(57)【要約】【課題】光ディスク装置の光ピックアップに用いる対物レンズの傾きを補正する際の補正速度を向上し、最良な補正が可能な光ピックアップチルト補正制御装置およびチルト補正方法を提供する。【解決手段】光ディスク記録再生装置は、チルト補正用コイルへ印加される補正量に平均的なオフセット成分を重ね合わせ、重ね合わせられたオフセット成分の中心値に、任意の極性のステップ外乱を加算し、再生出力のエンベロープまたは最大値と最小値を検出し、検出されたエンベロープまたは最大値と最小値の差分を平均化し、ステップ外乱を所定の値まで変化させた際に、エンベロープまたは最大値と最小値の差分が小さくなるように、オフセット成分のオフセット量を制御することにより、対物レンズの傾きを短時間で調整可能である。【選択図】  図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
対物レンズの傾きを調整するチルト補正用コイルを備えた光ピックアップのチルト補正制御装置において、
チルト補正用コイルに平均的なチルトを発生させるオフセット発生手段と、
前記オフセット発生手段により発生されたオフセット量の中心に、チルト補正用コイルに任意の極性のステップ外乱を発生させるステップ外乱信号発生手段と、
前記ステップ外乱発生手段により発生されたステップ外乱をチルト補正用コイルに印加して得られる再生出力のエンベロープを検出するエンベロープ検出手段と、
前記ステップ外乱発生手段により発生されたステップ外乱のそれぞれのエンベロープの差分を検出する差分平均化手段と、
前記ステップ外乱発生手段により発生されるステップ外乱を所定の値まで変化させた際に、前記信号差分が小さくなるよう前記オフセット発生手段から出力されるチルトのオフセット量を制御するチルト制御手段と、
を有することを特徴とする光ピックアップチルト補正制御装置。
【請求項２】
前記チルト制御手段は、記録媒体の半径位置を複数の領域に分割した任意の位置におけるチルト補正を実行させるとともに、各領域におけるチルト補正結果を、記憶手段に記憶させることを特徴とする請求項１記載の光ピックアップチルト補正制御装置。
【請求項３】
前記差分平均化手段は、前記ステップ外乱発生手段により発生される複数のステップの外乱を平均化した信号を出力することを特徴とする請求項１または２記載の光ピックアップチルト補正制御装置。
【請求項４】
前記チルト制御手段は、前記ステップ外乱発生手段により発生される任意の極性の外乱の極性と前記差分平均化手段の信号の極性を比較し、オフセットを移動させる方向を出力することを特徴とする請求項１または３記載の光ピックアップチルト補正制御装置。
【請求項５】
対物レンズの傾きを調整するチルト補正用コイルを備えた光ピックアップのチルト補正制御装置において、
チルト補正用コイルに平均的なチルトを発生させるオフセット発生手段と、
前記オフセット発生手段により発生されたオフセット量の中心に、チルト補正用コイルに任意の極性のステップ外乱を発生させるステップ外乱信号発生手段と、
前記ステップ外乱発生手段により発生されたステップ外乱をチルト補正用コイルに印加して得られる記録媒体からの反射光の出力の最大値と最小値とを検出するピーク／ボトム検出手段と、
前記ステップ外乱発生手段により発生されたステップ外乱のそれぞれの最大値と最小値とから差分を検出する差分平均化手段と、
前記ステップ外乱発生手段により発生されるステップ外乱を所定の値まで変化させた際に、前記信号差分が小さくなるよう前記オフセット発生手段から出力されるチルトのオフセット量を制御するチルト制御手段と、
を有することを特徴とする光ピックアップチルト補正制御装置。
【請求項６】
前記チルト制御手段は、記録媒体の半径位置を複数の領域に分割した任意の位置におけるチルト補正を実行させるとともに、各領域におけるチルト補正結果を、記憶手段に記憶させることを特徴とする請求項５記載の光ピックアップチルト補正制御装置。
【請求項７】
前記差分平均化手段は、前記ステップ外乱発生手段により発生される複数のステップの外乱を平均化した信号を出力することを特徴とする請求項５または６記載の光ピックアップチルト補正制御装置。
【請求項８】
