(57)【要約】【課題】  ライン単位でおこる画素ズレ、画素抜けの状況を迅速かつ正確に解析できる画像処理評価システムを提供する。【解決手段】  入力画像に対する出力画像の画素ズレを解析する画像処理評価システム１であって、入力画像における１ラインの入力画素とその１ラインに対応する出力画像の出力画素とを比較する。画像処理評価システム１の画素位置判定手段５には、画素値比較手段、非連続除去手段、一致画素カウント手段、一致画素数ピーク判定手段、一致位置検索手段が設けられている。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力画像に対する出力画像の画素ズレを解析する画像処理評価システムであって、
前記入力画像における１ラインの入力画素と当該１ラインに対応する前記出力画像の出力画素とを比較することを特徴とする画像処理評価システム。
【請求項２】
前記入力画像における１ラインと当該１ラインに続く１ラインとの入力画素とそれに対応する前記出力画像の出力画素とを比較することを特徴とする請求項１に記載の画像処理評価システム。
【請求項３】
複数画素からなる１ラインの入力画素データに対して１ラインの出力画素データを１画素ずつシフトして比較する画素値比較手段と、
前記画素値比較手段の出力結果のうち所定数以上連続しない画素の一致情報を除去する非連続除去手段と、
前記非連続除去手段の出力結果のうち一致していると判断される画素をカウントする一致画素カウント手段と、
前記一致カウント手段によりカウントされた一致画素数の増減を監視してその増減のピークを判定する一致画素数ピーク判定手段と、
前記一致画素数ピーク手段からの通知によって、一致画素がピークであるときの入力画素に対する出力画素のシフト量と一致画素の位置及び数とからなる一致画素情報を出力する一致位置検索手段と、
を備えたことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の画像処理評価システム。
【請求項４】
前記一致位置検索手段から出力される前記一致画素情報に基いて入力画素及び出力画素のライン末尾における一致画素の位置を計算して当該ライン末尾の不一致画素を残してそれ以外の画素を入力画素値記憶手段及び出力画素値記憶手段から吐出すとともに、前記入力画素値記憶手段及び出力画素値記憶手段における前記画素の吐出し量を記憶させる吐出し制御手段と、
前記入力画素値記憶手段及び出力画素値記憶手段に残した前記不一致画素に続けて前記入力画像及び出力画像における次ラインの画素データを読込む画素データ取込手段と、
をさらに備えたことを特徴とする請求項３に記載の画像処理評価システム。
【請求項５】
入力画素値記憶手段及び出力画素値記憶手段に向けて対応する不一致画素のデータのみを入力する画素データ取込手段と、
前記非連続除去手段における前記所定数を可変設定する連続数設定手段と、
をさらに備えたことを特徴とする請求項３又は請求項４に記載の画像処理評価システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
この発明は、画像処理プロセッサ、画像処理ＬＳＩ等における入力画像に対する出力画像の画素ズレを解析する画像処理評価システムに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来から、複写機、プリンタ等の画像形成装置では、画像処理をおこなうために、進歩するアルゴリズムに対して即座に対応できる専用の画像処理プロセッサが用いられる場合が多い。このような画像処理プロセッサを開発する場合、僅かなプログラムミスによって画像処理の結果（出力画像）が予期せぬものになることがある。したがって、画像処理プロセッサの開発時には、画像処理システムに対して充分で正確なデバッグをおこなう必要がある。ところが、実際には、画像処理システムのデバッグは、目視による情報収集によっておこなわれたり、感や経験に頼っておこなわれたりしていた。
【０００３】
このようなデバッグの手法は、画像処理プロセッサの開発時に限らずに、ＰＬＤやＡＳＩＣの画像処理ＬＳＩの開発時におけるロジックデバッグにも用いられることが多かった。
【０００４】
一方、特許文献１等には、異常画像の検出を定量的におこなうことを目的とした技術が開示されている。詳しくは、入力画像を圧縮したものを基準画像と比較することで、異常画像の検出をおこなっている。
また、特許文献２等には、出力画像と期待値画像とを比較することで、異常画像の発生状況を特定する技術が開示されている。
【０００５】
【特許文献１】特開平１１−２７５５８１号公報
【特許文献２】特開平７−１４６８８２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
上述した従来の技術は、出力画像において異常が発生している位置とその状況とを特定することができないために、デバッグの効率が悪かった。
【０００７】
