(57)【要約】光学式データ記憶用途のために、近接場光学システムが使用できる。近接場光学システムでは、ソリッドイマージョンレンズのディスク表面に対する精密な位置合わせが決定的である。レンズとディスクとの間の傾きの補正は補助ビームの使用によって実行される。補助ビームについてのギャップ信号を比較することによって、空気ギャップの高さおよびディスクの傾きが決定できる。
2009500776.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記憶媒体上に少なくとも一つの放射ビームを合焦するよう適応されているレンズ要素と、前記記憶媒体の表面に対する前記レンズ要素の前面の傾きを変えるよう適応されている移動機構と、フラストレーテッド全反射によって前記レンズ要素と前記記憶媒体の間のギャップにおいて反射された第一の反射ビームの強度を少なくとも間接的に測定するよう適応され、前記ギャップにおいて反射された少なくとも第二の反射ビームの強度を少なくとも間接的に測定するよう適応されたビーム強度測定ユニットと、前記ビーム強度測定ユニットによって測定された前記第一の反射ビームの前記強度および前記ビーム強度測定ユニットによって測定された前記第二の反射ビームの前記強度に基づいて、前記レンズ要素の前記前面と前記記憶媒体の前記表面の間の傾きを決定するよう適応された傾き判別ユニットと、前記傾き判別ユニットによって決定された前記レンズ要素の前記第一前面と前記記憶媒体の前記表面との間の前記傾きに基づいて前記移動機構を制御して、前記レンズ要素の前記前面が前記記憶媒体の前記表面に対して位置合わせされるようにするよう適応されている制御ユニットとを少なくとも有する、光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項２】
前記制御ユニットが、前記移動機構を制御して、前記レンズ要素が前記記憶媒体の前記表面に対して位置合わせされるようにするよう適応されているのが、前記記憶媒体の少なくとも一方向に関してであることを特徴とする、請求項１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項３】
前記制御ユニットが、前記移動機構を制御して、前記レンズ要素が前記記憶媒体の前記表面に対して位置合わせされるようにするよう適応されているのが、少なくとも一方向に関してであることを特徴とする、請求項１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項４】
前記制御ユニットが、前記移動機構を制御して、前記レンズ要素が前記記憶媒体の接線方向に関して位置合わせされるようにするよう適応されていることを特徴とする、請求項２または３記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項５】
前記制御ユニットが、前記移動機構を制御して、前記レンズ要素が前記記憶媒体の動径方向に関して位置合わせされるようにするよう適応されていることを特徴とする、請求項２または３記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項６】
前記ビーム強度測定ユニットが、前記ギャップにおいて反射された第三の反射ビームの強度を少なくとも間接的に測定するよう適応されており、前記傾き判別ユニットが、前記レンズ要素の前記前面と前記記憶媒体の前記表面の間の前記傾きを、前記ビーム強度測定ユニットによって測定された前記第三の反射ビームの前記強度にも基づいて決定するよう適応されていることを特徴とする、請求項２ないし５のうちいずれか一項記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項７】
前記制御ユニットが、前記移動機構を制御して、前記レンズ要素が、前記記憶媒体の前記表面に平行になるよう、前記記憶媒体の接線方向および前記記憶媒体の動径方向に関して位置合わせされるようにするよう適応されていることを特徴とする、請求項６記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項８】
前記ビーム強度測定ユニットが、前記第一の反射ビームの前記強度を別個に測定し、前記第二の反射ビームの前記強度を別個に測定するよう適応されていることを特徴とする、請求項１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項９】
前記ビーム強度測定ユニットが、第一の検出器要素および少なくとも第二の検出器要素を有しており、前記第一の検出器要素は前記第一の反射ビームの前記強度を検出するよう構成されており、前記第二の検出器要素は前記第二の反射ビームの前記強度を検出するよう構成されていることを特徴とする、請求項８記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１０】
前記傾き判別ユニットが、前記ギャップにおいて反射された反射ビームの強度のギャップ距離への依存性を示す、標準的なギャップ信号の少なくともいくつかの値を与えるよう適応されている標準的なギャップ信号記憶媒体を有しており、前記傾き判別ユニットが、前記標準的なギャップ信号の前記値を使って前記傾きを決定することを特徴とする、請求項１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１１】
前記傾き判別ユニットが、少なくとも一つの角度信号を生成するよう適応されており、前記角度信号の値のより大きな絶対値が前記レンズ要素の前記前面と前記記憶媒体の前記表面の間の傾き角のより大きな絶対値に対応することを特徴とする、請求項１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１２】
前記制御ユニットが、前記角度信号に基づいて前記移動機構を制御して、前記角度信号の絶対値を最小にするよう適応されていることを特徴とする、請求項１１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１３】
前記放射ビームを第一の位置に差し向け、それにより前記放射ビームが前記ギャップにおいて前記第一の反射ビームとして反射され、前記位置における前記レンズ要素と前記記憶媒体との間の前記ギャップの距離を感知するようにするよう適応されており、少なくとも一つのさらなる放射ビームをの第二の位置に差し向け、それにより前記さらなる放射ビームが前記ギャップにおいて前記第二の反射ビームとして反射され、前記第二の位置における前記レンズ要素と前記記憶媒体との間の前記ギャップのさらなる距離を感知するようにするよう適応されている、光路指示要素を有することを特徴とする、請求項１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１４】
