(57)【要約】【課題】  重ね描き表示により得られる情報に対して質的側面と量的側面の双方を十分に確保し、得られる情報を正確，容易かつ迅速に把握できるようにする。【解決手段】  複数の成形サイクルにおける所定の成形工程の動作に係わる物理量の変化波形Ｐｔａ…をディスプレイ２に重ね描き表示するに際し、予め、成形工程の動作開始時における物理量に対して所定の大きさとなる基準値Ｓｔ…を設定し、生産稼働時に、成形工程の動作に係わる物理量の変化波形Ｐｔａ…を検出するとともに、当該変化波形Ｐｔａ…が基準値Ｓｔ…を通過する通過点Ｔａ…を時間又は位置により検出し、変化波形Ｐｔａ…をディスプレイ２に表示する際に、通過点Ｔａ…を一致させて各変化波形Ｐｔａ…を重ね描き表示する。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
複数の成形サイクルにおける所定の成形工程の動作に係わる物理量の変化波形をディスプレイに重ね描き表示する射出成形用波形表示方法において、予め、前記成形工程の動作開始時における物理量に対して所定の大きさとなる基準値を設定し、生産稼働時に、前記成形工程の動作に係わる物理量の変化波形を検出するとともに、当該変化波形が前記基準値を通過する通過点を時間又は位置により検出し、前記変化波形を前記ディスプレイに表示する際に、前記通過点を一致させて各変化波形を重ね描き表示することを特徴とする射出成形用波形表示方法。
【請求項２】
前記物理量には、少なくとも、射出圧力，射出速度，型締力，型締速度，型位置の一又は二以上を含むことを特徴とする請求項１記載の射出成形用波形表示方法。
【請求項３】
前記通過点を一致させるに際して、任意の変化波形が前記基準値を通過する通過点と他の変化波形が前記基準値を通過する通過点の偏差を求め、この偏差を任意の変化波形が前記基準値を通過する通過点に対して加算又は減算することを特徴とする請求項１記載の射出成形用波形表示方法。
【請求項４】
前記偏差は、前記成形工程における動作の開始点，切換点，終了点の一又は二以上の変更に用いることを特徴とする請求項３記載の射出成形用波形表示方法。
【請求項５】
複数の成形サイクルにおける所定の成形工程の動作に係わる物理量の変化波形をディスプレイに重ね描き表示する射出成形用波形表示装置において、前記成形工程の動作開始時における物理量に対して所定の大きさとなる基準値を設定する基準値設定機能と、前記成形工程の動作に係わる物理量の変化波形を検出する変化波形検出機能と、前記変化波形が前記基準値を通過する通過点を時間又は位置により検出する通過点検出機能と、前記通過点を一致させて各変化波形をディスプレイに重ね描き表示する波形表示変更機能とを備えることを特徴とする射出成形用波形表示装置。
【請求項６】
前記物理量には、少なくとも、射出圧力，射出速度，型締力，型締速度，型位置の一又は二以上を含むことを特徴とする請求項５記載の射出成形用波形表示装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、複数の成形サイクルにおける所定の成形工程の動作に係わる物理量の変化波形をディスプレイに重ね描き表示する射出成形用波形表示方法及び装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、射出成形機には、コントローラに付属するディスプレイ（表示装置）を備えており、従来より、このディスプレイに、各成形サイクルにおける射出工程等の所定の成形工程の動作に係わる物理量（射出圧力等）の変化波形（プロセスデータ）を表示することにより、射出成形動作に対するモニタを行っている（例えば、特開２００４−１５５０６５号公報等参照）。
【０００３】
