(57)【要約】【課題】  検査対象の検査を精度良く行うことが可能な検査装置を提供する。【解決手段】  画像を撮像して得られる画像データを利用して検査対象を検査する検査装置１２であって、画像を撮像して得られる画像データＡを取得する画像データ取得部１２２と、画像データＡを用いて画像データＢを生成する画像データ生成部１２３と、画像データＡのうち所定位置にある画像データと画像データＢとの差分に基づいて、検査対象の欠陥を検査する検査部１２４とを備え、画像データＢは、画像データＡの一部と等しく、画像データＡのサイズで決まる領域内に収まっており、画像データＡの一部の位置と、画像データＢの位置とは互いにずれており、上記所定位置は、画像データＢの位置である。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像を撮像して得られる画像データを利用して検査対象を検査する検査装置であって、
前記画像を撮像して得られる第１の画像データを取得する取得手段と、
前記第１の画像データを用いて第２の画像データを生成する画像データ生成手段と、
前記第１の画像データと前記第２の画像データとの差分に基づいて、前記検査対象の欠陥を検査する検査手段とを備え、
前記第２の画像データは、前記第１の画像データの一部と等しく、前記第１の画像データのサイズで決まる領域内に収まっており、
前記第１の画像データの一部の位置と、前記第２の画像データの位置とは互いにずれている検査装置。
【請求項２】
画像を撮像して得られる画像データを利用して検査対象を検査する検査装置であって、
前記画像を撮像して得られる第１の画像データ及び第２の画像データを取得する取得手段と、
前記第１の画像データと前記第２の画像データとの差分に基づいて、前記検査対象の欠陥を検査する検査手段とを備え、
前記第２の画像データは、前記第１の画像データの一部と等しく、前記第１の画像データのサイズで決まる領域内に収まっており、
前記第１の画像データの一部の位置と、前記第２の画像データの位置とは互いにずれている検査装置。
【請求項３】
請求項１又は２記載の検査装置であって、
前記第２の画像データは、第３の画像データと第４の画像データとを含み、
前記第３の画像データの前記第１の画像データの一部とのずれの大きさは、前記第４の画像データの前記第１の画像データの一部とのずれの大きさに等しく、
前記第３の画像データの前記第１の画像データの一部を基準とするずれ方向は、前記第４の画像データの前記第１の画像データの一部を基準とするずれ方向と反対となっている検査装置。
【請求項４】
請求項３記載の検査装置であって、
前記第２の画像データは、第５の画像データと第６の画像データとを含み、
前記第５の画像データの前記第１の画像データの一部とのずれの大きさは、前記第６の画像データの前記第１の画像データの一部とのずれの大きさに等しく、
前記第５の画像データの前記第１の画像データの一部を基準とするずれ方向は、前記第６の画像データの前記第１の画像データの一部を基準とするずれ方向と反対となっており、
前記第３の画像データのずれ方向及び前記第４の画像データのずれ方向と、前記第５の画像データのずれ方向及び前記第６の画像データのずれ方向とは、互いに交差している検査装置。
【請求項５】
請求項１〜４のいずれか記載の検査装置であって、
前記第２の画像データの前記ずれの大きさは、前記第１の画像データに基づく画像に含まれる規則的パターンのパターンピッチの自然数倍となっている検査装置。
【請求項６】
請求項５記載の検査装置であって、
前記画像は表示装置に表示されたものであり、
前記表示装置は、ドットマトリックス型の表示素子によって前記画像を表示するものであり、
前記規則的パターンは、前記表示素子のドット間隔のパターンであり、
前記第２の画像データの前記ずれの大きさは、前記表示素子のドット間隔ピッチの自然数倍となっている検査装置。
【請求項７】
撮像素子を含む撮像装置と表示装置とを有する電子機器を検査する検査システムであって、
被写体を撮像する撮像手段と、
請求項１〜６のいずれか記載の検査装置と、
前記撮像装置及び前記撮像手段の撮像制御と、前記表示装置の表示制御とを行う制御手段とを備え、
前記制御手段は、前記撮像装置で画像を撮像して得られる画像データに基づく前記画像を前記表示装置に表示させた後、前記撮像手段に当該画像を撮像させるものであり、
前記検査装置は、前記撮像素子を前記検査対象とするものである検査システム。
【請求項８】
請求項７記載の検査システムであって、
前記撮像素子が撮像する画像は、前記電子機器の検査位置を特定するためのチャートであり、
前記撮像手段により前記画像を撮像して得られる画像データに基づく画像で特定される前記表示装置の位置と、前記チャートで特定される前記表示装置の位置とに基づいて、前記撮像素子の位置ずれを検出する位置ずれ検出手段を備える検査システム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、検査対象を検査する検査装置及び検査システムに関する。
【背景技術】
【０００２】
図１６は、液晶表示装置等の表示装置の表示欠陥を検査する従来の検査装置の概略構成を示す図である。
図１６に示すように、従来の検査装置１は、表示装置２に表示される画像を撮像する撮像部３と、撮像部３から得られる画像データを強調する画像強調フィルタ４と、画像強調フィルタ４からの出力に基づいて表示装置２の表示欠陥を検査する検査部５とを備える。画像強調フィルタ４としては、ソーベルやラプラシアン等の微分フィルタが用いられる。検査部５の検査方法としては、２値ラベリング処理等がある。
検査装置１では、まず、検査対象となる表示装置２に所定の画像を表示させ、その画像を撮像部３により撮像する。そして、撮像により得られた画像データを画像強調フィルタ４で強調したのち、検査部５により２値ラベリング処理を行って表示装置２の表示欠陥を抽出している。
【０００３】
表示装置の表示欠陥を検査する検査装置に関連する文献として、特許文献１及び特許文献２がある。
【０００４】
【特許文献１】特開平９−４３２９２号公報
【特許文献２】特開平９−１０１２３６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
図１６に示す検査装置１において、表示装置２が例えばドットマトリクス型の表示素子により構成されたものである場合、撮像部３で撮像して得られる画像データに基づく画像には、ドットマトリクス型の表示素子のドット間隔パターンが背景に存在することになる。このように、撮像部３により撮像して得られる画像に規則的なパターンが含まれていると、このパターンの影響により、検査部５による検査を精度良く行うことができない。
