(57)【要約】【課題】  簡易な構造でありながら基体に塗布された流動性物質、例えば高速で搬送される巻紙に塗布された糊の途切れ（抜け）を検出することのできる欠陥検査装置を提供する。【解決手段】  基体に塗布された流動性物質に赤外線を照射する投光部と、この投光部による上記赤外線の照射領域に生じる反射光を上記赤外線の照射方向とは異なる向きにて該反射光に含まれる互いに異なる所定の波長の反射光のレベルを検出信号としてそれぞれ出力する第１の受光部および第２の受光部と、この第２の受光部が出力した検出信号を前記第１の受光部が出力した検出信号で除した値または減じた値と、予め定めた閾値とを比較して前記流動性物質の有無を判定する判定部とを備える。【選択図】  図２
2006090802.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
基体に線状に塗布された流動性物質の塗布状態を検査する欠陥検査装置であって、
前記基体に塗布された前記流動性物質に光を照射する投光部と、
この投光部による上記光の照射領域に生じる反射光を上記光の照射方向とは異なる向きにて該反射光に含まれる互いに異なる所定の波長の反射光のレベルを検出信号としてそれぞれ出力する第１の受光部および第２の受光部と、
この第２の受光部が出力した検出信号を前記第１の受光部が出力した検出信号で除した値または前記第１の受光部が出力した検出信号で減じた値と、予め定めた閾値とを比較して前記流動性物質の有無を判定する判定部と
を備えることを特徴とする欠陥検査装置。
【請求項２】
前記投光部が照射する光は、赤外線領域の光である請求項１に記載の欠陥検査装置。
【請求項３】
前記基体は、刻タバコまたはフィルタ繊維を巻き上げる帯状の紙からなる請求項１に記載の欠陥検査装置。
【請求項４】
前記流動性物質は、前記帯状の紙における長手方向の少なくとも一端部に連続塗布される糊である請求項１または３に記載の欠陥検査装置。
【請求項５】
前記糊は、酢酸ビニルエマルジョン系接着剤またはエチレン−酢酸ビニル共重合樹脂である請求項４に記載の欠陥検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、基体に線状に塗布された流動性物質の塗布状態を検査する欠陥検査装置に係り、例えば刻タバコやフィルタ繊維を巻紙の内部に保持して巻き上げるシガレットにおいて、巻紙の一端部に塗布されて巻紙を筒状に貼り合わせる糊（接着材）の塗布状態を検査するに好適な欠陥検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
例えば、刻タバコやフィルタ繊維を巻紙（基体）の内部に保持して巻き上げるシガレットは、巻紙内部に刻タバコやフィルタ繊維を収納すると共に、巻紙の一端部（ラップ部分）に細い幅（１.０ｍｍ程度）で線状に糊（流動性物質）が塗布されて巻紙の長手方向の端部同士が貼りあわされ、筒状に形成される。ちなみにフィルタ繊維を巻き上げて形成する巻紙には、上述したラップ部分の他、フィルタ繊維を包んでいる巻紙から固結したフィルタ繊維（以後、フィルタチップと称する）が抜け出ないように固定用の糊が塗布されている。このフィルタチップ固定用の糊は、ラップ部分に塗布された糊と並行に１乃至２本、線状に塗布される。そして、巻紙を筒状に巻き上げることによってフィルタプラグが形成される。ちなみにフィルタ繊維は、例えばセルロースアセテート繊維が用いられる。
【０００３】
このようにして形成されたシガレットにあっては、ラップ部分の糊やフィルタチップ脱落防止用の糊の塗布状態が悪く、未塗布の箇所ができると、シガレットを筒状に貼り合わせている箇所が開いて刻タバコが漏れ落ちたり、フィルタチップが巻紙から抜け落ちたりする。
