(57)【要約】【課題】  検出器の交換の際でもより安価に試験を行うことができる反発式ポータブル硬度計を提供する。【解決手段】  試料Ｓにインパクトハンマ１０１を衝突させ、当該インパクトハンマの打撃速度及び反発速度を検出する検出器１と、検出器による検出結果の入力に基づいて、試料の硬度を演算し、この演算結果を表示する演算表示器２とを備える反発式ポータブル硬度計１００であって、検出器に設けられ、当該検出器に関する固有の検出器情報を記憶する記憶部（例えば、第１のメモリ１１５）を備えた。【選択図】図２
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
試料にインパクトハンマを衝突させ、当該インパクトハンマの打撃速度及び反発速度を検出する検出器と、前記検出器による検出結果の入力に基づいて、前記試料の硬度を演算し、この演算結果を表示する演算表示器とを備える反発式ポータブル硬度計であって、
前記検出器に設けられ、当該検出器に関する固有の検出器情報を記憶する記憶部を備えることを特徴とする反発式ポータブル硬度計。
【請求項２】
前記検出器は、
前記インパクトハンマの打撃速度及び反発速度を検出する本体部と、
前記本体部と前記演算表示器とを接続し、当該本体部による検出結果を前記演算表示器へ出力する接続部と、
を備え、
前記記憶部が、前記接続部に設けられていることを特徴とする請求項1記載の反発式ポータブル硬度計。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、反発式ポータブル硬度計に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、内部に備えたインパクトハンマを試料に衝突させて、その打撃速度と反発速度との関係から試料の硬度を測定する反発式ポータブル硬度計が知られている（例えば、特許文献１）。
このような反発式ポータブル硬度計は、検出器と、検出器に内蔵された弾性部材と、弾性部材の弾性力で試料に向かって撥ね飛ばされるインパクトハンマと、検出器に設けられたコイルと、試料の硬度を演算し、その演算結果を表示する演算表示器等を備えている。そして、インパクトハンマに内蔵された磁石が検出器に設けられたコイル内を通過するときにコイルに発生した電圧に基づいて、インパクトハンマの打撃速度及び反発速度が算出され、この打撃速度及び反発速度に基づいて試料の硬度が算出され表示されるようになっている。
【０００３】
ところで、一般的に、上記のような反発式ポータブル硬度計においては、演算表示器内に、検出器のシリアル番号、校正値等の検出器情報や、硬さ試験結果等に関する試験情報等を記憶するメモリが設けられている。
【特許文献１】特開平１０−２２７７３２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、検出器固有の情報は演算表示器内のメモリに記憶されているので、検出器の交換（例えば、新仕様品への交換、故障による交換等）が必要な場合には、新たな検出器の検出器情報を演算表示器のメモリに記憶させるために、検出器のみならず演算表示器も再調整を行う必要があった。そのため、演算表示器も使用できないので、その再調整を行う間も使用したい場合には、検出器と演算表示器とがセットになった反発式ポータブル硬度計がもう一台必要であったため、コストがかかるという問題点があった。
【０００５】
そこで、本発明の課題は、検出器の交換の際でもより安価に試験を行うことができる反発式ポータブル硬度計を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記課題を解決するため、請求項１記載の発明は、例えば、図１、図２に示すように、
試料（Ｓ）にインパクトハンマ（１０１）を衝突させ、当該インパクトハンマの打撃速度及び反発速度を検出する検出器（１）と、前記検出器による検出結果の入力に基づいて、前記試料の硬度を演算し、この演算結果を表示する演算表示器（２）とを備える反発式ポータブル硬度計（１００）であって、
前記検出器に設けられ、当該検出器に関する固有の検出器情報を記憶する記憶部（例えば、第１のメモリ１１５）を備えることを特徴とする。
【０００７】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の反発式ポータブル硬度計であって、
前記検出器は、
前記インパクトハンマの打撃速度及び反発速度を検出する本体部（１０）と、
前記本体部と前記演算表示部とを接続し、当該本体部による検出結果を前記演算表示器へ出力する接続部（１１）と、
を備え、
前記記憶部が、前記接続部に設けられていることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００８】
請求項１記載の発明によれば、記憶部に予め記憶されている検出器情報に基づいて硬さ試験を行うことができるので、検出器の交換時に、従来のように反発式ポータブル硬度計ごと再調整を行う必要がなくなる。従って、一つの演算表示器に対して複数の検出器を用いることができることとなって、検出器の交換の際でもより安価に試験を行うことができる。
【０００９】
