(57)【要約】  【課題】  欠陥画素の存在を目立ちにくくすることを可能とする表示装置を提供することを目的とする。  【解決手段】  本発明に係る表示装置は、与えられたＲＧＢ信号をＲＧＢＷ信号に変換するＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路と、ＲＧＢＷの４つの単位画素にて構成されたドットを複数有して構成され、上記ＲＧＢＷ信号に基づいて映像を表示する表示パネルと、表示パネル上の欠陥画素の位置を指定する欠陥位置指定部と、欠陥画素の位置に応じて、ＲＧＢ信号をＲＧＢＷ信号に変換する際におけるＲＧＢ信号のＷ信号への変換率を制御する変換率制御部を有している。欠陥画素がＷ画素（Ｗ6）である場合、隣接画素（Ｇ5、Ｒ6、Ｂ2及びＢ9）の変換率を表示パネル全体について定められた基準変換率よりも低くする。  【選択図】      図１２
2006330237.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＸをＲＧＢ以外の所定の色とし、与えられたＲＧＢ信号をＲＧＢＸ信号に変換するＲＧＢ−ＲＧＢＸ変換回路と、
Ｒ画素、Ｇ画素、Ｂ画素及びＸ画素の４つの単位画素にて構成されたドットを複数有して構成され、前記ＲＧＢ−ＲＧＢＸ変換回路によって得られたＲＧＢＸ信号に基づいて映像を表示する表示パネルと、を備えた表示装置において、
欠陥のある単位画素を欠陥画素とした場合、前記表示パネル上の該欠陥画素の位置を指定する欠陥位置指定手段を更に備え、
前記ＲＧＢ−ＲＧＢＸ変換回路は、前記欠陥位置指定手段によって指定された前記位置に応じて、ＲＧＢ信号をＲＧＢＸ信号に変換する際におけるＲＧＢ信号のＸ信号への変換率を制御する変換率制御手段を有し、
前記変換率制御手段は、前記欠陥画素に隣接する少なくとも１つの単位画素についての前記変換率を、前記表示パネル全体について定められた基準変換率と異ならせる
ことを特徴とする表示装置。
【請求項２】
前記ＲＧＢ−ＲＧＢＸ変換回路に与えられるＲＧＢ信号は、Ｒ画素の輝度を表すＲ信号、Ｇ画素の輝度を表すＧ信号、及びＢ画素の輝度を表すＢ信号から構成され、
前記ＲＧＢ−ＲＧＢＸ変換回路に与えられるＲＧＢ信号をＲＧＢＸ信号に変換することによって得ることができるＸ信号の最大値を最大変換Ｘ信号値とし、且つ、該最大変換Ｘ信号値に変換されるべきＲ信号の成分、Ｇ信号の成分及びＢ信号の成分を、夫々、最大変換Ｒ信号、最大変換Ｇ信号及び最大変換Ｂ信号としたとき、
前記変換率制御手段は、実際にＸ信号に変換されるＲ信号の成分の最大変換Ｒ信号に対する割合、実際にＸ信号に変換されるＧ信号の成分の最大変換Ｇ信号に対する割合、及び実際にＸ信号に変換されるＢ信号の成分の最大変換Ｂ信号に対する割合を、制御されるべき前記変換率とする
ことを特徴とする請求項１に記載の表示装置。
【請求項３】
Ｘ画素の発光によって得られる色度の色度座標は、色度座標上において、Ｒ画素の色度座標、Ｇ画素の色度座標及びＢ画素の色度座標によって形成される三角形の内部に存在する
ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の表示装置。
【請求項４】
前記基準変換率とは、前記表示パネルを構成する全ての単位画素に欠陥がなかった場合に、各単位画素に対して設定される変換率である
ことを特徴とする請求項１〜請求項３の何れかに記載の表示装置。
【請求項５】
前記欠陥画素がＸ画素である場合、
前記変換率制御手段は、その欠陥画素に隣接するＸ画素以外の単位画素の内、少なくとも１つの単位画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも低くする
ことを特徴とする請求項１〜請求項４の何れかに記載の表示装置。
【請求項６】
前記欠陥画素がＸ画素である場合、
前記変換率制御手段は、その欠陥画素に隣接する単位画素の内の少なくとも１つの単位画素を含んで構成されるドットのＲ画素、Ｇ画素及びＢ画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも低くする
ことを特徴とする請求項１〜請求項４の何れかに記載の表示装置。
【請求項７】
前記欠陥画素がＲ画素、Ｇ画素又はＢ画素である場合、
前記変換率制御手段は、その欠陥画素に隣接するＸ画素以外の単位画素の内、少なくとも１つの単位画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも低くする
ことを特徴とする請求項１〜請求項４の何れかに記載の表示装置。
【請求項８】
前記欠陥画素がＲ画素、Ｇ画素又はＢ画素であって、且つ、その欠陥画素に１以上のＸ画素が隣接している場合、
前記変換率制御手段は、その欠陥画素に隣接する少なくとも１つのＸ画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも高くする
ことを特徴とする請求項１〜請求項４の何れかに記載の表示装置。
【請求項９】
前記欠陥画素がＸ画素であって、且つ、その欠陥画素に１以上の他のＸ画素が隣接している場合、
前記変換率制御手段は、その欠陥画素に隣接する少なくとも１つのＸ画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも高くする
ことを特徴とする請求項１〜請求項４の何れかに記載の表示装置。
【請求項１０】
前記欠陥画素がＸ画素であって、且つ、その欠陥画素に１以上の他のＸ画素が隣接している場合、
前記変換率制御手段は、その欠陥画素に隣接するＸ画素以外の単位画素の内、少なくとも１つの単位画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも低くする
ことを特徴とする請求項１〜請求項４の何れかに記載の表示装置。
【請求項１１】
前記欠陥画素がＸ画素であって、且つ、その欠陥画素に１以上の他のＸ画素が隣接し、且つ、その欠陥画素に隣接する前記他のＸ画素についての前記変換率が最大となっている場合、
前記変換率制御手段は、その欠陥画素に隣接するＸ画素以外の単位画素の内、少なくとも１つの単位画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも低し、且つ、前記他のＸ画素に隣接するＸ画素以外の単位画素の内、少なくとも１つの単位画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも低くする
ことを特徴とする請求項１〜請求項４の何れかに記載の表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、有機ＥＬ表示装置、無機ＥＬ表示装置、液晶表示装置、プラズマディスプレイ装置等の表示装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
自発光型表示パネル（自発光型ディスプレイ）を備えた有機ＥＬ表示装置等の表示装置は、薄型、軽量、低消費電力などの特徴を有しており、用途が広がっている。ただし、携帯電話、デジタルスチルカメラなどの用途においては、更なる低消費電力化への要求が高い。
【０００３】
白発光材料にＲ、Ｇ、Ｂのカラーフィルタが張りつけられているＲＧＢ方式の有機ＥＬ表示装置が既に開発されている。ＲＧＢ方式の有機ＥＬ表示装置においては、ＲＧＢ単位画素毎に有機ＥＬ素子が含まれている。ＲＧＢ方式の有機ＥＬ表示装置においては、光がカラーフィルタを通過する際に光の一部がカラーフィルタに吸収されるため、光利用効率が悪くなっている。この光利用効率の低さが消費電力の低下を妨げている。
【０００４】
そこで、本出願人は、低消費電力化を図ることができるＲＧＢＷ方式の有機ＥＬ表示装置（自発光型表示装置）を既に開発して出願している。ＲＧＢＷ方式の有機ＥＬ表示装置においては、ＲＧＢＷ単位画素毎に有機ＥＬ素子が含まれている。有機ＥＬ素子は、例えば、白色に発光する。
【０００５】
このようなＲＧＢＷ方式の有機ＥＬ表示装置の表示パネルは、図２４に示すように、Ｒ、Ｇ、Ｂ及びＷの４つの単位画素で構成されたドットが多数配列されて構成されている。４つの単位画素の内の３つの単位画素に３原色、例えば、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）を表示するためのカラーフィルタを配置している。そして、残りの１つの単位画素を、カラーフィルタを配置していない白（Ｗ）表示用としている。
【０００６】
白表示用の単位画素にはカラーフィルタが設けられていないため、光の利用効率が非常に高い。従って、例えば、白を表示するときには、ＲＧＢ表示用の単位画素を発光させて白を表示するのではなく、白表示用の単位画素を発光させて白を表示する。これによって、大幅な低消費電力化が図られる。
【０００７】
ＲＧＢ信号のＷ信号への変換率（ＲＧＢ信号をＷ信号に変換する割合）を１００％とすると、ＲＧＢ信号が可能な限りＷ信号に変換されて高効率のＷ画素（白表示用画素）が最大限に使用されるため、最も低消費電力化が図られる。ＲＧＢ信号が８ビットのデジタル信号で表され、ＲＧＢ信号の値が全て２５５の場合（そのデジタル信号の値の増加は輝度の増加を意味するものとする）、ＲＧＢ信号のＷ信号への変換率（ＲＧＢ信号をＷ信号に変換する割合）を１００％とすると、例えば、図２５に示すようにＲＧＢ画素は一切発光せず、Ｗ画素だけが最大限に発光することになり、これによって白が表示される。
【０００８】
また、下記特許文献１には、不良画素の隣接画素の輝度の和が、不良画素の本来の輝度に略等しくなるように、隣接画素に印加する信号を制御する手段を備えたＲＧＢ方式の表示装置が開示されている。
【０００９】
また、下記特許文献２には、入力信号に対応付けて予め定められた補正データを格納する補正データ格納部と、不良画素が存在した場合に、入力信号に基づいて補正データを決定し、その補正データを用いて不良画素の近傍画素の入力信号を補正する補正処理部と、を備えたＲＧＢ方式の表示装置が開示されている。
【００１０】
【特許文献１】特開２００１−１０９４２３号公報
【特許文献２】特開２００２−１８９４４０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１１】
通常、ＲＧＢ信号のＷ信号への変換率は表示パネル全体に亘って一定（例えば、１００％）となっている。低消費電力化の観点からは、ＲＧＢ信号のＷ信号への変換率を高く設定した方が好ましいのであるが、白表示用のＷ画素に欠陥があると、図２６に示すように、白表示時に該欠陥が黒点（図２６の符合５０に対応）となって非常に目立ってしまう。このことは、表示パネルの表示品位を低下させると共に、不良パネルの発生確率を増大させて歩留まりの劣化を招く。
【００１２】
また、上記特許文献１及び２に記載の技術は、ＲＧＢ方式の表示装置において、不良画素（欠陥画素）があった場合に周囲の画素の輝度を単に増加させるものであって、ＲＧＢ信号のＷ信号への変換率等を考慮すべきＲＧＢＷ方式の表示装置に対して単純に適用できるものではない。尚、ＲＧＢ方式の表示装置においては、１つの画素に欠陥があったとしても、白表示時にはＲＧＢ画素のいずれか１つが発光しないだけで黒点とならないため、その欠陥は比較的目立ちにくい。
【００１３】
上記の問題に鑑み、本発明は、欠陥画素の存在を目立ちにくくすることを可能とする表示装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記目的を達成するために本発明に係る表示装置は、ＸをＲＧＢ以外の所定の色とし、与えられたＲＧＢ信号をＲＧＢＸ信号に変換するＲＧＢ−ＲＧＢＸ変換回路と、Ｒ画素、Ｇ画素、Ｂ画素及びＸ画素の４つの単位画素にて構成されたドットを複数有して構成され、前記ＲＧＢ−ＲＧＢＸ変換回路によって得られたＲＧＢＸ信号に基づいて映像を表示する表示パネルと、を備えた表示装置において、欠陥のある単位画素を欠陥画素とした場合、前記表示パネル上の該欠陥画素の位置を指定する欠陥位置指定手段を更に備え、前記ＲＧＢ−ＲＧＢＸ変換回路は、前記欠陥位置指定手段によって指定された前記位置に応じて、ＲＧＢ信号をＲＧＢＸ信号に変換する際におけるＲＧＢ信号のＸ信号への変換率を制御する変換率制御手段を有し、前記変換率制御手段は、前記欠陥画素に隣接する少なくとも１つの単位画素についての前記変換率を、前記表示パネル全体について定められた基準変換率と異ならせることを特徴とする。
