(57)【要約】    【課題】  低周波では信号減衰を大きく、高周波では信号減衰を小さくする補償特性を実現し、かつ比較的制御が簡単な低周波信号の制御により補償調整を行い、高周波化を容易化するイコライザ回路を提供することにある。    【解決手段】  アナログ伝送信号Ｖinを２つの信号に分配する分配手段と、該分配手段で分配された一方の信号について高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させる減衰手段１と、前記分配手段で分配された他方の信号から前記減衰手段で高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させた信号を減算する減算手段２と、該減算手段から得られる信号の低減した全体のゲインを増幅させて出力信号Ｖoutとして出力する増幅手段Ａ３とを備えるイコライザ回路並びにハードディスクの検査装置である。【選択図】  図２
2006085792.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
アナログ伝送信号を２つの信号に分配する分配手段と、
該分配手段で分配された一方の信号について高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させる減衰手段と、
前記分配手段で分配された他方の信号から前記減衰手段で高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させた信号を減算する減算手段と、
該減算手段から得られる信号の低減した全体のゲインを増幅させて出力する増幅手段とを備えることを特徴とするイコライザ回路。
【請求項２】
アナログ伝送信号を２つの信号に分配する分配手段と、
該分配手段で分配された一方の信号について高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させる減衰手段と、
該減衰手段で高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させた信号のゲインを可変できる可変増幅手段と、
前記分配手段で分配された他方の信号から前記可変増幅手段でゲインを可変できて得られる高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させた信号を減算する減算手段と、
該減算手段から得られる信号の低減した全体のゲインを増幅させて出力する増幅手段とを備えることを特徴とするイコライザ回路。
【請求項３】
アナログ伝送信号を増幅する増幅手段と、
該増幅手段で増幅されたアナログ伝送信号を２つの信号に分配する分配手段と、
該分配手段で分配された一方の信号について高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させる減衰手段と、
前記分配手段で分配された他方の信号から前記減衰手段で高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させた信号を減算して出力する減算手段とを備えることを特徴とするイコライザ回路。
【請求項４】
アナログ伝送信号を増幅する増幅手段と、
該増幅手段で増幅されたアナログ伝送信号を２つの信号に分配する分配手段と、
該分配手段で分配された一方の信号について高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させる減衰手段と、
該減衰手段で高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させた信号のゲインを可変できる可変増幅手段と、
前記分配手段で分配された他方の信号から前記可変増幅手段でゲインを可変できて得られる高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させた信号を減算して出力する減算手段とを備えることを特徴とするイコライザ回路。
