(57)【要約】【課題】特定の画像データのパターン、特にディザリングプロセスに使われる画像データと関連する変位電流の大きさを最小化することができるＰＤＰのスキャン駆動装置及び方法を提供する。【解決手段】複数のスキャン電極、前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極、及び前記アドレス電極のそれぞれと前記スキャン電極のそれぞれが交差する個所に位置する放電セルを備えるプラズマディスプレイ装置において、複数のスキャンタイプのそれぞれと関連する変位電流に基づき、複数のスキャンタイプからいずれかのスキャンタイプを識別するスキャンシーケンサと、前記いずれかのスキャンタイプに対応するスキャンパターンに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするスキャンドライバと、前記いずれかのスキャンタイプに対応するスキャンパターンに応じて前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加するデータドライバと、を備える【選択図】図7
2006030990.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数のスキャン電極、前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極、及び前記アドレス電極のそれぞれと前記スキャン電極のそれぞれが交差する個所に位置する放電セルを備えるプラズマディスプレイ装置において、
複数のスキャンタイプのそれぞれと関連する変位電流に基づき、複数のスキャンタイプからいずれかのスキャンタイプを識別するスキャンシーケンサと、
前記いずれかのスキャンタイプに対応するスキャンパターンに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするスキャンドライバと、
前記いずれかのスキャンタイプに対応するスキャンパターンに応じて前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加するデータドライバと、
を備えることを特徴とするプラズマディスプレイ装置。
【請求項２】
１以上のセルと関連する変位電流に基づき、複数のスキャンタイプのそれぞれに対する変位電流を算出する変位電流算出部をさらに備えることを特徴とする、請求項１記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項３】
前記複数のスキャン電極は、前記いずれかの識別されたスキャンタイプに応じて所定数のスキャン電極により分離された第１及び第２スキャン電極を備え、
前記複数のアドレス電極は第１及び第２アドレス電極を備え、
前記変位電流算出部は、前記第１スキャン電極と前記第１アドレス電極が交差する個所の近くに位置する第１放電セルと関連する画像データ、前記第１スキャン電極と前記第２アドレス電極が交差する個所の近くに位置する前記第２放電セルと関連する画像データ、前記第２スキャン電極と前記第１アドレス電極が交差する個所の近くに位置する前記第３放電セルと関連する画像データ、及び前記第２スキャン電極と前記第２アドレス電極が交差する個所の近くに位置する前記第４放電セルと関連する画像データに基づき、前記第１放電セルに対する変位電流を算出するように構成されたことを特徴とする、請求項２記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項４】
前記変位電流算出部は、前記第１セルの画像データと前記第２セルの画像データを比較して第１結果を得、前記第１セルの画像データと前記第３セルの画像データを比較して第２結果を得、前記第３セルの画像データと前記第４セルの画像データを比較して第３結果を得、前記第１〜第３結果のそれぞれに対応する変位電流を得た後、前記第１〜第３結果に対応する変位電流を合計して前記第１放電セルに対応する変位電流を算出するように構成されたことを特徴とする、請求項３記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項５】
前記変位電流算出部は、Ｃｍ１及びＣｍ２（ここで、Ｃｍ１は隣り合うアドレス電極間の静電容量であり、Ｃｍ２はアドレス電極とスキャン電極間の静電容量である。）に基づき、前記第１〜第３結果に対応する前記変位電流を算出するように構成されたことを特徴とする、請求項４記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項６】
前記変位電流算出部は、前記対応する比較の結果が変位電流が流れることを示す場合に、前記第１〜第３結果のそれぞれに対して１を計数し、前記対応する比較が変位電流が流れていないことを示す場合に、前記第１〜第３結果のそれぞれに対して０を計数することを特徴とする、請求項４記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項７】
前記変位電流算出部は、所定のサブフィールド中に複数の放電セルのそれぞれに対応する変位電流を算出し、前記複数の放電セルのそれぞれに対応する変位電流に基づき、前記サブフィールドに対する変位電流値を算出するように構成されたことを特徴とする、請求項４記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項８】
前記変位電流算出部は、前記複数のスキャンタイプのそれぞれに対する変位電流をフレームの各サブフィールドに対して算出するように構成され、前記スキャンシーケンサは、最小の変位電流を有する前記いずれかの識別されたスキャンタイプに対応するスキャンパターンを確立するように構成されたことを特徴とする、請求項２記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項９】
前記スキャンシーケンサは、前記相異なるスキャンタイプのそれぞれと関連する変位電流を比較するように構成されたことを特徴とする、請求項２記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項１０】
前記スキャンシーケンサは、残りのスキャンタイプのそれぞれと比較されたものとして、最小の変位電流を示す前記複数のスキャンタイプからいずれかのスキャンタイプを識別するように構成されたことを特徴とする、請求項９記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項１１】
前記スキャンシーケンサは、前記いずれかのスキャンタイプに対応する変位電流が所定のしきい値未満である前記複数のスキャンタイプからいずれかのスキャンタイプを識別するように構成されたことを特徴とする、請求項２記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項１２】
前記複数のスキャン電極は、前記いずれかの識別されたスキャンタイプに応じて複数のグループに分割され、前記スキャンシーケンサは、スキャン前に第１グループに属する前記スキャン電極を順次にスキャンし、且つ、次のグループに属する前記スキャン電極を順次にスキャンするように構成されたことを特徴とする、請求項１記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項１３】
複数のスキャン電極、前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極、及び前記アドレス電極のそれぞれと前記スキャン電極のそれぞれが交差する個所の近くに位置するセルを備えるプラズマディスプレイ装置において、
複数のスキャンタイプのそれぞれに対する変位電流値を算出することにより、フレーム内の１以上のサブフィールドに対して変位電流を算出するように構成された変位電流算出部と、
残りのスキャンタイプと比較したものとして、より小さい変位電流を有する前記複数のスキャンタイプからいずれかのスキャンタイプに対応するスキャンシーケンスを識別するように構成されたスキャンシーケンサと、
前記いずれかの識別されたスキャンシーケンスに応じて前記スキャン電極をスキャンするように構成されたスキャンドライバと、
前記スキャンドライバが前記スキャン電極をスキャンするに当たり、前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加するように構成されたデータドライバと、
を備えることを特徴とするプラズマディスプレイ装置。
【請求項１４】
前記変位電流算出部は、それぞれのセル組(cell set)が複数のセルを含む複数の前記セル組と関連する変位電流値に基づき、それぞれのスキャンタイプに対する変位電流値を算出するように構成されたことを特徴とする、請求項１３記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項１５】
前記変位電流算出部は、前記セル組内の各セルに対応する変位電流値を並列処理にて算出することにより、所定のセル組に対する変位電流値を算出するように構成されたことを特徴とする、請求項１４記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項１６】
それぞれのセルは、サブピクセルであることを特徴とする、請求項１４記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項１７】
それぞれのセル組は、複数のサブピクセルを含むことを特徴とする、請求項１６記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項１８】
それぞれのセル組は、３つのサブピクセルを含むことを特徴とする、請求項１７記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項１９】
スキャン電極と、
前記スキャン電極と交差するデータ電極と、
第２スキャンタイプと関連する変位電流未満の第１変位電流を有する第１スキャンタイプに対応するスキャンシーケンスに応じて前記スキャン電極をスキャンするように構成されたスキャンドライバと、
前記スキャンシーケンスに対応するデータ信号を前記データ電極に印加するように構成されたデータドライバと、を備えることを特徴とするプラズマディスプレイ装置。
【請求項２０】
前記スキャン電極とデータ電極が交差する個所の近くに位置する放電セルをさらに備えるむことを特徴とする、請求項１９記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項２１】
前記放電セルは、サブピクセルであることを特徴とする、請求項２０記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項２２】
前記第１変位電流は、他の任意のスキャンタイプと関連する変位電流の未満であることを特徴とする、請求項１９記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項２３】
複数のスキャンタイプのそれぞれは、対応する変位電流及び対応するスキャンシーケンスと関連していることを特徴とする、請求項１９記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項２４】
スキャン電極と、
前記スキャン電極と交差するデータ電極と、
相異なる電極スキャン順序により定義される複数のスキャンシーケンスのうち第１スキャンシーケンスに応じて前記スキャン電極をスキャンするように構成されたスキャンドライバと、
前記第１スキャンシーケンスに対応するデータ信号を前記データ電極に印加するように構成されたデータドライバと、
を備えるプラズマディスプレイ装置。
【請求項２５】
前記スキャン電極とデータ電極が交差する個所の近くに位置する放電セルをさらに備えることを特徴とする、請求項２４記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項２６】
それぞれの電極スキャン順序は、順次にスキャンされるスキャン電極間の相異なるスキャン電極を定義することを特徴とする、請求項２４記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項２７】
複数のスキャン電極と、前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極と、を備えるプラズマディスプレイ装置において、
複数のスキャンシーケンスからいずれかのスキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするように構成されたスキャンドライバと、
前記スキャンドライバが前記いずれかのスキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするに当たり、前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加するように構成されたデータドライバと、
