(57)【要約】【課題】どの情報面に光が照射されているかをすばやく判断し、正確に情報を記録・再生できるような多層情報記録媒体及び多層情報記録媒体の記録・再生方法、記録・再生装置を提供する。【解決手段】光の照射によって情報が記録又は再生される複数のレイヤー２，４，６，８に連続又は不連続の溝によって形成される凹凸の形状及び／又は凹凸の溝の長手方向の変化の仕方、例えば凹凸の深さ及び／又は幅、凹凸の蛇行の振幅又は周期をレイヤーによって異ならせる。【選択図】図１
2006236569.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光の照射によって情報が記録または再生される、複数のレイヤーを有する記録媒体のレイヤー判定方法であって、
前記複数のレイヤーそれぞれは、ピット部と、所定の周波数でウォブルされたウォブル領域とを有し、
前記ウォブル領域から得られるウォブル信号振幅と、前記ピット部の再生信号振幅の比を用いてレイヤー判定を行うことを特徴とするレイヤー判定方法。
【請求項２】
複数のレイヤーを有する記録媒体に、光を照射することによって情報を記録する報記録方法であって、
前記複数のレイヤーそれぞれは、ピット部と、所定の周波数でウォブルされたウォブル領域とを有し、
前記ウォブル領域から得られるウォブル信号振幅と、前記ピット部の再生信号振幅の比を用いてレイヤーを特定し、情報を記録することを特徴とする情報記録方法。
【請求項３】
複数のレイヤーを有する記録媒体に、光を照射することによって情報を再生する情報再生方法であって、
前記複数のレイヤーそれぞれは、ピット部と、所定の周波数でウォブルされたウォブル領域とを有し、
前記ウォブル領域から得られるウォブル信号振幅と、前記ピット部の再生信号振幅の比を用いてレイヤーを特定し、情報を再生することを特徴とする情報再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに用いられる多層情報記録媒体、多層情報記録媒体の記録再生方法及び記録再生装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
レーザ光を照射して薄膜（記録膜）に情報を記録する原理は種々知られているが、そのうちで膜材料の相変化（相転移とも呼ばれる）やフォトダークニングなど、レーザ光の照射による原子配列変化を利用するものは、薄膜の変形をほとんど伴わないため、２枚のディスク部材を直接貼り合わせて両面ディスク構造情報記録媒体、又は複数の情報面を有する多層情報記録媒体が得られるという長所を持つ。
【０００３】
多層情報記録媒体における情報の再生方法は、文献１（特開平５−１０１３９８号公報）に再生したい情報面へヘッドを一定距離で移動する方法が記載されている。この方法では、ヘッドの移動量がずれると正確に情報面にフォーカス出来ないため、正確に情報を再生することが困難である。
【０００４】
また、多層ＲＯＭディスクでは、文献２（DVD Specifications for Read-Only Disc）に記載されているように、各情報面に形成されたピットにアドレス情報としてレイヤー番号が記載され、これを再生する方法が用いられている。この方法では、各レイヤーにフォーカスした後に、トラッキングし、アドレス情報を再生し、これを信号処理を行なって後にレイヤー番号が判定できるため、正確に情報を再生するまでに非常に時間がかかる。
【０００５】
本明細書において光ディスクとは、光の照射によって再生できる情報が記載された円板（ディスク）、及び／又は光の照射によって情報の再生を行う装置をいう。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
従来の多層情報記録媒体は、正確に情報面を判断して再生することが困難である。また、多層ＲＯＭで行なわれている、各レイヤーにフォーカスした後に、トラッキングし、アドレス情報を再生し、これを信号処理した後にレイヤー番号が判定する方法は、正確に情報を再生するまでに非常に時間がかかる。
【０００７】
そこで、この発明の目的は、複数の情報面を持つ多層情報記録媒体において、どの情報面に光が照射されているかをすばやく判断し、正確に情報を記録・再生できるような多層情報記録媒体及び多層情報記録媒体の記録・再生方法、記録・再生装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明においては、以下の手段によって前記目的を達成する。
（１）光の照射によって情報が記録又は再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体において、前記複数のレイヤーはそれぞれ連続又は不連続の溝によって構成される凹凸を有し、前記凹凸の形状及び／又は前記凹凸の前記溝の長手方向の変化の仕方が異なる少なくとも２種類のレイヤーを有する情報記録媒体。
（２）（１）に記載の情報記録媒体において、前記レイヤーは多値記録用のレイヤーである情報記録媒体。
（３）（１）又は（２）に記載の情報記録媒体において、前記凹凸の深さ及び／又は幅が異なる少なくとも２種類のレイヤーを有する情報記録媒体。
（４）（３）に記載の情報記録媒体において、光入射側から遠いレイヤーは光入
射側に近いレイヤーより前記凹凸の深さ及び／又は幅が大きい情報記録媒体。
（５）（１）又は（２）に記載の情報記録媒体において、前記凹凸は前記溝の長手方向に予め定められた振幅で蛇行ないし変形しており、前記蛇行ないし変形の振幅が異なる少なくとも２種類のレイヤーを有する情報記録媒体。
【０００９】
（６）（５）に記載の情報記録媒体において、光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤーより前記蛇行ないし変形の振幅が大きい情報記録媒体。
（７）（１）又は（２）に記載の情報記録媒体において、前記凹凸は前記溝の長手方向に予め定められた振幅で蛇行ないし変形しており、前記蛇行ないし変形の周期が異なる少なくとも２種類のレイヤーを有する情報記録媒体。
（８）（７）に記載の情報記録媒体において、光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤーより前記蛇行ないし変形の周期が短い情報記録媒体。
（９）光の照射によって情報が記録又は再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体において、前記複数のレイヤーはそれぞれ予め定められた数のセクターに分割され、前記セクターの数が異なる少なくとも２種類のレイヤーを有する情報記録媒体。
（１０）光の照射によって情報が記録又は再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体において、前記複数のレイヤーはそれぞれ予め定められた数のセクターに分割され、前記セクターの長さが異なる少なくとも２種類のレイヤーを有する情報記録媒体。
【００１０】
（１１）（１０）に記載の情報記録媒体において、光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤーより前記セクターの長さが短い情報記録媒体。
（１２）（１０）に記載の情報記録媒体において、光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤーより前記セクターの数が多い情報記録媒体。
（１３）光の照射によって情報が記録又は再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体において、前記複数のレイヤーはそれぞれ予め定められた数のセクターに分割され、各セクタは少なくともピット部とデータ部とを有し、前記ピット部の再生信号振幅と前記データ部の再生信号振幅の比が異なる少なくとも２種類のレイヤーを有する情報記録媒体。
（１４）（１３）に記載の情報記録媒体において、光入射側から遠いレイヤーは光入射側に近いレイヤーより前記ピット部の再生信号振幅と前記データ部の再生信号振幅の比が大きい情報記録媒体。
ピット部の再生信号振幅とデータ部の再生信号振幅の比とは、（データ部の再生信号振幅）／（ピット部の再生信号振幅）である。
【００１１】
（１５）駆動中に光の照射を受けて第１の振幅のトラッキング誤差信号を発生させる第１のレイヤーと、前記第１の振幅とは異なる第２の振幅のトラッキング誤差信号を発生させる第２のレイヤーとを備える情報記録媒体。
（１６）駆動中に光の照射を受けて第１の振幅のデータ部の再生信号を発生させる第１のレイヤーと、前記第１の振幅とは異なる第２の振幅のデータ部の再生信号を発生させる第２のレイヤーとを備える情報記録媒体。
（１７）駆動中に光の照射を受けて第１の振幅のウォブル信号を発生させる第１のレイヤーと、前記第１の振幅とは異なる第２の振幅のウォブル信号を発生させる第２のレイヤーとを備える情報記録媒体。
（１８）駆動中に光の照射を受けて第１の周波数のピット部の再生信号を発生させる第１のレイヤーと、前記第１の周波数とは異なる第２の周波数のピット部の再生信号を発生させる第２のレイヤーとを備える情報記録媒体。
（１９）駆動中に光の照射を受けて第１の周波数のウォブル信号を発生させる第１のレイヤーと、前記第１の周波数とは異なる第２の周波数のウォブル信号を発生させる第２のレイヤーとを備える情報記録媒体。
【００１２】
（２０）駆動中に光の照射を受けて第１の総光量の信号を発生させる第１のレイヤーと、前記第１の総光量とは異なる第２の総光量の信号を発生させる第２のレイヤーとを備える情報記録媒体。
（２１）駆動中に光の照射を受けて第１の時間間隔でセクター検出信号を発生させる第１のレイヤーと、前記第１の時間間隔と異なる第２の時間間隔でセクター検出信号を発生させる第２のレイヤーとを備える情報記録媒体。
（２２）駆動中に光の照射を受けて所定時間内に第１の数のセクター数検出信号を発生させる第１のレイヤーと、前記第１の数と異なる第２の数のセクター数検出信号を発生させる第２のレイヤーとを備える情報記録媒体。
（２３）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する方法において、前記記録トラックをトラッキングする際に発生されるトラッキング誤差信号の振幅に基づいて情報を記録すべきレイヤーを特定する情報の記録方法。
各レイヤーは連続又は不連続の溝によって構成される凹凸を有し、この凹凸に起因して予め定められた振幅のトラッキング誤差信号が生成される。
【００１３】
（２４）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する方法において、前記レイヤーからの再生信号の総光量に基づいて情報を記録すべきレイヤーを特定する情報の記録方法。
（２５）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する方法において、各レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割されており、１つのセクターが検出されたのち次のセクターが検出されるまでの時間に基づいて情報を記録すべきレイヤーを特定する情報の記録方法。
（２６）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する方法において、各レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割されており、所定時間内に検出されるセクターの数に基づいて情報を記録すべきレイヤーを特定する情報の記録方法。
（２７）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する方法において、前記レイヤーからの再生信号の振幅に基づいて情報を記録すべきレイヤーを特定する情報の記録方法。
（２８）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する方法において、前記レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割されており、各セクタは少なくともピット部とデータ部とを有し、前記ピット部の再生信号振幅と前記データ部の再生信号振幅の比に基づいて情報を記録すべきレイヤーを特定する情報の記録方法。
【００１４】
（２９）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する方法において、前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によって構成される凹凸を有し、前記凹凸は予め定められた振幅で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形しており、前記蛇行ないし変形に起因して発生される信号の振幅に基づいて情報を記録すべきレイヤーを特定する情報の記録方法。
（３０）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する方法において、前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によって構成される凹凸を有し、前記凹凸はレイヤー毎に予め定められた周期で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形しており、前記蛇行ないし変形に起因して発生される信号の周波数に基づいて情報を記録すべきレイヤーを特定する情報の記録方法。
（３１）光の照射によって情報が再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を再生する方法において、前記記録トラックをトラッキングする際に発生されるトラッキング誤差信号の振幅に基づいて情報を再生すべきレイヤーを特定する情報の再生方法。
【００１５】
各レイヤーは連続又は不連続の溝によって構成される凹凸を有し、この凹凸に起因して予め定められた振幅のトラッキング誤差信号が生成される。
【００１６】
（３２）光の照射によって情報が再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を再生する方法において、前記レイヤーからの再生信号の総光量に基づいて情報を再生すべきレイヤーを特定する情報の再生方法。
（３３）光の照射によって情報が再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を再生する方法において、各レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割されており、１つのセクターが検出されたのち次のセクターが検出されるまでの時間に基づいて情報を再生すべきレイヤーを特定する情報の再生方法。
（３４）光の照射によって情報が再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を再生する方法において、各レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割されており、所定時間内に検出されるセクターの数に基づいて情報を再生すべきレイヤーを特定する情報の再生方法。
（３５）光の照射によって情報が再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を再生する方法において、前記レイヤーからの再生信号の振幅に基づいて情報を再生すべきレイヤーを特定する情報の再生方法。
【００１７】
（３６）光の照射によって情報が再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を再生する方法において、前記レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割されており、各セクタは少なくともピット部とデータ部とを有し、前記ピット部の再生信号振幅と前記データ部の再生信号振幅の比に基づいて情報を再生すべきレイヤーを特定する情報の再生方法。
（３７）光の照射によって情報が再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を再生する方法において、前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によって構成される凹凸を有し、前記凹凸はレイヤー毎に予め定められた振幅で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形しており、前記蛇行ないし変形に起因して発生される信号の振幅に基づいて情報を再生すべきレイヤーを特定する情報の再生方法。
（３８）光の照射によって情報が再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を再生する方法において、前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によって構成される凹凸を有し、前記凹凸はレイヤー毎に予め定められた周期で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形しており、前記蛇行ないし変形に起因して発生される信号の周波数に基づいて情報を再生すべきレイヤーを特定する情報の再生方法。
【００１８】
（３９）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報記録装置において、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号を用いて前記記録トラックをトラッキングするためのトラッキング誤差信号の振幅を検出するトラッキング誤差信号振幅検出手段と、前記トラッキング誤差信号振幅検出手段によって検出された振幅に基づいてトラッキング中のレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報記録装置。
（４０）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報記録装置において、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段によって検出された総光量に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報記録装置。
【００１９】
（４１）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報記録装置において、前記情報記録媒体の各レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割されており、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号を用いて１つのセクターが検出されたのち次のセクターが検出されるまでの時間を測定する時間測定手段と、前記時間測定手段によって検出された時間に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報記録装置。
（４２）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報記録装置において、前記情報記録媒体の各レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割されており、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号を用いて所定時間内に検出されるセクターの数を検出するセクター数検出手段と、前記セクター数検出手段によって検出されたセクター数に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報記録装置。
（４３）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報記録装置において、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段によって検出された再生信号の振幅を検出する信号振幅検出手段と、前記信号振幅検出手段によって検出された振幅に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報記録装置。
【００２０】
（４４）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報記録装置において、前記情報記録媒体のレイヤーは予め定められた数のセクターに分割されるとともに各セクタは少なくともピット部とデータ部とを有し、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号を用いて前記ピット部の再生信号振幅と前記データ部の再生信号振幅の比を検出する信号振幅比検出手段と、前記信号振幅比検出手段によって検出された比の値に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報記録装置。
（４５）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報記録装置において、前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によって構成される凹凸を有するとともに前記凹凸はレイヤー毎に予め定められた振幅で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形しており、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号からウォブル振幅を検出するウォブル振幅検出手段と、前記ウォブル振幅検出手段によって検出されたウォブル振幅に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報記録装置。
【００２１】
（４６）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報記録装置において、前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によって構成される凹凸を有するとともに前記凹凸はレイヤー毎に予め定められた周期で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形しており、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号からウォブル周波数を検出するウォブル周波数検出手段と、前記ウォブル周波数検出手段によって検出されたウォブル周波数に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報記録装置。
