(57)【要約】【解決手段】電子カードコネクタは、絶縁性ハウジング、遮蔽（へい）シェル、複数の導電性端子及びテスト端子を含む。遮蔽シェルは絶縁性ハウジングに取付けられ、絶縁性ハウジングとともに収容キャビティを画定する。複数の導電性端子は絶縁性ハウジングに取付けられ、各導電性端子は収容キャビティ内に延在する接触部を有する。テスト端子は絶縁性ハウジングに取付けられ、カードの取出方向に沿って１個の導電性端子の接触部に対して離間し対向する接触部分を有する。電子カードが収容キャビティに挿入された後、テスト端子の接触部分と、該接触部分に対向する導電性端子の接触部とは、同時に電子カードの一接点と接触し、導電性回路を形成しスイッチとして機能する。【選択図】図３
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【特許請求の範囲】
【請求項１】
絶縁性ハウジングと、
絶縁性ハウジングに取付けられ、絶縁性ハウジングとともに収容キャビティを画定する遮蔽シェルと、
絶縁性ハウジングに取付けられた複数の導電性端子であって、各導電性端子は、収容キャビティ内に延在する接触部を備える導電性端子とを有する電子カードコネクタであって、
絶縁性ハウジングに取付けられたテスト端子であって、電子カードの挿入／取出方向に沿って１個の導電性端子の接触部に対して離間し対向する接触部分を備えるテスト端子を更に有することを特徴とする電子カードコネクタ。
【請求項２】
絶縁性ハウジングは前部と後部とを備え、収容キャビティは電子カードを収容するための挿入開口部を画定し、挿入開口部は絶縁性ハウジングの後部に配置され、複数の導電性端子は絶縁性ハウジングの後部に取付けられ、導電性端子の接触部は絶縁性ハウジングの前部側を向き、テスト端子は絶縁性ハウジングの前部に取付けられていることを特徴とする、請求項１に記載の電子カードコネクタ。
【請求項３】
テスト端子は、固定部とはんだ付部と弾性アームと接触部分とを備え、接触部分は、弾性アームから外側に延在することによって形成されていることを特徴とする、請求項１に記載の電子カードコネクタ。
【請求項４】
はんだ付部及び弾性アームは、それぞれ固定部の両側に配置されていることを特徴とする、請求項３に記載の電子カードコネクタ。
【請求項５】
テスト端子は更に接続部を有することを特徴とする、請求項３に記載の電子カードコネクタ。
【請求項６】
固定部及び弾性アームは、接続部の一端から側方に反対方向に延在することによって形成され、接続部の他端は外側に延在してはんだ付部を形成していることを特徴とする、請求項５に記載の電子カードコネクタ。
【請求項７】
接続部の一端は外側に延在して固定部を形成し、はんだ付部及び弾性アームは、接続部の他端から側方に反対方向に延在することによって形成されていることを特徴とする、請求項５に記載の電子カードコネクタ。
【請求項８】
はんだ付部及び固定部は接続部に対して同一の側に配置されていることを特徴とする、請求項６又は７に記載の電子カードコネクタ。
【請求項９】
絶縁性ハウジングは固定ブロックを備え、テスト端子の固定部は固定ブロックと係合していることを特徴とする、請求項６又は７に記載の電子カードコネクタ。
【請求項１０】
テスト端子の固定部は係止突起を備えることを特徴とする、請求項９に記載の電子カードコネクタ。
【請求項１１】
電子カードが収容キャビティに挿入された後、テスト端子の接触部分と、これに離間して対向する導電性端子の接触部とは、同時に電子カードの一接点と接触し、導電性回路を形成しスイッチとして機能することを特徴とする、請求項１に記載の電子カードコネクタ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、電子カードコネクタに関し、より詳細には、テスト端子と本来の導電性端子とを用いて導電性回路を形成するテスト機能を備えた電子カードコネクタに関する。
【背景技術】
【０００２】
