(57)【要約】【課題】  誤差適用のタイムラグを発生させず、ディザスクリーンの集中度を高め、小さな回路で、境界部の不連続を発生させず、解像度と階調性を両立させ、縞模様の発生を抑制する画像処理装置を提供する。【解決手段】  注目画素がエッジ的である度合いを表すエッジレベルを算出するエッジレベル検出部１１と、注目画素が中間濃度に近いかを表す輝度レベルを算出する輝度レベル検出部１２と、注目画素がディザ処理と誤差拡散処理とのいずれにより適するかをエッジレベルと輝度レベルとに基づいて算出する適合度算出部１３と、適合度に応じて閾値マトリクスを変動させるディザ閾値生成部１５１と、注目画素に対して量子化を行う量子化部１５２と、ディザ処理前と後の値で誤差を算出する発生誤差記憶部１５３と、誤差拡散元画素の誤差を注目画素用に累積する累積誤差算出部１５４と、累積誤差を注目画素に加える累積誤差加算部１５５とを画像処理装置に備える。【選択図】  図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
画像処理を行う画像データ内の処理対象画素である注目画素が、エッジ付近の画素である可能性の度合いを表すエッジレベルを算出するエッジレベル算出手段と、
前記注目画素の画素値が高濃度又は低濃度に近いか、中間濃度に近いかを表す輝度レベルを算出する輝度レベル算出手段と、
前記エッジレベル算出手段により算出された前記注目画素のエッジレベルと、前記輝度レベル算出手段により算出された前記注目画素の輝度レベルとを用いて所定の演算を行うことにより、その注目画素がディザ処理と誤差拡散処理とのいずれに、より適するかの割合を表す適合度を算出する適合度算出手段と、
前記適合度算出手段により算出された適合度が、ディザ処理に完全に適合することを示す値である場合には、当該注目画素に対する閾値を、予め定められた閾値マトリクスの、当該注目画素に対応する要素の値に設定し、前記適合度が誤差拡散処理に完全に適合することを示す値である場合には、当該注目画素に対する閾値を予め定められた値に設定し、前記適合度がディザ処理にも誤差拡散処理にも完全には適合しない値である場合には、当該注目画素に対する閾値を、前記閾値マトリクスの当該注目画素に対応する要素の値と、前記予め定められた値との間で前記適合度の示す割合に基づいて設定する閾値生成手段と、
誤差の加えられた前記注目画素に対して、前記閾値生成手段により生成された閾値を用いて量子化を行う量子化手段と、
前記量子化手段による量子化後の注目画素の値と、量子化前の注目画素の値との差分を誤差として算出する誤差算出手段と、
前記注目画素に対して誤差を加算する予め定められた１つ以上の画素について算出された前記誤差を、前記１つ以上の画素について予め定められた重みを付けて足し合わせて累積誤差を算出する累積誤差算出手段と、
前記累積誤差算出手段により算出された累積誤差と、当該注目画素について算出された前記適合度とを乗じた結果を、当該注目画素の値に加算する誤差加算手段と
を備え、
前記誤差加算手段により算出された値は、前記量子化手段により量子化が行われる、誤差の加えられた注目画素の画素値である画像処理装置。
【請求項２】
前記エッジレベル算出手段は、下記の式（Ａ）を用いてエッジレベルを算出する請求項１に記載の画像処理装置。
（ｍａｘ−ｍｉｎ）÷画素値定義範囲の最大値・・・（Ａ）
ただし、ｍａｘは、前記注目画素の位置に対して予め定められた複数の画素位置の画素の画素値の最大値、ｍｉｎは、前記注目画素の位置に対して予め定められた複数の画素位置の画素の画素値の最小値である。
【請求項３】
前記輝度レベル算出手段は、下記の式（Ｂ）を用いて輝度レベルを算出する請求項１又は２に記載の画像処理装置。
｜注目画素の画素値−画素値定義範囲の中央値｜÷画素値定義範囲の中央値・・・（Ｂ）
【請求項４】