この種の糊の塗布状態を検出する装置として、搬送されるシート状の基体に例えば糊などの流動性物質を線状に自動的に塗布すると共に、所定の加工作業を行うに際し、塗布された糊の状態を検査するため、光学センサを利用して塗布された糊に光を照射し、その反射光あるいは透過光を受光装置で受光し、受光装置から出力された受光信号の変化から糊量あるいは糊の有無を判定する装置がある（例えば、特許文献１を参照）。この装置は、検知対象となる糊に予め蛍光剤を混入して用い、線状に塗布された糊にブラックライトを光源として照射し、その蛍光発色量により糊の増減を判定し、一定レベル以上の基準からずれた場合には警報を発するものである。
【０００４】
或いは、蛍光剤の代わりに薄色の着色剤を添加しておき、搬送されるシート類に着色剤が添加された糊を線状に塗布した段階で、この線状の糊部分にレーザ光を光学手段により照射し、塗布された糊から反射される反射光量を検知手段によって検出して糊の有無、すなわち糊切れを検査する装置が知られている（例えば、特許文献２を参照）。
【特許文献１】特開昭６３−１９３０４６号公報
【特許文献２】特開２００２−２６３５５１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、巻紙に塗布された糊（接着剤）の塗布状態を検査する場合、巻紙に塗布される糊は、塗布幅が狭く、塗布量も極めて少ない。更には、フィルタプラグの製造ラインにおける巻紙転送速度が高速度（例えば毎分６００ｍ）である。これらのことから、巻紙に塗布された糊の状態を高精度に検査することが困難であるという問題があった。
またフィルタチップを保持する巻紙には、筒状に形成するため巻紙の長手方向の一端部に糊を塗布するほか、フィルタチップの脱落を防止するための糊が塗布される。したがって、フィルタ繊維（例えばセルロースアセテート繊維）を巻き上げる巻上機には、糊の塗布状態を検出する欠陥検査装置を塗布箇所毎に設ける必要がある。このため、数十台の巻上機が稼働しているフィルタプラグ製造工場にあっては、糊の塗布状態を検出する欠陥検査装置多数必要となり、それ故、欠陥検査装置の低価格化が望まれている。
【０００６】
本発明は、上述した問題を解決すべくなされたもので、その目的は、簡易な構造でありながら基体に塗布された流動性物質、例えば高速で搬送される巻紙に塗布される糊（接着剤）の塗布不良（途切れ）を検出することのできる欠陥検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上述した目的を達成すべく発明者は、例えば刻タバコまたはフィルタ繊維を巻き上げる帯状の紙、すなわち巻紙長手方向の少なくとも一端部に連続塗布される流動性物質（糊または接着剤）を塗布したとき、この糊に照射した光（赤外線）の反射光がどのようなスペクトルをもつのかというのを評価すべく試験を行った。
まず発明者は、糊が塗布されていない巻紙に赤外線を照射したときの反射光スペクトルの強度から、巻紙の吸光度特性を調べた。その結果、図４の実線に示すように波長１０００［ｎｍ］〜２５００［ｎｍ］の範囲において、波長が長くなるにつれて吸光度の増加がやや見られるものの、ほぼフラットな吸光度特性があることが観測できた。ちなみに、このグラフは、波長１３００［ｎｍ］における吸光度のレベルを基準値［０］として正規化した補正吸光度を示すものである。
【０００８】
次いで発明者は、上述した巻紙に酢酸ビニルエマルジョン系接着剤を塗布し、この接着剤に対して赤外線を照射したときの反射光スペクトルの強度を観測し、接着剤の吸光度特性を調べた。その結果、図４の破線に示すように波長１０００［ｎｍ］〜２５００［ｎｍ］の範囲において、吸光度にピークのある波長がいくつかあることが判明した。具体的には、波長１４５０［ｎｍ］付近、波長１９３０［ｎｍ］付近である。
【０００９】
