(57)【要約】 【課題】  フリッカの測定コストを低く抑えることができるとともに、スクリーン上の撮像範囲内の全ての点におけるフリッカを一度に測定できるフリッカ測定方法を提供すること。【解決手段】  プロジェクタ１からの映写光を、スクリーン２に取り付けられる光センサ３によって受光する。光センサ３からの光信号Ｌをバンドパスフィルタ４によって濾波し、液晶パネル１２を駆動する交流電圧に起因する液晶フリッカの周期波形Ｆｌｃを撮像時刻検出回路５に入力する。撮像時刻検出回路５はＦｌｃを解析して、２つの撮像時刻ｔ１、ｔ２を検出し、ビデオカメラ６がスクリーン２を撮像する。画像処理部７は、撮像された２枚の画像を差分処理し、スクリーン２上の撮像範囲内の全ての点における液晶フリッカを一度に算出する。また、光センサ３は１個で十分であるから、部品点数を削減でき、測定コストを低減できる。【選択図】  図１
2006091149.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像表示面に表示される画像のフリッカを測定する方法であって、
前記画像を表示するための画像光を受光することによって、前記画像中の少なくとも一点におけるフリッカの周期波形を検出するフリッカ周期波形検出工程と、
検出された前記フリッカ周期波形において、所定の第１位相を与える第１撮像時刻と、所定の第２位相を与える第２撮像時刻とを検出する撮像時刻検出工程と、
前記第１および第２撮像時刻において、前記画像表示面上における前記画像を撮像する撮像工程と、
撮像された前記２つの画像と、前記第１および第２位相とを基に演算処理を行い、前記画像表示面上における前記画像のフリッカを算出する演算処理工程と、
を備えることを特徴とするフリッカ測定方法。
【請求項２】
請求項１に記載のフリッカ測定方法において、
前記第１位相と前記第２位相とは、πの奇数倍だけ異なり、
前記演算処理工程では、前記撮像工程において撮像された前記２つの画像に対して差分処理が施される、
ことを特徴とするフリッカ測定方法。
【請求項３】
請求項２に記載のフリッカ測定方法において、
前記撮像時刻検出工程では、前記第１撮像時刻は、前記フリッカ周期波形検出工程において検出された前記フリッカ周期波形における正のピークを与える時刻とされ、前記第２撮像時刻は負のピークを与える時刻とされる、
ことを特徴とするフリッカ測定方法。
【請求項４】
請求項１から請求項３のいずれかに記載のフリッカ測定方法において、
前記画像表示面に表示される画像は交流電力に基づいて生成され、
前記フリッカ周期波形検出工程では、前記交流電力に起因して生じる交流フリッカの周期波形のみを検出する、
ことを特徴とするフリッカ測定方法。
【請求項５】
請求項４に記載のフリッカ測定方法において、
光源と、印加された前記交流電力に基づいて画像パターンを生成する画像パターン生成手段とを備えて構成され、前記画像パターンに前記光源からの光を照射し、その透過光および反射光の少なくとも一方によって前記画像表示面に表示される画像を生成する画像生成手段が設けられ、
前記フリッカ周期波形検出工程では、前記光源に起因して生じる光源フリッカの周期波形を除去し、前記交流フリッカの周期波形のみを検出する、
ことを特徴とするフリッカ測定方法。
【請求項６】
画像表示面に表示される画像のフリッカを測定する装置であって、
前記画像を表示するための画像光を受光することによって、前記画像中の少なくとも一点におけるフリッカの周期波形を検出するフリッカ周期波形検出手段と、
検出された前記フリッカ周期波形において、所定の第１位相を与える第１撮像時刻と、所定の第２位相を与える第２撮像時刻とを検出する撮像時刻検出手段と、
前記第１および第２撮像時刻において、前記画像表示面上における前記画像を撮像する撮像手段と、
撮像された前記２つの画像と、前記第１および第２位相とを基に演算処理を行い、前記画像表示面上における前記画像のフリッカを算出する演算処理手段と、
を備えることを特徴とするフリッカ測定装置。
【請求項７】
請求項６に記載のフリッカ測定装置において、
光源と、印加された交流電力に基づいて画像パターンを生成する液晶パネルとを備えて構成され、この液晶パネルに前記光源からの光を照射し、その透過光および反射光の少なくとも一方によって前記画像表示面に表示される画像を生成する画像生成手段が設けられ、
前記フリッカ周期波形検出手段は、前記光源に起因して生じる光源フリッカの周期波形は通過させず、前記交流電力に起因して生じる液晶フリッカの周期波形のみを通過させるフィルタを備えて構成され、このフィルタを通過された前記液晶フリッカ周期波形のみを検出する、
ことを特徴とするフリッカ測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、フリッカ測定方法、および、フリッカ測定装置に関する。詳しくは、画像表示面に表示される画像のフリッカを測定する方法および装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、液晶画面やプラズマディスプレイなどの画像表示装置の調整を目的として、この画像表示装置の画像表示面に表示される画像のフリッカを光センサによって測定することが行われている。光センサでの測定結果を参照しながら画像表示装置を調整することにより、画像のフリッカを所定の許容値未満に抑えることができ、画像のちらつきを少なくできる。