前記適合度算出手段は、前記エッジレベル算出手段により算出された前記エッジレベルと、前記輝度レベル算出手段により算出された前記輝度レベルとのいずれか大きい方を前記適合度として算出する請求項２又は３に記載の画像処理装置。
【請求項５】
前記適合度算出手段は、前記エッジレベル算出手段により算出された前記エッジレベルと、前記輝度レベル算出手段により算出された前記輝度レベルとを乗じた値を前記適合度として算出する請求項２又は３に記載の画像処理装置。
【請求項６】
画像処理を行う画像データ内の処理対象画素である注目画素が、エッジ付近の画素である可能性の度合いを表すエッジレベルを算出するエッジレベル算出手段と、
前記注目画素の画素値が高濃度又は低濃度に近いか、中間濃度に近いかを表す輝度レベルを算出する輝度レベル算出手段と、
前記エッジレベル算出手段により算出された前記注目画素のエッジレベルと、前記輝度レベル算出手段により算出された前記注目画素の輝度レベルとを用いて所定の演算を行うことにより、その注目画素がディザ処理と誤差拡散処理とのいずれに、より適するかの割合を表す適合度を算出する適合度算出手段と、
前記適合度算出手段により算出された適合度が、ディザ処理に完全に適合することを示す値である場合には、当該注目画素に対する閾値を、予め定められた閾値マトリクスの、当該注目画素に対応する要素の値に設定し、前記適合度が誤差拡散処理に完全に適合することを示す値である場合には、当該注目画素に対する閾値を予め定められた値に設定し、前記適合度がディザ処理にも誤差拡散処理にも完全には適合しない値である場合には、当該注目画素に対する閾値を、前記閾値マトリクスの当該注目画素に対応する要素の値と、前記予め定められた値との間で前記適合度の示す割合に基づいて設定する閾値生成手段と、
誤差の加えられた前記注目画素に対して、前記閾値生成手段により生成された閾値を用いて量子化を行う量子化手段と、
前記量子化手段による量子化後の注目画素の値と、量子化前の注目画素の値との差分を誤差として算出する誤差算出手段と、
前記注目画素に対して誤差を加算する予め定められた１つ以上の画素について算出された前記誤差を、前記１つ以上の画素について予め定められた重みを付けて足し合わせて累積誤差を算出する累積誤差算出手段と、
前記累積誤差算出手段により算出された累積誤差と、当該注目画素について算出された前記適合度とを乗じた結果を、当該注目画素の値に加算する誤差加算手段と
を備え、
前記誤差加算手段により算出された値は、前記量子化手段により量子化が行われる、誤差の加えられた注目画素の画素値であるようにコンピュータを機能させる画像処理プログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、画像データに対して疑似階調のための画像処理を行う画像処理装置及び画像処理プログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、多くの画像形成装置においては、限られた出力階調でより多くの階調を疑似的に表現するために誤差拡散処理や、ディザ処理等の画像処理を画像データに対して行っている。誤差拡散処理及びディザ処理はそれぞれ、処理対象の画像の特性、すなわち文字領域であるか、写真領域であるかによって適不適があるため、画像の領域によって、誤差拡散処理及びディザ処理を切り替えて画像処理を行う方法も提案されている。
【０００３】
例えば、周期的に変動する閾値からなる閾値マトリクスを用いて画素を量子化し、その画素に対して予め検出したエッジ量（この画素がエッジ付近にある度合いを表す量）に応じて誤差の量を制御する画像処理装置（第１従来技術）や、画像データがディザ法及び誤差拡散法のいずれに適するかの度合いである適合度を画像の輝度値を基に求め、適合度に基づき変動又は固定の閾値を決定すると共に、適合度に応じた係数を誤差拡散マトリクスの各係数に乗じて誤差拡散マトリクスサイズを制御する画像処理装置（第２従来技術）がある。
