(57)【要約】【課題】チューナを調整又は検査する時間を短縮する。【解決手段】  チューナの特性を測定する装置は、ＲＦ信号の周波数（Ｆｓ）を初期周波数（Ｆｓ１）から最終周波数（Ｆｓｎ）まで掃引し、掃引されるＲＦ信号をチューナに出力する手段（１、２）と、中間周波数を有する信号の電圧を検出する手段（３）と、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を検出する手段（４）と、電圧定在波比を表す電圧を検出する手段（５）と、ＲＦ信号の周波数（Ｆｓ）が初期周波数（Ｆｓ１）から最終周波数（Ｆｓｎ）まで掃引される第１の期間に、中間周波数を有する信号の電圧、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧、及び、電圧定在波比を表す電圧を取り込む手段（６、７、８１、８２、８３、１）と、を備える。【選択図】  図５
2006148407.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
チューナの特性を測定する装置であって、
ＲＦ信号の周波数（Ｆｓ）を初期周波数（Ｆｓ１）から最終周波数（Ｆｓｎ）まで掃引し、掃引されるＲＦ信号をチューナ（１０）に出力する手段（１、２）と、
中間周波数を有する信号をチューナ（１０）から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を検出する手段（３）と、
中間周波数を有する信号をチューナ（１０）から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を検出する手段（４）と、
前記ＲＦ信号を前記手段（１、２）から入力し、前記ＲＦ信号の反射信号を入力し、電圧定在波比を表す電圧を検出する手段（５）と、
ＲＦ信号の周波数（Ｆｓ）が初期周波数（Ｆｓ１）から最終周波数（Ｆｓｎ）まで掃引される第１の期間に、中間周波数を有する信号の電圧、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧、及び、電圧定在波比を表す電圧を取り込む手段（６、７、８１、８２、８３、１）と、
を備える装置。
【請求項２】
請求項１に記載の装置であって、前記取り込む手段は、
中間周波数を有する信号の電圧、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧、及び、電圧定在波比を表す電圧を入力し、前記第１の期間に、中間周波数を有する信号の電圧、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧、及び、電圧定在波比を表す電圧のうち何れか１つにスイッチして出力することを繰り返す手段（６、１）と、
中間周波数を有する信号の電圧、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧、及び、電圧定在波比を表す電圧のうち何れか１つをデジタル値に変換して取り込む手段（７、１）と、
を備える、装置。
【請求項３】
請求項１に記載の装置であって、前記取り込む手段は、
中間周波数を有する信号の電圧を入力してデジタル値に変換して取り込む手段（８１、１）と、
中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を入力してデジタル値に変換して取り込む手段（８２、１）と、
電圧定在波比を表す電圧を入力してデジタル値に変換して取り込む手段（８３、１）と、
を備える、装置。
【請求項４】
ＣＰＵ（１）と、ＰＬＬ周波数シンセサイザ（２）と、リニア検波手段（３）と、対数検波手段（４）と、ＶＳＷＲ測定手段（５）と、スイッチ（６）と、Ａ／Ｄコンバータ（７）とを備えるチューナの特性を測定する装置であって、
ＣＰＵ（１）は、制御信号を所定の掃引間隔（Δｔｓ）毎に生成し、第１の制御信号〜第ｎの制御信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ（２）に出力し、
ＰＬＬ周波数シンセサイザ（２）は、第１の制御信号〜第ｎの制御信号に応じて、第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）まで掃引される周波数（Ｆｓ）を有するＲＦ信号を生成し、前記ＲＦ信号をチューナ（１０）に出力し、
リニア検波手段（３）は、前記ＲＦ信号に対応する中間周波数を有する信号をチューナ（１０）から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を検出し、
対数検波手段（４）は、前記ＲＦ信号に対応する中間周波数を有する信号をチューナ（１０）から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を検出し、
ＶＳＷＲ測定手段（５）は、前記ＲＦ信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ（２）から入力し、前記ＲＦ信号の反射信号をチューナ（１０）から入力し、電圧定在波比を表す電圧を検出し、
スイッチ（６）は、中間周波数を有する信号の電圧をリニア検波手段（３）から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を対数検波手段（４）から入力し、電圧定在波比を表す電圧をＶＳＷＲ測定手段（５）から入力し、
ＣＰＵ（１）は、スイッチ（６）を所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）毎に設定し、
