(57)【要約】【課題】  検出器間のオフセットのバラツキを補正し、長時間の断層像撮影においても高画質のＣＴ画像が得られるＸ線ＣＴ装置を提供することにある。【解決手段】  直流Ｘ線発生装置１から出たＸ線が被検体を通過せず、直接にＸ線検出器に入射するようにコリメータ５に設置したリファレンス検出器８と、コリメータ５にＸ線の入射がないように設置されるとともに、Ｘ線検出器と同形状・同材質のオフセット補正用検出器７とを備える。信号処理部１１は、オフセット補正用検出器７により検出されたデータから、Ｘ線検出器６のオフセット補正データを求め、このオフセット補正データと、リファレンス検出器８により検出されたリファレンスデータを用いて、Ｘ線検出器６により検出されたデータを補正する。【選択図】図１
2006020678.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
直流Ｘ線発生装置と、Ｘ線検出器と、前記直流Ｘ線発生装置と前記Ｘ線検出器との間に設置され、前記Ｘ線検出器への散乱線の入射を防ぐためのコリメータとを有するＸ線ＣＴ装置であって、
前記直流Ｘ線発生装置から出たＸ線が被検体を通過せず、直接に前記Ｘ線検出器に入射するように前記コリメータに設置したリファレンス検出器と、
前記コリメータにＸ線の入射がないように設置されるとともに、前記Ｘ線検出器と同形状・同材質のオフセット補正用検出器と、
前記オフセット補正用検出器により検出されたデータから、前記Ｘ線検出器のオフセット補正データを求め、このオフセット補正データと、前記リファレンス検出器により検出されたリファレンスデータを用いて、前記Ｘ線検出器により検出されたデータを補正する信号処理手段とを備えたことを特徴としたＸ線ＣＴ装置。
【請求項２】
請求項１記載のＸ線ＣＴ装置において、
前記Ｘ線検出器は、Ｘ線検出部分に半導体を用いた検出器であることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項３】
請求項１記載のＸ線ＣＴ装置において、
前記オフセット補正用検出器を複数個備えるとともに、
複数個のＸ線検出器に対して１個のオフセット補正用検出器を近接して温度条件が近いところに設置し、これらの複数個のＸ線検出器のデータを、近接配置したオフセット補正用検出器のデータによりオフセット補正することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項４】
請求項３記載のＸ線ＣＴ装置において、
リーク電流の温度特性に基づいてグループ分けされ、リーク電流の温度特性の類似する一つのグループ内の複数個のＸ線検出器の内の一つを、前記オフセット補正用検出器として用い、残りのＸ線検出器に対して前記オフセット補正用検出器を近接して温度条件が近いところに設置することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項５】
請求項１記載のＸ線ＣＴ装置において、
前記信号処理手段は、断層像撮像中に所定時間間隔で取得された前記オフセットデータと前記リファレンスデータを用いて、データ補正することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項６】
請求項１記載のＸ線ＣＴ装置において、
前記信号処理手段は、得られた断層像の画質が劣化したと判定された時に取得された前記オフセットデータと前記リファレンスデータを用いて、データ補正することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線ＣＴ装置に関し、特に検出器として半導体を用い、連続Ｘ線発生装置を有するＸ線ＣＴ装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に第三世代方式のＸ線ＣＴ装置は、多数の検出器を一次元アレイ状に並べているために、一度に多数の被検体透過データを得ることができ、第一世代方式や第二世代方式のＸ線ＣＴ装置に比べ撮像時間が短時間となる利点がある。
