(57)【要約】      （修正有）【課題】設定の難しいＤＶＤ±ＲＷにおいても、特殊な記録パターンを用いることなく、使用する光ディスクに最適なライトストラテジを短時間で設定する。【解決手段】１Ｔストラテジであるときに、基準ライトストラテジ、基準ライトストラテジに対して３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に所定量変化させたストラテジで情報を記録し、再生する手段と、マーク長を測定する手段と、マーク長と各マークの理論長とを格納し、これらから各マークの固有伸縮量を算出する手段と、固有伸縮量から、基準ライトストラテジに対して、３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に所定量変化させたときの各マークの固有伸縮量の変化率を算出して、演算により各マークの分散を求め、この分散がそれぞれ最小となるようなライトストラテジを設定するライトストラテジ設定手段とを有する。【選択図】図２
2006164485.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
書き換え型ＤＶＤディスクにマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置であって、
１Ｔストラテジで情報の記録を行う場合に、基準ライトストラテジ、基準ライトストラテジに対して３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に所定量変化させたストラテジで情報を記録する記録手段と、
該それぞれのライトストラテジで記録された情報を再生する再生手段と、
該再生した情報から各マークのマーク長を測定するマーク長測定手段と、
該測定したマーク長と各マークの理論長とを格納する記憶手段と、
該格納したマーク長と各マークの理論長とから各マークの固有伸縮量を算出する固有伸縮量算出手段と、
該算出した固有伸縮量から、前記基準ライトストラテジに対して、３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に所定量変化させたときの各マークの固有伸縮量の変化率を算出するとともに、数１に基づいて、各マークの分散を求める分散算出手段と、
３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に変化させたときの該分散が、それぞれ最小となるようなライトストラテジを設定するライトストラテジ設定手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【数１】
2006164485.tif 000014
【請求項２】
書き換え型ＤＶＤディスクにマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置であって、
２Ｔストラテジで情報の記録を行う場合に、基準ライトストラテジ、基準ライトストラテジに対して偶数Ｔおよび奇数Ｔの最終パルス幅、最終パルスのオフセット、３Ｔパルス幅を個別に所定量変化させたライトストラテジで情報を記録する記録手段と、
該それぞれのライトストラテジで記録された情報を再生する再生手段と、
該再生した情報から偶数Ｔ、奇数Ｔ、３Ｔのマーク長を測定するマーク長測定手段と、
該測定したマーク長と各マークの理論長とを格納する記憶手段と、
該格納したマーク長と各マークの理論長とから偶数Ｔ、奇数Ｔ、３Ｔの固有伸縮量を算出し、最終パルス幅、最終パルスのオフセット、３Ｔパルス幅を変化させたときの各マークの固有伸縮量の変化率をそれぞれ算出する変化率算出手段と、
該算出した変化率から、各マークの固有伸縮量が所定値以下となるようにライトストラテジを設定するライトストラテジ設定手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
前記変化率算出手段が、前記基準ライトストラテジで記録したときの各マーク長と前記基準ライトストラテジに対して偶数Ｔおよび奇数Ｔの最終パルス幅、最終パルスのオフセットをそれぞれ所定量変化させたライトストラテジで記録したときの各マーク長とのデビエーションと各マークの存在確率とに基づいて、各マークの固有伸縮量を算出することを特徴とする請求項２に記載された光ディスク装置。
【請求項４】
前記ライトストラテジ設定手段により設定されたライトストラテジで記録したときの３Ｔマークの前後のスペース長を測定するスペース長測定手段と、
該測定したスペース長に基づいて、３Ｔマークの前後のスペース長が等しくなるように３Ｔマークのシフト量を設定するシフト量設定手段と、
をさらに有することを特徴とする請求項２または請求項３に記載された光ディスク装置。
【請求項５】
書き換え型ＤＶＤディスクにマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光情報記録方法であって、
１Ｔストラテジで情報の記録を行う場合に、基準ライトストラテジ、基準ライトストラテジに対して３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に所定量変化させたストラテジで情報を記録する記録するステップと、
該それぞれのライトストラテジで記録された情報を再生するステップと、
該再生した情報から各マークのマーク長を測定するステップと、
該測定したマーク長と各マークの理論長とを格納するステップと、
該格納したマーク長と各マークの理論長とから各マークの固有伸縮量を算出するステップと、
該算出した固有伸縮量から、前記基準ライトストラテジに対して、３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に所定量変化させたときの各マークの固有伸縮量の変化率を算出するとともに、数２に基づいて、各マークの分散を求めるステップと、
３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅をそれぞれ変化させたときの該分散が、それぞれ最小となるようなライトストラテジを設定するステップと、
を有することを特徴とする光情報記録方法。
【数２】
2006164485.tif 000015
【請求項６】
書き換え型ＤＶＤディスクにマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光情報記録方法であって、
２Ｔストラテジで情報の記録を行う場合に、基準ライトストラテジ、基準ライトストラテジに対して偶数Ｔおよび奇数Ｔの最終パルス幅、最終パルスのオフセット、３Ｔパルス幅をそれぞれ所定量変化させたストラテジで情報を記録するステップと、
該それぞれのライトストラテジで記録された情報を再生するステップと、
該再生した情報から偶数Ｔ、奇数Ｔ、３Ｔのマーク長を測定するステップと、
該測定したマーク長と各マークの理論長とを格納するステップと、
該格納したマーク長と各マークの理論長とから偶数Ｔ、奇数Ｔ、３Ｔの固有伸縮量を算出し、最終パルス幅、最終パルスのオフセット、３Ｔパルス幅を変化させたときの各マークの固有伸縮量の変化率をそれぞれ算出するステップと、
該算出した変化率から、各マークの固有伸縮量が所定値に近づくようなライトストラテジを設定するステップと、
を有することを特徴とする光情報記録方法。
【請求項７】
前記固有伸縮量の変化率を算出するステップにおいて、前記基準ライトストラテジで記録したときの各マーク長と前記基準ライトストラテジに対して偶数Ｔおよび奇数Ｔの最終パルス幅、最終パルスのオフセットをそれぞれ所定量変化させたライトストラテジで記録したときの各マーク長とのデビエーションと、各マークの存在確率に基づいて、各マークの固有伸縮量を算出することを特徴とする請求項６に記載された光情報記録方法。