前記スキャンシーケンスのそれぞれに対応する変位電流に基づき、前記他のスキャンシーケンスから前記いずれかのスキャンシーケンスを選択するように構成されたスキャンシーケンサと、
を備えることを特徴とするプラズマディスプレイ装置。
【請求項２８】
前記いずれかのスキャンシーケンスは、前記他のスキャンシーケンスに対応する前記変位電流値未満の変位電流値を有することを特徴とする、請求項２７記載のプラズマディスプレイ装置。 
【請求項２９】
前記いずれかのスキャンシーケンスは、所定のしきい値未満の変位電流値を有することを特徴とする、請求項２７記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項３０】
前記スキャンシーケンスの数は３であることを特徴とする、請求項２７記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項３１】
前記スキャンシーケンスの数は４であることを特徴とする、請求項２７記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項３２】
複数のスキャン電極と、前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極と、を備えるプラズマディスプレイ装置において、
第１〜第３スキャンシーケンスを含む複数のスキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするように構成されたスキャンドライバと、
前記スキャンドライバが第１〜第３スキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするに当たり、前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加するように構成されたデータドライバと、
前記第１〜第３スキャンシーケンスのそれぞれに対応する変位電流値に基づき、前記第１〜第３スキャンシーケンスからいずれかのスキャンシーケンスを選択するように構成されたスキャンシーケンサと、
を備えることを特徴とするプラズマディスプレイ装置。
【請求項３３】
前記いずれかのスキャンシーケンスは、他のスキャンシーケンスに対応する変位電流値未満の変位電流値を有することを特徴とする、請求項３２記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項３４】
前記いずれかのスキャンシーケンスは、所定のしきい値未満の変位電流値を有することを特徴とする、請求項３２記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項３５】
前記スキャンドライバは、第１スキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするように構成され、
前記スキャンシーケンサは、前記第１〜第４スキャンシーケンスのそれぞれに対応する変位電流値に基づき、前記第１〜第４スキャンシーケンスからいずれかのスキャンシーケンスを選択するように構成されたことを特徴とする、
請求項３２記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項３６】
複数のスキャン電極と、
前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極と、
前記アドレス電極のそれぞれと前記スキャン電極のそれぞれが交差する個所に位置する放電セルと、
複数のスキャンタイプのそれぞれと関連する変位電流に基づき、複数のスキャンタイプからいずれかのスキャンタイプを識別する手段と、
前記いずれかのスキャンタイプに対応するスキャンパターンに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンする手段と、 
前記いずれかのスキャンタイプに対応するスキャンパターンに応じて前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加する手段と、
を備えることを特徴とするプラズマディスプレイ装置。
【請求項３７】
１以上のセルと関連する変位電流に基づき、前記複数のスキャンタイプのそれぞれに対する変位電流を算出する手段をさらに備えることを特徴とする、請求項３６記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項３８】
前記いずれかのスキャンタイプを識別する手段は、与えられたフレームの複数のサブフィールドのそれぞれに対して、前記複数のスキャンタイプのそれぞれと関連する変位電流に基づき、前記複数のスキャンタイプからいずれかのスキャンタイプを識別する手段を備えることを特徴とする、請求項３６記載のプラズマディスプレイ装置。
【請求項３９】
複数のスキャン電極、前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極、及び前記スキャン電極のそれぞれと前記アドレス電極のそれぞれが交差する個所の近くに位置する放電セルを備えるプラズマディスプレイ装置の駆動方法において、
複数のスキャンシーケンスのうちいずれかのスキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンする段階と、
スキャンドライバが前記いずれかのスキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするに当たり、前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加する段階と、
前記スキャンシーケンスのそれぞれに対応する変位電流値に基づき、他のスキャンシーケンスから前記いずれかのスキャンシーケンスを選択する段階と、
を含むことを特徴とするプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【請求項４０】
複数のスキャン電極、前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極、及び前記スキャン電極のそれぞれと前記アドレス電極のそれぞれが交差する個所の近くに位置する放電セルを備えるプラズマディスプレイ装置の駆動方法において、
一部のスキャン電極を飛ばすことを含む選択されたスキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンする段階と、
スキャンドライバが前記選択されたスキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするに当たり、前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加する段階と、
前記スキャンシーケンスのそれぞれに対応する変位電流値に基づき、他のスキャンシーケンスから前記スキャンシーケンスを選択する段階と、を含むむことを特徴とするプラズマディスプレイ装置の駆動方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、プラズマディスプレイパネルの駆動装置及びその駆動方法に係り、さらに詳しくは、プラズマディスプレイパネルのスキャン駆動装置及びスキャン駆動方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、プラズマディスプレイパネル（Plasma Display Panel：以下、「ＰＤＰ」という）は、Ｈｅ＋ＸｅまたはＮｅ＋Ｘｅを含む不活性混合ガスの放電時に発生する１４７ｎｍの紫外線によって蛍光体を発光させることにより、文字またはグラフィックを含む画像を表示する。
【０００３】
図１は、従来のＰＤＰの構造を示す斜視図である。図１に示すように、ＰＤＰは、上部基板１０上に形成されたＹ電極１２Ａ及びＺ電極１２Ｂと、下部基板１８上に形成されたＸ電極２０と、を備える。
【０００４】
Ｙ電極１２Ａ及びＺ電極１２Ｂのそれぞれは、透明電極及びバス電極を含む。透明電極は、通常インジウムティンオキサイド(Indium−Tin−Oxide：ＩＴＯ)より形成される。バス電極はその抵抗を減らすために金属より形成される。
【０００５】
ＰＤＰは、上部誘電体層１４及び保護層１６を含む。Ｙ電極１２ＡとＺ電極１２Ｂを含む上部基板１０には、上部誘電体層１４と保護膜１６が順次に積層される。
【０００６】
上部誘電体層１４にはプラズマ放電時に発生した壁電荷が蓄積される。保護膜１６は、プラズマ放電時に発生したスパッタリングによる上部誘電体層１４の損傷を防止すると共に２次電子の放出效率を高める。保護層１６は通常酸化マグネシウム（ＭｇＯ）よりなる。
【０００７】
一方、ＰＤＰは、下部誘電体層２２及び隔壁２４を含む。下部基板１８上には下部誘電体層２２と隔壁２４とが形成され、Ｘ電極２０がその上に形成される。下部誘電体層２２と隔壁２４の表面には蛍光体層２６が塗布される。
【０００８】
Ｘ電極２０は、Ｙ電極１２Ａ及びＺ電極１２Ｂと交差する方向に形成される。隔壁２４はＸ電極２０と並んで形成され、放電によって生成された紫外線（ＵＶ）及び可視光が隣り合う放電セルに漏洩することを防止する。
【０００９】
蛍光体層２６は紫外線によって励起され、赤色、緑色または青色のいずれか１つの可視光を発生させる。上／下部基板１０，１８と隔壁２４との間に設けられた放電セルの放電空間には、放電のためのＨｅ＋Ｘｅ、Ｎｅ＋ＸｅおよびＨｅ＋Ｎｅ＋Ｘｅなどの不活性混合ガスが注入される。
【００１０】
図２は、従来のＰＤＰの駆動装置の簡略回路図である。図２に示すように、スキャンプロセスで第１Ｙ電極Ｙ１に該当するチャンネルが選択されると、残りのＹ電極Ｙ２、Ｙ３、……、Ｙｎに該当するチャンネルは選択されない。このようにチャンネルが選択されると、選択されたチャンネルに該当する第１スキャンドライバ２１０−１の第２スイッチング素子２１３−１がターンオンされ、スキャン用スイッチング素子２２０がターンオンされる。“ターンオン”は該当スイッチがオフになっている（すなわち、導電する）スイッチング状態を示すのに対し、“ターンオフ”は該当スイッチがオンになっている（すなわち、導電していない）スイッチング状態を示す。同時に、選択されていないチャンネルに該当するスキャンドライバ２１０−２乃至２１０−ｎの第１スイッチング素子２１１−２乃至２１１−ｎ、及びグラウンド用スイッチング素子２３０がターンオンされる。
【００１１】
万が一、第１Ｙ電極Ｙ１が選択され、データドライバＩＣ３００−１乃至３００−ｍの第１データスイッチング素子３１０−１乃至３１０−ｍのうちいずれかのデータスイッチング素子の動作により、Ｘ電極Ｘ１乃至Ｘｍのうちいずれか１以上の電極にデータ電圧＋Ｖｄが印加されると、第１Ｙ電極Ｙ１に沿って位置する対応セルに書き込み動作が行われる。第１Ｙ電極Ｙ１に沿って位置する対応セルに対して書き込み動作が行われない残りのＸ電極のそれぞれには、第２データスイッチング素子３２０−１乃至３２０−ｎのうちいずれれか１以上のデータスイッチング素子の動作により、データ電圧０Ｖが印加される。
【００１２】
このようなプロセスがＹ電極Ｙ１乃至Ｙｎのそれぞれに対して行われると、スキャンプロセスが終わる。スキャンプロセスの後、第１サステイン用スイッチング素子２４０、スキャンドライバ２１０−１乃至２１０−ｎの第２スイッチング素子２１３−１乃至２１３−ｎ及びグラウンド用スイッチング素子２６０がターンオンする。これにより、すべてのＹ電極Ｙ１乃至Ｙｎに第１サステイン電圧＋Ｖｓｙが印加されるべく、第１サステイン用スイッチング素子２４０、スキャンドライバ２１０−１乃至２１０−ｎの第２スイッチング素子２１３−１乃至２１３−ｎ、各Ｙ電極Ｙ１乃至Ｙｎ、Ｚ電極Ｚ１乃至Ｚｎ及びグラウンド用スイッチング素子２６０がサーキトループ(circuit loop)を形成する。
【００１３】
次に、第２サステイン用スイッチング素子２５０、スキャンドライバ２１０−１乃至２１０−ｎの第１スイッチング素子２１１−１乃至２１１−ｎ及びグラウンド用スイッチング素子２３０がターンオンする。これにより、Ｚ電極Ｚ１乃至Ｚｎにサステイン電圧＋Ｖｓｚが印加されるべく、Ｚ電極Ｚ１乃至Ｚｎ、Ｙ電極Ｙ１乃至Ｙｎ、スキャンドライバ２１０−１乃至２１０−ｎの第１スイッチング素子２１１−１乃至２１１−ｎ及びグラウンド用スイッチング素子２３０がサーキトループ(circuit loop)を形成する。
【００１４】
このようなＰＤＰの駆動装置は、スキャン期間の間、スキャンドライバ２１０−１乃至２１０−ｎとデータドライバＩＣ３００−１乃至３００−ｍに含まれたスイッチング素子のスイッチング動作により、該当電極にスキャン電圧−Ｖｙｓｃａｎとデータ電圧＋Ｖｄまたは０Ｖを印加する。このプロセスにおいて、変位電流ＩｄがＸ電極を通ってデータドライバＩＣ３００−１乃至３００−ｍへ流れる。
【００１５】