前記チルト制御手段は、前記ステップ外乱発生手段により発生される任意の極性の外乱の極性と前記差分平均化手段の信号の極性を比較し、オフセットを移動させる方向を出力することを特徴とする請求項５または７記載の光ピックアップチルト補正制御装置。
【請求項９】
チルト補正用コイルへ印加される補正量に、平均的なオフセット成分を重ね合わせ、
重ね合わせられたオフセット成分の中心値に、任意の極性のステップ外乱を加算し、
再生出力のエンベロープまたは最大値と最小値を検出し、
検出されたエンベロープまたは最大値と最小値の差分を平均化し、
ステップ外乱を所定の値まで変化させた際に、エンベロープまたは最大値と最小値の差分が小さくなるようオフセット成分のオフセット量を制御する、
ことを特徴とする対物レンズの傾きを調整するチルト補正方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、レーザ光を用いて情報の記録、消去または再生が可能な光ディスクに情報を記録し、または情報を消去し、もしくは情報を再生する光ディスク記録再生装置（情報記録再生装置）に係り、特に、光ピックアップチルト補正制御装置およびチルト補正方法関する。
【背景技術】
【０００２】
情報の記録に適した記録媒体として、光ディスクが既に広く利用されている。反面、さまざまな規格の光ディスクが提案され、それぞれが実用化されている。なお、さまざまな規格の光ディスクは、記録容量で区別するとＣＤ規格やＤＶＤ規格に分類でき、用途から見た場合、既に情報が記録されている（ＲＯＭと呼称される）再生専用タイプ、１回限りの情報記録が可能な（−Ｒと呼称される）ライトワンスタイプ（追記型）、あるいは記録と消去が繰り返し可能な（ＲＡＭあるいはＲＷと呼称される）リライタブルタイプ（録再型または書換可能型）等に区分される。
【０００３】
上述のさまざまな規格の光ディスクに情報を記録し、または既に記録されている情報を消去し、もしくは記録されている情報を再生する光ディスク記録再生装置は、光ディスク（記録媒体）の所定の位置に、所定の波長のレーザ光を光ディスクの記録面照射する送光系と、光ディスクで反射されたレーザ光を検出する受光系と、ディスクモータやディスクローディング機構等に代表されるメカニカル機構部と、送光系、受光系およびメカニカル機構部のそれぞれを制御する機構制御（サーボ）系と、送光系に対して記録すべき情報や消去信号を供給し、受光系により検出された信号から記録されている情報を再生する信号処理系、等を含む。
【０００４】
送光系および受光系は、レーザ光を出力する光源であるＬＤ（レーザダイオード）と、ＬＤからのレーザ光を光ディスクの記録面に集光するとともに、光ディスクで反射されたレーザ光を捕獲する対物レンズと、を含む。
【０００５】
なお、対物レンズの位置およびチルト角は、光ディスクのトラックあるいは記録マーク列を確実に追従できるよう、上述のサーボ系により常時制御されるが、光ディスク（記録媒体）の反り等に起因して、チルト角は光ディスクの内径と外径との間の位置により、異なる。このことから、サーボ系の制御量、特にチルト量を補償するさまざまな機構や方法が、数多く提案されている。
【０００６】
例えば、特許文献１には、対物レンズの傾きを調整するチルト調整用コイル６を備えた光学式ピックアップ２を使用する光ディスク記録再生装置において、光学式ピックアップ２より得られるＲＦ信号のピークレベルをディスクＭが一回転する間の数箇所において検出し、その検出されたレベルのバラツキが小さくなるように対物レンズの傾きを調整する光ディスク装置のチルト制御方法が示されている。
【特許文献１】特開２００４−１１８９０９号号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
特許文献１に記載のチルト制御方法では、対物レンズの傾きを一方の方向に１段階変更させ、その結果、各レベルのバラツキが小さくなった場合に、正しい方向に調整された、と判断し、同一の方向に１段階変更させる。その結果、各レベルのバラツキが大きくなるということは、正しくない方向に調整されたことを示す。この場合、反対の方向に１段階変更させる。その結果、各レベルのバラツキが１段階戻された状態に傾けられると、対物レンズの傾きが記録再生動作を行う場合に適した状態にあると判断される。
