(57)【要約】  【課題】  メンテナンス扉などが開放された場合にレーザダイオード等の発光を禁止することにより操作者の安全を確保すると共に，レーザダイオード等の発光量を調整するＡＰＣ回路の高い調整精度を確保することができる画像形成装置を提供すること。  【解決手段】  ＣＰＵ３１から出力される電力供給許可信号が入力された場合にレーザダイオード１１への電力供給を許可する電力供給許可回路１５への前記電力供給許可信号の入力を，扉開放検知回路２０によりメンテナンス扉が開放されたことが検知された場合に阻止する電力供給許可信号入力阻止回路４０（電力供給許可信号入力阻止手段の一例）を備えて構成される。これにより，前記メンテナンス扉が開放された場合の前記レーザダイオード１１の発光が禁止される。【選択図】  図１
2006145670.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像データに応じた光を像担持体に照射する光照射手段と，
前記光照射手段による像担持体への光の照射に際して前記光照射手段への電力供給を許可するための電力供給許可信号を出力する電力供給許可信号出力手段と，
前記電力供給許可信号出力手段からの電力供給許可信号の入力に応じて前記光照射手段への電力供給を許可する電力供給許可手段と，
当該画像形成装置に設けられた一又は複数の扉の開放を検知する扉開放検知手段と，
を備えてなる画像形成装置であって，
前記扉開放検知手段により前記扉の開放が検知された場合に前記電力供給許可手段への前記電力供給許可信号の入力を阻止する電力供給許可信号入力阻止手段を備えてなることを特徴とする画像形成装置。
【請求項２】
前記電力供給許可信号入力阻止手段が，前記電力供給許可信号を前記電力供給許可手段へ導く入力経路とは異なる経路に前記電力供給許可信号を誘導することにより，前記電力供給許可手段への前記電力供給許可信号の入力を阻止するものである請求項１に記載の画像形成装置。
【請求項３】
前記電力供給許可信号入力阻止手段が，前記電力供給許可信号出力手段による前記電力供給許可信号の出力を停止させることにより，前記電力供給許可手段への前記電力供給許可信号の入力を阻止するものである請求項１に記載の画像形成装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は，帯電した感光体ドラム（像担持体）にレーザ光を照射することにより，その感光体ドラムの表面上に原稿画像に対応した静電潜像を形成する露光装置を備えてなる画像形成装置に関し，特に，該画像形成装置に設けられたメンテナンス扉等が開放された場合にそのレーザ光の照射を禁止する技術に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般に，電子写真方式の画像形成装置（プリンタ，複写機，ファクシミリ装置等）は，所定電位に一様に帯電された感光体ドラム（像担持体）にレーザ光等の光を照射することにより，その感光体ドラムの表面上に原稿画像に対応した静電潜像を形成する露光処理を行う露光装置を備えて構成されている。
この露光装置は，例えば，前記感光体ドラムにレーザ光を照射するレーザダイオード及び該レーザダイオードの駆動を制御するレーザダイオード駆動回路等により構成されている。
ここに，図５は従来のレーザダイオード駆動回路Ｚ１の一例を示す概念図である。
図５に示すように，レーザダイオード駆動回路Ｚ１は，入力されたＶｉｄｅｏ信号（画像データ）に基づいてレーザダイオード１０１への電力供給を制御するスイッチング回路１０２と，前記レーザダイオード１０１の発光量に応じた大きさの電流Ｉａを出力するフォトダイオード１０３と，該フォトダイオード１０３から流入される電流Ｉａの電流値に応じて前記レーザダイオード１０１へ供給する電力量を制御することにより該レーザダイオード１０１の発光量を予め設定された発光量に維持する自動出力制御（ＡＰＣ）回路１０５と，電力供給許可信号の入力に応じて前記レーザダイオード１０１への電力供給を許可する電力供給許可回路１０６と，を備えて構成されている。
