(57)【要約】【課題】DVDやDVD-R等における従来のディスクの特定の領域への記録方式に代わる新たな記録方式を用いた光ディスク装置を提案する。【解決手段】特定の領域に、記録用レーザ光の波長よりも小さいピッチにて凹凸構造が形成され、さらに、この凹凸構造上に反射層が形成されている光ディスクに対し、複数の凸凹構造がビームスポット内にかかるようにして高パワーのレーザ光をディスクの特定の領域に照射すると、レーザ光が照射された凹凸構造は隆起し、この隆起によって、その表面が平坦化される。このとき、隆起部分の反射光の強さは非隆起部分の反射光の強さよりも上昇する。この反射光の強さの変化を用いて信号記録を行う。また、凸凹構造部分に照射された光の反射光の強さは低いため、鏡面領域と間欠的に設けられた凸凹構造領域の反射光の強さの差に基づいて、あるいは、凸凹構造の変化による反射光の強さの差に基づいて、信号を再生することができる。【選択図】 図６
2006309863.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク上の特定の領域に、記録用レーザ光の波長よりも小さいピッチにて凹凸構造が形成され、さらに、この凹凸構造上に反射層が形成されている光ディスクにデータを記録する光ディスク装置であって、
前記データを前記特定の領域に記録するための制御信号を生成すると共に、前記データを所定の記録形式に変換する記録制御部と、
前記制御信号に基づいて、前記光ディスクに照射するレーザ光のパワーを前記凸凹構造の形状を変化させ得るパワーに設定するパワー設定部と、
前記制御信号に基づいて、前記パワー設定部にて設定されたパワーのレーザ光を出射するレーザ光出射部と、
前記制御信号に基づいて、複数の前記凸凹構造がビームスポット内にかかるようにしてレーザ光を前記ディスクの特定の領域に収束させるレーザ光出射制御部とを有する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記特定の領域は、BCAであって、
前記レーザ光出射制御部は、前記BCAに記録するデータをバーコード状に記録するよう制御する、
ことを特徴とする請求項１に記載の光ディスク装置。
【請求項３】
光ディスク上のBCAに、再生用レーザ光の波長よりも小さいピッチにて凹凸構造が形成され、さらに、この凹凸構造上に反射層が形成されている光ディスクからデータを再生する光ディスク装置であって、
前記光ディスクに照射するレーザ光のパワーを前記凸凹構造の形状を変化させ得ないパワーに設定するパワー設定部と、
前記パワー設定部にて設定されたパワーのレーザ光を出射するレーザ光出射部と、
複数の前記凸凹構造がビームスポット内にかかるようにしてレーザ光を前記BCAに収束させるレーザ光出射制御部と、
前記BCAに前記レーザ光を照射し、その反射光の強さに基づいて再生信号を得る再生部とを有する、
ことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、情報を光学的に記録もしくは再生する光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
CD（Compact Disc）やDVD（Digital Versatile Disc）等の光ディスクでは、映像や音声などの主情報は、同心円またはスパイラル状のトラックに沿って記録されている。
【０００３】
主情報以外の補助情報、例えば、ディスク固有の情報の記録手法として、例えば、特許文献１に開示されているように、BCA（バーストカッティングエリア）を用いて、ディスク最内周付近にバーストコードを設け、バーコード状の信号により、ディスク固有の情報等の補助情報を記録する技術が開示されている。このバーコードは、ディスク内周付近の半径位置に、高出力レーザで記録膜を焼き切る等の方法で設けられる。
