(57)【要約】【課題】  標準的な規格の検査と、検査速度や精度を優先した検査を一台の装置で切り換えて行えるようにして、扱いの煩雑さや保管スペースの増大等を招くことのない非破壊検査装置を提供する。【解決手段】  装置本体１に、多チャンネル検査用の発信受信回路２０と単チャンネル検査用の発信受信回路２１を設けると共に、これらの夫々の発信受信回路２０，２１を専用の検査プローブ５，６Ａに接続するための多チャンネル検査用のプローブ接続コネクタ３と単チャンネル検査用のプローブ接続コネクタ４Ａを設けるようにした。各プローブ接続コネクタ３，４Ａに多チャンネル検査用と単チャンネル検査用の検査プローブ５，６Ａを夫々接続し、検査時に必要に応じて両検査プローブ５，６Ａの使用を使い分ける。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
検査プローブが接続される装置本体に、検査信号の発信と応答信号の受信を行う発信受信回路が内蔵され、その発信受信回路で受けた応答信号に基づいて検査対象の状態を検査する非破壊検査装置において、
前記装置本体に、多チャンネル検査用の発信受信回路と単チャンネル検査用の発信受信回路を設けると共に、これらの夫々の発信受信回路を専用の検査プローブに接続するための多チャンネル検査用のプローブ接続コネクタと単チャンネル検査用のプローブ接続コネクタを設けたことを特徴とする非破壊検査装置。
【請求項２】
前記装置本体に、前記単チャンネル検査用の発信受信回路に接続されるインターフェィスコネクタを設け、
前記単チャンネル検査用のプローブ接続コネクタと、そのプローブ接続コネクタをプローブ接続コネクタ毎の規格の相違を吸収して前記インターフェイスコネクタに接続可能にする変換基板とを一体化したコネクタモジュールを形成し、
そのコネクタモジュールを前記プローブ接続コネクタの規格の相違に応じて複数個設けると共に、その各コネクタモジュールを共通の前記インターフェイスコネクタに対して脱着可能にしたことを特徴とする請求項１に記載の非破壊検査装置。
【請求項３】
前記検査プローブが前記プローブ接続コネクタに接続されたときにのみ前記発信受信回路の駆動を可能にする駆動制限手段を設けたことを特徴とする請求項１または２に記載の非破壊検査装置。
【請求項４】
前記コネクタモジュールが前記インターフェイスコネクタに接続されたときにのみ前記発信受信回路の駆動を可能にする駆動制限手段を設けたことを特徴とする請求項２に記載の非破壊検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、超音波や交流磁界等の検査信号を検査対象に当て、そのとき検査対象から戻ってくる応答信号に基づいて検査対象の表面や内部の欠陥を検査する非破壊検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
この種の非破壊検査装置は、超音波や交流磁界等の検査信号の発信と検査対象からの応答信号の受信を行う発信受信回路が装置本体に内蔵され、その装置本体に設けられたプローブ接続コネクタを通して検査プローブが接続されている（例えば、特許文献１参照）。
【０００３】
また、検査信号に超音波や交流磁界を用いる非破壊検査装置は、現在、単チャンネルの発信受信回路を用いたものが標準となっており、検査プローブも当然に単チャンネル用のものが採用されている。
【０００４】
一方、一部ではあるが、超音波を用いるものではフェイズドアレイ式、交流磁界を用いるものではマルチコイル式等、検査信号の発信や応答信号の受信を多チャンネルで処理するものも開発されている。