スイッチ（６）は、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）毎に、中間周波数を有する信号の電圧、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧、及び、電圧定在波比を表す電圧のうち何れか１つにスイッチしてＡ／Ｄコンバータ（７）に出力し、
Ａ／Ｄコンバータ（７）は、スイッチ（６）から出力される信号をデジタル値に変換してＣＰＵ（１）に出力し、
ＣＰＵ（１）は、ＲＦ信号の周波数（Ｆｓ）が初期周波数（Ｆｓ１）から最終周波数（Ｆｓｎ）まで掃引される第１の期間に、中間周波数を有する信号の電圧のデジタル値、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧のデジタル値、及び、電圧定在波比を表す電圧のデジタル値をＡ／Ｄコンバータ（７）から取り込む、装置。
【請求項５】
請求項４に記載の装置であって、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）は、所定の掃引間隔（Δｔｓ）の１／３である、装置。
【請求項６】
請求項５に記載の装置であって、ＣＰＵ（１）は、前記第１の期間に、中間周波数を有する信号の電圧を表す第１〜第ｎのデジタル値、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を表す第１〜第ｎのデジタル値、及び、電圧定在波比を表す電圧を表す第１〜第ｎのデジタル値をＡ／Ｄコンバータ（７）から取り込む、装置。
【請求項７】
ＣＰＵ（１）と、ＰＬＬ周波数シンセサイザ（２）と、リニア検波手段（３）と、対数検波手段（４）と、ＶＳＷＲ測定手段（５）と、第１のＡ／Ｄコンバータ（８１）と、第２のＡ／Ｄコンバータ（８２）と、第３のＡ／Ｄコンバータ（８３）とを備えるチューナの特性を測定する装置であって、
ＣＰＵ（１）は、制御信号を所定の掃引間隔（Δｔｓ）毎に生成し、第１の制御信号〜第ｎの制御信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ（２）に出力し、
ＰＬＬ周波数シンセサイザ（２）は、第１の制御信号〜第ｎの制御信号に応じて、第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）まで掃引される周波数（Ｆｓ）を有するＲＦ信号を生成し、前記ＲＦ信号をチューナ（１０）に出力し、
リニア検波手段（３）は、前記ＲＦ信号に対応する中間周波数を有する信号をチューナ（１０）から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を検出し、
対数検波手段（４）は、前記ＲＦ信号に対応する中間周波数を有する信号をチューナ（１０）から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を検出し、
ＶＳＷＲ測定手段（５）は、前記ＲＦ信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ（２）から入力し、前記ＲＦ信号の反射信号をチューナ（１０）から入力し、電圧定在波比を表す電圧を検出し、
第１のＡ／Ｄコンバータ（８１）は、中間周波数を有する信号の電圧をリニア検波手段（３）から入力し、
第２のＡ／Ｄコンバータ（８２）は、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧電力を対数検波手段（４）から入力し、
第３のＡ／Ｄコンバータ（８３）は、電圧定在波比を表す電圧をＶＳＷＲ測定手段（５）から入力し、
ＣＰＵ（１）は、ＲＦ信号の周波数（Ｆｓ）が初期周波数（Ｆｓ１）から最終周波数（Ｆｓｎ）まで掃引される第１の期間に、中間周波数を有する信号の電圧のデジタル値を第１のＡ／Ｄコンバータ（８１）から取り込み、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧のデジタル値を第２のＡ／Ｄコンバータ（８２）から取り込み、電圧定在波比を表す電圧のデジタル値を第３のＡ／Ｄコンバータ（８３）から取り込む、装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、概して、チューナの特性を測定する装置に関連し、より詳細には、チューナを調整又は検査するために、チューナの特性を高速に測定する装置に関連する。
【背景技術】
【０００２】
図１は、従来技術に従った、チューナの特性を測定する装置の機能ブロック図を示し、図２は、従来技術に従った、チューナの特性を測定する手法を説明するためのフローチャートである。図１に示すように、従来の装置は、ＣＰＵ１と、ＰＬＬ周波数シンセサイザ２と、リニア検波手段３と、対数検波手段４と、ＶＳＷＲ（Voltage Standing Wave Ratio）測定手段５と、スイッチ６と、Ａ／Ｄコンバータ７とを備える。
【０００３】
まず、ＣＰＵ１は、同調周波数（チャンネル周波数）を所定の周波数（例えば、８０１．２５ＭＨｚ）に設定するための制御信号をチューナ１０に出力する（ステップ２０１）。チューナ１０は、制御信号に応じて、同調周波数を所定の周波数に設定する。チューナ１０はさらに、同調周波数と中間周波数（例えば、４３．５ＭＨｚ）とを加算した周波数（局部周波数（例えば、８４４．７５ＭＨｚ））を持つ信号を生成する。
【０００４】
（リニア測定）
ＣＰＵ１は、スイッチ６が、中間周波数を有する信号の電圧をリニア検波手段３から入力し、それをＡ／Ｄコンバータ７に出力するように、スイッチ６を設定する（ステップ２０２）。
【０００５】
