(57)【要約】【課題】  光ディスクの製造段階での不良など、ディフェクト部分が記録面に存在する場合にも、トラッキング制御の乱れを小さく制限する。【解決手段】  出力端子２は、光ピックアップ１に接続されて、メインビームに先行する先行サブビームの戻り光を電気信号に変換した先行サブビーム戻り光信号を出力する。ディフェクト期間検出回路５は、前記出力端子２からの先行サブビーム戻り光信号に基づいて、光ディスク８のディフェクト部分をビームが通過中であるディフェクト期間を検出する。サーボホールド回路７は、前記検出されたディフェクト期間中は、トラッキングサーボをホールドする。従って、ディフェクト期間中にＲＦ信号の振幅が急峻に減衰しても、その減衰の早期の段階でディフェクト期間が検出されて、トラッキングエラー信号の振幅の変化を小さく抑制できる。【選択図】  図１
2006085803.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
メインビーム並びに前記メインビームに先行及び後続する先行サブビーム及び後続サブビームを光ディスクに出力する光ピックアップを備え、
前記光ディスクに記録された情報を再生するために、デジタル変調信号及びフォーカシング誤差信号の検出を前記光ピックアップのメインビームによる読み取りスポットに基づいて行い、トラッキング誤差信号の検出を前記光ピックアップの先行及び後続サブビームによる読み取りスポットに基づいて行う光ディスク装置において、
前記光ピックアップと、
前記光ピックアップの先行サブビームの戻り光を電気信号に変換した先行サブビーム戻り光信号が得られる第１の出力端子、及び前記光ピックアップの後続サブビームの戻り光を電気信号に変換した後続サブビーム戻り光信号が得られる第２の出力端子に接続され、この２つの出力端子からの先行及び後続サブビーム戻り光信号に基づいてトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、
前記トラッキングエラー信号生成手段の前記トラッキングエラー信号を受け、前記トラッキングエラー信号に基づいてトラッキング制御を行うトラッキング制御手段と、
前記第１の出力端子からの先行サブビーム戻り光信号又は前記第１及び第２の出力端子の双方からの先行及び後続サブビーム戻り光信号に基づいて、前記光ディスクのディフェクト期間を検出してディフェクト期間信号を出力するディフェクト期間検出手段と、
前記ディフェクト期間検出手段の前記ディフェクト期間信号を受け、前記ディフェクト期間信号に基づいて、前記トラッキング制御手段によるトラッキング制御をホールドするホールド手段とを備えた
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
前記請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記ディフェクト期間検出手段は、
前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号の暗レベルに基づいて第１の基準レベルを生成する第１の基準レベル生成手段と、
前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号のＲＦ成分の下側レベルを用いて第２の基準レベルを生成する第２の基準レベル生成手段と、
前記第１及び第２の基準レベル生成手段で生成された前記第１及び第２の基準レベルの間の値を持つ第３の基準レベルを生成する第３の基準レベル生成手段と、
前記第１の出力端子から先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号を前記第３の基準レベル生成手段の第３の基準レベルを基準に２値化して第１のパルスを生成する第１のパルス生成手段と、
前記第１のパルス生成手段により生成された第１のパルスの後ろエッヂを所定時間引き延ばしてディフェクト期間検出信号を生成する単安定回路とを備える
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
前記請求項２に記載の光ディスク装置において、
前記ディフェクト期間検出手段は、
前記第１の出力端子から先行サブビーム戻り光信号を前記第１のパルス生成手段に入力する経路に配置されて、前記先行サブビーム戻り光信号のボトムをホールドするボトムホールド手段を備える
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
前記請求項に２記載の光ディスク装置において、
前記ディフェクト期間検出手段は、
前記第１の出力端子から先行サブビーム戻り光信号を前記第１のパルス生成手段に入力する経路、及び前記第３の基準レベル生成手段の第３の基準レベルを前記第１のパルス生成手段に入力する経路のうち少なくとも一方に配置されて、前記先行サブビーム戻り光信号及び前記第３の基準レベルの一方又は双方を調整する正規化レベル調整手段を備える
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
前記請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記ディフェクト期間検出手段は、
前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号の暗レベルに基づいて第１の基準レベルを生成する第１の基準レベル生成手段と、
前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号のＲＦ成分の下側レベルを用いて第２の基準レベルを生成する第２の基準レベル生成手段と、
前記第１及び第２の基準レベル生成手段で生成された前記第１及び第２の基準レベルの間の値を持つ第３の基準レベルを生成する第３の基準レベル生成手段と、
前記第１の出力端子から先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号を前記第３の基準レベル生成手段の第３の基準レベルを基準に２値化して第１のパルスを生成する第１のパルス生成手段と、
前記第２の出力端子の後続サブビーム戻り光信号を受け、この後続サブビーム戻り光信号の暗レベルに基づいて第４の基準レベルを生成する第４の基準レベル生成手段と、
前記第２の出力端子の後続サブビーム戻り光信号を受け、この後続サブビーム戻り光信号のＲＦ成分の下側レベルを用いて第５の基準レベルを生成する第５の基準レベル生成手段と、
前記第４及び第５の基準レベル生成手段で生成された前記第４及び第５の基準レベルの間の値を持つ第６の基準レベルを生成する第６の基準レベル生成手段と、
前記第２の出力端子から後続サブビーム戻り光信号を受け、この後続サブビーム戻り光信号を前記第６の基準レベル生成手段の第６の基準レベルを基準に２値化して第２のパルスを生成する第２のパルス生成手段と、
前記第１及び第２のパルス生成手段からの第１及び第２のパルスを受け、この第１のパルスと第２のパルスとの論理和をとる第１のＯＲ回路とを備えた
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
前記請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記ディフェクト期間検出手段は、
前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号の暗レベルに基づいて第１の基準レベルを生成する第１の基準レベル生成手段と、
前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号のＲＦ成分の下側レベルを用いて第２の基準レベルを生成する第２の基準レベル生成手段と、
前記第１及び第２の基準レベル生成手段で生成された前記第１及び第２の基準レベルの間の値を持つ第３の基準レベルを生成する第３の基準レベル生成手段と、
前記第２の出力端子の後続サブビーム戻り光信号を受け、この後続サブビーム戻り光信号の暗レベルに基づいて第４の基準レベルを生成する第４の基準レベル生成手段と、
前記第２の出力端子の後続サブビーム戻り光信号を受け、この後続サブビーム戻り光信号のＲＦ成分の下側レベルを用いて第５の基準レベルを生成する第５の基準レベル生成手段と、
前記第４及び第５の基準レベル生成手段で生成された前記第４及び第５の基準レベルの間の値を持つ第６の基準レベルを生成する第６の基準レベル生成手段と、
前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号の下側のエンベロープを出力する第１のボトムホールド手段と、
前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号の上側のエンベロープを出力する第１のピークホールド手段と、
前記第２の出力端子の後続サブビーム戻り光信号の下側のエンベロープを出力する第２のボトムホールド手段と、
前記第２の出力端子の後続サブビーム戻り光信号の上側のエンベロープを出力する第２のピークホールド手段と、
前記第１のボトムホールド手段の出力信号を前記第３の基準レベル生成手段の第３の基準レベルに基づいて２値化して第１のパルスを生成する第１のパルス生成手段と、
前記第２のボトムホールド手段の出力信号を前記第６の基準レベル生成手段の第６の基準レベルに基づいて２値化して第２のパルスを生成する第２のパルス生成手段と、
前記第１のピークホールド手段の出力信号を前記第３の基準レベル生成手段の第３の基準レベルに基づいて２値化して第３のパルスを生成する第３のパルス生成手段と、
前記第２のピークホールド手段の出力信号を前記第６の基準レベル生成手段の第６の基準レベルに基づいて２値化して第４のパルスを生成する第４のパルス生成手段と、
前記第１のピークホールド手段のドループレートを、前記第１のパルス生成手段の第１のパルスの立ち上がりによって速くする一方、前記第３のパルス生成手段の第３のパルスの立ち下がりによって遅くする第１のドループレート可変手段と、
