(57)【要約】【課題】  スポットの特徴値に基づいて光学素子の位置や傾きを調整する際、スポットの特徴値を正確に検出することのできる光ヘッド装置の製造方法を提供すること。【解決手段】  光ヘッド装置の製造工程において、スポットの特徴値に基づいて光学素子の位置や傾きを調整する際、スポットを形成した状態で得た画像データＤ12に第１の補正用諧調値Ｄ21を加算した後、スポットを形成しない状態で得た画像データＤ11を差し引いて得た画像データＤ２を求め、この画像データＤ２に基づいてスポットの特徴値を求める。また、かかる誤差を補正する前に、画像データＤ12に第１の補正用諧調値Ｄ21を加算しておく。【選択図】  図４
2006221727.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
少なくとも、半導体レーザと、該半導体レーザからの出射光を光記録ディスクに導く光学系とを備えた光ヘッド装置の製造方法において、
前記半導体レーザから出射されたレーザ光のスポットの撮像結果に基づいて当該スポットの特徴値を求め、該特徴値に基づいて前記半導体レーザあるいは前記光学系の位置あるいは傾きを調整する調整工程では、
第１の補正用諧調値をＤ21としたとき、前記スポットを形成しない状態で撮像したときの諧調分布を示す画像データＤ11と、前記スポットを形成した状態で撮像しときの諧調分布を示す画像データＤ12とを取得した後、下式
Ｄ１＝Ｄ12＋Ｄ21
Ｄ２＝Ｄ１−Ｄ11
により得た画像データＤ２に基づいて前記スポットの特徴値を求めることを特徴とする光ヘッド装置の製造方法。
【請求項２】
請求項１において、前記第１の補正用諧調値Ｄ21より諧調の低い第２の補正用諧調値をＤ22としたとき、下式
Ｄ３＝Ｄ２−Ｄ22
により得た画像データＤ３に基づいて前記スポットの特徴値を求めることを特徴とする光ヘッド装置の製造方法。
【請求項３】
請求項１において、前記調整工程では、前記スポットの特徴値として、当該スポットに含まれる０次スポットの特徴値と、１次あるいはそれより高次のリングの特徴値とを求める際、前記スポットの０次スポットが飽和しない条件で撮像したときの諧調分布を示す画像データに対して前記第１の補正用諧調値Ｄ21を用いた補正を行って０次スポットの画像データＤ２を求め、前記スポットの１次リングが飽和しない条件で撮像したときの諧調分布を示す画像データに対して前記第１の補正用諧調値Ｄ21を用いた補正を行って前記１次あるいはそれより高次のリングの画像データＤ２を求め、
前記０次スポットの画像データＤ２に基づいて前記０次スポットの特徴値を求め、前記１次あるいはそれより高次のリングの画像データＤ２に基づいて前記１次あるいはそれより高次のリングの特徴値を求めることを特徴とする光ヘッド装置の製造方法。
【請求項４】
請求項３において、前記第１の補正用諧調値Ｄ21より諧調の低い第２の補正用諧調値をＤ22としたとき、前記０次スポットの画像データＤ２、および前記１次あるいはそれより高次のリングの画像データＤ２の各々について、下式
Ｄ３＝Ｄ２−Ｄ22
により、前記０次スポットの画像データＤ３、および前記１次あるいはそれより高次のリングの画像データＤ３を求め、
前記０次スポットの画像データＤ３に基づいて前記０次スポットの特徴値を求め、前記１次あるいはそれより高次のリングの画像データＤ３に基づいて前記１次あるいはそれより高次のリングの特徴値を求めることを特徴とする光ヘッド装置の製造方法。
【請求項５】
請求項３または４において、前記調整工程では、前記スポットに含まれる０次スポットの特徴値に基づいて前記０次スポットの中心位置を求め、当該中心位置を中心に環状エリアを設定して所定次数のリングを抽出し、当該リングの特徴値を求めることを特徴とする光ヘッド装置の製造方法。
【請求項６】
