(57)【要約】    【課題】  光記憶媒体の記録動作でエラーが発生した場合のリトライを最適化する。    【解決手段】ライトリトライ処理部７８は、ライト実行でベリファイエラーが発生しベリファイリトライが不成功となった場合、光記憶媒体にデータを記録するためのフォーカスオフセットを設定変更しながらライト、ベリファイのライトリトライ動作を繰り返す。学習処理部８０、ライトリトライの成功時に、例えば成功したリトライオフセットの加算回数と成功したリトライオフセットの減算回数の総和を学習結果として保存し、書込条件変更部８２は学習処理部８０で保存した学習結果の絶対値が所定の閾値以上のとき、デフォルトのフォーカスオフセット設定値をリトライに成功した最新のフォーカスオフセット設定値に近づけるように変更する。    【選択図】      図１
2006164465.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
レーザビームにより光記憶媒体にデータを記録する記録部と、
再生に必要なパラメータを最適な値に設定することによって前記光記憶媒体に記録されているデータを再生する再生部と、
前記記録部でベリファイエラーが発生しベリファイリトライが不成功となった場合、前記光記憶媒体にデータを記録するためのフォーカスオフセットを設定変更しながらライト、ベリファイのライトリトライ動作を繰り返すライトリトライ処理部と、
を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項２】
請求項１記載の光学的記憶装置に於いて、前記ライトリトライ処理部は、ライトリトライ時に、デフォルトのフォーカスオフセット設定値にリトライオフセットを加算するパラメータの設定変更と前記フォーカスオフセット設定値からリトライオフセットを減算するパラメータの設定変更を含む複数段階のライトリトライ動作を繰り返すことを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項３】
請求項２記載の光学的記憶装置に於いて、更に、
前記ライトリトライの成功時に、成功したフォーカオフセット設定値とリトライオフセットの加算回数と成功したリトライオフセットの減算回数の総和を学習結果として保存する学習処理部と、
前記学習処理部で保存した学習結果の絶対値が所定の閾値以上のとき、前記デフォルトのフォーカオフセット設定値をリトライに成功した最新のフォーカオフセット設定値に近づけるように変更する書込条件変更部と、
を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項４】
請求項２記載の光学的記憶装置に於いて、更に、
上位装置からのライトコマンドの記録セクタ数を保持すると共に、前記ライトリトライ処理部により複数段階のライトリトライ動作を繰り返す毎に、記録可能となったセクタ数と前記各段階毎に予め設けた係数との積の総和を学習結果として保存する学習処理部と、
前記ライトリトライの成功時に、前記学習結果の絶対値が所定の閾値以上のとき前記デフォルトのフォーカオフセット設定値をリトライに成功した最新のフォーカオフセット設定値に近づけるように変更する書込条件変更部と、
を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。
【請求項５】
光記憶媒体の記録方法において、
レーザビームにより光記憶媒体にデータを記録する記録ステップと、
前記記録ステップでベリファイエラーが発生しベリファイリトライが不成功となった場合、前記光記憶媒体にデータを記録するためのフォーカスオフセットを設定変更しながらライト、ベリファイのライトリトライ動作を繰り返すライトリトライ処理ステップと、
を備えたことを特徴とする光記憶媒体の記録方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、レーザ光を用いて情報の記録と再生を行う光学的記憶装置、光記憶媒体の記録方法及びプログラムに関し、特にビーム径よりも小さい密度でデータを記録再生するＭＳＲ媒体を含む光記憶媒体の記録再生動作でエラーが発生した場合のリトライを最適化する光学的記憶装置、光記憶媒体の記録方法及びプログラムに関する。
【背景技術】
【０００２】
従来よりＭＯドライブ等の光学的記憶再生装置にあっては、媒体への記録時はライトリトライ機能が、媒体からの再生時はリードリトライ、ベリファイリトライ機能を備えている。なお、媒体への記録は、イレーズ、ライト、ベリファイリードの順に行われる。
【０００３】
このようなリトライで設定値を変えるパラメータは多数存在する。リードリトライ、ベリファイリトライでのパラメータは、再生磁界、リードパワー、ローパスフィルタのカットオフ周波数とブースト、スライス回路のスライスレベル、データ弁別器のウィンドウ値(ウィンドウ遅延時間)、フォーカスオフセットがある。またライトリトライでのパラメータは、イレーズパワー、ライトパワー、消去磁場、書込磁場がある。このようなリトライ機能を用いることにより、ライトエラー、リードエラーを防いでいる。
【特許文献１】特開２０００−１８２２９２号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
しかしながら、このような従来の光学的記録再生装置にあっては、リトライ機能を用いても完全にライトエラー、リードエラーを防げるものでもなく、その要因として、ずれたライトパワーで媒体へ記録することが考えられる。このライトパワーのずれによりライトエラーあるいはライトエラーにはならなくてもリードエラーが発生する。
【０００５】
このためずれたライトパワーで媒体へ記録することを防ぐ対策を講じる必要があり、ライトパワーがずれる要因としては、装置のばらつき、媒体の特性、フォーカス点のずれ等、さまざまな要因が挙げられる。特に近年にあっては、光学系の小型化により対物レンズの焦点距離が短くなっており、フォーカス点のずれに起因したライトエラーの発生が懸念されている。
【０００６】
本発明は、光記憶媒体の記録動作でエラーが発生した場合のリトライを最適化する光学的記録装置、光記憶媒体の記録方法及びプログラムを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【０００７】
図１は本発明の原理説明図である。
【０００８】
本発明は光学的記録再生装置を提供する。本発明の光学的記録再生装置は、レーザビームにより光記憶媒体にデータを記録する記録部と、再生に必要なパラメータを最適な値に設定することによって光記憶媒体に記録されているデータを再生する再生部と、記録部でベリファイエラーが発生しベリファイリトライが不成功となった場合、光記憶媒体にデータを記録するためのフォーカスオフセットを設定変更しながらライト、ベリファイのライトリトライ動作を繰り返すライトリトライ処理部７８とを備えたことを特徴とする。
【０００９】
