(57)【要約】【課題】部位または臓器ごとに独立してヘリカルピッチやノイズインデックスなどの撮影条件パラメータを効率よく、判りやすく設定できるようにする。【解決手段】被検体のスカウト画像を表示し、操作者がスカウト画像の体軸方向の１以上の範囲を指定し、各範囲ごとに独立させてヘリカルピッチやノイズインデックスなどの撮影条件パラメータをグラフィカル入力またはキー入力して設定する。【効果】部位または臓器ごとに独立して、ヘリカルピッチやノイズインデックスなどの撮影条件パラメータを効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。【選択図】図２１
2006110183.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
被検体のスカウト画像を表示する過程と、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の１つ以上の範囲を指定する過程と、操作者が前記範囲に対応させてヘリカルピッチをグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程とを有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法。
【請求項２】
被検体のスカウト画像を表示する過程と、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の複数の範囲を指定する過程と、操作者が前記各範囲に対応させてノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程とを有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法。
【請求項３】
請求項１に記載のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、操作者が前記範囲に対応させてノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程を有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれかに記載のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、操作者が前記範囲に対応させて管電圧および管電流の少なくとも一方をグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程を有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法。
【請求項５】
請求項１から請求項４のいずれかに記載のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、操作者が前記範囲に対応させてスライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを設定する過程を有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法。
【請求項６】
請求項１に記載のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、前記１つの範囲を１つのグループとし、１つ以上のグループからなる１つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法。
【請求項７】
請求項２に記載のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、前記１つの範囲を１つのグループとし、１つ以上のグループからなる１つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法。
【請求項８】
請求項３に記載のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、前記１つの範囲を１つのグループとし、１つ以上のグループからなる１つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法。
【請求項９】
請求項４に記載のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、前記１つの範囲を１つのグループとし、１つ以上のグループからなる１つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法。
【請求項１０】
請求項１から請求項９のいずれかに記載のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、前記１つの範囲を１つの臓器または部位に対応させて設定することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法。
【請求項１１】
請求項１から請求項１０のいずれかに記載のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、前記指定した１つの範囲に対して少なくとも１つのスキャンパラメータのデフォルト値または前回設定値を自動的に設定値の候補とすることを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法。
【請求項１２】
請求項１から請求項１１のいずれかに記載のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、前記Ｘ線ＣＴスキャンは、直線移動の開始時、終了時、途中における加速中または減速中もデータを収集する可変ピッチヘリカルスキャンまたは可変速度ヘリカルスキャンであることを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法。
【請求項１３】
Ｘ線管と、検出器と、前記Ｘ線管または前記検出器の少なくとも一方を撮影対象の周りに回転させると共に両方を撮影対象に対して直線状に相対移動しながらデータを収集するヘリカルスキャン手段と、ヘリカルスキャンのパラメータを操作者が設定するためのスキャンパラメータ設定手段と、収集したデータを基に画像を再構成する画像再構成手段とを具備したＸ線ＣＴ装置であって、前記パラメータ設定手段は、被検体のスカウト画像を表示し、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の１つ以上の範囲を指定すると共に前記範囲に対応させてヘリカルピッチをグラフィカル入力またはキー入力すると、入力されたヘリカルピッチを前記範囲に対応するスキャンパラメータとして設定することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項１４】
Ｘ線管と、検出器と、前記Ｘ線管または前記検出器の少なくとも一方を撮影対象の周りに回転させると共に両方を撮影対象に対して直線状に相対移動しながらデータを収集するヘリカルスキャン手段と、ヘリカルスキャンのパラメータを操作者が設定するためのスキャンパラメータ設定手段と、収集したデータを基に画像を再構成する画像再構成手段とを具備したＸ線ＣＴ装置であって、前記パラメータ設定手段は、被検体のスカウト画像を表示し、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の１つ以上の範囲を指定すると共に前記範囲に対応させてノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力すると、入力されたノイズインデックスを前記範囲に対応するスキャンパラメータとして設定することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項１５】
請求項１３に記載のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、操作者が前記範囲に対応させてノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力すると、入力されたノイズインデックスを前記範囲に対応するスキャンパラメータとして設定することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項１６】
