(57)【要約】【課題】多数の光ファイバケーブルのコネクタを効率よく、且つ安全に接続することができる試験装置を提供する。【解決手段】電子デバイスに試験パターンを印加するテストヘッドと、複数のフレーム側コネクタが設けられ、フレーム側コネクタを介して制御信号をテストヘッドに供給するメインフレームと、フレーム側コネクタとテストヘッドとを光接続し、制御信号をテストヘッドに伝送するケーブルユニットとを備え、ケーブルユニットは、制御信号を伝送する複数の光ファイバケーブルと、光ファイバケーブルの端部に設けられ、複数のフレーム側コネクタに対応して設けられた複数のユニット側コネクタと、メインフレームに対してケーブルユニットを固定するユニット固定部と、それぞれのユニット側コネクタを、対応するフレーム側コネクタに対してそれぞれ独立して挿抜可能に保持するコネクタ保持部とを有する試験装置を提供する。【選択図】図３
2006153779.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子デバイスを試験する試験装置であって、
前記電子デバイスに試験パターンを印加するテストヘッドと、
複数のフレーム側コネクタが設けられ、前記フレーム側コネクタを介して制御信号を前記テストヘッドに供給するメインフレームと、
前記フレーム側コネクタと前記テストヘッドとを光接続し、前記制御信号を前記テストヘッドに伝送するケーブルユニットと
を備え、
前記ケーブルユニットは、
前記制御信号を伝送する複数の光ファイバケーブルと、
前記光ファイバケーブルの端部に設けられ、前記複数のフレーム側コネクタに対応して設けられた複数のユニット側コネクタと、
前記メインフレームに対して前記ケーブルユニットを固定するユニット固定部と、
それぞれの前記ユニット側コネクタを、対応する前記フレーム側コネクタに対してそれぞれ独立して挿抜可能に保持するコネクタ保持部と
を有する試験装置。
【請求項２】
前記コネクタ保持部は、それぞれの前記ユニット側コネクタを、前記フレーム側コネクタとの接続方向に対してそれぞれ独立して移動可能に保持する
請求項１に記載の試験装置。
【請求項３】
前記コネクタ保持部は、それぞれの前記ユニット側コネクタを、前記フレーム側コネクタと接続しない状態で係止可能な係止部を有する
請求項１に記載の試験装置。
【請求項４】
前記複数のフレーム側コネクタは、前記メインフレームに挿入されたテストボードに設けられ、
前記係止部は、前記ユニット固定部が前記ケーブルユニットを固定した状態において、前記テストボードに接触しない位置に前記複数のユニット側コネクタを係止する
請求項３に記載の試験装置。
【請求項５】
前記複数のユニット側コネクタは、前記ケーブルユニットの面内において、前記フレーム側コネクタとの接続方向と略垂直なコネクタ配設方向に並列に配設され、
それぞれの前記ユニット側コネクタは、前記接続方向及び前記コネクタ配設方向の双方と略垂直なユニット配設方向に突起した係止爪を有し、
前記コネクタ保持部は、
対応する前記ユニット側コネクタの前記係止爪が挿通され、前記係止爪が挿通された状態において前記係止爪を前記接続方向に対して移動可能とすることにより、当該ユニット側コネクタを前記接続方向に対して移動可能に保持する貫通溝が設けられた保持基板を更に有する
請求項３に記載の試験装置。
【請求項６】
前記複数の貫通溝が設けられるピッチは、前記ユニット側コネクタの前記コネクタ配設方向における幅と略同一である
請求項５に記載の試験装置。
【請求項７】
前記係止爪は、後側爪と、前記後側爪より前記テストボード側に設けられた前側爪とを有し、
前記係止部は、
前記保持基板と着脱可能に設けられ、前記複数のユニット側コネクタの前記前側爪と嵌合する係止板を有し、
それぞれの前記ユニット側コネクタの前記後側爪が前記貫通溝の後端部に嵌合し、且つそれぞれの前記ユニット側コネクタの前記前側爪が前記係止板に嵌合することにより、前記複数のユニット側コネクタを、前記テストヘッドに接触しない位置に係止する
請求項５に記載の試験装置。
【請求項８】
前記係止部は、それぞれの前記ユニット側コネクタの前記後側爪を前記貫通溝の前記後端部に嵌合させた場合に、それぞれの前記ユニット側コネクタの前記前側爪と嵌合する位置に前記係止板を着脱可能に固定する手段を有する
請求項７に記載の試験装置。
【請求項９】
前記係止部は、それぞれの前記ユニット側コネクタの前記前側爪を前記貫通溝の前端部に嵌合させた場合に、それぞれの前記ユニット側コネクタの前記後側爪と嵌合する位置に前記係止板を着脱可能に固定する手段を更に有する
請求項８に記載の試験装置。
【請求項１０】
前記係止部は、前記ユニット側コネクタを前記フレーム側コネクタに挿入する場合に、前記複数の貫通溝が設けられた領域とは異なる領域に、前記前側爪及び前記後側爪のいずれにも接触しないように、前記係止板を着脱可能に固定する手段を更に有する
請求項９に記載の試験装置。
【請求項１１】
それぞれの前記ユニット側コネクタは、前記後側爪が前記貫通溝の前記後端部に嵌合した場合に当該貫通溝の前端部と接触する位置に設けられた、前記ユニット配設方向に突起した弾性を有する戻り防止突起部を更に有する
請求項７に記載の試験装置。
【請求項１２】
それぞれの前記ユニット側コネクタは、前記後側爪が前記貫通溝の前記後端部に嵌合した場合に前記保持基板の外部に表出する領域に、前記ユニット配設方向に突起した取手部を更に有する
請求項７に記載の試験装置。
【請求項１３】
前記ケーブルユニットは、それぞれ複数の前記ユニット側コネクタを有する複数のコネクタブロックを有し、
前記係止部は、前記コネクタブロック毎に、前記係止板及び当該係止板を着脱可能に固定する手段を有する
請求項７に記載の試験装置。
【請求項１４】
前記保持基板は、隣接する前記コネクタブロックの間に設けられ、前記テストボードと対向する面において開口を有し、
前記テストボードは、前記開口と対応する位置に、前記接続方向に延伸する延伸部を有し、
前記ユニット固定部は、前記開口に前記延伸部が挿入された状態で、前記保持基板と前記延伸部とを固定する
請求項１３に記載の試験装置。
【請求項１５】
前記保持基板は、
前記ユニット配設方向を法線とする表面を有し、当該表面に前記貫通溝が設けられた上側基板と、
前記ユニット配設方向を法線とする表面を有し、前記上側基板に対して、前記ユニット配設方向において所定の間隔を有して設けられる下側基板と
を有し、
前記複数のユニット側コネクタは、前記上側基板と前記下側基板との間に挿入される
請求項５に記載の試験装置。
【請求項１６】
前記下側基板は、
それぞれの前記光ファイバケーブルが通過するケーブル通過部と、
前記ケーブル通過部の端部に設けられ、それぞれの前記光ファイバケーブルを挿通して前記コネクタ保持部の外部に送出する開口が設けられたケーブル送出部と
を有し、
前記上側基板の前記貫通溝が設けられた表面の、前記ケーブル通過部に対向する領域には、複数の貫通孔が設けられる
請求項１５に記載の試験装置。
【請求項１７】
前記ケーブルユニットは、それぞれ複数の前記ユニット側コネクタを有する複数のコネクタブロックを有し、
前記ケーブル送出部に最も近い前記コネクタブロックに接続された前記光ファイバケーブルが通過する前記ケーブル通過部の領域に対向する前記上側基板の表面が切り欠かれている
請求項１６に記載の試験装置。