【０００４】
また、下記特許文献１には、誤差拡散法の弱点を補うことを目的として、周期的に振動する閾値からなる閾値マトリクス内の閾値に予め検出したエッジ量に応じた係数を乗じて、閾値変化の振動幅を制御すると共に、複数の閾値マトリクスを相対的に半位相シフトさせることによりディザスクリーンの角度を可変にする画像処理装置が記載されている。
【特許文献１】特開２００１−２９２３１９号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００５】
しかしながら、上記第１従来技術の画像処理装置の場合には、誤差拡散に用いる誤差の量を制御（動的に変更）しているため、注目画素のエッジ量ではなく、既に処理された画素のエッジ量に基づいて注目画素に適用される誤差量が決定されるので、誤差の適用にタイムラグが発生してしまう。上記第２従来技術の場合には、誤差拡散マトリクスの全係数に対して適合度を乗じるため、回路規模が大きくなってしまう。また、上記特許文献１に記載の画像処理装置の場合には、誤差に対する制御を行わないため、ディザスクリーンの集中度が低くなってしまう。
【０００６】
本発明は、上記問題点に鑑みて成されたもので、誤差の適用にタイムラグを発生させず、ディザスクリーンの集中度を高め、回路を大きくすることなく、誤差拡散処理とディザ処理とを切り替える際に境界部の不連続を発生させず、文字領域の解像度と写真領域の階調性とを両立させ、誤差拡散独特の縞模様の発生を抑制する画像処理装置及び画像処理プログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
請求項１に係る画像処理装置は、画像処理を行う画像データ内の処理対象画素である注目画素が、エッジ付近の画素である可能性の度合いを表すエッジレベルを算出するエッジレベル算出手段と、前記注目画素の画素値が高濃度又は低濃度に近いか、中間濃度に近いかを表す輝度レベルを算出する輝度レベル算出手段と、前記エッジレベル算出手段により算出された前記注目画素のエッジレベルと、前記輝度レベル算出手段により算出された前記注目画素の輝度レベルとを用いて所定の演算を行うことにより、その注目画素がディザ処理と誤差拡散処理とのいずれに、より適するかの割合を表す適合度を算出する適合度算出手段と、前記適合度算出手段により算出された適合度が、ディザ処理に完全に適合することを示す値である場合には、当該注目画素に対する閾値を、予め定められた閾値マトリクスの、当該注目画素に対応する要素の値に設定し、前記適合度が誤差拡散処理に完全に適合することを示す値である場合には、当該注目画素に対する閾値を予め定められた値に設定し、前記適合度がディザ処理にも誤差拡散処理にも完全には適合しない値である場合には、当該注目画素に対する閾値を、前記閾値マトリクスの当該注目画素に対応する要素の値と、前記予め定められた値との間で前記適合度の示す割合に基づいて設定する閾値生成手段と、誤差の加えられた前記注目画素に対して、前記閾値生成手段により生成された閾値を用いて量子化を行う量子化手段と、前記量子化手段による量子化後の注目画素の値と、量子化前の注目画素の値との差分を誤差として算出する誤差算出手段と、前記注目画素に対して誤差を加算する予め定められた１つ以上の画素について算出された前記誤差を、前記１つ以上の画素について予め定められた重みを付けて足し合わせて累積誤差を算出する累積誤差算出手段と、前記累積誤差算出手段により算出された累積誤差と、当該注目画素について算出された前記適合度とを乗じた結果を、当該注目画素の値に加算する誤差加算手段とを備え、前記誤差加算手段により算出された値は、前記量子化手段により量子化が行われる、誤差の加えられた注目画素の画素値であるものである。
【０００８】
