(57)【要約】【課題】この発明は、光学素子の高精度な加工処理を実現したうえで、光学素子の透過光測定を実現し得るようにすることにある。【解決手段】治具本体１１に下端面１２１から測定光が入射されて上端面１２２に導かれるロッドレンズ１２を内挿し、このロッドレンズ１２の上端面１２１に加工を施す光学素子１３を着脱可能に取付け配置するように構成した。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
一方から測定光が入射されて他方に導かれる光路が設けられ、この光路の他方に加工を施す光学素子が着脱される取付け部が設けられた治具本体を具備することを特徴とする加工治具。
【請求項２】
前記治具本体は、光路を、透明部材で形成し、この透明部材の一方の端部から前記測定光を入射させ、他方の端部に前記光学素子が着脱自在に装着される前記取付け部を設けて構成したことを特徴とする請求項１記載の加工治具。
【請求項３】
前記透明部材は、ガラスであることを特徴とする請求項２記載の加工治具。
【請求項４】
一方から測定光が入射されて他方に導く光路が設けられ、この光路の他方に加工を施す光学素子が着脱される取付け部が設けられた治具本体と、
前記光学素子を加工処理した前記治具本体が装着される保持手段と、
前記保持手段に位置決め保持された前記治具本体の一方に測定光を供給する光源と、
前記治具本体の他方端に装着された前記光学素子に対向して配置され、前記治具本体の光路の一方から入射された前記光源からの測定光が、該光路の他方を通って前記取付け部に装着された前記光学素子を透過した透過光を測定する測定器と、
を具備することを特徴とする透過光測定装置。
【請求項５】
一方から入射された測定光が他方に導かれる光路が設けられた治具本体の光路の他方に光学素子を装着して、該光学素子の加工を施した後、前記光路の一方に、前記測定光を供給して該光路の他方を通して前記光学素子に測定光を導いて、その透過光を測定することを特徴とする透過光測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、レンズを含む光学素子の加工・検査システムに係り、特に、その加工治具、透過光測定装置及び透過光測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、内視鏡用の照明光学系においては、小型化、広角化の要請が強く、光拡散面、即ち粗面を有する光学素子が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。このような光学素子は、例えば研磨加工工程の一部を省略した砂目状の粗面に加工する方法が、工程を省略することが可能なことで、採用されている。
【０００３】
ところで、この光学素子の光拡散面の粗さは、粗すぎると透過光量が不足し、細かすぎると照明光の配光ムラが発生する。この透過光量と配光ムラは、相反する関係にあるので、透過光量だけを測定し、配光ムラを推測することが可能である。
【０００４】
このような光学素子の透過光量を測定する方法としては、例えば図１０に示すように測定する光学素子１を取り付けた測定治具２を積分球３の一方の口３ａに取付けて、光源４からの光を、光ファイバーを束ねたライトガイド５を通して光学素子１に当てる。そして、積分球３のもう一方の口３ｂには、光量計６を配置し、上記光学素子１を透過した光が積分球３の中を通って光量計６に照射されることで、該光学素子１が透過する透過光量を測定する（例えば、特許文献２参照。）。
【０００５】
一方、上記光学素子の加工法においては、加工治具を用いた研削加工、研磨加工等が挙げられる。例えば、光学素子１は、図１１に示すように加工治具７に対して熱可塑性の樹脂８等で接合され、この加工治具７の胴体部７ａを加工装置、例えば図１２に示す研削機のチャック部９に装着する。そして、加工治具７と研削機のカップ型砥石９ａの双方を回転させながら当接させて、光学素子１に球面が創成される。
【０００６】
また、研磨加工の場合には、図１３に示すように加工治具７の胴体部７ａを研磨機のチャック部１０に取付けて、光学素子１に沿った形の研磨工具１０ａを光学素子１に接触させ、光学素子１と研磨治具１０ａがそれぞれ回転しながら、光学素子１の曲率中心を中心に研磨工具１０ａを円弧状に揺動させることにより、光学素子１の表面が少しずつ滑らかに研磨される。この光学素子１に対する研磨加工は、研削加工後の表面粗さと研磨加工後の鏡面レンズの表面粗さとの間の表面粗さとなるように実施される。
【０００７】
この光学素子１の加工にあっては、上記加工治具７を用いることで、微小な光学素子１の中心軸のズレを最小限に抑えることが可能となり、研削加工、研磨加工等の加工処理を精度良く、容易に行うことができる。