請求項１３から請求項１５のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、操作者が前記範囲に対応させて管電圧および管電流の少なくとも一方をグラフィカル入力またはキー入力すると、入力された管電圧および管電流の少なくとも一方を前記範囲に対応するスキャンパラメータとして設定することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項１７】
請求項１３から請求項１６のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、操作者が前記範囲に対応させてスライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを入力すると、入力されたスライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを前記範囲に対応するスキャンパラメータとして設定することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項１８】
請求項１３に記載のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、前記１つの範囲を１つのグループとして１つ以上のグループからなる１つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、１つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項１９】
請求項１４に記載のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、前記１つの範囲を１つのグループとして１つ以上のグループからなる１つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、１つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項２０】
請求項１５に記載のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、前記１つの範囲を１つのグループとして１つ以上のグループからなる１つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、１つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項２１】
請求項１６に記載のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、前記１つの範囲を１つのグループとして１つ以上のグループからなる１つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、１つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項２２】
請求項１３から請求項２１のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、前記１つの範囲を１つの臓器または部位に対応させて設定することを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項２３】
請求項１３から請求項２２のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、前記指定された１つの範囲に対して少なくとも１つのスキャンパラメータのデフォルト値または前回設定値を自動的に設定値の候補とすることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項２４】
請求項１３から請求項２３のいずれかに記載のＸ線ＣＴ装置において、前記ヘリカルスキャン手段は、直線移動の開始時、終了時、途中における加速中または減速中もデータを収集する可変ピッチヘリカルスキャンまたは可変速度ヘリカルスキャンを行うことを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【請求項２５】
異なるヘリカルピッチを設定された複数の範囲を順にヘリカルピッチを変えながらヘリカルスキャンすることを特徴とするヘリカルスキャン方法。
【請求項２６】
Ｘ線管と、検出器と、前記Ｘ線管または前記検出器の少なくとも一方を撮影対象の周りに回転させると共に両方を撮影対象に対して直線状に相対移動しながらデータを収集するヘリカルスキャン手段と、ヘリカルスキャンのパラメータを操作者が設定するためのスキャンパラメータ設定手段と、収集したデータを基に画像を再構成する画像再構成手段とを具備したＸ線ＣＴ装置であって、前記ヘリカルスキャン手段は、異なるヘリカルピッチを設定された複数の範囲を順にヘリカルピッチを変えながらヘリカルスキャンすることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線ＣＴ（Computed  Tomography）スキャンパラメータ設定方法、Ｘ線ＣＴ装置およびヘリカルスキャン方法に関し、更に詳しくは、部位または臓器ごとに独立してヘリカルピッチやノイズインデックスなどの撮影条件のパラメータを効率よく、判りやすく設定できるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法、Ｘ線ＣＴ装置およびヘリカルスキャン方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、スライス厚，ヘリカルピッチ，管電圧，管電流等のスキャンパラメータの入力を終了した後、スカウト画像（スキャノグラム像）に基づいて１つの再構成範囲を指定すると、その再構成範囲からスキャン範囲を算出し、そのスキャン範囲を、先に入力したスキャンパラメータを用いてヘリカルスキャンするＸ線ＣＴ装置が知られている（例えば、特許文献１参照。）。
【０００３】
【特許文献１】特開平１１−１４６８７１号公報（［００５９］［００６０］［００６２］）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上記従来のＸ線ＣＴ装置では、部位または臓器ごとに独立してヘリカルピッチを設定したい場合に、その設定操作が煩雑になる問題点があった。また、ノイズインデックスの設定については考慮されていない問題点があった。
そこで、本発明の目的は、部位または臓器ごとに独立してヘリカルピッチやノイズインデックスなどの撮影条件のパラメータを効率よく、判りやすく設定できるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法、Ｘ線ＣＴ装置およびヘリカルスキャン方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
第１の観点では、本発明は、被検体のスカウト画像を表示する過程と、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の１以上の範囲を指定する過程と、操作者が前記範囲に対応させてヘリカルピッチをグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程とを有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第１の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、表示されたスカウト画像を参照しながら部位または臓器ごとに範囲を指定し、次いで指定した範囲についてヘリカルピッチを設定する。これにより、部位または臓器ごとに独立して、ヘリカルピッチを効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
【０００６】
第２の観点では、本発明は、被検体のスカウト画像を表示する過程と、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の１以上の範囲を指定する過程と、操作者が前記範囲に対応させてノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程とを有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第２の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、表示されたスカウト画像を参照しながら部位または臓器ごとに範囲を指定し、次いで指定した範囲についてノイズインデックスを設定する。これにより、部位または臓器ごとに独立して、ノイズインデックスを効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