【請求項８】
前記ライトストラテジを設定するステップにおいて設定されたライトストラテジで記録したときの３Ｔマークの前後のスペース長を測定するステップと、
該測定したスペース長に基づいて、３Ｔマークの前後のスペース長が等しくなるように３Ｔマークのシフト量を設定するステップと、
をさらに有することを特徴とする請求項６または請求項７に記載された光情報記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク、特に、ＤＶＤ±ＲＷに情報を記録し、再生する光ディスク装置および光情報記録方法に関する。        
【背景技術】
【０００２】
近年、情報通信技術の発達により、インターネット等が目覚しい勢いで普及したことにより、ネットワークを介して多くの情報がさかんにやり取りされている。こうした状況の中、近年、情報記録装置の分野において、ＣＤ−Ｒなどの追記型光ディスクやＣＤ−ＲＷなどの書き換え型光ディスクが記録媒体として注目を浴びており、最近では、レーザ光源としての半導体レーザの短波長化、高い開口数（Numerical Aperture）を有する高ＮＡ対物レンズによるスポット径の小径化、及び薄型基板の採用などにより、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭなどの大容量の光ディスクが情報記録装置において用いられている。
【０００３】
ＣＤ−Ｒ等への情報の記録は、ＰＣ（ＰＣ：Personal Computer）等から与えられた記録情報をＥＦＭ（ＥＦＭ：Eight to Fourteen Modulation)信号に変換して行われるが、使用する光ディスクを構成する色素記録層等の組成の違いから、記録媒体の蓄熱や冷却速度の不足に起因するマークの形成不良等の問題が生じるために、ＥＦＭ信号をそのまま記録しようとしても、所望のランドやスペースを形成することはできない。
そのため、基準となる記録波形に対して、使用する個々の光ディスク固有の記録パラメータ（以下、これをライトストラテジという。）を定めて良好な記録品質を維持する方式が採用されている。
【０００４】
このライトストラテジは、上記のように、光ディスクの色素、相変化材料、色素の膜厚あるいは溝の形状等ばかりでなく、記録速度とも密接な関係があることが知られている。一般に、代表的なライトストラテジは、ピットとランドの比率を可変する方法、記録パルスの先端部に付加パルスを加える方法、ピットとランドの組み合わせにより、パルスの立ち上がりあるいは立下り位置を変える方法、記録パルスをマルチパルス化する方法等がある。
【０００５】
ピットとランドの比率を可変する方法は、低速記録時にピットの長さを短くすることにより、強い記録パワーで短いパルスを光ディスクに照射することで、生成されるピットの先端および終端の形状を良くする作用がある。
記録パルスの先端部に付加パルスを加える方法は、レーザの照射が熱に変換されにくいピットの先端部に対して、付加的に記録パワーを与えることにより、形成されるピット先端部の形状を良くする作用がある。
【０００６】
ピットとランドの組み合わせにより、パルスの立ち上がりあるいは立下り位置を変える方法は、例えば、ひとつ前のピットの熱がランドを伝わって次のピットに影響を与えることから、前のランドの長さに応じて、ランドの終端位置を変えたり、記録ピットの熱が前方に伝わるために、その記録ピットの長さに応じて、ピットの先端位置を変えたり、記録ピットの熱が後方に伝わるために、その記録ピットの長さに応じて、ピットの終端位置を変えたり、ひとつ後ろのピットの熱が、後のランドを伝わって影響を及ぼすために、後ろのランドの長さに従って、ランドの先端位置を変えることにより、形成されるピットおよびランドの長さのばらつきを均一化できる作用がある。
【０００７】
記録パルスをマルチパルス化する方法は、ＣＤ−ＲＷ等の相変化型ディスクあるいはＤＶＤに用いられる方法である。相変化型ディスクに連続したパルスで情報の記録を行うと、自身の熱の作用によって記録したピットの先端部分を消去してしまうため、ピット間に冷却期間を設けたマルチパルスが用いられるのである。
【０００８】
このようなライトストラテジは、上述のように、使用する光ディスクを構成する色素記録層等の組成の違いや記録速度の違いにより、使用する光ディスクごとに最適化されて用いられるが、このライトストラテジの最適化を行うドライブメーカは、このために大変な時間と工数を要しているのが現状である。
また、市場には、ドライブメーカが把握しきれないほどの大量の種類におよぶ光ディスクが流通していることから、市場に流通しているすべての光ディスクについて予め適切なライトストラテジを用意することは不可能である。
【０００９】
このような問題に対して、光ディスクのテストエリアにおいて、複数のトラックにライトストラテジを変化させた複数の情報を記録し、再生ジッタが最小となるストラテジを選択する方法（例えば、特許文献１参照。）や特殊な記録パターンにより情報を記録した後に、マークとスペースとの組み合わせによるジッタ値あるいはデビエーション値が最も小さくなる組み合わせを求める方法（例えば、特許文献２参照。）が提案されている。
【特許文献１】特開２０００−３０２５４号公報
【特許文献２】特開２００３−３０８３７号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１０】
しかしながら、前者の方法では、最終的に選択されるライトストラテジが、設定したライトストラテジの中で最良のライトストラテジであるにすぎず、必ずしも、使用する光ディスクに最適なライトストラテジとは言えない。また、テストに要する記録領域だけトラックを使用してしまうという問題がある。
また、後者の方法では、特殊な記録パターンを使用する関係上、特定のマークあるいはスペースを変化させたときの他のマークあるいはスペースへの影響が十分考慮されないために、一度の記録再生テストにより、使用する光ディスクに最適なライトストラテジを設定することは極めて困難であるという問題がある。
また、ＤＶＤ±ＲＷへの情報の記録を考えると、ＤＶＤ±ＲＷでは、高速の記録動作時には、偶数Ｔと奇数Ｔとで異なる設定のライトストラテジを使用することを規格で推奨しており、さらに、ストラテジの設定パラメータ数が非常に多く、しかもその設定が困難であるという問題がある。
【００１１】
そこで、本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであって、特に設定の難しいＤＶＤ±ＲＷにおいても、特殊な記録パターンを用いることなく、使用する光ディスクに最適なライトストラテジを短時間で設定することができる光ディスク装置、光情報記録方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１２】
上記の課題を解決するために、本発明は以下の事項を提案している。