【０００６】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、検査対象の検査を精度良く行うことが可能な検査装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明の検査装置は、画像を撮像して得られる画像データを利用して検査対象を検査する検査装置であって、前記画像を撮像して得られる第１の画像データを取得する取得手段と、前記第１の画像データを用いて第２の画像データを生成する画像データ生成手段と、前記第１の画像データと前記第２の画像データとの差分に基づいて、前記検査対象の欠陥を検査する検査手段とを備え、前記第２の画像データは、前記第１の画像データの一部と等しく、前記第１の画像データのサイズで決まる領域内に収まっており、前記第１の画像データの一部の位置と、前記第２の画像データの位置とは互いにずれているものである。
【０００８】
この構成により、第１の画像データに基づく画像に規則的なパターンが含まれる場合でも、その影響を受けることなく、検査対象の欠陥を検査することができる。
【０００９】
本発明の検査装置は、画像を撮像して得られる画像データを利用して検査対象を検査する検査装置であって、前記画像を撮像して得られる第１の画像データ及び第２の画像データを取得する取得手段と、前記第１の画像データと前記第２の画像データとの差分に基づいて、前記検査対象の欠陥を検査する検査手段とを備え、前記第２の画像データは、前記第１の画像データの一部と等しく、前記第１の画像データのサイズで決まる領域内に収まっており、前記第１の画像データの一部の位置と、前記第２の画像データの位置とは互いにずれているものである。
【００１０】
この構成により、第１の画像データに基づく画像に規則的なパターンが含まれる場合でも、その影響を受けることなく、検査対象の欠陥を検査することができる。
【００１１】
又、本発明の検査装置は、前記第２の画像データが、第３の画像データと第４の画像データとを含み、前記第３の画像データの前記第１の画像データの一部とのずれの大きさは、前記第４の画像データの前記第１の画像データの一部とのずれの大きさに等しく、前記第３の画像データの前記第１の画像データの一部を基準とするずれ方向は、前記第４の画像データの前記第１の画像データの一部を基準とするずれ方向と反対となっている。
【００１２】
この構成により、検査対象の検査がなされない部分を少なくすることができる。
【００１３】
又、本発明の検査装置は、前記第２の画像データが、第５の画像データと第６の画像データとを含み、前記第５の画像データの前記第１の画像データの一部とのずれの大きさは、前記第６の画像データの前記第１の画像データの一部とのずれの大きさに等しく、前記第５の画像データの前記第１の画像データの一部を基準とするずれ方向は、前記第６の画像データの前記第１の画像データの一部を基準とするずれ方向と反対となっており、前記第３の画像データのずれ方向及び前記第４の画像データのずれ方向と、前記第５の画像データのずれ方向及び前記第６の画像データのずれ方向とは、互いに交差している。
【００１４】
この構成により、画像にシェーディングが生じている場合でも、検査を精度良く行うことができる。
【００１５】
又、本発明の検査装置は、前記第２の画像データの前記ずれの大きさが、前記第１の画像データに基づく画像に含まれる規則的パターンのパターンピッチの自然数倍となっている。
【００１６】
この構成により、第１の画像データに基づく画像に含まれる規則的パターンによる検査精度の低下の抑止効果をより向上させることができる。
【００１７】
又、本発明の検査装置は、前記画像が表示装置に表示されたものであり、前記表示装置が、ドットマトリックス型の表示素子によって前記画像を表示するものであり、前記規則的パターンが、前記表示素子のドット間隔のパターンであり、前記第２の画像データの前記ずれの大きさが、前記表示素子のドット間隔ピッチの自然数倍となっている。
【００１８】
本発明の検査システムは、撮像素子を含む撮像装置と表示装置とを有する電子機器を検査する検査システムであって、被写体を撮像する撮像手段と、請求項１〜６のいずれか記載の検査装置と、前記撮像装置及び前記撮像手段の撮像制御と、前記表示装置の表示制御とを行う制御手段とを備え、前記制御手段は、前記撮像装置で画像を撮像して得られる画像データに基づく前記画像を前記表示装置に表示させた後、前記撮像手段に当該画像を撮像させるものであり、前記検査装置は、前記撮像素子を前記検査対象とするものである。
【００１９】
この構成により、電子機器に搭載される撮像素子の検査を自動化することができ、人為的な検査ミスをなくすことができる。
【００２０】
又、本発明の検査システムは、前記撮像素子が撮像する画像が、前記電子機器の検査位置を特定するためのチャートであり、前記撮像手段により前記画像を撮像して得られる画像データに基づく画像で特定される前記表示装置の位置と、前記チャートで特定される前記表示装置の位置とに基づいて、前記撮像素子の位置ずれを検出する位置ずれ検出手段を備える。
【００２１】
この構成により、電子機器に撮像素子が搭載された後の撮像素子の位置ずれの検出を精度良く行うことができる。
【発明の効果】
【００２２】
本発明によれば、検査対象の検査を精度良く行うことが可能な検査装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２３】
以下、本発明の実施形態を説明するための検査システムについて図面を参照して説明する。
【００２４】
（第一実施形態）
図１は、本発明の第一実施形態を説明するための検査システムの概略構成を示す図である。
図１に示す検査システム１０は、検査対象である表示装置１１と、表示装置１１を検査する検査装置１２とを備える。
【００２５】
表示装置１１は、自装置の検査を行うために、所定の画像を表示する。所定の画像とは、表示装置１１内部で生成した画像データに基づく画像であっても良いし、ＣＣＤやＣＭＯＳ等の撮像素子によって撮像して得られた画像データに基づく画像であっても良い。本実施形態では、所定の画像として、例えば、表示装置１１に同一濃度の黒一色の画像を表示したものを利用する。
【００２６】
表示装置１１は、ドットマトリクス型の表示素子によって構成されている。ドットマトリクス型の表示素子は、ＣＲＴ、液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイ、及びＥＬディスプレイ等、殆どの表示装置に用いられている。
【００２７】
図２は、ドットマトリクス表示素子の概略構成を示す図である。
