(57)【要約】      （修正有）【課題】電子回路基板に実装された被極性検査電気二重層コンデンサが正しい極性で実装されているか否かを検査でき、またその検査データを集計できる安価な極性検査装置を得ること。【解決手段】極性検査装置１Ｂは、箱形の本体４０と、電気二重層コンデンサＣが実装されている被検査電子回路基板Ｂを電気二重層コンデンサＣの端子が上方に露出するように水平状態で支持し、位置決めする位置決めピン４３と、本体４０に配設され、一対のプローブ１１に数ｍＶから５０ｍＶ以下の直流電圧を発生し電気二重層コンデンサＣの端子に前記直流電圧を印加できる定電圧回路と、電子回路基板Ｂ上の電気二重層コンデンサＣの端子の位置と対応した位置に前記定電圧回路の一対の測定端子１１ａ、１１ｂなどが配設され、この一対の測定端子が電気二重層コンデンサＣの端子Ｃａなどの上方から接触できるように本体４０に開閉自在に連結された測定端子板４６とを備えている。【選択図】図７
2006073686.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
一対の測定端子に数ｍＶから５０ｍＶ以下の直流電圧を発生する定電圧回路を備え、電子回路基板に実装された状態の電気二重層コンデンサの端子に前記直流電圧を印加することにより前記電気二重層コンデンサの極性を検査することを特徴とする電気二重層コンデンサの極性検査装置。
【請求項２】
前記電気二重層コンデンサが前記電子回路基板に正しい極性で実装されているか否かを報知する報知装置が前記定電圧回路の出力端子に接続されていることを特徴とする請求項１に記載の電気二重層コンデンサの極性検査装置。
【請求項３】
前記定電圧回路が定電流ダイオードによる電流制御により測定端子の電圧を安定させて発生させていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電気二重層コンデンサの極性検査装置。
【請求項４】
前記定電圧回路がレギュレータ回路により電流制御により測定端子の電圧を安定させて発生させていることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の電気二重層コンデンサの極性検査装置。
【請求項５】
箱形の本体と、
該本体の開口部近傍に設けられ、被極性検査電気二重層コンデンサが実装されている被検査電子回路基板を、該被極性検査電気二重層コンデンサの端子が上方に露出するように水平状態で支持し、位置決めする位置決め手段と、
前記本体に配設され、一対の測定端子に数ｍＶから５０ｍＶ以下の直流電圧を発生し、前記被極性検査電気二重層コンデンサの端子に前記直流電圧を印加できる定電圧回路と、
前記被検査電子回路基板上の前記被極性検査電気二重層コンデンサの端子の位置と対応した位置に前記定電圧回路の前記一対の測定端子が配設され、該一対の測定端子が前記被極性検査電気二重層コンデンサの端子の上方から接触できるように前記本体に開閉自在に連結された測定端子板と
を備えて構成されていることを特徴とする電気二重層コンデンサの極性検査装置。
【請求項６】
前記被検査電子回路基板には複数の被極性検査電気二重層コンデンサが実装されており、前記測定端子板にはそれら被極性検査電気二重層コンデンサの端子に対応した数の、そしてそれぞれに対応した位置に前記測定端子が配設されていることを特徴とする請求項５に記載の電気二重層コンデンサの極性検査装置。
【請求項７】
前記本体内に、前記定電圧回路によって検出された前記被極性検査電気二重層コンデンサの極性検査データを集計するコンピュータからなる制御装置が配設されていることを特徴とする請求項５に記載の電気二重層コンデンサの極性検査装置。
【請求項８】
前記本体内に、前記複数の電気二重層コンデンサの測定箇所、測定順序などを制御し、また、必要に応じて前記定電圧回路によって検出された前記被極性検査電気二重層コンデンサの極性検査データを記憶、集計するコンピュータからなる制御装置が配設されていることを特徴とする請求項６に記載の電気二重層コンデンサの極性検査装置。
【請求項９】
前記制御装置が外部に配設されている外部制御装置と通信できるように接続されて構成されていることを特徴とする請求項７、または請求項８に記載の電気二重層コンデンサの極性検査装置。
