(57)【要約】【課題】連続して２方向の撮影を行うことが可能なＸ線診断装置及びＸ線診断装置に適用される平面検出器並びにＸ線診断装置の制御方法を提供すること。【解決手段】マトリクス状に配置された複数の画素と、複数の画素群のグループに分割された各グループの画素に対して、互いに独立に画素に信号を蓄積するオン動作／画素の信号を読み出すオフ動作の制御が可能な制御手段（５、１７）を備えた。【選択図】図１
2006271721.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
マトリクス状に配置された複数の画素と、
複数の画素を含む少なくとも２つのグループに分割された各グループの画素に対して、互いに独立に画素に信号を蓄積するオン動作と画素の信号を読み出すオフ動作の制御が可能な制御手段を具備することを特徴とするＸ線平面検出器。
【請求項２】
請求項１に記載の平面検出器において、前記制御手段は、前記グループ内全ての画素をオンする第１のモードと、前記グループ内全ての画素をオフにする第２のモードと、グループ内の画素群を更に分割した複数のサブグループの画素のみを選択的にオンにする第３のモードのいずれかのモードにより画素の制御を行うことを特徴とするＸ線平面検出器。
【請求項３】
マトリクス状に配置された複数の画素をそれぞれ備えた第１と第２の平面検出器を備え、第１方向からのＸ線を第１の平面検出器で検出し、第１方向とは異なる第２の方向からのＸ線を第２の平面検出器で検出することにより、異なる２方向からの撮影が可能なＸ線診断装置において、
前記第１の平面検出器の複数の画素を信号用画素と補正用画素とに分割する手段と、
前記第１の方向からのＸ線のばく射に続いて前記第２の方向からのＸ線のばく射を連続して行う手段と、
第１の方向からＸ線をばく射する際に、前記第１の平面検出器の前記信号用画素をオフにし、その他の画素をオンにする手段と、
第１の方向からのＸ線のばく射に続く第２の方向からＸ線をばく射する際に、前記第１及び第２の平面検出器の全ての画素をオフにする手段と、
前記第１及び第２の方向からのＸ線のばく射による前記第１の平面検出器の前記信号用画素の検出値を前記第１の平面検出器の前記補正用画素の検出値で補正する手段と、を具備することを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項４】
請求項３に記載のＸ線診断装置において、
前記第２の平面検出器の複数の画素を信号用画素と補正用画素とに分割する手段と、
前記第２の方向からのＸ線のばく射に続いて前記第１の方向からのＸ線のばく射を連続して行う手段と、
第２の方向からＸ線をばく射する際に、前記第２の平面検出器の前記信号用画素をオフにし、その他の画素をオンにする手段と、
第２の方向からのＸ線のばく射に続く第１の方向からＸ線をばく射する際に、前記第１及び第２の平面検出器の全ての画素をオフにする手段と、
前記第１及び第２の方向からのＸ線のばく射による前記第２の平面検出器の前記信号用画素の検出値を前記第２の平面検出器の前記補正用画素の検出値で補正する手段と、を更に具備することを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項５】
請求項４に記載のＸ線診断装置において、前記第１の方向からのＸ線のばく射に続く前記第２の方向からのＸ線のばく射と、前記第２の方向からのＸ線のばく射に続く前記第１の方向からのＸ線のばく射とを交互に行うことを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項６】
請求項３から請求項５のいずれか１項に記載のＸ線診断装置において、第１の平面検出器及び第２の平面検出器の少なくとも一方の補正用画素と信号用画素を１行毎に交互に配置、或いは市松模様状に配置することを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項７】
請求項３から請求項５のいずれか１項に記載のＸ線診断装置において、第１の平面検出器及び第２の平面検出器の少なくとも一方の補正用画素の画素数が信号用画素の画素数と同じかそれより少ないことを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項８】
