデータ参照領域での欠陥検出補正処理を終了し、欠陥検出補正領域が終了したかどうかの確認処理を行う（ステップＳ３４）。
【００６８】
ステップＳ２３で、この条件を満たしている場合には、ステップＳ２４に進む。欠陥画素レベル（A）は、P(t)が、P(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)に対して、レベルが高い場合には、P(t)とP(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)の内の最大値との差分値により算出され、P(t)が、P(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)に対して、レベルが低い場合には、P(t)とP(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)の内の最小値との差分値の絶対値により算出される。同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）は、P(t-2)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)の最大値と最小値の差分値として算出される。（ステップＳ２４）。
【００６９】
次に、欠陥画素検出判定閾値（C2）を算出する。この欠陥画素検出判定閾値（C2）は、欠陥画素レベル（A2）と欠陥検出係数（X2）により決定される。欠陥検出係数（X2）は、前述のとおり、ステップＳ２１で算出されている。欠陥画素検出判定閾値（C2）は、通常では、欠陥画素レベルが大きい時には、大きくなり、欠陥画素レベルが小さい時には、小さくなるように設定されている。
【００７０】
また、欠陥検出係数（X2）は、図１のＡＦＥ４内部のＧain（ゲイン）及び、図１の前処理部６内のＧainが小さい時には、大きくなり、図１のＡＦＥ４内部のＧain及び、図１の前処理部６内のＧainが大きい時には、小さくなる。
【００７１】
つまり、欠陥画素の欠陥画素レベルが大きくて、センサーＧainが大きいほど、欠陥画素を検出しやすく、欠陥画素の欠陥画素レベルが小さく、センサーＧainが小さいほど、欠陥画素を検出しにくい処理になっている。
【００７２】
このような処理にすることで、センサーＧainが、小さい状態で画質が綺麗な状態では、縦線および斜め線の誤検出頻度を小さくもしくは無くし、また、センサーＧainが大きい状態で、ある程度ノイズが大きい時には、レベルが高い欠陥画素は確実に補正する処理になっている。
【００７３】
但し、レベルの小さい欠陥画素は検出しにくい処理になっている。また、この欠陥画素検出判定閾値（C2）は、任意に設定することも可能であり、任意の撮像条件での欠陥画素検出感度を変更することも可能である（ステップＳ２５）。
【００７４】
次に、欠陥検出判定処理を行うが、設定によって、第３の欠陥検出判定処理と第４の欠陥検出判定処理の２種類を選択することが可能である。各処理は、下記に示す。
第３の欠陥検出判定は、同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）、ステップＳ２５で算出された欠陥画素検出判定閾値（C2）を用いて行われる。第３の欠陥検出判定条件は、同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）が、欠陥画素検出判定閾値（C2）より小さい場合、注目画素（データ参照領域の中央画素）が欠陥であると判断され（ステップＳ２６）、下記に示す欠陥補正処理が行われる。
【００７５】
一方、ステップＳ２６で第３の欠陥検出判定条件が満たされない場合には、現在のデータ参照領域での欠陥検出処理を終了し、欠陥検出補正領域が終了したかどうかの確認処理が行われる（ステップＳ３４）。
【００７６】
次に、ステップＳ２６で、注目画素（データ参照領域の中央画素）が欠陥であると判断された場合には、ステップＳ２７に進み、第４の欠陥検出判定が行なわれる。第４の欠陥検出判定は、同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）、ステップＳ２５で算出された欠陥画素検出判定閾値（C2）、データ参照領域内の注目画素とは異なる透過フィルタのP(t-3)、P(t-1)、P(t+1)及びP(t+3)の出力状態をモニターすることで行われる。
