(57)【要約】【課題】自己録再検査調整において、選別が容易で、未記録領域を必ず使用できる検査調整用光ディスクと、それを用いた光ディスク装置の検査調整方法を提供する。【解決手段】検査調整用光ディスク１は、ディスク検査領域のアドレス情報と光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を持った情報記録領域２を備えており、光ディスク装置は情報記録領域２のアドレス情報をから光ディスク装置検査領域の未記録領域を計算することができ、常に未記録領域上で自己録再検査調整が出来る。【選択図】図１
2006228303.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記録再生領域に信号を記録し、その記録信号を再生して記録品質を検査調整するための検査調整用ディスクであって、
光ディスク装置の記録品質を検査調整する光ディスク装置検査調整領域と、
事前に検査用ディスクとしての記録再生特性を検査してある少なくとも1つのディスク検査領域と、
前記光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報と前記ディスク検査領域のアドレス情報とを持つ情報記録領域とを備えたことを特徴とする検査調整用光ディスク。
【請求項２】
前記情報記録領域は、前記光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を管理する第1の情報記録領域と前記ディスク検査領域のアドレス情報を管理する第2の情報記録領域とを備えたことを特徴とする請求項１記載の検査調整用光ディスク。
【請求項３】
前記第1の情報記録領域は記録再生領域の内周にあり、前記第2の情報記録領域は前記第1の情報記録領域の外周側に配置したことを特徴とする請求項2記載の検査調整用光ディスク。
【請求項４】
請求項１から３の検査調整用光ディスクを用いる光ディスク装置の検査調整方法であって、
光ディスク装置は、前記検査調整用光ディスクの情報記録領域からの光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読取る読取り手段と、
前記読取り手段が読取った各々の情報から光ディスク装置検査領域の未記録領域を計算する計算手段と、
前記計算手段の計算結果に基づく未記録領域において記録再生を行って記録品位を検査調整する検査手段と、
前記検査調整用光ディスクの情報記録領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を書き換える書き換え手段とを持ち、
前記読取り手段で前記検査調整用光ディスクの情報領域から光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読取り、
読み取った情報から前記計算手段により未記録領域を計算し、
前記検査手段は光ディスク装置検査領域の未記録領域で記録再生を行って記録品位を検査調整し、
前記書き換え手段で前記検査調整用光ディスクの情報記録領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を書き換えることを特徴とする光ディスク装置の検査調整方法。
【請求項５】
前記光ディスク装置は前記検査調整用光ディスクの情報記録領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を記憶する記憶手段と、
検査調整のたびに検査調整用光ディスクの情報記録領域より読み取られたアドレス情報と光ディスク装置に記憶してあるアドレス情報とを比較する比較手段とをさらに持ち、
前記検査手段は前記比較手段が比較したアドレス情報が異なる時はある一定量だけアドレス情報をずらし光ディスク装置検査領域の未記録領域に記録品位を検査調整する信号を記録再生し、前記書き換え手段はずらした一定量のアドレス情報を記録済みアドレス情報として前記検査調整用光ディスクの情報記録領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を書き換えることを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置の検査調整方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＤＶＤ−ＲＡＭ、Ｂｌｕ−ｒａｙディスク等を用いる光ディスク装置の検査調整に用いる検査調整用光ディスクとその検査調整方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年Ｂｌｕ−ｒａｙ光ディスク装置のように相変化記録メディアを用いて高密度記録を行いハイビジョン映像を２時間録画再生出来る技術が出てきている。このような高密度記録ではディスクに書かれるデータビット長の最小長は０．１６ｕｍｍにもなり、ＣＤの最小長０．９ｕｍｍ、ＤＶＤ−ＲＡＭの０．２４ｕｍｍに比べ非常に小さいものになってきている。
【０００３】
このような微小ビット長信号を機器間の互換性を保ちながら記録するためには、記録学習で学習調整されるレーザーパワーのライトストラテジーの特性が非常に重要な要素となり、製品出荷時の重要検査対象となる。これは一般には記録再生（自己録再）のジッターで評価される。しかしながら相変化型高密度記録ディスクの記録特性は同一記録領域に重ね書き記録する回数で自己録再のジッター値が大きく変わり、例えば初期値８．０%のジッター値が2回目の重ねがきで１０％になり３回目で９．５％に下がり数回のオーバーライトで安定な８．５％になるようなことが知られている。これは主に相変化記録ディスクの記録膜特性で決まりディスクのロット間ばらつきも大きい。このような特性のディスクを使用して自己録再の特性を検査調整する時には、未記録領域を使い調整検査することが必要となり、使用した検査調整ディスクの記録済み領域の管理が重要な要素となる。
【０００４】
従来のディスク記録情報管理のためのファイル管理情報は、例えば特許文献１に示すようなものが知られている。特許文献１では、光ディスクにファイルデータを記録する場合、記録済みのアドレス情報をファイル管理領域と、データ領域にも記録することが述べられている。
【０００５】
