(57)【要約】【課題】環境変化に対して適切な記録パルスパラメータを選択し調整しないと、調整時間が長くなり、記録劣化が発生するという課題があった。【解決手段】記録パルス標準パラメータがあらかじめ設定されている記録可能な光ディスクにおいて、前記記録パルス標準パラメータを読み出して、記録再生装置の記録パルスパラメータを設定し、データの記録再生をする光ディスクの記録条件設定方法において、特に、最短記録マーク形状に関わるパラメータを調整することで、環境変化に対する最適な補償学習方法を提供する。【選択図】図１
2006302332.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録媒体上にレーザ光を照射して情報の記録及び再生を行う記録再生装置において、
情報の記録を行う際の記録パルスを調整する記録パルス調整手段と、
前記記録パルス調整手段を行うトリガーを検出するトリガー検出手段を具備し、
前記記録パルス調整手段は、前記トリガーの検出に応答して、
最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータの調整を行うことを特徴とする記録再生装置。
【請求項２】
記録媒体上にレーザ光を照射して情報の記録及び再生を行う記録再生装置において、
情報の記録を行う際の記録パルスを調整する記録パルス調整手段と、
前記記録パルス調整手段を行うトリガーを検出するトリガー検出手段と、
前記記録媒体上の特定の領域に移動するシーク手段を具備し、
前記記録パルス調整手段は、前記トリガーの検出に応答して、
シーク手段を用いて特定の記録領域に移動後、特定の記録領域において
最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータの調整を行うことを特徴とする記録再生装置。
【請求項３】
記録媒体上にレーザ光を照射して情報の記録及び再生を行う記録再生装置において、
情報の記録を行う際の記録パルスを調整する記録パルス調整手段と、
前記記録パルス調整手段を行うトリガーを検出するトリガー検出手段と、
前記記録媒体上の特定の領域に移動するシーク手段と、
前記記録媒体上の特定の領域の記録状態の良否を判定する記録状態良否判定手段とを具備し、
前記記録パルス調整手段は、前記トリガーの検出に応答して、
シーク手段を用いて特定の記録領域に移動後、特定の記録領域において
最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータの調整を行う過程において、
記録状態良否判定手段の判定結果に基づき、前記特定の記録領域とは異なる第二の特定の記録領域に移動し、第二の特定の記録領域において、
最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータの調整を行うことを特徴とする記録再生装置。
【請求項４】
記録媒体上にレーザ光を照射して情報の記録及び再生を行う記録再生装置において、
情報の記録を行う際の記録パルスを調整する記録パルス調整手段と、
前記記録媒体上の特定領域の記録状態の良否を判定する記録状態良否判定手段とを具備し、
前記記録パルス調整手段は、前記記録媒体上のユーザがデータを記録しえるように構成されたユーザ領域において、
記録状態良否判定手段の判定結果に基づき、
最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータの調整を行うことを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の記録再生装置。
【請求項５】
前記最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータは、クーリングパルス幅に関するパラメータであることを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の記録再生装置。
【請求項６】
前記記録パルス調整は、形成されたマークを再生するときに求められる、
マークの立ち上がり及び立ち下がりそれぞれのエッジシフト量に関するパラメータが、
略々所望の値となるように調整を行うことを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の記録再生装置。
【請求項７】
前記記録状態良否判定手段は、
記録状態の良否を表す特性パラメータが任意に設定した閾値を超えた場合、
あるいは、事前に保存した記録状態の良否を表す特性パラメータとの差が、任意に設定した閾値を超えた場合、
記録状態は否であると判定を行うことを特徴とする請求項３または請求項４に記載の記録再生装置。
【請求項８】
前記トリガー検出手段は、前記記録再生装置へのＷｒｉｔｅコマンドの発行に基づいて前記トリガーを検出する、請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の記録再生装置。
【請求項９】
前記トリガー検出手段は、前記記録再生装置の動作時間に基づいて前記トリガーを検出する、請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の記録再生装置。
【請求項１０】
前記トリガー検出手段は、前記記録再生装置の起動時に前記トリガーを検出する、請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の記録再生装置。
【請求項１１】
前記記録再生装置は温度検出手段を具備し、前記トリガー検出手段は、前記温度検出手段によって検出された温度変化に基づいて前記トリガーを検出する、請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の記録再生装置。
【請求項１２】
前記温度検出手段の検出結果と、前記パルス調整の調整パラメータの組み合わせを保存する格納手段を持つことを特徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の記録再生装置。
【請求項１３】
前記記録パルス調整を行う際に、
前記温度検出手段によって検出された結果が、前記格納手段に格納されている場合、
前記記録パルス調整を行わずに格納されている調整パラメータを参照して記録パルス調整を行い、
前記格納手段に格納されていない場合、前記記録パルス調整を行った後、温度検出手段の結果と記録パルス調整結果を格納手段に格納することを徴とする請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、記録媒体上にレーザ光を照射して情報の記録を行う記録再生装置に関するものであって、記録状態に何らかの変化が生じた場合でも、記録特性の良い情報記録を可能とする。
【背景技術】
【０００２】
近年、情報記録再生装置の分野において、ＤＶＤ−Ｒなどの追記型光ディスクやＤＶＤ−ＲＡＭなどの書き換え型光ディスクが記録媒体として実用化されている。最近では、レーザ光源としての半導体レーザの短波長化、高い開口数を有する高ＮＡ（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ Ａｐｅｒｔｕｒｅ）対物レンズによるスポット径の小径化、及び薄型基板の採用などにより、Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃなどの大容量の次世代光ディスクが情報記録再生装置において広まりつつある。
【０００３】
このような光ディスクは、例え同じ仕様であっても、その記録特性は必ずしも同一ではなくばらつきを持つ。すなわち、同一の記録パルスパラメータ設定を用いて記録を行っても、記録再生装置や光ディスクの個体差などの要因によって、ディスク上に形成されるマークの形状がばらつき、記録される信号品質が大きく異なる場合がある。
【０００４】