ここで、ライトリトライ処理部７８は、ライトリトライ時に、デフォルトのフォーカオフセット設定値にリトライオフセットを加算するパラメータの設定変更とフォーカオフセット設定値からリトライオフセットを減算するパラメータの設定変更を含む複数段階のライトリトライ動作を繰り返す。
【００１０】
本発明の光学的記憶装置は、更に、ライトリトライの成功時に、成功したフォーカオフセット設定値とリトライオフセットの加算回数と成功したリトライオフセットの減算回数の総和を学習結果として保存する学習処理部８０と、学習処理部８０で保存した学習結果の絶対値が所定の閾値以上のとき、デフォルトのフォーカオフセット設定値をリトライに成功した最新のフォーカオフセット設定値に近づけるように変更する書込条件変更部８２とを備える。
【００１１】
また本発明の光学的記憶装置は、更に、上位装置からのライトコマンドの記録セクタ数を保持すると共に、ライトリトライ処理部により複数段階のライトリトライ動作を繰り返す毎に、記録可能となったセクタ数と各段階毎に予め設けた係数との積の総和を学習結果として保存する学習処理部８０と、ライトリトライの成功時に、学習結果の絶対値が所定の閾値以上のときデフォルトのフォーカオフセット設定値をリトライに成功した最新のフォーカオフセット設定値に近づけるように更新する書込条件変更部８２とを備える。
【００１２】
この場合、学習処理部８６は、
条件を変更するライトリトライ毎に成功したセクタ数に所定の係数を乗じた値を合計した第１合計値Ｂを算出し、
条件を変更しないライトリトライ毎に成功したセクタ数に所定の係数を乗じた値を合計した第２合計値Ｃを算出し、
学習終了時の学習カウント値と第１合計値Ｂの合計値が０以下の場合は、前回学習終了時の学習カウント値と第１合計値Ｂとの合計値に第２合計値Ｃを加算して学習カウント値Ａを求め、学習カウント値が０以上の場合は０にクリップし、学習カウント値が０未満の場合はそのまま保存し、
前回学習終了時の学習カウント値と第１合計値Ｂの合計値が０より大きい場合は、前回学習終了時の学習カウント値と第１合計値Ｂとの合計値から第２合計値Ｃを減算して学習カウント値Ａを求め、学習カウント値Ａが０未満の場合は０にクリップし、学習カウント値Ａが０以上の場合はそのまま保存する。
【００１３】
リトライ処理部は、ライトリトライ時に光記憶媒体にフォーマットされた各ゾーン、光記憶媒体の記録領域を複数のエリアに分割した各エリア、装置内の温度の少なくともいずれかに応じてフォーカスオフセットを設定変更する。
【００１４】
本発明は、光記憶媒体の記録方法を提供する。本発明の記録方法は、
レーザビームにより光記憶媒体にデータを記録する記録ステップと、
記録ステップでベリファイエラーが発生しベリファイリトライが不成功となった場合、光記憶媒体にデータを記録するためのフォーカスオフセットを設定変更しながらイレーズ、ライト、ベリファイのライトリトライ動作を繰り返すライトリトライ処理ステップと、
を備えたことを特徴とする。
【００１５】
本発明は光学的記憶装置のコンピュータで実行されるプログラムを提供する。本発明のプログラムは、コンピュータに、
レーザビームにより光記憶媒体にデータを記録する記録ステップと、
記録ステップでベリファイエラーが発生しベリファイリトライが不成功となった場合、光記憶媒体にデータを記録するためのフォーカスオフセットを設定変更しながらライト、ベリファイのライトリトライ動作を繰り返すライトリトライ処理ステップと、
を実行させることを特徴とする。
【００１６】
なお、本発明における光記憶媒体の記録方法及びプログラムの詳細は、本発明の光学的記録再生装置と基本的に同じになる。
【発明の効果】
【００１７】
本願発明者は、ライトパワーのずれを、装置のばらつきや媒体の特性等によるものと、フォーカス点のずれによるものと考察した結果、前者は、ライトリトライの過程でライトパワーを上げ下げすることでライトパワーのずれを吸収することができる。
【００１８】
これに対し後者のフォーカス点のずれについては、本発明によりライトリトライの過程でフォーカスオフセットの値を加減算してフォーカス点を変更することによりフォーカス点のずれによるライトパワーのずれを吸収することができる。
【００１９】
このライトリトライにおけるフォーカスオフセットの変更は、あくまでもライトリトライ過程での処理であり、ライトパワーもしくはフォーカスオフセットのデフォルト値の値が変わらなければ、同様のライトリトライが発生する。
【００２０】
そこで本発明にあっては、ライトリトライでライトパワーやフォーカスオフセットを変更させるだけではなく、更にライト成功時のライトリトライ時の状態を記憶し、成功したときの設定値や、設定値と成功セクタ数との関係を学習し、フォーカスオフセットのデフォルト値を変更して新たなデフォルト値とする学習処理を行う。
【００２１】
このように本発明は、ライトリトライ時にライトパワーやフォーカスオフセット値を変える機能と、そのライトリトライで成功したときの設定値等によるライト学習機能という2つの機能を単独、あるいは併用することで、ライトパワーずれ、フォーカス点のずれを改善することができる。この結果、ライトリトライやリードリトライの発生、ライトエラーやリードエラーの発生を滅少させ、安定した記録再生を行うことができ、装置の性能を向上することができる。
【００２２】
特に、小型化の光学系やフォトディテクタに光を導くレンズとフォトディテクタまでの焦点距離が短い光学系を有する装置に本発明のライトリトライでフォーカスオフセットを変更する技術は有効である。
【００２３】
光学系を小型化した装置につき製造段階で行う性能試験等で問題になった場合、本発明の技術がない場合には、機械的にヘッドを再調整したり、部品交換で対応しなければならなかったものが、本発明により、よほど性能が悪いものを除き、機械的なばらつきが吸収されて性能試験等をクリアすることができ、不良品の発生率を低減して製造の効率を向上させることができる。このような製品化率の向上は、装置の製造メーカにとって有用な技術であり、この点で本発明は大きく貢献するものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
図２は、本発明の光学的記憶装置としての光ディスクドライブの説明図であり、光磁気記憶媒体として光磁気ディスク（ＭＯ）カートリッジを例にとっている。
【００２５】
図２において、光ディスクドライブは、媒体のランド、ランド・グルーブ又はグルーブを利用した記録再生が可能なドライブであり、コントローラ１０とエンクロージャ１２で構成される。コントローラ１０には全体的な制御を行うファームウェアとしてのＭＰＵ１４、ホストとの間のやり取りを行うインターフェースコントローラ１６、媒体のリード、ライトに必要なフォーマッタやＥＣＣ機能を備えた光ディスクコントローラ（ＯＤＣ）１８及びバッファメモリ２０を備える。
【００２６】
光ディスクコントローラ１８に対しては、ライト系統としてエンコーダ２２が設けられ、また光ディスクコントローラ１８に対するリード系統としてディテクタ３２、ヘッドアンプ３４、リードＬＳＩ回路２８、デコーダ２６が設けられる。更にレーザダイオード制御回路２４、レーザダイオードユニット３０が設けられる。