図８は従来の例としての特許文献１の光ディスク記録状態を示す構成図である。
【０００６】
図８（ａ）は光ディスク１ｂに最初のファイルデータＡを記録する時のディスク上のファイル管理領域Ｆ１と、アドレス情報と同時にデータが記録されているデータ記録領域Ｆ２と、データ記録領域に入り込んでいるリードアウト領域Ｆ３の記録状態を示した図である。光ディスク１ｂに記録を開始すると、ファイルデータＡはデータ記録領域Ｆ２にアドレス情報と共に記録され、その後記録最終アドレスと共にリードアウト領域Ｆ３が記録され、最後にファイル管理領域Ｆ１にフィルデータＡの先頭アドレス、ファイルサイズ及び記録された最終アドレスが記録される。したがってこの状態の光ディスク１ｂを再生する時には、最初にファイル管理領域Ｆ１よりファイルデータＡの先頭アドレスを読み取り、次に、データ記録領域Ｆ２の先頭から再生し、リードアウト領域Ｆ３に到達したときにファイルデータＡの記録完了を検出して再生を終了するよう動作する。 
【０００７】
次に図８（ｂ）はすでにファイルデータＡが記録されている光ディスクにファイルデータＢを記録した時の記録状態を示す図である。
【０００８】
光ディスク１ｂ、ファイル管理領域Ｆ１、アドレス情報と共にファイルデータＡが記録されているデータ記録領域Ｆ２等は図８（ａ）で説明した内容と同じなので説明を省略する。
【０００９】
すでにファイルデータＡが記録されている光ディスク１ｂにファイルデータＢを記録する場合は、まずファイル管理領域Ｆ１にある記録された最終アドレス情報にて次のファイルデータＢの記録開始アドレスを探し出し記録開始位置を決める。ファイルデータＢの記録が開始されるとアドレス情報とファイルデータＢが同時に記録され新しいデータ記録領域Ｆ４が出来る。この時前回のリードアウト領域Ｆ３はファイルデータＢの記録領域Ｆ４により重ね書きされ、ファイルデータＢの記録後、ファイルデータＢの最終アドレス情報を記録した新しいリードアウト領域Ｆ５が記録される。最後にファイルデータＢの先頭アドレスとファイルサイズ及び最終アドレスをファイル管理領域Ｆ１に登録される。従ってファイル管理領域Ｆ１はファイルデータＡの先頭アドレス、ファイルデータＢの先頭アドレス、ファイルデータＢの最終アドレス情報を持ち、ファイルデータＡ、Ｂのどちらにでもアクセスすることが可能となる。
【００１０】
また次の新しいファイルデータを記録する場合も同じ手順を繰り返すので、新しいファイルデータの開始アドレス、最終アドレス情報はファイル管理領域Ｆ１に管理される。従って各々のファイルデータの連続性は保たれるが常に新しいデータ記録領域を使用するのではなく古いリードアウト領域は重ね書きされており、当初説明した理由により光ディスク装置の自己録再特性の検査調整に使用する検査調整用光ディスクのファイル管理には不適切である。
【００１１】
また検査調整に用いられる検査調整光ディスクには自己録再特性に厳しい精度を求められるため、ディスクの記録膜特性の特性ばらつき管理も必要となる。特にディスクの記録膜特性はディスクの中周、内周、外周で変化しており、ディスク内、中、外周位置の検査も重要になってくる。検査調整用光ディスクによっては内周のみ、または内周、外周、または内周、中周、外周等の領域を検査する必要が生じる。このような検査調整用光ディスクを使用して自己録再の検査調整を行う時には検査調整で使用された記録済み領域（ディスク検査領域）の管理と検査調整用光ディスクのディスク検査のために使用する領域（光ディスク装置検査調整領域）の記録済み領域の管理も必要となる。さらに検査調整用光ディスクの選別、すなわち光ディスク装置の検査調整に使用できるか、出来ないかの選別では、記録膜特性のばらつきの中から最適な検査調整用光ディスクを探すための選別に時間がかかる問題が生じる。また通常選別は未記録ディスクを使用するためにロット検査で行われるが、厳しい精度の記録膜特性を持ったロットを色々なロットの中から選別基準に合うロットを見つけ出すことが困難になってきている。
【特許文献１】特開平９−２３１６８２号公報（図２およびそれに関する説明）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
このような検査調整用光ディスク及びそれを用いた光ディスク装置の検査方法においては、特に相変化記録ディスクを用いて自己録再の検査調整する時に未記録領域を使用できるように管理できること、また検査調整用光ディスクの記録膜特性のばらつきを事前に検査してもその検査領域を使用せずに未記録領域を使用できるよう管理できることと、検査調整用光ディスクの交換の際の未記録領域の管理の簡素化を図れる検査調整用光ディスクと光ディスク装置の検査調整法が要求されている。
【００１３】
本発明は、自己録再に使用される検査調整用光ディスクの事前検査ができ検査調整用光ディスクの選別を容易にすることと、ディスク検査領域と光ディスク装置検査調整領域の記録済み領域のアドレス情報を情報記録領域に持っているため、検査調整用光ディスクを交換しても未記録領域を用いて光ディスク装置で容易に検査できる方法を提供することを目的としてなされたものである。
【課題を解決するための手段】
【００１４】
上記課題に対応するために本発明の検査調整用光ディスクは、記録再生領域に信号を記録し、その記録信号を再生して記録品質を検査調整するための検査調整用ディスクであって、光ディスク装置の記録品質を検査調整する光ディスク装置検査調整領域と、事前に検査用ディスクとしての記録再生特性を検査してある少なくとも1つのディスク検査領域と、前記光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報と前記ディスク検査領域のアドレス情報とを持つ情報記録領域とを持つように構成したものである。
【００１５】
