(57)【要約】【課題】検査後の後処理工程を煩雑化させることなく、遊技盤に打ち込まれた遊技釘の高さの適否を効率良く検査できる遊技盤における遊技釘の高さ検査装置を提供する。【解決手段】遊技盤１０の表面１０Ａに打ち込まれた遊技釘１４の高さが平板１７の上面１７ｂを含む水平平面２１よりも高い場合、即ち、遊技盤１０の表面１０Ａから遊技釘１４の頂部までの距離が長すぎる場合には、当該遊技釘１４により発光部２２から発光された光の少なくとも一部が遮光される。そのため、この場合には、受光部２３が受光する光の光量が予め設定した閾値光量よりも少なくなることから、遊技盤１０上には打ち込み不良で長すぎる遊技釘１４があるという検査結果を導くことができる。【選択図】      図７
2006020861.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の遊技釘が打ち込まれた遊技盤の表面から予め設定した閾値距離だけ離間し且つ当該遊技盤の表面に対して平行となるように設定される検査平面に沿って遊技釘の高さ検査用の光を発光する発光手段と、
前記発光手段に対応した高さ位置に配置されて当該発光手段から発光された光を受光する受光手段と、
前記受光手段が受光した光の光量が予め設定した閾値光量よりも少ない場合には、前記遊技盤上に打ち込み不良の遊技釘がある旨の検査結果が出力されるように、検査結果出力用の出力手段を制御する制御手段とを備えた遊技盤における遊技釘の高さ検査装置。
【請求項２】
前記遊技釘の高さ検査用の光が前記遊技盤の表面全域に亘って移動するように、前記発光手段及び前記受光手段のうち少なくとも何れか一方を移動させる駆動手段を更に備えた請求項１に記載の遊技盤における遊技釘の高さ検査装置。
【請求項３】
前記発光手段及び前記受光手段のうち少なくとも何れか一方が前記駆動手段により移動させられる場合に、前記検査平面と平行な移動平面上を移動するようにガイドするためのガイド手段を更に備えた請求項２に記載の遊技盤における遊技釘の高さ検査装置。
【請求項４】
前記ガイド手段は、前記発光手段及び前記受光手段のうち少なくとも何れか一方が前記駆動手段により移動させられる場合に、両手段の間隔を一定間隔に保って移動するようにガイドする間隔保持ガイド機能を有している請求項３に記載の遊技盤における遊技釘の高さ検査装置。
【請求項５】
前記発光手段から遊技釘の高さ検査用の光を発光する際に、前記遊技盤の一部に当接して当該遊技盤の表面が前記検査平面に対して当該検査平面から前記閾値距離だけ離間した位置で平行となるように保持するための当接手段を更に備えた請求項１〜請求項４のうち何れか一項に記載の遊技盤における遊技釘の高さ検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、遊技盤における遊技釘の高さ検査装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、遊技機の一種であるパチンコ遊技機（以下、「パチンコ機」と示す）には、遊技領域に２００〜３００本の遊技釘が打ち込まれた遊技盤が前記遊技領域を機表側に向けた状態で取付セットされると共に、その前面側には前記遊技盤を透視保護するためのガラス枠が開閉可能に支持されている。そのため、前記遊技釘が遊技盤に対して十分に打ち込まれておらず、当該遊技盤の表面から遊技釘の頂部までの距離（高さ）が遊技盤の表面からガラス枠の透明ガラスまでの距離（以下、「閾値距離」と示す）よりも長い場合、その遊技釘の頂部が透明ガラスに接触してしまうという不具合があった。そこで、かかる不具合の発生を回避するために、遊技盤の製造工程において、遊技盤に打ち込まれた遊技釘の高さの適否を検査する検査装置として、例えば特許文献１に記載されるような検査装置（以下、「従来検査装置」と示す）が従来から提案されている。
【０００３】
この従来検査装置は、各遊技釘が打ち込まれた遊技領域側を上方に向けた状態で遊技盤を昇降させるリフトと、当該リフトによって上昇された遊技盤の各遊技釘の頂部からの押圧力を受けて当該各遊技釘の高さに対応した圧力値を検出する圧力センサとを備えている。この圧力センサからの圧力値検出信号は前記従来検査装置が備える制御部に入力されるようになっており、当該制御部の記憶部（例えばＲＯＭ）には、適切な高さの遊技釘からの押圧力に基づく圧力値を想定した設定圧力値が予め記憶されている。そして、前記制御部において、圧力センサが検出した実際の圧力値と設定圧力値とを比較して、前記圧力値が設定圧力値よりも大きい場合、遊技盤の表面から各遊技釘の頂部までの距離（高さ）が前記閾値距離より長い（即ち、長すぎる）と判定（異常判定）するようになっている。
