(57)【要約】【課題】  光ディスク製造業者及び光ディスクドライブの供給業者の双方によって有利な光ディスクの品質管理方法を提供する。【解決手段】  光ディスク製造時に光ディスクに凹凸パターンによる情報を転写するスタンパ２を備えた光ディスク製造装置であって、スタンパ２は、装着される光ディスク製造装置の装置情報を含む光ディスク品質管理情報ＱＩＤを生成する凹凸パターンを備える。また、光ディスク製造装置１は、記録材料情報保持手段３Ａ、記録材料情報取得手段３Ｂ、記録材料情報取得手段３Ｂによって取得された情報と記録材料情報保持手段３Ａに保持された情報とを比較する情報比較手段３Ｃ、情報比較手段３Ｃの比較結果が合致した場合に光ディスク製造装置１の動作を許可する動作許可手段３Ｄとを有する使用記録材料管理手段３を備える。【選択図】図１
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
光ディスク製造時に光ディスクに凹凸パターンによる情報を転写するスタンパを備えた光ディスク製造装置であって、
前記スタンパは、装着される光ディスク製造装置の装置情報を含む光ディスク品質管理情報を生成する凹凸パターンを備えることを特徴とする光ディスク製造装置。
【請求項２】
前記スタンパは、前記光ディスク品質管理情報と光ディスク製造者を判別する光ディスク製造者情報を生成する凹凸パターンを備えることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク製造装置。
【請求項３】
前記光ディスク製造装置は、
特定記録材料情報を保持する記録材料情報保持手段と、使用する記録材料の記録材料情報を取得する記録材料情報取得手段と、該記録材料情報取得手段によって取得された情報と前記記録材料情報保持手段に保持された情報とを比較する情報比較手段と、前記情報比較手段の比較結果が合致した場合に前記光ディスク製造装置の動作を許可する動作許可手段とを有する請求項１または２に記載された光ディスク製造装置。
【請求項４】
請求項１〜３のいずれかに記載された光ディスク製造装置によって製造され、前記スタンパによって前記光ディスク品質管理情報が転写された光ディスク。
【請求項５】
請求項１〜３のいずれかに記載された光ディスク製造装置によって製造され、前記スタンパによって前記光ディスク品質管理情報及び前記光ディスク製造者情報が転写された光ディスク。
【請求項６】
請求項4または５に記載された光ディスクに転写された前記光ディスク品質管理情報を取得する品質管理情報取得手段を備え、該品質管理情報取得手段によって取得された前記光ディスク品質管理情報に基づいて前記光ディスクに対する品質評価を行う品質評価手段を備えた光ディスクドライブ。
【請求項７】
光ディスク製造装置に装着されて、光ディスク製造時に光ディスクに凹凸パターンによる情報を転写するスタンパに、光ディスク製造装置の装置情報を含む光ディスク品質管理情報を生成する凹凸パターンを形成するスタンパ形成工程と、
前記スタンパを光ディスク製造装置に装着して前記光ディスク品質管理情報が転写された光ディスクを製造する光ディスク製造工程と、
前記光ディスクに転写された前記光ディスク品質管理情報を取得して、該光ディスク品質管理情報に基づいて、前記光ディスクに対して光ディスクドライブへの適用を考慮した品質評価を行う品質評価工程とを有することを特徴とする光ディスク品質管理方法。
【請求項８】
光ディスク製造装置に装着されて、光ディスク製造時に光ディスクに凹凸パターンによる情報を転写するスタンパに、光ディスク製造装置の装置情報を含む光ディスク品質管理情報と光ディスク製造者情報を生成する凹凸パターンを形成するスタンパ形成工程と、
前記スタンパを光ディスク製造装置に装着して前記光ディスク品質管理情報と前記光ディスク製造者情報が転写された光ディスクを製造する光ディスク製造工程と、
前記光ディスクに転写された前記光ディスク品質管理情報を取得して、該光ディスク品質管理情報に基づいて、前記光ディスクに対して光ディスクドライブへの適用を考慮した品質評価を行う品質評価工程と、
