(57)【要約】【課題】光ディスク装置において、光ディスクに対して高速で記録を行う場合、レーザ光源から出射されるレーザ光の出力波形特性を精度よく制御して、光ディスクに対する信号の記録精度を良好にすることを可能にする。【解決手段】光ディスク検査装置は、レーザ光源２１から出射されるレーザ光の光量およびパルス幅を規定するレーザパワー設定回路４５およびストラテジ設定回路４８を備える。また、光ディスク検査装置は、レーザ光源２１から出射されるレーザ光の光量およびパルス幅を測定してコントローラ５０に出力するレーザパワー測定回路４３およびパルス幅測定回路４４を備える。コントローラ５０は、所定時間におけるレーザ光の光量およびパルス幅の測定値に基づいて、レーザパワー設定回路４５およびストラテジ設定回路４８に設定されている設定光量およびパルス幅に関するストラテジを可変制御する。【選択図】  図１
2006228324.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスクに向けてレーザ光を出射するレーザ光源と、
前記レーザ光源を制御して前記レーザ光源から出射されるレーザ光の出力波形特性を規定する波形特性制御手段とを有する光ディスク装置において、
前記レーザ光源から出射されたレーザ光を検出して、同レーザ光を表すレーザ光検出信号を出力するレーザ光検出器と、
前記レーザ光検出器によって出力されたレーザ光検出信号を入力し、前記入力したレーザ光検出信号に基づいて、前記レーザ光源から所定時間に亘って出力される前記レーザ光の出力波形特性を測定する波形特性測定手段と、
前記波形特性測定手段による測定結果に基づいて、前記波形特性制御手段を制御して同波形特性制御手段によって規定される前記レーザ光の出力波形特性を可変制御する波形特性可変手段とを備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記波形特性制御手段は、前記出力波形特性としてレーザ光の光量を規定し、
前記波形特性測定手段は、前記レーザ光源から所定時間に亘って出力される前記レーザ光の出力波形特性として、レーザ光の光量を測定する光ディスク装置。
【請求項３】
請求項１に記載の光ディスク装置において、
前記波形特性制御手段は、前記出力波形特性としてレーザ光のパルス幅を規定し、
前記波形特性測定手段は、前記レーザ光源から所定時間に亘って出力される前記レーザ光の出力波形特性として、レーザ光のパルス幅を測定する光ディスク装置。
【請求項４】
請求項１ないし請求項３のうちのいずれか１つに記載の光ディスク装置において、
前記レーザ光検出器によって出力されるレーザ光検出信号は、複数種類の信号長のパルス波形を含み、
前記波形特性測定手段は、前記レーザ光検出信号に含まれる複数種類の信号長のうちの１つの種類の信号長のパルス波形に基づいて、前記レーザ光源から所定時間に亘って出力される前記レーザ光の出力波形特性を測定する光ディスク装置。
【請求項５】
請求項１ないし請求項４のうちのいずれか１つに記載の光ディスク装置において、
前記波形特性測定手段は、前記レーザ光源から光ディスクに向けてレーザ光が出射されている間、前記レーザ光源から所定時間に亘って出力される前記レーザ光の出力波形特性を繰り返し測定する光ディスク装置。
【請求項６】
光ディスクに向けてレーザ光を出射するレーザ光源と、
前記レーザ光源を制御して前記レーザ光源から出射されるレーザ光の出力波形特性を規定する波形特性制御手段と、
前記レーザ光源から出射されたレーザ光を検出して、同レーザ光を表すレーザ光検出信号を出力するレーザ光検出器とを有する光ディスク装置に適用される制御方法であって、
前記レーザ光検出器によって出力されたレーザ光検出信号を入力し、前記入力したレーザ光検出信号に基づいて、前記レーザ光源から所定時間に亘って出力される前記レーザ光の出力波形特性を測定する波形特性測定ステップと、
前記波形特性測定ステップによる測定結果に基づいて、前記波形特性制御手段を制御して同波形特性制御手段によって規定される前記レーザ光の出力波形特性を可変制御する波形特性可変ステップとを含むことを特徴とする光ディスク装置の制御方法。
【請求項７】
請求項６に記載の光ディスク装置の制御方法において、
前記波形特性制御手段は、前記出力波形特性としてレーザ光の光量を規定し、
前記波形特性測定ステップは、前記レーザ光源から所定時間に亘って出力される前記レーザ光の出力波形特性として、レーザ光の光量を測定するようにした光ディスク装置の制御方法。
【請求項８】
請求項６に記載の光ディスク装置の制御方法において、
前記波形特性制御手段は、前記出力波形特性としてレーザ光のパルス幅を規定し、
前記波形特性測定ステップは、前記レーザ光源から所定時間に亘って出力される前記レーザ光の出力波形特性として、レーザ光のパルス幅を測定するようにした光ディスク装置の制御方法。
【請求項９】
請求項６ないし請求項８のうちのいずれか１つに記載の光ディスク装置の制御方法において、
前記レーザ光検出器によって出力されるレーザ光検出信号は、複数種類の信号長のパルス波形を含み、
