(57)【要約】【課題】試し書き領域を有する光ディスクにおいて、試し書き時のレーザパワーの可変範囲を最適化し、個々の光ディスクに対して信頼性のある最適記録レーザパワーで良好に情報の書き込みを行うことが可能な光ディスク記録再生装置及び記録再生方法を提供する。【解決手段】光ディスク（１）を再生し、記録管理領域に記録されている記録パワー条件（２５）と記録ストラテジ情報（２６）とに基づき第１の試し書きを行い、第１の試し書きの再生信号から得られた第１の変調度情報（３２）の値と、光ディスク（１）に予め記録されている第２の変調度情報（２７）の値とを比較し（３３）、比較結果に基づき第２の試し書きでのレーザパワーの可変範囲を設定（３４）して第２の試し書きを行い、この第２の試し書きの再生信号から第３の変調度情報（３２）を得て最適記録レーザパワーを決定し（３６）、その記録レーザパワー条件でデータの記録を行う。【選択図】図１
2006302481.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
試し書き領域と記録管理情報領域とを有する光ディスクの記録再生を行う光ディスク記録再生装置において、
前記光ディスクの試し書き領域に第１及び第２の試し書きを行うための記録レーザパワーを設定する試し書きパワー設定手段と、
前記光ディスクの再生信号の変調度を計測する変調度計測手段と、
前記記録管理情報領域に記録されている第１の変調度情報と前記変調度計測手段により得られた第２の変調度情報とを比較する変調度比較手段と、
前記記録レーザパワーの補正情報を格納するメモリ手段と、
前記第１及び第２の試し書きに基づいてデータ記録における記録レーザパワーを設定する記録パワー設定手段と、
を備えたことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項２】
請求項１記載の光ディスク記録再生装置において、
前記記録管理情報領域の再生信号から前記光ディスクに記録されている記録レーザパワー情報を復調する記録パワー条件復調手段と、
前記記録管理情報領域の再生信号から前記光ディスクに記録されている記録ストラテジ情報を復調する記録ストラテジ復調手段と、
前記記録管理情報領域の再生信号から前記光ディスクに記録されている変調度情報を復調する変調度情報復調手段と、
前記試し書きにより得られた再生信号から試し書き情報を復調するための試し書き情報復調手段と、
前記データを所定の記録フォーマットに変換する記録データ変換手段と、
前記記録データ変換手段で変換された記録データを前記記録ストラテジ復調手段で得た記録ストラテジ情報に基づき記録パルスへ変換する記録パルス決定手段と、
を備えたことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項３】
請求項１記載の光ディスク記録再生装置における前記試し書きパワー設定手段は、
第１の試し書きにおいて、
前記光ディスクの記録管理情報領域に記録されている記録管理情報に基づき記録レーザパワー設定が行われと共に、
前記記録レーザパワーを順次変化するように設定される、
ことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項４】
請求項１記載の光ディスク記録再生装置における前記試し書きパワー設定手段は、
第２の試し書きにおいて、
前記試し書き時の記録条件と、前記試し書きによって得られた変調度情報を含む試し書き情報と、前記変調度比較情報と、メモリに格納されたレーザパワー補正情報とのいずれか一つ以上の情報に基づき、記録レーザパワー設定が行われ、
前記第２の試し書き時の記録条件と、前記第２の試し書きによって得られた変調度情報を含む試し書き情報と、メモリに格納されたレーザパワー補正情報と、のいずれか一つ以上の情報に基づき前記光ディスクにおけるデータ記録時の記録レーザパワー設定が行われる、
ことを特徴とする光ディスク記録再生装置。
【請求項５】
試し書き領域と記録管理情報領域を有する光ディスクの記録再生を行うための光ディスク記録再生方法において、
前記光ディスクに記録されている記録管理情報を復調し、第１の変調度情報を取得する第１の変調度情報取得ステップと、
前記光ディスクの試し書き領域に第１の試し書きを行うためのレーザパワーを設定する第１のレーザパワー設定ステップと、
第１の試し書きを行う第１の試し書きステップと、
第１の試し書きよって得られる再生信号の変調度を計測し、第２の変調度情報を取得する第２の変調度情報取得ステップと、
第１の変調度情報と、第２の変調度情報とを比較する変調度情報比較ステップと、
