(57)【要約】  システムが、非理想的な環境において、目的音源の音響スペクトルおよび音圧レベル（ＳＰＬ）値を抽出する。このシステムは、背景雑音レベルが高い製造環境において、音響発生製品のインライン（ｉｎ−ｌｉｎｅ）またはエンドオブライン（ｅｎｄ−ｏｆ−ｌｉｎｅ）品質管理（ＱＣ）試験にとって不可欠になり得る。このシステムの根本原理は、展開関数の２つのセット、すなわち目的音源からの直接音放射のためのセットと、目的音源からの直接音の方向とは反対の方向に伝わる背景音のためのセットと、を用いて音場を記述できるという仮定である。これらの展開関数に関連する係数は、ヘルムホルツ方程式最小二乗（ＨＥＬＳ）法における係数と同様の方法で決定される。しかしながら、展開係数が決定されれば、直接音スペクトルおよび対応するＳＰＬ値だけが表示される。これによって、付近の音源によって発生された背景音および近くの表面からの反射の抑制が可能になる。
2009501361.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
背景雑音がある状態で、目的雑音源からの目的音放射を抽出するための方法であって、
ａ）前記目的雑音源および少なくとも１つの背景雑音源によって生じる音圧を、前記目的雑音源と前記少なくとも１つの背景雑音源との間の音場の複数の位置において測定するステップと、
ｂ）前記目的雑音源からの目的音放射のための展開関数の第１のセットと、前記目的音放射の方向とは反対の方向に伝わる前記少なくとも１つの背景雑音源からの背景音放射のための展開関数の第２のセットとを用いて、前記音場を記述するステップと、
ｃ）展開関数の第１および第２のセットに関連する係数を決定するステップと、
ｄ）前記ステップａ）〜ｃ）に基づいて、前記目的音放射の音響特性を背景音放射から抽出するステップと、
を含む方法。
【請求項２】
前記複数の位置が、前記目的雑音源の回りにある、請求項１に記載の方法。
【請求項３】
前記複数の位置が、おおむね、前記目的雑音源の一つの側にある、請求項１に記載の方法。
【請求項４】
前記ステップｃ）が、ヘルムホルツ方程式最小二乗（ＨＥＬＳ）法を用いて前記係数を決定するステップをさらに含む、請求項１に記載の方法。
【請求項５】
前記ステップｂ）が、
【数１】
2009501361.tif 000012
として前記音場を記述するステップをさらに含み、ここで、
Ψｊ（１）が、
【数２】
2009501361.tif 000013
によって求められ、ここで、ｈｎ（１）（ｋｒ）が、第１種の次数ｎの球ハンケル関数を意味し、ｋが、音の波数であり、Ｙｎｌ（θ，φ）が、球面調和関数であり、（２）における添え字ｊ、ｎおよびｌが、ｊ＝ｎ２＋ｎ＋ｌ＋１を介して関連するが、ｎが０から始まってＮまで至り、ｌが−ｎからｎまで変化し、式（１）におけるΨｊ（２）が、
【数３】
2009501361.tif 000014
を記号で表したものであり、ここで、ｈｎ（２）（ｋｒ）が、第２種の次数ｎの球ハンケル関数である、請求項１に記載の方法。
【請求項６】
雑音を分析するためのシステムであって、
音場において音圧を測定するための複数のトランスデューサと、
前記複数のトランスデューサを通してデータ取得プロセスを制御するためのコンピュータであって、前記コンピュータが、目的雑音源からの目的音放射および少なくとも１つの背景雑音源からの背景音放射として、前記音場をモデリングし、前記背景音放射が、前記目的音放射の方向とは反対の方向であり、前記コンピュータが、前記目的音放射を前記背景音放射から抽出して前記目的雑音源を分析するコンピュータと、
を含むシステム。
【請求項７】
前記コンピュータが、前記目的音放射のための展開関数の第１のセットと、前記背景音放射のための展開関数の第２のセットとを用いて前記音場を記述する、請求項６に記載のシステム。
【請求項８】
前記コンピュータが、展開関数の前記第１および第２のセットと関連する係数を決定する、請求項７に記載のシステム。
【請求項９】
