(57)【要約】本発明の実施例は、測定装置の取込みパラメータ及び関連処理を決定するシステム及び方法を具える。【選択図】図１
2009515198.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定取込みパラメータを決定する装置であって、
ａ）第１測定選択及び第２測定選択を受けるインタフェースと、
ｂ）取込みモジュール用の取込みパラメータを決定するプロセッサとを具え、
上記取込みパラメータを用いて、上記第１測定及び上記第２測定に適応するソース・データ・セットを取り込むように上記取込みモジュールを構成できることを特徴とする装置。
【請求項２】
上記取込みモジュールを更に具える請求項１の装置。
【請求項３】
測定適合モジュールを更に具える請求項１の装置。
【請求項４】
測定優先度モジュールを更に具える請求項１の装置。
【請求項５】
上記取込みパラメータの少なくとも１つは、サンプリング・レート、取込み長、取込み周波数範囲、基準レベル、ディザ設定、サンプル数、ろ波及び補正パラメータ、入力ソース選択、信号経路利得及び減衰設定から成る組みから選択されることを特徴とする請求項１の装置。
【請求項６】
上記インタフェースが測定適合データを受け、取込みパラメータを決定する際に上記測定適合データを１つの係数として用いる請求項１の装置。
【請求項７】
上記インタフェースが測定優先度データも受け、上記取込みパラメータを決定する際の係数として上記測定優先度データを用いる請求項１の装置。
【請求項８】
上記第２測定に適応するように上記ソース・データ・セットを処理することを更に具える請求項１の装置。
【請求項９】
測定装置の取込みパラメータを自動的に決定する方法であって、
ａ）第１測定選択を受け、
ｂ）第２測定選択を受け、
ｃ）取込みモジュール用の取込みパラメータを決定し、
上記取込みパラメータを用いて、上記第１測定及び上記第２測定に適応するソース・データ・セットを取り込むように上記取込みモジュールを構成できる方法。
【請求項１０】
測定適合データを受けることを更に具え、上記取込みパラメータの決定において上記測定適合データを用いる請求項９の方法。
【請求項１１】
測定優先度データを受けることを更に具え、上記取込みパラメータの決定において上記測定優先度データを用いる請求項９の方法。
【請求項１２】
上記取込みパラメータの少なくとも１つは、サンプリング・レート、取込み長、取込み周波数範囲、基準レベル、ディザ設定、サンプル数、ろ波及び補正パラメータ、入力ソース選択、信号経路利得及び減衰設定から成る組みから選択されることを特徴とする請求項９の方法。
【請求項１３】
上記第２測定に適応するように上記データ・セットを処理することを更に具える請求項９の方法。
【請求項１４】
測定の取込みパラメータを決定する装置であって、
ａ）第１測定選択及び第２測定選択を受けるインタフェースと、
ｂ）測定適合データを蓄積する適合ストレージと、
ｃ）取込みモジュール用の取込みパラメータを決定する取込みパラメータ決定モジュールとを具え、
上記取込みパラメータを用いて、上記第１測定及び上記第２測定に適応するソース・データ・セットを取り込むように上記取込みモジュールを構成し、
ｄ）上記第１測定及び上記第２測定モジュールの少なくとも１つの条件に適応するように上記ソース・データ・セットを処理するプロセッサを更に具える装置。
【請求項１５】
取込みモジュールを更に具える請求項１４の装置。
【請求項１６】
上記取込みパラメータの少なくとも１つは、サンプリング・レート、取込み長、取込み周波数範囲、ディザ設定、サンプル数、ろ波及び補正パラメータ、入力ソース選択、基準レベル、信号経路利得及び減衰設定から成る組みから選択されることを特徴とする請求項１４の装置。
【請求項１７】
上記インタフェースが測定適合データを受け、取込みパラメータを決定する際に上記測定適合データを上記適合ストレージに蓄積すると共に１つの係数として用いる請求項１４の装置。
【請求項１８】
測定優先度データを蓄積する優先度ストレージを更に具え、上記インタフェースが測定優先度データも受け、上記取込みパラメータを決定する際に上記測定優先度データを蓄積すると共に係数としてを用いる請求項１４の装置。
【請求項１９】
上記取込みパラメータを決定することは、取込んだソース・データを処理する影響を考慮する請求項１４の装置。
【請求項２０】
上記第１測定及び上記第２測定に適応する取込みパラメータを決定できないときに、上記取込みパラメータ決定モジュールが競合メッセージを出力する請求項１４の装置。
【請求項２１】
単一のデータ・セットから複数の測定を適応させる装置であって、
ａ）第１測定用の第１測定構成データ及び第２測定用の第２測定構成データを受けるインタフェースと、
ｂ）ソース・データ・セットを受ける受信器と、
ｃ）上記ソース・データ・セットにより直接的には適応しない上記第１測定及び上記第２測定の一方に適応するように上記データ・ソース・セットを処理するプロセッサと
を具えた装置。
【発明の詳細な説明】
【関連資料】
【０００１】
本願は、２００５年１１月４日に出願された米国仮特許出願番号第６０／７３３５２４号「適切な仮出願」の利益を主張する。
【発明の技術分野】
【０００２】
本発明の実施例は、測定装置の取込みパラメータを自動判断する方法及びシステムを具えており、複数の測定形式を適応させる装置構成を実現する。
【背景】
【０００３】
スペクトラム・アナライザ、オシロスコープ及び他の機器の如き測定機器は、データ記録を取込み、複数の測定を同時に用いてそれを分析する能力がある。従来のデジタル測定機器は、１つの測定又は１組の関連測定を一度に実行できるように設計されていた。これら測定機器によって、ユーザは、典型的には、測定を選択し、そのパラメータを設定している。複数の測定が選択されると、取込みパラメータの競合を手動で解決する問題に直面する。
【概要】
【０００４】
本発明のいくつかの実施例は、複数の測定を選択し、選択された測定のいく組みかを適応させるように取込みパラメータを決定し、取込みパラメータにより測定装置を構成し、構成した装置により選択された測定の要求に合うソース・データを取り込む。いくつかの実施例において、機器は、選択された測定を実行するのに必要なデータを取り込むようにそれ自体を自動的に構成できる。いくつかの実施例は、いく組かの選択された測定を適応させる取込みパラメータを決定する機能を単に具えることができる。
【０００５】
本発明の上述及びその他の目的、特徴及び利点は、添付図を参照した本発明の以下の詳細説明を考慮することにより、一層容易に理解できよう。
【例示的実施例の詳細な説明】
【０００６】
本発明の実施例は、添付図を参照して最も良く理解できよう。なお、同じ要素には、全体を通じて類似の番号で示す。上述で示した図は、この詳細説明の一部として特別に具体化したものである。
【０００７】
一般的に説明し図に示すように、本発明のコンポーネントは、広範囲の種々の異なる構成にて配置でき、設計できることが容易に理解できよう。よって、本発明の方法及びシフトの実施例の以下のより詳細な説明は、本発明の範囲を制限するものではなく、本発明の現在の好適実施例を単に示すものである。
【０００８】
本発明の実施例の要素は、ハードウェア、ファームウェア及び／又はソフトウェアに組み込んでもよい。ここに示す例示的実施例は、これら形式の１つを説明するのみであるが、本発明の範囲内でこれら形式の任意のものにてこれら要素を実現できることが当業者には理解できよう。
【０００９】
本発明のいくつかの実施例は、計算及び表示に対して複数の測定又は測定の組合せをユーザが選択できる方法及びシステムを具えている。いくつかの実施例において、これら測定は、単一の取込みハードウェア・システムからのデータを用いて実行できる多数の関連のない測定でもよい。いくつかの実施例において、同じデータ・セットで測定を計算してもよい。これを行って、これら結果の間の時間相関を確実にできる。
