(57)【要約】【課題】  各光ディスクに適したライトストラテジ情報を全て保持しておく必要が無く、予め最適のライトストラテジ情報が判明していない光ディスクに対しても最適な記録が行えるようにした光記録方法及び光記録装置を得る。【解決手段】  相変化型記録媒体において、光ディスク１６０に記録されたライトストラテジ推奨値のパルス幅推奨値と、パワー比率の推奨値と、記録パワーの推奨値と、光記録装置の特性に基づいて、記録に用いるパワー比率と変調度の値を決定し、決定されたパワー比率と変調度の値に基づいて光ディスク１６０に対する記録を行う。【選択図】        図１３
2006066068.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ライトストラテジ推奨値に含まれるパワー比率推奨値及び記録パワー推奨値が記録された相変化型光記録媒体から、前記ライトストラテジのパワー比率推奨値及び記録パワー推奨値を読み取る読み取り工程と、
読み取られたライトストラテジ推奨値のパワー比率推奨値及び記録パワー推奨値と、記録に用いられる光記録装置の光ピックアップの光学系の特性とに基づいて、記録に用いるべきパワー比率の値と、変調度の値を求める決定工程と、
求められたパワー比率の値と変調度の値を用いて、前記光記録装置により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程とを有する光記録方法。
【請求項２】
前記決定が、記録に用いられる光記録装置について予め定められている計算式を用いた演算により行われることを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
【請求項３】
パワー比率の値と変調度の目標値について、実験により再生ジッタが最小となるパワー比率の値と変調度の値を求め、前記実験により求められたパワー比率の値と変調度の値が算出結果又はそれに近似する値となるような計算式を生成しておき、
生成された計算式を、前記決定工程における演算に用いることを特徴とする請求項２に記載の光記録方法。
【請求項４】
前記読み取り工程が、前記ライトストラテジ推奨値のマルチパルスのパルス幅をも読み取り、
記録速度が１倍速において、前記パワー比率の値を求める計算式が、
ε１＝ＫＥ１×（ＰＷ１×εＰ１×ＴＭＰ１）＋ＣＥ１
（ε１は、記録するために用いられるパワー比率の値、
ＰＷ１は、記録パワー推奨値、
εＰ１は、パワー比率の推奨値、
ＴＭＰ１は、ライトストラテジ推奨値のマルチパルスのパルス幅、
ＫＥ１、ＣＥ１は、パワー比率の値の決定のための定数）
で表されることを特徴とする請求項２又は３に記載の光記録方法。
【請求項５】
前記読み取り工程が、前記ライトストラテジ推奨値のマルチパルスのパルス幅及びクーリングパルスのパルス幅と、最短マークを記録するためのライトストラテジ推奨値の先頭パルス幅をも読み取り、
記録速度が１倍速において、前記変調度の値を求める計算式が、
ＭＯＤ１＝ＫＭＯＤ１×（ＴＭＰ１×ＴＣＰ１／１ＴＰ１）＋ＣＭＯＤ１
（ＭＯＤ１は、記録するために用いられる変調度の値、
ＴＭＰ１は、ライトストラテジ推奨値のマルチパルスのパルス幅、
ＴＣＰ１は、ライトストラテジ推奨値のクーリングパルスのパルス幅、
１ＴＰ１は、最短マークを記録するためのライトストラテジ推奨値の先頭パルス幅、
ＫＭＯＤ１、ＣＭＯＤ１は変調度の値の決定のための定数）
で表されることを特徴とする請求項２又は３に記載の光記録方法。
【請求項６】
前記読み取り工程が、最短マークを記録するためのライトストラテジ推奨値の先頭パルス幅をも読み取り、
記録速度が２倍速において、前記パワー比率の値を求める計算式が、
ε２＝ＫＥ２×（ＰＷ２＾２×εＰ２／１ＴＰ２）＋ＣＥ２
（ε２は、記録するために用いられるパワー比率の値、
ＰＷ２は、記録パワー推奨値、
εＰ２は、パワー比率の推奨値、
１ＴＰ２は、最短マークを記録するためのライトストラテジ推奨値の先頭パルス幅、
ＫＥ２、ＣＥ２は、パワー比率の値の決定のための定数）
で表されることを特徴とする請求項２又は３に記載の光記録方法。
【請求項７】
前記読み取り工程が、最短マークを記録するためのライトストラテジ推奨値の先頭パルス幅をも読み取り、
記録速度が２倍速において、前記変調度の値を求める計算式が、
ＭＯＤ２＝ＫＭＯＤ２×（１ＴＰ２×ＰＷ２）＾２
＋ＫＭＯＤ３×（１ＴＰ２×ＰＷ２）＋ＣＭＯＤ２
（ＭＯＤ２は、記録するために用いられる変調度の値、
１ＴＰ２は、最短マークを記録するためのライトストラテジ推奨値の先頭パルス幅、
ＰＷ２は、記録パワー推奨値、
ＫＭＯＤ２、ＫＭＯＤ３、ＣＭＯＤ２は変調度の値の決定のための定数）
で表されることを特徴とする請求項２又は３に記載の光記録方法。
【請求項８】
記録再生のための光学系を有する光ピックアップを備え、
ライトストラテジ推奨値に含まれるパワー比率推奨値及び記録パワー推奨値が記録された相変化型光記録媒体から、前記ライトストラテジ推奨値のパワー比率推奨値と記録パワー推奨値を読み取る読み取り手段と、
読み取られたライトストラテジ推奨値のパワー比率推奨値と、記録パワー推奨値と、記録に用いられる光記録装置の光ピックアップの光学系の特性とに基づいて、記録に用いるべきパワー比率の値と、変調度の値を求める決定手段と、
求められたパワー比率の値と変調度の値を用いて、前記光記録装置により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み手段とを有する光記録装置。
【請求項９】
前記決定が、記録に用いられる光記録装置について予め定められている計算式を用いた演算により行われることを特徴とする請求項８に記載の光記録装置。
【請求項１０】
パワー比率の値と変調度の目標値について、実験により再生ジッタが最小となるパワー比率の値と変調度の値を求め、前記実験により求められたパワー比率の値と変調度の値が算出結果又はそれに近似する値となるような計算式を生成しておき、
生成された計算式を、前記決定手段における演算に用いることを特徴とする請求項９に記載の光記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光記録媒体に対して情報の記録を行うための光記録方法及び光記録装置に係わるもので、特に記録時に用いるライトストラテジを決定する方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の光記録装置の例として、光ディスクへの書込み時のライトストラテジの制御を行うストラテジ部を備えた記録再生部と、前記ストラテジ部を動作させるストラテジ情報を記録したストラテジ情報記録部を備え、ストラテジ情報記録部に記録装置の装置情報および光ディスクの媒体情報に対応したストラテジ情報を記録させ、装置情報および媒体情報に対応するストラテジ情報をストラテジ情報記録部より読み出して媒体情報と共に記録装置に転送するようにしたものがある。この装置においてはさらに、ストラテジ記録部に標準ストラテジ情報を記録し、記録装置より転送された装置情報および媒体情報に対応するストラテジ情報がストラテジ情報記録部に記録されていない場合は標準ストラテジ情報を読み出して記録装置に転送するようにしていた（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
【特許文献１】特開２００２−５６５３１号公報（第１−９貢、第１−１５図）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記の従来の光記録装置では、装置情報および媒体情報に対応した多くのストラテジ情報を予め調査した上で光記録装置内に保持しておく必要があり多大な労力が必要であるとともに、多くのメモリ等の記憶装置が必要であった。また、記録装置に装置情報および媒体情報に対応するストラテジ情報が記録されていない場合は標準ストラテジ情報を使用するため、光ディスクおよび光ピックアップの光学条件によっては、記録条件の不整合等により正しく記録出来ない記録媒体が存在する問題点があった。
【０００５】
本発明は、上述の課題を解消するためになされたもので、第１の目的は各光ディスクに適したストラテジ情報を全て保持しておく必要が無く、大容量の記憶装置を必要としない光記録方法及び光記録装置を得ることである。