【００２７】
ディテクタ３２は光磁気ディスクからの戻り光を受光し、ヘッドアンプ３４を介してＩＤ信号とＭＯ信号をリードＬＳＩ回路２８に出力する。リードＬＳＩ回路２８は入力したＩＤ信号及びＭＯ信号からリードクロックとリードデータを作成し、デコーダ２６に出力する。ＭＰＵ１４に対しては温度センサ３６で検出した装置内の環境温度が入力され、環境温度に基づきレーザダイオードユニット３０における発光パワーを最適化する。
【００２８】
更にＭＰＵ１４はドライバ３８を介してスピンドルモータ４０を制御し、またドライバ４２を介して電磁石４４を制御する。電磁石４４はＭＯカートリッジを使用した記録及び消去時に外部磁界を供給し、また１．３ＧＢや２．３ＧＢのＭＯカートリッジにおける超解像光磁気媒体（ＭＳＲ媒体）の場合には再生時にも外部磁界を供給する。
【００２９】
ＤＳＰ１５はサーボエラー信号に基づいてヘッドアクチュエータに搭載した対物レンズを光磁気ディスクに対しての目標位置に位置付けるサーボ制御を行う。このサーボ制御は、対物レンズを媒体の目標トラック位置に位置付けるトラック制御と、対物レンズを媒体に対し合焦位置に制御するフォーカス制御の２つの機能を持つ。
【００３０】
このサーボ制御に対応してフォトディテクタ４６、フォーカスエラー信号検出回路４８、トラックエラー信号検出回路５０が設けられる。フォーカスエラー信号検出回路４８は、例えばフォーカス光学系としてナイフエッジ法によってフォーカスエラー信号を作成する。
【００３１】
ＤＳＰ１５は、フォーカス制御についてはドライバ５４によりレンズアクチュエータ５６を駆動し、フォーカス引込み制御によりフォーカスサーボをオンして対物レンズを光軸方向の合焦位置に位置決めする。
【００３２】
またトラック制御についてはドライバ５８によりＶＣＭを用いたキャリッジアクチュエータ６０を駆動し、対物レンズを媒体上の目標トラックセンタに位置付ける。
【００３３】
図３は図２のＤＳＰ１５により実現されるフォーカスサーボループの説明図である。図３において、光ディスクからの反射光はフォトディテクタ４６で電気信号に変換された後、ＦＥＳ検出回路４８でフォーカスエラー検出信号に変換され、ローパスフィルタ１３０を通ってＳＤＰ１５に入力される。
【００３４】
ＤＳＰ１５には、ＡＤコンバータ１３２、入力ゲイン設定器１３４、ＰＩＤ制御部１３６、サーボスイッチ１３８、出力ゲイン設定器１４０、ＤＡコンバータ１４２が設けられている。ＤＳＰ１５の出力はパワーアンプを用いたドライバ５４で増幅された後、フォーカスコイル１４４を駆動し、対物レンズ９８を光軸方向に駆動してフォーカス制御する。
【００３５】
出力ゲイン設定器１４０の入力側の加算器１４８には第１オフセット設定器から第１フォーカスオフセットが設定され、これがフォーカスサーボの制御目標値となる。第１フォーカスオフセットは、ＭＯカートリッジを投入した際の初期調整で決定された最適値が使用される。
【００３６】
入力ゲイン設定器１３４の入力側の加算器１５２には第２オフセット設定器１５０から第２フォーカスオフセットが設定される。この第２フォーカスオフセットは、装置の使用中における温度変化などに起因した焦点ずれを補正するために使用され、装置の組立最終段階で行われるゲイン調整処理で得られた最適値をデフォルトとして設定している。本発明にあっては、ライトリトライ処理でフォーカス点のずれを調整するため、デフォルトの第２フォーカスオフセットを変化させながらライトリトライ動作を行うことになる。
【００３７】
図４は図２の光学的記憶再生装置におけるコマンド処理機能の説明図である。図４において、ファームウエアとして機能するＭＰＵ１４には、プログラム制御により実行されるリードコマンド処理部６２とライトコマンド処理部６４が設けられている。
【００３８】
リードコマンド処理部６２には、リード実行部６６、リードリトライ処理部６８及び再生条件変更部７０が設けられている。リードコマンド処理部６２は、リード動作の際にドライバ４２を介して電磁石４４により外部磁界の強さを制御すると共に、レーザダイオード制御回路２４に設けているリードパワー制御部９０を介してレーザダイオードユニット３０からのレーザ光の強さを制御する。
【００３９】
ライトコマンド処理部６４には、イレーズ実行部７１、ライト処理部７２及びベリファイ処理部７４が設けられている。ライト処理部７２には、ライト実行部７６、本発明により提供されるライトリトライ処理部７８、学習処理部８０及び書込条件変更部８２の機能が設けられる。
【００４０】
またベリファイ処理部７４には、ベリファイ実行部８４、ベリファイリトライ処理部８６及びベリファイ条件変更部８８の機能が設けられる。
【００４１】
ライトコマンド処理部６４は、レーザダイオード制御回路２４に設けているリードパワー制御部９０、イレーズパワー制御部９２及びライトパワー制御部９４のそれぞれにより、イレーズ時、ライト時及びベリファイリード時に必要なパワーとなるように、レーザダイオードユニット３０を制御する。
【００４２】
リードコマンド処理部６２に設けたリード実行部６６は、上位のホストからのリードコマンドを解読し、光記憶媒体の特定位置の１または複数のセクタに対するリード動作を実行する。
【００４３】
リードリトライ処理部６８は、リード実行部６６によりデータを再生する際に、再生が正常に行われずにエラーが生じたとき、レーザ光の強度と再生磁界の強度を各々、予め用意された複数段階に変えて再度、再生を行う。また再生条件変更部７０は、例えばホストからの１回のリードコマンドにおける再生セクタ数（「ブロック数」とも言う）を覚えておき、リトライが発生したときには各々の段階で再生可能となったセクタ数を個々の段階ごとにカウントし、予め各段階に係数を設けておき、この係数とカウントした再生可能セクタ数の積の総和からデフォルトの再生条件を変更する。
【００４４】
このリードリトライ処理部６８におけるレーザ光の強度と再生磁界の強度を複数段階に変えて再度、再生を行う目的は、クロストークを防止するためである。
【００４５】
ライトコマンド処理部６４はホストからライトコマンド及びデータを受けた際に、書込先となる光記憶媒体の所定の１または複数のセクタを対象に、まずイレーズ実行部７１を動作してイレーズ動作を行い、次にライト処理部７２を動作してデータの書込動作を行い、最後にベリファイ処理部７４を動作して書き込んだデータを読み出して照合するベリファイ動作を行う。
【００４６】
このうちライト処理部７２に設けたライトリトライ処理部７８は、ベリファイエラーが発生してベリファイリトライが不成功となった場合、光記憶媒体にデータを記録するためのフォーカスオフセットを設定変更しながら、即ちフォーカス点のずれを調整しながら、イレーズ、ライト、ベリファイのライトリトライ動作を繰り返す。
【００４７】