【請求項５】
共通のコレクタ抵抗と接続された第１及び第２の差動増幅器を設け、
前記第１の差動増幅器のＰ側のベース端子を、前記第２の差動増幅器のＮ側のベースとローパスフィルタを介して接続し、
前記第１の差動増幅器のＮ側のベース端子を、前記第２の差動増幅器のＰ側のベースとローパスフィルタを介して接続することを特徴とするイコライザ回路。
【請求項６】
請求項５記載の第２の差動増幅器がギルバートマルチプライヤ形の差動増幅器であることを特徴とするイコライザ回路。
【請求項７】
１ＧＨｚ以上の高周波アナログ信号伝送路において、請求項１又は２又は３又は４記載のイコライザ回路を備えて構成することを特徴とする高周波アナログ信号伝送路。
【請求項８】
磁気ヘッドにより磁気ディスクから読み出したアナログ信号を増幅する増幅手段と、該増幅手段で増幅されたアナログ信号に対してフィルタ処理する２種以上の周波数特性を持つフィルタ回路と、該フィルタ回路を通して得られる磁気ディスクまたは磁気ヘッドの信号特性を測定して特性判定を行う測定部とを有するハードディスクの検査装置であって、
前記増幅手段と前記測定部との間の信号伝送経路内に請求項１乃至６の何れか一つに記載のイコライザ回路を備え、１ＧＨｚ以上の試験周波数でも伝送路による損失を補償できることを特徴とするハードディスクの検査装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、特に高周波アナログ信号伝送を行う場合のケーブルや基板内伝送路等による信号減衰を補償するイコライザ回路並びに該イコライザ回路を高周波アナログ信号伝送路内に備えた磁気ディスクまたは磁気ヘッドの信号特性を検査するハードディスクの検査装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
磁気ヘッドから受信する信号がアナログ信号であるため、ハードディスクテスタの装置内部ではアナログ信号の伝送が行われている。
ハードディスクの記録密度は近年増加しており、１トラック当たりのビット数が増加した結果、ビット幅も狭くなっている。そのため、磁気ヘッドで読み込むアナログ信号も１００ＭＨｚを越える高周波アナログ信号の伝送が行われるようになった。
アナログ信号の伝送にとっては、使用する周波数帯域内における波高値の平坦性が必要である。
しかし、アナログ信号の周波数が１００ＭＨｚを越えると、高周波帯域での減衰が無視できないほど大きくなる。
【０００３】
この課題を解決するために、一般にケーブル等の周波数特性と反対に、低周波信号の減衰が大きく高周波信号の減衰が小さいハイパスフィルタの特性を持つ図７に示す従来のイコライザ回路を伝送路の後に挿入し、信号減衰を補償することが行われている。この場合の周波数特性を図８に示す。同図において、１点鎖線は伝送路の周波数特性を、破線はイコライザの周波数特性を、実線は全体の周波数特性を示している。ここでイコライザの補償特性を、伝送経路の損失特性と相反する特性に調整することで、帯域内の信号伝送特性を平坦にすることができる。
【０００４】
従来のイコライザ回路は、信号伝送路中に挿入した抵抗６１および抵抗６２と、同抵抗間とアースを接続する抵抗６３及びインダクタンス６４と、抵抗６１、６２と並列に接続したコンデンサ６５を具えており、抵抗とインダクタンスにより低周波信号成分の減衰を大きくし、コンデンサ６５により高周波信号成分の減衰を小さくするハイパスフィルタを形成している。また同回路の受動素子の値を調整することで、伝送経路の信号減衰の補償特性を調整することができる。
【０００５】
本従来例に関する技術は、特開２００３−１６８９４４号公報（特許文献１）に記載されている。
【０００６】
【特許文献１】特開２００３−１６８９４４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
