(57)【要約】【課題】  移動体内のセンサにより電子制御機器の異常状態を検知した際に、ＳＲＡＭ等に保存されるデータにより自己診断を行う電子制御装置、および電子制御機器のデータ保存方法に関し、異常状態が検知された場合にＳＲＡＭ等に保存されるデータの項目が増加した場合でも、コンピュータのＣＰＵ等の処理負荷の増大を抑えることを目的とする。【解決手段】  移動体内のセンサにより取得されるデータを一時的に保持する第１のデータ保存手段３と、電子制御機器９の異常状態が検知されたときに、第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段２とを備え、第２のデータ保存手段に保存されるデータ数を多くしてデータのサンプリング時間を短くし、または、第２のデータ保存手段に保存されるデータ数を少なくしてデータのサンプリング時間を長くするように構成される。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、
前記第２のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数を多くし、前記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くするように構成されることを特徴とする電子制御装置。
【請求項２】
移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、
前記第２のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数を少なくし、前記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を長くするように構成されることを特徴とする電子制御装置。
【請求項３】
移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、
前記第２のデータ保存手段に保存されるデータがそれぞれ更新されるタイミングが早いデータに関しては、前記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くし、前記データがそれぞれ更新されるタイミングが遅いデータに関しては、前記サンプリング時間を長くするように構成されることを特徴とする電子制御装置。
【請求項４】
移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、
前記電子制御機器の異常状態の検知時に検出される異常の周期に応じて、前記第２のデータ保存手段に前記データを保存する際の前記サンプリング間隔を変化させるように構成されることを特徴とする電子制御装置。
【請求項５】
移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、
前記第２のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数が固定されており、前記第２のデータ保存手段により前記データを保存する際の前記サンプリング間隔が可変に設定されることを特徴とする電子制御装置。
【請求項６】
前記異常状態が検知されるタイミングの前後で前記データをサンプリングする回数を示すサンプリング数が、外部検査ツールにより指定されるようになっていることを特徴とする請求項４または５記載の電子制御装置。
【請求項７】
移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、
前記第２のデータ保存手段に前記データを保存する際に、前記データの値の最小量子化ビットを変化させて前記データの値が小さくなるように構成されることを特徴とする電子制御装置。
【請求項８】
前記データの値の最小量子化ビットが、外部検査ツールにより指定されるようになっていることを特徴とする請求項７記載の電子制御装置。
【請求項９】
移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、
前記第２のデータ保存手段に前記データを時系列で保存する際に、前記電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後で前記データを保存するタイミングを変化させ、前記異常状態が検知されるタイミングの前後で前記データのサンプリング間隔が相対的に小さくなるように構成されることを特徴とする電子制御装置。
【請求項１０】
前記異常状態が検知されるタイミングの前後で前記データを保存するタイミングが、外部検査ツールにより指定されるようになっていることを特徴とする請求項９記載の電子制御装置。
【請求項１１】
移動体内の電子制御機器を制御して前記電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置において、
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、
前記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、前記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、
前記第２のデータ保存手段に前記データを時系列で保存する際に、前記電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所で前記データのサンプリング間隔を小さくし、前記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所で前記データのサンプリング間隔を大きくするように構成されることを特徴とする電子制御装置。
【請求項１２】
前記異常状態が検知されるタイミングに近い箇所での前記データのサンプリング間隔と、前記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所での前記データのサンプリング間隔との比率が、外部検査ツールにより指定されるようになっていることを特徴とする請求項１１記載の電子制御装置。
【請求項１３】
前記異常状態が検知されるタイミングの前後で前記データをサンプリングする回数を示すサンプリング数が、外部検査ツールにより指定されるようになっていることを特徴とする請求項９または１１記載の電子制御装置。
【請求項１４】
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第１のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、
移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第２のデータ保存手段により、前記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、
前記第２のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、前記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、
前記第２のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数を多くし、前記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くすることを特徴とする電子制御機器のデータ保存方法。
【請求項１５】
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第１のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、
移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第２のデータ保存手段により、前記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、
前記第２のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、前記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、
前記第２のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数を少なくし、前記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を長くすることを特徴とする電子制御機器のデータ保存方法。
【請求項１６】
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第１のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、
移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第２のデータ保存手段により、前記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、
前記第２のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、前記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、
前記第２のデータ保存手段に保存されるデータがそれぞれ更新されるタイミングが早いデータに関しては、前記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くし、前記データがそれぞれ更新されるタイミングが遅いデータに関しては、前記サンプリング時間を長くすることを特徴とする電子制御機器のデータ保存方法。
【請求項１７】
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第１のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、
移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第２のデータ保存手段により、前記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、
前記第２のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、前記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、
