(57)【要約】【課題】モニタ光量の温度による変化を小さくすることで、光ディスクへ入射する光量が安定した光ピックアップを提供することを目的とする【解決手段】光源１と、モニタ光検出用センサ９と、オートパワーコントロール回路１０と、光源１から出射された往路光１０１を光ディスク６へ入射する光と光源１のモニタ光検出用センサ９へ入射する光に分割する光線分割面８ａが素材のみで構成されたビームスプリッタ８を備えた光ピックアップとすることにより、ビームスプリッタ８の光線分割面８ａが素材のみで構成されるためモニタ光量の温度変化が小さくなり光ディスクへ入射する光量を安定させることができる。【選択図】図１
2006031785.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光源と、光源の光量を制御する手段と、光源から出射された往路光を光ディスクへ入射する光と光源の光量を制御する手段へ入射する光に分割する光線分割面が素材のみで構成されたビームスプリッタを備えた光ピックアップ。
【請求項２】
前記ビームスプリッタの光ディスク側の面は素材のみで構成され、ビームスプリッタへ入射する往路光はＳ偏光、光ディスクにて反射されビームスプリッタへ入射する復路光はＰ偏光である構成とした請求項１に記載の光ピックアップ。
【請求項３】
ビームスプリッタは平行平板であり、往路光がビームスプリッタへ入射する角度θｉはビームスプリッタの素材の屈折率をｎ、屈折角度をθｒ、Ｓ偏光の反射率をＲｓ、Ｐ偏光の透過率をＴｐとしたとき式（１）から式（５）を満たす角度である請求項２に記載の光ピックアップ。
０．００５≦Ｒｓ≦０．２０…（１）
Ｒｓ＝ｓｉｎ２（θｉ−θｒ）／ｓｉｎ２（θｉ＋θｒ）…（２）
Ｔｐ≧０．９５…（３）
Ｔｐ＝ｓｉｎ２θｉ・ｓｉｎ２θｒ／｛ｓｉｎ（θｉ＋θｒ）・ｃｏｓ（θｉ―θｒ）｝２…（４）
θｒ＝ｓｉｎ―１｛（ｓｉｎθｉ）／ｎ｝…（５）
【請求項４】
ビームスプリッタはくさび型であり、往路光がビームスプリッタへ入射する角度θｉはビームスプリッタの素材の屈折率をｎ、屈折角度をθｒ、Ｓ偏光の反射率をＲｓとしたとき式（１）、式（２）、式（５）を満たす角度であり、復路光がビームスプリッタへ入射する角度θｉａは屈折角度をθｒａ、Ｐ偏光の透過率をＴｐとしたとき式（６）、式（７）、式（８）を満たす角度である請求項２に記載の光ピックアップ。
Ｔｐ≧０．９９…（６）
Ｔｐ＝ｓｉｎ２θｉａ・ｓｉｎ２θｒａ／｛ｓｉｎ（θｉａ＋θｒａ）・ｃｏｓ（θｉａ―θｒａ）｝２…（７）
θｒａ＝ｓｉｎ―１｛（ｓｉｎθｉａ）／ｎ｝…（８）
【請求項５】
前記ビームスプリッタの光ディスク側の面が反射防止膜、偏光分離膜、波長分離膜のうち少なくとも１つの機能を有する膜で構成された請求項１に記載の光ピックアップ。
【請求項６】
請求項１から５のいずれか１項に記載の光ピックアップを搭載した光ディスク装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明はパーソナルコンピュータ、ノートブック型コンピュータ、モバイル端末機器などの電子機器に搭載される光ピックアップ及びそれを用いた光ディスク装置に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
