(57)【要約】【課題】  外部電極のオープン状態からショート状態への切換を迅速に行うことができる構造にして、評価試験作業の容易化と迅速化とを図ったコイル部品及びコイル部品の評価方法を提供する。【解決手段】  コイル部品１は、チップ本体２と外部電極３−１〜３−８とでなる。チップ本体２を、コイル４−１〜４−４を内包した磁性体５の上面に低誘電率部材を設けた構造とし、外部電極３−１〜３−８を、チップ本体２の両端部に形成した。また、各外部電極３−１（３−２〜３−８）を、低誘電率部材６の表面に延在する第１の延在部３１と磁性体５の下面に延在する第２の延在部３２とで構成して、略断面コ字状に形成した。そして、第１の延在部３１の延出長さを第２の延在部３２の延出長さよりも長くして、対向する第１の延在部３１，３１の先端部同士を近接させた。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
コイル導体を内包した磁性体とこの磁性体の少なくとも一面上に設けられた低誘電率部材とで構成されるチップ本体と、上記各コイル導体の両端部にそれぞれ接続された状態でチップ本体の両端部に形成された外部電極とを備えるコイル部品であって、
上記各外部電極を断面略コ字状に形成して、上記低誘電率部材の表面に存する第１の延在部の延出長さを上記磁性体の表面に存する第２の延在部の延出長さよりも長く設定すると共に、上記コイル導体の一方端部に接続された各外部電極における上記第１の延在部の先端部とコイル導体の他方端部に接続された各外部電極における上記第１の延在部の先端部とを近接させた、
ことを特徴とするコイル部品。
【請求項２】
請求項１に記載のコイル部品の外部電極を、所定の信号を送る信号線路中に介設されたランドにそれぞれ固定して、当該コイル部品の特性を評価するコイル部品の評価方法であって、
上記各外部電極の第２の延在部を上記各ランドに固定した状態で、上記所定の信号を上記コイル導体に流すことにより、上記コイル部品の特性を測定するオープン特性測定過程と、
上記各外部電極の第２の延在部を上記各ランドに固定した状態で、上記外部電極における第１の延在部同士を半田で短絡させて、上記所定の信号を当該第１の延在部間に流すことにより、上記コイル部品の特性を測定するショート特性測定過程と、
上記ショート特性測定過程において測定した特性値と上記オープン特性測定過程において測定した特性値とを比較して、上記コイル部品の特性に評価を下す評価過程と
を具備することを特徴とするコイル部品の評価方法。
【請求項３】
請求項１に記載のコイル部品の外部電極を、所定の信号を送る信号線路中に介設された第１ないし第３のランドに載置して、当該コイル部品の特性を評価するコイル部品の評価方法であって、
上記外部電極の両第２の延在部を、上記信号線路の両端部に形成された上記第１及び第２のランドにのみそれぞれ載置した状態で、上記所定の信号を上記コイル導体に流すことにより、上記コイル部品の特性を測定するオープン特性測定過程と、
上記コイル部品を裏返しにして、外部電極の両第１の延在部を上記第１及び第２のランドにそれぞれ載置すると共に、これら両第１の延在部の双方を当該第１及び第２のランドの間に配設された上記第３のランドに載置して、両第１の延在部同士を短絡させた状態で、上記所定の信号を当該第１の延在部間に流すことにより、上記コイル部品の特性を測定するショート特性測定過程と、
上記ショート特性測定過程において測定した特性値と上記オープン特性測定過程において測定した特性値とを比較して、上記コイル部品の特性に評価を下す評価過程と
を具備することを特徴とするコイル部品の評価方法。
【請求項４】
請求項３に記載のコイル部品の評価方法であって、
上記コイル部品の両端部の外部電極を、チップ本体の中心面に対して面対称に形成すると共に、対向する両第２の延在部の離間距離を上記第１及び第２のランドの離間距離以上に設定し、
且つ、上記第３のランドを、これら第１のランドと第２のランドとの間隙のほぼ中央部に配設すると共に、当該第３のランドの長さを上記対向する両第１の延在部の離間距離よりも大きく設定した、
ことを特徴とするコイル部品の評価方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、電子回路のノイズ除去などに使用されるコイル部品及びコイル部品の評価方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種のコイル部品として、例えば特許文献１に開示の技術がある。
