(57)【要約】【課題】磁気ディスクとそれをアクセス制御する制御部を有し、組み込み後に制御部が磁気ディスクにサーボ信号を書き込む磁気ディスク装置を製造する場合に、無駄なコストを低減することができる、磁気ディスク装置の製造方法、磁気ディスク装置の検査装置、および検査装置の検査方法を提供する。【解決手段】ＨＤＡ１０を磁気ディスク装置１に組み込む前に、磁気ディスク１２の磁気変換特性を検査し、その検査により、磁気ディスク１２の磁気変換特性が適正であることを条件に、ＨＤＡ１０および処理部３０を磁気ディスク装置１に組み込み、組み込まれた処理部３０が磁気ディスク１２を駆動するＶＣＭ１６や処理回路１８、ヘッド１７、スピンドルモータ１４等の駆動部を制御して磁気ディスク１２へサーボ信号を書き込む。【選択図】図２
2006031760.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
磁気ディスクと当該磁気ディスクを駆動する駆動部とを含むディスク駆動手段と、
前記駆動部を制御して前記磁気ディスクへのアクセス制御を行い、前記磁気ディスクへサーボ信号を書き込む制御手段と
を有する磁気ディスク装置の製造方法であって、
前記ディスク駆動手段を前記磁気ディスク装置に組み込む前に、前記磁気ディスクの磁気変換特性を検査する第１のステップと、
前記第１のステップの検査により、前記磁気ディスクの磁気変換特性が適正であることを条件に、前記ディスク駆動手段および前記制御手段を前記磁気ディスク装置に組み込み、前記組み込まれた制御手段が前記駆動部を制御して前記磁気ディスクへサーボ信号を書き込む第２のステップと
を有する磁気ディスク装置の製造方法。
【請求項２】
前記第１のステップで、単一周波数特性の検査信号を前記磁気ディスクに書き込んだ後、当該磁気ディスクから前記検査信号を読み出して、当該読み出した信号を基に前記磁気変換特性の検査を行う
請求項１に記載の磁気ディスク装置の製造方法。
【請求項３】
前記第１のステップで、所定の変調パターンの検査信号を前記磁気ディスクに書き込んだ後、当該磁気ディスクから前記検査信号を読み出して、当該読み出した信号を基に前記磁気変換特性の検査を行う
請求項１に記載の磁気ディスク装置の製造方法。
【請求項４】
前記第１のステップで、前記磁気ディスク内の一部のトラックにのみ検査信号を書き込んだ後、当該一部のトラックから前記検査信号を読み出して、当該読み出した信号を基に前記磁気変換特性の検査を行う
請求項１に記載の磁気ディスク装置の製造方法。
【請求項５】
磁気ディスクと当該磁気ディスクを駆動する駆動部とを含むディスク駆動手段と、前記駆動部を制御して前記磁気ディスクへのアクセス制御を行い、前記磁気ディスクへサーボ信号を書き込む制御手段とを有する磁気ディスク装置の前記磁気ディスクを検査する検査装置であって、
前記ディスク駆動手段を前記磁気ディスク装置に組み込む前に、前記駆動手段を制御して前記磁気ディスクの磁気変換特性を検査する検査手段を有する
検査装置。
【請求項６】
前記検査手段は、単一周波数特性の検査信号を前記磁気ディスクに書き込んだ後、当該磁気ディスクから前記検査信号を読み出して、当該読み出した信号を基に前記磁気変換特性の検査を行う
請求項５に記載の検査装置。
【請求項７】
前記検査手段は、所定の変調パターンの検査信号を前記磁気ディスクに書き込んだ後、当該磁気ディスクから前記検査信号を読み出して、当該読み出した信号を基に前記磁気変換特性の検査を行う
請求項５に記載の検査装置。
【請求項８】
前記検査手段は、前記磁気ディスク内の一部のトラックにのみ検査信号を書き込んだ後、当該一部のトラックから前記検査信号を読み出して、当該読み出した信号を基に前記磁気変換特性の検査を行う