さらに、フリッカの大きさが画像表示面の全体に渡って略一定になるように画像表示装置を調整することを目的として、画像表示面上の複数点に光センサを配置し、各点でのフリッカを測定することも行われている（例えば、特許文献１参照）。各測定点における測定結果を参照しながら画像表示装置を調整することで、全ての測定点におけるフリッカを許容値未満に抑えることができるとともに、任意の２つの測定点におけるフリッカの差分を所定の許容差分未満に抑えることができるから、画像表示面の全体に渡ってフリッカの大きさを略一定にできる。
以下、表現の簡素化のため、画像表示面全体に渡るフリッカの均一の程度を、「フリッカバランス」、という言葉で表現する。画像表示面全体に渡ってフリッカの大きさが略一定で、均一の程度が高いときは、「フリッカバランスが良い」などと表現し、逆に、均一の程度が低いときは、「フリッカバランスが悪い」などと表現することにする。なお、この表現によれば、特許文献１記載の方法は、画像表示面上の複数点でのフリッカ測定結果を利用してフリッカバランスの調整を行う方法、と言い換えることができる。
【０００３】
【特許文献１】特開２００１−１２８０９０号公報（第２頁〜第５頁、図１、図４）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
特許文献１記載の方法では、画像表示面上の各測定点におけるフリッカ測定結果を利用してフリッカバランスの調整が行われている。そのため、より高精度にフリッカバランスを調整するためには、光センサの数を増やし、画像表示面上のフリッカ測定点を多くする必要がある。しかし、増えた光センサの分だけ、余分な測定コストが生じてしまうという問題がある。
逆に、測定コストを低くするためにフリッカを測定する光センサの数を少なくすれば、フリッカバランス調整の精度が悪化するという問題がある。
なお、このような問題は、前記の液晶画面等に表示される画像のフリッカを測定する場合に限らず、プロジェクタによってスクリーン上に映写される画像のフリッカを測定する場合にも生じる。
【０００５】
本発明の目的は、フリッカの測定コストを低く抑えることができるとともに、画像表示面上の複数点におけるフリッカを一度に測定できるフリッカ測定方法および装置を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明のフリッカ測定方法は、画像表示面に表示される画像のフリッカを測定する方法であって、前記画像を表示するための画像光を受光することによって、前記画像中の少なくとも一点におけるフリッカの周期波形を検出するフリッカ周期波形検出工程と、検出された前記フリッカ周期波形において、所定の第１位相を与える第１撮像時刻と、所定の第２位相を与える第２撮像時刻とを検出する撮像時刻検出工程と、前記第１および第２撮像時刻において、前記画像表示面上における前記画像を撮像する撮像工程と、撮像された前記２つの画像と、前記第１および第２位相とを基に演算処理を行い、前記画像表示面上における前記画像のフリッカを算出する演算処理工程とを備えることを特徴とする。
【０００７】
フリッカ周期波形検出工程では、画像中の少なくとも一点においてフリッカ周期波形が検出される。このとき、フリッカ周期波形検出用の光センサ等は少なくとも１個あれば十分であり、特許文献１のように複数の光センサを設ける必要はない。
撮像時刻検出工程では、光センサ等によって検出されたフリッカ周期波形の解析を行って、第１位相を与える第１撮像時刻と、第２位相を与える第２撮像時刻とを検出する。第１撮像時刻と第２撮像時刻とは、続く撮像工程において、画像表示面上の画像を撮像するタイミングを指定するものである。本発明では、フリッカ測定に適した画像の撮像タイミング（第１および第２撮像時刻）が得られるように、第１および第２位相が予め適切な値に設定されているものとする。
演算処理工程では、撮像工程で撮像された２つの画像を基に演算処理を行い、画像表示面上の撮像範囲内における全ての点のフリッカを一度に算出する。このとき、フリッカを算出するためには種々の方法があるが、２つの画像の差分処理を含む方法が最も簡単である。この方法は、主として、２つの画像を差分処理する差分処理工程と、差分処理して得られるデータから第１および第２位相を含む因子を除去してフリッカを算出する位相因子除去工程とを備える。２つの画像を差分処理して得られるデータは、フリッカに関するフリッカ因子と、第１および第２位相に関する位相因子との積で表されるのが一般的であり、位相因子除去工程では、差分処理データを位相因子で割ることにより、フリッカ因子を算出する。
以上の各工程を経て、画像表示面上の撮像範囲内における全てのフリッカを一度に算出できる。
【０００８】
以下、画像表示面に表示される画像におけるフリッカの周期波形が正弦関数によって表される場合を例にとって詳しく説明する。なお、本発明は、その適用対象が以下の例のフリッカ周期波形に限定されることはなく、任意の関数形を有するフリッカ周期波形について適用可能である。
さて、この例においては、画像中の各点におけるフリッカ周期波形Ｆは、Ｆ＝Ａ・ｓｉｎ（２πｆｔ＋φ）＝Ａ・ｓｉｎθ（ｔ）、と表すことができる。ここで、Ａはフリッカ振幅、ｆはフリッカ周波数、ｔは時間、φはｔ＝０のときの初期位相、θ（ｔ）＝２πｆｔ＋φはフリッカ位相である。この各量のうち、周波数ｆ、初期位相φ、さらに、ｆおよびφを含む位相θ（ｔ）は、画像表示面に表示される画像の生成方式に応じてほとんど決定されるので、画像中の各点において共通の値と考えてよい。一方、振幅Ａは画像中の各点ごとに決まる量である。したがって、画像中の各点を二次元座標（Ｘ、Ｙ）によって表すことにすれば、振幅Ａは（Ｘ、Ｙ）についての関数、Ａ（Ｘ、Ｙ）、として表すことができる。また、フリッカ周期波形Ｆは、Ａ（Ｘ、Ｙ）とθ（ｔ）とを含むので、Ｘ、Ｙ、ｔの関数であり、Ｆ（Ｘ、Ｙ、ｔ）と表すことができる。
