(57)【要約】  【課題】補正できない白キズが発生する電子カメラが出荷されるのを防止すること、および電子カメラで撮影された画像に白キズが出ないようにすること。  【解決手段】検査工程で補正可能な白キズが発生するとされたデジタルカメラ１のフラッシュメモリ２０ｄには、白キズを補正するための白キズ補正情報が記録されている。この情報は、白キズにかかる画素の座標と当該画素を補正するために用いる補正用画素の座標とから構成される。フラッシュメモリ２０ｄに白キズ補正情報が記録されており、且つＣＣＤ型撮像素子１３の温度が所定値以上である場合、制御部２０は、バッファメモリ１６に書き込まれたＲＡＷ形式の画像データ中の白キズにかかる画素のデータを補正用画素のデータを用いて補正する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
二次元に光電変換素子が配列されたＣＣＤ型撮像素子で得られたカラーの画像データをデジタル化して記録部に記録する電子カメラの検査方法において、
前記ＣＣＤ型撮像素子の周囲温度または前記ＣＣＤ型撮像素子自体の温度を所定温度にし、暗状態で撮影されたＲＡＷ形式の画像データを検査装置に取り込み、当該画像データの画像を表示する工程と、
表示された画像に白キズがあるか否かを判定する工程と、
白キズがない場合は、検査を終了する工程と、
白キズがある場合は、白キズにかかる画素を補正するために用いる補正用画素であって、白キズにかかる画素と同色の補正用画素を白キズにかかる画素を中心とする所定範囲内で探す工程と、
補正用画素が見つからなかった場合は、白キズを補正できない旨のメッセージを表示して検査を終了する工程と、
補正用画素が見つかった場合は、前記画像データ中の白キズにかかる画素のデータを前記画像データ中の補正用画素のデータを用いて補正する工程と、
補正された画像データの画像を表示する工程と、を備えることを特徴とする検査方法。
【請求項２】
請求項１に記載の検査方法において、
前記白キズにかかる画素の座標と前記補正用画素の座標とを対応付けて保存する工程をさらに備えることを特徴とする検査方法。
【請求項３】
二次元に光電変換素子が配列されたＣＣＤ型撮像素子で得られた画像データをデジタル化して記録部に記録する電子カメラにおいて、
白キズにかかる画素の座標と当該画素を補正するために用いる補正用画素の座標とが対応付けられた白キズ補正情報、または白キズの補正が不要である旨の情報を記憶する記憶部と、
前記ＣＣＤ型撮像素子の周囲温度または前記ＣＣＤ型撮像素子自体の温度を測る温度センサと、を備え、
前記記憶部に白キズ補正情報が記憶されており、且つ前記温度センサで測られた温度が所定値以上である場合は、前記画像データ中の前記記憶部に記憶された白キズにかかる画素のデータを、前記画像データ中の前記記憶部に記憶された補正用画素のデータを用いて補正することを特徴とする電子カメラ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、二次元に光電変換素子が配列されたＣＣＤ型撮像素子で得られた画像データをデジタル化して記録部に記録する電子カメラ、および電子カメラの検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
デジタルカメラやデジタルビデオカメラなどの電子カメラでは、被写体の画像がＣＣＤ型撮像素子で受像される。ＣＣＤ型撮像素子の画素数は１００万個を超えるので、入射光レベルが均一であるにもかかわらず、周辺の画素とは異なるレベルの信号を出力する欠陥画素が生じうる。そこで、電子カメラの出荷前に欠陥画素の位置情報をメモリに記憶しておき、欠陥画素の出力信号を周辺画素の出力信号から生成された信号で置き換えることが提案されている（例えば、特許文献１）。
【特許文献１】特開平２００３−２５９３８１号公報（段落０００１〜００１９）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、上記のＣＣＤ型撮像素子は、図７に示すように、二次元配列された多数のフォトダイオード５１と、垂直方向に配置されたフォトダイオード５１で光電変換された信号電荷をそれぞれ受取る複数の垂直ＣＣＤ５２と、複数の垂直ＣＣＤ５２から転送出力された信号電荷をパラレルに受取ってシリアルに出力する水平ＣＣＤ５３と、水平ＣＣＤ５３から出力される信号電荷を電圧信号に変換するプリアンプ５４とから構成される。この垂直ＣＣＤ５２に製造不良があると、垂直ＣＣＤ５２の欠陥箇所（これを×印で示す）で所定値を超える暗電流が発生することがある。