【０００８】
この研削、研磨加工処理を施した光学素子１は、その表面粗さが粗いと、透過光量が不足され、表面粗さが細か過ぎると、その透過光量が多くなりすぎる。このため、上述したように加工処理を施した光学素子１は、その透過光量を測定することにより、表面粗さが検出され、所望の範囲に入ったものが使用される。
【０００９】
このように透過光を測定した光学素子１は、例えば表面粗さが粗い場合、光学素子１の表面に対して再度、研磨加工を行うことにより、所定の透過光量となるように表面粗さを細かくし、良品として仕上げることもできる。表面粗さが細か過ぎる場合には、光学素子１１の厚さが公差を外れない限り、再度研削加工、研磨加工の順に加工することで光学素子１１の表面を所望の表面粗さに仕上げることも可能である。
【特許文献１】特開２０００−１９３８９４号公報
【特許文献２】特開２００１−２８１０９７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、上記光学素子の透過光測定方法にあっては、加工後の光学素子１を加工治具７から取り外した状態で測定しなければならないために、再加工処理を行うような場合、再び、光学素子１を加工治具７に取付けて行い、再加工処理し、その後、再び加工治具７から取り外して透過光測定を行わなければならないことで、その再加工処理が困難である。
【００１１】
例えば光学素子１を加工治具７に取付ける場合、加工治具７と光学素子１の中心軸がずれると、研磨治具１０ａと光学素子１とが均一に接触しないため、光学素子１が加工治具から落ちて損傷してしまったり、加工面を不均一に研磨してしまったりするという問題を有する。
【００１２】
この発明は、上記の事情に鑑みてなされたもので、構成簡易にして、光学素子の高精度な加工処理を実現したうえで、光学素子の透過光測定を実現し得るようにした加工治具を提供することを目的とする。
【００１３】
また、この発明は、簡易な構成で、光学素子の透過光測定を実現し得、且つ、光学素子の再加工処理を実現し得るようにした透過光測定装置及び透過光測定方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
この発明は、一方から測定光が入射されて他方に導かれる光路が設けられ、この光路の他方に加工を施す光学素子が着脱される取付け部が設けられた治具本体を備えて加工治具を構成した。
【００１５】
上記構成によれば、光学素子は、治具本体の取付け部に装着されて加工処理が施され、加工処理状態で、その光路の一方から測定光が供給されると、該光路の他方から測定光が導かれて照射され、その透過光を測定することができる。これにより、透過光の測定に基づいて再加工を行う場合には、その治具本体を加工装置に装着することで、光学素子の再加工処理を容易に行うことができる。
【００１６】
また、この発明は、一方から測定光が入射されて他方に導く光路が設けられ、この光路の他方に加工を施す光学素子が着脱される取付け部が設けられた治具本体と、前記光学素子を加工処理した前記治具本体が装着される保持手段と、前記保持手段に位置決め保持された前記治具本体の一方に測定光を供給する光源と、前記治具本体の他方端に装着された前記光学素子に対向して配置され、前記治具本体の光路の一方から入射された前記光源からの測定光が、該光路の他方を通って前記取付け部に装着された前記光学素子を透過した透過光を測定する測定器とを備えて透過光測定装置を構成した。
【００１７】
上記構成によれば、光学素子の加工に供した治具本体を、該光学素子を取付けた状態で保持手段に装着し、該治具本体の光路の一方から測定光を供給すると、光路の他方から光学素子に導かれて照射され、その透過光を測定することができる。従って、透過光の測定に基づいて再加工を行う場合には、その治具本体を加工装置に装着することで、容易に再加工処理を行うことができる。
【００１８】
また、この発明の透過光測定方法は、一方から入射された測定光が他方に導かれる光路が設けられた治具本体の光路の他方に光学素子を装着して、該光学素子の加工を施した後、前記光路の一方に、前記測定光を供給して該光路の他方を通して前記光学素子に測定光を導いて、その透過光を測定するように構成した。
【００１９】
上記構成によれば、治具本体に光学素子を装着して加工を施した状態で、該治具本体の光路の一方から測定光を供給すると、光路の他方から光学素子に導かれて照射され、その透過光を測定することができる。従って、透過光の測定に基づいて再加工を行う場合には、その治具本体を加工装置に装着することで、容易に再加工処理を行うことができる。
【発明の効果】
【００２０】
