(57)【要約】【課題】  形成されるピット部／非ピット部のピット長／非ピット長が一定となるように記録レーザ光の照射時間幅が調整され、記録中の光ディスクに物理特性のばらつきがあっても、記録位置によるピット部、非ピット部の長さのばらつきを抑えることができる光ディスク記録装置を提供する。【解決手段】  記録パルス生成回路１１には基準デジタル信号のハイレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅毎に記録パルス信号のパルス長が予め設定されおり、記録中に、光ディスク１に形成されたピット長をパルス長測定回路８により測定し、演算回路１０により、この測定されたピット長を記憶回路９に予め記憶されている最適ピット長と比較し、この比較結果を基にして、測定されたピット長と最適ピット長とが一致するように、記録パルス生成回路１１に予め設定されている記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新する。【選択図】図１
2006073143.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、
前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射する光ピックアップと、
光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定するピット長測定手段と、
前記ピット長測定手段により測定されたピット長と予め記憶されている最適ピット長とを比較する比較手段と、
前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記ピット長測定手段により測定されたピット長と前記最適ピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、
を備えることを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項２】
所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、
前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射する光ピックアップと、
光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定する非ピット長測定手段と、
前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と予め記憶されている最適非ピット長とを比較する比較手段と、
前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と前記最適非ピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、
を備えることを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項３】
所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、
前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射する光ピックアップと、
光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定するピット長測定手段と、
光ディスクに記録した情報を読み出すのに最適なピット長を前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅ごとに記憶する記憶手段と、
入力される前記基準デジタル信号を監視し、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応する最適なピット長を前記記憶手段から読み出す基準デジタル信号監視手段と、
前記ピット長測定手段により測定されたピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長とを比較する比較手段と、
前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記ピット長測定手段により測定されたピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、
を備えることを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項４】
所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、
前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射する光ピックアップと、
光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定する非ピット長測定手段と、
光ディスクに記録した情報を読み出すのに最適な非ピット長を前記基準デジタル信号の前記第２のレベルの各時間幅ごとに記憶する記憶手段と、
入力される前記基準デジタル信号を監視し、前記基準デジタル信号の前記第２のレベルの時間幅に対応する最適な非ピット長を前記記憶手段から読み出す基準デジタル信号監視手段と、
前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適な非ピット長とを比較する比較手段と、
前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適な非ピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、
を備えることを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項５】
所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、
前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射する光ピックアップと、
光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定するピット長測定手段と、
光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定する非ピット長測定手段と、
光ディスクに記録した情報を読み出すのに最適なピット長および非ピット長を前記基準デジタル信号の前記第１および第２のレベルの各時間幅ごとに記憶する記憶手段と、
入力される前記基準デジタル信号を監視し、前記基準デジタル信号が前記第１のレベルのときにはその時間幅に対応する最適なピット長を前記記憶手段から読み出し、前記第２のレベルのときにはその時間幅に対応する最適な非ピット長を前記記憶手段から読み出す基準デジタル信号監視手段と、