前記光路指示要素が、少なくとも第三の放射ビームを第三の位置に差し向け、それにより前記第三の放射ビームが前記ギャップにおいて第三の反射ビームとして反射され、前記第三の位置における前記レンズ要素と前記記憶媒体との間の前記ギャップの第三の距離を感知するようにするよう適応されていることを特徴とする、請求項１３記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１５】
前記光路指示要素が、前記記憶媒体が存在しており、前記レンズ要素に十分近く位置されているときに、前記諸放射ビームを、前記諸位置に差し向けられた諸放射ビームが前記記憶媒体の前記表面上に直線状に配列されていない諸スポットを生成するような諸方向に差し向け、それにより二つの異なる方向に関して前記位置合わせを可能にするよう適応されていることを特徴とする、請求項１４記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１６】
前記記憶媒体が存在しており、前記レンズ要素に十分近く位置されているときに、前記諸スポットのうちの少なくとも一つが、少なくともほとんど前記記憶媒体の実際のトラック上に位置され、前記諸スポットのうちの少なくとも別の一つが前記実際のトラックの脇に位置されることを特徴とする、請求項１５記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１７】
前記記憶媒体が存在しており、前記レンズ要素に十分近く位置されているときに、前記諸スポットのうちの少なくとも二つが、少なくともほとんど前記記憶媒体の実際のトラック上に位置されることを特徴とする、請求項１６記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１８】
前記放射ビームを、第一の位置に差し向け、それにより前記放射ビームが前記ギャップにおいて前記第一の反射ビームとして反射され、前記第一の位置における前記レンズ要素と前記記憶媒体との間の前記ギャップの第一の距離を感知するようにし、少なくとも第二の位置に差し向け、それにより前記放射ビームが前記ギャップにおいて前記第二の反射ビームとして反射され、前記第二の位置における前記レンズ要素と前記記憶媒体との間の前記ギャップの第二の距離を感知するようにするよう適応されている、光路指示要素を有することを特徴とする、請求項１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１９】
前記光路指示要素が、前記放射ビームを少なくとも第三の位置に差し向け、それにより前記放射ビームが前記ギャップにおいて第三の反射ビームとして反射され、前記第三の位置における前記レンズ要素と前記記憶媒体との間の前記ギャップの第三の距離を感知するようにするよう適応されていることを特徴とする、請求項１８記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項２０】
前記光路指示要素が、前記記憶媒体が存在しており、前記レンズ要素に十分近く位置されているときに、前記放射ビームを、前記諸位置に差し向けられた放射ビームが前記記憶媒体の前記表面上に直線状に配列されていない諸スポットを生成するような諸方向に差し向け、それにより二つの異なる方向に関して前記位置合わせを可能にするよう適応されていることを特徴とする、請求項１９記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項２１】
前記記憶媒体が存在しており、前記レンズ要素に十分近く位置されているときに、前記諸スポットのうちの少なくとも一つが、少なくともほとんど前記記憶媒体の実際のトラック上に位置され、前記諸スポットのうちの少なくとも別の一つが前記実際のトラックの脇に位置されることを特徴とする、請求項２０記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項２２】
前記記憶媒体が存在しており、前記レンズ要素に十分近く位置されているときに、前記諸スポットのうちの少なくとも二つが、少なくともほとんど前記記憶媒体の実際のトラック上に位置されることを特徴とする、請求項２１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、近接場光記憶システムのための光学式ピックアップおよび／または記録装置に関する。より具体的には、本発明は、光ディスクのような応用のための二次元光学式データ記憶のための光学式ピックアップおよび／または記録装置に関する。
【背景技術】
【０００２】
現状技術の文書Optical  Data  Storage  2004,  F.  Zijp  et  al.,  Proceedings  of  SPIE  Vol.  5380,  pp.  209-223は近接場システムを記載している。それによると、非常に大きな開口数1.9をもつ50GBの第一表面（first-surface）ディスクの近接場読み出しが提案されている。既知の近接場システムは、ソリッドイマージョンレンズの前面（front  surface）とコンパクトディスクの表面との間の距離を変えるよう適応された移動機構（moving  mechanism）を有する。それにより、読み出し動作のためには、ソリッドイマージョンレンズは、焦点を合わされる電磁場の一部のエバネッセント減衰（decay）距離内にある一定距離に位置される。その距離は、典型的にはレーザービームの波長の10パーセント未満である。既知のシステムでは、この距離は約25nmである。そのような小さな距離において機械的なアクチュエータを用いた空気ギャップ制御を許容するため、ギャップ誤差信号は、ディスク上に合焦される主ビームの偏光状態と垂直な偏光状態をもつ反射光から得られる。
【０００３】
既知の近接場システムは、ディスク表面に対するレンズの位置合わせが飽き飽きするような試行錯誤法を要求するという欠点がある。これは多くの努力と時間が関わることを要求する。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
改良された効率をもつ、特にデータの読み出しおよび／または書き込みについての改良されたパフォーマンスをもつ光学式ピックアップおよび／または記録装置を提供することが本発明の一つの目的である。
【課題を解決するための手段】
【０００５】
この目的は、請求項１で定義される光学式ピックアップおよび／または記録装置によって解決される。本発明の有利な発展は従属請求項において言及される。
【０００６】
記憶媒体は必ずしも、特許請求される光学式ピックアップおよび／または記録装置の一部ではないことを注意しておく。光学式ピックアップおよび／または記録装置は記憶媒体なしで販売されることができる。さらに、本光学式ピックアップおよび／または記録装置とともに、記憶媒体が一時的に使用されることができ、あるいは異なる複数の記憶媒体が使用されることができる。
【０００７】
