(57)【要約】【課題】  従来技術のように、モデムＬＳＩの信号特性の検査／測定用に、モデム外部に特殊な検査・測定装置を取り付けたり、モデム内部に検査／測定用の回路や検査／測定用のピンを設ける必要を無くし、モデムＬＳＩの信号特性の測定を効率化する。【解決手段】  モデムＬＳＩ１における、送受信データの変調および復調に用いるＤＳＰ４に、（１）ホストコンピュータ２からの例えばＡ／Ｄ測定指示コマンドを解釈してＡ／Ｄコンバータ７を制御し、アナログ信号入力ポート９から入力された測定用アナログ信号をデジタル信号に変換させ、変換後のデジタル信号をＲＡＭ６に格納する機能と、（２）ＲＡＭ６に格納した変換後のデジタル信号を読み出しシリアルインタフェース３を介してホストコンピュータ２に送出する機能を設け、そして、ホストコンピュータ２において、Ａ／Ｄ測定指示コマンドをモデムＬＳＩ１に入力すると共に、モデムＬＳＩ１から送出されてきた変換後のデジタル信号に基づき当該モデムＬＳＩ１のＡ／Ｄ特性測定を行う。【選択図】        図１
2006067191.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
送受信データの変調および復調をＤＳＰを用いて行うモデムＬＳＩの信号特性を測定するシステムであって、
上記モデムＬＳＩに、データの送受信を行うコンピュータ装置と上記ＤＳＰ間の信号接続制御を行うインタフェース手段と、上記ＤＳＰからのデジタル信号をアナログ信号に変換して出力するＤ／Ａコンバータと、アナログ信号入力ポートからのアナログ信号をデジタル信号に変換して上記ＤＳＰに出力するＡ／Ｄコンバータとを設けると共に、
上記ＤＳＰの機能として、上記インタフェース手段を介して接続された測定用コンピュータ装置からのＡ／Ｄ測定指示コマンドを解釈して上記Ａ／Ｄコンバータを制御し、上記アナログ信号入力ポートから入力された測定用アナログ信号を上記Ａ／Ｄコンバータでデジタル信号に変換させ、変換後のデジタル信号を記憶装置に格納する手段と、上記記憶装置に格納した変換後のデジタル信号を読み出して上記インタフェース手段を介して上記測定用コンピュータ装置に送出する手段とを設け、
上記測定用コンピュータ装置に、上記Ａ／Ｄ測定指示コマンドを記憶する手段と、上記Ａ／Ｄ測定指示コマンドを読み出して上記モデムＬＳＩに入力する手段と、上記モデムＬＳＩから送出されてきた変換後のデジタル信号に基づき当該モデムＬＳＩのＡ／Ｄ特性測定を行う手段とを設ける
ことを特徴とするモデムＬＳＩの信号特性測定システム。
【請求項２】
送受信データの変調および復調をＤＳＰを用いて行うモデムＬＳＩの信号特性を測定するシステムであって、
上記モデムＬＳＩに、データの送受信を行うコンピュータ装置と上記ＤＳＰ間の信号接続制御を行うインタフェース手段と、上記ＤＳＰからのデジタル信号をアナログ信号に変換して出力するＤ／Ａコンバータと、アナログ信号入力ポートからのアナログ信号をデジタル信号に変換して上記ＤＳＰに出力するＡ／Ｄコンバータとを設けると共に、
上記ＤＳＰの機能として、上記インタフェース手段を介して接続された測定用コンピュータ装置からのＤ／Ａ測定指示コマンドを解釈して上記Ｄ／Ａコンバータを制御し、予め記憶装置に格納された測定用デジタル信号を読み出して上記Ｄ／Ａコンバータに入力してアナログ信号に変換させ、変換後のアナログ信号をアナログ信号出力ポートから出力させる手段を設け、
上記測定用コンピュータ装置から上記Ｄ／Ａ測定指示コマンドを上記モデムＬＳＩに入力し、該Ｄ／Ａ測定指示コマンドを実行した上記モデムＬＳＩから上記アナログ信号出力ポートに出力される変換後のアナログ信号をオシロスコープを含む信号測定装置に入力して当該モデムＬＳＩのＤ／Ａ特性測定を行うことを特徴とするモデムＬＳＩの信号特性測定システム。
【請求項３】
送受信データの変調および復調をＤＳＰを用いて行うモデムＬＳＩの信号特性を測定するシステムであって、
上記モデムＬＳＩに、データの送受信を行うコンピュータ装置と上記ＤＳＰ間の信号接続制御を行うインタフェース手段と、上記ＤＳＰからのデジタル信号をアナログ信号に変換して出力するＤ／Ａコンバータと、アナログ信号入力ポートからのアナログ信号をデジタル信号に変換して上記ＤＳＰに出力するＡ／Ｄコンバータとを設けると共に、
