(57)【要約】【課題】光ディスク装置において、光ディスクに対する信号の記録精度を良好にするために、再生信号の位相のずれを検出する。【解決手段】第１測定用パルス列信号生成回路２３は、再生信号に同期して立ち上がり、かつクロック信号に同期して立ち下がる第１測定用パルス列信号を生成する。第２測定用パルス列信号生成回路２４は、クロック信号に同期して立ち上がり、かつ再生信号に同期して立ち下がる第２測定用パルス列信号を生成する。ジッタ測定器２５は、第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号のジッタを測定する。このジッタの測定結果に基づいて、再生信号の位相ずれが検出される。【選択図】  図１
2006236403.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザ光源から出射されたレーザ光を光ディスクに照射し、光ディスクにて反射されたレーザ光を用いて、光ディスクに記録されたデータに対応するパルス列からなる再生信号を生成する再生信号生成手段を備えた光ディスク装置において、
前記再生信号に基づいて、クロック信号を生成するクロック信号生成手段と、
立ち上がり変化および立ち下がり変化のうちの一方の変化のタイミングを、前記クロック信号生成手段によって生成されたクロック信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期させるとともに、立ち上がり変化および立ち下がり変化のうちの他方の変化のタイミングを、前記再生信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期させた第１測定用パルス列信号を生成する第１測定用パルス列信号生成手段と、
前記第１測定用パルス列信号生成手段により生成された第１測定用パルス列信号のジッタを測定するジッタ測定手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載した光ディスク装置において、さらに、
立ち上がり変化および立ち下がり変化のうちの前記他方の変化のタイミングを、前記クロック信号生成手段によって生成されたクロック信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期させるとともに、立ち上がり変化および立ち下がり変化のうちの前記一方の変化のタイミングを、前記再生信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期させた第２測定用パルス列信号を生成する第２測定用パルス列信号生成手段を有し、
前記ジッタ測定手段は、前記第１測定用パルス列信号に加え前記第２測定用パルス列信号のジッタを測定する光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載した光ディスク装置において、さらに、
前記ジッタ測定手段により測定されたジッタを表示する表示装置を有する光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１ないし請求項３のうちのいずれか１つに記載した光ディスク装置において、さらに、
光ディスクへのデータの記録時において、レーザ光源から出射されるレーザ光の特性を前記ジッタ測定手段により測定されたジッタに基づいて補正するレーザ光補正手段を有する光ディスク装置。
【請求項５】
レーザ光源から出射されたレーザ光を光ディスクに照射し、光ディスクにて反射されたレーザ光を用いて、光ディスクに記録されたデータに対応するパルス列からなる再生信号を生成する光ディスク装置に適用され、前記再生信号の位相のずれを検出する位相ずれ検出方法において、
前記再生信号に基づいて、クロック信号を生成するクロック信号生成ステップと、
立ち上がり変化および立ち下がり変化のうちの一方の変化のタイミングを、前記クロック信号生成ステップによって生成されたクロック信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期させるとともに、立ち上がり変化および立ち下がり変化のうちの他方の変化のタイミングを、前記再生信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期させた第１測定用パルス列信号を生成する第１測定用パルス列信号生成ステップと、
前記第１測定用パルス列信号生成ステップにより生成された第１測定用パルス列信号のジッタを測定するジッタ測定ステップとを含むことを特徴とする位相ずれ検出方法。
【請求項６】
請求項５に記載した位相ずれ検出方法において、さらに、
立ち上がり変化および立ち下がり変化のうちの前記他方の変化のタイミングを、前記クロック信号生成ステップによって生成されたクロック信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期させるとともに、立ち上がり変化および立ち下がり変化のうちの前記一方の変化のタイミングを、前記再生信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期させた第２測定用パルス列信号を生成する第２測定用パルス列信号生成ステップを含み、
前記ジッタ測定ステップは、前記第１測定用パルス列信号に加え前記第２測定用パルス列信号のジッタを測定する位相ずれ検出方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＤ，ＤＶＤなどの光ディスクにレーザ光を照射してデータの記録を行う光ディスク装置および光ディスク装置に適用される位相ずれ検出方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、ＣＤ，ＤＶＤなどの光ディスクにデータを記録する光ディスク装置においては、光ディスクの記録層に精度良く記録マークを形成させる目的で、レーザ光源から出射されるレーザ光の最適な基本光量およびストラテジ（パルス発光波形規則）が設定されている。ストラテジは、記録信号に含まれる複数の信号長毎にレーザ光源から出射されるレーザ光のパルス波形、すなわち、パルス数、各パルスの幅、光量および各パルス間の間隔などを規定したものである。このストラテジは、光ディスクに記録された検査用データを再生した再生信号のジッタに基づいて設定される。