請求項５に記載の検査装置。
【請求項９】
磁気ディスクと当該磁気ディスクを駆動する駆動部とを含むディスク駆動手段と、前記駆動部を制御して前記磁気ディスクへのアクセス制御を行い、前記磁気ディスクへサーボ信号を書き込む制御手段とを有する磁気ディスク装置の前記磁気ディスクを検査する検査装置の検査方法であって、
前記ディスク駆動手段を前記磁気ディスク装置に組み込む前に、前記磁気ディスクの磁気変換特性を検査する第１のステップと、
前記第１のステップの検査により、前記磁気ディスクの磁気変換特性が適正であるか否かを判別する第２のステップと
を有する検査装置の検査方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、例えばセルフサーボ方式の磁気ディスク装置の製造方法、磁気ディスク装置の検査装置、および検査装置の検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
例えば磁気ディスクおよびそれを駆動する駆動部を含み、外部からの粉塵等を防止するために密閉構造としたディスク駆動部と、そのディスク駆動部にアクセス制御を行う制御部とを組み込んでＨＤＤ（ハードディスクドライブ装置）を製造する方法が知られている。
【０００３】
ところで、ＨＤＤは、磁気ディスクに、磁気ヘッド位置を規定するためのサーボ信号を事前に記録し、サーボ信号を基にデータの記録および再生を行う。
このサーボ信号を磁気ディスクに書き込む方式として、ディスクサーボライト方式とセルフサーボライト方式が知られている。
【０００４】
ディスクサーボライト方式は、ディスク駆動部を組み立てる際に、事前に磁気ディスクにサーボ信号を書き込む。このディスクサーボライト方式では、磁気ディスクにサーボ信号を書き込む装置が別途必要である。またディスク偏心に注意する必要があり、また機械的な組み立て時に高い精度が要求される。
【０００５】
一方、セルフサーボライト方式は、ディスク駆動部と制御部を組み込んだ後に、制御部が駆動部を制御して磁気ディスクにサーボ信号を書き込む。
セルフサーボライト方式は、ディスクサーボライト方式と比べて、サーボ信号を書き込む、磁気ディスク装置以外の書き込み装置が必要ない。
また、セルフサーボライト方式は、組み込み後に制御部が磁気ディスクにサーボ信号を書き込むので、セルフサーボ方式と比べて高密度化やアクセス特性を向上することができる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
しかし、上述したセルフサーボライト方式では、組み込み後にサーボ信号を磁気ディスクに書き込むので、磁気ディスクに正確にサーボ信号が記録されないと、組込み後にＨＤＤ全体を破棄する場合があり、無駄なコストが大きい。
【０００７】
本発明は、上述した従来技術の問題点に鑑みてなされ、磁気ディスクとそれをアクセス制御する制御部を有し、組み込み後に制御部が磁気ディスクにサーボ信号を書き込む磁気ディスク装置を製造する場合に、無駄なコストを低減することができる、磁気ディスク装置の製造方法、磁気ディスク装置の検査装置、および検査装置の検査方法を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上述した従来技術の問題点を解決し、上述した目的を達成するために、第１の発明の磁気ディスク装置の製造方法は、磁気ディスクと当該磁気ディスクを駆動する駆動部とを含むディスク駆動手段と、前記駆動部を制御して前記磁気ディスクへのアクセス制御を行い、前記磁気ディスクへサーボ信号を書き込む制御手段とを有する磁気ディスク装置の製造方法であって、前記ディスク駆動手段を前記磁気ディスク装置に組み込む前に、前記磁気ディスクの磁気変換特性を検査する第１のステップと、前記第１のステップの検査により、前記磁気ディスクの磁気変換特性が適正であることを条件に、前記ディスク駆動手段および前記制御手段を前記磁気ディスク装置に組み込み、前記組み込まれた制御手段が前記駆動部を制御して前記磁気ディスクへサーボ信号を書き込む第２のステップとを有する。