この構成によれば、注目画素に対してエッジレベルと輝度レベルとがそれぞれエッジレベル算出手段及び輝度レベル算出手段により求められ、求められたエッジレベルと輝度レベルとに応じて適合度が適合度算出手段により算出され、この適合度を用いて、ディザ処理に用いる閾値マトリクスの値が注目画素に合わせて閾値生成手段により生成され、この閾値マトリクスを用いて量子化手段によりディザ処理が注目画素に施されて画像処理後の画素データが生成される。一方、注目画素のもとの値とディザ処理後の画像データとの誤差が誤差算出手段により求められ、他の画素が注目画素となったときには、誤差算出手段により求められた、新たに注目画素となった画素以外の所定の画素に関する誤差が累積誤差算出手段により累積され、誤差加算手段によりこの累積誤差が新たな注目画素に加算された後、量子化手段により量子化に用いられる。
【０００９】
請求項２に係る画像処理装置は、請求項１に記載の画像処理装置であって、前記エッジレベル算出手段は、下記の式（Ａ）を用いてエッジレベルを算出する。
【００１０】
（ｍａｘ−ｍｉｎ）÷画素値定義範囲の最大値・・・（Ａ）
ただし、ｍａｘは、前記注目画素の位置に対して予め定められた複数の画素位置の画素の画素値の最大値、ｍｉｎは、前記注目画素の位置に対して予め定められた複数の画素位置の画素の画素値の最小値である。
【００１１】
請求項３に係る画像処理装置は、請求項１又は２に記載の画像処理装置であって、前記輝度レベル算出手段は、下記の式（Ｂ）を用いて輝度レベルを算出するものである。
【００１２】
｜注目画素の画素値−画素値定義範囲の中央値｜÷画素値定義範囲の中央値・・・（Ｂ）
【００１３】
請求項４に係る画像処理装置は、請求項２又は３に記載の画像処理装置であって、前記適合度算出手段は、前記エッジレベル算出手段により算出された前記エッジレベルと、前記輝度レベル算出手段により算出された前記輝度レベルとのいずれか大きい方を前記適合度として算出するものである。
【００１４】
請求項５に係る画像処理装置は、請求項２又は３に記載の画像処理装置であって、前記適合度算出手段は、前記エッジレベル算出手段により算出された前記エッジレベルと、前記輝度レベル算出手段により算出された前記輝度レベルとを乗じた値を前記適合度として算出するものである。
【００１５】
請求項６に係る画像処理プログラムは、画像処理を行う画像データ内の処理対象画素である注目画素が、エッジ付近の画素である可能性の度合いを表すエッジレベルを算出するエッジレベル算出手段と、前記注目画素の画素値が高濃度又は低濃度に近いか、中間濃度に近いかを表す輝度レベルを算出する輝度レベル算出手段と、前記エッジレベル算出手段により算出された前記注目画素のエッジレベルと、前記輝度レベル算出手段により算出された前記注目画素の輝度レベルとを用いて所定の演算を行うことにより、その注目画素がディザ処理と誤差拡散処理とのいずれに、より適するかの割合を表す適合度を算出する適合度算出手段と、前記適合度算出手段により算出された適合度が、ディザ処理に完全に適合することを示す値である場合には、当該注目画素に対する閾値を、予め定められた閾値マトリクスの、当該注目画素に対応する要素の値に設定し、前記適合度が誤差拡散処理に完全に適合することを示す値である場合には、当該注目画素に対する閾値を予め定められた値に設定し、前記適合度がディザ処理にも誤差拡散処理にも完全には適合しない値である場合には、当該注目画素に対する閾値を、前記閾値マトリクスの当該注目画素に対応する要素の値と、前記予め定められた値との間で前記適合度の示す割合に基づいて設定する閾値生成手段と、誤差の加えられた前記注目画素に対して、前記閾値生成手段により生成された閾値を用いて量子化を行う量子化手段と、前記量子化手段による量子化後の注目画素の値と、量子化前の注目画素の値との差分を誤差として算出する誤差算出手段と、前記注目画素に対して誤差を加算する予め定められた１つ以上の画素について算出された前記誤差を、前記１つ以上の画素について予め定められた重みを付けて足し合わせて累積誤差を算出する累積誤差算出手段と、前記累積誤差算出手段により算出された累積誤差と、当該注目画素について算出された前記適合度とを乗じた結果を、当該注目画素の値に加算する誤差加算手段とを備え、前記誤差加算手段により算出された値は、前記量子化手段により量子化が行われる、誤差の加えられた注目画素の画素値であるようにコンピュータを機能させるものである。
