(57)【要約】【課題】  不良ブロックアドレスを取得する機能がサポートされてない場合でも、不良ブロックを特定し得る。【解決手段】  ブロック単位でアクセス可能のディスクの不良ブロック検出装置１０において、連続する複数ブロックから成るブロック群単位でディスクへのアクセスを順に行って、不良ブロック群を特定する不良ブロック群特定部６２と、アクセス不良のブロック群を検出すると、当該不良ブロック群における各ブロックに対し、順にアクセスを行い、不良ブロックを特定する不良ブロック特定部６３とを備える。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
ブロック単位でアクセス可能のディスクの不良ブロック検出方法において、
連続する複数ブロックから成るブロック群単位でディスクへのアクセスを順に行って、不良ブロック群を特定する不良ブロック群特定工程と、
アクセス不良のブロック群を検出すると、当該不良ブロック群における各ブロックに対し、順にアクセスを行い、不良ブロックを特定する不良ブロック特定工程と、を備えることを特徴とする不良ブロック検出方法。
【請求項２】
所定の時間間隔毎に、前記不良ブロックの検出を行うことを特徴とする請求項１記載の不良ブロック検出方法。
【請求項３】
前記ディスクはミラーリングされており、
一方のディスクにおいて不良ブロックを検出すると、当該不良ブロックに該当する他方のディスクの良好ブロックに基づいて、前記不良ブロックの修正を行う補修工程を備えることを特徴とする請求項１記載の不良ブロック検出方法。
【請求項４】
ブロック単位でアクセス可能のディスクの不良ブロック検出装置において、
連続する複数ブロックから成るブロック群単位でディスクへのアクセスを順に行って、不良ブロック群を特定する不良ブロック群特定部と、
アクセス不良のブロック群を検出すると、当該不良ブロック群における各ブロックに対し、順にアクセスを行い、不良ブロックを特定する不良ブロック特定部と、を備えることを特徴とする不良ブロック検出装置。
【請求項５】
前記不良ブロックの検出を、所定の時間間隔毎に行うためのタイマ部を備えることを特徴とする請求項４記載の不良ブロック検出装置。
【請求項６】
前記ディスクがミラーリングされており、
一方のディスクにおいて不良ブロックを検出すると、当該不良ブロックに該当する他方のディスクの良好ブロックに基づいて前記不良ブロックの補修を行う補修部を備えることを特徴とする請求項４記載の不良ブロック検出装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ブロック単位でアクセス可能のディスクにおける不良ブロックの検出方法および不良ブロック検出装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
記憶媒体としてのディスクはブロック単位でアクセス可能であり、ＳＣＳＩ（Ｓｍａｌｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ  Ｓｙｓｔｅｍ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）と称される規格に準拠してアクセスが行われる。ＳＣＳＩに準拠したアクセスでは、例えば読出し時に、所望のブロックにアクセスが出来ない場合、すなわち所望ブロックが不良の場合、アクセス要求に対するステータスの結果、「ｇｏｏｄ」なら正常、「ｃｈｅｃｋ」ならＲｅｑｕｅｓｔ  Ｓｅｎｓｅコマンドにより、不良ブロックのアドレスを取得する機能がサポートされている。
従って、例えばディスクがミラーリングされている場合、特許文献１に開示されているように、取得したアドレスに基づいて、正常なディスクのブロックを特定し、当該正常なブロックを用いて不良ブロックの補修を行うことができる。
【特許文献１】特開２０００−１２３４５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
ところで、不良ブロックアドレスを取得する機能がサポートされていない場合、例えばＳＣＳＩバスによるＳＣＳＩ−ＩＤＥ変換ボードを介したＩＤＥディスクへのアクセスを行う等の特殊な場合、不良ブロックのアドレスを取得して通知する機能がサポートされていない。従って、不良ブロックを特定することができず、当該不良ブロックの修復が困難であった。
従って、前記した課題に鑑みて、本発明の目的は、不良ブロックアドレスを取得する機能がサポートされてない場合でも、不良ブロックを特定し得る不良ブロック検出方法および不良ブロック検出装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【０００４】
本発明は、以上の点を解決するために、次の構成を採用する。
〈構成〉
ブロック単位でアクセス可能のディスクの不良ブロック検出方法において、連続する複数ブロックから成るブロック群単位でディスクへのアクセスを順に行って、不良ブロック群を特定する不良ブロック群特定工程と、アクセス不良のブロック群を検出すると、当該不良ブロック群における各ブロックに対し、順にアクセスを行い、不良ブロックを特定する不良ブロック特定工程と、を備えることを特徴とする。