また、上記課題に対応するために本発明の検査調整用光ディスクを用いた光ディスク装置の検査方法は、上記の検査調整用光ディスクを用いる光ディスク装置の検査方法であって、光ディスク装置は、前記検査調整用光ディスクの情報記録領域からの光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読取る読取り手段と、前記読取り手段が読取った各々の情報から光ディスク装置検査領域の未記録領域を計算する計算手段と、前記計算手段の計算結果に基づく未記録領域において記録再生を行って記録品位を検査調整する検査手段と、前記検査調整用光ディスクの情報記録領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を書き換える書き換え手段とを持ち、前記読取り手段で前記検査調整用光ディスクの情報領域から光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読取り、読み取った情報から前記計算手段により未記録領域を計算し、前記検査手段は光ディスク装置検査領域の未記録領域で記録再生を行って記録品位を検査調整し、前記書き換え手段で前記検査調整用光ディスクの情報記録領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を書き換えるようにしたものである。
【発明の効果】
【００１６】
本発明は、上記の構成により、事前に検査調整用光ディスクの記録膜特性検査を行ったディスクでもそのディスク検査領域を情報記録領域が記録しているため、光ディスク装置は検査調整用光ディスクの情報記録領域から事前検査で使用した記録済みディスク検査領域を避けて光ディスク装置の自己録再特性を検査調整する検査調整用光ディスクとして使用することが出来るようになり、検査調整用光ディスクのロット選別は不要となる効果を有する。
【００１７】
また光ディスク装置は、上記検査調整用光ディスクの情報記録領域は光ディスク装置検査領域の記録済みアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読み出し、その情報より未記録領域を計算できるため、常に光ディスク装置検査領域の未記録領域にて自己録再特性の検査調整を行うことが出来るようになる。また検査調整後は使用した光ディスク装置検査調整領域のアドレス情報を情報記録領域に記録して終了するため、検査調整用光ディスクの記録済みアドレス情報は最新に管理された状態に出来るようになる。このため検査調整用光ディスクが交換されても光ディスク装置は検査調整用光ディスクの情報記録領域のアドレス情報により必ず未記録領域から自己録再特性の検査を始めることが可能となり光ディスク装置での記録済み領域の管理が非常に簡素化される効果を有する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
本発明の一実施の形態について、図１から図７を用いて説明する。
【００１９】
（実施の形態１）
以下に本発明の検査調整用光ディスクに関する請求項1を開示した実施の形態1を説明する。図１は本発明の実施の形態1における検査調整用光ディスクの構成図である。
【００２０】
図１の検査調整用光ディスク１は、内周から外周に螺旋状に記録する構造を持ち、情報記録領域２、第1のディスク検査領域３、第2のディスク検査領域６、第1の光ディスク装置検査調整領域４、第2の光ディスク装置検査調整領域５を持つよう構成してある。第1のディスク検査領域３と第2のディスク検査領域６は、この光ディスク1を光ディスク装置の自己録再特性を検査調整するために用いても問題ないかを調べるための、検査調整用光ディスク１の事前検査の領域であり、検査調整用光ディスクとして適切か不適切かを判断するために用いられる領域である。本実施形態では2個の領域を確保して説明しているがディスクの記録膜特性のばらつきに応じて1または3以上の複数領域を使用しても良い。
【００２１】
第１のディスク検査領域３と第1の光ディスク装置検査調整領域４は重ね書きしないよう領域が分けられている。第1の光ディスク装置検査調整領域４は1回目の検査調整で第1の検査調整信号（ａ−１）７、2回目の検査調整で第2の検査調整信号（ａ−２）８、ｎ回目の検査調整で第ｎの検査調整信号（ａ−ｎ）９が記録され、第１の光ディスク装置検査調整領域４は領域を使い終わり、次の第２のディスク検査領域６に重ね書きすること避け第２の光ディスク装置検査調整領域５に移りｎ＋１回目の第ｎ＋１の検査調整信号（ａ−ｎ＋１）１０を記録するよう構成されている。それぞれの検査調整回数毎に検査調整信号記録領域は分けられており重ね書きすることはなく、未記録領域でそれぞれの自己録再特性の検査調整に使用される。ここでも説明には光ディスク装置検査調整領域を２個にしてあるが、ディスク検査領域の個数に合わせ１または３以上の複数領域を使用しても良い。
【００２２】
情報記録領域２には、第１のディスク検査領域３と第２のディスク検査領域６と、第１回目から第ｎ＋１回目まで行われた自己録再特性で使用された第1と第2の光ディスク装置検査調整領域４、５の記録済みのアドレス情報か、または第２の光ディスク装置検査調整領域５の未記録アドレス情報を記録してある。
【００２３】
以上のように構成された検査調整用光ディスクでは、ディスク検査領域が検査調整用光ディスクの中に存在できるためロット選別等で検査する必要がなくディスク選別が非常に容易になる。また情報記録領域２がディスク検査領域のアドレス情報と光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域の情報を持つため、自己録再の検査調整をする時に管理していた光ディスク装置での未記録領域の管理が必要なくなる。特にディスク交換時においては検査調整用光ディスクより未記録領域情報を計算できるためディスク交換が非常に楽に行え、生産性の向上に大いに役立つ。
【００２４】
（実施の形態２）
以下に本発明の検査調整用光ディスクに関する請求項２、３を開示した実施の形態２について説明する。図２は本発明の実施の形態２における検査調整用光ディスクの構成図を示す。図２における検査調整用光ディスク１ａにおいて、第1のディスク検査領域３、第2のディスク検査領域６、第1の光ディスク装置検査調整領域４、第2の光ディスク装置検査調整領域５、第１の検査調整信号（ａ−１）７、第２の検査調整信号（ａ−２）８、第ｎの検査調整信号（ａ−ｎ）９、第ｎ＋１の検査調整信号（ａ−ｎ＋１）１０については図１と同じなので同じ符号をつけて説明を省略する。
【００２５】