【０００３】
例えば、下記特許文献１に記載の光ディスク装置においては、光ディスクの所定の検査領域に検査用データを記録し、同記録された検査用データを再生して再生信号のジッタを測定する。この場合、測定されるジッタは、再生信号の各パルスのパルス幅の分布（バラツキ）である。そして、この測定されたジッタが最小となるようにレーザ光源から出射されるレーザ光のストラテジを設定している。
【特許文献１】特開２００４−４６９５４号公報
【０００４】
しかしながら、前記ストラテジを補正して再生信号の各パルスのパルス幅を調整した際、同各パルスの位相がずれることがある。具体的には、同各パルスの立ち上がりタイミングおよび立ち下りタイミングがクロック信号の立ち上がりタイミングおよび立ち下がりタイミングからずれることがある。これは、ストラテジを補正する際、再生信号の各パルスの位相のずれを考慮していないためである。具体例を図４（Ａ），（Ｂ）に示す。図４（Ａ）は、光ディスクの記録層に形成された記録マークから再生される再生信号のパルス波形を示す。この例では、信号長３Ｔのローレベル信号の信号長が信号長２．５Ｔになるとともに、同パルスの立ち下がりタイミングがクロック信号に対し０．５Ｔだけ進んでいる。このため、信号長３Ｔのローレベル信号の後ろに続く信号長５Ｔのハイレベル信号の信号長が本来の５Ｔの信号長より０．５Ｔだけ長くなるとともに、同パルスの立ち上がりタイミングがクロック信号に対し０．５Ｔだけ進んでいる。
【０００５】
この場合、ハイレベル信号およびローレベル信号の各ジッタを測定すると、作業者は、信号長３Ｔのローレベル信号のジッタから信号長３Ｔのローレベル信号が信号長２．５Ｔになっていることは認識できるが、信号長３Ｔの後ろに続くハイレベル信号は、図４（Ａ）（Ｂ）に示したような信号長５Ｔに限らずあらゆる種類の信号長が存在しえるため、ハイレベル信号の各信号長のジッタからは、信号長３Ｔのローレベル信号の立ち下がりタイミングがクロック信号に対し０．５Ｔだけ進んでいることを認識することができない。
【０００６】
このため、作業者は、例えば、図４（Ｂ）に示すように、レーザ光のストラテジを変更することで信号長２．５Ｔのパルスのパルス幅を片側０．２５Ｔずつ拡げて信号長３Ｔとする。これにより、信号長２．５Ｔのローレベル信号は信号長３Ｔのローレベル信号となるが、信号長３Ｔのローレベル信号の前にある信号長４Ｔのハイレベル信号は、信号長が０．２５Ｔだけ短くなるとともに、同パルスの立ち下がりタイミングがクロック信号に対して０．２５Ｔだけ進む。また、信号長３Ｔのローレベル信号の後ろに続く信号長５Ｔのハイレベル信号は、信号長が０．２５Ｔだけ短くなり、信号長が本来の信号長より０．２５Ｔだけ長い信号長に変化するとともに、クロック信号に対して同パルスの立ち上がりタイミングが０．２５Ｔだけ進んだパルスに変化する。
【０００７】
そして、この状態でハイレベル信号およびローレベル信号の各ジッタを測定した場合、ローレベル信号の信号長３Ｔのジッタは最小となるが、ハイレベル信号の各信号長のジッタは、最小とはならない。しかし、信号長３Ｔのローレベル信号の前後に存在するハイレベル信号の信号長は、図４（Ａ）（Ｂ）に示した信号長４Ｔおよび５Ｔだけでなく、あらゆる種類の信号長が存在しえるため、ハイレベル信号の各信号長のジッタが最小とならない原因が信号長３Ｔのローレベル信号のクロック信号に対する立ち下がりタイミングおよび立ち上がりタイミングのずれ、すなわち位相のずれによることは認識できない。このため、再生信号の各パルスのローレベル信号およびハイレベル信号のジッタに基づいて、レーザ光のストラテジを調整しても各パルスの位相のずれが不明であるため、同位相のずれを考慮した調整にはならず、各パルスの位相のずれは解消されない。この結果、光ディスクの記録層に精度よく記録マークを形成することができず、記録精度が悪いという問題があった。
【発明の開示】
【０００８】
本発明は前記問題に対処するためなされたもので、その目的は、光ディスクに記録される信号の各パルスの位相のずれを考慮してレーザ光源から出射されるレーザ光のストラテジを設定し、同光ディスクに対する信号の記録精度を良好にすることが可能な光ディスク装置を提供することにある。
【０００９】
前記目的を達成するため、本発明の特徴は、レーザ光源から出射されたレーザ光を光ディスクに照射し、光ディスクにて反射されたレーザ光を用いて、光ディスクに記録されたデータに対応するパルス列からなる再生信号を生成する再生信号生成手段を備えた光ディスク装置において、前記再生信号に基づいて、クロック信号を生成するクロック信号生成手段と、立ち上がり変化および立ち下がり変化のうちの一方の変化のタイミングを、クロック信号生成手段によって生成されたクロック信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期させるとともに、立ち上がり変化および立ち下がり変化のうちの他方の変化のタイミングを、前記再生信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期させた第１測定用パルス列信号を生成する第１測定用パルス列信号生成手段と、第１測定用パルス列信号生成手段により生成された第１測定用パルス列信号のジッタを測定するジッタ測定手段とを備えたことにある。
【００１０】