【００１０】
いくつかの実施例において、機器は、選択された測定の属性を受信するか又は検出して、選択された測定を適応させる取込みパラメータを選択、計算又は決定できる。取込みパラメータを決定して、できるだけ多くの測定に適切となるようにする。いくつかの実施例において、特定の測定適合規則及び／又は測定優先度規則に応じて、取込みパラメータを選択してもよい。いくつかの実施例において、ユーザは、取込みパラメータを設定する必要もないし、知る必要もない。
【００１１】
別の実施例において、ユーザは、いくつか又は総ての取込みパラメータを設定してもよい。ユーザが取込みパラメータを直接設定すると、これら実施例は、選択された取込みパラメータの両立性を検証し、任意の非両立性に対してユーザに警告をしてもよい。いくつかの実施例において、結果としての取込みデータを処理して、１つ以上の測定と両立できるようにしてもよい。
【００１２】
いくつかの実施例において、機器は、測定の組合せに対する相関結果を提供できる。これら実施例のいくつかにおいて、これら結果を複数次元（例えば、時間、周波数、パワー、位相など）で表現できる。
【００１３】
本発明のいくつかの実施例において、複数の測定に適用するように定められた取込みパラメータは、サンプリング・レート、取込み長、取込み周波数レンジ、基準レベル、信号経路利得、減衰設定、ディザ設定、サンプル数、ろ波及び補正パラメータ、入力ソース選択などでもよい。
【００１４】
本発明のいくつかの実施例において、特定の１つの測定又は複数の測定に取込みパラメータを最適化して、他の測定を可能ならば結果データに適応させてもよい。この最適化は、ディフォルト値としてプリセットしても、ユーザにより選択しても、自動的に決定しても、又はそうでなく設定してもよい。
【００１５】
いくつかの実施例において、取込みパラメータを高い優先度の測定にバイアスしてもよい。優先度は、ユーザが設定できるし、自動的に設定できるし、ディフォルトとして設定できるし、又は、そうでなく決定することもできる。
【００１６】
いくつかの実施例において、取込みパラメータを決めて、総ての測定、測定の大部分、又は測定のいくつかの量又はレベルが、測定の適合性又は許容誤差パラメータに基づいた理想的、良好又は受容できる結果を発生するようにできる。
【００１７】
いくつかの実施例において、１つ以上の測定メカニズムは、予め決定されているか、ユーザが選択できるか、又は自動的に決定できる。
【００１８】
いくつかの実施例では、各測定に対する結果としての取込みデータの適切性をユーザに知らせてもよい。いくつかの実施例において、「最適化済み」、「ＯＫ」、「障害発生」又は「利用不可」の如きメッセージを測定データと共に表示して、特定の測定に適応するように取込みデータがどの程度良好に設定されたかを示してもよい。
【００１９】
本発明のいくつかの実施例は、理想値よりも大きいか小さいパラメータに取込みデータが適応させるために各測定能力に関する適合データ又は情報を具えている。この情報は、各測定に相関してもよく、適合性ストレージの如き装置に蓄積してもよいし、又は、ユーザによる入力を含む測定システムとの通信において又は測定システム内のいくつかの他の入力により管理できる。
【００２０】
本発明のいくつかの実施例は、取込みデータに対するデジタル再サンプリング、ろ波、周波数シフト、他のデジタル又は非デジタル処理も含んでおり、夫々が特定測定又は複数の測定の組合せに適する取込み記録の別の形式を発生してもよい。これら機能は、処理モジュールにより実行してもよい。これら新たなデータ記録は、種々の測定が要求する値にマッチしたパラメータ（例えば、サンプリング・レート、記録長、周波数レンジ、レベルなど）を有してもよい。
【００２１】
本発明の例示的な実施例において、取込み長の要求が競合する複数の測定を適応できる。この状態において、取込み設定が見つかり、両方の測定が最適な結果を生じることができる。この例において、測定Ａは、スペクトル・トレースであり、選択された分解能帯域幅（ＲＢＷ）設定を達成するために、８０マイクロ秒のサンプル・データを必要とする。測定Ｂは、パルス・レート計算であり、全パルス期間をカバーするために１ミリ秒のサンプル・データを必要とする。
【００２２】
これら実施例において、適応ロジックが通知されるか、そうでなければ、取込み長に応じたこれら２つの要求が通知される。つぎに、これら実施例は、解が取込み長を１ミリ秒に設定することであると決定する。その理由は、これら実施例が、測定Ａが過度の取込み長を扱うことができ、測定Ｂがしてされたよりも短いデータ記録を実行できないという情報にアクセスするためである。この例において、サンプル・データの１ミリ秒を取込み、両方の測定に分配する。
【００２３】
他の例示的な実施例において、取込み記録のポスト捕捉処理を実行して、選択された測定に対して適切にする。この例において、測定Ａは、スペクトル・トレースであり、スパンが１００ＭＨｚである。測定Ｂは、エラー・ベクトルの大きさ（ＥＶＭ）測定であり、測定帯域幅が３５ＭＨｚである。この例において、例示的な実施例は、１００ＭＨｚの取込み帯域幅が両方の測定に適切なデータを提供すると決定してもよい。この場合、変更されていない１００ＭＨｚ記録をスペクトル測定処理に供給してもよい。この例示的実施例のシステムは、次に、取込んだ記録を３５ＭＨｚの帯域幅にデジタルろ波し、ろ波した（処理した）記録をＥＶＭ測定処理に供給してもよい。
【００２４】
本発明のいくつかの実施例は、帯域幅、分解能及び他の能力を可変する複数の取込みモジュール（例えば、取込みボード）を具えてもよい。いくつかの実施例は、低分解能で広帯域幅の取込みモジュールと、高分解能で狭帯域幅の取込みモジュールとを具えてもよい。１つの測定が高帯域幅取込みモジュールを必要とし、１つの測定が高分解能取込みモジュールを必要とするとき、高分解能で狭帯域幅の取込みモジュールにより複数のデータ記録を取り込んで、両方の測定を適応できる。例えば、第１測定が高分解能で４０ＭＨｚの帯域幅を必要とし、第２測定が１６０ＭＨｚの帯域幅（低分解にて）を必要とし、高分解能取込みモジュールが４０ＭＨｚの帯域幅（例えば、０〜４０ＭＨｚ、４０〜８０ＭＨｚ、８０〜１２０ＭＨｚ及び１２０〜１６０ＭＨｚ）に制限されるとき、取込みモジュールが４０ＭＨｚの帯域幅の複数のデータ記録を取り込むように構成する取込みパラメータを決定することにより両方の測定を適応できる。これら記録から計算されたスペクトル・トレースを互いに「ステッチ」して、１６０ＭＨｚの広い結果のトレースを形成してもよい。いくつかの場合において、一方又は両方の測定の要求に合うように、取込んだデータをろ波し、又は処理する。
【００２５】
本発明の実施例の要素は、ハードウェア・コンポーネント、ファームウェア・コンポーネント又はコード、ソフトウェア・コード又は他のコンピュータが読み取り可能な命令にて実現できる。図１を参照して、本発明のいくつかの実施例を説明できる。これら実施例は、ユーザ入力を受けるユーザ・インタフェース２を具える。ユーザは、ユーザ・インタフェース２に測定選択を入力できる。これら測定選択は、測定定義及び測定制限データでもよい。測定選択、測定定義及び測定制限データを測定構成データと言ってもよい。いくつかの実施例において、ユーザは、測定適合性及び／又は測定優先度データを入力してもよい。
【００２６】
