(57)【要約】【課題】  記録と同時に補正を行うリアルタイム補正において、干渉が生じやすい信号の長さズレ量の検出に有効な手法を提供する。【解決手段】  符号識別器３２０によって、スライサ２１０から入力されたパルス列ＳＬ  ＲＦ−Ｓｕｂ’から特定のパルス長のみで構成された信号を生成し、ＴＶ変換器３２２によって、符号識別器３２０で生成された各信号のパルス長を電圧値に変換するとともに、該変換して得られた電圧値を符号ごとに累積し、その結果得られた電圧値を平均演算部３２４に出力する。平均演算部３２４は、各符号ごとに累積された電圧値を受信したパルス数で除算することによって各符号長さの平均値を求め、その結果得られた長さ情報をＣＰＵに出力する。【選択図】  図３３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、
前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、
前記再生して得られた信号から所定の符号のみを含む信号を生成する手段と、
前記所定符号のみを含む信号量を積算する手段と、
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項２】
前記積算結果を平均化する手段をさらに備えたことを特徴とする請求項１記載の光情報記録装置。
【請求項３】
複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、
前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、
前記再生して得られた信号から２値化された所定の符号のみを含むパルス信号を生成する手段と、
前記パルス信号に従って充電および／または放電を繰り返すことで、該パルス信号を電圧値に変換する手段と、
前記電圧値を前記パルス信号に含まれたパルス数で除算する手段と、
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項４】
複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、
前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、
前記再生して得られた信号から２値化された所定の符号のみを含むパルス信号を生成する手段と、
前記所定の符号に対応したパルス長よりも短く、該所定符号の中央部に配置された中抜きパルスを生成する手段と、
前記中抜きパルスを用いて前記パルス信号のエッジ部を抽出したエッジパルスを生成する手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項５】
複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、
前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、
前記再生して得られた信号から２値化された所定の符号のみを含むパルス信号を生成する手段と、
前記パルス信号のエッジ部を抽出したエッジパルスを生成する手段と、
前記エッジパルスに従って充電および／または放電を繰り返すことで、該エッジパルスを電圧値に変換する手段と、
前記電圧値を前記パルス信号に含まれたパルス数で除算する手段と、
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項６】
複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、
前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、
前記再生して得られた信号から所定の符号のみを含む信号を生成する手段と、
前記所定符号のみを含む信号量を積算する手段と、
前記積算結果を利用して前記メディアに形成されたピットおよび／またはスペースの長さを検出する手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項７】
複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、
前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、
前記再生して得られた信号から２値化された所定の符号のみを含むパルス信号を生成する手段と、
前記パルス信号のエッジ部を抽出したエッジパルスを生成する手段と、
前記エッジパルスに従って充電および／または放電を繰り返すことで、該エッジパルスを電圧値に変換する手段と、
前記電圧値を前記パルス信号に含まれたパルス数で除算することで前記メディアに形成されたピットおよび／またはスペースの長さずれ量を検出する手段と、
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
【請求項８】
前記エッジパルスを増幅する手段をさらに具備し、該増幅された信号を用いて前記エッジパルスの電圧変換を行うことを特徴とする請求項７記載の光情報記録装置。
【請求項９】
複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録方法において、
前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生するステップと、
前記再生して得られた信号から所定の符号のみを含む信号を生成するステップと、
前記所定符号のみを含む信号量を積算するステップと、
前記積算結果を利用して前記メディアに形成されたピットおよび／またはスペースの長さを検出するステップと
を具備することを特徴とする光情報記録方法。
【請求項１０】
複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録方法において、
前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生するステップと、
前記再生して得られた信号から２値化された所定の符号のみを含むパルス信号を生成するステップと、
前記パルス信号のエッジ部を抽出したエッジパルスを生成するステップと、
前記エッジパルスに従って充電および／または放電を繰り返すことで、該エッジパルスを電圧値に変換するステップと、
前記電圧値を前記パルス信号に含まれたパルス数で除算することで前記メディアに形成されたピットおよび／またはスペースの長さずれ量を検出するステップと、
を具備することを特徴とする光情報記録方法。
【請求項１１】
複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置に組み込まれる信号処理回路において、
前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、
前記再生して得られた信号から所定の符号のみを含む信号を生成する手段と、
前記所定符号のみを含む信号量を積算する手段と、
を具備することを特徴とする信号処理回路。
【請求項１２】
複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置に組み込まれる信号処理回路において、
前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、
前記再生して得られた信号から２値化された所定の符号のみを含むパルス信号を生成する手段と、
前記所定の符号に対応したパルス長よりも短く、該所定符号の中央部に配置された中抜きパルスを生成する手段と、
前記中抜きパルスを用いて前記パルス信号のエッジ部を抽出したエッジパルスを生成する手段と
を具備することを特徴とする信号処理回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、光情報記録装置および方法および信号処理回路に関し、特に、干渉が生じやすい信号の長さズレ量の検出に有効な光情報記録装置および方法および信号処理回路に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク等の光情報録媒体への情報記録は、記録データをＥＦＭ(Eight to Fourteen Modulation)方式や８−１６変調方式等で変調し、この変調信号に基づき記録パルスを形成し、この記録パルスに基づいてレーザ光の強度や照射タイミングを制御し、光ディスク上に記録ピットを形成することにより行われる。
【０００３】
ここで、記録ピットの形成は、レーザ光の照射により生ずる熱を利用して行われるため、記録パルスは、蓄熱効果や熱干渉等を考慮した設定が要求される。そこで、従来から、記録パルスを構成する各種パラメータの設定を光ディスクの種類ごとにストラテジという形で複数定義し、これらストラテジのうち当該記録環境に最適なものを選択して、光ディスクに対する記録を行っていた。
【０００４】
このストラテジは、例えば、ピックアップのスポット径ばらつき、機構精度ばらつき等の光情報記録装置の個体差に依存するだけでなく、記録再生に使用する光ディスクのメーカ種別および記録スピードにも依存するため、最適ストラテジを設定することが記録品位の向上になる。
【０００５】
このため、各メーカ種別に対応する光ディスクの最適ストラテジを求めて、これを各メーカ種別に対応して予めメモリに記憶し、光ディスクに対する情報の記録に際しては、光ディスクに記録されている光ディスクのメーカ種別を読み取り、この読み取ったメーカ種別に対応する最適ストラテジを上記メモリから読み出して使用する手法が提案されている。
【０００６】
しかし、上記手法によると、メモリに予め記憶されたメーカ種別の光ディスクに対しては最適記録が可能になるが、メモリに記憶されていないメーカ種別の光ディスクに対しては最適記録を行うことができず、また、メモリに予め記憶されたメーカ種別の光ディスクであっても記録スピードが異なると、この場合も最適記録を行うことができない。
【０００７】
そこで、下記の特許文献１乃至４に示されるように、記録条件毎に予めテスト記録を行い、このテスト記録に基づき最適ストラテジを決定することで各種光ディスクに対応できるようにした手法も多数提案されている。
【特許文献１】特開平５−１４４００１号公報
【特許文献２】特開平４−１３７２２４号公報
【特許文献３】特開平５−１４３９９９号公報