第１の試し書き時の記録条件と、第１の試し書きによって得られた変調度情報を含む試し書き情報と、前記変調度比較情報と、メモリに格納されたレーザパワー補正情報と、のいずれか一つ以上の情報に基づき第２の試し書きを行うためのレーザパワーを設定する第２のレーザパワー設定ステップと、
第２の試し書きを行う第２の試し書きステップと、
第２の試し書きによって得られる再生信号の変調度を計測し、第３の変調度情報を取得する第３の変調度情報取得ステップと、
第２の試し書き時の記録条件と、第２の試し書きによって得られた第３の変調度情報を含む試し書き情報と、メモリに格納されたレーザパワー補正情報と、のいずれか一つ以上の情報に基づき前記光ディスクへのデータ記録における記録レーザパワーを設定するデータ記録レーザパワー設定ステップと、
を有することを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【請求項６】
請求項５記載の光ディスク記録再生方法において、
前記データ記録レーザパワー設定ステップで得た記録レーザパワー情報を前記光ディスクに記録可能なフォーマットに変換するフォーマット変換ステップと、
前記フォーマット変換ステップで変換された前記記録レーザパワー情報を前記光ディスクの前記記録管理情報領域に記録する記録レーザパワー情報記録ステップと、
を有することを特徴とする光ディスク記録再生方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク記録再生装置及び光ディスク記録再生方法に係り、特に、試し書きをすることで最適な記録パワーで情報の書き込みを行うことができる光ディスク記録再生装置及び光ディスク記録再生方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、相変化型記録材料を用いたデータの書き換え可能な光ディスクとして、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−ＲＷがあり、更に近年は、より大容量のＢＤ−ＲＥ（ブルーレイディスクリライタブル）が開発され、これらが一般に販売されている。こうした光ディスクの記録再生装置においては、透明な基板上に記録層を形成した光ディスクを回転させ、記録情報に応じて変化するパルス列を、情報の最小単位より細かいパルス列に変換し、このパルス列によってレーザビームを強度変調し、強度変調されたレーザビームを媒体上に集光させて加熱することにより媒体の物理特性を結晶質、非晶質と変化させてマーク／スペースを形成し記録している。
【０００３】
光ディスクの高密度化を実現するために、ＢＤ−ＲＥではＤＶＤに比べレーザ波長の短波長化や、レーザ等の光源からの光束をより小さなスポットに集光するため、レンズの開口数を大きくするなどしている。しかし、レンズの開口数が大きくなると、光ディスクの反りや傾きに対してコマ収差が発生しやすくなる。この場合には、光ディスクの読み取り面におけるカバー層の厚みが薄い方がコマ収差の発生を少なくできるという点で有利である。
【０００４】
光ディスクの読み取り面（記録面）を保護する透過基板は、ＤＶＤでは０．６ｍｍであるが、ＢＤ−ＲＥではこの読み取り面のカバー厚をもっと薄い０．１ｍｍとしており、透過基板ではなく透過シートを基板に接着剤によって貼り合せる形や、樹脂のスピンコートにより透過層を形成している。この場合、透過シート＋接着剤の厚さ誤差、または、スピンコートによる透過層の厚さ誤差による影響の度合いは、ＤＶＤに比べ遥かに大きく、記録感度ムラとして記録時におけるレーザパワーに影響を与えてしまう。
【０００５】
光ディスクには、記録時に必要となるレーザパワー値や、記録パルス幅などの記録条件設定情報が予め記憶されている。しかしながら、光ディスクに記憶されている記録条件設定情報は、ＲＯＭ情報として基板に形成され、しかる後にディスク（記録媒体）を形成するため、光ディスク等の光記録媒体の形成状態により、記録条件の特性にはばらつきが生じる。
【０００６】
すなわち、同じレーザパワー、同じ記録パルス幅で情報を記録した場合であっても、光ディスクの構造、光記録媒体の組成、周囲温度等によって記録されたマーク／スペースの大きさは変化する。特に、マーク／スペースのエッジに情報を持たせるマークエッジ記録が多く行われる高密度の光記録においては、記録されたマーク／スペース長の変化は、再生信号のジッタとなって再生されたデータの誤り率の悪化を招くことになる。
【０００７】
このため、通常、光ディスクの記録再生においては、光ディスクへの試し書き（テストライト）を行い、その再生信号から得た記録状態を判定し、必要に応じて記録条件の補正を行っている。
【０００８】