一方、このような物理量の変化波形をディスプレイに表示する場合、複数の成形サイクルにおける変化波形を重ね描き表示する場合も少なくない。この理由は、成形サイクル毎に採取される複数の変化波形を順次重ね描き表示すれば、例えば、任意の成形サイクルにおける変化波形が他の変化波形に対して異なる波形として表示された場合、何らかの異常が発生したものとしてその情報をいち早く知ることができるためである。
【特許文献１】特開２００４−１５５０６５号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ところで、複数の変化波形を順次重ね描き表示する場合、通常は、動作（工程）の開始点を一致させる表示を行っている。例えば、射出工程の動作に係わる射出圧力の変化波形を表示する場合、射出動作の開始時点が起点となる表示が行われる（図１（ｂ）及び図２（ｂ）参照）。
【０００５】
しかし、射出成形機の加熱筒内における溶融樹脂の密度，比重及び粘度等の物理的状態は、可塑化工程（計量工程）におけるスクリュの作用状態，加熱筒の温度状態，成形材料の供給状態等の様々な要因により変動するため、スクリュに付設した逆流防止弁に作用する樹脂状態も変動し、逆流防止弁が閉じるスクリュ位置、即ち、実質的な射出動作開始位置がズレたり、射出動作開始後における逆流防止弁の閉じる時間がバラつき、射出動作開始指令に基づいて変化波形を表示した場合、望ましい重ね描き表示を行うことができず、結局、重ね描き表示から得られる情報に対して質的側面と量的側面の双方を十分に確保できないなど、得られる情報を正確，容易かつ迅速に把握できない問題があった。
【０００６】
本発明は、このような背景技術に存在する課題を解決した射出成形用波形表示方法及び装置の提供を目的とするものである。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明に係る射出成形用波形表示方法は、複数の成形サイクルにおける所定の成形工程の動作に係わる物理量の変化波形Ｐｔａ，Ｐｔｂ，Ｐｘａ，Ｐｘｂをディスプレイ２に重ね描き表示するに際し、予め、成形工程の動作開始時における物理量に対して所定の大きさとなる基準値Ｓｔ，Ｓｘを設定し、生産稼働時に、成形工程の動作に係わる物理量の変化波形Ｐｔａ…，Ｐｘａ…を検出するとともに、当該変化波形Ｐｔａ…，Ｐｘａ…が基準値Ｓｔ…を通過する通過点Ｔａ，Ｔｂ，Ｘａ，Ｘｂを時間又は位置により検出し、変化波形Ｐｔａ…，Ｐｘａ…をディスプレイ２に表示する際に、通過点Ｔａ…，Ｘａ…を一致させて各変化波形Ｐｔａ…，Ｐｘａ…を重ね描き表示するようにしたことを特徴とする。
【０００８】
この場合、本発明の好適な態様により、物理量には、少なくとも、射出圧力，射出速度，型締力，型締速度，型位置の一又は二以上を含ませることができる。また、通過点Ｔａ…，Ｘａ…を一致させるに際しては、任意の変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａが基準値Ｓｔ，Ｓｘを通過する通過点Ｔａ，Ｘａと他の変化波形Ｐｔｂ，Ｐｘｂが基準値Ｓｔ，Ｓｘを通過する通過点Ｔｂ，Ｘｂの偏差を求め、この偏差を任意の変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａが基準値Ｓｔ，Ｓｘを通過する通過点Ｔａ，Ｘａに対して加算又は減算することができる。さらに、この偏差は、成形工程における動作の開始点，切換点，終了点の一又は二以上の変更に用いることができる。
【０００９】
一方、本発明に係る射出成形用波形表示装置１は、複数の成形サイクルにおける所定の成形工程の動作に係わる物理量の変化波形Ｐｔａ…，Ｐｘａ…をディスプレイ２に重ね描き表示する波形表示装置であって、成形工程の動作開始時における物理量に対して所定の大きさとなる基準値Ｓｔ…を設定する基準値設定機能３と、成形工程の動作に係わる物理量の変化波形Ｐｔａ…，Ｐｘａ…を検出する変化波形検出機能４と、変化波形Ｐｔａ…，Ｐｘａ…が基準値Ｓｔ…を通過する通過点Ｔａ…，Ｘａ…を時間又は位置により検出する通過点検出機能５と、通過点Ｔａ…，Ｘａ…を一致させて各変化波形Ｐｔａ…，Ｐｘａ…をディスプレイ２に重ね描き表示する波形表示変更機能６とを備えてなることを特徴とする。
