(57)【要約】【課題】  サブビームが記録媒体の未記録領域と記録領域に別れて照射された場合や傷や汚れのある所を照射した場合でも、安定したトラッキング制御を行うことが可能な光学的情報記録再生装置を提供する。【解決手段】  光ディスク１の回転位置を検出し、その回転位置に同期してトラッキングエラー信号の振幅を補正する。トラッキングエラー信号を補正するには、ディスクの回転位置に同期してトラッキングエラー信号の振幅変動を検出し、振幅変動を相殺するようにトラッキングエラー信号の振幅変動を回転位置に同期して補正する。また、ディスクの偏芯量に応じてトラッキングエラー信号を補正する。【選択図】        図１
2006302446.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
差動プッシュプル法によりトラッキングエラー信号を生成し、前記トラッキングエラー信号に基づいてトラッキング制御を行う光学的情報記録再生装置において、光学的情報記録媒体の回転位置を検出する手段と、前記検出手段の出力に同期して前記トラッキングエラー信号の振幅を補正する手段とを有することを特徴とする光学的情報記録再生装置。
【請求項２】
前記補正手段は、前記回転位置検出手段の出力に同期してトラッキングエラー信号の振幅変動を検出し、前記振幅変動を相殺するように前記回転位置検出手段の出力に同期して振幅変動を補正することを特徴とする請求項１に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項３】
前記補正手段は、前記回転位置検出手段の出力に同期して前記記録媒体の偏芯量を検出する手段を含み、前記回転位置検出手段の出力に同期して前記偏芯量検出手段で検出された偏芯量に応じてトラッキングエラー信号の振幅変動を補正すること特徴とする請求項１に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項４】
前記補正手段は、前記記録媒体の半径位置に応じて振幅変動の補正量を変えることを特徴とする請求項１に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項５】
前記偏芯量検出手段は、所定時間内のトラッキングエラー信号のゼロクロスの回数から偏芯量を検出することを特徴とする請求項３に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項６】
前記偏芯量検出手段は、ピックアップ内の対物レンズの位置を示すレンズポジション信号から偏芯量を検出することを特徴とする請求項３に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項７】
前記補正手段は、前記偏芯量検出手段により検出された偏芯量と光学的パラメータを用いて振幅変動を前記回転位置検出手段の出力に同期して補正することを特徴とする請求項３に記載の光学的情報記録再生装置。
【請求項８】
前記光学的パラメータは、前記記録媒体のトラック間隔、前記記録媒体上のメインビームとサブビームの距離、前記記録媒体の半径位置であることを特徴とする請求項７に記載の光学的情報記録再生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク等の光学的情報記録媒体に情報を記録し、或いは記録情報を再生する光学的情報記録再生装置、特に、差動プッシュプル法を用いたトラッキング制御の改良に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、光学的情報記録再生装置においてディスク上の所望のトラック上にレーザスポットを照射する為にはトラッキング制御が必要である。また、所望のトラック上の中心とレーザスポットの位置ずれを示すトラッキングエラー信号の生成方法の１つとして差動プッシュプル法が挙げられる。
【０００３】
