(57)【要約】      （修正有）【課題】  良好な奥行き方向の断面画像を取得する際の位置ずれ情報を精度良く検出することができるとともに、その情報を取得した情報を断面画像に反映させることができる。【解決手段】  低コヒーレント光を用いて被検眼断層像を得るＯＣＴ光学系を持つ眼科撮影装置において、前記測定光を所定方向に走査する走査手段と、走査手段による走査中に光路長を変化させて被検眼の深さ方向の断面画像を得る断面画像取得手段と、走査手段及び断面画像取得手段の動作開始のトリガを出力するスイッチと、眼底或いは前眼部の正面画像を時系列にて複数得る正面画像取得手段と、被検眼の位置ずれ量を検出する位置ずれ検出手段と、位置ずれ量に基づいて断面画像取得手段により取得される断面画像を補正してモニタに表示，或いは位置ずれ情報を断面画像取得手段により取得される断面画像とともにモニタに表示する表示制御手段と、を備える。【選択図】      図３
2006212153.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
低コヒーレント長の光の一部を被検眼に向けて照射するとともに該低コヒーレント長の光の一部を参照光とし，該参照光と被検眼に照射した前記測定光の反射光との合成により得られる干渉光を受光することにより被検眼画像を得る眼科撮影装置において、前記測定光を所定方向に走査する走査手段と、該走査手段による前記測定光の走査中に前記参照光の光路長を変化させることにより被検眼の深さ方向の断面画像を得る断面画像取得手段と、前記走査手段及び断面画像取得手段の動作のきっかけとなるトリガ信号を出力する撮影スイッチと、該撮影スイッチによるトリガ信号に基づき前記走査手段による測定光の走査と対応させて被検眼の眼底或いは前眼部の正面画像を時系列にて複数得る正面画像取得手段と、前記トリガ信号に基づき前記正面画像取得手段にて得られる前記正面画像から基準画像を設定し，該基準画像とその後に取得される正面画像とを画像処理により比較し、位置ずれ量を検出する位置ずれ検出手段と、該検出手段により検出された前記位置ずれ量に基づいて前記断面画像取得手段により取得される前記断面画像を補正してモニタに表示，或いは位置ずれ情報を前記断面画像取得手段により取得される前記断面画像とともにモニタに表示する表示制御手段と、を備えることを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項２】
請求項１の眼科撮影装置において、前記検出手段によって設定される前記基準画像は、前記トリガ信号に基づき前記正面画像取得手段にて得られる最初の正面画像であることを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項３】
請求項１の眼科撮影装置において、前記正面画像取得手段は被検眼を照明するための照明光学系と該照明光学系にて照明される被検眼からの反射光を受光して被検眼の正面画像を取得するため撮影光学系とを有し、前記測定光は前記走査手段よりも被検側に配置される光学部材により前記照明光学系から出射される照明光と同軸とされ、さらに前記光学部材は前記照明光学系を含まない前記撮影光学系中に配置されていることを特徴とする眼科撮影装置。
【請求項４】
請求項３の眼科撮影装置において、前記断面画像取得手段により取得される前記断面画像は被検眼の眼底断面画像であり、前記正面画像取得手段により取得される前記正面画像は被検眼の眼底画像であることを特徴とする眼科撮影装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、低コヒーレント光を用いて被検眼の断面像を取得する眼科撮影装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
