(57)【要約】【課題】検査条件等の各種設定項目を選択するにあたっての操作性を改善し、検査波形評価作業の支援能力を向上した非破壊検査装置を提供する。【解決手段】渦流探傷装置１の筐体前面には液晶ディスプレイ２とメニューボタン３０２等の操作ボタン類が配置される。筐体側面にはタッチパッド３−２が設けられている。液晶ディスプレイ２による表示画面は、メニュー項目２０２等を表示するメニュー項目表示領域を含む。メニュー項目２０２は、アクセス頻度の履歴に基づきソーティングをした順番で縦方向に複数配列して表示される。メニューボタン３０２ａ〜３０２ｅが操作されると、対応するメニュー項目２０２ａ〜２０２ｅが選択されたものとして入力処理が実行される。タッチパッド３−２からスクロール指示が入力されると、メニュー項目２０２ａ〜２０２ｅがスクロール表示される。【選択図】    図１０
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の設定項目を配置したメニュー画面を表示すると共に、設定項目が選択されると対応する設定画面を表示する非破壊検査装置であって、
設定項目の選択頻度のヒストグラムを記憶するヒストグラム記憶手段と、選択頻度に応じてメニュー画面における設定項目の配置順を決定する配置順決定手段と、設定項目の選択回数を記憶し前記ヒストグラムを更新するヒストグラム更新手段とを備えたことを特徴とする非破壊検査装置。
【請求項２】
入力指示に従って１または複数のヒストグラムを設定登録するヒストグラム設定登録手段を備えたことを特徴とする請求項１記載の非破壊検査装置。
【請求項３】
メニュー画面にて前記複数の設定項目をスクロール表示するスクロール制御手段を備えたことを特徴とする請求項１または２記載の非破壊検査装置。
【請求項４】
レンジ大に係る入力およびレンジ小に係る入力を示す入力操作を取り込む入力手段を備え、前記スクロール制御手段はスクロール指示入力のレンジ大小に対応してスクロール量を変化させるものであることを特徴とする請求項３記載の非破壊検査装置。
【請求項５】
前記入力手段は、レンジ大に係る入力領域およびレンジ小に係る入力領域がセンサ面に設定されたタッチパッドを用いるものであることを特徴とする請求項４記載の非破壊検査装置。
【請求項６】
前記入力手段は、レンジ大モードおよびレンジ小モードを切り替えるレンジ切替スイッチを有するものであることを特徴とする請求項４記載の非破壊検査装置。
【請求項７】
前記入力手段はダイヤル型の操作部を有するものであり、前記レンジ切替スイッチは該ダイヤル型の操作部に搭載されているものであることを特徴とする請求項６記載の非破壊検査装置。
【請求項８】
非破壊検査手段を備えた情報処理端末を対象とし、設定項目の選択頻度のヒストグラムを取得するステップと、選択頻度に応じてメニュー画面における設定項目の配置順を決定するステップと、配置順に従って複数の設定項目を配列したメニュー画面を表示するステップと、設定項目の選択回数に従って前記ヒストグラムを更新するステップと実行させることを特徴とする情報出力プログラム。
【請求項９】
入力指示に従って１または複数のヒストグラムを設定登録するステップを実行させることを特徴とする請求項８記載の情報出力プログラム。
【請求項１０】
メニュー画面にて前記複数の設定項目をスクロール表示するステップを実行させることを特徴とする請求項８または９記載の情報出力プログラム。
【請求項１１】
レンジ大に係る入力およびレンジ小に係る入力を示す入力操作を取り込むステップと、レンジ大小に対応して前記スクロール表示のスクロール量を変化させるステップとを実行させることを特徴とする請求項１０記載の情報出力プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、航空機や原子力発電所で使用される金属部品等を対象として内部の欠陥の有無を検査する非破壊検査装置および情報出力プログラムに関し、特に検査条件等の各種設定項目を選択するにあたっての操作性を改善して検査波形評価作業の支援能力を向上した技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
非破壊検査装置の一例として渦流探傷装置を例にとり従来の技術を説明する。図１は、従来の渦流探傷装置を示す外観斜視図である。
【０００３】
