(57)【要約】【課題】  ウォブル信号の品質を向上させてアドレスエラーレートの値を下げることにより、アドレスを安定して読み取ることができ、、ジッタが良好で高記録密度の追記型光記録媒体とその光記録方法の提供。【解決手段】  トラックピッチ０．３９〜０．４１μｍのウオブル付き案内溝を設けた基板上に、少なくとも、波長４００〜４１０ｎｍのレーザを用いて記録再生できる無機記録層（以下Ｒｅ層という）を有するＨＤ  ＤＶＤ−Ｒ規格に準拠した光記録媒体において、ウオブルの振幅量Ａｗ（ｎｍ）と案内溝の深さＤｇ（ｎｍ）が、Ａｗ×Ｄｇ＝１２０〜５００の関係を満たすことを特徴とする追記型光記録媒体。【選択図】        図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
トラックピッチ０．３９〜０．４１μｍのウオブル付き案内溝を設けた基板上に、少なくとも、波長４００〜４１０ｎｍのレーザを用いて記録再生できる無機記録層（以下Ｒｅ層という）を有するＨＤ  ＤＶＤ−Ｒ規格に準拠した光記録媒体において、ウオブルの振幅量Ａｗ（ｎｍ）と案内溝の深さＤｇ（ｎｍ）が、Ａｗ×Ｄｇ＝１２０〜５００の関係を満たすことを特徴とする追記型光記録媒体。
【請求項２】
Ｒｅ層が酸化ビスマスを主成分とすることを特徴とする請求項１記載の追記型光記録媒体。
【請求項３】
基板上に少なくともＲｅ層、誘電体層、反射層を有することを特徴とする請求項１又は２記載の追記型光記録媒体。
【請求項４】
レーザが照射される側の基板上に、少なくともＲｅ層、ＺｎＳＳｉＯ２層、反射層が順次積層され、Ｒｅ層の膜厚が３〜８ｎｍ、ＺｎＳＳｉＯ２層の膜厚が７５〜１１５ｎｍであることを特徴とする請求項１〜３の何れかに記載の追記型光記録媒体。
【請求項５】
レーザが照射される側の基板上に、少なくともＲｅ層、ＺｎＳＳｉＯ２層、反射層が順次積層され、Ｒｅ層の膜厚が３〜８ｎｍ、ＺｎＳＳｉＯ２層の膜厚が１０〜２５ｎｍであることを特徴とする請求項１〜３の何れかに記載の追記型光記録媒体。
【請求項６】
ＺｎＳＳｉＯ２層のＺｎＳとＳｉＯ２の組成比が７０：３０〜９０：１０（モル％）の範囲にあることを特徴とする請求項４又は５記載の追記型光記録媒体。
【請求項７】
反射層が、Ａｕ、Ａｇ、Ａｌ又はこれらを主成分とする合金からなることを特徴とする請求項３〜６の何れかに記載の追記型光記録媒体。
【請求項８】
請求項１〜７の何れかに記載の追記型光記録媒体に対し、０．６４≦ＮＡ≦０．６６の開口数のレンズを用いたレーザで記録することを特徴とする光記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ビームを照射することにより記録材料に透過率、反射率等の光学的な変化を生じさせて情報の記録再生を行ない、かつ追記が可能な光記録媒体及びその光記録方法に関し、特に、アドレスフォーマットとしてのウォブル信号の品質に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
周知のように近年では、情報の高密度記録が可能な光ディスクとして、片面１層の記憶容量が４．７ＧＢの光ディスクが実用化されている。例えば、再生専用の光ディスクであるＤＶＤ−ＲＯＭ、書き換え可能なＤＶＤ−ＲＡＭ（ＥＣＭＡ−３３０）、ＤＶＤ−ＲＷ、＋ＲＷ（ＥＣＭＡ−２７４）がある。これらの光ディスクは、透明基板上に情報記録層を形成し、これにレーザ光を集光することで情報の記録再生を行っている。また、これらの光ディスクはグルーブと呼ばれる案内溝を有し、情報の記録再生はこの案内溝に沿って行われる。また、情報を記録再生する空間的な位置を特定するための物理アドレスが案内溝に沿って形成されている。
