(57)【要約】【課題】  記録中に温度ドリフトによるオフセット量の変動を正確に測定して、高精度なレーザ制御を可能にする光ディスクの記録制御方法を提供する。【解決手段】記録中のオフセット測定時において、実際の記録中に使用するサンプリング・ホールド信号の幅と同じ幅のサンプル・ホールド信号１０６をＳＨ回路１０５に入力し、該ＳＨ回路１０５がサンプル・ホールドしたデータのオフセット量を計測し、定期的にオフセット量の更新を行う。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクにレーザダイオードからレーザ光を出射して記録する際、前記レーザ出射光から光量を検出し、検出した光量をサンプル・ホールド回路でサンプル・ホールドし、該サンプル・ホールドしたデータを使用して、記録時の前記レーザ出射光のパワー調整を行う光ディスクの記録制御方法において、
記録中に前記サンプル・ホールド回路の入力電圧を、通常の記録状態の電圧レベルからリファレンス電圧に一定時間ごとに切り替える入力電圧切替ステップと、
前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられたとき、実際の記録中に入力されるサンプル・ホールド信号と同じ幅のサンプル・ホールド信号を前記サンプル・ホールド回路に入力させ、前記サンプル・ホールド回路の電気的オフセット量を計測するオフセット計測ステップと、
前記計測した電気的オフセット量と通常の記録状態の電圧レベルとの差分を算出する差分算出ステップと、
前記算出した差分に基づいて、前記レーザ出射光のパワー調整を行う調整ステップとを含む、
ことを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク記録制御方法において、
前記オフセット計測ステップは、
前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられている間、複数のサンプル・ホールド信号を前記サンプル・ホールド回路に入力させて、複数回の前記オフセット量の計測を行い、平均化した値を、後の処理で用いるオフセット量として更新する、
ことを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項３】
請求項１または請求項２に記載の光ディスク記録制御方法において、
前記オフセット計測ステップは、
前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられたとき、最初の一定回数の前記サンプル・ホールド信号によるオフセット計測データを破棄する、
ことを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項４】
請求項１または請求項２に記載の光ディスク記録制御方法において、
前記オフセット計測ステップは、
前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられたとき、一定時間経過するまでの前記サンプル・ホールド信号によるオフセット計測データを破棄する、
ことを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項５】
請求項１に記載の光ディスクの記録制御方法において、
前記調整ステップは、
前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられたとき、前記レーザ出射光のパワー調整機能をＯＦＦにし、前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記通常の記録状態の電圧レベルに切り替えられたとき、前記レーザ出射光のパワー調整機能をＯＮにする、
ことを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項６】
請求項５に記載の光ディスク記録制御方法において、
前記調整ステップは、
前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧から前記通常の記録状態の電圧レベルに戻されたとき、最初の一定回数の前記サンプル・ホールド信号の入力を破棄して、前記レーザ出射光のパワー調整機能をＯＮにする、
ことを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項７】
請求項５に記載の光ディスク記録制御方法において、
前記調整ステップは、
前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧から前記通常の記録状態の電圧レベルに戻されたとき、一定時間経過するまでの前記サンプル・ホールド信号の入力を破棄して、前記レーザ出射光のパワー調整機能をＯＮにする、
