(57)【要約】【課題】  光源部とその光源部からの光を反射して進行方向を変えるミラーとを含む光学装置であって、上記ミラーから照射対象物に導かれる光量を増大でき、しかもミラーのサイズを最適化して小型に構成できるものを提供すること。【解決手段】  光源部１００と、その光源部１００からの光３０３を反射して進行方向を変えるミラー２０３を備える。光源部１００からの光３０３がミラーへ向かうＺ方向に関してミラー２０３の背後で、かつミラー２０３による反射光３０４が進むＹ方向に関してミラー２０３の＋Ｙ側と−Ｙ側に隣接する位置に、それぞれ光源部１００からの光３０３を検出するための光検出器２０２Ａ，２０２Ｂが設けられている。【選択図】図４
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源部と、
その光源部からの光を反射して進行方向を変えるミラーと
を備え、
上記光源部からの光が上記ミラーへ向かうミラー入射方向に関して上記ミラーの背後で、かつ上記ミラーによる反射光が進むミラー反射方向に関して上記ミラーの下流側と上流側に隣接する位置に、それぞれ上記光源部からの光を検出するための光検出器が設けられていることを特徴とする光学装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光学装置において、
上記各光検出器の検出面は上記ミラー入射方向に対して垂直に配置されていることを特徴とする光学装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光学装置において、
上記光源部、上記ミラーおよび上記二つの光検出器を搭載する基台を備え、
上記ミラー反射方向に関して上記ミラーの寸法と上記二つの光検出器の寸法とを合わせた合計寸法が上記基台の厚み寸法以下であることを特徴とする光学装置。
【請求項４】
請求項１に記載の光学装置において、
上記光源部から上記ミラーへ向かう光はガウス形の強度分布を有する光束であり、
上記二つの光検出器は上記光束のうち上記ミラーを外れた部分を検出することを特徴とする光学装置。
【請求項５】
請求項１に記載の光学装置において、
上記ミラー反射方向に垂直な一方向に関する上記光検出器の寸法が、上記ミラー反射方向に関する上記光検出器の寸法よりも長いことを特徴とする光学装置。
【請求項６】
請求項１に記載の光学装置において、
上記ミラー反射方向に垂直な一方向に関する上記ミラーの寸法が、上記ミラー反射方向に関する上記ミラーの寸法よりも長いことを特徴とする光学装置。
【請求項７】
請求項４に記載の光学装置において、
上記二つの光検出器からの出力を用いて、上記ミラーに入射している光の強度のバランスおよび変動を算出する演算部を備えたことを特徴とする光学装置。
【請求項８】
請求項７に記載の光学装置において、
上記演算部が算出した結果に基づいて、上記ミラーに入射している光の強度中心を所定の光軸に一致させるように上記光源部を駆動する制御部を備えたことを特徴とする光学装置。
【請求項９】
請求項７に記載の光学装置において、
上記演算部が算出した結果に基づいて、上記ミラーに入射している光の強度を所定のレベルに維持するように上記光源部を駆動する制御部を備えたことを特徴とする光学装置。
【請求項１０】
請求項１に記載の光学装置と、
上記ミラーと光ディスクとの間に配置され、上記ミラーによる反射光を上記光ディスクの記録面に結像させる集光レンズと、
上記ミラーと集光レンズとの間に配置され、上記ミラーによる反射光を上記集光レンズに合わせて絞る絞りと
を備えたことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項１１】
請求項１０に記載の光ピックアップ装置において、
上記ミラー入射方向に関する上記ミラーの寸法が、上記絞りの開口の径寸法と実質的に同じであることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項１２】
請求項１０に記載の光ピックアップ装置において、
上記ミラー入射方向とミラー反射方向との両方に垂直な方向が上記光ディスクのラジアル方向と一致しており、
