(57)【要約】【課題】  本発明は、実使用時の走査状態で、走査線の所定の位置における走査速度の分布を安定かつ高精度で測定でき、かつゴミなどの影響を受けにくい、様々な光走査装置に対応可能な汎用性の高い走査速度測定装置、また簡易かつ高精度で光走査装置の走査速度変動を測定可能な走査速度変動測定装置、更に走査速度変動の経時的変化に対して補正可能な光走査装置を提供する。【解決手段】  本発明の走査速度測定装置は、光源から照射された光束を光偏向手段により偏向して走査線上に光スポットを照射する光走査装置の走査線上の任意の位置における走査速度を測定する。また、本発明の走査速度測定装置は、光源を所定の時間周期で変調させて走査線上で時間的及び空間的に変調された光信号に対して、所定の空間周期で空間光強度変調して走査線上にモアレを発生させる空間変調手段と、モアレの周期を求める周期導出手段とを有する。【選択図】        図１
2006090909.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源から照射された光束を光偏向手段により偏向して走査線上に光スポットを照射する光走査装置の走査線上の任意の位置における走査速度を測定する走査速度測定装置において、
前記光源を所定の時間周期で変調させて走査線上で時間的及び空間的に変調された光信号に対して、所定の空間周期で空間光強度変調して走査線上にモアレを発生させる空間変調手段と、
前記モアレの周期を求める周期導出手段と
を有することを特徴とする走査速度測定装置。
【請求項２】
前記空間変調手段は、走査線の近傍に配置され、走査方向に平行な方向に所定の周期で透過光量を変調する光学格子である請求項１記載の走査速度測定装置。
【請求項３】
前記周期導出手段は、光信号を電気信号に変換する受光素子と、該受光素子からの電気信号に対して高周波の成分を減衰させるローパスフィルタ手段と、該ローパスフィルタ手段の出力信号が所定の値を増加しつつ通過する点を複数求め、該各点の時間間隔を算出する時間周期算出手段とを有している請求項１記載の走査速度測定装置。
【請求項４】
前記周期導出手段は、光信号を電気信号に変換する受光素子と、該受光素子からの電気信号に対して高周波の成分を減衰させるローパスフィルタ手段と、該ローパスフィルタ手段の出力信号が所定の値を減少しつつ通過する点を複数求め、該各点の時間間隔を算出する時間周期算出手段とを有している請求項１記載の走査速度測定装置。
【請求項５】
前記時間周期算出手段の所定の値は、前記ローパスフィルタ手段の出力信号の平均値である請求項３又は４に記載の走査速度測定装置。
【請求項６】
前記周期導出手段は、入射光束を所定の発散角度で発散させる光学ローパスフィルタ手段と、所定のピッチで複数の受光素子が少なくとも走査線と平行な方向に配列されているアレイ受光手段と、該アレイ受光手段が出力する光量分布から信号の周期を求める周期算出手段とを有している請求項１記載の走査速度測定装置。
【請求項７】
前記光学ローパスフィルタ手段における走査方向の発散角度は当該発散角度に直交する方向の角度より小さい請求項６記載の走査速度測定装置。
【請求項８】
前記空間変調手段は、所定のピッチで複数の受光素子が少なくとも走査線と平行な方向に配列されているアレイ受光手段と、該アレイ受光手段が出力する光量分布信号に対して所定の周期で強度変調をかけてモアレを発生させる信号空間変調手段とを有している請求項１記載の走査速度測定装置。
【請求項９】
前記アレイ受光手段の各受光素子は、走査方向の受光範囲に比べて、走査方向に直交する方向の受光範囲より広くなっている請求項６〜８のいずれかに記載の走査速度測定装置。
【請求項１０】
光源から照射された光束を光偏向手段により偏向して走査線上に光スポットを照射する光走査装置の走査線上における複数の任意の位置における走査速度から走査速度変動を測定する走査速度変動測定装置において、