前記コンピュータが、展開関数の前記第１のセットの前記係数に基づいて前記目的音放射を抽出する、請求項８に記載のシステム。
【請求項１０】
背景雑音がある状態で、目的雑音源からの直接音放射を抽出するための方法であって、
ａ）目的雑音源と少なくとも１つの背景雑音源との間の音場における複数の位置で音圧を測定するステップと、
ｂ）目的雑音源からの目的音放射、および前記目的音放射の方向とは反対の方向に伝わる、前記少なくとも１つの背景雑音源からの背景音放射として、前記音場を記述するステップと、
ｄ）前記目的音放射を前記背景音放射から抽出するステップと、
を含む方法。
【請求項１１】
前記目的音放射を展開関数の第１のセットとして記述するステップをさらに含む、請求項１０に記載の方法。
【請求項１２】
前記背景音放射を展開関数の第２のセットとして記述するステップをさらに含む、請求項１１に記載の方法。
【請求項１３】
展開関数の前記第１および第２のセットの係数を決定するステップをさらに含む、請求項１２に記載の方法。
【請求項１４】
前記ステップｃ）が、ヘルムホルツ方程式最小二乗（ＨＥＬＳ）法を用いて前記係数を決定するステップをさらに含む、請求項１３に記載の方法。
【発明の詳細な説明】
【関連出願の相互参照】
【０００１】
本出願は、２００５年７月１２日出願の米国仮特許出願第６０／６９８，４０６号の優先権を主張する。
【技術分野】
【０００２】
本発明は、改善された速度および効率で、非理想的な環境における目的音源の音響スペクトルおよび音圧レベル（ＳＰＬ）値を迅速に分析するための方法およびシステムを提供する。本発明は、たとえ騒々しい環境であってもその速度および効率ゆえに、一般的な製造環境中において、音響発生製品のインライン（ｉｎ−ｌｉｎｅ）またはエンドオブライン（ｅｎｄ−ｏｆ−ｌｉｎｅ）品質管理（ＱＣ）試験に有用である。
【背景技術】
【０００３】
現在、ＱＣ試験は、組み立てラインから隔てられた静かな部屋の内部、または特定の組み立てラインに設計され備え付けられたエンクロージャの内部で行なわれる。これらのアプローチの欠点は、１）部屋またはエンクロージャの建築に伴うコストのために、ＱＣプロセスが高価になること、２）製品を部屋へ運び、かつそこから運び出さなければならないので、ＱＣ試験には時間がかかること、３）追加的な手順が伴うので、試験効率が低減されること、４）静かな部屋またはエンクロージャの有効性が、その寸法に左右されることである。部屋またはエンクロージャが大きいほど、それはより有効であるが、コストはより高くなる。
【０００４】
あるいは、音圧の空間平均を取る少数のマイクロホンからなるプローブを用いることができる。この方法は、実際に用いるのに非常に便利である。しかしながら、このアプローチの欠点は、１）測定データが位置に大きく左右されること、２）結果に背景雑音が混入する可能性があること、３）結果が、背景雑音の存在ゆえに大きなばらつきを示す可能性があること、４）誤った分析が生じる場合があり、それが、良品の不合格または不良品の合格につながることである。
【０００５】
インテンシティプローブまたはビームフォーミング技術は、背景雑音レベルが高くなり得る製造環境に音源を置くことには適していない。インテンシティプローブは、目的音源に非常に近い距離で測定が行われる場合に、音響強度の伝搬および非伝搬成分の両方を含む、任意の測定ポイントにおける全体的音響強度を捕捉する。さらに、測定値は、目的音源によって発生された音響強度、および付近の音源によって発生されたかまたは近くの表面から反射された音響強度からなる。したがって、インテンシティプローブは、多数の音源または反射面がある場合には、それほど有用な情報は提供できない。
【０００６】