この記録条件の補正については、記録パワーパラメータを最適化する従来技術として、例えば、下記特許文献１、特許文献２がある。
特許文献１によれば、各種記録パワーを変化させて記録を行い、その再生信号より得られる変調度ｍと、その記録パワーＰを用いて、γ=（Δｍ／ｍ）／（ΔＰ／Ｐ）なる関数を求め、より最適な記録パワーパラメータを決定している。
【０００９】
ここで、変調度ｍとは、再生データ振幅（再生データのピークレベルＰｋと再生データのボトムレベルＢｔの差）を再生データのピークレベルＰｋで規格化したものであり、（Ｐｋ−Ｂｔ）／Ｐｋで表される。
【００１０】
また、特許文献２によれば、ＯＰＣ（Optimum Power Control）と呼ばれる記録パワーキャリブレーションにより、最大変調度ｍｍａｘを算出し、最大変調度ｍｍａｘから予めＣＰＵに設定されている値を乗算し目標変調度ｍｋを求め、目標変調度ｍｋに対する記録パワーＰｗｏを変調度ｍと記録パワーの関係より求めている。
【００１１】
【特許文献１】特開平１１−１３４６９１号公報
【特許文献２】特開２００１−３０７３２６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１２】
しかしながら、前記特許文献１に開示された記録レーザパワー条件の補償技術においては、試し書き時のレーザパワー可変範囲が適切に設定されていなかった場合や、テスト記録領域にディフェクト（欠陥）や記録膜の形成ムラがある場合などでは、所望の近似関数が得られず、誤差が発生し、最適な記録レーザパワーを得られないという問題点がある。
【００１３】
また、前記特許文献２に開示された記録レーザパワー条件の補償技術においては、最大変調度ｍｍａｘを求めなければならず、試し書き時のレーザパワー可変範囲に変調度の飽和ポイントが見つからなかった場合には、最適な記録レーザパワーを得られないという問題点がある。
【００１４】
本発明は、かかる問題を解決するべくなされたものであり、書き換え可能で、且つ試し書き領域を有する光ディスクにおいて、試し書き時のレーザパワー可変範囲を最適化し、個々の光ディスクに対して信頼性のある最適記録レーザパワーを求め、良好に情報の書き込みを行うことが可能な光ディスク記録再生装置及び光ディスク記録再生方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
本発明は、上記課題を解決する手段として以下の（１）乃至（６）に記載の構成からなる。すなわち、
（１）第１の発明は、試し書き領域と記録管理情報領域とを有する光ディスクの記録再生を行う光ディスク記録再生装置において、
前記光ディスクの試し書き領域に第１及び第２の試し書きを行うための記録レーザパワーを設定する試し書きパワー設定手段（３４）と、
前記光ディスクの再生信号の変調度を計測する変調度計測手段（３２）と、
前記記録管理情報領域に記録されている第１の変調度情報と前記変調度計測手段により得られた第２の変調度情報とを比較する変調度比較手段（３３）と、
前記記録レーザパワーの補正情報を格納するメモリ手段（３５）と、
前記第１及び第２の試し書きに基づいてデータ記録における記録レーザパワーを設定する記録パワー設定手段（３６）と、
を備えたことを特徴とする光ディスク記録再生装置である。
（２）第２の発明は、請求項１記載の光ディスク記録再生装置において、
前記記録管理情報領域の再生信号から前記光ディスクに記録されている記録レーザパワー情報を復調する記録パワー条件復調手段（２５）と、
前記記録管理情報領域の再生信号から前記光ディスクに記録されている記録ストラテジ情報を復調する記録ストラテジ復調手段（２６）と、
前記記録管理情報領域の再生信号から前記光ディスクに記録されている変調度情報を復調する変調度情報復調手段（２７）と、
前記試し書きにより得られた再生信号から試し書き情報を復調するための試し書き情報復調手段（２８）と、
前記データを所定の記録フォーマットに変換する記録データ変換手段（２９）と、
前記記録データ変換手段で変換された記録データを前記記録ストラテジ復調手段で得た記録ストラテジ情報に基づき記録パルスへ変換する記録パルス決定手段（３０）と、
を有することを特徴とする光ディスク記録再生装置である。
（３）第３の発明は、請求項１記載の光ディスク記録再生装置における前記試し書きパワー設定手段は、第１の試し書きにおいて、
前記光ディスクの記録管理情報領域に記録されている記録管理情報に基づき記録レーザパワー設定が行われと共に、前記記録レーザパワーを順次変化するように設定されることを特徴とする光ディスク記録再生装置である。
（４）第４の発明は、請求項１記載の光ディスク記録再生装置における前記試し書きパワー設定手段は、第２の試し書きにおいて、