【特許文献１】特開２００３−１５９３９５号公報（請求項１、図１）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところが、従来検査装置では、各遊技釘の高さを検査するに当たって、圧力センサに各遊技釘の頂部が押圧されることになるため、その検査を実施したことにより、遊技盤に打ち込まれている遊技釘を曲げてしまう可能性があった。すなわち、遊技盤の表面から遊技釘の頂部までの距離（高さ）が前記閾値距離より長い遊技釘の場合は、遊技盤の表面から遊技釘の頂部までの距離（高さ）が閾値距離より短い遊技釘の場合と異なり、その頂部が圧力センサに押圧されたときに強く曲げ応力を受けてしまい、曲がってしまう可能性があった。そして、このように遊技釘が曲がってしまった場合には、検査後の後処理工程で、その遊技釘の曲がりを修正しつつ当該遊技釘の高さを正しく調節することになり、後処理作業が煩雑になるという問題があった。
【０００５】
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものである。その目的は、検査後の後処理工程を煩雑化させることなく、遊技盤に打ち込まれた遊技釘の高さの適否を効率良く検査できる遊技盤における遊技釘の高さ検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成させるために、請求項１に記載の発明は、複数の遊技釘が打ち込まれた遊技盤の表面から予め設定した閾値距離だけ離間し且つ当該遊技盤の表面に対して平行となるように設定される検査平面に沿って遊技釘の高さ検査用の光を発光する発光手段と、前記発光手段に対応した高さ位置に配置されて当該発光手段から発光された光を受光する受光手段と、前記受光手段が受光した光の光量が予め設定した閾値光量よりも少ない場合には、前記遊技盤上に打ち込み不良の遊技釘がある旨の検査結果が出力されるように、検査結果出力用の出力手段を制御する制御手段とを備えたことを要旨としている。
【０００７】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の遊技盤における遊技釘の高さ検査装置において、前記遊技釘の高さ検査用の光が前記遊技盤の表面全域に亘って移動するように、前記発光手段及び前記受光手段のうち少なくとも何れか一方を移動させる駆動手段を更に備えたことを要旨としている。
【０００８】
請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の遊技盤における遊技釘の高さ検査装置において、前記発光手段及び前記受光手段のうち少なくとも何れか一方が前記駆動手段により移動させられる場合に、前記検査平面と平行な移動平面上を移動するようにガイドするためのガイド手段を更に備えたことを要旨としている。
【０００９】
請求項４に記載の発明は、請求項３に記載の遊技盤における遊技釘の高さ検査装置において、前記ガイド手段は、前記発光手段及び前記受光手段のうち少なくとも何れか一方が前記駆動手段により移動させられる場合に、両手段の間隔を一定間隔に保って移動するようにガイドする間隔保持ガイド機能を有していることを要旨としている。
【００１０】
請求項５に記載の発明は、請求項１〜請求項４のうち何れか一項に記載の遊技盤における遊技釘の高さ検査装置において、前記発光手段から遊技釘の高さ検査用の光を発光する際に、前記遊技盤の一部に当接して当該遊技盤の表面が前記検査平面に対して当該検査平面から前記閾値距離だけ離間した位置で平行となるように保持するための当接手段を更に備えたことを要旨としている。
【発明の効果】
【００１１】
検査後の後処理工程を煩雑化させることなく、遊技盤に打ち込まれた遊技釘の高さの適否を効率良く検査できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明を遊技機（パチンコ遊技機）の遊技盤における遊技釘の高さ検査装置に具体化した一実施形態を図１〜図７に基づき説明する。
図１に示すように、本実施形態における遊技盤１０には、その表面１０Ａに略円形状をなす遊技領域１０ａが形成され、その遊技領域１０ａの略中央に可変表示器Ｈを備えた表示装置１１が配設されている。また、前記遊技盤１０の遊技領域１０ａにおいて表示装置１１の下方には、複数（本実施形態では２つ）の入賞装置１２が取り付けられると共に、複数の装飾部材１３が予め設定された所定位置に取り付けられている。また更に、前記遊技盤１０の遊技領域１０ａには、複数本（２００〜３００本）の遊技釘１４が打ち込まれている。
