(57)【要約】【課題】  計測環境等によって結果が左右されにくく、精度良くフォーカス係数を計測することのできる、フォーカス係数計測用治具およびフォーカス係数計測方法を提供する。【解決手段】  第一反射面２ａと、第一反射面２ａよりもピックアップ１６との距離が長くなるように段違いに形成された第二反射面２ｂとが設けられたフォーカス係数計測用治具Ａをレーザー光の照射経路上に配置するステップと、ピックアップ１６を第一反射面２ａとの対向位置に位置させてフォーカスサーチを行った際の第一フォーカス制御値Ｖ１を計測するステップと、ピックアップ１６を第二反射面２ｂとの対向位置に位置させてフォーカスサーチを行った際の第二フォーカス制御値Ｖ２を計測するステップと、第一および第二反射面２ａ，２ｂ間の垂線方向の距離Ｌと、第二フォーカス制御値Ｖ２と第一フォーカス制御値Ｖ１との差Ｖとの比から、フォーカス係数を算出するステップとを含む。【選択図】          図４
2006073056.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク装置においてピックアップの対物レンズをフォーカス方向に移動させる制御を行うためのフォーカス制御値の変化量と、該フォーカス制御値の変化量に対応する対物レンズの移動距離との比であるフォーカス係数を求めるのに用いられるフォーカス係数計測用治具であって、
光ディスクの径方向に往復移動可能な前記ピックアップから照射されるレーザー光の照射経路上に配置可能に設けられ、
前記ピックアップから照射されたレーザー光を反射する第一反射面と、
該第一反射面に対し前記往復移動方向に並んで、第一反射面と平行、かつ第一反射面よりも前記ピックアップとの距離が長くなるように段違いに形成された、ピックアップから照射されたレーザー光を反射する第二反射面とが設けられていることを特徴とするフォーカス係数計測用治具。
【請求項２】
前記ピックアップの前記径方向の移動を案内する案内部上に載置することで、前記照射経路上に配置可能であることを特徴とする請求項１記載のフォーカス係数計測用治具。
【請求項３】
前記案内部に端面が当接する脚部が設けられていることを特徴とする請求項２記載のフォーカス係数計測用治具。
【請求項４】
前記案内部は、ガイドシャフトであることを特徴とする請求項２または３記載のフォーカス係数計測用治具。
【請求項５】
光ディスク装置の光ディスクを保持する保持部を避ける、切り欠き部が形成されていることを特徴とする請求項１〜４のうちのいずれか一項記載のフォーカス係数計測用治具。
【請求項６】
請求項１〜５のうちのいずれか一項記載のフォーカス係数計測用治具を用いたフォーカス係数計測方法であって、
前記フォーカス係数計測用治具を前記照射経路上に配置するステップと、
前記ピックアップを前記第一反射面との対向位置である第一対向位置に位置させ、ピックアップから第一反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第一フォーカス制御値を計測するステップと、
前記ピックアップを前記第二反射面との対向位置である第二対向位置に位置させ、ピックアップから第二反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第二フォーカス制御値を計測するステップと、
前記第一反射面に対するフォーカスサーチと前記第二反射面に対するフォーカスサーチとの間の前記対物レンズの移動距離を表す、第一および第二反射面間の垂線方向の距離と、前記第二フォーカス制御値と前記第一フォーカス制御値との差との比から、前記フォーカス係数を算出するステップとを含むことを特徴とするフォーカス係数計測方法。
【請求項７】
請求項１〜５のうちのいずれか一項記載のフォーカス係数計測用治具を用いたフォーカス係数計測方法であって、
前記フォーカス係数計測用治具を前記照射経路上に配置するステップと、
前記ピックアップを前記第一反射面との対向位置である第一対向位置に位置させ、ピックアップから第一反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第一フォーカス制御値を計測するステップと、
前記ピックアップを前記第二反射面との対向位置である第二対向位置に位置させ、ピックアップから第二反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第二フォーカス制御値を計測するステップと、
前記ピックアップを、前記第一反射面との対向位置であって前記第一対向位置よりも前記第二反射面寄りの第三対向位置に位置させ、ピックアップから第一反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第三フォーカス制御値を計測するステップと、
前記第一および第二反射面間の垂線方向の距離と、前記第一、第二および第三対向位置間の距離と、前記第一、第二および第三フォーカス制御値とから、前記フォーカス係数を算出するステップとを含むことを特徴とするフォーカス係数計測方法。
【請求項８】