同図に示すように渦流探傷装置１はたとえば、筐体前面に液晶ディスプレイ２やメニューボタン３０２等の操作ボタン類が配置され、筐体側面にダイヤル３０３が設けられている。また筐体前面にはコネクタ４０１が設けられ、このコネクタ４０１によりプローブ４０２が取り付けられている。プローブ４０２は、金属部品である被検査物５に磁気信号を与えると共に、この磁界により被検査物５の内部に発生する渦電流を検出するものである。
【０００４】
液晶ディスプレイ２による表示画面は、プローブ４０２の検出信号をもとに生成された探傷波形を表示する探傷波形表示領域２−１と、メニュー項目２０２等を表示するメニュー項目表示領域２−２とから構成される。検査者は、プローブ４０２を被検査物５に当ててなぞる等の操作を行って検査を実行し、探傷波形の変化を観察することにより被検査物５の内部のクラック・腐食等の欠陥５−１の有無を評価する。
【０００５】
メニュー項目２０２は、隣接するメニューボタン３０２に対応している。検査者は、メニューボタン３０２を操作することにより、メニュー項目に表示されている項目を選択する。そしてダイヤル３０３を操作することにより、当該項目について数値入力等を行う。
【０００６】
図２は、メニュー項目の表示画面構成例を示す説明図である。同図に示すように、たとえば項目「ＦＲＥＱ」を示すメニュー項目２０２ａには周波数欄２０２ａ−１が表示してあり、この周波数欄２０２ａ−１がカレントのときに入力される数値が周波数設定として認識され、入力された数値は周波数欄２０２ａ−１の表示に反映される。
【０００７】
従来の各種設定項目の入力機能について詳細に説明する。渦流探傷装置１では、多様な条件下での検査に対応するために多数のメニュー項目が設定されているが、特に可搬型の装置の場合、表示面積上の制約があるため、一度に画面上に表示できるメニュー項目の数は５，６項目程度に制限される。このため、メニュー項目を複数のグループに分類し、階層化する方法が取られている。
【０００８】
図３は、従来の渦流探傷装置の一例の正面図である。同図に示すようにこの渦流探傷装置１の筐体前面には、グループボタン３０１（３０１ａ〜３０１ｄ）が配置されている。また表示画面上には、グループ項目表示領域２−３が配置されている。このグループ項目表示領域２−３には、グループ項目２０１が配列して表示されている。各グループ項目は図中左から順にａ〜ｄを符号に付して識別することにする。
【０００９】
図４は、メニュー構成の一例を示す図表である。図３，４を用いて説明すると、メニュー項目は階層１，２からなり、階層１には各項目を分類したグループ名が割り振られ、階層２にはグループに属する項目が割り振られている。さらにグループボタン３０１には階層１の項目が割り当てられ、メニューボタン３０２には階層２の項目が割り当てられている。
【００１０】
具体的な設定例を示して説明すると、たとえば検査前に周波数「ＦＲＥＱ」・位相「ＰＨＡＳＥ」・ゲイン「ＧＡＩＮ」・ローパスフィルタ「ＬＰＦ」の設定をする場合、下記の手順で設定値を装置に入力する必要がある。
（１）グループボタン３０１ａを押し、メニュー項目表示領域２−２にメニュー項目「ＦＲＥＱ」〜「Ｖ  ＧＡＩＮ」を表示させる。
（２）メニューボタン３０２ａを押し、メニュー項目「ＦＲＥＱ」をアクティブにし、ダイヤル３０３で周波数値を装置に入力する。
（３）メニューボタン３０２ｂを押し、メニュー項目「ＰＨＡＳＥ」をアクティブにし、ダイヤル３０３で位相設定値を装置に入力する。
（４）メニューボタン３０２ｃを押し、メニュー項目「ＧＡＩＮ」をアクティブにし、ダイヤル３０３でゲイン設定値を入力する。
（５）グループボタン３０１ｂを押し、メニュー項目表示部２０２にメニュー項目「ＬＰＦ」を表示させる。
（６）メニューボタン３０２ａを押し、メニュー項目「ＬＰＦ」をアクティブにしダイヤル３０３でＬＰＦのカットオフ周波数の設定値を入力する。
【００１１】
このように、項目をグループ化したことにより設定入力操作は、手数が増加して複雑で煩瑣な作業となってしまう。このことを回避するために、たとえばメニュー表示をページ分割する手法も提供されている。
【００１２】
図５は、従来の渦流探傷装置の一例の正面図である。同図に示すように、この渦流探傷装置１の筐体前面には、グループボタン３０１（３０１ａ〜３０１ｃ）やメニューボタン３０２（３０２ａ〜３０２ｅ）の他に、ページ切替ボタン３０５（ページアップボタン３０４ａ，ページダウンボタン３０４ｂ）が配置されている。また表示画面上には、グループボタン３０２に対応してグループ項目２０１が表示されている。各グループ項目２０１には、図中左から順にａ〜ｃを符号に付して識別することにする。
【００１３】
