(57)【要約】【課題】光ディスク装置において、光ディスク表面の汚れや傷、埃などの表面欠陥を検出する。【解決手段】光ディスク装置のシステムコントローラ３２は、ホストからライトコマンドを受信すると、光ピックアップを所定位置までシークさせ、その後所望のアドレス位置までトレースさせる。トレース期間中は再生パワーのレーザ光を照射してアドレスを読み取る。トレース期間中における戻り光量を検出し、所定のしきい値と比較して光ディスク１０の表面欠陥を検出する。表面欠陥を検出した場合、光ディスク１０の駆動速度を低下させて記録エラーを防止する。【選択図】図１
2006179152.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクからの反射光量に基づき前記光ディスク表面の汚れや傷等の表面欠陥を検出する光ディスク装置であって、
光ピックアップと、
前記光ディスクへのデータ記録に際し、前記光ディスクの記録開始アドレス近傍まで前記光ピックアップをシークする手段と、
再生パワーのレーザ光を前記光ディスクに照射することで前記光ディスクのトラックに沿って前記記録開始アドレス近傍から前記記録開始アドレス位置までトレースする手段と、
前記トレース期間中における前記光ディスクからの戻り光量を検出する手段と、
前記戻り光量に基づき前記光ディスクの表面欠陥を検出する手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
光ディスクからの反射光量に基づき前記光ディスク表面の汚れや傷等の表面欠陥を検出する光ディスク装置であって、
再生パワーに記録パワーを重畳したレーザ光を前記光ディスクに照射してデータを記録する光ピックアップと、
前記再生パワー期間中における前記光ディスクからの戻り光量を検出する手段と、
前記戻り光量に基づき前記光ディスクの表面欠陥を検出する手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】
光ディスクからの反射光量に基づき前記光ディスク表面の汚れや傷等の表面欠陥を検出する光ディスク装置であって、
再生パワーに消去パワー及び記録パワーを重畳したレーザ光を前記光ディスクに照射してデータを記録する光ピックアップと、
前記再生パワー期間中あるいは前記消去パワー期間中における前記光ディスクからの戻り光量を検出する手段と、
前記戻り光量に基づき前記光ディスクの表面欠陥を検出する手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかに記載の装置において、さらに、
前記表面欠陥が検出された場合に、前記光ディスクの回転速度を低下させる駆動制御手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１〜３のいずれかに記載の装置において、さらに、
前記表面欠陥の程度を定量的に算出する手段と、
前記表面欠陥の程度に応じて前記光ディスクの回転速度の減速、維持、加速を切替制御する駆動制御手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】
請求項５記載の装置において、
前記駆動制御手段は、前記表面欠陥の程度Ｓを第１しきい値Ｓｔｈ１及び第２しきい値Ｓｔｈ２（Ｓｔｈ１＞Ｓｔｈ２）と大小比較し、Ｓ＞Ｓｔｈ１であれば減速制御し、Ｓ＜Ｓｔｈ２であれば加速制御し、Ｓｔｈ２≦Ｓ≦Ｓｔｈ１であれば維持制御することを特徴とする光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は光ディスク装置、特に光ディスク表面の汚れや傷等の表面欠陥を検出する技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来より、光ディスクの表面に付着した汚れやほこり、傷等により記録再生特性が劣化することに鑑み、光ディスク表面の欠陥を検出する技術が提案されている。
【０００３】
下記に示す特許文献１では、データの記録に先立って、光ヘッドから低パワーのレーザ光を照射して光ディスクの最内周から最外周に向けて強制的に移送し、光ディスクからの戻り光量のレベルにより欠陥を検出することが開示されている。