図１と異なる点は情報記録領域2の光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を第１の情報記録領域２ａに、ディスク検査領域のアドレス情報を第２の情報記録領域２ｂに記録するように分けたことである。図８の従来の例でも説明したようにファイル管理領域Ｆ１は記録済みファイルデータの先頭アドレスとファイルサイズ及び最終アドレス情報を持つことが出来るが、ディスク検査領域のアドレス情報を持っていない。このため事前にディスク検査をすると、検査調整時にその部分に重ね書きをすることになり、常に新しいデータ記録領域を使用することが不可能となる。
【００２６】
この点を鑑みて請求項２は従来の例でのファイル管理領域Ｆ１（本発明の第１の情報記録領域２ａ）とは別の領域にディスク検査領域のアドレス情報を第２の情報記録領域２ｂとして持たせ、従来の例のファイル管理領域Ｆ１のアドレス情報を利用しながらディスク検査領域のアドレス情報の管理も可能とすることが出来るようにしたものである。
【００２７】
また請求項３のように第１の情報記録領域を内周に位置し、第２の情報記録領域２ｂを第１の情報記録領域２ａの外周に位置すれば従来の例のファイル管理領域Ｆ１の位置（内周）は変えずに第２の情報記録領域２ｂを設けられのでさらに従来の例のファイル管理領域Ｆ１のアドレス管理情報を利用しやすくなる。
【００２８】
（実施の形態３）
以下に本発明の検査調整用光ディスクを用いた光ディスク装置の検査調整方法の請求項４を開示した実施の形態３を説明する。図３は本発明の実施の形態３における検査調整方法を実施する場合に用いる光ディスク装置を示すものである。
【００２９】
図3の検査調整用光ディスク１は図１で説明した検査調整用光ディスク１または図２の１ａを使用している。図３の光ディスク装置３０１のピックアップ３０３は、検査調整用光ディスク１または１ａにレーザー光を照射するレーザーと、検査調整用光ディスク１よりの反射光よりデータ信号とサーボ信号を受光するディテクタと、検査調整用光ディスク１の上にレーザービームのスポットを合わせるレンズと、検査調整用光ディスク１の信号トラック上にレンズを追従させるフォーカスアクチェータ、トラッキングアクチェータを持っている。
【００３０】
ピックアップ３０３は検査調整用光ディスク１または１ａよりサーボ信号３０６をディテクタにより検出して、サーボ制御回路３１４に送る。サーボ信号３０６はフォーカスサーボ信号、トラッキングサーボ信号からなる。サーボ制御回路３１４は、フォーカスサーボ信号により検査調整用光ディスク１の盤面上にレーザー光のビームスポットを最適に合わせるようフォーカス駆動信号３１５をピックアップ３０３のフォーカスアクチェータに送り、フォーカスサーボ制御をする。またサーボ制御回路３１４は、トラッキングサーボ信号により検査調整用光ディスク１の盤面上のトラックに追従するようトラッキング駆動信号３１５をピックアップ３０３のトラッキングアクチェータに送り、トラッキングサーボ制御を行う。
【００３１】
検査調整用光ディスク１または１ａはスピンドルモータ３０２により回転しておりサーボ制御回路３１４は検査調整用光ディスク１の回転数を所定のスピードになるようスピンドル駆動信号３１７をスピンドルモータ３０２に送りスピンドルサーボ制御をしている。サーボ制御回路３１４は検査調整用光ディスク１の所定の位置にピックアップ３０３を移動できるようトラバースモータ３０４にトラバース駆動信号を送る制御もしている。
【００３２】
このようにサーボ制御回路３１４は構成されているためシステム制御回路３１３のサーボ制御指令３１８により、スピンドルモータ３０２を駆動し検査調整用光ディスク１を所定の回転数で回転させ、トラバースモータ３０４を駆動し検査調整用光ディスク１の所定の位置にピックアップ３０３を移動させ、フォーカスサーボ、トラッキングサーボをかける制御が行える。
【００３３】
またシステム制御回路３１３はレーザー制御指令３２２をレーザー制御回路３２３に送り、再生と記録状態でのレーザー制御回路を制御している。
【００３４】
再生状態では、ピックアップ３０３のディテクタが検査調整用光ディスク１または１ａのデータ信号を検出しデータ信号３０５として再生回路３０７に送る。再生回路３０７はデータ信号３０５を増幅、高域強調回路を通して2値化信号に変換し復調回路３０８にてエラー訂正等の復調を行いデータ情報３０９に変換し出力される。データ情報３０９には画像データ、アドレスデータ、記録済み領域アドレスデータ等が含まれる。
【００３５】
データ情報３０９の中の記録済アドレス領域情報３２５は演算回路３２６に入り演算回路３２６で未記録アドレス情報３２７を計算しシステム制御回路３１３に送る。再生回路３０７より出力される2値化信号は検査信号３１０として検査装置３１１にも送られ検査装置３１１にてジッター測定を行う。
【００３６】
記録状態では検査装置３１１より画像データ、記録済み領域アドレスデータ、検査信号等の記録検査信号３２０を変調回路３２１に送りエラー訂正等の変調を行いその出力をレーザー制御回路３２３に送る。レーザー制御回路３２３は変調回路３２１より送られた信号によりピックアップ３０３のレーザーパワーを記録レーザーパワーで光らせるようレーザー駆動信号３２４にてピックアップ３０３のレーザーパワーを制御する。この記録レーザーパワーにより検査調整用光ディスク１または１ａにはデータ信号が記録される。
【００３７】
検査装置３１１とシステム制御回路３１３とはシステム指令３１９で接続されており記録状態、再生状態、検査状態等の制御と記録済みアドレス領域情報等の通信を行う。
【００３８】
このように構成された請求項4における光ディスク装置で請求項１の検査調整用光ディスクを使用する場合の動作を図４の第1の動作フローチャート図の手順を用い説明する。検査調整用光ディスク１の情報記録領域２には、検査調整用光ディスクの選別時に検査のために記録した検査領域のアドレス情報が記録されているものとする。
（１）検査調整開始
図３の光ディスク装置に請求項１（図１）の検査調整用光ディスク１を装着し検査調整を開始する。
（２）情報記録領域２を再生する（４０１）。
【００３９】
図３の検査調整用光ディスク１は図１で説明した情報記録領域２を持っているので、光ディスク装置は、図３のピックアップ３０３を所定の位置にある情報記録領域２に移動しその領域を再生する。