【０００７】
第３の観点では、本発明は、第１の観点のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、操作者が前記範囲に対応させてノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程を有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第３の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、表示されたスカウト画像を参照しながら部位または臓器ごとに範囲を指定し、次いで指定した範囲についてヘリカルピッチおよびノイズインデックスを設定する。これにより、第１の観点に加えて、部位または臓器ごとに独立して、ヘリカルピッチおよびノイズインデックスを効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
【０００８】
第４の観点では、本発明は、第１から第３の観点のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、操作者が前記範囲に対応させて管電圧および管電流の少なくとも一方をグラフィカル入力またはキー入力して設定する過程を有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第４の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、表示されたスカウト画像を参照しながら部位または臓器ごとに範囲を指定し、次いで指定した範囲についてヘリカルピッチおよび／またはノイズインデックスを設定し、さらに管電圧および管電流の少なくとも一方を設定する。これにより、第１から第３の観点に加えて、部位または臓器ごとに独立して、管電圧および管電流の少なくとも一方を効率よく判りやすく設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
【０００９】
第５の観点では、本発明は、上記構成のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、操作者が前記範囲に対応させてスライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを設定する過程を有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第５の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法では、第１から第４の観点に加えて、部位または臓器ごとに独立して、スライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを設定でき、撮影条件の調整・最適化が出来る。
【００１０】
第６の観点では、本発明は、第１の観点のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、前記１つの範囲を１つのグループとし、１以上のグループからなる１つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第６の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、指定した１つの範囲をグループ（１つの範囲に対応するパラメータ群）として、１以上のグループからなる１つのシリーズ（グループを連鎖させたもの）を設定する。これにより、第１の観点に加えて、複数の部位または臓器について、ヘリカルピッチを一括管理できると共に撮影条件の調整・最適化が出来る。
【００１１】
第７の観点では、本発明は、第２の観点のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、前記１つの範囲を１つのグループとし、１以上のグループからなる１つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第７の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、指定した１つの範囲をグループ（１つの範囲に対応するパラメータ群）として、１以上のグループからなる１つのシリーズ（グループを連鎖させたもの）を設定する。これにより、第１の観点に加えて、複数の部位または臓器について、ノイズインデックスを一括管理できると共に撮影条件の調整・最適化が出来る。
【００１２】
第８の観点では、本発明は、第３の観点のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、前記１つの範囲を１つのグループとし、１以上のグループからなる１つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第８の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、指定した１つの範囲をグループ（１つの範囲に対応するパラメータ群）として、１以上のグループからなる１つのシリーズ（グループを連鎖させたもの）を設定する。これにより、第３の観点に加えて、複数の部位または臓器について、ヘリカルピッチおよびノイズインデックスを一括管理できると共に撮影条件の調整・最適化が出来る。
【００１３】
第９の観点では、本発明は、第４の観点のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、前記１つの範囲を１つのグループとし、１以上のグループからなる１つのシリーズを設定する過程を有することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第９の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、指定した１つの範囲をグループ（１つの範囲に対応するパラメータ群）として、１以上のグループからなる１つのシリーズ（グループを連鎖させたもの）を設定する。これにより、第４の観点に加えて、複数の部位または臓器について、管電流および管電圧をも一括管理できると共に撮影条件の調整・最適化が出来る。
【００１４】
第１０の観点では、本発明は、第１から第９の観点のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、前記１つの範囲を１つの臓器または部位に対応させて設定することを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第１０の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法では、操作者は、１つの臓器または部位を１つの範囲とする。これにより、ヘリカルピッチ，ノイズインデックス，管電流および管電圧の調整・最適化を臓器単位または部位単位で出来る。
【００１５】
第１１の観点では、本発明は、第１から第１０の観点のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、前記指定した１つの範囲に対して少なくとも１つのスキャンパラメータのデフォルト値または前回設定値を自動的に設定値の候補とすることを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第１１の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法では、操作者が１つの範囲を指定すると、その範囲に対応するデフォルト値または前回設定値を自動的に設定値の候補とするので、デフォルト値または前回設定値をそのまま使用する場合には設定の手間を省くことが出来る利点がある。
【００１６】
第１２の観点では、本発明は、第１から第１１の観点のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法において、前記Ｘ線ＣＴスキャンは、直線移動の開始時、終了時、途中における加速中または減速中もデータを収集する可変ピッチヘリカルスキャンまたは可変速度ヘリカルスキャンであることを特徴とするＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を提供する。
