(57)【要約】【課題】チャネル間の伝送スキューを低減したデータ伝送装置を提供する。【解決手段】光伝送により、データ通信を行うデータ伝送装置であって、伝送するべき電気通信データを、光通信データに変換して送出する送信部と、光通信データを受け取り、受け取った光通信データを電気に変換する光電変換回路とを備え、光電変換回路は、光通信データに基づいた電流を生成するフォトダイオードと、フォトダイオードが生成した電流から、予め定められた電流を減じる可変電流源とを有する。また、それぞれの送信部のレーザダイオードのバイアス電流を、レーザ発振閾電流より大きい電流に設定し、各レーザダイオードの発光遅延時間のバラツキを低減する。【選択図】図３
2006246528.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
光伝送により、データ通信を行うデータ伝送装置であって、
伝送するべき電気通信データを、光通信データに変換して送出する送信部と、
前記光通信データを受け取り、受け取った前記光通信データを前記電気通信データに変換する光電変換回路と、
所定の光通信データのレベルに対して、予め定められた電気通信データが生成されるように、前記光電変換回路を設定する可変設定部と
を備えることを特徴とするデータ伝送装置。
【請求項２】
前記光電変換回路は、
受け取った前記光通信データに基づいた電流を生成する受光部と、
前記受光部が生成した前記電流に基づいて、前記電気信号を生成する信号生成部と
を有し、
前記可変設定部は、前記受光部が生成した電流の大きさを示す電流値から、予め定められた電流値を減じることにより前記光電変換回路を設定する可変電流源を有することを特徴とする請求項１に記載のデータ伝送装置。
【請求項３】
前記光電変換回路は、
受け取った前記光通信データに基づいた電流を生成する受光部と、
前記受光部が生成した電流の大きさを示す電流値とリファレンス電流とを比較して、前記電気通信データを生成するコンパレータと
を有し、
前記可変設定部は、前記リファレンス電流の値に予め定められた電流値を加えることにより、前記光電変換回路を設定する可変電流源を有することを特徴とする請求項１に記載のデータ伝送装置。
【請求項４】
複数の前記送信部と、
前記複数の送信部が送出した複数の前記光通信データをそれぞれ伝搬する複数の光導波路と、
前記複数の送信部にそれぞれ対応した複数の前記光電変換回路と
を備え、
前記複数の光電変換回路のそれぞれの前記可変設定部は、所定の光通信データのレベルに対して、予め定められた電気通信データが生成されるように、対応する前記光電変換回路を設定することを特徴とする請求項１に記載のデータ伝送装置。
【請求項５】
前記可変設定部は、対応する前記送信部と前記光電変換回路との間における前記光通信データ及び電気通信データの伝搬遅延時間に基づいて、前記光電変換回路を設定することを特徴とする請求項１に記載のデータ伝送装置。
【請求項６】
前記可変設定部は、対応する前記光導波路における前記光通信データの減衰量に更に基づいて、前記光電変換回路を設定することを特徴とする請求項５に記載のデータ伝送装置。
【請求項７】
前記可変設定部は、対応する送信部における前記電気通信データの電光変換効率に更に基づいて、前記光電変換回路を設定することを特徴とする請求項６に記載のデータ伝送装置。
【請求項８】
前記可変設定部は、対応する光電変換回路における前記光通信データの光電変換効率に更に基づいて、前記光電変換回路を設定することを特徴とする請求項７に記載のデータ伝送装置。
【請求項９】
前記光通信データは、ディジタルデータであって、
前記可変電流源は、前記光通信データがＨ論理を示す場合に、前記受光部が生成する電流の略半分の電流値を、前記受光部が生成した電流値から減じることを特徴とする請求項２に記載のデータ伝送装置。
【請求項１０】
前記光通信データは、ディジタルデータであって、
前記可変電流源は、前記光通信データがＨ論理を示す場合に、前記受光部が生成する電流と、前記光通信データがＬ論理を示す場合に、前記受光部が生成する電流との略平均の電流値を、前記受光部が生成した電流の大きさを示す電流値から減じることを特徴とする請求項２に記載のデータ伝送装置。