【００１３】
前記遊技盤１０は、遊技領域１０ａを機表側に向けた状態でパチンコ遊技機（図示略）に取付セットされるものであり、当該遊技機の前面側には、遊技盤１０の表面１０Ａ（遊技領域１０ａ）を透視保護するためのガラス枠（図示略）が開閉可能に支持されている。そのため、遊技盤１０に打ち込まれた各遊技釘１４は、遊技盤１０の表面１０Ａから当該各遊技釘１４の頂部までの距離（高さ）が所定の閾値距離よりも長すぎる場合、その頂部が前記透明ガラスに接触してしまうことがあり得る。因みに、本実施形態では、遊技盤１０をパチンコ遊技機に取付セットした際における遊技盤１０の表面１０Ａと透明ガラスとの間の距離（高さ）から所定距離のクリアランス（本実施形態では約１ｍｍ）を引いた距離を前記閾値距離としている。なお、以降の記載において、遊技盤１０の表面１０Ａから遊技釘１４の頂部までの距離（高さ）のことを「遊技釘１４の高さ距離」と示すこともある。
【００１４】
そこで次に、遊技盤１０に打ち込まれた各遊技釘１４の高さ距離が閾値距離より短いか否かを検査するための遊技盤１０における遊技釘１４の高さ検査装置（以下、「検査装置」と示す）について、図２〜図６に基づき以下説明する。なお、図２及び図４においては、説明理解の便宜上、遊技釘１４を９本のみ図示するものとする。
【００１５】
さて、本実施形態の検査装置１５は、前記遊技盤１０に対し各種の加工処理（遊技釘１４の打ち込み処理等）を実施する遊技盤製造ライン（図示略）に設けられている。この遊技盤製造ラインには、図２及び図３に示すように、前記遊技盤１０を遊技釘１４が打ち込まれた表面１０Ａを上方に向けた状態にして所定方向（図２では矢印で示す左方から右方）へ搬送するベルトコンベア（搬送ライン）１６が設けられており、当該ベルトコンベア１６の搬送方向の途中上方位置に前記検査装置１５は設けられている。
【００１６】
前記検査装置１５は、ベルトコンベア１６の上方に配置固定される平面視矩形状（本実施形態では正方形状）の平板１７を備えており、当該平板１７は、その下面１７ａ及び上面１７ｂが夫々水平になるように配置されている。また、平板１７の略中央部には、遊技盤１０の遊技領域１０ａに対応した大きさの開口部１８が形成されている。前記平板１７の下方には、図２における上下方向に移動可能なストッパ１９と当該ストッパ１９と同様に上下方向に移動可能なリフト（昇降手段）２０とが設けられている。
【００１７】
前記ストッパ１９は、その上部１９ａがベルトコンベア１６よりも上方に位置する上方位置と、図２に二点鎖線で示すように、その上部１９ａがベルトコンベア１６よりも下方に位置する下方位置との間を昇降移動するようになっている。そして、このストッパ１９は、その上部１９ａが上方位置に位置する場合に、前記ベルトコンベア１６によって搬送される途中の遊技盤１０の前方端（図２では右端）に当接して当該遊技盤１０を停止させるようになっている。なお、ベルトコンベア１６によって搬送される途中の遊技盤１０がストッパ１９により停止された場合には、当該遊技盤１０の停止に伴い、ベルトコンベア１６も駆動を停止するようになっている。
【００１８】
また、前記リフト２０は、ベルトコンベア１６によって搬送される遊技盤１０がストッパ１９によって停止されるまではベルトコンベア１６よりも下方位置で待機するようになっている（図２参照）。その一方、前記リフト２０は、ベルトコンベア１６によって搬送される途中の遊技盤１０がストッパ１９によって停止された場合には、図４に示すように、当該リフト２０の上面にて構成される戴置面２０ａ上に遊技盤１０を戴置した状態で、当該遊技盤１０を上方に向けて移動させるべく上昇するようになっている。そして、前記リフト２０は、遊技盤１０の表面１０Ａの一部（本実施形態では、遊技領域１０ａの周辺部）が前記平板１７の下面１７ａと当接した場合に、その上昇を停止するようになっている。なお、遊技盤１０がリフト２０によって上方に向けて移動した場合（すなわち、遊技盤１０がベルトコンベア１６から離間した場合）に、ベルトコンベア１６は駆動を開始するようになっている。
【００１９】
また、前記遊技盤１０の表面１０Ａと平板１７の下面１７ａとが当接した状態では、遊技盤１０の遊技領域１０ａに打ち込まれた各遊技釘１４が平板１７の開口部１８内に位置するようになっている。因みに、本実施形態における平板１７の厚み（図４における上下方向の幅）は、前記閾値距離（長さ）よりも多少短くなっている。すなわち、前記各遊技釘１４のうち高さ距離が閾値距離よりも長い遊技釘１４は、その遊技釘１４の頂部が前記平板１７の上面１７ｂよりも上方に突出するようになっている。