【請求項１８】
前記ケーブル通過部に対応する領域における前記上側基板と前記下側基板との間隔は、前記貫通溝に対応する領域における前記上側基板と前記下側基板との間隔より大きい
請求項１６に記載の試験装置。
【請求項１９】
前記ケーブル通過部は、前記下側基板の前記ユニット配設方向を法線とする表面から、前記上側基板の方向に延伸する側面を有し、
前記係止部は、前記係止板を前記側面に着脱可能に固定する手段を有する
請求項１６に記載の試験装置。
【請求項２０】
前記上側基板は、
前記複数の貫通溝が設けられた上側主基板と、
前記複数の貫通孔が設けられ、前記ケーブル通過部に対向する領域に前記上側主基板と着脱可能に固定される上側従基板と
を有する請求項１６に記載の試験装置。
【請求項２１】
電子デバイスを試験する試験装置であって、
それぞれ前記電子デバイスに試験パターンを印加する第１テストヘッド及び第２テストヘッドと、
表面及び裏面のそれぞれに複数のフレーム側コネクタが設けられたテストボードを有し、前記表面に設けられた前記フレーム側コネクタを介して制御信号を前記第１テストヘッドに供給し、前記裏面に設けられた前記フレーム側コネクタを介して制御信号を前記第２テストヘッドに供給するメインフレームと、
前記テストボードの前記表面に設けられた前記フレーム側コネクタと前記第１テストヘッドとを光接続し、前記制御信号を前記第１テストヘッドに伝送する第１ケーブルユニットと、
前記テストボードの前記裏面に設けられた前記フレーム側コネクタと前記第２テストヘッドとを光接続し、前記制御信号を前記第２テストヘッドに伝送する第２ケーブルユニットと
を備え、
前記第１ケーブルユニット及び前記第２ケーブルユニットのそれぞれは、
前記制御信号を伝送する複数の光ファイバケーブルと、
前記光ファイバケーブルの端部に設けられ、前記複数のフレーム側コネクタに対応して設けられた複数のユニット側コネクタと、
それぞれの前記ユニット側コネクタを、対応する前記フレーム側コネクタに対してそれぞれ独立して挿抜可能に保持するコネクタ保持部と
を有し、
前記第１ケーブルユニットは、前記テストボードに対して前記ケーブルユニットを固定する第１ユニット固定部を更に有し、
前記第２ケーブルユニットは、前記第１ケーブルユニットに対して前記第２ケーブルユニットを固定する第２ユニット固定部を更に有する試験装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子デバイスを試験する試験装置に関する。特に、光ファイバケーブルを用いて信号を伝送する試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年の電子デバイスの高速化に伴い、電子デバイスを試験する試験装置においても、動作の高速化が望まれている。高速動作を行う試験装置として、メインフレームとテストヘッドとを光ファイバケーブルを用いて接続する装置が考えられる。この場合、メインフレームとテストヘッドとは、非常に多数の光ファイバケーブルを用いて接続する必要がある。
【０００３】
また、光ファイバケーブルを用いる場合、それぞれの光ファイバケーブルの端部にコネクタを設け、当該コネクタとメインフレームのコネクタとを接続することにより、メインフレームとテストヘッドとを接続する必要がある。例えば、メインフレームは、多数のテストボードを有しており、それぞれのテストボードには複数のコネクタを設ける必要がある。
【０００４】
関連する特許文献等は、現在認識していないため、その記載を省略する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
このような多数のコネクタを接続するために、テストボード毎に、接続するべき複数の光ファイバケーブルのコネクタを同時に接続するケーブルユニットが知られている。しかし、光ファイバケーブルを接続するためのコネクタの光射出面は、接触等により破損する可能性が高く、テストボード毎に複数のコネクタを同時に接続しようとすると、一部のコネクタの光射出面がテストボード等に接触して破損してしまう場合がある。このように、光ファイバケーブルを用いてメインフレームとテストヘッドとを接続しようとした場合、これまで知られている接続方法では、多数の光ファイバケーブルのコネクタを効率よく、且つ安全に接続することが困難であった。
【０００６】
このため本発明は、上述した課題を解決することのできる試験装置を提供することを目的とする。この目的は、請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明の第１の形態においては、電子デバイスを試験する試験装置であって、電子デバイスに試験パターンを印加するテストヘッドと、複数のフレーム側コネクタが設けられ、フレーム側コネクタを介して制御信号をテストヘッドに供給するメインフレームと、フレーム側コネクタとテストヘッドとを光接続し、制御信号をテストヘッドに伝送するケーブルユニットとを備え、ケーブルユニットは、制御信号を伝送する複数の光ファイバケーブルと、光ファイバケーブルの端部に設けられ、複数のフレーム側コネクタに対応して設けられた複数のユニット側コネクタと、メインフレームに対してケーブルユニットを固定するユニット固定部と、それぞれのユニット側コネクタを、対応するフレーム側コネクタに対してそれぞれ独立して挿抜可能に保持するコネクタ保持部とを有する試験装置を提供する。
【０００８】
コネクタ保持部は、それぞれのユニット側コネクタを、フレーム側コネクタとの接続方向に対してそれぞれ独立して移動可能に保持してよい。コネクタ保持部は、それぞれのユニット側コネクタを、フレーム側コネクタと接続しない状態で係止可能な係止部を有してよい。
【０００９】
複数のフレーム側コネクタは、メインフレームに挿入されたテストボードに設けられ、係止部は、ユニット固定部がケーブルユニットを固定した状態において、テストボードに接触しない位置に複数のユニット側コネクタを係止してよい。
【００１０】
複数のユニット側コネクタは、ケーブルユニットの面内において、フレーム側コネクタとの接続方向と略垂直なコネクタ配設方向に並列に配設され、それぞれのユニット側コネクタは、接続方向及びコネクタ配設方向の双方と略垂直なユニット配設方向に突起した係止爪を有し、コネクタ保持部は、対応するユニット側コネクタの係止爪が挿通され、係止爪が挿通された状態において係止爪を接続方向に対して移動可能とすることにより、当該ユニット側コネクタを接続方向に対して移動可能に保持する貫通溝が設けられた保持基板を更に有してよい。
【００１１】
複数の貫通溝が設けられるピッチは、ユニット側コネクタのコネクタ配設方向における幅と略同一であってよい。係止爪は、後側爪と、後側爪よりテストボード側に設けられた前側爪とを有し、係止部は、保持基板と着脱可能に設けられ、複数のユニット側コネクタの前側爪と嵌合する係止板を有し、それぞれのユニット側コネクタの後側爪が貫通溝の後端部に嵌合し、且つそれぞれのユニット側コネクタの前側爪が係止板に嵌合することにより、複数のユニット側コネクタを、テストヘッドに接触しない位置に係止してよい。
【００１２】
係止部は、それぞれのユニット側コネクタの後側爪を貫通溝の後端部に嵌合させた場合に、それぞれのユニット側コネクタの前側爪と嵌合する位置に係止板を着脱可能に固定する手段を有してよい。