前記第２のピークホールド手段のドループレートを、前記第２のパルス生成手段の第２のパルスの立ち上がりによって速くする一方、前記第４のパルス生成手段の第４のパルスの立ち下がりによって遅くする第２のドループレート可変手段と、
前記第１及び第３のパルス生成手段からの第１及び第３のパルスを受け、この第１のパルスと第３のパルスとの論理和をとる第１のＯＲ回路とを備えた
前記第２及び第４のパルス生成手段からの第２及び第４のパルスを受け、この第２のパルスと第４のパルスとの論理和をとる第２のＯＲ回路と、
前記第１のＯＲ回路の出力信号の立ち上がりによってディフェクト期間の開始を示すパルスを生成し、前記第２のＯＲ回路の出力信号の立ち下がりによって前記ディフェクト期間からの復帰を示すパルスを生成する第５のパルス生成手段とを備えた
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項７】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記光ピックアップのメインビームの戻り光を電気信号に変換したメインビームの戻り光信号が得られる第３の出力端子に接続され、前記メインビーム戻り光信号の振幅を一定値に正規化したＲＦ信号を生成するＡＧＣ手段と、
前記ディフェクト期間検出手段が生成するディフェクト期間信号に比べて、ディフェクト期間の突入の検出が遅い一方、ディフェクト期間からの復帰の検出が早い第２のディフェクト検出期間を示す第２のディフェクト期間信号を生成する第２のディフェクト期間検出手段と、
前記第２のディフェクト期間検出手段の第２のディフェクト期間信号が示す第２のディフェクト検出期間の間、前記ＡＧＣ手段のゲインを一定値に固定するＡＧＣホールド手段とを備えた
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】
前記請求項７に記載の光ディスク装置において、
前記第２のディフェクト期間検出手段は、
前記ＡＧＣ手段からのＲＦ信号を受け、このＲＦ信号に基づいて前記第２のディフェクト期間信号を生成する
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項９】
メインビーム並びに前記メインビームに先行及び後続する先行サブビーム及び後続サブビームを光ディスクに出力する光ピックアップを備え、
前記光ディスクに記録された情報を再生するために、デジタル変調信号及びフォーカシング誤差信号の検出を前記光ピックアップのメインビームによる読み取りスポットに基づいて行い、トラッキング誤差信号の検出を前記光ピックアップの先行及び後続サブビームによる読み取りスポットに基づいて行う光ディスク装置において、
前記光ピックアップと、
前記光ピックアップの先行サブビームの戻り光を電気信号に変換した先行サブビーム戻り光信号が得られる第１の出力端子、及び前記光ピックアップの後続サブビームの戻り光を電気信号に変換した後続サブビーム戻り光信号が得られる第２の出力端子に接続され、この２つの出力端子からの先行及び後続サブビーム戻り光信号に基づいてトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、
前記トラッキングエラー信号生成手段の前記トラッキングエラー信号を受け、前記トラッキングエラー信号に基づいてトラッキング制御を行うトラッキング制御手段と、
前記第１の出力端子からの先行サブビーム戻り光信号又は前記第１及び第２の出力端子の双方からの先行及び後続サブビーム戻り光信号に基づいて、前記光ディスクのディフェクト期間を検出して第１のディフェクト期間信号と、前記第１のディフェクト期間信号に比べてディフェクト期間の突入の検出が遅い一方でディフェクト期間からの復帰の検出が早い第２のディフェクト検出期間を示す第２のディフェクト期間信号を生成するディフェクト期間検出手段と、
前記ディフェクト期間検出手段の前記第１のディフェクト期間信号を受け、前記第１のディフェクト期間信号に基づいて、前記トラッキング制御手段によるトラッキング制御をホールドするホールド手段と、
前記光ピックアップのメインビームの戻り光を電気信号に変換したメインビーム戻り光信号が得られる第３の出力端子に接続され、前記メインビーム戻り光信号の振幅を一定に正規化したＲＦ信号を生成するＡＧＣ手段と、
前記ディフェクト期間検出手段の第２のディフェクト期間信号が示す第２のディフェクト検出期間の間、前記ＡＧＣ手段のゲインを一定値に固定するＡＧＣホールド手段とを備えた
ことを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに記録された情報を再生し出力する３ビーム方式の光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般に、CD（Compact Disk）やDVD（Digital Versatile Disk）等の光ディスクを再生する光ディスク装置では、光ディスク上のピット列を有するトラックに光ピックアップからのビームによる読み取りスポットを追従させるためのトラッキング制御（トラッキングサーボ）が不可欠である。このトラッキングサーボは、光ピックアップでの検出される光ディスクからの戻り光（反射光）に基づく信号によりトラッキングエラー信号を生成し、そのトラッキングエラー信号に基づいて行われている。
【０００３】
しかし、光ディスク面に傷があったり、異物が付着していたり、又は記録されているピットが損傷している場合（このような場合をディフェクトと称する）には、ビームがディフェクト部分に突入する際に、ディフェクトによりトラッキングエラー信号に乱れが生じて、ビームのトラッキングが変更され、ディフェクト部分からビームが脱出した際にトラッキングが乱れたり、外れたりする。
【０００４】
そこで、例えば、特許文献１に記載されるように、ディフェクト期間（つまり、ディフェクト部分上をビームが通過する期間）を検出し、そのディフェクト期間中は、トラッキングエラー信号をミュート（適当な中間レベルの信号に固定）したり、ディフェクト期間の直前のレベルに固定することにより、ディフェクト期間におけるトラッキングエラー信号の乱れを抑えることが可能となる。これにより、ディフェクトに起因するトラッキングのずれの発生を減少させることができる。
【０００５】
以下、従来の光ディスク装置について、図１４を用いて説明する。
【０００６】
図１４は、光ディスクに記録された情報を再生し出力する従来の３ビーム方式の光ディスク装置の構成を示す。
【０００７】
同図において、１は光ピックアップであって、メインビームの戻り光（反射光）を検出するための４分割されたメインビームセンサと、トラッキングサーボのためにメインビームセンサの前後で且つピットの走査方向に対して左右両側に配置されて２つのサブビームの戻り光を検出するサブビームセンサを備える。ここで、メインビームセンサにより電気信号に変換された４つの電気信号をＡ〜Ｄ信号とし、メインビームに対して先行するサブビームを先行サブビーム、メインビームに対して後続するサブビームを後続サブビームとし、更に、先行サブビームの戻り光を検出するサブビームセンサをＥ、後続サブビームの戻り光を検出するサブビームセンサをＦとし、サブビームセンサＥで検出された信号をＥ信号、サブビームセンサＦで検出された信号をＦ信号とする。
【０００８】
図１４において、２及び３は光ピックアップ１に接続された第１及び第２の出力端子であり、第１の出力端子２にはＥ信号、第２の出力端子３にはＦ信号が出力される。
【０００９】
また、４は前記第１及び第２の出力端子に接続され、前記Ｅ信号とＦ信号とから、Ｅ信号の値−Ｆ信号の値の演算を行って、トラッキングエラー信号（以下、ＴＥ信号という）を生成するトラッキングエラー信号生成回路、６はＴＥ信号を用いてトラッキングサーボを行うトラッキング制御回路である。
【００１０】
９は、光ピックアップ１に接続された第３の出力端子であり、メインビームセンサからの４つのＡ〜Ｄ信号を加算した信号（ＲＦ信号(デジタル変調信号)）を出力する。１０は、前記第３の出力端子９に接続されて前記ＲＦ信号を一定振幅に正規化するＡＧＣ回路、１１は前記第３の出力端子９からのＲＦ信号に基づいてフォーカシング誤差信号を生成してフォーカスサーボを行うフォーカス制御回路である。
【００１１】
前記トラッキング制御回路６は、前記トラッキングエラー信号生成回路４からのＴＥ信号に基づいて前記光ピックアップ１のトラッキングアクチュエータのドライバアンプ（図示せず）を制御する。これにより、トラッキングサーボが行われながら光ディスク８に記録された情報からＲＦ信号が生成されると共に、フォーカス制御回路１１でフォーカスサーボが行われながら、前記ＡＧＣ回路１０からの正規化されたＲＦ信号に基づいて、光ディスク８に記録された情報が再生される。
【００１２】
更に、図１４において、４０は前記ＡＧＣ回路１０からの正規化されたＲＦ信号を元にディフェクト期間を検出してディフェクト期間信号を出力するディフェクト期間検出回路、７は前記トラッキング制御回路６に含まれたサーボホールド回路であって、前記ディフェクト期間検出回路４０で検出されたディフェクト期間信号に基づいてＴＥ信号をディフェクト期間直前の値（レベル）にホールドする。また、３９は前記ディフェクト期間検出回路４０からのディフェクト期間信号をうけるＡＧＣホールド回路であって、ディフェクト期間ではＡＧＣ回路１０のゲインを固定値にホールドする。
【００１３】
