(57)【要約】【課題】スライス数の多いＸ線ＣＴ装置の再構成演算処理を円滑に行なうことができるＸ線ＣＴ装置を提供する。【解決手段】Ｘ線源と、多列検出器と、前記Ｘ線源及び前記多列検出器を搭載して回転可能な回転盤と、前記多列検出器で得られる測定データを処理して画像化する画像処理装置と、を備えたマルチスライスＸ線ＣＴ装置であって、前記画像処理装置は、複数スライスの前記測定データに基づいて所望する断面の画像を再構成する逆投影処理手段と、少なくとも前記Ｘ線源及び前記多列検出器の体軸方向の位置と、再構成する断面の体軸方向の位置と、の相対的な位置関係に基づいて前記断面の再構成に必要な最小限のスライス範囲を算出するスライス範囲算出手段と、１枚の画像を再構成する毎に、前記多列検出器から得られる複数スライスの測定データのうちの前記スライス範囲算出手段によって算出されたスライス範囲の測定データを前記逆投影処理手段に取り込むデータ取得手段とを備えたことを特徴とする。【選択図】図３
2006075421.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
Ｘ線ビームを照射するＸ線源と、
被検体をはさんで前記Ｘ線源に対向する多列検出器と、
前記Ｘ線源及び前記多列検出器を搭載して回転可能な回転盤と、
前記多列検出器で得られる測定データを処理して画像化する画像処理装置と、
を備えたマルチスライスＸ線ＣＴ装置であって、
前記画像処理装置は、
複数スライスの前記測定データに基づいて所望する断面の画像を再構成する逆投影処理手段と、
少なくとも前記Ｘ線源及び前記多列検出器の体軸方向の位置と、再構成する断面の体軸方向の位置と、の相対的な位置関係に基づいて前記断面の再構成に必要な最小限のスライス範囲を算出するスライス範囲算出手段と、
１枚の画像を再構成する毎に、前記多列検出器から得られる複数スライスの測定データのうちの前記スライス範囲算出手段によって算出されたスライス範囲の測定データを前記逆投影処理手段に取り込むデータ取得手段と、
を備えたことを特徴とするマルチスライスＸ線ＣＴ装置。
【請求項２】
前記画像処理装置は、有効視野範囲を設定する有効視野範囲設定手段を備え、
前記スライス範囲算出手段は、前記再構成する断面を含む体軸に直交する面と前記有効視野範囲との交点のうち、前記Ｘ線ビームの焦点に最も近い交点を通る透過Ｘ線を検出するスライスから前記Ｘ線ビームの焦点に最も遠い交点を通る透過Ｘ線を検出するスライスまでを前記スライス範囲として算出する、
ことを特徴する請求項１記載のマルチスライスＸ線ＣＴ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、マルチスライスＸ線ＣＴ装置に係り、特にマルチスライスＸ線ＣＴ装置（以下「ＭＤＣＴ」と記載する。）においてコーンビームを考慮した再構成演算処理を円滑に行える技術に関する。
【背景技術】
【０００２】
従来、被検体のＸ線断層撮影装置としてＸ線ＣＴ装置がある。このＸ線ＣＴ装置は、スキャナが被検体のＸ線撮影を行ってＲａｗデータ（生データ）を生成し、画像処理装置がＲａｗデータを基に画像再構成処理を行って再構成画像を生成し、その再構成画像を画像表示装置に表示する。
【０００３】
特許文献１には、上記のＸ線ＣＴ装置のうち、特に、円錐状または四角錐状に照射されるＸ線を用いてＸ線ＣＴ撮影を行うコーンビームＸ線ＣＴ装置において、Ｘ線のコーン角情報に基づいて画像を再構成する技術が開示されている。具体的には、特許文献１に記載のＸ線ＣＴ装置では、スライス数に応じて決定された再構成法を用いて画像を再構成する。例えば、スライス数が４スライスの場合はファンビーム再構成法を用いて画像再構成を行い、８スライスの場合はコーンビーム再構成法を用いて画像再構成を行う。そして、このコーンビーム再構成において、回転中心軸に対して実際のコーン角に応じた斜めのレイを使い投影データを逆投影することにより画像再構成を行う。
【特許文献１】特開２００３−２２５２３０号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