【０００８】
すなわち、特許文献１に記載された方法では、対物レンズの傾きを変化させなければ、各レベルのバラツキが判定できないため、変化させる方向を特定できない問題がある。
【０００９】
また、１段階の変化で最良点を越えた場合は、その段階間に最良点があるのか否かが判定できない問題がある。
【００１０】
なお、判定するためにステップを細かくすることは可能であるが、最良点に収束させるには時間を要する難点がある。
【００１１】
この発明の目的は、光ディスク装置において、対物レンズの傾きを補正する際に、その補正速度を向上し、最良な補正が可能な光ピックアップチルト補正制御装置およびチルト補正方法を提供するものである。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
この発明は、上記問題点に基づきなされたもので、対物レンズの傾きを調整するチルト補正用コイルを備えた光ピックアップのチルト補正制御装置において、チルト補正用コイルに平均的なチルトを発生させるオフセット発生手段と、前記オフセット発生手段により発生されたオフセット量の中心に、チルト補正用コイルに任意の極性のステップ外乱を発生させるステップ外乱信号発生手段と、前記ステップ外乱発生手段により発生されたステップ外乱をチルト補正用コイルに印加して得られる再生出力のエンベロープを検出するエンベロープ検出手段と、前記ステップ外乱発生手段により発生されたステップ外乱のそれぞれのエンベロープの差分を検出する差分平均化手段と、前記ステップ外乱発生手段により発生されるステップ外乱を所定の値まで変化させた際に、前記信号差分が小さくなるよう前記オフセット発生手段から出力されるチルトのオフセット量を制御するチルト制御手段と、を有することを特徴とする光ピックアップチルト補正制御装置、を提供するものである。
【発明の効果】
【００１３】
本発明によれば、対物レンズの傾きを変化させる際に、オフセット中心にステップ外乱を加算し、所定のステップ外乱を前記チルト補正駆動回路に印加した時の、再生中のＲＦエンベロープ（ＲＦＲＰ）またはトラックエラー信号のピーク／ボトムを検出した後、任意の極性のステップ外乱のそれぞれの前記ピーク／ボトム検出値の差分を検出して、所定の値までステップ外乱時による信号差分が小さくなるようチルト補正用オフセット加算成分の大きさを制御することにより、その補正速度を向上し、最良な補正が可能となる。
【００１４】
また、本発明によれば、光ディスク記録再生装置におけるディスクチルトに対し、光ピックアップの対物レンズを通る光の光軸すなわち主光線の軸線を、最適化するチルト補正において、専用のチルトセンサを有することなく、ＲＦ信号（再生出力）またはＴＥ（トラックエラー）信号を用いて、最適なチルト補正角を短時間で設定可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、図面を参照して、この発明の実施の形態について詳細に説明する。
【００１６】
図１は、この発明の実施形態が適用可能な光ピックアップチルト補正制御装置を有する光ディスク記録再生装置を概略的に示す。
【００１７】
図１に示すように、光ディスク記録再生装置１は、記録媒体（メディア）Ｍの記録面に所定の波長の光を照射する光ピックアップ２を含む。
【００１８】
記録媒体Ｍは、詳述しないが、図示しないスピンドルモータのターンテーブル（図示せず）に載置され、スピンドルモータが所定の回転数で回転されることにより、所定の速度で回転される。光ピックアップ２は、図示しないピックアップ送り用モータにより、情報の記録あるいは再生もしくは消去の各動作時に、記録媒体Ｍの径方向に移動される。
【００１９】
光ピックアップ２には、所定波長、例えば波長が７８０ｎｍまたは６５０ｎｍのレーザ光（光ビーム）を出力する図示しないレーザダイオードと、レーザダイオードにより出力された光ビームを記録媒体Ｍの記録面に集光するとともに記録媒体Ｍの記録面（信号面）から反射された反射光ビームを捕捉する図示しない対物レンズが組み込まれている。