このコイル部品は、図１２に示すように、コイル導体を内蔵した磁性体１０１とこの磁性体１０１の両面に配設された低誘電率部材１０２，１０３とでチップ本体１００を構成し、このチップ本体１００の両端部に外部電極１１１，１１２を取り付けた構成となっている。これにより、高周波のノイズがコイル部品に入力すると、コイル導体と磁性体１０１とによるインダクタンスが高くなって、ノイズが除去されるようになっている。
このようなノイズ対策用のコイル部品では、出荷前に、このコイル部品が所望のノイズ除去特性を有する部品であるか否かの評価試験が行われる。
かかる評価試験は、外部電極１１１，１１２間をオープンにした通常使用状態で、コイル部品の信号波形や輻射ノイズを測定する。また、例えばインピーダンスが０Ωの抵抗器を外部電極１１１，１１２に接続して、外部電極１１１，１１２間をショート状態にしたコイル部品の信号波形や輻射ノイズを測定する。そして、上記オープン状態のコイル部品における信号波形や輻射ノイズが上記ショート状態のコイル部品の信号波形や輻射ノイズとどの程度変化しているかを比較し、信号波形の変化量が許容範囲内であり、且つ輻射ノイズの変化量（低減量）が十分な場合には、このコイル部品は合格品であると、評価する。
【０００３】
【特許文献１】特開平０７−２９７３７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記した従来のコイル部品では、外部電極１１１，１１２間が広く規定されているため、外部電極１１１，１１２間をショート状態にするには、０Ω抵抗器やリード線等を外部電極１１１，１１２間に接続するという作業を行わなければならない。このため、外部電極１１１，１１２がオープン状態のコイル部品の評価試験後に、このコイル部品を基板のランドなどから取り外し、０Ω抵抗器やリード線等をこのコイル部品の外部電極１１１，１１２間に注意深く接続した後、再度ランドに取り付けてショート状態の評価試験を行わなければならない。したがって、かかる従来のコイル部品では、評価試験作業に手間と時間を要するという問題があった。
【０００５】
この発明は、上述した課題を解決するためになされたもので、外部電極のオープン状態からショート状態への切換を迅速に行うことができる構造にして、評価試験作業の容易化と迅速化とを図ったコイル部品及びコイル部品の評価方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するために、請求項１の発明は、コイル導体を内包した磁性体とこの磁性体の少なくとも一面上に設けられた低誘電率部材とで構成されるチップ本体と、各コイル導体の両端部にそれぞれ接続された状態でチップ本体の両端部に形成された外部電極とを備えるコイル部品であって、各外部電極を断面略コ字状に形成して、低誘電率部材の表面に存する第１の延在部の延出長さを磁性体の表面に存する第２の延在部の延出長さよりも長く設定すると共に、コイル導体の一方端部に接続された各外部電極における第１の延在部の先端部とコイル導体の他方端部に接続された各外部電極における第１の延在部の先端部とを近接させた構成とする。
かかる構成により、チップ本体両端部の外部電極の第２の延在部を下側にして信号線路中のランドにそれぞれ接続し、信号を流すことで、コイル部品が通常の使用状態になり、信号に対して種々の特性を示す。第２の延在部をランドに接続した状態では、第１の延在部が上側を向いており、しかも、第１の延在部同士の先端部が近接しているので、半田を用いることにより、第１の延在部同士を容易に短絡することができる。
ところで、外部電極の第１の延在部が直接磁性体に接触していると、短絡された第１の延在部全体がインダクタとして機能し、大きなインピーダンスをもってしまう。したがって、第１の延在部同士を短絡させた場合に、半田を含む第１の延在部全体が０Ω抵抗の如く機能しない。しかしながら、この発明のコイル部品では、コイル導体を内包した磁性体と外部電極の第１の延在部との間に低誘電率部材を存在させた構成としたので、低誘電率部材によって、短絡された第１の延在部全体がインダクタとして機能することが抑制される。