ビームフォーミングは、音波が伝搬している方向を識別するために用いられる。その空間分解能は、対象とする音の一波長にすぎない。換言すれば、それは、放射された音の一波長未満の距離で分離された２つの音源を識別することができない。したがって、ビームフォーミングは、高周波音には有用だが低周波音には有用でない場合がある。さらに、ビームフォーミングは、平面波伝搬を仮定しており、ある平面から別の平面への音を明らかにする。したがって、それは、平面に音源を配置するのに適しているが、全般的な３Ｄ表面には適さない場合がある。インテンシティプローブと同様に、ビームフォーミングは、背景雑音が高い場合には適していない。
【発明の開示】
【０００７】
本明細書で説明する技術は、米国特許第５，７１２，８０５号明細書に開示されたＨＥＬＳ（ヘルムホルツ方程式最小二乗）法に由来するが、この方法は、３Ｄ空間および３Ｄ音源表面における音圧、粒子速度および音響強度を含む音場を再構成するために用いられる。オリジナルのＨＥＬＳ法が、目的音源から放射された音量、付近の音源から放射からされた音量、および近くの表面から反射からされた音量からなる全場の再構成を可能にすることに留意されたい。したがって、ＨＥＬＳ法は、背景雑音レベルが高くなり得る非理想的な環境において、目的音源の特性を解析するために用いることができない。
【０００８】
オリジナルのＨＥＬＳ法と異なり、本発明は、展開関数の２つのセット、すなわち目的音源からの直接音放射のためのセットと、目的音源からの直接音の方向とは反対の方向に伝わる背景音のためのセットと、を用いて音場を記述する。これらの展開関数に関連する係数は、ＨＥＬＳ法の係数と同様の方法で決定される。しかしながら、展開係数が決定されれば、目的音源からの直接音放射を記述する展開関数セットを用いて、音響スペクトルおよびＳＰＬ値を表示する。このようにして、付近の音源によって発生された背景音および近くの表面からの反射を効果的に除去することができる。
【０００９】
この新技術は、２つの方法で実行することができる。第１は、目的音源を囲むマイクロホンのアレイを利用し、第２は、あちこち移動することができ、どこにおいても測定できる少数のマイクロホンからなる単一プローブを利用する。
【００１０】
目的音源を囲むことによって、あらゆる方向から来る背景音を効果的に除去することができる。マイクロホンリング内には目的音源以外に音源も反射面もないので、目的音源から放射された音を、マイクロホンの方へ伝わる直接音として処理し、付近の音源から放射された音および近くの表面から反射された音を、直接音の方向とは反対の方向に伝わる背景音として処理することができる。このシナリオは、本発明に採用された音響モデルと完全に調和する。したがって、このアプローチは、正確で再現可能な結果をもたらすことができ、非理想的な環境に非常に強い。しかしながら、それは、マイクロホンアレイをセットアップし、それを目的音源に固定することが必要であり、したがって、それほど移動しやすくはない。
【００１１】
マイクロホンプローブを用いることによって、どこにおいても測定することができる。したがって、第２のアプローチは、非常に便利で、柔軟で、実際に使いやすく、測定装置のセットアップを必要としない。しかしながら、その精度は、背景雑音源の位置に左右される場合がある。背景雑音源が、目的音源の背後にあるが、全てマイクロホンプローブの前にある場合には、マイクロホンプローブは、全て同じ方向に伝わる、目的音源からの音および背景雑音源からの音を捕捉することになる。換言すれば、音響モデルにおける直接音には、目的音源および背景雑音源からの音が含まれる。一方で、反対方向に伝わる音は最小限である。この条件下では、目的音源からの音と背景音からの音を区別する方法はない。
【００１２】
しかしながら、目的音源からの直接音が背景音の方向とは反対の方向に伝わるように、背景雑音源がマイクロホンプローブの後ろにあり、目的音源がマイクロホンプローブの前にある場合には、目的音源から放射された音を、全体的な音場から正確に抽出することができる。したがって、マイクロホンプローブを用いる際に、背景雑音源の位置のあらゆる予備知識を利用し、目的音源と背景音源との間にマイクロホンプローブを配置し、それを目的音源に向けるべきである。これによって、たとえ非常に騒々しい環境でも、非常に正確な結果が提供される。背景雑音源が、目的音源およびマイクロホンプローブと整列されてプローブの真後ろにある必要がないことに留意されたい。背景音がマイクロホンプローブの方へ伝わっていない限り、それらは、少なくともかなり抑制することができる。