【特許文献１】特開平１０−１８８３６１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、高出力レーザを搭載したユーザ向け光ディスク装置は、コストや安全性の面からこれまで提供がなされていない。したがって、ユーザがディスク固有の情報等の補助情報を記録する場合には、光ディスクのデータ領域にデータとして記録していた。
【０００５】
本発明は、かかる従来のBCA形成方法に代わる新たな形成方式を用い、BCAコードを光ディスクに追記することを可能とする光ディスク装置を提案するものである。
【０００６】
さらには、著作権保護等の目的のために、ユーザの所有する光ディスク装置固有の識別情報等をBCAコードとして記録することができる光ディスク装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題に鑑み、本発明はそれぞれ以下の特徴を有する。
【０００８】
請求項１の発明は、
光ディスク上の特定の領域に、記録用レーザ光の波長よりも小さいピッチにて凹凸構造が形成され、さらに、この凹凸構造上に反射層が形成されている光ディスクにデータを記録する光ディスク装置であって、前記データを前記特定の領域に記録するための制御信号を生成すると共に、前記データを所定の記録形式に変換する記録制御部と、前記制御信号に基づいて、前記光ディスクに照射するレーザ光のパワーを前記凸凹構造の形状を変化させ得るパワーに設定するパワー設定部と、前記制御信号に基づいて、前記パワー設定部にて設定されたパワーのレーザ光を出射するレーザ光出射部と、前記制御信号に基づいて、複数の前記凸凹構造がビームスポット内にかかるようにしてレーザ光を前記ディスクの特定の領域に収束させるレーザ光出射制御部とを有することを特徴とする。
【０００９】
この特徴による凸凹構造部分は、熱が溜まりやすく、レーザ光の照射による急激な温度上昇によって、基板の構造変化が生じ、反射率（反射光の強さ）が低下する。これにより、従来のパワーのレーザ光に代わって、低パワーのレーザ光の照射による情報の記録が可能となる。
【００１０】
請求項２の発明は、請求項１に記載の光ディスク装置であって、前記特定の領域は、BCAであって、前記レーザ光出射制御部は、前記BCAに記録するデータをバーコード状に記録するよう制御することを特徴とする。
【００１１】
この特徴により、光ディスクのBCAに、従来のCDディスク等と同様のバーコード状のデータを記録することができる。
【００１２】
請求項３の発明は、光ディスク上のBCAに、再生用レーザ光の波長よりも小さいピッチにて凹凸構造が形成され、さらに、この凹凸構造上に反射層が形成されている光ディスクからデータを再生する光ディスク装置であって、前記光ディスクに照射するレーザ光のパワーを前記凸凹構造の形状を変化させ得ないパワーに設定するパワー設定部（２）と、前記パワー設定部にて設定されたパワーのレーザ光を出射するレーザ光出射部と、複数の前記凸凹構造がビームスポット内にかかるようにしてレーザ光を前記BCAに収束させるレーザ光出射制御部と、前記BCAに前記レーザ光を照射し、その反射光の強さに基づいて再生信号を得る再生部とを有することを特徴とする。
【００１３】
この特徴による凸凹構造部分は、反射光の強さが低く、鏡面領域と間欠的に設けられた凸凹構造領域の反射光の強さの差に基づいて、あるいは、凸凹構造の変化による反射光の強さの差に基づいて、信号を再生することができる。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、BCAに微細な凹凸構造を有す光ディスクに対し、従来のBCA形成方法よりも格段に低パワーのレーザ光にてBCAコードを記録することができる。これにより、光ディスク製造の低コスト化を図ることができる。
【００１５】
さらには、ユーザの所有する光ディスク装置固有の識別情報等をBCAコードとして光ディスクに記録することができるため、たとえば、光ディスクを用いたアプリケーションの利用に際し、同ディスクにユーザ所有の光ディスク装置固有の識別情報を記録し、同アプリケーションの利用を管理することによって、著作権保護を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。
