(57)【要約】【課題】  非線型歪みを、被測定物の特性に関連した特性に基づき補償する。【解決手段】  逆特性測定器４０は、信号源１０が生成した入力信号を被測定物３０に与えた結果、被測定物３０から出力される出力信号を測定する。さらに、入力信号に基づき、被測定物３０が理想的なものである場合に、被測定物３０から出力される理想信号を取得する。しかも、出力信号に対する理想信号の関係である逆特性を取得する。この逆特性を歪み補償器５０に与える。歪み補償器５０は、入力信号を逆特性によって変換したものを、被測定物３０に与える。これにより、被測定物３０から出力された信号は、被測定物３０による歪みが補償された理想信号となる。【選択図】  図１
2006084277.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
入力信号を被測定物に与えた結果、前記被測定物から出力される出力信号を測定する信号測定手段と、
前記入力信号に基づき、前記被測定物が理想的なものである場合に、前記被測定物から出力される理想信号を取得する理想信号取得手段と、
前記出力信号に対する前記理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得手段と、
を備えた逆特性測定装置。
【請求項２】
請求項１に記載の逆特性測定装置であって、
前記入力信号を測定する入力信号測定手段を備え、
前記理想信号取得手段は、測定された前記入力信号に基づき、前記理想信号を取得する、
逆特性測定装置。
【請求項３】
請求項１に記載の逆特性測定装置であって、
前記入力信号の波形を記録した波形記録手段の記録内容に基づき、前記入力信号が生成され、
前記理想信号取得手段は、前記波形記録手段に記録された前記波形に基づき、前記理想信号を取得する、
逆特性測定装置。
【請求項４】
波形を記録した波形記録手段の記録内容に基づき生成された入力信号を測定する入力信号測定手段と、
前記波形記録手段の記録内容を理想信号とする理想信号取得手段と、
測定された前記入力信号に対する前記理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得手段と、
を備えた逆特性測定装置。
【請求項５】
請求項１または２に記載の逆特性測定装置から前記逆特性を取得し、前記入力信号を前記逆特性によって変換したものを、前記被測定物に与える歪み補償装置。
【請求項６】
請求項３または４に記載の逆特性測定装置から前記逆特性を取得し、前記波形記録手段に記録された前記波形を前記逆特性によって変換する歪み補償装置であって、
前記歪み補償装置の変換結果に基づき、前記入力信号が生成される、
歪み補償装置。
【請求項７】
信号測定手段が、入力信号を被測定物に与えた結果、前記被測定物から出力される出力信号を測定する信号測定工程と、
理想信号取得手段が、前記入力信号に基づき、前記被測定物が理想的なものである場合に、前記被測定物から出力される理想信号を取得する理想信号取得工程と、
逆特性取得手段が、前記出力信号に対する前記理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得工程と、
を備えた逆特性測定方法。
【請求項８】
入力信号測定手段が、波形を記録した波形記録手段の記録内容に基づき生成された入力信号を測定する入力信号測定工程と、
理想信号取得手段が、前記波形記録手段の記録内容を理想信号とする理想信号取得工程と、
逆特性取得手段が、測定された前記入力信号に対する前記理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得工程と、
を備えた逆特性測定方法。
【請求項９】
入力信号を被測定物に与えた結果、前記被測定物から出力される出力信号を測定する信号測定処理と、
前記入力信号に基づき、前記被測定物が理想的なものである場合に、前記被測定物から出力される理想信号を取得する理想信号取得処理と、
前記出力信号に対する前記理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項１０】
波形を記録した波形記録手段の記録内容に基づき生成された入力信号を測定する入力信号測定処理と、
前記波形記録手段の記録内容を理想信号とする理想信号取得処理と、
測定された前記入力信号に対する前記理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラム。
【請求項１１】
入力信号を被測定物に与えた結果、前記被測定物から出力される出力信号を測定する信号測定処理と、