【請求項１１】
前記光通信データは、ディジタルデータであって、
前記可変電流源は、前記光通信データがＨ論理を示す場合に、前記受光部が生成する電流の略半分の電流値を、前記リファレンス電流の値に加えることを特徴とする請求項３に記載のデータ伝送装置。
【請求項１２】
前記光通信データは、ディジタルデータであって、
前記可変電流源は、前記光通信データがＨ論理を示す場合に、前記受光部が生成する電流と、前記光通信データがＬ論理を示す場合に、前記受光部が生成する電流との略平均の電流値を、前記リファレンス電流の値に加えることを特徴とする請求項３に記載のデータ伝送装置。
【請求項１３】
前記送信部は、
前記電気通信データに基づいて、前記光通信データを生成するレーザダイオードと、
前記レーザダイオードに、前記レーザダイオードのレーザ発振閾電流より大きいバイアス電流を供給するバイアス電流源と
を含むことを特徴とする請求項１から１０のいずれかに記載のデータ伝送装置。
【請求項１４】
電子デバイスを試験する試験装置であって、
前記電子デバイスを試験するための試験信号を生成するパターン生成部と、
前記試験信号を整形する波形整形部と、
前記電子デバイスと接触するテストヘッドと、
前記波形整形部と前記テストヘッドとの間のデータの伝送を行うデータ伝送装置と、
前記電子デバイスが、前記試験信号に基づいて出力する出力信号に基づいて、前記電子デバイスの良否を判定する判定部と
を備え、
前記データ伝送装置は、
前記試験信号を、光通信データに変換して送出する送信部と、
前記光通信データを受け取り、受け取った前記光通信データを前記試験信号に変換する光電変換回路と、
所定の光通信データのレベルに対して、予め定められた試験信号が生成されるように、前記光電変換回路を設定する可変設定部と
を有することを特徴とする試験装置。
【請求項１５】
光を受け取り、受け取った前記光を電気に変換する光電変換回路であって、
前記受け取った光に基づいた電流を生成するフォトダイオードと、
前記フォトダイオードが生成した電流をオフセットする電流を発生する可変電流源と
を備えることを特徴とする光電変換回路。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光電変換を行う光電変換回路、データ伝送を行うデータ伝送装置、及び電子デバイスの試験を行う試験装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
近年、データ通信において、通信の高速化、大容量化が著しい。現在、屋内伝送等の近距離伝送においては、高速大容量の通信を行う場合、並列光伝送方式が主流である。並列光伝送方式によりデータ伝送を行うデータ伝送装置は、レーザダイオード、光ファイバ、及びフォトダイオードからなるチャネルを複数備え、複数のチャネルを用いてデータ伝送を行っている。現在、関連する特許文献等は認識していないので、その記載を省略する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００３】
しかし、データ通信の高速化に伴い、複数のチャネル間のスキューが問題となっている。例えば、当該スキューにより、データ通信速度が制限される。従来のデータ伝送装置においては、当該スキューを低減するために複雑なフレーミング回路及びコーディング回路を送信側に、デコーディング回路を受信側に設けているが、消費電力が大きくなり、またレスポンスが低下するといった問題が生じる。
【０００４】
また、電子デバイスを試験する試験装置においても、被試験デバイスの高速化、試験装置の小型化により、データ通信に用いるデータ伝送装置の高速化、小型高密度化、低消費電力化が望まれている。
【０００５】
しかし、高精度に電圧値が制御され、且つ高電圧の印加電圧を被試験デバイスに印加する場合、高精度且つ高電圧の増幅器を用いる必要がある。係る増幅器はコストが高く、回路コストが増大してしまう。
【０００６】