この問題に対して、従来は、ディスク毎の特性を考慮した、最適と考えられる記録パルスパラメータ（以下、記録パルス標準パラメータと呼ぶ）が、ディスク上や記録再生装置内などに記録されており、ディスク毎に最適な設定が可能となる。
【０００５】
しかしながら、光ディスクの記録再生装置を量産したとき、使用部品の特性ばらつきや、環境変化などで、個々の装置が常に同一の特性を有するとは限らない。同様に、光ディスク自体を量産したときも、特性ばらつきが発生し、同一の記録条件で記録しても個々のディスクで常に同じマーク形状が得られるとは限らない。
【０００６】
この問題に対し、特開２０００−２００４１８号公報では、特定領域に記録パルス標準パラメータが予め記録されている光ディスクにおいて、前記記録パルス標準パラメータのうち、スペース長とマーク長との組み合わせの全て、又はいズレか一つの組み合わせに対する位置情報を所定量変化させて、記録再生信号のジッタが許容値以下となるように記録パルス標準パラメータから補正した値を記録再生装置の記録パルスパラメータとして設定している。
【０００７】
ここで、記録パルスパラメータ調整は、記録再生装置起動時やディスク挿入時に行われる他、特開２００１−３５１２４０号公報で開示されているように、所定回数データを書き込む度に行うものや、特開平１１−２１３４２８号公報や特開２００１−１４３３００号公報で開示されているように、レーザ周囲の温度変化に応じて行われるものもある。
【特許文献１】特開２０００−２００４１８号公報
【特許文献２】特開２００１−３５１２４０号公報
【特許文献３】特開平１１−２１３４２８号公報
【特許文献４】特開２００１−１４３３００号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００８】
これらの動作タイミングによっては、挿入したディスクに対して初めて記録パルスパラメータ調整を行う場合と、一度記録パルスパラメータ調整を行った後に再度調整を行う場合があるが、従来の記録パルスパラメータ調整は、これらの場合分けを特に行っていない。
【０００９】
特に、一度記録パルスパラメータ調整を行った後に再度調整を行う場合、略々適切なパラメータ値はすでに得られていることから、調整するパラメータ項目を厳選する必要がある。不必要なパラメータまで調整を行った場合、調整時間が長くなることや、繰り返し記録による記録劣化の原因になることがあった。
【００１０】
本発明は、前記の課題を解決するものであり、記録媒体上にレーザ光を照射して情報の記録及び再生を行う記録再生装置において、最も効果的な最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータを調整することで、調整時間の短縮を図り、不毛な記録劣化を防ぎ得る記録パルスパラメータ調整方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
前記の目的を達成するために、第１の観点による本発明は、記録媒体上にレーザ光を照射して情報の記録及び再生を行う記録再生装置において、情報の記録を行う際の記録パルスを調整する記録パルス調整手段と、前記記録パルス調整手段を行うトリガーを検出するトリガー検出手段を具備し、前記記録パルス調整手段は、前記トリガーの検出に応答して、最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータの調整を行うことを特徴とする記録再生装置である。
【００１２】
第２の観点による本発明は、記録媒体上にレーザ光を照射して情報の記録及び再生を行う記録再生装置において、情報の記録を行う際の記録パルスを調整する記録パルス調整手段と、前記記録パルス調整手段を行うトリガーを検出するトリガー検出手段と、前記記録媒体上の特定の領域に移動するシーク手段を具備し、前記記録パルス調整手段は、前記トリガーの検出に応答して、シーク手段を用いて特定の記録領域に移動後、特定の記録領域において最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータの調整を行うことを特徴とする記録再生装置である。
【００１３】
第３の観点による本発明は、記録媒体上にレーザ光を照射して情報の記録及び再生を行う記録再生装置において、情報の記録を行う際の記録パルスを調整する記録パルス調整手段と、前記記録パルス調整手段を行うトリガーを検出するトリガー検出手段と、前記記録媒体上の特定の領域に移動するシーク手段と、前記記録媒体上の特定の領域の記録状態の良否を判定する記録状態良否判定手段とを具備し、前記記録パルス調整手段は、前記トリガーの検出に応答して、シーク手段を用いて特定の記録領域に移動後、特定の記録領域において最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータの調整を行う過程において、記録状態良否判定手段の判定結果に基づき、前記特定の記録領域とは異なる第二の特定の記録領域に移動し、第二の特定の記録領域において、最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータの調整を行うことを特徴とする記録再生装置である。
【００１４】
第４の観点による本発明は、記録媒体上にレーザ光を照射して情報の記録及び再生を行う記録再生装置において、情報の記録を行う際の記録パルスを調整する記録パルス調整手段と、前記記録媒体上の特定領域の記録状態の良否を判定する記録状態良否判定手段とを具備し、前記記録パルス調整手段は、前記記録媒体上のユーザがデータを記録しえるように構成されたユーザ領域において、記録状態良否判定手段の判定結果に基づき、最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータの調整を行うことを特徴とする第１の観点から第３の観点の記録再生装置である。
【００１５】
第５の観点による本発明は、前記最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータは、クーリングパルス幅に関するパラメータであることを特徴とする第１の観点から第４の観点の記録再生装置である。
【００１６】
第６の観点による本発明は、前記記録パルス調整は、形成されたマークを再生するときに求められる。
【００１７】
マークの立ち上がり及び立ち下がりそれぞれのエッジシフト量に関するパラメータが、略々所望の値となるように調整を行うことを特徴とする第１の観点から第４の観点の記録再生装置である。
【００１８】
第７の観点による本発明は、前記記録状態良否判定手段は、記録状態の良否を表す特性パラメータが任意に設定した閾値を超えた場合、あるいは、事前に保存した記録状態の良否を表す特性パラメータとの差が、任意に設定した閾値を超えた場合、記録状態は否であると判定を行うことを特徴とする第３の観点から第４の観点の記録再生装置である。
【００１９】
第８の観点による本発明は、前記トリガー検出手段は、前記記録再生装置へのＷｒｉｔｅコマンドの発行に基づいて前記トリガーを検出する、第１の観点から第４の観点の記録再生装置である。
【００２０】
第９の観点による本発明は、前記トリガー検出手段は、前記記録再生装置の動作時間に基づいて前記トリガーを検出する、第１の観点から第４の観点の記録再生装置である。
【００２１】
第１０の観点による本発明は、前記トリガー検出手段は、前記記録再生装置の起動時に前記トリガーを検出する、第１の観点から第４の観点の記録再生装置である。
【００２２】
第１１の観点による本発明は、前記記録再生装置は温度検出手段を具備し、前記トリガー検出手段は、前記温度検出手段によって検出された温度変化に基づいて前記トリガーを検出する、第１の観点から第４の観点の記録再生装置である。
【００２３】
第１２の観点による本発明は、前記温度検出手段の検出結果と、前記パルス調整の調整パラメータの組み合わせを保存する格納手段を持つことを特徴とする第１の観点から第４の観点の記録再生装置である。
