(57)【要約】  【課題】本発明は、低速な回路を用いて、低コストかつ高精度に、被走査面上における光ビームの結像状態を検出することが可能な光ビーム走査光学装置の提供を目的とする。  【解決手段】本発明に係る光ビーム走査光学装置は、ＳＯＳ検出センサ１８で得られる出力信号ａに微分処理を施す微分回路４１と、微分回路４１で得られる出力信号ｂに整流処理を施す整流回路４２と、整流回路４２で得られる出力信号ｃを電荷の形で蓄わえる電荷蓄積回路４３と、電荷蓄積回路４３に蓄積されている所定走査回数分の電荷量に基づいて、被走査面上における光ビームの結像状態を判定するフォーカス判定回路４４と、を有して成る構成としている。【選択図】      図３
2006091287.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
１または２以上の光ビームを出射する光源と；前記光ビームで被走査面を走査する走査光学系と；前記被走査面の走査開始に先立って、前記走査光学系を通過した前記光ビームが入射され、その受光量に応じて出力レベルが変動する出力信号を生成する同期検出センサと；を有して成る光ビーム走査光学装置において、
前記同期検出センサで得られる出力信号の立上がり及び／または立下がりに際し、その出力レベル変動の急峻度を所定の物理量として検出し、当該物理量を前記被走査面の走査毎に蓄積していく検出蓄積手段と；前記検出蓄積手段に蓄積されている所定走査回数分の前記物理量を取り出し、当該物理量に基づいて前記被走査面上における前記光ビームの結像状態を判定する判定手段と；を有して成ることを特徴とする光ビーム走査光学装置。
【請求項２】
前記判定手段は、所定走査回数分の前記物理量が減少傾向にあるか増加傾向にあるかに基づいて、前記被走査面上における前記光ビームの結像状態が合焦方向に変化しているか否かを判定することを特徴とする請求項１に記載の光ビーム走査光学装置。
【請求項３】
前記検出蓄積手段は、前記同期検出センサで得られる出力信号に微分処理を施す微分回路を有して成ることを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の光ビーム走査光学装置。
【請求項４】
前記検出蓄積手段は、前記微分回路で得られる出力信号に整流処理を施す整流回路を有して成ることをを特徴とする請求項３に記載の光ビーム走査光学装置。
【請求項５】
前記検出蓄積手段は、前記整流回路で得られる出力信号を電荷の形で蓄わえる電荷蓄積回路を有して成ることを特徴とする請求項４に記載の光ビーム走査光学装置。
【請求項６】
前記検出蓄積手段は、前記微分回路で得られる出力信号の極大値若しくは極小値を所定の物理量として検出し、当該物理量を前記被走査面の走査毎に蓄積していく手段であり、前記判定手段は、前記検出蓄積手段に蓄積されている所定走査回数分の前記物理量を取り出し、当該物理量若しくはそれを前記所定走査回数で除して得られる平均値に基づいて、前記被走査面上における前記光ビームの結像状態を判定する手段であることを特徴とする請求項３に記載の光ビーム走査光学装置。
【請求項７】
前記検出蓄積手段は、前記微分回路で得られる出力信号が所定の閾値を超えている間の時間幅を所定の物理量として検出し、当該物理量を前記被走査面の走査毎に蓄積していく手段であり、前記判定手段は、前記検出蓄積手段に蓄積されている所定走査回数分の前記物理量を取り出し、当該物理量若しくはそれを前記所定走査回数で除して得られる平均値に基づいて、前記被走査面上における前記光ビームの結像状態を判定する手段であることを特徴とする請求項３に記載の光ビーム走査光学装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ビームで被走査面を走査する光ビーム走査光学装置に関するものであり、特に、その被走査面上における光ビームのフォーカス判定技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来より、ＬＢＰ［Laser Beam Printer］やデジタルＰＰＣ［Plain Paper Copier］の画像書き込みには、光ビームで被走査面を走査する光ビーム走査光学装置が用いられている。