(57)【要約】【課題】  製造信頼性の高い半導体装置およびその製造方法を提供する。【解決手段】  アイランド部１０２を有するリードフレーム１０４と、複数の第１のボンディングパッド１１２および第２のボンディングパッド１２２を含むパッド部が周囲に設けられた表面および裏面を有し、裏面側をリードフレームのアイランド部の両面にそれぞれ対向させて載置される２つの第１の半導体チップ１１０および第２の半導体チップ１２０と、２つの第１の半導体チップ１１０および第２の半導体チップ１２０とを封止する封止樹脂１５０と、を含む半導体装置１００において、２つの第１の半導体チップ１１０および第２の半導体チップ１２０とは、パッド部が略同一形状であり、２つの半導体チップは、パッド部を互いにずらして配置される。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
アイランド部を有するリードフレームと、
複数のボンディングパッドを含むパッド部が周囲に設けられた表面および裏面を有し、前記裏面側を前記リードフレームの前記アイランド部の両面にそれぞれ対向させて載置される２つの周辺端子型半導体チップと、
前記２つの半導体チップを封止する封止樹脂と、を含む半導体装置において、
前記２つの半導体チップは、前記パッド部が略同一形状であり、
前記２つの半導体チップは、前記パッド部を互いにずらして配置されることを特徴とする半導体装置。
【請求項２】
アイランド部を有するリードフレームと、
複数のボンディングパッドが周囲に設けられた表面および裏面を有し、前記裏面側を前記リードフレームの前記アイランド部の両面にそれぞれ対向させて載置される２つの周辺端子型半導体チップと、
前記２つの半導体チップを封止する封止樹脂と、を含む半導体装置において、
前記２つの半導体チップは、前記複数のボンディングパッドを互いにずらして配置することを特徴とする半導体装置。
【請求項３】
請求項１または２に記載の半導体装置において、
前記リードフレームは、前記２つの半導体チップの前記複数のボンディングパッドとそれぞれ異なる平面位置でワイヤボンディングされる複数のリードを有することを特徴とする半導体装置。
【請求項４】
請求項１乃至３いずれかに記載の半導体装置において、
前記半導体装置の平面視において、前記複数のボンディングパッドから前記複数のリードにワイヤボンディングされた前記複数のワイヤが互いに上下方向で平行に重ならないように、前記２つの半導体チップを水平方向にずらして配置することを特徴とする半導体装置。
【請求項５】
複数の第１のボンディングパッドを含むパッド部が周囲に設けられた表面および裏面を有する第１の半導体チップの前記裏面側を、アイランド部を有するリードフレームの前記アイランド部の一方の面に対向させて載置するステップと、
複数の第２のボンディングパッドを含み、前記第１の半導体チップの前記パッド部と略同一形状のパッド部が周囲に設けられた表面および裏面を有する第２の半導体チップの前記裏面側を、前記リードフレームの前記アイランド部の他方の面に対向させ、かつ前記第１の半導体チップの前記パッド部と、前記第２の半導体チップの前記パッド部を互いにずらして載置するステップと、
前記第１の半導体チップおよび前記第２の半導体チップを封止樹脂で封止するステップと、
を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。
【請求項６】
複数の第１のボンディングパッドが周囲に設けられた表面および裏面を有する第１の半導体チップの前記裏面側を、アイランド部を有するリードフレームの前記アイランド部の一方の面に対向させて載置するステップと、
複数の第２のボンディングパッドが周囲に設けられた表面および裏面を有する第２の半導体チップの前記裏面側を、前記リードフレームの前記アイランド部の他方の面に対向させ、かつ前記第１の半導体チップの前記複数の第１のボンディングパッドと、前記第２のボンディングパッドを互いにずらして載置するステップと、
前記第１の半導体チップおよび前記第２の半導体チップを封止樹脂で封止するステップと、
を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。
【請求項７】
請求項５または６に記載の半導体装置の製造方法において、
前記複数の第１のボンディングパッドおよび前記複数の第２のボンディングパッドと、それぞれ異なる平面位置で前記リードフレームが有する複数のリードにワイヤボンディングするステップを含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。
