(57)【要約】【課題】従来に比べて正確で高安定に誤り特性を試験できるようにする。【解決手段】メディアに書き込まれたトラックであって、複数のデータフィールドと複数の位置検出フィールドを有するトラックの近傍の所定位置にヘッドを位置決めし、前記ヘッドおよび前記メディアの少なくとも一方の誤り特性を試験する方法であって、前記ヘッドを用いて、各前記データフィールドについて誤り特性を試験する第一のステップと、前記ヘッドを用いて、各前記誤り特性試験の前または後に前記位置検出フィールドを参照して前記ヘッドの位置を検出し、各前記誤り特性の試験結果と関連づける第二のステップとを含む。【選択図】図４
2006302406.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
メディアに書き込まれたトラックであって、複数のデータフィールドと複数の位置検出フィールドを有するトラックの近傍の所定位置にヘッドを位置決めし、前記ヘッドおよび前記メディアの少なくとも一方の誤り特性を試験する方法であって、
前記ヘッドを用いて、各前記データフィールドについて誤り特性を試験する第一のステップと、
前記ヘッドを用いて、各前記誤り特性試験の前または後に前記位置検出フィールドを参照して前記ヘッドの位置を検出し、各前記誤り特性の試験結果と関連づける第二のステップと、
を含むことを特徴とする誤り特性試験方法。
【請求項２】
前記所定位置が、前記トラック幅方向の異なる複数の位置に変更され、
前記所定位置が変更される毎に、前記第一のステップと前記第二のステップを実施する、
ことを特徴とする請求項１に記載の誤り特性試験方法。
【請求項３】
前記試験結果と対応する前記ヘッド位置とを変数とする散布図を作成するステップを、
さらに含むことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の誤り特性試験方法。
【請求項４】
１つの前記所定位置に関連して得られる前記試験結果であって、対応する前記ヘッド位置が所定の位置範囲に含まれる前記試験結果の全てから、１つの誤り特性を導出するステップを、
さらに含むことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の誤り特性試験方法。
【請求項５】
複数の前記所定位置に関連して得られる前記試験結果であって、対応するヘッド位置が所定の位置範囲に含まれる前記試験結果の全てから１つの誤り特性を導出するステップを、
さらに含むことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の誤り特性試験方法。
【請求項６】
請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の方法を実施することにより、ヘッドおよびメディアの少なくとも一方の誤り特性を試験する装置。
【請求項７】
ヘッドおよびメディアの少なくとも一方の誤り特性を試験する装置に、請求項１乃至請求項５のいずれかに記載の方法を実施させるためのプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、メディアおよびヘッドの少なくとも一方を試験する方法に係り、特に誤り特性を試験する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ハードディスクドライブを構成するメディアおよびヘッドの試験項目の１つに、誤り特性試験がある。誤り特性試験のうち、特に、メディアに書き込まれたトラックの近傍でヘッドをトラック幅方向に掃引させながらビット誤り率の変化を観測する試験を、バスタブカーブ試験という。この試験で得られるグラフは、バスタブの断面形状に似ていることからバスタブカーブと呼ばれている。このバスタブカーブ試験は、ヘッドの書き込み密度や読み出し密度の評価において最も重要な試験であり頻繁に実施される（例えば、特許文献１を参照。）。
【０００３】
このバスタブカーブ試験は、ヘッドをトラック幅方向に安定的にずらしていく必要がある。ヘッドの位置安定性は、メカ構造と位置決めサーボに依存している。従来、これら２つの側面から、ヘッドの位置安定性の向上が図られてきた。具体的には、ヘッド位置の揺らぎが生じにくいメカ構造の採用やヘッドの位置を制御するサーボの広帯域化などが行われてきた（例えば、特許文献２を参照。）。以下、ヘッド位置の揺らぎを、揺らぎの周波数に関係なく、ジッタ（Jitter）と称する。