前記ピット長測定手段および前記非ピット長測定手段により測定されたピット長および非ピット長を前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長および最適な非ピット長と比較する比較手段と、
前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして、前記ピット長測定手段および前記非ピット長測定手段により測定されたピット長および非ピット長が前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長および最適な非ピット長と一致するように、前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、
を備えることを特徴とする光ディスク記録装置。
【請求項６】
所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録方法であって、情報の記録中に、
入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅毎に設定されているパルス長から決定して前記記録パルス信号を生成し、
前記生成した前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射し、
光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定し、
前記測定したピット長と予め記憶されている最適ピット長とを比較し、
前記比較した結果を基にして前記測定したピット長と前記最適ピット長とが一致するように前記設定されている前記記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新する
ことを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項７】
所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録方法であって、情報の記録中に、
入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅毎に設定されているパルス長から決定して前記記録パルス信号を生成し、
前記生成した前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射し、
光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定し、
前記測定した非ピット長と予め記憶されている最適非ピット長とを比較し、
前記比較した結果を基にして前記測定した非ピット長と前記最適非ピット長とが一致するように前記設定されている前記記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新する
ことを特徴とする光ディスク記録方法。
【請求項８】
所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録方法であって、情報の記録中に、
入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅毎に設定されているパルス長から決定して前記記録パルス信号を生成し、
前記生成した前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射し、
光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長と非ピット部の非ピット長を測定し、
前記測定したピット長および非ピット長を予め記憶されている最適ピット長および最適非ピット長と比較し、
前記比較した結果を基にして、前記測定したピット長および非ピット長が前記最適ピット長および前記最適非ピット長と一致するように、前記設定されている前記記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新する
ことを特徴とする光ディスク記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＤ−Ｒ（Ｃｏｍｐａｃｔ  Ｄｉｓｃ−Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ）ディスクなどの記録可能な光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置、および光ディスク記録方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、ＣＤ−Ｒディスクなどの記録可能な光ディスクに大容量の情報を記録する技術が普及してきた。光ディスクに情報を記録する場合、再生時に正しく情報を読み出せるように、デジタル化された情報に対してＣＩＲＣ（Ｃｒｏｓｓ  Ｉｎｔｅｒｌｅａｖｅｄ  Ｒｅｅｄ−Ｓｏｌｏｍｏｎ  Ｃｏｄｅ）という誤り訂正のためのパリティを付加し、さらにＥＦＭ（Ｅｉｇｈｔ  ｔｏ  Ｆｏｕｒｔｅｅｎ  Ｍｏｄｕｌａｔｉｏｎ）方式により変調を行った後に、記録を行う。
【０００３】
デジタル化され、ＣＩＲＣを付加された情報は、ＥＦＭ変調により、所定の基準時間幅Ｔの３ないし１１倍の９通りの時間幅となるハイレベルとローレベルからなる基準デジタル信号に変換される。
【０００４】
光ディスク記録装置は、この基準デジタル信号のハイレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し該記録パルス信号に基づく記録レーザ光を光ディスクの記録面に照射する。
【０００５】
記録レーザ光は、光ディスクの記録面にピット部を形成できる第１のレーザ光と非ピット部を形成する第２のレーザ光からなる。光ディスク記録装置は、記録パルス信号に基づき、基準デジタル信号のハイレベルあるいはローレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅に対応する照射時間幅の第１と第２のレーザ光を光ディスクの記録面に照射して、基準デジタル信号のハイレベルあるいはローレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅に対応する長さのピット部と非ピット部を形成することで、基準デジタル信号を光ディスクに記録する。
【０００６】
一方、従来より、光ディスクの特性が光ディスクベンダごとに異なるために、基準デジタル信号のハイレベルあるいはローレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅が一定であっても、光ディスクに形成されるピット部または非ピット部の長さがばらつくという問題があった。そのため、光ディスク記録装置には、記録レーザ光の照射時間幅を調整する手段が設けられている。
【０００７】