【０００４】
また、下記に示す特許文献２では、データ記録中の和信号生成回路から出力される和信号の波形が光ディスク表面の欠陥により変化することを利用して欠陥を検出することが開示されている。すなわち、欠陥がない場合には和信号波形はレーザ光の発光波形と類似の波形となるが、欠陥が存在するとレーザ光のパワーが低い部分が通常領域のそれに比べて下がりきらない。そこで、和信号のボトムレベルの増大を検出することで欠陥を検出できるとしている。
【０００５】
さらに、下記に示す特許文献３では、データ記録中の戻り光レベルを検出し、戻り光レベルの減少を検出することで欠陥を検出することが開示されている。
【０００６】
【特許文献１】特開平１０−７９１２３号公報
【特許文献２】特開２００３−９９９２２号公報
【特許文献３】特開平１１−１７５９７５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
しかしながら、特許文献１では、実際のデータ記録に先立って光ヘッドを強制的に最内周から最外周まで移送させて欠陥の有無を検査するため、記録開始までに時間を要してしまう問題がある。また、特許文献２では、データ記録中に欠陥を検出できるものの和信号波形のボトムレベルを検出する必要がある。特許文献３においては、戻り光レベルを検出するだけであるので簡易であるが、データ記録中はピット形成過程において戻り光レベルは変化し得るため、欠陥の有無を高精度に検出することが困難である。すなわち、比較的サイズが大きく戻り光レベルが大きく変動する（戻り光レベルが著しく減少する）ような欠陥は検出できるが、比較的小さい欠陥の場合には、記録パワーの不良によるピット形成不良に起因する戻り光レベル変動と、欠陥による戻り光レベル変動とを識別することが困難である。
【０００８】
本発明の目的は、データ記録動作に伴い、かつ、高精度に光ディスク表面の欠陥を検出できる装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００９】
本発明は、光ディスクからの反射光量に基づき前記光ディスク表面の汚れや傷等の表面欠陥を検出する光ディスク装置であって、光ピックアップと、前記光ディスクへのデータ記録に際し、前記光ディスクの記録開始アドレス近傍まで前記光ピックアップをシークする手段と、再生パワーのレーザ光を前記光ディスクに照射することで前記光ディスクのトラックに沿って前記記録開始アドレス近傍から前記記録開始アドレス位置までトレースする手段と、前記トレース期間中における前記光ディスクからの戻り光量を検出する手段と、前記戻り光量に基づき前記光ディスクの表面欠陥を検出する手段とを有することを特徴とする。
【００１０】
記録時には、まず光ピックアップを所定位置までシークさせ、その後、所望のアドレスまで光ピックアップをトラックに沿ってトレースする。このトレース期間においては、再生パワーのレーザ光を照射してアドレスを読み取る。本発明はこのトレース期間に着目し、トレース期間中に戻り光量を検出し、戻り光量に基づいて表面欠陥を検出する。
【００１１】
また、本発明は、光ディスクからの反射光量に基づき前記光ディスク表面の汚れや傷等の表面欠陥を検出する光ディスク装置であって、再生パワーに記録パワーを重畳したレーザ光を前記光ディスクに照射してデータを記録する光ピックアップと、前記再生パワー期間中における前記光ディスクからの戻り光量を検出する手段と、前記戻り光量に基づき前記光ディスクの表面欠陥を検出する手段とを有することを特徴とする。
【００１２】
また、本発明は、光ディスクからの反射光量に基づき前記光ディスク表面の汚れや傷等の表面欠陥を検出する光ディスク装置であって、再生パワーに消去パワー及び記録パワーを重畳したレーザ光を前記光ディスクに照射してデータを記録する光ピックアップと、前記再生パワー期間中あるいは前記消去パワー期間中における前記光ディスクからの戻り光量を検出する手段と、前記戻り光量に基づき前記光ディスクの表面欠陥を検出する手段とを有することを特徴とする。
【００１３】