【００１３】
係止部は、それぞれのユニット側コネクタの前側爪を貫通溝の前端部に嵌合させた場合に、それぞれのユニット側コネクタの後側爪と嵌合する位置に係止板を着脱可能に固定する手段を更に有してよい。
【００１４】
係止部は、ユニット側コネクタをフレーム側コネクタに挿入する場合に、複数の貫通溝が設けられた領域とは異なる領域に、前側爪及び後側爪のいずれにも接触しないように、係止板を着脱可能に固定する手段を更に有してよい。
【００１５】
それぞれのユニット側コネクタは、後側爪が貫通溝の後端部に嵌合した場合に当該貫通溝の前端部と接触する位置に設けられた、ユニット配設方向に突起した弾性を有する戻り防止突起部を更に有してよい。
【００１６】
それぞれのユニット側コネクタは、後側爪が貫通溝の後端部に嵌合した場合に保持基板の外部に表出する領域に、ユニット配設方向に突起した取手部を更に有してよい。ケーブルユニットは、それぞれ複数のユニット側コネクタを有する複数のコネクタブロックを有し、係止部は、コネクタブロック毎に、係止板及び当該係止板を着脱可能に固定する手段を有してよい。
【００１７】
保持基板は、隣接するコネクタブロックの間に設けられ、テストボードと対向する面において開口を有し、テストボードは、開口と対応する位置に、接続方向に延伸する延伸部を有し、ユニット固定部は、開口に延伸部が挿入された状態で、保持基板と延伸部とを固定してよい。
【００１８】
保持基板は、ユニット配設方向を法線とする表面を有し、当該表面に貫通溝が設けられた上側基板と、ユニット配設方向を法線とする表面を有し、上側基板に対して、ユニット配設方向において所定の間隔を有して設けられる下側基板とを有し、複数のユニット側コネクタは、上側基板と下側基板との間に挿入されてよい。
【００１９】
下側基板は、それぞれの光ファイバケーブルが通過するケーブル通過部と、ケーブル通過部の端部に設けられ、それぞれの光ファイバケーブルを挿通してコネクタ保持部の外部に送出する開口が設けられたケーブル送出部とを有し、上側基板の貫通溝が設けられた表面の、ケーブル通過部に対向する領域には、複数の貫通孔が設けられてよい。
【００２０】
ケーブルユニットは、それぞれ複数のユニット側コネクタを有する複数のコネクタブロックを有し、ケーブル送出部に最も近いコネクタブロックに接続された光ファイバケーブルが通過するケーブル通過部の領域に対向する上側基板の表面が切り欠かれていてよい。
【００２１】
ケーブル通過部に対応する領域における上側基板と下側基板との間隔は、貫通溝に対応する領域における上側基板と下側基板との間隔より大きくてよい。ケーブル通過部は、下側基板のユニット配設方向を法線とする表面から、上側基板の方向に延伸する側面を有し、係止部は、係止板を側面に着脱可能に固定する手段を有してよい。上側基板は、複数の貫通溝が設けられた上側主基板と、複数の貫通孔が設けられ、ケーブル通過部に対向する領域に上側主基板と着脱可能に固定される上側従基板とを有してよい。
【００２２】
本発明の第２の形態においては、電子デバイスを試験する試験装置であって、それぞれ前記電子デバイスに試験パターンを印加する第１テストヘッド及び第２テストヘッドと、  表面及び裏面のそれぞれに複数のフレーム側コネクタが設けられたテストボードを有し、表面に設けられたフレーム側コネクタを介して制御信号を第１テストヘッドに供給し、裏面に設けられたフレーム側コネクタを介して制御信号を第２テストヘッドに供給するメインフレームと、テストボードの表面に設けられたフレーム側コネクタと第１テストヘッドとを光接続し、制御信号を第１テストヘッドに伝送する第１ケーブルユニットと、テストボードの裏面に設けられたフレーム側コネクタと第２テストヘッドとを光接続し、制御信号を第２テストヘッドに伝送する第２ケーブルユニットとを備え、第１ケーブルユニット及び第２ケーブルユニットのそれぞれは、制御信号を伝送する複数の光ファイバケーブルと、光ファイバケーブルの端部に設けられ、複数のフレーム側コネクタに対応して設けられた複数のユニット側コネクタと、それぞれのユニット側コネクタを、対応するフレーム側コネクタに対してそれぞれ独立して挿抜可能に保持するコネクタ保持部とを有し、第１ケーブルユニットは、テストボードに対してケーブルユニットを固定する第１ユニット固定部を更に有し、第２ケーブルユニットは、第１ケーブルユニットに対して第２ケーブルユニットを固定する第２ユニット固定部を更に有する試験装置を提供する。
【００２３】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００２５】
図１は、本発明の実施形態に係る試験装置１００の構成の一例を示す図である。試験装置１００は、半導体回路等の電子デバイス３００を試験する装置であって、メインフレーム１０、複数のケーブルユニット２０、及びテストヘッド１２を備える。本例においてメインフレーム１０とテストヘッド１２との間の信号の伝送は、光ファイバケーブルを用いて行われる。
【００２６】
テストヘッド１２は、電子デバイス３００に試験パターンを印加する。テストヘッド１２は、複数の電子デバイス３００に試験パターンを印加してよい。また、テストヘッド１２は、ケーブルユニット２０を介してメインフレーム１０と接続され、メインフレーム１０から受け取る制御信号に基づいて、電子デバイス３００に試験パターンを印加する。
【００２７】
メインフレーム１０は、制御信号を生成しテストヘッド１２に供給する。メインフレーム１０は、図２において後述する複数のテストボード１４を有する。それぞれのテストボード１４は、それぞれの機能に応じた制御信号を生成する。またそれぞれのテストボード１４には、複数のフレーム側コネクタが設けられており、当該フレーム側コネクタを介して、対応するケーブルユニット２０と接続する。それぞれのフレーム側コネクタは、光ファイバケーブル用のコネクタである。
【００２８】
複数のケーブルユニット２０は、複数のテストボード１４と対応して設けられる。それぞれのケーブルユニット２０は、一端が対応するテストボード１４のフレーム側コネクタに接続され、他端がテストヘッド１２に接続される。つまり、それぞれのケーブルユニット２０は、フレーム側コネクタとテストヘッド１２とを光接続し、制御信号をテストヘッド１２へ伝送する。
【００２９】
図２は、テストボード１４及びケーブルユニット２０の概念図である。テストボード１４は、図１において説明したメインフレーム１０に、一端が表出するように挿入される。またテストボード１４は、メインフレーム１０から表出する端部に、複数のフレーム側コネクタ１６及び延伸部１８を有する。複数のフレーム側コネクタ１６は、ケーブルユニット２０との接続方向と略垂直な方向に並列に配設される。また、複数のフレーム側コネクタ１６は、複数のブロックに分割されており、当該ブロック間に、上記接続方向に延伸する延伸部１８が設けられる。複数のフレーム側コネクタ１６及び延伸部１８は、テストボード１４の表面に固定される。
【００３０】
ケーブルユニット２０は、複数の光ファイバケーブル４０、複数のユニット側コネクタ２２、及びコネクタ保持部２１を有する。光ファイバケーブル４０は、一端がユニット側コネクタ２２と接続され、他端がテストヘッド１２と接続され、メインフレーム１０からテストヘッド１２に制御信号を伝送する。
【００３１】