本発明は、記憶媒体に対するレンズ要素の精密な位置合わせが達成され、維持されることができるという利点を有する。そのような位置合わせは、各ディスクについて少なくとも一度自動的に、そして可能性としてはさらに動作の間に動的に実行されることができる。さらに、その際、ディスクに対するレンズの傾きを調節する、あるいは逆にレンズに対するディスクの傾きを調節する好適な手段をもつ制御ループを使って、レンズ要素と記録媒体との間に一定かつ平行な空気ギャップを維持することができる。それにより、読み取りおよび／または書き込み動作のパフォーマンスが上がり、光学式ピックアップおよび／または記録装置の信頼性が高くなる。
【０００８】
傾き判別ユニットは必ずしも傾きを分または度または別の単位で決定しない。傾き判別ユニットは傾きを、大小を表す尺度に関して決定することも、数値を表す尺度に関して決定することもできる。
【０００９】
請求項３で定義される施策によれば、多くの応用のために好ましい位置合わせが達成される。請求項２で定義される施策によれば、レンズ要素はある方向に関して位置合わせされる。この方向が請求項４記載のように接線方向であるとき、これは、そのレンズ要素が記憶媒体のトラックに関して位置合わせされるという利点を有する。請求項５に定義されるような施策は、位置合わせが、記憶媒体のトラックに垂直な方向である動径方向についても達成されるという利点を有する。
【００１０】
複数の補助ビームを用いてギャップ信号の複数のバージョンを生成するために好適な偏光光学系をもつ光路を使い、それによりそれぞれの軸外点（off-axis  points）において空気ギャップサイズを感知する少なくとも二つだが好ましくは三つ以上のスポットを生成することが可能である。補助ビームは可能性としては弱い回折位相格子によって生成される。いくつかの軸外点からのギャップ誤差信号を比較することによって、レンズに対するディスクの傾きが測定できる。その際、ギャップ信号の一つは主ビームから導出されることができる。
【００１１】
そのようなスポットの二つは、少なくともほとんど記憶媒体の実際のトラック上に、互いに異なるように配置され、第三のスポットが実際のトラックの脇に配置される。それにより、レンズ要素と記録媒体との間の傾きが動径方向と接線方向の両方において決定できる。精度向上のためには、四つ以上の反射ビームを使うことが有利である。
【００１２】
請求項８に定義される施策によれば、反射ビームのそれぞれの強度は別個に測定される。その際、請求項９記載のような複数検出器要素を利用することが有利である。さらに、反射ビームのうち検出器要素に向けられるのが一つだけで、他の反射ビームは遮られることが可能である。あるいはまた、補助ビームが種々の方向で記憶媒体に向けられ、次々に反射ビームを生成する。
【００１３】
請求項１０に定義される施策は、位置合わせの精度がさらに向上するという利点を有する。それにより、標準的なギャップ信号の値が、特定の光学式ピックアップおよび／または記録装置についての個別的な測定によって決定できる。
【００１４】
請求項１２および１３に定義される施策によれば、移動機構を制御するよう大小を表す特性が与えられる。閉ループ制御が傾き補正のために設けられることができる。それにより、計算負荷が軽減される。
【００１５】
本発明のこれらの側面およびその他の側面は、以下に記載される実施形態を参照することから明らかとなり、明快にされるであろう。
【００１６】
本発明は、付属の図面を参照しつつ与えられる好ましい実施形態の以下の記述から容易に理解されるであろう。図面において、同様の部分は同様の参照符号によって指示されている。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１７】
図１は、本発明の第一の実施形態に基づく光学式ピックアップおよび／または記録装置１を示している。光学式ピックアップおよび／または記録装置１は光学式記憶システムにおいて、特に二次元光学式データ記憶および三次元ホログラフィー記憶のために使用できる。光学式記憶システムは、二次元光学式データ記憶ディスク、ホログラフィー記憶のための記憶媒体または他の光学式記憶媒体を使用できる。しかし、光学式ピックアップおよび／または記録装置１はこの言及されたデータ記憶システムに限定されず、他の用途で使用されることもできる。本発明の第一の実施形態の光学式ピックアップおよび／または記録装置１は光学式ヘッドを有する。光学式ピックアップおよび／または記録装置１のいくつかの要素は光学式ヘッド上ではなく、光学式記憶システム内の他のどこか、たとえばメインボードに位置されることも可能でありうる。
【００１８】
図１に示されるような光学式ピックアップおよび／または記録装置１は、放射放出要素３を有する。放射放出要素３は半導体レーザー４を有し、レンズのようなさらなる要素を有することもできる。放射放出要素３は放射ビーム５を放出する。放射ビーム５は楕円形のビーム・プロファイルを有することができ、ビーム成形器要素６に入力される。それにより放射放出要素３から放出された放射ビーム５は、円形のビーム・プロファイルをもつ放射ビーム５に成形される。ビーム成形器要素６から出力された放射ビームは、少なくともほとんど1のアスペクト比をもつ。ビーム成形器要素６は、放射ビーム５をコリメートして、放射ビーム５の特定の強度プロファイルを生成するためのコリメート要素のようなさらなる要素を有することもできる。
【００１９】
光学式ピックアップおよび／または記録装置１は、光路指示要素７を有する。光路指示要素７は、回折格子７を有するか、回折格子７によって構築されることができる。より具体的には、回折格子７は弱い一次元または二次元の回折位相格子７である。ビーム成形器要素６から出力された放射ビーム５は回折格子７を通過する。それにより回折格子７は諸回折次数を生成し、そのいくつかは軸から外れる。回折格子７はたとえば、次数−1、0および＋1の回折を生成しうる。回折格子７からの放射は次いで非偏光ビームスプリッター８に入力される。さらに、放射ビームは偏光ビームスプリッター９を通過し、集束レンズ１０に向かって伝搬する。集束レンズ１０を通過したのち、放射ビームはレンズ要素１１に向かって伝搬する。図１に示されるところでは、レンズ要素１１は半球形のソリッドイマージョンレンズ１１だが、レンズ要素１１は、無球面収差の超半球形（super-hemispherical）ソリッドイマージョンレンズまたは他の仕方で形成されたソリッドイマージョンレンズであることも、1より大きな開口数をもつデバイス、特にソリッドイマージョン鏡であることもできる。
【００２０】
レンズ要素１１は、記憶媒体１３の表面１４に向けられる前面１２を有する。レンズ要素１１の前面１２は、少なくともほとんど平坦であり、記憶媒体１３の表面１４に少なくともほぼ平行に配向されている。より具体的には、レンズ要素１１の前面１２は、非常に小さな平坦な先端をもつ円錐形をもつ。記憶媒体１３の表面１４は少なくともほとんど平坦である。より具体的には、レンズ要素１１の前面１２は、表面１４が若干のゆがみをもち、よって平坦でないときに、ある領域１６内で記憶媒体１３の表面１４に少なくともほぼ平行に配向される。
【００２１】