前記第一および第二反射面間の垂線方向の距離をＬ、前記第一対向位置と前記第三対向位置との間の距離をＤ1、前記第二対向位置と第三対向位置との距離をＤ2、前記第一フォーカス制御値をＶ1、前記第二フォーカス制御値をＶ2、前記第三フォーカス制御値をＶ3、前記フォーカス係数をｋ、第三フォーカス制御値Ｖ3と第一フォーカス制御値Ｖ1との差（Ｖ3−Ｖ1）をδ1、第二フォーカス制御値Ｖ2と第三フォーカス制御値Ｖ3との差（Ｖ2−Ｖ3）をδ2、｛δ2−（Ｄ2／Ｄ1）δ1｝をＶで、それぞれ表した場合、
前記フォーカス係数を算出するステップは、前記フォーカス係数ｋを、
【数１】
2006073056.tif 000019
の式により算出することを特徴とする請求項７記載のフォーカス係数計測方法。
【請求項９】
請求項１〜５のうちのいずれか一項記載のフォーカス係数計測用治具を用いたフォーカス係数計測方法であって、
前記フォーカス係数計測用治具を前記照射経路上に配置するステップと、
前記ピックアップを前記第一反射面との対向位置である第一対向位置に位置させ、ピックアップから第一反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第一フォーカス制御値を計測するステップと、
前記ピックアップを前記第二反射面との対向位置である第二対向位置に位置させ、ピックアップから第二反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第二フォーカス制御値を計測するステップと、
前記ピックアップを、前記第二反射面との対向位置であって前記第二対向位置よりも前記第一反射面から離間した第三対向位置に位置させ、ピックアップから第二反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第三フォーカス制御値を計測するステップと、
前記第一および第二反射面間の垂線方向の距離と、前記第一、第二および第三対向位置間の距離と、前記第一、第二および第三フォーカス制御値とから、前記フォーカス係数を算出するステップとを含むことを特徴とするフォーカス係数計測方法。
【請求項１０】
前記第一および第二反射面間の垂線方向の距離をＬ、前記第一対向位置と前記第二対向位置との間の距離をＤ1、第二対向位置と前記第三対向位置との距離をＤ2、前記第一フォーカス制御値をＶ1、前記第二フォーカス制御値をＶ2、前記第三フォーカス制御値をＶ3、前記フォーカス係数をｋ、第二フォーカス制御値Ｖ2と第一フォーカス制御値Ｖ1との差（Ｖ2−Ｖ1）をδ1、第三フォーカス制御値Ｖ3と第二フォーカス制御値Ｖ2との差（Ｖ3−Ｖ2）をδ2、｛δ1−（Ｄ2／Ｄ1）δ2｝をＶで、それぞれ表した場合、
前記フォーカス係数を算出するステップは、前記フォーカス係数ｋを、
【数２】
2006073056.tif 000020
の式により算出することを特徴とする請求項９記載のフォーカス係数計測方法。
【請求項１１】
前記フォーカス制御値は、前記対物レンズをフォーカス方向に移動させるためのフォーカスコイルに印加される電圧値であることを特徴とする請求項６〜１０のうちのいずれか一項記載のフォーカス係数計測方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク装置においてピックアップの対物レンズをフォーカス方向に移動させる制御を行うためのフォーカス制御値の変化量と、該フォーカス制御値の変化量に対応する対物レンズの移動距離との比であるフォーカス係数を求めるのに用いられるフォーカス係数計測用治具、および、そのフォーカス係数計測用治具を用いたフォーカス係数計測方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置においてピックアップから光ディスクの記録面にレーザー光を照射してデータを読み書きする際、レーザー光のフォーカスが常に記録面に合うように、ピックアップの対物レンズを光ディスク面に対して接離動させるフォーカス制御がなされている。
対物レンズは、フォーカス制御値としての、ピックアップに設けられたフォーカスコイルに印加される電圧の値（ＦＤＯ信号）に応じて、光ディスクに対して接離動（フォーカス方向に移動）するよう設けられている。
そして、前記フォーカス制御は、レーザー光の記録面からの反射光をピックアップにより受光し、受光した光の光強度信号を変換して得た電気信号からＦＥ信号を抽出し、このＦＥ信号を元に、対物レンズと記録面との距離が一定に保たれるよう、フォーカスコイルに印加する電圧（ＦＤＯ信号）を制御して対物レンズを移動制御することで行われる。
【０００３】
ところで、近年、光ディスクの記録密度の高度化に伴い、光ディスク装置には、より高精度な読み書き性能が要求されている。例えば、従来の光ディスクの読み書きにおいては問題とならなかった程度の光ディスクのわずかな反りや歪みに対しても、より高精度な対物レンズのチルト制御等の補正制御が要求されるようになってきている。
【０００４】
光ディスクの反りや歪みに対して高精度なチルト制御等の補正制御を行うためには、光ディスクの反りを正確に計測する必要がある。
ここで、前記フォーカス制御により、対物レンズは、光ディスクの記録面との距離が常に一定に保たれるよう制御されているから、対物レンズの移動状態を計測すれば、光ディスクの反りや歪みを正確に把握することができる。対物レンズの移動状態は、フォーカスコイルに印加される電圧（ＦＤＯ信号）の値に対応している。したがって、フォーカス制御値である、フォーカスコイルに印加される電圧値を計測することで、対物レンズのフォーカス方向の移動距離を算出することができる。