【００２０】
一方、その頂部が平板１７の上面１７ｂよりも下方に位置する遊技釘１４は、その高さ距離が閾値距離よりも短いことになる。従って、本実施形態では、平板１７の上面１７ｂを含む水平平面（図２に一点鎖線で図示）２１が遊技盤１０の表面１０Ａから予め設定した閾値距離だけ離間し且つ当該表面１０Ａに対して平行となるように設定される検査平面とされている。また、本実施形態では、前記平板１７により「遊技盤１０の一部と当接して当該遊技盤１０の表面１０Ａが前記水平平面（検査平面）２１に対して当該水平平面２１から閾値距離だけ離間した位置で平行となるように保持するための当接手段」が構成されている。
【００２１】
また、前記検査装置１５には、平板１７の一端側縁部（図２では左端側縁部）に前記水平平面２１に沿って光を発光する発光部（発光手段）２２が設けられている。また、検査装置１５には、平板１７の他端側縁部（図２では右端側縁部）に発光部２２の設置位置に対応した高さ位置に配置される受光部（受光手段）２３が設けられており、当該受光部２３は、前記発光部２２が前記水平平面２１に沿って発光した光を受光するようになっている。また、前記発光部２２及び受光部２３は、支持部材２４によって互いに支持されており、当該支持部材２４は、駆動手段としての駆動部（例えば油圧シリンダ）２５が駆動することにより、図３に示すスタート位置からエンド位置（二点鎖線で図示）まで移動するようになっている。なお、本実施形態の発光部２２は、常に一定光量の光を発光するようになっている。
【００２２】
次に、本実施形態の検査装置１５における制御構成について、図５及び図６に基づき以下説明する。
図５に示すように、本実施形態の検査装置１５には前記駆動部２５の駆動状態等を制御するための制御部２６が設けられている。この制御部２６は、ＣＰＵ（制御手段）２６ａを備えており、当該ＣＰＵ２６ａにはＲＯＭ２６ｂ及びＲＡＭ２６ｃが接続されている。ＲＯＭ２６ｂには、発光部２２や駆動部２５を制御するための制御プログラムや、発光部２２と受光部２３との間に障害物（例えば平板１７の上面１７ｂよりも上方に頂部が突出した遊技釘１４）が存在しない場合に受光部２３が受光するであろう光量（以下、「閾値光量」と示す）等が記憶管理されている。また、ＲＡＭ２６ｃには、検査装置１５の動作中に適宜書き換えられる各種情報（受光部２３が受光した光の光量等）が記憶されるようになっている。そして、ＣＰＵ２６ａは、前記制御プログラムに基づき発光部２２の発光制御及び駆動部２５の駆動制御等を実行するようになっている。また、制御部２６には、ブザー（出力手段）２７が設けられており、ＣＰＵ２６ａの制御に基づき検査装置１５による検査結果を報知（出力）可能とされている。
【００２３】
前記ＣＰＵ２６ａは、前記遊技盤１０が当該遊技盤１０の表面１０Ａと平板１７の下面１７ａとが当接した状態になった場合に、駆動部２５を駆動させることにより、前記支持部材２４をスタート位置からエンド位置に向けて移動させる（図３参照）。この際に、前記支持部材２４は、平板１７の上面１７ｂにおける直線状をなす一端側縁部に沿ってベルトコンベア１６の搬送方向と直交する水平方向へ移動する。そのため、この支持部材２４の水平方向への移動に連れて、当該支持部材２４の両端部に支持された発光部２２と受光部２３も、ベルトコンベア１６の搬送方向と直交する水平方向へ移動することになる。
【００２４】
そして、前記発光部２２と受光部２３は、支持部材２４と共に水平方向へ移動する際において、発光部２２と受光部２３との間の距離が常に一定間隔に保たれると共に、発光部２２が発光する光は、常に水平方向に進むことになる。従って、本実施形態においては、平板１７が、発光部（発光手段）２２及び受光部（受光手段）２３が駆動部（駆動手段）２５により移動させられる場合に、前記水平平面（検査平面）２１と平行な移動平面上を移動するようにガイドするためのガイド手段として機能することになる。また、このガイド手段として機能する平板１７には、そのガイド機能を発揮する際に、発光部（発光手段）２２及び受光部（受光手段）２３を、両者の間隔を一定間隔に保って移動するようにガイドする間隔保持ガイド機能も発揮することになる。
【００２５】