請求項１に係る発明は、書き換え型ＤＶＤディスクにマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置であって、１Ｔストラテジで情報の記録を行う場合に、基準ライトストラテジ、基準ライトストラテジに対して３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に所定量変化させたストラテジで情報を記録する記録手段と、該それぞれのライトストラテジで記録された情報を再生する再生手段と、該再生した情報から各マークのマーク長を測定するマーク長測定手段と、該測定したマーク長と各マークの理論長とを格納する記憶手段と、該格納したマーク長と各マークの理論長とから各マークの固有伸縮量を算出する固有伸縮量算出手段と、該算出した固有伸縮量から、前記基準ライトストラテジに対して、３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に所定量変化させたときの各マークの固有伸縮量の変化率を算出するとともに、数１に基づいて、各マークの分散を求める分散算出手段と、３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に変化させたときの該分散が、それぞれ最小となるようなライトストラテジを設定するライトストラテジ設定手段とを有することを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【００１３】
請求項５に係る発明は、書き換え型ＤＶＤディスクにマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光情報記録方法であって、１Ｔストラテジで情報の記録を行う場合に、基準ライトストラテジ、基準ライトストラテジに対して３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に所定量変化させたストラテジで情報を記録する記録するステップと、該それぞれのライトストラテジで記録された情報を再生するステップと、該再生した情報から各マークのマーク長を測定するステップと、該測定したマーク長と各マークの理論長とを格納するステップと、該格納したマーク長と各マークの理論長とから各マークの固有伸縮量を算出するステップと、該算出した固有伸縮量から、前記基準ライトストラテジに対して、３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に所定量変化させたときの各マークの固有伸縮量の変化率を算出するとともに、数２に基づいて、各マークの分散を求めるステップと、３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅をそれぞれ変化させたときの該分散が、それぞれ最小となるようなライトストラテジを設定するステップとを有することを特徴とする光情報記録方法を提案している。
【００１４】
これらの発明によれば、記録ストラテジが１Ｔストラテジであるときに、記録手段の作動により、基準ライトストラテジ、基準ライトストラテジに対して３Ｔのパルス幅を所定量変化させたストラテジ、４Ｔのパルス幅を所定量変化させたストラテジ、５−１４Ｔのパルス幅を所定量変化させたストラテジで情報の記録が実行される。再生手段は、それぞれのライトストラテジで記録された情報を再生し、マーク長測定手段は、再生した情報から各マークのマーク長を測定する。測定したマーク長と各マークの理論長とは、記憶手段に格納され、格納されたマーク長と各マークの理論長とから固有伸縮量算出手段の作動により、各マークの固有伸縮量が算出される。分散算出手段は、算出した固有伸縮量から、基準ライトストラテジに対して、３Ｔのパルス幅を所定量変化させたストラテジ、４Ｔのパルス幅を所定量変化させたストラテジ、５−１４Ｔのパルス幅を所定量変化させたストラテジで記録したときの各マークの固有伸縮量の変化率を算出するとともに、数１に基づいて、各マークの分散を求める。ライトストラテジ設定手段は、３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に変化させたときのそれぞれの分散が最小となるようなライトストラテジを設定する。
【００１５】
請求項２に係る発明は、書き換え型ＤＶＤディスクにマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光ディスク装置であって、１Ｔストラテジで情報の記録を行う場合に、基準ライトストラテジ、基準ライトストラテジに対して偶数Ｔおよび奇数Ｔの最終パルス幅、最終パルスのオフセット、３Ｔパルス幅を個別に所定量変化させたライトストラテジで情報を記録する記録手段と、該それぞれのライトストラテジで記録された情報を再生する再生手段と、該再生した情報から偶数Ｔ、奇数Ｔ、３Ｔのマーク長を測定するマーク長測定手段と、該測定したマーク長と各マークの理論長とを格納する記憶手段と、該格納したマーク長と各マークの理論長とから偶数Ｔ、奇数Ｔ、３Ｔの固有伸縮量を算出し、最終パルス幅、最終パルスのオフセット、３Ｔパルス幅を変化させたときの各マークの固有伸縮量の変化率をそれぞれ算出する変化率算出手段と、該算出した変化率から、各マークの固有伸縮量が所定値以下となるようにライトストラテジを設定するライトストラテジ設定手段とを有することを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【００１６】
請求項６に係る発明は、書き換え型ＤＶＤディスクにマークおよびスペースを形成して情報の記録あるいは再生を行う光情報記録方法であって、２Ｔストラテジで情報の記録を行う場合に、基準ライトストラテジ、基準ライトストラテジに対して偶数Ｔおよび奇数Ｔの最終パルス幅、最終パルスのオフセット、３Ｔパルス幅をそれぞれ所定量変化させたストラテジで情報を記録するステップと、該それぞれのライトストラテジで記録された情報を再生するステップと、該再生した情報から偶数Ｔ、奇数Ｔ、３Ｔのマーク長を測定するステップと、該測定したマーク長と各マークの理論長とを格納するステップと、該格納したマーク長と各マークの理論長とから偶数Ｔ、奇数Ｔ、３Ｔの固有伸縮量を算出し、最終パルス幅、最終パルスのオフセット、３Ｔパルス幅を変化させたときの各マークの固有伸縮量の変化率をそれぞれ算出するステップと、該算出した変化率から、各マークの固有伸縮量が所定値に近づくようなライトストラテジを設定するステップとを有することを特徴とする光情報記録方法を提案している。
【００１７】
これらの発明によれば、記録ストラテジが、２Ｔストラテジであるときに、基準ライトストラテジ、基準ライトストラテジに対して偶数Ｔおよび奇数Ｔの最終パルス幅を所定量変化させたライトストラテジ、最終パルスのオフセットを所定量変化させたライトストラテジ、３Ｔパルス幅を所定量変化させたライトストラテジで情報を記録する。再生手段は、それぞれのライトストラテジで記録された情報を再生し、マーク長測定手段は、再生した情報から偶数Ｔ、奇数Ｔ、３Ｔのマーク長を測定する。測定したマーク長と各マークの理論長とは、記憶手段に格納される。変化率算出手段は、格納したマーク長と各マークの理論長とから偶数Ｔ、奇数Ｔ、３Ｔの固有伸縮量を算出し、最終パルス幅、最終パルスのオフセット、３Ｔパルス幅を変化させたときの各マークの固有伸縮量の変化率をそれぞれ算出する。そして、ライトストラテジ設定手段は、算出した変化率から、各マークの固有伸縮量が所定値に近づくようなライトストラテジを設定する。
【００１８】
請求項３に係る発明は請求項２に記載された光ディスク装置について、前記変化率算出手段が、前記基準ライトストラテジで記録したときの各マーク長と前記基準ライトストラテジに対して偶数Ｔおよび奇数Ｔの最終パルス幅、最終パルスのオフセットをそれぞれ所定量変化させたライトストラテジで記録したときの各マーク長とのデビエーションと各マークの存在確率とに基づいて、各マークの固有伸縮量を算出することを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【００１９】
