(57)【要約】【課題】記録層が１層若しくは多層の記録可能な光ディスクの記録時にもカバー層の厚さムラによる球面収差の補正が行え、更に、光ディスクを装填する度に球面収差補正の最適位置を求める動作を行う必要のない光ディスク記録再生方法を提供する。【解決手段】レーザビームの光軸方向に位置調整が可能な球面収差を補正する光学素子２０を配置し、トラッキングエラー信号の振幅が最大になるように前記光学素子の位置を調整して、しかる後に試し書き領域にテスト信号を試し書きをし、この試し書きを再生して再生ＲＦ信号の振幅が最大になるように各記録層毎に光学素子の位置を調整し、調整後の光学素子の位置情報を取得して光ディスク上の補正値記録領域に記録する。光学素子の位置情報が記録されている光ディスクの再生時は、補正値記録領域から読み出された球面収差の補正値データに基づき、前記光学素子の位置を調整する。【選択図】図１
2006302420.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
片面に１層若しくは多層の記録層を有し、前記記録層の一部に試し書き領域と球面収差の補正値データを記録する補正値記録領域とを有する記録型光ディスクを使用する光ディスク記録再生方法において、
光源から出射されたレーザビームを、対物レンズを介して前記光ディスクの記録層に形成されたトラックに対し集光して照射する往き光路と、前記光ディスクの記録層で反射されたレーザビームを、前記対物レンズを介して分割型光検出器に導く戻り光路とを形成した光学系の前記往き光路中若しくは前記往き光路と戻り光路を同時に満たす光路中に、前記レーザビームの光軸方向に位置の調整が可能な球面収差を補正する光学素子を配置し、
前記分割型光検出器の出力信号から演算して得たトラッキングエラー信号の振幅が最大になるように前記光学素子の位置を調整し、しかる後に１層若しくは多層の各記録層の前記試し書き領域にテスト信号を試し書きすると共に、
前記１層若しくは多層の各記録層の試し書き領域に記録された前記テスト信号を再生するにあたり、前記分割型光検出器の出力信号から演算して得た再生ＲＦ信号の振幅が最大になるように前記１層若しくは多層の各記録層毎に光学素子の位置を調整し、調整後の前記光学素子の位置情報を取得する
ことを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項２】
前記取得した位置情報を前記球面収差の補正値データが記録できる補正値記録領域に記録する
ことを特徴とする請求項１に記載する光ディスク記録再生方法。
【請求項３】
片面に１層若しくは多層の記録層を有し、前記記録層の一部に試し書き領域と球面収差の補正値データを記録する補正値記録領域とを有する記録型光ディスクを使用する光ディスク記録再生方法において、
光源から出射されたレーザビームを、対物レンズを介して前記光ディスクの記録層に形成されたトラックに対し集光して照射する往き光路と、前記光ディスクの記録層で反射されたレーザビームを、前記対物レンズを介して分割型光検出器に導く戻り光路とを形成した光学系の前記往き光路中若しくは前記往き光路と戻り光路を同時に満たす光路中に、前記レーザビームの光軸方向に位置の調整が可能な球面収差を補正する光学素子を配置し、
前記補正値記録領域から読み出された１層若しくは多層の記録層の球面収差の補正値データに基づき、前記光学素子の位置を調整する
ことを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク記録再生方法に係り、特に、光ディスク表面のカバー層の厚さ誤差による球面収差を補正するための光ディスク記録再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