【特許文献１】特開平１１−１４８９２３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかし、前者の非破壊検査装置は、検査信号の発信や応答信号の受信が単一チャンネルで行われるため、検査速度や検査精度を高めるのに限界があり、充分に満足のいく性能を得ることができないというのが実情である。
【０００６】
また、後者の非破壊検査装置は、検査速度や精度を向上するうえでは有利であるが、現在標準となっている規格の検査を行うことができない。
【０００７】
一方、実際の検査に際しては、規格にあった単チャンネルでの検査中に、検査速度や精度面で優れた多チャンネル検査を併用したいという要求がある。この対策としては、従来、単チャンネル用の非破壊検査装置と多チャンネル用の非破壊検査装置を二台用意し、要求に応じてその二台の装置を適宜使い分けるしかなかったが、この場合、二台の装置の管理が煩雑になるうえ、保管スペースを大きく占有するという不具合を生じる。
【０００８】
そこで、この発明は、標準的な規格の検査と、検査速度や精度を優先した検査を一台の装置で切り換えて行えるようにして、扱いの煩雑さや保管スペースの増大等を招くことのない非破壊検査装置を提供することを目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するために、この発明は、検査プローブが接続される装置本体に、検査信号の発信と応答信号の受信を行う発信受信回路が内蔵され、その発信受信回路で受けた応答信号に基づいて検査対象の状態を検査する非破壊検査装置において、前記装置本体に、多チャンネル検査用の発信受信回路と単チャンネル検査用の発信受信回路を設けると共に、これらの夫々の発信受信回路を専用の検査プローブに接続するための多チャンネル検査用のプローブ接続コネクタと単チャンネル検査用のプローブ接続コネクタを設けるようにした。この発明の場合、各プローブ接続コネクタに多チャンネル検査用と単チャンネル検査用の検査プローブを夫々接続し、検査時に必要に応じて両検査プローブの使用を使い分けることができる。
【００１０】
前記装置本体には、前記単チャンネル検査用の発信受信回路に接続されるインターフェィスコネクタを設け、前記単チャンネル検査用のプローブ接続コネクタと、そのプローブ接続コネクタをプローブ接続コネクタ毎の規格の相違を吸収して前記インターフェイスコネクタに接続可能にする変換基板とを一体化したコネクタモジュールを形成し、そのコネクタモジュールを前記プローブ接続コネクタの規格の相違に応じて複数個設けると共に、その各コネクタモジュールを共通の前記インターフェイスコネクタに対して脱着可能にしても良い。この場合、コネクタ部の規格の異なる検査プローブを装置本体に接続するときには、その規格に合致したコネクタモジュールをインターフェイスコネクタに付け替え、そのコネクタモジュールのプローブ接続コネクタに検査プローブを接続する。
【００１１】
また、前記検査プローブが前記プローブ接続コネクタに接続されたときにのみ前記発信受信回路の駆動を可能にする駆動制限手段を設けるようにしても良い。この場合、検査プローブをプローブ接続コネクタに接続しない間は発信受信回路が非駆動状態となるため、必要外の電力消費を抑えることが可能になる。
【００１２】
さらに、単チャンネル検査用の検査プローブの接続部に前記コネクタモジュールを用いる場合には、コネクタモジュールが前記インターフェイスコネクタに接続されたときにのみ前記発信受信回路の駆動を可能にする駆動制限手段を設けるようにしても良い。この場合、コネクタモジュールをインターフェイスコネクタに接続しない間は発信受信回路が非駆動状態となる。このため、コネクタモジュールの交換時における必要外の電力消費を抑えることが可能になる。
【発明の効果】
【００１３】