図６は、メニュー構成の一例を示す図表である。図５，６を用いて説明すると、メニュー項目は階層１，２からなる点は図３，４の例と同様であるが、たとえば階層１にグループ「ＭＡＩＮ」というような大概念のグループ名を設定し、項目「ＦＲＥＱ」「ＰＨＡＳＥ」「ＧＡＩＮ」「Ｈ  ＧＡＩＮ」「Ｖ  ＧＡＩＮ」「ＬＰＦ」「ＨＰＦ」「ＢＰＦ」がまとめられている。
【００１４】
これらの項目はメニュー項目２０２ａ〜２０２ｅには一度に表示できないため、たとえば「ＦＲＥＱ」〜「Ｖ  ＧＡＩＮ」をグループ１−１、「ＬＰＦ」〜「ＢＰＦ」をグループ１−２に分割し、１ページ目にグループ１−１を表示すると共に２ページ目にグループ１−２を表示する。検査者は、図６のページアップボタン３０４ａ、ページダウンボタン３０４ｂによってページを切り替えることにより、メニュー項目表示領域２−２上に表示されるメニュー項目をグループ１−１にするかグループ１−２にするかを選択できる。ページ数が３ページ以上になる場合でも、同様にページ切替ボタン３０４を操作することにより各ページ間を行き来できる。しかし、この場合もページ切替作業には、非常に手間が掛かる。
【００１５】
また、この種の従来の技術には、たとえば特許文献１に記載されるものがある。同文献に記載される技術では、超音波探傷器においてメニューを表示するにあたり基本画面とメニュー設定画面を設定している。通常時は、図２に示す画面に相当する基本画面を表示する。検査者は、探傷波形を視認しながらメニュー項目を選択し、各種の設定変更等を指示しながら検査を行うことができる。また詳細な設定等を行いたい場合、検査者はメニュー設定画面の表示を指示することができる。この指示を受けて装置は、画面全面にわたってメニュー項目を配置したメニュー表示画面に表示を切り替える。検査者は、このメニュー設定画面から所望のメニュー項目を選択して設定変更等を行った後、検査を再開することができる。
【００１６】
また他の従来の技術には、特許文献２に記載されるものもある。この技術によれば、Ｆｉｇ．３、Ｆｉｇ．４に記載されるように、探傷波形上に設定項目を重ねて表示することにより探傷検査中に設定項目を入力するにあたっての操作性を向上するものである。
【特許文献１】特開平１１−１７４０２９号公報
【特許文献２】米国特許５，４８３，１６０（Ｆｉｇ．３，Ｆｉｇ．４）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
上記のように、限られた表示領域の中で多数の設定項目に対応した表示を行うにも限界があり、図３，４に示す従来例のように各メニュー項目をカテゴリごとに分割し階層化する手法をとっても、図５，６に示す従来例のようにメニュー項目をページ分割して表示する手法をとっても、検査者が所望の設定項目にたどり着くまでの手数が多くなって煩瑣な作業を強いることとなっていた。
【００１８】
また特許文献１に記載される技術では、メニュー設定画面に切り替えてメニュー選択操作を行うことにより多数の設定項目の表示が可能とはなるが、このメニュー設定画面を表示している間は探傷波形を表示できないため、探傷波形を視認しながらの検査を続行することが不可能となる問題があった。しかもメニュー設定画面上で２項目以上のパラメータを変更した後、基本画面に戻ったときに探傷波形が大きく変化している場合、どのパラメータが探傷波形に大きな変更を及ぼしたのか直感的に判別できない。これを避けるためには、メニュー設定画面と基本画面を何度も往復してメニュー項目を１項目づつ変更する使用形態を余儀なくされる難点があった。
【００１９】
また特許文献２に記載される技術では、探傷波形とメニュー項目を重ねて表示することにより、メニュー項目の表示面積を確保せんとするものであるが、この場合、探傷波形またはメニュー項目のいずれかあるいは両方の視認性が悪くなることが懸念されるし、表示できるメニュー項目が多少増えたとしても、多数のメニュー項目に対処するためにはメニューの階層化あるいはページ分割化を避けることはできず、上記と同様の問題を以前有している。
【００２０】
ここでメニュー項目の配置について着目してみる。検査で頻繁に使用される設定項目がメニュー項目の先頭に配置されていれば、設定項目の入力操作の手数が少なくて済むはずである。
【００２１】
図７は、検査者Ａ，Ｂのメニュー項目へのアクセス頻度を示すヒストグラムである。同図に示すように操作者Ａ，Ｂがある一定期間中に「ＦＲＥＱ」「ＦＰＨＡＳＥ」「ＧＡＩＮ」「ＨＧＡＩＮ」「Ｖ＿ＧＡＩＮ」「ＬＰＦ」「ＨＰＦ」「ＢＰＦ」というメニュー項目ヘのアクセス回数をカウントしてみると、検査者によって多用するメニュー項目が異なることがわかった。
