(57)【要約】【課題】  変復調回路の不良選別を容易に行なうことができる変復調回路不良選別装置を提供する。【解決手段】  変調回路と復調回路とからなる変復調回路の不良選別を行なう変復調回路不良選別装置であって、検査データを入力したとき変調回路が出力する変調データを復調回路に入力するための経路と、経路を介して変調データを入力したとき復調回路が出力する復調データの検査を行なう検査器と、前記検査データを一時記憶させ、前記復調回路からの復調データの出力タイミングに合わせて、該一時記憶させた検査データを出力するバッファリング部とを備え、前記検査器が、前記復調データと前記一時記憶させた検査データとを比較し、両者が一致するか否かを判定する。【選択図】  図１
2006067005.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
変調処理を行なう変調回路と復調処理を行なう復調回路とからなる変復調回路の不良選別を行なう変復調回路不良選別装置であって、
検査データが入力されたとき前記変調回路から出力される変調データを前記復調回路に入力するための経路と、
前記経路を介して前記変調データが入力されたとき前記復調回路から出力される復調データの検査を行なう検査器とを備え、
前記検査器からの出力に応じて、前記変復調回路の不良選別を行う、
ことを特徴とする変復調回路不良選別装置。
【請求項２】
請求項１に記載の変復調回路不良選別装置において、
前記検査データを一時記憶し、該一時記憶した検査データを、前記検査器に前記復調データが入力されるタイミングに合わせて出力するバッファリング部を備える、
ことを特徴とする変復調回路不良選別装置。
【請求項３】
請求項２に記載の変復調回路不良選別装置において、
前記検査器は、前記復調回路から出力される前記復調データと、前記バッファリング部で一時記憶された後出力される前記検査データとを比較し、両者が一致するか否かを判定する、
ことを特徴とする変復調回路不良選別装置。
【請求項４】
請求項２に記載の変復調回路不良選別装置において、
前記復調回路から出力された前記復調データを一時記憶して出力する第２のバッファリング部を備え、
前記バッファリング部は、前記一時記憶した検査データを、前記第２のバッファリング部から前記検査器に前記復調データが入力されるタイミングに合わせて出力する、
ことを特徴とする変復調回路不良選別装置。
【請求項５】
請求項４に記載の変復調回路不良選別装置において、
前記検査器は、前記バッファリング部から出力される前記検査データと、前記第２のバッファリング部から出力される前記復調データとを比較し、両者が一致するか否かを判定する、
ことを特徴とする変復調回路不良選別装置。
【請求項６】
変調処理を行なう変調回路と復調処理を行なう復調回路とからなる変復調回路の不良選別を行なう変復調回路不良選別装置であって、
検査データが入力されたとき前記復調回路から出力される復調データを前記変調回路に入力するための経路と、
前記経路を介して前記復調データが入力される前記変調回路から出力される変調データの検査を行なう検査器とを備え、
前記検査器からの出力に応じて、前記変復調回路の不良選別を行う、
ことを特徴とする変復調回路不良選別装置。
【請求項７】
請求項６に記載の変復調回路不良選別装置において、
前記検査データを一時記憶し、該一時記憶した検査データを、前記検査器に前記変調データが入力されるタイミングに合わせて出力するバッファリング部を備える、
ことを特徴とする変復調回路不良選別装置。
【請求項８】
請求項７に記載の変復調回路不良選別装置において、
前記検査器は、前記変調回路から出力される前記変調データと、前記バッファリング部で一時記憶された後出力される前記検査データとを比較し、両者が一致するか否かを判定する、
ことを特徴とする変復調回路不良選別装置。
【請求項９】
請求項１または請求項６に記載の変復調回路不良選別装置において、
前記検査データは、エラー検出符号（ＥＤＣ：Error Detecting Code）が付加されており、
前記検査器は、入力されたデータに付加された前記エラー検出符号を検出して、これを解析する、
ことを特徴とする変復調回路不良選別装置。
【請求項１０】
請求項１または請求項６に記載の変復調回路不良選別装置において、
前記検査データは、エラー訂正符号（ＥＣＣ：Error Correcting Code）が付加されており、
前記検査器は、入力されたデータに付加された前記エラー訂正符号を検査し、これを解析する、
ことを特徴とする変復調回路不良選別装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、変復調回路不良選別装置に関し、特に、変調回路と復調回路とを有する変復調回路の回路不良を検知し、選別するものに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
変調動作と復調動作とは完全に一対の関係にある。すなわち、変調動作し出力された変調データが復調回路に入力されれば、復調回路が出力する復調データと変調前のデータとは一致する。しかしながら、実際には変調回路にて変調された変調データがそのまま復調前のデータとして復調回路に入力されることはないため、変調回路と復調回路とはそれぞれ独立しており、変復調回路の不良選別を行なう際には、変調回路と復調回路とをそれぞれ個別に動作させ、各回路毎に不良判定を行なっていた（例えば特許文献１参照）。