【０００４】
このような暗電流が発生すると、欠陥箇所および欠陥箇所の上流側にあるフォトダイオード５１の信号電荷が大きくなる。また、下流側にあるフォトダイオード５１の信号電荷が暗電流の影響を受けることもある。このため、撮影した画像をモニタやプリンタに出力すると、図８に示すように、垂直方向に白い線状のキズ６１（以下、白キズ６１という）が出る。図８の×印は、垂直ＣＣＤ５２の欠陥箇所に相当する位置を示す。暗電流は温度が高くなるに従って大きくなるので、常温（２５℃）では白キズ６１は生じない（肉眼では認識されない）が、高温（例えば、４０℃以上）になると目立つようになる。また、ＣＣＤ型撮像素子で受像される画像とモニタに表示される画像とは上下逆になるので、図８の×印の下方が垂直ＣＣＤ５２の上流側に相当する。尚、上記特許文献１に示されるものは、白キズ不良の問題を解決するものではない。
【０００５】
本発明は、上記問題点を解決するものであって、その課題とするところは、補正できない白キズが発生する電子カメラが出荷されるのを防止すること、および電子カメラで撮影された画像に白キズが出ないようにすることにある。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
第１の本発明では、二次元に光電変換素子が配列されたＣＣＤ型撮像素子で得られたカラーの画像データをデジタル化して記録部に記録する電子カメラの検査方法において、ＣＣＤ型撮像素子の周囲温度またはＣＣＤ型撮像素子自体の温度を所定温度にし、暗状態で撮影されたＲＡＷ形式の画像データを検査装置に取り込み、当該画像データの画像を表示する工程と、表示された画像に白キズがあるか否かを判定する工程と、白キズがない場合は、検査を終了する工程と、白キズがある場合は、白キズにかかる画素を補正するために用いる補正用画素であって、白キズにかかる画素と同色の補正用画素を白キズにかかる画素を中心とする所定範囲内で探す工程と、補正用画素が見つからなかった場合は、白キズを補正できない旨のメッセージを表示して検査を終了する工程と、補正用画素が見つかった場合は、画像データ中の白キズにかかる画素のデータを画像データ中の補正用画素のデータを用いて補正する工程と、補正された画像データの画像を表示する工程と、を備える。
【０００７】
ここで、白キズとは、二次元に光電変換素子が配列されたＣＣＤ型撮像素子で撮影された画像に現れる垂直方向の白い線状のキズであり、垂直ＣＣＤの欠陥箇所に所定値を超える暗電流が流れることにより発生するものである。また、白キズはＣＣＤ型撮像素子の温度が高くなるに従って顕著となる。
【０００８】
上記のように、ＣＣＤ型撮像素子の周囲温度などを所定温度にし、暗状態で撮影された画像データを用いて検査を行うので、垂直ＣＣＤに上記の欠陥がある場合には、常温では発生しない白キズが真黒な背景中に現われるので、白キズの有無を容易に判定できる。そして、上記のようにすることで、電子カメラを白キズ不良のないもの、白キズ不良を補正できるもの、および白キズ不良を補正できないものに分類できる。白キズ不良を補正できないものについては、その旨のメッセージが表示されるので、補正できない白キズが発生する電子カメラが出荷されるのを防止することができる。また、白キズ不良を補正できるものについては、補正措置を施すことにより白キズ不良のない電子カメラと同等なものにすることが可能となる。
【０００９】
第１の発明の実施形態においては、白キズにかかる画素の座標と補正用画素の座標とを対応付けて保存する工程をさらに備える。このようにして検査装置に保存された座標情報を別の工程で電子カメラの記憶部に記憶させ、この座標情報を用いて白キズにかかる画素を補正することにより、撮影された画像に白キズが出ないようにすることができる。つまり、ＣＣＤ型撮像素子に欠陥があっても、補正措置によって欠陥による悪影響（白スジ）が除去され、当該ＣＣＤ型撮像素子を交換する必要がなくなるので、修理の手間および部品コストを低減することができる。