光学式記録媒体としての光ディスクには、情報記録面を保護するカバー層として、所定の厚さの透過基板が記録面を覆うように形成されている。光ディスク記録再生装置では、このカバー層を介して記録面に読取り又は記録レーザビームを照射することにより、この光ディスクに対して情報データの読取りや記録を行うようになっている。
【０００３】
光ディスクの高密度化を実現するためには、レーザ波長の短波長化に加え、光源からの光束をより小さなスポットに集光するために、レンズ開口数を大きくする方法が検討されている。しかし、レンズの開口数が大きくなると、光ディスクのわずかなソリや傾きに対してスポットに歪みが生じ収差が発生しやすくなる。こうした場合にも、カバー層の厚みが薄い方が有利である。
【０００４】
図６は片面２層記録の光ディスクの断面を示した模式図である。この図でカバー層は、光ディスク表面の透過層と接着層の部分を指す。
カバー層の厚みは、ＣＤでは１．２ｍｍ、ＤＶＤでは０．６ｍｍであるが、更に高密度化を図るためカバー層の厚みをもっと薄くするには、透過基板ではなく透過シートを接着剤で貼り合せる形としたり、透過シートの代わりに透過層となる層材をスピンコートなどで形成（この場合、接着剤は必要ない）するなどが行われるが、これらはいずれも製造上のばらつきから厚さ誤差が生じ易くなる。
【０００５】
そのため、かかるカバー層の厚さの違いにより、レーザビームの焦点が光軸上の一点に結像せず、少し丸く広がり円に結像する現象が起こる。これは、レンズが球面であるから発生してしまう球面収差であるが、情報読取り感度や情報記録精度を低下させてしまう問題が発生する。
【０００６】
従来、このようなカバー層の厚さの違いによって発生する球面収差を補正する改良手段として、下記特許文献１による技術が開示されている。
この特許文献１は、光源から出射されたレーザビームを対物レンズを介して光ディスクの記録面に集光して照射する往き光路と、光ディスクの記録面で反射されたレーザビームを対物レンズを介して光検出器に導く戻り光路とを形成した光学式ピックアップ内に、少なくとも、前記往き光路中にレーザビームの光軸方向に移動調整可能な光学素子を配置して、光ディスクから読み取られたＲＦ信号の振幅レベルが最大となるように上記光学素子を調整することで球面収差を補正するというものである。
【特許文献１】特開２００１−２３６６７４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、この特許文献１の球面収差を補正する技術は、光ディスクから読み取られたＲＦ信号の振幅レベルを検出して補正するので再生時のみの補正となり、記録可能な光ディスクの未記録領域の記録時には球面収差の補正ができないという問題を有している。更に、光ディスクを装填する度に球面収差補正の最適位置を求める動作を行うため、迅速な再生が行えないという問題も有している。
【０００８】
本発明は、このような従来の問題点に鑑みなされたものであり、記録層が１層若しくは多層の記録可能な光ディスクの記録時にもカバー層の厚さの違いによる球面収差の補正が行え、更に、光ディスクを装填する度に球面収差補正の最適位置を求める動作を行う必要のない光ディスク記録再生方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、上記課題を解決する手段として以下の（１）ないし（３）に記載の光ディスク記録再生方法を提供する。すなわち、
（１）片面に１層若しくは多層の記録層を有し、前記記録層の一部に試し書き領域と球面収差の補正値データを記録する補正値記録領域とを有する記録型光ディスクを使用する光ディスク記録再生方法において、
光源から出射されたレーザビームを、対物レンズを介して前記光ディスクの記録層に形成されたトラックに対し集光して照射する往き光路と、前記光ディスクの記録層で反射されたレーザビームを、前記対物レンズを介して分割型光検出器に導く戻り光路とを形成した光学系の前記往き光路中若しくは前記往き光路と戻り光路を同時に満たす光路中に、前記レーザビームの光軸方向に位置の調整が可能な球面収差を補正する光学素子を配置し、