トレース完了後は所望のアドレスからデータの記録が開始される。データの記録は再生パワーに記録パワー、あるいは書き換え可能な光ディスクでは再生パワーに消去パワー及び記録パワーを重畳したレーザ光を照射してデータを記録する。再生パワー照射のタイミングで戻り光量を検出し、この戻り光量に基づいて表面欠陥を検出することで、データ再生時あるいはトレース時と同様に表面欠陥を検出する。また、再生パワーあるいは消去パワー照射のタイミングにおける戻り光量を用いるため、ピット形成過程に起因する戻り光量変化の影響を受けることがない。
【発明の効果】
【００１４】
本発明によれば、トレース期間中あるいはデータ記録中において光ディスクの表面欠陥を検出できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
以下、図面に基づき本発明の実施形態について説明する。
【００１６】
図１は、本実施形態に係る光ディスク装置の全体構成図を示す。ＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ、＋Ｒ／＋ＲＷ、ＲＡＭ等の記録可能な光ディスク１０はスピンドルモータ（ＳＰＭ）１２により回転駆動される。光ディスク１０は多層構造であり、第１の記録層及び第２の記録層を有する。なお、本実施形態では、レーザ光から見て手前側の記録層を第１層、奥側の記録層を第２層と称する。スピンドルモータＳＰＭ１２は、ドライバ１４で駆動され、ドライバ１４はサーボプロセッサ３０により所望の回転速度となるようにサーボ制御される。
【００１７】
光ピックアップ１６は、レーザ光を光ディスク１０に照射するためのレーザダイオード（ＬＤ）や光ディスク１０からの反射光を受光して電気信号に変換するフォトディテクタ（ＰＤ）を含み、光ディスク１０に対向配置される。光ピックアップ１６はスレッドモータ１８により光ディスク１０の半径方向に駆動され、スレッドモータ１８はドライバ２０で駆動される。ドライバ２０は、ドライバ１４と同様にサーボプロセッサ３０によりサーボ制御される。また、光ピックアップ１６のＬＤはドライバ２２により駆動され、ドライバ２２はオートパワーコントロール回路（ＡＰＣ）２４により駆動電流が所望の値となるように制御される。ＡＰＣ２４は、光ディスク１０のテストエリア（ＰＣＡ）において実行されたＯＰＣ（Optimum Power Control）により選択された最適記録パワーとなるようにドライバ２２の駆動電流を制御する。ＯＰＣは、光ディスク１０のＰＣＡに記録パワーを複数段に変化させてテストデータを記録し、該テストデータを再生してその信号品質を評価し、所望の信号品質が得られる記録パワーを選択する処理である。信号品質には、β値やγ値、変調度、ジッタ等が用いられる。光ディスク１０の記録層が第１層及び第２層から構成されている場合、ＯＰＣは各記録層毎に実行される。但し、奥側の第２層に関しては、第１層が未記録の場合と記録済の場合とで、それぞれ異なる記録パワーが設定される。
【００１８】
光ディスク１０に記録されたデータを再生する際には、光ピックアップ１６のＬＤから再生パワーのレーザ光が照射され、その反射光がＰＤで電気信号に変換されて出力される。光ピックアップ１６からの再生信号はＲＦ回路２６に供給される。ＲＦ回路２６は、再生信号からフォーカスエラー信号やトラッキングエラー信号を生成し、サーボプロセッサ３０に供給する。サーボプロセッサ３０は、これらのエラー信号に基づいて光ピックアップ１６をサーボ制御し、光ピックアップ１６をオンフォーカス状態及びオントラック状態に維持する。また、ＲＦ回路２６は、再生信号に含まれるアドレス信号をアドレスデコード回路２８に供給する。アドレスデコード回路２８はアドレス信号から光ディスク１０のアドレスデータを復調し、サーボプロセッサ３０やシステムコントローラ３２に供給する。また、ＲＦ回路２６は、再生ＲＦ信号を２値化回路３４に供給する。２値化回路３４は、再生信号を２値化し、得られた８−１６変調信号をエンコード／デコード回路３６に供給する。エンコード／デコード回路３６では、２値化信号を８−１６復調及びエラー訂正して再生データを得、当該再生データをインタフェースＩ／Ｆ４０を介してパーソナルコンピュータなどのホスト装置に出力する。なお、再生データをホスト装置に出力する際には、エンコード／デコード回路３６はバッファメモリ３８に再生データを一旦蓄積した後に出力する。