例えば、記録前に予め記録対象の光ディスクに対して、基準デジタル信号のハイレベルあるいはローレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅それぞれに対応する最適な記録レーザ光（第１と第２のレーザ光）の照射時間幅を求めて光ディスク記録装置に記憶しておき、実際に該記録対象の光ディスクへ情報を記録するときには、この記憶してある最適な記録レーザ光の照射時間幅を用いるようにしていた。
【０００８】
しかしながら、上記した従来の記録レーザ光の照射時間幅の調整方法では、記録レーザ光の照射時間幅が記録中に調整されないため、記録中の光ディスクに色素の塗りむらや反りなどのあると、記録レーザ光を同じ照射時間幅で照射してもピット部と非ピット部の長さが記録位置によってばらつくという問題があった。
【０００９】
一方、実際の記録中に、光ディスクからの反射光のうちのピット部の後端部に対応する箇所の反射光量と非ピット部の中央部に対応する箇所の反射光量の差が常に基準値と一致するように記録レーザ光の照射時間幅を調整することにより、基準デジタル信号のハイレベルあるいはローレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅に対応する記録レーザ光の照射時間幅を一定にする光ディスク記録装置が提案されている（例えば、特許文献１参照。）。
【００１０】
しかしながら、この従来の光ディスク記録装置は、光ピックアップ、レーザ駆動回路などのばらつきや、温度変動によって、記録パルス信号のパルス長が一定であっても記録レーザ光の照射時間幅がばらつき、光ディスクに形成されるピット部または非ピット部の長さがばらつくという問題には対処できても、光ディスクに色素の塗りむらや反りなどの物理特性のばらつきがあった場合に、記録位置によってピット部、非ピット部の長さがばらつくという問題には対処できなかった。つまり、この従来の光ディスク記録装置では、記録レーザ光の照射時間幅を一定にする調整が行われるので、光ディスクに物理特性のばらつきがあると、記録位置によってピット部、非ピット部の長さがばらつくことになる。
【００１１】
情報の再生時には、ピット部はマークとして認識され、非ピット部（ピットのない部分）はスペースとして認識されるため、形成されたピット部のピット長と非ピット部の非ピット長がばらつくと、情報を再生する際にマーク長、スペース長がばらつくことになり、ジッタやデビエーションが悪化し、再生信号のエラーが増加してしまうという問題があった。
【特許文献１】特開平５−２８２６７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
本発明は、上記問題点に鑑み、記録中に、光ディスクからの反射光を基にピット長／非ピット長を測定して、予め記憶されている最適ピット長／最適非ピット長と比較し、この比較結果を基にして、測定されたピット長／非ピット長と最適ピット長／最適非ピット長とが一致するように、基準デジタル信号のハイレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅毎に予め設定されている記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新することにより、形成されるピット部／非ピット部のピット長／非ピット長が一定となるように記録レーザ光の照射時間幅が調整され、記録中の光ディスクに物理特性のばらつきがあっても、記録位置によるピット部、非ピット部の長さのばらつきを抑えることができる光ディスク記録装置、および光ディスク記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
本発明の請求項１記載の光ディスク記録装置は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射する光ピックアップと、光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定するピット長測定手段と、前記ピット長測定手段により測定されたピット長と予め記憶されている最適ピット長とを比較する比較手段と、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記ピット長測定手段により測定されたピット長と前記最適ピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、を備えることを特徴とする。
【００１４】
本発明の請求項２記載の光ディスク記録装置は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射する光ピックアップと、光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定する非ピット長測定手段と、前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と予め記憶されている最適非ピット長とを比較する比較手段と、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と前記最適非ピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、を備えることを特徴とする。
【００１５】
本発明の請求項３記載の光ディスク記録装置は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射する光ピックアップと、光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定するピット長測定手段と、光ディスクに記録した情報を読み出すのに最適なピット長を前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅ごとに記憶する記憶手段と、入力される前記基準デジタル信号を監視し、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応する最適なピット長を前記記憶手段から読み出す基準デジタル信号監視手段と、前記ピット長測定手段により測定されたピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長とを比較する比較手段と、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記ピット長測定手段により測定されたピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、を備えることを特徴とする。
【００１６】