上記第１２の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法では、可変ピッチヘリカルスキャンまたは可変速度ヘリカルスキャンにおいても、第１から第１１の観点の作用を得ることが出来る。
【００１７】
第１３の観点では、本発明は、Ｘ線管と、検出器と、前記Ｘ線管または前記検出器の少なくとも一方を撮影対象の周りに回転させると共に両方を撮影対象に対して直線状に相対移動しながらデータを収集するヘリカルスキャン手段と、ヘリカルスキャンのパラメータを操作者が設定するためのスキャンパラメータ設定手段と、収集したデータを基に画像を再構成する画像再構成手段とを具備したＸ線ＣＴ装置であって、前記パラメータ設定手段は、被検体のスカウト画像を表示し、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の１以上の範囲を指定すると共に前記範囲に対応させてヘリカルピッチをグラフィカル入力またはキー入力すると、入力されたヘリカルピッチを前記範囲に対応するスキャンパラメータとして設定することを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第１３の観点によるＸ線ＣＴ装置では、第１の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
【００１８】
第１４の観点では、本発明は、Ｘ線管と、検出器と、前記Ｘ線管または前記検出器の少なくとも一方を撮影対象の周りに回転させると共に両方を撮影対象に対して直線状に相対移動しながらデータを収集するヘリカルスキャン手段と、ヘリカルスキャンのパラメータを操作者が設定するためのスキャンパラメータ設定手段と、収集したデータを基に画像を再構成する画像再構成手段とを具備したＸ線ＣＴ装置であって、前記パラメータ設定手段は、被検体のスカウト画像を表示し、操作者が前記スカウト画像の体軸方向の１以上の範囲を指定すると共に前記範囲に対応させてノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力すると、入力されたノイズインデックスを前記範囲に対応するスキャンパラメータとして設定することを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第１４の観点によるＸ線ＣＴ装置では、第２の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
【００１９】
第１５の観点では、本発明は、第１３の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、操作者が前記範囲に対応させてノイズインデックスをグラフィカル入力またはキー入力すると、入力されたノイズインデックスを前記範囲に対応するスキャンパラメータとして設定することを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第１５の観点によるＸ線ＣＴ装置では、第３の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
【００２０】
第１６の観点では、本発明は、第１３から第１５の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、操作者が前記範囲に対応させて管電圧および管電流の少なくとも一方をグラフィカル入力またはキー入力すると、入力された管電圧および管電流の少なくとも一方を前記範囲に対応するスキャンパラメータとして設定することを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第１６の観点によるＸ線ＣＴ装置では、第４の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
【００２１】
第１７の観点では、本発明は、上記構成のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、操作者が前記範囲に対応させてスライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを入力すると、入力されたスライス厚、検出器列数、テーブル速度、断層像枚数、断層像間隔、テーブル加速度の少なくとも一つを前記範囲に対応するスキャンパラメータとして設定することを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第１７の観点によるＸ線ＣＴ装置では、第５の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
【００２２】
第１８の観点では、本発明は、第１３の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、前記１つの範囲を１つのグループとして１以上のグループからなる１つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、１つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第１８の観点によるＸ線ＣＴ装置では、第６の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
【００２３】
第１９の観点では、本発明は、第１４の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、前記１つの範囲を１つのグループとして１以上のグループからなる１つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、１つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第１９の観点によるＸ線ＣＴ装置では、第７の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
【００２４】
第２０の観点では、本発明は、第１５の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、前記１つの範囲を１つのグループとして１以上のグループからなる１つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、１つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第２０の観点によるＸ線ＣＴ装置では、第８の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
【００２５】
第２１の観点では、本発明は、第１６の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、前記１つの範囲を１つのグループとして１以上のグループからなる１つのシリーズを設定可能であり、前記ヘリカルスキャン手段は、１つのシリーズの実行が指示されると、当該シリーズに属するグループについてのヘリカルスキャンを連続実行することを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第２１の観点によるＸ線ＣＴ装置では、第９の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
【００２６】
第２２の観点では、本発明は、第１３から第２１の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、前記１つの範囲を１つの臓器または部位に対応させて設定することを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第２２の観点によるＸ線ＣＴ装置では、第１０の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
【００２７】
第２３の観点では、本発明は、第１３から第２２の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記パラメータ設定手段は、前記指定された１つの範囲に対して少なくとも１つのスキャンパラメータのデフォルト値または前回設定値を自動的に設定値の候補とすることを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第２３の観点によるＸ線ＣＴ装置では、第１１の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