【請求項１０】
前記被極性検査電気二重層コンデンサが前記電子回路基板に正しい極性で実装されているか否かを報知する報知装置が前記定電圧回路の出力端子に接続されていることを特徴とする請求項５に記載の電気二重層コンデンサの極性検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子回路基板に実装された状態の被極性検査電気二重層コンデンサの極性を検査する電気二重層コンデンサの極性検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
電気二重層コンデンサは、
１．小形でファラッド（Ｆ）単位の静電容量が得られること
２．特別な充電回路や放電時の制約が不要であること
３．過充電、過放電を行っても電池のように寿命に影響することがないこと
４．環境性に優れたクリーンエネルギーであること
５．電子部品として半田付けできることから、電池のように脱落や接続不安定にならない  こと
から
１．ビデオ、オーディオ機器のタイマーやプログラムなどのメモリーバックアップ
２．携帯機器などの電池交換時の補助電源
３．時計、表示灯など太陽電池を使用した機器の蓄電源
４．小型モータやセルモータの起動電源
などの用途に用いられている。
【０００３】
前記のように、電気二重層コンデンサは他の部品と共に電子回路基板に実装されて用いられることから、その極性が正しい向きで実装されているかどうかを検査する必要がある。
【０００４】
従来の電解コンデンサなどの一般の有極性コンデンサは、極性が逆接続された時は、そのコンデンサ内部に破裂または焼損などの障害に対する保護回路が入っていないため、そのままにしておけば破裂し、最悪の場合は焼損して火災にまで至ってしまう。そのため、有極性コンデンサを逆接続した回路パッケージが、そのままの状態でフィールドに出て障害を起した時などは、その改修に莫大な費用が掛かる場合がある。
【０００５】
従って、従来、有極コンデンサの極性を判別する方法としては、一般に目視方法が用いられている。この場合、人間の目による確認作業を行うため、人件費が掛かり、判別スピードと信頼性に欠けるものである。
【０００６】
このため、種々の有極コンデンサの極性検査装置の発明がなされてきている。以下にそれらの幾つかの極性検査装置を図示して説明する。
【０００７】
図９は従来技術の第１形態の有極コンデンサの極性判別装置の回路図、図１０は従来技術の第２形態の有極コンデンサの極性判別装置の回路図、そして図１１は従来技術の第３形態の有極コンデンサの極性判別装置の回路図である。
【０００８】
なお、以下に記す従来技術の各回路図などにおける符号は各特許文献で用いられている符号を流用する。
【０００９】
特許文献１には、図９に示したように、コンデンサ素子を金属ケースに収納した有極コンデンサ１の極性を判別するために、有極コンデンサ１の陽極端子とケース間及び陰極端子と前記ケース間との各インピーダンスの相違を検出する検出回路２と、前記有極コンデンサの極性を判別し得る判別回路７を有する有極コンデンサの極性判別装置が開示されている。検出回路２は有極コンデンサ１の陽極端子ａと陰極端子ｂとの間に互いに逆方向に並列に接続された発光ダイオード３及び４とからなり、判別回路７は前記両発光ダイオード３及び４からの光を受光し、スイッチング動作をするフォトトランジスタ８及び９とから構成されている。
【００１０】
特許文献２には、図１０に示したように、ＬＥＤからなる可視光発生回路１を有極コンデンサ１０に並列に接続し、そのコンデンサ１０が逆極性で実装された場合に可視光を発生させるように構成するか、導通遮断回路２を有極コンデンサ１０に直列に接続して、そのコンデンサが逆極性で実装された場合に、その有極コンデンサ１０への導通を遮断するように構成した有極コンデンサが開示されている。
【００１１】
また、特許文献３には、図１１に示したように、有極コンデンサの極性判別装置１００は、信号発生器１１と、検出部１３と、報知部１５と、接地手段１６とを備えている。電解コンデンサ１の片方の外部端子を接地させ、信号発生器１１より極性判別用信号を電解コンデンサ１の両外部端子間に印加し、印加された極性判別用信号ｅにより金属ケース４に誘起された誘導電圧を検出し、この誘導信号に基づいて接地された片方の外部端子の極性を報知する方法を採っている。例えば、検出された誘導電圧が予め設定された基準レベル以上の場合では、接地された片方の外部端子３は正極端子であることを報知し、また、検出された誘導電圧が基準レベルより低い湯合では、接地された片方の外部端子３は負極端子であることを報知するようにしている。