【００１３】
本技術は、平面にも静かな環境にも限定されない。それは、速くて、便利で、正確で、非常に低コストであり、目的音源によって放射された音圧およびスペクトルを全体的な音圧場から抽出することができる。換言すれば、それによって、付近の音源から放射された音および近くの表面から反射された音を含む望ましくない音を抑制し、目的音源からの直接音パワーを推定し、非理想的な環境でその特性を評価することが可能になる。
【００１４】
次のことが強調される。すなわち、（１）任意の測定装置、たとえばマイクロホンまたはインテンシティプローブが、目的音源によって放射された音圧、および付近の音源によって放射されたかまたは近くの表面から反射された音圧からなる全体的な音場を測定すること、（２）任意の測定装置が、測定データに埋め込まれた望ましくない背景音をなくすかまたは抑制するのは不可能であること、（３）本技術は、全ての望ましくない背景音を完全には除去できないが、それは、騒々しい環境において、音源からの音響放射を抽出するために利用可能な最も効率的な方法であることである。本発明は、背景雑音レベルが非常に高くなり得る製造環境において、製品のインラインおよびエンドオブライン試験のためのＱＣツールを提供する。
【発明を実施するための最良の形態】
【００１５】
本発明の他の利点は、添付の図面に関連して検討される次の詳細な説明を参照することによって、よりよく理解されると共に容易に認識されよう。
【００１６】
本発明による雑音分析システム２０の第１の例が、雑音源２２、この場合には車両座席から測定する図１に示されている。システム２０には、一般に、コンピュータ２６に接続された（接続部は図示せず）、マイクロホンなどの複数のトランスデューサ２４が含まれる。コンピュータ２６には、信号解析器またはデジタル音声処理コンピュータボード（図示せず）などの追加ハードウェアを含んでもよい。周知のように、コンピュータ２６には、コンピュータ記憶媒体に格納されたコンピュータプログラムを動作させるプロセッサが含まれるが、コンピュータ記憶媒体は、ＲＡＭ、ＲＯＭ、ハードドライブ、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ、光、電子もしくは磁気媒体、または他の任意のコンピュータ可読媒体の１つまたは複数であってもよい。コンピュータ媒体はコンピュータプログラムを格納し、コンピュータプログラムは、プロセッサによって実行されたときに、以下で説明する本発明のアルゴリズムの実行を含む、下記のステップを実行する。
【００１７】
図１において、トランスデューサ２４のそれぞれは、雑音源２２の部分を囲むリング２８に取り付けられる（図１には３つのリング２８が示されているが、より多くまたはより少数のリングを用いることができる）。図示の例では、５つのトランスデューサ２４が各リング２８に取り付けられているが、より多くまたはより少数のトランスデューサを用いることができる。一般に、用いられるトランスデューサ２４が多いほど、抽出される直接音の精度を高くすることができる。本方法には、実装例で用いられるトランスデューサ２４の数が全く制限されない。トランスデューサ２４は雑音源２２の方へ向けられ、リング２８の周囲にほぼ等しく離間配置してもよい。リング２８は、トランスデューサ２４のいくつかが異なる方向から雑音源２２の方へ向けられている限り、円形、長円形または他の形状であってもよい。トランスデューサ２４は、図示のように、目的雑音源２２と、目的雑音源２２の四方八方にあり得る任意の背景雑音源３８との間にある。背景雑音源３８には、目的雑音源２２からの雑音を単に反射する反射面を含むことができる。
【００１８】