これら実施例は、選択された測定を適応させる取込みパラメータを決定するための取込みパラメータ決定モジュール（ＤＰＤＭ）４も具えてもよい。測定が選択され、これら測定に関連する任意の追加ユーザ入力を受信した後、ＡＰＤＭ４は、選択された測定に適するデータの取り込みように取込みモジュール６を構成する取込みパラメータを決定できる。測定に追加の制限が課せられる実施例を含むいくつかの実施例において、取込みパラメータは、これら制限に良好に合うように自動的に選択できる。取込みパラメータが選択されると、これらは、取込みモジュール（ＡＭ）６に送られるか、及び／又は選択された測定用のソース・データの取り込み用にＡＭ６を構成するのに使用できる。このソース・データが収集されると、ソース・データは、表示の如き出力装置７に送ることができる。いくつかの実施例において、ソース・データをメモリ又はストレージ装置９に送り、その後のアクセス用に蓄積できる。
【００２７】
いくつかの実施例において、ＡＭ６からのソース・データ出力は、直接表示又はストレージに適さないかもしれない。これら実施例において、ＡＭ６は、生のソース・データをデータ・プロセッサ８に送り、ソース・データを処理して、測定条件、出力又はストレージ制限、又は他の制限に従うようにできる。いくつかの実施例において、データ・プロセッサ８は、ろ波、変換及び他の処理に制限されるものではないがこれらの如き信号処理タスクを実行できる。処理が完了すると、出力は処理済みデータとなり、これは、測定処理、表示の如き出力装置７、ストレージ装置９、又はローカル又はＡＭ６に離れた他のあるデスティネーションに送ることができる。
【００２８】
本発明のいくつかの実施例は、図２を参照して説明できる。これら実施例は、上述の例示的実施例にて説明したＵＩ２のようなユーザ・インタフェース（ＵＩ）２０を具えている。ＵＩ２０は、ユーザ入力を受け、その入力をＡＰＤＭ２１に伝送する。また、ＵＩ２０は、許容できる測定誤差及び他のデータの如き測定適合性に関連したユーザ入力を受け、そのデータを測定適合モジュール（ＮＡＭ）２２に伝送できる。これは、データ・ストレージ（例えば、メモリ、ハード・ドライブなど）を具えることができ、データ・アクセス機能（例えば、データベースなど）を更に具えるもできる。ＭＡＭ２２への入力は、測定構成データと異なる時点で入力してもよく、複数の測定でユーザ用に蓄積してもよい。
【００２９】
測定校正データをＡＰＤＭ２１に送り、ここで、選択された測定及び任意の測定適合データに基づいて、取込みパラメータを決定できる。測定適合データを用いて、許容測定誤差を決定する。これは、複数の測定を同時に実行できるかを判断する要素にできる。選択された測定を同時に実行できないならば、ＡＰＤＭ２１は、測定の非両立性をユーザに警告してもよいし、又は、代わりの測定又は測定適合性オプションをユーザに促す。測定が特定の１組の取込みパラメータと適応できないと、これらパラメータを設定し、モジュール構成用の取込みモジュール（ＡＭ）２３に伝送する。
【００３０】
取込みパラメータをＡＭ２３で受けて、そのモジュールの構成を実行する。ソース・データは、構成されたＡＭ２３により取り込むことができる。ソース・データが収集され、１つ以上の測定処理により処理されたとき、測定データを表示の如き出力装置２４に送ってもよい。いくつかの実施例において、測定データをメモリ又はストレージ装置２６に送ってもよく、そこで後でのアクセス用に蓄積できる。
【００３１】
いくつかの実施例において、ＡＭ２３からのソース・データ出力は、直接測定、表示又はストレージにとって適切でないかもしれない。これら実施例において、ＡＭ２３は、生のデータをデータ・プロセッサ２５に送り、そこで、ソース・データを処理して、測定条件、出力又はストレージ制限、又は他の制限に従わせることができる。いくつかの実施例において、データ・プロセッサ２５は、ろ波、領域変換及び他の処理に制限されるものではないがこれらの如き信号処理タスクを実行してもよい。処理が完了すると、処理済みソース・データを、測定処理、表示の如き出力装置２４、ストレージ装置２６、又はローカル又はＡＭ２３に離れた他のデスティネーションに送ってもよい。
【００３２】
図３を参照して、本発明のいくつかの実施例を説明できる。これら実施例は、上述の例示的実施例で述べたＵＩのようなユーザ・インタフェース（ＵＩ）３０を具えている。ＵＩ３０は、測定優先度モジュール（ＭＰＭ）３２に転送できる測定優先度入力も受けることができ、ここでは、それを測定優先度データとして蓄積する。測定優先度入力及びデータは、ある測定用の取込みパラメータを調整して別の測定に適応できるかに限定されないがそれを含む測定の相対優先度に関連した情報を具えてもよい。測定優先度入力は、測定選択又は測定構成データに先立って入力し、後での使用のために蓄積してもよい。
【００３３】
ＵＩ３０で受信された測定選択データ及び測定構成データをＡＰＤＭ３１に伝送してもよい。ここで、測定選択データ及び測定構成データを用いて、取込みパラメータを決定してもよい。測定優先度データをＭＰＭ３２からＡＰＤＭ３１で受けて、測定選択データ及び測定構成データと共に用いて、取込みパラメータを決定してもよい。取込みパラメータを決定すると、これらを取込みモジュール（ＡＭ）３３に送り、及び／又は、これらを用いてデータ取り込みようにＡＭ３３を構成してもよい。構成されたＡＭ３３は、ソース・データを取り込んで、データを測定処理、表示３４、ストレージ３４又は他の出力装置に出力してもよい。
【００３４】
いくつかの実施例において、ＡＭ３３からのソース・データは、直接測定、表示又はストレージに適切でないかもしれない。これら実施例において、ＡＭ３３は、生のデータをデータ・プロセッサ３５に送ってもよく、ここでは、ソース・データを処理して、測定条件、出力又はストレージ制限、又は他の制限に従わせる。いくつかの実施例において、データ・プロセッサ３５は、ろ波、変換及び他の処理に限定されるものではないがこれらの如き信号処理タスクを実行してもよい。処理が完了すると、処理したソース・データを、測定処理、表示の如き出力装置３４、ストレージ装置３６、ローカル又はＡＭ３３に離れたある他のデスティネーションに送ってもよい。
【００３５】
図４を参照して、本発明のいくつかの実施例を説明できる。これら実施例は、上述の例示的実施例で述べたＵＩのようなユーザ・インタフェース（ＵＩ）５０を具えてもよい。これら実施例は、ＭＡＭ５１及びＭＰＭ５２を具えてもよい。測定選択がＡＰＤＭ５３に送られると、ＵＩ５０からの入力、ＭＡＭ５１からの適合性データ、ＭＰＭ５２からの測定優先度データを用いて、取込みパラメータを選択してもよい。取込みパラメータが決定すると、これらを用いて、取込みモジュール（ＡＭ）５４を構成し、次に、構成されたＡＭ５４によりソース・データを得ることができる。ＡＭ５４からのいくつかのソース・データ出力は、処理を必要としないかもしれず、測定処理、出力装置５５又はストレージ装置５７に直接送ってもよい。
【００３６】
いくつかの実施例において、ＡＭ５４からのソース・データ出力は、直接測定、表示又はストレージに適さないかもしれない。これら実施例において、ＡＭ５４は、生のデータをデータ・プロセッサ５６に送り、ここで、ソース・データを処理して、測定条件、出力又はストレージ制限、又は他の制限に従うようにしてもよい。いくつかの実施例において、データ・プロセッサ５６は、ろ波、変換及び他の処理に限定されるものではないがこれらの如き信号処理タスクを実行してもよい。この処理が完了すると、処理したソース・データを測定処理、表示の如き出力装置５５、ローカル又はＡＭ５４に離れた他のデスティネーションに送ってもよい。
【００３７】
図５を参照して、本発明のいくつかの実施例を説明できる。この図は、例示的な方法のステップを示す流れ図である。これら実施例において、第１測定選択６０である測定Ａを装置ＵＩにて受ける。第２測定選択６２である測定Ｂを受けてもよい。これら実施例は、測定Ａ及びＢに適するデータを取り込むようにＡＭを構成するのに適する取込みパラメータを決定する６４。