請求項５において、前記調整工程では、前記リングの特徴値に基づいて、前記光学系に含まれる対物レンズの傾きを調整することを特徴とする光ヘッド装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ヘッド装置の製造方法に関するものである。さらに詳しくは、スポットの観察結果に基づいて光学素子の位置や傾きを調整する際のデータ処理技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
光ヘッド装置では、半導体レーザと、この半導体レーザからの出射光を光記録ディスクに導く光学系とを備えており、光記録ディスク上にスポットを形成することにより、その戻り光から情報を再生し、あるいは光記録媒体への情報の記録を行う。従って、光ヘッド装置を製造する際、半導体レーザや光学系の位置や傾きを調整し、光記録ディスクにスポットを好適に形成する必要がある。
【０００３】
かかる調整を行うにあたっては一般に、レーザ光の合焦状態やスポット形状、スポットの１次リングのバランスなどを撮像し、その撮像結果からスポットの特徴値を検出する方法が採用されている（例えば、特許文献１、２、３参照）。
【特許文献１】特開２００１−４４９１号公報
【特許文献２】特開平１０−１６２４２７号公報
【特許文献３】特開平１０−４９９１１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、スポットの撮像結果を画像処理してその特徴値を検出する方法の場合には、以下の問題点があるにもかかわらず、従来は、それらに対する対策がなされていないため、半導体レーザや光学系の位置や傾きを最適な状態にまで調整することができないという問題点がある。例えば、図７（ａ）に示すように、白地に黒のストライプがある像を撮像した場合、本来は、図７（ｂ）に示すような画像信号が得られるはずであるが、実際は、アナログ映像信号回路の低域フィルタの特性が不十分であるため、図７（ｃ）に示すように、白レベルの信号が時間とともに低下した信号が得られてしまう。このため、図８（ａ）に示すようなスポットを撮像すると、スポットの各位置（１）（２）（３）に対する撮像データは、図８（ｂ）に示すようになるべきところ、図８（ｃ）に示すようになってしまう。従って、図８（ｄ）に示すように、レーザ光の光軸が傾いていない場合には、０次スポットに対して１次リングが対称に検出されるはずが、図８（ｅ）に示すように、０次スポットに対して１次リングが非対称に検出されてしまい、レーザ光の光軸が傾いているという観察結果になってしまう。逆にいえば、レーザ光の光軸が傾いているにもかかわらず、レーザ光の光軸が傾いていない観察結果が得られてしまう。
【０００５】
また、画像処理を行う際、撮像素子で得られたアナログ信号は、Ａ／Ｄコンバータによってデジタル信号に変換されるが、その際、図９に示すように、Ａ／Ｄコンバータの０が黒レベルではなく、フロントポーチＳがかかっていると、黒領域に対応するデータは、２５６階調の場合、諧調値が０にならず、１〜８になってしまう。その結果、１次リングの特徴値として輝度の重心位置を求めると、求めた輝度の中心がスポットの中心からずれてしまうことになる。
【０００６】
さらに、スポットにおいては、０次スポットのピークレベルと１次リングのピークレベルとの間に大きな差があるにもかかわらず、画像処理行う際の諧調数（ビット数）は例えば２５６階調（８ビット）と限られているため、ダイナミックレンジ不足する。その結果、０次スポットが飽和しない条件で撮像すると、１次リングのピークが極めて小さくなってしまう一方、１次リングのピークが大きく出現するような条件で撮像すると、０次スポットが飽和してしまう。それ故、スポットの特徴値として０次スポットの特徴値と１次リングの特徴値を併用することが困難であるという問題点がある。
【０００７】
以上の問題点に鑑みて、本発明の課題は、スポットの特徴値に基づいて光学素子の位置や傾きを調整する際、スポットの特徴値を正確に検出することのできる光ヘッド装置の製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題を解決するために、本発明では、少なくとも、半導体レーザと、該半導体レーザからの出射光を光記録ディスクに導く光学系とを備えた光ヘッド装置の製造方法において、