【０００５】
さて、ここで、フォーカスコイルに印加される電圧の変化量を、対物レンズのフォーカス方向の移動距離に換算する必要が生じる。これには、フォーカスコイルに印加する電圧値（フォーカス制御値）の変化量と、そのフォーカス制御値の変化量に対応する対物レンズの移動距離との比であるフォーカス係数が用いられる。例えば、対物レンズをある単位距離だけ移動させるのに必要な、フォーカスコイルに印加する電圧値の変化量を、フォーカス係数として採用することができる。
フォーカス係数を用いれば、印加電圧の変化量を、対物レンズの移動距離に換算することができ、光ディスクの反りまたは歪み量を計測することができる。
【０００６】
光ディスク装置において、フォーカス係数を用いて対物レンズの移動距離を算出するためには、工場出荷時以前に、フォーカス係数を光ディスク装置のフラッシュＲＯＭ等の不揮発性メモリに記憶させておく必要がある。
なお、各光ディスク装置が互いに同一機種であったとしても、ピックアップ、対物レンズ、およびフォーカスコイル等のメカ要素の特性のバラツキにより、フォーカス係数は、個々の光ディスク装置間で必ずしも一致しないため、個々の装置毎に個別に計測して、不揮発性メモリに記憶させておくことが望ましい。
【０００７】
ここで、フォーカス係数の従来の計測および算出方法を説明する。
まず、フォーカス方向に面ブレを起こす光ディスクを予め用意する。この光ディスクのフォーカス方向の面ブレ幅は、他の測定装置等により予め測定しておく。
この光ディスクを計測対象の光ディスク装置に挿入し、光ディスクを回転制御した状態で、ピックアップから光ディスクの記録面にレーザー光を照射してフォーカス制御（フォーカスサーチ）を行う。
【０００８】
そして、回転する前記光ディスクに対してフォーカス制御を行った際のＦＤＯ信号の振幅、すなわち変化量は、光ディスクの面ブレに追随する対物レンズのフォーカス方向の移動距離に対応する。したがって、このＦＤＯ信号の振幅（フォーカスコイルに印加する電圧の変化量）を計測し、それと光ディスクの前記面ブレ幅との比をとることで、前記フォーカス係数が求められる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
しかしながら、従来のフォーカス係数の計測方法では、例えば光ディスクの温度の相違、光ディスクの回転速度のバラツキ、および、光ディスクの保持状態のバラツキ等の要因により、光ディスクの前記面ブレ幅にバラツキが生じ、正確なフォーカス係数の計測が困難であるという課題がある。
フォーカス係数が正確でないと、例えば光ディスクの反りや歪みの正確な計測が行えないため、チルト制御といった補正制御等が高精度に行えず、光ディスクの読み書き性能にも悪影響が生じる恐れがある。
【００１０】
本発明は上記課題を解決すべくなされ、その目的とするところは、計測環境等によって結果が左右されにくく、精度良くフォーカス係数を計測することのできる、フォーカス係数計測用治具およびフォーカス係数計測方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
本願発明者は、上記課題を解決するために、回転時に面ブレを起こす光ディスクに替えて、環境等に影響を受けない治具を用いることに想到し、その治具と治具を用いたフォーカス係数計測方法との構成を精査研究し工夫した結果、本願発明を完成させた。
【００１２】
本発明に係るフォーカス係数計測用治具は、上記課題を解決するために、以下の構成を備える。すなわち、光ディスク装置においてピックアップの対物レンズをフォーカス方向に移動させる制御を行うためのフォーカス制御値の変化量と、該フォーカス制御値の変化量に対応する対物レンズの移動距離との比であるフォーカス係数を求めるのに用いられるフォーカス係数計測用治具であって、光ディスクの径方向に往復移動可能な前記ピックアップから照射されるレーザー光の照射経路上に配置可能に設けられ、前記ピックアップから照射されたレーザー光を反射する第一反射面と、該第一反射面に対し前記往復移動方向に並んで、第一反射面と平行、かつ第一反射面よりも前記ピックアップとの距離が長くなるように段違いに形成された、ピックアップから照射されたレーザー光を反射する第二反射面とが設けられていることを特徴とする。
これによれば、フォーカス係数計測用治具の第一反射面と第二反射面との距離を利用してフォーカス係数を計測できるため、面ブレを起こす光ディスクを利用する従来方法のように計測環境等によって面ブレ幅のバラツキの影響を受けることがなく、精度良くフォーカス係数を計測することができる。
【００１３】
さらに、前記ピックアップの前記径方向の移動を案内する案内部上に載置することで、前記照射経路上に配置可能であることを特徴とする。
さらに、前記案内部に端面が当接する脚部が設けられていることを特徴とする。
また、前記案内部は、ガイドシャフトであることを特徴とする。
これによれば、当該フォーカス係数計測用治具を、ピックアップの移動経路に正確に沿うよう配置することができる。
【００１４】
また、光ディスク装置の光ディスクを保持する保持部を避ける、切り欠き部が形成されていることを特徴とする。
