(57)【要約】【課題】再生信号の品質に応じて、ビタビ復号のメモリ長をそれぞれ最適に設定することを可能とする。【解決手段】ビタビ復号器１３０のＳＭＵ１３４は、状態メモリのメモリ長を可変できるように構成されている。電源投入時等において、光磁気ディスク６上の所定の領域にテストライトを行い、次にデータを読出して、エラーレートを測定することによって、最適なメモリ長が分かる。このメモリ長を指示する制御データＲｅｇがレジスタ１６に格納される。実際の再生動作では、ビタビ復号器１３０のＳＭＵ１３４では、制御データＲｅｇに応じて、状態メモリのメモリ長が設定される。【選択図】図１８
2006236577.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体から再生される再生信号をビタビ復号方法によって復号するようにした情報再生装置において、
再生信号に基づいてブランチメトリックの値を計算する際に参照値として用いられる振幅基準値を、再生信号値と、ビタビ復号方法の動作結果とに基づいて、クロック毎に、更新するようにした振幅基準値適応化手段と、
再生結果に応じてなされる処理に関連して、上記振幅基準値適応化手段に対し、振幅基準値の初期値を設定する初期値設定手段と、
再生結果に応じてなされる処理に関連して上記振幅基準値適応化手段が行う振幅基準値の更新の可否を制御する、振幅基準値適応化可否制御手段とを有することを特徴とする情報再生装置。
【請求項２】
請求項１において、
上記振幅基準値適応化可否制御手段は、
上記再生結果に応じてなされる処理に関連して、混合手段の動作パラメータの値を制御するものであることを特徴とする情報再生装置。
【請求項３】
請求項１において、
上記振幅基準値適応化可否制御手段は、
上記再生結果に応じてなされる処理に関連して、上記振幅基準値適応化手段の出力がビタビ復号器に供給されないように制御するものであることを特徴とする情報再生装置。
【請求項４】
記録媒体から再生される再生信号をビタビ復号方法によって復号するようにした情報再生方法において、
再生信号に基づいてブランチメトリックの値を計算する際に参照値として用いられる振幅基準値を、再生信号値と、ビタビ復号方法の動作結果とに基づいて、クロック毎に、更新するようにした振幅基準値適応化ステップと、
再生結果に応じてなされる処理に関連して、上記振幅基準値適応化ステップに対し、振幅基準値の初期値を設定する初期値設定ステップと、
再生結果に応じてなされる処理に関連して上記振幅基準値適応化ステップで行われる振幅基準値の更新の可否を制御する、振幅基準値適応化可否制御ステップとを有することを特徴とする情報再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、例えば光磁気ディスク装置等の情報再生装置、特にＰＲＭＬ（Pertial Response Maximum Likelihood ）方法を用いる情報再生装置および再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
記録再生装置に用いられる記録媒体のフォーマットは、アドレス部とデータ部からなるセクタを規定するものであることが一般的である。光磁気ディスクにおいては、アドレス部がエンボス加工によって形成され、データ部が光磁気的に記録される。アドレス部の再生は、反射光の強度の推移に基づいて行われ、また、データ部の再生は、磁気カー効果を利用して行われる。ビタビ復号方法を用いない情報再生装置においては、このように原理的に異なった信号を同一の２値化回路によって再生するために、アドレス部およびデータ部からそれぞれ再生される再生信号ができるだけ一致するように、記録が行われる。
【０００３】
また、再生系において、アンプのゲインおよびフィルタ等の設定をアドレス部およびデータ部について別個に行うことによって、データ部およびアドレス部からそれぞれ再生される再生信号の特性をできるだけ一致するようして２値化回路に供給することも行われる。しかしながら、このような方法は、アンプおよびフィルタ等をアドレス部およびデータ部について別個に設ける必要があり、回路規模の増大および消費電力の増加といった問題を生じていた。
【０００４】
近年、光磁気ディスク装置等の情報再生装置において、記録媒体から再生される再生信号を復号する方法として、ビタビ復号方法が多用されている。ビタビ復号方法は、ホワイトノイズを含む再生信号を復号する場合にビットエラーレートを小さくすることができる復号方法である。
【０００５】
ビタビ復号方法の概要は、以下のようなものである。記録媒体に対する記録方法に応じて複数個の状態を予め特定し、記録媒体から再生される再生信号に基づいて、リードクロックに従うタイミングでなされる計算処理によって、リードクロックに従う各時点において、最尤な状態遷移を選択する。そして、このような選択の結果に対応して、'1' または'0' の復号データ値の系列としての復号データを生成する。
【０００６】
再生信号に基づく計算処理は、ビタビ復号方法の種類によって決まる振幅基準値を参照して行われる。振幅基準値は、再生信号が振幅変動等の影響を受けていない理想的なものである場合には、ビタビ復号方法の種類から理論的に決まるものを用いれば良い。
【０００７】
但し、一般には、振幅変動等の様々な因子のため、再生信号を精度良く復号するための振幅基準値も変動する。しかも、変動の様子は、一定ではないので、復号精度を向上させるために予め振幅基準値をシフトさせることはできない。そこで、再生信号の振幅変動等に応じて振幅基準値を更新することにより、振幅基準値を再生信号に対して適応化することが必要となる。
【０００８】
このような方法として、一般には、例えばエンベロープ検出器等の手段によって再生信号の振幅を検出し、検出値に基づいて振幅基準値を所定の時間間隔で更新することが行われる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
振幅基準値を適応化させる構成を有するビタビ復号器では、アドレス部およびデータ部について再生信号の特性が異なる場合にも、適応化によってそれぞれの再生信号の特性に合うように振幅基準値が追従する。
【００１０】
このような振幅基準値の適応化は、再生動作の単位とされるセクタ毎に行われる。かかる適応化において用いられる振幅基準値の初期値としては、一般に、理論値等の所定値が用いられる。但し、このように初期値を設定すると、新たなセクタを再生する際に、直前に行われた再生動作に伴う適応化によって得られた振幅基準値を用いることができない。
【００１１】
一般に同一の記録媒体から再生される再生信号は、セクタによって大きく異なった特性を示すことは少ないので、理論値等の所定値よりも、直前に行われた再生動作に伴う適応化によって得られた振幅基準値の方が新たなセクタから再生される再生信号に対する適応の程度が高いと考えられる。
【００１２】
従って、振幅基準値の初期値として理論値等の所定値を用いた場合には、適応化において用いられる修正係数によって決まる、収束時間までの期間には、振幅基準値が再生信号の特性と乖離したものとなり、かかる期間において、ビタビ復号の精度が低下する可能性が高い。
【００１３】
ところで、適応化の結果として異常な振幅基準値が発生することがある。その原因の１つとして、記録媒体上のディフェクト等に起因して、再生信号が大きく乱れることがある。このように乱れた再生信号を使用して適応化が行われる結果として、異常な振幅基準値が生じることがある。このような異常な振幅基準値の下では、ビタビ復号の精度が低下するため、再生が正しく行われないおそれがある。
【００１４】
一般に、情報再生装置において再生が正しく行われなかった場合には、リードリトライすなわち正しく再生されなかったセクタに対する再度の再生動作がなされる。リードリトライにおける振幅基準値として、直前に行われた再生動作（すなわち正しく再生されなかったセクタに対する再生動作）が終了した時の振幅基準値が用いられると、上述したような理由で発生した異常な振幅基準値の下でビタビ復号が行われ、その結果、再生が正しく行われない可能性が高くなる。
【００１５】
また、正しく再生されなかったセクタは、ディフェクト等を有している可能性が高い。このようなセクタに対してなされるリードリトライにおいて、振幅基準値の適応化を行うと、ディフェクト等に起因して異常な振幅基準値が生じることがある。その結果として、再生が正しく行われない可能性が高くなる。
【００１６】
従って、この発明の目的は、振幅基準値の適応化を行うビタビ復号方法を用いる際に、再生が正しく行われなかった時に行われるリードリトライ等の処理を、適正な振幅基準値の下で行うことが可能な情報再生装置および情報再生方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
以上の課題を解決するために、この発明は、記録媒体から再生される再生信号をビタビ復号方法によって復号するようにした情報再生装置において、
再生信号に基づいてブランチメトリックの値を計算する際に参照値として用いられる振幅基準値を、再生信号値と、ビタビ復号方法の動作結果とに基づいて、クロック毎に、更新するようにした振幅基準値適応化手段と、
再生結果に応じてなされる処理に関連して、振幅基準値適応化手段に対し、振幅基準値の初期値を設定する初期値設定手段と、
再生結果に応じてなされる処理に関連して振幅基準値適応化手段が行う振幅基準値の更新の可否を制御する、振幅基準値適応化可否制御手段とを有することを特徴とする情報再生装置である。
【００１８】
この発明は、記録媒体から再生される再生信号をビタビ復号方法によって復号するようにした情報再生方法において、
再生信号に基づいてブランチメトリックの値を計算する際に参照値として用いられる振幅基準値を、再生信号値と、ビタビ復号方法の動作結果とに基づいて、クロック毎に、更新するようにした振幅基準値適応化ステップと、
再生結果に応じてなされる処理に関連して、振幅基準値適応化ステップに対し、振幅基準値の初期値を設定する初期値設定ステップと、
再生結果に応じてなされる処理に関連して振幅基準値適応化ステップで行われる振幅基準値の更新の可否を制御する、振幅基準値適応化可否制御ステップとを有することを特徴とする情報再生方法である。
【００１９】
以上のような発明によれば、再生が正しく行われなかった時に、リードリトライ等の処理が行われる場合に、リードリトライにおける振幅基準値の初期値を適切に設定することができる。また、リードリトライにおける振幅基準値の適応化の可否を制御することができる。
【発明の効果】
【００２０】
この発明は、ビタビ復号器の動作によって選択される状態遷移に基づいてリードクロック毎に振幅基準値の更新を行うことによって振幅基準値を再生信号に適応化させる際に、振幅基準値の初期値すなわち適応化を開始する時点で用いられる振幅基準値を設定する方法、および振幅基準値の適応化の可否を、リードリトライ等の再生結果に応じてなされる処理に関連して制御するものである。
【００２１】
また、直前に再生対象とされたセクタが正しく再生され、振幅基準値が適切に適応化された場合には、その後の再生動作に伴う振幅基準値の適応化における初期値として、直前に行われた再生動作が終了した時点での振幅基準値を採用することによって、再生信号の特性を反映する程度の大きい振幅基準値の下でビタビ復号を行うようにすることが可能となる。
【００２２】
一方、記録媒体のディフェクト等によって再生が正しく行われず、リードリトライ等の処理が行われる場合には、ディフェクト等に起因するイレギュラーな信号に対する追従により、異常なブランチメトリックの値が算出されている可能性が高い。この発明によれば、このような場合に、その後の再生動作に伴う振幅基準値の適応化における初期値として、予め設定された所定値を採用することによって、ビタビ復号が破綻しないようにすることができる。
【００２３】
また、このような場合には、リードリトライの対象とされるセクタがディフェクトを有している可能性が高い。このため、リードリトライに伴って振幅基準値の適応化を行うと、ディフェクトに起因するイレギュラーな信号に対する追従により、異常なブランチメトリックの値が発生する可能性が高い。この発明によれば、このような場合に振幅基準値の適応化を行わないように制御することによって、ビタビ復号が破綻しないようにすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下に、この発明の理解を容易とするために、ビタビ復号方法を行う再生系を有する記録／再生装置の一例について、装置の全体構成、記録媒体のセクタフォーマット、４値４状態ビタビ復号方法の概要、４値４状態ビタビ復号方法を実現するビタビ復号器の構成および動作、および４値４状態ビタビ復号方法以外のビタビ復号方法の順に説明する。
【００２５】
〔ディスク記録再生装置の概要〕
以下、ビタビ復号方法を行う再生系を有する記録／再生装置の一例について説明する。図１は、ビタビ復号方法を行う再生系を有する光磁気ディスク装置の一例の全体構成を示すブロック図である。記録時には、コントローラ２がホストコンピュータ１の指令に従って、記録すべきユーザデータを受取り、情報語としてのユーザデータに基づいてエンコードを行って、符号語としてのＲＬＬ（１，７）符号を生成する。この符号語が記録データとしてレーザパワーコントロール部（以下、ＬＰＣと表記する）４に供給される。コントローラ２は、このような処理の他に、後述する復号化処理、および記録、再生、消去等の各モードの制御、並びにホストコンピュータ１との交信等の動作を行う。
【００２６】
ＬＰＣ４は、供給された記録データに対応して、光ピックアップ７のレーザパワーを制御して光磁気ディスク６上に磁気極性を有するピット列を形成することにより、記録を行う。この記録の際に、磁気ヘッド５が光磁気ディスク６にバイアス磁界を付与する。実際には、記録データに基づいて後述するように生成されるプリコード出力に従って、後述するようなマークエッジ記録が行われる。
【００２７】
後述するように、記録位置すなわちピットの形成位置の制御は、磁気ヘッド５および光ピックアップ７等の位置決めを行う、図示しない手段によってなされる。このため、記録動作時においても、光ピックアップ７がアドレス部等を通過する際には、後述するような再生時の動作と同様な動作が行われる。
【００２８】
上述したようにして形成される各ピットを、記録データに基づいて後述するようにして生成されるプリコード出力中の各ビットに対応させる方法について、図２を参照して説明する。プリコード出力中の、例えば'1' に対してピットを形成し、'0' に対してピットを形成しない記録方法をマーク位置記録方法と称する。一方、各ピットのエッジによって表現される、プリコード出力中の各ビットの境界における極性の反転を、例えば'1' に対応させる記録方法をマークエッジ記録方法と称する。再生時には、再生信号中の各ビットの境界は、後述するようにして生成されるリードクロックＤＣＫに従って認識される。
【００２９】
次に、再生系の構成および動作について説明する。光ピックアップ７は、光磁気ディスク６にレーザ光を照射し、それによって生じる反射光を受光して、再生信号を生成する。再生信号は、和信号Ｒ+ 、差信号Ｒ- および図示しないフォーカスエラー信号ならびにトラッキングエラー信号の４種類の信号からなる。和信号Ｒ+ は、アンプ８によってゲイン調整等がなされた後に切替えスイッチ１０に供給される。また、差信号Ｒ- は、アンプ９によってゲイン調整等がなされた後に切替えスイッチ１０に供給される。さらに、フォーカスエラー信号は、フォーカスエラーを解消する手段（図示せず）に供給される。一方、トラッキングエラー信号は、図示しないサーボ系等に供給され、それらの動作において用いられる。
【００３０】
切替えスイッチ１０には、後述するような切替え信号Ｓが供給される。切替えスイッチ１０は、この切替え信号Ｓに従って、以下のように、和信号Ｒ+ または差信号Ｒ- をフィルタ部１１に供給する。すなわち、後述するような光磁気ディスク６のセクタフォーマットにおいて、エンボス加工によって形成される部分から再生される再生信号が切替えスイッチ１０に供給される期間には、和信号Ｒ+ をフィルタ部１１に供給する。また、光磁気的に記録される部分から再生される再生信号が切替えスイッチ１０に供給される期間には、差信号Ｒ- をフィルタ部１１に供給する。
【００３１】
切替え信号Ｓは、例えば次のようにして生成される。すなわち、まず、再生信号から、セクタフォーマットに規定される所定のパターンから再生される信号を検出する。このような所定のパターンとしては、例えば後述するセクタマークＳＭ等が用いられる。そして、かかる検出がなされた時点を基準として、後述するリードクロックを数える等の方法によって認識される所定時点において、切替え信号Ｓが生成される。