請求項２記載の発明によれば、請求項１記載の発明と同様の効果が得られるのは無論のこと、特に、記憶部が、本体部の検出結果を演算表示器へ出力する接続部に設けられている。従って、本体部と演算表示器との間に記憶部が設けられることとなるので、記憶部の設置による反発式ポータブル硬度計全体の大型化を防ぐことができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、図を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。図１は本発明の反発式ポータブル硬度計の側面図、図２は、図１の反発式ポータブル硬度計の要部の断面図、図３は、図１の反発式ポータブル硬度計の要部構成を示すブロック図である。
【００１１】
反発式ポータブル硬度計１００は、図１に示されるように、インパクトハンマ１０１の試料Ｓに対する打撃速度及び反発速度を検出する検出器１と、検出器１による検出結果に基づいて、試料Ｓの硬度を演算し表示する演算表示器２等を備えて構成されている。
【００１２】
検出器１は、インパクトハンマ１０１を摺動可能に収容し、試料Ｓに対する打撃速度及び反発速度を検出する本体部１０と、本体部１０と演算表示器２とを接続し、本体部１０による検出結果を演算表示器２０へ出力する接続部１１等から構成されている。
本体部１０は、弾性部材（図示省略）と、弾性部材に付勢されるとともに、チャック（図示省略）に係合され、磁石（図示省略）を内蔵するインパクトハンマ１０１と、本体部１０内に巻回されるコイル１０２等を備えている。
【００１３】
このインパクトハンマ１０１は、チャックの係合が解除されると、弾性部材の弾性力により試料Ｓに向かって撥ね飛ばされるようになっている。そして、このときのインパクトハンマ１０１の打撃速度及び反発速度が、インパクトハンマ１０１に内蔵された磁石がコイル１０２内を通過するときに、コイル１０２に電圧が発生し、この電圧が演算表示器２へ出力されるようになっている。
【００１４】
接続部１１は、図１、図２に示すように、例えば、本体部１０に一端部１１１ａが接続されるケーブル１１１と、ケーブル１１１の他端部１１１ｂが接続される基板１１２と、基板１１２に一端部１１３ａが接続されるとともに、他端部１１３ｂが演算表示器２と接続される接続コネクタ１１３と、ケーブル１１１及び基板１１２を収容するシェル１１４等を備えている。
基板１１２と接続コネクタ１１３とは着脱自在であり、検出器１を交換することができるようになっている。
そして、このケーブル１１１、基板１１２、接続コネクタ１１３を介して、本体部１０のコイル１０２に発生した電圧（即ち、検出結果）が、演算表示器２へ出力されるようになっている。
【００１５】
基板１１２は、例えば、プリント基板等により構成されており、略中央部には記憶部としての第１のメモリ１１５が設けられている。
第１のメモリ１１５は、例えば、ＲＯＭ、ＥＥＰＲＯＭ、フラッシュメモリ等により構成され、検出器１に関する検出器情報や、硬さ試験に関する試験情報を記憶するデータ格納領域１１５ａ（図３参照）等を備えている。
データ格納領域１１５ａには、例えば、演算部２０によって演算された硬度の測定値、累積測定回数等が格納されている。また、データ格納領域１１５ａには、検出器１に関する固有の検出器情報として、例えば、検出器１の校正値、検出器１に付与される固有のシリアル番号等が格納されている。
【００１６】
演算表示器２は、図３に示すように、試料Ｓの硬度を演算する演算部２０と、演算部２０による演算結果を表示する表示部２１等を備えている。
【００１７】
演算部２０は、例えば、各種プログラムや各種データが記憶された第２のメモリ２００と、コイル１０２から入力される電圧信号を増幅させる増幅器２０１と、増幅器２０１によって増幅された電圧信号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器２０２と、各種演算処理を行うＣＰＵ２０３等から構成される。
【００１８】
第２のメモリ２００は、例えば、各種処理におけるワークメモリとして使用される作業領域２１０を備える他、速度算出プログラム２２１、硬度算出プログラム２２２、硬度記憶プログラム２２３、表示制御プログラム２２４等が記憶されているプログラム格納領域２２０と、各種硬さ試験に関する試験情報を記憶するデータ格納領域２３０等を備えている。
【００１９】
速度算出プログラム２２１は、コイル１０２に発生した電圧に基づいて、インパクトハンマ１０１の打撃速度及び反発速度を算出するためのプログラムである。
硬度算出プログラム２２２は、算出したインパクトハンマ１０１の打撃速度及び反発速度に基づいて、試料Ｓの硬度を算出するためのプログラムである。なお、硬度を算出するにあたっては、第１のメモリ１１５に記憶されている検出器１の校正値が取得され、その校正値が加味される。
【００２０】
硬度記憶プログラム２２３は、算出した試料Ｓの硬度を第１のメモリ１１５のデータ格納領域１１５ａ及び第２のメモリ２００のデータ格納領域２３０に記憶するためのプログラムである。
【００２１】
表示制御プログラム２２４は、試料Ｓの硬度を表示部２１に表示させるためのプログラムである。
【００２２】