詳しくは、画像処理プロセッサ等の初期プログラムにおけるデバッグでは、ライン単位で画素ズレや画素抜けが発生した場合に、出力画像を画像として認識できないことがある。このような場合に、目視等による従来のデバッグ手法を用いて、出力画像から異常画像の原因を推測するのは難しい。
【０００８】
具体的に、入力画像と出力画像とのデータをファイルに保存した後に、バイナリエディタ等を使用して同一又は類似の画素値を目視で検索しながらラインごとの画素ズレ、画素抜けの状態を解析した場合には、非常に多くの時間と労力とが必要となる。特に、画像処理によって出力画像における画素値が変動している場合には、目視による比較はほとんど不可能となる。
【０００９】
一方、上述の特許文献１や特許文献２等の技術は、異常画像の検出を定量的におこなうことを目的とするものではあるものの、出力画像において異常が発生している位置とその状況とを特定して、画素ズレ、画素抜けの状態を定量的に解析するものではない。
【００１０】
この発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、ライン単位でおこる画素ズレ、画素抜けの状況を迅速かつ正確に解析できる画像処理評価システムを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
この発明の請求項１記載の発明にかかる画像処理評価システムは、入力画像に対する出力画像の画素ズレを解析する画像処理評価システムであって、前記入力画像における１ラインの入力画素と当該１ラインに対応する前記出力画像の出力画素とを比較するものである。
【００１２】
また、請求項２記載の発明にかかる画像処理評価システムは、上記請求項１に記載の発明において、前記入力画像における１ラインと当該１ラインに続く１ラインとの入力画素とそれに対応する前記出力画像の出力画素とを比較するものである。
【００１３】
また、請求項３記載の発明にかかる画像処理評価システムは、上記請求項１又は請求項２に記載の発明において、複数画素からなる１ラインの入力画素データに対して１ラインの出力画素データを１画素ずつシフトして比較する画素値比較手段と、前記画素値比較手段の出力結果のうち所定数以上連続しない画素の一致情報を除去する非連続除去手段と、前記非連続除去手段の出力結果のうち一致していると判断される画素をカウントする一致画素カウント手段と、前記一致カウント手段によりカウントされた一致画素数の増減を監視してその増減のピークを判定する一致画素数ピーク判定手段と、前記一致画素数ピーク手段からの通知によって、一致画素がピークであるときの入力画素に対する出力画素のシフト量と一致画素の位置及び数とからなる一致画素情報を出力する一致位置検索手段と、を備えたものである。
【００１４】
また、請求項４記載の発明にかかる画像処理評価システムは、上記請求項３に記載の発明において、前記一致位置検索手段から出力される前記一致画素情報に基いて入力画素及び出力画素のライン末尾における一致画素の位置を計算して当該ライン末尾の不一致画素を残してそれ以外の画素を入力画素値記憶手段及び出力画素値記憶手段から吐出すとともに、前記入力画素値記憶手段及び出力画素値記憶手段における前記画素の吐出し量を記憶させる吐出し制御手段と、前記入力画素値記憶手段及び出力画素値記憶手段に残した前記不一致画素に続けて前記入力画像及び出力画像における次ラインの画素データを読込む画素データ取込手段と、をさらに備えたものである。
【００１５】
また、請求項５記載の発明にかかる画像処理評価システムは、上記請求項３又は請求項４に記載の発明において、入力画素値記憶手段及び出力画素値記憶手段に向けて対応する不一致画素のデータのみを入力する画素データ取込手段と、前記非連続除去手段における前記所定数を可変設定する連続数設定手段と、をさらに備えたものである。
【発明の効果】
【００１６】
本発明は、入力画像における１ラインの入力画素とその１ラインに対応する出力画像の出力画素とを、所定のフローに基いて比較している。これにより、ライン単位でおこる画素ズレ、画素抜けの状況を迅速かつ正確に解析できる画像処理評価システムを提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、この発明を実施するための最良の形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図中、同一又は相当する部分には同一の符号を付しており、その重複説明は適宜に簡略化ないし省略する。
【００１８】
実施の形態１．
図１〜図１０にて、この発明の実施の形態１について詳細に説明する。
図１は、画像処理評価システムを示す全体構成図である。
図１に示すように、画像処理評価システム１は、主として、入力画像記憶手段３、出力画像記憶手段４、画素位置判定手段５、一致画素情報記憶手段６、一致画素計算手段７、一致画素記憶手段８で構成される。
【００１９】