まず、図８を用いて光ピックアップの記録再生系の光学系を説明する。図８は従来から用いられている光ピックアップの記録再生系の光学系の例を示す概略構成図である。光源１より出射された往路光１０１は偏光ビームスプリッタ２を透過し、コリメータレンズ３にて平行光にされる。偏光ビームスプリッタ２は入射する光の偏光の状態により光の透過・反射を制御し、光ディスク６で反射された復路光１０２が光源１に戻らずに信号検出用センサ７に向かうよう光を分離するものである。この場合、往路光１０１は全透過するように設定されている。往路光１０１はさらに１／４波長板４にて直線偏光から円偏光に変換され、対物レンズ５で集束され光ディスク６の記録面６ａで焦点を結ぶ。１／４波長板４は直線偏光を円偏光に、円偏光を直線偏光に変換する働きをする。往路光１０１は光ディスク６の記録面６ａで反射され復路光１０２となる。その際、復路光１０２は光ディスク６の記録面６ａからの信号を含んでおり、往路光１０１と逆回転の円偏光となる。復路光１０２は対物レンズ５にて平行光に戻され、１／４波長板４にて円偏光から往路光１０１と９０°ずれた直線偏光に変換される。さらに、コリメータレンズ３で集束光にされ、偏光ビームスプリッタ２では往路光１０１と９０°ずれた直線偏光になっているため前記目的通り反射されて信号検出用センサ７に入射し、光ディスク６の記録面６ａの信号が再生される。
【０００３】
次に図９を用いて光源１の光量制御系の光学系を説明する。図９は通常の光量制御系の光学系の例を示す概略構成図である。光源１から出射された往路光１０１は途中の光学系を省略するが、ビームスプリッタ８の光線分割面８ａに入射される。ビームスプリッタ８の光線分割面８ａは往路光１０１をモニタ光検出用センサ９へ向かうモニタ光１０３と光ディスク６へ向かう往路光１０１ａに分割する働きを持つ。モニタ光１０３はモニタ光検出用センサ９へ入射し、光源１の光量制御に用いられる。モニタ光量はモニタ光検出用センサ９で電気信号に変換され、オートパワーコントロール回路１０に入力される。オートパワーコントロール回路１０はモニタ光量が一定となるように制御して光源１を駆動する。ビームスプリッタ８の光線分割面８ａで分割されるモニタ光１０３および光ディスク６へ向かう往路光１０１ａは光源１の出射光量に比例するため、モニタ光１０３が一定になるように光源１の出射光量を制御して光ディスク６へ入射する光量を安定させる。
【０００４】
ビームスプリッタ８は図８の偏光ビームスプリッタ２とコリメータレンズ３の間、またはコリメータレンズ３と１／４波長板４、または光源１と偏光ビームスプリッタ２の間に挿入される。また、ビームスプリッタ８は通常光学ガラスや高透過性樹脂材料を用いて平行平板に形成され、光が入射する面には光の波長と偏光方向により透過あるいは反射する機能を有する光学薄膜が成膜されている（特許文献１参照）。
【特許文献１】特開２００４−５９０３号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
光ピックアップに搭載されるビームスプリッタの光学薄膜は誘電体の数十層の多層膜で形成される。この光学薄膜は温度や入射する光の波長により特性が変化しやすい。一方、光源として用いられるレーザーダイオードは点灯されると自分自身が発熱し温度が上昇しやすい。また、レーザーダイオードは温度が上がると波長が変化し、同じ動作電流でも出力が下がる傾向を示す。さらに、光ディスク装置の内部はレーザーダイオード以外にも熱源を有し、室温よりも温度が高く保たれ、ビームスプリッタを含む光ピックアップもその温度環境の影響を受ける。したがって、モニタ光検出用センサに入射し検出される光量は温度の変化に対して安定的ではないといえる。そのため光ディスクへ入射する光ピックアップの光源からの光量も温度によって安定せず、記録再生特性も安定しないという課題があった。
【０００６】
また、この光学薄膜は設計余裕度が大きくなく、一層、一層制御しながら成膜するにもかかわらず、数十層も成膜するために特性のばらつきを抑制するのがむずかしく、歩留が悪い。そのため、ビームスプリッタの価格も高価となり、光ピックアップも高価となっていた。
【０００７】
