(57)【要約】  材料セパレータ内の多孔質要素中の破損を検出する方法が開示される。ＲＦエネルギーに対する障壁を形成するために、材料セパレータ内にシールドが生成される。シールドは障壁を通る経路を伴って形成され、ＲＦエネルギー及び材料がこの経路を通って流れることが可能になる。導電性多孔質要素が、この経路に十分にわたって配置される。ＲＦ信号が多孔質要素の片側面上で送信され、ＲＦ信号の信号レベルは、多孔質要素の反対側で、検出されたＲＦ信号が多孔質要素を横切るように検出される。完全な多孔質要素を使用して検出された信号レベルから、基線の信号強度指標が確立される。検出された信号レベルから有効な信号強度指標が生成される。有効な信号強度指標を基線の信号強度指標に対して比較することにより、多孔質要素中の破損が検出される。
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
多孔質要素の片側面上でＲＦ信号を送信する段階と、
前記多孔質要素の反対側で前記ＲＦ信号の信号レベルを複数の離散的周波数で検出する段階であって、前記検出されたＲＦ信号が前記多孔質要素を横切る段階と、
完全な多孔質要素を使用して、前記検出された信号レベルから基線の信号強度指標を確立する段階と、
前記検出された信号レベルから有効な信号強度指標を生成する段階と、
前記有効な信号強度指標を前記基線の信号強度指標に対して比較して、前記多孔質要素中の破損を検出する段階とを含む、材料セパレータ内の多孔質要素中の破損を検出する方法。
【請求項２】
前記ＲＦ信号を送信する段階が、電磁エネルギーのマイクロ波領域内の前記ＲＦ信号を送信する段階を含む請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記ＲＦ信号を送信する段階が、前記送信されたＲＦ信号を複数の離散的周波数を通してスイープする段階を含む請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記基線の信号強度指標を確立する段階が、２つ以上の検出された信号レベルを平均する段階を含む請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記基線の信号強度指標を確立する段階が、最も高い３つの検出された信号レベルを平均する段階を含む請求項４に記載の方法。
【請求項６】
前記有効な信号強度指標を生成する段階が、２つ以上の検出された信号レベルを平均する段階を含む請求項１に記載の方法。
【請求項７】
前記有効な信号強度指標を生成する段階が、最も高い３つの検出された信号レベルを平均する段階を含む請求項６に記載の方法。
【請求項８】
前記導電性多孔質要素が金属製スクリーン・クロスを含むスクリーンを備える請求項１に記載の方法。
【請求項９】
ＲＦエネルギーに対する障壁を形成する材料セパレータ内に前記障壁を通る経路を有するシールドを形成する段階であって、ＲＦエネルギー及び材料が前記経路を通って流れることが可能になる段階と、
前記経路に十分にわたって前記多孔質要素を配置する段階であって、前記多孔質要素が導電性である段階とをさらに含む請求項１に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明の分野は、スクリーニング（ふるい分け）又はフィルタリング（ろ過）による材料の分離及び使用される多孔質要素に対する破損検出である。
【背景技術】
【０００２】
セパレータ（分離器）・システムは産業において様々な事業に使用されている。それらは、乾燥した材料及び液体／固体のスラリを処理するために使用される。各々が、通常は織金網又は多孔質膜のスクリーン又はフィルタなどの多孔質要素に、まず材料の流れを案内することにより一般に機能する。材料の流れは２つに分離され、一方は多孔質要素を通過する材料を含み、他方は多孔質要素によって除去される材料を含む。材料が多孔質要素を通過するか又はその周辺で要素から押し退けられるまで、多孔質要素上の材料を動かす役割を果たす振動動作を生成するために、駆動機構がハウジングと効果的に結合されてよい。他の装置は、除去された材料を取り除くための逆流を含む循環用途で、膜を通る流れを増加させるために圧力を用いる。
【０００３】