このような光ビーム走査光学装置において、画質向上を図るためには、被走査面（感光ドラム）上における光ビームのスポット径をできるだけ小さく絞ることが望ましいが、光ビームのスポット径を絞るほど、その焦点深度は当然に浅くなる。そのため、従来の光ビーム走査光学装置の多くは、フォーカス制御専用の光センサを有して成り、種々の環境変化（光源の発熱に起因する走査光学系の熱膨張や光ビームの波長変化など）に伴って生じる光ビームのフォーカスずれを検出し、そのずれを補正する構成とされていた。
【０００３】
一方、従来より、フォーカス判定手段として、光ビーム走査光学装置の必須構成要素である同期検知センサを流用し、その出力信号に基づいて被走査面上における光ビームのフォーカス判定を行う光走査装置も開示・提案されている（例えば、特許文献１を参照）。
【特許文献１】特開２００２−６２４９４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
確かに、上記特許文献の光走査装置であれば、フォーカス制御専用の光センサを必要としないため、部品点数を低減し、その構造を簡略化することが可能である。
【０００５】
しかしながら、上記特許文献で開示された第１実施形態の光走査装置は、同期検知センサの出力信号が所定の低閾値から高閾値へ変化するまでに要する時間（立上がり時間）をカウントし、そのカウント値に基づいて、被走査面上における光ビームのフォーカス判定を行う構成とされており、かつ、そのフォーカス判定動作を１回の走査のみで完結する構成とされていた。
【０００６】
そのため、上記構成から成る光走査装置は、その従来技術として挙げられた構成（同期検知センサで得られる出力信号の微分ピーク値に基づいてフォーカス判定を行う構成）に比べれば、高速なＡ／Ｄ［Analog/Digital］変換回路を必要とせず、また、外来ノイズが混入してもその検出精度が劣化しにくい、という点で有効であるものの、その計時手段として高速なカウンタを必要とするので、さらなる走査速度向上への対応が難しい上、そのフォーカス判定処理に高速応答性が要求されるので、その要求を満たすためにコストアップが招来される、という課題を有していた。
【０００７】
また、上記特許文献で開示された第２実施形態の光走査装置は、同期検知センサの出力信号が所定の低閾値から高閾値へ変化するまでに要する時間だけ電荷蓄積装置に電荷を蓄積するようにし、その電荷量から算出される時間に基づいて、被走査面上における光ビームのフォーカス判定を行う構成とされていた。
【０００８】
確かに、上記構成から成る光走査装置であれば、前述のカウンタを必要としないため、さらなる走査速度向上にも対応することが可能となる。しかしながら、上記構成から成る光走査装置も、先と同様、そのフォーカス判定動作を１回の走査のみで完結する構成とされていたため、そのフォーカス判定処理に高速応答性が要求され、その要求を満たすためにコストアップが招来される、という課題が依然として解消されていなかった。
【０００９】
また、上記いずれの構成から成る光走査装置についても、そのフォーカス判定動作を１回の走査のみで完結する構成とされていたため、そのフォーカス判定精度は、必ずしも高いとは言えなかった。
【００１０】