ことを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項８】
請求項１に記載の光ディスク記録制御方法において、
前記オフセット計測ステップは、
前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられている間に、マーク部サンプル・ホールド信号、及びスペース部サンプル・ホールド信号が共に前記サンプル・ホールド回路に入力されたとき、前記オフセット量の計測を行う、
ことを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項９】
請求項１に記載の光ディスク記録制御方法において、
前記オフセット計測ステップは、
前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられている間に、マーク部サンプル・ホールド信号、及びスペース部サンプル・ホールド信号が共に前記サンプル・ホールド回路に入力されないとき、前記オフセット量の計測を行わない、
ことを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項１０】
請求項９に記載の光ディスク記録制御方法において、
前記オフセット計測ステップは、
前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられている間に、マーク部サンプル・ホールド信号、及びスペース部サンプル・ホールド信号が共に前記サンプル・ホールド回路に入力されないとき、次に前記サンプル・ホールド回路の入力電圧をリファレンス電圧に切り替えてから前記オフセット量の計測を行うまでのインターバル時間を短縮する、
ことを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項１１】
請求項１に記載の光ディスク記録制御方法において、
前記オフセット計測ステップは、
前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられている間に、マーク部サンプル・ホールド信号、及びスペース部サンプル・ホールド信号が共に前記サンプル・ホールド回路に入力されないとき、実際の記録中に出力されるサンプル・ホールド信号と同じ幅のサンプル・ホールド信号を、前記サンプル・ホールド回路に入力させて前記オフセット量の計測を行う、
ことを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項１２】
請求項１に記載の光ディスク記録制御方法において、
前記オフセット計測ステップは、
前記サンプル・ホールド信号の入力電圧をリファレンス電圧に切り替えている間、電気的オフセット量の計測を行うと共に、レーザ出射光を消灯させて、光量的なオフセット量の計測を行う、
ことを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【請求項１３】
請求項１に記載の光ディスク記録制御方法において、
前記オフセット計測ステップは、
起動時及び記録開始前に、実際の記録時に出力されるサンプル・ホールド信号と同じ幅のサンプル・ホールド信号を、前記サンプル・ホールド回路に入力させて、前記オフセット量の計測を行い、該計測したオフセット量を記録開始時に使用する、
ことを特徴とする光ディスク記録制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクにレーザ光を照射して記録する際の該レーザ光のパワー調整を行う光ディスク記録制御方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来の光ディスク記録制御方法は、アナログ信号処理ＩＣのサンプル・ホールド（ＳＨ）回路の温度ドリフトにより、オフセット量が記録中に変動してしまうために、記録の状態を一定に保つためには、記録中にオフセット変動分を計測してオフセット量を更新する必要がある。
【０００３】
以下に従来の記録時の光ディスク記録制御方法について図５を用いて説明する。
図５に示す従来の光ディスクの記録レーザ制御装置は、レーザダイオード（ＬＤ）１、光量検出部２、スイッチ３、サンプル・ホールド（ＳＨ）回路５、光量計測部７、オフセット計測部８、減算処理部９、光量記憶部１０、フィードバック（ＦＢ）制御部１１、およびレーザダイオードドライバー（ＬＤＤ）１２を備えている。
ＬＤ１は、ＬＤＤ１２から供給された電流量に基づいてレーザ光を出射する。
【０００４】