【０００５】
ブロック単位でアクセス可能のディスクの不良ブロック検出装置において、連続する複数ブロックから成るブロック群単位でディスクへのアクセスを順に行って、不良ブロック群を特定する不良ブロック群特定部と、アクセス不良のブロック群を検出すると、当該不良ブロック群における各ブロックに対し、順にアクセスを行い、不良ブロックを特定する不良ブロック特定部と、を備えることを特徴とする。
【発明の効果】
【０００６】
本発明によれば、連続する複数ブロックから成るブロック群単位で、ディスクへのアクセスを行って、不良ブロック群を特定すると、当該不良ブロック群における各ブロックに対し順にアクセスを行って、不良ブロックを特定することにより、不良ブロックのアドレスを特定することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００７】
以下、本発明の実施形態について、図を用いて詳細に説明する。
【実施例１】
【０００８】
本発明の不良ブロック検出装置１０は、図１に示されているように、一般的にハードディスクと称される不揮発性記憶媒体としての第１ディスク２０と第２ディスク３０とに、ＳＣＳＩ（Ｓｍａｌｌ  Ｃｏｍｐｕｔｅｒ  Ｓｙｓｔｅｍ  Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）又はＩＤＥ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ  Ｄｒｉｖｅ  Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ）と称されるインタフェースをそれぞれ介して接続されている。
【０００９】
第１ディスク２０および第２ディスク３０は、ブロックと称される所定のアクセス単位で読出し書込みが行われており、換言すると第１ディスク２０および第２ディスク３０は、その記憶領域をブロック単位で分割管理しており、分割管理する各ＳＣＳＩおよびＩＤＥにおける記憶領域は、一般的にブロックと称されている。
【００１０】
不良ブロック検出装置１０は、ＳＣＳＩ又はＩＤＥインタフェースを介して第１ディスクを制御するための第１ディスク制御部４０と、ＳＣＳＩ又はＩＤＥインタフェースを介して第２ディスクを制御するための第２ディスク制御部５０と、該各ディスク制御部を介してディスクのアクセス制御の管理を行うための制御管理部６０とを備えている。
【００１１】
第１ディスク制御部４０および第２ディスク制御部５０は、ＳＣＳＩ又はＩＤＥインタフェースを介して接続するディスクのアクセス制御を行い、その制御結果をステータスとして制御管理部６０に通知する。
【００１２】
制御管理部６０は、第１ディスク２０および第２ディスク３０の記憶内容を相互に統一するためのミラーリング制御を行うミラーリング部６１と、連続する複数ブロックから成るブロック群単位でディスクへのアクセスを行って不良ブロック群を特定する不良ブロック群特定部６２と、特定した不良ブロック群における各ブロックに対し、順にアクセスを行って不良ブロックを特定する不良ブロック特定部６３と、所定の時間間隔毎に、前記不良ブロックの検出を行うための時間管理を行うタイマ部６４と、特定した不良ブロックを補修するための補修部６５とを備える。
【００１３】
ミラーリング部６１は、予め設定されている日時に、第１ディスク２０の保持内容および第２ディスク３０の保持内容を相互に統一を図るミラーリング制御を行う。このミラーリング制御により、第１ディスク２０の保持内容が第２ディスク３０にコピーされ、若しくは第２ディスク３０の保持内容が第１ディスク２０にコピーされ、相互に保持内容の統一を図ることができる。
【００１４】
不良ブロック群特定部６２は、ディスクに対し、複数の連続するブロックから成るブロック群単位で順にアクセスを行い、アクセスしたブロック群が不良であるか否かを判定する。すなわち、不良ブロック群特定部６２は、ディスクに対しブロック群単位で読出し処理を行ったとき、処理結果として異常ステータスを受けると、正常に読み出すことができない不良ブロックがブロック群に含まれており、当該ブロック群が不良であると特定する。
【００１５】
不良ブロック特定部６３は、不良ブロック群特定部６２で特定した不良ブロック群に含まれる不良ブロックを特定すべく、不良ブロック群における各ブロックに対し、順にブロック単位でアクセスを行い、アクセスしたブロックが不良ブロックであるか否かを判定する。すなわち、不良ブロック特定部６３は、ブロック単位で読出し処理を行ったとき、処理結果として異常ステータスを受けると、当該ブロックが不良であると特定する。尚、不良ブロック特定部６３は、ブロック単位で順にアクセスを行うための管理番号（診断ブロック番号）に基づいて不良ブロックの検出処理を行う。
【００１６】
補修部６５は、不良ブロック特定部６３で特定した一方のディスクの不良ブロックを補修すべく、特定した不良ブロックのアドレスに基づいて、他方のディスクから良好なブロックを読出し、読出した良好なブロックの内容を不良ブロックの内容にコピーして不良ブロックを補修する。
