(57)【要約】  【課題】チルト角度調整手段を備え、反射レーザ光の信号の振幅値に基づいて最適チルト角度を算出する光ディスク装置において、光ディスクが大きな面ぶれを有する光ディスクである場合にも、正しい最適チルト角度を得ることができる。  【解決手段】光ピックアップのチルト角度が光ディスクに対して内周から外周方向へと変更され（Ｓ１）、この時得られるＴＥ信号（トラッキングエラー信号）を、制御回路内のメモリに記憶する（Ｓ２）。制御回路は、メモリに記憶されたＴＥ信号から所定の間隔（チルト角度）ごとにＴＥ信号の振幅値を抽出する（Ｓ３）。抽出された振幅値は一旦制御回路内のメモリに記憶され、続いて公知の最小二乗法に基づいて近似する３次曲線を決定する（Ｓ４）。近似の３次曲線が決定された後、その３次曲線の極大点に相当するチルト角度を最適チルト角度として設定する（Ｓ５）。【選択図】図２
2006236457.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザ光を照射し、反射したレーザ光を受光して前記光ディスクに記録された信号を読取る光ピックアップと、この光ピックアップのチルト角度調整手段とを備え、前記チルト角度調整手段が、前記光ピックアップのチルト角度を内周から外周方向へ、又は外周から内周方向へ変化させるチルト角度変更手段と、前記チルト角度変更手段によりチルト角度を変化させた時の反射レーザ光のＲＦ信号又はトラッキングエラー信号（以下、ＴＥ信号）の振幅を記憶するレーザ光の振幅記憶手段と、前記振幅記憶手段に記憶された振幅値に基づいて前記ＲＦ信号又はＴＥ信号の振幅を最大にするチルト角度を算出する最適チルト角度算出手段とからなる光ディスク装置において、
前記最適チルト角度算出手段が、前記振幅記憶手段に記憶されたＲＦ信号又はＴＥ信号の振幅値から一定チルト角度ごとの振幅値を抽出する振幅値抽出手段と、
前記振幅値抽出手段により抽出された複数の振幅値に近似する３次曲線を最小二乗法により決定する３次曲線決定手段と、
前記３次曲線決定手段により決定した３次曲線が極大になるチルト角度を最適チルト角度に設定する最適チルト角度設定手段とからなることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
光ディスクにレーザ光を照射し、反射したレーザ光を受光して前記光ディスクに記録された信号を読取る光ピックアップと、この光ピックアップのチルト角度調整手段とを備え、前記チルト角度調整手段が、前記光ピックアップのチルト角度を内周から外周方向へ、又は外周から内周方向へ変化させるチルト角度変更手段と、前記チルト角度変更手段によりチルト角度を変化させた時の反射レーザ光の振幅を記憶するレーザ光の振幅記憶手段と、前記振幅記憶手段に記憶された複数のチルト角度に対応する振幅値に基づいて反射レーザ光の振幅を最大にするチルト角度を算出する最適チルト角度算出手段とからなる光ディスク装置において、
前記最適チルト角度算出手段が、前記振幅記憶手段に記憶された所定間隔のチルト角度に対応する振幅値に３次曲線を近似させて最適チルト角度を算出することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
前記最適チルト角度算出手段は、近似させた３次曲線が極大になるチルト角度を最適チルト角度に設定することを特徴とする請求項２に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置に関し、詳しくは光ピックアップのチルト角度調整手段を備えた光ディスク装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置において、ターンテーブル上で回転する光ディスクにレーザ光を照射して光ディスクに記録された信号を読取る光ピックアップは、高い読取り精度を維持するために、常に光ディスク面に対して直角にレーザ光を照射する必要がある。光ディスク面に対するレーザ光の光軸の角度はチルト角度と称され、専用のチルトセンサが備えられた光ディスク装置では、そのチルトセンサによって検出されて、適正なチルト角度が得られるようになっている。ところが、専用のチルトセンサを設ける場合には、光ピックアップの取付け台上にチルトセンサを設けるスペースが必要になるとか、チルトセンサ専用の回路がコストアップにつながる等の欠点があることから、最近では専用のチルトセンサを設けず、光ピックアップが受光する反射レーザ光の再生信号に基づいて最適チルト角度を検出できる光ディスク装置が開発されている。