ここで、高密度化の手段として、ＤＶＤ−ＲＡＭではランド  アンド  グルーブ記録と呼ばれる技術を採用している。ＤＶＤ−ＲＡＭでは、案内溝に対し、凹部であるグルーブと凸部であるランドの両方に情報を記録することにより、記録データの半径方向の間隔を狭くして記録容量を高めている。一方、物理アドレスは、プリピットと呼ばれる基板上の凹凸によって形成されている。また、このプリピットが形成される部分で前述の案内溝は途切れている。
【０００３】
これに対しＤＶＤ＋ＲＷでは案内溝の凹部であるグルーブにのみ情報を記録している。また、物理アドレスの形成手段として、案内溝を半径方向に小さく振動させるグルーブウォブルの変調（以下、ウォブル変調という）を利用している。ウォブル変調による物理アドレスは、記録トラックを遮断しないことから、ユーザー情報を記録する面積が広くフォーマット効率が高いし、再生専用媒体との互換がとり易いといった利点がある。
ウォブル変調により物理アドレスを形成する公知例としては、特許文献１がある。この文献では、ウォブル位相変調により物理アドレスを形成しており、１アドレスピットは、４ウォブルの変調ユニットと、３８ウォブルのモノトーンユニットから構成されている。具体的には＋９０度の変調を＋、−９０度の変調を−とした場合、＋＋−−で変調されたウォブルと＋＋＋……＋＋＋のモノトーンウォブルとで０を表現し、−−＋＋で変調された１ウォブルと＋＋＋……＋＋＋のモノトーンウォブルとで１を表現している。またアドレスを読み取るにはアドレス開始位置を知る必要があり、そのための同期信号もアドレスピットと同様の４２ウォブルで１ビットを構成している。
【０００４】
次に、ＨＤ  ＤＶＤのアドレス方式について記述する。
ＨＤ  ＤＶＤ−ＲとＲｅｗｒｉｔａｂｌｅのアドレス方式にはウォブル方式が採用されており、Ｗｏｂｂｌｅ  Ａｄｄｒｅｓｓ  ｉｎ  Ｐｅｒｉｏｄｉｃ  ｐｏｓｉｔｉｏｎ（ＷＡＰ）と呼ばれるアドレス構造を有する。ＷＡＰアドレス方式では、ウォブルの変調方式に位相変調方式を採用し、正弦波とその逆相をそれぞれアドレスビットの０と１に割り当てている。ウォブルの周期は短かすぎると再生信号の影響が無視できなくなり、長すぎると位置決め誤差が大きくなることから、符号語９３ビット長とする。
また、位相変調は、Ｗｏｂｂｌｅ  Ｄａｔａ  Ｕｎｉｔ（ＷＤＵ）と呼ばれる８４ウォブルからなる基本構成単位のうち、先頭の１６ウォブルのみがアドレス情報に対応して位相変調しており、残りの６８ウォブルは同相ウォブルとなっている。位相変調領域が周期的に入っていることがＷＡＰの名前の由来である。なお、４ウォブルで１アドレスビットを形成している。
以上のＷＡＰアドレス方式により、８４．６％という高いフォーマット効率を実現している。しかしながら、アドレスフォーマットとしてのウォブル信号の品質に関しては十分満足できるものではない。
【０００５】
また、以前に本発明者らは青色領域のレーザによる追記型光記録媒体の発明を出願した（特願２００４−３６３０１０）。その内容について再度簡潔に述べると次のようになる。
即ち、先願発明では、従来、光吸収機能による熱発生層であり且つ分解・変質に起因した屈折率（複素屈折率の実部）変化による記録層として機能していた有機材料薄膜から、無機層である本発明のＲｅ層に変えた点に特徴がある。先願発明においては媒体層構成が重要であり、層構成を最適化することにより大きな有用性を見い出したものである。しかし、本発明者らは先願発明の媒体を作成した際に、良好なウォブル信号が簡単には得られないという問題点があることを見出した。即ち、ウォブル信号のＳ／Ｎ（Ｓｉｇｎａｌ  ｔｏ  Ｎｏｉｓｅ）比が低く、アドレスエラーレートが大きくなるという不具合があった。
【０００６】
【特許文献１】特開２００２−２７９６４５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