上記ラジアル方向に関して、上記ミラーの寸法が、上記絞りの開口がシフトして占有し得る範囲の寸法と実質的に同じであることを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項１３】
請求項１０に記載の光ピックアップ装置において、
上記光源部から上記ミラーへ向かう光は光束であり、
上記ミラー反射方向に関して、上記ミラーの寸法と上記二つの光検出器の寸法とを合わせた合計寸法が上記光束の寸法と実質的に等しいことを特徴とする光ピックアップ装置。
【請求項１４】
請求項１０に記載の光ピックアップ装置を搭載した電子機器。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は光学装置に関する。この光学装置は、例えば半導体レーザのように出射光量がフィードバック制御されるべき光源部と、その光源部からの光を反射して進行方向を変えるミラーとを含む。
【０００２】
また、この発明はそのような光学装置が適用された光ピックアップ装置および電子機器に関する。
【背景技術】
【０００３】
図５、図６は、そのような光学装置の一例として、記録媒体としての光ディスク２０６に情報の記録または再生を行う一般的な光ピックアップ装置の構成要素を示している。なお、図５は光ピックアップ装置を上方（＋Ｙ方向）から見たところ、図６はその光ピックアップ装置を側方（＋Ｘ方向）から見たところを示している。この光ピックアップ装置の光源部は、半導体レーザチップ１０１を内蔵したパッケージ１００に、ホログラムパターン１０４が刻まれたホログラムガラス１０３を取り付けて構成されている。パッケージ１００内には信号検出用の受光素子１０２も収容されている。
【０００４】
図５に示すように、半導体レーザチップ１０１から出射された放射光３０１は、コリメートレンズ２０１によって光軸３００に平行な光束（略平行な光を含む。以下同様。）３０３にされる。図６に示すように、この光束３０３はミラー２０３によって反射されて（反射された光束を符号３０４で示す。）、その進行方向を上方の集光レンズ２０５へ向けられる。そして、ミラー２０３によって反射された光束３０４の一部が絞り２０４を通過し、さらに集光レンズ２０５を通過して集束光３０５になって、照射対象物としての光ディスク２０６上に結像される。
【０００５】
光ディスク２０６によって反射された反射光は集光レンズ２０５によって再び平行光となってミラー２０３、コリメートレンズ２０１を通過後、図５中に示したホログラムガラス１０３に至り、そこに刻まれたホログラムパターン１０４によって回折を受け（ホログラムパターン１０４によって回折された光束を符号３０２で示す。）、レーザパッケージ１００内に配置された受光素子１０２に至る。この受光素子１０２の出力から情報信号及びサーボ信号が検出され、これらの信号を元にして情報の記録、再生が行われる。
【０００６】
この光ピックアップ装置において、温度変化があっても安定した半導体レーザ出力を得るために、図７に示すように、ホログラムガラス１０３とコリメートレンズ２０１との間にビームスプリッタ２００を配置するとともに、半導体レーザチップ１０１からの出射光３０１の一部をビームスプリッタ２００によって分岐して（ビームスプリッタ２００によって分岐された光束を符号３１２で示す。）、出射光量モニタ用の光検出器２０２に取り込んでいる。この光検出器２０２の出力に基づいて半導体レーザチップ１０１の出射光量をフィードバック制御することによって、温度変化等によるレーザ出射光量の変動を抑えている。
【特許文献１】特開２００３−２５７０６４号公報
【特許文献２】特開２００４−１０３１７６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、図７に示したようなレーザ出射光量のモニタ方式では、レーザ出射光の数％がビームスプリッタ２００によってモニタ用光検出器２０２に分岐されている。このため、集光レンズ２０５、したがって光ディスク２０６に導かれる光量が少なくなるという問題がある。光ディスク２０６に導かれる光量が少ないことは、高速の再生、記録を行う上で不利になる。