この発明によれば、構成簡易にして、光学素子の高精度な加工処理を実現したうえで、光学素子の透過光測定を実現し得るようにした加工治具を提供することができる。
【００２１】
また、この発明は、簡易な構成で、光学素子の透過光測定を実現し得、且つ、光学素子の再加工処理を実現し得るようにした透過光測定装置及び透過光測定方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、この発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【００２３】
図１は、この発明の一実施の形態に係る加工治具を示すもので、治具本体１１は、例えばステンレス等の金属材料で胴体部１１１の略中心に光路を構成する、透明材料、例えばコア−クラッド構造を持つガラスであるロッドレンズ１２が上下方向に挿入されて、例えば熱可塑性接着剤を用いて接着されて配される。
【００２４】
このロッドレンズ１２は、その両端に平面研磨加工により、上端面１２１及び下端面１２２が設けられ、その上端面１２１が胴体部１７１より突出されて、光学素子取付け部として構成される。そして、このロッドレンズ１２の下端面１２２は、測定光入射口として構成される。また、このロッドレンズ１２は、治具本体１１に対して接着されて装着され、例えば上端面１２１及び下端面１２２に傷が付いたりした場合等において、選択的に交換可能に構成される。
【００２５】
上記ロッドレンズ１２の上端面１２１には、被加工物である光学素子１３が着脱可能に装着される。この光学素子１３は、その基端に平面研磨加工の施された平面部が形成され、この平面部が、上記ロッドレンズ１２の上端面１２１に、例えば紫外線で硬化する透明な接着剤１４を用いて接合されて冶具本体１１に交換可能に装着される。ここで、光学素子１３は、その光軸が治具本体１１の胴体部１１１の中心軸及びロッドレンズ１２の中心軸に一致される。
【００２６】
上記構成において、治具本体１１は、上記研削機及び研磨機に順に取付けられて、そのロッドレンズ１２に上端面１２１に装着した上記光学素子１３の先端部に研削加工及び研磨加工を施すことにより、所望の表面粗さを有する凸面部１３１を形成するのに用いられる。そして、治具本体１１は、光学素子１３に凸面部１３１を形成した状態で、研磨機から離脱されて、例えば図２に示すこの発明の一実施の形態に係る透過光測定装置を用いてその光学素子１３の透過光が測定されて粗面検査が行われる。
【００２７】
ここで、この発明の一実施の形態に係る透過光測定装置について図２を参照して説明する。即ち、装置本体２０は、例えば遮光箱２１内に収容配置される。この装置本体２０には、保持手段を構成する保持部２２が設けられ、この保持部２２には、上記加工治具の治具本体１１の胴体部１１１が挿入されて取付けられる。また、装置本体２０には、上記保持部２２を挟んでライトガイド取付け部２３及び測定側取付け部２４が、その中心軸を治具本体１１のロッドレンズ１２の中心軸と一致するように対向して設けられる。
【００２８】
このうちライトガイド取付け部２３には、ライトガイド２５の一端が上記治具本体１１のロッドレンズ１２の下端面１２２に対応して取付けられる。このライトガイド２５は、その他端にキセノンランプ、ハロゲンランプ等で構成される光源２６が接続され、この光源２６から発光された測定光を上記治具本体１１のロッドレンズ１２の下端面１２２に向けて照射する。
【００２９】
他方の測定側取付け部２４には、測定器、例えば照度計２７の測定部２７１が、上記治具本体１１のロッドレンズ１２の上端面１２１に装着された光学素子１３の凸面部１３１に対応して取付けられる。この測定部２７１は、ケーブル２７２を介して表示部２７３に接続され、上記治具本体に装着された光学素子の凸面部を通った測定光の透過光を測定する。
【００３０】
上記構成において、透過光測定方法の手順は、図３に示す手順で行われる。先ず、ステップＳ１において、上述したように治具本体１１のロッドレンズ１２の上端面１２１に光学素子１３を接着して取付けて、切削機に装着して光学素子１３に研削加工を施し、続いてステップＳ２において、研磨機に装着して研磨加工を施して凸面部１３１を形成し、その後、光学素子１３が装着される治具本体１１を、遮光箱２１内の装置本体２０の保持部２２に取付ける。ここで、治具本体１１の光学素子１３は、その光学軸がライトケーブル２５及び測定部２７１の中心に一致される。
【００３１】
次に、ステップＳ３において光源２６が駆動されて照明光が発光される。すると、この照明光は、ライトケーブル２５に導かれ、該ライトケーブル２５の一端から治具本体１１のロッドレンズ１２の下端面１２２に向けて照射され、該ロッドレンズ１２の下端面１２２に入射される。このロッドレンズ１２の下端面１２２に入射された測定光は、その上端面１２１から光学素子１３の平面部に導かれ、該光学素子１３の凸面部１３１から照射される。この光学素子１３の凸面部１３１から照射された透過光は、測定部２７で検出され、その測定値、例えば照度値が表示部２７３に表示される。
