(57)【要約】【課題】  短時間で設定できる簡易な小麦粒選別機の選別設定値の自動設定装置の提供。【解決手段】  本発明による小麦粒選別機の選別設定値の自動設定装置は、小麦粒の下方から特定範囲の波長の近赤外光を照射する光源（１）と、照射した光のうちの小麦粒を透過した光を受け取り、受け取った透過光を該透過光の光量に対応する電気信号に変換して出力するカメラボックス（４）と、前記カメラボックスから前記透過光の光量に対応する電気信号を受け取り、該電気信号を輝度別に測定して輝度に対するヒストグラムを作成する輝度分布計数装置（５）と、既知の透過光量の値と実際の良品限界に対応する選別機の選別設定値との相関を用いて、新たに透過光量分布を測定した小麦粒の推定選別設定値を計算する計算装置（６）と、により構成されている。【選択図】  図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
小麦粒選別機の選別設定値の自動設定装置であって、
小麦粒の下方から特定範囲の波長の近赤外光を照射する光源と、
照射した光のうちの小麦粒を透過した光を受け取り、受け取った透過光を該透過光の光量に対応する電気信号に変換して出力するカメラボックスと、
前記カメラボックスから前記透過光の光量に対応する電気信号を受け取り、該電気信号を輝度別に測定して輝度に対するヒストグラムを作成する輝度分布計数装置と、
既知の透過光量の値と実際の良品限界に対応する選別機の選別設定値との相関を用いて、新たに透過光量分布を測定した小麦粒の推定選別設定値を計算する計算装置と、を含むことを特徴とする小麦粒選別機の選別設定値の自動設定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の小麦粒選別機の選別設定値の自動設定装置であって、
雑光を防止するために前記光源に隣接して設けられた、小麦粒に近い明るさのバックグランドと、
前記小麦粒と前記カメラとの間に設けられた観察視野を制限するためのスリットと、を更に含む小麦粒選別機の選別設定値の自動設定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、小麦粒選別機の選別設定値の自動設定装置に関し、特に、簡易な小麦粒選別機の選別設定値の自動設定装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
小麦粒の品質評価は見た目では分かりづらく、実際には、アミロ値（アミノグラム法を用いて得られる粘度等に関する値）やＦＮ値（フォーリングナンバー法を用いて得られる粘度等に関する値）などの“粘度”の値が小麦粒の品質評価に用いられる。
【０００３】
従って、選別機により良品・不良品に分けたとしても、それが本当に低アミロ値を除去出来ていたのかを確認するには、小麦を一旦粉砕して粉末にしてフォーリングナンバー等で粘度を測って確認する必要があり、多大な時間を要していた。また、外見からでは低アミロ値が分かり難い場合もあり、選別機の選別設定値を設定する上でまずどの位の設定値にすればいいのかを探し出すまでに、時間も手間もかかっていた。
【０００４】
現在、低アミロ値の小麦を選別除去して品質を向上させる装置として、例えば、特開２００３−１５９５６９号に記載された装置が知られている。この装置においても、選別機の選別調整段階では具体的な粘度は分からず、外見上良品・不良品の差が無い場合などでは、選別機の選別設定調整に手間と時間がかかっている（特許文献１参照）。
【０００５】
このため、迅速に多くの種類の小麦粒品質を測定しなければならない受け入れ検査では、短時間で簡易的に小麦粒の実際の粘度等の品質を評価し小麦粒選別機の選別設定値を自動的に設定できる自動設定装置が必要とされている。
【０００６】
【特許文献１】特開２００３−１５９５６９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は、短時間で且つ簡易的に小麦粒の実際の粘度等の品質を評価し小麦粒選別機の選別設定値を自動的に設定できる自動設定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
本発明は、小麦粒の実際の粘度（ＦＮ値）が非破壊状態で予測推定することが出来れば迅速な小麦選別機の自動設定が可能となるという発想に基づいてなされたものである。かかる発想の下で、本願発明者らは、透過分光量の輝度分布に着目し、小麦粒の透過分光量の輝度分布と、小麦選別機によって良品限界とされる小麦粒の実際の粘度の値とこれに対応する選別機の選別設定値との相関関係を検定し、透過分光量の輝度分布の値を介して、良品限界を設定する選別機の選別設定値を求める回帰分析を行った。まず、予め選別機によって選別された一定量の小麦粒を数種類用意し、各々の透過分光量を輝度別に測定（測定時間は一定）してヒストグラムを作成した（図１のグラフ参照）。次いで、それぞれの小麦粒を選別機にかけ、良品として選別された小麦粒の実際の粘度が取引に問題がない程度の製品になった時点での選別機の選別設定値を記録して行った。次に、透過分光量の値を独立変数とし、選別機の選別設定値を従属値として回帰分析を行った。この結果に基づいて、最適な良品基準となる選別設定値を予想する回帰式（予測式）を導き出し、回帰分析に用いた値を再度代入し直して相関関係があるのかを検証してみた。その結果、実際の選別機の選別設定値と、小麦粒の透過分光量の輝度分布を介して導き出した推定選別設定値との間には、高い相関関係及び因果関係があることを発見した（図２のグラフ参照）。