【０００８】
また、レーザ出射光量モニタ用の光検出器の配置については、図７に示したもの以外に特許文献１（特開２００３−２５７０６４号公報）や特許文献２（特開２００４−１０３１７６号公報）に記載のものがあるが、いずれも装置の小型薄型化の妨げになる。さらに近年の装置の低価格化に伴い、如何に部品サイズを小さくできるかということも重要である。
【０００９】
この状況下で、図５〜図７に示した従来例では、ミラー２０２によって反射された光束３０４のうち比較的多くの部分が絞り２０４によって遮られるため、ミラー２０２のサイズに無駄があると考えられる。具体的には、図８に示すように、ミラー２０３の反射面のサイズＡはコリメートレンズ２０１通過後の光束３０３（図８中に模式的に重ねて示すように、光軸３００を中心として中心の周りにガウス形の強度分布３０６を持つ。この強度分布３０６については、便宜上、＋Ｚ方向を強度が高い向きとして表している。）を全て反射するように設計されている。その理由は、反射先にある集光レンズ２０５および絞り２０４の取付誤差や、ラジアル方向±０．４ｍｍへの集光レンズ２０５のシフト時にも集光レンズ２０５に入射すべき光が遮断されないこと等が考慮されているためである。その結果、絞り２０４にはその開口の径寸法よりも十分大きい径寸法をもつ光束３０４が導かれており、光束３０４のうちの周辺部分３０７は使用されていない。
【００１０】
そこで、この発明の課題は、光源部とその光源部からの光を反射して進行方向を変えるミラーとを含む光学装置であって、上記ミラーから照射対象物に導かれる光量を増大でき、しかもミラーのサイズを最適化して小型に構成できるものを提供することにある。
【００１１】
また、この発明の課題はそのような光学装置が適用された光ピックアップ装置および電子機器を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記課題を解決するため、この発明の光学装置は、
光源部と、
その光源部からの光を反射して進行方向を変えるミラーと
を備え、
上記光源部からの光が上記ミラーへ向かうミラー入射方向に関して上記ミラーの背後で、かつ上記ミラーによる反射光が進むミラー反射方向に関して上記ミラーの下流側と上流側に隣接する位置に、それぞれ上記光源部からの光を検出するための光検出器が設けられていることを特徴とする。
【００１３】
この発明の光学装置では、上記二つの光検出器の出力に基づいて、上記光源部の出射光量がフィードバック制御され得る。しかも、上記二つの光検出器は、上記ミラー入射方向に関して上記ミラーの背後で、かつ上記ミラー反射方向に関して上記ミラーの下流側と上流側に隣接する位置にそれぞれ設けられている。したがって、図７に示した従来例のように上記ミラーへ向かう光束の全部を対象として一律に光量数％を分岐して検出するのではなく、上記光束のうち上記ミラーを外れた部分を上記二つの光検出器によって検出することができる。つまり、上記光束のうち上記ミラーに実際に入射する部分は分岐の対象とはならず、光量が減少しない。したがって、この発明の光学装置によれば、図７に示した従来例に比して、上記ミラーから照射対象物に導かれる光量を増大できる。なお、上記二つの光検出器が設けられている位置は上記ミラー入射方向に関して上記ミラーの背後であるから、上記二つの光検出器が上記ミラーによる反射光を遮ることはない。
【００１４】
また、一般的な光ピックアップ装置では、光ディスクの偏心に応じてラジアル方向へ集光レンズ（上記ミラーによる反射光を上記光ディスクの記録面に結像させるために上記ミラーと光ディスクとの間に配置される）がシフトされる量に比して、上記ラジアル方向に対して直交する他の二方向への上記集光レンズのシフト量は小さい。そこで、この発明の光学装置が光ピックアップ装置に適用されて上記ミラー反射方向が光ディスクの記録面に対して実質的に垂直になっている場合、上記他の二方向（ミラー反射方向を含む。）に関して上記ミラーの寸法を最適化して小さく設定できる。すなわち、上記他の二方向に関して上記ミラーの寸法を上記集光レンズが必要とする最小限の光束のみを反射できる程度に小さく設定できる。そのようにした場合、上記ミラー反射方向に関して上記ミラーの下流側と上流側に隣接する位置にそれぞれ光検出器を設けたことによる寸法の増大を吸収でき、むしろ小型化が可能となる。