画像処理評価システム１には、デバッグの対象となる画像処理プロセッサ２（又は画像処理ＬＳＩ）が設置される。画像処理プロセッサ２に入力される入力画像のデータは、入力画像記憶手段３に記憶される。これに対して、画像処理プロセッサ２による画像処理工程を経て、画像処理プロセッサ２から出力される出力画像のデータは、出力画像記憶手段４に記憶される。
【００２０】
入力画像記憶手段３及び出力画像記憶手段４のデータは、画素位置判定手段５に入力される。画素位置判定手段５から出力された一致画素情報は、一致画素情報記憶手段６に記憶されて、その情報に基づいて一致画素計算手段７で一致画素の位置や数が算出される。その後、一致画素計算手段７で算出された結果は一致画素記憶手段８に記憶される。そして、作業者は、一致画素記憶手段８に保持されたデータに基づいて、画像処理プロセッサ２のデバッグをおこなう。
【００２１】
以下、画像処理評価システム１の詳細な構成・動作について説明する。
図２は、画像処理評価システム１における画素位置判定手段５を示す構成図である。
図２を参照して、画素データ取込手段１１は、図１で説明した入力画像記憶手段３及び出力画像記憶手段４から、入力画素値記憶手段１２及び出力画素値記憶手段１４に、同じラインの画素データを取り込む。
【００２２】
シフト制御手段１８は、出力画素値記憶手段１４から比較値シフト手段１３に対して１画素シフトしながら入力する。そして、シフト量記憶手段１９にそのシフト量を記憶させる。
画素値比較手段１６は、各シフト量について入力画素値記憶手段１４と比較値シフト手段１３との画素値を、画像処理による画素値の誤差を考慮して比較する。そして、その出力結果（比較結果）を比較結果記憶手段１７に記憶させる。このとき、比較結果記憶手段１７における一致情報は、前回一致画素記憶手段２３に退避される。
【００２３】
非連続除去手段２１は、比較結果記憶手段１７の一致情報のうち所定数以上連続しない画素の一致情報を除去（クリア）する。そして、その出力結果（除去結果）を一致画素記憶手段２２に記憶させる。
一致画素カウント手段２５は、一致画素記憶手段２２を参照して、一致していると判断される画素をカウントする。そして、その出力結果（一致画素数）を一致画素数記憶手段２６に記憶させる。
【００２４】
一致画素数ピーク判定手段２７は、前回一致画素数記憶手段３１及び前々回画素数記憶手段３２に記憶された一致画素数を監視して、一致画素数記憶手段２６に記憶された一致画素数と比較して一致画素数のピーク（増減のピークである。）を判定する。そして、判定した一致画素数のピークを、一致位置検索手段２８に通知する。
【００２５】
一致位置検索手段２８は、一致画素数ピーク判定手段２７から一致画素数のピークの通知を受けると、前回一致画素記憶手段２３から連続する一致画素の位置及び数を一致画素情報記憶手段６に記憶させるとともに、シフト量（入力画像に対する出力画像のズレ幅である。）を一致画素情報記憶手段６に記憶させる。
【００２６】
以上説明した一連の動作は、シフト制御手段１８がすべての画素データを比較値シフト手段１３に入力して、比較値シフト手段１３からすべて吐出されるまで繰り返される。そして、このようなシフトして比較する動作が完了すると、一致画素情報記憶手段６に記憶される一致画素情報（一致画素の位置及び数とシフト量とである。）が一致先頭に対して昇順にソートされる。これについては、後で詳しく説明する。
【００２７】
図３は、図２で説明した画素位置判定手段５の動作フローを示すフローチャートである。図２の説明と一部重複するが、画素位置判定手段５の動作フローについて詳述する。
【００２８】
まず、画素データ取込手段１１によっては、入力画像及び出力画像の１ラインの画素データが取り込まれる（ステップＳ２〜Ｓ３）。その後、比較値シフト手段１３による比較位置が初期化される（ステップＳ４）。そして、画素値比較手段１６による比較が終了したかが判断される（ステップＳ５）。その結果、画素値比較手段１６による比較が終了していないものと判断された場合には、本フローを終了する（ステップＳ１４）。
【００２９】
これに対して、画素比較手段１６による比較（入力画素値記憶手段１４と比較値シフト手段１３との画素値の比較である。）が終了してものと判断された場合には、比較結果記憶手段１７における一致情報が前回一致画素記憶手段２３に退避される（ステップＳ６）。さらに、画素値比較結果が比較結果記憶手段１７に記憶させる（ステップＳ７）。
その後、非連続除去手段２１によって所定数以上連続しない画素が除去される（ステップＳ８）。さらに、その情報が前回一致画素記憶手段２３に退避される（ステップＳ９）。
【００３０】
その後、一致画素カウント手段２５によって一致画素数がカウントされる（ステップＳ１０）。その後、一致画素数ピーク判定手段２７によって一致画素数のピークであるかが判定される（ステップＳ１１）。その結果、一致画素数のピークではないものと判定された場合には、ステップＳ５以降のフローを繰り返す。
これに対して、一致画素数のピークであるものと判定された場合には、一致位置検索手段２８によって検索された一致画素情報が一致画素情報記憶手段６に出力される（ステップＳ１２）。さらに、比較位置をライン方向に１画素だけシフトさせて（ステップＳ１３）、その後にステップＳ５以降のフローを繰り返す。