前記入力信号に基づき、前記被測定物が理想的なものである場合に、前記被測定物から出力される理想信号を取得する理想信号取得処理と、
前記出力信号に対する前記理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
【請求項１２】
波形を記録した波形記録手段の記録内容に基づき生成された入力信号を測定する入力信号測定処理と、
前記波形記録手段の記録内容を理想信号とする理想信号取得処理と、
測定された前記入力信号に対する前記理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、非線型歪みの補償に関する。
【背景技術】
【０００２】
増幅器に入力信号を与えると、増幅されて出力される。出力信号をｙ、入力信号をｘとすると、y = a1・xとなる。しかし、増幅器により増幅が行なわれる際に、歪みが発生し、出力信号ｙに付加されてしまう。この歪みは、非線型なものであり、a2・x2＋a3・x3＋a4・x4＋…というように表すことができる。この非線型な歪みを測定することが、従来より行なわれている（例えば、特許文献１を参照）。なお、このような非線型歪みは、増幅器に限らず、一般的な電子デバイスに見られるものである。
【０００３】
【特許文献１】特開平１１−１１８８７３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、非線型な歪みを測定できたとしても、非線型な歪みをどのように補償するかを決定することは容易ではない。
【０００５】
そこで、本発明は、非線型歪みを、被測定物の特性に関連した特性に基づき補償することを課題とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
本発明にかかる逆特性測定装置は、入力信号を被測定物に与えた結果、被測定物から出力される出力信号を測定する信号測定手段と、入力信号に基づき、被測定物が理想的なものである場合に、被測定物から出力される理想信号を取得する理想信号取得手段と、出力信号に対する理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得手段とを備えるように構成される。
【０００７】
上記のように構成された逆特性測定装置によれば、信号測定手段は、入力信号を被測定物に与えた結果、被測定物から出力される出力信号を測定する。理想信号取得手段は、入力信号に基づき、被測定物が理想的なものである場合に、被測定物から出力される理想信号を取得する。逆特性取得手段は、出力信号に対する理想信号の関係である逆特性を取得する。
【０００８】
また、本発明にかかる逆特性測定装置は、入力信号を測定する入力信号測定手段を備え、理想信号取得手段は、測定された入力信号に基づき、理想信号を取得するようにしてもよい。
【０００９】
また、本発明にかかる逆特性測定装置は、入力信号の波形を記録した波形記録手段の記録内容に基づき、入力信号が生成され、理想信号取得手段は、波形記録手段に記録された波形に基づき、理想信号を取得するようにしてもよい。
【００１０】
本発明にかかる逆特性測定装置は、波形を記録した波形記録手段の記録内容に基づき生成された入力信号を測定する入力信号測定手段と、波形記録手段の記録内容を理想信号とする理想信号取得手段と、測定された入力信号に対する理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得手段とを備えるように構成される。
【００１１】
上記のように構成された逆特性測定装置によれば、入力信号測定手段は、波形を記録した波形記録手段の記録内容に基づき生成された入力信号を測定する。理想信号取得手段は、波形記録手段の記録内容を理想信号とする。逆特性取得手段は、測定された入力信号に対する理想信号の関係である逆特性を取得する。
【００１２】
本発明にかかる歪み補償装置は、逆特性測定装置から逆特性を取得し、入力信号を逆特性によって変換したものを、被測定物に与えるように構成される。
【００１３】
本発明にかかる歪み補償装置は、逆特性測定装置から逆特性を取得し、波形記録手段に記録された波形を逆特性によって変換する歪み補償装置であって、歪み補償装置の変換結果に基づき、入力信号が生成されるように構成される。
【００１４】