さらに、第１の延在部同士の非短絡状態で使用する上記通常の使用状態では、信号がコイル導体を流れ、磁束が発生する。このとき、低誘電率部材が存在しないと、磁束が長い第１の延在部と差交し、コイル部品のＱ値が低下するおそれがある。また、第１の延在部同士が近接しているため、浮遊容量が第１の延在部間に発生し、さらにＱ値を低下させるおそれがある。しかし、この発明のコイル部品は、上記の如く、低誘電率部材を磁性体と第１の延在部との間に存在させているので、第１の延在部への磁束の差交や浮遊容量の発生が抑制される。
【０００７】
請求項２の発明は、請求項１に記載のコイル部品の外部電極を、所定の信号を送る信号線路中に介設されたランドにそれぞれ固定して、コイル部品の特性を評価するコイル部品の評価方法であって、各外部電極の第２の延在部を各ランドに固定した状態で、所定の信号をコイル導体に流すことにより、コイル部品の特性を測定するオープン特性測定過程と、各外部電極の第２の延在部を各ランドに固定した状態で、外部電極における第１の延在部同士を半田で短絡させて、所定の信号を第１の延在部間に流すことにより、コイル部品の特性を測定するショート特性測定過程と、ショート特性測定過程において測定した特性値とオープン特性測定過程において測定した特性値とを比較して、コイル部品の特性に評価を下す評価過程とを具備する構成とした。
かかる構成により、オープン特性測定過程において、各外部電極の第２の延在部が各ランドに固定された状態で、所定の信号がコイル導体に流され、コイル部品の特性が測定される。そして、ショート特性測定過程において、各外部電極の第２の延在部が各ランドに固定された状態で、外部電極における第１の延在部同士が半田で短絡される。そして、所定の信号が第１の延在部間に流されて、コイル部品の特性が測定される。しかる後、評価過程において、ショート特性測定過程において測定した特性値とオープン特性測定過程において測定した特性値とが比較され、コイル部品の特性に評価が下される。
【０００８】
請求項３の発明は、請求項１に記載のコイル部品の外部電極を、所定の信号を送る信号線路中に介設された第１ないし第３のランドに載置して、コイル部品の特性を評価するコイル部品の評価方法であって、外部電極の両第２の延在部を、信号線路の両端部に形成された第１及び第２のランドにのみそれぞれ載置した状態で、所定の信号をコイル導体に流すことにより、コイル部品の特性を測定するオープン特性測定過程と、コイル部品を裏返しにして、外部電極の両第１の延在部を第１及び第２のランドにそれぞれ載置すると共に、これら両第１の延在部の双方を第１及び第２のランドの間に配設された第３のランドに載置して、両第１の延在部同士を短絡させた状態で、所定の信号を第１の延在部間に流すことにより、コイル部品の特性を測定するショート特性測定過程と、ショート特性測定過程において測定した特性値とオープン特性測定過程において測定した特性値とを比較して、コイル部品の特性に評価を下す評価過程とを具備する構成とした。
かかる構成により、オープン特性測定過程において、外部電極の両第２の延在部が信号線路の両端部に形成された第１及び第２のランドにのみそれぞれ載置された状態で、所定の信号がコイル導体に流され、コイル部品の特性が測定される。そして、ショート特性測定過程において、コイル部品が裏返され、外部電極の両第１の延在部が第１及び第２のランドにそれぞれ載置される。同時に、これら両第１の延在部の双方が第１及び第２のランドの間に配設された第３のランドに載置されて、両第１の延在部同士が短絡される。かかる状態で、所定の信号が第１の延在部間に流されて、コイル部品の特性が測定される。しかる後、評価過程において、ショート特性測定過程において測定した特性値とオープン特性測定過程において測定した特性値とが比較され、コイル部品の特性に評価が下される。
【０００９】
請求項４の発明は、請求項３に記載のコイル部品の評価方法であって、コイル部品の両端部の外部電極を、チップ本体の中心面に対して面対称に形成すると共に、対向する両第２の延在部の離間距離を第１及び第２のランドの離間距離以上に設定し、且つ、第３のランドを、これら第１のランドと第２のランドとの間隙のほぼ中央部に配設すると共に、第３のランドの長さを対向する両第１の延在部の離間距離よりも大きく設定した構成とする。
【発明の効果】