【００１５】
一実施形態の光学装置は、上記各光検出器の検出面は上記ミラー入射方向に対して垂直に配置されていることを特徴とする。
【００１６】
この一実施形態の光学装置では、上記各光検出器の検出面は上記ミラー入射方向に対して垂直に配置されているので、上記光束のうち上記ミラーを外れた部分を上記二つの光検出器によって効率良く検出できる。
【００１７】
一実施形態の光学装置は、上記光源部、上記ミラーおよび上記二つの光検出器を搭載する基台を備え、上記ミラー反射方向に関して上記ミラーの寸法と上記二つの光検出器の寸法とを合わせた合計寸法が上記基台の厚み寸法以下であることを特徴とする。
【００１８】
この一実施形態の光学装置では、上記ミラー反射方向に関して上記ミラーの寸法と上記二つの光検出器の寸法とを合わせた合計寸法が上記基台の厚み寸法以下であるから、上記ミラーおよび上記二つの光検出器が上記基台の厚みを越えてはみ出すことが無い。したがって、小型化が損なわれることがない。
【００１９】
一実施形態の光学装置は、上記光源部から上記ミラーへ向かう光はガウス形の強度分布を有する光束であり、上記二つの光検出器は上記光束のうち上記ミラーを外れた部分を検出することを特徴とする。
【００２０】
この一実施形態の光学装置では、上記二つの光検出器は上記光束のうち上記ミラーを外れた部分を検出するので、上記光源部から上記ミラーへ向かう光束のうち強度の高い中心部、つまり大部分が上記ミラーによって反射される。したがって、上記ミラーから照射対象物に導かれる光量を実質的に維持しながら、上記ミラー反射方向に関して上記ミラーの寸法をさらに小さく設定できる。
【００２１】
一実施形態の光学装置は、上記ミラー反射方向に垂直な一方向に関する上記光検出器の寸法が、上記ミラー反射方向に関する上記光検出器の寸法よりも長いことを特徴とする。
【００２２】
この一実施形態の光学装置では、上記ミラー反射方向に垂直な一方向に関する上記光検出器の寸法が、上記ミラー反射方向に関する上記光検出器の寸法よりも長い。したがって、上記光検出器はその一方向に関して広い範囲で光を検出できる。この結果、この光学装置が光ピックアップ装置に適用されて上記ミラー反射方向が光ディスクの記録面に対して実質的に垂直になっている場合において、光ディスクのラジアル方向に上記光検出器の寸法が長い方向を一致させると、上記ラジアル方向への集光レンズのシフトに追随でき、有利になる。
【００２３】
一実施形態の光学装置は、上記ミラー反射方向に垂直な一方向に関する上記ミラーの寸法が、上記ミラー反射方向に関する上記ミラーの寸法よりも長いことを特徴とする。
【００２４】
この一実施形態の光学装置では、上記ミラー反射方向に垂直な一方向に関する上記ミラーの寸法が、上記ミラー反射方向に関する上記ミラーの寸法よりも長い。したがって、上記ミラーはその一方向に関して広い範囲で光を反射できる。この結果、この光学装置が光ピックアップ装置に適用されて上記ミラー反射方向が光ディスクの記録面に対して実質的に垂直になっている場合において、光ディスクのラジアル方向に上記ミラーの寸法が長い方向を一致させると、上記ラジアル方向への集光レンズのシフトに追随でき、有利になる。
【００２５】
一実施形態の光学装置は、上記二つの光検出器からの出力を用いて、上記ミラーに入射している光の強度のバランスおよび変動を算出する演算部を備えたことを特徴とする。
【００２６】
この一実施形態の光学装置では、上記二つの光検出器からの出力を用いて、上記ミラーに入射している光の強度のバランスおよび変動を算出する演算部を備える。したがって、上記光源部を駆動する制御が容易になる。
【００２７】
一実施形態の光学装置は、上記演算部が算出した結果に基づいて、上記ミラーに入射している光の強度中心を所定の光軸に一致させるように上記光源部を駆動する制御部を備えたことを特徴とする。
【００２８】