【００２０】
光ピックアップ２にはまた、レーザダイオードから出力された光ビームの強度をモニタするモニタ用光検出器と記録媒体Ｍの記録面で反射される光ビームを受光してその光強度に対応する電流または電圧を出力する信号用光検出器とを含む光検出器３、ならびに対物レンズを記録媒体Ｍの面方向へ変位させるフォーカシングコイル（図示せず）および対物レンズを記録媒体Ｍの径方向へ変位させるトラッキングコイル（図示せず）、対物レンズの記録媒体Ｍに対する角度を調整するチルト補正駆動用コイル４が組み込まれている。
【００２１】
光検出器３により検出された信号は、後段に設けられる信号処理部５において、情報の再生に用いられるデータ信号および対物レンズ（光ピックアップ２）の位置を記録媒体Ｍの記録面に対して所定の位置関係に位置させるための制御信号に利用可能に処理される。
【００２２】
記録媒体Ｍは、例えばＤＶＤ規格の光ディスクであって、情報の消去と新たな記録（書き換え）が可能なＤＶＤ−ＲＡＭディスクや、新たな情報の書き込みのみが可能なＤＶＤ−Ｒディスク、もしくは既に情報が記録されているＤＶＤ−ＲＯＭディスク等の、周知のさまざまな種類のディスクである。なお、ＣＤ規格のディスクや、今後規格が制定される新規格のディスクにおいても、本発明は適用可能である。
【００２３】
信号処理部５は、光検出器３により受光され、主として情報の再生に利用されるデータ信号であるＲＦ信号を処理するＲＦ信号生成復調回路５１と、ＲＦ信号に相当する光検出器３の出力を用いて、光ディスク（記録媒体）Ｍの信号面（記録面）の傾きの影響を補正するチルト補正制御装置１１と、詳述しないが、周知のフォーカスエラーサーボならびにトラックエラーサーボのために対物レンズ（光ピックアップ２）の位置を補正するサーボ系とを含む。
【００２４】
チルト補正制御装置１１は、光検出器３から出力されたＲＦ信号に相当する出力信号のエンベロープ（外郭，ＲＦＲＰ）を検出するエンベロープ検出部１２、エンベロープ検出部１２で検出されたエンベロープを、ステップ外乱の極性のそれぞれに対応して平均化する差分平均化部１３および差分平均化部１３より平均化されて出力される信号、すなわちステップ外乱極性それぞれにより得られる信号の差分と所定の値とを比較し、比較した結果が所定の範囲に入っているか否かを判定する判定ウインドウ部１４を有する。
【００２５】
チルト補正制御装置１１はまた、チルト補正駆動用コイル４に供給すべき制御量を決定するためのステップ外乱信号発生部１５、チルト補正用ＤＣオフセット発生部１６、信号加算部１７、チルトコイル駆動部１８およびチルト制御部１９を有する。なお、チルト制御部１９には、メモリ部（記憶手段）２０が接続される。
【００２６】
ステップ外乱信号発生部１５では、チルト制御部１９の制御の下で、所定の振幅、周期およびステップ数のステップ外乱信号が発生される。従って、対物レンズには、基準位置に対して正方向および／または負方向の任意の極性に変化されたステップ外乱が与えられる。このことから、光検出器３により検出されるＲＦ信号に、レベル差が重畳される（光検出器３から出力される検出信号に、特定の差が発生される）。
【００２７】
チルト補正用ＤＣオフセット発生部１６では、ＤＣ（直流）オフセットのステップ変化量が設定される。すなわち、ＤＣオフセット発生部１６において、ステップ外乱に加算されるＤＣオフセットが生成される。
【００２８】
なお、チルト制御部１９においては、チルト補正用ＤＣオフセット発生部１６において発生されるＤＣオフセット成分およびそれに加算されるステップ外乱信号発生部１５からのステップ外乱を発生させる際に、任意の極性のステップ外乱により得られる信号の差分と所定の値とが比較された結果、すなわち判定ウインドウ部１４で判定された判定信号と差分平均化部１３において任意の極性のステップ外乱がそれぞれの平均化された信号とに基づいて、チルト補正ＤＣオフセット発生部１６により発生されるＤＣオフセットの極性（移動方向）が特定される。また、ステップ外乱加算による調整を判定する信号、チルト補正電圧の最適値、ディスクの複数の領域でのチルト補正電圧等は、メモリ部２０に保持される。
【００２９】
次に、チルト補正動作について説明する。