【００１０】
以上詳しく説明したように、請求項１の発明に係るコイル部品によれば、外部電極の第２の延在部をランドに接続させた状態のままで、半田付けにより、第１の延在部同士を容易に短絡することができるので、通常の使用状態にあるコイル部品即ち外部電極がオープン状態にあるコイル部品をランドから取り外すことなく、外部電極間をショート状態にすることができる。すなわち、この発明のコイル部品を用いることで、外部電極のオープン状態からショート状態への切換を迅速に行うことができ、評価試験作業の容易化と迅速化とを図ることができるという優れた効果がある。
また、低誘電率部材が外部電極の第１の延在部との間に存在して、短絡された第１の延在部全体がインダクタとして機能することを抑制するので、半田を含む第１の延在部全体をインピーダンスがほぼ０Ωの所望のショート状態にすることができるという効果もある。
さらに、低誘電率部材を磁性体と第１の延在部との間に存在させて、第１の延在部への磁束の差交や浮遊容量の発生を抑制しているので、オープン状態におけるコイル部品のＱ値の低下を防止することができる。
また、第１の延在部同士が近接しているため、短絡ミスがほとんど生じない。また、第１の延在部と第２の延在部との区別が容易であるので、実装ミスもほとんど生じない。
【００１１】
また、請求項３及び請求項４の発明に係るコイル部品の評価方法によれば、オープン特性測定過程においては、外部電極の両第２の延在部を第１及び第２のランドに載置させ、ショート特性測定過程においては、外部電極の両第１の延在部を第１及び第２のランドに載置すると共に、両第１の延在部の双方を第３のランドに載置するだけで、測定をすることができるので、各測定時に、コイル部品に対する固定作業を必要としない。このため、コイル部品の実装方向を間違った場合においても、コイル部品を単に裏返しすすれば済むので、非常に便利である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、この発明の最良の形態について図面を参照して説明する。
【実施例１】
【００１３】
図１は、この発明の第１実施例に係るコイル部品を上面側から示す斜視図であり、図２は、コイル部品を下面側から示す斜視図であり、図３は、図１の矢視Ａ−Ａ断面図である。
図１に示すように、このコイル部品１は、チップ本体２と４対の外部電極３−１〜３−８とを備えている。
【００１４】
チップ本体２は、コイル導体としての４つのコイル４−１〜４−４を内包した磁性体５の上面全面に、低誘電率部材６を設けた構造になっており、外部電極３−１〜３−８は、このチップ本体２の外側両端部に形成されている。
この実施例のコイル部品１は、２組のコモンモードチョークコイルを有した構成となっている。
【００１５】
図４は、コイル部品１を積層方向に分解して示す分解斜視図である。
図４に示すように、コイル部品１のチップ本体２は、磁性層５０〜５４とコイル４−１（４−３）及びコイル４−２（４−４）の導体パターン４１ａ（４３ａ），４１ｂ（４３ｂ），４２ｂ（４４ｂ），４２ａ（４４ａ）を交互に積層し、低誘電率部材６を最上位に配置した構造になっている。
具体的には、コイル４−１，４−３の引き出し部である導体パターン４１ａ，４３ａが最下層の磁性層５０上に形成され、この導体パターン４１ａ，４３ａの上に積層された磁性層５１上に、コイル４−１，４−３の本体をなす導体パターン４１ｂ，４３ｂが形成されている。そして、導体パターン４１ｂ，４３ｂと導体パターン４１ａ，４３ａとが、磁性層５１のビアホール５１ａ，５１ｂを通じて電気的に接続されて、コイル４−１，４−３が構成されている。また、このように形成されたコイル４−１，４−３の上に磁性層５２が積層され、コイル４−２，４−４の本体をなす導体パターン４２ｂ，４４ｂがこの磁性層５２上に形成されている。そして、この導体パターン４２ｂ，４４ｂの上に積層された磁性層５３上に、コイル４−２，４−４の引き出し部である導体パターン４２ａ，４４ａが形成されている。そして、導体パターン４２ｂ，４４ｂと導体パターン４２ａ，４４ａとが、磁性層５３のビアホール５３ａ，５３ｂを通じて電気的に接続されて、コイル４−２，４−４が構成されている。そして、最上位の磁性層５４が導体パターン４２ａ，４４ａの上に積層され、低誘電率部材６が磁性層５４の上面全面に積層されている。この低誘電率部材６としては、コーディライト，ステアタイト，高アルミナ又は低誘電率磁性体などが用いられる。