請求項７に係る発明は、請求項６に記載された光情報記録方法について、前記固有伸縮量の変化率を算出するステップにおいて、前記基準ライトストラテジで記録したときの各マーク長と前記基準ライトストラテジに対して偶数Ｔおよび奇数Ｔの最終パルス幅、最終パルスのオフセットをそれぞれ所定量変化させたライトストラテジで記録したときの各マーク長とのデビエーションと、各マークの存在確率に基づいて、各マークの固有伸縮量を算出することを特徴とする光情報記録方法を提案している。
【００２０】
これらの発明によれば、変化率算出手段が、基準ライトストラテジで記録したときの各マーク長と基準ライトストラテジに対して偶数Ｔおよび奇数Ｔの最終パルス幅を所定量変化させたライトストラテジおよび最終パルスのオフセットを所定量変化させたライトストラテジで記録したときの各マーク長とのデビエーションと各マークの存在確率とに基づいて、各マークの固有伸縮量を算出する。
【００２１】
請求項４に記載された発明は、請求項２または請求項３に記載された光ディスク装置について、前記ライトストラテジ設定手段により設定されたライトストラテジで記録したときの３Ｔマークの前後のスペース長を測定するスペース長測定手段と、該測定したスペース長に基づいて、３Ｔマークの前後のスペース長が等しくなるように３Ｔマークのシフト量を設定するシフト量設定手段とをさらに有することを特徴とする光ディスク装置を提案している。
【００２２】
請求項８に記載された発明は、請求項６または請求項７に記載された光記録方法について、前記ライトストラテジを設定するステップにおいて設定されたライトストラテジで記録したときの３Ｔマークの前後のスペース長を測定するステップと、該測定したスペース長に基づいて、３Ｔマークの前後のスペース長が等しくなるように３Ｔマークのシフト量を設定するステップとをさらに有することを特徴とする光情報記録方法を提案している。
【００２３】
これらの発明によれば、スペース長測定手段の作動により、ライトストラテジ設定手段により設定されたライトストラテジで記録したときの３Ｔマークの前後のスペース長を測定する。差分値算出手段は、測定したスペース長と理論長とを比較して、差分値を算出すし、シフト量設定手段が算出した差分値に基づいて、３Ｔマークの前後のスペース長の差分値が等しくなるように３Ｔマークのシフト量を設定する。
【発明の効果】
【００２４】
本発明によれば、特殊な記録パターンを用いることなく、他のマークおよびスペースの影響をも考慮した最適なライトストラテジを設定することができるという効果がある。
また、ＤＶＤ−ＲＷの規格書に準拠したライトストラテジの設定を容易に実行することができ、特に、偶数トラック、奇数トラック毎にライトパルスの設定条件を変更しなければならない２Ｔストラテジについても、容易にライトストラテジの設定を実行することができるという効果がある。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２５】
以下、本発明の実施形態に係る光ディスク装置について図１から図２１を参照して詳細に説明する。なお、本実施形態においては、特に、ＤＶＤ±ＲＷについてのライトストラテジの設定に関して説明する。
【００２６】
本発明の実施形態に係る光ディスク装置は、図１に示すように、光ディスク１と、光ピックアップ２と、ヘッドアンプ３と、データデコーダ４と、記録長検出部（マーク長測定手段、スペース長測定手段）５と、ＲＯＭ（記憶手段）６と、ＲＡＭ（記憶手段）７と、固有伸縮量算出部（固有伸縮量算出手段）８と、分散算出部（分散算出手段）９と、記録パルス列補正部（記録手段）１０と、制御部（変化率算出手段）１１と、ストラテジ設定部（ライトストラテジ設定手段）１２と、コントローラ１３と、データエンコーダ１４と、レーザ駆動部１５とから構成されている。なお、以下、記録された信号を再生し、再生した信号から得られる各マーク長の異なるストラテジごとの差をデビエーションといい、そのマーク固有の理論値からのズレ量を固有伸縮量という。
【００２７】
光ディスク１は、半導体レーザにより情報の記録、再生、消去を行える光情報記録媒体であり、例えば、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等がある。
光ピックアップ２は、図示しないレーザダイオード等のレーザ光源や、コリメータレンズ、フォーカスアクチュエータあるいはトラッキングアクチュエータとによって駆動される対物レンズ、偏光ビームスプリッタ、シリンドリカルレンズ等の光学部品、及びＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄの４つの領域に分割され、光を電気信号に変換する４分割あるいは２分割のフォトディテクタ（ＰＤ）あるいは記録再生時のレーザ出力をモニタするフロントモニタダイオード等を備えている。
【００２８】
ヘッドアンプ３は、光ディスク１からの反射光を検出し、検出した反射光より反射光量を演算して、４分割ＰＤの各領域への反射光量の総和を示すＲＦ信号を生成するとともに、光ピックアップ２の照射レーザの焦点ずれを検出した信号であるフォーカスエラー信号（ＦＥ）を非点収差法によって生成し、さらに光ピックアップ２の照射レーザのトラックずれを検出した信号であるトラッキングエラー信号（ＴＥ）をプッシュプル法によって生成する。
【００２９】
データデコーダ４は、ヘッドアンプ３において生成されたＲＦ信号からＥＦＭ信号を生成し、さらにこれを所望の形式の信号に変換してコントローラ１３に出力する。
記録長検出部５は、データデコーダ４からＥＦＭ信号を入力し、図示しない時間計測回路により、入力したＥＦＭ信号のパルス幅を測定する。本実施形態においては、基準ライトストラテジ、基準ライトストラテジに対して３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に所定量変化させたストラテジで記録された情報から各マークのマーク長等を測定する。
【００３０】
ＲＯＭ６は、書き換え不能の記憶装置であり、光ディスク装置全体を制御するための制御プログラムや基準ライトストラテジ、各マークおよびスペースの理論長あるいは各マークの存在確率等が記憶されている。ＲＡＭ７は書き換え可能な記憶装置であり、記録長検出部５から入力した記録長の測定結果、記録長の測定値と各マークおよびスペースの理論長とのデビエーション値、各マークおよびスペース固有の伸縮量等が一時的に記憶される。
【００３１】
固有伸縮量算出部８は、ＲＡＭ７内に記憶された記録長の測定値と各マークおよびスペースの理論長とから各マークの固有伸縮量を算出する。分散算出部９は、固有伸縮量算出部８で算出された固有伸縮量から様々なライトストラテジで情報を記録したときの各固有伸縮量の変化率を算出して、所定の演算式に基づいて、各マークの分散を算出する。
【００３２】
記録パルス列補正部１０は、制御部１１あるいはストラテジ設定部１２からライトストラテジあるいはパラメータを入力し、これに基づいて記録パルス列を形成し、レーザ駆動部１５に出力する。制御部１１は、光ディスク装置全体をＲＯＭ６内に格納した制御プログラムにしたがって光ディスクに対する情報の記録および再生動作に関する制御を行う。
【００３３】
また、本実施形態においては、最終パルス幅、最終パルスのオフセット、３Ｔパルス幅を変化させたときの各マークの固有伸縮量の変化率を算出したり、３Ｔマークの前後のスペース長が等しくなるように３Ｔマークのシフト量を設定する等の機能を有する。
【００３４】
ストラテジ設定部１２は、１Ｔストラテジの場合には、３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのパルス幅を個別に変化させたときの分散がそれぞれ最小となるようなライトストラテジを、２Ｔストラテジの場合には、各マークの固有伸縮量が所定値に近づくようなライトストラテジを設定し、これを記録パルス列補正部１０に出力する。