（４７）光の照射によって情報が再生される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を再生する情報再生装置において、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号を用いて前記記録トラックをトラッキングするためのトラッキング誤差信号の振幅を検出するトラッキング誤差信号振幅検出手段と、前記トラッキング誤差信号振幅検出手段によって検出された振幅に基づいてトラッキング中のレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報再生装置。
【００２２】
（４８）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報再生装置において、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段によって検出された総光量に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報再生装置。
（４９）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報再生装置において、前記情報記録媒体の各レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割されており、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号を用いて１つのセクターが検出されたのち次のセクターが検出されるまでの時間を測定する時間測定手段と、前記時間測定手段によって検出された時間に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報再生装置。
（５０）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報再生装置において、前記情報記録媒体の各レイヤーはレイヤー毎に予め定められた数のセクターに分割されており、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号を用いて所定時間内に検出されるセクターの数を検出するセクター数検出手段と、前記セクター数検出手段によって検出されたセクター数に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報再生装置。
【００２３】
（５１）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報再生装置において、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段によって検出された再生信号の振幅を検出する信号振幅検出手段と、前記信号振幅検出手段によって検出された振幅に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報再生装置。
（５２）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報再生装置において、前記情報記録媒体のレイヤーは予め定められた数のセクターに分割されるとともに各セクタは少なくともピット部とデータ部とを有し、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号を用いて前記ピット部の再生信号振幅と前記データ部の再生信号振幅の比を検出する信号振幅比検出手段と、前記信号振幅比検出手段によって検出された比の値に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報再生装置。
【００２４】
（５３）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報再生装置において、前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によって構成される凹凸を有するとともに前記凹凸はレイヤー毎に予め定められた振幅で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形しており、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号からウォブル振幅を検出するウォブル振幅検出手段と、前記ウォブル振幅検出手段によって検出されたウォブル振幅に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報再生装置。
（５４）光の照射によって情報が記録される複数のレイヤーを有する情報記録媒体の記録トラックに光を照射して情報を記録する情報再生装置において、前記レイヤーの記録トラックは連続又は不連続の溝によって構成される凹凸を有するとともに前記凹凸はレイヤー毎に予め定められた周期で前記溝の長手方向に蛇行ないし変形しており、前記情報記録媒体に光を照射するための光照射手段と、前記情報記録媒体から反射された光を検出する光検出手段と、前記光検出手段の検出信号からウォブル周波数を検出するウォブル周波数検出手段と、前記ウォブル周波数検出手段によって検出されたウォブル周波数に基づいてレイヤーを判定するレイヤー判定手段とを備える情報再生装置。
【発明の効果】
【００２５】
以上説明したように、本発明によると、多層の情報面を持つ光ディスクにおいて情報面検出の信頼性及び／又は検出速度があがり、記録・再生を高速かつ確実に行うことが出来る。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
以下、本発明を実施例によって詳細に説明する。
〔実施例１〕
（情報記録媒体の構成、製法）
本発明は、図１に示したようにレイヤー０からレイヤーｎ−１までｎ層（ｎは２以上の整数）からなる複数のレイヤーを持つ多層情報記録媒体及びその記録方法及び再生方法に関する。記録及び再生に用いる光はレイヤー番号の小さな方向、すなわちレイヤー０側から入射される。
【００２７】
図２は、ｎが２の場合における本発明の第１実施例のディスク状情報記録媒体の断面構造を示す模式図である。この媒体は次のようにして製作した。まず、直径１２ｃｍ、厚さ０．６ｍｍで表面にトラッキング用の溝を有するポリカーボネイト基板１１上に、膜厚約１００ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０膜と膜厚約５ｎｍのＣｒ４０Ｏ５７Ｎ３膜を積層してなるＬ０下部保護層１２、膜厚約６ｎｍのＧｅ５Ｓｂ２Ｔｅ８からなるＬ０記録膜１３、膜厚約５ｎｍのＣｒ２Ｏ３膜と膜厚約９５ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０膜を積層してなるＬ０上部保護層１４を順次形成した。積層膜の形成はマグネトロン・スパッタリング
装置により行った。こうして第１のディスク部材を得た。
【００２８】
他方、同様のスパッタリング方法により、第１のディスク部材と異なる構成を持つ第２のディスク部材を得た。第２のディスク部材は、ポリカーボネイト保護基板２０上に、膜厚約８０ｎｍのＡｇ９８Ｐｄ１Ｃｕ１膜からなるＬ１反射層１９、膜厚約８０ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０膜と膜厚約５ｎｍのＣｒ２Ｏ３を積層してなるＬ１上部保護層１８、膜厚約１８ｎｍのＧｅ５Ｓｂ２Ｔｅ８Ｌ１記録膜１７、膜厚約５ｎｍのＣｒ４０Ｏ５７Ｎ３膜と膜厚約８０ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０膜を積層してなるＬ１下部保護層１６を順次形成したものである。
【００２９】
その後、前記第１のディスク部材と第２のディスク部材をそれぞれのＬ０上部保護層１４とＬ１下部保護層１６をスペーサ層１５を介して貼り合わせ、図２に示す２層情報記録媒体（ディスクＡ）を得た。基板１１上には、溝深さ４２ｎｍ、溝幅０．３８μｍの凹凸が形成されており、保護基板２０上には、溝深さ４２ｎｍ、溝幅０．３６μｍ、の凹凸が形成されている。各情報面は光入射側の構成膜（Ｌ０下部保護層１２からＬ０上部保護層１４まで）をＬ０構成膜、光入射側から遠い方の構成膜（Ｌ１下部保護層１６からＬ１反射層１９まで）をＬ１構成膜とした。
【００３０】
溝深さ、溝幅は、図３に示したように定義される。図３において、２１は基板、２２はレイヤー０、２３はレイヤー０とレイヤー１間のスペーサ層、２４はレイヤー１、２５は保護基板である。Ｌ０の溝深さは、Ｌ０の基板表面の凹凸の高さ（Ｄ０）、Ｌ１の溝深さは、スペーサ層表面の凹凸の高さ（Ｄ１）である。Ｌ０の溝幅は、溝深さＤ０の半分の高さで凹凸を横切った場合の幅（Ｗ０）、Ｌ１の溝幅は、溝深さＤ１の半分の高さで凹凸を横切った場合の幅（Ｗ１）である。ランド部とグルーブ部の溝幅が異なるときは、両者の平均値とする。
【００３１】
上記基板の凹凸は次のようにして作製される。図４に示されるように、工程１でガラス板３３３上にフォトレジスト３３２を塗布し、工程２でレーザ光３３１を照射する。この際にレーザ光の強度や照射面積を制御することにより、凹凸の形状を変えることができる。溝の幅を広くするためには、照射面積を広くする必要がある。また、トラックピッチを広くするには照射のピッチを広くする必要がある。溝を蛇行させるには、レーザ光を蛇行させながら照射する必要がある。溝深さはフォトレジスト３３２の厚さで制御できる。溝深さを大きくするには、フォトレジストを厚くする必要がある。次に工程３で現像し、原盤３３５が出来あがる。
【００３２】
次に、図５に示されるように、工程４では原盤３３５にニッケルメッキによりニッケルスタンパ３３６を作製する。続いて、このニッケルスタンパ３３６を設置した金型内に高温融解させたプラスチック基板材料（例えばポリカーボネートなど）を高圧で注入した後に冷却し、ニッケルスタンパ３３６から剥離して基板３３７取り出すと、表面に凹凸パターンが複製されたプラスチック基板が完成する。この際のインジェクションの温度条件を変えると溝の肩の形状が変化する。この手法は現在のＣＤ−Ａｕｄｉｏ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＯＭをはじめＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＭＯなどのプラスチック基板作製における一般的な手法（射出成形法）である。
【００３３】
（初期結晶化）
前記のようにして製作したディスクＡのＬ０記録膜１３及びＬ１記録膜１７を次のようにして初期結晶化を行った。なお、以下ではＬ０記録膜１３、Ｌ１記録膜１７についてのみ説明するが、この他の多層媒体の記録膜についても全く同様である。
【００３４】
媒体（ディスクＡ）を記録トラック上の点の線速度が５ｍ／ｓであるように回転させ、波長約８１０ｎｍの半導体レーザのレーザパワーを３００ｍＷにしてＬ１の記録膜にフォーカスした後、レーザパワーを７００ｍＷにして、基板１及びＬ０構成膜、スペーサー層を通してＬ１記録膜１７に媒体の半径方向に長い長円形のスポット形状で照射した。スポットの移動は、媒体の１回転につき媒体の半径方向のスポット長の１／２４ずつずらした。こうして、Ｌ１記録膜全面の初期結晶化を行った。この初期結晶化は１回でもよいが３回繰り返すと初期結晶化によるノイズ上昇を少し低減できた。この初期結晶化は高速で行える利点がある。
【００３５】
次に、波長約８１０ｎｍの半導体レーザのレーザパワーを３００ｍＷにしてレーザのフォーカス位置を変えてＬ０の記録膜にフォーカスした後、レーザパワーを７００ｍＷにして、基板１を通してＬ０記録膜１３に媒体の半径方向に長い長円形のスポット形状で照射した。スポットの移動は、媒体の１回転につき媒体の半径方向のスポット長の１／２４ずつずらした。こうして、Ｌ０記録面全面の初期結晶化を行った。この初期結晶化は１回でもよいが３回繰り返すと初期結晶化によるノイズ上昇を少し低減できた。この初期結晶化は高速で行える利点がある。
【００３６】
初期化の順序はＬ１記録膜から行ってもＬ０記録膜から行っても、また３層以上の多層情報記録媒体においてはランダムに行っても良い。
【００３７】
（記録・消去・再生）
前記のようにして製作し、初期結晶化を行った媒体について、次ぎのように記録・消去・再生特定の評価を行った。なお、以下ではＬ１記録膜１７についてのみ説明するが、Ｌ０記録膜１３についても全く同様であり、また、３層以上の多層情報記録媒体におけるそれぞれの情報面の記録膜についても同様である。
【００３８】
初期結晶化が完了した記録膜１７の記録領域にトラッキングと自動焦点合わせを行いながら、記録用レーザ光のパワーを中間パワーレベルＰｅ（３ｍＷ）と高パワーレベルＰｈ（７ｍＷ）との間で変化させて情報の記録を行った。記録トラックの線速度は９ｍ／ｓ、半導体レーザ波長は４０５ｎｍ、レンズの開口数（ＮＡ）は０．６５である。記録用レーザ光により記録領域に形成される非晶質又はそれに近い部分が記録点となる。この媒体の反射率は結晶状態の方が高く、記録され非晶質状態になった領域の反射率の方が低くなっている。
【００３９】
記録用レーザ光の高レベルと中間レベルのパワー比は１：０．３〜１：０．７の範囲が好ましい。また、この他に短時間ずつ他のパワーレベルにしてもよい。図６に示したように、１つの記録マークの形成中にウインドウ幅の半分（Ｔｗ／２）ずつ中間パワーレベルＰｅより低いボトムパワーレベルＰｂまでパワーを繰り返し下げ、かつクーリングパワーレベルＰｃを記録パルスの最後に持つ波形を生成する手段を持った装置で記録・再生を行うと、再生信号波形のジッター値及びエラーレートが低減した。クーリングパワーレベルＰｃは中間パワーレベルＰｅより低く、ボトムパワーレベルＰｂより高いか同じレベルである。この波形は、第１パルス幅Ｔｐが記録マークとそのマークの直前に設けられたスペースの長さの組み合わせによって変化する特徴とクーリングパルス幅Ｔｃ（記録パルスの最後にＰｃレベルまで下げる時間幅）が記録マークとそのマークの後続スペース長の組み合わせにより決まる特徴を持つ。マーク直前のスペース長が短く、マークが長いほどＴｐは短くなり、マーク直前のスペース長が長く、マークが短いほどＴｐは長くなる。ただし、媒体の構造によっては６Ｔｗマークの記録用記録波形のＴｐを特に長くした場合、ジッター低減効果が大きかった。また、後続のスペース長が長く、マークが長いほど、Ｔｃは短くなり、後続のスペース長が短く、マークが短いほど、Ｔｃは長くなる。
【００４０】
図６には３Ｔｗ，４Ｔｗ，６Ｔｗ，１１Ｔｗの記録波形しか示していないが、５Ｔｗは６Ｔｗの記録波形の一連の高いパワーレベルのパルス列のうち、Ｔｗ／２の高いパワーレベルＰｈと直後のＴｗ／２のボトムパワーレベルＰｂをそれぞれ一つずつ削減したものである。また、７Ｔｗ〜１０Ｔｗ用記録波形は６Ｔｗ用記録波形の最後尾の高いパワーレベルのパルスの直前に、Ｔｗ／２の高いパワーレベルＰｈとＴｗ／２のボトムパワーレベルＰｂを、それぞれ１組ずつ追加したものである。したがって、５組追加したものが１１Ｔｗである。
【００４１】
ここでは、３Ｔｗに対応する最短記録マーク長を０．２６μｍとした。記録すべき部分を通り過ぎると、レーザ光パワーを再生（読み出し）用レーザ光の低パワーレベルＰｒ（１ｍＷ）に下げるようにした。
【００４２】
このような記録方法では、既に情報が記録されている部分に対して消去することなく、重ね書きによって新たな情報を記録すれば、新たな情報に書き換えられる。すなわち、単一のほぼ円形の光スポットによるオーバーライトが可能である。
【００４３】
しかし、書き換え時の最初のディスク１回転又は複数回転で、前記のパワー変調した記録用レーザ光の中間パワーレベル（３ｍＷ）又はそれに近いパワーの連続光を照射して、記録されている情報を一たん消去し、その後、次の１回転でボトムパワーレベル（０．５ｍＷ）と高パワーレベル（７ｍＷ）の間で、又は中間パワーレベル（３ｍＷ）と高パワーレベル（７ｍＷ）との間で、情報信号に従ってパワー変調したレーザ光を照射して記録するようにしてもよい。このように、情報を消去してから記録するようにすれば、前に書かれていた情報の消え残りが少ない。従って、線速度を２倍に上げた場合の書き換えも、容易になる。
【００４４】
（下部保護層）
本実施例では、Ｌ１下部保護層１６及びＬ０下部保護層１２を（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０とＣｒ４０Ｏ５７Ｎ３層の２層構造としている。２層構造をとる下部保護層１２、１６の（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０に代わる材料としては、ＺｎＳとＳｉＯ２の混合比を変えたものが好ましい。また、ＺｎＳ，Ｓｉ−Ｎ系材料、Ｓｉ−Ｏ−Ｎ系材料、ＳｉＯ２，ＳｉＯ，ＴｉＯ２，Ａｌ２Ｏ３，Ｙ２Ｏ３，ＣｅＯ２，Ｌａ２Ｏ３，Ｉｎ２Ｏ３，ＧｅＯ，ＧｅＯ２，ＰｂＯ，ＳｎＯ，ＳｎＯ２，ＢｅＯ，Ｂｉ２Ｏ３，ＴｅＯ２，ＷＯ２，ＷＯ３，Ｓｃ２Ｏ３，Ｔａ２Ｏ５，ＺｒＯ２，Ｃｕ２Ｏ，ＭｇＯなどの酸化物、ＴａＮ，ＡｌＮ，ＢＮ，Ｓｉ３Ｎ４，ＧｅＮ，Ａｌ−Ｓｉ−Ｎ系材料（例えばＡｌＳｉＮ２）などの窒化物、ＺｎＳ，Ｓｂ２Ｓ３，ＣｄＳ，Ｉｎ２Ｓ３，Ｇａ２Ｓ３，ＧｅＳ，ＳｎＳ２，ＰｂＳ，Ｂｉ２Ｓ３などの硫化物、ＳｎＳｅ２，Ｓｂ２Ｓｅ３，ＣｄＳｅ，ＺｎＳｅ，Ｉｎ２Ｓｅ３，Ｇａ２Ｓｅ３，ＧｅＳｅ，ＧｅＳｅ２，ＳｎＳｅ，ＰｂＳｅ，Ｂｉ２Ｓｅ３などのセレン化物、ＣｅＦ３，ＭｇＦ２，ＣａＦ２などの弗化物、あるいはＳｉ，Ｇｅ，ＴｉＢ２，Ｂ４Ｃ，Ｂ，Ｃ，又は、上記の材料に近い組成のものを用いてもよい。また、ＺｎＳ−ＳｉＯ２，ＺｎＳ−Ａｌ２Ｏ３など、これらの混合材料の層やこれらの多重層でもよい。この中で、ＺｎＳはスパッタレートが大きく、ＺｎＳが６０ｍｏｌ％以上を占めると成膜時間を短くできるため、これを６０ｍｏｌ％以上含む混合物の場合、ＺｎＳのスパッタレートが大きい点と酸化物や窒化物等の化学安定性の良い点が組み合わされる。この他の硫化物、セレン化物でもＺｎＳに近い特性が得られた。
【００４５】
これら化合物における元素比は、例えば酸化物や硫化物における金属元素と酸素元素あるいは硫黄元素の比は、Ａｌ２Ｏ３，Ｙ２Ｏ３，Ｌａ２Ｏ３は２：３、ＳｉＯ２，ＺｒＯ２，ＧｅＯ２は１：２、Ｔａ２Ｏ５は２：５、ＺｎＳは１：１という比をとるかその比に近いことが好ましいが、その比から外れていても同様の効果は得られる。しかし、上記整数比から外れている場合、例えばＡｌ−ＯはＡｌとＯの比率がＡｌ２Ｏ３からＡｌ量で±１０原子％以下、Ｓｉ−ＯはＳｉとＯの比率がＳｉＯ２からＳｉ量で±１０原子％以下等、金属元素量のずれが１０原子％以下が好ましい。１０原子％以上ずれると、光学特性が変化するため、変調度が１０％以上低下した。
【００４６】
上記材料は、下部保護層全原子数の９０％以上であることが好ましい。上記材料以外の不純物が１０原子％以上になると、書き換え可能回数が１／２以下になる等、書き換え特性の劣化が見られた。
【００４７】
本実施例で用いた下部保護層の消衰係数ｋについては０又は０に近いことが好ましい。さらに、下部保護層材料の８０％以上の膜厚において消衰係数ｋがｋ≦０．０１であれば、コントラストの低下が２％以下に抑制でき好ましい。
【００４８】
下部保護層を２層以上にし、記録膜側の下部保護層材料をＣｒ２Ｏ３又はＣｒ４０Ｏ５７Ｎ３とすると、多数回書き換え時に記録膜へＺｎ，Ｓの拡散を抑制でき、書き換え特性が良好であることがわかった。記録膜側の下部保護層材料のＣｒ２Ｏ３に代わる材料としては、Ｃｒ２Ｏ３にＳｉＯ２，Ｔａ２Ｏ５，Ａｌ２Ｏ３，ＺｒＯ２−Ｙ２Ｏ３を混合した混合物が好ましい。次いで、ＣｏＯ又はＧｅＯ２，ＮｉＯ、これらとＣｒ２Ｏ３の混合物が好ましい。これら酸化物は消衰係数ｋが小さく、下部界面層における吸収が非常に小さい。そのため、変調度が大きく保てるという利点がある。
【００４９】
また、Ｃｒ２Ｏ３又はＣｒ４０Ｏ５７Ｎ３の一部をＡｌ２Ｏ３又はＡｌ４０Ｏ５７Ｎ３に変えると、記録膜以外での吸収が減り透過率が大きくできるため、Ｌ０層でＣ／Ｎが大きく出来て好ましい。Ａｌ２Ｏ３又はＡｌ４０Ｏ５７Ｎ３の代りにＳｉＯ２又はＳｉ３３Ｏ６３Ｎ４など、またこれらの窒素と酸素量の比が異なるものを用いても同様な特性が得られた。
【００５０】
また、ＡｌＮ，ＢＮ，ＣｒＮ，Ｃｒ２Ｎ，ＧｅＮ，ＨｆＮ，Ｓｉ３Ｎ４，Ａｌ−Ｓｉ−Ｎ系材料（例えばＡｌＳｉＮ２）、Ｓｉ−Ｎ系材料、Ｓｉ−Ｏ−Ｎ系材料、ＴａＮ，ＴｉＮ，ＺｒＮ，などの窒化物は保存寿命が大きくなり、外界温度変化に強く、より好ましい。窒素が含まれた記録膜組成又はそれに近い組成の材料でも接着力が向上する。
【００５１】
その他、ＢｅＯ，Ｂｉ２Ｏ３，ＣｅＯ２，Ｃｕ２Ｏ，ＣｕＯ，ＣｄＯ，Ｄｙ２Ｏ３，ＦｅＯ，Ｆｅ２Ｏ３，Ｆｅ３Ｏ４，ＧｅＯ，ＧｅＯ２，ＨｆＯ２，Ｉｎ２Ｏ３，Ｌａ２Ｏ３，ＭｇＯ，ＭｎＯ，ＭｏＯ２，ＭｏＯ３，ＮｂＯ，ＮｂＯ２，ＰｂＯ，ＰｄＯ，ＳｎＯ，ＳｎＯ２，Ｓｃ２Ｏ３，ＳｒＯ，ＴｈＯ２，ＴｉＯ２，Ｔｉ２Ｏ３，ＴｉＯ，ＴｅＯ２，ＶＯ，Ｖ２Ｏ３，ＶＯ２，ＷＯ２，ＷＯ３などの酸化物、Ｃ，Ｃｒ３Ｃ２，Ｃｒ２３Ｃ６，Ｃｒ７Ｃ３，Ｆｅ３Ｃ，Ｍｏ２Ｃ，ＷＣ，Ｗ２Ｃ，ＨｆＣ，ＴａＣ，ＣａＣ２などの炭化物又は、上記の材料に近い組成のものを用いてもよいし、これらの混合材料でもよい。
【００５２】
下部保護層の記録膜側に酸化物又は窒化物の層を設けた場合は、Ｚｎ，Ｓ等の記録膜中への拡散が防止でき、消え残りが増加するのを抑制できる。さらに、記録感度を低下させないためには、２５ｎｍ以下とすることが好ましく、１０ｎｍ以下ではより好ましかった。均一な膜形成ができるのは約２ｎｍ以上であり、５ｎｍ以上がさらに良好であった。これより、記録膜側の下部保護層膜厚を２〜２５ｎｍとすると記録・再生特性がより良くなり、好ましい。下部保護層膜厚が３０ｎｍ未満の場合、再結晶化のためにＣ／Ｎが低下した。また、下部保護層膜厚が１０ｎｍ未満の場合、記録膜の保護効果がなくなるため、書き換え可能回数が１桁以上低下した。下部保護層と記載したものは、Ｌ０下部保護層、Ｌ１下部保護層、さらに多層の情報記録媒体の下部保護層を意味する。
【００５３】
（記録膜）
本実施例では、記録膜１３、記録膜１７をＧｅ５Ｓｂ２Ｔｅ８により形成している。本記録膜の再生波長における屈折率は、結晶状態が２．０、非晶質状態が２．６と、結晶状態の方が小さい。
【００５４】