また発明者は、巻紙にエチレン−酢酸ビニル共重合樹脂を塗布し、この樹脂に赤外線を照射したときの反射光スペクトルの強度を観測して樹脂における吸光度特性を調べた。その結果、図５の破線に示すように波長１０００［ｎｍ］〜２２００［ｎｍ］の範囲においては、樹脂を塗布していない巻紙と同様な吸光度特性を示したものの、波長１７３０［ｎｍ］付近、波長２３１０［ｎｍ］付近で吸光度にピーク値をもつことを観測できた。ちなみに、この図の実線は、糊が塗布されていない巻紙に赤外線を照射したときの反射光スペクトルの強度を示すものである。
【００１０】
さて本発明に係る欠陥検査装置は、上述した知見に基づいてなされたものであり、基体に線状に塗布された流動性物質の塗布状態を検査する欠陥検査装置であって、
前記基体に塗布された流動性物質に光を照射する投光部と、この投光部による上記光の照射領域に生じる反射光を上記光の照射方向とは異なる向きにて該反射光に含まれる互いに異なる所定の波長の反射光のレベルを検出信号としてそれぞれ出力する第１の受光部および第２の受光部と、この第２の受光部が出力した検出信号を前記第１の受光部が出力した検出信号で除した（あるいは減じた）値と、予め定めた閾値とを比較して前記流動性物質の有無を判定する判定部とを備えたことを特徴としている。特に前記投光部が照射する光は、赤外線領域の光を用いることが望ましい。
【００１１】
上述した欠陥検査装置は、投光部から基体に塗布された流動性物質に対して光（赤外線）を照射したとき、流動性物質から反射される所定の波長の反射光を第１の受光部が検出し、その検出信号を基準レベルとする。一方、第１の受光部が検出する光（赤外線）の波長とは異なる波長の反射光を受ける第２の受光部を設け、この第２の受光部が出力する検出信号のレベルを測定レベルとする。そして、基準レベルに対する測定レベルの倍数値あるいは差分値を求める。そしてこの倍数値あるいは差分値と、所定の閾値とを判定部が比較することによって基体に塗布された流動性物質の塗布状態、すなわち基体に途切れることなく流動性物質が塗布されているか否かを判定する。
【００１２】
より具体的に前記基体は、刻タバコまたはフィルタ繊維（例えばセルロースアセテート繊維）を巻き上げる帯状の紙、すなわち巻紙であり、一方、前記流動性物質は、前記帯状の紙における長手方向の少なくとも一端部に連続塗布される糊（接着剤）である。この接着剤は、詳しくは請求項５に記載するように酢酸ビニルエマルジョン系接着剤またはエチレン−酢酸ビニル共重合樹脂からなる。
【００１３】
上述した欠陥検査装置は、投光部から巻紙に塗布された糊（接着剤）に対して照射した光（赤外線）が、糊（接着剤）によって反射される所定の波長の反射光を第１の受光部が検出し、その検出信号を基準レベルとする。一方、第１の受光部が検出する光（赤外線）の波長とは異なる波長の反射光（赤外線）を受ける第２の受光部を設け、この第２の受光部が出力する検出信号のレベルを測定レベルとする。そして基準レベルに対する測定レベルの倍数値あるいは差分値を求める。そしてこの倍数値あるいは差分値と、所定の閾値とを判定部が比較することによって巻紙に塗布された糊（接着剤）の塗布状態、すなわち糊（接着剤）が巻紙に途切れることなく塗布されているか否かを判定する。
【発明の効果】
【００１４】
以上説明したように本発明の欠陥検査装置は、基体に塗布された流動性物質の塗布状態を検査する欠陥検査装置であって、投光部により基体に塗布された流動性物質に赤外線を照射したとき、この流動性物質が反射する反射光に含まれる互いに異なる所定の波長の反射光のレベルをそれぞれ検出して出力する受光部を設けている。具体的には、一方の赤外線の波長を基準波長、他方の赤外線の波長を測定波長としている。そして、基準波長の赤外線のレベルを基準レベルとし、測定波長の赤外線のレベルを測定レベルとして、この測定レベルの大きさを基準レベルの倍数値あるいは差分値として求めている。そうして、この倍数値あるは差分値と、予め定めた閾値との大小関係から基体に塗布された流動性物質の塗布状態、すなわち基体に流動性物質が塗布されているか否かの判定を行うことができる。