複数のユニット側コネクタ２２は、複数のフレーム側コネクタ１６と対応して設けられ、フレーム側コネクタ１６と平行に並列に配設される。またコネクタ保持部２１は、それぞれのユニット側コネクタ２２を、対応するフレーム側コネクタ１６に対してそれぞれ独立して挿抜可能に保持する。
【００３２】
また、複数のユニット側コネクタ２２は、フレーム側コネクタ１６と同様に複数のブロックに分割されており、当該ブロック間に、延伸部１８が挿入される挿入孔が設けられる。延伸部１８が挿入孔に挿入されることにより、ケーブルユニット２０は、対応するテストボード１４に対して固定される。
【００３３】
このように、コネクタ保持部２１が、複数のユニット側コネクタ２２を一括して保持し、後述するユニット固定部２８が、ケーブルユニット２０を対応するテストボード１４に対して所定の位置に固定することにより、全てのユニット側コネクタ２２を、対応するフレーム側コネクタ１６に容易に挿入可能な位置に配置することができる。そして、コネクタ保持部２１が、それぞれのユニット側コネクタ２２を独立して挿抜可能に保持することにより、それぞれのユニット側コネクタ２２を精度よくフレーム側コネクタ１６に挿入することができる。このため、ユニット側コネクタ２２の光射出面の損傷を低減することができる。
【００３４】
図３は、コネクタ保持部２１の構成の一例を示す図である。コネクタ保持部２１は、上側基板２３、下側基板２４、及びユニット固定部２８を有する。ここで、上側及び下側とは、基板を区別するための呼称であり、実使用時における位置関係を示すものではない。
【００３５】
複数のユニット側コネクタ２２は、光ファイバケーブル４０の端部に設けられ、図２において説明した複数のフレーム側コネクタ１６に対応して、ケーブルユニットの面内において接続方向と略垂直なコネクタ配設方向に並列に設けられる。また、複数のユニット側コネクタ２２は、フレーム側コネクタ１６のブロックに対応して、複数のコネクタブロック（３８−１〜３８−３、以下３８と総称する）に分割して配設される。また、フレーム側コネクタ１６及びユニット側コネクタ２２は、いわゆるＭＰＯコネクタであってよい。
【００３６】
また、上側基板２３及び下側基板２４は、所定の間隔を有して設けられ、上側基板２３及び下側基板２４との間に複数のユニット側コネクタ２２が並列に挿入される。上側基板２３と下側基板２４との間隔は、ユニット側コネクタ２２の厚さより大きい必要があるが、ユニット側コネクタ２２を保持するために、当該間隔はユニット側コネクタ２２の厚さと略等しいことが好ましい。これにより、上側基板２３及び下側基板２４は、複数のユニット側コネクタ２２を保持する保持基板として機能する。
【００３７】
図２において述べたように、保持基板（２３、２４）は、それぞれのユニット側コネクタ２２を、対応するフレーム側コネクタに対してそれぞれ独立して挿抜可能に保持する。つまり、保持基板（２３、２４）は、それぞれのユニット側コネクタ２２を、フレーム側コネクタ１６との接続方向に対してそれぞれ独立して移動可能に保持する。また、下側基板２４には、それぞれの光ファイバケーブル４０を挿通してコネクタ保持部２１の外部に送出する開口が設けられたケーブル送出部３２が設けられる。
【００３８】
また、上側基板２３は、上側主基板２６及び上側従基板３０を有する。上側従基板３０は、上側主基板２６に着脱可能に固定される。例えば、上側従基板３０は、上側主基板２６の所定の位置にビス等により固定される。
【００３９】
上側主基板２６には、複数のユニット側コネクタ２２と対応する位置に、複数の貫通溝３６が設けられる。それぞれの貫通溝３６は、対応するユニット側コネクタ２２に設けられた係止爪（１０４、１０６）が挿通される。それぞれのユニット側コネクタ２２は、接続方向及びコネクタ配設方向の双方と垂直なユニット配設方向に突起した係止爪（１０４、１０６）を有する。
【００４０】
保持基板（２３、２４）は、それぞれの貫通溝３６に対応するユニット側コネクタ２２の係止爪（１０４、１０６）が挿通された状態において、係止爪を貫通溝３６に沿って接続方向に対して移動可能に保持する。これにより、ユニット側コネクタ２２を接続方向に対して移動可能に保持することができる。例えば、それぞれの貫通溝３６の幅は挿通される係止爪（１０４、１０６）の幅と略等しく、挿通された係止爪（１０４、１０６）が接続方向に移動可能なように、接続方向に沿って設けられる。
【００４１】
ユニット固定部２８は、対応するテストボード１４に対して、当該ケーブルユニット２０を固定する。本例においてユニット固定部２８は、隣接するコネクタブロック３８の間に設けられ、テストボード１４と対向する面に開口が設けられた挿入孔である。テストボード１４は、当該開口と対応する位置に、接続方向に延伸する延伸部１８を有する。当該挿入孔に延伸部１８が挿入されることにより、テストボード１４に対するケーブルユニット２０の位置が決定される。また、ユニット固定部２８は、延伸部１８が挿入孔に挿入された状態で、延伸部１８に下側基板２４を固定する手段を有してよい。例えば下側基板２４の当該挿入孔に対応する位置に貫通孔を設け、当該貫通孔にビス等を挿通することにより、延伸部１８と下側基板２４とを固定してよい。
【００４２】
ケーブルユニット２０をテストボード１４に対して固定する場合、それぞれのユニット側コネクタ２２は、ユニット固定部２８がケーブルユニット２０を固定した状態において、テストボード１４に接触しない位置に係止されることが好ましい。本例においては、それぞれのユニット側コネクタ２２は、図３に示すように、係止爪のうちの後側爪１０４が、貫通溝３６の後端部と嵌合する位置に係止されることが好ましい。このような状態に係止することにより、ケーブルユニット２０をテストボード１４に対して固定する際に、ユニット側コネクタ２２の光射出面がテストボード１４と接触して破損することを防ぐことができる。
【００４３】
例えば、コネクタ保持部２１は、それぞれのユニット側コネクタ２２を、フレーム側コネクタ１６と接続しない状態、即ち後側爪１０４が、貫通溝３６の後端部と嵌合する状態で係止可能な係止部を有する。本例において当該係止部は、コネクタブロック３８毎に、上側主基板２６に対して着脱可能な係止板３４と、係止板３４を上側主基板２６の所定の位置に固定する手段とを有する。
【００４４】
それぞれのユニット側コネクタ２２を、後側爪１０４が貫通溝３６の後端部と嵌合する状態で係止する場合、係止板３４は、並列に設けられた複数の貫通溝３６のそれぞれと略直角に交差し、且つそれぞれのユニット側コネクタ２２の前側爪１０６と嵌合する位置に固定される。
【００４５】
そして、ケーブルユニット２０をテストボード１４に対して固定した後、それぞれの係止板３４を上側主基板２６から取り外し、それぞれのユニット側コネクタ２２を接続方向に移動可能な状態にする。そして、それぞれのユニット側コネクタ２２を、対応するフレーム側コネクタ１６に順次接続する。このような構成により、多数の光ファイバケーブルのコネクタを効率よく、且つ安全に接続することができる。
【００４６】