【００１０】
この場合、本発明の好適な態様により、物理量には、少なくとも、射出圧力，射出速度，型締力，型締速度，型位置の一又は二以上を含ませることができる。
【発明の効果】
【００１１】
このような本発明に係る射出成形用波形表示方法及び装置１によれば、次のような顕著な効果を奏する。
【００１２】
（１）  各変化波形Ｐｔａ…，Ｐｘａ…が予め設定した基準値Ｓｔ…を通過する通過点Ｔａ，Ｔｂ，Ｘａ，Ｘｂを一致するように重ね描き表示するため、樹脂状態に基づいて発生するバラつきを排除できる。この結果、重ね描き表示から得る情報に対して質的側面と量的側面の双方を十分に確保できるため、得られる情報を正確，容易かつ迅速に把握できるなど、射出成形用波形表示にとって最適な重ね描き表示を行うことができる。
【００１３】
（２）  好適な態様により、物理量に、少なくとも、射出圧力，射出速度，型締力，型締速度，型位置の一又は二以上を含ませれば、波形表示が必要かつ重要となる射出成形機における主要な成形工程をカバーできるとともに、特に、型締力や型位置に用いることにより、型締力や型位置が射出（樹脂）状態と密接に関係する射出圧縮成形等において効果的となる。
【００１４】
（３）  好適な態様により、通過点Ｔａ…，Ｘａ…を一致させるに際し、任意の変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａが基準値Ｓｔ，Ｓｘを通過する通過点Ｔａ，Ｘａと他の変化波形Ｐｔｂ，Ｐｘｂが基準値Ｓｔ，Ｓｘを通過する通過点Ｔｂ，Ｘｂの偏差を求め、この偏差を任意の変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａが基準値Ｓｔ，Ｓｘを通過する通過点Ｔａ，Ｘａに対して加算又は減算するようにすれば、目的とする重ね描き表示を容易に行うことができる。
【００１５】
（４）  好適な態様により、任意の変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａの通過点Ｔａ，Ｘａと他の変化波形Ｐｔｂ，Ｐｘｂの通過点Ｔｂ，Ｘｂの偏差を、成形工程における動作の開始点，切換点，終了点の一又は二以上の変更に用いれば、制御精度の向上、更には成形品質の向上に寄与できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１６】
次に、本発明に係る最良の実施形態を挙げ、図面に基づき詳細に説明する。
【００１７】
まず、本実施形態に係る射出成形用波形表示装置１を備える射出成形機Ｍの構成について、図３及び図４を参照して説明する。
【００１８】
図３中、仮想線で示すＭは射出成形機であり、機台Ｍｂと、この機台Ｍｂ上に設置された射出装置Ｍｉ及び型締装置Ｍｃを備える。射出装置Ｍｉは、加熱筒１０を備え、この加熱筒１０の前端に図に現れない射出ノズルを有するとともに、加熱筒１０の後部には材料を供給するホッパ１１を備える。一方、型締装置Ｍｃには可動型と固定型からなる金型１２を備える。
【００１９】
また、射出成形機Ｍは、機台Ｍｂ上に起設した側面パネル１３を備えるとともに、ディスプレイユニット１４及びこのディスプレイユニット１４に接続するコントローラ１５（図４）を備える。本実施形態に係る波形表示装置１は、このディスプレイユニット１４及びコントローラ１５を利用して構成する。ディスプレイユニット１４は、タッチパネル２ｔを付設したカラー液晶ディスプレイを利用したディスプレイ２を備え、このディスプレイ２は側面パネル１３に配設される。そして、このディスプレイ２には本実施形態に係る波形表示方法に用いる波形表示画面Ｖａが表示される。一方、コントローラ１５は機台Ｍｂに内蔵させる。
