(57)【要約】【課題】表示画面のむらやしみ等の検出に適し、しかも自動検出が可能な液晶表示装置の検査装置及び検査方法を提供すること。【解決手段】ＴＦＴ素子を有した素子基板１とこれに対向した対向基板２間に液晶を配し、前記ＴＦＴ素子のソース電極及びゲート電極を駆動する為の信号を供給する複数の第１の端子８と、共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子９を有した液晶表示装置の表示状態を検査する検査装置であって、前記第１の端子８に通常の駆動信号を供給する手段と、前記第２の端子９に一定の直流電圧を供給する手段と、液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子９の電圧を監視し、液晶表示パネルの良否を電気信号の不均一性の大小として判定する判定手段１１と、を備えたものである。【選択図】  図１
2006091417.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
ＴＦＴ素子を有した素子基板とこれに対向した対向基板間に液晶を配し、前記ＴＦＴ素子のソース電極及びゲート電極を駆動する為の信号を供給する複数の第１の端子と、共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子を有した液晶表示装置の表示状態を検査する検査装置であって、
前記第１の端子に通常の駆動信号を供給する手段と、
前記第２の端子に一定の直流電圧を供給する手段と、
液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧の波形変化を基にして、液晶パネルの良否を判定するための判定手段と、
を備えたことを特徴とする液晶表示装置の検査装置。
【請求項２】
ＴＦＴ素子を有した素子基板とこれに対向した対向基板間に液晶を配し、前記ＴＦＴ素子のソース電極及びゲート電極を駆動する為の信号を供給する複数の第１の端子と、共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子を有した液晶表示装置の表示状態を検査する検査装置であって、
前記第１の端子に検査用の駆動信号を供給する手段と、
前記第２の端子に一定の直流電圧を供給する手段と、
液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に積分し、その積分値を液晶パネルの走査期間毎の不均一性の大小として判定する判定手段と、
を備えたことを特徴とする液晶表示装置の検査装置。
【請求項３】
前記判定手段は、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に積分した値を、異常のない走査期間の平均的な積分値を基準値として、相対的に不均一成分を判別することを特徴とする請求項２に記載の液晶表示装置の検査装置。
【請求項４】
ＴＦＴ素子を有した素子基板とこれに対向した対向基板間に液晶を配し、前記ＴＦＴ素子のソース電極及びゲート電極を駆動する為の信号を供給する複数の第１の端子と、共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子を有した液晶表示装置の表示状態を検査する検査装置であって、
前記第１の端子に検査用の駆動信号を供給する手段と、
前記第２の端子に一定の直流電圧を供給する手段と、
液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に微分し、その微分値を液晶パネルの走査期間毎の不均一性の大小として判定する判定手段と、
を備えたことを特徴とする液晶表示装置の検査装置。
【請求項５】
前記判定手段は、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に微分した値を、異常のない走査期間の平均的な微分値を基準値として、相対的に不均一成分を判別することを特徴とする請求項４に記載の液晶表示装置の検査装置。
【請求項６】
ＴＦＴ素子を有した素子基板とこれに対向した対向基板間に液晶を配し、前記ＴＦＴ素子のソース電極及びゲート電極を駆動する為の信号を供給する複数の第１の端子と、共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子を有した液晶表示装置の表示状態を検査する検査装置であって、
前記第１の端子に検査用の駆動信号を供給する手段と、
前記第２の端子に一定の直流電圧を供給する手段と、
液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に積分し、その積分値を液晶パネルの走査期間毎の不均一性の大小として判定する第１の判定手段と、
液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に微分し、その微分値を液晶パネルの走査期間毎の不均一性の大小として判定する第２の判定手段と、