上記で述べたように、本実施形態の検査装置１５では、発光部２２が発光する光量は常に一定であると共に、発光部２２と受光部２３との間隔は、検査中（すなわち、スタート位置からエンド位置まで移動する間）において常に一定間隔とされる。そのため、検査対象となる遊技盤１０に閾値距離より長い高さ距離を有する遊技釘（打ち込み不良の遊技釘）１４があり、当該遊技釘１４が打ち込まれている位置を検査した場合（すなわち、発光部２２から受光部２３に向けて発光された光が通過した場合）、受光部２３が受光する光の光量が閾値光量よりも低くなる。一方、検査対象となる遊技盤１０に閾値距離より長い高さ距離を有する遊技釘１４が一本も存在しない場合、受光部２３が受光する光の光量が閾値光量よりも低くなることはない。
【００２６】
従って、前記ＣＰＵ２６ａは、遊技釘１４の高さ距離を検査するために発光部２２及び受光部２３を支持部材２４と共に移動させた際に、受光部２３が受光する光の光量が閾値光量よりも低い場合、遊技盤１０上に打ち込み不良の遊技釘１４がある旨の検査結果をブザー２７で報知（出力）させるようになっている。一方、発光部２２及び受光部２３がスタート位置からエンド位置まで移動した際に、受光部２３が受光する光の光量が閾値光量より低い箇所（位置）がなかった場合、ＣＰＵ２６ａは、遊技盤１０上に打ち込み不良の遊技釘１４がないと判断するようになっている。
【００２７】
次に、ＣＰＵ２６ａが実行する遊技釘高さ検査処理ルーチンについて図６に基づき以下説明する。
さて、遊技釘高さ検査処理ルーチンにおいて、ＣＰＵ２６ａは、まず発光部２２及び受光部２３がエンド位置まで達していないか否かを判定する（ステップＳ１０）。この判定結果が否定判定である場合（すなわち、発光部２２及び受光部２３がエンド位置に達した場合）、ＣＰＵ２６ａは、遊技釘高さ検査処理ルーチンを終了する。一方、ステップＳ１０の判定結果が肯定判定である場合（すなわち、発光部２２及び受光部２３がエンド位置まで達していない場合）、ＣＰＵ２６ａは、受光部２３が受光した光の光量Ｂが閾値光量ＳＢ未満であるか否かを判定する（ステップＳ１１）。
【００２８】
そして、ステップＳ１１の判定結果が否定判定である場合（すなわち、光量Ｂ＝閾値光量ＳＢである場合）、ＣＰＵ２６ａは、その処理を前記ステップＳ１０に移行して、ステップＳ１０の判定結果が否定判定となるか、又はステップＳ１１の判定結果が肯定判定となるまで、ステップＳ１０，Ｓ１１の処理を繰り返し実行する。一方、ステップＳ１１の判定結果が肯定判定である場合（すなわち、光量Ｂ＜閾値光量ＳＢである場合）、ＣＰＵ２６ａは、遊技盤１０上に打ち込み不良の遊技釘１４がある旨をブザー２７により報知させ（ステップＳ１２）、その後、遊技釘高さ検査装置処理ルーチンを終了する。
【００２９】
そこで次に、本実施形態の検査装置１５の作用について図７（ａ）（ｂ）に基づき以下説明する。なお、図７（ａ）においては、説明理解の便宜上、遊技釘１４を９本のみ図示すると共に、打ち込み不良の遊技釘１４の高さ距離（長さ）を誇張して示すものとする。
【００３０】
さて、表面１０Ａに各遊技釘１４が打ち込まれた状態で遊技盤１０がベルトコンベア１６によって搬送される途中に、当該遊技盤１０がストッパ１９によって停止させられると、リフト２０が戴置面２０ａ上に遊技盤１０を戴置した状態で上方に向けて移動する（図２及び図４参照）。そして、遊技盤１０における表面１０Ａの一部（遊技領域１０ａの周辺部）が平板１７の下面１７ａに当接すると、リフト２０の移動が停止する。この際に、遊技盤１０の遊技領域１０ａに打ち込まれた各遊技釘１４は、平板１７に形成された開口部１８内に位置する。
【００３１】
そして次に、駆動部２５の駆動に基づき、発光部２２及び受光部２３が支持部材２４と共にスタート位置からエンド位置に向けて夫々移動を開始する（図３参照）。移動を開始した直後において、発光部２２が発光した光の軌跡は、前記開口部１８と交差しないため、受光部２３は、閾値光量ＳＢと同量の光量Ｂの光を受光することになる。そして、前記光の軌跡が開口部１８と交差するようになると、閾値高さよりも長い遊技釘１４が存在しない位置を検査している場合、受光部２３が受光する光の光量Ｂは、閾値光量ＳＢと引き続き等しいことになる。
【００３２】
さらにエンド位置に向けて発光部２２と受光部２３とが移動した際に、図７（ａ）に示すように、高さ距離が閾値距離よりも長い遊技釘１４が存在し、当該遊技釘１４が打ち込まれた位置を検査した場合には、受光部２３が受光する光量Ｂが閾値光量ＳＢよりも低くなる。すなわち、図７（ｂ）に示すように、発光部２２が発光した光は、受光部２３に向けて進むと、前記閾値距離よりも長い遊技釘１４に当たってしまい、その一部が遮光（及び分散）される。そのため、受光部２３は、発光部２２が発光した光の一部（遮光等されなかった光）のみを受光することになり、光量Ｂ＜閾値光量ＳＢの関係が成立してしまう。従って、検査対象となる遊技盤１０には、打ち込み不良の遊技釘１４があると判断され、その旨がブザー２７により報知される。その結果、このブザー２７による報知を確認した作業者により、遊技盤製造ラインが稼働停止され、検査されていた遊技盤１０を製造ラインから外して、前記打ち込み不良の遊技釘１４の高さ距離を調整する作業（後処理工程の作業）が行われることになる。