【０００４】
【特許文献１】特開平７−３２０２４８号公報（第９頁、図７）
【特許文献２】特開２００１−０３５０９１号公報（第３頁）
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
さて、従来技術ではジッタを除去しきれていない。例えば、メカに起因する高周波のジッタは、サーボで補正しきれず残留してしまう。この残留高周波ジッタは、バスタブカーブ試験の結果に悪影響を及ぼす。
【０００６】
ここで、残留高周波ジッタの影響について、図１を参照しながら以下に説明する。図１の右部は、トラック１００とヘッド２００の位置関係を示している。また、図１の左部は、バスタブカーブ、すなわち、ビット誤り率のグラフを示している。縦軸Ｙは、トラック１００の幅方向Ｗにおけるヘッド２００の位置を示している。横軸Ｘは、ビット誤り率を示す。ビット誤り率は、ヘッド２００の位置ズレに対して指数関数的に変化するので、横軸はログスケールとなっている。なお、縦軸はリニアスケールである。
【０００７】
まず、ジッタが残留しない理想状態で試験が行われるものと仮定する。すると、ヘッド２００が位置ａ〜ｃのそれぞれに位置決めされる時、ビット誤り率ｍ１〜ｍ３のそれぞれが得られる。ヘッド２００をさらに細かい間隔でトラック１００の幅方向Ｗに順次位置決めすると、バスタブカーブｖ１が得られる。
【０００８】
理想状態であれば、位置ｃにあるヘッド２００は、トラック１００に沿って真っすぐ図中右方向に移動する。しかしながら、ジッタが残留している場合、位置ｃにあるヘッド２００は、位置ｃ〜ｇで示されるような軌跡を描きながら移動する。ビット誤り率は、ヘッドの位置ズレに対して指数関数的に変化するので、トラックプロファイル測定のようにジッタの影響を平均処理によって抑制することはできない。従って、ジッタが残留している場合、理想的なバスタブカーブｖ１に比べて幅広いバスタブカーブｖ２が得られてしまう。その結果、ある密度特性を有するヘッドは、本来よりも低密度なヘッドであると判定されてしまうのである。
【０００９】
そこで、本発明は、ジッタの影響を受けることなく、従来に比べて正確で高安定に誤り特性を試験できる方法、および、該方法を実施する誤り特性試験装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
本第一の発明は、メディアに書き込まれたトラックであって、複数のデータフィールドと複数の位置検出フィールドを有するトラックの近傍の所定位置にヘッドを位置決めし、前記ヘッドおよび前記メディアの少なくとも一方の誤り特性を試験する方法であって、前記ヘッドを用いて、各前記データフィールドについて誤り特性を試験する第一のステップと、前記ヘッドを用いて、各前記誤り特性試験の前または後に前記位置検出フィールドを参照して前記ヘッドの位置を検出し、各前記誤り特性の試験結果と関連づける第二のステップと、を含むことを特徴とするものである。
【００１１】
本第二の発明は、本第一の発明において、前記所定位置が前記トラック幅方向の異なる複数の位置に変更され、前記所定位置が変更される毎に前記第一のステップと前記第二のステップを実施することを特徴とするものである。
【００１２】
本第三の発明は、本第一の発明または本第二の発明において、前記試験結果と対応する前記ヘッド位置とを変数とする散布図を作成するステップを、さらに含むことを特徴とするものである。
【００１３】
本第四の発明は、本第一の発明または本第二の発明において、１つの前記所定位置に関連して得られる前記試験結果であって、対応する前記ヘッド位置が所定の位置範囲に含まれる前記試験結果の全てから１つの誤り特性を導出するステップを、さらに含むことを特徴とするものである。
【００１４】
本第五の発明は、本第一の発明または本第二の発明において、複数の前記所定位置に関連して得られる前記試験結果であって、対応するヘッド位置が所定の位置範囲に含まれる前記試験結果の全てから、１つの誤り特性を導出するステップを、さらに含むことを特徴とするものである。
【００１５】
本第六の発明は、本第一の発明乃至本第五の発明のいずれかに記載の方法を実施することにより、ヘッドおよびメディアの少なくとも一方の誤り特性を試験する装置である。
【００１６】
