(57)【要約】【課題】マイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路の検査を効率的に行うためには、内蔵されたカウンタ等の順序回路の出力を代替する検査信号を、外部より入力する。従来の技術ではこの検査信号用の端子が通常動作時の端子とは別途必要で、ピン数の増加からパッケージコストが増大し、端子ピッチの狭小化によりディップ半田槽が使えない等の課題があった。【解決手段】マイクロコンピュータのバス入出力端子を入力とし、別の単独の端子より透過・保持の制御が可能なデータ保持回路を設け、前記データ保持回路の出力を、内蔵回路に対する検査信号とする。よって、マイクロコンピュータのバス入出力端子と検査信号の入力端子とを、同じ端子で共用することができるため、端子ピン数の増加、端子ピッチの狭小化を抑制し、パッケージのコストの削減と、生産設備の制限を緩和した集積回路を提供することができる。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
バス入出力端子を有するマイクロコンピュータと、入力される周期信号により動作する少なくとも１個の順序回路と、前記順序回路の値にしたがって演算を行った結果を出力する、少なくとも１個の演算回路を含む偏向制御回路とを、同一のパッケージに内蔵した集積回路であって、前記マイクロコンピュータのバス入出力端子を入力とし、外部端子からデータの透過・保持を制御するデータ保持回路を設け、前記データ保持回路の出力を、前記演算回路に対する、前記順序回路の出力を代替する検査信号とすることにより、マイクロコンピュータのバス入出力端子と、検査信号の入力端子とを、同じ端子で共用したことを特徴とするマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路。
【請求項２】
バス入出力端子を有するマイクロコンピュータと、入力される周期信号により動作する少なくとも１個の順序回路と、前記順序回路の値にしたがって演算を行った結果を出力する、少なくとも１個の演算回路を含む偏向制御回路とを、同一のパッケージに内蔵した集積回路であって、前記マイクロコンピュータから設定を行うレジスタを設け、前記レジスタの出力を、前記演算回路に対する、前記順序回路の出力を代替する検査信号とすることを特徴とするマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、コンピュータ用のディスプレイ装置などに使用される、マイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路、及びその検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
コンピュータ用のディスプレイ装置は、近年、コンピュータの用途の拡大及び性能の向上に応じて、表示する解像度及び同期周波数・位相などの種類が増加しており、こうした各種の表示に対応する必要が出て来ている。
【０００３】
特に陰極線管ディスプレイ（以下、ＣＲＴディスプレイと記す）装置の場合、表示の種類に広範囲に対応するためには、入力される信号の水平・垂直の各同期信号等を検出して、水平・垂直の各偏向周波数に同期した偏向駆動パルス等を出力することはもちろん、ＣＲＴに特有のピンクッション歪・リニアリティ歪等の画像歪の補正、あるいはダイナミックフォーカス・ダイナミックコンバーゼンス補正など、表示の種類に応じて最適に補正する必要がある。
【０００４】
これらの同期信号を受け、偏向出力、あるいは高圧出力などを駆動する偏向制御回路には、従来、アナログ回路が用いられてきた。しかし、ますます高度化する表示品質への要求及び、表面が完全に平坦なＣＲＴ等、ＣＲＴの種類の多様化などにより、よりきめ細かい正確な制御を行うために、デジタル論理回路を用いた偏向制御回路も増加しつつある。
【０００５】
また、マイクロコンピュータを用いて入力信号から映像の表示の種類を判断し、それぞれの映像等に対応した最適な値を偏向制御回路に設定する技術が一般化しているが、最近では、部品コスト低減及び生産の合理化のために、マイクロコンピュータと偏向制御回路を同一パッケージに収めた集積回路も登場してきている。
【０００６】