Ｇｅ５Ｓｂ２Ｔｅ８に代わる記録膜１３，１７の材料としては、Ａｇ３Ｇｅ３０Ｓｂ１４Ｔｅ５３，Ｃｒ３Ｇｅ３２Ｓｂ１３Ｔｅ５２等、Ａｇ−Ｇｅ−Ｓｂ−Ｔｅ系、Ｃｒ−Ｇｅ−Ｓｂ−Ｔｅ系材料で組成比の異なるものが変調度が大きくなり好ましい。記録膜１３及び／又は記録膜１７中のＡｇ量やＣｒ量が多いと短波長での反射率変化が大きくなるが、結晶化速度は遅くなる。従って、添加されるＡｇ量又はＣｒ量が２原子％以上、１０原子％以下が好ましい。しかし、Ａｇの添加されていないＧｅ−Ｓｂ−Ｔｅ系材料でもオーバーライトは可能である。Ａｇの代わりに記録膜１３，１７へ添加する元素としては、Ｃｒ，Ｗ，Ｍｏ，Ｐｔ，Ｃｏ，Ｎｉ，Ｐｄ，Ｓｉ，Ａｕ，Ｃｕ，Ｖ，Ｍｎ，Ｆｅ，Ｔｉ，Ｂｉのいずれかのうちの少なくとも一つで置き換えても、オーバーライト特性が良好であることがわかった。これらの記録膜１３，記録膜１７材料は全て、再生波長における屈折率は結晶状態の方が非晶質状態より小さい。
【００５５】
本実施例で記録膜１７の膜厚を変化させ、１０回書き換え後及び１０万回書き換え後のジッター（σ／Ｔｗ）を測定したところ、下記表１のようになった。記録膜１７の膜厚（ｎｍ）に対し、１０回書き換え後については前エッジ又は後エッジのジッターの悪い方の値（％）を、１万回書き換え後については前エッジのジッター値（％）を示した。
【００５６】
【表１】
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【００５７】
これより、記録膜１７の膜厚を薄くすると記録膜流動や偏析による、１０回書き換え後のジッターが増加し、また厚くすると、１万回書き換え後のジッターが増加することがわかった。これより、記録膜１７の膜厚は４ｎｍ以上、２５ｎｍ以下がジッターを２０％以下にでき好ましく、５ｎｍ以上、２０ｎｍ以下であればジッターを１５％以下に出来、より好ましい。
【００５８】
記録膜１３の膜厚及び、１〜Ｎ−１レイヤーにおける記録膜膜厚については、前記レイヤーの記録膜膜厚が次の関係にあると、各レイヤーにおいて記録・再生可能となるため好ましい。
レイヤー１≦レイヤー２≦…≦レイヤーＮ−１≦レイヤーＮ
【００５９】
さらに、光入射側の基板より１からＮ−１番めの情報面用記録膜の合計膜厚が１０ｎｍ以下であると、Ｎ番めの情報面のＣ／Ｎが４８ｄＢ以上と大きくでき好ましい。上記合計膜厚が８ｎｍ以下になるとＮ番めの情報面のＣ／Ｎが４９ｄＢ以上と大きくできより好ましい。
【００６０】
本実施例では、記録膜１３、記録膜１７を各単層より形成している。本記録膜は複数の層からなっていてもよい。複数の層からなる場合は、層間に保護層があっても良い。また、記録膜組成も同じでもよいし、異なる組成のものでもよい。さらに記録のレベルについても、結晶と非晶質の２値記録だけでなく、各レイヤーを複数記録膜として結晶と非晶質の組合せによって反射率レベルを変えた多値記録、単層記録膜でマーク面積を変えた多値記録等を行なってもよい。
【００６１】
図７に、各レイヤーを複数記録膜として結晶と非晶質の組合せによって反射率レベルを変えた多値記録のうち記録膜を２層とし、３値記録にした例を示した。レーザ光３２６によって、非晶質領域３２４と結晶領域３２５の組合せを３組形成する。ａでは記録膜Ａ（３２１）と記録膜Ｂ（３２３）の両方が非晶質化、ｂでは記録膜Ａ（３２１）のみ非晶質化し、記録膜Ｂ（３２３）は結晶化、ｃでは記録膜Ａ（３２１）と記録膜Ｂ（３２３）の両方が結晶化されている。これによって反射率は３段階になり、３値の記録が行なえる。
【００６２】
図８に、各レイヤーに大きさの異なるマークを記録して、反射率レベルを変えた多値記録のうち、３値記録にした例を示した。レーザ光３２６によって、非晶質領域３２４と結晶領域３２５を、大きさを変えて形成する。ｄでは結晶化、ｅでは非晶質領域が小さく、ｆでは非晶質領域がより大きく形成されている。これによって反射率は３段階になり、３値の記録が行なえる。
【００６３】
（上部保護層）
本実施例では、Ｌ１上部保護層１８及びＬ０上部保護層１４をＺｎＳ−ＳｉＯ２膜とＣｒ４０Ｏ６０膜により形成した。
【００６４】
ＺｎＳ−ＳｉＯ２に代わる上部保護層の材料としては、Ｓｉ−Ｎ系材料、Ｓｉ−Ｏ−Ｎ系材料、ＺｎＳ，ＳｉＯ２，ＳｉＯ，ＴｉＯ２，Ａｌ２Ｏ３，Ｙ２Ｏ３，ＣｅＯ２，Ｌａ２Ｏ３，Ｉｎ２Ｏ３，ＧｅＯ，ＧｅＯ２，ＰｂＯ，ＳｎＯ，ＳｎＯ２，ＢｅＯ，Ｂｉ２Ｏ３，ＴｅＯ２，ＷＯ２，ＷＯ３，Ｓｃ２Ｏ３，Ｔａ２Ｏ５，ＺｒＯ２，Ｃｕ２Ｏ，ＭｇＯなどの酸化物、ＴａＮ，ＡｌＮ，ＢＮ，Ｓｉ３Ｎ４，ＧｅＮ，Ａｌ−Ｓｉ−Ｎ系材料（例えばＡｌＳｉＮ２）などの窒化物、ＺｎＳ，Ｓｂ２Ｓ３，ＣｄＳ，Ｉｎ２Ｓ３，Ｇａ２Ｓ３，ＧｅＳ，ＳｎＳ２，ＰｂＳ，Ｂｉ２Ｓ３などの硫化物、ＳｎＳｅ２，Ｓｂ２Ｓｅ３，ＣｄＳｅ，ＺｎＳｅ，Ｉｎ２Ｓｅ３，Ｇａ２Ｓｅ３，ＧｅＳｅ，ＧｅＳｅ２，ＳｎＳｅ，ＰｂＳｅ，Ｂｉ２Ｓｅ３などのセレン化物、ＣｅＦ３，ＭｇＦ２，ＣａＦ２などの弗化物、あるいはＳｉ，Ｇｅ，ＴｉＢ２，Ｂ４Ｃ，Ｂ，Ｃ又は、上記の材料に近い組成のものを用いてもよい。また、ＺｎＳ−ＳｉＯ２，ＺｎＳ−Ａｌ２Ｏ３などこれらの混合材料の層やこれらの多重層でもよい。消衰係数は０又は０に近いことが好ましい。
【００６５】
これら化合物における元素比は、例えば酸化物あるいは硫化物における金属元素と酸素元素あるいは硫黄元素の比は、Ａｌ２Ｏ３，Ｙ２Ｏ３，Ｌａ２Ｏ３は２：３、ＳｉＯ２，ＺｒＯ２，ＧｅＯ２は１：２、Ｔａ２Ｏ５は２：５、ＺｎＳは１：１という比をとるかその比に近いことが好ましいが、その比から外れていても同様の効果は得られる。上記整数比から外れている場合、例えばＡｌ−ＯはＡｌとＯの比率がＡｌ２Ｏ３からＡｌ量で±１０原子％以下、Ｓｉ−ＯはＳｉとＯの比率がＳｉＯ２からＳｉ量で±１０原子％以下等、金属元素量のずれが１０原子％以下が好ましい。１０原子％以上ずれると、光学特性が変化するため、変調度が１０％以上低下した。
【００６６】
上記材料は、上部保護層全原子数の９０％以上であることが好ましい。上記材料以外の不純物が１０原子％以上になると、書き換え可能回数が１／２以下になる等、書き換え特性の劣化が見られた。
【００６７】
上部保護層を２層以上にし、記録膜側の上部保護層材料をＣｒ２Ｏ３にすると、多数回書き換え時に記録膜へＺｎ，Ｓの拡散を抑制でき、書き換え特性が良好になることがわかった。さらにその一部をＡｌ２Ｏ３，又はＳｉＯ２に変えるとコントラストが大きく出来て好ましいことがわかった。
【００６８】
（反射層）
本実施例ではＬ１反射層１９にＡｇ９８Ｐｄ１Ｃｕ１膜を用いた。他のＬ１反射層の材料としては、Ａｇ−Ｐｔ，Ａｇ−Ａｕ等、Ａｇ合金を主成分とするものが好ましい。Ａｇも使用可能である。Ａｇ合金中のＡｇ以外の元素の含有量を０．５原子％以上４原子％以下の範囲にすると、多数回書き換え時の特性及びビットエラーレートが良好になり、１原子％以上２原子％以下の範囲ではより良好になることがわかった。
【００６９】
また、Ｚｎ９８Ｐｄ２膜、Ｚｎ９８Ｐｔ２膜、Ｚｎ９８Ｃｕ２膜、Ｚｎ９８Ｎｉ２膜、上記以外の組成比のＺｎ−Ｐｄ膜、Ｚｎ−Ｐｔ膜、Ｚｎ−Ｃｕ膜、Ｚｎ−Ｎｉ膜は、Ａｇ系材料に比べコストが安いという利点がある。Ｚｎも使用可能である。Ｚｎ合金中のＺｎ以外の元素の含有量は０．５原子％以上４原子％以下の範囲にすると、多数回書き換え時の特性及びビットエラーレートが良好になり、１原子％以上２原子％以下の範囲ではより良好になることがわかった。
【００７０】
次いで、Ａｕ，Ａｌ，Ｃｕ，Ｎｉ，Ｆｅ，Ｃｏ，Ｃｒ，Ｔｉ，Ｐｄ，Ｐｔ，Ｗ，Ｔａ，Ｍｏ，Ｓｂ，Ｂｉ，Ｄｙ，Ｃｄ，Ｍｎ，Ｍｇ，Ｖの元素単体、又はＡｕ合金、上記以外のＡｇ合金、Ｃｕ合金、Ｐｄ合金、Ｐｔ合金などこれらを主成分とする合金、あるいはこれら同志の合金よりなる層を用いてもよい。このように、反射層は、金属元素、半金属元素、これらの合金、混合物からなる。
【００７１】
この中で、Ａｇ，Ａｌ，Ａｌ合金、Ａｇ合金、等のように、反射率が大きいものは、コントラスト比が大きくなり書き換え特性が良好である。単体より合金の方が接着力が大きくなる。この場合の主成分となるＡｌ，Ａｇ等以外の元素の含有量はＡｇ合金同様に、０．５原子％以上５原子％以下の範囲にすると、コントラスト比が大きく、また接着力も大きくでき良好であった。１原子％以上２原子％以下の範囲ではより良くなった。波長４００ｎｍ付近における反射率を比較するとＡｇ又はＡｇ合金は約９５％、Ａｌ，Ａｌ合金は約９２％と、Ａｇ系の方が大きいが、材料コストも大きい。これらに次ぐ材料としては、Ｚｎ，Ｚｎ合金が約８９％、Ｐｔ，Ｐｔ合金が約６５％と短波長における反射率が大きく、コントラストを大きく出来た。
【００７２】
上記材料は、Ｌ１反射層全原子数の９５％以上であることが好ましい。上記材料以外の不純物が５原子％以上になると、書き換え可能回数が１／２以下になる等、書き換え特性の劣化が見られた。
【００７３】
Ｌ１反射層膜厚が２００ｎｍより厚い場合、それぞれのＬ１反射層を作製する時間が長くなり、２工程以上に分ける、又はスパッタリング用の真空室を２室以上設ける等、形成時間が倍増した。また、Ｌ１反射層の膜厚が５ｎｍ以下だと島状に成膜され、ノイズが大きくなった。これより、Ｌ１反射層の膜厚はノイズ及びジッター、形成時間より、５ｎｍ以上、２００ｎｍ以下が好ましい。
【００７４】
本実施例ではＬ０構成膜に反射層は使われていないが、上部保護層とスペーサ層の間に直接又は保護層を介して、上部保護層、反射層、スペーサ層又は上部保護層、反射層、保護層、スペーサ層の順に積層したＬ０反射層を形成してもよい。この場合、ＣＮＲは増加するためＬ０膜の特性は向上するが、透過率が減少するためＬ１膜の再生特性及び記録感度は劣化する。Ｌ０反射層の材料は、Ｌ１反射層と同様の材料を用いることができる。膜厚は透過率が低下しないために２０ｎｍ以下が好ましい。保護層材料としては、上部保護層又は下部保護層材料と同様の材料が使用可能である。
【００７５】
（基板）
本実施例では、表面に直接、トラッキング用の溝を有するポリカーボネート基板１１を用いているが、それに代えてポリオレフィン、エポキシ、アクリル樹脂、紫外線硬化樹脂層を表面に形成した化学強化ガラスなどを用いてもよい。強化ガラスの代わりに石英やＣａＦを用いてもよい。
【００７６】
また、トラッキング用の溝を有する基板とは、基板表面全て又は一部に、記録・再生波長をλとしたとき、λ／１２ｎ′（ｎ′は基板材料の屈折率）以上の深さの溝を持つ基板である。溝は一周で連続的に形成されていても、途中分割されていてもよい。溝深さが約λ／６ｎ′の時、クロストークが小さくなり好ましいことが分かった。さらに溝深さが約λ／３ｎ′より深い時、基板形成時の歩留まりは悪くなるが、クロスイレースが小さくなり好ましいことが分かった。
【００７７】
また、その溝幅は場所により異なっていてもよい。溝部の存在しない、サンプルサーボフォーマットの基板、他のトラッキング方式、その他のフォーマットによる基板等でも良い。溝部とランド部の両方に記録・再生が行えるフォーマットを有する基板でも、どちらか一方に記録を行うフォーマットの基板でも良い。トラックピッチの大きさが小さいと隣のトラックからの信号の漏れが検出されノイズとなるため、トラックピッチはスポット径（光強度が１／ｅ２となる領域）の１／２以上であることが好ましい。
【００７８】
ディスクサイズも直径１２ｃｍに限らず、１３ｃｍ、９ｃｍ、８ｃｍ、３．５インチ、２．５インチ，１インチ等、他のサイズでも良い。ディスク厚さも０．６ｍｍに限らず、１．２ｍｍ、０．８ｍｍ、０．４ｍｍ、０．１ｍｍ等、他の厚さでも良い。
【００７９】
本実施例では、スペーサ層を介して貼り合わせているが、第２のディスク部材の代わりに別の構成のディスク部材、又は保護用の基板などを用いてもよい。また、保護用基板から順番にＬ１膜を積層し、スペーサー層を形成し、Ｌ０膜を積層した後に基板を形成してもよい。さらにこうして作製した２組のディスクを貼り合わせて両面ディスクとすると、ディスクあたりの記録容量が約倍になるため好ましい。紫外線波長領域における透過率が大きい場合、紫外線硬化樹脂によって貼り合わせを行うこともできる。その他の方法で貼り合わせを行ってもよい。
【００８０】
また、第１及び第２のディスク部材を貼り合わせる前に第１及び第２のディスク部材の最表面上に紫外線硬化樹脂を厚さ約１０μｍ塗布し、硬化後に貼り合わせを行うと、エラーレートをより低減できる。
【００８１】
（各層の膜厚、材料）
各層の膜厚、材料についてはそれぞれ単独の好ましい範囲をとるだけでも記録・再生特性等が向上するが、それぞれの好ましい範囲を組み合わせることにより、さらに効果が上がる。
【００８２】
（記録再生方法）
図９は、本発明の一実施例である情報の記録再生装置のブロック図である。なお、説明の都合上、情報の記録再生装置には情報記録媒体１００が装着されている様子が示されている。情報記録媒体１００の作製方法及び構造については上記の通りである。情報を記録再生する為には情報記録媒体１００は必須であるが、情報記録媒体１００は必要に応じて記録再生装置から取り外され、或いは取りつけられる。
【００８３】
図９において、筐体１０８に取りつけられたモーター１１０の回転軸１１１にはチャッキング機構１１２が取りつけられ、チャッキング機構１１２は情報記録媒体１００を保持している。チャッキング機構１１２は、即ち記録媒体１００の保持機構となっている。また、モーター１１０、回転軸１１１、及びチャッキング機構１１２により、情報記録媒体１００とエネルギービームを相対的に移動させる移動機構を構成している。
【００８４】
筐体１０８にはレール１１５が取りつけられている。ケース１１７にはレール１１５にガイドされるレールガイド１１６が取りつけられている。また、ケース１１７には直線ギア１１９が取り付けられており、直線ギア１１９には回転ギア１２０が取りつけられている。筐体１０８に取りつけられた回転モーター１１８の回転を回転ギア１２０に伝えることにより、ケース１１７はレール１１５に沿って直線運動する。この直線運動の方向は、情報記録媒体１００の略半径方向となっている。
【００８５】
ケース１１７には磁石１２１が取りつけられている。また、ケース１１７には、対物レンズ１３６を情報記録媒体１００の記録面の略法線方向と、情報記録媒体１００の略半径方向の２つの方向にのみ移動可能とするサスペンション１２３を介して対物レンズ１３６が取りつけられている。また、対物レンズ１３６には磁石１２１と略対向するようにコイル１２２が取りつけられている。コイル１２２に電流を流すことにより、磁力的な効果により、対物レンズ１３６は情報記録媒体１００の記録面の略法線方向と、情報記録媒体１００の略半径方向の２つの方向に移動することが出来る。レール１１５、レールガイド１１６、ケース１１７、磁石１２１、サスペンション１２３、コイル１２２、対物レンズ１３６により、エネルギービームを情報記録媒体１００上の所定の位置に位置付ける位置決め機構を構成している。
【００８６】
ケース１１７には、エネルギービーム発生器である半導体レーザ１３１が取りつけられる。半導体レーザ１３１から射出したエネルギービームは、コリメートレンズ１３２及びビームスプリッタ１３３を通過し、対物レンズ１３６を通過する。対物レンズ１３６から射出した光の一部は情報記録媒体１００で反射され、対物レンズ１３６を通過し、ビームスプリッタ１３３で反射され、検出レンズ１３４で集光され、光検出器１３５で光強度を検出される。光検出器１３５は、受光エリアが複数に分割されている。
【００８７】
図１０に４分割に分かれた光検出器の概略図を示した。情報記録媒体から戻ってきた光ビーム３０５はそれぞれ検出器３０１で検出される光量ａ、検出器３０２で検出される光量ｂ、検出器３０３で検出される光量ｃ、検出器３０４で検出される光量ｄに分割して検出される。総光量はすべての和、すなわちａ＋ｂ＋ｃ＋ｄとなる。トラッキングはタンジェンシャル方向に分かれて配置された検出器の光量差が小さくなるように行なわれ、トラッキング誤差信号はタンジェンシャル方向に分かれて配置された検出器の光量差（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）となる。ここでは４分割の光検出器の例を示したが、分割数の異なる検出器でも同様である。それぞれの受光エリアで検出された光強度はアンプ１５２で増幅されると共に演算され、対物レンズ１３６で集光された光スポットと情報記録媒体１００との相対的な位置関係の情報（サーボ信号）と情報読み出し信号とが検出される。サーボ信号はサーボコントローラ１５１に送られる。また、読み出し信号はデコーダ１５３に送られる。
【００８８】
情報の記録再生装置に情報記録媒体１００が取りつけられ、チャッキング機構１１２が情報記録媒体１００を固定すると、検出器１４０が作動し、その信号をシステムコントローラ１５０に送る。システムコントローラ１５０はそれを受けて、モーター１１０を制御して情報記録媒体１００を適切な回転数となるように回転させる。また、システムコントローラ１５０は、回転モーター１１８を制御して、ケース１１７を適切な位置に位置決めする。また、システムコントローラー１５０は半導体レーザ１３１を発光させると共に、サーボコントローラ１５１を動作させて回転モータ１１８を動作させたりコイル１２２に電流を流して、対物レンズ１３６の形成する焦点スポットを情報記録媒体１００の上の所定の位置に位置決めする。ついで、サーボコントローラ１５１は焦点スポットが情報記録媒体１００上に形成された由の信号をシステムコントローラ１５０に送る。システムコントローラ１５０はデコーダ１５３に指示を与え、読み出される信号をデコードする。読み出されるトラックがコントロールデータゾーンの情報トラックでない場合、システムコントローラ１５０はサーボコントローラ１５１に指示を与え、焦点スポットがコントロールデータゾーンの情報トラックに位置決めされるようにする。上記の動作の結果、システムコントローラー１５０はコントロールデーターゾーンの情報トラックを読み取り、記録や再生に関する媒体の情報を読み出す。
【００８９】
入力コネクタ１５９を介して上位コントローラから情報書き込みの指示及び書き込むべき情報が送られてきた場合、システムコントローラ１５０はサーボコントローラ１５１に指示を与えて焦点スポットを情報記録媒体１００の上の適切な情報面（レイヤー）の適切なトラックに位置決めする。光検出器１３５で得られた信号はアンプ１５２により増幅され、ウォブル検出回路１７１に信号を伝える。トラックは周期的に蛇行ないしは変形が加えられており、ウォブル検出回路１７１でこの周期を検出する。なお、ウォブル検出回路で検出するのは、記録トラックの蛇行（ウォブリング）であったり、記録トラックの時系列読み出し方向に周期的に設けられた溝の形状の変化であったり、記録トラックの時系列読み出し方向に周期的に設けられたプリピットであったり、それらの組み合わせであったりする。ウォブル検出回路１７１で検出された周期信号は、周波数変換回路１７２により周期（周波数）が変換されて記録再生クロック基本波となる。周波数変換回路１７２の変換倍率は、コントロールデータゾーンの情報トラックに予め記録されている変換倍率指示値を採用する。ウォブル検出回路１７１、周波数変換回路１７２の代りに記録再生クロック基本波を別の手段で作ってもよい。
【００９０】
光検出器１３５で得られた再生信号はスライサ１７０によって２値化され、ＰＬＬ回路１７３によって同期信号を発生して同期が取られ、デコーダ１５３によってデコードされて出力コネクタ１５８より出力される。
【００９１】
書き込むべき情報は信号処理回路１６１を通ってＮＲＺＩ信号へと変換される。ＮＲＺＩ信号へと変換された信号は、パターン生成回路１５５に伝えられる。パターン生成回路１５５は、システムコントローラ１５０に指示されるセクター内の記録マーク配置の方法に沿って、セクター内に記録すべきユーザーデータエリアのパターン、ユーザーデータ−エリアに先行して付随すべき記録マーク配置（バッファやその他のフィールド）、ユーザーデータエリアに引き続いて付随すべき記録マーク配置（バッファやその他のフィールド）をアレンジし、セクター内での記録マーク配置のパターン列を完成する。パターン生成回路１５５には、周波数変換回路１７２で生成された記録再生基本クロックが供給されている。パターン生成回路は、自ら生成した記録パターンの一つ一つを順次に記録再生クロックに同期してレーザドライバ回路１５４に送る。レーザドライバ回路１５４は、パターン生成回路１５５から送られてきた書き込むべき記録マークパターンに応じて、周波数変換回路１７２で生成された記録再生基本クロックに同期して書き込みパルスを生成し、これを半導体レーザ１３１に送ってこれを駆動する。これにより、半導体レーザ１３１が発光し、かつ、書き込むべき情報に即して半導体レーザ１３１の射出エネルギー量が時間的に変調されている。この射出光は、コリメートレンズ１３２、対物レンズ１３６を通して情報記録媒体１００に照射され、これにより記録媒体上に記録マークを形成する。
【００９２】
ＤＶＤ−ＲＡＭを初めとする光ディスクでは、記録媒体に照射する光強度変化を用いて記録マークを形成する場合、記録するべき情報は最終的には半導体レーザ１３１の駆動電流変化となって現れ、この駆動電流変化は記録再生クロック基本波に同期して変化される。
【００９３】
本発明の特徴はサーボコントローラ１５１にある。原理図を図１１に、サーボコントローラの一例を示す詳細図を図１２に示した。サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ信号検出回路２０１で検出されたＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態のトラッキング（ＴＲ）誤差信号振幅をＴＲ誤差信号振幅検出回路２０８にて測定しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【００９４】
図１１に示すように、スポットがある決められた位置及び／又は決められた時間まで移動した間に検出されたトラッキングエラー信号より振幅測定を行う。図中、一番下の信号は同期信号で、これを元に検出時間及び／又は検出タイミングを決める。
【００９５】
このように、ＴＲ誤差信号振幅がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ＴＲ誤差信号振幅をＴＲ誤差信号振幅検出回路２０８により測定し、レイヤー判定することにより、図１１に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【００９６】
また、ＴＲ誤差信号振幅がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ＴＲ誤差信号振幅をＴＲ誤差信号振幅検出回路２０８により測定し、レイヤー判定することにより、図１１に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【００９７】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ＴＲ誤差信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるＴＲ誤差信号振幅は下式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどＴＲ誤差信号振幅が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【００９８】