を備えたことを特徴とする液晶表示装置の検査装置。
【請求項７】
前記第１の判定手段は、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に積分した値を、異常のない走査期間の平均的な積分値を基準値として、相対的に不均一成分を判別し、
前記第２の判定手段は、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に微分した値を、異常のない走査期間の平均的な微分値を基準値として、相対的に不均一成分を判別することを特徴とする請求項６に記載の液晶表示装置の検査装置。
【請求項８】
液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧を前記判定手段に導出する際には、前記第２の端子の電圧を所定値以上の高抵抗を介して前記判定手段に導くことを特徴とする請求項１乃至７に記載の液晶表示装置の検査装置。
【請求項９】
前記判定手段は、前記駆動信号を供給する手段を制御して、走査期間の駆動時間を通常の駆動時間より長くする手段を有したことを特徴とする請求項２乃至８に記載の液晶表示装置の検査装置。
【請求項１０】
前記判定手段は、前記駆動信号を供給する手段を制御して、画面上の位置に対応したスタート信号と同期させながら走査期間の駆動時間を通常の駆動時間より長くする手段を有したことを特徴とする請求項４乃至９に記載の液晶表示装置の検査装置。
【請求項１１】
ＴＦＴ素子を有した素子基板とこれに対向した対向基板間に液晶を配し、前記ＴＦＴ素子のソース電極及びゲート電極を駆動する為の信号を供給する複数の第１の端子と、共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子を有した液晶表示装置の表示状態を検査する検査方法であって、
前記第１の端子に通常の駆動信号を供給し、
前記第２の端子に一定の直流電圧を供給し、
液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧の波形変化を基にして、液晶パネルの良否を判定する
ことを特徴とする液晶表示装置の検査方法。
【請求項１２】
ＴＦＴ素子を有した素子基板とこれに対向した対向基板間に液晶を配し、前記ＴＦＴ素子のソース電極及びゲート電極を駆動する為の信号を供給する複数の第１の端子と、共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子を有した液晶表示装置の表示状態を検査する検査方法であって、
前記第１の端子に検査用の駆動信号を供給し、
前記第２の端子に一定の直流電圧を供給し、
液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に積分又は微分し、
その積分値又は微分値を液晶パネルの走査期間毎の不均一性の大小として判定する
ことを特徴とする液晶表示装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、液晶パネルに表示される画面のむらやしみを検出し、不均一性の大小と
して判定する液晶表示装置の検査装置及び検査方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、液晶表示装置の製造工程における表示画面の欠陥やむらなどは目視による検査を行なったり、或いは表示画面をカメラによって撮影し、その撮影画面の良否を判定することによって行っていた。
【０００３】
従来の液晶表示装置の検査装置としては、例えば特許文献１,２に記載されているものがある。
【０００４】
特許文献１には、液晶表示器の透明電極端子部の反対側の端子部を延長して適宜のピッチで検査端子部を配列し、この配列した検査端子部に検査用プローブのピンを接触させ、各端子部の駆動信号をスキャナーで順次取り込み、アナロクファンクションテスターで標準波形と比較して表示品位をチェックすることが記載されている。
【０００５】
また、特許文献２には、極性反転前後の表示映像を画面の表示部の中央に向かって移動させ、極性反転前の表示映像と極性反転後の表示映像とをその画面の中央部分で突き合わせることにより、目視でそのコントラストを比較して画面のコントラストむらを検査することが記載されている。
【特許文献１】特開平６−５８９７２号公報
【特許文献２】特開平６−１０２８３８号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、従来の目視検査は不正確であったり人手を要し、またカメラ撮影画面での良否判定には高価な光学系を必要としていた。
【０００７】
特許文献１は、駆動信号を検査に用いている為微妙な変化量を検出しにくく、むらやしみ等の微妙な変化の検出に用いることは適当ではない。
【０００８】