【００２０】
図４は、コントローラ１５のブロック系統図を示す。２１はＣＰＵであり、このＣＰＵ２１には内部バス２２を介してチップセット２３を接続する。また、チップセット２３には、ＰＣＩバス等のローカルバスを用いたバスライン２４を接続してＨＭＩ（ヒューマン・マシン・インタフェース）制御系を構成する。このため、バスライン２４には、ＲＡＭ等を含む内部メモリ２５を接続するとともに、本実施形態に係る波形表示方法を実行する処理プログラム等の各種プログラムを格納したプログラム格納メモリ２６を接続する。さらに、バスライン２４には、表示インタフェース２７を介して上述したディスプレイユニット１４を接続するとともに、入出力インターフェイス２８を介してメモリカード等の記憶メディア２９に対する読出及び書込を行うドライブユニット３０を接続する。
【００２１】
一方、チップセット２３には、バスライン２４と同様のバスライン３１を接続してＰＬＣ（プログラマブル・ロジック・コントローラ）制御系を構成する。このため、バスライン３１には、スイッチ等の切換データ（入力）ＤｉをＣＰＵ２１に付与し、かつＣＰＵ２１から得る制御指令データ（出力）Ｄｏを対応するアクチュエータに付与する入出力インターフェイス３２を接続するとともに、各種センサの検出信号（入力）Ｓｉを、アナログ−ディジタル変換してＣＰＵ２１に付与し、かつＣＰＵ２１から得る制御指令データをディジタル−アナログ変換して得た制御信号（出力）Ｓｏを対応するアクチュエータに付与する入出力インターフェイス３３を接続する。これにより、所定のフィードバック制御系及びオープンループ制御系が構成される。
【００２２】
したがって、前述したプログラム格納メモリ２６には、ＰＬＣプログラムとＨＭＩプログラムが格納される。なお、ＰＬＣプログラムは、射出成形機Ｍにおける各種工程のシーケンス動作や射出成形機Ｍの監視等を実現するためのソフトウェアであり、ＨＭＩプログラムは、射出成形機Ｍの動作パラメータの設定及び表示，射出成形機Ｍの動作監視データの表示等を実現するためのソフトウェアである。これらのソフトウェアは、コントローラ１５を搭載する射出成形機Ｍの固有アーキテクチャとして構築される。
【００２３】
次に、本実施形態に係る射出成形用波形表示装置１の構成について、図３〜図５を参照して説明する。
【００２４】
波形表示装置１は、上述したように、ディスプレイユニット１４及びコントローラ１５を利用して構成され、ディスプレイユニット１４を構成するディスプレイ２には、図５に示す波形表示画面Ｖａを表示する。そして、波形表示画面Ｖａの上段には、各種画面を切換える画面項目毎に設けた七つの画面切換キーを有する画面切換部Ｋｕを表示するとともに、下段には、各種画面を切換える画面項目毎に設けた六つの画面切換キーを有する画面切換部Ｋｄを表示する。この場合、下段の画面切換部Ｋｄには、本実施形態において使用する波形表示画面Ｖａを表示するための波形表示画面切換キーＫ１が含まれる。なお、各画面切換キーは、波形表示画面Ｖａを他の画面に切換えた場合でも同様に表示される。
【００２５】
また、画面切換部ＫｕとＫｄ間における上側の位置には、波形表示画面Ｖａの主要部分となる第一波形表示部５１を表示するとともに、下側の位置には、第二波形表示部５２を表示する。この場合、第一波形表示部５１の横軸目盛は時間となり、第二波形表示部５２の横軸目盛はスクリュ位置となるとともに、第一波形表示部５１及び第二波形表示部５２の縦軸目盛は百分率である。例示する第一波形表示部５１及び第二波形表示部５２には、成形工程の動作に係わる物理量として射出圧力の変化波形Ｐｔａ…，Ｐｘａ…が表示されている。
【００２６】