【００３５】
コントローラ１３は、記録信号をデータエンコーダ１４に供給し、また、データデコーダ４から記録信号の読み出す装置であり、データエンコーダ１４は、コントローラ１３からの記録信号をＥＦＭ信号等に変換して記録パルス列補正部１０に出力する。レーザ駆動部１５は、入力した記録パルスに応じたレーザダイオード駆動用のパルス信号を生成して、これを光ピックアップ２内の図示しない半導体レーザに供給する。
【００３６】
次に、図２を用いて、本実施形態に係る光情報記録方法について説明する。
光ディスク１に対する情報の記録動作が開始されると、制御部１１は、まず、記録ストラテジが１Ｔストラテジであるのか、２Ｔストラテジなのかを判断する（ステップ１０１）。ここで、１Ｔストラテジとは、ＤＶＤ±ＲＷにおいて、主に２倍速までの記録動作に用いられるストラテジであり、２Ｔストラテジとは、２倍速よりも速い高速記録動作において使用されるストラテジである。なお、各ストラテジの詳細については、後述する。
【００３７】
１Ｔストラテジで記録を行うときには、まず、基準のライトストラテジで情報を記録し、記録した情報を再生して各マークの記録長をＲＡＭ７に格納する（ステップ１０２）。さらに、基準ライトストラテジに対して、３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔのマーク幅を個別に所定量変更するような複数のライトストラテジにより情報を記録し、記録した情報を再生して各マークの記録長をＲＡＭ７に格納する（ステップ１０３）。なお、３Ｔおよび４Ｔを変化させたストラテジについては、３Ｔと４Ｔとを同時に変化させるストラテジを用いてもよい。この場合、ストラテジを設定するために記録する情報を低減することにより、記録容量を確保することができる。
【００３８】
制御部１１は、ＲＡＭ７にそれぞれ格納したデータを固有伸縮量算出部８に出力する。固有伸縮量算出部８では、ＲＡＭ７から供給される各マークの記録長に基づいて、各マークごとの固有伸縮量の変化率を算出する（ステップ１０４）。
【００３９】
次に、分散算出部９は、固有伸縮量算出部８で得られた各マークの固有伸縮量に基づいて、各マークの固有伸縮量の分散が最小となるようなストラテジを算出して、このストラテジを記録パルス列補正部１０に出力する（ステップ１０５）。
【００４０】
一方、２Ｔストラテジで記録を行うときには、まず、基準のライトストラテジで情報を記録し、記録した情報を再生して各マークの記録長をＲＡＭ７に格納する（ステップ１０６）。また、基準ライトストラテジに対して、最終パルス幅を所定量ずらしたライトストラテジにより情報を記録し、記録した情報を再生して各マークの記録長をＲＡＭ７に格納する（ステップ１０７）。続いて、基準ライトストラテジに対して、最終パルスのオフセットを所定量ずらしたライトストラテジにより情報を記録し、記録した情報を再生して各マークの記録長をＲＡＭ７に格納する（ステップ１０８）。さらに、基準ライトストラテジに対して、３Ｔのパルス幅を所定量ずらしたライトストラテジにより情報を記録し、記録した情報を再生して各マークの記録長をＲＡＭ７に格納する（ステップ１０９）。
【００４１】
制御部１１は、ＲＡＭ７にそれぞれ格納したデータを固有伸縮量算出部８に出力する。固有伸縮量算出部８では、ＲＡＭ７から供給される各マークの記録長に基づいて、各マークごとの固有伸縮量の変化率を算出する（ステップ１１０）。
【００４２】
次に、ストラテジ設定部１２は、固有伸縮量算出部８で得られた各マークの固有伸縮量に基づいて、各マークの固有伸縮量が所定値となるようなストラテジを設定する（ステップ１１１）。そして、設定されたライトストラテジを記録パルス列補正部１０に出力し、情報を記録した後、記録された情報を再生して（ステップ１１２）、３Ｔマークの前後のスペース長を測定するとともに（ステップ１１３）、前後のスペース長が等しくなるように、３Ｔのシフト量を設定する（ステップ１１４）。
【００４３】
以下、上記の処理内容を図面に基づいてさらに詳細に説明する。
ＤＶＤ−ＲＷディスクのストラテジには、上述のように、大きく分けて２つのストラテジが存在する。図３は、１Ｔストラテジ（図中、１ＴＷＳ）、２Ｔストラテジ（図中、２ＴＷＳ）により４倍速で情報のオーバーライトを繰り返し行ったときのジッタの変化の様子を示している。この図によれば、初期記録の時のジッタ値に比べて、オーバーライトを実行した時のジッタ値の方が悪化していることがよくわかる。特に、１回目のオーバーライト時のジッタ値の悪化度合いが極端に大きいことがわかる。
【００４４】
また、図４および図５は、初期記録と１回のオーバーライトにおいて、マルチパルス幅を変化させたときのジッタ値および各マークのデビエーションの変化を示している。この図からわかるように、初期記録と１回のオーバーライトでは、ジッタベストのポイントに違いがあることがわかる。
【００４５】
したがって、図３から図５に示される結果からみると、初期記録時よりもオーバーライト時の方が、記録品位に関する余裕度は小さいため、ライトストラテジに関する記録パラメータの設定は、オーバーライト時に最適な設定がよいことがわかる。しかし、これを実行するために、同じ記録動作を２回以上行って、ライトストラテジの設定を行うには多くの時間と手間とを必要とする。
【００４６】
そこで、こうした問題点を解消するためには、マルチパルス幅（図６のＴｍｐ）や最終オフパルス幅（図６のＴｃｌ）のようにオーバーライトの記録特性に大きな影響を与えるパラメータを優先して、ライトストラテジの設定を行えばよい。すなわち、Ｔｍｐ、Ｔｃｌは、１Ｔストラテジ、２Ｔストラテジで共通のパラメータであるため、図２で示した処理フローを実行する前に予め最適な値に設定しておく。具体的には例えば、５回目のオーバーライト時におけるジッタ値が最もよい値としておく。
【００４７】
次に、１Ｔストラテジ、２ストラテジについて説明する。
図６は、１Ｔストラテジの構成を示したものである。この図からわかるように、１Ｔストラテジとは、１Ｔサイクル内でマルチパルスを動作させるものであり、図中、Ｔｍｐは、マルチパルスの幅を、Ｔｃｌは、オフパルスの幅を示している。なお、これらマルチパルス幅、オフパルス幅は、すべて共通である。また、ＤＶＤ−ＲＷの規格書によれば、このマルチパルス幅、オフパルス幅を除いては、３Ｔ、４Ｔ、５−１４Ｔの各１ｓｔパルス幅のみしか可変できないことになっている。
【００４８】
図１０は、２Ｔストラテジの構成を示したものである。この図からわかるように、２Ｔストラテジとは、２Ｔサイクル内でマルチパルスを動作させるものであり、３Ｔ、偶数Ｔ、奇数Ｔのそれぞれについてストラテジの設定が可能となっている。図中、ｄＴ３は、３Ｔのシフト量を、Ｔ３は３Ｔのパルス幅を、３Ｔｃｌは３Ｔのオフパルス幅を、Ｔｍｐは、マルチパルスの幅を、ｅＴｄｌｐ1は偶数Ｔにおける最終パルスのシフト量を、Ｔｍｐ＋ｅＴｄｌｐ２は最終パルスのパルス幅を、ｅＴｃｌは最終パルスのオフパルス幅を、ｏＴｄｐ１は３Ｔを除く奇数Ｔにおける最終パルスのシフト量を、Ｔｍｏ＋ｏＴｄｌｐ２は最終パルスのパルス幅を、ｏＴｃｌは最終パルスのオフパルス幅を示しており、これらの値について設定を行うことができる。なお、これらマルチパルス幅、オフパルス幅は、すべて共通である。
【００４９】
上記のことを念頭に、まずは、１Ｔストラテジの設定方法について説明する。