本発明の請求項４記載の光ディスク記録装置は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射する光ピックアップと、光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定する非ピット長測定手段と、光ディスクに記録した情報を読み出すのに最適な非ピット長を前記基準デジタル信号の前記第２のレベルの各時間幅ごとに記憶する記憶手段と、入力される前記基準デジタル信号を監視し、前記基準デジタル信号の前記第２のレベルの時間幅に対応する最適な非ピット長を前記記憶手段から読み出す基準デジタル信号監視手段と、前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適な非ピット長とを比較する比較手段と、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適な非ピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、を備えることを特徴とする。
【００１７】
本発明の請求項５記載の光ディスク記録装置は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射する光ピックアップと、光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定するピット長測定手段と、光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定する非ピット長測定手段と、光ディスクに記録した情報を読み出すのに最適なピット長および非ピット長を前記基準デジタル信号の前記第１および第２のレベルの各時間幅ごとに記憶する記憶手段と、入力される前記基準デジタル信号を監視し、前記基準デジタル信号が前記第１のレベルのときにはその時間幅に対応する最適なピット長を前記記憶手段から読み出し、前記第２のレベルのときにはその時間幅に対応する最適な非ピット長を前記記憶手段から読み出す基準デジタル信号監視手段と、前記ピット長測定手段および前記非ピット長測定手段により測定されたピット長および非ピット長を前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長および最適な非ピット長と比較する比較手段と、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして、前記ピット長測定手段および前記非ピット長測定手段により測定されたピット長および非ピット長が前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長および最適な非ピット長と一致するように、前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、を備えることを特徴とする。
【００１８】
本発明の請求項６記載の光ディスク記録方法は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録方法であって、情報の記録中に、入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅毎に設定されているパルス長から決定して前記記録パルス信号を生成し、前記生成した前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定し、前記測定したピット長と予め記憶されている最適ピット長とを比較し、前記比較した結果を基にして前記測定したピット長と前記最適ピット長とが一致するように前記設定されている前記記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新することを特徴とする。
【００１９】
本発明の請求項７記載の光ディスク記録方法は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録方法であって、情報の記録中に、入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅毎に設定されているパルス長から決定して前記記録パルス信号を生成し、前記生成した前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定し、前記測定した非ピット長と予め記憶されている最適非ピット長とを比較し、前記比較した結果を基にして前記測定した非ピット長と前記最適非ピット長とが一致するように前記設定されている前記記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新することを特徴とする。
【００２０】
本発明の請求項８記載の光ディスク記録方法は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第１のレベルと第２のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第２のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録方法であって、情報の記録中に、入力される前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの時間幅に対応するパルス長を、前記基準デジタル信号の前記第１のレベルの各時間幅毎に設定されているパルス長から決定して前記記録パルス信号を生成し、前記生成した前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第１のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第２のレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長と非ピット部の非ピット長を測定し、前記測定したピット長および非ピット長を予め記憶されている最適ピット長および最適非ピット長と比較し、前記比較した結果を基にして、前記測定したピット長および非ピット長が前記最適ピット長および前記最適非ピット長と一致するように、前記設定されている前記記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新することを特徴とする。
【発明の効果】
【００２１】
本発明によれば、形成されるピット部／非ピット部のピット長／非ピット長が一定となるように記録レーザ光の照射時間幅が調整されるので、記録中の光ディスクに物理特性のばらつきがあっても、記録位置によるピット部、非ピット部の長さのばらつきを抑えることができ、さらに、光ピックアップ、レーザ駆動回路などのばらつきや、温度変動によるピット部、非ピット部の長さのばらつきを抑えることもできる。よって、情報を再生する際のマーク長、スペース長のばらつきも抑えられるので、ジッタやデビエーションを良好なものにでき、再生信号のエラーを抑制することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２２】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。
図１は、本実施の形態における光ディスク記録装置の構成を表すブロック図である。