【０００３】
以下、図６を用いて、従来の変復調回路の不良選別方法について説明する。図６は、変復調回路のブロック図である。
【０００４】
図において、６００は変調回路６１０及び復調回路６２０を有する変復調回路であり、６０１は変調回路６１０に入力される変調前データ、６０２は変調回路６１０で変調された変調データ、６０３は変調用同期クロック、６０４は復調用同期クロック、６０５は復調回路６２０に入力される復調前データ、６０６は復調回路６２０で復調された復調データである。
【０００５】
そして、上述したような構成を有する変復調回路の不良選別を行う際には、変調回路６１０、復調回路６２０のそれぞれの回路に対して、別々に不良か否かの判定を行い、該変調回路６１０と復調回路６２０とのうち、いずれか一方でも不良と判定されたときに、変復調回路６００が不良であると判定してこれを選別していた。
【０００６】
すなわち、変調回路６１０の不良選別を行う場合には、変調用同期クロック６０３で駆動させた変調回路６１０に、変調前データ６０１を入力して、変調データ６０２を生成させ、この生成した変調データ６０２を、上記変調前データ６０１に応じた期待値と比較することで、不良であるか否かを判定し、同様に、復調回路６２０の不良選別する際には、復調用同期クロック６０４で駆動させた復調回路６２０に、復調前データ６０５を入力して、変調データ６０６を生成させ、この生成した復調データ６０６と、復調前データ６０５に応じた期待値とを比較することで、不良であるか否かを判定していた。
【特許文献１】特開平１０−３１２６３７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このように、従来における、変調回路と復調回路とを有する変復調回路の不良選別方法は、変調回路と復調回路とに対し、それぞれ個別のクロック及び入力データを入力するとともに、この入力データに基づく期待値をそれぞれ用意し、変調データ及び復調データが各期待値にそれぞれ一致するかどうかを判定する必要があり、処理が煩雑になってしまうという問題があった。
【０００８】
本発明は、上述のような従来の問題点を解決するためになされたものであり、変復調回路の不良選別を容易に行なうことのできる変復調回路不良選別装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
前記課題を解決するために、本発明の請求項１に係る変復調回路不良選別装置は、変調処理を行なう変調回路と復調処理を行なう復調回路とからなる変復調回路の不良選別を行なう変復調回路不良選別装置であって、検査データが入力されたとき前記変調回路から出力される変調データを前記復調回路に入力するための経路と、前記経路を介して前記変調データが入力されたとき前記復調回路から出力される復調データの検査を行なう検査器とを備え、前記検査器からの出力に応じて、前記変復調回路の不良選別を行うものである。
【００１０】
本発明の請求項２に係る変復調回路不良選別装置は、請求項１に記載の変復調回路不良選別装置において、前記検査データを一時記憶し、該一時記憶した検査データを、前記検査器に前記復調データが入力されるタイミングに合わせて出力するバッファリング部を備えるものである。
【００１１】
本発明の請求項３に係る変復調回路不良選別装置は、請求項２に記載の変復調回路不良選別装置において、前記検査器は、前記復調回路から出力される前記復調データと、前記バッファリング部で一時記憶された後出力される前記検査データとを比較し、両者が一致するか否かを判定するものである。
【００１２】
本発明の請求項４に係る変復調回路不良選別装置は、請求項２に記載の変復調回路不良選別装置において、前記復調回路から出力された前記復調データを一時記憶して出力する第２のバッファリング部を備え、前記バッファリング部は、前記一時記憶した検査データを、前記第２のバッファリング部から前記検査器に前記復調データが入力されるタイミングに合わせて出力するものである。
【００１３】
本発明の請求項５に係る変復調回路不良選別装置は、請求項４に記載の変復調回路不良選別装置において、前記検査器は、前記バッファリング部から出力される前記検査データと、前記第２のバッファリング部から出力される前記復調データとを比較し、両者が一致するか否かを判定するものである。
【００１４】
本発明の請求項６に係る変復調回路不良選別装置は、変調処理を行なう変調回路と復調処理を行なう復調回路とからなる変復調回路の不良選別を行なう変復調回路不良選別装置であって、検査データが入力されたとき前記復調回路から出力される復調データを前記変調回路に入力するための経路と、前記経路を介して前記復調データが入力されたとき前記変調回路から出力される変調データの検査を行なう検査器とを備え、前記検査器からの出力に応じて、前記変復調回路の不良選別を行うものである。
【００１５】
本発明の請求項７に係る変復調回路不良選別装置は、請求項６に記載の変復調回路不良選別装置において、前記検査データを一時記憶し、該一時記憶した検査データを、前記検査器に前記変調データが入力されるタイミングに合わせて出力するバッファリング部を備えるものである。