【００２８】
第２４の観点では、本発明は、第１３から第２３の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記ヘリカルスキャン手段は、直線移動の開始時、終了時、途中における加速中または減速中もデータを収集する可変ピッチヘリカルスキャンまたは可変速度ヘリカルスキャンを行うことを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第２４の観点によるＸ線ＣＴ装置では、第１２の観点によるＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法を好適に実施できる。
【００２９】
第２５の観点では、本発明は、異なるヘリカルピッチを設定された複数の範囲を順にヘリカルピッチを変えながらヘリカルスキャンすることを特徴とするヘリカルスキャン方法を提供する。
上記第２５の観点によるヘリカルスキャン方法では、部位または臓器ごとに最適のヘリカルピッチで撮影することが出来る。
【００３０】
第２６の観点では、本発明は、Ｘ線管と、検出器と、前記Ｘ線管または前記検出器の少なくとも一方を撮影対象の周りに回転させると共に両方を撮影対象に対して直線状に相対移動しながらデータを収集するヘリカルスキャン手段と、ヘリカルスキャンのパラメータを操作者が設定するためのスキャンパラメータ設定手段と、収集したデータを基に画像を再構成する画像再構成手段とを具備したＸ線ＣＴ装置であって、前記ヘリカルスキャン手段は、異なるヘリカルピッチを設定された複数の範囲を順にヘリカルピッチを変えながらヘリカルスキャンすることを特徴とするＸ線ＣＴ装置を提供する。
上記第２６の観点によるＸ線ＣＴ装置では、第２５の観点によるヘリカルスキャン方法を好適に実施できる。
【発明の効果】
【００３１】
本発明のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法、Ｘ線ＣＴ装置およびヘリカルスキャン方法によれば、部位または臓器ごとに独立してヘリカルピッチやノイズインデックスなどの撮影条件のパラメータを効率よく、判りやすく設定できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３２】
以下、図に示す実施の形態により本発明をさらに詳細に説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
【実施例１】
【００３３】
図１は、実施例１にかかるＸ線ＣＴ装置１００の構成ブロック図である。
このＸ線ＣＴ装置１００は、操作コンソール１と、テーブル装置１０と、走査ガントリ２０とを具備している。
【００３４】
操作コンソール１は、操作者の入力を受け付ける入力装置２と、画像再構成処理などを実行する中央処理装置３と、走査ガントリ２０で取得した投影データを収集するデータ収集バッファ５と、投影データから再構成した断層像を表示する表示装置６と、プログラムやデータやＸ線断層像を記憶する記憶装置７とを具備している。なお、表示装置６は、右画面と左画面の２画面を有しているマルチ画面ディスプレイとする。
【００３５】
テーブル装置１０は、被検体を乗せて走査ガントリ２０のボア（空洞部）に入れ出しするクレードル１２を具備している。クレードル１２は、テーブル装置１０に内蔵するモータで昇降（ｙ軸方向）および直線移動（ｚ軸方向）される。
【００３６】
走査ガントリ２０は、Ｘ線管２１と、Ｘ線コントローラ２２と、コリメータ２３と、多列Ｘ線検出器２４と、ＤＡＳ（Data Acquisition System）２５と、被検体の体軸の回りにＸ線管２１などを回転させる回転コントローラ２６と、走査ガントリ２０を回転軸の前方または後方に傾斜させるときの制御を行うチルトコントローラ２７と、制御信号などを操作コンソール１や寝台装置１０とやり取りする制御コントローラ２９と、スリップリング３０とを具備している。
【００３７】
クレードル１２の直線移動量はテーブル装置１０に内蔵するエンコーダによりカウントされ、制御コントローラ２９にて直線移動量からクレードル１２のｚ軸座標を算出し、スリップリング３０を経由してＤＡＳ２５にｚ軸座標が送られる。
【００３８】
多列Ｘ線検出器２４で得られた投影データは、ＤＡＳ２５でＡＤ変換され、ｚ軸座標を付加され、スリップリング３０を経由し、データ収集バッファ５へ転送される。
【００３９】
中央処理装置３は、データ収集バッファ５に収集した投影データに対して、前処理および画像再構成処理を行ない、断層像を生成し、断層像を表示装置６に表示する。
【００４０】
図２は、Ｘ線管２１と多列Ｘ線検出器２４の説明図である。
Ｘ線管２１と多列Ｘ線検出器２４は、回転中心ＩＣの回りを回転する。鉛直方向をｙ方向とし、クレードル１２の移動方向をｚ方向とし、ｙ方向およびｚ方向に垂直な方向をｘ方向とする。チルトしないとき、Ｘ線管２１および多列Ｘ線検出器２４の回転平面はｘｙ面である。
Ｘ線管２１は、Ｘ線コーンビームＣＢと呼ばれるＸ線ビームを発生する。Ｘ線コーンビームＣＢの中心軸方向がｙ方向に平行なときを、ビュー角度＝０゜とする。
多列Ｘ線検出器２４は、例えば６４列の検出器列を有する。また、各検出器列は、例えば１０２４チャンネルのチャンネルを有する。
【００４１】
図３は、Ｘ線ＣＴ装置１００の動作の概略を示すフロー図である。
過程１では、被検体のスカウト画像を撮影し、表示する。操作者は、スカウト画像の体軸方向の１以上の範囲を指定し、その範囲に対応させてヘリカルピッチやノイズインデックスなどのヘリカルスキャンのスキャンパラメータをグラフィカル入力またはキー入力して設定する。この過程１については、後で詳述する。
【００４２】
過程２では、設定されたスキャンパラメータにより投影データを収集する。この過程２については、後で詳述する。
【００４３】
過程３では、収集した投影データから断層像を画像再構成し、表示装置６に断層像を表示する。この過程３については、後で詳述する。
【００４４】
図４〜図５は、ヘリカルスキャンパラメータ設定処理（過程１）の詳細を示すフロー図である。
図４のステップＡ１では、中央処理装置３は、図６に示すスキャンパラメータ設定画面を右画面に表示する。
ステップＡ２では、操作者は、図６のスキャンパラメータ設定画面で、新患者（New Patient）をクリックする。
【００４５】
ステップＡ３では、中央処理装置３は、図７に示す患者情報画面（Patient Information）およびプロトコル選択画面（Protocol Selection）を右画面に表示する。
ステップＡ４では、操作者は、図７の患者情報画面で、患者の体重などを入力する。
ステップＡ５では、操作者は、図７のプロトコル選択画面の部分選択画面（Anatomical Selector）で、撮影したい部分をクリックする。ここでは、例えば胸部（chest）をクリックする。
【００４６】
ステップＡ６では、中央処理装置３は、図８に示すプロトコルリスト画面（Protocol List）をポップアップ表示する。
操作者は、図８のプロトコルリスト画面で、ステップＡ７に示すように所望のプロトコルをクリックするか、又は、ステップＡ８に示すように所望のプロトコルに対応するスキャンタイプ（Scan Type）をクリックする。
【００４７】
ステップＡ７に示すように操作者が所望のプロトコル（例えば、可変ピッチ（Vari-Pitch））をクリックすると、中央処理装置３は、プロトコルリスト画面を消し、図５のステップＡ２１へ進む。
【００４８】
ステップＡ８に示すように、操作者が所望のプロトコルに対応するスキャンタイプ（例えば、可変ピッチ（Vari-Pitch）に対応するスキャンタイプ）をクリックすると、ステップＡ９へ進む。
【００４９】
ステップＡ９では、中央処理装置３は、図９に示すスキャンタイプ設定画面（Select the desired Scan Type）をポップアップ表示する。
操作者は、図９のスキャンタイプ設定画面で、ステップＡ１０に示すように所望の部位および回転時間（Rotation Time）を選択してＯＫするか、又は、ステップＡ１１に示すように所望の部位をダブルクリックする。
【００５０】
ステップＡ１０に示すように操作者が所望の部位（例えば、肺（Lung））および回転時間を選択してＯＫすると、中央処理装置３は、スキャンタイプ設定画面を消し、ステップＡ６に戻る。