このように構成された前記レーザダイオード駆動回路Ｚ１では，前記露光処理の実行に際してＣＰＵやＡＳＩＣ等の制御部から出力される前記電力供給許可信号が前記電力供給許可回路１０６に入力されると，前記レーザダイオード１０１への電力供給が許可された状態となる。そして，前記Ｖｉｄｅｏ信号が前記スイッチング回路１０２に入力されることにより，該スイッチング回路１０２による前記レーザダイオード１０１への電力供給が制御されて前記露光処理が実行される。また，この露光処理の実行中には，前記ＡＰＣ回路１０５により前記レーザダイオード１０１の発光量が調整される。
【０００３】
ところで，レーザダイオードから照射されるレーザ光は眼や人体に有害であるため，従来から，画像形成装置に設けられたメンテナンス用の扉（以下「メンテナンス扉」という）が開放された場合には，そのレーザダイオードの発光を禁止している。これにより，前記露光処理中のレーザダイオードの発光中に，操作者が不用意にメンテナンス扉を開放したとしても，そのレーザダイオードの発光が停止されるため操作者の安全が確保される。例えば，その手法の一例が特許文献１に示されている。かかる手法を以下に説明する。
ここに，図６は，特許文献１に示された技術を適用したレーザダイオード駆動回路Ｚ２の概念図である。
図６に示すように，前記レーザダイオード駆動回路Ｚ２は，前記レーザダイオード駆動回路Ｚ１の回路構成に加えて，前記フォトダイオード１０３から出力される電流Ｉａに電流Ｉｂを重畳させるトランジスタ１０４を備えている。したがって，前記レーザダイオード駆動回路Ｚ２では，前記ＡＰＣ回路１０５が，流入される電流Ｉａｂ（電流Ｉａ＋電流Ｉｂ）の電流値に応じて前記レーザダイオード１０１へ供給する電力量を制御することとなる。また，前記ＡＰＣ回路１０５は，前記電流Ｉａｂの電流値が所定値以上となった場合には，前記レーザダイオード１０１への正方向の電力供給を阻止するものである。
このように構成された前記レーザダイオード駆動回路Ｚ２では，メンテナンス扉が開放された際にＣＰＵ等から前記トランジスタ１０４に開扉信号が入力されると，前記電流Ｉａｂが前記所定値以上となる電流Ｉｂが，前記トランジスタ１０４から出力される。したがって，前記ＡＰＣ回路１０５により前記レーザダイオード１０１への正方向の電力供給が阻止されて該レーザダイオード１０１の発光は禁止される。これにより，前記レーザダイオード１０１の発光中に操作者が不用意に前記メンテナンス扉を開放した場合であっても，該操作者の安全が確保される。
【特許文献１】特開平８−１３７３４６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら，前記レーザダイオード駆動回路Ｚ２に設けられた前記トランジスタ１０４からは，前記開扉信号が入力されていない間にも該トランジスタ１０４の特性により微小な電流Ｉｂが出力される。そのため，前記ＡＰＣ回路１０５には，前記電流Ｉａにその微小な電流Ｉｂが重畳された電流Ｉａｂが前記電力量制御回路１０５に流入することとなる。この微小な電流Ｉｂは，前記トランジスタ１０４の周辺環境（温度など）に影響して増減する不安定なものである。したがって，前記ＡＰＣ回路１０５により制御される前記レーザダイオード１０１の発光量が，その微小な電流Ｉｂに影響を受けて増減することとなり，前記レーザダイオード１０１の所望の発光量を精度良く得ることができないという問題が生じる。