請求項３から請求項７のいずれか１項に記載のＸ線診断装置において、前記補正用画素で、他の方向の撮影時における散乱線が検出され、当該検出値により前記信号用画素の散乱線成分が補正されることを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項９】
請求項３から請求項８のいずれか１項に記載のＸ線診断装置において、前記複数の画素中の２画素×２画素の４画素を１単位として、信号用画素の検出値を補正することを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項１０】
請求項３から請求項８のいずれか１項に記載のＸ線診断装置において、前記補正用画素の位置の信号を、信号用画素の画素値で補完して信号画像を得ることを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項１１】
請求項１または２に記載のＸ線平面検出器を備えることを特徴とするＸ線診断装置。
【請求項１２】
マトリクス状に配置された複数の画素をそれぞれ備えた第１と第２の平面検出器を備え、第１方向からのＸ線を第１の平面検出器で検出し、第１方向とは異なる第２の方向からのＸ線を第２の平面検出器で検出することにより、異なる２方向からの撮影が可能なＸ線診断装置の制御方法おいて、
前記第１の平面検出器の複数の画素を信号用画素と補正用画素とに分割し、
第１の方向からＸ線をばく射する際に、前記第１の平面検出器の前記信号用画素をオフにし、その他の画素をオンにし、
前記第１の方向からのＸ線のばく射に続く第２の方向からＸ線をばく射する際に、前記第１及び第２の平面検出器の全ての画素をオフにし、
前記第１及び第２の方向からのＸ線のばく射による前記第１の平面検出器の前記信号用画素の検出値を前記第１の平面検出器の前記補正用画素の検出値で補正することと、を具備することを特徴とする制御方法。
【請求項１３】
請求項１１に記載の制御方法において、
前記第２の平面検出器の複数の画素を信号用画素と補正用画素とに分割し、
第２の方向からＸ線をばく射する際に、前記第２の平面検出器の前記信号用画素をオフにし、その他の画素をオンにし、
前記第２の方向からのＸ線のばく射に続く第１の方向からＸ線をばく射する際に、前記第１及び第２の平面検出器の全ての画素をオフにし、
前記第１及び第２の方向からのＸ線のばく射による前記第２の平面検出器の前記信号用画素の検出値を前記第２の平面検出器の前記補正用画素の検出値で補正すること、を更に具備し、
前記第１の方向からのＸ線のばく射に続く前記第２の方向からのＸ線のばく射と、前記第２の方向からのＸ線のばく射に続く前記第１の方向からのＸ線のばく射とを交互に行うことを特徴とする制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、Ｘ線平面検出器と、２つのＸ線平面検出器を有し、異なる方向の画像が収集可能なＸ線診断装置及び当該Ｘ線診断装置の制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
平面検出器を用いたバイプレーン撮影等において、２方向の撮影を連続して行おうとした場合に、最初の方向の画像を読み出してから、もう一方の方向のＸ線をばく射する必要があった。これは、平面検出器は、画像信号を読み出す際、１行ずつ読み出す必要があるので読み出しに時間が掛かることと、画像信号を読出し終わる前に何らかの信号が入射すると、その信号がまだ読み出されていない画素に追加されてしまうという理由による。つまり、図１１に示すように、バイプレーン撮影において、第１のＸ線発生器５５から第１の平面検出器５６に対して第１の方向５２のＸ線を照射し、その画像を読み出す前に、第２のＸ線発生器５３からのＸ線による第２の平面検出器５４に対する第２の方向５１の撮影を行うと、第２の方向５１の散乱線が第１の平面検出器５６に入射してしまう。このため、第１の平面検出器５６から被検体Ｐの正確な画像を得ることができない。
【０００３】
このような不具合を避けるためには、第２の撮影は、第１の平面検出器５６の画像がすべて読み出された後に行う必要があり、同様に、次の第１の撮影は、前の第２の平面検出器５４の画像がすべて読み出された後に行う必要がある。よって、第１と第２の撮影は、平面検出器の画像読出しに要する時間だけずらして行う。このため、最速レートでは、第１と第２の撮影タイミングを半周期ずらして撮影をする必要があった。