【００７７】
第４の欠陥検出判定条件は、同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）が、欠陥画素検出判定閾値（C2）より小さい場合、かつ、P(t)が、P(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t+4)より大きい時は、P(t-1)及びP(t+1)が、P(t-3)及びP(t+3)より大きい場合（小さい時は、小さい場合）に、注目画素が欠陥であると判断され（ステップＳ２７）、下記に示す欠陥補正処理が行われる。
【００７８】
一方、ステップＳ２７で、第４の欠陥検出判定条件が満たされない場合には、現在のデータ参照領域での欠陥検出処理を終了し、欠陥検出補正領域が終了したかどうかの確認処理が行われる（ステップＳ３４）。
【００７９】
第３および第４の欠陥検出判定は、共に、実施例１の欠陥検出補正方法と同様に、水平９画素のモニターしか行っていないため、解像度の高いレンズで解像度の高い文字・線を撮像した場合には、縦線・斜め線を誤検出／誤補正してしまう可能性がある。第３および第４の欠陥検出判定は、実施例１の欠陥検出補正方法とは異なり、欠陥画素レベルの高い欠陥画素は検出しやすく、欠陥画素レベルの低い欠陥画素は検出しにくい検出方法になっているため、エッジ付近（高い出力と低い出力の境界）での欠陥画素であっても、エッジに対しても高い（低い）レベルを示す欠陥画素は検出することも可能である。
【００８０】
第３の欠陥検出判定では、単色（赤・青・緑）のみでできた縦線および斜め線は誤検出／誤補正する可能性はあり、なおかつ同色フィルタのモニターのみを行っているため、白い線等の複数の色でできた縦線および斜め線も誤検出／誤補正し、白い線を異なった色の線に変えてしまう可能性があるが、欠陥の点滅頻度は少ない。
【００８１】
第４の欠陥検出判定では、第３の欠陥検出判定と同様、単色の縦線および斜め線は誤検出／誤補正する可能性はあるが、白い線といった複数の色でできた縦線および斜め線の誤検出／誤補正は回避できるが、欠陥の点滅頻度は、第３の欠陥検出判定よりは多くなる。
【００８２】
ステップＳ２６およびステップＳ２７の第３および第４の欠陥検出判定で、注目画素が欠陥であると判断された場合、ステップＳ２８に進み、欠陥であると判断された注目画素の出力P(t)とデータ参照領域内の注目画素と同色フィルタの４画素(P(t-4)、P(t-2)、P(t+2)、P(t+4))の出力状態をモニターする（ステップＳ２８）。
【００８３】
次に、図９の出力状態１のように、P(t)が、P(t-4)、P(t-2)、P(t+2)及びP(t-4)の４画素より大きく（小さく）、かつ、P(t-2)及びP(t+2)の２画素が、P(t-4)及びP(t+4)より大きい（小さい）場合は、後述するステップＳ２９以降の補正方法で欠陥画素の補正を行い、出力状態１以外（例として、図１０の出力状態２の場合は、後述するステップＳ３５以降のような補正方法で欠陥画素の補正を行う。
【００８４】
次に、ステップＳ２９で、傾き推定補正量（E2）は、図９の出力状態１のような場合に、算出される。傾き推定補正量（E2）は、欠陥検出係数（X2）とP(t-4)及びP(t-2)の２点の傾き、P(t+4)及びP(t+2)の２点の傾きの２つの傾きからP(t)の出力値を推定した値p2(t)を用いて算出され、P(t)から欠陥検出係数（X2）とp2(t)の加算値を差分した値で算出される。このp2(t)は、２倍のP(t-2)、P(t-4)の差分値と２倍のP(t+2)、P(t+4)の差分値との加算値の半分の値として算出される。
【００８５】
解像度の高い縦線および斜め線を撮影している場合には、データ参照領域内の注目画素及びその同色フィルタの出力状態は、この出力状態１になり、その際の縦線・斜め線の補正量を少なくすることで、出力画像として、縦線および斜め線の誤検出および誤補正の影響を見えにくくする効果があり、かつ同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）が、欠陥画素検出判定閾値（C2）とほぼ同じ値を示す出力状態の場合の欠陥画素の補正／未補正の交互の処理による、出力画像での欠陥画素点滅を抑制する効果がある。