【００５１】
操作者がステップＡ１１に示すように所望の部位（例えば、肺（Lung））をダブルクリックすると、ステップＡ１２へ進む。
ステップＡ１２では、中央処理装置３は、図１０に示すスキャンパラメータ選択画面（Select the desired Parameters）をポップアップ表示する。このスキャンパラメータ選択画面では、デフォルト値または前回設定値がパラメータ値の候補として選択または設定されている。
ステップＡ１３では、操作者は、図１０のスキャンパラメータ選択画面で選択または設定されているデフォルト値または前回設定値でよければ、ＯＫをクリックする。値を変更したい場合は、所望の値を選択またはキー入力する。例えばスライス厚（Thickness），テーブル速度（Speed），ヘリカルピッチ（Pitch）では、値を選択する。また、ノイズインデックス（Noise-Index），開始加速度（Start Acceleration），終了加速度（End Acceleration），部位名（Title）は、値をキー入力する。そして、ＯＫをクリックする。ＯＫをクリックすると、中央処理装置３は、スキャンパラメータ選択画面を消して、ステップＡ９に戻る。
【００５２】
なお、「テーブル速度（mm/rot）」／「多列Ｘ線検出器２４のスライス方向の実使用幅（mm）」＝「ヘリカルピッチ」の関係が成立するように各値を設定する必要がある。先の数値例では、「多列Ｘ線検出器２４のスライス方向の実使用幅（mm）」＝６４列×０.６２５mm：デフォルトであるから、５５（mm/rot）／４０（mm）＝１.３７５の関係が成立している。
ノイズインデックスは、自動管電流設定機能（Auto mA）使用時の断層像の画素値の標準偏差（ＳＤ）の目標値である。
【００５３】
図５に示すステップＡ２１では、中央処理装置３は、図１２に示すスカウトスキャン画面を右画面に表示する。このスカウトスキャン画面では、デフォルト値または前回設定値がパラメータ値の候補として選択または設定されている。
ステップＡ２２では、操作者は、図１２のスライススキャン画面で選択または設定されているデフォルト値または前回設定値でよければ、受諾（Accept）をクリックする。値を変更したい場合は、所望の項目を選択し、値をキー入力する。例えば部位として肺を指定していると、肺に対応する一般的な開始位置（Start Location）と終了位置（End Location）とが候補として設定されているが、肝臓（Liver）を含むように終了位置の値をキー入力する。そして、受諾（Accept）をクリックする。
【００５４】
ステップＡ２３では、中央処理装置３は、スカウトスキャンを実行する。すなわち、Ｘ線管２１と多列Ｘ線検出器２４とを例えば水平方向に対向させて固定し（Scout Plane = 90）、クレードル１２を直線移動させながら、Ｘ線を曝射し、スカウトデータを収集する。そして、スカウトデータからスカウト画像（Ｘ線透視像）を生成し、図１３に示すように、表示装置６の左画面６Ｌにスカウト像を表示する。このスカウト画像に重ねて、例えば部位として肺を指定していると、肺に対応する一般的な開始スライス位置Ｌｓから終了スライス位置Ｌｅまでのスライス位置が表示されている。
また、中央処理装置３は、図１４に示すように、表示装置６の右画面にスキャンパラメータ設定画面を表示する。このスキャンパラメータ設定画面では、操作者が指定した部位（例えば肺）をヘリカルスキャンするためのパラメータが表示されている。
【００５５】
ステップＡ２４では、操作者は、スライス位置の表示をドラッグ＆ドロップして、図１５に示すように所望のスライス位置を設定する。これに合わせて、中央処理装置３は、設定された開始位置Ｌｓから終了位置Ｌｅを１つの範囲として認識する。また、設定された１つの範囲を１つのグループとして認識する。
【００５６】
ステップＡ２５では、操作者は、スキャンパラメータの変更及び／又は別の範囲の追加を行う。
【００５７】
例えば、図１６のスキャンパラメータ設定画面で、例えばノイズインデックス（Noise Index）の値をクリックすると、中央処理装置３は、図１７に示す管電流設定画面（ｍＡ Control）をポップアップ表示するので、操作者は、図１７に示す管電流設定画面で、例えば自動設定（Auto ｍＡ）を選択し、ノイズインデックスの値たとえば「１０．００」をキー入力し、ＯＫをクリックする。すると、中央処理装置３は、ノイズインデックスを基に、管電流を自動的に設定する。そして、図１７に示す管電流設定画面を消し、図１６に示すスキャンパラメータ設定画面を表示する。
また、例えば、図１６のスキャンパラメータ設定画面で、例えば厚さ・速度（Thick Speed）の値をクリックすると、中央処理装置３は、図１８に示すスライス厚等設定画面（Select the desired Image Thickness）をポップアップ表示するので、操作者は、所望の値を設定／変更する。
また、例えば、図１７のスキャンパラメータ設定画面で、例えばグループ準備時間（Prep Group）をクリックすると、値をキー入力可能になるので、操作者は、所望の値をキー入力する。なお、グループ準備時間は、当該グループのスキャンを開始する前に置かれる準備時間である。初期値で「0.0」が設定されているが、これは準備時間を置かずに直ちに当該グループのスキャンを開始することを意味する。例えば、あるグループの前に実行するグループがあって、あるグループのグループ準備時間が「0.0」なら、前のグループのスキャンに引き続いて、あるグループのスキャンが実行される。もし、あるグループのグループ準備時間が「1.0」なら、前のグループのスキャンの後、１秒間止まってから、あるグループのスキャンが実行される。
【００５８】
さらに、図１６のスキャンパラメータ設定画面で、可変ピッチグループ追加（Add Vari-Pitch Group）をクリックすると、中央処理装置３は、ステップＡ３に戻るので、ステップＡ３からステップＡ２４を繰り返して、図１９に示すように次の範囲のスキャンパラメータを設定する。可変ピッチグループ追加を繰り返し、図２０に示すように複数の範囲のスキャンパラメータを設定する。
【００５９】
スキャンパラメータの変更及び／又は別の範囲の追加を終わると、図５のステップＡ２６へ進み、操作者は、パラメータ変化グラフィック表示，シリーズ名の登録および確認を行う。
例えば、図２０のスキャンパラメータ設定画面で、パラメータ変化表示（Show Localizer）をクリックすると、中央処理装置３は、表示装置６の左画面６Ｌに、図２１に示すようにスカウト画像と主なスキャンパラメータの変化を表示する。
【００６０】
ここで、スキャンパラメータの変化は、次のような規則で計画される。
（１）範囲内で加速・減速を行う（加速・減速中にも投影データの収集を行う）。
（２）ある範囲と別の範囲とが一部重なる場合、解像度優先（Resolution）を選択していると、小さい方のヘリカルピッチ（遅い方の直線移動速度）を優先する。逆に、低被爆優先（Low Dose）を選択していると、大きい方のヘリカルピッチ（速い方の直線移動速度）を優先する。
（３）範囲と範囲の間は、低被爆とするため、大きい方のヘリカルピッチ（速い方の直線移動速度）で直線移動する。
（４）範囲と範囲の間は、低被爆とするため、Ｘ線の照射を停止する。
（５）加速／減速は、設定された開始加速度を基本とする所定関数に基づいて計画する。
この結果、図２１に示すようなヘリカルピッチおよびノイズインデックスの変化になる。
なお、図２１は加速・減速の所定関数がリニアの場合であるが、図２２に示すように所定関数をノンリニアにしてもよい。
【００６１】
図２０のスキャンパラメータ設定画面で、確認（Confirm）をクリックすると、中央処理装置３は、表示装置６の右画面に、図２３に示すシリーズ登録画面（Enter the Series Name）を表示する。そこで、操作者は、図２３のシリーズ登録画面で、シリーズ名をキー入力し、ＯＫをクリックする。すると、中央処理装置３は、設定された１つ以上のグループを１つのシリーズとして登録し、ステップＡ２７へ進む。登録したシリーズ（パラメータ群の連鎖）は、シリーズ名を指定して呼び出すことで、再利用することが出来る。
【００６２】
ステップＡ２７では、中央処理装置３は、表示装置６の右画面に、図２４に示すスキャン進行画面を表示する。
ステップＡ２８では、操作者は、図２４のスキャン進行画面で、スキャン開始（Scan Start）をクリックする。すると、中央処理装置３は、データ収集処理（図３の過程２）を開始する。中央処理装置３は、図２５に示すように、データ収集処理の進行状況をスキャン進行画面で表示する。