従来技術では、ハイパスフィルタの高周波帯域での制御を行う必要があり、高周波帯域での正確な補償が困難であった。また、補償すべき量と補償される量のズレは高周波化が進むほど大きくなるので、ハードディスクテスタの高周波化を実現する上でボトルネックになっていた。
【０００８】
特に、面記録密度が１００Ｇｂ／ｉｎ２を超えるハードディスクでは、１ＧＨｚ以上の高周波帯域の信号を使用しなければ、磁気ディスクや磁気ヘッドの信頼性試験を行うことが困難になる。
【０００９】
従って、現在のイコライザ回路での補償方法とは異なるイコライザ回路の実現が必要になっている。
【００１０】
つまり、本発明の目的は、ハイパスフィルタを使用しない新しい構成のイコライザ回路を提供し、高周波アナログ信号の高精度な試験が可能な磁気ディスクまたは磁気ヘッドの信号特性を検査するハードディスクテスタ（ハードディスクの検査装置）を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的を達成するために、本発明は、アナログ伝送信号を２つに分配し、一方の信号のみローパスフィルタを通過させて低周波信号のみ通過させた後、同信号をもう一方の信号から減算する手段を備えたことを特徴とするイコライザ回路である。
【００１２】
このように、減算手段を用いることにより、高周波帯域での制御が容易なローパスフィルタが採用可能となり、高精度の補償が可能となる。
【００１３】
また、本発明は、アナログ伝送信号を２つの信号に分配する分配手段と、該分配手段で分配された一方の信号について高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させる減衰手段と、前記分配手段で分配された他方の信号から前記減衰手段で高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させた信号を減算する減算手段とを備えることを特徴とするイコライザ回路である。
【００１４】
また、本発明は、アナログ伝送信号を２つの信号に分配する分配手段と、該分配手段で分配された一方の信号について高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させる減衰手段と、該減衰手段で高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させた信号のゲインを可変できる可変増幅手段と、前記分配手段で分配された他方の信号から前記可変増幅手段でゲインを可変できて得られる高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させた信号を減算する減算手段とを備えることを特徴とするイコライザ回路である。
【００１５】
また、本発明は、共通のコレクタ抵抗と接続された第１及び第２の差動増幅器を設け、前記第１の差動増幅器のＰ側のベース端子を、前記第２の差動増幅器のＮ側のベースとローパスフィルタを介して接続し、前記第１の差動増幅器のＮ側のベース端子を、前記第２の差動増幅器のＰ側のベースとローパスフィルタを介して接続することを特徴とするイコライザ回路である。
また、本発明は、前記第２の差動増幅器がギルバートマルチプライヤ形の差動増幅器であることを特徴とする。
【００１６】
また、本発明は、磁気ヘッドにより磁気ディスクから読み出したアナログ信号を増幅する増幅手段と、該増幅手段で増幅された信号に対してフィルタ処理する２種以上の周波数特性を持つフィルタ回路と、該フィルタ回路を通して得られる磁気ディスクまたは磁気ヘッドの信号特性を測定して特性判定を行う測定部とを有するハードディスクの検査装置であって、前記増幅手段と前記測定部との間のアナログ信号伝送経路内に請求項１乃至６の何れか一つに記載のイコライザ回路を備え、１ＧＨｚ以上の試験周波数でも伝送路による損失を補償できることを特徴とする。
【００１７】