【０００４】
また、２つのＸ線平面検出器を使用して、異なる２つの方向からＸ線撮影を行う方式（バイプレーン撮影やステレオ撮影等）が行われている。このバイプレーン撮影等において、散乱線の影響を受けず、第１と第２の撮影の間隔を短くするために以下の方法が提案されている（特許文献１参照）。第１ショット後に空間的に荒い画像を得、第２ショット後に細かい画像を得る。そして、荒い画像から散乱線の空間分布を推定し、散乱線画像を作成する。また、細かい画像と散乱線画像の加減算処理から、所望の画像を再構成する。しかし、まだ、第１と第２の撮影のタイミングにズレが存在していた。
【特許文献１】特開２００４−２４２８７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
上記のように平面検出器には、散乱線等の信号を遮断する機能が無く、更にすべての画像信号を読み出すのに時間がかかる。このため、平面検出器を使ってバイプレーン撮影を行う際には、連続して２方向の撮影を行うことができなかった。
【０００６】
本発明は、連続して２方向の撮影を行うことが可能なＸ線診断装置及びＸ線診断装置に適用される平面検出器並びにＸ線診断装置の制御方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の一局面に係る発明は、マトリクス状に配置された複数の画素と、複数の画素群のグループに分割された各グループの画素に対して、互いに独立に画素に信号を蓄積するオン動作／画素の信号を読み出すオフ動作の制御が可能な制御手段を具備することを特徴とする。
【０００８】
また、本発明の一局面に係るＸ線診断装置は、マトリクス状に配置された複数の画素をそれぞれ備えた第１と第２の平面検出器を備え、第１方向からのＸ線を第１の平面検出器で検出し、第１方向とは異なる第２の方向からのＸ線を第２の平面検出器で検出することにより、異なる２方向からの撮影が可能なＸ線診断装置において、前記第１の平面検出器の複数の画素を信号用画素と補正用画素とに分割する手段と、前記第１の方向からのＸ線のばく射に続いて前記第２の方向からのＸ線のばく射を連続して行う手段と、第１の方向からＸ線をばく射する際に、前記第１の平面検出器の前記信号用画素をオフにし、その他の画素をオンにする手段と、第１の方向からのＸ線のばく射に続く第２の方向からＸ線をばく射する際に、前記第１及び第２の平面検出器の全ての画素をオフにする手段と、
前記第１及び第２の方向からのＸ線のばく射による前記第１の平面検出器の前記信号用画素の検出値を前記第１の平面検出器の前記補正用画素の検出値で補正する手段と、を具備することを特徴とする。
【０００９】
なお、本発明は、上記のような装置に限らず、上記のような処理を実現するための方法の発明或いはＸ線装置を制御するプログラムの発明としても成立する。
【発明の効果】
【００１０】
本発明によれば、連続して２方向の撮影を行うことが可能なＸ線診断装置及びＸ線診断装置に適用される平面検出器並びにＸ線診断装置の制御方法が提供できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。図１は、本実施形態に係るＸ線診断装置の概略構成を示すブロック図である。本発明は、２つの平面検出器を有するような構成（本明細書において、このような構成を「バイプレーン」と称する）に適用されるが、基本的な構成は１つの検出器の場合も同様であるので、図１では、１つの平面検出器の構成のみを示している。
【００１２】
図１に示すように、Ｘ線診断装置は、Ｘ線発生部１２と、Ｘ線検出部１５とが、保持部２３により支持されて、被検体１３を挟むように対向配置されている。Ｘ線発生部１２の前段には高電圧発生部１０が設けられており、Ｘ線発生部１２のＸ線管１１に高電圧を供給する。Ｘ線管１１からばく射されたＸ線は、Ｘ線絞り器２２で所定のビーム幅に成形されて被検体１３にばく射される。
【００１３】