【特許文献１】特開昭６２−２３４３１８号（第２頁、図１）
【特許文献２】特開平５−２７５２８５号（第２頁、図１）
【特許文献３】特開２００４−７１９７１号（第４及び５頁、図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかし、特許文献１の極性判別装置では発光ダイオード３及び４を、そして特許文献２の極性判別装置では可視光発生回路１に発光ダイオード（ＬＥＤ）を用いていることから、有極コンデンサの電極に数Ｖ程度の高電圧を印加する必要がある。
【００１３】
また特許文献３の極性判別装置では、電解コンデンサの金属ケース４にプローブ１４ｂを接続して、そこに誘起された誘導電圧を検出する方法を採っている。
【００１４】
従って、数Ｖ程度の高い電圧を印加すると破壊されてしまう電気二重層コンデンサには、特許文献１及び特許文献２の技術は利用できず、また、電気二重層コンデンサの負極は外部金属ケースと一体に形成されていることから、特許文献３の技術は電気二重層コンデンサの極性検査（或いは判別）に応用することができない。また、電気二重層コンデンサが実装されている電子回路基板上の他の電子部品を破壊してしまう恐れもあり、高い電圧を印加して、その電気二重層コンデンサの極性を検査することは避けなければならない。
【００１５】
これらの他、有極コンデンサの極性を判別する方法として、画像処理方法を用いる方法がある。この場合、ＣＣＤカメラなど画像撮影装置と撮影した画像を処理する画像処理装置を用いて、有極コンデンサの外周面上に印刷された印字を認識して有極コンデンサの極性を判断している。画像撮影装置及び画像処理装置のコストが高く、判別ソフトをその都度作成する必要がある。このような極性検査装置は、非常に高価な測定装置など大掛かりな装置を使用する必要があることから採算が合わない。
【００１６】
本発明は、これらの課題を解決しようとするものであって、電子回路基板に実装された状態の被極性検査電気二重層コンデンサが正しい極性で実装されているか否かを検査でき、またその検査データを集計できるなどの特徴を備え、そして安価な電気二重層コンデンサの極性検査装置を得ることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
それ故、本発明の電気二重層コンデンサの極性検査装置は、一対の測定端子に数ｍＶから５０ｍＶ以下の直流電圧を発生する定電圧回路を備え、被検査電子回路基板に実装された状態の被極性検査電気二重層コンデンサの端子に前記直流電圧を印加することにより前記被極性検査電気二重層コンデンサの極性を検査することを特徴とするものである。
【００１８】
前記電気二重層コンデンサの極性検査装置に、前記被極性検査電気二重層コンデンサが前記被検査電子回路基板に正しい極性で実装されているか否かを報知する報知装置を前記定電圧回路の出力端子に接続しておくことが望ましい。
【００１９】
また、前記定電圧回路を定電流ダイオードによる電流制御により測定端子の電圧を安定させて発生させる回路で構成すること、或いはレギュレータ回路により電流制御により測定端子の電圧を安定させて発生させる回路で構成することが望ましい。
【００２０】
従って、本発明によれば、簡単で安価な構成の検査回路を用い、しかも被極性検査電気二重層コンデンサを破壊することなく極性検査を行うことができる。
【００２１】
更に、本発明の電気二重層コンデンサの極性検査装置は、箱形の本体と、該本体の上方に設けられ、被極性検査電気二重層コンデンサが実装されている被検査電子回路基板を、該被極性検査電気二重層コンデンサの端子が上方に露出するように水平状態で支持し、位置決めする位置決め手段と、前記本体に配設され、一対の測定端子に数ｍＶから５０ｍＶ以下の直流電圧を発生し、前記被極性検査電気二重層コンデンサの端子に前記直流電圧を印加できる定電圧回路と、前記被検査電子回路基板上の前記被極性検査電気二重層コンデンサの端子の位置と対応した位置に前記定電圧回路の前記一対の測定端子が配設され、該一対の測定端子が前記被極性検査電気二重層コンデンサの端子の上方から接触できるように前記本体に開閉自在に連結された測定端子板とを備えて構成されているものである。