前記電子制御機器の異常状態の検知時に検出される異常の周期に応じて、前記第２のデータ保存手段に前記データを保存する際の前記サンプリング間隔を変化させることを特徴とする電子制御機器のデータ保存方法。
【請求項１８】
移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第１のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、
移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第２のデータ保存手段により、前記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、
前記第２のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、前記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、
前記第２のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数が固定されており、前記第２のデータ保存手段により前記データを保存する際の前記サンプリング間隔が可変に設定されることを特徴とする電子制御機器のデータ保存方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、車両等の移動体内の複数のセンサ等により移動体内の電子制御機器の異常状態を検知した際に、予め定められたデータをＳＲＡＭ（Stand-by Random Access Memory ：スタンバイ・ランダム・アクセス・メモリ）等のバックアップ機能付きの主記憶装置に保存し、この主記憶装置に保存されているデータに基づいて当該電子制御機器の自己診断を行う機能を有する電子制御装置、および電子制御機器のデータ保存方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、車両等の移動体内には、通常ＥＣＵ（Electronic Control Unit ：電子制御ユニット）とも呼ばれるコンピュータが内蔵された電子制御装置が設けられている。このような電子制御装置においては、運転者等が快適な運転を行えるようにするために、移動体内の電子制御機器（例えば、電子制御式エンジン）を正しく制御して当該電子制御機器の適切な自己診断を行う機能、すなわち、ダイアグノーシス機能が組み込まれている。
【０００３】
このダイアグノーシス機能に関連して、車両等の移動体内には、電子制御機器の現在の状態を正確に把握することができるようにするために、Ａ／Ｆセンサ（空燃比センサ）や水温センサや排気温センサ等の各種のセンサが取り付けられている。このような各種のセンサにより検出された検出信号は、Ａ／Ｄコンバータ（アナログ／ディジタルコンバータ）等によりディジタル信号に変換された後に、センサ検出データとして、コンピュータ内のＮＲＡＭ（Normal Random Access Memory ：ノーマル・ランダム・アクセス・メモリ、通常、単にＲＡＭと略記される））等の主記憶装置に一時的に保持される。このようなＮＲＡＭ等の主記憶装置は、一般に揮発性メモリと呼ばれており、車両等の移動体のイグニッションスイッチがオンになっている期間だけ、各々のセンサ検出データが更新されるタイミングに応じた周期でセンサ検出データを保持するようになっている。それゆえに、イグニッションスイッチがオフになったときに、ＮＲＡＭ等に保持されているセンサ検出データは全て消失する。
【０００４】
また一方で、移動体内の電子制御装置において、ＮＲＡＭ等に保持されているセンサ検出データに基づいて移動体の電子制御機器に何らかの異常が発生している（すなわち、電子制御機器が異常状態になっている）ことが検知された場合、ＮＲＡＭ等に保持されているセンサ検出データの中から予め定められたデータ（例えば、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後のデータ）を取り出し、コンピュータ内のＳＲＡＭ等のバックアップ機能付きの主記憶装置に一定のサンプリング間隔（例えば、５００ｍｓｅｃ（ミリ秒））で保存するようになっている。
【０００５】
このようなＳＲＡＭ等のバックアップ機能付きの主記憶装置は、移動体内のバッテリに接続されており、このバッテリからバックアップ用の電源電圧が常時供給されるようになっている。それゆえに、イグニッションスイッチがオフになっても、ＳＲＡＭ等に保存されているデータは消失しない。したがって、整備工場等において、ＳＲＡＭ等に保存されているデータを読み出して電子制御機器の異常発生の原因の解析に役立てることにより、当該電子制御機器の自己診断を行うことができるようになる。
【０００６】
上記のように、移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、予め定められたデータをＳＲＡＭ等のバックアップ機能付きの主記憶装置に保存する処理は、通常「フリーズ」と呼ばれている。
【０００７】
近年、電子制御装置内のコンピュータのＣＰＵ（Central Processing Unit ：中央演算処理装置）等によるソフトウェア処理の高機能化および複雑化に伴って、フリーズの処理時にＳＲＡＭ等の主記憶装置に保存されるべきデータの項目（データ数）が顕著に増加していく傾向になっている。
【０００８】
しかしながら、それにもかかわらず、従来の電子制御装置においては、電子制御機器の異常状態が検知された場合にＳＲＡＭ等の主記憶装置にデータを保存する際に、一定のサンプリング間隔かつ一定のサンプリング時間で全ての項目のデータを保存するようになっている。ここで、「サンプリング間隔」とは、ある１つのサンプリングのタイミングでＳＲＡＭ等にデータが保存される時刻と次のサンプリングのタイミングでＳＲＡＭ等にデータが保存される時刻との間の時間間隔を指しており、「サンプリング時間」とは、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後でＳＲＡＭ等の主記憶装置に連続してデータを保存するための期間を指している。
【０００９】
このため、従来の電子制御装置では、フリーズの処理時にＳＲＡＭ等の主記憶装置に保存されるべきデータの項目が増加する度に、ＳＲＡＭ等の主記憶装置に実際に保存されるデータの量も増加していくことになる。それゆえに、コンピュータのＣＰＵ等により当該データを処理する際のＣＰＵの処理負荷が急激に増大し、通常の処理速度で当該データを処理することが困難になるという問題が生じてきた。
【００１０】
また一方で、従来の電子制御装置では、データが更新されるタイミングが比較的遅い（例えば、データが更新される周期が長い）ようなセンサ検出データに関しても一定のサンプリング間隔かつ一定のサンプリング時間で保持されるようになっているので、ＳＲＡＭ等の主記憶装置の容量が無駄に消費されるという問題も生じてきた。この結果、電子制御機器の異常状態が検知された場合に、ＳＲＡＭ等の主記憶装置にデータを効率良く保存することができなくなる。
【００１１】
ここで、参考のため、従来の電子制御装置に関連した技術内容が記載された特許文献１（特開２００４−２３２４９８号公報）および特許文献２（特開平７−４６６７６号公報）を呈示する。
【００１２】
特許文献１においては、各種のセンサからのセンサ検出データを含む複数種類の要保存データが、それぞれ変化する時間変化の大小を基準にグループ分けし、グループ毎に要保存データをバックアップ用のＲＡＭに保存する際のバックアップ周期（サンプリング間隔）を設定するようにしたダイアグノーシス機能を有する車両用電子制御装置の構成が開示されている。
【００１３】
特許文献２においては、診断装置から選択された電子制御装置に対して送信される要求メッセージの中に、要求する診断処理の内容に合わせて、その診断継続時間を指定する診断継続時間情報を組み込むようにし、選択された電子制御装置において、上記要求メッセージを受信した後、診断継続時間情報によって指定された時間に達するまで当該診断処理を実行するような車両診断用通信システムの構成が開示されている。
【００１４】
しかしながら、特許文献１および特許文献２のいずれにおいても、フリーズの処理時にＳＲＡＭ等の主記憶装置に保存されるべきデータの項目が増加する度に、ＳＲＡＭ等の主記憶装置に実際に保存されるデータの量も増加し、コンピュータのＣＰＵ等の処理負荷が急激に増大するといったような問題に対処するための方策には一切言及していない。
【００１５】
【特許文献１】特開２００４−２３２４９８号公報
【特許文献２】特開平７−４６６７６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１６】
本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合にＳＲＡＭ等の主記憶装置に保存されるべきデータの項目が顕著に増加したときでも、コンピュータのＣＰＵ等の処理負荷が増大したりＳＲＡＭ等の主記憶装置の容量が無駄に消費されたりするのを抑制することを可能にするような電子制御装置、および電子制御機器のデータ保存方法を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【００１７】
上記問題点を解決するために、本発明の第１の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段（例えば、ＮＲＡＭ等の主記憶装置）と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段（例えば、ＳＲＡＭ等の主記憶装置）とを備え、上記第２のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数（データの項目）を多くし、上記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くするように構成される。
【００１８】
さらに、本発明の第２の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、上記第２のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数を少なくし、上記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を長くするように構成される。
【００１９】