【００２４】
第１３の観点による本発明は、前記記録パルス調整を行う際に、前記温度検出手段によって検出された結果が、前記格納手段に格納されている場合、前記記録パルス調整を行わずに格納されている調整パラメータを参照して記録パルス調整を行い、前記格納手段に格納されていない場合、前記記録パルス調整を行った後、温度検出手段の結果と記録パルス調整結果を格納手段に格納することを特徴とする第１の観点から第４の観点の記録再生装置である。
【発明の効果】
【００２５】
以上のように、本発明の光ディスクの記録パルスパラメータ調整方法によれば、記録媒体上にレーザ光を照射して情報の記録及び再生を行う記録再生装置において、環境変化が発生した場合には、最も効果的な最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータを調整することで、環境変化の影響及び再生信号時のエラー発生率を低減することができる。また、環境変化に対応する記録パルスパラメータ調整方法を提供するに伴い、通常の記録パルスパラメータ調整方法に使用されるテスト記録用領域を減らすことに加え、記録再生回数を少なくして動作時間の短縮及び記録劣化の低減を図ることができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２６】
（実施の形態１）
〔装置全体の構成〕
本発明の実施の形態である光ディスク装置の構成図を図１に示す。以下、図１の構成要素の説明を行う。光ディスク１０１はスピンドルモータ１０２によって回転駆動される。スピンドルモータ１０２は回転制御回路１０３と所定のサーボ機構によって、安定した回転が行えるように制御される。光ピックアップ１０４は、半導体レーザやレンズなどから構成される光学ヘッド１０５系や、図示しないフォーカシングやトラッキングといった光スポット位置制御系、受光素子部などから構成される。さらに光ピックアップ１０４全体は図示しないシーク手段により、ディスク上を任意に移動することができる。これらの制御はサーボ機構や粗動モータ制御回路１０６によって行われる。
【００２７】
光ピックアップ１０４内の光学ヘッド１０５から光ディスク１０１に照射されたレーザ光は、反射してディスク上の情報を再生信号に変換する。再生信号はイコライザ１０７により周波数特性を補正され、Ａ／Ｄ変換器１０８によってＰＬＬ１０９から出力された再生クロックと同期してサンプリングされる。ここで得られたサンプリングデータは、２値化回路１１０とエッジシフト検出回路１１１、また光ディスクコントローラ１１２に出力される。
【００２８】
２値化回路１１０では、２値化によって原デジタル情報を判別する。判別された２値化データからパターン検出回路１１３は所定長のマークとスペースの組み合わせから成るパターンを識別する。
【００２９】
エッジシフト検出回路１１１はパターン検出回路１１３で検出された所定長のマークとスペースに含まれる位相誤差情報をパターン毎に累積加算し、記録補償パラメータの最適値からの誤差（エッジシフト量）を求める。エッジシフト量の求め方については、後述で詳細に説明する。光ディスクコントローラ１１２は、トリガー検出回路１１４が、例えば、レーザ周囲やディスク周辺の温度を検出する温度検出器１１９で検出した温度変化をトリガーとして検出したときに、パターン毎のエッジシフト量を指標として、記録パルスパラメータを変更する。
【００３０】
ディスクの領域が記録可能かどうかを記録状態良否判定手段１１５によって判定し、問題がなければパターン発生回路１１６から記録用の記録補償学習パターンを出力する。記録補償回路１１７は光ディスクコントローラ１１２からの記録パルスパラメータをもとに記録補償学習パターンに従ってレーザ発光波形を作成する。作成されたレーザ発光パターンに従ってレーザ駆動回路１１８は光学ヘッド１０５のレーザを駆動する。
【００３１】
また、記録パルスパラメータ調整は温度検出器１１９からの温度情報を基にしても行われ、光ディスクコントローラ１１２が発生する記録パルスパラメータは、この温度情報も考慮して調整が行われる。
【００３２】
さらに、前記のシステム１００は通信手段を持ち、図示しないホストＰＣとデータの送受信やコマンドの受信などを行う。コマンドは、例えばディスクへの記録動作を命令するＷｒｉｔｅコマンドや再生動作を命令するＲｅａｄコマンドなどがある。
【００３３】
上記構成において、パターン検出回路１１３で検出された結果を基にエッジシフト検出回路１１１で演算を行い、その演算結果に基づいて記録パルスのパラメータを変更する一連の動作を記録パルスパラメータ調整と呼ぶ。この記録パルスパラメータ調整手段は、上記のエッジシフト検出回路１１１とパターン検出回路１１３で構成されるエッジシフト量検出手段と、前記検出手段の出力に応じて記録パルス幅もしくは記録パルス位置もしくは記録パルスレベル等を最適化する光ディスクコントローラ１１２と記録補償回路１１７と、前記記録補償手段の出力に基づいてレーザのパルスとレベルを変調して記録を行うレーザ駆動回路１１８で構成される。上記構成においては、記録パルスパラメータ調整は、光ディスクコントローラ１１２の制御によってテスト記録と再生を行うことによってエッジのエッジシフト量をエッジシフト検出回路１１１で検出し、この検出結果に基づき、光ディスクコントローラ１１２はエッジシフト量を適切に調整をする演算を行い、記録パルスパラメータを記録補償回路１１７のレジスタに書き込み、記録補償回路１１７は光ディスクコントローラ１１２の設定に従って、適切なパルス幅・パルス位置もしくはパルスレベルの情報を記録時にレーザ駆動回路１１８に出力することによって実現される。本実施の形態においては、記録パルスパラメータの調整手段を上記のような構成で実現したが、これらは単なる一実施の形態であって、前記と同様の機能をハードウェア等で実現することも可能である。
【００３４】
以下、本実施の形態で用いた記録パルスパラメータ調整について詳細に説明するにあたり、本実施の形態で用いた光ディスク１０１の構成と、光ディスク１０１に記録を行うために調整が必要な記録パルスパラメータの詳細について説明を行い、本発明の記録再生装置が記録パルスパラメータ調整を行うために必要な構成要素であるパターン検出回路１１３とエッジシフト検出回路１１１について説明を行った後に、光ディスクコントローラによって実現される記録パルスパラメータ調整の動作を複数の適切なケースに分けて以下、説明を行う。
【００３５】
〔本実施の形態に用いた光ディスク〕
まず、本発明に用いられる記録媒体の代表的な例として、光ディスク１０１を挙げて説明を行う。本実施の形態に用いた光ディスク１０１の具体的な構成を図２に示す。光ディスク１０１は、記録層を含む。記録層に記録マークを形成することによって、光ディスク１０１にデータが記録される。光ディスク１０１には、トラックが同心円状に形成されている。光ディスク１０１は、リードイン領域２０１と、ユーザ領域２０２と、リードアウト領域２０３とを含む。
【００３６】
ユーザ領域２０２は、ユーザがデータを記録しえるように構成されている。ユーザ領域２０２には、例えば、ユーザデータが記録される。ユーザデータには、例えば、オーディオデータ及びビジュアルデータが含まれる。
【００３７】
リードイン領域２０１及びリードアウト領域２０３は、ユーザ領域２０２とは異なって、ユーザがデータを記録しえるようには構成されていない。リードイン領域２０１及びリードアウト領域２０３には、光ディスク１０１にアクセスする際に必要となるユーザ領域２０２の管理情報や欠陥管理、記録再生条件のためのデータなどが記録される。リードイン領域２０１は、ＰＩＣ（Ｐｅｒｍａｎｅｎｔ  Ｉｎｆｏｒｍａｔｉｏｎ  ａｎｄ  Ｃｏｎｔｒｏｌ  ｄａｔａ）領域２０４とＯＰＣ（Ｏｐｔｉｍｕｍ  Ｐｏｗｅｒ  Ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ）領域２０５とＤｒｉｖｅ領域２０６とＤＭＡ（Ｄｅｆｅｃｔ  Ｍａｎａｇｅｍｅｎｔ  Ａｒｅａ）領域１０７とを含む。