【００１５】
例えば、正常なＸ画素が発光することにより得られる色が白であって、且つこのＸ画素が欠陥画素となって規定の発光をしない場合を考える。この場合において、仮に、その欠陥画素となっているＸ画素が正常に発光するものと取り扱って、ＲＧＢ信号をＸ信号へ変換してしまうと、図２７（ａ）の表示パネル６０に示す如く、白表示時にその欠陥画素が黒点となって目立ってしまう。
【００１６】
しかしながら、上記構成においては、欠陥画素に隣接する単位画素についての上記変換率が、表示パネル全体について定められた基準変換率（例えば、９０％や１００％）と異なった値になるように制御される。つまり、欠陥のある単位画素の種類に応じて、図２７（ｂ）の表示パネル６１に示す如く、欠陥画素の存在を目立ちにくくする上記変換率の制御が可能となる。
【００１７】
具体的には、例えば、前記ＲＧＢ−ＲＧＢＸ変換回路に与えられるＲＧＢ信号は、Ｒ画素の輝度を表すＲ信号、Ｇ画素の輝度を表すＧ信号、及びＢ画素の輝度を表すＢ信号から構成され、前記ＲＧＢ−ＲＧＢＸ変換回路に与えられるＲＧＢ信号をＲＧＢＸ信号に変換することによって得ることができるＸ信号の最大値を最大変換Ｘ信号値とし、且つ、該最大変換Ｘ信号値に変換されるべきＲ信号の成分、Ｇ信号の成分及びＢ信号の成分を、夫々、最大変換Ｒ信号、最大変換Ｇ信号及び最大変換Ｂ信号としたとき、前記変換率制御手段は、実際にＸ信号に変換されるＲ信号の成分の最大変換Ｒ信号に対する割合、実際にＸ信号に変換されるＧ信号の成分の最大変換Ｇ信号に対する割合、及び実際にＸ信号に変換されるＢ信号の成分の最大変換Ｂ信号に対する割合を、制御されるべき前記変換率とする。
【００１８】
後述する実施形態の一例として挙げる第３の数値例（図５）においては、最大変換Ｘ信号値はＷMAX＝１１５に対応し、該最大変換Ｘ信号値に変換されるべきＲ信号の成分（最大変換Ｒ信号）、Ｇ信号の成分（最大変換Ｇ信号）及びＢ信号の成分（最大変換Ｂ信号）は、夫々、１１５（＝１１５／１．００）、９５（＝１１５／１．２０）及び１００（＝１１５／１．１５）となっている（図４も参照）。そして、例えば、実際にＸ信号に変換されるＲ信号の成分を８０としたならば（図５のグラフＰ１１参照）、そのＲ信号の成分の最大変換Ｒ信号に対する割合、即ち、前記変換率は０．７（＝８０／１１５）となる。
【００１９】
また、例えば、Ｘ画素の発光によって得られる色度の色度座標は、色度座標上において、Ｒ画素の色度座標、Ｇ画素の色度座標及びＢ画素の色度座標によって形成される三角形の内部に存在する。
【００２０】
また、例えば、前記基準変換率とは、前記表示パネルを構成する全ての単位画素に欠陥がなかった場合に、各単位画素に対して設定される変換率である。
【００２１】
そして、欠陥画素の存在を目立ちにくくするために、具体的には、以下のようにすればよい。
【００２２】
例えば、前記欠陥画素がＸ画素である場合、前記変換率制御手段は、その欠陥画素に隣接するＸ画素以外の単位画素の内、少なくとも１つの単位画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも低くするとよい。
【００２３】
後述する実施形態の一例として挙げる図１２においては、前記欠陥画素はＷ6に対応し、その欠陥画素に隣接するＸ画素以外の単位画素はＧ5、Ｒ6、Ｂ2及びＢ9に対応している。
【００２４】
また、例えば、前記欠陥画素がＸ画素である場合、前記変換率制御手段は、その欠陥画素に隣接する単位画素の内の少なくとも１つの単位画素を含んで構成されるドットのＲ画素、Ｇ画素及びＢ画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも低くするようにしてもよい。
【００２５】
後述する実施形態の一例として挙げる図１４においては、前記欠陥画素はＷ6に対応し、その欠陥画素に隣接する単位画素を含んで構成されるドットはＤ２、Ｄ５、Ｄ７及びＤ９（図７も参照）に対応している。
【００２６】
また、例えば、前記欠陥画素がＲ画素、Ｇ画素又はＢ画素である場合、前記変換率制御手段は、その欠陥画素に隣接するＸ画素以外の単位画素の内、少なくとも１つの単位画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも低くするようにしてもよい。
【００２７】
後述する実施形態の一例として挙げる図１５においては、前記欠陥画素はＢ6に対応し、その欠陥画素に隣接するＸ画素以外の単位画素はＲ6及びＧ6に対応している。
【００２８】
また、例えば、前記欠陥画素がＲ画素、Ｇ画素又はＢ画素であって、且つ、その欠陥画素に１以上のＸ画素が隣接している場合、前記変換率制御手段は、その欠陥画素に隣接する少なくとも１つのＸ画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも高くするようにしてもよい。
【００２９】
後述する実施形態の一例として挙げる図１６においては、前記欠陥画素はＢ6に対応し、その欠陥画素に隣接するＸ画素はＷ3及びＷ10に対応している。
【００３０】
また、例えば、前記欠陥画素がＸ画素であって、且つ、その欠陥画素に１以上の他のＸ画素が隣接している場合、前記変換率制御手段は、その欠陥画素に隣接する少なくとも１つのＸ画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも高くするようにしてもよい。
【００３１】
後述する実施形態の一例として挙げる図１９においては、前記欠陥画素はＷ14に対応し、その欠陥画素に隣接するＸ画素はＷ12及びＷ16に対応している。
【００３２】
また、例えば、前記欠陥画素がＸ画素であって、且つ、その欠陥画素に１以上の他のＸ画素が隣接している場合、前記変換率制御手段は、その欠陥画素に隣接するＸ画素以外の単位画素の内、少なくとも１つの単位画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも低くするようにしてもよい。
【００３３】
後述する実施形態の一例として挙げる図２０においては、前記欠陥画素はＷ14に対応し、その欠陥画素に隣接するＸ画素以外の単位画素はＧ13及びＲ14に対応している。
【００３４】
また、例えば、前記欠陥画素がＸ画素であって、且つ、その欠陥画素に１以上の他のＸ画素が隣接し、且つ、その欠陥画素に隣接する前記他のＸ画素についての前記変換率が最大となっている場合、前記変換率制御手段は、その欠陥画素に隣接するＸ画素以外の単位画素の内、少なくとも１つの単位画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも低し、且つ、前記他のＸ画素に隣接するＸ画素以外の単位画素の内、少なくとも１つの単位画素についての前記変換率を前記基準変換率よりも低くするようにしてもよい。
【００３５】
後述する実施形態の一例として挙げる図２１においては、前記欠陥画素はＷ14に対応し、その欠陥画素に隣接する前記他のＸ画素はＷ12及びＷ16に対応している。そして、その欠陥画素に隣接するＸ画素以外の単位画素はＧ13及びＲ14に対応し、前記他のＸ画素に隣接するＸ画素以外の単位画素はＧ11、Ｒ12、Ｇ15及びＲ16に対応している。
【発明の効果】
【００３６】
上述した通り、本発明に係る表示装置によれば、欠陥画素の存在を目立ちにくくすることが可能となる。この結果、表示パネルの表示品位の低下が抑制され、また、不良パネルの発生確率を減少させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３７】
＜＜第１実施形態＞＞
以下、本発明の第１実施形態につき、図面を参照して詳細に説明する。図１は、本発明の第１実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の構成を示している。第１実施形態に係る有機ＥＬ表示装置は、図１に示す如く、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１、Ｄ／Ａ変換回路２及び有機ＥＬ表示パネル３（以下、単に「表示パネル３」という）を有して構成される。本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置は、他に欠陥位置指定部１５等を備えているが（図６参照）、それらの図示は図１においては省略している。
【００３８】
ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１には、外部から映像信号であるデジタルのＲＧＢ信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎが入力される。この「ＲＧＢ信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎ」を、以下、単に「ＲＧＢ入力信号」ということがある。ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１は、欠陥位置指定部１５（図６参照）から与えられる画素の欠陥情報に基づきつつ、ＲＧＢ入力信号をデジタルのＲＧＢＷ信号Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ、Ｗｏｕｔに変換する。上記欠陥情報に基づいたＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１の動作については、後に詳説する。また「ＲＧＢＷ信号Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ、Ｗｏｕｔ」を、以下、単に「ＲＧＢＷ信号」ということがある。
【００３９】
ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１によって得られたＲＧＢＷ信号は、Ｄ／Ａ変換回路２によってアナログのＲＧＢＷ信号に変換される。表示パネル３は、Ｄ／Ａ変換回路２によって得られたアナログのＲＧＢＷ信号に基づいてカラー映像を表示するＲＧＢＷ方式の表示パネルである。
【００４０】
表示パネル３は、カラーの映像表示を行うため、複数のドットを縦横に配列して構成されている。図２は、１つのドットの構成を示している。１つのドットは、白色の自発光材料（有機ＥＬ素子）にＲ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）のカラーフィルタ（不図示）を貼り付けたＲ画素、Ｇ画素、Ｂ画素に加えて、白色の自発光材料にカラーフィルタを設けないＷ画素を有して構成される。このように、Ｒ画素、Ｇ画素、Ｂ画素及びＷ画素の４つの単位画素によって、１つのドットは構成されている。
【００４１】
以下の説明において、Ｒ画素、Ｇ画素及びＢ画素を、総称して「ＲＧＢ画素」ということがある。また、Ｒ画素、Ｇ画素、Ｂ画素及びＷ画素を、総称して「ＲＧＢＷ画素」ということがある。
【００４２】
ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１に与えられるＲＧＢ入力信号は、映像のＲ（赤）成分を表すＲ信号Ｒｉｎと、映像のＧ（緑）成分を表すＧ信号Ｇｉｎと、映像のＢ（青）成分を表すＢ信号Ｂｉｎと、から構成されている。Ｒ信号Ｒｉｎ、Ｇ信号Ｇｉｎ、Ｂ信号Ｂｉｎは、それぞれ、映像をＲＧＢ画素（ＲＧＢの３つの単位画素）で表示する場合（即ち、ＲＧＢ方式で表示する場合）におけるＲ画素の輝度、Ｇ画素の輝度、Ｂ画素の輝度を表している。
【００４３】
ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１から出力されるＲＧＢＷ信号は、Ｒ信号Ｒｏｕｔと、Ｇ信号Ｇｏｕｔと、Ｂ信号Ｂｏｕｔと、Ｗ信号Ｗｏｕｔと、から構成されている。Ｒ信号Ｒｏｕｔ、Ｇ信号Ｇｏｕｔ、Ｂ信号Ｂｏｕｔ、Ｗ信号Ｗｏｕｔは、それぞれ、映像をＲＧＢＷ画素（ＲＧＢＷの４つの単位画素）で表示する場合（即ち、ＲＧＢＷ方式で表示する場合）におけるＲ画素の輝度、Ｇ画素の輝度、Ｂ画素の輝度、Ｗ画素の輝度を表している。
【００４４】