【請求項８】
請求項５乃至７いずれかに記載の半導体装置の製造方法において、
前記半導体装置の平面視において、前記複数のボンディングパッドから前記複数のリードにワイヤボンディングされた前記複数のワイヤが互いに上下方向で平行に重ならないように、前記２つの半導体チップを水平方向にずらして配置するステップを含むことを特徴とする半導体装置の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体装置およびその製造方法に関し、特に、複数のボンディングパッドを含む半導体チップをリードフレームの両面に設けられた半導体装置およびその製造方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の半導体装置としては、例えば特許文献１に記載されたものがある。同文献に記載された半導体装置を図１２に示す。この半導体装置８００は、リードフレームのダイパッド２の両側に、回転ずれ配置された２つの半導体チップ８ａ、８ｂを備えている。これにより、周辺部のリード３およびワイヤ９ａ、９ｂの密集を緩和し、製造を容易にすることができる。
【０００３】
また、特許文献２に記載された半導体装置を図１３に示す。同文献に記載された半導体装置８１０は、リードフレームのアイランドの片側に、平行ズレまたは直交ズレ配置された２つの半導体チップ１１Ｄ、１１Ｅが搭載され、互いにずらして配置された半導体チップ１１Ｄおよび１１Ｅの各上面の周辺に複数のパッド１３Ｄおよび１３Ｅがそれぞれ配置されている。
【０００４】
また、特許文献３に記載された半導体装置を図１４に示す。同文献に記載された半導体装置８２０は、配線基板２１の両側に、２組の半導体チップ群ＣＨ３（ＣＨ１）、ＣＨ２（ＣＨ４）が互いに水平方向の１次元方向にのみずれて配置されている。配線基板２１には貫通電極が設けられていて、内側の各半導体チップＣＨ１およびＣＨ４の電極は互いに接続されている。この半導体装置８２０においては、半導体チップＣＨ３の複数の外部電極ＢＰ１〜ＢＰ１４は、配線基板２１上の複数のボンディングエリア２２Ｂにボンディングワイヤ２３を介して電気的に接続され、同様に、半導体チップＣＨ４においても、複数の外部電極が配線基板２１上の複数のボンディングエリアにボンディングワイヤを介して電気的に接続されている。
【特許文献１】特開平７−３３５８２６号公報
【特許文献２】特開平８−３３０５０８号公報
【特許文献３】特開２００１−３５８２８５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記文献記載の従来技術にあっては、アイランドの両面に設けられたチップのボンディングパッドが互いに重ならないようにチップをずらして搭載することは考慮されていない。また、従来の半導体の製造方法によって製造された、アイランド部の両面に半導体チップが設けられた半導体装置にあっては、各チップのパッドとリードとの接続ワイヤが上下方向で、平面視において互いに平行に重なってしまうことがあり、このため一方のワイヤが欠落していたとしても、Ｘ線透過映像などを用いた製造検査において、発見されない可能性が高かった。これは、半導体装置の製造信頼性を低下させる要因となっていた。
【０００６】
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、製造信頼性の高い半導体装置およびその製造方法を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明によれば、アイランド部を有するリードフレームと、
複数のボンディングパッドを含むパッド部が周囲に設けられた表面および裏面を有し、前記裏面側を前記リードフレームの前記アイランド部の両面にそれぞれ対向させて載置される２つの周辺端子型半導体チップと、
前記２つの半導体チップを封止する封止樹脂と、を含む半導体装置において、
前記２つの半導体チップは、前記パッド部が略同一形状であり、
前記２つの半導体チップは、前記パッド部を互いにずらして配置されることを特徴とする半導体装置が提供される。
【０００８】
この発明によれば、半導体装置の接続を確認する際、上下に設けられた半導体チップの各電極が重ならないので、確実に確認することができ、半導体装置の信頼性が向上する。
【０００９】
本発明によれば、アイランド部を有するリードフレームと、
複数のボンディングパッドが周囲に設けられた表面および裏面を有し、前記裏面側を前記リードフレームの前記アイランド部の両面にそれぞれ対向させて載置される２つの周辺端子型半導体チップと、