【００１５】
具体的に本発明の欠陥検査装置をシガレット製造装置またはフィルタプラグ製造装置にすれば、巻紙（基体）を筒状に形成して刻タバコあるいはフィルタ繊維（例えばセルロースアセテート繊維）を巻き上げる際、この巻紙の長手方向の少なくとも一端部に連続塗布される糊（流動性物質）が巻紙に途切れることなく塗布されているか否かを簡易にして、しかも高精度に判定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
以下、本発明に係る欠陥検査装置の一実施形態について添付図面を参照しながら説明する。図１は、本発明に係る欠陥検査装置によって検査される検査対象物の一例を示す図である。この図において１は、シガレットまたはフィルタプラグを形成する巻紙であり、例えば幅２７ｍｍの長尺の紙からなり、ロール状に巻回されて提供される。この巻紙は、巻き戻されて図示しないシガレット製造装置またはフィルタプラグ製造装置へと高速で搬送される。
【００１７】
シガレット製造装置またはフィルタプラグ製造装置へ搬送される巻紙の搬送路の途中には、巻紙を巻き上げる際、長手方向の一端部に接するように位置付けられた先細のノズル２の先端部から、連続的に巻紙１に糊３が供給される。そして詳細は省略するが、シガレット製造の後工程においては巻紙１内に刻タバコとフィルタプラグを包み込むようにして棒状に巻き上げ、巻紙１に塗布された糊３で巻紙１の長手方向の端部同士を貼り合わせて筒状のシガレットを形成する。
【００１８】
本発明に係る欠陥検査装置は、図２にも示すように上述したようにして連続塗布された糊３に対して光（赤外線）を照射する投光部１０および糊３に照射した光（赤外線）の反射光を受けて、欠陥検査装置本体２０へ導く二本の光ファイバ１１，１２が横並びに設けられて構成される。これら投光部１０および二本の光ファイバ１１，１２は、検査プローブ１３に納められて、外光の影響を抑えつつ巻紙１に塗布された糊３の状態を検出するようになっている。そして検査プローブ１３に納められた二本の光ファイバ１１，１２のそれぞれの端部にもたらされた反射光は、欠陥検査装置本体２０に導かれる。
【００１９】
二本の光ファイバ１１，１２によって欠陥検査装置本体２０に導かれた反射光は、図２および図３示すようにそれぞれ所定の波長の赤外線だけを透過させる光フィルタ２１，３１を介して、光信号をその受光レベルに応じた電気信号（電流）のレベルに変換するＯ／Ｅ変換部２２，３２に与えられる。
一方の光フィルタ２１は、前述した評価試験の結果から導かれるように、巻紙１に塗布された糊３の有無を検出するための基準となる反射光（赤外線）のスペクトル中における基準波長の赤外線を透過させるもので、例えば１３００［ｎｍ］の赤外線を選択的に透過させるものである。他方の光フィルタ３１は、糊３によって反射された反射光のスペクトル中に含まれる糊３の特徴を示すピーク波長を捉える所定の波長の赤外線を選択的に透過させるものである。この所定の波長は、糊３の材質によって異なる波長を選択してＯ／Ｅ変換部３２に与えるようになっている。例えば上述した評価結果から導かれるように糊３の材質が酢酸ビニルエマルジョン系接着剤の場合は、波長１４５０［ｎｍ］の赤外線を、エチレン−酢酸ビニル共重合樹脂の場合は、波長１７３０［ｎｍ］の赤外線（測定波長）をそれぞれ選択的に透過させる赤外線フィルタ３１を用いればよい。
【００２０】
またＯ／Ｅ変換部２２，３２は、例えばＩｎＧａＡｓ系のフォトダイオードから構成される。このフォトダイオードは、受光した光のレベルに応じて内部抵抗値が変化するものであって、受光した光信号のレベルを電流の大きさに変換するものである。