ＲＧＢ信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎ（Ｒ信号Ｒｉｎ、Ｇ信号Ｇｉｎ、Ｂ信号Ｂｉｎ）は、夫々、０〜２５５の値をとる８ビットのデジタル信号となっており（勿論、８ビット以外でも良い）、夫々の値が増加するに従って、対応する単位画素の輝度が増加するものとする。同様に、ＲＧＢＷ信号Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ、Ｗｏｕｔ（Ｒ信号Ｒｏｕｔ、Ｇ信号Ｇｏｕｔ、Ｂ信号Ｂｏｕｔ、Ｗ信号Ｗｏｕｔ）は、夫々、０〜２５５の値をとる８ビットのデジタル信号となっており（勿論、８ビット以外でも良い）、夫々の値が増加するに従って、対応する単位画素の輝度が増加するものとする。以下の説明においては、説明の簡略化上、信号値（ＲＧＢ入力信号の値及びＲＧＢＷ信号の値）と表示輝度の関係は、比例関係にあるとする。
【００４５】
［変換原理］
ここで、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１によるＲＧＢ入力信号のＲＧＢＷ信号への変換原理について、第１の数値例、第２の数値例及び第３の数値例を参照しながら説明する。この変換原理は、本実施形態だけでなく、後述する第２実施形態にも共通する。
【００４６】
まず、第１の数値例として、Ｗ信号に変換されるＲＧＢ入力信号の比率が１：１：１の場合を考える。即ち、（Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎ）＝（ｋ、ｋ、ｋ）のＲＧＢ入力信号が、値がｋのＷ信号（即ち、Ｗｏｕ＝ｋ）に変換される場合を考える（但し、ｋは０〜２５５の整数）。
【００４７】
図３は、第１の数値例におけるＲＧＢＷ信号への変換を表す図である。今、図３のグラフＰ１に示す如く、（Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎ）＝（２２０、１８０、１００）であるとする。即ち、Ｒｉｎ＝２２０、Ｇｉｎ＝１８０、Ｂｉｎ＝１００、であるとする。２２０−１００＝１２０、１８０−１００＝８０、１００−１００＝０、が成立するため、このＲＧＢ入力信号は、グラフＰ２に示す第１ＲＧＢ信号成分（１２０、８０、０）と、グラフＰ３に示す第２ＲＧＢ信号成分（１００、１００、１００）と、に分解できる。
【００４８】
Ｗ信号に変換されるＲＧＢ入力信号の比率が１：１：１であるため、第２ＲＧＢ信号成分（１００、１００、１００）は、値が１００のＷ信号に変換される。値が１００のＷ信号と、グラフＰ２に示す第１ＲＧＢ信号成分を合算（合成）することにより、グラフＰ４に示すＲＧＢＷ信号値（１２０、８０、０、１００）が得られる。即ち、第１の数値例においては、ＲＧＢ入力信号のＲＧＢＷ信号への変換により、（Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ、Ｗｏｕｔ）＝（１２０、８０、０、１００）となる。
【００４９】
Ｗ信号に変換されるＲＧＢ入力信号の比率が１：１：１の場合を第１の数値例として説明したが、実際には、白色の自発光材料（有機ＥＬ素子）によって得られる白の色度は、目標とする白の色度となっていない場合が多い。（Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎ）＝（ｋ、ｋ、ｋ）のＲＧＢ入力信号が供給された場合は、目標白の色度（目標とする白の色度）が実現されるべきであるので、表示パネルの特性に応じて、Ｗ信号に変換されるＲＧＢ入力信号の比率を適切に設定する必要がある。表示パネルの特性に応じた上記比率の算出法は、後の「パネル調整処理」の説明において述べる。
【００５０】
第２の数値例として、「Ｗ信号に変換されるＲＧＢ入力信号の比率」が１．００：１．２０：１．１５の場合を考える。即ち、（Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎ）＝（ｋ／１．００、ｋ／１．２０、ｋ／１．１５）のＲＧＢ入力信号が、値がｋのＷ信号に変換される場合を考える（但し、ｋは０〜２５５の整数）。
【００５１】
図４は、第２の数値例におけるＲＧＢＷ信号への変換を表す図である。今、図４のグラフＰ５に示す如く、（Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎ）＝（２２０、１８０、１００）であるとする。まず、ＲＧＢ入力信号をＲＧＢＷ信号に変換することによって得ることができるＷ信号の最大値（以下、これを「最大変換Ｗ信号値ＷMAX」という）を算出する。この最大変換Ｗ信号値ＷMAXは、下記式（１）、（２）及び（３）にて算出される値Ｒ１、Ｇ１及びＢ１の最小値ｍｉｎ（Ｒ１、Ｇ１、Ｒ１）に相当するため、１１５となる。第２の数値例では、この１１５の値が、そのままＷ信号Ｗｏｕｔになるものとする。
【００５２】
尚、ｍｉｎ（ｚ１、ｚ２、ｚ３）は、ｚ１、ｚ２及びｚ３の内の最小値を示す演算記号である（但し、ｚ１、ｚ２及びｚ３は任意の数）。また、Ｗ信号に変換されるＲＧＢ入力信号の比率及び最大変換Ｗ信号値ＷMAXを表す場合を除き、以下の説明における数値は、（原則として）小数点以下の数値を切り捨てて考えるものとする。
【００５３】
Ｒ１＝２２０×１．００＝２２０   ・・・（１）
Ｇ１＝１８０×１．２０＝２１６   ・・・（２）
Ｂ１＝１００×１．１５＝１１５     ・・・（３）
【００５４】
次に、ＲＧＢＷ信号への変換後のＲＧＢ信号（即ち、Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ及びＢｏｕｔ）を算出するために、Ｗｏｕｔに変換されるＲ信号Ｒｉｎの成分Ｒ２、Ｇ信号Ｇｉｎの成分Ｇ２、及びＢ信号Ｂｉｎの成分Ｂ２を、下記式（４）、（５）及び（６）によって算出する。
【００５５】
Ｒ２＝１１５／１．００＝１１５   ・・・（４）
Ｇ２＝１１５／１．２０＝９５            ・・・（５）
Ｂ２＝１１５／１．１５＝１００   ・・・（６）
【００５６】
２２０−１１５＝１０５、１８０−９５＝８５、１００−１００＝０、が成立するため、ＲＧＢ入力信号は、グラフＰ６に示す第１ＲＧＢ信号成分（１０５、８５、０）と、グラフＰ７に示す第２ＲＧＢ信号成分（１１５、９５、１００）と、に分解できる。
【００５７】
Ｗ信号に変換されるＲＧＢ入力信号の比率が１．００：１．２０：１．１５であるため、第２ＲＧＢ信号成分（１１５、９５、１００）は、値が１１５のＷ信号に変換される。値が１１５のＷ信号と、グラフＰ６に示す第１ＲＧＢ信号成分を合算（合成）することにより、グラフＰ８に示すＲＧＢＷ信号値（１０５、８５、０、１１５）が得られる。即ち、第２の数値例においては、ＲＧＢ入力信号のＲＧＢＷ信号への変換により、（Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ、Ｗｏｕｔ）＝（１０５、８５、０、１１５）となる。
【００５８】
第２の数値例は、ＲＧＢ入力信号をＲＧＢＷ信号に変換することによって得ることができるＷ信号の最大値（最大変換Ｗ信号値ＷMAX）をそのままＷｏｕｔとする例（Ｗ信号Ｗｏｕｔを最大にする例）、即ち、Ｗ画素の使用率（ＲＧＢ入力信号のＷ信号への変換率；Ｗ寄与率）ＷGAINを最大の１００％にする例である。詳細は後述するが、本発明に係るＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路は、Ｗ画素の使用率（ＲＧＢ入力信号のＷ信号への変換率）ＷGAINを、必要に応じて変化させる。
【００５９】
第３の数値例として、Ｗ信号に変換されるＲＧＢ入力信号の比率が、第２の数値例と同じく１．００：１．２０：１．１５であって、且つＷ画素の使用率ＷGAINが７０％である場合を考える。
【００６０】
図５は、第３の数値例におけるＲＧＢＷ信号への変換を表す図である。今、図５のグラフＰ９に示す如く、（Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎ）＝（２２０、１８０、１００）であるとする。ＲＧＢ入力信号の値が第２の数値例と同じであるため、最大変換Ｗ信号値ＷMAXは、上記式（１）〜（３）に基づいて１１５となるが、第３の数値例においては、Ｗ画素の使用率ＷGAINが７０％であるため、Ｗｏｕｔ＝１１５×０．７＝８０、とされる。
【００６１】
次に、ＲＧＢＷ信号への変換後のＲＧＢ信号（即ち、Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ及びＢｏｕｔ）を算出するために、Ｗｏｕｔに変換されるＲ信号Ｒｉｎの成分Ｒ２、Ｇ信号Ｇｉｎの成分Ｇ２、及びＢ信号Ｂｉｎの成分Ｂ２を、下記式（７）、（８）及び（９）によって算出する。
【００６２】
Ｒ２＝８０／１．００＝８０              ・・・（７）
Ｇ２＝８０／１．２０＝６６              ・・・（８）
Ｂ２＝８０／１．１５＝６９              ・・・（９）
【００６３】
２２０−８０＝１４０、１８０−６６＝１１４、１００−６９＝３１、が成立するため、このＲＧＢ入力信号は、グラフＰ１０に示す第１ＲＧＢ信号成分（１４０、１１４、３１）と、グラフＰ１１に示す第２ＲＧＢ信号成分（８０、６６、６９）と、に分解できる。
【００６４】
Ｗ信号に変換されるＲＧＢ入力信号の比率が１．００：１．２０：１．１５であるため、第２ＲＧＢ信号成分（８０、６６、６９）は、値が８０（＝１１５×０．７）のＷ信号に変換される。値が８０のＷ信号と、グラフＰ１０に示す第１ＲＧＢ信号成分を合算（合成）することにより、グラフＰ１２に示すＲＧＢＷ信号値（１４０、１１４、３１、８０）が得られる。即ち、第３の数値例においては、ＲＧＢ入力信号のＲＧＢＷ信号への変換により、（Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ、Ｗｏｕｔ）＝（１４０、１１４、３１、８０）となる。
【００６５】
ここで、上記第２の数値例に関わる図４のグラフＰ７と上記第３の数値例に関わる図５のグラフＰ１１を比較して、Ｗ画素の使用率（ＲＧＢ入力信号のＷ信号への変換率）ＷGAINが意味するものを考える。最大変換Ｘ信号値ＷMAXに変換されるべきＲ信号Ｒｉｎの成分、Ｇ信号の成分及びＢ信号の成分を、夫々、最大変換Ｒ信号、最大変換Ｇ信号及び最大変換Ｂ信号とすると、最大変換Ｒ信号、最大変換Ｇ信号及び最大変換Ｂ信号は、図４のグラフＰ７に示す（１１５、９５、１００）となる。
【００６６】
第３の数値例において、実際にＷ信号に変換されるＲ信号の成分（第３の数値例において８０）の最大変換Ｒ信号（第３の数値例において１１５）に対する割合は、８０／１１５≒７０％であり、この値は、設定されたＷ画素の使用率ＷGAINに等しい。また、実際にＷ信号に変換されるＧ信号の成分（第３の数値例において６６）の最大変換Ｇ信号（第３の数値例において９５）に対する割合も、６６／９５≒７０％である。また、実際にＷ信号に変換されるＢ信号の成分（第３の数値例において６９）の最大変換Ｂ信号（第３の数値例において１００）に対する割合も、６９／１００≒７０％である。
【００６７】
つまり、画素の使用率（ＲＧＢ入力信号のＷ信号への変換率）ＷGAINは、実際にＷ信号に変換されるＲ信号の成分の最大変換Ｒ信号に対する割合、実際にＷ信号に変換されるＧ信号の成分の最大変換Ｇ信号に対する割合、及び実際にＷ信号に変換されるＢ信号の成分の最大変換Ｂ信号に対する割合を意味する。
【００６８】
そして、ＲＧＢ入力信号（第３の数値例において、（Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎ）＝（２２０、１８０、１００）で表される）から、Ｗ信号に変換されるＲＧＢ信号（第３の数値例において、（Ｒ２、Ｇ２、Ｂ２）＝（８０、６６、６９）で表される）を差し引いたものがＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１から出力されるＲＧＢＷ信号への変換後のＲＧＢ信号（第３の数値例において、（Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ）＝（１４０、１１４、３１）で表される）となる。
【００６９】