前記光ディスクに転写された前記光ディスク製造者情報により光ディスクの製造者を特定する製造者特定工程を有することを特徴とする光ディスク品質管理方法。
【請求項９】
前記スタンパ形成工程は、前記光ディスク製造装置の供給業者が行い、
前記光ディスク製造工程は、光ディスク製造業者が行い、
前記品質評価工程は光ディスクドライブの供給業者が行うことを特徴とする請求項7または８に記載された光ディスク品質管理方法。
【請求項１０】
前記製造者特定工程は光ディスクドライブの供給業者が行うことを特徴とする請求項９に記載の光ディスク品質管理方法。
【請求項１１】
光ディスクドライブが前記光ディスク品質管理情報を取得する品質管理情報取得手段と該品質管理情報取得手段によって取得された前記光ディスク品質管理情報に基づいて前記光ディスクに対する品質評価を行う品質評価手段を備え、前記品質評価工程が、前記光ディスクドライブの前記品質評価手段によってなされることを特徴とする請求項7〜１０のいずれかに記載された光ディスク品質管理方法。
【請求項１２】
前記光ディスク製造装置は、特定記録材料情報を保持する記録材料情報保持手段と、使用する記録材料の記録材料情報を取得する記録材料情報取得手段と、該記録材料情報取得手段によって取得された情報と前記記録材料情報保持手段に保持された情報とを比較する情報比較手段と、前記情報比較手段の比較結果が合致した場合に前記光ディスク製造装置の動作を許可する動作許可手段とを有し、前記光ディスク製造工程は、前記動作許可手段が動作を許可したときのみ行われることを特徴とする請求項７〜１１のいずれかに記載された光ディスク品質管理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、光ディスク製造装置、光ディスク、光ディスクドライブ、光ディスク品質管理方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
レーザ光等の光を照射することで情報の記録又は再生を行う光ディスクは、ＣＤ，ＣＤ−Ｒ，ＣＤ−ＲＷ，ＣＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ，ＤＶＤ−Ｒ，ＤＶＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＯＭ，ＬＤ，ＭＤ，ＭＯといった各種の規格・製品があり、再生専用のもの、追記型のもの、書換え型のものが機能別に製品化されている。また、この光ディスクは、情報の記録方式によって、凹凸ピット方式（再生専用のＣＤ−ＲＯＭ，ＤＶＤ−ＲＯＭ等）、形状変化方式、相変化方式（書換え型のＣＤ−ＲＷ，ＤＶＤ−ＲＡＭ等）、溶融混合方式（追記型のＣＤ−Ｒ，ＤＶＤ−Ｒ等）、光磁気方式（書換え型のＭＤ，ＭＯ等）に分類することができる。
【０００３】
このような光ディスクを製造する際の主要な工程としては、再生専用のものでは、スタンパと呼ばれる成形型によって、基板上に製造情報等の固定的な情報やトラッキング用のプリグルーブを凹凸のパターンとして形成する成形工程を有し、また、追記型又は書き換え型のものでは、前述の成形工程に加えて、成形された基板上に記録材料（追記型のＣＤ−Ｒ，ＤＶＤ−Ｒでは有機色素記録材料が用いられている）の記録層を形成する記録層形成工程を有する。また、その他各種の規格等に応じて、基板の被覆工程や貼り合わせ工程などの製造プロセスが施されることになる。
【０００４】
この光ディスクの製造は、各種の規格等に応じて量産性のある製造プロセスが確立されており、その製造プロセスの各工程を担う光ディスク製造装置が実用化されている。光ディスク製造装置の従来技術としては下記特許文献１，２に記載のもの等が知られている。
【０００５】
このような光ディスクの製造は、光ディスク製造業者によって行われることになるが、各光ディスク製造業者が製造した光ディスクが光ディスクドライブ（記録装置、再生装置、記録再生装置）を供給する光ディスクドライブ供給業者の各製品に対して充分な適用性を有するか否かは、光ディスク製造業者が製造した光ディスクの品質如何に係っている。近年では、光ディスクドライブは高倍速記録の選択が可能な高機能のものが市場に出されているが、光ディスクの品質によってはこのような高倍速に対応することができないものもある。