本発明は前記従来の課題を解決するもので、モニタ光量の温度による変化を小さくすることで、光ディスクへ入射する光量が安定した光ピックアップを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
前記従来の課題を解決するために本発明の光ピックアップは、光源と、光源の光量を制御する手段と、光源から出射された往路光を光ディスクへ入射する光と光源の光量を制御する手段へ入射する光に分割する光線分割面が素材のみで構成されたビームスプリッタを備えたものである。光源から出射された往路光を光ディスクへ入射する光と光源の光量を制御する手段へ入射する光に分割するビームスプリッタの光線分割面には光学薄膜がなく、モニタ光検出用センサに入射する光量が安定するため光ディスクへ入射する光量も安定する。
【発明の効果】
【０００９】
本発明の光ピックアップは、光源から光ディスクへ入射する光量が安定するために安定した記録再生特性が得られ、高い信頼性が実現できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
本発明における第１の発明は、光源と、光源の光量を制御する手段と、光源から出射された往路光を光ディスクへ入射する光と光源の光量を制御する手段へ入射する光に分割する光線分割面が素材のみで構成されたビームスプリッタを備えた光ピックアップとすることにより安定した記録再生特性が実現できる安価な光ピックアップが得られる。
【００１１】
第２の発明は、前記ビームスプリッタの光ディスク側の面は素材のみで構成され、ビームスプリッタへ入射する往路光はＳ偏光、光ディスクにて反射されビームスプリッタへ入射する復路光はＰ偏光である構成とした請求項１に記載の光ピックアップとすることにより安定した記録再生特性が得られる
第３の発明は、ビームスプリッタは平行平板であり、往路光がビームスプリッタへ入射する角度θｉはビームスプリッタの素材の屈折率をｎ、屈折角度をθｒ、Ｓ偏光の反射率をＲｓ、Ｐ偏光の透過率をＴｐとしたとき式（１）から式（５）を満たす角度である請求項２に記載の光ピックアップとすることにより所定のモニタ光量が確保できる。
【００１２】
０．００５≦Ｒｓ≦０．２０…（１）
Ｒｓ＝ｓｉｎ２（θｉ−θｒ）／ｓｉｎ２（θｉ＋θｒ）…（２）
Ｔｐ≧０．９５…（３）
Ｔｐ＝ｓｉｎ２θｉ・ｓｉｎ２θｒ／｛ｓｉｎ（θｉ＋θｒ）・ｃｏｓ（θｉ―θｒ）｝２…（４）
θｒ＝ｓｉｎ―１｛（ｓｉｎθｉ）／ｎ｝…（５）
第４の発明は、ビームスプリッタはくさび型であり、往路光がビームスプリッタへ入射する角度θｉはビームスプリッタの素材の屈折率をｎ、屈折角度をθｒ、Ｓ偏光の反射率をＲｓとしたとき式（１）、式（２）、式（５）を満たす角度であり、復路光がビームスプリッタへ入射する角度θｉａは屈折角度をθｒａ、Ｐ偏光の透過率をＴｐとしたとき式（６）、式（７）、式（８）を満たす角度である請求項２に記載の光ピックアップとすることにより復路光を最大限に利用できる。
【００１３】
Ｔｐ≧０．９９…（６）
Ｔｐ＝ｓｉｎ２θｉａ・ｓｉｎ２θｒａ／｛ｓｉｎ（θｉａ＋θｒａ）・ｃｏｓ（θｉａ―θｒａ）｝２…（７）
θｒａ＝ｓｉｎ―１｛（ｓｉｎθｉａ）／ｎ｝…（８）
第５の発明は、前記ビームスプリッタの光ディスク側の面が反射防止膜、偏光分離膜、波長分離膜のうち少なくとも１つの機能を有する膜で構成された請求項１に記載の光ピックアップとすることにより、高い信頼性、または小型化のいずれか一方が実現できる。
【００１４】
第６の発明は、請求項１から５に記載の光ピックアップを搭載した光ディスク装置とすることにより信頼性の高い光ディスク装置が得られる。
【００１５】