光量検出部２は、実際の記録信号で駆動されたＬＤ１から出射される記録時のレーザ出射光から光量を検出し、レーザ出射波形信号を取得する。
【０００５】
スイッチ３は、ＳＨ回路５の入力電圧を変更するスイッチであり、オフセット測定タイミング信号４がＬｏｗのとき、リファレンス電圧に設定し、オフセット測定タイミング信号４がＨｉｇｈのとき、光量検出部２からの出力信号レベルに設定する。
【０００６】
オフセット測定タイミング信号４は、Ｌｏｗのときはオフセット測定期間を示し、Ｈｉｇｈのときは通常の記録状態を示す。
【０００７】
ＳＨ回路５は、サンプル・ホールド信号６の入力により、光量検出部２から出力されるレーザ出射波形信号をサンプル・ホールドする。
【０００８】
サンプル・ホールド（ＳＨ）信号６は、サンプル・ホールドするタイミングを示す信号であり、ＳＨ回路５に入力される。このＳＨ信号６は、マーク部サンプル・ホールド信号とスペース部サンプルホールド信号とを含む。
【０００９】
光量計測部７は、ＳＨ回路５でサンプル・ホールドしたデータの信号レベルを計測する。ただし、オフセット測定タイミング信号４がＬｏｗのとき、つまり、オフセット測定時には、光量の計測を行わず、オフセット計測部８とは排他的に動作する。
【００１０】
オフセット計測部８は、オフセット測定タイミング信号４がＬｏｗのとき、オフセット量を計測する。
【００１１】
減算処理部９は、光量計測部７から出力されたデータと、オフセット計測部８から出力されたオフセット量との差分を算出し、求めた差分値を光量記憶部１０へ伝達する。
【００１２】
光量記憶部１０は、減算処理部９から出力された差分値を記憶し、ＦＢ制御部１１に伝達する。
【００１３】
ＦＢ制御部１１は、光量記憶部１０から出力されたデータに基づいて、ＬＤＤ１２からＬＤ１へ供給するべき駆動電流を正確に伝達させるための記録制御を司る。
ＬＤＤ１２は、ＬＤ１に駆動電流を供給する。
【００１４】
次に、従来の光ディスク記録制御方法について図６を用いて説明する。図６は、従来の光ディスク記録制御方法の動作概略図を示している。
【００１５】
従来の記録時の光ディスク記録制御方法は、まず、ＬＤ１から出射される、記録時のレーザ出射光から図６（ａ）に示すようになレーザ出射波形信号を取得する。この信号をＳＨ回路５に入力し、ＳＨ信号６に基づいてサンプル・ホールドする。そして、サンプル・ホールドしたデータを使用して、記録時のレーザ出射光のパワー調整を行う。
【００１６】
また、ＳＨ回路５の温度ドリフトによるオフセット量の変動を除去するために、図６（ｂ）に示すように、スイッチ３によりＳＨ回路５の入力電圧を、一定時間間隔ごとにリファレンス電圧に切り替える。このとき、図６（ｃ）および（ｄ）に示すように、記録時のレーザ出射光から取得したレーザ出射波形信号をサンプリングするための、マーク部サンプル・ホールド信号およびスペース部サンプル・ホールド信号を、強制的にＬｏｗ（サンプリング状態）に設定して、オフセット量の取得を行う。なお、このオフセット量の取得を繰り返して、所定の回数の取得を行うと、取得した所定の回数分のオフセット量の平均を演算して、記録中にオフセット量を更新し、使用するオフセット量の精度を向上させている。
【特許文献１】特開２００３−１８７４３９号公報
【特許文献２】特開２００１−１９６６８７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１７】
しかしながら、上記従来の構成では、オフセット測定期間中は、サンプル・ホールド信号が常に強制サンプリング状態に設定されるため、高倍速にて記録する場合には、サンプリング時間が短くなるという制約があり、高倍速記録中に実際に出力されるサンプル・ホールド信号に比べて約１００００倍のオーダーで長い。
【００１８】
図４に、サンプル・ホールド信号の設定幅と、オフセット量の関係を示す。図４において、Ｐ１は、オフセット測定中に強制サンプリングする場合の幅であり、Ｐ２は低倍速時に実際の記録中に出力されるサンプル・ホールド信号の幅であり、Ｐ３は高倍速時に実際の記録中に出力されるサンプル・ホールド信号の幅を表している。
【００１９】
この図４から分かるように、高倍速記録の場合には、実際の記録中に出力されるサンプル・ホールド信号の幅（Ｐ３）と、従来の記録中のオフセット取得時のサンプル・ホールド信号の幅（Ｐ１）が大きく異なり、また、オフセット量も大きく異なっているため、記録中にオフセット量を取得する際に、正確なオフセット量を取得できない可能性があるという欠点を有していた。この欠点のために、特に高倍速記録時においては、オフセット測定中にサンプル・ホールド信号のオフセット量がずれてしまうため、定期的なオフセット量の更新の際に、ずれたオフセット量に更新されてしまうことで、記録の状態を一定に保つことができなくなる可能性があった。