前記半導体レーザから出射されたレーザ光のスポットの撮像結果に基づいて当該スポットの特徴値を求め、該特徴値に基づいて前記半導体レーザあるいは前記光学系の位置あるいは傾きを調整する調整工程では、第１の補正用諧調値をＤ21としたとき、前記スポットを形成しない状態で撮像したときの諧調分布を示す画像データＤ11と、前記スポットを形成した状態で撮像したの諧調分布を示す画像データＤ12とを取得した後、下式
Ｄ１＝Ｄ12＋Ｄ21
Ｄ２＝Ｄ１−Ｄ11
により得た画像データＤ２に基づいて前記スポットの特徴値を求めることを特徴とする。
【０００９】
本発明では、スポットを形成した状態で得た画像データＤ12に第１の補正用諧調値Ｄ21を加算した後、スポットを形成しない状態で得た画像データＤ11を差し引いて得た画像データＤ２を求め、この画像データＤ２に基づいてスポットの特徴値を求める。このため、アナログ映像信号回路の低域フィルタの特性が不十分であることに起因する誤差や、Ａ／Ｄコンバータにポーチがかかっていることに起因する誤差を補正することができる。また、かかる誤差を補正する前に、画像データＤ12に第１の補正用諧調値Ｄ21を加算しておくので、スポットを形成しない状態で得た画像データＤ11が、スポットを形成した状態で画像データＤ12を得る場合に含まれていた誤差より大きい場合でも、０クリップが発生しない。それ故、本発明によれば、スポットの特徴値を正確に検出できるので、スポットの特徴値に基づいて光学素子の位置や傾きを調整した際、光学素子の位置や傾きを高い精度で調整することができる。
【００１０】
本発明において、前記第１の補正用諧調値Ｄ21より諧調の低い第２の補正用諧調値をＤ22としたとき、下式
Ｄ３＝Ｄ２−Ｄ22
により得た画像データＤ３に基づいて前記スポットの特徴値を求めることが好ましい。このように構成すると、画像データＤ12に第１の補正用諧調値Ｄ21を加算したことに起因するオフセットを消去あるいは縮小できるので、スポットの画像データに含まれる誤差を最小限に抑えることができる。
【００１１】
本発明において、前記調整工程では、前記スポットの特徴値として、当該スポットに含まれる０次スポットの特徴値と、１次あるいはそれより高次のリングの特徴値とを求める際、前記スポットの０次スポットが飽和しない条件で撮像したときの諧調分布を示す画像データに対して前記第１の補正用諧調値Ｄ21を用いた補正を行って０次スポットの画像データＤ２を求め、前記スポットの１次リングが飽和しない条件で撮像したときの諧調分布を示す画像データに対して前記第１の補正用諧調値Ｄ21を用いた補正を行って前記１次あるいはそれより高次のリングの画像データＤ２を求め、
前記０次スポットの画像データＤ２に基づいて前記０次スポットの特徴値を求め、前記１次あるいはそれより高次のリングの画像データＤ２に基づいて前記１次あるいはことが好ましい。
【００１２】
このように構成すると、０次スポットのピークレベルと１次リングとの間に大きなレベル差がある場合でも、２５６階調（８ビット）程度で、０次スポットの特徴値、および１次リングの特徴値をそれぞれ高い精度で求めることができる。
【００１３】
ここで、第１の補正用諧調値Ｄ21は、スポットの１次リングが飽和しない条件で撮像して得た画像データに対する値と、スポットの０次スポットが飽和しない条件で撮像して得た画像データに対する値とが一致している場合、相違している場合のいずれであってもよい。
【００１４】
この場合も、前記第１の補正用諧調値Ｄ21より諧調の低い第２の補正用諧調値をＤ22としたとき、前記０次スポットの画像データＤ２、および前記１次あるいはそれより高次のリングの画像データＤ２の各々について、下式
Ｄ３＝Ｄ２−Ｄ22
により、前記０次スポットの画像データＤ３、および前記１次あるいはそれより高次のリングの画像データＤ３を求め、
前記０次スポットの画像データＤ３に基づいて前記０次スポットの特徴値を求め、前記１次あるいはそれより高次のリングの画像データＤ３に基づいて前記１次あるいはそれより高次のリングの特徴値を求めることが好ましい。