さて、フリッカ振幅Ａ（Ｘ、Ｙ）は、画像中の各点（Ｘ、Ｙ）のフリッカの大きさを示すものであるから、前記したフリッカバランスも、これによって記述できる。例えば、画像表示面を表すＸＹ面全体に渡ってフリッカ振幅Ａ（Ｘ、Ｙ）が略一定であるときはフリッカバランスが良いと言えるし、また、フリッカ振幅Ａ（Ｘ、Ｙ）がＸＹ面内において大きく変動するときはフリッカバランスが悪いと言える。
【０００９】
以下、本発明のフリッカ測定方法における各工程について説明する。
＜フリッカ周期波形検出工程＞
画像を表示するための画像光を受光し、フリッカ周期波形Ｆを検出する。受光する画像光の光路と画像表示面との交点を（Ｘｓ、Ｙｓ）とすれば、検出されるフリッカ周期波形Ｆは、画像表示面上の点（Ｘｓ、Ｙｓ）におけるフリッカ周期波形Ｆ（Ｘｓ、Ｙｓ、ｔ）＝Ａ（Ｘｓ、Ｙｓ）・ｓｉｎθ（ｔ）、に等しい。なお、このフリッカ周期波形検出工程では、画像中の少なくとも一点（Ｘｓ、Ｙｓ）においてフリッカ周期波形を検出すればよいので、フリッカ周期波形Ｆの検出用の光センサ等は１個あれば十分であり、特許文献１のように複数設ける必要はない。
【００１０】
＜撮像時刻検出工程＞
検出されたフリッカ周期波形Ｆ（Ｘｓ、Ｙｓ、ｔ）について解析を行い、所定の第１位相θ１についてθ１＝θ（ｔ１）を満たす第１撮像時刻ｔ１と、所定の第２位相θ２についてθ２＝θ（ｔ２）を満たす第２撮像時刻ｔ２とを検出する。なお、θｉ＝２πｆｔｉ＋φ（ｉ＝１、２）、をｔｉについて解くことによって、ｔ１、ｔ２の具体的な表式、ｔｉ＝（θｉ−φ）／２πｆ、が得られる。
＜撮像工程＞
検出された撮像時刻ｔ１およびｔ２において、画像表示面上における所定の撮像範囲内の画像を撮像する。
【００１１】
＜演算処理工程＞
撮像された画像は、撮像範囲内の任意の点（Ｘ、Ｙ）における光量Ｌ（Ｘ、Ｙ、ｔ）のデータを構成する。一般に、光量Ｌ（Ｘ、Ｙ、ｔ）は、点（Ｘ、Ｙ）におけるフリッカ周期波形Ｆ（Ｘ、Ｙ、ｔ）を用いて、Ｌ（Ｘ、Ｙ、ｔ）＝Ｌ０（Ｘ、Ｙ）＋Ｆ（Ｘ、Ｙ、ｔ）、と表される。ここで、Ｌ０（Ｘ、Ｙ）は非フリッカ成分であって、時間について変動しない量である。
この演算処理工程では、時刻ｔ１に撮像された画像に基づく光量データＬ１（Ｘ、Ｙ、ｔ１）＝Ｌ０（Ｘ、Ｙ）＋Ｆ（Ｘ、Ｙ、ｔ１）と、時刻ｔ２に撮像された画像に基づく光量データＬ２（Ｘ、Ｙ、ｔ２）＝Ｌ０（Ｘ、Ｙ）＋Ｆ（Ｘ、Ｙ、ｔ２）とに基づいて画像表示面上の撮像範囲内の任意の点（Ｘ、Ｙ）におけるフリッカを算出する。以下、その一つの計算例を示す。
【００１２】
≪計算手順１（差分処理工程）≫
Ｌ１とＬ２とに差分処理を施し、Ｌ１−Ｌ２を計算する。Ｌ１およびＬ２は、共に、時間ｔ（ｔ１、ｔ２）によらないＬ０（Ｘ、Ｙ）を含んでいるので、これが消去されて、Ｌ１−Ｌ２＝Ｆ（Ｘ、Ｙ、ｔ１）−Ｆ（Ｘ、Ｙ、ｔ２）＝Ａ（Ｘ、Ｙ）・{ｓｉｎθ（ｔ１）−ｓｉｎθ（ｔ２）}＝Ａ（Ｘ、Ｙ）・（ｓｉｎθ１−ｓｉｎθ２）、となる。
≪計算手順２（位相因子除去工程）≫
続いて、第１および第２位相θ１およびθ２を含む位相因子（ｓｉｎθ１−ｓｉｎθ２）で両辺を割って、Ａ（Ｘ、Ｙ）＝（Ｌ１−Ｌ２）／（ｓｉｎθ１−ｓｉｎθ２）、を得る。
≪計算手順３≫
最後に、両辺を２倍して、フリッカＦＬ（Ｘ、Ｙ）（＝フリッカ振幅Ａ（Ｘ、Ｙ）の２倍の大きさ）を算出する。すなわち、ＦＬ（Ｘ、Ｙ）＝２・Ａ（Ｘ、Ｙ）＝２・（Ｌ１−Ｌ２）／（ｓｉｎθ１−ｓｉｎθ２）、である。
この式から、フリッカＦＬ（Ｘ、Ｙ）は、撮像された２つの画像Ｌ１、Ｌ２と、第１および第２位相θ１、θ２とを基に算出されていることが理解される。
【００１３】
このように計算されたＦＬ（Ｘ、Ｙ）は、画像表示面上の撮像範囲内における任意の点（Ｘ、Ｙ）のフリッカである。演算処理工程では、この計算を撮像範囲内における全ての点について一度に行うので、本発明のフリッカ測定方法によれば、撮像範囲内における全ての点のフリッカを一度に測定できる。
また、本発明では、フリッカ周期波形検出工程においては画像中の少なくとも一点におけるフリッカ周期波形を検出すればよい。このとき、フリッカ周期波形検出用の光センサ等は１個あれば十分であり、特許文献１のように複数の光センサを設ける必要がないから、測定コストを低減できる。
また、本発明のフリッカ測定方法を利用して得られたフリッカ測定結果を、画像におけるフリッカバランスの調整に用いる場合には、撮像範囲内の全ての点におけるフリッカを参照しながらフリッカバランスを調整できるので、光センサの配置点におけるフリッカのみを参照しながら調整をしていた特許文献１の方法に比べて、フリッカバランスの調整精度を向上させることができる。
【００１４】
本発明では、前記第１位相と前記第２位相とは、πの奇数倍だけ異なり、前記演算処理工程では、前記撮像工程において撮像された前記２つの画像に対して差分処理が施されることが好ましい。
第１位相と第２位相とがπの奇数倍だけ異なるので、θ２＝θ１＋（２ｋ＋１）・π、と表せる（ｋ：整数）。演算処理工程では、この表式を基にして差分処理を含む演算処理が行われる。なお、以下の≪計算手順１〜３≫は、前記の≪計算手順１〜３≫と対応するように記載するものとする。
【００１５】
≪計算手順１（差分処理工程）≫
Ｌ１とＬ２との差分Ｌ１−Ｌ２を計算する。前記の通り、Ｌ１−Ｌ２＝Ａ（Ｘ、Ｙ）・（ｓｉｎθ１−ｓｉｎθ２）、であるが、ｓｉｎθ２＝ｓｉｎ｛θ１＋（２ｋ＋１）・π｝＝−ｓｉｎθ１、なので、Ｌ１−Ｌ２＝２・Ａ（Ｘ、Ｙ）・ｓｉｎθ１、となる。
≪計算手順２（位相因子除去工程）≫
続いて、両辺をｓｉｎθ１で割って、２・Ａ（Ｘ、Ｙ）＝（Ｌ１−Ｌ２）／ｓｉｎθ１、を得る。ここで算出された２・Ａ（Ｘ、Ｙ）は、フリッカＦＬ（Ｘ、Ｙ）に等しい。