（３）光ディスク装置検査領域の記録済みアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読込む（４０２）。
【００４０】
検査調整用光ディスク１の情報記録領域２より光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報データを読取り図３の記録済みアドレス領域情報３２５として演算回路３２６に入力する。
（４）未記録領域アドレス計算をする（４０３）。
【００４１】
図３の演算回路３２６で、検査調整用光ディスク１の情報記録領域２の光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報データより光ディスク装置検査調整領域の未記録領域アドレス情報を計算し、図3の未記録アドレス領域情報３２７をシステム制御回路３１３に入力する。
（５）未記録領域アドレスにピックアップを移動する（４０４）。
【００４２】
図3のシステム制御回路３１３に入力された未記録アドレス領域情報３２７を基に、システム制御回路３１３はサーボ制御指令３１８をサーボ制御回路３１４に送り、サーボ制御回路３１４は検査調整用光ディスク１の光ディスク装置検査調整領域の未記録領域アドレスにピックアップ３０３を移動するようトラバースモータ３０４にトラバース駆動信号３１６を送る。
（６）検査調整信号を記録する（４０５）。
【００４３】
検査調整用光ディスク１の記録開始アドレスは未記録領域にあるので検査調整信号を記録開始する。そのためには検査装置３１１より記録検査信号３２０を出力し変調回路３２１に入力する。それと同時にシステム制御回路３１３はレーザー制御指令３２２をレーザー制御回路３２３に送りレーザー制御回路３２３を記録状態に制御する。またレーザー制御回路３２３は変調回路３２１からの信号に合わせた記録レーザーパワーにレーザーを駆動するレーザー駆動信号３２４をピックアップ３０３のレーザーに送り記録検査信号３２０を変調した検査調整信号のデータ情報を検査調整用光ディスク１の未記録領域に記録をする。なおこのときもフォーカスサーボ、トラキングサーボ、スピンドルサーボはピックアップ３０３のサーボ信号３０６とサーボ制御回路３１４により制御されている。
（７）新たに記録した記録信号を再生する（４０６）。
【００４４】
光ディスク装置は自己録再のジッター測定をするために、未記録領域に記録された信号を再生する必要がある。そのためシステム制御回路３１３からの指令によりピックアップ３０３は検査調整信号を記録した（４０５）の記録開始アドレスまで戻され、レーザー制御回路３２３は再生状態に制御して先ほど記録されたアドレス領域を再生する。検査調整用光ディスク１の未記録領域に記録されたデータ信号情報はピックアップ３０３によりデータ信号３０５として取り出され再生回路３０７により2値化信号にされる。この2値化信号は検査装置３１１に送られジッター測定が行われる。
（８）記録された信号の特性を評価し（４０７）、ＯＫなら良品（４０８）、ＮＧなら不良品と処理する（４０９）。
【００４５】
検査装置３１１は再生回路３０７よりの2値化出力に対してジッター測定を行いＯＫ、ＮＧの判定を行う。
（９）新たに記録した記録領域アドレス情報を情報記録領域２に記録する（４１０）。
【００４６】
検査調整の判定が終了した後、（４０５）で使用した新しい記録済領域アドレス情報は今まで使用した光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報に加えられ、検査調整用光ディスク１の情報記録領域２に登録する。そのためシステム制御回路３１３は、サーボ制御回路３１４でピックアップ３０３を検査調整用光ディスク１の情報記録領域２に移動させ、レーザー制御回路３２３を記録状態に制御し、検査調整信号記録（４０５）で使用したアドレス情報を加えた記録済みまたは未記録領域アドレス情報を検査装置３１１の記録検査信号３２０として変調回路３２１に送るよう制御し、情報記録領域２に新しい光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報を記録する。
【００４７】
光ディスク装置３０１は以上のような手順で請求項１の検査調整用光ディスクを用いて自己録再の検査調整を行うため、検査調整用光ディスク１の情報記録領域２は光ディスク装置検査調整領域の使用した記録済みまたは未記録領域の最新アドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を持つことが出来る。光ディスク装置は、この検査調整用光ディスク１の情報記録領域２の光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域の最新アドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報より検査調整で使用する光ディスク装置検査調整領域の未記録領域の計算を行うため、検査調整用光ディスクが交換されても光ディスク装置検査調整領域の未記録領域を正しく計算できる。
【００４８】
次に請求項4における図３の光ディスク装置３０１で図２の請求項２または３の検査調整用光ディスクを使用する場合の動作を図５の第２の動作フローチャート図の手順を用い説明する。検査調整用光ディスク１ａの第2の情報記録領域２ｂには、検査調整用光ディスクの選別時に検査のために記録した検査領域のアドレス情報が記録されているものとする。
（１）検査調整開始
図３の光ディスク装置に請求項２(図２)の検査調整用光ディスク１ａを装着し検査調整を開始する。
（２）第1の情報記録領域を再生する（５０１）。
【００４９】
図３の光ディスク装置３０１に検査調整用光ディスク１を用いた場合は図２で説明した第1の情報記録領域２ａを持っているので、光ディスク装置３０１は、図３のピックアップ３０３を所定の位置にある第1の情報記録領域２ａに移動しその領域を再生する。
（３）光ディスク装置検査調整領域の記録済みアドレス情報を読込む（５０２）。
【００５０】
検査調整用光ディスク１ａの第1の情報記録領域２ａより光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域のアドレス情報を読取り図３の記録済みアドレス領域情報３２５として演算回路３２６に入力し演算回路３２６はその光ディスク装置検査調整領域の記録済みアドレス情報を一時保管する。