被検眼（例えば、被検眼眼底）の断層像を非侵襲で得ることできる眼科撮影装置として、低コヒーレント光を用いた光干渉断層計（Optical Coherence Tomography:OCT）が知られている。このような眼科撮影装置は、ガルバノミラーにより測定光を眼底に対して２次元的に走査させ、参照ミラーの光路とコヒーレンス長内で一致した場合に得られる干渉信号により二次元的にＯＣＴ画像を得る方式（C-Scan）や、測定光を眼底に対して一次元走査し、参照ミラーの光路長を変化させることにより、網膜断層画像を得る方式（B-Scan）を用いることができる。このようなＯＣＴ画像を得る際に測定中に眼球の固視微動等により被検眼が動くと、測定部位がずれてしまい良好な断層像を得ることができない。これを改善するために、ＯＣＴ光学系にスキャニングレーザオフサルモスコープ（ＳＬＯ光学系）を複合させて、被検眼からの測定反射光をハーフミラーで分割し、ＯＣＴ画像と眼底観察画像（ＳＬＯ画像）を同時に捉えることで固視微動を検知し、これによる位置ずれ補正を行うことができる装置が知られている（特許文献１参照）。
【特許文献１】米国特許５９７５６９７号
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
特許文献１に開示される装置では、Ｃ-Scan方式によるＯＣＴ画像取得時の位置ずれ補正は良好に行うことができるが、B-Scan方式によるＯＣＴ画像取得時では、ＳＬＯ光学系も一次元のみの走査であるため、固視微動による測定部位のずれを精度良く検出することが難しい。
【０００４】
本発明は、上記問題点を鑑み、良好な奥行き方向の断面画像を取得する際の位置ずれ情報を精度良く検出することができるとともに、その情報を取得した情報を断面画像に反映させることが可能な眼科撮影装置を提供することを技術課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
【０００６】
（１）  低コヒーレント長の光の一部を被検眼に向けて照射するとともに該低コヒーレント長の光の一部を参照光とし，該参照光と被検眼に照射した前記測定光の反射光との合成により得られる干渉光を受光することにより被検眼画像を得る眼科撮影装置において、前記測定光を所定方向に走査する走査手段と、該走査手段による前記測定光の走査中に前記参照光の光路長を変化させることにより被検眼の深さ方向の断面画像を得る断面画像取得手段と、前記走査手段及び断面画像取得手段の動作のきっかけとなるトリガ信号を出力する撮影スイッチと、該撮影スイッチによるトリガ信号に基づき前記走査手段による測定光の走査と対応させて被検眼の眼底或いは前眼部の正面画像を時系列にて複数得る正面画像取得手段と、前記トリガ信号に基づき前記正面画像取得手段にて得られる前記正面画像から基準画像を設定し，該基準画像とその後に取得される正面画像とを画像処理により比較し、位置ずれ量を検出する位置ずれ検出手段と、該検出手段により検出された前記位置ずれ量に基づいて前記断面画像取得手段により取得される前記断面画像を補正してモニタに表示，或いは位置ずれ情報を前記断面画像取得手段により取得される前記断面画像とともにモニタに表示する表示制御手段と、を備えることを特徴とする。
（２）  （１）の眼科撮影装置において、前記検出手段によって設定される前記基準画像は、前記トリガ信号に基づき前記正面画像取得手段にて得られる最初の正面画像であることを特徴とする。
（３）  （１）の眼科撮影装置において、前記正面画像取得手段は被検眼を照明するための照明光学系と該照明光学系にて照明される被検眼からの反射光を受光して被検眼の正面画像を取得するため撮影光学系とを有し、前記測定光は前記走査手段よりも被検側に配置される光学部材により前記照明光学系から出射される照明光と同軸とされ、さらに前記光学部材は前記照明光学系を含まない前記撮影光学系中に配置されていることを特徴とする。
（４）  （３）の眼科撮影装置において、前記断面画像取得手段により取得される前記断面画像は被検眼の眼底断面画像であり、前記正面画像取得手段により取得される前記正面画像は被検眼の眼底画像であることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００７】