さらに、本発明の第３の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、上記第２のデータ保存手段に保存されるデータがそれぞれ更新されるタイミングが早いデータに関しては、上記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くし、上記データがそれぞれ更新されるタイミングが遅いデータに関しては、上記サンプリング時間を長くするように構成される。
【００２０】
さらに、本発明の第４の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、上記電子制御機器の異常状態の検知時に検出される異常の周期に応じて、上記第２のデータ保存手段に上記データを保存する際の上記サンプリング間隔を変化させるように構成される。
【００２１】
さらに、本発明の第５の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、上記第２のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数が固定されており、上記第２のデータ保存手段により上記データを保存する際の上記サンプリング間隔が可変に設定される。
【００２２】
好ましくは、本発明の電子制御装置において、上記異常状態が検知されるタイミングの前後で上記データをサンプリングする回数を示すサンプリング数が、外部検査ツールにより指定されるようになっている。
【００２３】
さらに、本発明の第６の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、上記第２のデータ保存手段に上記データを保存する際に、上記データの値の最小量子化ビット（通常、ＬＳＢ（Least Significant Bit ）と略記される）を変化させて上記データの値が小さくなるように構成される。
【００２４】
好ましくは、本発明の電子制御装置において、上記データの値の最小量子化ビットが、外部検査ツールにより指定されるようになっている。
【００２５】
さらに、本発明の第７の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、上記第２のデータ保存手段に上記データを時系列で保存する際に、上記電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後で上記データを保存するタイミングを変化させ、上記異常状態が検知されるタイミングの前後で上記データのサンプリング間隔が相対的に小さくなるように構成される。
【００２６】
ここで、「第２のデータ保存手段にデータを時系列で保存する」とは、一定の周期毎にフリーズ処理を行うことによってＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段にデータを保存することを意味している。
【００２７】
好ましくは、本発明の電子制御装置において、上記異常状態が検知されるタイミングの前後で上記データを保存するタイミングが、外部検査ツールにより指定されるようになっている。
【００２８】
さらに、本発明の第８の態様に係る電子制御装置は、移動体内の電子制御機器を制御して上記電子制御機器の自己診断を行う機能を有し、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを一時的に保持するための第１のデータ保存手段と、上記電子制御機器の異常状態が検知されたときに、上記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの第２のデータ保存手段とを備え、上記第２のデータ保存手段に上記データを時系列で保存する際に、上記電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所で上記データのサンプリング間隔を小さくし、上記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所で上記データのサンプリング間隔を大きくするように構成される。
【００２９】
好ましくは、本発明の電子制御装置において、上記異常状態が検知されるタイミングに近い箇所での上記データのサンプリング間隔と、上記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所での上記データのサンプリング間隔との比率が、外部検査ツールにより指定されるようになっている。
【００３０】
さらに、好ましくは、本発明の電子制御装置において、上記異常状態が検知されるタイミングの前後で上記データをサンプリングする回数を示すサンプリング数が、外部検査ツールにより指定されるようになっている。
【００３１】
また一方で、本発明の電子制御機器のデータ保存方法は、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第１のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第２のデータ保存手段により、上記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、上記第２のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、上記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、上記第２のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数を多くし、上記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くするようになっている。
【００３２】
さらに、本発明の電子制御機器のデータ保存方法は、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第１のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第２のデータ保存手段により、上記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、上記第２のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、上記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、上記第２のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数を少なくし、上記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を長くするようになっている。
【００３３】
さらに、本発明の電子制御機器のデータ保存方法は、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第１のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第２のデータ保存手段により、上記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、上記第２のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、上記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、上記第２のデータ保存手段に保存されるデータがそれぞれ更新されるタイミングが早いデータに関しては、上記データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くし、上記データがそれぞれ更新されるタイミングが遅いデータに関しては、上記サンプリング時間を長くするようになっている。
【００３４】
さらに、本発明の電子制御機器のデータ保存方法は、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第１のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第２のデータ保存手段により、上記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、上記第２のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、上記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、上記電子制御機器の異常状態の検知時に検出される異常の周期に応じて、上記第２のデータ保存手段に上記データを保存する際の上記サンプリング間隔を変化させるようになっている。
【００３５】
さらに、本発明の電子制御機器のデータ保存方法は、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータを第１のデータ保存手段により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器の異常状態が検知されたときに、バックアップ機能付きの第２のデータ保存手段により、上記第１のデータ保存手段内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、上記第２のデータ保存手段に保存されるデータに基づいて、上記電子制御機器の自己診断を行うステップとを含み、上記第２のデータ保存手段に保存されるデータのデータ数が固定されており、上記第２のデータ保存手段により上記データを保存する際の上記サンプリング間隔が可変に設定されるようになっている。
【発明の効果】
【００３６】
要約すれば、本発明では、第１に、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合、予め定められたデータをＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に保存する際に、当該データのデータ数（データの項目）を多くしてサンプリング時間を短くするか、または、当該データのデータ数を少なくしてサンプリング時間を長くするようにしている。
【００３７】
これによって、フリーズの処理時にＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に保存されるべきデータの項目が顕著に増加した場合でも、ＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に実際に保存されるデータの量を節減することができるので、コンピュータのＣＰＵ等の処理負荷の増大が抑制され、ＳＲＡＭ等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。