前記分割型光検出器の出力信号から演算して得たトラッキングエラー信号の振幅が最大になるように前記光学素子の位置を調整し、しかる後に１層若しくは多層の各記録層の前記試し書き領域にテスト信号を試し書きすると共に、
前記１層若しくは多層の各記録層の試し書き領域に記録された前記テスト信号を再生するにあたり、前記分割型光検出器の出力信号から演算して得た再生ＲＦ信号の振幅が最大になるように前記１層若しくは多層の各記録層毎に光学素子の位置を調整し、調整後の前記光学素子の位置情報を取得する
ことを特徴とする光ディスク記録再生方法。
（２）前記取得した位置情報を前記球面収差の補正値データが記録できる補正値記録領域に記録する
ことを特徴とする請求項１に記載する光ディスク記録再生方法。
（３）片面に１層若しくは多層の記録層を有し、前記記録層の一部に試し書き領域と球面収差の補正値データを記録する補正値記録領域とを有する記録型光ディスクを使用する光ディスク記録再生方法において、
光源から出射されたレーザビームを、対物レンズを介して前記光ディスクの記録層に形成されたトラックに対し集光して照射する往き光路と、前記光ディスクの記録層で反射されたレーザビームを、前記対物レンズを介して分割型光検出器に導く戻り光路とを形成した光学系の前記往き光路中若しくは前記往き光路と戻り光路を同時に満たす光路中に、前記レーザビームの光軸方向に位置の調整が可能な球面収差を補正する光学素子を配置し、
前記補正値記録領域から読み出された１層若しくは多層の記録層の球面収差の補正値データに基づき、前記光学素子の位置を調整する
ことを特徴とする光ディスク記録再生方法である。
【発明の効果】
【００１０】
光ディスクの高密度化に伴い、光ディスク表面のカバー層の厚さ誤差による球面収差の影響が大きくなったが、本発明によれば、光ディスクの再生時のみならず記録時にもカバー層の厚さの違いによる球面収差の補正が行え、更に光ディスク毎に予め補正の最適値を記録しておくので、再生時は光ディスクを装填する度に球面収差補正の最適位置を求める動作を行う必要がなくなり迅速な再生が行える。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１１】
以下、本発明の各実施形態に係る光ディスク記録再生方法について、図面を参照して説明する。
図１は、本発明に係る第１の実施例を示すブロック図、図２は、本発明に係る第２の実施例を示すブロック図、図３は、第１の実施例における動作を説明するフローチャート、図４は、第２の実施例における動作を説明する第１のフローチャート、図５は、第２の実施例における動作を説明する第２のフローチャートである。
【実施例１】
【００１２】
まず、本発明に係る第１の実施例について、図１を用いて構成を説明する。
図１は、情報を繰り返し記録再生可能な相変化型で２層の記録層を持つ光ディスク１をスピンドルモータ（図示せず）で回転駆動して、この光ディスク１の記録トラックを光ピックアップ１０から出射するレーザ光で走査することにより、所定のデータフォーマットのディジタルデータを光学的に記録再生を行う光ディスク記録再生装置において、光ディスク１の所定未記録部分に試し書き（記録）とその試し書き部分の再生をする場合に本発明を適用した構成を示したものである。
【００１３】
最初に全般的な構成と信号の流れを説明する。
光ピックアップ１０において、レーザ光源である半導体レーザ１１からのレーザ光が、コリメートレンズ１２で平行光ビームとされ、ビームスプリッタ１３を介し、凹レンズ１４と凸レンズ１５からなる球面収差を補正するための光学素子（ビームエキスパンダー）２０を介し、対物レンズ１６を介して、光ディスク１上の信号記録面に集光されるように照射される。