これによれば、当該フォーカス係数計測用治具を、保持部が邪魔となって、ピックアップの近くに配置できなくなったり、前記照射系路上に配置しにくくなったりすることがなく、簡単に配置をすることができる。
【００１５】
また、本発明に係るフォーカス係数計測方法は、上記課題を解決するために、以下の構成を備える。すなわち、請求項１〜５のうちのいずれか一項記載のフォーカス係数計測用治具を用いたフォーカス係数計測方法であって、前記フォーカス係数計測用治具を前記照射経路上に配置するステップと、前記ピックアップを前記第一反射面との対向位置である第一対向位置に位置させ、ピックアップから第一反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第一フォーカス制御値を計測するステップと、前記ピックアップを前記第二反射面との対向位置である第二対向位置に位置させ、ピックアップから第二反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第二フォーカス制御値を計測するステップと、前記第一反射面に対するフォーカスサーチと前記第二反射面に対するフォーカスサーチとの間の前記対物レンズの移動距離を表す、第一および第二反射面間の垂線方向の距離と、前記第二フォーカス制御値と前記第一フォーカス制御値との差との比から、前記フォーカス係数を算出するステップとを含むことを特徴とする。
これによれば、フォーカス係数計測用治具の第一反射面と第二反射面との距離を利用してフォーカス係数を計測するため、面ブレを起こす光ディスクを利用する従来方法のように計測環境等によって面ブレ幅のバラツキの影響を受けることがなく、精度良くフォーカス係数を計測することができる。
【００１６】
また、請求項１〜５のうちのいずれか一項記載のフォーカス係数計測用治具を用いたフォーカス係数計測方法であって、前記フォーカス係数計測用治具を前記照射経路上に配置するステップと、前記ピックアップを前記第一反射面との対向位置である第一対向位置に位置させ、ピックアップから第一反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第一フォーカス制御値を計測するステップと、前記ピックアップを前記第二反射面との対向位置である第二対向位置に位置させ、ピックアップから第二反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第二フォーカス制御値を計測するステップと、前記ピックアップを、前記第一反射面との対向位置であって前記第一対向位置よりも前記第二反射面寄りの第三対向位置に位置させ、ピックアップから第一反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第三フォーカス制御値を計測するステップと、前記第一および第二反射面間の垂線方向の距離と、前記第一、第二および第三対向位置間の距離と、前記第一、第二および第三フォーカス制御値とから、前記フォーカス係数を算出するステップとを含むことを特徴とする。
さらに、前記第一および第二反射面間の垂線方向の距離をＬ、前記第一対向位置と前記第三対向位置との間の距離をＤ1、前記第二対向位置と第三対向位置との距離をＤ2、前記第一フォーカス制御値をＶ1、前記第二フォーカス制御値をＶ2、前記第三フォーカス制御値をＶ3、前記フォーカス係数をｋ、第三フォーカス制御値Ｖ3と第一フォーカス制御値Ｖ1との差（Ｖ3−Ｖ1）をδ1、第二フォーカス制御値Ｖ2と第三フォーカス制御値Ｖ3との差（Ｖ2−Ｖ3）をδ2、｛δ2−（Ｄ2／Ｄ1）δ1｝をＶで、それぞれ表した場合、前記フォーカス係数を算出するステップは、前記フォーカス係数ｋを、
【数３】
2006073056.tif 000003
の式により算出することを特徴とする。
また、請求項１〜５のうちのいずれか一項記載のフォーカス係数計測用治具を用いたフォーカス係数計測方法であって、前記フォーカス係数計測用治具を前記照射経路上に配置するステップと、前記ピックアップを前記第一反射面との対向位置である第一対向位置に位置させ、ピックアップから第一反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第一フォーカス制御値を計測するステップと、前記ピックアップを前記第二反射面との対向位置である第二対向位置に位置させ、ピックアップから第二反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第二フォーカス制御値を計測するステップと、前記ピックアップを、前記第二反射面との対向位置であって前記第二対向位置よりも前記第一反射面から離間した第三対向位置に位置させ、ピックアップから第二反射面にレーザー光を照射してフォーカスサーチを行った際のフォーカス制御値である第三フォーカス制御値を計測するステップと、前記第一および第二反射面間の垂線方向の距離と、前記第一、第二および第三対向位置間の距離と、前記第一、第二および第三フォーカス制御値とから、前記フォーカス係数を算出するステップとを含むことを特徴とする。