【００３０】
チルト補正用ＤＣオフセット発生部１６において、チルト補正駆動用コイル４に、平均的な大きさのチルトが発生される。発生されたＤＣオフセットには、チルト制御部１９により、対物レンズのレンズチルト（の中心値）が移動されるよう、所定の間隔でステップ的に、ステップ外乱信号が重ね合わせられる。従って、チルト補正駆動用コイル４には、特定の大きさのＤＣオフセット成分と、任意の極性の外乱成分とが同時に供給される。
【００３１】
すなわち、チルト補正駆動用コイル４に、ＤＣオフセット成分と任意の極性の外乱成分とが供給されることで、光ディスクＭ上に集光される光ビームのレンズチルトに起因する集光状態の変化量が、所定量ずつ変換される。
【００３２】
なお、コイル４に供給されるＤＣオフセット成分と任意の極性の外乱成分は、信号加算部１７により、合成されることは言うまでもない。
【００３３】
また、コイル４に供給される駆動電流は、信号加算部１７から出力される指示値（チルト量）に従って、チルトコイル駆動部１８により、設定される。すなわち、チルトコイル駆動部１８は、チルト制御部１９から出力される信号によってその動作が制御され、上述した光ピックアップ２に組み込まれているチルト調整用コイル４に、チルト調整用の駆動信号を供給可能である。
【００３４】
本発明のチルト補正制御は、チルト調整用コイル４に対して任意の大きさのオフセット成分（ＤＣ）と任意の極性の外乱成分を供給し、最初のチルト点の目標位置よりも、より好ましい（最終目標の）チルト点の目標位置へ向かって所定の間隔で対物レンズを移動して得られる調整途中の各々のチルト点の目標位置（以下、基準位置と称す）において、正方向と負方向に、同じ量だけチルト点をずらした位置で、再生信号の大きさを比較し、その差に応じて次の基準位置に移動していくことを特徴とする。なお、比較した再生信号の差分が所定の値より小さくなったときのチルト点の基準位置における調整データが、「ディスクチルトに対して光ピックアップの対物レンズから出射光の光軸を最適化できる」データとして保持される。
【００３５】
より詳細には、図２（ａ）に示すように、レンズチルト位置とステップ外乱極性に対応したＲＦ（またはＴＥすなわちトラックエラー）信号の関係が得られる場合に、判定ウインドウ部１４により、図２（ｃ）の＋Ａ１点の差分平均化部１３の出力と−Ａ１点における出力差分を所定の値（範囲）と比較する。ここで、チルト制御部１９において、チルト補正用ＤＣオフセット発生部１６を介してチルト制御系に電圧Ｂ０を加え、図２（ｂ）に示すように、レンズチルトのチルト点を最初の基準位置Ａ０点から次の基準位置Ｂ０点に移動する。
【００３６】
次に、チルト制御部１９により、図２（ｂ）に示すように、再生信号特性上のＢ０点を基準位置とし、所定のステップ外乱データＢ１を、ステップ外乱信号発生部１５から出力させ、加算部１７を介してステップ外乱極性をチルト制御系に加えた後、レンズチルトのチルト点を基準位置Ｂ０点より＋Ｂ１点および−Ｂ１点に移動させる。
【００３７】
なお、図２（ａ）において、レンズチルトのチルト点の基準位置および正負にずらした位置が示されている。また、図２（ａ）において、Ｘ軸は、チルト補正用ＤＣオフセット発生部１６の出力電圧すなわちレンズチルトのチルト点の最初の位置を「０」とした左右の位置および、これに対応したチルト制御部１９の調整データを示し、Ｙ軸は、エンベロープ検出部１２から出力される再生信号の大きさを示している。
【００３８】
例えば、調整をする前のレンズチルト６のチルト点が図２（ａ）中の再生信号特性上のＡ０点の位置にあり、ディスクチルトに対して、より好ましい位置よりもずれているものとする。
【００３９】
チルト制御部１９は、Ａ０点を最初の基準位置とし、所定のステップ外乱データＡ１をステップ外乱信号発生部１５より出力させ、加算部１７を介してステップ外乱極性をチルト制御系に加え、レンズチルトのチルト点を基準位置Ａ０点より＋Ａ１点および−Ａ１点に移動させる。
【００４０】
チルト制御部１９は、この＋Ａ１点および−Ａ１点における差分平均化部１３の出力を取り込みメモリ部２０に記憶する。このときＡ０点と＋Ａ１点における出力電圧差およびＡ０と−Ａ１点における出力電圧差の絶対値は等しい。