次に、ＣＰＵ１は、掃引周波数（Ｆｓ）を第１の周波数（初期周波数）（Ｆｓ１）（例えば、７８７．７５ＭＨｚ）に設定するための第１の制御信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ２に出力する（ステップ２０３）。ＰＬＬ周波数シンセサイザ２は、第１の制御信号に応じて、第１の周波数（Ｆｓ１）を有するＲＦ信号を生成し、それをチューナ１０及びＶＳＷＲ測定手段５に出力する。チューナ１０は、第１の周波数（Ｆｓ１）を有するＲＦ信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ２から入力し、ＲＦ信号の反射信号をＶＳＷＲ測定手段５に出力する。チューナ１０は、第１の周波数（Ｆｓ１）を有するＲＦ信号と局部周波数を持つ信号とを混合して、混合信号を生成する。チューナ１０はさらに、混合信号を中間周波数に対応するフィルタによって濾波し、中間周波数を有する信号を生成する。チューナ１０は、中間周波数を有する信号をリニア検波手段３及び対数検出手段４に出力する。
【０００６】
リニア検波手段３は、中間周波数を有する信号をチューナ１０から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を検出する。リニア検波手段３は、中間周波数を有する信号の電圧をスイッチ６に出力する。スイッチ６は、中間周波数を有する信号の電圧をリニア検波手段３から入力し、それをＡ／Ｄコンバータ７に出力する。Ａ／Ｄコンバータ７は、中間周波数を有する信号の電圧をデジタル値に変換し、ＣＰＵ１に出力する。ＣＰＵ１は、第１の制御信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ２に出力した後、所定の掃引間隔（Δｔｓ）（例えば、３μｓｅｃ）が経過する前に、デジタル値をＡ／Ｄコンバータ７から取り込み、デジタル値及び第１の周波数（Ｆｓ１）を第１のリニア測定値として記憶する（ステップ２０３）。
【０００７】
ＣＰＵ１は、掃引周波数（Ｆｓ）が第ｎの周波数（最終周波数）（Ｆｓｎ）（例えば、８１４．７５ＭＨｚ）と等しい又はそれよりも小さいか否かを判定する（ステップ２０４）。掃引周波数（Ｆｓ）が第ｎの周波数（Ｆｓｎ）と等しい又はそれよりも小さい場合、ＣＰＵ１は、掃引が終了してないと判定する。掃引周波数（Ｆｓ）が第ｎの周波数（Ｆｓｎ）と等しくない又はそれよりも小さくない場合、ＣＰＵ１は、掃引が終了したと判定する。
【０００８】
掃引周波数（Ｆｓ）が第ｎの周波数（Ｆｓｎ）と等しい又はそれよりも小さい場合、ＣＰＵ１は、所定の掃引間隔（Δｔｓ）毎に、掃引周波数（Ｆｓ）を所定の周波数（ΔＦｓ）（例えば、０．０２２５ＭＨｚ）だけ増加させる（ステップ２０３）。すなわち、ＣＰＵ１は、第１の制御信号を出力した時から所定の掃引間隔（Δｔｓ）だけ経過した時に、掃引周波数（Ｆｓ）を第２の周波数（Ｆｓ２＝Ｆｓ１＋ΔＦｓ）に設定するための第２の制御信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ２に出力する。ＰＬＬ周波数シンセサイザ２は、第２の周波数（Ｆｓ２）を有するＲＦ信号を生成し、チューナ１０は、第２の周波数を有するＲＦ信号と局部周波数を持つ信号とを混合し、その後、中間周波数に対応するフィルタによって中間周波数を有する信号を生成する。リニア検波手段３は、中間周波数を有する信号の電圧を検出し、スイッチ６は、中間周波数を有する信号の電圧をＡ／Ｄコンバータ７に出力し、Ａ／Ｄコンバータ７は、中間周波数を有する信号の電圧をデジタル値に変換し、ＣＰＵ１に出力する。ＣＰＵ１は、第２の制御信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ２に出力した後、所定の掃引間隔（Δｔｓ）が経過する前に、デジタル値をＡ／Ｄコンバータ７から取り込み、デジタル値及び第２の周波数（Ｆｓ２）を第２のリニア測定値として記憶する（ステップ２０３）。
【０００９】
このようにして、ＰＬＬ周波数シンセサイザ２は、第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）を有するＲＦ信号を生成し、チューナ１０は、対応する中間周波数を有する信号を生成し、ＣＰＵ１は、第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）及びそれに対応するデジタル値を第１のリニア測定値〜第ｎのリニア測定値として記憶する（ステップ２０３）。図３は、図１中のＣＰＵ１及びＰＬＬ周波数シンセサイザ２によって生成される第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）を有するＲＦ信号を説明するための図である。図３に示すように、ＲＦ信号の周波数は、時間とともに増加する。
【００１０】
（対数測定）
ステップ２０４において、掃引周波数（Ｆｓ）が第ｎの周波数（Ｆｓｎ）と等しくない又はそれよりも小さくない場合、ＣＰＵ１は、掃引が終了したと判定する。ＣＰＵ１は、スイッチ６が、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を対数検波手段４から入力し、それをＡ／Ｄコンバータ７に出力するように、スイッチ６を設定する（ステップ２０５）。
【００１１】