図４は、上側主基板２６、上側従基板３０、及び下側基板２４のそれぞれの外観の一例を示す図である。まず、下側基板２４について説明する。下側基板２４は、上側主基板２６の表面と略平行な底面６１と、底面６１から上側主基板２６の方向に延伸し、接続方向に略平行な２つの側面６３と、底面６１から上側主基板２６の方向に延伸し、接続方向を法線とするケーブル通過部側面６５とを有する。また、ユニット側コネクタ２２が配置される底面６１の辺には、側面が設けられない。また、底面６１は、ユニット側コネクタ２２が配置される底面６１の辺から、接続方向に突出した突出面７０を有する。
【００４７】
底面６１は、ユニット側コネクタ２２が挿入されて配置されるコネクタ領域９３と、それぞれのユニット側コネクタ２２の光ファイバケーブル４０が通過するケーブル通過領域９２とを有する。コネクタ領域９３には、ユニット固定部２８が設けられる。ユニット固定部２８は、突出面７０に設けられた開口部材６０と、終端部材６４とを有する。開口部材６０及び突出面７０は、テストボード１４に対向する面に開口を有する貫通孔６２を形成する。また、終端部材６４は、開口部材６０に対して、接続方向に所定の間隔を有して設けられ、底面６１の法線方向に突起して設けられる。また、終端部材６４の、上側主基板２６と対向する面には、上側主基板２６と下側基板２４とを鋲着するためのビス穴（６６−１、６６−２、以下６６と総称する）が設けられる。
【００４８】
ケーブルユニット２０をテストボード１４に接続する場合、開口部材６０の貫通孔６２にテストボード１４の延伸部１８が挿入され、延伸部１８の端部が終端部材６４と当接するまで、延伸部１８が挿入される。
【００４９】
また、底面６１には、終端部材６４を固定するビス穴６８が設けられる。終端部材６４は、ビス穴６８の位置に鋲着される。また、突出面７０には、ビス穴９０が設けられ、開口部材６０は、ビス穴９０の位置に鋲着される。また、底面６１において、ビス穴６８が設けられた領域と、ビス穴９０が設けられた領域との間には、ビス穴９４が設けられる。延伸部１８は、終端部材６４と当接した状態で、ビス穴９４を介して底面６１に鋲着される。このような構成により、ケーブルユニット２０を、テストボード１４に対して所定の位置に固定することができる。また、図４においては、ひとつのユニット固定部２８のみを示しているが、図３に示したように、下側基板２４には、複数のユニット固定部２８が設けられる。
【００５０】
側面６３には、下側基板２４と上側主基板２６とを固定するためのビス穴（５８、７２）が設けられる。側面６３の高さは、ユニット側コネクタ２２の高さより大きい。ケーブル通過部側面６５には、ビス穴（７３、７４、７６）が設けられる。ビス穴７４は、下側基板２４と上側従基板３０とを鋲着するために設けられ、ビス穴７３は、当該ケーブルユニット２０と、他のケーブルユニット２０とを鋲着するために設けられる。ケーブルユニット２０同士を鋲着する構成については、図１０において後述する。ビス穴７６は、ユニット側コネクタ２２をフレーム側コネクタ１６に挿入するときに、係止板３４を図３に示した状態から取り外し、退避して固定するために設けられる。
【００５１】
また、ケーブル通過領域９２及びケーブル通過部側面６５は、ユニット側コネクタ２２に接続された光ファイバケーブル４０が通過するケーブル通過部として機能する。ケーブル通過領域９２における底面６１は、コネクタ領域９３における底面６１に対して、コネクタ配設方向に突出する突出面７７を有する。突出面７７の端部には、ケーブル通過部を通過した光ファイバケーブル４０を挿通する開口を有するケーブル送出部３２が設けられる。
【００５２】
次に、上側主基板２６について説明する。上側主基板２６は、下側基板２４の底面と対向する表面８３、表面８３から下側基板２４の方向に延伸し、接続方向に略平行な２つの側面８５と、それぞれの側面８５から外側に延伸し、表面８３と略平行な接続面８４とを有する。
【００５３】
表面８３には、図３において説明した複数の貫通溝３６が設けられる。複数の貫通溝３６は、コネクタブロック３８毎に、ユニット側コネクタ２２のコネクタ配設方向に並列に設けられる。それぞれのブロックにおいて貫通溝３６が設けられるピッチは、ユニット側コネクタ２２のコネクタ配設方向における幅と略同一であることが好ましい。これにより、ユニット側コネクタ２２が、コネクタ配設方向において揺動することを防ぐことができる。また、本例においては、ユニット側コネクタ２２が配置される底面６１の辺には、側面が設けられていないが、他の例においては、当該側面に、それぞれのユニット側コネクタ２２のコネクタ配設方向における位置を決定するための仕切板等が設けられていてもよい。
【００５４】
また、前述した係止部は、貫通溝３６のそれぞれのブロック毎に、係止板３４及び係止板３４を着脱可能に固定する手段を有する。係止板３４を固定する当該手段として、本例においては、表面８３に係止板３４をビス止めするためのビス穴５０が設けられる。当該ビス穴５０は、貫通溝３６のそれぞれのブロック毎に一対ずつ設けられ、対となるビス穴５０を結んだ直線が、それぞれの貫通溝３６と略直交する位置に設けられる。係止部は、ビス穴５０に係止板３４の両端をビス止めすることにより、係止板３４を固定する。図４においては、貫通溝３６の複数のブロックのうちひとつのブロックについてのみ、係止板３４を固定して示しているが、貫通溝３６の他のブロックについても、同様に係止板３４が固定される。これにより、それぞれのユニット側コネクタ２２を、接続方向において略同一の位置に保持することができる。また、図４においては、ひとつの貫通溝３６に対してのみ、ユニット側コネクタ２２を示しているが、図３に示したように、他の貫通溝３６に対しても同様にユニット側コネクタ２２が挿通される。
【００５５】
また、それぞれのビス穴５０は、それぞれのユニット側コネクタ２２の後側爪１０４が貫通溝３６の後端部と嵌合した状態において、係止板３４とそれぞれのユニット側コネクタ２２の前側爪１０６とが嵌合するように設けられる。つまり、ビス穴５０に係止板３４を固定したときに、貫通溝３６の後端部と、当該後端部に向かい合う係止板３４の端部との距離が、ユニット側コネクタ２２の後側爪１０４と前側爪１０６との距離に等しくなる位置に、それぞれのビス穴５０が設けられる。
【００５６】
また係止部は、ユニット側コネクタ２２をフレーム側コネクタ１６に挿入する場合に、複数の貫通溝３６が設けられた領域とは異なる領域に、前側爪１０６及び後側爪１０４のいずれにも接触しないように、係止板３４を着脱可能に固定する手段を更に有することが好ましい。つまり、係止板３４を退避して固定する手段を更に有する。本例においては、係止板３４を退避して固定する当該手段として、表面８３に係止板３４をビス止めするためのビス穴４８が設けられる。当該ビス穴４８は、貫通溝３６のそれぞれのブロックごとに一対ずつ設けられる。また、それぞれのビス穴４８は、係止板３４を固定したときに、係止板３４が、貫通溝３６を覆わない位置に設けられる。本例においては、それぞれのビス穴４８は、貫通溝３６とビス穴５４との間に設けられる。
【００５７】
また、表面８３には、それぞれのユニット側コネクタ２２に対応して設けられるケーブルガイドを固定するためのビス穴（５４−１、５４−２、５４−３、以下５４と総称する）が設けられる。それぞれのビス穴は、貫通溝３６に対応して設けられる。それぞれのビス穴５４と、対応する貫通溝３６との距離が、ケーブル送出部３２と貫通溝３６との距離に比例して大きくなるように、それぞれのビス穴５４が設けられることが好ましい。上側主基板２６と下側基板２４との間には、当該ビス穴５４を介して当該ケーブルガイドが設けられ、ケーブルガイドによって光ファイバケーブル４０を湾曲させ、下側基板２４のケーブル通過部を通過させる。ビス穴５４と貫通溝３６との距離を、ケーブル送出部３２と貫通溝３６との距離に比例して大きくすることにより、それぞれの光ファイバケーブル４０を湾曲させる位置を異ならせることができ、ケーブル通過部において光ファイバケーブル４０を平行に整列させることができる。