本発明にかかる逆特性測定方法は、信号測定手段が、入力信号を被測定物に与えた結果、被測定物から出力される出力信号を測定する信号測定工程と、理想信号取得手段が、入力信号に基づき、被測定物が理想的なものである場合に、被測定物から出力される理想信号を取得する理想信号取得工程と、逆特性取得手段が、出力信号に対する理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得工程とを備えるように構成される。
【００１５】
本発明にかかる逆特性測定方法は、入力信号測定手段が、波形を記録した波形記録手段の記録内容に基づき生成された入力信号を測定する入力信号測定工程と、理想信号取得手段が、波形記録手段の記録内容を理想信号とする理想信号取得工程と、逆特性取得手段が、測定された入力信号に対する理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得工程とを備えるように構成される。
【００１６】
本発明は、入力信号を被測定物に与えた結果、被測定物から出力される出力信号を測定する信号測定処理と、入力信号に基づき、被測定物が理想的なものである場合に、被測定物から出力される理想信号を取得する理想信号取得処理と、出力信号に対する理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得処理とをコンピュータに実行させるためのプログラムである。
【００１７】
本発明は、波形を記録した波形記録手段の記録内容に基づき生成された入力信号を測定する入力信号測定処理と、波形記録手段の記録内容を理想信号とする理想信号取得処理と、測定された入力信号に対する理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得処理とをコンピュータに実行させるためのプログラムである。
【００１８】
本発明は、入力信号を被測定物に与えた結果、被測定物から出力される出力信号を測定する信号測定処理と、入力信号に基づき、被測定物が理想的なものである場合に、被測定物から出力される理想信号を取得する理想信号取得処理と、出力信号に対する理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得処理とをコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体である。
【００１９】
本発明は、波形を記録した波形記録手段の記録内容に基づき生成された入力信号を測定する入力信号測定処理と、波形記録手段の記録内容を理想信号とする理想信号取得処理と、測定された入力信号に対する理想信号の関係である逆特性を取得する逆特性取得処理とをコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体である。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２０】
以下、本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。
【００２１】
第一の実施形態
図１は、本発明の第一の実施形態にかかる送信システム１の構成を示す機能ブロック図である。送信システム１は、信号源１０、スイッチ２２、２４、２６、２８、被測定物(DUT : Device Under Test)３０、逆特性測定器４０、歪み補償器５０、アンテナ６０を備える。
【００２２】
信号源１０は、被測定物３０に与える入力信号を生成する。
【００２３】
スイッチ２２は、信号源１０の生成する入力信号を、歪み補償器５０またはスイッチ２４に導く。スイッチ２２は、入力端子２２ａ、出力端子２２ｐ、２２ｑを有する。入力端子２２ａは、信号源１０に接続されている。出力端子２２ｐは、スイッチ２４に接続されている。出力端子２２ｑは、歪み補償器５０に接続されている。スイッチ２２は、入力端子２２ａを、出力端子２２ｐまたは出力端子２２ｑに接続する。
【００２４】
スイッチ２４は、信号源１０の生成する入力信号を、被測定物３０またはスイッチ２８に導く。もしくは、スイッチ２４は、歪み補償器５０の出力を被測定物３０に導く。スイッチ２４は、入力端子２４ａ、２４ｂ、出力端子２４ｐ、２４ｑを有する。入力端子２４ａは、スイッチ２２の出力端子２２ｐに接続されている。入力端子２４ｂは、歪み補償器５０に接続されている。出力端子２４ｐは、スイッチ２８に接続されている。出力端子２４ｑは、被測定物３０に接続されている。スイッチ２４は、入力端子２４ａを、出力端子２４ｐまたは出力端子２４ｑに接続するか、あるいは非接続状態にする。もしくは、スイッチ２４は、入力端子２４ｂを出力端子２４ｑに接続するか、あるいは非接続状態にする。
【００２５】