【特許文献４】特開平７−２３５０５６号公報  しかし、上記特許文献１乃至４に示された手法では、情報記録を開始する前にテスト記録を行う必要があるため、記録と同時にストラテジを補正することができず、内外周の最適条件が異なる場合への対応が困難である。
【０００８】
この課題、即ち、光ディスクは内周部から外周部にかけて若干記録特性が異なり、記録装置側でも内周部と外周部で記録速度が異なる場合があるため、記録品位に内外差が生じるという課題を解決する手法として、内外差をレーザ出力の調整によって緩和する技術が下記の特許文献に示されている。
【特許文献５】特開昭５３−０５０７０７号公報  この特許文献５には、補助ビームの光量変化を検出することによって自動的にレーザ出力の最適化を行う手法が開示されており、この種の手法はＯＰＣと称される。
【０００９】
上記のようなＯＰＣは、パワーを調整する手法であるため、アシンメトリ値等の統計的な指標で補正条件を求めることができるため、記録しながら補正を行うリアルタイム補正も可能であるが、パルス幅やパルスの位相条件を補正する場合は、記録パルスと光ディスク上に形成されたピットとのずれ量を検出する必要があるため、従来のＯＰＣでは対応が困難である。
【００１０】
よって、パルス条件のリアルタイム補正を行うためには、記録と同時にピットおよびスペースの位置や長さを検出する技術が必要になる。これに対する一つのアプローチとして、記録場所とほぼ同一場所を再生する技術が下記の特許文献６に開示されている。
【特許文献６】特開昭５１−１０９８５１号公報  しかし、この手法は、光磁気記録には適用可能であるが、磁気を用いない光記録に対しては適用が困難である。即ち、光磁気記録では、磁気の変調によって情報の記録が行われるため、レーザの出力は無変調になるが、光記録では、レーザの出力変調によって情報の記録が行われるため、この変調の影響が再生側に及ぶという課題が生じる。
【００１１】
この課題を解決する手法としては、下記文献に示された手法が知られている。
【特許文献７】特開平１−２８７８２５号公報
【特許文献８】特開平７−１２９９５６号公報
【特許文献９】特開２００４−２２０４４号公報
【特許文献１０】特開平９−１４７３６１号公報  特許文献７は、未記録エリア及び記録エリアに別個のビームを照射し、得られた別々の信号同士で除算することによって再生信号を取り出す技術であり、この手法によれば、情報の記録時にレーザの光強度変調による再生信号波形の崩れを補正することができる。
【００１２】
また、特許文献８は、変調を受けた出力をＡＧＣ（Ａｕｔｏ  Ｇａｉｎ  Ｃｏｎｔｒｏｌ）によって適宜増幅されたレーザ出力と逆相クロックで相殺することによって再生信号を得る技術である。
【００１３】
また、特許文献９は、記録パルスの波形変動に伴う再生信号の歪みを、当該記録パルスの波形変動に相当する信号を遅延反転等価回路により作成し相殺することによってキャンセルする技術である。
【００１４】
これら特許文献７乃至９に示された手法は、いずれも演算によって変調成分をキャンセルする技術であり、理論上は相殺可能と考えられるが、相殺の精度や演算速度の点で実用化には各種の課題が残る。
【００１５】
また、特許文献１０は、記録に用いられるパルスを遅延した遅延パルス、及び被変調信号を反転したゲート信号を用い、再生パルスと共に位相比較器に入れることによって、記録状態のずれをリアルタイムに検出する技術である。
【００１６】
しかし、この特許文献１０に開示された手法では、記録パルスがＯＦＦの時にピットの再生を行っているため、サブビームの出力が低い場合には、十分な品位の再生信号を得ることが困難である。特に、再生用のサブビームを記録用のメインビームから分岐して生成する構成においては、分岐比率が２０：１や３０：１になると、サブビームに十分な出力を割り当てることが困難となる。
【００１７】
即ち、特許文献１０の分岐比率は８：１であるが、記録速度の高速化に伴ってこの分岐比が大きくなる傾向にあり、また、記録パルスのＯＦＦ時のビーム出力は、通常１ｍＷ以下であるため、記録パルスＯＦＦ時に検出できる記録面反射光の強度は非常に小さくなってしまう。検出できる光の強度が弱くなると、回路ノイズ、メディアノイズ等の影響を受けやすくなるため、結果として良好な検出信号が得られなくなる。
【００１８】
一方で、光ディスク上に記録されたピットおよびスペースの長さを検出する方法としては、再生ＲＦ信号の積分値を利用する積分検出方式と、ＲＦ信号の１回微分値を利用する振幅検出方式と、ＲＦ信号の２回微分値を利用するピーク検出方式が知られている。
【００１９】
しかし、比較的波長の短いレーザ光を用いて再生動作を行う光記録装置においては、低密度記録された光メディアではスポットとピットの干渉が起きないため、ＲＦ信号の積分検出方式で長さ情報を検出することは困難である。
【００２０】
また、ＲＦ信号の１回微分値を利用する手法では、記録速度の変化に伴って記録パワーが変化すると、同じスライスレベルで２値化した信号は、同じ長さのピットおよびスペースを検出した結果であるにも拘わらず異なる長さとして検出される。この課題を解決するために、記録速度に応じてスライスレベルを変化させる手段も考えられるが記録速度ごとに適切なスライスレベルを設定することは困難である。
【００２１】
また、ＲＦ信号の２回微分値を利用するピーク検出方式としては、例えば下記特許文献に示された手法が知られている。
【特許文献１０】国際公開ＷＯ９６／２４１３０号公報  この特許文献１０に記載された手法は、光メディアの回転方向に対して光学的に垂直な分割線により区画された２つの領域を有する光ディテクタの差信号、いわゆるタンジェンシャルプッシュプル信号を微分することによって、ＲＦ信号を２回微分した値と等価の信号を生成し、この信号を利用することによってピットのエッジ位置の検出を可能としている。
【００２２】
しかし、この特許文献１０に記載された手法で、光密度型の光メディア、例えばＤＶＤクラスのメディアに記録されたピットおよびスペースの検出を行うと、干渉が生じ易い３Ｔや４Ｔといった短いピットおよびスペースのタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値に誤差が生じ、本来のピットおよびスペース長とは異なる値が検出される。
【００２３】
一方で、より高速での検出・補正が要求される記録システムでは、使用するＬＳＩの制限等によって望みのクロック周波数を確保することが困難であり、所望の検出精度が得られないという課題が生じる。
【００２４】
この課題を解決する手法として、例えば、下記特許文献に示されたように、複数のクロックをシフトさせて分解能を向上させる例が知られている。
【特許文献１１】特開平０７−２２９９７９号公報  しかし、近年の高密・高速の記録システムでは、この手法でも分解能が不足し、より高精度な検出手法が求められる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２５】
そこで、本発明は、干渉が生じやすい信号の長さズレ量の検出に有効な手法を提供するとともに、この手法を記録と同時に補正を行うリアルタイム補正に適用することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２６】
上記目的を達成するため、請求項１記載の発明は、複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、前記再生して得られた信号から所定の符号のみを含む信号を生成する手段と、前記所定符号のみを含む信号量を積算する手段とを具備することを特徴とする。
【００２７】
このように、特定の符号に関する信号を抽出し、これを積算することで、同種符号に関する再生情報の累積量が得られるため、所望回数の積算を繰り返せば、高密・高速の記録システムであっても望みの検出分解能を得ることができる。累積量の比較は、例えば、基準となる６Ｔパルスを１００回積算した電圧を基準とする等の手法が適用可能であり、望ましくは、この積算した値を平均化することで、１パルスあたりの平均量を求め、この値を基準とする。
【００２８】
ここで、複数種類の符号情報は、ＣＤシステムの場合は３Ｔ〜１１Ｔが該当し、ＤＶＤシステムの場合は３Ｔ〜１１Ｔおよび１４Ｔが該当し、Ｂｌｕ−ｒａｙシステムの場合は２Ｔ〜８Ｔが該当し、ＨＤ−ＤＶＤシステムの場合は２Ｔ〜１１Ｔが該当する。
【００２９】
また、請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、前記積算結果を平均化する手段をさらに備えたことを特徴とする。
【００３０】
また、請求項３記載の発明は、複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、前記再生して得られた信号から２値化された所定の符号のみを含むパルス信号を生成する手段と、前記パルス信号に従って充電および／または放電を繰り返すことで、該パルス信号を電圧値に変換する手段と、前記電圧値を前記パルス信号に含まれたパルス数で除算する手段とを具備することを特徴とする。
【００３１】
このように、特定の符号に関するパルスを抽出し、このパルスに基づいて充放電を行い、その結果得られた電圧値をパルス数で除することで、同種の符号に対するパルス長の平均値が得られるため、所望回数の積算を繰り返せば、高密・高速の記録システムであっても望みの検出分解能を得ることができる。
【００３２】
また、請求項４記載の発明は、複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、前記再生して得られた信号から２値化された所定の符号のみを含むパルス信号を生成する手段と、前記所定の符号に対応したパルス長よりも短く、該所定符号の中央部に配置された中抜きパルスを生成する手段と、前記中抜きパルスを用いて前記パルス信号のエッジ部を抽出したエッジパルスを生成する手段とを具備することを特徴とする。
【００３３】
このように、中抜きパルスを利用したエッジ抽出を行うことで、ずれ要素を多く含むパルスエッジ付近の信号を切り出すことができるため、ずれ量の検出能力を向上させることができる。
【００３４】
また、請求項５記載の発明は、複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、前記再生して得られた信号から２値化された所定の符号のみを含むパルス信号を生成する手段と、前記パルス信号のエッジ部を抽出したエッジパルスを生成する手段と、前記エッジパルスに従って充電および／または放電を繰り返すことで、該エッジパルスを電圧値に変換する手段と、前記電圧値を前記パルス信号に含まれたパルス数で除算する手段とを具備することを特徴とする。