前記２つの半導体チップを封止する封止樹脂と、を含む半導体装置において、
前記２つの半導体チップは、前記複数のボンディングパッドを互いにずらして配置することを特徴とする半導体装置が提供される。
【００１０】
この発明によれば、半導体装置の接続を確認する際、上下に設けられた半導体チップの各電極が重ならないので、確実に確認することができ、半導体装置の信頼性が向上する。
【００１１】
上記半導体装置において、前記リードフレームは、前記２つの半導体チップの前記複数のボンディングパッドとそれぞれ異なる平面位置でワイヤボンディングされる複数のリードと有することができる。
【００１２】
この構成によれば、半導体装置のリード側の接続を確認する際、上下に設けられた半導体チップからワイヤボンディングされたリード側の接続箇所が重ならないので、確実に確認することができ、半導体装置の信頼性が向上する。
【００１３】
上記半導体装置において、前記半導体装置の平面視において、前記複数のボンディングパッドから前記複数のリードにワイヤボンディングされた前記複数のワイヤが互いに上下方向で平行に重ならないように、前記２つの半導体チップを水平方向にずらして配置することができる。
【００１４】
この構成によれば、半導体装置の半導体チップからリードへの接続を確認する際、各ワイヤが互いに重ならないので、確実に確認することができ、半導体装置の信頼性が向上する。
【００１５】
本発明によれば、複数の第１のボンディングパッドを含むパッド部が周囲に設けられた表面および裏面を有する第１の半導体チップの前記裏面側を、アイランド部を有するリードフレームの前記アイランド部の一方の面に対向させて載置するステップと、
複数の第２のボンディングパッドを含み、前記第１の半導体チップの前記パッド部と略同一形状のパッド部が周囲に設けられた表面および裏面を有する第２の半導体チップの前記裏面側を、前記リードフレームの前記アイランド部の他方の面に対向させ、かつ前記第１の半導体チップの前記パッド部と、前記第２の半導体チップの前記パッド部を互いにずらして載置するステップと、
前記第１の半導体チップおよび前記第２の半導体チップを封止樹脂で封止するステップと、
を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法が提供される。
【００１６】
この発明によれば、半導体装置の接続を確認する際、上下に設けられた半導体チップの各電極が重ならないので、確実に確認することができ、半導体装置の信頼性が向上する。
【００１７】
本発明によれば、複数の第１のボンディングパッドが周囲に設けられた表面および裏面を有する第１の半導体チップの前記裏面側を、アイランド部を有するリードフレームの前記アイランド部の一方の面に対向させて載置するステップと、
複数の第２のボンディングパッドが周囲に設けられた表面および裏面を有する第２の半導体チップの前記裏面側を、前記リードフレームの前記アイランド部の他方の面に対向させ、かつ前記第１の半導体チップの前記複数の第１のボンディングパッドと、前記第２のボンディングパッドを互いにずらして載置するステップと、
前記第１の半導体チップおよび前記第２の半導体チップを封止樹脂で封止するステップと、
を含むことを特徴とする半導体装置の製造方法が提供される。
【００１８】
この発明によれば、半導体装置の接続を確認する際、上下に設けられた半導体チップの各電極が重ならないので、確実に確認することができ、半導体装置の信頼性が向上する。
【発明の効果】
【００１９】
本発明によれば、製造信頼性の高い半導体装置およびその製造方法が提供される。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。
【００２１】
（第一の実施の形態）
図１は、本発明の実施の形態に係る半導体装置の平面図である。本実施形態の半導体装置（半導体装置１００）は、アイランド部（アイランド部１０２）を有するリードフレーム（リードフレーム１０４）と、複数のボンディングパッド（第１のボンディングパッド１１２および第２のボンディングパッド１２２）を含むパッド部が周囲に設けられた表面および裏面を有し、裏面側をリードフレームのアイランド部の両面にそれぞれ対向させて載置される２つの周辺端子型半導体チップ（第１の半導体チップ１１０および第２の半導体チップ１２０）と、２つの半導体チップを封止する封止樹脂（封止樹脂１５０）と、を含む半導体装置において、２つの半導体チップは、パッド部（第１のボンディングパッド１１２および第２のボンディングパッド１２２）が略同一形状であり、２つの半導体チップは、パッド部を互いにずらして配置される。