上記ＤＳＰの機能として、上記インタフェース手段を介して接続された測定用コンピュータ装置からのＡ／Ｄ−Ｄ／Ａ測定指示コマンドを解釈して上記Ａ／Ｄコンバータおよび上記Ｄ／Ａコンバータを制御し、上記アナログ信号入力ポートから入力された測定用アナログ信号を上記Ａ／Ｄコンバータでデジタル信号に変換させ、変換後のデジタル信号を記憶装置に格納する手段と、上記記憶装置に格納した変換後のデジタル信号を読み出し、上記Ｄ／Ａコンバータに入力してアナログ信号に変換させ、アナログ信号出力ポートから出力させる手段とを設け、
上記測定用コンピュータ装置から上記Ａ／Ｄ−Ｄ／Ａ測定指示コマンドを上記モデムＬＳＩに入力し、該Ａ／Ｄ−Ｄ／Ａ測定指示コマンドを実行した上記モデムＬＳＩから上記アナログ信号出力ポートに出力されるアナログ信号をオシロスコープを含む信号測定装置に入力して当該モデムＬＳＩのＡ／Ｄ特性とＤ／Ａ特性の測定を行うことを特徴とするモデムＬＳＩの信号特性測定システム。
【請求項４】
送受信データの変調および復調をＤＳＰを用いて行うモデムＬＳＩの信号特性を測定するシステムであって、
上記モデムＬＳＩに、データの送受信を行うコンピュータ装置と上記ＤＳＰ間の信号接続制御を行うインタフェース手段と、上記ＤＳＰからのデジタル信号をアナログ信号に変換して出力するＤ／Ａコンバータと、アナログ信号入力ポートからのアナログ信号をデジタル信号に変換して上記ＤＳＰに出力するＡ／Ｄコンバータとを設けると共に、
上記ＤＳＰの機能として、
上記インタフェース手段を介して接続された測定用コンピュータ装置からのＤ／Ａ−Ａ／Ｄ測定指示コマンドを解釈して上記Ａ／Ｄコンバータおよび上記Ｄ／Ａコンバータを制御し、予め記憶装置に格納された測定用デジタル信号を読み出し上記Ｄ／Ａコンバータに入力してアナログ信号に変換させ、変換後のアナログ信号をアナログ信号出力ポートから出力させると共に、上記アナログ信号出力ポートから出力させて上記アナログ信号入力ポートに入力された上記変換後のアナログ信号を上記Ａ／Ｄコンバータでデジタル信号に変換させ、変換後のデジタル信号を記憶装置に格納する手段と、
上記記憶装置に格納した変換後のデジタル信号を読み出して上記インタフェース手段を介して上記測定用コンピュータ装置に送出する手段とを設け、
上記測定用コンピュータ装置に、
上記Ｄ／Ａ−Ａ／Ｄ測定指示コマンドを記憶する手段と、上記Ｄ／Ａ−Ａ／Ｄ測定指示コマンドを読み出して上記モデムＬＳＩに入力する手段と、上記モデムＬＳＩから送出されてきた上記変換後のデジタル信号に基づき当該モデムＬＳＩのＤ／Ａ特性測定およびＡ／Ｄ特性測定を行う手段とを設ける
ことを特徴とするモデムＬＳＩの信号特性測定システム。
【請求項５】
送受信データの変調および復調を行うＤＳＰと、データの送受信を行うコンピュータ装置と上記ＤＳＰ間の信号接続制御を行うインタフェース手段と、上記ＤＳＰからのデジタル信号をアナログ信号に変換して出力するＤ／Ａコンバータと、アナログ信号入力ポートからのアナログ信号をデジタル信号に変換して上記ＤＳＰに出力するＡ／Ｄコンバータとを具備するモデムＬＳＩの信号特性を測定する方法であって、
上記ＤＳＰのプログラムに基づく処理として、
上記インタフェース手段を介して接続された測定用コンピュータ装置からのＡ／Ｄ測定指示コマンドを解釈して上記Ａ／Ｄコンバータを制御し、上記アナログ信号入力ポートから入力された測定用アナログ信号を上記Ａ／Ｄコンバータでデジタル信号に変換させ、変換後のデジタル信号を記憶装置に格納するステップと、上記記憶装置に格納した上記変換後のデジタル信号を読み出して上記インタフェース手段を介して上記測定用コンピュータ装置に送出するステップとを有し、
上記測定用コンピュータ装置のプログラムに基づく処理として、
予め記憶装置に記憶した上記Ａ／Ｄ測定指示コマンドを読み出して上記モデムＬＳＩに入力するステップと、上記モデムＬＳＩから送出されてきた上記変換後のデジタル信号を受信するステップと、受信した変換後のデジタル信号に基づき当該モデムＬＳＩのＡ／Ｄ特性測定を行うステップとを有する
ことを特徴とするモデムＬＳＩの信号特性測定方法。
【請求項６】
送受信データの変調および復調を行うＤＳＰと、データの送受信を行うコンピュータ装置と上記ＤＳＰ間の信号接続制御を行うインタフェース手段と、上記ＤＳＰからのデジタル信号をアナログ信号に変換して出力するＤ／Ａコンバータと、アナログ信号入力ポートからのアナログ信号をデジタル信号に変換して上記ＤＳＰに出力するＡ／Ｄコンバータとを具備するモデムＬＳＩの信号特性を測定する方法であって、
上記ＤＳＰのプログラムに基づく処理として、
上記インタフェース手段を介して接続された測定用コンピュータ装置からのＤ／Ａ測定指示コマンドを解釈して上記Ｄ／Ａコンバータを制御し、予め記憶装置に格納された測定用デジタル信号を読み出し上記Ｄ／Ａコンバータに入力してアナログ信号に変換させ、変換後のアナログ信号をアナログ信号出力ポートから出力させるステップを有し、
上記測定用コンピュータ装置のプログラムに基づく処理として、
予め記憶装置に記憶した上記Ｄ／Ａ測定指示コマンドを読み出して上記モデムＬＳＩに入力するステップを有し、
該Ｄ／Ａ測定指示コマンドを実行した上記モデムＬＳＩから上記アナログ信号出力ポートに出力される上記変換後のアナログ信号を、オシロスコープを含む当該モデムＬＳＩのＤ／Ａ特性測定用の装置に入力することを特徴とするモデムＬＳＩの信号特性測定方法。
【請求項７】
送受信データの変調および復調を行うＤＳＰと、データの送受信を行うコンピュータ装置と上記ＤＳＰ間の信号接続制御を行うインタフェース手段と、上記ＤＳＰからのデジタル信号をアナログ信号に変換して出力するＤ／Ａコンバータと、アナログ信号入力ポートからのアナログ信号をデジタル信号に変換して上記ＤＳＰに出力するＡ／Ｄコンバータとを具備するモデムＬＳＩの信号特性を測定する方法であって、
上記ＤＳＰのプログラムに基づく処理として、
上記インタフェース手段を介して接続された測定用コンピュータ装置からのＡ／Ｄ−Ｄ／Ａ測定指示コマンドを解釈して上記Ａ／Ｄコンバータおよび上記Ｄ／Ａコンバータを制御し、上記アナログ信号入力ポートから入力された測定用アナログ信号を上記Ａ／Ｄコンバータでデジタル信号に変換させ、変換後のデジタル信号を記憶装置に格納するステップと、上記記憶装置に格納した変換後のデジタル信号を読み出し、上記Ｄ／Ａコンバータに入力してアナログ信号に変換させ、変換後のアナログ信号をアナログ信号出力ポートから出力させるステップとを有し、
上記測定用コンピュータ装置のプログラムに基づく処理として、
予め記憶装置に記憶した上記Ａ／Ｄ−Ｄ／Ａ測定指示コマンドを読み出して上記モデムＬＳＩに入力するステップを有し、
上記Ａ／Ｄ−Ｄ／Ａ測定指示コマンドを実行した上記モデムＬＳＩから上記アナログ信号出力ポートに出力される上記変換後のアナログ信号を、オシロスコープを含む信号測定装置に入力して当該モデムＬＳＩのＡ／Ｄ特性測定およびＤ／Ａ特性測定を行うことを特徴とするモデムＬＳＩの信号特性測定方法。
【請求項８】
送受信データの変調および復調を行うＤＳＰと、データの送受信を行うコンピュータ装置と上記ＤＳＰ間の信号接続制御を行うインタフェース手段と、上記ＤＳＰからのデジタル信号をアナログ信号に変換して出力するＤ／Ａコンバータと、アナログ信号入力ポートからのアナログ信号をデジタル信号に変換して上記ＤＳＰに出力するＡ／Ｄコンバータとを具備するモデムＬＳＩの信号特性を測定する方法であって、
上記ＤＳＰのプログラムに基づく処理として、上記インタフェース手段を介して接続された測定用コンピュータ装置からのＤ／Ａ−Ａ／Ｄ測定指示コマンドを解釈して上記Ａ／Ｄコンバータおよび上記Ｄ／Ａコンバータを制御し、予め記憶装置に格納された測定用デジタル信号を読み出し上記Ｄ／Ａコンバータに入力してアナログ信号に変換させ、変換後のアナログ信号をアナログ信号出力ポートから出力させるステップと、上記アナログ信号出力ポートから出力させて上記アナログ信号入力ポートから入力された上記変換後のアナログ信号を上記Ａ／Ｄコンバータでデジタル信号に変換させ、変換後のデジタル信号を記憶装置に格納するステップと、上記記憶装置に格納した上記変換後のデジタル信号を読み出し上記インタフェース手段を介して上記測定用コンピュータ装置に送出するステップとを有し、
