(57)【要約】【課題】周辺部を点灯して隣接のハレーションを利用して測定部（例えば開口部）を検出し、前記開口部と測定部の電子ビームを点灯して求めたビーム位置画像を合わせることにより、ビームの位置ずれを定量的に検出すること。【解決手段】電子ビームを蛍光体に照射して画像を表示する表示装置のディスプレイの測定方法において、測定部の周辺部を点灯し、測定部は非点灯とすることを特徴とする。ここで、前記測定部のディスプレイ測定画像は、光の強度分布を用いて測定した画像又は色の色度分布を用いて測定した画像である。又、周辺部を点灯して隣接のハレーションを利用して測定部（例えば開口部）を検出し、前記開口部と測定部の電子ビームを点灯して求めたビーム位置画像を合わせることにより、ビームの位置ずれを定量的に検出する。【選択図】図１
2006164690.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
電子ビームを蛍光体に照射して画像を表示する表示装置のディスプレイの測定方法において、
測定部の周辺部を点灯し、測定部は非点灯とすることを特徴とするディスプレイ測定方法。
【請求項２】
前記測定部のディスプレイ測定画像は、光の強度分布を用いて測定した画像であることを特徴とする請求項１記載のディスプレイ測定方法。
【請求項３】
前記測定部のディスプレイ測定画像は、色の色度分布を用いて測定した画像であることを特徴とする請求項１記載のディスプレイ測定方法。
【請求項４】
前記測定部で測定した測定画像の特定位置と前記測定部の電子ビームを点灯して検出した電子ビーム位置を合わせることにより前記測定部のビーム位置を定量化評価することを特徴とする請求項１記載のディスプレイ測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ディスプレイ測定方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来の測定部のブラックマトリクス開口部（蛍光体面）等の検出方法は、図４又は図５のように外光１０を用いて検出する方法があり、図４のように外光１０が正面ではなく、斜め上方向から当たっている場合、表面ガラス９の屈折率と外光１０の入射角度及び反射等の関係で実際の形状とは異なり、正面からＣＣＤカメラで取り込んだ開口部の画像５Ｒ’，５Ｇ’，５Ｂ’が図４（ａ）に示すように斜め斜方向の異なった形状となってしまう。
【０００３】
又、図５のように、正面から外光１０を当てた場合においても、光源の形状・強弱等により、実際のブラックマトリクス開口部（蛍光体面）５Ｒ’，５Ｇ’，５Ｂ’の実線（形状）よりも撮影画像は大きくなり（図５点線部で図示）、更に大きさ、形状も異なり、図４の例にあるように方向的にもゆがんでしまい、正確な開口サイズ・形状の測定が困難であった。
【０００４】
又、正確な基準となる測定部（この場合、ブラックマトリクスの開口部）の位置・サイズが求められないため、正確にビームとの位置ずれ量が検出できずにビーム位置の検出が困難であった。
【０００５】
又、従来のビーム位置の検出方法としては、図６（ａ）に示すように、測定部の表示素子５Ｒ（赤の発光ビーム），５Ｇ（緑の発光ビーム），５Ｂ（青の発光ビーム）を点灯し、図６（ｂ）緑発光ビーム５Ｇ（５Ｇ’）の例に示すように、一括で取り込んだ撮像パターンから、ビーム位置画像５Ｇの中心位置とブラックマトリクスの開口部５Ｇ’を求める方法もあるが、同時に撮像するために開口部とビーム輝度との感度の違い、互いの光の干渉から切り分けることができず、正確なビーム位置の検出は不可能であった。
【０００６】
【特許文献１】特開２００３−０２９６９６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