本第七の発明は、ヘッドおよびメディアの少なくとも一方の誤り特性を試験する装置に、本第一の発明乃至本第五の発明のいずれかに記載の方法を実施させるためのプログラムである。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、残留ジッタの影響を受けることなく、従来に比べて正確で安定した誤り特性試験を実施できるようになる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
本発明の実施の形態を、添付の図面を適宜参照しながら、以下に説明する。本第一の実施形態および第二の実施形態および第三の実施形態では、ヘッドをトラック幅方向の異なる複数の所定位置に位置決めし、バスタブカーブを得る。各実施形態は、以下のような相違がある。本第一の実施形態では、セクタ毎にヘッド位置検出と誤り特性試験を実施し、検出したヘッド位置と誤り特性の試験結果を変数とする散布図を作成する。本第二の実施形態および本第三の実施形態では、セクタ毎にヘッド位置の検出と誤り特性試験を実施し、対応するヘッド位置検出結果が所定位置範囲に含まれる誤り特性の試験結果の全てを平均し、その平均値をヘッドの一所定位置における誤り特性の試験結果とする。本第二の実施形態では、この平均処理をヘッドの一所定位置毎に実施する。一方、本第三の実施形態では、この平均処理をヘッドの全所定位置について包括的に実施する。
【００１９】
まず、本第一の実施形態について、以下に説明する。ここで、図２を参照する。本発明の第一の実施形態は、ハードディスクドライブを構成するヘッドジンバルアセンブリ（Head Gimbal Assembly）３００およびメディア４００の少なくとも一方を試験するための装置５００である。図２には、試験装置５００のブロック図が示されている。
【００２０】
試験装置５００は、メディア回転装置５１０と、ヘッド位置決め装置５２０と、ヘッド位置検出装置５３０と、ビット誤り検出装置５４０と、制御装置５５０とを備える。メディア回転装置５１０は、メディア４００を着脱可能に保持し、メディア４００を所定の速度で回転させる装置である。ヘッド位置決め装置５２０は、ヘッドジンバルアセンブリ３００を着脱可能に保持し、ヘッド３１０を所定の位置に位置決めする装置である。ヘッド位置検出装置５３０は、ヘッド３１０に電気的に接続され、ヘッド３１０の位置を検出する装置である。ビット誤り検出装置５４０は、ヘッド３１０に電気的に接続され、ヘッド３１０の出力データの誤りをビット単位で検出する装置である。制御装置５５０は、メディア回転装置５１０およびヘッド位置決め装置５２０およびヘッド位置検出装置５３０およびビット誤り検出装置５４０の少なくとも１つを制御する装置である。また、制御装置５５０は、メディア回転装置５１０およびヘッド位置決め装置５２０およびヘッド位置検出装置５３０およびビット誤り検出装置５４０の少なくとも１つからの出力信号を受信し所定の処理を施す。さらに、制御装置５５０は、その処理結果を、図示しないディスプレイや、図示しないプリンタや、図示しないストレージ装置や、図示しないネットワークインタフェースなどに出力する。
【００２１】
試験装置５００を構成する上記の各装置は、上述の各機能を有するものであれば、いかなるもので構成されても良い。例えば、メディア回転装置５１０は、エアースピンドルモータ（Air Spindle Motor）や流体動圧軸受けモータ（Fluid Dynamic Bearing Motor）などで構成される。ヘッド位置決め装置５２０は、ピエゾアクチュエータやリニアモータやボールネジなどで構成される。ヘッド位置検出装置５３０およびビット誤り検出装置５４０および制御装置５５０は、完全にハードウェアで動作する電子装置、ＤＳＰなどの演算装置、または汎用のコンピュータなどで構成される。
【００２２】
次に、図３を参照する。図３には、図２に示すメディア４００上に書き込まれたトラック４１０が示されている。トラック４１０は、ｎ個のセクタ（４１０−１，４１０−２，．．．，４１０−ｎ）を含んでいる。なお、ｎは、２以上の正の整数である。図３には３つのセクタが示されているが、これは例示的なものであって本発明を限定するものではない。また、メディア４００上に書き込まれるトラックは、少なくとも１つあれば良く、２つ以上であっても良い。さらに、トラック４１０は、ヘッド３１０によりメディア４００に書き込まれても良いし、ヘッド３１０や試験装置５００とは異なる装置によって書き込まれても良い。
【００２３】