ここでまず、マイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路の基本的な動作について図面を用いて説明する。図７に、マイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路の簡略化されたブロック図を示す。
【０００７】
図７において、１はマイクロコンピュータ、２は偏向制御回路である。
【０００８】
マイクロコンピュータ１はＣＰＵ１１、ＲＯＭ１２、ＲＡＭ１３、Ｉ／Ｏポート１４から構成されている一般的なものである。
【０００９】
偏向制御回路２は同期発振器（以下ＰＬＬと称す）２０、制御レジスタ２１、波形テーブル２３、カウンタ２４、パルス発生器２５、波形発生器２６、Ｄ／Ａコンバータ２７から構成されている。
【００１０】
３１、３２はそれぞれ複数の外部端子であって、外部端子３１はマイクロコンピュータ１の制御バス（アドレスラッチＡＬＥ、リードストローブＲＤＸ、ライトストローブＷＲＸ等）、外部端子３２は、Ｉ／Ｏポート１４を経由してマイクロコンピュータ１のアドレス・データバスに接続されている。
【００１１】
３３は単独の外部端子で、同期信号ＳＹＮＣの入力端子であり、ＰＬＬ２０の入力及びカウンタ２４のリセット入力に接続される。ＰＬＬ２０から出力されたクロック信号ＣＬＫは、カウンタ２４、パルス発生器２５、波形発生器２６にそれぞれ接続されている。
【００１２】
カウンタ２４の値（ＣＯＵＮＴ）は、現在の偏向位置を示すアドレスとして用いられるもので、おおむね８〜１２ビットの幅を有し、出力は波形テーブル２３及びパルス発生器２５に接続される。
【００１３】
パルス発生器２５は、図３に内部ブロック図を示すとおり、コンパレータ２５１及び２５２、Ｊ−Ｋ型フリップフロップ２５３から構成される。
【００１４】
波形テーブル２３は、カウンタ２４から与えられるカウント値（ＣＯＵＮＴ）に対応したデータＤＡＴＡを、波形発生器２６に供給するメモリである。この波形データは例えば図５に示すごとく、最終的な出力波形に対し、一定区間ごとの差分値を記憶するものである。
【００１５】
波形発生器２６は、図４に内部ブロック図を示すとおり、加算器２６１、レジスタ２６２から構成される。
【００１６】
３５、３６はそれぞれ複数の外部端子であって、外部端子３５はパルス発生器２５の出力に、外部端子３６はＤ／Ａコンバータ２６の出力に接続される。
【００１７】
なお一般に、偏向制御回路は垂直・水平それぞれの同期信号を入力し、垂直・水平それぞれに応じた複数のパルス出力（たとえば水平偏向パルスや垂直ブランキングパルス）、波形出力（たとえば水平・垂直のダイナミックフォーカス波形）などを行うものであり、カウンタ２４、パルス発生器２５、波形発生器２６などは、通常それぞれ複数の系統を構成し、それぞれ複数の回路ブロックから構成されるものであるが、図７では説明の簡単のために適宜省略している。
【００１８】
つぎに、図７に示した、マイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路の通常動作を説明する。
【００１９】
最初に、マイクロコンピュータ１は、偏向制御回路２内の制御レジスタ２１に対して、パルス発生器２５において発生するパルスの、開始タイミングＳＴＡＲＴ・終了タイミングＳＴＯＰの値を設定する。また、マイクロコンピュータ１は、補正波形を出力するための波形データを、波形テーブル２３に書き込む。
【００２０】
外部端子３３からは、同期パルスＳＹＮＣが、ＰＬＬ２０の入力およびカウンタ２４のリセット入力に入力される。ＰＬＬ２０は、同期化されたクロック信号ＣＬＫを出力し、このＣＬＫはカウンタ２４のクロック入力へ入力される。カウンタ２４は同期パルスにより初期化された後、クロック信号ＣＬＫを計数する。カウンタ２４の出力ＣＯＵＮＴは波形テーブル２３、及びパルス発生器２５に入力される。
【００２１】
パルス発生器２５は、カウンタ２４の値ＣＯＵＮＴと、制御レジスタ２１に設定された開始タイミングＳＴＡＲＴとを比較し、一致すればパルスの出力を開始し、同様にカウンタ２４の値ＣＯＵＮＴと、制御レジスタ２１に設定された終了タイミングＳＴＯＰとを比較し、一致すればパルスの出力を終了する。パルス発生器２５の出力ＰＵＬＳＥは外部端子３５から取り出され、出力される。この動作の一例を図６のタイミング図に示す。