【００５８】
また、それぞれのケーブルガイドは、所定の曲率を有する湾曲面を有する。光ファイバケーブル４０は、当該湾曲面に沿って、ユニット側コネクタ２２の端部からケーブル通過領域９２に導かれる。これにより、それぞれの光ファイバケーブル４０の曲率を制限することができる。また、ケーブルガイドの当該湾曲面は、弾性を有していてもよい。この場合、当該湾曲面は、ユニット側コネクタ２２の挿抜に伴う光ファイバケーブル４０の移動によっては、所定の曲率以上で湾曲しないような弾性率を有することが好ましい。これにより、光ファイバケーブル４０の曲率を、当該所定の曲率以上に保つことができ、且つ光ファイバケーブル４０がたわんだ場合には、湾曲面の曲率が小さくなるように変形することができる。これにより、隣接するケーブルガイドによって導かれる光ファイバケーブル４０の通過を妨げることを防止することができる。
【００５９】
また、ケーブル送出部３２に最も近い位置に設けられる貫通溝３６のブロックと、ビス穴５４との距離は小さいため、ビス穴４８を設けることができない場合がある。このような場合、ケーブル送出部３２に最も近い位置に設けられる貫通溝３６のブロックに対応する係止板３４は、前述した下側基板２４のビス穴７６の位置に退避される。つまり、ビス穴４８及びビス穴７６は、ユニット側コネクタ２２をフレーム側コネクタ１６に挿入する場合に、複数の貫通溝３６が設けられた領域とは異なる領域に、前側爪１０６及び後側爪１０４のいずれにも接触しないように、係止板３４を着脱可能に固定する手段として機能する。
【００６０】
また、表面８３には、終端部材６４のビス穴６６に対応する位置に、ビス穴（５２−１、５２−２、以下５２と総称する）が設けられる。これにより、終端部材６４と表面８３が鋲着される。また、側面８５には、下側基板２４の側面６３に設けられたビス穴５８と対応する位置に、ビス穴５６が設けられる。これにより、下側基板２４の側面６３と、上側主基板２６の側面８５とが鋲着される。また、接続面８４には、当該ケーブルユニット２０と、他のケーブルユニット２０とを鋲着するためのビス穴（８２、８８）が設けられる。ケーブルユニット２０同士を鋲着する構成については、図１０において後述する。
【００６１】
また、ケーブル送出部３２に最も近い位置に設けられた貫通溝３６のブロックが設けられた表面８３の領域の接続方向における幅は、他の貫通溝３６のブロックが設けられた領域の接続方向における幅より小さい。また、上側主基板２６の表面８３は、下側基板２４のケーブル通過領域９２を表出させるように設けられる。つまり、ケーブル通過領域９２を覆わないように、上側主基板２６の表面８３が設けられる。また、表面８３のケーブル通過領域９２側の端部には、上側主基板２６と上側従基板３０とを固定するためのビス穴（４６−１、４６−２、以下４６と総称する）が設けられる。
【００６２】
次に、上側従基板３０について説明する。上側従基板３０は、下側基板２４のケーブル通過領域９２と対向する表面７９、表面７９から延伸し、下側基板２４のケーブル通過部側面６５に鋲着される側面７５、表面７９から延伸し、側面７５と略平行な側面８０、及び側面８０から外側に延伸し、表面７９と略平行な接続面８１を有する。
【００６３】
接続面８１には、ビス穴（４４−１、４４−２、以下４４と総称する）が設けられ、ビス穴４４及び上側主基板２６のビス穴４６により、上側主基板２６の表面に、上側従基板３０が鋲着される。表面７９は、下側基板２４のケーブル通過領域９２を覆う位置に設けられる。また、表面７９には、複数の貫通孔４２が設けられる。これにより、ケーブル通過部に対向する領域に貫通孔４２が設けられ、ケーブル通過部を通過する光ファイバケーブル４０の状態を監視することができる。
【００６４】
また、上側従基板３０の表面７９は、上側主基板２６の表面８３に対して、側面８０の高さだけ高い位置に設けられる。これにより、ケーブル通過部に対応する領域における上側基板２３と下側基板２４との間隔は、貫通溝３６が設けられた領域における上側基板２３と下側基板２４との間隔より大きくなる。これにより、ケーブル通過部の断面積を大きくすることができ、ユニット側コネクタ２２の挿抜に伴う光ファイバケーブル４０の移動を容易にすることができる。
【００６５】
また、ケーブル通過部を通過する光ファイバケーブル４０の本数は、ケーブル送出部３２に近い領域ほど多くなる。本例においては、ケーブル送出部３２に最も近いコネクタブロック３８に接続された光ファイバケーブル４０が通過するケーブル通過部の領域に対向する上側基板２３の表面が切り欠かれている。つまり、上側基板２３の表面７９は、下側基板２４のケーブル通過領域９２のうち、ケーブル送出部３２に最も近い貫通溝３６のブロック以外のブロックに対応する領域を覆うように設けられる。これにより、上述したように、ユニット側コネクタ２２の挿抜に伴う光ファイバケーブル４０の移動を容易にすることができる。また、ケーブル通過部を通過する光ファイバケーブル４０の本数が少ない場合、上側基板の表面７９は、ケーブル通過領域９２全体を覆うように設けられていてもよい。
【００６６】
また、上側従基板３０を、上側主基板に着脱可能に設けることにより、コネクタ保持部２１を組み立てた後に、上側従基板３０を取り外し、光ファイバケーブル４０の位置を容易に修正することができる。
【００６７】
図５は、ユニット側コネクタ２２及び貫通溝３６の拡大図の一例である。ユニット側コネクタ２２は、コネクタ先端部１１８及びコネクタ先端部１１８の外周を覆うように設けられた外周部１０２を有する。
【００６８】
コネクタ先端部１１８は、光ファイバケーブル４０の先端に設けられ、フレーム側コネクタ１６に挿入される。またコネクタ先端部１１８は、光射出面を保護するカバーを有しており、フレーム側コネクタ１６に挿入されるときに取り外される。
【００６９】
外周部１０２は、例えば金属で形成されており、前側爪１０６、後側爪１０４、嵌合部１１３、戻り防止突起部１０８、弾性部１１４、及び取手部１１２を有する。嵌合部１１３は、コネクタ先端部１１８と嵌合し、外周部１０２をコネクタ先端部１１８に固定する。後側爪１０４は、上側主基板２６の方向に突起して設けられ、先端が貫通溝３６の後端部９６の方向に突出する。また前側爪１０６は、上側主基板２６の方向に突起して設けられ、先端が貫通溝３６の前端部１２２の方向に突出する。
【００７０】
戻り防止突起部１０８は、後側爪１０４が貫通溝３６の後端部９６に嵌合した場合に、貫通溝の前端部１２２と接触する位置に、上側主基板２６の方向、すなわちユニット配設方向に突起して設けられる。また、戻り防止突起部１０８は、弾性部１１４を介して外周部１０２の本体に接続される。弾性部１１４は、戻り防止突起部１０８を、ユニット配設方向において回動可能に保持する。
【００７１】