【００２２】
図８は、図７のヒストグラムに基づいてメニュー項目を最適化した例を示す渦流探傷装置の正面図であり、図（ａ）は操作者Ａに係る例を示し、図（ｂ）は操作者Ｂに係る例を示す。図７のヒストグラムに基づき、操作者Ａについてメニュー項目を最適化すると、図８（ａ）に示す配列となる。同様に、操作者Ｂについては図８（ｂ）に示す配列が最適となる。また、同一の検査者であっても被検査物の種類によって、使用するメニュー項目の傾向が異なることも予想され、多様な使用形態を前提とするとメニュー項目の配列の最適化は困難である。
【００２３】
この発明は、このような事情に鑑み、検査条件等の各種設定項目を選択するにあたっての操作性を改善し、検査波形評価作業の支援能力を向上した非破壊検査装置を提供することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【００２４】
上記の課題を解決するために請求項１記載の発明は、複数の設定項目を配置したメニュー画面を表示すると共に、設定項目が選択されると対応する設定画面を表示する非破壊検査装置であって、設定項目の選択頻度のヒストグラムを記憶するヒストグラム記憶手段と、選択頻度に応じてメニュー画面における設定項目の配置順を決定する配置順決定手段と、設定項目の選択回数を記憶し前記ヒストグラムを更新するヒストグラム更新手段とを備えたことを特徴とする非破壊検査装置を提供する。
【００２５】
また請求項２記載の発明は、請求項１記載の非破壊検査装置において、入力指示に従って１または複数のヒストグラムを設定登録するヒストグラム設定登録手段を備えたことを特徴とする非破壊検査装置を提供する。
【００２６】
また請求項３記載の発明は、請求項１または２記載の非破壊検査装置において、メニュー画面にて前記複数の設定項目をスクロール表示するスクロール制御手段を備えたことを特徴とする非破壊検査装置を提供する。
【００２７】
また請求項４記載の発明は、請求項３記載の非破壊検査装置において、レンジ大に係る入力およびレンジ小に係る入力を示す入力操作を取り込む入力手段を備え、前記スクロール制御手段はスクロール指示入力のレンジ大小に対応してスクロール量を変化させるものであることを特徴とする非破壊検査装置を提供する。
【００２８】
また請求項５記載の発明は、請求項４記載の非破壊検査装置において、前記入力手段は、レンジ大に係る入力領域およびレンジ小に係る入力領域がセンサ面に設定されたタッチパッドを用いるものであることを特徴とする非破壊検査装置を提供する。
【００２９】
また請求項６記載の発明は、請求項４記載の非破壊検査装置において、前記入力手段は、レンジ大モードおよびレンジ小モードを切り替えるレンジ切替スイッチを有するものであることを特徴とする非破壊検査装置を提供する。
【００３０】
また請求項７記載の発明は、請求項６記載の非破壊検査装置において、前記入力手段はダイヤル型の操作部を有するものであり、前記レンジ切替スイッチは該ダイヤル型の操作部に搭載されているものであることを特徴とする非破壊検査装置を提供する。
【００３１】
また請求項８記載の発明は、非破壊検査手段を備えた情報処理端末を対象とし、設定項目の選択頻度のヒストグラムを取得するステップと、選択頻度に応じてメニュー画面における設定項目の配置順を決定するステップと、配置順に従って複数の設定項目を配列したメニュー画面を表示するステップと、設定項目の選択回数に従って前記ヒストグラムを更新するステップと実行させることを特徴とする情報出力プログラムを提供する。
【００３２】
また請求項９記載の発明は、請求項８記載の情報出力プログラムにおいて、入力指示に従って１または複数のヒストグラムを設定登録するステップを実行させることを特徴とする情報出力プログラムを提供する。
【００３３】
また請求項１０記載の発明は、請求項８または９記載の情報出力プログラムにおいて、メニュー画面にて前記複数の設定項目をスクロール表示するステップを実行させることを特徴とする情報出力プログラムを提供する。
【００３４】
また請求項１１記載の発明は、請求項１０記載の情報出力プログラムにおいて、レンジ大に係る入力およびレンジ小に係る入力を示す入力操作を取り込むステップと、レンジ大小に対応して前記スクロール表示のスクロール量を変化させるステップとを実行させることを特徴とする情報出力プログラムを提供する。
【発明の効果】
【００３５】