この一実施形態の光学装置では、上記制御部によって、上記ミラーに入射している光の強度中心を所定の光軸に一致させるように上記光源部が駆動される。したがって、照射対象物に照射される光束の位置が安定する。
【００２９】
一実施形態の光学装置は、上記演算部が算出した結果に基づいて、上記ミラーに入射している光の強度を所定のレベルに維持するように上記光源部を駆動する制御部を備えたことを特徴とする。
【００３０】
この一実施形態の光学装置では、上記制御部によって、上記ミラーに入射している光の強度を所定のレベルに維持するように上記光源部が駆動される。したがって、照射対象物に照射される光量が安定する。
【００３１】
この発明の光ピックアップ装置は、上記ミラーと光ディスクとの間に配置され、上記ミラーによる反射光を上記光ディスクの記録面に結像させる集光レンズと、上記ミラーと集光レンズとの間に配置され、上記ミラーによる反射光を上記集光レンズに合わせて絞る絞りとを備えたことを特徴とする。
【００３２】
この発明の光ピックアップ装置では、上記二つの光検出器の出力に基づいて、上記光源部の出射光量がフィードバック制御され得る。しかも、上記二つの光検出器は、上記ミラー入射方向に関して上記ミラーの背後で、かつ上記ミラー反射方向に関して上記ミラーの下流側と上流側に隣接する位置にそれぞれ設けられている。したがって、図７に示した従来例のように上記ミラーへ向かう光束の全部を対象として一律に光量数％を分岐して検出するのではなく、上記光束のうち上記ミラーを外れた部分を上記二つの光検出器によって検出することができる。つまり、上記光束のうち上記ミラーに実際に入射する部分は分岐の対象とはならず、光量が減少しない。したがって、この発明の光ピックアップ装置によれば、図７に示した従来例に比して、上記ミラーから照射対象物に導かれる光量を増大できる。なお、上記二つの光検出器が設けられている位置は上記ミラー入射方向に関して上記ミラーの背後であるから、上記二つの光検出器が上記ミラーによる反射光を遮ることはない。
【００３３】
また、一般的な光ピックアップ装置では、光ディスクの偏心に応じてラジアル方向へ集光レンズがシフトされる量に比して、上記ラジアル方向に対して直交する他の二方向への上記集光レンズのシフト量は小さい。そこで、上記他の二方向（ミラー反射方向を含む。）に関しては上記ミラーの寸法を最適化して小さく設定できる。すなわち、上記他の二方向に関して上記ミラーの寸法を上記集光レンズが必要とする最小限の光束のみを反射できる程度に小さく設定できる。そのようにした場合、上記ミラー反射方向に関して上記ミラーの下流側と上流側に隣接する位置にそれぞれ光検出器を設けたことによる寸法の増大を吸収でき、むしろ小型化が可能となる。
【００３４】
一実施形態の光ピックアップ装置は、上記ミラー入射方向に関する上記ミラーの寸法が、上記絞りの開口の径寸法と実質的に同じであることを特徴とする。
【００３５】
この一実施形態の光ピックアップ装置では、上記ミラー入射方向に関する上記ミラーの寸法が、上記絞りの開口の径寸法と実質的に同じである。したがって、上記ミラー入射方向に関して上記ミラーの寸法を小さく設定できる。
【００３６】
一実施形態の光ピックアップ装置は、上記ミラー入射方向とミラー反射方向との両方に垂直な方向が上記光ディスクのラジアル方向と一致しており、上記ラジアル方向に関して、上記ミラーの寸法が、上記絞りの開口がシフトして占有し得る範囲の寸法と実質的に同じであることを特徴とする。
【００３７】
この一実施形態の光ピックアップ装置では、上記光ディスクのラジアル方向に関して、上記ミラーの寸法が、上記絞りの開口がシフトして占有し得る範囲の寸法と実質的に同じである。したがって、上記ミラーは、上記ラジアル方向に関して必要十分な範囲で光を反射できる。したがって、上記ラジアル方向への集光レンズのシフトに追随でき、有利になる。それとともに、上記ラジアル方向に関して上記ミラーの寸法が最適化され、装置の小型化が可能となる。
【００３８】
一実施形態の光ピックアップ装置では、上記光源部から上記ミラーへ向かう光は光束であり、上記ミラー反射方向に関して、上記ミラーの寸法と上記二つの光検出器の寸法とを合わせた合計寸法が上記光束の寸法と実質的に等しいことを特徴とする。