このライトリトライ処理部７８の具体的な処理にあっては、ベリファイリトライが不成功となった際に、即ち、クロストーク防止を目的としてレーザ光の強度と再生磁界の強度を複数段階に変えて再度、再生を行ってもベリファイできなかった場合には、ライト動作そのものに問題があるものとして、レーザ光の書込み強度を変えるライトパワーオフセットとフォーカスオフセットを、予め用意された段階に設定変更しながらライトリトライ動作を繰り返す。
【００４８】
即ち、本発明のライトリトライ処理におけるフォーカスオフセット（第２フォーカスオフセット）の設定変更は、フォーカス点のずれを調整することを目的としたものであり、デフォルトのフォーカスオフセット設定値にリトライオフセットを加算するパラメータの設定変更と、デフォルトのフォーカスオフセット設定値からリトライオフセットを減算するパラメータの設定変更を含む複数段階のライトリトライ動作を繰り返す。
【００４９】
学習処理部８０はライトリトライ動作におけるフォーカスオフセットの設定変更を学習し、書込条件変更部８２が学習処理部８０による学習結果に基づきデフォルトのフォーカスオフセットを変更する。
【００５０】
本発明における学習処理部８０及び書込条件変更部８２としては、次の第１実施形態と第２実施形態がある。
【００５１】
まず第１実施形態にあっては、学習処理部８０はライトリトライの成功時に、成功したフォーカスオフセット設定値と、リトライオフセットの加算回数と成功したリトライオフセットの減算回数の総和を学習結果として保存する。書込条件変更部８２は、学習処理部８０で保存した学習結果の絶対値が所定の閾値以上のとき、デフォルトのフォーカスオフセット設定値をリトライに成功した最新のフォーカスオフセット設定値に近付けるように変更する。
【００５２】
本発明の第２実施形態にあっては、学習処理部８０はホストからのライトコマンドの記録セクタ数を保持すると共に、ライトリトライ処理部７８により複数段階のライトリトライ動作を繰り返すごとに、記録可能となったセクタ数と各段階ごとに予め設けた係数との積の総和を学習結果として保存する。この場合、書込条件変更部８２は、ライトリトライの成功時に学習処理部８０に保存している学習結果の絶対値が所定の閾値以上のとき、デフォルトのフォーカスオフセット設定値をリトライに成功した最新のフォーカスオフセット設定値に近付けるように変更する。
【００５３】
更にライトリトライ処理部７８は、ライトリトライ時に光記憶媒体にフォーマットされた各ゾーン、光記憶媒体の記録領域を複数のエリアに分割した各エリア、装置内の温度の少なくともいずれかに応じてフォーカスオフセットを設定変更する。
【００５４】
ベリファイ処理部７４のベリファイリトライ処理部８６は、ライト処理部７２により光記憶媒体にデータを書き込んだ後のベリファイ再生を行う際に、ベリファイが正常に行われずにエラーとなったときに、レーザ光の強度と再生磁界の強度を個々に、予め用意された段階に変えて、再度ベリファイを行う。
【００５５】
ベリファイ処理部７４におけるベリファイ実行部８４、ベリファイリトライ処理部８６及びベリファイ条件変更部８８のそれぞれの機能は、リードコマンド処理部６２に設けているリード実行部６６、リードリトライ処理部６８及び再生条件変更部７０と実質的に同じ処理機能を持ち、実行されるコマンドの種類とそのタイミングが異なるだけである。
【００５６】
ここで本発明の光学的記憶装置にあっては、最初に装置ごとにパラメータの最適値を求めてデフォルトとして設定している。このパラメータの最適値は自動ゲイン調整処理（以下「ＧＡ処理」という）により求めることができる。このＧＡ処理は工場の組立最終段階において常温で行われる。このようにパラメータの最適値を装置ごとに調整することで、装置の初期段階にあってはパラメータの装置ごとのばらつきを吸収することができる。
【００５７】
ＧＡ処理の対象となるパラメータには、フォーカスゲイン、トラックゲイン、フォーカスオフセット、トラックオフセットなどのサーボ動作及びライトリード動作と、性能に影響を与える重要なパラメータが含まれている。本発明で最適化されるフォーカスオフセットのデフォルト値についても、ＧＡ処理により初期段階で求めて設定している。
【００５８】
しかし、装置の初期段階でパラメータの最適値を求めるデフォルトとして設定した場合であっても、装置の動作時には条件が様々に変わり、主なものとしては温度変化や時間経過などが挙げられる。
【００５９】
ＧＡ処理で求めたパラメータの最適値は、常温では最適値ということができるが、低温で動作させる場合には最適であるとは必ずしも言うことができない。即ち、温度差があれば機構部品や回路部品などに影響を及ぼすことになり、このため温度変化などにより条件が変わった場合には、ＧＡ処理で求めたデフォルト値に補正をかける必要がある。
【００６０】
この最適パラメータの補正をフォーカスオフセットについて説明すると次のようになる。図５は本発明の光学的記憶装置における光学系の説明図である。図４において、レーザダイオードユニット３０からのレーザ光はコリメータメンズ１０２で平行光に変換され、ビームスプリッタ１０４で反射され、対物レンズ９８を通ってＭＯディスク９６にビームスポットを結像する。ＭＯディスク９６からの反射光は対物レンズ９８で集光された後、ビームスプリッタ１０４を通り、光分割素子１０６、更にサーボレンズ１０８を通り、フォトディテクタ４６に集光されている。
【００６１】
このような光学系においては、装置全体を小型化するため光学系を小さくする必要があり、光学系の小型化は例えばサーボレンズ１０８からフォトディテクタ４６までの焦点距離を小さくすることで、その分、光学系の可動部となる光ヘッドを小さくすることができる。
【００６２】
このように光学系の小型化によりレンズの焦点距離を小さくすると、焦点ずれに対し、その影響を受け易い光学系となり、本発明によるフォーカスオフセットの設定変更によるリトライ動作が必要となる。なお、本願出願人の従来機種に対し、焦点距離を約１／２にした場合に、本発明の必要性があることを本願発明者は新規に見出している。
【００６３】
図６は温度変化に対する対物レンズの焦点ずれの説明図である。図６において、対物レンズ９８は焦点距離ｆを持っており、対物レンズ９８の曲率半径はｒ１，ｒ２であり、屈折率はｎとなっている。また対物レンズ９８に入射するレーザ光１００の波長はλである。
【００６４】
ここで、温度変化が生ずると次の物性が変化する。
（１）対物レンズ９８の曲率半径ｒ１，ｒ２
（２）対物レンズ９８の屈折率ｎ
（３）ＭＯディスク９６の反り、膨張、収縮
（４）レーザ光１００の波長λ
この場合、対物レンズ９８の焦点距離ｆは次式で与えられる。
【００６５】
【数１】
2006164465.tif 000003
このため、温度により前記（１）〜（３）までの物性が変化すると焦点距離ｆが変わることになる。また前記（４）のレーザ光１００の波長λの変化は、対物レンズ９８やＭＯディスク９６への屈折率ｎが変化して見えるため、この波長λの変化によっても焦点距離が変わることに繋がる。
【００６６】
