(57)【要約】      （修正有）【課題】特殊な記録パターンを用いることなく、使用する光ディスクに最適な精度の高いライトストラテジを短時間で設定する。【解決手段】光情報記録媒体に基準ストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長を計測し、マーク長およびスペース長とそれぞれの理論長に基づいて、ライトストラテジを変化させたことによる各マークおよびスペースのデビエーション値を算出し、デビエーション値と各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペースの固有伸縮量を算出し、各マークおよびスペースのデビエーション値からそれぞれのマークとスペースの組み合わせによるデビエーションの分散を算出し、マークおよびスペース固有伸縮量を用いて、分散が最小となるようにライトストラテジを設定する。【選択図】図１７
2006164486.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置であって、
該光情報記録媒体に基準ストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長を計測する計測手段と、
該計測結果を記憶する計測値記憶手段と、
各マークおよびスペースの理論長を記憶する理論長記憶手段と、
前記計測値記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークおよびスペースのデビエーション値を算出するデビエーション値算出手段と、
該算出されたデビエーション値と、各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する固有伸縮量算出手段と、
前記算出された各マークおよびスペースのデビエーション値からそれぞれのマークとスペースの組み合わせによるデビエーションの分散を算出する分散算出手段と、
前記算出されたマークおよびスペース固有伸縮量を用いて、該算出された分散が最小となるようにライトストラテジを設定するライトストラテジ設定手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置であって、
該光情報記録媒体に基準ストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長を計測する計測手段と、
該計測結果を記憶する計測値記憶手段と、
各マークおよびスペースの理論長を記憶する理論長記憶手段と、
前記計測値記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークおよびスペースのデビエーション値を算出するデビエーション値算出手段と、
該算出されたデビエーション値と、各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する伸縮量算出手段と、
前記算出された各マークおよびスペースのデビエーション値からからそれぞれのマークとスペースの組み合わせによるデビエーションの差分値を算出する差分値算出手段と、
前記算出されたマークおよびスペース固有伸縮量を用いて、該算出されたそれぞれの差分値が所定値以下となるようなライトストラテジを設定するライトストラテジ設定手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光情報記録方法であって、
該光情報記録媒体に基準ストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長を計測するステップと、
該計測結果を記憶するステップと、
各マークおよびスペースの理論長を記憶するステップと、
前記計測値記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークおよびスペースのデビエーション値を算出するステップと、
該算出されたデビエーション値と、各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出するステップと、
前記算出された各マークおよびスペースのデビエーション値からそれぞれのマークとスペースの組み合わせによるデビエーションの分散を算出するステップと、
前記算出されたマークおよびスペース固有伸縮量を用いて、該算出された分散が最小となるようにライトストラテジを設定するステップと、
を有することを特徴とする光情報記録方法。
【請求項４】
光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光情報記録方法であって、
該光情報記録媒体に基準ストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長を計測するステップと、
該計測結果を記憶するステップと、
各マークおよびスペースの理論長を記憶するステップと、
前記計測値記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークおよびスペースのデビエーション値を算出するステップと、
