(57)【要約】【課題】  画像処理部の入出力線の欠陥を容易に検出できる診断機能を搭載した画像処理装置を提供すること。【解決手段】  互いに異なる複数のテスト画像信号を順次発生するテストパターン発生手段６と、前記テストパターン発生手段６が接続される入力ビット線と、前記順次発生される複数のテスト画像信号を画像処理し、複数の出力画像信号を出力する出力ビット線とを有する画像処理回路７と、前記画像処理回路７からの複数の出力画像信号とそれに対応する前記各テスト画像信号とをそれぞれ比較する比較手段８を具備し、  前記比較手段８は、前記出力画像信号のビット列と前記前記テスト画像信号のビット列との差から、欠陥のある前記画像処理回路７の入力あるいは出力ビット線を特定する画像処理装置９。【選択図】  図１
2006227812.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
互いに異なる複数のテスト画像信号を順次発生するテストパターン発生手段と、
前記テストパターン発生手段が接続される入力ビット線と、前記順次発生される複数のテスト画像信号を画像処理し、複数の出力画像信号を出力する出力ビット線とを有する画像処理回路と、
前記画像処理回路からの複数の出力画像信号とそれに対応する前記各テスト画像信号とをそれぞれ比較する比較手段を具備し、
前記比較手段は、前記出力画像信号のビット列と前記前記テスト画像信号のビット列との差から、欠陥のある前記画像処理回路の入力あるいは出力ビット線を特定することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】
所定の時間間隔で前記画像処理部と前記比較手段に前記テスト画像信号を入力して、前記画像処理部の良否を自動的に検査することを特徴とする請求項１に記載の画像処理装置。
【請求項３】
前記テストパターン発生手段の発生する前記テスト画像信号は、各ビットに”１”を立てたｎ個のビット列パターンと、全ビットに”０”を立てた１個のビット列とからなるｎ＋１個のビット列からなることを特徴とする請求項１または２に記載の画像処理装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像処理装置に関し、特に画像処理装置の診断機能を搭載した画像処理装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、顕微鏡カメラ等の画像入力機器からの画像にＡＧＣ，ノイズリダクション、シェーディング、或いは欠陥処理などを施し、外部の出力機器であるモニターやプリンタなどに出力する画像処理装置に搭載されている画像処理部（イメージプロセッサ）の故障を診断して、画像処理部が故障している場合には画像処理部と同様の働きをするソフトウエアによって画像処理を続行することが提案されている（例えば、特許文献１参照。）。
【特許文献１】特開平１１−３９４６０号公報。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
特許文献１の開示例は、画像処理部（イメージプロセッサ）に既知のテストパターン信号を入力し、画像処理された出力イメージと、既知のテストパターン信号とを比較することで画像処理部の異常を診断するものである。
【０００４】
しかしながら、この特許文献１の開示例は、画像処理が異常であると診断された場合には、イメージプロセッサ内部のハードウエアの故障と診断している。そのため、イメージプロセッサ内部のハードウエアに故障がないものも、すなわちイメージプロセッサの入出力線に欠陥があるようなものまでもイメージプロセッサの交換で対応しており、製造上のコストアップの原因になっている。
【０００５】
本発明は、上記問題に鑑みて行われたものであり、画像処理部の入出力線の欠陥を容易に検出できる診断機能を搭載した画像処理装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上記目的を達成するために、本発明は、互いに異なる複数のテスト画像信号を順次発生するテストパターン発生手段と、前記テストパターン発生手段が接続される入力ビット線と、前記順次発生される複数のテスト画像信号を画像処理し、複数の出力画像信号を出力する出力ビット線とを有する画像処理回路と、前記画像処理回路からの複数の出力画像信号とそれに対応する前記各テスト画像信号とをそれぞれ比較する比較手段を具備し、
前記比較手段は、前記出力画像信号のビット列と前記前記テスト画像信号のビット列との差から、欠陥のある前記画像処理回路の入力あるいは出力ビット線を特定することを特徴とする画像処理装置を提供する。
【０００７】