請求項１〜９のいずれかに記載の走査速度測定装置と、該走査速度測定装置を走査線及び走査線近傍を含む任意の位置に移動する移動手段と、前記走査速度測定装置によって測定された各位置の走査速度を記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された各位置の走査速度から走査速度変動を算出する走査速度変動算出手段とを有することを特徴とする走査速度変動測定装置。
【請求項１１】
光源から照射された光束を光偏向手段により偏向して走査線上に光スポットを照射する光走査装置の走査線上における複数の任意の位置における走査速度から走査速度変動を測定する走査速度変動測定装置において、
走査線及び走査線近傍を含む複数の任意の各位置に設置された複数の請求項１〜９のいずれかに記載の走査速度測定装置と、該走査速度測定装置によって測定された各位置の走査速度を記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶された各位置の走査速度から走査速度変動を算出する走査速度変動算出手段とを有することを特徴とする走査速度変動測定装置。
【請求項１２】
光源から照射された光束を光偏向手段により偏向して走査線上に光スポットを照射する光走査装置において、
光偏向手段により偏向された走査光束の一方を透過又は反射させて走査光束を第１の被走査面に照射すると共に、光偏向手段により偏向された走査光束の他方を反射又は透過させて第２の被走査面に走査線を形成する光束分岐手段を有し、
前記第２の被走査面に形成された走査線及び走査線近傍を含む任意の位置に請求項１〜９のいずれかに記載の走査速度測定装置を配置したことを特徴とする光走査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、走査速度測定装置、走査速度変動測定装置及び光走査装置に関し、詳細にはレーザプリンタやデジタルコピア等に使用される光走査装置の走査速度を測定する装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
通常、レーザプリンタやデジタルコピア等に使用される光走査装置は、光源から出射された光束を、ポリゴンミラーなどの光偏向手段で偏向して走査光束とし、ｆθレンズなどの結像光学系で集光させて、像面に結像する。そして、像面の位置には回転ドラム形状の感光体が置かれるのが一般的である。なお、像面近傍で光スポットが走査した軌跡を走査線と呼ぶものとする。また、走査光束は、像面においてできるだけ等速に走査するのが好ましい。しかし、結像光学系の形状精度や各光学素子の取り付け誤差、各部材の熱膨張などの影響でｆθレンズのｆθ特性に誤差が生じ、各位置における走査速度に誤差が生じる。特に、複数の光走査装置、感光体、現像手段を持ち、複数の色のトナーを順次重ね合わせて転写することで、フルカラー画像の印刷を行うタンデム方式の電子写真装置では、各色の走査速度の誤差に伴う印字位置の相対的なずれが、出力画像の品質に大きな影響を与えている。
【０００３】
そこで、走査線上の各位置における走査速度の分布を予め測定し、これを記憶しておき、実際の使用時にはこれを相殺するように光源の点灯タイミングを制御することで、像面での印字位置ずれが少ない光走査装置が提案されている。このために、予め走査速度分布を複数の位置で、精度良く測定する必要がある。一般に光走査装置に要求される走査速度の要求精度は１％程度であるので、測定精度としては、０．１％程度が期待される。
【０００４】
ここで、走査速度分布の測定方法の一例としては、例えば特許文献１に開示されるように走査光束がスリットを通過する時の光束を受光し、時間を測定する方法がある。しかし、この方法は、スリットの端部のキズやゴミの影響が大きく、安定して高精度の測定を行うことが難しい。そこで、この影響を軽減するために、特許文献２では複数個のスリットの通過時間を測定し、この平均値を求める方法が開示されている。このとき光学格子のピッチは１００μｍ程度になる。
【特許文献１】特開平７−２５３３１２号公報
