(57)【要約】【課題】  妥当性の高い検証を行いながら、検証作業を高効率で行うことを目的とする。【解決手段】  あらかじめテストベンチ情報１０１に検査対象外ブロックとなる場合の条件を示す検査対象外ブロック情報記述を記述する、あるいは、あらかじめ行ったシミュレーション結果や各モジュールの活性化条件を準備することにより、検査対象外ブロック情報検索手段２１１により対象となる回路のうちの検査対象外であるブロックを自動的に検出し、検査対象外ブロックを少なくとも入出力端子情報を含む最低限の情報を記述したダミーブロックとしてモジュール記述した省リソースシミュレーション用回路情報３１１を生成し、この省リソースシミュレーション用回路情報３１１を用いて検証を行うことにより、妥当性の高い検証を行いながら、検証作業を高効率で行うことができる。【選択図】  図１
2006185202.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション装置であって、
あらかじめ検証対象外ブロック情報を記述したテストベンチ情報を入力して検証対象外ブロック情報を抽出する検証対象外ブロック情報検索手段と、
前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除したダミーモジュール情報を生成するダミーモジュール生成手段と、
前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する回路構成更新手段と、
前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う検証手段と
を具備することを特徴とする回路シミュレーション装置。
【請求項２】
複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション装置であって、
あらかじめ検証対象外ブロック情報と追加機能を記述したテストベンチ情報を入力して検証対象外ブロック情報を抽出する検証対象外ブロック情報検索手段と、
前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除し、追加機能を記述したダミーモジュール追加機能ライブラリより追記機能記述を抽出して追加したダミーモジュール情報を生成するダミーモジュール生成手段と、
前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する回路構成更新手段と、
前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う検証手段と
を具備することを特徴とする回路シミュレーション装置。
【請求項３】
前記追加機能が前記検証対象外ブロックの動作する条件を含むことを特徴とする請求項２記載の回路シミュレーション装置。
【請求項４】
前記追加機能が前記検証対象外ブロックの出力信号値の条件を含むことを特徴とする請求項２または請求項３のいずれかに記載の回路シミュレーション装置。
【請求項５】
複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション装置であって、
あらかじめ検証対象外ブロック情報を記述したテストベンチ情報と少なくとも１回のシミュレーションを行ったシミュレーション結果を入力して検証対象外ブロック情報を抽出する検証対象外ブロック情報検索手段と、
前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除したダミーモジュール情報を生成するダミーモジュール生成手段と、
前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する回路構成更新手段と、
前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う検証手段と
を具備することを特徴とする回路シミュレーション装置。
【請求項６】
複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション装置であって、
あらかじめ検証対象外ブロック情報を記述したテストベンチ情報と少なくとも１回のシミュレーションを行ったシミュレーション結果と各モジュール活性化条件を入力して前記シミュレーション結果が前記各モジュール活性化条件と不一致なブロックを検証対象外ブロック情報として抽出する検証対象外ブロック情報検索手段と、
前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除したダミーモジュール情報を生成するダミーモジュール生成手段と、
前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する回路構成更新手段と、
前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う検証手段と
を具備することを特徴とする回路シミュレーション装置。
【請求項７】
複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション方法であって、
あらかじめ検証対象外ブロック情報を記述したテストベンチ情報を入力して検証対象外ブロック情報を抽出する工程と、
前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除したダミーモジュール情報を生成する工程と、
前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する工程と、
前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う工程と
を有することを特徴とする回路シミュレーション方法。
【請求項８】
複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション方法であって、
あらかじめ検証対象外ブロック情報と追加機能を記述したテストベンチ情報を入力して検証対象外ブロック情報を抽出する工程と、
前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除し、追加機能を記述したダミーモジュール追加機能ライブラリより追記機能記述を抽出して追加したダミーモジュール情報を生成する工程と、
前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する工程と、