なお、本出願当時の他の技術では、１ＧＨｚを越える信号を高精度に補償するイコライザ回路はできておらず、前記手段により、１ＧＨｚを越える信号のアナログ信号の伝送が初めて実現することができる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、１ＧＨｚを超える高周波伝送路において、低周波では信号減衰を大きく、高周波では信号減衰を小さくする補償特性を実現し、かつ比較的制御が簡単な低周波信号の制御により補償調整を行う構成であるため、高周波化を容易にすることが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
本発明に係るイコライザ回路および磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置の実施の形態について図面を用いて説明する。
【００２０】
［第1の実施の形態］
まず、本発明に係る第１の実施の形態について図１〜図４を用いて説明する。
【００２１】
第１図は、本発明に係る第１の実施の形態において、装置間および基板間のケーブルや基板内伝送路等の１ＧＨｚを超える高周波信号伝送路にイコライザ回路を備えて、帯域内信号の周波数特性平坦性を得て高周波化を実現した構成を示す図である。３は１ＧＨｚを超える高周波信号の信号源、４は装置間および基板間のケーブルや基板内伝送路等の高周波信号伝送路、５は高周波信号伝送路４に設けられたイコライザ回路である。
【００２２】
図２は、本発明に係るイコライザ回路の第１の実施例５ａを示す概略構成図である。図３は、イコライザ回路の第１の実施例５ａの動作波形を示す。即ち、図２中のＡ１、Ａ２はアンプ、１はローパスフィルタ（所定のカットオフ周波数ｆｃ以上の高周波成分を減衰させる減衰手段）、２は減算回路（減算手段）、Ｓ１はＡ１の出力信号、Ｓ２はＡ２の出力信号である。
【００２３】
即ち、イコライザ回路の第１の実施例５ａは、アナログ信号である入力伝送信号Ｖinを２つの信号に分配する分配手段と、該分配手段で分配された一方の信号について高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させる減衰手段（ローパスフィルタ）１と、上記分配手段で分配された他方の信号Ｓ１から上記減衰手段１で高周波成分を減衰させて低周波成分を通過した信号Ｓ２を減算する減算手段２と、該減算手段２から得られる信号Ｓ３の低減した全体のゲインを増幅させて出力伝送信号Ｖoutとして出力する増幅手段（アンプ）Ａ３とを備えて構成される。
【００２４】
図２に示すように、入力端子電圧Ｖinは分配手段により２つに分配されてアンプＡ１とローパスフィルタ１に入力される。アンプＡ１は任意のゲインＧa１[ｄＢ]に設定されており、入力信号を増幅して減算回路２へＳ１を出力する。ローパスフィルタ１は、あるカットオフ周波数ｆｃ以上の高周波信号を減衰させてアンプＡ２に出力する。アンプＡ２のゲインはＡ１のゲインＧa１よりも小さい任意のゲインＧa２[ｄＢ]に設定されており、入力信号を増幅して減算回路２へＳ２を出力する。減算回路２はＳ１からＳ２を減算する回路であり、アンプＡ３へ信号Ｓ３を出力する。ここで、図３に示すように、減算回路２によってアンプＡ１の出力信号Ｓ１からアンプＡ２の出力信号Ｓ２の減算を行うことで、Ｖoutのように低周波のみ減衰が大きく、高周波の減衰が小さい補償特性を得る。この低周波の減衰量Ｌgain[ｄＢ]は、アンプＡ１のゲインとアンプＡ２のゲイン比を設定することにより、以下の式（１）に示すように任意の値に設計することが可能である。
【００２５】
Ｌgain＝２０・ＬＯＧ（１−１０（Ｇa２−Ｇa１）／２０）        （１）
また、低周波から高周波にむけた補償特性の周波数範囲と傾きは、ローパスフィルタ１のカットオフ周波数ｆｃとロールオフ特性により決まり、伝送路の損失特性に合わせて任意に設計を行う。
【００２６】