【発明の効果】
【００１６】
請求項１〜６のいずれかに記載の発明によれば、累積誤差に対して適合度を乗じることにより、注目画素の適合度に応じた誤差の制御を行うため誤差拡散のタイムラグを発生させることなく、累積誤差量を制御することにより、ディザスクリーンの集中度を高め、累積誤差の合計値に適合度を乗じることにより、回路規模を抑制し、かつ、誤差拡散処理とディザ処理を切り替える際に境界部の不連続を発生させず、文字領域の解像度と写真領域の階調性を両立させ、誤差拡散独特の縞模様の発生を抑制できる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明に係る実施形態を図面に基づいて説明する。図１は、本発明の一実施形態に係る画像形成装置に備えられる画像処理装置の機能構成を示すブロック図である。画像処理装置１は、限られた出力階調でより多くの階調を疑似的に表現する疑似階調処理を画像データに対して行うもので、例えば記録紙やディスプレイ等に画像を出力する画像出力装置（画像形成装置を含む。）に備えられる。画像処理装置１は、例えばハードウェア回路として実装される。
【００１８】
複合機２は、プリンタ機能等を備える複写機で、機能構成として、画像データ取得部２１、画像処理装置１、及び印刷部２２を備える。画像データ取得部２１は、当該複合機２の原稿載置部に載置された原稿から画像を読み取ったり、当該複合機２にネットワーク等により接続されたＰＣ等からの画像データを受信することにより画像データを取得するものである。画像データ取得部２１は、所定の順序（例えば走査順序）で１画素ずつのデータを画像処理装置１に入力する。印刷部２２は、画像処理装置１で画像処理の終了した画像データを１画素ずつ取得し、例えば記録紙にこの画像を印刷する。
【００１９】
画像処理装置１は、エッジレベル検出部１１、輝度レベル検出部１２、階調処理適合度算出部１３、信号遅延部１４、及び画像処理部１５を備える。画像処理部１５は、ディザ閾値生成部１５１、量子化部１５２、発生誤差記憶部１５３、及び累積誤差算出部１５４を備える。エッジレベル検出部１１及び信号遅延部１４には、処理対象の画像データの画素の画素値が１画素ずつ所定の順序（例えば走査順）で順次入力される。画像処理装置１は、この入力された画素を注目画素として処理を行う。本実施形態においては、画素値は０〜２５５の２５６階調とする。
【００２０】
エッジレベル検出部１１は、注目画素がエッジ付近の画素である可能性の度合いを表すエッジレベルを算出するものである。エッジレベル検出部１１は、０〜１の間の値でエッジレベルを表し、注目画素がエッジ付近にある可能性の高い場合には１に近い値となり、その可能性が低い場合には０に近い値となるようにエッジレベルを算出する。エッジレベル検出部１１は、注目画素の画素位置に対する所定の画素位置の画素（例えば注目画素を中心とした３×３画素）に基づいて例えば下記の式（Ａ）により注目画素のエッジレベルを算出する。
【００２１】
（３×３画素領域のｍａｘ値−３×３画素領域のｍｉｎ値）÷２５５・・・（Ａ）
ここで、３×３画素領域のｍａｘ値は、上記３×３画素の各画素値のうちで最も大きいもの、３×３画素領域のｍｉｎ値は、上記３×３画素の各画素値のうちで最も小さいもの、２５５は、画素値の定義における最大の画素値である。