図１１は差動プッシュプル法を用いたトラッキングエラー信号の生成回路を示す回路図である。まず、図示しないピックアップ内のレーザから出射した光ビームは回折格子等により３つのビームに分割される。そのうち２つのサブビームはメインビームに対してトラックピッチの半分だけずれた位置に照射され、それぞれのビームの光ディスク等からの反射光はそれぞれディスクのトラックに垂直な方向に２分割されたフォトディテクタ２１、２２、２３に入射する。
【０００４】
次に、それぞれの２分割フォトディテクタの出力の差をアンプ２４、２５、２６を用いて演算し、メインビーム、サブビームそれぞれのプッシュプル信号を検出する。また、２つのサブビームから検出したプッシュプル信号の和をアンプ２７で生成し、その和信号に乗算回路（可変ゲインアンプ）２９により所定のゲインを掛ける。このゲインの値はメインビームとサブビームの光量比で決まる値である。
【０００５】
この乗算回路２９の出力をメインビームから検出したプッシュプル信号（アンプ２５の出力）からアンプ２８で減算した信号が差動プッシュプル法によるトラッキングエラー信号となる。この差動プッシュプル法によるトラッキングエラー信号を用いることで光ディスクの半径方向の傾きや、ピックアップ内の対物レンズの位置により発生するオフセットの影響を受けないトラッキング制御を行うことが可能となる。
【０００６】
しかし、差動プッシュプル法を用いたトラッキング制御には以下に挙げる問題点がある。仮に、ディスクに偏芯がなく、光学系の組み立て誤差がないものとすると、ビームスポットは図１２（ａ）においてＳ１の位置、即ち、光ディスクの中心を通る直線Ｌ１上にある。そうすると図１２（ｂ１）に示す様にメインビームが仮にディスク上のグルーブ中心に位置する時、２つのサブビームはそれぞれ両隣のランド中心に位置する。
【０００７】
また、半径位置が変わっても３つのビームスポットを結ぶ直線とトラックの接線方向がなす角度θ１は常に一定になる。即ち、常にメインビームはグルーブ中心、２つのサブビームはランド中心に位置する。しかし、実際にはディスク上のトラックには偏芯があり、光学系の組み立て誤差も存在する。仮に、図１２（ａ）に示すようにディスクの偏芯によりスポットの位置がディスクの中心に対してａまたはｂだけずれるとする。この時、偏芯によるずれにより３つのビームスポットを結ぶ直線とトラックの接線方向がなす角度が変わってくる。
【０００８】
例えば、スポットの位置がａだけずれてＳ２の位置にあるときは図１２（ｂ２）の様に３つのビームスポットを結ぶ直線とトラックの接線方向がなす角度はθ２となる。また、スポットの位置がｂだけずれてＳ３の位置にあるときは図１２（ｂ３）の様に３つのビームスポットを結ぶ直線とトラックの接線方向がなす角度はθ3となる。この３つの角度θ１〜θ３は全て異なる角度となる。
【０００９】
このように偏芯量によりこの角度が変わる事で、メインビームがグルーブ中心に位置した時に２つのサブビームの位置は本来位置すべき隣り合うランド中心からずれる。この位置がずれる事によりメインビームとサブビームから検出するプッシュプル信号の位相差が本来の１８０°からずれを生じ、結果的にトラッキングエラー信号の振幅が変動してしまい、安定なトラッキング制御を行えなくなる。
【００１０】
この振幅変動はトラックの半径が小さい内周側ほど上述の３つのビームスポットを結ぶ直線とトラックの接線方向がなす角度の偏芯量に対する変化量が大きく、結果的にトラッキングエラー信号の振幅変動が顕著に現われる。また、近年、光ディスクの小径化もしくは狭トラックピッチ化は年々進む傾向にあるため、この振幅変動を抑えることが望まれている。
【００１１】
この問題を解決する手段としては、例えば、特開２００２−３２４３２９号公報に提案されたものがある（特許文献１）。図１３は同公報の構成を示す。図中、図１１と同じ機能を持つものには同じ番号を付している。図１３において、前述した差動プッシュプル法によりトラッキングエラー信号を生成する。
【００１２】