上記測定用コンピュータ装置のプログラムに基づく処理として、予め記憶装置に記憶した上記Ｄ／Ａ−Ａ／Ｄ測定指示コマンドを読み出して上記モデムＬＳＩに入力するステップと、上記モデムＬＳＩから受信した上記変換後のデジタル信号に基づき当該モデムＬＳＩのＤ／Ａ特性およびＡ／Ｄ特性の測定を行うステップとを有する
ことを特徴とするモデムＬＳＩの信号特性測定方法。
【請求項９】
コンピュータに、請求項５から請求項８のいずれかに記載のモデムＬＳＩの信号特性測定方法における各ステップを実行させるプログラム。
【請求項１０】
送受信データの変調および復調をＤＳＰを用いて行うモデムＬＳＩであって、
データの送受信を行うコンピュータ装置と上記ＤＳＰ間の信号接続制御を行うインタフェース手段と、
上記ＤＳＰからのデジタル信号をアナログ信号に変換して出力するＤ／Ａコンバータと、
アナログ信号入力ポートからのアナログ信号をデジタル信号に変換して上記ＤＳＰに出力するＡ／Ｄコンバータとを具備すると共に、
上記ＤＳＰの機能として、
上記インタフェース手段を介して接続された測定用コンピュータ装置からのＡ／Ｄ測定指示コマンドを解釈して上記Ａ／Ｄコンバータを制御し、上記アナログ信号入力ポートから入力された測定用アナログ信号を上記Ａ／Ｄコンバータでデジタル信号に変換させ、変換後のデジタル信号を記憶装置に格納する第１の手段と、
上記記憶装置に格納した変換後のデジタル信号を読み出し上記インタフェース手段を介して上記測定用コンピュータ装置に送出する第２の手段と、
上記インタフェース手段を介して接続された測定用コンピュータ装置からのＤ／Ａ測定指示コマンドを解釈して上記Ｄ／Ａコンバータを制御し、予め記憶装置に格納された測定用デジタル信号を読み出し上記Ｄ／Ａコンバータに入力して変換させ、変換後のアナログ信号をアナログ信号出力ポートから出力させる第３の手段と
を有することを特徴とするモデムＬＳＩ。
【請求項１１】
送受信データの変調および復調をＤＳＰを用いて行うモデムＬＳＩであって、
データの送受信を行うコンピュータ装置と上記ＤＳＰ間の信号接続制御を行うインタフェース手段と、
上記ＤＳＰからのデジタル信号をアナログ信号に変換して出力するＤ／Ａコンバータと、
アナログ信号入力ポートからのアナログ信号をデジタル信号に変換して上記ＤＳＰに出力するＡ／Ｄコンバータとを具備すると共に、
上記ＤＳＰの機能として、
上記インタフェース手段を介して接続された測定用コンピュータ装置からのＡ／Ｄ−Ｄ／Ａ測定指示コマンドを解釈して上記Ａ／Ｄコンバータおよび上記Ｄ／Ａコンバータを制御し、上記アナログ信号入力ポートから入力された測定用アナログ信号を上記Ａ／Ｄコンバータで測定用デジタル信号に変換させ、変換後のデジタル信号を記憶装置に格納させると共に、該記憶装置に格納した変換後のデジタル信号を読み出し上記Ｄ／Ａコンバータに入力してアナログ信号に変換させ、変換後のアナログ信号をアナログ信号出力ポートから出力させる手段を有することを特徴とするモデムＬＳＩ。
【請求項１２】
送受信データの変調および復調をＤＳＰを用いて行うモデムＬＳＩであって、
上記モデムＬＳＩは、
データの送受信を行うコンピュータ装置と上記ＤＳＰ間の信号接続制御を行うインタフェース手段と、
上記ＤＳＰからのデジタル信号をアナログ信号に変換して出力するＤ／Ａコンバータと、
アナログ信号入力ポートからのアナログ信号をデジタル信号に変換して上記ＤＳＰに出力するＡ／Ｄコンバータとを具備すると共に、
上記ＤＳＰの機能として、
上記インタフェース手段を介して接続された測定用コンピュータ装置からのＤ／Ａ−Ａ／Ｄ測定指示コマンドを解釈して上記Ａ／Ｄコンバータおよび上記Ｄ／Ａコンバータを制御し、予め記憶装置に格納された測定用デジタル信号を読み出し上記Ｄ／Ａコンバータに入力してアナログ信号に変換させ、変換後のアナログ信号をアナログ信号出力ポートから出力させると共に、該アナログ信号出力ポートから出力させて上記アナログ信号入力ポートから入力された上記変換後のアナログ信号を上記Ａ／Ｄコンバータでデジタル信号に変換させ、変換後のデジタル信号を記憶装置に格納する手段と、