該算出されたデビエーション値と、各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出するステップと、
前記算出された各マークおよびスペースのデビエーション値からからそれぞれのマークとスペースの組み合わせによるデビエーションの差分値を算出するステップと、
前記算出されたマークおよびスペース固有伸縮量を用いて、該算出されたそれぞれの差分値が所定値以下となるようなライトストラテジを設定するステップと、
を有することを特徴とする光情報記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスクに情報を記録し、再生する光ディスク装置および光情報記録方法に関する。        
【背景技術】
【０００２】
近年、情報通信技術の発達により、インターネット等が目覚しい勢いで普及したことにより、ネットワークを介して多くの情報がさかんにやり取りされている。こうした状況の中、近年、情報記録装置の分野において、ＣＤ−Ｒなどの追記型光ディスクやＣＤ−ＲＷなどの書き換え型光ディスクが記録媒体として注目を浴びており、最近では、レーザ光源としての半導体レーザの短波長化、高い開口数（Numerical Aperture）を有する高ＮＡ対物レンズによるスポット径の小径化、及び薄型基板の採用などにより、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどの大容量の光ディスクが情報記録装置において用いられている。
【０００３】
ＣＤ−Ｒ等への情報の記録は、ＰＣ（ＰＣ：Personal Computer）等から与えられた記録情報をＥＦＭ（ＥＦＭ：Eight to Fourteen Modulation)信号に変換して行われるが、使用する光ディスクを構成する色素記録層等の組成の違いから、記録媒体の蓄熱や冷却速度の不足に起因するマークの形成不良等の問題が生じるために、ＥＦＭ信号をそのまま記録しようとしても、所望のランドやスペースを形成することはできない。
そのため、基準となる記録波形に対して、使用する個々の光ディスク固有の記録パラメータ（以下、これをライトストラテジという。）を定めて良好な記録品質を維持する方式が採用されている。
【０００４】
このライトストラテジは、上記のように、光ディスクの色素、相変化材料、色素の膜厚あるいは溝の形状等ばかりでなく、記録速度とも密接な関係があることが知られている。一般に、代表的なライトストラテジは、ピットとランドの比率を可変する方法、記録パルスの先端部に付加パルスを加える方法、ピットとランドの組み合わせにより、パルスの立ち上がりあるいは立下り位置を変える方法、記録パルスをマルチパルス化する方法等がある。
【０００５】
ピットとランドの比率を可変する方法は、低速記録時にピットの長さを短くすることにより、強い記録パワーで短いパルスを光ディスクに照射することで、生成されるピットの先端および終端の形状を良くする作用がある。
記録パルスの先端部に付加パルスを加える方法は、レーザの照射が熱に変換されにくいピットの先端部に対して、付加的に記録パワーを与えることにより、形成されるピット先端部の形状を良くする作用がある。
【０００６】
ピットとランドの組み合わせにより、パルスの立ち上がりあるいは立下り位置を変える方法は、例えば、ひとつ前のピットの熱がランドを伝わって次のピットに影響を与えることから、前のランドの長さに応じて、ランドの終端位置を変えたり、記録ピットの熱が前方に伝わるために、その記録ピットの長さに応じて、ピットの先端位置を変えたり、記録ピットの熱が後方に伝わるために、その記録ピットの長さに応じて、ピットの終端位置を変えたり、ひとつ後ろのピットの熱が、後のランドを伝わって影響を及ぼすために、後ろのランドの長さに従って、ランドの先端位置を変えることにより、形成されるピットおよびランドの長さのばらつきを均一化できる作用がある。
【０００７】
記録パルスをマルチパルス化する方法は、ＣＤ−ＲＷ等の相変化型ディスクあるいはＤＶＤに用いられる方法である。相変化型ディスクに連続したパルスで情報の記録を行うと、自身の熱の作用によって記録したピットの先端部分を消去してしまうため、ピット間に冷却期間を設けたマルチパルスが用いられるのである。
【０００８】
このようなライトストラテジは、上述のように、使用する光ディスクを構成する色素記録層等の組成の違いや記録速度の違いにより、使用する光ディスクごとに最適化されて用いられるが、このライトストラテジの最適化を行うドライブメーカは、このために大変な時間と工数を要しているのが現状である。
また、市場には、ドライブメーカが把握しきれないほどの大量の種類におよぶ光ディスクが流通していることから、市場に流通しているすべての光ディスクについて予め適切なライトストラテジを用意することは不可能である。
【０００９】
このような問題に対して、光ディスクのテストエリアにおいて、複数のトラックにライトストラテジを変化させた複数の情報を記録し、再生ジッタが最小となるストラテジを選択する方法（例えば、特許文献１参照。）や特殊な記録パターンにより情報を記録した後に、マークとスペースとの組み合わせによるジッタ値あるいはデビエーション値が最も小さくなる組み合わせを求める方法（例えば、特許文献２参照。）が提案されている。