【００２０】
本発明は、上記問題点を解消するためになされたものであり、光ディスクの記録中に温度ドリフトによるオフセット量の変動を正確に測定し、レーザ出射光のパワー調整を高精度化することができる光ディスク記録制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２１】
上記課題を解決するために、本発明の請求項１に係る光ディスクの記録制御方法は、光ディスクにレーザダイオードからレーザ光を出射して記録する際、前記レーザ出射光から光量を検出し、検出した光量をサンプル・ホールド回路でサンプル・ホールドし、該サンプル・ホールドしたデータを使用して、記録時の前記レーザ出射光のパワー調整を行う光ディスクの記録制御方法において、記録中に前記サンプル・ホールド回路の入力電圧を、通常の記録状態の電圧レベルからリファレンス電圧に一定時間ごとに切り替える入力電圧切替ステップと、前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられたとき、実際の記録中に入力されるサンプル・ホールド信号と同じ幅のサンプル・ホールド信号を前記サンプル・ホールド回路に入力させ、前記サンプル・ホールド回路の電気的オフセット量を計測するオフセット計測ステップと、前記計測した電気的オフセット量と通常の記録状態の電圧レベルとの差分を算出する差分算出ステップと、前記算出した差分に基づいて、前記レーザ出射光のパワー調整を行う調整ステップとを含む、ことを特徴とする。
【００２２】
これにより、サンプル・ホールド幅に依存するオフセット量を正しく計測することができ、高倍速記録時おいても正しいオフセット量を取得することができるので、記録品質を良好に保つことができる光ディスク記録制御方法を提供することができる。
【００２３】
また、本発明の請求項２に係る光ディスクの記録制御方法は、請求項１に記載の光ディスク記録制御方法において、前記オフセット計測ステップは、前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられている間、複数のサンプル・ホールド信号を前記サンプル・ホールド回路に入力させて、複数回の前記オフセット量の計測を行い、平均化した値を、後の処理で用いるオフセット量として更新する、ことを特徴とする。
【００２４】
これにより、オフセット量を記録中に更新することで記録の状態を一定に保ち、使用するオフセット量を精度よく算出することができる。
【００２５】
また、本発明の請求項３に係る光ディスクの記録制御方法は、請求項１または請求項２に記載の光ディスク記録制御方法において、前記オフセット計測ステップは、前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられたとき、最初の一定回数の前記サンプル・ホールド信号によるオフセット計測データを破棄する、ことを特徴とする。
【００２６】
これにより、入力電圧変更の静定待ちを行うことができ、オフセット量を精度よく算出できる。
【００２７】
また、本発明の請求項４に係る光ディスクの記録制御方法は、請求項１または請求項２に記載の光ディスク記録制御方法において、前記オフセット計測ステップは、前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられたとき、一定時間経過するまでの前記サンプル・ホールド信号によるオフセット計測データを破棄する、ことを特徴とする。
【００２８】
これにより、入力電圧変更の静定待ちを行うことができ、オフセット量を精度よく算出できる。
【００２９】
また、本発明の請求項５に係る光ディスク記録制御方法は、請求項１に記載の光ディスクの記録制御方法において、前記調整ステップは、前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられたとき、前記レーザ出射光のパワー調整機能をＯＦＦにし、前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記通常の記録状態の電圧レベルに切り替えられたとき、前記レーザ出射光のパワー調整機能をＯＮにする、ことを特徴とする。
【００３０】
これにより、記録時のレーザ出射光のパワー調整機能を効率良く制御して、記録の状態を一定に保つことができる。
【００３１】
また、本発明の請求項６に係る光ディスクの記録制御方法は、請求項５に記載の光ディスク記録制御方法において、前記調整ステップは、前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧から前記通常の記録状態の電圧レベルに戻されたとき、最初の一定回数の前記サンプル・ホールド信号の入力を破棄して、前記レーザ出射光のパワー調整機能をＯＮにする、ことを特徴とする。