【０００３】
例えば、光ピックアップの光ディスクに対する角度（チルト角度）を所定ステップごとに変化させながら、反射レーザ光の再生信号の振幅値を計測し、その振幅値とチルト角度との関係を最小二乗法により２次関数に近似し、最適チルト角度を求める光ディスク装置がある（特許文献１参照）。
【０００４】
また、未記録光ディスクでも適正なチルト角度を得るために、光ディスク上のランドプリピットからの反射光を利用し、その反射光の信号振幅が最大となる時のチルト角度にオフセット量を考慮して最適チルト角度を求める装置がある（特許文献２参照）。さらに、光ピックアップで検出したトラッキング誤差信号の振幅を利用して最適チルト角度を求める装置がある（特許文献３参照）。後２者の装置は、いずれも、得られた信号振幅の極大値を求めるために２次関数を近似している。
【特許文献１】特開２００２−３４２９６３号公報
【特許文献２】特開２００４−９５０３５号公報
【特許文献３】特開２０００−３１１３６９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上述のように、光ピックアップが受光する反射レーザ光の再生信号に基づいて最適チルト角度を求める光ディスク装置では、再生信号等の振幅値の極大点を求めるために、２次関数近似を用いているが、発明者が行った実験によると、この方法で求めた極大点（最適チルト角度）は、実際に光ディスクを再生して検証した最適なチルト角度よりも僅かにずれていることが分かった。また、いわゆる面ぶれディスクを用いて再生した場合に、その傾向が顕著になることが分かった。
【０００６】
今、光ディスクの外周寄り位置で最適なチルト角度（詳しくはラジアルチルト角度の意であるが、本明細書ではチルト角度と称する）を求める時の、光ディスクＤと光ピックアップＰＵの関係について図４を参照して説明する。最適チルト角度を求めるには、光ピックアップＰＵのチルト角度を光ディスクＤの径方向に沿って内周側から外周側へと変更（光ピックアップＰＵを揺動ｒ）し、その間に光ピックアップＰＵが受光する反射光信号の振幅が最大となるチルト角度を最適チルト角度とする。面ぶれ度の少ない光ディスクＤの場合（図４（ａ））、光ピックアップＰＵを内周側へ向けた状態（実線図示）と光ピックアップＰＵを外周側へ向けた状態（一点鎖線図示）共に、光ピックアップＰＵから出射され、光ディスクＤで反射されるレーザ光Ｌの光路は安定しているが、面ぶれの大きな光ディスクＤの場合（図４（ｂ））、光ピックアップＰＵを内周側へ向けた状態（実線図示）と光ピックアップＰＵを外周側へ向けた状態（一点鎖線図示）共に、光ピックアップＰＵから出射され、光ディスクＤで反射されるレーザ光Ｌの光路が変動する。特に、光ピックアップＰＵを外周側へ向けた状態では、光ディスクＤの面ぶれの影響が大きく、レーザ光Ｌの光路長が大きく変動する。
【０００７】
実際に検出したトラッキングエラー信号（以下、ＴＥ信号と言う）を、横軸にチルト角度、縦軸に信号振幅として図に示す。図５は面ぶれ度の少ない光ディスクＤを用いて測定した時のＴＥ信号であり、図６は面ぶれの大きな光ディスクＤを用いて測定した時のＴＥ信号である（いずれもＴＥ信号の包絡線を表す）。図５のＴＥ信号は、振幅の変動が少なく、全体的に整った山形を成しているが、図６のＴＥ信号は、全体に振幅の変動が大きく、特にチルト角度を外周側へ向けた時には略一定の間隔でサージ電流的なピークＰが現れる。このように、面ぶれの大きな光ディスクＤにおいてチルト角度を光ディスクの外周側へ振った時のＴＥ信号の乱れは、上述のようにレーザ光Ｌの光路長が大きく変動することから、光ピックアップＰＵのフォーカスサーボ制御が充分には追従できないことによっても生じると考えられる。
