(57)【要約】【課題】  自動検査装置でチップ部品を検査した後、その検査結果に基づいて振り分ける場合に、その振り分けを迅速に行なえるようにして、自動検査装置での高速検査に追従できるようにすることである。【解決手段】  検査済みのチップ部品３が通過する開口部を備える部品通過部１０と、前記開口部を通過したチップ部品３を検査結果に応じて各収容部に振り分けるための収容孔１１が上面２０に多数開設された振分ブロック１２とを備え、前記部品通過部１０の開口部を前記振分ブロック１２の上面２０に接近させた状態で前後左右に相対的に移動させて検査結果の応じた収容孔１１の上方に開口部を位置させる。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査済みの部品が通過する開口部を備える部品通過部と、
前記開口部を通過した部品を検査結果に応じて各収容部に振り分けるための収容孔が上面に多数開設された振分ブロックとを備え、
前記部品通過部の開口部を前記振分ブロックの上面に接近させた状態で前後左右に相対的に移動させて検査結果の応じた収容孔の上方に位置させることを特徴とする部品振分装置。
【請求項２】
前記部品通過部が前記開口部を一方向に揺動させる揺動機構と、前記揺動方向と直交する他方向に開口部をスライドさせるスライド機構とを備えてなる請求項１記載の部品振分装置。
【請求項３】
前記部品通過部が前記開口部を一方向に揺動させる揺動機構を備える一方、前記振分ブロックが前記開口部の揺動方向と直交する他方向に上面をスライドさせるスライド機構を備えてなる請求項１記載の部品振分装置。
【請求項４】
前記振分ブロックの上面は、前記部品通過部の開口部が揺動する一方向に沿って湾曲状に形成されている請求項１記載の部品振分装置。
【請求項５】
前記部品通過部は、部品を前記開口部まで導く多重構造のチューブを備え、このチューブが前記開口部のスライド移動に追従してチューブ間で伸縮する請求項１記載の部品振分装置。
【請求項６】
前記部品通過部は、開口部の周囲に部品の通過を検出するセンサが配置されている請求項１記載の部品振分装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査済みの部品を検査結果に応じて各収納部に振り分けるための部品振分装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
最近の携帯電話やデジタルカメラなどの電子機器は小型化及び高機能化が益々進む傾向にある。そのために、多数の電子部品が高密度で実装されており、特に抵抗器、コンデンサ、発光ダイオードなどのチップ部品については極小化が進んでいる。これらのチップ部品は、その電気的特性や外観が自動検査装置によって高速で検査され、その検査結果に応じて部品が振り分けられ各収容部に収容される。
【０００３】
従来、自動検査装置によって高速で検査した後のチップ部品を各収容部に振り分けるための装置としては、例えば特許文献１に記載のものが知られている。このチップ部品振分装置は、多数の収容孔が円形に配列されている円盤状の回転体を備えるもので、この回転体を断続的に回転させながら検査済みのチップ部品を、その検査結果に応じた所定の収容孔内に順次吸引して貯留するものである。
【０００４】
しかしながら、上記従来のチップ部品振分装置にあっては、各チップ部品の検査結果に応じて円盤状の回転体を回転させながら位置合わせする必要があるため、振り分けるのに時間が掛かり自動検査装置での高速処理に追い付けないおそれがあった。
【特許文献１】特開２００２−２８５７８
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
そこで、本発明が解決しようとする課題は、チップ部品の検査結果に応じた振り分けを迅速に処理出来るようにして、自動検査装置での高速処理に追従できるようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
かかる目的を達成するために、本発明に係る部品振分装置は、検査済みの部品が通過する開口部を備える部品通過部と、前記開口部を通過した部品を検査結果に応じて各収容部に振り分けるための収容孔が上面に多数開設された振分ブロックとを備え、前記部品通過部の開口部を前記振分ブロックの上面に接近させた状態で前後左右に相対的に移動させて検査結果の応じた収容孔の上方に位置させることを特徴とする。
【０００７】
ここで、前記部品通過部は、一例では前記開口部を一方向に揺動させる揺動機構と、前記揺動方向と直交する他方向に開口部をスライドさせるスライド機構とを備えることを特徴とし、他の例では前記開口部を一方向に揺動させる揺動機構を備える一方、前記振分ブロックが前記開口部の揺動方向と直交する他方向に上面をスライドさせるスライド機構を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
