(57)【要約】【課題】  簡易な工程で、巻き乱れが発生しにくく、走行安定性の高いテープを製造可能なテープ処理方法を提供する。【解決手段】  ベースフィルムを有し、ベースフィルムがパネル面５１ａに対して垂直な状態で走行する磁気テープ１を、周面に上側が小径となるテーパが形成されたハブ１１に巻き取りつつ、磁気テープ１が巻き取られてなる巻玉２１の最外周面をタッチローラ３１で押さえる第１工程と、巻玉２１をベースフィルムのガラス転移温度直下の所定温度範囲内で加熱処理する第２工程と、を含むテープ処理方法であって、第１工程において、パネル面５１ａのパネル法線５１Ａに対して、ハブ１１のハブ回転軸１１Ａを傾けた。【選択図】      図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ベースフィルムを有し、当該ベースフィルムが基準面に対して垂直な状態で走行するテープを、周面に一方側が小径となるテーパが形成されたハブに巻き取りつつ、前記テープが巻き取られてなる巻玉の最外周面をローラで押さえる第１工程と、前記巻玉を前記ベースフィルムのガラス転移温度直下の所定温度範囲内で加熱処理する第２工程と、を含むテープ処理方法であって、
前記第１工程において、前記基準面の法線に対して、前記ハブの回転軸を傾けたことを特徴とするテープ処理方法。
【請求項２】
前記第１工程において、前記ハブの回転軸を、前記巻玉への前記テープの進入位置側または当該進入位置と反対側に傾けたことを特徴とする請求項１に記載のテープ処理方法。
【請求項３】
前記第１工程において、前記テープの巻き取りに伴って、前記ローラを前記ハブの径方向外側に遠ざけながら、前記一方側に傾けることを特徴とする請求項２に記載のテープ処理方法。
【請求項４】
前記第１工程において、前記ローラで、前記巻玉への前記テープの進入位置付近を押さえることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか１項に記載のテープ処理方法。
【請求項５】
前記第１工程において、前記ハブの回転軸を、前記巻玉に進入する直前のテープの進行方向側または当該進行方向と反対側に傾けると共に、前記ローラで前記巻玉への前記テープの進入位置付近を押さえ、前記テープが進む方向をハブの回転方向に曲げること特徴とする請求項１に記載のテープ処理方法。
【請求項６】
前記ローラは、前記テープを幅方向に規制するフランジを有することを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか１項に記載のテープ処理方法。
【請求項７】
前記第１工程において、前記ローラとは別の他のローラでも、前記巻玉の最外周面を押さえることを特徴とする請求項１から請求項６のいずれか１項に記載のテープ処理方法。
【請求項８】
前記第１工程の前に、前記テープの前記一方側を薄くする工程を、さらに含むことを特徴とする請求項１から請求項７のいずれか１項に記載のテープ処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、テープ処理方法に関し、詳しくは、テープリールに巻き取られたテープの巻姿の乱れ（巻乱れ）を防止するテープ処理方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
一般に、コンピュータ等のデータバックアップ用の外部記録媒体として、例えば、幅１２．６５ｍｍのリニア系またはヘリカル系磁気テープが広く用いられている。この磁気テープは、テープリールに巻き取られた状態で取り扱われるが、この磁気テープをワインダまたはドライブにおいてテープリールに巻き取る際、テープエッジの端面の位置が不揃い（いわゆる巻乱れ）になりやすい。特に、高速の巻取りでは、顕著な巻乱れが発生することが多い。このような巻乱れは、輸送中にエッジダメージを与えやすく、また、保管中に悪い巻癖がつくことにより、ドライブ内でのテープ走行精度が悪化し、サーボトラッキング異常の原因となる。このため、出荷時に良好な巻姿を確保し、ドライブ内で巻乱れが発生しにくい磁気テープを製造することは、商品の要求性能を保証する上で重要である。
【０００３】
そこで、磁気テープに、所定の湾曲形状になる巻癖をつけて、良好な巻姿を確保し、かつ、テープの走行を安定させて、サーボトラッキング性能が向上する技術が知られている。例えば、磁気テープが、長さ方向両端エッジを結んだ基準線から湾曲するように形成されていると、良好な巻姿になる。一方、一定の湾曲形状が得られないと、巻姿が悪化する。したがって、良好な巻姿が得られる所定の湾曲形状になる巻癖をつけるために、様々な技術が提案されている。なお、規定長さＬに対して、基準線から湾曲するエッジまでの最大距離Ｄを湾曲量（Ｄ／Ｌ）とされている。