このＯ／Ｅ変換部２２，３２によって光信号の強さに応じたレベルに変換された電気信号（電流）のレベルは、次段に設けられたＩ／Ｖ変換部２３，３３によってＯ／Ｅ変換部２２，３２が出力する電流レベルに比例した電圧レベルの信号に変換される。このＩ／Ｖ変換部２３，３３は、それぞれオペアンプ２３ａ，３３ａを有し、フィードバック抵抗器２３ｂ，３３ｂを介してそれぞれオペアンプ２３ａ，３３ａの負入力端子にフォトダイオード２２，３２のアノードと共に接続される。
【００２１】
一方、オペアンプ２３ａ，３３ａのそれぞれの正入力端子は、接地されている。したがって、オペアンプ２３ａ，３３ａは、負入力端子に接続されたフォトダイオード２２，３２の抵抗値変化に応じて、オペアンプ２３ａ，３３ａの負入力端子を常に正入力端子の電位、すなわち接地電位になるよう出力電位が変化する反転増幅回路を形成する。
このＩ／Ｖ変換部２３，３３を構成するオペアンプ２３ａ，３３ａの出力端子には、次段の増幅部２４，３４に接続される抵抗器２４ｃ，３４ｃが設けられている。この抵抗器２４ｃ，３４ｃは、増幅部２４，３４を構成するオペアンプ２４ａ，３４ａの負入力端子にそれぞれ接続される。このオペアンプ２４ａ，３４ａは、負入力端子がオペアンプ２４ａ，３４ａの出力端子と可変抵抗器２４ｂ，３４ｂを介して接続される一方、正入力端子が接地されて反転幅回路を構成している。ちなみに可変抵抗器２４ｂ，３４ｂは、オペアンプ２４ａ，３４ａの増幅度を設定する増幅度設定トリマである。
【００２２】
増幅部２４，３４によってそれぞれ増幅された基準波長および測定波長の受光レベルを示す電気信号は、測定波長の受光レベル（測定レベル）が基準波長の受光レベル（基準レベル）の何倍に相当するかを演算し、その対数値をとるｌｏｇ演算部２５に与えられる。ちなみにｌｏｇ演算部２５で対数演算を行うのは、ダイナミックレンジを広く確保するためである。
【００２３】
そしてｌｏｇ演算部２５によって演算された信号は、ゼロ点およびスパンを調整する信号調整部２６に与えられる。この信号調整部２６は、ｌｏｇ演算部２５によって演算された信号のゼロ点を調整してオフセットを除去するゼロ点調整トリマ２６ｂおよびスパンを調整するスパン調整トリマ２６ａが設けられている。詳しくは、信号調整部２６は、オペアンプ２６ｃによって構成され、その出力端子と負入力端子の間には可変抵抗器２６ａが接続される。そして、オペアンプ２６ｃの負入力端子は、抵抗器２６ｄを介して接地される一方、正入力端子は、前段のｌｏｇ演算部２５の出力端子が接続されて、非反転幅回路を形成している。ちなみに可変抵抗器２６ａは、信号調整部２６の増幅度を調整するものであって、ｌｏｇ演算部２５が出力した信号のスパンを調整するため設けられている。また、オペアンプ２６ｃのオフセット調整用端子には、オフセット調整用の可変抵抗器２６ｂが設けられて、調整できるようになっている。
【００２４】
この信号調整部２６によってスパン調整およびオフセット調整された検出信号は、欠陥検査装置本体２０内部の周囲温度変化によって検査信号に含まれる誤差を補正する温度補正部２７に与えられる。この温度補正部２７は、欠陥検査装置本体２０内部の温度を検出すると共に、温度変動要因によって信号調整部２６から出力される検出信号に含まれる誤差成分を取り除いて補正する役割を担っている。この温度補正部２７は、差動増幅回路を構成するオペアンプ２７ｂと、その出力を受けて信号調整部２６の補正を行う補正回路を構成するオペアンプ２７ｆとからなっている。
【００２５】
詳しくは、差動増幅回路を構成するオペアンプ２７ｂの負入力端子には、一端が接地されたサーミスタ２７ａが接続されている。また負入力端子は、抵抗器２７ｃを介して基準電圧Ｖｒｅｆにプルアップされている。一方、オペアンプ２７ｂの正入力端子には、一端が接地された可変抵抗器２７ｄが接続されている。また正入力端子は、抵抗器２７ｅを介して基準電圧Ｖｒｅｆにプルアップされている。このようにオペアンプ２７ｂは、サーミスタ２７ａおよび抵抗器２７ｃ，２７ｄ，２７ｅにより形成されるブリッジ回路に生した差電圧を検出する差動増幅回路を構成している。