【特許文献２】特開２０００−２９２３１２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、特許文献２の方法では、光走査装置の光束の走査速度は数千ｍ／ｓにもなり、この方法で量子化誤差を０．１％以下にするにはＡ／Ｄ変換のサンプリング周波数が数十ＧＨｚ必要となり、実現が難しく、かつ高額な測定機器を必要とする。そこで、走査速度を下げて測定する必要があるが、それでは実使用時の速度誤差分布を得ることができない。
【０００６】
本発明はこれらの問題点を解決するためのものであり、実使用時の走査状態で、走査線の所定の位置における走査速度の分布を安定かつ高精度で測定でき、かつゴミなどの影響を受けにくい、様々な光走査装置に対応可能な汎用性の高い走査速度測定装置、また簡易かつ高精度で光走査装置の走査速度変動を測定可能な走査速度変動測定装置、更に走査速度変動の経時的変化に対して補正可能な光走査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
前記問題点を解決するために、本発明の走査速度測定装置は、光源から照射された光束を光偏向手段により偏向して走査線上に光スポットを照射する光走査装置の走査線上の任意の位置における走査速度を測定する。また、本発明の走査速度測定装置は、光源を所定の時間周期で変調させて走査線上で時間的及び空間的に変調された光信号に対して、所定の空間周期で空間光強度変調して走査線上にモアレを発生させる空間変調手段と、モアレの周期を求める周期導出手段とを有することに特徴がある。よって、実使用時の走査状態で、走査線の所定の位置における走査速度の分布を安定かつ高精度で測定でき、かつゴミなどの影響を受けにくい走査速度測定装置を提供できる。
【０００８】
また、空間変調手段は、走査線の近傍に配置され、走査方向に平行な方向に所定の周期で透過光量を変調する光学格子であることが好ましい。
【０００９】
更に、周期導出手段は、光信号を電気信号に変換する受光素子と、受光素子からの電気信号に対して高周波の成分を減衰させるローパスフィルタ手段と、ローパスフィルタ手段の出力信号が所定の値を増加しつつ通過する点を複数求め、各点の時間間隔を算出する時間周期算出手段とを有している。よって、モアレの周期を自動で求め、自動で走査速度を算出することにより、さらに簡易に走査速度を測定することができる。
【００１０】
また、周期導出手段は、光信号を電気信号に変換する受光素子と、受光素子からの電気信号に対して高周波の成分を減衰させるローパスフィルタ手段と、ローパスフィルタ手段の出力信号が所定の値を減少しつつ通過する点を複数求め、各点の時間間隔を算出する時間周期算出手段とを有している。よって、モアレの周期を自動で求め、自動で走査速度を算出することにより、さらに簡易に走査速度を測定することができる。
【００１１】
更に、時間周期算出手段の所定の値は、ローパスフィルタ手段の出力信号の平均値である。よって、モアレの周期を導出するに際して、信号の平均値を通過する時間間隔を測定することで、受光素子に入射する環境光などによる信号のバイアス成分が変動しても、安定して高精度に走査速度を測定することが可能となる。
【００１２】
また、周期導出手段は、入射光束を所定の発散角度で発散させる光学ローパスフィルタ手段と、所定のピッチで複数の受光素子が少なくとも走査線と平行な方向に配列されているアレイ受光手段と、アレイ受光手段が出力する光量分布から信号の周期を求める周期算出手段とを有している。よって、モアレを時間軸でなく空間軸の信号として取得するので、走査速度のちがう光走査装置でも全く同様の方法でモアレ縞の取得と周期の導出が行え、より簡易に様々な光走査装置の走査速度が測定可能である。
【００１３】
更に、光学ローパスフィルタ手段における走査方向の発散角度は当該発散角度に直交する方向の角度より小さいことにより、アレイ受光素子に２次元に分割されたエリアセンサを用いた場合に受光素子のうち信号を受光する素子の数を増やし、より高い分解能で信号を取得することが可能となり、より高精度な走査速度の測定が可能となる。
【００１４】