【００６３】
図２６は、データ収集処理（図３の過程２）の詳細を示すフロー図である。
ステップＢ１では、図２１に示す開始点Ｚ１をＸ線ビームＣＢが通る位置までクレードル１２を低速で直線移動する。
【００６４】
ステップＢ２では、Ｘ線管２１を、現在のクレードル１２のｚ座標に応じて、計画した管電圧・管電流で駆動する。
ステップＢ３では、Ｘ線管２１および多列Ｘ線管検出器２４を、現在のクレードル１２のｚ座標に応じて、計画した回転速度で回転する。
ステップＢ４では、クレードル１２を、現在のクレードル１２のｚ座標に応じて、計画したテーブル速度で加速・定速移動・減速する。
ステップＢ５では、投影データを収集する（加速・減速中でも収集する）。
ステップＢ６では、最後のグループが終わったのか否かをチェックし、終わっていなければステップＢ２〜Ｂ５を繰り返し、終わったならステップＢ７へ進む。
ステップＢ７では、Ｘ線管２１と多列Ｘ線検出器２４の回転，Ｘ線出力およびクレードル１２の直線移動を停止し、処理を終了する。
【００６５】
図２７は、画像再構成処理（図３の過程３）の詳細を示すフロー図である。
ステップＣ１では、チルト角度αと，テーブル直線移動位置ｚと，ビュー角度viewと，検出器列番号ｊと，チャネル番号ｉとで表わされる投影データＤ０(α,z,view,j,i)に対して、オフセット補正，対数変換，Ｘ線線量補正，感度補正を含む前処理を行い、投影データＤin(α,z,view,j,i)とする。
ステップＣ２では、前処理した投影データＤin(α,z,view,j,i)に対して、ビームハードニング処理を行う。ビームハードニング処理は、例えば次の多項式で表される。ここで、Ｂ０，Ｂ１，Ｂ２はビームハードニング係数である。
Ｄout(α,z,view,j,i)＝Ｄin(α,z,view,j,i)×（Ｂ０(j,i)＋Ｂ１(j,i)×Ｄin(α,z,view,j,i)＋Ｂ２(j,i)×Ｄin(α,z,view,j,i)２）
この時、検出器の各列ごとに独立したビームハードニング補正を行なえるため、撮影条件で各データ収集系の管電圧が異なっていれば、検出器の各列ごとの特性の違いを補正できる。
【００６６】
ステップＣ３では、ビームハードニング補正した投影データＤout(α,z,view,j,i)に対して、ｚ方向（列方向）のフィルタをかけるＺフィルタ重畳処理を行なう。すなわち、ビームハードニング補正した投影データＤout(α,z,view,j,i)に、例えば図２８に示すような列方向フィルタ係数Ｗk(i)を列方向に掛け、投影データＤcor(α,z,view,j,i)を求める。
【００６７】
2006110183.tif 000003
【００６８】
列方向フィルタ係数ｗk(i)によりスライス厚を制御できる。
図２９に示すように、スライスＳＬでは、一般的に再構成中心に比べて周辺のスライス厚が厚くなる。
そこで、図３０に示すように、中心部チャネルには幅を広く変化させた列方向フィルタ係数ｗk(中心部チャネルのｉ)を用い、周辺部チャネルでは幅をせまく変化させた列方向フィルタ係数ｗk(周辺部チャネルのｉ)を用いる。これにより、図３１に示すように、再構成中心でも周辺でも一様に近いスライス厚のスライスＳＬとすることが出来る。
【００６９】
列方向フィルタ係数ｗk(i)でスライス厚を弱干厚くすると、アーチファクト，ノイズともに大幅に改善される。これにより、アーチファクト改善具合，ノイズ改善具合も制御できる。つまり、３次元画像再構成された断層像の画質を制御できる。
【００７０】
図３２に示すように、列方向フィルタ係数ｗk(i)を逆重畳（デコンボリューション）フィルタにすることにより、薄いスライス厚の断層像を実現することも出来る。
【００７１】
図２７に戻り、ステップＣ４では、再構成関数重畳処理を行う。すなわち、フーリエ変換し、再構成関数を掛け、逆フーリエ変換する。再構成関数重畳処理後の投影データをＤｒ(α,z,view,j,i)とし、再構成関数をＫernel(j)とし、コンボリューション演算を＊で表すと、再構成関数重畳処理は次のように表わされる。
Ｄｒ(α,z,view,j,i)＝Ｄcor(α,z,view,j,i)＊Ｋernel(j)
検出器の各列ごとに独立した再構成関数Ｋernel(j)を用いて独立した再構成関数重畳処理を行なえるため、検出器の各列ごとのノイズ特性，分解能特性の違いを補正できる。
【００７２】
ステップＣ５では、投影データＤｒ(α,z,view,j,i)に対して、３次元逆投影処理を行い、逆投影データＤ３(ｘ,ｙ)を求める。この３次元逆投影処理については、図３３を参照して後述する。
【００７３】
ステップＣ６では、逆投影データＤ３(ｘ,ｙ)に対して、画像フィルタ重畳処理，ＣＴ値変換処理などの後処理を行い、断層像を得る。
画像フィルタ重畳処理では、画像フィルタ重畳処理後のデータをＤ４(x,y)，断層像の中心画素に対応する検出器列番号をｊとし、画像フィルタをＦilter(j)とすると、
Ｄ４(x,y)＝Ｄ３(x,y)＊Ｆilter(j)
となる。つまり、断層像のスライス位置ごとに独立した画像フィルタ重畳処理を行なえるため、スライス位置ごとのノイズ特性，分解能特性の違いを補正できる。
【００７４】
図３３は、３次元逆投影処理（図２７のステップＣ５）の詳細を示すフロー図である。
ステップＣ５１では、断層像の画像再構成に必要な全ビュー（すなわち、３６０°分のビュー又は「１８０°分＋ファン角度分」のビュー）中の一つのビューに着目し、再構成領域Ｒの各画素に対応する投影データＤｒを抽出する。
【００７５】
図３４に示すように、ｘｙ平面に平行な５１２×５１２画素の正方形の再構成領域Ｐとし、ｙ＝０のｘ軸に平行な画素列Ｌ０，ｙ＝６３の画素列Ｌ６３，ｙ＝１２７の画素列Ｌ１２７，ｙ＝１９１の画素列Ｌ１９１，ｙ＝２５５の画素列Ｌ２５５，ｙ＝３１９の画素列Ｌ３１９，ｙ＝３８３の画素列Ｌ３８３，ｙ＝４４７の画素列Ｌ４４７，ｙ＝５１１の画素列Ｌ５１１を例にとると、これらの画素列Ｌ０〜Ｌ５１１をＸ線透過方向に多列Ｘ線検出器２４の面に投影した図３５に示す如きラインＴ０〜Ｔ５１１上の投影データＤ０を抽出すれば、それらが画素列Ｌ０〜Ｌ５１１の投影データＤｒとなる。
【００７６】
Ｘ線透過方向は、Ｘ線管２１のＸ線焦点と各画素と多列Ｘ線検出器２４との幾何学的位置によって決まるが、投影データＤ０(α,z,view,j,i)のｚ座標が判っているため、加速・減速中の投影データＤ０(α,z,view,j,i)でもＸ線透過方向を正確に求めることが出来る。
【００７７】
なお、例えば画素列Ｌ０をＸ線透過方向に多列Ｘ線検出器２４の面に投影したラインＴ０のように、ラインの一部が多列Ｘ線検出器２４の面外に出た場合は、対応する投影データＤｒを「０」にする。
【００７８】
かくして、図３６に示すように、再構成領域Ｐの各画素に対応する投影データＤｒ(view,x,y)を抽出できる。
【００７９】
図３３に戻り、ステップＣ５２では、投影データＤｒ(view,x,y)にコーンビーム再構成加重係数を乗算し、図３７に示す如き投影データＤ２(view,x,y)を作成する。
【００８０】
ここで、コーンビーム再構成加重係数は、次の通りである。
ファンビーム画像再構成の場合は、一般に、view＝βａでＸ線管２１の焦点と再構成領域Ｐ上（ｘｙ平面上）の画素ｇ(x,y)とを結ぶ直線がＸ線ビームの中心軸Ｂｃに対してなす角度をγとし、その対向ビューをview＝βｂとするとき、
βｂ＝βａ＋１８０゜−２γ
である。
再構成領域Ｐ上の画素ｇ(x,y)を通るＸ線ビームとその対向Ｘ線ビームが再構成領域Ｐとなす角度をαａ、αｂとすると、これらに依存したコーンビーム再構成加重係数ωａ、ωｂを掛けて加算し、逆投影データＤ２(0,x,y)を求める。
Ｄ２(0,x,y)＝ωａ・Ｄ２(0,x,y)_a＋ωｂ・Ｄ２(0,x,y)_ｂ
ここで、Ｄ２(0,x,y)_aはビューβaでの投影データ、Ｄ２(0,x,y)_bはビューβbでの投影データとする。
なお、Ｘ線ビームとその対向Ｘ線ビームのコーンビーム再構成加重係数ωａ、ωｂの和は、ωａ＋ωｂ＝１である。
上記のようにコーンビーム再構成加重係数ωa，ωbを掛けて加算することにより、コーン角アーチファクトを低減することが出来る。
例えば、コーンビーム再構成加重係数ωa，ωbは、次式により求めたものを用いることが出来る。
ｆ()を関数とし、ファンビーム角をγmaxとするとき、
ga＝ f(π＋γmax−｜βa｜,｜tan(αa)｜)
gb＝ f(π＋γmax−｜βb｜,｜tan(αb)｜)
xa＝2・gaｑ／(gaｑ＋gbｑ)
xb＝2・gbｑ／(gaｑ＋gbｑ)