【０００６】
これに対処するために、光ディスクドライブの供給業者側では、光ディスク製造業者から提示されたサンプルディスクの品質を評価して、自社の供給する光ディスクドライブの機能にどの程度対応可能であるかを評価し、適正な評価が得られた場合に、そのサンプルディスクと同様に製造される光ディスクを承認して、その光ディスクの高速動作を許可するようにしている。
【０００７】
そして、市場に供給する光ディスクドライブには、この承認されたサンプルディスクに付与されている製造情報を利用して、前述の評価結果に基づき、この製造情報に対応して光ディスクドライブの性能（高倍速）を規制する性能規制手段を設けている。この性能規制手段は、例えば、１６倍速が可能な光ディスクドライブに対して、前述の評価結果で４倍速までしか対応できないと評価した光ディスクの製造情報を取得した場合には、その性能を予め規制して、対応可能な４倍速までしか設定できないようにするものであり、これによって、前述のサンプルディスクと同様に製造され同じ製造情報が付与された光ディスクに関しては、高倍速に対応できない光ディスクを用いて高倍速記録を行うことがないようにしている。
【０００８】
【特許文献１】特開平１０−３１２５８９号公報
【特許文献２】特開２００２−１９７７３５号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
このような光ディスク製造業者と光ディスクドライブの供給業者間で行われている光ディスクの品質管理方法によると、光ディスクドライブの供給業者は、外国（中国、台湾等）を含めて多数存在する光ディスク製造業者毎に光ディスクの品質評価を行う必要があるので、この評価作業が煩雑になり、また、光ディスクドライブの性能規制手段には、多数の製造情報を識別する機能を設ける必要があるので、管理用ソフトの容量が大きくなってコストアップ等を招くという問題が生じる。
【００１０】
一方、光ディスク製造業者の側では、光ディスクドライブの供給業者が行う評価作業に時間が掛かってなかなか承認が得られないので、承認されるまで光ディスクを販売することができず、営業活動に支障をきたすという問題が生じる。
【００１１】
また、光ディスク製造業者は、通常、光ディスク製造装置の供給業者から光ディスク製造装置を入手して、消耗品であるスタンパ，記録材料は他の供給業者から入手することが多いので、光ディスクドライブ側（光ディスクドライブの供給者側）で認識する光ディスクの品質に関わる情報を、スタンパの供給業者がスタンパに付与する製造情報に依らざるを得ない状況になっている。これによると、光ディスクの品質に大きく影響する光ディスク製造装置の情報が光ディスクドライブ側で何ら認識されないことになり、光ディスク製造装置と消耗品（スタンパ及び記録材料）との適用性を考慮した適正な品質評価を光ディスクドライブ側で行うことができないという問題がある。また、光ディスク製造業者側で記録材料の種類を変更してしまった場合のように、製造情報に対して光ディスク品質の均一性が充分に対応しない場合があるという問題もある。
【００１２】
本発明は、このような問題に対処することを課題の一例とするものである。すなわち、光ディスク製造業者及び光ディスクドライブの供給業者の双方によって有利な光ディスクの品質管理方法を提供できること、光ディスクドライブ側で認識できる光ディスク品質の均一性をより高めること等が本発明の目的である。
【課題を解決するための手段】
【００１３】
このような目的を達成するために、本発明の光ディスク製造装置，光ディスク，光ディスクドライブ，光ディスク品質管理方法は、以下の各独立請求項に係る構成を少なくとも具備するものである。
【００１４】
［請求項１］光ディスク製造時に光ディスクに凹凸パターンによる情報を転写するスタンパを備えた光ディスク製造装置であって、前記スタンパは、装着される光ディスク製造装置の装置情報を含む光ディスク品質管理情報を生成する凹凸パターンを備えることを特徴とする光ディスク製造装置。