他方、前述したように、プログラム格納メモリ２６には、本実施形態に係る波形表示方法を実行する処理プログラムが格納されており、これにより、各種機能、即ち、図４に示す基準値設定機能３，変化波形検出機能４，通過点検出機能５及び波形表示変更機能６を実現する。
【００２７】
この場合、基準値設定機能３は、成形工程（例示は射出工程）の動作開始時における物理量（例示は射出圧力）に対して所定の大きさとなる基準値Ｓｔ，Ｓｘを設定する機能である。この基準値Ｓｔ，Ｓｘは、図５に示すように、第一波形表示部５１と第二波形表示部５２にライン表示されるため、実際に表示される変化波形Ｐｔａ…，Ｐｘａ…を参考にするなどにより、オペレータが波形表示画面Ｖａに表示される設定キーＫｓを利用して任意のレベルに設定できる。変化波形検出機能４は、射出工程の動作に係わる射出圧力の変化波形Ｐｔａ，Ｐｔｂ，Ｐｘａ，Ｐｘｂを検出する機能、具体的には、射出圧力を一定のサンプリング間隔（例えば、１００〔μｓ〕）毎に検出し、射出圧力データとして内部メモリ２５に記憶する機能を有する。したがって、得られた射出圧力データが順次プロットされることにより変化波形Ｐｔａ，Ｐｔｂ，Ｐｘａ，Ｐｘｂとして表示される。通過点検出機能５は、変化波形Ｐｔａ…，Ｐｘａ…が基準値Ｓｔ…を通過する通過点Ｔａ…，Ｘａ…を検出する機能であり、第一波形表示部５１では時間により検出されるとともに、第二波形表示部５２では、位置（スクリュ位置等）により検出される。波形表示変更機能６は、通過点Ｔａ…，Ｘａ…を一致させて各変化波形Ｐｔａ…，Ｐｘａ…をディスプレイ２に重ね描き表示する機能である。
【００２８】
次に、本実施形態に係る射出成形用波形表示方法を含む波形表示装置１の機能（動作）について、図１〜図５を参照しつつ図６に示すフローチャートに従って説明する。
【００２９】
本実施形態では、射出工程における射出圧力の変化波形Ｐｔａ，Ｐｔｂ，Ｐｘａ，Ｐｘｂを表示する場合を例示する。まず、予め基準値設定機能３を用いて基準値Ｓｔ，Ｓｘを設定する。この基準値Ｓｔ，Ｓｘは、複数の試し打ちを行い、得られる変化波形を重ね描き表示することによりバラつきの小さい部分（位置）、望ましくは、射出動作開始後における逆流防止弁の閉じる時間のバラつきが排除されるレベル等を考慮して、オペレータが波形表示画面Ｖａに表示される設定キーＫｓにより設定する。これにより、基準値Ｓｔ，Ｓｘは、図５に示すように、第一波形表示部５１と第二波形表示部５２にそれぞれライン表示される。
【００３０】
一方、射出成形機Ｍが自動運転による生産稼働を開始し、計量工程が終了して射出工程に移行した場合を想定する。これにより、射出工程が開始する（ステップＳ１）。射出工程の開始により、加熱筒１０内における計量された樹脂が金型１２に射出充填される射出工程動作が行われる（ステップＳ２）。さらに、射出工程の開始により射出工程動作に係わる物理量である射出圧力，射出速度等の各種データが収集される（ステップＳ３）。射出圧力の場合、変化波形検出機能４により、一定のサンプリング間隔（１００〔μｓ〕）毎に順次検出され、検出された射出圧力データは、内部メモリ２５に記憶される。そして、得られた射出圧力データは、リアルタイムにより第一波形表示部５１と第二波形表示部５２に順次プロットされ、変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａとして表示される（ステップＳ４）。この際、第一波形表示部５１における射出圧力の変化波形Ｐｔａは、横軸が時間により表示され、第二波形表示部５２における射出圧力の変化波形Ｐｘａは、横軸がスクリュ位置により表示される。なお、初期段階で得られる射出圧力データは、必ずしも表示することを要しない。即ち、後述するように、通過点Ｔａ，Ｘａが検出された後、表示変更を行ってから表示してもよい。したがって、この場合には、通過点Ｔａ，Ｘａが検出されるまでの射出圧力データは内部メモリ２５のバッファエリアに一時記憶し、表示変更に伴う変更処理を行ってからデータエリアに記憶すればよい。リアルタイムによる表示は、通過点Ｔａ，Ｘａが検出されるまでの変化（挙動）を把握できる利点がある。