そのようなセパレータ・システムは、長方形や円形のスクリーンを使用するが、フレーム上でスクリーン要素に張力をかけるか又はセパレータ自体にフックで張力をかける。スクリーン要素は、多孔度において広範囲にわたり、単一要素又は積層された要素であり得る。セパレータのフレームは振動式又は固定式であり得て、振動式のときは、ばね、ブッシング又はリンクなど様々な手段によって支持される。そのようなシステムは、張力の有無、支持の有無、の二者択一でフィルタを使用し、また、広範囲の多孔度で、且つ長方形、円形、円筒状、及びバッグ形を含む広範囲の形状のフィルタを使用する。ハウジングのカバー、精巧なマニホールド並びに様々で且つ変更可能な運動、速度及びサイクルなど、その他の多くの特徴がもちろん利用可能である。そのようなシステム及び要素の小規模な抽出標本を開示する特許には、米国特許第４，０２２，６９３号、米国特許第４，２５１，３５４号、米国特許第４，５８２，５９７号、米国特許第４，６１３，４３２号、米国特許第４，６５５，９１１号、米国特許第４，９６８，３６６号、米国特許第５，０３２，２１０号、米国特許第５，０５１，１７１号、米国特許第５，１３４，８９３号、米国特許第５，２２１，００８号、米国特許第５，２２６，５４６号、米国特許第５，２４２，０５８号、米国特許第５，２５５，７８９号、米国特許第５，２６５，７３０号、米国特許第５，２７１，５０４号、米国特許第５，４５６，３６５号、米国特許第５，９５０，８４１号、米国特許第６，０８９〜３８０号、米国特許第６，２０２，３５６号、米国特許第６，３４９，８３４号、米国特許第６，４３１，３６８号、及び米国特許第６，５１３，６６５号が含まれ、これらの開示を、参照によって本明細書に採用する。
【０００４】
通常選別される材料は、それらの粒径、かさ密度、化学組成、温度、水分並びに他の物理的特性及び化学的特性においてかなり多様である。所与の処理工場における任意の特定のセパレータ・システムは、たいてい、一貫した特性を有する単一材を扱うように専用化されている。総合的なリストを提供するためでなく多様性を示すための、そのような材料の例には、研磨材、活性炭、炭酸カルシウム、セラミック・スラリ、塩素化合物、クエン酸、肥料、小麦粉、食物製品、火薬、鉱物、紙加工スラリ、調合薬、顔料、ポリスチレン・ビーズ、粉末金属、粉体塗料、印刷インク、ＰＶＣパウダー、耐火物、ロケットの推薬、デンプンが含まれる。結果として、効率及び生じる加工済み材料の質を最大限にするために、様々なスクリーン設定、振動プロファイル及び環境が用いられる。
【０００５】
セパレータ・システムに関する、群を抜いて最も一般的な故障モードは、多孔質要素の故障である。スクリーンは、例えば、セパレータ上のスクリーン枠又は張力をかける装置によって引っ張られて緊張した細かく織ってあるワイヤ・クロスで一般に作られている。故障は、磨耗及び疲労破壊など多くの要因によって引き起こされる。そのような故障が一般にスクリーニング媒体自体における破損として起こり、損傷したスクリーンとなる。そのような破損は、引裂き（一連の互いに隣接した断線しているワイヤ）、破壊（２方向への引裂き）又はホール（スクリーニング材料の欠損部分）として明らかになることがある。一旦スクリーンが故障すると、分離するシステムの機能が損なわれる。最小限では、このとき過大な材料がスクリーン中の破損を通過し得るので、システムはもはや過大な材料をすべて除去するものと信頼することができない。より悪くは、故障したスクリーンの破片が生じることがあって、スクリーニングする材料を汚染し、食物又は製薬のスクリーニング作用に重大な障害を引き起こす。類似の故障がフィルタ素子に起こる。
【０００６】
一般に、多孔質要素は、薬を盛ったハウジング内又は処理中の材料の下に配置されるので、そのような故障を視覚的に検出するのは困難である。したがって、重要な分離が要求されるとき、頻繁に検査することが得策である。分離の質を保証するためのそのような手間は、休止時間及び労務をもたらし、さらには処理された材料が損なわれるので、破損を検出するための方法が長い間求められている。メッシュ・スクリーン自体を通る電気的経路又は光学的経路を測定することにより、スクリーン故障を検出しようとするシステムが考案されている。米国特許第５，９９６，８０７号を参照されたい。この開示を参照によって本明細書に採用する。これらは、非実用的であると証明されており、一般市場の受容に適合していないものと考えられる。