図１に示される偏光光学系は、回折次数0の放射ビーム（主ビーム）１８およびいくつかの補助放射ビームを生成する。補助放射ビーム１９、２０のそれぞれは、回折次数0とは異なる回折次数を有する。
【００２２】
ピックアップおよび記録動作のため、光学式ピックアップおよび／または記録装置１は、フラストレーテッド全反射（FTIR:  frustrated  total  internal  reflection）として知られるモードで動作する。このモードでは、レンズ要素１１の前面１２と記憶媒体１３の表面１４との間の平均距離２１は、エバネッセント減衰距離内にある。その距離は典型的には放射ビーム５の波長の10パーセント未満である。たとえば、その場合、平均距離２１は10nmのオーダー、特に25nmである。レンズ要素１１が非常に大きな開口数を有することに気づかれるかもしれない。この開口数は1より大きく、たとえば1.5ないし1.9の範囲内にあることができる。放射ビーム１８は必ずしも記憶媒体１３の表面１４上に厳密に焦点を合わせられるのではない。たとえば、記憶媒体１３は、該記憶媒体１３の表面下に配置された一つまたは複数の層を有することができる。集束レンズ１０は焦点調節のために移動可能である。
【００２３】
放射ビーム１８、１９、２０のそれぞれは、レンズ要素１１、記憶媒体の表面１４および間の空気ギャップの間の記述される界面での反射後、楕円偏光になる。反射放射ビームのそれぞれは、偏光ビームスプリッター９によって分割される。それにより、偏光ビームスプリッター９は、反射放射ビームのそれぞれを、放射ビーム１８、１９、２０の偏光状態に垂直な偏光状態をもつ成分１８′、１９′または２０′にそれぞれ分割するように配置されている。放射ビーム１８、１９、２０それぞれの偏光状態に平行な偏光状態をもつ、各反射放射ビームの残りの成分の一部は、非偏光ビームスプリッター８によってデータ処理ユニット２２に向けられる。データ処理ユニット２２は、平行な偏光をもつ反射放射ビーム１８の成分を解析し、記憶媒体１３から読み出されたデータを含むデータ信号を出力するよう構成されている。さらに、データ処理ユニット２２は、記憶媒体１３上のトラックに追随するためのプッシュ・プル動作（push  and  pull  operations）のためのトラッキング誤差信号を導出するよう構成されることができる。データ処理ユニット２２はまた、反射補助放射ビーム１９、２０の平行な偏光をもつ成分をも利用できる。たとえば、補助放射ビーム１９、２０が記憶媒体１３の接線方向に整列され、ディスク上のデータトラックに対して適切に位置されるとき、その平行な偏光をもつ成分は、プッシュ・プル信号（push-pull  signal）生成のためおよび動径方向の漏話打ち消しのため、あるいは二次元チャネル符号のビット検出のために使用されうる。
【００２４】
反射ビーム１８′は、集束レンズによって、ビーム強度測定ユニット２５の検出器要素２４上に合焦される。ビーム強度ユニット２５の検出器要素２４は、反射ビーム１８′の実際の強度を測定する。さらに、ビーム強度ユニット２５は反射ビーム１８′からサンプルを取り、ラインを通じて傾き判別ユニット２６に電気的なギャップ信号を出力する。反射ビーム１９′は検出器要素２７上に合焦され、ビーム強度ユニット２５は、ラインを通じて傾き判別ユニット２６に電気的なギャップ信号を出力する。ここで、ギャップ信号は反射ビーム１９′の実際の強度に依存する。反射ビーム２０′に基づいて傾斜判別ユニット２６に送られたさらなるギャップ信号がしかるべく測定される。その際、反射ビーム２０′は検出器要素２８上に合焦される。ビーム強度ユニット２５の検出器要素２４、２７、２８は互いに離れて配置される。よって、検出器要素２４、２７、２８のそれぞれは、反射ビーム１８′、１９′、２０′のうちの一つのみを検出する。
【００２５】
傾き判別ユニット２６は制御ユニット３０と接続されている。制御ユニット３０は移動機構３１、そして特に移動機構３１のアクチュエータ要素３２を制御するよう適応されている。
【００２６】
傾き判別ユニット２６に入力されたギャップ信号のそれぞれは、光学式記憶媒体１３上に合焦される主放射ビーム５の偏光状態に垂直な偏光状態をもつ反射ビーム１８′、１９′または２０′の低周波、たとえば0ないし100kHzの部分から生成されることを注意しておく。反射ビーム１８′、１９′または２０′の振幅は距離２１に依存する。そのことは、図２を参照しつつさらに詳細に述べる。
【００２７】
反射ビーム１８′に基づくギャップ信号は、傾斜判別ユニット２６を通過し、制御ユニット３０に入力される。制御ユニット３０の制御特性は事前設定されており、メモリ３３内に記憶される設定点およびメモリ３４に記憶される利得値によって調節できる。制御ユニット３０は移動機構３１を制御するよう適応される。ここで、移動機構３１は、レンズ要素１１および集束レンズ９を記憶媒体１３の表面１４に近づけるか遠ざける方向に動かすことによって距離２１を変える。代替的または追加的に、移動機構３１は記憶媒体１３をレンズ要素１１の前面１２に近づけるか遠ざける方向に動かすこともできる。さらに、移動機構３１は、アクチュエータ要素３２によって作動させられる傾き機構３５を具備する。これは、レンズ要素１１の前面１２の記憶媒体１３の表面１４に対する傾きを、少なくとも一方向で変えるものである。移動機構３１のさらなる傾き機構３６が配置される。これは、記憶媒体１３を傾けるために回転シャフト３７を少なくとも一方向で傾けるものである。
【００２８】
したがって、移動機構３１は、レンズ要素１１の前面１２と記憶媒体１３の表面１４との間の相対的な配向および距離２１を変えることができる。記憶媒体１３の表面１４に対するレンズ要素１１の前面１２の平行な配位は、信頼できる動作のために必要である。よって、動作前または動作中に、前面１２および表面１４は少なくとも一度は平行に配位される。しかしながら、記憶媒体１３の表面１４に対するレンズ要素１１の前面１２の整列は、光学式ピックアップおよび／または記録装置１の信頼性が高くなるよう、読み出しまたは書き込み動作のための高パフォーマンスに鑑みて実行される。そのような整列は必ずしも、レンズ要素１１の前面１２と記憶媒体１３の表面１４との間の厳密な平行な配位につながりはしない。
【００２９】
記憶媒体１３の表面１４に対するレンズ要素１１の前面１２の実際の傾きは、傾き判別ユニット２６によって決定される。したがって、傾き判別ユニット２６は、すべての反射ビーム１８′、１９′、２０′から測定されるギャップ信号を利用する。この判別は、図４を参照しつつより詳細に述べる。判別される傾きは、第一の傾き角αおよび第二の傾き角βによって、あるいは近似として単一の傾き角αのみによって記述できる。２つの傾き角は互いに垂直な軸に対して定義されることが有利ではあるが必須ではないことを注意しておく。さらに、傾き角は、特に表面１４が波打っている場合には変わりうることを注意しておく。そのような場合には、トラッキングが設けられることができる。
【００３０】