このため本発明は上記の課題を解決するデータ伝送装置、光電変換回路、及び試験装置を提供することを目的とする。この目的は、請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
上記課題を解決するために、本発明の第１形態においては、光伝送により、データ通信を行うデータ伝送装置であって、伝送するべき電気通信データを、光通信データに変換して送出する送信部と、光通信データを受け取り、受け取った光通信データを電気通信データに変換する光電変換回路と、所定の光通信データのレベルに対して、予め定められた電気通信データが生成されるように、光電変換回路を設定する可変設定部とを備えることを特徴とするデータ伝送装置を提供する。
【０００８】
光電変換回路は、受け取った光通信データに基づいた電流を生成する受光部と、受光部が生成した電流に基づいて、電気信号を生成する信号生成部とを有し、可変設定部は、受光部が生成した電流の大きさを示す電流値から、予め定められた電流値を減じることにより光電変換回路を設定する可変電流源を有してよい。
【０００９】
また、光電変換回路は、受け取った光通信データに基づいた電流を生成する受光部と、受光部が生成した電流の大きさを示す電流値とリファレンス電流とを比較して、電気通信データを生成するコンパレータとを有し、可変設定部は、リファレンス電流の値に予め定められた電流値を加えることにより、光電変換回路を設定する可変電流源を有してよい。
【００１０】
また、複数の送信部と、複数の送信部が送出した複数の光通信データをそれぞれ伝搬する複数の光導波路と、複数の送信部にそれぞれ対応した複数の光電変換回路とを備え、複数の光電変換回路のそれぞれの可変設定部は、所定の光通信データのレベルに対して、予め定められた電気通信データが生成されるように、対応する光電変換回路を設定してよい。
【００１１】
また、可変設定部は、対応する送信部と光電変換回路との間における光通信データ及び電気通信データの伝搬遅延時間に基づいて、光電変換回路を設定してよい。また、可変設定部は、対応する光導波路における光通信データの減衰量に更に基づいて、光電変換回路を設定してよい。可変設定部は、対応する送信部における電気通信データの電光変換効率に更に基づいて、光電変換回路を設定してよい。また、可変設定部は、対応する光電変換回路における光通信データの光電変換効率に更に基づいて、光電変換回路を設定してよい。
【００１２】
また、光通信データは、ディジタルデータであって、可変電流源は、光通信データがＨ論理を示す場合に、受光部が生成する電流の略半分の電流値を、受光部が生成した電流値から減じてよい。また、光通信データは、ディジタルデータであって、可変電流源は、光通信データがＨ論理を示す場合に、受光部が生成する電流と、光通信データがＬ論理を示す場合に、受光部が生成する電流との略平均の電流値を、受光部が生成した電流の大きさを示す電流値から減じてよい。
【００１３】
また、光通信データは、ディジタルデータであって、可変電流源は、光通信データがＨ論理を示す場合に、受光部が生成する電流の略半分の電流値を、リファレンス電流の値に加えてよい。また、光通信データは、ディジタルデータであって、可変電流源は、光通信データがＨ論理を示す場合に、受光部が生成する電流と、光通信データがＬ論理を示す場合に、受光部が生成する電流との略平均の電流値を、リファレンス電流の値に加えてよい。
【００１４】
また、送信部は、電気通信データに基づいて、光通信データを生成するレーザダイオードと、レーザダイオードに、レーザダイオードのレーザ発振閾電流より大きいバイアス電流を供給するバイアス電流源とを含んでよい。
【００１５】
本発明の第２の形態においては、電子デバイスを試験する試験装置であって、電子デバイスを試験するための試験信号を生成するパターン生成部と、試験信号を整形する波形整形部と、電子デバイスと接触するテストヘッドと、波形整形部とテストヘッドとの間のデータの伝送を行うデータ伝送装置と、電子デバイスが、試験信号に基づいて出力する出力信号に基づいて、電子デバイスの良否を判定する判定部とを備え、データ伝送装置は、試験信号を、光通信データに変換して送出する送信部と、光通信データを受け取り、受け取った光通信データを試験信号に変換する光電変換回路と、所定の光通信データのレベルに対して、予め定められた試験信号が生成されるように、光電変換回路を設定する可変設定部とを有することを特徴とする試験装置を提供する。