また、第２の目的は予め最適なストラテジ情報が判明していない光ディスクに対しても最適な記録が行えるようにした光記録方法及び光記録装置を得ることである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明は、ライトストラテジ推奨値に含まれるパワー比率推奨値及び記録パワー推奨値が記録された相変化型光記録媒体から、前記ライトストラテジのパワー比率推奨値及び記録パワー推奨値を読み取る読み取り工程と、読み取られたライトストラテジ推奨値のパワー比率推奨値及び記録パワー推奨値と、記録に用いられる光記録装置の光ピックアップの光学系の特性とに基づいて、記録に用いるべきパワー比率の値と、変調度の値を求める決定工程と、求められたパワー比率の値と変調度の値を用いて、前記光記録装置により、前記光記録媒体への書き込みを行う書き込み工程とを有する光記録方法を提供する。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、光記録媒体に記録されたライトストラテジ推奨値に対して、記録に用いられる光記録装置の光ピックアップの光学系の特性に応じた適切なライトストラテジの決定を行うことができ、最適のライトストラテジを用いて記録を行うことができる。
しかも、事前に全ての光記録媒体について適切なライトストラテジを実験的に求めて記憶しておく必要がなく、労力やコストを節約することができ、また大容量のメモリを必要としないという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
本発明の記録方法及び記録装置は、ライトストラテジ推奨値、あるいは記録条件推奨値が予め記録された光ディスクへの記録を行うものである。ライトストラテジ推奨値、あるいは記録条件推奨値は、当該光ディスクの記録に用いるのに適したライトストラテジ、あるいは記録条件を表すものであり、例えばプリピットの形で、光ディスクの所定の領域、例えば、リードイン領域に記録されている。
【０００９】
例えば、光ディスクが、情報を記録する溝からなるグルーブ部（図示しない）と、溝と溝の間のランド部（図示しない）から構成されており、記録媒体メーカが設定したライトストラテジ推奨値（これには推奨記録パワーが含まれる）が推奨アシンメトリ値などの記録条件とともにランド部に記録されている。
【００１０】
ライトストラテジ推奨値は、所定の条件で記録することを想定したものである。従って、記録条件が異なれば、ライトストラテジ推奨値とは異なるライトストラテジで記録を行うのが望ましい。本発明は、光ディスクから読み取られたライトストラテジ推奨値又は記録条件推奨値と、記録に用いられる光記録装置の光ピックアップの光学系の特性とに基づいて、ライトストラテジを決定し、決定したライトストラテジを用いて記録を行う。
【００１１】
実施の形態１．
以下、この発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。
以下に説明する実施の形態における光記録方法は、マークエッジ記録（ＰＷＭ記録）を行うものである。そして、光ディスク上に記録すべきデータに基づき、半導体レーザをマルチパルス発光させて、記録マークを形成することにより情報の記録をおこなっている。
即ち、以下の実施の形態で用いられるライトストラテジは、マルチパルス型のものであり、マーク期間中に１つ以上のパルスを有する。そして、このようなマルチパルス型のライトストラテジにおいて、以下に説明する実施の形態では、パルス幅を光記録装置の光ピックアップの光学系の特性に応じて変更することとしている。
さらにまた、以下に説明する実施の形態では、光ディスクへの情報の記録が、ＥＦＭ＋変調の３Ｔ〜１１Ｔ及び１４Ｔ（Ｔはチャネルクロック周期）のマークに対応したパターンの光パルスを光ディスクに照射することにより行われるものとする。
なお、最長マーク（長さ１４Ｔのマーク）は、シンクパターンである。
【００１２】
図１は本発明の実施の形態１に係る光記録装置１００の基本的な構成例を示す図である。図１において、レーザ光源としての半導体レーザ１１０はレーザ駆動部１２０により駆動制御されている。
【００１３】
データ再生時においては、半導体レーザ１１０から出射された、データ再生に必要な出力値（再生パワー）を有するレーザ光がコリメートレンズ１３０とビームスプリッタ１４０と対物レンズ１５０とを介して光ディスク１６０に集光照射される。光ディスク１６０からの反射光は、対物レンズ１５０を通った後にビームスプリッタ１４０により入射光と分離され、検出レンズ１７０を介して受光素子１８０で受光される。
上記のうち、半導体レーザ１１０と、コリメートレンズ１３０と、ビームスプリッタ１４０と、対物レンズ１５０、検出レンズ１７０とで光学系が構成され、この光学系と受光素子１８０とで光ピックアップが構成されている。
受光素子１８０は光信号を電気信号に変換する。受光素子１８０において変換された電気信号は、ヘッドアンプ１９０を介してデータデコーダ２００とプリピット検出部２１０とアシンメトリ検出部２２０とに入力される。データデコーダ２００は、入力された電気信号に復調やエラー訂正などの処理を行うことにより、光ディスク１６０に記録されたデータを生成（再生）する。
またプリピット検出部２１０は、入力された電気信号から、光ディスク１６０に記録すべきライトストラテジの推奨値であるライトストラテジ推奨値等の情報を含むプリピット情報を検出する。
【００１４】
アシンメトリ検出部２２０は、入力された電気信号をＡＣ（交流）カップリングし、ＡＣカップリングされた電気信号のピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２を検出する。検出したピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２から、以下の式（１）を用いて、アシンメトリ値βを算出する。
β＝（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）・・・（１）
ここで、ピークレベルＡ１、ボトムレベルＡ２は、最長スペースと最長マークが交互に現れる部分で発生するものであり、それらの値は、最短スペースと最短マークが交互に現れる部分のピークレベルとボトムレベルの平均値をゼロレベルとして表したものである。
【００１５】
図２は、アシンメトリ検出部２２０において、検出される再生信号のアシンメトリの検出例を示したものである。図２（ａ）にβ＜０の場合を示す。図２（ｂ）にβ＝０の場合を示す。図２（ｃ）にβ＞０の場合を示す。
【００１６】
データ記録時においては、データエンコーダ２３０は、記録すべき元データに対して、エラー訂正符号を付与し、データ変調を行って、半導体レーザ１１０への駆動信号の基本となる記録データを生成する。レーザ波形制御部２４０は、記録データに基きライトストラテジ信号を生成する。即ち、中央制御部２５０から３Ｔ乃至１１Ｔ及び１４Ｔのいずれかを指定する記録データが与えられると、レーザ波形制御部２４０は、そのような記録データに対応するライトストラテジ信号（発光パルス列の波形と略同一の波形を有する信号）を出力する。
レーザ駆動部１２０は、生成されたライトストラテジ信号に応じた駆動電流により半導体レーザ１１０を駆動する。半導体レーザ１１０から出射されたデータ記録に必要な出力値（記録パワー）を有するレーザ光がコリメートレンズ１３０とビームスプリッタ１４０と対物レンズ１５０とを介して光ディスク１６０に集光照射される。これにより、情報が記録される。
【００１７】
図３は、図１に示される光記録装置１００において、光ディスク１６０が色素系記録媒体である場合に、レーザ波形制御部２４０で生成されるライトストラテジの例を示したものである。図３（ａ）に、周期Ｔを有するチャネルクロックを示す。図３（ｂ）に、マークとスペースとからなる記録データを示す。図３（ｃ）に、図３（ｂ）の記録データを記録するためのライトストラテジの発光パルスパターンを示す。発光パルスパターンは、記録パワーレベルと再生パワーレベルとの間でレベルが変化し、記録パワーレベルにある期間が各パルスの幅と定義される。
【００１８】
最短マークは、３Ｔに対応する長さを有し、最長マークは１４Ｔに対応する長さを有する。
図３（ｂ）及び、図３（ｃ）は、最短マークを記録し、次に４番目に短いマークを記録する場合を想定している。
【００１９】
図３（ｃ）の左側に示すように、記録データが最短マークの場合のライトストラテジは、１ＴＦのパルス幅を有する先頭パルスＦのみからなる。
図３（ｃ）の右側に示すように、記録データが４番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、ＬＴＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く３個のマルチパルスＭからなる。
記録データがｎ番目（４＜ｎ＜１０）に短いマーク（（ｎ＋２）Ｔに対応する長さを有する）を記録する場合のライトストラテジは、ＬＴＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く（ｎ−１）個のマルチパルスＭからなる。