【００３１】
以下、画素位置判定手段５における各手段の動作フローについて詳述する。
図４は、画素位置判定手段５における画素値比較手段１６の動作フローを示すフローチャートである。
まず、ライン幅Ｌ、シフト量Ｓ、許容誤差Ｘが設定されるとともに、変数ｉが０に設定される（ステップＳ２１）。そして、シフト量Ｓが０よりも大きいかが判断される（ステップＳ２２）。その結果、シフト量Ｓが０よりも大きいと判断された場合には、次にシフト量Ｓが変数ｉよりも大きいかが判断される（ステップＳ２３）。その結果、シフト量Ｓが変数ｉよりも大きいと判断された場合には、比較結果記憶手段１７に記憶される値ＣＰ（ｉ）を０とする（ステップＳ２４）。
【００３２】
その後、変数ｉを１だけ繰り上げて（ステップＳ２８）、繰り上げ後の変数ｉがライン幅Ｌよりも小さいかが判断される（ステップＳ２９）。その結果、変数ｉがライン幅Ｌよりも小さいと判断された場合には、本フローを終了する（ステップＳ３０）。これに対して、変数ｉがライン幅Ｌよりも小さくないと判断された場合には、ステップＳ２３以降のフローを繰り返す。
【００３３】
一方、ステップＳ２３で、シフト量Ｓが変数ｉよりも大きくないと判断された場合には、入力画素値記憶手段１２の値ＩＮ（ｉ）と出力画素値記憶手段１４の値ＯＵＴ（ｉ−ｓ）との差の絶対値Ａが算出される（ステップＳ２５）。
その後、ステップＳ２５で求めた絶対値Ａが許容誤差Ｘよりも小さいかが判断される（ステップＳ２６）。その結果、絶対値Ａが許容誤差Ｘよりも小さくないものと判断された場合には、ステップＳ２４以降のフローがおこなわれる。これに対して、絶対値Ａが許容誤差Ｘよりも小さいものと判断された場合には、比較結果記憶手段１７に記憶される値ＣＰ（ｉ）を１として（ステップＳ２７）、ステップＳ２８以降のフローをおこなう。
【００３４】
一方、ステップＳ２２にて、シフト量Ｓが０よりも大きくないものと判断された場合には、ライン幅Ｌとシフト量Ｓとの和（Ｌ＋Ｓ）が変数ｉよりも大きいかが判断される（ステップＳ３１）。その結果、和（Ｌ＋Ｓ）が変数ｉよりも大きいものと判断された場合には、上述のステップＳ２５以降のフローと同様のフローをおこなう（ステップＳ３２〜Ｓ３４、Ｓ３６、Ｓ３７）。これに対して、和（Ｌ＋Ｓ）が変数ｉよりも大きくないと判断された場合には、上述のステップＳ２４以降のフローと同様のフローをおこなう（ステップＳ３５〜Ｓ３７）。
【００３５】
図５は、画素位置判定手段５における非連続除去手段２１の動作フローを示すフローチャートである。
まず、ライン幅Ｌが設定されるとともに、変数ｉが０に設定される（ステップＳ４１）。そして、比較結果記憶手段１７に記憶される値ＣＰ（０）が求められる（ステップＳ４２）。ここで、ＣＰ（ｉ）は、以下の式で算出される。
ＣＰ（ｉ）＝ＣＰ（ｉ＋１）×ＣＰ（ｉ＋２）×…×ＣＰ（ｉ＋ｎ−１）
上式において、ｎは、連続と判定される画素数である。
【００３６】
さらに、比較結果記憶手段１７におけるラインの末尾に、ダミーの参照画素（ＣＰ（Ｌ）＝０、ＣＰ（Ｌ＋１）＝０、…、ＣＰ（Ｌ＋ｎ−１）＝０）が用意される（ステップＳ４３）。
その後、ステップＳ４２で算出されたＣＰ（ｉ）が０であるかが判断される（ステップＳ４４）。その結果、ＣＰ（ｉ）が０であるものと判断された場合には、変数ｉを１つ繰り上げたＣＰ（ｉ＋１）が算出される（ステップＳ４５）。これに対して、ＣＰ（ｉ）が０ではないものと判断された場合にはステップＳ４５をスキップする。
【００３７】
その後、算出されたＣＰ（ｉ）を一致画素記憶手段２２にＨＩ（ｉ）として記憶する（ステップＳ４６）。
その後、変数ｉを１だけ繰り上げて（ステップＳ４７）、繰り上げ後の変数ｉがライン幅Ｌと等しいかが判断される（ステップＳ４８）。その結果、変数ｉがライン幅Ｌと等しいと判断された場合には、本フローを終了する（ステップＳ４９）。これに対して、変数ｉがライン幅Ｌと等しくないと判断された場合には、ステップＳ４４以降のフローを繰り返す。
【００３８】
図６は、画素位置判定手段５における一致画素カウント手段２２の動作フローを示すフローチャートである。
まず、ライン幅Ｌが設定されるとともに、変数ｉと一致画素カウント手段２２にカウントされる一致画素数（Ｈ＿Ｃｏｕｎｔ）とがそれぞれ０に設定される（ステップＳ５１）。そして、一致画素記憶手段２２に記憶された値ＨＩ（ｉ）が１であるかが判断される（ステップＳ５２）。その結果、ＨＩ（ｉ）が１であると判断された場合には、一致画素数（Ｈ＿Ｃｏｕｎｔ）を１つ繰り上げる（ステップＳ５３）。これに対して、ＨＩ（ｉ）が１ではないと判断された場合には、ステップＳ５３をスキップする。
【００３９】
その後、変数ｉを１だけ繰り上げて（ステップＳ５４）、繰り上げ後の変数ｉがライン幅Ｌと等しいかが判断される（ステップＳ５５）。その結果、変数ｉがライン幅Ｌと等しいと判断された場合には、本フローを終了する（ステップＳ５６）。これに対して、変数ｉがライン幅Ｌと等しくないと判断された場合には、ステップＳ５２以降のフローを繰り返す。