【０００９】
さらに、上記目的を達成するために、第２の発明の検査装置は、磁気ディスクと当該磁気ディスクを駆動する駆動部とを含むディスク駆動手段と、前記駆動部を制御して前記磁気ディスクへのアクセス制御を行い、前記磁気ディスクへサーボ信号を書き込む制御手段とを有する磁気ディスク装置の前記磁気ディスクを検査する検査装置であって、前記ディスク駆動手段を前記磁気ディスク装置に組み込む前に、前記駆動手段を制御して前記磁気ディスクの磁気変換特性を検査する検査手段を有する。
【００１０】
第２の発明の検査装置の作用は、以下のようになる。
検査手段は、ディスク駆動手段を磁気ディスク装置に組み込む前に、駆動手段を制御して磁気ディスクの磁気変換特性を検査して、その検査の結果に応じて磁気ディスクの磁気変換特性が適正であるか否かを判別する。
【００１１】
さらに、上記目的を達成するために、第３の発明の検査装置の検査方法は、磁気ディスクと当該磁気ディスクを駆動する駆動部とを含むディスク駆動手段と、前記駆動部を制御して前記磁気ディスクへのアクセス制御を行い、前記磁気ディスクへサーボ信号を書き込む制御手段とを有する磁気ディスク装置の前記磁気ディスクを検査する検査装置の検査方法であって、前記ディスク駆動手段を前記磁気ディスク装置に組み込む前に、前記磁気ディスクの磁気変換特性を検査する第１のステップと、前記第１のステップの検査により、前記磁気ディスクの磁気変換特性が適正であるか否かを判別する第２のステップとを有する。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、磁気ディスクとそれをアクセス制御する制御部を有し、組み込み後に制御部が磁気ディスクにサーボ信号を書き込む磁気ディスク装置を製造する場合に、無駄なコストを削減することができる、磁気ディスク装置の製造方法、磁気ディスク装置の検査装置、および検査装置の検査方法を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、本発明の一実施形態を図１〜図５を参照して説明する。
【００１４】
先ず、本実施形態の構成と本発明の構成との対応関係を説明する。
図１に示す磁気ディスク装置１が、本発明に係る磁気ディスク装置に対応している。
図２に示す検査装置７０が本発明に係る検査装置に対応し、検査部７００が本発明に係る検査手段に対応している。
図１に示す磁気ディスク１２が本発明に係る磁気ディスクに対応し、スピンドルモータ１４、ＶＣＭ１６、およびヘッド１７が本発明に係る駆動部に対応する。
【００１５】
図３に示すステップＳＴ２が、第１の発明の第１のステップに対応し、ステップＳＴ３〜ＳＴ６が第１の発明の第２のステップに対応している。
また、図３に示すステップＳＴ２が、第３の発明の第１のステップに相当し、ステップＳＴ３が第３の発明の第２のステップに相当している。
【００１６】
〔磁気ディスク装置〕
図１は、本発明の検査装置の検査対象の一実施形態に係る磁気ディスク装置１の全体構成図である。
図１に示すように、磁気ディスク装置１は、例えばＨＤＡ（Hard Disk Assembly）１０と処理部３０とを有する。
磁気ディスク装置１は、例えば、携帯型であり、オーディオデータの記録再生を行うシステムである。