傾き判別ユニット２６は、標準的なギャップ信号のいくつかの値または波形を与えるよう適応された標準的なギャップ信号記憶媒体３８を有する。該標準的なギャップ信号のいくつかの値または波形は、レンズ要素１１の前面１２と記憶媒体１３の表面１４との間のギャップにおいて反射された反射ビーム１８′、１９′、２０′のうち一つの強度の、ギャップ距離３９、４０または４１（図４）への依存性を示す。標準的なギャップ信号記憶媒体３８が与えるのは、すべての反射ビーム１８′、１９′、２０′のための平均参照、あるいは反射ビーム１８′、１９′、２０′のそれぞれのための個別的な参照、あるいは反射ビーム１８′、１９′、２０′の値の組み合わせのための多次元参照、たとえば多次元配列であることができる。多次元参照は「傾きのあるフラストレーテッド全反射（frustrated  internal  reflection  with  inclination）」から帰結する、傾きのないフラストレーテッド全反射（frustrated  internal  reflection  without  an  inclination）の場合からの逸脱を考慮するものである。
【００３１】
傾き判別ユニット２６は、反射ビーム１８′、１９′、２０′の実際の振幅からそれぞれ実際のギャップ距離３９、４０または４１を決定する。実際のギャップ距離３９、４０または４１の決定について、図２を参照しつつ以下に述べる。
【００３２】
図２は、領域１６における、レンズ要素１１の前面１２と記憶媒体１３の表面１４との間の実際の距離４０（図４）に依存するギャップ信号の振幅（大きさ）の依存性を示すグラフを示している。ギャップ距離４０は反射ビーム１８′について決定される。反射ビーム２０′についてのギャップ距離３９および反射ビーム１９′についてのギャップ距離４１もしかるべく決定される。図２では、距離４０が横軸に示され、ギャップ信号の振幅が縦軸に示されている。例として、本発明を限定するものではないが、ギャップ距離４０はナノメートル単位で示されている。図示した例では、線４２で示されるギャップ信号の振幅は、（ほとんど）0nmのギャップ距離４０から始まって、最大振幅Aに達するまで少なくともほとんど直線状に増加する。この最大振幅Aは、ほとんど50nmのギャップ距離４０について達成されている。ギャップ距離４０がさらに進むとき、ギャップ信号の振幅は少なくともほとんど一定であり、最大振幅Aに留まる。
【００３３】
反射ビーム１８′についてのギャップ信号（gap  signal）の実際の振幅がGS(0)であるとき、実際の距離４０は25nmと決定される。この決定は図２の２つの矢印によって図示されている。よって、GS(0)は、0次の回折の放射ビーム１８に基づく反射ビーム１８′についてのギャップ信号を意味する。
【００３４】
回折次数−1の放射ビーム２０に基づく反射ビーム２０′のギャップ信号の実際の振幅はGS(−1)と表され、回折次数＋1の放射ビーム１９に基づく反射ビーム１９′のギャップ信号の振幅はGS(＋1)と表される。よって、傾き判別ユニット２６は、実際の振幅GS(−1)、実際の振幅GS(0)および実際の振幅GS(＋1)からそれぞれ距離３９、距離４０および距離４１を決定する。
【００３５】
図３は、記憶媒体１３の部分を示している。記憶媒体１３は、回転シャフト３７上にマウントされ、それにより記憶媒体１３は方向４３に回転される。読み出しまたは記録のための方向４４は方向４３とは逆である。記憶媒体１３は複数のトラックを有し、そのうち図３にはトラック４５が示されている。記憶媒体１３が存在し、距離２１が合焦された電磁場の少なくとも一部のエバネッセント減衰距離以内にあるとき、放射ビーム２０は記憶媒体１３の表面１４上にスポット５０を生成し、放射ビーム１８は記憶媒体１３の表面１４上にスポット５１を生成し、放射ビーム１９は記憶媒体１３の表面１４上にスポット５２を生成する。それにより、トラック４５上の実際の読み出しまたは記録位置はスポット５１によって定義される。スポット５０、５１、５２は線上に配置されている。さらに、スポット５０、５１、５２は接線方向５３に配置されている。よって、傾き判別ユニット２６によって決定された距離３９、４０、４１から、記憶媒体１３の表面１４に対するレンズ要素１１の前面１２の傾きは、接線方向５３において決定できる。この決定は以下に図４を参照しつつ図解する。
【００３６】
図４は、レンズ要素１１の前面１２と記憶媒体１３の表面１４との間の接線方向５３の傾きの判別を図解している。レンズ要素１１の前面１２は直線によって示されており、記憶媒体１３の表面１４も図解のために直線として示されている。
【００３７】
前面１２は表面１４に対して傾いており、そのためギャップ距離３９はギャップ距離４０より小さく、ギャップ距離４１はギャップ距離４０より大きい。平均距離２１は距離３９、４０、４１の平均であり、少なくともほとんど距離４０に等しい。ビーム２０のスポット５０とビーム１８のスポット５１との間の距離５４は、傾き判別ユニット２６において事前設定されている。さらに、ビーム１８のスポット５１とビーム１９のスポット５２との間の距離５５は、傾き判別ユニット２６において事前設定されている。接線方向５３での傾き角αは、傾き判別ユニット２６によって、ギャップ距離４０とギャップ距離３９との間の差を分子とし、距離５４を分母とする分数値の正接として計算される。よって、接線方向５３での傾き角αは距離３９、４０、４１のうちの二つによって計算できる。傾き角αについてのさらなる値が距離４０、４１、５５からしかるべく計算できる。精度を上げるため、決定された複数の角度αの平均値が計算されることができる。あるいは別の近似法を使うことができる。傾き判別ユニット２６は、それらの計算を実行し、傾き信号α′を生成するよう適応される。生成される傾き信号α′の実際の振幅は、レンズ要素１１の前面１２と記憶媒体１３の表面１４との間の傾きの実際の傾き角αに少なくともほとんど等しい値を示すことができる。単位はたとえば分または度である。
【００３８】
代替的に、接線方向５３での傾き角αについての規格化傾き信号α′を、ギャップ信号の測定された振幅から直接計算することが可能である。距離５４が距離５５に等しいとき、規格化された傾き信号角α′は次のように導出できる。まず、傾き判別ユニット２６は、0次、1次および−1次の回折放射ビーム１８、２０、１９の強度から比γを、反射ビーム１８′の振幅GS(0)を分子とし、放射ビーム２０′のギャップ信号の振幅GS(−1)と放射ビーム１９′のギャップ信号の振幅GS(＋1)との平均を分母とする分数値として計算する。
γ＝GS(0)／(GS(−1)/2＋GS(＋1)/2)
次いで、角αについての規格化された傾き信号α′は、傾き判別ユニット２６によって、比γと、反射ビーム１９′についてのギャップ信号の振幅GS(＋1)および反射ビーム２０′の振幅GS(＋1)の差との積を分子とし、放射ビーム１９′についてのギャップ信号の振幅GS(＋1)および放射ビーム１８′についてのギャップ信号の振幅GS(0)および放射ビーム２０′についてのギャップ信号の振幅GS(−1)の和を分母とする分数値として計算する。すると、規格化された傾き信号α′は：