【０００４】
このような湾曲を付与する方法としては、例えば、ハブの回転軸に対して、タッチアーム（テープ供給機構）を０．０２〜２°傾けながら、磁気テープを巻き取る技術が提案されている（特許文献１）。また、一端面側と他端面側とで異なる撓み強度を有するハブに、磁気テープを巻き取る技術が提案されている（特許文献２）。さらに、テープリールのハブにテーパを形成し、このテーパにより巻き乱れが発生しにくい巻き癖を、磁気テープに付与する技術が提案されている（特許文献３参照）。
【０００５】
【特許文献１】特開２００３−３４６４５４号公報（段落番号００２１〜００４９、図１）
【特許文献２】特開２００４−５７７４号公報（段落番号００１８〜００５０、図１）
【特許文献３】特開平９−１３８９４５号公報（段落番号００１６〜００３４、図２）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかしながら、特許文献１に記載された技術では、１／２インチなど幅広のテープは剛性が高いため、単に巻き取るだけでは、テープに湾曲が十分に付与されない場合があった。また、湾曲が付与されたとしても、その湾曲も小さかった。さらに、巻き取り後、テープの湾曲が経時的に変化しやすく、出荷時の品質や、販売後の市場での品質の確保が難しい場合があった。
【０００７】
特許文献２および特許文献３に記載された技術では、巻き取りが進む（巻き太る）につれて、テープ間のエア層、テープの幅方向における厚み差、または磁気テープのエッジの微小なバリなどによって、テーパの影響が減少してしまい、巻玉の外側の磁気テープに巻き癖が付与されにくい場合があった。また、製造上の誤差により、磁気テープの長手方向の湾曲が変動したり、ハブに近い位置のテープの湾曲にもばらつきが発生する場合があった。
【０００８】
そこで、本発明は、前記問題を解決すべく、簡易な工程で、巻き乱れが発生しにくく、走行安定性の高いテープを製造できるテープ処理方法を提供することを課題とする。
【０００９】
前記課題を解決するための手段として、請求項１に係る発明は、ベースフィルムを有し、当該ベースフィルムが基準面に対して垂直な状態で走行するテープを、周面に一方側が小径となるテーパが形成されたハブに巻き取りつつ、前記テープが巻き取られてなる巻玉の最外周面をローラで押さえる第１工程と、前記巻玉を前記ベースフィルムのガラス転移温度直下の所定温度範囲内で加熱処理する第２工程と、を含むテープ処理方法であって、前記第１工程において、前記基準面の法線に対して、前記ハブの回転軸を傾けたことを特徴とするテープ処理方法である。
【００１０】
このようなテープ処理方法によれば、第１工程において、基準面の法線に対して、前記ハブの回転軸を傾けたことにより、一方側の半径が他方側の半径より小さい巻玉を得ることができる。そして、この巻玉を加熱処理することにより、一方側が短くなる湾曲が付与されたテープを得ることができる。
【００１１】
したがって、一方側が短くなる所定の湾曲が付与されたテープによれば、別のテープリールに巻き取っても、巻き乱れは発生しにくくなる。また、テープには、所定の湾曲が付与されているので、テープドライブ等における走行安定性は高くなる。
【００１２】
請求項２に係る発明は、前記第１工程において、前記ハブの回転軸を、前記巻玉への前記テープの進入位置側または当該進入位置と反対側に傾けたことを特徴とする請求項１に記載のテープ処理方法である。
【００１３】
このようなテープ処理方法によれば、ハブの回転軸を、巻玉へのテープの進入位置側または進入位置と反対側に傾けたことにより、一方側の半径が他方側の半径より小さい巻玉を確実に得ることができる。
なお、後記する第１実施形態および第２実施形態では、ハブの回転軸を、巻玉へのテープの進入位置側に傾けた場合について説明する。
【００１４】
請求項３に係る発明は、前記第１工程において、前記テープの巻き取りに伴って、前記ローラを前記ハブの径方向外側に遠ざけながら、前記一方側に傾けることを特徴とする請求項２に記載のテープ処理方法である。
【００１５】
このようなテープ処理方法によれば、テープの巻き取りに伴って、ローラを前記ハブの径方向外側に遠ざけながら、一方側に傾けることにより、一方側の半径と他方側の半径との差が大きい巻玉を得ることができる。
【００１６】
請求項４に係る発明は、前記第１工程において、前記ローラで、前記巻玉への前記テープの進入位置付近を押さえることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか１項に記載のテープ処理方法である。
【００１７】