従って，本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり，その目的とするところは，メンテナンス扉などが開放された場合にレーザダイオード等の発光を禁止することにより操作者の安全を確保すると共に，前述のＡＰＣ回路によるレーザダイオード等の発光量の高い調整精度を確保することができる画像形成装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記目的を達成するために本発明は，画像データに応じた光を像担持体に照射する光照射手段を備えてなる画像形成装置に適用されるものであって，前記光照射手段による像担持体への光の照射に際して前記光照射手段への電力供給を許可するための電力供給許可信号を出力する電力供給許可信号出力手段と，前記電力供給許可信号出力手段からの電力供給許可信号の入力に応じて前記光照射手段への電力供給を許可する電力供給許可手段とを設けておき，当該画像形成装置に設けられた一又は複数の扉（メンテナンス扉など）が開放された場合に，前記電力供給許可手段への前記電力供給許可信号の入力を阻止するよう構成される。
このような本発明の構成によれば，前記扉が開放された場合には前記電力供給許可手段により前記光照射手段への電力供給が禁止されるため，前記光照射手段によるレーザ光等の光の照射は確実に禁止される。これにより，前記扉が開放された場合に人体に有害なレーザ光等の漏洩を防止して操作者の安全を確保すると共に，前記光照射手段による光の照射量を調整する前述のＡＰＣ回路の高い調整精度をも確保することができる。
ここで，前記電力供給許可信号の入力を阻止する構成としては，例えば，前記電力供給許可信号を前記電力供給許可手段へ導く入力経路とは異なる経路に前記電力供給許可信号を誘導する構成が考えられる。或いは，前記電力供給許可信号出力手段による前記電力供給許可信号の出力を停止させる構成によっても，前記電力供給許可手段への前記電力供給許可信号の入力を阻止することができる。このような構成によって本発明は具現され，前記扉が開放された場合の操作者の安全，及び前記ＡＰＣ回路の高い調整精度が確保され得る。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば，前記扉が開放された場合に前記電力供給許可手段への前記電力供給許可信号の入力を阻止することにより前記光照射手段への電力供給が禁止され，前記光照射手段によるレーザ光等の光の照射が確実に禁止されるため，前記扉が開放された場合の操作者の安全を確保すると共に，前記光照射手段による光の照射量を調整する前述のＡＰＣ回路の高い調整精度をも確保することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下添付図面を参照しながら，本発明の実施の形態について説明し，本発明の理解に供する。尚，以下の実施の形態は，本発明を具体化した一例であって，本発明の技術的範囲を限定する性格のものではない。
ここに，図１は本発明の実施の形態に係る画像形成装置Ｘにおけるメンテナンス扉の開放検知及びレーザダイオード１１の駆動制御に関する回路図，図２は前記画像形成装置Ｘにおける電力供給許可信号入力阻止回路４０の回路図，図３は前記画像形成装置Ｘにおける露光処理の一例を説明するタイミングチャートである。
