(57)【要約】【課題】導通検査の結果、回路基板が不良と判定された場合であっても、部材廃棄による損失が少ない液晶表示装置の回路基板検査装置、及び回路基板検査方法を提供する。【解決手段】液晶表示パネル１を載置位置決めする液晶表示パネル載置ステージ２４と、少なくとも１つの電子部品が実装された被検査対象である駆動回路基板２を載置位置決めする駆動回路基板載置ステージ２２と、駆動回路基板２に実装された電子部品以外の電子部品が実装されたダミー回路基板３０と、液晶表示パネル載置ステージ２４に載置された液晶表示パネル１の電極端子４と駆動回路基板載置ステージ２２に載置された駆動回路基板２の電極端子７とに圧接するゼブラゴム３１と、ダミー回路基板３０に電気的に接続され、尚且つ駆動回路基板載置ステージ２２に載置された駆動回路基板２の電子部品実装用電極端子６に当接するように配置されたコンタクトプローブ２８とで回路基板検査装置を構成する。【選択図】  図１
2006266783.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
表示パネルを駆動するための電子部品が実装された駆動回路基板を検査する回路基板検査装置であって、
少なくとも、
表示パネルを載置位置決めする表示パネル載置ステージと、
当該表示パネル載置ステージに併設され、少なくとも１つの電子部品が実装された駆動回路基板を載置位置決めする駆動回路基板載置ステージと、
前記駆動回路基板に実装された前記電子部品以外の電子部品が実装されたダミー回路基板を保持する保持部材と、
前記表示パネル載置ステージ上に載置位置決めされた前記表示パネルと前記駆動回路基板載置ステージ上に載置位置決めされた前記駆動回路基板とを導通／非導通させる第一の導通手段と、
前記駆動回路基板載置ステージ上に載置位置決めされた前記駆動回路基板と前記保持部材に保持された前記ダミー回路基板とを導通／非導通させる第二の導通手段とを備え、
前記表示パネルと前記駆動回路基板、ならびに前記駆動回路基板と前記ダミー回路基板とをそれぞれ互いに導通させた時点での前記表示パネルの表示状態に基づいて、前記駆動回路基板の良否を判定するようにしたことを特徴とする回路基板検査装置。
【請求項２】
前記第一の導通手段は、ゼブラゴムを前記表示パネルと前記駆動回路基板に対して当接／非当接させることで、前記表示パネルと前記駆動回路基板とを導通／非導通させる手段であることを特徴とする請求項１に記載の回路基板検査装置。
【請求項３】
前記ゼブラゴムは、バネの付勢力に抗して上下方向に進退可能な棒状の軸に保持され、当該軸が上下方向に進退することで前記ゼブラゴムが前記表示パネルと前記駆動回路基板に対して当接／非当接することを特徴とする請求項２に記載の回路基板検査装置。
【請求項４】
前記棒状の軸に当該軸が下方に向かう押圧力を作用させる押圧手段を設けたことを特徴とする請求項３に記載の回路基板検査装置。
【請求項５】
前記押圧手段は、操作レバーを昇降させることで一定の回動軸を中心に可動部を下方に向けて回動させ、当該可動部の一端部に配置された押圧部を前記棒状の軸の上端部に当接させる手段であることを特徴とする請求項４に記載の回路基板検査装置。
【請求項６】
前記第二の導通手段は、前記ダミー回路基板と電気的に接続されたプローブの先端を前記駆動回路基板に対して当接／非当接させることで、前記駆動回路基板と前記ダミー回路基板とを導通／非導通させる手段であることを特徴とする請求項１〜３の何れか１つに記載の回路基板検査装置。
【請求項７】
前記プローブは、前記駆動回路基板上に配設された電子部品実装用の電極端子に当接／非当接することを特徴とする請求項６に記載の回路基板検査装置。
【請求項８】
前記表示パネル載置ステージは、前記駆動回路基板載置ステージと対向する方向とは直行する方向に水平移動可能であることを特徴とする請求項１〜７の何れか１つに記載の回路基板検査装置。
【請求項９】
前記駆動回路基板載置ステージの前記駆動回路基板を載置する側の面には、前記駆動回路基板に設けられた位置決め穴に嵌合する位置決めピンが設けられていることを特徴とする請求項１〜８の何れか１つに記載の回路基板検査装置。
