(57)【要約】【課題】  テストプログラムに設定された被試験対象の電源電圧の変更に連動したシミュレーションが行えるテスタシミュレーション装置を実現することを目的にする。【解決手段】  本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。本装置は、テスタの回路動作をシミュレーションするテスタモデルと、被試験対象の回路動作をシミュレーションし、内部動作の遅延量が異なるＤＵＴモデルと、これらのＤＵＴモデルを選択し、テスタモデルと接続する選択手段と、テストプログラムに基づいて、ＤＵＴモデルを判断し、選択手段に選択させる判断手段とを備えたことを特徴とする装置である。【選択図】      図１
2006059218.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置において、
前記テスタの回路動作をシミュレーションするテスタモデルと、
前記被試験対象の回路動作をシミュレーションし、内部動作の遅延量が異なるＤＵＴモデルと、
これらのＤＵＴモデルを選択し、テスタモデルと接続する選択手段と、
前記テストプログラムに基づいて、前記ＤＵＴモデルを判断し、選択手段に選択させる判断手段と
を備えたことを特徴とするテスタシミュレーション装置。
【請求項２】
判断手段の判断結果により、現在のＤＵＴモデルのノードの値を抽出し、次のＤＵＴモデルのノードに設定する抽出設定手段を設けたことを特徴とする請求項１記載のテスタシミュレーション装置。
【請求項３】
テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の回路動作をシミュレーションするＤＵＴモデルと、テスタの回路動作をシミュレーションするテスタモデルとによりシミュレーションを行うテスタシミュレーション装置において、
前記テストプログラムに基づいて、前記ＤＵＴモデル内部の遅延量を判断し、設定する判断手段を有することを特徴とするテスタシミュレーション装置。
【請求項４】
判断手段は、テストプログラムに設定された被試験対象の電源電圧データに基づいて判断することを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記載のテスタシミュレーション装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に関し、テストプログラムに設定された被試験対象の電源電圧の変更に連動したシミュレーションが行えるテスタシミュレーション装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
テスタ（ＩＣテスタ）は、テストプログラムに基づいて、被試験対象（以下ＤＵＴと略す）に入力パターンを与え、ＤＵＴからの出力と期待値パターンとを比較し、ＤＵＴの良否の判定を行うものである。近年、実際に、テスタにより、ＤＵＴの試験を行う前に、ＤＵＴ、テスタをモデルとして、シミュレーションを行い、テストプログラムの動作確認を行っている。このような装置は、例えば特許文献１等に示される。以下、図４に示し説明する。
【０００３】
【特許文献１】特開２００３−２５６４９３号公報
【０００４】
図４において、記憶部１は、入力パターン、期待値パターン等からなるテストパターンを含むテストプログラムを記憶する。シミュレーション手段２は、記憶部１のテストプログラムに基づいて、テスタの回路動作をシミュレーションする。そして、シミュレーション手段２は、テスタモデル２１、ＤＵＴモデル２２を有する。テスタモデル２１は、記憶部１のテストプログラムに基づいて、テスタの回路動作をシミュレーションする。ＤＵＴモデル２２は、テスタモデル２１と信号の授受を行い、例えばＩＣ，ＬＳＩ等のＤＵＴの回路動作をシミュレーションする。
【０００５】
このような装置の動作を以下に説明する。シミュレーション手段２が、記憶部１のテストプログラムを読み出し、テストプログラムにより、テスタモデル２１を動作させる。テスタモデル２１は、テストプログラムに基づいて、ＤＵＴモデル２２に入力パターンを出力する。この入力パターンにより、ＤＵＴモデル２２はテスタモデル２１に出力を行う。そして、テスタモデル２１は、ＤＵＴモデル２２の出力とテストプログラムの期待値パタンとの比較を行う。このように、テスタモデル２１、ＤＵＴモデル２２により、テストプログラムの動作確認を行っている。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