【００４０】
図７は、画素位置判定手段５における一致画素数ピーク判定手段２７の動作フローを示すフローチャートである。
まず、一致画素数記憶手段２２に記憶された一致画素数（Ｎ＿Ｃ）が前回一致画素数記憶手段３１に記憶された一致画素数（Ｌ１＿Ｃ）よりも小さいかが判断される（ステップＳ６１）。
【００４１】
その結果、一致画素数記憶手段２２に記憶された一致画素数が前回一致画素数記憶手段３１に記憶された一致画素数よりも小さいものと判断された場合には、さらに前回一致画素数記憶手段３１に記憶された一致画素数（Ｌ１＿Ｃ）が前々回一致画素数記憶手段３２に記憶された一致画素数（Ｌ２＿Ｃ）以上であるかが判断される（ステップＳ６２）。その結果、前回一致画素数記憶手段３１に記憶された一致画素数が前々回一致画素数記憶手段３２に記憶された一致画素数以上であるものと判断された場合には、その旨が一致位置検索手段２８に通知される（ステップＳ６３）。
【００４２】
その後、前回一致画素数記憶手段３１に記憶されていた一致画素数（Ｌ１＿Ｃ）が前々回一致画素数記憶手段３２に一致画素数（Ｌ２＿Ｃ）として記憶され、一致画素数記憶手段２２に記憶されていた一致画素数（Ｎ＿Ｃ）が前回一致画素数記憶手段３１に一致画素数（Ｌ１＿Ｃ）として記憶される（ステップＳ６４）。そして、本フローを終了する（ステップＳ６５）。
【００４３】
一方、ステップＳ６１にて、一致画素数記憶手段２２に記憶された一致画素数が前回一致画素数記憶手段３１に記憶された一致画素数よりも小さくないものと判断された場合には、ステップＳ６２〜Ｓ６３がスキップされる。
さらに、ステップＳ６２にて、前回一致画素数記憶手段３１に記憶された一致画素数が前々回一致画素数記憶手段３２に記憶された一致画素数以上ではないものと判断された場合には、ステップＳ６３がスキップされる。
【００４４】
図８は、画素位置判定手段５における一致位置検索手段２８の動作フローを示すフローチャートである。
まず、ライン幅Ｌが設定されるとともに、一致画素情報記憶手段６に記憶される登録数（ＩＮＦ＿ＭＵＳ）が０に設定される（ステップＳ７１）。そして、一致画素数ピーク判定手段２７から一致位置検索に対する要求（ピークがある旨の通知である。）があるかが判断される（ステップＳ７２）。
【００４５】
その結果、一致位置検索要求があるものと判断された場合には、変数ｉを０に設定するとともに、一致画素情報記憶手段６に記憶される一致画素数（ＩＮＦ＿ＣＮＴ）を０に設定する（ステップＳ７３）。
その後、前回一致画素記憶手段２３に記憶された値（Ｌ＿ＨＩ（ｉ））が１であるかが判断される（ステップＳ７４）。その結果、前回一致画素記憶手段２３に記憶された値が１であると判断された場合には、一致画素情報記憶手段６に記憶された一致画素数（一致数）が０であるかが判断される（ステップＳ７５）。その結果、一致画素数が０であると判断された場合には、変数ｉを一致画素情報記憶手段６に記憶される一致画素の位置（一致先頭ＩＮＦ＿ＴＯＰである。）として記憶する（ステップＳ７６）。これに対して、一致画素数が０ではないと判断された場合には、ステップＳ７６をスキップする。
【００４６】
その後、一致画素数（ＩＮＦ＿ＣＮＴ）を１だけ繰り上げて（ステップＳ７７）、さらに変数ｉを１だけ繰り上げる（ステップＳ７８）。そして、繰り上げ後の変数ｉがライン幅Ｌと等しいかが判断される（ステップＳ７９）。その結果、変数ｉがライン幅Ｌと等しいと判断された場合には、ステップＳ７２以降のフローを繰り返す。これに対して、変数ｉがライン幅Ｌと等しくないと判断された場合には、ステップＳ７４以降のフローを繰り返す。
【００４７】
一方、ステップＳ７４にて、前回一致画素記憶手段２３に記憶された値が１ではないと判断された場合には、一致画素情報記憶手段６に記憶された一致画素数が０より大きいかが判断される（ステップＳ８１）。その結果、一致画素数が０より大きくないものと判断された場合には、ステップＳ７８以降のフローがおこなわれる。
【００４８】
これに対して、ステップＳ８１で一致画素数が０より大きいものと判断された場合には、シフト量記憶手段１９に記憶されたシフト量ＳＨと、一致先頭ＩＮＦ＿ＴＯＰと一致画素数ＩＮＦ＿ＣＮＴとが、その登録数に対応したものとして、一致画素情報記憶手段６に記憶される（ステップＳ８２）。その後、登録数（ＩＮＦ＿ＭＵＳ）を１だけ繰り上げて（ステップＳ８３）、さらに一致画素数（ＩＮＦ＿ＣＮＴ）を０とする（ステップＳ８４）。その後、一致画素情報記憶手段６に記憶される一致画素情報を一致先頭（ＩＮＦ＿ＴＯＰ）の昇順にソートする（ステップＳ８５）。その後は、ステップＳ７８以降のフローをおこなう。
【００４９】
以上のように構成され動作する画素位置判定手段５によって、一致画素情報記憶手段６には次のような出力がおこなわれる。