本発明は上記従来技術の問題を解決するためになされたものであり、ウォブルと溝深さとの関係を見直し、ウォブル信号の品質を向上させてアドレスエラーレートの値を下げることにより、アドレスを安定して読み取ることができ、ジッタが良好で高記録密度の追記型光記録媒体とその光記録方法の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記課題は次の１）〜８）の発明（以下、本発明１〜８という）によって解決される。
１）  トラックピッチ０．３９〜０．４１μｍのウオブル付き案内溝を設けた基板上に、少なくとも、波長４００〜４１０ｎｍのレーザを用いて記録再生できる無機記録層（以下Ｒｅ層という）を有するＨＤ  ＤＶＤ−Ｒ規格に準拠した光記録媒体において、ウオブルの振幅量Ａｗ（ｎｍ）と案内溝の深さＤｇ（ｎｍ）が、Ａｗ×Ｄｇ＝１２０〜５００の関係を満たすことを特徴とする追記型光記録媒体。
２）  Ｒｅ層が酸化ビスマスを主成分とすることを特徴とする１）記載の追記型光記録媒体。
３）  基板上に少なくともＲｅ層、誘電体層、反射層を有することを特徴とする１）又は２）記載の追記型光記録媒体。
４）  レーザが照射される側の基板上に、少なくともＲｅ層、ＺｎＳＳｉＯ２層、反射層が順次積層され、Ｒｅ層の膜厚が３〜８ｎｍ、ＺｎＳＳｉＯ２層の膜厚が７５〜１１５ｎｍであることを特徴とする１）〜３）の何れかに記載の追記型光記録媒体。
５）  レーザが照射される側の基板上に、少なくともＲｅ層、ＺｎＳＳｉＯ２層、反射層が順次積層され、Ｒｅ層の膜厚が３〜８ｎｍ、ＺｎＳＳｉＯ２層の膜厚が１０〜２５ｎｍであることを特徴とする１）〜３）の何れかに記載の追記型光記録媒体。
６）  ＺｎＳＳｉＯ２層のＺｎＳとＳｉＯ２の組成比が７０：３０〜９０：１０（モル％）の範囲にあることを特徴とする４）又は５）記載の追記型光記録媒体。
７）  反射層が、Ａｕ、Ａｇ、Ａｌ又はこれらを主成分とする合金からなることを特徴とする３）〜６）の何れかに記載の追記型光記録媒体。
８）  １）〜７）の何れかに記載の追記型光記録媒体に対し、０．６４≦ＮＡ≦０．６６の開口数のレンズを用いたレーザで記録することを特徴とする光記録方法。
【０００９】
以下、上記本発明について詳しく説明する。
本発明者らは、鋭意検討した結果、無機記録層（Ｒｅ層）を有するＨＤ  ＤＶＤ−Ｒ規格に準拠した光記録媒体において、案内溝のウオブルの振幅量Ａｗ（ｎｍ）と案内溝の深さＤｇ（ｎｍ）の関係を最適化し、Ａｗ×Ｄｇ＝１２０〜５００の関係を満たすようにすることでウォブル信号の品質を向上させることに成功した。これによりアドレスエラーレートの値を下げ、アドレスを安定して読み取ることが出来るジッタの良好な高記録密度の追記型光記録媒体を提供できる。なお、ウォブル信号の品質はＮａｒｒｏｗ−Ｂａｎｄ−Ｓｉｇｎａｌ−ｔｏ−Ｎｏｉｓｅ  Ｒａｔｉｏ（ＮＢＳＮＲ）で評価される。ＮＢＳＮＲはウォブル信号の２乗のスペクトルで測定され、十分に低いアドレスエラーレートを得るためには２４ｄＢ以上の値が必要とされる。
また、ウォブルの振幅量Ａｗは４〜２５ｎｍ程度が好ましい。Ａｗが４ｎｍより小さくなるとウォブルのＮＢＳＮＲ値が２０ｄＢを達成できない可能性があり、アドレスエラーレートを下げることが難しい場合が出てくる。また、２５ｎｍを超えるとウォブル振幅が大きすぎるため隣接トラック間のクロストークが大きくなり、ジッタが劣化する可能性がある。
【００１０】
Ｒｅ層には、酸化ビスマスを主成分とする材料を用いることが好ましいが、ＴｅＯｘなどを用いることもできる。ここで主成分とは、Ｒｅ層の組成中、酸素などの気体分子を除いてＢｉが３０原子％以上存在することを意味する。Ｒｅ層には、Ｓｂ、Ａｌ、Ｃｒ、Ｍｎ、Ｓｃ、Ｉｎ、Ｒｕ、Ｒｈ、Ｃｏ、Ｆｅ、Ｃｕ、Ｎｉ、Ｚｎ、Ｌｉ、Ｓｉ、Ｇｅ、Ｚｒ、Ｔｉ、Ｈｆ、Ｓｎ、Ｐｂ、Ｍｏ、Ｖ、Ｓｂ及びＮｂ等の中から選ばれる一種以上の元素Ｍを含有させることにより、更に良好なジッタを得ることができ、かつ反射率を向上させることができる。