【００３９】
この一実施形態の光ピックアップ装置では、上記ミラー反射方向に関して、上記ミラーの寸法と上記二つの光検出器の寸法とを合わせた合計寸法が上記光束の寸法と実質的に等しい。したがって、上記ミラー反射方向に関して、この装置の寸法が最適化され、小型化が可能となる。
【００４０】
この発明の電子機器は、上記発明の光ピックアップ装置を搭載した電子機器である。
【００４１】
この発明の電子機器では、上記光ピックアップ装置がもたらす利点を享有できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４２】
以下、この発明を図示の実施の形態により詳細に説明する。なお、理解の容易のために、以下の図では、図５〜図８中の部品と同一の構成および機能を有する部品については同一の符号を用いる。
【００４３】
図１は、この発明の光学装置を適用した一実施形態の光ピックアップ装置のミラー近傍部分の断面構成を示している。また、図２は、上記光ピックアップ装置のミラー近傍部分を斜めから見たところを示している。
【００４４】
この光ピックアップ装置の光源部は、図４中に示すように、半導体レーザチップ１０１を内蔵したパッケージ１００に、ホログラムパターン１０４が刻まれたホログラムガラス１０３を取り付けて構成されている。パッケージ１００内には信号検出用の受光素子１０２（図５参照）も収容されている。
【００４５】
図１に示すように、この光ピックアップ装置では、上記光源部とともに、基台２０７上に、コリメートレンズ２０１と、コリメートレンズ２０１からの光束３０３の一部を反射して進行方向を変えるミラー２０３と、出射光量モニタ用の光検出器２０２Ａ，２０２Ｂとが搭載されている。
【００４６】
コリメートレンズ２０１は、半導体レーザチップ１０１からの放射光３０１を光軸３００に平行な光束（略平行な光を含む。以下同様。）３０３に変えるようになっている。図１中に模式的に重ねて示すように、この光束３０６は、光軸３００を中心として中心の周りにガウス形の強度分布３０６を持つ。この強度分布３０６については、便宜上、＋Ｚ方向を強度が高い向きとして表している。これから分かるように、光束３０６の中心部３０９の強度は周辺部３１０の強度よりも高くなっている。
【００４７】
ミラー２０３は、直角二等辺三角形の断面をもつ角柱状の部材であり、図１における斜辺が鏡面２０３Ｍとなっている。
【００４８】
光検出器２０２Ａ，２０２Ｂは、光束３０３がミラー２０３へ向かうミラー入射方向（Ｚ方向）に関してミラー２０３の背後で、かつミラー２０３による反射光が進むミラー反射方向（Ｙ方向）に関してミラー２０３の下流側（＋Ｙ側）と上流側（−Ｙ側）に隣接する位置にそれぞれ設けられている。各光検出器２０２Ａ，２０２Ｂの検出面（図１における左側面）は、Ｚ方向に対して垂直に配置されている。
【００４９】
基台２０７の上方（ミラー反射方向下流側）には、絞り２０４および集光レンズ２０５が一体に設けられている。集光レンズ２０５は、ミラー２０３と照射対象物である光ディスク２０６との間に配置され、ミラー２０３による反射光３０４を集束光３０５として光ディスク２０６の記録面に結像させる。絞り２０４は、ミラー２０３と集光レンズ２０５との間で、ミラー２０３による反射光３０４を集光レンズ２０５に合わせて絞るようになっている。
【００５０】
なお、この実施形態では、Ｘ方向が光ディスク２０６のラジアル方向（径方向）と一致し、Ｙ方向が光ディスク２０６の記録面に垂直であり、Ｚ方向が光ディスク２０６のタンジェンシャル方向（接線方向）と一致している。
【００５１】