【００１６】
本発明の第３の形態においては、光を受け取り、受け取った光を電気に変換する光電変換回路であって、受け取った光に基づいた電流を生成するフォトダイオードと、フォトダイオードが生成した電流をオフセットする電流を発生する可変電流源とを備えることを特徴とする光電変換回路を提供する。
【００１７】
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。
【００１９】
図１は、本発明に係る試験装置１００の構成の一例を示す。試験装置１００は、電子デバイス３０の試験を行う。試験装置１００は、パターン発生部１０、波形整形部２０、データ伝送装置６０、テストヘッド４０、及び判定部５０を備える。
【００２０】
パターン発生部１０は、電子デバイス３０を試験するための試験信号を生成し、波形整形部２０に供給する。また、パターン発生部１０は、電子デバイス３０が、試験信号を受け取った場合に出力するべき期待値信号を生成し、判定部５０に供給する。
【００２１】
波形整形部２０は、受け取った試験信号を整形し、整形した試験信号をデータ伝送装置６０に供給する。波形整形部２０は、例えば試験パターンを所望のタイミングでデータ伝送装置に供給してよい。
【００２２】
データ伝送装置６０は、受け取った試験信号を、テストヘッド４０に供給する。データ伝送装置６０は、電気通信データを光通信データに変換して伝送する装置である。本例において、データ伝送装置６０は、電気通信データの一例である試験信号を光通信データに変換して伝送し、伝送した光通信データを試験信号に復元する光伝送装置である。光伝送により試験信号をテストヘッド４０に伝送することにより、パターン発生部及び波形整形部２０とテストヘッド４０とが離れている場合であっても、高速にデータを伝送することができる。
【００２３】
テストヘッド４０は、電子デバイス３０と接触し、電子デバイス３０と信号の授受を行う。例えば、テストヘッド４０は、受け取った試験信号を電子デバイス３０に供給し、電子デバイス３０が出力する出力信号を受け取る。テストヘッド４０は、受け取った出力信号を判定部５０に供給する。また、テストヘッド４０は、複数の電子デバイス３０と接触し、信号の授受を行ってよい。
【００２４】
判定部５０は、試験信号に基づいて電子デバイス３０が出力する出力信号に基づいて、電子デバイス３０の良否を判定する。判定部５０は、パターン発生部１０が生成した期待値信号と、電子デバイス３０が出力した出力信号とを比較して電子デバイス３０の良否を判定してよい。
【００２５】
図２は、データ伝送装置６０の構成の一例を示す。図２（ａ）に、データ伝送装置６０の構成の概略を示す。データ伝送装置６０は、複数の送信部６２及び複数の受信部６８を備える。送信部６２は、送信するべき電気通信データを、光通信データに変換して送出する。本例において、送信部６２は、波形整形部２０から試験信号を受け取り、試験信号を光通信データに変換して送出する。
【００２６】
受信部６８は、送信部６２が送出した光通信データを受け取り、受け取った光通信データを電気通信データに変換する。本例において、受信部６８は、受け取った光通信データを試験信号に変換し、テストヘッド４０に供給する。
【００２７】
また、データ伝送装置６０は、送信部６２と受信部６８との間に、光導波路の一例である光ファイバを備える。送信部６２は、当該光ファイバを介して受信部６８に光通信データを送出する。また、データ伝送装置６０は、波形整形部２０から試験信号としてシリアルデータを受け取り、試験信号をパラレルデータに変換するシリアル−パラレル変換部と、複数の受信部６８が出力する試験信号を、シリアルデータに変換するパラレル−シリアル変換部とを備えてよい。
【００２８】