図７は、上記のように、Ｔｍｐ、Ｔｃｌを最適値に設定した状態で１Ｔストラテジを用いて、２倍速で初期記録を行った場合に、３Ｔの１ｓｔパルス幅を可変して３Ｔマークの幅を変えたときの各マーク幅およびジッタの変化の様子を示したものである。図８は、同様に、Ｔｍｐ、Ｔｃｌを最適値に設定した状態で１Ｔストラテジを用いて、２倍速で初期記録を行った場合に、４Ｔの１ｓｔパルス幅を可変して４Ｔマークの幅を変えたときの各マーク幅およびジッタの変化の様子を示したものである。これらの図を見ると、ターゲットとするマーク、すなわち３Ｔマークあるいは４Ｔマークのデビエーションがゼロに近いポイントとジッタ値がベストとなるポイントとは若干のずれがあることがわかる。
【００５０】
一般に、記録したマークあるいはスペースの長さが理論長に一致させれば、ジッタ値は最良になるはずである。しかし、実際には、これだけでなくマークの前後に存在するスペース長のバランスについても考慮する必要がある。これを行う方法として、ＤＶＤ−Ｒの場合には、マークを前後にシフトする機能があったことから、この機能を用いることにより、こうした若干のずれを補正することができた。
【００５１】
しかし、ＤＶＤ−ＲＷにはこうした機能がない。そこで、数１に示すように、各マークのデビエーションと全マークのデビエーションの平均値および各マークの存在確率からデビエーションの分散を求め、この値が最小となるような各マーク幅を求める。なお、各マークの存在確率は、既知の値である。また、このような方法をとるのは、マークのデビエーションの分散が最も小さくなるポイントがジッタ最良のポイントと一致するためである（図２のステップ１０５に対応）。
【００５２】
【数１】
2006164485.tif 000003
【００５３】
具体的には、図９に示すように、存在確率の最も高い３Ｔマークについて、デビエーションの分散が最小となるような、３Ｔマーク幅を演算により求める（ステップ２０１）。なお、図７および図８からわかるように、各マークのデビエーションの変化には、線形性がある。したがって、３Ｔマークの１ｓｔパルス幅を２ポイントで変化させて、各マークのデビエーションを測定し、この値に基づいて直線を求めれば、３Ｔマークの１ｓｔパルス幅を変化させたときの各マークのデビエーションおよび全マークのデビエーションの平均値については、記録動作を行うことなく演算により求めることができる。すなわち、図２のステップ１０２およびステップ１０３における処理は、上記の各マークのデビエーションの変化を表す直線を求めるために行われている記録再生動作である。
【００５４】
次に、４Ｔマークに対して、デビエーションの分散が最小となるように、１ｓｔパルス幅を演算により求める（ステップ２０２）。このとき、３Ｔマークのデビエーションの分散を求め、この値が最小であるか否かを判断する。判断の結果、３Ｔマークのデビエーションの分散が最小でないときは、再び、最小となるように、１ｓｔパルス幅を求め、次いで、４Ｔマークに対して、デビエーションの分散が最小となるように、１ｓｔパルス幅を求める。一方で、３Ｔマークのデビエーションの分散が最小であるときは、５−１４Ｔマークのデビエーションの分散が最小となるように、１ｓｔパルス幅を求める処理に移る。
【００５５】
このように各マークの分散の追い込みをマークの存在確率が高い順番に処理するのは、存在確率が高いマークほど、その影響が他のマークに大きく作用することからである。したがって、こうした処理を行うことにより、短時間で、最適な分散を求めることができる。
【００５６】
次に、２Ｔストラテジの設定方法について説明する。
図１１は、２Ｔストラテジを用いて、４倍速で初期記録を行った場合に、偶数Ｔの最終パルスのオフセット量を変えたときの各マーク幅およびジッタの変化の様子を示したものである。図１２は、同様に、２Ｔストラテジを用いて、４倍速で初期記録を行った場合に、奇数Ｔの最終オフセットのオフセット量を変えたときの各マーク幅およびジッタの変化の様子を示したものである。
【００５７】
これらの図を見ると、偶数Ｔにおいては、４Ｔ、６Ｔ、８Ｔ、１０Ｔについての変化がほぼ線形の特性を示しており、奇数Ｔについては５Ｔ、７Ｔ、９Ｔ、１１Ｔについての変化がほぼ線形の特性を示していて、直線に近似することができる。すなわち、偶数Ｔの最終パルスのオフセット量および奇数Ｔの最終パルスのオフセット量をある２点で変化させることにより、各マークの変化率を求めることができる。この変化率を求めるために、図２のステップ１０６およびステップ１０８で取得したデータを用いる。さらに、近似したそれぞれの直線は、図１１では、偶数Ｔにおいて、図１２では奇数Ｔにおいて、デビエーションが接近するポイントがあることがわかる。このことは、最終パルスのオフセット量を変えることで、偶数Ｔだけ、あるいは奇数Ｔだけのデビエーションをある値に調整できることを示している。この具体的な処理は、図２のステップ１１０に相当する。
【００５８】
図１３は、２Ｔストラテジを用いて、４倍速で初期記録を行った場合に、偶数Ｔの最終パルスのパルス幅を変えたときの各マーク幅およびジッタの変化の様子を示したものである。図１４は、同様に、２Ｔストラテジを用いて、４倍速で初期記録を行った場合に、奇数Ｔの最終パルスのパルス幅を変えたときの各マーク幅およびジッタの変化の様子を示したものである。これらの図を見ると、どちらの図もデビエーションの変化に関して線形性が確認できる。したがって、偶数Ｔの最終パルス幅および奇数Ｔの最終パルス幅をある２点で変化させることにより、各マークの変化率を求めることができる。この変化率を求めるために、図２のステップ１０６およびステップ１０７で取得したデータを用いる。
【００５９】
また、図１１および図１２に示したように、最終パルスのオフセットを変化させた場合に比べて、偶数Ｔ、奇数Ｔ内の傾きにばらつきが少ない。したがって、上述のように、最終パルスのオフセット量を変えることで、偶数Ｔ、奇数Ｔのデビエーションがある同じ値になるところを定めて、その後、最終パルスのパルス幅を調整することで、偶数Ｔおよび奇数Ｔのデビエーションを所定値に近づけることができる。この具体的な処理は、図２のステップ１１０に相当する。
【００６０】
図１５は、２Ｔストラテジを用いて、４倍速で初期記録を行った場合に、３Ｔパルス幅のみを変化させたときの各マーク幅およびジッタの変化の様子を示したものである。この図を見ると、最終パルス幅を変化させたときと同様に、偶数Ｔ、奇数Ｔ内の傾きにばらつきが少ないことがわかる。したがって、３Ｔパルス幅をある２点で変化させることにより、各マークの変化率を求めることができる。この変化率を求めるために、図２のステップ１０６およびステップ１０９で取得したデータを用いる。
【００６１】
以上、これらのことから、偶数Ｔ、奇数Ｔの最終パルスのオフセットおよびパルス幅と３Ｔパルスのパルス幅を交互に変化させることにより、各マークのデビエーションをすべて所定値に近づけることができる。すなわち、最終パルスのオフセットを調整することにより、偶数Ｔおよび奇数Ｔの内部のばらつきを低減させるために偶数Ｔおよび奇数Ｔのデビエーションをある値に集約させ、３Ｔおよび最終パルスのパルス幅を調整することにより各マークのデビエーションを所定値に近づける。この具体的な処理は、図２のステップ１１１に相当する。
【００６２】
具体的には、図１６に示すように、まず、他のマークに与える影響度が大きい存在確率の最も高い３Ｔマークの設定を行う。この設定は、ＲＡＭ７内に格納された基準ライトストラテジで情報を記録し、記録した情報を再生して測定した３Ｔマークの記録長と基準ライトストラテジに対して、３Ｔのパルス幅を所定量ずらしたライトストラテジにより情報を記録し、記録した情報を再生して測定した３Ｔマークの記録長およびＲＯＭ６内に格納された３Ｔマークの理論長からそれぞれのデビエーションを算出し、得られた２つのデビエーションから直線を求め、３Ｔの固有伸縮量Ｋ（３Ｔ）を求める。直線が求められると、この直線から３Ｔマークのデビエーションが所定値に最も近くなる３Ｔパルス幅を設定する（ステップ３０１）。