図９（Ａ）は、画素位置判定手段５に入力される入力画像及び出力画像のデータを示す図である。図９（Ｂ）〜（Ｄ）は、比較値シフト手段１３によって出力画像の画素データをライン方向にシフトさせたときの入力画像及び出力画像の関係とその比較結果とを示す図である。図９（Ｂ）はシフト量を＋２画素としていて、図９（Ｃ）はシフト量を０としていて、図９（Ｄ）はシフト量を−１画素としている。図９（Ｂ）〜（Ｄ）における、ハッチング部が入力画像及び出力画像の一致画素となる。
【００５０】
図９（Ｅ）は、図９（Ｂ）〜（Ｄ）の比較結果に基いて一致位置検索手段２８で求められる一致画素情報を示す表図である。図９（Ｅ）の上段に示すように、まず、図９（Ｂ）〜（Ｄ）の比較結果に基いて一致画素情報（シフト量、一致先頭、一致数）が順次検索される。その後、図９（Ｅ）の下段に示すように、それらの検索結果が一致先頭の昇順にソートされる。そして、その結果が一致画素情報記憶手段６に出力される。
【００５１】
図１０は、一致画素情報記憶手段６に記憶された一致画素情報に基いた、一致画素計算手段７の計算工程を示す図である。
一致画素計算手段７では、一致画素情報記憶手段６の情報から、入力画像と出力画像との対応するラインの一致画素の位置（一致先頭）とサイズ（一致数）とが計算される。
【００５２】
具体的には、入力一致先頭に対する出力一致先頭の差をシフト量として、不一致画素数と画素抜け数とをそれぞれ次式で求める。
不一致画素数（ｎ）＝入力先頭（ｎ＋１）−入力先頭（ｎ）−一致数（ｎ）
画素抜け数（ｎ）＝シフト量（ｎ＋１）−シフト量（ｎ）
そして、一致画素計算手段７で算出された不一致画素数及び画像抜け数は、一致画素記憶手段８に出力され記憶される。こうして、画像処理プロセッサ２のデバッグをおこなう作業者は、一致画素記憶手段８に保持されたデータに基づいて、ライン単位で発生している画素ズレ、画素抜けの状況を迅速かつ正確に解析することになる。
【００５３】
以上説明したように、本実施の形態１における画像処理評価システム１の構成によれば、画像処理に対する入力画像と出力画像とをライン単位で比較して画素ズレを検出することができる。これによって、同一ライン内に複数回の画素ズレ、画素化けが発生するような場合であっても、その位置と状況とを確実に特定することができる。
【００５４】
実施の形態２．
図１１〜図１４にて、この発明の実施の形態２について詳細に説明する。
図１１は、実施の形態２の画像処理評価システムにおける画素位置判定手段５を示す構成図であって、前記実施の形態１における図２に相当する図である。本実施の形態２では、１ラインから次の１ラインにまたがって入力画素及び出力画素の比較がおこなわれている点が、前記実施の形態１とは異なる。
【００５５】
図１１に示すように、本実施の形態２の画素位置判定手段５には、前記実施の形態１の構成に加えて、出力画素値シフト手段４１、吐出し制御手段４２、入力吐出し量記憶手段４３、出力吐出し量記憶手段４４が設置されている。さらに、画素位置判定手段５の一致位置検索手段２８からは、一致画素情報記憶手段６への一致画素情報の出力に加えて、吐出し量記憶手段４５への吐出し量情報の出力がおこなわれる。
【００５６】
本実施の形態２では、前記実施の形態１と同様の手順に従って画素位置判定手段５によって対応するラインの一致画素を検出した後に、吐出し制御手段４２によって、一致画素情報記憶手段６に記憶された一致画素情報に基いて入力画素値記憶手段１２及び出力画素値記憶手段１４における一致／不一致を特定する。その後、吐出し制御手段４２は、入力画素値記憶手段１２及び出力画素値記憶手段１４の先頭から末尾の一致画素までを吐出して（ライン末尾の不一致画素が残る状態になる。）、その吐出し量を入力吐出し量記憶手段４３及び出力吐出し量記憶手段４４と吐出し量記憶手段４５とに記憶させる。このとき、吐出し制御手段４２による吐出し量の情報と、一致位置検索手段２８による一致画素情報と、は、対応付けされて記憶される。
【００５７】
その後、画素データ取り込み手段１１は、入力画素値記憶手段１２及び出力画素値記憶手段１４の吐出した画素データの空きを埋めるように、ライン末尾の不一致画素に続くように次のラインから画素データを読込む。そして、再び１ライン分の画素データがそろった状態で、再度画素ズレ解析をおこなう。このような動作が繰り返されることで、吐出し量記憶手段４５と一致画素情報記憶手段６とには、複数ラインに係わる吐出し量の情報と一致画素情報とが記憶されることになる。
【００５８】
図１２にて、画素位置判定手段５における吐出し制御手段４２の動作フローについて詳述する。
まず、ライン幅Ｌが設定されるとともに、吐出し量記憶手段４５に登録された吐出し量の登録数（ＯＦＦ＿ＭＵＳ）が０に設定されて、一致画素情報記憶手段６における該当領域の先頭情報ポインタ（ＰＯＩＮＴ）が０に設定される（ステップＳ９１）。
【００５９】
その後、一致位置検索手段２８から吐出しに対する要求があるかが判断される（ステップＳ９２）。その結果、吐出し要求があるものと判断された場合には、変数ｉを０に設定して（ステップＳ９３）、その後に登録数に対応した一致画素情報記憶手段６の一致先頭情報（ＴＯＰ．ＩＮＦ＿Ｔ（ＩＮＦ＿ＭＵＳ−１））と一致画素数情報（ＣＮＴ．ＩＮＦ＿Ｔ（ＩＮＦ＿ＭＵＳ−１））との和ａが求められる（ステップＳ９４）。