【００２６】
そして差動増幅回路を構成するオペアンプ２７ｂの出力は、抵抗器２７ｉを介して、補正回路を構成するオペアンプ２７ｆの正入力端子に接続される。この正入力端子は、抵抗器２７ｊによって接地される。一方、このオペアンプ２７ｆの負入力端子には、抵抗器２７ｇを介して信号調整部２６の出力信号が接続されている。さらにオペアンプ２７ｆの負入力端子には、抵抗器２７ｈを介して該オペアンプ２７ｆの出力信号が接続されている。このようにしてオペアンプ２７ｆは、反転増幅回路を形成している。
【００２７】
この温度補正部２７によって温度変動要因が取り除かれた検出信号は、所定の閾値と比較して、糊３が巻紙１に塗布されているかどうかを判定する判定部２８に与えられる。この閾値は、判定部２８に設けられた閾値設定トリマ２８ａによって設定されるようになっている。詳しくは、判定部２８を構成するオペアンプ２８ｂの正入力端子には、前段の温度補正部２７の出力が接続される一方、オペアンプ２８ｂの負入力端子には、直列接続された可変抵抗器２８ａおよび抵抗器２８ｃによって分割された基準電圧が加えられる。この基準電圧は、基準電圧と負入力端子との間に接続された可変抵抗器２８ａの値を調整することで、負入力端子に加える電圧を調整するものである。
【００２８】
するとオペアンプ２８ｂは、正入力端子に加えられた電圧が負入力端子に加えられた電圧を上回ったとき出力信号を出力する。つまり可変抵抗器２８ａは、温度補正部２７から出力された信号が、所定の閾値を超えたかどうかの閾値を設定する役割を担っている。
オペアンプ２８ｂの出力は、直列接続された抵抗器２８ｄを介してトランジスタＱ１のベースに接続されている。このトランジスタＱ１のエミッタは、接地され、ベースは、抵抗器２８ｅを介して接地される。また判定部２８は、糊３の有無によって検出信号のレベルが大きく異なることを利用して糊３が巻紙１に途切れることなく塗布されているかどうかを判定する。そして判定部２８が判定した結果は、トランジスタＱ１のコレクタから有無判定出力として、特に図示しない警報装置やシガレット製造装置に与えられる。そうしてこの判定結果に基づいて所定の動作（例えば警報出力、シガレット製造装置の停止等）を行う。
【００２９】
また欠陥検査装置本体２０には、外部から供給される電源を受けて、欠陥検査装置の各部へ所定の電力を供給する電源部２９が設けられている。
概略的には、上述のように構成された本発明に係る欠陥検査装置が特徴とするところは、投光部による光（赤外線）の照射領域に生じる反射光を上記光（赤外線）の照射方向とは異なる向きにて該反射光に含まれる互いに異なる所定の波長の反射光（赤外線）のレベルを検出信号としてそれぞれ出力する第１の受光部および第２の受光部を設け、この第２の受光部が出力した検出信号を前記第１の受光部が出力した検出信号で除した（または減じた）値と、予め定めた閾値とを比較して前記流動性物質の有無を判定する判定部を備えた点にある。
【００３０】
このような特徴ある本発明に係る欠陥検査装置は、例えば巻紙のような基体に線状に塗布された糊や接着剤からなる流動性物質に投光部１０から光（赤外線）を照射したとき、この流動性物質から反射される反射光に含まれる特定波長の赤外線の強度を検出するものである。例えば、シガレットまたはフィルタプラグを形成するべく巻紙１に塗布される糊が酢酸ビニルエマルジョン系接着剤の場合は、第１の受光部２２が糊から反射される波長１３００［ｎｍ］の反射光を受光する一方、第２の受光部３２が波長１４５０［ｎｍ］の反射光を受光する。あるいは、シガレットまたはフィルタプラグを形成するべく巻紙１に塗布される糊がエチレン−酢酸ビニル共重合樹脂の場合、第１の受光部２２がこの樹脂から反射される波長１３００［ｎｍ］の反射光を受光する一方、第２の受光部３２が波長１７３０［ｎｍ］の反射光を受光する。
【００３１】