図１において、基準デジタル信号ａは、周知のＥＦＭ変調が施された信号であり、所定の基準時間幅Ｔの整数倍となる等差級数をなす時間幅３Ｔないし１１Ｔのハイレベル（第１のレベル）とローレベル（第２のレベル）からなるデジタル信号である。光ディスク１には、この基準デジタル信号ａのハイレベルの時間幅に対応する長さのピット部とローレベルの時間幅に対応する長さの非ピット部が形成される。このように光ディスク１にピット部と非ピット部を形成することで、基準デジタル信号ａが光ディスク１に記録される。
【００２３】
光ディスク１は、ＣＤ−Ｒなどの記録可能な記録媒体であり、情報の再生時や記録時には、周知のように、図示しないスピンドルモータなどによって回転される。
光ピックアップ２は、記録時には、光ディスク１にピット部を形成できる光強度（ピット部形成レベル）の第１のレーザ光と非ピット部を形成する光強度（非ピット部形成レベル）の第２のレーザ光をレーザ駆動回路３から入力される駆動電流に応じて光ディスク１へ照射するとともに、光ディスク１からの反射光をその光量に応じた電圧値となる電圧信号ＲＬに変換して、該電圧信号ＲＬをＲＦアンプ回路４へ出力する。
【００２４】
レーザ駆動回路３は、記録パルス生成回路１１から入力される記録パルス信号に応じた駆動電流を光ピックアップ２へ出力する。ここでは、記録パルス信号レベルがハイレベルのときに第１のレーザ光を出力するための駆動電流を出力し、ローレベルのときに第２のレーザ光を出力するための駆動電流を出力する。このようにレーザ駆動回路３は、記録パルス信号に応じて光ピックアップ２を駆動する。
【００２５】
ＲＦアンプ回路４は、光ピックアップ２から入力される電圧信号ＲＬを増幅し、この増幅電圧信号ＡＲＬをサンプルホールド回路６と二値化回路７へ出力する。
タイミングパルス発生回路５は、記録パルス生成回路１１から入力される記録パルス信号の立ち上がりの直前、すなわち第１のレーザ光が照射される直前のタイミングを検出してタイミングパルス信号ＴＰを生成し、サンプルホールド回路６へ出力する。ここでは、タイミングパルス発生回路５は記録パルス信号の立ち上がりの直前にのみハイレベルとなるタイミングパルス信号ＴＰを生成する。
【００２６】
サンプルホールド回路６は、タイミングパルス発生回路５から入力されるタイミングパルス信号ＴＰに応じてＲＦアンプ回路４からの増幅電圧信号ＡＲＬをサンプリングする。すなわち、サンプルホールド回路６は、タイミングパルス信号ＴＰがハイレベルのとき、ＲＦアンプ回路４からの増幅電圧信号ＡＲＬをサンプリングしてその電圧値を検知し、ローレベルのときにはサンプリング時に検知した電圧値を保持する。そして、検知した、又は保持している電圧値を二値化回路７へ出力する。したがって、サンプルホールド回路６は、増幅電圧信号ＡＲＬの立ち上がりの直前の電圧値、すなわち第１のレーザ光が照射される直前の第２のレーザ光の反射光量に応じた増幅電圧信号ＡＲＬの電圧値を検知する。
【００２７】
二値化回路７は、サンプルホールド回路６から入力される電圧値をしきい値ＳＬとしてＲＦアンプ回路４から入力される増幅電圧信号ＡＲＬを二値化し、光ディスクにピット部が形成される間ハイレベルとなり非ピット部が形成される間ローレベルとなるパルス信号ＰＰを生成してパルス長測定回路８へ出力する。具体的には、二値化回路７は、サンプルホールド回路６から入力される電圧値（しきい値ＳＬ）よりもＲＦアンプ回路４から入力される増幅電圧信号ＡＲＬが高い場合及び低い場合と等しい場合で信号レベルが反転するパルス信号ＰＰ（ここでは、しきい値ＳＬよりも増幅電圧信号ＡＲＬが高い場合及び低い場合にハイレベルとなり、等しい場合にローレベルとなるパルス信号）を生成する。
【００２８】
パルス長測定回路８は、二値化回路７から入力されるパルス信号ＰＰがハイレベルとなる期間とローレベルとなる期間の長さを測定し、この測定長を測定ピット長、測定非ピット長として演算回路１０へ出力する。この測定は、例えば、記録パルス生成回路１１で生成することができる記録パルス信号の分解能と同等かそれ以上の高い周波数（例えば所定の基準時間幅Ｔの３２倍の周波数）のカウントパルス信号ＣＰの立ち上がりあるいは立下りをカウントすることで行う。
【００２９】
以上のように、本実施の形態では、タイミングパルス発生回路５、サンプルホールド回路６、二値化回路７、パルス長測定回路８によりピット長測定手段および非ピット長測定手段が構成され、光ディスク１へ照射した第１および第２のレーザ光の反射光に基づいて測定ピット長と測定非ピット長が測定される。
【００３０】
記憶回路（記憶手段）９は、光ディスクに記録した情報を読み出すのに最適なピット長および非ピット長を基準デジタル信号ａのハイレベルおよびローレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅ごとに記憶する。なお、この最適ピット長と最適非ピット長は、測定ピット長と測定非ピット長の初期値としても用いられる。
【００３１】
演算回路１０は、基準デジタル信号ａを監視して、ハイレベル・ローレベルの判定及び時間幅の判定を行い、その判定結果に対応する最適ピット長と最適非ピット長を記憶回路９から読み出す（基準デジタル信号監視手段）。
【００３２】
また、演算回路１０は、測定ピット長および測定非ピット長を保持する。つまり、演算回路１０には、基準デジタル信号ａのハイレベルおよびローレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅それぞれに対応する測定ピット長および測定非ピット長の初期値として記憶回路９に予め記憶されている最適ピット長および最適非ピット長が設定され、パルス長測定回路８から入力される測定ピット長および測定非ピット長によって測定ピット長および測定非ピット長が更新される。
【００３３】
演算回路１０は、入力される基準デジタル信号ａのハイレベルおよびローレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅に対応する最適ピット長および最適非ピット長を記憶回路９から読み出し、保持する測定ピット長および測定非ピット長との差を演算し、この演算結果を記録パルス生成回路１１へ出力する。このようにして、演算回路１０は、測定ピット長および測定非ピット長と最適ピット長および最適非ピット長の比較を行う（比較手段）。
【００３４】
記録パルス生成回路１１には、基準デジタル信号ａのハイレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅それぞれに対応する記録パルス長（記録パルス信号のハイレベルの時間幅）の初期値として、予め最適な値に調整された時間幅が設定されており、入力される基準デジタル信号ａのハイレベルの時間幅に応じて記録パルス長を決定することで記録パルス信号を生成する。
【００３５】
また、記録パルス生成回路１１は、演算回路１０から与えられる演算結果（比較結果）に基づいて、最適ピット長および最適非ピット長と測定ピット長および測定非ピット長とが一致するように記録パルス長を調整し且つ更新する。
【００３６】