【００３２】
これにより、入力電圧変更の静定待ちを行うことができ、レーザ出射光のパワー調整機能の復帰直後の記録状態を安定に保つことができる。
【００３３】
また、本発明の請求項７に係る光ディスクの記録制御方法は、請求項５に記載の光ディスク記録制御方法において、前記調整ステップは、前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧から前記通常の記録状態の電圧レベルに戻されたとき、一定時間経過するまでの前記サンプル・ホールド信号の入力を破棄して、前記レーザ出射光のパワー調整機能をＯＮにする、ことを特徴とする。
【００３４】
これにより、入力電圧変更の静定待ちを行うことができ、レーザ出射光のパワー調整機能の復帰直後の記録状態を安定に保つことができる。
【００３５】
また、本発明の請求項８に係る光ディスクの記録制御方法は、請求項１に記載の光ディスク記録制御方法において、前記オフセット計測ステップは、前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられている間に、マーク部サンプル・ホールド信号、及びスペース部サンプル・ホールド信号が共に前記サンプル・ホールド回路に入力されたとき、前記オフセット量の計測を行う、ことを特徴とする。
【００３６】
これにより、マーク部およびスペース部サンプル・ホールド信号がオフセット計測期間の同一周期内にどちらも出力された場合にのみ、オフセット量の計測を行うことで、その後のオフセット量の演算処理を簡潔にすることができる。
【００３７】
また、本発明の請求項９に係る光ディスクの記録制御方法は、請求項１に記載の光ディスク記録制御方法において、前記オフセット計測ステップは、前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられている間に、マーク部サンプル・ホールド信号、及びスペース部サンプル・ホールド信号が共に前記サンプル・ホールド回路に入力されないとき、前記オフセット量の計測を行わない、ことを特徴とする。
【００３８】
これにより、記録中のオフセット量更新の際に間違ったオフセット量が更新されることを防ぐことできる。
【００３９】
また、本発明の請求項１０に係る光ディスクの記録制御方法は、請求項９に記載の光ディスク記録制御方法において、前記オフセット計測ステップは、前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられている間に、マーク部サンプル・ホールド信号、及びスペース部サンプル・ホールド信号が共に前記サンプル・ホールド回路に入力されないとき、次に前記サンプル・ホールド回路の入力電圧をリファレンス電圧に切り替えてから前記オフセット量の計測を行うまでのインターバル時間を短縮する、ことを特徴とする。
【００４０】
これにより、オフセット量の平均化処理の際にサンプル数が少なくなってオフセット量の精度が劣化することを防ぐことできる。
【００４１】
また、本発明の請求項１１に係る光ディスクの記録制御方法は、請求項１に記載の光ディスク記録制御方法において、前記オフセット計測ステップは、前記サンプル・ホールド回路の入力電圧が前記リファレンス電圧に切り替えられている間に、マーク部サンプル・ホールド信号、及びスペース部サンプル・ホールド信号が共に前記サンプル・ホールド回路に入力されないとき、実際の記録中に出力されるサンプル・ホールド信号と同じ幅のサンプル・ホールド信号を、前記サンプル・ホールド回路に入力させて前記オフセット量の計測を行う、ことを特徴とする。
【００４２】
これにより、オフセット量の平均化処理の際にサンプル数が少なくなってオフセット量の精度が劣化することを防ぐことができる。
【００４３】
また、本発明の請求項１２に係る光ディスクの記録制御方法は、請求項１に記載の光ディスク記録制御方法において、前記オフセット計測ステップは、前記サンプル・ホールド信号の入力電圧をリファレンス電圧に切り替えている間、電気的オフセット量の計測を行うと共に、レーザ出射光を消灯させて、光量的なオフセット量の計測を行う、ことを特徴とする。
【００４４】
これにより、記録中において正確なオフセット量を計測でき、そのオフセット量を記録中に定期的に更新することで記録の状態を一定に保つことができる。
【００４５】
また、本発明の請求項１３に係る光ディスクの記録制御方法は、請求項１に記載の光ディスク記録制御方法において、前記オフセット計測ステップは、起動時及び記録開始前に、実際の記録時に出力されるサンプル・ホールド信号と同じ幅のサンプル・ホールド信号を、前記サンプル・ホールド回路に入力させて、前記オフセット量の計測を行い、該計測したオフセット量を記録開始時に使用する、ことを特徴とする。