【００４１】
その後、判定ウインドウ部１４により、図２（ｃ）の＋Ａ１点の差分平均化部１３の出力と−Ａ１点における出力差分と、所定の値（範囲）とが、比較される。判定ウインドウ部１４からは、この例では、出力差分が所定の値より大きいことが、チルト制御部１９に報知される。
【００４２】
チルト制御部１９は、チルト補正用ＤＣオフセット発生部１６を介してチルト制御系に電圧Ｂ０を加え、図２（ｂ）に示すようにレンズチルトのチルト点を最初の基準位置Ａ０点から次の基準位置Ｂ０点に移動する。このとき、移動する方向は、差分平均化部１３の出力の大きい｜Ａ１｜点のある方向であり、その移動量は所定のチルト補正量に設定している。
【００４３】
次に、チルト制御部１９は、図２（ｂ）に示すように、再生信号特性上のＢ０点を基準位置とし、所定のステップ外乱データＢ１をステップ外乱信号発生部１５より出力させ、加算部１７を介してステップ外乱極性をチルト制御系に加え、レンズチルトのチルト点を基準位置Ｂ０点より＋Ｂ１点および−Ｂ１点に移動させる。
【００４４】
チルト制御部１９は、この＋Ｂ１点および−Ｂ１点における差分平均化部１３の出力を取り込み、メモリ部２０に記憶する。このとき、Ｂ０点と＋Ｂ１点における出力電圧差、Ｂ０と−Ｂ１点における出力電圧差の絶対値は等しい。
【００４５】
その後、判定ウインドウ部１４により、図２（ｃ）の＋Ｂ１点の差分平均化部１３の出力と−Ｂ１点における出力差分と、所定の値（範囲）とが比較される。判定ウインドウ部１４は、（比較結果として）出力差分が所定の値より大きいことを判断し、チルト制御部１９に出力する。
【００４６】
チルト制御部１９は、チルト補正用ＤＣオフセット発生部１６を介してチルト制御系に電圧Ｃ０を加え、図２（ｂ）に示すように、レンズチルトのチルト点を、最初の基準位置Ｂ０点からさらに、次の基準位置Ｃ０点に移動する。このとき移動する方向は差分平均化部１３の出力の大きい｜Ｂ１｜点のある方向であり、その移動量は所定のチルト補正量に設定している。
【００４７】
以下、同様に、チルト制御部１９は、図２（ｂ）に示すように、再生信号特性上のＣ０点を基準位置とし、所定のステップ外乱データＣ１を、ステップ外乱信号発生部１５から出力させ、加算部１７を介してステップ外乱極性をチルト制御系に加え、レンズチルトのチルト点を基準位置Ｃ０点より＋Ｃ１点および−Ｃ１点に移動させる。
【００４８】
チルト制御部１９は、この＋Ｃ１点および−Ｃ１点における差分平均化部１３の出力を取り込み、メモリ部２０に記憶する。このとき、Ｃ０点と＋Ｃ１点における出力電圧差、Ｃ０と−Ｃ１点における出力電圧差の絶対値は等しい。
【００４９】
続いて、判定ウインドウ部１４において、図２（ｃ）の＋Ｃ１点の差分平均化部１３の出力と−Ｃ１点における出力差分と、所定の値（範囲）とが比較される。判定ウインドウ部１４は、この場合も、出力差分が所定の値より大きいと判断し、チルト制御部１９に、報知（出力）する。
【００５０】
チルト制御部１９は、引き続きチルト補正用ＤＣオフセット発生部１６を介してチルト制御系に電圧Ｄ０を加え、図２（ｂ）に示すように、レンズチルトのチルト点を、最初の基準位置Ｃ０点から次の基準位置Ｄ０点に移動する。このとき、移動方向は、差分平均化部１３の出力の大きい｜Ｃ１｜点のある方向であり、その移動量は、所定のチルト補正量に設定している。
【００５１】
以下、チルト制御部１９は、図２（ｂ）に示すように、再生信号特性上のＤ０点を基準位置とし、所定のステップ外乱データＤ１をステップ外乱信号発生部１５より出力させ、加算部１７を介してステップ外乱極性をチルト制御系に加え、レンズチルトのチルト点を基準位置Ｄ０点より＋Ｄ１点および−Ｄ１点に移動させる。
【００５２】
チルト制御部１９は、この＋Ｄ１点および−Ｄ１点における差分平均化部１３の出力を取り込みメモリ部２０に記憶する。このとき、Ｄ０点と＋Ｄ１点における出力電圧差と、Ｄ０と−Ｄ１点における出力電圧差の絶対値は等しい。
【００５３】
また、判定ウインドウ部１４では、図２（ｃ）の＋Ｄ１点の差分平均化部１３の出力と−Ｄ１点における出力差分と所定の値（範囲）とが比較される。すなわち、この例では、判定ウインドウ部１４において、出力差分が所定の値より小さいことが判断され、チルト制御部１９に報知される。