また、これとは別に２つのサブビームから検出したプッシュプル信号の差信号をアンプ３０により生成する。この２つのサブビームから検出したプッシュプル信号の差分信号の振幅は前述したトラッキングエラー信号の振幅変動に応じて変動する。よって、この差分信号の変動に応じてトラッキングエラー信号に乗じる可変ゲインアンプ３１の値を調整する。この構成により、トラッキングエラー信号の振幅変動を抑え、安定なトラッキング制御を行うことが可能となる。
【特許文献１】特開２００２−３２４３２９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００１３】
従来の技術では、２つのサブビームの一方がディスクの記録領域に、他の一方が未記録領域に照射された場合には、反射率の相違により２つのサブビームから検出したプッシュプル信号の差信号から得られるトラッキングエラー信号の振幅変動成分が誤ったものとなる。また、２つのサブビームをディスク上の傷や汚れのある所を照射した場合も同様である。そのため、トラッキングエラー信号に乗じるゲインの値が不正確なものとなり、トラッキング制御が不安定になり、最悪の場合にはトラッキング制御が外れてしまうことがあった。
【００１４】
本発明の目的は、サブビームが記録媒体の未記録領域と記録領域に別れて照射された場合や傷や汚れのある所を照射した場合でも、安定したトラッキング制御を行うことが可能な光学的情報記録再生装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１５】
上記目的を達成する為、本発明は、差動プッシュプル法によりトラッキングエラー信号を生成し、前記トラッキングエラー信号に基づいてトラッキング制御を行う光学的情報記録再生装置において、光学的情報記録媒体の回転位置を検出する手段と、前記検出手段の出力に同期して前記トラッキングエラー信号の振幅を補正する手段とを有することを特徴とする。
【００１６】
本発明においては、差動プッシュプル法を用いてトラッキング制御を行い、その際、記録媒体の回転位置を検出し、その回転位置に同期してトラッキングエラー信号の振幅を補正する。トラッキングエラー信号を補正するには、記録媒体の回転位置に同期してトラッキングエラー信号の振幅変動を検出し、振幅変動を相殺するようにトラッキングエラー信号の振幅変動を回転位置に同期して補正する。また、記録媒体の偏芯量に応じてトラッキングエラー信号を補正する。このようにトラッキングエラー信号振幅を回転位置に同期して補正することにより、２つのサブビームが記録媒体の未記録領域と記録領域に別れて照射されている場合、或いは媒体上に傷や汚れがあった場合でも常に安定なトラッキング制御を行うことができる。
【００１７】
また、記録媒体の偏芯量を測定するには、トラキングエラー信号のゼロクロスの回数から偏芯量を測定する、或いはピックアップ内の対物レンズのレンズポジション信号に基づいて測定する。偏芯量をトラキングエラー信号のゼロクロスの回数から測定することで、常に正確に偏芯量に対応したトラッキングエラー信号の補正が可能となる。また、偏芯量をレンズポジション信号に基づいて測定することで、半径位置に依らず常に偏芯量を測定することができる。
【発明の効果】
【００１８】
本発明によれば、記録媒体の回転位置信号に同期してトラッキングエラー信号の振幅を補正することにより、２つのサブビームが未記録領域と記録領域に別れて照射されている場合、或いは媒体上に傷や汚れがあった場合でも常に安定なトラッキング制御を行うことができる。
【００１９】
また、トラッキングエラー信号のゼロクロスのカウント値に基づいて記録媒体の偏芯量を測定することにより、媒体の傷や汚れの影響を受けずに正確に偏芯量を測定でき、常に安定したトラッキング制御を行うことが可能となる。
【００２０】
更に、ピックアップ内の対物レンズの位置を示すレンズポジション信号から記録媒体の偏芯量を算出し、その偏芯量、媒体のトラックピッチ、媒体上のビームスポットの間隔から最適なトラッキングサーボゲインを回転位置信号毎に設定する事で、媒体の半径位置に依らず常に安定なトラッキング制御を行うことが可能となる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２１】