また、空間変調手段は、所定のピッチで複数の受光素子が少なくとも走査線と平行な方向に配列されているアレイ受光手段と、アレイ受光手段が出力する光量分布信号に対して所定の周期で強度変調をかけてモアレを発生させる信号空間変調手段とを有している。よって、空間変調する周期を任意に変更できるので、より簡易に様々な光走査装置に対応可能となって汎用性も向上でき、検出するモアレの周期を変更して測定精度を変えたりすることが可能となる。
【００１５】
更に、アレイ受光手段の各受光素子は、走査方向の受光範囲に比べて、走査方向に直交する方向の受光範囲より広くなっている。よって、査線の走査方向に直交する方向の位置ずれの影響を受けにくく、光走査装置の光学素子の形状誤差などに起因する走査線の傾きや湾曲の影響を受けにくくなる。また、測定時の光走査装置の取り付けに必要な精度も緩和される。従って、より安定して光走査装置の走査速度を測定可能となる。
【００１６】
また、別の発明としての走査速度変動測定装置は、光源から照射された光束を光偏向手段により偏向して走査線上に光スポットを照射する光走査装置の走査線上における複数の任意の位置における走査速度から走査速度変動を測定する。更に、本発明の走査速度変動測定装置は、上記記載の走査速度測定装置と、走査速度測定装置を走査線及び走査線近傍を含む任意の位置に移動する移動手段と、走査速度測定装置によって測定された各位置の走査速度を記憶する記憶手段と、記憶手段に記憶された各位置の走査速度から走査速度変動を算出する走査速度変動算出手段とを有することに特徴がある。よって、走査線及び走査線近傍を含む複数の任意の位置における走査速度が自動で測定できるので、簡易かつ高精度で光走査装置の走査速度変動を測定可能となる。
【００１７】
更に、別の発明としての走査速度変動測定装置は、走査線及び走査線近傍を含む複数の任意の各位置に設置された複数の上記記載の走査速度測定装置と、走査速度測定装置によって測定された各位置の走査速度を記憶する記憶手段と、記憶手段に記憶された各位置の走査速度から走査速度変動を算出する走査速度変動算出手段とを有することに特徴がある。よって、走査線及び走査線近傍を含む複数の任意の位置で走査速度を自動で測定することにより、複数の任意の位置での走査速度の測定を平行して行えるので、より高速に光走査装置の走査速度変動を測定可能となる。
【００１８】
また、別の発明としての光走査装置は、光偏向手段により偏向された走査光束の一方を透過又は反射させて走査光束を第１の被走査面に照射すると共に、光偏向手段により偏向された走査光束の他方を反射又は透過させて第２の被走査面に走査線を形成する光束分岐手段を有している。そして、本発明の光走査装置は、第２の被走査面に形成された走査線及び走査線近傍を含む任意の位置に上記記載の走査速度測定装置を配置したことに特徴がある。よって、定期的に走査速度変動を測定しこれを補正することが可能となり、走査速度変動の経時的変化も補正可能な光走査装置を提供できる。
【発明の効果】
【００１９】
本発明の走査速度測定装置は、光走査装置の光源を点滅させつつ偏向装置で走査して時間・空間変調された光信号を、走査線上でさらに空間変調させてモアレを発生させ、モアレの周期を求めることで、実使用時の光走査装置の走査速度を高精度で測定することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
図１は本発明の第１の実施の形態例に係る走査速度測定装置の構成を示す概略平面図である。同図において、光走査装置１０は、図示しない光源制御手段の指令で光源１１から出射した光束はコリメータレンズ１２で平行光束となり、アパーチャ１３で開口が制限され、シリンドリカルレンズ１４で副走査方向に収束光となり、ミラー１５を介してポリゴンミラー１６の反射面で主走査方向に長い線状に集光される。ポリゴンミラー１６の反射光束はｆθレンズ１７を介して走査線上でスポット像を形成する。その像面上に、本発明の第１の実施の形態例の走査速度測定装置２０の空間変調手段としての光学格子２１が配置されている。光学格子２１は走査方向に所定のピッチＰ１で幅Ｐ１／２の開口が設けられ、走査光束を空間的に変調する。光学格子２１からの透過光束は走査速度測定装置２０の周期導出手段に含まれる受光素子２２で電気信号に変換され、変換された電気信号は走査速度測定装置２０の信号処理手段２４に供給される。光学格子２１及び受光素子２２はともにステージ２３上に取り付けられ、一体で駆動手段３０により、走査線上の任意の位置に移動可能である。