【００３５】
このように、中抜きパルスを利用したエッジ抽出を行い、この抽出されたエッジ情報を用いて充放電を行うことで、ずれ要素を多く含むパルスエッジ付近の信号がアナログ的に積算されるため、ずれ量の検出能力と分解能の双方を向上させることができる。
【００３６】
また、請求項６記載の発明は、複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、前記再生して得られた信号から所定の符号のみを含む信号を生成する手段と、前記所定符号のみを含む信号量を積算する手段と、前記積算結果を利用することで前記メディアに形成されたピットおよび／またはスペースの長さを検出する手段とを具備することを特徴とする。
【００３７】
このように、特定の符号に関する信号を抽出し、これを積算することで、同種の符号に対する長さ量の平均値を得ることができるため、所望回数の積算を繰り返せば、高密・高速の記録システムであっても望みの検出分解能を得ることができる。
【００３８】
また、請求項７記載の発明は、複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置において、前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、前記再生して得られた信号から２値化された所定の符号のみを含むパルス信号を生成する手段と、前記パルス信号のエッジ部を抽出したエッジパルスを生成する手段と、前記エッジパルスに従って充電および／または放電を繰り返すことで、該エッジパルスを電圧値に変換する手段と、前記電圧値を前記パルス信号に含まれたパルス数で除算することで前記メディアに形成されたピットおよび／またはスペースの長さずれ量を検出する手段とを具備することを特徴とする。
【００３９】
このように、中抜きパルスを利用したエッジ抽出を行い、この抽出されたエッジ情報を用いて充放電を行うことで、ずれ要素を多く含むパルスエッジ付近の信号がアナログ的に積算されるため、ずれ量の検出能力と分解能の双方を向上させることができる。
【００４０】
また、請求項８記載の発明は、請求項７記載の発明において、前記エッジパルスを増幅する手段をさらに具備し、該増幅された信号を用いて前記エッジパルスの電圧変換を行うことを特徴とする。
【００４１】
このように、増幅されたエッジ信号を用いることで、該エッジ信号に含まれたずれ量も増幅されるため、検出能力が向上する。
【００４２】
また、請求項９記載の発明は、複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録方法において、前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生するステップと、前記再生して得られた信号から所定の符号のみを含む信号を生成するステップと、前記所定符号のみを含む信号量を積算するステップと、前記積算結果を利用することで前記メディアに形成されたピットおよび／またはスペースの長さを検出するステップとを具備することを特徴とする。
【００４３】
また、請求項１０記載の発明は、複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録方法において、前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生するステップと、前記再生して得られた信号から２値化された所定の符号のみを含むパルス信号を生成するステップと、前記パルス信号のエッジ部を抽出したエッジパルスを生成するステップと、前記エッジパルスに従って充電および／または放電を繰り返すことで、該エッジパルスを電圧値に変換するステップと、前記電圧値を前記パルス信号に含まれたパルス数で除算することで前記メディアに形成されたピットおよび／またはスペースの長さずれ量を検出するステップとを具備することを特徴とする。
【００４４】
また、請求項１１記載の発明は、複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置に組み込まれる信号処理回路において、前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、前記再生して得られた信号から所定の符号のみを含む信号を生成する手段と、前記所定符号のみを含む信号量を積算する手段とを具備することを特徴とする。
【００４５】
また、請求項１２記載の発明は、複数種類の符号情報を含む記録パルスに基づいてレーザ光の照射を行うことにより、光記録メディアにピットおよびスペースの形成を行う光情報記録装置に組み込まれる信号処理回路において、前記メディアに記録されたピットおよびスペースを再生する手段と、前記再生して得られた信号から２値化された所定の符号のみを含むパルス信号を生成する手段と、前記所定の符号に対応したパルス長よりも短く、該所定符号の中央部に配置された中抜きパルスを生成する手段と、前記中抜きパルスを用いて前記パルス信号のエッジ部を抽出したエッジパルスを生成する手段とを具備することを特徴とする。
【発明の効果】
【００４６】
以上説明したように、本発明によれば、干渉が生じやすい信号の長さズレを精度良く検出することができるため、より高精度なリアルタイム補正が可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４７】
以下、本発明に係る光情報記録装置について添付図面を参照して詳細に説明する。尚、本発明は、以下説明する実施形態に限らず適宜変更可能である。
【００４８】
図１は、本発明に係るドライブの内部構成を示すブロック図である。同図に示すように、このドライブ１００は、レーザダイオード１１０から出力されたレーザ光を用いて、光ディスク５００に対する情報の記録再生を行い、パーソナルコンピュータ６００等の外部装置との間でデータの送受信を行う。
【００４９】
光ディスク５００に対して情報の記録を行う場合は、パーソナルコンピュータ６００からインターフェース回路２１８を介して受信した記録データをＥＦＭエンコーダ／デコーダ２１６で符号化し、この符号化した記録データをＣＰＵ２１２で処理することで、当該光ディスク５００に対する記録条件となるストラテジを決定し、このストラテジをパルス生成回路３００で記録パルスに変換し、この記録パルスをＬＤドライバ１２４に出力する。
【００５０】
ＬＤドライバ１２４は、入力された記録パルスに基づいてレーザダイオード１１０を駆動し、レーザダイオード１１０は、この記録パルスに対応して出力レーザ光を制御し、この制御されたレーザ光をコリメータレンズ１１２、回折格子１１４、ハーフミラー１１６、対物レンズ１１８を介して、線速一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク５００に照射し、これにより光ディスク５００に、所望の記録データに対応したピット、スペース列からなる記録パターンが記録される。
【００５１】
一方、光ディスク５００上に記録された情報の再生を行う場合は、レーザダイオード１１０から再生レーザ光がコリメータレンズ１１２、回折格子１１４、ハーフミラー１１６、対物レンズ１１８を介して、光ディスク１０に照射される。
【００５２】
この時、再生レーザ光は、記録時のレーザ光よりも強度の低いレーザ光が用いられ、この再生レーザ光による光ディスク５００からの反射光が対物レンズ１１８、ハーフミラー１１６、受光レンズ１２０を介してディテクタ１２２で受光され、電気信号に変換される。
【００５３】
ディテクタ１２２から出力される電気信号は、光ディスク５００に記録されたピット、スペースからなる記録パターンに対応しており、この電気信号がスライサ２１０で２値化され、さらにＥＦＭエンコーダ／デコーダ２１６で、デコードされて再生信号として出力される。
【００５４】
図２は、図１に示したドライブ内に組み込まれるピックアップ部の構造を示す分解斜視図である。同図に示すように、レーザダイオード１１０と光ディスク５００の盤面との間に設けられた回折格子は、２枚の回折格子１１４−１、１１４−２で構成され、各回折格子には、方向の異なる溝１１５−１、１１５−２がそれぞれ形成される。
【００５５】
このように構成される回折格子にレーザ光２０が入射すると、第１の回折格子１１５−１で３つのレーザ光に分岐し、さらに、第２の回折格子１１５−２で３つのレーザ光に分岐して、５つのスポット２０Ａ〜２０Ｅが光ディスクの盤面に照射される。
【００５６】
図３は、光ディスクの盤面上に照射されたスポットの配置を示す平面図である。同図に示すように、光ディスク５００の盤面上には、記録用メインビーム２０Ａ、トラッキング用先行サブビーム２０Ｂ、トラッキング用後行サブビーム２０Ｃ、再生用先行サブビーム２０Ｄ、再生用後行サブビーム２０Ｅが照射される。
【００５７】
ここで、記録用メインビーム２０Ａは、光ディスク５００に形成されたグループ５０２−２上に照射され、このビームスポットの照射によって、グルーブ５０２−２内にピット５０６が形成される。この記録用メインビーム２０Ａは、ヒートモードによるピットの形成を可能とするために最も発光強度が高く設定される。
【００５８】
トラッキング用先行サブビーム２０Ｂは、メインビーム２０Ａが照射されたグルーブ５０２−２と隣接するランド５０４−３上に照射され、トラッキング用後行サブビーム２０Ｃは、メインビーム２０Ａが照射されたグルーブ５０２−２と隣接するランドであって、サブビーム２０Ｂが照射されたランドとは反対側のランド５０４−２に照射される。
【００５９】
再生用先行サブビーム２０Ｄは、メインビーム２０Ａが照射されたグルーブと同一のグルーブ５０２−２上であって、メインビーム２０Ａよりも先行した位置に照射され、再生用後行サブビーム２０Ｅは、メインビーム２０Ａが照射されたグルーブと同一のグルーブ５０２−２上であって、メインビーム２０Ａよりも後ろの位置に照射される。
【００６０】
各スポットをこのように配置することで、メインビーム２０Ａによって形成された記録パターン、即ち、ピット５０６とスペース５０８の組み合わせで構成される記録パターンを再生用後行サブビーム２０Ｅで検出することが可能になる。
【００６１】
図４は、光ディスクの盤面上に照射されるスポットとディテクタとの関係を示す概念図である。同図に示すように、図１に示したディテクタ１２２は、１２２Ａ〜１２２Ｅまでの５つの受光部で構成され、各受光部には、スポット２０Ａ〜２０Ｅに対応する反射光２２Ａ〜２２Ｅがそれぞれ照射され、電気信号に変換される。