【００３８】
ＰＩＣ領域２０４には、例えば、ユーザ領域２０２の最大アドレス及び記録に関するパラメータが記録されている。記録に関するパラメータは、例えば、光ディスク１０１に複数の記録マークを形成／消去するためのレーザパワーに関するパラメータ、及び複数の記録マークを記録するための記録パルス幅に関するパラメータである。ＯＰＣ領域２０５は、テスト記録及びテスト再生といったテスト処理を行うための領域である。テスト処理は、光ディスク毎に最適な記録パワーパラメータや、記録パルスパラメータを設定するために行う。ＤＭＡ領域１０７には、欠陥領域の位置情報と欠陥領域の交替領域の位置情報とを示すリストが格納されている。
【００３９】
以上、図２を参照して本発明の実施の形態で用いられる光ディスク１０１の一例を説明した。例えば、図２に示される例では、ユーザ領域２０２が「ユーザがデータを記録しえるように構成されているユーザ領域」に対応する。しかし、本発明の実施の形態で用いられる光ディスク１０１が図２に示される例に限定されるわけではない。光ディスクが、ユーザがデータを記録しえるように構成されているユーザ領域を含む限りは、任意の構造を有しえる。例えば、光ディスク１０１には、トラックが同心円状に形成されているが、光ディスク１０１がユーザ領域２０２を含む限りは、形成されるトラックの形状は同心円状に限定されない。光ディスク１０１には、トラックがスパイラル状に形成されえる。さらに、光ディスク１０１には、ＯＰＣ領域２０５が含まれているが、光ディスク１０１がユーザ領域２０２を含む限りは、光ディスク１０１には、ＯＰＣ領域２０５が含まれていなくてもよい。さらに、光ディスク１０１は、書き換え型光ディスクまたは追記型光ディスクに限らない。再生専用光ディスクでもよい。書き換え型光ディスクは、例えば、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＷ（Ｄｉｇｉｔａｌ  Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ）及びＢＤ−ＲＥ（Ｂｌｕ−ｒａｙ  Ｄｉｓｃ  Ｒｅｗｒｉｔａｂｌｅ  Ｆｏｒｍａｔ）である。追記型光ディスクは、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ及びＢＤ−Ｒである。
【００４０】
〔適切な記録に必要な記録パルスパラメータ〕
一般的に光ディスクへの記録方式には、記録マークの両端に信号の変化を記録するマークエッジ記録が用いられ、これによってマーク位置に情報を記録するポジション記録に比べて記録密度を向上させている。マークエッジ記録の場合、マークの形状歪によるデータ誤りの発生が多くなるので、形状歪を抑えるためにライトストラテジ技術が用いられる。これは、レーザ光による記録波形を複数の短パルスに分割して記録レーザ光を照射する技術であり、記録マークの後端部における熱の蓄積を抑えて記録マークの歪を解消するようにしたものである。図３は、本実施の形態の光ディスクに対して適切に４Ｔマークを記録する場合に必要なレーザ波形の形状例である。本実施の形態で用いた光ディスクでは、適切な記録を実現するために２つのパルスパラメータを調整する必要がある。１つ目はパルスの強度であり、具体的には記録パワー（Ｐｗ）３０１、消去パワー（Ｐｅ）３０２、クーリングパワー（Ｐｃ）３０３、バイアスライトパワー（Ｐｂｗ）３０４を適切に調整する必要がある。２つ目は記録パルス幅と位置であり、具体的にはファーストパルスの幅（Ｔｔｏｐ）３０５、ファーストパルスの位置（ｄＴｔｏｐ）３０６、マルチパルスの幅（Ｔｍｐ）３０７、ラストパルスの幅（Ｔｌｐ）３０８、ラストパルスの後ろに付けるクーリングパルスの幅（ｄＴｅ）３０９を適切に調整する必要がある。
【００４１】
本実施の形態においては、１−７変調を用いて記録を行っており、マーク及びスペースの長さが、２Ｔから８Ｔ（Ｔはデータウインドウ）の整数値の組み合わせが存在する。このために、２Ｔから８Ｔマークを記録する際のパルス波形を適切に調整をする必要が生じる。しかしながら、４Ｔ以上のマークを形成する場合には熱的な干渉が少なくなるために、本実施の形態で用いた光ディスク１０１では、４Ｔ〜８Ｔを同一の記録パルスパラメータとして扱うことができる。４Ｔ以上のマークにおいては、記録パルスパラメータは同一であるが、マルチパルスの数がマークの長さが長くなることに応じて増加する。これらのマークを記録する際の記録パルスパラメータの組み合わせは、マークの記録形状がマークを記録する直前のスペースの間隔の影響を受けるため、これらを含めて適切な調整を行うためには、長さが２Ｔと３Ｔと４Ｔ以上のマーク（２Ｔｍ、３Ｔｍ、４Ｔｍと略す）と長さが２Ｔと３Ｔと４Ｔ以上のスペース（２Ｔｓ、３Ｔｓ、４Ｔｓと略す）の組み合わせが存在する。
【００４２】
図４にその組み合わせ表を示す。例えば、図４表（Ａ）において、右下の「４Ｔｓ４Ｔｍ」は、４Ｔ以上のスペースとそれに続く４Ｔ以上のマークの組み合わせにおける記録パルスパラメータであることを示す。その下の「＊Ｔｓ４Ｔｍ」は、４Ｔマーク前端（立ち上がり）の全ての記録パルスパラメータ（「２Ｔｓ４Ｔｍ」と「３Ｔｓ４Ｔｍ」と「４Ｔｓ４Ｔｍ」）を合わせた結果である。足し合わせる方法としては、各パラメータのエッジシフト量の平均値でもよいし、積算値でもよいし、各パラメータに重み付け処理を行ってから平均化した値にしてもよい。同様に、図４表（Ｂ）において、右上の「２Ｔｍ４Ｔｓ」は、２Ｔマークとそれに続く４Ｔ以上のスペースの組み合わせにおける記録パルスパラメータであることを示す。その下の「２Ｔｍ＊Ｔｓ」は、２Ｔマーク後端（立ち下がり）の全ての記録パルスパラメータ（「２Ｔｍ２Ｔｓ」と「２Ｔｍ３Ｔｓ」と「２Ｔｍ４Ｔｓ」）を合わせた結果である。合わせる方法としては、各パラメータのエッジシフト量の平均値でもよいし、積算値でもよいし、各パラメータに重み付け処理を行ってから平均化した値にしてもよい。以上、合計２４通りの組み合わせの全て、もしくはその一部を適切に調整を行う必要がある。
【００４３】
本実施の形態で用いた光ディスクは、スペースの間隔に応じて記録パルスパラメータの調整を行った方がより適切な記録の調整が行えるために、以下に説明するエッジシフト検出回路ではスペースの長さに応じた検出を行った後に、最適な記録パルスパラメータ調整を行っている。光ディスクに記録を行う際の記録パルスパラメータは、マークの立ち上がり及び立ち下がり位置をデータウインドウＴの基準位置にできるだけ揃えて記録を行うことにより、エラーの低減を図るものである。この最適化を図るためのパルス形状やパルス幅・位置調整方法については、本実施の形態では上記のような１−７変調に従う記録パルスパラメータを用いたが、あくまでも本発明を適応するための一実施の形態であって、本発明の趣旨である少ないステップでエッジ位置をＴウインドウの基準位置にできるだけ合わせて記録を行う点が重要であり、エッジを合わせるためにどの様に記録パルスパラメータを変化させるかは本発明の原理や効果に影響を及ぼすものではない。
【００４４】
〔エッジシフト検出回路〕