（４）第２の情報記録領域を再生する（５０３）。
【００５１】
検査調整用光ディスク１ａは図２で説明した第2の情報記録領域２ｂを持っているので、光ディスク装置３０１は、図３のピックアップ３０３を所定の位置にある第2の情報記録領域２ｂに移動しその領域を再生する。
（５）ディスク検査領域のアドレス情報を読込む（５０４）。
【００５２】
検査調整用光ディスク１ａの第2の情報記録領域２ｂより光ディスク装置検査領域のアドレス情報を読取り図３の記録済みアドレス領域情報３２５として演算回路３２６に入力し演算回路３２６はそのディスク検査領域のアドレス情報を一時保管する。
（６）未記録領域のアドレスを計算をする（５０５）。
【００５３】
図３の演算回路３２６は、（５０２）により一時保管されていた光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報と、（５０４）により一時保管していたディスク検査領域のアドレス情報より光ディスク装置検査調整領域の未記録領域アドレスを計算し、図3の未記録アドレス領域情報３２７をシステム制御回路３１３に入力する。
（７）未記録領域アドレスにピックアップを移動する（５０６）。
【００５４】
図3のシステム制御回路３１３に入力された未記録アドレス領域情報３２７を基に、システム制御回路３１３はサーボ制御指令３１８をサーボ制御回路３１４に送り、サーボ制御回路３１４は検査調整用光ディスク１の未記録領域アドレスにピックアップ３０３を移動するようトラバースモータ３０４にトラバース駆動信号３１６を送る。
（８）検査調整信号を記録する（５０７）。
【００５５】
検査調整用光ディスク１ａの記録開始アドレスは未記録領域にあるので検査調整信号を記録開始する。そのためには検査装置３１１より記録検査信号３２０を出力し変調回路３２１に入力する。それと同時にシステム制御回路３１３はレーザー制御指令３２２をレーザー制御回路３２３に送りレーザー制御回路３２３を記録状態に制御する。またレーザー制御回路３２３は変調回路３２１からの信号に合わせた記録レーザーパワーにレーザーを駆動するレーザー駆動信号３２４をピックアップ３０３のレーザーに送り記録検査信号３２０を変調した検査調整信号データ情報を検査調整用光ディスク１ａの未記録領域に記録する。なおこのときもフォーカスサーボ、トラキングサーボ、スピンドルサーボはピックアップ３０３のサーボ信号３０６とサーボ制御回路３１４により制御されている。
（９）新たに記録した記録信号を再生する（５０８）。
【００５６】
光ディスク装置３０１は自己録再のジッター測定をするために、未記録領域に記録された信号を再生する必要がある。そのためシステム制御回路３１３からの指令によりピックアップ３０３は検査調整信号を記録した（５０７）の記録開始アドレスまで戻され、レーザー制御回路３２３は再生状態に制御して先ほど記録されたアドレス領域を再生する。検査調整用光ディスク１ａの未記録領域に記録されたデータ信号情報はピックアップ３０３によりデータ信号３０５として取り出され再生回路３０７により2値化信号にされる。この2値化信号は検査装置３１１に送られジッター測定が行われる。
（１０）記録された信号の特性を評価し（５０９）、ＯＫなら良品（５１０）、ＮＧなら不良品と処理する（５１１）。
【００５７】
検査装置３１１は再生回路３０７よりの2値化出力に対してジッター測定を行いＯＫ、ＮＧの判定を行う。
（１１）新たに記録した記録領域アドレス情報を第1の情報記録領域２ａに記録する（５１２）。
【００５８】
検査調整の判定が終了した後、（５０７）で使用した新しい記録済領域アドレス情報は今まで使用した光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報に加えられ、検査調整用光ディスク１ａの第１の情報記録領域２ａに登録する。そのためシステム制御回路３１３はサーボ制御回路３１４でピックアップ３０３を検査調整用光ディスク１の第１の情報記録領域２ａに移動させ、レーザー制御回路３２３を記録状態に制御し、検査調整信号記録（５０７）で使用したアドレス情報を加えた記録済みまたは未記録領域アドレス情報を検査装置３１１の記録検査信号３２０として変調回路３２１に送るよう制御し第１の情報記録領域２ａに新しい光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報として記録される。
【００５９】
以上のような手順で光ディスク装置は請求項２の検査調整用光ディスクを用いて自己録再の検査調整を行うため、検査調整用光ディスク１ａの第１の情報記録領域２ａは光ディスク装置検査調整領域の使用した記録済みまたは未記録領域の最新アドレス情報を持つことが出来る。この検査調整用光ディスクの第１の情報記録領域２ａの光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域の最新アドレス情報と、第２の情報記録領域２ｂにすでに記録されていたディスク検査領域アドレス情報より、検査調整で使用する光ディスク装置検査調整領域の未記録領域の計算を行うため、検査調整用光ディスクが交換されても光ディスク装置検査調整領域の未記録領域を正しく計算できる。
【００６０】
（実施の形態４）
以下に本発明の検査調整用光ディスクを用いた光ディスク装置の検査調整方法の請求項５を開示した実施の形態４を説明する。図６は本発明の実施の形態３における検査調整方法における光ディスク装置６０１を示すものである。検査調整用光ディスク１、スピンドルモータ３０２、ピックアップ３０３、トラバースモータ３０４、データ信号３０５、サーボ信号３０６、再生回路３０７、復調回路３０８、データ情報３０９、検査信号３１０、検査装置３１１、システム制御回路３１３、サーボ制御回路３１４、フォーカス、トラッキング駆動信号３１５、トラバース駆動信号３１６、スピンドル駆動信号３１７、サーボ制御指令３１８、システム指令３１９、記録検査信号３２０、変調回路３２１、レーザー制御指令３２２、レーザー制御回路３２３、レーザー駆動信号３２４、記録済アドレス領域情報３２５、演算回路３２６、未記録アドレス領域アドレス情報３２７等は図３で説明した働きと同じなので同一符号を用い説明を省略する。図３との違いは記憶回路６０３と比較回路６０２があることである。図６の記憶回路６０３は図４の（４１０）と図５の（５１２）で説明した新たな検査調整で使用した光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を記憶する。また比較回路６０２は、検査調整時に検査調整用光ディスク１の情報記録領域２または第1の情報記録領域２ａより読取られた光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報（記録済アドレス領域情報３２５）と前回の検査調整で記憶回路６０３に記憶されていた光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報を比較する回路である。