【００２２】
なお、以下の図において、本発明の本質に関わらない部分の構成については省略してある。
【００２３】
本実施形態において、第１の半導体チップ１１０および第２の半導体チップ１２０は、複数の第１のボンディングパッド１１２および第２のボンディングパッド１２２が略同一配置で周囲に設けられた表面１１０ａおよび表面１２０ａとその裏面１１０ｂおよび裏面１２０ｂをそれぞれ有する。
【００２４】
図２は、図１の半導体装置１００のＡ−Ａ線での断面図である。以下、図１および図２を用いて説明する。第１の半導体チップ１１０の裏面１１０ｂがリードフレーム１０４のアイランド部１０２の一方の面１０２ａに対向させて設けられ、第２の半導体チップ１２０の裏面１２０ｂがリードフレーム１０４のアイランド部１０２の他方の面１０２ｂに対向させて設けられる。このとき、第１の半導体チップ１１０の複数の第１のボンディングパッド１１２および第２の半導体チップ１２０の複数の第２のボンディングパッド１２２は、それぞれ水平方向に互いにずらして配置される。
【００２５】
第１の半導体チップ１１０の各第１のボンディングパッド１１２は、リードフレーム１０４の各リード１０６に金細線などの上ワイヤ１１４を用いてバンプ１３０を介して電気的に接続される。また、第２の半導体チップ１２０の各第２のボンディングパッド１２２は、リードフレーム１０４の各リード１０６に金細線などの下ワイヤ１２４を用いてバンプ１３０を介して電気的に接続される。ここで、第１の半導体チップ１１０の各第１のボンディングパッド１１２および第２の半導体チップ１２０の各第２のボンディングパッド１２２に接続される上ワイヤ１１４および下ワイヤ１２４は、各リード１０６のそれぞれ異なる平面位置、すなわち第１の接続位置１０６ａおよび第２の接続位置１０６ｂでバンプ１３０を介してワイヤボンディングされる。
【００２６】
次に、本実施形態の半導体装置１００の製造方法について、図３〜図８を用いて以下に説明する。図３〜図８は、本実施形態の半導体装置１００の各製造工程における断面図である。
【００２７】
まず、図３に示すように、平面１６０ａを有する第１の治具１６０上に載置されたリードフレーム１０４のアイランド部１０２の一方の面１０２ａ上に第１の半導体チップ１１０の裏面１１０ｂを対向させて載置し、アイランド部１０２の一方の面１０２ａと第１の半導体チップ１１０を図示されない導電性接着剤を介して固着させる。このようにして、第１の半導体チップ１１０のマウント工程が終了する。
【００２８】
次に、図４に示すように、周囲の平面１６２ａおよび中央に形成された凹部１６２ｂを有する第２の治具１６２上に、図３で第１の半導体チップ１１０が固着されたリードフレーム１０４のアイランド部１０２の他方の面１０２ｂを上方に向けて載置する。リードフレーム１０４のアイランド部１０２の他方の面１０２ｂ上に第２の半導体チップ１２０の裏面１２０ｂを対向させて載置し、アイランド部１０２の他方の面１０２ｂと第２の半導体チップ１２０を図示されない導電性接着剤を介して固着させる。このとき、第１の半導体チップ１１０の複数の第１のボンディングパッド１１２および第２の半導体チップ１２０の複数の第２のボンディングパッド１２２が互いにずれるように第１の半導体チップ１１０および第２の半導体チップ１２０を水平方向にずらして配置する。このようにして、第２の半導体チップ１２０のマウント工程が終了する。
【００２９】
次に、図５に示すように、リードフレーム１０４のアイランド部１０２にマウントされた第１の半導体チップ１１０の複数の第１のボンディングパッド１１２とリードフレーム１０４の複数のリード１０６をワイヤボンディング工程にて電気的に接続させる。このとき、第１の半導体チップ１１０の各第１のボンディングパッド１１２は、上ワイヤ１１４を用いて各リード１０６の第１の接続位置１０６ａでバンプ１３０を介して電気的に接続される。
【００３０】
次に、図６に示すように、周囲の平面１６４ａおよび中央に形成された凹部１６４ｂを有する第３の治具１６４上に、図５でワイヤボンディングされた第１の半導体チップ１１０を下方に向けて載置する。リードフレーム１０４のアイランド部１０２にマウントされた第２の半導体チップ１２０の複数の第２のボンディングパッド１２２とリードフレーム１０４の複数のリード１０６をワイヤボンディング工程にて電気的接続させる。このとき、第２の半導体チップ１２０の各第２のボンディングパッド１２２は、下ワイヤ１２４を用いて各リード１０６の第２の接続位置１０６ｂでバンプ１３０を介して電気的に接続される。