前記波形特性測定ステップは、前記レーザ光検出信号に含まれる複数種類の信号長のうちの１つの種類の信号長のパルス波形に基づいて、前記レーザ光源から所定時間に亘って出力される前記レーザ光の出力波形特性を測定するようにした光ディスク装置の制御方法。
【請求項１０】
請求項６ないし請求項９のうちのいずれか１つに記載の光ディスク装置の制御方法において、
前記波形特性測定ステップは、前記レーザ光源から光ディスクに向けてレーザ光が出射されている間、前記レーザ光源から所定時間に亘って出射される前記レーザ光の出力波形特性を繰り返し測定するようにした光ディスク装置の制御方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、ＣＤ，ＤＶＤなどの光ディスクにレーザ光を照射して信号の記録を行う光ディスク装置および光ディスク装置の制御方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
一般に、ＣＤ，ＤＶＤなどの光ディスクに信号を記録する光ディスク装置においては、光ディスクの記録層に精度良く記録マークを形成させる目的で、レーザ光源から出射されるレーザ光の最適な出力波形特性、具体的には、出射されるレーザ光の光量およびストラテジ（パルス発光波形規則）が設定されている。ストラテジは、記録信号に含まれる複数の信号長毎に信号長内の各パルスにおけるレーザ光源から出射されるレーザ光の光量およびパルス幅を規定したものである。したがって、光ディスクに信号を記録する際には、この出力波形特性に従ってレーザ光源からレーザ光が出射されるように制御する必要がある。
【０００３】
例えば、下記特許文献１に記載の光ディスク装置においては、レーザ光源から出射されるレーザ光の光量を高精度に制御するために、２つの光量検出用受光素子を用いてレーザ光の出射光量を制御している。具体的には、レーザ光源から出射されるレーザ光の光量を配置位置の異なる２つの光量検出用受光素子を用いてそれぞれ測定し、同２つの受光量の光量差を計算する。そして、同光量差を用いて基準となる設定光量を補正して、レーザ光源から出射されるレーザ光の光量が最適な光量となるように制御している。
【特許文献１】特開２００４−１６４６８１号公報
【０００４】
しかしながら、光ディスクの回転速度の倍速化に対応して光ディスクに高速記録を行う場合、高速記録に関する光ディスク装置内のＩＣの誤差や各種回路の遅延によって、レーザ光源から出射されるレーザ光の出力波形特性を精度よく制御することができないという問題がある。具体的には、図３に示すように、最適な出力波形（図示実線）に対して実際の出力波形（図示破線）は、光量が大きいとともにパルス幅が長くなる。このため、光ディスクの記録層に対して精度良く記録マークを形成することができず、記録精度が悪いという問題があった。
【発明の開示】
【０００５】
本発明は前記問題に対処するためなされたもので、その目的は、光ディスクに対して高速で記録を行う場合、レーザ光源から出射されるレーザ光の出力波形特性を精度よく制御して、光ディスクに対する信号の記録精度を良好にすることが可能な光ディスク装置および光ディスク装置の制御方法を提供することにある。
【０００６】
前記目的を達成するため、本発明の特徴は、光ディスクに向けてレーザ光を出射するレーザ光源と、前記レーザ光源を制御してレーザ光源から出射されるレーザ光の出力波形特性を規定する波形特性制御手段とを有する光ディスク装置において、レーザ光源から出射されたレーザ光を検出して、同レーザ光を表すレーザ光検出信号を出力するレーザ光検出器と、レーザ光検出器によって検出されたレーザ光検出信号を入力し、前記入力したレーザ光検出信号に基づいて、レーザ光源から所定時間に亘って出力される前記レーザ光の出力波形特性を測定する波形特性測定手段と、波形特性測定手段による測定結果に基づいて、波形特性制御手段を制御して同波形特性制御手段によって規定される前記レーザ光の出力波形特性を可変制御する波形特性可変手段とを備えたことにある。
【０００７】
この場合、例えば、前記波形特性制御手段は、出力波形特性としてレーザ光の光量を規定し、前記波形特性測定手段は、レーザ光源から所定時間に亘って出力されるレーザ光の出力波形特性として、レーザ光の光量を測定するようにするとよい。また、例えば、前記波形特性制御手段は、出力波形特性としてレーザ光のパルス幅を規定し、前記波形特性測定手段は、レーザ光源から所定時間に亘って出力されるレーザ光の出力波形特性として、レーザ光のパルス幅を測定するようにするとよい。また、この場合、レーザ光源から出射されるレーザ光を検出するために波形特性制御手段および波形特性測定手段にそれぞれレーザ光検出器を設けるようにしてもよいし、１つのレーザ光検出器を設け、同レーザ光検出器から出力されるレーザ光検出信号を波形特性制御手段および波形特性測定手段にそれぞれ出力するようにしてもよい。
【０００８】