上記記憶装置に格納した上記変換後のデジタル信号を読み出し上記インタフェース手段を介して上記測定用コンピュータ装置に転送する手段と
を有することを特徴とするモデムＬＳＩ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、パーソナルコンピュータ、組み込み機器用モデム、電話機器などのように公衆回線と接続されるモデムの信号特性測定技術に係わり、特に、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）を送受信データの変復調等の処理に用いたモデムＬＳＩ（Large Scale Integration）の信号特性を効率的に測定するのに好適な技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
アナログモデム機能を有するモデムＬＳＩの信号特性を測定する従来技術について、Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル）コンバータ、Ｄ／Ａ（デジタル／アナログ）コンバータの特性測定を例に説明する。モデムＬＳＩの検査等には外部装置を接続して行うことができ、例えば、特許文献１に記載のように、被検査モデムの外部に、Ａ／ＤコンバータとＤ／Ａコンバータおよびデジタルメモリが搭載されたモデムＩＣ検査装置を接続し、アナログ変調信号の検査を行う技術がある。
【０００３】
また、被検査モデムのアナログ変調信号の特性測定を行う場合、ＬＳＩに、モデム回路とは別に測定用回路の組み込みと測定用ピンの割り当てを行い、測定時には外部に測定用装置を接続して、アナログ変調信号の測定を行う技術がある。
【０００４】
このように、従来のモデムＬＳＩのアナログ変調信号の検査／測定を行う技術では、モデム外部に検査／測定装置を取り付けたり、また、モデム内部に検査／測定用の回路や検査／測定用のピンを設ける必要がある。
【０００５】
【特許文献１】特開平１０−１６４１５０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
解決しようとする問題点は、従来の技術では、モデムＬＳＩの信号の検査／測定を行うために、モデム外部に特殊な検査・測定装置を取り付けたり、また、モデム内部に検査／測定用の回路や検査／測定用のピンを設けなければならない点である。
【０００７】
本発明の目的は、これら従来技術の課題を解決し、ＤＳＰを用いたモデムＬＳＩの信号特性の測定を効率化することを可能とすることである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するため、本発明では、モデムＬＳＩは、シリアルインタフェースを通じて測定操作用のコンピュータと接続され、アナログ信号の入出力としてＡ／Ｄコンバータへの入力ポートとＤ／Ａコンバータからの出力ポートを外部端子として備え、さらに、ＤＳＰのプログラムに基づき実現する機能として、測定用コンピュータとのコマンドの送受信を行うコマンド処理手段と、コマンドに基づきＡ／Ｄコンバータを制御するＡ／Ｄ制御処理手段およびＤ／Ａコンバータを制御するＤ／Ａ制御処理手段と、測定用コンピュータへのデータ転送を行うデータ転送手段を有する。このような構成のモデムＬＳＩは、測定用コンピュータから測定指示コマンドを受けると、Ａ／Ｄ制御処理手段により当該コマンドを解釈して、Ａ／Ｄコンバータから出力されるデジタルデータ待ちの状態になる。そして、Ａ／Ｄコンバータの入力ポートにアナログ信号が入力されると、Ａ／ＤコンバータでＡ／Ｄ変換し、Ａ／Ｄ変換されたデジタルデータを、順次モデムＬＳＩ内のメモリに格納する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、測定用コンピュータ装置からのコマンドにより、モデムＬＳＩの信号特性の測定を容易に行うことが可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、図を用いて本発明を実施するための最良の形態例を説明する。