スイッチ２６は、被測定物３０から出力される出力信号を、アンテナ６０またはスイッチ２８に導く。スイッチ２６は、入力端子２６ａ、出力端子２６ｐ、２６ｑを有する。入力端子２６ａは、被測定物３０に接続されている。出力端子２６ｐは、スイッチ２８に接続されている。出力端子２６ｑは、アンテナ６０に接続されている。スイッチ２６は、入力端子２６ａを、出力端子２６ｐまたは出力端子２６ｑに接続する。
【００２６】
スイッチ２８は、被測定物３０から出力される出力信号または信号源１０の生成する入力信号を、逆特性測定器４０に導く。スイッチ２８は、入力端子２８ａ、２８ｂ、出力端子２８ｐを有する。入力端子２８ａは、スイッチ２４の出力端子２４ｐに接続されている。入力端子２８ｂは、スイッチ２６の出力端子２６ｐに接続されている。出力端子２８ｐは、逆特性測定器４０に接続されている。スイッチ２８は、入力端子２８ａまたは入力端子２８ｂを、出力端子２８ｐに接続する。
【００２７】
被測定物(DUT : Device Under
Test)３０は、スイッチ２４の出力端子２４ｑから信号源１０の生成する入力信号または歪み補償器５０により歪み補償された入力信号を受け、スイッチ２６の入力端子２６ａに出力信号を出力する。被測定物３０は、例えばアンプである。
【００２８】
図２は、被測定物３０がアンプである場合の入力信号Xと出力信号Yとの関係を説明するための図である。Y = f(X)とすると、被測定物３０による歪みが出力信号Yに付加される。関数fは、例えば、AM/AM特性またはAM/PM特性を表すものである。関数fを８次までの偶関数(a0+a2X2+a4X4+a6X6+a8X8)とすればAM/AM特性を近似できる。関数fを９次までの多項式(a0+a1X+a2X2+…+a9X9)とすればAM/PM特性を近似できる。なお、関数fをその他の多項式や指数関数といった式にして、AM/AM特性またはAM/PM特性を表すようにすることもできる。ここで、被測定物３０が理想的なものである場合（すなわち歪みが出力信号Yに付加されない場合）に、被測定物３０から出力される信号を理想信号Ytという。Yt = g(X)とする。ここで、Y = h(Yt)とする。
【００２９】
図３は、関数f,g,hの関係を示す図である。図３から、Yt =h-1(Y) = g(X) =
g(f-1(Y))であることがわかる。
【００３０】
図４は、第一の実施形態にかかる逆特性測定器４０の構成を示す機能ブロック図である。逆特性測定器４０は、信号測定部４１、入力信号記録部４２ａ、歪み信号記録部４２ｂ、理想信号取得部４４、理想信号記録部４６、逆特性取得部４８を備える。逆特性測定器４０は、関数h-1すなわち、出力信号Yに対する理想信号Ytの関係を求めるためのものである。関数h-1を逆特性という。
【００３１】
信号測定部４１は、スイッチ２８の出力端子２８ｐから受けた信号を測定する。例えば、信号のパワーおよび位相を測定する。出力端子２８ｐから受けた信号は、被測定物３０から出力される出力信号または信号源１０の生成する入力信号である。よって、信号測定部４１は、出力信号または入力信号を測定する。
【００３２】
入力信号記録部４２ａは、信号測定部４１から入力信号の測定結果を受けて記録する。
【００３３】
歪み信号記録部４２ｂは、信号測定部４１から出力信号の測定結果を受けて記録する。出力信号は被測定物３０の影響を受けて歪んでいる。
【００３４】
理想信号取得部４４は、入力信号記録部４２ａに記録された入力信号を、理想的な被測定物３０に与えた場合に、理想的な被測定物３０から出力される理想信号を求める。例えば、理想信号Yt = g(X)である場合、入力信号記録部４２ａに記録された入力信号をXに代入すれば理想信号Ytを求められる。
【００３５】
理想信号記録部４６は、理想信号取得部４４が出力する理想信号Ytを受けて記録する。
【００３６】
逆特性取得部４８は、関数h-1すなわち、出力信号Yに対する理想信号Ytの関係を求める。関数h-1は、歪み補償器５０に与えられる。なお、出力信号Yは歪み信号記録部４２ｂから、理想信号Ytは理想信号記録部４６から取得する。
【００３７】
歪み補償器５０は、スイッチ２２の出力端子２２ｑから信号源１０の生成する入力信号Xを受けて、関数h-1により変換し、歪み補償された入力信号h-1(X)を、スイッチ２４の入力端子２４ｂに出力する。
【００３８】
アンテナ６０は、スイッチ２６の出力端子２６ｑから、被測定物３０の出力信号を受けて、発信する。
【００３９】