この発明は、多チャンネル検査用と単チャンネル検査用の検査プローブを装置本体の各プローブ接続コネクタに接続して、必要に応じて両検査プローブの使用を使い分けることができるため、標準的な規格の単チャンネルの検査と、検査速度や精度を優先した多チャンネルの検査を一台の装置で切り換えて行うことができる。したがって、この発明によれば、二台の検査装置を用いる場合のような扱いの煩雑さや保管スペースの増大等の問題を解消することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
次に、この発明の各実施形態を図面に基づいて説明する。尚、各実施形態については、同一部分に同一符号を付し、重複する部分については説明を省略するものとする。
【００１５】
まず、図１〜図５に示す第１の実施形態について説明する。
図１，図２は、この発明にかかる非破壊検査装置の装置本体１の概略的な回路構成図と概観図を示すものである。この実施形態の非破壊検査装置は検査信号として超音波を用いるものであり、図２に示すように、ハウジング２の上面に設けられたプローブ接続コネクタ３，４Ａ（４Ｂ）に適宜専用の検査プローブ５，６Ａ（６Ｂ）（図１参照）が接続されるようになっている。ハウジング２は、全体が横長の直方体状に形成され、その前面に表示部である液晶パネル７と操作パネル８が配置されている。この操作パネル８には、液晶パネル７に表示される指示を選択するメニューキーＭやファンクションキーＦと共に、電源スイッチＳや主要な機能をワンタッチで操作するためのダイレクトキーＤ等が配置されている。また、ハウジング２の両側部には数値設定等を行うための操作ダイヤル９とメモリーカード用スロット１０が配置され、ハウジング２の上面にはプローブ接続コネクタ３，４Ａ（４Ｂ）の他に、プリンタやリモートケーブル、イヤホンモニタ等を接続するための拡張用コネクタ１１，１２、さらに、ＶＧＡ出力端子１３やＳ−ビデオの入力端子１４等が配置されている。
【００１６】
また、この非破壊検査装置は検査作業者が直接手で把持して扱うことも可能であるが、図５に示すようにソフトキャリングケース１５に入れて持ち運び、そのまま操作も行えるようになっている。ソフトキャリングケース１５の上面には開口１６が設けられており、装置本体は液晶パネル７のある前面側を上に向け、開口１６からその前面を外部に露出できるようになっている。さらに、ソフトキャリングケース１５の内側の四隅には図示しない緩衝部材が配置され、その緩衝部材によって装置本体１の角部を保護するようになっている。また、ソフトキャリングケース１５には、二本のショルダーベルト１７が取り付けられ、そのショルダーベルト１７によって検査作業者の肩から吊り下げられるようになっている。
【００１７】
ここで、図１に示す装置本体の概略回路構成について説明すると、電源系統を除く装置本体１内の主な回路は、装置全般の演算・制御を行うＣＰＵ回路１８と、検査プローブ５または６Ａ（６Ｂ）からの受信信号を画像信号に変換処理する画像処理回路１９と、多チャンネル検査であるフェイズドアレイ用の超音波信号（検査信号）の発信とその応答信号の受信を行う多チャンネル検査用の発信受信回路２０と、単チャンネル検査用の超音波信号（検査信号）の発信とその応答信号の受信を行う単チャンネル検査用の発信受信回路２１と、から構成されている。
【００１８】
多チャンネル検査用と単チャンネル検査用の各発信受信回路２０，２１は超音波発信素子２２ａ，２２ｂを有する発信部と、バッファ２３ａ，２３ｂ及びアンプ２４ａ，２４ｂを有する受信部とから成り、各発信受信回路２０，２１の発信部の出力端と受信部の入力端が多チャンネル検査用と単チャンネル検査用の各プローブ接続コネクタ３，４Ａ（４Ｂ）に接続されると共に、各受信部の出力端が画像処理回路１９のＡ／Ｄ変換部２５ａ，２５ｂに接続されている。尚、多チャンネル検査用の発信受信回路２０はハウジング２から露出した対応するプローブ接続コネクタ３に直接接続されているが、単チャンネル検査用の発信受信回路２１はインターフェイスコネクタ２６に結線され、そのインターフェイスコネクタ２６を介して対応するプローブ接続コネクタ４Ａ（４Ｂ）に接続されるようになっている。