【００１０】
第２の本発明では、二次元に光電変換素子が配列されたＣＣＤ型撮像素子で得られた画像データをデジタル化して記録部に記録する電子カメラにおいて、白キズにかかる画素の座標と当該画素を補正するために用いる補正用画素の座標とが対応付けられた白キズ補正情報、または白キズの補正が不要である旨の情報を記憶する記憶部と、ＣＣＤ型撮像素子の周囲温度またはＣＣＤ型撮像素子自体の温度を測る温度センサと、を備え、記憶部に白キズ補正情報が記憶されており、且つ温度センサで測られた温度が所定値以上である場合は、画像データ中の記憶部に記憶された白キズにかかる画素のデータを、画像データ中の記憶部に記憶された補正用画素のデータを用いて補正する。
【００１１】
ここで、白キズとは、二次元に光電変換素子が配列されたＣＣＤ型撮像素子で撮影された画像に現れる垂直方向の白い線状のキズであり、垂直ＣＣＤの欠陥箇所に所定値を超える暗電流が流れることにより発生するものである。また、白キズはＣＣＤ型撮像素子の温度が高くなるに従って顕著となる。
【００１２】
上記のように、白キズ不良にかかる画素の座標と当該画素を補正するために用いる補正用画素の座標とが対応付けられて記憶部に記憶されているので、画像データ中の白キズ不良にかかる画素のデータを補正用画素のデータを用いて確実に補正できる。すなわち、撮影された画像に白キズが出ないようにすることができる。また、白キズにかかる画素のデータの補正は、ＣＣＤ型撮像素子の周囲温度またはＣＣＤ型撮像素子自体の温度が所定値以上になったときにのみ行われるので、白キズ不良が発生していないのもかかわらず補正が行われて画像データが損なわれてしまうことが防止される。
【発明の効果】
【００１３】
第１の発明によれば、補正できない白キズが発生する電子カメラが出荷されるのを防止することができる。また、第２の発明によれば、白キズ不良にかかる画素のデータが補正用画素のデータを用いて確実に補正されるので、撮影された画像に白キズが出ないようにすることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
図１は、本発明に係る電子カメラの一例であるデジタルカメラの構成を示す。デジタルカメラ１のレンズ系１１を通って入光した被写体の光学像は、二次元に光電変換素子が配列されたＣＣＤ型撮像素子１３で電気信号に変換される。このＣＣＤ型撮像素子１３の受光面にはＲ、Ｇ、Ｂフィルタが貼付されている。また、レンズ系１１とＣＣＤ型撮像素子１３との間には、露光量を制御する絞り機構を備えたシャッタ１２が設けられている。ＣＣＤ型撮像素子１３から出力されるアナログ信号は、ＡＦＥ（アナログフロントエンド）内のＡ／Ｄ変換器１５でデジタル信号に変換され、さらにカラーの画像データとしてバッファメモリ１６に一時的に記憶される。このバッファメモリ１６に記憶される画像データは、各画素の階調レベルを８〜１０ビット程度で表すＲＡＷデータ（ＲＡＷ形式の画像データ）である。
【００１５】
信号処理回路１７は、バッファメモリ１６から出力される画像データに対して、画素補間処理などの画像処理を行い、さらに圧縮処理を施すことによりＪＰＥＧ形式などの画像データを生成する。そして、ＪＰＥＧ形式などの画像データが、記録部であるメモリカード１８に書き込まれる。また、ＲＡＷ形式の画像データを直接メモリカード１８に書き込むこともできる。ＣＣＤ型撮像素子１３の近くには温度センサ１４が設けられている。ここでは温度センサ１４でＣＣＤ型撮像素子１３の周囲温度を測っているが、温度センサ１４をＣＣＤ型撮像素子１３に密着させることにより、またはＣＣＤ型撮像素子１３内に埋め込むことにより、ＣＣＤ型撮像素子１３自体の温度を測るようにしてもよい。
【００１６】