【００３２】
フィルタ部１１は、ノイズカットを行うローパスフィルタおよび波形等化を行う波形等化器から構成される。後述するように、この際の波形等化処理において用いられる波形等化特性は、ビタビ復号器１３が行うビタビ復号方法に適合するものとされる。フィルタ部１１の出力を供給されるＡ／Ｄ変換器１２は、後述するようにして供給されるリードクロックＤＣＫに従って再生信号値ｚ〔ｋ〕をサンプリングする。ビタビ復号器１３は、再生信号値ｚ〔ｋ〕に基づいて、ビタビ復号方法によって復号データを生成する。かかる復号データは、上述したようにして記録される記録データに対する最尤復号系列である。従って、復号エラーが無い場合には、復号データは、記録データと一致する。
【００３３】
復号データは、コントローラ２に供給される。上述したように、記録データは、ユーザデータからチャンネル符号化等の符号化によって生成された符号語である。従って、復号エラーレートが充分低ければ、復号データは、符号語としての記録データとみなすことができる。コントローラ２は、復号データに、上述のチャンネル符号化等の符号化に対応する復号化処理を施すことにより、ユーザデータ等を再生する。
【００３４】
また、フィルタ部１１の出力は、ＰＬＬ部１４にも供給される。ＰＬＬ部１４は、供給された信号に基づいて、リードクロックＤＣＫを生成する。リードクロックＤＣＫは、コントローラ２、Ａ／Ｄ変換器１２、ビタビ復号器１３等に供給される。コントローラ２、Ａ／Ｄ変換器１２、ビタビ復号器１３の動作は、リードクロックＤＣＫに従うタイミングでなされる。さらに、リードクロックＤＣＫは、図示しないタイミングジェネレータに供給される。タイミングジェネレータは、例えば、記録／再生動作の切替え等の装置の動作タイミングを制御する信号を生成する。
【００３５】
上述したような再生動作において、光磁気ディスク６から再生される再生信号に基いて、より正しい再生データを得るために、再生系の各構成要素の動作を再生信号の品質に応じて適正化することが行われる。このような操作をキャリブレーションと称する。キャリブレーションは、再生信号の品質等が例えば加工精度等の記録媒体の特性、および例えば記録用レーザ光のパワーの変動、周囲温度等の記録／再生時の条件等によって変化する可能性があることに対応するために再生系のパラメータを適正化するためのものである。
【００３６】
キャリブレーションの内容は、例えば光ピックアップ７の読取り用レーザ光パワーの調整、アンプ８および９のゲインの調整、フィルタ部１１の波形等化特性の調整、およびビタビ復号器１３の動作において用いられる振幅基準値の調整等である。このようなキャリブレーションは、電源投入直後または記録媒体の交換時等に、図１中には図示しない構成によって行われる。
【００３７】
〔記録媒体のセクタフォーマットの概要〕
光磁気ディスク６には、セクタを記録／再生の単位としてユーザデータが記録される。図３を参照して、光磁気ディスク６において用いられるセクタフォーマットの一例について説明する。図３Ａに示すように、１セクタは、記録／再生の順に従って、ヘッダ、ＡＬＰＣ，ギャップ、ＶＦＯ3 、シンク、データフィールド、バッファの各エリアに区分されている。図３中に付した数字は、バイト数を表す。光磁気ディスク６上には、ブロック符号化等の符号化がなされたデータが記録される。例えば８ビットが１２チャンネルビットに変換されて記録される。
【００３８】
このセクタフォーマットの一例においては、ユーザデータ量が１０２４バイトのフォーマットと、ユーザデータ量が５１２バイトのフォーマットとが用意されている。ユーザデータ量が１０２４バイトのフォーマットでは、データフィールドのバイト数が６７０バイトとされる。また、ユーザデータ量が５１２バイトのフォーマットでは、データフィールドのバイト数が１２７８バイトとされる。これら２つのセクタフォーマットにおいて、６３バイトのプリフォーマットされたヘッダと、ＡＬＰＣ，ギャップエリアの１８バイトは、同一とされている。
【００３９】
図３Ｂは、６３バイトのヘッダを拡大して示す。ヘッダは、セクタマークＳＭ（８バイト）、ＶＦＯフィールドのＶＦＯ1 （２６バイト）、アドレスマークＡＭ（１バイト）、ＩＤフィールドのＩＤ1 （５バイト）、ＶＦＯフィールドのＶＦＯ2 （１６バイト）、アドレスマークＡＭ（１バイト）、ＩＤフィールドのＩＤ2 （５バイト）、およびポストアンブルＰＡ（１バイト）が順に配列された構成とされている。
【００４０】
図３Ｃは、１８バイトのＡＬＰＣ，ギャップエリアを拡大して示す。１８バイトは、ギャップフィールド（５バイト）、フラグフィールド（５バイト）、ギャップフィールド（２バイト）、ＡＬＰＣ（６バイト）からなる。
【００４１】
次に、これらのフィールドについて説明する。セクタマークＳＭは、セクタの開始を識別するためのマークであり、ＲＬＬ（１，７）符号において生じないエンボス加工によって形成されたパターンを有する。ＶＦＯフィールドは、上述のＰＬＬ部１８中のＶＦＯ(Variable Frequency Oscillator) を同期させるためのもので、ＶＦＯ1 、ＶＦＯ2 およびＶＦＯ3 からなる。ＶＦＯ1 およびＶＦＯ2 は、エンボス加工によって形成されている。また、ＶＦＯ3 は、そのセクタに対して記録動作が行われる際に光磁気的に書かれる。ＶＦＯ1 、ＶＦＯ2 およびＶＦＯ3 は、それぞれチャンネルビットの'0' と'1' が交互に現れるパターン（２Ｔパターン）を有する。従って、１チャンネルビットの時間長に対応する時間をＴとすると、ＶＦＯフィールドを再生した時に、２Ｔ毎にレベルが反転する再生信号が得られる。
【００４２】
アドレスマークＡＭは、後続のＩＤフィールドのためのバイト同期を装置に対して与えるために使用され、ＲＬＬ（１，７）符号において生じないエンボスされたパターンを有する。ＩＤフィールドは、セクタのアドレス、すなわち、トラック番号およびセクタ番号の情報と、これらの情報に対するエラー検出用のＣＲＣバイトを有する。ＩＤフィールドは、５バイトからなる。ＩＤ1 およびＩＤ2 によって、同一のアドレス情報が二重に記録される。ポストアンブルＰＡは、チャンネルビットの'0' と'1' とが交互に現れるパターン（２Ｔパターン）を有する。ＩＤ1 、ＩＤ2 およびポストアンブルＰＡも、エンボス加工によって形成されている。このように、ヘッダの領域は、エンボス加工によりピットが形成されたプリフォーマットされた領域である。
【００４３】
図３Ｃは、ＡＬＰＣ，ギャップエリアを拡大して示す。ギャップには、ピットが形成されない。最初のギャップフィールド（５バイト）は、プリフォーマットされたヘッダの後の最初のフィールドであり、これによって、ヘッダの読取りを完了した後の処理に装置が要する時間が確保される。２番目のギャップフィールド（２バイト）は、後のＶＦＯ3 の位置のずれを許容するためのものである。
【００４４】
ＡＬＰＣ，ギャップエリアには、５バイトのフラグフィールドが記録される。フラグフィールドは、セクタのデータが記録される時に、連続した２Ｔパターンが記録される。ＡＬＰＣ(Auto Laser Power Control)フィールドは、記録時のレーザパワーをテストするために設けられている。シンクフィールド（４バイト）は、続くデータフィールドのためのバイト同期を装置が得るために設けられており、所定のビットパターンを有する。
【００４５】
データフィールドは、ユーザデータを記録するために設けられる。上述した６７０バイトのデータフィールドには、５１２バイトのユーザデータと、１４４バイトのエラー検出、訂正用のパリティ等と、１２バイトのセクタ書込みフラグと、２バイト（ＦＦ）とからなる。また、１２７８バイトのデータフィールドの場合には、１０２４バイトのユーザデータと、２４２バイトのエラー検出、訂正用のパリティ等と、１２バイトのセクタ書込みフラグとからなる。セクタの最後のバッファフィールドは、電気的、あるいは機械的な誤差に対する許容範囲として使用される。
【００４６】
上述したセクタフォーマットの例において、ヘッダは、エンボス加工によりピットが形成されたエリアである。また、ＡＬＰＣ，ギャップエリアは、再生時には、使用されないエリアである。さらに、ＶＦＯ3 、シンクフィールドおよびデータフィールドは、光磁気記録されたデータのエリアである。
【００４７】
〔４値４状態ビタビ復号方法の概要〕
以下、ビタビ復号器１３によって行われるビタビ復号方法について説明する。上述したように、ユーザデータは、様々な符号化方法によって記録データとしての符号語に変換される。符号化方法は、記録媒体の性質および記録／再生方法等に応じて適切なものが採用される。光磁気ディスク装置においては、ブロック符号化において、Run Lengthすなわち'1' と'1' の間の'0' の数を制限するＲＬＬ（Run Length Limited）符号化方法が用いられることが多い。従来から幾つかのＲＬＬ符号化方法が用いられている。一般に、'1' と'1' の間の'0' の数を最小でｄ個、最大でｋ個とするｍ／ｎブロック符号をＲＬＬ（ｄ，ｋ；ｍ，ｎ）符号と称する。
【００４８】
例えば、２／３ブロック符号において、'1' と'1' の間の'0' の数を最小で１個、最大で７個とするブロック符号化方法は、ＲＬＬ（１，７；２，３）符号である。一般にＲＬＬ（１，７；２，３）符号をＲＬＬ（１，７）符号と称することが多いので、以下の説明においても単にＲＬＬ（１，７）符号と表記した場合には、ＲＬＬ（１，７；２，３）符号を指すことにする。
【００４９】
このようなＲＬＬ符号化方法と、上述したマークエッジ記録方法との組合わせによって記録されたデータから再生される再生信号を復号するために、ビタビ復号方法を用いることができる。
【００５０】
このようなＲＬＬ符号化方法は、記録密度の向上、および再生動作の安定性の確保という２つの観点から、符号化方法に要求される条件に対応できるものである。まず、上述したように、マークエッジ記録方法は、記録データに基づいて後述するように生成されるプリコード出力における'1' を各ピットのエッジによって表現される極性の反転に対応させるものなので、'1' と'1' の間の'0' の数を多くする程、各ピット１個当たりに記録されるビット数を大きくすることができる。従って、記録密度を大きくすることができる。
【００５１】
一方、再生系の動作タイミングを合わせるために必要なリードクロックＤＣＫは、上述したように、再生信号に基づいてＰＬＬ部１４によって生成される。このため、記録データにおいて'1' と'1' の間の'0' の数を多くすると、再生動作の際にＰＬＬ部の動作が不安定となるので、再生動作全体が不安定なものとなる。
【００５２】
これら２つの条件を考慮すると、'1' と'1' の間の'0' の数は、多過ぎたり、少な過ぎたりしない、適切な範囲内に設定される必要がある。このような、記録データ中の'0' の数の設定に関して、ＲＬＬ符号化方法が有効となる。
【００５３】
ところで、図４に示すように、上述したＲＬＬ（１，７）符号化方法とマークエッジ記録方法の組み合わせにおいては、記録データに基づいて生成されるプリコード出力中の'1' と'1' の間に最低１個の'0' が含まれるので、最小反転幅が２となる。このような、最小反転幅が２となる符号化方法が用いられる場合に、符号間干渉およびノイズ等の影響を受けている再生信号から記録データを復号する方法として、後述するように、４値４状態ビタビ復号方法を適用することができる。
【００５４】
上述したように、再生信号には、フィルタ部１１によって波形等化処理がなされる。ビタビ復号方法の前段としてなされるこのような波形等化処理には、符号間干渉を積極的に利用するパーシャルレスポンス方法が用いられる。この際に用いられる波形等化特性は、一般に（１＋Ｄ）n で表されるパーシャルレスポンス特性の内から、記録／再生系の線記録密度およびＭＴＦ（Modulation Transfer Function）を考慮して決められる。上述したＲＬＬ（１，７）符号化方法とマークエッジ記録方法の組み合わせによって記録されたデータに対して、ＰＲ（１，２，１）を用いる波形等化処理は、４値４状態ビタビ復号方法の前段となる。
【００５５】
一方、マークエッジ記録方法においては、光磁気ディスク媒体等に対する実際の記録に先立って、上述のＲＬＬ符号化等によって符号化された記録データに基づくプリコードが行われる。各時点ｋにおける記録データ列をａ〔ｋ〕、これに基づくプリコード出力をｂ〔ｋ〕とすると、プリコードは、以下のように行われる。
【００５６】
ｂ〔ｋ〕＝ｍｏｄ２｛ａ〔ｋ〕＋ｂ〔ｋ−１〕｝  （１）
【００５７】
このようなプリコード出力ｂ〔ｋ〕が実際に光磁気ディスク媒体等に記録される。一方、フィルタ部１１中の波形等化器によってなされる、波形等化特性ＰＲ（１，２，１）での波形等化処理について説明する。但し、以下の説明においては、信号の振幅を規格化せずに、波形等化特性をＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）とする。また、ノイズを考慮しない場合の再生信号の値をｃ〔ｋ〕と表記する。さらに、ノイズを含む実際の再生信号（すなわち、記録媒体から再生された再生信号）をｚ〔ｋ〕と表記する。
【００５８】
ＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）は、ある時点ｋにおける再生信号の値に対して、時点ｋにおける振幅の寄与が振幅値の２Ａ倍とされ、さらに前後の時点ｋ−１およびｋ＋１における振幅の寄与が各々の時点での信号の振幅のＢ倍とされるものである。従って、再生信号の値の最大値は、時点ｋ−１、ｋ、ｋ＋１において何れもパルスが検出される場合である。このような場合には、再生信号の値の最大値は、以下のようになる。
【００５９】
Ｂ＋２Ａ＋Ｂ＝２Ａ＋２Ｂ
【００６０】
また、再生信号の値の最小値は０となる。但し、実際の取り扱いにおいては、ｃ〔ｋ〕として、ＤＣ成分のＡ＋Ｂを差し引いた以下のようなものが用いられる。
【００６１】
ｃ〔ｋ〕＝Ｂ×ｂ〔ｋ−２〕＋２Ａ×ｂ〔ｋ−１〕＋Ｂ×ｂ〔ｋ〕
−Ａ−Ｂ    （２）
【００６２】
従って、ノイズを考慮しない場合の再生信号ｃ〔ｋ〕は、Ａ＋Ｂ，Ａ，−Ａ，−Ａ−Ｂの内の何れかの値をとることになる。一般に、再生信号の性質を示す方法の１つとして、例えば５個の時点を単位として、再生信号を多数重ね合わせたものをアイパターンと称する。この発明を適用することができる光磁気ディスク装置において、ＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）の下で波形等化処理された実際の再生信号ｚ〔ｋ〕についてのアイパターンの一例を図５に示す。図５から各時点における再生信号ｚ〔ｋ〕の値は、ノイズによるばらつきを有するが、ほぼ、Ａ＋Ｂ，Ａ，−Ａ，−Ａ−Ｂの内の何れかになることが確認できる。後述するように、Ａ＋Ｂ，Ａ，−Ａ，−Ａ−Ｂの値は、識別点として用いられる。
【００６３】
上述したような波形等化処理がなされた再生信号を復号する、ビタビ復号方法の概略は、次のようなものである。ステップ(1)符号化方法および記録媒体に対する記録方法に基
づいて、生じ得る全ての状態を特定する。ステップ(2)ある時点における各状態を起点と
して、次の時点において生じ得る全ての状態遷移と、各状態遷移が生じる時の記録データａ〔ｋ〕および再生信号の値ｃ〔ｋ〕を特定する。ステップ(1)および(2)の結果として特定された全ての状態および状態遷移と、各状態遷移が生じる時の〔記録データの値ａ〔ｋ〕／再生信号の値ｃ〔ｋ〕〕を図の形式で表現したものを状態遷移図と称する。後述するように、４値４状態ビタビ復号方法における状態遷移図は、図７に示すようなものである。そして、この状態遷移図に基づく復号動作を行うように、ビタビ復号器１３が構成される。
【００６４】
さらに、ステップ(3)において、上述したように、状態遷移図を前提として、記録媒体
から各時点ｋにおいて再生される再生信号ｚ〔ｋ〕に基づく最尤な状態遷移が選択される。但し、上述したように、ｚ〔ｋ〕は、ビタビ復号器１３に供給される前段において波形等化されたものである。このような最尤な状態遷移の選択がなされる毎に、選択された状態遷移に対応して、状態遷移図に記載された記録データａ〔ｋ〕の値を復号値とすることによって、記録データに対する最尤復号値系列としての復号データａ' 〔ｋ〕を得ることができる。但し、各時点ｋにおける復号データ値から、最尤復号値系列とするための構成は、後述するビタビ復号器１３中のＰＭＵ２３である。従って、上述したように、復号データ列ａ' 〔ｋ〕は、復号エラーが無い場合には、記録データ列ａ〔ｋ〕と一致する。上述のステップ(1)〜ステップ(3)について、以下に詳細に説明する。