このように構成した本発明においては、レーザ光源から出射されるレーザ光の出力波形特性、例えば、レーザ光の光量およびパルス幅を所定時間に亘って測定している。そして、これらの各測定値に基づいて波形特性制御手段によって規定されるレーザ光の光量およびパルス幅を可変制御する。このため、光ディスクに高速に信号を記録する場合において、所定時間内に生じた光量およびパルス幅の最適値に対するずれにより、波形特性制御手段によって規定されるレーザ光の光量およびパルス幅を補正することができる。これにより、光ディスクの記録層に精度良く記録マークを形成するために、レーザ光源から出射されるレーザ光の光量およびパルス幅が最適に制御される。この結果、光ディスクに信号を高速に記録する場合であっても、光ディスク装置の記録精度を良好にすることができる。
【０００９】
また、本発明の他の特徴は、前記レーザ光検出器によって出力されるレーザ光検出信号は、複数種類の信号長のパルス波形を含み、前記波形特性測定手段は、前記レーザ光検出信号に含まれる複数種類の信号長のうちの１つの種類の信号長のパルス波形に基づいて、レーザ光源から前記所定時間に亘って出力されるレーザ光の出力波形特性を測定することにある。これによれば、レーザ光源から出力されるレーザ光に含まれる複数種類の信号長ごとに出力波形を測定することなく、１つの種類の信号長のパルス波形の出力波形特性に基づいてレーザ光の出力波形特性を可変制御できる。この結果、光ディスクへの高速記録時において、効率よくレーザ光源から出射されるレーザ光の出力波形特性を制御することができる。
【００１０】
また、本発明の他の特徴は、前記波形特性測定手段は、前記レーザ光源から光ディスクに向けてレーザ光が出射されている間、レーザ光源から所定時間に亘って出力される前記レーザ光の出力波形特性を繰り返し測定することにある。これによれば、レーザ光源からレーザ光が出射されている間、断続的に波形特性制御手段によって規定されるレーザ光の出力波形特性が可変制御される。このため、光ディスクに信号を記録している間、最適な出力波形特性でレーザ光を出射することができる。この結果、光ディスクの記録層に対して安定した状態で継続的に記録マークを精度良く形成することができ、光ディスク装置の記録精度を良好にすることができる。
【００１１】
また、本発明は装置の発明として実施できるばかりでなく、方法の発明としても実施できるものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１２】
以下、本発明に係る光ディスク装置の一実施形態について図面を参照しながら説明する。図１は、ＣＤ，ＤＶＤ，ブルーレイディスク（Blu-Ray Disk）などの光ディスクＤＫを検査する光ディスク検査装置の概略図である。光ディスク検査装置は、光ディスクＤＫの記録層に所定の検査用信号を記録し、同記録された検査用信号を再生して光ディスクＤＫの良否判定を行う装置である。
【００１３】
この光ディスク検査装置は、光ディスクＤＫが載置固定されるターンテーブル１１を備えている。ターンテーブル１１は、図示しないスピンドルモータによって回転制御されて、光ディスクＤＫ上に形成される光スポットが光ディスクＤＫに対して線速度一定または角速度一定で回転するようになっている。この場合、光ディスクＤＫ上の光スポットの線速度または角速度は、後述するコントローラ５０によって指定される所定の速度（基準速度に対して、２倍速、４倍速など）である。この光ディスクＤＫに対向する側には、光ピックアップ装置２０が配置される。また、光ディスク上に形成される光スポットは、スピンドルモータまたは光ピックアップ装置２０を図示しないフィードモータによって光ディスクＤＫの径方向に移動させることにより光ディスクＤＫに対して径方向に移動し、これにより、光スポットは光ディスクＤＫ上を螺旋状に移動する。なお、これらスピンドルモータおよびフィードモータの制御については本発明に直接関係しないので、その説明は省略する。
【００１４】
光ピックアップ装置２０は、光ディスクＤＫに信号を記録し、または光ディスクＤＫに記録された信号を再生する光学装置であり、レーザ光源２１、コリメートレンズ２２、アナモルフィックプリズム２３ａ，２３ｂ、偏光ビームスプリッタ２４，２５、１／４波長板２６および対物レンズ２７を備えている。
【００１５】
レーザ光源２１は、半導体レーザで構成されており、所定の光量のレーザ光を光ディスクＤＫに向けて出射する。このレーザ光源２１から出射されるレーザ光はコリメートレンズ２２により平行光に変換された後、アナモルフィックプリズム２３ａ，２３ｂによりレーザビーム形状が円形に整形されて偏光ビームスプリッタ２４に入射する。偏光ビームスプリッタ２４は、入射するレーザ光の偏光状態に応じて一部を透過させるとともに、他の一部を入射方向に直交する方向に反射させる。したがって、偏光ビームスプリッタ２４に入射したレーザ光は、その一部が透過して偏光ビームスプリッタ２５に導かれるとともに、他の一部が入射方向に直交する方向（図示右側）に反射する。この反射光の光軸上には、凸レンズ２８および第１レーザ光検出器２９が設けられており、同反射光は凸レンズ２８を介して第１レーザ光検出器２９に入射する。第１レーザ光検出器２９は、フォトダイオードからなる受光素子であり、受光したレーザ光の光量に対応するレーザ光検出信号を検出信号増幅回路４１に出力する。