次に、発明を実施するための最良の形態について図面を参照して詳細に説明する。
【００２２】
（第１の実施形態）
図１は本発明による光学的情報記録再生装置の第１の実施形態を示すブロック図である。図中１は光学的情報記録媒体である光ディスク、２は光ディスク１を回転駆動するスピンドルモータ、３は光ディスク１に情報を記録又は再生するためのピックアップである。光ディスク１にピックアップ３からレーザ光が照射され、光ディスク１からの反射光はピックアップ３内の図示しないセンサに入射する。
【００２３】
そのセンサへの入射光に応じた信号がフォーカスエラー生成回路４に入力され、その出力であるフォーカスエラー信号にフォーカス位相補償回路５により位相補償処理を行う。また、フォーカス位相補償回路５の出力にフォーカスサーボゲイン回路６によりフォーカスゲインの乗算を行い、その乗算結果に応じてフォーカスアクチュエータドライバ回路７によりピックアップ３内の図示しないアクチュエータを駆動し、レーザ光が光ディスク１上の記録面に合焦するようにフォーカス制御を行う。
【００２４】
このフォーカス制御のみを行っている状態で、トラッキングエラー生成回路８はピックアップ３内のセンサ出力に基づいて前述した差動プッシュプル法を用いてトラッキングエラー信号を生成する。トラッキングエラー生成回路８の構成については後述する。回転位置検出回路１２はスピンドルモータ２から出力される回転位置信号を検出する。回転位置信号は光ディスク１が一回転する間に何回か出力される信号であり、光ディスク１が一回転する間、等回転角度毎に出力される。振幅検出回路１３は差動プッシュプル法により検出されたトラッキングエラー信号の振幅値を検出する。
【００２５】
次に、トラッキングエラー信号の振幅値の検出方法を図２を用いて説明する。図２（ａ）は光ディスク１に対してフォーカス制御のみを行っている状態のトラッキングエラー信号の波形である。図２（ｂ）は回転位置検出回路１２の回転位置信号の波形である。振幅検出回路１３には回転位置信号も入力されている。振幅検出回路１３は回転位置信号が光ディスク１の一回転の内、何番目のものであるかを検出しつつ、トラッキングエラー信号の振幅を検出する。
【００２６】
例えば、光ディスク１の一回転の内、１番目にハイレベルとなった回転位置信号と２番目にハイレベルとなった回転位置信号の間ではトラッキングエラー信号の振幅はＡとなり、２番目にハイレベルとなった回転位置信号と３番目にハイレベルとなった回転位置信号の間ではトラッキングエラー信号の振幅はＢとする、という様にトラッキングエラー信号の振幅を検出する。回転位置信号の１番目、２番目、…、とは、最初に検出した回転位置信号を１番目、その次に検出した回転位置信号を２番目、…、というように最初に検出した回転位置信号からの順番をいう。
【００２７】
それぞれの回転位置信号の間におけるトラッキングエラー信号の振幅値の決定方法としては、例えば、１番目と２番目の回転位置信号の間において検出されたトラッキングエラー信号の振幅の平均値とすれば良い。また、光ディスク１上に付いた傷や汚れの影響を低減する為に一回転内のトラッキングエラー信号の振幅を半径位置をわずかに変えて、それぞれの位置で検出した振幅値の平均値を振幅としても良い。
【００２８】
一回転内のそれぞれの回転位置信号の間におけるトラッキングエラー信号振幅の検出が終わると、振幅検出回路１３は回転位置信号に合わせて検出した振幅値を記憶し、回転位置信号に応じた振幅値をゲイン補正回路１４に入力する。ゲイン補正回路１４は検出した振幅値が入力されると、それに伴ったゲインの補正値を決定する。図２（ｃ）はゲイン補正回路１４の出力を示す。
【００２９】