【００１９】
多チャンネル側のプローブ接続コネクタ３には、相互に接続されることよって発信受信回路２０の発信部の駆動電源を有効にする一対の駆動端子２７ａ，２７ｂが設けられ、プローブ接続コネクタ３に検査プローブ５のコネクタ２８が取り付けられたときにのみ駆動端子２７ａ，２７ｂが接続されるようになっている。具体的には、検査プローブ５のコネクタ２８には内部で相互に導通する一対の導通端子２９ａ，２９ｂが設けられ、このコネクタ２８をプローブ接続コネクタ３に取り付けたときに駆動端子２７ａ，２７ｂが導通端子２９ａ，２９ｂによって導通するようになっている。この実施形態においては、駆動端子２７ａ，２７ｂと導通端子２９ａ，２９ｂがコネクタ２８の非接続時に発信受信回路２０の駆動を制限する。
【００２０】
一方、単チャンネル側の各プローブ接続コネクタ４Ａ，４Ｂは、図１，図３，図４に示すようにハウジング２に脱着可能にビス止めされる個別のサブパネル３０に取り付けられ、そのサブパネル３０の背部に支持された変換基板３１に接続されている。この変換基板３１の背部には発信受信回路２１側のインターフェイスコネクタ２６に接続可能なコネクタ（以下、「基板コネクタ３２」と呼ぶ。）が設けられ、サブパネル３０をハウジング２に着脱する際にインターフェイスコネクタ２６と変換基板３１の接続と切断を容易に行えるようになっている。プローブ接続コネクタ４Ａ，４Ｂは、サブパネル３０とその背部に支持された変換基板３１等とともにコネクタモジュール３３Ａ，３３Ｂを構成している。このコネクタモジュール３３Ａ，３３Ｂは、プローブ接続コネクタ４Ａ，４Ｂの規格の異なるものが二種類用意され、使用する検査プローブ６Ａ，６Ｂのコネクタ３４の規格に応じて取り替えられるようになっている。つまり、各コネクタモジュール３３Ａ，３３Ｂの変換基板３１は、プローブ接続コネクタ４Ａ，４Ｂ毎の規格の相違を吸収する機能を有し、いずれの規格のコネクタ３４（検査プローブ６Ａ，６Ｂ）を用いる場合にも、共通のインターフェイスコネクタ２６に不具合無く接続できるようになっている。
【００２１】
また、インターフェイスコネクタ２６には、多チャンネル側のプローブ接続コネクタ３と同様に、相互に接続されることよって発信受信回路２１の発信部の駆動電源を有効にする一対の駆動端子（図１には、一方の駆動端子３５ａのみ図示し、他方の駆動端子は図示を省略している。）が設けられ、インターフェイスコネクタ２６にいずれかのコネクタモジュール３３Ａ，３３Ｂが取り付けられたときにのみ駆動端子同士が接続されるようになっている。この部分の基本的な構造と機能は多チャンネル側のプローブ接続コネクタ３部分と同様であるため詳細な説明は省略する。
【００２２】
また、多チャンネル側の検査プローブ５のコネクタ２８部分には、検査プローブ５の製品識別のためのＩＤや個々の検査プローブ５の補正データ等を格納したＲＯＭ３６が内蔵されている。ＲＯＭ３６に格納されたデータは、コネクタ２８をプローブ接続コネクタ３に差し込んだときに制御回路３７に読み込まれ、そのデータが検査プローブ５毎のバラつき補正等に利用される。
【００２３】