【００１６】
偏光ビームスプリッタ２５は、前記偏光ビームスプリッタ２４と同様に入射したレーザ光の一部を透過させて１／４波長板２６に導くとともに、他の一部を入射方向と直交する方向（図示右側）に反射させる。この反射光の光軸上には、凸レンズ３１および第２レーザ光検出器３２が設けられており、同反射光は凸レンズ３１を介して第２レーザ光検出器３２に入射する。第２レーザ光検出器３２は、フォトダイオードからなる受光素子であり、受光したレーザ光の光量に対応するレーザ光検出信号を検出信号増幅回路４２に出力する。偏光ビームスプリッタ２５を透過したレーザ光は、１／４波長板２６により円偏光とされたのち対物レンズ２７により集光されて光ディスクＤＫ上に光スポットを形成する。そして、光ディスクＤＫに形成された光スポットの反射光は、再び対物レンズ２７および１／４波長板２６を介して偏光ビームスプリッタ２５に入射する。
【００１７】
偏光ビームスプリッタ２５に入射した反射光は、前記１／４波長板２６により偏光方向が９０°回転しており、偏光ビームスプリッタ２５によってその大部分が入射方向と直交する方向（図示左側）に反射される。この反射光の光軸上には、ビームスプリッタ３３が設けられており、同反射光はビームスプリッタ３３に導かれる。ビームスプリッタ３３は、入射した反射光の一部を透過させるとともに、他の一部を入射方向と直交する方向（図示下側）に反射させる。このビームスプリッタ３３を透過した反射光の光軸上には、凸レンズ３４および２分割フォトディテクタ３５が設けられており、ビームスプリッタ３３を透過した反射光は凸レンズ３４を介して２分割フォトディテクタ３５に入射する。
【００１８】
一方、このビームスプリッタ２０にて反射される反射光の光軸上には、凸レンズ３６、シリンドリカルレンズ３７および４分割フォトディテクタ３８が設けられており、ビームスプリッタ３５にて反射された反射光は凸レンズ３６およびシリンドリカルレンズ３７を介して４分割フォトディテクタ３８に入射する。
【００１９】
２分割フォトディテクタ３５は、分割線で区切られた２つの受光素子からなり、受光したレーザ光の受光量に比例した受光信号をそれぞれ出力する。この受光信号は、図示しないトラッキングサーボ制御回路およびトラッキングアクチュエータによる対物レンズ２７のトラッキングサーボ制御に用いられる。この対物レンズ２７のトラッキングサーボ制御は、本発明に直接関係しないので、その説明は省略する。また、４分割フォトディテクタ３８は、分割線で区切られた４つの受光素子からなり、受光したレーザ光の受光量に比例した受光信号をそれぞれ出力する。この受光信号は、図示しないフォーカスサーボ制御回路およびフォーカスアクチュエータによる対物レンズ２７のフォーカスサーボ制御に用いられる。この対物レンズ２７のフォーカスサーボ制御は、本発明に直接関係しないので、その説明は省略する。また、４分割フォトディテクタ３８から出力される受光信号は、光ディスクＤＫに記録された信号の再生にも用いられる。
【００２０】
検出信号増幅回路４１は、第１レーザ光検出器２９から出力されるレーザ光検出信号を増幅して、レーザパワー測定回路４３およびパルス幅測定回路４４に出力する。また、検出信号増幅回路４２は、第２レーザ光検出器３２から出力されるレーザ光検出信号を増幅してレーザパワー設定回路４５に出力する。レーザパワー測定回路４３は、検出信号増幅回路４１から出力されるレーザ光検出信号の各パルスの波高値を測定する。具体的には、レーザパワー測定回路４３には、基準クロックが内蔵されているとともに、後述するコントローラ５０によって、所定の信号長（例えば５Ｔ）が予め設定されており、同基準クロックに基づいてレーザ光検出信号に含まれる同所定の信号長（例えば５Ｔ）内の各パルスの波高値のみを測定して同測定値をコントローラ５０に出力する。なお、この測定値であるパルスの波高値は、レーザ光の光量に相当する。
【００２１】
パルス幅測定回路４４は、検出信号増幅回路４１から出力されるレーザ光検出信号の各パルスのパルス幅を測定する。具体的には、パルス幅測定回路４４には、基準クロックが内蔵されているとともに、コントローラ５０によって、所定の信号長（例えば５Ｔ）が予め設定されており、同基準クロックに基づいてレーザ光検出信号に含まれる同所定の信号長（例えば５Ｔ）内の各パルスのパルス幅のみを測定して同測定値をコントローラ５０に出力する。
【００２２】
レーザパワー設定回路４５は、レーザ駆動回路４６を制御してレーザ光源２１の作動および停止を制御するとともに、作動時におけるレーザ光の光量を規定する。具体的には、検出信号増幅回路４２から出力されるレーザ光検出信号が表すレーザ光の光量（レーザ光源２１の出射光量）とコントローラ５０によって設定される設定光量との光量差を用いて、レーザ光源２１から出射するレーザ光の光量を表す出射光量信号を生成してレーザ駆動回路４６に出力する。ここで、設定光量は、コントローラ５０に予め設定されている基準光量に基づいて設定される光量である。基準光量は、光ディスクＤＫに信号を記録する場合および光ディスクＤＫに記録されている信号を再生する場合において、それぞれ最適な光量を表している。すなわち、記録用の基準光量は、光ディスクＤＫの記録層に精度良く記録マークを形成するために必要なレーザ光の光量を表している。また、再生用の基準光量は、光ディスクＤＫから精度良く再生信号を得るために必要なレーザ光の光量を表している。