【００１９】
光ディスク１０にデータを記録する際には、ホスト装置からの記録すべきデータはインターフェースＩ／Ｆ４０を介してエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、記録すべきデータをバッファメモリ３８に格納し、当該記録すべきデータをエンコードして８−１６変調データとしてライトストラテジ回路４２に供給する。ライトストラテジ回路４２は、変調データを所定の記録ストラテジに従ってマルチパルス（パルストレーン）に変換し、記録データとしてドライバ２２に供給する。記録ストラテジは、例えばマルチパルスにおける先頭パルスのパルス幅や後続パルスのパルス幅、パルスデューティから構成される。記録ストラテジは記録品質に影響することから、通常はある最適ストラテジに固定される。ＯＰＣ時に記録ストラテジを併せて設定してもよい。記録データによりパワー変調されたレーザ光は光ピックアップ１６のＬＤから照射されて光ディスク１０にデータが記録される。データは、記録パワーのレーザ光を照射して形成されるマーク部と、記録パワー以外のレーザ光（再生パワーやゼロパワーあるいはイレースパワー）が照射されるだけのスペース部の長さ、すなわちマークの前端及び後端のエッジ位置により記録されるマークエッジ方式である。データを記録した後、光ピックアップ１６は再生パワーのレーザ光を照射して当該記録データを再生し、ＲＦ回路２６に供給する。ＲＦ回路２６は再生信号を２値化回路３４に供給し、２値化された８−１６変調データはエンコード／デコード回路３６に供給される。エンコード／デコード回路３６は、８−１６変調データをデコードし、正常にデコードできない場合は交替処理を行う。具体的には、バッファメモリ３８に記憶されている記録済みデータを交替領域へ記録する。
【００２０】
なお、光ディスク１０にデータを記録する際には、ホスト装置からのライトコマンド及びこれに付随する記録すべきデータを受信し、指定されたアドレスに光ピックアップ１６をシークさせて記録動作に移行する。より詳しくは、スレッドモータ１８により光ピックアップ１６を所望のアドレス近傍までシークさせ、その後光ディスク１０のトラックに沿って数トラック分だけトレースして所望のアドレスに到達する。所望のアドレスに到達した後、ライトストラテジ回路４２から記録データをドライバ２２に供給して光ディスク１０にデータを記録する。
【００２１】
図２は、ホストから送信されたライトコマンドを受信した場合のフローチャートを示す。ライトコマンドを受信すると（Ｓ１０１）、システムコントローラ３２はスレッドモータ１８を駆動して光ピックアップ１６を所望アドレスの近傍までシークさせる（Ｓ１０２）。その後、ドライバ２２を駆動して光ピックアップ１６のＬＤから再生パワーのレーザ光を照射させ、光ディスク１０のトラックに沿ってトレースする（Ｓ１０３）。トレース時には、光ディスク１０からの戻り光を電気信号に変換し、ＲＦ回路２６に供給する。ＲＦ回路２６は、再生信号に含まれるアドレス信号をアドレスデコード回路２８に供給し、所望のアドレスに到達したか否かを検査する。所望のアドレスに達した時点でトレースを完了し、所望のアドレス位置からデータの記録を開始する（Ｓ１０４）。
【００２２】
本実施形態では、このような「ライトコマンド受信」、「シーク」、「トレース」、「データ記録開始」なる一連の動作における「トレース動作」に着目し、トレース動作中ではＬＤから再生パワーのレーザ光を光ディスク１０に照射しつつ複数トラック分移動することを利用し、この再生パワーの戻り光量を検出することで光ディスク１０の表面欠陥を検出する。
【００２３】
図３は、トレース期間中において再生パワーのレーザ光を照射したときの戻り光量変化を示す。図３（ａ）は戻り光量の変化、図３（ｂ）は欠陥検出信号である。光ディスク１０の表面に汚れやごみ、傷等の欠陥が存在しない場合、戻り光量は一定以上の値を示す。すなわち、トレースしたトラックが未記録状態のときには戻り光量はほぼ一定の高い値を示し、トレースしたトラックが記録済のときには記録ピットの影響でレベルは変動するが一定以上の値を示す。一方、トレースしたトラックに欠陥が存在すると、その部位では欠陥によりレーザ光が散乱あるいは吸収され、戻り光量は著しく低下する。したがって、戻り光量をしきい値Ｒｔｈと比較し、戻り光量≦Ｒｔｈを検出したときに欠陥ありとして欠陥信号を立ち上げることで、欠陥を検出することができる。欠陥信号生成回路は、コンパレータ及びＦＦで構成され、戻り光量≦Ｒｔｈとなったときに一定期間だけＨｉとなる信号を出力する。