図２（ｂ）は、送信部６２及び受信部６８の構成の一例を示す。送信部６２は、変換部６４、及びレーザダイオード６６を備える。変換部６４は、試験信号を変調する。レーザダイオード６６は、電気通信データに基づいた光通信データを生成し、光ファイバ７４に送出する。本例において、レーザダイオード６６は、変調された試験信号を光通信データに変換し、光ファイバ７４に送出する。また、レーザダイオード６６は、レーザダイオード６６のレーザ発振閾電流値より大きいバイアス電流が与えられる。レーザダイオード６６に、レーザ発振閾電流値より大きいバイアス電流を与えることにより、レーザダイオード６６における発光遅延時間が最短となり、複数の送信部６２のそれぞれレーザダイオード６６における発光遅延時間のバラツキを低減させることができる。当該バイアス電流が、レーザ発振閾電流値より小さい場合、当該発光遅延時間は、試験信号のパターンに依存するが、本例における送信部６２によれば、試験信号のパターンによらず、レーザダイオード６６における発光遅延時間を一定にすることができる。また、レーザダイオード６６に、レーザ発振閾電流値より大きいバイアス電流を与えることにより、レーザダイオード６６が生成する光通信データの波形の立ち上がり及び立ち下がりにおいて、緩和振動を低減することができる。
【００２９】
受信部６８は、送信部６２が送出した光通信データを試験信号に変換する。受信部６８は、受光部、及び変換部７２を備える。本例において、当該受光部は、フォトダイオード７０を有する。フォトダイオード７０は、受け取った光通信データに基づいた電流を生成する。フォトダイオード７０は、バイアス電圧が与えられる。変換部７２は、フォトダイオード７０が生成した電流を試験信号に変換する。
【００３０】
図３は、送信部６２及び受信部６８の構成の一例の詳細を示す。図３（ａ）に、送信部６２の構成の一例を示す。送信部６２は、変換部６４、レーザダイオード６６、及び電流源８４を有する。本例において、変換部６４は、波形整形部２０から試験信号を受け取り、受け取った試験信号の強度を変調し、レーザダイオード６６に供給する。
【００３１】
レーザダイオード６６は、受け取った試験信号に基づいた光通信データを生成し、光ファイバ７４に送出する。上述したように、電流源８４は、レーザダイオード６６に、レーザダイオード６６のレーザ発振閾電流より大きいバイアス電流を供給する。また、レーザダイオード６６のカソードと、電流源８４とは、経路８２ｂを介して電気的に接続される。また、レーザダイオード６６のアノードは、経路８２ａを介して変換部６４に電気的に接続される。経路８２ａ及び経路８２ｂのインピーダンスは、レーザダイオード６６の順バイアスインピーダンスと略等しいことが好ましい。経路８２は、例えばマイクロストリップラインであってよい。経路８２ａ及び経路８２ｂのインピーダンスが、レーザダイオードの等価抵抗と略等しいことにより、経路８２とレーザダイオード６６との接続点における信号の反射を低減し、信号波形の劣化を低減することができる。
【００３２】
図３（ｂ）は、受信部６８の構成の一例を示す。受信部６８は、光電変換回路１２０と可変設定部とを備える。光電変換回路１２０は、受光部８０と、変換部７２とを有する。受光部８０は、上述したようにフォトダイオード７０を有し、光通信データを電流に変換する。本例において、受光部８０は、光通信データに基づく電流を生成し、生成した電流を変換部７２に供給する。変換部７２は、受光部８０が生成した電流を電圧に変換する電流電圧コンバータであってよい。変換部７２は、受光部８０が生成した電流に基づいて、電気通信データである試験信号を出力する。可変設定部は、所定の光通信データのレベルに対して、予め定められた電気通信データが生成されるように、光電変換回路を設定する。本例において、可変設定部は、可変電流源７６である。
【００３３】