［表示装置の詳細な構成］
本発明に係るＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１は、欠陥位置指定部１５から与えられる画素の欠陥情報に基づいて上記Ｗ画素の使用率（ＲＧＢ入力信号のＷ信号への変換率）ＷGAINを適切に制御しつつ（調整しつつ）、ＲＧＢ入力信号をＲＧＢＷ信号に変換する。図６は、図１におけるＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１の内部構成とその周辺の構成を表す図である。
【００７０】
ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１は、Ｒ−Ｗ変換器２０Ｒ、Ｇ−Ｗ変換器２０Ｇ及びＢ−Ｗ変換器２０Ｂと、最小値算出器２１と、乗算器２２と、Ｗ−Ｒ変換器２３Ｒ、Ｗ−Ｇ変換器２３Ｇ及びＷ−Ｂ変換器２３Ｂと、減算器２４Ｒ、２４Ｇ及び２４Ｂと、比較器１３及び１４と、選択器１６と、を有して構成される。
【００７１】
水平用カウンタ（Ｈ＿ＣＮＴ）１１は、ＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎの水平同期信号Ｈｓｙｎｃ及びドット信号（ドットクロック）ＣＬＫに基づいて、ＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎに対応する画面上（表示パネル３或いは後述する３ａ上）の水平位置を示す水平位置信号を出力する。垂直用カウンタ（Ｖ＿ＣＮＴ）１２は、ＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎの水平同期信号Ｈｓｙｎｃ及び垂直同期信号Ｖｓｙｎｃに基づいて、ＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎに対応する画面上（表示パネル３或いは後述する３ａ上）の垂直位置を示す垂直位置信号を出力する。
【００７２】
尚、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃおよび水平同期信号Ｈｓｙｎｃ（及びドット信号ＣＬＫ）は、図示されないタイミング生成回路にも供給されており、該タイミング生成回路は、垂直同期信号Ｖｓｙｎｃおよび水平同期信号Ｈｓｙｎｃ（及びドット信号ＣＬＫ）に基づいて映像表示に必要なタイミング信号を生成し、それをＤ／Ａ変換回路２および表示パネル３（或いは後述する３ａ）に与えている。
【００７３】
欠陥位置指定部１５には、予め欠陥（不良）のある単位画素の画面上の位置（水平位置及び垂直位置）を特定する欠陥情報が格納されている。具体的には、有機ＥＬ表示装置の製造時における検査工程において、規定された発光がなされるかを単位画素ごとに検査し、規定の発光ができない（例えば、全く発光しない）単位画素を欠陥画素として取り扱う。そして、欠陥画素（欠陥のある単位画素）の位置（水平位置及び垂直位置）を特定する欠陥情報が、不揮発性メモリ等から成る欠陥位置指定部１５に格納されている。
【００７４】
比較器１３は、水平用カウンタ１１からの水平位置信号によって特定されるＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎに対応する画面上の水平位置と、欠陥位置指定部１５からの欠陥情報によって特定される欠陥画素の水平位置（或いは該水平位置の近傍の水平位置）とを比較し、その比較結果を選択器１６に伝達する。比較器１４は、垂直用カウンタ１２からの垂直位置信号によって特定されるＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎに対応する画面上の垂直位置と、欠陥位置指定部１５からの欠陥情報によって特定される欠陥画素の垂直位置（或いは該垂直位置の近傍の垂直位置）とを比較し、その比較結果を選択器１６に伝達する。
【００７５】
選択器１６は、比較器１３による比較結果及び比較器１４による比較結果に応じて、複数の被選択値の中から１つの値を選択し、その選択した値をＷ画素の使用率（ＲＧＢ入力信号のＷ信号への変換率）ＷGAINとして出力する。後に具体的な数値例を挙げるが、この被選択値は、例えば、１（１００％）や０．７５（７５％）等となっている。
【００７６】
Ｒ−Ｗ変換器２０Ｒ、Ｇ−Ｗ変換器２０Ｇ及びＢ−Ｗ変換器２０Ｂは、それぞれ、下記式（１０）、（１１）及び（１２）に従って、Ｒ信号Ｒｉｎ、Ｇ信号Ｇｉｎ及びＢ信号Ｂｉｎから値Ｒ１、Ｇ１及びＢ１を算出する。但し、Ｗ信号に変換されるＲＧＢ入力信号の比率を、「αR：αG：αB」としている。上記第３の数値例の如く、（Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎ）＝（２２０、１８０、１００）とし、且つαR：αG：αB＝１．００：１．２０：１．１５とすれば（αR＝１．００、αG＝１．２０、αB＝１．１５）、下記式（１０）〜（１２）は、夫々、上記式（１）〜（３）と一致することになる。
【００７７】
Ｒ１＝Ｒｉｎ×αR                ・・・（１０）
Ｇ１＝Ｇｉｎ×αG                ・・・（１１）
Ｂ１＝Ｂｉｎ×αB                  ・・・（１２）
【００７８】
最小値算出器２１は、Ｒ−Ｗ変換器２０Ｒ、Ｇ−Ｗ変換器２０Ｇ及びＢ−Ｗ変換器２０Ｂによって算出されたＲ１、Ｇ１及びＢ１の最小値ｍｉｎ（Ｒ１、Ｇ１、Ｂ１）を求め、その値を最大変換Ｗ信号値ＷMAXとして後段の乗算器２２に出力する。この最大変換Ｗ信号値ＷMAXは、上記第３の数値例においては、１１５となる。
【００７９】
乗算器２２は、最小値算出器２１からの最大変換Ｗ信号値ＷMAXと、選択器１６からのＷ画素の使用率ＷGAINとの乗算結果をＷ信号Ｗｏｕｔとして出力すると共に、乗算結果をＷ−Ｒ変換器２３Ｒ、Ｗ−Ｇ変換器２３Ｇ及びＷ−Ｂ変換器２３Ｂに供給する。上記第３の数値例のように、ＷMAX＝１１５且つＷGAIN＝０．７であれば、Ｗｏｕｔ＝８０（≒１１５×０．７）となる。
【００８０】
Ｗ−Ｒ変換器２３Ｒ、Ｗ−Ｇ変換器２３Ｇ及びＷ−Ｂ変換器２３Ｂは、それぞれ、ＲＧＢＷ信号への変換後のＲＧＢ信号（即ち、Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ及びＢｏｕｔ）を算出するために、Ｗｏｕｔに変換されるＲ信号Ｒｉｎの成分Ｒ２、Ｇ信号Ｇｉｎの成分Ｇ２、及びＢ信号Ｂｉｎの成分Ｂ２を、下記式（１３）、（１４）及び（１５）に従って算出する。上記第３の数値例のように、Ｗｏｕｔ＝８０且つαR：αG：αB＝１．００：１．２０：１．１５であれば、下記式（１３）〜（１５）は、夫々、上記式（７）〜（９）と一致すことになり、図５のグラフＰ１１のように（Ｒ２、Ｇ２、Ｂ２）＝（８０、６６、６９）となる。
【００８１】
Ｒ２＝Ｗｏｕｔ／αR                     ・・・（１３）
Ｇ２＝Ｗｏｕｔ／αG                     ・・・（１４）
Ｂ２＝Ｗｏｕｔ／αB                ・・・（１５）
【００８２】
減算器２４Ｒ、減算器２４Ｇ及び減算器２４Ｂは、それぞれ、Ｒ信号Ｒｉｎ、Ｇ信号Ｇｉｎ及びＢ信号Ｂｉｎから、Ｗ−Ｒ変換器２３Ｒ、Ｗ−Ｇ変換器２３Ｇ及びＷ−Ｂ変換器２３Ｂの演算結果であるＲ２、Ｇ２及びＢ２を減算し、その減算結果をＲｏｕｔ、Ｇｏｕｔ及びＢｏｕｔとして出力する。このため、上記の第３の数値例の如く、（Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎ）＝（２２０、１８０、１００）、且つ（Ｒ２、Ｇ２、Ｂ２）＝（８０、６６、６９）であれば、図５のグラフＰ１２のように（Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ）＝（１４０、１１４、３１）となる。
【００８３】
次に、図１の表示パネル３の内部構成を説明する。図７は、図１の表示パネル３のドットの配列及びドット内の単位画素の配列を示した図である。図７に示す配列は、所謂デルタ配列である。図７中、左側から右方向に向かって水平にドットＤ１、Ｄ２及びＤ３がこの順番で連なって並んでおり、左側から右方向に向かって水平にドットＤ４、Ｄ５、Ｄ６及びＤ７がこの順番で連なって並んでおり、左側から右方向に向かって水平にドットＤ８、Ｄ９及びＤ１０がこの順番で連なって並んでいる。ドットＤ４、Ｄ５、Ｄ６及びＤ７が並ぶ水平ラインを基準として、ドットＤ１、Ｄ２及びＤ３は１単位画素分、上方に配置されており、ドットＤ８、Ｄ９及びＤ１０は１単位画素分、下方に配置されている。図７は、表示パネル３の一部を示したものであり、ドットＤ１〜Ｄ１０の上下方向（表示パネル３の垂直方向）及び左右方向（表示パネル３の水平方向）には、図示されない他のドットが、ドットＤ１〜Ｄ１０の配置関係と同様の配置関係にて、多数配列されている。
【００８４】
ドットＤ１は、Ｗ画素Ｗ1、Ｒ画素Ｒ1、Ｂ画素Ｂ1及びＧ画素Ｇ1の４つの単位画素から構成されており、それらの単位画素は、Ｗ画素Ｗ1、Ｒ画素Ｒ1、Ｂ画素Ｂ1及びＧ画素Ｇ1の順番で左から右へ互いに隣接しながら並んでいる。他のドットＤ２〜Ｄ１０についても同様である。即ち、ｎを２〜１０の何れかの数値として、ドットＤｎは、Ｗ画素Ｗn、Ｒ画素Ｒn、Ｂ画素Ｂn及びＧ画素Ｇnの４つの単位画素から構成されており、各ドットＤｎにおいて、単位画素は、Ｗ画素Ｗn、Ｒ画素Ｒn、Ｂ画素Ｂn及びＧ画素Ｇnの順番で左から右へ互いに隣接しながら並んでいる。
【００８５】
尚、以下の説明において、Ｗ画素Ｗ1、Ｒ画素Ｒ1、Ｂ画素Ｂ1及びＧ画素Ｇ1を、夫々、単にＷ1、Ｒ1、Ｂ1及びＧ1と記すことがある。同様に、Ｗ画素Ｗn、Ｒ画素Ｒn、Ｂ画素Ｂn及びＧ画素Ｇnを、夫々、単にＷn、Ｒn、Ｂn及びＧnと記すことがある（ｎは２〜１０の整数）。
【００８６】
上記の関係から特定されるように、Ｗ1、Ｒ1、Ｂ1、Ｇ1、Ｗ2、Ｒ2、Ｂ2、Ｇ2、Ｗ3、Ｒ3、Ｂ3及びＧ3は、この順番で左から右へ互いに隣接しながら並んでいる。同様に、Ｗ4、Ｒ4、Ｂ4、Ｇ4、Ｗ5、Ｒ5、Ｂ5、Ｇ5、Ｗ6、Ｒ6、Ｂ6、Ｇ6、Ｗ7、Ｒ7、Ｂ7及びＧ7は、この順番で左から右へ互いに隣接しながら並んでいる。同様に、Ｗ8、Ｒ8、Ｂ8、Ｇ8、Ｗ9、Ｒ9、Ｂ9、Ｇ9、Ｗ10、Ｒ10、Ｂ10及びＧ10は、この順番で左から右へ互いに隣接しながら並んでいる。
【００８７】
また、図７に示す如く、ドットＤ１とドットＤ８の左右方向の位置、ドットＤ２とドットＤ９の左右方向の位置、及びドットＤ３とドットＤ１０の左右方向の位置は、それぞれ互いに一致している。ドットＤ４は、２つの単位画素分だけドットＤ１より左側に位置している。同様に、ドットＤ５は、２つの単位画素分だけドットＤ２より左側に位置しており、ドットＤ６は、２つの単位画素分だけドットＤ３より左側に位置している。また、ドットＤ７は、２つの単位画素分だけドットＤ３より右側に位置している。従って、例えば、Ｗ6の上方に隣接してＢ2が配置され、Ｗ6の下方に隣接してＢ9が配置されている。
【００８８】
ドットＤ１に対するＲＧＢ入力信号は、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１によって、ドットＤ１に対するＲＧＢＷ信号に変換される。同様に、ドットＤｎに対するＲＧＢ入力信号は、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１によって、ドットＤｎに対するＲＧＢＷ信号に変換される（ｎは２〜１０の整数）。
【００８９】
［Ｗ画素の使用率の調整例］
次に、欠陥画素の存在に応じたＷ画素の使用率（ＲＧＢ入力信号のＷ信号への変換率）ＷGAINの設定法について、具体例を挙げて説明する。尚、以下の説明において、特に断りのない単位画素は正常な単位画素であるとする。また、表示パネル３（及び後述する３ａ）全体に対して予め基準変換率が定められており、表示パネル３（及び後述する３ａ）を構成する全ての単位画素に欠陥がなかったならば、全ての単位画素についてのＷ画素の使用率ＷGAINは、その基準変換率とされる。基準変化率の最大値は１００％であって、基準変化率は、例えば固定値となっている。また、説明の簡略化上、ドットＤ１〜Ｄ１０に対するＲＧＢ入力信号の値は、全て（Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎ）＝（２２０、１８０、１００）であり、且つ、αR：αG：αB＝１．００：１．２０：１．１５、が成立するものとする。