【００２４】
図４は、トレース期間中に実行される欠陥検出処理の詳細フローチャートを示す。システムコントローラ３２は、レーザパワーを再生パワーに設定してトレースする（Ｓ１０１）。また、光ディスク１０の現在の駆動速度情報を取得し、現在の速度に応じたしきい値Ｒｔｈを設定する（Ｓ１０２）。しきい値Ｒｔｈを速度に応じて設定するのは、速度が増大するほど欠陥の影響が大きくなる、すなわち同一サイズの欠陥でも低速よりも高速の方が記録ミスが生じやすいからである。速度が大きくなるほどしきい値Ｒｔｈは大きく設定する。トレース中のトラックが未記録か記録済かでしきい値Ｒｔｈを変えても良い。未記録の場合、再生パワーのレーザ光を正常な光ディスクに照射したときの平均的な戻り光量よりも数％〜数十％低いレベルに設定すればよく、記録済の場合、ピット部分で得られる戻り光量よりも数％〜数十％低いレベルに設定すればよい。未記録か記録済かは、再生信号に含まれるＲＦ成分の有無で識別できる。トレース時には、戻り光に含まれるアドレス信号からアドレスをデコードして所望のアドレスに達したか否かを判定するとともに、和信号のレベルを検出する（Ｓ１０３）。戻り光量、すなわち和信号のレベルは、ＲＦ回路２６で検出してもよく、２値化回路３４の前段で検出してシステムコントローラ３２に供給してもよい。戻り光量Ｒを検出した後、戻り光量Ｒをしきい値Ｒｔｈと大小比較する（Ｓ１０４）。
【００２５】
Ｒ≦Ｒｔｈである場合、光ディスク１０の表面欠陥により戻り光量が低下したと考えられるから、欠陥ありと判定する（Ｓ１０５）。そして、光ディスク１０の駆動速度を現在よりも減速できるか否かを判定する（Ｓ１０６）。光ディスク装置によっては、下限の駆動速度が定まっており、現在の駆動速度が既にこの下限速度に設定されている場合にはさらに減速することはできないため、表面欠陥を検出した場合には所定のエラー処理を行う（Ｓ１０７）。例えば、記録動作を中止してその旨のコマンドをホスト側に返す。一方、減速可能であれば、減速することで表面欠陥の影響を低減させ、記録動作に対する欠陥の影響を排除できる可能性があることから、システムコントローラ３２はドライバ１４を駆動して光ディスク１０の駆動速度を所定量あるいは所定比率だけ減速する（Ｓ１０８）。減速段数を予め設定してもよい。減速制御した後、再びＳ１０２以降の処理を繰り返す。この際、Ｓ１０２では速度に応じたしきい値が設定されるため、Ｓ１０８で減速制御された後のＳ１０２では、最初のＳ１０２において設定されたしきい値と異なるしきい値Ｒｔｈが設定されることになる。最初のしきい値をＲｔｈ（高速）、減速制御後に再設定されるしきい値をＲｔｈ（低速）とすると、Ｒｔｈ（高速）≧Ｒｔｈ（低速）である。Ｒｔｈが大きいということは正常な光ディスクの戻り光量に近い値にしきい値が設定されることを意味し、それだけ欠陥の検出精度が高くなることを意味する。高速時には小さな欠陥であっても記録特性に影響があることを考慮したものである。
【００２６】
また、Ｒ＞Ｒｔｈであれば、表面欠陥が存在しないことになるから、引き続き戻り光量を検出してしきい値と比較する。以上の処理をトレース期間中に実行し、光ピックアップ１６がデータを記録すべき所望のアドレスに達した場合にトレース動作を終了し、同時に表面欠陥検出処理も終了する。
【００２７】
以上のようにして、トレース期間中において表面欠陥を検出でき、表面欠陥を検出した場合に減速処理する、あるいはエラー処理することで、記録すべきデータが途中で記録できなくなり、データが消失するおそれを未然に回避できる。本実施形態では、一連の記録動作におけるトレース期間において表面欠陥を検出するため、表面欠陥検出のために無駄な時間を費やすことがない。また、再生パワーのレーザ光で表面欠陥を検出するため、データの再生時と同じ環境で欠陥を検出できる利点もある。また、表面欠陥を検出した場合に、一律にエラー処理するのではなく、減速処理して表面欠陥の影響を見かけ上なくすようにしているので、記録エラーの回数を低減し得る効果もある。