また、信号振幅差はＬ０の振幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【００９９】
さらに、アクセス時には一定再生光強度で光照射してＴＲ誤差信号振幅を検出してレイヤー番号を判定するが、正しいレイヤーにジャンプした後には、再生光強度を制御して再生信号の光強度を各レイヤーの最適値に変化させる手段を持つと、Ｓ／Ｎ（信号波対雑音波比）が大きい状態で情報を記録・再生できるためより好ましい。
【０１００】
（情報記録媒体の特徴）
ＴＲ誤差信号振幅がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成されている連続又は一部連続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、上記凹凸の溝深さを４２ｎｍ一定として、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３６μｍ、Ｌ１は０．３８μｍと異ならせると、Ｌ０のＴＲ誤差信号振幅が３７５ｍＶ，Ｌ１のＴＲ誤差信号振幅が３９０ｍＶと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１０１】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ＴＲ誤差信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝幅は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝幅が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１０２】
また、上記凹凸の溝幅の差はＬ０の溝幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１０３】
上記凹凸の溝幅のかわりに溝深さを変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝幅を０．３８μｍ一定で、上記凹凸の溝深さをＬ０は４５ｎｍ（λ／５．６／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、Ｌ０のＴＲ誤差信号振幅が３７５ｍＶ，Ｌ１のＴＲ誤差信号振幅が３９０ｍＶと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１０４】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ＴＲ誤差信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝深さが小さい方がより好ましかった。
レイヤー１＞レイヤ−２＞…レイヤーＮ−１＞レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１０５】
一方、溝深さがλ／８／ｎより浅くなると、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝深さが大きく、λ／８／ｎに近い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤ−２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１０６】
また、上記凹凸の溝深さの差はＬ０の溝深さに対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１０７】
さらに、上記凹凸の溝幅と溝深さの両方を変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３７μｍ、Ｌ１は０．３８μｍ、上記凹凸の溝深さをＬ０は４３ｎｍ（λ／５．８／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、Ｌ０のＴＲ誤差信号振幅が３７５ｍＶ，Ｌ１のＴＲ誤差信号振幅が３９０ｍＶと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１０８】
また，上記凹凸の溝幅と溝深さを変えることによって、信号振幅差がＬ０の振幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１０９】
上記凹凸の角形状を変えても同様な効果が得られた。各レイヤーで上記凹凸の角形状を変えると、ＴＲ誤差信号振幅が異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。角形状とは、図３に示されるようにＬ０の場合、基板表面の角の形状（Ｓ０）、Ｌ１の場合、スペーサ層の表面の角の形状（Ｓ１）をいう。
【０１１０】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ＴＲ誤差信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の角形状は、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の角形状がなだらかになる方がより好ましかった。また、上記凹凸の角形状は上記凹凸の溝幅及び／又は溝深さと組合せて、ＴＲ誤差信号振幅を変えてもよい。
【０１１１】
この他、上記凹凸の形状を一定にし、各レイヤーの膜の構造を検出器で測定した場合の反射率が異なるように積層しても同様な効果が得られた。各レイヤーで上記反射率を変えると、ＴＲ誤差信号振幅が異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１１２】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ＴＲ誤差信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記反射率は、光入射側から遠いレイヤーほど上記反射率が高いことが好ましかった。上記反射率差がＬ０の反射率に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。また、上記反射率は上記凹凸の形状と組合せて、ＴＲ誤差信号振幅を変えてもよい。
【０１１３】
本発明は、上記凹凸が図１３に示されるようにグルーブ部３１１とランド部３１３がピット３１２によって不連続に形成されても、ランド部とグルーブ部の切り替え部で不連続に形成されていても、また上記凹凸が図１４に示されるようにグルーブ部３１１とランド部３１３が連続に形成されても効果があった。
【０１１４】
さらに、図１５に示されるようにグルーブ部３１１又はランド部３１３のいずれか一方にのみマーク３１５が記録されていても、図１６に示されるようにグルーブ部３１１及びランド部３１３の両方にマーク３１５が記録されている方法のどちらでも効果があった。グルーブ部３１１にのみマーク３１５が記録されている場合、上記溝幅とはグルーブ部のみの幅を意味し、ランド部のみマーク３１５が記録されている場合、上記溝幅とはランド部のみの幅を意味する。グルーブ部３１１及びランド部３１３の両方にマーク３１５が記録されている方法では、溝幅の定義は図３に示したとおりである。
【０１１５】
〔実施例２〕
図１７及び図１８に、情報記録媒体における、情報面のセクター配置概略図を示す。このように、情報面はある決まった情報量ごとに記録・再生される。この分割された一塊はセクターと呼ばれる。セクターの概略を図１９に示した。セクター３１は、アドレス情報や同期情報等を含む少なくとも１つのＩＤ部４１と少なくとも１つのデータ部３４からなる。ＩＤ部４１はピットによってアドレス情報や同期情報等が記録されたピット部３２とピットがないミラー部３３からなる。
【０１１６】
（記録再生方法）
実施例１に記載の記録・再生装置において、サーボコントローラ１５１のみを変化させた記録・再生装置を作製した。原理図を図２０に、サーボコントローラの詳細図を図２１に示した。
【０１１７】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態のデータ部再生信号の総光量を総光量検出回路２０９にて測定しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０１１８】
このように、再生信号の総光量がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、再生信号の総光量を再生信号の総光量検出回路２０９により測定し、レイヤー判定することにより、図２０に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０１１９】
また、再生信号の総光量がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、再生信号の総光量を再生信号の総光量検出回路２０９により測定し、レイヤー判定することにより、図２０に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０１２０】
データ部及びピット部、ミラー部における総光量の検出はシステムコントローラ１５０によって反射率レベル及び／又はタイミングによっていずれであるかを区別され、検出される。データ部及びピット部、ミラー部における信号振幅の検出、信号周波数等の検出も同様にシステムコントローラ１５０によって区別され、検出される。
【０１２１】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるデータ部再生信号の総光量は、下式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどデータ部再生信号の総光量が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１２２】
また、データ部再生信号の総光量差はＬ０の総光量に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１２３】
さらに、アクセス時には一定再生光強度で光照射してデータ部再生信号の総光量を検出してレイヤー番号を判定するが、正しいレイヤーにジャンプした後には、データ部再生信号の強度を各レイヤーの最適値に変化させる手段を持つと、Ｓ／Ｎ（信号波対雑音波比）が大きい状態で情報を記録・再生できるためより好ましい。
【０１２４】
（情報記録媒体の特徴）
データ部再生信号の総光量がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成されている連続又は一部連続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、上記凹凸の溝深さを４２ｎｍ一定として、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３６μｍ、Ｌ１は０．３８μｍと変えると、Ｌ０のデータ部再生信号の総光量が９７ｍＶ、Ｌ１のデータ部再生信号の総光量が１０２ｍＶと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１２５】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、データ部再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝幅は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝幅が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１２６】
また、上記凹凸の溝幅の差はＬ０の溝幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１２７】
上記凹凸の溝幅のかわりに溝深さを変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝幅を０．３８μｍ一定で、上記凹凸の溝深さをＬ０は４５ｎｍ（λ／５．６／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、Ｌ０のデータ部再生信号の総光量が９７ｍＶ、Ｌ１のデータ部再生信号の総光量が１０２ｍＶと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１２８】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、データ部再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝深さが小さい方がより好ましかった。
レイヤー１＞レイヤ−２＞…レイヤーＮ−１＞レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１２９】
一方、溝深さがλ／８／ｎより浅くなると、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝深さが大きく、λ／８／ｎに近い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤ−２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１３０】
また、上記凹凸の溝深さの差はＬ０の溝深さに対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１３１】
さらに、上記凹凸の溝幅と溝深さの両方を変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３７μｍ、Ｌ１は０．３８μｍ、上記凹凸の溝深さをＬ０は４３ｎｍ（λ／５．８／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、Ｌ０のデータ部再生信号の総光量が９７ｍＶ、Ｌ１のデータ部再生信号の総光量が１０２ｍＶと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１３２】
また、上記凹凸の溝幅と溝深さを変えることによって、データ部再生信号の総光量差がＬ０の総光量に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１３３】
上記凹凸の角形状を変えても同様な効果が得られた。各レイヤーで上記凹凸の角形状を変えると、データ部再生信号の総光量が異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１３４】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、データ部再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の角形状は、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の角形状がなだらかになる方がより好ましかった。また、上記凹凸の角形状は上記凹凸の溝幅及び／又は溝深さと組合せて、データ部再生信号の総光量を変えてもよい。
【０１３５】
この他、上記凹凸の形状を一定にし、各レイヤーの膜の構造を検出器で測定した場合の反射率が異なるように積層しても同様な効果が得られた。各レイヤーで上記反射率を変えると、データ部再生信号の総光量が異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１３６】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記反射率は、光入射側から遠いレイヤーほど上記反射率が高いことが好ましかった。上記反射率差がＬ０の反射率に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。また、上記反射率は上記凹凸の形状と組合せて、データ部再生信号の総光量を変えてもよい。
本実施例に記載されていない事項については、実施例１と同様である。
【０１３７】
〔実施例３〕
（記録再生方法）
実施例１に記載の記録・再生装置において、サーボコントローラ１５１のみを変化させた記録・再生装置を作製した。原理図を図２２に、サーボコントローラの詳細図を図２３に示した。
【０１３８】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態の再生信号よりセクター数検出回路２１０にて一定時間内に検出したセクター数を測定しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０１３９】
このように、一定時間内に検出するセクター数がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、一定時間内に検出するセクター数をセクター数検出回路２１０により測定し、レイヤー判定することにより、図２２に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０１４０】
また、一定時間内に検出するセクター数がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、一定時間内に検出するセクター数をセクター数検出回路２１０により測定し、レイヤー判定することにより、図２２に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０１４１】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、セクター数に比例したＩＤ部が必要となるため、光入射側の層ほどセクター数が少ないほうが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるセクター数は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどセクター数が多い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１４２】
また、セクター数差はＬ０のセクター数に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。さらに、アクセス時には一定速度で回転して、セクター数を検出してレイヤー番号を判定するが、正しいレイヤーにジャンプした後には、回転数を変更してもよい。
【０１４３】
（情報記録媒体の特徴）
セクター数がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成されている連続又は一部連続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、上記凹凸の連続部の長さを変え、Ｌ１のセクター配置を図１７、Ｌ０のセクター配置を図１８とするとセクター数はＬ０とＬ１で変えることができる。この場合、最外周部における半径５８ｍｍにおいて、線速度９ｍ／ｓ、セクター数計測時間が４０ｍｓでは、Ｌ１のセクター数が２２個、Ｌ０のセクター数が１１個と異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１４４】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、セクター数に比例したＩＤ部が必要となるため、光入射側の層ほどセクター数が少ないほうが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるセクター数は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどセクター数が多い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１４５】
また、上記セクター数の差はＬ０のセクター数に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１４６】
上記凹凸のセクター数のかわりにセクター長、即ち１つのセクターの先頭から次のセクターの先頭までの経過時間、又は複数セクターの経過時間の平均値を計測しても同様な効果が得られた。この場合、図２４に示されるサーボコントローラを使用する。サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態の再生信号よりセクター時間検出回路２１１にて１つのセクターの先頭から次のセクターの先頭までの経過時間、又は複数セクターの経過時間の平均値を測定しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０１４７】
このように、１つのセクターの先頭から次のセクターの先頭までの経過時間、又は複数セクターの経過時間の平均値がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、一定時間内に検出するセクター数をセクター時間検出回路２１１により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０１４８】
また、１つのセクターの先頭から次のセクターの先頭までの経過時間、又は複数セクターの経過時間の平均値がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、一定時間内に検出するセクター数をセクター時間検出回路２１１により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０１４９】
この場合、最外周部における半径５８ｍｍにおいて、線速度９ｍ／ｓでは、Ｌ１のセクター長は、が３３．１ｍｍ、Ｌ０のセクター長が１６．５５ｍｍ、Ｌ１のセクター通過時間は３．６ｍｓ、Ｌ０のセクター通過時間が１．８ｍｓと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１５０】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、セクター数に比例したＩＤ部が必要となるため、光入射側の層ほどセクター長が長いほうが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるセクター長は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどセクター長が短い方がより好ましかった。