本発明によれば、良好な奥行き方向の断面画像を取得する際の位置ずれ情報を精度良く検出することができるとともに、その情報を取得した情報を断面画像に反映させることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。図１は、本実施形態の眼科撮影装置の光学系及び制御系を示す図である。なお、本実施形態においては、被検眼の奥行き方向をＺ方向（光軸Ｌ１方向）、奥行き方向に垂直（被検者の顔面と同一平面）な平面上の水平方向成分をＸ方向、鉛直方向成分をＹ方向として説明する。
【０００９】
図１において、その光学系は、被検眼（例えば、被検眼眼底）の断層像を非侵襲で得るための断層測定光学系（以下、ＯＣＴ光学系とする）２１と、ＸＹ方向における被検眼の位置ずれ量を検出するために被検眼（被検眼眼底や前眼部等）を正面から観察する観察光学系１１に大別される。また、本実施形態において、観察光学系１１は、被検眼眼底を正面からに観察可能な構成となっており、眼底を照明する観察用照明光学系１１ａと、照明光学系１１ａにより照明された眼底からの反射光を受光する観察用受光光学系１１ｂにて構成される。
【００１０】
照明光学系１１ａは、観察光源１、近赤外光（例えば、波長８５０ｎｍ以上）を透過する赤外フィルタ２、コンデンサレンズ３、リング状の開口を有するリングスリット４、リレーレンズ５、ミラー６、中心部に黒点を有する黒点板７、リレーレンズ８、孔あきミラー９、対物レンズ１０を有する。リングスリット４は被検眼Ｅの瞳孔と共役な位置に配置されており、瞳孔周辺部から眼底照明光を入射することにより被検眼眼底を照明する。
【００１１】
また、受光光学系１１ｂは、対物レンズ１０、孔あきミラー９の開口近傍に位置する撮影絞り１２、光軸方向に移動可能なフォーカシングレンズ１３、結像レンズ１４、２次元受光素子１５を備える。撮影絞り１２はレンズ１０に関して瞳孔と略共役な位置に配置されている。なお、撮影絞り１２とフォーカシングレンズ１３の間には、観察光学系１１の光軸Ｌ１とＯＣＴ光学系２１の光軸Ｌ２とを同軸にするダイクロイックミラー４０が配置されている。このダイクロイックミラー４０は、ＯＣＴ光学系２１に用いる断層取得用の測定光を反射し、照明光学系１１ａの観察光源１により照明された眼底反射光を透過する特性を有する。これにより、ＯＣＴ光学系２１及び観察光学系１１の両光学系の受光系に無駄なノイズが含まれないため、Ｓ／Ｎ比が劣化しない。反射と透過の関係は逆でもよい（ＯＣＴ測定光を透過、観察光を反射）。なお、ダイクロイックミラー４０は、孔あきミラー９よりも受光素子１５側に配置することが望ましい。これは、照明光源１からの被検眼Ｅに向かう照明光がダイクロイックミラー４０で反射してしまい、受光素子１５に不要なノイズ光が入射するのを防止するためである。また、本実施形態においては、ダイクロイックミラー４０を使用したが、これに限るものではなく、ＯＣＴ用測定光と被検眼を観察する観察用光束を分割すればよく、例えばハーフミラー等であってもよい。
【００１２】
光源１を発した光束は、赤外フィルタ２により赤外光束とされ、レンズ３、リングスリット４を照明する。リングスリット４を透過した光は、レンズ５、ミラー６、黒点板７、レンズ８を経て孔あきミラー９に達する。そして、孔あきミラー９で反射された光は、対物レンズ１０により被検眼Ｅの瞳孔付近で一旦収束した後、拡散して被検眼眼底を照明する。
【００１３】
観察照明光で照明された眼底からの反射光は、対物レンズ１０、孔あきミラー９の開口部、撮影絞り１２を通過して、ダイクロイックミラー４０を透過した後、レンズ１３、結像レンズ１４を介して２次元受光素子１５に結像する。
【００１４】
制御部７０は、二次元受光素子１５から出力される眼底像から、基準となる眼底像を予めメモリ７２に記憶しておき、基準眼底像とその後に取得される眼底像を画像処理により比較し、その位置変化に基づいてＸＹ方向における眼底像の位置ずれを検出する。このようにすれば、制御部７０は、測定中に眼球の固視微動等により被検眼が動いた場合、その方向とずれ量が算出できるので、ＸＹ方向における測定部位のずれを検出することができる。なお、二次元受光素子１５によって検出された画像信号は、モニタ７５にてリアルタイムで観察可能となっている。また、モニタ７５には、取得された断層像や各種設定画面が表示される。なお、モニタ７５はパーソナルコンピュータ等に備わる外部モニタを用いてもよい。