制御部２０は、ＣＰＵ２０ａや、ＲＯＭ２０ｂ、ＲＡＭ２０ｃ、フラッシュメモリ２０ｄ、制御信号発生回路２０ｅなどから構成される。ＲＯＭ２０ｂに格納されたプログラムをＣＰＵ２０ａが実行することによって、デジタルカメラ１の各部が制御される。ＲＡＭ２０ｃはＣＰＵ２０ａの演算作業領域や制御データの格納領域として使用される。フラッシュメモリ２０ｄには、上述の白キズ６１（図８）を補正するための情報が記憶されており、この情報を用いて画像データ中の白キズ６１にかかる画素のデータが補正される。この点については後述する。制御信号発生回路２０ｅは、デジタルカメラ１の各部を制御するための制御信号を出力する。例えば、ＣＣＤ型撮像素子１３から信号電荷を読み出すためのクロック信号を出力する。図中の矢印付きの破線は制御信号を示す。
【００１７】
操作部１９は、シャッタボタンや、各種の動作設定を行うためのボタンを備えている。例えば、ある動作設定を行うことによって、ＲＡＷ形式の画像データがメモリカード１８に書き込まれるようになる。上記のもの以外にも、バッテリや、各種のメッセージや撮影した画像を表示するモニタ部、シャッタ１２の駆動機構、メモリカード１８に記録された画像データをパーソナルコンピュータに送るためのＵＳＢ端子などがデジタルカメラ１に設けられているが、本発明の直接的事項ではないので図示および説明を省く。
【００１８】
次に、上述の白キズ不良の補正について説明する。図２はフラッシュメモリ２０ｄに記憶されている白キズ補正情報を示す。白キズ補正情報は、白キズ６１（図８）にかかる画素の座標と、この画素のデータを補正するために用いる補正用画素の座標とからなり、両座標が対応付けられて予めフラッシュメモリ２０ｄに記憶されている。ここでは、Ｘ座標（図７の左右方向における座標）Ｘａ、Ｘｂに２つの白キズ６１があり、白キズ６１にかかる画素ごとに２つの補正用画素があるものとしている。例えば、座標（Ｘａ，Ｙｓ）の画素のデータは、座標（Ｘａ−２，Ｙｓ）および座標（Ｘａ＋２，Ｙｓ）の画素のデータを用いて補正される。この白キズ補正情報は、後述するデジタルカメラ１の検査工程で得られた情報がフラッシュメモリ２０ｄに書き込まれたものである。また、白キズ６１が発生しないデジタルカメラ１には、白キズ６１の補正が不要である旨の情報が記憶されている。
【００１９】
図３は白キズ不良の補正処理を示すフローチャートである。補正処理は、１画像分の画像データがバッファメモリ１６に書き込まれると起動される。まず、白キズ補正情報がフラッシュメモリ２０ｄに記憶されているか否かを制御部２０が調べ（Ｓ１）、当該情報が記憶されていない場合は（Ｓ１：ＮＯ）、何もせずに処理を終了する。当該情報が記憶されている場合は（Ｓ１：ＹＥＳ）、ＣＣＤ型撮像素子１３の温度が所定値以上であるか否かを制御部２０が調べる（Ｓ２）。ＣＣＤ型撮像素子１３の温度とは、温度センサ１４で測られたＣＣＤ型撮像素子１３の周囲温度である。また、所定値とは、白キズ６１が発生する温度（例えば、４０℃）である。
【００２０】
ＣＣＤ型撮像素子１３の温度が所定値未満であれば（Ｓ２：ＮＯ）、白キズ６１が発生しないので、何もせずに処理を終了する。ＣＣＤ型撮像素子１３の温度が所定値以上であれば（Ｓ２：ＹＥＳ）、白キズ６１にかかる画素のデータを２つの補正用画素のデータの平均値で置き換え（Ｓ３）、処理を終了する。ここでは２つの補正用画素のデータの平均値を用いて白キズ６１にかかる画素を補正したが、補正用画素の個数は１つでも３つ以上でもよい。また、複数の補正用画素の平均値に代えて、別のアルゴリズムで算出した値を採用するようにしてもよい。
【００２１】
上記のように、ＣＣＤ型撮像素子１３の温度が所定値以上である場合、すなわち白キズ不良が発生する場合は、白キズ不良にかかる画素が２つ補正用画素のデータを用いて補正されるので、白キズ６１のない画像データがメモリカード１８に記録される。また、ＣＣＤ型撮像素子１３の温度が所定値未満である場合、すなわち白キズ不良が発生しない場合は、白キズ不良にかかる画素の補正を行わないようにしているので、受光像通りの画像データがメモリカード１８に記録される。尚、上記のＣＣＤ型撮像素子１３の周囲温度とＣＣＤ型撮像素子１３自体の温度とは一定の関係にあるので、ＣＣＤ型撮像素子１３自体の温度が所定値以上であるか否かによってステップＳ２の判定を行うようにしてもよい。この場合の所定値は、上述の所定値よりも大きな値となる。
【００２２】