さらに、前記第一および第二反射面間の垂線方向の距離をＬ、前記第一対向位置と前記第二対向位置との間の距離をＤ1、第二対向位置と前記第三対向位置との距離をＤ2、前記第一フォーカス制御値をＶ1、前記第二フォーカス制御値をＶ2、前記第三フォーカス制御値をＶ3、前記フォーカス係数をｋ、第二フォーカス制御値Ｖ2と第一フォーカス制御値Ｖ1との差（Ｖ2−Ｖ1）をδ1、第三フォーカス制御値Ｖ3と第二フォーカス制御値Ｖ2との差（Ｖ3−Ｖ2）をδ2、｛δ1−（Ｄ2／Ｄ1）δ2｝をＶで、それぞれ表した場合、前記フォーカス係数を算出するステップは、前記フォーカス係数ｋを、
【数４】
2006073056.tif 000004
の式により算出することを特徴とする。
これによれば、第一〜第三対向位置の三箇所において第一および第二反射面に対するフォーカス制御値を計測するため、ピックアップの往復移動方向に対して第一および第二反射面が傾斜して（平行でなく）配置された場合であっても、フォーカス係数を正確に計測することができる。
【００１７】
また、前記フォーカス制御値は、前記対物レンズをフォーカス方向に移動させるためのフォーカスコイルに印加される電圧値であることを特徴とする。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、計測環境等によって結果が左右されにくく、精度良くフォーカス係数を計測することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
本発明に係るフォーカス係数計測用治具、およびそれを用いたフォーカス係数計測方法の好適な実施の形態について以下に説明する。
【００２０】
（フォーカス係数計測用治具）
図１は、本発明の実施の形態に係るフォーカス係数計測用治具Ａの斜視説明図である。図２（ａ）は、フォーカス係数計測用治具Ａの、図１のＸ方向からの側面図であり、図２（ｂ）は、フォーカス係数計測用治具Ａの底面図である。
フォーカス係数計測用治具Ａは、ステンレス等の金属の削り出しにより一体に成形され、板状部２と、板状部２から、板状部２の板面に対してほぼ垂直に延びる三つの脚部４ａ，４ｂ，４ｃとを備える。
【００２１】
板状部２の、脚部４ａ，４ｂ，４ｃが形成されている一面側には、平面状の第一反射面２ａと、第一反射面２ａに並んで、第一反射面２ａと平行、かつ第一反射面とは段違いに形成された第二反射面２ｂとが設けられている。図２（ａ）に示すように、第一反射面２ａと第二反射面２ｂとはそれらの垂線方向に所定の距離をもって段違いに形成されている。
第一および第二反射面２ａ，２ｂは、高精度な平坦面研磨によって鏡面状に仕上げられ、レーザー光を好適に反射するよう構成される。
【００２２】
また、板状部２は、板面がほぼ長方形状に形成されるが、一隅に第一切り欠き部２ｃが形成される。切り欠き部２ｃは、図１および図２に示すように、板状部２の側面に対して滑らかに連続するよう形成される。
【００２３】
また、板状部２の一縁部には、光ディスク装置の、光ディスクを保持する保持部を避けるための、第二切り欠き部２ｄが形成されている。第二切り欠き部２ｄは、板状部２の第一および第二反射面２ａ，２ｂ側の面の一部に凹状の段差部を設けて肉薄に形成することで設けられている。
【００２４】
フォーカス係数計測用治具Ａは、図３に示すように、光ディスク装置Ｄのピックアップの上方に覆いかぶせられるようにして、レーザー光照射経路上に配置される。この際、フォーカス係数計測用治具Ａは、各脚部４ａ，４ｂ，４ｃの端面（下面）が、光ディスク装置のガイドシャフト１２上に当接して支持されるよう配置される。
【００２５】
ガイドシャフト１２は、光ディスクの径方向のピックアップの往復移動を案内する案内部である。本実施の形態においては、ガイドシャフト１２は、光ディスクのほぼ径方向に、光ディスク面に対し平行に延びる円柱状に形成される。ガイドシャフト１２は、ピックアップを挟むように２本設けられ、互いに平行に配設されている。また、２本のガイドシャフト１２は、２本のガイドシャフト１２の軸線を含む平面が光ディスク面と平行となるように、光ディスク面に対して同じ高さに配設されている。ガイドシャフト１２は、ピックアップが搭載された台座１８に挿通され、台座１８を光ディスクの径方向に移動可能に案内している。
台座１８はさらに、ガイドシャフト１２に平行に設けられたスクリュー軸２０に係合され、スクリュー軸２０の回転によりガイドシャフト１２に沿って移動される。スクリュー軸２０は、モータ２２により回転制御される。
【００２６】
図１および図２に示すように、脚部４ａ，４ｂ，４ｃは、一隅に切り欠き部２ｃが形成されたほぼ長方形状の板状部２の、残りの三つの隅のそれぞれに一つずつ形成される。
図３に示すように、各脚部４ａ，４ｂ，４ｃは、フォーカス係数計測用治具Ａが前記照射経路上に配置される際に、脚部４ａ，４ｂが２本のガイドシャフト１２のうちの一方の上に当接し、脚部４ｃが他方のガイドシャフト１２の上に当接するよう、ガイドシャフト１２の配置に合わせて形成されている。
各脚部４ａ，４ｂ，４ｃは、ガイドシャフト１２と第一および第二反射面２ａ，２ｂとの平行度を高精度に保持するために、互いの長さが等しくなるよう、その寸法が高精度に形成されている。
【００２７】
また、各脚部４ａ，４ｂ，４ｃは、なるべくガイドシャフト１２の端部寄りに当接するよう配設する。これは、ガイドシャフト１２上の各脚部４ａ，４ｂ，４ｃがピックアップの移動をできるだけ妨げないようにする目的と、フォーカス係数計測用治具Ａの重量によるガイドシャフト１２の撓みを小さくする目的とからである。