実際のテスタでは、ＤＵＴの電源電圧を、最大電圧、標準電圧、最小電圧に変更して試験を行っているので、シミュレーションにおいても、電源電圧の変更に伴って、ＤＵＴモデル２２の特性を変更することが望ましい。すなわち、論理シミュレーションにおいては、電源電圧最大でのテストでは、ＤＵＴモデル２２内の回路動作の遅延を最小にし、電源電圧最小でのテストでは、ＤＵＴモデル２２内の回路動作の遅延を最大にすることが望ましい。
【０００７】
しかし、ＤＵＴモデル２２の遅延量の設定は、テストプログラムに関係なく、設定しなければならなく、所定の遅延量でしか、動作確認を行うことができなかった。
【０００８】
そこで、本発明の目的は、テストプログラムに設定された被試験対象の電源電圧の変更に連動したシミュレーションが行えるテスタシミュレーション装置を実現することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
このような課題を達成するために、本発明のうち請求項１記載の発明は、
テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置において、
前記テスタの回路動作をシミュレーションするテスタモデルと、
前記被試験対象の回路動作をシミュレーションし、内部動作の遅延量が異なるＤＵＴモデルと、
これらのＤＵＴモデルを選択し、テスタモデルと接続する選択手段と、
前記テストプログラムに基づいて、前記ＤＵＴモデルを判断し、選択手段に選択させる判断手段と
を備えたことを特徴とするものである。
【００１０】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、
判断手段の判断結果により、現在のＤＵＴモデルのノードの値を抽出し、次のＤＵＴモデルのノードに設定する抽出設定手段を設けたことを特徴とするものである。
【００１１】
請求項３記載の発明は、
テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験を、被試験対象の回路動作をシミュレーションするＤＵＴモデルと、テスタの回路動作をシミュレーションするテスタモデルとによりシミュレーションを行うテスタシミュレーション装置において、
前記テストプログラムに基づいて、前記ＤＵＴモデル内部の遅延量を判断し、設定する判断手段を有することを特徴とするものである。
【００１２】
請求項４記載の発明は、請求項１〜３のいずれかに記載の発明において、
判断手段は、テストプログラムに設定された被試験対象の電源電圧データに基づいて判断することを特徴とするものである。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば以下のような効果がある。
請求項１，４によれば、判断手段が、テストプログラムに基づいて、選択手段に対して、異なる遅延のＤＵＴモデルを選択させているので、被試験対象の電源電圧に連動したテストプログラムの確認を行うことができる。
【００１４】
請求項２によれば、抽出設定手段が、判断手段の判断結果に基づいて、現在のＤＵＴモデルからノードの値を抽出し、次のＤＵＴモデルに設定するので、ノードの値を連続させることができ、ＤＵＴモデルが切り換っても、正しいシミュレーションを行うことができる。
【００１５】
請求項３，４によれば、判断手段が、テストプログラムに基づいて、ＤＵＴモデルの遅延量を判断し、ＤＵＴモデルに設定を行うので、被試験対象の電源電圧に連動したテストプログラムの確認を行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下本発明を図面を用いて詳細に説明する。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。ここで、図４と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
【００１７】
図１において、ＤＵＴモデル２３〜２５は、ＤＵＴモデル２２の代わりにシミュレーション手段２に設けられ、同じＤＵＴの回路動作をシミュレーションし、内部動作の遅延量が異なる。ＤＵＴモデル２３は最小遅延モデル、ＤＵＴモデル２４は標準遅延モデル、ＤＵＴモデル２５は最大遅延モデルである。マルチプレクサモデル２６は選択手段で、シミュレーション手段２に設けられ、ＤＵＴモデル２３〜２５を選択し、テスタモデル２１と接続する。ここで、マルチプレクサモデル２６は回路動作のシミュレーション対象とならない設定にされている。判断手段２７は、シミュレーション手段２に設けられ、記憶部１のテストプログラムに設定されたＤＵＴの電源電圧データに基づいて、ＤＵＴモデル２３〜２５を判断し、マルチプレクサモデル２６に選択させる。