従来のＰＤＰは３電極構造を有していることから、図２に示すように、第１等価キャパシタＣｍ１がＸ電極とＸ電極との間に位置し、第２等価キャパシタＣｍ２がＸ電極とＹ電極またはＺ電極との間に位置する。
【００１６】
よって、電極に印加される電圧の状態が、スキャンドライバ２１０−１乃至２１０−ｎとデータドライバＩＣ３００−１乃至３００−ｍに含まれたスイッチング素子の動作に応じて変わるので、第１等価キャパシタＣｍ１と第２等価キャパシタＣｍ２によって発生した変位電流ＩｄがＸ電極を通ってデータドライバＩＣ３００−１乃至３００−ｍへ流れる。
【００１７】
このようなデータドライバＩＣ３００−１乃至３００−ｍに流れる変位電流とこれによる電力の大きさとは、Ｘ電極Ｘ１乃至Ｘｍに印加される画像データによってそれぞれ別々である。
【００１８】
図３ａ〜図３ｅは、画像データによる変位電流とこれによる電力の大きさとを示すものである。図２と図３ａに示すように、第２Ｙ電極Ｙ２がスキャンされるとき、Ｘ電極Ｘ１乃至Ｘｍには論理値１と０が交互に変わる画像データが印加される。また、第３Ｙ電極Ｙ３がスキャンされるとき、Ｘ電極Ｘ１乃至Ｘｍには論理値０が維持される。論理値１は該当Ｘ電極にデータ電圧＋Ｖｄが印加された状態であり、論理値０は該当Ｘ電極に０Ｖが印加された状態である。
【００１９】
すなわち、Ｙ電極（例えば、第２Ｙ電極Ｙ２）上のセルに論理値１と０が交互に変わる画像データが印加され、次のＹ電極（例えば、第３Ｙ電極Ｙ３）上のセルに論理値０の画像データが印加される。各Ｘ電極に流れる変位電流Ｉｄ及びこれによる電力Ｐｄは、下記式１で表わされる。
【００２０】
(数１)
Id = 1/2(Cm1+Cm2)-1*VA 
Pd = 1/2(Cm1+Cm2) -1*VA2
Ｉｄ：各Ｘ電極に流れる変位電流、
Ｃｍ１：第１等価キャパシタ、
Ｃｍ２：第２等価キャパシタ、
Ｖａ：各Ｘ電極に印加される電圧＋Ｖｄまたは０Ｖ、
Ｐｄ：変位電流Ｉｄによる消費電力
【００２１】
次に、図２と図３ｂに示すように、第２Ｙ電極Ｙ２がスキャンされるとき、Ｘ電極Ｘ１乃至Ｘｍには論理値１が維持される画像データが印加される。また、第３Ｙ電極Ｙ３がスキャンされるとき、Ｘ電極Ｘ１乃至Ｘｍには論理値０が維持される画像データが印加される。論理値０は０Ｖが該当Ｘ電極に印加された状態を意味する。
【００２２】
例えば、一つのＹ電極（例えば、第２Ｙ電極Ｙ２）上の所定セルに論理値１の画像データが印加される一方、次のＹ電極（例えば、第３Ｙ電極Ｙ３）の隣接セルに論理値０の画像データが印加される。また、いずれかのＹ電極（例えば、第２Ｙ電極Ｙ２）上の所定セルに論理値０の画像データが印加される一方、次のＹ電極（例えば、第３Ｙ電極Ｙ３）の隣接セルに論理値１の画像データが印加される。このとき、各Ｘ電極に流れる変位電流Ｉｄとこれによる電力は、下記式２で表わされる。
【００２３】
(数２)
Id = 1/2(Cm2)-1*VA 
Pd = 1/2(Cm2)-1*VA2
Ｉｄ：各Ｘ電極に流れる変位電流、
Ｃｍ２：第２等価キャパシタ、
Ｖａ：各Ｘ電極に印加される電圧＋Ｖｄまたは０Ｖ、 
Ｐｄ：変位電流Ｉｄによる消費電力
【００２４】
次に、図２と図３ｃに示すように、第２Ｙ電極Ｙ２がスキャンされるとき、Ｘ電極Ｘ１乃至Ｘｍには論理値１と０が交互に変わる画像データが印加される。また、第３Ｙ電極Ｙ３がスキャンされるとき、第２Ｙ電極Ｙ２上のセルに印加された画像データの位相とデータの位相に１８０゜差がある、論理値１と０が交互に変わる画像データが印加される。論理値１は該当Ｘ電極にデータ電圧＋Ｖｄが印加された状態を意味し、論理値０は該当Ｘ電極に０Ｖが印加された状態を意味する。
【００２５】
すなわち、ひとつのＹ電極（例えば、Ｙ２）上のセルに論理値１と０が交互に変わる画像データが印加される一方、次のＹ電極（例えば、Ｙ３）上の隣接セルに前記いずれかのＹ電極上のセルに印加された画像データの位相と１８０゜差がある、論理値１と０が交互に変わる画像データが印加される。このとき、各Ｘ電極に流れる変位電流Ｉｄとこれによる電力は、下記式３で表わされる
【００２６】
(数３)
Id = 1/2(4Cm1+Cm2)-1*VA
Pd = 1/2(4Cm1+Cm2)-1*VA2
Ｉｄ：各Ｘ電極に流れる変位電流、
Ｃｍ１：第２等価キャパシタ、
Ｃｍ２：第２等価キャパシタ、
Ｖａ：各Ｘ電極に印加される電圧＋Ｖｄまたは０Ｖ、
Ｐｄ：変位電流Ｉｄによる消費電力
【００２７】
次に、図２と図３ｄに示すように、第２Ｙ電極Ｙ２がスキャンされるとき、Ｘ電極Ｘ１乃至Ｘｍには論理値１と０が交互に変わる画像データが印加される。また、第３Ｙ電極Ｙ３がスキャンされるとき、第２Ｙ電極Ｙ２上のセルに印加された画像データの位相と同じ位相を有する（すなわち、同位相）、論理値１と０が交互に変わる画像データが印加される。論理値１は該当Ｘ電極にデータ電圧＋Ｖｄが印加された状態を意味し、論理値０は該当Ｘ電極に０Ｖが印加された状態を意味する。
【００２８】
すなわち、一つのＹ電極（例えば、Ｙ２）上のセルに論理値１と０が交互に変わる画像データが印加され、次のＹ電極（例えば、Ｙ３）上のセルには前記いずれかのＹ電極上のセルに印加された画像データの位相と同じ位相を有する、論理値１と０が交互に変わる画像データが印加される。このとき、各Ｘ電極に流れる変位電流Ｉｄとこれによる電力は、下記式４で表わされる
【００２９】
(数４)
Ｉｄ=０、
Ｐｄ=０
Ｉｄ：各Ｘ電極に流れる変位電流
Ｐｄ：変位電流Ｉｄによる消費電力
【００３０】
次に、図２と図３ｅに示すように、第２Ｙ電極Ｙ２がスキャンされるとき、Ｘ電極Ｘ１乃至Ｘｍには論理値０が維持される画像データが印加される。また、第３Ｙ電極Ｙ３がスキャンされるとき、第３Ｙ電極Ｙ３には論理値０が維持される画像データが印加される。論理値０は該当Ｘ電極に０Ｖが印加された状態を意味する。
【００３１】
すなわち、一つのＹ電極（例えば、Ｙ２）上の所定セルには論理値０が維持される画像データが印加される一方、次のＹ電極（例えば、Ｙ３）上のセルにも論理値０が維持される画像データが印加される。また、いずれかのＹ電極（例えば、Ｙ２）上の所定セルには論理値１０が維持される画像データが印加される一方、次のＹ電極（例えば、Ｙ３）上のセルにも論理値０が維持される画像データが印加される。このとき、各Ｘ電極に流れる変位電流Ｉｄとこれによる電力は、下記式５で表わされる
【００３２】
(数５)
Ｉｄ=０
Ｐｄ=０
Ｉｄ：各Ｘ電極に流れる変位電流
Ｐｄ：変位電流Ｉｄによる消費電力
【００３３】
前式１〜５からわかるように、いずれかのＹ電極上のセルに論理値１と０が交互に変わる画像データが印加され、次のＹ電極上のセルに前記いずれかのＹ電極上のセルに印加された画像データの位相とデータの位相に１８０°差がある、論理値１と０が交互に変わる画像データが印加されるとき、Ｘ電極に流れる変位電流が最も大きい。
【００３４】
これに対し、いずれかのＹ電極上のセルに論理値１と０が交互に変わる画像データが印加され、次のＹ電極上のセルには前記いずれかのＹ電極上のセルに印加された画像データの位相と同じ位相を有する、論理値１と０が交互に変わる画像データが印加されるとき、またはいずれかのＹ電極上のセルと次のＹ電極上のセルとのどちらにも論理値０が維持される画像データが印加されるとき、Ｘ電極に流れる変位電流は最も小さい。
【００３５】
このように、図３ａ〜図３ｄに示した画像データによるＰＤＰに表示される画像は、次の図４ａ〜図４ｄのうちいずれかに該当する。よって、図４に示した格子状画像は最大の変位電流Ｉｄ量に該当する。また、もし同一の画像データがＸ電極に印加されると、最小の変位電流が流れる。
【００３６】
すなわち、一つのＸ電極を担当するデータドライバＩＣの観点から、図３ｃと図４ｃにおける画像データは、データドライバＩＣのスイッチング動作回数（すなわち、スイッチング回数）が最多である。このため、データドライバＩＣのスイッチング動作回数が多ければ、データドライバＩＣに流れる変位電流Ｉｄが大きくなる。
【００３７】
これに対し、図３ｄ、図３ｅ及び図４ｄにおける画像データは、データドライバＩＣのスイッチング回数が最少である。ゆえに、データドライバＩＣのスイッチング動作回数が少なければ、データドライバＩＣに流れる変位電流が小さくなる。
【００３８】
さらに、図４ｃに示すように、ＰＤＰが格子状画像を表示するとき、Ｘ電極に最大の変位電流が流れる。しかしながら、該最大の変位電流ＩｄはデータドライバＩＣ３００−１乃至３００−ｍに損傷を与える原因となる。前記格子状画像はＰＤＰの画質を改善するためにハーフトーン(half-toning)に用いられるが、これが深刻な問題になる。
【００３９】
図５ａ〜図５ｂは、従来のＰＤＰの画質向上のためのディザリングを説明するための図である。図５ａは、１／８グレーレベル乃至７／８グレーレベルの発生に使われた多数の４×４のディザマスクを示す。ディザリングプロセスの使用は、ＰＤＰの画質を向上させるために求められるものである。これらマスクは図３ｃ及び図４ｃに対応する格子状のパターンを示す４／８グレーレベルを含む。それゆえ、ディザリングプロセスに使われるディザマスクは最大の変位電流Ｉｄを誘発する。
【００４０】
このようなディザマスクを用いてグレーレベル２７．５を表現する場合、図５ｂに示すように、該当加重値が割り当てされた各サブフィールドＳＦ１〜ＳＦ１３のうち、グレーレベル２７を表現するためのサブフィールドＳＦ１，ＳＦ２，ＳＦ６，ＳＦ７，ＳＦ８，ＳＦ９及びＳＦ１０と、グレーレベル２８を表現するためにサブフィールドＳＦ１，ＳＦ３，ＳＦ９及びＳＦ１１とを、用いる必要がある。このとき、ＳＦ２，ＳＦ６，ＳＦ７，ＳＦ８及びＳＦ１０は、グレーレベル２７を表現するためには選択されるが、グレーレベル２８を表現するためには選択されない。一方、ＳＦ３及びＳＦ１１はグレーレベル２７を表現するためには選択されないが、グレーレベル２８を表現するためには選択される。
【００４１】
つまり、グレーレベル２７からグレーレベル２８までのサブフィールドの変化は７回起こる。このようなサブフィールドの変化によりデータドライブＩＣのスイッチング回数が急激に増える。これは、４／８グレーレベルに該当する格子状のディザマスクとともに、データドライブＩＣに極めて大きい変位電流Ｉｄが流れるようにする。このような大きい変位電流はデータドライバＩＣを破損させたり正常な動作ができないようにする。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００４２】
したがって、本発明は、かかる問題点及び背景技術と関連する短所を解決するためのものである。
【００４３】
本発明の目的は、特定の画像データのパターン、特にディザリングプロセスに使われる画像データと関連する変位電流の大きさを最小化することができるＰＤＰのスキャン駆動装置及び方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００４４】
本発明の各種実施例に係るプラズマディスプレイ装置及びその駆動方法は、複数のスキャンタイプのそれぞれに対応する変位電流に基づき、複数のスキャンタイプからいずれかのスキャンタイプを識別し、前記識別されたいずれかのスキャンタイプに対応するスキャンパターンに応じて複数のスキャン電極のそれぞれをスキャンし、前記識別されたいずれかのスキャンタイプに対応するスキャンパターンに応じて複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加することを特徴とする。
【００４５】
第１発明に係るプラズマディスプレイ装置は、複数のスキャン電極、前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極、及び前記アドレス電極のそれぞれと前記スキャン電極のそれぞれが交差する個所に位置する放電セルを備えるプラズマディスプレイ装置において、複数のスキャンタイプのそれぞれと関連する変位電流に基づき、複数のスキャンタイプからいずれかのスキャンタイプを識別するスキャンシーケンサと、前記いずれかのスキャンタイプに対応するスキャンパターンに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするスキャンドライバと、前記いずれかのスキャンタイプに対応するスキャンパターンに応じて前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加するデータドライバと、を備えることを特徴とする。
【００４６】
第２発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第１発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、１以上のセルと関連する変位電流に基づき、複数のスキャンタイプのそれぞれに対する変位電流を算出する変位電流算出部をさらに備えることを特徴とする。
【００４７】