【０００３】
一方、第三世代方式のＸ線ＣＴ装置では、第二世代方式のように透過データを多数の検出器の検出値で平均しないため、検出器の感度のチャンネル間のバラツキはＣＴ画像中のリングアーチファクトを生じる原因となっている。
【０００４】
そこで、このリングアーチファクトを補正するために、従来は、特開平９−１５４８３７号公報や、特開２００１−３４２５７５号公報に記載のように、検出器感度の補正を行うことが知られている。この補正は、Ｘ線を照射しない状態で取得する検出器のオフセットデータＯＦＦｉ（ｉ：検出器チャンネル数））と、被検体が無い状態でのＸ線照射データ（エアーデータ）Ａｉを取得し、被検体透過時の検出データＳｉを用いてＣＴ画像再構成のための透過データとしては、検出データとエアーデータそれぞれからオフセットデータを差し引いたものの比を対数とした値（ｌｏｇ｛（Ｓｉ−ＯＦＦｉ）／（Ａｉ−ＯＦＦｉ）｝）として求めるようにしている。
【０００５】
【特許文献１】特開平９−１５４８３７号公報
【特許文献２】特開２００１−３４２５７５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、断層像撮像前に取得したオフセットデータは、長時間の撮像中にＸ線検出器の温度変化により変化するため、透過データが真値とは異なり、逆にＣＴ画像にリングアーチファクトを生じるという問題があった。
【０００７】
本発明の目的は、検出器間のオフセットのバラツキを補正し、長時間の断層像撮影においても高画質のＣＴ画像が得られるＸ線ＣＴ装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
（１）上記目的を達成するために、本発明は、直流Ｘ線発生装置と、Ｘ線検出器と、前記直流Ｘ線発生装置と前記Ｘ線検出器との間に設置され、前記Ｘ線検出器への散乱線の入射を防ぐためのコリメータとを有するＸ線ＣＴ装置であって、前記直流Ｘ線発生装置から出たＸ線が被検体を通過せず、直接に前記Ｘ線検出器に入射するように前記コリメータに設置したリファレンス検出器と、前記コリメータにＸ線の入射がないように設置されるとともに、前記Ｘ線検出器と同形状・同材質のオフセット補正用検出器と、前記オフセット補正用検出器により検出されたデータから、前記Ｘ線検出器のオフセット補正データを求め、このオフセット補正データと、前記リファレンス検出器により検出されたリファレンスデータを用いて、前記Ｘ線検出器により検出されたデータを補正する信号処理手段とを備えるようにしたものである。  
かかる構成により、検出器間のオフセットのバラツキを補正し、長時間の断層像撮影においても高画質のＣＴ画像が得られるものとなる。
【０００９】
（２）上記（１）において、好ましくは、前記Ｘ線検出器は、Ｘ線検出部分に半導体を用いた検出器である。
【００１０】
（３）上記（１）において、好ましくは、前記オフセット補正用検出器を複数個備えるとともに、複数個のＸ線検出器に対して１個のオフセット補正用検出器を近接して温度条件が近いところに設置し、これらの複数個のＸ線検出器のデータを、近接配置したオフセット補正用検出器のデータによりオフセット補正するようにしたものである。
【００１１】
（４）上記（３）において、好ましくは、リーク電流の温度特性に基づいてグループ分けされ、リーク電流の温度特性の類似する一つのグループ内の複数個のＸ線検出器の内の一つを、前記オフセット補正用検出器として用い、残りのＸ線検出器に対して前記オフセット補正用検出器を近接して温度条件が近いところに設置するようにしたものである。
【００１２】
（５）上記（１）において、好ましくは、前記信号処理手段は、断層像撮像中に所定時間間隔で取得された前記オフセットデータと前記リファレンスデータを用いて、データ補正するようにしたものである。
【００１３】