【００２２】
輝度レベル検出部１２は、注目画素の濃度が中間濃度付近であるか高濃度及び低濃度付近であるかの度合いを表す輝度レベルを算出するものである。輝度レベル検出部１２は、０〜１の間の値で輝度レベルを表し、注目画素の画素値が高濃度及び低濃度である場合には１に近い値となり、中間濃度である場合には０に近い値となるように輝度レベルを算出する。輝度レベル検出部１２は、画素値に基づいて例えば下記の式（Ｂ）により注目画素の輝度レベルを算出する。
【００２３】
｜注目画素の画素値−１２７｜÷１２８・・・（Ｂ）
ここで、１２７は、画素値の定義における中央値である。本実施形態においては、実際の中央値（１２７．５）に隣接する画素値（１２７及び１２８）のいずれを用いてもよい。１２８は、上記中央値に隣接する画素値の大きい方である。
【００２４】
階調処理適合度算出部１３は、エッジレベルと輝度レベルとを基に、注目画素がディザ処理に適するか誤差拡散処理に適するかの度合い（適合度）を算出するものである。階調処理適合度算出部１３は、０〜１の間の値で適合度を表し、誤差拡散処理により適する場合には１に近い値、ディザ処理により適する場合には０に近い値となるように適合度を算出する。エッジ部分の画素や高濃度及び低濃度の画素は誤差拡散処理に適し、エッジ以外の部分の画素や中間濃度の画素はディザ処理に適するため、階調処理適合度算出部１３は、エッジ部分の画素や高濃度及び低濃度の画素に対しては適合度が１に近い値、エッジ以外の部分の画素や中間濃度の画素に対しては適合度が０に近い値になるように算出する。これには、例えば（イ）エッジレベル及び輝度レベルの大きい方の値を適合度としたり、（ロ）エッジレベルと輝度レベルとを乗じた値を適合度とする。また、エッジレベル又は／及び輝度レベルにＬＵＴ（ルックアップテーブル）や演算器を用いて変換を施した値に対して、上記（イ）又は（ロ）を行ったり、上記（イ）又は（ロ）を行った後の値にＬＵＴ（ルックアップテーブル）や演算器を用いて変換を施したものを適合度としてもよい。
【００２５】
ディザ閾値生成部１５１は、当該注目画素に適用する閾値を、予め記憶する閾値マトリクスから生成するものである。閾値マトリクスは、ディザ処理において各画素に適用する閾値を画素の位置関係に基づきマトリクスとして保持したもので、それぞれ異なる閾値をマトリクス要素として有するものである。ディザ処理により注目画素は、その画素位置に基づく所定の（閾値マトリクスの）要素（閾値）を用いて二値化される。ディザ閾値生成部１５１は、予め定められた閾値マトリクス（図２（１）参照）を記憶しておき、この閾値マトリクスの当該注目画素に対応する要素（例えば、図２（１）において太枠で囲んだ要素）の値から画素値（階調）の中央値（１２７）を減算し（図２（２）参照）、１から適合度を減じた値をこの減算結果に乗じ（図２（３）参照）、更にこの乗算結果に上記中央値（１２７）を加算して（図２（４）参照）、当該注目画素用の閾値を算出する。図２は、画像処理装置１による１画素分（注目画素）の画像処理の処理の流れの例を、適合度が０．７５の場合の注目画素について示した図である。図２のマトリクス（１）から（４）までがディザ閾値生成部１５１による閾値生成の流れを示している。適合度が１に近い場合には、閾値は上記中央値に近づき、適合度が０に近い場合には、閾値は上記予め定められた閾値マトリクスの対応する要素の値に近づく。
【００２６】
量子化部１５２は、当該注目画素を上記閾値を用いて量子化（二値化）するものである。量子化部１５２は、後述する累積誤差に適合度を乗じた値（図２（５）参照）に注目画素の画素値を加算した誤差の加わった注目画素（図２（６）参照）の画素値を累積誤差加算部１５５から受信すると共に、当該注目画素用の閾値（図２（４）参照）をディザ閾値生成部１５１から受信し、当該閾値に基づき上記注目画素の画素値を二値化（例えば０又は２５５）し（図２（７）参照）、画像処理装置１から出力する。