第３発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第２発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記複数のスキャン電極は、前記いずれかの識別されたスキャンタイプに応じて所定数のスキャン電極により分離された第１及び第２スキャン電極を備え、前記複数のアドレス電極は第１及び第２アドレス電極を備え、前記変位電流算出部は、前記第１スキャン電極と前記第１アドレス電極が交差する個所の近くに位置する第１放電セルと関連する画像データ、前記第１スキャン電極と前記第２アドレス電極が交差する個所の近くに位置する前記第２放電セルと関連する画像データ、前記第２スキャン電極と前記第１アドレス電極が交差する個所の近くに位置する前記第３放電セルと関連する画像データ、及び前記第２スキャン電極と前記第２アドレス電極が交差する個所の近くに位置する前記第４放電セルと関連する画像データに基づき、前記第１放電セルに対する変位電流を算出するように構成されたことを特徴とする。
【００４８】
第４発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第３発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記変位電流算出部は、前記第１セルの画像データと前記第２セルの画像データを比較して第１結果を得、前記第１セルの画像データと前記第３セルの画像データを比較して第２結果を得、前記第３セルの画像データと前記第４セルの画像データを比較して第３結果を得、前記第１〜第３結果のそれぞれに対応する変位電流を得た後、前記第１〜第３結果に対応する変位電流を合計して前記第１放電セルに対応する変位電流を算出するように構成されたことを特徴とする。
【００４９】
第５発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第４発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記変位電流算出部は、Ｃｍ１及びＣｍ２（ここで、Ｃｍ１は隣り合うアドレス電極間の静電容量であり、Ｃｍ２はアドレス電極とスキャン電極間の静電容量である。）に基づき、前記第１〜第３結果に対応する前記変位電流を算出するように構成されたことを特徴とする。
【００５０】
第６発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第４発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記変位電流算出部は、前記対応する比較が変位電流が流れることを示せば、前記第１〜第３結果のそれぞれに対して１を計数し、前記対応する比較が変位電流が流れていないことを示せば、前記第１〜第３結果のそれぞれに対して０を計数することを特徴とする。
【００５１】
第７発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第４発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記変位電流算出部は、所定のサブフィールド中に複数の放電セルのそれぞれに対応する変位電流を算出し、前記複数の放電セルのそれぞれに対応する変位電流に基づき、前記サブフィールドに対する変位電流値を算出するように構成されたことを特徴とする。
【００５２】
第８発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第２発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記変位電流算出部は、前記複数のスキャンタイプのそれぞれに対する変位電流をフレームの各サブフィールドに対して算出するように構成され、前記スキャンシーケンサは、最小の変位電流を有する前記いずれかの識別されたスキャンタイプに対応するスキャンパターンを確立するように構成されたことを特徴とする。
【００５３】
第９発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第２発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記スキャンシーケンサは、前記相異なるスキャンタイプのそれぞれと関連する変位電流を比較するように構成されたことを特徴とする。
【００５４】
第１０発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第９発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記スキャンシーケンサは、残りのスキャンタイプのそれぞれと比較されたものとして、最小の変位電流を示す前記複数のスキャンタイプからいずれかのスキャンタイプを識別するように構成されたことを特徴とする。
【００５５】
第１１発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第２発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記スキャンシーケンサは、前記いずれかのスキャンタイプに対応する変位電流が所定のしきい値未満である前記複数のスキャンタイプからいずれかのスキャンタイプを識別するように構成されたことを特徴とする。
【００５６】
第１２発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第１発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記複数のスキャン電極は、前記いずれかの識別されたスキャンタイプに応じて複数のグループに分割され、前記スキャンシーケンサは、スキャン前に第１グループに属する前記スキャン電極を順次にスキャンし、且つ、次のグループに属する前記スキャン電極を順次にスキャンするように構成されたことを特徴とする。
【００５７】
第１３発明に係るプラズマディスプレイ装置は、複数のスキャン電極、前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極、及び前記アドレス電極のそれぞれと前記スキャン電極のそれぞれが交差する個所の近くに位置するセルを備えるプラズマディスプレイ装置において、複数のスキャンタイプのそれぞれに対する変位電流値を算出することにより、フレーム内の１以上のサブフィールドに対して変位電流を算出するように構成された変位電流算出部と、残りのスキャンタイプと比較したものとして、より小さい変位電流を有する前記複数のスキャンタイプからいずれかのスキャンタイプに対応するスキャンシーケンスを識別するように構成されたスキャンシーケンサと、前記いずれかの識別されたスキャンシーケンスに応じて前記スキャン電極をスキャンするように構成されたスキャンドライバと、前記スキャンドライバが前記スキャン電極をスキャンするに当たり、前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加するように構成されたデータドライバと、を備えることを特徴とする。
【００５８】
第１４発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第１３発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、
前記変位電流算出部は、それぞれのセル組(cell set)が複数のセルを含む複数の前記セル組と関連する変位電流値に基づき、それぞれのスキャンタイプに対する変位電流値を算出するように構成されたことを特徴とする。
【００５９】
第１５発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第１４発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記変位電流算出部は、前記セル組内の各セルに対応する変位電流値をパラレルにて算出することにより、所定のセル組に対する変位電流値を算出するように構成されたことを特徴とする。
【００６０】
第１６発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第１４発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、それぞれのセルは、サブピクセルであることを特徴とする。
第１７発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第１６発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、それぞれのセル組は、複数のサブピクセルを含むことを特徴とする。
第１８発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第１７発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、それぞれのセル組は、３つのサブピクセルを含むことを特徴とする。
第１９発明に係るプラズマディスプレイ装置は、スキャン電極と、前記スキャン電極と交差するデータ電極と、第２スキャンタイプと関連する変位電流未満の第１変位電流を有する第１スキャンタイプに対応するスキャンシーケンスに応じて前記スキャン電極をスキャンするように構成されたスキャンドライバと、
前記スキャンシーケンスに対応するデータ信号を前記データ電極に印加するように構成されたデータドライバと、を備えることを特徴とする。
【００６１】
第２０発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第１９発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記スキャン電極とデータ電極が交差する個所の近くに位置する放電セルをさらに備えるむことを特徴とする。
【００６２】
第２１発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第２０発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記放電セルは、サブピクセルであることを特徴とする。
【００６３】
第２２発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第１９発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記第１変位電流は、他の任意のスキャンタイプと関連する変位電流の未満であることを特徴とする。
【００６４】
第２３発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第１９発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、複数のスキャンタイプのそれぞれは、対応する変位電流及び対応するスキャンシーケンスと関連していることを特徴とする。
【００６５】
第２４発明に係るプラズマディスプレイ装置は、スキャン電極と、前記スキャン電極と交差するデータ電極と、相異なる電極スキャン順序により定義される複数のスキャンシーケンスのうち第１スキャンシーケンスに応じて前記スキャン電極をスキャンするように構成されたスキャンドライバと、前記第１スキャンシーケンスに対応するデータ信号を前記データ電極に印加するように構成されたデータドライバと、を備える。
【００６６】
第２５発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第２４発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、
前記スキャン電極とデータ電極が交差する個所の近くに位置する放電セルをさらに備えることを特徴とする。
【００６７】
第２６発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第２４発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、それぞれの電極スキャン順序は、順次にスキャンされるスキャン電極間の相異なるスキャン電極を定義することを特徴とする。
【００６８】
第２７発明に係るプラズマディスプレイ装置は、複数のスキャン電極と、前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極と、を備えるプラズマディスプレイ装置において、複数のスキャンシーケンスからいずれかのスキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするように構成されたスキャンドライバと、前記スキャンドライバが前記いずれかのスキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするに当たり、前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加するように構成されたデータドライバと、前記スキャンシーケンスのそれぞれに対応する変位電流に基づき、前記他のスキャンシーケンスから前記いずれかのスキャンシーケンスを選択するように構成されたスキャンシーケンサと、を備えることを特徴とする。