≪計算手順３≫
計算手順２においてフリッカＦＬ（Ｘ、Ｙ）が既に算出されているので、前記の≪計算手順３≫に相当する演算処理を行う必要は無い。
【００１６】
したがって、このフリッカ測定方法によれば、演算処理工程における計算手順の数を減らすことができるから、演算処理を行うための装置の構成を簡素化できるとともに、フリッカの測定速度を速めることができる。
【００１７】
また、本発明では、前記撮像時刻検出工程では、前記第１撮像時刻は、前記フリッカ周期波形検出工程において検出された前記フリッカ周期波形における正のピークを与える時刻とされ、前記第２撮像時刻は負のピークを与える時刻とされることが好ましい。
フリッカ周期波形検出工程で検出されるフリッカ周期波形Ｆが、前記のように、Ｆ＝Ａ・ｓｉｎθ（ｔ）、と表される場合、正負のピークを与える位相は、θ＝π／２（＋２ｋ１π（ｋ１は整数）：以下省略）、−π／２（＋２ｋ２π（ｋ２は整数）：以下省略）、である。
第１撮像時刻ｔ１がＦの正のピークを与える時刻とされ、第２撮像時刻ｔ２がＦの負のピークを与える時刻とされるので、θ１＝π／２、θ２＝−π／２、である。
【００１８】
演算処理工程について説明する。
≪計算手順１（差分処理工程）≫
Ｌ１とＬ２の差分Ｌ１−Ｌ２を計算する。前記の通り、Ｌ１−Ｌ２＝２・Ａ（Ｘ、Ｙ）・ｓｉｎθ１、であるが、ｓｉｎθ１＝ｓｉｎ（π／２）＝１、なので、Ｌ１−Ｌ２＝２・Ａ（Ｘ、Ｙ）、となる。ここで算出された２・Ａ（Ｘ、Ｙ）は、フリッカＦＬ（Ｘ、Ｙ）に等しい。
≪計算手順２、３≫
計算手順１においてフリッカＦＬ（Ｘ、Ｙ）が既に算出されているので、前記の≪計算手順２、３≫に相当する演算処理を行う必要は無い。
【００１９】
したがって、このフリッカ測定方法によれば、演算処理工程における計算手順の数をさらに減らすことができるから、演算処理を行うための装置の構成を簡素化できるとともに、フリッカの測定速度を速めることができる。
【００２０】
また、本発明では、前記画像表示面に表示される画像は交流電力に基づいて生成され、前記フリッカ周期波形検出工程では、前記交流電力に起因して生じる交流フリッカの周期波形のみを検出することが好ましい。
画像にフリッカが生じる原因には様々なものがあるが、その一つとして、画像が交流電力に基づいて生成される場合に、その交流電力が適切に調整されていないことが挙げられる。以下、このことを原因として画面に生じるフリッカを交流フリッカと呼ぶ。
【００２１】
このフリッカ測定方法では、フリッカ周期波形検出工程においては、交流フリッカ以外のフリッカの周期波形を検出することなく、交流フリッカの周期波形のみを検出できるので、この交流フリッカ周期波形を基に、続く撮像時刻検出工程において交流フリッカの測定に最適な第１および第２撮像時刻を検出できる。したがって、このフリッカ測定方法によれば、画像における交流フリッカの測定精度を向上させることができる。また、この測定結果を参照しながら、画像を生成するための交流電力を調整すれば、画像中の交流フリッカを効果的に低減させることができ、ちらつきの少ない画像を提供することができる。
【００２２】
また、本発明では、光源と、印加された前記交流電力に基づいて画像パターンを生成する画像パターン生成手段とを備えて構成され、前記画像パターンに前記光源からの光を照射し、その透過光および反射光の少なくとも一方によって前記画像表示面に表示される画像を生成する画像生成手段が設けられ、前記フリッカ周期波形検出工程では、前記光源に起因して生じる光源フリッカの周期波形を除去し、前記交流フリッカの周期波形のみを検出することが好ましい。
この場合、画像におけるフリッカのうち主なものは、光源に由来するフリッカ（以下、光源フリッカ、と言う）、および、画像パターン生成手段に印加される交流電力に由来するフリッカ（交流フリッカ）である。
このフリッカ測定方法では、フリッカ周期波形検出工程において光源フリッカの周期波形を除去し、交流フリッカの周期波形のみを検出できるから、続く撮像工程および演算処理工程において光源フリッカの有無に関わらず、交流フリッカのみを選択的に測定できる。画像パターン生成手段に印加される交流電力と画像中の交流フリッカとの間には直接の因果関係があるので、選択的に測定された交流フリッカを参照すれば、画像パターン生成手段に印加される交流電力の調整を高精度に行うことができ、交流フリッカを直接的に、かつ、効果的に低減させることができる。
【００２３】
以下、これまでに説明したフリッカ測定方法を実施するための構成を備えるフリッカ測定装置について説明する。
【００２４】
本発明のフリッカ測定装置は、画像表示面に表示される画像のフリッカを測定する装置であって、前記画像を表示するための画像光を受光することによって、前記画像中の少なくとも一点におけるフリッカの周期波形を検出するフリッカ周期波形検出手段と、検出された前記フリッカ周期波形において、所定の第１位相を与える第１撮像時刻と、所定の第２位相を与える第２撮像時刻とを検出する撮像時刻検出手段と、前記第１および第２撮像時刻において、前記画像表示面上における前記画像を撮像する撮像手段と、撮像された前記２つの画像と、前記第１および第２位相とを基に演算処理を行い、前記画像表示面上における前記画像のフリッカを算出する演算処理手段とを備えることを特徴とする。
【００２５】
＜フリッカ周期波形検出工程＞
画像光がフリッカ周期波形検出手段によって受光され、フリッカ周期波形が検出される。ここで検出されるフリッカ周期波形は、前記した画像表示面上の点（Ｘｓ、Ｙｓ）におけるフリッカ周期波形Ｆ（Ｘｓ、Ｙｓ、ｔ）に等しい。