ドットマトリクス表示素子は、図２に示すように、３色のカラーフィルタＲＧＢにより１画素（１ドット）２１が構成され、このドット２１が隙間をあけて規則的に配列されている。ドット２１間の隙間は規則的なパターンとなり、表示装置１１に表示される画像には、この規則的なパターンが背景に存在することになる。図２に示す隙間同士の間隔Ｐのことをドット間隔ピッチという。表示装置１１に表示される画像には、この規則的なパターン以外に、シェーディングや色ムラ等が生じることもある。
【００２８】
検査装置１２は、撮像部１２１と、画像データ取得部１２２と、画像データ生成部１２３と、検査部１２４とを備える。
【００２９】
撮像部１２１は、ＣＣＤやＣＭＯＳ等の撮像素子によって表示装置１１に表示された所定の画像を撮像し、撮像して得られるアナログの画像信号をデジタルの画像データＡに変換する。尚、撮像部１２１は、検査装置１２に内蔵されているものではなく、検査装置１２とは別体のものを用いても良い。
【００３０】
画像データ取得部１２２は、撮像部１２１で変換された画像データＡを取得し、画像データ生成部１２３に入力する。画像データＡは、複数の画素データから構成されており、各画素データには濃度値を示すデータが含まれている。又、各画素データには、位置座標が対応付けられている。
【００３１】
画像データ生成部１２３は、画像データ取得部１２２により入力された画像データＡを用いて画像データＢを生成する。
【００３２】
図３（ａ）は、画像データＡを２次元的に示す図、図３（ｂ）は、画像データＢを２次元的に示す図である。図３には、画像データを構成する各画素データに対応付けられている位置座標を記した。
図３（ａ）に示すように、画像データＡには、表示装置１１の表示素子の各ドットによって表示された画像を撮像して得られる画素データ３１（斜線で示した部分のこと、図では一部にのみ符号を付している）と、表示装置１１の表示素子のドット間隔パターンを撮像して得られる画素データ３２（図では一部にのみ符号を付している）とが含まれている。本実施形態では、表示装置１１に表示欠陥がない場合、画素データ３１には濃度値１を示すデータが含まれ、表示欠陥がある場合、画素データ３１には濃度値０を示すデータが含まれるものとする。又、画素データ３２には、濃度値１を示すデータが含まれるものとする。
【００３３】
画像データ生成部１２３は、画像データＡの複製を生成し、生成した複製の各画素データの位置を所定方向（例えば、図３の−Ｘ方向）に距離Ｌずらして図３（ｂ）に示したような画像データＢを生成する。画像データＢは、画像データＡの複製の各画素データを＋Ｘ方向に距離Ｌずらしたものであっても良いし、画像データＡの複製の各画素データを＋Ｙ又は−Ｙ方向に距離ｌ（ｌはＬと同じでも良い）ずらしたものであっても良い。又、画像データＡの複製の各画素データを斜め方向に距離ｌずらしたものであっても良い。但し、距離Ｌは、画像データＡのＸ方向の長さよりも短く設定し、距離ｌは、画像データＡのＹ方向の長さよりも短く設定する。
【００３４】
尚、ここでは、画像データＢを、画像データＡの複製の各画素データをずらしたものとしているが、画像データＢとしては、最低限、図３（ｂ）の点線で囲った部分の画像データ３３を生成すれば充分である。画像データ３３は、画像データＡの一部（例えば、図３（ａ）の点線で囲った部分）である画像データ３４と等しく、画像データＡのサイズで決まる領域（図３（ａ）に示す画像データＡの外枠で囲まれる領域）内に収まっており、更に、画像データ３３の位置と、画像データ３４の位置とが互いにずれているものである。つまり、画像データ生成部１２３は、画像データＡの一部の複製を生成し、生成した複製を、画像データＡのサイズで決まる領域内で移動させた画像データを上記画像データＢとすれば良い。
【００３５】
以下の説明では、図３のように画像データＡの複製の各画素データを−Ｘ方向に距離Ｌずらして生成した画像データＢを画像データｂ１とし、画像データＡの複製の各画素データを＋Ｘ方向に距離Ｌずらして生成した画像データＢを画像データｂ２とし、画像データＡの複製の各画素データを＋Ｙ方向に距離ｌずらして生成した画像データＢを画像データｂ３とし、画像データＡの複製の各画素データを−Ｙ方向に距離ｌずらして生成した画像データＢを画像データｂ４とする。
【００３６】
検査部１２４は、入力部１２２で入力された画像データＡと、画像データ生成部１２３で生成された画像データＢとの差分を求め、その差分に基づいて、表示装置１１の表示欠陥を検査する。以下、差分を求めることを減算処理という。
【００３７】
図４（ａ）は、画像データＡを２次元的に示す図、図４（ｂ）は、画像データｂ１を２次元的に示す図、図４（ｃ）は、画像データＡの各画素データ３１の一部の濃度値を示す図、図４（ｄ）は、画像データｂ１の各画素データ３１の一部の濃度値を示す図、図４（ｅ）は減算後の各画素データ３１の一部の濃度値を示す図である。図３と同様の構成には同一符号を付してある。
検査部１２４は、減算処理において、画像データＡの各画素データのうち所定位置にある画素データの濃度値から、画像データｂ１のうち上記最低限必要な画像データ３３に含まれる画素データの濃度値を減算する。所定位置とは、画像データ３３の位置と同じ位置のことである。画像データＡと画像データｂ１に共通していない位置にある画素データ、つまり、画像データＡの領域４１にある画素データや、画像データｂ１の領域４２にある画素データは、減算処理を行うことができないため、無効領域として扱う。又、図４（ｂ）に示す領域４３（画像データＡのサイズで決まる領域のうち、画像データｂ１の存在していない領域）は、画像データが存在していないため、この領域は、画像無効部として扱う。
【００３８】
上記距離Ｌを、表示装置１１のドット間隔ピッチの自然数倍にしておくと、画像データＡの画素データ３２の濃度値と、画像データｂ１の画素データ３２の濃度値とは全く同じ値となるため、検査部１２４が、画像データＡの画素データ３２の濃度値から、画像データｂ１の画素データ３２の濃度値を減算することで、表示装置１１のドットマトリクス表示素子のドット間隔パターンを撮像して得られる画像データによる表示装置１１の表示欠陥の検査に与える影響をなくすことができる。
【００３９】
表示装置１１に表示欠陥がなければ、上記減算後の各画素データ３１の濃度値は０となるはずである。しかしながら、表示装置１１に表示欠陥があると、例えば、画素データ４４に対応する位置が欠陥位置とすると、図４（ｃ）に示すように、画像データＡの各画素データ３１の濃度値のうち、画素データ４４の濃度値が０となり他は１になる。このとき、図４（ｄ）に示すように、画像データｂ１において、画素データ４４の複製である画素データ４５の濃度値も０になっているが、画像データｂ１は画像データＡよりも距離Ｌだけ−Ｘ方向にずれているため、濃度値が０の位置も距離Ｌだけ−Ｘ方向にずれている。