【請求項１０】
表示パネルを駆動するための電子部品が実装された駆動回路基板を検査する回路基板検査方法であって、
正常な動作が保証された表示パネルと少なくとも１つの電子部品が実装された駆動回路基板とを互いに導通させると共に、前記駆動回路基板と当該駆動回路基板に実装された前記電子部品以外の電子部品が実装されたダミー回路基板とを互いに導通させて前記表示パネルを表示状態にし、当該表示パネルの表示状態に基づいて前記駆動回路基板の良否を判定すること特徴とする回路基板検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶ディスプレイパネル、ＥＬディスプレイパネル等の種々の表示パネルを駆動するための電子部品が実装された駆動回路基板を検査する回路基板検査装置、及び回路基板検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
現在、表示機器に用いられる表示パネルとして液晶ディスプレイパネル、ＥＬディスプレイパネル等、様々なものが開発されている。図４は、それら表示パネルの内、液晶表示パネルを用いて構成された液晶表示装置（完成品）の一例を示す上面図であり、ガラスやシリコンからなる２枚の基板１ａ、１ｂ間に液晶を封入してなる液晶表示パネル１と、当該液晶表示パネル１の表示状態を制御する駆動回路が実装された駆動回路基板（以下、回路基板）２と、液晶表示パネル１と回路基板２とを電気的に接続するヒートシール３とで構成されている。
【０００３】
液晶表示パネル１を構成する２枚の基板１ａ、１ｂは、少なくともその一部が互いにオフセットした状態となっており、そのオフセットした部位（オフセット部１ｃ）に表示エリア１ｄの表示電極（不図示）より導出された制御信号入力用の電極端子（電極端子パターン）４がアレイ状に配設されている。
【０００４】
一方、回路基板２には、駆動回路を構成する各電子部品５を実装するための電子部品実装用の電極端子（以下、実装用端子）６が複数設けられており、それら実装用端子６上に各電子部品５がフリップチップボンディング実装やワイヤーボンディング実装されている。ここでいう電子部品５とは、液晶表示パネル１の制御データが記憶されたＬＣＤドライバーチップ（駆動ＩＣ）やコンデンサ、トランジスタといった部品であり、特にＬＣＤドライバーチップ５ａは、回路基板２上にフリップチップボンディング実装されている。また、回路基板２の一端部には、実装された各電子部品５より導出された制御信号出力用の電極端子（電極端子パターン）７が前記液晶表示パネル１上に配設された制御信号出力用の電極端子４に対応したパターン形状にてアレイ状に配設されている。
【０００５】
また、液晶表示パネル１と回路基板２とを接続するヒートシール３は、シート状のコネクタ部材であり、液晶表示パネル１のオフセット部１ｃに配設された電極端子パターン４と回路基板２の一端部に配設された電極端子パターン７にそれぞれ熱圧着により固定されている。尚、このように液晶表示パネル１にヒートシール３を介して回路基板２が接続された状態が液晶表示装置の完成品としての状態である。
【０００６】
ところで、液晶表示装置の駆動回路が実装された回路基板２に対しては、その動作が正常に成されるかどうかを判定するための導通検査を行う必要がある。導通検査の方法としては、回路基板２にヒートシール３を介して正常な動作が保証された液晶表示パネル１を接続した状態、即ち液晶表示装置として完成した状態で回路基板２に電力を供給し、そこに実装された駆動回路を実際に作動させることで液晶表示パネル１を点灯させ、その液晶表示パネル１の表示状態に基づいて回路基板２の良否を判定する方法が挙げられる。この場合、液晶表示パネル１は、予め単体での検査を通過して良品として正常な動作が保証されているため、もし上記検査の結果、液晶表示パネル１に正常な映像が表示されなければ、それは回路基板２に欠陥があると判断できる。
【０００７】