また、記録データが最長マーク（１４Ｔの長さを有するマーク）を記録する場合のライトストラテジは、ＬＴＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く１１個のマルチパルスＭからなる。
このように、４番目に短いマークから最長マークまでは、先頭のパルスの幅がいずれの場合もＬＴＦであり、互いに同じである。
記録データが２番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、２ＴＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く１個のマルチパルスＭからなる。
記録データが３番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、３ＴＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く２個のマルチパルスＭからなる。
記録されるマークが上記のいずれであっても、マルチパルスＭの幅はすべて同じである。
【００２０】
中央制御部２５０は、光記録装置１００の再生、書き込みの際に、装置の全体を制御するもので、データデコーダ２００からの再生データ、プリピット検出部２１０からのプリピット情報、及びアシンメトリ検出部２２０からのアシンメトリ値を受ける一方、データエンコーダ２３０、レーザ波形制御部２４０、レーザ駆動部１２０に制御信号を与える。
中央制御部２５０は特に、後に図４及び図５を参照して説明するライトストラテジの決定、特にそのパルス幅及びパワー比率の算出、アシンメトリ値の計算、修正されたライトストラテジとアシンメトリ値を用いて行われる試し書きの制御などを行う。
【００２１】
中央制御部２５０は例えばＣＰＵと、該ＣＰＵの動作のためのプログラムを格納した、例えばＲＯＭで構成されるプログラムメモリと、データを記憶する、例えばＲＡＭで構成されたデータメモリとを備えている。プログラムメモリには、後述の種々の計算のための定数（Ｋｉ、Ｃｉ等）が記憶されている。また、プログラムメモリに格納されたプログラムは、後に図４及び図５を参照して説明されるライトストラテジの決定のための計算式及び記録条件の決定のための計算式を定義する部分を含む。
【００２２】
一般に、情報を記録する前に試し書きを行うことで記録パワーの最適化が行われる。以下にこの手順について説明する。
【００２３】
最初に、例えばランダムな記録データに対応した３Ｔ〜１１Ｔのマークとスペースとからなるテストパターンを用いて、記録パワーを変化させて光ディスク１６０への試し書きを行ない、次にこのテストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を再生し、アシンメトリ検出部２２０によりアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、中央制御部２５０において、目標とするアシンメトリ値と比較して最適の記録パワーを求める。
一般に、記録パワーを大きくすればアシンメトリ値は大きくなり、記録パワーを小さくすればアシンメトリ値は小さくなる。
中央制御部２５０では、互いに異なる複数の記録パワーに対応するアシンメトリ値の検出値を目標値と比較して、目標値に最も近い検出値を生じさせた記録パワーを最適の記録パワーとする。
なお、このようにする代わりに、一つの記録パワーで光ディスク１６０への試し書きを行なった後再生し、再生結果からアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、目標とするアシンメトリ値と比較して比較結果に応じて記録パワーを増減して最適値を求めるようにしても良い。
【００２４】
このような情報記録方法を基本として、本実施の形態においては、記録を行う際のライトストラテジのパルス幅と、最適パワー調整時の目標値等の記録条件を、光ディスク１６０に記録されているライトストラテジ推奨値及び記録条件の推奨値と、記録に用いられる光記録装置の光ピックアップの光学系の特性とに基づいて計算により求め、求められたパルス幅および記録条件を用いて記録を行う。
【００２５】
以下、図４を参照して本実施の形態の光記録方法の手順を説明する。
最初に記録に用いられる光ディスクが光記録装置に挿入されると、ステップＳ１１において、光記録媒体から、ライトストラテジ推奨値、記録条件推奨値、即ち、各マークを記録するためのライトストラテジの先頭パルス幅の推奨値ｉＴＰ（ｉ＝１，２，３，Ｌ）、ライトストラテジのマルチパルス幅の推奨値ＴＭＰ、推奨アシンメトリ値β１を読み取る（ステップＳ１１）。
ライトストラテジ推奨値には、各マークを記録するためのライトストラテジの先頭パルスのパルス幅の推奨値が含まれる。この先頭パルス幅の推奨値ｉＴＰとしては、少なくとも、
記録データが最短マークの場合の先頭パルスＦの推奨パルス幅１ＴＰと、
記録データが２番目に短いマークの場合の先頭パルスＦの推奨パルス幅２ＴＰと、
記録データが４番目に短いマークから最長マークの場合の先頭パルスＦの推奨パルス幅ＬＴＰとが読み取られる。
推奨アシンメトリ値β１は、試し書きにおいて記録パワーを決定する為の目標値となるものである。
【００２６】
次に、ステップＳ１２において、読み取られたライトストラテジ推奨値と、記録に用いられる光記録装置の光ピックアップの光学系の特性とに基づいて、記録に用いるべきライトストラテジを決定する（ステップＳ１２）。その詳細については後述する。
【００２７】
次に、ステップＳ１３では、上記のようにステップＳ１１で読み取られたライトストラテジ推奨値や推奨アシンメトリ値β１を決めるために用いられた開口数ＮＡ１と、記録に用いられる光記録装置１００の対物レンズ１５０の開口数ＮＡ２とに基づき、以下の式（２）により、記録に用いるべきアシンメトリ値β２を求める（ステップＳ１３）。
β２＝β１＋Ｅ×（ＮＡ２−ＮＡ１）・・・（２）
開口数ＮＡ１は、既知であり、開口数ＮＡ１を表すデータが予め中央制御部２５０内の例えば不揮発性メモリ（例えばＲＯＭで構成される）に格納されている。また、対物レンズ１５０の開口数ＮＡ２、及び定数Ｅを表すデータも中央制御部２５０内の不揮発性メモリ格納されており、これらを読み出して式（２）の計算に用いる。
【００２８】
然る後、記録の指示が与えられると、ステップＳ１４において、上記のようにして求められたライトストラテジ及びアシンメトリ値を用いて前記光記録媒体への試し書きを行う。即ち、ステップＳ１２において決定されたライトストラテジをレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ディスク１６０への試し書きを行う。このとき、上記のように求められたアシンメトリ値β２が、目標値として用いられる。即ち、テストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を再生し、アシンメトリ検出部２２０により検出されたアシンメトリ値とステップＳ１３において算出されたアシンメトリ値β２と比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。
【００２９】
そして、この試し書きを行ってパワー調整を行った後、ステップＳ１５で、調整された記録パワーと、ステップＳ１２で求められたライトストラテジとを用いてデータの記録を行う。即ち、ステップＳ１２において決定されたライトストラテジをレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０で記録データに基づいたライトストラテジを生成し、ステップ１４において決定された記録パワーにより、光ディスク１６０への書き込みを行う。
【００３０】
なお、ステップ１２で決定されたライトストラテジを、図１のレーザ波形制御部２４０に設定すれば、その後は中央制御部２５０が３Ｔ乃至１１Ｔ及び１４Ｔのいずれかを指定すれば、それに対応したライトストラテジ信号がレーザ波形制御部２４０から出力される。
【００３１】
図５は図４のステップ１２の決定のための処理を詳細に示す。
ステップＳ１２１においては、ステップＳ１１において取得された推奨パルス幅２ＴＰと、係数Ｋ２、Ｃ２とから以下の式（３）を用いて、記録データが２番目に短いマークの場合の先頭パルスＦのパルス幅２ＴＦを算出する。
２ＴＦ＝Ｋ２×２ＴＰ＋Ｃ２・・・（３）
【００３２】
ステップＳ１２２においては、ステップＳ１１において取得された推奨パルス幅ＬＴＰと、係数ＫＬ、ＣＬとから以下の式（４）を用いて、記録データが４番目に短いマークから最長マークの場合の先頭パルスＦのパルス幅ＬＴＦを算出する。
ＬＴＦ＝ＫＬ×ＬＴＰ＋ＣＬ・・・（４）