次に、デジタルカメラ１の検査工程で行われる白キズ不良の検査方法について説明する。図４は白キズ不良の検査の流れを示す。まず、デジタルカメラ１のＣＣＤ型撮像素子１３の周囲温度を所定温度にし、暗状態で撮影を行う（Ｓ１１）。この所定温度は、上述の暗電流によって白キズ６１が発生する温度、例えば４０℃である。また、上記の周囲温度に代えて、ＣＣＤ型撮像素子１３自体の温度を所定温度にして撮影するようにしてもよい。暗状態での撮影は、暗室や暗ボックス内で行われる。また、デジタルカメラ１の操作部１９で所定の動作設定を行い、シャッタ１２を閉じた状態で所定の期間にＣＣＤ型撮像素子１３に蓄積された信号電荷を取り出すようにしても、暗状態での撮影を行うことができる。この撮影によりＲＡＷ形式の画像データがメモリカード１８に書き込まれる。
【００２３】
図５は白キズ不良の検査用の検査装置の構成を示す。この検査装置３はパーソナルコンピュータなどで構成される。デジタルカメラ１から取り出されたメモリカードをカードリーダ３１に装着し、キーボード３２で所定の操作を行うと、演算制御部３３は、メモリカード１８中のＲＡＷ形式の画像データを検査装置３のメモリ３４に取り込み（Ｓ１２）、さらに画像データの画像を表示部３５に表示する（Ｓ１３）。この状態で、検査担当者が表示された画像に白キズ６１があるか否かを肉眼で判定する（Ｓ１４）。白キズ６１がないと判定した場合に（Ｓ１４：ＮＯ）、検査担当者がキーボード３２で所定の操作を行うと、処理が終了する。
【００２４】
白キズ６１があると判定した場合に（Ｓ１４：ＹＥＳ）、検査担当者がキーボード３２で所定の操作を行うと、演算制御部３３は、メモリ３４中の画像データから白キズ６１にかかる画素の座標を求める（Ｓ１５）。図６は白キズ６１のあるＲＡＷ形式の画像データを示す。Ｘ座標が複数の垂直ＣＣＤ５２（図７）のそれぞれに対応する。また、右上がりのハッチングがされている画素が白キズ６１にかかる画素４１である。ここでは、画素のデータ、すなわち階調値が所定値以上の画素が同じＸ座標に所定数（例えば、３つ）以上連続しているときに、当該画素を白キズ６１にかかる画素４１とする。ＲＡＷ形式の画像データが用いられるので、白キズ６１にかかる画素４１の座標は容易に求められる。
【００２５】
次に、演算制御部３３は、白キズ６１にかかる画素４１を中心とする所定範囲内で画素４１の補正に用いる補正用画素を探す（Ｓ１６）。補正用画素は、階調値が上記の所定値よりも小さい値（例えば、上記の所定値の１／５以下の値）であって、しかも画素４１と同色の画素である。また、所定範囲内で補正用画素を探すのは、階調レベルが近似している可能性の高い画素を用いて白キズ６１にかかる画素４１を補正するようにして、画質の劣化を防止するためである。ここでは、白キズ６１にかかる画素４１を座標（ｍ，ｎ）の画素４１ａとし、所定範囲をＸ座標がｍ−５からｍ＋５で、Ｙ座標がｎ−５からｎ＋５である範囲とする。補正用画素が見つからなかった場合（Ｓ１７：ＮＯ）、例えば画素４１ａの左右の列にも多数の白キズ６１が発生している場合は、画素４１ａを補正できないので、演算制御部３３は、白キズ６１を補正できない旨のメッセージを表示部３５に表示し（Ｓ２３）、処理を終了する。この場合、デジタルカメラ１を修理した後に再検査が行われる。
【００２６】
それに対し、補正用画素が見つかった場合は（Ｓ１７：ＹＥＳ）、演算制御部３３は、白キズ６１にかかる画素４１ａのデータを補正用画素のデータで置き換える（Ｓ１８）。このようにして、画素４１ａの補正が行われる。ここでは補正用画素の個数を２つとする。そして、見つかった補正用画素を４２ａ、４２ｂとすると、上記の置き換えは、２つの補正用画素４２ａ、４２ｂのデータの平均値によって行われる。補正用画素の個数は２つに限られるものではなく、１つでも３つ以上でもよい。また、複数の補正用画素の単純平均値に代えて、別のアルゴリズムで算出した値、例えば多数の補正用画素の座標に応じた加重平均値を用いるようにしてもよい。また、上記の所定範囲内で多数の補正用画素の候補が見つかった場合には、所定のアルゴリズムで選んだ必要個数だけを最終的な補正用画素とする。
【００２７】