図１５は、光ディスクの表面上におけるメインビーム、サブビーム、及びディフェクト部分の位置関係を示している。同図では、光ディスクの回転方向に対して、先行サブビーム４５、メインビーム４４、後続サブビーム４６の順番に並んでいる。ここに、ディフェクト部分４７が存在する場合に、図１４に示した光ディスク装置では、ディフェクト期間の検出は光ピックアップ１から第３の出力端子９を介してＡＧＣ回路１０で正規化されたＲＦ信号のレベルに基づいてディフェクト期間検出回路４０が行うため、先行サブビームがディフェクト部分に突入した時点からＲＦ信号のレベルが低下してディフェクト期間であることが検出されるまでに多少のタイムラグがあるが、光ディスク面の傷や表面に付着した異物などが光ディスク表面に存在するディフェクトでは、図１６に示すように、ディフェクト部分への突入時のＲＦ信号の振幅は、Ｅ信号の変化開始とＦ信号の変化開始との時間差に比べて十分長い時間をかけて減衰するため、サーボがホールドされる際のＴＥ信号の振幅ａは小さく、またサーボのホールドが解除された瞬間のＴＥ信号の変動幅ｂが小さいため、ディフェクトによるトラッキングの乱れは小さく、問題にはならない。
【特許文献１】特開昭６１−９６５２９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１４】
しかしながら、本発明者等が検討したところ、光ディスクの製造段階での不良など、ディフェクトが記録面に存在する場合には、図１７に示すように、ディフェクト突入時のＲＦ信号の振幅は、Ｅ信号の変化開始とＦ信号の変化開始との時間差と同等の短さで急峻に減衰するため、従来の光ディスク装置では、ＲＦ信号のレベルに基づいてディフェクト期間検出回路４０がディフェクト期間の検出を行うと、トラッキングサーボがホールドされる際のＴＥ信号の振幅Ａが大きくなり、また、トラッキングサーボのホールドが解除された瞬間のＴＥ信号の変動幅Ｂが大きくなり、このため、ディフェクトに起因するトラッキング制御の乱れが大きくなり、この乱れが大き過ぎると、サーボが外れてしまうことが判った。
【００１５】
本発明は、前記従来の問題点を解決するものであり、その目的は、光ディスクの記録面に存在するディフェクトに対しても、ＴＥ信号が乱れることを極力抑えて、ディフェクトに起因するトラッキング制御の乱れが発生するのを有効に抑制できる光ディスク装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１６】
前記目的を達成するために、本発明では、光ディスクの記録面に存在するディフェクト部分をビームが突入した際に、ＲＦ信号の振幅が急峻に減衰しても、その減衰の早期の段階でディフェクト期間を検出することとして、この検出を、メインビームの戻り光によるＲＦ信号に基づいて行うのではなく、メインビームに先行する先行サブビームの戻り光によるＥ信号に基づいて行う。
【００１７】
具体的に、請求項１記載の発明の光ディスク装置は、メインビーム並びに前記メインビームに先行及び後続する先行サブビーム及び後続サブビームを光ディスクに出力する光ピックアップを備え、前記光ディスクに記録された情報を再生するために、デジタル変調信号及びフォーカシング誤差信号の検出を前記光ピックアップのメインビームによる読み取りスポットに基づいて行い、トラッキング誤差信号の検出を前記光ピックアップの先行及び後続サブビームによる読み取りスポットに基づいて行う光ディスク装置において、前記光ピックアップと、前記光ピックアップの先行サブビームの戻り光を電気信号に変換した先行サブビーム戻り光信号が得られる第１の出力端子、及び前記光ピックアップの後続サブビームの戻り光を電気信号に変換した後続サブビーム戻り光信号が得られる第２の出力端子に接続され、この２つの出力端子からの先行及び後続サブビーム戻り光信号に基づいてトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、前記トラッキングエラー信号生成手段の前記トラッキングエラー信号を受け、前記トラッキングエラー信号に基づいてトラッキング制御を行うトラッキング制御手段と、前記第１の出力端子からの先行サブビーム戻り光信号又は前記第１及び第２の出力端子の双方からの先行及び後続サブビーム戻り光信号に基づいて、前記光ディスクのディフェクト期間を検出してディフェクト期間信号を出力するディフェクト期間検出手段と、前記ディフェクト期間検出手段の前記ディフェクト期間信号を受け、前記ディフェクト期間信号に基づいて、前記トラッキング制御手段によるトラッキング制御をホールドするホールド手段とを備えたことを特徴とする。
【００１８】
請求項２記載の発明は、前記請求項１に記載の光ディスク装置において、前記ディフェクト期間検出手段は、前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号の暗レベルに基づいて第１の基準レベルを生成する第１の基準レベル生成手段と、前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号のＲＦ成分の下側レベルを用いて第２の基準レベルを生成する第２の基準レベル生成手段と、前記第１及び第２の基準レベル生成手段で生成された前記第１及び第２の基準レベルの間の値を持つ第３の基準レベルを生成する第３の基準レベル生成手段と、前記第１の出力端子から先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号を前記第３の基準レベル生成手段の第３の基準レベルを基準に２値化して第１のパルスを生成する第１のパルス生成手段と、前記第１のパルス生成手段により生成された第１のパルスの後ろエッヂを所定時間引き延ばしてディフェクト期間検出信号を生成する単安定回路とを備えることを特徴とする。
【００１９】
請求項３記載の発明は、前記請求項２に記載の光ディスク装置において、前記ディフェクト期間検出手段は、前記第１の出力端子から先行サブビーム戻り光信号を前記第１のパルス生成手段に入力する経路に配置されて、前記先行サブビーム戻り光信号のボトムをホールドするボトムホールド手段を備えることを特徴とする。
【００２０】
請求項４記載の発明は、前記請求項に２記載の光ディスク装置において、前記ディフェクト期間検出手段は、前記第１の出力端子から先行サブビーム戻り光信号を前記第１のパルス生成手段に入力する経路、及び前記第３の基準レベル生成手段の第３の基準レベルを前記第１のパルス生成手段に入力する経路のうち少なくとも一方に配置されて、前記先行サブビーム戻り光信号及び前記第３の基準レベルの一方又は双方を調整する正規化レベル調整手段を備えることを特徴とする。
【００２１】
請求項５記載の発明は、前記請求項１に記載の光ディスク装置において、前記ディフェクト期間検出手段は、前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号の暗レベルに基づいて第１の基準レベルを生成する第１の基準レベル生成手段と、前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号のＲＦ成分の下側レベルを用いて第２の基準レベルを生成する第２の基準レベル生成手段と、前記第１及び第２の基準レベル生成手段で生成された前記第１及び第２の基準レベルの間の値を持つ第３の基準レベルを生成する第３の基準レベル生成手段と、前記第１の出力端子から先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号を前記第３の基準レベル生成手段の第３の基準レベルを基準に２値化して第１のパルスを生成する第１のパルス生成手段と、前記第２の出力端子の後続サブビーム戻り光信号を受け、この後続サブビーム戻り光信号の暗レベルに基づいて第４の基準レベルを生成する第４の基準レベル生成手段と、前記第２の出力端子の後続サブビーム戻り光信号を受け、この後続サブビーム戻り光信号のＲＦ成分の下側レベルを用いて第５の基準レベルを生成する第５の基準レベル生成手段と、前記第４及び第５の基準レベル生成手段で生成された前記第４及び第５の基準レベルの間の値を持つ第６の基準レベルを生成する第６の基準レベル生成手段と、前記第２の出力端子から後続サブビーム戻り光信号を受け、この後続サブビーム戻り光信号を前記第６の基準レベル生成手段の第６の基準レベルを基準に２値化して第２のパルスを生成する第２のパルス生成手段と、前記第１及び第２のパルス生成手段からの第１及び第２のパルスを受け、この第１のパルスと第２のパルスとの論理和をとる第１のＯＲ回路とを備えたことを特徴とする。
【００２２】
請求項６記載の発明は、前記請求項１に記載の光ディスク装置において、前記ディフェクト期間検出手段は、前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号の暗レベルに基づいて第１の基準レベルを生成する第１の基準レベル生成手段と、前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号を受け、この先行サブビーム戻り光信号のＲＦ成分の下側レベルを用いて第２の基準レベルを生成する第２の基準レベル生成手段と、前記第１及び第２の基準レベル生成手段で生成された前記第１及び第２の基準レベルの間の値を持つ第３の基準レベルを生成する第３の基準レベル生成手段と、前記第２の出力端子の後続サブビーム戻り光信号を受け、この後続サブビーム戻り光信号の暗レベルに基づいて第４の基準レベルを生成する第４の基準レベル生成手段と、前記第２の出力端子の後続サブビーム戻り光信号を受け、この後続サブビーム戻り光信号のＲＦ成分の下側レベルを用いて第５の基準レベルを生成する第５の基準レベル生成手段と、前記第４及び第５の基準レベル生成手段で生成された前記第４及び第５の基準レベルの間の値を持つ第６の基準レベルを生成する第６の基準レベル生成手段と、前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号の下側のエンベロープを出力する第１のボトムホールド手段と、前記第１の出力端子の先行サブビーム戻り光信号の上側のエンベロープを出力する第１のピークホールド手段と、前記第２の出力端子の後続サブビーム戻り光信号の下側のエンベロープを出力する第２のボトムホールド手段と、前記第２の出力端子の後続サブビーム戻り光信号の上側のエンベロープを出力する第２のピークホールド手段と、前記第１のボトムホールド手段の出力信号を前記第３の基準レベル生成手段の第３の基準レベルに基づいて２値化して第１のパルスを生成する第１のパルス生成手段と、前記第２のボトムホールド手段の出力信号を前記第６の基準レベル生成手段の第６の基準レベルに基づいて２値化して第２のパルスを生成する第２のパルス生成手段と、前記第１のピークホールド手段の出力信号を前記第３の基準レベル生成手段の第３の基準レベルに基づいて２値化して第３のパルスを生成する第３のパルス生成手段と、前記第２のピークホールド手段の出力信号を前記第６の基準レベル生成手段の第６の基準レベルに基づいて２値化して第４のパルスを生成する第４のパルス生成手段と、前記第１のピークホールド手段のドループレートを、前記第１のパルス生成手段の第１のパルスの立ち上がりによって速くする一方、前記第３のパルス生成手段の第３のパルスの立ち下がりによって遅くする第１のドループレート可変手段と、前記第２のピークホールド手段のドループレートを、前記第２のパルス生成手段の第２のパルスの立ち上がりによって速くする一方、前記第４のパルス生成手段の第４のパルスの立ち下がりによって遅くする第２のドループレート可変手段と、前記第１及び第３のパルス生成手段からの第１及び第３のパルスを受け、この第１のパルスと第３のパルスとの論理和をとる第１のＯＲ回路とを備えた前記第２及び第４のパルス生成手段からの第２及び第４のパルスを受け、この第２のパルスと第４のパルスとの論理和をとる第２のＯＲ回路と、前記第１のＯＲ回路の出力信号の立ち上がりによってディフェクト期間の開始を示すパルスを生成し、前記第２のＯＲ回路の出力信号の立ち下がりによって前記ディフェクト期間からの復帰を示すパルスを生成する第５のパルス生成手段とを備えたことを特徴とする。
【００２３】
請求項７記載の発明は、請求項１に記載の光ディスク装置において、前記光ピックアップのメインビームの戻り光を電気信号に変換したメインビームの戻り光信号が得られる第３の出力端子に接続され、前記メインビーム戻り光信号の振幅を一定値に正規化したＲＦ信号を生成するＡＧＣ手段と、前記ディフェクト期間検出手段が生成するディフェクト期間信号に比べて、ディフェクト期間の突入の検出が遅い一方、ディフェクト期間からの復帰の検出が早い第２のディフェクト検出期間を示す第２のディフェクト期間信号を生成する第２のディフェクト期間検出手段と、前記第２のディフェクト期間検出手段の第２のディフェクト期間信号が示す第２のディフェクト検出期間の間、前記ＡＧＣ手段のゲインを一定値に固定するＡＧＣホールド手段とを備えたことを特徴とする。
【００２４】
請求項８記載の発明は、前記請求項７に記載の光ディスク装置において、前記第２のディフェクト期間検出手段は、前記ＡＧＣ手段からのＲＦ信号を受け、このＲＦ信号に基づいて前記第２のディフェクト期間信号を生成することを特徴とする。
【００２５】
請求項９記載の発明の光ディスク装置は、メインビーム並びに前記メインビームに先行及び後続する先行サブビーム及び後続サブビームを光ディスクに出力する光ピックアップを備え、前記光ディスクに記録された情報を再生するために、デジタル変調信号及びフォーカシング誤差信号の検出を前記光ピックアップのメインビームによる読み取りスポットに基づいて行い、トラッキング誤差信号の検出を前記光ピックアップの先行及び後続サブビームによる読み取りスポットに基づいて行う光ディスク装置において、前記光ピックアップと、前記光ピックアップの先行サブビームの戻り光を電気信号に変換した先行サブビーム戻り光信号が得られる第１の出力端子、及び前記光ピックアップの後続サブビームの戻り光を電気信号に変換した後続サブビーム戻り光信号が得られる第２の出力端子に接続され、この２つの出力端子からの先行及び後続サブビーム戻り光信号に基づいてトラッキングエラー信号を生成するトラッキングエラー信号生成手段と、前記トラッキングエラー信号生成手段の前記トラッキングエラー信号を受け、前記トラッキングエラー信号に基づいてトラッキング制御を行うトラッキング制御手段と、前記第１の出力端子からの先行サブビーム戻り光信号又は前記第１及び第２の出力端子の双方からの先行及び後続サブビーム戻り光信号に基づいて、前記光ディスクのディフェクト期間を検出して第１のディフェクト期間信号と、前記第１のディフェクト期間信号に比べてディフェクト期間の突入の検出が遅い一方でディフェクト期間からの復帰の検出が早い第２のディフェクト検出期間を示す第２のディフェクト期間信号を生成するディフェクト期間検出手段と、前記ディフェクト期間検出手段の前記第１のディフェクト期間信号を受け、前記第１のディフェクト期間信号に基づいて、前記トラッキング制御手段によるトラッキング制御をホールドするホールド手段と、前記光ピックアップのメインビームの戻り光を電気信号に変換したメインビーム戻り光信号が得られる第３の出力端子に接続され、前記メインビーム戻り光信号の振幅を一定に正規化したＲＦ信号を生成するＡＧＣ手段と、前記ディフェクト期間検出手段の第２のディフェクト期間信号が示す第２のディフェクト検出期間の間、前記ＡＧＣ手段のゲインを一定値に固定するＡＧＣホールド手段とを備えたことを特徴とする。
【００２６】
以上により、請求項１〜９に記載の光ディスク装置では、先行サブビーム戻り光信号を用いてディフェクト期間の検出を行うので、従来のようにメインビーム戻り光信号を用いて検出する場合に比して、メインビームと先行サブビームとの時間差分だけ速くディフェクト期間を検出できる。従って、サーボがホールドされる際のＴＥ信号の振幅を小さく抑えることができ、トラッキング制御の乱れが少ない。
【００２７】
また、請求項２記載の光ディスク装置では、ディフェクト期間検出手段により、先行サブビームがディフェクト部分に突入して先行サブビーム戻り光信号が第３の基準レベル以下になった時点から、先行サブビーム戻り光信号が前記第３の基準レベルを越えて所定時間（例えば、先行サブビーム戻り光信号と後続サブビーム戻り光信号との変化開始の時間差）が経過した期間をディフェクト期間として検出することができる。
【００２８】
更に、請求項３記載の光ディスク装置では、ディフェクト期間検出手段において、先行サブビーム戻り光信号を２値化する前の段階で、この先行サブビーム戻り光信号をボトムホールド回路でボトムホールドするので、先行サブビーム戻り光信号を２値化する際のチャタリングが防止される。
【００２９】
加えて、請求項４記載の光ディスク装置では、ディフェクト期間検出手段において、先行サブビーム戻り光信号を２値化するに際し、その先行サブビーム戻り光信号及び第３の基準レベルの一方又は両方を正規化レベル調整手段でレベル調整するので、先行サブビーム戻り光信号のＲＦ成分の下側レベルが大きく変動する光ディスクであっても、ディフェクト期間の誤検出が少なくなるようにディフェクト期間の検出感度を調整でき、安定してディフェクト期間を検出することができる。
【００３０】
また、請求項５記載の光ディスク装置では、先行サブビーム及び後続サブビームの何れか一方がディフェクト部分に突入して時点から、先行サブビーム及び後続サブビームの双方がディフェクト部分から復帰するまでの期間を、ディフェクト期間として検出するので、ディフェクト部分の境界が光ディスクの半径方向に対して斜めであるような形のディフェクト部分であっても、ディフェクト期間を正確に検出できる。
【００３１】
更に、請求項６記載の光ディスク装置では、前記請求項５記載の光ディスク装置の構成に加えて、更に、先行サブビーム戻り光信号及び後続サブビーム戻り光信号を２値化する前の段階で、この先行及び後続サブビーム戻り光信号を第１及び第２のボトムホールド回路でボトムホールドするので、請求項５記載の光ディスク装置の作用に加えて、先行及び後続サブビーム戻り光信号を各々２値化する際のチャタリングが防止される。
【００３２】
加えて、請求項７記載の光ディスク装置では、ディフェクト期間検出手段の検出するディフェクト期間に対して、 第２のディフェクト期間検出手段の検出する第２のディフェクト期間は、その期間への突入が遅く、且つその期間からの復帰が早い。従って、ＡＧＣ手段では、この短い第２のディフェクト期間だけ、ＲＦ信号の振幅の正規化がホールドされるに留まるので、データの取りこぼしが少ない。
【００３３】
また、請求項８記載の光ディスク装置では、第２のディフェクト期間手段が、ＡＧＣ手段からのＲＦ信号に基づいて第２のディフェクト期間信号を生成するので、トラッキング制御の乱れが少なく、同時にＡＧＣ手段でＲＦ信号の振幅を正規化できる限界までＡＧＣ手段のゲインのホールドを遅らせることができて、データの取りこぼしが少ない。
【００３４】
更に、請求項９記載の光ディスク装置では、１つのディフェクト期間検出手段が、先行サブビーム戻り光信号に基づいて、感度の異なる第１及び第２のディフェクト期間信号を生成するので、請求項８記載の光ディスク装置と比べて、回路構成が簡易且つ低コストになる。
【発明の効果】
【００３５】
以上説明したように、請求項１〜９記載の発明の光ディスク装置によれば、先行サブビーム戻り光信号に基づいてディフェクト期間の検出を行って、従来よりも早くディフェクト期間を検出できるので、記録面に存在するディフェクト部分に対しても、トラッキングサーボがホールドされる際のトラッキングエラー信号の振幅を小さく抑えることができ、トラッキング制御の乱れを少なくできる効果を奏する。
【００３６】
特に、請求項３記載の発明の光ディスク装置によれば、先行サブビーム戻り光信号を２値化する際のチャタリングを防止できる。
【００３７】
また、請求項４記載の発明の光ディスク装置によれば、ディフェクト期間を検出する検出感度を調整できるようにしたので、先行サブビーム戻り光信号のＲＦ成分の下側レベルが変動した場合であっても、安定してディフェクト期間を検出できる。
【００３８】
更に、請求項５記載の発明の光ディスク装置によれば、ディフェクト部分の境界が光ディスクの半径方向に対して斜めであるような形のディフェクト部分であっても、ディフェクト期間を正確に検出できる。
【００３９】