【００３３】
ステップＳ１２３においては、ステップＳ１２１で算出したパルス幅２ＴＦの値を、記録データが最短マークの場合の先頭パルスＦのパルス幅１ＴＦに設定する。
また、ステップＳ１２２で算出したパルス幅ＬＴＦの値を、記録データが３番目に短いマークの場合の先頭パルスＦのパルス幅３ＴＦに設定する。
【００３４】
ステップＳ１２４においては、ステップＳ１１において取得された推奨パルス幅１ＴＰ、２ＴＰ、ＬＴＰ、ＴＭＰと定数ＫＭ、定数ＣＭとから以下の式（５）を用いて、マルチパルスＭのパルス幅ＴＭを算出する。
ＴＭ＝ＫＭ×（ＴＭＰ×２ＴＰ×ＬＴＰ／１ＴＰ）＋ＣＭ・・・（５）
【００３５】
上記ステップＳ１２１乃至Ｓ１２４において用いられる定数Ｋ２、ＫＬ、ＫＭ、Ｃ２、ＣＬ、ＣＭを表すデータは、中央制御部２５０内の不揮発性メモリに格納されており、これらが読み出されて式（３）乃至（４）、及び式（５）の計算に用いられる。
【００３６】
上記のようにステップＳ１２においては、光ディスクから読み出されたライトストラテジ推奨値の先頭パルスとマルチパルスのパルス幅に基づいて、記録に用いるライトストラテジの先頭パルスとマルチパルスのパルス幅を決定している。言い換えると、ライトストラテジの推奨値をそのまま用いず、ライトストラテジ推奨値を修正している。その理由は以下の通りである。
光ディスクには上記のように所定の領域にライトストラテジ推奨値や、推奨アシンメトリ値などが記録されているが、光ディスク１６０にこのライトストラテジ推奨値を記録したときの記録条件における対物レンズ１５０の開口数ＮＡ１と、記録に用いられる光記録装置１００が有する対物レンズ１５０の開口数ＮＡ２とが異なる場合には、記録されているライトストラテジ推奨値とアシンメトリ値とを使用してパワーを決定すると、開口数の違いにより光ディスク１６０に与える熱量やその分布が異なってしまう。そのため、各マーク長に対して形成されるピットの大きさや形が最適な状態とは異なり、ジッタが悪化してしまう。そこで、記録条件の差異、特に開口数の違いを補償するため、ライトストラテジの修正乃至最適化を行っている。
【００３７】
また、上記ステップＳ１３において、光ディスクから読み出された推奨アシンメトリ値β１に基づいて、記録に用いるアシンメトリ値β２を計算により求めている。言い換えれば、光ディスクに記録されたアシンメトリ値β１を補正した上で用いている。その理由は以下の通りである。
即ち、上記の開口数の違いにより、検出されるアシンメトリ値にも違いが現れる。例えば、ＮＡ１＜ＮＡ２で有る場合、すなわち、記録に用いられる光記録装置１００が有する対物レンズ１５０の開口数ＮＡ２が、光ディスク１６０に推奨アシンメトリ値を記録したときの記録条件における対物レンズの開口数ＮＡ１よりも大きい場合には、開口数ＮＡ２の対物レンズにより検出されるアシンメトリ値は、開口数ＮＡ１の対物レンズにより検出されるアシンメトリ値よりも大きい値となる。従って、推奨アシンメトリ値β１を目標に開口数ＮＡ２の対物レンズにより記録を行うと、開口数の違いによりアシンメトリ値が大きく検出され、推奨アシンメトリ値β１よりも小さいアシンメトリ値で記録されてしまう。その為、開口数ＮＡ２の対物レンズにより記録を行う場合は推奨アシンメトリ値β１よりも大きい値に目標を設定するのが望ましい。
【００３８】
以上上記の点についてさらに詳しく説明する。まず、ライトストラテジの最適化について説明する。最適化のための補正を計算式によって行うことができれば、好都合であるが、どのような計算式を用いれば良いのか不明であった。
【００３９】
そこで、本発明者等は、記録に用いられる光記録装置の記録条件が、ライトストラテジ推奨値を定める際に用いられた記録条件と異なる場合に、再生ジッタが最小となる条件を求める実験を行った。
そして、再生ジッタを最小にする先頭パルス幅ｉＴＦ（ｉ＝２、又はＬ）（このように再生ジッタを最小にするパルス幅を「最適パルス幅」或いは「パルス幅の最適値」と言うことがある）と、パルス幅推奨値ｉＴＰ（ｉ＝２、又はＬ）との関係に直線性があること、即ちこの関係が式（３）、（４）で表される直線により近似できることを、実験で得られたデータに対して回帰分析を行うことにより、見出した。
また、最短マークを記録するためのライトストラテジの先頭パルス幅の最適値１ＴＦと、２番目に短いマークを記録するためのライトストラテジの先頭パルス幅の最適値２ＴＦが等しいことと、
３番目に短いマークを記録するためのライトストラテジの先頭パルス幅の最適値３ＴＦと、４番目に短いマークから最長マークを記録するためのライトストラテジの先頭パルス幅の最適値ＬＴＦが等しいことも見出した。
さらに、マルチパルス幅の最適値ＴＭと、パルス幅推奨値のＴＭＰ×２ＴＰ×ＬＴＰ／１ＴＰとの関係に直線性があることも見出した。
【００４０】
図６は、再生ジッタが最小となるライトストラテジの先頭パルスのパルス幅２ＴＦの値を○印で示すと共に、式（３）でＫ２＝１、Ｃ２＝−０．０２としたときに得られるライトストラテジの先頭パルスのパルス幅２ＴＦを直線で示す。図に示すように、最適値の近似直線からの隔たり（近似誤差）が小さいことが確認できる。
【００４１】
図７は、再生ジッタが最小となるライトストラテジの先頭パルスのパルス幅ＬＴＦの値を○印で示すと共に、式（４）でＫＬ＝０．８７、ＣＬ＝０．１８としたときに得られるライトストラテジの先頭パルスのパルス幅ＬＴＦを直線で示す。図に示すように、最適値の近似直線からの隔たり（近似誤差）が小さいことが確認できる。
【００４２】
図８は、再生ジッタが最小となるライトストラテジの先頭パルスのパルス幅１ＴＦの値を○印で示すと共に、１ＴＦ＝２ＴＦとしたときに得られるライトストラテジの先頭パルスのパルス幅１ＴＦを直線で示す。図に示すように、１ＴＦと２ＴＦはほぼ等しいことが分かった。
【００４３】
図９は、再生ジッタが最小となるライトストラテジの先頭パルスのパルス幅３ＴＦの値を○印で示すと共に、３ＴＦ＝ＬＴＦとしたときに得られるライトストラテジの先頭パルスのパルス幅３ＴＦを直線で示す。図に示すように、３ＴＦとＬＴＦはほぼ等しいことが分かった。
【００４４】
図１０は、再生ジッタが最小となるライトストラテジのマルチパルスのパルス幅ＴＭの値を○印で示すと共に、式（５）でＫＭ＝０．１８、ＣＭ＝０．４３５としたときに得られるライトストラテジのマルチパルスのパルス幅ＴＭを直線で示す。図に示すように、最適値の近似直線からの隔たり（近似誤差）が小さいことが確認できる。
【００４５】
なお、図６乃至図１０に結果が示される実験を行ったときの条件は以下の通りである。
即ち、光ディスク１６０にライトストラテジ推奨値を記録したときの記録条件における対物レンズの開口数ＮＡ１は０．６０であり、この実験において使用した、光記録装置１００が有する対物レンズ１５０の開口数ＮＡ２は０．６４であった。
【００４６】
上記のように、特定の光記憶装置においては、定数を上記のように定めれば良い結果が得られることが分かった。
【００４７】
次にアシンメトリの修正について述べる。
上記のように、最適のアシンメトリ値は、記録に用いる光記録装置の開口数の影響を受けるので、光記録装置の開口数が、ライトストラテジ推奨値を定める際に用いられた記録条件の開口数と異なる場合には、記録に用いるアシンメトリ値の決定に当たり、開口数をも考慮に入れるのが望ましい。本実施の形態では、開口数の差に基づいて定めた補正量を、推奨アシンメトリ値β１に加算することにより、記録に用いるアシンメトリ値β２を求めている。具体的には、上記の式（２）を用いるのが適切であることが分かった。
β２＝β１＋Ｅ×（ＮＡ２−ＮＡ１）・・・（２）
図４のステップＳ１３で、式（２）を用いるのはその理由による。
【００４８】
図１１は、推奨アシンメトリ値β１の値が互いに異なる複数の光ディスクについて、特定の光記録装置１００において再生ジッタが最小となるアシンメトリ値β２の値を△印で示すとともに、式（２）でＥ＝１．０としたときに得られるアシンメトリ値β２を直線で示す。図１１に示すように、式（２）を用いることで、再生ジッタが最小となるアシンメトリ値（最適アシンメトリ値）を直線近似できることが分かった。
なお、上記のように、特定の光記録装置においては、定数Ｅの値を上記のように定めれば良い結果が得られることが分かった。
【００４９】
図１２に９種類の光ディスクＡ〜Ｉにおいて、３種類のパルスパターンをそれぞれ用いて記録した場合の再生ジッタを示す。
図１２において、×印は、各光ディスクに記録されたライトストラテジ推奨値を用いて記録した場合の再生ジッタを示している。
また△印は、各光ディスクに最適な再生ジッタが得られるように調整した最適なライトストラテジを用いて記録した場合の再生ジッタを示している。