【００６２】
図５は、記録パルスの形状と安定領域との関係を示す概念図である。同各図に示すように、図１に示したＬＤドライバ１２４から出力される記録パルスには、様々な形状があり、それぞれ、記録パルスのＯＮ状態を示す高出力領域５０と、ＯＦＦ状態を示す低出力領域５２と、ＯＮ状態であって変調が少ない定出力領域５４とを備える。
【００６３】
より具体的には、同図（ａ）は、ＯＮ状態で一定の出力となる記録パルスであり、同図（ｂ）は、先頭部と後続部で高さが異なる記録パルスであり、同図（ｃ）は、先頭部、中間部、後端部で高さが異なる記録パルスであり、同図（ｄ）は、先頭部に定出力部が形成された後、後続部で出力を数回変化させた記録パルスである。
【００６４】
本発明では、記録パルスがＯＮとなった状態で、再生信号を取り込むことを意図しているため、後述するゲート信号は、高出力領域５０に対応させて生成することが望ましいが、より望ましくは、変調の影響を受けにくい定出力領域５４に対応させて生成する。この定出力領域５４は、便宜上、高出力領域５０の中で最も安定した状態の長い区間と定義するが、安定状態が最も長い区間よりも短い安定領域であっても、定出力領域として使用することが可能である。尚、以後の説明では、同図（ｃ）のキャッスル型と称されるパルス形状を例に説明するが、本発明は、他の記録パルスにも適用可能である。
【００６５】
例えば、同図に示すような相変化型の光ディスクで用いられる記録パワーに適用する場合には、高出力と低出力との繰り返しにより相変化材料が急冷されてアモルファス（非結晶）状態となる高出力領域５０と、メインビームでサーボがかかる程度の０．７〜１ｍＷ程度のパワーが出力される低出力領域５２と、ゆっくり冷却されて結晶状態になる定出力領域５４とで構成される記録パルスのうち、消去パワーに相当する定出力領域５４に対応させてゲート信号を生成し、この定出力領域５４にサブビームで再生された信号を取り込む構成とすれば良い。
【００６６】
図６は、図１に示したパルス生成回路の内部構成を示す回路ブロック図である。同図に示すように、本パルス生成回路３００では、図１のＣＰＵ２１２から送出されたストラテジ条件ＳＤ１、ＳＤ２をパルスユニット生成回路３１０−１、３１０−２でそれぞれ受信し、クロック信号ＣＬＫに同期したパルス信号ＰＷ１、ＰＷ２を生成する。
【００６７】
ここで、ストラテジ条件ＳＤ１、ＳＤ２は、パルスのＯＮ期間とＯＦＦ期間の長さをクロック数で示した数値データとして定義されており、これらのデータを受けたパルスユニット生成回路３１０−１、３１０−２は、ドライブ内で生成されたクロック信号ＣＬＫを用いて、ストラテジ条件ＳＤ１、ＳＤ２が示す条件のパルス信号を生成する。
【００６８】
これらのパルス信号ＰＷ１、ＰＷ２は、図１のＬＤドライバ１２４に出力されるとともに、ＡＮＤ演算器３１６でパルス信号ＰＷ１の反転信号とパルス信号ＰＷ２との論理積が取られ、ゲート信号Ｇａｔｅとして図１のマスク回路４００に出力される。尚、パルス信号ＰＷ１の反転信号は、反転回路３１４によって生成される。
【００６９】
図７は、図６に示したゲート信号の生成概念を示すタイミングチャートである。同各図に示すように、記録パルスの定出力領域に対応したゲート信号は、記録パルスの構成要素となるパルス信号ＰＷ１、ＰＷ２を用いて生成される。即ち、同図（ｂ）および（ｃ）に示すように、パルス信号ＰＷ１、ＰＷ２は、同図（ａ）のクロック信号ＣＬＫと同期して生成され、このパルス信号ＰＷ１から、同図（ｄ）に示す反転信号が生成される。
【００７０】
そして、同図（ｃ）のパルス信号ＰＷ２と同図（ｄ）に示す反転信号とのレベルを同各図に示すように定義して論理積を取ると、同図（ｅ）に示すゲート信号が得られる。その結果、このようにして得られたゲート信号は、記録パルスの定出力領域に対応したものとなる。
【００７１】
図８は、図１に示したＬＤドライバの内部構成を示す回路図である。同図に示すように、ＬＤドライバ１２４は、抵抗Ｒ１、Ｒ２を用いた分圧回路と、これらの出力電圧を合成する合成器１２６とで構成され、パルス生成回路３００からのパルス信号ＰＷ１、ＰＷ２は、抵抗Ｒ１、Ｒ２を介して所定の出力レベルに増幅された後、合成器１２６にて論理和合成され、記録パルスＰＷＲが生成されて、図１のレーザダイオード１１０に出力される。
【００７２】
図９は、図１に示したマスク回路の内部構成を示す回路ブロック図である。同図に示すように、マスク回路４００は、２つのＡＮＤ演算器４１０−１、４１０−２で構成され、初段のＡＮＤ演算器４１０−１には、図１のパルス生成回路３００で生成されたゲート信号Ｇａｔｅと、図１のＣＰＵ２１２で生成されたフラグ信号Ｆｌａｇとが入力され、これらの論理積を取ったゲート信号Ｇａｔｅ’が後段のＡＮＤ演算器４１０−２に出力される。
【００７３】
ＡＮＤ演算器４１０−２は、このゲート信号Ｇａｔｅ’を用いて、図４のディテクタ１２２Ｅが出力する再生用後行サブビーム２０Ｅで再生されたＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂにマスクをかけ、ゲート信号Ｇａｔｅ’に対応した部分のＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂ’を抽出して、図１のスライサ２１０に出力する。その結果、記録パルスの定出力領域で再生されたＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂ’が選択的に抽出されるため、精度の高いピット検出が行われる。
【００７４】
そして、この検出されたピットの長さや位相情報に基づいて、図１のＣＰＵ２１２がストラテジの補正条件を算出し、パルス生成回路３００に出力するストラテジ条件に補正をかける。その結果、データの記録中に記録条件が補正されるリアルタイム補正が行われる。
【００７５】
図１０は、記録パルスとゲートパルスと再生信号との関係を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、記録パルスＰＷＲは、所定のデータパターンに対応してＯＮ／ＯＦＦが変化するパルスパターンとなる。ここで、最も長い無変調領域を有するピット１４Ｔの定出力領域５４をゲート信号として使用する場合を想定すると、図１のパルス回路３００で生成されるゲート信号Ｇａｔｅは、同図（ｂ）に示すタイミングで出力され、図１のＣＰＵ２１２で生成されるフラグ信号Ｆｌａｇは、同図（ｃ）に示すタイミングで出力され、図９のマスク回路４００内で生成されるゲート信号Ｇａｔｅ’は、同図（ｄ）に示すタイミングで出力され、このゲート信号Ｇａｔｅ’を用いて同図（ｅ）のＲＦ−Ｓｕｂ信号を抽出した結果が同図（ｆ）のＲＦ−Ｓｕｂ’信号となる。
【００７６】
このように、最終的に抽出された再生信号ＲＦ−Ｓｕｂ’は、記録パルスＰＷＲの定出力領域５４で再生された信号であるため、この信号を用いることで高精度なピットの検出が可能となり、ひいてはストラテジの正確な補正が可能となる。
【００７７】
図１１は、図１に示したＣＰＵが実行するフラグ信号の生成手法を示す概念図である。同図に示す例は、ピット１４Ｔの定出力領域内に存在するスペース４Ｔを選択的に検出する場合の例である。同図に示すように、ＣＰＵ２１２は、記録パルスのデータ長に対応する数値を順次メモリ２１４に蓄積し、ピット１４Ｔ（同図中、「Ｐ１４」と示す）の定出力領域内にスペース４Ｔ（同図中、「Ｌ４」と示す）が存在するデータを特定し、この特定したピット１４Ｔのデータにフラグを立てる。
【００７８】
ここで、記録用のメインビームと再生用のサブビームとの時間差をτと定義すると、ＣＰＵ２１２は、時間差τをクロック数で換算し、ピット１４Ｔからスペース４Ｔまでの間に存在するデータ長を時間差τと比較する。その結果、ピット１４Ｔから時間差τ離れた領域であって、かつ、このピット１４Ｔの定出力領域に相当する範囲内にスペース４Ｔのデータが存在していれば、当該ピット１４Ｔにフラグを立て、図１０に示したタイミングでフラグ信号Ｆｌａｇを出力する。
【００７９】
図１２は、記録用のメインビームと再生用のサブビームとの関係を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、記録用メインビームの出力は、ピットの形成に必要な高出力のパルスパターンとなり、このパルス照射によって光ディスク上に形成されたピットパターンは、同図（ｂ）に示すようになる。
【００８０】
一方、同図（ｃ）に示すように、再生用サブビームの出力は、記録用メインビームの出力パターンと同一のタイミングであって、記録用メインビームよりも分岐比率分だけ出力が縮小されたパルスパターンとなり、この再生用サブビームで再生されるピットパターンは、同図（ｄ）に示すように、記録中のピットから時間差τだけ遅れたパターンとなる。
【００８１】
従って、ピット１４Ｔの記録中に再生されたスペース４Ｔを検出する場合には、同図（ｅ）に示すように、記録パルスのパターンを時間差τだけ遅延させたパルスのスペース４Ｔと、記録パルスのピット１４Ｔの定出力領域とが重なる位置を特定すれば良いことになる。即ち、記録パルスのうち長いピットの定出力領域から第１のゲート信号を生成するとともに、記録パルスを時間差τだけ遅延させたパルスパターンのうち、検出対象とする短いピットまたはスペースに相当するパルスから第２のゲート信号を生成し、これら第１および第２のゲート信号を用いて、再生用サブビームから得られたＲＦ信号にマスクをかける構成が有用となる。
【００８２】
図１３は、記録パルスと、該記録パルスを遅延させたパルスと、ＲＦ信号との関係を示すタイミングチャートである。同各図に示すように、記録パルスＰＷＲを時間τだけ遅延させたパルスＰＷＲ’を生成し、記録パルスＰＷＲのピット１４Ｔの定出力領域内に、遅延パルスＰＷＲ’のスペース４Ｔが含まれる部分をゲート信号Ｇａｔｅ’とすれば、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを選択的に検出することが可能になり、その結果、ピットの長さズレや位相ズレを正確に検出することができる。
【００８３】
図１４は、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の例を示したブロック図である。同図は、図１のＥＦＭエンコーダ／デコーダ２１６により、メインビームが１４Ｔピットを記録する間にサブビーム下に存在する４Ｔスペースを検出する場合の構成例である。