また、特許文献２については、目視による検出のため正確さに欠けたり、作業時間を要したりする。
【０００９】
そこで、本発明は、上記の点に鑑み、表示画面のむらやしみ等の検出に適し、しかも自動検出が可能な液晶表示装置の検査装置及び検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本発明による液晶表示装置の検査装置は、ＴＦＴ素子を有した素子基板とこれに対向した対向基板間に液晶を配し、前記ＴＦＴ素子のソース電極及びゲート電極を駆動する為の信号を供給する複数の第１の端子と、共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子を有した液晶表示装置の表示状態を検査する検査装置であって、前記第１の端子に通常の駆動信号を供給する手段と、前記第２の端子に一定の直流電圧を供給する手段と、液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧の波形変化を基にして、液晶パネルの良否を判定するための判定手段と、を備えたものである。
【００１１】
この発明の構成によれば、表示画面のむらやしみのような微妙な変化量を電気信号の不均一成分の大小として判別することが可能となる。
【００１２】
本発明による液晶表示装置の検査装置は、ＴＦＴ素子を有した素子基板とこれに対向した対向基板間に液晶を配し、前記ＴＦＴ素子のソース電極及びゲート電極を駆動する為の信号を供給する複数の第１の端子と、共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子を有した液晶表示装置の表示状態を検査する検査装置であって、前記第１の端子に検査用の駆動信号を供給する手段と、前記第２の端子に一定の直流電圧を供給する手段と、液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に積分し、その積分値を液晶パネルの走査期間毎の不均一性の大小として判定する判定手段と、を備えたものである。
【００１３】
このような構成によれば、表示むらやしみのような面積的には大きいが、周囲との変化量が微小な場合でも、１走査期間分のコモン電圧につきその変化量を積分すれば、電気的に目立った大きさの信号として検出でき、従って表示むらやしみの検出が可能となる。
【００１４】
本発明の上記液晶表示装置の検査装置において、前記判定手段は、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に積分した値を、異常のない走査期間の平均的な積分値を基準値として、相対的に不均一成分を判別することが好ましい。
【００１５】
このように基準値との比較により、‘０’,‘１’による良否判定が可能となり、面積的に広い表示むらなどの検査作業を自動化することが可能となる。
【００１６】
本発明による液晶表示装置の検査装置は、ＴＦＴ素子を有した素子基板とこれに対向した対向基板間に液晶を配し、前記ＴＦＴ素子のソース電極及びゲート電極を駆動する為の信号を供給する複数の第１の端子と、共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子を有した液晶表示装置の表示状態を検査する検査装置であって、前記第１の端子に検査用の駆動信号を供給する手段と、前記第２の端子に一定の直流電圧を供給する手段と、液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に微分し、その微分値を液晶パネルの走査期間毎の不均一性の大小として判定する判定手段と、を備えたものである。
【００１７】
このような構成によれば、液晶パネルの配向膜の傷など（或いは異物の存在など）に起因したスジ状のむらのように面積的に小さいが非常に急峻な異常がある場合でも、１走査期間分の期間のコモン電圧につき微分すれば、電気的に目立った大きさの信号として検出でき、従ってキズ状のむらや傷などの検出が可能となる。
【００１８】
本発明の上記液晶表示装置の検査装置において、前記判定手段は、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に微分した値を、異常のない走査期間の平均的な微分値を基準値として、相対的に不均一成分を判別することが好ましい。
【００１９】
このように基準値との比較により、‘０’,‘１’による良否判定が可能となり、キズ状の表示欠陥の検査作業を自動化することが可能となる。
【００２０】