【００３８】
図６を参照して、本発明のいくつかの実施例を説明できる。この図は、測定装置が用いる例示的方のステップを示す流れ図である。これら実施例において、第１測定Ａの選択７０及び第２測定Ｂの選択７２を受ける。測定適合性データ７４にアクセスして、測定Ａ及びＢの両方に適するデータを取り込む測定装置を構成する取込みパラメータを見つけられるかを決定する７６。測定選択７０及び７２並びに適合性データ７４を用いて、測定に両立性があるときに、取込みパラメータを自動的に決定する。いくつかの実施例において、測定７０及び７２に両立性がないときに、競合メッセージをユーザに表示するか、ユーザに追加の入力を促してもよい。
【００３９】
図７を参照して本発明のいくつかの実施例を説明できる。この図は、測定装置が用いる例示的方法のステップを示す流れ図である。これら実施例において、第１測定Ａの選択８０及び第２測定Ｂの選択８２を受ける。測定優先度データ８４を受けるか、又は優先度モジュール（ＰＭ）からアクセスしてもよい。ある測定が他の測定に対して優先であると、両方の測定用の理想取込みパラメータが選択できないときに、その優先の測定用のパラメータを優先してもよい。いくつかの場合において、取込みパラメータを選択して、優先でない測定の確度、分解能又は他のアスペクトが理想未満となる。この方法にて、測定機器用に取込みパラメータを決定してもよい８６。
【００４０】
図８を参照して、本発明のいくつかの実施例を説明できる。この図は、測定装置が用いる例示的方法のステップを示す流れ図である。これら実施例において、第１測定Ａの選択９０及び第２測定Ｂの選択９２を受ける。測定が選択されると、取込みパラメータを自動的に決定する９４。取込みパラメータの決定期間中、取込みデータを処理することなくある測定を適切に適合できないと、測定及び／又は表示９９される前に、その測定用にデータを取込み９６、処理９８できる。
【００４１】
図９を参照して、本発明のいくつかの実施例を説明できる。この図は、測定装置が用いる例示的な方法のステップを示す流れ図である。これら実施例において、第１測定Ａの選択１００及び第２測定Ｂの選択１０１を受ける。測定適合性データをアクセス１０２して、測定選択を変更できる範囲、又は取込みパラメータを調整できる範囲を決定する一方、許容可能な測定結果を発生する。測定優先度データをアクセス１０３して、ある測定が他の測定に優先しているかを決定する。一方の測定が優先していれば、その測定用の取込みパラメータが最適となる一方、他の測定用に取込みパラメータが非最適の結果となる。
【００４２】
測定が選択され、適合性及び優先度データが得られると、取込みパラメータを自動的に決定できる１０４。これらパラメータが取込みモジュールに送られ１０５、これらパラメータを用いて取込みモジュールを構成できる１０６。データは、その測定用に取り込んでもよい１０７。測定を適応させるのに処理が必要なとき、取込みデータを処理できる１０８。データ取込み１０７及び処理１０８の後、必要なときに、データを処理して、その結果をユーザが使うために表示１０９に送ってもよいし、後で使用するために蓄積してもよい。
【００４３】
図１０を参照して本発明のいくつかの実施例を説明できる。この図は、測定装置が用いる例示的方法のステップを示す流れ図である。これら実施例において、第１測定Ａの選択１１０及び第２測定Ｂの選択１１１を受ける。つぎに、これら実施例は、測定Ａ用の理想の取込みパラメータが測定Ｂ用の理想の取込みパラメータを競合するかを決定する１１２。競合がない場合、理想的なパラメータを選択し１１３、これを用いて取込みモジュールを構成する。競合があると、測定優先度を考慮する。その測定が他の測定に対して優先しないと、測定適合性データを顧慮して、測定Ａ及びＢ用に許容できる結果を生むような取込みパラメータを選択できるかを決める１１５。その場合、これら取込みパラメータを選択し１１６、取込みモジュールの構成用に用いる。総ての測定用に許容できる結果を生む取込みパラメータを選択できないとき、競合メッセージを表示し１１７、競合を解決するために更なるユーザ入力を要請する。いくつかの実施例において、競合が生じるとき、測定を自動的に省略してもよい。
【００４４】
ある測定が他に対して優先すると、これら実施例は、優先する測定の理想的なパラメータが、非優先の測定に対して許容できる結果を生むかを決定する１１８。これが可能ならば、優先する測定の理想的な取込みパラメータを選択して１１９、これを用いて取込みモジュールを構成する。優先する測定の理想的なパラメータが、非優先の測定に対して許容できるデータにならないと、優先度のある測定及び非優先の測定の両方に対して許容できるデータとならない取込みパラメータが見つかるかを決定できる１２０。これが達成できないと、競合メッセージ１２１がユーザに表示され、及び／又は、競合を解決するために更なるユーザ入力を要求してもよい。上述の明細書で使用した用語及び表現は、説明の用語として用いたが、限定するものではない。かかる用語及び表現は、図示し説明した特徴及びそれらの部分と等価なものを除く意図がない。本発明の範囲は、請求項のみによって定義され制限されることが理解できよう。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】図１は、取込みパラメータ決定モジュールを具える本発明の例示的な実施例を示す図である。
【図２】図２は、取込みパラメータ決定モジュール及び測定適合モジュールを具えた本発明の例示的な実施例を示す図である。
【図３】図３は、取込みパラメータ決定モジュール及び測定優先度モジュールを具えた本発明の例示的な実施例を示す図である。
【図４】図４は、取込みパラメータ決定モジュール、測定適合モジュール、測定優先度モジュール及び処理モジュールを具えた本発明の例示的な実施例を示す図である。
【図５】図５は、取込みパラメータの自動決定を具えた本発明の例示的実施例を示す流れ図である。
【図６】図６は、測定適合データ・アクセスによる取込みパラメータの自動決定を具えた本発明の例示的実施例を示す流れ図である。
【図７】図７は、測定優先度データ・アクセスによる取込みパラメータの自動決定を具えた本発明の例示的実施例を示す流れ図である。
【図８】図８は、取込みパラメータ及びソース・データ処理の自動決定を具えた本発明の例示的実施例を示す流れ図である。
【図９】図９は、取込みパラメータ、測定適合データ・アクセス、測定優先度データ・アクセス及びソース・データ処理の自動決定を具えた本発明の例示的実施例を示す流れ図である。
【図１０】図１０は、優先度データのアプリケーションを具えた本発明の例示的実施例を示す流れ図である。
【図１】
2009515198.tif 000003
【図２】
2009515198.tif 000004
【図３】
2009515198.tif 000005
【図４】
2009515198.tif 000006
【図５】
2009515198.tif 000007
【図６】
2009515198.tif 000008
【図７】
2009515198.tif 000009
【図８】
2009515198.tif 000010
【図９】
2009515198.tif 000011
【図１０】
2009515198.tif 000012
【手続補正書】
【提出日】平成21年2月2日(2009.2.2)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
測定取込みパラメータを決定する装置であって、
ａ）第１測定選択及び第２測定選択を受けるインタフェースと、
ｂ）取込みモジュール用の取込みパラメータを決定するプロセッサとを具え、
上記取込みパラメータを用いて、上記第１測定及び上記第２測定に適応するソース・データ・セットを取り込むように上記取込みモジュールを構成できることを特徴とする装置。