（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１における光ピックアップの光学系の例を示す概略構成図である。光源１はレーザダイオードであり、活性層を紙面と垂直にしてＳ偏光を出射させる。光源１より出射された往路光１０１は偏光ビームスプリッタ２に入射する。偏光ビームスプリッタ２は２つの三角プリズムの底面を貼り合わせた形状で、この分離部２ａで光が選択的に透過、反射される。分離部２ａにはＳ偏光を透過し、Ｐ偏光を反射するような構成になるよう設計された光学薄膜が成膜されている。従って、偏光ブームスプリッタ２へ入射した往路光１０１はそのまま透過され、コリメータレンズ３で発散光から平行光にされる。コリメータレンズ３は光学ガラスまたは高透過性樹脂材料で形成されている。続いて往路光１０１はビームスプリッタ８に入射し、光線分割面８ａにて透過されて光ディスク６へ向かう往路光１０１ａと反射されてモニタ光検出用センサ９へ向かい光源１の光量制御に用いられるモニタ光１０３に分割される。
【００１６】
本実施の形態１ではビームスプリッタ８は光学ガラスまたは高透過性樹脂材料のみで形成された平行平板で、光源１側の面（光学分割面８ａ）、光ディスク６側の面とも光学薄膜は成膜されていない。また、一般的な光学ガラスＢＫ−７（屈折率ｎ＝１．５）を用いるものとする。光学薄膜が表面に成膜されていない場合、Ｓ偏光、Ｐ偏光の反射率Ｒｓ、Ｒｐ、透過率Ｔｓ、Ｔｐはそれぞれ入射角度θｉと素材の屈折率ｎだけで決まるフレネルの反射率、透過率に関する公式に従う。
【００１７】
フレネルの反射率、透過率に関する公式というのは異なる屈折率の媒質の境界に斜めに光が入射したときの反射率、透過率が導出される公式である。光が屈折率ｎ１の媒質から入射角度θ１で屈折率ｎ２の媒質に入射し出射角度θ２で透過するものとしたときＳ偏光の反射率Ｒｓ、透過率Ｔｓ、Ｐ偏光の反射率Ｒｐ、透過率Ｔｐは式（９）から式（１３）で示される式に従う。ここで式（１３）はスネルの法則と呼ばれる。
【００１８】
Ｒｓ＝ｓｉｎ２（θ１−θ２）／ｓｉｎ２（θ１＋θ２）…（９）
Ｔｓ＝ｓｉｎ２θ１・ｓｉｎ２θ２／ｓｉｎ２（θ１＋θ２）…（１０）
Ｒｐ＝ｔａｎ２（θ１−θ２）／ｔａｎ２（θ１＋θ２）…（１１）
Ｔｐ＝ｓｉｎ２θ１・ｓｉｎ２θ２／｛ｓｉｎ（θ１＋θ２）・ｃｏｓ（θ１−θ２）｝２…（１２）
ｎ１・ｓｉｎθ１＝ｎ２・ｓｉｎθ２…（１３）
本実施の形態１ではｎ１＝１、ｎ２＝ｎ、θ１＝θｉ、θ２＝θｒという置き換えを行っている。
【００１９】
往路光１０１はＳ偏光であるためＳ偏光の反射率、透過率の公式に従って、モニタ光１０３と往路光１０１ａが出射される。図２（Ａ）にフレネルの公式に基づいて計算されたＳ偏光の反射率Ｒｓ（（）内は透過率Ｔｓ）を入射角度θｉと屈折率ｎとの関係において示す。傾向的にはＳ偏光の反射率Ｒｓは入射角度θｉが大きくなるほど、屈折率ｎが大きくなるほど大きくなる。往路光１０１（Ｓ偏光）の反射光で構成されるモニタ光１０３の光量は少なすぎて不安定にならない程度であるＳ偏光の反射率Ｒｓが０．５％以上であれば、なるべく小さくして光ディスク６へ向かう光量を増やした方が良く、最適には６％以下、好適には１０％以下、また２０％以下であればレーザーダイオードの出力を考慮しても使うことができる。これにより式（１）が導出され、Ｓ偏光の反射率Ｒｓは式（２）と式（５）で示される式で表わされる。式（５）はθｒを表わすように式（１３）を変形したものである。図２（Ａ）にて本実施の形態１を当てはめると、屈折率ｎ＝１．５においてＳ偏光の反射率Ｒｓは入射角度θｉ＝０°でも４％であり、モニタ光１０３の下限を十分に満たしている。Ｓ偏光の反射率Ｒｓが６％、１０％、２０％のとき、入射角度θｉはそれぞれ３１°、４７°、６２°であり、入射角度θｉは最適には３１°以下、好適には４７°以下、６２°以下であれば使うことができる。
【００２０】