【００１５】
［請求項７］光ディスク製造装置に装着されて、光ディスク製造時に光ディスクに凹凸パターンによる情報を転写するスタンパに、光ディスク製造装置の装置情報を含む光ディスク品質管理情報を生成する凹凸パターンを形成するスタンパ形成工程と、前記スタンパを光ディスク製造装置に装着して前記光ディスク品質管理情報が転写された光ディスクを製造する光ディスク製造工程と、前記光ディスクに転写された前記光ディスク品質管理情報を取得して、該光ディスク品質管理情報に基づいて、前記光ディスクに対して光ディスクドライブへの適用を考慮した品質評価を行う品質評価工程とを有することを特徴とする光ディスク品質管理方法。
【００１６】
［請求項８］光ディスク製造装置に装着されて、光ディスク製造時に光ディスクに凹凸パターンによる情報を転写するスタンパに、光ディスク製造装置の装置情報を含む光ディスク品質管理情報と光ディスク製造者情報を生成する凹凸パターンを形成するスタンパ形成工程と、前記スタンパを光ディスク製造装置に装着して前記光ディスク品質管理情報と前記光ディスク製造者情報が転写された光ディスクを製造する光ディスク製造工程と、前記光ディスクに転写された前記光ディスク品質管理情報を取得して、該光ディスク品質管理情報に基づいて、前記光ディスクに対して光ディスクドライブへの適用を考慮した品質評価を行う品質評価工程と、前記光ディスクに転写された前記光ディスク製造者情報により光ディスクの製造者を特定する製造者特定工程を有することを特徴とする光ディスク品質管理方法。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
以下、本発明の実施形態を図面を参照して説明する。図１は本発明の一実施形態に係る光ディスク製造装置の構成を示す説明図である。この光ディスク製造装置１は、前述した各種の光ディスクを製造するための装置であって、少なくとも光ディスクの基板に凹凸のパターンを形成するためのスタンパ２が装着され、また、記録層を形成する場合には、使用記録材料管理手段３を備えるものである。
【００１８】
この光ディスク製造装置による製造工程の例（ＤＶＤ−Ｒ製造の場合の例）を示すと、図２に示すように、スタンパ２によってポリカーボネート等の樹脂製基板上に、固定情報やトラッキング用のプリグルーブ等を含む凹凸パターンを形成する基板成形工程Ｓ１、有機色素等の記録材料を成膜した後、溶剤を除去するベーキングを行うことで、成形した基板上に記録層を形成する記録層形成工程Ｓ２、スパッタ等の薄膜形成処理によって記録層上に反射膜を形成する反射膜形成工程Ｓ３、外観向上及び異物除去のために外周を洗浄する洗浄工程Ｓ４、前述の各工程を経た基板を、記録層を向き合わせるようにして貼り合わせる貼り合わせ工程Ｓ５等からなる。
【００１９】
そして、本発明の実施形態に係る光ディスク製造装置１では、装着される光ディスク製造装置１の装置情報を含む光ディスク品質管理情報ＱＩＤを生成する凹凸パターンが形成されたスタンパ２を備えており、また、使用記録材料管理手段３を備える場合には、この使用記録材料管理手段３が、特定記録材料情報を保持する記録材料情報保持手段３Ａ、使用する記録材料の記録材料情報を取得する記録材料情報取得手段３Ｂ、この記録材料情報取得手段３Ｂによって取得された情報と記録材料情報保持手段３Ａに保持された情報とを比較する情報比較手段３Ｃ、情報比較手段３Ｃの比較結果が合致した場合に光ディスク製造装置１における成膜等の動作を許可する動作許可手段３Ｄを有するものである。このとき光ディスク品質管理情報ＱＩＤとあわせて光ディスク製造者情報についての凹凸パターンを形成しても良い。この光ディスク製造者情報は製造者を識別するための情報であり、光ディスクドライブ供給業者が市場に流出している光ディスクの製造者を特定するための情報である。この光ディスク製造者情報は、光ディスク製造者に容易に設定をできないようにして、品質管理情報ＱＩＤを提供する光ディスクドライブ供給業者が光ディスク製造業者の品質も合わせてチェックすることを可能にしたものである。