このようなテープ処理方法によれば、ローラで、巻玉へのテープの進入位置付近を押さえることによって、一方側の半径が他方側の半径より小さい巻玉を確実に得ることができる。
【００１８】
請求項５に係る発明は、前記第１工程において、前記ハブの回転軸を、前記巻玉に進入する直前のテープの進行方向側または当該進行方向と反対側に傾けると共に、前記ローラで前記巻玉への前記テープの進入位置付近を押さえ、前記テープが進む方向をハブの回転方向に曲げること特徴とする請求項１に記載のテープ処理方法である。
【００１９】
このようなテープ処理方法によれば、ハブの回転軸を巻玉に進入する直前のテープの進行方向側または進行方向と反対側に傾けると共に、ローラで進入位置付近を押さえ、テープが進む方向をハブの回転方向に曲げることにより、一方側の半径が他方側の半径より小さい巻玉を確実に得ることができる。
なお、後記する第３実施形態では、ハブの回転軸を、巻玉に進入する直前のテープの進行方向側に傾けた場合について説明する。
【００２０】
請求項６に係る発明は、前記ローラは、前記テープを幅方向に規制するフランジを有することを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか１項に記載のテープ処理方法である。
【００２１】
このようなテープ処理方法によれば、ローラのフランジでテープを幅方向に規制しつつ、ローラでテープを押さえることができる。
【００２２】
請求項７に係る発明は、前記第１工程において、前記ローラとは別の他のローラでも、前記巻玉の最外周面を押さえることを特徴とする請求項１から請求項６のいずれか１項に記載のテープ処理方法である。
【００２３】
このようなテープ処理方法によれば、他のローラでも、巻玉の最外周面をおさえることにより、テープがハブの周面にならって（沿って）巻き取られやすくなり、一方側の半径が他方側の半径より小さい巻玉を得られやすくなる。なお、別のローラは複数であってもよい。
【００２４】
請求項８に係る発明は、前記第１工程の前に、前記テープの前記一方側を薄くする工程を、さらに含むことを特徴とする請求項１から請求項７のいずれか１項に記載のテープ処理方法である。
【００２５】
このようなテープ処理方法によれば、前記テープの前記一方側を伸ばして薄くする工程を、さらに含むことにより、一方側の半径と他方側の半径との差が大きい巻玉を得ることができる。
【発明の効果】
【００２６】
本発明によれば、簡易な工程で、巻き乱れが発生しにくく、走行安定性の高いテープを製造可能なテープ処理方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２７】
以下、添付図面を参照して、本発明の実施形態について詳細に説明する。
なお、各実施形態の説明において、同一の構成要素に関しては同一の符号を付し、重複した説明は省略するものとする。
【００２８】
≪第１実施形態≫
第１実施形態に係るテープ処理方法について、図１から図５を参照して説明する。
参照する図面において、図１は、第１実施形態に係るテープ処理方法による磁気テープの巻き取り状況を示す斜視図である。図２は、図１に示すＸ方向から磁気テープの巻き取り状況を示すＸ矢視図であり、（ａ）は第１段階、（ｂ）は第２段階を示す。図３（ａ）は、巻き取られた巻玉を示す斜視図であり、図３（ｂ）は、図３（ａ）に示す巻玉の側断面図である。図４は、第１実施形態に係るテープ処理方法で使用する、温度・湿度を任意にコントロール可能な加熱処理装置を示す斜視図である。図５は、加熱処理後の巻玉から引き出した磁気テープを拡大して示す拡大図である。
また、明確に説明するため、図１に示すように、ハブ１１を中央にして、「上側」、「下側」、「左側」、「右側」、「手前側」、「奥側」をそれぞれ設定する。「上側」は特許請求の範囲における「一方側」に、「右側」は「進入位置側」に、「奥側」は「巻玉に進入する直前のテープの進行方向側」に、それぞれ相当する。さらに、図２（ａ）、図２（ｂ）では、巻玉２１の手前側の磁気テープ１および誘導ガイドローラ１３を省略している。
【００２９】
≪テープ処理方法の構成≫
第１実施形態に係るテープ処理方法は、磁気テープ１をハブ１１を回転させて巻き取りつつ、巻玉２１への磁気テープ１の進入位置（巻き取り位置）で、巻玉２１の最外周面をタッチローラ３１で押さえる第１工程と、巻玉２１をベースフィルムのガラス転移温度直下の所定温度範囲内で加熱処理する第２工程と、を含んでいる。
【００３０】
＜第１工程＞
磁気テープ１を巻き取り、巻玉２１とする第１工程について説明する。
【００３１】
［磁気テープ］
まず、処理（巻き取り処理、加熱処理）対象とする磁気テープ１について説明する。