【００２３】
レーザ駆動回路４６は、前記レーザパワー設定回路４５に制御されて、レーザ光源２１にレーザ光を出射させる。また、レーザ駆動回路４６は、記録信号生成回路４７に接続されており、記録信号生成回路４７から出力される記録信号に基づいてレーザ光源２１をオン・オフ動作またはハイレベル・ローレベル動作させる。記録信号生成回路４７は、ストラテジ設定回路４８によって設定されるストラテジ（パルス発光波形規則）に基づいて、コントローラ５０から出力される検査用信号に対応した検査用記録信号を生成してレーザ駆動回路４６に出力する。
【００２４】
ストラテジ設定回路４８は、コントローラ５０から出力されるストラテジの設定に関する信号に基づいて、パルス列信号における各信号長ごとのストラテジを設定して記録信号生成回路４７に出力する。ここでストラテジは、パルス列信号における各信号長ごとの各パルスの主としてパルス幅および光量を規定する。また、ストラテジの設定に関する信号は、コントローラ５０に予め設定されている基準ストラテジに基づいて生成される信号である。基準ストラテジは、光ディスクＤＫに信号を記録する場合における各信号長ごとの最適なストラテジを表している。すなわち、光ディスクＤＫに信号を記録する場合に、光ディスクＤＫの記録層に精度良く記録マークを形成するために必要なレーザ光のストラテジを表している。
【００２５】
コントローラ５０は、ＣＰＵ、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ハードディスクなどからなるマイクロコンピュータによって構成されており、キーボード、マウスなどからなる入力装置５１からの指示に従って図示しないプログラムを実行することにより光ディスクＤＫの検査を行う。この場合、光ディスクＤＫに信号を記録する際には、コントローラ５０は、図２に示すプログラムを実行することによりレーザ光源２１から出射されるレーザ光の出力波形特性、具体的にはレーザ光の光量およびパルス幅を制御する。このコントローラ５０には、ＣＲＴ（または液晶ディスプレイ）、プリンタなどからなる出力装置５２が接続されており、光ディスクＤＫの検査の実行状態および実行結果が適宜表示される。
【００２６】
また、コントローラ５０には、レーザパワー測定回路４３、パルス幅測定回路４４、レーザパワー設定回路４５、記録信号生成回路４７およびストラテジ設定回路４８が、それぞれの作動制御のために接続されている。また、コントローラ５０に内蔵されているＲＡＭには、レーザパワー測定回路４３およびパルス幅測定回路４４からそれぞれ出力される所定の信号長における各パルスの波高値（光量）およびパルス幅の各測定値を一時的に記憶するための領域が確保されており、以降この記憶領域をメモリ５０ａという。
【００２７】
上記のように構成した実施形態の作動について説明する。作業者は、図示しない電源スイッチの投入により、コントローラ５０を含む光ディスク検査装置の各種回路の作動を開始させる。そして、検査対象となる未記録面を持つ光ディスクＤＫをターンテーブル１１の上に載せて、同光ディスクＤＫをターンテーブル１１上に固定する。次に、作業者は、入力装置５１を操作して光ディスクＤＫの検査をコントローラ５０に指示する。この光ディスクＤＫの検査は、光ディスクＤＫに検査用信号を記録するとともに同記録された検査用信号を再生して、光ディスクＤＫに正しく信号が記録されるとともに同記録した信号が正しく再生されるかを検査する。
【００２８】
この光ディスクＤＫの検査の指示に応答してコントローラ５０は、図示しないプログラムを実行することにより、光ディスクＤＫの検査を開始する。具体的には、コントローラ５０は、図示しないフィードモータを回転させて光ディスクＤＫを変位させ、光ディスクＤＫ上に形成される光スポットの径方向位置を決める。この場合、光ディスクＤＫの径方向の位置は、検査用記録信号を記録する所定の位置である。また、コントローラ５０は、光ディスクＤＫの径方向の位置決めと同時に、図示しないスピンドルモータを回転させてターンテーブル１１上に固定されている光ディスクＤＫを回転させる。この場合、作業者は、入力装置５１を操作して光ディスクＤＫの所定の回転速度（基準速度に対して、例えば４倍速）をコントローラ５０に指示する。これにより光ディスクＤＫは、所定の回転速度（基準速度に対して、例えば４倍速）で回転を開始するとともに、光ディスクＤＫに形成される光スポットが線速度または角速度が一定となるように回転制御される。
【００２９】