光ディスク１の信号記録面に投射されて反射されたレーザ光の反射光ビーム（戻りレーザ光）は、ビームスプリッタ１３で反射され、シリンドリカルレンズ１７を介して受光素子であるフォトディテクタ１８に導かれるようになっている。
ここで、対物レンズ１６は、フォーカス用駆動コイル２５、トラッキング用駆動コイル２６を有して成るいわゆる２軸駆動装置により光軸方向及び光軸に直交する方向に移動制御されるようになっている。
【００１４】
ビームスプリッタ１３では、対物レンズ１６を介して光ディスク１に照射すると同時にレーザパワー制御用にフォトディテクタ３０へ照射するため少量の光量を分配している。ここで分配された光量は、凸レンズ１９を介してフォトディテクタ３０に照射される。
フォトディテクタ３０で光を検出し、検出された光検出信号はアンプ３１を介してサンプルホールド回路３２に送られ、マルチパルス発生回路３８からの信号（又はＣＰＵ３４からの信号）でサンプルホールドされてＡ／Ｄ変換回路３３を介し、ＣＰＵ３４へ送られる。ＣＰＵ３４では、再生又は記録時の目標設定レーザパワーと演算およびゲイン調整、位相補償を行い、この信号をＤ／Ａ変換回路３５を介してレーザ駆動回路３６へ送りレーザＡＰＣ制御を行っている。
【００１５】
フォトディテクタ１８は、受光部が４分割された構造を有し、これらの各受光部からの光検出信号がアンプ２１を介してマトリクス回路２２に供給されることにより、これらの信号の和や差が演算されて、その結果、ＲＦ信号、フォーカスエラー信号（ＦＥ）、トラッキングエラー信号（ＴＥ）として取り出される。フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号は、位相補償回路２３を介しサーボ駆動回路２４を介して、前記２軸駆動装置の各駆動コイル２５、２６にそれぞれ送られることにより、フォーカスサーボとトラッキングサーボが行われる。
記録面が多層のディスクを再生時は、再生指定アドレスに応じてＣＰＵ３４で何層目か判断し、ＣＰＵ３４で求めた記録層にフォーカスサーボをロックさせるべく、ＣＰＵ３４からＤ／Ａ変換回路５１を介してサーボ駆動回路へ制御信号が送られる。
ＲＦ信号は各受光部からの出力信号の和信号であり、このＲＦ信号は振幅検出回路４０に送られる。
【００１６】
次いで、ＲＦ信号はＡ／Ｄ変換回路４１を介してＣＰＵ３４に供給され、ＣＰＵ３４によって、ＲＦ信号の最大値が検出される。又、トラッキングエラー信号は、位相補償回路２３へ送ると共に振幅検出回路４２へ送られ、更にＡ／Ｄ変換回路４３を介してＣＰＵ３４へ送られる。
【００１７】
次に、試し書きと試し書き部分の再生を行う場合の構成と信号の流れを説明する。
光ディスク１の所定未記録部においては、トラッキングエラー信号の最大振幅が得られるように光学素子２０の凹レンズ１４をモータ４７によって移動調整する。ＣＰＵ３４からＤ／Ａ変換回路４６を介し、光学素子駆動回路４５へ駆動命令を送り、モータ４７を使って凹レンズ１４を移動調整し、トラッキングエラー信号の最大振幅が得られるように光学素子２０の位置を求め、光学素子駆動回路４５へ送る駆動電圧が得られる。
このとき、チルト、フォーカス、トラッキングなどは別途最適に調整されているものとする。
【００１８】
試し書きを行うためのテスト信号３７（２値データ）は、試し書き命令がＣＰＵ３４から送られるとマルチパルス発生回路３８へ送られ、マルチパルス発生回路３８で複数のパルス列を生成しマルチパルス信号としてレーザ駆動回路３６に送られる。又、ＣＰＵ３４からＤ／Ａ３５を介してレーザパワー制御信号が送られる。これにより、レーザ駆動回路３６から半導体レーザ１１へ駆動信号が送られ、複数のレベルのレーザパワー値によってパルス駆動可能となり、記録レーザ光が光ディスク１の試し書き領域の記録面に向かって照射されテスト信号が記録される。
【００１９】