（６）上記（１）において、好ましくは、前記信号処理手段は、得られた断層像の画質が劣化したと判定された時に取得された前記オフセットデータと前記リファレンスデータを用いて、データ補正するようにしたものである。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、検出器間のオフセットのバラツキを補正し、長時間の断層像撮影においても高画質のＣＴ画像が得られる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、図１〜図６を用いて、本発明の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置の構成及び動作について説明する。  
最初に、図１を用いて、本実施形態によるＸ線ＣＴ装置の全体構成について説明する。  
図１は、本発明の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置の全体構成を示す構成図である。
【００１６】
直流Ｘ線管１から放出されたＸ線２は、回転するスキャナー３の上に載っている被検体４を透過し、散乱線の入射を防止するためのコリメータ５により絞り込まれ、Ｘ線検出器群６に入射する。Ｘ線検出器群６には、複数個（例えば、５００個〜１０００個）のＸ線検出器から構成されている。Ｘ線検出器群６に入射したＸ線は、Ｘ線検出器によって電流信号に変換され、検出回路部９で積分され、電圧信号となる。
【００１７】
さらに、本実施形態においては、Ｘ線検出器群６に用いられているＸ線検出器と同材質・同形状であり、コリメータ５により一切のＸ線入射がないように施されたオフセット補正用検出器７と、被検体４の透過がなく、Ｘ線管１からのＸ線２が、コリメータ５を介して直接入射するリファレンス検出器８とを備えている。オフセット補正用検出器７によって検出されたオフセット参照信号と、リファレンス検出器８によって検出されたエアー参照信号も、検出回路部９にて電圧信号に変換される。
【００１８】
検出回路部９から出力される各電圧信号は、Ａ／Ｄ変換部１０でアナログ信号からディジタル信号に変換される。信号処理部１１は、これらのディジタル信号に基づいて、オフセット参照信号による各チャンネルのオフセット補正データの算出、ならびにエアー参照信号による各チャンネルのエアー補正データの算出を行い、これらの値を用いて各チャンネルごとの補正データを得る。画像処理部１２は信号処理部１１によって処理された信号に基づいて画像再構成を行い、得られた画像を画像表示部１３で表示する。中央制御部１４は、検出回路部９，Ａ／Ｄ変換部１０，信号処理部１１，画像処理部１２，画像表示部１３を制御し、運転計画を実行する。
【００１９】
次に、図２を用いて、本実施形態によるＸ線ＣＴ装置に用いられる半導体検出器のシリコンのリーク電流の温度特性について説明する。  
図２は、本発明の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置に用いられる半導体検出器のシリコンのリーク電流の温度特性の説明図である。
【００２０】
図２において、横軸は温度（℃）を示し、縦軸はリーク電流（ｐＡ）を対数目盛で示している。図２に示すように、リーク電流は温度に対して指数的に変化しており、温度が１度変化することによりリーク電流が数倍程度の大きさになり、リーク電流が温度に大きく依存していることが分かる。
【００２１】
ここで、図３を用いて、本実施形態によるＸ線ＣＴ装置に用いられる検出回路部９の構成について説明する。  
図３は、本発明の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置に用いられる検出回路部の構成を示す回路図である。
【００２２】
直流Ｘ線管からの連続Ｘ線を検出する検出回路部９は、Ｘ線検出器８と直流カップリングで結合されており、検出器８からの信号電流を積分することで電圧信号に変換している。そのため、図２に示したリーク電流は、そのままオフセット値に換算され、検出器のオフセットデータが温度に大きく依存することが明らかである。
【００２３】
次に、図４を用いて、本実施形態によるＸ線ＣＴ装置に用いられるＸ線検出器の模式的構成について説明する。  