以上の構成の非破壊検査装置によって実際に検査を行う場合には、検査プローブ５，６Ａ（６Ｂ）を装置本体１のプローブ接続コネクタ３，４Ａ（４Ｂ）に適宜に接続し、目的に応じて多チャンネル用、若しくは、単チャンネル用の検査プローブ５，６Ａ（６Ｂ）を用いて検査を行う。この非破壊検査装置の場合、装置本体１に、多チャンネル検査用の発信受信回路２０と単チャンネル検査用の発信受信回路２１が内蔵されると共に、これらの各発信受信回路２０，２１に接続されたプローブ接続コネク３，４Ａ（４Ｂ）が設けられているため、多チャンネル検査用の検査プローブ５と単チャンネル検査用の検査プローブ６Ａ（６Ｂ）を適宜装置本体１に付け替えて検査を行うことも可能であるが、単チャンネル検査用と多チャンネル検査用のプローブ接続コネクタ３，４Ａ（４Ｂ）に同時に両検査プローブ５，６Ａ（６Ｂ）を取り付け、その状態のまま非破壊検査を行うことも可能である。
【００２４】
例えば、標準的な検査規格に則した単チャンネルの非破壊検査を行っている途中で、多チャンネル検査によって一部を重点的に検査したい場合には、検査プローブを単チャンネルのもの（６Ａまたは６Ｂ）から多チャンネルのもの（５）に持ち替え、そのまま多チャンネルの検査に迅速に切り換えることができる。また、多チャンネルの検査から単チャンネルの検査に切り換えるときも同様である。
【００２５】
したがって、この非破壊検査装置を用いた場合、一台の装置のみで単チャンネルの検査と多チャンネルの検査を切り換えて行うことができることから、二台の専用装置を用いて検査を行う場合に比較して取り扱いが容易になるうえ、保管スペースも大きく占有することがなくなる。
【００２６】
また、この実施形態の非破壊検査装置の場合、単チャンネル側については、コネクタモジュール３３Ａ，３３Ｂが検査プローブ６Ａ，６Ｂのコネクタ３４の規格の相違に応じて二種類用意され、これらのコネクタモジュール３３Ａ，３３Ｂがインターフェイスコネクタ２６に対して脱着可能となっているため、使用する検査プローブ６Ａ，６Ｂに応じてコネクタモジュール３３Ａ，３３Ｂを交換しさえすれば、コネクタ３４の規格の異なる二種類の検査プローブ６Ａ，６Ｂを変換ケーブルなしで利用することができる。
【００２７】
また、コネクタモジュール３３Ａ，３３Ｂの交換にあたっては、既に取り付けられているコネクタモジュール３３Ａの基板コネクタ３２をインターフェイスコネクタ２６から外し、そのインターフェイスコネクタ２６に別のコネクタモジュール３３Ｂの基板コネクタ３２を接続するが、最初のコネクタモジュール３３Ａが取り外されて次のコネクタモジュール３３Ｂが取り付けられるまでは駆動端子３５ａ等が駆動を制限するように維持されるため、この間、発信受信回路２１の駆動は停止する。したがって、この交換作業に時間を要した場合にあっても、発信受信回路２１の駆動による電源消費は抑制される。
【００２８】
さらに、多チャンネル側のプローブ接続コネクタ３部分には、そのプローブ接続コネクタ３に検査プローブ５が接続されたときにのみ発信受信回路２０の駆動を許容する駆動端子２７ａ，２７ｂと導通端子２９ａ，２９ｂが設けられているため、多チャンネル側の検査プローブ５を接続しないときにおける発信受信回路２０の必要外の作動がなくなり、その分電力消費が抑制される。
【００２９】
尚、以上説明した実施形態では、多チャンネル検査用のプローブ接続コネクタ３部分と単チャンネル検査用のインターフェイスコネクタ２６部分に、相手コネクタとの接続によって発信受信回路を閉じる駆動端子２７ａ，２７ｂ，３５ａを設けたが、プローブ接続コネクタ３やインターフェイスコネクタ２６に相手コネクタを接続するときにのみ機械的にオン側に連動作動するスイッチを発信受信回路２０に設け、それによって駆動を制限するようにしても良い。
【００３０】
つづいて、図６〜図９に基づいてこの発明の第２の実施形態について説明する。この実施形態の非破壊検査装置は、外観は、図２に示した第１の実施形態のものとほぼ同様であるが、検査信号が超音波でなく交流磁界である点が大きく異なっている。交流磁界を検査信号として用いるこの検査方式自体は渦流探傷と呼ばれる周知の技術であるが、多チャンネルで渦流探傷を行う多チャンネル検査と、単一チャンネルで渦流探傷を行う単チャンネル検査を第１の実施形態と同様に適宜切り換えられるようになっている。