検査部１２４は、上記減算処理において、図４（ｃ）に示す濃度値から図４（ｄ）に示す濃度値を減算（但し、濃度値がマイナスになる場合は、その濃度値を０として扱う）して、図４（ｅ）に示すようなデータを得る。検査部１２４は、減算後の濃度値が１になっている画素データ３１の有無を調べ、濃度値が１になっている画素データ３１があった場合は表示装置１１に表示欠陥があると判断し、濃度値が１になっている画素データ３１がなかった場合は表示装置１１に表示欠陥がないと判断する。
【００４０】
以下、検査装置１２の動作について図面を参照して説明する。
図５は、本発明の第一実施形態を説明するための検査装置の動作フローを示す図である。図５に示す各フローの右側には、各フローで処理後のイメージ図を示した。
まず、表示装置１１には検査を行うために、全画面に渡って同一濃度の黒色の画像を表示させておく。この状態で、検査装置１２は、撮像部１２１により表示装置１１に表示された画像を撮像して画像データＡに変換し、画像データＡを取得する（Ｓ５１）。このとき、図５に示すように、画像データＡには濃度値０の画素データＫが存在しており、画素データＫ以外の画素データの濃度値は１である。
【００４１】
画像データ取得部１２２は撮像部１２１から取得した画像データＡを画像データ生成部１２３に入力する。画像データ生成部１２３は、画像データＡを用いて画像データｂ１を生成する（Ｓ５２）。図５に示すように、画像データｂ１にも濃度値０の画素データＫがあるが、その位置は左方向に距離Ｌだけずれている。このとき、図５に示すように、画像データＡには欠陥の検査対象とならない無効領域５１が存在し、画像データｂ１には検査対象とならない無効領域５２が存在している。
【００４２】
検査部１２４は、画像データＡから画像データｂ１を減算する（Ｓ５３）。減算の結果得られた画像データは、画像データｂ１に含まれる画素データＫの位置にある画素データの濃度値だけが１となり、その他の画素データの濃度値は０となる。検査部１２４は、減算の結果得られた画像データの各画素データの濃度値に基づいて、表示装置１１の表示欠陥を検査する（Ｓ５４）。この検査は、例えば、減算の結果得られた画像データの各画素データに、濃度値１の画素データがあるか否かを調べ、濃度値１の画素データがあった場合に表示装置１１に表示欠陥があると判断し、濃度値１の画素データがなかった場合に表示装置１１に表示欠陥がないと判断する。
【００４３】
次に、検査装置１２は、画像データ生成部１２３により、画像データＡを用いて画像データｂ２を生成する（Ｓ５５）。図５に示すように、画像データｂ２にも濃度値０の画素データＫがあるが、その位置は右方向に距離Ｌだけずれている。
【００４４】
検査部１２４は、画像データＡから画像データｂ２を減算する（Ｓ５６）。減算の結果得られた画像データは、画像データｂ１に含まれる画素データＫの位置にある画素データの濃度値だけが１となり、その他の画素データの濃度値は０となる。検査部１２４は、減算の結果得られた画像データの各画素データの濃度値に基づいて、表示装置１１の表示欠陥を検査する（Ｓ５７）。そして、検査処理を終了する。
【００４５】
以上のように、検査装置１２によれば、上記距離Ｌを表示装置１１のドット間隔ピッチの自然数倍にすることで、画像データＡに基づく画像に規則的なドット間隔パターンが含まれている場合でも、減算処理を行うことにより、そのパターンの影響を消すことができ、精度良く検査を行うことができる。表示装置１１に表示される画像に規則的なパターンが含まれている場合、従来の検査装置によるフィルタ処理では、その影響を消すことが困難である。又、フーリエ変換処理等を行ってその影響を消すこともできるが、これでは計算量が多くなり、検査装置のコストが高くなってしまう。これに対し、検査装置１２によれば、フィルタ処理やフーリエ変換処理等を行わず、簡単な処理で規則的なパターンの影響を消すことが可能であるため、低コストで検査精度の高い検査装置を提供することができる。
【００４６】
又、検査装置１２によれば、Ｓ５４の処理では、画像データＡの無効領域５１と画像データｂ１の無効領域５２については、検査を行っていないが、Ｓ５７の処理を行うことにより、画像データＡの無効領域５１及び画像データｂ１の無効領域５２が、検査の対象となる有効領域となるため、画像データＡの全体について検査を行うことができる。従来の検査装置では、画像を撮像して得られる画像データにフィルタ処理を行っているため、画像データの周辺部において、検査を行うことのできない領域が生じてしまう。これに対し、検査装置１２によれば、画像データＡのうち検査を行うことのできない領域を少なくすることができる。
【００４７】
又、表示装置１１に表示される画像に色ムラが生じ、この結果、画像データＡに基づく画像に色ムラが生じた場合でも、検査装置１２によれば、上記距離Ｌ及びｌを小さくすることで、色ムラの影響を少なくすることも可能である。
【００４８】
尚、検査装置１２において、検査対象となる表示装置１１に表示される画像の位置と、上記距離Ｌやｌとが既知である場合には、画像データＡの有効領域と、無効領域とを計算により正確に求めることができるため、画像データＡの検査すべき検査エリアを特定することができる。しかし、表示装置１１に表示される画像の位置と、上記距離Ｌやｌとが既知でない場合には、画像データＡから有効領域の位置を計測して検査エリアを特定する必要がある。検査エリアを特定する必要がある場合は、無効領域が欠陥として検出されないようにしておき検査エリアを広めにしておくと、位置補正がラフでも有効領域における検査エリアのカバー率を高めることができる。
【００４９】
又、上記では、画像データＡと画像データｂ１との差分及び画像データＡと画像データｂ２との差分に基づいて、画像データＡの全体について検査を行っているが、画像データＡと画像データｂ３との差分及び画像データＡと画像データｂ４との差分に基づいて、画像データＡの全体について検査を行っても、同様の効果を得ることができる。この場合は、上記距離ｌをドット間隔パターンの自然数倍に設定すれば良い。
【００５０】
又、上記では、画像データＡと画像データｂ１との差分及び画像データＡと画像データｂ２との差分に基づいて、画像データＡの全体について検査を行っているが、画像データｂ３と画像データｂ４を生成し、画像データＡと画像データｂ３との差分に基づいて表示装置１１の表示欠陥を検査し、画像データＡと画像データｂ４との差分に基づいて表示装置１１の表示欠陥を検査し、合計４回の検査結果に基づいて、画像データＡの全体について検査を行うようにしても良い。このようにすることにより、表示装置１１に表示される画像にシェーディングがある場合でも、シェーディングによる影響を消すことができる。