【００４６】
これにより、記録開始直後においても記録の状態を一定に保つ光ディスク記録制御方法を提供することができる。
【発明の効果】
【００４７】
本発明の光ディスクの記録制御方法は、サンプル・ホールド回路の入力電圧がリファレンス電圧に切り替えられている間、実際の記録中に使用するサンプル・ホールド信号の幅と同じ幅のサンプル・ホールド信号を前記サンプル・ホールド回路に入力させて、オフセットの計測を行うことにより、記録時のオフセット量の計測を正確に行うことができ、これにより、記録の状態を一定に保つことができ、安定した記録を実現することができる光ディスクの記録制御方法を実現可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４８】
以下本発明の一実施形態について、図面を参照しながら説明する。
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１による、光ディスク記録制御装置の構成概略図を示すものである。
【００４９】
本実施の形態１による光ディスク記録制御装置は、レーザダイオード（ＬＤ）１０１、光量検出部１０２、スイッチ１０３、サンプル・ホールド（ＳＨ）回路１０５、光量計測部１０７、オフセット計測部１０８、減算処理部１０９、光量記憶部１１０、フィードバック（ＦＢ）制御部１１１、レーザダイオードドライバー（ＬＤＤ）１１２、及びカウンタ１１３を備えている。
【００５０】
ＬＤ１０１は、ＬＤＤ１１２から供給された電流量に基づいてレーザ光を出射する。
光量検出部１０２は、実際の記録信号で駆動されたＬＤ１０１から出射される記録時のレーザ出射光から光量を検出し、レーザ出射波形信号を取得する。
【００５１】
スイッチ１０３は、ＳＨ回路１０５の入力電圧を変更するものであり、オフセット測定タイミング信号１０４がＬｏｗのとき、リファレンス電圧に設定し、オフセット測定タイミング信号１０４がＨｉｇｈの時、光量検出部１０２の出力信号レベルに設定する。
【００５２】
オフセット測定タイミング信号１０４は、Ｌｏｗのときはオフセット測定期間を示し、Ｈｉｇｈの時は通常の記録状態を示す。なお、本実施の形態では、オフセット測定タイミング信号１０４は外部から入力される場合について示しているが、ＦＢ制御部１１１がオフセット測定タイミング信号１０４を出力し、オフセット測定を制御するようにしても良い。
【００５３】
ＳＨ回路１０５は、サンプル・ホールド信号１０６の入力により、光量検出部１０２から出力されるレーザ出射波形信号をサンプル・ホールドする。
【００５４】
サンプル・ホールド（ＳＨ）信号１０６は、サンプル・ホールドするタイミングを示す信号である。このＳＨ信号１０６は、外部から入力されるもので、マーク部サンプル・ホールド信号とスペース部サンプルホールド信号とを含む。
【００５５】
光量計測部１０７は、ＳＨ回路１０５でサンプル・ホールドしたデータの光量を計測する。ただし、オフセット測定タイミング信号１０４がＬｏｗのとき、光量の計測を行わず、オフセット計測部１０８とは排他的に動作する。
【００５６】
オフセット計測部１０８は、オフセット測定タイミング信号１０４がＬｏｗのと、オフセット量を計測する。
【００５７】
減算処理部１０９は、光量計測部１０７から出力されたデータと、オフセット計測部１０８から出力されたオフセット量との差分を算出し、求めた差分値を光量記憶部１１０へ伝達する。
【００５８】
光量記憶部１１０は、減算処理部１０９から出力された差分値を記憶し、ＦＢ制御部１１１に伝達する。
【００５９】
ＦＢ制御部１１１は、光量記憶部１１０から出力されたデータに基づいて、ＬＤＤ１１２からＬＤ１０１へ供給するべき駆動電流を正確に伝達させるための記録制御を司る。
ＬＤＤ１１２は、ＬＤ１０１に駆動電流を供給する。
【００６０】
カウンタ１１３は、ＳＨ信号１０６が一定時間内にＳＨ回路１０５へ入力される回数をカウントし、オフセット計測部１０８にもそのカウントした回数を伝達する。
【００６１】
図１において、図５と異なるのは、カウンタ１１３が設けられている点、カウンタ１１３がＳＨ信号１０６のＳＨ回路１０５への入力回数のカウントを行う点、カウンタ１１３がオフセット計測部１０８にＳＨ信号１０６のカウント回数を伝達する点である。
【００６２】
図２は、本実施の形態１の光ディスク記録制御装置における記録中の光ディスク記録制御方法を説明するための信号波形図である。
【００６３】