このことから温度環境が変化すると対物レンズ９８の焦点距離ｆがｆ１もしくはｆ２へと変化し、ＭＯディスク９６上での焦点がぼけ、焦点ずれによる状態で書込みを行ってしまうため、ライトパワーがずれた状態で書込みが行われ、読出性能が悪化することになる。
【００６７】
そこで本発明にあっては、ライトリトライ処理において、対物レンズ９８をフォーカスオフセット値の設定変更により焦点方向に動かすことで、焦点ずれを補正しながらライトリトライ動作を行い、その結果に基づく学習処理で、焦点ずれが大きい場合にはデフォルトのフォーカスオフセット、即ちフォーカスサーボの制御目標値を変更することになる。
【００６８】
図７は本発明の光学的記憶装置について、横軸にライトパワーオフセットをとり、縦軸にフォーカスオフセットをとった２次元平面について、測定されたエラーレートの分布を示した説明図である。
【００６９】
図７において、ＧＡ処理でフォーカスオフセットＦＯＦＳＴは例えば「０ｘ１６」という制御値にあり、またライトパワーオフセットＰｗは「ｆ４００」という値にあり、エラーレート平面上の動作点１１２を持っている。この動作点１１２は斜線部で示す最小エラーレート領域１１０に対しずれており、これは測定状態でＧＡ処理で求めたデフォルトのフォーカスオフセットの値が最適値からずれた状態を示している。
【００７０】
この場合のフォーカスオフセットの最適値としては例えば「０ｘ３０」付近にあり、最小エラーレート領域１１０の中に動作点１１４を持つことになる。
【００７１】
本発明にあっては、例えば図７のフォーカスオフセットがずれた動作点１１２の状態でライト処理に失敗してライトリトライ処理となった際に、動作点１１２を持つフォーカスオフセットのデフォルトの値をプラス側とマイナス側にオフセットを加減算して変化させながらライトリトライ動作を行うことで、この例ではフォーカスオフセットにリトライオフセットを加算してプラス側に変化させると、最小エラーレート領域１１０に動作点を入れることでライトリトライ処理を成功させることができる。
【００７２】
このようなライトリトライ動作の際にフォーカスオフセットの設定値を変更してライト処理を成功させたとしても、フォーカスオフセットのデフォルトの値が変わらなければ、その後、同様なライトリトライが発生する。そこで本発明にあっては、ライトリトライ処理におけるライトパワーやフォーカスオフセットの設定変更でライトリトライを成功させるだけではなく、ライト成功時のライトリトライ時の状態を記憶して学習し、成功したときの設定値や設定値と成功セクタとの関係を学習し、フォーカスオフセットのデフォルトの値を変更するようにしている。
【００７３】
図８は本発明のライトリトライ処理の第１実施形態で使用するライトリトライ制御テーブルの説明図である。図８のライトリトライ制御テーブル１１６に従ったライトリトライ処理の第１実施形態にあっては、ベリファィリトライがリトライアウトした際に、ライト処理回数１〜６に示す６段階のライトリトライ処理を、ライト条件を変更しながら行う。
【００７４】
即ち、１回目のライトリトライはライトパワー及びフォーカスオフセット共にデフォルトであるが、２回目にあってはライトパワーをリトライオフセットΔＰｗ加算し、また３回目にあってはリトライオフセットΔＰｗを減算してライトパワーを変化させる。
【００７５】
４回目及び５回目はフォーカスオフセットの設定値を変更している。即ち４回目にあっては、リトライオフセットΔＦＯＦＳＴを加算してフォーカスオフセットを増加させ、また５回目にあってはリトライオフセットΔＦＯＦＳＴを減算させてフォーカスオフセットを小さくしている。最後の６回目については、ライトパワー及びフォーカスオフセット共にデフォルトとしたライトリトライを行っている。
【００７６】
図９は図８のライトリトライ制御テーブル１１６を用いたライトリトライ処理の第１実施形態を含む本発明のライトコマンド処理のフローチャートである。
【００７７】
図９において、ライトコマンド処理は、ステップＳ１でホストから受信されたライトコマンドにつき光記憶媒体の書込対象セクタのイレーズ動作を実行する。続いてステップＳ２で、イレーズの済んだ対象セクタにライト動作を実行する。次にステップＳ３で、ライト動作の済んだ対象セクタからデータを再生して検証するベリファィ動作を実行する。ステップＳ４でライト成功が判別されると、ステップＳ１１〜Ｓ１５の学習処理１１８、及びステップＳ１６，Ｓ１８の書込条件変更処理１２０を介して処理を終了する。
【００７８】
ステップＳ４でライト処理が不成功の場合には、ステップＳ５に進み、ベリファイライトのリトライアウト、即ちベリファイライトを所定回数繰り返してエラーとなるまで、ステップＳ６でベリファイ条件を変更しながらベリファイリトライを繰り返す。
【００７９】
ステップＳ５でベリファイリトライに失敗してリトライアウトとなると、ステップＳ７でライトリトライのリトライアウトをチェックしており、所定回数のライトリトライを行ってリトライアウトとなるまで、ステップＳ８でライト条件を変更しながらステップＳ１からのイレーズ実行、ライト実行、ベリファイリード実行を繰り返す。ステップＳ７でライトリトライに失敗してリトライアウトとなった場合には、ステップＳ９に進み、媒体欠陥と判断して交代処理を実行する。
【００８０】
このステップＳ８によるライト条件の変更を伴うライトリトライ処理は、図８のライトリトライ制御テーブル１１６に示したように、ライトリトライ回数の１回から６回に示すようにライトパワー及びフォーカスオフセットを各段階で変化させながら（デフォルトを含む）、ライトリトライ処理を実行する。ライトリトライ処理の途中でライト成功がステップＳ４で判別されると、ステップＳ１１〜Ｓ１５の学習処理１１８を実行する。
【００８１】
学習処理１１８は、ステップＳ１１でライト成功となった際のフォーカスオフセットがリトライオフセットΔＦＯＦＳＴの加算によりプラスであったか否かチェックし、プラスであればステップＳ１２で学習カウンタＡを１つカウントアップする。
【００８２】
プラスでなかった場合にはステップＳ１３に進み、フォーカスオフセットがリトライオフセットΔＦＯＦＳＴの減算によりマイナスであったか否かチェックし、マイナスであればステップＳ１４に進み、学習カウンタＡを１つ減算する。一方、フォーカスオフセットに変化がなかった場合には、ステップＳ１５でそのときの学習カウンタＡの値を維持する。
【００８３】
続いて書込条件変更処理１２０を実行する。書込条件変更処理１２０にあっては、ステップＳ１６で、学習処理１１８で得られた学習カウンタＡの絶対値を予め定めた所定の閾値ＴＨと比較し、閾値ＴＨ以上であればステップＳ１８に進み、フォーカスオフセットのデフォルト値を変更する。
【００８４】
このフォーカスオフセットのデフォルト値の変更は、ライトリトライに成功した最新のフォーカスオフセット設定値に近付けるように、フォーカスオフセットのデフォルト値を変更する。例えば、図７の動作点１１２の状態で、フォーカスオフセットを増加させて動作点１１４に変更してライト処理に成功した場合には、動作点１１４に近付けるようにデフォルトの動作点１１２を予め定めた所定値増加させる変更を行う。