【００２０】
このような光ディスク製造装置１によると、この光ディスク製造装置１に装着されるスタンパ２には、消耗品ではない光ディスク製造装置１の装置情報を含む光ディスク品質管理情報ＱＩＤが凹凸パターン化されており、このスタンパ２による成形工程を経て製造された光ディスクには、必ずこの光ディスク品質管理情報ＱＩＤが固定情報として転写されることになる。
【００２１】
一方、光ディスク製造装置１の供給業者は、光ディスク製造装置１の装置型式毎に、その装置型式に適したスタンパを選択し、そのスタンパに前述した光ディスク品質管理情報ＱＩＤを含む凹凸パターンを形成することができるので、従来のように各光ディスク製造業者が光ディスク製造装置の特性とは無関係にスタンパを他業者から得る場合と比較して高品質の光ディスクを製造することできるようになる。
【００２２】
また、光ディスクドライブ供給業者側は、この光ディスク品質管理情報ＱＩＤを指標にして光ディスクの品質評価を行うことが可能になる。異なる光ディスク製造業者であっても、同じ光ディスク製造装置１を使用していれば、同じ光ディスク品質管理情報ＱＩＤが転写された光ディスクを製造することができ、前述したように高品質の光ディスクを製造することができることになるので、光ディスク製造業者毎に行っていた品質評価と比較して、光ディスクドライブ供給業者は評価作業の労力を軽減することが可能になり、また、光ディスク品質管理情報ＱＩＤ毎の光ディスク品質を均一化することも可能になる。
【００２３】
そして、使用記録材料管理手段３を備えた光ディスク製造装置１においては、光ディスク製造装置１が高品質の光ディスクを製造するのに適した有機色素材料の種類等の特定記録材料情報が記録材料情報保持手段３Ａに保持されており、実際に記録材料を使用する際には、記録材料情報取得手段３Ｂが、記録材料情報を記録材料の容器等に付されたバーコード等から読み取る等して、使用する記録材料の記録材料情報を取得し、記録材料保持手段３Ａに保持された記録材料情報と記録材料取得手段３Ｂで取得した記録材料情報とを情報比較手段３Ｃが比較し、その比較結果が合致した場合に動作許可手段３Ｄが光ディスク製造装置１の動作を許可するようにしている。
【００２４】
これによると、例えば光ディスク製造業者が勝手に光ディスクの品質低下を招くような安価な記録材料を入手して使用しようとしても、光ディスク製造装置１の動作が許可されないことになるので、記録材料を含めた光ディスク品質の均一化が可能になり、この記録材料を含めた光ディスクの品質管理を光ディスク品質管理情報ＱＩＤによって行うことが可能になる。
【００２５】
図３は、このような光ディスク製造装置１によって製造された光ディスクに対する光ディスクドライブ供給業者側の取り扱いを示した説明図である。
【００２６】
光ディスク製造装置１によって製造された光ディスクＯＤには、必ず、光ディスク製造装置１の装置情報を含む光ディスク品質管理情報ＱＩＤが転写されることになる。この光ディスクＯＤは、先ず、サンプルディスクとして光ディスクドライブ供給業者ＴＲ３に提示され、そこでサンプルディスクに対して自社製品の光ディスクドライブへの適用を考慮した品質評価が行われる。例えば、自社の１６倍速が可能な光ディスクドライブ４においてこのサンプルディスクを採用して、何倍速までの対応が可能かの評価を行う。そして、そのサンプルディスクの光ディスク品質管理情報ＱＩＤと評価結果を品質評価データとして、光ディスクドライブ４の品質評価手段４Ｂにインストールする。
【００２７】
光ディスクドライブ４側では、光ディスクＯＤに転写された光ディスク品質管理情報ＱＩＤを取得する品質管理情報取得手段４Ａを備え、前述した品質評価データがインストールされた品質評価手段４Ｂによって、取得された光ディスク品質管理情報ＱＩＤに基づいて、販売品の光ディスクＯＤに対する品質評価が行われ、この品質評価の結果に応じて光ディスクドライブの性能制限等が実行されることになる。
【００２８】