ステップ２０３及びステップ２０４と同様に、ＣＰＵ１は、掃引周波数（Ｆｓ）を第１の周波数〜第ｎの周波数に設定するための第１の制御信号〜第ｎの制御信号を生成し、ＰＬＬ周波数シンセサイザ２は、第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）を有するＲＦ信号を生成し、チューナ１０は、対応する中間周波数を有する信号を生成し、対数検波手段４は、対応する中間周波数を有する信号の対数電圧を検出し、Ａ／Ｄコンバータ７は、対応する対数電圧のデジタル値を出力し、ＣＰＵ１は、第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）及びそれに対応するデジタル値を第１の対数測定値〜第ｎの対数測定値として記憶する（ステップ２０６及びステップ２０７）。
【００１２】
（ＶＳＷＲ測定）
ステップ２０７において、掃引周波数（Ｆｓ）が第ｎの周波数（Ｆｓｎ）と等しくない又はそれよりも小さくない場合、ＣＰＵ１は、掃引が終了したと判定する。ＣＰＵ１は、スイッチ６が、ＲＦ信号及びその反射信号から求めた電圧定在波比を表す電圧をＶＳＷＲ測定手段５から入力し、それをＡ／Ｄコンバータ７に出力するように、スイッチ６を設定する（ステップ２０８）。なお、電圧定在波比は、電圧定在波の極大値と極小値の比である。
【００１３】
ステップ２０３及びステップ２０４と同様に、掃引周波数（Ｆｓ）を第１の周波数〜第ｎの周波数に設定するための第１の制御信号〜第ｎの制御信号を生成し、ＰＬＬ周波数シンセサイザ２は、第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）を有するＲＦ信号を生成し、ＶＳＷＲ測定手段５は、対応する電圧定在波比を表す電圧を検出し、Ａ／Ｄコンバータ７は、対応する電圧定在波比を表す電圧のデジタル値を出力し、ＣＰＵ１は、第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）及びそれに対応するデジタル値を第１のＶＳＷＲ測定値〜第ｎのＶＳＷＲ測定値として記憶する（ステップ２０９及びステップ２１０）。
【００１４】
ステップ２１０において、掃引周波数（Ｆｓ）が第ｎの周波数（Ｆｓｎ）と等しくない又はそれよりも小さくない場合、ＣＰＵ１は、掃引が終了したと判定する。
（測定値の表示）
チューナの特性としてのリニア測定、対数測定及びＶＳＷＲ測定が終了すると、ＣＰＵ１は、第１のリニア測定値〜第ｎのリニア測定値、第１の対数測定値〜第ｎの対数測定値及び第１のＶＳＷＲ測定値〜第ｎのＶＳＷＲ測定値をプロットすための制御データを生成し、それをディスプレイに出力する。図４は、これらの測定値がディスプレイに表示される例を表す。図４において、リニア測定値、対数測定値及びＶＳＷＲ測定値は、それぞれ、直線、破線、１点破線で表されている。ユーザは、ディスプレイされるチューナの特性を見ながら、チューナを調整又は検査することができる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１５】
従来技術に従った、チューナの特性を測定する手法は、１つの同調周波数（チャンネル周波数）に対してリニア測定、対数測定及びＶＳＷＲ測定を実行するために、図３に示すようなＲＦ信号の掃引を３度行う必要がある。言い換えれば、チューナを調整又は検査するために、ユーザは、１つの同調周波数に対してＲＦ信号の３度の掃引を待つ必要がある。
【００１６】
本発明の目的は、チューナを調整又は検査する時間を短縮することである。本発明のもう１つの目的は、チューナの特性を高速に測定する装置を提供することである。本発明の他の目的は、本発明の他の目的は、特許請求の範囲、以下に説明する発明の実施の形態、並びに、明細書に添付する図面及び特許請求の範囲を参照することにより、当業者は容易に理解することができるであろう。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
本発明に従った、チューナの特性を測定する装置は、ＲＦ信号の周波数（Ｆｓ）を初期周波数（Ｆｓ１）から最終周波数（Ｆｓｎ）まで掃引し、掃引されるＲＦ信号をチューナ（１０）に出力する手段（１、２）と、中間周波数を有する信号をチューナ（１０）から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を検出する手段（３）と、中間周波数を有する信号をチューナ（１０）から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を検出する手段（４）と、前記ＲＦ信号を前記手段（１、２）から入力し、前記ＲＦ信号の反射信号を入力し、電圧定在波比を表す電圧を検出する手段（５）と、ＲＦ信号の周波数（Ｆｓ）が初期周波数（Ｆｓ１）から最終周波数（Ｆｓｎ）まで掃引される第１の期間に、中間周波数を有する信号の電圧、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧、及び、電圧定在波比を表す電圧を取り込む手段（６、７、８１、８２、８３、１）と、を備える。
【００１８】
前記取り込む手段は、中間周波数を有する信号の電圧、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧、及び、電圧定在波比を表す電圧を入力し、前記第１の期間に、中間周波数を有する信号の電圧、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧、及び、電圧定在波比を表す電圧のうち何れか１つにスイッチして出力することを繰り返す手段（６、１）と、中間周波数を有する信号の電圧、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧、及び、電圧定在波比を表す電圧のうち何れか１つをデジタル値に変換して取り込む手段（７、１）と、を備える。
【００１９】