【００８５】
図１０は本発明のライトリトライ処理の第２実施形態で使用するライトリトライ制御テーブルの説明図である。この第２実施形態で使用するライトリトライ制御テーブル１２２にあっては、図８の第１実施形態で使用するライトリトライ制御テーブル１１６と同様、ライトリトライ回数として１回から６回の６段階のライトリトライ処理を設定しており、各回におけるライトパワー及びフォーカスオフセットの変更も同じであるが、更に各段階ごとに学習処理に使用する係数を設定している。
【００８６】
この係数はフォーカスオフセットについて設定した場合を例にとっており、１回目と６回目のフォーカスオフセットのデフォルトについては係数「−１」を設定し、４回目のフォーカスオフセットΔＦＯＦＳＴ加算については係数「＋１０００」を設定し、５回目のフォーカスオフセットΔＦＯＦＳＴ減算については係数「−１０００」を設定している。
【００８７】
なおライトパワーを変更する２回目、３回目についても、ライトパワーの加算と減算に応じてフォーカスオフセットの場合と同様な係数が設定されるが、フォーカスオフセットの学習には使用しないことから省略している。
【００８８】
図１１はライトリトライ処理の第２実施形態を含む本発明のライトコマンド処理のフローチャートである。図１１において、ステップＳ１でホストから受信されたライトコマンドに基づき、光記憶媒体の書込み対象セクタのイレーズ動作を実行する。次にステップＳ２で、イレーズの済んだ対象セクタに対しライト動作を実行する。更にステップＳ３で、ライト動作の済んだ対象セクタからデータを再生して検証するベリファイリードを実行する。
【００８９】
ここでライトコマンド処理の実行に際しては、ホストから受信したライトコマンドにつき処理セクタ数を予め保持している。ステップＳ４でライト失敗となった場合には、ステップＳ５でベリファイリトライのリトライアウトとなるまで、ステップＳ６でベリファイ条件を変更しながらベリファイリトライを繰り返す。
【００９０】
ステップＳ５でベリファイリトライのリトライアウトとなった場合には、ステップＳ７で第２実施形態の学習処理を行う。なおステップＳ７の学習処理は、ステップＳ８でライトリトライのリトライアウトとなる図８のライトリトライ制御テーブル１１６の１回から６回のそれぞれについて実行される。
【００９１】
また、ステップＳ９のライト条件変更は、図１０のライトリトライ制御テーブル１２２の１回から６回の内容に従ったライトパワーフォーカスオフセットの変更（デフォルトを含む）に従って行われる。
【００９２】
ステップＳ８でライトリトライに失敗してリトライアウトとなった場合には、ステップＳ１０に進み、媒体欠陥と判断して交代処理を実行する。
【００９３】
図１２は図１１のステップＳ７における学習処理のフローチャートである。この学習処理にあっては、ステップＳ１で記録条件を変えるリトライで成功したセクタ数と係数を乗算して合計値Ｂを計算する。次にステップＳ２で、記録条件を変えないリトライ即ちデフォルトのリトライで成功したセクタ数と係数を乗算して合計値Ｃを計算する。
【００９４】
次にステップＳ３で、ステップＳ１で求めた合計値Ｂと前回学習終了時の学習カウント値との合計値は０以下、即ちマイナスか否かチェックする。マイナスであればステップＳ４に進み、学習カウント値Ａとして合計値Ｂと前回学習終了時の学習カウント値との合計値に合計値Ｃを加算して
Ａ＝（前回学習終了時のカウント値）＋Ｂ＋Ｃ
として求める。次にステップＳ５で学習カウント値Ａが０以上か否かチェックし、この場合はマイナスの値を持つカウント値Ａの計数を行っていることから、０以上の場合にはステップＳ６でカウント値Ａを０にクリップする。
【００９５】
一方、ステップＳ３で合計値Ｂと前回学習終了時の学習カウント値との合計値が０より大きいプラスであった場合には、ステップＳ７に進み、学習カウント値Ａとして合計値Ｂと前回学習終了時の学習カウント値との合計値から合計値Ｃを減算して
Ａ＝（前回学習終了時のカウント値）＋Ｂ−Ｃ
とし、ステップＳ８で、この場合の学習カウント値Ａはプラスの値を求めていることから、０未満即ちマイナスであった場合には、ステップＳ９でカウント値Ａを０にクリップする。
【００９６】
図１３は、図１２の学習処理で生成される学習カウント値Ａの具体例の説明図である。この処理にあっては、ホストからのライトコマンドで受信した処理セクタ数を１０とした場合であり、ライトリトライ回数の１回目では成功セクタ数は０であり、またライトパワーを変化させる２回目、３回目についても、成功セクタ数は０であり、フォーカスオフセットを増加させる４回目について、処理セクタ数１０に対し成功セクタ数が３となっている。更に、フォーカスオフセットを減算させる５回目について、残りの処理セクタ数７に対し成功セクタ数も７となってライト処理に成功している。
【００９７】
このような図１３のライトリトライ処理にあっては、図１２のステップＳ１で記録条件を変える４回目と５回目のリトライで成功したセクタ数の係数を乗算して合計値Ｂを次式で求める。また、前回学習終了時の学習カウント値を０として考える
Ｂ＝３×（＋１０００）＋７×（−１０００）＝＋３０００−７０００＝−４０００
次にステップＳ２で記録条件を変えない１回目のリトライで成功したセクタ数と係数を乗算して合計値Ｃを計算すると
Ｃ＝０×（−１）＝０
となる。
【００９８】
続いてステップＳ３で合計値ＢはＢ＝−４０００であり、前回学習終了時の学習カウント値と合計値Ｂとの合計値は−４０００であることから、ステップＳ４に進み、
Ａ＝（前回学習終了時の学習カウント値）＋Ｂ＋Ｃ
＝０＋（−４０００）＋０＝−４０００
とし、ステップＳ５でＡは０以上でないことから、ステップＳ６をスキップして処理を終了する。
【００９９】
図１２の学習処理が終了すると、図１１のメインルーチンにリターンし、ライトリトライに成功して、ステップＳ４から書込条件変更処理１２４のステップＳ１１に進み、学習カウント値Ａの絶対値を予め定めた所定の閾値ＴＨ、例えばＴＨ＝５０００と比較し、閾値ＴＨ以上であれば、ステップＳ１２でフォーカスオフセットのデフォルトの値を、ライトリトライに成功した最初のフォーカスオフセットの設定値に近づけるように変更する変更処理を行う。
【０１００】
なお本発明は光学的記憶装置に設けたＭＰＵなどのコンピュータにより実行されるプログラムを提供するものであり、このプログラムは第１実施形態については図９のフローチャート、また第２実施形態については図１１及び図１２のフローチャートに従った処理手順を持つことになる。
【０１０１】
なお本発明は、その目的と利点を損なうことのない適宜の変形を含み、更に上記の実施形態に示した数値による限定は受けない。また上記の実施形態はライト動作でイレーズを必要とするＭＯドライブで説明したが、ライト動作でイレーズを必要としないＣＤ−Ｒ、ＣＤ−Ｒ／Ｗ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒ／Ｗなどのドライブや、ＭＤなどのドライブについても適用可能である。