【００１６】
本発明の請求項８に係る変復調回路不良選別装置は、請求項７に記載の変復調回路不良選別装置において、前記検査器は、前記変調回路から出力される前記変調データと、前記バッファリング部で一時記憶された後出力される前記検査データとを比較し、両者が一致するか否かを判定するものである。
【００１７】
本発明の請求項９に係る変復調回路不良選別装置は、請求項１または請求項６に記載の変復調回路不良選別装置において、前記検査データは、エラー検出符号（ＥＤＣ：Error Detecting Code）が付加されており、前記検査器は、入力されたデータに付加された前記エラー検出符号を検出して、これを解析するものである。
【００１８】
本発明の請求項１０に係る変復調回路不良選別装置は、請求項１または請求項６に記載の変復調回路不良選別装置において、前記検査データは、エラー訂正符号（ＥＣＣ：Error Correcting Code）が付加されており、前記検査器は、入力されたデータに付加された前記エラー訂正符号を検査し、これを解析するものである。
【発明の効果】
【００１９】
本発明の請求項１に係る変復調回路不良選別装置は、変調処理を行なう変調回路と復調処理を行なう復調回路とからなる変復調回路の不良選別を行なう変復調回路不良選別装置であって、検査データが入力されたとき前記変調回路から出力される変調データを前記復調回路に入力するための経路と、前記経路を介して前記変調データが入力されたとき前記復調回路から出力される復調データの検査を行なう検査器とを備え、前記検査器からの出力に応じて、前記変復調回路の不良選別を行うようにしたので、装置に単一の同期クロック及び検査データを入力するのみで、変復調回路の不良選別を行うことができるため、変復調回路の不良選別を容易に行なうことができるという効果がある。
【００２０】
本発明の請求項２に係る変復調回路不良選別装置は、請求項１に記載の変復調回路不良選別装置において、前記検査データを一時記憶し、該一時記憶した検査データを、前記検査器に前記復調データが入力されるタイミングに合わせて出力するバッファリング部を備えるようにしたので、変復調回路の不良選別を容易に行なうことができるという効果がある。
【００２１】
本発明の請求項３に係る変復調回路不良選別装置は、請求項２に記載の変復調回路不良選別装置において、前記検査器は、前記復調回路から出力される前記復調データと、前記バッファリング部で一時記憶された後出力される前記検査データとを比較し、両者が一致するか否かを判定するものとしたので、検査器にて前記検査データと復調データとが一致するか否かの判定を容易に行えるという効果がある。
【００２２】
本発明の請求項４に係る変復調回路不良選別装置は、前記復調回路から出力された前記復調データを一時記憶して出力する第２のバッファリング部を備え、前記バッファリング部は、前記一時記憶した検査データを、前記第２のバッファリング部から前記検査器に前記復調データが入力されるタイミングに合わせて出力するようにしたので、前記検査データと前記復調データとが既知の関係で不一致箇所があった場合には、その不一致箇所に加工を施す等した後のデータを比較することが可能となるため、より精度の高い検査判定結果を得ることができるという効果がある。
【００２３】
本発明の請求項５に係る変復調回路不良選別装置は、請求項４に記載の変復調回路不良選別装置において、前記検査器は、前記バッファリング部から出力される前記検査データと、前記第２のバッファリング部から出力される前記復調データとを比較し、両者が一致するか否かを判定するものとしたので、変復調回路の不良選別を容易に行うことができる。
【００２４】
本発明の請求項６に係る変復調回路不良選別装置は、変調処理を行なう変調回路と復調処理を行なう復調回路とからなる変復調回路の不良選別を行なう変復調回路不良選別装置であって、検査データが入力されたとき前記復調回路から出力される復調データを前記変調回路に入力するための経路と、前記経路を介して前記復調データが入力されたとき前記変調回路から出力される変調データの検査を行なう検査器とを備え、前記検査器からの出力に応じて、前記変復調回路の不良選別を行うようにしたので、変復調回路の不良選別を容易に行なうことができるという効果がある。
【００２５】
本発明の請求項７に係る変復調回路不良選別装置は、請求項６に記載の変復調回路不良選別装置において、前記検査データを一時記憶し、該一時記憶した検査データを、前記検査器に前記変調データが入力されるタイミングに合わせて出力するバッファリング部を備えるようにしたので、変復調回路の不良選別を容易に行なうことができるという効果がある。
【００２６】
本発明の請求項８に係る変復調回路不良選別装置は、請求項７に記載の変復調回路不良選別装置において、前記検査器は、前記変調回路から出力される前記変調データと、前記バッファリング部で一時記憶された後出力される前記検査データとを比較し、両者が一致するか否かを判定するものとしたので、前記検査器にて前記検査データと復調データとが一致するか否かの判定を容易に行えるという効果がある。
【００２７】