このように、当該光ディスク記録装置では、記録中に、最適ピット長および最適非ピット長と測定ピット長および測定非ピット長とが一致するように記録パルス信号の記録パルス長を調整し且つ更新することで、記録レーザ光（第１と第２のレーザ光）の照射時間幅を最適値に調整して、再生するのに適したピット長および非ピット長となるピット部および非ピット部が光ディスク１に形成されるようにしている。
【００３７】
当該光ディスク記録装置によれば、情報の記録中に記録パルス信号の記録パルス長を調整し且つ更新するので、更新した後のピット部と非ピット部の長さが最適となり、ジッタやデビエーションの悪化を防止でき、再生エラー信号のエラーの増加を防止することができる。
【００３８】
次に、当該光ディスク記録装置による記録中のリアルタイムな記録レーザ光の照射時間幅調整処理の流れ（光ディスク記録方法）について、まず、図１のブロック図と、図２−１、図２−２のフローチャートを表す図と、図３のパルス信号を表す図を用いて、光ディスク１に生成されるピット部のピット長のみを測定して記録レーザ光の照射時間幅を調整する場合について説明する。
【００３９】
図２−１において、ステップＳＰ１では、演算回路１０が、基準デジタル信号ａのハイレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅それぞれに対応する測定ピット長の初期値として、記憶回路９に記憶されている最適ピット長を、変数３Ｔｐｉｔ〜１１Ｔｐｉｔに設定し（測定ピット長の初期化）、ステップＳＰ２へ進む。
【００４０】
ステップＳＰ２では、記録パルス生成回路１１が、基準デジタル信号ａのハイレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅それぞれに対応する記録パルス長の初期値として、予め調整された最適な値を変数３Ｔｗｓ〜１１Ｔｗｓに設定し（記録パルス長の初期化）、ステップＳＰ３へ進む。
【００４１】
ステップＳＰ３では、当該光ディスク記録装置は、基準デジタル信号ａが更新されていなければ更新されるまで待ち、更新された場合はステップＳＰ４へ進む。基準デジタル信号ａは、記録が開始されるか、または既に記録が開始されている状態にあるときに更新されたと判定される。
【００４２】
ステップＳＰ４では、演算回路１０が基準デジタル信号ａを監視し、基準デジタル信号ａのハイレベルの時間幅を判別し、その時間幅が３Ｔの場合はステップＳＰ３１へ進み、４Ｔの場合はステップＳＰ４１へ進み、５Ｔの場合はステップＳＰ５１へ進み、６Ｔの場合はステップＳＰ６１へ進み、７Ｔの場合はステップＳＰ７１へ進み、８Ｔの場合はステップＳＰ８１へ進み、９Ｔの場合はステップＳＰ９１へ進み、１０Ｔの場合はステップＳＰ１０１へ進み、１１Ｔの場合はステップＳＰ１１１へ進む。
【００４３】
ステップＳＰ３１では、演算回路１０が記憶回路９から基準デジタル信号ａの時間幅３Ｔのハイレベルに対応する最適ピット長を読み出し、変数ＯＰＴとして保持して、ステップＳＰ３２へ進む。
【００４４】
ステップＳＰ３２では、演算回路１０が基準デジタル信号ａの時間幅３Ｔのハイレベルに対応する測定ピット長３Ｔｐｉｔ（測定値）と最適ピット長ＯＰＴ（最適値）との差を求め、補正値ＤＩＦとして保持し、ステップＳＰ３３へ進む。
【００４５】
ステップＳＰ３３では、記録パルス生成回路１１が、基準デジタル信号ａの時間幅３Ｔのハイレベルに対応する記録パルス長３Ｔｗｓに補正値ＤＩＦを加算した値を調整後の新たな記録パルス長３Ｔｗｓとして保持し、Ａへ進む。なお、ステップＳＰ４１〜ステップＳＰ４３、ステップＳＰ５１〜ステップＳＰ５３、ステップＳＰ６１〜ステップＳＰ６３、ステップＳＰ７１〜ステップＳＰ７３、ステップＳＰ８１〜ステップＳＰ８３、ステップＳＰ９１〜ステップＳＰ９３、ステップＳＰ１０１〜ステップＳＰ１０３、ステップＳＰ１１１〜ステップＳＰ１１３については、基準デジタル信号ａのハイレベルの時間幅が４Ｔから１１Ｔの場合であり、時間幅３Ｔの場合と同様の処理が行われて、Ａへ進む。
【００４６】
図２−１におけるＡは、図２−２におけるＡに接続する。図２−２において、ＡからはステップＳＰ５へ進む。ステップＳＰ５では、記録パルス生成回路１１が、基準デジタル信号ａに基づいて記録パルス長を決定することで記録パルス信号を生成して、レーザ駆動回路３へ出力し、ステップＳＰ６へ進む。
【００４７】
ステップＳＰ６では、レーザ駆動回路３と光ピックアップ２によって光ディスク１に対して記録パルス信号に基づいた記録レーザ光ＷＰが照射され、ステップＳＰ７へ進む。
ステップＳＰ７では、光ピックアップ２によって反射光量に応じた電圧値となる電圧信号ＲＬが生成され、ステップＳＰ８へ進む。なお、電圧信号ＲＬの波形は、例えば図３に示すようになる。また、記録レーザ光ＷＰの光強度がピット部形成レベルとなる時間幅（第１のレーザ光の照射時間幅）は、記録パルス信号レベルがハイレベルとなる時間幅に対応し、記録レーザ光ＷＰの光強度が非ピット部形成レベルとなる時間幅（第２のレーザ光の照射時間幅）は、記録パルス信号レベルがローレベルとなる時間幅に対応する。
【００４８】
ステップＳＰ８では、タイミングパルス発生回路５で発生したタイミングパルス信号ＴＰをイネーブル信号として動作するサンプルホールド回路６によって、ＲＦアンプ回路４から出力される増幅電圧信号ＡＲＬから記録レーザ光ＷＰがピット部形成レベルになる直前の電圧値を取得し、二値化回路７にてこの電圧値をしきい値ＳＬとして、ＲＦアンプ回路４から出力される増幅電圧信号ＡＲＬがしきい値ＳＬより高い場合にハイレベルとなる信号（図３に示すＵＬ）としきい値ＳＬより低い場合にハイレベルとなる信号（図３に示すＬＬ）を加算して、光ディスクにピット部が形成される間ハイレベルとなり非ピット部が形成される間ローレベルとなるパルス信号ＰＰを生成し、ステップＳＰ９へ進む。
【００４９】
ステップＳＰ９では、パルス長測定回路８が、パルス信号ＰＰがハイレベルとなる期間だけカウントパルス信号ＣＰの立ち上がりあるいは立下りをカウントしていき、該カウント数とカウントパルス信号ＣＰの周期を乗算してパルス信号ＰＰのハイレベルの時間幅を測定することでピット部のピット長に相当する値（測定ピット長）を得て、ステップＳＰ１０へ進む。
【００５０】
ステップＳＰ１０では、演算回路１０が、入力される基準デジタル信号ａのハイレベルの時間幅を判別し、３Ｔの場合はステップＳＰ３４へ進み、４Ｔの場合はステップＳＰ４４へ進み、５Ｔの場合はステップＳＰ５４へ進み、６Ｔの場合はステップＳＰ６４へ進み、７Ｔの場合はステップＳＰ７４へ進み、８Ｔの場合はステップＳＰ８４へ進み、９Ｔの場合はステップＳＰ９４へ進み、１０Ｔの場合はステップＳＰ１０４へ進み、１１Ｔの場合はステップＳＰ１１４へ進む。
【００５１】
ステップＳＰ３４では、演算回路１０が、図２−２におけるステップＳＰ９でパルス長測定回路８により測定された測定ピット長の値を変数３Ｔｐｉｔへ設定し、測定ピット長３Ｔｐｉｔの値を更新して、ステップＳＰ１１へ進む。なお、ステップＳＰ４４〜ステップＳＰ１１４については、基準デジタル信号ａのハイレベルの時間幅が４Ｔから１１Ｔの場合であり、時間幅３Ｔの場合と同様の処理が行われて、ステップＳＰ１１へ進む。