光源１の光量を制御する手段はモニタ光検出用センサ９及びオートパワーコントロール回路１０を含んで構成される。モニタ光１０３はモニタ光検出用センサ９へ入射し、光源１の光量制御に用いられる。モニタ光量はモニタ光検出用センサ９で電気信号に変換され、オートパワーコントロール回路１０はモニタ光量が一定となるように制御して光源１を駆動する。ビームスプリッタ８で分割されるモニタ光１０３および光ディスク６へ向かう往路光１０１ａは光源１の出射光量に比例するため、モニタ光１０３が一定になるように光源１の出射光量を制御して光ディスク６へ入射する光量を安定させる。ここで、ビームスプリッタ８は表面に温度特性が安定でない光学薄膜を有していないので、モニタ光１０３も光ディスク６へ向かう往路光１０１ａも温度変化に対して安定した光量とすることができる。
【００２１】
一方、ビームスプリッタ８で透過された往路光１０１ａは１／４波長板４に入射する。１／４波長板４は水晶などの複屈折率性光学材料で形成され、直線偏光を円偏光に、円偏光を直線偏光に変換する働きがある。往路光１０１ａは１／４波長板４にて直線偏光（Ｓ偏光）から円偏光に変換される。往路光１０１ａはさらに対物レンズ５で集束され光ディスク６の記録面６ａで焦点を結ぶ。対物レンズ５は光学ガラスまたは高透過性樹脂材料で形成される。
【００２２】
往路光１０１ａは光ディスク６の記録面６ａで反射され、復路光１０２となる。その際、復路光１０２には光ディスク６の記録面６ａからの信号が載せられる。信号にはフォーカシング、トラッキングといったサーボ信号、再生時にはデータ信号等が含まれる。さらに、復路光１０２は反射の際に往路光１０１ａと逆回転の円偏光に変換され、対物レンズ５にて平行光に戻され、１／４波長板４にて円偏光から往路光１０１ａと９０°ずれた直線偏光（Ｐ偏光）に変換される。
【００２３】
復路光１０２はＰ偏光であるためビームスプリッタ８にて往路光１０１とは異なりＰ偏光の反射率、透過率に関する公式に従って分割される。図2（Ｂ）にフレネルの公式に基づいて計算されたＰ偏光の反射率Ｒｐ（（）内は透過率Ｔｐ）を入射角度θｉと屈折率ｎとの関係において示す。傾向的にはＰ偏光の透過率Ｔｐは入射角度θｉが５０〜６０°を最大として、入射角度θｉがそれより小さい領域では入射角度θｉが小さくなるほど、屈折率ｎが大きくなるほどＰ偏光の透過率Ｔｐは小さくなる。入射角度θｉが最大値より大きい領域では急激にＰ偏光の透過率Ｔｐは小さくなる。このＰ偏光の透過率Ｔｐが最大値（１００％）になる入射角度θｉはブリュースタ角（図示せず）と呼ばれている。復路光１０２がビームスプリッタ８で透過され、信号検出用センサ７に向かう光量すなわちＰ偏光の透過率Ｔｐは１００％に近いほど良く、最適には９９％以上、好適には９７％以上、また、９５％以上あれば反射されて迷光になる量が少なく使うことができる。これにより式（３）が導出され、Ｐ偏光の透過率Ｔｐは式（４）と式（５）で示される式で表わされる。図２（Ｂ）にて本実施の形態１を当てはめると、屈折率ｎ＝１．５においてＰ偏光の透過率Ｔｐは入射角度＝０°〜７０°の全範囲で９５％以上が確保されている。すなわち広範囲の入射角度に渡り、Ｐ偏光の大半が透過される。Ｐ偏光の透過率Ｔｐが９７％以上とすると入射角度θｉは２５°〜６８°、９９％以上とすると４３°〜６３°となる。入射角度θｉについて前記の往路光１０１の場合と合わせて考えると、残念ながら往路光１０１、復路光１０２とも最適な角度は出てこないが、好適には２５°〜４７°、また、６２°以下であれば使うことができると言える。
【００２４】
ビームスプリッタ８を透過した復路光１０２はコリメータレンズ３で集束光に変換され、偏光ビームスプリッタ２に入射する。復路光１０２はＰ偏光であるため分離部２ａで今度は反射されて信号検出用センサ７に入射し、光源１には向かわない。復路光１０２は信号検出用センサ７で電気信号に変換され、光ディスク６の記録面６ａのサーボ信号、データ信号等は再生される。