【００１５】
ここで、第２の補正用諧調値Ｄ22は、スポットの１次リングが飽和しない条件で撮像して得た画像データに対する値と、スポットの０次スポットが飽和しない条件で撮像して得た画像データに対する値とが一致している場合、相違している場合のいずれであってもよい。
【００１６】
本発明において、前記調整工程では、例えば、前記スポットに含まれる０次スポットの特徴値に基づいて前記０次スポットの中心位置を求め、当該中心位置を中心に環状エリアを設定して所定次数のリングを抽出し、当該リングの特徴値を求める。また、前記調整工程では、例えば、前記リングの特徴値に基づいて、前記光学系に含まれる対物レンズの傾きを調整する。
【発明の効果】
【００１７】
本発明では、スポットを形成した状態で得た画像データに所定の第１の補正用諧調値を加算した後、スポットを形成しない状態で得た画像データを差し引いて画像データを求め、この画像データに基づいてスポットの特徴値を求める。このため、アナログ映像信号回路の低域フィルタの特性が不十分であることに起因する誤差や、Ａ／Ｄコンバータにポーチがかかっていることに起因する誤差を補正することができる。また、かかる誤差を補正する前に、画像データに第１の補正用諧調値を加算しておくので、スポットを形成しない状態で得た画像データが、スポットを形成した状態で画像データを得る場合に含まれていた誤差より大きい場合でも、０クリップが発生しない。それ故、本発明によれば、スポットの特徴値を正確に検出できるので、スポットの特徴値に基づいて光学素子の位置や傾きを調整した際、光学素子の位置や傾きを高い精度で調整することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
図面に基づいて、本発明の実施の形態を説明する。
【００１９】
［光ヘッド装置の構成］
図１は、光ヘッド装置の光学系の要部を示す説明図である。なお、以下の説明においては、レーザ光の光軸方向をＺ方向とし、このＺ方向に対して垂直な２方向をＸＹ方向としてある。
【００２０】
図１において、光ヘッド装置１では、ＬＤ（レーザダイオード）などの半導体レーザ１１と、コリメートレンズ１２とを用いてコリメート光を生成し、このコリメート光を対物レンズ１３によって収束させて光記録ディスク３の記録面にスポットを形成する。対物レンズ１３の前段には、対物レンズ１３に向かう光束を規定するアパーチャ１８が配置されている。また、光路の途中位置にはビームスプリッタなどの光路分離素子１４が配置され、光記録ディスク３の戻り光をフォトダイオードなどの受光素子１５に導くようになっている。ここで、３ビーム法などを利用する場合には、半導体レーザ１１と光路分離素子１４との間にグレーティング素子１６が配置される。また、非点収差法を利用する場合には、光路分離素子１４と受光素子１５との間に焦点検出レンズ１７が配置される。このようにして、光ヘッド装置１では、光路分離素子１４、コリメートレンズ１２および対物レンズ１３によって、半導体レーザ１１からの出射光を光記録ディスク３に導く光学系が構成され、この光学系には、光記録ディスク３の戻り光を受光素子１５に導く焦点検出レンズ１７なども含まれている。なお、これらの光学素子は装置フレーム（図示せず）上に搭載される。その際、対物レンズ１３は、レンズ駆動装置（図示せず）を介して装置フレーム上に搭載される。
【００２１】
図２は、本発明に係る光ヘッド装置製造装置の構成を示す説明図である。本形態の光ヘッド装置１の製造工程では、半導体レーザ１１から出射されたレーザ光のスポットの撮像結果に基づいて当該スポットの特徴値を求め、該特徴値に基づいて半導体レーザ１１あるいは光学系の位置あるいは傾きを調整する調整工程が行われる。
【００２２】