【００１８】
このような装置の動作を以下に説明する。シミュレーション手段２が、記憶部１のテストプログラムを読み出し、テストプログラムにより、テスタモデル２１を動作させる。このとき、判断手段２７は、テストプログラムから電源電圧データを抽出し、電源電圧データが最大電圧のとき、マルチプレクサモデル２６に、最小遅延のＤＵＴモデル２３を選択させる。そして、テスタモデル２１は、テストプログラムに基づいて、マルチプレクサモデル２６を介して、ＤＵＴモデル２３に入力パターンを出力する。この入力パターンにより、ＤＵＴモデル２３は、マルチプレクサモデル２６を介して、テスタモデル２１に出力を行う。そして、テスタモデル２１は、ＤＵＴモデル２３の出力とテストプログラムの期待値パターンとの比較を行う。
【００１９】
次に、テストプログラムが進み、電源電圧データが標準電圧、つまり、ＤＵＴが通常動作する電圧の設定になったら、判断手段２７は、マルチプレクサモデル２６に、標準遅延のＤＵＴモデル２４を選択させる。そして、テスタモデル２１は、テストプログラムに基づいて、マルチプレクサモデル２６を介して、ＤＵＴモデル２４に入力パターンを出力する。この入力パターンにより、ＤＵＴモデル２４は、マルチプレクサモデル２６を介して、テスタモデル２１に出力を行う。そして、テスタモデル２１は、ＤＵＴモデル２４の出力とテストプログラムの期待値パターンとの比較を行う。
【００２０】
さらに、テストプログラムが進み、電源電圧データが最小電圧の設定になったら、判断手段２７は、マルチプレクサモデル２６に、最大遅延のＤＵＴモデル２５を選択させる。そして、テスタモデル２１は、テストプログラムに基づいて、マルチプレクサモデル２６を介して、ＤＵＴモデル２５に入力パターンを出力する。この入力パターンにより、ＤＵＴモデル２５は、マルチプレクサモデル２６を介して、テスタモデル２１に出力を行う。そして、テスタモデル２１は、ＤＵＴモデル２５の出力とテストプログラムの期待値パターンとの比較を行う。このように、テストプログラムの動作確認を行っている。
【００２１】
このように、判断手段２７が、テストプログラムに設定されたＤＵＴの電源電圧データに基づいて、マルチプレクサモデル２６に対して、異なる遅延のＤＵＴモデル２３〜２５を選択させているので、ＤＵＴの電源電圧に連動したテストプログラムの確認を行うことができる。
【００２２】
次に第２の実施例を図２に示し説明する。ここで、図１と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
【００２３】
図２において、抽出設定手段２８は、シミュレーション手段２に設けられ、判断手段２７の判断結果により、現在のＤＵＴモデル２３〜２５のノードの値を抽出し、次のＤＵＴモデル２３〜２５のノードに設定する。
【００２４】
このような装置の動作を説明する。テストプログラムに設定されたＤＵＴの電源電圧データが、最大電圧から標準電圧になり、最大電圧時の試験から標準電圧時の試験になった場合、判断手段２７は、マルチプレクサモデル２６にＤＵＴモデル２３からＤＵＴモデル２４に切り換えさせる。この判断手段２７の切換指示により、抽出設定手段２８は、ＤＵＴモデル２３のノードから値を抽出し、ＤＵＴモデル２４のノードに抽出した値を設定する。そして、テスタモデル２１は、テストプログラムに基づいて、マルチプレクサモデル２６を介して、ＤＵＴモデル２４に入力パターンを出力する。この入力パターンにより、ＤＵＴモデル２４は、マルチプレクサモデル２６を介して、テスタモデル２１に出力を行う。そして、テスタモデル２１は、ＤＵＴモデル２４の出力とテストプログラムの期待値パターンとの比較を行う。
【００２５】
そして、テストプログラムの電源電圧データが標準電圧から最小電圧になった場合も、判断手段２７は、マルチプレクサモデル２６にＤＵＴモデル２４からＤＵＴモデル２５に切り換えさせる。この判断手段２７の切換指示により、抽出設定手段２８は、ＤＵＴモデル２４のノードから値を抽出し、ＤＵＴモデル２５のノードに抽出した値を設定する。そして、テスタモデル２１は、テストプログラムに基づいて、マルチプレクサモデル２６を介して、ＤＵＴモデル２５に入力パターンを出力する。この入力パターンにより、ＤＵＴモデル２５は、マルチプレクサモデル２６を介して、テスタモデル２１に出力を行う。そして、テスタモデル２１は、ＤＵＴモデル２５の出力とテストプログラムの期待値パターンとの比較を行う。