【００２８】
フォーカス係数計測用治具Ａがガイドシャフト１２上に載置されて配置されることで、第一反射面２ａと第二反射面２ｂとが、ピックアップに対向して、ガイドシャフト１２の軸線方向、すなわち光ディスクの径方向に並ぶ。このとき、第一反射面２ａと第二反射面２ｂとの前記段差により、第二反射面２ｂは、第一反射面２ａよりもピックアップとの距離が長くなる。
【００２９】
また、第二切り欠き部２ｄにより、図３に示すように、フォーカス係数計測用治具Ａを光ディスク装置Ｄのピックアップのレーザー光照射経路上に配置した際に、光ディスクの保持部１４にフォーカス係数計測用治具Ａが当接してしまうことがない。
なお、第二切り欠き部のフォーカス係数計測用治具上の形成位置は、フォーカス係数の測定の対象となる光ディスク装置の保持部の配置構成に合わせて適宜変更してよい。
【００３０】
（フォーカス係数計測方法）
次に、本フォーカス係数計測用治具Ａを用いたフォーカス係数計測方法の実施の形態について説明する。
【００３１】
フォーカス係数の計測、および、その求められたフォーカス係数の光ディスク装置の不揮発性メモリ等への記憶を行う工程は、光ディスク装置の工場において、各光ディスク装置の組み立て後、光ディスク装置を工場から出荷する前に行う。この際、出荷時の設定および検査を行うための専用のホストコンピュータに光ディスク装置を接続し、ホストコンピュータと光ディスク装置との間で、出荷時の設定および検査用の各種コマンドや情報をやり取りして、光ディスク装置に、フォーカス係数の記憶等の必要な設定や検査を行う。
【００３２】
本実施の形態に係るフォーカス係数計測方法において、光ディスク装置Ｄのピックアップ等を制御したり、ＦＤＯ信号の電圧値（第一フォーカス制御値）を取得したりするなどの制御は、前記ホストコンピュータから送信されたピックアップの移動およびレーザー光照射を命令するコマンドや、前記電圧値の計測を命令するコマンド等に基づいて、光ディスク装置Ｄの制御部が実行する。また、計測された電圧値等に基づく計算処理を行うステップは、光ディスク装置からホストコンピュータに送信されたデータに基づいて、ホストコンピュータの制御部が実行する。
なお、もちろん本願発明はこれに限定されるものではなく、ホストコンピュータを介さずに、光ディスク装置Ｄ内のマイコン制御部のみによって、ピックアップの移動およびレーザー光照射制御や、計算処理等を実行するよう構成してもよい。
【００３３】
以下に説明するフォーカス係数計測方法においては、説明の簡単のため、ホストコンピュータの制御部と光ディスク装置Ｄ内のマイコン制御部とを総称して「制御部」と表現する。
【実施例１】
【００３４】
フォーカス係数計測方法の実施例１を説明する。
まず、フォーカス係数計測用治具Ａを、図３のように、ガイドシャフト１２上に載置して、ピックアップのレーザー光照射経路上に配置する。
【００３５】
次に、図４に示すように、制御部は、ピックアップ１６を第一反射面２ａとの対向位置である第一対向位置に移動させる。そして、ピックアップ１６から第一反射面２ａにレーザー光を照射してフォーカスサーチを行い、第一反射面２ａにフォーカスが合った状態での、フォーカスコイルに印加されたＦＤＯ信号の電圧値（第一フォーカス制御値）Ｖ1を計測し、ＲＡＭ等の記憶手段に記憶する。
なお、図４において、黒塗り矢印は電圧を表し、線矢印は距離を表している。
【００３６】
次に、図４に示すように、制御部は、ピックアップ１６を第二反射面２ｂとの対向位置である第二対向位置に移動させる。そして、同様にピックアップ１６から第二反射面２ｂにレーザー光を照射してフォーカスサーチを行い、第二反射面２ｂにフォーカスが合った状態での、フォーカスコイルに印加されたＦＤＯ信号の電圧値（第二フォーカス制御値）Ｖ2を計測し、ＲＡＭ等の記憶手段に記憶する。
なお、第一対向位置における第一フォーカス制御値の計測と、第二対向位置における第二フォーカス制御値の測定との各ステップの順番は入れ替えても差し支えない。
【００３７】
ここで、第一反射面２ａに対するフォーカスサーチ時の対物レンズの位置と、第二反射面２ｂに対するフォーカスサーチ時の対物レンズの位置とは、フォーカス方向に、第一反射面２ａと第二反射面２ｂとの垂線方向の距離Ｌだけずれていることになる。
そこで、制御部は、第一反射面２ａと第二反射面２ｂとの垂線方向の距離Ｌ（既知の定数）と、第二フォーカス制御値Ｖ2と第一フォーカス制御値Ｖ1との差との比から、フォーカス係数ｋを算出する。
すなわち、第二フォーカス制御値Ｖ2と第一フォーカス制御値Ｖ1との差（Ｖ2−Ｖ1）をＶで表すと、制御部は、フォーカス係数ｋを、
ｋ＝（Ｖ／Ｌ）
の式で算出する。
【実施例２】
【００３８】
フォーカス係数計測用治具Ａは、従来の面ブレ光ディスクに比較して、環境の影響を受けにくいものであるが、何らかの要因（例えばフォーカス係数計測用治具Ａの脚部４ａ，４ｂ，４ｃとガイドシャフト１２との間に塵等が挟まるなど）により、図５に示すようにフォーカス係数計測用治具Ａが傾斜してしまうことが起こりうる。この場合、前記実施例１のフォーカス係数計測方法では、第一対向位置における第一反射面２ａと、第二対向位置における第二反射面２ｂとの間の、ピックアップ１６に対するそれぞれの距離の差が、前記Ｌと等しくならないため、正確なフォーカス係数が求められない。