【００９０】
まず、第１の設定例を説明する。今、Ｗ画素Ｗ6に欠陥があったとする（滅点であったとする）。この場合、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１は、欠陥画素であるＷ画素Ｗ6の位置を特定する欠陥情報に基づきつつ、Ｒ5、Ｂ5、Ｇ5、Ｒ6、Ｂ6、Ｇ6についてのＷ画素の使用率（ＲＧＢ入力信号のＷ信号への変換率）ＷGAINを、図８に示す如く、夫々７５％、５０％、２５％、２５％、５０％、７５％とする。即ち、欠陥画素からの距離が小さくなるにつれ、Ｗ画素の使用率ＷGAINを低くする。Ｗ画素Ｗ5及びＷ7を含む他の全ての単位画素についてのＷ画素の使用率ＷGAINは、基準変換率である１００％に設定される。尚、第１の設定例において、基準変換率を１００％未満（例えば、９０％）としても構わない。
【００９１】
図９は、第１の設定例を採用した場合における比較器１３及び１４並びに選択器１６への入力信号を具体的に表したものであり、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１及びその周辺回路の一部を抜粋したものである。図９において、図６と同一の部分には同一の符号を付してある。
【００９２】
比較器１３には、欠陥画素であるＷ画素Ｗ6の水平位置（ＡＤＨ＿Ｗ6）と、欠陥画素の水平位置から左方向及び右方向に１単位画素分だけずれた水平位置（ＡＤＨ＿Ｗ6±１）と、欠陥画素の水平位置から左方向及び右方向に２単位画素分だけずれた水平位置（ＡＤＨ＿Ｗ6±２）と、欠陥画素の水平位置から左方向及び右方向に３単位画素分だけずれた水平位置（ＡＤＨ＿Ｗ6±３）とが、欠陥位置指定部１５から与えられている。比較器１３は、欠陥位置指定部１５から与えられた上記の７つの水平位置と、水平用カウンタ１１から与えられたＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎに対応する画面上の水平位置との一致／不一致を評価し、その一致／不一致を表す信号を選択器１６に供給する。
【００９３】
比較器１４には、欠陥画素であるＷ画素Ｗ6の垂直位置（ＡＤＶ＿Ｗ6）が、欠陥位置指定部１５から与えられている。比較器１４は、欠陥位置指定部１５から与えられた上記の垂直位置と、垂直用カウンタ１２から与えられたＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎに対応する画面上の垂直位置との一致／不一致を評価し、その一致／不一致を表す信号を選択器１６に供給する。
【００９４】
選択器１６には、２５％、５０％及び７５％並びに基準変換率である１００％が被選択値として与えられており、比較器１３と比較器１４の出力に応じて、図８に示すＷGAINを各単位画素に設定する。具体的には、例えば、欠陥画素の垂直位置（ＡＤＶ＿Ｗ6）と、垂直用カウンタ１２から与えられたＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎに対応する画面上の垂直位置とが一致しており、且つ、欠陥画素の水平位置から左方向に１単位画素分だけずれた水平位置（ＡＤＨ＿Ｗ6−１）と、水平用カウンタ１１から与えられたＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎに対応する画面上の水平位置とが一致していることを示す信号が比較器１３及び１４から与えられている時、４つの被選択値からＧ画素Ｇ5に対応する２５％を選択し、その値をＷGAINとして出力する。
【００９５】
図１０は、第１の設定例において、各単位画素に供給される信号値を説明するための図である。まず、ＷGAIN＝１００％とされるＷ画素Ｗ5に着目する。上述したように、ドットＤ５に対するＲＧＢ入力信号の値は（Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎ）＝（２２０、１８０、１００）であり、且つ、αR：αG：αB＝１．００：１．２０：１．１５であるので、ＷGAIN＝１００％となっているとき、図１０に示すように、乗算器２２からは１１５の値を表す信号が出力され、減算器２４Ｒ、２４Ｇ及び２４Ｂからは夫々１０５、８５及び０の値を表す信号が出力される（図４のグラフＰ８も参照）。これらの信号の内、乗算器２２から出力される信号の値（１１５）が、Ｗ画素Ｗ5に対応するＷ信号Ｗｏｕｔの値として取り扱われる。
【００９６】
ＷGAIN＝７５％とされるＲ画素Ｒ5に着目する。ＷGAIN＝７５％となっているとき、図１０に示すように、乗算器２２からは８６（＝１１５×０．７５）の値を表す信号が出力され、減算器２４Ｒ、２４Ｇ及び２４Ｂからは夫々１３４（＝２２０−８６／１．００）、１０９（＝１８０−８６／１．２０）及び２６（＝１００−８６／１．１５）の値を表す信号が出力される。これらの信号の内、減算器２４Ｒから出力される信号の値（１３４）が、Ｒ画素Ｒ5に対応するＲ信号Ｒｏｕｔの値として取り扱われる。
【００９７】
ＷGAIN＝２５％とされるＧ画素Ｇ5に着目する。ＷGAIN＝２５％となっているとき、図１０に示すように、乗算器２２からは２８（＝１１５×０．２５）の値を表す信号が出力され、減算器２４Ｒ、２４Ｇ及び２４Ｂからは夫々１９２（＝２２０−２８／１．００）、１５７（＝１８０−２８／１．２０）及び７６（＝１００−２８／１．１５）の値を表す信号が出力される。これらの信号の内、減算器２４Ｇから出力される信号の値（１５７）が、Ｇ画素Ｇ5に対応するＧ信号Ｇｏｕｔの値として取り扱われる。
【００９８】
ＷGAIN＝２５％とされるＲ画素Ｒ6に着目する。ＷGAIN＝２５％となっているとき、図１０に示すように、乗算器２２からは２８（＝１１５×０．２５）の値を表す信号が出力され、減算器２４Ｒ、２４Ｇ及び２４Ｂからは夫々１９２（＝２２０−２８／１．００）、１５７（＝１８０−２８／１．２０）及び７６（＝１００−２８／１．１５）の値を表す信号が出力される。これらの信号の内、減算器２４Ｒから出力される信号の値（１９２）が、Ｒ画素Ｒ6に対応するＲ信号Ｒｏｕｔの値として取り扱われる。
【００９９】
Ｂ5、Ｂ6、Ｇ6及びＷ7を含む他の単位画素についても、Ｗ5やＲ5等に着目して説明したのと同様の処理が行われる。この結果、Ｂ5に対応するＢ信号Ｂｏｕｔ、Ｂ6に対応するＢ信号Ｂｏｕｔ、Ｇ6に対応するＧ信号Ｇｏｕｔ及びＷ7に対応するＷ信号Ｗｏｕｔは、夫々、５１、５１、１０９及び１１５となる。尚、欠陥画素であるＷ6に対応するＷ信号Ｗｏｕｔは、例えばゼロとされる。
【０１００】
仮に、Ｗ6に欠陥があることを考慮せず、Ｒ5、Ｂ5、Ｇ5、Ｒ6、Ｂ6、Ｇ6についてのＷGAINを、全て基準変換率である１００％としていたならば、上述してきた数値例や図１１を参照して理解されるように、ドットＤ５及びＤ６におけるＲＧＢＷ変換後のＲＧＢ信号は（Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ）＝（１０５、８５、０）となる。この場合、白表示時にＷ画素Ｗ6の欠陥（滅点）は、黒点となって非常に目立ってしまう。
【０１０１】
しかしながら、上記のように、欠陥画素であるＷ画素の周辺画素のＷGAINを基準変換率より低くすれば、結果的に、その周辺画素の輝度が比較的大きくなり、Ｗ画素の欠陥が目立ちにくくなる（特に白表示時に黒点として目立つことが抑制される）。
【０１０２】
また、欠陥画素がＷ画素Ｗ6である場合、そのＷ画素Ｗ6に隣接する４つの単位画素（即ち、Ｇ5、Ｒ6、Ｂ2及びＢ9）のうち、少なくとも１つの単位画素についてのＷGAINを基準変換率より低く設定するだけでも、欠陥は目立ちにくくなる。例えば、Ｇ5についてのＷGAINを２５％とし、他の全ての単位画素のＷGAINを基準変換率としてもよい。
【０１０３】
尚、比較器１３及び１４並びに選択器１６は、Ｗ画素の使用率、即ち、ＲＧＢ入力信号のＷ信号への変換率ＷGAINを単位画素ごとに制御（設定）する変換率制御手段（使用率制御手段）として機能する。乗算器２２も、この変換率制御手段に含まれていると考えても構わない。
【０１０４】
次に、第２の設定例を説明する。今、Ｗ画素Ｗ6に欠陥があったとする（滅点であったとする）。この場合、図１２に示す如く、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１は、欠陥画素であるＷ画素Ｗ6の位置を特定する欠陥情報に基づきつつ、Ｂ5、Ｇ5、Ｒ6、Ｂ6、Ｂ2、Ｂ9についてのＷ画素の使用率ＷGAINを夫々２５％、０％、０％、２５％、２５％、２５％とする。即ち、欠陥画素からの距離が小さくなるにつれ、Ｗ画素の使用率ＷGAINを低くする。Ｒ5等を含む他の全ての単位画素についてのＷ画素の使用率ＷGAINは、基準変換率である１００％に設定される。尚、第２の設定例において、基準変換率を１００％未満（例えば、９０％）としても構わない。
【０１０５】
このようにしても、欠陥画素の周辺画素（Ｂ5、Ｇ5、Ｒ6、Ｂ6、Ｂ2及びＢ9）の輝度が比較的大きくなり、Ｗ画素の欠陥が目立ちにくくなる（特に白表示時に黒点として目立つことが抑制される）。
【０１０６】
図１３は、第２の設定例を採用した場合における比較器１３及び１４並びに選択器１６への入力信号を具体的に表したものであり、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１及びその周辺回路の一部を抜粋したものである。図１３において、図６と同一の部分には同一の符号を付してある。
【０１０７】
比較器１３には、欠陥画素であるＷ画素Ｗ6の水平位置（ＡＤＨ＿Ｗ6）と、欠陥画素の水平位置から左方向及び右方向に１単位画素分だけずれた水平位置（ＡＤＨ＿Ｗ6±１）と、欠陥画素の水平位置から左方向及び右方向に２単位画素分だけずれた水平位置（ＡＤＨ＿Ｗ6±２）とが、欠陥位置指定部１５から与えられている。比較器１３は、欠陥位置指定部１５から与えられた上記の５つの水平位置と、水平用カウンタ１１から与えられたＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎに対応する画面上の水平位置との一致／不一致を評価し、その一致／不一致を表す信号を選択器１６に供給する。
【０１０８】
比較器１４には、欠陥画素であるＷ画素Ｗ6の垂直位置（ＡＤＶ＿Ｗ6）と、欠陥画素の垂直位置から上方向及び下方向に１単位画素分だけずれた垂直位置（ＡＤＶ＿Ｗ6±１）とが、欠陥位置指定部１５から与えられている。比較器１４は、欠陥位置指定部１５から与えられた上記の３つの垂直位置と、垂直用カウンタ１２から与えられたＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎに対応する画面上の垂直位置との一致／不一致を評価し、その一致／不一致を表す信号を選択器１６に供給する。
【０１０９】
選択器１６には、０％及び２５％並びに基準変換率である１００％が被選択値として与えられており、比較器１３と比較器１４の出力に応じて、上述した図１２に示すＷGAINを各単位画素に設定する。具体的には、例えば、欠陥画素の垂直位置から下方向に１単位画素分だけずれた垂直位置（ＡＤＶ＿Ｗ6＋１）と、垂直用カウンタ１２から与えられたＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎに対応する画面上の垂直位置とが一致しており、且つ、欠陥画素の水平位置（ＡＤＨ＿Ｗ6）と、水平用カウンタ１１から与えられたＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎに対応する画面上の水平位置とが一致していることを示す信号が比較器１３及び１４から与えられている時、３つの被選択値からＢ画素Ｂ9に対応する２５％を選択し、その値をＷGAINとして出力する。
【０１１０】
