(57)【要約】【課題】  本発明は、テストパターン発生装置に関し、例えばテレビジョン受像機、カラーモニタ、液晶表示パネル等の試験に適用して、複数のテストパターンを１画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができるようにする。【解決手段】  本発明は、複数のテストパターンの画像データをそれぞれ１ライン分記録してパターンデータメモリ５に保持し、垂直アドレスカウンタ２のカウント値に応じて選択データメモリ３から選択データＳＥＬ１を出力してこのパターンデータメモリ５に保持したテストパターンの画像データを選択出力するようにして、この選択データメモリ３に保持した選択データＳＥＬを書き換える。【選択図】        図１
2006222714.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
垂直同期信号によりカウント値をリセットし、水平同期信号をカウントする垂直アドレスカウンタと、
テストパターンを選択する選択データを保持し、前記垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて前記選択データを出力する選択データメモリと、
前記水平同期信号によりカウント値をリセットし、クロックをカウントする水平アドレスカウンタと、
複数のテストパターンの画像データをそれぞれ１ライン分記録して保持し、前記選択データにより特定されるテストパターンの画像データを前記水平アドレスカウンタのカウント値に応じて出力するパターンデータメモリと、
前記選択データメモリに記録した選択データを書き換える更新回路と
を備えることを特徴とするテストパターン発生装置。
【請求項２】
前記更新回路は、
前記選択データメモリに記録した選択データを作業用メモリにロードした後、前記作業用メモリにロードした選択データを書き換えて前記選択データメモリに記録し直し、
前記作業用メモリに前記選択データをロードした後、前記選択データメモリに記録し直す迄の間、
前記垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて前記作業用メモリより前記選択データを出力し、前記選択データメモリからの選択データに代えて、該作業用メモリより出力される選択データにより、前記パターンデータメモリから画像データを出力する
ことを特徴とする請求項１に記載のテストパターン発生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テストパターン発生装置に関し、例えばテレビジョン受像機、カラーモニタ、液晶表示パネル等の試験に適用することができる。本発明は、複数のテストパターンの画像データをそれぞれ１ライン分記録してパターンデータメモリに保持し、垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて選択データメモリから選択データを出力してこのパターンデータメモリに保持したテストパターンの画像データを選択出力するようにして、この選択データメモリに保持した選択データを書き換えることにより、複数のテストパターンを１画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができるようにする。
【背景技術】
【０００２】
従来、テレビジョン受像機、カラーモニタ、液晶表示パネル等の各種表示装置は、工場出荷時、例えば特開平６−１４３４９号公報等に開示のテストパターン発生装置に接続してグレースケール、カラーバー等の種々のテストパターンを表示し、これにより表示の特性を試験するようになされている。
【０００３】
このためテストパターン発生装置は、リードオンリメモリによる画像メモリにテストパターンの画像データを記録して保持し、この画像データを読み出して出力するようになされている。
【０００４】
ところでこの種の表示装置の試験では、例えば画面を上下に分割して１画面で複数のテストパターンを表示することにより、複数の試験を一度に実行して試験の効率を図る場合がある。このような１画面で複数のテストパターンを表示する場合にあっては、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を、試験対象に応じて種々に変更することが求められる。
【０００５】
しかしながら従来のテストパターン発生装置は、画像メモリに記録された固定パターンによる画像しか表示し得ず、これによりこのように複数のテストパターンを１画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することが困難な問題があった。