しかしながら、上記の検査方法では回路基板２に液晶表示パネル１を接続した状態で検査を行っているため、検査の結果、回路基板２が不良として判定された場合には、回路基板２のみならず、そこに接続された液晶表示パネル１を含めた液晶表示装置全体を廃棄しなければならない。一度接続された回路基板２と液晶表示パネル１とを分解して互いを元の状態に戻すことは実質的に不可能である。そのため、回路基板２に液晶表示パネル１を接続していない回路基板２単体での導通検査を行うことで、不良判定時の液晶表示パネル１の廃棄損失を無くした回路基板２の検査方法が提案されている。
【０００８】
図５は、上述した液晶表示パネルの廃棄損失を無くすべく提案された、回路基板を単体で導通検査する回路基板検査装置を示す模式図で、この検査装置（検査方法）は、液晶表示パネル１１の垂直走査側の一端に当該液晶表示パネル１１を駆動するためのドライバ回路１２を実装すると共に、水平走査側の一端に配設された駆動信号入力用の各電極端子（不図示）に検査信号出力用のプローブ１３を接続し、その一方で駆動回路を構成する全ての電子部品が実装された被検査対象である駆動回路基板１４に検査信号を出力するための検査信号発生装置１５を設置すると共に、そこに検査信号入力用のプローブ１６を接続し、当該検査信号入力用のプローブ１６と前記液晶表示パネル１１に接続された検査信号出力用のプローブ１３との間に前記駆動回路基板１４を配置し、それぞれのプローブ１３、１６を駆動回路基板１４上に配設された検査信号入・出力用の各電極端子（不図示）に接触させることで実際に液晶表示パネル１１を点灯状態にし、その時点における液晶表示パネル１１の表示状態に基づいて駆動回路基板１４の良否を判定するものである。（特許文献１参照）
【０００９】
以上の検査装置では、液晶表示パネル１１と駆動回路基板１４とを互いに接続していないため駆動回路基板１４を単体で検査することが可能であり、不良判定時に廃棄されるのは駆動回路基板１４だけとなって、少なくとも液晶表示パネル１１の廃棄損失は免れる。
【００１０】
【特許文献１】特開２０００−３５７７６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
上述した回路基板を単体で検査する回路基板検査装置によれば、回路基板が不良と判定されたとしても、少なくとも液晶表示パネルは廃棄せずに済む。しかしながら、回路基板が不良と判定された場合であっても、そこに実装されている全ての電子部品が欠陥、又は実装状態が不良というわけではなく、その内のごく一部に欠陥、不良があるのが通例であるため、上記検査装置の構成により液晶表示パネルの廃棄損失を免れたとしても、回路基板に実装された欠陥部品以外の正常な電子部品の廃棄損失は依然として免れない。また、それに伴って、それらの電子部品を実装するための工数が無駄となり、生産性の点からも不利益を被ることとなる。
【００１２】
特に液晶表示装置のＬＣＤドライバーチップが回路基板上に実装される場合には、当該ＬＣＤドライバーチップの電極端子が多数あることに加え、それらの電極間ピッチは狭小であることから、その部分で導通不良が発生し易い。また、ＬＣＤドライバーチップは他の電子部品と比べて高価である。従って、不良判定時の廃棄損失を低減するという観点からは、回路基板にＬＣＤドライバーチップを実装した段階で導通検査を行うのが望ましいといえるが、未だ有効な検査装置が考案されていない状況である。
【００１３】
本発明は、以上のような問題点、状況に鑑みてなされたものであり、回路基板が不良と判定された場合であっても、部材廃棄による損失が少ない液晶表示装置の回路基板検査装置、及び回路基板検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
表示パネルを駆動するための電子部品が実装された駆動回路基板を検査する回路基板検査装置であって、
少なくとも、
表示パネルを載置位置決めする表示パネル載置ステージと、
当該表示パネル載置ステージに併設され、少なくとも１つの電子部品が実装された駆動回路基板を載置位置決めする駆動回路基板載置ステージと、
前記駆動回路基板に実装された前記電子部品以外の電子部品が実装されたダミー回路基板を保持する保持部材と、