次に、ゲインの補正方法について詳細に述べる。振幅検出回路１３には回転位置信号が入力されており、光ディスク１の一回転内の何番目の回転位置信号かを判断し、その回転位置信号に応じて記憶しているトラッキングエラー信号の振幅値をゲイン補正回路１４に入力する。ゲイン補正回路１４はメインビームが、例えば、グルーブ中心、２つのサブビームがランド中心に位置する理想的な状態でのトラッキングエラー信号の振幅値Ｇを記憶している。
【００３０】
図３はトラッキングエラー生成回路８の一例を示す回路図である。図３では図１３と同一部分には同一符号を付している。トラッキングエラー生成回路８内において差動プッシュプル法によって生成されたトラッキングエラー信号に乗算回路３１によってゲインＫを乗算する。例えば、図２の様に回転位置信号に応じてトラッキングエラー信号振幅が変動し、１番目と２番目の回転位置信号の間における振幅値がＡだとしたら、ゲイン補正回路１４は１番目と２番目の回転位置信号の間における乗算回路（可変ゲインアンプ）３１のゲインをＫ×（Ｇ／Ａ）の値に変更する。
【００３１】
また、２番目と３番目の回転位置信号の間におけるゲインはＫ×（Ｇ／Ｂ）の値に変更する、という様に回転位置信号に応じてトラッキングエラー信号の振幅変動を補正する。このトラッキングエラー信号の振幅を補正しながら、フォーカス制御のみを行っている状態からトラッキング制御を開始する。
【００３２】
トラッキング制御を行う場合には、差動プッシュプル法で検出されたトラッキングエラー信号にトラッキング位相補償回路９によって位相補償処理を施し、その位相補償フィルタの出力にトラッキングサーボゲイン回路１０によりトラッキングゲインの乗算を行い、更に、その乗算結果に応じてトラッキングアクチュエータドライバ回路１１によりピックアップ３内の図示しないアクチュエータを駆動する。こうすることで、ピックアップ３からのレーザ光が光ディスク１上の所望のトラックに追従するように制御を行う。トラッキング制御の最中にゲイン補正回路１４は回転位置信号がハイレベルとなる毎に振幅検出回路１３から入力される振幅値に応じてトラッキングエラー生成回路８内の乗算回路３１のゲインを補正する。
【００３３】
また、トラッキングエラー信号の振幅変動は光ディスク１上の半径位置によって異なるので、トラッキング制御を行う前に光ディスク１の半径位置を何点か変えて、例えば、ディスク最内周、中周、最外周の３点でそれぞれ回転位置信号に応じたトラッキングエラー信号の振幅変動を検出し、回転位置信号に応じたトラッキングエラー信号の振幅値を半径位置に応じて記憶し、ゲインの補正量を変更する構成にしても良い。
【００３４】
本実施形態では、差動プッシュプル法を用いてトラッキング制御を行う光ディスク装置において、トラッキング制御を行う前に回転位置信号に応じたトラッキングエラー信号振幅の変動を検出して記憶し、トラッキング制御を行っている最中には回転位置信号に応じて記憶した振幅値に応じてゲインを設定するため、２つのサブビームが光ディスク１の記録領域と未記録領域に別れて照射されている場合や、或いは光ディスク１に傷や汚れがあった場合でも、トラッキングエラーの変動に応じてゲインを誤った値に設定するようなことがなく、常に正確にトラッキングエラー信号の振幅変動に応じたゲイン設定を行うことが可能となる。
【００３５】
（第２の実施形態）
図４は本発明の第２の実施形態を示すブロック図である。図４では図１と同じ機能を持つものには同一符号を付している。本実施形態では図１の振幅検出回路１３の代わりに方向判別回路１５、偏芯量測定回路１６を設けている点が異なる。本実施形態では第１の実施形態と同様にデータの記録再生を始める際、まず、フォーカス制御を行う。次に、偏芯量測定回路１６は光ディスク１やスピンドルモータ２の偏芯量をフォーカス制御のみを行っている状態で測定する。
【００３６】
次に、偏芯量の詳細な測定方法を図５を用いて説明する。図５（ａ）は光ディスク１のトラックの実際の偏芯分、図５（ｂ）は方向判別回路１５の出力で、偏芯の方向が変わる度に信号のハイレベル−ローレベルが切り換わる。図５（ｃ）は偏芯に応じて出力されるトラッキングエラー信号、図５（ｄ）は回転位置信号、図５（ｅ）は偏芯量測定回路１６内にあるトラッキングエラー信号のゼロクロスの回数を数えるカウンタ値であり、偏芯の方向が切り換わる度にクリアされる。