磁気ディスク装置１では、出荷時に、ＨＤＡ１０および処理部３０が組み込まれ、処理部３０がＨＤＡ１０の磁気ディスク１２にサーボ信号を書き込む、いわゆるセルフサーボライト方式を採用する。
【００１７】
以下、図１に示すＨＤＡ１０および処理部３０について説明する。
〔ＨＤＡ１０〕
図１に示すように、ＨＤＡ１０は、例えば磁気ディスク１２、スピンドルモータ１４、ＶＣＭ（Voice Coil Motor）１６、ヘッド１７、処理回路１８およびインタフェース２０を有する。
ＨＤＡ１０は、外部からの粉塵の流入を防止するために密閉構造を有している。
【００１８】
磁気ディスク１２は、例えば同心円状に複数のセクタに分割された記憶領域を有する。また、磁気ディスク１２は、同心円状に形成された複数のトラックを有する。
スピンドルモータ１４は、磁気ディスク１２を回転する。
ＶＣＭ１６は、処理部３０のドライバ４０からの電流をコイルに流し、電磁誘導によりヘッド１７を磁気ディスク１２の半径方向に移動する。これにより、磁気ディスク１２上のアクセス位置にヘッド１７を移動する。
ヘッド１７は、磁気ディスク１２上の上記記録領域に対して近接して移動し、ヘッド１７の位置を規定するサーボ信号に基づいて、セクタやトラックに対して信号、例えばオーディオ信号の書き込み、並びに当該セクタやトラックからの信号の読み出しを行う。
【００１９】
処理回路１８は、ヘッド１７が磁気ディスク１２から読み出した信号を増幅してインタフェース２０を介して処理部３０に出力する。
また、処理回路１８は、処理部３０から入力した書き込み対象の信号をヘッド１７に出力する。
【００２０】
〔処理部３０〕
図１に示すように、処理部３０は、例えば、ＨＤＡインタフェース３１、液晶ディスプレイ３２、電源回路３４、フラッシュメモリ３６、ＳＤＲＡＭ（Synchronous DRAM）３８、ドライバ４０、液晶ドライバ５２、インタフェース５４、ＵＳＢ（Universal Serial Bus）インタフェース５６、コーディック５８、変換回路６０、ＨＤＣ（Hard Disk Controller）６２、ＤＭＡＣ（Direct Memory Access Controller）６４およびＣＰＵ（Central Processing Unit）６６を有する。
【００２１】
本実施形態において、液晶ドライバ５２、インタフェース５４、ＵＳＢインタフェース５６、コーディック５８、ＲＤＣ６０、ＨＤＣ６２、ＤＭＡＣ６４およびＣＰＵ６６は、例えば半導体集積回路５９によって一体的に構成される。
【００２２】
ＨＤＡインタフェース３１は、ＨＤＡ１０のインタフェース２０と接続され、ＨＤＡ１０との間でデータ入出力を行う。
液晶ディスプレイ３２は、液晶ドライバ５２からの制御に応じて画面表示を行う。当該画面は、例えば、操作画面である。
電源回路３４は、処理部３０の各構成要素に電力を供給する。
フラッシュメモリ３６は、ＣＰＵ６６の処理を規定するプログラムＰＲＧを記憶する。プログラムＰＲＧは、Ｆ／Ｗ（Firm Ware）である。
ＳＤＲＡＭ３８は、処理部３０の処理に関するデータを記憶する。
ドライバ４０は、ＨＤＣ６２からの制御に従って、ＨＤＡ１０のスピンドルモータ１４およびＶＣＭ１６に制御信号を出力する。
【００２３】
液晶ドライバ５２は、ＣＰＵ６６からの制御信号に基づいて、液晶ディスプレイ３２の表示制御を行う。
インタフェース５４およびＵＳＢインタフェース５６は、処理部３０の外部とデータ入出力を行う。
コーディック５８は、例えばＨＤＡ１０から読み出したオーディオデータの復号（デコード）、並びにＨＤＡ１０に書き込むオーディオデータの符号化（エンコード）を行う。