このようにして、４つのコイル４−１〜４−４が、磁性層５０〜５４で構成された磁性体５内に内包され、且つ、低誘電率部材６が磁性体５の上面に積層されて、チップ本体２が構成されている。
また、図３にも示すように、コイル４−１（４−３）の導体パターン４１ａ（４３ａ）と引き出し部４１ｃ（４３ｃ）との各先端、及びコイル４−２（４−４）の導体パターン４２ａ（４４ａ）と引き出し部４２ｃ（４４ｃ）との各先端とは、磁性体５の両側面からそれぞれ露出している。そして、外部電極３−１，３−２がコイル４−２の導体パターン４２ａ，引き出し部４２ｃの各先端に接続され、外部電極３−３，３−４がコイル４−１の導体パターン４１ａ，引き出し部４１ｃの各先端に接続され、外部電極３−５，３−６がコイル４−４の導体パターン４４ａ，引き出し部４４ｃの各先端に接続され、外部電極３−７，３−８がコイル４−３の導体パターン４３ａ，引き出し部４３ｃの各先端に接続された状態で、チップ本体２の外側に取り付けられている。
このようにして、コイル４−１，４−２とコイル４−３，４−４との２組のコモンモードチョークコイルを備えるコイル部品１が形成されている。
【００１６】
ここで、外部電極３−１〜３−８について説明する。
図３に示すように、各外部電極３−１（３−２〜３−８）は、断面略コ字状に形成されており、コイル部品１の両端部で対向する外部電極３−１，３−２（３−３，３−４〜３−７，３−８）は、チップ本体２の中心面Ｍに対して面対称になる形状に形成されている。
具体的には、各外部電極３−１（３−２〜３−８）は、低誘電率部材６の表面に延在する第１の延在部３１と磁性体５の下面に延在する第２の延在部３２とを有して、略断面コ字状をなす。
そして、第１の延在部３１の延出長さＬ１を第２の延在部３２の延出長さＬ２よりも長く設定することにより、対向する外部電極３−１，３−２（３−３，３−４〜３−７，３−８）における第１の延在部３１，３１の先端部同士を近接させ、その間隙ｄ１を第２の延在部３２同士の間隙ｄ２に比べて狭くした。
【００１７】
次に、この実施例のコイル部品１を用いた評価方法について説明する。
なお、この評価方法は、請求項２の発明に係るコイル部品の評価方法を具体的に実現するものである。
この評価方法は、オープン特性測定過程とショート特性測定過程と評価過程とよりなる。
図５は、オープン特性測定過程を説明するための斜視図であり、図６は、オープン特性測定過程を示す概略側面図である。
まず、オープン特性測定過程を実行する。
すなわち、図５に示すように、外部電極３−１〜３−８の第１の延在部３１を上側にした状態で、コイル部品１をランド２０１〜２０８上に載せて、図６に示すように、各第２の延在部３２を各ランド２０１（２０２〜２０８）に半田３００で固定する。
かかる状態で、ランド２０１，２０２（２０３，２０４〜２０７，２０８）が接続された信号線路２１２（２３４〜２７８）に、所定の信号Ｓを流すと、信号Ｓは、ランド２０１（２０３〜２０７）に接続された外部電極３−１（３−３〜３−７）からコイル４−２（４−１，４−３，４−４）内に入力し、コイル４−２（４−１，４−３，４−４）を通じてランド２０２（２０４〜２０８）に接続された外部電極３−２（３−４〜３−８）から出力される。
このとき、信号Ｓの波形品位をオシロスコープで測定すると共に、輻射ノイズをＥＭＩレシーバで測定することで、コイル部品１のオープン時における各特性値を認識することができる。
【００１８】
ところで、かかる測定時においては、信号Ｓがコイル４−１〜４−４を流れて、コイル４−１〜４−４から磁束が発生する。このとき、図３に示したように、第２の延在部３２の延出長さＬ２が短く、間隙ｄ２が広いので、発生した磁束と第２の延在部３２との差交はほとんど生じない。しかし、第１の延在部３１側においては、第１の延在部３１の延出長さＬ１が長く、間隙ｄ１が狭いので、発生した磁束が第１の延在部３１に差交して、コイル部品１のＱ値を低下させるおそれがある。また、第１の延在部３１同士の間隙ｄ１が狭いので、浮遊容量がこの間隙に発生して、Ｑ値をさらに低下させるおそれがある。しかし、この実施例のコイル部品１は、低誘電率部材６を磁性体５の上面全面に設けて、低誘電率部材６が磁性体５と第１の延在部３１との間に介在するようにしているので、コイル４−１〜４−４による磁束の第１の延在部３１への差交や第１の延在部３１間の浮遊容量の発生が、低誘電率部材６によって抑制される。この結果、オープン特性測定過程時におけるコイル部品１のＱ値の低下はほとんどなく、特性を正確に測定することができる。