【０００８】
いずれにしても、光ディスクＤの面ぶれは光ディスク自身の重心の偏りとか変形に起因し、避けがたいものであるから、図６に示したような振幅の変動の大きいＴＥ信号を検出する場合にも、ＴＥ信号が最大になる最適なチルト角度を求めなければならない。そこで、本発明の発明者はさらに研究を進めた結果、図６に示したようなＴＥ信号を検出した時に、このＴＥ信号に対して２字曲線を用いて近似することから生じる僅かな差異に気付いた。
【０００９】
つまり、実際にＴＥ信号に２次曲線を近似する場合、図７に示したように、所定チルト角度ごとのＴＥ信号の振幅値を１０数箇所抽出し、その抽出した振幅値に対して最小二乗法等の手法を用いて近似する２次曲線を決定している。ところが、図６に示したようなＴＥ信号について、所定チルト角度ごとに振幅値を抽出すると、抽出箇所が振幅のピークＰ付近である場合には、大き目の振幅値が得られる。そして、この傾向は、サージ電流的なピークＰが繰り返し現れる、チルト角度が外周向きである領域でより顕著に現れる。
【００１０】
これについて図７を参照してさらに説明する。図７に示した１２個のＴＥ信号振幅値Ａｖは、チルト角度を光ディスクの内周方向から外周方向へ変更した時に得たＴＥ信号を所定間隔で抽出した値であるが、チルト角度が外周向きである領域Ｅｏにおける振幅値Ａｖの方が、チルト角度が内周向きである領域Ｅｉにおける振幅値Ａｖよりも平均的に大きい。従って、これらの振幅値Ａｖに近似する２次曲線Ｃを作成すれば、作成された２次曲線Ｃは、その極大点Ｃｍが、チルト角度が外周向きの領域Ｅｏ寄りに偏った２次曲線となり、この極大点Ｃｍのチルト角度を最適チルト角度に設定すれば、その最適チルト角度は、正しい最適チルト角度よりも僅かに外周向きになる。抽出した振幅値Ａｖを２次曲線で近似する限りは、上述したチルト角度が外周向きの領域Ｅｏにおいて抽出した振幅値Ａｖのずれ（大きい値へのずれ）の影響を避けられず、真の最適チルト角度から外周向きの領域Ｅｏへずれたチルト角度しか得られない。従って、従来方法で得た最適チルト角度に基づいてチルト角度を設定すれば、特に面ぶれの大きな光ディスクＤにおいて、再生映像及び／又は再生音声が鮮明さに欠ける虞がある。
【００１１】
そこで、本発明の発明者は、チルト角度が外周向きの領域Ｅｏにおいて抽出した振幅値Ａｖのずれ（大きい値へのずれ）の影響を吸収して、正しい最適チルト角度を得る方法として抽出した振幅値を３次曲線で近似することに想到し、本発明を完成するに至ったものである。
【００１２】
つまり、本発明は、チルト角度調整手段を備え、反射レーザ光の信号の振幅値に基づいて最適チルト角度を算出する光ディスク装置において、光ディスクが大きな面ぶれを有する光ディスクである場合にも、正しい最適チルト角度を得ることができ、常に鮮明な再生映像及び／又は再生音声を得ることができる光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
上記目的を達成するための請求項１の発明は、光ディスクにレーザ光を照射し、反射したレーザ光を受光して前記光ディスクに記録された信号を読取る光ピックアップと、この光ピックアップのチルト角度調整手段とを備え、前記チルト角度調整手段が、前記光ピックアップのチルト角度を内周から外周方向へ、又は外周から内周方向へ変化させるチルト角度変更手段と、前記チルト角度変更手段によりチルト角度を変化させた時の反射レーザ光のＲＦ信号又はトラッキングエラー信号（以下、ＴＥ信号）の振幅を記憶するレーザ光の振幅記憶手段と、前記振幅記憶手段に記憶された振幅値に基づいて前記ＲＦ信号又はＴＥ信号の振幅を最大にするチルト角度を算出する最適チルト角度算出手段とからなる光ディスク装置において、前記最適チルト角度算出手段が、前記振幅記憶手段に記憶されたＲＦ信号又はＴＥ信号の振幅値から一定チルト角度ごとの振幅値を抽出する振幅値抽出手段と、前記振幅値抽出手段により抽出された複数の振幅値に近似する３次曲線を最小二乗法により決定する３次曲線決定手段と、前記３次曲線決定手段により決定した３次曲線が極大になるチルト角度を最適チルト角度に設定する最適チルト角度設定手段とからなることを特徴とする。