次に、コントローラ５０は、光ディスクＤＫに検査用信号を記録する。具体的には、コントローラ５０は、記録用の基準光量に等しい光量を表す設定光量をレーザパワー設定回路４５に設定する。また、基準ストラテジに等しいストラテジの設定に関する信号をストラテジ設定回路４８に出力する。さらに、コントローラ５０は、光ディスクＤＫの検査用信号を記録信号生成回路４７に出力する。これにより、レーザパワー設定回路４５は、設定光量、すなわち基準光量に等しい光量を表す出射光量信号をレーザ駆動回路４６に出力する。また、ストラテジ設定回路４８は、パルス列信号における各信号長ごとに、基準ストラテジに等しいストラテジをそれぞれ設定して記録信号生成回路４７に出力する。具体的には、パルス列信号における各信号長ごとの各パルスの光量およびパルス幅である。記録信号生成回路４７は、ストラテジ設定回路４８によって設定されたストラテジに基づいて、コントローラ５０から出力された検査用信号を用いて検査用記録信号を生成してレーザ駆動回路４６に出力する。
【００３０】
レーザ駆動回路４６は、出射光量信号および検査用記録信号に基づいてレーザ光源２１を駆動させる。レーザ光源２１から出射されたレーザ光は、コリメートレンズ２２、アナモルフィックプリズム２３ａ，２３ｂ、偏光ビームスプリッタ２４，２５、１／４波長板２６および対物レンズ２７を介して光ディスクＤＫに導かれ、同光ディスクＤＫの所定の径方向位置に光スポットを形成する。そして、光ディスクＤＫからの反射光は、対物レンズ２７、１／４波長板２６および偏光ビームスプリッタ２５を介してビームスプリッタ３３に導かれる。
【００３１】
ビームスプリッタ３３に導かれた反射光の一部は、凸レンズ３４を介して２分割フォトディテクタ３５に導かれるとともに、同反射光の他の一部は凸レンズ３６およびシリンドリカルレンズ３７を介して４分割フォトディテクタ３８に導かれる。２分割フォトディテクタ３５および４分割フォトディテクタ３８にそれぞれ導かれた反射光は、それぞれ光量に対応する検出信号に変換され、同各検出信号は対物レンズ２７のトラッキングサーボ制御およびフォーカスサーボ制御にそれぞれ用いられる。
【００３２】
また、偏光ビームスプリッタ２４，２５によってそれぞれ反射された各レーザ光は、第１レーザ光検出器２９および第２レーザ光検出器３２によってそれぞれ受光される。第１レーザ光検出器２９は、受光したレーザ光の光量に対応するレーザ光検出信号を検出信号増幅回路４２を介してレーザパワー測定回路４３およびパルス幅測定回路４４にそれぞれ出力する。また、第２レーザ光検出器３２は、受光したレーザ光の光量に対応するレーザ光検出信号を検出信号増幅回路４２を介してレーザパワー設定回路４５に出力する。
【００３３】
レーザパワー測定回路４３は、検出信号増幅回路４１を介して第１レーザ光検出器２９から連続的に出力されるレーザ光検出信号に含まれる所定の信号長（例えば５Ｔ）内の各パルスの各波高値（光量）のみを測定して同測定値をコントローラ５０に出力する。また、パルス幅測定回路４４は、検出信号増幅回路４１を介して第１レーザ光検出器２９から連続的に出力されるレーザ光検出信号に含まれる所定の信号長（例えば５Ｔ）内の各パルスの各パルス幅のみを測定して同測定値をコントローラ５０に出力する。なお、これらの所定の信号長（例えば５Ｔ）は、予め作業者によりコントローラ５０を介して、レーザパワー測定回路４３およびパルス幅測定回路４４にそれぞれ設定されている。
【００３４】
レーザパワー設定回路４５は、検出信号増幅回路４２を介して第２レーザ光検出器３２から連続的に出力されるレーザ光検出信号の表す光量と設定光量との光量差を用いて、前記出射光量信号が表す光量を逐次補正してレーザ駆動回路４６に出力する。これにより、レーザ光源２１から出射されるレーザ光の光量が設定光量と略等しくなるように制御される。
【００３５】
このレーザ光源２１からの記録用のレーザ光の出射と同時に、コントローラ５０は、レーザパワー設定回路４５およびストラテジ設定回路４８によって規定されるレーザ光源２１から出射されるレーザ光の出力波形特性（光量、パルス幅）の制御を開始する。具体的には、図２に示す出力波形特性補正プログラムをステップＳ１００にて開始する。そして、コントローラ５０は、ステップＳ１０２にて、レーザ光源２１から出射されているレーザ光の出力波形特性の各測定値をそれぞれ記憶する。具体的には、レーザパワー測定回路４３およびパルス幅測定回路４４からそれぞれ出力される所定の信号長（例えば５Ｔ）における各パルスの光量およびパルス幅の各測定値をメモリ５０ａにそれぞれ記憶する。
【００３６】
次に、コントローラ５０は、ステップＳ１０４にて、所定の数の前記各測定値が記憶されたかを判定する。この判定において、所定の数の光量およびパルス幅の各測定値がメモリ５０ａに記憶されない限り、「Ｎｏ」と判定され続けステップＳ１０２による各測定値の記憶処理が繰り返し実行される。一方、同判定において、所定の数の光量およびパルス幅の各測定値がメモリ５０ａに記憶された場合には、「Ｙｅｓ」と判定されてステップＳ１０６に進む。
【００３７】
次に、コントローラ５０は、ステップＳ１０６にて、光量およびパルス幅の各測定値の平均値をそれぞれ計算する。具体的には、メモリ５０ａに記憶されている光量およびパルス幅の測定値ごとにそれぞれ合計値を計算し、これらの合計値を所定の数で除して計算する。なお、この場合、各測定値の平均値に代えて、メモリ５０ａに記憶されている各測定値の中央値または高頻度値であってもよい。中央値とは、最大値と最小値とを加算して「２」で除した値、または各値を大きい順に並べたとき中央に存在する値であり、高頻度値とは、分布関数を用いて発生頻度を調べて、発生頻度の最も高い値またはその近傍の値である。