前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う工程と
を有することを特徴とする回路シミュレーション方法。
【請求項９】
前記追加機能が前記検証対象外ブロックの動作する条件を含むことを特徴とする請求項８記載の回路シミュレーション方法。
【請求項１０】
前記追加機能が前記検証対象外ブロックの出力信号値の条件を含むことを特徴とする請求項８または請求項９のいずれかに記載の回路シミュレーション方法。
【請求項１１】
複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション方法であって、
あらかじめ検証対象外ブロック情報を記述したテストベンチ情報と少なくとも１回のシミュレーションを行ったシミュレーション結果を入力して検証対象外ブロック情報を抽出する工程と、
前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除したダミーモジュール情報を生成する工程と、
前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する工程と、
前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う工程と
を有することを特徴とする回路シミュレーション方法。
【請求項１２】
複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション方法であって、
あらかじめ検証対象外ブロック情報を記述したテストベンチ情報，少なくとも１回のシミュレーションを行ったシミュレーション結果および各モジュール活性化条件を入力して前記シミュレーション結果が前記各モジュール活性化条件と不一致なブロックを検証対象外ブロック情報として抽出する工程と、
前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除したダミーモジュール情報を生成する工程と、
前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する工程と、
前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う工程と
を有することを特徴とする回路シミュレーション方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＬＳＩ回路設計、特にハードウェア記述言語によって設計されるＬＳＩ回路のシミュレーションを行う回路シミュレーション装置及び方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
計算機を用いたＬＳＩ回路設計のＤＡシステムにおいて、ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬやＶＨＤＬなどのハードウェア記述言語による回路設計が行なわれている。ハードウェア記述言語で設計された回路は、ソフトウェア論理シミュレータやハードウェアエミュレータ、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（以下ＦＰＧＡと称す）といった検証装置で回路機能を検証する。
【０００３】
複数のブロックからなる１チップレベル回路の機能検証の際には、１チップ回路の全体の動作を検証する場合以外にも、特定のブロック間の動作検証や、特定の新規開発ブロックの検証を行う場合がある。
【０００４】
ここで、特定のブロック間の検証や新規開発のブロックの検証を行う場合には、検証対象以外のブロックは、動作させる必要がない場合があり、その場合は、動作させる必要のないブロックを検証データから外して検証することで、コンパイルやマッピング、シミュレーション実行を行う際の計算機資源の必要量を軽減させて、計算機の稼働効率向上を図ることが行われている。
【０００５】
以下、図１０を用いて従来の回路シミュレーション装置について説明する。
図１０は従来の省リソースシミュレーション装置の構成を示す図である。
図１０に示すように、テストベンチ情報１０１、回路情報１０２からなる、シミュレーション用データ１００を元に、回路図エディタあるいはテキストエディタなどの手動修正手段２００を用いて、回路の特定箇所の動作を停止させる非活性化情報を追加したテストベンチ情報３０１、検証対象外ブロックを削除した回路情報３０２からなる、省リソースシミュレーション用データ３００へ手動で変更し、検証装置４００へ入力することで回路シミュレーションを行っていた。
【０００６】
また、特定のブロックのみを新規開発した場合は、既存のＬＳＩチップとシミュレーションを統合し、新規開発のブロックについてはソフトウェア論理シミュレータで、それ以外のブロックは既存のＬＳＩチップで動作させ、両者を結合することで高速な検証環境を構築するような手法もある（例えば、特許文献１参照）。
【特許文献１】特開平１１−５３２２１号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、従来の１チップレベルの回路検証においては、特定のブロック間の検証や新規開発のブロックの検証を行う場合があり、その際は、検証対象外のブロックを動作させないよう非活性化させる記述や、ブロックの出力信号を固定させる記述をテストベンチに追加したり、検証対象外のブロックを削除するよう回路データを一時的に修正したりするということが、手動で行われており、検証作業の効率が低くなるという問題点があった。また、検証仕様により動作しないブロックと判断しても、その妥当性の検証ができないという検証精度低下も検証作業効率の低下という問題点となっていた。
【０００８】
本発明の回路シミュレーション装置及び回路シミュレーション方法は、上記問題点を解決するもので、妥当性の高い検証を行いながら、検証作業を高効率で行うことを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前記の目的を達成するために、本発明の請求項１記載の回路シミュレーション装置は、複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション装置であって、あらかじめ検証対象外ブロック情報を記述したテストベンチ情報を入力して検証対象外ブロック情報を抽出する検証対象外ブロック情報検索手段と、前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除したダミーモジュール情報を生成するダミーモジュール生成手段と、前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する回路構成更新手段と、前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う検証手段とを具備することを特徴とする。