【００６９】
第２８発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第２７発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、
前記いずれかのスキャンシーケンスは、前記他のスキャンシーケンスに対応する前記変位電流値未満の変位電流値を有することを特徴とする。
【００７０】
第２９発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第２７発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記いずれかのスキャンシーケンスは、所定のしきい値未満の変位電流値を有することを特徴とする。
【００７１】
第３０発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第２７発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記スキャンシーケンスの数は、３であることを特徴とする。
第３１発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第２７発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記スキャンシーケンスの数は、４であることを特徴とする。
第３２発明に係るプラズマディスプレイ装置は、複数のスキャン電極と、前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極と、を備えるプラズマディスプレイ装置において、第１〜第３スキャンシーケンスを備える複数のスキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするように構成されたスキャンドライバと、前記スキャンドライバが第１〜第３スキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするに当たり、前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加するように構成されたデータドライバと、前記第１〜第３スキャンシーケンスのそれぞれに対応する変位電流値に基づき、前記第１〜第３スキャンシーケンスからいずれかのスキャンシーケンスを選択するように構成されたスキャンシーケンサと、を備えることを特徴とする。
【００７２】
第３３発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第３２発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記いずれかのスキャンシーケンスは、他のスキャンシーケンスに対応する変位電流値未満の変位電流値を有することを特徴とする。
【００７３】
第３４発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第３２発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、
前記いずれかのスキャンシーケンスは、所定のしきい値未満の変位電流値を有することを特徴とする。
【００７４】
第３５発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第３２発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記スキャンドライバは、第１スキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするように構成され、前記スキャンシーケンサは、前記第１〜第４スキャンシーケンスのそれぞれに対応する変位電流値に基づき、前記第１〜第４スキャンシーケンスからいずれかのスキャンシーケンスを選択するように構成されたことを特徴とする。
【００７５】
第３６発明に係るプラズマディスプレイ装置は、複数のスキャン電極と、前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極と、前記アドレス電極のそれぞれと前記スキャン電極のそれぞれが交差する個所に位置する放電セルと、複数のスキャンタイプのそれぞれと関連する変位電流に基づき、複数のスキャンタイプからいずれかのスキャンタイプを識別する手段と、前記いずれかのスキャンタイプに対応するスキャンパターンに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンする手段と、前記いずれかのスキャンタイプに対応するスキャンパターンに応じて前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加する手段と、を備えることを特徴とする。
【００７６】
第３７発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第３６発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、１以上のセルと関連する変位電流に基づき、前記複数のスキャンタイプのそれぞれに対する変位電流を算出する手段をさらに備えることを特徴とする。
第３８発明に係るプラズマディスプレイ装置は、第３６発明に係るプラズマディスプレイ装置に於いて、前記いずれかのスキャンタイプを識別する手段は、与えられたフレームの複数のサブフィールドのそれぞれに対して、前記複数のスキャンタイプのそれぞれと関連する変位電流に基づき、前記複数のスキャンタイプからいずれかのスキャンタイプを識別する手段を備えることを特徴とする。
【００７７】
第３９発明に係るプラズマディスプレイ装置は、複数のスキャン電極、前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極、及び前記スキャン電極のそれぞれと前記アドレス電極のそれぞれが交差する個所の近くに位置する放電セルを備えるプラズマディスプレイ装置の駆動方法において、複数のスキャンシーケンスのうちいずれかのスキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンする段階と、スキャンドライバが前記いずれかのスキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするに当たり、前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加する段階と、前記スキャンシーケンスのそれぞれに対応する変位電流値に基づき、他のスキャンシーケンスから前記いずれかのスキャンシーケンスを選択する段階と、を含むことを特徴とする。
【００７８】
第４０発明に係るプラズマディスプレイ装置は、複数のスキャン電極、前記スキャン電極と交差する複数のアドレス電極、及び前記スキャン電極のそれぞれと前記アドレス電極のそれぞれが交差する個所の近くに位置する放電セルを備えるプラズマディスプレイ装置の駆動方法において、一部のスキャン電極を飛ばすことを含む選択されたスキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンする段階と、スキャンドライバが前記選択されたスキャンシーケンスに応じて前記複数のスキャン電極をスキャンするに当たり、前記複数のアドレス電極のそれぞれにデータ信号を印加する段階と、前記スキャンシーケンスのそれぞれに対応する変位電流値に基づき、他のスキャンシーケンスから前記スキャンシーケンスを選択する段階と、を含むむことを特徴とする。
【発明の効果】
【００７９】
本発明が提供するプラズマディスプレイパネルの駆動装置及びその駆動方法によると特定の画像データのパターン、特にディザリングプロセスに使われる画像データと関連する変位電流の大きさを最小化することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００８０】
以下、本発明の好適な実施例を添付図を参照して詳しく説明する。
【００８１】
図６は、本発明に係るＰＤＰの駆動方法を示す図である。前述したように、４×４ディザマスクのうち４／８グレーレベルに該当するディザマスクは、最大の変位電位(displacement current potential)を発生させる。すなわち、第１Ｙ電極Ｙ１のスキャン中に、格子パターンに該当するデータパルスがＹ電極に印加されるとき、総ｎ回の変位電流(displacement current)が発生する。これは図６における左側の画像データによって示されている。
【００８２】
図６に示す格子パターンから、Ｙ１，Ｙ３，Ｙ５，……，Ｙｎ−１スキャンラインに該当する画像データの位相が同一である一方、Ｙ２，Ｙ４，Ｙ６，……，Ｙｎスキャンラインに該当する画像データの位相が同一であることがわかる。しかし、図６の右側に示すように、万が一Ｙ１，Ｙ３，Ｙ５，……，Ｙｎ−１スキャンラインに同じ位相を有する画像データが順次に印加された後，Ｙ２，Ｙ４，Ｙ６，……，Ｙｎスキャンラインに同じ位相を有する画像データが順次に印加されれば、変位電流は総２回発生する。よって、Ｙ１，Ｙ３，Ｙ５，……，Ｙｎ−１スキャンラインを順次にスキャンし、次にＹ２，Ｙ４，Ｙ６，……，Ｙｎスキャンラインを順次にスケンすることにより、変位電流の発生回収が格段に減少できる。
【００８３】
すなわち、データドライバＩＣのスイッチング動作は、画像データがスキャンラインの１番目のグループ、すなわちスキャンラインＹ１に印加されるときに発生する。画像データがＹ２，Ｙ４，Ｙ６，……，Ｙｎスキャンラインの２番目のグループ、すなわちスキャンラインＹ２に印加されるまでいかなるスイッチング動作も行われない。それゆえ、変位電流の発生が格段に減少する。
【００８４】
図７は、本発明に係るＰＤＰの駆動方法を説明するためのものである。図７に示すように、本発明に係るＰＤＰの駆動方法は４つのスキャンタイプのスキャンシーケンスに応じてスキャンを行う。第１スキャンタイプＴｙｐｅ１のスキャンシーケンスでは、シーケンスＹ１−Ｙ２−Ｙ３−……に応じてスキャンが行われる。
【００８５】
第２スキャンタイプＴｙｐｅ２のスキャンシーケンスでは、第１グループに属するＹ電極を順次にスキャンし、第２グループに属するＹ電極を順次にスキャンする。すなわち、シーケンスＹ１−Ｙ３−Ｙ５−……Ｙｎ−１に応じて第１スキャンが行われ、シーケンスでＹ２−Ｙ４−Ｙ６−……Ｙｎに応じて第２スキャンが行われる。
【００８６】
第３スキャンタイプＴｙｐｅ３のスキャンシーケンスでは、第１グループに属するＹ電極を順次にスキャンし、第２グループに属するＹ電極を順次にスキャンし、その後、第３グループに属するＹ電極を順次にスキャンする。すなわち、第１スキャンシーケンスはＹ１−Ｙ４−Ｙ７−……Ｙｎ−２を、第２スキャンシーケンスはＹ２−Ｙ５−Ｙ８−……Ｙｎ−１を、第３スキャンシーケンスはＹ３−Ｙ６−Ｙ９−……Ｙｎをそれぞれ含むことができる。
【００８７】
第４スキャンタイプＴｙｐｅ４のスキャンシーケンスでは、第１グループに属するＹ電極を順次にスキャンし、第２グループに属するＹ電極を順次にスキャンし、第３グループに属するＹ電極を順次にスキャンし、その後、第４グループに属するＹ電極を順次にスキャンする。すなわち、第１スキャンシーケンスはＹ１−Ｙ５−Ｙ９−……Ｙｎ−３を、第２スキャンシーケンスはＹ２−Ｙ６−Ｙ１０−……Ｙｎ−２を、第３スキャンシーケンスはＹ３−Ｙ７−Ｙ１１−……Ｙｎ−１を、第４スキャンシーケンスはＹ４−Ｙ８−Ｙ１２−……Ｙｎをそれぞれ含むことができる。
【００８８】
図８は、本発明に係るＰＤＰの駆動装置のブロック構成図である。図８に示すように、本発明に係るＰＤＰの駆動装置は、データ変換部７１０、サブフィールドマッピング部７２０、データ比較部７３０、スキャンシーケンサ７４０及びデータ整列部７５０を含む。
【００８９】
データ変換部７１０は、ＲＧＢ画像データを受信し、これを逆ガンマ補正、誤差拡散及びディザリングを用いて、ＰＤＰに適した画像データに変換する。
【００９０】
サブフィールドマッピング部７２０は、データ変換部７１０から前記変換された画像データを受信し、前記変換された画像データに該当するサブフィールドマッピングを行う。
【００９１】
データ比較部７３０は、特定のスキャンライン上に位置する少なくとも１以上のセルを有するセル束(cell bundle)の画像データと、前記セル束に対して垂直及び水平方向に位置する他のセル束の画像データとを比較することで、変位電流Ｉｄの大きさを算出する。データ比較部７３０は、複数のスキャンタイプ（例えば、例示的な４つのスキャンタイプ１，２，３及び４）のそれぞれに対して同一の方式で変位電流Ｉｄを算出する。