【００２２】
この発明の電気二重層コンデンサの極性検査装置では、前記被検査電子回路基板に複数の被極性検査電気二重層コンデンサが実装されている場合は、前記測定端子板にはそれら被極性検査電気二重層コンデンサの端子に対応した数の、そしてそれぞれに対応した位置に前記測定端子を配設する。
【００２３】
また、この発明の電気二重層コンデンサの極性検査装置では、前記本体内に、前記定電圧回路によって検出された前記被極性検査電気二重層コンデンサの極性検査データを集計するコンピュータからなる制御装置を配設してもよい。
【００２４】
更に、この発明の電気二重層コンデンサの極性検査装置では、前記本体内に、前記複数の被極性検査電気二重層コンデンサの測定箇所、測定順序などを制御し、また、必要に応じて前記定電圧回路によって検出された前記被極性検査電気二重層コンデンサの極性検査データを記憶、集計するコンピュータからなる制御装置を配設してもよい。
【００２５】
更にまた、この発明の電気二重層コンデンサの極性検査装置では、前記制御装置を外部に配設されている外部制御装置と通信できるように接続して構成してもよい。
【００２６】
そして更にまた、この発明の電気二重層コンデンサの極性検査装置では、前記被極性検査電気二重層コンデンサが前記被検査電子回路基板に正しい極性で実装されているか否かを報知する報知装置を前記定電圧回路の出力端子に接続してもよい。
【００２７】
従って、本発明によれば、簡単で安価な構成の検査回路を用い、しかも被極性検査電気二重層コンデンサを破壊することなく極性検査を行うことができ、それも本体に位置決めされた被検査電子回路基板上の被極性検査電気二重層コンデンサの各電極に測定端子を自動的に接続することができ。また、前記制御装置により複数の被極性検査電気二重層コンデンサの測定箇所、測定順序などを制御することもでき、更に、前記コンピュータにより必要に応じて前記極性検査データを記憶、集計することができ、更にまた、必要に応じて前記制御装置と前記外部制御装置との通信による遠隔操作で前記制御、記憶、集計などを行うことができる。そして更にまた、報知装置を設けることにより、作業者は容易に前記極性検査結果を確認することができる。
【発明の効果】
【００２８】
本発明によれば、
１．超低電圧検査であるため、被検査電気二重層コンデンサへ悪影響を及ぼすことなく検  査することができる
２．電子回路基板に複数の被検査電気二重層コンデンサが実装されていて、極性検査箇所  が複数箇所あり、極性検査を行う被検査電子回路基板が多数であっても、容易に位置決めして  短時間で極性検査を行うことができる
３．極性検査装置の構成が簡単であり、低消費電力であって、設置の自由度が高い
４．非常に安価に極性検査装置を製作することができる
５．極性検査箇所が数ヶ所程度であれば、乾電池で持ち運びができる
など、数々の優れた効果が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
以下、図を用いて、本発明の電気二重層コンデンサの極性検査装置を説明する。なお、「電気二重層コンデンサの極性検査装置」を以下、単に「極性検査装置」と記す。
【００３０】
図１は電気二重層コンデンサの印加電圧に対する順方向内部抵抗値と逆方向内部抵抗値のグラフ、図２は本発明の第１形態の極性検査装置の外観図、図３は図２に示した極性検査装置を用いて被極性検査電気二重層コンデンサの極性を検査するところを部分的に示した側面図、図４は図２に示した極性検査装置の内部に組み込まれている極性検査回路図、図５は図４に組み込むことができる他の定電圧回路図、図６は図４に組み込むことができる更に他の定電圧回路図、図７は本発明の第２形態の極性検査装置の外観斜視図、そして図８は図７に示した極性検査装置に被測定電子回路基板を装着した状態を示した外観斜視図である。
【００３１】