【００３７】
偏芯の方向の切り換わりはトラッキングエラー信号と共に和信号の極性等を観測することにより判別できる。和信号は周知のようにピックアップ３のセンサ出力の総和であり、情報再生に用いられる。まず、偏芯量測定回路１６は図５（ｂ）に示す方向判別回路１５の出力がハイレベルからローレベルに切り換わってから再びハイレベルに切り換わるまでの間（図５中の１のタイミングから３のタイミングの間）にトラッキングエラー信号が何回ゼロクロスするかをカウントする。
【００３８】
次に、ゼロクロスのカウント値から偏芯量を決定する。具体的には、図５中の１から３までの間にゼロクロスが２００回カウントされ、更に光ディスク１のトラックピッチが０．３２μｍであるとしたら、測定した偏芯量は３２μｍｐ−ｐとなる。
【００３９】
次に、偏芯量測定回路１６は回転位置信号に応じた偏芯量を決定する。例えば、１番目と２番目の回転位置信号の間におけるトラッキングエラー信号のゼロクロスのカウント値が０から１０まで増加したとしたら、この回転位置信号の間における偏芯量は−１６μｍから−１４．４μｍまで偏移したことになる（−１６μｍはゼロクロスカウント値０であるから３２μｍｐ−ｐの半分となり、それにゼロクロスカウント値１回に相当する偏芯分０．１６μｍのゼロクロスカウント値１０個分１．６μｍを加算すると−１４．４μｍとなる）。
【００４０】
ここで、１番目と２番目の回転位置信号の偏芯量は上記２つの値の平均値を取って、−１５．２μｍとする。また、３番目と４番目の回転位置信号の間にカウンタ値が８０から１２０まで増加したとしたら、同様にこの回転位置信号の間における偏芯量は−３．２μｍから＋３．２μｍまで偏移したことになる。３番目と４番目の回転位置信号の偏芯量は２つの値の平均値を取って０μｍとする。
【００４１】
この様にして、偏芯量測定回路１６は各回転位置信号の間における偏芯量を決定する。偏芯量が決定したら、偏芯量測定回路１６は各回転位置信号間における偏芯量をゲイン補正回路１４に入力する。ゲイン補正回路１４は入力された偏芯量に応じてトラッキングエラー生成回路８内の乗算回路３１のゲインを補正する（図３参照）。
【００４２】
補正量の決定方法は、製品の工場出荷時等にピックアップ毎に偏芯量に対応する適切な乗算回路３１のゲインのテーブルをゲイン補正回路１４に設定すれば良い。そして、ゲイン補正回路１４は回転位置信号毎に偏芯量に対応するゲインをテーブルから読み出し、図３の乗算器３１に設定することでトラッキングエラー信号の補正を行う。この様に先ず各回転位置信号間の偏芯量を測定した後、それに応じた乗算回路３１のゲインを設定しながらトラッキング制御を行う。
【００４３】
以上の様に本実施形態においては、各回転位置信号間における偏芯量を測定し、それに応じてゲインの補正量を決定し、回転位置信号毎にゲインを設定する為、偏芯量に追従して常に適切なゲインの設定を行うことが可能となる。
【００４４】
また、偏芯量に依るトラッキングエラー信号の振幅変動分は半径位置に応じて変わるので、光ディスクの内周、中周、外周等それぞれの半径位置における偏芯量に応じたトラッキングゲインの補正量をテーブルで持っても良い。
【００４５】
本実施形態では、差動プッシュプル法を用いてトラッキング制御を行う光ディスク装置において、トラッキング制御を行う前にトラッキングエラー信号からディスクの偏芯量を算出し、各回転位置信号の間における偏芯量を測定し、その偏芯量に応じてゲインを補正することにより、常に安定したトラッキング制御を行うことが可能となる。
【００４６】
従って、上述のように２つのサブビームが記録領域と未記録領域に別れて照射されている場合や、或いは光ディスクに傷や汚れがあった場合でも、トラッキングエラーの変動に応じてゲインを誤った値に設定するようなことがなく、常に正確にトラッキングエラー信号の振幅変動に応じたゲイン設定を行うことが可能となる。