【発明の開示】
【課題を解決するための手段】
【０００７】
本発明は、セパレータ・システム用の多孔質要素中の破損を検出する方法に向けられたものである。多孔質要素マウントの片側からＲＦ信号が伝送され、多孔質要素の反対側で検知される。余分な量のＲＦ信号が多孔質要素を通過するほど大きなホールをもたらす破損は、多孔質要素が故障していることの指標である。
【０００８】
本発明の第１の個別の態様では、ＲＦ信号は電磁エネルギーのマイクロ波領域内にある。ＲＦ信号の伝送は、複数の離散的周波数を通してＲＦ信号をスイープすることにより実行される。
【０００９】
本発明の第２の個別の態様では、ＲＦ信号の信号レベルが複数の別個の周波数で検出される。これらの信号レベルは、完全な多孔質要素を使用して基線の信号強度指標を確立するために用いられる。次いで、故障に対して多孔質要素を監視するために、この信号レベルが用いられる。検出された信号レベルは、有効な信号強度指標を生成するために用いられる。次いで、多孔質要素中の破損を検出するために、有効な信号強度指標を基線の信号強度指標に対して比較する。好ましくは、基線の信号強度指標及び有効な信号強度指標は、どちらも２回以上検出された信号レベルの平均をとることにより形成され、より好ましくは、複数の離散的周波数の中から、最も高い３つの検出された信号レベルの平均をとることにより形成される。
【００１０】
本発明の第３の個別の態様では、前述の態様のうち任意のものが組み合わせて用いられてよい。
【００１１】
したがって、材料セパレータの多孔質要素中の破損を検出する改良された方法が開示される。他の目的及び利点が以下に見られる。
【００１２】
図では類似の参照数字は類似の要素を指す。
【実施例】
【００１３】
図を詳細に見ると、図１は従来型の振動性のスクリーン材料セパレータを１０で全体的に示すものであり、多孔質要素中の破損を検出するための材料分離システムの１つに関する状況を提供する。「背景技術」で前述されたようなシステムの範囲内の無振動性スクリーニング・システム及び濾過システムは、材料分離用に使用される多孔質要素中の破損を検出するためのシステムと一緒になると効用が向上することも判明し得る。
【００１４】
セパレータ１０は、ばね１６上で基部１４へ弾力的に取り付けられているハウジング１２を含む。モータ２０によって駆動される振動発生機１８は、弾力的に取り付けられたハウジング１２を材料のスクリーニング又はフィルタリング向けの有利な周波数及び振幅で振動させる。この実施例におけるスクリーン２２である多孔質要素は、ハウジング１２を横切って広がり、選択された特性によってその上に堆積された材料を分離する。スクリーン２２の上に上排出口２４があり、スクリーン２２の下にドーム形のマニホールド２６があって、これは、通過物の排出口２８へ通じる。
【００１５】
図３を参照すると、シール配置及びスクリーン２２のまわりのハウジング１２の構成が示されている。この実施例でスクリーン２２として定義された多孔質要素の詳細も示されている。スクリーン２２は、形成された金属リングでよいスクリーン枠３０を含む。スクリーン・クロス３２は、緊張した状態でスクリーン枠３０に結合されている。スクリーン・クロス３２は、一般に導電性ステンレス鋼の金網である。織り方、ワイヤ径及び単位寸法当りのワイヤ数によって、あらかじめ構成された隙間が定義される。
【００１６】
ハウジング１２は、２つの円筒状ハウジング要素３４及び３６から形成される。これらの要素３４と３６は、スクリーン枠３０上のフランジ３８のまわりで一体になる。そのため、スクリーン・マウントは、ハウジング１２の内部のまわりで、その間に全面的に画定される。ガスケット４０がフランジ３８のまわりに配置され、クランプ・バンド４２が全組立体を一緒に引き寄せる。セパレータ１０全体も、注入口（これを通って材料がスクリーン２２に配送される）を有するカバーを含むように企図されている。
【００１７】