【００２２】
一方、波形テーブル２３からは、カウンタ２４の値ＣＯＵＮＴに応じた波形データＤＡＴＡが出力され、波形発生器２６に供給される。波形発生器２６は前記波形データを累積加算して、Ｄ／Ａコンバータ２７に供給する。Ｄ／Ａコンバータ２７の出力は外部端子３６から、アナログ波形として取り出される。
【００２３】
ところで、マイクロコンピュータも偏向制御回路も、製造時に、回路が正常に動作することを何らかの方法で外部から検査する必要がある。マイクロコンピュータ１の検査を行う方法は、特開昭６４−１０４０号公報などに示されており、たとえば外部端子３１から制御信号を、外部端子３２からアドレス信号及びデータ信号をＩ／Ｏポート１３に入力することについては開示されている。それによってＩ／Ｏポート１３を介し、マイクロコンピュータの内部バスを直接制御して各種の検査を行うことができる。
【００２４】
また偏向制御回路の検査は、動作時と同様、入力信号を端子から入力し、出力信号を端子から出力して確認するのが基本的であるが、先に述べたように、表示の種類の増大に対応して動作モードが多岐にわたり、また内部には多ビットのカウンタ等順序回路を多数使用していることから、すべての場合を尽くすには長大な時間がかかる。そのため内部回路を幾つかのブロックに分割し、検査時には外部から直接一部のブロックに入出力を行う等の工夫により、検査時間の短縮を行う。
【００２５】
ここで、従来の技術によるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路及びその検査方法に関して説明する。
【００２６】
図８は、従来の技術によるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路のブロック図である。図８のうち、図７に示したものと同一の符号を与えたものは、既に説明済みであるので、重ねての説明を省略する。
【００２７】
２２は設定レジスタ、４０、４１、４２、４３はそれぞれスイッチである。設定レジスタ２２はマイクロコンピュータにより設定され、スイッチ４０、４１、４２、４３を制御するものである。
【００２８】
３４は単一の外部端子で、検査時にＰＬＬ２０に代わってクロック信号ＣＬＫを供給する。スイッチ４０は、カウンタ２４、パルス発生器２５、波形発生器２６に対し、通常時はＰＬＬ２０の出力、検査時は外部端子３４から入力される検査用のクロックを切り替えて供給する。
【００２９】
３７は複数の外部端子である。５０は検査バスであり、外部端子３７に接続されている。スイッチ４１は波形テーブル２３、パルス発生器２５の入力に対し、通常時はカウンタ２４の出力ＣＯＵＮＴ、検査時は外部端子３７からの検査バス５０の信号ＴＥＳＴを切り替えて供給する。
【００３０】
スイッチ４２は同様に波形発生器２６の入力に対し、通常時は波形テーブル２３の出力ＤＡＴＡ、検査時は外部端子３７からの検査バス５０の信号ＴＥＳＴを切り替えて供給する。
【００３１】
スイッチ４３は、外部端子３５に対し、通常時はパルス発生器２５の出力ＰＵＬＳＥ、検査時は前記パルス発生器２５の出力ＰＵＬＳＥ、若しくはカウンタ２４の出力ＣＯＵＮＴ、若しくは波形発生器２６の出力ＷＡＶＥを切り替えて供給する。
【００３２】
つぎに、検査時の動作について説明する。検査の対象となる回路ごとに動作が異なるので、個別に説明する。なお、マイクロコンピュータ自体の検査を行う方法は既に述べているため省略する。
【００３３】
偏向制御回路２の検査を行う場合には、いずれの場合にも、マイクロコンピュータ１から制御する制御レジスタ２１、波形テーブル２３の設定、及びスイッチ４１、スイッチ４２、スイッチ４３の制御を行う設定レジスタ２２の設定は、外部端子３１及び外部端子３２を経由し、マイクロコンピュータ１の動作を利用して行う。
【００３４】
カウンタ２４の検査を行う場合、カウンタ２４の出力ＣＯＵＮＴを外部端子３５に出力するようにスイッチ４３を設定（図７でＴと表示）する。外部端子３３からは同期パルスＳＹＮＣがカウンタ２４のリセット入力に、外部端子３４からはクロック信号がカウンタ２４のクロック入力に入力される。カウンタ２４は同期パルスＳＹＮＣにより初期化された後、クロック信号ＣＬＫを計数する。カウンタ２４の出力ＣＯＵＮＴはスイッチ４３を経由して外部端子３４から取り出される。以上の動作により、カウンタ２４の検査が行われる。