次に、図５〜８を参照して、第一の実施形態の動作を説明する。ただし、図５は、出力信号Yの測定の際のスイッチ２２、２４、２６、２８の接続態様を示す図である。図６は、入力信号Xの測定の際のスイッチ２２、２４、２６、２８の接続態様を示す図である。図７は、歪み補償器５０による歪み補償を行なう際のスイッチ２２、２４、２６、２８の接続態様を示す図である。
【００４０】
まず、図５を参照して、スイッチ２２の入力端子２２ａと出力端子２２ｐとを接続し、スイッチ２４の入力端子２４ａと出力端子２４ｑとを接続し、スイッチ２６の入力端子２６ａと出力端子２６ｐとを接続し、スイッチ２８の入力端子２８ｂと出力端子２８ｐとを接続する。
【００４１】
信号源１０の生成する入力信号Xは、スイッチ２２、２４を介して、被測定物３０に与えられる。被測定物３０は、出力信号Yを出力する。出力信号Yは、スイッチ２６、２８を介して、逆特性測定器４０に与えられる。逆特性測定器４０の信号測定部４１は、出力信号Yを測定し、測定結果が歪み信号記録部４２ｂに記録される。
【００４２】
次に、図６を参照して、スイッチ２２の入力端子２２ａと出力端子２２ｐとを接続し、スイッチ２４の入力端子２４ａと出力端子２４ｐとを接続し、スイッチ２８の入力端子２８ａと出力端子２８ｐとを接続する。
【００４３】
信号源１０の生成する入力信号Xは、スイッチ２２、２４、２８を介して、逆特性測定器４０に与えられる。逆特性測定器４０の信号測定部４１は、入力信号Xを測定し、測定結果が入力信号記録部４２ａに記録される。
【００４４】
入力信号記録部４２ａに記録された入力信号Xに基づき、理想信号取得部４４が、理想信号Ytを取得する（Yt = g(X)）。理想信号Ytは、理想信号記録部４６に記録される。
【００４５】
逆特性取得部４８は、歪み信号記録部４２ｂから出力信号Yを、理想信号記録部４６から理想信号Ytを取得する。逆特性取得部４８は、関数h-1すなわち、出力信号Yに対する理想信号Ytの関係を求める。関数h-1は、歪み補償器５０に与えられる。
【００４６】
さらに、図７を参照して、スイッチ２２の入力端子２２ａと出力端子２２ｑとを接続し、スイッチ２４の入力端子２４ｂと出力端子２４ｑとを接続し、スイッチ２６の入力端子２６ａと出力端子２６ｑとを接続する。
【００４７】
信号源１０の生成する入力信号Xは、スイッチ２２を介して、歪み補償器５０に与えられる。歪み補償器５０は、入力信号Xを受けて、関数h-1により変換し、歪み補償された入力信号h-1(X)を出力する。歪み補償された入力信号h-1(X)は、スイッチ２４を介して、被測定物３０に与えられる。被測定物３０は、歪み補償された入力信号h-1(X)を増幅して、信号Y’を出力する。信号Y’はアンテナ６０により発信される。
【００４８】
図８は、信号Y’を説明するための概念図である。歪み補償器５０は、歪み補償された入力信号h-1(X)を出力する。被測定物３０の出力する信号Y’ = f(h-1(X))である。ここで、h-1(Y) = g(f-1(Y))であることから、信号Y’ = f(g(f-1(X)))である。関数fと関数f-1が打ち消し合うので、信号Y’ =
g(X)となる。理想信号Yt = g(X)であるので、被測定物３０の出力する信号Y’は、理想信号Ytとなる。すなわち、歪み補償器５０によって、被測定物３０の出力する信号が理想信号Ytとなる。
【００４９】
第一の実施形態によれば、被測定物３０による非線型な歪みを、被測定物３０の特性に関連した逆特性h-1に基づき補償できる。すなわち、信号源１０の生成する入力信号Xを、歪み補償器５０が逆特性h-1に基づき変換してh-1(X)を出力する。h-1(X)を被測定物３０に与えると、理想信号Ytが出力される。
【００５０】
第二の実施形態
第二の実施形態は、信号源１０の生成する入力信号の波形が波形記録部８０に記録されていることなどが第一の実施形態と異なる。
【００５１】
図９は、本発明の第二の実施形態にかかる送信システム１の構成を示す機能ブロック図である。送信システム１は、信号源１０、被測定物３０、逆特性測定器４０、歪み補償器５０、アンテナ６０、スイッチ７２、７４、７６、波形記録部８０を備える。以下、第一の実施形態と同様な部分は同一の番号を付して説明を省略する。
【００５２】
被測定物３０およびアンテナ６０は第一の実施形態と同様であり、説明を省略する。
【００５３】
信号源１０は、被測定物３０に与える入力信号を生成する。ただし、入力信号の波形は、波形記録部８０の記録内容に基づくものである。より詳細には、信号源１０が生成する入力信号の波形が、波形記録部８０の記録内容である入力信号の波形または歪み補償器５０の出力する歪み補償された入力信号の波形である。