また○印は、前述の式（３）、（４）、（５）を用いて修正されたライトストラテジを用いて記録した場合の再生ジッタを示している。
この場合、式（３）、（４）、（５）中の各定数を、Ｋ２＝１、Ｃ２＝−０．０２、ＫＬ＝０．８７、ＣＬ＝０．１８、ＫＭ＝０．１８、ＣＭ＝０．４３５、Ｅ＝１．０とした。
図１２においては、各光ディスクに記録されたライトストラテジ推奨値を用いて記録した場合（×）よりも、修正されたライトストラテジを用いて記録した場合（○）の方が、全てのディスクで良好な再生ジッタを得ることができた。また、修正されたライトストラテジを用いて記録を行う場合（○）には、最適なライトストラテジを用いて記録を行った場合（△）とほぼ同じくらい良好な再生ジッタを得ることができた。
【００５０】
以上のように、本実施の形態によれば、光記録装置の光ピックアップの光学系の特性に応じて最適のライトストラテジやアシンメトリ値を用いて記録を行うことができる。
【００５１】
例えば、一般的に光記録媒体に記録されている推奨値を決定した際の開口数等の光学系条件は、市販される光記録装置が有する光学的条件と異なっているが、市販の光記録装置、特にその光ピックアップの光学系の仕様と、推奨値を決定した際の光学系の仕様との違いを考慮して、各光記録装置に適したライトストラテジやアシンメトリ値を求めることができ、各光記録装置に適したライトストラテジで記録を行うことができる。
【００５２】
即ち、各光記録装置、特にその光ピックアップの光学系の特性、特に対物レンズの開口数を含めた光学系の違いに着目して、実験的にライトストラテジやアシンメトリ値の決定に用いる計算式の定数（Ｋ２、ＫＬ、ＫＭ、Ｃ２、ＣＬ、ＣＭ、Ｅ）を求め、これを光記録装置内に、例えば中央制御部２５０内の不揮発性メモリ内に格納しておき、記録を行う際にこれらの定数を読み出して用いることにより、各記録装置に適したライトストラテジやアシンメトリ値を容易に計算することができる。
尚、定数の決定は各型式乃至仕様の光記録装置に対して一度行えば良く、同じ型式乃至仕様の多数の光記録装置に対して同じ定数を用いることができる。即ち、ある型式乃至仕様の光記録装置に関して定数が求められたら、求められた定数を同じ型式乃至仕様の光記録装置に設定して出荷することとすれば良い。
光記録装置１００の型式乃至仕様が変更になった場合は、式（３）、（４）、（５）の定数（Ｋ２、ＫＬ、ＫＭ、Ｃ２、ＣＬ、ＣＭ、Ｅ）を再度選定乃至決定することにより、ストラテジ条件の最適化を簡単に行うことができる。
【００５３】
また、実施の形態１に係る光記録方法においては、光ディスク１６０に記録されたライトストラテジ推奨値と推奨アシンメトリ値を、式（３）、（４）、（５）を用いて算出するので、多くのストラテジ情報を保持する必要がなく、任意の記録装置および記録媒体に対応して記録を行うことができる。
【００５４】
さらにまた、ライトストラテジ推奨値とアシンメトリ値をそのまま用いる場合よりも良好で、各光ディスクで最適なライトストラテジ推奨値を用いる場合と同等に良好な記録を行うことができる。従って、予め最適なライトストラテジ情報が分かっていない光ディスクに対しても、良好な記録を行うことができる。
【００５５】
なお、上記の実施の形態では、記録データが最短マークの場合の先頭パルスＦのパルス幅１ＴＦを、記録データが２番目に短いマークの場合の先頭パルスＦのパルス幅に等しくし、記録データが３番目に短いマークの場合の先頭パルスＦのパルス幅３ＴＦを、記録データが４番目に短いマークから最長マークまでの場合の先頭パルスＦのパルス幅ＬＦに等しくしているが、これらの場合に、先頭パルスＦのパルス幅をそれぞれ異なる値にしても良い。
即ち、式（３）や式（４）に示される、パルス幅を表す式を一般化すれば以下のようになる。
ｉＴＦ＝Ｋｉ×ｉＴＰ＋Ｃｉ
但し、ｉ＝１、２、３、又はＬ
である。
【００５６】
実施の形態２．
上記の実施の形態１では、光ディスク１６０が色素系記録媒体で有る場合の記録方法について説明しているが、以下に光ディスク１６０が相変化型記録媒体である場合で、さらに記録速度が標準速記録である場合を説明する。
【００５７】
図１３は、本発明の実施の形態２に係る光記録装置１００の基本的な構成例を示す図である。図１３に示される光記録装置１００は、図１の光記録装置と概して同じである。但し、図１の光記録装置のアシンメトリ検出部２２０が設けられておらず、代わりに変調度検出部２６０が設けられている。中央制御部２５０は、（実施の形態１のようにアシメントリ検出部２２０からアシンメトリ値を受ける代わりに）変調度検出部２６０から変調度の値を受け、アシンメトリ値の計算の代わりに、変調度の計算を行い、修正されたライトストラテジとアシンメトリ値の代わりに、修正されたライトストラテジと修正された変調度を用いて行われる試し書きの制御などを行う。
【００５８】
変調度検出部２６０は、入力された電気信号のピークレベルＢ１とボトムレベルＢ２を検出する。検出したピークレベルＢ１とボトムレベルＢ２から、以下の式（６）を用いて、変調度の値ＭＯＤを算出する。
ＭＯＤ＝（Ｂ１−Ｂ２）／Ｂ１・・・（６）
ここで、ピークレベルＢ１、ボトムレベルＢ２は、最長スペースと最長マークが交互に現れる部分で発生するものであり、それらの値は、受光素子１８０への入射光が無い場合の受光素子１８０の出力レベルをゼロレベルとして表したものである。
【００５９】
図１４は、変調度検出部２６０において、検出される再生信号の変調度の検出例を示したものである。図１４（ａ）に変調度が小さい場合を示す。図１４（ｂ）に変調度が大きい場合を示す。
【００６０】
図１５は、図１３に示される光記録装置１００において、光ディスク１６０が相変化型記録媒体である場合に、レーザ波形制御部２４０で生成されるライトストラテジの例を示したものである。図１５（ａ）に、周期Ｔを有するチャネルクロックを示す。図１５（ｂ）に、マークとスペースとからなる記録データを示す。図１５（ｃ）に、図１５（ｂ）の記録データを記録するためのライトストラテジの発光パルスパターンを示す。発光パルスパターンは、記録パワーと消去パワーと再生パワーとの間でレベルが変化し、記録パワーレベルにある期間と、再生パワーレベルにある期間が各パルスの幅と定義される。
【００６１】
最短マークの場合は、３Ｔに対応する長さを有し、最長マークは１４Ｔに対応する長さを有する。
図１５（ｂ）及び、図１５（ｃ）は、最短マークを記録し、次に４番目に短いマークを記録する場合を想定している。
【００６２】
図１５（ｃ）の左側に示すように、記録データが最短マークの場合のライトストラテジは１ＴＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く１個のマルチパルスＭと、それに続く再生パワーのレベルにある１個のクーリングパルスＣからなる。
図１５（ｃ）の右側に示すように、記録データが４番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、ＬＴＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く４個のマルチパルスＭと、それに続く再生パワーレベルにある１個のクーリングパルスＣからなる。
記録データがｎ番目（４＜ｎ＜１０）に短いマーク（（ｎ＋２）Ｔに対応する長さを有する）を記録する場合のライトストラテジは、ＬＴＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続くｎ個のマルチパルスＭと、それに続く再生パワーレベルにある１個のクーリングパルスＣからなる。
また、記録データが３番目に短いマーク（５Ｔに対応する長さを有する）を記録する場合のライトストラテジは、ＬＴＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く３個のマルチパルスＭと、それに続く再生パワーレベルにある１個のクーリングパルスＣからなる。
また、記録データが最長マーク（１４Ｔの長さを有するマーク）を記録する場合のライトストラテジは、ＬＴＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く１２個のマルチパルスＭと、それに続く再生パワーレベルにある１個のクーリングパルスＣからなる。
このように、３番目に短いマークから最長マークまでは、先頭のパルスの幅がいずれの場合もＬＴＦであり、互いに同じである。
記録データが２番目に短いマークを記録する場合のライトストラテジは、２ＴＦのパルス幅を有する先頭パルスＦとそれに続く２個のマルチパルスＭと、それに続く再生パワーレベルにある１個のクーリングパルスＣからなる。
記録されるマークが上記のいずれであっても、マルチパルスＭの幅はすべて同じである。
また、記録されるマークが上記のいずれであっても、クーリングパルスＣの幅はすべて同じである。