【００１９】
次に、ショート特性測定過程を実行する。
図７は、ショート特性測定過程を説明するための斜視図であり、図８は、ショート特性測定過程を示す概略側面図である。
ショート特性測定過程においては、オープン特性測定過程でランド２０１〜２０８に固定したコイル部品１を取り外さないで測定する。
すなわち、図７に示すように、半田３００でランド２０１〜２０８に固定されたコイル部品１において、対向する第１の延在部３１，３１を半田３０１で短絡する。このとき、第１の延在部３１，３１同士は、上向き状態で接近しているので、半田３０１を第１の延在部３１，３１間に容易且つ正確に盛ることができる。
かかる状態で、図８に示すように、所定の信号Ｓを信号線路２１２（２３４〜２７８）に流すと、信号Ｓは、ランド２０１（２０３〜２０７）を通じて、外部電極３−１（３−３〜３−７）に入力する。すると、外部電極３−１（３−３〜３−７），３−２（３−４〜３−８）の第１の延在部３１，３１が半田３０１で短絡されているので、信号Ｓは、半田３０１を通って外部電極３−２（３−４〜３−８）から出力される。
このとき、信号Ｓの波形品位をオシロスコープで測定すると共に、輻射ノイズをＥＭＩレシーバで測定することで、コイル部品１のショート時における各特性値を認識することができる。
【００２０】
ところで、かかる測定時においては、信号Ｓが、外部電極３−１（３−３〜３−７），３−２（３−４〜３−８）の第１の延在部３１，３１及び半田３０１部分を流れるので、直列に接続された第１の延在部３１，３１及び半田３０１部分がインダクタとして機能し、大きなインピーダンスをもつおそれがある。しかし、この実施例のコイル部品１では、低誘電率部材６が磁性体５と第１の延在部３１との間に介設されているので、第１の延在部３１，３１及び半田３０１部分はインダクタとして機能せず、インピーダンスはほぼ０Ωになる。
【００２１】
最後に、評価過程を実行する。
すなわち、ショート特性測定過程において測定した特性値とオープン特性測定過程において測定した特性値とを比較して、コイル部品１の特性に評価を下す。
【００２２】
以上のように、この実施例のコイル部品１によれば、オープン特性測定過程を実行したコイル部品１をランド２０１〜２０８から取り外すことなく、外部電極３−１〜３−８間をショート状態にすることができる。したがって、オープン特性測定過程からショート特性測定過程への移行を迅速に行うことができ、評価試験作業の容易化と迅速化とを図ることができる。
また、外部電極３−１〜３−８の第１の延在部３１，３１同士が近接しているため、短絡ミスがほとんど生じない。また、第１の延在部３１と第２の延在部３２とをその外観によって容易に区別することができるので、オープン特性測定過程において、第１の延在部３１側をランド２０１〜２０８に半田付けするという実装ミスも生じない。
【実施例２】
【００２３】
次に、この発明の第２実施例について説明する。
図９は、この発明の第２実施例に係るコイル部品の評価方法を説明するための斜視図であり、図１０は、オープン特性測定過程を示す概略側面図であり、図１１は、ショート特性測定過程を示す概略側面図である。
【００２４】
この実施例のコイル部品の評価方法もオープン特性測定過程とショート特性測定過程と評価過程とを備えているが、図９に示すように、ランド構造が、第１のランドとしてのランド２０１（２０３〜２０７）と、第２のランドとしてのランド２０２（２０４〜２０８）と、ランド２０１（２０３〜２０７），２０２（２０４〜２０８）の間隙の配設された第３のランドとしてのランド２１０とを有する構造になっている。
具体的には、図１０に示すように、各ランド２１０を、ランド２０１（２０３〜２０７）とランド２０２（２０４〜２０８）との間隙の中央部に配し、その長さＤ１を、コイル部品１の第１の延在部３１，３１の間隙ｄ１よりも大きく設定する。また、ランド２０１（２０３〜２０７），２０２（２０４〜２０８）の離間距離Ｄ２は、第２の延在部３２，３２の距離ｄ２以下に設定する。