本発明の請求項９に係る変復調回路不良選別装置は、請求項１または請求項６に記載の変復調回路不良選別装置において、前記検査データは、エラー検出符号（ＥＤＣ：Error Detecting Code）が付加されており、前記検査器は、入力されたデータに付加された前記エラー検出符号を検出して、これを解析するものとしたので、より簡単な構成で変復調回路の不良選別を容易に行なうことができるという効果がある。
【００２８】
本発明の請求項１０に係る変復調回路不良選別装置は、請求項１または請求項６に記載の変復調回路不良選別装置において、前記検査データは、エラー訂正符号（ＥＣＣ：Error Correcting Code）が付加されており、前記検査器は、入力されたデータに付加された前記エラー訂正符号を検査し、これを解析するものとしたので、より簡単な構成で変復調回路の不良選別を容易に行なうことができ、さらに、検出された回路不良がエラー訂正により訂正可能なものであるかをも診断することができるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
（実施の形態１）
以下、図１を用いて、本実施の形態１にかかる変復調回路不良選別装置について説明する。図１は、本発明の実施の形態１による変復調回路を含む変復調回路不良選別装置のブロック図である。
【００３０】
図において、１５０は変調回路及び復調回路を含む変復調回路不良選別装置であり、１６０は変調処理を行なう変調回路、１７０は復調処理を行なう復調回路、１８０はデータをバッファリングするバッファリング部、１９０は復調回路１７０の出力とバッファリング部１８０の出力とを比較する検査器である。
【００３１】
また、１０１は変調回路１６０に入力される検査データ、１０２は通常動作時に変調回路１６０から外部に出力される変調データ、１０３は変調回路１６０と復調回路１７０とバッファリング部１８０とに供給される同期クロック、１０４は通常動作時に復調回路１７０に入力される復調前データ、１０５は変調回路１６０と復調回路１７０とを繋ぐ経路を介して変調回路１６０から復調回路１７０に出力される変調データである。そして、１０６は復調回路１７０が出力する復調データ、１０７は復調回路１７０から検査器１９０に入力される復調データ１０６と同じデータが出力されるように、同期クロック１０３に基づいて前記バッファリング部１８０で一定期間格納され、その出力タイミングを調整されたタイミング調整後検査データ、１０８は検査器１９０が出力する変復調回路不良選別結果である。なお、前記バッファリング部１８０が、前記検査データ１０１の出力タイミングを任意に変化させることができるものであればよりよい。このようにすれば、当該変復調回路不良選別装置に汎用性を持たせることができる。
【００３２】
以下、動作について説明する。
なお、当該変復調不良選別装置１５０は、通常動作時には、変調回路１６０及び復調回路１７０において、それぞれ外部から入力されたデータを、変調処理あるいは復調処理して、変調データ１０２あるいは復調データ１０６にした後、外部に出力するものであり、その動作は従来と同様であるため、ここでは変調回路不良選別回路１５０の不良回路選別時の動作についてのみ説明する。
【００３３】
まず、当該変調回路不良選別回路１５０に入力された検査データ１０１は、変調回路１６０に入力されると共に、バッファリング部１８０に入力される。
【００３４】
そして、前記変調回路１６０では、検査データ１０１が入力されると、復調回路１７０及びバッファリング部１８０と共通の同期クロック１０３により変調処理を行ない、変調データ１０５を出力する。この変調データ１０５は復調回路１７０に入力される。
一方、バッファリング部１８０では、入力された検査データ１０１を、所定期間、保持する。
【００３５】
そして、前記変調回路１６０より変調データ１０５を受信した復調回路１７０では、変調回路１６０及びバッファリング部１８０と共通の同期クロック１０３により、該変調データ１０５の復調処理を行ない、復調データ１０６を出力する。この復調データ１０６は検査器１９０に入力される。
【００３６】
そしてこの復調データ１０６が検査器１９０に入力される同じタイミングで、前記バッファリング部１８０から、タイミング調整後検査データ１０７を、検査器１９０に入力する。このように、検査器１９０に第１バッファリング部１８０及び復調回路１７０から同じデータを同じタイミングで入力できるのは、変調回路１６０における変調動作と復調回路１７０における復調動作とを、同期クロック１０３で同期させており、該復調回路１７０より出力される復調データ１０６の出力タイミングを予測できるからである。
【００３７】
検査器１９０では、上記復調回路１７０から出力された復調データ１０６と、前記バッファリング部１８０から出力されたタイミング調整後検査データ１０７とを比較し、それらが一致しているか不一致であるかを示す変復調回路不良選別結果１０８を外部へ出力する。そして、この変復調回路不良選別結果１０８をモニタリングすることにより、当該変復調回路不良選別装置１５０内の変調回路１６０及び／または復調回路１７０の回路不良を検知し、変復調回路の不良選別を行なう。
【００３８】