【００２５】
なお、本実施の形態１ではビームスプリッタ８を一般的な光学ガラスＢＫ−７で構成して具体的に説明しているが、光学ガラスＢＫ−７に限るものではないので、所望の屈折率ｎを持つ材料を選ぶことができる。
【００２６】
また、本実施の形態１ではビームスプリッタ８はコリメータレンズ３と１／４波長板４の間に設けているが、偏光ビームスプリッタ２とコリメータレンズ３の間または光源１と偏光ビームスプリッタ２の間に設けてもかまわない。
【００２７】
（実施の形態２）
図３は、本発明の実施の形態２における光ピックアップの光学系の例を示す概略構成図である。実施の形態１と同じ部分には同じ符号を付している。実施の形態１と異なるのはビームスプリッタ８の形状であり、平行平板ではなく、くさび型とした。そして、往路光１０１側の入射角度θｉ、復路光１０２側の入射角度θｉａそれぞれに適する入射角度を独立に設定した。往路光１０１がビームスプリッタ８に入射する角度θｉは実施の形態１と同じである。これにより式（１）が導出され、Ｓ偏光の反射率Ｒｓは式（２）と式（５）で示される式で表わされる。したがって、往路光１０１の入射角度θｉは最適には３１°以下、好適には４７°以下、６２°以下であれば使うことができるという中で最適な３１°以下で設定することができる。一方、往路光１０１側とは独立に設定することができる復路光１０２が入射する角度θｉａは、図２（Ｂ）においてＰ偏光の透過率Ｔｐが９９％以上とすることができるため式（６）が導出され、入射角度θｉａを４３〜６３°と設定することができる。このとき、式（１２）、式（１３）も式（７）、式（８）に置き換えられる。また、復路光１０２が入射する角度θｉａは前記ブリュースタ角にすることも可能で本実施の形態２における屈折率ｎ＝１．５の場合５６°であり、その際はビームスプリッタ８に入射する復路光１０２は１００％透過する。
【００２８】
（実施の形態３）
図４は、本発明の実施の形態３における光ピックアップの光学系の例を示す概略構成図である。実施の形態１と同じ部分には同じ符号を付している。実施の形態１と異なるのは光源１の部分であり、光源１と光源１ａと２つの光源を有している。光源１と光源１ａはそれぞれ波長が異なるレーザーダイオードである。例えばそれらはＤＶＤ用レーザーダイオード（波長６５０ｎｍ）であり、ＣＤ用レーザーダイオード（波長７８０ｎｍ）である。光源１または光源１ａから出射された往路光１０１は波長分離部材１１に入射する。波長分離部材１１は透過するか反射するか波長により決まるように設計、製作されている。したがって、光源１から出射された往路光１０１は波長分離部材１１で全透過され、偏光ビームスプリッタ２へ入射する。一方、光源１ａから出射された往路光１０１は波長分離部材１１で全反射され、偏光ビームスプリッタ２へ入射する。
【００２９】
なお、本実施の形態３では波長分離部材１１を用いて２つの波長のレーザーダイオードに対応する光学系を示したが、他の構成で２つの波長のレーザーダイオードに対応させても良い。たとえば、非常に近接した出射位置を有する２波長レーザダイオードを用いても良く、その際には波長分離部材１１が不要となり、光源１ａが光源１と同じ向きにほぼ同位置になるので図１に示す構成と見かけ上同じになる。
（実施の形態４）
本実施の形態４は図１に示す概略構成図と同じ構成となる。ビームスプリッタ８の光線分割面８ａは素材のみで構成されるが、光ディスク６側の面は反射防止膜の機能を有する膜が設けられている。また、ビームスプリッタ８の素材は実施の形態１から実施の形態３同様光学ガラスＢＫ−７である。光ディスクからの復路光１０２はほとんどビームスプリッタ８で反射することなく、信号検出用センサ７まで到達できる。
【００３０】