以下に説明する実施例２は、実施例１のこの問題を解決したフォーカス係数計測方法であり、フォーカス係数計測用治具Ａが傾斜して配置された場合でも、正確なフォーカス係数を求められるものである。
【００３９】
まず、フォーカス係数計測用治具Ａを、図３のように、ガイドシャフト１２上に載置して、ピックアップのレーザー光照射経路上に配置する。
この際、図５に示すように、フォーカス係数計測用治具Ａが角度θだけ傾斜したものとする。
【００４０】
図５に示すように、制御部は、ピックアップ１６を第一反射面２ａとの対向位置である第一対向位置に移動させる。そして、ピックアップ１６から第一反射面２ａにレーザー光を照射してフォーカスサーチを行い、第一反射面２ａにフォーカスが合った状態での、フォーカスコイルに印加されたＦＤＯ信号の電圧値（第一フォーカス制御値）Ｖ1を計測し、ＲＡＭ等の記憶手段に記憶する。
なお、図５において、黒塗り矢印は電圧を表し、線矢印は距離を表している。
【００４１】
次に、制御部は、ピックアップ１６を第二反射面２ｂとの対向位置である第二対向位置に移動させる。そして、同様にピックアップ１６から第二反射面２ｂにレーザー光を照射してフォーカスサーチを行い、第二反射面２ｂにフォーカスが合った状態での、フォーカスコイルに印加されたＦＤＯ信号の電圧値（第二フォーカス制御値）Ｖ2を計測し、ＲＡＭ等の記憶手段に記憶する。
【００４２】
次に、制御部は、ピックアップ１６を、第一反射面２ａとの対向位置であって第一対向位置よりも第二反射面２ｂ寄りの第三対向位置に位置させる。第三対向位置は、第一対向位置から距離Ｄ1、第二対向位置から距離Ｄ2だけそれぞれ離れた位置である。
そして、同様にピックアップ１６から第一反射面２ａにレーザー光を照射してフォーカスサーチを行い、第一反射面２ａにフォーカスが合った状態での、フォーカスコイルに印加されたＦＤＯ信号の電圧値（第三フォーカス制御値）Ｖ３を計測し、ＲＡＭ等の記憶手段に記憶する。
なお、第一対向位置における第一フォーカス制御値の計測と、第二対向位置における第二フォーカス制御値の測定と、第三対向位置における第三フォーカス制御値の測定との各ステップの順番は任意に入れ替えても差し支えない。
【００４３】
次に、制御部は、フォーカス係数ｋを算出する。
ここで、式の形式的な表現を簡単にするため、第三フォーカス制御値Ｖ3と第一フォーカス制御値Ｖ1との差をδ1，第二フォーカス制御値Ｖ2と第三フォーカス制御値Ｖ3との差をδ2で表現する。また、第一反射面２ａと第二反射面２ｂとの、レーザー光の進行方向の距離に対応する、ＦＤＯ信号の電圧値をＶで表現する。即ち、δ1，δ2，Ｖは、以下の式で表される（図５参照）。
δ1＝（Ｖ3−Ｖ2）
δ2＝（Ｖ2−Ｖ3）
Ｖ＝｛δ2−（Ｄ2／Ｄ1）δ1｝
そして、δ1，δ1，Ｖを上記のように定義した場合、制御部は、フォーカス係数ｋを、
【数５】
2006073056.tif 000005
の式で算出する。
【００４４】
次に、上記式の導出過程の一例を説明する。なお、これは本願発明の理論的裏づけを示すものであって、本願方法発明が示す技術的範囲を限定するものではない。
Ｖ0は、第一反射面２ａと第二反射面２ｂとの垂線方向の距離Ｌに対応するＦＤＯ信号の電圧値を示す。
図５より、
【数６】
2006073056.tif 000006
【数７】
2006073056.tif 000007
三角関数の関係式より
【数８】
2006073056.tif 000008
数８に数６と数７を代入
【数９】
2006073056.tif 000009
【数１０】
2006073056.tif 000010
数９に数１０を代入してｋについて解くと
【数１１】
2006073056.tif 000011
となる。
【実施例３】
【００４５】
実施例３は、実施例２と同様、フォーカス係数計測用治具Ａが傾斜して配置された場合でも、正確なフォーカス係数を求めることができるフォーカス係数計測方法である。
実施例２と実施例３との相違点は、実施例２では、第一反射面２ａに対して、第一および第三対向位置の２箇所において、フォーカス制御値（ＦＤＯ信号の電圧値）の計測を行ったが、実施例３では、反射面２ｂに対して、２箇所の対向位置においてフォーカス制御の計測を行う。
【００４６】
まず、フォーカス係数計測用治具Ａを、図３のように、ガイドシャフト１２上に載置して、ピックアップのレーザー光照射経路上に配置する。
この際、図６に示すように、フォーカス係数計測用治具Ａが角度θだけ傾斜したものとする。
【００４７】
図６に示すように、制御部は、ピックアップ１６を第一反射面２ａとの対向位置である第一対向位置に移動させる。そして、ピックアップ１６から第一反射面２ａにレーザー光を照射してフォーカスサーチを行い、第一反射面２ａにフォーカスが合った状態での、フォーカスコイルに印加されたＦＤＯ信号の電圧値（第一フォーカス制御値）Ｖ1を計測し、ＲＡＭ等の記憶手段に記憶する。
なお、図５において、黒塗り矢印は電圧を表し、線矢印は距離を表している。
【００４８】
次に、制御部は、ピックアップ１６を第二反射面２ｂとの対向位置である第二対向位置に移動させる。第二対向位置は、第一対向位置から距離Ｄ1だけ離れた位置である。