【００３１】
また、通過点検出機能５により、射出圧力データ（変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａ）に対する監視が行われ、予め設定された基準値Ｓｔ，Ｓｘを変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａが通過する通過点Ｔａ，Ｘａが検出される（ステップＳ５，Ｓ６，Ｓ７）。この場合、第一波形表示部５１に表示される変化波形Ｐｔａに対しては、時間による通過点Ｔａが検出されるとともに、第二波形表示部５２に表示される変化波形Ｐｘａに対しては、スクリュ位置による通過点Ｘａが検出され、検出された通過点Ｔａ，Ｘａは、内部メモリ２５に記憶される。
【００３２】
そして、表示される変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａが初回の表示であれば、そのままの波形表示が継続して行われる（ステップＳ８）。さらに、変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａが初回の表示でない場合であっても重ね描きモードが選択されていない場合には、そのままの波形表示が継続して行われる（ステップＳ９）。この場合、重ね描きモードを行うか否かの選択は、波形表示画面Ｖａに表示される重ね描きキーＫｍにより選択することができる。なお、重ね描きモードを選択しない場合には、現在行われている成形サイクルの変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａがリアルタイムで表示され、他の成形サイクルの変化波形は表示されない。
【００３３】
これに対して、表示される変化波形Ｐｔｂ，Ｐｘｂが初回ではなく、かつ重ね描きモードが選択されている場合には、波形表示変更機能６により、既に表示されている変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａに対して、通過点Ｔｂ，Ｘｂを一致させる処理を行う（ステップＳ８，Ｓ９，Ｓ１０）。これにより、通過点Ｔａ…，Ｘａ…が一致する各変化波形Ｐｔａ，Ｐｔｂ，Ｐｘａ，Ｐｘｂが第一波形表示部５１及び第二波形表示部５２にそれぞれ重ね描き表示される（ステップＳ１１）。
【００３４】
この場合、通過点Ｔａ…，Ｘａ…を一致させる処理は、任意の変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａが基準値Ｓｔ，Ｓｘを通過する通過点Ｔａ，Ｘａと他の変化波形Ｐｔｂ，Ｐｘｂが基準値Ｓｔ，Ｓｘを通過する通過点Ｔｂ，Ｘｂの偏差を求め、この偏差を任意の変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａの通過点Ｔａ，Ｘａに対して加算又は減算すればよい。より具体的には、得られる射出圧力データ及び時間データを、基準値Ｓｔ，Ｓｘに達するまでは、内部メモリ２５のバッファエリアに格納するとともに、基準値Ｓｔ，Ｓｘに達したなら各射出圧力データ及び時間データを内部メモリ２５のデータエリアに転送し、通過点Ｔａ，Ｘａと通過点Ｔｂ，Ｘｂに係わる射出圧力データの偏差及び時間データの偏差を算出する処理を行う。この際、バッファエリアにデータがある間は、バッファエリアからデータを読み出し、各偏差を通過点Ｔａ，Ｘａにおける射出圧力データ及び時間データに対して加算又は減算を行って波形表示するとともに、バッファエリアのデータが空になったらリアルタイムにより波形表示する。
