(57)【要約】  【課題】  サーボ系のゲイン調整の信頼性を向上させ、再生および記録が安定して行える光ディスク装置を提供する。  【解決手段】  サーボDSP１６が有するゲイン調整部２４、２７は、フォーカスサーボ系およびトラッキングサーボ系の開ループゲインの測定結果により目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対する開ループゲインの非線形性を検出し、開ループゲインが周波数に対して線形となる周波数領域における開ループゲインの測定結果により目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対する開ループゲインの線形性を仮定した場合の目標ゲイン交差周波数における開ループゲインを推定し、該推定値に基づき目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対する開ループゲインの線形性を仮定した場合の目標ゲイン交差周波数における開ループゲインが０ｄＢとなるよう記憶部２３、２６に記憶されたゲイン定数を調整する。【選択図】      図２
2006302380.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
フォーカスサーボ手段を備える光ディスク装置において、
フォーカスサーボ系の開ループゲインを０ｄＢとする目標の周波数である目標ゲイン交
差周波数および該目標ゲイン交差周波数付近の少なくとも一つの周波数における前記開ル
ープゲインを測定し、該測定結果に基づき前記目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対す
る前記開ループゲインの非線形性を検出し、
前記開ループゲインが周波数に対して線形となる周波数領域における前記開ループゲイ
ンを測定し、該測定結果に基づき直線補間または/および直線補外により、前記目標ゲイ
ン交差周波数付近の周波数に対する前記開ループゲインの線形性を仮定した場合の前記目
標ゲイン交差周波数における前記開ループゲインを推定し、
該推定された前記開ループゲインに基づき、前記目標ゲイン交差周波数付近の周波数に
対する前記開ループゲインの線形性を仮定した場合の前記目標ゲイン交差周波数における
前記開ループゲインが０ｄＢとなるよう前記フォーカスサーボ手段のパラメータを調整す
るゲイン調整手段を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
トラッキングサーボ手段を備える光ディスク装置において、
トラッキングサーボ系の開ループゲインを０ｄＢとする目標の周波数である目標ゲイン
交差周波数および該目標ゲイン交差周波数付近の少なくとも一つの周波数における前記開
ループゲインを測定し、該測定結果に基づき前記目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対
する前記開ループゲインの非線形性を検出し、
前記開ループゲインが周波数に対して線形となる周波数領域における前記開ループゲイ
ンを測定し、該測定結果に基づき直線補間または/および直線補外により、前記目標ゲイ
ン交差周波数付近の周波数に対する前記開ループゲインの線形性を仮定した場合の前記目
標ゲイン交差周波数における前記開ループゲインを推定し、
該推定された前記開ループゲインに基づき、前記目標ゲイン交差周波数付近の周波数に
対する前記開ループゲインの線形性を仮定した場合の前記目標ゲイン交差周波数における
前記開ループゲインが０ｄＢとなるよう前記トラッキングサーボ手段のパラメータを調整
するゲイン調整手段を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
フォーカスサーボ手段を備える光ディスク装置において、
フォーカスサーボ系の開ループゲインを０ｄＢとする目標の周波数である目標ゲイン交
差周波数付近の周波数に対する前記開ループゲインの非線形性を検出し、
前記開ループゲインが周波数に対して線形となる領域の線形性に基づき前記目標ゲイン
交差周波数付近の周波数に対する前記開ループゲインの線形性を仮定した場合の、前記目
標ゲイン交差周波数における前記開ループゲインを推定し、
該推定された前記開ループゲインに基づき、前記目標ゲイン交差周波数付近の周波数に
対する前記開ループゲインの線形性を仮定した場合の前記目標ゲイン交差周波数における
前記開ループゲインが０ｄＢとなるよう前記フォーカスサーボ手段のパラメータを調整す
るゲイン調整手段を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