図４は、本発明の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置に用いられるＸ線検出器の模式的構成を示す平面図である。なお、図１と同一符号は、同一部分を示している。
【００２４】
Ｘ線検出器群６は、図示の例では、Ｘ線検出器６ａ，６ｂ，…，６ｑの１６個からなるものとしているが、ここでは、説明の簡単のために個数を少なくして図示しており、実際には、５００個〜１０００個のＸ線検出器から構成される。
【００２５】
コリメータ５には、複数個のスリット１５が設けられており、各スリットはＸ線管１のＸ線源を向くように等角度ピッチで加工されている。スリット１５の個数は、Ｘ線検出器群６の個数と、リファレンス検出器８の数に等しいものである。スリット１５を設けることにより、図１に示したＸ線源からの直接入射以外の散乱線がＸ線検出器６に入るのを防止される。
【００２６】
コリメータ５の後方には、Ｘ線検出器群６が設置され、透過データを検出する。
【００２７】
リファレンス検出器８は、Ｘ線検出器と同様に、コリメータ５のスリット１５の後方に設置されるが、リファレンス検出器８は常にＸ線管１からＸ線が直接入射し、被検体を透過することがない個所に設置されている。これにより、リファレンス検出器８は、断層像撮像中のエアー参照信号を取得できる。
【００２８】
オフセット補正用検出器７は、Ｘ線検出器群６のＸ線検出器と同じ状態でコリメータ５に設置されるが、オフセット補正用検出器７が設置される位置にはコリメータ５にスリットを設けられていないものである。かかる構成により、オフセット補正用検出器７にはＸ線が入射せず、温度条件が他のＸ線検出器６と同条件で、断層像撮像中においてもオフセット値のみを取得できる。
【００２９】
次に、図５を用いて、本実施形態によるＸ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器群６のオフセットデータとオフセット補正用検出器７のオフセットデータとの相関関係について説明する。  
図５は、本発明の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置ににおけるＸ線検出器群のオフセットデータとオフセット補正用検出器のオフセットデータとの相関関係の説明図である。図５の横軸は時間（分）及びオフセット補正用検出器７の出力電圧を示し、縦軸はＸ線検出器の出力電圧を示している。
【００３０】
図１に示したＸ線ＣＴ装置の電源をオンした後、直流Ｘ線管１をオフ状態として、Ｘ線検出器もオフセット補正用検出器７も、いずれもＸ線を検出していないオフセット状態にして、オフセット補正用検出器７の出力電圧に対する、２つのＸ線検出器の出力Ａ，Ｂを測定し、時間の経過とともに示している。
【００３１】
Ｘ線ＣＴ装置の電源をオンしたままとすることにより、装置全体の温度が次第に上昇するため、オフセット補正用検出器７の出力電圧が次第に上昇するとともに、Ｘ線検出器の出力電圧も上昇する。
【００３２】
図５に示す例では、オフセット取得開始から３３０分まで定期的に取得したオフセットを、オフセット補正用検出器７の値に対してＸ線検出器６の値をプロットしたものであり、良好な相関を示している。Ｘ線検出器６のオフセット値は、線Ａで示すように、オフセット補正用検出器７の値の一次関数で表すことができる。すなわち、Ｘ線検出器６のオフセット値をＯＦＦ、オフセット補正用検出器７のオフセット値をＯＦＦ（calib）とすると、
ＯＦＦ＝ａ１×ＯＦＦ（calib）＋ｂ１
となる。ａ１，ｂ１はそれぞれ係数である。図５の例では、ａ１＝３．２０１７であり、ｂ１＝０．０８０１である。
【００３３】
線Ａは、Ｘ線検出器６のオフセット値と、オフセット補正用検出器７のオフセット値とが５倍程度相違する場合である。一方、線Ｂのように、Ｘ線検出器６のオフセット値と、オフセット補正用検出器７のオフセット値とがほぼ同じ値となる場合もある。すなわち、ａ１＝１．０で、ｂ１＝１．０の場合である。
【００３４】