そして、第２の受光部３２で受光した光のレベル（測定レベル）を第１の受光部２２で受光した光のレベル（基準レベル）で除して、その倍率を求める。そして判定部２８は、この倍率が所定の倍率（閾値）を超えているか否かを判定している。この倍率は、基準レベルに対して測定レベルが大きくなるように測定波長を設定している。つまり、糊３の吸収度のピーク値を検出するように第２の受光部３２の測定波長を設定しているので、巻紙１に糊３が未塗布であることを高精度で判定することができる。
【００３２】
すなわち、巻紙１に塗布される糊３が、酢酸ビニルエマルジョン系接着剤の場合は、吸光度のピークを示す波長１４５０［ｎｍ］を、エチレン−酢酸ビニル共重合樹脂の場合は吸光度のピークを示す波長１７３０［ｎｍ］を、それぞれ第２の受光部３２で受光する一方、第１の受光部は、このピーク値と大きな差が出る波長１３００［ｎｍ］の赤外線を第１の受光部２２で受光しているので巻紙１に糊３がの塗布状態を高精度で判定することが可能となる。つまり、糊３が巻紙１に塗布されていない部位にあっては、第２の受光部３２が検出する赤外線の吸光度レベルが低下するので、糊３が未塗布であることを検出できる。
【００３３】
尚、上述した実施形態のほか、第２の受光部３２が受光した反射光のレベル（測定レベル）を、第１の受光部２２が受光した反射光のレベル（基準レベル）で引いてその差を求め、判定部２８で求めた差が所定の閾値を超えていないかどうかを判定するように構成してもよい。要は、基準レベルに対して測定レベルが所定以上の大きさであるかどうかを判定できれば、基体に塗布された流動性物質の有無を検出することが可能である。
【００３４】
尚、本発明の欠陥検査装置は、上記した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加え得ることは勿論可能である。つまり本発明の欠陥検査装置は、基体の吸光度と、流動性物質の吸光度との差を利用して流動性物質の有無を検出しているので、吸光度の差があれば基体に線状に連続塗布される流動性物質を検出することが可能である等、実用上多大なる効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【００３５】
【図１】本発明における欠陥検査装置の検査対象物の一例を示す図であって、高速で搬送されるシガレットまたはフィルタプラグの製造に供される巻紙に線状に連続塗布される糊の塗布状況を示す模式図である。
【図２】本発明における欠陥検査装置の構成を示すブロック図である。
【図３】図２に示す欠陥検査装置本体の主要要素の回路構成を示す回路図である。
【図４】シガレットまたはフィルタプラグの製造に供される巻紙およびこの巻紙上に酢酸ビニルエマルジョン系接着剤を塗布し、それぞれに光を照射したときの反射光スペクトル中におけるレベル値から吸光度を求めたグラフ。
【図５】シガレットまたはフィルタプラグの製造に供される巻紙およびこの巻紙上にエチレン−酢酸ビニル共重合樹脂を塗布し、それぞれに光を照射したときの反射光スペクトル中におけるレベル値から吸光度を求めたグラフ。
【符号の説明】
【００３６】
１          巻紙（基体）
３          糊（流動性物質）
１０          投光部
２０          欠陥検査装置本体
２１，３１    光フィルタ
２２，３２    Ｏ／Ｅ変換部（フォトダイオード、受光部）
２３，３３    Ｉ／Ｖ変換部
２４，３４    増幅部
２５          ｌｏｇ演算部
２６          信号調整部
２７          温度補正部
２８          判定部
【図１】
2006090802.tif 000003
【図２】
2006090802.tif 000004
【図３】
2006090802.tif 000005
【図４】
2006090802.tif 000006
【図５】
2006090802.tif 000007