試し書き部の再生信号は、前述したように光ピックアップ１０内を通りフォトディテクタ１８へ送られ、アンプ２１を介してマトリクス回路２２へ送られる。マトリクス回路２２でＲＦ信号が得られ、このＲＦ信号の最大振幅又は最大レベルが得られるように凹レンズ１４をモータ４７によって移動調整する。すなわち、ＣＰＵ３４からＤ／Ａ変換回路４６を介して光学素子駆動回路４５へ駆動命令を送り、モータ４７を使って凹レンズ１４を移動調整してＲＦ信号の最大振幅が得られるように光学素子２０の位置を求め、光学素子駆動回路４５へ送る光学素子２０の最適位置を設定する駆動電圧が得られる。
【００２０】
こうして得られた光学素子２０の最適位置情報は、ＣＰＵ３４によりメモリ４４に記憶しておき、後述する第２の実施例で使用される。
前記光学素子２０の最適位置情報がＣＰＵ３４へ送られると、その最適位置情報に基づきＤ／Ａ変換回路４６を介して光学素子駆動回路４５へ送られ、モータ４７によって凹レンズ１４を移動調整して光学素子２０の位置を最適位置に移動する。
【００２１】
次に、第１の実施例における動作の詳細について、図３を併用して説明する。
まず、動作が開始されると、光ピックアップ１０のレーザ発光及びスピンドルサーボをＯＮし（図３のステップＳ１１）、光ピックアップ１０（以下、ＰＵ）を光ディスク１のキャリブレーション領域に移動させ（Ｓ１２）、ＣＰＵ３４から層間ジャンプ命令を送り、それぞれの記録層でフォーカスサーボ及びトラッキングサーボをＯＮし、キャリブレーションを行う（Ｓ１３）。
【００２２】
その後、１層目（若しくは２層目）のディスクインフォメーション記録領域を再生するため、フォーカスサーボをＯＮさせた状態でトラッキングサーボをＯＦＦさせ（Ｓ１４）、ディスクインフォメーション記録領域にＰＵを移動させた後（Ｓ１５）、トラッキングサーボをＯＮさせ（Ｓ１６）、ディスクインフォメーションを読み込み（Ｓ１７）、トラッキングサーボをＯＦＦした後（Ｓ１８）、任意の場所に移動し（移動しなくても良い）（Ｓ１９）、１層目（若しくは２層目）にフォーカスサーボをＯＮさせた状態で、光学素子２０をモータ４７を使い移動するようにＣＰＵ３４から命令を発する（Ｓ２０）。
【００２３】
これにより、トラッキングエラー信号の振幅が変化するため振幅値を検出し（Ｓ２１）、この振幅値が最大値を検出するまで光学素子２０をシフトさせ（Ｓ２２）、トラッキングエラー信号が最大となる位置に光学素子２０を移動する（Ｓ２３）。
そして、試し書き領域にＰＵを移動し（Ｓ２４）、トラッキングサーボをＯＮし（Ｓ２５）、テスト信号源３７からテスト信号を発生させ試し書き記録し（Ｓ２６）、この試し書きした情報（ＲＦ信号）を再生した後（Ｓ２７）、光学素子２０を、モータ４７を使い移動するようにＣＰＵ３４から命令を発する（Ｓ２８）。
【００２４】
これにより、ＲＦ信号の振幅が変化するため振幅値を検出し（Ｓ２９）、この振幅値が最大値を検出するまで前記光学素子２０をシフトさせ（Ｓ３０）、ＲＦ信号が最大となる位置に光学素子２０を移動する（Ｓ３１）。
こうして得られた光学素子２０の最適位置情報（光学素子駆動電圧Ｖｅｘｐ１）をＣＰＵ３４からメモリ４４に記憶する（Ｓ３２）。
【００２５】
次いで、２層目（若しくは１層目）にフォーカスサーボをＯＮさせた状態で（Ｓ３３）、光学素子２０を、モータ４７を使い移動するようにＣＰＵ３４から命令を発する（Ｓ３４）。これにより、トラッキングエラー信号の振幅が変化するため振幅値を検出し（Ｓ３５）、この振幅値が最大値を検出するまで光学素子２０をシフトさせ（Ｓ３６）、トラッキングエラー信号が最大となる位置に光学素子２０を移動する（Ｓ３７）。
【００２６】
そして、試し書き領域にＰＵを移動し（Ｓ３８）、トラッキングサーボをＯＮし（Ｓ３９）、テスト信号源３７からテスト信号を発生させ試し書き記録する（Ｓ４０）。