このように構成した本発明の特徴によれば、一方の変化のタイミングがクロック信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期するとともに、他方の変化のタイミングが再生信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期する第１測定用パルス列信号のジッタを測定している。この場合、第１測定用パルス列信号の他方の変化のタイミングに同期する再生信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングが、クロック信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期している場合と同期してない場合とでは、再生信号のパルスのパルス幅が同一であっても生成される第１測定用パルス列信号のパルス幅は異なる。すなわち、これら２つの第１測定用パルス列信号のパルス幅の差は、クロック信号に対する再生信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングの位相のずれを表している。このため、第１測定用パルス列信号のパルスのパルス幅の分布（バラツキ）を測定、すなわちジッタを測定すれば同再生信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングの位相のずれを検出することができる。これにより、作業者は、光ディスクに記録される信号の各パルスの位相のずれを考慮してレーザ光源から出射されるレーザ光のストラテジを設定することができ、光ディスクに対する信号の記録精度を良好にすることができる。
【００１１】
また、本発明の他の特徴は、立ち上がり変化および立ち下がり変化のうちの前記他方の変化のタイミングを、前記クロック信号生成手段によって生成されたクロック信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期させるとともに、立ち上がり変化および立ち下がり変化のうちの前記一方の変化のタイミングを、前記再生信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期させた第２測定用パルス列信号を生成する第２測定用パルス列信号生成手段を有し、ジッタ測定手段は、第１測定用パルス列信号に加え第２測定用パルス列信号のジッタを測定するようにしたことにある。
【００１２】
このように構成した本発明の他の特徴によれば、前記他方の変化のタイミングがクロック信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期するとともに、前記一方の変化のタイミングが再生信号の立ち上がりタイミングまたは立ち下がりタイミングに同期する第２測定用パルス列信号のジッタを測定している。これにより、再生信号における立ち上がりタイミングおよび立ち下がりタイミングの両タイミングについてクロック信号に対する位相のずれを検出することができる。このため、各パルスの立ち上がりタイミングおよび立ち下がりタイミングの両位相のずれを考慮してレーザ光源から出射されるレーザ光のストラテジを設定することができ、光ディスクに対する信号の記録精度を良好にすることができる。
【００１３】
また、本発明の他の特徴は、前記ジッタ測定手段により測定されたジッタを表示する表示装置を有するようにしたことにある。これにより、作業者は、ジッタ測定手段により測定されたジッタの測定結果を容易に認識することができる。
【００１４】
また、本発明の他の特徴は、光ディスクへのデータの記録時において、前記レーザ光源から出射されるレーザ光の特性をジッタ測定手段により測定されたジッタに基づいて補正するレーザ光補正手段を有したことにある。これによれば、ジッタ測定手段により測定されたジッタに基づいて再生信号の各パルスの位相のずれを検出し、同検出された位相のずれに基づいてレーザ光源から出射されるレーザ光の特性、例えば各信号長ごとのパルス数、各パルスの幅、光量および各パルス間の間隔などを早期に補正することができる。この結果、従来のように再生信号の各パルスのパルス幅の分布（バラツキ）であるジッタに基づいてストラテジの設定を行う場合に比べ同設定作業の効率を良好にすることができる。
【００１５】
また、本発明は装置の発明として実施できるばかりでなく、方法の発明としても実施できるものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明に係る光ディスク装置の一実施形態について図面を参照しながら説明する。図１は、ＣＤ，ＤＶＤ，ブルーレイディスク（Blu-Ray Disk）などの光ディスクＤＫを検査する光ディスク検査装置の概略図である。光ディスク検査装置は、光ディスクＤＫの記録層に所定の検査用信号を記録し、同記録された検査用信号を再生して光ディスクＤＫの良否判定を行う装置である。
【００１７】
この光ディスク検査装置は、光ディスクＤＫが載置固定されるターンテーブル１１を備えている。ターンテーブル１１は、図示しないスピンドルモータによって回転制御されて、光ディスクＤＫ上に形成される光スポットが光ディスクＤＫに対して線速度一定または角速度一定で回転するようになっている。この光ディスクＤＫに対向する側には、光ピックアップ装置１２が配置される。また、光ディスク上に形成される光スポットは、スピンドルモータまたは光ピックアップ装置１２を図示しないフィードモータによって光ディスクＤＫの径方向に移動させることにより光ディスクＤＫに対して径方向に移動し、これにより、光スポットは光ディスクＤＫ上を螺旋状に移動する。なお、これらスピンドルモータおよびフィードモータの制御については本発明に直接関係しないので、その説明は省略する。
【００１８】
光ピックアップ装置１２は、光ディスクＤＫに信号を記録し、または光ディスクＤＫに記録された信号を再生する光学装置であり、レーザ光源、コリメーティングレンズ、ビームスプリッタ、１／４波長板、対物レンズ、集光レンズ、シリンドリカルレンズ、４分割フォトディテクタ、フォーカスアクチュエータ、トラッキングアクチュエータなどを備えている。そして、この光ピックアップ装置１２は、レーザ光源からのレーザ光を光ディスクＤＫに照射して光ディスクＤＫ上に光スポットを形成し、同光ディスクＤＫからの光スポットによる反射光を４分割フォトディテクタで受光する。
【００１９】