【００６１】
このように構成された請求項５における光ディスク装置で請求項１の検査調整用光ディスクを使用する場合の動作を図７の第３の動作フローチャート図の手順を用い説明する。この場合も検査調整用光ディスク１の情報記録領域２には、検査調整用光ディスクの選別時に検査のために記録した検査領域のアドレス情報が記録されているものとする。
（１）検査調整開始
図６の光ディスク装置に請求項１（図１）の検査調整用光ディスク１を装着し検査調整を開始する。
（２）記憶回路のアドレス情報を取り出す（７０１）。
【００６２】
図６の記憶回路は、検査調整で使用した光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報か、光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報の両方を記憶しているのでその情報を取り出す。これは前回検査で使用された光ディスク装置検査調整領域の記録済または未記録領域アドレス情報である。
（３）情報記録領域を再生する（７０２）。
【００６３】
図６の検査調整用光ディスク１は図１で説明した情報記録領域２を持っているので、光ディスク装置は、図６のピックアップ３０３を所定の位置にある情報記録領域２に移動しその領域を再生する。
（４）光ディスク装置検査領域の記録済みアドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報を読込む（７０３）。
【００６４】
検査調整用光ディスク１の情報記録領域２より光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録アドレス情報とディスク検査領域のアドレス情報データを読取り図６の記録済みアドレス領域情報３２５として比較回路６０１に入力する。
（５）記憶回路と読込みアドレス情報の比較をする（７０４）。
【００６５】
記憶回路６０３より取り出した光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録アドレス情報と、（７０３）で読込んだ光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録アドレス情報を比較する。これは光ディスク装置がなんらかの不具合を持っていて正しく記録できない場合を検出するために行われる。自己録再の検査調整は複数の光ディスク装置を１枚の検査調整用光ディスクで検査調整することが多い。このため、ある光ディスク装置が正しく記録できない場合、それ以降の光ディスク装置に記録不具合を生じた光ディスク装置で使用された検査調整用光ディスクを使用できなくなる問題が発生する。この理由は、記録不具合を生じた光ディスク装置で記録された検査調整用光ディスク１の情報記録領域２の光ディスク装置検査調整領域の記録済または未記録アドレス情報が壊れる（正しく記録されない）からである。すなわち情報記録領域のアドレス情報が得られないため、検査調整を常に未記録領域で行う目的が達成出来なくなる。
（６）比較されたアドレス情報が同じであれば未記録領域アドレスの計算をする（７０５）。
【００６６】
図６の比較回路６０２の入力である記録済アドレス領域情報３２５を演算回路３２６に入力する。演算回路３２６は、検査調整用光ディスク１の情報記録領域２の光ディスク装置検査領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報と、ディスク検査領域のアドレス情報より光ディスク装置検査調整領域の未記録領域アドレスを計算し、図６の未記録アドレス領域情報３２７としてシステム制御回路３１３に入力する。
（７）比較されたアドレス情報が違う場合は、未記録領域アドレス計算結果に一定量のアドレス情報を加算する（７０６）。
【００６７】
演算回路３２６は、記憶回路６０２が記憶している光ディスク装置検査調整領域の記録済または未記録アドレス領域情報とディスク検査領域のアドレス情報より、光ディスク装置検査領域の未記録アドレス領域情報を計算する。また比較したアドレスが違う場合は前回検査調整をした光ディスク装置の記録不具合が発生した場合であるので、演算回路３２６の計算結果に不具合光ディスク装置が使用したアドレス領域として一定量の使用アドレス領域情報を加算して未記録アドレス領域情報を計算し、図６の未記録アドレス領域情報３２７としてシステム制御回路３１３に入力する。
（８）未記録領域アドレスにピックアップを移動する（７０７）。
【００６８】
図６のシステム制御回路３１３に入力された未記録アドレス領域情報３２７を基に、システム制御回路３１３はサーボ制御指令３１８をサーボ制御回路３１４に送り、サーボ制御回路３１４は検査調整用光ディスク１の未記録領域アドレスにピックアップ３０３を移動するようトラバースモータ３０４にトラバース駆動信号３１６を送る。
（９）検査調整信号を記録する（７０８）。
【００６９】
検査調整用光ディスク１の記録開始アドレスは未記録領域にあるので検査調整信号を記録開始する。そのためには検査装置３１１より記録検査信号３２０を出力し変調回路３２１に入力する。それと同時にシステム制御回路３１３はレーザー制御指令３２２をレーザー制御回路３２３に送りレーザー制御回路３２３を記録状態に制御する。またレーザー制御回路３２３は変調回路３２１からの信号に合わせた記録レーザーパワーにレーザーを駆動するレーザー駆動信号３２４をピックアップ３０３のレーザーに送り記録検査信号３２０を変調した検査調整信号データ情報を検査調整用光ディスク１の未記録領域に記録をする。なおこのときもフォーカスサーボ、トラキングサーボ、スピンドルサーボはピックアップ３０３のサーボ信号３０６とサーボ制御回路３１４により制御されている。