【００３８】
次に、コントローラ５０は、ステップＳ１０８にて、光量およびパルス幅の各補正値を計算する。具体的には、前記ステップＳ１０６にて計算した光量の平均値とコントローラ５０に設定されている基準光量との光量差を計算する。また、前記ステップＳ１０６にて計算したパルス幅の平均値とコントローラ５０に設定されている基準ストラテジ、具体的には、信号長幅のうち、所定の信号長（例えば５Ｔ）における各パルスのパルス幅との差を計算する。これら光量差およびパルス幅の差が、それぞれ光量およびパルス幅の補正量である。
【００３９】
次に、コントローラ５０は、ステップＳ１１０にて、設定光量およびストラテジの設定に関する信号を補正する。具体的には、設定光量に対して前記計算された光量差分を補正して新たな設定光量とする。また、ストラテジの設定に関する信号が表す各信号長ごとの各パルスのパルス幅を、前記計算されたパルス幅の差分によって一律に補正して新たな各信号長ごとの各パルスのパルス幅を表すストラテジの設定に関する信号とする。なお、この場合、本実施形態においては、ストラテジにおける各パルスごとの光量は補正しない。
【００４０】
次に、コントローラ５０は、ステップＳ１１２にて、前記ステップＳ１１０にて補正された新たな設定光量およびストラテジの設定に関する信号を出力する。具体的には、コントローラ５０は、新たな設定光量を表す信号をレーザパワー設定回路４５に出力するとともに、新たなストラテジの設定に関する信号をストラテジ設定回路４８に出力する。これにより、レーザパワー設定回路４５は、新たに設定される設定光量を用いてレーザ光源２１から出力されるレーザ光の光量を制御する。また、ストラテジ設定回路４８は、新たなストラテジの設定に関する信号を用いてパルス列信号における各信号長ごとのストラテジを再設定して記録信号生成回路４７に出力する。この場合、再設定されるストラテジは、パルス幅のみである。これにより、レーザ光源２１から出射されるレーザ光の各パルス幅は、新たに設定されたストラテジに基づいて規定される。
【００４１】
次に、コントローラ５０は、ステップＳ１１４にて、レーザ光源２１から記録用のレーザ光が出射されているか判定する。この判定において、レーザ光源２１から記録用のレーザ光が出射されている限り、「Ｙｅｓ」と判定され続けてステップＳ１０２に戻り出力波形特性（光量、パルス幅）の補正が繰り返し実行される。一方、同判定において、レーザ光源２１から記録用のレーザ光が出射されていない場合には、「Ｎｏ」と判定されステップＳ１１６にて、出力波形特性補正プログラムの実行を終了する。すなわち、この出力波形特性補正プログラムは、レーザ光源２１から記録用のレーザ光が出射されている間、繰り返し実行され、レーザ光源２１から出射されるレーザ光の出力波形特性（光量、パルス幅）が断続的に補正される。
【００４２】
次に、作業者は、コンピュータ５０の入力装置５１を操作して光ディスクＤＫに記録した検査用信号を再生し、同光ディスクＤＫの良否判定を行う。この光ディスクＤＫの評価については、本発明に関わらないためその説明は省略する。そして、他の光ディスクＤＫの検査を実行する場合には、ターンテーブル上に新たな光ディスクＤＫを載置固定して、同様に検査を行う。
【００４３】
上記作動説明からも理解できるように、上記実施形態によれば、レーザ光源２１から記録用のレーザ光が出射されている間、レーザ光の光量およびパルス幅を測定し、所定の数における同各測定値の平均値をそれぞれ計算している。そして、これら各平均値を用いて設定光量およびパルス幅に関するストラテジを補正し、同補正された設定光量およびパルス幅に基づいてレーザ光源２１から出射されるレーザ光の光量およびパルス幅が規定される。これにより、光ディスクＤＫに高速で信号の記録を行う場合において、所定の数の各測定値が記憶される時間間隔ごとに光量およびパルス幅の基準光量および基準ストラテジに対して生じたずれが補正され続け、レーザ光源２１から出射されるレーザ光の光量およびパルス幅が制御される。すなわち、光ディスクＤＫの記録層に精度良く記録マークを形成するための、レーザ光源２１から出射されるレーザ光の光量およびパルス幅が常に最適に制御される。この結果、光ディスクＤＫに高速で信号の記録を行う場合であっても、光ディスク検査装置の記録精度を良好にすることができる。
【００４４】
また、同じ種類の光ディスクＤＫにおける同じ記録速度での記録であれば、光ディスクＤＫの検査を行う前に予め光ディスクＤＫに試し書きを行い、最適な光量およびストラテジを決定する作業が不要となるため、光ディスクＤＫの検査作業の作業効率を良好にすることができるとともに、光ディスクＤＫの記憶領域の損失を防ぐことができる。
【００４５】
さらに、本発明の実施にあたっては、上記実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を逸脱しない限りにおいて種々の変更が可能である。