ＲＦ信号に対する障壁を含むハウジング１２内のチャンバの作製では、ハウジング要素３４及び３６は導電性である。カバー（図示せず）並びにスクリーン２２の下のドーム形のマニホールド２６も導電性でよい。上排出口２４及び通過物の排出口２８も導電性でよく、ＲＦ信号の伝送を防ぐために、必要とされ得る導電性シールドがさらに企図されてもよい。さらに、スクリーン・マウント内のスクリーン枠３０のまわりでＲＦ信号が流れるのを防ぐために、ガスケット４０は、導電性であるか又は導電性障壁を必要とするものと予想される。導電性は、ＲＦ信号に対する障壁を生成するように作用する薄板金要素を使用することによって与えられる。
【００１８】
ハウジング１２は、前述の要素を用いて、スクリーン２２の上又は下のいずれかに、ＲＦ信号に対する障壁を有するチャンバを画定してよい。スクリーン２２の下で、ハウジング要素３６、ドーム形のマニホールド２６、通過物の排出口２８及びガスケット４０が、必要に応じて他のシールドと共に第１のチャンバを画定してよい。上部ハウジング要素３４、上排出口２４、ガスケット４０及びカバー（図示せず）が、これも必要に応じて他のシールドと共に、ＲＦ信号に対する障壁を有する第２のチャンバを画定してよい。
【００１９】
これら２つの画定された空間は、両方で、或いは１つだけで、ＲＦ障壁を有するチャンバを形成するが、２つの空間の間にスクリーン・マウントを通る経路が存在する。スクリーン２２がなければ、処理されるべき材料には明らかな経路がある。ＲＦ信号も同様である。ハウジング１２によって画定されたスクリーン・マウント中のこの経路を横切って配置されたスクリーン２２は、選択された特性によって処理される材料向けの選択的な経路を生成する。適切なＲＦ信号を選択することによって、導電性金属ワイヤのスクリーン２２は障壁として働くことができ、完全なスクリーンのあらかじめ構成された隙間が無傷のままである限り、仮想排除の箇所を含んで、スクリーン２２を横切る経路に沿ったＲＦ信号経路を実質的に減衰させる。商用スクリーニング・システムの範囲内の隙間を有するスクリーン２２は、マイクロ波領域内のＲＦ信号に対する障壁である。織ってあるワイヤ・スクリーン・クロスに加えてマイクロ波を阻止するスクリーン及び膜を含む他の多孔質要素を使用することができる。一例として、非導電性基体上の導電性皮膜は、適正な範囲のＲＦ信号を十分に阻止することができる。
【００２０】
好ましい実施例では、チャンバへの経路を横切る障壁を具現するスクリーン２２によって画定された多孔質要素は、平面で広がって示される。その代わりに、多孔質要素は、例えばフィルター・バッグ又は円筒として、画定されたチャンバの主要なボリューム内へ、又はそのボリュームから外へ広がってよく、したがって、経路は必ずしも直線でないが、多孔質要素マウントを通過することができ、多孔質要素は経路を横切って十分に広がる。多孔質要素の端部を保持するフレームは、スクリーン２２のように多孔質要素に固定されるか、又はハウジングを有する機構でよく、したがって多孔質要素マウントの一部になる。
【００２１】
図２に概略的に示される破損検出システムは、セパレータ・システムの一部として振動性の材料セパレータ１０と共に使用される。破損検出システムは、スクリーン２２の反対側にそれぞれ配置されたＲＦ送信機４４及びＲＦ受信機４６、並びに送信機４４及び受信機４６の両方を制御するコントローラ４８を含む。送信機４４及び受信機４６は、それぞれハウジング要素３４及び３６に取り付けられるか、又は関係してよい。破損検出システム及びその要素はＲＦ（無線周波数）領域内で動作し、より実際的には、商用スクリーン２２のあらかじめ構成された隙間サイズが所与であるとマイクロ波領域内のＲＦ領域の高端で動作し、破損検出システムに関して、送信機４４及び受信機４６はマイクロ波素子である。ＲＦ信号は７００ＭＨｚから５０ＧＨｚの範囲に入ると解釈され、特定の実験的な同調で、使用されたスクリーン２２の特性に適合する。米国政府のＲＦ放射規制に適合する目的で、送信機４４は、好ましくは５．７２５ＧＨｚから５．８７５ＧＨｚの領域の信号を送信する。しかし、要望によっては、とりわけ９００ＭＨｚ帯、２．４ＧＨｚ帯、１０ＧＨｚ帯及び２４ＧＨｚ帯の近くなど、他の適切な周波数範囲が使用されてよい。
【００２２】
コントローラ４８はマイクロプロセッサを含んでよく、送信機４４及び受信機４６の動作を管理し、スクリーン２２が故障したか（すなわち、スクリーン２２に、ほころび、裂け目、穴などがあるか）どうか判断する。コントローラ４８は、スクリーン２２に破損が生じたときその物理的状態の変化を検出して、可聴警報を鳴らすこと、視覚的な指標を提供すること、セパレータへの電源を遮断すること、設定変更のための電子的出力を供給することなど、オペレータによって望まれ得る信号を生成する。