【特許文献１】特開２０００−３０２５４号公報
【特許文献２】特開２００３−３０８３７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、前者の方法では、最終的に選択されるライトストラテジが、設定したライトストラテジの中で最良のライトストラテジであるにすぎず、必ずしも、使用する光ディスクに最適なライトストラテジとは言えない。また、テストに要する記録領域だけトラックを使用してしまうという問題がある。
また、後者の方法では、特殊な記録パターンを使用する関係上、特定のマークあるいはスペースを変化させたときの他のマークあるいはスペースへの影響が十分考慮されないために、一度の記録再生テストにより、使用する光ディスクに最適なライトストラテジを設定することは極めて困難であるという問題がある。
【００１１】
そこで、本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであって、特殊な記録パターンを用いることなく、使用する光ディスクに最適な精度の高いライトストラテジを短時間で設定することができる光ディスク装置、光情報記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記の課題を解決するために、本発明は以下の事項を提案している。
請求項１に係る発明は、光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置であって、該光情報記録媒体に基準ストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長を計測する計測手段と、該計測結果を記憶する計測値記憶手段と、各マークおよびスペースの理論長を記憶する理論長記憶手段と、前記計測値記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークおよびスペースのデビエーション値を算出するデビエーション値算出手段と、該算出されたデビエーション値と、各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する固有伸縮量算出手段と、前記算出された各マークおよびスペースのデビエーション値からそれぞれのマークとスペースの組み合わせによるデビエーションの分散を算出する分散算出手段と、前記算出されたマークおよびスペース固有伸縮量を用いて、該算出された分散が最小となるようにライトストラテジを設定するライトストラテジ設定手段とを有することを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【００１３】
請求項３に係る発明は、光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光情報記録方法であって、該光情報記録媒体に基準ストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長を計測するステップと、該計測結果を記憶するステップと、各マークおよびスペースの理論長を記憶するステップと、前記計測値記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークおよびスペースのデビエーション値を算出するステップと、該算出されたデビエーション値と、各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出するステップと、前記算出された各マークおよびスペースのデビエーション値からそれぞれのマークとスペースの組み合わせによるデビエーションの分散を算出するステップと、前記算出されたマークおよびスペース固有伸縮量を用いて、該算出された分散が最小となるようにライトストラテジを設定するステップとを有することを特徴とする光情報記録方法を提案している。
【００１４】
これらの発明によれば、計測手段により光情報記録媒体に基準ストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長が計測される。デビエーション値算出手段は、この計測された結果と理論長記憶手段に格納された各マークおよびスペースの理論長に基づいて、ライトストラテジを変化させたことによる各マークおよびスペースのデビエーション値を算出する。伸縮量算出手段は、算出されたデビエーション値と各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する。そして、分散算出手段が算出された各マークおよびスペースのデビエーション値からそれぞれのマークとスペースの組み合わせによるデビエーションの分散を算出し、ライトストラテジ設定手段が算出されたマークおよびスペース固有伸縮量を用いて、算出された分散が最小となるようにライトストラテジを設定する。
【００１５】