ここで、減算した結果をアンプ（増幅手段）Ａ３で増幅することで減衰量Ｌgainの補償を行う構成について詳細に説明したが、図４に示すイコライザ回路の第２の実施例５ｃのように、入力信号Ｖinをアンプ（増幅手段）Ａ３ａを通過させて増幅した信号Ｓ０ａを、２分配してローパスフィルタ１ａとアンプＡ１ａに入力し、同アンプＡ１ａ通過後の信号Ｓ１ａからフィルタ１ａおよびアンプＡ２ａ通過後の信号Ｓ２ａを減算回路２ａにおいて減算処理した出力信号Ｖoutでも同じ効果が得られる。
【００２７】
但し、上記のように低周波信号を減衰させて補償特性を得ることにより、全体の伝送ゲインが（１）式のＬgain分低くなるため、この減衰量Ｌgainの補償をアンプ（増幅手段）Ａ３のゲイン調整することにより、図３に示すＶoutの周波数特性を得る。
【００２８】
以上説明したように、イコライザ回路の第１及び第２の実施例によれば、低周波では信号減衰を大きく、高周波では信号減衰を小さくする補償特性を実現し、かつ比較的制御が簡単な低周波信号の制御により補償調整を行うことにより、１ＧＨｚを超えるイコライザ回路の高周波化を実現することが可能となる。
【００２９】
［第２の実施の形態］
次に、本発明に係るイコライザ回路の第３の実施例について図５を用いて説明する。
【００３０】
図５は、本発明に係るイコライザ回路の第３の実施例５ｂを示す具体的構成図である。即ち、イコライザ回路の第３の実施例５ｂは、入力伝送信号Ｖin_Ｐ及びＶin_Ｎを２つの信号に分配する分配手段（Ｑ１、Ｑ２、Ｑ３、Ｑ４、Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３およびＩ４）と、該分配手段で分配された一方の信号について高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させる減衰手段（ローパスフィルタ）Ｒ３、Ｒ４およびＣ１と、該減衰手段で高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させた信号のゲインを可変できる可変増幅手段（可変差動増幅器（Ｑ７、Ｑ８、Ｑ９、Ｑ１０、Ｑ１１、Ｑ１２、Ｒ５、Ｒ６、Ｒ７、Ｒ８およびＩ６）と、前記分配手段で分配された他方の信号から前記可変増幅手段でゲインを可変できて得られる高周波成分を減衰させて低周波成分を通過させた信号を減算する減算手段（第１の差動増幅器（Ｑ５、Ｑ６、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ７、Ｒ８およびＩ５）と第２の差動増幅器である可変差動増幅器（Ｑ７、Ｑ８、Ｑ９、Ｑ１０、Ｑ１１、Ｑ１２、Ｒ５、Ｒ６、Ｒ７、Ｒ８およびＩ６）が、コレクタ抵抗Ｒ７とＲ８を共有し、かつ差動増幅器の極性が逆となるように接続して構成されることにより両差動増幅器の減算が行われる手段）と、該減算手段から得られる信号の低減した全体のゲインを増幅させて出力伝送信号Ｖout_Ｐ及びＶout_Ｎとして出力する増幅手段（アンプ）Ａ４とを備えて構成される。
【００３１】
また、イコライザ回路の第３の実施例５ｂは、共通のコレクタ抵抗Ｒ７及びＲ８と接続された第１及び第２の差動増幅器を設け、該第１の差動増幅器のＰ側のベース端子を、第２の差動増幅器のＮ側のベースとローパスフィルタを介して接続し、第１の差動増幅器のＮ側のベース端子を、第２の差動増幅器のＰ側のベースとローパスフィルタを介して接続して両差動増幅器の減算が行われるように構成したことにある。
【００３２】
即ち、図５中のＱ１、Ｑ２、Ｑ３、Ｑ４、Ｑ５、Ｑ６、Ｑ７、Ｑ８、Ｑ９、Ｑ１０、Ｑ１１、Ｑ１２、Ｑ１３、Ｑ１４はトランジスタ、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｒ４、Ｒ５、Ｒ６、Ｒ７、Ｒ８は抵抗、Ｃ１はコンデンサ、Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３、Ｉ４、Ｉ５、Ｉ６、Ｉ７、Ｉ８は電流源、Ｖｃｃは電源端子、ＧＮＤは接地端子である。