Ｂｉ、Ｍ及びＯ（酸素）からなる材料を用いる利点は次のとおりである。
（１）酸化物とすることで膜の硬度を高めることができる（Ｂｉ、Ｍ及びＯからなる薄膜自体の変形、或いは基板等の隣接層の変形を抑制することが可能である）。
（２）酸化物とすることで保存安定性を高めることができる。
（３）Ｂｉ等の５００ｎｍの波長域に対して光吸収率が高い元素を含ませることで、記録感度を向上させることができる。
（４）Ｂｉ等の低融点元素或いは拡散を起こし易い元素を含ませることで、大きな変形を伴わないにも拘わらず大きな変調度を発生させる記録マークを形成させることができる。
（５）スパッタ等の気相成長法により良好な薄膜を形成させることができる。
なお、Ｂｉ、Ｍ及びＯからなる材料の中で、Ｂｉ１０Ｍ５ＯＸの組成を有する材料は硬度が高く好ましい例として挙げられる。
【００１１】
本発明は、基板上に少なくとも記録層、誘電体層、反射層を有する追記型光記録媒体に有効である。
本発明者らは、Ｒｅ層とＺｎＳＳｉＯ２層の膜厚が本発明の光記録媒体の反射率とジッタ又はＳＤＲ等の特性に非常に大きな影響を及ぼすことを見出した。Ｒｅ層の膜厚を固定してＺｎＳＳｉＯ２層の膜厚を振った（変化させた）シミュレーションを行なったところ、最適の反射率となる膜厚範囲が周期的に出現することを見出した。そして実際に実験を行い、その効果を確認した。
即ち、レーザが照射される側の基板上に、少なくともＲｅ層、ＺｎＳＳｉＯ２層、反射層を順次積層し、Ｒｅ層の膜厚を３〜８ｎｍ、ＺｎＳＳｉＯ２層の膜厚を７５〜１１５ｎｍ、又は１０〜２５ｎｍとすることが好ましい。このような膜厚の層を組み合わせることにより、非常に簡素な層構成でコストの安い追記型光記録媒体を生産することができる。また、反射率が最適化され、２値記録でのジッタが向上する。
【００１２】
Ｒｅ層の膜厚が３ｎｍ未満では、十分なＣ／Ｎを得ることができる記録マークが得られず、８ｎｍを超えると小さなマークを記録しにくくなる。また、ＺｎＳＳｉＯ２層の膜厚は、７５ｎｍ未満では十分なＣ／Ｎが得られず、１１５ｎｍを超えると反射率が高くなりすぎて記録に大きなパワーを要し、その結果、ジッタが悪化する。同じく、膜厚が１０ｎｍ未満では十分なＣ／Ｎが得られず、２５ｎｍを超えると反射率が高くなりすぎて記録に大きなパワーを要し、その結果、ジッタが悪化する。
上記層構成において、ＺｎＳＳｉＯ２層のＺｎＳとＳｉＯ２の組成比は、７０：３０〜９０：１０（モル％）の範囲にあることが好ましい。この範囲とすることにより、更に良好なジッタを得ることができ、反射率が向上する。組成比が上記範囲を外れると、その光学特性ｎ、ｋの値が、他の層と組み合わせにくい数値になる。
【００１３】
反射層には、再生光の波長で反射率の十分高いもの、例えばＡｕ、Ａｇ、Ａｌ、Ｃｕ、Ｔｉ、Ｃｒ、Ｎｉ、Ｐｔ、Ｔａ、Ｐｄなどの金属を単独で又は合金にして用いることができるが、中でもＡｕ、Ａｇ、Ａｌは反射率が高く反射層の材料として適している。また、上記金属を主成分として他の元素を含んでいても良く、他の元素としては、Ｍｇ、Ｓｅ、Ｈｆ、Ｖ、Ｎｂ、Ｒｕ、Ｗ、Ｍｎ、Ｒｅ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｒｈ、Ｉｒ、Ｚｎ、Ｃｄ、Ｇａ、Ｉｎ、Ｓｉ、Ｇｅ、Ｔｅ、Ｐｂ、Ｐｏ、Ｓｎ、Ｂｉなどの金属及び半金属を挙げることができる。中でもＡｇを主成分とするものは、コストが安く高反射率が出易い点から特に好ましい。ここで主成分とは、５０原子％以上含有することを意味する。
金属以外の材料を用いて、低屈折率薄膜と高屈折率薄膜を交互に積み重ねて多層膜を形成し、反射層として用いることも可能である。
反射層の好ましい膜厚は、５０〜３００ｎｍである。