また、ビームスプリッタ８の光線分割面８ａの反射率は前記のように０．５％以上であれば、なるべく小さくして光ディスク６へ向かう光量を増やした方が良い。図２（Ａ）においてＳ偏光の反射率Ｒｓは全入射角度θｉにおいて４％以上である。一方、図２（Ｂ）においてＰ偏光の反射率Ｒｐは入射角度θｉが０から４８°の範囲で４から０．５％であり、Ｓ偏光の反射率Ｒｓよりも小さい。よって、往路光１０１はＰ偏光でビームスプリッタ８の光線分割面８ａに入射させた方が良い。従って、光源１は活性層を紙面と平行にしてＰ偏光を出射させ、偏光ビームスプリッタ２はＰ偏光を透過させ、Ｓ偏光を反射させ、復路光１０２はＰ偏光でビームスプリッタ８に入射するので、前記反射防止膜の機能を有する膜はＰ偏光に対する透過膜となるようにする。
【００３１】
なお、本実施の形態４ではビームスプリッタ８の光線分割膜８ａへはＰ偏光で入射させるように構成したが、Ｓ偏光でも問題はなく、その場合、実施の形態１と同じ形態とし、前記反射防止膜の機能を有する膜はＳ偏光で透過するようにする。また、ビームスプリッタ８の形状は平行平板で構成したが、くさび型等の形状でもかまわない。また、ビームスプリッタ８は偏光ビームスプリッタ２とコリメータレンズ３の間または光源１と偏光ビームスプリッタ２の間に設けてもかまわない。
（実施の形態５）
図５は、本発明の実施の形態５における光ピックアップの光学系の例を示す概略構成図である。実施の形態１と同じ部分には同じ符号を付している。実施の形態１と異なるのはビームスプリッタ８の光ディスク６側の面に偏光分離膜の機能を有した膜を設けた点である。それにともない偏光ビームスプリッタ２を廃止し、新たに集光レンズ１２を設けて信号検出用センサ７に向かって集光させるようにしている。
【００３２】
ビームスプリッタ８の光線分割面８ａに入射する往路光１０１の偏光は実施の形態４と同じである。従って、前記偏光分離膜の機能を有した膜はビームスプリッタ８の光線分割面８ａにＰ偏光を入射させる場合、Ｐ偏光透過、Ｓ偏光反射、Ｓ偏光を入射させる場合、Ｐ偏光反射、Ｓ偏光透過の性質を有する。
【００３３】
復路光１０２はビームスプリッタ８の光ディスク６側の面の偏光分離膜の機能を有する膜により反射され、集光レンズ１２に入射し、信号検出用センサ７に向かって集光される。
【００３４】
なお、ビームスプリッタ８は光源１とコリメータレンズ３の間に設けてもかまわない。その場合、集光レンズ１２は不要となる。
（実施の形態６）
図６は、本発明の実施の形態６における光ピックアップの光学系の例を示す概略構成図である。実施の形態１と同じ部分に同じ符号を付している。本実施の形態６は実施の形態３と同様２つの波長の光源１と光源１ａに対応させている。実施の形態３と異なるのは波長分離部材１１を廃止し、ビームスプリッタ８の光ディスク６側の面に波長分離膜の機能を有する膜を設け、波長分離部材１１があった場所に移した点である。
【００３５】
第１の波長の光源１から出射された往路光１０１はビームスプリッタ８の光線分割面８ａでモニタ光１０３と光ディスク６へ向かう往路光１０１ａに分割される。一方、第２の波長の光源１ａから出射された往路光１０１はビームスプリッタ８の波長分離膜の機能を有する膜によりビームスプリッタ８を透過し、モニタ光検出用センサ９へ向かうモニタ光１０３と反射されて光ディスク６へ向かう往路光１０１ａに分割される。ここで光源１と光源１ａの偏光は揃えておく必要がある。往路光１０１ａは偏光ビームスプリッタ２を透過し、光ディスク６へ到達し、反射されて復路光１０２となり、再び偏光ビームスプリッタ２へ入射する。このとき、往路光１０１ａと復路光１０２の偏光が１／４波長板４の働きで９０°回転しているので、復路光１０２は偏光ビームスプリッタ２で反射されて信号検出用センサ７へ入射する。
（実施の形態７）