【００４７】
更に、光ディスクの偏芯量をトラッキングエラー信号のゼロクロスのカウント値のみで決定するので、傷や汚れの影響を受けにくく、正確な偏芯量を測定でき、最適なゲイン設定を行うことが可能となる。
【００４８】
（第３の実施形態）
図６は本発明の第３の実施形態を示すブロック図である。図６では図１、図４と同じ機能を持つものには同一符号を付している。本実施形態では、先述の実施形態と同様にデータの記録再生を始める際、まず、フォーカス制御を行う。次に、トラッキング制御を続けて行う。トラッキング制御を行っている最中、レンズポジション信号生成回路１７はピックアップ３内の図示しないキャリッジと対物レンズの相対位置を示すレンズポジション信号を生成する（即ち、このレンズポジション信号は光源の半導体レーザからのレーザビームを光ディスク１上に集光するための対物レンズのトラッキング方向の位置を示す信号である）。
【００４９】
図７はトラッキングエラー生成回路８及びレンズポジション信号生成回路の回路図を示す。図７では図３と同一部分には同一符号を付している。レンズポジション信号はトラッキングエラー生成回路８の構成にサブビームのプッシュプル信号の和信号に所定ゲインをかける乗算回路（可変ゲインアンプ）３２、乗算回路３２の出力とメインビームのプッシュプル信号との和信号を生成する加算回路３３を追加するだけで生成出来る。このレンズポジション信号はピックアップ３の送り制御やシーク中の対物レンズ固定制御等に用いられ、本発明のために特別に生成するものではない。
【００５０】
図８（ａ）はトラッキング制御を行っている状態でのレンズポジション信号、図８（ｂ）は回転位置信号である。レンズポジション信号は偏芯量算出回路１８に入力される。また、偏芯量算出回路１８には回転位置検出回路１２からのスピンドルモータ２から出力されている光ディスク１が一回転する間に何回か出力されている回転位置信号も入力されている。偏芯量算出回路１８は回転位置信号がハイレベルとなる度に入力されたレンズポジション信号から偏芯量を算出する。
【００５１】
トラッキング制御を行っている状態でのレンズポジション信号は、光ディスク１上のトラックの偏芯量及びその位相の情報を含むので、レンズポジション信号から回転位置信号毎の偏芯量が算出できる。
【００５２】
図９（ａ）はトラッキング制御をかけている状態でのトラッキングエラー信号、図９（ｂ）はレンズポジション信号を示す。トラッキング制御をかけている状態でのレンズポジション信号は、図９（ｂ）に示すように偏芯に応じて正弦波のように変化する。このレンズポジション信号振幅に対する偏芯量の大きさを、予め工場出荷時等に測定して記憶手段に格納しておけば、レンズポジション信号の大きさから偏芯量の大きさ及び方向が得られる。
【００５３】
得られた偏芯量はゲイン補正量算出回路１９に入力される。ゲイン補正量算出回路１９にはアドレスデコーダ２０から現在トラッキング制御が行われている光ディスク１上のアドレスが入力され、そのアドレスを基に現在トラッキング制御を行っている光ディスク上の半径位置を算出する。
【００５４】
ゲイン補正量算出回路１９は入力された偏芯量と算出した半径位置と予め把握している光ディスク１のトラックピッチ及び光ディスク１上に配される３つのビームスポットの間隔から、偏芯量に応じた最適なトラッキングエラー生成回路８内の乗算回路３１のゲインを算出設定する。
【００５５】
具体的には、まず、ゲイン補正量算出回路１９は得られた偏芯量からＤＰＰ振幅（トラッキングエラー信号振幅）の変動量を求める。この時、図１０に示すようにトラッキング制御をかけている半径位置をｒ、偏芯量をｄ、偏芯が０の時と偏芯がｄの時それぞれのディスク中心とトラック接線とがなす角度をθ、３ビームにおけるメインビームの中心とサブビームの中心との距離をｈ、３つのビームを結ぶ直線とトラックがなす角度をφ、トラックピッチをＴｐとすると、