α′＝（(γ×GS(＋1)−GS(0))＋(GS(0)−γ×GS(−1))）／（GS(＋1)＋GS(0)＋GS(−1)）
として計算される。
【００３９】
決定された規格化された傾き信号α′は、レンズ要素１１と記録媒体１３との間の接線方向傾き角αについての直接的な測度である。規格化は、一つだけ、二つ、または三つすべての次数のギャップ信号の振幅を用いた割り算によってできることを注意しておく。これは、α′の計算のための分母が、実際の振幅GS(＋1)、GS(0)およびGS(−1)のうちの一つだけまたは二つの和であってもよいことを意味している。
【００４０】
さらに、規格化なしの傾き信号αが、二つの異なるギャップ信号の振幅の差として決定できる。たとえば、傾き信号αは、反射ビーム１９′についての振幅GS(＋1)および反射ビーム２０′の振幅GS(−1)の差として決定できる。その際、制御ユニット３０は、傾き信号α′を最小化するように移動機構３１、３６を制御するよう構成されることができる。この場合、傾き信号α′の規格化は省略される。よって、計算負荷が軽減される。その際、傾き信号α′は必ずしも図４に示したような特定の物理的な単位での傾き角についての測度ではない。
【００４１】
図３に示したようなスポット５０、５１、５２は、少なくともほとんど実際のトラック４５上に位置される。それは、記憶媒体１３が存在し、レンズ要素１１が記憶媒体１３に十分近く位置されているとき、放射ビーム１８が少なくともほとんど実際のトラック４５上に合焦されることを意味する。レンズ要素１１が記憶媒体１３に十分近いのは、距離２１が、合焦された電磁場の少なくとも一部のエバネッセント減衰距離内にあるときである。また、放射ビーム１９および放射ビーム２０はそれぞれ実際のトラック４５上に合焦される。さらなる放射ビームが記憶媒体１３上に合焦される。これは、実際のトラック４５の脇に位置されるスポット５６およびスポット５７を生じる。スポット５７、５１、５６は、少なくともほとんど、記憶媒体１４の動径方向５８に配向された線上に配置される。傾き判別ユニット２６は、スポット５６、５７に対応する反射ビームから、動径方向の傾き角βを計算するためにさらなる距離値を決定する。したがって、ビーム強度ユニット２５は二つのさらなる検出器要素を有する。動径方向傾き信号β′の決定は、接線方向傾き信号α′の決定と同様である。
【００４２】
二つの互いに垂直な軸に対する傾きについての傾き信号α′およびβ′は、好適な機械的アクチュエーション手段と組み合わせて制御ループにおいて使用されることができる。好適な機械的アクチュエーション手段は、記憶媒体１３に対してレンズ要素１２のレンズ傾きを調節する、あるいは逆にレンズ要素に対して記憶媒体１３の傾きを調節するものである。前記傾き信号は、レンズ要素１１と記憶媒体１３との間の一定かつ平行な空気ギャップを維持するために使用されることができる。レンズ組立体の傾きを調節することは、たとえば、３軸もしくは４軸アクチュエータを使うことによって、あるいは回転シャフト３７を傾けることによってできる。アクチュエータは回転シャフト３７を傾けるシステムまたはディスク・モータ全体よりも高い帯域幅を有するので、この手法はより高速でありうる。レンズ組立体についての傾きの範囲は、一般に制限される。というのも、レンズ要素１１を傾けるということは、光軸に対して傾けることを意味し、傾き角が大きすぎる場合には制御ユニット３０のために使われるギャップ信号が崩壊し、読み取り信号品質が劣化するからである。そのような場合、より大きな（そして一定の）傾き補正は傾き機構３６を用いて回転シャフト３７を傾けることによって実行され、より小さな（そして時間依存の）傾き補正は傾き機構３５を用いて、集束レンズ１０およびレンズ要素１１を含むレンズ組立体を傾けることによって実行される。
【００４３】
光路指示要素７（図１）は、放射ビーム１８を第一の位置４７に、放射ビーム２０を第二の位置４８に、放射ビーム１９を第三の位置４９に差し向ける。放射ビーム１８はギャップにおいて、第一の反射ビーム１８′として反射され、レンズ要素１１の前面１２と記憶媒体１３の表面１４との間のギャップの位置４７における距離４０を感知するようにされる。放射ビーム２０はギャップにおいて、第二の反射ビーム２０′として反射され、レンズ要素１１の前面１２と記憶媒体１３の表面１４との間のギャップの位置４８における距離３９を感知するようにされる。放射ビーム１９はギャップにおいて、第三の反射ビーム１９′として反射され、レンズ要素１１の前面１２と記憶媒体１３の表面１４との間のギャップの位置４９における距離４１を感知するようにされる。それにより、光路指示要素７は、それらの放射ビーム１８、１９、２０を、位置４７、４８、４９に差し向けられる放射ビーム１８、１９、２０が記憶媒体１３の表面１４上に直線上に配置されたスポット５０、５１、５２を生成するような方向に差し向ける。よって、接線方向５３での傾き角αが決定できる。
【００４４】
放射ビーム１９またはさらなる放射ビームが、該放射ビーム１９またはさらなる放射ビームが記憶媒体１３の表面１４上にスポット５６を生じるようある位置に差し向けられるとき、動径方向５８での傾き角βも決定できる。
【００４５】
あるいはまた、光路指示要素７は、放射ビーム５を、二つ以上、特に三つの位置４７、４８、４９に交互に差し向けることができる。ギャップの第一の位置４７において、放射ビーム５は反射ビーム１８′として反射され、レンズ要素１１の前面１２と記憶媒体１３の表面１４との間のギャップの第一の距離４０を感知するようにされる。ギャップの第二の位置４８において、放射ビーム５は第二の反射ビーム２０′として反射され、レンズ要素１１の前面１２と記憶媒体１３の表面１４との間のギャップの第二の距離３９を感知するようにされる。ギャップの第三の位置４９において、放射ビーム５は第三の反射ビーム１９′として反射され、レンズ要素１１の前面１２と記憶媒体１３の表面１４との間のギャップの第三の距離４１を感知するようにされる。光路指示要素７は、放射ビーム５の方向を指示し、順に位置４７、４８、４９のほうに差し向けられた該放射ビーム５が記憶媒体１３の表面１４上にスポット５１、５０、５２を直線状に生成するようにされる。よって、接線方向５３での傾き角αが決定できる。
【００４６】
放射ビーム５が、該放射ビームが記憶媒体１３の表面１４上にスポット５６を生じるようある位置に差し向けられるとき、動径方向５８での傾き角βも決定できる。
【００４７】
スポット５０、５１、５２、５６、５７または、用途によってはそれらのスポットのうちのいくつかは、記憶媒体１３が存在し、レンズ要素１１が記憶媒体１３に十分近く位置されているときに生成されることを注意しておく。
【００４８】
さらに、第一、第二および第三といった番号付けは単に例示としてなされているのであって、ギャップ距離３９、４０、４１が測定される二つ以上の位置４７、４８、４９をもつさまざまな配置が少なくとも一方向での傾きを決定するために使用できることを注意しておいてもよいであろう。請求項において使われるような第一、第二および第三といった数え方は、この実施形態において使用される数え方に限定されない。