【００５４】
波形記録部８０は、入力信号の波形を記録する。例えば、波形記録部８０の記録内容は、AWG（Arbitrary
Waveform Generator）のデジタルデータである。
【００５５】
スイッチ７２は、波形記録部８０の記録内容を、歪み補償器５０またはスイッチ７４に導く。スイッチ７２は、入力端子７２ａ、出力端子７２ｐ、７２ｑを有する。入力端子７２ａは、波形記録部８０に接続されている。出力端子７２ｐは、スイッチ７４に接続されている。出力端子７２ｑは、歪み補償器５０に接続されている。スイッチ７２は、入力端子７２ａを、出力端子７２ｐまたは出力端子７２ｑに接続する。
【００５６】
スイッチ７４は、波形記録部８０の記録内容である入力信号の波形または歪み補償器５０の出力する歪み補償された入力信号の波形を、信号源１０に導く。スイッチ７４は、入力端子７４ａ、７４ｂ、出力端子７４ｐを有する。入力端子７４ａは、スイッチ７２の出力端子７２ｐに接続されている。入力端子７４ｂは、歪み補償器５０に接続されている。出力端子７４ｐは、信号源１０に接続されている。スイッチ７４は、入力端子７４ａまたは入力端子７４ｂを、出力端子７４ｐに接続する。
【００５７】
スイッチ７６は、被測定物３０から出力される出力信号を、アンテナ６０または逆特性測定器４０に導く。スイッチ７６は、入力端子７６ａ、出力端子７６ｐ、７６ｑを有する。入力端子７６ａは、被測定物３０に接続されている。出力端子７６ｐは、逆特性測定器４０に接続されている。出力端子７６ｑは、アンテナ６０に接続されている。スイッチ７６は、入力端子７６ａを、出力端子７６ｐまたは出力端子７６ｑに接続する。
【００５８】
図１０は、第二の実施形態にかかる逆特性測定器４０の構成を示す機能ブロック図である。逆特性測定器４０は、信号測定部４１、歪み信号記録部４２ｂ、理想信号取得部４４、理想信号記録部４６、逆特性取得部４８を備える。逆特性測定器４０は、関数h-1すなわち、出力信号Yに対する理想信号Ytの関係を求めるためのものである。
【００５９】
信号測定部４１は、スイッチ７６の出力端子７６ｐから受けた信号を測定する。例えば、信号のパワーおよび位相を測定する。出力端子７６ｐから受けた信号は、被測定物３０から出力される出力信号である。よって、信号測定部４１は、出力信号を測定する。
【００６０】
理想信号取得部４４は、波形記録部８０に記録された波形を読み出す。理想信号取得部４４は、波形記録部８０に記録された波形を有する入力信号を、理想的な被測定物３０に与えた場合に、理想的な被測定物３０から出力される理想信号を求める。例えば、理想信号Yt = g(X)である場合、波形記録部８０に記録された波形をXに代入すれば理想信号Ytを求められる。
【００６１】
歪み信号記録部４２ｂ、理想信号記録部４６および逆特性取得部４８は、第一の実施形態と同様であり、説明を省略する。
【００６２】
歪み補償器５０は、スイッチ７２の出力端子７２ｑから波形記録部８０に記録された波形を受けて、関数h-1により変換する。そして、関数h-1により変換された波形を、スイッチ７４の入力端子７４ｂに出力する。
【００６３】
次に、図１１および１２を参照して、第二の実施形態の動作を説明する。ただし、図１１は、出力信号Yの測定の際のスイッチ７２、７４、７６の接続態様を示す図である。図１２は、歪み補償器５０による歪み補償を行なう際のスイッチ７２、７４、７６の接続態様を示す図である。
【００６４】
まず、図１１を参照して、スイッチ７２の入力端子７２ａと出力端子７２ｐとを接続し、スイッチ７４の入力端子７４ａと出力端子７４ｐとを接続し、スイッチ７６の入力端子７６ａと出力端子７６ｐとを接続する。
【００６５】
波形記録部８０に記録された波形は、スイッチ７２、７４を介して、信号源１０に与えられる。信号源１０は、波形記録部８０に記録された波形を有する入力信号を生成する。信号源１０の生成する入力信号Xは、被測定物３０に与えられる。被測定物３０は、出力信号Yを出力する。出力信号Yは、スイッチ７６を介して、逆特性測定器４０に与えられる。逆特性測定器４０の信号測定部４１は、出力信号Yを測定し、測定結果が歪み信号記録部４２ｂに記録される。
【００６６】
次に、理想信号取得部４４は、波形記録部８０に記録された波形を読み出す。理想信号取得部４４は、波形記録部８０に記録された波形を有する入力信号を、理想的な被測定物３０に与えた場合に、理想的な被測定物３０から出力される理想信号Ytを求める。理想信号Ytは、理想信号記録部４６に記録される。
【００６７】