【００１４】
また、本発明の光記録媒体には、０．６４≦ＮＡ≦０．６６の開口数のレンズを用いたレーザで記録することが好ましい。レンズの開口数をこの範囲に設定することにより、ＡｗとＤｇとの関係がより際だった効果を示す。
また、基板の上や反射層の下に、反射率の向上、記録特性の改善、密着性の向上等のために公知の無機系又は有機系の上引層、下引層、或いは接着層を設けることもできる。
反射層や干渉層の上に形成する保護層の材料としては、反射層や干渉層を外力から保護するものであれば特に限定されない。有機材料としては、熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、電子線硬化性樹脂、紫外線硬化性樹脂等が挙げられる。また、無機材料としては、ＳｉＯ２、ＳｉＮ４、ＭｇＦ２、ＳｎＯ２等が挙げられる。
【００１５】
熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂は適当な溶剤に溶解した塗布液を塗布し乾燥することによって形成することができる。紫外線硬化性樹脂は、そのまま又は適当な溶剤に溶解した塗布液を塗布し、ＵＶ光（紫外線）を照射して硬化させることによって形成することができる。紫外線硬化性樹脂としては、例えば、ウレタンアクリレート、エポキシアクリレート、ポリエステルアクリレートなどのアクリレート系樹脂を用いることができる。これらの材料は単独で用いても混合して用いても良いし、１層でなく多層膜にして用いても良い。
保護層の形成方法としては、記録層と同様にスピンコート法やキャスト法等の塗布法、スパッタ法、化学蒸着法等が用いられるが、中でもスピンコート法が好ましい。
保護層の膜厚は、一般に０．１〜１００μｍの範囲であるが、本発明においては、３〜３０μｍが好ましい。
また、反射層又は干渉層面に更に基板を貼り合わせてもよく、また反射層や干渉層面相互を内面とし対向させ光学記録媒体２枚を貼り合わせても良い。
基板鏡面側に、表面保護やゴミ等の付着防止のために紫外線硬化樹脂層や、無機系薄膜等を成膜してもよい。
【発明の効果】
【００１６】
本発明によれば、ウォブル信号の品質を向上させてアドレスエラーレートの値を下げることにより、アドレスを安定して読み取ることができ、ジッタが良好で高記録密度の追記型光記録媒体とその光記録方法を提供できる。
【実施例】
【００１７】
以下、実施例及び比較例により本発明を更に具体的に説明するが、本発明は、これらの実施例により限定されるものではない。
【００１８】
（実施例１）
トラックピッチ０．４μｍのウォブル付き案内溝を有するポリカーボネート基板上に、スパッタ法を用いて、Ｂｉ２Ｏ３からなる膜厚５ｎｍのＲｅ層、ＺｎＳＳｉＯ２（８０：２０モル％）からなる膜厚９５ｎｍの誘電体層、膜厚１００ｎｍのＡｇ反射層を順次製膜し、その上に紫外線硬化型樹脂（大日本インキ社製ＳＤ３１８）からなる膜厚約５μｍの有機保護層を設けて図１に示す層構成の追記型光記録媒体を作成した。
この媒体について、案内溝の深さ（Ｄｇ）を２１ｎｍと２５ｎｍとし、ウォブル振幅量（Ａｗ）を振って（変化させて）、Ａｗ×Ｄｇと、そのＮＢＳＮＲ、ジッタとの相関関係を調べた。
測定は、パルステック工業社製の光ディスク評価装置ＤＤＵ−１０００（波長：４０５ｎｍ、ＮＡ：０．６５）を用いて行なった。
結果を図２（Ｄｇ＝２１ｎｍの場合）、図３（Ｄｇ＝２５ｎｍの場合）に示す。
なお、十分に低いアドレスエラーレートを実現するために必要なＮＢＳＮＲを２４ｄＢ以上とした。また、ジッタはウォブルの存在しないストレート溝でのジッタから１割上昇した所までを本発明の範囲、即ち許容範囲とした。