また、取手部１１２は、後側爪１０４が貫通溝３６の後端部９６に嵌合した場合に上側主基板２６及び下側基板２４の外部に表出する領域に、ユニット配設方向に突起して設けられる。使用者は、取手部１１２をつまみ、ユニット側コネクタ２２を接続方向に移動させる。
【００７２】
フレーム側コネクタ１６に挿入される前段階では、ユニット側コネクタ２２は、後側爪１０４が貫通溝３６の後端部９６と嵌合する位置まで挿入され、係止部は、係止板３４の端部９８が前側爪１０６と嵌合する位置に、係止板３４を係止する。これにより、それぞれのユニット側コネクタ２２を、テストボード１４に接触しない位置に係止した状態で、ケーブルユニット２０をテストボード１４に安全に固定することができる。このとき、戻り防止突起部１０８は、貫通溝３６の前端部１２２と当接する。
【００７３】
そして、フレーム側コネクタ１６に挿入する段階で、係止板３４を取り外し、ユニット側コネクタ２２を接続方向に移動可能な状態にする。ただし、外力が加わらない状態では、ユニット側コネクタ２２は、後側爪１０４及び戻り防止突起部１０８により、係止されている。また、係止板３４は、前述したビス穴４８等の位置に退避される。そして、使用者は、それぞれのユニット側コネクタ２２を順次フレーム側コネクタ１６に挿入する。このような構成により、使用者は、それぞれのユニット側コネクタ２２を安全にフレーム側コネクタ１６に挿入することができる。
【００７４】
図６は、フレーム側コネクタ１６に挿入されたときの、貫通溝３６に対するユニット側コネクタ２２の位置を示す。フレーム側コネクタ１６に挿入された場合、ユニット側コネクタ２２の前側爪１０６は、貫通溝３６の前端部１２２と嵌合する。
【００７５】
図７は、テストヘッド１２を２つ備える試験装置１００における、テストボード１４の概念図である。テストヘッド１２を２つ備える場合、テストボード１４の表面及び裏面のそれぞれに、複数のフレーム側コネクタ１６が設けられる。
【００７６】
この場合、メインフレーム１０は、テストボード１４の表面に設けられたフレーム側コネクタ１６を介して、制御信号を第１テストヘッド１２に供給し、テストボード１４の裏面に設けられたフレーム側コネクタ１６を介して、制御信号を第２テストヘッド１２に供給する。
【００７７】
また、試験装置１００は、テストボード１４の表面に設けられたフレーム側コネクタ１６と第１テストヘッド１２とを光接続し、制御信号を第１テストヘッド１２に伝送する第１ケーブルユニット２０と、テストボード１４の裏面に設けられたフレーム側コネクタ１６と第２テストヘッド１２とを光接続し、制御信号を第２テストヘッド１２に伝送する第２ケーブルユニット１２０とを備える。
【００７８】
この場合、テストボード１４の表面には、延伸部１８が設けられ、裏面には延伸部が設けられない。第１ケーブルユニット２０は、図２から図６において説明したケーブルユニット２０と同一の構成を有し、延伸部１８を介してテストボード１４と接続される。また第２ケーブルユニット１２０は、第１ケーブルユニット２０の構成に対し、ユニット固定部２８を有さず、第１ケーブルユニット２０に対して第２ケーブルユニットを固定する手段を有する点で相違する。
【００７９】
図８は、第２ケーブルユニット１２０のコネクタ保持部１２１の構成の一例を示す図である。コネクタ保持部１２１は、上側基板１２３及び下側基板１２４を有する。ここで、上側及び下側とは、基板を区別するための呼称であり、実使用時における位置関係を示すものではない。また本図においては、光ファイバケーブル４０の記載を省略している。
【００８０】
上側基板１２３は、第１ケーブルユニット２０の上側基板２３の構成に対し、略左右対称の構成を有する。上側基板１２３は、上側主基板１２６及び上側従基板１３０を有する。上側主基板１２６及び上側従基板１３０は、第１ケーブルユニット２０の上側主基板２６及び上側従基板３０の構成に対し、略左右対称の構成を有する。但し、第２ケーブルユニット１２０は、ユニット固定部２８を有さないため、上側主基板１２６は、ユニット固定部２８に対応するビス穴５２を有さない。下側基板１２４は、第１ケーブルユニット２０の下側基板２４の構成に対し、略左右対称の構成を有する。下側基板１２４の詳細な構成については、図９において後述する。
【００８１】
図９は、上側主基板１２６、上側従基板１３０、及び下側基板１２４のそれぞれの外観の一例を示す図である。図９において、図４と同一の符号を付したものは、図４において説明したものと同様の機能及び構成を有する。上側主基板１２６及び上側従基板１３０は、図８において説明したように、第１ケーブルユニット２０の上側主基板２６及び上側従基板３０の構成に対し、略左右対称の構成を有する。また、上側主基板１２６は、ビス穴５２に代えて、下側基板１２４と鋲着されるべきビス穴１９８を有する。
【００８２】
下側基板１２４は、上側主基板１２６の表面と略平行な底面１６１と、底面１６１から上側主基板１２６の方向に延伸し、接続方向に略平行な２つの側面１６３と、底面１６１から上側主基板１２６の方向に延伸し、接続方向を法線とするケーブル通過部側面１６５とを有する。また、ユニット側コネクタ２２が配置される底面１６１の辺には、側面が設けられない。また、底面１６１は、ユニット側コネクタ２２が配置される底面１６１の辺から、接続方向に突出した突出面１７０を有する。
【００８３】
底面１６１は、ユニット側コネクタ２２が挿入されて配置されるコネクタ領域１９３と、それぞれのユニット側コネクタ２２の光ファイバケーブル４０が通過するケーブル通過領域１９２とを有する。下側基板１２４におけるケーブル通過領域１９２の形状は、下側基板２４におけるケーブル通過領域９２と略左右対称である。コネクタ領域１９３には突出面１７０が設けられる。突出面１７０は、上側主基板１２６の方向に折り返され、折り返された表面１２８にビス穴１９６が設けられる。ビス穴１９６は、上側主基板１２６に設けられたビス穴１９８と鋲着される。
【００８４】
また、コネクタ領域１９３の接続方向における幅は、第１ケーブルユニット２０におけるコネクタ領域９３の接続方向における幅より小さい。図１０に示すように、第２ケーブルユニット１２０の底面１６１と、第１ケーブルユニット２０の底面６１とは裏面同士で張り合わされるため、第２ケーブルユニット１２０のそれぞれのユニット側コネクタ２２は、第１ケーブルユニット２０の下側基板２４と、第２ケーブルユニット１２０の上側主基板１２６とにより保持される。
【００８５】
また、下側基板１２４において、第１ケーブルユニット２０の下側基板２４のビス穴（６８、９４）に対応する位置には、貫通孔１６８が設けられる。これにより、第１ケーブルユニット２０と第２ケーブルユニット１２０とを張り合わせたときに、ビス穴（６８、９４）に挿通されたビスの端部が貫通孔１６８に挿入されるため、当該ビスが下側基板１２４の裏面に当たることによる下側基板１２４の傾きを無くし、第１ケーブルユニット２０と第２ケーブルユニット１２０とを密着して固定することができる。
【００８６】
図１０は、第１ケーブルユニット２０及び第２ケーブルユニット１２０を張り合わせる場合の概念図である。前述したように、第１ケーブルユニット２０及び第２ケーブルユニット１２０は、下側基板２４及び下側基板１２４の裏面同士が密着するように張り合わされる。そして、対応するビス穴（８２、８８）同士を鋲着し、対応するビス穴７３を、接続部材２０２を用いて鋲着する。これにより、第２ケーブルユニット１２０は、第１ケーブルユニット２０に固定される。第１ケーブルユニット２０は、テストボード１４に対して固定されるため、第２ケーブルユニット１２０も、テストボード１４に対して所定の位置に固定することができる。