Ｘ線ＣＴ装置の中央制御部１４は、Ｘ線ＣＴ装置の電源がオンになった後、直流Ｘ線管１をオフ状態として、Ｘ線検出器群６のＸ線検出器もオフセット補正用検出器７も、いずれもＸ線を検出していないオフセットモードにおいて、オフセット補正用検出器７の出力電圧に対する、Ｘ線検出器６の全てのＸ線検出器６ａ〜６ｑの出力を測定し、個々のＸ線検出器毎に、図５のように直線近似して、
ＯＦＦ（ｉ）＝ａ（ｉ）×ＯＦＦ（calib）＋ｂ（ｉ）
として、相関を求める。その結果の各係数ａ（ｉ），ｂ（ｉ）をオフセットデータとして信号処理部１１に記憶する。信号処理部１１は、断層像撮像中においてもオフセット補正用検出器７のオフセットデータから、各Ｘ線検出器のオフセット変化量が算出することができる。
【００３５】
次に、図６を用いて、本実施形態によるＸ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器群６のリファレンスデータとリファレンス検出器８のリファレンスデータとの相関関係について説明する。  
図６は、本発明の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置ににおけるＸ線検出器群のリファレンスデータとリファレンス検出器のリファレンスデータとの相関関係の説明図である。図６の横軸は時間（分）及びリファレンス検出器８の出力電圧を示し、縦軸はＸ線検出器の出力電圧を示している。
【００３６】
図１に示したＸ線ＣＴ装置の電源をオンした後、直流Ｘ線管１をオンし、かつ、被検体がセットされていない状態において、リファレンス検出器８の出力電圧に対する、Ｘ線検出器の出力を測定し、時間の経過とともに示している。
【００３７】
Ｘ線ＣＴ装置の電源をオンしたままとすることにより、装置全体の温度が次第に上昇するため、リファレンス検出器８の出力電圧が次第に上昇するとともに、Ｘ線検出器の出力電圧も上昇する。
【００３８】
図６に示す例では、エアーデータ取得開始から１２０分まで定期的に取得したデータを、リファレンス検出器８の値に対してＸ線検出器６の値をプロットしたものであり、良好な相関を示している。Ｘ線検出器６のエアーデータ値はリファレンス検出器８の値の一次関数で表すことができる。すなわち、Ｘ線検出器６のエアーデータ値をＡＩＲ、リファレンス検出器８のエアーデータをＡＩＲ（calib）とすると、
ＡＩＲ＝ｃ１×ＡＩＲ（calib）＋ｄ１
となる。ｃ１，ｄ１はそれぞれ係数である。図５の例では、ｃ１＝２．２９１７であり、ｄ１＝０．２０９５である。これによりＸ線強度変化に対する感度特性が得られる。この際、オフセットデータの補正を行い、真のエアー特性を求める。この相関係数を全てのＸ線検出器６ごとに求めることにより、断層像撮像中においてもリファレンス検出器８のエアーデータから、各チャンネルのエアーデータ変化量が導ける。
【００３９】
Ｘ線ＣＴ装置の中央制御部１４は、Ｘ線ＣＴ装置の電源がオンになった後、直流Ｘ線管１をオンとして、被検体が置かれていないエアーデータモードにおいて、オフセット補正用検出器７の出力電圧に対する、Ｘ線検出器６の全てのＸ線検出器６ａ〜６ｑの出力を測定し、個々のＸ線検出器毎に、図６のように直線近似して、
ＡＩＲ（ｉ）＝ｃ（ｉ）×ＡＩＲ（calib）＋ｄ（ｉ）
として、相関を求める。その結果の各係数ｃ（ｉ），ｄ（ｉ）をエアーデータとして信号処理部１１に記憶する。信号処理部１１は、断層像撮像中においてもオフセット補正用検出器７のエアーデータから、感度を補正することができる。
【００４０】
すなわち、信号処理部１１は、ｉ番目のＸ線検出器６（ｉ）の出力をＳ（ｉ）とすると、
（ｌｏｇ｛（Ｓ（ｉ）−ＯＦＦ（ｉ）／（Ａ（ｉ）−ＯＦＦ（ｉ））｝）
として、オフセット及び感度の補正された出力値を求めることができる。
【００４１】