【００３５】
パルス発生器２５の検査を行う場合、クロック信号ＣＬＫが外部端子３４から入力されるようにスイッチ４０を設定（図７でＴと表示）、検査信号バス５０をパルス発生器２５の入力とするようにスイッチ４１を設定（図７でＴと表示）、パルス発生器２５の出力を外部端子３５の出力とするようにスイッチ４３を設定（図７でＮと表示）する。外部端子３７から入力された検査信号は、検査信号バス５０ＴＥＳＴ、スイッチ４１を経由してパルス発生器２５に入力される。パルス発生器２５の出力ＰＵＬＳＥは、スイッチ４３を経由して外部端子３５に取り出される。以上の動作により、パルス発生器２５の検査が行われる。この動作の一例を図１１に示すが、検査信号は、本来のカウントの順序にこだわらず、任意の値を入力することにより、検査時間を短縮する。
【００３６】
波形発生器２６の検査を行う場合、クロック信号ＣＬＫが外部端子３４から入力されるようにスイッチ４０を設定（図７でＴと表示）、検査信号バス５０を波形発生器２６の入力とするようにスイッチ４１を設定（図７でＴと表示）、波形発生器２６の出力を外部端子３５の出力とするようにスイッチ４３を設定（図７でＴ２と表示）する。外部端子３４からはクロック信号が波形発生器２６のクロック入力に、外部端子３７からは検査信号が、検査信号バス５０、スイッチ４２を経由して波形発生器２６に入力される。波形発生器２６の出力ＷＡＶＥは、スイッチ４３を経由して外部端子３５に取り出される。以上の動作により、波形発生器２６の検査が行われる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００３７】
以上説明したように、従来の技術によるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路においては、偏向制御回路の検査を効率的に行うために、検査信号を入力するための外部端子３７が、通常の機能を実現するための端子とは別途に必要である。この外部端子３７は、たとえば１２ビット幅のカウンタの出力を代替するためには、少なくとも１２個の端子が必要である。
【００３８】
パッケージの多ピン化そのものは、現在の技術で困難ではない。しかし、端子の間隔が狭小化されると、コンピュータディスプレイ装置の生産で一般的に用いられる、従来からのディップ半田槽では対応できず、リフロー半田槽などを必要とするため、生産設備・地域などが限定される。また逆に、端子の間隔を固定してパッケージを大型化すると、材料コストが増大するばかりでなく、熱ストレスによる破損が起こりやすくなるなどの問題が発生する。
【００３９】
従って、従来の技術では、低コスト化を狙ってわざわざマイクロコンピュータと偏向制御回路を同一のパッケージに収めても、ピン数が増加することにより、生産コスト・材料コストの増大を招き、複合化のメリットが得にくいという課題があった。
【課題を解決するための手段】
【００４０】
この課題を解決するために、本発明におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路は、バス入出力端子を有するマイクロコンピュータと、入力される周期信号により動作する少なくとも１個の順序回路と、前記順序回路の値にしたがって演算を行った結果を出力する、少なくとも１個の演算回路を含む偏向制御回路とを、同一のパッケージに内蔵した集積回路であって、前記マイクロコンピュータのバス入出力端子を入力とし、単一の外部端子からデータの透過・保持を制御するデータ保持回路を設け、前記データ保持回路の出力を、前記演算回路に対する、前記順序回路の出力を代替する検査信号とすることにより、マイクロコンピュータのバス入出力端子と、検査信号とを、同じ端子で共用したことを特徴とするものである。
【００４１】
あるいは、バス入出力端子を有するマイクロコンピュータと、入力される周期信号により動作する少なくとも１個の順序回路と、前記順序回路の値にしたがって演算を行った結果を出力する、少なくとも１個の演算回路を含む偏向制御回路とを、同一のパッケージに内蔵した集積回路であって、前記マイクロコンピュータから設定を行うレジスタを設け、前記レジスタの出力を、前記演算回路に対する、前記順序回路の出力を代替する検査信号とすることにより、マイクロコンピュータのバス入出力端子と、検査信号の入力端子とを、同じ端子で共用したことを特徴とするものである。