【請求項２】
測定装置の取込みパラメータを自動的に決定する方法であって、
ａ）第１測定選択を受け、
ｂ）第２測定選択を受け、
ｃ）取込みモジュール用の取込みパラメータを決定し、
上記取込みパラメータを用いて、上記第１測定及び上記第２測定に適応するソース・データ・セットを取り込むように上記取込みモジュールを構成できる方法。
【請求項３】
測定の取込みパラメータを決定する装置であって、
ａ）第１測定選択及び第２測定選択を受けるインタフェースと、
ｂ）測定適合データを蓄積する適合ストレージと、
ｃ）取込みモジュール用の取込みパラメータを決定する取込みパラメータ決定モジュールとを具え、
上記取込みパラメータを用いて、上記第１測定及び上記第２測定に適応するソース・データ・セットを取り込むように上記取込みモジュールを構成し、
ｄ）上記第１測定及び上記第２測定モジュールの少なくとも１つの条件に適応するように上記ソース・データ・セットを処理するプロセッサを更に具える装置。
【請求項４】
単一のデータ・セットから複数の測定を適応させる装置であって、
ａ）第１測定用の第１測定構成データ及び第２測定用の第２測定構成データを受けるインタフェースと、
ｂ）ソース・データ・セットを受ける受信器と、
ｃ）上記ソース・データ・セットにより直接的には適応しない上記第１測定及び上記第２測定の一方に適応するように上記データ・ソース・セットを処理するプロセッサと
を具えた装置。
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【発明の詳細な説明】
【関連資料】
【０００１】
本願は、２００５年１１月４日に出願された米国仮特許出願番号第６０／７３３５２４号「適切な仮出願」の利益を主張する。
【発明の技術分野】
【０００２】
本発明の実施例は、測定装置の取込みパラメータを自動判断する方法及びシステムを具えており、複数の測定形式を適応させる装置構成を実現する。
【背景】
【０００３】
スペクトラム・アナライザ、オシロスコープ及び他の機器の如き測定機器は、データ記録を取込み、複数の測定を同時に用いてそれを分析する能力がある。従来のデジタル測定機器は、１つの測定又は１組の関連測定を一度に実行できるように設計されていた。これら測定機器によって、ユーザは、典型的には、測定を選択し、そのパラメータを設定している。複数の測定が選択されると、取込みパラメータの競合を手動で解決する問題に直面する。
【概要】
【０００４】
本発明のいくつかの実施例は、複数の測定を選択し、選択された測定のいく組みかを適応させるように取込みパラメータを決定し、取込みパラメータにより測定装置を構成し、構成した装置により選択された測定の要求に合うソース・データを取り込む。いくつかの実施例において、機器は、選択された測定を実行するのに必要なデータを取り込むようにそれ自体を自動的に構成できる。いくつかの実施例は、いく組かの選択された測定を適応させる取込みパラメータを決定する機能を単に具えることができる。
【０００５】
本発明の概念は、次の通りである。
（１）測定取込みパラメータを決定する装置であって；ａ）第１測定選択及び第２測定選択を受けるインタフェースと；ｂ）取込みモジュール用の取込みパラメータを決定するプロセッサとを具え；上記取込みパラメータを用いて、上記第１測定及び上記第２測定に適応するソース・データ・セットを取り込むように上記取込みモジュールを構成できることを特徴とする装置。
（２）上記取込みモジュールを更に具える概念１の装置。
（３）測定適合モジュールを更に具える概念１の装置。
（４）測定優先度モジュールを更に具える概念１の装置。
（５）上記取込みパラメータの少なくとも１つは、サンプリング・レート、取込み長、取込み周波数範囲、基準レベル、ディザ設定、サンプル数、ろ波及び補正パラメータ、入力ソース選択、信号経路利得及び減衰設定から成る組みから選択されることを特徴とする概念１の装置。
（６）上記インタフェースが測定適合データを受け、取込みパラメータを決定する際に上記測定適合データを１つの係数として用いる概念１の装置。
（７）上記インタフェースが測定優先度データも受け、上記取込みパラメータを決定する際の係数として上記測定優先度データを用いる概念１の装置。
（８）上記第２測定に適応するように上記ソース・データ・セットを処理することを更に具える概念１の装置。
（９）測定装置の取込みパラメータを自動的に決定する方法であって；ａ）第１測定選択を受け；ｂ）第２測定選択を受け；ｃ）取込みモジュール用の取込みパラメータを決定し；上記取込みパラメータを用いて、上記第１測定及び上記第２測定に適応するソース・データ・セットを取り込むように上記取込みモジュールを構成できる方法。
（１０）測定適合データを受けることを更に具え、上記取込みパラメータの決定において上記測定適合データを用いる概念９の方法。
（１１）測定優先度データを受けることを更に具え、上記取込みパラメータの決定において上記測定優先度データを用いる概念９の方法。
（１２）上記取込みパラメータの少なくとも１つは、サンプリング・レート、取込み長、取込み周波数範囲、基準レベル、ディザ設定、サンプル数、ろ波及び補正パラメータ、入力ソース選択、信号経路利得及び減衰設定から成る組みから選択されることを特徴とする概念９の方法。
（１３）上記第２測定に適応するように上記データ・セットを処理することを更に具える概念９の方法。
（１４）測定の取込みパラメータを決定する装置であって；ａ）第１測定選択及び第２測定選択を受けるインタフェースと；ｂ）測定適合データを蓄積する適合ストレージと；ｃ）取込みモジュール用の取込みパラメータを決定する取込みパラメータ決定モジュールとを具え；上記取込みパラメータを用いて、上記第１測定及び上記第２測定に適応するソース・データ・セットを取り込むように上記取込みモジュールを構成し；ｄ）上記第１測定及び上記第２測定モジュールの少なくとも１つの条件に適応するように上記ソース・データ・セットを処理するプロセッサを更に具える装置。
（１５）取込みモジュールを更に具える概念１４の装置。
（１６）上記取込みパラメータの少なくとも１つは、サンプリング・レート、取込み長、取込み周波数範囲、ディザ設定、サンプル数、ろ波及び補正パラメータ、入力ソース選択、基準レベル、信号経路利得及び減衰設定から成る組みから選択されることを特徴とする概念１４の装置。
（１７）上記インタフェースが測定適合データを受け、取込みパラメータを決定する際に上記測定適合データを上記適合ストレージに蓄積すると共に１つの係数として用いる概念１４の装置。
（１８）測定優先度データを蓄積する優先度ストレージを更に具え、上記インタフェースが測定優先度データも受け、上記取込みパラメータを決定する際に上記測定優先度データを蓄積すると共に係数として用いる概念１４の装置。
（１９）上記取込みパラメータを決定することは、取込んだソース・データを処理する影響を考慮する概念１４の装置。
（２０）上記第１測定及び上記第２測定に適応する取込みパラメータを決定できないときに、上記取込みパラメータ決定モジュールが競合メッセージを出力する概念１４の装置。
（２１）単一のデータ・セットから複数の測定を適応させる装置であって；ａ）第１測定用の第１測定構成データ及び第２測定用の第２測定構成データを受けるインタフェースと；ｂ）ソース・データ・セットを受ける受信器と；ｃ）上記ソース・データ・セットにより直接的には適応しない上記第１測定及び上記第２測定の一方に適応するように上記データ・ソース・セットを処理するプロセッサとを具えた装置。
【０００６】
本発明の上述及びその他の目的、特徴及び利点は、添付図を参照した本発明の以下の詳細説明を考慮することにより、一層容易に理解できよう。
【例示的実施例の詳細な説明】