この発明によれば、設定項目の選択頻度のヒストグラムを用いてメニュー画面における設定項目の配置順が決定されるので、検査者が頻繁に使用する設定項目がメニュー画面の上位に表示でき、検査者が所望の設定項目の設定画面にたどり着くまでの操作手数が少なくて済む蓋然性が高まり、設定項目選択における操作性の向上が期待できる利点がある。
【００３６】
また１または複数のヒストグラムを任意に設定登録可能とする形態をとれば、検査者あるいは非検査物ごと等、任意の検査パターンごとに個別のメニュー画面を利用できる利点がある。
【００３７】
またメニュー画面にて前記複数の設定項目をスクロール表示する形態をとれば、スクロール指示により設定項目を選択できるので、設定項目選択における操作性をさらに向上できる。この場合において、レンジ大小の入力指示を入力可能とすると共に、レンジに対応してスクロール量を変化させる形態をとることにより、スクロール速度選択の自由度が向上する利点がある。
【００３８】
またタッチパッドを入力手段として採用し、センサ面にレンジ大に係る入力領域およびレンジ小に係る入力領域を設定する形態をとれば、レンジ大小の入力指示の入力操作が容易になる利点がある。
【００３９】
またダイヤル型の入力手段を採用し、ダイヤル型の操作部にレンジ大小を切り替えるレンジ切替スイッチを搭載する形態をとることによっても、レンジ大小の入力指示の入力操作が容易になる利点がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４０】
以下、図面を用いてこの発明の実施形態を説明する。
図９は、この発明の第１の実施形態に係る渦流探傷装置のシステム構成を示すブロック図である。マイクロプロセッサ６０１は、渦流探傷装置１を統御する回路である。ＲＯＭ（Ｒｅａｄ  Ｏｎｌｙ  Ｍｅｍｏｒｙ）６０２とＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）６０３は、マイクロプロセッサ６０１のメインメモリを構成するものである。
【００４１】
プローブ制御回路７は、プローブ４０２の磁気発生動作および渦電流検出動作を制御するアナログ系の回路である。入力部３は、検査者の入力操作を装置に取り込むものである。画像処理回路８は、マイクロプロセッサ６０１からの制御のもとに画像処理を行い、液晶ディスプレイ２の表示動作を制御するものである。
【００４２】
上記のプローブ制御回路７は、プローブ駆動系の回路とプローブ検出出力受信系の回路とから構成される。プローブ駆動系において、交流電流源７０１は交流信号を出力し、この交流信号をドライバアンプ７０２が増幅し、かかる増幅出力が抵抗７０３を介してプローブ４０２に印加される。一方、プローブ検出出力受信系においては、プローブ４０２の検出出力のＡ／Ｄ（アナログ／デジタル）変換までの処理を行う。
【００４３】
すなわち差動アンプ７０４は、被検査物５上の欠陥５−１によるインピーダンスの変化を検出する。位相検波回路７０５は、差動アンプ７０４の差動出力を検波する。可変ゲインアンプ７０６は、位相検波回路７０５の検波信号を増幅する。Ａ／Ｄコンバータ７０７は、可変ゲインアンプ７０６の増幅出力をアナログ−デジタル変換し、プローブの検出信号としてマイクロプロセッサ６０１に出力する。
【００４４】
マイクロプロセッサ６０１は、プローブ制御回路７からの検出信号を受信し、所定の信号を施して探傷波形信号を生成し、かかる探傷波形信号を画像処理回路８に出力する。画像処理回路８は、探傷波形信号から表示画像を生成して液晶ディスプレイ２に表示させる。
【００４５】
検査者は、プローブ４０２を被検査物５に当ててなぞる等の操作を行って検査を実行し、液晶ディスプレイ２に表示される探傷波形の変化を観察することにより被検査物５の内部のクラック・腐食等の欠陥５−１の有無を評価する。この検査作業にあたって、プローブによる磁気信号の送受信特性等の設定項目を変更し、探傷波形を観察するといった手法がとられる。この場合、検査者はキーマトリクス３−１やタッチパッド３−２等の入力部３を適宜操作して所望のメニュー項目を選択し、設定変更を行う。
【００４６】
図１０は、第１の実施形態に係る渦流探傷装置の外観斜視図である。同図に示すように、渦流探傷装置１の筐体前面には、液晶ディスプレイ２の他、メニューボタン３０２（３０２ａ〜３０２ｅ）等の操作ボタン類が配置される。また筐体側面には、タッチパッド３−２が設けられている。このタッチパッド３−２の構成は周知のもので構わない。たとえば、絶縁層を介して２枚の金属板を重ねて電極とし、この電極間に電圧を加えて電荷を蓄積させ、蓄積した電荷の変化量から位置入力をする静電容量方式を採用する形態をとることができる。また抵抗膜方式その他の手法で等価な機能を実現する形態をとることもできる。