【００１７】
まず、図１に光記録媒体の基本構成を示す。
【００１８】
図示の如く、光記録媒体は、基板１０上に反射層２０が形成された構成となっている。ここで、基板１０は、一般に、ポリカーボネート等の透光性材料から形成されている。また、反射層２０は、Ａｌ等の高反射材料からなっている。この高反射材料を基板１０上にスパッタ等によって膜形成することにより、反射層２０が形成される。
【００１９】
基板１０の反射層形成面には、微細な凹凸構造１０ａが形成されている。この凹凸構造１０ａ上に、上記の如く反射層２０を形成すると、反射層２０の膜面に、基板１０の凹凸構造１０ａが反映される。
【００２０】
凹凸構造１０ａは、記録・再生用レーザ光のビームスポットが複数の凹凸構造に同時に掛かるような寸法に設定されている。この場合、少なくとも、凹凸構造１０ａの面内方向ピッチを、再生レーザ光の波長よりも小さく設定すれば、再生レーザ光のビームスポットが複数の凹凸形状に同時に掛かるようになる。
【００２１】
＜測定例１＞
このような構成を有する光記録媒体を実際に作成して、反射率の測定を行った。以下、これについて説明する。
【００２２】
図２は、基板１０上に形成された凹凸構造１０ａの二次電子写真像を示すものである。同図（ａ）は上面側から撮像したときの写真像、同図（ｂ）は斜め上面側から撮像したときの写真像である。なお、同図の写真像は、凹凸構造１０ａ上にＣｏ50Ａｌ50at.％の合金膜をスパッタによって２０ｎｍ形成した後、電子写真撮像のためにＰｔ−Ｐｄを１０Å蒸着した状態で撮像を行ったときのものである。
【００２３】
同図に示すように、本測定では、縦横均等に一定ピッチにて円柱状の突起が並ぶようにして、凹凸構造１０ａが形成されている。また、凹凸構造１０ａのピッチ（隣り合う円柱状突起間の距離）は、縦横ともに２５０ｎｍであり、円柱状突起の高さは、１７０ｎｍとなっている。
【００２４】
なお、同図に示す基板１０は、以下のようにして形成した。
【００２５】
まず、シリコン原盤にスピンコートによりレジストを塗布する。ここで用いられるレジストは電子ビーム用のものであり、例えば、住友化学工業社製・NEB22などを用いる。その後、ＥＢ描画（電子ビームカッティング）にて、上記ピッチの凹凸構造を形成する。この描画後、現像処理を行い、ＲＩＥ加工を行う。さらに、酸素プラズマアッシングを行って、残存するレジストを除去する。これにより、シリコン原盤上に凹凸構造が形成される（Ｓｉ原基）。
【００２６】
次に、このＳｉ原基に対し、Ｎｉスパッタを行い、さらに、電解めっきによって、Ｎｉを堆積する。そして、堆積したＮｉ層をＳｉ原盤から剥離して、スタンパを作製する。このスタンパを用いて、射出成形により基板１０を作製する。これにより、凹凸構造が転写された基板１０が形成される。
【００２７】
なお、射出成形機は、例えば名機製M-35B-D-DMを用いることができる。また、基板材料としては、ポリカーボネートやポリオレフィンといった透光性材料を用いることができる。本測定では、ポリカーボネートを用いた。基板材料は、これ以外に、生分解性材料を用いることもできる。こうすると、廃棄時における環境負荷等を小さくすることができる。
【００２８】
なお、ＥＢ描画に代えてレーザビームカッティングを用いることもできる。この場合、シリコン原盤上には、フォトレジスト層が塗布される。また、カッティングビームとしては、波長４００ｎｍ程度のレーザ光が用いられる。
【００２９】
本測定では、このようにして生成した基板１０上に、Ｃｏ50Ａｌ50at.%の合金膜（反射膜）を、スパッタによって２０nm形成した。なお、測定にて用いる光記録媒体には基板１０上にこの合金膜（反射膜）のみを形成した。反射膜の形成は、以下のようにして行った。
【００３０】