【００３８】
さらに、本発明では、第２に、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合、予め定められたデータをＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に保存する際に、当該データがそれぞれ更新されるタイミングが早いか遅いかに応じて、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くするかまたは長くするようにしている。
【００３９】
これによって、フリーズの処理時にＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に保存されるべきデータの項目が顕著に増加した場合でも、ＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段の容量が無駄に消費されることがなくなるので、コンピュータのＣＰＵ等の処理負荷の増大が抑制され、ＳＲＡＭ等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。
【００４０】
さらに、本発明では、第３に、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合、予め定められたデータをＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に保存する際に、電子制御機器の異常状態に関する異常の周期に応じて、ＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に当該データを保存する際のサンプリング間隔を変化させるようにしている。
【００４１】
これによって、フリーズの処理時にＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に保存されるべきデータの項目が顕著に増加した場合でも、電子制御機器の異常の周期に応じてＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に実際に保存されるデータのサンプリング間隔を調整することができるので、ＳＲＡＭ等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。
【００４２】
さらに、本発明では、第４に、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合、予め定められたデータをＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に保存する際に、当該データの項目を固定したままで、当該データを保存する際のサンプリング間隔が可変に設定されるようにしている。
【００４３】
これによって、フリーズの処理時にＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に保存されるべきデータの項目が固定された状態で、ＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段の容量を充分に利用して当該データをＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に保存することができるので、電子制御機器の異常発生の原因の解析に大いに役立てることが可能になる。
【００４４】
さらに、本発明では、第５に、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合、予め定められたデータをＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に保存する際に、当該データの値のＡ／Ｄ変換（アナログ／ディジタル変換）を行う際の最小量子化ビット（ＬＳＢ）を変化させて上記データの値が小さくなるようにしている。
【００４５】
これによって、特にＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段の容量が比較的小さい場合でも、ＳＲＡＭ等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。
【００４６】
さらに、本発明では、第６に、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合、予め定められたデータをＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に時系列で保存する際に、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後でのみ当該データのサンプリング間隔を相対的に小さくするようにしている。
【００４７】
これによって、特にＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段の容量が比較的小さい場合でも、ＳＲＡＭ等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。
【００４８】
さらに、本発明では、第７に、車両等の移動体内の電子制御機器の異常状態が検知された場合、予め定められたデータをＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に時系列で保存する際に、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所で当該データのサンプリング間隔を小さくし、上記異常状態が検知されるタイミングから遠くなるにつれて上記データのサンプリング間隔を大きくするようにしている。
【００４９】
これによって、特にＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段の容量が比較的小さい場合でも、ＳＲＡＭ等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。しかも、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングから多少離れている箇所のデータもＳＲＡＭ等の第２のデータ保存手段に保存することができるので、電子制御機器の異常発生の原因の解析に大いに役立てることが可能になる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００５０】
以下、添付図面（図１〜図９）を参照しながら、本発明の好ましい実施の形態を説明する。
【００５１】
図１は、本発明の一実施例に係る電子制御装置の構成を示すブロック図である。ただし、ここでは、電子制御式エンジン等の電子制御機器９を制御するための電子制御装置１の構成を簡略化して示す。なお、これ以降、前述した構成要素と同様のものについては、同一の参照番号を付して表すこととする。
【００５２】
図１に示すように、車両等の移動体には、電子制御式エンジン等の電子制御機器９の現在の状態を正確に把握して電子制御機器９に異常が発生したこと（すなわち、電子制御機器が異常状態になっていること）を検知することができるようにするために、各種のセンサを含むセンサ部５が設けられている。
【００５３】
上記の各種のセンサとして、電子制御式エンジン等の空気対燃料比を感知するＡ／Ｆセンサ５０、電子制御式エンジン等に使用される水温を感知する水温センサ５１、電子制御式エンジン等に使用される酸素の濃度を感知する酸素濃度センサ５２、車両等のノッキングを感知するノッキングセンサ５３、電子制御式エンジン等に使用されるオイルの温度を感知する油温センサ５４、電子制御式エンジン等の排気温を感知する排気温センサ５５、電子制御式エンジン等の吸気温を感知する吸気温センサ５６、車両等のトルクを感知するトルクセンサ５７、車両等のクランク角を感知するクランク角センサ５８、車両等の走行速度を感知する車速センサ５９、および車両等のスロットルポジションを感知するスロットルポジションセンサ６０等が挙げられる。
【００５４】
図１の電子制御装置１は、電子制御式エンジン等の電子制御機器９を制御して電子制御機器９の自己診断を行う機能（すなわち、ダイアグノーシス機能）を有するＣＰＵ４と、電子制御機器９の自己診断を実行させるためのプログラムを含む各種のプログラムを格納するＲＯＭ（Read-only Memory：リード・オンリ・メモリ）１０と、各種のプログラムに関連したデータや各種のセンサにより取得されるセンサ検出データを一時的に保持するための主記憶装置であるＲＡＭ３と、センサ検出データ等に基づいて電子制御機器９の異常状態が検知されたときに、ＲＡＭ３内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するためのバックアップ機能付きの主記憶装置であるＳＲＡＭ２とを備えている。ここで、上記のＲＡＭ３は、本発明の第１の保存手段に対応しており、上記のＳＲＡＭ２は、本発明の第２の保存手段に対応している。
【００５５】
さらに、図１の電子制御装置１は、入力側の各種のセンサおよびバッテリ７とのインタフェースを取る入力インタフェース回路１１と、一部のセンサ（例えば、Ａ／Ｆセンサ５０、水温センサ５１および油温センサ５４等）からのアナログ形式の検出信号をディジタル形式の検出信号に変換するＡ／Ｄコンバータ１２と、出力側の電子制御機器９とのインタフェースを取る出力インタフェース回路１３とを備えている。
【００５６】
例えば、図１の電子制御装置１では、Ａ／Ｆセンサ５０、水温センサ５１、酸素濃度センサ５２、ノッキングセンサ５３、油温センサ５４、排気温センサ５５および吸気温センサ５６等の各種のセンサにより検出されたアナログ形式の検出信号が、入力インタフェース回路１１を介してＡ／Ｄコンバータ１２に入力され、このＡ／Ｄコンバータ１２によりディジタル形式の検出信号に変換された後に、ＣＰＵ４に入力される。また一方で、トルクセンサ５７、クランク角センサ５８、車速センサ５９およびスロットルポジションセンサ６０等により検出されたディジタル形式の検出信号が、入力インタフェース回路１１を介してＣＰＵ４に入力される。
【００５７】
さらに、図１の電子制御装置１は、バッテリ７を使用してＣＰＵ４およびＲＡＭ３等に一定の電圧を供給する定電圧電源７０と、バッテリ７を使用してＳＲＡＭ２にバックアップ用の電源電圧を供給するバックアップ電源７１とを備えている。定電圧電源７０は、車両等の移動体のイグニッションスイッチがオンになっている期間だけ、ＣＰＵ４およびＲＡＭ３等に一定の電圧を供給している。また一方で、バックアップ電源７１は、イグニッションスイッチのオン／オフに関係なく、ＳＲＡＭ２にバックアップ用の電源電圧を常時供給している。