トラッキングサーボ手段を備える光ディスク装置において、
トラッキングサーボ系の開ループゲインを０ｄＢとする目標の周波数である目標ゲイン
交差周波数付近の周波数に対する前記開ループゲインの非線形性を検出し、
前記開ループゲインが周波数に対して線形となる領域の線形性に基づき前記目標ゲイン
交差周波数付近の周波数に対する前記開ループゲインの線形性を仮定した場合の、前記目
標ゲイン交差周波数における前記開ループゲインを推定し、
該推定された前記開ループゲインに基づき、前記目標ゲイン交差周波数付近の周波数に
対する前記開ループゲインの線形性を仮定した場合の前記目標ゲイン交差周波数における
前記開ループゲインが０ｄＢとなるよう前記トラッキングサーボ手段のパラメータを調整
するゲイン調整手段を備えることを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
前記ゲイン調整手段は、前記目標ゲイン交差周波数および前記目標ゲイン交差周波数付
近の少なくとも一つの周波数における前記開ループゲインを測定し、該測定結果に基づき
前記目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対する前記開ループゲインの非線形性を検出す
ることを特徴とする請求項３または請求項４に記載の光ディスク装置。
【請求項６】
前記ゲイン調整手段は、前記開ループゲインが周波数に対して線形となる周波数領域に
おける前記開ループゲインを測定し、該測定結果に基づき直線補間または/および直線補
外により、前記目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対する前記開ループゲインの線形性
を仮定した場合の前記目標ゲイン交差周波数における前記開ループゲインを推定すること
を特徴とする請求項３または請求項４に記載の光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置におけるサーボ系のゲイン調整に関する。
【背景技術】
【０００２】
光ディスク装置では再生および記録において、ピックアップの対物レンズとディスク面
との距離を一定に保つフォーカスサーボや、ディスク面に形成される光スポットをトラッ
クに追従させるトラッキングサーボが行われる。このフォーカスサーボやトラッキングサ
ーボを安定させるため、サーボを行う前にサーボ系のゲインを調整することが従来から行
われている。
【０００３】
従来のゲイン調整では、サーボ系の開ループゲインを０ｄＢとする目標の周波数である
目標ゲイン交差周波数における開ループゲインを測定し、測定値の０ｄＢからのズレから
推測して開ループゲインを目標ゲイン交差周波数において０ｄＢとするよう調整すること
がされている。
【０００４】
しかし、上記ゲイン調整の方法では、ピックアップの対物レンズを駆動するアクチュエ
ータの不具合やディスクを回転させるスピンドルモータの振動等によって目標ゲイン交差
周波数付近において開ループゲインと周波数の関係が共振等の非線形となる場合、ゲイン
を過小に調整して、サーボ系の定常偏差に悪影響を及ぼしたり、ゲインを過大に調整して
、サーボループが発振したりし、再生および記録が安定して行えないという問題がある。
【０００５】
なお、特許文献１には２次共振周波数を正確に検出し、ノッチフィルタにより２次共振
周波数におけるゲインを下げ、サーボ帯域を広く取ることができるディスク装置が開示さ
れている。
【特許文献１】特開２００４−２２０７２４号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
本発明は上記問題点を鑑みてなされたものであり、サーボ系のゲイン調整の信頼性を向
上させ、再生および記録が安定して行える光ディスク装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記目的を達成するために本発明の光ディスク装置は、フォーカスサーボ手段を備える
光ディスク装置において、
フォーカスサーボ系の開ループゲインを０ｄＢとする目標の周波数である目標ゲイン交
差周波数付近の周波数に対する前記開ループゲインの非線形性を検出し、
前記開ループゲインが周波数に対して線形となる領域の線形性に基づき前記目標ゲイン
交差周波数付近の周波数に対する前記開ループゲインの線形性を仮定した場合の、前記目
標ゲイン交差周波数における前記開ループゲインを推定し、
該推定された前記開ループゲインに基づき、前記目標ゲイン交差周波数付近の周波数に
対する前記開ループゲインの線形性を仮定した場合の前記目標ゲイン交差周波数における