磁気テープ１は、一般に、全体の厚みが１０μｍ以下であり、非磁性のベースフィルム（支持体）と、ベースフィルム上に形成された磁性層を有している。磁性層は、一般にその厚みが０．５μｍ以下であり、磁性粉末、結合剤及び有機溶剤等を、磁性粉末が均一に分散するまで混合・調製した磁性塗料を、ベースフィルムの表面に塗布することにより形成される。あるいは、磁性層は、金属、合金等の強磁性材を、真空蒸着やスパッタリング等の方法で、ベースフィルムの表面に被着することにより形成される。
【００３２】
磁性粉末としては、例えば、α−Ｆｅ2Ｏ3、Ｆｅ2Ｏ4、コバルト被着α−Ｆｅ2Ｏ3等の強磁性酸化鉄系粒子、強磁性二酸化クロム系粒子、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ等の金属や、これらを含んだ合金からなる強磁性金属系粒子、六角板状の六方晶フェライト微粒子等から適宜選択して使用することができる。
【００３３】
結合剤としては、ウレタン、塩化ビニル、酢酸ビニル、ビニルアルコール、塩化ビニリデン、アクリル酸エステル、スチレン、ブタジエン、アクリロニトリル等の重合体、あるいはこれらの２種以上を組み合わせた共重合体や、ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂等を用いることができる。
【００３４】
有機溶剤としては、エーテル類、エステル類、ケトン類、芳香族炭化水素、脂肪族炭化水素、塩素化炭化水素等を使用することができる。
【００３５】
ベースフィルムの材料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）やポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）等のポリエステル類、ポリプロピレン等のポリオレフィン類、ニトロセルロース等のセルロース誘導体、ポリアミド、ポリ塩化ビニル、ポリカーボネート、アラミド等の高分子類を使用することができる。
このうち、ポリエステル類は、コストが低く、加工性や機械特性にも優れる。また、ポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）は、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）よりも、強度、剛性及び耐熱性が優れる。さらに、アラミドは、耐熱性を考慮する際に添加することが好ましい。
【００３６】
［ハブ］
次に、ハブ１１について簡単に説明する。
ハブ１１は、図１の上側（一方側）が小径となるテーパが周面（テーパ面）に形成されたものを使用する。テーパの程度は、磁気テープ１の幅や、磁気テープ１に付与する湾曲に基づいて決められる。例えば、１／４インチの磁気テープ１を巻き取り対象とし、ハブ１１の高さを１８ｍｍとした場合、次の表１に示す外周比で、上側が小径であるハブ１１を使用することが好ましい。
【００３７】
【表１】
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【００３８】
ハブ１１は、その軸線上にハブ孔１１ａが形成されており、ハブ孔１１ａの内周面には、ハブ１１を回転させるスピンドル１２Ａと係合する内歯（図示しない）が突設されている。
【００３９】
このようなハブ１１を、テープワインダ（図示しない）のパネル５１から突出したスピンドル１２Ａに装着する。スピンドル１２Ａは、予想される巻玉２１への磁気テープ１の進入位置側（右側）に傾いている（図２（ａ）参照）。さらに説明すると、スピンドル１２Ａに装着されたハブ１１の回転軸（以下、ハブ回転軸１１Ａという）は、巻玉２１への磁気テープ１の進入位置側に、傾斜角度θ１（例えば０．８°）で傾いている。言い換えると、ハブ回転軸１１Ａは、パネル５１の上面（以下、パネル面５１ａという）の法線（以下、パネル法線５１Ａという）に対して、傾斜角度θ１で進入位置側に傾いている。パネル面５１ａは、第１実施形態において、特許請求の範囲における「基準面」に相当する。ただし、基準面がパネル面５１ａに限定されることはない。
なお、パネル面５１ａは、巻玉２１に進入する直前の磁気テープ１の走行面１ａ（ベースフィルムを含む）と垂直であり、磁気テープ１は、パネル面５１ａと所定間隔を隔てた状態で巻玉２１に向かって走行する。また、前記所定間隔は、後記するタッチローラ３１の高さΔｈ１と一致する。
【００４０】
＜磁気テープの巻き取り＞
このようにハブ１１がスピンドル１２Ａに装着された状態で、磁気テープ１をハブ１１の上流側の誘導ガイドローラ１３を経由させた後、磁気テープ１の一端をハブ１１の周面に適宜な手段で固定する。そして、スピンドル１２Ａを所定の回転速度で回転させ、ハブ１１の周面に磁気テープ１を巻き取り、巻玉２１とする。そして、磁気テープ１を巻き取りつつ、磁気テープ１が巻き取られてなる巻玉２１への磁気テープ１の進入位置で、巻玉２１の最外周面をタッチローラ３１で押さえる。