この試し書きした情報（ＲＦ信号）を再生した後（Ｓ４１）、光学素子２０を、モータ４７を使い移動するようにＣＰＵ３４から命令を発する（Ｓ４２）。これにより、ＲＦ信号の振幅が変化するため振幅値を検出し（Ｓ４３）、この振幅値が最大値を検出するまで光学素子２０をシフトさせ（Ｓ４４）、ＲＦ信号が最大となる位置に光学素子２０を移動する（Ｓ４５）。
【００２７】
これによって、記録層が２層の記録型の光ディスクにおいて、カバー層の厚さの違いが生じているあらゆる光ディスクに対して、記録時と再生時の両方で球面収差を補正して良好に情報の書き込み及び読み取りを行うことができる。
尚、本実施例による光学素子２０の移動動作は、試し書き時に限らず、通常の情報データの記録再生時に用いても良いことは言うまでもない。
又、記録層が２層の場合を例としたが１層若しくは多層の光ディスクであっても適用できることは当然である。
【実施例２】
【００２８】
次に、本発明に係る第２の実施例について、図２を用いて構成を説明する。
図２は、情報を繰り返し記録再生可能な相変化型で２層の記録層を持つ光ディスク１をスピンドルモータ（図示せず）で回転駆動して、この光ディスク１の記録トラックを光ピックアップ１０から出射するレーザ光で走査することにより、所定のデータフォーマットのディジタルデータを光学的に記録再生を行う光ディスク記録再生装置において、前記第１の実施例でメモリ４４に記憶された光学素子２０の最適位置情報を光ディスク１の所定領域に記録すると共にその再生を行う構成を示したものである。
【００２９】
最初に全般的な構成と信号の流れを説明する。
光ピックアップ１０において、レーザ光源である半導体レーザ１１からのレーザ光が、コリメートレンズ１２で平行光ビームとされ、ビームスプリッタ１３を介し、凹レンズ１４と凸レンズ１５からなる球面収差を補正するための光学素子（ビームエキスパンダー）２０を介し、対物レンズ１６を介して、光ディスク１上の信号記録面に集光されるように照射される。
光ディスク１の信号記録面に投射されて反射されたレーザ光の反射光ビーム（戻りレーザ光）は、ビームスプリッタ１３で反射され、シリンドリカルレンズ１７を介して受光素子であるフォトディテクタ１８に導かれるようになっている。
ここで、対物レンズ１６は、フォーカス用駆動コイル２５、トラッキング用駆動コイル２６を有して成るいわゆる２軸駆動装置により光軸方向及び光軸に直交する方向に移動制御されるようになっている。
【００３０】
ビームスプリッタ１３では、対物レンズ１６を介して光ディスク１に照射すると同時にレーザパワー制御用にフォトディテクタ３０へ照射するため少量の光量を分配している。ここで分配された光量は、凸レンズ１９を介してフォトディテクタ３０に照射される。
フォトディテクタ３０で光を検出し、検出された光検出信号はアンプ３１を介してサンプルホールド回路３２に送られ、マルチパルス発生回路３８からの信号（又はＣＰＵ３４からの信号）でサンプルホールドされてＡ／Ｄ変換回路３３を介し、ＣＰＵ３４へ送られる。ＣＰＵ３４では、再生又は記録時の目標設定レーザパワーと演算およびゲイン調整、位相補償を行い、この信号をＤ／Ａ変換回路３５を介してレーザ駆動回路３６へ送りレーザＡＰＣ制御を行っている。
【００３１】
フォトディテクタ１８は、受光部が４分割された構造を有し、これらの各受光部からの光検出信号がアンプ２１を介してマトリクス回路２２に供給されることにより、これらの信号の和や差が演算されて、その結果、ＲＦ信号、フォーカスエラー信号（ＦＥ）、トラッキングエラー信号（ＴＥ）として取り出される。フォーカスエラー信号とトラッキングエラー信号は、位相補償回路２３を介しサーボ駆動回路２４を介して、前記２軸駆動装置の各駆動コイル２５、２６にそれぞれ送られることにより、フォーカスサーボとトラッキングサーボが行われる。