前記開ループゲインが０ｄＢとなるよう前記フォーカスサーボ手段のパラメータを調整す
るゲイン調整手段を備えることを特徴とする。
【０００８】
このような構成によれば、アクチュエータの不具合等により目標ゲイン交差周波数付近
の周波数に対してフォーカスサーボ系の開ループゲインが非線形となっても、フォーカス
サーボ系のゲイン調整が過大や過小になることを防ぎ信頼性が向上し、再生および記録が
安定して行える。
【０００９】
また、本発明の光ディスク装置は、トラッキングサーボ手段を備える光ディスク装置に
おいて、
トラッキングサーボ系の開ループゲインを０ｄＢとする目標の周波数である目標ゲイン
交差周波数付近の周波数に対する前記開ループゲインの非線形性を検出し、
前記開ループゲインが周波数に対して線形となる領域の線形性に基づき前記目標ゲイン
交差周波数付近の周波数に対する前記開ループゲインの線形性を仮定した場合の、前記目
標ゲイン交差周波数における前記開ループゲインを推定し、
該推定された前記開ループゲインに基づき、前記目標ゲイン交差周波数付近の周波数に
対する前記開ループゲインの線形性を仮定した場合の前記目標ゲイン交差周波数における
前記開ループゲインが０ｄＢとなるよう前記トラッキングサーボ手段のパラメータを調整
するゲイン調整手段を備えることを特徴とする。
【００１０】
このような構成によれば、アクチュエータの不具合等により目標ゲイン交差周波数付近
の周波数に対してトラッキングサーボ系の開ループゲインが非線形となっても、トラッキ
ングサーボ系のゲイン調整が過大や過小になることを防ぎ信頼性が向上し、再生および記
録が安定して行える。
【００１１】
また、前記目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対する前記開ループゲインの非線形性
の検出は、前記ゲイン調整手段が、前記目標ゲイン交差周波数および前記目標ゲイン交差
周波数付近の少なくとも一つの周波数における前記開ループゲインを測定し、該測定結果
に基づき行えばよい。
【００１２】
また、前記目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対する前記開ループゲインの線形性を
仮定した場合の前記目標ゲイン交差周波数における前記開ループゲインの推定は、前記ゲ
イン調整手段が、前記開ループゲインが周波数に対して線形となる周波数領域における前
記開ループゲインを測定し、該測定結果に基づき直線補間または/および直線補外により
行えばよい。
【発明の効果】
【００１３】
本発明の光ディスク装置によれば、サーボ系のゲイン調整の信頼性を向上させ、再生お
よび記録が安定して行える。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１４】
以下、本発明に係る光ディスク装置の実施形態について図面を用いて説明する。図１は
、本発明に係る光ディスク装置の概略構成を示すブロック図である。
【００１５】
ピックアップ７は対物レンズ２と、対物レンズ２をディスク１に対してアキシャル方向
、半径方向にそれぞれ駆動させるアクチュエータ３と、レーザダイオード４と、レーザダ
イオード４からの直接光を検出するためのフォトディテクタ５と、レーザダイオード４か
ら射出されたレーザ光が対物レンズ２で合焦されディスク１から反射して戻ってきた反射
光を検出するためのフォトディテクタ６とを備える。ピックアップ７はスレッドモータ８
によりディスク１の半径方向に駆動される。
【００１６】
レーザダイオード４はレーザドライバ１４により駆動され発光する。このときフォトデ
ィテクタ５でレーザダイオード４からの直接光が検出され、APC回路１５へ入力される。A
PC回路１５ではフォトディテクタ５で検出されたレーザ光のレベルと、基準となるレベル
とを比較し、フォトディテクタ５で検出されたレベルが基準より大きければレーザドライ
バ１４に対してレーザ光の強さを下げるように、反対にフォトディテクタ５で検出された
レベルが基準より小さければレーザドライバ１４に対してレーザ光の強さを上げるように
指示し、レーザダイオード４からの出力が一定となるようにする。なお、APCとは自動パ
ワー制御を表す。
【００１７】
フォトディテクタ６で検出されたディスク１からの反射光は電気信号に変換されRF回路
９へ送られる。RF回路９は、フォトディテクタ６からの電気信号よりフォーカスエラー信
号およびトラッキングエラー信号を生成する。RF回路９で生成されたフォーカスエラー信
号およびトラッキングエラー信号はサーボDSP１６へ入力され、サーボDSP１６は、後述す
るゲイン調整により調整されたゲイン定数等に基づき演算処理を行い、アクチュエータド