前記試し書き時の記録条件と、前記試し書きによって得られた変調度情報を含む試し書き情報と、前記変調度比較情報と、メモリに格納されたレーザパワー補正情報とのいずれか一つ以上の情報に基づき、記録レーザパワー設定が行われ、
前記第２の試し書き時の記録条件と、前記第２の試し書きによって得られた変調度情報を含む試し書き情報と、メモリに格納されたレーザパワー補正情報と、のいずれか一つ以上の情報に基づき前記光ディスクにおけるデータ記録時の記録レーザパワー設定が行われることを特徴とする光ディスク記録再生装置である。
（５）第５の発明は、試し書き領域と記録管理情報領域を有する光ディスクの記録再生を行うための光ディスク記録再生方法において、
前記光ディスクに記録されている記録管理情報を復調し、第１の変調度情報を取得する第１の変調度情報取得ステップ（Ｓ１２）と、
前記光ディスクの試し書き領域に第１の試し書きを行うためのレーザパワーを設定する第１のレーザパワー設定ステップ（Ｓ１３）と、
第１の試し書きを行う第１の試し書きステップ（Ｓ１４）と、
第１の試し書きよって得られる再生信号の変調度を計測し、第２の変調度情報を取得する第２の変調度情報取得ステップ（Ｓ１５）と、
第１の変調度情報と、第２の変調度情報とを比較する変調度情報比較ステップ（Ｓ１６）と、
第１の試し書き時の記録条件と、第１の試し書きによって得られた変調度情報を含む試し書き情報と、前記変調度比較情報と、メモリに格納されたレーザパワー補正情報と、のいずれか一つ以上の情報に基づき第２の試し書きを行うためのレーザパワーを設定する第２のレーザパワー設定ステップ（Ｓ２０、Ｓ２１）と、
第２の試し書きを行う第２の試し書きステップ（Ｓ２２）と、
第２の試し書きによって得られる再生信号の変調度を計測し、第３の変調度情報を取得する第３の変調度情報取得ステップ（Ｓ２３）と、
第２の試し書き時の記録条件と、第２の試し書きによって得られた第３の変調度情報を含む試し書き情報と、メモリに格納されたレーザパワー補正情報と、のいずれか一つ以上の情報に基づき前記光ディスクへのデータ記録における記録レーザパワーを設定するデータ記録レーザパワー設定ステップ（Ｓ２４、Ｓ２５）と、
を有することを特徴とする光ディスク記録再生方法である。
（６）第６の発明は、請求項５記載の光ディスク記録再生方法において、
前記データ記録レーザパワー設定ステップで得た記録レーザパワー情報を前記光ディスクに記録可能なフォーマットに変換するフォーマット変換ステップ（Ｓ３１）と、
前記フォーマット変換ステップで変換された前記記録レーザパワー情報を前記光ディスクの前記記録管理情報領域に記録する記録レーザパワー情報記録ステップ（Ｓ３２）と、
を有することを特徴とする光ディスク記録再生方法である。
【発明の効果】
【００１６】
本発明に係る光ディスク記録再生装置及び光ディスク記録再生方法によれば、書き換え可能で、且つ試し書き領域を有する光ディスクにおいて、まず第１の試し書きにより第２の試し書きでの記録レーザパワー可変範囲の最適化を行い、その後に第２の試し書きを行うので、個々の光ディスクに対して信頼性のある最適記録レーザパワーが求められ、良好に情報の書き込みを行うことができるようになる。
これにより、従来のように試し書き時のレーザパワー可変範囲の設定が適切に行われなかった場合や、テスト記録領域にディフェクトや記録膜の形成ムラがある場合などでは最適な記録レーザパワーを得られないという問題が解決し、又、試し書き時のレーザパワー可変範囲に変調度の飽和ポイントが見つからなかった場合には最適な記録レーザパワーを得られないという問題も解決することが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明を実施するための最良の形態について、図面と共に説明する。
図１は本発明に係る光ディスク記録再生装置の一実施例を示すブロック図、図２は光ディスクにデータ記録時の記録データとレーザ発光波形を示す図である。図３は光ディスクにデータを記録時の再生ＲＦ信号の変調度を示す図、図４は記録パワーと変調度の関係を示す図、図５、図６は本発明に係る光ディスク記録再生装置の一実施例の動作及び光ディスク記録再生方法を説明するフローチャートである。
【００１８】
まず、本発明に係る光ディスク記録再生装置の実施形態について図１を用いて説明する。
図１において、本発明に係る光ディスク記録再生装置は、情報を繰り返し記録再生可能な相変化型の光ディスク１をスピンドルモータ２により回転駆動して、光ディスク１の記録トラックを光ピックアップ１０から出射するレーザ光で走査することにより、所定のデータフォーマットのデジタルデータを光学的に記録及び再生する。