【００８４】
このように構成する場合、ＥＦＭエンコーダ／デコーダ２１６は、同図に示すように、図１のスライサ２１０から入力された８ビットの２値化信号を一旦バッファ２５０−１に蓄積し、このバッファから出力された８ビットデータを変換テーブル２５２に従って１６ビットのデータに変換してバッファ２５０−２に出力する。このとき、遅延器２５４による時間Ｔの遅延操作が一変換ごとに行われる。
【００８５】
バッファ２５０−２に蓄積されたデータは、カウンタ２５６に出力され、パルス長ｎＴ（ｎ＝３〜１４）を示すデータとして、図１に示すＣＰＵ２１２を経て、パルス生成回路３００に出力され、該当する記録パルスが生成される。
【００８６】
図１５は、図１４に示したカウンタ２５６と図１のパルス生成回路３００との関係を示すブロック図である。同図に示すように、カウンタ２５６は、バッファ２５０−２からパルス生成回路３００に向けて流れるデータストリームの中から、１４Ｔピットに相当するビット列を特定する１４Ｔデコーダ２５８と、４Ｔスペースに相当するビット列特定する４Ｔデコーダ２５９とを具備する。
【００８７】
図１６は、図１４に示したバッファ２５０−２がビット列を蓄積する際の例を示す概念図である。同図（ｃ）に示すように、バッファ２５０−２には、同図（ａ）に示すクロック信号と同期した形でピットまたはスペースの長さを示すデータが格納される。
【００８８】
例えば、３Ｔの長さは、「１００」で表現し、４Ｔの長さは「１０００」で表現し、５Ｔの長さは「１００００」で表現し、１４Ｔの長さは「１０００００００００００００」で表現する。
【００８９】
よって、同図（ｂ）に示すようなパルスが入力された場合には、バッファ２５０−２に格納されるビット列は、同図（ｃ）に示すように、４Ｔスペースに相当する部分が「１０００」となり、１４Ｔピットに相当する部分が「１０００００００００００００」となり、各々のパルス幅がビット数で表現された形式で蓄積される。
【００９０】
ここで、記録用のメインビームと再生用のサブビームとの間隔が３００ビットに相当する場合には、同図（ｃ）に示すように、バッファ２５０−２に蓄積されたビット列の中から、現在記録中の１４Ｔピットの位置を特定し、該１４Ｔピットから３００ビット離れた位置に４Ｔスペースのビット列があるか否かを判定する。
【００９１】
その結果、４Ｔスペースのビット列があった場合には、メインビームによる１４Ｔピットの記録中に、サブビームによって４Ｔスペースを検出することができるタイミングと判断し、このタイミングで得られた信号を用いてリアルタイム補正の条件を決定する。
【００９２】
図１７は、１４Ｔピットの記録中に検出対象となる４Ｔスペースのバリエーションを示す概念図である。同図（ａ）に示すように、１４Ｔピットの記録パルスが高出力の３Ｔパルスと、安定出力の９Ｔパルスと、高出力の２Ｔパルスとで構成される場合には、安定出力領域内に収まる４Ｔスペースが検出対象となる。
【００９３】
よって、１４Ｔパルスの中央部に出現した４Ｔスペースを抽出することが最も望ましいが、これでは出現確率が低くなるため、４Ｔスペースの両端が１４Ｔピットの安定出力領域をはみ出さない場合も抽出対象となるようにカウンタ回路を設けておく。
【００９４】
例えば、同図（ａ）に示した１４Ｔピットのパルスから、同図（ｂ）に示したゲート信号を生成し、このゲート信号の中に収まる同図（ｃ）のハッチで示した４Ｔスペースが特定できるデータパターンを用意しておき、このデータパターンに合致するビット列を抽出する。
【００９５】
図１８は、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の別の例を示したブロック図である。同図に示す例は、ある時間内で発生するパルス数を基準として、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースが存在するか否かを判定する例である。
【００９６】
同図に示した回路ブロックでは、スライサ２１０から出力された２値化信号ＳＬ  ＲＦ−Ｓｕｂ’を反転回路４２０−１を介してＡＮＤ演算器４２２に入力するとともに、図１のパルス生成回路３００から出力されるゲート信号ＧａｔｅをＡＮＤ演算器４２２に入力する。
【００９７】
ＡＮＤ演算器４２２は、これら入力された信号の論理積をカウンタ４２４のセット端子に出力し、この信号を受けたカウンタ４２４は、反転回路４２０−２で反転されたゲート信号が示す区間内に生じたパルス数を計数し、その結果を判定信号Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ  Ｅｎａｂｌｅとして、図１のＣＰＵ２１２に出力する。尚、反転回路４２０−２で反転されたゲート信号は、カウンタ４２４のリセット信号として使用される。
【００９８】
ＣＰＵ２１２は、この判定信号が示すパルス数が所定の数以上、例えば２回以上発生されたかを基準に１４Ｔピットの記録中に４Ｔスペースが存在するか否かを判定し、存在すると判定した場合に当該４Ｔスペースから得られた信号の取り込みを行う。
【００９９】
図１９は、図１８に示した回路ブロックの処理例を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、スライサ２１０に入力された信号ＲＦ−Ｓｕｂ’は、あるレベルで２値化されて、同図（ｂ）に示すようなパルス信号ＳＬ  ＲＦ−Ｓｕｂ’が生成される。
【０１００】
そして、図１に示したパルス生成回路３００にて同図（ｃ）および（ｄ）に示す信号から生成された同図（ｅ）に示すゲート信号Ｇａｔｅと、反転回路４２０−１にて生成された同図（ｆ）に示す反転信号との論理積が取られることで、同図（ｇ）に示す判定信号Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ  Ｅｎａｂｌｅが生成される。
【０１０１】
図２０は、図１８の回路ブロックにより生成された判定信号の判定基準を示す概念図である。同各図に示すように、この例では、同図（ａ）の区間内に２回以上のパルスをカウントした場合に、１４Ｔピットの記録中に１４Ｔの安定領域を示すゲート信号Ｇａｔｅ内に収まるスペース、例えば、３Ｔ〜７Ｔのスペースが存在すると判定され、この４Ｔスペースから得られた信号の取り込みが行われる。
【０１０２】
よって、同図（ｂ）に示すように、ゲート信号内にパルスが２回カウント出来た場合は、１４Ｔピットの記録中に１４Ｔの安定領域を示すゲート信号Ｇａｔｅ内に収まるスペース、例えば、３Ｔ〜７Ｔのスペースが存在すると判定され、この４Ｔスペースから得られた信号が取り込まれる。他方、同図（ｃ）および（ｄ）に示すように、１回しかカウントできなかった場合は、１４Ｔピットの記録中に４Ｔスペースが存在しないと判定され、信号の取り込みは行われない。
【０１０３】
図２１は、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の別の例を示したブロック図である。同図に示す例は、ゲート信号内で発生したパルスの長さを測定することで、長いピットの記録中に短いピットまたはスペースが存在するか否かを判定する例である。
【０１０４】
同図に示した回路ブロックでは、ＡＮＤ演算器４２２により、スライサ２１０から出力された２値化信号ＳＬ  ＲＦ−Ｓｕｂ’と、図１のパルス生成回路３００から出力されたゲート信号Ｇａｔｅと、クロック信号ＣＬＫとの論理積が取られ、計数可能な信号Ｃｏｕｎｔａｂｌｅ  Ｐｕｌｓｅとしてカウンタ４２４のセット端子に入力され、カウンタ４２４によって当該信号の長さが計数される。尚、このカウンタには、リセットパルス生成回路４２６が生成したリセットパルスが入力される。
【０１０５】
図２２は、図２１に示した回路ブロックの処理例を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、スライサ２１０に入力された信号ＲＦ−Ｓｕｂ’は、あるレベルで２値化されて、同図（ｂ）に示すようなパルス信号ＳＬ  ＲＦ−Ｓｕｂ’が生成される。
【０１０６】
そして、図１に示したパルス生成回路３００にて生成された同図（ｃ）に示すゲート信号Ｇａｔｅと、同図（ｄ）に示すクロック信号ＣＬＫとの論理積が取られることで、同図（ｅ）に示す計数可能な信号Ｃｏｕｎｔａｂｌｅ  Ｐｕｌｓｅが生成される。尚、ここで取り上げたクロック信号は、「１Ｔ＝１周期」とした場合の例を用いて説明したが、より高速のクロック、例えば、「１Ｔ＝４０周期」のクロックを用いて長さ検出の分解能を向上させても良い。
【０１０７】
図２３は、図２１に示したリセットパルス生成回路４２６の処理例を示すタイミングチャートである。同図に示すように、リセットパルス生成回路４２６は、同図（ａ）に示すクロック信号ＣＬＫを２回に１回カウントして同図（ｂ）に示す中間信号ＣＬＫ／２を生成し、さらに、この中間信号ＣＬＫ／２を２回に１回カウントして同図（ｃ）に示す中間信号ＣＬＫ／４を生成する。
【０１０８】
そして、同図（ｄ）に示すように、同図（ｃ）の２回目の立ち上りに同期させて立ち上がり、ゲート信号Ｇａｔｅ相当の長さを走査したときに立ち下がるリセット信号Ｒｅｓｅｔを生成する。このリセット信号が図２１に示したカウンタ４２４のリセット端子に入力されることで、カウンタの計数結果がリセットされる。
【０１０９】
尚、同図（ａ）に示すクロック信号として「１Ｔ＝４０周期」の信号を用いる場合であって、ゲート信号Ｇａｔｅが９Ｔ相当の幅を有するときは、クロック信号を３６０回カウントしたときに同図（ｄ）に示すリセット信号Ｒｅｓｅｔが立ち下がり、カウンタ４２４がリセットされる。
【０１１０】
同様に、同図（ａ）に示すクロック信号として「１Ｔ＝２．５周期」の信号を用いる場合であって、ゲート信号Ｇａｔｅが９Ｔ相当の幅を有するときは、クロック信号を２２．５回カウントしたときに同図（ｄ）に示すリセット信号Ｒｅｓｅｔが立ち下がり、カウンタ４２４がリセットされる。ただし、「１Ｔ＝２．５周期」のようにクロック信号の周期が単位長Ｔの整数倍でない場合は、「２Ｔ＝５周期」のように整数倍として扱われる。
【０１１１】
図２４は、図１に示したマスク回路の別の構成例を示す回路ブロック図である。同図に示すマスク回路は、タンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐを利用して長さ検出を行う場合の例である。
【０１１２】