【００９２】
このとき、“セル束”とは単位(unit)で束ねられている１以上のセルを意味する。例えば、Ｒ，Ｇ，Ｂに該当するセルが束ねられて１つのピクセルを形成する。ここでピクセルは例えばセル束に該当する。
【００９３】
スキャンシーケンサ７４０は、データ比較部７３０から、それぞれのスキャンタイプに対する変位電流情報を受信する。スキャンシーケンサ７４０は、変位電流を最小に発生させるスキャンシーケンスに基づき、好ましいスキャンシーケンス（すなわち、スキャンタイプ）を決定する。また、スキャンシーケンサ７４０は、スキャンシーケンスと関連する変位電流が所定量（例えば、所定のしきい値）以下であるかどうかに基づき、使用するスキャンシーケンスを決定する。
【００９４】
データ整列部７５０は、サブフィールドがマッピングされた画像データをサブフィールド別に再整列する。データ整列部７５０は、スキャンシーケンサ７４０によって選択された好ましいスキャンシーケンスに応じて、サブフィールドマッピングされた画像データをサブフィールド別にさらに分類する。次に、データ整列部７５０は、前記再分類された画像データをＸ電極に印加する。
【００９５】
代替実施例において、データ比較部７３０は、それぞれのスキャンタイプに対する変位電流Ｉｄと、所定のしきい値とを比較することができる。データ比較部７３０は、該当変位電流Ｉｄが所定のしきい値未満であるスキャンタイプを選択する。
【００９６】
図９は、本発明によるデータ比較部７３０のブロック構成図である。図９に示すように、データ比較部７３０は、メモリ部７３１、第１バッファｂｕｆ１、第２バッファｂｕｆ２、第１〜第３判断部７３４−１，７３４−２，７３４−３、デコーダ部７３５、第１〜第３合算部７３６−１，７３６−２，７３６−３、第１〜第３電流算出部７３７−１，７３７−２，７３７−３及び電流合算部７３８を含む。
【００９７】
ｌ−１番目のＹ電極、すなわちｌ−１番目のスキャンラインに該当する画像データがメモリ部７３１に格納され、ｌ番目のＹ電極、すなわちｌ番目のスキャンラインに該当する画像データが入力される。第１バッファｂｕｆ１は、ｌ番目のスキャンラインに該当するセルのうちｑ−１番目のセルの画像データを一時的に格納する。第２バッファｂｕｆ２は、ｌ−１番目のスキャンラインに該当するセルのうちｑ−１番目のセルの画像データを一時的に格納する。
【００９８】
第１判断部７３４−１は、排他的論理和ゲートを含み、ｌ番目のスキャンラインのｑ番目のセルの画像データと、第１バッファｂｕｆ１に格納されたｌ番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データとを比較する。第１判断部７３４−１は、両者が互いに異なると１を出力し、両者が同じであれば０を出力する。
【００９９】
第２判断部７３４−２は、排他的論理和ゲートを含み、ｌ−１番目のスキャンラインのｑ番目のセルの画像データと、第２バッファｂｕｆ２に格納されたｌ−１番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データとを比較する。第２判断部７３４−２は、両者が異なると１を出力し、両者が同じであれば０を出力する。
【０１００】
第３判断部７３４−３は、排他的論理和ゲートを含み、第１バッファｂｕｆ１に格納されたｌ番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データと、第２バッファｂｕｆ２に格納されたｌ−１番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データとを比較する。第３判断部７３４−３は、両者が異なると１を出力し、同じであれば０を出力する。
【０１０１】
図１０は、本発明のデータ比較部７３０の第１〜第３判断部７３４−１，７３４−２及び７３４−３の比較動作を示すものである。ここで、動作１〜３はそれぞれ、第１判断部７３４−１、第２判断部７３４−２及び第３判断部７３４−３の動作に該当するものである。
【０１０２】
すなわち、本発明のデータ比較部７３０は、第１判断部７３４−１〜第３判断部７３４−３を用いて、水平及び垂直方向にある隣接セルの画像データを比較し、その変化を決定する。
【０１０３】
デコーダ７３５は、第１判断部〜第３判断部７３４−１，７３４−２，７３４−３のそれぞれで排他的論理和ゲートのそれぞれからの出力信号を受信する。デコーダ７３５は、第１判断部〜第３判断部７３４−１，７３４−２，７３４−３からの各出力信号に対応する３−ビット信号を出力する。
【０１０４】
図１１は、デコーダ７３５の３−ビット出力信号に対するすべての可能な組合を含む表を示す。もしデコーダ７３５の出力信号が(０，０，０)であれば、画像データの状態は変位電流Ｉｄが０である図３ｅと同様である。もしデコーダ７３５の出力信号が(０，０，１)であれば、画像データの状態は変位電流ＩｄがＣｍ２である図３ｂと同様である。もしデコーダ７３５の出力信号が(０，１，０)、(０，１，１)、（１，０，０）及び（１，０，１)であれば、画像データの状態は変位電流ＩｄがＣｍ１+Ｃｍ２に比例する図３ａと同様である。もしデコーダ７３５の出力信号が（１，１，０)であれば、画像データの状態は変位電流Ｉｄが０である図３ｄと同様である。最後に、もしデコーダ７３５の出力信号が（１，１，１)であれば、画像データの状態は変位電流Ｉｄが４Ｃｍ１+Ｃｍ２に比例する図３ｃと同様である。
【０１０５】
また、図１０を参照すれば、第１合算部〜第３合算部７３６−１，７３６−２，７３６−３は、デコーダ７３５から出力された特定の３−ビット信号の出力回数を合算する。すなわち、第１合算部７３６−１は、デコーダ７３５から出力された（０，１，０）、（０，１，１）、（１，０，０）及び（１，０，１）のうちいずれか１つに対する回数を合算（Ｃ１）する。第２合算部７３６−２は、デコーダ７３５に出力された（０，０，１）に対する回数を合算（Ｃ２）する。第３合算部７３６−３は、デコーダ７３５に出力された１，１，１）に対する回数を合算（Ｃ３）する。
【０１０６】
第１〜第３電流算出部７３７−１，７３７−２，７３７−３のそれぞれは、第１合算部７３６−１、第２合算部７３６−２及び第３合算部７３６−３からＣ１，Ｃ２及びＣ３を入力されて変位電流を算出する。電流合算部７３８は、第１〜第３電流算出部７３７−１，７３７−２，７３７−３のそれぞれによって算出された変位電流を合算する。
【０１０７】
図１２は、本発明の第１実施例によるデータ比較部７３０とスキャンシーケンサ７４０のブロック構成図である。図１２に示すように、本発明の第１実施例によるデータ比較部７３０は、図１０に示した基本回路ブロック(basic circuits)を４つ含む構成を有する。スキャンシーケンサ７４０は４つの基本回路ブロックからの出力を比較し、それに基づいて最小の変位電流を発生させるスキャンシーケンスを決定する。選択的に、スキャンシーケンサ７４０は、このスキャンシーケンスと関連する変位電流が所定量（例えば、所定のしきい値）以下であるかどうかに基づき、使用するスキャンシーケンスを決定する。
【０１０８】
データ比較部７３０は、図１２に示すように、第１〜第４メモリ部９０１，９０３，９０５，９０７、及び第１〜第４電流判別部９１０，９３０，９５０及び９７０を含む。メモリ部９０１，９０３，９０５，９０７、及び電流判別部９１０，９３０，９５０及び９７０のいずれも、図９のデータ比較部７３０を参照して前述したように動作する。
【０１０９】
第１〜第４メモリ部９０１，９０３，９０５，９０７はシリアル接続され、４つのラインに該当する画像データをそれぞれ格納する。例えば、第１メモリ部９０１はｌ−４番目のスキャンラインに該当する画像データを、第２メモリ部９０３はｌ−３番目のスキャンラインに該当する画像データを、第３メモリ部９０５はｌ−２番目のスキャンラインに該当する画像データを、第４メモリ部９０７はｌ−１番目のスキャンラインに該当する画像データを、それぞれ格納する。
【０１１０】
第１電流判別部９１０は、ｌ番目のスキャンラインの画像データと、第１メモリ部９０１に格納されたｌ−４番目のスキャンラインの画像データとを受信する。第２電流判別部９３０は、ｌ番目のスキャンラインの画像データと第２メモリ部９０３に格納されたｌ−３番目のスキャンラインの画像データを受信する。同様に、第３及び第４電流判別部９５０及び９７０は、ｌ番目のスキャンライン、ｌ−２番目のスキャンライン及びｌ−１番目のスキャンラインの画像データをそれぞれ受信する。例えば、もし第１電流判別部９１０の算出された電流が、第２、第３及び第４電流判別部９３０，９５０及び９７０の電流より小さければ、図７に示すように、所定のスキャンシーケンスは第４スキャンタイプＴｙｐｅ４となる。すなわち、前記スキャンシーケンスは次のとおりである：Ｙ１−Ｙ５−Ｙ９…Ｙｎ−３，Ｙ２−Ｙ６−Ｙ１０−…Ｙｎ−２，Ｙ３−Ｙ７−Ｙ１１−…Ｙｎ−１，Ｙ４−Ｙ８−Ｙ１２……。
【０１１１】
第１電流判別部９１０の動作は、図９に示す構成(configuration)と同様である。よって、ｌ−４番目のスキャンラインに該当する画像データは第１メモリ部９０１に格納され、ｌ番目のスキャンラインに該当する画像データは直接に受信される。第１バッファｂｕｆ１はｌ番目のスキャンラインからのｑ−１番目のセルの画像データを一時的に格納し、第２バッファｂｕｆ２はｌ−４番目のスキャンラインからのｑ−１番目のセルの画像データを一時的に格納する。
【０１１２】
第１判断部ＸＯＲ１は、排他的論理和ゲートを含み、ｌ番目のスキャンラインのｑ番目のセルの画像データ（ｌ，ｑ）と、第１バッファｂｕｆ１に格納されたｌ番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ，ｑ−１）とを比較する。第１判断部ＸＯＲ１は、両者が異なるとＶａｌｕｅ＝１を出力し、両者が同じであればＶａｌｕｅ＝０を出力する。
【０１１３】
第２判断部ＸＯＲ２は、排他的論理和ゲートを含み、ｌ番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ，ｑ−１）と、第２バッファｂｕｆ２に格納されたｌ−４番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ−４，ｑ−１）とを比較する。 第２判断部ＸＯＲ２は、両者が異なるとＶａｌｕｅ＝１を出力し、両者が同じであればＶａｌｕｅ＝０を出力する。
【０１１４】
第３判断部ＸＯＲ３は、排他的論理和ゲートを含み、第２バッファｂｕｆ２に格納されたｌ−４番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ−４，ｑ−１）と、第１メモリ部９０１から出力されるｌ−４番目のスキャンラインのｑ番目のセルの画像データ（ｌ−４，q）とを比較する。第３判断部ＸＯＲ３は、両者が異なるとＶａｌｕｅ＝１を出力し、両者が同じであればＶａｌｕｅ＝０を出力する。
【０１１５】
第１デコーダＤｅｃ１は、第１〜第３判断部ＸＯＲ１，ＸＯＲ２，ＸＯＲ３のそれぞれから１−ビット出力信号をパラレルにて受信する。
【０１１６】
図１３は、第１〜第３判断部ＸＯＲ１，ＸＯＲ２，ＸＯＲ３の出力信号に基づく可能なすべての３−ビットパターンを含む表を示す。上述したように、この表は本発明の第１実施例によるデータ比較部に含まれる。また、この表は可能な３−ビットパターンのそれぞれに静電容量係数を提供する。すなわち、変位電流Ｉｄの大きさの決定に使われる静電容量の大きさは、第１〜第３判断部ＸＯＲ１，ＸＯＲ２，ＸＯＲ３の出力信号Ｖa１ｕｅ１，Ｖa１ｕｅ２，Ｖa１ｕｅ３に応じて変わる。
【０１１７】
次に、第１合算部〜第３合算部Iｎt１，Iｎt２，Iｎt３のそれぞれは、第１デコーダＤｅｃ１から出力された特定の３−ビット出力信号の出力回数を合算する。すなわち、第１合算部Iｎt１は、第１デコーダＤｅｃ１が次の３−ビットパターン（０，０，１）、（０，１，１）、（１，０，０）及び（１，１，０）のうちいずれか１つを出力すれば、その回数を合算（Ｃ１）する。第２合算部Iｎt２は、第１デコーダＤｅｃ１が（０，１，０）を出力すれば、その回数を合算（Ｃ２）する。第３合算部Iｎt３は、第１デコーダＤｅｃ１が（１，１，１）を出力すれば、その回数を合算（Ｃ３）する。
【０１１８】
第１〜第３電流算出部Ｃａｌ１，Ｃａｌ２，Ｃａｌ３のそれぞれは、第１合算部Iｎt１，第２合算部Iｎt２及び第３合算部Iｎt３からのＣ１，Ｃ２及びＣ３を入力され、Ｃ１，Ｃ２及びＣ３のそれぞれに対する変位電流を算出する。すなわち、第１電流算出部Ｃａｌ１は第１合算部Iｎt１の出力Ｃ１にＣｍ１＋Ｃｍ２を掛け算して変位電流を算出する。第２電流算出部Ｃａｌ２は、第２合算部Iｎt２の出力Ｃ２にＣｍ２を掛け算して変位電流を算出する。第３電流算出部Ｃａｌ３は、第３合算部Iｎt３の出力Ｃ３に４Ｃｍ１＋Ｃｍ２を掛けて変位電流を算出する。
【０１１９】
第１電流合算部Ａｄｄ１は、第１〜第３電流算出部Ｃａｌ１，Ｃａｌ２，Ｃａｌ３のそれぞれによって算出された変位電流を合算する。
【０１２０】
このような第１電流判別部９１０の動作と同様に、第２〜第４電流判別部９３０，９５０及び９７０のそれぞれも、同様にして変位電流を算出する。よって、第２電流判別部９３０の第１判断部ＸＯＲ１は、排他的論理和ゲートを含んでいて、ｌ番目のスキャンラインのｑ番目のセルの画像データ（ｌ，ｑ）と、第１バッファｂｕｆ１に格納されたｌ番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ，ｑ−１）とを比較する。第１判断部ＸＯＲ１は、両者が異なると１を出力し、両者が同じであれば０を出力する。
【０１２１】
第２電流判別部９３０の第２判断部ＸＯＲ２は、排他的論理和ゲートを含んでいて、ｌ番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ，ｑ−１）と、第２バッファｂｕｆ２に格納されたｌ−３番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ−３，ｑ−１）とを比較する。第２判断部ＸＯＲ２は、両者が異なると１を出力し、両者が同じであれば０を出力する。
【０１２２】
第２電流判別部９３０の第３判断部ＸＯＲ３は、排他的論理和ゲートを含んでいて、第２バッファｂｕｆ２に格納されたｌ−３番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ−３，ｑ−１）と、第２メモリ部９０３から出力されるｌ−３番目のスキャンラインのｑ番目のセルの画像データ（ｌ−３，ｑ）とを比較する。第３判断部ＸＯＲ３は、両者が異なると１を出力し、両者が同じであれば０を出力する。
【０１２３】
同様に、第３電流判別部９５０の第１判断部ＸＯＲ１は、排他的論理和ゲートを含んでいて、ｌ番目のスキャンラインのｑ番目のセルの画像データ（ｌ，ｑ）と、第１バッファｂｕｆ１に格納されたｌ番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ，ｑ−１）とを比較する。第１判断部ＸＯＲ１は、両者が異なると１を出力し、両者が同じであれば０を出力する。
【０１２４】
第３電流判別部９５０の第２判断部ＸＯＲ２は、排他的論理和ゲートを含んでいて、ｌ番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ，ｑ−１）と、第２バッファｂｕｆ２に格納されたｌ−２番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ−２，ｑ−１）とを比較する。第２判断部ＸＯＲ２は、両者が異なると１を出力し、両者が同じであれば０を出力する。
【０１２５】
第３電流判別部９５０の第３判断部ＸＯＲ３は、排他的論理和ゲートを含んでいて、第２バッファｂｕｆ２に格納されたｌ−２番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ−２，ｑ−１）と、第３メモリ部９０５から出力されるｌ−２番目のスキャンラインのｑ番目のセルの画像データ（ｌ−２，ｑ）とを比較する。第３判断部ＸＯＲ３は、両者が異なると１を出力し、両者が同じであれば０を出力する。
【０１２６】
最後に第４電流判別部９７０の第１判断部ＸＯＲ１は、排他的論理和ゲートを含んでいて、ｌ番目のスキャンラインのｑ番目のセルの画像データ（ｌ，ｑ）と、第１バッファｂｕｆ１に格納されたｌ番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ，ｑ−１）とを比較する。第１判断部ＸＯＲ１は、両者が異なると１を出力し、両者が同じであれば０を出力する。
【０１２７】
第４電流判別部９７０の第２判断部ＸＯＲ２は、排他的論理和ゲートを含んでいて、ｌ番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ，ｑ−１）と、第２バッファｂｕｆ２に格納されたｌ−１番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ−１，ｑ−１）とを比較する。第２判断部ＸＯＲ２は、両者が異なると１を出力し、両者が同じであれば０を出力する。
【０１２８】
第４電流判別部９７０の第３判断部ＸＯＲ３は、排他的論理和ゲートを含んでいて、第２バッファｂｕｆ２に格納されたｌ−１番目のスキャンラインのｑ−１番目のセルの画像データ（ｌ−１，ｑ−１）と、第４メモリ部９０７から出力されるｌ−１番目のスキャンラインのｑ番目のセルの画像データ（ｌ−１，ｑ）とを比較する。第１判断部ＸＯＲ１は、両者が異なると１を出力し、両者が同じであれば０を出力する。
【０１２９】
スキャンシーケンサ７４０は、第１〜第４電流判別部９１０，９３０，９５０及び９７０のそれぞれが算出した変位電流を入力され、そのうち最小の変位電流を出力する電流判別部に基づき好ましいスキャンシーケンスを決定する。よって、もしスキャンシーケンサ７４０が第２電流判別部９３０から入力された変位電流が最小であると判断すれば、スキャンシーケンサ７４０は、図７に示すようにＹ１−Ｙ４−Ｙ７−…，Ｙ２−Ｙ５−Ｙ８−…，Ｙ３−Ｙ６−Ｙ９−…のスキャンシーケンスを含む第３スキャンタイプＴｙｐｅ３を選択する。また、もしスキャンシーケンサ７４０が第３電流判別部９５０から入力された変位電流が最小であると判断すれば、スキャンシーケンサ７４０は、図７に示すようにＹ１−Ｙ３−Ｙ５−…，Ｙ２−Ｙ４−Ｙ６−…のスキャンシーケンスを含む第２スキャンタイプＴｙｐｅ２を選択する。そして、スキャンシーケンサ７４０が第４電流判別部９７０から入力された変位電流が最小であると判断すれば、スキャンシーケンサ７４０は、図７に示すようにＹ１−Ｙ２−Ｙ３−Ｙ４−Ｙ５−Ｙ６−…のスキャンシーケンスを含む第１スキャンタイプＴｙｐｅ１を選択する。このとき、グループ化されたスキャンラインは順次にスキャンされる。
【０１３０】
代替実施例において、スキャンシーケンサ７４０は、所定のしきい値に基づき好ましいスキャンシーケンスを決定することができる。より詳しくは、スキャンシーケンサ７４０は、電流判別部９１０，９３０，９５０及び９７０から入力された変位電流Ｉｄを比較し、その変位電流Ｉｄが所定のしきい値未満であるいずれかのスキャンシーケンスを選択する。
【０１３１】
図１４は、本発明の第２実施例によるデータ比較部のブロック図である。データ比較部は、ｌ番目のスキャンライン上のｑ−１番目のピクセルのＲサブピクセルと、ｌ番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＲ，Ｇ，Ｂサブピクセルとに該当する画像データの変化と；ｌ−１番目のスキャンライン上のｑ−１番目のピクセルのＲサブピクセルと、ｌ−１番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＲ，Ｇ，Ｂサブピクセルとに該当する画像データの変化と；ｌ番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルと、ｌ−１番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＲ，Ｇ，Ｂサブピクセルとに該当する画像データの変化と；を用いて、変位電流を算出する。
【０１３２】
次に、データ比較部を構成する構成要素を説明する。第１〜第３メモリ部Ｍｅｍｏｒｙ１，Ｍｅｍｏｒｙ２、Ｍｅｍｏｒｙ３はそれぞれ、ｌ−１番目のスキャンラインのＲ，Ｇ，Ｂサブピクセルに該当する画像データを一時的に格納する。第１〜第３判断部ＸＯＲ１，ＸＯＲ２，ＸＯＲ３は、ｌ番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＲ，Ｇ，Ｂサブピクセルに該当する画像データの間に変化があるかどうかを判断する。特に、第１判断部ＸＯＲ１は、ｌ番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＲサブピクセルに該当する画像データ（ｌ，ｑＲ）と、ｌ番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＧサブピクセルに対応する画像データ（ｌ，ｑＧ）とを比較する。第１判断部ＸＯＲ１は、両者が同じであれば論理値１を出力し、両者が異なると論理値０を出力する。
【０１３３】
第２判断部ＸＯＲ２は、ｌ番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＧサブピクセルに該当する画像データ（ｌ，ｑＧ）と、ｌ番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＢサブピクセルに該当する画像データ（ｌ，ｑＢ）とを比較する。第２判断部ＸＯＲ２は、両者が同じであれば論理値１を出力し、両者が異なると論理値０を出力する。
【０１３４】
第３判断部ＸＯＲ３は、ｌ番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＢサブピクセルに該当する画像データ（ｌ，ｑＢ）と、ｌ番目のスキャンライン上のｑ−１番目のピクセルのＲサブピクセルに該当する画像データ（ｌ，ｑ−１Ｒ）とを比較する。第３判断部ＸＯＲ３は、両者が同じであれば論理値１を出力し、両者が異なると論理値０を出力する。
【０１３５】
第４〜第６判断部ＸＯＲ４，ＸＯＲ５，ＸＯＲ６は、ｌ−１番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＲ，Ｇ，Ｂサブピクセルに該当する画像データの間に変化があるかどうかを判断する。すなわち、第４判断部ＸＯＲ４は、ｌ−１番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＲサブピクセルに該当する画像データ（ｌ−１，ｑＲ）と、ｌ−１番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＧサブピクセルに該当する画像データ（ｌ−１，ｑＧ）とを比較する。第４判断部ＸＯＲ４は、両者が同じであれば論理値１を出力し、両者が異なると論理値０を出力する。
【０１３６】
第５判断部ＸＯＲ５は、ｌ−１番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＧサブピクセルに該当する画像データ（ｌ−１，ｑＧ）と、ｌ−１番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＢサブピクセルに該当する画像データ（ｌ−１，ｑＢ）とを比較する。第５判断部ＸＯＲ５は、両者が同じであれば論理値１を出力し、両者が異なると論理値０を出力する。
【０１３７】
第６判断部ＸＯＲ６は、ｌ−１番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＢサブピクセルに該当する画像データ（ｌ−１，ｑＢ）と、ｌ−１番目のスキャンライン上のｑ−１番目のピクセルのＲサブピクセルに該当する画像データ（ｌ−１，ｑ−１Ｒ）とを比較する。第６判断部ＸＯＲ６は、両者が同じであれば論理値１を出力し、両者が異なると論理値０を出力する。
【０１３８】
さらに、第７〜第９判断部ＸＯＲ７，ＸＯＲ８，ＸＯＲ９は、ｌ番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＲ，Ｇ，Ｂサブピクセルに該当する画像データと、ｌ−１番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＲ，Ｇ，Ｂサブピクセルに該当する画像データとをそれぞれ比較して、画像データに変化があるかどうかを判断する。すなわち、第７判断部ＸＯＲ７は、ｌ番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＲサブピクセルに該当する画像データ（ｌ，ｑＲ）と、ｌ−１番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＲサブピクセルに該当する画像データ（ｌ−１，ｑＲ）とを比較する。第７判断部ＸＯＲ７は、両者が同じであれば論理値１を出力し、両者が異なると論理値０を出力する。
【０１３９】
第８判断部ＸＯＲ８は、ｌ番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＧサブピクセルに該当する画像データ（ｌ，ｑＧ）と、ｌ−１番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＧサブピクセルに該当する画像データ（ｌ−１，ｑＧ）とを比較する。第８判断部ＸＯＲ８は、両者が同じであれば論理値１を出力し、両者が異なると論理値０を出力する。
【０１４０】
第９判断部ＸＯＲ９は、ｌ番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＢサブピクセルに該当する画像データ（ｌ，ｑＢ）と、ｌ−１番目のスキャンライン上のｑ番目のピクセルのＢサブピクセルに該当する画像データ（ｌ−１，ｑＢ）とを比較する。第９判断部ＸＯＲ９は、両者が同じであれば論理値１を出力し、両者が異なると論理値０を出力する。