更に、請求項６記載の発明の光ディスク装置によれば、先行及び後続サブビーム戻り光信号を各々２値化する際のチャタリングを有効に防止しながら、ディフェクト部分の境界が光ディスクの半径方向に対して斜めであるような形のディフェクト部分であっても、ディフェクト期間を正確に検出できる。
【００４０】
加えて、請求項７記載の発明の光ディスク装置によれば、光ディスクのディフェクト部分に起因するトラッキング制御の乱れを少なくできると同時に、ＲＦ信号の振幅の正規化をホールドする期間を短期間に制限して、データの取りこぼしを少なくできる。
【００４１】
また、請求項８記載の発明の光ディスク装置によれば、ＡＧＣ手段からのＲＦ信号に基づいて生成した第２のディフェクト期間信号の期間だけ、ＡＧＣ手段のゲインを固定値にホールドしたので、そのホールド期間を、ＡＧＣ手段でＲＦ信号の振幅を正規化できる限界まで遅らせることができて、データの取りこぼしが少ない効果を奏する。
【００４２】
更に、請求項９記載の発明の光ディスク装置によれば、１つのディフェクト期間検出手段を用いて、感度の異なる第１及び第２のディフェクト期間信号を先行サブビーム戻り光信号に基づいて生成したので、回路構成を簡易にし且つ低コストでもって、前記請求項８記載の発明の光ディスク装置と同一の効果を得ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００４３】
以下、本発明を添付図面に基づき説明する。
【００４４】
（第１の実施形態）
図１は、本発明の第１の実施形態における光ディスク装置を示す。
【００４５】
同図に示した光ディスク装置において、１は光ピックアップ、８は光ディスク、２は先行サブビーム戻り光が得られる第１の出力端子、３は後続サブビーム戻り光が得られる第２の出力端子、９はメインビーム戻り光が得られる第３の出力端子、４はＴＥ信号生成回路（トラッキングエラー信号生成手段）、６はトラッキング制御回路（トラッキング制御手段）、７はサーボホールド回路（ホールド手段）、１０はＡＧＣ回路（ＡＧＣ手段）、１１はフォーカス制御回路（フォーカス制御手段）、３９はＡＧＣホールド回路（ＡＧＣホールド手段）である。以上の構成は、既述した図１４の光ディスク装置と同一であるので、その詳細な説明は省略する。
【００４６】
本発明が図１４に示した従来例と相違する点は、請求項１に示すように、ディフェクト期間検出回路（ディフェクト期間検出手段）５を、ＡＧＣ回路１０の出力ではなく、Ｅ信号が出力される第１の出力端子２に接続した点である。これにより、メインビームより早くディフェクト期間に突入するＥ信号を用いてディフェクト期間を検出することができ、トラッキングサーボがホールドされる際のＴＥ信号の振幅を小さく抑えることができるので、トラッキング制御の乱れが少ない光ディスク装置を提供することができる。
【００４７】
次に、図２を用いて、本発明の第１の実施形態の光ディスク装置におけるディフェクト期間検出回路の構成（請求項２）を説明する。
【００４８】
前記第１の出力端子２には、第１の基準レベル生成回路（第１の基準レベル生成手段）１２が接続されており、基準レベル生成回路１２は、Ｅ信号の暗レベルから第１の基準レベルを生成する。また、第１の出力端子２に接続された第２の基準レベル生成回路（第２の基準レベル生成手段）１４は、Ｅ信号をボトムホールドすることにより、Ｅ信号のＲＦ成分の下側レベルから第２の基準レベルを生成する。
【００４９】
尚、本実施形態では、第２の基準レベルの生成方法としてボトムホールドを用いたが、このボトムホールドを用いる代わりに、Ｅ信号の平均レベルとＥ信号のＲＦ成分の振幅の１／２とから、Ｅ信号のＲＦ成分の下側レベルを求めても良いことは言うまでもない。また、Ｅ信号をピークホールドしたレベルとＥ信号のＲＦ成分の振幅とから、Ｅ信号のＲＦ成分の下側レベルを求めても良いことは言うまでもない。
【００５０】
次に、前記第１の基準レベル生成回路１２の出力と、前記第２の基準レベル生成回路１４の出力とに接続された第３の基準レベル生成回路（第３の基準レベル生成手段）１６は、前記第１の基準レベルと前記第２の基準レベルの間の固定値の第３の基準レベルを生成する。前記第１の出力端子２と前記第３の基準レベル生成回路１６の出力に接続された第１のパルス生成回路１７は、前記第３の基準レベルを用いてＥ信号を２値化する。これにより、Ｅ信号のディフェクト期間突入からディフェクト期間からの復帰までを示す第１のパルスが生成される。
【００５１】
尚、本実施形態では、第１の出力端子２と第１のパルス生成回路１７との間にボトムホールド回路を設けても良い（請求項３）。これにより、Ｅ信号を２値化する際の生じる場合があるチャタリングを有効に抑制でき、安定したディフェクト期間の検出が可能になる。また、第１のパルス生成回路１７をヒステリシス付きのパルス生成回路としても良いことは言うまでもない。
【００５２】
更に、本実施形態では、第３の基準レベルを固定値としたため、第３の基準レベルをＥ信号のＲＦ成分の下側レベルに近い固定値に設定すると、Ｅ信号のＲＦ成分の下側レベルが大きく変動する光ディスクでは、前記第３の基準レベルを決定した後にＥ信号のＲＦ成分の下側レベルが変動した際に誤検出が発生する場合がある。これを防止するために、第１のパルス生成回路１７の入力側に正規化レベル調整回路を設け（請求項４）、これによりＥ信号又は前記第３の基準レベルの一方又は双方を調整するようにしても良い。この構成によれば、ディフェクト期間を検出する検出感度を調整することができて、Ｅ信号のＲＦ成分の下側レベルが変動した時に誤検出が起きないように検出感度を調整することが可能であるので、安定してディフェクト期間を検出することができる。
【００５３】
次に、図２において、前記第１のパルス生成回路１７の出力側に接続されたモノマルチ（monostable multivibrator、単安定回路）１８によって、前記第１のパルス生成回路１７の第１のパルスの後ろエッヂを、（（光ディスク上の先行サブビームと後続サブビームのスポット間距離）／ディスクの回転速度）以上の時間だけ引き延ばす。これにより、ディフェクト期間を示すディフェクト期間検出信号が生成される。
【００５４】
以上のように構成されたディフェクト期間検出回路５において、光ディスク８の記録面に存在するディフェクトをビームが通過する際の要部の波形を図３を用いて説明する。
【００５５】
図３は、上から、先行サブビームによるＥ信号、メインビームによるＡ〜Ｄ信号、後続サブビームによるＦ信号、ＴＥ信号、本実施形態のディフェクト期間信号、従来例のディフェクト期間信号、及びサンプリング周期を示している。尚、ＴＥ信号については、点線はホールドをしなかった場合の波形、実線はホールドした場合の波形を示す。
【００５６】
先行サブビームが光ディスク８の記録面に存在するディフェクト部分に突入すると、始めにＥ信号が減衰し始める。このようにＥ信号が減衰し始めると、ＴＥ信号の振幅が増大し始めるが、Ｅ信号のレベルが第３の基準レベルを下回った時点でディフェクト期間が検出され、ＴＥ信号が１つ前のサンプリング時間での値に前値ホールドされる。従って、例えば、先行サブビームとメインビームとの時間差がサンプリング周期の２倍の場合には、本実施形態では、従来のメインビームによるディフェクト期間の検出に比べて、２サンプリング分早くディフェクト期間を検出できるので、ＴＥ信号がホールドされた際の振幅Ｃが小さく、ディフェクト期間中にトラッキングサーボが異常動作に至ることが抑制される。
【００５７】
また、ホールドされないＴＥ信号は、後続サブビームがディフェクト部分から復帰するまで安定しないので、Ｅ信号のみでディフェクト期間を検出すると、Ｅ信号とＦ信号との時間差の分だけＴＥ信号のホールドの復帰が早過ぎることになるが、本実施形態のディフェクト期間検出回路５では、Ｅ信号のみで検出したディフェクト期間信号の後ろエッヂが更に所定期間、例えばＥ信号とＦ信号との時間差分だけ引き延ばされるので、Ｆ信号がディフェクト期間から復帰するまでの間だけ遅くＴＥ信号をホールドすることができる。
【００５８】
（第２の実施形態）
図４は、本発明の第２の実施形態における光ディスク装置を示す。図１と同一部分には同一の符号を付して、その説明を省略する。
【００５９】
本実施形態の光ディスクが図１に示した第１の実施形態と相違する点は、ディフェクト期間の検出について、Ｅ信号が出力される第１の出力端子２だけでなく、Ｆ信号が出力される第２の出力端子３にもディフェクト期間検出回路５を接続した点である。これにより、メインビームよりも早くディフェクト期間に突入するＥ信号と、メインビームよりも遅くディフェクト期間から復帰するＦ信号とを用いてディフェクト期間を検出することができ、トラッキングサーボがホールドされる際のＴＥ信号の振幅を小さく抑えると同時に、ディフェクト期間からの復帰を正確に検出することができるので、第１の実施形態よりもトラッキング制御の乱れが少ない光ディスク装置を提供することができる。
【００６０】
次に、図５を用いて、本実施形態の光ディスク装置におけるディフェクト期間検出回路５の構成（請求項５）を説明する。尚、図２と同一部分には同一の符号を付して、その説明を省略する。第１の出力端子２には、第１の基準レベル生成回路（第１の基準レベル生成手段）１２が接続されており、この第１の基準レベル生成回路１２は、Ｅ信号の暗レベルに基づいて第１の基準レベルを生成する。また、第２の出力端子３には、第４の基準レベル生成回路（第４の基準レベル生成手段）１９が接続されており、この第４の基準レベル生成回路１９は、Ｆ信号の暗レベルに基づいて第４の基準レベルを生成する。更に、前記第１の出力端子２に接続された第２の基準レベル生成回路（第２の基準レベル生成手段）１４は、Ｅ信号をボトムホールドすることにより、Ｅ信号のＲＦ成分の下側レベルに基づいて第２の基準レベルを生成する。また、前記第２の出力端子３に接続された第５の基準レベル生成回路（第５の基準レベル生成手段）２１は、Ｆ信号をボトムホールドすることにより、Ｆ信号のＲＦ成分の下側レベルから第５の基準レベルを生成する。
【００６１】