このような調整工程で用いられる光ヘッド装置製造装置は、図２に示すように、光ヘッド装置１の側から高倍率撮像装置５５に向けて、顕微鏡対物レンズ５１、ビームスプリッタ５２、結像レンズ５３、リレーレンズ５４がこの順に配置され、ビームスプリッタ５２によって分離された光路上には、結像レンズ５６および低倍率撮像装置５７が配置されている。また、高倍率撮像装置５５および低倍率撮像装置５７に対しては、これらの撮像装置５５、５７で取得した画像データに画像処理を施す画像処理装置５８が構成されており、この画像処理装置５８において、画像データは８ビット、すなわち、０〜２５５までの諧調値で扱われる。また、本形態では、前記光学系のうち、例えば、対物レンズ１３の傾角を調整するため、光ヘッド装置１の製造途中品を載置したステージの位置や傾きを調整するステージコントローラ５９も構成されている。
【００２３】
［スポットの特徴値の検出方法および調整方法］
このような光ヘッド装置製造装置調５０において、本形態では、例えば、対物レンズ１３を仮固定した光ヘッド装置１の製造途中品をステージ上に載置した状態で、半導体レーザ１１を点灯させ、半導体レーザ１１から出射されたレーザ光のスポットを高倍率撮像装置５５によって撮像するとともに、画像処理装置５８によって、高倍率撮像装置５５で撮像された画像データにデータ処理を施して、スポットの特徴値を求め、この特徴値に基づいて、対物レンズ１３の傾角を調整する。本形態では、スポットの特徴値として、その０次スポットからその中心位置を求めた後、中心位置を中心に環状エリアを設定して所定次数のリング、例えば１次リングを抽出し、この１次リングの輝度分布を特徴値として求める。そして、スポットの特徴値（１次リングの輝度分布）が所定の条件を満たすように対物レンズ１３の傾角を調整する。
【００２４】
（画像処理１）
図３は、本発明を適用した光ヘッド装置製造装置で行う画像処理１の手順を示すフローチャートである。図４は、図３に示す画像処理１で画像データに対して行われる処理の内容を示す説明図である。
【００２５】
対物レンズ１３の傾角を調整するための具体的な方法を説明する前に、本形態で行われる特徴的な画像処理１、２を説明しておく。画像処理１、２のうち、画像処理１は、アナログ映像信号回路の低域フィルタの特性が不十分であることに起因する誤差や、Ａ／Ｄコンバータにポーチがかかっていることに起因する誤差を補正するための処理である。
【００２６】
このような処理を行うために、本形態で、まず、半導体レーザ１１を点灯させ、半導体レーザ１１から出射されたスポットを低倍率撮像装置５７を介して観察する。そして、ステージの位置を調整して、画像処理装置５８の表示装置にスポットが映し出されるようにする。
【００２７】
次に、図３（ａ）に示す工程ＳＴ１１において、半導体レーザ１１を消灯させた状態（スポットを形成しない状態）を高倍率撮像装置５５で撮像し、工程ＳＴ１２では、その結果を画像処理装置５８に出力する。すると、工程ＳＴ１３において、画像処理装置５８は、スポットを形成しない状態で撮像したときの諧調分布を画像データＤ11として保存する。このような画像データＤ11は、例えば、図４（ａ）に示す画像データに相当する。
【００２８】
次に、図３（ｂ）に示す工程ＳＴ２１において、半導体レーザ１１を点灯させた状態（スポットを形成した状態）を高倍率撮像装置５５で撮像し、その結果を画像処理装置５８に出力する。すると、画像処理装置５８は、スポットを形成した状態で撮像したときの諧調分布を画像データＤ12として保存する。このような画像データＤ12は、例えば、図４（ｂ）に示す画像データに相当する。
【００２９】
しかる後に、画像処理装置５８は、工程ＳＴ２２において、下式
Ｄ１＝Ｄ12＋Ｄ21
で示すように、スポットを形成した状態で得た画像データＤ12に対して、一定の第１の補正用諧調値Ｄ21を加算して画像データＤ１を得た後、下式
Ｄ２＝Ｄ１−Ｄ11
で示すように、画像デ−タＤ１から画像データＤ11を減算して、画像データＤ２を得る。このような画像データＤ２は、例えば、図４（ｃ）に示す画像データに相当する。
【００３０】