本発明の実施の形態に係る画像形成装置Ｘは，帯電器により所定電位に一様に帯電された感光体ドラム（像担持体の一例）にレーザ光を照射して原稿画像に対応した静電潜像を前記感光体ドラムの表面上に形成する露光処理を経て，現像装置による現像により前記静電潜像が可視化されたトナー像を給紙カセット等から供給された記録紙に転写，定着させることにより該記録紙に前記原稿画像を形成する電子写真方式の画像形成装置である。本画像形成装置Ｘは，前記露光処理の実行中に当該画像形成装置Ｘに設けられたメンテナンス扉（不図示）が開放された場合に，前記感光体ドラムへのレーザ光の照射を禁止する構成に特徴を有しており，以下，この点について詳述する。なお，一般的な電子写真方式の画像形成装置が備える構成要素については従来と異なるところがないため，ここではその図示及び説明を省略する。
【０００８】
まず，図１を用いて，前記画像形成装置Ｘにおいて前記感光体ドラムにレーザ光を照射するレーザダイオード１１（光照射手段の一例）に関する回路構成の概略について説明する。
図１に示すように，前記画像形成装置Ｘは，前記感光体ドラムにレーザ光を照射するレーザダイオード１１と，該レーザダイオード１１の駆動を制御するレーザダイオード駆動回路１０と，前記メンテナンス扉の開放を検知して該メンテナンス扉が開放された旨を示す開扉信号を下記のＣＰＵ３１に入力する扉開放検知回路２０（扉開放検知手段の一例）と，ＣＰＵ３１及び不図示の周辺装置（ＲＯＭ，ＲＡＭ等）からなり前記ＲＯＭに格納された所定のプログラムに従った処理を実行することにより当該画像形成装置Ｘを統括的に制御する制御部３０と，後述する電力供給許可信号入力阻止回路４０（電力供給許可信号入力阻止手段の一例）と，を具備している。前記各回路には，商用交流電源から供給される交流電力（例えばＡＣ１００Ｖ）を直流電力（例えばＤＣ５Ｖ）に変換する不図示のＡＣ／ＤＣ変換器等の電源から，その直流電力が供給されている（図示するＶｃｃ−ＧＮＤ）。なお，前記レーザダイオード１１を，前記レーザダイオード駆動回路１０により制御されて画像データに応じた光を前記感光体ドラムに照射する光照射手段の一例として説明するが，これに限られず，発光ダイオード等の光源を前記光照射手段の他の例として用いてもよい。
本実施の形態における前記ＣＰＵ３１は，前記画像形成装置Ｘにおける前記露光処理の開始に際して，即ち前記レーザダイオード１１による前記感光体ドラムへのレーザ光の照射に際して，該レーザダイオード１１への電力供給を許可するための電力供給許可信号を前記レーザダイオード駆動回路１０に出力する処理を実行するものである。なお，かかる処理を実行するときの前記ＣＰＵ３１が，電力供給許可信号出力手段に相当する。また，前記電力供給許可信号出力手段としては，前記ＣＰＵ３１に限られず，前記制御部３０に設けられて当該画像形成装置Ｘにおける前記画像形成処理の各工程を実行する不図示のＡＳＩＣやＤＳＰなどの集積回路（演算手段）を他の例として用いてもよい。
【０００９】
前記レーザダイオード駆動回路１０は，図１に示すように，前記レーザダイオード１１の発光量を検出して該検出した発光量に応じた大きさの電流を出力するフォトダイオード１２と，前記制御部３０により不図示の画像メモリ等から転送されて入力されるＶｉｄｅｏ信号（画像データ）に基づいて前記レーザダイオード１１へ供給される電力を制御するスイッチング回路１３と，前記フォトダイオード１２から出力される電流の電流値に応じて前記レーザダイオード１１へ供給される電力量を制御することにより該レーザダイオード１１の発光量を所定の発光量に維持するＡＰＣ処理を行うＡＰＣ回路１４と，前記ＣＰＵ３１から出力される電力供給許可信号の入力の有無に応じて前記レーザダイオード１１への電力供給の許可／不許可を切り替える電力供給許可回路１５（電力供給許可手段の一例）と，を備えて概略構成されている。本実施の形態における前記電力供給許可回路１５は，図示するように，前記電力供給許可信号の入力により作動するトランジスタ１５１を有して構成されており，前記電力供給許可信号が入力されている間は前記レーザダイオード１１への電力供給を許可し（Ｖｃｃ−ＧＮＤ間を通電可能とし），入力されていない間は前記レーザダイオード１１への電力供給を禁止する（Ｖｃｃ−ＧＮＤ間を遮断する）ものである。