【００１０】
請求項２記載の回路シミュレーション装置は、複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション装置であって、あらかじめ検証対象外ブロック情報と追加機能を記述したテストベンチ情報を入力して検証対象外ブロック情報を抽出する検証対象外ブロック情報検索手段と、前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除し、追加機能を記述したダミーモジュール追加機能ライブラリより追記機能記述を抽出して追加したダミーモジュール情報を生成するダミーモジュール生成手段と、前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する回路構成更新手段と、前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う検証手段とを具備することを特徴とする。
【００１１】
請求項３記載の回路シミュレーション装置は、請求項２記載の回路シミュレーション装置において、前記追加機能が前記検証対象外ブロックの動作する条件を含むことを特徴とする。
【００１２】
請求項４記載の回路シミュレーション装置は、請求項２または請求項３のいずれかに記載の回路シミュレーション装置において、前記追加機能が前記検証対象外ブロックの出力信号値の条件を含むことを特徴とする。
【００１３】
請求項５記載の回路シミュレーション装置は、複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション装置であって、あらかじめ検証対象外ブロック情報を記述したテストベンチ情報と少なくとも１回のシミュレーションを行ったシミュレーション結果を入力して検証対象外ブロック情報を抽出する検証対象外ブロック情報検索手段と、前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除したダミーモジュール情報を生成するダミーモジュール生成手段と、前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する回路構成更新手段と、前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う検証手段とを具備することを特徴とする。
【００１４】
請求項６記載の回路シミュレーション装置は、複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション装置であって、あらかじめ検証対象外ブロック情報を記述したテストベンチ情報と少なくとも１回のシミュレーションを行ったシミュレーション結果と各モジュール活性化条件を入力して前記シミュレーション結果が前記各モジュール活性化条件と不一致なブロックを検証対象外ブロック情報として抽出する検証対象外ブロック情報検索手段と、前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除したダミーモジュール情報を生成するダミーモジュール生成手段と、前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する回路構成更新手段と、前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う検証手段とを具備することを特徴とする。
【００１５】
請求項７記載の回路シミュレーション方法は、複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション方法であって、あらかじめ検証対象外ブロック情報を記述したテストベンチ情報を入力して検証対象外ブロック情報を抽出する工程と、前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除したダミーモジュール情報を生成する工程と、前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する工程と、前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う工程とを有することを特徴とする。
【００１６】
請求項８記載の回路シミュレーション方法は、複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション方法であって、あらかじめ検証対象外ブロック情報と追加機能を記述したテストベンチ情報を入力して検証対象外ブロック情報を抽出する工程と、前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除し、追加機能を記述したダミーモジュール追加機能ライブラリより追記機能記述を抽出して追加したダミーモジュール情報を生成する工程と、前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する工程と、前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う工程とを有することを特徴とする。
【００１７】
請求項９記載の回路シミュレーション方法は、請求項８記載の回路シミュレーション方法において、前記追加機能が前記検証対象外ブロックの動作する条件を含むことを特徴とする。
【００１８】
請求項１０記載の回路シミュレーション方法は、請求項８または請求項９のいずれかに記載の回路シミュレーション方法において、前記追加機能が前記検証対象外ブロックの出力信号値の条件を含むことを特徴とする。
【００１９】