本発明は、上記の問題点に鑑み、低速な回路を用いても、低コストかつ高精度に、被走査面上における光ビームの結像状態を検出することが可能な光ビーム走査光学装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成すべく、本発明に係る光ビーム走査光学装置は、１または２以上の光ビームを出射する光源と；前記光ビームで被走査面を走査する走査光学系と；前記被走査面の走査開始に先立って、前記走査光学系を通過した前記光ビームが入射され、その受光量に応じて出力レベルが変動する出力信号を生成する同期検出センサと；を有して成る光ビーム走査光学装置において、前記同期検出センサで得られる出力信号の立上がり及び／または立下がりに際し、その出力レベル変動の急峻度を所定の物理量として検出し、当該物理量を前記被走査面の走査毎に蓄積していく検出蓄積手段と；前記検出蓄積手段に蓄積されている所定走査回数分の前記物理量を取り出し、当該物理量に基づいて前記被走査面上における前記光ビームの結像状態を判定する判定手段と；を有して成る構成としている。
【００１２】
なお、上記光ビーム走査光学装置において、前記判定手段は、所定走査回数分の前記物理量が減少傾向にあるか増加傾向にあるかに基づいて、前記被走査面上における前記光ビームの結像状態が合焦方向に変化しているか否かを判定する構成にするとよい。
【００１３】
また、上記光ビーム走査光学装置において、前記検出蓄積手段は、前記同期検出センサで得られる出力信号に微分処理を施す微分回路を有して成る構成にするとよい。
【００１４】
また、上記光ビーム走査光学装置において、前記検出蓄積手段は、前記微分回路で得られる出力信号に整流処理を施す整流回路を有して成る構成にするとよい。
【００１５】
また、上記光ビーム走査光学装置において、前記検出蓄積手段は、前記整流回路で得られる出力信号を電荷の形で蓄わえる電荷蓄積回路を有して成る構成にするとよい。
【００１６】
或いは、上記光ビーム走査光学装置において、前記検出蓄積手段は、前記微分回路で得られる出力信号の極大値若しくは極小値を所定の物理量として検出し、当該物理量を前記被走査面の走査毎に蓄積していく手段であり、前記判定手段は、前記検出蓄積手段に蓄積されている所定走査回数分の前記物理量を取り出し、当該物理量若しくはそれを前記所定走査回数で除して得られる平均値に基づいて、前記被走査面上における前記光ビームの結像状態を判定する手段である構成にしてもよい。
【００１７】
また、上記光ビーム走査光学装置において、前記検出蓄積手段は、前記微分回路で得られる出力信号が所定の閾値を超えている間の時間幅を所定の物理量として検出し、当該物理量を前記被走査面の走査毎に蓄積していく手段であり、前記判定手段は、前記検出蓄積手段に蓄積されている所定走査回数分の前記物理量を取り出し、当該物理量若しくはそれを前記所定走査回数で除して得られる平均値に基づいて、前記被走査面上における前記光ビームの結像状態を判定する手段である構成にしてもよい。
【発明の効果】
【００１８】
本発明に係る光ビーム走査光学装置であれば、低速な回路を用いても、低コストかつ高精度に、被走査面上における光ビームの結像状態を検出することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明に係る光ビーム走査光学装置の実施形態について、添付図面を参照しながら詳細に説明する。
【００２０】
図１は、本発明に係る光ビーム走査光学装置の一実施形態を示す概略斜視図である。本図に示すように、本実施形態の光ビーム走査光学装置１０は、レーザダイオード１１と、コリメータレンズ１２と、第１シリンドリカルレンズ１３と、ポリゴンミラー１４と、３本のｆθレンズ１５ａ、１５ｂ、１５ｃと、第２シリンドリカルレンズ１６と、平面ミラー１７と、ＳＯＳ［Start Of Scan］検出センサ１８と、を有して成り、レーザダイオード１１から出射される光ビームＬで感光ドラム２０を走査する構成とされている。
【００２１】