【００２８】
本実施形態では、戻り光量Ｒをしきい値Ｒｔｈと大小比較することで表面欠陥の有無を判定しているが、表面欠陥は多様であり、表面欠陥による戻り光量の低下度合いも多様に存在し得る。
【００２９】
図５は、表面欠陥による戻り光量低下のパターンを示す。図５（ａ）は比較的「浅い」欠陥が数十トラックにわたって存在する場合であり、周期的に戻り光量が低下する。図５（ｂ）は比較的「深い」欠陥が数トラックにわたって存在する場合、図５（ｃ）は非常に「深い」欠陥があるトラックのみに存在する場合である。これらはいずれも表面欠陥であるが、その態様が異なる。数十トラックにわたるようなサイズの大きな欠陥であっても、その深さが「浅い」欠陥であれば欠陥の程度としては小さいと考えられる。一方、２、３のトラックのみに限定されるようなサイズの小さな欠陥であっても、その深さが「深い」欠陥であれば欠陥の程度としては大きいとも考えられる。記録再生特性に影響を与え得る欠陥は、単にサイズだけではなくその深さ（つまり、戻り光量の低下の度合い）に依存すると考えられるから、表面欠陥の有無を判定する際には、表面欠陥の度合いも考慮することが好適である。図５における斜線部分は、Ｒｔｈを下回る領域であり、この領域の面積が大なるほど欠陥の程度は大きいといえる。
【００３０】
図６は、表面欠陥の度合いを考慮した表面欠陥検出処理フローチャートを示す。図４におけるＳ１０５に相当する処理である。図４では、Ｒ≦Ｒｔｈである場合に直ちに表面欠陥ありと判定したが、この例ではＲ≦Ｒｔｈであってもさらに追加の判定処理を行う。
【００３１】
すなわち、Ｒ≦Ｒｔｈである場合、次にその深さを評価すべく、ｉをインデックスとして、ΔＲｉ＝Ｒｔｈ−Ｒｉを演算する（Ｓ１０５１）。欠陥が深いほどＲは小さくなるため差分値ΔＲは大きくなる。次に、Ｒ≦Ｒｔｈとなる戻り光量の幅（時間幅）ｄｉを検出し（Ｓ１０５２）、これらの積和Ｓ＝Σ（ΔＲｉ・ｄｉ）を演算する（Ｓ１０５３）。Ｓは、図５における斜線部分の面積に相当することは明らかである。Ｓを演算した後、このＳをしきい値Ｓｔｈと大小比較し（Ｓ１０５４）、Ｓ＞Ｓｔｈであれば表面欠陥ありと判定し（Ｓ１０５５）、Ｓ≦Ｓｔｈであれば表面欠陥なしと判定する（Ｓ１０５６）。ＳｔｈはＲｔｈと同様に駆動速度に応じて設定することが好適である。
【００３２】
図６では、欠陥の有無を検出するためにＳをＳｔｈと大小比較しているが、欠陥の有無はＲとＲｔｈとの大小比較で行い、欠陥ありと判定した場合であってその欠陥の程度を評価するためにＳとＳｔｈとを大小比較し、その比較結果に応じて表面欠陥を検出した後の処理を適応的に変化させてもよい。
【００３３】
図７は、他の実施形態におけるトレース期間中の処理フローチャートを示す。Ｓ２０１〜Ｓ２０５は図４におけるＳ１０１〜Ｓ１０５と同様である。Ｓ２０５で欠陥を検出した後、システムコントローラ３２は図６のＳ１０５１〜Ｓ１０５３に示す処理で得られたＳをしきい値Ｓｔｈ１と大小比較する（Ｓ２０６）。このＳｔｈ１は、表面欠陥の程度を評価するしきい値であって、定性的には表面欠陥の程度を大、中、小と３段階で評価する場合の、大に相当するか否かを評価するためのしきい値である。Ｓｔｈ１はＳ２０２において駆動速度に応じて設定された値を用いる。そして、Ｓ＞Ｓｔｈ１であれば欠陥の程度は大きいと判定され、次に現状から減速可能か否かを判定する（Ｓ２０７）。既に下限速度で駆動していれば所定のエラー処理を実行し（Ｓ２０９）、減速可能であれば減速処理を実行する（Ｓ２０８）。減速処理した後、再びＳ２０２以降の処理を繰り返す。
【００３４】
一方、Ｓ≦Ｓｔｈ１である場合、次に、ＳとＳｔｈ２を大小比較する。Ｓｔｈ２は、表面欠陥の程度が小に相当するか否かを評価するためのしきい値である。Ｓｔｈ２もＳ２０２において駆動速度に応じて設定された値を用いる。Ｓｔｈ１とＳｔｈ２との関係は、Ｓｔｈ１＞Ｓｔｈ２である。Ｓ＜Ｓｔｈ２であれば欠陥の程度は小さいと判定され、さらに加速可能であるか否かを判定する（Ｓ２１１）。加速可能であれば、加速処理を実行する（Ｓ２１２）。Ｓ２０８で減速処理している場合、加速可能であるためこの加速処理により元の駆動速度に復帰する。駆動速度が既に上限値に達していれば加速不能であるから、現状の速度のままＳ２０３以降の処理を繰り返す。Ｓ≧Ｓｔｈ２である場合、欠陥の程度は大でもなく小でもなく中と判定され、加速処理あるいは減速処理を行うことなく現状の速度のままＳ２０３以降の処理を繰り返す。