或いは、前記取り込む手段は、中間周波数を有する信号の電圧を入力してデジタル値に変換して取り込む手段（８１、１）と、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を入力してデジタル値に変換して取り込む手段（８２、１）と、電圧定在波比を表す電圧を入力してデジタル値に変換して取り込む手段（８３、１）と、を備える。
【００２０】
本発明に従った、チューナの特性を測定する装置は、ＣＰＵ（１）と、ＰＬＬ周波数シンセサイザ（２）と、リニア検波手段（３）と、対数検波手段（４）と、ＶＳＷＲ測定手段（５）と、スイッチ（６）と、Ａ／Ｄコンバータ（７）とを備える。ＣＰＵ（１）は、制御信号を所定の掃引間隔（Δｔｓ）毎に生成し、第１の制御信号〜第ｎの制御信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ（２）に出力する。ＰＬＬ周波数シンセサイザ（２）は、第１の制御信号〜第ｎの制御信号に応じて、第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）まで掃引される周波数（Ｆｓ）を有するＲＦ信号を生成し、前記ＲＦ信号をチューナ（１０）に出力する。リニア検波手段（３）は、前記ＲＦ信号に対応する中間周波数を有する信号をチューナ（１０）から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を検出する。対数検波手段（４）は、前記ＲＦ信号に対応する中間周波数を有する信号をチューナ（１０）から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を検出する。ＶＳＷＲ測定手段（５）は、前記ＲＦ信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ（２）から入力し、前記ＲＦ信号の反射信号をチューナ（１０）から入力し、電圧定在波比を表す電圧を検出する。スイッチ（６）は、中間周波数を有する信号の電圧をリニア検波手段（３）から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を対数検波手段（４）から入力し、電圧定在波比を表す電圧をＶＳＷＲ測定手段（５）から入力する。ＣＰＵ（１）は、スイッチ（６）を所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）毎に設定する。スイッチ（６）は、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）毎に、中間周波数を有する信号の電圧、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧、及び、電圧定在波比を表す電圧のうち何れか１つにスイッチしてＡ／Ｄコンバータ（７）に出力する。Ａ／Ｄコンバータ（７）は、スイッチ（６）から出力される信号をデジタル値に変換してＣＰＵ（１）に出力する。ＣＰＵ（１）は、ＲＦ信号の周波数（Ｆｓ）が初期周波数（Ｆｓ１）から最終周波数（Ｆｓｎ）まで掃引される第１の期間に、中間周波数を有する信号の電圧のデジタル値、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧のデジタル値、及び、電圧定在波比を表す電圧のデジタル値をＡ／Ｄコンバータ（７）から取り込む。
【００２１】
本発明に従った、チューナの特性を測定する装置は、ＣＰＵ（１）と、ＰＬＬ周波数シンセサイザ（２）と、リニア検波手段（３）と、対数検波手段（４）と、ＶＳＷＲ測定手段（５）と、第１のＡ／Ｄコンバータ（８１）と、第２のＡ／Ｄコンバータ（８２）と、第３のＡ／Ｄコンバータ（８３）とを備えてもよい。第１のＡ／Ｄコンバータ（８１）は、中間周波数を有する信号の電圧をリニア検波手段（３）から入力する。第２のＡ／Ｄコンバータ（８２）は、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧電力を対数検波手段（４）から入力する。第３のＡ／Ｄコンバータ（８３）は、電圧定在波比を表す電圧をＶＳＷＲ測定手段（５）から入力する。ＣＰＵ（１）は、ＲＦ信号の周波数（Ｆｓ）が初期周波数（Ｆｓ１）から最終周波数（Ｆｓｎ）まで掃引される第１の期間に、中間周波数を有する信号の電圧のデジタル値を第１のＡ／Ｄコンバータ（８１）から取り込み、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧のデジタル値を第２のＡ／Ｄコンバータ（８２）から取り込み、電圧定在波比を表す電圧のデジタル値を第３のＡ／Ｄコンバータ（８３）から取り込む。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下に説明する発明の実施の形態は、特許請求の範囲に記載される発明の例示的な実施形態を示すものであり、本発明は、以下の実施形態に限定されるべきものではない。
（第１の実施形態）
本発明に従った、チューナの特性を測定する装置は、従来の装置と同様に、ＣＰＵ１と、ＰＬＬ周波数シンセサイザ２と、リニア検波手段３と、対数検波手段４と、ＶＳＷＲ測定手段５と、スイッチ６と、Ａ／Ｄコンバータ７とを備える。しかしながら、本発明に従ったＣＰＵ１及びスイッチ６の動作は、従来の動作と異なる部分を有する。図５は、本発明に従った、チューナの特性を測定する手法を説明するためのフローチャートであり、図６は、掃引されるＲＦ信号に対して、測定値を取り込むタイミングを説明するための図である。
【００２３】