光源であるレーザダイオード１１から出射された光ビームＬは、コリメータレンズ１２によって、それまでの発散光から平行光（または収束光）とされる。コリメータレンズ１２から出射された光ビームＬは、第１シリンドリカルレンズ１３で副走査方向に集光された後、ポリゴンミラー１４に入射される。
【００２２】
ポリゴンミラー１４は、複数の反射面を備えた偏光器であり、不図示のポリゴンモータによって、矢印Ａ方向に所定の角速度で回転駆動される。ポリゴンミラー１４に入射された光ビームＬは、ポリゴンミラー１４の各反射面で等角速度に偏向走査された後、ｆθレンズ１５ａ、１５ｂ、１５ｃを透過して、第２シリンドリカルレンズ１６に入射される。
【００２３】
ｆθレンズ１５ａ、１５ｂ、１５ｃは、その歪曲特性がｙ＝ｆθ（ｙ：像高、ｆ：焦点距離、θ：画角）となっているレンズであり、感光体ドラム２０上における光ビームＬの主走査速度を等速度に補正する機能（歪曲収差補正機能）を有している。
【００２４】
第２シリンドリカルレンズ１６は、第１シリンドリカルレンズ１３と同様、副走査方向にのみ光学的なパワーを有するレンズであり、両レンズ１３、１６を協働させることで、ポリゴンミラー１４の面倒れ誤差を補正することができる。なお、第２シリンドリカルレンズ１６を透過した光ビームＬは、平面ミラー１７で感光ドラム２０方向に反射される。
【００２５】
感光ドラム２０は、矢印Ｃで示す副走査方向に所定の周速度で回転駆動される像担持体であり、感光体ドラム２０に入射された光ビームは、その表面上で結像される。そして、感光体ドラム２０の表面上には、光ビームＬの主走査（ポリゴンミラー１４及びｆθレンズ１５ａ、１５ｂ、１５ｃによる矢印Ｂ方向への走査）、並びに、副走査（感光ドラム２０の回転駆動による矢印Ｃ方向への走査）によって、静電潜像が書き込まれる。
【００２６】
また、本実施形態の光ビーム走査光学装置１０は、感光ドラム２０の主走査上流側であってその画像形成領域外（すなわち、感光ドラム２０と光学的に等価な位置）に、同期検出用のＳＯＳ検出センサ１８を配置して成り、感光ドラム２０の主走査開始に先立って、上記の走査光学系（コリメータレンズ１２、第１シリンドリカルレンズ１３、ポリゴンミラー１４、３本のｆθレンズ１５ａ、１５ｂ、１５ｃ、第２シリンドリカルレンズ１６、及び、平面ミラー１７）を通過した光ビームＬが、ＳＯＳ検出センサ１８に入射される構成とされている。
【００２７】
図２は、ＳＯＳ検出センサ１８に対して光ビームＬが走査していく様子を示す模式図である。本図に示すように、本実施形態のＳＯＳ検出センサ１８は、図中のハッチング部分で示すように、フォトダイオードから成る受光部を透明な樹脂でモールドして成る形態とされており、回路基板に対して１つの電子部品として他の電子部品と同様に実装される。なお、本実施形態のＳＯＳ検出センサ１８は、前記フォトダイオードに抵抗を介して一定の電圧を印加しておき、前記フォトダイオードの受光量に応じて変動する前記抵抗の両端電圧をその出力信号として取り出す構成とされている。
【００２８】
図３は、ＳＯＳ検出センサ１８に接続される後段回路の一構成例を示すブロック図である。本図に示すように、本実施形態の光ビーム走査光学装置１０において、ＳＯＳ検出センサ１８の後段には、同期検出用のトリガ信号を生成するトリガ信号生成回路３０が接続されるほか、感光ドラム２０の表面上における光ビームＬのフォーカス判定を行うフォーカス判定部４０が接続されている。
【００２９】