【００２１】
次に、本実施の形態例の動作について説明すると、図１の光走査装置１０のポリゴンミラー１６を所定の速度で回転させると共に、光源１１を所定の周波数ｆ２で点滅させる。この光束が走査速度測定装置２０の光学格子１１を透過すると、光強度が変調される。ここで、測定位置での光束の走査速度をｖとすると、光学格子２１は光束を周波数ｆ１＝ｖ／Ｐ１で変調する効果がある。すると、モアレの影響で、走査速度測定装置２０の受光素子２２から出力された電気信号は、周波数ｆ１やｆ２の強度変調した成分に混じって、周波数ｆ＝ｆ１−ｆ２で強度変調された成分を有する。ここで、周波数ｆ１と周波数ｆ２が微小にずれた周波数となるようにピッチＰ１及び周波数ｆ２を設定すると、モアレの影響で出る変調成分の周波数ｆ＝ｆ１−ｆ２は、周波数ｆ１やｆ２よりずっと小さくなる。そこで、低域通過フィルタ処理をすることで、変調成分の周波数ｆ＝ｆ１−ｆ２の成分を抽出することができる。この抽出した信号をオシログラフなどで観察して周波数を読み取り、以下の式で速度ｖを求めることができる。
【００２２】
ｖ＝Ｐ１（ｆ＋ｆ２）
【００２３】
以下に、モアレの周波数を自動で検出する方法の一例を説明すると、抽出された変調成分の周波数ｆ＝ｆ１−ｆ２の成分の信号をＡ／Ｄ変換して走査速度測定装置２０の時間周期算出手段である信号処理手段２４に取り込み、信号の平均値を増加しつつ横切る点を複数求め、この点の間隔であるモアレの周期を求める。周波数はこの逆数として得られる。
【００２４】
ここで、図２の（ａ）に光学格子無しで光源を点滅させた場合の受光素子から出力される信号波形を、図２の（ｂ）に光学格子を入れて光源を連続点灯させた場合の受光素子から出力される信号波形を、図２の（ｃ）に光学格子を入れて光源を点滅させた場合の受光素子から出力される信号波形を、図２の（ｄ）に低域通過フィルタ処理をした場合の受光素子から出力される信号波形をそれぞれ示す。また、モアレの影響で、周波数の変化が拡大されるので、感度も向上する。例えば、ある位置で走査速度が理想値に比べ１％ずれているとすると、本実施の形態例における方法で周波数ｆ１とｆ２が５％ずれるように設定した場合では、検出される周波数ｆは２０％ずれる。
【００２５】
このような方法で走査線上の任意の位置での走査速度が測定可能となった。そこで、図１の駆動手段３０を用いてステージ２３を移動させ、走査線上の複数の位置で走査速度をそれぞれ求めて、求めた走査速度をそれぞれ記憶手段（図示せず）に記憶することにより、走査速度分布を求めることができる。更に、走査速度の理想値に対する相対的な走査速度の変動率の分布を求めることができる。なお、走査線近傍の複数の位置に複数個の走査速度測定装置２０を並べて、各位置における走査速度を求めて走査速度分布を得、この走査速度分布から走査速度の理想値に対する相対的な走査速度の変動率の分布を求めることも可能である。
【００２６】
図３は本発明の第２の実施の形態例に係る走査速度測定装置の構成を示す概略平面図である。同図において、図１と同じ参照符号は同じ構成要素を示す。本実施の形態例の走査速度測定装置２０では、ステージ２３の上の走査線上に光学格子２１が配置され、ここからの透過光束は結像光学系２５を透過し、周期導出手段に含まれる光学ローパスフィルタ２６を透過して受光素子２２の受光面を照射する。結像光学系２５は光学格子２１の面の像を受光素子２２に結像するように調整される。光学ローパスフィルタ２６は、光束の拡散角度を所定量だけ増やす効果があり、例えば受光素子２２としてカラーＣＣＤを用いた場合の色モアレ（偽色）を低減するのに使われている。
【００２７】