【００３２】
この状態で、例えば光学素子１３の測定値が目標値に達した場合には、光学素子１３を治具本体１１から離脱されて製作加工が完了される（ステップＳ４）。
【００３３】
また、光学素子の測定値が目標値に達しない場合には、ステップＳ５に移行して再び上記治具本体１１が装置本体２０の保持部２２から離脱され、該治具本体１１が上記研削機あるいは研磨機に装着されて加工処理され、再度ステップＳ３に移行して同様の透過光測定検査が行われる。このように光学素子１３を治具本体１１の装着した状態で、該光学素子１３の加工処理あるいは透過光検査を交互に行うことで、光学素子１３の表面粗さを所望の値に加工処理する。
【００３４】
このように、上記加工冶具は、治具本体１１に下端面１２１から測定光が入射されて上端面１２２に導かれるロッドレンズ１２を内挿し、このロッドレンズ１２の上端面１２１に加工を施す光学素子１３を着脱可能に取付け配置するように構成した。
【００３５】
これによれば、光学素子１３は、治具本体１１のロッドレンズ１２の上端面１２１に装着されて加工処理が施され、加工処理状態で、そのロッドレンズ１２の下端面１２２から測定光が供給されると、該ロッドレンズ１２の上端面１２１から測定光が導かれて照射され、その透過光を測定することができる。これにより、透過光の測定に基づいて再加工を行う場合には、その治具本体１１を、直接的に研削機及び研磨機に装着することで、光学素子１３の再加工処理を簡便にして、容易に行うことができる。この結果、従来のように再加工処理が困難で、不良品とする確率を低く抑えることが可能となり、歩留まりの向上が図れる。
【００３６】
また、上記透過光測定装置は、下端面１２２から測定光が入射されて上端面１２１に導くロッドレンズ１２が内挿され、このロッドレンズ１２の上端面１２１に加工を施す光学素子１３を着脱可能に装着される治具本体１１を、装置本体２０の保持部２２に着脱自在に装着し、この装着状態において、測定光をロッドレンズ１２に供給し、該ロッドレンズ１２を介して測定光を光学素子１３に導いて、その透過光を測定部２７１で測定するように構成した。
【００３７】
これによれば、測定値が目標値に達していない場合には、治具本体１１を装置本体２０の保持部２２から離脱させて、この治具本体１１を用いて直接的に再加工が可能となることにより、簡便にして容易に高精度な再加工処理を実現することが可能となる。この結果、従来のように再加工処理が困難で、不良品とする確率を低く抑えることが可能となり、歩留まりの向上が図れる。
【００３８】
なお、この発明は、上記実施の形態に限ることなく、その他、図４乃至図９に示すように構成することも可能で、同様の効果が期待される。但し、これら図４乃至図９においては、上述した図１及び図２と同一部分について同一符号を付して、その詳細な説明を省略する。
【００３９】
先ず、図４は、この発明の他の実施の形態に係る透過光測定装置を示すもので、上記装置本体２０には、上記保持部２２に装着された治具本体１１の光学素子１３の凸面部１３１に対向してライトガイド取付け部２３１を設けて、このライトガイド取り付け部２３１には、上記光源２６に光学的に接続されたライトガイド２５の一端を取付ける。そして、上記装置本体２０には、その保持部２２に装着された治具本体１１のロッドレンズ１２の下端面１２２に対向して測定側取付け部２４１を設けて、この測定側取付け部２４１には、例えば上記照度計２７の測定部２７１を取付ける。
【００４０】
上記構成により、光源２６から発光された測定光は、ライトガイド２５を介して治具本体１１の光学素子に直接的に照射され、この光学素子１３を透過した透過光が治具本体１１のロッドレンズ１２の上端面１２１から下端面１２２に導かれて、該下端面１２２から測定部２７１に照射されて測定される。
【００４１】
また、図５は、この発明の他の実施の形態に係る透過光測定装置を示すもので、上記装置本体１０の測定側取付け部２４には、積分球２８が配され、この積分球２８の一方の口２８１に上記治具本体１１のロッドレンズ１２の上端面１２１に装着された光学素子１３が挿入される。この積分球２８の他方の口２８２には、光量計２９の入力端が光学的に接続される。また、上記装置本体２０のライトガイド取付け部２３には、同様に光源２６に光学的に接続されたライトガイド２５の一端が上記治具本体１１のロッドレンズ１２の下端面１２２に対向して取付けられる。
【００４２】