＜撮像時刻検出工程＞
撮像時刻検出手段が、検出されたフリッカ周期波形Ｆ（Ｘｓ、Ｙｓ、ｔ）について解析を行い、第１位相θ１についてθ１＝θ（ｔ１）を満たす第１撮像時刻ｔ１と、第２位相θ２についてθ２＝θ（ｔ２）を満たす第２撮像時刻ｔ２とを検出する。
＜撮像工程＞
撮像手段が、検出された撮像時刻ｔ１およびｔ２において、画像表示面上における所定の撮像範囲内の画像を撮像する。
＜演算処理工程＞
演算処理手段が、時刻ｔ１に撮像された画像に基づく光量データＬ１と、時刻ｔ２に撮像された画像に基づく光量データＬ２とに基づいて、画像表示面上の撮像範囲内の任意の点（Ｘ、Ｙ）におけるフリッカＦＬ（Ｘ、Ｙ）を算出する。なお、計算手順は、既に説明した通りである。
【００２６】
以上のように算出されたＦＬ（Ｘ、Ｙ）は、画像表示面上の撮像範囲内における任意の点（Ｘ、Ｙ）のフリッカである。演算処理工程では、この計算を撮像範囲内における全ての点について一度に行うので、本発明のフリッカ測定装置によれば、撮像範囲内における全ての点のフリッカを一度に測定できる。
また、本発明では、フリッカ周期波形検出手段は、画像中の少なくとも一点におけるフリッカ周期波形を検出すればよいので、１個あれば十分であり、特許文献１のように光センサを複数設ける必要がないので、部品点数を少なく抑えることができ、構成が簡素なフリッカ測定装置を安価に製造できる。
また、このフリッカ測定装置を利用して得られたフリッカ測定結果を参照して画像におけるフリッカバランスを調整する場合には、撮像範囲内の全ての点におけるフリッカを参照しながらフリッカバランスを調整できるので、フリッカバランスの調整精度を向上させることができる。
【００２７】
本発明では、光源と、印加された交流電力に基づいて画像パターンを生成する液晶パネルとを備えて構成され、この液晶パネルに前記光源からの光を照射し、その透過光および反射光の少なくとも一方によって前記画像表示面に表示される画像を生成する画像生成手段が設けられ、前記フリッカ周期波形検出手段は、前記光源に起因して生じる光源フリッカの周期波形は通過させず、前記交流電力に起因して生じる液晶フリッカの周期波形のみを通過させるフィルタを備えて構成され、このフィルタを通過された前記液晶フリッカ周期波形のみを検出することが好ましい。
【００２８】
この場合、画像におけるフリッカのうち主なものは、光源由来の光源フリッカ、および、液晶パネルに印加される交流電力に由来する交流フリッカ（ここでは特に、液晶フリッカ、と言う）である。
このフリッカ測定装置では、フィルタの作用によって光源フリッカの周期波形が除去され、液晶フリッカの周期波形のみがフリッカ周期波形検出手段において検出される。撮像時刻検出手段では、検出された液晶フリッカ周期波形に基づいて、液晶フリッカの測定に最適な第１および第２撮像時刻が検出される。そのため、続く撮像工程および演算処理工程においては、光源フリッカの有無に関わらず、ほとんど液晶フリッカのみを選択的に測定できる。また、この液晶フリッカの測定結果を参照しながら、液晶パネルに印加される交流電力を調整することにより、画像中の液晶フリッカを効果的に低減させることができ、ちらつきの少ない画像を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２９】
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
図１に示されるフリッカ測定装置は、画像生成手段としてのプロジェクタ１から出射される映写光によって、画像表示面としてのスクリーン２上に映写される画像のフリッカを測定する装置である。
プロジェクタ１は、光源としてのランプ１１と、画像パターン生成手段としての液晶パネル１２とを備えて構成される。液晶パネル１２は、その表面全体にわたって整列配置される多数の微小な液晶画素を有している。各液晶画素の透過率（透光率）は、図示しない交流電源から印加される交流電圧によって変化させることができ、これによって液晶パネル１２の表面上に画像パターンが生成される。ランプ１１は、この画像パターンを照明する。この照明光は、画像パターンを構成する各液晶画素の透過率にしたがって透過され、映写光としてスクリーン２に照射される。この映写光は画像を表示するための画像光であり、液晶パネル１２上の画像パターンに基づく画像をスクリーン２上に映写する。
【００３０】
なお、図１において、プロジェクタ１は、１枚の液晶パネル１２を備える、いわゆる単板式液晶プロジェクタとして図示されているが、これは図示の簡略化のためであり、実際は、ＲＧＢ各色ごとの３枚の液晶パネルを備える、いわゆる３板式液晶プロジェクタとして構成されている。もっとも、本発明では、単板式、３板式等を問わず、あらゆる方式のプロジェクタを画像映写手段として採用することができる。また、液晶パネル１２は、図１に示されるような、ランプ１１からの光を透過させることによって映写光を生成する透過型の液晶パネルに限らず、ランプ１１からの光を反射させることによって映写光を生成する反射型の液晶パネルであってもかまわない。
さて、スクリーン２は反射型のスクリーンであり、プロジェクタ１から照射された映写光を反射して画像を表示する。このときスクリーン２から反射される光も画像を表示するための画像光として機能する。ここで、スクリーン２は、透過型のスクリーンでもよい。このときは、透過光が画像光として機能する。なお、スクリーン２表面上の任意の位置をＸＹ直交座標（Ｘ、Ｙ）によって表すことにする。
【００３１】