ωa＝xa２・(3−2xa)
ωb＝xb２・(3−2xb)
例えば、ｆ()＝max()：値の大きい方を採る関数、q＝１とする。
また、ファンビーム画像再構成の場合は、更に距離係数を再構成領域Ｐ上の各画素に乗算する。距離係数は、Ｘ線管２１の焦点から投影データＤｒに対応する多列Ｘ線検出器２４の検出器列ｊ，チャネルｉまでの距離をｒ０とし、Ｘ線管２１の焦点から投影データＤｒに対応する再構成領域Ｐ上の画素までの距離をｒ１とするとき、（ｒ１／ｒ０）２である。
平行ビーム画像再構成の場合は、βｂ＝βａ＋１８０゜とすれば、ファンビーム画像再構成の場合と同様である。
【００８１】
ステップＣ５３では、図３８に示すように、予めクリアしておいた逆投影データＤ３(x,y)に、投影データＤ２(view,x,y)を画素対応に加算する。
ステップＣ５４では、断層像の画像再構成に必要な全ビュー（すなわち、３６０゜分のビュー又は「１８０゜分＋ファン角度分」のビュー）について、ステップＳ６１〜Ｓ６３を繰り返し、図３８に示すように、逆投影データＤ３(x,y)を得る。
【００８２】
なお、図３９に示すように、再構成領域Ｐを円形の領域としてもよい。
【００８３】
実施例１のＸ線ＣＴ装置１００によれば、判りやすいユーザインタフェース（スキャンパラメータ設定画面など）を通して、ヘリカルピッチやノイズインデックスなどのスキャンパラメータを効率よく設定でき、被検体の部位または臓器ごとに最適な撮影条件で十分な画質の断層像を最適な被曝で得られるようになる。
【００８４】
なお、画像再構成法は、従来公知のフェルドカンプ法による３次元的画像再構成法でもよい。さらに、特開２００３−３３４１８８号公報、特開２００４−４１６７５号公報、特開２００４−４１６７４号号公報、特開２００４−７３３６０号公報、特開２００３−１５９２４４号公報、特開２００４−４１６７５号公報で提案されている３次元画像再構成法を用いてもよい。
【００８５】
また、実施例１ではグループは３つであったが、さらに多いグループの例、さらに少ないグループの例でも実施例１と同様である。
【００８６】
また、実施例１では、撮影視野サイズ，再構成関数，画像フィルタなどの設定を説明していないが、実施例１と同様にグループごとに設定することにより、被検体の部位または臓器ごとの画質，被曝を最適化できる。
【産業上の利用可能性】
【００８７】
本発明のＸ線ＣＴスキャンパラメータ設定方法およびＸ線ＣＴ装置は、医療現場において利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００８８】
【図１】実施例１にかかるＸ線ＣＴ装置を示すブロック図である。
【図２】Ｘ線管および多列Ｘ線検出器の回転を示す説明図である。
【図３】実施例１にかかるＸ線ＣＴ装置の概略動作を示すフロー図である。
【図４】ヘリカルスキャンパラメータ設定処理の詳細を示すフロー図である。
【図５】図４の続きのフロー図である。
【図６】スキャンパラメータ設定画面の第１例示図である。
【図７】患者情報画面およびプロトコル選択画面の例示図である。
【図８】プロトコルリスト画面の第１例示図である。
【図９】スキャンタイプ設定画面の例示図である。
【図１０】スキャンパラメータ選択画面の例示図である。
【図１１】プロトコルリスト画面の第２例示図である。
【図１２】スカウトスキャン画面の例示図である。
【図１３】スカウト画像表示画面の第１例示図である。
【図１４】スキャンパラメータ設定画面の第２例示図である。
【図１５】スカウト画像表示画面の第２例示図である。
【図１６】スキャンパラメータ設定画面の第３例示図である。
【図１７】ノイズインデックス設定画面の例示図である。
【図１８】スライス厚等設定画面の例示図である。
【図１９】スキャンパラメータ設定画面の第４例示図である。
【図２０】スキャンパラメータ設定画面の第５例示図である。
【図２１】スカウト画像を利用した主なスキャンパラメータの変化を示す画面の例示図である。
【図２２】テーブル速度の変化を示す説明図である。
【図２３】シリーズ登録画面の例示図である。
【図２４】スキャン進行画面の第１の例示図である。
【図２５】スキャン進行画面の第２の例示図である。
【図２６】データ収集処理（図３の過程２）の詳細を示すフロー図である。
【図２７】画像再構成処理（図３の過程３）の詳細を示すフロー図である。
【図２８】列方向フィルタ係数を示す説明図である。
【図２９】スライス厚が再構成領域中心より周辺で厚いスライスを示す説明図である。
【図３０】チャネルによって異なる列方向フィルタ係数を示す説明図である。
【図３１】スライス厚が再構成領域中心でも周辺でも均等なスライスを示す説明図である。
【図３２】スライス厚を薄くするための列方向フィルタ係数を示す説明図である。
【図３３】３次元画像再構成処理の詳細を示すフロー図である。
【図３４】再構成領域Ｐ上の画素列をＸ線透過方向へ投影する状態を示す概念図である。
【図３５】再構成領域Ｐ上の画素列を検出器面に投影したラインを示す概念図である。
【図３６】ビュー角度view=０゜における投影データＤｒを再構成領域Ｐに投影した状態を示す概念図である。
【図３７】ビュー角度view=０゜における再構成領域Ｐ上の逆投影画素データＤ２を示す概念図である。
【図３８】逆投影画素データＤ２を画素対応に全ビュー加算して逆投影データＤ３を得る状態を示す説明図である。
【図３９】円形状の再構成領域Ｒを示す概念図である。
【符号の説明】
【００８９】
１          操作コンソール
２          入力装置
３          中央処理装置
５          データ収集バッファ
６          表示装置
７          記憶装置
１０        テーブル装置
１２        クレードル
１００      Ｘ線ＣＴ装置
【図１】
2006110183.tif 000004
【図２】
2006110183.tif 000005
【図３】
2006110183.tif 000006
【図４】
2006110183.tif 000007
【図５】
2006110183.tif 000008
【図６】
2006110183.tif 000009
【図７】
2006110183.tif 000010
【図８】
2006110183.tif 000011
【図９】
2006110183.tif 000012
【図１０】
2006110183.tif 000013
【図１１】
2006110183.tif 000014
【図１２】
2006110183.tif 000015
【図１３】
2006110183.tif 000016
【図１４】
2006110183.tif 000017
【図１５】
2006110183.tif 000018
【図１６】
2006110183.tif 000019
【図１７】
2006110183.tif 000020
【図１８】
2006110183.tif 000021
【図１９】
2006110183.tif 000022
【図２０】
2006110183.tif 000023
【図２１】
2006110183.tif 000024
【図２２】
2006110183.tif 000025
【図２３】
2006110183.tif 000026
【図２４】
2006110183.tif 000027
【図２５】
2006110183.tif 000028
【図２６】
2006110183.tif 000029
【図２７】
2006110183.tif 000030
【図２８】
2006110183.tif 000031
【図２９】
2006110183.tif 000032
【図３０】
2006110183.tif 000033
【図３１】
2006110183.tif 000034
【図３２】
2006110183.tif 000035
【図３３】
2006110183.tif 000036
【図３４】
2006110183.tif 000037
【図３５】
2006110183.tif 000038
【図３６】
2006110183.tif 000039
【図３７】
2006110183.tif 000040
【図３８】
2006110183.tif 000041
【図３９】
2006110183.tif 000042
【手続補正書】
【提出日】平成16年10月15日(2004.10.15)
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００６７
【補正方法】変更
【補正の内容】
【００６７】
2006110183.tif 000043