【実施例】
【００４９】
図５は、本発明の第二の実施形態に基づく光学式ピックアップおよび／または記録装置１を示している。第二の実施形態の光学式ピックアップおよび／または記録装置１では、放射放出要素３は、直線偏光状態をもつ放射ビーム５を出力するようにも適応される。第一の実施形態と異なり、放射ビーム１８、１９、２０は少なくとも四分の一波長板４６を通過する。ここで、四分の一波長板４６は、ビームスプリッター８と集束レンズ１０との間で放射ビーム１８、１９、２０の光路に配置されている。四分の一波長板４６は、放射ビーム１８、１９、２０のそれぞれの偏光を、直線状態から円状態に変える。円偏光の放射ビーム１８、１９、２０は次いで、集束レンズ１０およびレンズ要素１１を照射するために使われる。フラストレーテッド全反射によって反射された反射放射ビームも四分の一波長板４６を通過する。よって、各反射放射ビームは、放射ビーム５の初期偏光状態に平行な偏光状態をもつ成分１８′、１９′、２０′をそれぞれ有する。第一の実施形態と比較して、第二の実施形態に基づく光学式ピックアップおよび／または記録装置１は、読み出し信号を運ぶ放射ビームが少なくともほとんど二倍の強度をもつという利点を有する。
【００５０】
本発明の例示的な実施形態を開示してきたが、本発明の精神および範囲から外れることなく本発明の利点のいくつかを達成するさまざまな変更および修正をなすことができることは当業者には明らかであろう。本発明の概念へのそのような修正は、付属の請求項によってカバーされることが意図されている。請求項において、参照符号は本発明の範囲を限定するものと解釈してはならない。さらに、本記載および付属の請求項において、「有する」の意味は、他の要素またはステップを排除するものとは理解しないものとする。さらに、単数系の表現は複数を排除しない。請求項で挙げられているいくつかの手段の機能を、単一のプロセッサまたはその他のユニットが満たしてもよい。また、放射ビームの波長は可視スペクトルに限定されない。
【図面の簡単な説明】
【００５１】
【図１】本発明の第一の実施形態に基づく光学式ピックアップおよび／または記録装置を示す図である。
【図２】空気ギャップ距離に依存するギャップ信号の振幅を示すグラフである。
【図３】本発明を例示する概略的な記録媒体の部分を示す上面図である。
【図４】レンズ要素と記憶媒体との間の空気ギャップ界面の部分を示す図である。
【図５】本発明の第二の実施形態に基づく光学式ピックアップおよび／または記録装置を示す図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【手続補正書】
【提出日】平成20年3月12日(2008.3.12)
【手続補正１】
【補正対象書類名】特許請求の範囲
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正の内容】
【特許請求の範囲】
【請求項１】
記憶媒体上に少なくとも二つの放射ビームを合焦するよう適応されているレンズ要素と、前記記憶媒体の表面に対する前記レンズ要素の前面の傾きを変えるよう適応されている移動機構と、フラストレーテッド全反射によって前記レンズ要素と前記記憶媒体の間のギャップにおいて反射された第一の反射放射ビームの強度を少なくとも間接的に測定するよう適応され、フラストレーテッド全反射によって前記レンズ要素と前記記憶媒体の間の前記ギャップにおいて反射された少なくとも第二の反射放射ビームの強度を少なくとも間接的に測定するよう適応されたビーム強度測定ユニットと、前記ビーム強度測定ユニットによって測定された前記第一の反射放射ビームの前記強度および前記ビーム強度測定ユニットによって測定された前記第二の反射放射ビームの前記強度に基づいて、前記レンズ要素の前記前面と前記記憶媒体の前記表面の間の傾きを決定するよう適応された傾き判別ユニットと、前記傾き判別ユニットによって決定された前記レンズ要素の前記第一前面と前記記憶媒体の前記表面との間の前記傾きに基づいて前記移動機構を制御して、前記レンズ要素の前記前面が前記記憶媒体の前記表面に対して位置合わせされるようにするよう適応されている制御ユニットとを少なくとも有する、光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項２】
前記制御ユニットが、前記移動機構を制御して、前記レンズ要素が前記記憶媒体の前記表面に対して位置合わせされるようにするよう適応されているのが、前記記憶媒体の少なくとも一方向に関してであることを特徴とする、請求項１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項３】
前記制御ユニットが、前記移動機構を制御して、前記レンズ要素が前記記憶媒体の前記表面に対して位置合わせされるようにするよう適応されているのが、少なくとも一方向に関してであることを特徴とする、請求項１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項４】
前記制御ユニットが、前記移動機構を制御して、前記レンズ要素が前記記憶媒体の接線方向に関して位置合わせされるようにするよう適応されていることを特徴とする、請求項２または３記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項５】
前記制御ユニットが、前記移動機構を制御して、前記レンズ要素が前記記憶媒体の動径方向に関して位置合わせされるようにするよう適応されていることを特徴とする、請求項２または３記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項６】
前記ビーム強度測定ユニットが、フラストレーテッド全反射によって前記レンズ要素と前記記憶媒体の間の前記ギャップにおいて反射された第三の反射放射ビームの強度を少なくとも間接的に測定するよう適応されており、前記傾き判別ユニットが、前記レンズ要素の前記前面と前記記憶媒体の前記表面の間の前記傾きを、前記ビーム強度測定ユニットによって測定された前記第三の反射放射ビームの前記強度にも基づいて決定するよう適応されていることを特徴とする、請求項２ないし５のうちいずれか一項記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項７】
前記制御ユニットが、前記移動機構を制御して、前記レンズ要素が、前記記憶媒体の前記表面に平行になるよう、前記記憶媒体の接線方向および前記記憶媒体の動径方向に関して位置合わせされるようにするよう適応されていることを特徴とする、請求項６記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項８】