まず、ＣＰＵ１は、同調周波数（チャンネル周波数）を所定の周波数に設定するための制御信号をチューナ１０に出力する（ステップ５０１）。チューナ１０は、制御信号に応じて、同調周波数を所定の周波数に設定する。チューナ１０はさらに、同調周波数と中間周波数とを加算した周波数（局部周波数）を持つ信号を生成する。
【００２４】
次に、ＣＰＵ１は、掃引周波数（Ｆｓ）を第１の周波数（初期周波数）（Ｆｓ１）に設定するための第１の制御信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ２に出力する（ステップ５０２）。ＰＬＬ周波数シンセサイザ２は、第１の制御信号に応じて、第１の周波数（Ｆｓ１）を有するＲＦ信号を生成し、それをチューナ１０及びＶＳＷＲ測定手段５に出力する。チューナ１０は、第１の周波数（Ｆｓ１）を有するＲＦ信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ２から入力し、ＲＦ信号の反射信号をＶＳＷＲ測定手段５に出力する。チューナ１０は、第１の周波数（Ｆｓ１）を有するＲＦ信号と局部周波数を持つ信号とを混合して、混合信号を生成する。チューナ１０はさらに、混合信号を中間周波数に対応するフィルタによって濾波し、中間周波数を有する信号を生成する。チューナ１０は、中間周波数を有する信号をリニア検波手段３及び対数検出手段４に出力する。
【００２５】
リニア検波手段３は、中間周波数を有する信号をチューナ１０から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を検出する。リニア検波手段３は、中間周波数を有する信号の電圧をスイッチ６に出力する。
【００２６】
対数検出手段４は、中間周波数を有する信号をチューナ１０から入力し、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を検出する。リニア検波手段３は、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧をスイッチ６に出力する。
【００２７】
ＶＳＷＲ測定手段５は、第１の周波数（Ｆｓ１）を有するＲＦ信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ２から入力し、第１の周波数（Ｆｓ１）を有するＲＦ信号の反射信号をチューナ１０から入力する。ＶＳＷＲ測定手段５は、ＲＦ信号及びその反射信号から電圧定在波比を表す電圧を検出する。ＶＳＷＲ測定手段５は、電圧定在波比を表す電圧をスイッチ６に出力する。
【００２８】
第１の制御信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ２に出力するとき、ＣＰＵ１は、スイッチ６を設定し、その結果、スイッチ６は、中間周波数を有する信号の電圧をリニア検波手段３から入力し、それをＡ／Ｄコンバータ７に出力する（ステップ５０２）。Ａ／Ｄコンバータ７は、中間周波数を有する信号の電圧をデジタル値に変換し、ＣＰＵ１に出力する。ＣＰＵ１は、スイッチを設定した後、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）（例えば、１μｓｅｃ）が経過する前に、デジタル値をＡ／Ｄコンバータ７から取り込み、デジタル値及び第１の周波数（Ｆｓ１）を第１のリニア測定値として記憶する（ステップ５０２）。
【００２９】
スイッチを設定した後、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）が経過するとき、ＣＰＵ１は、スイッチ６を再度設定し、その結果、スイッチ６は、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を対数検波手段４から入力し、それをＡ／Ｄコンバータ７に出力する（ステップ５０２）。Ａ／Ｄコンバータ７は、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧をデジタル値に変換し、ＣＰＵ１に出力する。ＣＰＵ１は、スイッチを再度設定した後、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）が経過する前に、デジタル値をＡ／Ｄコンバータ７から取り込み、デジタル値及び第１の周波数（Ｆｓ１）を第１の対数測定値として記憶する（ステップ５０２）。
【００３０】
スイッチを再度設定した後、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）が経過するとき、ＣＰＵ１は、スイッチ６を再度設定し、その結果、スイッチ６は、ＲＦ信号及びその反射信号から求めた電圧定在波比を表す電圧をＶＳＷＲ測定手段５から入力し、それをＡ／Ｄコンバータ７に出力する（ステップ５０２）。Ａ／Ｄコンバータ７は、電圧定在波比を表す電圧をデジタル値に変換し、ＣＰＵ１に出力する。ＣＰＵ１は、スイッチを再度設定した後、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）が経過する前に、デジタル値をＡ／Ｄコンバータ７から取り込み、デジタル値及び第１の周波数（Ｆｓ１）を第１のＶＳＷＲ測定値として記憶する（ステップ５０２）。
【００３１】
このようにして、ＣＰＵ１は、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）毎に、スイッチ６を設定し、その結果、スイッチ６は、リニア検波手段３、対数検波手段４及びＶＳＷＲ測定手段５の順で、スイッチ６の入力をスイッチする（図６を参照）。また、スイッチ６の入力がスイッチされると、ＣＰＵ１は、デジタル値をＡ／Ｄコンバータ７から取り込む。したがって、ＣＰＵ１は、リニア測定値、対数測定値及びＶＳＷＲ測定値の順で、デジタル値を取り込む（図６を参照）。