【００２３】
好ましい実施例では、送信機４４は一連の離散的周波数を通してスイープするように動作する。送信機４４は、５．７３ＧＨｚで、或いは５．７３ＧＨｚの近くから開始して、２０の離散的周波数を通して、５ＭＨｚの増分で、繰り返しスイープ又はステップを行なう。同様に、受信機４６は、送信機４４が周波数範囲を通してスイープするとき、放射された周波数で信号レベルを検出するように動作する。受信機によって検出された信号レベルは、スクリーン２２が故障しているかどうか判断するためのさらなる処理のために、コントローラに伝達される。もちろん、スイープの開始周波数及び各ステップ間の増分は、設計上の選択の問題であり、一般に特定の実装形態次第ということになる。
【００２４】
システムのセットアップ（すなわちセパレータ１０内への新規スクリーン２２のあらゆる導入）中に、完全なスクリーン２２を使用して基線の信号強度指標が確立される。コントローラ４８は、スクリーン２２に破損が形成しているかどうか判断するために基線の信号強度指標を用いる。基線の信号強度指標を確立するための好ましい方法は、一連の離散的周波数を通して送信機４４をスイープして、各離散的周波数で信号レベルを測定し、信号レベルを解析して１回のスイープで測定されたすべての信号レベルの中で最も高い３つの信号レベル（すなわち「ピーク」）を識別し、次にこの最も高い３つの信号レベルを平均して基線の信号強度指標に達することである。実際上、基線の信号強度指標を確立するために、任意の信号レベル・ピーク数が使用されてよい。しかし、最も高い３つのピークを使用することが、破損検出用に十分であると実験的に確立されている。
【００２５】
基線の信号強度指標が確立された後、システムは破損に対してスクリーン２２を監視する。受信機４６は、検出された信号レベルをコントローラ４８へ伝達し続け、コントローラ４８は、これらの検出された信号レベルを使用して、前述の基線の信号強度指標向けのものと同じ平均値算出手法を用いて、有効な信号強度指標を生成する。
【００２６】
この場合スクリーン２２である多孔質要素によって画定された障壁の健全性が、何らかの故障で開口サイズが増加するとき、生じる開口のサイズによって、その開口を通してＲＦ信号の伝送が可能になる。このことは、直接、検出器４８で信号レベルの増加をもたらす。開口が波長の４分の１に達すると検出が有望であることが、実験によって明らかになっている。したがって、有効な信号強度指標と基線の信号強度指標を比較することによって、多孔質要素が故障しているかどうかの指標が与えられる。
【００２７】
図４は、５．７ＧＨｚと５．９ＧＨｚの間の２つの連続的なスイープでもたらされた信号レベルのグラフである。このグラフは、スクリーンの故障を検出するために、選択された範囲内で、任意の周波数範囲及び任意の周波数ステップの増分を、システムがどのように使用したらよいか強調する。第１の信号レベルのスイープ５０は無傷のスクリーンからのものであるが、第２の信号レベルのスイープ５２は裂け目のあるスクリーンからのものである。この範囲のいくつかの周波数では、無傷のスクリーンからの信号レベルが裂け目のあるスクリーンからの信号レベルより大きいことが顕著である。これは、一般に、その周波数で定在波が存在することによるものである。明らかに、システムが単一の周波数で信号レベルを測定しただけであれば、スクリーン中の裂け目が検出されないことは完全にあり得ることである。他方では、この問題を回避するために、周波数スイープの全体的な範囲や、スイープが連続的であるか或いは一連の個別のステップとして実行されるかということにかかわらず、各スイープに対して最も高い３つのピークの平均をとってよい。無傷のスクリーンに対する信号レベルのスイープ５０は、丸で囲まれ、Ａ、Ｂ及びＣとラベルが付けられた最も高い３つのピークを有する。裂け目のあるスクリーンに対する信号レベルのスイープ５２は、丸で囲まれ、Ａ’、Ｂ’及びＣ’とラベルが付けられた最も高い３つのピークを有する。Ａ’、Ｂ’及びＣ’の信号レベルの平均が、Ａ、Ｂ及びＣの信号レベルの平均より大きいことは図４のグラフから自明である。
【００２８】