エッジシフト検出回路１１１によるエッジシフト量の代表的な求め方について説明する。図５は、４Ｔマークの立ち下がりエッジ位置がズレた場合の再生波形を示す。エッジシフト検出回路１１１において、コンパレータしきい値基準からの再生信号の振幅レベルをサンプリングして、エッジシフト量を検出をすると、図５（ａ）で示されるように、理想的な記録パルス条件で形成された４Ｔマークの後端位置はＢとなり、エッジシフト量Ｙとして求まる。この場合、エッジシフト量Ｙは、コンパレータしきい値基準を０レベルとすると、ほぼ０として求まり、マーク長はほぼ最適と判断できる。しかしながら、ノイズなどの影響によってマーク後端位置がＡにズレた場合、エッジシフト量Ｚとして求まる。この場合、エッジシフト量Ｚは、コンパレータしきい値基準を０レベルとすると、マイナスの値として求まり、マーク長が基準より短いと判断できる。逆にマーク後端位置がＢにズレた場合、エッジシフト量Ｘとして求まる。この場合、エッジシフト量Ｘは、コンパレータしきい値基準を０レベルとすると、プラスの値として求まり、マーク長が基準より長いと判断できる。また、検出されたレベルを横軸に取り、縦軸に出現した個数を取った頻度分布は、図５（ｂ）のように分散σを持ったガウス分布になる。この頻度分布の平均値μがエッジシフト量である。頻度分布はここでは、振幅値を時間軸のズレとしてエッジシフトを扱っているが、もちろん時間軸のズレそのものでもよい。すなわち、再生クロックとコンパレータによる２値化パルスの時間差であってもよい。なお、上記で求めたエッジシフトは本発明を適応するための一実施の形態であって、本発明の趣旨である少ないステップでエッジ位置をＴウインドウの基準位置にできるだけ合わせて記録を行うという点を満たしていれば、別の指標を用いても問題ない。
【００４５】
〔記録補償方法〕
光ディスクコントローラ１１２と記録補償回路１１７で行われる代表的な記録補償方法について説明する。一般的な記録補償方法では、マーク長調整とマーク位置調整の２種類の方法が用いられ、マークの立ち上がり及び立ち下がりそれぞれのエッジシフト量に関するパラメータが、略々所望の値となるように調整される。以下、記録補償に用いられる。
【００４６】
図６は、２ＴマークのｄＴｅパラメータを変化させることによるマーク長調整方法について示している。ｄＴｅパラメータを設定Ａから設定Ｂ、設定Ｃと変えることで、形成される２Ｔのマーク長が長くなっている様子が分かる。ここで、ファーストパルスの幅及びファーストパルスの立ち下がり位置は固定されているが、２Ｔマークは非常に短いため、マークを形成する際の熱の影響によって立ち上がりエッジ位置も変化し、全体としてマーク長が変化することになる。このとき、２Ｔマークの立ち上がりエッジシフト量Ｌと立ち下がりエッジシフト量Ｔを求める。２Ｔマークの立ち上がりエッジシフト量Ｌとは、図４表（Ａ）の＊Ｔｓ２Ｔｍのエッジシフト量のことであり、２Ｔマークの立ち下がりエッジシフト量Ｔとは、図４表（Ｂ）の２Ｔｍ＊Ｔｓのことである。さらに、ＬとＴの加算の絶対値を求める。ＬとＴの加算の絶対値は理想的なマーク長からのズレ量を表し、０が理想的なマーク長を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図８（ａ）に、ｄＴｅパラメータを変えながら、ＬとＴと｜Ｌ＋Ｔ｜を求めた具体例を示す。ここでは、クーリングパルス幅０の設定が選択される。
【００４７】
図７は、２ＴマークのｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｅパラメータを変化させることによるマーク位置調整方法について示している。ｄＴｔｏｐパラメータ及びｄＴｅパラメータを設定Ａから設定Ｂ、設定Ｃと同時に同方向に変えることで、形成される２Ｔのマーク長は変わらずに位置だけが変化している様子が分かる。このとき、２Ｔマークの立ち上がりエッジシフト量Ｌと立ち下がりエッジシフト量Ｔを求める。さらに、Ｌの絶対値とＴの絶対値の加算を求める。Ｌの絶対値とＴの絶対値の加算は理想的なマーク両端のズレ量を示し、０が理想的なマーク位置を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図８（ｂ）に、ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｅパラメータを変えながら、ＬとＴと｜Ｌ｜＋｜Ｔ｜を求めた具体例を示す。ここでは、クーリングパルス幅０の設定が選択される。なお、本実施の形態では上記のような記録補償方法を用いたが、あくまでも本発明を適応するための一実施の形態であって、これに限定するものではない。
【００４８】
〔標準の記録パルスパラメータ調整方法〕
本実施の形態の動作ステップについて説明する。まずは一般的な標準の記録パルスパラメータ調整方法について説明する。
【００４９】
第１のステップは、光ディスク１０１にあらかじめ記録されている記録パルス標準パラメータを読み出す。このために、光ディスク１０１の特定領域にスポットを移動させ、あらかじめ記録されている記録パルス標準パラメータのトラックをトレースする。再生信号は、イコライザ１０７で周波数特性を補正され、Ａ／Ｄ変換器１０８によってＰＬＬ１０９から出力される再生クロックと同期してサンプリングされる。この標準条件のサンプリングデータは光ディスクコントローラ１１２に送られ、記録パルス標準パラメータが設定される。
【００５０】
第２のステップは、記録パルス標準パラメータで光ディスクにテスト記録を行う。このためにまず、光学ヘッド１０５のレーザスポットを光ディスク１０１の記録可能なトラックに移動させる。パターン発生回路１１６において記録パターンを発生する。この際の記録パターンは、記録パルス標準パラメータの全てのパラメータを偏りなく補正するために、図４で表される全パターンが均等な確率で発生するパターンを使用する。前述の記録パルス標準パラメータを用い、記録補償回路１１７において、記録パルスパラメータ設定値に基づいてレーザ発光波形を形成するマルチパルスに変換する。マルチパルスのパラメータ調整を行った後、レーザ駆動回路１１８においてレーザを駆動するための電流に変換されて光学ヘッド１０５に供給される。光学ヘッド１０５は、前記記録可能なトラック上に記録を行う。
【００５１】
第３のステップは、記録パルス標準パラメータでテスト記録したデータを再生し、再生信号のエッジシフト量を測定する。このために、第２のステップで記録したトラックを光学ヘッド１０５で再生し、イコライザ１０７、Ａ／Ｄ変換器１０８を通して、再生クロックと２値化信号の位相誤差パルスを出力する。パターン検出回路１１３とエッジシフト検出回路１１１において、エッジシフト量が検出され、検出結果を光ディスクコントローラ１１２に記憶する。
【００５２】
第４のステップは、光ディスクコントローラ１１２に保存されている記録パルス標準パラメータを所定の値に変化させ、光ディスクにテスト記録を行う。図９は記録パルス標準パラメータとそれぞれの所望の値に変化させた表である。中央上下２つの表（Ｃ）、（Ｄ）はディスクから読み出した記録パルス標準パラメータである。左側の表（Ａ）は、記録パルス標準パラメータの２Ｔマークの立ち上がりエッジに対して一律に＋１の補正値を加えたものであり、（Ｂ）は、記録パルス標準パラメータの２Ｔマークの立ち下がりエッジに対して一律に＋１の補正値を加えたものである。右側の表（Ｅ）は、記録パルス標準パラメータの２Ｔマークの立ち上がりエッジに対して一律に−１の補正値を加えたものであり、（Ｂ）は、記録パルス標準パラメータの２Ｔマークの立ち下がりエッジに対して一律に−１の補正値を加えたものである。これらの値を用いて、第２のステップと同様に、パターン発生回路１１６から出力された記録パターンを光ディスク１０１に記録する。
【００５３】
第５のステップは、第４のステップで記録されたデータを再生し、再生信号のエッジシフト量を測定して記録する。ここで測定されたエッジシフト量は標準値からの変化量として保存する。さらに、第４と第５のステップを、記録パルス条件を変えながら所定の回数繰り返し行い、エッジシフト量を収集する。
【００５４】
第６のステップは、第４第５のステップで収集されたエッジシフト量より、以後、記録再生装置で使用する記録パルスパラメータを決定する。決定方法は、エッジシフト量が最小になったとき、あるいは、所定の許容値以下になったときの記録パルス条件とする。採用された補正値は、現在、記録再生装置にローディングされている光ディスクを記録する際に用いられる。