【特許文献１】特開平６−１４３４９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、複数のテストパターンを１画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができるテストパターン発生装置を提案しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
かかる課題を解決するため請求項１の発明においては、テストパターン発生装置に適用して、水平同期信号によりカウント値をリセットし、垂直同期信号をカウントする垂直アドレスカウンタと、テストパターンを選択する選択データを保持し、前記垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて前記選択データを出力する選択データメモリと、前記水平同期信号によりカウント値をリセットし、クロックをカウントする水平アドレスカウンタと、複数のテストパターンの画像データをそれぞれ１ライン分記録して保持し、前記選択データにより特定されるテストパターンの画像データを前記水平アドレスカウンタのカウント値に応じて出力するパターンデータメモリと、前記選択データメモリに記録した選択データを書き換える更新回路とを備えるようにする。
【０００８】
また請求項２の発明においては、請求項１の構成において、前記更新回路は、前記選択データメモリに記録した選択データを作業用メモリにロードした後、前記作業用メモリにロードした選択データを書き換えて前記選択データメモリに記録し直し、前記作業用メモリに前記選択データをロードした後、前記選択データメモリに記録し直す迄の間、前記垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて前記作業用メモリより前記選択データを出力し、前記選択データメモリからの選択データに代えて、該作業用メモリより出力される選択データにより、前記パターンデータメモリから画像データを出力する。
【０００９】
請求項１の構成により、テストパターン発生装置に適用して、垂直同期信号によりカウント値をリセットし、水平同期信号をカウントする垂直アドレスカウンタと、テストパターンを選択する選択データを保持し、前記垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて前記選択データを出力する選択データメモリと、前記水平同期信号によりカウント値をリセットし、クロックをカウントする水平アドレスカウンタと、複数のテストパターンの画像データをそれぞれ１ライン分記録して保持し、前記選択データにより特定されるテストパターンの画像データを前記水平アドレスカウンタのカウント値に応じて出力するパターンデータメモリと、前記選択データメモリに記録した選択データを書き換える更新回路とを備えるようにすれば、選択データメモリに記録した選択データの設定により複数のテストパターンを１画面で表示することができる。また必要に応じて更新回路により選択データメモリに記録した選択データを書き換えることにより、このように複数のテストパターンを１画面で表示するようにして、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができる。
【００１０】
また請求項２の構成により、請求項１の構成において、前記更新回路は、前記選択データメモリに記録した選択データを作業用メモリにロードした後、前記作業用メモリにロードした選択データを書き換えて前記選択データメモリに記録し直し、前記作業用メモリに前記選択データをロードした後、前記選択データメモリに記録し直す迄の間、前記垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて前記作業用メモリより前記選択データを出力し、前記選択データメモリからの選択データに代えて、該作業用メモリより出力される選択データにより、前記パターンデータメモリから画像データを出力すれば、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を確認しながら、これらを種々に変更することができ、その分、作業の能率を向上することができる。
【発明の効果】
【００１１】
本発明によれば、複数のテストパターンを１画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、適宜図面を参照しながら本発明の実施例を詳述する。
【実施例１】
【００１３】
（１）実施例の構成
図１は、本発明の実施例に係るテストパターン発生装置を示すブロック図である。このテストパターン発生装置１において、垂直アドレスカウンタ２は、局内同期信号の垂直同期信号によりカウント値をリセットし、この局内同期信号の水平同期信号をカウントする。
【００１４】
選択データメモリ３は、表示に供するテストパターンを選択する選択データＳＥＬを保持する書き換え可能なメモリであり、例えばフラッシュＲＯＭにより形成される。選択データメモリ３は、垂直アドレスカウンタ２のカウント値に応じて保持した選択データＳＥＬ１を出力する。