被検体１３を透過したＸ線は、Ｘ線検出部１５の平面検出器２５で検出されて、電気信号に変換される。この電気信号はゲートドライバ５の制御により順次読み込まれて、電荷・電圧変換器６で電流・電圧変換される。そして電圧信号に変換された電気信号は、Ａ／Ｄ変換器７でデジタル信号に変換された後に、パラレル・シリアル変換器８でパラレル・シリアル変換を受けて、被検体１３の画像が得られる。この被検体１３の画像信号は、例えば、ＤＲＡＭやＥＥＰＲＯＭ等のメモリやＨＤＤ或いは光ディスクなどの大容量外部記憶装置からなる画像記憶回路１６に出力される。なお、電荷・電圧変換器６からパラレル・シリアル変換器８は、画像データ生成部２６を構成する。
【００１４】
画像記憶回路１６に記憶された画像信号は、一旦、表示部２１の表示用画像メモリ３６に展開され、その後、Ｄ／Ａ変換器３１でアナログ信号に変換され、表示回路３２でビデオ信号に変換されてモニタ３３に表示される。
【００１５】
図１において、システム制御部１７は、各部の動作を制御する。また、システム制御部１７は、操作部２０の操作を受け付けて、その操作に応じた制御を行う。操作部２０は、例えば、キーボードや操作ボタン等からなる。なお、機構制御部１８は、保持部２３を３次元的に移動・回転させるための制御を行う。
【００１６】
図２は、第１及び第２の平面検出器２５Ａ、２５Ｂから第１及び第２の画像記憶回路１６Ａ、１６Ｂに至るまでの回路構成を示す図である。第１の平面検出器２５Ａと第２の平面検出器２５Ｂは、同じ機能を有するので、片方（第１の平面検出器２５Ａ）について説明する。第１の平面検出器２５Ａは、光電変換膜の下に、マトリックス状に配置された、画素を備えており、それぞれ、列方向の信号線と行方向の制御線にそれぞれ接続されている。各画素には、光電変換膜でＸ線から電荷に変換された信号を蓄積する画素容量と信号の読み出しを制御するスイッチング素子から構成される。ここで、Ｘ線が照射されると、光電変換膜でＸ線から電荷に変換されて、各画素の画素容量に蓄積される。そして、第１の電荷・電圧変換器６Ａから近い方から、第１のゲートドライバ５Ａを順次切替えて、画素のスイッチング素子を順次オンにすることによって、画素容量に蓄積された電荷が、１列毎に順次読み出される。そして、全ての画素からの読み出しが終了すると、第１の平面検出器２５Ａからの読み出しが終了する。
【００１７】
尚、各画素は、信号電荷を蓄積する画素容量と、その信号電荷の蓄積と読み出しを切替えるためのスイッチング素子からなる。現状では、スイッチング素子として、薄膜トランジスタ(TFT)を使用している。「オフ」とは、スイッチング素子をオフにして画素容量に信号が蓄積できる状態であることを意味する。また、「オン」とは、スイッチング素子をオンにして、画素容量に蓄積された電荷を読み出すことを意味する。
【００１８】
また、平面検出器には、直接変換型と間接変換型があり、本実施形態はその両方に適用できる。以降の動作は図１で説明したものと同じであるので、詳細な説明は省略する。
【００１９】
上記のように構成されたＸ線診断装置に係る動作を説明する。本発明の特徴は、平面検出器の画素を信号検出用の画素と補正用の画素との２つのグループに分けたことにある。以下、図３を参照して、具体的に説明する。図３は、本発明の一実施形態に係る動作の一例を示す図である。なお、図３において、（ａ）は画素の割り当てを示す図、（ｂ）は画素のオンオフの制御タイミングを示すタイミングチャートである。なお、図３の（ａ）において、直線の交点に画素が配置されているものとする。
【００２０】
図３に示すように、信号用の画素１−１〜１−４と補正用の画素２−１〜２−４の２つのグループに分ける。そして、図３の（ｂ）に示すように、例えば、信号用の画素１−１〜１−４について、全オフ、全オン、選択オンの３種類のモードを取るものとする。図４を参照して第１の平面検出器と第２の平面検出器のそれぞれの画素の動作タイミングを説明する。本実施形態では、第２の平面検出器の補正用画素は信号用として利用している。なお、以下の説明において、第１の方向のＸ線は第１の平面検出器に入射し、第２の方向のＸ線は第２の平面検出器に入射するものとする。また、第１の方向のＸ線のばく射を「第１方向のばく射」と称し、第２の方向のＸ線のばく射を「第２方向のばく射」と称する。
【００２１】