このように、本形態では、スポットを形成した状態で得た画像データＤ12に第１の補正用諧調値Ｄ21を加算した後、スポットを形成しない状態で得た画像データＤ11を差し引いて得た画像データＤ２を求める。このため、アナログ映像信号回路の低域フィルタの特性が不十分であることに起因する誤差や、Ａ／Ｄコンバータにポーチがかかっていることに起因する誤差が画像データＤ１に含まれている場合でも、かかる誤差を補正した画像データＤ２を得ることができる。また、かかる誤差を補正する前に、画像データＤ12に第１の補正用諧調値Ｄ21を加算しておくので、スポットを形成しない状態で得た画像データＤ11が、スポットを形成した状態で画像データＤ12を得る場合に含まれていた誤差より大きい場合でも、０クリップが発生しない。それ故、本形態によれば、スポットの特徴値を正確に検出できるので、スポットの特徴値に基づいて光学素子の位置や傾きを調整した際、光学素子の位置や傾きを高い精度で調整することができる。
【００３１】
ここで、第１の補正用諧調値Ｄ21より諧調の低い第２の補正用諧調値Ｄ22を設定しておき、下式で示すように、
Ｄ３＝Ｄ２−Ｄ22
画像データＤ２から第２の補正用諧調値Ｄ22を減算して画像データＤ３を得ることが好ましい。このように構成すると、画像データＤ12に第１の補正用諧調値Ｄ21を加算したことに起因するオフセットＯｓを消去あるいは縮小できるので、スポットの画像データに含まれる誤差を最小限に抑えることができる。このような画像データＤ３は、例えば、図４（ｄ）に示す画像データに相当する。
【００３２】
（画像処理２）
図５は、本発明を適用した光ヘッド装置製造装置で行う画像処理２の内容を示す説明図である。
【００３３】
本形態で行われる特徴的な画像処理２を説明しておく。本形態では、図５（ａ）に示すように、０次スポットが飽和しない条件で高倍率撮像装置５５によって撮像して得た画像データＤ４に基づいて、０次スポットの中心位置（特徴値）を求める一方、図５（ｂ）に示すように、１次リングが飽和しない条件で高倍率撮像装置５５によって撮像して得た画像データＤ５を求める。次に、０次スポットの中心位置（特徴値）を中心に環状エリアを設定して、画像デ−タＤ５から１次リングを抽出し、この１次リングの輝度分布を特徴値として求める。
【００３４】
従って、０次スポットのピークレベルと１次リングとの間に大きなレベル差がある場合でも、２５６階調（８ビット）程度で、０次スポットの特徴値、および１次リングの特徴値をそれぞれ高い精度で求めることができる。
【００３５】
ここで、０次スポットが飽和しない条件での撮像、および１次リングが飽和しない条件での撮像は、光路の途中位置におけるフィルタの有無やフィルタの種類によって切り換えれば、高価な高倍率撮装置５５が１台で済むという利点がある。
【００３６】
（調整方法）
図６は、図２に示す光ヘッド装置製造装置において、画像処理１、２を用いて対物レンズの傾角の調整を行う際の手順を示すフローチャートである。
【００３７】
本形態では、上記の画像処理１、２の双方を併用して、スポットの特徴値を高い精度で求め、この特徴値に基づいて対物レンズ１３の傾角を調整する。より具体的には、図６に示すように、工程ＳＴ１０１、１０２において、半導体レーザ１１を点灯させても１次リングが飽和しない条件で、半導体レーザ１１が消灯状態での撮像を行い、リングの画像データＤ11を得た後、工程ＳＴ１０３において、半導体レーザを点灯させた状態でスポットを撮像する。次に、工程ＳＴ１０４において、前述した画像処理１を行い、スポットに含まれるリングの画像データＤ12を得る。そして、工程ＳＴ１０５において、前述した画像処理１で説明したように、１次リングの画像データＤ12に対して、第１の補正用諧調値Ｄ21を加算して画像データＤ１を得た後、下式
Ｄ２＝Ｄ１−Ｄ11
で示すように、画像デ−タＤ１から１次リングの画像データＤ11を減算して、１次リングの画像データＤ２を得る。
【００３８】