変換回路６０は、ＨＤＡ１０から読み出された信号のフィルタ処理（イコライザ処理）およびＡ／Ｄ変換などの処理を行い、当該処理によって得たオーディオデータをＨＤＣ６２に出力する。すなわち、変換回路６０は、いわゆるリードチャンネルとしての機能を持つ。
また、変換回路６０は、ＨＤＣ６２から入力した書き込み対象のオーディオデータをＤ／Ａ変換してオーディオ信号を生成し、これをＨＤＡ１０に出力する。
【００２４】
ＨＤＣ６２は、ＣＰＵ６６からの制御に従って、ＨＤＡ１０へのアクセスを統括的に制御する。
ＣＰＵ６６は、処理部３０の動作を統括的に制御する。例えばＣＰＵ６６は、フラッシュメモリ３６から読み出したプログラムＰＲＧに従って各制御を行う。
【００２５】
ＣＰＵ６６は、例えば磁気ディスク装置１に、ＨＤＡ１０および処理部３０を組み込み時に、サーボ信号をＨＤＡ１０に書き込む処理を行う。
詳細には、ＣＰＵ６６は、ＨＤＡ１０および処理部３０を磁気ディスク装置１に組み込み時に、駆動部としてのスピンドルモータ１４、ＶＣＭ１６、ヘッド１７および処理回路１８等を制御して磁気ディスク１２へサーボ信号を書き込む。
【００２６】
例えばＣＰＵ６６は、書き込み指示として、ＨＤＡ１０と処理部３０が組み込み時に電気的に接続したことを検出した場合をトリガとしてもよいし、外部からその旨を示す指示信号を書き込み指示のトリガとしてもよい。
【００２７】
〔検査装置７０〕
図２は、本発明の一実施形態に係る検査装置７０の機能ブロック図である。
図２に示すように、検査装置７０は、例えば検査部７００を有する。
【００２８】
〔検査部７００〕
検査部７００は、ＨＤＡ１０を磁気ディスク装置１に組み込む前に、磁気ディスク１２の磁気変換特性を検査する。
また、検査部７００は、その検査により、磁気ディスク１２の磁気変換特性が適正であることを条件に、ＨＤＡ１０および処理部３０を磁気ディスク装置１に組み込む。
詳細には、検査部７００は、その検査により、磁気ディスク１２の磁気変換特性が適正であることを条件に、ＨＤＡ１０および処理部３０を磁気ディスク装置１に組み込む指示を示す信号を、不図示の組立装置に出力する。組立装置はその信号が入力されると、ＨＤＡ１０および処理部３０を磁気ディスク装置１に組み込む。
【００２９】
また、検査部７００は、例えば単一周波数特性の検査信号を磁気ディスク１２に書き込んだ後、当該磁気ディスクから検査信号を読み出して、当該読み出した信号を基に磁気変換特性の検査を行う。
検査信号は、例えば周波数特性として、約２ＭＨｚ〜数１０ＭＨｚ程度の単一周波数特性のＲＦ信号である。
この検査信号は、磁気ディスク１２の磁気変換特性、つまりヘッド１７により磁気ディスク１２に書き込んだ信号が、ヘッド１７により所定の強度の信号を読み出せるか否かを検査する際に用いられる。
この検査信号の周波数としては、検査対象の磁気ディスク１２の磁気変換特性を検査するのに最適な周波数を設定する。
【００３０】
以下、検査部７００の一具体例を説明する。
図２に示すように、検査部７００は、例えば、ＨＤＡインタフェース７１、液晶ディスプレイ７２、液晶ドライバ７３、電源回路７４、メモリ７５、ドライバ７６、変換回路７７、ＨＤＣ７８およびＣＰＵ７９を有する。
【００３１】
ＨＤＡインタフェース７１は、ＨＤＡ１０のインタフェース２０と接続され、ＨＤＡ１０との間でデータ入出力を行う。
液晶ディスプレイ７２は、液晶ドライバ７３からの制御に応じて画面表示を行う。当該画面は、例えば、検査操作画面である。
液晶ドライバ７３は、ＣＰＵ７９からの制御信号に基づいて、液晶ディスプレイ７２の表示制御を行う。
電源回路７４は、検査装置７０の各構成要素に電力を供給する。
【００３２】
メモリ７５は、ＣＰＵ７９の処理を規定する本発明に係る機能を実現するためのプログラムＰＲＧを記憶する。