【００５１】
又、上記では、検査装置１２が、表示装置１１の表示欠陥を検査する例を説明したが、検査対象は表示装置１１以外にも考えられる。例えば、表示装置１１に表示される画像が、撮像素子によって撮像された画像データに基づく画像である場合、検査装置１２により、その撮像素子の欠陥を検査することができる。又、撮像部１２１で表示装置１１に表示された画像を撮像するのではなく、紙に印刷された画像を撮像部１２１で撮像し、その撮像により得られる画像データを画像データＡとして上記のような処理を行うことで、撮像部１２１に含まれる撮像素子の欠陥を検査することもできる。
【００５２】
又、上記では、距離Ｌやｌを、表示装置１１の表示素子のドット間隔ピッチの自然数倍としているが、距離Ｌやｌはこれに限らず、画像データＡに基づく画像に含まれる規則的なパターンのパターンピッチの自然数倍であれば良い。図６は、画像データＡに基づく画像に含まれる規則的なパターンを示す図である。
例えば、撮像部１２１に含まれる撮像素子の欠陥を検査する際、紙に印刷された画像に図６に示すような規則的なパターンが含まれていた場合には、その規則的なパターンのパターンピッチの自然数倍の値を上記距離Ｌやｌとすれば良い。又、画像データＡに基づく画像に含まれるパターンが正確な規則性を持っていない（規則性はあるが、パターンピッチが全体で一定でない）場合には、距離Ｌやｌをパターンピッチの自然数倍にする必要はない。画像データＡに基づく画像に含まれるパターンが正確な規則性を持っていない場合でも、距離Ｌやｌを任意に設定した画像データＢを生成して検査を行うことで、そのパターンの影響を少なくすることは可能である。本実施形態のように、完全に規則的なパターンが画像データＡに基づく画像に含まれている場合には、距離Ｌやｌを、規則的なパターンのパターンピッチの自然数倍に設定することで、規則的なパターンの影響を完全に消すことができる。又、規則的なパターンのパターンピッチに対し、撮像部１２１に含まれる撮像素子の画素分解能が低い場合には、距離Ｌやｌをパターンピッチの２倍以上にすることで、パターンによる影響を完全に消すことができる。
【００５３】
（第二実施形態）
図７は、本発明の第二実施形態を説明するための検査システムの概略構成を示す図である。図１と同様の構成には同一符号を付してある。
図７に示す検査システム２０は、検査対象である表示装置１１と、表示装置１１を検査する検査装置２２とを備える。検査装置２２は、撮像部１２１と、画像データ取得部２２２と、検査部２２４とを備える。
【００５４】
画像データ取得部２２２は、撮像部１２１で撮像して得られた画像データＣを取得し、検査部１２４に入力する。又、画像データ取得部２２２は、撮像部１２１で撮像して得られた画像データＤを取得し、検査部１２４に入力する。画像データＣ及び画像データＤは、それぞれ複数の画素データから構成されており、各画素データには濃度値を示すデータが含まれている。又、各画素データには、位置座標が対応付けられている。
【００５５】
画像データＣ及び画像データＤは、撮像部１２１の撮像範囲をずらすことで取得する。例えば、表示装置１１に図８に示すように画像が表示されている場合、撮像部１２１により撮像範囲８１で画像を撮像して得られる画像データを画像データＣとし、撮像範囲８１を右方向に距離Ｌだけずらした撮像範囲８２で画像を撮像して得られる画像データを画像データＤとする。尚、画像データＤは、撮像範囲８１を左方向に距離Ｌだけずらした撮像範囲で画像を撮像して得られる画像データであっても良いし、撮像範囲８１を上又は下方向に距離ｌだけずらした撮像範囲で画像を撮像して得られる画像データであっても良い。又、撮像範囲８１を斜め方向に距離ｌだけずらした撮像範囲で画像を撮像して得られる画像データであっても良い。
以下では、撮像範囲８１を右方向に距離Ｌだけずらした撮像範囲８２で画像を撮像して得られる画像データを画像データｄ１、撮像範囲８１を左方向に距離Ｌだけずらした撮像範囲で画像を撮像して得られる画像データを画像データｄ２、撮像範囲８１を上方向に距離ｌだけずらした撮像範囲で画像を撮像して得られる画像データを画像データｄ３、撮像範囲８１を下方向に距離ｌだけずらした撮像範囲で画像を撮像して得られる画像データを画像データｄ４とする。
【００５６】
図９（ａ）は、画像データＣを２次元的に示す図、図９（ｂ）は、画像データｄ１を２次元的に示す図である。図９には、画像データを構成する各画素データに対応付けられている位置座標を記した。
図９（ａ）に示すように、画像データＣには、表示装置１１の表示素子の各ドットによって表示された画像を撮像して得られる画素データ９１（斜線で示した部分のこと、図では一部にのみ符号を付している）と、表示装置１１の表示素子のドット間隔パターンを撮像して得られる画素データ９２（図では一部にのみ符号を付している）とが含まれている。本実施形態では、表示装置１１に表示欠陥がない場合、画素データ９１には濃度値１を示すデータが含まれ、表示欠陥がある場合、画素データ９１には濃度値０を示すデータが含まれるものとする。又、画素データ９２には、濃度値１を示すデータが含まれるものとする。
【００５７】
図９（ｂ）に示すように、画像データｄ１には、画素データ９１（図では一部にのみ符号を付している）と、画素データ９２（図では一部にのみ符号を付している）と、表示装置１１に表示された画像以外の被写体を撮像して得られる画像データ９３とが含まれている。画像データ９３は、表示装置１１の表示欠陥を行うためのデータではなくなるため、画像無効部として扱う。画像データｄ１は、画像データＣを撮像した撮像範囲をずらして得られるものであるため、画像データｄ１の画像データ９３以外の部分である画像データ９４は、画像データＣの一部（例えば、図９（ａ）の点線で囲った部分）である画像データ９５と等しく、画像データ９５と画像データ９４とは、互いにずれた位置にある。
【００５８】
尚、画像データ取得部２２２は、画像データｄ１として、画像データｄ１全体ではなく、画像データｄ１のうち、画像データＣの一部である画像データ９５と等しい画像データ９４を最低限取得すれば良い。
【００５９】
検査部２２４は、画像データ取得部２２２から入力された画像データＣと、画像データＤとの差分を求め、その差分に基づいて、表示装置１１の表示欠陥を検査する。以下、差分を求めることを減算処理という。
【００６０】
図１０（ａ）は、画像データＣを２次元的に示す図、図１０（ｂ）は、画像データｄ１を２次元的に示す図、図１０（ｃ）は、画像データＣの各画素データ９１の一部の濃度値を示す図、図１０（ｄ）は、画像データｄ１の各画素データ９１の一部の濃度値を示す図、図１０（ｅ）は減算後の各画素データ９１の一部の濃度値を示す図である。