【００１９】
光ピックアップ１０においては、レーザ光源である半導体レーザ１１からのレーザ光がコリメートレンズ１２で平行光ビームとされ、ビームスプリッタ１３を介し、更に対物レンズ１４を介して、光ディスク１上の信号記録面に集光されるように昭射される。
光ディスク１の信号記録面に投射されて反射されたレーザ光の反射光ビーム（戻りレーザ光）は、ビームスプリッタ１３で反射され、シリンドリカル（集光）レンズ１５を介して受光素子であるフォトディテクタ１６に導かれるようになっている。
【００２０】
フォトディテクタ１６は、例えば受光部が４分割された構造を有し、これらの各受光部からの光検出信号がプリアンプ２０を介してマトリクス回路２１に供給されることにより、これらの信号の和や差がとられて、いわゆるＲＦ信号（アナログ状態の信号）や、フォーカスエラー信号、トラッキングエラー信号等として取り出される。
ここでは、前記フォトディテクタ１６と、前記プリアンプ２０を分けて説明したが、プリアンプ機能内蔵のフォトディテクタであっても良い。
【００２１】
フォーカスエラー信号及びトラッキングエラー信号は、位相補償回路（図示せず）を介し、更にサーボ駆動回路（図示せず）を介して、前記対物レンズ１４を２軸駆動装置の各駆動コイル（図示せず）にそれぞれ送られることにより、フォーカスサーボ及びトラッキングサーボが行われる。
又、ＲＦ信号は、各受光部からの出力信号の和信号であり、後述するＥＱ（イコライザ）２２及び変調度計測部３１に供給される。
【００２２】
マトリクス２１から出力されたＲＦ信号は、ＥＱ２２で整形され、次の２値化回路２３は、このＥＱ２２により整形されたＲＦ信号を所定の閾値と比較し、その閾値を境に２値化する。それにより整形されたＲＦ信号はデジタル信号へ変換される。ＰＬＬ（フェーズロックループ）２４は、デジタル信号と基準となるクロック信号とを同期させるものである。
【００２３】
起動時、若しくは記録動作の直前において、光ディスクに予め記憶されている記録管理情報（ディスクインフォメーション（ＤＩ）を含む）が再生され、上記経路を経て得られたデジタル信号の内、記録パワー条件は記録パワー条件復調部２５で、記録ストラテジは記録ストラテジ復調部２６で、変調度情報は変調度情報復調部２７で夫々復調される。なお、ここでの変調度情報とは、復調された前記記録パワー条件と記録ストラテジ条件で記録した場合の指標となる標準変調度のことである。
【００２４】
次に、上記記録管理情報である記録レーザパワー条件、記録ストラテジ情報と記録時のレーザ発光波形の関係について、図２にその一例を示す。
この実施例においては、光ディスクに予め記憶されている上記記録管理情報には、前記記録レーザパワー条件、前記記録ストラテジ情報の他にＯＰＣのための情報も含んだ形で説明を行う。前記記録管理情報には、次に示すパラメータが記録されている。
【００２５】
「最適記録ピークパワーＰｗｏを得るための指標となる記録ピークパワーＰｉｎｄ」、「乗数ρ（Ｐｗｏ＝ρ×Ｐｉｎｄ）」、「Ｐｉｎｄで記載された記録パワーで記録したときの変調度ｍｉｎｄ」、「最適記録バイアスパワーＰｂｗｏを得るためのバイアスパワー／記録ピークパワー比率εｂｗ（Ｐｂｗｏ＝Ｐｗｏ×εｂｗ）」、「最適記録クーリングパワーＰｃｏを得るためのクーリングパワー／記録ピークパワー比率εｃ（Ｐｃｏ＝Ｐｗｏ×εｃ）」、「最適消去パワー１Ｐｅ１を得るための消去パワー１／記録ピークパワー比率εｅ１（Ｐｅ１＝Ｐｗｏ×εｅ１）」、「最適消去パワー２Ｐｅ２を得るための消去パワー２／記録ピークパワー比率εｅ２（Ｐｅ２＝Ｐｗｏ×εｅ２）」、「ＯＰＣが実行される変調度カーブ上のポイントを示す記録ピークパワーＰｗと記録閾値ピークパワーＰｔｈｒの目標比率κ（κ＝Ｐｗ／Ｐｔｈｒ）」である。
【００２６】
また、記録ストラテジ情報としては、次に示すパラメータが記録されている。
「先頭パルス幅Ｔｔｏｐ」、「先頭パルス前端位置情報ｄＴｔｏｐ」、「後続パルス幅Ｔｍｐ」、「消去パルス前端位置情報ｄＴｅ」（場合によっては各マーク長にスペース長に応じて設定されている）。
これらの組み合わせによって、図２に示すようなレーザ発光波形を実現する。
【００２７】
次に、図１に戻り、記録データ変換部２９は、記録対象データを前記光ディスクに記録可能な所定のフォーマットに変換するものである。ここで、ＢＤ−ＲＥの光ディスクでは、記録対象データは１−７ｐｐ変調され、「１」に続き「０」を１〜７個必ず含む。記録対象データでの「０」から「１」への反転が記録データのパルス端に対応するように、記録対象データが変換される。それにより、記録データのパルス幅は２〜８ビットの記録対象データに相当する。データ１ビット当たりのパルス幅をＰＬＬ２４のクロック周期１Ｔと等しく設定するとき、記録データにおける各パルス幅は２〜８Ｔである。