さて、各セクタ（４１０−１，４１０−２，．．．，４１０−ｎ）は、それぞれ、サーボフィールド（４１０−１ｓ，４１０−２ｓ，．．．，４１０−ｎｓ）とデータフィールド（Ｄ１，Ｄ２，．．．，Ｄｎ）を含む。例えば、セクタ（４１０−１）は、サーボフィールド（４１０−１ｓ）とデータフィールド（Ｄ１）を含む。サーボフィールド（４１０−１ｓ、４１０−２ｓ，．．．，４１０−ｎｓ）は、トラック４１０の近傍に位置決めされるヘッド３１０の位置を検出するために利用されるフィールドである。
【００２４】
各サーボフィールド（４１０−１ｓ、４１０−２ｓ，．．．，４１０−ｎｓ）は、それぞれ３つのサーボバーストを含む。例えば、サーボフィールド（４１０−１ｓ）は、３つのサーボバースト（Ａ１，Ｂ１，Ｃ１）を含む。サーボバースト（Ａ１，Ｂ１，Ｃ１，．．．，Ａｎ，Ｂｎ，Ｃｎ）は、周知の技術に基づいてメディア４００上に適切に配置される。本実施形態において、サーボバースト（Ａ１，Ｂ１，Ｃ１，．．．，Ａｎ，Ｂｎ，Ｃｎ）は、それぞれトラック４１０と同じ幅を有し、隣接するサーボバーストに対してトラック４１０の幅方向Ｗにトラック４１０の半幅分オフセットしている。なお、サーボフィールド（４１０−１ｓ、４１０−２ｓ，．．．，４１０−ｎｓ）に含まれるサーボバーストの個数は、位置検出に必要な数であれば良く、それ以上であっても良い。
【００２５】
次に、試験装置５００による誤り特性試験の手順について、以下に説明する。図２において、メディア４００は、メディア回転装置５１０により、所定の回転速度で回転している。この時、図３において、ヘッド３１０は、トラック４１０のトラック中心線４１１に沿って、矢印Ｔの方向へ相対的に移動する。そして、図４に示す手順に従って、バスタブカーブ試験を行う。以下、図３と図４を参照する。まず、ステップＳ１１において、ヘッド位置決め装置５２０によりヘッド３１０が所定位置に位置決めされる。次に、ステップＳ１２において、ヘッド３１０の位置を固定したまま、矢印Ｔの方向へ移動するヘッド３１０を用いて、各データフィールド（Ｄ１，Ｄ２，．．．，Ｄｎ）について誤り特性を試験する。この時、誤り特性の試験に先立って、各データフィールド（Ｄ１，Ｄ２，．．．，Ｄｎ）と同一セクタ内の各サーボフィールド（４１０−１ｓ，４１０−２ｓ，．．．，４１０−ｎｓ）を参照して、ヘッド３１０の位置を検出する。そして、検出されたヘッド３１０の位置とヘッド３１０の位置検出後に試験された誤り特性をセクタ（４１０−１，４１０−２，．．．，４１０−ｎ）毎に関連づける。それらの試験結果と対応するヘッド位置は、制御装置５５０内の図示しないメモリＳ１に格納される。例えば、図示しないメモリＳ１内には、図５に示されるような配列５５１−１が形成される。配列５５１−１は、セクタ（４１０−１，４１０−２，．．．，４１０−ｎ）毎に、検出されたヘッド３１０の位置（Ｐ１−１，Ｐ１−２，．．．，Ｐ１−ｎ）と誤り特性（Ｅ１−１，Ｅ１−２，．．．，Ｅ１−ｎ）が格納される。なお、ヘッド位置（Ｐ１−１，Ｐ１−２，．．．，Ｐ１−ｎ）はいかなる形式でも表現可能であるが、本実施形態においてはトラック中心線４１１からのオフセット量として表されている。また、誤り特性（Ｅ１−１，Ｅ１−２，．．．，Ｅ１−ｎ）は、誤り個数で表現されている。なお、誤り率は、誤り個数を１セクタあたりのビット長で割ると得られる。ｋ箇所の所定位置においてステップＳ１２を実施した時、各所定位置に関連する配列（５５１−１，５５１−２，．．．、５５１−ｋ）に、検出されたヘッド３１０の位置（Ｐ１−１，Ｐ１−２，．．．，Ｐ１−ｎ）と誤り特性（Ｅ１−１，Ｅ１−２，．．．，Ｅ１−ｎ）がセクタ（４１０−１，４１０−２，．．．，４１０−ｎ）毎に格納される。
【００２６】
再び図３と図４を参照する。ステップＳ１３では、実試験が終了したかどうかを判定する。すなわち、ヘッド３１０を位置決めすべき全ての所定位置において、ステップＳ１２を実施したかどうかを判定する。実施済であれば、ステップＳ１４を実施する。もし逆に、実施済でなければ、新たな所定位置を設定し、ステップＳ１１においてヘッド３１０を新たな所定位置に位置決めし、ステップＳ１２において新たな所定位置における試験および位置検出を実施する。ヘッド３１０は、バスタブカーブ試験が終了した時に、トラック４１０のみ、または、トラック４１０の外側近傍、または、トラック４１０を含むトラック４１０の近傍をトラック４１０の幅方向Ｗに掃引していれば良い。試験時間を短縮する観点から、ヘッド３１０を位置決めすべき所定位置は、トラック４１０の幅方向Ｗの異なる複数の位置に順次に変更されることが好ましい。しかしながら、同所定位置は、トラック４１０の幅方向Ｗの異なる複数の位置にランダムに変更されても良い。