【００６５】
上述のステップ(1)について説明する。まず、ここで用いられる状態として、ある時点
ｋにおける状態を、時点ｋおよびそれ以前のプリコード出力を用いて次のように定義する。すなわち、ｎ＝ｂ〔ｋ〕、ｍ＝ｂ〔ｋ−１〕、ｌ＝ｂ〔ｋ−２〕の時の状態をＳnml と定義する。このような定義によって、２3 ＝８個の状態があると考えられるが、上述したように、実際に生じ得る状態は、符号化方法等に基づいて制限される。ＲＬＬ（１，７）符号として符号化された記録データ列ａ〔ｋ〕においては、'1' と'1' の間に最低１個の'0' が含まれるので、２個以上の'1' が連続することが無い。記録データ列ａ〔ｋ〕に課されるこのような条件に基づいてプリコード出力ｂ〔ｋ〕について一定の条件が課され、その結果として生じ得る状態に制限が加えられる。
【００６６】
このような制限について具体的に説明する。上述したようにＲＬＬ（１，７）符号化によって生成される記録データ列中に、２個以上の'1' が連続するもの、すなわち以下のものはあり得ない。
【００６７】
ａ〔ｋ〕＝１，ａ〔ｋ−１〕＝１，ａ〔ｋ−２〕＝１    （３）
ａ〔ｋ〕＝１，ａ〔ｋ−１〕＝１，ａ〔ｋ−２〕＝０    （４）
ａ〔ｋ〕＝０，ａ〔ｋ−１〕＝１，ａ〔ｋ−２〕＝１    （５）
【００６８】
記録データ列に課されるこのような条件に基づいて、上述の（１）式に従ってｂ〔ｋ〕について課される条件について検討すると、Ｓ０１０およびＳ１０１の２個の状態は生じ得ないことがわかる。従って、生じ得る状態は、２3 −２＝６個である。
【００６９】
次に、ステップ(2)について説明する。ある時点ｊにおける状態を起点として、次の時
点ｊ＋１において生じ得る状態を求めるためには、時点ｊ＋１における記録データの値ａ〔ｊ＋１〕が１となる場合、および０となる場合に分けて調べる必要がある。
【００７０】
ここでは、状態Ｓ０００を例として説明する。上述の（１）式に従って、Ｓ０００すなわちｎ＝ｂ〔ｊ〕＝０，ｌ＝ｂ〔ｊ−１〕＝０，ｍ＝ｂ〔ｊ−２〕＝０とプリコードされる記録データとしては、以下の２個が考えられる。
【００７１】
ａ〔ｊ〕＝０、ａ〔ｊ−１〕＝０、ａ〔ｊ−２〕＝１    （６）
ａ〔ｊ〕＝０、ａ〔ｊ−１〕＝０、ａ〔ｊ−２〕＝０    （７）
【００７２】
〔ａ〔ｊ＋１〕＝１の時〕
この時、（１）式に従って、ｂ〔ｊ＋１〕は、以下のように計算される。
【００７３】
ｂ〔ｊ＋１〕＝ｍｏｄ２｛ａ〔ｊ＋１〕＋ｂ〔ｊ〕｝
＝ｍｏｄ２｛  １      ＋  ０  ｝
＝１      （８）
【００７４】
従って、再生信号ｃ〔ｊ〕の値は、上述の（２）式に従って、次のように計算される。
【００７５】
ｃ〔ｊ＋１〕＝｛Ｂ×ｂ〔ｊ＋１〕＋２Ａ×ｂ〔ｊ〕＋Ｂ×ｂ〔ｊ−１〕｝
−Ａ−Ｂ
＝｛Ｂ×１＋２Ａ×０＋Ｂ×０｝−Ａ−Ｂ
＝−Ａ      （９）
【００７６】
また、次の時点ｊ＋１での状態Ｓnlm については、ｎ＝ｂ〔ｊ＋１〕，ｌ＝ｂ〔ｊ〕，ｍ＝ｂ〔ｊ−１〕である。そして、上述したようにｂ〔ｊ＋１〕＝１，ｂ〔ｊ〕＝０，ｂ〔ｊ−１〕＝０となるので、次の時点ｊ＋１における状態は、Ｓ１００である。従って、ａ〔ｊ＋１〕＝１の場合には、Ｓ０００→Ｓ１００という遷移が生じることが特定できる。
【００７７】
〔ａ〔ｊ＋１〕＝０の時〕
この時、（１）式に従って、ｂ〔ｊ＋１〕は、以下のように計算される。
【００７８】
ｂ〔ｊ＋１〕＝ｍｏｄ２｛ａ〔ｊ＋１〕＋ｂ〔ｊ〕｝
＝ｍｏｄ２｛    ０      ＋  ０｝
＝０      （１０）
【００７９】
従って、再生信号ｃ〔ｊ＋１〕の値は、上述の（２）式に従って、次のように計算される。
【００８０】
ｃ〔ｊ＋１〕＝｛Ｂ×ｂ〔ｊ＋１〕＋２Ａ×ｂ〔ｊ〕＋Ｂ×ｂ〔ｊ−１〕｝
−Ａ−Ｂ
＝｛Ｂ×０＋２Ａ×０＋Ｂ×０｝−Ａ−Ｂ
＝−Ａ−Ｂ          （１１）
【００８１】
また、次の時点ｊ＋１における状態Ｓnlm については、ｎ＝ｂ〔ｊ＋１〕，ｌ＝ｂ〔ｊ〕，ｍ＝ｂ〔ｊ−１〕である。そして、上述したようにｂ〔ｊ＋１〕＝０，ｂ〔ｊ〕＝０，ｂ〔ｊ−１〕＝０となるので、次の時点における状態は、Ｓ０００である。従って、ａ〔ｊ＋１〕＝０の場合には、Ｓ０００→Ｓ０００という遷移が生じることが特定できる。
【００８２】
このようにして、時点ｊにおけるＳ０００以外の各状態についても、それらを起点として次の時点ｊ＋１において生じ得る状態遷移と、そのような各状態遷移が生じる時の記録データ値ａ〔ｊ＋１〕および再生信号値ｃ〔ｊ＋１〕との対応を求めることができる。
【００８３】
上述したようにして、各状態について、それらを起点として生じ得る状態遷移と、各状態遷移が生じる時の記録データの値および再生信号の値との対応を求め、図の形式に表したものが図６である。上述の時点ｊおよびｊ＋１は、特別の時点ではない。従って、上述したようにして求まる、生じ得る状態遷移とそれらに伴う記録データの値および再生信号の値との対応は、任意の時点において適用することができる。このため、図６においては、任意の時点ｋにおいて生じる状態遷移に伴う記録データの値をａ〔ｋ〕と表記し、再生信号の値をｃ〔ｋ〕と表記する。
【００８４】
図６において、状態遷移は、矢印によって表される。また、各矢印に付した符号が〔記録データ値ａ〔ｋ〕／再生信号値ｃ〔ｋ〕〕を示している。状態Ｓ０００，Ｓ００１，Ｓ１１１およびＳ１１０を起点とする状態遷移は、２通り有るのに対して、状態Ｓ０１１およびＳ１００を起点として生じ得る遷移は１通りのみである。
【００８５】
さらに、図６においてＳ０００とＳ００１は、何れもａ〔ｋ〕＝１に対しては、ｃ〔ｋ〕＝−Ａという値を取り、Ｓ１００に遷移している。一方、ａ〔ｋ〕＝０に対しては、ｃ〔ｋ〕＝−Ａ−Ｂという値を取り、Ｓ０００に遷移している。また、Ｓ１１１とＳ１１０も同様に、同じａ〔ｋ＋１〕の値について同じｃ〔ｋ＋１〕の値を取り、且つ、同じ状態に遷移している。従って、Ｓ０００とＳ００１をまとめてＳ０と表現し、Ｓ１１１とＳ１１０をまとめてＳ２と表現することができる。さらに、Ｓ０１１をＳ３とし、Ｓ１００をＳ１と表現することにして、整理したものが図７である。
【００８６】
上述したように、図７が４値４状態ビタビ復号方法に用いられる状態遷移図である。図７中には、Ｓ０〜Ｓ３の４個の状態、および再生信号ｃ〔ｋ＋１〕の値としての−Ａ−Ｂ，−Ａ，Ａ，Ａ＋Ｂの４個の値が示されている。状態Ｓ０およびＳ２を起点とする状態遷移は、２通り有るのに対して、状態Ｓ１およびＳ３を起点とする状態遷移は、１通りのみである。
【００８７】
一方、状態遷移を時間に沿って表現する形式として、図８に示すようなトレリス線図が用いられる。図８では、２個の時点間の遷移を示しているが、さらに多数の時点間の遷移を示すこともできる。時間経過に伴い、順次右の時点に遷移していく様子が表現される。従って、水平な矢印は、例えばＳ０→Ｓ０等の同じ状態への遷移を表し、斜めの矢印は、例えばＳ１→Ｓ２等の異なる状態への遷移を表すことになる。
【００８８】
上述したビタビ復号方法のステップ(3)、すなわち図７に示した状態遷移図を前提とし
て、ノイズを含む実際の再生信号ｚ〔ｋ〕から最尤な状態遷移を選択する方法について以下に説明する。
【００８９】
最尤な状態遷移を選択するためには、まず、ある時点ｋにおける状態について、その状態に至る過程において経由してきた複数時点間の状態遷移の尤度の和を計算し、さらに、計算された尤度の和を比較して、最尤の復号系列を選択することが必要である。このような尤度の和をパスメトリックと称する。
【００９０】
パスメトリックを計算するためには、まず、隣接する時点間の状態遷移の尤度を計算することが必要となる。このような尤度の計算は、上述の状態遷移図を参照して、再生信号ｚ〔ｋ〕の値に基づいて以下のようになされる。まず、一般的な説明として、時点ｋ−１において、状態Ｓａである場合について考える。この時、ビタビ復号器３１に再生信号ｚ〔ｋ〕が入力された場合に、状態Ｓｂへの状態遷移が生じる尤度が次式に従って計算される。但し、状態Ｓａおよび状態Ｓｂは、図７の状態遷移図に記載されている４個の状態の何れかとする。
【００９１】
（ｚ〔ｋ〕−ｃ（Ｓａ，Ｓｂ））2   （１２）
【００９２】
上式において、ｃ（Ｓａ，Ｓｂ）は、状態Ｓａから状態Ｓｂへの状態遷移について、図７の状態遷移図に記載されている再生信号の値である。すなわち、上述の図７において、例えば状態遷移Ｓ０→Ｓ１について、−Ａと算出されている値である。従って、式（１２）は、ノイズを含む実際の再生信号ｚ〔ｋ〕の値と、ノイズを考慮せずに計算された再生信号ｃ（Ｓａ，Ｓｂ）の値の間のユークリッド距離となる。ある時点におけるパスメトリックは、その時点に至るまでのこのような隣接時点間の状態遷移の尤度の総和として定義される。
【００９３】
ところで、時点ｋにおいて状態Ｓａである場合を考える。この場合に、時点ｋ−１において状態Ｓａに遷移し得る状態をＳｐとすれば、パスメトリックＬ（Ｓａ，ｋ）は、時点ｋ−１におけるパスメトリックを用いて次式のように計算される。
【００９４】
Ｌ（Ｓａ，ｋ）
＝Ｌ（Ｓｐ，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕−ｃ（Ｓｐ，Ｓａ））2   （１３）
【００９５】
すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓｐに至った場合のパスメトリックＬ（Ｓｐ，ｋ−１）と、時点ｋ−１と時点ｋの間で生じるＳｐ→Ｓａなる状態遷移の尤度（ｚ〔ｋ〕−ｃ（Ｓｐ，Ｓａ））2 とを加算することによって、パスメトリックＬ（Ｓａ，ｋ）が計算される。この（ｚ〔ｋ〕−ｃ（Ｓｐ，Ｓａ））2 のような、最新の状態遷移の尤度は、ブランチメトリックと称される。但し、ここでのブランチメトリックは、後述するビタビ復号器１３中のブランチメトリック計算回路（ＢＭＣ）２０によって計算されるブランチメトリック、すなわち、規格化メトリックに対応するブランチメトリックとは、別のものであることに注意が必要である。
【００９６】
また、時点ｋにおいて状態Ｓａである場合に、時点ｋ−１において状態Ｓａに遷移し得る状態が複数個存在することがある。図７においては、状態Ｓ０およびＳ２がこのような場合である。すなわち時点ｋにおいて状態Ｓ０である場合に、時点ｋ−１において状態Ｓ０に遷移し得る状態は、Ｓ０とＳ３の２個である。また、時点ｋにおいて状態Ｓ２である場合に、時点ｋ−１において状態Ｓ２に遷移し得る状態は、Ｓ１とＳ２の２個である。一般的な説明として、時点ｋにおいて状態Ｓａであり、且つ、時点ｋ−１において状態Ｓａに遷移し得る状態がＳｐおよびＳｑの２個である場合に、パスメトリックＬ（Ｓａ，ｋ）は、次式のように計算される。
【００９７】
Ｌ（Ｓａ，ｋ）
＝ｍｉｎ｛Ｌ（Ｓｐ，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕−ｃ（Ｓｐ，Ｓａ））2 ，
Ｌ（Ｓｑ，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕−ｃ（Ｓｑ，Ｓａ））2 ｝(14)
【００９８】
すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓｐであり、Ｓｐ→Ｓａなる状態遷移によって状態Ｓａに至った場合と、時点ｋ−１において状態Ｓｑであり、Ｓｑ→Ｓａなる状態遷移によって状態Ｓａに至った場合の各々について、尤度の和を計算する。そして、各々の計算値を比較し、より小さい値を時点ｋにおける状態Ｓａに関するパスメトリックＬ（Ｓａ，ｋ）とする。
【００９９】
このようなパスメトリックの計算を、図７を用いて上述した４値４状態について具体的に適用すると、時点ｋにおける各状態Ｓ０，Ｓ１，Ｓ２およびＳ３についてのパスメトリックＬ（０，ｋ），Ｌ（１，ｋ），Ｌ（２，ｋ）およびＬ（３，ｋ）は、時点ｋ−１における各状態Ｓ０〜Ｓ３についてのパスメトリックＬ（０，ｋ−１）〜Ｌ（３，ｋ−１）を用いて以下のように計算できる。
【０１００】
Ｌ（０，ｋ）＝ｍｉｎ｛Ｌ（０，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕＋Ａ＋Ｂ）2 ，
Ｌ（３，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕＋Ａ）2 ｝  (15)
Ｌ（１，ｋ）＝Ｌ（０，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕＋Ａ）2             (16)
Ｌ（２，ｋ）＝ｍｉｎ｛Ｌ（２，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕−Ａ−Ｂ）2
Ｌ（１，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕−Ａ）2 ｝  (17)
Ｌ（３，ｋ）＝Ｌ（２，ｋ−１）＋（ｚ〔ｋ〕−Ａ）2             (18)
【０１０１】
上述したように、このようにして計算されるパスメトリックの値を比較して、最尤な状態遷移が選択されれば良い。ところで、最尤な状態遷移を選択するためには、パスメトリックの値そのものを計算しなくても、パスメトリックの値の比較ができれば良い。そこで、実際の４値４状態ビタビ復号方法においては、パスメトリックの代わりに以下に定義するような規格化パスメトリックを用いることにより、各時点ｋにおけるｚ〔ｋ〕に基づく計算を容易なものとするようになされる。
【０１０２】
ｍ（ｉ，ｋ）
＝〔Ｌ（ｉ，ｋ）−ｚ〔ｋ〕2 −（Ａ＋Ｂ）2 〕／２／（Ａ＋Ｂ）（１９）
【０１０３】
式（１９）をＳ０〜Ｓ３の各状態に適用すると、具体的な規格化パスメトリックは、以下のように２乗計算を含まないものとなる。このため、後述する、加算、比較、選択回路（ＡＣＳ）２１における計算を容易なものとすることができる。
【０１０４】
ｍ（０，ｋ）＝ｍｉｎ｛ｍ（０，ｋ−１）＋ｚ〔ｋ〕，
ｍ（３，ｋ−１）＋α×ｚ〔ｋ〕−β｝  （２０）
ｍ（１，ｋ）＝ｍ（０，ｋ−１）＋α×ｚ〔ｋ〕−β            （２１）
ｍ（２，ｋ）＝ｍｉｎ｛ｍ（２，ｋ−１）−ｚ〔ｋ〕，
ｍ（１，ｋ−１）−α×ｚ〔ｋ〕−β｝  （２２）
ｍ（３，ｋ）＝ｍ（２，ｋ−１）＋α×ｚ〔ｋ〕−β            （２３）
【０１０５】
但し、式（２０）〜（２３）中のαおよびβは、以下のようなものである。
【０１０６】
α＝Ａ／（Ａ＋Ｂ）        （２４）
β＝Ｂ×（Ｂ＋２×Ａ）／２／（Ａ＋Ｂ）    （２５）
【０１０７】
このような規格化パスメトリックに基づく４値４状態ビタビ復号方法における状態遷移の条件について図９に示す。上述の４個の規格化パスメトリックの内に、２個から１個を選択する式が２つあるので、２×２＝４通りの条件がある。
【０１０８】
〔４値４状態ビタビ復号器の概要〕
上述した４値４状態ビタビ復号方法を実現するビタビ復号器１３について以下に説明する。図１０にビタビ復号器１３の全体構成を示す。ビタビ復号器１３は、ブランチメトリック計算回路（以下、ＢＭＣと表記する）２０、加算、比較および選択回路（以下、ＡＣＳと表記する）２１、圧縮およびラッチ回路２２およびパスメモリユニット（以下、ＰＭＵと表記する）２３から構成される。これらの各構成要素に対して上述のリードクロックＤＣＫ（以下の説明においては、単にクロックと表記する）が供給されることにより、ビタビ復号器１３全体の動作タイミングが合わされる。以下、各構成要素について説明する。
【０１０９】
ＢＭＣ２０は、入力される再生信号ｚ〔ｋ〕に基づいて、規格化パスメトリックに対応するブランチメトリックの値ＢＭ０，ＢＭ１，ＢＭ２およびＢＭ３を計算する。ＢＭ０〜ＢＭ３は、上述の式（２０）〜（２３）の規格化パスメトリックを計算するために必要とされる、以下のようなものである。
【０１１０】
ＢＭ０＝ｚ（ｋ）                  （２６）
ＢＭ１＝α×ｚ〔ｋ〕−β          （２７）
ＢＭ２＝−ｚ（ｋ）                （２８）
ＢＭ３＝−α×ｚ〔ｋ〕−β        （２９）
【０１１１】
この計算に必要なαおよびβは、上述の式（２４）および（２５）に従ってＢＭＣ２０によって計算される基準値である。かかる計算は、例えば再生信号ｚ〔ｋ〕に基づくエンベロープ検出等の方法で検出され、ＢＭＣ２０に供給される識別点−Ａ−Ｂ，−Ａ，ＡおよびＡ＋Ｂの値に基づいてなされる。
【０１１２】