【００１０】
前記扉開放検知回路２０は，前記メンテナンス扉が開放された場合に接点を開放する接点スイッチ２１と，該接点スイッチ２１の接点が閉じられて通電状態にある場合に発光する発光ダイオード２２ａ及び該発光ダイオード２２ａが発光状態にある場合に作動してＶｃｃ−ＧＮＤ間を通電するフォトトランジスタ２２ｂを有するフォトカプラ２２と，該フォトカプラ２２の作動状態（Ｖｃｃ−ＧＮＤ間の通電状態）を監視することにより前記メンテナンス扉の開放を検知し，該検知に応じてメンテナンス扉の開放を示す開扉信号を前記制御部３０のＣＰＵ３１に入力するＩ／Ｏインターフェース２４と，を備えて概略構成されている。なお，前記メンテナンス扉としては，前記画像形成装置Ｘの前面，背面，側面或いは内部に設けられた扉など，その扉の開放により前記レーザダイオード１１のレーザ光が外部に漏洩する危険性のあるものが考えられ，一又は複数の扉であってもよい。
一方，この扉開放検知回路２０から前記開扉信号を受信した前記ＣＰＵ３１は，該開扉信号を後述する電力供給許可信号入力阻止回路４０へ送信する。
【００１１】
ここで，図２を用いて，前記ＣＰＵ３１から前記電力供給許可回路１５への前記電力供給許可信号の入力を阻止する電力供給許可信号入力阻止回路４０について説明する。
図２に示すように，前記電力供給許可信号入力阻止回路４０は，ＮＰＮ型のトランジスタ４１及び４２と，該トランジスタ４１及び４２の作動状態に応じて切り替えられる入力経路４３及び誘導経路４４と，を備えて構成されている。前記入力経路４３は，前記ＣＰＵ３１から出力される前記電力供給許可信号を前記電力供給許可回路１５へ導く伝送路であり，前記誘導経路４４は，前記入力経路４３とは異なり前記ＣＰＵ３１から出力される前記電力供給許可信号を前記トランジスタ４２のコレクタ−エミッタ間を経てＧＮＤに導く伝送路であって，前記ＣＰＵ３１から出力される前記電力供給許可信号がこれらの伝送路に同時に伝送されることはない。
前記トランジスタ４１は，ベースが前記ＣＰＵ３１に，コレクタがＶｃｃに，エミッタが前記トランジスタ４２のベースに各々接続されており，前記ＣＰＵ３１から入力される開扉信号に応じて作動し，Ｖｃｃと前記トランジスタ４２のベースとの間の通電状態を切り替えるものである。具体的には，前記トランジスタ４１は，前記開扉信号の入力によるベースへの電流の流入によって，コレクタ−エミッタ間を通電し，前記トランジスタ４２のベースにＶｃｃからの電流を出力する。
また，前記トランジスタ４２は，ベースが前記トランジスタ４１のエミッタに，コレクタが前記ＣＰＵ３１に，エミッタがＧＮＤに各々接続されており，前記トランジスタ４１の作動に応じて作動し，前記ＣＰＵ３１とＧＮＤとの通電状態を切り替えるものである。具体的には，前記トランジスタ４２は，前記トランジスタ４１から出力された電流がベースに入力されることによって，コレクタ−エミッタ間を通電し，即ち前記ＣＰＵ３１とＧＮＤとを通電する。このとき，前記ＣＰＵ３１から出力される前記電力供給許可信号は前記誘導経路４４を介してＧＮＤに誘導されることとなる。
このように構成された前記電力供給許可信号入力阻止回路４０では，前記トランジスタ４１のベースに前記ＣＰＵ３１から開扉信号が入力されると，該トランジスタ４１及び前記トランジスタ４２が作動し，前記入力経路４３と前記誘導経路４４とが切り替えられる。これにより，前記ＣＰＵ３１から出力される前記電力供給許可信号が，前記入力経路４３とは異なる前記誘導経路４４に誘導されることとなり，前記電力供給許可回路１５への前記電力供給許可信号の入力が阻止される。なお，前記電力供給許可信号入力阻止回路４０は，図示するように前記制御部３０及び前記電力供給許可回路１５の間に設けられてもよいが，もちろん前記レーザダイオード駆動回路１０に搭載されるものであってもよく，また，これに限られない。