ライバ１３への駆動信号であるフォーカスドライブ信号およびトラッキングドライブ信号
を生成する。この駆動信号でアクチュエータドライバ１３は対物レンズ２が常に規定の位
置になるようにアクチュエータ３を駆動させる。
【００１８】
また、サーボDSP１６は、トラッキングエラー信号からスレッドモータ８を駆動するた
めのスレッド駆動信号を生成し、スレッドドライバ１０を介してスレッドモータ８を駆動
させる。
【００１９】
スピンドルモータ１１はモータの回転に伴ってパルスを発生させる回路を内蔵しており
、このパルスをサーボDSP１６に入力し、サーボDSP１６はこのパルスを用いてスピンドル
モータ１１を一定の回転数で駆動するための駆動信号を生成する。サーボDSP１６で生成
されたスピンドルモータ駆動信号はスピンドルモータドライバ１２を介してスピンドルモ
ータ１１を一定の回転数で回転させる。
【００２０】
フォトディテクタ６はサーボエラー信号以外にディスク１に書き込まれている信号も検
出する。ここでディスク１に書き込まれている信号は、データとなるRF信号と、ディスク
１上のアドレスを示すためのウォブル信号がある。
【００２１】
例えば光記録ディスクにおいてはデータの「１」、「０」はディスク上の記録膜の反射
率の違いで表され、「１」は反射率が低く、「０」は反射率が高い。こうした光の明暗の
信号はフォトディテクタ６で電気信号に変換され電圧値で表される。この電圧値で表され
た信号がRF信号になる。
【００２２】
ウォブル信号はディスク１上に溝として刻まれており、その溝の若干のぶれにより絶対
アドレスを表している。
【００２３】
ディスク１からの再生では、フォトディテクタ６で検出されたこれらの再生信号はRF回
路９へ送られ波形整形処理を施され、信号処理回路１７へと送られる。信号処理回路１７
は、RF信号の復調、波形整形の処理を行い  更にエラー訂正処理を行って元のデータを取
り出す。取り出されたデータはD/A１９を介してスピーカ２０へ送られ、音声として出力
される。ウォブル信号は信号処理回路１７で復調、波形整形、エラー訂正が行われアドレ
ス信号が取り出される。このアドレス信号はシステムコントローラ１８へ送られアドレス
情報として利用される。
【００２４】
ディスク１へのデータの記録時は、マイク２１から入力された音声データはD/A１９を
介して信号処理回路１７へと送られ、ここでデータはエラー訂正のためのフラグを付加さ
れ、さらに変調処理をされレーザドライバ１４へ送られる。
【００２５】
レーザドライバ１４は、送られてきた記録用の信号をディスク１に書き込むためにライ
トストラテジの処理を行う。ライトストラテジとは、送られてきたデータを実際にディス
ク１に記録する際の記録性能を向上するための方法であり、光ディスク装置の記録が熱記
録であることを利用している。そしてAPC回路１５は基準のレーザパワーを記録用パワー
に切り替えてAPC動作を行い、レーザダイオード４はパルス発光し、ディスク１にデータ
が記録される。このとき記録用のパワーでレーザダイオード４が発光するため、再生時に
比べるとフォトディテクタ６で検出されるディスク１からの反射光信号のレベルが大きく
なってしまう。そのため、フォトディテクタ６にゲイン切り替え手段を設けて、RF回路９
で生成されるサーボエラー信号のレベルが大きくならないようにしている。
【００２６】
また、システムコントローラ１８は、各回路ブロックの動作制御を行いシステム全体が
所定の動作を行えるように統括している。
【００２７】
本発明の特徴はフォーカスサーボ系およびトラッキングサーボ系のゲイン調整にあり、
以下図面を用いて説明する。図２はサーボDSP１６の構成の内、フォーカスサーボおよび
トラッキングサーボに関する構成を示す。また、図３は本発明に係る光ディスク装置が行
うゲイン調整手順を示すフローチャートである。
【００２８】
ゲイン調整は通常ディスク交換時に行われ、以下フォーカスサーボ系のゲイン調整につ
いて説明する。
【００２９】
ディスク１が交換されると、ステップＳ１でゲイン調整部２４は記憶部２３に記憶され
たパラメータであるゲイン定数を所定の初期値とする。
【００３０】
そしてステップＳ２で、スピンドルモータ１１がディスク１を回転させ、サーボDSP１
６はフォーカスサーボをオンとし、RF回路９から入力されたフォーカスエラー信号と記憶
部２３のゲイン定数等に基づきフォーカスドライブ信号生成部２２がフォーカスドライブ
信号を生成し、アクチュエータドライバ１３へ送出し、対物レンズ２がディスク１のアキ
シャル方向に駆動される。
【００３１】
そしてステップＳ３で、ゲイン調整部２４は、目標ゲイン交差周波数およびその付近の