【００２７】
次に、ステップＳ１４において、誤り特性と対応するヘッド位置とを変数とする散布図を作成する。全ての誤り特性をプロットし終えると、おおよそ、図６の（ａ）に示されるようなグラフが得られる。図６において、Ｐ軸は検出されたヘッド３１０の位置を示し、Ｅ軸は誤り個数を示す。図６の（ａ）に示されるバスタブカーブは、比較的バラツキなくプロットされている。一般的な例を挙げれば、トラック４１０の幅は３００ｎｍ程度であり、ヘッド３１０のジッタの振幅は１０ｎｍ程度であり、ジッタ周波数は最大で２ｋＨｚ程度である。仮に、ヘッド３１０がセクタ１個を２０マイクロ秒程度で通過するとすれば、ジッタの周期は、セクタ２５個分程度ということになる。従って、サーボフィールド（４１０−１ｓ，４１０−２ｓ，．．．，４１０−ｎｓ）を参照してヘッド３１０の位置を検出した時とデータフィールド（Ｄ１，Ｄ２，．．．，Ｄｎ）を試験し終えた時とでは、ヘッド３１０の位置にさほどズレはない。その結果、データフィールド（Ｄ１，Ｄ２，．．．，Ｄｎ）のビット長が十分に長ければ、図６の（ａ）に示されるように、従来に比べて精度が良いバスタブカーブを安定的に得ることができる。
【００２８】
しかしながら、データフィールド（Ｄ１，Ｄ２，．．．，Ｄｎ）のビット長さが比較的短い場合、ビット誤りの個数が極端に少なくなるので、ビット誤り１個がビット誤り率に大きな影響を及ぼし、バスタブカーブがバラつく可能性がある。そのようなバスタブカーブに対しては、図６の（ｂ）に示されるような近似曲線ｆを追加することが有益な場合もあろう。しかし、近似曲線が常に精度良く得られるとは限らない。そこで、本第二の実施形態および本第三の実施形態では、このバラツキを抑制するために、特定条件を満たす誤り特性試験結果を選択し、選択した試験結果に平均処理を施す。
【００２９】
ここで、本発明の第二の実施形態について、以下に説明する。ここで、図７を参照する。本発明の第二の実施形態は、ハードディスクドライブを構成するヘッドジンバルアセンブリ３００およびメディア４００の少なくとも一方を試験するための装置６００である。図７には、試験装置６００のブロック図が示されている。なお、試験装置６００は、制御装置５５０が制御装置６５０に置き換わっている以外は、試験装置５００と同一である。従って、図７において、図２と同一の構成要素については、図２と同一の参照番号を付し、詳細な説明を省略する。
【００３０】
制御装置６５０は、メディア回転装置５１０およびヘッド位置決め装置５２０およびヘッド位置検出装置５３０およびビット誤り検出装置５４０の少なくとも１つを制御する装置である。また、制御装置６５０は、メディア回転装置５１０およびヘッド位置決め装置５２０およびヘッド位置検出装置５３０およびビット誤り検出装置５４０の少なくとも１つからの出力信号を受信し所定の処理を施す。さらに、制御装置６５０は、その処理結果を、図示しないディスプレイや、図示しないプリンタや、図示しないストレージ装置や、図示しないネットワークインタフェースなどに出力する。制御装置６５０は、上述の機能を有するものであれば、いかなるもので構成されても良い。例えば、制御装置６５０は、完全にハードウェアで動作する電子装置、ＤＳＰなどの演算装置、または汎用のコンピュータなどで構成される。
【００３１】
次に、試験装置６００による誤り特性試験の手順について、以下に説明する。図７において、メディア４００は、メディア回転装置５１０により、所定の回転速度で回転している。この時、図３において、ヘッド３１０は、トラック４１０のトラック中心線４１１に沿って、矢印Ｔの方向へ相対的に移動する。そして、図８に示す手順に従って、バスタブカーブ試験を行う。以下、図３と図８を参照する。まず、ステップＳ２１において、ヘッド位置決め装置５２０によりヘッド３１０が所定位置に位置決めされる。次に、ステップＳ２２において、ヘッド３１０の位置を固定したまま、矢印Ｔの方向へ移動するヘッド３１０を用いて、各データフィールド（Ｄ１，Ｄ２，．．．，Ｄｎ）について誤り特性を試験する。この時、誤り特性の試験に先立って、各データフィールド（Ｄ１，Ｄ２，．．．，Ｄｎ）と同一セクタ内の各サーボフィールド（４１０−１ｓ，４１０−２ｓ，．．．，４１０−ｎｓ）を参照して、ヘッド３１０の位置を検出する。そして、検出されたヘッド３１０の位置とヘッド３１０の位置検出後に試験された誤り特性をセクタ（４１０−１，４１０−２，．．．