【００４２】
この構成により、外部より検査信号を入力することが出来るため、外部端子のピン数を減らし、パッケージのコストを削減した集積回路を提供することができる。
【発明の効果】
【００４３】
本発明のマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路は、マイクロコンピュータのバス入出力端子を入力とし、外部端子からデータの透過・保持を制御するデータ保持回路を設けるか、あるいは、マイクロコンピュータから設定を行うレジスタを設けることにより、マイクロコンピュータのバス入出力端子と、検査信号の入力端子とを、同じ端子で共用したことから、偏向制御回路の試験に必要な外部からの検査信号を、外部端子を別に設けることなく入力することができる。
【００４４】
この構成により、パッケージのピン数を減らすことが可能になり、材料コストを低減できるだけではなく、ごく一般的な設備であるディップ半田槽での生産に対応できることから、トータルコストの大幅な低減を可能にするという優れた効果を奏する集積回路を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４５】
（実施の形態１）
図１は、本発明の第一の実施例におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路のブロック図である。
【００４６】
図１において、同一の符号のものは、図８に示した従来の技術におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路のブロック図と全く同じものであり、説明を省略する。
【００４７】
図７における従来の技術におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路と異なるのは、外部端子３１と、検査信号バス５０との間にデータ保持回路５１（以下データラッチと称す）を設けたことである。これにより、従来の技術における、マイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路で必要であった、外部端子３７を削除している。
【００４８】
また、３８は単独の外部端子であって、データラッチ５１の動作を制御するホールド制御信号ＨＯＬＤが入力される。
【００４９】
次に、図１を用い、本発明の好適な実施例におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路の検査時の動作を説明する。
【００５０】
マイクロコンピュータ１の検査を行う場合は、図８に示した従来の技術によるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路と同一である。
【００５１】
偏向制御回路２の検査を行う場合には、いずれの場合にも、マイクロコンピュータ１から制御する制御レジスタ２１、波形テーブル２３の設定、及びスイッチ４１、スイッチ４２、スイッチ４３の制御を行う設定レジスタ２２の設定は、外部端子３１及び外部端子３２を経由し、マイクロコンピュータ１の動作を利用して行う。
【００５２】
カウンタ２４の検査を行う場合は、図７に示した従来の技術によるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路と同一である。
【００５３】
パルス発生器２５の検査を行う場合、まず外部端子３８からホールド制御信号ＨＯＬＤを制御して、データラッチ５１の出力を保持状態とし、外部端子３１、外部端子３２から、マイクロコンピュータ１の動作を利用して制御レジスタ２１に値を設定する。同様に、クロック信号ＣＬＫが外部端子３４から入力されるようにスイッチ４０を設定（図１でＴと表示）、検査信号バス５０ＴＥＳＴをパルス発生器２５の入力とするようにスイッチ４１を設定（図１でＴと表示）、パルス発生器２５の出力を外部端子３５の出力とするようにスイッチ４３をそれぞれ設定（図１でＮと表示）する。
【００５４】