【００５８】
さらに、図１の電子制御装置１において、ＣＰＵ４に入力されたディジタル形式の検出信号は、センサ検出データとして、ＲＡＭ３に一時的に保持される。前述のように、ＲＡＭ３では、車両等の移動体のイグニッションスイッチがオンになっている期間だけ、各々のセンサ検出データが更新されるタイミングに応じた周期でセンサ検出データを保持するようになっている。それゆえに、イグニッションスイッチがオフになったときに、ＲＡＭ３に保持されているセンサ検出データは全て消失する。このＲＡＭ３は、通常、揮発性メモリと呼ばれている。
【００５９】
また一方で、ＲＡＭ３に保持されているセンサ検出データ等に基づいて電子制御機器９に何らかの異常が発生していることが検知された場合、ＲＡＭ３に保持されているセンサ検出データの中から予め定められたデータ（例えば、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後のデータ）を取り出し、ＳＲＡＭ２に所定のサンプリング間隔で保存するようになっている。
【００６０】
前述のように、ＳＲＡＭ２では、バックアップ電源７１によって、バックアップ用の電源電圧が常時供給される。それゆえに、イグニッションスイッチがオフになっても、ＳＲＡＭ２に保存されているデータは消失しない。したがって、ＳＲＡＭ等に保存されているデータを読み出して電子制御機器の異常発生の原因の解析に役立てることにより、当該電子制御機器の自己診断を行うことが可能になる。
【００６１】
好ましくは、電子制御装置１内の主記憶装置の容量の節減を図るために、図１に示すように、ＲＡＭ３（揮発性メモリ）が全てＳＲＡＭ２の領域に含まれるような構成になっている。また一方で、ＲＡＭ３は、ＳＲＡＭ２の領域に対する電源の立ち上げ時（パワーオンのとき）に全てリセットされ、ＮＲＡＭとして使用される。ただし、本発明の実施例に係る電子制御装置は、必ずしも上記のような構成に限定されるものではない。
【００６２】
さらに、図１の電子制御装置１には、スキャンツール等の外部検査ツール８が接続されている。この外部検査ツール８によって、電子制御機器９の異常状態が検知されるタイミングの前後で予め定められたデータをサンプリングする回数を示すサンプリング数や、上記異常状態が検知されるタイミングの前後で予め定められたデータを保存するタイミングが指定されるようになっている。
【００６３】
好ましい実施形態として、図１の電子制御装置１において、フリーズ時に予め定められたデータをＳＲＡＭ２に保存する場合、ＳＲＡＭ２に保存されるデータのデータ数（データの項目）が多いときには、当該データのデータ数を優先させ、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くするようにした条件が予め設定される。このような条件は、ＣＰＵ４により、ＲＯＭ１０に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。
【００６４】
さらに、好ましい実施形態として、図１の電子制御装置１において、フリーズ時に予め定められたデータをＳＲＡＭ２に保存する場合、ＳＲＡＭ２に保存されるデータのデータ数が少ないときには、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を優先させ、少ないデータ数のデータを保存するようにした条件が予め設定される。このような条件は、ＣＰＵ４により、ＲＯＭ１０に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。
【００６５】
さらに、好ましい実施形態として、図１の電子制御装置１において、フリーズ時に予め定められたデータをＳＲＡＭ２に保存する場合、ＳＲＡＭ２に保存されるデータがそれぞれ更新されるタイミングが早いデータ（すなわち、データ自体の更新速度が速いデータ）に関しては、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くし、当該データがそれぞれ更新されるタイミングが遅いデータ（すなわち、データ自体の更新速度が遅いデータ）に関しては、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を長くするようにした条件が予め設定される。このような条件は、ＣＰＵ４により、ＲＯＭ１０に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。
【００６６】
さらに、好ましい実施形態として、図１の電子制御装置１において、フリーズ時に予め定められたデータをＳＲＡＭ２に保存する場合、電子制御機器９の異常状態の検知時に検出される異常の周期に応じて、ＳＲＡＭ２に当該データを保存する際のサンプリング間隔を変化させるようにした条件が予め設定される。このような条件は、ＣＰＵ４により、ＲＯＭ１０に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。
【００６７】
さらに、好ましい実施形態として、図１の電子制御装置１において、フリーズ時に予め定められたデータをＳＲＡＭ２に保存する場合、ＳＲＡＭ２に保存されるデータのデータ数を固定したままで、当該データを保存する際のサンプリング間隔が可変になるようにした条件が予め設定される。このような条件は、ＣＰＵ４により、ＲＯＭ１０に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。
【００６８】
さらに、好ましい実施形態として、図１の電子制御装置１において、フリーズ時に予め定められたデータをＳＲＡＭ２に保存する場合、Ａ／Ｄコンバータ１２により当該データの値のＡ／Ｄ変換を行う際の最小量子化ビット（ＬＳＢ）を変化させて上記データの値が小さくなるようにした条件が予め設定される。このような条件は、ＣＰＵ４により、ＲＯＭ１０に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。
【００６９】
さらに、好ましい実施形態として、当該データの値の最小量子化ビットは、電子制御装置１に接続される外部検査ツール８によって指定されることも可能である。
【００７０】
さらに、好ましい実施形態として、図１の電子制御装置１において、フリーズ時に予め定められたデータをＳＲＡＭ２に時系列で保存する場合、電子制御機器９の異常状態が検知されるタイミングの前後で当該データを保存するタイミングを変化させ、上記異常状態が検知されるタイミングの前後でのみ当該データのサンプリング間隔が相対的に小さくなるようにした条件が予め設定される。このような条件は、ＣＰＵ４により、ＲＯＭ１０に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。
【００７１】
さらに、好ましい実施形態として、図１の電子制御装置１において、フリーズ時に予め定められたデータをＳＲＡＭ２に時系列で保存する場合、電子制御機器９の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所で当該データのサンプリング間隔を最も小さくし、上記異常状態が検知されるタイミングから遠くなるにつれて当該データのサンプリング間隔を大きくするようにした条件が予め設定される。このような条件は、ＣＰＵ４により、ＲＯＭ１０に格納されているプログラムを読み出して実行させることによって設定されることが可能である。
【００７２】
さらに、好ましい実施形態として、上記異常状態が検知されるタイミングに近い箇所での当該データのサンプリング間隔と、上記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所での当該データのサンプリング間隔との比率が、電子制御装置１に接続される外部検査ツール８によって指定されることも可能である。
【００７３】
より具体的にいえば、図１の電子制御装置１内のＲＯＭ１０に格納されているプログラムは、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータをＲＡＭ３により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器９の異常状態が検知されたときに、ＳＲＡＭ２により、ＲＡＭ３内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、ＳＲＡＭ２に保存されるデータに基づいて、電子制御機器９の自己診断を行うステップとを含み、ＳＲＡＭ２に保存されるデータのデータ数（データの項目）が多いときには、上記プログラムによって、当該データのデータ数を優先させ、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くするようにした条件が設定される。
【００７４】
また一方で、図１の電子制御装置１内のＲＯＭ１０に格納されているプログラムは、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータをＲＡＭ３により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器９の異常状態が検知されたときに、ＳＲＡＭ２により、ＲＡＭ３内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、ＳＲＡＭ２に保存されるデータに基づいて、電子制御機器９の自己診断を行うステップとを含み、ＳＲＡＭ２に保存されるデータのデータ数が少ないときには、上記プログラムによって、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を優先させ、少ないデータ数のデータを保存するようにした条件が設定される。
【００７５】
また一方で、図１の電子制御装置１内のＲＯＭ１０に格納されているプログラムは、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータをＲＡＭ３により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器９の異常状態が検知されたときに、ＳＲＡＭ２により、ＲＡＭ３内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、ＳＲＡＭ２に保存されるデータに基づいて、電子制御機器９の自己診断を行うステップとを含み、上記プログラムによって、ＳＲＡＭ２に保存されるデータがそれぞれ更新されるタイミングが早いデータに関しては、当該データを保存するための期間を示すサンプリング時間を短くし、当該データがそれぞれ更新されるタイミングが遅いデータに関しては、上記サンプリング時間を長くするようにした条件が設定される。