図２において、（ａ）は、光量検出部１０２から出力される実際の記録信号で駆動されたＬＤ１０１から出射される記録時のレーザ出射光から取得したレーザ出射波形信号、（ｂ）は、オフセット測定タイミング信号１０４を示す信号で、Ｌｏｗのとき、ＳＨ回路１０５への入力信号がリファレンス電圧に設定されることを表しており、Ｈｉｇｈのとき、通常の記録状態を表しているものであり、（ｃ）は、マーク部サンプル・ホールド信号であり、レーザ出射波形信号のマーク部をサンプル・ホールドするための信号、（ｄ）は、スペース部サンプル・ホールド信号であり、レーザ出射波形信号のスペース部をサンプル・ホールドするための信号である。
【００６４】
図２において、図６と異なるのは、マーク部サンプル・ホールド信号とスペース部サンプル・ホールド信号がＳＨ回路１０５への入力電圧をリファレンス電圧に切り替えるオフセット測定時に常に強制サンプリング状態に設定されるのではなく、通常の記録時に出力されるＳＨ信号を出力させるように改良した点である。
【００６５】
次に、光ディスク記録制御方法について、図３を用いて説明する。図３は、本実施の形態１の光ディスク記録制御方法のフローチャート図である。
【００６６】
まず、光ディスクの記録を開始し（Ｓ２０１）、実際の記録信号で駆動されたＬＤ１０１から出射される記録時のレーザ出射光の光量を光量検出部１０２で検出し、レーザ出射波形信号を取得する（Ｓ２０２）。
【００６７】
そして、ＳＨ回路１０５の温度ドリフトによるオフセット量の変動を除去するために、一定時間間隔ごとに、オフセット測定タイミング信号１０４をＬｏｗにして、以降の処理を行う（Ｓ２０３）。
【００６８】
オフセット測定タイミング信号１０４がＬｏｗのとき、つまり、オフセット測定期間のとき、ＳＨ回路１０５の入力電圧を、記録時のレーザ出射光から取得したレーザ出射波形信号の電圧レベルからリファレンス電圧に切り替える（Ｓ２０４）。
【００６９】
ＳＨ回路１０５の入力電圧をリファレンス電圧に切り替えた直後は、一定回数のサンプル・ホールド信号の入力によるオフセット計測データを破棄、あるいは、一定時間経過するまでのサンプル・ホールド信号の入力によるオフセット計測データを破棄し、静定されるのを待つ（Ｓ２０５）。
【００７０】
静定されると、ＳＨ回路１０５への入力電圧をリファレンス電圧に切り替えている間に、マーク部サンプル・ホールド信号、およびスペース部サンプル・ホールド信号が共に入力されるまで待つ（Ｓ２０６）。
【００７１】
例えば、図２のオフセット測定期間Ｂに示すように、マーク部サンプル・ホールド信号、およびスペース部サンプル・ホールド信号が共に入力されたことをカウンタ１１３で検知した場合にのみ、オフセット計測部１０８によるオフセット量の計測を行い、以降所定の回数までサンプル・ホールド信号の入力によるオフセット量の計測を繰り返す（Ｓ２０７）。所定の回数分計測した後に平均化して、平均化した値を減算処理部１０９に出力して、オフセット量を更新する（Ｓ２０８）。これにより、オフセット量の精度を向上させることができる。
【００７２】
また、図２のオフセット測定期間Ａに示すように、マーク部サンプル・ホールド信号およびスペース部サンプル・ホールド信号が共に入力されなかった場合、オフセット量の計測は行わない。このとき、サンプル・ホールド信号１０６の入力回数をカウンタ１１３でカウントしないことで、前記平均化処理に必要となるオフセット量の計測を行わないようにする。これにより、誤ったオフセット量を取得して、その後の平均化処理により求めたオフセット量に誤差が生じてしまうのを防ぐ。ただし、その場合、次回のオフセット測定期間までのインターバル時間を短縮するよう設定して、スイッチ１０３をリファレンス電圧に切り替え、オフセット量の計測を行える状態にしておく。これにより、オフセット量の平均化処理の際にサンプル数が少なくなってオフセット量の精度が劣化するのと防ぐことができる。あるいは、このような場合を回避するために、ＳＨ回路１０５の入力電圧がリファレンス電圧に切り替えられている間、実際の記録中に出力されるサンプル・ホールド信号と同じ幅のサンプル・ホールド信号をＳＨ回路１０５に入力させ、オフセット量の測定を行うようにしても良い。これにより、記録開始直後においても記録の状態を一定に保つことができる。
【００７３】
一方、オフセット測定タイミング信号１０４がＨｉｇｈのとき、つまり、通常の記録状態のとき、ＳＨ回路１０５の入力電圧を、光量検出部１０２の出力信号レベルに設定する（Ｓ２０９）。
【００７４】
ＳＨ回路１０５の入力電圧を切り替えた直後は、静定待ちのため、一定回数のサンプル・ホールド信号１０６の入力を破棄、あるいは、一定時間経過するまでのサンプル・ホールド信号１０６の入力を破棄する。これにより、レーザ出射光のパワー調整機能を再開（復帰）直後でも安定した記録の状態を実現することができる。
【００７５】