【００５５】
なお、前記実施の形態では、記録パルスパラメータとして、記録パルス幅と位置に関する記録パルスパラメータを使用したが、記録時のサーボパラメータや、記録パワー（Ｐｗ）３０１、消去パワー（Ｐｅ）３０２、クーリングパワー（Ｐｃ）３０３、バイアスライトパワー（Ｐｂｗ）３０４といった記録パワー強度に関するパラメータを使用してもよい。
【００５６】
なお、記録パルス標準パラメータの設定は、上記のように光ディスク１０１にあらかじめ記録されているものに限るものではない。例えば、例えば、記録パルス標準パラメータは記録再生装置側に記録されており、光ディスク１０１には個別に識別できる識別コードが記録されており、この識別コードを読み取って記録パルス標準パラメータを設定する方法でも構わない。
【００５７】
なお、テスト記録を行う際の記録パルス標準パラメータの変化量及び方法は、上記に限定されるものではない。上記では、２Ｔマークの立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジに対して、一律に±１の値を補正しているが、マーク長は光ディスク上に記録されている全てのマーク長に適用可能であるし、一律ではなく、前後スペース長に対応させて補正しても構わない。また、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジの順番を逆にしても構わないし、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジを同時に補正しても構わない。
【００５８】
なお、パターン発生回路１１６で発生するパターンは、図４で表される全パターンが均等な確率で発生するパターンに限るものではない。エッジ位置をＴウインドウの基準位置に合わせることができるなら、マークとスペースの並びがランダムなパターンや、ある所定のマーク長とスペース長を繰り返す単一パターン、といったテストパターンでもよい。
【００５９】
〔本発明の記録パルスパラメータ調整方法〕
次に、前記の標準の記録パルスパラメータ調整が行われた後のディスクに対して行われる、本発明の記録パルスパラメータ調整方法の実施の形態１を図１０のフローチャートで説明する。
【００６０】
本実施の形態の記録パルスパラメータ調整は、トリガー検出回路１１４によって検出されたトリガーに応じて実行する。具体的には、温度検出器１１９によって検出された温度変化をトリガーとする。温度変化に対して行われる記録パルスパラメータ調整を温度学習と呼ぶ。本実施の形態１では、前回の温度学習が行われたときの温度から所定の変化量を検出した場合に温度学習を行う。一般に、光ピックアップ１０４に使用されるレーザダイオードは、温度変化に対する出力変動が大きく、再生信号品質の悪化に大きく影響するので、温度変化をトリガーにして記録パルスパラメータ調整を行うことは効果が大きい。なお、温度検出手段は、前回の温度学習時に測定された温度から、所定の値だけ変化した場合に温度変化を検出するものでもよいし、所定の温度に達した場合に検出するものでもよい。トリガー検出回路１１４によってトリガーを検出すると、任意の記録可能領域に移動し、最短記録マークのｄＴｅパラメータのみを標準パラメータ値、もしくは現在の設定値を基点に数パターンの補正値を加えた値に変更し、特定パターンを用いてテスト記録を行う。
【００６１】
本実施の形態において、レーザ波長λを４０５ｎｍ、ＮＡを０．８５、変調方式に１−７変調を採用した場合、最短記録マーク形状に関わるパラメータとして、２Ｔマークに関するｄＴｅパラメータを扱う。ある特定パターン（例えば、図４で表される全パターンが均等な確率で発生するパターン）を使用して記録パルスパラメータ調整を行う場合、調整するマーク長は短ければ短い程、その出現頻度は高くなり、効果も大きくなるため、最短記録マークに関してのみ調整を行う記録パルスパラメータ調整方法は、最も効果的に調整時間短縮及び調整に必要な領域の削減、記録劣化の防止を図ることができる。
【００６２】
また、前記標準の記録パルスパラメータ調整においては、ｄＴｅパラメータは、各ディスクが持つ記録パルス標準パラメータからできるだけ変更しない方が望ましい。または、記録パルス標準パラメータから全く変化させなくともよい。
【００６３】
記録パルス標準パラメータから大きく異なる設定にして記録した場合、各種の記録劣化（ディスク上に何回も繰り返し記録することで、ディスク劣化を引き起こす繰り返し記録劣化、記録されているディスクに上書きするときに適切でない記録パワーで記録した場合に発生する記録劣化、温度や湿度等の環境変化による記録劣化など）が進行しやすい状態となる可能性があるためである。
【００６４】
この例を図１１に示す。図１１（ａ）は、最適パワーで記録された領域に記録パワーを段階的に可変して記録した領域を再生し、エラーが発生する確率を測定したものである。クロスパワー特性と呼ぶこととする。図１１（ｂ）は、最適パワーで同じ領域を繰り返し記録した領域を再生し、エラーが発生する確率を測定したものである。繰り返し記録特性と呼ぶこととする。クロスパワー特性および繰り返し記録特性は意図的に記録ストレスを与え、記録劣化が発生した領域を作成し、その領域を再生した場合のエラーが発生する確率を求めたものである。図１１において、クーリングパルス幅が、記録パルス標準パラメータから大きく異なった設定にして記録した場合を点線で示し、記録パルス標準パラメータからほとんど変化していない設定にして記録を行った場合を実線で示している。このように、クーリングパルス幅が、記録パルス標準パラメータから大きく異なった設定にして記録を行った場合、記録劣化が進行しやすい状態となる可能性がある。さらには、他の記録パルスパラメータが最適化されていない場合や、調整を行うマーク長が短ければ短い程、記録劣化の可能性はますます大きくなる。
【００６５】
これに対し本発明の記録パルスパラメータ調整方法は、最短記録マークのｄＴｅパラメータのみを調整することで記録パルスパラメータ調整を行う。
【００６６】
これは、標準の記録パルスパラメータ調整を前段階で行うことから、略々適切なパラメータ値はすでに得られており、記録劣化が発生するような過大なパラメータ変更は行わないことに起因する。さらにその上で、最短記録マークのｄＴｅパラメータが全体のマークに及ぼす影響が大きいことや、ｄＴｅパラメータを変えることで、形成されるマークの後端エッジが変化すると共に前端エッジにも影響が及び、結果的にマーク長が変化することになり、マーク全体の長さが効率良く調整できることなどから、微小な調整で大きな効果を与えることができる。
【００６７】
その後、テスト記録を行った領域について、前記標準記録パルスパラメータ調整方法と同様の手順で再生信号の品質を評価し、最適記録パルスパラメータを決定する。
【００６８】
なお、本実施の形態では、再生信号の品質評価指標としてエッジシフトを使用したが、これに限るものではない。再生信号の品質を評価できるものであれば、例えば、再生信号のジッタ、アシンメトリ、エラーレート（ＢＥＲ）、変調度といった指標を使用しても良い。ジッタは、再生信号とＰＬＬ１０９によって生成された再生クロック間の位相誤差の絶対値から求める指標である。アシンメトリαは、再生信号の振幅からピーク値（＋側）Ａｐとボトム値（−側）Ａｂを検出し、α＝（Ａｐ＋Ａｂ）／２（Ａｐ−Ａｂ）の式から求まる指標である。エラーレートは、一定時間内に再生信号の中に発生したエラー（データの誤り）の割合を数値で表した指標である。変調度ｍは、８Ｔマークの振幅Ｉｍと８Ｔスペースの振幅Ｉｓを検出し、ｍ＝（Ｉｍ−Ｉｓ）／Ｉｓから求まる指標である。さらには、特願２００２−１９６０９９号で開示されているような、ＰＲＭＬ（Ｐａｒｔｉａｌ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ Ｍａｘｉｍｕｍ Ｌｉｋｅｌｉｈｏｏｄ）方式の最尤復号器を用いて得られた２値化結果の誤り率を適切に予想できるＭ指標などを使用しても良い。ＰＲＭＬ方式とは、ＰＲという波形等化方式と、ＭＬという最尤復号方式の組み合わせから成るものである。