この光ピックアップ装置では、二つの光検出器２０２Ａ，２０２Ｂの出力に基づいて、半導体レーザチップ１０１の出射光量がフィードバック制御され得る（詳しくは後述する。）。しかも、二つの光検出器２０２Ａ，２０２Ｂは、Ｚ方向に関してミラー２０３の背後で、かつＹ方向に関してミラー２０３の下流側と上流側に隣接する位置にそれぞれ設けられている。したがって、図７に示した従来例のようにミラー２０３へ向かう光束３０３の全部を対象として一律に光量数％を分岐して検出するのではなく、光束３０３のうちミラー２０３を外れた部分３０８Ａ，３０８Ｂを二つの光検出器２０２Ａ，２０２Ｂによって検出することができる。つまり、光束３０３のうちミラー２０３に実際に入射する部分３０９は分岐の対象とはならず、光量が減少しない。したがって、この光ピックアップ装置によれば、図７に示した従来例に比して、ミラー２０３から光ディスク２０６に導かれる光量を増大できる。しかも、各光検出器２０２Ａ，２０２Ｂの検出面はＺ方向に対して垂直に配置されているので、光束３０３のうちミラー２０３を外れた部分３０８Ａ，３０８Ｂを二つの光検出器２０２Ａ，２０２Ｂによって効率良く検出できる。なお、二つの光検出器２０２Ａ，２０２Ｂが設けられている位置はＺ方向に関してミラー２０３の背後であるから、二つの光検出器２０２Ａ，２０２Ｂがミラー２０３による反射光３０４を遮ることはない。
【００５２】
この光ピックアップ装置では、一般的な光ピックアップ装置と同様に、光ディスク２０６の偏心に応じてラジアル方向（Ｘ方向）へ集光レンズ２０５がシフトされる量に比して、Ｘ方向に対して直交する他の二方向（Ｙ方向とＺ方向）への集光レンズ２０５のシフト量は小さいことが前提とされている。そこで、Ｙ方向とＺ方向に関してミラー２０３の寸法を最適化して小さく設定できる。すなわち、Ｙ方向とＺ方向に関してミラー２０３の寸法を集光レンズ２０５が必要とする最小限の光束のみを反射できる程度に小さく設定できる。
【００５３】
また、この実施形態では、二つの光検出器２０２Ａ，２０２Ｂは光束３０３のうちミラー２０３を外れた部分３０８Ａ，３０８Ｂを検出するので、半導体レーザチップ１０１からミラー２０３へ向かう光束３０３のうち強度の高い中心部、つまり大部分がミラー２０３によって反射される。したがって、ミラー２０３から光ディスク２０６に導かれる光量を実質的に維持しながら、ミラー２０３のＹ方向寸法をさらに小さく設定できる。
【００５４】
この実施形態では、ミラー２０３のＹ方向寸法と二つの光検出器２０２Ａ，２０２ＢのＹ方向寸法とを合わせた合計寸法が光束３０３の寸法と実質的に等しい。したがって、この装置のＹ方向寸法が最適化され、小型化が可能となる。
【００５５】
これらの結果、Ｙ方向に関してミラー２０３の＋Ｙ側と−Ｙ側に隣接する位置にそれぞれ光検出器２０２Ａ，２０２Ｂを設けたことによる寸法の増大を吸収でき、むしろ小型化が可能となる。例えば、この実施形態では、ミラー２０３のＹ方向寸法と二つの光検出器２０２Ａ，２０２ＢのＹ方向寸法とを合わせた合計寸法が基台２０７の厚み寸法（Ｙ方向寸法）以下になっている。したがって、ミラー２０３および二つの光検出器２０２Ａ，２０２Ｂが基台２０７の厚みを越えてはみ出すことが無い。したがって、小型化が損なわれることがない。
【００５６】
また、この実施形態では、ミラー２０３のＺ方向寸法が、絞り２０４の開口Ｄの径寸法と実質的に同じになっている。したがって、ミラー２０３のＺ方向寸法を小さく設定できる。
【００５７】
なお、ミラー２０３の断面が直角二等辺三角形である状態を維持するように、ミラー２０３のＹ方向寸法とＺ方向寸法とは、並行して小さく設定される。したがって、それに比例して鏡面２０３Ｍの寸法Ａ′も小さく設定される。
【００５８】
また、図２に示すように、この光ピックアップ装置では、光検出器２０２Ａ，２０２ＢのＸ方向寸法が、光検出器２０２Ａ，２０２ＢのＹ方向寸法よりも長い。したがって、光検出器２０２Ａ，２０２ＢはＸ方向に関して広い範囲で光を検出できる。この結果、Ｘ方向への集光レンズ２０５のシフトに追随でき、有利になる。
【００５９】
また、この光ピックアップ装置では、ミラー２０３のＸ方向寸法が、ミラー２０３のＹ方向寸法よりも長い。したがって、ミラー２０３はＸ方向に関して広い範囲で光を反射できる。この結果、Ｘ方向への集光レンズ２０５のシフトに追随でき、有利になる。
【００６０】