【００３３】
次に、図５の回路動作を説明する。回路はＱ１、Ｑ２、Ｑ３、Ｑ４、Ｉ１、Ｉ２、Ｉ３およびＩ４で構成する入力分配回路（分配手段）と、Ｑ５、Ｑ６、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ７、Ｒ８およびＩ５で構成する第１の差動増幅器と、Ｒ３、Ｒ４およびＣ１で構成するローパスフィルタと、Ｑ７、Ｑ８、Ｑ９、Ｑ１０、Ｑ１１、Ｑ１２、Ｒ５、Ｒ６、Ｒ７、Ｒ８およびＩ６で構成する第２の差動増幅器（可変差動増幅器）と、Ｑ１３、Ｑ１４、Ｉ７およびＩ８で構成する出力回路からなり、Ｑ１とＱ２、Ｑ３とＱ４、Ｑ５とＱ６、Ｑ７とＱ８、Ｑ９とＱ１０とＱ１１とＱ１２、Ｑ１３とＱ１４はそれぞれ同一特性を示すトランジスタ、Ｒ１とＲ２、Ｒ３とＲ４、Ｒ５とＲ６、Ｒ７とＲ８は同一抵抗値、Ｉ１とＩ２、Ｉ３とＩ４、Ｉ７とＩ８はそれぞれ同一電流値である。なお、上記第２の差動増幅器（可変差動増幅器）は、ギルバートマルチプライヤ形の差動増幅器で構成される。
【００３４】
差動入力信号Ｖin_ＰとＶin_Ｎは、それぞれＱ１とＱ３、Ｑ２とＱ４を通して第１の差動増幅器とローパスフィルタに分配される。
【００３５】
第１の差動増幅器ではゲインＧa１［ｄＢ］に増幅して出力を行う。Ｇa１は（２）式で表すことができる。
【００３６】
Ｇa１≒２０・ＬＯＧ(Ｒ７／(Ｒ１＋Ｖｔ／(Ｉ５／２)))          （２）
但し、Ｖｔはトランジスタの熱電位である。
【００３７】
ローパスフィルタでは、カットオフ周波数ｆｃ以上の高周波信号を減衰して可変の第２の差動増幅器に出力する。フィルタのｆｃは、抵抗Ｒ３とコンデンサＣ１により（３）式で表すことができる。
【００３８】
ｆｃ＝１／（４π・Ｒ３・Ｃ１）                                （３）
ここで抵抗Ｒ３，Ｒ４に例えばボリューム抵抗をもちいるか、コンデンサＣ１にトリマコンデンサや、バリキャップダイオード等の可変容量素子をもちいることで、イコライザ回路の補償特性を素子の付け替えなしに調整することが可能となる。特にバリキャップダイオード等の、外部からの信号により可変することが可能な素子をもちいることで、装置に組み込んだ後の自動キャリブレーションも可能となる。
【００３９】
第２の差動増幅器（可変差動増幅器）は、トランジスタＱ９、Ｑ１０、Ｑ１１、Ｑ１２をゲイン制御電圧Ｇctr1ＰとＧctr1Ｎにより制御することでゲインを可変できる手段を具えている。可変差動増幅器のゲインＧa２［ｄＢ］は（４）式で表すことができる。
【００４０】
Ｇa２≒２０・ＬＯＧ(Ｋ・(Ｒ７／(Ｒ５＋Ｖｔ／(Ｉ６／２))))  （０≦Ｋ≦１）（４）
但し  Ｋ＝１    Ｇctr1Ｐ＞＞Ｇctr1Ｎ
Ｋ＝０    Ｇctr1Ｐ＝Ｇctr1Ｎ
ここで、第１の差動増幅器と第２の差動増幅器（可変差動増幅器）は、コレクタ抵抗Ｒ７とＲ８を共有し、かつ増幅器の極性が逆となるように接続しており、これにより両増幅器の減算を行い、トランジスタＱ１３とＱ１４からなる出力バッファを通してアンプＡ４に出力される。この減算によって、低周波信号では（１）式、（２）式、（４）式により決まる減衰量Ｌgain［ｄＢ］を示し、ローパスフィルタのカットオフ周波数以上の高周波で減衰量が小さくなる補償特性を示すこととなる。これにより、比較的制御しやすい低周波信号で補償周波数や減衰量の調整が可能となるため、高周波化が容易化できる。アンプＡ４では、全体の周波数特性で生じる減衰量Ｌgain［ｄＢ］を補償するように全周波数で増幅を行い、出力する。
【００４１】
本第３の実施例では、ローパスフィルタを抵抗とコンデンサの１次特性フィルタとしているが、これに限定するものでは無く、例えばインダクタンスとコンデンサからなる種々のローパスフィルタ特性を示す他の構成でも良く、また、フィルタ次数も１次に限定するものではなく２次以上のフィルタでも、同様の効果が得られることは言うまでも無い。