【００６３】
一般に、相変化型記録媒体においても、情報を記録する前に試し書きを行うことで記録パワーの最適化が行われる。以下にこの手順について説明する。
【００６４】
最初に、例えばランダムな記録データに対応した３Ｔ〜１１Ｔのマークとスペースとからなるテストパターンを用いて、記録パワーを変化させて光ディスク１６０への試し書きを行ない、次にこのテストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を再生し、変調度検出部２６０において、目標とする変調度の値と比較して最適の記録パワーを求める。
一般に、記録パワーを大きくすれば変調度の値は大きくなり、記録パワーを小さくすれば変調度の値は小さくなる。
中央制御部２５０では、互いに異なる複数の記録パワーに対応する変調度の検出値を目標値と比較して、目標値に最も近い検出値を生じさせた記録パワーを最適の記録パワーとする。
なお、このようにする代わりに、一つの記録パワーで光ディスク１６０への試し書きを行なった後再生し、再生結果から変調度の値を検出し、検出された変調度の値を、目標とする変調度の値と比較して比較結果に応じて記録パワーを増減して最適値を求めるようにしても良い。
【００６５】
このような情報記録方法を基本として、本実施の形態においては、記録を行う際のライトストラテジのパワー比率と、最適パワー調整時の目標値の記録条件を、光ディスク１６０に記録されているライトストラテジ推奨値及び記録条件の推奨値と、記録に用いられる光記録装置の光ピックアップの光学系の特性とに基づいて計算により求め、求められたパワー比率およびパワー調整時の目標値を用いて記録を行う。
【００６６】
以下、図１６を参照して本実施の形態の光記録方法の手順を説明する。
最初に記録に用いられる光ディスクが光記録装置に挿入されると、ステップＳ２１において、光記録媒体から、標準速記録を行う場合のライトストラテジ推奨値、記録条件推奨値、即ち、各マークを記録するためのライトストラテジの先頭パルス幅の推奨値ｉＴＰ１（ｉ＝１，２，３，Ｌ）、マルチパルス幅の推奨値ＴＭＰ１、クーリングパルス幅の推奨値ＴＣＰ１、パワー比率の推奨値εＰ１（消去パワー／記録パワーで定義された値）、記録パワーの推奨値ＰＷ１を読み取る（ステップＳ２１）。
ライトストラテジ推奨値には、各マークを記録するためのライトストラテジの先頭パルスのパルス幅の推奨値が含まれる。この先頭パルス幅の推奨値ｉＴＰとしては、少なくとも、記録データが最短マークの場合の先頭パルスＦの推奨パルス幅１ＴＰが読み取られる。
【００６７】
次に、ステップＳ２２では、上記のようにステップＳ２１で読み取られたライトストラテジの推奨値に基づき、以下の式（７）により、記録に用いるべきパワー比率の値ε１を求める（ステップＳ２２）
ε１＝ＫＥ１×（ＰＷ１×εＰ１×ＴＭＰ１）＋ＣＥ１・・・（７）
定数ＫＥ１、ＣＥ１を表すデータは中央制御部２５０内の不揮発性メモリに格納されており、これらを読み出して式（７）の計算に用いる。
【００６８】
次に、ステップＳ２３では、上記のようにステップＳ２１で読み取られたライトストラテジの推奨値に基づき、以下の式（８）により、記録に用いるべき変調度の値ＭＯＤ１を求める（ステップＳ２３）。
ＭＯＤ１＝ＫＭＯＤ１×（ＴＭＰ１×ＴＣＰ１／１ＴＰ１）＋ＣＭＯＤ１・・・（８）  定数ＫＭＯＤ１、ＣＭＯＤ１を表すデータは中央制御部２５０内の不揮発性メモリに格納されており、これらを読み出して式（８）の計算に用いる。
【００６９】
然る後、記録の指示が与えられると、ステップＳ２４において、上記のようにして求められたパワー比率及び変調度の値を用いて前記光記録媒体への試し書きを行う。即ち、ステップＳ２２において決定されたパワー比率をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ディスク１６０への試し書きを行う。このとき、上記のように求められた変調度の値ＭＯＤ１が、目標値として用いられる。即ち、テストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を再生し、変調度検出部２６０により検出された変調度の値とステップＳ２３において算出された変調度の値ＭＯＤ１と比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。
【００７０】
そして、この試し書きを行ってパワー調整を行った後、ステップＳ２５で、調整された記録パワーと、ステップＳ２２で求められたパワー比率とを用いてデータの記録を行う。
即ち、ステップＳ２２において決定されたパワー比率をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０で記録データに基づいたライトストラテジを生成し、ステップ２４において決定された記録パワーにより、光ディスク１６０への書き込みを行う。
【００７１】
上記のようにステップＳ２２においては、光ディスクから読み出されたライトストラテジのパルス幅推奨値、記録パワー推奨値、パワー比率推奨値に基づいて、記録に用いるパワー比率の値を決定している。言い換えると、パワー比率推奨値をそのまま用いず、パワー比率推奨値を修正している。その理由は以下の通りである。
光ディスクには上記のように、所定の領域にパワー比率の推奨値などが記録されているが、光ディスク１６０にこのパワー比率の推奨値を記録したときの記録条件における対物レンズ１５０の開口数ＮＡ１と、記録に用いられる光記録装置１００が有する対物レンズ１５０の開口数ＮＡ２とが異なる場合には、記録されているパワー比率の推奨値を使用してパワーを決定すると、開口数の違いにより光ディスク１６０に与える熱量が異なってしまう。そのため、各マーク長に対して形成されるピットの大きさや形が最適な状態とは異なり、ジッタが悪化してしまう。そこで、記録条件の差異、特に開口数の違いを補償するため、パワー比率の修正乃至最適化を行っている。
【００７２】
次に、パワー比率の最適化について説明する。最適化のための補正を計算式によって行うことができれば、好都合であるが、どのような計算式を用いれば良いのか不明であった。
【００７３】
そこで、本発明者等は、記録に用いられる光記録装置の記録条件が、ライトストラテジ推奨値を定める際に用いられた記録条件と異なる場合に、再生ジッタが最小となる条件を求める実験を行った。
【００７４】
図１７は推奨パワー比率εＰ１の値が互いに異なる複数の光ディスクについて、特定の光記録装置１００において再生ジッタが最小となるパワー比率ε１の値を○印で示すと共に、式（７）でＫＥ１＝０．０２９、ＣＥ１＝０．４７５としたときに得られるパワー比率ε１を直線で示す。図１７に示すように、式（７）を用いることで、再生ジッタが最小となるパワー比率値（最適パワー比率値）を直線近似できることが分かった。
上記のように、特定の光記録装置においては、定数ＫＥ１とＣＥ１を上記のように定めれば良い結果が得られる事がわかった。
しかし、上記の値に限らず、係数ＫＥ１の値を０．０３付近、ＣＥ１の値を０．４８付近に定めれば満足できる結果が得られるものと考えられる。
【００７５】
次に、変調度の算出について述べる。
変調度の値は光ディスク１６０にその推奨値が記録されていない為、パルス幅推奨値の値から推定する必要がある。
図１８は種々の光ディスクについて、特定の光記録装置１００において再生ジッタが最小となる変調度ＭＯＤ１の値を○印で示すと共に、式（８）でＫＭＯＤ１＝０．２、ＣＭＯＤ１＝０．５９としたときに得られる変調度ＭＯＤ１の値を直線で示す。図１８に示すように、式（８）を用いることで、再生ジッタが最小となる変調度の値（最適な変調度の値）を直線近似できることが分かった。
なお、上記のように、特定の光記録装置においては、定数ＫＭＯＤ１とＣＭＯＤ１を上記のように定めれば良い結果が得られる事がわかった。
しかし、上記の値に限らず、係数ＫＭＯＤ１の値を０．２付近、ＣＭＯＤ１の値を０．６付近に定めれば満足できる結果が得られるものと考えられる。
【００７６】
図１９に６種類の光ディスクＡ〜Ｆにおいて、３種類のパワー比率をそれぞれ用いて記録した場合の再生ジッタを示す。
図１９において、×印は、各光ディスクに記録されたパワー比率推奨値を用いて記録した場合の再生ジッタを示している。
また△印は、各光ディスクに最適な再生ジッタが得られるように調整した最適なパワー比率を用いて記録した場合の再生ジッタを示している。
また○印は、前述の式（７）を用いて修正されたパワー比率を用いて記録した場合の再生ジッタを示している。
この場合、式（７）中の各定数を、ＫＥ１＝０．０２９、ＣＥ１＝０．４７５とした。