本発明による液晶表示装置の検査装置は、ＴＦＴ素子を有した素子基板とこれに対向した対向基板間に液晶を配し、前記ＴＦＴ素子のソース電極及びゲート電極を駆動する為の信号を供給する複数の第１の端子と、共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子を有した液晶表示装置の表示状態を検査する検査装置であって、前記第１の端子に検査用の駆動信号を供給する手段と、前記第２の端子に一定の直流電圧を供給する手段と、液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に積分し、その積分値を液晶パネルの走査期間毎の不均一性の大小として判定する第１の判定手段と、液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に微分し、その微分値を液晶パネルの走査期間毎の不均一性の大小として判定する第２の判定手段と、を備えたものである。
【００２１】
このような構成によれば、表示むらやしみのような面積的には大きいが、周囲との変化量が微小な場合でも、また液晶パネルの配向膜の傷など（或いは異物の存在など）に起因したスジ状のむらのように面積的に小さいが非常に急峻な異常がある場合でも、積分による第１の判定手段と、微分による第２の判定手段との２つの判定手段を有しているので、１走査期間分のコモン電圧につきその変化量を積分することによって、面積的に大きいが微小な変化に対しても電気的に目立った大きさの信号として検出でき、また、１走査期間分の期間のコモン電圧につき微分することによって、面積的に小さい急峻な異常に対しても電気的に目立った大きさの信号として検出でき、従って表示むらや傷などの検出が可能となる。
【００２２】
本発明の上記液晶表示装置の検査装置において、前記第１の判定手段は、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に積分した値を、異常のない走査期間の平均的な積分値を基準値として、相対的に不均一成分を判別し、前記第２の判定手段は、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に微分した値を、異常のない走査期間の平均的な微分値を基準値として、相対的に不均一成分を判別することが好ましい。
【００２３】
このように基準値との比較により、‘０’,‘１’による良否判定が可能となり、表示画面のむらを含む各種の表示欠陥の検査作業を自動化することが可能となる。
【００２４】
本発明の上記液晶表示装置の検査装置において、液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧を前記判定手段に導出する際には、前記第２の端子の電圧を所定値以上の高抵抗を介して前記判定手段に導くことが好ましい。
【００２５】
このような構成によれば、判定手段は高抵抗を介して共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子に電気的に接続しているので、判定系が駆動系であるコモン電圧供給手段に影響を与えることを無くすことができる。
【００２６】
本発明の上記液晶表示装置の検査装置において、前記判定手段は、前記駆動信号を供給する手段を制御して、走査期間の駆動時間を通常の駆動時間より長くする手段を有することが好ましい。
【００２７】
このように走査期間の駆動時間を通常の駆動時間より長くする手段を備えることにより、スキャンスピードが遅くなるので、垂直方向に並んだ走査期間のうちどの走査期間の異常を判定しているのかという走査期間の選択性が可能となる。走査期間の駆動時間即ち１水平時間を長くしてゆっくりとスキャンさせると、今どの走査期間をスキャンしているのかが観察者の目にも分ることになり、欠陥ラインを特定することが可能になる。
【００２８】
本発明の上記液晶表示装置の検査装置において、前記判定手段は、前記駆動信号を供給する手段を制御して、画面上の位置に対応したスタート信号と同期させながら走査期間の駆動時間を通常の駆動時間より長くする手段を有することが好ましい。
【００２９】
このように画面上の位置に対応したスタート信号と同期させながら走査期間の駆動時間を通常の駆動時間より長くする手段を備えることにより、スキャンしながらも画面のどこにむらがあるかを知ることが可能となる。
【００３０】
本発明による液晶表示装置の検査方法は、ＴＦＴ素子を有した素子基板とこれに対向した対向基板間に液晶を配し、前記ＴＦＴ素子のソース電極及びゲート電極を駆動する為の信号を供給する複数の第１の端子と、共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子を有した液晶表示装置の表示状態を検査する検査方法であって、前記第１の端子に通常の駆動信号を供給し、前記第２の端子に一定の直流電圧を供給し、液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧の波形変化を基にして、液晶パネルの良否を判定することを特徴とする。
【００３１】
この発明の方法によれば、表示画面のむらやしみのような微妙な変化量を電気信号の不均一成分の大小として判別することが可能となる。
【００３２】