次に、外部端子３８からのホールド制御信号ＨＯＬＤを制御して、データラッチ５１の出力を通過状態とする。外部端子３２から入力された検査信号は、データラッチ５１、検査信号バス５０ＴＥＳＴ、スイッチ４１を経由してパルス発生器２５に入力される。パルス発生器２５の出力ＰＵＬＳＥは、スイッチ４３を経由して外部端子３５に取り出される。この動作の一例を図９に示すが、マイクロコンピュータ１を経由して設定する制御レジスタの値と、データラッチ５１を経由して与えられる検査信号とが、同じ外部端子３２から交互に与えられ、またホールド制御信号ＨＯＬＤが切り替わる以外は、図１１に示した従来の技術によるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路の動作と同じである。以上の動作により、パルス発生器２５の検査が行われる。
【００５５】
波形発生器２６の検査を行う場合、まず外部端子３８からのホールド制御信号ＨＯＬＤを制御して、データラッチ５１の出力を保持状態とする。外部端子３１、外部端子３２からマイクロコンピュータ１の動作を利用して、クロック信号ＣＬＫが外部端子３４から入力されるようにスイッチ４０を設定（図１でＴと表示）、検査バス５０の入力を波形発生器２６の入力とするようにスイッチ４２を設定（図１でＴと表示）、波形発生器２６の出力を外部端子３５の出力とするようにスイッチ４３を設定（図１でＴ２と表示）する。
【００５６】
つぎに、外部端子３８からのホールド制御信号を制御して、データラッチ５１の出力を通過状態とする。外部端子３４からはクロック信号ＣＬＫが波形発生器２６のクロック入力に、外部端子３２からは検査信号が、検査信号バス５０ＴＥＳＴ、スイッチ４２を経由して波形発生器２６に入力される。波形発生器２６の出力ＷＡＶＥは、スイッチ４３を経由して外部端子３５に取り出される。以上の動作により、波形発生器２６の検査が行われる。
【００５７】
以上のように、本発明の第一の実施例によるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路の好適な実施例においては、マイクロコンピュータ１のアドレス・データバスと、検査信号バス５０との間にデータラッチ５１を設置したことにより、従来の技術において必要であった、検査信号バス５０のための外部端子３７が不要となり、パッケージのピン数を削減することが可能となったため、コストの削減を行うことができる。
【００５８】
（実施の形態２）
図２は、本発明の第二の実施例におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路のブロック図である。
【００５９】
図２において、同一の符号のものは、図１に示した本発明の第一の実施例におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路のブロック図と全く同じものであり、説明を省略する。
【００６０】
図１における本発明の第一の実施例におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路と異なるのは、図１のデータラッチ５１に替えて、マイクロコンピュータ１により制御されるテストレジスタ５２を設け、検査バス５０をテストレジスタ５２の出力に接続したことである。これにより、本発明の第一の実施例における、マイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路の特徴に加え、さらに外部端子３８を不要としている。
【００６１】
つぎに、図２を用い、本発明の第二の実施例におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路の検査時の動作を説明する。なお、第一の実施例と異なるところは、データラッチをテストレジスタ５２に替えた部分のみであるから、説明の簡単のために、パルス発生器２５の検査を代表として説明し、その他の説明を省略する。
【００６２】
パルス発生器２５の検査を行う場合、外部端子３１、外部端子３２から、マイクロコンピュータ１の動作を利用して制御レジスタ２１に値を設定する。同様に、クロック信号ＣＬＫが外部端子３４から入力されるようにスイッチ４０を設定（図２でＴと表示）、検査信号バス５０ＴＥＳＴをパルス発生器２５の入力とするようにスイッチ４１を設定（図２でＴと表示）、パルス発生器２５の出力を外部端子３５の出力とするようにスイッチ４３をそれぞれ設定（図２でＮと表示）する。