【００１５】
また、制御部７０には、検者によって操作入力されるスイッチ部７４が接続されており、断層像の取得を開始するため測定開始スイッチ７４ａや、ＯＣＴ画像の測定位置を設定する測定位置設定スイッチ７４ｂ、等を有する。なお、スイッチ部７４は、パーソナルコンピュータ等に備わるキーボードやマウス等を用いてもよい。
【００１６】
次に、ダイクロイックミラー４０の反射側に設けられたＯＣＴ光学系２１の構成について説明する。２７はＯＣＴ光学系２１の測定光及び参照光として用いられる低コヒーレントな光を発するＯＣＴ光源であり、例えばＳＬＤ光源等が用いられる。ＯＣＴ光源２７には、例えば、８００ｎｍ〜８５０ｎｍまでのいずれかを中心波長に持つ光源が用いられる。２６は光分割部材と光結合部材としての役割を兼用するファイバーカップラーである。ＯＣＴ光源２７から発せられた光は、導光路としての光ファイバ３８ａを介して、ファイバーカップラー２６によって参照光と測定光とに分割される。したがって、測定光は光ファイバ３８ｂを介して被検眼Ｅへと向かい、参照光は光ファイバ３８ｃを介して参照ミラー３１へと向かう。
【００１７】
測定光を被検眼Ｅへ向けて出射する側には、測定光を出射する光ファイバ３８ｂの端部３９ｂ、被検眼の屈折誤差に合わせて光軸方向に移動可能なリレーレンズ２４、ガルバノ駆動機構５１の駆動により眼底上でＸＹ方向に測定光を高速で走査させることが可能なガルバノミラー２３と、リレーレンズ２２が配置されている。また、ダイクロイックミラー４０及び対物レンズ１０は、ＯＣＴ光学系２１からのＯＣＴ測定光を被検眼眼底へと導光する導光光学系しての役割を有する。なお、光ファイバ３８ｂの端部３９ｂは、被検眼眼底と共役となるように配置される。また、ガルバノミラー１９の反射面は、撮影絞り１１および被検眼瞳孔と共役な位置に配置されている。
【００１８】
光ファイバ３８ｂの端部３９ｂから出射した測定光は、リレーレンズ２４を介して、ガルバノミラー２３に達し、ガルバノミラー２３の駆動により反射方向が変えられる。そして、ガルバノミラー２３で反射された測定光は、リレーレンズ２２を介して、ダイクロイックミラー４０で反射された後、撮影絞り１２、孔あきミラー９、対物レンズ１０を介して、被検眼眼底に集光される。
【００１９】
そして、眼底で反射した測定光は、対物レンズ１０〜撮影絞り１２を介して、ダイクロイックミラー４０で反射し、ＯＣＴ光学系２１に向かい、リレーレンズ２２、ガルバノミラー２３、リレーレンズ２４を介して、光ファイバ３８ｂの端部３９ｂに入射する。端部３９ｂに入射した測定光は、光ファイバ３８ｂ、ファイバーカップラー２６、光ファイバ３８ｄを介して、ファイバーカップラー３４に達する。
【００２０】
一方、参照光を参照ミラー３１に向けて出射する側には、参照光を出射する光ファイバ３８ｃの端部３９ｃ、コリメータレンズ２９、参照光の進行方向を折り返す参照ミラー３１、集光レンズ３２、参照光が入射する光ファイバ３８ｅの端部３９ｅが配置されている。参照ミラー３１は、参照光の光路長を変化させるべく、参照ミラー駆動機構５０により光軸方向に移動可能な構成となっている。なお、参照ミラー３１は、ミラー３１ａとミラー３１ｂにより構成される。
【００２１】
光ファイバー３８ｃの端部３９ｃから出射した参照光は、コリメータレンズ２９で平行光束とされ、参照ミラー３１を構成するミラー３１ａとミラー３１ｂで反射された後、集光レンズ３２により集光されて光ファイバ３８ｅの端部３９ｅに入射する。端部３９ｅに入射した参照光は、光ファイバ３８ｅを介して、ファイバーカップラー３４に達する。
【００２２】