以上のように本実施の形態１による変復調回路不良選別装置１５０によれば、外部より入力された検査データ１０１を変調回路１６０にて変調処理した変調データ１０５を、復調回路１７０にて復調処理した復調データ１０６と、バッファリング部１８０で前記検査データ１０１を一定期間保持して出力タイミングを調整された、タイミング調整後検査データ１０７とを、検査器１９０で比較するようにしたので、当該変復調回路不良選別装置１５０に、単一のクロック１０３及び検査データ１０１を入力するだけで、変復調回路の不良選別を行なうことができるため、変復調回路の不良選別が容易になるという効果が得られる。
【００３９】
（実施の形態２）
以下、図２を用いて、本実施の形態２にかかる変復調回路不良選別装置について説明する。
本実施の形態２は、前記実施の形態１の構成に加え、さらに復調データの出力タイミングを調整するバッファリング部を設けるようにしたものである。
【００４０】
図２は、本発明の実施の形態２による変復調回路を含む変復調回路不良選別装置のブロック図である。
図において、２５０は変調回路、及び復調回路を含む変復調回路不良選別装置であり、２６０は変調処理を行なう変調回路、２７０は復調処理を行なう復調回路、２８０は外部より入力される検査データ２０１をバッファリングする第１のバッファリング部、２８１は復調回路２７０から出力される復調データ２０６をバッファリングする第２のバッファリング部、２９０は第１のバッファリング部２８０の出力と第２のバッファリング部２８１の出力とを比較する検査器である。
【００４１】
また、２０１は変調回路２６０に入力される検査データ、２０２は通常動作時に変調回路２６０から外部に出力される変調データ、２０３は変調回路２６０と復調回路２７０と第１のバッファリング部２８０と第２のバッファリング部２８１とに供給される同期クロック、２０４は通常動作時に復調回路２７０に入力される復調前データ、２０５は変調回路２６０と復調回路２７０とを繋ぐ経路を介して変調回路２６０から復調回路２７０に出力される変調データ、２０６は復調回路２７０が出力する復調データである。そして、２０８は第２のバッファリング部２８１において同期クロック２０３に基づいて、ある一定期間格納され、その出力タイミングを調整されたタイミング調整後復調データ、２０７は検査器２９０に入力される前記タイミング調整後復調データ２０８と同じデータになるように、前記同期クロック２０３に基づいて前記第１のバッファリング部２８０で一定期間格納され、その出力タイミングが調整されたタイミング調整後検査データ、２０９は検査器２９０が出力する変復調回路不良選別結果である。なお、前記第１，第２のバッファリング部２８０，２８１それぞれが、前記検査データ２０１，前記復調データ２０６の出力タイミングを任意に変化させることができるものであればよりよい。このようにすれば、当該変復調回路不良選別装置２５０に汎用性を持たせることができる。
【００４２】
以下、動作について説明する。
なお、当該変復調不良選別装置２５０は、通常動作時には、変調回路２６０及び復調回路２７０において、それぞれ外部から入力されたデータを、変調処理あるいは復調処理して、変調データ２０２あるいは復調データ２０６にした後、外部に出力するものであり、その動作は従来と同様であるため、ここでは変調回路不良選別回路２５０の不良回路選別時の動作についてのみ説明する。
【００４３】
まず、当該変調回路不良選別回路２５０に入力された検査データ２０１は、変調回路２６０に入力されると共に、バッファリング部２８０に入力される。
【００４４】
そして、前記変調回路２６０では、検査データ２０１が入力されると、復調回路２７０及び第１，第２のバッファリング部２８０，２８１と共通の同期クロック２０３により変調処理を行ない、変調データ２０５を出力する。この変調データ２０５は復調回路２７０に入力される。
一方、バッファリング部２８０では、入力された検査データ２０１を、所定期間、保持する。
【００４５】
そして、前記変調回路２６０より変調データ２０５を受信した復調回路２７０では、変調回路２６０及び第１，第２のバッファリング部２８０，２８１と共通の同期クロック２０３により、該変調データ２０５の復調処理を行ない、復調データ２０６を出力する。この復調データ１０６は第２のバッファリング部２８１に入力され、一定期間保持される。
【００４６】
そして、前記第２のバッファリング部２８１に保持された復調データ２０６が検査器２９０に入力される同じタイミングで、前記第１のバッファリング部２８０から、タイミング調整後検査データ２０７を、検査器２９０に入力する。このように、検査器２９０に第１，第２のバッファリング部２８０，２８１から同じデータを同じタイミングで入力できるのは、変調回路２６０における変調動作と復調回路２７０における復調動作とを同期クロック２０３で同期させており、該復調回路２７０より出力される復調データ２０６の出力タイミングを予測できることに加え、前記第２バッファリング部２８１におけるデータの保持動作も同期クロック２０３で同期させているからである。
【００４７】
検査器２９０では、上記第２のバッファリング部２８１から出力されたタイミング調整後復調データ２０８と、前記第１のバッファリング部２８０から出力されたタイミング調整後検査データ２０７とを比較し、それらが一致しているか不一致であるかを示す変復調回路不良選別結果２０８を外部へ出力する。そして、この変復調回路不良選別結果２０８をモニタリングすることにより、当該変復調回路不良選別装置２５０内の変調回路２６０及び／または復調回路２７０の回路不良を検知し、変復調回路の不良選別を行なう。