真空チャンバで５×１０−５Pa以上まで真空引きを行ったのち、Arガスを導入し、０．６Paの雰囲気中でスパッタを行った。チャンバ内には、CoターゲットとAlターゲットを設置し、同時にそれぞれに電力を投入することにより合金化するCo-スパッタ法を用いてＣｏ50Ａｌ50at.%の合金膜（反射膜）を製膜した。尚、基板１０は、反射膜を均一に製膜するために、放電中に、４０rpmで自公転させた。
【００３１】
このようにして光記録媒体を生成した後、反射率の測定を行った。図３に、その測定結果を示す。同図には、比較例として、反射膜形成面が平坦なガラス基板上にＣｏ50Ａｌ50at.%の合金膜をスパッタによって２０nm形成した光記録媒体に対する反射率の測定結果を重ねて示してある。
【００３２】
同図から、基板１０上に上記のような凹凸構造１０ａを形成すると、反射率が１０％程度に低下することが分かる。このことから、凹凸構造１０ａを形成すると、凹凸構造１０ａを形成しない鏡面部分との間で大きな反射率差を発現させることができることが分かる。
【００３３】
＜測定例２＞
基板１０に凹凸構造１０ａを形成した光記録媒体に対し、通常記録パワー程度のレーザパルス光を照射し、凹凸構造１０ａの形状変化および反射率変化を測定した。以下、これについて説明する。
【００３４】
なお、本測定例では、反射膜としてＡｌ膜を形成した。Ａｌ膜は、凹凸構造１０ａが形成された基板面にＡｌ膜をスパッタによって形成した。Ａｌ膜の膜厚は２０ｎｍとした。Ａｌ膜の形成は、上記測定例１（Ａｌ−Ｃｏ膜の形成）に比べ、Ａｌターゲットのみをチャンバ内に設置する点のみ相違し、その他は、上記と同じである。また、凹凸構造１０ａの形状、寸法は上記測定例と同じである。
【００３５】
この光記録媒体に対し、波長６３５ｎｍ、パワー１０ｍＷのパルスビームを反射膜側から収束照射した。なお、ビームスポットは、ＮＡ＝０．５５の対物レンズにて、スポット径＝１μｍ程度に収束させた。また、照射ビームのパルス周波数は一定とした。
【００３６】
図４（ａ）にパルスビームの走査軌跡を示す。図中、白い部分がパルスビームの照射位置である。図４（ｂ）に、パルスビーム照射後の基板面の形状を示す。同図（ｂ）から、パルスビームを照射した基板面部分が他の部分に比べ隆起していることが分かる。
【００３７】
図５は、隆起部分の断面形状を測定したものである。この測定結果から、パルスビームを照射した基板面部分が他の部分に比べ大きく隆起し、且つ、その上面部分が平坦化されていることが分かる。
【００３８】
さらに、パルスビームにて走査した部分を低パワーの単調レーザ光で走査し、反射光強度の変化をオシロスコープで測定した。その結果、パルスビームの周波数成分が他の周波数成分に比べ１０〜２０％程度、反射光強度が高いことが測定された。この測定結果から、隆起部分は非隆起部分に比べ、反射率が１０〜２０％程度上昇することが分かる。よって、凹凸構造１０ａに高パワーのレーザを照射することにより、反射率変化による信号記録が可能になることが分かる。
【００３９】
なお、高パワーのレーザ光照射による基板面の隆起は、当該部分の温度上昇によって基板がガラス転移温度以上に上昇し、さらに、凹凸構造１０ａによる反射膜の表面張力によって当該部分が隆起方向に持ち上げられたことによって生じたものと予測される。本実施の形態による光記録媒体では、図２に示すような凹凸構造１０ａが基板面に形成されているため、ビーム照射に対する表面積が大きくなり、且つ、媒体表面方向に対する熱分散が生じ難い。このため、ビーム照射位置は、熱吸収が高く、且つ、吸収した熱が溜まりやすくなり、高パワーのレーザ光照射によって容易に温度上昇が生じる。その結果、当該部分はガラス転移温度に達しやすくなり、外力による流動変位が生じやすくなる。このため、凹凸構造１０ａによる反射膜の表面張力によって当該部分に外力が加えられると、当該部分がこの力によって上方向に引っ張られ、隆起するものと考えられる。
【００４０】