まず、第１方向のばく射を行うとき（時刻ｔ１）に、第１の平面検出器の信号用画素１−１〜１−４（以下、「第１の信号用画素信号」と称する）のみをオフにしておき、他の画素はオンにしておく。これにより、第１の信号用画素１−１〜１−４に電荷が蓄積され、他の画素、すなわち、第１の平面検出器の補正用画素２−１〜２−４（以下、「第１の補正用画素信号」と称する）及び第２の平面検出器の信号用画素１−１〜１−４（以下、「第２の信号用画素信号」と称する）と補正用画素２−１〜２−４（以下、「第２の補正用画素信号」と称する）には、Ｘ線によって発生した電荷が蓄積されずに読み出されることになる。この動作により、第１の信号用画素１−１〜１−４には、第１方向のばく射による電荷が蓄積され、他の画素には電荷が蓄積されないことになる。
【００２２】
続いて、第２方向のばく射を行う際（時刻ｔ２）に、全ての画素をオフにしておく。これにより、第１の信号用画素と補正用画素には、第２方向のばく射による散乱線が入射することになるので、散乱線成分が蓄積することになる。また、第２の信号用画素と補正用画素には、第２方向のばく射によるＸ線が入射することになる。
【００２３】
そして、第２方向のばく射が終了したら（時刻ｔ３）、第１及び第２の平面検出器のそれぞれの画素から、信号用画素→補正用画素と、順次信号を読み出すことになる。しかし、第１の信号用画素の蓄積電荷（以下、「検出信号」と称する）は、第１方向のばく射による信号成分と第２方向のばく射による散乱線成分を含んでいる。ここで、第１の補正用画素の検出信号は第２方向のばく射による散乱線成分のみを含んでいる。そこで、第１の信号用画素の検出信号から第１の補正用画素の検出信号の差分を取ることで、第２方向のばく射による影響を取り除くことが出来る。この場合において、第１の信号用画素の検出信号から隣接する第１の補正用画素の検出信号をそのまま差し引くことで、散乱線成分を取り除いても良いし、信号用画素の周囲のいくつかの補正用画素の重み平均を取って、散乱線成分を推定して、当該散乱線成分を除去するようにしても良い。なお、時刻ｔ４には、平面検出器の各画素の検出信号の読み出しが終了しているので、再び第１方向のばく射を開始することが出来る。
【００２４】
上記のような構成とすることにより、第１の平面検出器の画素は減ることになるが、第１方向のばく射と第２方向のばく射を連続して行うことが可能になる。なお、図４のタイミングチャートでは、まず、信号用画素からの検出信号を読み出して、その後に補正用画素からの検出信号を読み出すようにしたが、読み出しの順序は、これに限らず、図５に示すように、信号用画素１−１→補正用画素２−１→信号用画素１−２→補正用画素２−２→・・・のように、信号用画素と補正用画素とを交互に読み出しても構わない。
【００２５】
上記の実施形態では、常に、第１方向のばく射を先に行い、次に第２方向のばく射を行って、その後で、各画素からの検出信号の読み出しを行うようにしている。しかし、このような方法では、第２の補正用画素は信号用画素として使用できるが、第１の補正用画素は信号用画素として使用できないので、常に第１の平面検出器からの画像信号は、第２の平面検出器からの画像信号の２分の１の解像度になってしまうことになる。両者とも同一の動作をさせたい場合には、第１方向と第２方向のばく射の順番を１回のばく射ごとに変更することが好ましい。この例を図６に示す。図６は、１回のばく射ごと第１方向と第２方向のばく射の順番を変更した場合にタイミングチャートを示す図である。
【００２６】
まず、１回目のばく射（時刻ｔ１）では、第１方向のばく射を行い、続いて第２方向のばく射（時刻ｔ２）を行っているので、上記の実施形態と動作は同様である。本実施形態では、２回目のばく射で、第２方向のばく射（時刻ｔ４）を行い、続いて第１方向のばく射（時刻ｔ５）を行っている。
【００２７】
この場合において、まず、時刻ｔ４において、第２方向のばく射を行うときに、第２の信号用画素１−１〜１−４のみをオフにしておき、他の画素はオフにしておく。これにより、第２の信号用画素１−１〜１−４に電荷が蓄積され、他の画素、すなわち、第１の信号用画素１−１〜１−４と第１の補正用画素２−１〜２−４及び第２の補正用画素２−１〜２−４には、Ｘ線によって発生した電荷が蓄積されずに読み出されることになる。この動作により、第２の信号用画素１−１〜１−４には、第２方向のばく射による電荷が蓄積され、他の画素には電荷が蓄積されないことになる。
【００２８】