【００３１】
具体的には、装置本体１には、図６に示すように多チャンネル検査用の発信受信回路１２０と、単チャンネル検査用の発信受信回路１２１が設けられると共に、これらの各発信受信回路１２０，１２１に接続されたプローブ接続コネクタ１０３，１０４が設けられている。多チャンネル検査用の発信受信回路１２０は、交流電源４０を有する発信部の出力端がプローブ接続コネクタ１０３に接続される一方で、入力端がプローブ接続コネクタ１０３に接続された受信部がアンプ４１とＡ／Ｄ変換部４２を介して画像処理回路１１９に接続されている。単チャンネル検査用の発信受信回路１２１は、多チャンネル側と同様に交流電源４３を有する発信部と、アンプ４４とＡ／Ｄ変換部４５を有する受信部とを有し、発信部の出力端と受信部の入力端が夫々プローブ接続コネクタ１０４に接続されている。単チャンネル側のプローブ接続コネクタ１０４には、発信、受信用の一対の電磁コイル４６を有する検査プローブ１０６がコネクタ４９を介して接続され、多チャンネル側のプローブ接続コネクタ１０３には、複数の電磁コイル４７を有する検査プローブ１０５がコネクタ５０を介して接続される。ただし、多チャンネル側のプローブ接続コネクタ１０３には後述するボルトホールスキャナ４８（図９参照。）が交換接続可能となっている。
【００３２】
また、多チャンネル検査用の検査プローブ１０５には、複数の電磁コイル４７を時分割駆動するためのマルチプレクサ回路５１と、検査プローブ１０５の個別データを格納したＲＯＭ３６が設けられている。これに対し、多チャンネル側の発信受信回路１２０には、マルチプレクサ回路５１を制御するためのマルチプレクサ制御部５２と、ＲＯＭ３６のデータを読み込んで検査プローブ１０５毎の補正処理を行う制御回路５３が設けられている。
【００３３】
多チャンネル側のプローブ接続コネクタ１０３と、このプローブ接続コネクタ１０３に接続されるボルトホールスキャナ４８の詳細については後に述べるが、この実施形態の非破壊検査装置の場合は、第１の実施形態と同様に単チャンネルの検査プローブ１０６と多チャンネルの検査プローブ１０５を対応するプローブ接続コネクタ１０４，１０３に接続し、両検査プローブ１０６，１０５を適宜切り換えて検査を効率良く行うことができる。したがって、この実施形態の非破壊検査装置においても、二台の専用装置を用いる場合に比較して取り扱いが容易になると共に、保管場所を小スペース化する上で有利となる。
【００３４】
ここで、ボルトホールスキャナ４８について説明すると、ボルトホールスキャナ４８は、金属部材に形成されたボルト孔内の亀裂等を渦流探傷によって検査するものであり、ボルト孔に挿入される棒状部に、図９に示すように発信、受信用の電磁コイル５５が配置され、その電磁コイル５５がモータＭによって回転駆動されるようになっている。このボルトホールスキャナ４８の場合、電磁コイル５５による探傷のシステムは単チャンネル側の検査プローブ１０６と同様であるが、電磁コイル５５をモータＭによって回転させることによってボルト孔内を３６０°の範囲で検査することができる。また、ボルトホールスキャナ４８には、装置本体１側から信号を受けてモータＭを制御するモータ制御回路５６や、受信信号を処理するためのアンプ５７、さらにボルトホールスキャナ４８の個別情報を格納したＲＯＭ５８等が内蔵されている。
【００３５】
また、ボルトホールスキャナ４８側のコネクタ５９は、図９に示すように少なくとも以下のａ１〜ａ８のコネクタピンを備えている。
ａ１…モータ駆動電源用のコネクタピン（Ｖｃｃ）