ＢＭ０〜ＢＭ３の値は、ＡＣＳ２１に供給される。一方、ＡＣＳ２１は、後述するような圧縮およびラッチ回路２２から、１クロック前の規格化パスメトリックの値（但し、後述するように圧縮のなされたもの）Ｍ０，Ｍ１，Ｍ２およびＭ３を供給される。そして、Ｍ０〜Ｍ３と、ＢＭ０〜ＢＭ３とを加算して、後述するようにして、最新の規格化パスメトリックの値Ｌ０，Ｌ１，Ｌ２およびＬ３を計算する。Ｍ０〜Ｍ３が圧縮のなされたものであるため、Ｌ０〜Ｌ３を計算する際のオーバーフローを避けることができる。
【０１１３】
さらに、ＡＣＳ２１は、最新の規格化パスメトリックの値Ｌ０〜Ｌ３に基づいて、後述するように、最尤な状態遷移を選択し、また、選択結果に対応して、パスメモリ２３に供給される選択信号ＳＥＬ０およびＳＥＬ２を'High'または'Low' とする。
【０１１４】
また、ＡＣＳ２１は、Ｌ０〜Ｌ３を圧縮およびラッチ回路２２に供給する。圧縮およびラッチ回路２２は、供給されるＬ０〜Ｌ３を圧縮した後にラッチする。その後、１クロック前の規格化パスメトリックＭ０〜Ｍ３としてＡＣＳ２１に供給する。
【０１１５】
この際の圧縮の方法としては、例えば以下に示すように、最新の規格化パスメトリックＬ０〜Ｌ３から、そのうちの１個、例えばＬ０を一律に差し引く等の方法が用いられる。
【０１１６】
Ｍ０＝Ｌ０−Ｌ０      （３０）
Ｍ１＝Ｌ１−Ｌ０      （３１）
Ｍ２＝Ｌ２−Ｌ０      （３２）
Ｍ３＝Ｌ３−Ｌ０      （３３）
【０１１７】
この結果として、Ｍ０が常に０の値をとることになるが、以下の説明においては、一般性を損なわないために、このままＭ０と表記する。式（３０）〜（３３）によって計算されるＭ０〜Ｍ３の値の差は、Ｌ０〜Ｌ３の値の差と等しいものとなる。上述したように、最尤な状態遷移の選択においては、規格化パスメトリック間の値の差のみが問題となる。従って、このような圧縮方法は、最尤な状態遷移の選択結果に影響せずに規格化パスメトリックの値を圧縮し、オーバーフローを防止する方法として有効である。このように、ＡＣＳ２１と圧縮およびラッチ回路２２は、規格化パスメトリックの計算に関するループを構成する。
【０１１８】
上述のＡＣＳ２１について、図１１を参照してより詳細に説明する。ＡＣＳ２１は、６個の加算器５１、５２、５３、５４、５６、５８および２個の比較器５５、５７から構成される。一方、上述したようにＡＣＳ２１には、１クロック前の圧縮された規格化パスメトリックの値Ｍ０〜Ｍ３および規格化パスメトリックに対応するブランチメトリックの値ＢＭ０〜ＢＭ３が供給される。
【０１１９】
加算器５１には、Ｍ０およびＢＭ０が供給される。加算器５１は、これらを加算して以下のようなＬ００を算出する。
【０１２０】
Ｌ００＝Ｍ０＋ＢＭ０    （３４）
【０１２１】
上述したように、Ｍ０は、時点ｋ−１において状態Ｓ０に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応する圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ０は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ〔ｋ〕に基づいて上述の（２６）式に従って計算されるもの、すなわちｚ〔ｋ〕の値そのものである。従って、式（３４）の値は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２０）中のｍ（０，ｋ−１）＋ｚ〔ｋ〕の値を計算したものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓ０であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ０→Ｓ０によって最終的に状態遷移Ｓ０に至った場合に対応する計算値である。
【０１２２】
一方、加算器５２には、Ｍ３およびＢＭ１が供給される。加算器５１は、これらを加算して以下のようなＬ３０を算出する。
【０１２３】
Ｌ３０＝Ｍ３＋ＢＭ１    （３５）
【０１２４】
上述したように、Ｍ３は、時点ｋ−１において状態Ｓ３に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応する、圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ１は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ〔ｋ〕に基づいて上述の（２７）式に従って計算されるもの、すなわちα×ｚ〔ｋ〕−βである。従って、式（３５）の値は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２０）中のｍ（３，ｋ−１）＋α×ｚ〔ｋ〕−βの値を計算したものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓ３であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ３→Ｓ０によって最終的に状態遷移Ｓ０に至った場合に対応する計算値である。
【０１２５】
上述のＬ００およびＬ３０は、比較器５５に供給される。比較器５５は、Ｌ００およびＬ３０の値を比較し、小さい方を最新の規格化パスメトリックＬ０とすると供に、選択結果に応じて、上述したように選択信号ＳＥＬ０の極性を切替える。このような構成は、式（２０）において、最小値が選択されることに対応するものである。すなわち、Ｌ００＜Ｌ３０の場合（この時は、Ｓ０→Ｓ０が選択される）に、Ｌ００をＬ０として出力し、且つ、ＳＥＬ０を例えば、'Low' とする。また、Ｌ３０＜Ｌ００の場合（この時は、Ｓ３→Ｓ０が選択される）には、Ｌ３０をＬ０として出力し、且つ、ＳＥＬ０を例えば'High'とする。ＳＥＬ０は、後述するように、状態Ｓ０に対応するＡ型パスメモリ２４に供給される。
【０１２６】
このように、加算器５１、５２および比較器５５は、上述の式（２０）に対応して、Ｓ０→Ｓ０とＳ３→Ｓ０の内から、時点ｋにおける状態遷移として最尤なものを選択する動作を行う。そして、選択結果に応じて、最新の規格化パスメトリックＬ０および選択信号ＳＥＬ０を出力する。
【０１２７】
また、加算器５６には、Ｍ０およびＢＭ１が供給される。加算器５１は、これらを加算して以下のようなＬ１を算出する。
【０１２８】
Ｌ１＝Ｍ０＋ＢＭ１    （３６）
【０１２９】
上述したように、Ｍ０は、時点ｋ−１において状態Ｓ０に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応する圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ１は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ〔ｋ〕に基づいて上述の（２７）式に従って計算されるもの、すなわちα×ｚ〔ｋ〕−βである。従って、式（３６）の値は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２１）の右辺ｍ（０，ｋ−１）＋α×ｚ〔ｋ〕−βの値を計算したものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓ０であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ０→Ｓ１によって最終的に状態遷移Ｓ１に至った場合に対応する計算値である。式（２１）が値の選択を行わないことに対応して、加算器５６の出力がそのまま最新の規格化パスメトリックＬ１とされる。
【０１３０】
加算器５３には、Ｍ２およびＢＭ２が供給される。加算器５３は、これらを加算して以下のようなＬ２２を算出する。
【０１３１】
Ｌ２２＝Ｍ２＋ＢＭ２    （３７）
【０１３２】
上述したように、Ｍ２は、時点ｋ−１において状態Ｓ２に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応する圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ０は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ〔ｋ〕に基づいて上述の（２８）式に従って計算されるもの、すなわち−ｚ〔ｋ〕である。従って、式（３７）の値は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２２）中のｍ（２，ｋ−１）−ｚ〔ｋ〕の値を計算したものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓ２であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ２→Ｓ２によって最終的に状態遷移Ｓ２に至った場合に対応する計算値である。
【０１３３】
一方、加算器５４には、Ｍ１およびＢＭ３が供給される。加算器５３は、これらを加算して以下のようなＬ１２を算出する。
【０１３４】
Ｌ１２＝Ｍ１＋ＢＭ３    （３８）
【０１３５】
上述したように、Ｍ１は、時点ｋ−１において状態Ｓ１に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応する圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ３は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ〔ｋ〕に基づいて上述の（２９）式に従って計算されるもの、すなわち−α×ｚ〔ｋ〕−β  である。従って、式（３８）の値は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２２）中のｍ（１，ｋ−１）−α×ｚ〔ｋ〕−βの値を計算したものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓ１であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ１→Ｓ２によって最終的に状態遷移Ｓ２に至った場合に対応する計算値である。
【０１３６】
上述のＬ２２およびＬ１２は、比較器５７に供給される。比較器５７は、Ｌ２２およびＬ１２の値を比較し、小さい方を最新の規格化パスメトリックＬ２とすると共に、選択結果に応じて、上述したように選択信号ＳＥＬ２の極性を切替える。このような構成は、式（２２）において、最小値が選択されることに対応するものである。すなわち、Ｌ２２＜Ｌ１２の場合（この時は、Ｓ２→Ｓ２が選択される）に、Ｌ２２をＬ２として出力し、且つ、ＳＥＬ２を例えば、'Low' とする。また、Ｌ１２＜Ｌ２２の場合（この時は、Ｓ１→Ｓ２が選択される）には、Ｌ１２をＬ２として出力し、且つ、ＳＥＬ２を例えば'High'とする。ＳＥＬ２は、後述するように、状態Ｓ２に対応するＡ型パスメモリ２６に供給される。
【０１３７】
このように、加算器５３、５４および比較器５７は、上述の式（２２）に対応して、Ｓ１→Ｓ２とＳ２→Ｓ２の内から、時点ｋにおける状態遷移として最尤なものを選択する。そして、選択結果に応じて、最新の規格化パスメトリックＬ２および選択信号ＳＥＬ２を出力する。
【０１３８】
また、加算器５８には、Ｍ２およびＢＭ３が供給される。加算器５８は、これらを加算して以下のようなＬ３を算出する。
【０１３９】
Ｌ３＝Ｍ２＋ＢＭ３    （３９）
【０１４０】
上述したように、Ｍ２は、時点ｋ−１において状態Ｓ２に至った場合に、経由してきた状態遷移の総和に対応する圧縮された規格化パスメトリックである。また、ＢＭ３は、時点ｋにおいて入力される再生信号ｚ〔ｋ〕に基づいて上述の（２９）式に従って計算されるもの、すなわち−α×ｚ〔ｋ〕−βである。従って、式（３９）の値は、上述したような圧縮の作用の下に、上述の式（２３）の右辺ｍ（２，ｋ−１）＋α×ｚ〔ｋ〕−βの値を計算したものとなる。すなわち、時点ｋ−１において状態Ｓ０であり、時点ｋにおける状態遷移Ｓ２→Ｓ３によって最終的に状態遷移Ｓ３に至った場合に対応する計算値である。式（２３）が値の選択を行わないことに対応して、加算器５８の出力がそのまま最新の規格化パスメトリックＬ３とされる。
【０１４１】
上述したようにして, ＡＣＳ２１が出力するＳＥＬ０およびＳＥＬ２に従って、パスメモリユニット（以下、ＰＭＵと表記する）２３が動作することによって、記録データａ〔ｋ〕に対する最尤復号系列としての復号データａ’〔ｋ〕が生成される。ＰＭＵ２３は、図７に示した４個の状態間の状態遷移に対応するために、２個のＡ型パスメモリおよび２個のＢ型パスメモリから構成される。
【０１４２】
Ａ型パスメモリは、その状態に至る遷移として２つの遷移（すなわち、自分自身からの遷移と、他の１個の状態からの遷移）を有し、且つ、その状態を起点とする２つの遷移（すなわち、自分自身に至る遷移と他の１個の状態に至る遷移）を有する状態に対応するための構成とされる。従って、Ａ型パスメモリは、図７に示した４個の状態の内、Ｓ０およびＳ２に対応するものである。
【０１４３】
一方、Ｂ型パスメモリは、その状態に至る遷移が１つのみであり、且つ、その状態を起点とする遷移が１つのみである状態に対応するための構成とされる。従って、Ｂ型パスメモリは、図７に示した４個の状態の内、Ｓ１およびＳ３に対応するものである。
【０１４４】
これら２個のＡ型パスメモリおよび２個のＢ型パスメモリが図７に示した状態遷移図に従う動作を行うために、ＰＭＵ２３において、図１０に示すような復号データの受渡しがなされるように構成される。すなわち、Ａ型パスメモリ２４がＳ０に対応し、Ａ型パスメモリ２６がＳ２に対応する。また、Ｂ型パスメモリ２５がＳ１に対応し、また、Ｂ型パスメモリ２７がＳ３に対応する。このように構成すれば、Ｓ０を起点として生じ得る状態遷移がＳ０→Ｓ０およびＳ０→Ｓ１であり、Ｓ２を起点として生じ得る状態遷移がＳ２→Ｓ２およびＳ２→Ｓ３であることに合致する。また、Ｓ１を起点として生じ得る状態遷移がＳ１→Ｓ２のみであり、Ｓ３を起点として生じ得る状態遷移がＳ３→Ｓ０のみであることにも合致する。
【０１４５】
Ａ型パスメモリ２４について、その詳細な構成を図１２に示す。Ａ型パスメモリ２４は、パスメモリ長に対応する個数のフリップフロップとセレクタを、交互に接続したものである。図１０には、１４ビットのデコードデータ長に対応する構成を示した。すなわち、１４個のセレクタ３１1 〜３１14および１５個のフリップフロップ３０0 〜３０14を有するものである。セレクタ３１1 〜３１14は、何れも２個のデータを受取り、その内の１個を選択的に後段に供給するものである。また、フリップフロップ３０0 〜３０14にクロックが供給されることにより、Ａ型パスメモリ２４全体の動作タイミングが合わされる。
【０１４６】
図７を用いて上述したように、状態Ｓ０に至る遷移は、Ｓ０→Ｓ０すなわち自分自身から継承する遷移、およびＳ３→Ｓ０である。このような状況に対応する構成として、各セレクタは、前段のフリップフロップから供給されるデータすなわちＳ０→Ｓ０に対応する復号データと、状態Ｓ３に対応するＢ型パスメモリ２７から供給されるデータすなわちＳ３→Ｓ０に対応する復号データＰＭ３とを受取る。さらに、各セレクタは、ＡＣＳ２１からＳＥＬ０を供給される。そして、ＳＥＬ０の極性に応じて、供給される２個の復号データの内の一方を後段のフリップフロップに供給する。また、このようにして後段のフリップフロップに供給される復号データは、状態Ｓ１に対応するＢ型パスメモリ２５にもＰＭ０として供給される。
【０１４７】
すなわち、例えばセレクタ３１14は、前段のフリップフロップ３０13から供給されるデータと、Ｂ型パスメモリ２７から供給される１４ビットからなるＰＭ３の１４番目のビット位置のデータとを受取る。そして、これら２個のデータの内から以下のようにして選択したデータを、後段のフリップフロップ３０14に供給する。上述したようにＳＥＬ０は、選択結果に応じて、'Low' または'High'とされる。ＳＥＬ０が例えば'Low' の時は、前段のフリップフロップ３０13からのデータが選択されるようになされる。また、ＳＥＬ０が例えば'High'の時は、ＰＭ３の１４番目のビット位置のデータが選択されるようになされる。選択されたデータは、後段のフリップフロップ３０14に供給され、また、ＰＭ０の１４番目のビット位置のデータとして、状態Ｓ１に対応するＢ型パスメモリ２５に供給される。
【０１４８】