【００６３】
次に、ＲＡＭ７内に格納された基準ライトストラテジで情報を記録し、記録した情報を再生して測定した偶数Ｔマークの記録長と、基準ライトストラテジに対して、最終パルスオフセットを所定量ずらしたライトストラテジにより情報を記録し、記録した情報を再生して測定した各偶数Ｔマークの記録長および各偶数Ｔマークの理論長からそれぞれのデビエーションを算出し、各偶数Ｔについて、得られた２つのデビエーションから直線を求める。各偶数Ｔについてデビエーションの変化を示す直線が求まると、これらの直線から各偶数Ｔのデビエーションのばらつきが最小となる偶数Ｔの最終パルスのオフセット量を設定する（ステップ３０２）。
【００６４】
このとき、３Ｔマークのデビエーションを確認し、この値がＫ（３Ｔ）以下であるか否かを判断する。判断の結果、３ＴマークのデビエーションがＫ（３Ｔ）以下でないときは、再び、Ｋ（３Ｔ）以下となるように、３Ｔマークのパルス幅を設定し、次いで、偶数Ｔに対して、各マークのデビエーションのばらつきが最小となるように、偶数Ｔの最終パルスのオフセット量を再設定する。一方で、３ＴマークのデビエーションがＫ（３Ｔ）以下であるときには、ステップ３０３の処理に移行する。
【００６５】
ステップ３０３では、ＲＡＭ７内に格納された基準ライトストラテジで情報を記録し、記録した情報を再生して測定した偶数Ｔマークの記録長と、基準ライトストラテジに対して、最終パルス幅を所定量ずらしたライトストラテジにより情報を記録し、記録した情報を再生して測定した各偶数Ｔマークの記録長および各偶数Ｔマークの理論長からそれぞれのデビエーションを算出し、各偶数Ｔについて、得られた２つのデビエーションから直線を求める。そして、各偶数Ｔについてデビエーションの変化を示す直線を求め、その固有伸縮量Ｋ（ｍＴ）を求めると、これらの直線から各偶数ＴのデビエーションがＫ（ｍＴ）以下となる偶数Ｔの最終パルス幅を設定する（ステップ３０３）。
【００６６】
このとき、３ＴマークのデビエーションがＫ（３Ｔ）以下であるか否か、偶数Ｔの各マークのデビエーションのばらつきが最小であるか否かが判断され、いずれかがすでに設定した状態からずれている場合には、再設定を行う処理を実行する。一方で、３ＴマークのデビエーションがＫ（３Ｔ）以下であり、偶数Ｔ各マークのデビエーションのばらつきが最小である場合には、ステップ３０４の処理に移行する。
【００６７】
ステップ３０４では、ＲＡＭ７内に格納された基準ライトストラテジで情報を記録し、記録した情報を再生して測定した奇数Ｔマークの記録長と、基準ライトストラテジに対して、最終パルスオフセットを所定量ずらしたライトストラテジにより情報を記録し、記録した情報を再生して測定した各奇数Ｔマークの記録長および各奇数Ｔマークの理論長からそれぞれのデビエーションを算出し、各奇数Ｔについて、得られた２つのデビエーションから直線を求める。各奇数Ｔについてデビエーションの変化を示す直線が求まると、これらの直線から各奇数Ｔのデビエーションのばらつきが最小となる奇数Ｔの最終パルスのオフセット量を設定する（ステップ３０４）。
【００６８】
このとき、３ＴマークのデビエーションがＫ（３Ｔ）以下であるか否か、偶数Ｔ各マークのデビエーションのばらつきが最小であるか否か、偶数Ｔの各マークのデビエーションがＫ（ｍＴ）以下であるか否かが判断され、いずれかがすでに設定した状態からずれている場合には、再設定を行う処理を実行する。一方で、３ＴマークのデビエーションがＫ（３Ｔ）以下であり、偶数Ｔ各マークのデビエーションのばらつきが最小であり、偶数Ｔの各マークのデビエーションがＫ（ｍＴ）以下である場合には、ステップ３０５の処理に移行する。
【００６９】
ステップ３０５では、ＲＡＭ７内に格納された基準ライトストラテジで情報を記録し、記録した情報を再生して測定した奇数Ｔマークの記録長と、基準ライトストラテジに対して、最終パルス幅を所定量ずらしたライトストラテジにより情報を記録し、記録した情報を再生して測定した各奇数Ｔマークの記録長および各奇数Ｔマークの理論長からそれぞれのデビエーションを算出し、各奇数Ｔについて、得られた２つのデビエーションから直線を求め、その固有伸縮量Ｋ（ｎＴ）を求める。各奇数Ｔについてデビエーションの変化を示す直線が求まると、これらの直線から各奇数ＴのデビエーションがＫ（ｎＴ）以下となる奇数Ｔの最終パルス幅を設定する（ステップ３０５）。
【００７０】
このとき、３ＴマークのデビエーションがＫ（３Ｔ）以下であるか否か、偶数Ｔ各マークのデビエーションのばらつきが最小であるか否か、偶数Ｔの各マークのデビエーションがＫ（ｍＴ）以下であるか否か、奇数Ｔ各マークのデビエーションのばらつきが最小であるか否かが判断され、いずれかがすでに設定した状態からずれている場合には、再設定を行う処理を実行する。一方で、３ＴマークのデビエーションがＫ（３Ｔ）以下であり、偶数Ｔ各マークのデビエーションのばらつきが最小であり、偶数Ｔの各マークのデビエーションがＫ（ｍＴ）以下であり、奇数Ｔ各マークのデビエーションのばらつきが最小である場合には、すべての設定処理を終了する。
【００７１】
なお、上記では、各パラメータの設定に関して、１）基準ライトストラテジ、２）基準ライトストラテジに対して偶数Ｔの最終パルスオフセットを変化させたストラテジ、３）基準ライトストラテジに対して偶数Ｔの最終パルス幅を変化させたストラテジ、４）基準ライトストラテジに対して奇数Ｔの最終パルスオフセットを変化させたストラテジ、５）基準ライトストラテジに対して奇数Ｔの最終パルス幅を変化させたストラテジ、の５種類の記録を行う例について説明したが、上記の方法では、限りあるディスクの記録容量をいたずらに消費してしまう問題がある。そこで、本実施形態においては、最終パルス幅および最終パルスオフセットを偶数Ｔ、奇数Ｔで同時に変化されたストラテジで情報を記録し、これらの情報から、上記の方法と同様のデータを得る方法を提案している。
【００７２】
この方法について、以下、図１７および図１８を用いて説明する。
図１７（ａ）は、３Ｔから１４Ｔのマークについて、１）基準ライトストラテジで記録再生を行ったときのデビエーション（図中、Ｒｅｆ）、２）基準ライトストラテジに対して偶数Ｔの最終パルス幅を変化させたストラテジで記録再生を行ったときのデビエーション（図中、ｅＴｄｌｐ1）、３）基準ライトストラテジに対して奇数Ｔの最終パルス幅を変化させたストラテジで記録再生を行ったときのデビエーション（図中、ｏＴｄｌｐ1）、４）基準ライトストラテジに対して偶数Ｔおよび奇数Ｔの最終パルス幅を同時に変化させたストラテジで記録再生を行ったときのデビエーション（図中、ｅ−ｏＴｄｌｐ1）を示している。
【００７３】
図１７（ｂ）は、図１７（ａ）中、ＲｅｆとｅＴｄｌｐ1、ｏＴｄｌｐ1、ｅ−ｏＴｄｌｐ1との差を２で割ったものであり、図１７（ｃ）のｅ（４Ｔ）、ｅ（６Ｔ）・・・ｅ（ｍＴ）およびｏ（５Ｔ）、ｏ（７Ｔ）・・・ｏ（ｎＴ）は、それぞれ偶数パルス、奇数パルスが最小分解能分だけ変化したときの変化率（固有伸縮量）を示しており、Δ３Ｔ、Δ４Ｔ、・・・、ΔｍＴは、偶数Ｔおよび奇数Ｔを同時に変化させたときの差分値を示している。なお、図１７（ｂ）で差を２で割ったのは、図１７（ａ）では、パルスの変化率を最小分解能の２倍としたために、図１７（ｂ）では、最小分解能分変化させた場合のデビエーションを表すためである。また、ライトストラテジの設定を行うＬＳＩは、所定のクロックをベースに動作していることから、ライトストラテジの変更もアナログ的に連続して変化させることは不可能であり、１クロックを最小の変化量とする離散的な変更を行う。ここでは、この最小の変化量を最小分解能という。