請求項２に係る発明は、光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置であって、該光情報記録媒体に基準ストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長を計測する計測手段と、該計測結果を記憶する計測値記憶手段と、各マークおよびスペースの理論長を記憶する理論長記憶手段と、前記計測値記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークおよびスペースのデビエーション値を算出するデビエーション値算出手段と、該算出されたデビエーション値と、各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する伸縮量算出手段と、前記算出された各マークおよびスペースのデビエーション値からからそれぞれのマークとスペースの組み合わせによるデビエーションの差分値を算出する差分値算出手段と、前記算出されたマークおよびスペース固有伸縮量を用いて、該算出されたそれぞれの差分値が所定値以下となるようなライトストラテジを設定するライトストラテジ設定手段とを有することを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【００１６】
請求項４に係る発明は、光情報記録媒体にマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光情報記録方法であって、該光情報記録媒体に基準ストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長を計測するステップと、該計測結果を記憶するステップと、各マークおよびスペースの理論長を記憶するステップと、前記計測値記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長と前記理論長記憶手段に記憶されたマーク長およびスペース長に基づいて、前記ライトストラテジを変化させたことによる各マークおよびスペースのデビエーション値を算出するステップと、該算出されたデビエーション値と、各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出するステップと、前記算出された各マークおよびスペースのデビエーション値からからそれぞれのマークとスペースの組み合わせによるデビエーションの差分値を算出するステップと、前記算出されたマークおよびスペース固有伸縮量を用いて、該算出されたそれぞれの差分値が所定値以下となるようなライトストラテジを設定するステップとを有することを特徴とする光情報記録方法を提案している。
【００１７】
これらの発明によれば、これらの発明によれば、計測手段により光情報記録媒体に基準ストラテジあるいは基準ストラテジに対して、少なくとも一つの設定パラメータを複数の種類のマークおよびスペースの組み合わせにおいて変化させたライトストラテジで記録されたマーク長およびスペース長が計測される。デビエーション値算出手段は、この計測された結果と理論長記憶手段に格納された各マークおよびスペースの理論長に基づいて、ライトストラテジを変化させたことによる各マークおよびスペースのデビエーション値を算出する。伸縮量算出手段は、算出されたデビエーション値と各マークおよびスペースの存在確率からすべてのマークおよびスペース固有の伸縮量を算出する。そして、差分値算出手段が算出された各マークおよびスペースのデビエーション値からからそれぞれのマークとスペースの組み合わせによるデビエーションの差分値を算出し、ライトストラテジ設定手段が、算出されたマークおよびスペース固有伸縮量を用いて、該算出されたそれぞれの差分値が所定値以下となるようなライトストラテジを設定する。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、特殊な記録パターンを用いることなく、他のマークおよびスペースの影響をも考慮した最適なライトストラテジを設定することができるという効果がある。
また、本発明は、光記録媒体の種類によらず適用できるものであるが、特に、ＤＶＤ±Ｒ／ＲＷにおいては、特定のマークのマーク幅およびマークシフト量の設定後に使用することにより、さらにきめ細かいライトストラテジの設定が可能となるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１９】
以下、本発明の実施形態に係る光ディスク装置における光情報記録方法について説明する前に、他の光情報記録方法について図２から図５を用いて詳細に説明する。
【００２０】
図２は、ＣＤ−Ｒ／ＲＷに情報を記録する場合のライトストラテジの設定フローである。この図によれば、まず、制御部１１は、ＲＯＭ６に格納してある基準ライトストラテジを記録パルス列補正部１０にセットして、記録動作を実行する（ステップ１０１）。次に、基準ライトストラテジに対して、他のマークおよびスペースに対して影響度の高い、存在確率の高い３Ｔスペースから５Ｔスペース前の３Ｔマークから５Ｔマークをライトストラテジを設定できる最小分解能の整数倍だけのばしたライトストラテジで記録動作を実行する（ステップ１０２）。なお、後の処理を考慮すれば、伸張量は、最小分解能であるほうが良いが、最小分解能が極めて小さい値であることを考えれば、誤差の影響を小さくする意味でも最小分解能の整数倍とすることが望ましい。また、ライトストラテジの設定を行うＬＳＩは、所定のクロックをベースに動作していることから、ライトストラテジの変更もアナログ的に連続して変化させることは不可能であり、１クロックを最小の変化量とする離散的な変更を行う。ここでは、この最小の変化量を最小分解能という。