θ＝ｔａｎ−１（±ｄ／ｒ）
φ＝ｓｉｎ−１（Ｔｐ／２ｈ）
となる。
【００５６】
また、メインビームとサブビームの位相差σは、
σ＝｛（（Ｔｐ／２）−ｈ・ｓｉｎ（φ±θ））／Ｔｐ｝×２π［ｒａｄ］
となる（理想的には、π［ｒａｄ］）。
【００５７】
理想のＤＰＰ振幅を１とする時、
ＤＰＰ＝１−（（１−ｃｏｓσ）／２）
と変化する。
【００５８】
ゲイン補正量算出回路１９は、この変動分を用いて上述のように乗算回路３１のゲインをＫ×（Ｇ／Ａ）と補正する（Ａは変動分）。
【００５９】
図８（ｃ）はゲイン補正量算出回路１９の出力を示す。図８（ｃ）に示すようにトラッキングエラー生成回路８内のゲインを回転位置信号がハイレベルとなる度に設定し直す事で常に安定なトラッキング制御を行うことが可能となる。
【００６０】
また、本実施形態では、先の実施形態の様にフォーカス制御のみを行った状態でトラッキングエラー信号の振幅の変動量や、ディスクの偏芯量を測定する事もなく、また、それらのパラメータに基づいたトラッキングサーボゲインの補正量をテーブルで持つ必要もなくなる。
【００６１】
更に、先述の実施形態では、外周、中周、内周といったディスク上の数点でしかトラッキングエラー信号の振幅変動量を検出しなかったが、本実施形態では、常にレンズポジション信号から偏芯量を算出しているので、半径位置に依らず常に偏芯量を算出でき、それに応じた最適なトラッキングサーボゲインを設定することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【００６２】
【図１】本発明の第１の実施形態を示すブロック図である。
【図２】第１の実施形態のトラッキングサーボゲインの補正原理を説明する図である。
【図３】第１の実施形態のトラッキングエラー生成回路の一例を示す回路図である。
【図４】本発明の第２の実施形態を示すブロック図である。
【図５】第２の実施形態トラッキングサーボゲインの補正原理を説明する図である。
【図６】本発明の第３の実施形態を示すブロック図である。
【図７】第３の実施形態のトラッキングエラー生成回路及びレンズポジション信号生成回路の一例を示す回路図である。
【図８】第３の実施形態のトラッキングサーボゲインの補正原理を説明する図である。
【図９】トラッキング制御をかけている状態のトラッキングエラー信号とレンズポジション信号を示す図である。
【図１０】偏芯量からトラッキングエラー信号振幅の変動量を求める方法を説明する図である。
【図１１】従来例の差動プッシュプル法によるトラッキングエラー生成回路を示す回路図である。
【図１２】差動プッシュプル法における問題点を説明する図である。
【図１３】更に他の従来例のトラッキングエラー生成回路を示す回路図である。
【符号の説明】
【００６３】
１  光ディスク
２  スピンドルモータ
３  ピックアップ
４  フォーカスエラー生成回路
５  フォーカス位相補償回路
６  フォーカスサーボゲイン回路
７  フォーカスアクチュエータドライバ回路
８  トラッキングエラー生成回路
９  トラッキング位相補償回路
１０  トラッキングサーボゲイン回路
１１  トラッキングアクチュエータドライバ回路
１２  回転位置検出回路
１３  振幅検出回路
１４  ゲイン補正回路
１５  方向判別回路
１６  偏芯量測定回路
１７  レンズポジション信号生成回路
１８  偏芯量算出回路
１９  ゲイン補正量算出回路
２０  アドレスデコーダ
２１〜２３  フォトディテクタ
２４〜２６、２８、３０  差動アンプ
２７、３３  加算アンプ
２９、３１、３２  乗算回路（可変ゲインアンプ）
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【図１２】
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【図１３】
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