また、本発明の画像処理装置は、所定の時間間隔で前記画像処理部と前記比較手段に前記テスト画像信号を入力して、前記画像処理部の良否を自動的に検査する構成が好ましい。
【０００８】
また、本発明の画像処理装置は、前記テストパターン発生手段の発生する前記テスト画像信号は、各ビットに”１”を立てたｎ個のビット列パターンと、全ビットに”０”を立てた１個のビット列とからなるｎ＋１個のビット列からなることが好ましい。
【発明の効果】
【０００９】
本発明によれば、画像処理部の入出力線の欠陥を容易に検出できる診断機能を搭載した画像処理装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１０】
以下、本発明の一実施の形態に関し図面を参照しつつ説明する。
【００１１】
図１は、本発明の実施の形態に係る画像処理装置を、例えば顕微鏡のカメラに接続した場合の構成ブロック図である。
【００１２】
不図示の顕微鏡の観察鏡筒に接続され、標本からの光が撮影レンズ１を介してＣＣＤ２に結像された標本の画像は、ＣＣＤ２からの信号をＡ／Ｄ変換装置３でアナログ信号からデジタル信号に変換され、切替手段４で信号が選択されて映像信号として不図示のバッファー等を介してカメラ５から出力される。
【００１３】
カメラ５には、後述する画像処理部７の診断のためのテストパターン画像信号を発生するテストパターン発生手段６が内蔵されており、切替手段４でＣＣＤ２からの映像信号と切替えられてテストパターン画像信号としてバッファー等を介してカメラ５から出力される。また、カメラ５からはバッファー等を介して出力される映像信号またはテストパターン画像信号のほかに、テストパターン発生手段６からのテストパターン画像信号が後述する比較手段８に向けて直接出力される。この様にして、顕微鏡に搭載されるカメラ５が構成されている。
【００１４】
通常、切替手段４は映像信号側Ｉにセットされ、ＣＣＤ２からの映像信号は、画像処理部７に入力されて、ノイズリダクション、ＡＧＣ，シェーディング、欠陥処理などの各種画像処理が行われて不図示のモニターに出力される。
【００１５】
画像処理部７の異常の有無を診断するために、切替手段４をテストパターン画像信号側Ｔに切替える。この時カメラ５からテストパターン画像信号が出力され画像処理部７に入力され、画像処理部７からのテストパターン画像出力信号が比較手段８に入力される。また、比較手段８には、カメラ５から画像処理部７に入力したテストパターン画像信号と同じ信号が直接入力される。なお、画像処理部７の診断を行う時は、画像処理部７でのノイズリダクション、ＡＧＣ、シェーディング、欠陥処理などの各種処理動作を全てＯＦＦにする。この様に、画像処理装置９は画像処理部７と比較手段８から構成されている。
【００１６】
比較手段８では、画像処理部７からのテストパターン画像出力信号とカメラ５のテストパターン発生回路６から直接入力されたテストパターン画像信号とが比較されて、画像処理部７に異常がないかが診断される。診断の結果、画像処理部７にエラーが無ければＧＯ信号を、エラーがある場合にはＮＧ信号を比較手段８が表示して使用者に告知する。比較手段８における診断の仕方は後述する。
【００１７】
比較手段８にＧＯ信号が表示された時は、Ａ／Ｄ変換装置３から画像処理部７の出力までの間に異常が無いことが確認されたので、ＣＣＤ２からの映像信号中にエラーが含まれることが無く標本像を正しく観察することが可能になる。
【００１８】
ＮＧ信号が表示された時は、Ａ／Ｄ変換装置から画像処理部７の出力までの間に異常がある事がわかり対策を施すことができる。
【００１９】
次に、比較手段８における診断の仕方について図２から図４に基づき説明する。図２は画像処理部７に異常の無い場合を、即ち画像処理部７の入力ビット線の欠陥、出力ビット線の欠陥、画像処理部７の内部ハードウエアの欠陥もない場合を示している。図３は画像処理部７の入力ビット線ＢＩＴ１に断線がある場合示している（同様に出力ビット線ＢＩＴ１に断線がある場合にも同じ症状が出る）。また、図４は画像処理部７の隣接する入力ビット線ＢＩＴ１とＢＩＴ２とが短絡（ショート）した場合を示している（同様に出力ビット線ＢＩＴ１とＢＩＴ２とが短絡している場合にも同じ症状が出る）。また、図には示していないが、比較手段８は、画像処理部７からの出力ビット列の信号が入力ビット線の想定できる欠陥以外の出力ビット列の信号である場合には、画像処理部７のハードウエアに欠陥があると診断できる。
【００２０】