【００２１】
それぞれの記録動作が完了すると、それぞれの記録信号を再生し、記録長検出部５において、すべてのマークおよびスペースの組合せにおける記録長を測定し、測定結果をライトストラテジごとに、ＲＡＭ７に格納する（ステップ１０３）。
制御部１１は、ＲＯＭ６に格納された基準ストラテジで記録したときの記録長とＲＯＭ６に格納されたすべてのマークおよびスペースの組合せにおける理論長とのデビエーション（図３（ａ）参照）および上記の所定のマークおよびスペースを最小分解能の整数倍だけのばしたライトストラテジで記録した場合の記録長とＲＯＭ６に格納されたすべてのマークおよびスペースの組合せにおける理論長とのデビエーション（図３（ｂ）参照）を算出し（ステップ１０４）、さらに両者のデビエーション値（図３（ｃ）参照）を算出する（ステップ１０５）。なお、基準ライトストラテジに対する３Ｔスペースから５Ｔスペース前の３Ｔマークから５Ｔマークの伸張量が最小分解能の整数倍であるときは、求めたデビエーション値を前記整数値で除算して、最小分解能に対するデビエーション値とする。
【００２２】
ここで、図３（ｃ）示すような算出したデビエーション値から各マークおよびスペース固有の伸縮量を算出するためには、上記で説明した各マークおよびスペースの組合せによる存在確率を用いて行う。いま、例えば、図３（ｃ）の３ＴＰの横軸に注目すると、３Ｔマークと３Ｔスペースの組合わせによる固有の伸縮量は、３Ｔマークと３Ｔスペースの組合わせにおけるデビエーション値から、他のマークおよびスペースの変動による影響を除去したものとなるから、３Ｔマークと３Ｔスペース、４Ｔスペース、５Ｔスペースの組合せにおける固有の伸縮量をそれぞれ、ΔＴ（３、３）、ΔＴ（４、３）、ΔＴ（５、３）・・・とし、それぞれの組合せの存在確率をＲ（３、３）、Ｒ（４、３）、Ｒ（５、３）と、３Ｔマークと３Ｔスペースのデビエーション値をＡとすると、数１のような関係になる。
【００２３】
【数１】
2006164486.tif 000003
【００２４】
一方、図３（ｃ）の太線部分に注目すると、６Ｔマークあるいは６Ｔスペースが含まれる組合せにおいては、６Ｔマークあるいは６Ｔスペースが変動していないにも関わらず、各組合せにおいて、近い値のデビエーションが存在している。このデビエーションは、３Ｔスペースから５Ｔスペース前の３Ｔマークから５Ｔマークの長さを変化させたことによる影響が集約されたものである。
【００２５】
したがって、例えば、３Ｔマークと６Ｔスペースのデビエーション値をＺとすると、Ｚは、数２のように表され、この式を数１に代入すれば、数３が得られる。数３を図３（ｃ）の数値にしたがって、具体的に記述すると、数４のようになり、各マークおよびスペースの組合せにおける存在確率は明らかであるから、この関係式を用いることにより、各マークおよびスペースの組合せにおける固有の伸縮量を求めることができる（ステップ１０５）。
【００２６】
【数２】
2006164486.tif 000004
【００２７】
【数３】
2006164486.tif 000005
【００２８】
【数４】
2006164486.tif 000006
【００２９】
本実施例の補正値算出方法は、先程、説明した最小分解能に相当する伸縮に対応する固有の伸縮量を用いて、基準ライトストラテジで情報を記録した場合のストラテジを最小分解能以下に押さえ込むことにより、最適なライトストラテジを設定するものである。
また、各マークおよびスペースの補正値の追い込みは、存在確率が高い順番に処理することを特徴としている。すなわち、存在確率の高いマークおよびスペースの組合せを調整（図５の処理順序を参照。）すると、その影響が他のマークおよびスペースの組合せに大きく作用することから、こうした処理を行うことにより、短時間で、各補正値を収束することができる。
【００３０】
具体的には、図４に示すように、存在確率の最も高い３Ｔマークと３Ｔスペースの組合わせについて、基準ストラテジに対するデビエーションの絶対値が固有の伸縮量より大きいか否かを判断する（ステップ２０１）。判断の結果、基準ストラテジに対するデビエーションの絶対値が固有の伸縮量より大きいときには、デビエーションを補正するとともに、他のマークおよびスペースの組合せについても存在確率に基づいてデビエーション値を調整する（ステップ２０２）。
【００３１】
一方で、基準ストラテジに対するデビエーションの絶対値が固有の伸縮量より小さいときには、次に存在確率の高い３Ｔマークと３Ｔスペースの組合わせについて調整を行う（ステップ２０３）。なお、３Ｔマークと４Ｔスペースの組合わせについて調整についても、３Ｔマークと３Ｔスペースの組合わせと同様の処理が行われ（ステップ２０３、２０４）、こうした処理が１１Ｔマークと１１Ｔスペースの組合わせについてまで実行される(ステップ２０５)。