図７は、本発明の実施の形態７における光ディスク装置の斜視図を示すものである。図７において筐体１２１は上部筐体１２１ａと下部筐体１２１ｂを組み合わせて構成されている。トレイ１２２は筐体１２１に出没自在に設けられている。トレイ１２２にはスピンドルモータ１２３、光ピックアップ１２４が設けられている。光ピックアップ１２４には図１、図３から図６に示す光学系が用いられ、光ディスクに情報を書き込むかあるいは情報を読み出す動作の少なくとも一方を行う。ベゼル１２５はトレイ１２２の前端面に設けられて、トレイ１２２が筐体１２１内に収納された時に、トレイ１２２の出没口を塞ぐように構成されている。筐体１２１内部やトレイ１２２内部には図示していない回路基板があり、信号処理系のＩＣや電源回路などが搭載されている。図示していない外部コネクタ１２６はコンピュータ等の電子機器に設けられた電源／信号ラインと接続される。そして、外部コネクタ１２６を介して光ディスク装置内に電力を供給したり、あるいは外部からの電気信号を光ディスク装置内に導いたり、あるいは光ディスク装置で生成された電気信号を電子機器などに送出する。
【００３６】
以上のように図１、図３から図６に示す光学系が用いられた光ピックアップを搭載した光ディスク装置は内部に回路基板などの熱源を有しているにもかかわらず、安定した信号を得ることができ、高い信頼性を有している。
【産業上の利用可能性】
【００３７】
以上のように本発明の光ピックアップ及び光ディスク装置は光源から光ディスクへ入射する光量が安定するために安定した記録再生特性が得られ、高い信頼性が実現できるためパーソナルコンピュータ、ノートブック型コンピュータ、モバイル端末機器などの電子機器に適用できる。
【図面の簡単な説明】
【００３８】
【図１】本発明の実施の形態１における光ピックアップの光学系の例の概略構成図
【図２】（Ａ）はフレネルの公式に基づいて計算されたＳ偏光の反射率Ｒｓ（透過率Ｔｓ）の入射角度θｉと屈折率ｎとの関係の図、（Ｂ）はフレネルの公式に基づいて計算されたＰ偏光の反射率Ｒｐ（透過率Ｔｐ）の入射角度θｉと屈折率ｎとの関係の図
【図３】本発明の実施の形態２における光ピックアップの光学系の例の概略構成図
【図４】本発明の実施の形態３における光ピックアップの光学系の例の概略構成図
【図５】本発明の実施の形態５における光ピックアップの光学系の例の概略構成図
【図６】本発明の実施の形態６における光ピックアップの光学系の例の概略構成図
【図７】本発明の実施の形態７における光ディスク装置の斜視図
【図８】従来から用いられている光ピックアップの記録再生系の光学系の例の概略構成図
【図９】通常の光量制御系の光学系の例の概略構成図
【符号の説明】
【００３９】
１    光源
２    偏光ビームスプリッタ
３    コリメータレンズ
４    １／４波長板
５    対物レンズ
６    光ディスク
７    信号検出用センサ
８    ビームスプリッタ
９    モニタ光検出用センサ
１０    オートパワーコントロール回路
１１    波長分離部材
１２    集光レンズ
１０１    往路光
１０２    復路光
１０３    モニタ光
１２１    筐体
１２２    トレイ
１２３    スピンドルモータ
１２４    光ピックアップ
１２５    ベゼル
１２６    外部コネクタ
【図１】
2006031785.tif 000003
【図２】
2006031785.tif 000004
【図３】
2006031785.tif 000005
【図４】
2006031785.tif 000006
【図５】
2006031785.tif 000007
【図６】
2006031785.tif 000008
【図７】
2006031785.tif 000009
【図８】
2006031785.tif 000010
【図９】
2006031785.tif 000011