したがって、上記構成を利用して追記型の光記録媒体を生成する場合には、温度上昇に
よって流動変位が生じやすいよう、基板材料としてガラス転移温度が低い材料を用いるのが有利である。
【００４１】
上記測定例では、基板材料としてポリカーボネート樹脂を用いたが、ポリカーボネートよりガラス転移温度が低い方が、より低いレーザパワーによっても記録を行えるようになる。ポリカーボネートのガラス転移温度は１２０〜１４０℃であるため、アクリル樹脂（１１０℃）や、ポリ乳酸を使った植物由来のプラスチック（６０℃〜１００℃）等が、基板材料としてより好適である。特に、ポリ乳酸を用いると、石油資産を用いないことから、有限資源の枯渇等を回避できる。また、地中などに廃棄しても地中の微生物などによって分解されるため、石油由来のものよりも、廃棄時における環境への影響を改善することができる。
【００４２】
反射層の材料としては、照射されるレーザ光によって反射する材料で、且つ、凹凸構造上において反射率が低下するものであればよい。具体的には、上記測定例２で用いたＡｌの他、Ａｌとその合金等を用いることができる。この種の材料を用いると、凹凸構造のない鏡面部分において波長６５０nmに対する反射率が９０％以上となり、且つ、凹凸構造上では反射率が１０％程度に急激に低下する。よって、追記型または再生専用型の記録媒体の反射層材料として好適である。
【００４３】
また、反射層の材料は自然界において一般的に存在し、人体に有毒な材料ではなく、また廃棄時において廃棄量や含有量等について何らかの規制が設けられていない物質を用いることが望ましい。このような材料を用いると、埋め立てなど簡易な方法によって廃棄でき、公害などを引き起こす惧れなどがない。
【実施例１】
【００４４】
以下、上記基本構成例を光ディスクのBCAに用いた場合の具体的構成例について説明する。なお、本実施例は、追記型のBCAに関するものである。
【００４５】
図６に、光ディスクの構成を示す。
【００４６】
図示の如く、光ディスク１００の部分Ａ，Ｂには、基板１０１と、反射層１０２と、保護層１０３と、レーベル印刷層１０４から構成されており、凹凸構造１０１ａが形成されている。
【００４７】
基板１０１には、反射層１０２が形成される方の面に、上記のような凹凸構造１０１ａが面状に形成されている。
【００４８】
図示の如く、部分Ａには、凸凹構造が内周から外周に渡って棒状に、かつ、トラック方向に間欠的に配されている。また、部分Ｂには、凸凹構造が円弧状に配されている。
【００４９】
なお、請求項の「特定の領域」とは、図示の如く、光ディスク１００のこれらの層からなる構造を有する領域のうち、上記部分Ａ，Ｂを含む最内周に位置する領域１１０である。
【００５０】
図６の部分Ｂにおいて、凹凸構造１０１ａは、図７に示すように、円柱状構造が並ぶようにして形成されている。また、円柱状構造の頂点と、この凸凹構造を設けない領域に位置する平坦部１０１ｂの表面の高さが同じとなっている。
【００５１】
基板１０１は、上述の如く、電子ビームエッチングと射出成形によって形成される。すなわち、図８を参照して、シリコン原盤上に電子ビームで露光されるレジストを塗布する（工程１）。次に、電子ビームを原盤上においてｘ、ｙ方向に走査しながら、凹凸構造１０１ａに対応する部分を露光し、原盤上に凹凸構造１０１ａの原型を形成する（工程２）。このとき、平坦部１０１ｂに対応する部分には電子ビームを露光しない。原盤上のすべての領域を露光したら現像を行い（工程３）、ＲＩＥ加工をおこなってＳｉ原盤上に露光された部分を転写する（工程４）。さらに、酸素プラズマアッシングを行って、残存するレジストを除去する（工程５）。これにより、シリコン原盤上に凹凸構造が形成される（Ｓｉ原基）。
【００５２】
その後、このＳｉ原盤にＮｉメッキを行ってスタンパを作製し（工程６、７）、このスタンパを用いて射出転写することによって光ディスクの基板を作製する（工程８、９）。
【００５３】