【００４６】
例えば、上記実施形態においては、光ディスクＤＫに信号を記録する場合について本発明を適用したが、レーザ光源２１からレーザ光が出射されていれば、これに限定されるものではない。すなわち、光ディスクＤＫに記録された信号を再生する場合についても本発明を適用することができる。この場合、レーザ光源２１から出射されるレーザ光のストラテジの設定は不要であるため、出射されるレーザ光の光量のみについて制御するようにすればよい。これによれば、光ディスクＤＫから高速に信号を読み出す際にも、出射されるレーザ光の光量を最適な光量に制御することができる。この結果、光ディスクＤＫからの信号の再生精度を良好にすることができる。
【００４７】
また、上記実施形態においては、レーザ光源２１から出射されるレーザ光に含まれる複数の信号長のうち、所定の信号長（例えば５Ｔ）内の各パルスの波高値およびパルス幅を測定し、同測定結果に基づいて全ての信号長のパルス幅に関するストラテジを補正したが、これに限定されるものではない。例えば、全ての信号長内の各パルスの波高値およびパルス幅をそれぞれ測定し、同測定結果に基づいて対応する全ての信号長の光量および／またはパルス幅に関するストラテジを補正するようにしてもよい。これによれば、各信号長ごとにストラテジを補正することができ、より高精度にレーザ光源２１から出射されるレーザ光の出力波形特性を制御することができる。
【００４８】
また、上記実施形態においては、レーザ光源２１からレーザ光が出射されている間、出力波形特性補正プログラムを実行して、レーザ光の基準光量およびパルス幅に関するストラテジの補正を行うようにしたが、これに限定されるものではない。例えば、レーザ光源２１からレーザ光が出射された際に１回だけ出力波形特性補正プログラムを実行して、レーザ光の設定光量およびパルス幅に関するストラテジの補正を行うようにしてもよい。また、レーザ光源２１からレーザ光が出射されている間、所定の時間間隔で定期的に出力波形特性補正プログラムを実行して、レーザ光の設定光量およびパルス幅に関するストラテジの補正を行うようにしてもよい。これによれば、出力波形特性補正プログラムを実行するコントローラ５０の負担を軽減しながら、上記と略同様の効果を得ることができる。
【００４９】
また、上記実施形態においては、レーザパワー測定回路４３およびパルス幅設定回路４４と、レーザパワー設定回路４５とに用いるレーザ光検出信号を得るために２つのレーザ光検出器、すなわち第１レーザ光検出器２９および第２レーザ光検出器３２を用いたが、これに限定されるものではない。例えば、検出信号増幅回路４２の出力をレーザパワー設定回路４５、レーザパワー測定回路４３、パルス幅測定回路４４にそれぞれ供給するように構成してもよい。この場合、偏光ビームスプリッタ２４、凸レンズ２８、第１レーザ光検出器２９および検出信号増幅回路４１が不要となる。これにより、光ピックアップ装置２０および光ディスク検査装置の構成を簡単にすることができる。
【００５０】
また、上記実施形態においては、レーザ光源２１から出射されるレーザ光を検出するために第１レーザ光検出器２９および第２レーザ光検出器３２を用いたが、これに限定されるものではない。例えば、レーザ光源に受光素子が内臓されているバックモニタ式レーザ光源をレーザ光源２１として用いてもよい。この場合、第１レーザ光検出器２９および／または第２レーザ光検出器３２は不要であり、バックモニタ式レーザ光源の受光素子の出力を検出信号増幅回路４１および／または検出信号増幅回路４２に出力するように構成すればよい。これにより、光ピックアップ装置２０の構成を簡単にすることができる。
【００５１】
さらに、上記実施形態においては、光ディスクＤＫを検査するための光ディスク検査装置に本発明を適用するようにしたが、本発明は光ディスクＤＫに信号を記録し、または光ディスクＤＫに記録されている信号を再生する光ディスク装置の場合にも広く適用できるものである。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスクの検査装置を概略的に示すブロック図である。
【図２】図１の光ピックアップ装置によって実行される出力波形特性補正プログラムのフローチャートである。
【図３】従来例による光ディスク装置のレーザ光源から出射されるレーザ光の実際の出力波形と最適な出力波形とを示すタイムチャートである。
【符号の説明】
【００５３】
ＤＫ…光ディスク、２０…光ピックアップ装置、２１…レーザ光源、２４，２５…偏光ビームスプリッタ、２９…第１レーザ光検出器、３２…第２レーザ光検出器、４１，４２…検出信号増幅回路、４３…レーザパワー測定回路、４４…パルス幅測定回路、４５…レーザパワー設定回路、４７…記録信号生成回路、４８…ストラテジ設定回路、５０…コントローラ、５０ａ…メモリ。
【図１】
2006228324.tif 000003
【図２】
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【図３】
2006228324.tif 000005