請求項１１記載の回路シミュレーション方法は、複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション方法であって、あらかじめ検証対象外ブロック情報を記述したテストベンチ情報と少なくとも１回のシミュレーションを行ったシミュレーション結果を入力して検証対象外ブロック情報を抽出する工程と、前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除したダミーモジュール情報を生成する工程と、前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する工程と、前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う工程とを有することを特徴とする。
【００２０】
請求項１２記載の回路シミュレーション方法は、複数のブロックからなるＬＳＩ回路を検証する回路シミュレーション方法であって、あらかじめ検証対象外ブロック情報を記述したテストベンチ情報，少なくとも１回のシミュレーションを行ったシミュレーション結果および各モジュール活性化条件を入力して前記シミュレーション結果が前記各モジュール活性化条件と不一致なブロックを検証対象外ブロック情報として抽出する工程と、前記検証対象外ブロック情報より回路機能記述を削除したダミーモジュール情報を生成する工程と、前記ＬＳＩ回路の情報を記述する回路情報の検証対象外ブロックの記述を前記ダミーモジュール情報の記述と置き換えて省リソースシミュレーション用回路情報を生成する工程と、前記省リソースシミュレーション用回路情報を用いて前記ＬＳＩ回路の検証を行う工程とを有することを特徴とする。
【００２１】
以上により、妥当性の高い検証を行いながら、検証作業を高効率で行うことができる。
【発明の効果】
【００２２】
あらかじめテストベンチ情報に検査対象外ブロックとなる場合の条件を示す検査対象外ブロック情報記述を記述する、あるいは、あらかじめ行ったシミュレーション結果や各モジュールの活性化条件を準備することにより、対象となる回路のうちの検査対象外であるブロックを自動的に検出し、検査対象外ブロックを少なくとも入出力端子情報を含む最低限の情報を記述したダミーブロックとしてモジュール記述した省リソースシミュレーション用回路情報を生成し、この省リソースシミュレーション用回路情報を用いて検証を行うことにより、妥当性の高い検証を行いながら、検証作業を高効率で行うことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
本発明の回路シミュレーション装置および回路シミュレーション方法は、検証対象外のブロック情報をあらかじめ定義することにより検証対象外のブロック情報を抽出し、入出力端子情報以外を空にした該当するブロックのダミーモジュールを自動的に生成し、回路構成をダミーモジュールに自動的に変更することにより、省計算機資源な回路シミュレーション用データを自動生成することができる。
【００２４】
また、検証対象外のブロック情報とその動作条件をあらかじめ定義することにより検証対象外のブロック情報とその動作条件を抽出し、入出力端子情報と動作条件のみを持った該当するブロックのダミーモジュールを自動生成し、回路構成をダミーモジュールに自動的変更することにより、省計算機資源かつデバッグ性の良い回路シミュレーション用データを自動生成することができる。
【００２５】
また、検証対象外のブロック情報とその出力信号情報をあらかじめ定義することにより検証対象外のブロック情報とその出力信号情報を抽出し、入出力端子情報と出力信号値設定記述のみを持つ該当するブロックのダミーモジュールを自動的に生成し、回路構成をダミーモジュールに自動的に変更することにより、省計算機資源かつデバッグ性の良い回路シミュレーション用データを自動生成することができる。
【００２６】
さらに、前回のシミュレーション結果から動作しないブロック情報を抽出し、入出力端子情報以外を空にした該当するブロックのダミーモジュールを自動的に生成し、回路構成をダミーモジュールに自動的に変更することにより、次回以降の回路シミュレーションは、省計算機資源な回路シミュレーション用データを自動生成して、回路シミュレーションを実行することができる。
【００２７】
以下、本発明の実施の形態について、図１から図９を用いて具体的に説明する。
（実施の形態１）
実施の形態１として、ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬで記述されたシミュレーション用のテストベンチ情報と回路情報を入力とし、省リソースシミュレーション用回路情報を生成する場合について図１，図２，図３，図４，図５を用いて説明する。
【００２８】
また、本実施の形態では、検証対象外ブロック情報は、テストベンチ情報にコメントの形であらかじめ記載しておく形態とする。
図１は実施の形態１における回路シミュレーション装置の構成を説明する図、図２は実施の形態１におけるダミーモジュール追加機能ライブラリを例示する図、図３は実施の形態１におけるシミュレーション用データを説明するための図、図４は実施の形態１における省リソースシミュレーション用データを説明するための図、図５は実施の形態１における回路シミュレーション方法を説明するフロー図である。
【００２９】
図１に示すように、回路シミュレーション装置は、検証対象外ブロック情報検索手段２１１，ダミーモジュール生成手段２３１、回路構成更新手段２５１から構成されている。検証対象外ブロック情報検索手段２１１はテストベンチ情報１０１と回路情報１０２より成るシミュレーション用データ１００を入力して検査対象外ブロック情報２２１を抽出する。ダミーモジュール生成手段２３１は検証対象外ブロック情報２２１を基に、ダミーモジュール追加機能ライブラリ２６０を参照してダミーモジュール情報２４１を生成する。回路構成更新手段２５１はシミュレーション用データ１００を基にダミーモジュール情報２４１と検査対象外ブロック情報２２１を参照して省リソースシミュレーション用回路情報３１１を自動生成する。この省リソースシミュレーション用回路情報３１１を用いて、図示していない検証装置により検証を行う。
【００３０】
ダミーモジュール生成手段２３１は、ダミーモジュール追加機能ライブラリ２６０を具備している。図２に示すように、ダミーモジュール追加機能ライブラリ２６０は、パラメタライズされた追加機能モデルを具備しており、ＴＲＡＣＥモデル２６１（図２（ａ））とＦＯＲＣＥモデル２６２（図２（ｂ））より構成される。
【００３１】
図３は、シミュレーション用データ１００を示している。
図３（ａ）は、テストベンチ情報１０１と回路情報１０２を示し、回路情報１０２は、
モジュールｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ａとして定義したブロック１１０と、
モジュールｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ｂとして定義したブロック１１１と、
モジュールｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ａとして定義したブロック１１２と、
モジュールｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ｂとして定義したブロック１１３と、
モジュールｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ａとして定義したブロック１１４と、
モジュールｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ｂとして定義したブロック１１５から構成されている。
【００３２】
図３（ｂ）は、回路情報１０２の中のインスタンス定義記述１０３を示し、
１行目は、モジュールｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ａとして定義し、
２行目は、モジュールｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ｂとして定義し、
３行目は、モジュールｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ａとして定義し、
４行目は、モジュールｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ｂとして定義し、
５行目は、モジュールｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ａとして定義し、
６行目は、モジュールｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ｂとして定義することを示している。
【００３３】
図３（ｃ）は、モジュールの記述を示しており、
記述１０４はモジュールｍｄｌ１のモジュール記述、
記述１０５はモジュールｍｄｌ２のモジュール記述、
記述１０６はモジュールｍｄｌ３のモジュール記述であり、それぞれ、
１行目にモジュール名、
２から４行目に入力、出力のポートリスト、
５行目以降に、回路機能記述、
最終行に、モジュール終了の記述からなる構成となっている。
【００３４】
図３（ｄ）は、テストベンチ情報１０１にコメントの形で記述されている機能対象外ブロック情報１０７を示し、
１行目に機能対象外ブロック情報記述開始のキーワード、
２から４行目に各モジュールの機能対象外ブロック情報、
５行目に機能対象外ブロック情報記述終了のキーワードが記述されている。
【００３５】
図４は、省リソースシミュレーション用回路情報３１１を示している。
図４（ａ）は、テストベンチ情報１０１と省リソースシミュレーション用回路情報３１１を示し、省リソースシミュレーション用回路情報３１１は、
モジュールｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ａとして定義したブロック１１０と、
モジュールｄｕｍｍｙ＿ｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ｂとして定義したブロック１２０と、
モジュールｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ａとして定義したブロック１１２と、
モジュールｄｕｍｍｙ＿ｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ｂとして定義したブロック１２１と、
モジュールｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ａとして定義したブロック１１４と、
モジュールｄｕｍｍｙ＿ｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ｂとして定義したブロック１２２から構成されている。
【００３６】
図４（ｂ）は、省リソースシミュレーション用回路情報３１１の中のインスタンス定義記述３１３を示し、検証対象外のブロックに置き換えるインスタンス定義情報である。
１行目は、モジュールｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ａとして定義し、
２行目は、モジュールｄｕｍｍｙ＿ｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ｂとして定義、
３行目は、モジュールｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ａとして定義し、
４行目は、モジュールｄｕｍｍｙ＿ｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ｂとして定義、
５行目は、モジュールｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ａとして定義し、
６行目は、モジュールｄｕｍｍｙ＿ｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ｂとして定義することを示している。
【００３７】
図４（ｃ）は、ダミーモジュールの記述を示しており、
記述２４３はモジュールｄｕｍｍｙ＿ｍｄｌ１のダミーモジュール記述、
記述２４４はモジュールｄｕｍｍｙ＿ｍｄｌ２のダミーモジュール記述、
記述２４５はモジュールｄｕｍｍｙ＿ｍｄｌ３のダミーモジュール記述である。
【００３８】
以上で説明した回路シミュレーション装置およびライブラリを用いて行う、回路シミュレーション方法について説明する。
まず、シミュレーション用データ１００として、テストベンチ情報１０１を、検証対象外ブロック情報検索手段２１１に入力する。テストベンチ情報１０１内には、検証対象外ブロック情報１０７が／／で始まるコメント行として記載されており、検証対象外ブロック情報検索手段２１１にて、検証対象外ブロック情報記述開始のキーワードとして
ｎｏｎ−ａｃｔｉｖｅ  ｍｏｄｕｌｅ  ｂｅｇｉｎ（図３（ｄ）１行目）
を検出した場合（図５のステップ４１１）、検証対象外ブロック情報記述終了のキーワードとして、