前記表示パネル載置ステージ上に載置位置決めされた前記表示パネルと前記駆動回路基板載置ステージ上に載置位置決めされた前記駆動回路基板とを導通／非導通させる第一の導通手段と、
前記駆動回路基板載置ステージ上に載置位置決めされた前記駆動回路基板と前記保持部材に保持された前記ダミー回路基板とを導通／非導通させる第二の導通手段とを備え、
前記表示パネルと前記駆動回路基板、ならびに前記駆動回路基板と前記ダミー回路基板とをそれぞれ互いに導通させた時点での前記表示パネルの表示状態に基づいて、前記駆動回路基板の良否を判定するようにした回路基板検査装置とする。
【００１５】
前記第一の導通手段は、ゼブラゴムを前記表示パネルと前記駆動回路基板に対して当接／非当接させることで、前記表示パネルと前記駆動回路基板とを導通／非導通させる手段である回路基板検査装置とする。
【００１６】
前記ゼブラゴムは、バネの付勢力に抗して上下方向に進退可能な棒状の軸に保持され、当該軸が上下方向に進退することで前記ゼブラゴムが前記表示パネルと前記駆動回路基板に対して当接／非当接する回路基板検査装置とする。
【００１７】
前記棒状の軸に当該軸が下方に向かう押圧力を作用させる押圧手段を設けた回路基板検査装置とする。
【００１８】
前記押圧手段は、操作レバーを昇降させることで一定の回動軸を中心に可動部を下方に向けて回動させ、当該可動部の一端部に配置された押圧部を前記棒状の軸の上端部に当接させる手段である回路基板検査装置とする。
【００１９】
前記第二の導通手段は、前記ダミー回路基板と電気的に接続されたプローブの先端を前記駆動回路基板に対して当接／非当接させることで、前記駆動回路基板と前記ダミー回路基板とを導通／非導通させる手段である回路基板検査装置とする。
【００２０】
前記プローブは、前記駆動回路基板上に配設された電子部品実装用の電極端子に当接／非当接する回路基板検査装置とする。
【００２１】
前記表示パネル載置ステージは、前記駆動回路基板載置ステージと対向する方向とは直行する方向に水平移動可能である回路基板検査装置とする。
【００２２】
前記駆動回路基板載置ステージの前記駆動回路基板を載置する側の面には、前記駆動回路基板に設けられた位置決め穴に嵌合する位置決めピンが設けられている回路基板検査装置とする。
【００２３】
表示パネルを駆動するための電子部品が実装された駆動回路基板を検査する回路基板検査方法であって、
正常な動作が保証された表示パネルと少なくとも１つの電子部品が実装された駆動回路基板とを互いに導通させると共に、前記駆動回路基板と当該駆動回路基板に実装された前記電子部品以外の電子部品が実装されたダミー回路基板とを互いに導通させて前記表示パネルを表示状態にし、当該表示パネルの表示状態に基づいて前記駆動回路基板の良否を判定する回路基板検査方法とする。
【発明の効果】
【００２４】
本発明によれば、駆動回路基板に一部の電子部品（例えば、ＬＣＤドライバーチップ）を実装した段階で導通検査を行うことが可能となるため、検査の結果、駆動回路基板が不良として判定された場合であっても、廃棄されるのは実装された一部の電子部品だけ（但し、駆動回路基板本体含む）となり、本来不良ではないその他の構成部材を不良として廃棄してしまう損失を無くすことができるだけでなく、それに伴う生産性の向上が期待できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
図１は、本発明による回路基板検査装置の一実施例を示す図で、（ａ）上面図、（ｂ）正面図、（ｃ）側面図である。また、図２は、本発明による回路検査装置の液晶表示パネル載置ステージ及び駆動回路基板載置ステージ上にそれぞれ液晶表示パネルと駆動回路基板を載置した状態を示す上面図で、図３は、駆動回路基板の電極端子にゼブラゴムを当接させた状態を示す要部拡大正面図である。尚、図１（ｃ）では説明の便宜上、一部の構成を省略してある。以下、図１〜３を参照して本発明による回路基板検査装置の一実施例について説明する。図１に示すように回路基板検査装置の下部には平板状のベース部２１がその裏面側の四隅に配置された４つの脚部２１ａにより水平に支持されており、一方で表面側平坦面上の略中央には被検査対象である回路基板２を載置するための駆動回路基板載置ステージ２２が設置されている。駆動回路基板載置ステージ（以下、基板載置ステージ）２２と隣接する位置にはスライド機構を有する第一スライド部２３が設置されており、その上部に液晶表示パネル１を載置するための液晶表示パネル載置ステージ２４がスライド可能に保持されている。