次に、本実施の形態例の動作について説明すると、図３の光走査装置１０のポリゴンミラー１６を所定の速度で回転させ、走査速度測定装置２０の光学素子２２の撮像時間内に１走査だけ、光源１１を所定の周波数ｆ２で点滅させる。光束は各位置において速度ｖで走査しているので、走査線上にピッチＰ２＝ｖ／ｆ２で空間変調された走査線を形成する。点滅した走査光束は走査線上でＰ２と少しずれたピッチＰ１の光学格子２１により更に空間変調され、モアレ縞を含んだ光量分布（図２の（ｃ）に相当）となる。これが結像光学系２５を介して受光素子２２の受光面に結像するのであるが、その間で光学ローパスフィルタ２６を透過するので、受光素子２２の受光面には高周波が減衰して周期１／Ｐ１−１／Ｐ２のモアレ縞（図２の（ｄ）に相当）として撮像される。受光素子２２は電気信号に変換して画像データとして信号処理手段２４に送る。そして、信号処理手段２４は、受光素子２２が例えば２次元ＣＣＤの場合には最初に画像データに対して各列（走査線に直交する方向）の受光量の和を算出し、横方向（走査線と平行な方向）の１次元の受光量分布を求める。そして、受光量分布の周期（画素単位）を求める。そして、光学格子２１とＣＣＤ面の結像光学系２５の倍率から走査線上での周期（例えばｍｍ単位）を求め、測定位置での走査速度を求める。これを走査線上の複数の位置で行い、走査線の走査速度分布を求める。また、走査線の走査速度の、予め定めた理想値からの変動率を求める。
【００２８】
本来、光走査装置は走査線上で所定の解像度に合ったピッチでドットを点灯するようにポリゴンミラーの回転速度や、光源の点滅のクロック（周波数）が設定されている。従って、所定の解像度に設定された光走査装置では、走査速度が違っても走査線上で同じピッチで点滅可能であるので、必要とされる光学格子や結像光学系、受光素子のＣＣＤの設定、期待されるモアレ縞の周期は同一となる。従って、同一の測定装置で複数の光走査装置に対応できる。
【００２９】
例えば、光走査装置が６００ｄＰｉ用のものだとすると、ドット点滅の理想的な周期は８４μｍとなる。そこで、光学格子のピッチＰ１を８０μｍとすると、理想的なモアレ縞の周期は１．６８ｍｍとなる。速度誤差の測定における量子化誤差を０．１％にする場合、モアレ縞の周期が５０画素になるように結像光学系の倍率を調整する。例えば画素ピッチが７μｍのＣＣＤエリアセンサを用いた場合、光学系の横倍率が約０．２１になるように設定すると良い。また、例えば１２００ｄＰｉ用の光走査装置の場合、光源の点滅を２ドット点灯・２ドット消灯となるように制御することにより、全く同じ装置で測定が可能となる。
【００３０】
ここで、本発明では受光素子の受光面での走査線の太さはエリアセンサの画素にして１〜２ドットになってしまう。そこで、光学ローパスフィルタに例えばホログラフィックディフューザーなどを用いると、縦方向の拡散角度が横方向のそれに比べて大きいものを作ることができる。すると、受光素子の受光面での走査線の太さが数ドットから数十ドットに広げることができる。受光素子の各列の総受光量の分解能は１画素あたりの分解能×ドット数であるから、受光素子の画角範囲内で走査線を太らし、これに合ったように光源の光量や受光素子の感度を調整すると、より高いＳＮ比で各列の総受光量を取得することができる。
【００３１】
また、本発明で１次元ラインセンサを用いる場合、画素の幅が走査方向とこれに直交する方向に同じなものを使うと、走査方向に直交する方向へ走査線がずれてしまうと、受光範囲から外れてしまうことがある。そこで、各画素の走査線に直交する方向の受光範囲が、走査線に平行な方向のそれに比べて大きいと、走査線のずれに対してロバストな測定装置になる。
【００３２】
図４は本発明の第３の実施の形態例に係る走査速度測定装置の構成を示す概略平面図である。同図において、図１と同じ参照符号は同じ構成要素を示す。本実施の形態例の走査速度測定装置２０では、図４のポリゴンミラー１６を所定の速度で回転させつつ光源１１を所定の時間周期で１走査分だけ点滅させる。走査線上に照射された光束は、ステージ２３上の走査線上に受光面が来るように取り付けた受光素子２２で受光する。受光素子２２の画素ピッチは走査線上での光束の点滅周期の１／４以下、望ましくは１／８になるように選択する。これが難しい場合は結像光学系を追加して倍率を調整してこの条件に合うようにする。そして、取得した画像データは、受光素子２２が２次元のエリアセンサの場合は前述の方法で走査線に平行な方向の１次元分布に変換する（図２の（ａ）に相当）。次に、各分布データに、最小値が０、最大値が１で、走査速度が理想的な時の周期と少しずれた周期Ｐ１で変動する重み（図２の（ｂ）に相当）をかける。これによりソフトウエア的に空間変調が加えられる（図２の（ｃ）に相当）。重み関数は例えば以下のような式を用いる。ここで、ｘは画素ピッチと画素位置の積である。