，４１０−ｎ）毎に関連づける。それらの試験結果と対応するヘッド位置は、制御装置６５０内の図示しないメモリＳ２に格納される。例えば、図示しないメモリＳ２内には、図９に示されるような配列６５１−１が形成される。配列６５１−１は、セクタ（４１０−１，４１０−２，．．．，４１０−ｎ）毎に、検出されたヘッド３１０の位置（Ｐ１-１，Ｐ１-２，．．．，Ｐ１-ｎ）と誤り特性（Ｅ１-１，Ｅ１-２，．．．，Ｅ１-ｎ）が格納される。なお、ヘッド位置（Ｐ１-１，Ｐ１-２，．．．，Ｐ１-ｎ）はいかなる形式でも表現可能であるが、本実施形態においてはトラック中心線４１１からのオフセット量として表されている。また、誤り特性（Ｅ１-１，Ｅ１-２，．．．，Ｅ１-ｎ）は、誤り個数で表現されている。再び図３と図８を参照する。
【００３２】
次に、ステップＳ２３において、ステップＳ２１における所定位置に関連して得られる誤り特性試験結果であって、対応するヘッド位置が所定の位置範囲に含まれる試験結果の全てから１つの誤り特性を導出する。具体的には、ヘッド位置（Ｐ１-１，Ｐ１-２，．．．，Ｐ１-ｎ）と誤り特性（Ｅ１-１，Ｅ１-２，．．．，Ｅ１-ｎ）を参照して、計算により誤り特性を導出する。さて、本実施形態において、ヘッド３１０は、トラック４１０の幅方向Ｗに順次位置決めされる。その位置決め間隔は、５ｎｍとする。また、ステップＳ２１において、トラック中心線４１１からトラック幅方向に＋１００ｎｍ離れた所定位置にヘッド３１０が位置決められていたとする。この時、ヘッド３１０の位置が所定の位置範囲（＋９７．５ｎｍ〜＋１０２．５ｎｍ）にあるセクタの誤り特性試験結果を参照して、新たな誤り特性を計算により求める。なお、本実施形態において、所定位置範囲は、幅がヘッド位置決め間隔（５ｎｍ）であり、中心がヘッド３１０の位置（＋１００ｎｍ）である。しかし、所定位置範囲がヘッド３１０の位置を含んでいれば、適宜変更することができる。例えば、幅をヘッド位置決め間隔よりも狭くしても良い。ここで、図９を参照すると、ヘッド位置Ｐ１-１，Ｐ１-２，Ｐ１-３，Ｐ１-４，Ｐ１-１２，Ｐ１-ｎなどが所定位置範囲に含まれる。説明の便宜上、仮に、ヘッド位置Ｐ１-１，Ｐ１-２，Ｐ１-３が所定位置範囲に含まれていたとする。それらのヘッド位置に対応する誤り特性すなわち誤り個数Ｅ１-１，Ｅ１-２，Ｅ１-３の和は、５個である。従って、１セクタあたりの平均誤り個数は、１．６７個となる。ビット誤り率は、この平均誤り個数を１セクタあたりのビット長で割ると得られる。このビット誤り率または平均誤り個数を、所定位置（この場合、＋１００ｎｍ）における誤り特性の試験結果とする。
【００３３】
次に、ステップＳ２４において、試験が終了したかどうかを判定する。すなわち、ヘッド３１０を位置決めすべき全ての所定位置において、ステップＳ２２およびステップＳ２３を実施したかどうかを判定する。もし、実施済でなければ、新たな所定位置を設定し、ステップＳ２１においてヘッド３１０を新たな所定位置に位置決めし、ステップＳ２２およびステップＳ２３において新たな所定位置における試験および位置検出および計算を実施する。ヘッド３１０は、バスタブカーブ試験が終了した時に、トラック４１０のみ、または、トラック４１０の外側近傍、または、トラック４１０を含むトラック４１０の近傍をトラック４１０の幅方向Ｗに掃引していれば良い。試験時間を短縮する観点から、ヘッド３１０を位置決めすべき所定位置は、トラック４１０の幅方向Ｗの異なる複数の位置に順次に変更されることが好ましい。しかしながら、同所定位置は、トラック４１０の幅方向Ｗの異なる複数の位置にランダムに変更されても良い。
【００３４】
図示しないが、最後に、計算により得られた誤り特性を参照して、各所定位置毎にプロットし、バスタブカーブを描く。なお、計算により得られた誤り特性が誤り個数の場合、誤り特性をビット誤り率へ変換する必要がある。
【００３５】
次に、本発明の第三の実施形態について、以下に説明する。ここで、図１０を参照する。本発明の第三の実施形態は、ハードディスクドライブを構成するヘッドジンバルアセンブリ３００およびメディア４００の少なくとも一方を試験するための装置７００である。図１０には、試験装置７００のブロック図が示されている。なお、試験装置７００は、制御装置５５０が制御装置７５０に置き換わっている以外は、試験装置５００と同一である。従って、図１０において、図２と同一の構成要素については、図２と同一の参照番号を付し、詳細な説明を省略する。