ＳＤＣＴ（シングルスライスＸ線ＣＴ装置）やＭＤＣＴ（マルチスライスＸ線ＣＴ装置）のコーンビームの影響を考慮しない再構成演算方法、例えば重み付け螺旋補正構成法等においては、フィルタリング処理後のデータ量は約２．５ＭＢであった。そして、画像再構成処理に必要な各演算処理を、パイプライン処理形式により進めることにより、画像再構成処理に要する全体の処理速度を向上させていた。
【０００５】
これに対して、６４スライスのＭＤＣＴにおいてコーンビームを考慮した再構成演算では、フィルタリング処理後のデータ量は単純に６４倍になることからデータ量は約１６０ＭＢになる。三次元逆投影処理に１６０ＭＢのデータが渡される場合には、従来（データ量が２．５ＭＢの場合）に比べてデータ転送時間の増加が見込まれる。そのため、より速く三次元逆投影処理へデータ転送を行うためには、データの転送速度を向上させる必要がある。例えば、０．２秒で画像１枚の再構成処理を行う場合には、１６０／０．２＝８００ＭＢ／ｓｅｃの転送速度が必要となり、０．１秒で画像１枚の再構成処理を行う場合には、１６０／０．１＝１６００ＭＢ／ｓｅｃの転送速度が必要となる。
【０００６】
しかし、転送速度を向上させるには、ハードウェア上の制約が大きく、スライス数が増加すれば再構成処理に間に合う転送速度の確保が難しい状況にある。
【０００７】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、ハードウェア上の制約に関わらずスライス数の多いＸ線ＣＴ装置の再構成演算処理を円滑に行なうことができるＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
前記目的を達成するために、本発明は、Ｘ線ビームを照射するＸ線源と、被検体をはさんで前記Ｘ線源に対向する多列検出器と、前記Ｘ線源及び前記多列検出器を搭載して回転可能な回転盤と、前記多列検出器で得られる測定データを処理して画像化する画像処理装置と、を備えたマルチスライスＸ線ＣＴ装置であって、前記画像処理装置は、複数スライスの前記測定データに基づいて所望する断面の画像を再構成する逆投影処理手段と、少なくとも前記Ｘ線源及び前記多列検出器の体軸方向の位置と、再構成する断面の体軸方向の位置と、の相対的な位置関係に基づいて前記断面の再構成に必要な最小限のスライス範囲を算出するスライス範囲算出手段と、１枚の画像を再構成する毎に、前記多列検出器から得られる複数スライスの測定データのうちの前記スライス範囲算出手段によって算出されたスライス範囲の測定データを前記逆投影処理手段に取り込むデータ取得手段と、を備えたことを特徴とする。
【０００９】
これにより、再構成をするために必要なスライス範囲の測定データのみを逆投影処理手段に取り込むことができ、全スライスの測定データを取り込む場合に比べてデータ量を削減できる。
【００１０】
また上記マルチスライスＸ線ＣＴ装置において、前記画像処理装置は、有効視野範囲を設定する有効視野範囲設定手段を備え、前記スライス範囲算出手段は、前記再構成する断面を含む体軸に直交する面と前記有効視野範囲との交点のうち、前記Ｘ線ビームの焦点に最も近い交点を通る透過Ｘ線を検出するスライスから前記Ｘ線ビームの焦点に最も遠い交点を通る透過Ｘ線を検出するスライスまでを前記スライス範囲として算出する。
【００１１】
これにより、有効視野範囲に応じて、必要な測定データを算出することができる。
【発明の効果】
【００１２】
本発明によれば、ハードウェア上の制約に関わらずスライス数の多いＸ線ＣＴ装置の再構成演算処理を円滑に行なうことができるＸ線ＣＴ装置を提供することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１３】
以下、添付図面に従って本発明に係るマルチスライスＸ線ＣＴ装置の好ましい実施の形態について詳説する。
【００１４】
図１は、本発明の一実施の形態にかかるマルチスライスＸ線ＣＴ装置１の構成を示す概念図である。図２は、図１のマルチスライスＸ線ＣＴ装置１のハードウェア構成を示すブロック図である。
【００１５】