【００２６】
基板載置ステージ２２の平坦面上には、図２に示すように回路基板２を位置決めするための位置決めピン２２ａが設けられており、その位置決めピン２２ａを回路基板２本体に予め設けられている位置決め穴２ａに嵌合させることで回路基板２の導通検査時における位置決めが成される。但し、回路基板２の位置決め方法に関してはこれに限定されるものではなく、回路基板２の確実な位置決めができるのであればその他の構成としてもよい。
【００２７】
図２に示すように液晶表示パネル載置ステージ（以下、パネル載置ステージ）２４は、第一スライド部２３（図２では不図示）が有する任意のスライド機構により、隣接する基板載置ステージ２２と一定の間隔を保った状態で当該基板載置ステージ２２と対向する方向とは直交する方向（パネル載置ステージ２４の長手方向）に水平移動可能となっている。
【００２８】
第一スライド部２３が有するスライド機構は、第一スライド部２３の一側端より突出したスライド操作部２５をパネル載置ステージ２４の長手方向に進退させることで、所定の可動範囲内においてパネル載置ステージ２４を任意の位置に位置決めすることが可能である。導通検査時には、このスライド操作部２５を操作することでパネル載置ステージ２４に載置された液晶表示パネル１の電極端子パターン４と基板載置ステージ２２に載置された回路基板２の電極端子パターン７とが水平方向にて互いに一致するように位置決めが成される。
【００２９】
また、パネル載置ステージ２４と基板載置ステージ２２とは共に水平状態が保たれており、それぞれの平坦面の高さは、各々の載置ステージ２４、２２上に液晶表示パネル１と回路基板２をそれぞれ載置した時に液晶表示パネル１の電極端子４が形成された面と回路基板２の電極端子７が形成された面とが概ね同一平面となるように設定されている。
【００３０】
基板載置ステージ２２を挟んでパネル載置ステージ２４と対向する位置には、上下方向にスライド可能な任意のスライド機構（昇降機構）を有する第二スライド部２６が設置されており、その上端部には基板載置ステージ２２上方に向けて迫り出したプローブホルダー２７が設置されている。プローブホルダー２７には、その直下に配置された基板載置ステージ２２に向けて垂直に突出した複数のコンタクトプローブ（以下、プローブ）２８が保持されており、尚且つ当該プローブホルダー２７の上部にはＬ字型の固定具（ステー）２９を介して回路基板２と同型のダミー回路基板３０が直立した状態に固定され、更にプローブホルダー２７の前方に向けて迫り出した先端部にはブロック状のゼブラゴム３１を保持したフロート機構３２が設置されている。
【００３１】
プローブホルダー３２は、前述の第二スライド部２６が有するスライド機構（昇降機構）によりその全体が回路基板２に対して平行姿勢を保ったまま昇降可能となっており、最下降した状態において各プローブ２８先端が回路基板２表面に配設された電子部品実装用の実装用端子６に当接するように、その可動範囲が設定されている。
【００３２】
ダミー回路基板３０には、被検査対象である回路基板２に実装された電子部品５以外の電子部品（不図示）が実装されており、その一端部には前記回路基板２と同様の電極端子パターン（不図示）が配設されている。この電極端子パターンには、プローブホルダー２７に保持されたプローブ２８から導出されたリード線（不図示）が接続されており、これによりダミー回路基板３０に実装された各電子部品とそれに対応した各プローブ２８とが互いに導通した状態となっている。
【００３３】