次に、工程ＳＴ１０６、１０７において、半導体レーザ１１を点灯させても０次スポットが飽和しない条件で、半導体レーザ１１が消灯状態での撮像を行い、０次スポットの画像データＤ11を得た後、工程ＳＴ１０８において、半導体レーザ１１を点灯させた状態でスポットを撮像する。次に、工程ＳＴ１０９において、前述した画像処理１を行い、０次スポットの画像データＤ12を得る。そして、工程ＳＴ１１０において、前述した画像処理１で説明したように、０次スポットの画像のデータＤ12に対して、第１の補正用諧調値Ｄ21を加算して画像データＤ１を得た後、下式
Ｄ２＝Ｄ１−Ｄ11
で示すように、画像デ−タＤ１から０次スポットの画像データＤ11を減算して、０次スポットの画像データＤ２を得る。
【００３９】
次に、工程ＳＴ１１１において、０次スポットの画像データＤ２に基づいて、０次スポットの中心位置を求めた後、工程ＳＴ１１２において、この中心位置を中心に環状エリアを設定して、画像データＤ２から１次リングに対応するデータを抽出し、１次リングの輝度分布を特徴値として求める。
【００４０】
しかる後には、工程ＳＴ１１４において、１次リングの輝度分布が点対称であれば、対物レンズ１３の傾角が適正であり、１次リングの輝度分布が点対称からずれていれば、対物レンズ１３が傾いていることになるので、対物レンズ１３の傾角を調整すればよい。
【００４１】
なお、画像データＤ12に第１の補正用諧調値Ｄ21を加算したことに起因するオフセットＯｓ（図４（ｃ）参照）を消去あるいは縮小する必要がある場合には、画像処理１で説明したように、第１の補正用諧調値Ｄ21より諧調の低い第２の補正用諧調値Ｄ22を設定し、下式
Ｄ３＝Ｄ２−Ｄ22
により得た画像データＤ３に基づいてスポットの特徴値を求めればよい。
【００４２】
（その他の実施の形態）
上記形態は、対物レンズ１３の傾角調整を行う際、１次リングの輝度分布の対称性を基準にしたが、例えば、０次スポットの中心位置と、１次リングの輝度分布の中心位置とのずれなどに基づいて対物レンズ１３の傾きを検出してもよい。また、上記形態では、対物レンズの傾角調整を例に説明したが、半導体レーザと対物レンズの光軸方向（Ｚ方向）における相対位置の調整、半導体レーザと対物レンズの光軸方向に直交する方向（Ｘ方向およびＹ方向）における相対位置の調整、半導体レーザと対物レンズの傾きの調整などを行う際に本発明を適用してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】光ヘッド装置の要部を示す説明図である。
【図２】本発明を適用した光ヘッド装置製造装置の構成を示す説明図である。
【図３】本発明を適用した光ヘッド装置製造装置で行う画像処理１の手順を示すフローチャートである。
【図４】図３に示す画像処理１で画像データに対して行われる処理の内容を示す説明図である。
【図５】本発明を適用した光ヘッド装置製造装置で行う画像処理２の内容を示す説明図である。
【図６】図２に示す光ヘッド装置製造装置において、画像処理１、２を用いて対物レンズの傾角の調整を行う際の手順を示すフローチャートである。
【図７】撮像装置において、アナログ映像信号回路の低域フィルタの特性が不十分である場合の信号の歪みを示す説明図である。
【図８】アナログ映像信号回路の低域フィルタの特性が不十分な条件でレーザスポットを撮像した場合の信号の歪みを示す説明図である。
【図９】撮像装置において、Ａ／Ｄコンバータの０が黒レベルではない場合の説明図である。
【符号の説明】
【００４４】
１  光ヘッド装置
３  光記録ディスク
１１  半導体レーザ
１２  コリメートレンズ
１３  対物レンズ
１５  受光素子
５０  光ヘッド装置製造装置
５５  高倍率撮像装置
５７  低倍率撮像装置
５８  画像処理装置
【図１】
2006221727.tif 000003
【図２】
2006221727.tif 000004
【図３】
2006221727.tif 000005
【図４】
2006221727.tif 000006
【図５】
2006221727.tif 000007
【図６】
2006221727.tif 000008
【図７】
2006221727.tif 000009
【図８】
2006221727.tif 000010
【図９】
2006221727.tif 000011