これによると、光ディスク品質管理情報ＱＩＤが転写された光ディスクＯＤは、前述したように光ディスク製造装置１と消耗品であるスタンパ２或いは記録材料との適用性を考慮して、高品質の光ディスクＯＤが得られるようにしており、また、同じ光ディスク品質管理情報ＱＩＤが転写されて光ディスクＯＤでは品質の均一性が確保されているので、光ディスクドライブ供給業者側では、信頼性の高い品質評価を光ディスク品質管理情報ＱＩＤに基づいて行うことが可能になる。
【００２９】
また、光ディスク製造業者毎に品質評価を行う場合と比較して、光ディスク製造装置１の装置情報を含む光ディスク品質管理情報ＱＩＤによる品質管理は扱う対象が少なくて済むので、光ディスク製造業者が提示するサンプルディスクに対して速やかに評価作業を終了することが可能になる。
【００３０】
そして、光ディスクドライブ４においても、品質管理情報取得手段４Ａ及び品質評価手段４Ｂによって、光ディスク品質管理情報ＱＩＤが転写された光ディスクＯＤに対しては、信頼性の高い動作を実行することができる。また、光ディスク品質管理情報ＱＩＤは、光ディスク製造装置１の装置情報を含むものであるから、光ディスク製造業者毎に品質評価を行う場合と比較して、品質評価データの容量を格段に少なくすることができる。したがって、光ディスクドライブ４内での品質評価に関する動作を高速化することができると共に、メモリ容量の低減等で光ディスクドライバ４の低コスト化も可能になる。
【００３１】
本発明の実施形態に係る光ディスク製造装置１、光ディスクＯＤ、光ディスクドライバ４を採用した光ディスク品質管理方法についてまとめると、以下のとおりになる。
【００３２】
すなわち、先ず、光ディスク製造装置１に装着されて、光ディスク製造時に光ディスクに凹凸パターンによる情報を転写するスタンパ２に、光ディスク製造装置１の装置情報を含む光ディスク品質管理情報ＱＩＤを生成する凹凸パターンを形成する（スタンパ形成工程）。それから、スタンパ２を光ディスク製造装置１に装着して光ディスク品質管理情報ＱＩＤが転写された光ディスクＯＤを製造する（光ディスク製造工程）。そして、光ディスクＯＤに転写された光ディスク品質管理情報ＱＩＤを取得して、光ディスク品質管理情報ＱＩＤに基づいて、光ディスクＯＤに対して光ディスクドライブ４への適用を考慮した品質評価を行う（品質評価工程）。更に詳しくは、前述のスタンパ形成工程は光ディスク製造装置１の供給業者が行い、光ディスク製造工程は光ディスク製造業者が行い、品質評価工程は光ディスクドライブ４の供給業者が行う。
【００３３】
そして、前述の品質評価工程は、光ディスクドライブの供給業者が光ディスク製造業者の提示するサンプルディスクによって行う場合と、光ディスクドライブ４の機能によって行う場合があり、後者は、光ディスクドライブ４が光ディスク品質管理情報ＱＩＤを取得する品質管理情報取得手段４Ａと品質管理情報取得手段４Ａによって取得された光ディスク品質管理情報ＱＩＤに基づいて光ディスクＯＤに対する品質評価を行う品質評価手段４Ｂを備え、この品質評価手段４Ｂによって前述の品質評価がなされることになる。
【００３４】
また、前述の光ディスク製造工程は、光ディスク製造装置１が、記録材料情報保持手段３Ａ，記録材料情報取得手段３Ｂ，情報比較手段３Ｃ，動作許可手段３Ｄからなる使用記録材料管理手段３を備える場合には、この動作許可手段３Ｄが動作を許可したときのみ行われることになる。
【００３５】
この品質評価方法によると、光ディスク製造装置１で光ディスクＯＤを製造することで、光ディスク製造装置１の装置情報を含む光ディスク品質管理情報ＱＩＤがスタンパ２を介して光ディスクＯＤに転写されることになり、この光ディスク品質管理情報ＱＩＤを基に光ディスクＯＤの品質評価が行われる。したがって、光ディスクＯＤの評価は、光ディスク製造業者が提示するサンプルディスクであっても、光ディスク製造業者毎の評価ではなく、光ディスク製造装置１の装置（型式）単位で光ディスクＯＤの品質評価を行うことができる。これによると、光ディスク製造装置１の型式の数は光ディスク製造業者の数より格段に少ないので、品質評価の手間を格段に減少させることができるようになる。
【００３６】