したがって，本画像形成装置Ｘでは，前記メンテナンス扉の開放時に，前記ＣＰＵ３１から前記電力供給許可回路１５への前記電力供給許可信号の入力が，前記電力供給許可信号入力阻止回路４０により阻止されるため，前記レーザダイオード１１への電力供給が禁止され，前記レーザダイオード１１によるレーザ光の照射が禁止される。
【００１２】
以下，図１及び図２を参照しつつ図３のタイミングチャートを用いて，本発明の実施の形態に係る画像形成装置Ｘにおける露光処理の一例について説明する。なお，以下の説明中に記すＰ１〜Ｐ４は，図３のタイミングチャートに示す動作時点の識別符号を表す。ここに，図３の（ａ）はＣＰＵ３１から出力される電力供給許可信号，（ｂ）は電力供給許可回路１５へ入力される電力供給許可信号，（ｃ）はＶｉｄｅｏ信号，（ｄ）はレーザダイオード１１への電力供給状態，（ｅ）はＡＰＣ信号，（ｆ）はＣＰＵ３１から出力される開扉信号を示すタイミングチャートである。
まず，前記画像形成装置Ｘにおいて前記制御部３０により前記画像形成処理が開始され，前記感光体ドラムが帯電器により所定電位に一様に帯電されると，前記露光処理の実行に際して前記ＣＰＵ３１から前記電力供給許可回路１５に向けて前記電力供給許可信号（ａ）が出力される（Ｐ１の時点）。このとき，前記メンテナンス扉が閉鎖されている状態，即ち開扉信号（ｆ）が前記電力供給許可信号入力阻止回路４０へ入力されていない状態（Ｐ４の時点以前）であるため，前記電力供給許可信号入力阻止回路４０のトランジスタ４１及び４２（図２参照）は作動していない状態にある。したがって，前記ＣＰＵ３１から出力された前記電力供給許可信号（ａ）は，前記入力経路４３を介して前記電力供給許可回路１５へ導かれて前記電力供給許可回路１５に入力される（図３（ｂ））。これにより，前記電力供給許可回路１５の前記トランジスタ１５１が作動し，前記レーザダイオード駆動回路１０における前記レーザダイオード１１への電力供給は許可された状態（Ｖｃｃ−ＧＮＤ間が通電可能な状態）となる。
【００１３】
次に，前記レーザダイオ−ド１１の発光量が所定の発光量であるか否かを判断して該レーザダイオード１１へ供給される電力量を増減させるＡＰＣ処理が前記ＡＰＣ回路１４によって行われる（Ｐ２の時点）。このＡＰＣ処理の実行中（図示するｔ１）には，前記ＡＰＣ回路１４から前記スイッチング回路１３にＡＰＣ信号（ｅ）が送信される。ここに，前記ＡＰＣ信号（ｅ）は，前記スイッチング回路１３に対して前記レーザダイオード１１への電力の供給を指示するものである。これにより，前記ＡＰＣ信号（ｅ）が入力された前記スイッチング回路１３では，該ＡＰＣ信号（ｅ）が入力されている間，前記レーザダイオード１１へ電力を供給する処理が行われる（図３（ｄ））。
なお，前記ＡＰＣ処理は所定間隔毎に行われ，該レーザダイオード１１の発光量は前記所定の発光量に維持される。例えば，本実施の形態におけるＡＰＣ処理では，前記レーザダイオード１１による原稿画像の一ラインの走査が終了する間隔ｔ２毎に実行される。なお，前記ＡＰＣ回路１４により実行されるＡＰＣ処理は，特許文献１の記載のように前記レーザダイオード１１の発光量を常時制御するものであってもかまわない。
【００１４】
続いて，前記制御部３０による前記スイッチング回路１３へのＶｉｄｅｏ信号（ｃ）の入力が開始されると（Ｐ３の時点），該スイッチング回路１３により前記Ｖｉｄｅｏ信号に基づく前記レーザダイオード１１への電力供給の制御が開始される。これにより，図３（ｄ）に示すように，前記レーザダイオード１１が，前記スイッチング回路１３により前記Ｖｉｄｅｏ信号（ｃ）に基づいて制御された供給電力に応じて発光，消灯を繰り返し，該Ｖｉｄｅｏ信号（ｃ）に応じたレーザ光を前記感光体ドラムへ照射する露光処理が実行される。