しかも、ミラー２０３のＸ方向寸法は、絞り２０４の開口ＤがＸ方向へシフトして占有し得る範囲のＸ方向寸法と実質的に同じに設定されている。具体的には、図２から図３に示すように絞り２０４の開口Ｄの中心が＋Ｘ方向へＸ１だけシフトすると、光束３０３もそれに追随して＋Ｘ方向へＸ１だけシフトされる。ミラー２０３の鏡面２０３Ｍ上で光束３０３に対応する楕円領域３１１も＋Ｘ方向へＸ１だけシフトする。この実施形態では、Ｘ方向に関して±０．４ｍｍまでの様々なシフトが起こった場合に楕円領域３１１が占有し得る範囲（和集合）のＸ方向寸法が、ミラー２０３のＸ方向寸法と実質的に同じに設定されている。したがって、ミラー２０３は、Ｘ方向に関して必要十分な範囲で光を反射できる。したがって、Ｘ方向への集光レンズ２０５のシフトに追随でき、有利になるとともに、ミラー２０３のＸ方向寸法が最適化され、装置の小型化が可能となる。
【００６１】
図４は、図１中の構成要素に加えて、上記光ピックアップ装置が備える出射光量のフィードバック制御系を示している。このフィードバック制御系は、演算部としてのフィードバック用演算回路４０１と、レーザ制御部４０３とを備えている。フィードバック用演算回路４０１は、二つの光検出器２０２Ａ，２０２Ｂから配線４００Ａ，４００Ｂを介して送られてくる出力信号を用いて、ミラー２０３に入射している光の強度のバランスおよび変動を算出する。具体的には、二つの光検出器２０２の出力信号の差を計算することにより、ミラー２０３に入射している光量のＹ方向の差が検出できる。また、二つの光検出器２０２の出力信号の和を計算することにより、ミラー２０３に入射している光量の時間変化や温度変化を検出できる。その算出結果は、制御信号ライン４０２を通してレーザ制御部４０３へ送られる。レーザ制御部４０３は、フィードバック用演算回路４０１の算出結果に基づいて、ミラー２０３に入射している光束３０３の強度中心を光軸３００に一致させるとともに、ミラー２０３に入射している光束３０３の強度を所定のレベルに維持するように半導体レーザチップ１０１を駆動する。したがって、光ディスク２０６に照射される光束３０３の位置および光量が安定する。
【００６２】
このように、二つの光検出器２０２Ａ，２０２Ｂからの出力に基づいて半導体レーザチップ１０１をフィードバック制御することで、光ディスク２０６に対して安定したレーザ出力を実現することができる。
【００６３】
この実施形態では、この発明の光学装置を光ピックアップ装置に適用した例について説明したが、本発明の範囲はその態様に限られるものではなく、この発明の光学装置は様々な装置や電子機器に適用され得る。これにより、ミラーから照射対象物に導かれる光量を増大でき、しかもミラーのサイズを最適化して各種装置や電子機器を小型に構成できる。また、上記光ピックアップ装置を様々な電子機器に搭載しても同様な効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００６４】
【図１】この発明の光学装置を適用した一実施形態の光ピックアップ装置のミラー近傍部分の構成を示す図である。
【図２】上記光ピックアップ装置のミラー近傍部分を拡大して示す斜視図である。
【図３】上記光ピックアップ装置の集光レンズがシフトしたときの動作を説明する図である。
【図４】出射光量のフィードバック制御系を含む上記光ピックアップ装置の構成を示す図である。
【図５】従来の光ピックアップ装置の構成を示す平面図である。
【図６】上記従来の光ピックアップ装置の構成を示す側断面図である。
【図７】モニタ用光検出器を含む光ピックアップ装置の構成を示す図である。
【図８】上記従来の光ピックアップ装置のミラー近傍部分を拡大して示す図である。
【符号の説明】
【００６５】
１０１  半導体レーザチップ
１０３  ホログラムガラス
２０１  コリメートレンズ
２０２Ａ，２０２Ｂ  光検出器
２０３  ミラー
２０４  絞り
２０５  集光レンズ
２０６  光ディスク
２０７  基台
４０１  フィードバック用演算回路
４０３  レーザ制御部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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