【００４７】
液晶ディスプレイ２による表示画面は、探傷波形を表示する探傷波形表示領域２−１と、メニュー項目２０２等を表示するメニュー項目表示領域２−２とから構成される。メニュー項目２０２は、アクセス頻度の履歴に基づきソーティング（後述する。）をした順番で縦方向に複数配列して表示されている。図中上から下に向かって符号ａ〜ｅを付して、以下の説明において各項目を識別することにする。これらのメニュー項目２０２ａ〜２０２ｅは、隣接するメニューボタン３０２ａ〜３０２ｅに対応付けられており、対応するメニューボタン３０２が操作されると表示しているメニュー項目が選択されたものとして入力処理が実行される。
【００４８】
またメニュー項目２０２ａ〜２０２ｅに表示される設定項目は、メニュー項目２０２として図示している以外の設定項目も含め、複数の設定項目の縦配列があらかじめ設定されている。初期状態においてメニュー項目２０２ａ〜２０２ｅには、かかる縦配列の先頭部分が表示される。さらにスクロール指示が入力されると、メニュー項目２０２ａ〜２０２ｅに表示されている設定項目がスクロールするように制御される。
【００４９】
図１１は、タッチパッドの入力処理の一例を示す説明図である。同図に示すように、タッチパッド３−２上を円を描くようになぞる操作により、スクロール量や数値等の変更量を入力する形態をとることができる。この場合、たとえば小さな円３０２−１を描くようにタッチパッド３−２をなぞると小入力指示、大きな円３０２−２を描くようになぞると大入力指示として入力処理する形態をとることができる。
【００５０】
図１２は、スクロール指示の判別処理の一例を示す説明図である。同図に示すように、タッチパッド３−２の座標平面上にたとえば同心円状に小円領域３−２ａと大円領域３−２ｂを設定し、タッチパッド３−２上の入力座標の軌跡がどちらの領域を通るかを判定し、小円領域３−２ａをなぞっていると判定された場合は小入力指示と判別し、大円領域３−２ｂをなぞっていると判定された場合は大入力指示と判別する。
【００５１】
またタッチパッド３−２上の入力座標の軌跡の曲率半径を演算し、この曲率半径を閾値と比較して小円・大円を判定して小入力指示あるいは大入力指示を判別する形態をとることもできる。
【００５２】
図１３は、タッチパッドの入力処理の他の例を示す説明図である。同図に示すように、たとえばタッチパッド３−２上の右側にて上下方向の直線３０２−３を描くなぞると小入力指示、左側にて上下方向の直線３０２−４を描くようになぞると大入力指示として入力処理する形態をとることもできる。
【００５３】
図１４は、スクロール指示の判別処理の他の例を示す説明図である。同図に示すように、タッチパッド３−２の座標平面上に左側矩形領域３−２ｃと右側矩形領域３−２ｄを設定し、タッチパッド３−２上の入力座標の軌跡がどちらの領域を通るかを判定し、左側矩形領域３−２ｃをなぞっていると判定された場合は小入力指示と判別し、右側矩形領域３−２ｄをなぞっていると判定された場合は大入力指示と判別する。
【００５４】
図１５はメニュー項目のスクロールを示す正面図であり、図（ａ）は初期状態を示し、図（ｂ）はスクロール（小）した後の状態を示し、図（ｃ）はさらにスクロール（大）した後の状態を示し、図（ｄ）はさらにスクロール（小）した後の状態を示す。同図に示すように、メニュー項目は縦一列に配列されており、メニュー項目が一周すると最終の項目に続けて、再び先頭の項目から表示されるようになっている。
【００５５】
図（ａ）に示す初期状態においてタッチパッド３−２から小入力指示があると、図（ｂ）に示すようにメニュー項目の表示が一個スクロールする。また図（ｃ）に示すように大入力指示があるとメニュー項目の表示が複数個スクロールする。さらに図（ｄ）に示すように小入力指示を与えてメニュー項目の表示を一個スクロールさせるといった操作を適宜行うことにより、検査者は所望の項目を表示させることができる。
【００５６】
検査者は、タッチパッド上をなぞることにより所望のメニュー項目を表示させ、メニューボタンのいずれかを押すことにより設定したいメニュー項目をアクティブにし、再びタッチパッド上をなぞることにより設定値を入力する。設定値の入力にあたって、小入力指示ならば設定値の変化量は小さく、大入力指示ならば設定値の変化量は大きくなる。