【実施例】
【００１１】
図１は、本発明に係わるモデムＬＳＩの構成例およびモデムＬＳＩの信号特性測定システムの構成例を示すブロック図であり、図２は、本発明に係わるモデムＬＳＩの信号特性測定方法の手順例を示すフローチャートである。
【００１２】
図１において、１は本発明に係わるモデムＬＳＩ、２はモデムＬＳＩ１を介してネットワークでのデータ送受信を行う通信端末用コンピュータあるいは測定用コンピュータとしてのホストコンピュータであり、モデムＬＳＩ１は、シリアルインタフェース３とＤＳＰ４、ＲＯＭ（Read Only Memory）５、ＲＡＭ（Random Access Memory）６、Ａ／Ｄコンバータ７、Ｄ／Ａコンバータ８、アナログ信号入力ポート９、アナログ信号出力ポート１０を具備している。
【００１３】
シリアルインタフェース３は、ホストコンピュータ２とＤＳＰ４間の信号接続制御を行い、ＤＳＰ４は、具備したマイクロプロセッサのＲＯＭ５内に記憶されたプログラムに基づくコンピュータ処理により送受信データの変調および復調等を行い、Ａ／Ｄコンバータ７は、外部端子としてのアナログ信号入力ポート９からのアナログ信号をデジタル信号に変換してＤＳＰ４に出力し、Ｄ／Ａコンバータ８は、ＤＳＰ４からのデジタル信号をアナログ信号に変換して外部端子としてのアナログ信号出力ポート１０から出力する。
【００１４】
さらに、ＤＳＰ４は、ＲＯＭ５内に記憶されたプログラムを実行して実現する機能として、コマンド処理部４ａとＡ／Ｄ制御処理部４ｂ、Ｄ／Ａ制御処理部４ｃ、データ転送部４ｄを具備し、これらの機能により、シリアルインタフェース３を介して入力されたホストコンピュータ２からのＡＴコマンドを解釈して、Ａ／Ｄコンバータ７およびＤ／Ａコンバータ８を制御し、モデムＬＳＩ１の信号特性の測定に関わる処理を行う。
【００１５】
すなわち、ＤＳＰ４は、シリアルインタフェース３を介して、ホストコンピュータ２からのＡＴコマンドが入力されると、コマンド処理部４ａにより当該コマンドを解釈する。
【００１６】
例えば、解釈したコマンドがＡ／Ｄ測定指示コマンドであれば、Ａ／Ｄ制御処理部４ｂを起動し、このＡ／Ｄ制御処理部４ｂにより、Ａ／Ｄコンバータ７を制御して、アナログ信号入力ポート９から入力された測定用アナログ信号をＡ／Ｄコンバータ７でデジタル信号に変換させ、変換後のデジタル信号を、モデムＬＳＩ１内のレジスタ経由でＲＡＭ６に格納する。そして、データ転送部４ｄにより、このＲＡＭ６に格納した変換後のデジタル信号を読み出し、フォーマット変換して、シリアルインタフェース３を介してホストコンピュータ２に送出する。
【００１７】
ホストコンピュータ２は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）や、主メモリおよび外部記憶装置等の記憶装置などから構成され、Ａ／Ｄ測定指示コマンドを含むＡＴコマンドを記憶装置に記憶すると共に、プログラムに基づくＣＰＵの処理機能により、この記憶装置から例えばＡ／Ｄ測定指示コマンドを含む各種コマンドを読み出してモデムＬＳＩ１に入力し、モデムＬＳＩ１から送出されてきた変換後のデジタル信号に基づき当該モデムＬＳＩ１のＡ／Ｄ特性測定を行う。
【００１８】
また、コマンド処理部４ａにより解釈したコマンドがＤ／Ａ測定指示コマンドであれば、Ｄ／Ａ制御処理部４ｃを起動し、このＤ／Ａ制御処理部４ｃにより、Ｄ／Ａコンバータ８を制御し、予めＲＯＭ５に格納された測定用デジタル信号を読み出しＤ／Ａコンバータ８に入力してアナログ信号に変換させ、変換後のアナログ信号をアナログ信号出力ポート１０から出力させる。
【００１９】
このように、ホストコンピュータ２からＤ／Ａ測定指示コマンドをモデムＬＳＩ１に入力し、このＤ／Ａ測定指示コマンドを実行したモデムＬＳＩ１からアナログ信号出力ポート１０に出力される変換後のアナログ信号をオシロスコープを含む信号測定装置に入力することで、モデムＬＳＩ１のＤ／Ａ特性測定を行う。
【００２０】