一般に、動作において、トランスデューサ２４は、雑音源２２からの音の周波数および振幅を測定する。収集されたデータは、コンピュータ２６へ送信され、コンピュータ２６が、以下でより完全に説明する本発明による方法を利用して、雑音源２２により発生された雑音を決定する。
【００１９】
図１に示す例示的な設定では、雑音源２２は、無音振動機４０に取り付けられる。なぜなら、この特定の雑音源２２（車両座席）は、外部から誘発された振動がなければ雑音を発生しないからである。エンジンなどの他の雑音源は、外部振動なしに雑音を発生し得る。
【００２０】
図２の例において、通例、トランスデューサ２４は全て、雑音源２２の同じ側にある。トランスデューサ２４は、図示のように、目的雑音源２２と、目的雑音源２２のほぼ（しかし完全にではない）一つの側になければならない任意の背景雑音源３８との間にある。
【００２１】
本発明の根本的な原理は、目的音源２２から直接放射された音を外向き波の展開について表現し、背景雑音を到来波の展開について表現することである。数学的には、この表現を次のように書くことができる。
【数１】
2009501361.tif 000003
ここで、Ψｊ（１）は、
【数２】
2009501361.tif 000004
によって求められる。
ここで、ｈｎ（１）（ｋｒ）は、第１種の次数ｎの球ハンケル関数を意味し、ｋは、音の波数であり、Ｙｎｌ（θ，φ）は、球面調和関数であり、（２）における添え字ｊ、ｎおよびｌは、ｊ＝ｎ２＋ｎ＋ｌ＋１を介して関連するが、ｎは、０から始まってＮまで至り、ｌは、−ｎからｎまで変化し、式（１）におけるΨｊ（２）は、
【数３】
2009501361.tif 000005
を記号で表したものであり、ここで、ｈｎ（２）（ｋｒ）は、第２種の次数ｎの球ハンケル関数である。具体的には、式（１）の右辺の項は、外向きおよび到来球面波を表わすが、これらの球面波は、目的音源から放射された音と、付近の音源からの音および近くの表面からの反射とをそれぞれ示す。
【００２２】
式（１）は、本発明の基礎である。展開係数Ｃｊ（ω）およびＤｊ（ω）は、仮形式の解を測定データと一致させることによって決定される。このプロセスで発生する誤差は、最小二乗法および最適化手順によって最小限にされる。しかしながら、これらの係数が指定されれば、展開関数
【数４】
2009501361.tif 000006
の第１のセットを用いて音圧をプロットするだけであり、これによって、目的音源から直接放射された音圧を全体的な音圧場から抽出することが可能になる。このアプローチは、典型的には、目的音源を完全に囲むマイクロホンのアレイを構成することによって実行される。式（１）を用いて、あらゆる方向に伝わる背景音を効果的に除去し、目的音源から直接放射された音のパワーを推定することができる。
【００２３】
ＱＣ用途における１つの主な要件は、試験速度である。その理由は、組み立てラインでは、製品をチェックして「正常」または「異常」の決定をする時間がほとんどないからである。プロセスを加速するために、マイクロホンの数を最小限に減らすことができる。それに応じて、式（１）は、
【数５】
2009501361.tif 000007
に単純化することができる。ここで、球ハンケル関数および球面調和関数は、次の式によって求められる。
【数６】
2009501361.tif 000008
【００２４】
次のことに留意されたい。すなわち、式（３）の右辺における初項は単極音源を表わすが、これは、音が、周辺媒体への体積または質量流量における変化の時間速度によって発生されることを示すのに対して、第２項は双極音源を示すが、これは、音が、周辺媒体に作用する力における変化の時間速度によって発生されることを意味するということである。式（３）の右辺における最後の２つの項は、目的音源からの直接音放射の方向とは反対の方向に伝わる単極および双極音を意味する。
【００２５】