【００４２】
また、図５において、減衰量Ｌgainを補償するためのアンプＡ４は出力部に接続しているが、アンプＡ４を入力端子に接続し、この出力をトランジスタＱ１〜Ｑ４のベース端子に接続しても同様な効果が得られることは言うまでもない。
【００４３】
［第３の実施の形態］
次に、本発明に係る第３の実施の形態について図６を用いて説明する。図６は、本発明の第３の実施の形態である高周波のアナログ伝送が必要な装置の一実施の形態としての、磁気ディスクまたは磁気ヘッドの検査装置を示す。同検査装置は、アナログ信号特性の測定を行うため、被試験対象である磁気ディスク２１または磁気ヘッド２２から信号特性測定部３８までの経路において、周波数平坦性が必要である。また、試験周波数の高周波化が進み、１ＧＨｚを超える信号伝送が求められており、１ＧＨｚ以上で補償特性を実現できるイコライザ回路が必須である。なお、プリアンプ２８は、磁気ヘッド２２により磁気記録媒体２１から読み出した信号を増幅する増幅手段である。
【００４４】
同検査装置は、ディスク回転部２３において磁気ディスク２１を保持して回転させ、検査に用いる試験データを生成するライトデータ生成部２５の出力を、ライトアンプ２４において増幅して出力し、磁気ディスク２１において試験目標とするトラック上に磁気ヘッド２２により信号を記録する記録動作を行う。また磁気ディスク２１に記録した試験データを磁気ヘッド２２において再生し、再生信号を信号切替手段２７の端子２を通してプリアンプ２８で増幅を行う。イコライザ回路２９はプリアンプ２８やケーブルや基板内伝送線等からなる伝送路３１での高周波信号の損失を補償するために挿入しており、プリアンプ２８の出力信号を、イコライザ回路２９、伝送路３１、信号切替手段３２の端子２および４を通してフィルタ回路３３に入力する。フィルタ回路３３は、主に再生信号に重畳している高周波ノイズを除くために用いられており、異なるカットオフ周波数に設定されたｎ個のフィルタ５１のうち１個のフィルタを、制御部２６のセレクタ制御信号を受けてセレクタ５２により選択して再生信号に対してフィルタ処理することで、ＭＨｚからＧＨｚ帯までの様々な周波数帯域の磁気ディスクや磁気ヘッドに対応した試験を行うことを可能にする回路である。しかし、フィルタ選択数の増加に伴いセレクタ及び伝送路５２のセレクタ数や伝送路も増え、これによる高周波信号の損失量が大きくなるため、この損失を補償するためのイコライザ回路３４が必須となる。ここでイコライザ回路３４は、その他のケーブルや基板内伝送線等からなる伝送路３６による高周波信号の損失分の補償も行う。同伝送路３６を通過した再生信号は、信号切替手段３７の端子２を通して信号特性測定部３８に入力され、信号特性測定部３８は、再生信号の波高値やパルス幅等の信号特性を測定して測定値を制御部２６に出力し、制御部２６はＣＰＵ３９等において検査対象とする磁気ディスク２１または磁気ヘッド２２が正常であるか否かを演算して判定動作を行う。
【００４５】
ここで図６中のイコライザ回路は、例えば図２に示す構成からなり、アンプＡ２のゲインを調整することで低周波減衰量を、ローパスフィルタのカットオフ周波数を調整することで補償周波数範囲を制御する手段を具えており、伝送路の周波数特性に合わせた補償特性を実現することができ、さらにアンプＡ２のゲイン調整により生じる全体ゲインの減衰を補償するためのアンプＡ３のゲインを調整する制御手段を具えている。
【００４６】