【０００７】
本発明の実施例は、添付図を参照して最も良く理解できよう。なお、同じ要素には、全体を通じて類似の番号で示す。上述で示した図は、この詳細説明の一部として特別に具体化したものである。
【０００８】
一般的に説明し図に示すように、本発明のコンポーネントは、広範囲の種々の異なる構成にて配置でき、設計できることが容易に理解できよう。よって、本発明の方法及びシフトの実施例の以下のより詳細な説明は、本発明の範囲を制限するものではなく、本発明の現在の好適実施例を単に示すものである。
【０００９】
本発明の実施例の要素は、ハードウェア、ファームウェア及び／又はソフトウェアに組み込んでもよい。ここに示す例示的実施例は、これら形式の１つを説明するのみであるが、本発明の範囲内でこれら形式の任意のものにてこれら要素を実現できることが当業者には理解できよう。
【００１０】
本発明のいくつかの実施例は、計算及び表示に対して複数の測定又は測定の組合せをユーザが選択できる方法及びシステムを具えている。いくつかの実施例において、これら測定は、単一の取込みハードウェア・システムからのデータを用いて実行できる多数の関連のない測定でもよい。いくつかの実施例において、同じデータ・セットで測定を計算してもよい。これを行って、これら結果の間の時間相関を確実にできる。
【００１１】
いくつかの実施例において、機器は、選択された測定の属性を受信するか又は検出して、選択された測定を適応させる取込みパラメータを選択、計算又は決定できる。取込みパラメータを決定して、できるだけ多くの測定に適切となるようにする。いくつかの実施例において、特定の測定適合規則及び／又は測定優先度規則に応じて、取込みパラメータを選択してもよい。いくつかの実施例において、ユーザは、取込みパラメータを設定する必要もないし、知る必要もない。
【００１２】
別の実施例において、ユーザは、いくつか又は総ての取込みパラメータを設定してもよい。ユーザが取込みパラメータを直接設定すると、これら実施例は、選択された取込みパラメータの両立性を検証し、任意の非両立性に対してユーザに警告をしてもよい。いくつかの実施例において、結果としての取込みデータを処理して、１つ以上の測定と両立できるようにしてもよい。
【００１３】
いくつかの実施例において、機器は、測定の組合せに対する相関結果を提供できる。これら実施例のいくつかにおいて、これら結果を複数次元（例えば、時間、周波数、パワー、位相など）で表現できる。
【００１４】
本発明のいくつかの実施例において、複数の測定に適用するように定められた取込みパラメータは、サンプリング・レート、取込み長、取込み周波数レンジ、基準レベル、信号経路利得、減衰設定、ディザ設定、サンプル数、ろ波及び補正パラメータ、入力ソース選択などでもよい。
【００１５】
本発明のいくつかの実施例において、特定の１つの測定又は複数の測定に取込みパラメータを最適化して、他の測定を可能ならば結果データに適応させてもよい。この最適化は、ディフォルト値としてプリセットしても、ユーザにより選択しても、自動的に決定しても、又はそうでなく設定してもよい。
【００１６】
いくつかの実施例において、取込みパラメータを高い優先度の測定にバイアスしてもよい。優先度は、ユーザが設定できるし、自動的に設定できるし、ディフォルトとして設定できるし、又は、そうでなく決定することもできる。
【００１７】
いくつかの実施例において、取込みパラメータを決めて、総ての測定、測定の大部分、又は測定のいくつかの量又はレベルが、測定の適合性又は許容誤差パラメータに基づいた理想的、良好又は受容できる結果を発生するようにできる。
【００１８】
いくつかの実施例において、１つ以上の測定メカニズムは、予め決定されているか、ユーザが選択できるか、又は自動的に決定できる。
【００１９】
いくつかの実施例では、各測定に対する結果としての取込みデータの適切性をユーザに知らせてもよい。いくつかの実施例において、「最適化済み」、「ＯＫ」、「障害発生」又は「利用不可」の如きメッセージを測定データと共に表示して、特定の測定に適応するように取込みデータがどの程度良好に設定されたかを示してもよい。
【００２０】
本発明のいくつかの実施例は、理想値よりも大きいか小さいパラメータに取込みデータが適応させるために各測定能力に関する適合データ又は情報を具えている。この情報は、各測定に相関してもよく、適合性ストレージの如き装置に蓄積してもよいし、又は、ユーザによる入力を含む測定システムとの通信において又は測定システム内のいくつかの他の入力により管理できる。
【００２１】
本発明のいくつかの実施例は、取込みデータに対するデジタル再サンプリング、ろ波、周波数シフト、他のデジタル又は非デジタル処理も含んでおり、夫々が特定測定又は複数の測定の組合せに適する取込み記録の別の形式を発生してもよい。これら機能は、処理モジュールにより実行してもよい。これら新たなデータ記録は、種々の測定が要求する値にマッチしたパラメータ（例えば、サンプリング・レート、記録長、周波数レンジ、レベルなど）を有してもよい。
【００２２】
本発明の例示的な実施例において、取込み長の要求が競合する複数の測定を適応できる。この状態において、取込み設定が見つかり、両方の測定が最適な結果を生じることができる。この例において、測定Ａは、スペクトル・トレースであり、選択された分解能帯域幅（ＲＢＷ）設定を達成するために、８０マイクロ秒のサンプル・データを必要とする。測定Ｂは、パルス・レート計算であり、全パルス期間をカバーするために１ミリ秒のサンプル・データを必要とする。
【００２３】
これら実施例において、適応ロジックが通知されるか、そうでなければ、取込み長に応じたこれら２つの要求が通知される。つぎに、これら実施例は、解が取込み長を１ミリ秒に設定することであると決定する。その理由は、これら実施例が、測定Ａが過度の取込み長を扱うことができ、測定Ｂがしてされたよりも短いデータ記録を実行できないという情報にアクセスするためである。この例において、サンプル・データの１ミリ秒を取込み、両方の測定に分配する。
【００２４】
他の例示的な実施例において、取込み記録のポスト捕捉処理を実行して、選択された測定に対して適切にする。この例において、測定Ａは、スペクトル・トレースであり、スパンが１００ＭＨｚである。測定Ｂは、エラー・ベクトルの大きさ（ＥＶＭ）測定であり、測定帯域幅が３５ＭＨｚである。この例において、例示的な実施例は、１００ＭＨｚの取込み帯域幅が両方の測定に適切なデータを提供すると決定してもよい。この場合、変更されていない１００ＭＨｚ記録をスペクトル測定処理に供給してもよい。この例示的実施例のシステムは、次に、取込んだ記録を３５ＭＨｚの帯域幅にデジタルろ波し、ろ波した（処理した）記録をＥＶＭ測定処理に供給してもよい。
【００２５】
本発明のいくつかの実施例は、帯域幅、分解能及び他の能力を可変する複数の取込みモジュール（例えば、取込みボード）を具えてもよい。いくつかの実施例は、低分解能で広帯域幅の取込みモジュールと、高分解能で狭帯域幅の取込みモジュールとを具えてもよい。１つの測定が高帯域幅取込みモジュールを必要とし、１つの測定が高分解能取込みモジュールを必要とするとき、高分解能で狭帯域幅の取込みモジュールにより複数のデータ記録を取り込んで、両方の測定を適応できる。例えば、第１測定が高分解能で４０ＭＨｚの帯域幅を必要とし、第２測定が１６０ＭＨｚの帯域幅（低分解にて）を必要とし、高分解能取込みモジュールが４０ＭＨｚの帯域幅（例えば、０〜４０ＭＨｚ、４０〜８０ＭＨｚ、８０〜１２０ＭＨｚ及び１２０〜１６０ＭＨｚ）に制限されるとき、取込みモジュールが４０ＭＨｚの帯域幅の複数のデータ記録を取り込むように構成する取込みパラメータを決定することにより両方の測定を適応できる。これら記録から計算されたスペクトル・トレースを互いに「ステッチ」して、１６０ＭＨｚの広い結果のトレースを形成してもよい。いくつかの場合において、一方又は両方の測定の要求に合うように、取込んだデータをろ波し、又は処理する。