同図に示すように、このマスク回路４００は、４つの分割領域を備えたディテクタ１２２からの信号を用いてタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐを生成するタンジェンシャルプッシュプル信号生成回路４３０と、このタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐの振幅を一定にするＶＧＡ回路４３２（ＶＧＡ：Ｖｏｌｕｍｅ  Ｇａｉｎ  Ａｍｐ）と、タンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐを微分する微分回路４３４と、タンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐの微分値とゲート信号Ｇａｔｅとの論理積を取るＡＮＤ演算器４２２とで構成される。
【０１１３】
ここで、タンジェンシャルプッシュプル信号生成回路４３０は、ディタクタ１２２の分割領域を同図に示すように光メディアの回転接線方向Ｔａｎとの関係でＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄとした場合に、回転方向の前方に位置するＡおよびＢから得られた信号の合計と、回転方向の後方に位置するＣおよびＤから得られた信号の合計との差を求め、この差信号をタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐとして出力する。この関係を式で記述すると、同図に示すように、「Ｔｐｐ＝（Ａ＋Ｂ）−（Ｃ＋Ｄ）」となる。
【０１１４】
ＶＧＡ回路４３２は、上記タンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐの振幅を一定化させた信号Ｔｐｐ−Ｓｕｂを生成し、この信号を受けた微分回路４３４は、該Ｔｐｐ−Ｓｕｂ信号を微分してΔ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）信号を生成する。
【０１１５】
ＡＮＤ演算器４２２は、上記Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）信号とゲート信号Ｇａｔｅとの論理積を取ることで、記録パルスの光出力安定領域に相当する信号Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）を抽出し、スライサ２１０がこのΔ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）信号をゼロレベルでスライスしてＳＬ  Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）信号を生成する。
【０１１６】
図２５は、図２４に示した回路の動作を示す第１のタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、図２４に示したディテクタが検出したＲＦ信号は、符号Ｘ１．０で示した１倍速記録の信号と符号Ｘ１．５で示した１．５倍速記録の信号とで、それぞれ振幅とゼロ点が異なる波形となる。
【０１１７】
また、図２４に示したＶＧＡ回路４３２が出力するタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐ−Ｓｕｂは、同図（ｂ）に示すように、符号Ｘ１．０で示した１倍速記録の信号と符号Ｘ１．５で示した１．５倍速記録の信号とで、振幅は異なるがゼロ点が一致した波形となる。このタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐ−Ｓｕｂのゼロ点は、同図（ａ）に示したＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂのピーク位置に相当する。
【０１１８】
また、図２４に示した微分回路４３４が出力するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）は、同図（ｃ）に示すように、符号Ｘ１．０で示した１倍速記録の信号と符号Ｘ１．５で示した１．５倍速記録の信号とで、振幅は異なるがゼロ点が一致した波形となる。このタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）のゼロ点は、同図（ｂ）に示したタンジェンシャルプッシュプル信号Ｔｐｐ−Ｓｕｂのピーク位置に相当し、同図（ａ）に示したＲＦ信号ＲＦ−Ｓｕｂの傾きが最大点となる位置に相当する。
【０１１９】
図２６は、図２４に示した回路の動作を示す第２のタイミングチャートである。同図（ａ）は、図２４に示した微分回路４３４が出力するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）を示す図であり、この微分値は、同図（ｂ）に示すゲート信号Ｇａｔｅでマスクされ、同図（ｃ）に示すように、タンジェンシャルプッシュプル信号の微分値Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ）がゲート信号Ｇａｔｅで切り出された信号Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）となる。
【０１２０】
そして、図２４に示したスライス回路２１０によって、信号Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）のゼロクロス点が抽出され、同図（ｄ）に示すようなパルス信号ＳＬ  Δ（Ｔｐｐ−Ｓｕｂ’）が生成される。このパルス信号が前述した記録用パルスの高出力安定期間内に存在する短いピットまたはスペース信号となり、前述の例では４Ｔスペースの検出信号となる。
【０１２１】
以上説明したタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を利用して、ピットまたはスペースの長さを検出する構成により、リアルタイムで長さのズレを検出し、このズレを補正しながら記録を行う。
【０１２２】
ここで、前述したように、単にタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を利用するだけでは、３Ｔや４Ｔといった短い信号の干渉が生じ、正確な長さを検出することができない。
【０１２３】
そこで、本実施形態では、予めテスト領域へのテスト記録により、補正基準とするタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を求めておき、記録領域への本記録の際には、記録用レーザ光で記録したピットまたはスペースを再生用レーザ光で再生し、得られた再生信号からタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を求め、この記録領域で求めた微分値とテスト領域で求めた微分値との差異を長さズレ量とみなして、このズレ量の補正に適した記録条件を設定する。
【０１２４】
図２７は、テスト領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値と実際の物理長との関係を示すグラフである。同図（ａ）に示すように、例えば３Ｔ〜８Ｔの長さを有するピットをテスト記録によりテスト領域内に形成すると、各ピット長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得ることができ、この微分値から各ピット長の長さを予測することができる。ここで、比較的長い５Ｔ〜８Ｔピットについては、図中の点線で示す本来の物理長に相当する長さが得られるが、干渉が生じ易い３Ｔ、４Ｔピットについては、本来の物理長とは異なる長さとして検出される。
【０１２５】
同様に、同図（ｂ）に示すように、例えば３Ｔ〜８Ｔの長さを有するスペースをテスト記録により形成すると、各スペース長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得ることができ、この微分値から各スペース長の長さを予測することができる。ここで、比較的長い５Ｔ〜８Ｔスペースについては、図中の点線で示す本来の物理長に相当する長さが得られるが、干渉が生じ易い３Ｔ、４Ｔスペースについては、本来の物理長とは異なる長さとして検出される。
【０１２６】
よって、同図（ａ）に示した各ピット長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を補正基準とするか、同図（ｂ）に示した各スペース長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を補正基準とすることで、干渉の影響を回避することができる。
【０１２７】
図２８は、記録領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値とテスト領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値との関係を示すグラフである。同図（ａ）に示すように、例えば３Ｔ〜８Ｔの長さを有するピットパターンを記録用レーザ光により記録領域内に記録しつつ再生用レーザ光により再生すると、図中に黒丸で示した各ピット長に対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値が得られ、この微分値をテスト記録で得た図中に白丸で示す微分値に合わせる補正を行うことで、本来の物理長に適合したピットおよびスペースから成る記録パターンを形成することができる。
【０１２８】
同様に、同図（ｂ）に示すように、例えば３Ｔ〜８Ｔの長さを有するスペースパターンを記録用レーザ光により記録領域内に記録しつつ再生用レーザ光により再生すると、図中に黒丸で示した各スペースに対するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値が得られ、この微分値をテスト記録で得た図中に白丸で示す微分値に合わせる補正を行うことで、本来の物理長に適合したピットおよびスペースから成る記録パターンを形成することができる。
【０１２９】
図２９は、テスト領域内のタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得るために行うテスト記録の一例を示した概念図である。同図に示すように、記録パルスの前位相ズレ、後位相ズレ、熱干渉に対する影響の検査が可能なパターンを用いたテスト記録によって、各ピットまたはスペース長ごとにＲＦ長ａ０１〜ａ１５およびタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値ｂ０１〜ｂ１５を求め、これらを所定の記憶領域に格納しておく。