ＢＤ−ＲＥへ実際に記録されるデータには、記録対象データの他に同期信号が含まれている。記録パターン決定部２９は、パルス幅９Ｔを含む同期信号についても変換し、更に、メモリ３５に記憶してある所定のテスト記録データについても同様に変換し、後述の第一の試し書き（試し書き１）、及び第２の試し書き（試し書き２）を行う時に変換されたテスト記録データを出力する。
【００２８】
また、次の記録パルス決定部３０は、記録データ変換部２９により変換された記録データを、記録ストラテジ復調部２６からの出力に従い記録パルスへ変換する。レーザ駆動回路３１は、前記記録パルス決定部３０と、後述する試し書きパワー設定部３４、前記記録パワー設定部３６からの出力信号に応じて半導体レーザ１１を駆動し、光ディスク１に対して記録を行えるようにしている。
【００２９】
前記したように、マトトリクス回路２１から出力されるＲＦ信号は、変調度を測定するため変調度計測部３２へも送られ、再生信号の変調度を計測する。変調度比較部３３は、前記変調度情報復調部２７で復調された第１の変調度情報と、前記変調度計測部３２で計測された第２の変調度情報とを比較し、比較出力信号は、試し書きパワー設定部３４に送られる。
試し書きパワー設定部３４は、第１の試し書きでの記録レーザパワー設定と、第１の試し書きによって得られた第１の変調度情報、第１の試し書きによって得られた試し書き情報と、前記変調度比較情報と、メモリ３５に格納されたレーザパワー補正情報と、のいずれか一つ以上の情報に基づき、第２の試し書きにおける記録レーザパワー設定を行う。
【００３０】
記録パワー設定部３６は、第２の試し書きでの記録条件と、第２の試し書きによって得られた第２変調度情報と、第２の試し書きによって得られた試し書き情報と、メモリ３５に格納されたレーザパワー補正情報と、のいずれか一つ以上の情報に基づき、データ記録時の記録レーザパワーの設定を行い、ここで得られた記録レーザパワー設定をレーザ駆動回路３１へ送って、半導体レーザ１１を駆動している。
【００３１】
ここで、図３に示すＢＤ−ＲＥにおけるＲＦ信号の変調度について説明する。変調度ｍは、光が全く戻らない状態を基準（ＲＥＦ）としたとき、次のように表される。
ｍ＝Ｉ８ｐｐ／Ｉｔｏｐ
（但し、Ｉ８ｐｐは、ＲＦ信号における８Ｔのマーク及びスペースの信号振幅（＝Ｉ８Ｈ−Ｉ８Ｌ）。Ｉｔｏｐ（Ｉ８Ｈ）は、スペース部分の光反射率である。）
また、図４に示すように、変調度ｍは記録ピークパワーＰｗに応じて変化し、記録パワーＰｗが小さい時はＲＦ信号振幅が小さいので変調度は小さくなる。この時のＩ８ＨとＩ８Ｌの関係は、Ｉ８Ｈスペース部分の光反射率であるために、光ディスクの基板の成形状態や記録膜ムラ及び透過シート厚ムラ、または、透過層厚ムラやオーバーライト等による影響により変動要素はあるが、概ね一定で、記録ピークパワーＰｗが小さくなるとＩ８Ｌの値が大きくなり結果として変調度が下がるようになる。
【００３２】
本実施例では、記録レーザパワーに対する変調度の特性を利用し、試し書き時のレーザパワー可変範囲の設定を適切に行うことによって、信頼性のある最適記録レーザパワーを得るためのものであり、以下、図５のフローチャートに沿って詳細の説明を行う。
【００３３】
はじめに、起動時、若しくは記録命令が送られた直後に、光ディスク１からＤＩ情報を読み出し（図５のステップＳ１１）、変調度情報Ｍ１及び記録レーザパワー条件、記録ストラテジ情報を復調する（ステップＳ１２）。
【００３４】
ここで、前記図２の説明の中に変調度ｍｉｎｄというパラメータがあったが、第１の変調度情報（Ｍ１）がこれに相当し、この目標となるＭ１を得るために記録ピークパワーＰｉｎｄと、比率または乗数情報を記録パワー条件復調部２５で復調して記録に必要なレーザパワーレベルを取得する。ここで求めた記録レーザパワーを基に複数の段階で順次変化させて試し書き１を行うためのレーザパワー（Ｐ１）を試し書きパワー設定部３４で設定する。この出力は、上述の如くレーザ駆動回路３０へと送られる（ステップＳ１３）。
【００３５】
一方、記録ストラテジ情報は、上記記録ストラテジ情報を用いて記録ストラテジ復調部２６で復調される。試し書き１における記録データは、前記メモリ３５に格納されたテスト記録データを用い、このテスト記録データを記録データ補正部２９へ送り、前記光ディスクに記録可能なフォーマットとして、上述のように、前記記録ストラテジ復調部２６からの出力信号に従い、記録パルス決定部３０で記録時の記録パルスに変換されレーザ駆動回路３１へと送られる（ステップＳ１３）。