レイヤー１＞レイヤー２＞…レイヤーＮ−１＞レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１５１】
また、上記セクター長の差はＬ０のセクター長に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり好ましく、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。さらに、セクター数、セクター長の計測は単セクター計測を行なうより、複数セクターの計測を行ない合計及び／又は平均値を求めると、より計測精度が高まり好ましかった。 
本実施例に記載されていない事項については、実施例１〜２と同様である。
【０１５２】
〔実施例４〕
（記録再生方法）
実施例１に記載の記録・再生装置において、サーボコントローラ１５１のみを変化させた記録・再生装置を作製した。原理図を図２５に、サーボコントローラの詳細図を図２６に示した。
【０１５３】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態のデータ部の再生信号振幅をデータ部の再生信号振幅２１３にて測定しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０１５４】
このように、データ部の再生信号振幅がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、データ部の再生信号振幅２１３により測定し、レイヤー判定することにより、図２５に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０１５５】
また、データ部の再生信号振幅がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、データ部の再生信号振幅２１３により測定し、レイヤー判定することにより、図２５に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０１５６】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるデータ部の再生信号振幅は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどデータ部の再生信号振幅が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１５７】
また、データ部の再生信号振幅差はＬ０の振幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１５８】
さらに、アクセス時には一定再生光強度で光照射してデータ部の再生信号振幅を検出してレイヤー番号を判定するが、正しいレイヤーにジャンプした後には、再生信号の強度を各レイヤーの最適値に変化させる手段を持つと、Ｓ／Ｎ（信号波対雑音波比）が大きい状態で情報を記録・再生できるためより好ましい。
【０１５９】
（情報記録媒体の特徴）
データ部の再生信号振幅がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成されている連続又は一部連続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、上記凹凸の溝深さを４２ｎｍ一定として、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３６μｍ、Ｌ１は０．３８μｍと変えると、Ｌ０のデータ部の再生信号振幅が４１ｍＶ、Ｌ１のデータ部の再生信号振幅が３９ｍＶと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１６０】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝幅は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝幅が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１６１】
また、上記凹凸の溝幅の差はＬ０の溝幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１６２】
上記凹凸の溝幅のかわりに溝深さを変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝幅を０．３８μｍ一定で、上記凹凸の溝深さをＬ０は４５ｎｍ（λ／５．６／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、Ｌ０のデータ部の再生信号振幅が３９ｍＶ、Ｌ１のデータ部の再生信号振幅が４１ｍＶと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１６３】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝深さが小さい方がより好ましかった。
レイヤー１＞レイヤ−２＞…レイヤーＮ−１＞レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１６４】
一方、溝深さがλ／８／ｎより浅くなると、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝深さが大きく、λ／８／ｎに近い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤ−２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１６５】
また、上記凹凸の溝深さの差はＬ０の溝深さに対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１６６】
さらに、上記凹凸の溝幅と溝深さの両方を変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３７μｍ、Ｌ１は０．３８μｍ、上記凹凸の溝深さをＬ０は４３ｎｍ（λ／５．８／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、Ｌ０のデータ部の再生信号振幅が３９ｍＶ、Ｌ１のデータ部の再生信号振幅が４１ｍＶと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１６７】
また、上記凹凸の溝幅と溝深さを変えることによって、データ部の再生信号振幅差がＬ０の振幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１６８】
上記凹凸の角形状を変えても同様な効果が得られた。各レイヤーで上記凹凸の角形状を変えると、データ部の再生信号振幅が異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１６９】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の角形状は、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の角形状がなだらかになる方がより好ましかった。また、上記凹凸の角形状は上記凹凸の溝幅及び／又は溝深さと組合せて、データ部の再生信号振幅を変えてもよい。
【０１７０】
この他、上記凹凸の形状を一定にし、各レイヤーの膜の構造を検出器で測定した場合の反射率が異なるように積層しても同様な効果が得られた。各レイヤーで上記反射率を変えると、データ部の再生信号振幅が異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１７１】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記反射率は、光入射側から遠いレイヤーほど上記反射率が高いことが好ましかった。上記反射率差がＬ０の反射率に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。また、上記反射率は上記凹凸の形状と組合せて、データ部の再生信号振幅を変えてもよい。
【０１７２】
〔実施例５〕
（記録再生方法）
実施例４のデータ部の再生信号振幅の代わりにピット部の再生信号振幅を測定してレイヤー判定を行なってもよい。この場合の、サーボコントローラの詳細図を図２７に示した。
【０１７３】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態のピット部の再生信号振幅をピット部の再生信号振幅２１４にて測定しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０１７４】
このように、ピット部の再生信号振幅がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ピット部の再生信号振幅２１４により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０１７５】
また、ピット部の再生信号振幅がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ピット部の再生信号振幅２１４により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０１７６】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるピット部の再生信号振幅は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどピット部の再生信号振幅が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１７７】
また、ピット部の再生信号振幅差はＬ０の振幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１７８】
さらに、アクセス時には一定再生光強度で光照射してピット部の再生信号振幅を検出してレイヤー番号を判定するが、正しいレイヤーにジャンプした後には、再生信号の強度を各レイヤーの最適値に変化させる手段を持つと、Ｓ／Ｎ（信号波対雑音波比）が大きい状態で情報を記録・再生できるためより好ましい。
【０１７９】
（情報記録媒体の特徴）
ピット部の再生信号振幅がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成されている連続又は一部連続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、上記凹凸の溝深さを４２ｎｍ一定として、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３６μｍ、Ｌ１は０．３８μｍと変えると、Ｌ０のピット部の再生信号振幅が５１ｍＶ、Ｌ１のピット部の再生信号振幅が４９ｍＶと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１８０】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝幅は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝幅が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１８１】
また、上記凹凸の溝幅の差はＬ０の溝幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１８２】
上記凹凸の溝幅のかわりに溝深さを変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝幅を０．３８μｍ一定で、上記凹凸の溝深さをＬ０は４５ｎｍ（λ／５．６／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、Ｌ０のピット部の再生信号振幅が４９ｍＶ、Ｌ１のピット部の再生信号振幅が５１ｍＶと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１８３】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝深さが小さい方がより好ましかった。
レイヤー１＞レイヤ−２＞…レイヤーＮ−１＞レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１８４】
一方、溝深さがλ／８／ｎより浅くなると、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝深さが大きく、λ／８／ｎに近い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤ−２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１８５】
また、上記凹凸の溝深さの差はＬ０の溝深さに対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１８６】
さらに、上記凹凸の溝幅と溝深さの両方を変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３７μｍ、Ｌ１は０．３８μｍ、上記凹凸の溝深さをＬ０は４３ｎｍ（λ／５．８／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、Ｌ０のピット部の再生信号振幅が４９ｍＶ、Ｌ１のピット部の再生信号振幅が５１ｍＶと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１８７】
また、上記凹凸の溝幅と溝深さを変えることによって、ピット部の再生信号振幅差がＬ０の振幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。上記凹凸の角形状を変えても同様な効果が得られた。各レイヤーで上記凹凸の角形状を変えると、ピット部の再生信号振幅が異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１８８】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の角形状は、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の角形状がなだらかになる方がより好ましかった。また、上記凹凸の角形状は上記凹凸の溝幅及び／又は溝深さと組合せて、ピット部の再生信号振幅を変えてもよい。
【０１８９】
この他、上記凹凸の形状を一定にし、各レイヤーの膜の構造を検出器で測定した場合の反射率が異なるように積層しても同様な効果が得られた。各レイヤーで上記反射率を変えると、ピット部の再生信号振幅が異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０１９０】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記反射率は、光入射側から遠いレイヤーほど上記反射率が高いことが好ましかった。上記反射率差がＬ０の反射率に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０１９１】
また、上記反射率は上記凹凸の形状と組合せて、ピット部の再生信号振幅を変えてもよい。
本実施例に記載されていない事項については、実施例１〜５と同様である。
【０１９２】
〔実施例６〕
（記録再生方法）
実施例４のデータ部の再生信号振幅の代わりにデータ部及びピット部の再生信号振幅比を測定してレイヤー判定を行なってもよい。この場合の、サーボコントローラの詳細図を図２８に示した。
【０１９３】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態のデータ部及びピット部の再生信号振幅を再生信号振幅検出回路２１５にて測定し、データ部及びピット部の再生信号振幅比（データ部再生信号振幅／ピット部の再生信号振幅）をデータ部及びピット部の振幅比演算回路２１６にて演算しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０１９４】
このように、データ部及びピット部の再生信号振幅比（データ部再生信号振幅／ピット部の再生信号振幅）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、データ部及びピット部の再生信号振幅を再生信号振幅検出回路２１５にて測定し、その比をデータ部及びピット部の振幅比演算回路２１６により演算し、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０１９５】
また、データ部及びピット部の再生信号振幅比（データ部再生信号振幅／ピット部の再生信号振幅）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、データ部及びピット部の再生信号振幅を再生信号振幅検出回路２１５にて測定し、その比をデータ部及びピット部の振幅比演算回路２１６により演算し、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０１９６】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるデータ部及びピット部の再生信号振幅比は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどデータ部及びピット部の再生信号振幅比が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０１９７】
また、データ部及びピット部の再生信号振幅比の差はＬ０の振幅比に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられ
るためより好ましかった。
【０１９８】
一方、振幅比は、各レイヤーの反射率が異なる場合、及びレイヤー内で反射率が異なる場合でも一定である。従って、反射率変動の大きなディスクや反射率変化が生じた場合においても、正確にレイヤー判定して記録・再生が出来、好ましかった。
【０１９９】
（情報記録媒体の特徴）
データ部及びピット部の再生信号振幅比がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成されている連続又は一部連続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、上記凹凸の溝深さを４２ｎｍ一定として、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３６μｍ、Ｌ１は０．３８μｍと変えると、Ｌ０のデータ部及びピット部の再生信号振幅比が０．８０、Ｌ１のデータ部及びピット部の再生信号振幅比が０．８５と異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２００】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝幅は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝幅が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２０１】
また、上記凹凸の溝幅の差はＬ０の溝幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２０２】
上記凹凸の溝幅のかわりに溝深さを変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝幅を０．３８μｍ一定で、上記凹凸の溝深さをＬ０は４５ｎｍ（λ／５．６／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、Ｌ０のデータ部及びピット部の再生信号振幅比が０．８０、Ｌ１のデータ部及びピット部の再生信号振幅比が０．８５と異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２０３】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝深さが小さい方がより好ましかった。
レイヤー１＞レイヤ−２＞…レイヤーＮ−１＞レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２０４】
一方、溝深さがλ／８／ｎより浅くなると、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝深さが大きく、λ／８／ｎに近い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤ−２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２０５】
また、上記凹凸の溝深さの差はＬ０の溝深さに対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２０６】
さらに、上記凹凸の溝幅と溝深さの両方を変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３７μｍ、Ｌ１は０．３８μｍ、上記凹凸の溝深さをＬ０は４３ｎｍ（λ／５．８／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、Ｌ０のデータ部及びピット部の再生信号振幅比が０．８０、Ｌ１のデータ部及びピット部の再生信号振幅比が０．８５と異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２０７】