【００３５】
図８は、以上の処理を欠陥の程度と駆動速度との関係として示す。図において、横軸は欠陥の程度を示すＳである。Ｓ＞Ｓｔｈ１であれば欠陥の程度が大きく、現状の駆動速度では記録エラーとなるおそれが高いとして駆動速度を低速側に切り替える減速処理を行う。図の「減速領域」である。Ｓ＜Ｓｔｈ２であれば欠陥の程度は小さく、元の駆動速度に復帰しても記録エラーとなるおそれが小さいとして駆動速度を高速側に切り替える加速処理を行う。なお、Ｓ＜Ｓｔｈ２であっても、それ以前に減速処理が行われていない場合には加速処理を行う必要がないのはいうまでもない。減速処理を行っていないのに、欠陥の程度が小さいからといって駆動速度を増大するのは不合理だからである。したがって、図７の処理において、Ｓ２０８で減速処理した場合に減速フラグをセットしておき、加速可能であるか否かを判定するＳ２１１において、減速フラグがセットされており、かつ、上限値に達していない場合に加速可能であるとして加速処理に移行するのが好適である。Ｓｔｈ２≦Ｓ≦Ｓｔｈ１は現在の速度を維持する領域であり、Ｓ２０８で減速処理され、減速フラグがセットされていても、Ｓがこの範囲内にある限りさらなる減速処理あるいは加速処理を行うことのない領域である。この維持領域は緩衝領域として機能する。仮に、しきい値としてＳｔｈ１のみを用いたとし、Ｓが一旦Ｓｔｈ１を超えたとして減速処理としても、次のトレース時にＳ≦Ｓｔｈ１であったとして直ちに元の駆動速度に復帰したのでは記録エラーが生じるおそれがある。一旦減速処理した場合に、元の速度に復帰するためのしきい値としてＳｔｈ２を設け、Ｓ≦Ｓｔｈ１であったとしてもＳ＞Ｓｔｈ２である限り低速での駆動を継続して記録エラーを未然に防ぎ、Ｓ≦Ｓｔｈ２となって欠陥の程度が小さいことが確認された時点で元の速度に復帰することで、記録エラーを防ぎつつ記録時間の短縮を図ることができる。
【００３６】
以上、トレース期間中において表面欠陥を検出する場合について説明したが、トレース期間が終了し、記録を開始した後においても表面欠陥を検出することができる。記録開始後であっても表面欠陥を検出する技術として、上記の特許文献２あるいは特許文献３に記載された技術があるが、本実施形態では、再生パワーに記録パワーを重畳してなる記録時のレーザパワーにおいて、再生パワー照射のタイミングにおいて戻り光量をサンプリングし、その戻り光量に基づいて表面欠陥を検出する。
【００３７】
図９は、記録波形と和信号波形の関係を示す。データはマルチパルスで記録される。マルチパルスのタイミングで記録パワーＰｗのレーザ光が照射され、それ以外では再生パワーＰｒのレーザ光が照射される。記録パワーＰｗで光ディスク１０にピット（あるいはマーク）が形成され、その反射率が変化する。表面欠陥が存在すると、マルチパルス部分及びそれ以外の部分において戻り光量（和信号）のレベルが変動するが、マルチパルス部分ではピット形成に伴う反射率変化が生じるため欠陥による戻り光量変化分だけを検出することは困難である。一方、ピット（マーク）が形成されないスペース部分においてはピット形成による反射率変化が生ぜず、欠陥による戻り光量変化のみを検出可能である。図において、マルチパルス間の再生パワー照射期間の和信号のレベルＡが欠陥の存在により低下していることを示す。したがって、再生パワーのタイミングで和信号レベルをサンプリングし、得られた値を所定のしきい値と大小比較することで、トレース期間と同様に表面欠陥を検出できる。このときのしきい値は、トレース期間におけるしきい値と同じ値を用いることができる。光ディスク１０への入射レーザ光パワーはともに再生パワーだからである。
【００３８】