【００８６】
次に、ステップＳ３５で、閾値追従補正量（D2）は、図１０の出力状態２（図９の出力状態１以外の出力状態）の場合に、算出される。閾値追従補正量（D2）は、欠陥画素検出判定閾値（C2）と同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）を用いて算出され、欠陥画素検出判定閾値（C2）と同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）の差分値で算出される。
【００８７】
この演算処理を行うことで、同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）が、欠陥画素検出判定閾値（C2）とほぼ同じ値を示す出力状態の場合の欠陥画素の補正／未補正の交互の処理による、出力画像での欠陥画素点滅を抑制する効果がある。
【００８８】
２つの補正量（D2、E2）は、ともに同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）と欠陥画素検出判定閾値（C2）に依存する値であるが、欠陥画素検出判定閾値（C2）が、欠陥画素レベル（A）と欠陥検出係数（X2）に依存する値であるため、欠陥画素の欠陥画素レベルが大きく、センサーＧainの設定が大きいほど、２つの補正量は大きくなり、欠陥画素の欠陥画素レベルが小さく、センサーＧainの設定が小さいほど、２つの補正量は小さくなる処理になっている。
【００８９】
２つの補正量を算出した後、欠陥画素と判断された注目画素が高いレベルの欠陥画素なのか、低いレベルの欠陥画素なのかを判断することで、注目画素の補正する向きを、ステップＳ３０およびステップＳ３６で図８に示されるように判断し、ステップＳ３１、ステップＳ３２、ステップＳ３７およびステップＳ３８で図８に示される補正を行う。
【００９０】
ステップＳ３１、ステップＳ３２、ステップＳ３７およびステップＳ３８の演算処理は、ステップＳ２８で判断した２つの出力状態１および２、並びに、ステップＳ３０およびステップＳ３６で、欠陥画素と判断された注目画素が高低どちらのレベルの欠陥画素であるかという状態により、異なる補正方法を行っている。
【００９１】
図９の出力状態１でかつ注目画素が高いレベルの欠陥画素である場合は、補正後の欠陥画素の出力値P2’(t)は、注目画素の出力値P(t)から傾き推定補正量（E2）を差分した値に補正され（ステップＳ３１）、図９の出力状態１でかつ注目画素が低いレベルの欠陥画素である場合は、補正後の欠陥画素の出力値P2’(t)は、注目画素の出力値P(t)と傾き推定補正量（E2）を加算した値に補正される（ステップＳ３２）。
【００９２】
一方、図１０の出力状態２（出力状態１以外の出力状態）でかつ注目画素が高いレベルの欠陥画素である場合は、補正後の欠陥画素の出力値P2’(t)は、注目画素の出力値P(t)から閾値追従補正量（D2）を差分した値に補正され（ステップＳ３７）、図７の出力状態２でかつ注目画素が低いレベルの欠陥画素である場合は、補正後の欠陥画素の出力値P2’(t)は、注目画素の出力値P(t)と閾値追従補正量（D2）を差分した値に補正される（ステップＳ３８）。
【００９３】
次に、図４に示されるステップＳ１０と同様に、欠陥画素と判断された注目画素の出力値P(t)を、欠陥画素補正後の欠陥画素の出力値P2’(t)に置き換える。実施例２の欠陥検出補正処理での欠陥画素補正後の欠陥画素の出力値P2’(t)は、周辺画素(P(t-4)、P(t-2)、P(t+2)、P(t+4))に対して高いレベルの欠陥画素である場合、最大でも周辺画素の最大値から欠陥検出係数（X2）と同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）を加算した分高いレベルまでしか補正されない。また同様に、周辺画素(P(t-4)、P(t-2)、P(t+2)、P(t+4))に対して低いレベルの欠陥画素P(t)である場合、最大でも周辺画素の最小値から欠陥検出係数（X2）と同色フィルタ周辺レベル（Ｂ_same）を加算した分低いレベルまでしか補正されない（ステップＳ３３）。