ここで、測定光は眼底の各層で反射し、それぞれ時間的な遅れと異なる強度を持つ反射測定光となって、ファイバカップラー３４にて参照光と合流するので、この２つの光の干渉現象を利用して反射測定光の強度を受光素子３５により検出し、参照ミラー３１を光軸方向に移動（走査）させることにより、光軸方向の反射強度分布を得ることができる。さらに、ガルバノミラー２３により測定光を眼底上でＸ方向もしくはＹ方向に走査することにより、被検眼眼底のＸＺ面もしくはＹＺ面における断層画像を取得できる（なお、本実施形態においては、このように測定光を眼底に対して一次元走査し、参照ミラーの光路長を変化させることにより、網膜断層画像を得る方式をＢスキャンとする）。さらに、参照ミラー３１を固定したまま、測定光をＸＹ方向に二次元的に走査することにより、２次元的に眼底画像（ＸＹ面）を得ることも可能である（なお、本実施形態においては、測定光を眼底に対して２次元的に走査させ、参照ミラーの光路とコヒーレンス長内で一致した場合に得られる干渉信号により二次元的にＯＣＴ画像を得る方式をCスキャンとする）。さらに、これらを利用して、参照ミラー３１を光軸方向に移動させつつ、測定光を眼底に対して二次元的に走査すれば、眼底の３次元画像を構築することも可能である。なお、このようにして取得された断層像は、モニタ７５に表示される。
【００２３】
以上のような構成を備える装置において、その動作を説明する。まず、検者は被検眼の眼底像がモニタ７５に表示されるよう図示無きジョイスティックを操作するとともに、図示無き内部固視標を被検者に固視させる。このようにして検者の所望する測定部位の眼底像がモニタ７５に表示された後、フォーカス合わせを行ったら断層像の取得（撮影）のためのステップに移行する。本実施形態においては、Ｂスキャン方式によりＸＺ面の断層像を取得する場合について説明する。
【００２４】
図２はモニタ７５に表示された眼底像の例である。まず、検者はリアルタイムで観察される眼底画像から検者の取得したい断層像の位置を選択する。検者は、測定位置設定スイッチ７４ｂを操作して、Ｘ方向の測定位置を表すラインＬ１を眼底観察像に対して移動さ
せていき、Ｘ方向における測定位置を設定する。なお、ラインＬ１がＸ方向となるように設定すれば、ＸＺ面の断層像の取得が行われ、ラインＬ１がＹ方向となるように設定すれば、ＹＺ面の断層像が行われるようになっている。
【００２５】
また、検者は、Ｘ方向（Ｙ方向）における測定位置の設定とともに、Ｚ方向における測定位置の設定を行う。Ｚ方向においては、Ｚ方向の測定光の走査幅（例えば、３ｍｍ）と、その走査ステップ数（Ｚ方向の測定枚数）が設定する。例えば、走査幅が３ｍｍであって、走査ステップ数が１０μｍのように設定されると、深さ３ｍｍで１０μｍステップの断層像が得られる。なお、走査幅が大きく、走査ステップ数が細かいほど断層像の取得に時間を要する。
【００２６】
このようにして測定位置の設定が完了し、検者により測定開始スイッチ７４ａの入力があると、制御部７０は、ＢスキャンによるＸＺ面の断層像の取得動作を開始する。ここで、
制御部７０は、設定した測定位置に測定光が照射されるようにガルバノミラー２３の駆動を開始するとともに、ＸＹ方向における眼底像の位置ずれの検出を開始する。この場合、例えば、測定開始スイッチ７４ａが入力された時の眼底像を基準眼底像としてメモリ７２に記憶しておき、これに基づいて画像処理により眼底像の位置ずれを求める方法が考えられる。
【００２７】
制御部７０は、ガルバノ駆動機構５１を駆動させてガルバノミラー２３の反射面を制御して測定光の照射位置をＸ方向に走査させるとともに、参照ミラー駆動機構５０を駆動させ所定の走査ステップ数での画像が得られるよう参照ミラー３１を光軸方向に移動させていく。また、制御部７０は、ＸＹ方向における眼底像の位置ずれを時系列的に検出していき、検出される位置ずれ量と測定光の走査とを対応させてメモリ７２に記憶していく。
【００２８】
このようにして、受光素子３５では、参照ミラー３１の位置に対応した光路長における眼底からの反射測定光が検出され、制御部７０は、その光路長における測定光のＸ方向における反射強度分布を取得する。さらに、参照ミラー３１が光軸方向に移動することにより、制御部７０は、ＸＺ方向の反射強度分布を取得する。このようにして、参照光の光路長が予め設定したＺ方向の測定光の走査幅に達したら測定を終了し、測定結果がモニタ７５に表示される。