Ａ型パスメモリ２４中の他のセレクタ３１1 〜３１13においても、ＳＥＬ０の極性に応じて、同様な動作が行われる。従って、Ａ型パスメモリ２４全体としては、ＳＥＬ０が例えば'Low' の時は、Ａ型パスメモリ２４中で、各々のフリップフロップがその前段に位置するフリップフロップのデータを継承するシリアルシフトを行う。また、ＳＥＬ０が例えば'High'の時は、Ｂ型パスメモリ２７から供給される１４ビットからなる復号データＰＭ３を継承するパラレルロードを行う。何れの場合にも、継承される復号データは、Ｂ型パスメモリ２５に１４ビットの復号データＰＭ０として供給される。
【０１４９】
また、最初の処理段となるフリップフロップ３０0 には、クロックに同期して常に'0'
が入力される。かかる動作は、Ｓ０に至る状態遷移Ｓ０→Ｓ０とＳ２→Ｓ０の何れにおいても、図７に示すように、復号データが'0' なので、最新の復号データは、常に'0' となることに対応している。
【０１５０】
上述したように、Ｓ２に対応するＡ型パスメモリ２６についても、構成自体は、Ａ型パスメモリ２４と全く同様である。但し、ＡＣＳ２１から入力される選択信号は、ＳＥＬ２である。また、図６に示すように状態Ｓ２に至る遷移としては、Ｓ２→Ｓ２すなわち自分自身から継承する遷移と、Ｓ１→Ｓ２とがある。このため、状態Ｓ１に対応するＢ型パスメモリ２５からＰＭ１を供給される。さらに、状態Ｓ２を起点として生じ得る状態がＳ２すなわち自分自身と、Ｓ３であることに対応して、状態Ｓ３に対応するＢ型パスメモリ２７にＰＭ２を供給する。
【０１５１】
また、Ｓ２に対応するＡ型パスメモリ２６においても、最初の処理段となるフリップフロップには、クロックに同期して常に'0' が入力される。かかる動作は、Ｓ２に至る状態遷移Ｓ２→Ｓ２とＳ１→Ｓ０の何れにおいても、図７に示すように、復号データが'0' なので、最新の復号データは、常に'0' となることに対応している。
【０１５２】
他方、Ｂ型パスメモリ２５について、その詳細な構成を図１３に示す。Ｂ型パスメモリ２５は、パスメモリ長に対応する個数のフリップフロップを接続したものである。図１３には、１４ビットのデコードデータ長に対応する構成を示した。すなわち、１５個のフリップフロップ３２0 〜３２14を有するものである。フリップフロップ３２0 〜３２14にクロックが供給されることにより、Ｂ型パスメモリ２５全体の動作タイミングが合わされる。
【０１５３】
各フリップフロップ３２1 〜３２14には、状態Ｓ０に対応するＡ型パスメモリ２４から、１４ビットの復号データがＰＭ０として供給される。例えば、フリップフロップ３２1
には、ＰＭ０の１ビット目が供給される。各フリップフロップ３２1 〜３２14は、供給された値を１クロックの間保持する。そして、状態Ｓ２に対応するＡ型パスメモリ２６に、１４ビットの復号データＰＭ１として出力する。例えば、フリップフロップ３２1 は、ＰＭ１の２ビット目を出力する。
【０１５４】
Ｂ型パスメモリ２５中の他のセレクタ３２1 〜３２13においても、同様な動作が行われる。従って、Ｂ型パスメモリ２５全体としては、Ａ型パスメモリ２４から供給される１４ビットからなる復号データＰＭ０を受取り、またＡ型パスメモリ２６に１４ビットからなる復号データＰＭ１を供給する。
【０１５５】
また、フリップフロップ３２0 には、クロックに同期して常に'1' が入力される。かかる動作は、図７に示したように、最新の状態遷移がＳ０→Ｓ１である場合に復号データが'1' であることに対応している。
【０１５６】
また、上述のように、状態Ｓ３に対応するＢ型パスメモリ２７についても、Ｂ型パスメモリ２５と全く同様な構成とされる。但し、図７に示すように状態Ｓ３に至る遷移は、Ｓ２→Ｓ３なので、状態Ｓ２に対応するＡ型パスメモリ２６からＰＭ２を供給される。さらに、状態Ｓ３を起点として生じ得る状態がＳ０であることに対応して、状態Ｓ０に対応するＡ型パスメモリ２４にＰＭ３を供給するようになされる。Ｂ型パスメモリ２７においても、最初の処理段となるフリップフロップには、クロックに同期して常に'1' が入力される。かかる動作は、図７に示したように、最新の状態遷移がＳ２→Ｓ３である場合に復号データが'1' であることに対応している。
【０１５７】
上述したようにして、ＰＭＵ２３中の４個のパスメモリは、各々復号データを生成する。このようにして生成される４個の復号データは、常に正確なビタビ復号動作がなされる場合には、互いに一致することになる。ところで、実際のビタビ復号動作においては、４個の復号データに不一致が生じることも起こり得る。このような不一致は、再生信号に含まれるノイズの影響等により、上述の識別点ＡおよびＢを検出する際に誤差が生じる等の要因により、ビタビ復号動作が不正確なものとなることによって生じる。
【０１５８】
一般に、このような不一致が生じる確率は、再生信号の品質に対応してパスメモリの処理段数を充分に大きく設定することによって減少させることができる。すなわち、再生信号のＣ／Ｎ等の品質が良い場合には、パスメモリの処理段数が比較的小さくても復号データ間の不一致が生じる確率は小さい。これに対して、再生信号の品質が良くない場合には、上述の不一致が生じる確率を小さくするためには、パスメモリの処理段数を大きくする必要がある。再生信号の品質に対してパスメモリの処理段数が比較的小さくて、復号データ間の不一致が生じる確率を充分に低くすることができない場合には、４個の復号データから、例えば多数決等の方法によって、より的確なものを選択するような、図示しない構成がＰＭＵ２３中の４個のパスメモリの後段に設けられる。
【０１５９】
〔４値４状態ビタビ復号方法以外のビタビ復号方法〕
上述した４値４状態ビタビ復号方法は、フィルタ部１１において用いられる波形等化特性がＰＲ（１，２，１）であり、且つ、記録データとしてＲＬＬ（１，７）符号が採用される場合に用いられる。例えば、記録線密度０．４０μｍ，レーザ波長６８５ｎｍ，ＮＡ＝０．５５の場合には、波形等化特性をＰＲ（１，２，１）とし、４値４状態ビタビ復号方法を用いることが最適となる。他方、波形等化特性または記録データを生成するための符号化方法に応じて、他の種類のビタビ復号方法が用いられることもある。
【０１６０】
例えば、波形等化特性がＰＲ（１，１）であり、且つ、記録データとしてＲＬＬ（１，７）符号が用いられる場合には、３値４状態ビタビ復号方法が用いられる。また、波形等化特性がＰＲ（１，３，３，１）であり、且つ、記録データとしてＲＬＬ（１，７）符号が用いられる場合には、７値６状態ビタビ復号方法が用いられる。このようなビタビ復号方法の内、何れを用いるかを選択するための要素の１つとなる波形等化特性は、再生信号上の符号間干渉に適合する程度が良いものが採用される。従って、上述したように、線記録密度およびＭＴＦを考慮して最適なものとされる。
【０１６１】
また、波形等化特性の理論値からのずれ、および再生信号の振幅変動、非対称歪等によって、識別点の値が理論と異なる場合もある。このような場合を考慮して、ビタビ復号方法を修正して用いることも行われる。例えば４値４状態ビタビ復号方法において、波形等化特性を正確にＰＲ（１，２，１）とすることは困難である点を考慮して、後述するように６個の識別点を前提とした６値４状態ビタビ復号方法が用いられることもある。
【０１６２】
この発明は、上述したような光磁気ディスク装置の一例に対して適用できる。すなわち、この発明は、ビタビ復号器の動作によって選択される状態遷移に基づいてリードクロック毎に振幅基準値の更新を行うことによって振幅基準値を再生信号に適応化させる際に、振幅基準値の初期値すなわち適応化を開始する時点で用いられる振幅基準値を設定する方法を選択するものである。
【０１６３】
また、この発明は、かかる場合に、振幅基準値の適応化の可否を、再生結果に応じてなされる処理に関連して選択するものである。さらに、この発明は、記録媒体上に設けられた２種類の領域から再生される信号品質が異なる信号について、振幅基準値を別個に適応化するものである。
【０１６４】
ところで、振幅基準値をビタビ復号器の動作によって選択される状態遷移に基づいて更新するためには、かかる状態遷移に対応する復号データ値の系列としての復号データではなく、状態遷移そのものを表現するデータが必要となる。そこで、以下に説明するこの発明の実施の一形態中のビタビ復号器においては、復号データ値の代わりに状態そのものを表現する状態データ値を用いることによって、選択される状態遷移そのものを表現する状態データを生成するようになされる。このため、上述の光磁気ディスク装置の一例におけるパスメモリユニットＰＭＵの代わりに、後述するようにして状態データ値の系列を生成するステータスメモリユニット（以下、ＳＭＵと表記する）が用いられる。
【０１６５】
例えば４値４状態ビタビ復号方法等の４個の状態を有する場合には、かかる４個の状態を２ビットで表現できるので、このような２ビットのデータを状態データ値として用いることができる。そこで、図７中のＳ０，Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３を、それぞれ２ビットの状態データ値、００，０１，１１，１０を用いて表現することができる。そこで、以下の説明においては、図７中のＳ０，Ｓ１，Ｓ２，Ｓ３をそれぞれＳ００，Ｓ０１，Ｓ１１，Ｓ１０と表記することにする。
【０１６６】
また、例えば光磁気ディスクのセクタフォーマットにおいては、上述の２種類の領域としてアドレス部とデータ部が設けられている。アドレス部は、エンボス加工等によって形成される、当該セクタのアドレスに関する情報等を有する領域である。図３を参照して上述したセクタフォーマットの一例においては、ヘッダがアドレス部である。また、データ部は、光磁気的にユーザデータ等が記録される領域である。図３を参照して上述したセクタフォーマットの一例においては、ヘッダに後続するＡＬＰＣギャップ以降の部分がデータ部である。
【０１６７】
アドレス部およびデータ部から再生される再生信号は、Ｃ／Ｎ等の点で異なる信号品質を有するものである。すなわち、一般に、アドレス部から再生される再生信号は、Ｃ／Ｎが良く、データ部から再生される再生信号は、Ｃ／Ｎが良くない。
【０１６８】
また、以下の説明においては、波形等化特性として、上述のＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）の代わりに、ＰＲ（α，β，γ）を前提とする。このような前提は、実際の光磁気ディスク装置等においては、理想通りのパーシャルレスポンス特性を得ることが難しく、波形等化特性が非対称なものとなることが多いことを考慮したものである。
【０１６９】
理想通りのパーシャルレスポンス特性を得ることが難しい原因としては、波形等化器の動作精度の限界、記録時のレーザパワーが過大または過小であることに起因するアシンメトリー（波形の非対称性）および再生信号からＡ／Ｄ変換器によるサンプリングを行う際に用いられるリードクロックの位相誤差等がある。
【０１７０】
上述した４値４状態ビタビ復号方法の場合と同様に考えると、記録時にＲＬＬ（１，７）符号化等のＲＬｍｉｎ＝２となる符号化を行い、且つ、再生時のパーシャルレスポンス特性がＰＲ（α，β，γ）である場合には、６値４状態となることがわかる。すなわち、ＲＬｍｉｎ＝２という条件によって除かれる２個の状態以外の２3 −２＝６個の｛ｂ〔ｊ−１〕，ｂ〔ｊ〕，ｂ〔ｊ＋１〕｝の組の各々のついて、識別点の値すなわちノイズが無い理想的な場合における波形等化後の再生信号値ｃ〔ｊ＋１〕が異なる値をとる。
【０１７１】
このような６個の識別点の値をｃｐｑｒと表記する。ここでｐ，ｑ，ｒは、それぞれｂ〔ｊ−１〕，ｂ〔ｊ〕，ｂ〔ｊ＋１〕を表現している。各識別点の値と状態遷移の関係を図１４に示す。ここで、ＲＬｍｉｎ＝２であるため、ｃ０１０およびｃ１０１が無いことに注意が必要である。以下の説明は、図１４の状態遷移図に従う６値４状態を前提として行う。
【０１７２】
また、図１４中の６個の状態遷移に対応して計算されるブランチメトリックを以下のように表記する。まず、遷移前の状態と遷移後の状態を表記するそれぞれ２ビットの状態データ値を書き並べて４個の数字の列とする。次に、中央寄りの２個の（すなわち２番目と３番目の）数字を１個の数字とすることによって、３個の数字の列として、１リードクロックの間に生じ得るブランチメトリックを表記する。例えば状態遷移Ｓ１１→Ｓ１０に伴うブランチメトリックは、ｂｍ１１０と表記される。このようにして、図１４中の６種類の状態遷移に対応するブランチメトリックを、図１５に示すように表記できる。
【０１７３】
さらに、リードクロックに従って動作するＡ／Ｄ変換器によってサンプリングされる実際の再生信号値ｚ〔ｋ〕と各識別点の値のユークリッド距離として定義されるブランチメトリックは、以下のように計算される。
【０１７４】
ｂｍ０００＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ０００）2   （４０）
ｂｍ００１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ００１）2   （４１）
ｂｍ０１１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ０１１）2   （４２）
ｂｍ１１１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１１１）2   （４３）
ｂｍ１１０＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１１０）2   （４４）
ｂｍ１００＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１００）2   （４５）
【０１７５】
ブランチメトリックをこのように計算する場合には、各識別点の値がそのまま振幅基準値とされる。２乗計算を避ける等の目的で規格化パスメトリックを用いる場合には、規格化パスメトリックに対応するブランチメトリックは、式（４０）〜（４５）に従うものとは異なる。このような場合には、振幅基準値として各識別点の値をそのまま用いることはできないが、この発明を適用することは可能である。
【０１７６】
このようなブランチメトリックの値を用いて、時点ｋにおける状態Ｓｉｊのパスメトリックｍｉｊ〔ｋ〕が以下のように計算される。これらの式は、４値４状態ビタビ復号方法における上述の（１５）〜（１８）に相当するものである。
【０１７７】
ｍ１０〔ｋ〕＝ｍ１１〔ｋ−１〕＋ｂｍ１１０      （４６）
ｍ１１〔ｋ〕＝ｍｉｎ｛ｍ１１〔ｋ−１〕＋ｂｍ１１１，
ｍ０１〔ｋ−１〕＋ｂｍ０１１｝    （４７）
ｍ０１〔ｋ〕＝ｍ００〔ｋ−１〕＋ｂｍ００１        （４８）
ｍ００〔ｋ〕＝ｍｉｎ｛ｍ００〔ｋ−１〕＋ｂｍ０００，
ｍ１０〔ｋ−１〕＋ｂｍ１００｝    （４９）
【０１７８】
図１６は、この発明の実施の一形態の全体構成を示すブロック図である。この発明の実施の一形態は、光磁気ディスク装置に対してこの発明を適用したものである。図１等を参照して上述した光磁気ディスク装置の一例と同様の構成要素には、同一の符号を付した。図示しないサーボ系等については、上述した光磁気ディスク装置の一例と同様である。
【０１７９】
記録系についても上述した光磁気ディスク装置の一例と同様である。但し、ＬＰＣ４に対し、装置制御部（以下、ＣＰＵと表記する）１０３から供給されるレーザパワーを制御する信号を図示した。ＣＰＵ１０３は、記録系および再生系中の構成要素の動作パラメータ等を制御する機能を有するものであり、上述の光磁気ディスク装置の一例においても設けられている。図１においては図示を省略したが、この発明の実施の一形態についての説明を明確なものとするために図１６中に図示した。また、かかるＣＰＵ１０３は、再生系内のアンプ８および９に、ゲインを制御する信号を供給する。
【０１８０】
再生系について説明する。光ピックアップ７からＡ／Ｄ変換器１２までの構成および動作は、上述の光磁気ディスク装置の一例と同様である。但し、Ａ／Ｄ変換器１２の出力は、ビタビ復号器１３０に供給されると共に、シフトレジスタ１００にも供給される。また、リードクロックＤＣＫを生成するＰＬＬ１４についても上述した光磁気ディスク装置の一例と同様である。
【０１８１】
ビタビ復号器１３０は、Ａ／Ｄ変換器１２から供給される再生信号値ｚ〔ｋ〕に基づいて、後述するようにして最尤な状態遷移を選択し、選択される状態遷移そのものを表現する状態データを生成する。そして、状態データを後述する振幅基準値適応化ブロック（以下、ＲＡＡと表記する）１０１に供給する。また、かかる状態データに基づいて、後述するようにして復号データを生成し、コントローラ２に供給する。
【０１８２】