【００５４】
チルト制御部１９は、Ｄ０点における調整データを保持し、ディスクチルトに対して光ピックアップ２の対物レンズを通過する出射光の光軸（軸線＝主光線）の方向を、最適化させる。
【００５５】
すなわち、上述したように、差分平均化部１３から出力される各々のチルト点での再生信号の平均値によって、対物レンズを通過する光の軸を調整することにより、調整精度を向上させることができる。
【００５６】
以上、チルト制御部１９によるチルト点の位置の調整方法について説明したが、これらの処理の流れを、図３に示す。
【００５７】
すなわち、判定ウインドウから外れた位置に検出されたレンズチルトが存在する場合、ＤＣオフセットを１ステップずらす極性（方向）は、    
（＋ステップ時のレベル平均）−（−ステップ時のレベル平均）  ＜  ０    
チルト補正電圧マイナス    
（＋ステップ時のレベル平均）−（−ステップ時のレベル平均）  ＞  ０    
チルト補正電圧プラス    
により、判断される。
【００５８】
より詳細には、ステップＳ３０１において、外乱信号により、基準位置から「正」方向および「負」方向のそれぞれにチルト角が変化され、    
ステップＳ３０２において、その変化された個々のチルト角により得られるＲＦ信号のエンベロープが算出され、さらに平均化される。
【００５９】
次に、平均化されたエンベロープの出力と所定値（基準値）との差が判定ウインドウ内にあるか否かが判定され（Ｓ３０３）、求められた『差』が判定ウインドウの範囲外である場合（Ｓ３０３−Ｎｏ）は、平均値の差の極性に応じて、補正電圧の極性が設定される（Ｓ３０４）。
【００６０】
続いて、上述したように、「ＤＣオフセット」が極性に応じて（Ｓ３０５，Ｓ３０６，Ｓ３０７）、１ステップ分シフトされる。
【００６１】
図４は、図１により説明した光ピックアップチルト補正制御装置によるチルト補正を、光ディスクの半径方向と関連づけることにより、調整時において、ディスク上の情報領域ごとに最適化する概念を示す。
【００６２】
光ディスクＭは、周知の通り、樹脂基材（またはガラス）に記録膜を設けたものであるから、例えばディスクの外径部を基準とすると、中心部（中心穴部分）が同一平面に存在しない「反り」を伴うことが知られている。また、ディスクの規格としても数値化されている。
【００６３】
このため、図４に示すように、ディスクＭの半径位置（半径方向）に関し、複数の領域に分割し、アドレス情報より計算された領域毎に、チルト補正を実行させるとともに、各領域におけるチルト補正結果をメモリ部２０に格納することで、その後直ちにチルト点の調整を実行するように構成すれば、光ピックアップの内外周の移動でチルト点（量）が、異なる場合においても、再調整が必要なくなる。なお、分割数ｎは、例えば１０である。もちろん、それ以上であっても、逆にｎ＝５程度でもかまわない。
【００６４】
次に、このチルト点の調整の適用例について説明する。
【００６５】
再生動作中は、バッファメモリ（図示せず）の再生データを出力する間に、光ディスクＭの再生データを読み出し、チルト補正を行う。一方、記録動作中は、記録データがバッファメモリ（図示せず）に蓄積される間に、記録済みの領域のディスクＭの再生データを読み出して、チルト補正を行う。
【００６６】
このように、チルト制御部１９を用いてチルト点の調整を装置に適用すれば、経時変化によって光学系の構成部品が変形して、実質的に光学系の特性が変化したような場合や、チルト制御系の基準状態が変化する場合においても、最適なチルト補正ができる。
【００６７】
図５は、図１に示した光ディスク記録再生装置の光ピックアップチルト補正制御装置の別の実施形態を示す。なお、図１に示した構成と同じ構成もしくは類似した構成には同じ符号を付して詳細な説明を省略する。
【００６８】
図５に示すように、光ディスク記録再生装置１０１は、光ディスクＭの記録面に所定の波長の光を照射する光ピックアップ２を含む。
【００６９】