本発明による液晶表示装置の検査方法は、ＴＦＴ素子を有した素子基板とこれに対向した対向基板間に液晶を配し、前記ＴＦＴ素子のソース電極及びゲート電極を駆動する為の信号を供給する複数の第１の端子と、共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子を有した液晶表示装置の表示状態を検査する検査方法であって、前記第１の端子に検査用の駆動信号を供給し、前記第２の端子に一定の直流電圧を供給し、液晶表示装置の駆動状態で、前記第２の端子の電圧を走査期間毎に積分又は微分し、その積分値又は微分値を液晶パネルの走査期間毎の不均一性の大小として判定することを特徴とする。
【００３３】
このような方法によれば、積分又は微分による判定手段を有しているので、表示むらやしみのような面積的には大きいが、周囲との変化量が微小な場合、或いは液晶パネルの配向膜の傷など（或いは異物の存在など）に起因したスジ状のむらのように面積的に小さいが非常に急峻な異常がある場合、１走査期間分のコモン電圧につきその変化量を積分又は微分することによって、面積的に大きいが微小な変化に対しても電気的に目立った大きさの信号として検出でき、或いは、１走査期間分の期間のコモン電圧につき微分することによって、面積的に小さい急峻な異常に対しても電気的に目立った大きさの信号として検出できる。
【発明の効果】
【００３４】
本発明の査装置及び検査方法によれば、共通電極にコモン電圧を供給する第２の端子の電圧を監視することで、液晶パネルの良否判定が可能なようにコモン電圧波形を表示したり或いは１枚の液晶パネルの中での正常部分か異常部分かの判定を電気信号の不均一性として検出したりできる。液晶パネル画面上の微妙な変化量を電気的に目立たせて計測でき、液晶画面のむらやしみ等の検出が容易となり、しかも自動的な検出が可能となる。
【００３５】
液晶画面上の微妙な変化量を電気的に目立たせて計測することが可能であるため、液晶パネル間での良否判定を容易に行え、１枚の液晶パネルでの異常部分と正常部分との判別を速やかに行え、液晶表示装置の製造工程における工程管理に応用することも可能である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３６】
発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
【００３７】
図１は本発明に係る液晶表示装置の検査装置を説明する図であり、図２は図１のＡ−Ａ線断面図である。
【００３８】
これらの図に示すように、液晶表示装置は、ＴＦＴ素子４を有した素子基板１とこれに対向した対向基板２との間にシール材５を用いて液晶３が配された状態で、素子基板１と対向基板２とが貼り合わされている。液晶表示装置は、素子基板１における対向基板２との重なり合わない部分（張出し領域）に、ＴＦＴ素子４のソース電極及びゲート電極（いずれも図示せず）に対して駆動信号を供給する駆動回路としてのドライブ用ＩＣ６と、さらに、このドライブ用ＩＣ６に前記駆動信号の元となる映像信号，タイミング制御パルス及びドライブ用電源電圧を供給する例えばフレキシブルプリント基板で構成される外部入力用基板７と、この外部入力用基板7に設けた駆動信号入力用の複数の端子８と、前記対向基板２の内面に配された共通電極２ａにコモン電圧を供給する端子９と、を有している。端子８，９は駆動系回路の端子と呼ぶことができる。
【００３９】
なお、ＴＦＴ素子４を含む半導体層の表面にはドレインに接続した画素電極４ａが形成されている。対向基板２の内面に形成された共通電極２ａの表面には配向膜（図示せず）が形成されており、前記画素電極４ａの表面を含みシール材５で囲まれた領域内に配向膜（図示せず）が形成されている。
【００４０】
また、図１及び図２の符号２ｂ,２ｃ,２ｄにて示される配線は、対向基板２の共通電極２ａとコモン電圧の端子９とを電気的に接続する配線を示している。ドライブ用ＩＣ６の入力側配線と駆動信号入力用の複数の端子８とを電気的に接続する配線については、図示を省略してある。
【００４１】
液晶表示装置は、素子基板1と対向基板２を含む液晶パネル部分と、これに電気的に接続した外部入力用基板７とで構成される。
【００４２】
検査装置は、図示しない駆動信号供給手段及びコモン電圧供給手段を備えた駆動系回路と、判定手段１１とで構成される。
【００４３】
外部入力用基板７に設けた駆動信号入力用の複数の端子８には、図示しない駆動信号供給手段からＴＦＴ素子４のソース電極及びゲート電極（図示せず）に通常の駆動信号又は検査用の駆動信号が供給される。通常の駆動信号とは、通常の表示用同期信号を備えた映像信号であり、検査用の駆動信号とは特定のパターン（白黒信号パターンも含む）の検査に適した映像信号或いは通常より周期の長い同期信号を備えた映像信号である。また、対向基板２の内面に設けた前記共通電極２ａと電気的に接続するコモン電圧の前記端子９には、図示しないコモン電圧供給手段から一定の直流電圧が供給される。
【００４４】