【００４１】
［タッチローラ］
ここで、タッチローラ３１等に関して簡単に説明する。
タッチローラ３１は、回転軸部材３３を介してタッチアーム３２に回転自在に支持されている。タッチローラ３１は、所定の弾性を有する弾性材料から形成されている。したがって、巻玉２１の回転により、巻玉２１の外周面（以下、巻玉外周面という）が偏心しても、タッチローラ３１が追従し、磁気テープ１の幅方向、径方向の挙動を抑えるようになっている。このような弾性材料としては、例えば、ウレタンゴム等のゴム系材料が挙げられる。
【００４２】
ただし、タッチローラ３１に代えて、後記するフランジ３５ｂ、３５ｂを有するタッチローラ３５（フランジローラとも称される）を使用してもよい。
また、タッチローラ３１に加えて、別のタッチローラ３１と後記するタッチローラ３５（フランジローラとも称される、図８参照）を組み合わせて使用してもよい。この場合、別のタッチローラ３１、タッチローラ３５で、前記進入位置より下流側の巻玉２１の最外周面を押さえるようにしてもよい。すなわち、例えば、別のタッチローラ３１で奥側から、タッチローラ３５で左側から、巻玉２１の最外周面を、それぞれ押さえてもよい。このように複数のローラで巻玉２１の最外周面を押さえた場合、ハブ１１の周面（テーパ面）にならって（沿って）、磁気テープ１が巻き取られやすくなる。
【００４３】
タッチアーム３２は、タッチアーム移動機構（図示しない）によって、ハブ１１の径方向の外側に移動可能となっている。これにより、タッチローラ３１は、タッチアーム３２に回転自在に支持されたまま、タッチアーム移動機構（図示しない）により、パネル面５１ａに対して、所定の高さΔｈ１を保持したまま、ハブ１１の径方向の外側（右側）に移動可能となっている（図２（ａ）、矢印Ａ１参照）。
【００４４】
［誘導ガイドローラ］
次に、誘導ガイドローラ１３について簡単に説明する。誘導ガイドローラ１３は、磁気テープ１を誘導するものであり、公知であるフランジ付きのガイドローラから選択して、適宜使用することができる。
【００４５】
このように磁気テープ１を巻き取りつつ、タッチローラ３１で進入位置を押さえた状態で磁気テープ１を巻き取り続ける。そうすると、磁気テープ１が巻玉２１となって回転するうちに、タッチローラ３１に押さえられるため、ハブ１１の周面（テーパ面）に沿って磁気テープ１が巻き取られる。よって、平面視において、巻玉２１の上側縁によって形成される円の半径（これを上側半径Ｒ１とする）は、巻玉２１の下側縁によって形成される円の半径（これを下側半径Ｒ２とする）よりも小さくなる（図２（ｂ）参照）。
【００４６】
そして、所定回数にて巻き取り後、図３（ａ）、図３（ｂ）に示すように、上側の端面が凹状の巻玉２１を得ることができる。さらに説明すると、巻玉２１の上側は、深さΔＤ１で凹んでいる。
【００４７】
＜第２工程＞
次に、巻玉２１を加熱処理する第２工程について説明する。
【００４８】
［加熱処理装置］
まず、図４を参照して、第２工程で使用する加熱処理装置４１について簡単に説明する。加熱処理装置４１は、温度と加熱時間を所望に設定可能であり、巻玉２１を所定温度で加熱可能であれば、特に限定はなく、例えば、公知である恒温槽を使用することができる。また、加熱処理装置４１は、湿度も自由に設定可能であることが好ましい。
【００４９】
このような加熱処理装置４１を使用し、第１工程により得た巻玉２１を、所定温度で所定時間（例えば２４時間）、加熱処理を行う。
ここで、所定温度は、磁気テープ１を形成するベースフィルムの材料のガラス転移温度直下の温度に設定する。さらに詳細には、ベースフィルムを形成する材料のガラス転移温度よりも低い温度に設定する。なお、このような加熱処理は、一般にアニーリングといわれ、高分子成形物を加熱して徐冷し、成形物の歪を少なくしたり、結晶性を有する高分子を結晶化好適温度に加熱して、結晶化を進めるために行われる。
【００５０】
所定温度について、さらに具体的に説明すると、例えば、磁気テープ１を形成するベースフィルムの材料として、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）を使用した場合は、ポリエチレンテレフタレートのガラス転移温度が６０〜７０℃であるため、所定温度を、４０〜６９℃、より好ましくは５０〜６５℃とする。また、ベースフィルムの材料としてポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）を使用した場合は、ポリエチレンナフタレートのガラス転移温度が１１０〜１２０℃程度であるため、所定温度を、４０〜１１３℃とする。ベースフィルムの材料としてアラミドを使用した場合は、所定温度を、４０〜１２０℃とする。なお、所定温度を、１００〜１２０℃とすると、加熱処理速度を速めることができる。