【００５７】
次に、メニュー項目のソーティング処理について説明する。図１６は、メニュー項目生成処理の一例を示すフローチャートである。図９，１６を用いて説明すると、不揮発性のＲＯＭ６０２内には、各メニュー項目へのアクセス頻度を格納したテーブルが書き込まれている。このテーブルはソート対象ごとに用意されるものであり、ソート対象は検査者が任意に設定することができる。すなわち、検査者ごとあるいは被検査物ごと等、使用形態に応じて検査者がソート対象を設定登録すると、その設定登録に連動してテーブルが作成される。このテーブルには、前回渦流深傷装置を使用した時点までのたとえば過去一ヶ月間における各メニュー項目に対するアクセス回数に基づくヒストグラムが格納されている。
【００５８】
マイクロプロセッサ６０１は、渦流探傷装置１の電源が投入されると、表示画面の初期設定処理として図１６に示すメニュー項目生成処理を実行する。まずマイクロプロセッサ６０１は自動ソートモードが指定されているかを確認する（Ｓ１０１）。自動ソートモードが指定されていれば（Ｓ１０１：自動ソート）、さらにソート対象が指定されているか確認する（Ｓ１０２）。
【００５９】
ソート対象が指定されていれば（Ｓ１０２：Ｙｅｓ）、そのソート対象に対応するテーブルから前回までのアクセス頻度のヒストグラムを読み出す（Ｓ１０３）。そしてこのヒストグラムを参照してメニュー項目の配列パターンを生成する（Ｓ１０４）。なお、自動ソートモードが指定されているない場合（Ｓ１０１：非ソート）やソート対象が指定されていない場合（Ｓ１０２：Ｎｏ）は、デフォルトの配列パターンを取得して（Ｓ１０５）終了する。
【００６０】
図１７は、メニュー項目の配列パターンの生成処理の一例を示す説明図であり、図（ａ）はヒストグラムを示し、図（ｂ）は生成されるメニュー項目の配列パターンを示す。図１７（ａ）に示すヒストグラムからアクセス頻度の高い順にメニュー項目を配置し、図１７（ｂ）に示すようにこのメニュー項目を先頭から順に配列することによりメニュー項目の配列パターンを生成する。
【００６１】
図１８は、メニュー項目の表示処理を示すフローチャートである。図９，１８を用いて説明すると、マイクロプロセッサ６０１は、検査動作時において検査者がメニューにアクセスすると（Ｓ２０１：Ｙｅｓ）、自動ソートモードである場合（Ｓ２０２：Ｙｅｓ）、ヒストグラムのインクリメント処理が実行される（Ｓ２０２）。
【００６２】
すなわち、上記のメニュー項目生成処理においてＲＯＭ６０２から読み出されたヒストグラムはＲＡＭ６０３上に展開されており、アクセスされたメニュー項目についてヒストグラムをインクリメントして更新する。電源ＯＦＦ時の終了処理において、ＲＡＭ６０３上に展開している各メニュー項目についてのアクセス頻度に関する最新のデータがＲＯＭ６０２へ上書き保存される。
【００６３】
その後、検査者が再び渦流探傷装置１の電源をＯＮすると、前述した通り、前回の各メニューヘのアクセス頻度に基づいて今回のメニュー項目の配列が生成される。これにより上記の最新のデータが画面表示に反映される。
【００６４】
次にこの発明の第２の実施形態を説明する。
図１９は、第１の実施形態に係る渦流探傷装置の外観斜視図である。同図に示すように、渦流探傷装置１の筐体側面には、タッチパッド３−２の代わりにダイヤル３０３が取り付けられている。このダイヤル３０３には、モード切替ボタン３０３ａが設けられている。この渦流探傷装置１のシステム構成は、タッチバッド３−２をダイヤル３０３に置き換えること以外は図１０に示したシステム構成と同様であるので、その詳細な説明は省略する。
【００６５】
図２０は、ダイヤルの入力処理の一例を示す説明図である。同図に示すように、ダイヤル３０３を回転させる操作により、スクロール量や数値等の変更量を入力する形態をとることができる。さらに、モード切替ボタン３０３ａを操作することにより小入力モードと大入力モードを切り替えて入力処理を行う形態をとることができる。
【００６６】
以上、この発明の実施形態を詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計等も含まれる。
【００６７】