また、上記凹凸の溝幅と溝深さを変えることによって、データ部及びピット部の再生信号振幅比の差がＬ０の振幅比に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。上記凹凸の角形状を変えても同様な効果が得られた。各レイヤーで上記凹凸の角形状を変えると、データ部及びピット部の再生信号振幅比が異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２０８】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の角形状は、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の角形状がなだらかになる方がより好ましかった。また、上記凹凸の角形状は上記凹凸の溝幅及び／又は溝深さと組合せて、データ部及びピット部の再生信号振幅比を変えてもよい。
本実施例に記載されていない事項については、実施例１〜５と同様である。
【０２０９】
〔実施例７〕
（記録再生方法）
実施例１に記載の記録・再生装置において、サーボコントローラ１５１のみを変化させた記録・再生装置を作製した。サーボコントローラの詳細図を図２９に示した。
【０２１０】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態の再生信号よりピット部再生信号周波数検出回路２１７にてピット部における再生信号周波数を測定しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０２１１】
このように、ピット部における再生信号周波数がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ピット部における再生信号周波数をピット部再生信号周波数検出回路２１７により測定し、レイヤー判定することにより、図２９に示すようにレイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２１２】
また、ピット部における再生信号周波数がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ピット部における再生信号周波数をピット部再生信号周波数検出回路２１７により測定し、レイヤー判定することにより、図２９に示すようにレイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２１３】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号の低周波のノイズが大きくなる。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるピット部における再生信号周波数は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどピット部における再生信号周波数が高い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２１４】
また、ピット部における再生信号周波数差はＬ０の周波数に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２１５】
（情報記録媒体の特徴）
ピット部における再生信号周波数がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成されているピットの周期を変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、上記ピットの周期を変え、Ｌ１のピット周期を０．６９μｍ、Ｌ０のピット周期を０．８７μｍとした場合、線速度９ｍ／ｓで再生すると、Ｌ１のピット部における再生信号周波数が１３．０ＭＨｚ、Ｌ０のピット部における再生信号周波数が１０．４ＭＨｚ、と異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２１６】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、セクター数に比例したＩＤ部が必要となるため、光入射側の層ほどセクター数が少ないほうが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるピット部における再生信号周波数は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどピット部における再生信号周波数が高い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２１７】
また、上記ピット部における再生信号周波数の差はＬ０の周波数に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
本実施例に記載されていない事項については、実施例１〜６と同様である。
【０２１８】
〔実施例８〕
（記録再生方法）
実施例７のピットの周波数の代わりに数を変えても同様な効果が得られた。
サーボコントローラの詳細図を図３０に示した。
【０２１９】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態の再生信号よりピット部再生信号ピット数検出回路２１８にて一定時間内に検出したピット数を測定しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０２２０】
このように、一定時間内に検出するピット数がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、一定時間内に検出するピット数をピット部再生信号ピット数検出回路２１８により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２２１】
また、一定時間内に検出するピット数がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、一定時間内に検出するピット数をピット部再生信号ピット数検出回路２１８により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２２２】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ピット数に比例してＩＤ部領域が広くなるため、光入射側の層ほどピット数が少ないほうが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるピット数は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどピット数が多い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２２３】
また、ピット数差はＬ０のピット数に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。さらに、アクセス時には一定速度で回転して、ピット数を検出してレイヤー番号を判定するが、正しいレイヤーにジャンプした後には、回転数を変更してもよい。
【０２２４】
（情報記録媒体の特徴）
ピット数がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成されているピット数を変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、上記ピット数はＬ０とＬ１で変えればよい。この場合、同一周波数で、Ｌ１のピット数が５０個、Ｌ０のピット数が４０個と異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２２５】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ピット数に比例したＩＤ部が必要となるため、光入射側の層ほどピット数が少ないほうが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるピット数は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどピット数が多い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２２６】
また、上記ピット数の差はＬ０のピット数に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。一定周波数にせずに、周波数変化とピット数変化を組合せると、より精度があがるため好ましかった。
本実施例に記載されていない事項については、実施例１〜７と同様である。
【０２２７】
〔実施例９〕
実施例８の上記凹凸のピット数のかわりにピット全長、即ち先頭のピットから最終のピットまでの長さ、又はその通過時間を計測しても同様な効果が得られた。サーボコントローラの詳細図を図３１に示した。
【０２２８】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態の再生信号よりピット部再生信号ピット長検出回路２１９にてピット全長を測定しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０２２９】
このように、ピット全長がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ピット全長をピット部再生信号ピット長検出回路２１９により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２３０】
また、ピット全長がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ピット全長をピット部再生信号ピット長検出回路２１９により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２３１】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ピット数に比例してＩＤ部領域が広くなるため、光入射側の層ほどピット数が少ないほうが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるピット全長は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどピット全長が長い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２３２】
また、ピット全長差はＬ０のピット全長に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
さらに、アクセス時には一定速度で回転して、ピット全長を検出してレイヤー番号を判定するが、正しいレイヤーにジャンプした後には、回転数を変更してもよい。
【０２３３】
（情報記録媒体の特徴）
ピット全長がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成されているピット数及び／又はピット長を変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、Ｌ０は０．３３μｍのピットを０．６６μｍ周期で５０個、Ｌ１は０．３３μｍのピットを０．６６μｍ周期で２５個とピット数を変えれば、線速度９ｍ／ｓでは、Ｌ１のピット全長が３３μｍ，Ｌ０のピット全長が１６．５μｍ、Ｌ１のピット通過時間は３．６μｓ，Ｌ０のピット通過時間が１．８μｓと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。また、Ｌ０は０．６６μｍのピットを１．３２μｍ周期で２５個、Ｌ１は０．３３μｍのピットを０．６６μｍ周期で２５個とピット長を変えれば、線速度９ｍ／ｓでは、Ｌ１のピット全長が３３μｍ，Ｌ０のピット全長が１６．５μｍ、Ｌ１のピット通過時間は３．６μｓ，Ｌ０のピット通過時間が１．８μｓと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２３４】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があるため、光入射側の層ほどピット全長が長いほうが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるピット全長は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどピット全長が長い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２３５】
また、上記ピット全長の差はＬ０のピット全長に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり好ましく、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。さらに、ピット周波数、ピット数、ピット全長の計測は単独で計測を行なうより、複数のピットの計測を組合せると、より計測精度が高まり好ましかった。
本実施例に記載されていない事項については、実施例１〜８と同様である。
【０２３６】
〔実施例１０〕
（記録再生方法）
実施例９の上記ピット部全長だけでなくミラー部の長さを変えても同様な効果が得られた。サーボコントローラの詳細図を図３２に示した。
【０２３７】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態のミラー部再生信号よりミラー部再生信号ミラー長検出回路２２０にてミラー長を測定しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０２３８】
このように、ミラー長がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ミラー長をミラー部再生信号ミラー長検出回路２２０により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２３９】
また、ミラー長がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ミラー長をミラー部再生信号ミラー長検出回路２２０により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２４０】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ピット数に比例してＩＤ部領域が広くなるため、光入射側の層ほどピット数が少ないほうが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるミラー長は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどミラー長が長い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２４１】
また、ミラー長差はＬ０のミラー長に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
さらに、アクセス時には一定速度で回転して、ミラー長を検出してレイヤー番号を判定するが、正しいレイヤーにジャンプした後には、回転数を変更してもよい。
【０２４２】
（情報記録媒体の特徴）
ミラー長がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成されているミラー長を変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、最外周部において、線速度９ｍ／ｓでは、Ｌ１のミラー長が３３μｍ，Ｌ０のミラー長が１６．５μｍ、とミラー長を変えることにより、Ｌ１のミラー通過時間は３．６μｓ，Ｌ０のミラー通過時間が１．８μｓと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２４３】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があるため、光入射側の層ほどミラー長が長いほうが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるミラー長は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどミラー長が長い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２４４】
また、上記ミラー長の差はＬ０のミラー長に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり好ましく、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。さらに、ミラー部長さの計測は単独で計測を行なうより、ピットの長さ等他の計測を組合せると、より計測精度が高まり好ましかった。
本実施例に記載されていない事項については、実施例１〜９と同様である。
【０２４５】
〔実施例１１〕
（記録再生方法）
実施例１０の上記ミラー部の長さ以外にミラー部の光量を変えても同様な効果が得られた。サーボコントローラの詳細図を図３３に示した。
【０２４６】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態の再生信号よりミラー部再生信号光量検出回路２２１にてミラー部の光量を測定しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０２４７】
このように、ミラー部の光量がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ミラー部の光量をミラー部再生信号光量検出回路２２１により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２４８】
また、ミラー部の光量がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ミラー部の光量をミラー部再生信号光量検出回路２２１により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２４９】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ピット数に比例してＩＤ部領域が広くなるため、光入射側の層ほどピット数が少ないほうが好ましい。従って、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるミラー部の光量は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどミラー部の光量が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２５０】
また、ミラー部の光量差はＬ０のミラー光量に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。さらに、アクセス時には一定再生光強度で光照射してミラー部信号光量を検出してレイヤー番号を判定するが、正しいレイヤーにジャンプした後には、再生信号の強度を各レイヤーの最適値に変化させる手段を持つと、Ｓ／Ｎ（信号波対雑音波比）が大きい状態で情報を記録・再生できるためより好ましい。
【０２５１】
（情報記録媒体の特徴）
ミラー部の光量がレイヤーごとに異なる媒体は、各レイヤーの膜の構造を検出器で測定した場合の反射率が異なるように積層して作製することが出来る。一例としては、記録膜膜厚を１割薄くすることによって反射率を約５％低くすることができる。記録膜以外の層の膜厚を変えることによっても反射率変化を生じることができる。
【０２５２】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記反射率は、光入射側から遠いレイヤーほど上記反射率が高いことが好ましかった。上記反射率差がＬ０の反射率に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
本実施例に記載されていない事項については、実施例１〜１０と同様である。
【０２５３】
〔実施例１２〕
（記録再生方法）
実施例１１のミラー部の再生信号光量の代わりに溝部とミラー部の再生信号光量比を測定してレイヤー判定を行なってもよい。この場合の、サーボコントローラの詳細図を図３４に示した。
【０２５４】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態のデータ部及びミラー部の再生信号光量を再生信号光量検出回路２２２にて測定し、データ部及びミラー部の再生信号光量比（データ部再生信号光量／ミラー部の再生信号光量）をデータ部及びミラー部の光量比演算回路２２３にて演算しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場
合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０２５５】
このように、データ部及びミラー部の再生信号光量比（データ部再生信号光量／ミラー部の再生信号光量）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、データ部及びミラー部の再生信号光量を再生信号光量検出回路２２２にて測定し、その比をデータ部及びミラー部の光量比演算回路２２３により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２５６】
また、データ部及びミラー部の再生信号光量比（データ部再生信号光量／ミラー部の再生信号光量）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、データ部及びミラー部の再生信号光量を再生信号光量検出回路２２２にて測定し、その比をデータ部及びミラー部の光量比演算回路２２３により測定し、レイヤー判定することにより、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２５７】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるデータ部及びミラー部の再生信号光量比は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほどデータ部及びミラー部の再生信号光量比が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２５８】