【００９４】
また、この後、欠陥検出補正領域が終了したかどうかを確認するが（ステップＳ３４）、終了していない場合には、ステップＳ２６に戻り、次の出力に対して、欠陥検出補正処理を行う。欠陥検出補正領域が終了次第、次のフレームについて、前記と同様の欠陥検出補正処理を繰り返すことになる。
【００９５】
以上説明したように、実施例１および２によれば、欠陥検出補正回路７および／または６０を搭載した固体撮像素子は、欠陥画素のアドレスデータ等を記憶するための記憶装置を用いずに、欠陥検出補正回路７および／または６０により欠陥画素の検出及び欠陥画素の信号レベルを補正することが可能であり、また、本発明の処理を行うことで、欠陥画素の点滅等の画質の劣化を抑制できる。
【００９６】
また、実施例１および２の欠陥検出補正回路を搭載した固体撮像素子は、メモリー等の記憶装置が搭載されないために、記憶容量による補正できる欠陥画素数の制約が無く、さらに、製造出荷後の経時変化によって生じる欠陥画素についても補正が可能となり、利便性が向上する。
【００９７】
実施例１の欠陥検出補正回路７および実施例２の欠陥検出補正回路６０の双方の欠陥検出補正方法を加え、実施例１および２の欠陥検出補正方法を選択するようにイメージセンサを構成することもできる。
【００９８】
さらに、欠陥検出補正回路７および／または６０が搭載された固体撮像素子ＣＭＯＳイメージセンサは、欠陥画素をセンサー露光条件に応じて異なる欠陥画素検出感度及び欠陥画素補正感度で、欠陥画素検出及び補正するものであり、この発明により、従来のように、ＣＭＯＳイメージセンサの外部に欠陥画素のアドレスデータ等を記憶するための不揮発性メモリー等の記憶装置なしに、欠陥画素を検出して補正することが可能であり、また、製造段階でのコストを減少させることが可能であり、出荷後に生じる欠陥画素の検出／補正も可能である。
【００９９】
また、本発明の欠陥画素検出／補正処理を行うことで、水平・垂直画素を同時に参照するために必要な複数行分のメモリーを搭載できないＣＭＯＳイメージセンサにおいて、このため、水平画素しか参照できない場合に生じる、解像度の高い縦線および斜線を欠陥画素と誤検出してしまう判断を本発明の補正方法にて、その際の補正量を小さくすることで、誤検出／誤補正を最小限に抑制する効果がある。また、欠陥画素のレベルが、欠陥画素検出閾値とほぼ同じレベルである際に生じやすい補正／未補正の交互の処理による、最終出力画像による欠陥画素の点滅を本発明の補正処理により、欠陥画素の点滅を最小限に抑制することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１００】
【図１】本発明の実施例１のイメージセンサの構成を示す図である。
【図２】図１に示される画素部３の構成を示す図である。
【図３】図１に示される欠陥検出補正回路７の構成を示す図である。
【図４】実施例１の欠陥検出補正処理を示すフローチャートである。
【図５】データ参照領域および各パラメータの説明図である。
【図６】実施例２のイメージセンサの欠陥検出補正回路の構成を示す図である。
【図７】実施例２の欠陥検出補正処理を示すフローチャートである。
【図８】実施例２の欠陥検出補正処理を示すフローチャートである。
【図９】出力状態１のデータ参照領域および各パラメータの説明図である。
【図１０】出力状態２のデータ参照領域および各パラメータの説明図である。
【符号の説明】
【０１０１】
１……レンズ、２……ＣＭＯＳイメージセンサ、３……画素部、４……ＡＦＥ、５……ＡＤＣ、６……前処理部、７……欠陥検出回路、８……後処理部、９……機能制御・タイミング制御部、１０……画素、１１……画素、１２……画素、１３……第１フィルタ列、１４……第２フィルタ行１４、１５……ＯＢ行１５、１６……ダミー画素列、２１……有効画素領域、２２……ブランキング領域、２３……ブランキング領域、２４……ＯＢ画素領域、２５……ダミー画素領域。
【図１】
2006013988.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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