【０１３０】
図３０は、記録領域内のタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得るために行うテスト記録の一例を示した概念図である。同図に示すように、記録領域に形成されたピットおよびスペースのパターンから記録パルスの前位相ズレ、後位相ズレ、熱干渉に対する影響の検査が可能なパターンを抽出することによって、各ピットまたはスペース長ごとにタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値ｃ０１〜ｃ１５および図２９に示したテスト記録で得たタンジェンシャルプッシュプル信号との差分ｄ０１〜ｄ１５を求め、これらを所定の記憶領域に格納する。
【０１３１】
図３１は、  図３０に示したタンジェンシャルプッシュプル信号の差分を用いて記録パルスの補正を行う例を示した概念図である。同各図に示すように、同図（ａ）に示す記録データを光ディスク上に記録する場合には、各ピット長ごとに最適な補正値が適用されたストラテジが設定される。例えば、３Ｔピットを記録する場合には、同図（ｂ）に示すように、図３０に示した記憶データの前位相ズレ３Ｔピットの前端補正値Ｔｔｏｐを読み出すとともに、３Ｔピットの後端補正値Ｔｌａｓｔを読み出して、記録パルスの前端および後端を当該ＴｔｏｐおよびＴｌａｓｔで補正する。
【０１３２】
また、４Ｔピット以上を補正する場合は、同図（ｃ）〜（ｆ）に示すように、ＴｔｏｐおよびＴｌａｓｔに加えて、該当ピット長の安定領域の高さＰＷＤを加えてパルス形状の補正を行う。
【０１３３】
図３２は、図１に示したマスク回路の別の構成例を示す回路ブロック図である。同図に示すマスク回路は、ＲＦ信号の２回微分値を利用して長さ検出を行う場合の例である。
【０１３４】
同図に示すように、このマスク回路４００は、４つの分割領域を備えたディテクタ１２２からの信号を用いてＲＦ信号を生成するＲＦ信号生成回路４３６と、このＲＦ信号の振幅を一定にするＶＧＡ回路４３２と、ＲＦ信号を２回微分する微分回路４３４−１および４３４−２と、該２回微分値とゲート信号Ｇａｔｅとの論理積を取るＡＮＤ演算器４２２とで構成される。
【０１３５】
ここで、ＲＦ信号生成回路４３６は、ディタクタ１２２の分割領域Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄから得られた信号の合計をＲＦ信号Ｔｐｐとして出力する。この関係を式で記述すると、同図に示すように、「ＲＦ＝（Ａ＋Ｂ）＋（Ｃ＋Ｄ）」となる。
【０１３６】
ＶＧＡ回路４３２は、上記ＲＦ信号の振幅を一定化させた信号ＲＦ−Ｓｕｂを生成し、この信号を受けた微分回路４３４−１は、該ＲＦ−Ｓｕｂ信号を微分してΔＲＦ−Ｓｕｂ信号を生成し、微分回路４３４−２が該ΔＲＦ−Ｓｕｂ信号を微分してΔΔＲＦ−Ｓｕｂ信号を生成する。
【０１３７】
ＡＮＤ演算器４２２は、上記ΔΔＲＦ−Ｓｕｂ信号とゲート信号Ｇａｔｅとの論理積を取ることで、記録パルスの光出力安定領域に相当する信号ΔΔＲＦ−Ｓｕｂ’を抽出し、スライサ２１０がこのΔΔＲＦ−Ｓｕｂ’信号をゼロレベルでスライスしてＳＬ  ΔΔＲＦ−Ｓｕｂ’信号を生成する。
【０１３８】
図３３は、ピットおよびスペースの長さを検出する別の実施形態を示す回路ブロック図である。同図に示す例は、２値化された信号を符号の種類ごとにＴＶ変換し、得られた電圧を累積、平均化することによって、高精度な長さ検出を行う手法である。尚、ＴＶ変換については、特開平０５−２２５５６８号公報にも構成例が示されており、同文献に記載された内容は、参照記載として本明細書に組み込まれるものとする。
【０１３９】
同図において、符号識別器３２０は、スライサ２１０から入力されたパルス列ＳＬ  ＲＦ−Ｓｕｂ’から特定のパルス長のみで構成された信号、例えば３Ｔパルスのみで構成された３Ｔ−Ｐ信号、４Ｔパルスのみで構成された４Ｔ−Ｐ信号、５Ｔパルスのみで構成された５Ｔ−Ｐ信号を生成する。
【０１４０】
ＴＶ変換器３２２−１〜３２２−３は、符号識別器３２０で生成された各信号のパルス長を電圧値に変換するとともに、該変換して得られた電圧値を符号ごとに累積し、その結果得られた電圧値３Ｔ−Ｖ〜５Ｔ−Ｖを平均演算部３２４に出力する。
【０１４１】
平均演算部３２４は、各符号ごとに累積された電圧値を受信したパルス数で除算することによって各符号長さの平均値を求め、その結果得られた長さ情報３Ｔ  Ｌｅｎｇｔｈ、４Ｔ  Ｌｅｎｇｔｈ、５Ｔ  Ｌｅｎｇｔｈを図１に示すＣＰＵ２１２に出力するとともに、リセット信号を各ＴＶ変換器３２２−１〜３２２−３に出力する。
【０１４２】
線速補正部３２６は、ＣＰＵ２１２から指定された記録速度に応じて、各符号ごとの線速補正量Ｌｖ３Ｔ、Ｌｖ４Ｔ、Ｌｖ５Ｔを求め、これらを各ＴＶ変換器３２２−１〜３２２−３に出力する。
【０１４３】
図３４は、図３３に示した符号識別器の動作を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、各種の符号を含むパルス列ＳＬ  ＲＦ−Ｓｕｂ’がスライサ２１０から入力されると、符号識別器３２０は、同図（ｂ）〜（ｄ）に示すように、各符号長のみを抽出したパルス列３Ｔ−Ｐ、４Ｔ−Ｐ、５Ｔ−Ｐを生成する。
【０１４４】
図３５は、図３３に示したＴＶ変換器の構成を示す回路図である。同図に示すＴＶ変換器３２２は、図３３に示した３Ｔ符号用のＴＶ変換器３２２−１の構成例であるが、他の符号についても同様に構成される。このＴＶ変換器３２２は、入力されたパルス長に応じて充電と放電をそれぞれ行い、これらの差分を取ることでパルス長を電圧値に変換する。以下、各要素ごとに説明を加える。
【０１４５】
放電型ＴＶ変換回路３３０は、定電流源Ｉ１、充電用コンデンサＣ１、オフセット電源Ｖ１、スイッチＳＷ１−１およびＳＷ１−２で構成され、図３３に示した平均演算部３２４からのリセット信号が入力されると、ＳＷ１−１がクローズしてコンデンサＣ１がフル充電される。
【０１４６】
ここで、図３３に示した符号識別器３２０からパルス３Ｔ−Ｐが入力されると、このパルス長に応じてスイッチＳＷ１−２がクローズし、コンデンサＣ１に充電された電荷が放電され、パルスのＯＮ期間に相当する分だけコンデンサＣ１の出力電圧が低下する。
【０１４７】
一方、図３３に示した線速補正部３２６から線速補正量Ｌｖ３Ｔが入力されると、オフセット電圧Ｖ１が変化し、この補正量の分だけ放電型ＴＶ変換回路３３０の出力電圧が変化する。
【０１４８】
充電型ＴＶ変換回路３３２は、定電流源Ｉ２、充電用コンデンサＣ２、オフセット電源Ｖ２、スイッチＳＷ２−１およびＳＷ２−２で構成され、図３３に示した平均演算部３２４からのリセット信号が入力されると、ＳＷ２−２がクローズしてコンデンサＣ１がフル放電される。
【０１４９】
ここで、図３３に示した符号識別器３２０からパルス３Ｔ−Ｐが入力されると、このパルス長に応じてスイッチＳＷ２−１がクローズし、コンデンサＣ２に電荷が充電され、パルスのＯＮ期間に相当する分だけコンデンサＣ２の出力電圧が増加する。
【０１５０】
一方、図３３に示した線速補正部３２６から線速補正量Ｌｖ３Ｔが入力されると、オフセット電圧Ｖ２が変化し、この補正量の分だけ充電ＴＶ変換回路３３２の出力電圧が変化する。
【０１５１】
ボルテイジフォロワ３３４−１および３３４−２は、それぞれ放電型ＴＶ変換回路３３０および充電型ＴＶ変換回路３３２の出力電圧をバッファする。ここで、フル充電時の放電型ＴＶ変換回路３３０の出力が３Ｖ、３Ｔ−Ｐパルスによって充放電される量が０．７８Ｖである場合には、ボルテイジフォロワ３４４−１の出力ａ１は、３Ｖ−０．７８Ｖ＝２．２２Ｖになり、ボルテイジフォロワ３４４−２の出力ａ２は、０．７８Ｖになる。
【０１５２】
加算器３３６−１および３３６−２は、ボルテイジフォロワ３４４−１および３４４−２の出力にそれぞれ−Ｖｃｃ／２およびＶｃｃ／２を加算する。ここで、ボルテイジフォロワ３４４−１および３４４−２の出力がそれぞれ、２．２２Ｖおよび０．７８Ｖである場合には、加算器３３６−１の出力ｂ１は、２．２２Ｖ−１．５Ｖ＝０．７２Ｖになり、加算器３３６−２の出力ｂ２は、０．７８Ｖ＋１．５Ｖ＝２．２８Ｖになる。
【０１５３】
差動検出回路３３８は、加算器３６６−１の出力と加算器３６６−２の出力との差分演算を行い、電圧値３Ｔ−Ｖを出力する。加算器３６６−１および３６６−２の出力がそれぞれ０．７２Ｖおよび２．２８Ｖである場合には、差動検出回路３３８の出力ｃは、２．２８Ｖ−０．７２Ｖ＝１．５６Ｖになる。尚、この差動検出回路３３８の出力電圧、即ちパルス長の変動分を含む電圧値を増幅する構成としても良い。
【０１５４】
図３６は、図３５に示した放電型ＴＶ変換回路３３０と、充電型ＴＶ変換回路３３２の出力電圧の変化例を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すようなタイミングで３Ｔパルスが入力された場合には、放電型ＴＶ変換回路３３０は、同図（ｂ）に示すように、パルスの立上りに同期して放電を繰り返し、充電型ＴＶ変換回路３３２は、同図（ｃ）に示すように、パルスの立上りに同期して充電を繰り返す。
【０１５５】
このように、パルスが入力されるたびに放電および充電が行われることにより、複数パルスの合計長が電圧値として積算された情報を得ることができる。このように積算された電圧値を入力されたパルス数で除算すれば、１パルスの平均長を求めることができ、この平均長を当該パルスの基準長と比較すれば、ずれ量の平均値を求めることができるため、このすれ量に基づく記録条件のリアルタイム補正を行うことができる。
【０１５６】
尚、上述した例では、スライスされたＲＦ信号をＴＶ変換する構成例を説明したが、タンジェンシャルプッシュプル信号やこの微分値をＴＶ変換する構成としても良い。
【０１５７】
図３７は、ピットおよびスペースの長さを検出する別の実施形態を示す回路ブロック図である。本実施形態は、ずれ量の影響が最も大きく出るパルスエッジ部分を選択的に抽出し検出能力を向上させる場合の例である。
【０１５８】
同図に示した回路ブロックでは、スライサ２１０から出力された２値化信号ＳＬ  ＲＦ−Ｓｕｂ’と、図１のパルス生成回路３００から出力されるゲート信号ＧａｔｅとがＡＮＤ演算器４２２に入力される。ＡＮＤ演算器４２２は、これら入力された信号の論理積をＥＸＯＲ演算器４４０に出力する。