この基板１０１上に、反射層１０２をスパッタ法によって積層する。さらに、反射層１０２の傷や酸化等を防ぐために、ＵＶ硬化樹脂をスピンコート等にて積層して保護層１０３を形成し、その上に、シルクスクリーン等によってレーベル印刷層１０４を形成する。
【００５４】
なお、基板材料としては、上述の如く、ポリカーボネート樹脂やアクリル樹脂（１１０℃）、ポリ乳酸を使った植物由来のプラスチック等を用いる。また、反射層材料としては、Ａｌや、Ａｌとその合金等を用いる。
【００５５】
図９は、記録時における凹凸構造１０１ａ領域の状態を模式的に示したものである。
【００５６】
同図（ａ）は、凹凸構造１０１ａの未記録状態を示すものである。平坦部１０１ｂは、反射層１０２によって鏡面となっている。凹凸構造１０１ａの形成部分は、低反射面となっている。
【００５７】
同図（ａ）において、凹凸構造１０１ａにビームが照射されると、ビーム照射部分の温度が上昇し、同図（ｂ）に示すように、当該部分の表面が反射層１０２の方向に隆起する。このとき、凹凸構造１０１ａは、上記測定例２に示すように、隆起によって表面が平坦化される。この隆起と平坦化によって、上記測定例２に示すように、当該部分の反射率が上昇する。その結果、同図（ｃ）に示すように、一連の高反射率部分（ビーム照射部分）と低反射率部分（ビーム非照射部分）が形成される。しかして、これらの反射率差によりデジタルデータが記録される。
【００５８】
以下に、上記光ディスクに対し情報の記録および再生を行う光ディスク装置について説明する。
【００５９】
本実施例のBCAに対し、情報の記録および再生を行う光ディスク装置の基本構成を図１１に示す。
【００６０】
光ディスク装置は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１、ＣＰＵ１からの指令に応じて半導体レーザ３を駆動するレーザ駆動回路２、光ピックアップ３、光ピックアップ３内に配された光検出器３ｂからの信号を演算ないし増幅して各種信号を対応する回路に出力する再生信号増幅回路４、再生信号増幅回路４から供給されるフォーカスエラー信号をもとにサーボ信号を生成し、サーボ機構６およびスピンドルモータ７に供給するサーボ回路５、サーボ回路５から供給されるフォーカスサーボ信号に応じて光ピックアップ３に配された対物レンズを駆動するサーボ機構６、サーボ回路５から供給されるモータサーボ信号に応じて光ディスクを所定の速度にて回転駆動するスピンドルモータ７を備える。
【００６１】
まず、上記光ディスクのBCAに情報を記録する動作について説明する。本実施例では、BCAに記録される情報は、従来のCDディスク等と同様にバーコード状に記録される。
【００６２】
追記型BCAの記録動作時、記録用データがCPU１によって変調等のエンコード処理された後、BCAにバーコード状の信号として記録されるように、記録制御信号がレーザ駆動回路２、サーボ回路５に出力される。
【００６３】
レーザ駆動回路２は、記録制御信号に応じたビームを出射するように、光ピックアップ３内の半導体レーザ３ａを駆動する。ここで、出射レーザパワーは、上記凹凸構造１０１ａを隆起させ、この凸凹構造１０１の隆起によって、その表面が平坦化し得る高パワーに設定される。
【００６４】
また、サーボ回路５によって、ビームの照射位置が制御され、光ピックアップ３からのレーザ光は、上記図９に示すように、複数の凹凸構造１０１ａが同時に掛かるようにして照射される。
【００６５】
より具体的には、記録用BCA領域へのデータの記録は、光ディスク１回転毎に１パルス発生されるスピンドルエンコーダパルスをトリガになされる。このとき、光ディスク１回転毎にトラッキングアクチュエータに加える電圧を少しずつ変化させる事により、記録する半径位置を移動させバーコード状にBCAデータを記録していく。規定の半径値まで繰り返しBCAデータを記録し終えれば、本記録動作を終了する。
【００６６】
予め決められた追記用BCA領域は、BCAコード再生信号とＳＰモータのエンコードパルスとから識別可能である。