（１０）新たに記録した記録信号を再生する（７０９）。
【００７０】
光ディスク装置は自己録再のジッター測定をするために、未記録領域に記録された信号を再生する必要がある。そのためシステム制御回路３１３からの指令によりピックアップ３０３は検査調整信号を記録した（７０８）の記録開始アドレスまで戻され、レーザー制御回路３２３は再生状態に制御して先ほど記録されたアドレス領域を再生する。検査調整用光ディスク１の未記録領域に記録されたデータ信号情報はピックアップ３０３によりデータ信号３０５として取り出され再生回路３０７により2値化信号にされる。この2値化信号は検査装置３１１に送られジッター測定が行われる。
（１１）記録された信号の特性を評価し（７１０）、ＯＫなら良品（７１１）、ＮＧなら不良品と処理する（７１３）。
【００７１】
検査装置３１１は再生回路３０７よりの2値化出力に対してジッター測定を行いＯＫ、ＮＧの判定を行う。
（１２）新たに記録した記録領域アドレス情報を情報記録領域２に記録する（７１３）。
【００７２】
検査調整の判定が終了した後、（７０８）で使用した新しい記録済領域アドレス情報は今まで使用した光ディスク装置検査調整領域の記録済みまたは未記録領域アドレス情報に加えられ、検査調整用光ディスク１の情報記録領域２に登録する。そのためシステム制御回路３１３はサーボ制御回路３１４でピックアップ３０３を検査調整用光ディスク１の情報記録領域２に移動させ、レーザー制御回路３２３を記録状態に制御し、検査調整信号記録（７０８）で使用したアドレス情報を加えた記録済み領域アドレス情報を検査装置３１１の記録検査信号３２０として変調回路３２１に送るよう制御し情報記録領域２に新しい光ディスク装置検査調整領域の記録済領域データとして記録される。
（１３）新たに記録した記録済アドレス領域情報とディスク検査領域を記憶回路６０３に記憶させる（７１４）。
【００７３】
記憶回路６０３に光ディスク装置検査調整領域の記録済または未記録アドレス領域情報とディスク検査領域のアドレス情報を記憶する。
【００７４】
以上のような手順で光ディスク装置は請求項１の検査調整用光ディスクを用いて自己録再の検査調整を行うと、１枚の検査調整用光ディスクで複数の光ディスク装置の自己録再検査調整をする場合に発生する検査調整用光ディスクの情報記録領域のデータが壊れた場合でも記録回路６０３記憶された記録済アドレス領域情報より光ディスクの情報記録領域のアドレス情報が正しいか判定でき、また記憶回路６０３の記録済アドレス領域情報より未記録領域のアドレス情報を復元できその復元した記録済アドレス領域情報を検査調整用光ディスクの情報記録領域に正しく記録できるため光ディスク装置の自己録再検査調整に非常に役立つ光ディスク装置の検査調整法を提供できる。
【００７５】
なお、この実施形態では、請求項１の検査調整用光ディスクを用いるものとして説明したが、請求項２または３の光ディスクを用いてもよいのは当然である。
【産業上の利用可能性】
【００７６】
以上のように本発明の検査調整用光ディスク及びそれを用いた光ディスク装置の検査調整方法によれば、検査調整用光ディスクの選別が非常に効率よく行える。本発明の検査調整用光ディスクは記録済アドレス領域情報の管理が光ディスクの情報管理領域で行えるため非常に簡単に記録済アドレス領域情報の管理ができ検査調整用光ディスクを良く取り替える自己録再検査調整用ディスクに最適である。
【００７７】
また本発明の光ディスク装置の検査調整方法によれば、記録不具合の光ディスク装置で記録され情報記録領域のアドレス領域情報が壊れた場合も情報記録領域のアドレス領域情報が正しいかの判定と壊れた記録済アドレス領域情報を復元できる。などの有利な効果が得られ産業上の利用可能性の高いものである。
【図面の簡単な説明】
【００７８】
【図１】本発明の実施の形態１における検査調整用光ディスクの構成図
【図２】本発明の実施の形態２における検査調整用光ディスクの構成図
【図３】本発明の実施の形態３における光ディスク装置の構成図
【図４】本発明の実施の形態３における第1の動作フローチャート
【図５】本発明の実施の形態３における第２の動作フローチャート
【図６】本発明の実施の形態４における光ディスク装置の構成図
【図７】本発明の実施の形態４における第３の動作フローチャート
【図８】従来の例の検査調整用光ディスク記録状態を示す構成図
【符号の説明】
【００７９】
１、１ａ    検査調整用光ディスク
２    情報記録領域
２ａ    第１の情報記録領域
２ｂ    第２の情報記録領域
３    第1のディスク検査領域
４    第1の光ディスク装置検査調整領域
５    第2の光ディスク装置検査調整領域
６    第2のディスク検査領域
７    第1の検査調整信号（ａ−１）
８    第２の検査調整信号（ａ−２）
９    第nの検査調整信号（ａ−ｎ）
１０    第ｎ＋１の検査調整信号（ａ−ｎ＋１）
３０１    光ディスク装置
３０２    スピンドルモータ
３０３    ピックアップ
３０４    トラバースモータ
３０７    再生回路
３０８    復調回路
３１１    検査装置
３１３    システム制御回路
３１４    サーボ制御回路
３２３    レーザー制御回路
３２６    演算回路
６０１    光ディスク装置
６０２    比較回路
６０３    記憶回路
【図１】
2006228303.tif 000003
【図２】
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【図３】
2006228303.tif 000005
【図４】
2006228303.tif 000006
【図５】
2006228303.tif 000007
【図６】
2006228303.tif 000008
【図７】
2006228303.tif 000009
【図８】
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