また、コマンド処理部４ａにより解釈したコマンドがＡ／Ｄ−Ｄ／Ａ測定指示コマンドであれば、Ａ／Ｄ制御処理部４ｂおよびＤ／Ａ制御処理部４ｃを起動し、まず、Ａ／Ｄ制御処理部４ｂにより、Ａ／Ｄコンバータ７を制御し、アナログ信号入力ポート９から入力された測定用アナログ信号を当該Ａ／Ｄコンバータ７でデジタル信号に変換させ、変換後のデジタル信号をモデムＬＳＩ１内のレジスタ経由でＲＡＭ６に格納する。
【００２１】
そして次に、Ｄ／Ａ制御処理部４ｃにより、ＲＡＭ６に格納された変換後のデジタル信号をモデムＬＳＩ１内のレジスタ経由で読み出し、Ｄ／Ａコンバータ８に入力してアナログ信号に変換させ、変換後のアナログ信号をアナログ信号出力ポート１０から出力させる。
【００２２】
このようにして、ホストコンピュータ２からＡ／Ｄ−Ｄ／Ａ測定指示コマンドをモデムＬＳＩ１に入力し、このＡ／Ｄ−Ｄ／Ａ測定指示コマンドを実行したモデムＬＳＩ１からアナログ信号出力ポート１０に出力されるアナログ信号をオシロスコープを含む信号測定装置に入力することで当該モデムＬＳＩ１のＡ／Ｄ特性とＤ／Ａ特性の測定を行う。
【００２３】
また、コマンド処理部４ａにより解釈したコマンドがＤ／Ａ−Ａ／Ｄ測定指示コマンドであれば、Ａ／Ｄ制御処理部４ｂおよびＤ／Ａ制御処理部４ｃを起動し、まず、Ｄ／Ａ制御処理部４ｃにより、Ｄ／Ａコンバータ８を制御し、予めＲＯＭ５に記憶された測定用デジタル信号を読み出し、Ｄ／Ａコンバータ８に入力してアナログ信号に変換させ、変換後のアナログ信号をアナログ信号出力ポート１０から出力させる。
【００２４】
このようにアナログ信号出力ポート１０から出力された変換後のアナログ信号を、再度、アナログ信号入力ポート９に入力し、Ａ／Ｄ制御処理部４ｂにより、Ａ／Ｄコンバータ７を制御し、アナログ信号入力ポート９に入力された変換後のアナログ信号をＡ／Ｄコンバータ７でデジタル信号に変換させ、変換後のデジタル信号をモデムＬＳＩ１内のレジスタ経由でＲＡＭ６に格納する。そして、データ転送部４ｄにより、ＲＡＭ６に格納した変換後のデジタル信号を読み出し、フォーマット変換して、シリアルインタフェース３を介してホストコンピュータ２に送出する。
【００２５】
ホストコンピュータ２では、プログラムに基づくＣＰＵの処理機能により、予め記憶装置に格納したＡ／Ｄ測定指示コマンドを読み出してモデムＬＳＩ１に入力し、モデムＬＳＩ１から送出されてきた変換後のデジタル信号に基づき当該モデムＬＳＩ１のＤ／Ａ特性測定およびＡ／Ｄ特性測定を行う。
【００２６】
次に、図２を用いて本発明に係わるモデムＬＳＩの信号特性測定方法について説明する。この図２においては、本発明に係わるモデムＬＳＩの信号特性測定方法における、特にＡ／Ｄ特性測定方法に関わるモデムＬＳＩ１の処理手順を示している。
【００２７】
電源が投入されたモデムＬＳＩ１は、ＲＯＭ５よりモデムプログラムを起動し初期設定処理を行い、ＡＴコマンド入力待ちの状態へ遷移して待機している（ステップＳ２０１）。ホストコンピュータ２より、「Ａ／Ｄ特性測定指示コマンド」を受け付けると（ステップＳ２０２）、モデムＬＳＩ１は、Ａ／Ｄコンバータ７の設定と測定準備処理を行い（ステップＳ２０３）、測定に用いるアナログ信号の入力待ちの状態へ遷移する（ステップＳ２０４）。
【００２８】
モデムＬＳＩ１のアナログ信号入力ポート９に測定用のアナログ信号が入力されると（ステップＳ２０５）、Ａ／Ｄコンバータ７でＡ／Ｄ変換されたデジタルデータ（変換後の測定用デジタルデータ）がＤＳＰ４のレジスタへ保存されるので、そのデジタルデータをＲＡＭ６へ順次格納する（ステップＳ２０６）。
【００２９】
ＲＡＭ６に格納したデジタルデータを読み出し、ホストコンピュータ２へ転送可能なフォーマットへ変換した後、シリアルインタフェース３を通して、ホストコンピュータ２へ送信する（ステップＳ２０７，Ｓ２０８）。
【００３０】
尚、モデムＬＳＩ１において、ホストコンピュータ２より、「Ｄ／Ａ特性測定指示コマンド」を受け付けた場合、Ｄ／Ａコンバータ８の設定とデジタルデータ生成準備を行い、特性の測定に用いるデジタルデータの生成処理待ちの状態へ遷移する。そして、測定用のデジタルデータが、ＤＳＰ４のレジスタを経由して、Ｄ／Ａコンバータ８に入力されると、アナログ信号にＤ／Ａ変換した後、アナログ信号出力ポート１０へ出力する。このように出力されたアナログ信号をオシロスコープ等の測定機によって測定する。