【００６７】
また、本実施の形態の凹凸構造は、高いレーザーパワー(4〜10mW程度)を照射することにより周期的な凸凹構造が破壊され反射率が増加するため、BCAに記録するデータは、この特性に合致するように変調を行う。
【００６８】
さらに、BCAのバーコード状記録マークはデータエリアの記録マークと比して大きく、このため、スポット径が大きく、出射パワーに余裕のある、波長の長い赤色レーザや赤外レーザを使用すると効率的である。
【００６９】
次に、上記光ディスクのBCAの情報を再生する動作について説明する。
【００７０】
まず、BCAデータを読み出すための再生制御信号がレーザ駆動回路２、サーボ回路５に出力される。
【００７１】
まず、サーボ回路５は、BCAにビームを照射するよう、光ピックアップ３に配された対物レンズを駆動するよう制御信号をサーボ機構６に出力し、また光ディスクを所定の速度にて回転駆動するよう制御信号をスピンドルモータ７に出力する。
【００７２】
また、レーザ駆動回路２は、再生制御信号に応じたビームを出射するよう、光ピックアップ３内の半導体レーザ３ａを駆動する。このとき、レーザ駆動回路２は、単調レーザビームを出射するよう、光ピックアップ３内の半導体レーザ３ａを駆動する。ここで、出射レーザのパワーは、上記凹凸構造１０１ａを隆起させ、この凸凹構造１０１の隆起によって、その表面が平坦化されない程度の低パワーに設定される。また、光ピックアップ３からのレーザ光は、上記図９または図１０に示すように、複数の凹凸構造１０１ａが同時に掛かるようにして照射される。
【００７３】
この照射されたレーザ光の光ディスクからの反射光は、光ピックアップ３内に配された光検出器３ｂによって検出され、この検出した信号は、再生信号増幅回路４において、演算ないし増幅されて再生信号となる。このとき、再生された信号はバーコード状の信号であり、CPU１は、このバーコード状の信号をデコードし、情報を再生する。
【実施例２】
【００７４】
本実施例では、図６の部分Ａに相当する再生専用型BCAについて説明する。
【００７５】
ディスクの層構成は、上記実施例１と同様である。ただし、本実施例では、記録信号に応じた凹凸構造１０１ａが、内周に沿ってバーコードストライプ状に形成されている。本実施例の凹凸構造１０１ａは、上記実施例１と同様、電子ビームエッチングおよび射出成形によって基板１０１上に形成される。すなわち、上記図８の工程２において、電子ビームを原盤上においてｘ、ｙ方向に走査しながら、凹凸構造１０１ａに対応する部分を露光し、原盤上に凹凸構造１０１ａの原型を形成する。このとき、平坦部１０１ｂに対応する部分には電子ビームを露光しない。その他の工程は、図８に示すものと同様にして行われる。また、反射層１０２、保護層１０３、レーベル印刷層１０４の形成も、上記実施例１と同様である。
【００７６】
なお、本実施例の光ディスクは再生専用型であって追記型ではないため、基板材料は、上記実施例１と異なり、ガラス遷移温度が高い材料を用いることができる。再生時のレーザパワーは記録時に比べ低パワーであるため、基板材料としてポリカーボネート樹脂を用いることができるが、これよりもガラス遷移温度が高いガラス（ガラス遷移温度１５０℃以上）や、シクロオレフィン（ガラス遷移温度１４０〜１６０℃）を用いると、レーザ光に対する基板の耐性をさらに向上させることができる。なお、このようにガラス遷移温度が高い材料を使用すると、たとえば直射日光が当たる車内に放置される等、悪条件下における耐性を向上させることもできる。反射層材料としては、上記と同様、Ａｌや、Ａｌとその合金等を用いる。
【００７７】
図１０は、ディスク上に形成されたBCA領域を模式的に示したものである。
【００７８】
同図（ａ）に示すように、円柱状構造が形成された凹凸構造１０１ａが、記録信号に応じた長さ分だけ円周方向に配されている。同図（ｂ）は、同図（ａ）の状態を反射率の状態として示したものである。凹凸構造１０１ａが形成された部分のみ反射率が低下しており、凹凸構造１０１ａに挟まれた部分は、反射層１０２により高反射率となっている。