【００５２】
ステップＳＰ１１では、記録終了か否かを判別し、記録が終了するときは処理を終了し、記録が終了しないときはＢへ進む。なお、図２−２におけるＢは図２−１におけるＢに接続する。以降、図２−１におけるＢから図２−１におけるステップＳＰ３へ進み、上述した処理を繰り返す。
【００５３】
次に、図１のブロック図と、図４−１、図４−２のフローチャートを表す図と、図３のパルス信号を表す図を用いて、光ディスク１に生成される非ピット部の非ピット長のみを測定して記録レーザ光の照射時間幅を調整する場合について説明する。
【００５４】
図４−１において、ステップＳＰｓ１では、演算回路１０が、基準デジタル信号ａのローレベルの３Ｔないし１１Ｔの時間幅それぞれに対応する測定非ピット長の初期値として、記憶回路９に記憶されている最適非ピット長を、変数３Ｔｓｐｃ〜１１Ｔｓｐｃに設定し（測定非ピット長の初期化）、ステップＳＰｓ２へ進む。
【００５５】
ステップＳＰｓ２では、記録パルス生成回路１１が、基準デジタル信号ａの時間幅３Ｔないし１１Ｔのローレベルの直後に現れる時間幅３Ｔないし１１Ｔのハイレベルに対応する記録パルス長の初期値として、予め調整された最適な値を変数３Ｔｂ３ｗｓ〜１１Ｔｂ３ｗｓ、３Ｔｂ４ｗｓ〜１１Ｔｂ４ｗｓ、３Ｔｂ５ｗｓ〜１１Ｔｂ５ｗｓ、３Ｔｂ６ｗｓ〜１１Ｔｂ６ｗｓ、３Ｔｂ７ｗｓ〜１１Ｔｂ７ｗｓ、３Ｔｂ８ｗｓ〜１１Ｔｂ８ｗｓ、３Ｔｂ９ｗｓ〜１１Ｔｂ９ｗｓ、３Ｔｂ１０ｗｓ〜１１Ｔｂ１０ｗｓ、３Ｔｂ１１ｗｓ〜１１Ｔｂ１１ｗｓに設定し（記録パルス信号の初期化）、ステップＳＰ３へ進む。
【００５６】
なお、変数３Ｔｂ３ｗｓ〜１１Ｔｂ３ｗｓは、基準デジタル信号ａの時間幅３Ｔのローレベルの直後に現れる時間幅３Ｔないし１１Ｔのハイレベルに対応する記録パルス長を保持する変数である。同様に、変数３Ｔｂ４ｗｓ〜１１Ｔｂ１１ｗｓは、基準デジタル信号ａの時間幅４Ｔないし１１Ｔのローレベルの直後に現れる時間幅３Ｔないし１１Ｔのハイレベルに対応する記録パルス長を保持する変数である。
【００５７】
ステップＳＰ３では、当該光ディスク記録装置は、基準デジタル信号ａが更新されていなければ更新されるまで待ち、更新された場合はステップＳＰｓ４へ進む。基準デジタル信号ａは、記録が開始されるか、または既に記録が開始されている状態にあるときに更新されたと判定される。
【００５８】
ステップＳＰｓ４では、演算回路１０が基準デジタル信号ａを監視し、基準デジタル信号ａのローレベルの時間幅を判別し、その時間幅が３Ｔの場合はステップＳＰｓ３１へ進み、４Ｔの場合はステップＳＰｓ４１へ進み、５Ｔの場合はステップＳＰｓ５１へ進み、６Ｔの場合はステップＳＰｓ６１へ進み、７Ｔの場合はステップＳＰｓ７１へ進み、８Ｔの場合はステップＳＰｓ８１へ進み、９Ｔの場合はステップＳＰｓ９１へ進み、１０Ｔの場合はステップＳＰｓ１０１へ進み、１１Ｔの場合はステップＳＰｓ１１１へ進む。
【００５９】
ステップＳＰｓ３１では、演算回路１０が記憶回路９から基準デジタル信号ａの時間幅３Ｔのローレベルに対応する最適非ピット長を読み出し、変数ＯＰＴとして保持して、ステップＳＰｓ３２へ進む。
【００６０】
ステップＳＰｓ３２では、演算回路１０が基準デジタル信号ａの時間幅３Ｔのローレベルに対応する測定非ピット長３Ｔｓｐｃ（測定値）と最適非ピット長ＯＰＴ（最適値）との差を求め、補正値ＤＩＦとして保持し、ステップＳＰｓ３３へ進む。
【００６１】
ステップＳＰｓ３３では、記録パルス生成回路１１が、基準デジタル信号ａの時間幅３Ｔのローレベルの直後に現れる時間幅３Ｔないし１１Ｔのハイレベルに対応する記録パルス長３Ｔｂ３ｗｓ〜１１Ｔｂ３ｗｓから補正値ＤＩＦを減算した値を調整後の新たな記録パルス長３Ｔｂ３ｗｓ〜１１Ｔｂ３ｗｓとして保持し、Ａｓへ進む。なお、ステップＳＰｓ４１〜ステップＳＰｓ４３、ステップＳＰｓ５１〜ステップＳＰｓ５３、ステップＳＰｓ６１〜ステップＳＰｓ６３、ステップＳＰｓ７１〜ステップＳＰｓ７３、ステップＳＰｓ８１〜ステップＳＰｓ８３、ステップＳＰｓ９１〜ステップＳＰｓ９３、ステップＳＰｓ１０１〜ステップＳＰｓ１０３、ステップＳＰｓ１１１〜ステップＳＰｓ１１３については、基準デジタル信号ａのローレベルの時間幅が４Ｔから１１Ｔの場合であり、時間幅３Ｔの場合と同様の処理が行われて、Ａｓへ進む。
【００６２】
図４−１におけるＡｓは、図４−２におけるＡｓに接続する。図４−２において、ＡｓからはステップＳＰ５へ進む。ステップＳＰ５では、記録パルス生成回路１１が、基準デジタル信号ａに基づいて記憶パルス長を決定することで記録パルス信号を生成して、レーザ駆動回路３へ出力し、ステップＳＰ６へ進む。
【００６３】
なお、ステップＳＰｓ３１からステップＳＰｓ１１３において、最適非ピット長と測定非ピット長の差を記録パルス信号に反映するために、基準デジタル信号ａのローレベルの直後に現れるハイレベルに対応する記録パルス信号のハイレベルの立下り部分は固定して、立ち上がり部分の位置のみを調整する。該方法により、記録パルス信号に最適非ピット長と測定非ピット長の差を反映することができる。
【００６４】
ステップＳＰ６では、レーザ駆動回路３と光ピックアップ２によって光ディスク１に対して記録パルス信号に基づいた記録レーザ光ＷＰが照射され、ステップＳＰ７へ進む。
ステップＳＰ７では、光ピックアップ２によって反射光量に応じた電圧値となる電圧信号ＲＬが生成され、ステップＳＰ８へ進む。なお、電圧信号ＲＬの波形は、例えば図３に示すようになる。また、記録レーザ光ＷＰの光強度がピット部形成レベルとなる時間幅（第１のレーザ光の照射時間幅）は、記録パルス信号レベルがハイレベルとなる時間幅に対応し、記録レーザ光ＷＰの光強度が非ピット部形成レベルとなる時間幅（第２のレーザ光の照射時間幅）は、記録パルス信号レベルがローレベルとなる時間幅に対応する。
【００６５】
ステップＳＰ８では、タイミングパルス発生回路５で発生したタイミングパルス信号ＴＰをイネーブル信号として動作するサンプルホールド回路６によって、ＲＦアンプ回路４から出力される増幅電圧信号ＡＲＬから記録レーザ光ＷＰがピット部形成レベルになる直前の電圧値を取得し、二値化回路７にてこの電圧値をしきい値ＳＬとして、ＲＦアンプ回路４から出力される増幅電圧信号ＡＲＬがしきい値ＳＬより高い場合にハイレベルとなる信号（図３に示すＵＬ）としきい値ＳＬより低い場合にハイレベルとなる信号（図３に示すＬＬ）を加算して、光ディスクにピット部が形成される間ハイレベルとなり非ピット部が形成される間ローレベルとなるパルス信号ＰＰを生成し、ステップＳＰｓ９へ進む。
【００６６】
ステップＳＰｓ９では、パルス長測定回路８が、パルス信号ＰＰがローレベルとなる期間だけカウントパルス信号ＣＰの立ち上がりあるいは立下りをカウントしていき、該カウント数とカウントパルス信号ＣＰの周期を乗算して、パルス信号ＰＰのローレベルの時間幅を測定することで非ピット部の非ピット長に相当する値（測定非ピット長）を得て、ステップＳＰｓ１０へ進む。
【００６７】