【００３５】
このような処理を行うことにより、目的とする重ね描き表示を容易に行うことができる。なお、この偏差は、変化波形Ｐｔｂ，Ｐｘｂを変化波形Ｐｔａ，Ｐｘａに一致させる補正量としての意味を持つため、成形工程における動作の開始点，切換点，終了点の一又は二以上を変更（補正）する際にも利用可能であり、このように利用すれば、制御精度の向上、更には成形品質の向上に寄与できる利点がある。
【００３６】
図１（ａ）には、本実施形態に係る波形表示方法により第一波形表示部５１に重ね描き表示した射出圧力の変化波形Ｐｔａ，Ｐｔｂを示す。また、図１（ｂ）は、本実施形態に係る波形表示方法によらない従来の表示方法、即ち、射出動作の開始時点を起点とする表示方法により第一波形表示部５１に重ね描き表示した射出圧力の変化波形Ｐｔａ，Ｐｔｂを示す。
【００３７】
図１（ｂ）から明らかなように、射出動作の開始時点を起点とする表示方法の場合、任意の変化波形Ｐｔａは、通過点Ｔａで基準値Ｓｔを通過するとともに、他の変化波形Ｐｔｂは、通過点Ｔａとは異なる通過点Ｔｂで基準値Ｓｔを通過し、この結果、通過点Ｔｂと通過点Ｔａには時間的なズレを生じる。この要因としては、例えば、スクリュに付設した逆流防止弁に作用する樹脂状態が変動し、射出動作開始後における逆流防止弁の閉じる時間がバラついたことが考えられる。この結果、全体の変化波形ＰｔａとＰｔｂも時間軸方向にズレを生じることになり、基準値Ｓｔを通過した以降に表示される変化波形ＰｔａとＰｔｂの相違点を容易に把握できなくなる。
【００３８】
これに対して、図１（ａ）は、本実施形態に係る波形表示方法により、任意の変化波形Ｐｔａの通過点Ｔａに対して他の変化波形Ｐｔｂの通過点Ｔｂを一致させたものである。この場合、上述した逆流防止弁の閉じる時間がバラついたことによる時間軸方向のズレが是正されることになるため、全体の変化波形ＰｔａとＰｔｂにおける時間軸方向のズレも同時に解消される。これにより、図１（ａ）に示すように、局部的な相違領域Ｊａが明確に現れるため、その相違領域Ｊａを容易かつ正確に把握でき、原因究明等を迅速に行うことができる。
【００３９】
一方、図２（ａ）には、本実施形態に係る波形表示方法により第二波形表示部５２に重ね描き表示した射出圧力の変化波形Ｐｘａ，Ｐｘｂを示す。また、図２（ｂ）は、本実施形態に係る波形表示方法によらない従来の表示方法、即ち、射出動作の開始時点を起点とする表示方法により第二波形表示部５２に重ね描き表示した射出圧力の変化波形Ｐｘａ，Ｐｘｂを示す。
【００４０】
図２（ｂ）から明らかなように、射出動作の開始時点を起点とする表示方法の場合、任意の変化波形Ｐｘａは、通過点Ｘａで基準値Ｓｘを通過するとともに、他の変化波形Ｐｘｂは、通過点Ｘｂで基準値Ｓｘを通過し、この通過点Ｘｂと通過点Ｘａには位置的なズレを生じる。この場合も、図１（ｂ）と同様に、全体の変化波形ＰｘａとＰｘｂが横軸方向にズレてしまうため、基準値Ｓｘを通過した以降に生じる変化波形ＰｘａとＰｘｂの相違が把握しにくくなる。
【００４１】
そこで、図２（ａ）に示すように、本実施形態に係る波形表示方法により、任意の変化波形Ｐｘａの通過点Ｘａに対して他の変化波形Ｐｘｂの通過点Ｘｂを一致させる重ね描き表示を行えば、他の変化波形Ｐｘｂが任意の変化波形Ｐｘａに対して、射出圧力の増加方向にシフトしていることを明確に把握できる。この要因としては、射出ノズル或いは加熱筒１０の加熱温度が低下したことにより樹脂粘度が増加したことが考えられる。このように、任意の変化波形Ｐｘａが正常である場合、他の変化波形Ｐｘｂにおける異常を容易かつ正確に把握でき、原因究明等を迅速に行うことができる。なお、同様に、他の変化波形Ｐｘｂが任意の変化波形Ｐｘａに対して、射出圧力の低下方向にシフトする場合もあり、この場合には、射出ノズル或いは加熱筒１０の加熱温度が上昇したことによる樹脂粘度の低下が考えられ、バリ等の発生しやすい状態にあるため、迅速に温度設定等を確認する必要がある。