作動中、材料セパレータ１０を通して材料を処理する間に破損を検出するためのプロセスは、マイクロ波領域でＲＦ信号を最も適切に伝送すること、及びこの実施例ではその第１の側面上のスクリーン２２である多孔質要素のＲＦ障壁特性に同調させることを含む。送信機４４は、無傷のスクリーンが信号をかなり減衰させることになるように、スクリーン２２中のあらかじめ構成された隙間より長い波長を有する周波数で動作する。そのような差は１桁であり得る。スクリーン２２が無傷であると、受信機４６は基線の信号伝送特性を定義するために使用することができ、適切な閾値を確立する。一旦スクリーン２２で故障が起こると、生じる拡大開口によって、スクリーンによるマイクロ波信号の減衰が低下することになる。これによって、より強い信号が受信機４６に到達することが可能になる。アナログ又はデジタルいずれかの信号処理技術を用いることによって、信号強度のこの差が検出されて、スクリーニング・プロセスのオペレータが修正措置をとることができるように適切な警報が作動される。
【００２９】
好ましくは、マイクロ波システムは連続的に動作し、欠陥が生じると直ちに通知することができる。これは好ましいことであるが、その一方で、ほとんどの処理動作において即時の修正措置（ライン停止など）が可能であることが必ずしも必要とは限らない。このシステムは、実際のスクリーンの故障発生後に比較的短い期間内で発生を識別する断続的監視モードにおいて有効に用いることができる。この時間値は産業によって変ることになるが、およそ数分なら実際にすべての用途に対して十分である。
【００３０】
好ましくは、セパレータ１０が動作している間に測定が行なわれ、その際に従来の機器では、監視下にあるマイクロ波システム及びスクリーン２２は、使用されるセパレータ次第で４Ｈｚから３０Ｈｚの周波数で約２Ｇから４Ｇの振幅にさらされることになる。或いは、測定が行なわれている間、セパレータ１０を一時的に停止させることができる。
【００３１】
セパレータ１０が材料を処理している間に測定がなされることも好まれる。その間、スクリーン２２は、材料で様々な深さに覆われていることがある。ほとんどの材料に対して、ＲＦ信号はこれらの深さを通過することができ、信号が有効でなくなるまで影響を受けることはないはずである。問題のある材料に対して、セパレータ１０の動作が継続している間、セパレータ１０への流入を遮断してよい。このような方法では、処理された材料は測定が行なわれる前に洗い流される。
【００３２】
システムを設定する際に、シールドが保証される。元来、セパレータ１０は、ほとんど全面的にステンレス鋼合金などの導電材料から構成されるので、相当な量のシールドをもたらす。従来はスクリーン２２のまわりを密閉する。しかし、シール４０は一般にゴム状である。その上、上排出口２４及び通過物排出口２８に関連した開口は、スクリーン２２を通る経路を回避するために、ゴム状シール４０と共に導電性の経路をもたらす。ガスケット及び放電要素の中に成型された導電材料のような要素を導電性デバイスによって交換するか又はこれらのデバイス自体のまわりをシールドすると、受信機４６が無傷のスクリーン２２と顕著に破損したものを識別することができるように十分な信号減衰をもたらすことができる。処理された材料次第で、スクリーン目つぶしなどの付加的な事象が検出されることがある。
【００３３】
このように、破損を検出することができるスクリーニング又はフィルタリングのシステムが開示される。本発明の実施例及び用途が示され説明されてきたが、本明細書の発明の概念から逸脱することなくさらに多くの変更形態が可能なことが当業者には明白であろう。したがって、本発明は、添付の特許請求の範囲の趣旨を除いては制限されるものではない。
【図面の簡単な説明】
【００３４】
【図１】検出器が共に使用され得る振動性の材料セパレータの断面図である。
【図２】図１のセパレータに関連した検出器の概略図である。
【図３】図１及び図２の装置に関連したハウジングシールの配置図である。
【図４】完全な多孔質要素からの信号レベルと故障した多孔質要素からの信号レベルの間で比較したグラフである。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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