また前述の実施形態では、マイクロプロセッサはＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ  Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ  Ｕｎｉｔ）型の演算装置に所定のプログラムを組み込むことにより構築されているが、かかるプログラムは、機能の一部を実現する形態で頒布されるものであっても良い。たとえばコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで所定の機能を実現できるもの、いわゆる差分プログラムで提供される形態をとることも可能である。
【００６８】
またプログラムを頒布する媒体には、可搬型の磁気ディスクや光磁気ディスク等の記憶媒体等以外にも、コンピュータ読み取り可能な記録媒体一般を利用できる。たとえば、インターネットその他のネットワーク等、任意の伝送媒体を介して他のコンピュータシステムから提供される形態でも良い。この場合、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」には、ネットワーク上のホストやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、伝送媒体において一定時間プログラムを保持しているものも含む。
【００６９】
さらに上記のプログラムは、前述した機能の一部を実現する形態で頒布されるものであっても良い。たとえばコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで所定の機能を実現できるもの、いわゆる差分プログラムであっても良い。
【図面の簡単な説明】
【００７０】
【図１】従来の渦流探傷装置を示す外観斜視図である。
【図２】メニュー項目の表示画面構成例を示す説明図である。
【図３】従来の渦流探傷装置の一例の正面図である。
【図４】メニュー構成の一例を示す図表である。
【図５】従来の渦流探傷装置の一例の正面図である。
【図６】メニュー構成の一例を示す図表である。
【図７】検査者Ａ，Ｂのメニュー項目へのアクセス頻度を示すヒストグラムである。
【図８】図７のヒストグラムに基づいてメニュー項目を最適化した例を示す渦流探傷装置の正面図であり、図（ａ）は操作者Ａに係る例を示し、図（ｂ）は操作者Ｂに係る例を示す。
【図９】この発明の第１の実施形態に係る渦流探傷装置のシステム構成を示すブロック図である。
【図１０】第１の実施形態に係る渦流探傷装置の外観斜視図である。
【図１１】タッチパッドの入力処理の一例を示す説明図である。
【図１２】スクロール指示の判別処理の一例を示す説明図である。
【図１３】タッチパッドの入力処理の他の例を示す説明図である。
【図１４】スクロール指示の判別処理の他の例を示す説明図である。
【図１５】メニュー項目のスクロールを示す正面図であり、図（ａ）は初期状態を示し、図（ｂ）はスクロール（小）した後の状態を示し、図（ｃ）はさらにスクロール（大）した後の状態を示し、図（ｄ）はさらにスクロール（小）した後の状態を示す。
【図１６】メニュー項目生成処理の一例を示すフローチャートである。
【図１７】メニュー項目の配列パターンの生成処理の一例を示す説明図であり、図（ａ）はヒストグラムを示し、図（ｂ）は生成されるメニュー項目の配列パターンを示す。
【図１８】メニュー項目の表示処理を示すフローチャートである。
【図１９】第１の実施形態に係る渦流探傷装置の外観斜視図である。
【図２０】ダイヤルの入力処理の一例を示す説明図である。
【符号の説明】
【００７１】
１…渦流探傷装置  ２…液晶ディスプレイ  ２０２（２０２ａ〜２０２ｅ）…メニュー項目  ２−１…探傷波形表示領域  ２−２…メニュー項目表示領域  ３…入力部  ３０２…メニューボタン  ３−１…キーマトリクス  ３−２…タッチパッド  ３０２（３０２ａ〜３０２ｅ…メニューボタン  ３０２−１…小さな円  ３０２−２…大きな円  ３−２ａ…小円領域  ３−２ｂ…大円領域  ３０２−３，３０２−４…上下方向の直線  ３−２ｃ…左側矩形領域  ３−２ｄ…右側矩形領域  ３０３…ダイヤル  ３０３ａ…モード切替ボタン  ４０２…プローブ  ５…被検査物  ５−１…欠陥  ６０１…マイクロプロセッサ  ６０２…ＲＯＭ  ６０３…ＲＡＭ  ７…プローブ制御回路  ７０１…交流電流源  ７０２…ドライバアンプ  ７０３…抵抗  ７０４…差動アンプ  ７０５…位相検波回路  ７０６…可変ゲインアンプ  ７０７…Ａ／Ｄコンバータ  ８…画像処理回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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