本発明の部品振分装置は、部品通過部と振分ブロックとを前後左右に相対的に移動させているので、従来の方法に比べて振り分け時間が短縮され、自動検査装置での高速処理に部品の振分が追従できるようになった。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００９】
以下、添付図面に基づいて、本発明に係る部品振分装置の実施形態を詳細に説明する。図１は、本発明に係る部品振分装置１をチップ部品の自動検査装置２に付設した状態を示したものである。この自動検査装置２は、微小形状の電子部品、例えば抵抗器、コンデンサ、発光ダイオードなどのチップ部品３の電気的特性を検査するための検査装置であり、前記チップ部品３を搬送するための円板状の回転台４と、この回転台４の上面に配列された複数の部品搬送台５とを備える。また、自動検査装置２には回転台４に向かって真っ直ぐに延びるフィーダ６と、このフィーダ６の先端からチップ部品３を部品搬送台５に一つずつ移し替えるための供給装置７とが配設されている。
【００１０】
前記チップ部品３は部品搬送台５に載置されたのち、回転台４が間欠的に回転移動することによって漸次搬送され、部品検査ユニット８の位置でその電気的特性が検査される。ここでの検査では、例えばチップ部品３が発光ダイオードである場合を例にとると、発光させた時の明るさや発光色などが電気的特性として検査される。チップ部品３は検査が終了したのち再び部品搬送台５に載置され、部品振分装置１が付設されている位置まで搬送された後、チップ吹出装置９から吹き出される高圧エアーによって部品振分装置１内に送り出される。
【００１１】
前記部品振分装置１は、検査済みのチップ部品３の通過を検出するためのセンサ部１４備えた検査部品通過部１０と、センサ部１４で検出されたチップ部品３を前記自動検査装置２での検査結果に応じて振り分けるための振分ブロック１２とを備えており、この振分ブロック１２の上面２０には縦横方向に配列された多数の収容孔１１が開設されている。なお、これら検査部品通過部１０及び振分ブロック１２はフレーム１３によって支持されている。
【００１２】
前記検査部品通過部１０のセンサ部１４は、図３及び図４に示したように、上下からなるブロック状の本体部１５と、この本体部１５の外周面に沿って配設される４本の光ファイバ１６ａ〜１６ｄと、これら光ファイバ１６ａ〜１６ｄを本体部１５に固定するためのファイバ固定具１７とを備える。そして、前記本体部１５の中心部には上下に貫通する円形状の貫通孔１８が形成されており、この貫通孔１８の上端に前記自動検査装置２から延びるチューブ１９の先端部が連結されている。なお、前記貫通孔１８の形状は本体部１５の下面側では角形状に形成されている。
【００１３】
前記ファイバ固定具１７は、本体部１５の下面形状に対応した正方形状の押え板２１と、この押え板２１の各辺の中央部から本体部１５の外周面に沿って立ち上がる４つのガイド板２２とで構成される。押え板２１の中央部には本体部１５に開設された貫通孔１８の下面側形状とほぼ同じ大きさの角孔が開設され、本体部１５の貫通孔１８と共にチップ部品３が通過する開口部２３を形成する。また、本体部１５と各ガイド板２２との間には光りファイバ１６ａ〜１６ｄが配設される空隙部２５が設けられる他、この空隙部２５に光ファイバ１６ａ〜１６ｄの先端部分が配設される。なお、ファイバ固定具１７は、図３に示したように、押え板２１の４隅がネジ２６によって固定されるが、その際、押え板２１と本体部１５の下面との間に各光ファイバ１６ａ〜１６ｄの先端部分の素線２７を挟み込んで固定する。
【００１４】
前記光ファイバ１６ａ〜１６ｄは、この実施形態では透過型の光ファイバセンサとして利用される。４本の光ファイバ１６ａ〜１６ｄは、ガラス又はプラスチックの細い素線２７を束にしたもので、ファイバ基端に設置した光電スイッチ２８から延びて本体部１５の各外周面に沿って配設される。また、光ファイバ１６ａ〜１６ｄの各先端部は、４本のうち対向する２本ずつが一組となってセンサ検出部を構成している。このセンサ検出部は、チューブ１９内を通過してきたチップ部品３が開口部２３を通過するときの透過光量の変化を捕らえることで、チップ部品３の通過を検出することができる。
【００１５】