尚、本実施形態では、第２及び第５の基準レベルの生成方法として、ボトムホールドを用いたが、ボトムホールドを用いる代わりに、各々Ｅ信号及びＦ信号の平均レベルと、Ｅ信号及びＦ信号のＲＦ成分の振幅の１／２とに基づいて、各々Ｅ信号及びＦ信号のＲＦ成分の下側レベルを求めても良いことは言うまでもない。また、各々Ｅ信号及びＦ信号をピークホールドしたレベルと、Ｅ信号及びＦ信号のＲＦ成分の振幅とに基づいて各々Ｅ信号及びＦ信号のＲＦ成分の下側レベルを求めても良いことは言うまでもない。
【００６２】
次に、前記第１の基準レベル生成回路１２の出力と前記第２の基準レベル生成回路１４の出力とに接続された第３の基準レベル生成回路（第３の基準レベル生成手段）１６は、前記第１の基準レベルと第２の基準レベルとの間の固定値である第３の基準レベルを生成する。そして、前記第１の出力端子２と第３の基準レベル生成回路１６の出力側に接続された第１のパルス生成回路１７は、第３の基準レベルを用いてＥ信号を２値化する。これにより、Ｅ信号のディフェクト期間への突入からディフェクト期間からの復帰までを示す第１のパルスが生成される。
【００６３】
同様に、第４の基準レベル生成回路１９の出力と第５の基準レベル生成回路２１の出力とに接続された第６の基準レベル生成回路（第６の基準レベル生成手段）２３は、第４の基準レベルと第５の基準レベルとの間の固定値である第６の基準レベルを生成する。そして、前記第２の出力端子３と前記第６の基準レベル生成回路２３の出力とに接続された第２のパルス生成回路２５は、第６の基準レベルを用いてＦ信号を２値化する。これにより、Ｆ信号のディフェクト期間への突入からディフェクト期間からの復帰までを示す第２のパルスが生成される。
【００６４】
尚、本実施形態ではＥ信号及びＦ信号を直接２値化するため、チャタリングが発生するおそれがあるので、第１の実施形態で示したと同様に、第１の出力端子２と第１のパルス生成回路１７の間及び第２の出力端子３と第２のパルス生成回路２５の間にボトムホールド回路を設けても良いことは言うまでもない。また、第１のパルス生成回路１７及び第２のパルス生成回路２５をヒステリシス付きのパルス生成回路としても良いことは言うまでもない。
【００６５】
尚、本実施形態では、第３及び第６の基準レベルを固定値としたために、第３の基準レベルをＥ信号のＲＦ成分の下側レベルに近い固定値に設定したり、第６の基準レベルをＦ信号のＲＦ成分の下側レベルに近い固定値に設定すると、Ｅ信号又はＦ信号のＲＦ成分の下側レベルが大きく変動する光ディスクでは、前記第３及び第６の基準レベルを決定した後にＥ信号又はＦ信号のＲＦ成分の下側レベルが変動した際に誤検出が発生する。従って、これに対処するように、第１の実施形態に示したと同様に、第１のパルス生成回路１７の入力側に第１の正規化レベル調整回路（図示せず）を設けて、Ｅ信号又は前記第３の基準レベルの一方又は双方を調整するようにしたり、第２のパルス生成回路２５の入力側に第２の正規化レベル調整回路（図示せず）を設けて、Ｆ信号又は前記第６の基準レベルの一方又は双方を調整するようにしても良いことは言うまでもない。
【００６６】
尚、本実施形態では、Ｅ信号に対する２値化の基準レベルとＦ信号に対する２値化の基準レベルとを別々に設定したが、第３の基準レベル又は第６の基準レベルの何れか一方をＥ信号とＦ信号の２値化の基準として共通に用いても良いことは言うまでもない。
【００６７】
更に、図５において、前記第１のパルス生成回路１７の出力と前記第２のパルス生成回路２５の出力とは第１のＯＲ回路２７に入力される。このＯＲ回路２７は、Ｅ信号のディフェクト期間への突入からディフェクト期間からの復帰までを示す第１のパルスと、Ｆ信号のディフェクト期間への突入からディフェクト期間からの復帰までを示す第２のパルスとの論理和をとる。従って、このＯＲ回路２７の出力により、ディフェクト期間の境界が光ディスク８の半径方向に対して斜めであるような形のディフェクト部分に対しても、先行サブビームと後続サブビームと何れかの一方がディフェクト部分に突入して時点から、先行サブビームと後続サブビームとの双方がディフェクト部分から復帰するまでの期間をディフェクト期間として正確に検出することができる。
【００６８】
但し、本実施形態において、第１の出力端子２と第１のパルス生成回路１７との間、並びに第２の出力端子３と第２のパルス生成回路２５との間に、各々、ボトムホールド回路（図示せず）を設けた場合のみ、ディフェクト部分からの復帰が実際よりも遅れて検出されることになる。
【００６９】
以上のように構成されたディフェクト期間検出回路５において、光ディスク８の記録面に存在するディフェクト部分通過時の要部の波形を、図６を用いて説明する。
【００７０】
図６は、上から順に、先行サブビームによるＥ信号、メインビームによるＡ〜Ｄ信号、後続サブビームによるＦ信号、ＴＥ信号、第１のパルス生成回路１７からの第１のパルス、第２のパルス生成回路２５からの第２のパルス、ディフェクト期間信号、及びサンプリング周期を示している。尚、ＴＥ信号については、点線はホールドをしなかった場合の波形を示し、実線はホールドした場合の波形を示す。
【００７１】
先行サブビームが光ディスク８の記録面に存在するディフェクト部分に突入すると、始めにＥ信号が減衰し始める。このようにＥ信号が減衰し始めると、ＴＥ信号の振幅が増大し始めるが、Ｅ信号のレベルが第３の基準レベルを下回った時点で、このＥ信号の変化に基づいてディフェクト期間が検出されて、ＴＥ信号が１つ前のサンプリング時間での値に前値ホールドされる。例えば、先行サブビームとメインビームとの時間差がサンプリング周期の２倍の場合には、従来のメインビームによるディフェクト期間の検出に比べて２サンプリング分早くディフェクト期間の検出が行われるので、ＴＥ信号がホールドされた時の振幅Ｅが小さくて、ディフェクト期間中にトラッキングサーボが異常動作に至ることが抑制される。
【００７２】
次に、ディフェクト期間から復帰する際は、先にＥ信号がディフェクト部分から復帰するが、Ｆ信号によるディフェクト期間の検出の結果により、Ｆ信号がディフェクト部分から復帰するまではＴＥ信号のホールドは解除されない。Ｅ信号とＦ信号とが共にディフェクト部分から復帰すると、ＴＥ信号のホールドが解除される。従って、本実施形態のディフェクト期間検出回路５では、Ｅ信号がディフェクト部分に突入した時点から、Ｆ信号がディフェクト期間から復帰するまでの期間でＴＥ信号をホールドすることができる。
【００７３】
尚、図６では、Ｅ信号のディフェクト期間の突入及び復帰がＦ信号よりも先行した場合を例示して説明したが、本実施形態のディフェクト期間検出回路５は、ディフェクト部分の境界が光ディスク８の半径方向に対して斜めであるような形のディフェクト部分のように、Ｅ信号とＦ信号とに基づいて検出された各ディフェクト期間の長さが異なったり、Ｆ信号のディフェクト期間の突入及び復帰がＥ信号の場合よりも先行している例に対しても、先行サブビームと後続サブビームとの何れか一方がディフェクト部分に突入した時点から、先行サブビームと後続サブビームとの双方がディフェクト部分から復帰するまでの期間を、ディフェクト期間として正確に検出することができる。
【００７４】
（第３の実施形態）
次に、本発明の第３の実施形態の光ディスク装置を説明する。本実施形態は、ディフェクト期間検出回路の更なる実施形態を示す。
【００７５】
図７は、本実施形態のディフェクト期間検出回路の構成（請求項６）を示す。図５と同一の部分には同一の符号を付してその説明を省略する。図５と相違する点は、Ｅ信号及びＦ信号と２値化回路（パルス生成回路）との間にピークホールド回路とボトムホールド回路とを接続したことと、前記ピークホールド回路と２値化回路の出力との間にドループレート可変回路を接続したことである。
【００７６】
以下に、詳細な構成を説明する。但し、第３及び第６の基準レベルの生成に関する構成は、図５と全く同一であるので省略する。
【００７７】
第１のパルス生成回路（第１のパルス生成手段）１７は、第３の基準レベルを用いて、第１の出力端子２に接続された第１のボトムホールド回路（第１のボトムホールド手段）２８でボトムホールドされたＥ信号を２値化することにより、立ち上がりがＥ信号のディフェクト期間への突入を示す第１のパルスを生成する。
【００７８】
同様に、第３のパルス生成回路（第３のパルス生成手段）３０は、第３の基準レベルを用いて、第１の出力端子２に接続された第１のピークホールド回路（第１のピークホールド手段）２９でピークホールドされたＥ信号を２値化することにより、立ち下がりがＥ信号のディフェクト期間からの復帰を示す第３のパルスを生成する。この際、第１のドループレート可変回路３２は、第１のパルス生成回路１７からの第１のパルスの立ち上がりを用いて、第１の出力端子２に接続された第１のピークホールド回路２９のドループレート（droop rate）を速くする。
【００７９】
従って、Ｅ信号のディフェクト期間への突入後に、速やかに第３のパルスが立ち上がるので、ディフェクト期間が短い場合にも、第３のパルスが確実に立つことになる。第１のドループレート可変回路３２は、第３のパルス生成回路３０からの第３のパルスの立ち上がりを用いて、前記第１のピークホールド回路２９のドループレートを速やかに元の速さに戻す。これにより、ディフェクト期間からの復帰後のピークホールド波形を安定にすることができる。
【００８０】
同様に、第２のパルス生成回路（第２のパルス生成手段）２５は、第６の基準レベルを用いて、第２の出力端子３に接続された第２のボトムホールド回路（第２のボトムホールド手段）３３でボトムホールドされたＦ信号を２値化することにより、立ち上がりがＦ信号のディフェクト期間への突入を示す第２のパルスを生成する。
【００８１】
同時に、第４のパルス生成回路（第４のパルス生成手段）３５は、第６の基準レベルを用いて、第２の出力端子３に接続された第２のピークホールド回路（第２のピークホールド手段）３４でピークホールドされたＦ信号を２値化することにより、立ち下がりがＦ信号のディフェクト期間からの復帰を示す第４のパルスを生成する。この際、第２のドループレート可変回路３７は、第２のパルス生成回路２５からの第２のパルスの立ち上がりを用いて、第２の出力端子３に接続された第２のピークホールド回路３３のドループレートを速くする。