まず、トリガ信号生成回路３０について説明する。前述したように、ＳＯＳ検出センサ１８の出力信号ａは、フォトダイオードの受光量に応じて変動する電圧波形であるため、出力信号ａの出力レベル変動（電圧値変動）を捉えることにより、光ビームＬの到達や通過を検知することができる。そこで、本実施形態のトリガ信号生成回路３０は、出力信号ａと所定の閾値を比較し、出力信号ａが前記閾値に達した時点でトリガ信号を出力するように構成されている。すなわち、トリガ信号生成回路３０では、光ビームＬの主走査が繰り返される毎に、各走査の開始時において、トリガ信号が出力されることになる。なお、生成されたトリガ信号は、図示しない変調制御手段に送出され、画像データに応じた光ビームＬの変調開始タイミング（レーザダイオード１１の点消灯開始タイミング）を決定する手段として用いられる。このように、ＳＯＳ検出センサ１８の出力信号ａは、本来、同期検出用のトリガ信号を生成する目的で用いられる信号である。
【００３０】
次に、本発明の特徴部分であるフォーカス判定部４０について詳細な説明を行う。図３に示す通り、本実施形態のフォーカス判定部４０は、微分回路４１と、整流回路４２と、電荷蓄積回路４３と、フォーカス判定回路４４と、を有して成る。
【００３１】
微分回路４１は、ＳＯＳ検出センサ１８の出力信号ａに微分処理を施すことで、出力信号ｂを生成する手段である。整流回路４２は、微分回路４１の出力信号ｂに半波整流処理を施すことで、出力信号ｃを生成する手段である。電荷蓄積回路４３は、コンデンサなどの電荷蓄積素子を有して成り、整流回路４２で得られる出力信号ｃの波形面積（図７のハッチング部分を参照）を電荷の形で蓄わえる手段である。すなわち、微分回路４１、整流回路４２、及び、電荷蓄積回路４３は、ＳＯＳ検出センサ１８で得られる出力信号ａの立上がり及び／または立下がりに際し、その出力レベル変動の急峻度を所定の物理量（電荷量）として検出し、当該物理量を感光ドラム２０の走査毎に蓄積していく検出蓄積手段として機能する。フォーカス判定回路４４は、所定の走査回数分だけ電荷蓄積回路４３に蓄積された電荷の総量（電荷蓄積素子の端子電圧）を取り出し、当該電荷総量に基づいて、感光ドラム２０の表面上における光ビームＬのフォーカス判定を行う手段である。
【００３２】
図４は、出力信号ａ、ｂの波形を概念的に示す図である。本図に示すように、微分回路４１で生成される出力信号ｂの出力レベルは、正負いずれの向きについても、出力信号ａの傾きが増大する部分でその出力レベルが大きくなり、逆に、出力信号ａの傾きが減少する部分でその出力レベルが小さくなる。すなわち、出力信号ｂの出力レベルは、出力信号ａの立上がりに際して、その基準出力レベル（図中の一点鎖線を参照）から正側に極大値を取る一方、出力信号ａの立下がりに際しては、その基準出力レベルから負側に極小値を取ることになる。
【００３３】
図５は、出力信号ａ、ｂの波形と光ビームＬの結像状態との相関関係を示す図である。なお、本図（ａ）は、光ビームＬが合焦状態である場合を示しており、本図（ｂ）は、光ビームＬがデフォーカス状態である場合を示している。本図（ａ）、（ｂ）を比べると分かるように、光ビームＬが合焦状態である場合には、光ビームＬがデフォーカス状態である場合に比べて、出力信号ａの立上がり／立下がりが急峻となり、出力信号ｂの極大値及び極小値が高くなる。一方、出力信号ｂの波形面積（出力信号ｂの波形とその基準電圧レベルとで囲まれたハッチング部分の面積）については、光ビームＬがデフォーカス状態である場合に比べて、むしろ小さくなる。
【００３４】
図６は、出力信号ｂの波形面積と光ビームＬの結像状態との相関関係を説明するための原理図である。なお、本図（ａ）の上段は、出力信号ａの立上がり／立下がりが直線的であると仮定した場合の波形を示しており、下段は、その場合における出力信号ｂの波形を示している。本図（ａ）に示すように、出力信号ａが傾き（ｙ／ｘ）を持って直線的に立ち上がると仮定した場合、出力信号ｂの極大値（波高値）は、ｔａｎ-1（ｙ／ｘ）となり、その波形面積Ｓは、ｘ・ｔａｎ-1（ｙ／ｘ）と算出される。一方、本図（ｂ）は、出力信号ａの波高値ｙを１と仮定した場合における出力信号ａの立上がり幅ｘと出力信号ｂの波形面積Ｓとの相関関係をグラフ化した図である。本図（ｂ）からも分かるように、光ビームＬが合焦状態に近いほど、すなわち出力信号ａの立上がり幅ｘが小さいほど、出力信号ｂの波形面積Ｓは小さくなることが分かる。