【００３３】
一方、遊技盤１０に打ち込み不良の遊技釘１４がなかった場合、発光部２２及び受光部２３がスタート位置からエンド位置まで移動しても、ブザー２７による報知はなされない。そして、検査装置１５によって検査された遊技盤１０は、検査工程を終了して、リフト２０が下方に移動すると、このリフト２０の下方移動に伴って一旦停止したベルトコンベア１６上に再び戴置される。すると、前記ストッパ１９が下方位置に移動した後、遊技盤１０は、ベルトコンベア１６によって所定方向に向けて搬送され、当該遊技盤１０に対して次の工程（例えば、表示装置１１を取り付ける工程等）が実行されることになる。なお、遊技盤１０がストッパ１９を通過して次の工程が実行される位置に向けて搬送されると、当該ストッパ１９は、上方位置に移動する。
【００３４】
従って、本実施形態では、以下に示す効果を得ることができる。
（１）遊技盤１０の表面１０Ａに打ち込まれた遊技釘１４の高さが平板１７の上面１７ｂを含む水平平面（検査平面）２１よりも高い場合、即ち、遊技盤１０の表面１０Ａから遊技釘１４の頂部までの距離が長すぎる場合には、当該遊技釘１４により発光部（発光手段）２２から発光された光の少なくとも一部が遮光される。そのため、この場合には、受光部（受光手段）２３が受光する光の光量Ｂが予め設定した閾値光量ＳＢよりも少なくなることから、遊技盤１０上には打ち込み不良で長すぎる遊技釘１４があるという検査結果を導くことができる。従って、遊技盤１０に打ち込まれた各遊技釘１４に接触することなく、当該遊技盤１０の表面１０Ａに打ち込まれた遊技釘１４の高さを検査できるので、検査後の後処理工程を煩雑化させることなく、遊技盤１０に打ち込まれた遊技釘１４の高さの適否を効率良く検査できる。
【００３５】
（２）駆動部（駆動手段）２５が、発光部（発光手段）２２及び受光部（受光手段）２３を同時に移動させると、遊技釘１４の高さ検査用の光が遊技盤１０の表面１０Ａ全域に亘って移動することにより、一組の発光部２２及び受光部２３で遊技盤１０の表面１０Ａに打ち込まれている全ての遊技釘１４の高さを確実に検査できる。従って、複数組の発光部２２及び受光部２３を対向配置する場合には、発光部２２等の増加に伴うコスト増の他に、各遊技釘１４の打ち込み位置との関係で発光部２２及び受光部２３に関する煩雑な位置合せが必要となるが、上記実施形態によれば、そのようなコスト増及び煩雑な位置合せ作業を回避できる。
【００３６】
（３）一組の発光部（発光手段）２２と受光部（受光手段）２３により遊技領１０ａ域に打ち込まれた全ての遊技釘１４の高さを検査するべく、発光部２２及び受光部２３が移動する際には、平板（ガイド手段）１７により、平板１７の上面１７ｂを含む水平平面（検査平面）２１と平行な移動平面上を移動するようにガイドされる。そのため、発光部２２から発光された光は、前記水平平面２１上から外れることがなく、確実に受光部２３により受光される。従って、遊技盤１０の表面１０Ａから遊技釘１４の頂部までの距離が閾値距離よりも長い（即ち、打ち込み不良で長すぎる）遊技釘１４があるか否かを正確に検査できる。
【００３７】
（４）発光部（発光手段）２２と受光部（受光手段）２３との間隔が常に一定に保たれるため、打ち込み不良の長すぎる遊技釘１４がない場合に、受光部２３が受光する光の光量Ｂは、ほぼ一定に保たれる。すなわち、発光部２２から受光部２３までの距離の変化に応じて複数の閾値光量ＳＢを予め設定する必要がない。従って、前記距離の変化に応じて閾値光量ＳＢを変更することによる制御の複雑化を回避しつつ、精度の高い検査を実施できる。
【００３８】
（５）遊技盤１０に打ち込まれた遊技釘１４の高さを検査する際には、平板（当接手段）１７が遊技盤１０の一部に当接することにより、当該遊技盤１０を安定保持できるため、検査の精度向上を図ることができる。
【００３９】
（６）矩形状の平板１７が、検査時に遊技盤１０を正確に位置決めする当接手段、及び発光部２２と受光部２３を良好に移動案内するガイド手段として機能するため、検査精度を高度に維持するために必要となる部品点数の増加を回避できる。
【００４０】