【００６０】
その後、ステップＳ９４で求めた和ａの分だけ入力画素値記憶手段１２の画素データを切り替える。すなわち、入力画素値記憶手段１２においてＩＮ（ｉ＋ａ）をＩＮ（ｉ）とする（ステップＳ９５）。
さらに、変数ｉを１だけ繰り上げて（ステップＳ９６）、値（ｉ＋ａ）がライン幅Ｌ以上であるかが判断される（ステップＳ９７）。その結果、値（ｉ＋ａ）がライン幅Ｌ以上ではないものと判断された場合には、ステップＳ９５以降のフローを繰り返す。これに対して、値（ｉ＋ａ）がライン幅Ｌ以上であるものと判断された場合には、入力画素値記憶手段１２に次ラインの画素データを読込む。すなわち、ＩＮ（Ｌ−ａ）からＩＮ（Ｌ−１）までに次ラインの入力画素のデータを取り込む（ステップＳ９８）。
【００６１】
その後、出力画素値記憶手段１３に対しても、同様のフローをおこなう。まず、変数ｉを０に設定して（ステップＳ９９）、その後に登録数に対応した一致画素情報記憶手段６の一致先頭情報（ＴＯＰ．ＩＮＦ＿Ｔ（ＩＮＦ＿ＭＵＳ−１））と一致画素数情報（ＣＮＴ．ＩＮＦ＿Ｔ（ＩＮＦ＿ＭＵＳ−１））との和からシフト量記憶手段１９のシフト量情報（ＳＨ．ＩＮＦ＿Ｔ（ＩＮＦ＿ＭＵＳ−１））を減じた値ｂが求められる（ステップＳ１００）。
【００６２】
その後、ステップＳ１００で求めた値ｂの分だけ出力画素値記憶手段１４の画素データを切り替える。すなわち、出力画素値記憶手段１４においてＯＵＴ（ｉ＋ｂ）をＯＵＴ（ｉ）とする（ステップＳ１０１）。
さらに、変数ｉを１だけ繰り上げて（ステップＳ１０２）、値（ｉ＋ｂ）がライン幅Ｌ以上であるかが判断される（ステップＳ１０３）。その結果、値（ｉ＋ｂ）がライン幅Ｌ以上ではないものと判断された場合には、ステップＳ１０１以降のフローを繰り返す。これに対して、値（ｉ＋ｂ）がライン幅Ｌ以上であるものと判断された場合には、出力画素値記憶手段１４に次ラインの画素データを読込む。すなわち、ＯＵＴ（Ｌ−ｂ）からＯＵＴ（Ｌ−１）までに次ラインの出力画素のデータを取り込む（ステップＳ１０４）。
【００６３】
その後、ステップＳ９４で求めた値ａを入力吐出し量記憶手段４３に記憶して、ステップＳ１００で求めた値ｂを出力吐出し量記憶手段４４に記憶して、一致画素情報記憶手段６における登録数（ＩＮＦ＿ＭＵＳ）を先頭情報ポインタ（ＰＯＩＮＴ）とする（ステップＳ１０５）。その後、ステップＳ９２以降のフローを繰り返す。
【００６４】
以上のように構成され動作する吐出し制御手段４２によって、次のようなデータ吐出しと次ラインのデータ読込みとがおこなわれる。
図１３（Ａ）は、一致位置検索手段２８で検出された（又は一致画素情報記憶手段６に記憶された）入力画像及び出力画像の比較済みデータを示す図である。図中のハッチング部は、一致画素の位置を示す。このときの、吐出し量は０となっている。
【００６５】
図１３（Ｂ）は、図１３（Ａ）に示す入力画像及び出力画像の比較済みデータのうち、ライン末尾（図の右側である。）の不一致画素（Ｐ、ＱとＲとである。）を残して、その他の画素を吐出した状態を示す図である。このときの吐出し量は、入力画像が１９となり、出力画像が２０となる。
【００６６】
図１３（Ｃ）は、図１３（Ｂ）に示す吐出し処理後の入力画像及び出力画像における画素データの空きに、次ラインの画素データを読込んだ状態を示す図である。入力画像には吐出し量１９に対応して１９個の画素データ（ａ、ｂ、ｃ、ｄ、…である。）が取り込まれて、出力画像には吐出し量２０に対応して２０個の画素データ（ｖ、ｗ、ｘ、ｙ、ｚ、…である。）が取り込まれる。
【００６７】
図１４は、一致画素情報記憶手段６に記憶された一致画素情報と、吐出し量記憶手段４５に記憶された吐出し量情報（図１２のステップＳ１０５で説明した３つのデータである。）に基いた、一致画素計算手段７の計算工程を示す図である。
一致画素計算手段７では、一致画素情報記憶手段６及び吐出し量記憶手段４５の情報から、複数のラインにまたがる入力画像と出力画像との一致画素の位置（一致先頭）とサイズ（一致数）とが計算される。
【００６８】
具体的には、まず、入力一致先頭と出力一致先頭とを、
入力一致先頭（ｎ）＝入力吐出し量（ｍ）＋一致先頭（ｎ）
出力一致先頭（ｎ）＝入力吐出し量（ｍ）＋一致先頭（ｎ）−シフト量
として、不一致画素数と画素抜け数とをそれぞれ次式で求める。
不一致画素数（ｎ）＝入力先頭（ｎ＋１）−入力先頭（ｎ）−一致数（ｎ）
画素抜け数（ｎ）＝シフト量（ｎ＋１）−シフト量（ｎ）
そして、一致画素計算手段７で算出された不一致画素数及び画像抜け数は、一致画素記憶手段８に出力され記憶される。こうして、画像処理プロセッサ２のデバッグをおこなう作業者は、一致画素記憶手段８に保持されたデータに基づいて、ラインをまたいで発生している画素ズレ、画素抜けの状況を迅速かつ正確に解析することになる。
【００６９】