受光部８０は、フォトダイオード７０、及び経路７８を有する。フォトダイオード７０は、光通信データに基づく電流を生成する。フォトダイオード７０が、電流を生成した場合に、後述する第１のトランジスタ１０２のエミッタ電流は減少する。可変電流源７６は、フォトダイオード７０のアノードに電気的に接続される。可変電流源７６を設けることにより、第１のトランジスタ１０２のエミッタ電流は増加する。つまり、可変電流源７６は、フォトダイオード７０が生成した電流の大きさを示す電流値から、予め定められた電流を減じ、フォトダイオード７０の出力にオフセットを加える。光電変換回路１２０は、可変電流源７６によって減じられた電流を、変換部７２に供給する。
【００３４】
変換部７２は、第１の抵抗９４、第２の抵抗９６、電圧源９８、第１のトランジスタ１０２、第２のトランジスタ１０４、第１の電流源１０６、第２の電流源１０８、及びコンパレータ１１０を有する。
【００３５】
図３（ｂ）に示すように、第１の抵抗９４は、フォトダイオード７０と並列に設けられ、一端がフォトダイオード７０のカソードに電気的に接続される。第１のトランジスタ１０２は、第１の抵抗９４と直列に設けられ、コレクタ端子が第１の抵抗９４の他端に電気的に接続され、エミッタ端子が可変電流源７６に電気的に接続される。第１の電流源１０６は、第１のトランジスタ１０２のエミッタ端子と電気的に接続され、可変電流源７６と並列に設けられる。電圧源９８は、第１のトランジスタ１０２のベース端子に所定の電位を与える。コンパレータ１１０は、受光部８０が生成した電流の大きさに応じて変化する電流、即ち第１の抵抗９４に流れる電流と、第２の抵抗９６に流れるリファレンス電流とを比較し、電気通信データを生成する。本例において、コンパレータ１１０は、第１の抵抗９４に流れる電流に基づく第１のトランジスタ１０２のコレクタ電圧が、リファレンス電流に基づく基準値より大きいか否かを判定する。
【００３６】
第２の抵抗９６は、第１の抵抗９４と並列に設けられ、一端が接地電位に電気的に接続される。第２のトランジスタ１０４は、第２の抵抗９６と直列に設けられ、コレクタ端子が第２の抵抗９６の他端に電気的に接続される。第１のトランジスタ１０２は、図３（ｂ）に示すように、エミッタ入力ベース接地トランジスタである。第１のトランジスタ１０２を設けることにより、変換部７２の入力インピーダンスを低減することができる。第２の電流源１０８は、第２のトランジスタ１０４のエミッタ端子と電気的に接続され、可変電流源７６と並列に設けられる。また、電圧源９８は、第２のトランジスタ１０４のベース端子に、所定の電位を与え、コンパレータ１１０は、第２のトランジスタ１０４のコレクタ電圧を、前述した基準値として受け取る。図３（ｂ）に示すように、当該基準値はほぼ一定の値を示す。抵抗９４の抵抗値と、抵抗９６の抵抗値との比は、容易に精度よく製造することができる。このため、コンパレータ１１０は、抵抗９４に流れる信号のＨ論理及びＬ論理を精度よく判定することができる。
【００３７】
また本例において、コンパレータ１１０は、当該基準値として第２のトランジスタ１０４のコレクタ電圧を受け取ったが、他の例においては、変換部７２は所定の電圧を生成する第２の電圧源を更に有し、コンパレータ１１０は、当該第２の電圧源から当該基準値を受け取ってもよい。
【００３８】
本例において、第１の抵抗９４のインピーダンスと第２の抵抗９６のインピーダンスとは略等しい。また、第１のトランジスタ１０２と第２のトランジスタ１０４とは略同一の特性を有する。また、第１の電流源１０６と第２の電流源１０８とは略同一の電流を生成する。
【００３９】
本例において、経路７８ｂのインピーダンスは、第１のトランジスタ１０２のエミッタ入力インピーダンスと略等しいことが好ましい。経路７８ｂのインピーダンスと、第１のトランジスタ１０２のエミッタ入力インピーダンスとを等しくすることにより、経路７８ｂと第１のトランジスタ１０２との接続点における信号の反射を低減することができる。経路７８は、例えばマイクロストリップラインであってよい。
【００４０】
以下、受信部６８の動作について説明する。フォトダイオード７０がＨ論理を受け取った場合、フォトダイオード７０は逆電流を生成し、抵抗９４に流れる電流が変化する。コンパレータ１１０は、当該電流の変化に基づいて、フォトダイオード７０がＨ論理を受け取ったか、Ｌ論理を受け取ったかを判定する。