そして、未だ補正されていない白キズ６１にかかる画素４１が残っていれば（Ｓ１９：ＮＯ）、再び上述のステップＳ１５〜Ｓ１８を繰返し、全ての白キズ６１にかかる画素４１の補正が終了すると（Ｓ１９：ＹＥＳ）、演算制御部３３は、補正された画像データの画像を表示部３５に表示する（Ｓ２０）。この状態で、最終確認をするために、検査担当者が表示された画像に白キズ６１があるか否かを再び肉眼で判定する（Ｓ２１）。白キズ６１があると判定した場合に（Ｓ２１：ＹＥＳ）、検査担当者がキーボード３２で所定の操作を行うと、演算制御部３３は、白キズ６１を補正できない旨のメッセージを表示部３５に表示し（Ｓ２３）、処理を終了する。
【００２８】
それに対し、白キズ６１がないと判定した場合に（Ｓ１４：ＮＯ）、検査担当者がキーボード３２で所定の操作を行うと、演算制御部３３は、白キズ補正情報として、白キズ６１にかかる画素４１の座標と補正用画素４１ａ，４２ｂなどの座標とを対応付けてメモリ３４に保存し（Ｓ２２）、処理を終了する。この白キズ補正情報は、別の工程でデジタルカメラ１のフラッシュメモリ２０ｄに書き込まれる。また、白キズ６１が元々なかった、すなわちステップＳ１４でＮＯと判定されたデジタルカメラ１のフラッシュメモリ２０ｄには白キズ６１の補正が不要である旨の情報が書き込まれる。
【００２９】
尚、ステップＳ２１に到達した時点では、全ての白キズ６１にかかる画素４１が補正されているので、ステップＳ２１の後にステップＳ２３が実行されるのは、検査担当者が誤判定またはキーボード３２の誤操作をした場合や、検査装置３が誤動作した場合などである。また、ステップＳ２１は最終確認をするだけのステップであるので、ステップＳ２１を省き、ステップＳ２０の直後にステップＳ２２を実行するようにしてもよい。
【００３０】
上記のようにすることで、デジタルカメラ１を白キズ不良のないもの、白キズ不良を補正できるもの、および白キズ不良を補正できないものに分類できるので、補正できない白キズ６１が発生するデジタルカメラ１が出荷されてしまうのを防止することができる。また、白キズ不良が補正可能なデジタルカメラ１については、ステップＳ２２で保存された白キズ補正情報が書き込まれたフラッシュメモリ２０ｄを実装することにより、上述のようにして白キズ６１が出ないようにすることができる。尚、このデジタルカメラ１は、寒冷地用のものとしてであれば、白キズ６１の補正処理を行わずに、そのまま使用することも可能である。
【００３１】
以上述べた実施形態においては、白キズ６１が視覚的に捉えられるものであることから、白キズ６１の有無を肉眼で判定するようにした（図４のステップＳ１４，Ｓ２１）が、演算制御部３３で白キズ６１の有無を自動判定するようにしても本発明を実施することができる。また、上記実施形態では、電子カメラの一例として、静止画像を記録するデジタルカメラ１について説明したが、動画像を記録するデジタルビデオカメラや短時間の動画像をも記録するデジタルカメラなどの電子カメラでも本発明を実施することができる。さらに、上記実施形態では、デジタルカメラ１の記録部がメモリカード１８である場合について説明したが、記録部は光ディスクや磁気記録媒体などであってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３２】
【図１】電子カメラの一例であるデジタルカメラの構成を示す図である。
【図２】フラッシュメモリに記憶されている白キズ補正情報を示す図である。
【図３】白キズ不良の補正処理を示すフローチャートである。
【図４】白キズ不良の検査の流れを示す図である。
【図５】白キズの検査用の検査装置の構成を示す図である。
【図６】白キズのあるＲＡＷ形式の画像データ示す図である。
【図７】ＣＣＤ型撮像素子の構成を示す図である。
【図８】白キズを示す図である。
【符号の説明】
【００３３】
１    デジタルカメラ
３    検査装置
１３  ＣＣＤ型撮像素子
１８  メモリカード
２０  制御部
２０ｄ  フラッシュメモリ
３３  演算制御部
３４  メモリ
３５  表示部
４１，４１ａ  白キズにかかる画素
４２ａ，４２ｂ  補正用画素
５１  フォトダイオード
５２  垂直ＣＣＤ
５３  水平ＣＣＤ
６１  白キズ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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