【００３５】
図７は、出力信号ｂ、ｃの波形を概念的に示す図であり、特に、本図では、ＳＯＳセンサ１８に光ビームＬをｎ回繰り返して走査した場合の波形が示されている。本図に示すように、整流回路４２で生成される出力信号ｃは、出力信号ｂからその基準出力レベルよりも正側（若しくは負側）の部分のみが抽出された波形となっている。ただし、整流回路４２は、出力信号ｂに半波整流処理を施す構成に限定されるものではなく、出力信号ｂに全波整流処理を施す構成としても構わない。
【００３６】
図８は、電荷蓄積回路４３に蓄積された電荷の総量（出力信号ｃの波形面積の総和）と光ビームＬの走査回数との相関関係を示す図である。なお、本図の縦軸は、電荷蓄積回路４３に蓄積された電荷の総量を示しており、横軸は光ビームＬの走査回数を示している。また、本図では、ＳＯＳセンサ１８に光ビームＬをｎ回繰り返して走査した場合の様子が示されている。本図に示すように、光ビームＬの走査回数が増加すると、それに伴って、電荷蓄積回路４３に蓄積された電荷の総量は直線的に増加する。このとき、光ビームＬが合焦状態に近ければ、出力信号ｃの波形面積（図７のハッチング部分を参照）は小さくなるので、蓄積電荷の増加度（傾き）も緩やかになり、ｎ回走査後における蓄積電荷の総量は小さくなる。逆に、光ビームＬが合焦状態から遠ければ、出力信号ｃの波形面積は大きくなるので、蓄積電荷の増加度（傾き）も急峻となり、ｎ回走査後における蓄積電荷の総量は大きくなる。
【００３７】
そこで、本実施形態のフォーカス判定回路４４は、所定走査回数（例えば、数百回〜数千回程度）毎に、電荷蓄積回路４３の蓄積電荷総量を取り出し、当該蓄積電荷総量が減少傾向にあるか増加傾向にあるかに基づいて、感光ドラム２０の表面上における光ビームＬの結像状態が合焦方向に変化しているか否かを判定する構成としている。より具体的に述べると、本実施形態のフォーカス判定回路４４は、所定走査回数毎の蓄積電荷総量が減少傾向であれば、光ビームＬの結像状態が合焦方向に変化していると判断し、後段のフォーカス補正手段（不図示）に対して、現在と同方向に光ビームＬの結像状態を変化させる制御命令を送出する一方、所定走査回数毎の蓄積電荷総量が増加傾向であれば、光ビームＬの結像状態が合焦方向に変化していないと判断し、前記フォーカス補正手段に対して、現在とは逆方向に光ビームＬの結像状態を変化させる制御命令を送出する構成としている。
【００３８】
なお、上記した所定走査回数のカウントについては、フォーカス判定部４４にて、先出のトリガ信号を計数すればよく、また、電荷蓄積回路４３のリセットについては、所定走査回数毎に、その電荷蓄積素子を放電させるためのリセット信号を送出すればよい。
【００３９】
このように、フォーカス判定動作を１回の走査のみで完結させるのではなく、所定走査回数毎に、電荷蓄積回路４３に蓄積された電荷総量の変化を追跡し、その結果に基づいてフォーカス判定を行う構成であれば、光ビームＬのフォーカス判定を高精度に行うことが可能となる。また、当該構成を採用するに際して、光ビームＬの走査毎に必要となるフォーカス判定部４０での信号処理は、微分処理、整流処理、及び、電荷蓄積処理といった単純なアナログ処理のみであり、走査速度向上への対応が難しいＡ／Ｄ変換処理やカウンタ処理を要しない。従って、さらなる走査速度の向上にも、コストアップを招くことなく、十分に対応することが可能である。
【００４０】
なお、種々の環境変化に伴う光ビームＬのフォーカスずれは、必ずしもそのフォーカス判定動作を１回の走査のみで完結しなければならないほどの高速現象ではないため、所定走査回数毎にフォーカス判定を行う構成としても、特段問題が生じることはない。