【００４１】
本例における送信部６２のレーザダイオード６６は、レーザ発振閾電流より大きいバイアス電流が与えられているため、常に光を送出している。このため、フォトダイオード７０は、常に光を検出し、電流を生成する。このため、光通信データとしてＬ論理を伝送している場合であっても、フォトダイオード７０が生成する電流は零にならない場合がある。可変電流源７６は、予め定められた電流を、フォトダイオード７０が生成する電流から減じる。このため、フォトダイオード７０が上述した電流を生成した場合であっても、コンパレータ１１０は、Ｈ論理又はＬ論理を検出することができる。
【００４２】
本例において、可変電流源７６は、フォトダイオード７０がＨ論理を受け取った場合に生成する電流と、フォトダイオード７０がＬ論理を受け取った場合に生成する電流との略平均の値をとる電流を、フォトダイオード７０が生成する電流から減じる。また、可変電流源７６は、フォトダイオード７０がＨ論理を受け取った場合に生成する電流の略半分の値を取る電流を、フォトダイオード７０が生成する電流から減じてもよい。
【００４３】
受信部６８は、フォトダイオード７０が生成した電流値を検出する手段と、検出した電流値に基づいて、可変電流源７６が減じる電流量を制御する制御部を有してよい。例えば、それぞれの送信部６２は、予めＨ論理及びＬ論理を送出し、受信部６８は、送信部６２がＨ論理及びＬ論理を送出した場合に、フォトダイオード７０が生成する電流値に基づいて、可変電流源７６における電流量を予めキャリブレーションすることが好ましい。
【００４４】
また、複数のチャネルの光ファイバ７４のそれぞれの減衰量等の特性、複数チャネルのそれぞれに対応するレーザダイオード６６の電光変換効率、及び複数のチャネルのそれぞれに対応するフォトダイオード７０の光電変換効率が異なるため、複数のチャネルに同一の信号を送出した場合であっても、それぞれのフォトダイオード７０は、異なる電流を生成する場合がある。可変電流源７６は、これらのバラツキを調整するような電流を、フォトダイオード７０が生成する電流から減じてもよい。
【００４５】
上述したように、本例におけるデータ伝送装置６０によれば、レーザダイオード６６にレーザ発振閾電流より大きいバイアス電流を与えることにより、送信部６２におけるデータ遅延時間のバラツキを低減することができる。また、受信部６８に可変電流源７６を設けることにより、各チャネル間のスキューを低減することができ、また、コンパレータ１１０において精度よくＨ論理及びＬ論理を検出することができる。このため、試験装置１００においては、電子デバイス３０の試験を精度よく且つ効率よく行うことができる。
【００４６】
また、図１から図３に関連して説明したデータ伝送装置６０を、一般的な並列データ伝送にも用い得ることは明らかである。一般的な並列データ伝送に用いられた場合も、図１から図３に関連して説明したデータ伝送装置６０と同様の効果を得ることができる。
【００４７】
また、本例において可変電流源７６は、フォトダイオード７０のアノードに電気的に接続されていたが、他の例においては、可変電流源７６は他の箇所に接続されていてもよい。以下、受信部６８の構成の他の例について説明する。
【００４８】
図４は、受信部６８の構成の他の例を示す。図４における可変電流源７６は、図３において説明した可変電流源７６と同一又は同様の機能を有する。図４（ａ）は、可変電流源７６が、第１のトランジスタ１０２のコレクタ端子に電気的に接続される例を示す。可変電流源７６は、受光部８０が生成した電流の大きさに応じて変化する電流である、第１の抵抗９４に流れる電流から、予め定められた電流値を減じる。つまり、可変電流源７６は、受光部８０が生成した電流の大きさを示す電流値から、予め定められた電流値を減じ、等価的にフォトダイオード７０の出力にオフセットを加える。本例のデータ伝送装置６０においても、図３に関連して説明したデータ伝送装置６０と同様の効果を得ることができる。
【００４９】