なお、Ｘ線ＣＴは前述したように、エアーデータと検出データとの比の対数から被検体の透過データを得ている。そのため、例えばＳ／Ｎのダイナミックレンジを４桁確保しようとした場合、補正値の精度も同等のものが必要となる。その場合、リファレンスと検出器との相関は９９．９９％以上なければならず、長時間の撮像時には徐々にダイナミックレンジが小さくなる恐れがある。そのような場合には、所定のダイナミックレンジが確保できる最大の時間間隔ごとにオフセットとエアーデータを取得し直すことにより補正のずれを修正することができ、ダイナミックレンジを長時間に渡って確保できる。ここで、所定のダイナミックレンジが確保できる最大の時間間隔とは、例えば、１０分毎である。
【００４２】
また、画質を判定して、画質の劣化が見られた場合に、オフセットとエアーデータを取得し直すことにより補正のずれを修正するようにすることもできる。この場合、例えば、スキャナー３の上に、被検体と同時に、参照被検体を設置し、参照被検体からの情報により画質を判定する。参照被検体としては、例えば、アルミ製の円柱体を用いる。そして、アルミの密度プロファイルのバラツキを見て、バラツキが所定レベルより大きくなった場合に画質が劣化したと判定するようにする。また、参照被検体として、アルミ製の円柱体に、その軸方向に延在する直径の異なる貫通孔を形成したものを用いる。貫通孔の孔径を、０．２ｍｍφ、０．４ｍｍφと異ならせる。そして、０．４ｍｍφの孔を画像上で識別できるが、０．２ｍｍφの孔を識別できなくなった場合に、画質が劣化したと判定するようにする。
【００４３】
以上説明したように、本実施形態によれば、予め求めたオフセットデータを用いて、オフセット補正することにより、検出器間のオフセットのバラツキを補正し、長時間の断層像撮影においても高画質のＣＴ画像が得られる。また、エアーデータについても、同様に補正することにより、感度補正された良質の画像を得ることができる。
【００４４】
次に、図７を用いて、本発明の他の実施形態によるＸ線ＣＴ装置の構成及び動作について説明する。本実施形態によるＸ線ＣＴ装置の全体構成は、図１と同様である。  
ここでは、本実施形態によるＸ線ＣＴ装置における検出器の構成について説明する。  
図７は、本発明の他の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置における検出器の構成を示す正面図である。図７は、図１に示したコリメータ５を紙面の下方向から見たい状態を模式的に示している。なお、図１や図３と同一符号は、同一部分を示している。
【００４５】
本実施形態では、Ｘ線検出器群６を構成するＸ線検出器６ａ，…，６ｑは、図３に示したものと同様である。しかし、２個のリファレンス検出器7ａ，7ｂ及び、４個のオフセット補正用検出器7ａ，7ｂ，7ｃ，7ｄを備えている。リファレンス検出器８ａ，８ｂは、Ｘ線検出器群６の両端に配置され、被検体を通過しないＸ線を検出することができる。
【００４６】
オフセット補正用検出器7ａ，7ｂ，7ｃ，7ｄは、１６個のＸ線検出器６ａ，…，６ｑを類似する特性を有するグループ毎に４グループ（６ａ，…，６ｄ），（６ｅ，…，６ｉ），（６ｊ，…，６ｍ），（６ｎ，…，６ｑ）毎に１個を近接して配置するようにしている。しかも、各オフセット補正用検出器7ａ，7ｂ，7ｃ，7ｄは、近接配置される各グループと類似の特性を有するものである。
【００４７】
ここで、Ｘ線検出器及びオフセット補正用検出器のグループについて説明する。Ｘ線検出器群６のＸ線検出器の検出部に半導体を用いた場合、検出部は半導体ウェハーからの切り出しとなる。半導体の抵抗値，静電容量などの物理的特性は、同一ウェハー内においても中心部、周囲部と各部分ごとにおいて近い特性を示す。そこで、ウェハーを中心部と、周囲部というように各部分ごとにグループ分けする。すなわち、Ｘ線検出器６ａ，…，６ｄと、オフセット補正用検出器7ａとを同一グループの検出部により構成し、Ｘ線検出器６ｅ，…，６ｉと、オフセット補正用検出器7ｂとを同一グループの検出部により構成し、Ｘ線検出器６ｊ，…，６ｍと、オフセット補正用検出器7ｃとを同一グループの検出部により構成し、Ｘ線検出器６ｎ，…，６ｑと、オフセット補正用検出器7ｄとを同一グループの検出部により構成する。
【００４８】