【００２９】
ここで、制御部７０は、得られたＸＺ方向の反射強度分布に基づいて周知の画像処理によりＸＺ方向の断層像を構築していくが、本実施形態では、測定光の走査に対応した形でメモリ７２に記憶された眼底像のＸ方向の位置ずれ量に基づいてＸ方向における測定部位のずれ量を求め、断層像を画像処理にて補正する。また、眼底像のＹ方向の位置ずれ量に基づいてＹ方向の測定部位のずれ量を求め、予め選択した測定部位で測定が適正に行われたか否かを判定する。
【００３０】
まず、Ｘ方向における断層像の補正に関して、図３を用いて説明する。図３（ａ）は、ＸＺ方向に断層像を取得した時のＸ方向における測定部位のずれを表す模式図である。横軸は被検眼の深さであるＺ方向、縦軸はＸ方向の測定部位のずれ量ΔｄＸを表す。図３（ｂ）は、図３（ａ）に示すような測定部位のずれがあった際に構築された断層像を表す模式図である。このように断層像の取得中に、固視微動等により被検眼がＸ方向に動くと、予め設定した測定位置に対して断層像がＸ方向にずれてしまう（例えば、図中のＤ１部分等）。このような断層像は、良好な断層像とはいえない。また、このような断層像の表示画像に基づいて被検眼の診断を行うことは、検者にとって適切ではない。
【００３１】
そこで、本実施形態では、制御部７０が、Ｚ方向の各走査ステップ毎に断層像を構築していく際に、メモリ７２に記憶された各走査ステップごとのＸ方向の位置ずれ量に基づいて、各断層像が基準位置に位置されるように補正処理をかけていく。例えば、Ｄ１部分の断層像にΔｄＸ１のようなずれがあった際に、制御部７０は、Ｄ１部分における断層像の位置をＸ方向にΔｄＸ１分ずらすようにして断層像を補正する。このような補正処理を断層像全体で行うことにより、ＸＺ方向の断層像は、図３（ｃ）のようなＸ方向における断層像のずれが解消された精度のよい断層像を得ることができる。
【００３２】
次に、Ｙ方向に関して、予め選択した測定部位で測定が適正に行われたか否かを判定する。図４（ａ）は、ＸＺ方向に断層像を取得した時のＹ方向における測定部位のずれを表す模式図である。横軸はＺ方向、縦軸はＹ方向の測定部位のずれ量Δｄｙを表す。また、図４（ｂ）は、図４（ａ）のような測定部位のずれがあった際のＹ方向における眼底上の測定部位のずれを表す模式図である。このように断層像の取得中に、固視微動等により被検眼がＹ方向に動くと、測定光の照射位置がＹ方向にずれてしまうため、予め設定した測定部位に対して異なる領域を測定してしまう。このようにＹ方向に測定部位のずれがあった状態の元で、断層像を構築しても、測定部位が異なるため断層像として正確とはいえない。
【００３３】
そこで、本実施形態では、制御部７０が断層像を構築していく際に、メモリ７２に記憶された各走査ステップごとのＹ方向の測定部位のずれ量に基づいて、各走査ステップごとにエラー情報を添付しておき、モニタ７５に断層像を表示する際にエラー情報を報知する。この場合、制御部７０は、各走査ステップ毎に、測定部位のずれ量が予め設定した所定の許容範囲を満たしているかを判定し、エラーと判定された場合には、エラー情報を添付する。そして、断層像を表示する際には、測定部位のずれがあった断層像の領域をエラーとして指定するように表示する（図４（ｃ）参照）ようにしてもよいし、断層像全体がエラーとして表示されるような構成としてもよい。以上のように断層像に対してエラー表示を行うことにより、検者は、断層像が適正な測定部位で取得することができたものかを知ることができ、診断などの時の有用である。
【００３４】
なお、断層像のモニタ７５への表示において、ＸＺ方向の全測定領域の反射強度分布が取得されてから断層像を構築するような構成としても良いし、測定中、受光素子３５で得られた受光信号に対して随時画像処理を進めていくことにより、測定が終了した範囲におけるエラー情報を含む断層像をモニタ７５に随時表示していくような構成としてもよい。なお、得られた断層像を随時モニタ７５に表示するような構成とすれば、検者は、上記のような測定部位のエラー情報を測定中に知ることができるので、測定のやりなおし等に素早く移行することができる。