上記構成により、上記光源２６から発光された測定光は、ライトガイド１２して治具本体１１のロッドレンズ１２の下端面１２２に入射され、この測定光がロッドレンズ１２を通して光学素子１３に導かれて、その透過光が積分球２８の一方の口２８１に入射される。この積分球２８に入射された透過光は、該積分球２８の他方の口２８２から光量計２９に入射され、その光量が測定される。
【００４３】
図６は、この発明の他の実施の形態に係る透過光測定装置を示すもので、上記装置本体２０には、積分球３０が一方の口３０１で保持部２２に装着される治具本体１１の下方端を覆うように設けられる。この積分球３０には、その他方の口３０２に上記ライトガイド２５の一端が接続され、このライトガイド２５の他端は、上記光源２６に接続される。そして、上記装置本体２０の測定側取付け部２４には、上記照度計２７の測定部２７１が上記治具本体１１のロッドレンズ１２の上端面１２１上の光学素子１３に対向して取付けられる。
【００４４】
上記構成により、光源２５が駆動されて測定光が発光されると、測定光は、ライトガイド２６を介して積分球３０に導かれて均質化され、治具本体１１のロッドレンズ１２を通って光学素子１１に導かれる。この光学素子１１の透過光は、その凸面部１３１から照度計２７の測定部２７１に照射され、その透過光量が測定される。これによれば、積分球３０の作用により、測定結果の均一化がはかれるため、さらに良好な効果が期待される。
【００４５】
図７は、この発明の他の実施の形態に係る透過光測定装置を示すもので、上記図４に示す透過光測定装置と同様に構成される部分について同一符号を付して、その詳細な説明を省略する。即ち、装置本体２０の保持部２２の上方に上記ライトガイド取付け部２３１を設け、このライトガイド取付け部２３１に対して光源２６に光学的に接続されるライトガイド２５の中間部を取付ける。そして、このライトガイド２５の一端には、遮光筒３１が被着されて配され、この遮光筒３１の先端部には、上記治具本体１１の光学素子１３の凸面部１３１を覆うように被着される。ここで、遮光筒３１は、ライトガイド２５の一端と光学素子１３の凸面部１３１との間を覆うように配される。
【００４６】
上記構成により、光源２６から発光された測定光は、ライトガイド２５、遮光筒３１を介して治具本体１１の光学素子１３の凸面部１３１に直接的に照射される。この光学素子１３を透過した透過光は、同様に治具本体１１のロッドレンズ１２を通り、下端面１２２から測定部２７１に向けて照射され、該測定部２７１で測定される。この際、ライトガイド２５に導かれた光源２６からの測定光は、遮光筒３１により、拡散されることなく、効率的に光学素子１３の凸面部１３１に導かれることで、高精度な光量測定を実現することが可能となるため、さらに有効な効果が期待される。
【００４７】
図８は、この発明の他の実施の形態に係る加工治具を示すもので、上記実施の形態と同様の効果が期待される。但し、この図８においては、上記図１と同一部分について同一符号を付して、その詳細な説明を省略する。
【００４８】
即ち、上記治具本体１１には、その胴体部１１１に光路を構成する挿通孔１１２が略中心の上下方向に貫通されて設けられ、この挿通孔１１２の上端の周囲には、凸形状の光学素子取付け部１１３が設けられる。そして、この光学素子取付け部１１３には、光学素子１３の平面部が接着剤を用いて貼付けられて取付けられる。
【００４９】
上記構成により、治具本体１１は、同様にその胴体部１１を研削機及び研磨機に装着して、その光学素子１３に研削加工及び研磨加工を施すことにより、凸面部１３１の加工が行われる。
【００５０】
そして、加工処理後、光学素子１３の装着された治具本体１１は、例えば図９に示す透過光測定装置を用いて透過光測定検査が行われる。なお、この図９においては、上記図２と略同様に構成されることで、説明の便宜上、同一部分について同一符号を付して、その詳細な説明を省略する。
【００５１】
即ち、治具本体１１は、その胴体部１１１が挿通孔１１２の下端側をライトガイド２５の装置本体２０の保持部２２に装着されて取付けられ、この状態で、光源２６が駆動されて測定光が発光される。すると、測定光は、治具本体１１の挿通孔１１２の下端側から入射され、該挿通孔１１２を通って光学素子１３の平面部に入射され、該光学素子１３の凸面部１３１から照度計２７の測定部２７１に照射される。
【００５２】
ここで、光学素子１３から放射された透過光は、照度計２７で光量が測定され、その測定結果に基づいて、再び、光学素子１３の加工処理が必要のある場合には、再度、治具本体１１を装置本体２１の保持部２２がから離脱させて、研削機及び研磨機に装着することにより、再加工が行われる。これによれば、治具本体１１に設ける光路を、挿通孔１１２で形成し、その光路に介在部材が存在していないことにより、さらに信頼性の高い安定した透過光測定が可能となる。