記録面が多層のディスクを再生時は、再生指定アドレスに応じてＣＰＵ３４で何層目か判断し、ＣＰＵ３４で求めた記録層にフォーカスサーボをロックさせるべく、ＣＰＵ３４からＤ／Ａ変換回路５１を介してサーボ駆動回路へ制御信号が送られる。
ＲＦ信号は各受光部からの出力信号の和信号であり、このＲＦ信号は２値化回路４９に送られる。
【００３２】
次いで、ＲＦ信号はデコード回路５０を介してＣＰＵ３４に供給され、このＣＰＵ３４では、ＲＦ信号から、後述する手段によって、光ディスク１に書き込まれている光学素子２０の最適位置情報を抽出する。
【００３３】
次に、メモリ４４に記憶された光学素子２０の最適位置情報を光ディスク１の所定領域に記録する構成と信号の流れを説明する。
ＣＰＵ３４はメモリ４４に記憶された光学素子２０の最適位置情報を読み出し、この最適位置情報は、光ディスク１に記録可能なデータフォーマットに変換するエンコード回路４８へ送られる。エンコードされたデータは、ＣＰＵ３４からの命令により、マルチパルス発生回路３８へ送られ、マルチパルス発生回路３８で複数のパルス列を生成してマルチパルス信号としてレーザ駆動回路３６に送られる。又、ＣＰＵ３４からＤ／Ａ３５を介してレーザパワー制御信号が送られる。これにより、レーザ駆動回路３６から半導体レーザ１１へ駆動信号が送られ、複数のレベルのレーザパワー値によってパルス駆動可能となり、記録レーザ光が光ディスク１の所定領域（カバー層の厚みムラによる球面収差を補正するための情報を記録可能な領域）の記録面に向かって照射され、光学素子２０の最適位置情報が記録される。
【００３４】
次に、前記所定領域に記録さた光学素子２０の最適位置情報を抽出する構成と信号の流れを説明する。
前記光学素子２０の最適位置情報が記録された光ディスク１は、光ピックアップ１０によりＲＦ信号として読み出され、前記したように、このＲＦ信号はデータを２値化する２値化回路４９を介し、デコード回路５０へ送られ、ＣＰＵ３４が処理可能なデータに変換される。
【００３５】
デコードされた光学素子２０の最適位置情報がＣＰＵ３４へ送られると、その最適位置情報に基づき、Ｄ／Ａ変換回路４６を介して光学素子駆動回路４５へ送られ、モータ４７によって凹レンズ１４を移動調整して光学素子２０の位置を最適位置に移動する。
【００３６】
次に、第２の実施例における光学素子２０の最適位置情報の記録動作について、図４を併用して説明する。
前記第１の実施例において、メモリ４４に記憶された光学素子２０の最適位置情報を光ディスク１に記録すべく、まずトラッキングサーボをＯＦＦし（図４のステップＳ５１）、光ディスク１の所定領域にＰＵを移動させ（Ｓ５２）、１層目若しくは２層目にフォーカスサーボをＯＮしてトラッキングサーボをＯＮし（Ｓ５３）、メモリ４４に記憶された光学素子２０の最適位置情報を読み出し（Ｓ５４）、最適位置情報を光ディスク１に記録可能なデータフォーマットにエンコード回路４８でエンコードする（Ｓ５５）。
【００３７】
エンコードしたデータをマルチパルス回路３８へ送りマルチパルス化し（Ｓ５６）、次いで、マルチパルス化したデータをレーザ駆動回路３６に送る（Ｓ５７）。又、ＣＰＵ３４から記録命令を送り、記録レーザパワーの情報をＤ／Ａ３５を介してレーザ駆動回路３６へ送る（Ｓ５８）。そして光ディスク１における最適位置情報を所定領域に記録する（Ｓ５９）。
【００３８】
次に、第２の実施例における光学素子２０の最適位置情報の再生動作について、図５を併用して説明する。
前記光ディスク１の所定領域に記録された最適位置情報を再生すべく、まずレーザ発光及びスピンドルサーボをＯＮし（図５のステップＳ６１）、ＰＵを光ディスク１のキャリブレーション領域に移動させ（Ｓ６２）、ＣＰＵ３４から層間ジャンプ命令を送り、それぞれの記録層でフォーカスサーボ及びトラッキングサーボをＯＮし、キャリブレーションを行い（Ｓ６３）、次いで、１層目（若しくは２層目）のディスクインフォメーション記録領域を再生するため、フォーカスサーボをＯＮさせた状態でトラッキングサーボをＯＦＦさせ（Ｓ６４）、ディスクインフォメーション記録領域にＰＵを移動させた後（Ｓ６５）、トラッキングサーボをＯＮさせ（Ｓ６６）、ディスクインフォメーションを読み込む（Ｓ６７）。