尚、本発明の回路基板検査装置は、その趣旨から、被検査対象である回路基板２に全ての電子部品を実装する前に導通検査を行うものであり、上述のダミー回路基板３０に実装される電子部品は、被検査対象の回路基板２に実装される電子部品に応じてその都度異なるものである。例えば、回路基板２にＬＣＤドライバーチップ５ａのみを実装した状態で導通検査を行いたい場合には、ダミー回路基板３０に実装される電子部品は、ＬＣＤドライバーチップ５ａを除くその他全ての電子部品となる。
【００３４】
また、ダミー回路基板３０と電気的に接続されたプローブ２８は、その上端部がプローブホルダー２７に貫入する形で保持されており、尚且つその先端（下端部）は、ダミー回路基板３０に実装された各電子部品を本来実装すべき回路基板２の各実装用端子６に向くようにそれぞれが位置決めされている。
【００３５】
プローブホルダー２７先端に設けられたフロート機構３２は、プローブホルダー２７本体に上下動可能に貫入された２本の棒状のフロート軸３２ａと、それら２本のフロート軸３２ａの下端部に共同で保持されたゼブラゴム３１に付勢力を与えるコイルバネ３２ｂとで構成されている。コイルバネ３２ｂは、その中心にフロート軸３２ａが貫入することで水平方向の移動が規制され、更に上端部がプローブホルダー２７に固定されると共に下端部がゼブラゴム３１に固定されており、フロート機構３２に外力が作用していない状態（非検査状態）では、ゼブラゴム３１はそれを保持するフロート軸３２ａと共にプローブホルダー２７下端部より吊り下げられた状態（フロート状態）となっている。従って、この状態では、ゼブラゴム３１は液晶表示パネル１と回路基板２には接触していない。
【００３６】
ここで、ベース部２１平坦面上のパネル載置ステージ２４を挟んだ両端側には、図１（ｂ）に示すように、上述のフロート機構３２が有する２本のフロート軸３２ａを下方に向けて押圧するための２つのクランプ部３３が互いに対向して設置されている。クランプ部３３は、導通検査時にゼブラゴム３１を液晶表示パネル１と回路基板２に対して確実に密着（当接）させるためのものであり、回動軸３３ａを支点として回動可能に保持された可動部３３ｂと、当該可動部３３ｂの後端部に連結軸３３ｃを介して連結された操作レバー３３ｄと、可動部３３ｂの先端部にネジ留め固定された押圧部３３ｅとで構成されるクランプ機構を有している。これにより、クランプ動作時に操作レバー３３ｄを押し下げることで可動部３３ｂが回動軸３３ａを中心に一定の可動範囲内で下方（パネル載置ステージ２４上面方向）に向けて回動し、可動部３３ｂ先端に保持された押圧部３３ｅがフロート軸３２ａ上端部を押圧するようになっている。
【００３７】
フロート軸３２ａ下端部に保持されたゼブラゴム３１は、図３に示すように絶縁性ゴム３１ａと導電性ゴム３１ｂを等間隔で積層させた一種のコネクタ部材である。本実施例では、回路基板２に配設された電極端子パターン７の幅と間隔に対して絶縁性ゴム／導電性ゴム間隔が極小のゼブラゴムを使用しており、例えば電極端子パターン７の幅及び間隔が０．２ｍｍに対して、ゼブラゴム３１の導電性ゴム３１ｂの幅及び間隔を０．０５ｍｍとしている。これにより、導通検査時には常に２つ以上の導電性ゴム３１ｂが回路基板２と液晶表示パネル１の各電極端子パターン４、７に当接することになり、少なくとも電極端子パターン４、７に対するゼブラゴム３１の長手方向（絶縁性ゴム３１ａと導電性ゴム３１ｂの積層方向）の厳密な位置調整をすることなく、確実に導通を図ることができる。
【００３８】
以上、本発明の回路基板検査装置の構成について説明したが、以下に当該検査装置を用いた回路基板の検査方法について説明する。尚、以下の説明では被検査対象をＬＣＤドライバーチップのみが実装された回路基板とし、ＬＣＤドライバーチップの実装状態を判定する趣旨で回路基板の導通検査を行うものとする。
【００３９】
まず、パネル載置ステージ２４上に正常な動作が保証された液晶表示パネル１を位置決め固定した上で、第二スライド部２６のスライド機構（昇降機構）を駆動させてプローブホルダー２７を上方に退避させ、基板載置ステージ２２上に被検査対象である回路基板２を載置する。この際、図２に示すように回路基板２に設けられた位置決め穴２ａを基板載置ステージ２２平坦面上の位置決めピン２２ａに嵌合させることで回路基板２の確実な位置決めが成される。
【００４０】