【００３２】
上記の方法では、他のマークおよびスペースの影響をも考慮した最適なライトストラテジを設定することができる。しかし、この方法は、各マークおよびスペースのデビエーションを単独でゼロに合わせ込むことにより記録品位を高めようとするものであり、マークのみ、スペースのみの記録品位の改善には大きな効果があった。しかし、実際には、マークおよびスペースの記録品位をバランス良く改善することが重要である。そこで、本発明は、こうした観点から最適なライトストラテジを設定することを意図したものである。以下、図１および図６から図１７を用いて、本発明の内容を詳細に説明する。
【００３３】
本発明の実施形態に係る光ディスク装置は、図１に示すように、光ディスク１と、光ピックアップ２と、ヘッドアンプ３と、データデコーダ４と、記録長検出部（計測手段）５と、ＲＯＭ（理論長記憶手段）６と、ＲＡＭ（計測値記憶手段）７と、固有伸縮量算出部（固有伸縮量算出手段）８と、分散算出部（分散算出手段）９と、記録パルス列補正部（記録手段）１０と、制御部（差分値算出手段、デビエーション値算出手段）１１と、ストラテジ設定部（ライトストラテジ設定手段）１２と、コントローラ１３と、データエンコーダ１４と、レーザ駆動部１５とから構成されている。なお、以下、記録された信号を再生し、再生した信号から得られる各マーク長の異なるストラテジごとの差をデビエーションといい、そのマーク固有の理論値からのズレ量を固有伸縮量という。
【００３４】
光ディスク１は、半導体レーザにより情報の記録、再生、消去を行える光情報記録媒体であり、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等がある。
光ピックアップ２は、図示しないレーザダイオード等のレーザ光源や、コリメータレンズ、フォーカスアクチュエータあるいはトラッキングアクチュエータとによって駆動される対物レンズ、偏光ビームスプリッタ、シリンドリカルレンズ等の光学部品、及びＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの４つの領域に分割され、光を電気信号に変換する４分割あるいは２分割のフォトディテクタ（ＰＤ）あるいは記録再生時のレーザ出力をモニタするフロントモニタダイオード等を備えている。
【００３５】
ヘッドアンプ３は、光ディスク１からの反射光を検出し、検出した反射光より反射光量を演算して、４分割ＰＤの各領域への反射光量の総和を示すＲＦ信号を生成するとともに、光ピックアップ２の照射レーザの焦点ずれを検出した信号であるフォーカスエラー信号（ＦＥ）を非点収差法によって生成し、さらに光ピックアップ２の照射レーザのトラックずれを検出した信号であるトラッキングエラー信号（ＴＥ）をプッシュプル法によって生成する。
【００３６】
データデコーダ４は、ヘッドアンプ３において生成されたＲＦ信号からＥＦＭ信号を生成し、さらにこれを所望の形式の信号に変換してコントローラ１３に出力する。
記録長検出部５は、データデコーダ４からＥＦＭ信号を入力し、図示しない時間計測回路により、入力したＥＦＭ信号のパルス幅を測定する。本実施形態においては、基準ライトストラテジに対して特定のマークあるいはスペース長を個別に所定量変化させたストラテジで記録された情報から各マークおよびスペースの組み合わせでのマーク長およびスペース長等を測定する。
【００３７】
ＲＯＭ６は、書き換え不能の記憶装置であり、光ディスク装置全体を制御するための制御プログラムや基準ライトストラテジ、各マークおよびスペースの理論長あるいは各マークの存在確率等が記憶されている。ＲＡＭ７は書き換え可能な記憶装置であり、記録長検出部５から入力した記録長の測定結果、記録長の測定値と各マークおよびスペースの理論長とのデビエーション値、各マークおよびスペース固有の伸縮量等が一時的に記憶される。
【００３８】
固有伸縮量算出部８は、ＲＡＭ７内に記憶された記録長の測定値と各マークおよびスペースの理論長とから各マークの固有伸縮量を算出する。分散算出部９は、固有伸縮量算出部８で算出された固有伸縮量から様々なライトストラテジで情報を記録したときの各固有伸縮量の変化率を算出して、所定の演算式に基づいて、各マークとスペースの組み合わせにおける分散を算出する。
【００３９】
記録パルス列補正部１０は、制御部１１あるいはストラテジ設定部１２からライトストラテジあるいはパラメータを入力し、これに基づいて記録パルス列を形成し、レーザ駆動部１５に出力する。制御部１１は、光ディスク装置全体をＲＯＭ６内に格納した制御プログラムにしたがって光ディスクに対する情報の記録および再生動作に関する制御を行う。また、本実施形態においては、ＲＡＭ７にそれぞれ格納したデータを固有伸縮量算出部８に出力する機能等も有する。
【００４０】
ストラテジ設定部１２は、固有伸縮量算出部８で得られた各マークおよびスペースの固有伸縮量に基づいて、各マークおよびスペース長が所定値となるようなストラテジを設定し、設定されたライトストラテジを記録パルス列補正部１０に出力する。
【００４１】