より具体的に説明すると、例えば、８”のウェハーから、４ｍｍ×４０ｍｍの検出部を得る場合、１枚のウェハーから切り出せる検出部の個数は、６０個となる。そこで、この６０個を、中心部の３０個と、周辺部の３０個の各グループに分ける。Ｘ線検出器群６が４９３個のＸ線検出器から構成される場合、１７グループのＸ線検出器によってＸ線検出器群６を構成する。１つのグループの３０個の検出器の内、２９個はＸ線検出器として用い、残りの１個はオフセット補正用検出器として用いる。
【００４９】
同一グループ内のＸ線検出器の相関は、図５の実線Ｂの様に、係数Ａ（ｉ），Ｂ（ｉ）が１．０に近い値となる。従って、実線Ａで示すように、係数Ａ（ｉ），Ｂ（ｉ）が１．０に比べて大きい場合に比べて、同一グループ内の一つのＸ線検出器をオフセット補正用検出器とした方が、誤差を小さくできる。したがって、このように、半導体検出部をグループ分けし、グループ毎にオフセット補正用検出器７を設け、同一グループ内の他のＸ線検出器６の補正データを得ることで、より正確にオフセット変化量を求め、オフセット値を補正することができる。
【００５０】
また、グルーピングしない場合でも、例えば、複数個のオフセット補正用検出器を設け、それらを、図７に示すように、複数個のＸ線検出器毎に隣接する位置に設置することで、温度条件が近いところに設けられたオフセット補正用検出器を用いてオフセット補正することにより、補正精度を向上することもできる。
【００５１】
以上説明したように、本実施形態によれば、予め求めたオフセットデータを用いて、オフセット補正することにより、検出器間のオフセットのバラツキを補正し、長時間の断層像撮影においても高画質のＣＴ画像が得られる。また、エアーデータについても、同様に補正することにより、感度補正された良質の画像を得ることができる。また、グループ分けして、グループ内のＸ線検出器の一つをオフセット補正用として用いることにより、さらに、補正精度を向上できる。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置の全体構成を示す構成図である。
【図２】本発明の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置に用いられる半導体検出器のシリコンのリーク電流の温度特性の説明図である。
【図３】本発明の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置に用いられる検出回路部の構成を示す回路図である。
【図４】本発明の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置に用いられるＸ線検出器の模式的構成を示す平面図である。
【図５】本発明の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器群のオフセットデータとオフセット補正用検出器のオフセットデータとの相関関係の説明図である。
【図６】本発明の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置におけるＸ線検出器群のリファレンスデータとリファレンス検出器のリファレンスデータとの相関関係の説明図である。
【図７】本発明の他の一実施形態によるＸ線ＣＴ装置における検出器の構成を示す正面図である。
【符号の説明】
【００５３】
１…直流Ｘ線管
２…Ｘ線
３…スキャナー
４…被検体
５…コリメータ
６…Ｘ線検出器
７…オフセット補正用検出器
８…リファレンス検出器
９…検出回路部
１０…Ａ／Ｄ変換部
１１…信号処理部
１２…画像処理部
１３…画像表示部
１４…中央制御部
１５…スリット
【図１】
2006020678.tif 000003
【図２】
2006020678.tif 000004
【図３】
2006020678.tif 000005
【図４】
2006020678.tif 000006
【図５】
2006020678.tif 000007
【図６】
2006020678.tif 000008
【図７】
2006020678.tif 000009