【００１５】
セレクタ４は、通常の動作モードにおいて、この選択データメモリ３から出力される選択データＳＥＬ１をパターンデータメモリ５に出力する。セレクタ４は、テストパターン更新回路６の制御により、テストパターンの更新モードでは、選択データメモリ３から出力される選択データＳＥＬ１に代えて、このテストパターン更新回路６から出力される選択データＳＥＬ２をパターンデータメモリ５に出力する。
【００１６】
水平アドレスカウンタ７は、局内同期信号の水平同期信号カウント値をリセットし、この局内同期信号のクロックをカウントする。
【００１７】
パターンデータメモリ５は、複数種類のテストパターンの画像データをそれぞれ１ライン分づつ保持するメモリであり、例えばフラッシュＲＯＭにより形成される。パターンデータメモリ５は、セレクタ４から出力される選択データＳＥＬにより選択されるテストパターンの画像データを、水平アドレスカウンタ７のカウント値に応じて順次出力する。
【００１８】
これによりこのテストパターン発生装置１では、通常の動作モードにおいては、選択データメモリ３に保持された選択データＳＥＬ１に応じて、所望するテストパターンを表示できるようになされ、例えば画面の上半分及び下半分でそれぞれパターンデータメモリ５に保持されたカラーバー、グレースケールの画像データを選択するように選択データＳＥＬ１を選択データメモリ３に設定して、これらカラーバー、グレースケールによる複数のテストパターンを１画面で表示することができるようになされている。
【００１９】
テストパターン更新回路６は、オペレータによる操作に応動して全体の動作モードを更新モードに切り換え、この選択データメモリ３に保持された選択データＳＥＬ１を更新する。
【００２０】
すなわちこのテストパターン更新回路６において、作業用メモリ１２は、書き込み、読み出しの速度の速い書き換え可能なメモリにより形成され、この実施例ではＤＰＲＡＭにより形成される。作業用メモリ１２は、垂直アドレスカウンタ２のカウント値に応じて保持した選択データＳＥＬ２を出力する。
【００２１】
コントローラ１１は、このテストパターン発生装置１全体の動作を制御する制御手段であり、オペレータによる操作に応動して全体の動作モードを更新モードに切り換え、選択データメモリ３に記録された選択データＳＥＬ１を更新する。
【００２２】
ここで図２は、この更新モードにおけるコントローラ１１の処理手順を示すフローチャートである。コントローラ１１は、動作モードを更新モードに切り換えると、この処理手順を開始し、ステップＳＰ１からステップＳＰ２に移る。ここでコントローラ１１は、選択データメモリ３に記録された選択データＳＥＬ１を作業用メモリ１２にロードした後、作業用メモリ１２の動作を立ち上げる。
【００２３】
また続くステップＳＰ３において、セレクタ４の設定を切り換え、これにより選択データメモリ３に記録された選択データＳＥＬ１に代えて、作業用メモリ１２に格納した選択データＳＥＬ２によりパターンデータメモリ５に保持された画像データを選択してテストパターンを表示する。
【００２４】
続いてコントローラ１１は、ステップＳＰ４に移り、ここでオペレータの操作に応じて作業用メモリ１２に格納した選択データＳＥＬ２を更新する。具体的に、オペレータにより、１つのテストパターンを画面全体で表示するように指示した場合、垂直アドレスカウンタ２から出力される全てのカウント値でこの１つのテストパターンの画像データを選択するように、選択データＳＥＬ２を設定する。また１画面の上半分、下半分でそれぞれ第１及び第２のテストパターンを表示するように指示した場合、垂直アドレスカウンタ２から出力されるカウント値により、１画面の上半分、下半分にそれぞれこれら第１及び第２のテストパターンの画像データを選択するように、選択データＳＥＬ２を設定する。またユーザーにより垂直方向に１画面を４当分した複数種類のテストパターンの表示が指示されると、同様にして、選択データＳＥＬ２を設定する。またこのような複数のテストパターンの表示に係る境界の変更が指示されると、この変更の指示に対応するように選択データＳＥＬ２を更新する。
【００２５】
コントローラ１１は、このようにして選択データＳＥＬ２を更新すると、ステップＳＰ５に移り、ここでオペレータにより更新モードの終了が指示されたか否か判断し、ここで否定結果が得られると、ステップＳＰ４に戻る。これに対してステップＳＰ５で肯定結果が得られると、ステップＳＰ５からステップＳＰ６に移り、作業用メモリ１２に記録された選択データを選択データメモリ３にアップロードし、これにより選択データメモリ３の内容を更新する。
【００２６】
また続くステップＳＰ７において、セレクタ４の設定を元の状態に戻し、ステップＳＰ８に移ってこの処理手順を終了する。
【００２７】
（２）実施例の動作