以下、画像のフリッカ測定について説明する。フリッカ測定時においては、液晶パネル１２に印加される交流電圧の波形は一定に保たれているものとする。このとき、プロジェクタ１からは所定の検査用の画像がスクリーン２に映写されていることになる。
【００３２】
＜フリッカ周期波形検出工程＞
スクリーン２の中心部には光センサ３が設けられる。光センサ３は、スクリーン２表面上の中心（Ｘ０、Ｙ０）に露出される点状の受光部を有しており、この受光部においてプロジェクタ１からの映写光を受光し、光信号を検出する。
この光信号には主として２種類のフリッカ、すなわち、ランプフリッカ（光源フリッカ）と液晶フリッカ（交流フリッカ）とが含まれている。ランプフリッカはランプ１１に由来するフリッカであり、その周波数は、ランプ１１の種類に応じておおよそ決まっている。本実施形態では、ランプ１１としては高圧水銀ランプを用いており、ランプフリッカは２００〜５００Ｈｚ程度の周波数を有する。また、液晶フリッカは、液晶パネル１２に印加される交流電圧に由来するフリッカである。その周波数は、交流電圧の周波数（交流周波数）によって決まり、たいていの場合、交流周波数近傍の値になる。本実施形態では、交流周波数が５０〜６０Ｈｚであり、液晶フリッカの周波数は、１０〜７０Ｈｚ程度になる。
ここで、光センサ３で検出される光信号Ｌは、フリッカ以外の非振動成分Ｌ０、ランプフリッカ周期波形Ｆｌａ、液晶フリッカ周期波形Ｆｌｃ、の和として、おおよそ、Ｌ＝Ｌ０＋Ｆｌａ＋Ｆｌｃ、として表すことができる。なお、これらの各量は、スクリーン２表面上の中心（Ｘ０、Ｙ０）に露出される光センサ３の受光部において検出されるものであり、このことを明瞭に示す必要があるときは、以下、Ｌ（Ｘ０、Ｙ０、ｔ）、Ｆｌｃ（Ｘ０、Ｙ０、ｔ）、などと表記することにする（ｔは時間）。
【００３３】
光センサ３で検出された光信号Ｌは、その後、バンドパスフィルタ４によって濾波される。バンドパスフィルタ４における通過可能周波数帯は、光信号Ｌ中における液晶フリッカ周期波形Ｆｌｃのみを通過させるために１０〜７０Ｈｚに設定されている。これによって、光信号Ｌ中の非振動成分Ｌ０（０Ｈｚ）、および、ランプフリッカ周期波形Ｆｌａ（２００〜５００Ｈｚ）が除去されて、液晶フリッカ周期波形Ｆｌｃ（１０〜７０Ｈｚ）のみが通過され、撮像時刻検出回路５に入力される。
なお、以上の構成において、光センサ３およびバンドパスフィルタ４は、プロジェクタ１からの画像光（映写光）を受光し、画像中の一点（Ｘ０、Ｙ０）における液晶フリッカ周期波形Ｆｌｃ（Ｘ０、Ｙ０、ｔ）を検出する、本発明のフリッカ周期波形検出手段を構成している。
【００３４】
＜撮像時刻検出工程＞
図２に、撮像時刻検出回路５に入力される液晶フリッカ周期波形Ｆｌｃ（Ｘ０、Ｙ０、ｔ）を示す。Ｆｌｃ（Ｘ０、Ｙ０、ｔ）は、正弦関数によって近似でき、以下、Ｆｌｃ（Ｘ０、Ｙ０、ｔ）＝Ａ（Ｘ０、Ｙ０）・ｓｉｎ（２πｆｔ＋φ）＝Ａ（Ｘ０、Ｙ０）・ｓｉｎθ（ｔ）、として説明する。ここで、Ａ（Ｘ０、Ｙ０）は、スクリーン２の中心（Ｘ０、Ｙ０）における液晶フリッカ振幅、ｆは液晶フリッカ周波数（１０〜７０Ｈｚ）、φはｔ＝０のときの初期位相、θ（ｔ）＝２πｆｔ＋φは液晶フリッカ位相である。
撮像時刻検出手段としての撮像時刻検出回路５は、入力された液晶フリッカ周期波形Ｆｌｃ（Ｘ０、Ｙ０、ｔ）における正のピークＰ１を与える第１撮像時刻ｔ１と、負のピークＰ２を与える第２撮像時刻ｔ２とを検出する。ここで、ｔ１およびｔ２は、第１および第２位相θ１およびθ２を与える時刻であり、θ１＝θ（ｔ１）＝π／２＋２ｋ１π（ｋ１：整数）、および、θ２＝θ（ｔ２）＝−π／２＋２ｋ２π（ｋ２：整数）、を満足する。具体的には、θｉ＝θ（ｔｉ）＝２πｆｔｉ＋φ（ｉ＝１、２）、をｔｉについて解いて、ｔ１＝（１／２＋２ｋ１−φ／π）／２ｆ、ｔ２＝（−１／２＋２ｋ２−φ／π）／２ｆ、によって表される。
なお、θ１−θ２＝π＋２・（ｋ１−ｋ２）・π＝｛２・（ｋ１−ｋ２）＋１｝・π、であるから、第１位相θ１と第２位相θ２とは、πの奇数倍だけ異なることがわかる。
【００３５】
＜撮像工程＞
撮像手段としてのビデオカメラ６は、撮像時刻検出回路５によって検出された第１および第２撮像時刻ｔ１、ｔ２において、画像が映写されたスクリーン２の全面をシャッター撮像する。ビデオカメラ６は、その受光面全体にわたって整列配置される多数の微小な撮像画素を有している。したがって、ビデオカメラ６によって撮像されたスクリーン２上の画像は、各撮像画素ごとの受光量によって構成される光量データである。ビデオカメラ６はスクリーン２の全面を撮像するから、ビデオカメラ６における各撮像画素の位置は、スクリーン２表面上の位置を表すＸＹ座標によって記述することが可能である。そこで、以下、「スクリーン２上の点（Ｘ、Ｙ）からの画像光を受光する撮像画素」を、「点（Ｘ、Ｙ）に配置される撮像画素」のように表し、記載を簡略化する。
【００３６】
さて、ビデオカメラ６によって撮像された２枚の画像は、前記のように、各点（Ｘ、Ｙ）に配置される各撮像画素の受光量によって構成される光量データである。この光量データは、言い換えれば、スクリーン２表面上の各点（Ｘ、Ｙ）における光量Ｌ（Ｘ、Ｙ、ｔ）のデータである。一般に、光量Ｌ（Ｘ、Ｙ、ｔ）は、時間ｔによらず一定の非フリッカ成分Ｌ０（Ｘ、Ｙ）と、フリッカ成分Ｆ（Ｘ、Ｙ、ｔ）の和として、Ｌ＝Ｌ０＋Ｆ、によって表される。フリッカ成分Ｆのうち主なものは、前記の通り、ランプフリッカと液晶フリッカとであるが、本実施形態では、光センサ３からの光信号Ｌをバンドパスフィルタ４によって濾波し、ランプフリッカ周期波形Ｆｌａが除去されて得られる液晶フリッカ周期波形Ｆｌｃ（図２参照）の解析によって、液晶フリッカの測定に好適な撮像時刻ｔ１およびｔ２が検出されている。したがって、ｔ１およびｔ２にビデオカメラ６によって撮像された前記２枚の画像に基づく光量Ｌ１、Ｌ２のデータにおいては、ランプフリッカの影響はほとんど無視でき、液晶フリッカのみを考えればよい。そのため、Ｆ（Ｘ、Ｙ、ｔ）＝Ｆｌａ（Ｘ、Ｙ、ｔ）＋Ｆｌｃ（Ｘ、Ｙ、ｔ）≒Ｆｌｃ（Ｘ、Ｙ、ｔ）、である。