ｎｏｎ−ａｃｔｉｖｅ  ｍｏｄｕｌｅ  ｅｎｄ（図３（ｄ）５行目）
を検出するまで、それまでに記述されている検証対象外ブロック情報記述を抽出する（図５のステップ４１２，４１３）。
【００３９】
検証対象外ブロック情報１０７の記述は、各行毎に記載されており、
モジュール名，インスタンス名の構成からなるものと、
モジュール名，インスタンス名：追加機能名：対象信号名：条件式の構成からなるものとあり、図３（ｄ）２行目では、
モジュール名ｍｄｌ１、インスタンス名ｍｄｌ１ｂ  （ケース１）を、
図３（ｄ）３行目では、
モジュール名ｍｄｌ２、インスタンス名ｍｄｌ２ｂ、追加機能ＴＲＡＣＥ、対象信号ＮＲＳＴ、ＮＣＥ、条件式ＮＲＳＴ＝＝０  ＆＆  ＮＣＥ＝＝０  （ケース２）を、
図３（ｄ）４行目では、
モジュール名ｍｄｌ３、インスタンス名ｍｄｌ３ｂ、追加機能ＦＯＲＣＥ、対象信号ＡＯＵＴ、ＢＯＵＴ［３：０］、条件式ＡＯＵＴ＝０、ＢＯＵＴ＝０  （ケース３）をそれぞれ検証対象外ブロック情報２２１として抽出する。
【００４０】
次に、ダミーモジュール生成手段２３１は、検証対象外ブロック情報２２１より、ダミーモジュール生成時に追加機能が必要かどうか判定し（図５のステップ４１４）、必要ない場合は、該当モジュールの記述より回路機能記述部分を削除して、モジュール名と入出力端子情報である入出力ポートリストとモジュール終了記述からなるダミーモジュール情報２４１を生成する（図５のステップ４１５）。追加機能が必要な場合は、ダミーモジュール追加機能ライブラリ２６０より該当する追加機能のモデルを検索し（図８のステップ４１６）、追加機能記述を生成し、該当モジュールの記述より回路機能記述部分を削除して、モジュール名と入出力ポートリストと追加機能記述とモジュール終了記述からなるダミーモジュール情報２４１を生成する（図８のステップ４１７）。
【００４１】
ここでは、ダミーモジュール追加機能ライブラリ２６０に具備されるパラメタライズされた追加機能モデルとして、検査対象外ブロックが動作する条件を定義するＴＲＡＣＥモデル２６１と、検査対象外ブロックの出力信号値の条件を定義するＦＯＲＣＥモデル２６２をあげているが、その他の条件を定義する追加機能モデルを用いることもできる。
【００４２】
ケース１では、追加機能情報がないため、モジュール記述１０４より、モジュール名を変更し、回路機能記述部分を削除し、ダミーモジュール記述２４３として生成する。
ケース２では、追加機能情報としてＴＲＡＣＥが定義されているため、ダミーモジュール追加機能ライブラリ２６０より、ＴＲＡＣＥモデル２６１を選択し、パラメタライズされた＄信号線、＄条件式、＄インスタンス名を展開し、追加機能記述を生成する。そして、モジュール記述１０５より、モジュール名を変更し、回路機能記述部分を削除し、そこへ追加機能記述（記述２４４の５から８行目）を挿入し、ダミーモジュール記述２４４として生成する。
【００４３】
ケース３では、追加機能情報としてＦＯＲＣＥが定義されているため、ダミーモジュール追加機能ライブラリ２６０より、ＦＯＲＣＥモデル２６２を選択し、パラメタライズされた＄信号線、＄条件式を展開し、追加機能記述を生成する。そして、モジュール記述１０６より、モジュール名を変更し、回路機能記述部分を削除し、そこへ追加機能記述（記述２４５の５から８行目）を挿入し、ダミーモジュール記述２４５として生成する。
【００４４】
次に、回路構成更新手段２５１は、検証対象外ブロック情報２２１とダミーモジュール情報２４１より、回路情報１０２内のインスタンス定義記述１０３を修正し、ダミーモジュールに置き換えて、省リソースシミュレーション用回路情報３１１のインスタンス定義記述３１３を生成する（図５のステップ４１８）。
【００４５】
検証対象外ブロック情報２２１とインスタンス定義記述１０３より、ケース１では、インスタンスｍｄｌ１ｂのモジュールをｄｕｍｍｙ＿ｍｄｌ１へ置き換え（図４（ｂ）の２行目）、ケース２では、インスタンスｍｄｌ２ｂのモジュールをｄｕｍｍｙ＿ｍｄ２１へ置き換え（図４（ｂ）の４行目）、ケース３では、インスタンスｍｄｌ３ｂのモジュールをｄｕｍｍｙ＿ｍｄ３１へ置き換え（図４（ｂ）の６行目）、省リソースシミュレーション用回路情報のインスタンス定義記述３１３として生成する。
【００４６】
このようにして、テストベンチ情報１０１と回路情報１０２、省リソースシミュレーション用回路情報のインスタンス定義記述３１３とダミーモジュール情報２４１（ダミーモジュール記述２４３，２４４，２４５）より、省リソースシミュレーション用回路情報３１１を自動的に得ることができる。
【００４７】
最後に、自動生成した省リソースシミュレーション用回路情報３１１を検証装置（図示せず）に入力して検証を行う。
以上の説明ではダミーモジュール生成手段にパラメタライズされた追加機能モデルを具備した場合について説明したが、パラメタライズされた追加機能モデルを必ずしも具備する必要はなく、その場合、ダミーモジュールには入出力端子情報のみが記述される。
【００４８】
以上のように、検証対象外ブロックの回路機能記述部分を除いたダミーモジュールを生成するルールをテストベンチに記述しておくことで、検証外のブロックをダミーブロックに置き換えた省リソースかつデバッグ用に追加機能を組み込んだシミュレーション用回路を自動生成することができ、シミュレーション実行時の計算機リソースの消費を軽減することで計算機の稼働率が向上するとともに、回路動作のデバッグ性も向上させることができるため、妥当性の高い検証を行いながら、検証作業を高効率で行うことができる。
【００４９】
（実施の形態２）
実施の形態２として、ＶｅｒｉｌｏｇＨＤＬで記述されたシミュレーション用のテストベンチ情報と回路情報と、シミュレーション結果と各モジュールの活性化条件を入力とし、省リソースシミュレーション用回路情報を生成する場合について、図６，図７，図８，図９を用いて説明する。
【００５０】
図６は実施の形態２における回路シミュレーション装置の構成を説明する図、図７は実施の形態２におけるシミュレーション用データを説明するための図、図８は実施の形態２における省リソースシミュレーション用データを説明するための図、図９は実施の形態２における回路シミュレーション方法を説明するフロー図である。
【００５１】