従来の測定部（例えば前記ブラックマトリクスの開口部）の位置検出及びビーム位置検出方法においては、測定部（前記開口部）とビーム位置との関係を定量的に求めることは困難であった。
【０００８】
本発明は、周辺部を点灯して隣接のハレーションを利用して測定部（例えば開口部）を検出し、前記開口部と測定部の電子ビームを点灯して求めたビーム位置画像を合わせることにより、ビームの位置ずれを定量的に検出することを目的とする。  
【課題を解決するための手段】
【０００９】
上記目的を達成するため、請求項１記載の発明は、電子ビームを蛍光体に照射して画像を表示する表示装置のディスプレイの測定方法において、測定部の周辺部を点灯し、測定部は非点灯とすることを特徴とする。
【００１０】
請求項２記載の発明は、請求項１記載の発明において、前記測定部のディスプレイ測定画像は、光の強度分布を用いて測定した画像であることを特徴とする。
【００１１】
請求項３記載の発明は、請求項１記載の発明において、前記測定部のディスプレイ測定画像は、色の色度分布を用いて測定した画像であることを特徴とする。
【００１２】
請求項４記載の発明は、請求項１記載の発明において、前記測定部で測定した測定画像の特定位置と前記測定部の電子ビームを点灯して検出した電子ビーム位置を合わせることにより前記測定部のビーム位置を定量化評価することを特徴とする。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下本発明の実施の形態を添付図面に基づいて説明する。
【００１４】
＜実施の形態１＞
本発明の実施の形態１のとして、表示素子の１画素（この場合Ｒ，Ｇ，Ｂ単体の素子の単位をいう）の測定部の検出方法について示す。
【００１５】
本発明の実施の形態として、測定部の周辺の電子素子を点灯し、測定部の電子素子は非点灯として測定部の特定検出部を検出する方法について説明する。
【００１６】
前記の測定部の特定部の検出に関しては、光の強度、或は、色の色度差の境界線であり、ブラックマトリクス、ブラックマトリクスの開口部、或は、ＲＧＢの蛍光体面などが上げられる。本説明例では、ブラックマトリクスの開口部である蛍光体面を検出する方法について説明する。
【００１７】
図１（ａ）は測定部３のブラックマトリクス（以下、「ＢＭ」と称する）の開口部である蛍光体面（以下、「開口部」と称する）を検出する方法を説明する図である。図１（ａ）において、１は表示ディスプレイの表示エリアであり、２は開口部を検出するための周辺部点灯領域、３は測定部検出エリアである。図１（ｂ）は前記開口部検出エリアの拡大図である。
【００１８】
測定部の特定位置である開口部を検出する測定エリア３の周辺部２に当たる領域の複数の表示素子４Ｒ（赤の電子ビーム），４Ｇ（緑の電子ビーム），４Ｂ（青の電子ビーム）を点灯することにより周辺部からのハレーションの影響で測定部検出エリアである３の領域内にあるＢＭの開口部である蛍光体面５Ｒ’（赤の蛍光体面），５Ｇ’（緑の蛍光体面）、５Ｂ’（青の蛍光体面）が薄暗く表示される。ＣＣＤカメラ等で長めに撮像することにより、形状と大きさ位置を検出することが可能となる。
【００１９】
本実施の形態においては、測定部の特定部の検出に関しては、ブラックマトリクスの開口部のＲＧＢの蛍光体面の例を上げて説明したが、特に測定部で特定できる形状であれば良く（請求項１）、光の強度差による境界線（請求項２）、色の色度差の境界線（請求項３）、ブラックマトリクス、ブラックマトリクスの開口部、或はＲＧＢ等の蛍光体境界面等が挙げられる。
【００２０】
＜実施の形態２＞
次に、本発明の実施の形態２（請求項４）について説明する。
【００２１】
前記表示素子の測定部の特定位置であるＢＭの開口位置と測定部の表示素子のビーム位置を検出する手段を説明する。
【００２２】