また、データ部及びミラー部の再生信号光量比の差はＬ０の光量比に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２５９】
一方、光量比は、各レイヤーの反射率が異なる場合、及びレイヤー内で反射率が異なる場合でも一定である。従って、反射率変動の大きなディスクや反射率変化が生じた場合においても、正確にレイヤー判定して記録・再生が出来、好ましかった。
【０２６０】
（情報記録媒体の特徴）
データ部及びミラー部の再生信号光量比がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成されている連続又は一部連続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、上記凹凸の溝深さを４２ｎｍ一定として、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３６μｍ、Ｌ１は０．３８μｍと変えると、Ｌ０のデータ部及びミラー部の再生信号光量比が０．６５、Ｌ１のデータ部及びミラー部の再生信号光量比が０．７０と異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２６１】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝幅は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝幅が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２６２】
また、上記凹凸の溝幅の差はＬ０の溝幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２６３】
上記凹凸の溝幅のかわりに溝深さを変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝幅を０．３８μｍ一定で、上記凹凸の溝深さをＬ０は４５ｎｍ（λ／５．６／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、Ｌ０のデータ部及びミラー部の再生信号光量比が０．６５、Ｌ１のデータ部及びミラー部の再生信号光量比が０．７０と異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２６４】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝深さが小さい方がより好ましかった。
レイヤー１＞レイヤ−２＞…レイヤーＮ−１＞レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２６５】
一方、溝深さがλ／８／ｎより浅くなると、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝深さは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝深さが大きく、λ／８／ｎに近い方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤ−２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２６６】
また、上記凹凸の溝深さの差はＬ０の溝深さに対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２６７】
さらに、上記凹凸の溝幅と溝深さの両方を変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、ｎが１．６２の材料で基板を形成した場合、上記凹凸の溝幅をＬ０は０．３７μｍ、Ｌ１は０．３８μｍ、上記凹凸の溝深さをＬ０は４３ｎｍ（λ／５．８／ｎ）、Ｌ１は４２ｎｍ（λ／６．０／ｎ）と変えると、Ｌ０のデータ部及びミラー部の再生信号光量比が０．６５、Ｌ１のデータ部及びミラー部の再生信号光量比が０．７０と異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２６８】
また、上記凹凸の溝幅と溝深さを変えることによって、データ部及びミラー部の再生信号光量比の差がＬ０の光量比に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。上記凹凸の角形状を変えても同様な効果が得られた。各レイヤーで上記凹凸の角形状を変えると、データ部及びミラー部の再生信号光量比が異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２６９】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、再生信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の角形状は、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の角形状がなだらかになる方がより好ましかった。また、上記凹凸の角形状は上記凹凸の溝幅及び／又は溝深さと組合せて、データ部及びミラー部の再生信号光量比を変えてもよい。
【０２７０】
〔実施例１３〕
実施例１に記載の記録・再生装置において、サーボコントローラ１５１のみを変化させた記録・再生装置を作製した。原理図を図３５に、サーボコントローラの詳細図を図３６に示した。
【０２７１】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態のウォブル信号振幅をウォブル振幅検出回路２５１にて測定しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、レイヤー番号、つまりどの情報面にフォーカスされているかを判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくない情報面にいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０２７２】
このように、ウォブル信号振幅がレイヤーごとに異なる媒体では、ウォブル信号振幅をウォブル振幅検出回路２５１により測定し、レイヤー判定することにより、図３５に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２７３】
また、ウォブル信号振幅がレイヤーごとに異なる媒体では、ウォブル信号振幅をウォブル振幅検出回路２５１により測定し、レイヤー判定することにより、図３５に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２７４】
ウォブル信号振幅がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックが連続又は一部連続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製できる。前記凹凸が予め決められた振幅で蛇行ないし変形しており、前記蛇行ないし変形のウォブルうねり幅が情報面１から情報面Ｎにおいて異なる特徴を持つ。
【０２７５】
ウォブルとは、図３７に概略図を示したように前記凹凸が予め決められた振幅で蛇行ないし変形していることをいう。図３８には平面図を示したが、ウォブル周期２０２は前記ウォブルの変動の１周期を意味し、ウォブルうねり幅２０３は前記ウォブルの変動幅の長さを指す。例えば、２層媒体の場合、Ｌ０の揺れ幅がトラックピッチの２０分の１、Ｌ１の揺れ幅がトラックピッチの１９分の１に変えると、Ｌ１とＬ０のウォブル信号振幅が異なるため、振幅の違いによりレイヤーの判定ができる。
【０２７６】
Ｌ１つまり光入射側から遠いレイヤーほど光入射側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいため、光入射側から遠いレイヤーほどウォブル信号振幅が大きい方がより好ましかった。また信号振幅差はＬ０の振幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
本実施例に記載されていない事項については、実施例１〜１２と同様である。
【０２７７】
〔実施例１４〕
（記録再生方法）
実施例１３のウォブル信号振幅の代わりにウォブル信号振幅とピット部の再生信号振幅の比を測定してレイヤー判定を行なってもよい。この場合の、サーボコントローラの詳細図を図３９に示した。
【０２７８】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態のウォブル信号振幅をウォブル信号振幅検出回路２５２にて測定し、ピット部の再生信号振幅をピット信号振幅検出回路２５３にて測定し、ウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比（ウォブル信号振幅／ピット部の再生信号振幅）をウォブル信号及びピット信号の振幅比演算回路２５４にて演算しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０２７９】
このように、ウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比（ウォブル信号振幅／ピット部の再生信号振幅）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ウォブル信号振幅をウォブル信号振幅検出回路２５２にて測定し、ピット部の再生信号振幅をピット信号振幅検出回路２５３にて測定し、ウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比（ウォブル信号振幅／ピット部の再生信号振幅）をウォブル信号及びピット信号の振幅比演算回路２５４により演算し、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２８０】
また、ウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比（ウォブル信号振幅／ピット部の再生信号振幅）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ウォブル信号振幅をウォブル信号振幅検出回路２５２にて測定し、ピット部の再生信号振幅をピット信号振幅検出回路２５３にて測定し、ウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比（ウォブル信号振幅／ピット部の再生信号振幅）をウォブル信号及びピット信号の振幅比演算回路２５４により演算し、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２８１】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど振幅比が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２８２】
また、ウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比の差はＬ０の振幅比に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２８３】
（情報記録媒体の特徴）
ウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成されている連続又は一部連続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、上記ピット形状を一定として、上記凹凸の溝のウォブルうねり幅をＬ０は０．０２０μｍ、Ｌ１は０．０２４μｍと変えると、Ｌ０のウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比が０．０５、Ｌ１のウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比が０．０６と異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２８４】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝のウォブルうねり幅は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝のウォブルうねり幅が大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２８５】
また、上記凹凸の溝のウォブルうねり幅の差はＬ０ののウォブルうねり幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２８６】
上記凹凸の溝のウォブルうねり幅のかわりにピット形状を変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、上記凹凸の溝幅を０．３８μｍ一定で、上記凹凸の溝のウォブルうねり幅を０．０２４μｍ一定とし、ピットの形状を変えた。ピット幅をＬ０は０．２８μｍ、Ｌ１は０．２６μｍ、とすると、Ｌ０のウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比が０．０５、Ｌ１のウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比が０．０６と異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０２８７】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記ピット幅は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記ピット幅が小さい方がより好ましかった。
レイヤー１＞レイヤー２＞…＞レイヤーＮ−１＞レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０２８８】
また、上記ピット幅の差はＬ０のピット幅に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２８９】
また、上記凹凸の溝ウォブルうねり幅とピット幅を変えることによって、ウォブル信号及びピット部の再生信号の振幅比を変えてもよい。上記振幅比の差がＬ０の振幅比に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２９０】
一方、振幅比は、各レイヤーの反射率が異なる場合、及びレイヤー内で反射率が異なる場合でも一定である。従って、反射率変動の大きなディスクや反射率変化が生じた場合においても、正確にレイヤー判定して記録・再生が出来、好ましかった。
本実施例に記載されていない事項については、実施例１〜１３と同様である。
【０２９１】
〔実施例１５〕
実施例１に記載の記録・再生装置において、サーボコントローラ１５１のみを変化させた記録・再生装置を作製した。原理図を図４０に、サーボコントローラの詳細図を図４１に示した。
【０２９２】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態のウォブル信号周波数をウォブル周波数検出回路２５５にて測定しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、レイヤー番号、つまりどの情報面にフォーカスされているかを判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくない情報面にいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０２９３】
このように、ウォブル信号周波数がレイヤーごとに異なる媒体では、ウォブル信号周波数をウオブル周波数検出回路２５５により測定し、レイヤー判定することにより、図４０に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２９４】
また、ウォブル信号周波数がレイヤーごとに異なる媒体では、ウォブル信号周波数をウオブル周波数検出回路２５５により測定し、レイヤー判定することにより、図４０に示すようにレイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０２９５】
ウォブル信号周波数がレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックが連続又は一部連続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製できる。前記凹凸が予め決められた振幅で蛇行ないし変形しており、前記蛇行ないし変形のウォブル周期が情報面１から情報面Ｎにおいて異なる特徴を持つ。例えば、２層媒体の場合、Ｌ０のウォブル周期が３２．７６μｍ、Ｌ１のウォブル周期が３２．２４μｍに変えると、Ｌ１のウォブル信号周波数の違いによりレイヤーの判定ができる。
【０２９６】
Ｌ１つまり光入射側から遠いレイヤーほど光入射側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいため、光入射側から遠いレイヤーほどウォブル信号周波数が大きい方がより好ましかった。また信号周波数差はＬ０の周波数差に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０２９７】
検出器のゲインは図４２に示されるように周波数に依存する。検出器の利得（ゲイン）が０となる周波数をカットオフ周波数（Ｆｃ）と呼ぶ。最短マーク長の周波数をＦ２、最長マーク長の周波数をＦ１とした場合、上記ウォブル周波数はＦ１より１割以上低いことが好ましい。そうするとウォブル信号の検出感度が大きくなり、好ましい。一方上記ウォブル周波数はＦ１より１割以上高く、カットオフ周波数Ｆｃより低い範囲でも可能だが、この場合はウォブル信号の検出感度は低くなる。 
本実施例に記載されていない事項については、実施例１〜１４と同様である。
【０２９８】
〔実施例１６〕
（記録再生方法）
実施例１５のウォブル信号周波数の代わりにウォブル信号周波数とピット部の再生信号周波数の差を測定してレイヤー判定を行なってもよい。この場合の、サーボコントローラの詳細図を図４３に示した。
【０２９９】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態のウォブル信号周波数（Ｆｗ）をウォブル信号周波数検出回路２５６にて測定し、ピット部の再生信号周波数をピット信号周波数（Ｆｐ）検出回路２５７にて測定し、ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆ（Ｆ＝Ｆｗｘｚ−Ｆｐ、ｚは１以上の整数）をウォブル信号及びピット信号の周波数差演算回路２５８にて演算しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０３００】
このように、ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆがレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ウォブル信号周波数（Ｆｗ）をウォブル信号周波数検出回路２５６にて測定し、ピット部の再生信号周波数をピット信号周波数（Ｆｐ）検出回路２５７にて測定し、ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆ（Ｆ＝Ｆｗ×ｚ−Ｆｐ、ｚは１以上の整数）をウォブル信号及びピット信号の周波数差演算回路２５８にて演算し、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０３０１】
また、ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆがレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ウォブル信号周波数（Ｆｗ）をウォブル信号周波数検出回路２５６にて測定し、ピット部の再生信号周波数をピット信号周波数（Ｆｐ）検出回路２５７にて測定し、ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆ（Ｆ＝Ｆｗ×ｚ−Ｆｐ、ｚは１以上の整数）をウォブル信号及びピット信号の周波数差演算回路２５８にて演算し、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０３０２】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるウォブル信号及びピット部の再生信号のの周波数差Ｆは、式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど周波数差Ｆが大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０３０３】
また、ウォブル信号及びピット部の再生信号のの周波数差Ｆの差はＬ０の周波数差に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。上記ｚは５０以上２００以下であると、演算された周波数差Ｆの判定が容易になるため好ましかった。
【０３０４】
（情報記録媒体の特徴）
ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆがレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成されている連続又は一部連続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、上記ピット周期を一定として、上記凹凸のウォブル周期をＬ０は１０μｍ、Ｌ１は１１μｍと変えると、Ｚが１００でピット周波数が１５ＭＨｚの場合、Ｌ０のウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆ０は５ＭＨｚ、Ｌ１のウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆは４．１ＭＨｚと異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０３０５】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸の溝ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸の溝ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆが大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０３０６】