【００３６】
制御装置７５０は、メディア回転装置５１０およびヘッド位置決め装置５２０およびヘッド位置検出装置５３０およびビット誤り検出装置５４０の少なくとも１つを制御する装置である。また、制御装置７５０は、メディア回転装置５１０およびヘッド位置決め装置５２０およびヘッド位置検出装置５３０およびビット誤り検出装置５４０の少なくとも１つからの出力信号を受信し所定の処理を施す。さらに、制御装置７５０は、その処理結果を、図示しないディスプレイや、図示しないプリンタや、図示しないストレージ装置や、図示しないネットワークインタフェースなどに出力する。制御装置７５０は、上述の機能を有するものであれば、いかなるもので構成されても良い。例えば、制御装置７５０は、完全にハードウェアで動作する電子装置、ＤＳＰなどの演算装置、または汎用のコンピュータなどで構成される。
【００３７】
次に、試験装置７００による誤り特性試験の手順について、以下に説明する。図１０において、メディア４００は、メディア回転装置５１０により、所定の回転速度で回転している。この時、図３において、ヘッド３１０は、トラック４１０のトラック中心線４１１に沿って、矢印Ｔの方向へ移動する。そして、図１１に示す手順に従って、バスタブカーブ試験を行う。以下、図３と図１１を参照する。まず、ステップＳ３１において、ヘッド位置決め装置５２０によりヘッド３１０が所定位置に位置決めされる。次に、ステップＳ３２において、ヘッド３１０の位置を固定したまま、矢印Ｔの方向へ移動するヘッド３１０を用いて、各データフィールド（Ｄ１，Ｄ２，．．．，Ｄｎ）について誤り特性を試験する。この時、誤り特性の試験に先立って、各データフィールド（Ｄ１，Ｄ２，．．．，Ｄｎ）と同一セクタ内の各サーボフィールド（４１０−１ｓ，４１０−２ｓ，．．．，４１０−ｎｓ）を参照して、ヘッド３１０の位置を検出する。そして、検出されたヘッド３１０の位置とヘッド３１０の位置検出後に試験された誤り特性をセクタ（４１０−１，４１０−２，．．．，４１０−ｎ）毎に関連づける。それらの試験結果と対応するヘッド位置は、制御装置７５０内の図示しないメモリＳ３に格納される。例えば、図示しないメモリＳ３内には、図１２に示されるような配列７５１−１が形成される。配列７５１−１は、セクタ（４１０−１，４１０−２，．．．，４１０−ｎ）毎に、検出されたヘッド３１０の位置（Ｐ１−１，Ｐ１−２，．．．，Ｐ１−ｎ）と誤り特性（Ｅ１−１，Ｅ１−２，．．．，Ｅ１−ｎ）が格納される。なお、ヘッド位置（Ｐ１−１，Ｐ１−２，．．．，Ｐ１−ｎ）はいかなる形式でも表現可能であるが、本実施形態においてはトラック中心線４１１からのオフセット量として表されている。また、誤り特性（Ｅ１−１，Ｅ１−２，．．．，Ｅ１−ｎ）は、誤り個数で表現されている。ｋ箇所の所定位置においてステップＳ３２を実施した時、各所定位置の配列（７５１−１，７５１−２，．．．、７５１−ｋ）に、検出されたヘッド３１０の位置（Ｐ１−１，Ｐ１−２，．．．，Ｐｋ−ｎ）と誤り特性（Ｅ１−１，Ｅ１−２，．．．，Ｅｋ−ｎ）がセクタ（４１０−１，４１０−２，．．．，４１０−ｎ）毎に格納されている。再び図３と図１１を参照する。
【００３８】
次に、ステップＳ３３において、実試験が終了したかどうかを判定する。すなわち、ヘッド３１０を位置決めすべき全ての所定位置において、ステップＳ３２を実施したかどうかを判定する。実施済であれば、ステップＳ３４を実施する。もし逆に、実施済でなければ、新たな所定位置を設定し、ステップＳ３１においてヘッド３１０を新たな所定位置に位置決めし、ステップＳ３２において新たな所定位置における試験および位置検出を実施する。ヘッド３１０は、バスタブカーブ試験が終了した時に、トラック４１０のみ、または、トラック４１０の外側近傍、または、トラック４１０を含むトラック４１０の近傍をトラック４１０の幅方向Ｗに掃引していれば良い。試験時間を短縮する観点から、ヘッド３１０を位置決めすべき所定位置は、トラック４１０の幅方向Ｗの異なる複数の位置に順次に変更されることが好ましい。しかしながら、同所定位置は、トラック４１０の幅方向Ｗの異なる複数の位置にランダムに変更されても良い。
【００３９】