図２（ａ）と（ｂ）の拡大図では、図１で説明した測定部３と同一のエリアである電子ビーム（５Ｒ，５Ｇ，５Ｂ）を点灯して発光ビーム５Ｒ（赤）、５Ｇ（緑）、５Ｂ（青）の形状を、ＣＣＤカメラ等でレンジがオーバーしないように撮像する。又、図１の測定部の検出パターンでは、周辺部の表示素子を点灯していたが、図２のビーム形状測定画像では、周辺部２の表示素子はは非点灯パターンとする。
【００２３】
次に、前記開口部形状（特定位置）画像とビーム位置画像を合わせることによりビーム位置を定量化評価する方法について説明する。
【００２４】
図３（ａ）に示すように、図１の説明で求めた開口部の画像５Ｒ’，５Ｇ’，５Ｂ’と図３（ｂ）に示すように図２の説明で求めたビーム形状５Ｒ，５Ｇ，５Ｂの画像とを合わせることにより図３の例であるＧ（緑）のような開口部パターン５Ｇ’の形状とビーム形状５Ｇのパターンとから５Ｇの輝度中心等と検出された特定部の形状（この場合は開口部）との位置関係を検出することが可能となる。
【実施例１】
【００２５】
測定部の開口部（蛍光体面）とビーム測定を行う実施例１（実施条件）を示す。
【００２６】
例えば、図３（ａ）で説明した測定部の開口部測定画像においては、ＢｉｔＲａｎ社製カラーＣＣＤカメラＢＵ−３１Ｃと３倍の両側テレセントリックレンズを組み合わせて用いて撮像する。測定ポイント３の開口部測定画像は、周りのハレーションを利用して撮像する。５Ｒ’，５Ｇ’，５Ｂ’の画像としては比較的暗い画像であるため、撮像時間を１秒と長くして撮像している。
【００２７】
又、図３（ｂ）のビーム形状測定画像においては、測定ポイント３のビームを点灯して、周辺部は、非駆動として撮影をする。測定部のビーム形状の画像は比較的明るく、露出オーバーしないように、前記のＢｉｔＲａｎ社製カラーＣＣＤカメラとレンズを用いて、撮影する場合には、撮像時間は２０ｍｓｅｃ程度として撮像する。約５０倍に撮像時間を変えることにより、取り込んだ２つの撮影画像を合わせて（２つの画像を加えて２で割る等して）合成した画像で目視判断することも、又、２つの画像から測定部の開口部画像の開口部位置（基準面）とビーム形状の輝度中心位置との差をビーム位置として定量化評価することも可能である（図３（ｃ）の例）。
【００２８】
図６に示すように、同一の撮像時間で測定部の開口形状とビーム形状を同時に撮影すると、開口部測定画像が暗くなり潰れてしまうか、若しくは、ビーム位置測定画像側が極端に明るくなりオーバーしてしまう、若しくは、互いの輝度分布特性が干渉してしまい、同時に取り込めても開口部特定位置と、ビーム位置とが正確に分離できずに定量化評価が困難であった。
【図面の簡単な説明】
【００２９】
【図１】本発明の実施の形態１における測定部の検出方法を説明した図である。
【図２】本発明の実施の形態２におけるビーム形状検出方法を説明した図である。
【図３】本発明の実施の形態２におけるビーム位置検出方法を説明した図である。
【図４】従来の測定部の開口部検出方法を説明した図である。
【図５】従来の測定部の別の開口部検出方法を説明した図である。
【図６】従来のビーム位置検出方法を説明した図である。
【符号の説明】
【００３０】
１    表示ディスプレイ（表示エリア）
２    周辺部点灯領域（非測定部）
３    測定部
４    表示素子（周辺部点灯領域）
５    表示素子（測定部）
５’  ブラックマトリクス開口部（測定部）
９    表面ガラス
１０  外光
【図１】
2006164690.tif 000003
【図２】
2006164690.tif 000004
【図３】
2006164690.tif 000005
【図４】
2006164690.tif 000006
【図５】
2006164690.tif 000007
【図６】
2006164690.tif 000008