【００４２】
よって、このような本実施形態に係る波形表示方法（波形表示装置１）によれば、各変化波形Ｐｔａ…，Ｐｘａ…が予め設定した基準値Ｓｔ…を通過する通過点Ｔａ，Ｔｂ，Ｘａ，Ｘｂを一致するように重ね描き表示するため、樹脂状態に基づいて発生するバラつきを排除できる。この結果、重ね描き表示から得る情報に対して質的側面と量的側面の双方を十分に確保できるため、得られる情報を正確，容易かつ迅速に把握できるなど、射出成形用波形表示にとって最適な重ね描き表示を行うことができる。
【００４３】
他方、射出成形動作が終了すれば、以降の成形工程動作、保圧工程や計量工程が行われ、次のショットが継続する場合には、次のショットにおける射出開始から同様の表示処理が行われる（ステップＳ１２，Ｓ１３，Ｓ１４，Ｓ１５，Ｓ１…）。
【００４４】
以上、最良の実施形態について詳細に説明したが、本発明は、このような実施形態に限定されるものではなく、細部の手法，構成等において、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、任意に変更，追加，削除することができる。
【００４５】
例えば、物理量として射出圧力を例示したが、射出速度，型締力，型締速度，型位置等の他の物理量であっても同様に適用でき、少なくとも、これらの一又は二以上を用いることにより、波形表示が必要かつ重要となる射出成形機における主要な成形工程をカバーできるとともに、特に、型締力や型位置に用いることにより、型締力や型位置が射出（樹脂）状態と密接に関係する射出圧縮成形等において効果的となる。一方、重ね描き表示は、複数の成形サイクルにおける変化波形を対象とするが、重ね描き表示する一つの変化波形は、予め登録された標準的な変化波形等であってもよく、必ずしも検出した変化波形であることを要しない。また、二つの変化波形を重ね描き表示した場合を例示したが三つ以上の変化波形を重ね描き表示しても勿論よいし、他の物理量に係る変化波形を一緒に重ね描き表示しても勿論よい。さらに、基準値の設定方法は、例示に限定されるものではなく、他の設定方法を用いても勿論よい。なお、本実施形態では、射出成形機Ｍの成形機コントローラ１５に備えるディスプレイ２に表示させる場合を示したが、別途の監視装置や射出成形解析装置等の周辺機器にも同様に適用できるなど、射出波形を表示させる機能の全てに利用可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】本発明の最良の実施形態に係る射出成形用波形表示方法により表示された変化波形の説明図、
【図２】同射出成形用波形表示方法により表示された他の変化波形の説明図、
【図３】本発明の最良の実施形態に係る射出成形用波形表示装置を備える射出成形機の概要図、
【図４】同射出成形機に備えるコントローラの機能ブロック図、
【図５】同射出成形用波形表示装置に備えるディスプレイの画面図、
【図６】同射出成形用波形表示方法により変化波形を表示する際の処理手順を示すフローチャート、
【符号の説明】
【００４７】
１      射出成形用波形表示装置
２      ディスプレイ
３      基準値設定機能
４      変化波形検出機能
５      通過点検出機能
６      波形表示変更機能
Ｓｔ    基準値
Ｓｘ    基準値
Ｔａ…  通過点（時間）
Ｘａ…  通過点（位置）
Ｐｔａ…  物理量（射出圧力）の変化波形
Ｐｘａ…  物理量（射出圧力）の変化波形
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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