４分割フォトディテクタは、分割線で区切られた４つの受光素子からなり、受光した反射光の光量に比例した受光信号を増幅回路１３に出力する。なお、４分割フォトディテクタから出力される受光信号は、フォーカスサーボ制御回路、トラッキングサーボ制御回路、フォーカスアクチュエータおよびトラッキングアクチュエータによる対物レンズのフォーカスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御に用いられる。この対物レンズのフォーカスサーボ制御およびトラッキングサーボ制御は、本発明に直接関係しないので、詳しい説明は省略する。
【００２０】
増幅回路１３は、４分割フォトディテクタから出力される受光信号を増幅して、再生信号生成回路１４に出力する。再生信号生成回路１４は、４分割フォトディテクタからの４つの受光信号を全て合算した再生信号（いわゆる、サム信号）を生成して波形等化回路１５に出力する。波形等化回路１５は、イコライズ回路で構成され、再生信号生成回路１４から出力される再生信号の振幅を周波数に応じて補正した信号を２値化回路１６に出力する。２値化回路１６は、波形等化回路１５から出力された信号を２値化、すなわちパルス列信号に変換してクロック信号生成回路２１、参照信号生成回路２２、第１測定用パルス列信号生成回路２３、第２測定用パルス列信号生成回路２４およびジッタ測定器２５にそれぞれ出力する。
【００２１】
クロック信号生成回路２１は、ＰＬＬ回路で構成され２値化回路１６から出力された２値化された再生信号に基づいてクロック信号を生成して参照信号生成回路２２に出力する。具体的には、２値化回路１６から出力される再生信号は、クロック周期Ｔの逓倍の信号長（ＣＤの場合３Ｔ〜１１Ｔ、ＤＶＤの場合３Ｔ〜１１Ｔ，１４Ｔ、ブルーレイディスクの場合２Ｔ〜８Ｔ）を有する信号であり、クロック信号生成回路２１は、この再生信号から記録信号を復調するためのクロック信号を生成する。
【００２２】
参照信号生成回路２２は、フリップフロップ回路を含み、２値化回路１６から出力された２値化された再生信号と、クロック信号生成回路２１から出力されたクロック信号とを用いて参照信号を生成する。具体的には、クロック信号の立ち下がりタイミングにおける再生信号の各レベルに対応したパルス列信号を参照信号として生成する。この場合、参照信号の各パルスのパルス幅は、クロック周期Ｔを逓倍した信号長となる。また、参照信号の各パルスは、クロック信号の立ち下がりタイミングに同期しているため、それぞれ対応する再生信号の各パルスがクロック信号の各立ち上がりタイミングに同期している場合に比べて０．５Ｔ遅れる。この参照信号生成回路２２は、生成した参照信号を第１測定用パルス列信号生成回路２３および第２測定用パルス列信号生成回路２４にそれぞれ出力する。
【００２３】
第１測定用パルス列信号生成回路２３は、フリップフロップ回路を含み、２値化回路１６から出力された２値化された再生信号と、参照信号生成回路２２から出力された参照信号とを用いて第１測定用パルス列信号を生成する。具体的には、再生信号の各パルスの立ち上がりタイミングに同期して立ち上がり変化し、参照信号の各パルスの立ち下がりタイミングに同期して立ち下がり変化するパルス列信号を第１測定用パルス列信号として生成する。第１測定用パルス列信号生成回路２３は、生成した第１測定用パルス列信号をジッタ測定器２５に出力する。
【００２４】
第２測定用パルス列信号生成回路２４は、フリップフロップ回路を含み、２値化回路１６から出力された２値化された再生信号と、参照信号生成回路２２から出力された参照信号とを用いて第２測定用パルス列信号を生成する。具体的には、参照信号の各パルスの立ち上がりタイミングに同期して立ち上がり変化し、再生信号の各パルスの立ち下がりタイミングに同期して立ち下がり変化するパルス列信号を第２測定用パルス列信号として生成する。第２測定用パルス列信号生成回路２４は、生成した第２測定用パルス列信号をジッタ測定器２５に出力する。
【００２５】
ジッタ測定器２５は、入力したパルス列信号の各パルスのジッタを測定する測定器である。具体的には、ジッタ測定器２５は、タイムインターバルアナライザで構成され、２値化回路１６から出力された２値化された再生信号、第１測定用パルス列信号生成回路２３から出力された第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号生成回路２４から出力された第２測定用パルス列信号のそれぞれのパルスのパルス幅の分布（バラツキ）を測定し、同各測定値を後述するコンピュータ装置３０に出力する。
【００２６】
光ピックアップ装置１２には、内蔵するレーザ光源を駆動制御するためのレーザ駆動回路２６が接続されている。レーザ駆動回路２６は、レーザパワー設定回路２７により設定される光量のレーザ光をレーザ光源から出射させるとともに、記録信号生成回路２８から出力される検査用記録信号に基づいてレーザ光源をオン・オフ動作またはハイレベル・ローレベル動作させる。レーザパワー設定回路２７は、コンピュータ装置３０からの指令に応じてレーザ駆動回路２６を制御してレーザ光源の作動および停止を制御するとともに、作動時におけるレーザ光の出射光量を記録用のハイパワーと再生用のローパワーに切り替える。記録信号生成回路２８は、ストラテジ設定回路２９によって設定されるストラテジ（パルス発光波形規則）に基づいて、コンピュータ装置３０から出力される検査用データに対応した検査用記録信号を生成してレーザ駆動回路２６に出力する。
【００２７】
ストラテジ設定回路２９は、コンピュータ３０から出力されるストラテジの設定に関する信号に基づいて、パルス列信号における各信号長ごとのストラテジを設定して記録信号生成回路２８に出力する。ここでストラテジは、光ディスクＤＫの記録層に精度良く記録マークを形成するために設定されるもので、パルス列信号における各信号長ごとのパルス波形、すなわち、パルス数、各パルスの幅、光量および各パルスの間隔などを規定する。
【００２８】