図１のマルチスライスＸ線ＣＴ装置１は、測定データを出力する計測部１０と、測定データに基づいて画像再構成処理を行い、再構成画像を生成する画像処理装置２０と、再構成画像を表示する画像表示装置３０とを備える。
【００１６】
計測部１０は、図２に示すように、円錐又は角錐状に広がるＸ線ビームを照射するＸ線管球１１を備えたＸ線源と、透過Ｘ線を検出する一次元検出器が例えば６４列配列された多列検出器１２とを備える。また計測部１０は、Ｘ線源１１と多列検出器１２とを対向させた状態で寝台４０に載置した被検体５０の周囲を回転させる回転盤１３を備える。多列検出器１２は、被検体５０を透過した透過Ｘ線を検出して測定データを出力する。計測部１０は、プリアンプ１４により測定データを増幅し、画像処理装置２０に増幅後の測定データを転送する。
【００１７】
画像処理装置２０は、ＣＰＵ２１ａと、前処理用演算処理装置２１ｂ、フィルタリング処理用演算処理装置２１ｂ、三次元逆投影処理用演算処理装置２１ｂ、及び後処理用演算処理装置２１ｂを含む演算処理装置２１ｂと、画像処理装置２０等の制御プログラムを格納する主メモリ２２と、測定データや画像処理プログラム等を格納する磁気ディスク２３と、有効視野範囲等のパラメータの設定を行うためのキーボード２４と、マウス２５やトラックボール、ジョイスティック等からなるポインティングデバイス及びそのコントローラ２６と、画像表示装置３０に表示させる画像データを一時的に格納する表示メモリ２７と、計測部１０から測定データを取得する入出力インターフェース２８と、を備える。上記各構成要素は、共通バス２９により互いに接続される。画像処理装置２０は、記憶装置として主メモリ２２及び磁気ディスク２３を備えるが、その他の記憶装置、例えばＦＤＤ、ＣＤ−ＲＷドライブ、ＭＯ（光ディスク）ドライブ、ＺＩＰドライブを備えてもよい。
【００１８】
画像処理装置２０は、上記ハードウェア及び上記ハードウェアにＸ線撮影を行う範囲である有効視野範囲（以下「ＦＯＶ」という。）を設定する処理を実行させるプログラムからなる有効視野範囲設定手段を備える。ＦＯＶは、マルチスライスＸ線ＣＴ装置１の操作者が、Ｘ線撮影の度にキーボード２４等を操作して、ＦＯＶの数値を入力する。またＦＯＶは、予め設定された固定の数値であってもよい。
【００１９】
画像表示装置３０は、ＣＲＴ装置や液晶ディスプレイ装置等により構成される。
【００２０】
次に図３及び図４に基づき、画像再構成処理について説明する。図３は、図１のマルチスライスＸ線ＣＴ装置における画像再構成処理の流れを示すフローチャートである。図４は、三次元逆投影処理の例を示す概念図である。
【００２１】
図３の画像再構成処理は、前処理用演算処理装置２１ｂ、フィルタリング処理用演算処理装置２１ｂ、三次元逆投影処理用演算処理装置２１ｂ、及び後処理用演算処理装置２１ｂの各演算処理装置２１ｂが、各演算処理装置２１ｂにおける演算処理が終わると、次の演算処理装置１２１ｂへ順次データを送るパイプライン処理により進められる。以下、図３のフローチャートのステップ順に沿って説明する。
【００２２】
（ステップＳ３０１）
まず、計測部１０は、Ｘ線ＣＴ撮影を行い、１ビュー当り６４スライスの測定データを１２００ビュー分、画像処理装置２０に転送する。そして、画像処理装置２０の前処理用演算処理装置２１ｂは、測定データに基づいて前処理を行う（Ｓ３０１）。前処理は、１ビュー当り６４スライスのスライス毎に並列処理することができる。画像処理装置２０は、前処理が終わった測定データを、フィルタリング処理用演算処理装置２１ｂに転送する。
【００２３】
（ステップＳ３０２）
画像処理装置２０のフィルタリング処理用演算処理装置２１ｂは、フィルタリング処理演算を行う（Ｓ３０２）。フィルタリング処理も前処理と同様、１ビュー当り６４スライスのスライス毎に並列処理することができる。フィルタリング処理後の測定データは、一時的にメモリ等の記憶装置に格納される。
【００２４】
（ステップＳ３０３）
画像処理装置２０は、一枚の再構成画像を生成するために必要最小限のスライス範囲を算出する（Ｓ３０３）。スライス範囲算出処理の詳細については後述する。
【００２５】
（ステップＳ３０４）