続いて、時刻ｔ５において、第１方向のばく射を行う際に、全ての画素をオフにしておく。これにより、第２の信号用画素と補正用画素には、第１方向のばく射による散乱線が入射することになるので、散乱線成分が蓄積することになる。また、第１の信号用画素と補正用画素には、第１方向のばく射によるＸ線が入射することになる。
【００２９】
以降の動作は、第１の平面検出器と第２の平面検出器が入れ替わったような動作となるので、以下の説明は省略する。このように、本実施形態では、１回のばく射毎に、第１方向のばく射と第２方向のばく射の順序を入れ替えているので、第１と第２の平面検出器の解像度（すなわち信号用画素として使用される画素数）が、１回のばく射毎に入れ替わることになる。従って、第１の方向の画像が常に低い解像度になることを避けることができる。
【００３０】
なお、１つの平面検出器で単独に撮影を行う場合には、補正用画素を信号用画素として、使用すればよい。
【００３１】
上記の実施形態では、１行毎に交互に信号用画素と補正用画素を配置したが、これに限らず様々な配置を行うこと可能である。例えば、図７にその一例を示す。
【００３２】
図７は、信号用画素と補正用画素の配置例を示す図である。なお、図７では、横方向２画素、縦方向２画素の４画素を１画素として取り扱うことを前提としている。  
図７の（ａ）では上記の実施形態と同様に、信号用画素と補正用画素とが１行ごとに交互に配置されている。図７の（ｂ）では、信号用画素と補正用画素とが半分ずつ交互に配置されている。具体的には、例えば、左上の４画素では補正用画素が信号用画素の上に配置されているが、右隣の４画素ではその逆になっており、補正用画素が信号用画素の下に配置されている。また、図７の（ｃ）では、信号用画素と補正用画素とが市松模様に配置されている。図７の（ｄ）では、４画素のうち１つの画素のみを補正用画素とし、他の画素を信号用画素として使用している。このように、補正用画素は、どのような配置としても良い。
【００３３】
上記のような構成において、信号用画素と補正用画素を市松模様に配置した場合の各画素とゲート線との接続例を図８に示す。図８に示すように、信号用ゲート線と補正用ゲート線を交互に配置し、それぞれのゲート線が、１つおきにその両側の画素に接続されている。このような構成とすることにより、先の実施形態で説明したような、動作が可能となる。
【００３４】
前述したように、補正用画素には、他方向のばく射による散乱線の影響による検出信号のみが蓄積されている。また、信号用画素には、画像信号と他方向のばく射による散乱線の影響が足し合わさった情報が蓄積されている。従って、画素信号を求めるためには、信号用画素の検出信号から補正用画素の検出信号を差し引く必要がある。この場合において、例えば、４画素で１画素を構成する場合を考慮すると、図９のように、信号用画素の検出信号がそれぞれ、Ｘ１、Ｘ２であり、補正用画素の検出信号がそれぞれＹ１、Ｙ２であった場合、画素信号は、  
画素信号Ｓ＝Ｘ１＋Ｘ２−Ｙ１−Ｙ２  
で与えられる。これにより、２つの信号用画素の検出信号が得られる。従って、Ｓ／２を求めることで、４画素の平均検出信号が得られることになる。なお、２画素を１画素とする場合は、信号用画素のそれぞれの検出信号Ｓ１、Ｓ２を、  
Ｓ１＝Ｙ１−Ｘ１  
Ｓ２＝Ｙ２−Ｘ２  
としたり、  
Ｓ１＝Ｙ１−（Ｘ１＋Ｘ２）／２  
Ｓ２＝Ｙ２−（Ｘ１＋Ｘ２）／２  
のようにしても良い。
【００３５】
なお、例えば、市松模様の場合には、図７の（ａ）（ｂ）と同様に、４画素を１画素と扱う場合には、画素信号を加算平均によって求めても良い。一方、もとの解像度を保つために、加重平均によって、近くのものに大きい加重係数をかけて、画素情報が欠落した画素の情報を補間しても良い。図１０にその一例を示す。図１０に示す例では、ｙ′１画素をその周りのＹ１からＹ４で補間している例を示す図であって、この場合、単純加算平均により、  
ｙ′１＝（Ｙ１＋Ｙ２＋Ｙ３＋Ｙ４）／４  
でｙ′１の画素情報が得られることになる。
【００３６】
信号画素、補正画素のそれぞれに対して、このような補間を行ってから２枚の画像を差分することで、元の解像度に近い補正像を得ることができる。
【００３７】
尚、一つの検出器の画素を、信号用と補正用に別けるために、信号レベルが分からない画素（補正用画素の位置の信号）が存在する場合が考えられる。この場合、以下の２つの方法が考えられる。