コンピュータ装置３０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスクなどからなるマイクロコンピュータによって構成されており、キーボード、マウスなどからなる入力装置３１からの指示に従って図示しないプログラムを実行することにより光ディスクＤＫの検査を行うとともに、同検査の実行過程および実行結果を、ＣＲＴ（または液晶ディスプレイ）、プリンタなどからなる出力装置３２に適宜表示させる。また、コンピュータ装置３０は、ジッタ測定器２５から出力される再生信号、第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号の各パルスのジッタの測定結果を出力装置３２に表示させる。また、コンピュータ装置３０には、ジッタ測定器２５、レーザパワー設定回路２７、記録信号生成回路２８およびストラテジ設定回路２９が、それぞれの作動制御のために接続されている。
【００２９】
上記のように構成した実施形態の作動について説明する。作業者は、図示しない電源スイッチの投入により、コンピュータ装置３０を含む光ディスク検査装置の各種回路の作動を開始させる。そして、検査対象となる未記録面を持つ光ディスクＤＫをターンテーブル１１の上に載せて、同光ディスクＤＫをターンテーブル１１上に固定する。次に、作業者は、入力装置３１を操作して光ディスクＤＫに検査用データの記録をコンピュータ装置３０に指示する。この指示に応答してコンピュータ装置３０は、図示しないプログラムを実行することにより、光ディスクＤＫの所定の記憶領域に検査用データの記録を開始する。具体的には、コンピュータ装置３０は、光ディスクＤＫを線速度または角速度一定で回転させるとともに、光ディスクＤＫの所定の記録領域に光スポットを形成させて検査用データを記録する。
【００３０】
この場合、光ピックアップ装置１２のレーザ光源から断続的に出射されるレーザ光の光量およびストラテジは、所定の光量およびストラテジに規定されている。具体的には、コンピュータ装置３０は、レーザパワー設定回路２７に記録用のハイパワーの光量を表す出射光量指令信号を出力するとともに、ストラテジ設定回路２９にストラテジの設定に関する信号を出力する。レーザパワー設定回路２７は、出射光量指令信号に基づいて出射光量信号をレーザ駆動回路２６に出力する。ストラテジ設定回路２９は、ストラテジの設定に関する信号に基づいてパルス列信号における各信号長ごとのストラテジをそれぞれ設定して記録信号生成回路２８に出力する。この場合、ストラテジの設定に関する信号は、コンピュータ装置３０に予め設定された各信号長における標準的なストラテジを表している。
【００３１】
また、コンピュータ装置３０は、光ディスクＤＫに記録される検査用データを記録信号生成回路２８に出力する。これにより、記録信号生成回路２８は、ストラテジ設定回路２９によって設定されたストラテジに基づいて、コンピュータ装置３０から出力された検査用データを用いて検査用記録信号を生成してレーザ駆動回路２６に出力する。レーザ駆動回路２６は、出射光量信号および検査用記録信号に基づいてレーザ光源を駆動させる。これにより、所定の光量およびストラテジに規定されたレーザ光によって検査用データが光ディスクＤＫの所定の記録領域に記録される。
【００３２】
次に、作業者は、入力装置３１を操作して再生信号のジッタの測定をコンピュータ装置３０に指示する。この指示に応答してコンピュータ装置３０は、図示しないプログラムを実行することにより、光ディスクＤＫにおける前記所定の記憶領域に記録された検査用データの再生を開始する。具体的には、コンピュータ装置３０は、光ディスクＤＫを線速度または角速度一定で回転させるとともに、光ディスクＤＫの前記所定の記録領域に光スポットを形成させる。この場合、光ピックアップ装置１２のレーザ光源から連続的に出射されるレーザ光の光量は、コンピュータ装置３０およびレーザパワー設定回路２７によって再生用のローパワーの光量に規定される。
【００３３】
光ディスクＤＫからの反射光は、光ピックアップ装置１２の４分割フォトディテクタで受光され、受光量に対応する受光信号に変換されて増幅回路１３を介して再生信号生成回路１４に出力される。そして、この受光信号は、再生信号生成回路１４によって再生信号に変換された後、２値化回路１６によって２値化されてクロック信号生成回路２１、参照信号生成回路２２、第１測定用パルス列信号生成回路２３および第２測定用パルス列信号生成回路２４にそれぞれ出力される。クロック信号生成回路２１は、２値化された再生信号に基づいて一定周期のクロック信号を生成して参照信号生成回路２２に出力する。参照信号生成回路２２は、クロック信号に再生信号を同期させたパルス列信号である参照信号を生成して第１測定用パルス列信号生成回路２３および第２測定用パルス列信号生成回路２４にそれぞれ出力する。
【００３４】
この場合、図２（Ａ）〜（Ｄ）に示すように、参照信号生成回路２２に出力される再生信号の各パルスのパルス幅が各パルスの本来の信号長に対して±１Ｔ未満のずれの範囲内であって、同各パルスの立ち上がりタイミングおよび立ち下がりタイミングが、クロック信号の各立ち上がりタイミングに対してそれぞれ０．５Ｔ未満の進みないし０．５Ｔ以下の遅れの範囲のずれであれば所定の参照信号を生成できるので、再生信号のほとんどのパルスにおいて所定の参照信号を生成できる。そして、参照信号生成回路２２は、クロック信号の立ち下がりタイミングにおける再生信号の各レベルに対応したパルス列信号を参照信号として生成するので参照信号の各パルスは、再生信号の各パルスの本来の信号長に等しく、かつ対応する再生信号の各パルスがクロック信号の立ち上がりタイミングに同期している場合に比べて０．５Ｔだけ遅れたものとなる。
【００３５】
なお、ストラテジの調整に関係するのは図４（Ａ）（Ｂ）に示すように、２値化された再生信号のうち、光ディスクＤＫに記録マークが形成された箇所に対応する部分、すなわち、ローレベル信号であるが、説明を分かりやすくするため図２（Ａ）〜（Ｄ）では、２値化された再生信号のローレベルとハイレベルとを反転させて示している。すなわち、図２（Ａ）〜（Ｄ）に示す再生信号のハイレベル信号は、実際には、光ディスクＤＫに形成された記録マークからの信号であるローレベル信号である。したがって、以後の説明においては、２値化された再生信号は、本来ローレベル信号であるが、ハイレベル信号として説明を進める。