先ず、図１のグラフについて説明する。前記のように被極性検査電気二重層コンデンサが実装されている被検査電子回路基板上の他の電子部品に悪影響を与えてはならない、無論、検査しようとする被極性検査電気二重層コンデンサにも悪影響を与えてはならないという制約の下にテストを重ねた結果、本発明者は上限を１００ｍＶとして電圧を被極性検査電気二重層コンデンサに順方向と逆方向に印加し、抵抗値の変化を測定した場合、図１にグラフで示したように、５ｍＶから５０ｍＶ程度の極めて低い電圧の範囲では顕著な差があることを発見した。
【００３２】
後記の図４に示した極性検査回路１０では、残存電圧が残っても被極性検査電気二重層コンデンサ自体及び周辺の電子部品への影響も考慮し、被極性検査電気二重層コンデンサへの印加電圧を５ｍＶとした。５ｍＶを印加した時の順方向内部抵抗は１０Ω程度であり、逆方向内部抵抗は６０Ωである。
【００３３】
次に、図２及び図４を用いて、本発明の第１形態の極性検査装置の構成を説明する。図２において、符号１Ａは本発明の第１形態の極性検査装置を指す。この極性検査装置１Ａはテスタ型の構造で構成されていて、キャビネット２の表面には各種の操作摘みや釦３、入出力端子などの各種端子４が装備されており、それらの端子４には（＋）プロウブ１１ａと（−）プロウブ１１ｂとが接続されている。また、このキャビネット２の内部には、図４に示した極性検査回路が組み込まれている。
【００３４】
図４において、符号１０は極性検査回路を指す。この極性検査回路１０は、定電圧回路を中心に構成されている。ＩＣ１はコンバータ、Ｒ５はＩＣ１の出力端子１から（＋）入力端子３への帰還抵抗、Ｒ６はＩＣ１の（−）入力端子２に対する電流制限抵抗、Ｒ１とＲ３はＩＣ１の（−）入力端子２に対するバイアス抵抗、Ｒ２とＲ４はＩＣ１の（＋）入力端子に対するバイアス抵抗、Ｄ１とＤ２は保護ダイオード、測定端子１１ａと１１ｂはそれぞれ前記（＋）プロウブ１１ａと（−）プロウブ１１ｂとに相当する端子である。なお、ＩＣ１の電源端子８には、例えば、＋５Ｖの電圧が印加されており、端子４はグランドに接続されている。
【００３５】
この定電圧回路の出力側にトランジスタＴからなるオンオフ回路であるブザーを鳴らすための回路が接続されている。トランジスタＴのコレクタとグランドの間にはコンデンサＣ１が接続されていて、そのコンデンサＣ１の両端はコネクタのソケット１２ａに接続されている。
【００３６】
更に、前記極性検査回路１０に、前記ソケット１２ａに接続できるプラグ１２ｂを介してブザー回路２０が接続されている。このブザー回路２０はブザー２１とバッテリー２２とから構成されている。トランジスタＴのコレクタに繋がるプラグ１２ｂの１番ピンとバッテリー２２の間にブザー２１が接続されており、バッテリー２２のプラス側がプラグ１２ｂの２番に繋がってグランドに接地されている。従って、トランジスタＴのコレクタ側がホット、エミッタ側がグランドになると、ブザー２１が鳴るように構成されている。
【００３７】
Ｄ３は表示装置の一つで、被極性検査電気二重層コンデンサの極性を検出した場合に発光する発光ダイオード（ＬＥＤ）であり、Ｒ７は発光ダイオードＤ３に対する電流制限抵抗である。ブザー２１が鳴ると、発光ダイオードＤ３も点灯する。
【００３８】
なお、図中、符号Ｃは測定しようとする被極性検査電気二重層コンデンサであって、図３に示したように、電子回路基板Ｂに実装されているものである。そして、｛実施例１］に記した実施例では、（＋）プロウブ１１ａと（−）プロウブ１１ｂとの間には５ｍＶの電圧が掛かっている。
【００３９】
次に、被極性検査電気二重層コンデンサＣが電子回路基板Ｂに正しい極性で実装されているか否かを本極性検査回路１０を用いて検査する動作を説明する。
【００４０】
先ず、本極性検査回路１０のポイントＰ１における電圧は基準電圧で一定である。今、被検査電子回路基板Ｂに実装されている被極性検査電気二重層コンデンサＣの両端子に極性検査回路１０の（＋）プロウブ１１ａと（−）プロウブ１１ｂとを接触させて、５ｍＶの電圧を印加する。
【００４１】
その被極性検査電気二重層コンデンサＣが正しい極性（順極性）で被検査電子回路基板Ｂに実装されている場合は、電流が流れて、両端子間の電圧はほぼゼロ近くまで低下する。そうすると、ポイントＰ１の電圧よりもポイントＰ２の電圧が殆どゼロになる。そして５Ｖの電圧をトランジスタＴが検知して、そのコレクタ側がハイとなる。そうすると、コレクタ側からエミッタ側に電流が流れて、トランジスタＴがショート状態になる。即ち、トランジスタＴはオンとなり、ブザー２１が鳴る。同時に発光ダイオードＤ３が点灯する。