画像処理装置２０のデータ取得手段は、フィルタリング処理後の測定データが格納されたメモリ等の記憶装置から、上述のスライス範囲に含まれる測定データのみを取り込む。取り込まれた測定データは、三次元逆投影処理用演算処理装置２１ｂに転送される（Ｓ３０４）。
【００２６】
（ステップＳ３０５）
画像処理装置２０の三次元逆投影処理用演算処理装置２１ｂは、転送された測定データに基づいて三次元逆投影処理を行う（Ｓ３０５）。
【００２７】
この三次元逆投影処理では、被検体５０の体軸に直交する面（アキシャル断面）に対して傾斜を有するＸ線ビームの影響を考慮した再構成アルゴリズムを用いる。フィルタリング処理を施されたビュー毎の測定データは、画素毎に加算演算されることにより、再構成画像が生成される。
【００２８】
この三次元逆投影処理の例を図４に示す。図４−１は、Ｘ線管球１１がＸ線を照射し、多列検出器１２が出力した測定データであって、ファンビームからパラレルビームへ変換した後の０度、４５度、９０度の位置（ビュー）の測定データを示す。三次元逆投影用演算処理装置２１ｂは、各ビュー（０度、４５度、９０度）の測定データを画素毎に加算演算する。そして、図４−２に示す再構成画像を生成する。
【００２９】
実際の三次元逆投影処理では、全ビュー（１２００ビュー）分の測定データを画素毎に加算処理する。
【００３０】
三次元逆投影処理により生成された再構成画像の画像データは、後処理用演算処理装置２１ｂへ転送される。
【００３１】
（ステップＳ３０６）
画像処理装置２０の後処理用演算処理装置２１ｂは、転送された画像データに対して後処理を行う（Ｓ３０６）。そして、画像処理装置２０は、画像データを表示用メモリに出力する。その画像データに基づいて画像表示装置３０に再構成したＣＴ画像が表示される。
【００３２】
次に、図５乃至１１に基づいて、スライス範囲算出処理及びデータ取得処理について説明する。
【００３３】
まず、図５及び図６に基づいて、最大／最小コーン角について説明する。図５は、マルチスライスＸ線ＣＴ装置１を上部から眺めた図における最大／最小コーン角の関係を示す概念図である。図６は、図５の位置関係において、Ｘ線管球１１及び多列検出器１２と、再構成する断面との相対的な位置関係により、最大／最小コーン角が変化する状態を示す概念図である。
【００３４】
ここでいう「コーン角」とは、円錐または角錐状に広がるＸ線ビームの焦点を通るＸ軸と平行な線を基準線（図５における一点鎖線）とし、この基準線と照射されるＸ線（図５の点線）とがなす角をいう。
【００３５】
有効視野範囲（ＦＯＶ）のうち再構成画像が含まれる面（以下「画像再構成面」という。）におけるＸ線の焦点に最も近い位置（画素）Ｐ１点を透過するＸ線が、最大コーン角Θ１を形成する。また、画像再構成面におけるＸ線の焦点から最も遠い位置（画素）Ｐ２点を透過するＸ線が、最小コーン角Θ２を形成する。Ｐ１点を通るＸ線が多列検出器１２に入射する位置が、最大コーン角に対するスライス（ｎＰ１番スライス）となる。また、Ｐ２点を通るＸ線が多列検出器１２に入射する位置が、最小コーン角に対するスライス（ｎＰ２番スライス）となる。ｎＰ１番スライスからｎＰ２番スライスまでのスライス範囲が、画像再構成処理に必要なスライス範囲となる。
【００３６】
図６は、Ｘ線管球１１がＺ軸方向（体軸方向）に移動するにつれて、多列検出器１２における必要なスライス範囲（斜線部分）が変化する状態を示す。Ｘ線管球１１がＺ軸方向に移動するにつれて、ｎＰ１番スライス及びｎＰ２番スライスは、多列検出器１２面上を＋３２番スライスから０番スライス方向に移動し、かつ、ｎＰ１番スライス―ｎＰ２番スライス間の距離は徐々に狭くなる。そして、Ｘ線管球１１と画像再構成面とがほぼ一直線上にならぶ位置においては、ｎＰ１番スライス及びｎＰ２番スライスは、ほぼ同一のスライスとなる。さらに、Ｘ線管球１１がＺ軸方向に移動すると、ｎＰ１番スライス及びｎＰ２番スライスは、多列検出器１２面上を０番スライスから−３２番スライス方向に移動し、かつ、ｎＰ１番スライス―ｎＰ２番スライス間の距離は徐々に広くなる。画像処理装置２０は、多列検出器１２のうち、ｎＰ１番スライスからｎＰ２番スライスまでのスライス範囲から検出されたＸ線に基づいて出力された測定データを抽出する。