【００３６】
また、図２（Ａ）〜（Ｄ）において、図２（Ａ）は、クロック信号の立ち上がりタイミングに対して再生信号のパルスの立ち上がりタイミングおよび立ち下がりタイミングが遅れている場合を示している。図２（Ｂ）は、クロック信号の立ち上がりタイミングに対して再生信号のパルスの立ち上がりタイミングが遅れ、立ち下がりタイミングが進んでいる場合を示している。図２（Ｃ）は、クロック信号の立ち上がりタイミングに対して再生信号のパルスの立ち上がりタイミングが進み、立ち下がりタイミングが遅れている場合を示している。図２（Ｄ）は、クロック信号の立ち上がりタイミングに対して再生信号のパルスの立ち上がりタイミングおよび立ち下がりタイミングが進んでいる場合を示している。また、図２（Ａ）〜（Ｄ）に示されている再生信号のパルスの信号長は４Ｔであり、再生信号のパルスの両タイミングの進みおよび遅れの量は、それぞれ０．２５Ｔである。
【００３７】
参照信号生成回路２２によって生成された参照信号は、第１測定用パルス列信号生成回路２３および第２測定用パルス列信号生成回路２４にそれぞれ出力される。第１測定用パルス列信号生成回路２３は、参照信号および２値化された再生信号を用いて第１測定用パルス列信号を生成する。具体的には、前述したように、再生信号の各パルスの立ち上がりタイミングに同期して立ち上がり変化するとともに、参照信号の各パルスの立ち下がりタイミングに同期して立ち下がり変化するパルス列信号を生成する。この場合、再生信号のパルスの立ち上がりタイミングがクロック信号のパルスの立ち上がりタイミングに同期している場合には、生成される第１測定用パルス列信号のパルスのパルス幅は、対応する再生信号のパルスの信号長に０．５Ｔを加えたパルス幅となる。これは、第１測定用パルス列信号のパルスの立ち下がり変化のタイミングが、前記０．５Ｔだけ遅れた参照信号の立ち下がりタイミングに同期しているからである。
【００３８】
一方、再生信号のパルスの立ち上がりタイミングがクロック信号のパルスの立ち上がりタイミングに同期していない場合、具体的には、再生信号のパルスの立ち上がりタイミングがクロック信号の立ち上がりタイミングに対して進んでいるまたは遅れている場合には、生成される第１測定用パルス列信号のパルスのパルス幅は、前記対応する再生信号のパルスの信号長に０．５Ｔを加えたパルス幅に、前記再生信号のパルスの進みまたは遅れ分を増減したパルス幅となる。例えば、図２（Ａ），（Ｂ）に示す第１測定用パルス列信号においては、再生信号のパルスの立ち上がりタイミングの遅れ分である０．２５Ｔを４．５Ｔ（４Ｔ＋０．５Ｔ）から減算した４．２５Ｔが同パルスのパルス幅となる。また、図２（Ｃ），（Ｄ）に示す第１測定用パルス列信号においては、再生信号のパルスの立ち上がりタイミングの進み分である０．２５Ｔを４．５Ｔ（４Ｔ＋０．５Ｔ）に加算した４．７５Ｔが同パルスのパルス幅となる。この第１測定用パルス列信号は、ジッタ測定器２５に出力される。
【００３９】
第２測定用パルス列信号生成回路２４は、参照信号および２値化された再生信号を用いて第２測定用パルス列信号を生成する。具体的には、前述したように、参照信号のパルスの立ち上がりタイミングに同期して立ち上がり変化するとともに、再生信号のパルスの立ち下がりタイミングに同期して立ち下がり変化するパルス列信号を生成する。この場合、再生信号のパルスの立ち下がりタイミングがクロック信号のパルスの立ち上がりタイミングに同期している場合には、生成される第２測定用パルス列信号のパルスのパルス幅は、対応する再生信号のパルスの信号長から０．５Ｔを減じたパルス幅となる。これは、第２測定用パルス列信号のパルスの立ち上がりタイミングが、前記０．５Ｔだけ遅れた参照信号の立ち上がりタイミングに同期しているからである。
【００４０】
一方、再生信号のパルスの立ち下がりタイミングがクロック信号のパルスの立ち上がりタイミングに同期していない場合、具体的には、再生信号のパルスの立ち下がりタイミングがクロック信号の立ち上がりタイミングに対して進んでいるまたは遅れている場合には、生成される第２測定用パルス列信号のパルスのパルス幅は、前記対応する再生信号のパルスの信号長から０．５Ｔを減じたパルス幅に、前記再生信号のパルスの進みまたは遅れ分を増減したパルス幅となる。例えば、図２（Ａ），（Ｃ）に示す第２測定用パルス列信号においては、再生信号のパルスの立ち下がりタイミングの遅れ分である０．２５Ｔを３．５Ｔ（４Ｔ−０．５Ｔ）に加算した３．７５Ｔが同パルスのパルス幅となる。また、図２（Ｂ），（Ｄ）に示す第２測定用パルス列信号においては、再生信号のパルスの立ち下がりタイミングの進み分である０．２５Ｔを３．５Ｔ（４Ｔ−０．５Ｔ）から減じた３．２５Ｔが同パルスのパルス幅となる。この第２測定用パルス列信号は、ジッタ測定器２５に出力される。
【００４１】
ジッタ測定器２５は、２値化された再生信号、第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号の各パルスのジッタを測定して、同測定結果をコンピュータ装置３０に出力する。この場合、測定されるジッタは、再生信号、第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号における各パルスのパルス幅の分布（バラツキ）である。コンピュータ装置３０は、再生信号の各信号長ごと（ＣＤの場合３Ｔ〜１１Ｔ、ＤＶＤの場合３Ｔから１１Ｔ，１４Ｔ、ブルーレイディスクの場合２Ｔ〜８Ｔ）に測定結果を表示装置３２に表示させる。
【００４２】