前記検査部品通過部１０は、図１及び図２に示されるように、フレーム１３の中央部において前後方向に張り渡された横シャフト３１と、この横シャフト３１に上端部が連結された縦シャフト３４とを備え、前記縦シャフト３４の下端部に前記センサ部１４が固定され、また前記横シャフト３１に沿って前記チューブ１９が配設されている。このとき、センサ部１４に設けられたファイバ固定具１７の下面は、図５に示されるように振分ブロック１２の上面２０に接近した位置で対向している。前記横シャフト３１は、その両端部が前記フレーム１３に対して回転可能に支持されると共に、一端部が軸受３２を介して反転モータ３３に連結されているので、図５に示したように、反転モータ３３の駆動によって横シャフト３１が正逆方向に回転し、それに伴って縦シャフト３４が揺動することでセンサ部１４が振分ブロック１２の上面２０に沿って振り子運動をする。
【００１６】
一方、振分ブロック１２は、図１、図２及び図５に示したように、湾曲状の上面２０を有する平面形状が四角形の部材であり、上面２０には縦，横方向に配列された多数の収容孔１１が設けられている。各収容孔１１は振分ブロック１２の下面側まで貫通し、さらにパイプ４０を通じて部品収容部（図示せず）と連通している。前記収容孔１１の開口数は、前記チップ部品３を振り分ける電気的特性の分類数に対応している。また、振分ブロック１２の両端は、フレーム１３に掛け渡されたガイドレール４１に支持されており、このガイドレール４１に沿って前後方向にスライド移動が可能である。このスライド移動は、振分ブロック１２とモータ４２とを連結するリンク部材４３によって行なわれる。なお、振分ブロック１２の上面２０の湾曲面は前記検査部品通過部１０の縦シャフト３４を揺動させたとき、その下端に取付けられた本体部１５の回動軌跡に対応している。
【００１７】
前記横シャフト３１の基端部分にはチップ吹出装置９が配設されている。このチップ吹出装置９は、自動検査装置２での検査が終了した後のチップ部品３を部品振分装置１に送り込むためのものであり、横向きの先端ノズル４６と、この先端ノズル４６に通じるエアー通路４７と、先端ノズル４６と対向するラッパ状の受入口４８とを備えている。図示外のエアー源からエアー通路４７に供給された高圧エアーを先端ノズル４６から勢いよく吹き出すことで、部品搬送台５の上に載置されたチップ部品３を受入口４８に向けて吹き飛ばす。受入口４８と検査部品通過部１０のセンサ部１４との間は横シャフト３１に沿って配管されたチューブ１９で連通しており、受入口４８内に吹き飛ばされたチップ部品３は、チューブ１９内を勢いよく通過したのち、センサ部１４の開口部２３から所定の収容孔１１内に吹き出され、その際にチップ部品３の通過が検出される。前記チップ部品３が振分ブロック１２のどの位置の収容孔１１内に分類されるかは、該チップ部品３の電気的特性に基づく。コンピュータによる演算処理を受けて振分ブロック１２が前後方向にスライドして前後位置が決定されると同時に、縦シャフト３４の揺動によってセンサ部１４が振分ブロック１２の上面２０に沿って左右方向に移動することで左右位置が決定する。このようにして、前記チップ部品３の吹き出し位置が決定され、開口部２３から所定の収容孔１１内に吹き出されたチップ部品３はパイプ４０を通じて所定の部品収容部に貯留される。
【００１８】
図６乃至図８は、本発明に係る部品振分装置の第２の実施形態を示したものである。この実施形態に係る部品振分装置５０は、検査済みのチップ部品を検査部品通過部１０から振分ブロック１２に振り分ける際に、振分ブロック１２は固定したままで、検査部品通過部１０に前後方向のスライド運動と左右方向の回転運動を与えて、所定の収容孔１１にセンサ部１４を位置合わせするものである。
【００１９】
具体的には、検査部品通過部１０のセンサ部１４とチップ吹出装置９との間に配管されるチューブ１９を二重構造とし、さらにこのチューブ１９を伸縮可能に取り付けたものである。即ち、チューブ１９をチップ吹出装置９側でフレーム１３のガイドブロック５８に固定される内側チューブ１９ａと、スライドブロック５１及び横シャフト３１に取り付けられる外側チューブ１９ｂとで構成し、スライドブロック５１及び横シャフト３１の軸受部６１をフレーム１３に固定されたガイドレール５２にスライド可能に支持させる構造である。スライドブロック５１内では内側チューブ１９ａと外側チューブ１９ｂとが二重構造をなし、スライドブロック５１がスライドすることで、外側チューブ１９ｂが内側チューブ１９ａの外周面に沿ってスライドして伸縮する構造となっている。
【００２０】
前記横シャフト３１の中間部には縦シャフト３４の上端部が連結されている。そして、この縦シャフト３４の下端部には前記外側チューブ１９ｂの先端に設けられたセンサ部１４が取り付けられるが、このセンサ部１４は前記第１の実施形態と同様の構成からなるので詳細な説明は省略する。また、スライドブロック５１は、アクチュエータ５３によって駆動されるカム機構５４にも連結されており、このカム機構５４の働きによってフレーム１３に対して前後方向にスライドする。なお、カム機構５４にはスライドブロック５１の前後方向の移動をガイドするため、長孔５５が設けられたブロック体５６と、この長孔５５内を移動するガイドピン５７が設けられている。