【００２６】
このように、抽出設定手段２８が、判断手段２７の判断結果に基づいて、現在のＤＵＴモデル２３〜２５からノードの値を抽出し、次のＤＵＴモデル２３〜２５に設定するので、ノードの値を連続させることができる。つまり、ＤＵＴモデル２３〜２５が切り換ると、ＤＵＴモデル２３〜２５の内部状態が変化したことになり、テストプログラムの流れに全く関係なく、内部状態が変わってしまい、継続的な試験ができなくなってしまう。この状態で、シミュレーションを継続すると、正しいシミュレーションが行われない可能性がある。すなわち、ＤＵＴモデル２３〜２５が切り換っても、ノードの値が継続でき、正しいシミュレーションを行うことができる。
【００２７】
次に第３の実施例を図３に示し説明する。ここで、図４と同一のものは同一符号を付し説明を省略する。
【００２８】
図４において、判断手段２９は、シミュレーション手段２に設けられ、記憶部１のテストプログラムに設定されたＤＵＴの電源電圧データに基づいて、ＤＵＴモデル２２内部の遅延量を判断し、設定する。
【００２９】
このような装置の動作を以下に説明する。シミュレーション手段２が、記憶部１のテストプログラムを読み出し、テストプログラム２１により、テスタモデルを動作させる。このとき、判断手段２９は、テストプログラムから電源電圧データを抽出し、電源電圧データが最大電圧のとき、最小遅延量をＤＵＴモデル２２に設定する。そして、テスタモデル２１は、テストプログラムに基づいて、ＤＵＴモデル２２に入力パターンを出力する。この入力パターンにより、ＤＵＴモデル２２は、テスタモデル２１に出力を行う。そして、テスタモデル２１は、ＤＵＴモデル２２の出力とテストプログラムの期待値パターンとの比較を行う。
【００３０】
次に、テストプログラムが進み、電源電圧データが標準電圧、つまり、ＤＵＴが通常動作する電圧の設定になったら、判断手段２９は、標準遅延量をＤＵＴモデル２２に設定する。そして、テスタモデル２１は、テストプログラムに基づいて、ＤＵＴモデル２２に入力パターンを出力する。この入力パターンにより、ＤＵＴモデル２２は、テスタモデル２１に出力を行う。そして、テスタモデル２１は、ＤＵＴモデル２２の出力とテストプログラムの期待値パターンとの比較を行う。
【００３１】
さらに、テストプログラムが進み、電源電圧データが最小電圧の設定になったら、判断手段２９は、最大遅延量をＤＵＴモデル２２に設定する。そして、テスタモデル２１は、テストプログラムに基づいて、ＤＵＴモデル２２に入力パターンを出力する。この入力パターンにより、ＤＵＴモデル２２は、テスタモデル２１に出力を行う。そして、テスタモデル２１は、ＤＵＴモデル２２の出力とテストプログラムの期待値パターンとの比較を行う。このように、テストプログラムの動作確認を行っている。
【００３２】
このように、判断手段２９が、テストプログラムに設定されたＤＵＴの電源電圧データに基づいて、ＤＵＴモデル２２の遅延量を判断し、ＤＵＴモデル２２に設定を行うので、ＤＵＴの電源電圧に連動したテストプログラムの確認を行うことができる。
【００３３】
なお、判断手段２７は、ＤＵＴの電源電圧データに基づいて、ＤＵＴモデル２３〜２５を切り換える構成を示したが、テストプログラム中のテスト番号とＤＵＴモデル２３〜２５の関係を事前に判断手段２７に設定し、判断手段２７がテスト番号に基づいて、ＤＵＴモデル２３〜２５を切り換える構成でもよい。同様に、判断手段２９も、テスト番号に基づいて、ＤＵＴモデル２２に対して遅延量を変更する構成でもよい。
【００３４】
また、マルチプレクサモデル２６以外に、単純なスイッチモデルでもよい。要するに、ＤＵＴモデル２３〜２５を選択できるものであればよい。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明の第１の実施例を示した構成図である。
【図２】本発明の第２の実施例を示した構成図である。
【図３】本発明の第３の実施例を示した構成図である。
【図４】従来のテスタシミュレーション装置の構成を示した図である。
【符号の説明】
【００３６】
１  記憶部
２  シミュレーション手段
２１  テスタモデル
２２〜２５  ＤＵＴモデル
２６  マルチプレクサモデル
２７，２９  判断手段
２８  抽出設定手段
【図１】
2006059218.tif 000003
【図２】
2006059218.tif 000004
【図３】
2006059218.tif 000005
【図４】
2006059218.tif 000006