ドライバ７６は、ＨＤＣ７８からの制御に従って、ＨＤＡ１０のスピンドルモータ１４およびＶＣＭ１６に制御信号、例えば検査信号を書き込み、および読み出しのためのヘッド位置を制御する制御信号や、スピンドルモータ１４を回転させる制御信号を出力する。
【００３３】
変換回路７７は、ＨＤＣ７８の制御により、例えば検査信号をＨＤＡインタフェース７１を介して、ＨＤＡ１０の処理回路１８に出力する。
また、変換回路７７は、ＨＤＣ７８の制御により、ＨＤＡ１０から読み出された検査信号の信号処理を行い、ＨＤＣ７８に出力する。
【００３４】
ＨＤＣ７８は、ＣＰＵ７９からの制御に従って、ＨＤＡ１０へのアクセスを統括的に制御する。
ＣＰＵ７９は、ＨＤＡ１０を磁気ディスク装置１に組み込む前に、ＨＤＡ１０の駆動部を制御して磁気ディスク１２の磁気変換特性を検査する。
詳細には、ＣＰＵ７９は、例えばＨＤＣ７８に、検査信号を磁気ディスクに書き込ませる制御信号を出力し、ＨＤＣ７８に、当該磁気ディスク１２から検査信号を読み出させる制御信号を出力し、当該読み出した信号を基に磁気変換特性の検査を行う。
【００３５】
以下、本発明に係る動作を説明する。
〔動作例〕
図３は、図１および図２に示した磁気ディスク装置および検査装置の動作を説明するためのフローチャートである。
図３を参照しながら、磁気ディスク装置１の製造方法を、検査装置７０のＣＰＵ７９および磁気ディスク装置１のＣＰＵ６６の動作を中心に説明する。
【００３６】
ステップＳＴ１において、ＨＤＡ１０を製造する。詳細には、例えば不図示の組立装置が、磁気ディスク１２、スピンドルモータ１４、ＶＣＭ１６、ヘッド１７、および処理回路１８等をＨＤＡ１０に組み込むことで、ＨＤＡ１０を製造する。
この際、磁気ディスク１２には、ヘッド１７のヘッド位置を規定するサーボ信号は、書き込まれていない。
【００３７】
ステップＳＴ２において、検査装置７０の検査部７００は、ＨＤＡ１０を磁気ディスク装置１に組み込む前に、磁気ディスク１２の磁気変換特性を検査する。
例えば、検査装置７０のＨＤＡインタフェース７１と、ＨＤＡ１０のインタフェース２０を電気的に接続して検査を行う。磁気変換特性の検査の詳細な動作については後述する。
【００３８】
ステップＳＴ３において、検査装置７０の検査部７００は、その検査により、磁気ディスク１２の磁気変換特性が適正か否かを判別する。
例えば、検査装置７０の検査部７００は、その検査により、磁気ディスク１２の磁気変換特性が適正である場合には、その旨やＨＤＡ１０と処理部３０を磁気ディスク装置１に組み込む指示を、不図示の組立装置に出力する。
【００３９】
ステップＳＴ４において、磁気変換特性が適正であることを条件に、ＨＤＡ１０および処理部３０を磁気ディスク装置１に組み込む。
詳細には、例えば、不図示の組立装置は、検査装置７０から、ＨＤＡ１０と処理部３０を磁気ディスク装置１に組み込む指示が入力されると、ＨＤＡ１０および処理部３０を磁気ディスク装置１に組み込み、ＨＤＡ１０のインタフェース２０と、ＨＤＡインタフェース３１を電気的に接続する。
【００４０】
ステップＳＴ５において、組み込まれた処理部３０が、ＨＤＡ１０のＶＣＭ１６や処理回路１８等の駆動部を制御して、磁気ディスク１２へサーボ信号を書き込む（セルフサーボライト）。
【００４１】
一方、ステップＳＴ３において、検査部７００のＣＰＵ７９が、磁気変換特性が適正でないと判断した場合には、そのＨＤＡ１０を破棄する（ＳＴ６）。
詳細には、検査部７００のＣＰＵ７９が、磁気変換特性が適正でないと判断した場合には、その旨を示す信号を組立装置に出力する。組立装置はその信号が入力されると、そのＨＤＡ１０を破棄する。
【００４２】
〔磁気変換特性の検査〕