【００５１】
さらに、ベースフィルムの材料に応じて、加熱処理装置４１内を、所定湿度とすることで、短時間でベースフィルムの変形を促進することができる。例えば、ベースフィルムの材料としてポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）を使用した場合は、湿度は４５〜８５％とすることが好ましい。
【００５２】
このような温度で、所定時間の間、巻玉２１を加熱処理することにより、磁気テープ１に、ハブ１１に巻き取られた巻玉２１での形状を、効率的に記憶させることができる。すなわち、磁気テープ１に巻き癖を付与することができる。
【００５３】
また、加熱処理装置４１での所定温度を、ベースフィルムのガラス転移温度直下とすることにより、ベースフィルムの極端な熱収縮を抑制しつつ、ベースフィルム内の非晶部分を緩和させて残留応力を低減させることが可能となり、磁気テープ１のクリープ特性が向上し、経時での変形を低減できる。その結果として、磁気テープ１に付与された湾曲が経時で変化しにくくなる。
【００５４】
所定時間経過後、加熱処理装置４１から巻玉２１を取り出して、加熱処理工程を終了し、好ましくは３０分以上かけて、巻玉２１の温度を徐々に室温に下げる。
【００５５】
＜加熱処理後＞
巻玉２１の温度を下げた後、この巻玉２１から引き出された磁気テープ２には、図５に示すように、全長にわたって、幅方向の上側に一定に湾曲している。磁気テープ２の湾曲半径Ｒ３、湾曲値は、巻玉２１の上側半径Ｒ１と下側半径Ｒ２との差を適宜設定することにより、所定に調整される。
このように磁気テープ２が、一定に湾曲していると、テープドライブで走行中、磁気テープ２は幅方向に規制され易くなり、走行性能が向上する。
【００５６】
さらに、巻玉２１から磁気テープ２を引き出した後、別のハブ（図示しない）に巻き取っても、磁気テープ２全体に、およそ一定の湾曲が付与されているので、巻き乱れは発生しにくくなる。
【００５７】
以上説明したように、第１実施形態に係るテープ処理方法によれば、簡易な工程で、磁気テープ１に、その全長に亘って一定の湾曲を付与することができる。
【００５８】
このような第１実施形態に係るテープ処理方法は、例えば、磁気テープ１の製造ラインにおいて、ウエブから裁断した磁気テープ１を巻き取って、所謂パンケーキを製造する場合等に適用することができる。
【００５９】
≪第２実施形態≫
次に、第２実施形態に係るテープ処理方法について、図６および図７を参照して説明する。
参照する図面において、図６は、第２実施形態に係るテープ処理方法において、図１に示すＸ方向から磁気テープの巻き取り状況を示すＸ矢視図であり、（ａ）は第１段階、（ｂ）は第２段階を示す。図７は、第２実施形態に係るテープ処理方法により巻き取られた巻玉の側断面図である。
【００６０】
≪テープ処理方法の構成≫
第２実施形態に係るテープ処理方法は、第１実施形態に係るテープ処理方法と比較して、第１工程におけるタッチローラ３１の移動方向が異なる（図６（ａ）、矢印Ａ２参照）。これにより、得られた巻玉２２の上側の深さΔＤ２は、第１実施形態に係る巻玉２１の深さΔＤ１よりも深くなる（図７参照）。
【００６１】
＜第１工程＞
図６（ａ）に示すように、第２実施形態おいて、磁気テープ１を巻き取る第１工程では、磁気テープ１の巻き取りに伴って、タッチローラ３１を右側（ハブの径方向外側）に遠ざけながら、上側（一方側）に傾ける（矢印Ａ２参照）。すなわち、タッチローラ３１を、側面視で円弧状または傾斜状に移動させる。したがって、タッチローラ３１の高さ位置は、パネル面５１ａに対して所定高さΔｈ１の一定でなく、巻き取りが進むにつれて、徐々に高くなる（図６（ａ）、（ｂ）参照、Δｈ１＜Δｈ２）。
なお、このようにタッチローラ３１を移動させる方法としては、例えば、タッチアーム３２を所定曲率の円弧状のガイドレール（図示しない）でガイドし、ハブ１１の回転数に連動して、タッチアーム３２を移動する方法などが挙げられる。
【００６２】
また、タッチローラ３１の位置が高くなるにつれて、巻玉２２への磁気テープ１の進入位置が高くなるため、巻玉２２に磁気テープ１を誘導する誘導ガイドローラ１３の位置を高くする。誘導ガイドローラ１３の位置を高くする方法としては、例えば、サーボモータとラック及びピニオン等の歯車機構とを組み合わせて誘導ガイドローラ昇降機構（図示しない）を構成し、誘導ガイドローラ昇降機構による誘導ガイドローラ１３の上昇程度を、ハブ１１の回転数と連動させることで、磁気テープ１の巻き取りに対応させることができる。