これを光ディスク製造業者と光ディスクドライブ供給業者の立場でみると、光ディスクドライブ供給業者の品質評価作業の処理スピードを向上させることができるので、光ディスク製造業者が提示するサンプルディスクに対して販売の承認を速やかに行うことができるようになる。したがって、光ディスクドライブ供給業者の評価作業を軽減化するだけでなく、光ディスク製造業者にとっては、光ディスクの販売時期を早めることができるようになり、光ディスク販売の営業活動を速やかに立ち上げることができるようになる。
【００３７】
また、光ディスク製造装置１が使用記録材料管理手段３を備える場合には、この光ディスク製造装置１を用いて光ディスクを製造する光ディスク製造業者は、光ディスク製造装置１に適する記録材料以外のものを使用することができなくなるので、光ディスク製造装置１に対して不適切な記録材料が使用されて光ディスクの品質が劣化することがなく、光ディスク製造業者の提示するサンプルディスクと販売品の品質を高いレベルで均一化することが可能になる。そして、この場合には、光ディスクＯＤに転写された光ディスク品質管理情報ＱＩＤによって、光ディスク製造装置，スタンパ，記録材料の３者を規格化することができるので、光ディスクドライブ供給業者の立場からすると、光ディスク品質管理情報ＱＩＤによって、自社の光ディスクドライブの性能を充分に発揮できる品質の高い光ディスクＯＤを識別することが可能になる。
【００３８】
また、光ディスクＯＤの品質評価を光ディスクドライブ４の品質評価手段４Ｂで行う場合には、光ディスク品質管理情報ＱＩＤが転写されている光ディスクＯＤを使用していれば、光ディスクドライブ４側の品質管理情報取得手段４Ａでこれを取得して、品質評価手段４Ｂにインストールされた品質評価データに応じた評価を行うことができるので、光ディスクＯＤの品質に対応した光ディスクドライブ４の性能（高倍速記録）を自動で選択することが可能になる。
【００３９】
さらに、光ディスク品質管理情報ＱＩＤと光ディスク製造者情報が転写されている光ディスクＯＤを使用することにより、光ディスクから容易に光ディスク製造業者を判別することが可能になる。例えば、○○○−△△△という情報にすることにより（前半の○○○が光ディスク製造者情報、後半の△△△が光ディスク品質管理情報を示す）、光ディスクドライブ４で後半の光ディスク品質管理情報を品質管理情報取得手段４Ａで取得し上記の判別手段で光ディスクＯＤの品質を評価する。光ディスクドライブ提供業者が光ディスクＯＤの品質を市場で調査したい場合にも、光ディスクＯＤに転写されている製造者情報を利用して製造者を特定することが可能になる。
【００４０】
図４は、本発明の光ディスク製造装置１，光ディスクＯＤ，光ディスク品質管理方法の更に具体的な実施例を示す説明図である。ここでは、光ディスク品質管理情報ＱＩＤを活用した、光ディスク製造装置供給業者ＴＲ１，光ディスク製造業者ＴＲ２，光ディスクドライブ供給業者ＴＲ３の３者間での光ディスク及び光ディスクドライブの製造販売に関するビジネスモデルを示している。
【００４１】
これによると、光ディスク製造装置供給業者ＴＲ１は、光ディスク製造装置１，スタンパ２，記録材料Ｍをパッケージ化して光ディスク製造業者ＴＲ２に提供する。この際、スタンパ２には光ディスク製造装置１の装置情報を含む光ディスク品質管理情報ＱＩＤを生成する凹凸パターンが形成されており、記録材料は、スタンパ２が装着される光ディスク製造装置１に適用して高品質の光ディスクを製造することができる信頼性の高い材料が選択されている。
【００４２】
また、必要に応じて、記録材料の容器にはこの記録材料の種類を特定することができる材料情報がバーコード等の情報付与手段で付与されており、光ディスク製造装置１には、この材料情報を記録材料情報取得手段３Ｂが取得して記録材料情報保持手段３Ａに保持された特定記録材料情報と比較して光ディスク装置１の動作を許可する使用記録材料管理手段３が装備されている。
【００４３】