次に、ステップＳ３４において、全ての所定位置に関連して得られる誤り特性試験結果であって、対応するヘッド位置が所定の位置範囲に含まれる試験結果の全てから１つの誤り特性を導出する。具体的には、ヘッド位置（Ｐ１−１，Ｐ１−２，．．．，Ｐｋ−ｎ）と誤り特性（Ｅ１−１，Ｅ１−２，．．．，Ｅｋ−ｎ）を参照して、計算により誤り特性を導出する。さて、本実施形態において、ヘッド３１０は、トラック４１０の幅方向Ｗに順次位置決めされる。その位置決め間隔は、５ｎｍとする。例えば、トラック中心線４１１からトラック幅方向に＋１００ｎｍ離れた所定位置にヘッド３１０が位置決められている時の誤り特性は、ヘッド３１０の位置が所定の位置範囲（＋９７．５ｎｍ〜＋１０２．５ｎｍ）にあるセクタの誤り特性試験結果を参照して計算により得られる。なお、本実施形態において、所定位置範囲は、幅がヘッド位置決め間隔（５ｎｍ）であり、中心がヘッド３１０の位置（＋１００ｎｍ）である。しかし、所定位置範囲がヘッド３１０の位置を含んでいれば、適宜変更することができる。例えば、幅をヘッド位置決め間隔よりも狭くしても良い。ここで、図１２を参照すると、ヘッド位置Ｐ１−１，Ｐ１−２，Ｐ１−３，Ｐ１−４，Ｐ１−７，Ｐ１−９，Ｐ１−ｎ，Ｐ２−２，Ｐ２−６などが所定位置範囲に含まれる。説明の便宜上、仮に、ヘッド位置Ｐ１−１，Ｐ１−２，Ｐ１−３，Ｐ２−２，Ｐ２−６が所定位置範囲に含まれていたとする。それらのヘッド位置に対応する誤り特性すなわち誤り個数Ｅ１−１，Ｅ１−２，Ｅ１−３，Ｅ２−２，Ｅ２−６の和は、８個である。従って、１セクタあたりの平均誤り個数は、１．６個となる。ビット誤り率は、この平均誤り個数を１セクタあたりのビット長で割ると得られる。このビット誤り率または平均誤り個数を、所定位置（この場合、＋１００ｎｍ）における誤り特性の試験結果とする。そして、全ての所定位置のそれぞれについて、上記の手順で、計算により誤り特性の試験結果を求める。
【００４０】
図示しないが、最後に、計算により得られた誤り特性を参照して、各所定位置毎にプロットし、バスタブカーブを描く。なお、計算により得られた誤り特性が誤り個数の場合、誤り特性をビット誤り率へ変換する必要がある。
【００４１】
本発明の実施形態についての説明は、以上である。上記の実施形態において、誤り特性試験は、複数の所定位置で行われている。しかしながら、本発明は、１つの所定位置における正確で安定した誤り特性試験において適用可能であることは言うまでもない。
【００４２】
また、上記の説明において、特に言及しなかったが、本発明は、ソフトウェアプログラムとして提供することもできる。例えば、第一の実施例において、図２に示される試験装置５００がＣＰＵやＤＳＰなどのコンピュータ手段を含む場合に、当該コンピュータ手段に実施させることにより試験装置５００が図４に示すフローチャートに従った試験を実施するようなプログラムとして、本発明を提供することができる。そのプログラムは、試験装置５００内に格納された形で提供されても良いし、リムーバブルメディアに記録された形で提供されても良いし、インターネットなどの通信回線を介して提供されても良い。本発明を上記のようなプログラムとして提供し得る事は、第二の実施形態および第三の実施形態においても同様である。
【図面の簡単な説明】
【００４３】
【図１】バスタブカーブとヘッド位置との関係を示す図である。
【図２】試験装置５００の概略構成を示すブロック図である。
【図３】トラック４１０を示す図である。
【図４】第一の実施形態におけるバスタブカーブ試験のフローチャートである。
【図５】制御装置５５０内に格納される配列を示す図である。
【図６】バスタブカーブを示すグラフである。
【図７】試験装置６００の概略構成を示すブロック図である。
【図８】第二の実施形態におけるバスタブカーブ試験のフローチャートである。
【図９】制御装置６５０内に格納される配列を示す図である。
【図１０】試験装置７００の概略構成を示すブロック図である。
【図１１】第三の実施形態におけるバスタブカーブ試験のフローチャートである。
【図１２】制御装置７５０内に格納される配列を示す図である。
【符号の説明】
【００４４】
１００  トラック
２００  ヘッド
３００  ヘッドジンバルアセンブリ
３１０  ヘッド
４００  メディア
４１０  トラック
４１１  トラック中心線
５００，６００，７００  試験装置
５１０  メディア回転装置
５２０  ヘッド位置決め装置
５３０  ヘッド位置検出装置
５４０  ビット誤り検出装置
５５０，６５０，７００  制御装置
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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