液晶フリッカ成分Ｆｌｃ（Ｘ、Ｙ、ｔ）は、Ｆｌｃ（Ｘ、Ｙ、ｔ）＝Ａ（Ｘ、Ｙ）・ｓｉｎθ（ｔ）、によって表すことができる。ここで、Ａ（Ｘ、Ｙ）は、スクリーン２表面上の任意の点（Ｘ、Ｙ）における液晶フリッカの振幅、θ（ｔ）は液晶フリッカの位相である。なお、液晶フリッカの位相θ（ｔ）は、液晶パネル１２を駆動する交流電圧の周波数によってほとんど決まるので、スクリーン２上の位置（Ｘ、Ｙ）によらず、スクリーン２の全面にわたって共通の位相である。したがって、このθ（ｔ）は、スクリーン２の中心（Ｘ０、Ｙ０）における液晶フリッカ周期波形Ｆｌｃ（Ｘ０、Ｙ０、ｔ）についての前記の表式：Ｆｌｃ（Ｘ０、Ｙ０、ｔ）＝Ａ（Ｘ０、Ｙ０）・ｓｉｎθ（ｔ）：に現れるθ（ｔ）と同一のものであり、θ（ｔ）＝２πｆｔ＋φ、を満たす。
【００３７】
以上により、ビデオカメラ６によってｔ１およびｔ２に撮像された２枚の画像に基づく光量データＬｉ（ｉ＝１、２）は、Ｌｉ（Ｘ、Ｙ）＝Ｌ（Ｘ、Ｙ、ｔｉ）＝Ｌ０（Ｘ、Ｙ）＋Ｆ（Ｘ、Ｙ、ｔｉ）≒Ｌ０（Ｘ、Ｙ）＋Ｆｌｃ（Ｘ、Ｙ、ｔｉ）＝Ｌ０（Ｘ、Ｙ）＋Ａ（Ｘ、Ｙ）・ｓｉｎθ（ｔｉ）、と表される。ここで、θ（ｔ１）＝π／２＋２ｋ１π、θ（ｔ２）＝−π／２＋２ｋ２π、であるから、ｓｉｎθ（ｔ１）＝１、ｓｉｎθ（ｔ２）＝−１、である。したがって、Ｌ１（Ｘ、Ｙ）＝Ｌ０（Ｘ、Ｙ）＋Ａ（Ｘ、Ｙ）、Ｌ２＝Ｌ０（Ｘ、Ｙ）−Ａ（Ｘ、Ｙ）、となる。
【００３８】
＜演算処理工程＞
演算処理手段としての画像処理部７は、ビデオカメラ６から入力される光量データＬ１、Ｌ２に差分処理を施すことによって、液晶フリッカ値ＦＬ（Ｘ、Ｙ）（＝２・Ａ（Ｘ、Ｙ））を算出する：Ｌ１（Ｘ、Ｙ）−Ｌ２（Ｘ、Ｙ）＝｛Ｌ０（Ｘ、Ｙ）＋Ａ（Ｘ、Ｙ）｝−｛Ｌ０（Ｘ、Ｙ）−Ａ（Ｘ、Ｙ）｝＝２・Ａ（Ｘ、Ｙ）＝ＦＬ（Ｘ、Ｙ）。具体的には、各点（Ｘ、Ｙ）に配置されるビデオカメラ６における撮像画素ごとの受光量の差分をとり、各点（Ｘ、Ｙ）における液晶フリッカ値ＦＬ（Ｘ、Ｙ）を算出することになる。
図３に、この差分処理の様子を模式的に示す。光量データＬ１およびＬ２上の位置は、スクリーン２上の位置に対応してＸＹ座標によって表され、各点（Ｘ、Ｙ）にはビデオカメラ６の撮像画素が配置されている。演算処理工程では、光量データＬ１およびＬ２上の各点（Ｘ、Ｙ）に配置される撮像画素の受光量（Ｌ１（Ｘ、Ｙ）およびＬ２（Ｘ、Ｙ））の差分を演算し、液晶フリッカ値（ＦＬ（Ｘ、Ｙ））を算出する。
【００３９】
＜実施形態の効果＞
以上のように算出された液晶フリッカ値ＦＬ（Ｘ、Ｙ）は、スクリーン２表面上における任意の点（Ｘ、Ｙ）の液晶フリッカ値である。演算処理工程では、この計算をスクリーン２表面上の全ての点について一度に行うので、本実施形態のフリッカ測定方法によれば、スクリーン２表面上の液晶フリッカ値を一度に測定できる。
【００４０】
また、本実施形態では、プロジェクタ１からの映写光を受光するための光センサ３は、ビデオカメラ６による画像の撮像のタイミングを検出する目的で設置されているので、画像全面にわたってフリッカ周期波形を検出する必要はなく、画像中の一点（本実施形態ではスクリーン２の中心（Ｘ０、Ｙ０））においてフリッカ周期波形を検出できればよい。そのため、光センサ３は１個で十分であり、特許文献１のように複数設ける必要がないので、部品点数を少なく抑えることができ、構成が簡素なフリッカ測定装置を安価に製造できるともに、測定コストも低減できる。
【００４１】
また、本実施形態において測定された液晶フリッカ値のデータを用いれば、スクリーン２表面上全ての点における液晶フリッカ値を参照しながら液晶パネル１２に印加される交流電圧を調整し、液晶フリッカバランスを調整できるので、光センサの配置点におけるフリッカのみを参照しながら調整していた特許文献１の方法に比べて、液晶フリッカバランスの調整精度を向上させることができる。
【００４２】
また、本実施形態では、第１および第２撮像時刻ｔ１およびｔ２を、図２に示す液晶フリッカ周期波形Ｆｌｃ（Ｘ０、Ｙ０、ｔ）における正および負のピークＰ１、Ｐ２を与える時刻として検出することによって、画像処理部７ではＬ１とＬ２との差分処理を行うだけで液晶フリッカ値ＦＬを算出できるようになっている。したがって、本実施形態によれば、画像処理部７における演算処理を著しく簡素化でき、液晶フリッカの測定速度を速めることができる。
【００４３】
また、本実施形態では、バンドパスフィルタ４によって光センサ３からの光信号Ｌを濾波して、非フリッカ成分Ｌ０およびランプフリッカ周期波形Ｆｌａを除去し、液晶フリッカ周期波形Ｆｌｃのみを抽出できる。撮像時刻検出回路５では、このＦｌｃを基に、液晶フリッカの測定に最適な撮像時刻ｔ１およびｔ２を検出できるから、液晶フリッカの測定精度を向上させることができる。
【００４４】
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。
例えば、前記実施形態では、スクリーン２に光センサ３を取り付けることにより、プロジェクタ１からの映写光を受光して、フリッカ周期波形の取り込みを行っていたが、本発明では、光センサ３をスクリーン２に取り付ける必要はなく、光センサ３としてはプロジェクタ１からの映写光、および、スクリーン２からの反射光の少なくともいずれかを受光できるものであればよい。