【００３３】
ｓ（ｘ）＝１−ｃｏｓ｛（２πｘ）／Ｐ１｝
【００３４】
これにより、分布データにモアレが生じる。次に、この分布データに対してローパスフィルタ処理をする（図２の（ｄ）に相当）。これで高周波成分が減衰し、モアレ縞の成分が残る。最後にモアレ縞の周期を求め、走査速度を算出する。
【００３５】
このように、本実施の形態例では、モアレ縞を発生させるための空間変調を全て信号処理手段２４で行うので、任意の周期の空間変調が行え、光走査装置の要求仕様に合わせて光学格子を作成する必要が無い。よって、部品点数が減らせる。
【００３６】
図５は本発明の第４の実施の形態例に係る走査速度測定装置の構成を示す概略正面図である。同図において図１と同じ参照符号は同じ構成要素を示す。図５の（ａ）に示す実施の形態例では、ポリゴンミラー１６から反射した光束はｆθレンズ１７を透過した後、ハーフミラー４１で２つに分岐する。一方の光束は感光体ドラム４２の表面に照射する。他方はハーフミラー４１を反射して別の位置に走査線を形成する。その別の位置には複数の走査速度測定装置２０−１〜２０−ｎ（ｎは正の整数）を配置し、複数の位置での走査速度を測定する。光走査装置はホコリなどから光学素子を守るため箱の中に入っている場合がある。その場合、箱の外に光束を照射するために光学窓を持つが、この光学窓にハーフミラーの機能を持たせると、光走査装置の設計を大きく変更することなく、このような機能を組み込められる。また、部品点数が減らせる。また、図５の（ｂ）では、ｆθレンズ１７を透過した光束はハーフミラー４１で２つに分岐され、一方の光束が反射して感光体ドラム４２に照射するとともに、他方の光束はハーフミラー４１を透過して複数の走査速度測定装置２０−１〜２０−ｎに照射する。走査速度測定装置２０−１〜２０−ｎはそれぞれの位置での走査速度を測定する。光走査装置は、レイアウト上の問題で光束を折り返しミラーで曲げて感光体ドラムに照射させる場合があるが、その場合これにハーフミラーの機能を持たせると、光走査装置の設計を大きく変更することなく、このような機能を組み込められる。また、部品点数が減らせる。
【００３７】
なお、本発明は上記実施の形態例に限定されるものではなく、特許請求の範囲内の記載であれば多種の変形や置換可能であることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明の第１の実施の形態例に係る走査速度測定装置の構成を示す概略平面図である。
【図２】受光素子から出力される信号波形を示すタイムチャートである。
【図３】本発明の第２の実施の形態例に係る走査速度測定装置の構成を示す概略平面図である。
【図４】本発明の第３の実施の形態例に係る走査速度測定装置の構成を示す概略平面図である。
【図５】本発明の第４の実施の形態例に係る走査速度測定装置の構成を示す概略正面図である。
【符号の説明】
【００３９】
１０；光走査装置、１１；光源、１２；コリメータレンズ、
１３；アパーチャ、１４；シリンドリカルレンズ、１５；ミラー、
１６；ポリゴンミラー、１７；ｆθレンズ、
２０，２０−１〜２０−ｎ；走査速度測定装置、２１；光学格子、
２２；受光素子、２３；ステージ、２４；信号処理手段、
２５；結像光学系、２６；光学ローパスフィルタ、３０；移動手段、
４１；ハーフミラー、４２；感光体。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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