また、減算器２４ＧとＤ／Ａ変換器２との間に加算器（不図示）を挿入し、欠陥画素に隣接するＧ画素Ｇ5に対応して出力される減算器２４Ｇからの出力に一定のオフセット値を加算したものが、Ｇ画素Ｇ5に対応する最終的なＧ信号Ｇｏｕｔとなるようにしてもよい。これによって、Ｇ画素Ｇ5の輝度が更に増す方向に向かい、Ｗ画素の欠陥がより目立ちにくくなる。この加算器を乗算器（不図示）に置換し、欠陥画素に隣接するＧ画素Ｇ5に対応して出力される減算器２４Ｇからの出力に１より大きな一定の値（例えば、１．１）を乗じたものが、Ｇ画素Ｇ5に対応する最終的なＧ信号Ｇｏｕｔとなるようにしてもよい。
【０１１１】
同様に、減算器２４ＲとＤ／Ａ変換器２との間との間に、一定のオフセット値を加算するための加算器を挿入し、欠陥画素に隣接するＲ画素Ｒ6に対応して出力される減算器２４Ｒからの出力に一定のオフセット値を加算したものが、Ｒ画素Ｒ6に対応する最終的なＲ信号Ｒｏｕｔとなるようにしてもよい。この加算器を乗算器（不図示）に置換し、Ｒ画素Ｒ6に対応して出力される減算器２４Ｒからの出力に１より大きな一定の値（例えば、１．１）を乗じたものが、Ｒ画素Ｒ6に対応する最終的なＲ信号Ｒｏｕｔとなるようにしてもよい。
【０１１２】
同様に、減算器２４ＢとＤ／Ａ変換器２との間との間に、一定のオフセット値を加算するための加算器を挿入し、欠陥画素に隣接するＢ画素Ｂ2（Ｂ9、Ｂ5、Ｂ6）に対応して出力される減算器２４Ｂからの出力に一定のオフセット値を加算したものが、Ｂ画素Ｂ2（Ｂ9、Ｂ5、Ｂ6）に対応する最終的なＢ信号Ｂｏｕｔとなるようにしてもよい。この加算器を乗算器（不図示）に置換し、Ｂ画素Ｂ2（Ｂ9、Ｂ5、Ｂ6）に対応して出力される減算器２４Ｂからの出力に１より大きな一定の値（例えば、１．１）を乗じたものが、Ｂ画素Ｂ2（Ｂ9、Ｂ5、Ｂ6）に対応する最終的なＢ信号Ｂｏｕｔとなるようにしてもよい。
【０１１３】
次に、第３の設定例を説明する。今、Ｗ画素Ｗ6に欠陥があったとする（滅点であったとする）。この場合、図１４に示す如く、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１は、欠陥画素であるＷ画素Ｗ6の位置を特定する欠陥情報に基づきつつ、ドットＤ５及びＤ６のＲＧＢ画素についてのＷ画素の使用率ＷGAINを全て４０％とし、ドットＤ２及びＤ９のＲＧＢ画素についてのＷ画素の使用率ＷGAINを全て９０％とし、ドットＤ１、Ｄ３、Ｄ４、Ｄ７、Ｄ８及びＤ１０のＲＧＢ画素についてのＷ画素の使用率ＷGAINを全て９５％とする。また、Ｗ画素Ｗ1、Ｗ2、Ｗ3、Ｗ4、Ｗ5、Ｗ7、Ｗ8、Ｗ9及びＷ10についてのＷGAINを、夫々、１００％、９５％、９５％、１００％、９５％、９５％、１００％、９５％及び９５％とする。他の全ての単位画素についてのＷGAINは、基準変換率である１００％に設定される。尚、第３の設定例において、基準変換率を１００％未満（例えば、９８％＞９５％）としても構わない。
【０１１４】
第３の設定例においては、欠陥画素からの距離が小さくなるにつれ、Ｗ画素の使用率ＷGAINが低くされると共に、比較的広範囲の周辺画素のＷGAINが基準変換率より低く設定される。このように、広範囲の周辺画素を用いて欠陥を補い、欠陥画素に近づくに従って徐々にＷGAINを低くするようにすれば、Ｗ画素の欠陥がより目立ちにくくなる（特に白表示時に黒点として目立つことが抑制される）。
【０１１５】
ところで、第３の設定例において、欠陥画素に隣接する単位画素を含んで構成されるドットは、ドットＤ２、Ｄ５、Ｄ６及びＤ９の４つとなっており、ドットＤ２、Ｄ５、Ｄ６及びＤ９に含まれるＲＧＢ画素（或いはＲＧＢＷ画素）についてのＷGAINは、全て基準変換率（１００％）よりも低くなっている。
【０１１６】
しかしながら、図１４に示す状況とは異なるが、ドットＤ２、Ｄ５、Ｄ６及びＤ９の内、１つ、２つ又は３つのドットにおけるＲＧＢ画素（或いはＲＧＢＷ画素）のＷGAINのみを、基準変換率よりも低くするようにしてもよい。
【０１１７】
また、減算器２４Ｒ、２４Ｇ及び２４ＢとＤ／Ａ変換器２との間に、夫々、加算器（不図示）を挿入し、ドットＤ２（Ｄ５、Ｄ６又はＤ９）に含まれるＲＧＢ画素に対応して出力される減算器２４Ｒ、２４Ｇ及び２４Ｂからの出力に一定のオフセット値を加算したものが、ドットＤ２（Ｄ５、Ｄ６又はＤ９）に含まれるＲＧＢ画素に対応する最終的なＲｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔとなるようにしてもよい。これによって、ドットＤ２（Ｄ５、Ｄ６又はＤ９）に含まれるＲＧＢ画素の輝度が更に増す方向に向かい、Ｗ画素の欠陥がより目立ちにくくなる。この加算器を乗算器（不図示）に置換し、ドットＤ２（Ｄ５、Ｄ６又はＤ９）に含まれるＲＧＢ画素に対応して出力される減算器２４Ｒ、２４Ｇ及び２４Ｂからの出力に１より大きな一定の値（例えば、１．１）を乗じたものが、ドットＤ２（Ｄ５、Ｄ６又はＤ９）に含まれるＲＧＢ画素に対応する最終的なＲｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔとなるようにしてもよい。
【０１１８】
次に、第４の設定例を説明する。今、Ｗ画素以外の単位画素、例えば、Ｂ画素Ｂ6に欠陥があったとする（滅点であったとする）。そして、基準変換率が９０％に設定されているとする。この場合、図１５に示す如く、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１は、欠陥画素であるＢ画素Ｂ6の位置を特定する欠陥情報に基づきつつ、欠陥画素の左右に隣接するＲ6及びＧ6についてのＷ画素の使用率ＷGAINを、基準変換率より低い８０％とする。Ｒ6及びＧ6を除く他の全ての単位画素についてのＷ画素の使用率ＷGAINは、基準変換率である９０％に設定される。尚、第４の設定例において、基準変換率を１００％としても構わない。これにより、欠陥画素に隣接するＲ6及びＧ6の輝度が比較的大きくなって、Ｂ6の欠陥が補われ、Ｂ6の欠陥が目立ちにくくなる。
【０１１９】
このように、Ｗ画素以外の単位画素（第４の設定例においてはＢ画素）が欠陥画素となっている場合、その欠陥画素に隣接するＷ画素以外の単位画素についてのＷGAINを、表示パネル全体について定められる基準変換率よりも低くする。この際、欠陥画素の隣接する１つの単位画素（第４の設定例において、例えばＲ画素Ｒ6）についてのＷGAINのみを、基準変換率よりも低くするようにしてもかまわない。
【０１２０】
また、減算器２４Ｒ（２４Ｇ）とＤ／Ａ変換器２との間に加算器（不図示）を挿入し、欠陥画素に隣接するＲ6（Ｇ6）に対応して出力される減算器２４Ｒ（２４Ｇ）からの出
力に一定のオフセット値を加算したものが、Ｒ6（Ｇ6）に対応する最終的なＲ信号Ｒｏｕｔ（Ｇ信号Ｒｏｕｔ）となるようにしてもよい。これによって、Ｒ6（Ｇ6）の輝度が更に増す方向に向かい、Ｂ画素の欠陥がより目立ちにくくなる。この加算器を乗算器（不図示）に置換し、欠陥画素に隣接するＲ6（Ｇ6）に対応して出力される減算器２４Ｒ（２４Ｇ）からの出力に１より大きな一定の値（例えば、１．１）を乗じたものが、Ｒ6（Ｇ6）に対応する最終的なＲ信号Ｒｏｕｔ（Ｇ信号Ｒｏｕｔ）となるようにしてもよい。
【０１２１】
第４の設定例においては、青に対応するＢ6の欠陥を赤と緑の輝度の増加によって補おうとしている。ところが、青の色度と、赤及び緑の色度は、大きく相違しているため、その部分に不自然な色が生じているかのように見えることもある。
【０１２２】
これを解決する例として、第５の設定例を説明する。今、Ｗ画素以外の単位画素、例えば、Ｂ画素Ｂ6に欠陥があったとする（滅点であったとする）。そして、基準変換率が９０％に設定されているとする。この場合、図１６に示す如く、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１は、欠陥画素であるＢ画素Ｂ6の位置を特定する欠陥情報に基づきつつ、欠陥画素の上下に隣接するＷ画素Ｗ3及びＷ10についてのＷ画素の使用率ＷGAINを、基準変換率より高い１００％とする。Ｗ3及びＷ10を除く他の全ての単位画素についてのＷ画素の使用率ＷGAINは、基準変換率である９０％に設定される。これにより、欠陥画素に隣接するＷ3及びＷ10の輝度が比較的大きくなって、Ｂ6の欠陥が補われ、Ｂ6の欠陥が目立ちにくくなる。
【０１２３】
また、Ｗ画素の色度は、青と赤と緑の色度の中間に近いため、第４の設定例のように赤と緑の輝度の増加によって青に対応するＢ6の欠陥を補うよりも、視覚上の不自然さは減少する。
【０１２４】
このように、Ｗ画素以外の単位画素（第５の設定例においてはＢ画素）が欠陥画素となっている場合、その欠陥画素に隣接するＷ画素のＷGAINを、表示パネル全体について定められる基準変換率よりも高くする。この際、欠陥画素の隣接する１つのＷ画素（第５の設定例において、例えばＷ画素Ｗ3）についてのＷGAINのみを、基準変換率よりも高くするようにしても構わない。
【０１２５】
また、乗算器２２とＤ／Ａ変換器２との間に加算器（不図示）を挿入し、欠陥画素に隣接するＷ3（Ｗ10）に対応して出力される乗算器２２からの出力に一定のオフセット値を加算したものが、Ｗ3（Ｗ10）に対応する最終的なＷ信号Ｗｏｕｔとなるようにしてもよい。これによって、Ｗ3（Ｗ10）の輝度が更に増す方向に向かい、Ｂ画素の欠陥がより目立ちにくくなる。この加算器を乗算器（不図示）に置換し、欠陥画素に隣接するＷ3（Ｗ10）に対応して出力される乗算器２２からの出力に１より大きな一定の値（例えば、１．１）を乗じたものが、Ｗ3（Ｗ10）に対応する最終的なＷ信号Ｗｏｕｔとなるようにしてもよい。
【０１２６】
＜＜第２実施形態＞＞
次に、本発明の第２実施形態につき、図面を参照して詳細に説明する。図１７は、本発明の第２実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の構成を示している。図１７において、図１と同一の部分には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。第２実施形態に係る有機ＥＬ表示装置は、図１７に示す如く、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１、Ｄ／Ａ変換回路２及び有機ＥＬ表示パネル３ａ（以下、単に「表示パネル３ａ」という）を有して構成されている。第２実施形態に係る有機ＥＬ表示装置は、第１実施形態における表示パネル３を表示パネル３ａに置換した構成となっており、その他の点では第１実施形態に係る有機ＥＬ表示装置と一致している（同様である）。本実施形態に係る有機ＥＬ表示装置も、他に欠陥位置指定部１５等を備えているが、それらの図示は図１７においては省略している。
【０１２７】
表示パネル３ａも、図１の表示パネル３と同様、Ｄ／Ａ変換回路２によって得られたアナログのＲＧＢＷ信号に基づいてカラー映像を表示するＲＧＢＷ方式の表示パネルであり、カラーの映像表示を行うため、複数のドットを縦横に配列して構成されている。表示パネル３ａに備えられる各ドットは、図１の表示パネル３に備えられる各ドットと同じものであるが、表示パネル３ａにおけるドットの配列は所謂ストライプ配列となっている。
【０１２８】
ストライプ配列となっている表示パネル３ａの内部構成を説明する。図１８は、図１７の表示パネル３ａのドットの配列及びドット内の単位画素の配列を示した図である。図１８中、左側から右方向に向かって水平にドットＤ１１及びＤ１２がこの順番で連なって並んでおり、左側から右方向に向かって水平にドットＤ１３及びＤ１４がこの順番で連なって並んでおり、左側から右方向に向かって水平にドットＤ１５及びＤ１６がこの順番で並んでいる。ドットＤ１３及びＤ１４が並ぶ水平ラインを基準として、ドットＤ１１及びＤ１２は１単位画素分、上方に配置されており、ドットＤ１５及びＤ１６は１単位画素分、下方に配置されている。図１８は、表示パネル３ａの一部を示したものであり、ドットＤ１１〜Ｄ１６の上下方向（表示パネル３ａの垂直方向）及び左右方向（表示パネル３ａの水平方向）には、図示されない他のドットが、ドットＤ１１〜Ｄ１６の配置関係と同様の配置関係にて、多数配列されている。
【０１２９】