【００１４】
請求項２の発明は、光ディスクにレーザ光を照射し、反射したレーザ光を受光して前記光ディスクに記録された信号を読取る光ピックアップと、この光ピックアップのチルト角度調整手段とを備え、前記チルト角度調整手段が、前記光ピックアップのチルト角度を内周から外周方向へ、又は外周から内周方向へ変化させるチルト角度変更手段と、前記チルト角度変更手段によりチルト角度を変化させた時の反射レーザ光の振幅を記憶するレーザ光の振幅記憶手段と、前記振幅記憶手段に記憶された複数のチルト角度に対応する振幅値に基づいて反射レーザ光の振幅を最大にするチルト角度を算出する最適チルト角度算出手段とからなる光ディスク装置において、前記最適チルト角度算出手段が、前記振幅記憶手段に記憶された所定間隔のチルト角度に対応する振幅値に３次曲線を近似させて最適チルト角度を算出することを特徴とする。
【００１５】
請求項３の発明は、請求項２の発明において、前記最適チルト角度算出手段が、近似させた３次曲線が極大になるチルト角度を最適チルト角度に設定するものであることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、チルト角度調整手段を備え、反射レーザ光の信号の振幅値に基づいて最適チルト角度を算出する光ディスク装置において、光ディスクが大きな面ぶれを有する場合にも、正しい最適チルト角度を得ることができ、常に鮮明な再生映像及び／又は再生音声を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の一実施形態について図１乃至図３を参照して説明する。本実施形態の光ディスク装置１は、図１に示すように、光ディスク２をターンテーブル３上に載置し、スピンドルモータ４によって所定の速度で回転させる光ディスクの回転駆動装置５と、一端を軸支６されて他端が上下動自在な案内レール７によって案内されると共に、フィードモータ（不図示）により光ディスク２の径方向に沿ってシーク移動される光ピックアップ８と、光ピックアップ８のチルト角度を変更させるチルト角度変更機構９と、光ピックアップ８が受光したレーザ光の信号を取り込んでＲＦ信号、ＴＥ信号等の所定の信号に変換する再生信号処理回路１１と、再生信号処理回路１１からの信号を受信して光ピックアップ８のフォーカスを制御するフォーカスサーボ回路１２と、同じく再生信号処理回路１１からの信号を受信して光ピックアップ８のトラッキングを制御するトラッキングサーボ回路１３と、再生信号処理回路１１、フォーカスサーボ回路１２、トラッキングサーボ回路１３及び後述のチルト制御回路１４を統括して制御するマイクロコンピュータから成る制御回路１５とを備えている。
【００１８】
チルト角度変更機構９は、光ピックアップ８の案内レール７の上下動自在な側の一端に設けた円筒状傾斜カム機構１６と、この傾斜カム機構１６にギヤ１７連結されて、傾斜カム面１６ａを移動（図１では左右方向移動）させるチルトモータ１８と、チルトモータ１８へ所定の回転指令を出力するチルト制御回路１４とからなり、チルトモータ１８がチルト制御回路１４からの指令を受けて回転し傾斜カム面１６ａが移動すると、傾斜カム面１６ａ上に転接した案内レール７の一端が上下動し、光ピックアップ８のチルト角度が変更されるようになっている。つまり、傾斜カム面１６ａが図１の左方向へ移動されると、案内レール７の一端が上昇するので、光ピックアップ８は図１の反時計方向へ回動され（光ディスク２の内周方向へのチルト）、逆に傾斜カム面１６ａが図１の右方向へ移動されると、案内レール７の一端が下降するので、光ピックアップ８は図１の時計方向へ回動される（光ディスク２の外周方向へのチルト）。
【００１９】