【００７６】
また一方で、図１の電子制御装置１内のＲＯＭ１０に格納されているプログラムは、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータをＲＡＭ３により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器９の異常状態が検知されたときに、ＳＲＡＭ２により、ＲＡＭ３内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、ＳＲＡＭ２に保存されるデータに基づいて、電子制御機器９の自己診断を行うステップとを含み、上記プログラムによって、電子制御機器９の異常状態の検知時に検出される異常の周期に応じて、ＳＲＡＭ２に当該データを保存する際のサンプリング間隔を変化させるようにした条件が設定される。
【００７７】
また一方で、図１の電子制御装置１内のＲＯＭ１０に格納されているプログラムは、移動体に取り付けられた複数のセンサにより取得されるデータをＲＡＭ３により一時的に保持するステップと、移動体内の電子制御機器９の異常状態が検知されたときに、ＳＲＡＭ２により、ＲＡＭ３内の予め定められたデータを所定のサンプリング間隔で保存するステップと、ＳＲＡＭ２に保存されるデータに基づいて、電子制御機器９の自己診断を行うステップとを含み、上記プログラムによって、ＳＲＡＭ２に保存されるデータのデータ数を固定したままで、当該データを保存する際のサンプリング間隔が可変になるようにした条件が設定される。
【００７８】
さらに、図１の実施例では、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体（または記録媒体）を使用して電子制御装置１を動作させる場合、前述のようなプログラムの内容を保持しているハードディスクのような記憶媒体（図示されていない）を用意することが好ましい。
【００７９】
なお、図１の実施例で使用される記憶媒体は、上記したものに限らず、フロッピィディスクやＭＯ（Magneto-Optical Disk：光磁気ディスク）やＣＤ−Ｒ（Compact Disk-Recordable）やＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disk Read-only Memory）等の可搬形媒体、その他の固定形媒体など種々の記憶媒体の形態で提供可能なものである。
【００８０】
図１の実施例によれば、フリーズ時にＳＲＡＭ等に保存されるべきデータの項目が顕著に増加した場合でも、ＳＲＡＭ等に実際に保存されるデータの量を節減することができるので、ＳＲＡＭ等の容量が無駄に消費されることがなくなり、コンピュータのＣＰＵ等の処理負荷の増大が抑制され、ＳＲＡＭ等のバックアップ機能付きの主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。
【００８１】
図２は、本発明に係るフリーズ時のデータ保存方法の処理フローを説明するためのフローチャート、図３は、フリーズ時のデータのデータ数が多い場合のデータ保存のパターンを示すデータフォーマット図、図４は、フリーズ時のデータのデータ数が少ない場合のデータ保存のパターンを示すデータフォーマット図、そして、図５は、フリーズ時のデータによってサンプリング時間を変える場合のデータ保存のパターンを示すデータフォーマット図である。
【００８２】
図２では、本発明の電子制御機器のデータ保存方法に従って電子制御装置（図１参照）のＣＰＵ（図１参照）等を動作させることで、フリーズ時にＳＲＡＭ（図１参照）にデータを保存するための処理フローを説明する。また一方で、図３〜図５では、フリーズ時の幾つかのデータ保存のパターンが、時間ｔとＳＲＡＭに保存されるべきデータとの関係によって示されている。図３〜図５において、Ａ〜Ｉは、ＳＲＡＭに保存されるべきデータのデータ数（データの項目）を表しており、アルファベットの数が多いほど、ＳＲＡＭに保存されるべきデータのデータ数が多いことを示している。
【００８３】
図２のフローチャートの開始の部分では、車両等の移動体のイグニッションスイッチがオンになっている期間に、移動体に取り付けられた一部のセンサにより検出されたアナログ形式の検出信号が、Ａ／Ｄコンバータによりディジタル形式の検出信号に変換された後にＣＰＵに入力され、他のセンサにより検出されたディジタル形式の検出信号が、そのままの形式でＣＰＵに入力される。さらに、ＣＰＵに入力されたディジタル形式の検出信号は、センサ検出データとして、ＲＡＭ（図１参照）に一時的に保持される。
【００８４】
さらに、図２のステップＳ１において、ＲＡＭに保持されているセンサ検出データに基づいて、電子制御式エンジン等の電子制御機器（図１参照）に異常が発生しているか否かが検知される。電子制御機器に何らかの異常が発生して当該電子制御機器が異常状態になっていることが検知された場合、ＲＡＭに保持されているセンサ検出データの中から、当該電子制御機器の異常状態が検出されるタイミングの前後のデータ（すなわち、フリーズ時のデータ）を取り出し、ＳＲＡＭに一定のサンプリング間隔（例えば、５００ｍｓｅｃ）Ｓｐで保存するようになっている。
【００８５】
さらに、ステップＳ２において、フリーズ時のデータをＳＲＡＭに保存する際に、フリーズ時のデータのデータ数、またはデータ自体の更新速度（データが更新されるタイミング）に応じて、図３〜図５に示すようなフリーズ時のデータの処理が行われる。このような処理は、フリーズ時にＳＲＡＭに保存されるべきデータがなくなるまで実行される（図２のフローチャートの終了の部分）。
【００８６】
ここで、フリーズ時にＳＲＡＭに保存されるべきデータが多い場合または少ない場合に関わらず、ＳＲＡＭが保存可能な最大のバイト数（最大容量）は同じである点に注意すべきである。したがって、フリーズ時にＳＲＡＭに保存されるべきデータのバイト数と残りのＳＲＡＭのバイト数との兼ね合いによって、フリーズ時のデータのデータ数を優先させるか、または当該データのサンプリング時間を優先させるかがＣＰＵにより判断される。
【００８７】
より詳しく説明すると、図３のデータフォーマット図に示すように、フリーズ時のデータのデータ数（例えば、データＡ、データＢ、データＣ、データＤ、データＥ、データＦ、データＧ、データＨおよびデータＩ）が比較的多い場合、ＲＯＭに格納されているプログラムをＣＰＵにより読み出して実行させることによって、ＳＲＡＭに保存されるべきデータのデータ数を優先させ、当該データを保存するためのサンプリング時間Ｓｔを短くするようにした条件が設定される。この条件に従ってフリーズ時のデータを保存することにより、フリーズ時のデータのデータ数が比較的多い場合でも、ＳＲＡＭに実際に保存されるデータの量を実質的に増加させることなく、全てのデータをＳＲＡＭに保存することが可能になる。
【００８８】
また一方で、図４のデータフォーマット図に示すように、フリーズ時のデータのデータ数（例えば、データＡ、データＢおよびデータＣ）が比較的少ない場合、ＲＯＭに格納されているプログラムをＣＰＵにより読み出して実行させることによって、フリーズ時のデータを保存するためのサンプリング時間Ｓｔを優先させて長くし、少ないデータ数のデータを全てＳＲＡＭに保存するようにした条件が設定される。この条件に従ってフリーズ時のデータを保存することにより、フリーズ時のデータのデータ数が比較的少ない場合には、サンプリング時間Ｓｔを長くすることによってＳＲＡＭ等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。
【００８９】
また一方で、図５のデータフォーマット図に示すように、フリーズ時の各々のデータの更新速度に応じてサンプリング時間Ｓｔを変える場合、ＲＯＭに格納されているプログラムをＣＰＵにより読み出して実行させることによって、ＳＲＡＭに保存されるデータの更新速度が速いデータ（すなわち、データが更新されるタイミングが早いデータ）に関しては、当該データのサンプリング時間Ｓｔを短くし、ＳＲＡＭに保存されるデータの更新速度が遅いデータ（すなわち、データが更新されるタイミングが遅いデータ）に関しては、当該データのサンプリング時間Ｓｔを長くするようにした条件が設定される。この条件に従ってフリーズ時のデータを保存することにより、フリーズ時の各々のデータの更新速度によってサンプリング時間Ｓｔが可変になり、ＳＲＡＭのバイト数が無駄に消費されることがなくなるので、ＳＲＡＭ等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。
【００９０】
例えば、図５において、データ自体の更新速度が最も遅いデータＡに関しては、データＡのサンプリング時間Ｓｔをできる限り長くして、ＳＲＡＭに実際に保存されるデータＡの量を確保するようにしている。データ自体の更新速度は、データＡ、データＢ、データＤ、データＣの順に速くなることが予め知られており、この順にデータのサンプリング時間Ｓｔを短くしていくことによって、ＳＲＡＭに実際に保存される各々のデータの量に関して差が生じないようにしている。
【００９１】
より具体的にいえば、電子制御装置内のインバータの電流の電流値のように、データ自体が更新されるタイミングが比較的早いデータに関しては、データのサンプリング時間Ｓｔが短くなるように設定されている。また一方で、変速ギアの位置に関する情報のように、データ自体が更新されるタイミングが比較的遅いデータに関しては、データのサンプリング時間Ｓｔが長くなるように設定されている。
【００９２】
さらに、電子制御機器の異常状態の検知時に検知される異常の周期に応じて対応するデータのサンプリング時間Ｓｔを変える場合、ＲＯＭに格納されているプログラムをＣＰＵにより読み出して実行させることによって、異常の周期が短いデータ（すなわち、異常状態が検知されるタイミングが早いデータ）に関しては、ＳＲＡＭに実際に保存されるデータのサンプリング時間Ｓｔを短くし、異常の周期が長いデータ（すなわち、異常状態が検知されるタイミングが遅いデータ）に関しては、ＳＲＡＭに実際に保存されるデータのサンプリング時間Ｓｔを長くするようにした条件が設定されることも可能である。
【００９３】
図６は、異常状態が検知された場合のフリーズ時の方策を説明するためのデータ流れ図である。ここでは、フリーズ時に電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングＴｄの前後でデータを保存する場合の幾つかの方策が例示されている。なお、図６における上向きの矢印は、時間ｔに対して、フリーズ処理を行ってＳＲＡＭにデータを保存するタイミングを示している。
【００９４】