このように、タッチローラ３１が上側が高くなるに伴って、誘導ガイドローラ１３を上側に移動させることで、巻玉２２の直前において、磁気テープ１は、パネル面５１ａと所定間隔を維持して走行可能となっている。
【００６３】
このように磁気テープ１の巻き取りに伴って、タッチローラ３１を移動させることにより、巻玉２１への磁気テープ１の進入位置において、タッチローラ３１が巻玉２３の最外周面の上側を押しやすくなる。さらに説明すると、磁気テープ１の巻き取り中、巻玉２２の外周面を幅方向の中央より上側（一方側）で最高圧となる圧力分布で押圧しやすくなる。
【００６４】
このような状態で磁気テープ１の巻き取りを続けると、磁気テープ１の長手方向には、上側が大きくなる分布でテープテンションが発生し、巻玉２２への磁気テープ１の進入位置が上側にずれる。これにより、第１実施形態に係る巻玉２１の深さΔＤ１より、深い深さΔＤ２を有する巻玉２２を得ることができる
【００６５】
また、巻き取りが進むにつれて、巻玉２２の最外周の磁気テープ１の下側が、径方向外側に開き、巻玉２２の上側半径Ｒ１１と巻玉２２の下側半径Ｒ１２との差は、第１実施形態に係る上側半径Ｒ１と下側半径Ｒ２との差よりも大きくなる。
【００６６】
＜第２工程＞
そして、このような巻玉２２を、第１実施形態と同様に加熱処理することによって、第１実施形態と同じ巻き取り回数であっても、磁気テープ１に、大きな湾曲を付与することができる。
【００６７】
≪第３実施形態≫
次に、第３実施形態に係るテープ処理方法について、図８および図９を参照して説明する。参照する図面において、図８は、第３実施形態に係るテープ処理方法において、図１に示すＹ方向から見た、磁気テープの巻き取り状況を示す側面図であり、（ａ）は第１段階、（ｂ）は第２段階を示す。図９（ａ）は、第３実施形態に係るテープ処理方法によって、巻き取られた巻玉を示す斜視図である。図９（ｂ）は、図９（ａ）に示す巻玉の側断面図である。
【００６８】
≪テープ処理方法の構成≫
図８（ａ）に示すように、第３実施形態に係るテープ処理方法は、第１実施形態に係るテープ処理方法と比較して、ハブ回転軸１１Ｂおよびスピンドル１２Ｂを奥側（巻玉２３に進入する直前の磁気テープ１の走行方向側）に傾けた点が異なる。すなわち、ハブ回転軸１１Ｂは、パネル法線５１Ａに対して、傾斜角度θ２で奥側に傾いている。
【００６９】
また、第３実施形態では、第１実施形態に係るタッチローラ３１に代えて、タッチローラ３５を使用する。タッチローラ３５は、円柱状の本体部３５ａと、本体部３５ａの両端側のフランジ３５ｂ、３５ｂとを備えている。また、タッチローラ３５は、第１実施形態と同様に右側から、磁気テープ１の進入位置を、パネル面５１ａに対して、所定高さΔｈ３の位置で押さえている。また、タッチローラ３５の回転軸が、ハブ回転軸１１Ｂと平行となっている。そして、タッチローラ３５は、巻き取りが進むに伴って、所定高さΔｈ３を維持したまま、右側に移動するようになっている。すなわち、磁気テープ１の巻き取りが進んでも、タッチローラ３５の高さ位置は変化しない（図８（ｂ）参照）。
【００７０】
＜磁気テープの巻き取り＞
このような状態で磁気テープ１を巻き取ると、図８（ａ）に示すように、巻玉２３への磁気テープ１の進入位置において、磁気テープ１は、タッチローラ３５のフランジ３５ｂ、３５ｂにより幅方向に規制され、ハブ１１の回転方向に曲げられる。このように曲げられると、磁気テープ１の上側は薄くなり、上側半径Ｒ２１が、下側半径Ｒ２２よりも小さい巻玉２３となる（図８（ｂ）参照）。
【００７１】
所定回数にて巻き取り後、図９（ａ）および図９（ｂ）に示すような巻玉２３を得ることができる。巻玉２３の上側端面は、第１実施形態に係る巻玉２１のように凹状ではなく、平面となっている。
そして、このような巻玉２３を、第１実施形態と同様に加熱処理することによって、磁気テープ１に、大きな湾曲を付与することができる。
【００７２】
以上、本発明の好適な各実施形態について一例を説明したが、本発明は前記実施形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、各実施形態で説明した各構成要素を適宜組み合わせてもよいし、その他に例えば以下のような適宜な変更が可能である。
【００７３】
前記した各実施形態では、巻き取り対象を磁気テープ１としたが、本発明はこれに限定されず、その他のテープ類に適用してもよい。
【００７４】
前記した第１実施形態において、誘導ガイドローラ１３の上流側に、周面に上側（一方側）が大径となるテーパが形成されたテーパローラ（傾斜ローラ）をさらに設け、このテーパローラを経由させた後に、磁気テープ１を巻き取るようにしてもよい。このように傾斜ローラを経由させて、磁気テープ１の上側を伸ばして薄くする工程を、さらに含むことにより、巻玉２１の上側半径Ｒ１と、下側半径Ｒ２との差をさらに大きくすることができる。この場合において、テーパローラのテーパ程度は、側面視で例えば０．１〜５°程度である。