【００４１】
また、本実施形態の光ビーム走査光学装置１０は、既設のＳＯＳ検出センサ１８をフォーカス判定手段として流用する構成とされており、フォーカス制御専用の光センサを必要としないため、部品点数を低減し、その構造を簡略化することが可能となる。
【００４２】
なお、上記の実施形態では、単一の光ビームＬで感光ドラム２０を走査する構成を例に挙げて説明を行ったが、本発明の構成はこれに限定されるものではなく、複数の光ビームで単一の走査対象を走査する光ビーム走査光学装置にも広く適用することが可能である。
【００４３】
また、本発明の構成は、上記の実施形態に限定されるものではなく、例えば、微分回路４１で得られる出力信号ｂの極大値若しくは極小値、或いは、当該出力信号ｂが所定の閾値を超えている間の時間幅を所定の物理量（電荷量など）として検出し、当該物理量を各走査毎に蓄積しておくとともに、所定走査回数分だけ蓄積された物理量若しくはそれを前記所定走査回数で除して得られる平均値に基づいて、光ビームＬの結像状態を判定する構成としても構わない。このように、フォーカス判定動作を１回の走査のみで完結させるのではなく、所定走査回数分だけ蓄積された物理量に基づいてフォーカス判定を行う構成であれば、外来ノイズ等の影響を抑え、フォーカス判定精度を向上することが可能となる。
【００４４】
また、本発明の構成は、上記実施形態のほか、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えることが可能である。
【産業上の利用可能性】
【００４５】
本発明は、光ビーム走査光学装置におけるフォーカス判定の低コスト化や高精度化を図る上で極めて有用な技術であり、延いては、画像形成装置の高画質化や高速化に貢献し得る技術である。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】は、本発明に係る光ビーム走査光学装置の一実施形態を示す概略図である。
【図２】は、ＳＯＳ検出センサ１８に対して光ビームＬが走査していく様子を示す模式図である。
【図３】は、ＳＯＳ検出センサ１８に接続される後段回路の一構成例を示すブロック図である。
【図４】は、出力信号ａ、ｂの波形を概念的に示す図である。
【図５】は、出力信号ａ、ｂの波形と光ビームＬの結像状態との相関関係を示す図である。
【図６】は、出力信号ｂの波形面積と光ビームＬの結像状態との相関関係を説明するための原理図である。
【図７】は、出力信号ｂ、ｃの波形を概念的に示す図である。
【図８】は、電荷蓄積回路４３に蓄積された電荷の総量と光ビームＬの走査回数との相関関係を示す図である。
【符号の説明】
【００４７】
１０    光ビーム走査光学装置
１１    レーザダイオード
１２    コリメータレンズ
１３    第１シリンドリカルレンズ
１４    ポリゴンミラー
１５ａ、１５ｂ、１５ｃ    ｆθレンズ
１６    第２シリンドリカルレンズ
１７    平面ミラー
１８    ＳＯＳ検出センサ
２０    感光ドラム
３０    トリガ信号生成回路
４０    フォーカス判定部
４１    微分回路
４２    整流回路
４３    電荷蓄積回路
４４    フォーカス判定回路
Ｌ    光ビーム
【図１】
2006091287.tif 000003
【図２】
2006091287.tif 000004
【図３】
2006091287.tif 000005
【図４】
2006091287.tif 000006
【図５】
2006091287.tif 000007
【図６】
2006091287.tif 000008
【図７】
2006091287.tif 000009
【図８】
2006091287.tif 000010