図６に示すように、回路シミュレーション装置は、検証対象外ブロック情報検索手段２１２，ダミーモジュール生成手段２３２、回路構成更新手段２５２から構成されている。検証対象外ブロック情報検索手段２１２はテストベンチ情報１０１と回路情報１０２より成るシミュレーション用データ１００を入力して、少なくともシミュレーション結果２７０と各モジュール活性化条件２７１を参照して検査対象外ブロック情報２２２を抽出する。ダミーモジュール生成手段２３２は検証対象外ブロック情報２２２を基にダミーモジュール情報２４２を生成する。回路構成更新手段２５２はシミュレーション用データ１００を基にダミーモジュール情報２４２検査対象外ブロック情報２２２を参照して省リソースシミュレーション用回路情報３１２を自動生成する。この省リソースシミュレーション用回路情報３１２を用いて、図示していない検証装置により検証を行う。
【００５２】
図７は、シミュレーション用データ１００とモジュール活性条件２７１を示している。
図７（ａ）は、テストベンチ情報１０１と回路情報１０２であり、回路情報１０２は、
モジュールｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ａとして定義したブロック１１０と、
モジュールｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ｂとして定義したブロック１１１と、
モジュールｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ａとして定義したブロック１１２と、
モジュールｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ｂとして定義したブロック１１３と、
モジュールｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ａとして定義したブロック１１４と、
モジュールｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ｂとして定義したブロック１１５から構成されている。
【００５３】
図７（ｂ）は、回路情報１０２の中のインスタンス定義記述１０３であり、
１行目は、モジュールｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ａとして定義し、
２行目は、モジュールｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ｂとして定義し、
３行目は、モジュールｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ａとして定義し、
４行目は、モジュールｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ｂとして定義し、
５行目は、モジュールｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ａとして定義し、
６行目は、モジュールｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ｂとして定義することを示している。
【００５４】
図７（ｃ）は、モジュールの記述を示しており、
記述１０４はモジュールｍｄｌ１のモジュール記述、
記述１０５はモジュールｍｄｌ２のモジュール記述、
記述１０６はモジュールｍｄｌ３のモジュール記述であり、それぞれ、
１行目にモジュール名、
２から４行目に各モジュールの入力、出力のポートリスト、
５行目以降に、回路機能記述、
最終行に、モジュール終了の記述からなる構成となっている。
【００５５】
図７（ｄ）は、各モジュールの活性化条件１０８であり、
対象モジュール名：対象信号：条件式
の情報を持っており、
１行目は、モジュールｍｄｌ１、対象信号ＮＲＳＴ、ＮＣＥ、条件式ＮＲＳＴ＝＝０  ＆＆  ＮＣＥ＝＝０
２行目は、モジュールｍｄｌ２、対象信号ＮＲＳＴ、ＮＣＥ、条件式ＮＲＳＴ＝＝０  ＆＆  ＮＣＥ＝＝０
３行目は、モジュールｍｄｌ３、対象信号ＮＲＳＴ、ＮＣＥ、条件式ＮＲＳＴ＝＝０  ＆＆  ＮＣＥ＝＝０
を定義することを示している。
【００５６】
図８は、省リソースシミュレーション用データ３１２を示している。
図８（ａ）は、テストベンチ情報１０１と省リソースシミュレーション用回路情報３１２であり、省リソースシミュレーション用回路情報３１２は、
モジュールｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ａとして定義したブロック１１０と、
モジュールｄｕｍｍｙ＿ｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ｂとして定義したブロック１２０と、
モジュールｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ａとして定義したブロック１１２と、
モジュールｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ｂとして定義したブロック１１３と、
モジュールｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ａとして定義したブロック１１４と、
モジュールｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ｂとして定義したブロック１１５から構成されている。
【００５７】
図８（ｂ）は、省リソースシミュレーション用回路情報３１２の中のインスタンス定義記述３１４であり、
１行目は、モジュールｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ａとして定義し、
２行目は、モジュールｄｕｍｍｙ＿ｍｄｌ１をインスタンスｍｄｌ１ｂとして定義、
３行目は、モジュールｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ａとして定義し、
４行目は、モジュールｍｄｌ２をインスタンスｍｄｌ２ｂとして定義し、
５行目は、モジュールｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ａとして定義し、
６行目は、モジュールｍｄｌ３をインスタンスｍｄｌ３ｂとして定義することを示している。
【００５８】
図８（ｃ）は、ダミーモジュールの記述を示しており、
モジュールｄｕｍｍｙ＿ｍｄｌ１の記述２４３である。
以上で説明した回路シミュレーション装置およびライブラリを用いて行う回路シミュレーション方法について説明する。
【００５９】