周波数におけるフォーカスサーボ系の開ループゲインを測定する。ここで開ループゲイン
の測定方法については、図２のように、ゲイン調整部２４が所定の振幅および周波数をも
つ正弦波状の外乱信号Ｆをフォーカスドライブ信号に加え、外乱信号Ｆを加える点より前
の信号Ｘおよび後の信号Ｙを測定し、これらの信号ＸおよびＹの振幅比によってフォーカ
スサーボ系の開ループゲインが測定される。ステップＳ３では、ゲイン調整部２４は、外
乱信号Ｆの周波数を目標ゲイン交差周波数およびその付近の周波数として、開ループゲイ
ンを測定する。なお、外乱信号を与える信号はフォーカスドライブ信号ではなく、フォー
カスエラー信号でもよい。以下、開ループゲインの測定については本方法により行う。
【００３２】
そしてステップＳ４で、ゲイン調整部２４は、目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対
して開ループゲインが非線形であるかを判定する。例えば、図４（ａ）のように、目標ゲ
イン交差周波数ωcおよびその付近の周波数であるωc＋α、ωc―αにおける開ループゲ
インを測定した場合、周波数および開ループゲインを座標軸とした座標においてωcに対
応する点をＡ、ωc＋αに対応する点をＢ、ωc―αに対応する点をＣとすると、測定点Ａ
、Ｂ、Ｃが同一直線上にのらないことから、目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対して
開ループゲインが非線形であることが検出できる。
【００３３】
また、例えば、図４（ｂ）のように、目標ゲイン交差周波数ωcおよびその付近の周波
数であるωc＋αにおける開ループゲインを測定した場合、周波数および開ループゲイン
を座標軸とした座標においてωcに対応する点をＡ、ωc＋αに対応する点をＢとすると、
直線ＡＢの傾きが、開ループゲインが周波数に対して線形である領域の所定の傾きｇｒと
異なることから、目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対して開ループゲインが非線形で
あることが検出できる。
【００３４】
そしてステップＳ４で、ゲイン調整部２４が目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対し
て開ループゲインが非線形であると判定した場合はステップＳ５に進み、そうでない場合
はステップＳ７に進む。
【００３５】
ステップＳ５で、ゲイン調整部２４は、開ループゲインが周波数に対して線形となる周
波数領域に属する周波数に対する開ループゲインの測定点を確定する。
【００３６】
図５において、測定点Ａ、Ｂ、Ｃは前述した図４（ａ）の測定点Ａ、Ｂ、Ｃと同一であ
る。例えば図５（ａ）のように、測定点Ｂにおける周波数ωc＋αから周波数を除々に高
くしながら開ループゲインを測定してゆき、測定した現時点で最も高い周波数から３点連
続して同一直線上にのるような測定点（ここでは測定点Ｆ、Ｅ、Ｄ）があれば、それらの
測定点を開ループゲインが周波数に対して線形となる周波数領域における開ループゲイン
の測定点とみなして確定する。
【００３７】
また、例えば図５（ｂ）のように、測定点Ｃにおける周波数ωc−αから周波数を除々
に低くしながら開ループゲインを測定してゆき、測定した現時点で最も低い周波数から３
点連続して同一直線上にのるような測定点（ここでは測定点Ｇ、Ｆ、Ｅ）があれば、それ
らの測定点を開ループゲインが周波数に対して線形となる周波数領域における開ループゲ
インの測定点とみなして確定する。
【００３８】
また、例えば図５（ｃ）のように、測定点Ｂにおける周波数ωc＋αより高い周波数に
おける測定点Ｄ、測定点Ｃにおける周波数ωc−αより低い周波数における測定点Ｅ、測
定点Ｄにおける周波数より高い周波数における測定点Ｆ、測定点Ｅにおける周波数より低
い周波数における測定点Ｇという順番のように、測定点Ｂに対して周波数を除々に高くし
、測定点Ｃに対して周波数を除々に低くしてゆくことを交互にしながら開ループゲインを
測定し、測定した現時点で最も高い周波数とその次に高い周波数および最も低い周波数に
おける測定点が同一直線上にのるか、または測定した現時点で最も低い周波数とその次に
低い周波数および最も高い周波数における測定点が同一直線上にのった場合に、それらの
測定点を開ループゲインが周波数に対して線形となる周波数領域における開ループゲイン
の測定点とみなして確定する。図５（ｃ）の場合では、測定した現時点で最も高い周波数
における測定点Ｆとその次に高い周波数における測定点Ｄおよび最も低い周波数における