【００３２】
ＣＰＵ１は、掃引周波数（Ｆｓ）が第ｎの周波数（最終周波数）（Ｆｓｎ）と等しい又はそれよりも小さいか否かを判定する（ステップ５０３）。掃引周波数（Ｆｓ）が第ｎの周波数（Ｆｓｎ）と等しい又はそれよりも小さい場合、ＣＰＵ１は、所定の掃引間隔（Δｔｓ＝３×Δｔｔ）毎に、掃引周波数（Ｆｓ）を所定の周波数（ΔＦｓ）だけ増加させる（ステップ５０２）。すなわち、ＣＰＵ１は、第１の制御信号を出力した時から所定の掃引間隔（Δｔｓ）だけ経過した時に、掃引周波数（Ｆｓ）を第２の周波数（Ｆｓ２＝Ｆｓ１＋ΔＦｓ）に設定するための第２の制御信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ２に出力する。ＰＬＬ周波数シンセサイザ２は、第２の周波数（Ｆｓ２）を有するＲＦ信号を生成する。チューナ１０は、第２の周波数を有するＲＦ信号の反射信号をＶＳＷＲ測定手段５に出力する。チューナ１０は、第２の周波数を有するＲＦ信号と局部周波数を持つ信号とを混合し、中間周波数に対応するフィルタによって中間周波数を有する信号を生成する。チューナ１０は、中間周波数を有する信号をリニア検波手段３及び対数検出手段４に出力する。
【００３３】
第２の制御信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ２に出力するとき、ＣＰＵ１は、スイッチ６を設定し、その結果、スイッチ６は、中間周波数を有する信号の電圧をリニア検波手段３から入力する（ステップ５０２）。ＣＰＵ１は、スイッチを設定した後、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）が経過する前に、デジタル値をＡ／Ｄコンバータ７から取り込み、デジタル値及び第２の周波数（Ｆｓ２）を第２のリニア測定値として記憶する（ステップ５０２）。
【００３４】
スイッチを設定した後、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）が経過するとき、ＣＰＵ１は、スイッチ６を再度設定し、その結果、スイッチ６は、中間周波数を有する信号の電圧を対数変換した対数電圧を対数検波手段４から入力する（ステップ５０２）。ＣＰＵ１は、スイッチを再度設定した後、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）が経過する前に、デジタル値をＡ／Ｄコンバータ７から取り込み、デジタル値及び第２の周波数（Ｆｓ２）を第２の対数測定値として記憶する（ステップ５０２）。
【００３５】
スイッチを再度設定した後、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）が経過するとき、ＣＰＵ１は、スイッチ６を再度設定し、その結果、スイッチ６は、ＲＦ信号及びその反射信号から求めた電圧定在波比を表す電圧をＶＳＷＲ測定手段５から入力する（ステップ５０２）。ＣＰＵ１は、スイッチを再度設定した後、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）が経過する前に、デジタル値をＡ／Ｄコンバータ７から取り込み、デジタル値及び第２の周波数（Ｆｓ２）を第２のＶＳＷＲ測定値として記憶する（ステップ５０２）。
【００３６】
ステップ５０３において、掃引周波数（Ｆｓ）が第ｎの周波数（Ｆｓｎ）と等しくない又はそれよりも小さくない場合、ＣＰＵ１は、掃引が終了したと判定する。
このようにして、ＰＬＬ周波数シンセサイザ２は、第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）を有するＲＦ信号を生成し、ＣＰＵ１は、第１のリニア測定値〜第ｎのリニア測定値、第１の対数測定値〜第ｎの対数測定値、及び第１のＶＳＷＲ測定値〜第ｎのＶＳＷＲ測定値を記憶する（ステップ５０２）。
【００３７】
本発明に従った、チューナの特性を測定する手法は、１つの同調周波数（チャンネル周波数）に対してリニア測定、対数測定及びＶＳＷＲ測定を実行するために、図３に示すようなＲＦ信号の掃引を１度だけ行えばよい。したがって、チューナの特性は、高速に測定され、チューナを調整又は検査する時間は、短縮される。
【００３８】
（第２の実施形態）
第１の実施形態において、ＣＰＵ１は、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ＝Δｔｓ／３）毎に、スイッチ６を設定し、その結果、スイッチ６は、リニア検波手段３、対数検波手段４及びＶＳＷＲ測定手段５の順で、スイッチ６の入力をスイッチする（図６を参照）。
【００３９】
第２の実施形態において、ＣＰＵ１は、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ＝Δｔｓ）毎に、スイッチ６を設定し、その結果、スイッチ６は、リニア検波手段３、対数検波手段４及びＶＳＷＲ測定手段５の順で、スイッチ６の入力をスイッチする（図７を参照）。
【００４０】
第２の実施形態において、ＰＬＬ周波数シンセサイザ２は、第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）を有するＲＦ信号を生成し、ＣＰＵ１は、第１のリニア測定値〜第（ｎ／３）のリニア測定値、第１の対数測定値〜第（ｎ／３）の対数測定値、及び第１のＶＳＷＲ測定値〜第（ｎ／３）のＶＳＷＲ測定値を記憶する。測定値の数は、第１の実施形態と比べて、１／３であるが、１つの同調周波数（チャンネル周波数）に対してリニア測定、対数測定及びＶＳＷＲ測定を実行するために、図３に示すようなＲＦ信号の掃引を１度だけ行えばよい。したがって、チューナの特性は、高速に測定され、チューナを調整又は検査する時間は、短縮される。