図６に示すように、フリーズ時の方策（１）においては、ＲＯＭに格納されているプログラムをＣＰＵにより読み出して実行させることによって、電子制御機器の異常状態の検知時に検出される異常の周期に応じて、ＳＲＡＭにデータを保存する際のサンプリング間隔Ｓｐを変化させるようにした条件が設定される。
【００９５】
より具体的にいえば、電子制御機器の異常状態の検知時に検知される異常の周期に応じて対応するデータのサンプリング間隔Ｓｐを変える場合、異常の周期が短いデータ（すなわち、異常状態が検知されるタイミングが早いデータ）に関しては、当該周期に合わせてＳＲＡＭに実際に保存されるデータのサンプリング間隔Ｓｐを短くし、異常の周期が長いデータ（すなわち、異常状態が検知されるタイミングが遅いデータ）に関しては、当該周期に合わせてＳＲＡＭに実際に保存されるデータのサンプリング間隔Ｓｐを長くするようになっている。
【００９６】
このようなフリーズ時の方策（１）によれば、電子制御機器の異常の周期に応じてＳＲＡＭに実際に保存されるデータのサンプリング間隔Ｓｐを調整することができるので、ＳＲＡＭ等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。
【００９７】
また一方で、フリーズ時の方策（２）においては、ＲＯＭに格納されているプログラムをＣＰＵにより読み出して実行させることによって、フリーズ時にＳＲＡＭに保存されるべきデータのデータ数を固定したままで、当該データを保存する際のサンプリング間隔Ｓｐが全体的に可変になるようにした条件が設定される。ここでは、電子制御機器の異常の周期に関係なく、ソフトウェア処理のプログラムにより指定されたサンプリング間隔ＳｐでＳＲＡＭにデータを保存することができる。
【００９８】
好ましくは、フリーズ時にデータを保存する際のサンプリング間隔の値として複数の定数をＲＡＭ等に保持しており、ソフトウェア処理によるプログラムによって、フリーズ時にＳＲＡＭに保存されるべき各々のデータに対して上記定数が個別に設定されるようになっている。
【００９９】
このようなフリーズ時の方策（２）によれば、フリーズ時にＳＲＡＭに保存されるべきデータのデータ数が固定された状態で、ＳＲＡＭの最大容量を充分に考慮して当該データをＳＲＡＭに保存することができるので、電子制御機器の異常発生の原因の解析に大いに役立てることが可能になる。
【０１００】
また一方で、フリーズ時の方策（３）においては、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングＴｄの前後でＳＲＡＭに保存されるべきデータをサンプリングする回数を示すサンプリング数が、電子制御装置に接続されている外部検査ツールにより指定されるようになっている。ここでは、ユーザ等が外部検査ツールを操作することによって、ＳＲＡＭに保存されるべきデータのサンプリング数を指定することができる。
【０１０１】
フリーズ時の方策（３）によれば、外部検査ツールにより電子制御機器の異常状態の種類別にサンプリング数を変化させることができるので、電子制御機器の異常発生の原因の解析に大いに役立てることが可能になる。
【０１０２】
図７は、フリーズ時のＳＲＡＭへのデータ格納方法を説明するためのデータ変換図である。ここでは、Ａ／Ｄコンバータによりアナログ形式のデータをディジタル形式のデータに変換してフリーズ時にデータを保存する際のＳＲＡＭへのデータ格納方法が例示されている。
【０１０３】
図７の上半部においては、ＣＰＵで処理され得るデータの最大値が４バイトの場合に、１６進数で表示されるフリーズ時のデータの例が示されている。ここでは、５種類のデータ（例えば、０ｘ０９１０、０ｘ０２２５、０ｘ１１６３Ｅ、０ｘ１４４７３および０ｘＦＦＦＦ７Ｆ２６）が例示されているが、これらのデータに限定されることはない。これらのデータをそのままＳＲＡＭに保存しようとした場合、ＳＲＡＭにて必要な容量が大幅に増大してしまう。
【０１０４】
このような不都合な事態に対処するために、本発明のＳＲＡＭへのデータ格納方法（１）においては、図７の下半部に示すように、Ａ／Ｄコンバータによりデータの値のＡ／Ｄ変換を行う際の最小単位である最小量子化ビット（ＬＳＢ）を変化させ、最小量子化ビットによる変換後に当該データの値が小さくなるようにした条件が設定される。この条件は、ＲＯＭに格納されているプログラムをＣＰＵにより読み出して実行させることによって設定され得る。
【０１０５】
より具体的にいえば、上記の５種類のデータをＳＲＡＭに保存する際に、５ビットだけ右方向にシフトすることによって、下位の５ビット分のデータを切り捨てるようにしている。このようにしてＳＲＡＭに保存される５種類のデータは、０ｘ４８、０ｘ１１、０ｘ０８Ｂ１、０ｘ０Ａ２３および０ｘＦＢＦＡ（図７の下半部参照）のように、最大２バイトの１６進数のデータとして表示される。このような最小量子化ビットによる変換後のデータの値は、変換前のフリーズ時のデータの値よりも小さくなっている。
【０１０６】
好ましくは、最小量子化ビットの値として複数の定数をＲＡＭ等に保持しており、ソフトウェア処理によるプログラムによって、フリーズ時にＳＲＡＭに保存されるべき各々のデータに対して上記定数が個別に設定されるようになっている。
【０１０７】
本発明のＳＲＡＭへのデータ格納方法（１）によれば、フリーズ時のデータの値のＡ／Ｄ変換を行う際の最小量子化ビットを変化させて上記データの値が小さくなるようにしているので、ＳＲＡＭに保存されるデータの量の節減が図れるようになり、ＳＲＡＭの最大容量が比較的小さい場合でも、ＳＲＡＭ等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。
【０１０８】
また一方で、本発明のＳＲＡＭへのデータ格納方法（２）においては、フリーズ時のデータの値のＡ／Ｄ変換を行う際の最小量子化ビットが、電子制御装置に接続されている外部検査ツールにより指定されるようになっている。ここでは、ユーザ等が外部検査ツールを操作することによって、当該データの値のＡ／Ｄ変換を行う際の最小量子化ビットを指定することができる。この場合、ＳＲＡＭに最小量子化ビットの値を持たせており、外部検査ツールからの指定によってＳＲＡＭ内の最小量子化ビットの値を適宜変更するようになっている。
【０１０９】
本発明のＳＲＡＭへのデータ格納方法（２）によれば、ＳＲＡＭの最大容量が比較的小さい場合でも、ＳＲＡＭ等の主記憶装置にフリーズ時のデータを効率良く保存することができるので、電子制御機器の異常発生の原因の解析に大いに役立てることが可能になる。
【０１１０】
ここで、参考のため、通常のＳＲＡＭへのデータ格納方法、および本発明のＳＲＡＭへのデータ格納方法に従って、最小量子化ビットによる変換に関連した演算を行う場合の具体的な例を示す。
【０１１１】
例えば、通常のＳＲＡＭへのデータ格納方法において、移動体内の水温センサにより検出されたセンサ検出データのＡ／Ｄ変換を行う際の最小量子化ビット（ＬＳＢ）が、５／１０２４（Ｖ（ボルト））である場合を想定する。ここで、ＣＰＵ値（ＳＲＡＭに保存されるデータの値）が５１２の場合、水温センサによるセンサ検出データのＡ／Ｄ変換後の物理値は、次の公式により求められる。
【０１１２】
物理値＝ＣＰＵ値×ＬＳＢ
上記の例では、物理値＝５１２×（５／１０２４）
になるので、物理値＝２．５（Ｖ）となる。
【０１１３】
したがって、通常のＳＲＡＭへのデータ格納方法では、ＣＰＵ値の最大値は１０２４となるため、最大２バイトのＳＲＡＭの容量が必要となる（なお、１バイトの最大値は２５５である）。
【０１１４】
これに対して、本発明のＳＲＡＭへのデータ格納方法においては、ＳＲＡＭに保存されるデータの量をできる限り節減するために、センサ検出データのＡ／Ｄ変換を行う際の最小量子化ビットを変更することによりＣＰＵ値を１バイトに収めるようにしている。
【０１１５】
最大値１０２４のＣＰＵ値を１バイトに収めるためには、ＣＰＵ値を４で除算すればよい。この場合、実際には、１０２４を４で割っても２５６となり１バイトには収まらない。しかしながら、２５６と２５５との差は物理値で考えて０．０２（Ｖ）しかなく、この差は無視できるほど小さいので、２５６を２５５と見なしても問題は生じない。
【０１１６】
上記の観点より、本発明のＳＲＡＭへのデータ格納方法では、フリーズ時に最小量子化ビットによる変換を行う際には、ＣＰＵ値を４で割ってから、変換後のデータをＳＲＡＭに保存するようにしている。
【０１１７】
なお、最小量子化ビットによる変換後のデータを外部検査ツールに出力する場合、当該データを４倍してから出力するようにすればよい。あるいは、最小量子化ビットによる変換後のデータをそのまま外部検査ツールに出力し、外部検査ツール内で当該データを４倍してもよい。
【０１１８】
図８は、異常状態が検知された場合の時系列フリーズのタイミング設定方法を説明するためのデータ流れ図（その１）であり、図９は、異常状態が検知された場合の時系列フリーズのタイミング設定方法を説明するためのデータ流れ図（その２）である。
【０１１９】
ここでは、フリーズ時に電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後のデータをＳＲＡＭに時系列で保存する場合の幾つかのタイミング設定方法（すなわち、時系列フリーズのタイミング設定方法）が例示されている。ここで、「時系列フリーズ」とは、一定の周期毎にフリーズ処理を行うことによってＳＲＡＭにデータを保存することを意味している。なお、図８および図９における上向きの矢印は、時間ｔに対して、時系列フリーズ処理を行ってＳＲＡＭにデータを保存するタイミング（図８および図９では、時系列フリーズタイミングと略記している）を示している。
【０１２０】
図８に示すように、時系列フリーズのタイミング設定方法（１）においては、ＲＯＭに格納されているプログラムをＣＰＵにより読み出して実行させることによって、時系列フリーズ時に電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後でデータを保存するタイミングを変化させ、上記異常状態が検知されるタイミングの前後でのみ当該データのサンプリング間隔が相対的に小さくなるようにした条件が設定される。
【０１２１】
より具体的にいえば、ソフトウェア処理によるプログラムによって、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングＴｄの前後での小さいサンプリング間隔（Ｓｐ）で常時ＲＡＭにデータを保持しておき、電子制御機器の異常状態が検出されたときに、異常状態が検知されるタイミングＴｄの前後でない箇所のフリーズ時のデータをＳＲＡＭに格納する際に、間引いて格納するようにしている。このようにすれば、異常状態が検知されるタイミングＴｄの前後でない箇所のデータのサンプリング間隔（Ｓｐ）は、異常状態が検知されるタイミングの前後でのデータのサンプリング間隔（Ｓｐ）よりも大きくなる。