ドットＤ１１は、Ｗ画素Ｗ11、Ｒ画素Ｒ11、Ｂ画素Ｂ11及びＧ画素Ｇ11の４つの単位画素から構成されており、それらの単位画素は、Ｗ画素Ｗ11、Ｒ画素Ｒ11、Ｂ画素Ｂ11及びＧ画素Ｇ11の順番で左から右へ互いに隣接しながら並んでいる。他のドットＤ１２〜Ｄ１６についても同様である。即ち、ｍを１２〜１６の何れかの整数として、ドットＤｍは、Ｗ画素Ｗm、Ｒ画素Ｒm、Ｂ画素Ｂm及びＧ画素Ｇmの４つの単位画素から構成されており、各ドットＤｍにおいて、単位画素は、Ｗ画素Ｗm、Ｒ画素Ｒm、Ｂ画素Ｂm及びＧ画素Ｇmの順番で左から右へ互いに隣接しながら並んでいる。
【０１３０】
尚、以下の説明において、Ｗ画素Ｗ11、Ｒ画素Ｒ11、Ｂ画素Ｂ11及びＧ画素Ｇ11を、夫々、単にＷ11、Ｒ11、Ｂ11及びＧ11と記すことがある。同様に、Ｗ画素Ｗm、Ｒ画素Ｒm、Ｂ画素Ｂm及びＧ画素Ｇmを、夫々、単にＷm、Ｒm、Ｂm及びＧmと記すことがある（ｍは１２〜１６の整数）。
【０１３１】
上記の関係から特定されるように、Ｗ11、Ｒ11、Ｂ11、Ｇ11、Ｗ12、Ｒ12、Ｂ12及びＧ12は、この順番で左から右へ互いに隣接しながら並んでいる。同様に、Ｗ13、Ｒ13、Ｂ13、Ｇ13、Ｗ14、Ｒ14、Ｂ14及びＧ14は、この順番で左から右へ互いに隣接しながら並んでいる。同様に、Ｗ15、Ｒ15、Ｂ15、Ｇ15、Ｗ16、Ｒ16、Ｂ16及びＧ16は、この順番で左から右へ互いに隣接しながら並んでいる。
【０１３２】
また、図１８に示す如く、ドットＤ１１とドットＤ１３とドットＤ１５の左右方向の位置、及びドットＤ１２とドットＤ１４とドットＤ１６の左右方向の位置は、それぞれ互いに一致している。このため、例えば、Ｗ14の上方に隣接してＷ14が配置され、Ｗ14の下方に隣接してＷ16が配置されている。
【０１３３】
ドットＤ１１に対するＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎは、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１によって、ドットＤ１１に対するＲＧＢＷ信号に変換される。同様に、ドットＤｍ（ｍは１２〜１６の整数）に対するＲＧＢ入力信号Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎは、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１によって、ドットＤｍに対するＲＧＢＷ信号に変換される。
【０１３４】
［Ｗ画素の使用率の調整例］
次に、欠陥画素の存在に応じたＷ画素の使用率ＷGAINの設定法について、具体例を挙げて説明する。尚、以下の説明において、特に断りのない単位画素は正常な単位画素であるとする。また、説明の簡略化上、ドットＤ１１〜Ｄ１６に対するＲＧＢ入力信号の値は、全て（Ｒｉｎ、Ｇｉｎ、Ｂｉｎ）＝（２２０、１８０、１００）であり、且つ、αR：αG：αB＝１．００：１．２０：１．１５、が成立するものとする。
【０１３５】
まず、第２実施形態に係るＷGAINの設定法の１つ目の例として、第６の設定例を説明する。今、Ｗ画素Ｗ14に欠陥があったとする（滅点であったとする）。そして、基準変換率が９０％とされているとする。この場合、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１は、欠陥画素であるＷ画素Ｗ14の位置を特定する欠陥情報に基づきつつ、欠陥画素の上下に隣接するＷ12及びＷ16についてのＷ画素の使用率（ＲＧＢ入力信号のＷ信号への変換率）ＷGAINを、図１９に示す如く、１００％とする。Ｗ14及びＷ16以外の他の全ての単位画素についてのＷGAINは、基準変換率である９０％に設定される。これにより、欠陥画素に上下に隣接するＷ12及びＷ16の輝度が比較的大きくなって、Ｗ14の欠陥が補われ、Ｗ14の欠陥が目立ちにくくなる。
【０１３６】
また、図１９に示す状況とは異なるが、欠陥画素の隣接する１つのＷ画素（第６の設定例において、例えばＷ12）についてのＷGAINのみを、基準変換率よりも高くするようにしても構わない。
【０１３７】
また、乗算器２２とＤ／Ａ変換器２との間に加算器（不図示）を挿入し、欠陥画素に隣接するＷ12（Ｗ16）に対応して出力される乗算器２２からの出力に一定のオフセット値を加算したものが、Ｗ12（Ｗ16）に対応する最終的なＷ信号Ｗｏｕｔとなるようにしてもよい。これによって、Ｗ12（Ｗ16）の輝度が更に増す方向に向かい、Ｗ画素の欠陥がより目立ちにくくなる。この加算器を乗算器（不図示）に置換し、欠陥画素に隣接するＷ12（Ｗ16）に対応して出力される乗算器２２からの出力に１より大きな一定の値（例えば、１．１）を乗じたものが、Ｗ12（Ｗ16）に対応する最終的なＷ信号Ｗｏｕｔとなるようにしてもよい。
【０１３８】
次に、第７の設定例を説明する。今、Ｗ画素Ｗ14に欠陥があったとする（滅点であったとする）。そして、基準変換率が９０％とされているとする（１００％でも構わない）。この場合、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１は、欠陥画素であるＷ画素Ｗ14の位置を特定する欠陥情報に基づきつつ、欠陥画素の左右に隣接するＧ13及びＲ14についてのＷ画素の使用率（ＲＧＢ入力信号のＷ信号への変換率）ＷGAINを、図２０に示す如く、８０％とする。Ｇ13及びＲ14以外の他の全ての単位画素についてのＷGAINは、基準変換率である９０％に設定される。これにより、欠陥画素に左右に隣接するＧ13及びＲ14の輝度が比較的大きくなって、Ｗ14の欠陥が補われ、Ｗ14の欠陥が目立ちにくくなる。
【０１３９】
このように、Ｗ画素が欠陥画素となっている場合、その欠陥画素に隣接するＷ画素以外の単位画素（第７の設定例においては、Ｇ画素及びＲ画素）についてのＷGAINを、表示パネル全体について定められる基準変換率よりも低くする。この際、欠陥画素の隣接する１つの単位画素（第７の設定例において、例えばＧ画素Ｇ13）についてのＷGAINのみを、基準変換率よりも低くするようにしても構わない。
【０１４０】
また、減算器２４Ｒ（２４Ｇ）とＤ／Ａ変換器２との間に加算器（不図示）を挿入し、欠陥画素に隣接するＲ14（Ｇ13）に対応して出力される減算器２４Ｒ（２４Ｇ）からの出力に一定のオフセット値を加算したものが、Ｒ14（Ｇ13）に対応する最終的なＲ信号Ｒｏｕｔ（Ｇ信号Ｇｏｕｔ）となるようにしてもよい。これによって、Ｒ14（Ｇ13）の輝度が更に増す方向に向かい、Ｗ画素の欠陥がより目立ちにくくなる。この加算器を乗算器（不図示）に置換し、欠陥画素に隣接するＲ14（Ｇ13）に対応して出力される減算器２４Ｒ（２４Ｇ）からの出力に１より大きな一定の値（例えば、１．１）を乗じたものが、Ｒ14（Ｇ13）に対応する最終的なＲ信号Ｒｏｕｔ（Ｇ信号Ｇｏｕｔ）となるようにしてもよい。
【０１４１】
次に、第８の設定例を説明する。今、Ｗ画素Ｗ14に欠陥があったとする（滅点であったとする）。そして、基準変換率が最大の１００％とされているとする。この場合、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１は、欠陥画素であるＷ画素Ｗ14の位置を特定する欠陥情報に基づきつつ、Ｇ11、Ｒ12、Ｂ13、Ｇ13、Ｒ14、Ｂ14、Ｇ15及びＲ16についてのＷ画素の使用率（ＲＧＢ入力信号のＷ信号への変換率）ＷGAINを、図２１に示す如く、それぞれ、９０％、９０％、５０％、２０％、２０％、５０％、９０％及び９０％とする。Ｗ12やＷ16等を含む他の全ての単位画素についてのＷGAINは、基準変換率である１００％に設定される。
【０１４２】
このように、水平方向において、欠陥画素からの距離が小さくなるにつれＷGAINが低く設定される。更に、斜め方向においても、欠陥画素からの距離が小さくなるにつれＷGAINが低く設定される。このため、例えば白表示時に、水平方向及び斜め方向において欠陥画素からの距離が小さくなるにつれ徐々に輝度が増加するようになる。Ｗ14の周囲画素の輝度を増加させることでＷ14の欠陥が補われることになるが、多方向から徐々に輝度が増加するようになっているため、Ｗ14の欠陥がより目立ちにくくなる。尚、この第８の設定例は、基準変換率が最大の１００％となっている場合に特に有効である。
【０１４３】
また、減算器２４Ｒ（２４Ｇ）とＤ／Ａ変換器２との間に加算器（不図示）を挿入し、Ｒ14（Ｇ13、Ｒ12、Ｇ11、Ｒ16及び／又はＧ15）に対応して出力される減算器２４Ｒ（２４Ｇ）からの出力に一定のオフセット値を加算したものが、Ｒ14（Ｇ13、Ｒ12、Ｇ11、Ｒ16及び／又はＧ15）に対応する最終的なＲ信号Ｒｏｕｔ（Ｇ信号Ｇｏｕｔ）となるようにしてもよい。これによって、Ｒ14（Ｇ13、Ｒ12、Ｇ11、Ｒ16及び／又はＧ15）の輝度が更に増す方向に向かい、Ｗ画素の欠陥がより目立ちにくくなる。この加算器を乗算器（不図示）に置換し、欠陥画素に隣接するＲ14（Ｇ13、Ｒ12、Ｇ11、Ｒ16及び／又はＧ15）に対応して出力される減算器２４Ｒ（２４Ｇ）からの出力に１より大きな一定の値（例えば、１．１）を乗じたものが、Ｒ14（Ｇ13、Ｒ12、Ｇ11、Ｒ16及び／又はＧ15）に対応する最終的なＲ信号Ｒｏｕｔ（Ｇ信号Ｇｏｕｔ）となるようにしてもよい。
【０１４４】
尚、例えば、第１〜第８の設定例において、欠陥画素のＷGAINは固定値（例えば、ゼロ又は基準変換率）とされる。
【０１４５】
［パネル調整処理］
次に、第１及び第２実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の製造時に行われるパネル調整処理を説明する。このパネル調整処理を行うことによって、Ｗ信号に変換されるＲＧＢ入力信号の比率「αR：αG：αB」を特定する値（即ち、αR、αG及びαBの値）が求められる。求められた値（αR、αG及びαBの値）は、例えばＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１に内蔵された図示されないメモリに格納され、上述してきたＲＧＢＷ信号Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ及びＷｏｕｔを算出するために用いられる。
【０１４６】
図２２は、このパネル調整処理の手順を示すフローチャートである。まず、ステップＳ１において、目標白Ｗt（２５５）の「輝度ＬWt及び色度座標（ｘWt ，ｙWt ）」を設定する。目標白Ｗtは、ＲＧＢ入力信号の値が全て同じ値である（即ち、Ｒｉｎ＝Ｇｉｎ＝Ｂｉｎ）の場合において、表示されるべき目標の白を意味し、目標白Ｗt（２５５）は、ＲＧＢ入力信号の値が全て２５５（即ち、Ｒｉｎ＝Ｇｉｎ＝Ｂｉｎ＝２５５）の場合において、表示されるべき目標の白を意味する。
【０１４７】
また、色度座標とはｘｙ色度図における座標成分を意味する。例えば、輝度ＬWtを２００ｃｄ／ｍ2（カンデラ／平方メートル）とし、（ｘWt ，ｙWt ）＝（０．３２，０．３３）とする。
【０１４８】
次に、表示パネル３又は３ａに備えられたＲ画素、Ｇ画素、Ｂ画素及びＷ画素の色度を測定する（ステップＳ２）。例えば、Ｒ画素の色度を測定する場合には、Ｒ画素のみを発光させて、その色度を光学測定器（不図示）によって測定する。測定されたＲ画素、Ｇ画素、Ｂ画素及びＷ画素の色度座標を、それぞれ（ｘR ，ｙR ）、（ｘG ，ｙG ）、（ｘB ，ｙB ）及び（ｘW ，ｙW ）とする。
【０１４９】
図２３は、Ｒ画素、Ｇ画素、Ｂ画素及びＷ画素の色度座標と、目標白Ｗtの色度座標との関係の一例を示す図である。図２３に示す如く、通常、Ｗ画素の発光によって得られる色度は、目標白の色度とは一致していない。但し、Ｗ画素の発光によって得られる色度の色度座標（ｘW ，ｙW ）は、色度座標上において、Ｒ画素の色度座標（ｘR ，ｙR ）、Ｇ画素の色度座標（ｘG ，ｙG ）及びＢ画素の色度座標（ｘB ，ｙB ）によって形成される三角形の内部に存在するものとする。また、その三角形の内部に目標白Ｗtの色度は存在するものとする。（ｘR ，ｙR ）、（ｘG ，ｙG ）、（ｘB ，ｙB ）及び（ｘW ，ｙW ）は、例えば、夫々（０．６３，０．３６）、（０．３１，０．６１）、（０．１４，０．１６）及び（０．２９，０．３３）となる。
【０１５０】