【００３５】
以上まとめると、ＢスキャンによりＸＺ面の断層像もしくはＹＺ面の断層像を取得する
場合において、被検眼の位置ずれ量に基づいて、測定光の走査方向の測定部位のずれに関しては断層像の補正処理を行い、測定光の非走査方向においては適正な測定部位で断層像が得られたか否かを検者に対して報知することにより、良好な断層像が得られると共に、診断時に有用な情報を得ることが可能となる。
【００３６】
なお、本実施形態においては、被検眼の眼底の断層像を取得するような構成としたが、これに限るものではなく、要するに被検眼のいずれか部位の断層像を得る眼科撮影装置に適用可能である（例えば、前眼部領域の断層像を得るもの等）。
【００３７】
また、本実施形態においては、被検眼の眼底の正面像を検出することにより被検眼の位置ずれを検出する構成としたが、被検眼の位置ずれ量が得られればよく、例えば、被検眼の前眼部の正面像に基づいて被検眼の位置ずれを検出するような構成としてもよい。
【００３８】
また、本実施形態においては、眼底像全体の位置変化から被検眼の位置ずれ量を検出する構成としたが、眼底像における血管形状や視神経乳頭等のいずれかを位置ずれ検出用の特徴点として、その特徴点の位置変化から位置ずれ量を求めるような構成としてもい。
【００３９】
また、ＯＣＴ光学系２１の内部にスキャニングレーザオフサルモスコープ（ＳＬＯ）光学系を複合させた装置においても、適用可能である（図５参照）。本実施形態のＯＣＴ光学系の場合、例えば、ＳＬＯ光学系の光源としてＯＣＴ光源２７を兼用するとともに、リレーレンズ２４と光ファイバ３８ｂの端部３９ｂの間にハーフミラー６０を設け、ハーフミラー６０の反射方向に共焦点光学系を構成するため集光レンズ６１と、眼底に共役な共焦点開口６２、ＳＬＯ用受光素子６３を設けるような構成が考えられる。また、ガルバノミラー２３は、ＳＬＯ光学系に用いる光を眼底上でＸＹ方向に走査するために、ＯＣＴ光学系と兼用される。このような装置の場合、Ｃスキャン方式により眼底の２次元眼底画像を得るような場合には、ＳＬＯ光学系による２次元共焦点像に基づく測定部位のずれ（ＸＹ方向）を検知することができるが、Ｂスキャン方式により被検眼の奥行き方向の横断像（ＸＺ面、ＹＺ面）を求める場合、ＳＬＯ光学系も１軸方向（Ｘ方向もしくはＹ方向）でしか検出しないため、眼底のどの位置をスキャンしているかリアルタイムで観察することができず、固視微動による測定部位のずれを検出することができない。すなわち、ガルバノミラー２３の動作にＳＬＯ光学系の測定範囲が制限される。そこで、本実施形態のような構成とすれば、ＢスキャンによりＸＺ面もしくはＹＺ面の断層像を求める場合であっても、ガルバノミラー２３の影響を受けること無く、被検眼の測定部位のずれが観察光学系１１により検出された正面像から取得可能であるため、上記と同様、断層像の補正とエラー情報の報知を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００４０】
【図１】本実施形態の眼科撮影装置の光学系及び制御系を示す図である。
【図２】モニタに表示された眼底像の例である。
【図３】Ｘ方向における断層像の補正について説明する図である。
【図４】Ｙ方向において、予め選択した測定部位で測定が適正に行われたか否かの判定に関する説明図である。
【図５】ＯＣＴ光学系の内部にスキャニングレーザオフサルモスコープ（ＳＬＯ）光学系を複合させた装置の構成について説明する図である。
【符号の説明】
【００４１】
１１  観察光学系
２１  断層測定光学系（ＯＣＴ光学系）
２３  ガルバノミラー
３１  参照ミラー
３５  受光素子
４０  ダイクロイックミラー
７０  制御部
７５  モニタ
【図１】
2006212153.tif 000003
【図２】
2006212153.tif 000004
【図３】
2006212153.tif 000005
【図４】
2006212153.tif 000006
【図５】
2006212153.tif 000007