そして、同様にピックアップ１６から第二反射面２ｂにレーザー光を照射してフォーカスサーチを行い、第二反射面２ｂにフォーカスが合った状態での、フォーカスコイルに印加されたＦＤＯ信号の電圧値（第二フォーカス制御値）Ｖ2を計測し、ＲＡＭ等の記憶手段に記憶する。
【００４９】
次に、制御部は、ピックアップ１６を、第二反射面２ｂとの対向位置であって前記第二対向位置よりも第一反射面２ａから離間した第三対向位置に位置させる。第三対向位置は、第二対向一から距離Ｄ2だけ離れた位置である。
そして、同様にピックアップ１６から第二反射面２ａにレーザー光を照射してフォーカスサーチを行い、第二反射面２ａにフォーカスが合った状態での、フォーカスコイルに印加されたＦＤＯ信号の電圧値（第三フォーカス制御値）Ｖ3を計測し、ＲＡＭ等の記憶手段に記憶する。
なお、第一対向位置における第一フォーカス制御値の計測と、第二対向位置における第二フォーカス制御値の測定と、第三対向位置における第三フォーカス制御値の測定との各ステップの順番は任意に入れ替えても差し支えない。
【００５０】
次に、制御部は、フォーカス係数ｋを算出する。
ここで、式の形式的な表現を簡単にするため、第二フォーカス制御値Ｖ2と第一フォーカス制御値Ｖ1との差をδ1，第三フォーカス制御値Ｖ3と第二フォーカス制御値Ｖ2との差をδ2で表現する。また、第一反射面２ａと第二反射面２ｂとの、レーザー光の進行方向の距離に対応する、ＦＤＯ信号の電圧値をＶで表現する。即ち、δ1，δ2，Ｖは、以下の式で表される（図５参照）。
δ1＝（Ｖ2−Ｖ1）
δ2＝（Ｖ3−Ｖ2）
Ｖ＝｛δ1−（Ｄ2／Ｄ1）δ2｝
そして、δ1，δ2，Ｖを上記のように定義した場合、制御部は、フォーカス係数ｋを、
【数１２】
2006073056.tif 000012
の式で算出する。
【００５１】
次に、上記式の導出過程の一例を説明する。なお、これは本願発明の理論的裏づけを示すものであって、本願方法発明が示す技術的範囲を限定するものではない。
Ｖ0は、第一反射面２ａと第二反射面２ｂとの垂線方向の距離Ｌに対応するＦＤＯ信号の電圧値を示す。
図６より、
【数１３】
2006073056.tif 000013
【数１４】
2006073056.tif 000014
三角関数の関係式より
【数１５】
2006073056.tif 000015
数１５に数１３と数１４を代入
【数１６】
2006073056.tif 000016
【数１７】
2006073056.tif 000017
数１６に数１７を代入してkについて解くと
【数１８】
2006073056.tif 000018
となる。
【００５２】
なお、実施例２，３のフォーカス係数計測方法は、フォーカス係数計測用治具Ａが傾斜していない場合（θが０°の場合）であっても採用することができる。この場合、実施例２におけるδ1、実施例３におけるδ2の値はそれぞれ０となるため、ｋは（Ｖ／Ｌ）で表され、実施例１における算出結果と一致する。
【００５３】
なお、実施例１〜３で示した各式の示す技術的範囲は、式の形式的な表現に限定されるものではなく、上記式と同値な式や、制御部に同値な計算を行わせるコンピュータプログラムも含むことは言うまでもない。
【００５４】
本実施の形態に係るフォーカス係数計測用治具Ａおよびフォーカス係数計測方法によれば、金属等の剛体からなるフォーカス係数計測用治具Ａの第一反射面２ａと第二反射面２ｂとの距離を利用してフォーカス係数を計測できるため、面ブレを起こす光ディスクを利用する従来方法のように計測環境等によって面ブレ幅のバラツキの影響を受けることがなく、精度良くフォーカス係数を計測することができる。
【産業上の利用可能性】
【００５５】
本発明に係るフォーカス係数計測用治具およびフォーカス係数計測方法により計測されたフォーカス係数は、チルト制御等の補正制御に用いるに限らず、対物レンズに対するあらゆるフォーカス方向の移動制御およびフォーカス制御値の算出に用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【００５６】
【図１】本発明に係るフォーカス係数計測用治具の斜視説明図である。
【図２】本発明に係るフォーカス係数計測用治具の説明図であり、（ａ）は側面図であり、（ｂ）は底面図である。
【図３】本発明に係るフォーカス係数計測用治具を、光ディスク装置のレーザー光の照射経路上に配置した状態を示す説明図である。
【図４】本発明に係るフォーカス係数計測方法の実施例１を示す説明図である。
【図５】本発明に係るフォーカス係数計測方法の実施例２を示す説明図である。
【図６】本発明に係るフォーカス係数計測方法の実施例３を示す説明図である。
【符号の説明】
【００５７】
Ａ  フォーカス係数計測用治具
Ｄ  光ディスク装置
２  板状部
２ａ  第一反射面
２ｂ  第二反射面
２ｄ  切り欠き部
４ａ，４ｂ，４ｃ  脚部
１２  ガイドシャフト（案内部）
１４  保持部
１６  ピックアップ
【図１】
2006073056.tif 000021
【図２】
2006073056.tif 000022
【図３】
2006073056.tif 000023
【図４】
2006073056.tif 000024
【図５】
2006073056.tif 000025
【図６】
2006073056.tif 000026