【００２６】
本発明の実施例の要素は、ハードウェア・コンポーネント、ファームウェア・コンポーネント又はコード、ソフトウェア・コード又は他のコンピュータが読み取り可能な命令にて実現できる。図１を参照して、本発明のいくつかの実施例を説明できる。これら実施例は、ユーザ入力を受けるユーザ・インタフェース２を具える。ユーザは、ユーザ・インタフェース２に測定選択を入力できる。これら測定選択は、測定定義及び測定制限データでもよい。測定選択、測定定義及び測定制限データを測定構成データと言ってもよい。いくつかの実施例において、ユーザは、測定適合性及び／又は測定優先度データを入力してもよい。
【００２７】
これら実施例は、選択された測定を適応させる取込みパラメータを決定するための取込みパラメータ決定モジュール（ＤＰＤＭ）４も具えてもよい。測定が選択され、これら測定に関連する任意の追加ユーザ入力を受信した後、ＡＰＤＭ４は、選択された測定に適するデータの取り込みように取込みモジュール６を構成する取込みパラメータを決定できる。測定に追加の制限が課せられる実施例を含むいくつかの実施例において、取込みパラメータは、これら制限に良好に合うように自動的に選択できる。取込みパラメータが選択されると、これらは、取込みモジュール（ＡＭ）６に送られるか、及び／又は選択された測定用のソース・データの取り込み用にＡＭ６を構成するのに使用できる。このソース・データが収集されると、ソース・データは、表示の如き出力装置７に送ることができる。いくつかの実施例において、ソース・データをメモリ又はストレージ装置９に送り、その後のアクセス用に蓄積できる。
【００２８】
いくつかの実施例において、ＡＭ６からのソース・データ出力は、直接表示又はストレージに適さないかもしれない。これら実施例において、ＡＭ６は、生のソース・データをデータ・プロセッサ８に送り、ソース・データを処理して、測定条件、出力又はストレージ制限、又は他の制限に従うようにできる。いくつかの実施例において、データ・プロセッサ８は、ろ波、変換及び他の処理に制限されるものではないがこれらの如き信号処理タスクを実行できる。処理が完了すると、出力は処理済みデータとなり、これは、測定処理、表示の如き出力装置７、ストレージ装置９、又はローカル又はＡＭ６に離れた他のあるデスティネーションに送ることができる。
【００２９】
本発明のいくつかの実施例は、図２を参照して説明できる。これら実施例は、上述の例示的実施例にて説明したＵＩ２のようなユーザ・インタフェース（ＵＩ）２０を具えている。ＵＩ２０は、ユーザ入力を受け、その入力をＡＰＤＭ２１に伝送する。また、ＵＩ２０は、許容できる測定誤差及び他のデータの如き測定適合性に関連したユーザ入力を受け、そのデータを測定適合モジュール（ＮＡＭ）２２に伝送できる。これは、データ・ストレージ（例えば、メモリ、ハード・ドライブなど）を具えることができ、データ・アクセス機能（例えば、データベースなど）を更に具えるもできる。ＭＡＭ２２への入力は、測定構成データと異なる時点で入力してもよく、複数の測定でユーザ用に蓄積してもよい。
【００３０】
測定校正データをＡＰＤＭ２１に送り、ここで、選択された測定及び任意の測定適合データに基づいて、取込みパラメータを決定できる。測定適合データを用いて、許容測定誤差を決定する。これは、複数の測定を同時に実行できるかを判断する要素にできる。選択された測定を同時に実行できないならば、ＡＰＤＭ２１は、測定の非両立性をユーザに警告してもよいし、又は、代わりの測定又は測定適合性オプションをユーザに促す。測定が特定の１組の取込みパラメータと適応できないと、これらパラメータを設定し、モジュール構成用の取込みモジュール（ＡＭ）２３に伝送する。
【００３１】
取込みパラメータをＡＭ２３で受けて、そのモジュールの構成を実行する。ソース・データは、構成されたＡＭ２３により取り込むことができる。ソース・データが収集され、１つ以上の測定処理により処理されたとき、測定データを表示の如き出力装置２４に送ってもよい。いくつかの実施例において、測定データをメモリ又はストレージ装置２６に送ってもよく、そこで後でのアクセス用に蓄積できる。
【００３２】
いくつかの実施例において、ＡＭ２３からのソース・データ出力は、直接測定、表示又はストレージにとって適切でないかもしれない。これら実施例において、ＡＭ２３は、生のデータをデータ・プロセッサ２５に送り、そこで、ソース・データを処理して、測定条件、出力又はストレージ制限、又は他の制限に従わせることができる。いくつかの実施例において、データ・プロセッサ２５は、ろ波、領域変換及び他の処理に制限されるものではないがこれらの如き信号処理タスクを実行してもよい。処理が完了すると、処理済みソース・データを、測定処理、表示の如き出力装置２４、ストレージ装置２６、又はローカル又はＡＭ２３に離れた他のデスティネーションに送ってもよい。
【００３３】
図３を参照して、本発明のいくつかの実施例を説明できる。これら実施例は、上述の例示的実施例で述べたＵＩのようなユーザ・インタフェース（ＵＩ）３０を具えている。ＵＩ３０は、測定優先度モジュール（ＭＰＭ）３２に転送できる測定優先度入力も受けることができ、ここでは、それを測定優先度データとして蓄積する。測定優先度入力及びデータは、ある測定用の取込みパラメータを調整して別の測定に適応できるかに限定されないがそれを含む測定の相対優先度に関連した情報を具えてもよい。測定優先度入力は、測定選択又は測定構成データに先立って入力し、後での使用のために蓄積してもよい。
【００３４】
ＵＩ３０で受信された測定選択データ及び測定構成データをＡＰＤＭ３１に伝送してもよい。ここで、測定選択データ及び測定構成データを用いて、取込みパラメータを決定してもよい。測定優先度データをＭＰＭ３２からＡＰＤＭ３１で受けて、測定選択データ及び測定構成データと共に用いて、取込みパラメータを決定してもよい。取込みパラメータを決定すると、これらを取込みモジュール（ＡＭ）３３に送り、及び／又は、これらを用いてデータ取り込みようにＡＭ３３を構成してもよい。構成されたＡＭ３３は、ソース・データを取り込んで、データを測定処理、表示３４、ストレージ３４又は他の出力装置に出力してもよい。
【００３５】
いくつかの実施例において、ＡＭ３３からのソース・データは、直接測定、表示又はストレージに適切でないかもしれない。これら実施例において、ＡＭ３３は、生のデータをデータ・プロセッサ３５に送ってもよく、ここでは、ソース・データを処理して、測定条件、出力又はストレージ制限、又は他の制限に従わせる。いくつかの実施例において、データ・プロセッサ３５は、ろ波、変換及び他の処理に限定されるものではないがこれらの如き信号処理タスクを実行してもよい。処理が完了すると、処理したソース・データを、測定処理、表示の如き出力装置３４、ストレージ装置３６、ローカル又はＡＭ３３に離れたある他のデスティネーションに送ってもよい。
【００３６】
図４を参照して、本発明のいくつかの実施例を説明できる。これら実施例は、上述の例示的実施例で述べたＵＩのようなユーザ・インタフェース（ＵＩ）５０を具えてもよい。これら実施例は、ＭＡＭ５１及びＭＰＭ５２を具えてもよい。測定選択がＡＰＤＭ５３に送られると、ＵＩ５０からの入力、ＭＡＭ５１からの適合性データ、ＭＰＭ５２からの測定優先度データを用いて、取込みパラメータを選択してもよい。取込みパラメータが決定すると、これらを用いて、取込みモジュール（ＡＭ）５４を構成し、次に、構成されたＡＭ５４によりソース・データを得ることができる。ＡＭ５４からのいくつかのソース・データ出力は、処理を必要としないかもしれず、測定処理、出力装置５５又はストレージ装置５７に直接送ってもよい。