コモン電圧の端子９は、図示しないコモン電圧供給手段に接続される一方、所定値以上の高い抵抗値を有する抵抗１０を介して判定手段１１に接続されている。抵抗１０の抵抗値は、例えば１ＭΩ以上である。抵抗１０は、液晶パネルの良否を判定可能なようにコモン電圧波形を表示したり、或いは１枚の液晶パネルの中での正常部分か異常部分かの判定を電気信号の不均一性として検出するための判定手段１１が、駆動信号及びコモン電圧を供給する前記駆動系回路に影響を与えないように高抵抗とされる。
【００４５】
なお、図１では、駆動回路としてのドライブ用ＩＣ６が素子基板１の張出し領域に配置された状態を示しているが、ドライブ用ＩＣ６が素子基板１上に配設される前の（即ちドライブ用ＩＣ６がない）液晶パネルに対して、ドライブ用ＩＣ６で生成するのと同様な駆動信号を発生する駆動信号供給手段を用いて前記液晶パネルを駆動してもよい。
【実施例１】
【００４６】
図３乃至図５は本発明の実施例１の液晶表示装置の検査装置を説明する図である。図３は図１のＢ−Ｂ線断面図に相当している。
【００４７】
図３において、符号Ｄは液晶パネルを構成する基板間に欠陥が存在又は発生していることを示し、この欠陥Ｄが対向基板２の共通電極２ａに容量的な変化としての影響を与えることを模式的に示している。そこで、共通電極２ａの電圧を端子９から高抵抗１０を介して取り出して、判定手段１１に供給する構成としている。欠陥Ｄとしては、素子基板１と対向基板２間に存在する異物や、素子基板１と対向基板２の互いに対向する各内面に形成される配向膜（直接に液晶３と接する膜）面に生じる塗布むら又は傷などがある。
【００４８】
判定手段１１は、共通電極２ａに電気的に接続する端子９のコモン電圧波形を表示器に表示し、検査者が表示異常の有無や程度（レベル）を見ることで、液晶パネルの良否を判定するテスターとして機能する。端子９のコモン電圧の変動（変化量）が予め定めた許容範囲内か否かによって良否を判定することができる。ここで、許容範囲は、例えば製造ロットごとの所定数の液晶パネルについて検出したコモン電圧変動の平均的な値の範囲とすることができる。或いは、１日の製造パネル数ごとのコモン電圧変動の平均的な値の範囲であってもよいし、１週間或いは１か月の製造パネル数ごとのコモン電圧変動の平均的な値の範囲であってもよい。このように、測定している液晶パネルのコモン電圧の変化値が基準値を越えたか否かを判定することによって、液晶パネル間での良品，不良品の検出を行うことが可能である。
【００４９】
図４は図１における判定手段１１の一実施例を説明するもので、判定手段１１にて観測（検出）される欠陥発生時のコモン電圧波形を示している。判定手段１１では、図示しない駆動信号供給手段から通常の駆動信号が供給され、図示しないコモン電圧供給手段から一定の直流電圧が供給された場合の液晶表示装置の通常の駆動状態において、前記コモン電圧の端子９の電圧を高抵抗１０を介して取り出すことによって、コモン電圧の波形変化を基にして、液晶パネルの良否を判定することができる。すなわち、欠陥が検出される場合のコモン電圧ＶCOMは、一定の直流電圧に交流的に振動する歪成分が乗った波形W1となっている。従って、コモン電圧の波形変化を表示したり、コモン電圧の波形変化を数値で捕らえたりして、液晶パネルの良否を判定することができる。
【００５０】
従って、検査者は、判定手段１１は、端子９で検出したコモン電圧の変動を、例えば製造時のロットに含まれる所定数の液晶表示装置について計測したコモン電圧変動の平均的な値と比較して判定することができる。
【００５１】
この場合、測定したコモン電圧が予め定めた許容範囲内か否かによって液晶パネル間の良否判定が可能となり、検査作業を簡略化することが可能となる。
【００５２】
図５は上記欠陥Ｄに基づいて表示画面に現れる表示むらを示している。図５(a)は配向膜の面に存在する塗布むらに起因した表示むら（配向膜面の膜質の不均一又は膜厚の不均一等）を示し、図５(b)は配向膜の面に存在する傷（配向膜面の膜厚の不均一等）に起因した表示むらを示している。
【実施例２】
【００５３】
図６は本発明の実施例２の液晶表示装置の検査装置を説明する図である。
【００５４】
図６では、図示しない駆動信号供給手段から通常の駆動信号が供給され、図示しないコモン電圧供給手段から一定の直流電圧が供給された場合の液晶表示装置の通常の駆動状態において、図３及び図４で説明したコモン電圧の波形変化を観察することによって、液晶パネル間の良否判定を簡略化することができる。なお、図６では、駆動信号供給手段からの駆動信号供給を示す部分は省略してある。
【００５５】
さらに、図６では、液晶表示装置の検査用の駆動状態（駆動信号供給手段から検査用の駆動信号が供給されている状態）で、前記コモン電圧の端子９の電圧を高抵抗１０を介して積分回路１２及び／又は微分回路１４に供給し、それらの積分値，微分値をそれぞれコンパレータ１３，１５で各基準値Ｖref1，Ｖref2と比較し、電気的に良否判定を自動的に行えるようにしてある。
【００５６】