前記ビーム強度測定ユニットが、前記第一の反射放射ビームの前記強度を別個に測定し、前記第二の反射放射ビームの前記強度を別個に測定するよう適応されていることを特徴とする、請求項１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項９】
前記ビーム強度測定ユニットが、第一の検出器要素および少なくとも第二の検出器要素を有しており、前記第一の検出器要素は前記第一の反射放射ビームの前記強度を検出するよう構成されており、前記第二の検出器要素は前記第二の反射放射ビームの前記強度を検出するよう構成されていることを特徴とする、請求項８記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１０】
前記傾き判別ユニットが、前記ギャップにおいて反射された反射放射ビームの強度のギャップ距離への依存性を示す、標準的なギャップ信号の少なくともいくつかの値を与えるよう適応されている標準的なギャップ信号記憶媒体を有しており、前記傾き判別ユニットが、前記標準的なギャップ信号の前記値を使って前記傾きを決定することを特徴とする、請求項１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１１】
前記傾き判別ユニットが、少なくとも一つの角度信号を生成するよう適応されており、前記角度信号の値のより大きな絶対値が前記レンズ要素の前記前面と前記記憶媒体の前記表面の間の傾き角のより大きな絶対値に対応することを特徴とする、請求項１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１２】
前記制御ユニットが、前記角度信号に基づいて前記移動機構を制御して、前記角度信号の絶対値を最小にするよう適応されていることを特徴とする、請求項１１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１３】
前記放射ビームを第一の位置に差し向け、それにより前記放射ビームが前記ギャップにおいて前記第一の反射放射ビームとして反射され、前記位置における前記レンズ要素と前記記憶媒体との間の前記ギャップの距離を感知するようにするよう適応されており、少なくとも一つのさらなる放射ビームをの第二の位置に差し向け、それにより前記さらなる放射ビームが前記ギャップにおいて前記第二の反射放射ビームとして反射され、前記第二の位置における前記レンズ要素と前記記憶媒体との間の前記ギャップのさらなる距離を感知するようにするよう適応されている、光路指示要素を有することを特徴とする、請求項１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１４】
前記光路指示要素が、少なくとも第三の放射ビームを第三の位置に差し向け、それにより前記第三の放射ビームが前記ギャップにおいて第三の反射放射ビームとして反射され、前記第三の位置における前記レンズ要素と前記記憶媒体との間の前記ギャップの第三の距離を感知するようにするよう適応されていることを特徴とする、請求項１３記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１５】
前記光路指示要素が、前記記憶媒体が存在しており、前記レンズ要素に十分近く位置されているときに、前記諸放射ビームを、前記諸位置に差し向けられた諸放射ビームが前記記憶媒体の前記表面上に直線状に配列されていない諸スポットを生成するような諸方向に差し向け、それにより二つの異なる方向に関して前記位置合わせを可能にするよう適応されていることを特徴とする、請求項１４記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１６】
前記記憶媒体が存在しており、前記レンズ要素に十分近く位置されているときに、前記諸スポットのうちの少なくとも一つが、少なくともほとんど前記記憶媒体の実際のトラック上に位置され、前記諸スポットのうちの少なくとも別の一つが前記実際のトラックの脇に位置されることを特徴とする、請求項１５記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１７】
前記記憶媒体が存在しており、前記レンズ要素に十分近く位置されているときに、前記諸スポットのうちの少なくとも二つが、少なくともほとんど前記記憶媒体の実際のトラック上に位置されることを特徴とする、請求項１６記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１８】
前記放射ビームを、第一の位置に差し向け、それにより前記放射ビームが前記ギャップにおいて前記第一の反射放射ビームとして反射され、前記第一の位置における前記レンズ要素と前記記憶媒体との間の前記ギャップの第一の距離を感知するようにし、少なくとも第二の位置に差し向け、それにより前記放射ビームが前記ギャップにおいて前記第二の反射放射ビームとして反射され、前記第二の位置における前記レンズ要素と前記記憶媒体との間の前記ギャップの第二の距離を感知するようにするよう適応されている、光路指示要素を有することを特徴とする、請求項１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項１９】
前記光路指示要素が、前記放射ビームを少なくとも第三の位置に差し向け、それにより前記放射ビームが前記ギャップにおいて第三の反射放射ビームとして反射され、前記第三の位置における前記レンズ要素と前記記憶媒体との間の前記ギャップの第三の距離を感知するようにするよう適応されていることを特徴とする、請求項１８記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項２０】
前記光路指示要素が、前記記憶媒体が存在しており、前記レンズ要素に十分近く位置されているときに、前記放射ビームを、前記諸位置に差し向けられた放射ビームが前記記憶媒体の前記表面上に直線状に配列されていない諸スポットを生成するような諸方向に差し向け、それにより二つの異なる方向に関して前記位置合わせを可能にするよう適応されていることを特徴とする、請求項１９記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項２１】
前記記憶媒体が存在しており、前記レンズ要素に十分近く位置されているときに、前記諸スポットのうちの少なくとも一つが、少なくともほとんど前記記憶媒体の実際のトラック上に位置され、前記諸スポットのうちの少なくとも別の一つが前記実際のトラックの脇に位置されることを特徴とする、請求項２０記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【請求項２２】
前記記憶媒体が存在しており、前記レンズ要素に十分近く位置されているときに、前記諸スポットのうちの少なくとも二つが、少なくともほとんど前記記憶媒体の実際のトラック上に位置されることを特徴とする、請求項２１記載の光学式ピックアップおよび／または記録装置。
【国際調査報告】
2009500776.tif 000008
2009500776.tif 000009