【００４２】
次に、被極性検査電気二重層コンデンサＣが被検査電子回路基板Ｂに逆極性で実装されている場合は、被極性検査電気二重層コンデンサＣの内部抵抗が高いので、電圧は５ｍＶのままで、ポイントＰ１に対してポイントＰ２の方が高い状態のままであることからトランジスタＴのコレクタ側には出力は出ない。従って、このトランジスタＴはオンにならず、ブザー２１は鳴らない。また、発光ダイオードＤ３も点灯しない。
【００４３】
以上のような動作で被極性検査電気二重層コンデンサＣが被検査電子回路基板Ｂに正常に実装されているか否かを検査することができる。
【００４４】
極性検査回路１０の定電圧回路部分としては、図５或いは図６に示した定電圧回路を用いることができる。図５に示した定電圧回路３０Ａは定電流ダイオードＤ４による電流制御により（＋）プロウブ１１ａ及び（−）プロウブ１１ｂ（測定端子）間の電圧を抵抗Ｒ３において発生させる回路である。また、図６に示した定電圧回路３０Ｂは定電圧ＩＣ２を用いたレギュレータ回路により抵抗Ｒ１及び抵抗Ｒ３に掛かる電圧を安定化させ、（＋）プロウブ１１ａ及び（−）プロウブ１１ｂ（測定端子）間の電圧を抵抗Ｒ３において発生させる回路である。
【００４５】
次に、図７及び図８を用いて、本発明の第２形態の極性検査装置１Ｂを説明する。この極性検査装置１Ｂは大別してキャビネットの本体４０とこの本体４０にヒンジ４１などを用いて連結された板状の測定端子板４６とから構成されている。
【００４６】
本体４０の内部には。その開口部から所定の高さだけ下がった位置の４側壁に被測定電子回路基板Ｂを受けることができるリブ状の載置部材４２が形成されており、そしてその載置部材４２の、例えば、四隅に位置決めピン４３が植設されている。図７には向こう側の二隅に植設されている２本の位置決めピン４３が示されているが、手前の二隅にも位置決めピン４３が植設されている。
【００４７】
また、本体４０の正面には、電源スイッチ４４などの他、図４に示したブザー２１や発光ダイオードＤ３が取り付けられている。更にまた、本体４０の内部には、図４に示した一対の（＋）プロウブ１１ａ及び（−）プロウブ１１ｂを除く極性検査回路１０とコンピュータ４５が組み込まれている。
【００４８】
一方、測定端子板４６には、極性検査回路１０の一対の（＋）プロウブ１１ａ及び（−）プロウブ１１ｂが複数対、板面に垂直に植設されている。これらをプロウブ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃ・・・と符号付け、それらのプロウブ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃ・・・は、図８に示した、本体４０の載置部材４２に載置されて位置決めされている被検査電子回路基板Ｂに実装されている複数個の被極性検査電気二重層コンデンサのそれぞれ一対の端子Ｃａ、Ｃｂ、Ｃｃ・・・に対応した位置に植設されている。
【００４９】
また、各対のプロウブ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃ・・・は、１極性検査回路１０を共通とし、そのポイントＰ２との間にリレー（不図示）を介して接続されており、コンピュータ４５によりそのリレーを制御して順次各対のプロウブ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃ・・・を極性検査回路１０のポイントＰ２に接続できるように構成しておく。
【００５０】
更にまた、この極性検査回路１０は、本体４０の外部に主コンピュータ５０を配設し、本体４０内のコンピュータ４５と相互に有線或いは無線で通信できるように接続されている。
【００５１】
次に、本極性検査装置１Ｂの動作を説明する。先ず、図８に示したように、被検査電子回路基板Ｂを裏返しにして、その四隅に開けられている位置決め孔ｈを、本体４０内の位置決めピン４３にはめ込み、被検査電子回路基板Ｂを位置決め、固定する。
【００５２】