（７）ベルトコンベア（搬送ライン）１６によって搬送されている途中の遊技盤１０に対して遊技釘１４の高さ検査を実施できるようになっている。そのため、前記遊技盤１０に打ち込まれた遊技釘１４の高さを検査するために当該遊技盤１０をベルトコンベア１６から取り出して検査専用の位置までわざわざ移動させる必要がない。従って、余分な作業工程の増加を抑制できると共に、検査の効率も向上できる。
【００４１】
（８）検査対象となる遊技盤１０をリフト（昇降手段）２０により平板１７の上面１７ｂを含む水平平面（検査平面）２１から閾値距離だけ下方となる位置までベルトコンベア（搬送ライン）１６上から浮き上がるように上昇させて検査を行うようにした。従って、遊技盤１０における遊技釘１４の高さを検査する際にはベルトコンベア１６を停止させる必要がないため、ベルトコンベア１６上で行われている他の工程が遊技釘１４の高さ検査のために停止されることを抑制できる。
【００４２】
なお、本実施形態は以下のような別の実施形態（別例）に変更してもよい。
・前記実施形態において、遊技盤１０を上方に移動させるためのリフト２０を設けずに、平板１７、発光部２２及び受光部２３を当該平板１７の下面１７ａと遊技盤１０の表面１０Ａの一部とが当接する位置まで下方に移動させて、検査を行うようにしてもよい。ただし、この場合には、検査の実施に際してベルトコンベア１６を停止させることが望ましい。
【００４３】
また、発光部２２が発光する光の軌跡がベルトコンベア１６による遊技盤１０の搬送方向に対して直交し、且つベルトコンベア１６による搬送途中の遊技盤１０の検査平面を通過するように発光部２２と受光部２３とを夫々配置して、当該搬送途中の遊技盤１０に対して検査を行うようにしてもよい。ただし、この場合、ベルトコンベア１６は、搬送する遊技盤１０の検査平面が水平になるように遊技盤１０を搬送することが望ましい。
【００４４】
・前記実施形態において、検査専用の作業位置を別途設けてベルトコンベア１６から当該検査専用の作業位置に遊技盤１０を移動させた後に、検査装置１５による遊技釘１４の高さ検査するようにしてもよい。この場合、検査装置１５による検査が実行されて、打ち込み不良の遊技釘１４がないと判断された遊技盤１０は、次工程（表示装置１１の取付工程等）が実行される位置に移動させられることになる。
【００４５】
・前記実施形態において、当接手段及びガイド手段としての機能を併有する平板１７を設けずに、当接手段及びガイド手段を別途設けた構成にしてもよい。すなわち、図８に示すように、当接手段として一対の当接ブロック３０を遊技盤１０が上方へ移動する途中において当該遊技盤１０の表面１０Ａの一部（二箇所）と当接する箇所に設け、ガイド手段として一対のガイドバー３１を前記ベルトコンベア１６の搬送方向と直交する水平方向へ平行に設けてもよい。なお、図８においては、説明理解の便宜上、遊技釘１４は２４本のみ図示すると共に、表示装置１１等を取り付けるための開口部や取付穴等を省略している。
【００４６】
・前記実施形態において、発光部２２の発光した光が遊技盤１０の検査平面に沿うように発光部２２及び受光部２３が移動するような構成であれば、平板１７は当接手段としての機能を有していなくてもよい。
【００４７】
・前記実施形態において、発光部２２及び受光部２３の間隔が一定間隔を保って移動する構成であれば、例えば、図９に示すように、発光部２２が略９０度回転（自転）する一方、受光部２３が当該発光部２２の回転に対応して四半円状に移動（公転）する構成であってもよい。また、図１０に示すように、発光部２２が略１８０度回転（自転）する一方、受光部２３が当該発光部２２の回転に対応して半円状に移動（公転）する構成であってもよい。なお、図９及び図１０においては、説明理解の便宜上、遊技釘１４は２４本のみ図示すると共に、表示装置１１等を取り付けるための開口部や取付穴等を省略している。
【００４８】
また、図９において発光部２２と受光部２３とを逆に配置して、受光部２３が略９０度回転（自転）する一方、発光部２２が当該受光部２３の回転に対応して移動（公転）する構成であってもよい。同様に、図１０において発光部２２と受光部２３とを逆に配置して、受光部２３が略１８０度回転（自転）する一方、発光部２２が当該受光部２３の回転に対応して移動（公転）する構成であってもよい。
【００４９】
・前記実施形態において、発光部２２及び受光部２３は、図１１に示すように、当該発光部２２及び受光部２３の間隔が変化しながら移動する構成であってもよい。ただし、この場合、ＲＯＭ２６ｂには、発光部２２及び受光部２３の間隔に対応する複数の閾値光量を記憶管理させることが望ましい。なお、図１１においては、説明理解の便宜上、遊技釘１４は２４本のみ図示すると共に、表示装置１１等を取り付けるための開口部や取付穴等を省略している。