【００６３】
次に、外部端子３１、外部端子３２から、マイクロコンピュータ１の動作を利用してテストレジスタ５２に最初の検査信号を設定する。検査信号は、検査信号バス５０ＴＥＳＴ、スイッチ４１を経由してパルス発生器２５に入力される。パルス発生器２５の出力ＰＵＬＳＥは、スイッチ４３を経由して外部端子３５に取り出される。以上の動作により、パルス発生器２５の検査が行われる。この動作を図１０に示す。本発明の第一の実施例と異なるのは、検査信号をマイクロコンピュータ１の動作により設定するため、制御がやや複雑になっている点であるが、本質的には大差ない。
【００６４】
波形発生器２６の検査を行う場合、外部端子３１、外部端子３２からマイクロコンピュータ１の動作を利用して、クロック信号ＣＬＫが外部端子３４から入力されるようにスイッチ４０を設定（図１でＴと表示）、検査バス５０の入力を波形発生器２６の入力とするようにスイッチ４２を設定（図１でＴと表示）、波形発生器２６の出力を外部端子３５の出力とするようにスイッチ４３を設定（図１でＴ２と表示）する。
【００６５】
次に、外部端子３１、外部端子３２から、マイクロコンピュータ１の動作を利用してテストレジスタ５２に最初の検査信号を設定する。外部端子３４からはクロック信号ＣＬＫが波形発生器２６のクロック入力に、外部端子３２からは検査信号が、検査信号バス５０ＴＥＳＴ、スイッチ４２を経由して波形発生器２６に入力される。波形発生器２６の出力ＷＡＶＥは、スイッチ４３を経由して外部端子３５に取り出される。以上の動作により、波形発生器２６の検査が行われる。
【００６６】
以上のように、本発明によるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路の第二の実施例においては、マイクロコンピュータ１により設定を行うテストレジスタを設けたことにより、従来の技術において必要であった、検査信号バス５０のための外部端子３７が不要となり、パッケージのピン数を削減することが可能となったため、コストの削減を行うことができる。また、第二の実施例の場合は、データラッチの状態を制御する外部端子３８も不要である。
【産業上の利用可能性】
【００６７】
本発明にかかるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路は、パッケージのピン数を減らすことが可能になり、材料コストを低減できるだけではなく、ごく一般的な設備であるディップ半田槽での生産に対応できることから、トータルコストの大幅な低減を可能にするという優れた効果を奏するものであり、コンピュータ用のディスプレイ装置などに使用される、マイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路、及びその検査方法等において有用である。
【図面の簡単な説明】
【００６８】
【図１】本発明の第一の実施例におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路のブロック図
【図２】本発明の第二の実施例におけるマイクロコンピュータ及び偏向制御回路を内蔵した集積回路のブロック図
【図３】パルス発生器の内部構成を示すブロック図
【図４】波形発生器の内部構成を示すブロック図
【図５】波形テーブルのデータと波形発生器の出力の関係を示す図
【図６】パルス発生器の通常動作を示すタイミング図
【図７】マイクロコンピュータと偏向制御回路とを内蔵した集積回路の基本構成を示すブロック図
【図８】従来の技術によるマイクロコンピュータと偏向制御回路とを内蔵した集積回路の一例を示すブロック図
【図９】本発明の第一の実施例におけるパルス発生器の検査タイミング図
【図１０】本発明の第二の実施例におけるパルス発生器の検査タイミング図
【図１１】従来の技術におけるパルス発生器の検査タイミング図
【符号の説明】
【００６９】
１    マイクロコンピュータ
２    偏向制御回路
２４    カウンタ
２５    パルス発生器
３２    外部端子
５１    データラッチ
５２    テストレジスタ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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