一方、シフトレジスタ１００は、供給される再生信号値ｚ〔ｋ〕を所定時間遅延させて、ＲＡＡ１０１に供給する。かかる遅延は、ビタビ復号器１３０によって生成される状態データが再生信号値ｚ〔ｋ〕に対して後述するようなｎリードクロックの遅延時間を有することを補償するためになされるものである。ＳＭＵ１３４が生成する状態データ値は、かかる遅延時間のため、ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕と表記されることになる。
【０１８３】
ＲＡＡ１０１は、各時点において供給される状態データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕および遅延させられた再生信号値に基づいて、後述するようにして振幅基準値をリードクロック毎に更新する。そして、更新された振幅基準値をビタビ復号器１３０中のＢＭＣ１３２に供給する。
【０１８４】
以下、ビタビ復号を行うビタビ復号器１３０についてより詳細に説明する。ビタビ復号器１３０は、ＢＭＣ１３２，ＡＣＳ１３３、ＳＭＵ１３４およびマージブロック１３５から構成される。そして、これらの各構成要素には、ＰＬＬ１４からリードクロックＤＣＫ（以下の説明においては、クロックと表記する）が供給され、動作タイミングが合わされる。
【０１８５】
ＢＭＣ１３２は、再生信号値ｚ〔ｋ〕に基づいて、ＲＡＡ１０１から供給される振幅基準値の下で式（４０）〜（４５）に従ってブランチメトリックｂｍ０００〜ｂｍ１１１の値を計算し、計算したブランチメトリックの値をＡＣＳ１３３に供給する。
【０１８６】
ＡＣＳ１３３は、供給されるブランチメトリックの値に基づいて、上述の式（４６）〜（４９）に従ってパスメトリックの値を計算し、計算値を比較することによって最尤な状態遷移を選択する。そして、選択信号ＳＥＬ００およびＳＥＬ１１をＳＭＵ１３４に供給する。
【０１８７】
ＳＭＵ１３４について説明する。上述した光磁気ディスク装置の一例中のＰＭＵ２３が１ビットの復号データ値を単位とする処理を行うものであるのに対し、ＳＭＵ１３４は、２ビットの状態データ値を単位とする処理を行うものである。かかる処理によって、状態データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕の系列としての状態データが生成される。
【０１８８】
図１７に示すように、ＳＭＵ１３４は、２個のＡ型ステータスメモリ１５０および１５１、並びに２個のＢ型ステータスメモリ１５２および１５３を有している。さらにセレクト信号ＳＥＬ００およびＳＥＬ１１、クロック、並びに他のステータスメモリとの状態データの受渡し等のための信号線を接続されて構成される。Ａ型ステータスメモリ１５０と１５１は、それぞれ、状態Ｓ００とＳ１１に対応する。また、Ｂ型ステータスメモリ１５２と１５３は、それぞれ状態Ｓ０１とＳ１０に対応する。これら４個のステータスメモリ相互の接続は、図１４の状態遷移図に従うものとされる。
【０１８９】
さらに、図１８を参照して、状態Ｓ００に対応するＡ型ステータスメモリ１５０についてより詳細に説明する。Ａ型ステータスメモリ１５０は、ｎ個の処理段を有する。すなわち、ｎ個のセレクタ２０１0 ・・・２０１n-1 と、ｎ個のレジスタ２０２0 ・・・２０２n-1 とが交互に接続されている。各セレクタ２０１0 〜２０１n-1 には、セレクト信号ＳＥＬ００が供給される。さらに、各セレクタには、上述したように、Ｓ１０に対応するＢ型ステータスメモリ１５３から継承する状態データがｎビットからなるＳＭｉｎとして供給される。また、各レジスタには、上述したように、Ｓ０１に対応するＢ型ステータスメモリ１５２に継承される状態データがｎ−１個の状態データ値からなるＳＭｏｕｔとして出力される。また、各レジスタ２０２0 〜２０２n-1 には、クロックが供給される。
【０１９０】
一方、各セレクタの動作について説明する。図１４に示すように、Ｓ００に遷移し得る１クロック前の状態は、Ｓ００およびＳ１０の何れかである。１クロック前の状態がＳ００である時は、自身を継承する遷移がなされることになる。このため、１段目のセレクタ２０１0 には、シリアルシフトによって生成される状態データ中の最新の状態データ値として、'00'が入力される。また、セレクタ２０１0 には、パラレルロードとして、Ｂ型ステータスメモリ１５３から供給される状態データ中の最新の状態データ値ＳＭｉｎ〔１〕が供給される。セレクタ２０１0 は、上述の選択信号ＳＥＬ００に従って、これら２個の状態データ値の内の１個を後段のレジスタ２０２0 に供給する。
【０１９１】
また、２段目以降の各セレクタ２０１1 〜２０１n-1 は、２個のデータすなわち、パラレルロードとしてＳ１０に対応するＢ型ステータスメモリ１５３から供給される１個の状態データ値と、シリアルシフトとして前段のレジスタから供給される１個の状態データ値とを受取る。そして、これら２個の状態データ値の内から、選択信号ＳＥＬ００に従って、最尤なものと判断された状態データ値を後段のレジスタに供給する。セレクタ２０１0
〜２０１n-1 が全て同一の選択信号ＳＥＬ００に従うので、ＡＣＳ１３３が選択する最尤な状態データ値の系列としての状態データが継承される。
【０１９２】
さらに、各レジスタ２０２0 〜２０２n-1 は、上述したように供給される状態データ値をクロックに従って取込むことによって、保持している状態データ値を更新する。また、上述したように、各レジスタの出力は、１クロック後に遷移し得る状態に対応するステータスメモリに供給される。すなわち、Ｓ００自身に遷移し得るので、シリアルシフトとして後段のセレクタに供給される。また、パラレルロードとして、Ｓ０１に対応するＢ型ステータスメモリ１５２に供給される。最終段のレジスタ２０２n-1 から、状態データ値ＶＭ００が出力される。状態データ値ＶＭ００がクロックに従って出力されることにより、全体として状態データが生成される。
【０１９３】
状態Ｓ１１に対応するＡ型ステータスメモリ１５１は、Ａ型ステータスメモリ１５０と同様に構成される。但し、図１４中の状態遷移Ｓ０１→Ｓ１１に対応するパラレルロードとして、Ｓ０１に対応するＢ型ステータスメモリ１５２から状態データを供給される。また、図１４中の状態遷移Ｓ１１→Ｓ１０に対応するパラレルロードとして、Ｓ１０に対応するＢ型ステータスメモリ１５３に状態データを供給する。
【０１９４】
一方、図１９を参照して、状態Ｓ０１に対応するＢ型ステータスメモリ１５２についてより詳細に説明する。Ｂ型ステータスメモリは、図１４において自身を継承せず、且つ、１クロック後に遷移し得る状態が１個だけである状態に対応するものである。このため、シリアルシフトを行わず、且つ、セレクタが設けられていない。従って、ｎ個のレジスタ２１２0 ，２１２1 ，・・・２１２n-1 が設けられ、各レジスタにクロックが供給されて動作タイミングが合わされる。
【０１９５】
各レジスタ２１２0 ，２１２1 ，・・・２１２n-1 には、Ｓ００に対応するＡ型ステータスメモリ１５０から継承する状態データがｎ−１個の状態データ値からなるＳＭｉｎとして供給される。但し、最初の処理段となるレジスタ２１２0 には、クロックに同期して常に'00'が入力される。かかる動作は、図１４に示されるように、Ｓ０１に遷移し得る最新の状態遷移が常にＳ００であることに対応している。各レジスタ２１２0 〜２１２n-1
は、供給される状態データ値をクロックに従って取込むことによって、保持している状態データ値を更新する。また、クロックに従ってなされる各レジスタの出力は、ｎ−１個の状態データ値からなる状態データＳＭｏｕｔとして，１クロック後に遷移し得る状態Ｓ１１に対応するＡ型ステータスメモリ１５１に供給される。最終段のレジスタ２１２n-1 から、状態データ値ＶＭ０１が出力される。状態データ値ＶＭ０１がクロックに従って出力されることにより、全体として状態データが生成される。
【０１９６】
状態Ｓ１０に対応するＢ型ステータスメモリ１５３は、Ｂ型ステータスメモリ１５２と同様に構成される。但し、図１４中の状態遷移Ｓ１１→Ｓ１０に対応するパラレルロードとして、Ｓ１１に対応するＡ型ステータスメモリ１５１から状態データを供給される。また、図１４中の状態遷移Ｓ１０→Ｓ００に対応するパラレルロードとして、Ｓ００に対応するＡ型ステータスメモリ１５０に状態データを供給する。また、最初の処理段となるレジスタには、クロックに同期して、常に'11'が入力される。かかる動作は、図１４に示すように、Ｓ１０に遷移し得る１クロック前の状態がＳ１１であることに対応するものである。
【０１９７】
ところで、ビタビ復号方法においては、各ステータスメモリが生成する状態データ値ＶＭ００，ＶＭ１１，ＶＭ０１およびＶＭ１０は、ステータスメモリのメモリ長ｎを充分大きくとれば互いに一致する。このような場合には、４個のステータスメモリが生成する状態データ値の内の何れをｓｍ〔ｋ＋ｎ〕として後段に出力しても良い。メモリ長ｎは、再生信号のＣ／Ｎおよび周波数特性等を考慮して決められる。
【０１９８】
次に、マージブロック１３５について説明する。マージブロック１３５は、ＲＯＭ等の手段に図２０に示す復号マトリクスのテーブルを記憶している。そして、かかる復号マトリクスを参照して、状態データに基づく復号データを生成し、コントローラ２に供給する。図１４の状態遷移図から、復号データ値は、連続する２個の状態データ値に対応していることがわかる。すなわち、再生信号値ｚ〔ｋ〕に対応して生成される状態データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕と、その１クロック前に、再生信号値ｚ〔ｋ−１〕に対応して生成される状態データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕に基づいて、時点ｋ＋ｎにおける復号データ値を決めることができる。
【０１９９】
例えば、ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕が'01'で、ｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕が'00'である場合には、図１４から、復号データ値として'1' が対応することがわかる。このような対応をまとめたものが図２０の復号マトリクスのテーブルである。
【０２００】
一方、上述したように、ＳＭＵ１３４によって生成される状態データおよびシフトレジスタ１００によって遅延させられた再生信号値ｚ〔ｋ〕に基づいて、ＲＡＡ１０１が振幅基準値を更新するための計算をクロック毎に行う。このような計算について説明する。
【０２０１】
再生信号値ｚ〔ｋ〕に対応して生成される状態データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕と、その１クロック前に生成された状態データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕とから、図１４に従って、これら２個の状態データ値間に生じた状態遷移およびかかる状態遷移に対応する振幅基準値を特定することができる。後述するように、このようにして特定された振幅基準値について、既存の値と、再生信号値ｚ〔ｋ〕とから、新たな振幅基準値が計算される。
【０２０２】
このような振幅基準値の計算は、アドレス部、データ部の各々について別個に行われる。従って、６値４状態ビタビ復号方法については、６×２＝１２個の振幅基準値が適応化されることになる。
【０２０３】
振幅基準値の計算について、ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕＝'01'、およびｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕＝'11'である場合を例として具体的に説明する。この場合には、図１４から状態遷移Ｓ０１→Ｓ１１が生じることがわかる。また、かかる状態遷移に対応する振幅基準値がｃ０１１であることも図１４からわかる。従って、ＲＡＡ１０１は、振幅基準値を更新する計算を以下のように行う。
【０２０４】
Ａｃ０１１（新）＝δ×ｚ〔ｋ〕＋（１−δ）×Ａｃ０１１（旧）（５０）
Ｄｃ０１１（新）＝δ×ｚ〔ｋ〕＋（１−δ）×Ｄｃ０１１（旧）（５１）
【０２０５】
ここで、Ａｃ０１１（新），Ｄｃ０１１（新）がそれぞれアドレス部、データ部の振幅基準値として新たに計算された値である。また、Ａｃ０１１（旧），Ｄｃ０１１（旧）がそれぞれアドレス部、データ部の更新前の値である。
【０２０６】
一般には、ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕＝ｐｑ、およびｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕＝ｑｒである場合に、振幅基準値の新たな値が以下のように計算される。
【０２０７】
Ａｃｐｑｒ（新）＝δ×ｚ〔ｋ〕＋（１−δ）×Ａｃｐｑｒ（旧）（５２）
Ｄｃｐｑｒ（新）＝δ×ｚ〔ｋ〕＋（１−δ）×Ｄｃｐｑｒ（旧）（５３）
【０２０８】
ここで、Ａｃｐｑｒ（新），Ｄｃｐｑｒ（新）がそれぞれアドレス部、データ部の振幅基準値として新たに計算された値である。また、Ａｃｐｑｒ（旧），Ｄｃｐｑｒ（旧）がそれぞれアドレス部、データ部の更新前の値である。後述する図２２のマトリクスのテーブルは、ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕およびｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕並びにＭＯＧＡＴＥ信号の指令と、１２個の振幅基準値（Ａｃ０００〜Ａｃ１１１およびＤｃ０００〜Ｄｃ１１１）の内で更新すべきものの対応をまとめたものである。後述するように、ＲＡＡ１０１の動作は、かかるマトリクスのテーブルを参照して行われる。
【０２０９】
また、δは、修正係数である。δの値を設定するに際しては、再生信号の振幅およびその変動、アシンメトリー等の歪み、波形等化器の動作における誤差等の記録系および再生系の比較的継続的な特性、並びに記録媒体上の欠陥等に起因するイレギュラーな特性を考慮する必要がある。
【０２１０】
すなわち、δの値が大きい程、式（５２）または（５３）に従ってなされる更新によって、振幅基準値が再生信号の再生信号の振幅変動、アシンメトリーおよび波形等化器の動作における誤差等をより強く反映するものとなる。反面、振幅基準値が記録媒体上の欠陥等に起因するディフェクト等のイレギュラーな信号によっても影響され易い。一方、δの値を小さくすると、振幅基準値がディフェクト等のイレギュラーな信号に影響されにくくなるが、反面、振幅基準値の再生信号に対する追従が緩やかなものとなるため、式（５２）または（５３）に従ってなされる更新による振幅基準値の適応化の効果が減少する。
【０２１１】
以上のような振幅基準値の適応化を行うＲＡＡ１０１の構成について図２１を参照して説明する。上述したように、６値４状態ビタビ復号方法においては、６個の振幅基準値ｃ０００，ｃ００１，ｃ０１１，ｃ１００，ｃ１１０，ｃ１１１が必要とされる。そして、これら６個の振幅基準値がアドレス部およびデータ部について別個に適応化されるために、６×２＝１２個のレジスタを設ける必要がある。
【０２１２】
図２１において、レジスタ１６１、１６２、１６３、１６４、１６５、１６６がそれぞてアドレス部の６個の振幅基準値Ａｃ０００，Ａｃ００１，Ａｃ０１１，Ａｃ１００，Ａｃ１１０およびＡｃ１１１に対応する。また、レジスタ１６７、１６８、１６９、１７０、１７１、１７２がそれぞれデータ部の６個の振幅基準値Ｄｃ０００，Ｄｃ００１，Ｄｃ０１１，Ｄｃ１００，Ｄｃ１１０およびＤｃ１１１に対応する。
【０２１３】
また、各レジスタの後段には、それぞれ出力の可否を制御する出力ゲート１１１１、１１２、１１３、１１４、１１５、１１６、１１７、１１８、１１９、１２０、１２１、および１２２が設けられている。
【０２１４】
記載が煩雑となるのを避けるため、図２１中には図示を省略したが、１２個のレジスタ１６１〜１７２には、クロックが供給される。各レジスタの記憶値は、クロックに従って、データ／アドレス切替え部１０５に供給される。また、各レジスタの記憶値は、後段の各出力ゲート１１１〜１２２にそれぞれ供給される。
【０２１５】
データ／アドレス切替え部１０５は、後述するＭＯＧＡＴＥ信号に従って、データ部の振幅基準値とアドレス部の振幅基準値の内の何れかを６個の振幅基準値ｃ０００〜ｃ１１１として出力する。従って、ＢＭＣ１３２に供給されるｃ０００〜ｃ１１１は、Ｄｃ０００〜Ｄｃ１１１であるか、または、Ａｃ０００〜Ａｃ１１１であるかの何れかである。
【０２１６】