次に、ＲＧＢによるホワイトバランス（ＷＢ）調整時のＲＧＢ輝度値を算出する（ステップＳ３）。つまり、Ｒ画素、Ｇ画素及びＢ画素の３色の画素の発光のみによって、目標白Ｗt（２５５）の「輝度ＬWt及び色度座標（ｘWt ，ｙWt ）」を実現する場合における、Ｒ画素の輝度値（これをＬR1とする）、Ｇ画素の輝度値（これをＬG1とする）及びＢ画素の輝度値（これをＬB1とする）を算出する。これらの輝度値ＬR1、ＬG1及びＬB1は、下記の行列式（１６）から算出される。
【０１５１】
【数１】
2006330237.tif 000003
【０１５２】
但し、ｚR ＝１−ｘR −ｙR 、ｚG ＝１−ｘG −ｙG 、ｚB ＝１−ｘB −ｙB 、ｚWt＝１−ｘWt−ｙWtである。
【０１５３】
次に、ＲＧＢＷによるホワイトバランス（ＷＢ）調整時のＲＧＢＷ輝度値を算出する（ステップＳ４）。つまり、Ｒ画素、Ｇ画素、Ｂ画素及びＷ画素の４色の画素の発光によって、目標白Ｗt（２５５）の「輝度ＬWt及び色度座標（ｘWt ，ｙWt ）」を実現する場合における、Ｒ画素の輝度値（これをＬR2とする）、Ｇ画素の輝度値（これをＬG2とする）、Ｂ画素の輝度値（これをＬB2とする）及びＷ画素の輝度値（これをＬW2とする）を算出する。
【０１５４】
目標白Ｗtの色度座標は、「Ｒ画素の色度座標、Ｂ画素の色度座標及びＷ画素の色度座標によって形成される三角形の内部（若しくは辺上）」、「Ｇ画素の色度座標、Ｒ画素の色度座標及びＷ画素の色度座標によって形成される三角形の内部（若しくは辺上）」、又は「Ｂ画素の色度座標、Ｇ画素の色度座標及びＷ画素の色度座標によって形成される三角形の内部（又は辺上）」に存在しているため、目標白Ｗtの色度は、Ｗ画素を含む３色の画素の発光によって表現可能である。
【０１５５】
例えば、図２３に示すように、目標白Ｗtの色度座標が「Ｒ画素の色度座標、Ｂ画素の色度座標及びＷ画素の色度座標によって形成される三角形の内部」に存在する場合は、目標白Ｗtの色度は、Ｒ画素、Ｂ画素及びＷ画素の３色の画素の発光によって表現することができる。この場合、輝度度ＬR2、ＬB2及びＬW2は、下記の行列式（１７）から算出されると共に、輝度度ＬG2は０となる。
【０１５６】
【数２】
2006330237.tif 000004
【０１５７】
但し、ｚR ＝１−ｘR −ｙR 、ｚW ＝１−ｘW −ｙW 、ｚB ＝１−ｘB −ｙB 、ｚWt＝１−ｘWt−ｙWtである。
【０１５８】
そして、ステップＳ３及びステップＳ４にて算出された輝度値ＬR1等に基づき、下記式（１８）、（１９）及び（２０）に従って、Ｗ信号に変換されるＲＧＢ入力信号の比率を特定するαR、αG及びαBが算出される（ステップＳ５）。
【０１５９】
αR＝１／（１−ＬＲ２／ＬＲ１）  ・・・（１８）
αG＝１／（１−ＬＧ２／ＬＧ１）  ・・・（１９）
αB＝１／（１−ＬＢ２／ＬＢ１）  ・・・（２０）
【０１６０】
また、Ｄ／Ａ変換回路２には「Ｒに対するリファレンス電圧」、「Ｇに対するリファレンス電圧」及び「Ｂに対するリファレンス電圧」（以下、総称して「ＲＧＢに対するリファレンス電圧」という）、並びに「Ｗに対するリファレンス電圧」が与えられていて、Ｄ／Ａ変換回路２は、ＲＧＢに対するリファレンス電圧及びＷに対するリファレンス電圧を基準として、アナログ電圧のＲＧＢＷ信号を表示パネル３又は３ａに備えられた各単位画素に供給する。各単位画素の輝度は、供給されたアナログ電圧に応じて増減する。
【０１６１】
ステップＳ６においては、（Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ、Ｗｏｕｔ）＝（２５５、２５５、２５５、０）のＲＧＢＷ信号が供給されたときに、表示パネル３又は３ａの発光輝度および発光色の色度座標が、夫々、目標白Ｗt （２５５）の「輝度ＬWt及び色度座標（ｘWt ，ｙWt ）」となるように、ＲＧＢに対するリファレンス電圧（リファレンス輝度）が調整される。また、リファレンス電圧の調整は画素の種類ごとに行われる。即ち、（Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ、Ｗｏｕｔ）＝（２５５、０、０、０）のＲＧＢＷ信号がＤ／Ａ変換回路２に供給された時におけるＲ画素の輝度の値がステップＳ３で算出された輝度値ＬR1になるように「Ｒに対するリファレンス電圧」が調整され、且つ、（Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ、Ｗｏｕｔ）＝（０、２５５、０、０）のＲＧＢＷ信号がＤ／Ａ変換回路２に供給された時におけるＧ画素の輝度の値がステップＳ３で算出された輝度値ＬG1になるように「Ｇに対するリファレンス電圧」が調整され、且つ、（Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ、Ｗｏｕｔ）＝（０、０、２５５、０）のＲＧＢＷ信号がＤ／Ａ変換回路２に供給された時におけるＢ画素の輝度の値がステップＳ３で算出された輝度値ＬB1になるように「Ｂに対するリファレンス電圧」が調整される。このようにＲＧＢに対するリファレンス電圧が調整されると、ＲＧＢ入力信号の値が全て同じ値（即ち、Ｒｉｎ＝Ｇｉｎ＝Ｂｉｎ）である場合における表示パネル３又は３ａの発光色の色度は、常に目標白Ｗtの色度となる。
【０１６２】
また、Ｗに対するリファレンス電圧（リファレンス輝度）は、（Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ、Ｗｏｕｔ）＝（０、０、０、２５５）のＲＧＢＷ信号をＤ／Ａ変換回路２に供給することによってＷ画素のみを発光させたときに、その輝度がステップＳ４で算出されたＬW2となるように調整される（ステップＳ６）。尚、上記パネル調整処理を行うためにＤ／Ａ変換回路２に供給する必要のあるＲＧＢＷ信号（例えば、（Ｒｏｕｔ、Ｇｏｕｔ、Ｂｏｕｔ、Ｗｏｕｔ）＝（０、０、０、２５５））は、テスト回路によって生成される（図１、図６及び図１７等において不図示）。該テスト回路は、任意のＲＧＢＷ信号を生成可能であって、例えば、ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路１とＤ／Ａ変換回路２の間に挿入される。
【０１６３】
＜＜変形等＞＞
尚、実施形態として有機ＥＬ表示装置を説明したが、本発明は、表示パネルとして無機ＥＬ表示パネルを備えた無機ＥＬ表示装置、表示パネルとして液晶パネルを備えた液晶表示装置、プラズマディスプレイ等、様々な表示装置に適用することが可能である。
【０１６４】
また、ＲＧＢ画素の他に別途設ける必要のある単位画素はＷ画素に限定されない。ＸをＲＧＢ（赤、青、緑）以外の任意の色とし、上記の実施形態の説明文における「Ｗ」を全て「Ｘ」に置換しても構わない。つまり、本発明は、ＲＧＢＸ方式の表示パネルを備えた様々な表示装置に適用可能である。
【０１６５】
また、上述の実施形態において具体的に示した数値は、単なる例示であって、本発明は、そのような数値に限定されない。
【産業上の利用可能性】
【０１６６】
本発明は、液晶表示装置やプラズマディスプレイ装置等、様々な表示装置に好適である。本発明は、特に、有機ＥＬ表示パネル、無機ＥＬ表示パネル、ＰＤＰ（Plasma Display Panel）等の自発光型表示パネルを備えた表示装置に好適である。
【図面の簡単な説明】
【０１６７】
【図１】本発明の第１実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の全体的構成を示すブロック図である。
【図２】図１の表示パネル（有機ＥＬ表示パネル）に配列される１つのドットの構成を示した図である。
【図３】図１のＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路によるＲＧＢ入力信号のＲＧＢＷ信号への変換原理を説明するための図である。
【図４】上記変換原理を説明するための図である。
【図５】上記変換原理を説明するための図である。
【図６】図１のＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路の内部構成とその周辺の構成を表す図である。
【図７】図１の表示パネル（有機ＥＬ表示パネル）におけるドットの配列及びドット内の単位画素の配列を示した図である。
【図８】第１実施形態において適用される、欠陥画素の存在に応じたＷ画素の使用率の設定例（第１の設定例）を説明するための図である。
【図９】図６の比較器及び選択器への入力信号の具体例を表した図である（第１の設定例に対応）。
【図１０】上記設定例（第１の設定例）を説明するための図である。
【図１１】上記設定例（第１の設定例）を説明するための図である。
【図１２】上記設定例の他の例（第２の設定例）を説明するための図である。
【図１３】図６の比較器及び選択器への入力信号の具体例を表した図である（第２の設定例に対応）。
【図１４】上記設定例の他の例（第３の設定例）を説明するための図である。
【図１５】上記設定例の他の例（第４の設定例）を説明するための図である。
【図１６】上記設定例の他の例（第５の設定例）を説明するための図である。
【図１７】本発明の第２実施形態に係る有機ＥＬ表示装置の全体的構成を示すブロック図である。
【図１８】図１７の表示パネル（有機ＥＬ表示パネル）におけるドットの配列及びドット内の単位画素の配列を示した図である。
【図１９】第２実施形態において適用される上記設定例（第６の設定例）を説明するための図である。
【図２０】第２実施形態において適用される上記設定例（第７の設定例）を説明するための図である。
【図２１】第２実施形態において適用される上記設定例（第８の設定例）を説明するための図である。
【図２２】第１及び第２実施形態に係る有機ＥＬ表示装置に適用されるパネル調整処理の手順を説明するための図である。
【図２３】図７又は図１８におけるＲＧＢＷ画素の色度と、目標とされる白の色度との関係を表す図である。
【図２４】従来のＲＧＢＷ方式の表示パネル（有機ＥＬ表示パネル）を構成する単位画素の配列を示した図である。
【図２５】図２４の表示パネルにおいて白表示を行った場合の様子を示す図である。
【図２６】図２４の表示パネルにおいて白表示を行った場合の様子を示す図であって、白表示用の単位画素に欠陥があった場合を示す図である。
【図２７】本発明によって実現可能な効果を説明するための図である。
【符号の説明】
【０１６８】
１  ＲＧＢ−ＲＧＢＷ変換回路
２  Ｄ／Ａ変換回路
３、３ａ  有機ＥＬ表示パネル
１１  水平用カウンタ
１２  垂直用カウンタ
１３、１４  比較器
１５  欠陥位置指定部
１６  選択器
Ｄ１〜Ｄ１６  ドット
Ｗ1〜Ｗ16  Ｗ画素
Ｒ1〜Ｒ16  Ｒ画素
Ｇ1〜Ｇ16  Ｇ画素
Ｂ1〜Ｂ16  Ｂ画素
【図１】
2006330237.tif 000005
【図２】
2006330237.tif 000006
【図３】
2006330237.tif 000007
【図４】
2006330237.tif 000008
【図５】
2006330237.tif 000009
【図６】
2006330237.tif 000010
【図７】
2006330237.tif 000011
【図８】
2006330237.tif 000012
【図９】
2006330237.tif 000013
【図１０】
2006330237.tif 000014
【図１１】
2006330237.tif 000015
【図１２】
2006330237.tif 000016
【図１３】
2006330237.tif 000017
【図１４】
2006330237.tif 000018
【図１５】
2006330237.tif 000019
【図１６】
2006330237.tif 000020
【図１７】
2006330237.tif 000021
【図１８】
2006330237.tif 000022
【図１９】
2006330237.tif 000023
【図２０】
2006330237.tif 000024
【図２１】
2006330237.tif 000025
【図２２】
2006330237.tif 000026
【図２３】
2006330237.tif 000027
【図２４】
2006330237.tif 000028
【図２５】
2006330237.tif 000029
【図２６】
2006330237.tif 000030
【図２７】
2006330237.tif 000031