次に、反発式ポータブル硬度計１００を用いて行う反発硬さ試験の方法の一例について説明する。
【００２３】
先ず、ユーザは、検出器１の本体部１０を試料Ｓに当接させる。次いで、本体部１０内のチャック（図示省略）に弾性部材（図示省略）により付勢された状態で係合されているインパクトハンマ１０１を、係合を解除することにより、弾性部材の弾性力により試料Ｓに衝突させる。
【００２４】
インパクトハンマ１０１内に内蔵された磁石（図示省略）により、コイル１０２を通過するときに、コイル１０２にはインパクトハンマ１０１の打撃速度と反発速度に比例した電圧が発生し、その電圧は電圧信号としてケーブル１１１を介して演算表示器２の演算部２０に入力される。図３に示すように、電圧信号は演算部２０の増幅器２０１によって増幅された後、Ａ／Ｄ変換器２０２によってＡ／Ｄ変換される。Ａ／Ｄ変換された電圧信号はＣＰＵ２０３に入力され、ＣＰＵ２０３がその電圧信号に基づいて、速度算出プログラム２２１に従って演算をすることにより、インパクトハンマ１０１の打撃速度及び反発速度が算出される。
【００２５】
そして、インパクトハンマ１０１の打撃速度及び反発速度に基づいて、ＣＰＵ２０３が硬度算出プログラム２２２に従って演算を行うことにより、試料Ｓの硬度が算出される。そして、ＣＰＵ２０３が硬度記憶プログラム２２３に従って演算を行うことにより、算出した試料Ｓの硬度を第１のメモリ１１５及び第２のメモリ２００に記憶する。また、算出された試料Ｓの硬度は、表示制御プログラム２２４に基づくＣＰＵ２０３の演算によって表示部２１に出力され、デジタル表示される。
【００２６】
そして、ユーザは、新たな検出器（例えば、インパクトハンマの仕様が異なるもの等）を用いて硬さ試験を行いたい場合には、先ず、基板１１２と接続コネクタ１１３との接続を解除して、検出器１と演算表示器２とを分離させる。
次いで、新たな検出器のシェル内の基板と、接続コネクタ１１３とを接続させ、上記と同様に硬さ試験を行う。この場合、新たな検出器に関する固有の検出器情報が、当該新たな検出器のメモリに予め記憶されているので、速やかに試験を行うことができる。
【００２７】
以上説明した本発明に係る反発式ポータブル硬度計１００によれば、インパクトハンマ１０１の検出速度及び反発速度を検出する検出器１の接続部１１に、検出器１に関する固有の検出器情報を記憶する第１のメモリ１１５が設けられているので、第１のメモリ１１５に予め記憶されている検出器情報に基づいて硬さ試験を行うことができる。従って、検出器の交換時に、従来のように反発式ポータブル硬度計ごと再調整を行う必要がなくなり、演算表示器２に対して複数の検出器を用いることができることとなって、検出器の交換の際でもより安価に試験を行うことができる。
【００２８】
また、第１のメモリ１１５が、接続部１１の基板１１２に設けられている。従って、第１のメモリ１１５が、本体部１０と演算表示器２との間に設けられることとなるので、第１のメモリ１１５の設置による反発式ポータブル硬度計１００の大型化を防ぎ、より好適に配置することができる。
また、第１のメモリ１１５には、検出器１の校正値を含むので、新たな検出器に交換後にも測定精度を低下させることなく試験を行うことができる。
【００２９】
また、接続部１１の基板１１２に第１のメモリ１１５が設けられているとともに、演算表示器２内に第２のメモリ２００が設けられているので、全体の記憶容量を増やすことができる。
また、ＣＰＵ２０３によって演算された試料Ｓの硬度は、第１のメモリ１１５及び第２のメモリ２００の両方に記憶されるので、検出器１若しくは演算表示器２の何れかが破損した場合であっても、破損していない機器のメモリに試料Ｓの硬度データが残存することとなるので、データをより厳重に保護することができる。
【００３０】
なお、上記実施の形態においては、接続部１１の基板１１２上に第１のメモリ１１５を設ける構成を示したが、本体部１０に設ける構成としてもよい。
また、上記実施の形態においては、演算部２０のＣＰＵ２０３によって演算された試料Ｓの硬度を第１のメモリ１１５に記憶する構成を示したが、第１のメモリ１１５に記憶されるのは、検出器１のシリアル番号や校正値のみであってもよい。
また、上記実施の形態においては、第１のメモリ１１５にデータ格納領域１１５ａを備える構成を示したが、これに限定されるものではなく、例えば、第１のメモリ１１５にもプログラム格納領域を設けてもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３１】
【図１】本発明にかかる反発式ポータブル硬度計の側面図である。
【図２】図１の反発式ポータブル硬度計の要部の断面図である。
【図３】図１の反発式ポータブル硬度計の要部構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
【００３２】
１  検出器
２  演算表示器
１０  本体部
１１  接続部
１００  反発式ポータブル硬度計
１０１  インパクトハンマ
１１５  第１のメモリ（記憶部）
【図１】
2006145467.tif 000003
【図２】
2006145467.tif 000004
【図３】
2006145467.tif 000005