【００１５】
ところで，前述したように，この露光処理の実行中に，当該画像形成装置Ｘの前記メンテナンス扉が操作者により不用意に開放されると，操作者に有害なレーザ光が漏洩する危険性がある。そのため，本実施の形態における前記画像形成装置Ｘは前記電力供給許可信号入力阻止回路４０を備えており，これによって，前記メンテナンス扉の開放に伴って前記レーザダイオード１１の発光が禁止される。
まず，前記メンテナンス扉が開放されると，該メンテナンス扉の開放が前記扉開放検知回路２０により検知されて開扉信号が前記ＣＰＵ３１に入力される。そして，これに応じて前記ＣＰＵ３１から出力される開扉信号（ｆ）が前記電力供給許可信号入力阻止回路４０へ入力されると（Ｐ４の時点），該電力供給許可信号入力阻止回路４０のトランジスタ４１及び４２が作動し，前記入力経路４３と前記誘導経路４４とが切り替えられる。これにより，前記ＣＰＵ３１から前記入力経路４３を介して前記電力供給許可回路１５に入力されていた前記電力供給許可信号は，前記誘導経路４４に誘導されることとなる。即ち，前記電力供給許可回路１５への前記電力供給許可信号の入力が阻止される（図３（ｂ））。したがって，前記電力供給許可回路１５のトランジスタ１５１の作動が停止して前記レーザダイオード１１への電力供給が禁止されるため，前記Ｖｉｄｅｏ信号（ｃ）に基づく前記スイッチング回路１３による制御状態にかかわらず，該レーザダイオード１１の発光は停止する（図３（ｄ））。
なお，本実施の形態における前記電力供給許可信号入力阻止回路４０は，前記電力供給許可信号を前記入力経路４３とは異なる前記誘導経路４４へ誘導することにより，前記電力供給許可回路１５への前記電力供給許可信号の入力を阻止するものであるが，これに限られず，例えば前記メンテナンス扉の開放時に接点を開放して，前記電力供給許可回路１５への前記電力供給許可信号の入力を阻止する接点スイッチや継電器などを用いた回路構成であってもよい。
【００１６】
その後，前記電力供給許可回路１５への前記電力供給許可信号の入力が阻止された状態は，前記メンテナンス扉が閉鎖されるまで継続される（図３（ｂ））。その間に，前記ＡＰＣ回路１４により前記スイッチング回路１３に前記ＡＰＣ信号（ｅ）が出力されたとしても，前記レーザダイオード１１への電力供給が前記電力供給許可回路１５により禁止されているため，該レーザダイオード１１が発光することはない。なお，前記ＡＰＣ処理の実行中に前記メンテナンス扉が開放された場合には，該ＡＰＣ処理の実行状態にかかわらず，前記レーザダイオード１１の発光が停止されることはいうまでもない。
【００１７】
以上説明したように，前記画像形成装置Ｘでは，前記メンテナンス扉が開放された場合には，前記電力供給許可回路１５への前記電力供給許可信号の入力が前記電力供給許可信号入力阻止回路４０によって阻止され，前記レーザダイオード１１への電力供給が前記電力供給許可回路１５により禁止されるため，該レーザダイオード１１の発光が確実に禁止される。これにより，前記メンテナンス扉が開放された場合における前記レーザダイオード１１のレーザ光の漏洩を防止し，操作者の安全を確保することができる。
しかも，前記画像形成装置Ｘでは，前記ＡＰＣ回路１４に入力される電流，即ち前記レーザダイオード１１へ供給する電力量の制御の指標となる電流は，前記フォトダイオード１２から出力される電流のみであるため，該ＡＰＣ回路１４による前記レーザダイオード１１の発光量の高い調整精度が確保される。
【実施例】
【００１８】