次に、第一スライド部２３のスライド操作部２５をパネル載置ステージ２４の長手方向に進退させて、液晶表示パネル１の電極端子パターン４と回路基板２の電極端子パターン７とがパネル載置ステージ２４の長手方向にて互いに一致するように位置決めする。
【００４１】
以上のようにして液晶表示パネル１と回路基板２の位置決めが完了したら、第二スライド部２６のスライド機構を駆動してプローブホルダー２７を下降させ、そこに保持された複数のプローブ２８の先端を基板載置ステージ２２に載置されている回路基板２の各実装用端子６にそれぞれ当接させる。プローブ２８は、プローブホルダー２７上部に固定されたダミー回路基板３０に実装されている電子部品と導通しているため、以上のようにプローブ２８が回路基板２の実装用端子６に当接した時点で、それら電子部品が仮に回路基板２に実装された状態となる。
【００４２】
また、プローブホルダー２７の下降に伴ってプローブホルダー２７先端に設置されたフロート機構３２も同時に下降し、その下端部に保持されたゼブラゴム３１が液晶表示パネル１と回路基板２の各電極端子パターン４、７間に橋渡し状態で当接する。これにより、ゼブラゴム３１を介して液晶表示パネル１と回路基板２が互いに導通した状態となる。この際、ゼブラゴム３１には上方からプローブホルダー２７の下降に伴って圧縮状態となったコイルバネ３３ｂの付勢力（伸長力）が掛かっているため、ゼブラゴム３１は液晶表示パネル１と回路基板２に圧接した状態であり、これにより各電極端子パターン４、７間の確実な導通が成されている。
【００４３】
次に、２つのクランプ部３３が有する操作レバー３３ｄをそれぞれ下方に押し下げ、フロート状態にあるフロート機構３２の２本のフロート軸３２ａ上端部にクランプ部３３の押圧部３３ｅをそれぞれ当接させる。この押圧部３３ｅの当接力（押圧力）はフロート軸３２ａを介してその下端部のゼブラゴム３１に作用し、これによりゼブラゴム３１の液晶表示パネル１と回路基板２の各電極端子パターン４、７に対する圧接力が増大して各電極端子パターン４、７間の導通が更に確実なものとなる。
【００４４】
そして最後に、この状態で回路基板２を通じて液晶表示パネル１に電力を供給すると共に液晶表示パネル１の点灯操作を行って実際に液晶表示パネル１を点灯させる。その結果、もし液晶表示パネル１の表示状態に異常（表示不良、不点灯等）があれば、それはＬＣＤドライバーチップ５ａの実装状態に欠陥があると判断されて回路基板は不良となる。尚、表示状態の確認は目視や撮像装置等を用いた自動認識によればよい。
【００４５】
不良と判定された回路基板２は廃棄されることになるが、回路基板２にはＬＣＤドライバーチップ５ａのみが実装されており、その他の電子部品はダミー回路基板３０に実装されているため、この際廃棄されるのは回路基板２本体とそこに実装されたＬＣＤドライバーチップ５ａのみとなる。従って、液晶表示パネル１を始め、その他多くの正常な電子部品を回路基板２と共に廃棄することがなくなる。
【００４６】
検査終了後、次の検査に移る際には、まずクランプ部３３のクランプ動作を解除すると共に下降状態のプローブホルダー２７を上方に退避させて検査が終了した回路基板２を基板載置ステージ２２から取り外し、続いて新たな回路基板２を前回検査時と同様に基板載置ステージ２２上に位置決め固定する。この際、回路基板２と液晶表示パネル１とは、それぞれ基板載置ステージ２２の位置決めピン２２ａとパネル載置ステージ２４の前回検査時の位置決め位置によりお互いの位置再現性が確保されているので、回路基板２を検査毎に取り替えてもそれぞれの電極端子パターン４、７は常に一致する。そのため、検査毎に再度位置決めを行う必要がなく効率的に検査が行える。
【００４７】
以上、本発明による回路基板検査装置、並びにそれを用いた回路基板検査方法について説明したが、被検査対象である回路基板２に実装する電子部品は、必ずしも上記実施例で述べたＬＣＤドライバーチップ５ａに限定されるものではなく、その他の電子部品を実装したあらゆる実装段階の回路基板に対して導通検査を実施することが可能である。即ち、その際には所望の電子部品が実装された段階の回路基板を被検査対象物とし、そこに実装されている電子部品以外を予めダミー回路基板３０に実装しておけばよい。