【００７９】
したがって、同図（ａ）に示すように、凹凸構造１０１ａを隆起させ、この凸凹構造１０１の隆起によって、その表面が平坦化されない程度のパワーにて走査すると、その反射光の強度変化にて、記録信号を再生することができる。
【００８０】
本実施例の光ディスクに対し情報の記録および再生を行う光ディスク装置は、実施例１における光ディスク装置と同様の構成および機能を備える。
【００８１】
再生専用型BCAへの記録動作も、追記型BCAの記録動作同様、実施例１の記録方法にて実現することができる。このほか、記録する半径位置をより正確に制御するために、上記のトラッキングアクチュエータに代わって、リニアスケールによる半径位置情報にもとづき、ピックアップを搭載したキャリッジを制御することも可能である。
【００８２】
再生専用型BCAの再生動作も、追記型BCAの再生動作同様、実施例１の再生方法にて実現することができる。
【００８３】
なお、本実施例に示す再生専用型BCAに記録された情報は、従来の光ディスクドライブによって再生することが可能である。
【００８４】
以上、本実施の形態によれば、凹凸構造１０１ａを用いながら、新たな方式による、ディスク上のBCAへの情報の記録および再生を行うことができる。
【００８５】
特に、実施例１に示す追記型BCAでは、高パワーレーザを用いることなく情報を記録することができ、このため、ユーザは独自にこのBCAにディスク固有の情報等を記録し利用することができる。
【００８６】
また、実施例２に示す再生専用型BCAでは、追記型BCAの場合と同じ工程で形成することができ、これらの作製を効率よく行うことができる。
【００８７】
また、本実施の形態の反射層は、Ａｌや、Ａｌとその合金等を用いたが、これに限らず、反射層の材料として所望の反射率（反射率は各ディスクの規格で定められているのが一般的であり、ここでいう所望の反射率とは、各ディスクの規格に応じて必要とされる反射率）を有する金属および合金を用いることができる。その際、実施の形態で示したような凹凸構造により反射率を低下させることで、反射率の差を好適にあわせておけば良い。
【００８８】
以上、本発明に係る実施の形態について説明したが、本発明は、斯かる実施の形態に限定されるものではなく、他に種々の変更が可能であることは言うまでもない。
【００８９】
たとえば、凹凸構造１０１ａの形状、寸法は、上記に限定されるものではなく、適宜変更が可能である。
【００９０】
本実施の形態は、あくまでも、本発明の一つの実施形態であって、本発明ないし各構成要件の用語の意義等は、本実施の形態に記載されたものに制限されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００９１】
【図１】実施の形態に係る光記録媒体の基本構成を示す図
【図２】測定例１における凹凸構造の電子写真撮像図
【図３】測定例１における反射率の測定結果を示す図
【図４】測定例２における基板形状の電子写真撮像図
【図５】測定例２における基板断面形状の測定結果を示す図
【図６】実施例１における光ディスクの構成を示す図
【図７】実施例１における光ディスクの構成（基板形状）を示す図
【図８】実施例１における基板の生成工程を示す図
【図９】実施例１における記録時のトラックの状態を模式的に示す図
【図１０】実施例２におけるトラックの状態を模式的に示す図
【図１１】実施の形態に掛かる記録再生装置の構成を示す図
【符号の説明】
【００９２】
１    ＣＰＵ
２    レーザ駆動回路
１０    基板
１０ａ    凹凸構造
２０    磁性層
１０１  基板
１０１ａ  凹凸構造
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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