【００６９】
しかしながら、本実施の形態で用いた光ディスクは、スペースの間隔に応じて記録パルスパラメータの調整を行った方がより適切な記録の調整を行えるため、再生信号の品質評価として使用する指標も、スペースの間隔に応じたマークのエッジ位置のズレを適切に表すものが望ましい。この点から、再生信号全体の品質を表すジッタやエラーレートよりも、スペースの間隔に応じたマークのエッジ位置のズレを表す指標（例えばエッジシフト量）を使用した方が、より詳細で効率的な記録パルスパラメータ調整を行うことが可能となる。
【００７０】
なお、エッジシフトを使用した場合のマーク位置調整方法として、Ｔマークの立ち上がりエッジシフト量Ｌの２乗値と立ち下がりエッジシフト量Ｔの２乗値の加算値を使用してもよい。Ｌの絶対値とＴの絶対値の加算値と同じく、Ｌの２乗値とＴの２乗値の加算値は理想的なマーク両端のズレ量を示し、０が理想的なマーク位置を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図１２（ａ）に、ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｅパラメータを変えながら、ＬとＴとＬ＾２＋Ｔ＾２を求めた具体例を示す。ここでは、クーリングパルス幅０の設定が選択される。Ｌの絶対値とＴの絶対値の加算値に比べ、理想的なマーク位置０を最小値とする曲線の傾きが急になるため、最小値を探索しやすくなり、短時間で調整することが可能となる。
【００７１】
さらに、同様のマーク位置調整として、２Ｔマークの立ち上がりエッジシフト量Ｌと立ち下がりエッジシフト量Ｔの差の絶対値を使用してもよい。ＬとＴの差の絶対値は理想的なマーク位相からのズレ量を示し、０が理想的なマーク位置を意味する。その値が最小となる記録パルス設定を採用する。図１２（ｂ）に、ｄＴｔｏｐパラメータとｄＴｅパラメータを変えながら、ＬとＴと｜Ｌ−Ｔ｜を求めた具体例を示す。ここでは、クーリングパルス幅０の設定が選択される。Ｌの２乗値とＴの２乗値の加算値と同様、Ｌの絶対値とＴの絶対値の加算値に比べて、理想的なマーク位置０を最小値とする曲線の傾きが急になるため、最小値を探索しやすくなり、短時間で調整することが可能となる。
【００７２】
なお、前記実施の形態では、温度変化検出時に基づいてトリガーを検出したが、本発明ではこれに限定しない。
【００７３】
例えば、トリガー検出回路１１４は、ホストＰＣのＷｒｉｔｅコマンドの発行のタイミングに基づいて、トリガーを検出してもよい。したがって、記録を行う際には常に再調整された記録パルスパラメータ設定を使用することができ、またその他のトリガーに対して行う不要な調整を省くこともできる。
【００７４】
トリガー検出回路１１４は、記録再生装置の動作時間に基づいてトリガーを検出してもよい。したがって、ディスクや記録再生装置の径時変化に応じた記録パルスパラメータ調整を行うことができる。なお、動作時間は、記録再生装置に記憶されており、例えばディスク挿入時からの時間や、最後に何らかの動作（例えば記録）を行ったときからの時間である。
【００７５】
トリガー検出回路１１４は、記録再生装置の起動時にトリガーを検出してもよい。
【００７６】
これは一度標準パルスパラメータ調整を行った後、一度記録再生装置を停止した場合、現時点の調整結果をディスクもしくは記録再生装置のメモリに保存しておき、再び装置を起動した際には、保存しておいたパラメータを基点に、本発明の記録パルスパラメータ調整を行うものである。これによって、調整時間短縮及び調整に必要な領域の削減、記録劣化の防止を図ることができる。
【００７７】
（実施の形態２）
〔実際の動作ステップ２〕
別の発明の実施の形態を発明の実施の形態２として図１３のフローチャートで説明する。発明の実施の形態２が実施の形態１と共通する点については説明を省略する。実施の形態１と相違する点は、特定の領域に移動した後、記録状態良否判定手段１１５によって、その領域が記録可能かどうかの判定を行うことである。もし、その領域が記録不可能と判定された場合は、シーク手段によって別の領域に移動し、同様の作業を行う。領域の移動は所定の回数以内であれば記録可能な領域に移るまで何度でも行う。
【００７８】
その領域が記録可能と判定された場合、あるいは繰り返し回数が所定の値に達した場合、最短記録マークのｄＴｅパラメータを現在の設定を基点に数パターンの補正値を加えた値に変更し、テスト記録を行う。以下、実際の動作ステップ１と同様の手順で再生信号の品質を評価し、最適記録パルスパラメータを決定する。
【００７９】
本実施の形態では、特定領域の記録状態の判定に記録状態良否判定手段１１５を用いる。記録状態の良否を判定するための指標として用いる特性パラメータには、例えば、ディスク上の傷や埃、指紋などを検出したときに得られる欠陥情報が考えられる。ディスク上に傷や埃、指紋があった場合、光ディスク１０１にレーザ光を反射させて得られる再生信号の振幅は急激に変動する。その時の振幅の変化量や絶対値を検出することで欠陥情報の指標とする。その他にも、ディスク特願平８−２３２４８９号で開示されているように、再生信号のジッタ、アシンメトリ、エラーレート（ＢＥＲ）、変調度、Ｍ指標といった指標が挙げられる。例えば、ディスクに対して記録再生装置が記録パルスパラメータ調整を一度も行っていない場合は、正しく再生できる保証が無いため、主に欠陥情報を指標として用いる。記録パルスパラメータ調整を行った後は、欠陥情報に加え、ジッタ、アシンメトリ、エラーレート（ＢＥＲ）、変調度、Ｍ指標などを指標として用いる。
【００８０】
また、本発明の実施の形態では、特定の領域の記録状態を測定し、列挙した記録状態の良否を表す特性パラメータが任意の閾値を超えた場合、その領域の記録品質は悪いと判定する。あるいは、ディスクの記録劣化による影響を判定するために、事前に記録状態の良否を表す特性パラメータを検出して保存しておき、再度、記録状態の良否を表す特性パラメータを検出したときの値との差が、任意に設定した閾値を超えた場合に、その領域の記録品質は悪いと判定する。例えば、記録状態の良否を表す特性パラメータとしてジッタを採用し、判定に用いる差が＋１％であった場合を例に挙げる。任意の領域の記録状態を測定し、ジッタが１０％であったとすると、次に別の領域で記録状態を測定したときに、ジッタが１１％以上であれば、その領域の記録品質は悪いと判定するものである。
【００８１】
以上、記録パルスパラメータ調整を行う前に記録領域の判定を行い、記録状態が良好な領域を選択することで、精度の良い調整を行えるとともに、さらなる調整時間の短縮を図ることができる。
【００８２】
（実施の形態３）
〔実際の動作ステップ３〕
別の発明の実施の形態を発明の実施の形態３として図１４のフローチャートで説明する。発明の実施の形態３が実施の形態１あるいは実施の形態２と共通する点については説明を省略する。実施の形態１あるいは実施の形態２と相違する点は、記録パルスパラメータ調整を行うために特定の領域に移動しないことである。トリガー検出回路１１４によってトリガーを検出すると、現在アクセスを行っているユーザ領域の続きから記録パルスパラメータ調整を開始する。
【００８３】
まず記録パルスパラメータを現在の設定を基点に数パターンの補正値を加えた値に変更し、所定区間だけ記録を行う。このときのテスト記録は、実施の形態１と同様、特定のパターンを使用してもよい。例えば、光ディスク１０１が書き換え型光ディスク（ＤＶＤ−Ｒ、ＢＤ−Ｒ）の場合には、既にデータが記録された記録済み領域に隣接する未記録領域にデータをテスト記録できる。従って、ヘッドのシーク時間の短縮が可能になる。光ディスク１０１が、例えば、追記型光ディスク（ＤＶＤ−ＲＷ、ＢＤ−ＲＥ）である場合には、現在記録している領域に隣接する領域（記録済み領域か未記録領域を問わない）にデータをテスト記録できる。従って、ヘッドのシーク時間の短縮が可能になる。あるいはテスト記録を行わずに、ユーザ領域内の記録済みパターンをそのまま使用してもよい。この場合、ヘッドのシーク時間の短縮に加え、さらにテスト記録にかかる時間の短縮が可能になる。