したがって、決定すべき４つの係数Ｃ０（ω）、Ｃ１（ω）、Ｄ０（ω）およびＤ１（ω）がある。これは、仮形式の解である式（３）を測定された音圧と一致させることによってなされる。このプロセスで発生する誤差を最小限にするためには、５つ以上の測定値を取って式の過剰決定系を形成し、次に、最小二乗を用いて、この連立方程式を解く。ひとたびこれらの係数が指定されれば、目的音源の音発生メカニズムのあらゆる予備知識に従って、初項、第２項またはこれら２つの項の組み合わせを用いて、目的音源から直接放射された音圧をプロットする。かかる知識が全く利用できない場合には、
【数７】
2009501361.tif 000009
として、直接音圧を少なくとも第一次近似まで表わすのが得策である。
【００２６】
このアプローチは、５マイクロホンのプローブを用いることによって実行することができる。上で指摘したように、このプローブは、目的音源と付近の音源との間に配置すべきであり、目的音源からの直接音を正確に抽出するために、目的音源に向けるべきである。
【００２７】
前述のアプローチが、特定されていない背景雑音がある状態で、目的音源からの直接音放射の近似を表わすことが強調される。特定されていない背景雑音がある状態で、明確でない音源からの直接音放射を全体的な音場から抽出することは不可能である。ほとんどの状況では、厳密解は、絶対に存在しない。厳密解を得るいかなる試みも意味をなさない。この条件下では、非理想的な環境において迅速で信頼できるＱＣ試験を行なうために、近似だが費用効率の高い方法を開発するのがよりよい。本発明は、特定されない背景雑音がある状態で、目的音源からの直接音放射を抽出するための近似の音響モデルを用いて、かかる目標を達成することを目指す。特に、この方法は、ごく少数のマイクロホンおよび最小限のハードウェアシステムしか必要とせず、潜在的に非常に費用効率の高いＱＣツールになる。
【００２８】
手順
製造環境において、不特定数の背景雑音源３８が存在する可能性があり、全体的な背景雑音レベルが、比較的高い場合がある。目的雑音源２２などの音響発生製品のＳＰＬ値およびスペクトルを識別して、それが、地方自治体および連邦政府、製造業界、消費者、その製品のメーカ等によって示されているであろうような指定雑音基準を満たしているかどうかを判断するようにすることが望ましい。
【００２９】
目的音源の真の音響特性を全体的な音場から抽出する本技術を用いることに関連する手順を、以下に説明する。
【００３０】
第１に、図１の場合を検討するが、この場合には、製品（雑音源２２）は独立しており、目的雑音源２２を囲むことができるマイクロホン（トランスデューサ２４）のアレイを取り付けるのに十分な場所がある。背景音は、この目的音源回りの付近の背景雑音源３８または加熱、換気および空調（ＨＶＡＣ）システムからの周囲雑音によって発生され、オペレータが付近およびその回りで働いている。
【００３１】
１．目的雑音源２２を囲むトランスデューサ２４のアレイを構築する。トランスデューサ２４は、１／４インチプローブマイクロホンとすることができ、リング２８は、任意の形状および形態に曲げられるほど可撓性があるがいくつかのマイクロホンを保持するほど強い１／４インチ径の銅管で作製することができる。目的雑音源２４の表面までの個々のマイクロホンの測定距離は、測定精度の一貫性を保証するために等しくすべきである。
【００３２】
２．各測定マイクロホン２４の座標を取得し、かつこれらのデータを、データ取得プロセスを制御するコンピュータ２６に転送する音波デジタイザまたは任意の装置を用いる。
【００３３】
３．マイクロホン２４のこのアレイを用いて、目的雑音源２２から放射された音圧を測定する。これらの信号は、製品が静止状態で作動する場合には、経時的に平均されてＳＰＬ値および時間平均スペクトルを生成するか、または任意の場面および頻度で、時間平均なしに測定されて、スペクトログラムおよび対応するＳＰＬ値を生成することができる。
【００３４】
４．測定された音圧は、展開係数を決定するために、式（１）への入力として取り込まれる。最小二乗法および最適化手順を用いて誤差を最小限にし、かつ展開の最適数Ｊｏｐを決定する。