図１９においては、各光ディスクに記録されたパワー比率推奨値を用いて記録した場合（×）よりも、修正されたパワー比率推奨値を用いて記録した場合（○）の方が、全てのディスクで良好な再生ジッタを得ることができた。また、修正されたパワー比率推奨値を用いて記録を行う場合（○）には、最適なパワー比率を用いて記録を行った場合（△）とほぼ同じくらい良好な再生ジッタを得ることができた。
【００７７】
以上のように、本実施の形態によれば、光記録装置の光ピックアップの光学系の特性に応じて最適のパワー比率や変調度の値を用いて記録を行うことができる。
【００７８】
例えば、一般的に光記録媒体に記録されている推奨値を決定した際の開口数や波長等の光学系条件は、市販される光記録装置が有する光学的条件と異なっているが、市販の光記録装置、特にその光ピックアップの光学系の仕様と、推奨値を決定した際の光学系の仕様との違いを考慮して、各光記録装置に適したパワー比率や変調度を求める事ができ、各光記録装置に適した記録条件で記録を行う事ができる。
【００７９】
即ち、各光記録装置、特にその光ピックアップの光学系の特性、特に対物レンズの開口数を含めた光学系の違いに着目して、実験的に、パワー比率や変調度の決定に用いる計算式の定数（ＫＥ１、ＣＥ１、ＫＭＯＤ１、ＣＭＯＤ１）を求め、これを光記録装置内に、例えば中央制御部の不揮発性メモリ内に格納しておき、記録を行う際にこれらの定数を読み出して用いることにより、各記録装置に適した、パワー比率や変調度を容易に計算することができる。
なお、定数の決定は各型式乃至仕様の光記録装置に対して一度行えば良く、同じ型式乃至仕様の多数の光記録装置に対して同じ定数を用いることができる。即ち、ある型式乃至仕様の光記録装置に関して定数が求められたら、求められた定数を同じ型式乃至仕様の光記録装置に設定して出荷することとすれば良い。
光記録装置１００の型式乃至仕様が変更になった場合には、式（７）、（８）の定数（ＫＥ１、ＣＥ１、ＫＭＯＤ１、ＣＭＯＤ１）を再度選定乃至決定することにより、記録条件の最適化を簡単に行うことができる。
【００８０】
また、実施の形態２に係る光記録方法においては、記録に用いるパワー比率と変調度の値を、光ディスク１６０に記録されたライトストラテジ推奨値のパルス幅推奨値と、パワー比率推奨値と、記録パワー推奨値と式（７）、（８）を用いて算出するので、多くのストラテジ情報を保持する必要がなく、任意の記録装置および記録媒体に対応して記録を行うことができる。
【００８１】
さらにまた、パワー比率推奨値をそのまま用いる場合よりも良好で、各光ディスクで最適なパワー比率を用いる場合と同等に良好な記録を行うことができる。従って、予め最適なパワー比率が分かっていない光ディスクに対しても、良好な記録を行うことができる。
【００８２】
また、式（８）においては、最短マークを記録する場合のストラテジパルスの先頭パルス幅推奨値を用いているが、２番目に短いマークを記録する場合のストラテジパルスの先頭パルス幅推奨値あるいは、３番目に短いマークから最長マークを記録する場合のストラテジパルスの先頭パルス幅推奨値を代わりに用いてもよい。
【００８３】
実施の形態３．
上記の実施の形態２では、光ディスク１６０が相変化型記録媒体である場合で、さらに記録速度が標準速記録である場合について説明しているが、以下に光ディスク１６０が相変化型記録媒体である場合で、さらに記録速度が２倍速記録である場合を説明する。
【００８４】
記録速度が２倍速記録の場合にも、標準速記録の場合と記録に使用されるライトストラテジは図１５に示したライトストラテジと同様である。
【００８５】
また、本実施の形態においては、記録を行う際のライトストラテジのパワー比率と、最適パワー調整時の目標値の記録条件を、光ディスク１６０に記録されているライトストラテジ推奨値及び記録条件の推奨値と、記録に用いられる光記録装置の光ピックアップの光学系の特性とに基づいて計算により求め、求められたパワー比率およびパワー調整時の目標値を用いて記録を行う。本実施の形態で用いられる光記録装置は、図１３に示すものと同じである。
【００８６】
以下、図１６を参照して本実施の形態の光記録方法の手順を説明する。
最初に記録に用いられる光ディスクが光記録装置に挿入されると、ステップＳ２１において、光記録媒体から、２倍速記録を行う場合のライトストラテジ推奨値、即ち、各マークを記録するためのライトストラテジの先頭パルス幅の推奨値ｉＴＰ２（ｉ＝１，２，３，Ｌ）、パワー比率の推奨値εＰ２（消去パワー／記録パワーで定義された値）、記録パワーの推奨値ＰＷ２を読み取る（ステップＳ２１）。
ライトストラテジ推奨値には、各マークを記録するためのライトストラテジの先頭パルスのパルス幅の推奨値が含まれる。この先頭パルス幅の推奨値ｉＴＰ２としては、少なくとも、記録データが最短マークの場合の先頭パルスＦの推奨パルス幅１ＴＰ２が読み取られる。
【００８７】
次に、ステップＳ２２では、上記のようにステップＳ２２で読み取られたライトストラテジの推奨値に基づき、以下の式（９）により、記録に用いるべきパワー比率の値ε２を求める（ステップＳ２２）
ε２＝ＫＥ２×（（ＰＷ２＾２）×εＰ２／１ＴＰ２）＋ＣＥ２・・・（９）
定数ＫＥ２、ＣＥ２を表すデータは中央制御部２５０内の不揮発性メモリに格納されており、これらを読み出して式（９）の計算に用いる。
【００８８】
次に、ステップＳ２３では、上記のようにステップＳ２１で読み取られたライトストラテジの推奨値に基づき、以下の式（１０）により、記録に用いるべき変調度の値ＭＯＤ２を求める（ステップＳ２３）。
ＭＯＤ２＝ＫＭＯＤ２×（１ＴＰ２×ＰＷ２）＾２
＋ＫＭＯＤ３×（１ＴＰ２×ＰＷ２）＋ＣＭＯＤ２・・・（１０）
定数ＫＭＯＤ２、ＫＭＯＤ３、ＣＭＯＤ２を表すデータは中央制御部２５０内の不揮発性メモリに格納されており、これらを読み出して式（１０）の計算に用いる。
【００８９】
然る後、記録の指示が与えられると、ステップＳ２４において、上記のようにして求められたパワー比率及び変調度の値を用いて前記光記録媒体への試し書きを行う。即ち、ステップＳ２２において決定されたパワー比率をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ディスク１６０への試し書きを行う。このとき、上記のように求められた変調度の値ＭＯＤ２が、目標値として用いられる。即ち、テストパターンを記録した光ディスク１６０上の領域を再生し、変調度検出部２６０により検出された変調度の値とステップＳ２３において算出された変調度の値ＭＯＤ２と比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。
【００９０】
そして、この試し書きを行ってパワー調整を行った後、ステップＳ２５で、調整された記録パワーと、ステップＳ２２で求められたパワー比率とを用いてデータの記録を行う。
即ち、ステップＳ２２において決定されたパワー比率をレーザ波形制御部２４０に設定することにより、レーザ波形制御部２４０で記録データに基づいたライトストラテジを生成し、ステップ２４において決定された記録パワーにより、光ディスク１６０への書き込みを行う。
【００９１】
次に、パワー比率の最適化について説明する。最適化のための補正を計算式によって行うことができれば、好都合であるが、どのような計算式を用いれば良いのか不明であった。
【００９２】
そこで、本発明者等は、記録に用いられる光記録装置の記録条件が、ライトストラテジ推奨値を定める際に用いられた記録条件と異なる場合に、再生ジッタが最小となる条件を求める実験を行った。
【００９３】
図２０は推奨パワー比率εＰ２の値が互いに異なる複数の光ディスクについて、特定の光記録装置１００において再生ジッタが最小となるパワー比率ε２の値を○印で示すと共に、式（９）でＫＥ２＝０．００１７、ＣＥ２＝０．１２５としたときに得られるパワー比率ε２を直線で示す。図２０に示すように、式（９）を用いることで、再生ジッタが最小となるパワー比率値（最適パワー比率値）を直線近似できることが分かった。
なお、上記のように、特定の光記録装置においては、定数ＫＥ２とＣＥ２を上記のように定めれば良い結果が得られる事がわかった。
しかし、上記の値に限らず、係数ＫＥ２の値を０．００２付近、ＣＥ２の値を０．１３付近に定めれば満足できる結果が得られるものと考えられる。
【００９４】
次に、変調度の算出について述べる。
変調度の値は光ディスク１６０にその推奨値が記録されていない為、パルス幅推奨値の値から推定する必要がある。
図２１は種々の光ディスクについて、特定の光記録装置１００において再生ジッタが最小となる変調度ＭＯＤ２の値を○印で示すと共に、式（１０）でＫＭＯＤ２＝−０．０１２、ＫＭＯＤ３＝０．１８、ＣＭＯＤ２＝０．０４５としたときに得られる変調度ＭＯＤ２の値を曲線で示す。図２１に示すように、式（１０）を用いることで、再生ジッタが最小となる変調度の値（最適な変調度の値）を２次式で近似できることが分かった。