【００２１】
したがって、カム機構５４が働くことによってスライドブロック５１及び横シャフト３１がガイドレール５２上を前後方向に移動し、この移動に伴ってスライドブロック５１に取り付けられている外側チューブ１９ｂが内側チューブ１９ａの外周面に沿って伸びることになる。図８に示されるように、スライドブロック５１が距離ｘ１の間を前後方向にスライドするのに連動してセンサ部１４が距離ｘ２の間を移動する。スライドブロック５１及びセンサ部１４が横シャフト３１及び縦シャフト３４を介して連結されていることから、前記距離ｘ１とｘ２とは同じ距離である。また、距離ｘ２は、振分ブロック１２の前後両端の収容孔１１ａ，１１ｂ間を移動する距離に対応して設定されている。
【００２２】
一方、検査部品通過部１０の左右方向の回転は、前記実施形態１の図５で説明したように、縦シャフト３４が揺動することで、センサ部１４が振分ブロック１２の上面２０に沿って振り子運動をするものであるが、この実施形態ではフレーム１３の脇に配置された反転モータ３３によって駆動されるために部品振分装置５０がコンパクトになる。前記反転モータ３３の駆動力は、前記横シャフト３１の一端に取付けられたプーリ６２及び駆動ベルト６３を介してセンサ部１４に伝達される。なお、振分ブロック１２は、前記実施形態１と同様、湾曲状の上面２０を有する平面形状が四角形の部材であり、上面２０には縦，横方向に配列された多数の収容孔１１が設けられている。
【００２３】
さらに、この実施形態では、前記二重構造の内側チューブ１９ａと外側チューブ１９ｂ、それに振分ブロック１２の各収容孔１１と部品収容部（図示せず）とを連通するパイプ４０ａは、内周面がコーティングされた金属材料で作られていることが望ましい。これは、例えばボディから金属の足が出ているようなチップ部品をチューブやパイプの中を通過させる際に、チューブやパイプが軟質材料で形成されていると金属の足で内周面を削ってしまい、その削り滓がチップ部品に付着して品質を落とすおそれがあるからである。内周面がコーティングされた金属材料であれば、そのような問題は生じない。したがって、検査するチップ部品の外形形状や表面の材質によっては、この実施形態に係る部品振分装置５０が有効となることがある。本実施形態では、チューブ１９ａ，１９ｂを二重構造にして伸縮自在とすることで、検査部品通過部１０を前後方向にスライドさせたり左右方向に回転させても振分動作に支障を来たすことなく、一方、振分ブロック１２は固定させたままなので、振分ブロック１２の下面から多数配管されるパイプ４０ａが金属材料から出来ていても問題は生じない。
【００２４】
前記いずれも実施形態もチップ部品がセンサ部１４の開口部２３を通過する際、その通過を検出する場合について説明したが、場合によって検出を行なうことなく開口部２３を通過させることもあり得る。また、上記の実施形態ではチップ部品の振分について説明したが、チップ状以外の部品の振分にも適用できるものである。
【図面の簡単な説明】
【００２５】
【図１】本発明の第１実施形態に係る部品振分装置の全体形状を示す平面図である。
【図２】前記部品振分装置の全体形状を示す側面図である。
【図３】検査部品通過部のセンサ部を示す斜視図である。
【図４】図３におけるＡ−Ａ線断面図である。
【図５】センサ部の振り子運動と振分ブロックとの位置関係を示す断面図である。
【図６】本発明の第２実施形態に係る部品振分装置の全体形状を示す平面図である。
【図７】前記部品振分装置の全体形状を示す側面図である。
【図８】図７の部分拡大図である。
【符号の説明】
【００２６】
１  部品振分装置
２  自動検査装置
３  チップ部品
１０  検査部品通過部
１１  収容孔
１２  振分ブロック
１４  センサ部
１９  チューブ
１９ａ  内側チューブ
１９ｂ  外側チューブ
２０  上面
２３  開口部
３１  横シャフト
３３  反転モータ
３４  縦シャフト
４２  モータ
４３  リンク部材
５０  部品振分装置
５３  アクチュエータ
５４  カム機構
【図１】
2006142243.tif 000003
【図２】
2006142243.tif 000004
【図３】
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【図４】
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【図５】
2006142243.tif 000007
【図６】
2006142243.tif 000008
【図７】
2006142243.tif 000009
【図８】
2006142243.tif 000010