【００４８】
なお、本実施の形態２においては、上記復調回路２７０から出力される復調データ２０６も、バッファリング部にて一定期間格納するようにしているので、検査データ２０１と復調データ２０６との間に既知の関係で不一致箇所があった場合（例えばバーストエラー発生時など）には、検査器２９０において、たとえ上記タイミング調整後検査データ２０７とタイミング調整後復調データ２０８とが不一致であっても不良と判別させない、ようにすることが可能となり、より精度の高い検査判定結果を得ることができる。
【００４９】
以上のように、本実施の形態２による変復調回路不良選別装置によれば、検査データ２０１と復調データ２０６とをそれぞれバッファリングするようにしたので、検査データ２０１と復調データ２０６とが既知の関係で不一致箇所があった場合（例えばバーストエラー発生時等）には、検査器２９０に入力されるタイミング調整後検査データ２０７及びタイミング調整後復調データ２０８を加工する等の対策を施し、該対策を施した後のデータを検査器２９０にて比較することが可能となり、より精度の高い検査判定結果を得ることができる。
【００５０】
（実施の形態３）
以下、図３を用いて、本実施の形態３にかかる変復調回路不良選別装置について説明する。
前記実施の形態１では、変調回路に検査データを入力する場合について説明したが、本実施の形態３では、復調回路に検査データを入力するようにしたものである。
【００５１】
図３は、本発明の実施の形態３による変復調回路を含む変復調回路不良選別装置のブロック図である。
図において、３５０は変調回路、及び復調回路を含む変復調回路不良選別装置であり、３６０は復調処理を行なう復調回路、３７０は変調処理を行なう変調回路、３８０はデータをバッファリングするバッファリング部、３９０は変調回路３７０の出力とバッファリング部３８０の出力とを比較する検査器である。
【００５２】
また、３０１は復調回路３６０に入力される検査データ、３０２は通常動作時に復調回路３６０から外部に出力される復調データ、３０３は復調回路３６０と変調回路３７０とバッファリング部３８０とに供給される同期クロック、３０４は通常動作時に変調回路３７０に入力される変調前データである。そして、３０５は復調回路３６０と変調回路３７０とを繋ぐ経路を介して復調回路３６０から変調回路３７０に出力される復調データ、３０６は変調回路３７０が出力する変調データ、３０７は前記同期クロック３０３に基づいて前記変調回路３７０から出力される変調データ３０６に、その出力タイミングが合うようバッファリング部３８０でその出力タイミングを調整されたタイミング調整後検査データ、３０８は検査器３９０が出力する変復調回路不良選別結果である。
【００５３】
以下、動作について説明する。
なお、当該変復調不良選別装置３５０は、通常動作時には、変調回路３７０及び復調回路３６０において、それぞれ外部から入力されたデータを、変調処理あるいは復調処理して、変調データ３０６あるいは復調データ３０２にした後、外部に出力するものであり、その動作は従来と同様であるため、ここでは変調回路不良選別回路３５０の不良回路選別時の動作についてのみ説明する。
【００５４】
まず、当該変調回路不良選別回路３５０に入力された検査データ３０１は、復調回路３６０に入力されると共に、バッファリング部３８０に入力される。そして、前記復調回路３６０では、検査データ３０１が入力されると、変調回路３７０及びバッファリング部３８０と共通の同期クロック３０３により復調処理を行ない、復調データ３０５を出力する。この復調データ３０５は変調回路３７０に入力される。一方、バッファリング部３８０では、入力された検査データ３０１を、所定のタイミングまでの期間、保持する。
【００５５】
そして、前記復調回路３６０より復調データ３０５を受信した変調回路３７０では、復調回路３６０及びバッファリング部３８０と共通の同期クロック３０３により、該復調データ３０５の変調処理を行ない、変調データ３０６を出力する。この変調データ３０６は検査器３９０に入力される。そしてこの変調データ３０６が検査器３９０に入力される同じタイミングで、前記バッファリング部３８０から、タイミング調整後検査データ３０７を、検査器３９０に入力する。
【００５６】
検査器３９０では、上記変調回路３７０から出力された変調データ３０６と、前記バッファリング部３８０から出力されたタイミング調整後検査データ３０７とを比較し、それらが一致しているか不一致であるかを示す変復調回路不良選別結果３０８を外部へ出力する。そして、この変復調回路不良選別結果３０８をモニタリングすることにより、当該変復調回路不良選別装置３５０内の復調回路３６０及び／または変調回路３７０の回路不良を検知し、変復調回路の不良選別を行なう。
【００５７】
以上のように本実施の形態３による変復調回路不良選別装置３５０によれば、外部より入力された検査データ３０１を復調回路３６０にて復調処理した復調データ３０５を、変調回路３７０にて変調処理した変調データ３０６と、バッファリング部３８０で前記検査データ３０１を一定期間保持して出力タイミングを調整された、タイミング調整後検査データ３０７とを、検査器３９０で比較するようにしたので、変調前のデータがない場合において、当該変復調回路不良選別装置３５０に、単一の同期クロック３０３及び変調後のデータである検査データ３０１を入力するだけで、変復調回路の不良選別を行なうことができるため、変復調回路の不良選別の検査がより容易に行えるという効果が得られる。