ａ２…モータ駆動電源用のコネクタピン（ＧＮＤ）
ａ３…モータ制御信号の入力用のコネクタピン
ａ４…電磁コイル５５に対する発信信号を入力するためのコネクタピン
ａ５…電磁コイル５５の受信信号を出力するためのコネクタピン
ａ６…モータ制御回路５６やアンプ５７に電源供給するためのコネクタピン（Ｖｃｃ）
ａ７…モータ制御回路５６やアンプ５７に電源供給するためのコネクタピン（ＧＮＤ）
ａ８…ＲＯＭ接続用のコネクタピン
【００３６】
一方、マルチコイル式の検査プローブ１０５（ＭＣ）は、この実施形態の場合、具体的には２０個の電磁コイル４７が用いられ、このうちの５個ずつの電磁コイル４７が１チャンネルとしてまとめられ、合計４チャンネルで用いられている。即ち、この実施形態の場合、各チャンネルの５個の電磁コイル４７が夫々マルチプレクサ回路５１によって時分割駆動される。ただし、各電磁コイル４７に対する発信はすべてのチャンネルで同じ信号であっても問題がないため、各チャンネルには一つの信号線からパラレルに発信信号が送られるようになっている（図８参照。）。
【００３７】
装置本体１側のプローブ接続コネクタ１０３に接続されるプローブ側のコネクタ５０は、図８に示すように少なくとも以下のｂ１〜ｂ９のコネクタピンを備えている。
ｂ１…マルチプレクサ回路５１を制御のためのコネクタピン
ｂ２…電磁コイル４７に発信信号を送るためのコネクタピン（１チャンネル）
ｂ３〜ｂ６…電磁コイル４７の受信信号を装置本体１側に出力するコネクタピン（４チャンネル）
ｂ７…マルチプレクサ回路５１に電源供給するためのコネクタピン（Ｖｃｃ）
ｂ８…マルチプレクサ回路５１に電源供給するためのコネクタピン（ＧＮＤ）
ｂ９…ＲＯＭ接続用のコネクタピン
【００３８】
また、プローブ接続コネクタ１０３は、図７に示すように少なくとも以下のｃ１〜ｃ１１のピン穴を備えている。
ｃ１…モータ駆動電源用のピン穴（Ｖｃｃ）
ｃ２…モータ駆動電源用のピン穴（ＧＮＤ）
ｃ３…マルチプレクサ制御信号の入力、または、モータ制御信号の入力に用いるピン穴
ｃ４…電磁コイル４７に対する発信（マルチコイル式の検査プローブ１０５）、または、電磁コイル５５に対する発信（ボルトホールスキャナ４８）に用いるピン穴
ｃ５…電磁コイル４７の受信信号の出力（マルチコイル式の検査プローブ１０５）、または、電磁コイル５５の受信信号の出力（ボルトホールスキャナ４８）に用いるピン穴
ｃ６〜ｃ８…電磁コイル４７の受信信号の出力（マルチコイル式の検査プローブ１０５）に用いるピン穴。
ｃ９…マルチプレクサ回路５１に対する電源供給（Ｖｃｃ）（マルチコイル式の検査プローブ１０５）、または、モータ制御回路５６やアンプ５７に対する電源供給（Ｖｃｃ）（ボルトホールスキャナ４８）に用いるピン穴。
ｃ１０…マルチプレクサ回路５１に対する電源供給（ＧＮＤ）（マルチコイル式の検査プローブ１０５）、または、モータ制御回路５６やアンプ５７に対する電源供給（ＧＮＤ）（ボルトホールスキャナ４８）に用いるピン穴。
ｃ１１…ＲＯＭ接続用のピン穴。
【００３９】
以上のようにプローブ接続コネクタ１０３は、マルチコイル式の検査プローブ１０５とボルトホールスキャナ４８で共用するために複数のピン穴ｃ１〜ｃ１１を備えるが、可能な限りピン穴数を減らすために次のような工夫がなされている。
＜マルチプレクサ制御信号、モータ制御信号＞
マルチプレクサ制御信号とモータ制御信号はデジタル信号であるため、スイッチ６０（図６，図８，図９参照。）によってピン穴ｃ３の接続をマルチプレクサ制御側とモータ制御側のいずれかに切り換え、それによってピン穴ｃ３を共用できるようにしている。
＜発信、受信信号＞