【００３７】
次に図７乃至９に基づき、必要となるスライス範囲の算出方法について説明する。必要となるスライス範囲の算出方法は、再構成に使用するビーム形状（ファンビームとパラレルビームとがある）と、ＦＯＶとにより異なる。
【００３８】
図７は、ファンビーム、かつ、円形ＦＯＶの場合における必要なスライス範囲の算出方法を示す。この場合、Ｘ線の焦点と円形ＦＯＶの中心点とを通る直線を引き、その直線とＦＯＶの交点位置（Ｐ１、Ｐ２）を透過するＸ線が最大／最小コーン角を形成する。
【００３９】
図８は、ファンビーム、かつ、矩形ＦＯＶの場合における必要なスライス範囲の算出方法を示す。この場合、中心直線の交点を透過するＸ線が最大／最小コーン角になるとは限らず、矩形ＦＯＶの４隅の点を取り、比較する必要がある。
【００４０】
矩形ＦＯＶの手法は、円形ＦＯＶのときにも適用可能である。図９は、円形ＦＯＶの場合に矩形ＦＯＶの算出方法を適用した例を示す。この場合、実線で示した円形ＦＯＶに対し、この円形ＦＯＶを内接円とする矩形範囲（点線で図示したＰ１−Ｐ２−Ｐ３−Ｐ４の範囲）を設定し、この矩形ＦＯＶの四隅から最大／最小コーン角を計算することができる。
【００４１】
次に、上記スライス範囲の算出に使用する点（画素）の座標（画素位置）の求め方について説明する。
【００４２】
再構成に使用するビーム形状（ファンビームかパラレルビームか）に関わらず、スライス範囲の算出に使用する画素は、ＦＯＶが矩形の場合はＦＯＶサイズと再構成画像マトリックス、例えば５１２×５１２等とに依存し、ＦＯＶが円形の場合は矩形の条件に加えてＸ線管球位置（ビュー）にも依存する。そのため、再構成演算処理前に計算しておき、テーブル化しておくことが可能である。また、処理に大きな負荷がかからなければその都度計算してもよい。
【００４３】
矩形ＦＯＶの場合、４隅の画素位置の座標（ｘ，ｙ）は以下のように求められる。
【００４４】
Ｐ１＝（−ＦＯＶｘ／２，−ＦＯＶｙ／２）、Ｐ２＝（ＦＯＶｘ／２，−ＦＯＶｙ／２）、Ｐ３＝（−ＦＯＶｘ／２，ＦＯＶｙ／２）、Ｐ４＝（ＦＯＶｘ／２，ＦＯＶｙ／２）
また円形ＦＯＶの場合は、以下のように画素位置（ｘ，ｙ）を求める。（パラメータ：α＝管球位置（ｒａｄ））
Ｐ１＝（（ＦＯＶ／２）×Ｓｉｎα，（ＦＯＶ／２）×Ｃｏｓα）、
Ｐ２＝（−（ＦＯＶ／２）×Ｓｉｎα，−（ＦＯＶ／２）×Ｃｏｓα）
画像処理装置２０は、これらの画素位置を基に、ビュー毎にスライス範囲の算出を行う。この際に使用するコーン角の算出方法は、三次元逆投影処理で使用されるアルゴリズムと同様のものでよい。画像処理装置２０は、得られたコーン角を比較し、最大コーン角と最小コーン角とを決定する。そして、最大コーン角に対するスライス（ｎＰ１番スライス）と最小コーン角に対するスライス（ｎＰ２番スライス）とを算出し、ｎＰ１番スライスからｎＰ２番スライスまでを必要なスライス範囲と決定する。そして、画像処理装置２０は、フィルタリング処理後の測定データが格納されたメモリ等の記憶装置から、このスライス範囲に相当する測定データのみを抽出し、その測定データを三次元逆投影処理用演算処理装置２１ｂに渡す。
【００４５】
本実施の形態に係るマルチスライスＸ線ＣＴ装置１により、ＦＯＶに応じて、必要なスライス範囲の測定データのみを逆投影処理手段に転送することができ、全スライスの測定データを転送する場合に比べてデータ量を削減できる。
【００４６】
上記の実施の形態においてはファンビームにおけるスライス範囲の算出方法について述べたが、パラレルビームにおいてもＦＯＶに応じて必要なスライス範囲を算出することができる。
【００４７】
図１０は、パラレルビーム、かつ、円形ＦＯＶの場合における必要なスライス範囲の算出方法を示す。この場合、まず、パラレルビームの両端のＸ線（Beam１及びBeam２）の位相をファンビーム相当に変換する。そして、ファンビームの場合と同様にそれぞれ最大／最小コーン角を求める。
【００４８】
図１１は、パラレルビーム、かつ、矩形ＦＯＶの場合おける必要なスライス範囲の算出方法を示す。この場合、図８のファンビーム、かつ、矩形ＦＯＶの場合と同様に、矩形ＦＯＶの４隅の点を取り、比較する必要がある。