【００５８】
（実施の形態４）
以下、図４を用いて、本実施の形態４にかかる変復調回路不良選別装置について説明する。
前記実施の形態１では、検査器にて、外部より入力された検査データと、該検査データを変調処理後復調したデータとを比較することで、変復調回路の不良選別を行う場合について説明したが、本実施の形態４では、前記検査データを変調処理後復調したデータのエラー検出符号を検出して解析することで、変復調回路の不良選別を行うようにしたものである。
【００５９】
図４は、本発明の実施の形態４による変復調回路を含む変復調回路不良選別装置のブロック図である。
図において、４５０は変調回路及び復調回路を含む変復調回路不良選別装置であり、４６０は変調処理を行なう変調回路、４７０は復調処理を行なう復調回路、４８０は復調回路４７０の出力のエラー検出符号を検出して解析するＥＤＣ（Error Detecting Code）検査器である。
【００６０】
また、４０１は変調回路４６０に入力される検査データであり、エラー検出符号が付加されている。４０２は通常動作時に変調回路４６０が出力する変調データ、４０３は変調回路４６０と復調回路４７０とに供給される同期クロック、４０４は通常動作時に復調回路４７０に入力される復調前データである。そして、４０５は変調回路４６０と復調回路４７０とを繋ぐ経路を介して変調回路４６０から復調回路４７０に出力される変調データ、４０６は復調回路４７０が出力する復調データ、４０７はＥＤＣ検査器４８０が出力する変復調回路不良選別結果である。
【００６１】
以下、動作について説明する。
なお、当該変復調不良選別装置４５０は、通常動作時には、変調回路４６０及び復調回路４７０において、それぞれ外部から入力されたデータを、変調処理あるいは復調処理して、変調データ４０２あるいは復調データ４０６にした後外部に出力するものであり、その動作は従来と同様であるため、ここでは変調回路不良選別回路４５０の不良回路選別時の動作についてのみ説明する。
【００６２】
まず、変調回路４６０に検査データ４０１が入力され、変調回路４６０は復調回路４７０と共通の同期クロック４０３により変調処理を行ない、変調データ４０５を出力する。この変調データ４０５は、復調回路４７０に入力される。復調回路４７０では、前記変調回路４６０と共通の同期クロック４０３により変調データ４０５の復調処理を行ない、復調データ４０６を出力する。この復調データ４０６は、ＥＤＣ検査器４８０に入力される。
【００６３】
そして、ＥＤＣ検査器４８０では、前記復調データ４０６のエラー検出符号を検出して解析することにより、変調回路４６０及び／または復調回路４７０が不良回路であるか否かを判定し、その結果を変復調回路不良選別結果４０７として、当該装置３５０外部へ出力する。そして、この変復調回路不良選別結果４０７をモニタリングすることにより、当該変復調回路不良選別装置４５０内の変調回路４６０及び／または復調回路４７０の回路不良を検知し、変復調回路の不良選別を行なう。
【００６４】
以上のように本実施の形態４による変復調回路不良選別装置４５０によれば、外部より入力された検査データ４０１を変調回路４６０にて変調処理した変調データ４０５を、復調回路４７０にて復調処理して復調データ４０６にし、該復調データ４０６のＥＤＣを検出して解析し、その解析結果により変復調回路の不良選別を行うようにしたので、簡単な構成で変復調回路の不良選別を容易に行なうことができる。
【００６５】
なお、本実施の形態４においては、検査データ４０１を変調回路４６０に入力して変調データ４０５にし、該変調データ４０５を復調回路４７０に入力して復調した復調データ４０６を、ＥＤＣ検査器４８０に入力して検査する場合を例に挙げて説明したが、前記実施の形態３に示したように、変調回路と復調回路とを逆にする構成にしても、同様の効果が得られる。
【００６６】
（実施の形態５）
以下、図５を用いて、本実施の形態５にかかる変復調回路不良選別装置について説明する。
前記実施の形態１では、検査器にて、外部より入力された検査データと、該検査データを変調処理後復調したデータとを比較することで、変復調回路の不良選別を行う場合について説明したが、本実施の形態５では、前記検査データを変調処理後復調したデータのエラー訂正符号を検出して解析することで、変復調回路の不良選別を行うようにしたものである。
【００６７】
図５は、本発明の実施の形態４による変復調回路を含む変復調回路不良選別装置のブロック図である。
図において、５５０は変調回路及び復調回路を含む変復調回路不良選別装置であり、５６０は変調処理を行なう変調回路、５７０は復調処理を行なう復調回路、５８０は復調回路５７０の出力のエラー訂正符号を検出して解析するＥＣＣ（Error Correcting Code）検査器である。
【００６８】
また、５０１は変調回路５６０に入力される検査データであり、エラー訂正符号が付加されている。５０２は通常動作時に変調回路５６０が出力する変調データ、５０３は変調回路５６０と復調回路５７０とに供給される同期クロック、５０４は通常動作時に復調回路５７０に入力される復調前データである。そして、５０５は変調回路５６０と復調回路５７０とを繋ぐ経路を介して変調回路５６０から復調回路５７０に出力される変調データ、５０６は復調回路５７０が出力する復調データ、さらに５０７はＥＣＣ検査器５８０が出力する変復調回路不良選別結果である。