ステップＳＰｓ１０では、演算回路１０が、入力される基準デジタル信号ａのローレベルの時間幅を判別し、３Ｔの場合はステップＳＰｓ３４へ進み、４Ｔの場合はステップＳＰｓ４４へ進み、５Ｔの場合はステップＳＰｓ５４へ進み、６Ｔの場合はステップＳＰｓ６４へ進み、７Ｔの場合はステップＳＰｓ７４へ進み、８Ｔの場合はステップＳＰｓ８４へ進み、９Ｔの場合はステップＳＰｓ９４へ進み、１０Ｔの場合はステップＳＰｓ１０４へ進み、１１Ｔの場合はステップＳＰｓ１１４へ進む。
【００６８】
ステップＳＰｓ３４では、演算回路１０が、図４−２におけるステップＳＰｓ９でパルス長測定回路８により測定された測定非ピット長の値を変数３Ｔｓｐｃへ設定し、測定非ピット長Ｔｓｐｃの値の更新して、ステップＳＰ１１へ進む。なお、ステップＳＰｓ４４〜ステップＳＰｓ１１４については、基準デジタル信号ａのローレベルの時間幅が４Ｔから１１Ｔの場合であり、時間幅３Ｔの場合と同様の処理が行われて、ステップＳＰ１１へ進む。
【００６９】
ステップＳＰ１１では、記録終了か否かを判別し、記録が終了するときは処理を終了し、記録が終了しないときはＢｓへ進む。なお、図４−２におけるＢｓは図４−１におけるＢｓに接続する。以降、図４−１におけるＢｓから図４−１におけるステップＳＰ３へ進み、上述した処理を繰り返す。
【００７０】
なお、光ディスク１に生成されるピット部のピット長及び非ピット部の非ピット長を測定してレーザ光の照射時間幅を調整する場合は、上述したピット長のみを測定した場合の処理と非ピット長のみを測定した場合の処理を交互に繰り返すことで実施できる（図５−１、図５−２、図５−３、図５−４のフローチャートを表す図を参照。）。なお、図５−１におけるＡｐｓは図５−２におけるＡｐｓに接続する。図５−２におけるＣｐｓは図５−３におけるＣｐｓに接続する。図５−３におけるＤｐｓは図５−４におけるＤｐｓに接続する。図５−４におけるＢｐｓは図５−１におけるＢｐｓに接続する。
【００７１】
また、本実施の形態では、基準デジタル信号ａがハイレベルのときにピット部が形成され、ローレベルのときに非ピット部が形成される場合について説明したが、ハイレベルのときに非ピット部が形成され、ローレベルのときにピット部が形成される場合も同様に実施することができる。
【００７２】
また、増幅電圧信号ＡＲＬがしきい値ＳＬより高い場合及び低い場合にハイレベルとなり等しい場合にローレベルとなるパルス信号ＰＰがハイレベルのときにピット部が形成され、ローレベルのときに非ピット部が形成される場合について説明したが、増幅電圧信号ＡＲＬがしきい値ＳＬより高い場合及び低い場合にローレベルとなり等しい場合にハイレベルとなるパルス信号ＰＰがローレベルのときにピット部が形成され、ハイレベルのときに非ピット部が形成される場合も同様に実施することができる。
【００７３】
また、記録パルス信号がハイレベルのときに第１のレーザ光が照射されローレベルのときに第２のレーザ光が照射される場合について説明したが、記録パルス信号がハイレベルのときに第２のレーザ光が照射されローレベルのときに第１のレーザ光が照射される場合も同様に実施することができる。
【００７４】
また、記録パルス信号の立ち上がりの直前にのみハイレベルとなるタイミングパルス信号ＴＰを生成する場合について説明したが、記録パルス信号の立ち上がりの直前にのみローレベルとなるタイミングパルス信号ＴＰを生成する場合も同様に実施することができる。
【産業上の利用可能性】
【００７５】
本発明にかかる光ディスク記録装置、および光ディスク記録方法は、記録対象の光ディスクの記録位置に拘わらずピット部／非ピット部の長さが一定となるように、記録レーザ光の照射時間幅を調整することができ、レーザ光を用いて光ディスクに情報を記録する装置などに有効である。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】本発明の実施の形態における光ディスク記録装置の構成を表すブロック図
【図２−１】本発明の実施の形態における記録レーザ光の照射時間幅調整処理の流れを表すフローチャートを表す図（光ディスクに生成されるピット部のピット長のみを測定して記録レーザ光の照射時間幅を調整する場合）
【図２−２】本発明の実施の形態における記録レーザ光の照射時間幅調整処理の流れを表すフローチャートを表す図（光ディスクに生成されるピット部のピット長のみを測定して記録レーザ光の照射時間幅を調整する場合）
【図３】本発明の実施の形態の光ディスク記録装置において入出力されるパルス信号を表す図
【図４−１】本発明の実施の形態における記録レーザ光の照射時間幅調整処理の流れを表すフローチャートを表す図（光ディスクに生成される非ピット部の非ピット長のみを測定して記録レーザ光の照射時間幅を調整する場合）
【図４−２】本発明の実施の形態における記録レーザ光の照射時間幅調整処理の流れを表すフローチャートを表す図（光ディスクに生成される非ピット部の非ピット長のみを測定して記録レーザ光の照射時間幅を調整する場合）
【図５−１】本発明の実施の形態における記録レーザ光の照射時間幅調整処理の流れを表すフローチャートを表す図（光ディスクに生成されるピット部および非ピット部のピット長および非ピット長を測定して記録レーザ光の照射時間幅を調整する場合）
【図５−２】本発明の実施の形態における記録レーザ光の照射時間幅調整処理の流れを表すフローチャートを表す図（光ディスクに生成されるピット部および非ピット部のピット長および非ピット長を測定して記録レーザ光の照射時間幅を調整する場合）
【図５−３】本発明の実施の形態における記録レーザ光の照射時間幅調整処理の流れを表すフローチャートを表す図（光ディスクに生成されるピット部および非ピット部のピット長および非ピット長を測定して記録レーザ光の照射時間幅を調整する場合）
【図５−４】本発明の実施の形態における記録レーザ光の照射時間幅調整処理の流れを表すフローチャートを表す図（光ディスクに生成されるピット部および非ピット部のピット長および非ピット長を測定して記録レーザ光の照射時間幅を調整する場合）
【符号の説明】
【００７７】
１      光ディスク
２      光ピックアップ
３      レーザ駆動回路
４      ＲＦアンプ回路
５      タイミングパルス発生回路
６      サンプルホールド回路
７      二値化回路
８      パルス長測定回路
９      記憶回路
１０    演算回路
１１    記録パルス生成回路
【図１】
2006073143.tif 000003
【図２−１】
2006073143.tif 000004
【図２−２】
2006073143.tif 000005
【図３】
2006073143.tif 000006
【図４−１】
2006073143.tif 000007
【図４−２】
2006073143.tif 000008
【図５−１】
2006073143.tif 000009
【図５−２】
2006073143.tif 000010
【図５−３】
2006073143.tif 000011
【図５−４】
2006073143.tif 000012