ここに，図４は，本発明の実施例に係る画像形成装置Ｙにおけるメンテナンス扉の開放検知及びレーザダイオード１１の駆動制御に関する回路図である。なお，前記実施の形態に係る画像形成装置Ｘと同様の構成要素には，同じ符号を用いてその説明を省略する。
本実施例に係る前記画像形成装置Ｙは，図４に示すように，前記実施の形態における前記電力供給許可信号入力阻止回路４０を備えておらず，前記ＣＰＵ３１から前記電力供給許可回路１５に向けて出力される前記電力供給許可信号は直接該電力供給許可回路１５に入力されている。
ここで，本実施例における前記ＣＰＵ３１は，前記メンテナンス扉が閉鎖されている場合にのみ，前記露光処理の実行などの必要に応じて前記電力供給許可回路１５へ前記電力供給許可信号を出力するものである。
即ち，本画像形成装置Ｙでは，前記露光処理の実行に際して前記ＣＰＵ３１から前記電力供給許可信号が出力されるが，該露光処理の実行中に，前記扉開放検知回路２０により前記メンテナンス扉の開放が検知され，前記ＣＰＵ３１に開扉信号が入力されると，該ＣＰＵ３１では前記電力供給許可回路１５への前記電力供給許可信号の出力処理を停止するための処理が実行される。なお，かかる電力供給許可信号の出力処理の停止処理を実行するときの前記ＣＰＵ３１が電力供給許可信号入力阻止手段に相当する。これにより，前記ＣＰＵ３１からの前記電力供給許可信号の出力が停止されると，前記電力供給許可回路１５への前記電力供給許可信号の入力が停止するため，該電力供給許可回路１５により前記レーザダイオード１１への電力の供給が禁止される。
したがって，このように構成される前記画像形成装置Ｙにおいても，前記メンテナンス扉が開放された場合に，前記レーザダイオード１１の発光が確実に禁止されるため，操作者の安全を確保すると共に，前記ＡＰＣ回路１４の機能に影響を与えることなく，該ＡＰＣ回路１４による前記レーザダイオード１１の発光量の高い調整精度を確保することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】本発明の実施の形態に係る画像形成装置Ｘにおけるメンテナンス扉の開放検知及びレーザダイオード１１の駆動制御に関する回路図。
【図２】本発明の実施の形態に係る画像形成装置Ｘにおける電力供給許可信号入力阻止回路４０の回路図。
【図３】本発明の実施の形態に係る画像形成装置Ｘにおける露光処理の一例を説明するタイミングチャート。
【図４】本発明の実施例に係る画像形成装置Ｙにおけるメンテナンス扉の開放検知及びレーザダイオード１１の駆動制御に関する回路図。
【図５】従来のレーザダイオード駆動回路Ｚ１の一例を示す概念図。
【図６】特許文献１に示された技術を適用したレーザダイオード駆動回路Ｚ２の概念図。
【符号の説明】
【００２０】
１０…レーザダイオード駆動回路
１１…レーザダイオード（光照射手段の一例）
１２…フォトダイオード
１３…スイッチング回路
１４…ＡＰＣ回路
１５…電力供給許可回路（電力供給許可手段の一例）
２０…扉開放検知回路（扉開放検知手段の一例）
２１…接点スイッチ
２２…フォトカプラ
２２ａ…発光ダイオード
２２ｂ…フォトトランジスタ
２４…Ｉ／Ｏインターフェース
３０…制御部
３１…ＣＰＵ（電力供給許可信号出力手段，電力供給許可信号入力阻止手段の一例）
４０…電力供給許可信号入力阻止回路（電力供給許可信号入力阻止手段の一例）
４１，４２，１５１…トランジスタ
４３…入力経路
４４…誘導経路
【図１】
2006145670.tif 000003
【図２】
2006145670.tif 000004
【図３】
2006145670.tif 000005
【図４】
2006145670.tif 000006
【図５】
2006145670.tif 000007
【図６】
2006145670.tif 000008