図４は、図３に示した検査装置７０および処理部３０の動作の一具体例を説明するためのフローチャートである。図３に示したステップＳＴ２〜ＳＴ４の磁気変換特性の検査に係る動作について、図４を参照しながらより詳細に説明する。
【００４３】
ステップＳＴ１１において、検査装置７０の検査部７００は、組み込み前に、ＨＤＡ１０に検査信号を書き込む。
詳細には、検査部７００のＣＰＵ７９は、検査信号を書き込ませる制御信号をＨＤＣ７８に出力する。ＨＤＣ７８は、その制御信号を受けて、ドライバ７６および変換回路７７を制御し、ＨＤＡ１０の駆動部を制御して検査信号を磁気ディスク１２に書き込む。
【００４４】
ステップＳＴ１２において、その後検査部７００は、ＨＤＡ１０から検査信号を読み出す。
詳細には、検査部７００のＣＰＵ７９は、ＨＤＡ１０から検査信号を読み出させる制御信号を、ＨＤＣ７８に出力する。ＨＤＣ７８は、その制御信号を受けて、ドライバ７６および変換回路７７を制御し、ＨＤＡ１０の駆動部を制御して検査信号を読み出して、ＣＰＵ７９に出力する。
【００４５】
ステップＳＴ１３において、ＣＰＵ７９は、例えば、書き込んだ検査信号と、読み出した検査信号に基づいて、磁気ディスク１２の磁気変換特性が適切か否かを判別する。
詳細には、例えば、ＣＰＵ７９は、検査信号として、単一周波数特性の検査信号を磁気ディスク１２に書き込んだ場合には、磁気ディスク１２から読み出した検査信号のレベルと所定値とを比較することで、磁気ディスク１２の磁気変換特性が適正か否かを判別する。
【００４６】
ステップＳＴ１５において、磁気変換特性が適切であると判別した場合には、ＨＤＡ１０および処理部３０を磁気ディスク装置１に組み込む。詳細には、例えばＣＰＵ７９は、ＨＤＡ１０と処理部３０を磁気ディスク装置１に組み込む指示を示す信号を出力する。不図示の組立装置は、その組み込む指示を示す信号が入力されると、ＨＤＡ１０および処理部３０を磁気ディスク装置１に組み込み、ＨＤＡ１０のインタフェース２０と、ＨＤＡインタフェース３１を電気的に接続する。
【００４７】
一方、ステップＳＴ１４において、磁気変換特性が適切でないと判別した場合には、ＨＤＡ１０を破棄する。
詳細には、ＣＰＵ７９は、磁気変換特性が適切でないと判別した場合には、その旨を示す信号を組立装置に出力する。組立装置は、その信号が入力された場合には、ＨＤＡ１０を破棄する（ＳＴ１６）。
【００４８】
以上、説明したように、ＨＤＡ１０を磁気ディスク装置１に組み込む前に、磁気ディスク１２の磁気変換特性を検査し、その検査により、磁気ディスク１２の磁気変換特性が適正であることを条件に、ＨＤＡ１２および処理部３０を磁気ディスク装置１に組み込み、組み込まれた処理部３０がＨＤＡ１０の駆動部を制御して、磁気ディスク１２へサーボ信号を書き込むので、不良な磁気ディスクが組み込まれた磁気ディスク装置の割合を少なくすることができる。
また、組み込み後に、不良な磁気ディスクが組み込まれた磁気ディスク装置１の割合が少なくなるので、組込み後に磁気ディスクの不良が発覚して、磁気ディスク装置全体を破棄する場合と比べて、無駄なコストを低減することができる。
【００４９】
詳細には、ＨＤＡ１０を組み込み前に、ＨＤＡ１０の磁気ディスク１２に磁気変換特性が適正でない場合、例えば磁気変換特性が所定値よりも小さい場合には、その段階でＨＤＡ１０を破棄するので、組み込み後の磁気ディスク装置１全体を破棄することがない。
【００５０】
また、検査信号として、単一周波数特性の検査信号をＨＤＡ１０の磁気ディスク１２に書き込み、その信号を読み出してその信号レベルが所定値以上か否かを判別するという簡単な検査により磁気変換特性を検査することで、例えば組み込む前に磁気ディスク１２全体にサーボ信号を書き込み、その信号を読み出して検査する場合と比べて短時間で、ＨＤＡ１０の磁気ディスク１２の不具合を検査することができる。