検査部２２４は、減算処理において、画像データＣの各画素データのうち所定位置にある画素データの濃度値から、画像データｄ１のうち上記最低限必要な画像データ９４に含まれる画素データの濃度値を減算する。所定位置とは、画像データ９４の位置と同じ位置のことである。画像データＣの画像データ９３と同じ位置にある画素データ、つまり、画像データＣの領域９７にある画素データは、減算処理を行うことができないため、この領域９７は無効領域として扱う。
【００６１】
上記距離Ｌを、表示装置１１のドット間隔ピッチの自然数倍にしておくと、画像データＣの画素データ９２の濃度値と、画像データｄ１の画素データ９２の濃度値とは全く同じ値となるため、検査部２２４が、画像データＣの画素データ９２の濃度値から、画像データｄ１の画素データ９２の濃度値を減算することで、表示装置１１のドットマトリクス表示素子のドット間隔パターンを撮像して得られる画像データによる表示装置１１の表示欠陥の検査に与える影響をなくすことができる。
【００６２】
表示装置１１に表示欠陥がなければ、上記減算後の各画素データ９１の濃度値は０となるはずである。しかしながら、表示装置１１に表示欠陥があると、例えば、画素データ１０１に対応する位置が欠陥位置とすると、図１０（ｃ）に示すように、画像データＣの各画素データ９１の濃度値のうち、画素データ１０１の濃度値が０となり他は１になる。このとき、図１０（ｄ）に示すように、画像データｄ１において、画素データ１０１と濃度値が同じである画素データ１０２の濃度値も０になっているが、画像データｄ１を得るための撮像範囲８２は、画像データＣを得るための撮像範囲８１よりも距離Ｌだけ右にずれているため、濃度値が０の位置は距離Ｌだけ−Ｘ方向にずれている。
検査部２２４は、上記減算処理において、図１０（ｃ）に示す濃度値から図１０（ｄ）に示す濃度値を減算（但し、濃度値がマイナスになる場合は、その濃度値を０として扱う）して、図１０（ｅ）に示すようなデータを得る。検査部２２４は、減算後の濃度値が１になっている画素データ９１の有無を調べ、濃度値が１になっている画素データ９１があった場合は表示装置１１に表示欠陥があると判断し、濃度値が１になっている画素データ９１がなかった場合は表示装置１１に表示欠陥がないと判断する。
【００６３】
以下、検査装置２２の動作について図面を参照して説明する。
図１１は、本発明の第二実施形態を説明するための検査装置の動作フローを示す図である。図１１に示す各フローの右側には、各フローで処理後のイメージ図を示した。
まず、表示装置１１には検査を行うために、全画面に渡って同一濃度の黒色の画像を表示させておく。この状態で、検査装置２２は、撮像部１２１により、表示装置１１に表示された画像を撮像範囲８１で撮像して画像データＣに変換し、画像データＣを取得する（Ｓ１１１）。このとき、図１１に示すように、画像データＣには濃度値０の画素データｋが存在しており、画素データｋ以外の画素データの濃度値は１である。
【００６４】
更に、検査装置２２は、撮像部１２１により、表示装置１１に表示された画像を撮像範囲８２で撮像して画像データｄ１に変換し、画像データｄ１を取得する（Ｓ１１２）。このとき、図１１に示すように、画像データｄ１にも濃度値０の画素データｋが存在しているが、その位置は−Ｘ方向に距離Ｌだけずれている。図１１に示すように、画像データＣには欠陥の検査対象とならない無効領域１１０が存在し、画像データｄ１には画像無効部１１１が存在している。
【００６５】
検査部２２４は、画像データＣから画像データｄ１を減算する（Ｓ１１３）。減算の結果得られた画像データは、画像データｄ１に含まれる画素データｋの位置にある画素データの濃度値だけが１となり、その他の画素データの濃度値は０となる。検査部２２４は、減算の結果得られた画像データの各画素データの濃度値に基づいて、表示装置１１の表示欠陥を検査する（Ｓ１１４）。この検査は、例えば、減算の結果得られた画像データの各画素データに、濃度値１の画素データがあるか否かを調べ、濃度値１の画素データがあった場合に表示装置１１に表示欠陥があると判断し、濃度値１の画素データがなかった場合に表示装置１１に表示欠陥がないと判断する。
【００６６】
次に、検査装置２２は、撮像部１２１により、表示装置１１に表示された画像を、撮像範囲８１を左に距離Ｌずらして撮像して画像データｄ２に変換し、画像データｄ２を取得する（Ｓ１１５）。このとき、図１１に示すように、画像データｄ２には濃度値０の画素データｋが存在しているが、その位置はＸ方向に距離Ｌだけずれている。画素データｋ以外の画素データの濃度値は１である。
【００６７】
検査部２２４は、画像データＣから画像データｄ２を減算する（Ｓ１１６）。減算の結果得られた画像データは、画像データｄ２に含まれる画素データｋの位置にある画素データの濃度値だけが１となり、その他の画素データの濃度値は０となる。検査部２２４は、減算の結果得られた画像データの各画素データの濃度値に基づいて、表示装置１１の表示欠陥を検査する（Ｓ１１７）。そして、検査処理を終了する。
【００６８】
以上のように、検査装置２２によれば、上記距離Ｌを表示装置１１のドット間隔ピッチの自然数倍にすることで、画像データＣに基づく画像に規則的なドット間隔パターンが含まれている場合でも、減算処理を行うことにより、そのパターンの影響を消すことができ、精度良く検査を行うことができる。表示装置１１に表示される画像に規則的なパターンが含まれている場合、従来の検査装置によるフィルタ処理では、その影響を消すことが困難である。又、フーリエ変換処理等を行ってその影響を消すこともできるが、これでは計算量が多くなり、検査装置のコストが高くなってしまう。これに対し、検査装置２２によれば、フィルタ処理やフーリエ変換処理等を行わず、簡単な処理で規則的なパターンの影響を消すことが可能であるため、低コストで検査精度の高い検査装置を提供することができる。
【００６９】
又、検査装置２２によれば、Ｓ１１４の処理では、画像データＣの無効領域１１０については検査を行っていないが、Ｓ１１７の処理を行うことにより、画像データＣの無効領域１１０が、検査の対象となる有効領域となるため、画像データＣの全体について検査を行うことができる。従来の検査装置では、画像を撮像して得られる画像データにフィルタ処理を行っているため、画像データの周辺部において、検査を行うことのできない領域が生じてしまう。これに対し、検査装置２２によれば、画像データＣのうち検査を行うことのできない領域を少なくすることができる。
【００７０】