【０１５９】
ＥＸＯＲ演算器４４０は、ＡＮＤ演算器４２２の出力と、検出対象符号に対応したパルスの中央部分に相当するパルスとの排他的論理和を取り、その結果を増幅器４２２に出力する。同図に示す例は、検出対象符号が６Ｔである場合の例であり、図中「６Ｔ  ｍｉｄｄｌｅ」と付記された信号が６Ｔパルスの中央部に相当する中抜きパルスである。この中央部に相当する中抜きパルスは、記録パルスパターン列から６Ｔに該当する部分を抽出し、この抽出した６Ｔパルスの両エッジから１〜２Ｔ分だけ均等に縮小することで形成できる。
【０１６０】
ＥＸＯＲ演算器４４０の出力は、６Ｔパルスのエッジ部分が取り出されたパルスとなり、このパルスは増幅器４４２によってｋ倍され、６Ｔ検出用のＴＶ変換器３２２に出力されて、アナログ的に積算される。
【０１６１】
図３８は、図３７に示した回路ブロックの処理例を示すタイミングチャートである。同図（ａ）に示すように、スライサ２１０に入力された信号ＲＦ−Ｓｕｂ’は、あるレベルで２値化されて、同図（ｂ）に示すようなパルス信号ＳＬ  ＲＦ−Ｓｕｂ’が生成される。
【０１６２】
そして、図１に示したパルス生成回路３００にて生成された同図（ｃ）に示すゲート信号Ｇａｔｅとの論理積が取られて、検出対象となる６Ｔ部分が抽出され、その後、同図（ｄ）に示す６Ｔの中央部に相当する中抜きパルス６Ｔ  Ｍｉｄｄｌｅとの排他的論理和が取られて、同図（ｅ）に示すエッジ信号６Ｔ  Ｅｄｇｅが生成される。
【０１６３】
最後に、同図（ｆ）に示すように、この６Ｔ  Ｅｄｇｅ信号が図３７に示した増幅器４２２によって増幅されたエッジ信号が生成される。このエッジ信号は、検出対象となる６Ｔパルスの両エッジ部分Δを取り出した信号となり、ずれ量の要素を多く含むため、このエッジ信号をＴＶ変換することで、検出能力を向上させることができる。
【産業上の利用可能性】
【０１６４】
本発明によれば、より高精度なリアルタイム補正が可能になるため、光ディスクの内外周で記録条件が変化する記録環境への適用が期待される。
【図面の簡単な説明】
【０１６５】
【図１】本発明に係るドライブの内部構成を示すブロック図である。
【図２】図１に示したドライブ内に組み込まれるピックアップ部の構造を示す分解斜視図である。
【図３】光ディスクの盤面上に照射されたスポットの配置を示す平面図である。
【図４】光ディスクの盤面上に照射されるスポットとディテクタとの関係を示す概念図である。
【図５】記録パルスの形状と安定領域との関係を示す概念図である。
【図６】図１に示したパルス生成回路の内部構成を示す回路ブロック図である。
【図７】図６に示したゲート信号の生成概念を示すタイミングチャートである。
【図８】図１に示したＬＤドライバの内部構成を示す回路図である。
【図９】図１に示したマスク回路の内部構成を示す回路ブロック図である。
【図１０】記録パルスとゲートパルスと再生信号との関係を示すタイミングチャートである。
【図１１】図１に示したＣＰＵが実行するフラグ信号の生成手法を示す概念図である。
【図１２】記録用のメインビームと再生用のサブビームとの関係を示すタイミングチャートである。
【図１３】記録パルスと、該記録パルスを遅延させたパルスと、ＲＦ信号との関係を示すタイミングチャートである。
【図１４】長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の例を示したブロック図である。
【図１５】図１４に示したカウンタ２５６と図１のパルス生成回路３００との関係を示すブロック図である。
【図１６】図１４に示したバッファ２５０−２がビット列を蓄積する際の例を示す概念図である。
【図１７】１４Ｔピットの記録中に検出対象となる４Ｔスペースのバリエーションを示す概念図である。
【図１８】長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の別の例を示したブロック図である。
【図１９】図１８に示した回路ブロックの処理例を示すタイミングチャートである。
【図２０】図１８の回路ブロックにより生成された判定信号の判定基準を示す概念図である。
【図２１】長いピットの記録中に短いピットまたはスペースを検出する手法の別の例を示したブロック図である。
【図２２】図２１に示した回路ブロックの処理例を示すタイミングチャートである。
【図２３】図２１に示したリセットパルス生成回路４２６の処理例を示すタイミングチャートである。
【図２４】図１に示したマスク回路の別の構成例を示す回路ブロック図である。
【図２５】図２４に示した回路の動作を示す第１のタイミングチャートである。
【図２６】図２４に示した回路の動作を示す第２のタイミングチャートである。
【図２７】テスト領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値と実際の物理長との関係を示すグラフである。
【図２８】記録領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値と記録領域で求めたピットおよびスペースに関するタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値との関係を示すグラフである。
【図２９】テスト領域内のタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得るために行うテスト記録の一例を示した概念図である。
【図３０】記録領域内のタンジェンシャルプッシュプル信号の微分値を得るために行うテスト記録の一例を示した概念図である。
【図３１】図３０に示したタンジェンシャルプッシュプル信号の差分を用いて記録パルスの補正を行う例を示した概念図である。
【図３２】図１に示したマスク回路の別の構成例を示す回路ブロック図である。
【図３３】ピットおよびスペースの長さを検出する別の実施形態を示す回路ブロック図である。
【図３４】図３３に示した符号識別器の動作を示すタイミングチャートである。
【図３５】図３３に示したＴＶ変換器の構成を示す回路図である。
【図３６】図３５に示した放電型ＴＶ変換回路３３０と、充電型ＴＶ変換回路３３２の出力電圧の変化例を示すタイミングチャートである。
【図３７】ピットおよびスペースの長さを検出する別の実施形態を示す回路ブロック図である。
【図３８】図３７に示した回路ブロックの処理例を示すタイミングチャートである。
【符号の説明】
【０１６６】
２０…レーザ光、２０Ａ…記録用メインビーム、２０Ｂ…トラッキング用先行サブビーム、２０Ｃ…トラッキング用後行サブビーム、２０Ｄ…再生用先行サブビーム、２０Ｅ…再生用後行サブビーム、２２…反射光、５０…高出力領域、５２…低出力領域、５４…定出力領域、１００…ドライブ、１１０…レーザダイオード、１１２…コリメータレンズ、１１４…回折格子、１１５…溝、１１６…ハーフミラー、１１８…対物レンズ、１２０…受光レンズ、１２２…ディテクタ、１２４…ＬＤドライバ、１２６…合成器、２１０…スライサ、２１２…ＣＰＵ、２１４…メモリ、２１６…ＥＦＭエンコーダ／デコーダ、２１８…インターフェース回路、２５０…バッファ、２５２…変換テーブル、２５４…遅延器、２５６…カウンタ、２５８…１４Ｔデコーダ、２５９…４Ｔデコーダ、３００…パルス生成回路、３１０…パルスユニット生成回路、３１４…反転回路、３１６…ＡＮＤ演算器、３２０…符号識別器、３２２…ＴＶ変換器、３２４…平均演算部、３２６…線速補正部、３３０…放電型ＴＶ変換回路、３３２…充電型ＴＶ変換回路、３３４…ボルテイジフォロワ、３３６…加算器、３３８…差動検出回路、４００…マスク回路、４１０…ＡＮＤ演算器、４２０…反転回路、４２２…ＡＮＤ演算器、４２４…カウンタ、４２６…リセットパルス生成回路、４３０…タンジェンシャルプッシュプル信号生成回路、４３２…ＶＧＡ回路、４３４…微分回路、４３６…ＲＦ信号生成回路、４４０…ＥＸＯＲ演算器、４４２…増幅器、５００…光ディスク、５０２…グループ、５０４…ランド、５０６…ピット、５０８…スペース、６００…パーソナルコンピュータ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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【図２３】
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【図２４】
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【図２５】
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【図２６】
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【図２７】
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【図２８】
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【図２９】
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【図３０】
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【図３１】
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【図３２】
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【図３３】
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【図３４】
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【図３５】
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【図３６】
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【図３７】
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【図３８】
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