なお、ＤＶＤ−ＲＷ等の書き換え可能な光ディスクにデータを記録する際には、再生パワーＰｒに消去パワーＰｅ及び記録パワーＰｗを重畳する。したがって、再生パワーＰｒのタイミングではなく、消去パワーＰｅの照射タイミングで和信号をサンプリングしてもよい。サンプリングして得られた値を所定のしきい値と比較する。但し、この場合のしきい値は、再生パワー照射時のしきい値と異なる値を設定する。Ｐｒ＜Ｐｅであるから、再生パワー照射時のしきい値よりも大きいしきい値を設定する。ＰｒとＰｅとのパワー比を用いて、再生パワー照射時のしきい値から消去パワー照射時のしきい値を演算で算出してもよい。再生パワー照射時と消去パワー照射時でともに和信号をサンプリングし、それぞれの値をしきい値と大小比較して欠陥を検出してもよい。この場合、再生パワーから消去パワーに切り替わるタイミングでしきい値を切り替える。データ記録開始後の処理においても、トレース期間中の処理と同様に、表面欠陥が検出された場合に減速処理を行う。また、表面欠陥の程度に応じて減速処理／加速処理／現状維持処理を実行する。
【００３９】
本実施形態では、トレース期間中あるいは記録開始後の再生パワー照射期間中において戻り光量を検出して表面欠陥を検出する場合について説明したが、これらは任意に組み合わせることができる。すなわち、トレース期間中のみ戻り光量を検出する、記録開始後の再生パワー照射期間中のみ戻り光量を検出する他、トレース期間中及び記録開始後の再生パワー照射期間中に戻り光量を検出して表面欠陥を検出する等である。
【００４０】
図１０は、他の実施形態の処理フローチャートを示す。トレース期間中及び記録開始後の再生パワー照射期間中において表面欠陥を検出する処理である。ホストからライトコマンドを受信すると（Ｓ３０１）、光ピックアップ（ヘッド）１６をディスク半径方向にシークする（Ｓ３０２）。その後、再生パワーのレーザ光を照射してアドレスを読み取りつつトレースする（Ｓ３０３）。トレース期間中において、戻り光量を所定のしきい値と比較する表面欠陥検出処理を実行する（Ｓ３０４）。表面欠陥が検出された場合はエラー処理あるいは減速処理を実行する。光ピックアップ１６が所望のアドレスに達した時点でトレースは終了し（Ｓ３０５）、トレース期間中の表面欠陥検出処理も終了する。所望のアドレスからデータの記録動作を開始し（Ｓ３０６）、レーザパワーを変調してデータを記録する。データ記録期間中、再生パワーのタイミング、あるいは消去パワーのタイミングで戻り光量を検出し、所定のしきい値と比較して表面欠陥を検出する（Ｓ３０７）。データ記録が終了すると、表面欠陥検出処理も終了する（Ｓ３０８）。図１０の処理では、トレース期間中のみならず記録期間中も光ディスク１０の表面欠陥を検出することができるため、より広範囲で欠陥を検出できる。なお、上記の実施形態では、戻り光量が低下することをもってディスクの欠陥を検出するようにしているが、ディスクに色素膜のムラなどの記録膜の異常がある場合のように、欠陥によっては逆に戻り光量が増加することがある。そこで、上記実施形態に加えてこの戻り光量の増加を検出すべくしきい値を設定するようにしてもよい。このように、戻り光量の変動に基づいて欠陥を検出することにより、幅広い欠陥の検出が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００４１】
【図１】実施形態に係る光ディスク装置の全体構成図である。
【図２】実施形態のライトコマンド受信後のフローチャートである。
【図３】表面欠陥による戻り光量低下説明図である。
【図４】実施形態の処理フローチャートである。
【図５】実施形態の表面欠陥による戻り光量低下説明図である。
【図６】実施形態の他の処理フローチャートである。
【図７】実施形態のさらに他の処理フローチャートである。
【図８】実施形態のしきい値と速度制御との関係を示す図である。
【図９】記録波形と和信号波形の関係を示す図である。
【図１０】実施形態のさらに他の処理フローチャートである。
【符号の説明】
【００４２】
１０  光ディスク、１６  光ピックアップ（ヘッド）、３２  システムコントローラ。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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