これにより、レーザ駆動回路３１により半導体レーザ１１を駆動し、前記光ディスク１の試し書き領域に試し書き１が行われる（ステップＳ１４）。
【００３６】
前記光ディスクの試し書き領域に前記試し書き１によって形成されたマーク／スペースからなる記録部を前述の如く再生レーザパワーを照射してデータを読み取る。フォトディテクタ１６でレーザ光は電気信号に変換され、プリアンプ２０を介してマトリクス回路２１により演算され、例えば、ＲＦ信号を変調度計測が可能なＤＣ信号として変調度計測部３２へ送り、試し書き１によって形成された記録部分の第２の変調度情報（Ｍ２）を求める（ステップＳ１５）。
【００３７】
次に、前記変調度計測部３２で求めたＭ２と、前記記録管理情報から得たＭ１を比較する（ステップＳ１６）。  比較結果（Ｍ２−Ｍ１）の値に基づき、下記の３つのパターンに従い処理を行う（ステップＳ１７、Ｓ１８）。
１）Ｍ２−Ｍ１＝０の場合
記録パワー設定部３６において、試し書き１での記録条件と、試し書き１で得られた変調度Ｍ２と、試し書き１の再生信号から試し書き情報復調部２８によって得られた試し書き情報と、メモリ３５に格納されたレーザパワー補正情報と、のいずれか一つ以上の情報に基づき、通常データ記録時における記録レーザパワー（複数レベルの記録レーザパワーの組み合わせ）を補正して設定する。（ステップＳ１９）。
【００３８】
２）Ｍ２−Ｍ１＞０の場合
試し書きパワー設定部３４において、試し書き１での記録条件と、試し書き１で得られた変調度Ｍ２と、試し書き１の再生信号から試し書き情報復調部２８によって得られた試し書き情報と、メモリ３５に記憶された記録パワー補正情報と、のいずれか一つ以上の情報に基づき、試し書き２における記録レーザパワー（複数レベルの記録レーザパワーの組み合わせ）を順次パワーアップまたはダウンさせ、所定のステップ数によって組み合わせ、試し書き２における記録レーザパワーＰ２（Ｐ１＞Ｐ２）を設定する（ステップＳ２０）。
ここで得られる試し書き２におけるレーザパワー可変範囲は、メモリ３５に記憶された前記補正情報に基づき、試し書き１に比べ試し書きレーザパワー可変範囲における最小値のレベルを小さく設定し、且つ比較結果の大きさに応じてそのレベルを変更可能な前記補正情報がメモリ３５に記憶されており、その情報を用いて設定する。
【００３９】
３）Ｍ２−Ｍ１＜０の場合
試し書きパワー設定部３４において、試し書き１での記録条件と、試し書き１で得られた変調度Ｍ２と、試し書き１の再生信号から試し書き情報復調部２８によって得られた試し書き情報と、メモリ３５に記憶された記録パワー補正情報と、のいずれか一つ以上の情報に基づき、試し書き２における記録レーザパワー（複数レベルの記録レーザパワーの組み合わせ）を順次パワーアップまたはダウンさせ、所定のステップ数によって組み合わせ、試し書き２における記録レーザパワーＰ３（Ｐ１＜Ｐ３）を設定する（ステップＳ２１）。
ここで得られる試し書き２におけるレーザパワー可変範囲は、メモリ３５に記憶された前記補正情報に基づき、試し書き１に比べ試し書きレーザパワー可変範囲における最小値のレベルを大きく設定し、且つ比較結果の大きさに応じてそのレベルを変更可能な前記補正情報がメモリ３５に記憶されており、その情報を用いて設定する。
【００４０】
引き続き、前記比較結果（Ｍ２−Ｍ１）が２）、または３）の場合には、試し書きパワー設定部３４により設定した試し書き２におけるレーザパワーＰ２、またはＰ３を用いて、前述の如くレーザ駆動回路３１によって半導体レーザ１１を駆動し、光ディスク１の記録管理情報領域の試し書きエリアに試し書き２を行う（ステップＳ２２）。
この時の記録データは、上述のように試し書き１と同様に、メモリ３５に格納されたテスト記録データを前記記録データ変換部２９で前記光ディスク１へ記録可能なフォーマットに変換して用い、また、記録ストラテジは、上述のように前記記録ストラテジ復調部２６からの出力信号と変換されたテスト記録データに従い、記録パルス決定部３０にて記録パルスに変換されレーザ駆動回路３１へ送って半導体レーザ１１を駆動している。
【００４１】
試し書き２によって形成されたマーク／スペースからなる記録部を前述の如く再生し、マトリクス回路２１により演算され、例えば、ＲＦ信号を変調度計測が可能なＤＣ信号として変調度計測部３２へ送り、試し書き２によって形成された記録部分の第３の変調度情報（Ｍ３）を求める（ステップＳ２３）。
【００４２】
変調度計測部３２で求めた変調度Ｍ３を記録パワー設定部３６に送り、ここで、試し書き２での記録条件と、試し書き２で得られた変調度Ｍ３と、試し書き２の再生信号から試し書き情報復調部２８によって得られた試し書き情報と、メモリ３５に格納されたレーザパワー補正情報と、のいずれか一つ以上の情報に基づき、通常データ記録時における記録レーザパワー（複数レベルの記録レーザパワーの組み合わせ）を補正して設定する（ステップＳ２４）。