又、表示装置１１に表示される画像に色ムラが生じ、この結果、画像データＣに基づく画像に色ムラが生じた場合でも、検査装置２２によれば、上記距離Ｌ及びｌを小さくすることで、色ムラの影響を少なくすることも可能である。
【００７１】
尚、検査装置２２において、検査対象となる表示装置１１に表示される画像の位置と、上記距離Ｌやｌとが既知である場合には、画像データＣの有効領域と、無効領域とを計算により正確に求めることができるため、画像データＣの検査すべき検査エリアを特定することができる。しかし、表示装置１１に表示される画像の位置と、上記距離Ｌやｌとが既知でない場合には、画像データＣから有効領域の位置を計測して検査エリアを特定する必要がある。検査エリアを特定する必要がある場合は、無効領域が欠陥として検出されないようにしておき検査エリアを広めにしておくと、位置補正がラフでも有効領域における検査エリアのカバー率を高めることができる。
【００７２】
又、上記では、画像データＣと画像デーｄ１との差分及び画像データＣと画像データｄ２との差分に基づいて、画像データＡの全体について検査を行っているが、画像データＣと画像デーｄ３との差分及び画像データＣと画像データｄ４との差分に基づいて、画像データＣの全体について検査を行っても、同様の効果を得ることができる。この場合は、上記距離ｌをドット間隔パターンの自然数倍に設定すれば良い。
【００７３】
又、上記では、画像データＣと画像デーｄ１との差分及び画像データＣと画像データｄ２との差分に基づいて、画像データＣの全体について検査を行っているが、更に、画像データｄ３と画像データｄ４を取得し、画像データＣと画像データｄ３との差分に基づいて表示装置１１の表示欠陥を検査し、画像データＣと画像データｄ４との差分に基づいて表示装置１１の表示欠陥を検査し、合計４回の検査結果に基づいて、画像データＣの全体について検査を行うようにしても良い。このようにすることにより、表示装置１１に表示される画像にシェーディングがある場合でも、シェーディングによる影響を消すことができる。
【００７４】
又、上記では、検査装置２２が、表示装置１１の表示欠陥を検査する例を説明したが、検査対象は表示装置１１以外にも考えられる。例えば、表示装置１１に表示される画像が、撮像素子によって撮像された画像データに基づく画像である場合、検査装置２２により、その撮像素子の欠陥を検査することができる。又、撮像部１２１で表示装置１１に表示された画像を撮像するのではなく、紙に印刷された画像を撮像部１２１で撮像し、その撮像により得られる画像データＣ及びＤを用いて上記のような処理を行うことで、撮像部１２１に含まれる撮像素子の欠陥を検査することもできる。
【００７５】
又、上記では、距離Ｌやｌを、表示装置１１の表示素子のドット間隔ピッチの自然数倍としているが、距離Ｌやｌはこれに限らず、画像データＣに基づく画像に含まれる規則的なパターンのパターンピッチの自然数倍であれば良い。
例えば、撮像部１２１に含まれる撮像素子の欠陥を検査する際、紙に印刷された画像に図６に示すような規則的なパターンが含まれていた場合には、その規則的なパターンのパターンピッチの自然数倍の値を上記距離Ｌやｌとすれば良い。又、画像データＣに基づく画像に含まれるパターンが正確な規則性を持っていない場合には、距離Ｌやｌをパターンピッチの自然数倍にする必要はない。画像データＣに基づく画像に含まれるパターンが正確な規則性を持っていない場合でも、距離Ｌやｌを任意に設定して撮像して得られる画像データＤを取得して検査を行うことで、そのパターンの影響を少なくすることは可能である。本実施形態のように、完全に規則的なパターンが画像データＣに基づく画像に含まれている場合には、距離Ｌやｌを規則的なパターンのパターンピッチの自然数倍に設定することで、規則的なパターンの影響を完全に消すことができる。又、規則的なパターンのパターンピッチに対し、撮像部１２１に含まれる撮像素子の画素分解能が低い場合には、距離Ｌやｌをパターンピッチの２倍以上にすることで、パターンによる影響を完全に消すことができる。
【００７６】
（第三実施形態）
本発明の第三実施形態を説明するための検査システムは、デジタルカメラ等の撮像装置と、その撮像装置で撮像して得られる画像データに基づく画像を表示する表示装置とを備える携帯電話機やＰＤＡ等の電子機器において、電子機器の撮像装置を検査するためのシステムである。以下では、電子機器として携帯電話機を例にして説明する。又、携帯電話機の備える表示装置として第一実施形態で説明した表示装置１１を利用する。
【００７７】
図１２は、本発明の第三実施形態を説明するための検査システムの概略構成を示す図である。図１３は、携帯電話機を検査する際の状態を示す図である。
図１２に示す検査システム３０は、携帯電話機１３０と、検査装置１４０とを備える。
【００７８】
携帯電話機１３０は、撮像装置１３１と、制御部１３２と、入力部１３３と、表示装置１１とを備える。携帯電話機１３０は、携帯電話機１３０を製造する工場の生産ライン上に設けられた保持部１５０にセットされて検査される。保持部１５０の前方には、保持部１５０にセットされた携帯電話機１３０の位置を特定することが可能なチャートが印刷された紙が配置されている。このチャートは、チャート上のどの位置に携帯電話機１３０が位置しているかを特定することができるものである。このため、携帯電話機１３０の撮像装置１３１によりチャートを撮像して得られる画像に基づいて、携帯電話機１３０の位置を特定することができる。
【００７９】
撮像装置１３１は、例えばデジタルカメラであり、ＣＣＤやＣＭＯＳ等の撮像素子によって被写体を撮像し、撮像して得られるアナログの画像信号をデジタルの画像データに変換し、制御部１３２に入力する。
【００８０】
制御部１３２は、所定のプログラムによって動作するプロセッサを主体に構成され、撮像装置１３１及び表示装置１１を制御する。制御部１３２は、検査装置１４０の制御部１４１からの指示に応じて、撮像装置１３１で撮像を行わせ、撮像して得られた画像データに基づく画像を表示装置１１に表示させる。
【００８１】
入力部１３３は、コネクタ等で構成される入力インターフェースであり、検査装置１４０の制御部１４１からの指示は、ここから制御部１３２に入力される。
【００８２】
検査装置１４０は、第一実施形態で説明した検査装置１２（又は第二実施形態で説明した検査装置２２）と、制御部１４１とを備える。検査装置１４０は、例えば、図１３に示したチャートが印刷された紙１６０が配置される位置に設置して用いられる。検査装置１２は、携帯電話機１３０の撮像装置１３１に含まれる撮像素子の欠陥検査を行う。尚、検査装置１２の代わりに、従来からある公知の検査装置を用いても構わない。
【００８３】