続いて測定端子板４６を回動して、図８の点線図示のように、本体４０の開口部に蓋をするように閉じ、被検査電子回路基板Ｂの裏面に露出しているそれぞれの被極性検査電気二重層コンデンサの端子Ｃａ、Ｃｂ、Ｃｃ・・・にそれぞれプロウブ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃ・・・を接触させる。
【００５３】
次に、被極性検査電気二重層コンデンサの各対の端子Ｃａ、Ｃｂ、Ｃｃ・・・にプロウブ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃ・・・をそれぞれ接触させた状態で、本体４０の電源を入れ、極性検査回路１０及びコンピュータ４５を作動させ、そして主コンピュータ５０と接続する。コンピュータ４５に搭載されているソフトウエアにより前記リレーが順次切り替えられ、各対のプロウブ１１Ａ、１１Ｂ、１１Ｃ・・・が一対毎に極性検査回路１０に接続され、前記のように各被極性検査電気二重層コンデンサが被検査電子回路基板Ｂに正しい極性で実装されているか否かを検査する。
【００５４】
検査結果の全てのデータはコンピュータ４５のメモリに書き込み、記憶させる。これらのデータは、作業者が極性検査装置１Ｂから離れた場所に在る主コンピュータ５０を有線或いは無線で遠隔操作することにより主コンピュータ５０のモニタに表示させ、今不良が出ているかとか、何件出ているかとかを監視でき、またデータを集計したり、或いは余りにも不良が多い場合は、遠隔操作で極性検査装置１Ｂの極性検査動作を止めるなどの制御を行えるように構成することができる。
【実施例】
【００５５】
図４に示した極性検査回路１０の実施例を記す。
【００５６】
抵抗Ｒ１：１０ＫΩ                ダイオードＤ１：１ＳＳ１３３
抵抗Ｒ２：１０ＫΩ                ダイオードＤ２：１ＳＳ１３３
抵抗Ｒ３：１０ＫΩ                発光ダイオードＤ３：ＰＲ３４３２Ｓ（ＲＥＤ）
抵抗Ｒ４：６．８ＫΩ              ＩＣ１：ＴＬＣ２７Ｌ７
抵抗Ｒ５：１ＭΩ                  トランジスタＴ：ＤＴＣ１２４
抵抗Ｒ６：３００Ω                コンデンサＣ１：４７μＦ／１６Ｖコネクタ：
【産業上の利用可能性】
【００５７】
以上の説明から明らかなように、本発明は電気二重層コンデンサを搭載した電子回路基板を組み込む電子機器産業において有用である。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】電気二重層コンデンサの印加電圧に対する順方向抵抗値と逆方向抵抗値のグラフである。
【図２】本発明の第１形態の極性検査装置の外観図である。
【図３】図２に示した極性検査装置を用いて被極性検査電気二重層コンデンサの極性を検査するところを部分的に示した側面図である。
【図４】図２に示した極性検査装置の内部に組み込まれている極性検査回路図である。
【図５】図４に組み込むことができる他の定電圧回路図である。
【図６】図４に組み込むことができる更に他の定電圧回路図である。
【図７】本発明の第２形態の極性検査装置の外観図である。
【図８】図７に示した極性検査装置に被測定電子回路基板を装着した状態を示した外観斜視図である。
【図９】従来技術の第１形態の有極コンデンサの極性判別装置の回路図である。
【図１０】従来技術の第２形態の有極コンデンサの極性判別装置の回路図である。
【図１１】従来技術の第３形態の有極コンデンサの極性判別装置の回路図である。
【符号の説明】
【００５９】
１Ａ…本発明の第１形態の（電気二重層コンデンサの）極性検査装置、１Ｂ…本発明の第２形態の（電気二重層コンデンサの）極性検査装置、１１Ａ，１１Ｂ，１１Ｃ…プロウブ、１１ａ…（＋）プロウブ、１１ｂ…（−）プロウブ、１０…極性検査回路、２０…ブザー回路、２１…ブザー、３０Ａ，３０Ｂ…定電圧回路、４０…極性検査装置１Ｂの本体、４２…載置部材、４３…位置決めピン、４５…コンピュータ、４６…測定端子板、Ｂ…電子回路基板、Ｃ…被極性検査電気二重層コンデンサ、Ｃａ，Ｃｂ，Ｃｃ…被極性検査電気二重層コンデンサＣの端子、ｈ…位置決め孔
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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