逆特性取得部４８は、歪み信号記録部４２ｂから出力信号Yを、理想信号記録部４６から理想信号Ytを取得する。逆特性取得部４８は、関数h-1すなわち、出力信号Yに対する理想信号Ytの関係を求める。関数h-1は、歪み補償器５０に与えられる。
【００６８】
さらに、図１２を参照して、スイッチ７２の入力端子７２ａと出力端子７２ｑとを接続し、スイッチ７４の入力端子７４ｂと出力端子７４ｐとを接続し、スイッチ７６の入力端子７６ａと出力端子７６ｑとを接続する。
【００６９】
波形記録部８０に記録された波形は、スイッチ７２を介して、歪み補償器５０に与えられる。歪み補償器５０は、波形を受けて関数h-1により変換する。関数h-1により変換された波形は、スイッチ７４を介して、信号源１０に与えられる。信号源１０は、関数h-1により変換された波形を有する入力信号を生成する。信号源１０の生成する入力信号は、h-1(X)であり、被測定物３０に与えられる。被測定物３０は、出力信号Y’を出力する。出力信号Y’は、スイッチ７６を介して、アンテナ６０により発信される。なお、信号Y’は、第一の実施形態と同様に、理想信号Ytとなる。
【００７０】
第二の実施形態によれば、第一の実施形態と同様に、被測定物３０による非線型な歪みを、被測定物３０の特性に関連した逆特性h-1に基づき補償できる。すなわち、波形記録部８０に記録された波形を、歪み補償器５０が逆特性h-1に基づき変換して、信号源１０に与える。すると、信号源１０の生成する入力信号はh-1(X)となる。h-1(X)を被測定物３０に与えると、理想信号Ytが出力される。
【００７１】
なお、第二の実施形態において、被測定物３０を取り外し、信号源１０とスイッチ７６の入力端子７６ａとを直接に接続してもよい。この場合、信号測定部４１は、信号源１０の生成する入力信号を測定する。逆特性取得部４８は、関数h-1すなわち、測定された入力信号に対する理想信号Ytの関係を求める。波形記録部８０に記録された波形を、歪み補償器５０が逆特性h-1に基づき変換して、信号源１０に与えることにより、信号源１０からアンテナ６０までの信号の伝送の際の歪みを補償できる。
【００７２】
また、上記の実施形態は、以下のようにして実現できる。ＣＰＵ、ハードディスク、メディア（ＣＤ−ＲＯＭなど）読み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装置に、上記の各部分を実現するプログラムを記録したメディアを読み取らせて、ハードディスクにインストールする。このような方法でも、上記の実施形態を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【００７３】
【図１】本発明の第一の実施形態にかかる送信システム１の構成を示す機能ブロック図である。
【図２】被測定物３０がアンプである場合の入力信号Xと出力信号Yとの関係を説明するための図である。
【図３】関数f,g,hの関係を示す図である。
【図４】第一の実施形態にかかる逆特性測定器４０の構成を示す機能ブロック図である。
【図５】出力信号Yの測定の際のスイッチ２２、２４、２６、２８の接続態様を示す図である。
【図６】入力信号Xの測定の際のスイッチ２２、２４、２６、２８の接続態様を示す図である。
【図７】歪み補償器５０による歪み補償を行なう際のスイッチ２２、２４、２６、２８の接続態様を示す図である。
【図８】信号Y’を説明するための概念図である。
【図９】本発明の第二の実施形態にかかる送信システム１の構成を示す機能ブロック図である。
【図１０】第二の実施形態にかかる逆特性測定器４０の構成を示す機能ブロック図である。
【図１１】出力信号Yの測定の際のスイッチ７２、７４、７６の接続態様を示す図である。
【図１２】歪み補償器５０による歪み補償を行なう際のスイッチ７２、７４、７６の接続態様を示す図である。
【符号の説明】
【００７４】
１  送信システム
１０  信号源
２２、２４、２６、２８  スイッチ
３０  被測定物(DUT : Device
Under Test)
４０  逆特性測定器
４１  信号測定部
４２ａ  入力信号記録部
４２ｂ  歪み信号記録部
４４  理想信号取得部
４６  理想信号記録部
４８  逆特性取得部
５０  歪み補償器
６０  アンテナ
７２、７４、７６  スイッチ
X  入力信号
Y  出力信号
Yt  理想信号
h-1  逆特性
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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