本検査装置は、伝送路等による損失を信号伝送の周波数特性測定部４１で測定し、イコライザ回路２９および３４の補償量を調整できる構成になっている。一実施例として、プリアンプ（増幅手段）２８、イコライザ回路２９、伝送路３１からなる伝送経路における補償方法について説明する。ここで切替手段２７は端子１を、切替手段３２は端子２および３を、切替手段４３は端子１を、切替手段４４は端子１を選択する。信号伝送の周波数特性測定部４１は、基準信号発生回路４２を制御して既知の基準信号を測定伝送経路へ出力し、かつ測定伝送経路通過後の同信号を測定して基準信号と比較を行うことで、伝送特性の周波数特性を算出し、制御部２６へ出力する。制御部２６では、信号伝送の周波数特性測定部４１が出力した周波数特性の平坦性が、ある任意の範囲内になるように、イコライザ回路２９の低周波減衰量およびカットオフ周波数の調整制御を行う。周波数特性の平坦性がある任意の範囲内に収まった後、制御部２６からイコライザ回路２９のゲイン調整制御を行い、イコライザ回路２９の低周波減衰量分により生じた全体ゲインの低減分の補償を行う。他の伝送経路についても、信号切替手段２７、３２、３７、４３、４４の選択を切替えることにより同様にして補償を行うことができ、フィルタ回路３３、イコライザ回路３４、伝送路３６の伝送経路の補償を行う場合には、切替手段３２は端子１および４を、切替手段３７は端子１を、切替手段４３は端子２を、切替手段４４は端子２を選択し、また、プリアンプ２８から伝送路３６までの伝送経路の補償を行う場合には、切替手段２７は端子１を、切替手段３２は端子２および４を、切替手段３７は端子１を、切替手段４３は端子１を、切替手段４４は端子２を選択を行う。プリアンプ２８から伝送路３６までの伝送経路の補償を行う場合には、イコライザ回路２９と３４の両方を制御しても良いし、またはどちらか片方のみ制御しても良い。ここで、信号伝送の周波数特性測定部４１は、例えばネットワークアナライザや、信号発生器とスペクトラムアナライザの組み合わせによって、信号切替手段２７、３２、３７、４３、４４は、例えばスイッチやリレー、またはケーブルの差替え等により実現することができる。また、イコライザ回路２９および３４の低周波減衰量、カットオフ周波数、ゲイン調整の制御は、手動で行っても良い。
【図面の簡単な説明】
【００４７】
【図１】本発明に係る第１の実施の形態であるイコライザ回路を信号伝送路内に設けた構成を示す図である。
【図２】本発明に係るイコライザ回路の第１の実施例を示す概略構成図である。
【図３】本発明に係るイコライザ回路の補償特性を示す概略図である。
【図４】本発明に係るイコライザ回路の第２の実施例を示す具体的構成図である。
【図５】本発明に係るイコライザ回路の第３の実施例を示す具体的構成図である。
【図６】本発明の第３の実施の形態である高周波のアナログ伝送が必要な装置の一実施の形態としての、磁気ディスクまたは磁気ヘッドの検査装置を示す図である。
【図７】従来のイコライザ回路の一例を示す図である。
【図８】図７に示すイコライザ回路の補償特性を示す概略図である。
【符号の説明】
【００４８】
１、１ａ…ローパスフィルタ（減衰手段）、２、２ａ…減算回路（減算手段）、３…信号源、４…高周波信号伝送路、５、５ａ、５ｂ、５ｃ…イコライザ回路、２１…磁気ディスク（磁気記録媒体）、２２…磁気ヘッド、２３…ディスク回転部、２４…ライトアンプ、２５…ライトデータ生成部、２６…制御部、２７，３２，３７，４３，４４…信号切替手段、２８…プリアンプ（増幅手段）、２９，３４…イコライザ回路、３０，３５…ゲイン調整アンプ、３１，３６…伝送路、３３…フィルタ回路、３８…信号特性測定部、３９…ＣＰＵ、４１…信号伝送の周波数特性測定部、４２…基準信号発生回路、５１…フィルタ、５２…セレクタ及び伝送路、Ａ１〜Ａ３、Ａ１ａ〜Ａ３ａ…アンプ、Ｓ１…アンプＡ１の出力信号、Ｓ２…アンプＡ２の出力信号、Ｓ３…減算回路２の出力信号、Ｓ１ａ…アンプＡ１ａの出力信号、Ｓ２ａ…アンプＡ２ａの出力信号、Ｓ０ａ…アンプＡ３ａの出力信号、Ｑ１〜Ｑ１４…トランジスタ、Ｒ１〜Ｒ８…抵抗、Ｃ１…コンデンサ、Ｉ１〜Ｉ８…電流源、Ａ４…アンプ（増幅手段）。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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