また、コンピュータ装置３０は、再生信号の各信号長に０．５Ｔを加算した信号長ごとに第１測定用パルス列信号の各パルスの測定結果を表示装置３２に表示させる。これは、前記したように、第１測定用パルス列信号のパルスのパルス幅が、対応する再生信号のパルスの信号長に０．５Ｔを加えたパルス幅であるためである。また、コンピュータ装置３０は、再生信号における各信号長から０．５Ｔを減算した信号長ごとに第２測定用パルス列信号の各パルスの測定結果を表示装置３２に表示させる。これは、前記したように、第２測定用パルス列信号のパルスのパルス幅が、対応する再生信号のパルスの信号長から０．５Ｔを減じたパルス幅であるためである。これら第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号のジッタの各測定結果の表示例を図３（Ａ），（Ｂ）に示す。図３（Ａ）は、信号長３Ｔ〜８Ｔにおける第１測定用パルス列信号の測定結果（３．５Ｔ〜８．５Ｔ）を度数分布で示し、図３（Ｂ）は、信号長３Ｔ〜８Ｔにおける第２測定用パルス列信号の測定結果（２．５Ｔ〜７．５Ｔ）を度数分布で示したものである。
【００４３】
図３（Ａ）に示す第１測定用パルス列信号のジッタの測定結果において、各信号長に対して測定結果の分布中心が信号長の小さい側（図示左側）に存在する場合（信号長３．５Ｔ，４．５Ｔ）には、同再生信号のパルスの立ち上がりタイミングがクロック信号の立ち上がりタイミングに対して遅れていることを表している。また、各信号長に対して測定結果の分布中心が信号長の大きい側（図示右側）に存在する場合（信号長７．５Ｔ，８．５Ｔ）には、同再生信号のパルスの立ち上がりタイミングがクロック信号の立ち上がりタイミングに対して進んでいることを表している。一方、図３（Ｂ）に示す第２測定用パルス列信号のジッタの測定結果において、各信号長に対して測定結果の分布中心が信号長の小さい側（図示左側）に存在する場合（信号長２．５Ｔ，３．５Ｔ）には、同再生信号のパルスの立ち下がりタイミングがクロック信号の立ち上がりタイミングに対して進んでいることを表している。また、各信号長に対して測定結果の分布中心が信号長の大きい側（図示右側）に存在する場合（信号長６．５Ｔ，７．５Ｔ）には、同再生信号のパルスの立ち下がりタイミングがクロック信号の立ち上がりタイミングに対して遅れていることを表している。
【００４４】
次に、作業者は、出力装置３２に表示される再生信号、第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号の各ジッタの測定結果に基づいて、入力装置３１を操作して光ピックアップ装置１２のレーザ光源から出射されるレーザ光のストラテジの設定を補正する。具体的には、作業者は、まず、再生信号、第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号の各信号長ごとのジッタの大きさから、各信号長ごとのパルス幅のバラツキおよび各信号長ごとの位相のずれを確認する。
【００４５】
次に、作業者は、再生信号、第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号の各信号長ごとのジッタに基づいて各信号長ごとのパルス幅のバラツキおよび各信号長ごとの位相のずれを補正する。特に、第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号のジッタに基づいて各信号長ごとの位相のずれを補正することが本発明の特徴である。この場合、具体的には、レーザ光源から出射されるレーザ光の主としてストラテジの特定パルスの光量および位置の設定値を各信号長ごとに補正する。例えば、再生信号のパルスの立ち上がりタイミングが遅れている場合（図３（Ａ）に示す信号長３．５Ｔ，４．５Ｔ）には、信号長３Ｔ，４Ｔの記録マークの形成時における初期の光量を大きくするおよび／または最初のパルスの位置を前側にずらすように補正する。また、再生信号のパルスの立ち下がりタイミングが進んでいる場合（図３（Ｂ）に示す信号長２．５Ｔ，３．５Ｔ）には、信号長３Ｔ，４Ｔの記録マークの形成時における末期の光量を大きくするおよび／または最後のパルスの位置を後ろ側にずらすように補正する。なお、このレーザ光のストラテジの特定パルスの光量および位置に加えて、レーザ光の各信号長ごとのパルス数、各パルスの幅、光量および各パルス間の間隔などの各設定値も適宜補正する場合もある。
【００４６】
このストラテジの設定を補正する作業は、入力装置３１を介してコンピュータ装置３０に指示される。コンピュータ装置３０は、この指示に応答して、入力された補正量に対応するストラテジの設定に関する信号をストラテジ設定回路２９に出力する。ストラテジ設定回路２９は、同ストラテジの設定に関する信号に基づいてストラテジを再設定して記録信号生成回路２８に出力する。
【００４７】
次に、作業者は、入力装置３１を操作して光ディスクＤＫに検査用データの記録をコンピュータ装置３０に再度指示する。この指示に応答してコンピュータ装置３０は、前記と同様にして、光ディスクＤＫの所定の記憶領域に検査用データを記録する。この場合、光ディスクＤＫには、再設定されたストラテジに基づくレーザ光によって検査用データの記録が行われる。次に、作業者は、入力装置３１を操作して再生信号のジッタの測定をコンピュータ装置３０に再度指示する。この指示に応答してコンピュータ装置３０は、前記と同様にして、光ディスクＤＫにおける前記所定の記憶領域に記録された検査用データを再生して再生信号、第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号のジッタをそれぞれ測定する。そして、作業者は、前記と同様にして、各ジッタの測定結果に基づいて適宜ストラテジの設定を補正する。
【００４８】
このようなストラテジの補正、検査用データの記録および再生信号、第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号の各ジッタの測定を繰り返し行うことによって、再生信号における各信号長ごとのパルス幅のバラツキおよび各信号長ごとの位相のずれが解消されるとともに、レーザ光源から出射されるレーザ光の最適なストラテジが設定される。そして、作業者は、この状態で光ディスクＤＫの良否判定を行う。この光ディスクＤＫの評価については、本発明に関わらないためその説明は省略する。また、他の光ディスクＤＫの検査を実行する場合には、ターンテーブル上に新たな光ディスクＤＫを載置固定して、同様に検査を行う。