【００３９】
次いで、トラッキングサーボをＯＦＦした後（Ｓ６８）、所定領域にＰＵを移動し（１層目若しくは２層目にフォーカスサーボＯＮ）トラッキングサーボをＯＮする（Ｓ６９）。ここで所定領域に記録された最適位置情報を読み込む（Ｓ７０）。このＲＦ信号（最適位置情報）を２値化回路４９で２値化し（Ｓ７１）、デコード回路５０デコードした後（Ｓ７２）、最適位置情報に基づき光学素子駆動回路４５に制御命令を送り（Ｓ７３）、それによってモータ４７に駆動電圧が送られ光学素子２０の移動調整がなされ、光学素子２０が最適位置に調整される（Ｓ７４）。
これによって、光ディスクを装填する度に球面収差補正の最適位置を求めずとも、その光ディスクに記録されている光学素子２０の最適位置情報を読み出して素早く設定できるようになるので迅速な再生動作が可能となる。
【００４０】
以上詳述した如く、本発明による光ディスク記録再生方法によれば、１層若しくは多層の記録層を有し、カバー層の厚さの違いが生じているあらゆる光ディスクに対して、記録時と再生時の両方で球面収差を補正して良好に情報の書き込み及び読み取りを行うことができるようになる。又、更に、光ディスクを装填する度に球面収差補正の最適位置を求める動作を行う必要なくなるので迅速な再生動作が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】本発明に係る第１の実施例を示すブロック図である。
【図２】本発明に係る第２の実施例を示すブロック図である。
【図３】第１の実施例における動作を説明するフローチャートである。
【図４】第２の実施例における動作を説明する第１のフローチャートである。
【図５】第２の実施例における動作を説明する第２のフローチャートである。
【図６】片面２層記録の光ディスクの断面を示した模式図である。
【符号の説明】
【００４２】
１  ・・・  光ディスク
１０  ・・・  光ピックアップ（ＰＵ）
１１  ・・・  半導体レーザ
１２  ・・・  コリメートレンズ
１３  ・・・  ビームスプリッタ
１４  ・・・  凹レンズ
１５  ・・・  凸レンズ
１６  ・・・  対物レンズ
１７  ・・・  シリンドリカルレンズ
１８  ・・・  フォトディテクタ
１９  ・・・  凸レンズ
２０  ・・・  光学素子
２１  ・・・  アンプ回路
２２  ・・・  マトリクス回路
２３  ・・・  位相補償回路
２４  ・・・  サーボ駆動回路
２５  ・・・  フォーカス用駆動コイル
２６  ・・・  トラッキング用駆動コイル
３０  ・・・  フォトディテクタ
３１  ・・・  アンプ回路
３２  ・・・  サンプルホールド回路
３３  ・・・  Ａ／Ｄ変換回路
３４  ・・・  ＣＰＵ
３５  ・・・  Ｄ／Ａ変換回路
３６  ・・・  レーザ駆動回路
３７  ・・・  テスト信号源
３８  ・・・  マルチパルス発生回路
４０  ・・・  振幅検出回路
４１  ・・・  Ａ／Ｄ変換回路
４２  ・・・  振幅検出回路
４３  ・・・  Ａ／Ｄ変換回路
４４  ・・・  メモリ
４５  ・・・  光学素子駆動回路
４６  ・・・  Ｄ／Ａ変換回路
４７  ・・・  モータ
４８  ・・・  エンコード回路
４９  ・・・  ２値化回路
５０  ・・・  デコード回路
５１  ・・・  Ｄ／Ａ変換回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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