【００８２】
従って、Ｆ信号のディフェクト期間への突入後、速やかに第４のパルスが立ち上がることにより、ディフェクト期間が短い場合にも、第４のパルスが確実に立つことになる。第２のドループレート可変回路３７は、前記第４のパルス生成回路３５の第４のパルスの立ち上がりを用いて、第２のピークホールド回路３３のドループレートを速やかに元の速さに戻す。これにより、ディフェクト期間からの復帰後のピークホールド波形を安定にすることができる。
【００８３】
更に、図７において、第１のＯＲ回路２７は、前記第１のパルス生成回路１７の出力信号と前記第２のパルス生成回路２５の出力信号との論理和をとることにより、立ち上がりがＥ信号又はＦ信号のディフェクト期間への突入を示す第５のパルスを生成する。
【００８４】
同様に、第２のＯＲ回路３７は、前記第３のパルス生成回路３０の出力信号と前記第４のパルス生成回路３５の出力信号との論理和をとることにより、立ち下がりがＥ信号とＦ信号のディフェクト期間からの復帰を示す第６のパルスを生成する。
【００８５】
最後に、前記第１のＯＲ回路２７の出力と第２のＯＲ回路３７の出力とに接続された第５のパルス生成回路（第５のパルス生成手段）３８は、第５のパルスの立ち上がりと第６のパルスの立ち下がりを用いて、Ｅ信号又はＦ信号のディフェクト期間への突入時点から、Ｅ信号とＦ信号とのディフェクト期間からの復帰を示す検出パルス（ディフェクト期間信号）を生成する。
【００８６】
従って、ピークホールドとボトムホールドとにより、チャタリングを防止できると共に、光ディスク８の記録面に存在するディフェクト部分の境界が半径方向に対して斜めであるような形のディフェクト部分を通過する場合のように、Ｅ信号とＦ信号とのディフェクト期間の長さが相互に異なったり、Ｆ信号のディフェクト期間の突入及び復帰がＥ信号の場合よりも先行している例に対しても、先行サブビームと後続サブビームとの何れか一方がディフェクト期間に突入した時点から、先行サブビームと後続サブビームとの双方がディフェクト期間から復帰するまでの期間を、ディフェクト期間として正確に検出することができる。
【００８７】
以上のように構成されたディフェクト期間検出回路において、光ディスク８の記録面に存在するディフェクト部分の通過時の要部の波形を、図８を用いて説明する。
【００８８】
図８（ａ）は、上から順に、先行サブビームによるＥ信号、第１のパルス生成回路１７からの第１のパルス、第３のパルス生成回路３０からの第３のパルスを示す。同図（ｂ）は、後続サブビームによるＦ信号、第２のパルス生成回路２５からの第２のパルス、第４のパルス生成回路３５からの第４のパルスを示す。また、同図（ｃ）は、上から順に、前記第１のパルス、第２のパルス、第１のＯＲ回路２７の出力信号、前記第３のパルス、第４のパルス、第２のＯＲ回路３７の出力信号、及び、第５のパルス生成回路３８の出力信号であるディフェクト期間信号を示す。
【００８９】
次に、本実施形態の動作を説明する。先行サブビームが光ディスク８の記録面に存在するディフェクト部分に突入すると、始めにＥ信号をボトムホールドした信号とピークホールドした信号とが減衰し始める。このピークホールドした信号に比べて、ボトムホールドした信号の方が立ち下がりが早いので、Ｅ信号をボトムホールドした信号のレベルが先に第３の基準レベルを下回った時点で、第１のパルス生成回路１７の第１のパルスが立つ。同時に、第１のピークホールド回路２９のドループレートが速くなることにより、Ｅ信号をピークホールドした信号も速やかに立ち下がって、第３のパルス生成回路３０の第３のパルスが立つ。この際、第１のパルスの立ち上がりはＥ信号のディフェクト期間への突入を正確に示し、第３のパルスはそれより少し遅れて立ち上がる。
【００９０】
次に、Ｅ信号がディフェクト部分から復帰する時には、ボトムホールドした信号に比べてピークホールドした信号の方が立ち上がりが早いので、Ｅ信号をピークホールドした信号のレベルが先に第３の基準レベルを上まわった時点で、第３のパルス生成回路３０の第３のパルスが立ち下がる。同時に、ディフェクト復帰後のピークホールド波形を安定化するために、第１のピークホールド回路２９のドループレートが遅くなる。この際、第３のパルスの立ち下がりはＥ信号のディフェクト期間からの復帰を正確に示し、第１のパルスはそれより少し遅れて立ち下がる。
【００９１】
同様に、後続サブビームが光ディスク８の記録面に存在するディフェクト部分に突入すると、始めにＦ信号をボトムホールドした信号とピークホールドした信号とが減衰し始める。このピークホールドした信号に比べ、ボトムホールドした信号の方が立ち下がりが早いので、Ｆ信号をボトムホールドした信号のレベルが先に第６の基準レベルを下回った時点で、第２のパルス生成回路２５の第２のパルスが立つ。同時に、第２のピークホールドのドループレートが速くなることにより、Ｆ信号をピークホールドした信号も速やかに立ち下がり、第４のパルス生成回路３５の第４のパルスが立つ。この際、第２のパルスの立ち上がりはＦ信号のディフェクト期間への突入を正確に示し、第４のパルスはそれより少し遅れて立ち上がる。
【００９２】
Ｆ信号がディフェクト部分から復帰する時には、ボトムホールドした信号に比べてピークホールドした信号の方が立ち上がりが早いので、Ｆ信号をピークホールドした信号のレベルが先に第６の基準レベルを上回った時点で、第４のパルス生成回路３５の第４のパルスが立ち下がる。同時に、ディフェクト復帰後のピークホールド波形を安定化するために、第２のピークホールド回路３４のドループレートが遅くなる。この際、第４のパルスの立ち下がりはＦ信号のディフェクト期間からの復帰を正確に示し、第２のパルスはそれより少し遅れて立ち下がる。
【００９３】
従って、第１のＯＲ回路２７の出力は、立ち上がりがディフェクト期間への突入を正確に示し、第２のＯＲ回路３７の出力は、立ち下がりがディフェクト期間からの復帰を正確に示すことになる。従って、第１のＯＲ回路２７の出力パルスの立ち上がりと、第２のＯＲ回路３７の出力パルスの立ち下がりとをとることにより、ディフェクト期間を正確に示すディフェクト期間信号が生成される。
【００９４】
尚、図８では、Ｅ信号のディフェクト期間の突入及び復帰がＦ信号よりも先行している場合を例示して説明したが、本実施形態のディフェクト期間検出回路は、ディフェクト部分の境界が光ディスク８の半径方向に対して斜めであるような形のディフェクト部分を通過する場合のように、Ｅ信号とＦ信号とに基づく各ディフェクト期間の長さが異なったり、Ｆ信号のディフェクト期間の突入及び復帰がＥ信号の場合よりも先行している例に対しても、先行サブビームと後続サブビームとの何れか一方がディフェクト部分に突入した時点から、先行サブビームと後続サブビームとの双方がディフェクト部分から復帰するまでの期間を、ディフェクト期間として正確に検出することができる。
【００９５】
（第４の実施形態）
次に、本発明の第４の実施形態における光ディスク装置を図９に基づいて説明する。尚、図１と同一部分には同一の符号を付してその説明を省略する。
【００９６】
本実施形態の光ディスク装置が図１に示した第１の実施形態と相違する点は、ＡＧＣホールド回路（ＡＧＣホールド手段）３９の入力側に、Ｅ信号を用いたディフェクト期間検出回路５ではなく、請求項８に示す第２のディフェクト期間検出回路４０を接続した点である。
【００９７】
前記第２のディフェクト期間検出回路（第２のディフェクト期間検出手段）４０は、ＡＧＣ回路１０の出力側に接続されて、ＲＦ信号のレベルによりディフェクト期間を検出する。例えば、この第２のディフェクト期間検出回路４０は、Ａ〜Ｄ信号のレベルが、ＡＧＣ回路１０の正規化振幅をＡＧＣ回路１０の最大ゲインで割った基準レベルを下回われば、ディフェクト期間への突入であると検出する。
【００９８】
尚、本実施形態では、第１のディフェクト期間検出回路５として、Ｅ信号のみを用いているが、第２の実施形態に示したように、Ｅ信号とＦ信号との双方を用いたディフェクト期間検出回路を用いても良いことは言うまでもない。
【００９９】
以上のように構成されたディフェクト期間検出回路において、光ディスク８に傷があったり異物が付着している等の通常のディフェクト部分を通過する際の要部の波形を、図１０を用いて説明する。
【０１００】
図１０は、上から順に、先行サブビームによるＥ信号、メインビームによるＡ〜Ｄ信号、後続サブビームによるＦ信号、第１のディフェクト期間検出回路５によるディフェクト期間信号、第２のディフェクト期間検出回路４０によるディフェクト期間信号、及びサンプリング周期を示している。
【０１０１】
先行サブビームが光ディスク８のディフェクト部分に突入すると、始めにＥ信号が減衰し始める。このＥ信号のレベルが第３の基準レベルを下回った時点で、第１のディフェクト期間検出回路５が前記Ｅ信号に基づいてディフェクト期間の突入を検出する。次に、Ａ〜Ｄ信号が減衰して、Ａ〜Ｄ信号のレベルが、例えばＡＧＣ回路１０の正規化振幅をＡＧＣ回路１０の最大ゲインで割った基準レベルを下回った時点で、第２のディフェクト期間検出回４０がＡ〜Ｄ信号に基づいてディフェクト期間への突入を検出する。このとき、第１のディフェクト期間検出回路５は、トラッキングサーボを安定してホールドさせる目的から、ディフェクト期間への突入をできるだけ早く検出し、且つできるだけ遅くまで復帰を検出しないように構成され、一方、第２のディフェクト期間検出回路４０は、ＡＧＣ回路１０において正規化できる最小のＡ〜Ｄ信号の振幅になるまでディフェクト期間への突入を検出せず、Ａ〜Ｄ信号がＡＧＣ回路１０により正規化できる振幅になった時点で始めて復帰を検出するように構成される。従って、第１のディフェクト期間検出回路５を用いてＡＧＣ回路１０のゲインをホールドした場合に比べて、ＡＧＣ回路１０のゲインのホールド期間を必要以上に長くする必要が無く、データの取りこぼしが少なくなる。
【０１０２】