制御部１４１は、所定のプログラムによって動作するプロセッサを主体に構成され、検査装置１２の撮像部１２１の撮像制御を行う。制御部１４１は、入力部１３３から制御部１３２に指示を入力し、携帯電話機１３０の撮像装置１３１の撮像制御と、携帯電話機１３０の表示装置１１の表示制御とを行う。
【００８４】
以下、検査システム３０の動作について説明する。
図１４は、本発明の第三実施形態を説明するための検査システムの動作シーケンスを説明するための図である。
まず、検査装置１４０の制御部１４１が検査を行うためのコマンドを制御部１３２に入力すると（Ｓ１４１）、携帯電話機１３０の制御部１３２の制御により、撮像装置１３１が所定の画像を撮像し（Ｓ１４２）、撮像により得られた画像データに基づく画像が表示装置１１に表示される（Ｓ１４３）。検査装置１４０の制御部１４１は、コマンドを入力して所定時間経過後（Ｓ１４４：ＹＥＳ）、表示装置１１に表示された画像を撮像部１２１に撮像させる。これにより、撮像部１２１が表示装置１１に表示された画像を撮像し（Ｓ１４５）、撮像して得られた画像データが検査装置１２の画像データ取得部１２２によって取得され、第一実施形態及び第二実施形態で説明した方法で、携帯電話機１３０の撮像装置１３１に含まれる撮像素子の欠陥検査が行われる（Ｓ１４６）。所定時間とは、撮像装置１３１による画像の撮像が終わり、画像が表示装置１１に表示されるまでの時間のことである。
【００８５】
次に、携帯電話機１３０の撮像装置１３１に含まれる撮像素子の、携帯電話機１３０に組み込んだ後の位置ずれを検出する場合の検査システム３０の動作について説明する。位置ずれとは、携帯電話機１３０の撮像装置１３１に含まれる光学系と撮像素子との光軸ずれのことである。
図１５は、本発明の第三実施形態を説明するための検査システムの動作シーケンスを説明するための図である。
携帯電話機１３０の撮像装置１３１に含まれる撮像素子の位置ずれを検出する際、まず、検査装置１４０の制御部１４１が撮像素子の位置ずれを検出するためのコマンドを制御部１３２に入力すると（Ｓ１５１）、携帯電話機１３０の制御部１３２の制御により、撮像装置１３１がチャートを撮像し（Ｓ１５２）、撮像により得られた画像データに基づく画像が表示装置１１に表示される（Ｓ１５３）。検査装置１４０の制御部１４１は、コマンドを入力して所定時間経過後（Ｓ１５４：ＹＥＳ）、表示装置１１に表示された画像を撮像部１２１に撮像させる。これにより、撮像部１２１が表示装置１１に表示されたチャート画像を撮像し（Ｓ１５５）、撮像して得られた画像データが制御部１４１に入力される。制御部１４１は、入力された画像データに基づく画像によって特定される携帯電話機１３０の表示装置１１の位置と、チャートによって特定される携帯電話機１３０の表示装置１１の位置（この位置は予め記憶されている）とに基づいて、撮像装置１３１に含まれる撮像素子の位置ずれを検出する（Ｓ１５６）。例えば、２つの位置が一致しない場合には、撮像素子に位置ずれがあると判断し、２つの位置が一致する場合には、撮像素子に位置ずれがないと判断する。
【００８６】
撮像装置１３１の撮像素子に位置ずれがなければ、撮像装置１３１でチャートを撮像して表示装置１１に表示される画像を撮像して得た画像データに基づく画像によって特定される表示装置１１の位置は、チャートで特定される位置と一致するようになっている。そこで、制御部１４１は、この２つの位置を比較することで、撮像素子の位置ずれを検出することが可能となる。
【００８７】
以上のように、検査システム３０によれば、携帯電話機１３０に組み込まれた撮像素子の検査を、自動的に行うことができる。従来、携帯電話機に搭載した撮像素子の検査は、人間が、携帯電話機の電源を入れて撮像装置により画像を撮像し、撮像した画像データに基づく画像を表示装置に表示させ、表示された画像を目で確認することで行っていた。又、撮像素子の位置ずれの検出も、同様に目視にて行っていた。このように、従来は、目視判断で検査を行っているために、検査ミスが多くなっていた。又、位置ずれの検出も正確には行えなかった。又、上記検査を機械によって自動で行おうとした場合、上記人間が行う操作を全てロボット等で行わなければならず、コスト増となっていた。これに対し、検査システム３０によれば、従来人間が行っていた作業を、ロボット等を用いることなく、全て自動化することができる。このため、低コストで且つ検査ミスの少ない検査装置を実現することができる。
【００８８】
検査装置１４０を用いずに、携帯電話機１３０で所定の画像を撮像して得られる画像データを、コネクタ等から外部の検査装置に転送することでも、携帯電話機１３０の撮像素子の検査を自動的に行うことは可能である。しかし、画像データはサイズが大きいため、画像データの転送速度を高速にしておかないと、検査時間が膨大になってしまう。転送速度を高速にすることは、携帯電話機１３０のコストアップ等に繋がり、実用的でない場合も多い。これに対し、本実施形態によれば、このような制約は不要であり、最小限度のコストと時間で、携帯電話機１３０の撮像素子の自動検査を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００８９】
【図１】本発明の第一実施形態を説明するための検査システムの概略構成を示す図
【図２】ドットマトリクス表示素子の概略構成を示す図
【図３】画像データを説明するための図
【図４】表示装置の欠陥検査処理を説明するための図
【図５】本発明の第一実施形態を説明するための検査装置の動作フローを示す図
【図６】画像に含まれる規則的なパターンの一例を示す図
【図７】本発明の第二実施形態を説明するための検査システムの概略構成を示す図
【図８】本発明の第二実施形態を説明するための検査装置の撮像部による撮像範囲を説明するための図
【図９】画像データを説明するための図
【図１０】表示装置の欠陥検査処理を説明するための図
【図１１】本発明の第二実施形態を説明するための検査装置の動作フローを示す
【図１２】本発明の第三実施形態を説明するための検査システムの概略構成を示す図
【図１３】携帯電話機を検査する際の状態を示す図
【図１４】本発明の第三実施形態を説明するための検査システムの動作シーケンスを説明するための図
【図１５】本発明の第三実施形態を説明するための検査システムの動作シーケンスを説明するための図
【図１６】従来の検査装置の概略構成を示す図
【符号の説明】
【００９０】
１０  検査システム
１１  表示装置
１２  検査装置
１２１  撮像部
１２２  画像データ取得部
１２３  画像データ生成部
１２４  検査部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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