【００３７】
いくつかの実施例において、ＡＭ５４からのソース・データ出力は、直接測定、表示又はストレージに適さないかもしれない。これら実施例において、ＡＭ５４は、生のデータをデータ・プロセッサ５６に送り、ここで、ソース・データを処理して、測定条件、出力又はストレージ制限、又は他の制限に従うようにしてもよい。いくつかの実施例において、データ・プロセッサ５６は、ろ波、変換及び他の処理に限定されるものではないがこれらの如き信号処理タスクを実行してもよい。この処理が完了すると、処理したソース・データを測定処理、表示の如き出力装置５５、ローカル又はＡＭ５４に離れた他のデスティネーションに送ってもよい。
【００３８】
図５を参照して、本発明のいくつかの実施例を説明できる。この図は、例示的な方法のステップを示す流れ図である。これら実施例において、第１測定選択６０である測定Ａを装置ＵＩにて受ける。第２測定選択６２である測定Ｂを受けてもよい。これら実施例は、測定Ａ及びＢに適するデータを取り込むようにＡＭを構成するのに適する取込みパラメータを決定する６４。
【００３９】
図６を参照して、本発明のいくつかの実施例を説明できる。この図は、測定装置が用いる例示的方のステップを示す流れ図である。これら実施例において、第１測定Ａの選択７０及び第２測定Ｂの選択７２を受ける。測定適合性データ７４にアクセスして、測定Ａ及びＢの両方に適するデータを取り込む測定装置を構成する取込みパラメータを見つけられるかを決定する７６。測定選択７０及び７２並びに適合性データ７４を用いて、測定に両立性があるときに、取込みパラメータを自動的に決定する。いくつかの実施例において、測定７０及び７２に両立性がないときに、競合メッセージをユーザに表示するか、ユーザに追加の入力を促してもよい。
【００４０】
図７を参照して本発明のいくつかの実施例を説明できる。この図は、測定装置が用いる例示的方法のステップを示す流れ図である。これら実施例において、第１測定Ａの選択８０及び第２測定Ｂの選択８２を受ける。測定優先度データ８４を受けるか、又は優先度モジュール（ＰＭ）からアクセスしてもよい。ある測定が他の測定に対して優先であると、両方の測定用の理想取込みパラメータが選択できないときに、その優先の測定用のパラメータを優先してもよい。いくつかの場合において、取込みパラメータを選択して、優先でない測定の確度、分解能又は他のアスペクトが理想未満となる。この方法にて、測定機器用に取込みパラメータを決定してもよい８６。
【００４１】
図８を参照して、本発明のいくつかの実施例を説明できる。この図は、測定装置が用いる例示的方法のステップを示す流れ図である。これら実施例において、第１測定Ａの選択９０及び第２測定Ｂの選択９２を受ける。測定が選択されると、取込みパラメータを自動的に決定する９４。取込みパラメータの決定期間中、取込みデータを処理することなくある測定を適切に適合できないと、測定及び／又は表示９９される前に、その測定用にデータを取込み９６、処理９８できる。
【００４２】
図９を参照して、本発明のいくつかの実施例を説明できる。この図は、測定装置が用いる例示的な方法のステップを示す流れ図である。これら実施例において、第１測定Ａの選択１００及び第２測定Ｂの選択１０１を受ける。測定適合性データをアクセス１０２して、測定選択を変更できる範囲、又は取込みパラメータを調整できる範囲を決定する一方、許容可能な測定結果を発生する。測定優先度データをアクセス１０３して、ある測定が他の測定に優先しているかを決定する。一方の測定が優先していれば、その測定用の取込みパラメータが最適となる一方、他の測定用に取込みパラメータが非最適の結果となる。
【００４３】
測定が選択され、適合性及び優先度データが得られると、取込みパラメータを自動的に決定できる１０４。これらパラメータが取込みモジュールに送られ１０５、これらパラメータを用いて取込みモジュールを構成できる１０６。データは、その測定用に取り込んでもよい１０７。測定を適応させるのに処理が必要なとき、取込みデータを処理できる１０８。データ取込み１０７及び処理１０８の後、必要なときに、データを処理して、その結果をユーザが使うために表示１０９に送ってもよいし、後で使用するために蓄積してもよい。
【００４４】
図１０を参照して本発明のいくつかの実施例を説明できる。この図は、測定装置が用いる例示的方法のステップを示す流れ図である。これら実施例において、第１測定Ａの選択１１０及び第２測定Ｂの選択１１１を受ける。つぎに、これら実施例は、測定Ａ用の理想の取込みパラメータが測定Ｂ用の理想の取込みパラメータを競合するかを決定する１１２。競合がない場合、理想的なパラメータを選択し１１３、これを用いて取込みモジュールを構成する。競合があると、測定優先度を考慮する。その測定が他の測定に対して優先しないと、測定適合性データを顧慮して、測定Ａ及びＢ用に許容できる結果を生むような取込みパラメータを選択できるかを決める１１５。その場合、これら取込みパラメータを選択し１１６、取込みモジュールの構成用に用いる。総ての測定用に許容できる結果を生む取込みパラメータを選択できないとき、競合メッセージを表示し１１７、競合を解決するために更なるユーザ入力を要請する。いくつかの実施例において、競合が生じるとき、測定を自動的に省略してもよい。
【００４５】
ある測定が他に対して優先すると、これら実施例は、優先する測定の理想的なパラメータが、非優先の測定に対して許容できる結果を生むかを決定する１１８。これが可能ならば、優先する測定の理想的な取込みパラメータを選択して１１９、これを用いて取込みモジュールを構成する。優先する測定の理想的なパラメータが、非優先の測定に対して許容できるデータにならないと、優先度のある測定及び非優先の測定の両方に対して許容できるデータとならない取込みパラメータが見つかるかを決定できる１２０。これが達成できないと、競合メッセージ１２１がユーザに表示され、及び／又は、競合を解決するために更なるユーザ入力を要求してもよい。上述の明細書で使用した用語及び表現は、説明の用語として用いたが、限定するものではない。かかる用語及び表現は、図示し説明した特徴及びそれらの部分と等価なものを除く意図がない。本発明の範囲は、請求項のみによって定義され制限されることが理解できよう。
【図面の簡単な説明】
【００４６】
【図１】図１は、取込みパラメータ決定モジュールを具える本発明の例示的な実施例を示す図である。
【図２】図２は、取込みパラメータ決定モジュール及び測定適合モジュールを具えた本発明の例示的な実施例を示す図である。
【図３】図３は、取込みパラメータ決定モジュール及び測定優先度モジュールを具えた本発明の例示的な実施例を示す図である。
【図４】図４は、取込みパラメータ決定モジュール、測定適合モジュール、測定優先度モジュール及び処理モジュールを具えた本発明の例示的な実施例を示す図である。
【図５】図５は、取込みパラメータの自動決定を具えた本発明の例示的実施例を示す流れ図である。
【図６】図６は、測定適合データ・アクセスによる取込みパラメータの自動決定を具えた本発明の例示的実施例を示す流れ図である。
【図７】図７は、測定優先度データ・アクセスによる取込みパラメータの自動決定を具えた本発明の例示的実施例を示す流れ図である。
【図８】図８は、取込みパラメータ及びソース・データ処理の自動決定を具えた本発明の例示的実施例を示す流れ図である。
【図９】図９は、取込みパラメータ、測定適合データ・アクセス、測定優先度データ・アクセス及びソース・データ処理の自動決定を具えた本発明の例示的実施例を示す流れ図である。
【図１０】図１０は、優先度データのアプリケーションを具えた本発明の例示的実施例を示す流れ図である。
【国際調査報告】
2009515198.tif 000013