なお、最適チルト角度の設定は、光ピックアップ８を光ディスク２の最内周位置及び最外周位置（データが記録された最外周位置）にシーク移動させ、それぞれの位置で行い、各位置で設定した最適チルト角度を最内周位置及び最外周位置における最適チルト角度とすると共に、中間の位置における最適チルト角度は、最内周位置及び最外周位置における最適チルト角度を比例案分することによって設定する。これらの動作は、制御回路１５内に記憶されたプログラムに基づいて行われる。
【００２０】
次に、光ピックアップ８を光ディスク２の最外周位置にシーク移動させた状態で行う最適チルト角度の設定について、図２のフローチャートを参照して説明する。まず、制御回路１５がチルト制御回路１４に対してチルトモータ１８に所定の回転を与える指令を出力し、チルト制御回路１４がそれに基づきチルトモータ１８に所定の電圧を与え、傾斜カム面１６ａを図１の右方向へ移動させる。これにより、光ピックアップ８が図１の時計方向へ回動され、チルト角度が光ディスク２の内周から外周方向へと変更される（Ｓ１）。この時再生信号処理回路１１を介して得られるＴＥ信号（トラッキングエラー信号）を、制御回路１５内のメモリに記憶する（Ｓ２）。
【００２１】
次に、制御回路１５は、メモリに記憶されたＴＥ信号から所定の間隔（チルト角度）ごとにＴＥ信号の振幅値を抽出する（Ｓ３）（本実施形態では１２箇所）。抽出された振幅値は一旦制御回路１５内のメモリに記憶され、続いて公知の最小二乗法に基づいて近似する３次曲線を決定する（Ｓ４）。近似の３次曲線が決定された後、その３次曲線の極大点に相当するチルト角度を最適チルト角度として設定する（Ｓ５）。
【００２２】
抽出された振幅値Ａｖｉと、それらの振幅値Ａｖｉに近似された３次曲線Ｃｉを図３に示す。１２個の振幅値Ａｖｉは、チルト角度が外周側寄りの領域Ｅｏについては、前述の通りの理由により大き目の値となっているが、３次曲線Ｃｉで近似することによって、適正な最適チルト角度の位置が極大点Ｃｉｍになる３次曲線が決定される。比較のため、同じ１２個の振幅値Ａｖｉを２次曲線で近似した場合の２次曲線Ｃを一点鎖線で示す。近似された２次曲線Ｃでは、チルト角度が外周寄りの領域Ｅｏにおける振幅値の影響を受けて、極大点Ｃｍが図３の左方（チルト角度が外周寄り）へ偏っている。
【００２３】
従って、次に光ディスク装置１がＤＶＤ等の光ディスク２の再生を開始した時には、制御回路１５によって設定され記憶されている最適チルト角度になるように、チルト角度変更機構９が動作され、常に鮮明な再生映像及び／又は再生音声を得ることができる。
【００２４】
なお、本実施形態では、制御回路１５は、再生信号処理回路１１から得られるＴＥ信号を用いて最適チルト角度を設定したが、ＴＥ信号に代えて再生信号処理回路から得られるＲＦ信号を用いても同様の手順で最適チルト角度を設定できる。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク装置のブロック構成図。
【図２】同最適チルト角度を設定する手順を示したフローチャート。
【図３】同抽出したＴＥ信号の振幅値と近似した３次曲線及び２次曲線を示す図。
【図４】チルト動作を行う時の光ピックアップと光ディスクの関係を示す図であって、（ａ）は、面ぶれ度が小さい光ディスクの場合を示し、（ｂ）は面ぶれ度が大きい光ディスクの場合を示す。
【図５】面ぶれ度が小さい光ディスクのチルト動作時のＴＥ信号を示す図。
【図６】面ぶれ度が大きい光ディスクのチルト動作時のＴＥ信号を示す図。
【図７】従来の光ディスク装置における最適チルト角度を算出するために抽出されたＴＥ信号振幅値と近似した２次曲線の関係を示す図。
【符号の説明】
【００２６】
１  光ディスク装置
２  光ディスク
８  光ピックアップ
９  チルト角度変更機構（チルト角度変更手段）
１１  再生信号処理回路
１４  チルト制御回路
１５  制御回路（振幅記憶手段、最適チルト角度算出手段、振幅値抽出手段、３次曲線決定手段、最適チルト角度設定手段）
Ａｖｉ  振幅値
Ｃｉ  ３次曲線
Ｃｉｍ  極大点
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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