【０１０２】
ここで本発明の特徴をまとめて列挙すると、次の付記のようになる。
（付記）
（付記１）
レーザビームにより光記憶媒体にデータを記録する記録部と、
再生に必要なパラメータを最適な値に設定することによって前記光記憶媒体に記録されているデータを再生する再生部と、
前記記録部でベリファイエラーが発生しベリファイリトライが不成功となった場合、前記光記憶媒体にデータを記録するためのフォーカスオフセットを設定変更しながらライト、ベリファイのライトリトライ動作を繰り返すライトリトライ処理部と、
を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。（１）
【０１０３】
（付記２）
付記1記載の光学的記憶装置に於いて、前記ライトリトライ処理部は、ライトリトライ時に、デフォルトのフォーカスオフセット設定値にリトライオフセットを加算するパラメータの設定変更と前記フォーカスオフセット設定値からリトライオフセットを減算するパラメータの設定変更を含む複数段階のライトリトライ動作を繰り返すことを特徴とする光学的記憶装置。（２）
【０１０４】
（付記３）
付記２記載の光学的記憶装置に於いて、更に、
前記ライトリトライの成功時に、成功したフォーカスオフセット設定値とリトライオフセットの加算回数と成功したリトライオフセットの減算回数の総和を学習結果として保存する学習処理部と、
前記学習処理部で保存した学習結果の絶対値が所定の閾値以上のとき、前記デフォルトのフォーカスオフセット設定値をリトライに成功した最新のフォーカスオフセット設定値に近づけるように変更する書込条件変更部と、
を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。（３）
【０１０５】
（付記４）
付記2記載の光学的記憶装置に於いて、更に、
上位装置からのライトコマンドの記録セクタ数を保持すると共に、前記ライトリトライ処理部により複数段階のライトリトライ動作を繰り返す毎に、記録可能となったセクタ数と前記各段階毎に予め設けた係数との積の総和を学習結果として保存する学習処理部と、
前記ライトリトライの成功時に、前記学習結果の絶対値が所定の閾値以上のとき前記デフォルトのフォーカスオフセット設定値をリトライに成功した最新のフォーカスオフセット設定値に近づけるように変更する書込条件変更部と、
を備えたことを特徴とする光学的記憶装置。（４）
【０１０６】
（付記５）
付記４記載の光学的記憶装置に於いて、
前記書込条件変更部は、
記録条件を変更するライトリトライ毎に成功したセクタ数に所定の係数を乗じた値を合計した第１合計値を算出し、
記録条件を変更しないライトリトライ毎に成功したセクタ数に所定の係数を乗じた値を合計した第２合計値を算出し、
前回学習終了時の学習カウント値と前記第１合計値の合計値が０以下の場合は、前回学習終了時の学習カウント値と前記第１合計値との合計値に第２合計値を加算して学習カウント値を求め、前記学習カウント値が０以上の場合は０にクリップし、前記学習カウント値が０未満の場合はそのまま保存し、
前回学習終了時の学習カウント値と前記第１合計値の合計値が０より大きい場合は、前回学習終了時の学習カウント値と前記第１合計値との合計値から第２合計値を減算して学習カウント値を求め、前記学習カウント値が０未満の場合は０にクリップし、前記学習カウント値が０以上の場合はそのまま保存することを特徴とする光学的記憶装置。
【０１０７】
（付記６）
付記１記載の光学的記憶装置に於いて、前記リトライ処理部は、ライトリトライ時に前記光記憶媒体にフォーマットされた各ゾーン、前記光記憶媒体の記録領域を複数のエリアに分割した各エリア、装置内の温度の少なくともいずれかに応じて前記フォーカスオフセットを設定変更することを特徴とする光学的記憶装置。
【０１０８】
（付記７）
光記憶媒体の記録方法において、
レーザビームにより光記憶媒体にデータを記録する記録ステップと、
前記記録ステップでベリファイエラーが発生しベリファイリトライが不成功となった場合、前記光記憶媒体にデータを記録するためのフォーカスオフセットを設定変更しながらライト、ベリファイのライトリトライ動作を繰り返すライトリトライ処理ステップと、
を備えたことを特徴とする光記憶媒体の記録方法。（５）
【０１０９】
（付記８）
付記７記載の光記憶媒体の記録方法に於いて、前記ライトリトライ処理ステップは、ライトリトライ時に、デフォルトのフォーカスオフセット設定値にリトライオフセットを加算するパラメータの設定変更と前記フォーカスオフセット設定値からリトライオフセットを減算するパラメータの設定変更を含む複数段階のライトリトライ動作を繰り返すことを特徴とする光記憶媒体の記録方法。
【０１１０】
（付記９）
付記２記載の光記憶媒体の記録方法に於いて、更に、
前記ライトリトライの成功時に、成功したフォーカスオフセット設定値とリトライオフセットの加算回数と成功したリトライオフセットの減算回数の総和を学習結果として保存する学習処理ステップと、
前記学習処理部で保存した学習結果の絶対値が所定の閾値以上のとき、前記デフォルトのフォーカスオフセット設定値をリトライに成功した最新のフォーカスオフセット設定値に近づけるように変更する書込条件変更ステップと、
を備えたことを特徴とする光記憶媒体の記録方法。
【０１１１】
（付記１０）
付記８記載の光記憶媒体の記録方法に於いて、更に、
上位装置からのライトコマンドの記録セクタ数を保持すると共に、前記ライトリトライ処理ステップにより複数段階のライトリトライ動作を繰り返す毎に、記録可能となったセクタ数と前記各段階毎に予め設けた係数との積の総和を学習結果として保存する学習処理ステップと、
前記ライトリトライの成功時に、学習結果の絶対値が所定の閾値以上のとき前記デフォルトのフォーカスオフセット設定値をリトライに成功した最新のフォーカスオフセット設定値に近づけるように更新する記録条件更新ステップと、
を備えたことを特徴とする光記憶媒体の記録方法。
【０１１２】
（付記１１）
付記１０記載の光記憶媒体の記録方法に於いて、
前記学習処理ステップは、
条件を変更するライトリトライ毎に成功したセクタ数に所定の係数を乗じた値を合計した第１合計値を算出し、
条件を変更しないライトリトライ毎に成功したセクタ数に所定の係数を乗じた値を合計した第２合計値を算出し、
前回学習終了時の学習カウント値と前記第１合計値の合計値が０以下の場合は、前回学習終了時の学習カウント値と前記第１合計値との合計値に第２合計値を加算して学習カウント値を求め、前記学習カウント値が０以上の場合は０にクリップし、前記学習カウント値が０未満の場合はそのまま保存し、
前回学習終了時の学習カウント値と前記第１合計値の合計値が０より大きい場合は、前回学習終了時の学習カウント値と前記第１合計値との合計値から第２合計値を減算して学習カウント値を求め、前記学習カウント値が０未満の場合は０にクリップし、前記学習カウント値が０以上の場合はそのまま保存することを特徴とする光記憶媒体の記録方法。