測定点Ｇが同一直線上にのるため、これらの測定点を開ループゲインが周波数に対して線
形となる周波数領域における開ループゲインの測定点とみなして確定する。
【００３９】
なお、前述した図４（ｂ）の方法で目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対して開ルー
プゲインが非線形であると判定された場合は、ステップＳ５では、上記図５の方法におい
て測定点Ｂを図４（ｂ）の測定点Ｂ、測定点Ｃを図４（ｂ）の測定点Ａと置き換えれば、
図５と同様の方法が使用できる。
【００４０】
そしてステップＳ６で、ゲイン調整部２４は、開ループゲインが周波数に対して線形と
なる領域の線形性に基づき目標ゲイン交差周波数付近における開ループゲインの周波数に
対する線形性を仮定した場合の、目標ゲイン交差周波数における開ループゲインを推定す
る。
【００４１】
例えば図５（ａ）の場合、開ループゲインが周波数に対して線形となる周波数領域にお
ける開ループゲインの測定点であるとして確定された測定点Ｄ、Ｅ、Ｆのうち、いずれか
２点（例えば測定点Ｄ、Ｆ）に基づき直線補外し、目標ゲイン交差周波数ωcにおける開
ループゲインＧｅを推定する。
【００４２】
また、例えば図５（ｂ）の場合、開ループゲインが周波数に対して線形となる周波数領
域における開ループゲインの測定点であるとして確定された測定点Ｅ、Ｆ、Ｇのうち、い
ずれか２点（例えば測定点Ｅ、Ｇ）に基づき直線補外し、目標ゲイン交差周波数ωcにお
ける開ループゲインＧｅを推定する。
【００４３】
また、例えば図５（ｃ）の場合、開ループゲインが周波数に対して線形となる周波数領
域における開ループゲインの測定点であるとして確定された測定点Ｄ、Ｆ、Ｇのうち、目
標ゲイン交差周波数ωcよりも高い周波数および低い周波数の測定点であるいずれか２点
（例えば測定点Ｄ、Ｇ）に基づき直線補間し、目標ゲイン交差周波数ωcにおける開ルー
プゲインＧｅを推定する。
【００４４】
そしてステップＳ７で、ゲイン調整部２４は、図６のように、上記ステップＳ６で推定
した目標ゲイン交差周波数における開ループゲインの推定値およびゲイン定数の初期値に
基づき、目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対する開ループゲインの線形性を仮定した
場合の目標ゲイン交差周波数における開ループゲインが０ｄＢとなるようゲイン定数を調
整し、記憶部２３に記憶されたゲイン定数を更新する。上記ステップＳ６で推定した目標
ゲイン交差周波数における開ループゲインの推定値をＧｅ、ゲイン定数の初期値をＫ0、
調整後のゲイン定数をＫとすれば下記（１）式のようになるので、調整後のゲイン定数Ｋ
を求めることができる。
【００４５】
２０log10（Ｋ0/Ｋ）＝Ｇｅ  （１）
なお、上記ステップＳ４でゲイン調整部２４が目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対
して開ループゲインが線形であると判断した場合は、目標ゲイン交差周波数における開ル
ープゲインの測定値に基づき、目標ゲイン交差周波数において開ループゲインが０ｄＢと
なるようゲイン定数を調整し、記憶部２３に記憶されたゲイン定数を更新する。
【００４６】
以上でフォーカスサーボ系のゲイン調整は完了する。
【００４７】
次にトラッキングサーボ系のゲイン調整について同様に図３のフローチャートを用いて
説明する。
【００４８】
ディスク１が交換されると、ステップＳ１でゲイン調整部２７は記憶部２６に記憶され
たパラメータであるゲイン定数を所定の初期値とする。
【００４９】
そしてステップＳ２で、スピンドルモータ１１がディスク１を回転させ、サーボDSP１
６はトラッキングサーボをオンとし、RF回路９から入力されたトラッキングエラー信号と
記憶部２６のゲイン定数等に基づきトラッキングドライブ信号生成部２５がトラッキング
ドライブ信号を生成し、アクチュエータドライバ１３へ送出し、対物レンズ２がディスク
１の半径方向に駆動される。
【００５０】
そしてステップＳ３で、ゲイン調整部２７は、目標ゲイン交差周波数およびその付近の
周波数におけるトラッキングサーボ系の開ループゲインを測定する。ここで開ループゲイ
ンの測定方法については、図２のように、ゲイン調整部２７が所定の振幅および周波数を
もつ正弦波状の外乱信号Ｆをトラッキングドライブ信号に加え、外乱信号Ｆを加える点よ
り前の信号Ｘおよび後の信号Ｙを測定し、これらの信号ＸおよびＹの振幅比によってトラ
ッキングサーボ系の開ループゲインが測定される。ステップＳ３では、ゲイン調整部２７
は、外乱信号Ｆの周波数を目標ゲイン交差周波数およびその付近の周波数として、開ルー