すなわち、積分回路１２からの積分値をコンパレータ１３で基準値Ｖref1と比較し、電気的に良否判定を自動的に行える一方、微分回路１４からの微分値をコンパレータ１５で基準値Ｖref2と比較し、電気的に良否判定を自動的に行える。
【００５７】
そして、判定手段１１は、端子９で検出したコモン電圧を走査期間毎に積分，微分した値を、異常のない走査期間の平均的な積分値，微分値を基準値Ｖref1，Ｖref2として、相対的に不均一成分を判別すればよい。このように基準値Ｖref1，Ｖref2との比較により、‘０’,‘１’による良否判定が可能となり、面積的に広い表示むらや、キズ状の表示欠陥の検査作業を自動化することが可能となる。微妙な変化量を電気的に目立たせて計測することができるので、液晶パネル製造時の工程管理にも利用することが可能である。
【００５８】
図７は図６の積分系の動作を説明する図である。
【００５９】
図示しない駆動信号供給手段から検査用の駆動信号が供給され、図示しないコモン電圧供給手段から一定の直流電圧が供給された場合の液晶表示装置の検査用の駆動状態において、前記コモン電圧の端子９の電圧を高抵抗１０を介して取り出し、積分回路１２にてコモン信号を走査期間毎に積分する。そして、その走査期間毎に積分したコモン信号の積分値を、コンパレータ１３にて異常のない走査期間でのコモン信号の平均的な積分値を基準値Ｖref1として比較することによって、基準値Ｖref1を越えるものについては、ライン毎に異常（ＮＧ）とし、基準値Ｖref1を越えないものについては、正常（ＯＫ）として、液晶パネルのライン毎に相対的に不均一成分を判別することが可能となる。図７で(1)，(2)，…(7)は表示画面上の走査期間を示し、(1)’，(2)’，…(7)’は走査期間(1)，(2)，…(7)の各ラインごとに検出したコモン電圧の波形を示し、(1)″，(2)″，…(7)″はコモン電圧(1)’，(2)’，…(7)’をライン毎に積分回路１２を通して積分した波形を示している。
【００６０】
積分回路１２は、抵抗とコンデンサと１水平期間ごとにコンデンサの蓄積電荷をリセットするリセット手段を備えており、リセット後コンデンサに時間経過に従って蓄積された電荷を１水平期間保持した後、再びリセットし、次の１走査期間以降においても同様に蓄積及びリセットを繰り返す動作を行う。
【００６１】
判定手段１１内の表示器には異常であれば異常であることを示すハイレベルを示す信号を表示したり、判定結果を示す良又は否の表示を出すことで、検査者に知らせることができる。
【００６２】
例えば、図５(a)のようにむらが面積的な大きさを持ったものであれば、コモン信号の変化量が僅かであっても水平１周期分積分することによって、電気的に大きな変化として検出し、良否を判定することが可能となる。
【００６３】
図８は図６の微分系の動作を説明する図である。
【００６４】
図示しない駆動信号供給手段から検査用の駆動信号が供給され、図示しないコモン電圧供給手段から一定の直流電圧が供給された場合の液晶表示装置の検査用の駆動状態において、前記コモン電圧の端子９の電圧を高抵抗１０を介して取り出し、微分回路１４にてコモン信号を走査期間毎に微分する。そして、その走査期間毎に微分したコモン信号の微分値を、コンパレータ１５にて異常のない走査期間でのコモン信号の平均的な微分値を基準値Ｖref2として比較することによって、基準値Ｖref2を越えるものについては、ライン毎に異常（ＮＧ）とし、基準値Ｖref1を越えないものについては、正常（ＯＫ）として、液晶パネルのライン毎に相対的に不均一成分を判別することが可能となる。図８で(1)，(2)，…(7)は表示画面上の走査期間を示し、(1)’，(2)’，…(7)’は走査期間(1)，(2)，…(7)の各ラインごとに検出したコモン電圧の波形を示し、(1)″，(2)″，…(7)″はコモン電圧(1)’，(2)’，…(7)’をライン毎に微分回路１４を通して微分した波形を示している。但し、図では、(2)，(4)，(6)のラインのみにつき、コモン電圧波形、及びその微分波形を示し、他のラインでの波形を省略してある。
【００６５】
微分回路１４は、コンデンサと抵抗を備えており、電気的に非常に急峻な変化があれば微分することによってその変化を目立たせることができる。
【００６６】
判定手段１１内の表示器には異常であれば異常であることを示すハイレベルを示す信号を表示したり、判定結果を示す良又は否の表示を出すことで、検査者に知らせることができる。
【００６７】
例えば、図５(b)のようにむらが面積的に小さくても不均一成分が急峻なものであれば、コモン信号の変化量が急峻となり水平１周期微分することによって、電気的に大きな変化として検出し、良否を判定することが可能となる。
【００６８】
なお、本実施例２における液晶表示装置の検査装置において、判定手段１１は、前記駆動信号供給手段（図示せず）を制御して、走査期間の駆動時間を通常の駆動時間より長くする手段を更に備えることが好ましい。具体的には、通常の駆動時間の例えば５〜１０倍とする。