【００２７】
発生誤差記憶部１５３は、量子化前のデータと量子化後のデータとの差分を誤差として算出し、当該注目画素の誤差として記憶するものである。発生誤差記憶部１５３は、量子化部１５２の生成した量子化後の画素値（図２（７）参照）と、誤差の加わった注目画素の画素値（図２（６）参照）との差分を誤差（図２（８）参照）として記憶する。
【００２８】
累積誤差算出部１５４は、既に求められた各画素の誤差を用いて、当該注目画素の画素値に加える誤差値を算出するものである。累積誤差算出部１５４は、当該注目画素に加える誤差の寄与元となる画素の位置及びその寄与率について予め定めた、予め累積誤差算出部１５４に記憶されている誤差拡散マトリクスに基づき、誤差拡散マトリクスの要素である画素位置の画素について先に求められた誤差値を、上記寄与率に基づいて加え合わせた累積誤差を算出し、当該注目画素の適合度をこの累積誤差に掛け合わせた値を累積誤差加算部１５５に送信する。
【００２９】
累積誤差加算部１５５は、累積誤差算出部１５４から受信した、適合度が掛け合わされた累積誤差に、信号遅延部１４から受信した注目画素の画素値を加算して、誤差が加わった注目画素の画素値を生成する。
【００３０】
信号遅延部１４は、量子化部１５２に入力される閾値が、同時期に量子化部１５２に入力される（誤差の加わった）注目画素に対応するものとなるように、当該画像処理装置１に入力された画素データ（画素値）をエッジレベル検出部１１及び輝度レベル検出部１２に入力するタイミングから遅延させて累積誤差加算部１５５に入力するものである。
【００３１】
このように本実施形態においては、注目画素に対してエッジレベルと輝度レベルとを求め、求めたエッジレベルと輝度レベルとに応じて適合度を算出し、この適合度を用いて、ディザ処理に用いる閾値マトリクスの値を変動させると共に、誤差拡散処理に用いる累積誤差の値を変動させ、ディザ処理をより強く行うか誤差拡散処理をより強く行うかを制御するようにしたので、誤差の適用にタイムラグを発生させず、ディザスクリーンの集中度を高め、回路を大きくすることなく、誤差拡散処理とディザ処理を切り替える際に境界部の不連続を発生させず、文字領域の解像度と写真領域の階調性を両立させ、誤差拡散独特の縞模様の発生を抑制することができる。
【００３２】
なお、本発明は、上記実施形態のものに限定されるものではなく、以下に述べる態様を採用することができる。上記実施形態においては、２５６階調の画像データを２階調に変換して疑似的に元の階調を表現するものであったが、本発明は上記階調数に限定されるものではなく、元の階調より少ない階調で元の階調を疑似的に再現するものであればよい。
【００３３】
上記実施形態は、画像処理装置１をハードウェア回路として実装した例について説明したが、画像処理装置１をコンピュータプログラムとして実装してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】本発明の一実施形態における複合機の機能構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の一実施形態における画像処理装置における処理例を示す図である。
【符号の説明】
【００３５】
１  画像処理装置
１１  エッジレベル検出部（エッジレベル算出手段）
１２  輝度レベル検出部（輝度レベル算出手段）
１３  階調処理適合度算出部（適合度算出手段）
１５１  ディザ閾値生成部（閾値生成手段）
１５２  量子化部（量子化手段）
１５３  発生誤差記憶部（誤差算出手段）
１５４  累積誤差算出部（累積誤差算出手段）
１５５  累積誤差加算部（誤差加算手段）
【図１】
2006287474.tif 000003
【図２】
2006287474.tif 000004