【０１２２】
このような時系列フリーズのタイミング設定方法（１）によれば、異常状態が検知されるタイミングの前後でのみフリーズ時のデータのサンプリング間隔を相対的に小さくすることができるので、ＳＲＡＭの最大容量が比較的小さい場合でも、ＳＲＡＭ等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。
【０１２３】
また一方で、時系列フリーズのタイミング設定方法（２）においては、時系列フリーズ時に電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後でのデータのサンプリング間隔、または、上記異常状態が検知されるタイミングの前後でない箇所のデータの間引き数が、電子制御装置に接続されている外部検査ツールにより指定されるようになっている。ここでは、ユーザ等が外部検査ツールを操作することによって、異常状態が検知されるタイミングの前後でのデータのサンプリング間隔、または、異常状態が検知されるタイミングの前後でない箇所のデータの間引き数を指定することができる。
【０１２４】
このような時系列フリーズのタイミング設定方法（２）によれば、ＳＲＡＭの最大容量が比較的小さい場合でも、ＳＲＡＭ等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。
【０１２５】
図９に示すように、時系列フリーズのタイミング設定方法（３）においては、ＲＯＭに格納されているプログラムをＣＰＵにより読み出して実行させることによって、時系列フリーズ時に電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所でデータのサンプリング間隔（Ｓｐ）を最も小さくし、上記異常状態が検知されるタイミングから遠くなるにつれて当該データのサンプリング間隔（Ｓｐ）を大きくするようにした条件が設定される。
【０１２６】
より具体的にいえば、ソフトウェア処理によるプログラムによって、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングＴｄの前後での最も小さいサンプリング間隔で常時ＲＡＭにデータを保持しておき、電子制御機器の異常状態が検出されたときに、異常状態が検知されるタイミングＴｄの前後でない箇所のフリーズ時のデータを間引いて格納するようにしている。ただし、異常状態が検知されるタイミングに近くなるにつれてフリーズ時のデータの間引き数を少なくしていくようにしている。
【０１２７】
好ましくは、時系列フリーズ時にＳＲＡＭにデータを格納する際の最大のサンプリング間隔として複数の定数をＲＡＭ等に保持しており、ソフトウェア処理によるプログラムによって、時系列フリーズ時にＳＲＡＭに保存されるべき各々のデータに対して上記定数が個別に設定されるようになっている。
【０１２８】
あるいは、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所でのデータのサンプリング間隔と、上記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所での当該データのサンプリング間隔との比率として、複数の定数をＲＡＭ等に保持しており、ソフトウェア処理によるプログラムによって、時系列フリーズ時にＳＲＡＭに保存されるべき各々のデータに対して上記定数が個別に設定されるようになっている。
【０１２９】
このような時系列フリーズのタイミング設定方法（３）によれば、異常状態が検知されるタイミングに近い箇所でデータのサンプリング間隔を最も小さくし、異常状態が検知されるタイミングから遠くなるにつれて当該データのサンプリング間隔を大きくすることができるので、ＳＲＡＭの最大容量が比較的小さい場合でも、ＳＲＡＭ等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になる。しかも、異常状態が検知されるタイミングから多少離れている箇所のデータも保存することができるので、電子制御機器の異常発生の原因の解析に大いに役立てることが可能になる。
【０１３０】
また一方で、時系列フリーズのタイミング設定方法（４）においては、時系列フリーズ時にＳＲＡＭにデータを格納する際の最大のサンプリング間隔が、電子制御装置に接続されている外部検査ツールにより指定されるようになっている。ここでは、ユーザ等が外部検査ツールを操作することによって、時系列フリーズ時にＳＲＡＭにデータを格納する際の最大のサンプリング間隔を指定することができる。この場合、時系列フリーズ時にデータを格納する際の最大のサンプリング間隔の値をＳＲＡＭに持たせており、外部検査ツールからの指定によってＳＲＡＭ内の最大のサンプリング間隔の値を適宜変更するようになっている。
【０１３１】
あるいは、時系列フリーズのタイミング設定方法（４）においては、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所でのデータのサンプリング間隔と、上記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所での当該データのサンプリング間隔との比率が、電子制御装置に接続されている外部検査ツールによって指定されるようになっている。ここでは、ユーザ等が外部検査ツールを操作することによって、異常状態が検知されるタイミングに近い箇所でのデータのサンプリング間隔と、異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所での当該データのサンプリング間隔との比率を指定することができる。この場合、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングに近い箇所でのデータのサンプリング間隔と、上記異常状態が検知されるタイミングから遠い箇所での当該データのサンプリング間隔との比率の値をＳＲＡＭに持たせており、外部検査ツールからの指定によってＳＲＡＭ内の上記比率の値を適宜変更するようになっている。
【０１３２】
あるいは、時系列フリーズのタイミング設定方法（４）においては、時系列フリーズ時に電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後でデータをサンプリングする回数を示すサンプリング数が、電子制御装置に接続されている外部検査ツールにより指定されるようになっている。ここでは、ユーザ等が外部検査ツールを操作することによって、時系列フリーズ時にＳＲＡＭに保存されるべきデータのサンプリング数を指定することができる。この場合、電子制御機器の異常状態が検知されるタイミングの前後でデータをサンプリングする回数を示すサンプリング数の値をＳＲＡＭに持たせており、外部検査ツールからの指定によってＳＲＡＭ内のサンプリング数の値を適宜変更するようになっている。
【０１３３】
このような時系列フリーズのタイミング設定方法（４）によれば、ＳＲＡＭの最大容量が比較的小さい場合でも、ＳＲＡＭ等の主記憶装置を効率良く使用することが可能になると共に、電子制御機器の異常発生の原因の解析に大いに役立てることが可能になる。
【産業上の利用可能性】
【０１３４】
本発明は、車両等の移動体内の電子制御式エンジン等の電子制御機器を制御するためのコンピュータであって、移動体内の複数のセンサにより当該電子制御機器の異常状態を検知した際に、ＳＲＡＭ等の主記憶装置に保存されているセンサ検出データに基づいて当該電子制御機器の自己診断を行う機能を有するコンピュータが内蔵された電子制御装置（ＥＣＵ）を含むエンジン制御用コンピュータシステムに適用することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【０１３５】
【図１】本発明の一実施例に係る電子制御装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明に係るフリーズ時のデータ保存方法の処理フローを説明するためのフローチャートである。
【図３】フリーズ時のデータのデータ数が多い場合のデータ保存のパターンを示すデータフォーマット図である。
【図４】フリーズ時のデータのデータ数が少ない場合のデータ保存のパターンを示すデータフォーマット図である。
【図５】フリーズ時のデータによってサンプリング時間を変える場合のデータ保存のパターンを示すデータフォーマット図である。
【図６】異常状態が検知された場合のフリーズ時の方策を説明するためのデータ流れ図である。
【図７】フリーズ時のＳＲＡＭへのデータ格納方法を説明するためのデータ変換図である。
【図８】異常状態が検知された場合の時系列フリーズのタイミング設定方法を説明するためのデータ流れ図（その１）である。
【図９】異常状態が検知された場合の時系列フリーズのタイミング設定方法を説明するためのデータ流れ図（その２）である。
【符号の説明】
【０１３６】
１    電子制御装置
２    ＳＲＡＭ（スタンバイ・ランダム・アクセス・メモリ）
３    ＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモリ）
４    ＣＰＵ（中央演算処理装置）
５    センサ部
７    バッテリ
８    外部検査ツール
９    電子制御機器
１０    ＲＯＭ（リード・オンリ・メモリ）
１１    入力インタフェース回路
１２    Ａ／Ｄコンバータ
１３    出力インタフェース回路
５０    Ａ／Ｆセンサ（空燃比センサ）
５１    水温センサ
５２    酸素濃度センサ
５３    ノッキングセンサ
５４    油温センサ
５５    排気温センサ
５６    吸気温センサ
５７    トルクセンサ
５８    クランク角センサ
５９    車速センサ
６０    スロットルポジションセンサ
７０    定電圧電源
７１    バックアップ電源
【図１】
2006330827.tif 000003
【図２】
2006330827.tif 000004
【図３】
2006330827.tif 000005
【図４】
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【図５】
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【図６】
2006330827.tif 000008
【図７】
2006330827.tif 000009
【図８】
2006330827.tif 000010
【図９】
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