【０１４１】
デコーダＤｅｃは、第１の３−ビット信号が判断部ＸＯＲ１〜ＸＯＲ３のそれぞれの出力信号Ｖaｌｕｅ１〜Ｖaｌｕｅ３に対応し、第２の３−ビット信号が判断部ＸＯＲ４〜ＸＯＲ６のそれぞれの出力信号Ｖaｌｕｅ４〜Ｖaｌｕｅ６に対応し、第３の３−ビット信号が判断部ＸＯＲ７〜ＸＯＲ９のそれぞれの出力信号Ｖaｌｕｅ７〜Ｖaｌｕｅ９に対応する３−ビット信号を出力する。
【０１４２】
図１５は、本発明の第２実施例による第１〜第９判断部ＸＯＲ１〜ＸＯＲ９の出力信号に対する可能なすべての値の組合を含む表を示す。
【０１４３】
図１４を参照すれば、第１〜第３合算部Iｎt１，Iｎt２、Iｎt３のそれぞれは、デコーダＤｅｃからの、第１〜第３判断部ＸＯＲ１，ＸＯＲ２，ＸＯＲ３の出力信号Ｖaｌｕｅ１，Ｖaｌｕｅ２，Ｖaｌｕｅ３に該当する第１の３−ビット信号に基づき、出力回数をそれぞれ合算（Ｃ１，Ｃ２，Ｃ３）する。第４〜第６合算部Iｎt４、Iｎt５、Iｎt６のそれぞれは、デコーダＤｅｃからの、第４〜第６判断部ＸＯＲ４，ＸＯＲ５，ＸＯＲ６の出力信号Ｖaｌｕｅ４，Ｖaｌｕｅ５，Ｖaｌｕｅ６に該当する第２の３−ビット信号に基づき、出力回数をそれぞれ合算（Ｃ４，Ｃ５，Ｃ６）する。第７〜第９合算部Iｎt７、Iｎt８、Iｎt９のそれぞれは、デコーダＤｅｃからの、第７〜第９判断部ＸＯＲ７，ＸＯＲ８，ＸＯＲ９の出力信号Ｖaｌｕｅ７，Ｖaｌｕｅ８，Ｖaｌｕｅ９に該当する第３の３−ビット信号に基づき、出力回数をそれぞれ合算（Ｃ７，Ｃ８，Ｃ９）する。
【０１４４】
一方、第１〜第３電流算出部Ｃａｌ１，Ｃａｌ２，Ｃａｌ３のそれぞれは、第１合算部Iｎt１、第２合算部Ｉｎｔ２及び第３合算部Iｎt３からのＣ１，Ｃ２及びＣ３を受信し、変位電流を算出する。第４〜第６電流算出部Ｃａｌ４，Ｃａｌ５，Ｃａｌ６のそれぞれは、第４合算部Iｎt４、第５合算部Iｎt５及び第６合算部Iｎt６からのＣ４，Ｃ５及びＣ６を受信し、変位電流を算出する。第７〜第９電流算出部Ｃａｌ７，Ｃａｌ８，Ｃａｌ９のそれぞれは、第７合算部Iｎt７、第８合算部Iｎt８及び第９合算部Iｎt９からのＣ７，Ｃ８及びＣ９を受信し、変位電流を算出する。
【０１４５】
第１電流合算部Ａｄｄ１は、第１〜第３電流算出部Ｃａｌ１，Ｃａｌ２，Ｃａｌ３のそれぞれにより算出された変位電流を合算する。第２電流合算部Ａｄｄ２は、第４〜第６電流算出部Ｃａｌ４，Ｃａｌ５，Ｃａｌ６のそれぞれにより算出された変位電流を合算する。第３電流合算部Ａｄｄ３は、第７〜第９電流算出部Ｃａｌ７，Ｃａｌ８，Ｃａｌ９のそれぞれにより算出された変位電流を合算する。かくして、サブピクセルに該当する画像データの変化に基づいて変位電流を算出できる。
【０１４６】
図１６は、本発明の第２実施例によるデータ比較部７３０とスキャンシーケンサ７４０のブロック図である。図１６に示すように、データ比較部７３０は、４つの基本回路ブロックの構成(basic circuit configurations)を含み、それぞれの構成は図１４に示すものと同様である。すなわち、図１６の第１〜第４電流判別部９１０'、９２０'、９３０'、９４０'は、図１４に示すものと同様である。スキャンシーケンサ７４０は、４つの電流判断部のうちいずれかが最小の変位電流を算出するかに対する判断に基づき、４つのスキャンシーケンスからいずれかの好ましいスキャンシーケンスを決定する。
【０１４７】
これを達成するために、第１電流判別部９１０'は、画像データ（ｌ，ｑＲ）と画像データ（ｌ，ｑＧ）、画像データ（ｌ，ｑＧ）と画像データ（ｌ，ｑＢ）、画像データ（ｌ，ｑＢ）と画像データ（ｌ，ｑ−４Ｒ）、画像データ（ｌ−４，ｑＲ）と画像データ（ｌ−４，ｑＧ）と、画像データ（ｌ−４，ｑＧ）と画像データ（ｌ−４，ｑＢ）、画像データ（ｌ−４，ｑＢ）と画像データ（ｌ−４，ｑ−１Ｒ）、画像データ（ｌ，ｑＲ）と画像データ（ｌ−４，ｑＲ）、画像データ（ｌ，ｑＧ）と画像データ（ｌ−４，ｑＧ）、及び画像データ（ｌ，ｑＢ）と画像データ（ｌ−４，ｑＢ）を、それぞれ比較する。このとき、“ｌ”と“ｌ−４”は、ｌ番目のスキャンラインとｌ−４番目のスキャンラインをそれぞれ示す。“ｑＲ”、“ｑＧ”及び“ｑＢ”は、ｑ番目のピクセルのＲ，Ｇ，Ｂサブピクセルをそれぞれ示す。“ｑ−１Ｒ”、“ｑ−１Ｇ”及び“ｑ−１Ｂ”は、ｑ−１番目のピクセルのＲ，Ｇ，Ｂサブピクセルをそれぞれ示す。よって、第１電流判別部９１０'は、上記の如き画像データを比較してＴｙｐｅ４スキャンシーケンスに対応する変位電流を算出する。
【０１４８】
第２電流判別部９２０'は、画像データ（ｌ，ｑＲ）と画像データ（ｌ，ｑＧ）、画像データ（ｌ，ｑＧ）と画像データ（ｌ，ｑＢ）、画像データ（ｌ，ｑＢ）と画像データ（ｌ，ｑ−１Ｒ）、画像データ（ｌ−３，ｑＲ）と画像データ（ｌ−３，ｑＧ）、画像データ（ｌ−３，ｑＧ）と画像データ（ｌ−３，ｑＢ）、画像データ（ｌ−３，ｑＢ）と画像データ（ｌ−３，ｑ−１Ｒ）、画像データ（ｌ，ｑＲ）と画像データ（ｌ−３，ｑＲ）、画像データ（ｌ，ｑＧ）と（ｌ−３，ｑＧ）、及び画像データ（ｌ，ｑＢ）と画像データ（ｌ−３，ｑＢ）を、それぞれ比較する。このとき、“ｌ”と“ｌ−３”は、ｌ番目のスキャンラインとｌ−３番目のスキャンラインをそれぞれ示す。よって、第２電流判別部９２０'は、上記の如き画像データを比較してＴｙｐｅ３スキャンシーケンスに対応する変位電流を算出する。
【０１４９】
第３電流判別部９３０'は、画像データ（ｌ，ｑＲ）と画像データ（ｌ，ｑＧ）、画像データ（ｌ，ｑＧ）と画像データ（ｌ，ｑＢ）、画像データ（ｌ，ｑＢ）と画像データ（ｌ，ｑ−１Ｒ）、画像データ（ｌ−２，ｑＲ）と画像データ（ｌ−２，ｑＧ）、画像データ（ｌ−２，ｑＧ）と画像データ（ｌ−２，ｑＢ）、画像データ（ｌ−２，ｑＢ）と（ｌ−２，ｑ−１Ｒ）、画像データ（ｌ，ｑＲ）と画像データ（ｌ−２，ｑＲ）、画像データ（ｌ，ｑＧ）と画像データ（ｌ−２，ｑＧ）、及び画像データ（ｌ，ｑＢ）と画像データ（ｌ−２，ｑＢ）を、それぞれ比較する。このとき、“ｌ”と“ｌ−２”は、ｌ番目のスキャンラインとｌ−２番目のスキャンラインをそれぞれ示す。よって、第３電流判別部９３０'は、上記の如き画像データを比較してＴｙｐｅ２のスキャンシーケンスに対応する変位電流を算出する。
【０１５０】
第４電流判別部９４０'は、画像データ（ｌ，ｑＲ）と画像データ（ｌ，ｑＧ）、画像データ（ｌ，ｑＧ）と画像データ（ｌ，ｑＢ）、画像データ（ｌ，ｑＢ）と画像データ（ｌ，ｑ−１Ｒ）、画像データ（ｌ−１，ｑＲ）と画像データ（ｌ−１，ｑＧ）、画像データ（ｌ−１，ｑＧ）と画像データ（ｌ−１，ｑＢ）、画像データ（ｌ−１，ｑＢ）と画像データ（ｌ−１，ｑ−１Ｒ）、画像データ（ｌ，ｑＲ）と画像データ（ｌ−１，ｑＲ）、画像データ（ｌ，ｑＧ）と画像データ（ｌ−１，ｑＧ）、及び画像データ（ｌ，ｑＢ）と画像データ（ｌ−１，ｑＢ）を、それぞれ比較する。このとき、“ｌ”と“ｌ−１”は、ｌ番目のスキャンラインとｌ−１番目のスキャンラインをそれぞれ示す。よって、第４電流判別部９４０'は、上記の如き画像データを比較してＴｙｐｅ１のスキャンシーケンスに対応する変位電流を算出する。
【０１５１】
スキャンシーケンサ７４０は、第１〜第４電流判別部９１０'，９３０'，９５０'，９７０'のそれぞれにより算出された変位電流を入力され、そのうち最小の変位電流値を出力するいずれかの電流判別部に基づいて好ましいスキャンシーケンスを決定する。
【０１５２】
例えば、もし第２電流判別部９３０'から入力された変位電流が最小であれば、スキャンシーケンサ７４０は、図７に示すように、第３スキャンシーケンスのＴｙｐｅ３と関連するスキャンシーケンスがＹ１−Ｙ４−Ｙ７−…，Ｙ２−Ｙ５−Ｙ８−…、及びＹ３−Ｙ６−Ｙ９−…である第３スキャンシーケンスのＴｙｐｅ３が、好適であると判断する。また、第３電流判別部９５０'から入力された変位電流が最小であれば、スキャンシーケンサ７４０は、図６に示すように、第２スキャンシーケンスのＴｙｐｅ２のスキャンシーケンスがＹ１−Ｙ３−Ｙ５−…，Ｙ２−Ｙ４−Ｙ６−…である第２スキャンシーケンスのＴｙｐｅ２が、好適であると判断する。
【０１５３】
図１７は、本発明によるデータ比較部とスキャンシーケンサが各サブフィールド中に適用される実施例のブロック図である。すなわち、１６個のデータ比較部７３０−ＳＦ１乃至７３０−ＳＦ１６のそれぞれは、複数のスキャンタイプ、例えばスキャンタイプ１，２，３，４のそれぞれに対する該当サブフィールドにおける画像パターンによる変位電流を算出する。データ比較部は、変位電流算出値を一時的に格納部８００に格納する。１６つのデータ比較部７３０−ＳＦ１乃至７３０−ＳＦ１６のそれぞれは、好ましくは図１２に示したデータ比較部と同一の構成を有する。
【０１５４】
スキャンシーケンサ７４０は、各サブフィールド別画像データのパターンに対する変位電流を比較する。また、スキャンシーケンサ７４０は、最小の変位電流値を発生させる画像データパターンを認識する。この情報に基づき、スキャンシーケンサ７４０は、各サブフィールドに対する好ましいスキャンシーケンスを選択する。
【０１５５】
したがって、本発明の例示的な実施例に係るＰＤＰの駆動装置及び駆動方法は、複数のスキャンタイプのそれぞれに該当するスキャンライン間の変位電流を算出し、最小の変位電流に対応する好適なスキャンタイプに応じてラインを順次にスキャンすることを含む。
すなわち、各対(each pair)と関連するスキャンラインを分離するスキャンラインの数が所定数のスキャンライン数によって変わり、複数のスキャンライン対間の変位電流を算出することにより、各対は該当スキャンタイプを表現する。
【０１５６】
さらに、上記説明において、変位電流は、次の加重値、Ｃｍ２，Ｃｍ１＋Ｃｍ２または４Ｃｍ１＋Ｃｍ２（ここで、Ｃｍ１及びＣｍ２は図２に示した静電容量を結合するための静電容量値を示す）の関数として算出される。選択的に、加重値の代りに、変位電流が流れていない場合、変位電流を“０”と設定し、変位電流が流れる場合、変位電流を“１”と設定することができる。よって、与えられたサブフィールドに対する変位電流は、“０”または“１”を合わせて算出する。例えば、図９の場合、電流算出部７３７−１乃至７３７−３及び電流合算部７３８は省略され、一方、第１〜第３合算部７３６−１乃至７３６−３は１つの合算部に減ってしまう。この場合、Ｃ１，Ｃ３及びＣ３の出力回数は、１つの合算部によって算出された後、回数値そのものは、与えられたパターンに対する変位電流を示す。
【０１５７】
以上説明したように、本発明を限定された実施例と図面に基づいて説明したが、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明の属する分野における通常の知識を有する者であれば、このような記載から多様な修正及び変形が可能である。よって、本発明の思想は特許請求の範囲によって把握される必要があり、これと均等または等価的な変形などは本発明の思想の範ちゅうに属すると理解すべきであろう。
【図面の簡単な説明】
【０１５８】
【図１】従来のＰＤＰの構造を示す斜視図である。
【図２】従来のＰＤＰの駆動装置の回路図である。
【図３】図３ａ〜図３ｅは、画像データによる変位電流とこれによる電力の大きさとを示す図である。
【図４】図４ａ〜図４ｄは、画像データによってＰＤＰに表示される画像を示す図である。
【図５】図５ａ及び図５ｂは、従来のＰＤＰの画質向上に使われるディザリングを説明するための図である。
【図６】本発明に係る駆動方法の概念を説明するための図である。
【図７】本発明に係る駆動方法を説明するための図である。
【図８】本発明に係るＰＤＰの駆動装置のブロック構成図である。
【図９】本発明の第１実施例によるデータ比較部に含まれる基本回路ブロックの構成図である。
【図１０】本発明のデータ比較部の基本回路ブロック(basic circuit block)に含まれた第１〜第３判断部の比較動作を示す図である。
【図１１】本発明のデータ比較部の基本回路ブロック(basic circuit block)に含まれた第１〜第３判断部の出力信号による画像データのパターン内容を示す表である。
【図１２】本発明の第１実施例によるデータ比較部とスキャンシーケンサのブロック構成図である。
【図１３】本発明の第１実施例によるデータ比較部に含まれた第１〜第３判断部ＸＯＲ１，ＸＯＲ２，ＸＯＲ３の出力信号による画像データのパターン内容を示す表である。
【図１４】本発明の第２実施例によるデータ比較部に含まれた基本回路ブロックの構成図である。
【図１５】本発明の第２実施例による基本回路ブロックに含まれた第１〜第９判断部ＸＯＲ１〜ＸＯＲ９の出力信号によるパターン内容を示す表である。
【図１６】本発明の第２実施例によるデータ比較部とスキャンシーケンサのブロック構成図である。
【図１７】本発明によるデータ比較部とスキャンシーケンサが各サブフィールドが各サブフィールド別に適用される実施例のブロック構成図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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