光ピックアップ２には、所定波長のレーザ光（光ビーム）を出力する図示しないレーザダイオードと、レーザダイオードからの光ビームが光ディスクの記録面で反射された反射光ビームを捕捉する図示しない対物レンズ、対物レンズにより捕捉された光ビームを受光し、その強度に対応する電流または電圧を出力する信号用光検出器とを含む光検出器３、ならびに対物レンズの記録媒体Ｍに対する角度を調整するチルト補正駆動用コイル４等が組み込まれている。
【００７０】
信号処理部５は、光検出器３により受光され、主として情報の再生に利用されるデータ信号であるＲＦ信号を処理するＲＦ信号生成復調回路５１と、対物レンズの光ディスクＭの面方向の位置のずれを検出するフォーカスエラー検出部１０６および図示しないサーボ回路と、対物レンズの光ディスクＭの径方向の位置のずれを検出するトラックエラー検出部１０７および図示しないサーボ回路、ならびにフォーカスエラー検出部またはトラックエラー検出部の少なくとも一方の出力を参照して光ディスクＭの信号面の傾きの影響を補正するチルト補正制御装置１１１と、を含む。
【００７１】
すなわち、図５に示すチルト検出／補正系は、図１に示したチルト検出系がＲＦ信号を用いるに比較して、例えばトラックエラー（ＴＥ）信号のピーク（最大）値とボトム（最小）値から、チルト点を検出することを特徴とする。この場合、実際に得られる波形は、図２（ａ）により既に説明したと同様である。
【００７２】
なお、検出したチルト点のチルト量からチルトを補正する工程は、図２および図３を用いて先に説明した通りであるから、詳細な説明を省略する。
【００７３】
以上説明したように、本発明によれば、光ディスク記録再生装置において問題となる光ディスクのチルト（ディスクチルト）に対し、光ピックアップの対物レンズを通過した光の光軸（軸線すなわちレーザ光の主光線が通る道すじ）を最適に補正するためのディスクチルト補正機構を有する光ピックアップチルト補正において、専用のチルトセンサを設けることなく、ＲＦ信号またはＴＥ信号により最適なチルト補正角の調整が可能である。
【００７４】
なお、この発明は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、その実施の段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々な変形もしくは変更が可能である。また、個々の実施の形態は、可能な限り適宜組み合わせて実施されてもよく、その場合、組み合わせによる効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【００７５】
【図１】本発明の一実施の形態による光ピックアップチルト補正制御装置の一例を示す概略図。
【図２】同実施の形態にかかわる光ピックアップチルト補正制御装置のチルト補正されていく動作を説明するための調整時のレンズチルト位置とステップ外乱極性に対応したＲＦ／ＴＥ信号の関係を示したチャート図。
【図３】同実施の形態にかかわる光ピックアップチルト補正制御装置のチルト補正の動作の一例を示すフォローチャート。
【図４】同実施の形態にかかわる光ピックアップチルト補正制御装置のチルト補正されていく動作を説明するための調整時のディスク上の情報領域と最適化の関係を示す概略図。
【図５】図１に示した光ディスク記録再生装置の光ピックアップチルト補正制御装置の別の実施形態を示す概略図。
【符号の説明】
【００７６】
１，１０１…光ディスク記録再生装置、２…光ピックアップ、３…光検出器、４…チルト補正駆動用コイル、５…信号処理部、１１，１１１…チルト補正制御装置、１２…エンベロープ検出部、１３…差分平均化部、１４…判定ウインドウ部、１５…ステップ外乱信号発生部、１６…チルト補正用ＤＣオフセット発生部、１７…信号加算部、１８…チルトコイル駆動部、１９…チルト制御部、２０…メモリ部、５１…ＲＦ信号生成復調回路、１０６…フォーカスエラー検出部、１０７…トラックエラー検出部、Ｍ…光ディスク（情報記録媒体）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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