静定された後、ＳＨ回路１０５でサンプル・ホールドしたデータの光量を計測する（Ｓ２１１）。
【００７６】
そして、光量計測部７で計測した、記録時のレーザ出射光から取得したレーザ出射波形信号の電圧レベルと、オフセット計測部１０８で計測した、電気的オフセット量と、の差分を算出し（Ｓ２１２）、算出して得られた値を、光量記憶部１１０に記憶させ（Ｓ２１３）、ＦＢ制御部に伝送し、ＬＤＤ１１２からＬＤ１０１へ供給する駆動電流を目的の電流量に調整する（Ｓ２１４）。これにより、記録時のレーザ出射光のパワー調整を行うことができる。
【００７７】
この動作により、図４のＰ３における高倍速記録時に、実際の記録中に出力されるサンプル・ホールド信号と同じ幅のサンプル・ホールド信号を用いてオフセット量の計測を正しく行うことができ、安定した記録を実現することが可能である。また、低倍速記録を行う場合においても、図４のＰ２における記録時に、実際の記録中に出力されるサンプル・ホールド信号と同じ幅のサンプル・ホールド信号を用いてオフセット量の計測を行うことができるため、図４に示すサンプル・ホールド信号設定幅に対するオフセット量のばらつきを抑えることができ、安定した記録を実現することができる。
【００７８】
なお、オフセット測定タイミング信号１０４により、スイッチ１０３がリファレンス電圧に切り替えられている間、ＳＨ回路１０５からオフセット計測部１０８までの電気的なオフセット量の計測を行うとともに、ＬＤ１０１のレーザ出射光を消灯させてＬＤ１０１から光量計測部１０７までの光量的なオフセット量も取得するようにしても良い。この場合、光量的なオフセット量の変動分も併せて除去することが可能となり、より安定した記録の状態を実現することができる。
【００７９】
さらに、起動時や記録開始前においても、記録中に使用するサンプル・ホールド信号の幅と同じ幅のサンプル・ホールド信号をＳＨ回路１０５に入力して、ＳＨ回路１０５がサンプル・ホールドしたデータのオフセット量を計測し、そのオフセット量を記録開始時に使用することで、記録開始直後においても記録の状態を一定に保ち、安定した記録の状態を実現することができる。
【００８０】
このような本実施の形態１では、高倍速における記録時に、実際の記録信号で駆動されたＬＤ１０１から出射される記録時のレーザ出射光から取得したレーザ出射波形信号をサンプル・ホールドする時間が短くなってしまった場合、実際の記録中に出力させるサンプル・ホールド信号と同じ幅のＳＨ信号１０６をＳＨ回路１０５に入力させ、オフセット量を計測することにより、高倍速記録時においても正しいオフセット量を取得することができる。また、計測したオフセット量を定期的に更新することで、記録の状態を一定に保ち、記録品質を良好に保つことができる。
【産業上の利用可能性】
【００８１】
本発明の光ディスク記録制御方法によると、高倍速記録時においても正確なオフセット量を測定することができ、記録の状態を一定に保つことができる記録時のオフセット・キャンセルを実現可能であるため、近年、市場からの高倍速記録の要求が高まる中にあって有用である。
【図面の簡単な説明】
【００８２】
【図１】本発明の実施の形態１による、光ディスクの記録制御装置の構成概略図である。
【図２】本発明の実施の形態１による、光ディスク記録制御方法の動作概略図である。
【図３】本発明の実施の形態１による、光ディスク記録制御方法を示すフローチャート図である。
【図４】サンプル・ホールド信号の設定幅と、オフセット量の関係を示す図である。
【図５】従来の光ディスク記録制御装置の構成概略図である。
【図６】従来の光ディスク記録制御方法の動作概略図である。
【符号の説明】
【００８３】
１  ＬＤ
２  光量検出部
３  スイッチ
４  オフセット測定タイミング信号
５  ＳＨ回路
６  ＳＨ信号
７  光量計測部
８  オフセット計測部
９  減算処理部
１０  光量記憶部
１１  ＦＢ制御部
１２  ＬＤＤ
１０１  ＬＤ
１０２  光量検出部
１０３  スイッチ
１０４  オフセット測定タイミング信号
１０５  ＳＨ回路
１０６  ＳＨ信号
１０７  光量計測部
１０８  オフセット計測部
１０９  減算処理部
１１０  光量記憶部
１１１  ＦＢ制御部
１１２  ＬＤＤ
１１３  カウンタ
Ｐ１    オフセット測定中に強制サンプリングする場合の幅
Ｐ２    低倍速時に実際の記録中に出力されるサンプル・ホールド信号の幅
Ｐ３    高倍速時に実際の記録中に出力されるサンプル・ホールド信号の幅
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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