【００５０】
・前記実施形態において、平板１７は、ガイド手段としての機能を備えていない構成であってもよい。この場合、支持部材２４が発光部２２の発光した光を遊技盤１０の検査平面と平行にするように発光部２２及び受光部２３を支持することが望ましい。
【００５１】
・前記実施形態において、駆動部２５が受光部２３のみを移動させるものとし、複数の発光部２２が平板１７の一端側縁部に沿って並設された構成であってもよい。逆に、駆動部２５が発光部２２のみを移動させるものとし、複数の受光部２３が平板１７の他端側縁部に並設された構成であってもよい。
【００５２】
また、複数の発光部２２を平板１７の一端側縁部に沿って並設すると共に、当該各発光部２２と対向するように複数の受光部２３を平板１７の他端側縁部に沿って並設した構成であってもよい。この場合、遊技釘１４の高さ検査をする際に、発光部２２及び受光部２３を駆動させなくてもよいため、故障しにくい構成となると共に、各受光部２３による受光精度が向上する。
【００５３】
・前記実施形態において、出力手段による出力は、ブザー２７によるブザー音の報知に限定されるものではなく、モニタ画面による表示やプリンタによるプリント出力等の任意の出力手段による出力態様であってもよい。また、ブザー２７によるブザー音の報知を行った際に、発光部２２及び受光部２３の移動を停止させるようにしてもよい。このように構成した場合、発光部２２及び受光部２３が移動を停止したことにより、打ち込み不良の遊技釘１４が打ち込まれている位置を容易に特定できる。
【００５４】
次に、上記実施形態及び別例から把握できる技術的思想について以下に追記する。
（イ）前記当接手段は、略中央部に遊技盤の遊技領域に対応した大きさの開口部を有する矩形状の平板であり、前記ガイド手段は前記平板の対向する両辺により構成されている請求項３〜請求項５のうち何れか一項に記載の遊技盤における遊技釘の高さ検査装置。
【００５５】
（ロ）前記発光手段及び受光手段は、遊技盤に各種の加工処理を施すために当該遊技盤を所定方向へ搬送する搬送ラインの途中に設けられている請求項１〜請求項５及び前記技術的思想（イ）のうち何れか一項に記載の遊技盤における遊技釘の高さ検査装置。
【００５６】
（ハ）前記搬送ラインの途中には、前記発光手段及び受光手段が設けられた位置よりも下方において、遊技盤の表面が上方に向いた水平状態で当該遊技盤を昇降させるための昇降手段が設けられており、当該昇降手段は、前記遊技盤の表面が前記検査平面から前記閾値距離だけ下方となる位置まで前記遊技盤を搬送ライン上から浮き上がるように上昇させる前記技術的思想（ロ）に記載の遊技盤における遊技釘の高さ検査装置。
【図面の簡単な説明】
【００５７】
【図１】本実施形態の遊技盤を示す正面図。
【図２】本実施形態の遊技盤における遊技釘の高さ検査装置の概略側面図。
【図３】本実施形態の遊技盤における遊技釘の高さ検査装置の概略平面図。
【図４】遊技釘の高さ検査を実施している状態を示す概略断面図。
【図５】本実施形態の制御構成を示すブロック図。
【図６】遊技釘高さ検査処理ルーチンを示すフローチャート。
【図７】（ａ）は打ち込み不良の遊技釘がある位置を検査している状態を示す概略断面図、（ｂ）は打ち込み不良の遊技釘によって光が遮光（分散）される様子を示す作用図。
【図８】別例の遊技盤における遊技釘高さ検査装置を示す概略平面図。
【図９】他の別例の遊技盤における遊技釘高さ検査装置を示す概略平面図。
【図１０】更なる別例の遊技盤における遊技釘高さ検査装置を示す概略平面図。
【図１１】更なる別例の遊技盤における遊技釘高さ検査装置を示す概略平面図。
【符号の説明】
【００５８】
１０…遊技盤、１０Ａ…遊技盤の表面、１０ａ…遊技領域、１４…遊技釘、１５…検査装置、１６…ベルトコンベア（搬送ライン）、１７…平板（ガイド手段、当接手段）、１８…開口部、２０…リフト（昇降手段）、２１…水平平面（検査平面）、２２…発光部（発光手段）、２３…受光部（受光手段）、２５…駆動部（駆動手段）、２６ａ…ＣＰＵ（制御手段）、２７…ブザー（出力手段）、３０…当接ブロック（当接手段）、３１…ガイドバー（ガイド手段）Ｂ…受光部が受光した光量、ＳＢ…閾値光量。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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