一方、レジスタ１６１〜１７２およびその後段の出力ゲート１１１〜１２２には、後述するように、セレクタ１１０からイネーブル信号が供給される。レジスタ１６１〜１７２は、イネーブル信号に従って、それぞれ初期値切替えスイッチ１８１〜１９２の出力を取込む。初期値切替えスイッチ１８１〜１９２は、後述するように、再生動作が行われる期間においては常に、後述する加算器１０７が生成する加算値を出力するようになされる。また、各出力ゲート１１１〜１２２は、イネーブル信号がアクティブとされる時に前段のレジスタの記憶値を後段に出力する。
【０２１７】
例えば、レジスタ１６１とその後段の出力ゲート１１１には、イネーブル信号Ｄ０００が供給される。再生動作が行われる期間においては、イネーブル信号Ｄ０００がアクティブとされる時に、出力ゲート１１１がレジスタ１６１が記憶値を後段に出力し、且つ、レジスタ１６１が初期値切替えスイッチ１８１を介して加算器１０７が生成する加算値の出力を取込む。
【０２１８】
同様に、データ部の振幅基準値について、レジスタ１６２と出力ゲート１１２、レジスタ１６３と出力ゲート１１３、レジスタ１６４と出力ゲート１１４、レジスタ１６５と出力ゲート１１５およびレジスタ１６６と出力ゲート１１６は、それぞれイネーブル信号Ｄ００１，Ｄ０１１，Ｄ１００，Ｄ１１０およびＤ１１１を供給され、各イネーブル信号に従って動作する。
【０２１９】
また、アドレス部の振幅基準値について、レジスタ１６７と出力ゲート１１７、レジスタ１６８と出力ゲート１１８、レジスタ１６９と出力ゲート１１９、レジスタ１７０と出力ゲート１２０、レジスタ１７１と出力ゲート１２１、およびレジスタ１７２と出力ゲート１２２は、それぞれイネーブル信号Ａ０００，Ａ００１，Ａ０１１，Ａ１００，Ａ１１０およびＡ１１１を供給され、各イネーブル信号に従って動作する。
【０２２０】
上述した各出力ゲート１１１〜１２２の動作によって、イネーブル信号に従って出力されるレジスタ１６１〜１７２の内の１個の記憶値が乗算器１０６に供給される。乗算器１０６は、供給される記憶値に（１−δ）を乗じる計算を行い、計算値を加算器１０７に供給する。
【０２２１】
一方、上述のシフトレジスタ１００によって遅延時間を補償された再生信号値が乗算器１０８に供給される。乗算器１０８は、供給される記憶値にδを乗じる計算を行い、計算値を加算器１０７に供給する。乗算器１０６および乗算器１０８において用いられる修正係数δの値は、例えば、ＣＰＵ１０３によって設定される。
【０２２２】
加算器１０７は、乗算器１０６と乗算器１０８から供給される計算値を加算する。そして加算値を初期値切替えスイッチ１８１〜１９２に供給する。上述したように、レジスタ１６１〜１７２は、それぞれ、イネーブル信号Ｄ０００〜Ｄ１１１またはＡ０００〜Ａ１１１に従ってかかる加算値を取込む。後述するように、どの時点においても、これら１２個のイネーブル信号の１個だけがアクティブとされて取込みを指令するので、何れか１個のレジスタだけが加算値を取込むことになる。
【０２２３】
上述の１２個のイネーブル信号は、セレクタ１１０によって生成される。セレクタ１１０には、ＳＭＵ１３４から状態データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕が供給される。また、ＳＭＵ１３４の出力を１クロック遅延させるレジスタ１０９が設けられ、レジスタ１０９によって、セレクタ１１０に状態データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕が供給される。
【０２２４】
さらに、セレクタ１１０には、ＭＯＧＡＴＥ信号が供給される。ＭＯＧＡＴＥ信号は、データ部が再生される期間においてアクティブとされる信号である。ＭＯＧＡＴＥ信号は、例えば、図示しないタイミングジェネレータ等によって生成される。セレクタ１１０は、状態データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕、ｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕およびＭＯＧＡＴＥ信号に基づいて、ＲＯＭ等の手段に記憶している図２２に示すようなマトリクスのテーブルを参照して、１２個のイネーブル信号Ｄ０００〜Ｄ１１１およびＡ０００〜Ａ１１１の内の１個をアクティブとする。
【０２２５】
以上のようなＲＡＡ１０１の構成および動作によって、データ部またはアドレス部のそれぞれについて、式（５２）または（５３）に従う振幅基準値の更新が実現される。このような動作について、状態データ値がｓｍ〔ｋ＋ｎ〕＝'01'、且つ、ｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕＝'11'であり、また、これらの状態データ値がデータ部から得られたものである場合（ＭＯＧＡＴＥ信号がアクティブとされる場合）について説明する。すなわち、上述の式（５１）に示した振幅基準値Ｄｃ０１１の更新について説明する。
【０２２６】
図２２から、かかる場合には、イネーブル信号Ｄ０１１がアクティブとされることがわかる。このため、レジスタ１６３に取込みが指令され、また、出力ゲート１７３に出力が指令される。従って、更新前のＤｃ０１１の値すなわちその時点におけるレジスタ１６３の記憶値が乗算器１０６に供給される。乗算器１０６が供給される値に（１−δ）を乗じることにより、式（５０）中の（１−δ）×Ｄｃ０１１が計算されることになる。
【０２２７】
一方、シフトレジスタ１００によってなされる遅延により、ＳＭＵ１３４の動作による遅延時間が補償された再生信号値ｚ〔ｋ〕が乗算器１０８に供給される。乗算器１０８が供給される値にδを乗じることにより、式（５１）中のδ×ｚ〔ｋ〕が計算されることになる。
【０２２８】
そして、乗算器１０６によって計算される（１−δ）×Ｄｃ０１１の値と、乗算器１０８によって計算されるδ×ｚ〔ｋ〕の値とが加算器１０７によって加算されることにより、Ｄｃ０１１の新たな値すなわち式（５１）の右辺の値が計算されることになる。再生動作が行われる期間においては、かかるＤｃ０１１の新たな値が初期値切替えスイッチ１８１〜１９２を介してレジスタ１６１〜１７２に供給される。
【０２２９】
ところで、上述したように、イネーブル信号Ｄ０１１のみがアクティブとされることによってレジスタ１６３のみに取込みが指令されているので、レジスタ１６３のみにｃ０１１の新たな値が取込まれる。このようにしてＤｃ０１１の値すなわちレジスタ１６３の記憶値が更新される。
【０２３０】
ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕およびｓｍ〔ｋ＋ｎ−１〕が他の値をとる時、またはＭＯＧＡＴＥ信号がアクティブとされない時にも、図２２に従ってアクティブとされるイネーブル信号が選択されることによって、新たな値の取込みを行うレジスタと、かかるレジスタのその時点での（すなわち更新前の）記憶値を出力する出力ゲートが選択されることにより、更新が行われる。
【０２３１】
次に、データ／アドレス切替え部１０５について、図２３を参照して説明する。データ／アドレス切替え部１０５は、６個の振幅基準値ｃ０００，ｃ００１，ｃ０１１，ｃ１００，ｃ１１０およびｃ１１１にそれぞれ対応する６個の振幅基準値切替えスイッチ１２３，１２４，１２４，１２６，１２７および１２８を有している。
【０２３２】
各振幅基準値切替えスイッチには、データ部およびアドレス部についての対応する振幅基準値の値としてのレジスタ１６１〜１７２の記憶値が供給される。例えば、ｃ０００に対応する振幅基準値切替えスイッチ１２３には、レジスタ１６１の記憶値Ｄｃ０００、およびレジスタ１６８の記憶値Ａｃ０００が供給される。
【０２３３】
さらに、各振幅基準値切替えスイッチスイッチには、例えば図示しないタイミングジェネレータから、ＭＯＧＡＴＥ信号が供給される。ＭＯＧＡＴＥ信号がアクティブとされる時には、各振幅基準値切替えスイッチがデータ部についての振幅基準値Ｄｃ０００〜Ｄｃ１１１をｃ０００〜ｃ１１１として選択的にＢＭＣ１３２に供給する。一方、ＭＯＧＡＴＥ信号がアクティブとされない時には、各振幅基準値切替えスイッチがアドレス部についての振幅基準値Ａｃ０００〜Ａｃ１１１をｃ０００〜ｃ１１１としてＢＭＣ１３２に供給する。
【０２３４】
上述した更新がクロック毎に行われることによってなされる振幅基準値の適応化は、リードゲートがアクティブとされ、ビタビ復号が開始される時点において開始される。適応化開始時点における振幅基準値の初期値としては、例えば、（ａ）予め設定される所定値、または、（ｂ）直前に行われた再生動作が終了した時点での振幅基準値、等を用いるようになされる。
【０２３５】
（ａ）の方法は、直前に行われた再生動作に伴ってなされた振幅基準値の適応化の結果を用いない設定である。この方法において用いられる所定値としては、例えば、上述のキャリブレーションによって定められた振幅基準値等が用いられる。一方、（ｂ）の方法は、直前に行われた再生動作に伴ってなされた振幅基準値の適応化の結果をそのまま用いる設定である。
【０２３６】
上述したように、この発明の実施の一形態では、アドレス部とデータ部について別個に振幅基準値の適応化を行う。この場合には、あるセクタに対する再生動作を開始する時点において、直前に行われた再生動作が終了した時点でのアドレス部とデータ部の各々に対する振幅基準値を用いず、アドレス部とデータ部の各々に対する振幅基準値の初期値として、予め別個に設定される所定値を用いるのが（ａ）の方法である。一方、直前に行われた再生動作が終了した時点でのアドレス部とデータ部の各々に対する振幅基準値をそのまま用いるのが（ｂ）の方法である。
【０２３７】
通常、光磁気ディスク６上に隣接して記録された幾つかのセクタが連続して再生される時には、（ｂ）の方法を用いる方が復号精度が良い場合が多い。隣接するセクタから再生される再生信号は、互いに類似した特性を有している確率が高い。このため、あるセクタを再生する際に、直前に再生対象とされた、隣接するセクタの再生が終了した時点での振幅基準値を初期値とすることにより、当該セクタに対する再生動作の開始直後において、再生信号の特性に対して適応の程度の高い振幅基準値を用いることができ、復号精度を良くすることができる。
【０２３８】
これに対して、（ａ）の方法を用いると、当該セクタに対する再生動作の開始直後において、再生信号の特性に対する適応の程度の低い振幅基準値を用いることになるため、特に再生動作の開始直後において復号精度が悪くなるおそれがある。
【０２３９】
再生されるセクタが隣接して記録されたものでない場合にも、光磁気ディスク６上に記録される幾つかのセクタを再生する場合には、上述したような傾向があると考えられる。すなわち、一般には、記録媒体の交換等が行われない限りは、（ｂ）の方法によって振幅基準値の初期値を設定することによって、復号精度を良くする場合が多いと考えられる。
【０２４０】
但し、例えば光磁気ディスク６上のディフェクト等に起因して、あるセクタからイレギュラーな信号を含んだ再生信号が再生され、かかるイレギュラーな信号に対する追従が行われた等の原因で、異常な振幅基準値が生じることが起こり得る。このような場合には、以後の再生動作において、（ｂ）の方法を用いるよりも、（ａ）の方法によって初期値を設定する方が良好な復号精度が得られると考えられる。
【０２４１】
また、稀には、セクタ毎に、あるいは特定のセクタについて、再生信号の特性が大きく異なることがある。このような場合にも、（ａ）の方法によって初期値を設定することが有効である。
【０２４２】
そこで、この発明の実施の一形態では、再生時の処理に関連して、コントローラ２、またはＣＰＵ１０３等の指令によって振幅基準値の初期値を（ａ），（ｂ）の内の何れによって設定するかを切替える構成としている。例えば、通常の再生動作が行われる時には、（ｂ）の方法によって初期値を設定し、ディフェクト等を有するセクタを再生した場合に正しい再生結果が得られない時等にリードリトライを行う場合には、（ａ）の方法によって初期値を設定するようにする等の切替えを行う構成としている。
【０２４３】
振幅基準値の初期値の設定方法を切替えるためのＲＡＡ１０１中の構成について、引続き図２１を参照して説明する。振幅基準値切替えスイッテ１８１〜１９２の前段に、それぞれ、１２個のレジスタ６１、６２、６３、６４、６５、６６、７６、６８、６９、７０、７１および７２が設けられている。これらのレジスタは、（ａ）の方法が用いられる場合に、それぞれ、Ｄｃ０００，Ｄｃ００１，Ｄｃ０１１，Ｄｃ１００，Ｄｃ１１０，Ｄｃ１１１、Ａｃ０００，Ａｃ００１，Ａｃ０１１，Ａｃ１００，Ａｃ１１０およびＡｃ１１１の初期値とされるべき所定値を記憶する。かかる所定値は、例えばＣＰＵ１０３によって、予め設定される。
【０２４４】
記載が煩雑となるのを避けるため、図２１中には図示を省略したが、これら６個のレジスタ６１〜７２にはクロックが供給される。各レジスタは、クロック毎に記憶値を出力する。
【０２４５】
このようにして、初期値切替えスイッチ１８１〜１９２には、それぞれ１２個のレジスタ６１〜７２の記憶値が供給される。一方、上述したように、初期値切替えスイッチ１８１〜１９２には、加算器１０７の出力が供給される。さらに、初期値切替えスイッチ１８１〜１９２には、例えばＣＰＵ１０３から初期化信号ＩＮが供給される。初期化信号ＩＮがコントローラ２から供給される構成としても良い。初期値切替えスイッチ１８１〜１９２は、初期化信号ＩＮに従って、それぞれ、レジスタ６１〜７２の記憶値と、加算器１０７の出力の内の１個をそれぞれレジスタ１６１〜１７２に選択的に供給する。
【０２４６】
但し、初期化信号ＩＮは、再生動作中には、アクティブとはされない。このため、上述したように、初期値切替えスイッチ１８１〜１９２は、再生動作中には常に、加算器１０７の出力をそれぞれレジスタ１６１〜１７２に供給するようになされる。
【０２４７】
一方、リードゲートがアクティブとされ、あるセクタに対する再生動作が開始される際には、初期化信号ＩＮをアクティブとするか否かが判断される。初期化信号ＩＮがアクティブとされない場合は、その時点でのレジスタ１６１〜１７２の記憶値すなわち、直前に行われた再生動作が終了した時点での振幅基準値が当該セクタに対する振幅基準値の初期値として採用されることになる。すなわち、振幅基準値の初期値が上述の（ｂ）の方法によって設定される。
【０２４８】
初期化信号ＩＮがアクティブとされる場合には、初期値切替えスイッチ１８１〜１９２がレジスタ６１〜７２の記憶値をそれぞれレジスタ１６１〜１７２に供給すると共に、例えばＣＰＵ１０３の指令によって全てのイネーブルＤ０００〜Ｄ１１１およびＡ０００〜Ａ１１１が強制的にアクティブとされる等の制御がなされる。
【０２４９】
このようにして、レジスタ１６１〜１７２に、レジスタ６１〜７２の記憶値が取り込まれる。従って、直前に行われた再生動作が終了した時点での振幅基準値が採用されず、所定値すなわちレジスタ６１〜７２の記憶値が振幅基準値の初期値として採用されることになる。すなわち、振幅基準値の初期値が上述の（ａ）の方法によって設定される。
【０２５０】
初期化信号ＩＮは、例えば、ディフェクトを有するセクタを再生した時に良好な再生結果が得られず、リードリトライを行う場合等にアクティブとされる。かかる場合には、直前に行われた再生動作が終了した時点での振幅基準値は、リードリトライの対象とされる、ディフェクトを有するセクタを対象とする再生動作が終了した時点での振幅基準値である。このような振幅基準値は、ディフェクトに起因するイレギュラーな信号に対する追従がなされた結果、異常な値となっているおそれがあるため、リードリトライを開始する際には、振幅基準値の初期値を（ａ）の方法で設定することが妥当であるためである。
【０２５１】
また、この発明の実施の一形態では、振幅基準値の適応化を行うか否かをも再生時の処理に関連して切替えるようになされる。上述したように、例えばＣＰＵ１０３が生成する信号によって、乗算器１０６および１０８において用いられる修正係数δの値が制御される。かかる制御において、δ＝０と設定すれば、上述の式（５２）または（５３）において、常にｃｐｑｒ（新）＝ｃｐｑｒ（旧）となるので、振幅基準値の更新が行われず、従って振幅基準値の適応化を行わないようにすることができる。
【０２５２】
δ＝０とする制御を、振幅基準値の適応化において再生信号に対する追従性を適切なものとするための修正係数δの値の設定操作（上述したように例えばＣＰＵ１０３等によってなされる）の一部として行っても良いし、また、追従性の制御とは別個に行っても良い。
【０２５３】
ところで、振幅基準値の適応化を行わない制御が要求される時に、データ／アドレス切替え部１０５から、ＢＭＣ１３２に振幅基準値を供給しないようにしても良い。このようにすれば、ＢＭＣ１３２の動作は、振幅基準値の適応化とは無関係なものとなる。