【００３８】
（１）解像度を半分にして、２×２画素の４画素を１画素とし、４画素内の信号用画素と補正用画素から、大きな１画素あたりの値を計算する。
【００３９】
（２）一方、解像度をできるだけ落とさずに、補正用画素の位置の信号を信号画素の値から補間して信号画像を求める。この際、逆に補正用画像も求めることができ、それらの画像間で散乱線の影響を補正することもできる。
【００４０】
このいずれかの方法により、一つの検出器の画素を、信号用と補正用に別けるようにすればよい。
【００４１】
上記のように、本発明の実施形態では、平面検出器に蓄積される信号に散乱線の影響を受けさせないための手段と、散乱線を補正する手段とを備えるようにしている。ここで、散乱線の影響を補正するために、平面検出器の全画素を、信号用の画素と補正用の画素に分け、それぞれ独立にオンオフ制御ができるようにしている。従って、補正を行うために、解像度を犠牲にすることになるが、連続して２方向の撮影が可能になるという効果が得られる。
【００４２】
本発明は、上記各実施の形態に限ることなく、その他、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々の変形を実施し得ることが可能である。上記の実施形態では、異なる２方向の撮影について説明したが、３方向以上の撮影にも、同様に適用可能である。さらに、上記各実施形態には、種々の段階の発明が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組合せにより種々の発明が抽出され得る。
【００４３】
また、例えば各実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようとする課題の欄で述べた課題が解決でき、発明の効果で述べられている効果が得られる場合には、この構成要件が削除された構成が発明として抽出され得る。
【図面の簡単な説明】
【００４４】
【図１】本実施形態に係るＸ線診断装置の概略構成を示すブロック図。
【図２】第１及び第２の平面検出器２５Ａ、２５Ｂから第１及び第２の画像記憶回路１６Ａ、１６Ｂに至るまでの回路構成を示す図。
【図３】本発明の一実施形態に係る動作の一例を示す図。
【図４】第１の平面検出器と第２の平面検出器のそれぞれの画素の動作タイミングを説明するための図。
【図５】第１の平面検出器と第２の平面検出器のそれぞれの画素の動作タイミングを説明するための図。
【図６】１回のばく射ごと第１方向と第２方向のばく射の順番を変更した場合にタイミングチャートを示す図。
【図７】信号用画素と補正用画素の配置例を示す図。
【図８】信号用画素と補正用画素を市松模様に配置した場合の各画素とゲート線との接続例を示す図。
【図９】４画素で１画素を構成する場合の例を示す図。
【図１０】画素情報が欠落した画素の情報の補間例を示す図。
【図１１】バイプレーン撮影を行う場合の問題点を説明するための図。
【符号の説明】
【００４５】
５…ゲートドライバ
６…電荷・電圧変換器
７…Ａ／Ｄ変換器
８…パラレル・シリアル変換器
１０…高電圧発生部
１１…Ｘ線管
１２…Ｘ線発生部
１３…被検体
１５…Ｘ線検出部
１６…画像記憶回路
１７…システム制御部
１８…機構制御部
２０…操作部
２１…表示部
２２…線絞り器
２３…保持部
２５…平面検出器
２６…画像データ生成部
３１…Ｄ／Ａ変換器
３２…表示回路
３３…モニタ
３６…表示用画像メモリ
５１…第２の方向
５２…第１の方向
５３…第２のＸ線発生器
５４…第２の平面検出器
５５…第１のＸ線発生器
５６…第１の平面検出器
【図１】
2006271721.tif 000003
【図２】
2006271721.tif 000004
【図３】
2006271721.tif 000005
【図４】
2006271721.tif 000006
【図５】
2006271721.tif 000007
【図６】
2006271721.tif 000008
【図７】
2006271721.tif 000009
【図８】
2006271721.tif 000010
【図９】
2006271721.tif 000011
【図１０】
2006271721.tif 000012
【図１１】
2006271721.tif 000013