【００８７】
テストボード１４からは、制御信号としてレーザ光が射出される。第１ケーブルユニット２０及び第２ケーブルユニット１２０がテストボード１４に接続されている場合、テストボード１４のフレーム側コネクタ１６から射出されるレーザ光は、第１ケーブルユニット２０のケーブル通過部側面６５、及び第２ケーブルユニット１２０のケーブル通過部側面１６５により遮光される。
【００８８】
しかし、これらのケーブルユニットを取り外す際には、レーザ光に対して使用者の注意を喚起する必要がある。本例においては、テストボード１４の近傍に、使用者の注意を促す注意銘板を設けてよい。また、後述するように、それぞれのユニット側コネクタ２２を、フレーム側コネクタ１６から外すときに、特殊治具を必要とすることにより、使用者の注意を喚起することができる。
【００８９】
次に、メインフレームに並列に設けられた複数のテストボード１４に、複数のケーブルユニットを順次接続する場合について説明する。まず、並列に設けられたテストボード１４のうち、左端のテストボード１４に、第１ケーブルユニット２０を固定し、それぞれのユニット側コネクタ２２を、当該テストボード１４の表面に設けられたフレーム側コネクタ１６に挿入する。そして、第１ケーブルユニット２０に第２ケーブルユニット１２０を固定し、それぞれのユニット側コネクタ２２を当該テストボード１４の裏面に設けられたフレーム側コネクタ１６に挿入する。
【００９０】
そして、次のテストボード１４に、次の第１ケーブルユニット２０を固定し、それぞれのユニット側コネクタ２２を、当該テストボード１４の表面に設けられたフレーム側コネクタ１６に挿入する。このとき、当該ユニット側コネクタ２２の取手部１１２は、先に固定した第２ケーブルユニット１２０側に突出するため、使用者が当該取手部１１２をつかむことが困難な場合がある。この場合、使用者は、ユニット側コネクタ２２を移動させるための治具を用いることが好ましい。当該治具は、ユニット側コネクタ２２の取手部１１２が設けられた面の裏面に嵌合する手段を有する。使用者は当該治具を用いて、ユニット側コネクタ２２の裏面から、ユニット側コネクタ２２を移動させることができる。
【００９１】
このような作業を繰り返し、全てのテストボード１４に対してケーブルユニット（２０、１２０）を固定し、全てのユニット側コネクタ２２をフレーム側コネクタ１６に挿入することができる。
【００９２】
図１１は、テストボード１４の裏面に設けられたフレーム側コネクタ１６を使用しない場合に、テストボード１４に対して固定される第１ケーブルユニット２０の構成の一例を示す図である。本例における試験装置１００は、一つのテストヘッド１２のみを用いて電子デバイス３００の試験を行う。当該第１ケーブルユニット２０は、図１０に関連して説明した第１ケーブルユニット２０の構成に加え、遮光板２０４を更に有する。遮光板２０４は、図１０において説明した第２ケーブルユニット１２０と同様に、第１ケーブルユニット２０に固定される。遮光板２０４は、テストボード１４の裏面に設けられたフレーム側コネクタ１６が射出するレーザ光の行路をさえぎる位置に、側面２０６を有する。例えば遮光板２０４は、第２テストボード１２０の下側基板１２４のケーブル通過部側面１６５と同一の位置に側面２０６を有する。これにより、テストボード１４の裏面に設けられたフレーム側コネクタ１６が射出するレーザ光から使用者を保護することができる。
【００９３】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【産業上の利用可能性】
【００９４】
以上から明らかなように、本発明によれば、多数の光ファイバケーブルのコネクタを効率よく、且つ安全に接続することができる。
【図面の簡単な説明】
【００９５】
【図１】本発明の実施形態に係る試験装置１００の構成の一例を示す図である。
【図２】テストボード１４及びケーブルユニット２０の概念図である。
【図３】コネクタ保持部２１の構成の一例を示す図である。
【図４】上側主基板２６、上側従基板３０、及び下側基板２４のそれぞれの外観の一例を示す図である。
【図５】ユニット側コネクタ２２及び貫通溝３６の拡大図の一例である。
【図６】フレーム側コネクタ１６に挿入されたときの、貫通溝３６に対するユニット側コネクタ２２の位置を示す。
【図７】テストヘッド１２を２つ備える試験装置１００における、テストボード１４の概念図である。
【図８】第２ケーブルユニット１２０のコネクタ保持部１２１の構成の一例を示す図である。
【図９】上側主基板１２６、上側従基板１３０、及び下側基板１２４のそれぞれの外観の一例を示す図である。
【図１０】第１ケーブルユニット２０及び第２ケーブルユニット１２０を張り合わせる場合の概念図である
【図１１】テストボード１４の裏面に設けられたフレーム側コネクタ１６を使用しない場合に、テストボード１４に対して固定される第１ケーブルユニット２０の構成の一例を示す図である。
【符号の説明】
【００９６】
１０・・・メインフレーム、１２・・・テストヘッド、１４・・・テストボード、１６・・・フレーム側コネクタ、１８・・・延伸部、２０・・・ケーブルユニット、２１・・・コネクタ保持部、２２・・・ユニット側コネクタ、２３・・・上側基板、２４・・・下側基板、２６・・・上側主基板、２８・・・ユニット固定部、３０・・・上側従基板、３２・・・ケーブル送出部、３４・・・係止板、３６・・・貫通溝、３８・・・コネクタブロック、４０・・・光ファイバケーブル、４２・・・貫通孔、４４、４６、４８、５０、５２、５４、５６、５８・・・ビス穴、６０・・・開口部材、６１・・・底面、６２・・・貫通孔、６３・・・側面、６４・・・終端部材、６５・・・ケーブル通過部側面、６６、６８・・・ビス穴、７０・・・突出面、７２、７３、７４・・・ビス穴、７５・・・側面、７６・・・ビス穴、７７・・・突出面、７９・・・表面、８０・・・側面、８１・・・接続面、８２・・・ビス穴、８３・・・表面、８４・・・接続面、８５・・・側面、８８、９０・・・ビス穴、９２・・・ケーブル通過領域、９３・・・コネクタ領域、９４・・・ビス穴、９６・・・後端部、９８・・・端部、１００・・・試験装置、１０２・・・外周部、１０４・・・後側爪、１０６・・・前側爪、１０８・・・戻り防止突起部、１１２・・・取手部、１１３・・・嵌合部、１１４・・・弾性部、１１８・・・コネクタ先端部、１２０・・・嵌合部、１２１・・・コネクタ保持部、１２２・・・前端部、１２３・・・上側基板、１２４・・・下側基板、１２６・・・上側主基板、１２８・・・表面、１３０・・・上側従基板、１６１・・・底面、１６３・・・側面、１６５・・・ケーブル通過部側面、１６８・・・貫通孔、１７０・・・突出面、１９２・・・ケーブル通過領域、１９３・・・コネクタ領域、１９６、１９８・・・ビス穴、２０２・・・接続部材、２０４・・・遮光板、２０６・・・側面、３００・・・電子デバイス
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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