よって、本実施形態では、ディフェクト期間でのＡＧＣ回路１０のゲインのホールド期間を必要最小限にすることができ、トラッキング制御の乱れを少なくできると共に、データの取りこぼしを最小限に抑えることが可能である。
【０１０３】
（第５の実施形態）
続けて、図１１を用いて、本発明の第５の実施形態における光ディスク装置を説明する。尚、図１と同一の構成部分には同一の符号を付して、その説明を省略する。
【０１０４】
本実施形態が図１に示した第１の実施形態と相違する点は、第３のディフェクト期間検出回路５’（請求項９）を備え、この第３のディフェクト期間検出回路５’により、第１のディフェクト期間信号と、前記第１のディフェクト期間を示す信号よりもディフェクト期間への突入の検出が遅く且つディフェクト期間からの復帰の検出が早い第２のディフェクト期間信号との双方を発生させたことである。
【０１０５】
尚、本実施形態では、第３のディフェクト期間検出回路５’として、Ｅ信号のみを用いているが、第２の実施形態に示したように、Ｅ信号とＦ信号との双方を用いても良いことは言うまでもない。
【０１０６】
次に、図１２を用いて、本発明の第５の実施形態の光ディスク装置におけるディフェクト期間検出回路５’の構成を説明する。
【０１０７】
本実施形態のディフェクト期間検出回路５’が図２に示した第１の実施形態と相違する点は、第７の基準レベル生成回路４１と、第６のパルス生成回路４２とを備えたことである。前記第７の基準レベル生成回路４１は、第１の基準レベル生成回路１２の第１の基準レベルと、第２の基準レベル生成回路１４の第２の基準レベルとに基づいて、第３の基準レベル生成回路１６の第３の基準レベルよりも所定レベル低いレベルの第７の基準レベルを生成する。また、前記第６のパルス生成回路４２は、前記第７の基準レベル生成回路４１の出力と、第１の出力端子２とに接続されて、第７の基準レベルを用いてＥ信号を２値化する。尚、ディフェクト期間検出回路５’において、トラッキングサーボをホールドするための第１のディフェクト期間信号の生成については、図２のディフェクト期間検出回路５と同一であるので、その説明を省略する。
【０１０８】
本実施形態では、第３のディフェクト期間検出回路５’が、第３の基準レベルとは異なる第７の基準レベルを用いてＥ信号を２値化して、第１のディフェクト期間信号よりもディフェクト期間突入の検出が遅く且つディフェクト期間からの復帰の検出が早い第２のディフェクト検出期間信号をも生成するので、第４の実施形態のようにディフェクト期間検出回路５、４０を２つ用意することなく、第４の実施形態と同様の光ディスク装置を実現できる。
【０１０９】
以上のように構成されたディフェクト期間検出回路５’において、通常のディフェクト部分を通過する際の要部の波形を、図１３を用いて説明する。
【０１１０】
図１３は、上から順に、先行サブビームによるＥ信号、メインビームによるＡ〜Ｄ信号、後続サブビームによるＦ信号、第１のディフェクト期間信号、第２のディフェクト期間信号、サンプリング周期を示している。
【０１１１】
先行サブビームが光ディスク８のディフェクト部分に突入すると、始めにＥ信号が減衰し始める。このＥ信号のレベルが第３の基準レベルを下回った時点で、第１のディフェクト期間検出回路５’が前記Ｅ信号に基づいて第１のディフェクト期間信号を出力する。次に、前記Ｅ信号のレベルが第７の基準レベルを下回った時点で、ディフェクト期間検出回路５’がＥ信号に基づいて第２のディフェクト期間信号を出力する。
【０１１２】
その際、第１のディフェクト期間信号は、トラッキングサーボを安定してホールドさせる目的から、できるだけ早く突入を検出され、且つできるだけ遅くまで復帰しないようになっており、一方、第２のディフェクト期間信号は、前記第１のディフェクト期間信号に比べて遅く検出され、且つ早く復帰するようになっている。従って、第１のディフェクト期間信号を用いてＡＧＣ回路１０のゲインをホールドした場合に比べて、ＡＧＣ回路１０のゲインのホールド期間を短くすることができ、データの取りこぼしを少なくできる。
【産業上の利用可能性】
【０１１３】
以上説明したように、本発明は、先行サブビーム戻り光信号に基づいてディフェクト期間の検出を行って、従来よりも早くディフェクト期間を検出できるので、記録面に存在するディフェクト部分に対してもトラッキング制御の乱れが少ない光ディスク装置等として有用である。
【図面の簡単な説明】
【０１１４】
【図１】本発明の第１の実施形態の光ディスク装置を示す図である。
【図２】同光ディスク装置におけるディフェクト期間検出回路を示す図である。
【図３】同ディフェクト期間検出回路において、光ディスクの記録面に存在するディフェクト部分の通過時の要部の波形を示す図である。
【図４】本発明の第２の実施形態の光ディスク装置を示す図である。
【図５】同光ディスク装置におけるディフェクト期間検出回路を示す図である。
【図６】同ディフェクト期間検出回路において、光ディスクの記録面に存在するディフェクト部分の通過時の要部の波形を示す図である。
【図７】本発明の第３の実施形態の光ディスク装置におけるディフェクト期間検出回路を示す図である。
【図８】同ディフェクト期間検出回路において、光ディスクの記録面に存在するディフェクト部分の通過時の要部の波形を示す図である。
【図９】本発明の第４の実施形態の光ディスク装置を示す図である。
【図１０】同光ディスク装置において、通常のディフェクト部分の通過時の要部の波形を示す図である。
【図１１】本発明の第５の実施形態の光ディスク装置を示す図である。
【図１２】同光ディスク装置におけるディフェクト期間検出回路を示す図である。
【図１３】同ディフェクト期間検出回路において、通常のディフェクト部分の通過時の要部の波形を示す図である。
【図１４】従来の光ディスク装置を示す図である。
【図１５】光ディスク面上におけるメインビーム、サブビーム、ディフェクト部分の位置関係を示す図である。
【図１６】従来の光ディスク装置において、通常のディフェクト部分の通過時の要部の波形を示す図である。
【図１７】従来の光ディスク装置において、光ディスクの記録面に存在するディフェクト部分の通過時の要部の波形を示す図である。
【符号の説明】
【０１１５】
１        光ピックアップ
２        第１の出力端子
３        第２の出力端子
４        ＴＥ信号生成回路（トラッキングエラー信号生成手段）
５、５’  ディフェクト期間生成回路（ディフェクト期間生成手段）
６        トラッキング制御回路（トラッキング制御手段）
７        サーボホールド回路（サーボホールド手段）
８        光ディスク
９        第３の出力端子
１０        ＡＧＣ回路（ＡＧＣ）
１１        フォーカス制御回路（フォーカス制御手段）
１２        第１の基準レベル生成回路（第１の基準レベル生成手段）
１４        第２の基準レベル生成回路（第２の基準レベル生成手段）
１６        第３の基準レベル生成回路（第３の基準レベル生成手段）
１７        第１のパルス生成回路（第１のパルス生成手段）
１８        第１のモノマルチ（単安定回路）
１９        第４の基準レベル生成回路（第４の基準レベル生成手段）
２１        第５の基準レベル生成回路（第５の基準レベル生成手段）
２３        第６の基準レベル生成回路（第６の基準レベル生成手段）
２５        第２のパルス生成回路（第２のパルス生成手段）
２７        第１のＯＲ回路
２８        第１のボトムホールド回路（第１のボトムホールド手段）
２９        第１のピークホールド回路（第１のピークホールド手段）
３０        第３のパルス生成回路（第３のパルス生成手段）
３２        第１のドループレート可変回路
（第１のドループレート可変手段）
３３        第２のボトムホールド回路（第２のボトムホールド手段）
３４        第２のピークホールド回路（第２のピークホールド手段）
３５        第４のパルス生成回路（第４のパルス生成手段）
３７        第２のＯＲ回路
３８        第５のパルス生成回路（第５のパルス生成手段）
３９        ＡＧＣホールド回路（ＡＧＣホールド手段）
４０        第２のディフェクト期間検出回路
（第２のディフェクト期間検出手段）
４１        第７の基準レベル生成回路（第７の基準レベル生成手段）
４２        第６のパルス生成回路（第６のパルス生成手段）
４３        第２のモノマルチ（単安定回路）
４４        メインビーム
４５        先行サブビーム
４６        後続サブビーム
４７        ディフェクト部分
４８        ピット
【図１】
2006085803.tif 000003
【図２】
2006085803.tif 000004
【図３】
2006085803.tif 000005
【図４】
2006085803.tif 000006
【図５】
2006085803.tif 000007
【図６】
2006085803.tif 000008
【図７】
2006085803.tif 000009
【図８】
2006085803.tif 000010
【図９】
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【図１０】
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【図１１】
2006085803.tif 000013
【図１２】
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【図１３】
2006085803.tif 000015
【図１４】
2006085803.tif 000016
【図１５】
2006085803.tif 000017
【図１６】
2006085803.tif 000018
【図１７】
2006085803.tif 000019