また、光センサ３をスクリーン２に取り付ける場合であっても、本実施形態のように、受光部をスクリーン２の中心に配置させる必要はなく、スクリーン２表面上の任意の位置に受光部を配置できる。受光部の配置位置によらず、光センサ３とバンドパスフィルタ４とによって液晶フリッカ周期波形Ｆｌｃを取得できるから、撮像時刻検出回路５が適切な撮像時刻を検出する上で何らの支障もないからである。
【００４５】
また、前記実施形態では、プロジェクタ１からの映写光に基づいてスクリーン２に映写される画像のフリッカ測定について説明したが、本発明のフリッカ測定方法および装置によれば、これ以外の画像のフリッカも測定できる。例えば、液晶ディスプレイ、ＣＲＴディスプレイ、プラズマディスプレイ、ＬＥＤディスプレイ、有機ＥＬディスプレイなど、各種の画像表示面に表示される画像のフリッカ測定にも本発明は利用できる。
【００４６】
また、前記実施形態では、撮像工程においてビデオカメラ６によってスクリーン２の全面を撮像し、スクリーン２の全面にわたるフリッカを一度に測定していたが、フリッカを測定したい範囲がスクリーン２表面上の一部分であるときは、ビデオカメラ６ではこの一部分を撮像すればよい。この場合も、撮像範囲内の全ての点におけるフリッカを一度に測定できるから、各光センサによってスクリーン上の各点を測定していた従来の方法に比べて、測定点の数を容易に増やすことができ、フリッカバランスの調整精度を向上させることができる。
【００４７】
また、前記実施形態では、撮像時刻検出回路５で検出された撮像時刻ｔ１およびｔ２をビデオカメラ６に入力しているが、本発明では、ｔ１およびｔ２を画像処理部７に入力してもよい。このとき、ビデオカメラ６はスクリーン２上の画面を連続撮像しており、画像処理部７は、時刻ｔ１およびｔ２においてビデオカメラ６の画像を取り込む。この２枚の画像が光量データＬ１およびＬ２を構成し、画像処理部７では前記したようなＬ１とＬ２とについての差分処理が行われる。
【００４８】
また、前記実施形態では、撮像時刻検出工程において第１撮像時刻ｔ１は、フリッカ周期波形検出工程において検出された液晶フリッカ周期波形Ｆｌｃにおける正のピークＰ１を与える時刻とされ、第２撮像時刻ｔ２は負のピークＰ２を与える時刻とされており、第１位相θ１＝π／２、第２位相θ２＝−π／２、とされているが、本発明では、θ１およびθ２は任意の位相でかまわない。このとき、画像処理部７は、ビデオカメラ６で撮像された２枚の画像Ｌ１およびＬ２と、θ１およびθ２とを基に演算処理を行い、画像のフリッカを算出する。具体的には、ＦＬ（Ｘ、Ｙ）＝２・（Ｌ１−Ｌ２）／（ｓｉｎθ１−ｓｉｎθ２）、である。
なお、このとき、「θ１とθ２とがπの奇数倍だけ異なる」という条件を加えれば、画像処理部７における演算処理を簡素化できる。具体的には、ｓｉｎθ２＝−ｓｉｎθ１、であるから、ＦＬ（Ｘ、Ｙ）＝（Ｌ１−Ｌ２）／ｓｉｎθ１、である。
【００４９】
また、前記実施形態では、画像処理部７はビデオカメラ６で撮像された２枚の画像Ｌ１およびＬ２に対して差分処理を行うことによってフリッカを算出していたが、本発明では、必ずしも差分処理を行う必要はない。画像処理部７は、２枚の画像Ｌ１およびＬ２と、第１および第２位相θ１およびθ２とに基づいてフリッカを算出するものであればよく、そこでの演算手法、演算式、演算順序などは適宜自由に選択することができる。
【００５０】
また、前記実施形態においては、液晶パネル１２に印加される交流電圧に起因して生じる液晶フリッカ（交流フリッカ）の測定を効率的に行うため、液晶フリッカ周期波形のみを通過させるバンドパスフィルタ４を設け、液晶フリッカの測定に適した撮像時刻を検出していた。しかし、本発明のフリッカ測定方法の測定対象としてのフリッカは、液晶フリッカ（交流フリッカ）に限られない。液晶フリッカを測定しない場合は、バンドパスフィルタ４を設ける必要はない。また、液晶フリッカ以外の特定のフリッカ（例えば、光源フリッカ）を測定したい場合には、この特定のフリッカの周期波形のみを通過させ、液晶フリッカを通過させないバンドパスフィルタを設けてもよい。また、液晶フリッカを測定する場合でも、液晶フリッカ以外のフリッカが液晶フリッカの測定に悪影響を及ぼすおそれがないのであれば、バンドパスフィルタ４を設ける必要はない。特に、画像表示面に画像を表示させるために、本実施形態におけるランプ１１のような光源を使用しないのであれば、そもそも光源フリッカが生じるおそれがないので、バンドパスフィルタ４を省略できる。
【産業上の利用可能性】
【００５１】
本発明は、映写用スクリーン、液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイなどの各種の画像表示面に表示される画像のフリッカ測定に利用できる。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明の実施形態にかかるフリッカ測定装置を示すブロック図。
【図２】前記実施形態における撮像時刻検出回路に入力される液晶フリッカ周期波形を示す図。
【図３】前記実施形態における画像処理部で行われる２つの画像の差分処理の様子を示す図。
【符号の説明】
【００５３】
１…プロジェクタ、２…スクリーン、３…光センサ、４…バンドパスフィルタ、５…撮像時刻検出回路、６…ビデオカメラ、７…画像処理部、１１…ランプ、１２…液晶パネル、Ｆｌｃ…液晶フリッカ周期波形、ｔ１…第１撮像時刻、ｔ２…第２撮像時刻。
【図１】
2006091149.tif 000003
【図２】
2006091149.tif 000004
【図３】
2006091149.tif 000005