【００４９】
上記実施の形態におけるスライス範囲算出処理を行った結果を図１３に示す。
【００５０】
図１３は、パラレルビームコーンビーム再構成演算で使用するスライス範囲の例を示す。６４列のマルチスライスパラレルビーム再構成で使用するスライス範囲は、計算機によるシュミレーションの結果、最右欄に記載した「最大必要スライス範囲」の数値となった。この場合、最もデータ転送量が多いときでも５７．５ＭＢ（約６４．１％減）となった。このように、最適なスライス範囲を算出して、そのスライス範囲に該当する測定データのみを三次元逆投影処理用演算処理装置２１ｂに転送することにより、データ転送量を削減し、より処理速度が速いパイプライン処理を組むことができる。
【００５１】
また、上記の実施の形態においては、スライス範囲算出処理をフィルタリング後の処理に加えたが、スライス範囲算出処理は、「フィルタリング処理後のビュー毎の測定データ」、「各ＣＰＵへのデータ転送」、「三次元逆投影処理」等には影響されずパイプライン処理に依存しないため、図１２に示すようにパイプライン処理から独立して処理してもよい。
【図面の簡単な説明】
【００５２】
【図１】図１は、本実施の形態に係るＸ線ＣＴ装置の構成を示す概念図である。
【図２】図２は、本実施の形態に係るＸ線ＣＴ装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
【図３】図３は、本実施の形態に係るＸ線ＣＴ装置における画像再構成処理の流れを示すフローチャートである。
【図４】図４は、三次元逆投影処理の例を示す概念図である。
【図５】図５は、Ｘ線ＣＴ装置を上部から眺めた状態における最大/最小コーン角の関係を示す概念図である。
【図６】図６は Ｘ線管球及び多列検出器と再構成断面との相対的な位置関係により、最大／最小コーン角が変化する状態を示す概念図である。
【図７】図７は、図５の位置関係において、ファンビーム再構成時における円形FOVのスライス範囲算出に使用する画素位置を示す概念図である。
【図８】図８は、図５の位置関係において、ファンビーム再構成時における矩形FOVのスライス範囲算出に使用する画素位置を示す概念図である。
【図９】図９は、円形FOVを包含する矩形FOVを示す概念図である。
【図１０】図１０は、図５の位置関係において、パラレルビーム再構成時における円形FOVのスライス範囲算出に使用するビーム位置を示す概念図である。
【図１１】図１１は、図５の位置関係において、パラレルビーム再構成時における矩形FOVのスライス範囲算出に使用する画素位置を示す概念図である。
【図１２】図１２は、スライス範囲算出処理を独立させた処理の流れを示すフローチャートである。
【図１３】図１３は、パラレルビームコーンビーム再構成演算で使用するスライス範囲の例を示す図である。
【符号の説明】
【００５３】
１…マルチスライスＸ線ＣＴ装置、１０…計測部、１１…Ｘ線管球、１２…多列検出器１２…回転盤、１４…プリアンプ、２０…画像処理装置、２１ａ…ＣＰＵ、２１ｂ…演算処理装置、２２…主メモリ、２３…磁気ディスク、２４…キーボード、２５…マウス、２６…コントローラ、２７…表示メモリ、２８…入出力インターフェース、２９…共通バス、３０…画像表示装置、４０…寝台、５０…被検体
【図１】
2006075421.tif 000003
【図２】
2006075421.tif 000004
【図３】
2006075421.tif 000005
【図４】
2006075421.tif 000006
【図５】
2006075421.tif 000007
【図６】
2006075421.tif 000008
【図７】
2006075421.tif 000009
【図８】
2006075421.tif 000010
【図９】
2006075421.tif 000011
【図１０】
2006075421.tif 000012
【図１１】
2006075421.tif 000013
【図１２】
2006075421.tif 000014
【図１３】
2006075421.tif 000015