プゲインを測定する。なお、外乱信号を与える信号はトラッキングドライブ信号ではなく
、トラッキングエラー信号でもよい。以下、開ループゲインの測定については本方法によ
り行う。
【００５１】
そしてステップＳ４で、ゲイン調整部２７は、目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対
して開ループゲインが非線形であるかを判定する。目標ゲイン交差周波数付近の周波数に
対して開ループゲインが非線形であることは例えば前述した図４の方法により検出できる
。
【００５２】
そしてステップＳ４で、ゲイン調整部２７が目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対し
て開ループゲインが非線形であると判定した場合はステップＳ５に進み、そうでない場合
はステップＳ７に進む。
【００５３】
ステップＳ５で、ゲイン調整部２７は、開ループゲインが周波数に対して線形となる周
波数領域に属する周波数に対する開ループゲインの測定点を確定する。この方法は、前述
した図５のような方法を用いることができる。
【００５４】
そしてステップＳ６で、ゲイン調整部２７は、開ループゲインが周波数に対して線形と
なる領域の線形性に基づき目標ゲイン交差周波数付近における開ループゲインの周波数に
対する線形性を仮定した場合の、目標ゲイン交差周波数における開ループゲインを推定す
る。ここでは、前述したフォーカスサーボ系のゲイン調整における推定方法と同様の方法
を用いることができる。
【００５５】
そしてステップＳ７で、ゲイン調整部２７は、図６のように、上記ステップＳ６で推定
した目標ゲイン交差周波数における開ループゲインの推定値およびゲイン定数の初期値に
基づき、目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対する開ループゲインの線形性を仮定した
場合の目標ゲイン交差周波数における開ループゲインが０ｄＢとなるようゲイン定数を調
整し、記憶部２６に記憶されたゲイン定数を更新する。ここでも前述した上記（１）式を
用いることができる。なお、ステップＳ４でゲイン調整部２７が目標ゲイン交差周波数付
近の周波数に対して開ループゲインが線形であると判断した場合は、目標ゲイン交差周波
数における開ループゲインの測定値に基づき、目標ゲイン交差周波数において開ループゲ
インが０ｄＢとなるようゲイン定数を調整し、記憶部２６に記憶されたゲイン定数を更新
する。
【００５６】
以上でトラッキングサーボ系のゲイン調整は完了する。
【００５７】
そして、ディスク１の再生時および記録時は、以上のゲイン調整により更新された記憶
部２３、２６のゲイン定数に基づきフォーカスサーボおよびトラッキングサーボが行われ
ることになる。
【図面の簡単な説明】
【００５８】
【図１】は、本発明に係る光ディスク装置のブロック図である。
【図２】は、サーボDSPの構成の一部を示すブロック図である。
【図３】は、本発明に係るゲイン調整手順を示すフローチャートである。
【図４】は、目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対するサーボ系の開ループゲインの非線形性を検出する方法を示す図である。
【図５】は、目標ゲイン交差周波数付近の周波数に対する開ループゲインの線形性を仮定した場合の目標ゲイン交差周波数における開ループゲインを推定する方法を示す図である。
【図６】は、ゲイン定数の調整を示す図である。
【符号の説明】
【００５９】
１    ディスク
２    対物レンズ
３    アクチュエータ
４    レーザダイオード
５    フォトディテクタ
６    フォトディテクタ
７    ピックアップ
８    スレッドモータ
９    RF回路
１０    スレッドドライバ
１１    スピンドルモータ
１２    スピンドルモータドライバ
１３    アクチュエータドライバ
１４    レーザドライバ
１５    APC回路
１６    サーボDSP
１７    信号処理回路
１８    システムコントローラ
１９    D/A
２０    スピーカ
２１    マイク
２２    フォーカスドライブ信号生成部
２３    記憶部
２４    ゲイン調整部
２５    トラッキングドライブ信号生成部
２６    記憶部
２７    ゲイン調整部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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