【００６９】
このように駆動信号供給手段を制御して走査期間の駆動時間を通常の駆動時間より長くする手段、換言すれば、駆動信号供給手段を制御して走査期間のスキャンスピードを遅くする手段を備えることにより、スキャンスピードが遅くなるので、垂直方向に並んだ走査期間のうちどの走査期間の異常を判定しているのかという走査期間の選択性が可能となる。つまり、１フレームを１／３０secとし１フレームの走査期間数を５２５とすると、通常の１走査期間は、約６３.５μsecと非常に速いスピードでスキャンすることになるが、走査期間の駆動時間即ち１走査時間を例えば５〜１０倍に長くしてゆっくりとスキャンさせると、今どの走査期間をスキャンしているのかが観察者の目にも分ることになり、欠陥ラインを特定することが可能になる。
【００７０】
また、判定手段１１は、図示しない駆動信号供給手段を制御して、画面上の位置に対応したスタート信号と同期させながら走査期間の駆動時間を通常の駆動時間より長くする手段を更に備えることが好ましい。
【００７１】
このように駆動信号供給手段を制御して画面上の位置に対応したスタート信号と同期させながら走査期間の駆動時間を通常の駆動時間より長くする手段を備えることにより、スキャンしながらも画面のどこにむらがあるかを知ることが可能となる。
【００７２】
図９は液晶表示装置における液晶パネルを製造する工程の一部を説明する図である。
【００７３】
図９において、(a)では２枚の大版のマザーガラス基板２０，２１を用意し、多数の液晶パネルを形成できるように、一方の大版のガラス基板２０には、各々の液晶パネルの区画に対してＴＦＴ素子，画素電極，透明導電パターン及び配向膜等を形成して素子基板とし、他方の大版のガラス基板２１にも各々の液晶パネルに対応して共通電極及び配向膜等を形成して対向基板とする。次に、大版の素子基板には各々の液晶パネルに対応して四角い閉ループ形状のシール材２２を液晶パネルごとに形成した後、液晶パネルそれぞれのシール材２２の閉ループ内に液晶を充填した状態で大版の対向基板を貼り合わせる。(b)は(a)で貼り合わせた大判の液晶パネル基板を一点鎖線にて示す部分でカッティングし、その後さらに２点鎖線にて示すラインＩ―Ｉで対向基板側のみをカッティングして張出し領域（斜線にて示す）を形成した状態を示している。(c)は(b)の側面図を示している。(b)及び(c)に示す状態を‘短冊’と呼んでいる。この短冊の状態では、２点鎖線にて示すラインの図示右側は素子基板のみの張出し領域（斜線部分）であり、この領域には各液晶パネルごとのドライブ用配線パターンが形成されており且つこのパターンに電気的に接続する複数の電極端子が素子基板の表面（斜線部分）に導出されている。なお、この短冊の状態から各液晶パネルを切り離したものが(d)に示す単品の液晶パネルとなる。
【００７４】
ところで、(b)及び(c)に示す短冊状態においても、分離前の各液晶パネルについて各液晶パネルの電極端子に駆動信号及びコモン電圧を供給することにより、短冊状態で各液晶パネルを駆動して表示させ、表示品位を検査することが可能である。その方法は、図１乃至図８で説明した方法と同様にして行えばよい。
【産業上の利用可能性】
【００７５】
本発明は、液晶パネル及び該液晶パネルを搭載した各種の液晶表示装置並びにその応用機器に対して適用可能であり、或いは駆動回路としてのドライブ用ＩＣなどを搭載する前の液晶パネルに対しても適用することが可能である。また、液晶画面上の微妙な変化量を電気的に目立たせて計測することが可能であるため、液晶パネル間の良否や１枚の液晶パネルでの異常部分と正常部分との判別が時々刻々に知ることが可能であり、液晶表示装置の製造工程における工程管理に利用することができる。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】本発明に係る液晶表示装置の検査装置を説明する図。
【図２】図１のＡ−Ａ線断面図。
【図３】図１のＢ−Ｂ線断面図。
【図４】図１における判定手段の一実施例を説明する波形図。
【図５】欠陥に基づいて表示画面に現れる表示むらを示す図。
【図６】本発明の実施例２の液晶表示装置の検査装置を説明する図。
【図７】図６の積分系の動作を説明する図。
【図８】図６の微分系の動作を説明する図。
【図９】液晶表示装置における液晶パネルを製造する工程の一部を説明する図。
【符号の説明】
【００７７】
１…素子基板、２…対向基板、３…液晶、４…ＴＦＴ素子、５…シール材、６…ドライブ用ＩＣ、７…外部入力基板、８…駆動する為の信号を供給する複数の端子（第１の端子）、９…コモン電圧を供給する端子（第２の端子）、１１…判定手段。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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