ここで、記録材料としては、ＣＤ−Ｒ，ＤＶＤ−Ｒ等の追記型−溶融混合型光ディスクの製造に際しては、一般に有機色素材料が用いられることになる。この有機色素材料を例示すると、シアン系色素、ポリメチレン系色素、トリアリールメタン色素、ビリリウム色素、フェナンスレン色素、トリアリールアミン色素、スクアリリウム色素、フタロシアニン色素、アズレニウム色素、テトラヒドロコリン色素等を上げることができ、これら或いはその他の記録材料の中から光ディスク製造装置１及びスタンパ２に適した材料が選択されることになる。
【００４４】
そして、光ディスク製造業者ＴＲ２側では、パッケージ供給された光ディスク製造装置１，スタンパ２，記録材料Ｍを用いて光ディスクが製造されるが、製造された光ディスクの販売に先立ってサンプルディスクを光ディスクドライブ供給業者ＴＲ３に提示して販売の承認を得る承認作業Ａを要する。
【００４５】
この際、光ディスク製造業者ＴＲ２で製造される光ディスクには光ディスク品質管理情報ＱＩＤが転写されているので、光ディスクドライブ供給業者ＴＲ３はこの光ディスク品質管理情報ＱＩＤに基づいた品質評価を行い、適正な評価が得られた場合に販売を承認することになるが、パッケージ供給された光ディスク製造装置１，スタンパ２，記録材料Ｍによると、高品質の光ディスクが高い均一性を持って製造できることが予め光ディスク製造装置供給者ＴＲ１側で確認されているので、光ディスクドライブ供給業者ＴＲ３側では速やかに承認作業Ａを完了することができる。
【００４６】
また、予め光ディスク製造装置供給業者ＴＲ１側で、パッケージ化された光ディスク製造装置１，スタンパ２，記録材料Ｍを用いてサンプルディスクを製造して、光ディスクドライブ供給業者ＴＲ３の承認を得ていれば（承認作業Ｂ）、光ディスク製造業者ＴＲ２が行う承認作業Ａを省略することも可能になる。この場合には、光ディスク製造装置供給業者ＴＲ１は、光ディスクドライブ供給業者ＴＲ３の供給する光ディスクドライブの性能（高倍速記録等）を充分に発揮できる高品質の光ディスクを製造できるようにパッケージの内容を設定することができるので、光ディスクドライブ供給業者ＴＲ３にとってもメリットは大きい。
【００４７】
そして、光ディスク製造業者ＴＲ２は、光ディスクドライブ供給業者ＴＲ３からの承認が得られた後に光ディスクの製造及び販売を行う。一方、光ディスクドライブ供給業者ＴＲ３はサンプルディスクの光ディスク品質管理情報ＱＩＤに基づく品質評価データが品質評価手段４Ｂにインストールされた光ディスクドライブ４を製造及び販売する。
【００４８】
この際、光ディスク製造業者ＴＲ２が販売する光ディスクには光ディスク品質管理情報ＱＩＤが転写されているので、ユーザＵはこれを指標に高品質の光ディスクを得ることができ、この光ディスクを承認している光ディスクドライブ４を使用する限りは、高倍速記録時の記録不良等の不具合が生じることがないので、光ディスク製造業者ＴＲ２と光ディスクドライブ供給業者ＴＲ３は共にユーザＵからの高い信頼を得ることできる。
【図面の簡単な説明】
【００４９】
【図１】本発明の一実施形態に係る光ディスク製造装置の構成を示す説明図である。
【図２】光ディスク製造装置による製造工程の例を示す説明図である。
【図３】本発明の実施形態に係る光ディスク製造装置によって製造された光ディスクに対する光ディスクドライブ供給業者側の取り扱いを示した説明図である。
【図４】本発明の光ディスク製造装置，光ディスク，光ディスク品質管理方法の更に具体的な実施例を示す説明図である。
【符号の説明】
【００５０】
１    光ディスク製造装置
２    スタンパ
３    使用記録材料管理手段
３Ａ    記録材料情報保持手段
３Ｂ    記録材料情報取得手段
３Ｃ    情報比較手段
３Ｄ    動作許可手段
４    光ディスクドライブ
４Ａ    品質管理情報取得手段
４Ｂ    品質評価手段
ＱＩＤ    光ディスク品質管理情報
ＯＤ    光ディスク
ＴＲ１    光ディスク製造装置供給業者
ＴＲ２    光ディスク製造業者
ＴＲ３    光ディスクドライブ供給業者
【図１】
2006164446.tif 000003
【図２】
2006164446.tif 000004
【図３】
2006164446.tif 000005
【図４】
2006164446.tif 000006