図４（ｂ）は、受信部６８の更に他の例を示す。本例において、可変電流源７６は、第２のトランジスタ１０４のエミッタ端子に電気的に接続される。可変電流源７６は、コンパレータ１１０のリファレンス電流の値に予め定められた電流値を加えることにより、光電変換回路１２０を設定する。つまり、可変電流源７６は、コンパレータ１１０のリファレンス電流に予め定められた電流値を加えることにより、等価的にフォトダイオード７０の出力にオフセットを加える。本例のデータ伝送装置６０においても、図３に関連して説明したデータ伝送装置６０と同様の効果を得ることができる。
【００５０】
図４（ｃ）は、受信部６８の更に他の例を示す。本例において、可変電流源７６は、コンパレータ１１０の反転入力端子に接続される。本例においても、図４（ｂ）に示した例と同様に、可変電流源７６は、コンパレータ１１０のリファレンス電流に予め定められた電流値を加えることにより、等価的にフォトダイオード７０の出力にオフセットを加える。本例のデータ伝送装置６０においても、図３に関連して説明したデータ伝送装置６０と同様の効果を得ることができる。
【００５１】
また、本例において可変設定部は、可変電流源７６であったが、他の例においては、可変設定部は第１の抵抗９４又は第２の抵抗９６の抵抗値を変化させてもよい。つまり、第１の抵抗９４又は第２の抵抗９６は可変抵抗であって、可変設定部は、第１の抵抗９４又は第２の抵抗９６の抵抗値を変化させることにより、フォトダイオード７０の出力にオフセットを加えてもよい。この場合、可変設定部は、第１の抵抗９４及び第２の抵抗９６の抵抗値を、フォトダイオード７０がＨ論理を受け取った場合に生成する電流値、及びフォトダイオード７０がＬ論理を受け取った場合に生成する電流値に応じて変化させてよい。また、更に他の例においては、可変設定部は可変電圧源であってもよい。例えば、当該可変電圧源は、第１の抵抗９４又は第２の抵抗９６と、接地電位との間に直列に設けられてよい。
【００５２】
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。
【産業上の利用可能性】
【００５３】
以上から明らかなように、本発明に係るデータ伝送装置によれば、チャネル間の伝送スキューを低減したデータ通信を行うことができる。また、試験装置においては、精度よく且つ効率よく電子デバイスの試験を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【００５４】
【図１】本発明に係る試験装置１００の構成の一例を示す図である。
【図２】データ伝送装置６０の構成の一例を示す図である。図２（ａ）は、データ伝送装置６０の構成の概略を示し、図２（ｂ）は、送信部６２及び受信部６８の構成の一例を示す。
【図３】送信部６２及び受信部６８の構成の一例の詳細を示す図である。図３（ａ）は、送信部６２の構成の一例を示し、図３（ｂ）は、受信部６８の構成の一例を示す。
【図４】受信部６８の構成の他の例を示す図である。図４（ａ）は、可変電流源７６が、第１のトランジスタ１０２のコレクタ端子に電気的に接続される例を示し、図４（ｂ）は、受信部６８の更に他の例を示し、図４（ｃ）は、受信部６８の更に他の例を示す。
【符号の説明】
【００５５】
１０・・・パターン発生部、２０・・・波形整形部、３０・・・電子デバイス、４０・・・テストヘッド、５０・・・判定部、６０・・・データ伝送装置、６２・・・送信部、６４・・・変換部、６６・・・レーザダイオード、６８・・・受信部、７０・・・フォトダイオード、７２・・・変換部、７４・・・光ファイバ、７６・・・可変電流源、７８・・・経路、８０・・・受光部、８２・・・経路、８４・・・電流源、９４・・・抵抗、９６・・・抵抗、９８・・・電圧源、１００・・・試験装置、１０２・・・トランジスタ、１０４・・・トランジスタ、１０６・・・第１の電流源、１０８・・・第２の電流源、１１０・・・コンパレータ、１２０・・・光電変換回路
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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