ただし、磁気テープ１の上側を伸ばす方法としては、テーパローラを経由させる方法に限定されず、例えば、一般のガイドローラを磁気テープ１の走行方向に対して傾斜させる方法であってもよい。
【００７５】
前記した第１実施形態において、磁気テープ１を巻き取る第１工程の前に、磁気テープ１の厚みを、上側（一方側）に向かって徐々に薄くする工程を、さらに含めてもよい。すなわち、ハブ１１の小径側（上側）に対応させて、磁気テープ１の一端側（上側）を薄くする工程を、さらに含んでもよい。このように磁気テープ１の上側を薄くすることにより、巻玉２１の上側半径Ｒ１と、下側半径Ｒ２との差をさらに大きくすることができる。その結果として、加熱処理後の磁気テープ２（図５参照）を、より大きく上側に湾曲させることができる。
磁気テープ１の上側の厚みを薄くする方法としては、例えば、ベースフィルムに塗布する磁性層の厚みを変化させる方法や、刃や砥石などで磁気テープ１の表面を研削する方法などが挙げられる。この場合において、磁気テープ１の最上側の厚みと最下側の厚みとの差が３〜２０ｎｍ程度となるように、磁気テープ１を上側に向かって徐々に薄くすることが好ましい。
なお、後記するように、ハブ１１を上下逆として、下側を小径とした場合は、磁気テープ１の厚みは、下側に向かって徐々に薄くする。この場合、加熱処理後の磁気テープ２は、下側に湾曲することになる。
【００７６】
前記した第１実施形態および第２実施形態では、上側が小径であるハブ１１のハブ回転軸１１Ａが、右側（巻玉２１、２２への磁気テープ１の進入位置側）に傾いた場合について説明したが、ハブ回転軸１１Ａが左側（巻玉２１、２２への磁気テープ１の進入位置と反対側）に傾いた場合であってもよい。
なお、このようにハブ回転軸１１Ａが左側（磁気テープ１の進入位置と反対側）に傾いた場合、ハブ１１を上下逆向けにして、下側が小径、つまり、ハブ１１の周面のテーパを逆にする。
【００７７】
前記した第３実施形態では、ハブ回転軸１１Ｂが、奥側（巻玉２３に進入する直前の磁気テープ１の進行方向側）に傾いた場合について説明したが、ハブ回転軸１１Ｂが、手前側（巻玉２３に進入する直前の磁気テープ１の進行方向と反対側）に傾いた場合であってもよい。
なお、このようにハブ回転軸１１Ｂが手前側（磁気テープ１の進行方向と反対側）に傾いた場合、ハブ１１を上下逆向けにして、下側が小径、つまり、ハブ１１の周面のテーパを逆にする。
【図面の簡単な説明】
【００７８】
【図１】第１実施形態に係るテープ処理方法による磁気テープの巻き取り状況を示す斜視図である。
【図２】第１実施形態に係るテープ処理方法において、図１に示すＸ方向から磁気テープの巻き取り状況を示すＸ矢視図であり、（ａ）は第１段階、（ｂ）は第２段階を示す。
【図３】（ａ）は、第１実施形態に係るテープ処理方法によって、巻き取られた巻玉を示す斜視図である。（ｂ）は、（ａ）に示す巻玉の側断面図である。
【図４】第１実施形態に係るテープ処理方法で使用する加熱処理装置を示す斜視図である。
【図５】加熱処理後の巻玉から引き出した磁気テープを部分的に示す拡大図である。
【図６】第２実施形態に係るテープ処理方法において、図１に示すＸ方向から磁気テープの巻き取り状況を示す側面図であり、（ａ）は第１段階、（ｂ）は第２段階を示す。
【図７】第２実施形態に係るテープ処理方法により巻き取られた巻玉の側断面図である。
【図８】第３実施形態に係るテープ処理方法において、図１に示すＹ方向から見た、磁気テープの巻き取り状況を示す側面図であり、（ａ）は第１段階、（ｂ）は第２段階を示す。
【図９】（ａ）は、第３実施形態に係るテープ処理方法によって、巻き取られた巻玉を示す斜視図である。（ｂ）は、（ａ）に示す巻玉の側断面図である。
【符号の説明】
【００７９】
１、２  磁気テープ
１ａ    走行面
１１    ハブ
１１Ａ、１１Ｂ  ハブ回転軸
１２Ａ、１２Ｂ  スピンドル
２１、２２、２３  巻玉
３１、３５  タッチローラ
３５ｂ  フランジ
４１    加熱処理装置
５１    パネル
５１ａ  パネル面（基準面）
５１Ａ  パネル法線
Ｒ１、Ｒ１１、Ｒ２１  上側半径
Ｒ２、Ｒ１２、Ｒ２２  下側半径
θ１、θ２  傾斜角度
ΔＤ１、ΔＤ２  巻玉深さ
Δｈ１、Δｈ２、Δｈ３  高さ
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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