コントローラ１３は、記録信号をデータエンコーダ１４に供給し、また、データデコーダ４から記録信号の読み出す装置であり、データエンコーダ１４は、コントローラ１３からの記録信号をＥＦＭ信号等に変換して記録パルス列補正部１０に出力する。レーザ駆動部１５は、入力した記録パルスに応じたレーザダイオード駆動用のパルス信号を生成して、これを光ピックアップ２内の図示しない半導体レーザに供給する。
【００４２】
次に、図６から図１７を用いて、本発明におけるストラテジの設定方法について説明する。
マーク、スペースの組み合わせのよるライトストラテジの設定方法としては、まず、ＣＤ−Ｒ／ＲＷ等では計算処理によりストラテジを変更した後のジッタ値を求め、このジッタ値を用いてライトストラテジの設定を行う方法が考えられる。しかし、ＤＶＤの場合には、ジッタ値の意味合いがＣＤの場合と違って、特定のＴに対するものではなく、全体に対してのものであるため、サンプル数の少ない６Ｔ以上についても計算処理を行ってジッタ値の算出を行う必要がある一方で、サンプル数が少ないと急激に精度が悪化するといった問題があった。したがって、ジッタ値を用いる方法は、ＣＤには有効な方法であっても、ＤＶＤにおいては必ずしも有効な方法とはいえない。そこで、すべての光記録媒体に適用可能な方法として、以下の２つの方法を提案する。
【００４３】
第１の方法は、マークとスペースに関して、バランスのよいストラテジを設定する方法である。具体的には、例えば、マークの後にスペースが来る場合を考えてみる。すなわち、マークの後のスペース、スペースの前のマークといった具合に、図６および図７に示すような２つのデビエーションテーブルを考える。これらの図において、例えば、３ＴＭは３Ｔマークを、３ＴＳは、３Ｔスペースを示している。また、この図でマークをＸ、スペースをＹとして、これらの値を２次元座標系に展開してみると、図８に示すような図ができる。
【００４４】
ただし、図８は、プロットされている点の数が多いために解析が煩雑になることから、例えば、５Ｔ以上の存在確率の低いものについては、それらの加重平均をとってまとめると図９のようになる。図９において、プロットされた点と原点との距離（Ｄｉ）をこのマーク−スペース座標軸のデビエーション平均と考え、この距離（Ｄｉ）の２乗にこの距離のプロットしたマーク−スペースの存在確率を掛け合わせて、そのすべての和をデビエーション分散（Ｋ）と考えると（数５参照）、このデビエーション分散が最小となるようなストラテジが最適なストラテジとなる。なお、数５において、Ｋはデビエーションの分散、Ｄｉは、各点から原点までの距離、Ｒｉは各点の存在確率を示す。
【００４５】
【数５】
2006164486.tif 000007
【００４６】
図９において、３Ｔマーク−３Ｔスペースの組み合わせの点のストラテジを最小分解能分変化させると、全体の分布が図１０に示すように変化する。また、（３、３）の移動に伴って、それ以外の点については、（３、３）の移動方向とは逆の方向に移動することがわかる。つまり、この性質を利用して、上記のような操作を繰り返すことにより、すべての点を原点付近に集中させる、すなわち、デビエーション分散（Ｋ）を最小にすることができる。実際にこの方法を用いてストラテジの設定を行うと、図１１に示すような結果となる。なお、図１１（ａ）は初期状態を、図１１（ｂ）は、操作後の状態を示している。
【００４７】
また、いままで、経験的な手法に基づいて、ストラテジの設定を行う場合には、まずは、ターゲットをマークにするのかスペースにするかという判断が必要であった。これは、２次元座標を考えたときに、座標上の点をまずは、Ｘ軸上に集中させるのか、Ｙ軸上に集中させるのかに相当するが、上記手法におけるデビエーション分散（Ｋ）を最小にするということは、図１２に示すように、座標上の点をＹ＝Ｘ上に集中させることに等しい。
【００４８】
なお、上記手法を用いるにあたっては、最初にマーク−スペースのエッジを調整するのか、スペース−マークのエッジを調整するのかを決定する必要がある。ここでの判断基準は、上記のように、最終的に座標の原点付近に集中させることを目標とするためには、初期の分布状態として、これらの点がＹ＝−Ｘ上に集中していることが望ましい。例えば、図１３の例では、ＳＭＳ−ＳＭＭの方が分布のＲ２乗平均（Ｒ2）が大きいために（図中、ＳＭＳ−ＳＭＭのＲ2は、０．６７９７、ＭＳＭ−ＭＳＳのＲ2は、０．０４０６）、座標上の点がＹ＝−Ｘ上に集中している。したがって、図１３の例では、Ｒ２乗平均の大きいスペース−マークエッジ、すなわち図１３（ｂ）を選択すべきである。
【００４９】
なお、図１３中、ＳＭＳデビエーションとは、スペース−マークの場合のスペース側のデビエーションを、ＳＭＭデビエーションとは、スペース−マークの場合のマーク側のデビエーションを、ＭＳＭデビエーションとは、マーク−スペースの場合のマーク側のデビエーションを、ＭＳＳデビエーションとは、マーク−スペースの場合のスペース側のデビエーションを示す。
【００５０】
一方、第２の方法は、第１の方法を改良したものである。すでに説明したように、第１の方法によれば、マークとスペースとのバランスを考慮した最適なライトストラテジを設定することができる。しかし、第１の方法では、計算が膨大であるために、ソフトウエアとしての負荷が大きいという問題がある。そこで、第２の方法は、ソフトウエアの負荷を軽減しつつ、第１の方法と同等なライトストラテジを提供するものである。