【０００９】
この結果から、小麦粒の照射光輝度に対する透過分光量の輝度分布を測定することによって小麦粒選別機の実際の良品限界選別設定値に対応する選別設定値が推定でき、非破壊状態で迅速且つ簡易に小麦粒選別機の選別設定値を設定することができるという結論に至り、本発明の自動設定装置を発明するに至った。
【００１０】
上記結論に基づいて、本発明においては、主として、小麦粒の下方から特定範囲の波長の近赤外光を照射する光源と、照射した光のうちの小麦粒を透過した光を受け取り、受け取った透過光を該透過光の光量に対応する電気信号に変換して出力するカメラボックスと、前記カメラボックスから前記透過光の光量に対応する電気信号を受け取り、該電気信号を輝度別に測定して輝度に対するヒストグラムを作成する輝度分布計数装置と、既知の透過光量の値と実際の良品限界に対応する選別機の選別設定値との相関を用いて、新たに透過光量分布を測定した小麦粒の推定選別設定値を計算する計算装置と、により小麦粒選別機の選別設定値を自動的に設定する自動設定装置を構成している。
【００１１】
本発明の自動設定装置においては、更に、正確な測定を行うために、雑光を防止するために前記光源に隣接して設けられた小麦粒に近い明るさのバックグランドと、前記小麦粒と前記カメラとの間に設けられた観察視野を制限するためのスリットと、を設けることができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、小麦を非破壊の状態で且つ品質の分からない小麦の選別をする際に、短時間で簡易的に小麦粒選別機の選別設定値を自動的に設定でき、迅速に多くの種類の小麦粒を選別しなければならない受け入れ検査で大きな役割を果すことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
図３は、本発明による小麦粒選別機の選別設定値の自動設定装置の構成を示すブロック図である。
光源１は、特定の波長域の近赤外光を発光して、測定対象である小麦粒を下側から照射する。照射した光のうちの小麦粒を透過した光は、カメラボックス４によって集光される。尚、符号２に示されているものは、雑光を防止するために設けられた、小麦粒（すなわち測定物）に近い明るさのバックグランドであり、符号３によって示されているものは、観察視野を制限するためのスリットである。カメラボックス４は、その中のラインセンサーで透過光を受け取り、受け取った光を電気信号に変換して輝度分布計数装置５に供給する。輝度分布計数装置５は、カメラボックス４からの信号を輝度毎に合計し、輝度分布のヒストグラムを作成する。輝度分布計数装置５においては、図４に示すように、観察した小麦粒の画像を升目型に区切り、その１ドット毎の光量を輝度別に合計していくことによりヒストグラムを作る。輝度分布計数装置５によって作成されたヒストグラムのデーターは、計算装置６に供給される。計算装置６には、事前に幾つかのヒストグラムとそれに対応する実際の選別機の選別設定値とを計測して得られたヒストグラムのデーターと選別設定値との相関関係が記憶されており、この記憶されている相関関係に基づいて、新たに供給されたヒストグラムのデーターから、新たな小麦粒対象物の推定選別設定値を計算し且つ該計算結果に基づいてこの新たな対象物に対する選別設定値結果を表示且つ出力する。この出力結果により、小麦粒選別機の選別設定値を自動的に設定ができる。
【産業上の利用可能性】
【００１４】
本発明は、小麦粒の選別機の選別設定値に関してなされているが、本発明による着想は、小麦粒と同様にフォーリングナンバー法等によって粘度を測定することによって選別設定値を設定するあらゆる穀類選別機に対して適用可能であることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００１５】
【図１】小麦粒の透過分光量を輝度別に測定したヒストグラムを示すグラフである。
【図２】小麦粒の実際に選別した時の選別設定値と推測した選別設定値との相関関係を示すグラフである。
【図３】本発明の品質測定装置の構成を示すブロック図である。
【図４】観察した小麦粒の光量の輝度別ヒストグラムを作る方法を示した模式図である。
【符号の説明】
【００１６】
１  光源、    ２  バックグランド、    ３  スリット、
４  カメラボックス、    ５  輝度分布計数装置、    ６  計算装置
【図３】
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【図４】
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【図１】
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【図２】
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