【０１１３】
（付記１２）
付記７記載の光記憶媒体の記録方法に於いて、前記リトライ処理ステップは、ライトリトライ時に前記光記憶媒体にフォーマットされた各ゾーン、前記光記憶媒体の記録領域を複数のエリアに分割した各エリア、装置内の温度の少なくともいずれかに応じて前記フォーカスオフセットを設定変更することを特徴とする光記憶媒体の記録方法。
【０１１４】
（付記１３）
コンピュータに、
レーザビームにより光記憶媒体にデータを記録する記録ステップと、
前記記録ステップでベリファイエラーが発生しベリファイリトライが不成功となった場合、前記光記憶媒体にデータを記録するためのフォーカスオフセットを設定変更しながらライト、ベリファイのライトリトライ動作を繰り返すライトリトライ処理ステップと、
を実行させることを特徴とするプログラム。
【０１１５】
（付記１４）
付記１３記載のプログラムに於いて、前記ライトリトライ処理ステップは、ライトリトライ時に、デフォルトのフォーカスオフセット設定値にリトライオフセットを加算するパラメータの設定変更と前記フォーカスオフセット設定値からリトライオフセットを減算するパラメータの設定変更を含む複数段階のライトリトライ動作を繰り返すことを特徴とするプログラム。
【０１１６】
（付記１５）
付記１４記載のプログラムに於いて、更に、
前記ライトリトライの成功時に、成功したフォーカスオフセット設定値とリトライオフセットの加算回数と成功したリトライオフセットの減算回数の総和を学習結果として保存する学習処理ステップと、
前記学習処理部で保存した学習結果の絶対値が所定の閾値以上のとき、前記デフォルトのフォーカスオフセット設定値をリトライに成功した最新のフォーカスオフセット設定値に近づけるように変更する書込条件変更ステップと、
を実行させることを特徴とするプログラム。
【０１１７】
（付記１６）
付記１４記載のプログラムに於いて、更に、
上位装置からのライトコマンドの記録セクタ数を保持すると共に、前記ライトリトライ処理ステップにより複数段階のライトリトライ動作を繰り返す毎に、記録可能となったセクタ数と前記各段階毎に予め設けた係数との積の総和を学習結果として保存する学習処理ステップと、
前記ライトリトライの成功時に、前記学習結果の絶対値が所定の閾値以上のとき前記デフォルトのフォーカスオフセット設定値をリトライに成功した最新のフォーカスオフセット設定値に近づけるように更新する記録条件更新ステップと、
を実行させることを特徴とするプログラム。
【０１１８】
（付記１７）
付記１６記載のプログラムに於いて、
前記学習処理ステップは、
条件を変更するライトリトライ毎に成功したセクタ数に所定の係数を乗じた値を合計した第１合計値を算出し、
条件を変更しないライトリトライ毎に成功したセクタ数に所定の係数を乗じた値を合計した第２合計値を算出し、
前回学習終了時の学習カウント値と前記第１合計値の合計値が０以下の場合は、前回学習終了時の学習カウント値と前記第１合計値との合計値に第２合計値を加算して学習カウント値を求め、前記学習カウント値が０以上の場合は０にクリップし、前記学習カウント値が０未満の場合はそのまま保存し、
前回学習終了時の学習カウント値と前記第１合計値の合計値が０より大きい場合は、前回学習終了時の学習カウント値と前記第１合計値との合計値から第２合計値を減算して学習カウント値を求め、前記学習カウント値が０未満の場合は０にクリップし、前記学習カウント値が０以上の場合はそのまま保存することを特徴とするプログラム。
【０１１９】
（付記１８）
付記１３記載のプログラムに於いて、前記リトライ処理ステップは、ライトリトライ時に前記光記憶媒体にフォーマットされた各ゾーン、前記光記憶媒体の記録領域を複数のエリアに分割した各エリア、装置内の温度の少なくともいずれかに応じて前記フォーカスオフセットを設定変更することを特徴とするプログラム。
【図面の簡単な説明】
【０１２０】
【図１】本発明の原理説明図
【図２】本発明が適用される光学的記憶装置の説明図
【図３】図２のＤＳＰにより構成されるフォーカスサーボループの説明図
【図４】本発明によるライトリトライ処理を含むコマンド処理機能のブロック図
【図５】本発明の光学的記憶装置における光学系の説明図
【図６】温度変化に対する対物レンズの焦点ずれの説明図
【図７】ライトパワーオフセットとフォーカスオフセットに対するエラレート分布の説明図
【図８】本発明のライトリトライ処理の第１実施形態で使用するライトリトライ制御テーブルの説明図
【図９】ライトリトライ処理の第１実施形態を含む本発明のライトコマンド処理のフローチャート
【図１０】本発明のライトリトライ処理の第２実施形態で使用するライトリトライ制御テーブルの説明図
【図１１】ライトリトライ処理の第２実施形態を含む本発明のライトコマンド処理のフローチャート
【図１２】図１１の学習処理のフローチャート
【図１３】図１２の学習処理で生成される学習カウント値の具体例の説明図
【符号の説明】
【０１２１】
１０：コントローラ
１２：エンクロージャ
１４：ＭＰＵ（ファームウェア）
１５：ＤＳＰ
１６：インターフェースコントローラ
１８：光ディスクコントローラ
２０：バッファメモリ
２２：エンコーダ
２４：レーザダイオード制御回路
２６：デコーダ
２８：リードＬＳＩ回路
３０：レーザダイオードユニット
３２：ディテクタ
３４：ヘッドアンプ
３６：温度センサ
３８，４２，５４，５８：ドライバ
４０：スピンドルモータ
４４：電磁石
４６：フォトディテクタ
４８：ＦＥＳ検出回路
５０：ＴＥＳ検出回路
５６：レンズアクチュエータ
６０：キャリッジアクチュエータ
６２：リードコマンド処理部
６４：ライトコマンド処理部
６６：リード実行部
６８：リードリトライ処理部
７０：再生条件変更部
７１：イレーズ処理部
７２：ライト処理部
７４：ベリファイ処理部
７６：ライト実行部
７８：ライトリトライ処理部
８０：学習処理部
８２：書込条件変更部
８４：ベリファイ実行部
８６：ベリファイリトライ処理部
８８：ベリファイ条件変更部
９０：リードパワー制御部
９２：イレーズパワー制御部
９４：ライトパワー制御部
９６：ＭＯディスク
９８：対物レンズ
１００：レーザ光
１０２：コリメータレンズ
１０４：ビームスプリッタ
１０６：光分割素子
１０８：サーボレンズ
１１０：最小エラーレート領域
１１６，１２２：ライトリトライ制御テーブル
【図１】
2006164465.tif 000004
【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【図９】
2006164465.tif 000012
【図１０】
2006164465.tif 000013
【図１１】
2006164465.tif 000014
【図１２】
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【図１３】
2006164465.tif 000016