【００３１】
次に、図７に示すように、ワイヤボンディングされた第１の半導体チップ１１０および第２の半導体チップ１２０を封止樹脂１５０で封入する。ここでは、第１の半導体チップ１１０および第２の半導体チップ１２０、上ワイヤ１１４および下ワイヤ１２４までを含んで封止する。これにより、半導体装置１００を外部環境から保護して、装置の信頼性を向上させるものである。
【００３２】
次に、図８に示すようにリード１０４を所定の形状に成形し、半導体装置１００が完成する。
【００３３】
このようにして製造された半導体装置１００の製造検査を行う場合、たとえば、Ｘ線を用いた透過映像にて確認を行うことができる。図９に示すように、本実施形態の半導体装置１００では、第１の半導体チップ１１０の第１のボンディングパッド１１２および第２の半導体チップ１２０の第２のボンディングパッド１２２が互いにずれて配置されるとともに、各リード１０６における接続位置もずれているので、複数の上ワイヤ１１４および下ワイヤ１２４が互いに上下方向で平行に重なることがなく、各接続を確実に確認することが容易となる。これにより、半導体装置１００の製造信頼性が向上する。
【００３４】
比較例として、図１０の従来の製造方法で製造された半導体装置のＸ線透過映像による平面図によれば、第１の半導体チップ９１０および第２の半導体チップ９２０が同じ位置に配置されているので、第１の半導体チップ９１０の第１のボンディングパッド９１２および第２の半導体チップ９２０の第２のボンディングパッド９２２が互いに重なってしまい、上ワイヤ９１４および下ワイヤ９２４が重なっている箇所があるため、万が一、一方のワイヤが欠落していたとしても、その確認が困難となる。
【００３５】
以上説明したように、本発明の実施の形態の半導体装置の製造方法によれば、製造信頼性の高い半導体装置が提供される。
【００３６】
（第二の実施の形態）
図１１は、本発明の実施形態に係る半導体装置２００の平面図である。上記実施の形態では、第１の半導体チップ１１０および第２の半導体チップ１２０を互いにｘ軸およびｙ軸方向に平行にずらして配置していたが、本実施形態では、さらに、第１の半導体チップ１１０および第２の半導体チップ１２０を互いに回転させて配置し、第１のボンディングパッド１１２および第２のボンディングパッド１２２が互いにずれるようにする。製造工程について、上記実施形態と同様であるので、説明は省略する。
【００３７】
このように製造された半導体装置２００においても、上記実施の形態の半導体装置１００と同様な効果を奏することができる。
【００３８】
以上、図面を参照して本発明の実施形態について述べたが、これらは本発明の例示であり、上記以外の様々な構成を採用することもできる。
【図面の簡単な説明】
【００３９】
【図１】本発明の実施の形態に係る半導体装置の平面図である。
【図２】図１の半導体装置のＡ−Ａ線での断面図である。
【図３】図１の半導体装置の第１の半導体チップのマウント工程を説明する図である。
【図４】図１の半導体装置の第２の半導体チップのマウント工程を説明する図である。
【図５】図１の半導体装置の第１の半導体チップのワイヤボンディング工程を説明する図である。
【図６】図１の半導体装置の第２の半導体チップのワイヤボンディング工程を説明する図である。
【図７】図１の半導体装置の樹脂封入工程を説明する図である。
【図８】図１の半導体装置のリード成形を説明する図である。
【図９】図１の半導体装置のＸ線透過映像による平面図である。
【図１０】従来の半導体装置のＸ線透過映像による平面図である。
【図１１】本発明の他の実施の形態に係る半導体装置の平面図である。
【図１２】従来の半導体装置の平面図である。
【図１３】従来の半導体装置の断面図である。
【図１４】従来の半導体装置の断面図である。
【符号の説明】
【００４０】
１００  半導体装置
１０２  アイランド部
１０４  リードフレーム
１０６  リード
１１０  第１の半導体チップ
１１２  第１のボンディングパッド
１１４  上ワイヤ
１２０  第２の半導体チップ
１２２  第２のボンディングパッド
１２４  下ワイヤ
１３０  バンプ
１５０  封止樹脂
２００  半導体装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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