ボルトホールスキャナ４８は、発信部で１チャンネル、受信部で１チャンネルを使用し、マルチコイル式の検査プローブ１０５は、発信部で１チャンネル、受信部で４チャンネル使用し、しかも、ボルトホールスキャナ４８と検査プローブ１０５は基本的に同じ探傷の仕組みを利用している。このため、発信部に接続されるピン穴ｃ４と受信部に接続される一つのピン穴ｃ５を共用するようにしている。尚、ボルトホールスキャナ４８の利用時には、ピン穴ｃ６〜ｃ８の３つが余る。
＜マルチプレクサ回路、モータ制御回路等の電源＞
マルチコイル式の検査プローブ１０５の電源と、ボルトホールスキャナ４８のモータ制御回路５６等電源は同じ電源電圧を使用することで共用するようにしている。ただし、異なる電圧を用いる場合には、ＧＮＤ側のみを共用する。
尚、モータ駆動電源用のピン穴ｃ１，ｃ２は、検査プローブ１０５側の他の回路とは共用しておらず、ボルトホールスキャナ４８の接続時にモータＭの駆動部を単独でバッテリに直付けするようになっている。
【００４０】
この実施形態の非破壊検査装置は、以上のように共通のプローブ接続コネクタ１０３をマルチコイル式の検査プローブ１０５とボルトホールスキャナ４８で共用することができるため、装置本体１に配置するコネクタ数や配線数を減らすことができる。したがって、この装置においては、装置重量の増加と製造コストの高騰を抑えることが可能である。
【００４１】
尚、この発明の実施形態は以上で説明したものに限るものではなく、この他にも種々の態様が採用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４２】
【図１】この発明の第１の実施形態を示す装置本体の概略回路構成図。
【図２】同実施形態示す装置本体の斜視図。
【図３】同実施形態を示すコネクタモジュールの斜視図。
【図４】同実施形態を示す他のコネクタモジュールの斜視図。
【図５】同実施形態を示すものであり、ソフトキャリングケースに収納した装置を作業者が持った外観図。
【図６】この発明の第２の実施形態を示す装置本体の概略回路構成図。
【図７】同実施形態を示すものであり、多チャンネル検査用のプローブ接続コネクタに接続される装置本体側の機能ブロックを示すブロック図に、マルチコイル利用時とボルトホールスキャナ利用時における各機能ブロックの使用状況を併せて記載した図。
【図８】同実施形態を示すものであり、多チャンネル検査用のプローブ接続コネクタに接続される装置本体側の機能ブロックとマルチコイル式の検査プローブの接続状態を示す概略構成図。
【図９】同実施形態を示すものであり、多チャンネル検査用のプローブ接続コネクタに接続される装置本体側の機能ブロックとボルトホールスキャナの接続状態を示すブロック。
【符号の説明】
【００４３】
１  装置本体
３，４Ａ，４Ｂ，１０３，１０４  プローブ接続コネクタ
５，６Ａ，６Ｂ，１０５，１０６  検査プローブ
２０，２１，１２０，１２１  発信受信回路
２６  インターフェイスコネクタ
２７ａ，２７ｂ，３５ａ  駆動端子（駆動制限手段）
２９ａ，２９ｂ  導通端子（駆動制限手段）
３１  変換基板
３３Ａ，３３Ｂ  コネクタモジュール
【図１】
2006030052.tif 000003
【図２】
2006030052.tif 000004
【図３】
2006030052.tif 000005
【図４】
2006030052.tif 000006
【図５】
2006030052.tif 000007
【図６】
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【図７】
2006030052.tif 000009
【図８】
2006030052.tif 000010
【図９】
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