【０２５４】
このような構成によって振幅基準値の適応化を行わないように制御する場合は、例えばディフェクト等を有するために正しく再生されなかったセクタに対してリードリトライを行う時等である。かかる場合に振幅基準値の適応化を行うと、ディフェクトに起因して異常な振幅基準値が発生するおそれがあるためである。
【０２５５】
再生モード時に行われる総体的な処理の一例について、図２４のフローチャートを参照して説明する。ステップＳ０１として、振幅基準値の初期化を行うか否かが判断される。振幅基準値の初期化を行うと判断される場合には、ステップＳ０２に移行し、振幅基準値の初期化が行われた後にステップＳ０３に移行する。一方、振幅基準値の初期化を行わないと判断された場合には、直ちにステップＳ０３に移行する。
【０２５６】
ここで、振幅基準値の初期化を行う場合は、上述の初期値の設定方法の（ａ）に対応する。すなわち、この場合には、直前に行われた再生動作が終了した際の振幅基準値が採用されず、初期値として予め設定される所定値が用いられる。従って、ステップＳ０２の具体的な内容は、レジスタ６１〜７２に記憶されている所定値をレジスタ１６１〜１６６に取込ませることである。
【０２５７】
他方、振幅基準値の初期化を行わない場合は、上述の初期値の設定方法の（ｂ）に対応する。すなわち、この場合には、直前に行われた再生動作が終了した時点でのレジスタ１６１〜１７２の記憶値がそのまま初期値として用いられる。
【０２５８】
ステップＳ０３は、振幅基準値の適応化を行うか否かを判断するステップである。上述したように、通常の再生においては、振幅基準値の適応化を行い、リードリトライ等が行われる際には、振幅基準値の適応化を行わないようにするのが一般的な設定である。振幅基準値の適応化を行う場合には、ステップＳ０４に移行する。また、振幅基準値の適応化を行わない場合には、ステップＳ０８に移行する。
【０２５９】
ステップＳ０４以降の処理について説明する。ステップＳ０４は、リードゲートがアクティブとされるまで待機するステップである。リードゲートがアクティブとされた後に、ステップＳ０５に移行し、再生動作が開始される。
【０２６０】
さらに、ステップＳ０６に移行し、クロック毎に新たな振幅基準値が算出されることにより、振幅基準値の適応化が行われる。
【０２６１】
ステップＳ０７によってリードゲートがアクティブとされているか否かがチェックされる。リードゲートがアクティブとされている時には、ステップＳ０５に移行し、再生動作および振幅基準値の適応化が続行される。リードゲートがアクティブとされていない時には、ステップＳ１０に移行し、再生が終了する。
【０２６２】
一方、ステップＳ０３において、振幅基準値の適応化を行わないと判断された場合には、ステップＳ０８に移行する。ステップＳ０８は、ステップＳ０４と同様にリードゲートがアクティブとされるまで待機するステップである。リードゲートがアクティブとされた後に、ステップＳ０９に移行し、振幅基準値の適応化を伴わない再生動作が開始される。
【０２６３】
ステップＳ０９は、ステップＳ０９０とステップＳ０９１からなる。ステップＳ０９０は、リードゲートがアクティブであるか否かをチェックするステップである。リードゲートがアクティブである時には、ステップＳ０９１に移行して再生動作が行われ、再生動作後、再びステップＳ０９０に移行する。
【０２６４】
一方、ステップＳ０９０において、リードゲートがアクティブでない時には、ステップＳ１０に移行して再生が終了する。
【０２６５】
ステップＳ１０において再生動作が終了する時には、ステップＳ０１に移行し、次の再生動作が指令される時に備えるようになされる。
【０２６６】
上述したこの発明の実施の一形態では、再生動作中にはスイッチ１８１〜１９２が常に振幅基準値として新たに計算された値、すなわち加算器１０７の出力をレジスタ１６１〜１７２に供給するようになされる。これに対して、再生動作中であっても、加算器１０７の出力が所定の基準を満たさない時には、スイッチ１８１〜１９２を切替えて、レジスタ６１〜７２の記憶値をレジスタ１６１〜１７２に供給するようにしても良い。このようにすれば、１つのセクタが再生される期間においても、記録媒体のディフェクト等に起因する異常な振幅基準値によって復号精度が低下することを避けることができる。但し、この場合には、加算器１０７の例えばクロック毎等の所定期間毎の出力が所定の基準を満たすか否かを判定する構成が必要とされる。
【０２６７】
また、振幅基準値の初期値を設定する方法を、アドレス部とデータ部とで別個に選択するようにしても良い。例えば、アドレス部に対する振幅基準値の初期値を上述の（ｂ）の方法で設定し、また、データ部に対する振幅基準値の初期値を上述の（ａ）の方法で設定するようにしても良い。このようにすれば、データ部のみがディフェクトを有するセクタに対する再生動作の結果、データ部が正しく再生されなかった場合に行われるリードリトライにおいて、振幅基準値の初期値の設定を以下のように行うことができる。
【０２６８】
まず、アドレス部については、振幅基準値が適切に適応化されたので、再生動作終了時の振幅基準値をリードリトライ開始時の初期値として採用する。また、データ部については、ディフェクトのために振幅基準値が異常な値となっている可能性が高いので、振幅基準値の初期化を行う。すなわち、リードリトライ開始時の初期値として再生動作終了時の値を採用せず、所定値を採用する。このようにすれば、リードリトライにおけるアドレス部に対する再生動作を、開始直後から、適応の程度の高い振幅基準値の下で行うことが可能となる。
【０２６９】
さらに、振幅基準値の適応化の可否をアドレス部とデータ部とで別個に選択するようにしても良い。この場合には、例えば、乗算器１０６および１０８のδの値を設定する信号を、ＭＯＧＡＴＥ信号に従って供給するようにすれば良い。
【０２７０】
ところで、上述したように、４個のステータスメモリのメモリ長が大きい程、状態データ値ＶＭ００，ＶＭ１１，ＶＭ０１およびＶＭ１０が一致する確率を大きくすることができるが、反面、ＳＭＵの動作によって生じる遅延時間が増大する等の問題も生じるため、ステータスメモリのメモリ長をあまり大きく設定することは現実的でない。
【０２７１】
このため、例えば再生系の動作条件が適当でない等の原因で再生ＲＦ信号の信号品質が低下する場合には、４個の状態データ値ＶＭ００，ＶＭ１１，ＶＭ０１およびＶＭ１０が互いに不一致となることがある。このような場合に備えて、状態データ値間の不一致が生じた時に最も的確な状態データ値を選択する構成が設けられることがある。
【０２７２】
かかる構成は、４個のステータスメモリの後段となる位置に設けることができる。例えばＳＭＵ１３４内の４個のステータスメモリの後段に設けるようにしても良いし、また、状態データに基づいて復号データを生成するマージブロック１３５内等に設けるようにしても良い。
【０２７３】
再生信号の信号品質が充分良好なためにかかる構成を設ける必要がない場合、およびかかる構成がＳＭＵ１３４内に設けられる場合には、図１６に示したように、ＲＡＡ１０１には、ＳＭＵ１３４の出力としての状態データ値が供給される。一方、以下に説明するように、かかる構成がマージブロック１３５内に設けられる場合には、最も的確な状態データ値として選択された値がＲＡＡ１０１に供給されるようになされる。
【０２７４】
かかる構成を有するマージブロック１３５の一例について、図２４を参照して説明する。この場合には、マージブロック１３５は、ＶＭ００，ＶＭ１１，ＶＭ０１およびＶＭ１０から的確なものを選択する状態選択回路２５０、状態選択回路２５０の出力を１クロック遅延させるレジスタ２５１、復号マトリクス部２５２、および状態データ値ＶＭ００，ＶＭ１１，ＶＭ０１およびＶＭ１０の不一致を検出する不一致検出回路２５３を有している。
【０２７５】
状態選択回路２５０は、クロック毎にＡＣＳ１３３から供給される２ビットの信号ＭＳを参照して、ＶＭ００，ＶＭ１１，ＶＭ０１およびＶＭ１０の内から最も的確なものを選択し、選択される状態データ値をＶＭとして出力する。かかる信号ＭＳは、各時点において、Ｓ００，Ｓ１１，Ｓ０１およびＳ１０の内のどの状態に至る場合のパスメトリックの値が最小となるかを示す２ビットの信号である。信号ＭＳは、例えばＡＣＳ１３５等によって生成するようになされる。このようにして、最も正しい状態データ値が選択される確率を高くすることができる。
【０２７６】
上述したようにして選択されるＶＭは、レジスタ２５１および復号マトリクス部２５２に供給される。レジスタ２５１は、供給されるＶＭを１クロック遅延させて復号マトリクス部２５２に供給する。以下の説明においては、レジスタ２５１の出力をＶＭＤと表記する。従って、復号マトリクス部２５２には、状態データ値ＶＭおよびその１クロック前の状態データ値ＶＭＤが供給される。復号マトリクス部２５２は、図２０に示した復号マトリクスのテーブルをＲＯＭ等の手段に記憶しており、かかる復号マトリクスのテーブルを参照して、ＶＭＤおよびＶＭに基づいて復号データ値を出力する。
【０２７７】
一方、不一致検出回路２５３は、例えば排他的論理和回路を用いて構成することができる。不一致検出回路２５３には、ＶＭ００，ＶＭ１１，ＶＭ０１およびＶＭ１０が供給され、これら４個の状態データ値の間の不一致が検出される。検出結果が不一致検出信号ＮＭとして出力される。不一致検出信号ＮＭは、４個の状態データ値が全て一致する場合以外は、イネーブルまたはアクティブとされる。
【０２７８】
かかる不一致検出信号は、復号データおよび再生信号の品質の評価に用いることができる。すなわち、不一致検出信号に基づいて、復号データからユーザデータ等を復号化する復号化手段、または再生系の動作条件等を制御するようにすることができる。不一致検出回路２５３は、４個の状態データ値を供給されることが可能な位置であれば、何処に設けても良く、必ずしもマージブロック１３５内に設けなくても良い。
【０２７９】
以上のようなマージブロック１３５の構成は、再生信号の信号品質があまり良好でないこと等に起因して状態データ値間に不一致が生じる場合に備えるためのものである。従って、再生信号の信号品質が良好なため、状態データ値間の不一致が生じる確率が充分小さく、状態データ値間の不一致に対処する必要が無い場合には、マージブロック１３５は、レジスタ２５１および復号マトリクス部２５２を有するものであれば良い。
【０２８０】
マージブロック１３５が状態選択回路２５０を有するものである場合には、状態選択回路２５０の出力ＶＭを各時点における状態データ値ｓｍ〔ｋ＋ｎ〕としてＲＡＡ１０１に供給するようになされる。
【０２８１】
上述したこの発明の実施の一形態は、アドレス部およびデータ部に対して、別個の振幅基準値を適応化するものであり、かかる適応化における振幅基準値の初期値の設定方法の選択、およびかかる振幅基準値の適応化の可否の制御を行うものである。これに対して、例えばアドレス部およびデータ部において共通の振幅基準値を用いる場合等、ビタビ復号方法の種類によって決まる個数の振幅基準値を適応化する場合に、振幅基準値の初期値の設定方法の選択、および振幅基準値の適応化の可否の制御を行うようにしても良い。
【０２８２】
このような、ビタビ復号方法の種類によって決まる個数の振幅基準値を適応化する場合としては、他に、例えばデータ部についてはビタビ復号方法を用いた再生動作を行い、アドレス部についてはビットバイビット復号方法等のビタビ復号方法とは異なる方法を用いた再生動作を行う場合等がある。
【０２８３】
上述したこの発明の実施の一形態は、６値４状態ビタビ復号方法を行う光磁気ディスク装置にこの発明を適用したものである。これに対し、上述したような４値４状態ビタビ復号方法、３値４状態ビタビ復号方法、および７値６状態ビタビ復号方法等の他の種類のビタビ復号方法を行う光磁気ディスク装置にも、この発明を適用することができる。
【０２８４】
また、この発明は、記録媒体に記録されたデータから再生される再生信号から、リードデータを復号するためにビタビ復号方法を用いることができる情報再生装置に適用することができる。すなわち、光磁気ディスク（ＭＯ）以外にも、例えば相変化型ディスクＰＤ、ＣＤ−Ｅ（CD-Erasable ）等の書き換え可能ディスク、ＣＤ−Ｒ等の追記型ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ等の読み出し専用ディスク等の光ディスク装置に適用することが可能である。
【０２８５】
また、この発明は、この実施例に限定されることなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の応用および変形が考えられる。
【図面の簡単な説明】
【０２８６】
【図１】４値４状態ビタビ復号方法を行う光磁気ディスク装置の一例の全体構成を示すブロック図である。
【図２】マーク位置記録方法およびマークエッジ記録方法について説明するための略線図である。
【図３】光磁気ディスクのセクタフォーマットの一例について説明するための略線図である。
【図４】ＲＬＬ（１，７）符号化方法において、最小磁化反転幅が２であることを示す略線図である。
【図５】ＲＬＬ（１，７）符号とマークエッジ記録方法の組合わせによって記録されたデータから再生される再生信号を、パーシャルレスポンス特性ＰＲ（１，２，１）の下で波形等化した時のアイ・パターンについて説明するための略線図である。
【図６】４値４状態ビタビ復号方法の状態遷移図を作成する過程について説明するための略線図である。
【図７】４値４状態ビタビ復号方法の状態遷移図の一例を示す略線図である。
【図８】４値４状態ビタビ復号方法におけるトレリス線図の一例を示す略線図である。
【図９】４値４状態ビタビ復号方法において、規格化メトリックに基づく状態遷移の条件を示す略線図である。
【図１０】４値４状態ビタビ復号を行うビタビ復号器の全体構成を示すブロック図である。
【図１１】図１０に示したビタビ復号器の一部分の構成を詳細に示すブロック図である。
【図１２】図１０に示したビタビ復号器の他の一部分の構成を詳細に示すブロック図である。
【図１３】図１０に示したビタビ復号器のさらに他の一部分の構成を詳細に示すブロック図である。
【図１４】６値４状態ビタビ復号方法の状態遷移図の一例を示す略線図である。
【図１５】ブランチメトリックの表記方法について説明するための略線図である。
【図１６】この発明の実施の一形態の全体構成を示すブロック図である。
【図１７】この発明の実施の一形態に用いられるステータスメモリユニット（ＳＭＵ）の構成の一例を示すブロック図である。
【図１８】図１７に示したＳＭＵの一部の構成について説明するためのブロック図である。
【図１９】図１７に示したＳＭＵの他の一部の構成について説明するためのブロック図である。
【図２０】この発明の実施の一形態中のマージブロックにおいて参照されるマトリクスのテーブルの一例について説明するための略線図である。
【図２１】この発明の実施の一形態に用いられる振幅基準値適応化ブロック（ＲＡＡ）の構成の一例について説明するためのブロック図である。
【図２２】この発明の実施の一形態中のＲＡＡにおいて参照されるマトリクスのテーブルの一例について説明するための略線図である。
【図２３】図２１に示した振幅基準値適応化ブロック（ＲＡＡ）の構成の一例の一部の構成について詳細に説明するためのブロック図である。
【図２４】この発明の実施の一形態中における再生モード時の処理の一例について説明するためのフローチャートである。
【図２５】この発明の実施の一形態中に用いることが可能なマージブロックの構成の一例について説明するためのブロック図である。
【符号の説明】
【０２８７】
２・・・コントローラ、１２・・・Ａ／Ｄ変換器、１３０・・・ビタビ復号器、１３２・・・ブランチメトリック計算回路（ＢＭＣ）、１３３・・・加算、比較、選択回路（ＡＣＳ）、１３４・・・ステ−タスメモリユニット（ＳＭＵ）、１３５・・・マージブロック、１００・・・シフトレジスタ、１０１・・・振幅基準値適応化ブロック（ＲＡＡ）、１０３・・・装置処理部（ＣＰＵ），１８１〜１７６・・・レジスタ、１１１〜１２２・・・出力ゲート、１０５・・・アドレス／データ切替え部、１０６・・・乗算器、１０７・・・加算器、１０８・・・乗算器、１０９・・・レジスタ、１１０・・・セレクタ、６１〜７２・・・レジスタ、１８１〜１９２・・・初期値切替えスイッチ、１２３〜１２８・・・振幅基準値切替えスイッチ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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