【００５３】
なお、上記図８に示す加工治具の説明においては、図９に示す透過光測定装置に適用した場合についてのみ代表して説明したが、これに限ることなく、その他、上記図４乃至図７に示す透過光測定装置に適用することも可能で、いずれの場合にいても略同様の効果が期待される。
【００５４】
よって、この発明は、上記実施の形態に限ることなく、その他、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々の変形を実施し得ることが可能である。さらに、上記実施の形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組合せにより種々の発明が抽出され得る。
【００５５】
例えば実施の形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
【００５６】
また、この発明は、上記実施の形態によれば、その他、次のような構成を得ることもできる。
【００５７】
（付記１）
光学素子が装着されて該光学素子の加工処理に供する加工治具において、
前記光学素子に測定光を導いて、その透過光を測定可能な光路を設けたことを特徴とする加工治具。
【００５８】
（付記２）
前記光路は、透明な材料で構成されていることを特徴とする付記１記載の加工治具。
【００５９】
（付記３）
前記透明な材料がガラスであることを特徴とする付記２記載の加工治具。
【００６０】
（付記４）
光学素子を透過する光量を測定する透過光測定装置において、
発光するための光源と、
前記光源からの光を導くライトガイドと、
前記光学素子が装着されて該光学素子の加工処理に供するものであって、前記光学素子に測定光を導いて、その透過光を測定可能な光路を有する加工治具と、
この加工治具を前記ライトガイドに対応して保持する保持手段と、
前記加工治具に装着された前記光学素子の光量又は照度を測定する測定器と、
を具備することを特徴とする透過光測定装置。
【００６１】
（付記５）
光学素子を透過する光量を測定する測定方法において、
装着された前記光学素子に測定光を導いて、その透過光を測定可能な光を有した前記光学素子の加工処理に供する加工冶具の前記光路に測定光を供給して、該加工冶具に装着された光学素子の透過した光量又は照度を測定することを特徴とする透過光測定方法。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】この発明の一実施の形態に係る加工治具を示した断面図である。
【図２】この発明の一実施の形態に係る透過光測定装置を説明するために示した構成説明図である。
【図３】この発明の一実施の形態に係る透過光測定方法を説明するために示したフローチャートである。
【図４】この発明の他の実施の形態に係る透過光測定装置を説明するために示した構成説明図である。
【図５】この発明の他の実施の形態に係る透過光測定装置を説明するために示した構成説明図である。
【図６】この発明の他の実施の形態に係る透過光測定装置を説明するために示した構成説明図である。
【図７】この発明の他の実施の形態に係る透過光測定装置を説明するために示した構成説明図である。
【図８】この発明の他の実施の形態に係る加工冶具を示した断面図である。
【図９】この発明の他の実施の形態に係る透過光測定装置を説明するために示した構成説明図である。
【図１０】従来の透過光測定装置の問題点を説明するために示した構成図である。
【図１１】従来の加工冶具の問題点を説明するために示した断面図である。
【図１２】この発明の適用される光学素子の研削加工の方法を説明するために示した説明図である。
【図１３】この発明の適用される光学素子の研磨加工の方法を説明するために示した説明図である。
【符号の説明】
【００６３】
１１…治具本体、１１１…胴体部、１１２…挿通孔、１１３…光学素子取付け部、１２…ロッドレンズ、１２１…上端面、１２２…下端面、１３…光学素子、１３１…凸面部、１４…接着剤、２０…装置本体、２１…遮光箱、２２…保持部、２３,２３１…ライトガイド取付け部、２４,２４１…測定側取付け部、２５…ライトガイド、２６…光源、２７…照度計、２７１…測定部、２７２…ケーブル、２７３…表示部、２８…積分球、２８１…一方の口、２８２…他方の口、２９…光量計、３０…積分球、３０１…一方の口、３０２…他方の口、３１…遮光筒。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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