以上説明したように、本実施の形態２における画像処理評価システム１の構成によれば、画像処理に対する入力画像と出力画像とをラインをまたいで比較して画素ズレを検出することができる。これによって、改行によって画素ズレと判断されることなく、複数ラインにおける画素ズレの位置と状況とを確実に特定することができる。
【００７０】
実施の形態３．
図１５にて、この発明の実施の形態３について詳細に説明する。
図１５は、実施の形態３の画像処理評価システムにおける画素位置判定手段５を示す構成図であって、前記実施の形態２における図１１に相当する図である。本実施の形態３では、検出した不一致画素データのみを入力画素値記憶手段１２及び出力画素値記憶手段１４に入力する点と、非連続除去手段２１の所定数（連続しているとみなす画素数である。）を可変設定する連続数設定手段５１を設けている点とが、前記実施の形態２とは異なる。
【００７１】
図１５に示すように、本実施の形態３の画素位置判定手段５には、前記実施の形態２の構成に加えて、連続数設定手段５１が設置されている。
そして、前記実施の形態２と同様の手順を経て画素位置判定手段５によって一致画素が判定された後に、本実施の形態３では連続数設定手段５１によって非連続除去手段２１に対して一致画素と判断する画素数（所定数）を小さく設定する。例えば、所定数を１と設定した場合には、１画素単位での入出力画像の一致／不一致を解析することができる。
また、画素データ取込手段１１では、検出した不一致画素のみを入力画素値記憶手段１２と出力画素値記憶手段１４とに読み込む。
【００７２】
以上説明したように、本実施の形態３における画像処理評価システム１の構成によれば、極めて高い解像度で入力画像と出力画像との画素ズレを検出することができる。これによって、一致画素を予め特定しておいて不一致画素に注目して解析をおこなう場合等に、比較的高速に高解像度の画素ズレ、画素化けの解析をおこなうことができる。
【００７３】
なお、本発明が上記各実施の形態に限定されず、本発明の技術思想の範囲内において、上記各実施の形態の中で示唆した以外にも、上記各実施の形態は適宜変更され得ることは明らかである。また、上記構成部材の数、位置、形状等は上記各実施の形態に限定されず、本発明を実施する上で好適な数、位置、形状等にすることができる。
【図面の簡単な説明】
【００７４】
【図１】この発明の実施の形態１における画像処理評価システムを示す構成図である。
【図２】図１の画像処理評価システムにおける画素位置判定手段を示す構成図である。
【図３】図２の画素位置判定手段の動作フローを示すフローチャートである。
【図４】画素位置判定手段における画素値比較手段の動作フローを示すフローチャートである。
【図５】画素位置判定手段における非連続除去手段の動作フローを示すフローチャートである。
【図６】画素位置判定手段における一致画素カウント手段の動作フローを示すフローチャートである。
【図７】画素位置判定手段における一致画素数ピーク判定手段の動作フローを示すフローチャートである。
【図８】画素位置判定手段における一致位置検索手段の動作フローを示すフローチャートである。
【図９】一致画素情報記憶手段への出力の状態を示す図である。
【図１０】図１の画像処理評価システムにおける一致画素計算手段の計算工程を示す図である。
【図１１】この発明の実施の形態２における画像処理評価システムの画素位置判定手段を示す構成図である。
【図１２】図１１の画素位置判定手段における吐出し制御手段の動作フローを示すフローチャートである。
【図１３】図１２の吐出し制御手段におけるデータ吐出しと次ラインのデータ読込みとの状態を示す図である。
【図１４】図１１の画像処理評価システムにおける一致画素計算手段の計算工程を示す図である。
【図１５】この発明の実施の形態３における画像処理評価システムの画素位置判定手段を示す構成図である。
【符号の説明】
【００７５】
１  画像処理評価システム、  ２  画像処理プロセッサ、
３  入力画像記憶手段、  ４  出力画像記憶手段、  ５  画素位置判定手段、
６  一致画素情報記憶手段、  ７  一致画素計算手段、
８  一致画素記憶手段、  １１  画素データ取込手段、
１２  入力画素値記憶手段、  １３  比較値シフト手段、
１４  出力画素値記憶手段、  １６  画素値比較手段、
１７  比較結果記憶手段、  １８  シフト制御手段、  １９  シフト量記憶手段、
２１  非連続除去手段、  ２２  一致画素記憶手段、
２３  前回一致画素記憶手段、  ２５  一致画素カウント手段、
２６  一致画素数記憶手段、  ２７  一致画素数ピーク判定手段、
２８  一致位置検索手段、  ３１  前回一致画素数記憶手段、
３２  前々回一致画素数記憶手段、
４１  出力画素値シフト手段、  ４２  吐出し制御手段、
４３  入力吐出し量記憶手段、  ４４  出力吐出し量記憶手段、
４５  吐出し量記憶手段、  ５１  連続数設定手段。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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