また、上記凹凸の溝ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆの差はＬ０の周波数差に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０３０７】
上記凹凸の溝のウォブル周期のかわりにピット形状を変えても同様な効果が得られた。例えば、２層媒体の場合、上記凹凸の溝幅を０．３８μｍ一定で、上記凹凸の溝のウォブル周期を１０μｍ一定とし、ピットの形状を変えた。ピット周期をＬ０は０．６０μｍ、Ｌ１は０．５２μｍ、とすると、Ｚが１００ではＬ０のウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆが５．０ＭＨｚ、Ｌ１のウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆが７．３ＭＨｚ、と異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。ピット周期とは１つめのピットの先端から次のピットの先端までの長さをいう。
【０３０８】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記ピット周期は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記ピット周期が小さい方がより好ましかった。
レイヤー１＞レイヤー２＞…＞レイヤーＮ−１＞レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０３０９】
また、上記凹凸の溝ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆの差はＬ０の周波数差に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０３１０】
また、上記凹凸溝のウォブル信号周波数とピット部信号周波数の両方をを変えることによって、ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆを変えてもよい。上記周波数差Ｆの差がＬ０の周波数差に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０３１１】
この他、ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆ以外に、ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差演算回路２５８をウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数和演算回路に変えてレイヤー判断を行なってもよい。ウォブル信号周波数とピット部の再生信号の周波数のうち少なくとも一方と複数周波数としてこれらの和や差の組合せを用いてもよい。
【０３１２】
一方、ウォブル信号及びピット部の再生信号の周波数差Ｆ及び和は、各レイヤーの反射率が異なる場合、及びレイヤー内で反射率が異なる場合でも一定である。従って、反射率変動の大きなディスクや反射率変化が生じた場合においても、正確にレイヤー判定して記録・再生が出来、好ましかった。
本実施例に記載されていない事項については、実施例１〜１５と同様である。
【０３１３】
〔実施例１７〕
（記録再生方法）
実施例１５のウォブル信号周波数の代わりに複数のウォブル信号周波数の差を
測定してレイヤー判定を行なってもよい。この場合の、サーボコントローラの詳
細図を図４４に示した。
【０３１４】
サーボコントローラ１５１にはオートフォーカス（ＡＦ）信号検出回路２０１があり、ここで検出されたＡＦ誤差信号がＡＦサーボ回路２０２に送られ、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に信号を伝える。一方、ＡＦ誤差信号はＡＦサーボ系コントローラ２０５へ信号を伝えレイヤー（情報面）にフォーカスした状態であることを伝える。フォーカスした状態のウォブル信号周波数（Ｆｗ１）及びウォブル信号周波数（Ｆｗ２）をウォブル信号周波数検出回路２５９にて測定し、ウォブル信号の周波数差Ｇ（Ｇ＝Ｇｐ−Ｇｓ）をウォブル信号周波数差演算回路２６０にて演算しその値をレイヤー番号判定回路２０７へ伝え、フォーカスされたレイヤーのレイヤー番号を判定し、ＡＦサーボ系コントローラ２０５へ伝える。ここで正しいレイヤーにいる場合は、レイヤージャンプが不要である。正しくないレイヤーにいる場合は正しいレイヤーへジャンプするための信号が、レイヤージャンプ信号発生回路２０６より発生し、スイッチ２０３を介してＡＦアクチュエータドライバ２０４に伝えられ、レイヤージャンプする。これらは、正しいレイヤーへフォーカスするまで繰り返される。
【０３１５】
このように、各レイヤーにおいて複数の周波数のウォブル信号を持ち、ウォブル信号の周波数差Ｇ（Ｇ＝Ｇｐ−Ｇｓ）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ウォブル信号周波数（Ｇｐ）及びウォブル信号周波数（Ｇｓ）をウォブル信号周波数検出回路２５９にて測定し、ウォブル信号の周波数差Ｇ（Ｇ＝Ｇｐ−Ｇｓ）をウォブル信号周波数差演算回路２６０にて演算し、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして記録できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても記録時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０３１６】
また、各レイヤーにおいて複数の周波数のウォブル信号を持ち、ウォブル信号の周波数差Ｇ（Ｇ＝Ｇｐ−Ｇｓ）がレイヤーごとに異なる媒体を用いて、ウォブル信号周波数（Ｇｐ）及びウォブル信号周波数（Ｇｓ）をウォブル信号周波数検出回路２５９にて測定し、ウォブル信号の周波数差Ｇ（Ｇ＝Ｇｐ−Ｇｓ）をウォブル信号周波数差演算回路２６０にて演算し、レイヤー判定することにより、レイヤー番号が判定でき、確実に正しいレイヤーにアクセスして再生できることがわかる。さらに、トラッキングした後に、基板のピット部の情報を読み取ることによりレイヤー判定する方法に比べても再生時のアクセスタイムが非常に早いという利点がある。
【０３１７】
複数の周波数のウォブル信号を持つ媒体におけるウォブルの一例を図４５に示した。グルーブ部３１１は周期の短いウォブル３１４とより周期の長いウォブル３１６からなる。
【０３１８】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）におけるウォブル信号の周波数差Ｇは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど周波数差Ｇが大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０３１９】
また、ウォブル信号の周波数差Ｇの差はＬ０の周波数差に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０３２０】
この他、ウォブル信号の周波数差Ｇ以外に、ウォブル信号の周波数和Ｇ′（Ｇ′＝Ｇｐ＋Ｇｓ）、また、３種類以上のウォブル信号周波数の和や差の組合せを用いてもよい。この時、Ｇｐ又はＧｓのいずれか１つを各レイヤーで一定にすると、ウォブル信号を同期信号として利用することもできるためより好ましかった。
【０３２１】
（情報記録媒体の特徴）
ウォブル信号の周波数差Ｇがレイヤーごとに異なる媒体は、情報面の記録トラックに形成されている連続又は一部連続の溝からなる凹凸の形状を変えることによって作製できる。例えば、２層媒体の場合、Ｌ０のウォブル周期が３２．７６μｍと３２．２４μｍ、Ｌ１のウォブル周期が３２．７６μｍと３１．２０μｍとすると、ウォブル信号の周波数差ＧがＬ１とＬ０で異なるため、この違いによりレイヤーの判定が可能である。
【０３２２】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記ウォブル信号の周波数差Ｇは、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記ウォブル信号の周波数差Ｇが大きい方がより好ましかった。
レイヤー１＜レイヤー２＜…レイヤーＮ−１＜レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０３２３】
また、上記凹凸におけるウォブル信号の周波数差Ｇの差はＬ０の周波数差に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０３２４】
この他、ウォブル信号の周波数差Ｇ以外に、ウォブル信号周波数差演算回路２６０をウォブル信号周波数和演算回路に変え、ウォブル信号の周波数和Ｇ′（Ｇ′＝Ｇｐ＋Ｇｓ）を測定してレイヤー判断を行なってもよい。３種類以上のウォブル信号周波数の和や差の組合せを用いてもよい。
【０３２５】
光入射側から遠いレイヤーほどより光入射側の層の影響があり、ウォブル信号のノイズが大きいため、１〜Ｎ層のレイヤー（情報面）における上記凹凸のウォブル信号の周波数和Ｇ′は、次式に示されるように、光入射側から遠いレイヤーほど上記凹凸のウォブル信号の周波数和Ｇ′が小さい方がより好ましかった。
レイヤー１＞レイヤー２＞…レイヤーＮ−１＞レイヤーＮ
（Ｎは２以上の整数）
【０３２６】
また、上記凹凸のウォブル信号の周波数和Ｇ′の差はＬ０の周波数差に対して５％以上あると判別のエラーがなくなり、１０％以上あると環境変動にも耐えられるためより好ましかった。
【０３２７】
一方、ウォブル信号の周波数差Ｇ及び和Ｇ′は、各レイヤーの反射率が異なる場合、及びレイヤー内で反射率が異なる場合でも一定である。従って、反射率変動の大きなディスクや反射率変化が生じた場合においても、正確にレイヤー判定して記録・再生が出来、好ましかった。 
本実施例に記載されていない事項については、実施例１〜１６と同様である。
【０３２８】
〔実施例１８〕
（本発明の情報記録媒体の構成、製法２）
図４６は、本発明の多層ディスク状情報記録媒体の他の例の断面構造を示す模式図である。２層以上の媒体はこのようにして製作した。一例として３層媒体を示す。
【０３２９】
まず、直径１２ｃｍ、厚さ０．６ｍｍで表面にトラッキング用の溝を有するポリカーボネイト保護基板６４上に、膜厚約８０ｎｍのＡｇ９８Ｐｄ１Ｃｕ１膜からなるＬ２反射層６３上に膜厚約８０ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０膜と膜厚約５ｎｍのＣｒ２Ｏ３からなるＬ２上部保護層６２、膜厚約１８ｎｍのＧｅ５Ｓｂ２Ｔｅ８からなるＬ２記録膜６１、膜厚約５ｎｍのＣｒ４０Ｏ５７Ｎ３膜と膜厚約８０ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０膜からなるＬ２下部保護層６０を順次形成したものである。
【０３３０】
その後、紫外線硬化樹脂を用いてトラッキング用の溝をスタンパから転写するフォトポリメリゼーション法（２Ｐ法）によって表面にトラッキング用の溝を有するＬ１−Ｌ２スペーサ層５９を形成した。この上に、Ｌ１を形成した。Ｌ１−Ｌ２間スペーサ層５９上に、膜厚約１００ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０膜と膜厚約５ｎｍのＣｒ２Ｏ３膜からなるＬ１上部保護層５８、膜厚約５ｎｍのＧｅ５Ｓｂ２Ｔｅ８からなるＬ１記録膜５７、膜厚約５ｎｍのＣｒ４０Ｏ５７Ｎ３膜と膜厚約９５ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０膜からなるＬ１下部保護層５６を順次形成した。
【０３３１】
次に、先ほどと同様の２Ｐ法によりＬ０−Ｌ１スペーサ層５９を形成した。Ｌ０−Ｌ１スペーサ層５５上に膜厚約１００ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０膜と膜厚約５ｎｍのＣｒ２Ｏ３膜からなるＬ０上部保護層５４、膜厚約４ｎｍのＧｅ５Ｓｂ２Ｔｅ８からなるＬ０記録膜５３、膜厚約５ｎｍのＣｒ４０Ｏ５７Ｎ３膜と膜厚約９５ｎｍの（ＺｎＳ）８０（ＳｉＯ２）２０膜からなるＬ０下部保護層５２を順次形成した。最後に、基板５１を貼り併せた。積層膜の形成はマグネトロン・スパッタリング装置により行った。こうして多層ディスク部材を得た。
【０３３２】
初期化及び、記録・再生方法は２層媒体と同様である。このように、片側３層以上にして記録・再生することが可能である。記録再生特性及び構成材料等については、光入射側から１番遠い層、即ち３層媒体ではＬ２、ｎ層媒体ではＬｎ−１が２層媒体におけるＬ１と同様であった。それ以外の層、即ち３層媒体ではＬ０からＬ１、ｎ層媒体ではＬ０からＬｎ−２が２層媒体におけるＬ０と同様であった。
本実施例に記載されていない事項については、実施例１〜１６と同様である。
【０３３３】
実施例１〜１８に記載の情報の記録・再生方法は単独で用いても効果があるが、組み合わせて用いると信頼性が向上するため好ましい。また、上記実施例に記載した以外の材料や膜厚、積層順である、相変化記録膜を有する多層情報記録媒体、色素を記録膜に持つ多層情報記録媒体、ＲＯＭ情報を有する多層情報記録媒体、これらの組み合わせなど、多層の情報面を持つ光ディスクにおいて情報面検出の信頼性及び／又は検出速度があがり、記録・再生が早く確実に出来るため好ましかった。
【図面の簡単な説明】
【０３３４】
【図１】本発明による情報記録媒体の一例の断面模式図。
【図２】本発明による情報記録媒体の一例の断面模式図。
【図３】本発明による情報記録媒体のレイヤー形状概略説明図。
【図４】基板の凹凸の作製工程を示す図。
【図５】基板の凹凸の作製工程を示す図。
【図６】本発明による情報記録媒体の記録波形の例を示す概略図。
【図７】本発明による情報記録媒体の多値記録の例を示す説明図。
【図８】本発明による情報記録媒体の多値記録の例を示す説明図。
【図９】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置の構成図。
【図１０】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置の光検出器を示す詳細図。
【図１１】本発明による情報記録媒体の記録・再生方法の一例を示す原理図。
【図１２】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置の一例を示すサーボコントローラの詳細図。
【図１３】本発明による情報記録媒体の不連続な凹凸の概略説明図。
【図１４】本発明による情報記録媒体の連続な凹凸の概略説明図。
【図１５】本発明による情報記録媒体のグルーブ部へ記録する方式の概略説明図。
【図１６】本発明による情報記録媒体のグルーブ部及びランド部へ記録する方式の概略説明図。
【図１７】本発明による情報記録媒体のセクタ配置の一例を示す概略図。
【図１８】本発明による情報記録媒体のセクタ配置の一例を示す概略図。
【図１９】本発明による情報記録媒体のセクタの詳細図。
【図２０】本発明による情報記録媒体の記録・再生方法の他の例を示す原理図。
【図２１】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置の他の例を示すサーボコントローラの詳細図。
【図２２】本発明による情報記録媒体の記録・再生方法の他の例を示す原理図。
【図２３】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図２４】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図２５】本発明による情報記録媒体の記録・再生方法の他の例を示す原理図。
【図２６】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図２７】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図２８】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図２９】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図３０】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図３１】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図３２】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図３３】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図３４】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図３５】本発明による情報記録媒体の記録・再生方法の他の例を示す原理図。
【図３６】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図３７】本発明による情報記録媒体のウォブルの概略説明図。
【図３８】本発明による情報記録媒体のウォブルの概略説明図。
【図３９】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図４０】本発明による情報記録媒体の記録・再生方法の他の例を示す原理図。
【図４１】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図４２】検出器のゲインの周波数依存性を説明する図。
【図４３】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図４４】本発明による情報記録媒体の記録・再生装置のサーボコントローラの他の例を示す詳細図。
【図４５】本発明による情報記録媒体の周波数の異なるウォブルを有する凹凸の概略説明図。
【図４６】本発明の多層ディスク状情報記録媒体の断面構造を示す模式図。
【符号の説明】
【０３３５】
１：基板、２：レイヤー０、３：レイヤー０とレイヤー１間のスペーサ層、４：レイヤー１、５：レイヤー１とレイヤー２間のスペーサ層、６：レイヤー２、７：レイヤー２とレイヤー３間のスペーサ層、８：レイヤーｎ−１、９：保護基板、１１：基板、１２：Ｌ０下部保護層、１３：Ｌ０記録膜、１４：Ｌ０上部保護層、１５：スペーサ−層、１６：Ｌ１下部保護層、１７：Ｌ１記録膜、１８：Ｌ１上部保護層、１９…Ｌ１反射層、２０…保護基板、２１：基板、２２：レイヤー０、２３：レイヤー０とレイヤー１間のスペーサ層、２４：レイヤー１、２５：保護基板、３１：セクタ、３２：ピット部、３３：ミラー部、３４：データ部、４１：ＩＤ部、１００：情報記録媒体、１０８：筐体、１１０：モーター、１１１：回転軸、１１２：チャッキング機構、１１５：レール、１１６：レールガイド、１１７：ケース、１１８：回転モータ、１１９：直線ギア、１２０：回転ギア、１２１：磁石、１２２：コイル、１２３：サスペンション、１３１：半導体レーザ、１３２：コリメートレンズ、１３３：ビームスプリッタ、１３４：検出レンズ、１３５：光検出器、１３６：対物レンズ、１４０：検出器、１５０：システムコントローラ、１５１：サーボコントローラ、１５２：アンプ、１５３：デコーダ、１５４：レーザドライバ回路、１５５：パターン生成回路、１５８：出力コネクタ、１５９：入力コネクタ、１６１：信号処理回路、１７０：スライサ、１７１：ウォブル検出回路、１７２：周波数変換回路、１７３：ＰＬＬ回路、２０１：ＡＦ信号検出回路、２０２：ＡＦサーボ回路、２０３：スイッチ、２０４：ＡＦアクチュエータドライバ、２０５：ＡＦサーボ系コントローラ、２０６：レイヤージャンプ信号発生回路、２０７：レイヤー番号判定回路、２０８：ＴＲ誤差信号振幅検出回路、２０９：総光量検出回路、２１０：セクター数検出回路、２１１：セクター時間検出回路、２１３：データ部再生信号振幅検出回路、２１４：ピット部再生信号振幅検出回路、２１５：再生信号振幅検出回路、２１６：ピット部再生信号周波数検出回路、２１７：ピット部再生信号ピット数検出回路、２１８：ピット部再生信号ピット長検出回路、２２０：ミラー部再生信号ミラー長検出回路、２２１：ミラー部再生信号光量検出回路、２２２：再生信号光量検出回路、２２３：データ部及びミラー部の光量比演算回路、２２４：試書部再生信号振幅検出回路、２２５：再生信号振幅検出回路、２２６：試書部及びピット部の振幅比演算回路、２２７：再生信号振幅検出回路、２２８：試書部及びミラー部の振幅比演算回路、２５１：ウォブル信号振幅検出回路、２５２：ウォブル信号振幅検出回路、２５３：ピット信号振幅検出回路、２５４：ウォブル信号及びピット信号の振幅比演算回路、２５５：ウォブル周波数検出回路、２５６：ウォブル信号周波数検出回路、２５７：ピット信号周波数検出回路、２５８：ウォブル信号及びピット信号の周波数差演算回路、Ｗ０：Ｌ０の溝幅、Ｗ１：Ｌ１の溝幅、Ｄ０：Ｌ０の溝深さ、Ｄ１：Ｌ１の溝深さ、Ｓ０：Ｌ０の溝の角、Ｓ１：Ｌ１の溝の角
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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【図３９】
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【図４０】
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【図４１】
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【図４２】
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【図４３】
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【図４４】
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【図４５】
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【図４６】
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