【００１７】
タイマ部６４は、不良ブロックの検出を開始するための時間管理を行っており、例えばディスクへのアクセス回数が低減する日または時間帯に不良ブロック群特定部６２の起動指示を行うべく、時間管理のためのタイマを備えている。
【００１８】
次に、本発明の不良ブロック検出装置１０の動作を、図２のフローチャートおよび図３のディスク処理の模式図を用いて説明を行う。尚、本実施例では、診断対象のディスクを第１ディスク２０として説明を行う。
【００１９】
不良ブロック検出装置１０のミラーリング部６１は、図３（ａ）に示すように、予め設定されている日時になると、ミラーリング制御を行って、第１ディスク２０の記憶内容および第２ディスク３０の記憶内容を相互に一致させる。
【００２０】
不良ブロック検出装置１０は、予め設定されている定期診断日時になると、タイマ部６４から不良ブロック群特定部６２に対し、定期診断の開始が指示される。
指示を受けた不良ブロック群特定部６２は、所定のブロック数から成るブロック群単位で第１ディスク２０の定期診断を開始する（ステップＳ１）。
【００２１】
第１ディスク２０に対し、ブロック群単位で診断を行って、該第１ディスク２０における全てのブロック群において異常が無いとき、診断処理を終了する。
一方、第１ディスク２０に対するブロック群単位での診断結果において（ステップ２）、図３（ｂ）に示すように、不良ブロック群を検出すると、この検出で取得するステータス内容に基づいて障害種別を判定する（ステップＳ３）。
【００２２】
この判定でブロックに対するアクセス障害であると判断すると、不良ブロック特定部６３は、不良ブロック群特定部６２で特定した不良ブロック群に含まれる不良ブロックを特定すべく、図３（ｃ）に示すように、不良ブロック群における各ブロックに対し、順にブロック単位でアクセスを行い（ステップＳ４）、アクセスしたブロックが不良ブロックであるか否かを判定する（ステップＳ５）。
【００２３】
尚、前記したステップＳ５において、異常が検出されないとき、当該不良ブロック群における各ブロックの診断が終了するまで（ステップＳ６）、該各ブロックを管理するための管理番号（診断ブロック番号）を次のブロックに更新し（ステップＳ７）、当該管理番号に示されるブロックの不良診断を行うべく、前記ステップＳ４からの処理を行う。
【００２４】
一方、前記したステップＳ５において、不良ブロック群に対するブロック単位での診断で不良ブロックを検出すると、この検出で取得するステータス内容に基づいて障害種別を判定する（ステップＳ８）。この判定でブロックに対するアクセス障害であるとき、補修部６５は、図３（ｄ）に示すように、検出した不良ブロックのアドレスに基づいて、第２ディスク３０から良好なブロックを読出し、読出した良好なブロックの内容を不良ブロックの内容にコピーして不良ブロックを補修する（ステップＳ９）。尚、補修部６５は、補修結果の確認を行う（ステップＳ１０）。
【００２５】
補修部６５は、不良ブロックの診断ブロック番号を障害ブロック番号として結果レポートを作成し（ステップＳ１１）、処理を終了する。
尚、不良ブロック特定部６３は、不良ブロック群内に、更に他の不良ブロックが存在するか否か検出すべく、当該不良ブロック群における各ブロックの診断が終了するまで（ステップＳ６）、該各ブロックを管理するための管理番号（診断ブロック番号）を次のブロックに更新し（ステップＳ７）、当該管理番号に示されるブロックの不良診断を行うべく、前記ステップＳ４からの処理を行う。
【００２６】
前記したように、本発明の不良ブロック検出装置１０によれば、所定の定期診断日時になると、連続する複数ブロックから成るブロック群単位で、第１ディスク２０へのアクセスを行って、不良ブロック群を特定すると、当該不良ブロック群における各ブロックに対し順にアクセスを行って、不良ブロックを特定することにより、不良ブロックアドレスを取得する機能がサポートされてない場合でも、不良ブロックのアドレスを特定することができる。
【産業上の利用可能性】
【００２７】
実施例では、第１ディスク２０の定期診断を行う例で説明したが、前記した不良ブロック検出方法を用いて、第１ディスク２０のミラーリングが行われている第２ディスク３０の定期診断を行ってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の不良ブロック検出装置の機能ブロック図である。
【図２】本発明の不良ブロック検出装置の動作フローチャートである。
【図３】ディスク処理の模式図である。
【符号の説明】
【００２９】
１０  不良ブロック検出装置
２０  第１ディスク
３０  第２ディスク
４０  第１ディスク制御部
５０  第２ディスク制御部
６０  制御管理部
６１  ミラーリング部
６２  不良ブロック群特定部
６３  不良ブロック特定部
６４  タイマ部
６５  補修部
【図１】
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【図２】
2006276965.tif 000004
【図３】
2006276965.tif 000005