【００４３】
前記変調度比較結果（Ｍ２−Ｍ１）による３つの処理によって記録パワー設定部３６で得られた通常のデータ記録時における記録レーザパワーを設定し、データ記録時にここで得られた最適記録レーザパワーを用いる（ステップＳ２５）。
ここで得られた最適記録レーザパワーは、データ記録時の記録レーザパワー条件として使用されるが、ここで、一時的にメモリ３５に記憶することも可能であり、メモリ３５に記憶後、記録毎に記録パワー条件を読み出して使用しても良い。
【００４４】
このように、試し書きにおけるレーザパワー可変範囲を最適化することで、試し書きで得られる情報の精度を上げ、その結果、光ディスク１に対して最適な記録レーザパワーで良好に情報の書き込むことが可能となる。
【００４５】
図６のフローチャートを用いて、光ディスク上の記録管理情報領域に上記の動作により求めた最適記録パワー情報を記録する動作について説明をする。
記録パワー設定部３６もしくはメモリ３５に記憶された状態の最適記録レーザパワー情報を記録データ変換部２９に送り、ここで光ディスク１に記録可能なフォーマットにデータを変換する（図６のステップＳ３１）。
【００４６】
前記光ディスク１に記録可能なフォーマットに変換された最適記録レーザパワー情報は、記録パルス決定部３０に送られ、上述の如く前記光ディスク１から復調した記録ストラテジ情報を用い記録パルスを決定し、レーザ駆動回路３１へ送られる。また、記録レーザパワー条件については、上述の如く、記録パワー設定部３６から最適記録レーザパワーがレーザ駆動回路３１へ送られ、半導体レーザ１１を駆動し、光ディスク１の記録管理情報領域に最適記録パワー情報が記録される（ステップＳ３２）。
ここで記録された最適記録パワー情報は、次回に前記光ディスク１をデータ記録時の記録レーザパワー条件として使用可能である。
【００４７】
なお、上記実施例では特に記述していないが、各手段における制御及び演算処理に関しては、ＣＰＵ（Central Processing Unit：中央処理装置）を用いて（または介して）行う構成であっても良い。
【００４８】
以上詳述したように、本発明に係る光ディスク記録再生装置及び光ディスク記録再生方法の実施例によれば、書き換え可能で、且つ試し書き領域を有する光ディスクにおいて、試し書き時のレーザパワー可変範囲の最適化を行い、試し書き時の記録レーザパワー補正することにより、光ディスクに対して最適な記録レーザパワーで良好に情報の書き込みを行うことができる。
【００４９】
これにより、試し書き時のレーザパワー可変範囲の設定が適切に行われなかった場合や、テスト記録領域にディフェクトや記録膜の形成ムラがある場合などでは最適な記録レーザパワーを得られないという従来の問題が解決し、又、試し書き時のレーザパワー可変範囲に変調度の飽和ポイントが見つからなかった場合には最適な記録レーザパワーを得られないという問題も解決することができる。
【図面の簡単な説明】
【００５０】
【図１】本発明に係る光ディスク記録再生装置の一実施例を示すブロック図である。
【図２】光ディスクにデータ記録時の記録データとレーザ発光波形を示す図である。
【図３】光ディスクにデータ記録時の再生ＲＦ信号の変調度を示す図である。
【図４】記録レーザパワーと変調度の関係を示す図である。
【図５】本発明に係る光ディスク記録再生装置の一実施例の動作及び記録再生方法を説明する第１のフローチャートである。
【図６】本発明に係る光ディスク記録再生装置の一実施例の動作及び記録再生方法を説明する第２のフローチャートである。
【符号の説明】
【００５１】
１…光ディスク
２…スピンドルモータ
１０…光ピックアップ
１１…半導体レーザ
１２…コリメートレンズ
１３…ビームスプリッタ
１４…対物レンズ
１５…シリンドリカル（集光）レンズ
１６…フォトディテクタ
２０…プリアンプ
２１…マトリクス回路
２２…ＥＱ（イコライザ）
２３…２値化回路
２４…ＰＬＬ（フェーズロックループ）
２５…記録パワー条件復調部
２６…記録ストラテジ復調部
２７…変調度情報復調部
２８…試し書き情報復調部
２９…記録データ変換部
３０…記録パルス決定部
３１…レーザ駆動回路
３２…変調度計測部
３３…変調度比較部
３４…試し書きパワー設定部
３５…メモリ
３６…記録パワー設定部
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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