【００２５】
かかるランド構造を用いたオープン特性測定過程では、図１０に示すように、外部電極３−１（３−３〜３−７），３−２（３−４〜３−８）の両第２の延在部３２，３２を、ランド２０１（２０３〜２０７），２０２（２０４〜２０８）に載置する。このとき、ランド２０１（２０３〜２０７），２０２（２０４〜２０８）の離間距離Ｄ２が、第２の延在部３２，３２の距離ｄ２以下に設定されているので、両第２の延在部３２，３２が中間のランド２１０に接触することはない。
かかる状態で、上記第１実施例のオープン特性測定過程と同様の測定をして、コイル部品１の特性値を認識することができる。
【００２６】
次に、ショート特性測定過程を実行する。
すなわち、図１１に示すように、オープン特性測定過程を経たコイル部品１を裏返しすることで、外部電極３−１（３−３〜３−７），３−２（３−４〜３−８）の両第１の延在部３１，３１が、ランド２０１（２０３〜２０７），２０２（２０４〜２０８）にそれぞれ載った状態で、これら第１の延在部３１，３１の先端部がランド２１０に接触した状態になる。これにより、第１の延在部３１，３１が短絡した状態になるので、上記第１実施例のショート特性測定過程と同様の測定をして、コイル部品１の特性値を認識することができる。
最後に、評価過程を実行する。
すなわち、ショート特性測定過程において測定した特性値とオープン特性測定過程において測定した特性値とを比較して、コイル部品１の特性に評価を下す。
【００２７】
以上のように、この実施例によれば、オープン特性測定過程において、外部電極３−１〜３−８をランド２０１〜２０８に接触させた状態で、コイル部品１を載置し、ショート特性測定過程においては、コイル部品１を裏返すだけで、両第１の延在部３１，３１をランド２１０で短絡することができる。
したがって、各測定時に、半田３００，３０１の半田付け作業を必要としない。このため、コイル部品１の実装方向を間違った場合においても、コイル部品１を単に裏返しするだけで修正することができるので、非常に便利である。
その他の構成，作用及び効果は、上記第１実施例と同様であるので、その記載は省略する。
【００２８】
なお、この発明は、上記実施例に限定されるものではなく、発明の要旨の範囲内において種々の変形や変更が可能である。
例えば、上記実施例では、コモンモードチョークコイルであるコイル部品１について説明したが、これに限定されるものでなく、コイル部品は、複連式のアレイインダクタや複合素子体も含む概念である。
また、上記実施例では、一枚の低誘電率部材６を磁性体５の上面全面に設けたコイル部品１について説明したが、低誘電率部材６が磁性体５の上面及び下面に設けられたコイル部品をこの発明の範囲から除外する意ではない。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】この発明の第１実施例に係るコイル部品を上面側から示す斜視図である。
【図２】コイル部品を下面側から示す斜視図である。
【図３】図１の矢視Ａ−Ａ断面図である。
【図４】コイル部品を積層方向に分解して示す分解斜視図である。
【図５】オープン特性測定過程を説明するための斜視図である。
【図６】オープン特性測定過程を示す概略側面図である。
【図７】ショート特性測定過程を説明するための斜視図である。
【図８】ショート特性測定過程を示す概略側面図である。
【図９】この発明の第２実施例に係るコイル部品の評価方法を説明するための斜視図である。
【図１０】オープン特性測定過程を示す概略側面図である。
【図１１】ショート特性測定過程を示す概略側面図である。
【図１２】従来例に係るコイル部品を示す斜視図である。
【符号の説明】
【００３０】
１…コイル部品、  ２…チップ体、  ３−１〜３−８…外部電極、  ４−１〜４−４…コイル、  ５…磁性体、  ６…低誘電率部材、  ３１，３２…延在部、  ２０１〜２０８，２１０…ランド、  ３００，３０１…半田、  ｄ１，ｄ２…間隙、  Ｄ１…長さ、  Ｄ２…離間距離、  Ｌ１，Ｌ２…延出長さ、  Ｍ…中心面。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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