【００４９】
上記作動説明からも理解できるように、上記実施形態によれば、一方の変化のタイミングがクロック信号の立ち下がりタイミングに同期するとともに、他方の変化のタイミングが再生信号の立ち上がりタイミングに同期する第１測定用パルス列信号と、一方の変化のタイミングがクロック信号の立ち下がりタイミングに同期するとともに、他方の変化のタイミングが再生信号の立ち下がりタイミングに同期する第２測定用パルス列信号とを生成し、これら第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号のジッタをそれぞれ測定している。この場合、第１測定用パルス列信号に同期する再生信号の立ち上がりタイミングが、クロック信号の立ち上がりタイミングに同期している場合と同期してない場合とでは再生信号のパルスのパルス幅が同一であっても、生成される第１測定用パルス列信号のパルス幅は異なる。この第１測定用パルス列信号のパルス幅の差は、クロック信号に同期していない再生信号の立ち上がりタイミングの位相のずれを表している。このため、第１測定用パルス列信号のパルスのパルス幅を測定、すなわちジッタを測定すれば同再生信号の立ち上がりタイミングの位相のずれを検出することができる。また、同様にして、第２測定用パルス列信号のジッタを測定することによって、同再生信号の立ち下がりタイミングの位相のずれを検出することができる。これにより、光ディスクＤＫから再生される再生信号の各パルスの位相のずれを考慮してレーザ光源から出射されるレーザ光のストラテジを設定することができ、光ディスクに対する信号の記録精度を良好にすることができる。
【００５０】
さらに、本発明の実施にあたっては、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない限りにおいて種々の変更が可能である。
【００５１】
上記実施形態においては、出力装置３２に表示される第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号の各パルス列のジッタの測定結果に基づいて、作業者がストラテジの設定を行うようにしたが、これに限定されるものではない。例えば、ジッタ測定器２５による第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号の各パルスのジッタの測定結果に基づいて、コンピュータ装置３０によりストラテジの補正を行うようにしてもよい。この場合、コンピュータ装置３０は、ジッタ測定器２５による再生信号のジッタの測定結果に基づいて、各信号長ごとにパルス幅のバラツキ（標準偏差）量を計算し、同計算されたバラツキ（標準偏差）量を用いてストラテジのパルス波形、すなわち、パルス数、各パルスの幅、光量およびパルス間の間隔などの補正値を計算する。また、コンピュータ装置３０は、第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号のジッタの各測定結果に基づいて、各信号長ごとに位相のずれ量を計算し、同計算された位相のずれ量を用いてストラテジの特定パルスの光量および位置の補正値を計算する。この場合、前記各ずれ量と各補正値との関係に関しては、事前に各種実験により得ておき、同関係を表すデータをコンピュータ装置３０に予め記憶させておく。そして、コンピュータ装置３０は、同計算されたレーザ光のストラテジのパルス波形およびストラテジの特定パルスの光量および位置の補正値に基づいてストラテジ設定回路２９に設定されているストラテジの補正を行うようにすればよい。
【００５２】
さらに、上記実施形態においては、再生信号における光ディスクＤＫに記録マークが形成された箇所に対応する部分、すなわちローレベル信号（上記実施形態ではハイレベル信号に対応する）について参照信号、第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号を生成して、同各信号のジッタに基づいてレーザ光のストラテジを設定するように構成したが、これに限定されるものではない。例えば、これに加えて再生信号のハイレベル信号（上記実施形態ではローレベル信号に対応する）について、同様に参照信号、第１測定用パルス列信号および第２測定用パルス列信号を生成して各信号のジッタを測定し、調整されたストラテジが再生信号のハイレベル信号（上記実施形態ではローレベル信号に対応する）についても最適であったか否かを確認することができる。これにより、より精度良くレーザ光のストラテジを設定することができる。
【００５３】
さらに、上記実施形態においては、光ディスクＤＫを検査するための光ディスク装置に本発明を適用するようにしたが、本発明は光ディスクＤＫに信号を記録し、または光ディスクＤＫに記録されている信号を再生する光ディスク装置の場合にも広く適用できるものである。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスクの検査装置を概略的に示すブロック図である。
【図２】（Ａ）〜（Ｄ）は、図１の光ディスクの検査装置内で生成される各種信号のパルス波形を示すタイムチャートである。
【図３】（Ａ），（Ｂ）は、図１の光ディスクの検査装置の出力装置に表示されるジッタの測定結果を各信号長ごとに示す説明図である。
【図４】（Ａ），（Ｂ）は、従来例による光ディスク装置における光ディスクから再生される再生信号のパルスの位相のずれを示す説明図である。
【符号の説明】
【００５５】
ＤＫ…光ディスク、１２…光ピックアップ装置、１４…再生信号生成回路、１６…２値化回路、２１…クロック信号生成回路、２２…参照信号生成回路、２３…第１測定用パルス列信号生成回路、２４…第２測定用パルス列信号生成回路、２５…ジッタ測定器、２９…ストラテジ設定回路、３０…コンピュータ装置。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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