各図において（ａ）は、画像処理部７の入出力ビット線を、（ｂ）は画像処理部７と比較手段８に入力されるテストパターン画像信号のビット列（以後、入力ビット列と記す）と画像処理部７から出力されるテストパターン画像信号のビット列（以後、出力ビット列と記す）をそれぞれ示している。なお、以下の説明では、画像処理部７に入力されるテストパターン画像信号が白黒１２ビット階調の場合を代表として説明するが、その他のビット数やカラー信号の場合にも拡張可能であることは言うまでもない。
【００２１】
図２において、テストパターン発生手段６は、図２（ｂ）に示すようにｎ個の入力線ＢＩＴ０〜ＢＩＴ１２に１２ビットのビット列からなるテストパターン画像信号を入力する。このテストパターン画像信号は、各ビットに”１”を立てた１２個のビット列と、全ビットに”０”を立てた１個のビット列との１３個のビット列からなる。
【００２２】
このテストパターン画像信号を画像処理部７に入力し、比較手段８に画像処理部７からの出力ビット列とテストパターン発生手段６からの入力ビット列とを入力して、それぞれの入力ビット列と出力ビット列とを比較することによって、画像処理部７の異常の有無を判定する。図２（ｂ）では、入力ビット列と出力ビット列とは全て一致しており画像処理部７に異常の無いことが判る。
【００２３】
一方、図３（ａ）に示すように、画像処理部７の入力ビット線の例えばＢＩＴ１が断線している場合は、入力ビット列のＢＩＴ１が”０”であっても、１３個の出力ビット列のＢＩＴ１は全て”１”が立ってしまう。このように１３個のビット列のうちいずれか１個のビット列が不一致となった時に比較手段８は画像処理部７の異常を検出した旨の信号を出して作業者に告知する。作業者は、図３（ｂ）の出力表を見ることによってＢＩＴ１が断線していることが判断でき、修理などの対応策をとることが可能になる。なお、本実施の形態では、画像処理部７の入力側は、ｐｕｌｌ−ｕｐするような回路設計としているため、ビット線に信号が入力されない場合（無信号の場合）には出力が常に１となる様に構成されている。
【００２４】
また、図４（ａ）に示すように、ＢＩＴ１とＢＩＴ２とが短絡している場合には、図４（ｂ）の出力で、ＮＯ．１ビット列の２ビット目が”０”から”１”に変化し、ＮＯ．２ビット列の１ビット目が”０”から”１”に変化する。その他のＮＯ．０ビット列およびＮＯ．３ビット列〜ＮＯ．１２ビット列は入力と出力が一致している。このように１３個のビット列のうちいずれか１個のビット列が不一致となった時に比較手段８は画像処理部７の異常を検出した旨の信号を出して作業者に告知する。作業者は、図４（ｂ）の出力表を見ることによってＢＩＴ１とＢＩＴ２とが短絡していると判断でき、修理などの対応策をとることが可能になる。
【００２５】
本発明の実施の形態に係る画像処理装置によれば、テストパターン発生手段６からのテストパターン画像信号を画像処理部７に入力し、画像処理部７から出力された画像信号と画像処理部７に入力された元の信号とを比較することによって、画像処理部７の異常の有無を診断し、ユーザに告知することが可能になる。
【００２６】
なお、上述の実施の形態では、テストパターン発生手段６と切替手段４がカメラ５に内蔵されている場合について説明したが、テストパターン発生手段６と切替手段４とが画像処理装置９自体に内蔵されていても良い。また、テストパターン発生手段６からのテストパターン画像信号は図２から図４に示すビット列以外のものであっても良い。
【００２７】
なお、上述の実施の形態は例に過ぎず、上述の構成や形状に限定されるものではなく、本発明の範囲内において適宜修正、変更が可能である。
【図面の簡単な説明】
【００２８】
【図１】本発明の実施の形態に係る画像処理装置を、例えば顕微鏡のカメラに接続した場合の構成ブロック図。
【図２】本実施の形態に係る画像処理装置において、画像処理部に異常の無い場合を示し、（ａ）は入出力の関係を、（ｂ）は入力ビット列と出力ビット列をそれぞれ示す。
【図３】本実施の形態に係る画像処理装置において、画像処理部の入力ビット線に断線がある場合の例を示し、（ａ）は断線しているビット線位置を、（ｂ）は入力ビット列と出力ビット列をそれぞれ示す。
【図４】本実施の形態に係る画像処理装置において、画像処理部の入力ビット線に短絡（ショート）がある場合の例を示し、（ａ）は短絡しているビット線位置を、（ｂ）は入力ビット列と出力ビット列をそれぞれ示す。
【符号の説明】
【００２９】
１      撮影レンズ
２      ＣＣＤ
３      Ａ／Ｄ変換装置
４      切替手段
５      カメラ
６      テストパターン発生手段
７      画像処理部
８      比較手段
９      画像処理装置
【図１】
2006227812.tif 000003
【図２】
2006227812.tif 000004
【図３】
2006227812.tif 000005
【図４】
2006227812.tif 000006