まず、シミュレーション用データ１００として、テストベンチ情報１０１と回路情報１０２、および、シミュレーション用データ１００で実行されたシミュレーション結果２７０と回路情報１０２内の各モジュールの活性化条件２７１を、検証対象外ブロック情報検索手段２１２に入力する。
【００６０】
各モジュールの活性化条件１０８より、
モジュールｍｄｌ１は、対象信号ＮＲＳＴ、ＮＣＥ、条件式ＮＲＳＴ＝＝０  ＆＆  ＮＣＥ＝＝０
モジュールｍｄｌ２は、対象信号ＮＲＳＴ、ＮＣＥ、条件式ＮＲＳＴ＝＝０  ＆＆  ＮＣＥ＝＝０
モジュールｍｄｌ３は、対象信号ＮＲＳＴ、ＮＣＥ、条件式ＮＲＳＴ＝＝０  ＆＆  ＮＣＥ＝＝０
のときそれぞれアクティブとなり、検証対象外ブロック情報検索手段２１２は、シミュレーション結果２７０を検索し、前記活性化条件がシミュレーションを通して成立していないブロックを検索し、活性化条件が成立していないブロックを機能対象外ブロック情報２２２として出力する（図９のステップ４２１、４２２、４２３）。
【００６１】
本実施の形態では、モジュールｍｄｌ１で定義されるインスタンスｍｄｌ１ｂが、シミュレーション結果内で活性化していない場合を取り上げる。
次に、ダミーモジュール生成手段２３２は、検証対象外ブロック情報２２２より、該当モジュールの記述より回路機能記述部分を削除して、モジュール名と入出力ポートリストとモジュール終了記述からなるダミーモジュール情報２４２を生成する（図９のステップ４１５）。
【００６２】
次に、回路構成更新手段２５２は、検証対象外ブロック情報２２２とダミーモジュール情報２４２より、回路情報１０２内のインスタンス定義記述１０３を修正してダミーモジュールに置き換え、省リソースシミュレーション用回路情報のインスタンス定義記述３１４を生成する（図９のステップ４１８）。例えば、検証対象外ブロック情報２２２とインスタンス定義記述１０３より、インスタンスｍｄｌ１ｂのモジュールをｄｕｍｍｙ＿ｍｄｌ１へ置き換え（図８（ｂ）の２行目）、省リソースシミュレーション用回路情報のインスタンス定義記述３１４として生成する。
【００６３】
このようにして、テストベンチ情報１０１と回路情報１０２、省リソースシミュレーション用回路情報のインスタンス定義記述３１４とダミーモジュール情報２４２（ダミーモジュール記述２４３）より、省リソースシミュレーション用回路情報３１２を得ることができる。
【００６４】
最後に、自動生成した省リソースシミュレーション用回路情報３１２を検証装置（図示せず）に入力して検証を行う。
以上のように、過去に実施したシミュレーション結果を参照して、動作していないブロック情報を抽出し、そのブロックを検証対象外ブロックとし、回路機能記述部分を除いたダミーモジュールに置き換えることで、検証外のブロックをダミーに置き換えた省リソースなシミュレーション用回路を自動生成することができ、２回目以降のシミュレーション実行時における計算機リソースの消費を軽減させることで計算機の稼働率を向上させることができるため、妥当性の高い検証を行いながら、検証作業を高効率で行うことができる。
【産業上の利用可能性】
【００６５】
本発明の回路シミュレーション装置および回路シミュレーション方法は、妥当性の高い検証を行いながら、検証作業を高効率で行うことができ、ＬＳＩ回路設計、特にハードウェア記述言語によって設計されるＬＳＩ回路のシミュレーションを行う回路シミュレーション装置及び方法等に有用である。
【図面の簡単な説明】
【００６６】
【図１】実施の形態１における回路シミュレーション装置の構成を説明する図
【図２】実施の形態１におけるダミーモジュール追加機能ライブラリを例示する図
【図３】実施の形態１におけるシミュレーション用データを説明するための図
【図４】実施の形態１における省リソースシミュレーション用データを説明するための図
【図５】実施の形態１における回路シミュレーション方法を説明するフロー図
【図６】実施の形態２における回路シミュレーション装置の構成を説明する図
【図７】実施の形態２におけるシミュレーション用データを説明するための図
【図８】実施の形態２における省リソースシミュレーション用データを説明するための図
【図９】実施の形態２における回路シミュレーション方法を説明するフロー図
【図１０】従来の省リソースシミュレーション装置の構成を示す図
【符号の説明】
【００６７】
１００    シミュレーション用データ
１０１    テストベンチ情報
１０２    回路情報
１０３    インスタンス定義情報
１０４    記述
１０５    記述
１０６    記述
１０７    検証対象外ブロック情報
１０８    ブロック活性化条件
１１０    ブロック
１１１    ブロック
１１２    ブロック
１１３    ブロック
１１４    ブロック
１１５    ブロック
１２０    ダミーブロック記述
１２１    ダミーブロック記述
１２２    ダミーブロック記述
２００    手動修正手段
２１１    検証対象外ブロック検索手段
２１２    検証対象外ブロック検索手段
２２１    検証対象外ブロック情報
２２２    検証対象外ブロック情報
２３１    ダミーモジュール生成手段
２３２    ダミーモジュール生成手段
２４１    ダミーモジュール情報
２４２    ダミーモジュール情報
２４３    記述
２４４    記述
２４５    記述
２５１    回路構成更新手段
２５２    回路構成更新手段
２６０    ダミーモジュール追加機能ライブラリ
２６１    ＴＲＡＣＥモデル
２６２    ＦＯＲＣＥモデル
３００    省リソースシミュレーション用データ
３０１    テストベンチ情報
３０２    回路情報
３１１    省リソースシミュレーション用回路情報
３１２    省リソースシミュレーション用回路情報
３１３    インスタンス定義記述
３１４    インスタンス定義情報
４００    検証装置
【図１】
2006185202.tif 000003
【図２】
2006185202.tif 000004
【図３】
2006185202.tif 000005
【図４】
2006185202.tif 000006
【図５】
2006185202.tif 000007
【図６】
2006185202.tif 000008
【図７】
2006185202.tif 000009
【図８】
2006185202.tif 000010
【図９】
2006185202.tif 000011
【図１０】
2006185202.tif 000012