【００３１】
また、モデムＬＳＩ１において、ホストコンピュータ２より、「Ａ／Ｄ−Ｄ／Ａ特性測定指示コマンド」を受け付けた場合には、Ａ／Ｄコンバータ７の設定と測定準備処理、またＤ／Ａコンバータ８の設定とデジタルデータ生成準備を行い、アナログ信号の入力待ちの状態へ遷移する。そして、アナログ信号入力ポート９からアナログ信号が入力されると、Ａ／Ｄコンバータ７でデジタルデータにＡ／Ｄ変換し、このデジタルデータをＤＳＰ４のレジスタ経由でＲＡＭ６へ順次格納する。
【００３２】
このようにしてＲＡＭ６に格納したデジタルデータを、ＤＳＰ４のレジスタを経由して、Ｄ／Ａコンバータ８へ渡し、アナログデータにＤ／Ａ変換させた後、アナログ信号出力ポート１０へ出力する。そして、この出力されたアナログ信号をオシロスコープ等の測定機に入力して、信号特性の測定を行う。
【００３３】
また、モデムＬＳＩ１において、ホストコンピュータ２より、「Ｄ／Ａ−Ａ／Ｄ特性測定指示コマンド」を受け付けた場合には、Ａ／Ｄコンバータ７の設定と測定準備処理、またＤ／Ａコンバータ８の設定とデジタルデータ生成準備を行い、測定に用いるデジタルデータの生成処理待ちとアナログ信号の入力待ちの状態へ遷移する。
【００３４】
測定用のデジタルデータは例えばＲＯＭ５等に予め記憶しておき、これを読み出してＤＳＰ４のレジスタを経由してＤ／Ａコンバータ８に入力し、アナログデータにＤ／Ａ変換した後、アナログ信号出力ポート１０へ出力する。
【００３５】
アナログ信号出力ポート１０に出力したアナログ信号をさらにアナログ信号入力ポート９から入力し、Ａ／Ｄコンバータ７でデジタルデータにＡ／Ｄ変換した後、ＤＳＰ４のレジスタ経由で、そのデジタルデータをＲＡＭ６へ順次格納する。
【００３６】
そして、ＲＡＭ６に格納したデジタルデータを、ホストコンピュータ２へ転送可能なフォーマットへ変換した後、シリアルインタフェース３を通して、ホストコンピュータ２へ送信する。
【００３７】
以上、図１および図２を用いて説明したように、本例のモデムＬＳＩ１においては、ホストコンピュータ２からのＡＴコマンドにより、信号特性の測定を行う機能を、ＤＳＰに設けているので、従来技術のように、モデムＬＳＩの信号の検査／測定を行うために、モデム外部に特殊な検査・測定装置を取り付けたり、また、モデム内部に検査／測定用の回路や検査／測定用のピンを設ける必要がなく、モデムＬＳＩの信号特性の測定を効率化することが可能である。
【００３８】
尚、本発明は、図１，２を用いて説明した例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能である。例えば、本例では、測定用デジタル信号をモデムＬＳＩ１内に設けられたＲＯＭ５に予め記憶させておく構成としているが、測定操作時毎に、予めホストコンピュータ２からモデムＬＳＩ１内のＲＡＭ６に書き込む構成としても良い。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明に係わるモデムＬＳＩの構成例およびモデムＬＳＩの信号特性測定システムの構成例を示すブロック図である。
【図２】本発明に係わるモデムＬＳＩの信号特性測定方法の手順例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
【００４０】
１：モデムＬＳＩ、２：ホストコンピュータ、３：シリアルインタフェース、４：ＤＳＰ、４ａ：コマンド処理部、４ｂ：Ａ／Ｄ制御処理部、４ｃ：Ｄ／Ａ制御処理部、４ｄ：データ転送部、５：ＲＯＭ、６：ＲＡＭ、７：Ａ／Ｄコンバータ、８：Ｄ／Ａコンバータ、９：アナログ信号入力ポート、１０：アナログ信号出力ポート。
【図１】
2006067191.tif 000003
【図２】
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