【００６９】
以下、動作について説明する。
なお、当該変復調不良選別装置５５０は、通常動作時には、変調回路５６０及び復調回路５７０において、それぞれ外部から入力されたデータを、変調処理あるいは復調処理して、変調データ５０２あるいは復調データ５０６にした後外部に出力するものであり、その動作は従来と同様であるため、ここでは変調回路不良選別回路５５０の不良回路選別時の動作についてのみ説明する。
【００７０】
まず、変調回路５６０に検査データ５０１が入力され、変調回路５６０は、復調回路５７０と共通の同期クロック５０３により変調処理を行ない、変調データ５０５を出力する。この変調データ５０５は復調回路５７０に入力される。
【００７１】
復調回路５７０では、前記変調回路５６０と共通の同期クロック５０３により変調データ５０５の復調処理を行ない、復調データ５０６を出力する。この復調データ５０６はＥＣＣ検査器５８０に入力される。
【００７２】
そして、ＥＣＣ検査器５８０では、前記復調データ５０６のエラー訂正符号を検出して解析することにより、変調回路５６０及び／または復調回路５７０が不良回路であるか否かを判定するとともに、不良と判定したときは、さらにその不良がエラー訂正にて訂正可能なものであるか否かを診断し、その結果を変復調回路不良選別結果５０７として、当該装置５５０外部へ出力する。
【００７３】
なお、前記ＥＣＣ検査器５８０では、そのエラー訂正の訂正レベルを任意に決めることが可能であるため、エラー訂正の訂正レベルを変化させることにより、検査対象である変復調回路の不良判定レベルを任意に変更できる。
【００７４】
そして、前記ＥＣＣ検査器５８０から出力された変復調回路不良選別結果５０７をモニタリングすることにより、当該変復調回路不良選別装置５５０内の変調回路５６０及び／または復調回路５７０の回路不良を検知し、変復調回路の不良選別を行なう。
【００７５】
以上のように本実施の形態５による変復調回路不良選別装置５５０によれば、外部より入力された検査データ５０１を変調回路５６０にて変調処理した変調データ５０５を、復調回路５７０にて復調処理して復調データ５０６にし、該復調データ５０６のＥＣＣを検出して解析し、その解析結果により変復調回路の不良選別を行うようにしたので、簡単な構成で変復調回路の不良選別を容易に行なうことができ、さらに、検出された回路不良がエラー訂正により訂正可能なものであるかについても診断することができる。
【００７６】
なお、本実施の形態５においては、検査データ５０１を変調回路５６０に入力して変調データ５０５にし、該変調データ５０５を復調回路５７０に入力して復調した復調データ５０６を、ＥＣＣ検査器５８０に入力して検査する場合を例に挙げて説明したが、前記実施の形態３に示したように、変調回路と復調回路とを逆にする構成にしても、同様の効果が得られる。
【産業上の利用可能性】
【００７７】
本発明は、変復調回路の不良選別を容易に行なうことができるので、変調回路と復調回路とを有する通信装置等に有効である。
【図面の簡単な説明】
【００７８】
【図１】本発明の実施の形態１による変復調回路を含む変復調回路不良選別装置のブロック図である。
【図２】本発明の実施の形態２による変復調回路を含む変復調回路不良選別装置のブロック図である。
【図３】本発明の実施の形態３による変復調回路を含む変復調回路不良選別装置のブロック図である。
【図４】本発明の実施の形態４による変復調回路を含む変復調回路不良選別装置のブロック図である。
【図５】本発明の実施の形態５による変復調回路を含む変復調回路不良選別装置のブロック図である。
【図６】変復調回路のブロック図である。
【符号の説明】
【００７９】
１０１、２０１、３０１、４０１、５０１  検査データ
１０２、１０５、２０２、２０５、３０６、４０２、４０５、５０２、５０５、６０２  変調データ
１０３、２０３、３０３、４０３、５０３  同期クロック
１０４、２０４、４０４、５０４、６０５  復調前データ
１０６、２０６、３０２、３０５、４０６、５０６、６０６  復調データ
１０７、２０７、３０７  タイミング調整後検査データ
１０８、２０９、３０８、４０７、５０７  変復調回路不良選別結果
１５０、２５０、３５０、４５０、５５０  変復調回路を含む変復調回路不良選別装置
１６０、２６０、３７０、４６０、５６０  変調回路
１７０、２７０、３６０、４７０、５７０  復調回路
１８０、２８０、３８０  バッファリング部
１９０、２９０、３９０  検査器
２０８  タイミング調整後復調データ
３０４、６０１  変調前データ
４８０  ＥＤＣ検査器
５８０  ＥＣＣ検査器
６０３  変調用同期クロック
６０４  復調用同期クロック
【図１】
2006067005.tif 000003
【図２】
2006067005.tif 000004
【図３】
2006067005.tif 000005
【図４】
2006067005.tif 000006
【図５】
2006067005.tif 000007
【図６】
2006067005.tif 000008