【００４１】
（第１及び第２の実施形態の変形）
所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）と所定の掃引間隔（Δｔｓ）との関係は、上述の２つの例に限定されない。したがって、例えば、Δｔｔ＝２Δｔｓであってもよい。また、Δｔｔ＝Δｔｓ／６であってもよい。すなわち、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）と所定の掃引間隔（Δｔｓ）との関係に拘わらず、ＲＦ信号の掃引く周波数が第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）まで掃引される間に、スイッチ６は、任意の所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）で、スイッチ６の入力をスイッチすればよい。
【００４２】
また、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）は、固定された値でなくてもよい。すなわち、所定のスイッチ間隔（Δｔｔ）は、時間とともに、変化してもよい。同様に、所定の掃引間隔（Δｔｓ）も、固定された値でなくてもよい。
【００４３】
さらに、スイッチ６は、リニア検波手段３、対数検波手段４及びＶＳＷＲ測定手段５の順に拘わらず、スイッチ６の入力をスイッチしてもよい。例えば、スイッチ６は、リニア検波手段３、対数検波手段４、リニア検波手段３、対数検波手段４及びＶＳＷＲ測定手段５の順で、スイッチ６の入力をスイッチしてもよい。
【００４４】
（第３の実施形態）
図８は、本発明に従った、チューナの特性を測定するもう１つの装置の機能ブロック図を示し、図９は、本発明に従った、チューナの特性を測定するもう１つの手法を説明するためのフローチャートであり、図１０は、掃引されるＲＦ信号に対して、測定値を取り込むタイミングを説明するための図である。
【００４５】
図８に示すように、第３の実施形態において、本発明の装置は、ＣＰＵ１と、ＰＬＬ周波数シンセサイザ２と、リニア検波手段３と、対数検波手段４と、ＶＳＷＲ測定手段５と、Ａ／Ｄコンバータ８１、８２及び８３とを備える。
【００４６】
スイッチを備えない本発明の装置のＣＰＵ１は、第１の制御信号をＰＬＬ周波数シンセサイザ２に出力した後、所定の掃引間隔（Δｔｓ）（例えば、３μｓｅｃ）が経過する前に、３つのデジタル値をＡ／Ｄコンバータ８１、８２及び８３からほぼ同時に取り込み、第１のリニア測定値、第１の対数測定値及び第１のＶＳＷＲ測定値を記憶する（ステップ９０２）（図１０を参照）。
【００４７】
このようにして、ＰＬＬ周波数シンセサイザ２は、第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）を有するＲＦ信号を生成し、ＣＰＵ１は、第１のリニア測定値〜第ｎのリニア測定値、第１の対数測定値〜第ｎの対数測定値、及び第１のＶＳＷＲ測定値〜第ｎのＶＳＷＲ測定値を記憶する（ステップ９０２）。
【００４８】
（他の実施形態）
当業者は、上述の第１〜第３の実施形態を変形し、特許請求の範囲に記載される発明を容易に構成することが可能である。
【００４９】
例えば、第３の実施形態を変更し、ＲＦ信号の掃引周波数が第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）まで掃引される間に、第１のリニア測定値〜第ｈのリニア測定値、第１の対数測定値〜第ｊの対数測定値、及び第１のＶＳＷＲ測定値〜第ｋのＶＳＷＲ測定値は、互いに独立してＣＰＵ１に記憶されてもよい。
【００５０】
例えば、第１〜第３の実施形態において、ＲＦ信号の掃引周波数が第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）まで減少しながら掃引されてもよい。すなわち、ＲＦ信号の掃引周波数は、第ｎの周波数（Ｆｓｎ）〜第１の周波数（Ｆｓ１）に減少してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】従来技術又は本発明に従った、チューナの特性を測定する装置の機能ブロック図を示す。
【図２】従来技術に従った、チューナの特性を測定する手法を説明するためのフローチャートである。
【図３】図１中のＣＰＵ１及びＰＬＬ周波数シンセサイザ２によって生成される第１の周波数（Ｆｓ１）〜第ｎの周波数（Ｆｓｎ）を有するＲＦ信号を説明するための図である。
【図４】リニア測定値、対数測定値及びＶＳＷＲ測定値が表示される例を示す。
【図５】本発明に従った、チューナの特性を測定する手法を説明するためのフローチャートである。
【図６】掃引されるＲＦ信号に対して、測定値を取り込むタイミングを説明するための図である。
【図７】掃引されるＲＦ信号に対して、測定値を取り込むタイミングを説明するための図である。
【図８】本発明に従った、チューナの特性を測定する装置の機能ブロック図を示す。
【図９】本発明に従った、チューナの特性を測定する手法を説明するためのフローチャートである。
【図１０】掃引されるＲＦ信号に対して、測定値を取り込むタイミングを説明するための図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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