【００８４】
ユーザ領域内の記録済みパターンを使用する場合、そのパターンの品質評価を行うために、エッジシフト量を所定区間だけ積算し、積算回数で割ることで、１エッジあたりのエッジシフト量を求める。この値を指標として用いることで、所定区間内のエッジの出現個数が事前に分からないような、ランダムパターンやユーザ領域内の記録済みパターンにおいても、精度の高い記録パルスパラメータ調整を行うことができる。なお、１エッジあたりのエッジシフト量をさらにＴウインドウで割ることで規格化することにより、エッジシフト量を理想状態からの差分量として扱うだけでなく、ｎｓｅｃ単位のズレ量として取り扱うことができ、より汎用的な評価を行うことができる。その後は実施の形態１と同様の手順で再生信号の品質を評価し、最適記録パルスパラメータを決定する。特定の領域への移動を行わないこと、さらに実際の記録パターンを使用することによって、記録パルスパラメータ調整のための領域を余分に使用することなく、短時間で記録パルスパラメータ調整を行うことが可能となる。
【００８５】
なお、記録状態良否判定手段１１５によって、対象となる領域が記録可能かどうかの判定を行ってもよい。もし、記録不可能と判断された場合は、その領域は記録不可領域として除外し、シーク手段によってさらにその続きの領域に移動する。その後は、実施の形態１で行った一連の記録パルスパラメータ調整作業を行うものとする。
【００８６】
（実施の形態４）
〔実際の動作ステップ４〕
別の発明の実施の形態を発明の実施の形態４として図１５のフローチャートで説明する。発明の実施の形態４が実施の形態１あるいは実施の形態２あるいは実施の形態３と共通する点については説明を省略する。発明の実施の形態４を図１５のフローチャートで説明する。あるいは実施の形態２あるいは実施の形態３と相違する点は、温度学習を行ったときの温度と、その結果から、再設定された記録パルスパラメータを記録した格納手段（データテーブル）を保持し、積極的に活用する点である。
【００８７】
温度変化によるトリガーを検出して温度学習が開始されると、まず、検出した現在の温度が今までに学習済みの温度かどうか判定する。判定は、検出温度とそのときの記録パルス設定を記録したデータテーブルを読み取ることで行う。もしデータテーブルに検出温度と同じ温度と判断される温度設定が記録されている場合、すなわち、学習済みの温度の場合は、データテーブル上の記録パルス設定を読み込み、記録パルスパラメータの再設定を行って温度学習を終了する。一方、データテーブルに検出温度と同じ温度の設定が記録されていない場合、すなわち、未学習の温度の場合は、実施の形態１と同様の記録パルスパラメータ調整を行う。このように、学習済みの温度条件下ではデータテーブルを参照し、経験の無い温度条件下に対してのみ記録パルスパラメータの再設定を行えばよいので、テスト記録のために無駄な領域も使用せず、短時間で適切な温度学習を行うことが可能となる。
【００８８】
〔データテーブルの詳細〕
図１６に、検出温度と記録パルス設定を記録したデータテーブルの具体例を示す。５℃毎に設定された各温度に対して、パラメータの値が入っている温度は学習済みの温度であり、他は未学習の状態を表している。温度学習の最小単位を５℃と設定し、その間で温度が変動しても温度学習は行われない。例えば現在の温度が３５℃であった場合、そこから５℃下がって２５℃になった時点で温度学習が開始され、クーリングパルス幅のパラメータは５に設定される。反対に５℃上がって４０℃になった場合は、前述の未学習の温度における温度学習が行われ、最適なパラメータに調整されると共に、そのときのパラメータがテーブルに記録される。本発明の実施の形態では、クーリングパルス幅のみを調整するが、図１６ではその他のパラメータについても参考として示している。温度学習がすでに行われた１５℃から３５℃の範囲においては、パラメータを５から変化させる必要は無いことが分かる。
【００８９】
なお、このデータテーブルはディスクの特定領域に保存してもよいし、記録再生装置内のメモリなどに保存してもよい。
【００９０】
なお、このデータテーブルには閾値として温度を用いたが、温度と他の記録パルスパラメータを組み合わせた結果を使用してもよい。決して、温度に関するパラメータに限定するものではない。
【産業上の利用可能性】
【００９１】
以上のように、本発明の光ディスクの記録パルスパラメータ調整方法によれば、ディスク上にレーザ光を照射して情報の記録及び再生を行う記録再生装置において、環境変化が発生した場合には、最も効果的な最短記録マーク形状に関わる記録パルスパラメータを調整することで、環境変化の影響及び再生信号時のエラー発生率を低減することができる。また、環境変化に対応する記録パルスパラメータ調整方法を提供するに伴い、通常の記録パルスパラメータ調整方法に使用されるテスト記録用領域を減らすことに加え、記録再生回数を少なくして動作時間の短縮及び記録劣化の低減を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【００９２】
【図１】本発明の実施の形態における光ディスク装置主要部の構成を示す説明図
【図２】本実施の形態に用いた光ディスクを示す図
【図３】４Ｔマークを描く場合のライトストラテジを示す図
【図４】記録パルスパラメータを示す図
【図５】エッジシフト量の算出方法を示す図
【図６】２Ｔマークのマーク長調整方法を示す図
【図７】２Ｔマークのマーク位置調整方法を示す図
【図８】２Ｔマーク調整に対するエッジシフト量の変化を示したグラフ
【図９】記録パルスパラメータに関する補正値を示す図
【図１０】記録パルスパラメータ調整方法のフローチャート
【図１１】クロスパワー特性と繰り返し記録特性を示す図
【図１２】本発明の別の２Ｔマーク位置調整に対するエッジシフト量の変化を示したグラフ
【図１３】本発明の別の実施の形態２の記録パルスパラメータ調整方法のフローチャート
【図１４】本発明の別の実施の形態３の記録パルスパラメータ調整方法のフローチャート
【図１５】本発明の別の実施の形態４の記録パルスパラメータ調整方法のフローチャート
【図１６】検出温度と記録パルス設定を記録したデータテーブルを示す図
【符号の説明】
【００９３】
１００    光ディスク記録再生装置
１０１    光ディスク
１０２    スピンドルモータ
１０３    回転制御回路
１０４    光ピックアップ
１０５    光学ヘッド
１０６    粗動モータ制御回路
１０７    イコライザ
１０８    Ａ／Ｄ変換器
１０９    ＰＬＬ
１１０    ２値化回路
１１１    エッジシフト検出回路
１１２    光ディスクコントローラ
１１３    パターン検出回路
１１４    トリガー検出回路
１１５    記録状態良否判定手段
１１６    パターン発生回路
１１７    記録補償回路
１１８    レーザ駆動回路
１１９    温度検出器
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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【図１４】
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【図１５】
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【図１６】
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