【００７４】
さらに、偶数パルスのみ、あるいは奇数パルスのみを変化させたときの変動量の総和をそれぞれＥ（Ｔ）、Ｏ（Ｔ）とする。なお、このＥ（Ｔ）、Ｏ（Ｔ）は、数２、数３のように各マークの固有伸縮量に、その存在確率を掛け合わせたものの和として表すことができる。また、計算を単純化するために、偶数Ｔ、奇数Ｔ（但し、３Ｔを除く。）の存在確率の和をそれぞれ、数４および数５のように、Ｒ（ｅ）、Ｒ（ｏ）とする。
【００７５】
【数２】
2006164485.tif 000004
【００７６】
【数３】
2006164485.tif 000005
【００７７】
【数４】
2006164485.tif 000006
【００７８】
【数５】
2006164485.tif 000007
【００７９】
図１７（ｂ）において、偶数、奇数パルスを同時に変化させた時の３Ｔマークの変化率は、偶数パルスと奇数パルスの変化量による反動と考えられる。これを数式で表すと、数６のようになる。
【００８０】
【数６】
2006164485.tif 000008
【００８１】
また、偶数Ｔについては、偶数Ｔ自身の変化量に奇数Ｔの影響が付加されたものと考えることができるため、偶数Ｔの変化量については、以下、数７のように表すことができる。
【００８２】
【数７】
2006164485.tif 000009
【００８３】
さらに、奇数Ｔの変化量についても、数８のように表すことができる。
【００８４】
【数８】
2006164485.tif 000010
【００８５】
ここで、数６から数８を用いて、各マークの固有伸縮量ｅ（ｍＴ）、ｏ（ｎＴ）を求めると、数９のようになる。
【００８６】
【数９】
2006164485.tif 000011
【００８７】
なお、数９において、Ｋｏは数１０のように、Ｋｅは数１１のように表される。
【００８８】
【数１０】
2006164485.tif 000012
【００８９】
【数１１】
2006164485.tif 000013
【００９０】
図１８は、偶数Ｔパルスおよび奇数Ｔパルスを単独で変化させた場合と、偶数Ｔパルスおよび奇数Ｔパルスを同時に変化させ、上記の演算式を用いて、各マークの変化量を演算した場合を示している。この結果をみると、両者の結果は、ほぼ一致することが確認できる。なお、Ｔの値が大きくなるとデータ数が少ないために、値のばらつきが大きくなる。そのため、Ｔの値が大きい部分に関しては、加重平均値を用いている。
【００９１】
図１９は、３Ｔマークの前後のスペース長とジッタの関係を示したものである。この図からわかるように、前のスペース（図中、Ｐｒｅｖｉｏｕｓ  Ｓｐａｃｅ）長と後のスペース（図中、Ｎｅｘｔ  Ｓｐａｃｅ）長とが一致するポイントがほぼジッタ最良のポイントであることがわかる。このことにより、２Ｔストラテジの設定後に、３Ｔマーク幅を固定した状態で、その前後のスペース長を等しくするように、３Ｔマークをシフトすることにより、ストラテジの最適化を図ることができる。この具体的な処理は、図２のステップ１１３、１１４に相当する。
【００９２】
図２０は、メディアＡに２Ｔストラテジを用いて、４倍速で情報を記録した場合の再生ジッタとβ値を、図２１は、メディアＢに２Ｔストラテジを用いて、４倍速で情報を記録した場合の再生ジッタとβ値を示している。図２０および図２１から、本発明のライトストラテジは、マニュアルで設定したライトストラテジと同等以上の効果があることがわかる。
【００９３】
以上、図面を参照して本発明の実施の形態について詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
【図面の簡単な説明】
【００９４】
【図１】光ディスク装置の構成図である。
【図２】本実施形態の処理フローである。
【図３】ＤＶＤ−ＲＷのオーバーライト特性を示す図である。
【図４】マルチパルス幅のみを変化させたときの特性を示す図である。
【図５】マルチパルス幅のみを変化させたときの特性を示す図である。
【図６】１Ｔストラテジの構成を示す図である。
【図７】１Ｔストラテジにおいて、３Ｔの１ｓｔパルス幅を可変したときの特性を示す図である。
【図８】１Ｔストラテジにおいて、４Ｔの１ｓｔパルス幅を可変したときの特性を示す図である。
【図９】１Ｔストラテジにおける調整手順を示す図である。
【図１０】２Ｔストラテジの構成を示す図である。
【図１１】２Ｔストラテジにおいて、偶数Ｔの最終パルスのオフセット量を変えたときの特性を示す図である。
【図１２】２Ｔストラテジにおいて、奇数Ｔの最終パルスのオフセット量を変えたときの特性を示す図である。
【図１３】２Ｔストラテジにおいて、偶数Ｔの最終パルス幅を変えたときの特性を示す図である。
【図１４】２Ｔストラテジにおいて、奇数Ｔの最終パルス幅を変えたときの特性を示す図である。
【図１５】２Ｔストラテジにおいて、３Ｔパルス幅のみを変えたときの特性を示す図である。
【図１６】２Ｔストラテジにおける調整手順を示す図である。
【図１７】デビエーションデータを示す図である。
【図１８】本実施形態の効果を示す図である。
【図１９】３Ｔをシフトした場合の特性を示す図である。
【図２０】本発明の効果を示す図である。
【図２１】本発明の効果を示す図である。
【符号の説明】
【００９５】
１・・・光ディスク、２・・・光ピックアップ、３・・・ヘッドアンプ、４・・・データデコーダ、５・・・記録長検出部（マーク長測定手段、スペース長測定手段）、６・・・ＲＯＭ（記憶手段）、７・・・ＲＡＭ（記憶手段）、８・・・固有伸縮量算出部（固有伸縮量算出手段）、９・・・分散算出部（分散算出手段）、１０・・・記録パルス列補正部（記録手段）、１１・・・制御部（変化率算出手段）、１２・・・ストラテジ設定部（ライトストラテジ設定手段）、１３・・・コントローラ、１４・・・データエンコーダ、１５・・・レーザ駆動部
【図１】
2006164485.tif 000016
【図２】
2006164485.tif 000017
【図３】
2006164485.tif 000018
【図４】
2006164485.tif 000019
【図５】
2006164485.tif 000020
【図６】
2006164485.tif 000021
【図７】
2006164485.tif 000022
【図８】
2006164485.tif 000023
【図９】
2006164485.tif 000024
【図１０】
2006164485.tif 000025
【図１１】
2006164485.tif 000026
【図１２】
2006164485.tif 000027
【図１３】
2006164485.tif 000028
【図１４】
2006164485.tif 000029
【図１５】
2006164485.tif 000030
【図１６】
2006164485.tif 000031
【図１７】
2006164485.tif 000032
【図１８】
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【図１９】
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【図２０】
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【図２１】
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