【００５１】
また、例えば、検査部７００のＣＰＵ７９は、検査信号として、所定の変調パターンの検査信号を磁気ディスク１２に書き込んだ後、当該磁気ディスクから検査信号を読み出して、当該読み出した信号を基に磁気変換特性の検査を行ってもよい。
所定の変調パターンは、例えば複数の周波数特性の検査信号であってもよいし、サーボ信号よりも簡単な変調パターンの検査信号であってもよい。
こうすることで、磁気ディスク１２のより詳細な磁気変換特性を検査することができる。
【００５２】
また、検査部７００のＣＰＵ７９は、検査信号として、磁気ディスク１２内の一部のトラックにのみ検査信号を書き込んだ後、当該一部のトラックから検査信号を読み出して、当該読み出した信号を基に磁気変換特性の検査を行ってもよい。
例えば磁気ディスク１２内の外周トラック、中周トラック、内周トラックのいずれか、またはこれらのトラックの組み合わせや、所望のトラック等を検査する。
こうすることで、例えば磁気ディスク１２の全てのトラックに検査信号を書き込み、その信号を読み出して磁気ディスク１２の磁気変換特性を検査する場合と比べて、より短時間で、磁気ディスク１２の磁気変換特性の検査を行うことができる。
【００５３】
なお、本発明は本実施形態に限られるものではなく、任意好適な改変が可能である。
検査装置７０の検査部７００は、上述した構成でなくともよい。例えば、上述した発明に係る処理を行うことができる構成要素があればよい。例えば、単一周波数特性や所望の変調パターンの検査信号を、磁気ディスク１２に書き込む発振装置や、磁気ディスク１２から読み出した検査信号を読みとりＲＦ信号のレベルを測定する測定装置や、それらを制御して本発明の機能を実現する制御部とを備えればよい。
【００５４】
また、本実施形態では、検査装置７０の検査対象のＨＤＡ１０は、磁気ディスク１２や駆動部により構成されたが、この形態に限られるものではない。例えば、ＨＤＡ１０に処理部３０の機能を行う制御回路を設けてもよい。その場合であっても検査装置７０は、その処理回路を介して本発明に係る機能を実現する。
【図面の簡単な説明】
【００５５】
【図１】本発明の検査装置の検査対象の一実施形態に係る磁気ディスク装置の全体構成図である。
【図２】本発明の一実施形態に係る検査装置の機能ブロック図である。
【図３】図１および図２に示した磁気ディスク装置および検査装置の動作を説明するためのフローチャートである。
【図４】図３に示した検査装置および処理部の動作の一具体例を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
【００５６】
１…磁気ディスク装置、１０…ＨＤＡ、１２…磁気ディスク、１４…スピンドルモータ、１６…ＶＣＭ、１８…処理回路、２０…インタフェース、３０…処理部、３２…液晶ディスプレイ、３４…電源回路、３６…フラッシュメモリ、４０…ドライバ、５２…液晶ディスプレイ、５４…インタフェース、５６…ＵＳＢインタフェース、５８…コーディック、６０…変換回路、６２…ＨＤＣ、６４…ＤＭＡＣ、６６…ＣＰＵ、７０…検査装置、７１…ＨＤＡインタフェース、７２…液晶ディスプレイ、７３…液晶ドライバ、７４…電源回路、７５…フラッシュメモリ、７６…ドライバ、７７…変換回路、７８…ＨＤＣ、７９…ＣＰＵ、７００…検査部。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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