【００４８】
また、本実施例ではプローブホルダー２７にプローブ２８とゼブラゴム３１とを共に保持させる構成としているが、それぞれを別の保持部材で保持するようにしても良い。更に、本実施例では液晶表示パネル１と回路基板２、ならびに回路基板２とダミー回路基板３０とを導通／非導通させる手段としてそれぞれゼブラゴム３１とプローブ２８を用いているが、導通状態と非導通状態とを切り替えられるものであればその他の手段を用いても構わない。また、第一スライド部と第二スライド部のスライド機構に関しては、所定のスライド動作が得られるのであれば、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内でどのような手段を用いても構わない。
【００４９】
尚、本発明は回路基板を被検査対象物とする回路基板の検査装置であるが、予め回路基板載置ステージに正常な動作が保証された回路基板を設置しておくことで、液晶表示パネルを被検査対象物とする液晶表示パネルの検査装置として利用することも可能である。
【００５０】
また、本明細書では表示パネルを液晶表示パネルとして説明しているが、当然これに限定されるものではなく、液晶表示パネルをＥＬディスプレイパネル等に置き換えて実施することも可能である。
【００５１】
即ち、本発明の要旨は、表示パネルと、それを駆動するための駆動回路が実装された所定の実装段階の駆動回路基板と、駆動回路基板に実装された電子部品以外の電子部品を実装したダミー回路基板とをそれぞれ別体として配置すると共に、それらを互いに導通させて表示パネルを点灯状態にし、その時点での表示パネルの表示状態に基づいて駆動回路基板の良否を判定することであり、それらの具体的な構成についてはその他種々の形態をとり得るものである。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明による回路基板検査装置の一実施例を示す図で、（ａ）上面図、（ｂ）正面図、（ｃ）側面図
【図２】本発明に係る回路検査装置の液晶表示パネル載置ステージ及び駆動回路基板載置ステージ上にそれぞれ液晶表示パネルと駆動回路基板を載置した状態を示す上面図
【図３】駆動回路基板の電極端子にゼブラゴムを当接させた状態を示す要部拡大正面図
【図４】液晶表示装置（完成品）の一例を示す上面図
【図５】回路基板を単体で導通検査する回路基板検査装置を示す模式図
【符号の説明】
【００５３】
１      液晶表示パネル
１ａ    パネル基板
１ｂ    パネル基板
１ｃ    オフセット部
１ｄ    表示エリア
２      駆動回路基板
２ａ    位置決め穴
３      ヒートシール
４      電極端子パターン
５      電子部品
５ａ    ＬＣＤドライバーチップ
６      電子部品実装用電極端子（実装用端子）
７      電極端子パターン
１１    液晶表示パネル
１２    ドライバ回路
１３    検査信号出力用プローブ
１４    電子部品
１５    駆動回路基板
１６    検査信号発生装置
１７    検査信号入力用プローブ
２１    ベース部
２１ａ  脚部
２２    駆動回路基板載置ステージ
２２ａ  位置決めピン
２３    第一スライド部
２４    液晶表示パネル載置ステージ
２５    スライド操作部
２６    第二スライド部
２７    プローブホルダー
２８    コンタクトプローブ
２９    ステー
３０    ダミー回路基板
３１    ゼブラゴム
３１ａ  絶縁性ゴム
３１ｂ  導電性ゴム
３２    フロート機構
３２ａ  フロート軸
３２ｂ  コイルバネ
３３    クランプ部
３３ａ  回動軸
３３ｂ  可動部
３３ｃ  連結軸
３３ｄ  操作レバー
３３ｅ  押圧部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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