以上の構成において、このテストパターン発生装置１では、垂直アドレスカウンタ２により水平同期信号がカウントされ、このカウント値に応じて、選択データメモリ３からテストパターンを特定する選択データＳＥＬ１が出力される。また水平アドレスカウンタ７によりクロックがカウントされ、複数種類のテストパターンによる画像データを１ライン分づつ保持したパターンデータメモリ５から、選択データＳＥＬにより特定されるテストパターンの画像データが、水平アドレスカウンタ７のカウント値に応じて順次出力される。
【００２８】
これによりこのテストパターン発生装置１では、例えば１つのテストパターンを特定するように、垂直アドレスカウンタ２による全てのカウント値に対して選択データメモリ３の選択データＳＥＬ１を設定することにより、１画面で所望する１つのテストパターンを表示することができる。またこれに代えて画面の上半分と下半分とでそれぞれ第１及び第２のテストパターンを特定するように、垂直アドレスカウンタ２によるカウント値に対して選択データメモリ３の選択データＳＥＬ１を設定することにより、画面の上下でそれぞれ第１及び第２のテストパターンを表示することができ、さらには第１及び第２のテストパターンの境界を所望の箇所に設定することができる。
【００２９】
これによりこのテストパターン発生装置１では、オペレータにより動作モードが更新モードに切り換えられると、テストパターン更新回路６により、この選択データメモリ３に保持された選択データＳＥＬ１が書き換えられる。これによりこのテストパターン発生装置１では、複数のテストパターンを１画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができる。
【００３０】
テストパターン発生装置１では、この更新モードにおいて、選択データメモリ３に保持された選択データＳＥＬ１が、選択データメモリ３より動作速度の速い作業用メモリ１２に一旦ロードされ、この作業用メモリ１２上で選択データＳＥＬ１が更新された後、選択データメモリ３にアップロードされて更新される。またこれら一連の作業において、この作業用メモリ１２にロードされた選択データＳＥＬ２によりテストパターンを表示するように、セレクタ４によりパターンデータメモリ５の入力が切り換えられる。
【００３１】
これによりこのテストパターン発生装置１では、選択データの更新結果を表示装置により確認しながら、選択データを更新することができ、その分、選択データの更新に係る作業を効率良く実行することができる。
【００３２】
（３）実施例の効果
以上の構成によれば、複数のテストパターンの画像データをそれぞれ１ライン分記録してパターンデータメモリに保持し、垂直アドレスカウンタのカウント値に応じて選択データメモリから選択データを出力してこのパターンデータメモリに保持したテストパターンの画像データを選択出力するようにして、この選択データメモリに保持した選択データを書き換えることにより、複数のテストパターンを１画面で表示する場合に、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を種々に変更することができる。
【００３３】
またこの選択データの更新においては、選択データメモリに記録した選択データを作業用メモリにロードした後、この作業用メモリ上で選択データを書き換えて選択データメモリに記録し直すと共に、これらの処理の間、この作業用メモリの選択データによりテストパターンを表示するようにしたことにより、テストパターンの組み合わせ、画面の分割位置等を確認しながら、種々に選択データを変更することができ、その分、作業の能率を向上することができる。
【実施例２】
【００３４】
なお上述の実施例においては、選択データメモリに記録された選択データを作業用メモリにロードして更新することにより、更新結果をリアルタイムでモニタできるようにした場合について述べたが、本発明はこれに限らず、選択データメモリに動作速度の速いメモリを適用して、更新結果をリアルタイムでモニタしながら選択データメモリ上で直接更新するようにしてもよい。
【産業上の利用可能性】
【００３５】
本発明は、例えばテレビジョン受像機、カラーモニタ、液晶表示パネル等の試験に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００３６】
【図１】本発明の実施例に係るテストパターン発生装置を示すブロック図である。
【図２】図１のテストパターン発生装置のコントローラの処理手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００３７】
１……テストパターン発生装置、２……垂直アドレスカウンタ、３……選択データメモリ、４……セレクタ、５……パターンデータメモリ、６……テストパターン更新回路、７……水平アドレスカウンタ、１１……コントローラ、１２……作業用メモリ
【図１】
2006222714.tif 000003
【図２】
2006222714.tif 000004