【００３５】
５．これを行えば、目的音源２２から放射された直接音は、次のように表現することができる。
【数８】
2009501361.tif 000010
【００３６】
ここで、ρｄｉｒ（ｘ；ω）は、目的音源によって放射された直接音を表わし、Ｊｏｐは、最適化プロセスによって決定された展開項の最適数である。
【００３７】
６．結果は、時間平均スペクトルまたはスペクトログラムで表示することができ、抽出された直接音圧の精度は、背景雑音がどのようにおよびどこで発生されるかにかかわらず、通常極めて高く、一貫している。結果は、コンピュータ２６のディスプレイに表示するか、または別のコンピュータに送信することができる。
【００３８】
次に、図２の場合を検討するが、この場合には、目的雑音源２２は、いくつかの付近の機械（背景雑音源３８）の近くにあるかまたは接続され、主な背景雑音は、特定方向における１つまたは複数の音源から来ることが知られている。この条件下では、限られた数のマイクロホン２４からなるプローブを用いることができる。このアプローチは、どこにおいても測定する際に大きな柔軟性を提供し、試験装置のセットアップを必要としない。それゆえ、ＱＣ試験は非常に速くかつ効率的になり得る。
【００３９】
１．固定および剛構成を備えた、限られた数のマイクロホン２４からなるプローブを構築する。マイクロホン２４の相対的位置および座標は知られており、したがって、測定マイクロホン２４の座標を取得する必要はない。プローブは、任意の位置に移動し、かつ任意の角度で測定するように用いることができる。
【００４０】
２．マイクロホン２４のこのアレイを用いて、目的雑音源２２から放射された音圧を測定する。マイクロホンリングの場合のように、信号は、製品が静止状態で作動する場合には、経時的に平均されてＳＰＬ値および時間平均スペクトルを生成するか、または任意の場面および頻度で、時間平均なしに測定されて、スペクトログラムおよび対応するＳＰＬ値を生成することができる。
【００４１】
３．次に、測定された音圧は、展開係数を決定するために、式（３）への入力として取り込まれる。
【００４２】
４．これを行えば、目的雑音源２２から放射された直接音は、式（３）の右辺における初項もしくは第２項またはそれらの組み合わせによって求められる。一般に、初項のみを用いることが許容できるであろう。したがって、次のように書くことができる。
【数９】
2009501361.tif 000011
ここで、ρｄｉｒ（ｘ；ω）は、目的音源によって放射された直接音を表わす。
【００４３】
５．抽出された直接音の精度は、目的雑音源２２、プローブマイクロホン２４および主な背景雑音源３８の相対的位置に左右される。上で言及したように、この場合には、主な背景雑音源３８の位置、および背景音が伝わる方向を知ることが必要である。オペレータは、目的雑音源２２と主な背景雑音源３８との間にプローブマイクロホン２４を配置し、可能な最良の結果を生むように、プローブを目的雑音源２２に向けるべきである。
【００４４】
特許法および法体系の規定に従って、上記の例示的な構成は、本発明の好ましい実施形態を表わすと考えられる。しかしながら、具体的に図示し説明したのとは別の方法で、本発明を、その趣旨または範囲から逸脱せずに実施できることに留意されたい。方法ステップにおける英数字の識別子は、従属項における参照を容易にするためのものであり、別段の定めがない限り、必要とされる順序を示すものではない。
【図面の簡単な説明】
【００４５】
【図１】複数のマイクロホンリングを用いた、本発明による雑音分析システムの第１の実施形態を示す。
【図２】マイクロホンプローブを用いた、本発明による雑音分析システムの第２の実施形態を示す。
【図１】
2009501361.tif 000015
【図２】
2009501361.tif 000016
【国際調査報告】
2009501361.tif 000017
2009501361.tif 000018