図２、図３から分るように、案内溝の深さ２１、２５ｎｍの何れにおいてもＡｗ×Ｄｇが１２０未満ではＮＢＳＮＲが２４ｄＢを下回った。即ち、溝深さに関連して、ウォブルの振幅量が決定されることが判明した。また、Ａｗ量が大きくなりＡｗ×Ｄｇ値が５００を超えるとジッタが急激に悪化した。これはＡｗの増加により隣接トラックに及ぼす影響が増し、クロストークが増大したことによると推測される。因みに、図２の結果から算出されるＡｗの数値範囲は、（１２０〜５００）／２１＝５．７〜２３．８であり、図３の結果から算出される数値範囲は、（１２０〜５００）／２５＝４．８〜２０である。
【００１９】
（実施例２）
基板のＡｗを２３ｎｍ、Ｄｇを２１ｎｍとし、誘電体層の膜厚を振った点以外は、実施例１と同様にして追記型光記録媒体を作成し、ジッタ及び反射率との相関関係を調べた。
結果を図４に示す。ジッタは上述した最良のジッタの１割増までを本発明の範囲、即ち許容範囲とした。
図４から分るように、誘電体層（ＺｎＳＳｉＯ２）膜厚が１０〜２５ｎｍ、及び７５〜１１５ｎｍの範囲でＳＤＲと同様に良好なジッタを示した。この実施例からジッタと反射率との相関関係が明らかになった。即ち、ＺｎＳＳｉＯ２の屈折率ｎと減衰係数ｋと、その膜厚との関係から、反射率はある一定の周期で上下し、反射率が大きくなりすぎる領域ではジッタが上昇してしまうことが分かる。反射率が上昇すれば自ずと感度は悪くなり、記録の際にはより大きなパワーを導入する必要があるが、大きなパワーで記録を行うと隣接マーク又は隣接トラックに大きな影響を及ぼすことになる。これに起因してジッタが劣化するものと推測される。
【００２０】
（実施例３）
基板のＡｗを２３ｎｍ、Ｄｇを２１ｎｍとし、Ｒｅ層の膜厚を振った点以外は、実施例１と同様にして追記型光記録媒体を作成し、ジッタ及び反射率との相関関係を調べた。
結果を図５に示す。ジッタは上述した最良のジッタの１割増までを本発明の範囲、即ち許容範囲とした。
図５から分るように、Ｒｅ層の膜厚が３〜８ｎｍの範囲で良好なジッタを示した。この実施例から、Ｒｅ層であるＢｉ２Ｏ３の膜厚が３ｎｍ未満になると、薄すぎるために十分な変調度が得られず、２Ｔ信号が潰れてしまうことが考えられる。また、Ｂｉ２Ｏ３の膜厚が８ｎｍを超えると、厚すぎるため膜内での反応の滲みのようなものが起こっている可能性がある。
【００２１】
（実施例４）
トラックピッチ０．４μｍのウォブル付き案内溝を有するポリカーボネート基板上に、スパッタ法を用いて膜厚６０ｎｍのＺｎＳＳｉＯ２層、ＴｅＯｘからなる膜厚１０ｎｍの記録層、膜厚６０ｎｍのＺｎＳＳｉＯ２層、膜厚８０ｎｍのＡｇ反射層を順次製膜し、その上に紫外線硬化型樹脂（大日本インキ社製ＳＤ３１８）からなる膜厚約５μｍの保護層を設けて本発明の追記型光記録媒体を作成した。
この媒体について、案内溝の深さ（Ｄｇ）を２１ｎｍと２５ｎｍとし、ウォブル振幅量（Ａｗ）を振って、Ａｗ×Ｄｇと、そのＮＢＳＮＲ、ジッタとの相関関係を調べた。
測定は、パルステック工業社製の光ディスク評価装置ＤＤＵ−１０００（波長：４０５ｎｍ、ＮＡ：０．６５）を用いて行なった。
その結果、実施例１とほぼ同等の結果を得ることが出来た。即ち、溝深さに関連してウォブルの振幅量が決定されることが分かった。
【図面の簡単な説明】
【００２２】
【図１】実施例１〜３で作成した追記型光記録媒体の層構成を示す図。
【図２】実施例１の媒体（Ｄｇ２１ｎｍ）のＡｗ×Ｄｇと、ＮＢＳＮＲ及びジッタとの相関関係を示す図。
【図３】実施例１の媒体（Ｄｇ２５ｎｍ）のＡｗ×Ｄｇと、ＮＢＳＮＲ及びジッタとの相関関係を示す図。
【図４】実施例２の媒体の誘電体層（ＺｎＳＳｉＯ２）の膜厚と、ジッタ及び反射率との相関関係を示す図。
【図５】実施例３の媒体のＲｅ層の膜厚と、ジッタ及び反射率との相関関係を示す図。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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