【００５１】
第１の方法では、２次元座標上に存在するすべてのマーク、スペースのデビエーションデータがＹ＝Ｘ上に集中しているときに、これらの分散が最小になることを説明した。第２の方法もこの考え方を踏襲しつつ、簡易にこれを実現させるものである。
【００５２】
図１４および図１５に示すように、ｍＴマークの後にｎＴスペースが来る組み合わせにおけるマークおよびスペースのデビエーションをそれぞれ、ＤＭ（ｍ、ｎ）、ＤＳ（ｍ、ｎ）と定義する。さらに、図１４および図１５に示すテーブルの差分を図１６に示すように求め、図１６の各要素をそれぞれをＤ（ｍ、ｎ）とすると、
Ｄ（ｍ、ｎ）＝ＤＭ（ｍ、ｎ）−ＤＳ（ｍ、ｎ）
となる。
【００５３】
ここで、第１の方法では、２次元座標上に存在するすべてのマーク、スペースのデビエーションデータがＹ＝Ｘ上に集中するということは、図１６に示す各要素Ｄ（ｍ、ｎ）が０に収束することに相当する。今、マークの固有伸縮量をＫＭ（ｍ，ｎ）、スペースの固有伸縮量をＫＳ（ｍ，ｎ）とすると、これらの平均固有伸縮量Ｋ（ｍ、ｎ）は、
Ｋ（ｍ、ｎ）＝（ＫＭ（ｍ，ｎ）＋ＫＳ（ｍ，ｎ））／２
となる。
【００５４】
したがって、実際には、図１７に示すように、Ｄ（ｍ、ｎ）とＫ（ｍ、ｎ）を用いて、以下のように処理する。すなわち、各マークおよびスペースについて、Ｄ（ｍ、ｎ）の値がＫ（ｍ、ｎ）よりも小さいか否かを判断する。次に、Ｄ（ｍ、ｎ）の値がＫ（ｍ、ｎ）よりも大きいときには、該当するマークあるいはスペースにそれぞれの固有伸縮量を加算または減算する。
【００５５】
なお、このとき、例えば、マークに対して、固有伸縮量を加算した場合には、このマークに隣り合うスペースに対しては、固有伸縮量を減算する処理がなされる。また、特定のマークやスペースを操作することにより、他のマークやスペースは、その影響を受けることから、これら他のマークやスペースについても特定のマークやスペースを操作した場合に生ずる影響度が付加される。なお、この場合も、あるマークに影響度を加算した場合には、隣り合うスペースに対しては、その影響度を減算する処理が行われる。一方で、特定マークあるいはスペースについて、Ｄ（ｍ、ｎ）の値がＫ（ｍ、ｎ）よりも小さい場合には、次の特定マークあるいはスペースについて同様の処理がなされる。
【００５６】
したがって、これらの方法によれば、従来のように、十分な経験則や膨大な計算を行わなくても、最適なライトストラテジを短時間で設定することができる。また、光記録媒体の種類によらず、適用できるストラテジの設定方法を提供することができる。
【００５７】
以上、図面を参照して本発明の実施の形態について詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】光ディスク装置の構成図である。
【図２】固有の伸縮量を求めるための処理フローである。
【図３】求められるデビエーションの一例を示す図である。
【図４】最適なライトストラテジを求めるための手順を示した図である。
【図５】最適なライトストラテジを求めるための調整順序を示した図である。
【図６】スペース前に存在するマークのデビエーションテーブルである。
【図７】マーク後に存在するスペースのデビエーションテーブルである。
【図８】マークとスペースの組み合わせにおけるデビエーションを２次元座標にプロットした図である。
【図９】図８において、５Ｔ以上を加重平均した場合の図である。
【図１０】３Ｔスペース−３Ｔマークのデビエーションを移動させた場合の各マーク−スペースの影響を示した図である。
【図１１】各マーク−スペースのデビエーションに関して初期状態とデビエーション操作後の状態とを示した図である。
【図１２】設定するターゲット別の分布状態を示した図である。
【図１３】初期分布の違いを示す図である。
【図１４】スペース前に存在するマークのデビエーションテーブルである。
【図１５】マーク後に存在するスペースのデビエーションテーブルである。
【図１６】図１４および図１５のデビエーションの差分を示したテーブルである。
【図１７】ストラテジの設定に関する処理フローである。
【符号の説明】
【００５９】
１・・・光ディスク、２・・・光ピックアップ、３・・・ヘッドアンプ、４・・・データデコーダ、５・・・記録長検出部（計測手段）、６・・・ＲＯＭ（理論長記憶手段）、７・・・ＲＡＭ（計測値記憶手段）、８・・・固有伸縮量算出部（固有伸縮量算出手段）、９・・・分散算出部（分散算出手段）、１０・・・記録パルス列補正部（記録手段）、１１・・・制御部（差分値算出手段、デビエーション値算出手段）、１２・・・ストラテジ設定部（ライトストラテジ設定手段）、１３・・・コントローラ、１４・・・データエンコーダ、１５・・・レーザ駆動部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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【図１７】
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