なお、上記のように、特定の光記録装置においては、定数ＫＭＯＤ２とＫＭＯＤ３とＣＭＯＤ２を上記のように定めれば良い結果が得られる事がわかった。
しかし、上記の値に限らず、係数ＫＭＯＤ２の値を−０．０１付近、ＫＭＯＤ３の値を０．２付近、ＣＭＯＤ２の値を０．０５付近に定めれば満足できる結果が得られるものと考えられる。
【００９５】
図２２に７種類の光ディスクＡ〜Ｇにおいて、３種類のパワー比率をそれぞれ用いて記録した場合の再生ジッタを示す。
図２２において、×印は、各光ディスクに記録されたパワー比率推奨値を用いて記録した場合の再生ジッタを示している。
また△印は、各光ディスクに最適な再生ジッタが得られるように調整した最適なパワー比率を用いて記録した場合の再生ジッタを示している。
また○印は、前述の式（９）を用いて修正されたパワー比率を用いて記録した場合の再生ジッタを示している。
この場合、式（９）中の各定数を、ＫＥ２＝０．００１７、ＣＥ２＝０．１２５とした。
図２２においては、各光ディスクに記録されたパワー比率推奨値を用いて記録した場合（×）よりも、修正されたパワー比率推奨値を用いて記録した場合（○）の方が、全てのディスクで良好な再生ジッタを得ることができた。また、修正されたパワー比率推奨値を用いて記録を行う場合（○）には、最適なパワー比率を用いて記録を行った場合（△）とほぼ同じくらい良好な再生ジッタを得ることができた。
【００９６】
以上のように、本実施の形態によれば、光記録装置の光ピックアップの光学系の特性に応じて最適のパワー比率や変調度の値を用いて記録を行うことができる。
【００９７】
例えば、一般的に光記録媒体に記録されている推奨値を決定した際の開口数や波長等の光学系条件は、市販される光記録装置が有する光学的条件と異なっているが、市販の光記録装置、特にその光ピックアップの光学系の仕様と、推奨値を決定した際の光学系の仕様との違いを考慮して、各光記録装置に適したパワー比率や変調度を求める事ができ、各光記録装置に適した記録条件で記録を行う事ができる。
【００９８】
即ち、各光記録装置、特にその光ピックアップの光学系の特性、特に対物レンズの開口数を含めた光学系の違いに着目して、実験的に、パワー比率や変調度の決定に用いる計算式の定数（ＫＥ２、ＣＥ２、ＫＭＯＤ２、ＫＭＯＤ３、ＣＭＯＤ２）を求め、これを光記録装置内に、例えば中央制御部の不揮発性メモリ内に格納しておき、記録を行う際にこれらの定数を読み出して用いることにより、各記録装置に適した、パワー比率や変調度を容易に計算することができる。
なお、定数の決定は各型式乃至仕様の光記録装置に対して一度行えば良く、同じ型式乃至仕様の多数の光記録装置に対して同じ定数を用いることができる。即ち、ある型式乃至仕様の光記録装置に関して定数が求められたら、求められた定数を同じ型式乃至仕様の光記録装置に設定して出荷することとすれば良い。
光記録装置１００の型式乃至仕様が変更になった場合には、式（９）、（１０）の定数（ＫＥ２、ＣＥ２、ＫＭＯＤ２、ＫＭＯＤ３、ＣＭＯＤ２）を再度選定乃至決定することにより、記録条件の最適化を簡単に行うことができる。
【００９９】
また、実施の形態３に係る光記録方法においては、記録に用いるパワー比率と変調度の値を、光ディスク１６０に記録されたライトストラテジ推奨値のパワー比率推奨値と、記録パワー推奨値と式（９）、（１０）を用いて算出するので、パルス幅推奨値と、多くのストラテジ情報を保持する必要がなく、任意の記録装置および記録媒体に対応して記録を行うことができる。
【０１００】
さらにまた、パワー比率推奨値をそのまま用いる場合よりも良好で、各光ディスクで最適なパワー比率を用いる場合と同等に良好な記録を行うことができる。従って、予め最適なパワー比率が分かっていない光ディスクに対しても、良好な記録を行うことができる。
【０１０１】
また、式（９）、式（１０）においては、最短マークを記録する場合のストラテジパルスの先頭パルス推奨値を用いているが、２番目に短いマークを記録する場合のストラテジパルスの先頭パルス幅推奨値あるいは、３番目に短いマークから最長マークを記録する場合のストラテジパルスの先頭パルス幅推奨値を代わりに用いてもよい。
【０１０２】
また上記の実施の形態２及び３では、パルス幅の調整（パルス幅推奨値からの修正）を行っていないが、パルス幅の調整を行うようにしても良い。
【図面の簡単な説明】
【０１０３】
【図１】この発明の実施の形態１における光記録装置を示すブロック図である。
【図２】この発明の実施の形態１におけるアシンメトリ検出部において、検出される再生信号のアシンメトリの例を示した図である。
【図３】この発明の実施の形態１における光記録装置において、光ディスクが色素系媒体である場合に生成するライトストラテジの例を示した図である。
【図４】この発明の実施の形態１における光記録装置における、記録の手順を示すフローチャートである。
【図５】この発明の実施の形態１における光記録装置において、光ディスクに記録されたライトストラテジの推奨値からライトストラテジを算出するフローチャートである。
【図６】この発明の実施の形態１における光記録装置において、ライトストラテジ推奨値２ＴＰとパルス幅２ＴＦの関係を示した図である。
【図７】この発明の実施の形態１における光記録装置において、ライトストラテジ推奨値ＬＴＰとパルス幅ＬＴＦの関係を示した図である。
【図８】この発明の実施の形態１における光記録装置において、ライトストラテジのパルス幅２ＴＦと１ＴＦの関係を示した図である。
【図９】この発明の実施の形態１における光記録装置において、ライトストラテジのパルス幅ＬＴＦと３ＴＦの関係を示した図である。
【図１０】この発明の実施の形態１における光記録装置において、ライトストラテジ推奨値のＴＭＰ×２ＴＰ×ＬＴＰ／１ＴＰとパルス幅ＴＭの関係を示した図である。
【図１１】この発明の実施の形態１における、光ディスクに記録された推奨アシンメトリ値β１と記録に用いられるアシンメトリ値β２の関係を示した図である
【図１２】この発明の実施の形態１における、光記録装置において、記録に用いるライトストラテジとジッタ値の関係を示した図である
【図１３】この発明の実施の形態１における光記録装置を示すブロック図である。
【図１４】この発明の実施の形態１における変調度検出部において、検出される再生信号の変調度の例を示した図である。
【図１５】この発明の実施の形態２と３における光記録装置において、光ディスクが相変化型媒体である場合に生成するライトストラテジの例を示した図である。
【図１６】この発明の実施の形態２と３における光記録装置における、記録の手順を示すフローチャートである。
【図１７】この発明の実施の形態２における光記録装置において、光ディスクに記録された記録条件推奨値のＰＷ１×εＰ１×ＴＭＰ１とパワー比率ε１の関係を示した図である。
【図１８】この発明の実施の形態２における光記録装置において、ライトストラテジ推奨値のＴＭＰ１×ＴＣＰ１／１ＴＰ１と記録に用いられる変調度ＭＯＤ１の関係を示した図である。
【図１９】この発明の実施の形態２における、光記録装置において、記録に用いるパワー比率とジッタ値の関係を示した図である。
【図２０】この発明の実施の形態３における光記録装置において、光ディスクに記録された記録条件推奨値の（ＰＷ２＾２×εＰ２）／１ＴＰ１とパワー比率ε２の関係を示した図である。
【図２１】この発明の実施の形態３における光記録装置において、光ディスクに記録された記録条件推奨値の１ＴＰ２×ＰＷ２と記録に用いられる変調度ＭＯＤ２の関係を示した図である。
【図２２】この発明の実施の形態３における、光記録装置において、記録に用いるパワー比率とジッタ値の関係を示した図である
【符号の説明】
【０１０４】
１００  光記録装置
１１０  半導体レーザ
１２０  レーザ駆動部
１３０  コリメートレンズ
１４０  ビームスプリッタ
１５０  対物レンズ
１６０  光ディスク
１７０  検出レンズ
１８０  受光素子
１９０  ヘッドアンプ
２００  データデコーダ
２１０  プリピット検出部
２２０  アシンメトリ検出部
２３０  データエンコーダ
２４０  レーザ波形制御部
２５０  中央制御装置
２６０  変調度検出部
【図１】
2006066068.tif 000003
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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【図２２】
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