電子カードコネクタは、直流を伝達するため、カードを挿入可能な電子製品に広く使用されている。従来の電子カードコネクタは、一般に、テスト回路を形成するのに２個のテスト端子を要する。使用時、２個のテスト端子は、それぞれ、電子カードコネクタの誘電性本体と遮蔽（へい）シェルとに配置され、電子カードを電子カードコネクタに挿入するあるいは電子カードコネクタから取出すことによって、テスト回路が導通及び遮断される。
【０００３】
関連する従来技術は、２００３年１月１４日にＣｈｅｎ  Ｌｉｚｈｅｎによって出願され２００４年４月２１日に公開された台湾特許公報第５８５３５７号（発明の名称：電子カードコネクタの改良された弾性接触部材（improved resilient contacting piece of an electronic card connector ））に開示されている。図１及び２を参照すると、この特許のコネクタは、誘電性本体１ａと、該誘電性本体１ａに形成された複数の接触端子２ａと、誘電性本体１ａとの間に電子カードを挿入させるために誘電性本体１ａを覆う金属製遮蔽シェル３ａと、金属製遮蔽シェル３ａの後側から下方に向けてパンチングすることによって形成されかつ弾性接触部３１１ａを有する接触部材３１ａと、誘電性本体１ａの後側に埋込まれかつ接触部材３１ａの弾性接触部３１１ａに対応した弾性接触部分４１ａを備えたテスト部材４ａとを有する。上述の構造によれば、電子カード５ａを電子カードコネクタに挿入すると、最初に、電子カードが弾性部材３１ａの弾性接触部３１１ａを押し、その後、弾性接触部３１１ａがテスト部材４ａの弾性接触部分４１ａを前方に押し、接触部材とテスト部材との両方が押された状態になって、弾性接触復帰行程を備える。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００４】
上のことから分析すると、従来の電子カードコネクタは、テスト回路を形成するのに２個の挿入ピンを使用しなければならないため、電子カードコネクタの製造時に、２個の挿入ピンのための２箇所の空間を確保しておかなければならない。これは、組立作業において時間とコストがかかる作業であるとともに、電子カードコネクタの小型化を継続的に行うことができないため、電子カードコネクタ全体にかかる製造コストは比較的高くなる。
【０００５】
本発明の課題は、更に小型化され、組立が簡便であり、製造コストが低い、改良された電子カードコネクタを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００６】
上述の課題を解決するため、本発明は、テスト端子を１個だけ用いて、電子カードコネクタの本来の導電性端子１個とともにテスト回路を形成し、２個の挿入ピンを使用しなければならなかった従来技術のテスト機能を得ることを意図した電子カードコネクタを提供する。
【０００７】
したがって、テスト端子を１個省略するため、本発明は、電子カードコネクタを更に小型化することができるとともに、製品の組立をより簡単かつ簡便にすることができ、製造効率を改善し、製造コストを大幅に低減するものである。
【発明を実施するための最良の形態】
【０００８】
図面を詳細に参照する。最初に、本発明に係る電子カードコネクタの３つの好ましい実施形態を示す図３、７及び１１を各々参照すると、電子カードコネクタは主に２個の部品から成るが、一方は絶縁性ハウジング１であり、他方は遮蔽シェル２である。絶縁性ハウジング１は、プラスチック等の絶縁性材料のプレス成形によって形成することができ、遮蔽シェルは、導電性メタルシートからパンチングにより形成することができるが、プラスチックを成形して形成することもできる。絶縁性ハウジング１と遮蔽シェル２とは、協同して、電子カードのための挿入開口部６を備えた収容キャビティ５を形成する（図５及び９参照）。
【０００９】
図３、７及び１１を参照すると、絶縁性ハウジング１は前部１１及び後部１２を含み、電子カードの挿入開口部６は、後部１２に配置されている。電子カードは、収容キャビティ５に入るとき、絶縁性ハウジング１の後部１２を通って前部１１に到達する（図５及び９参照）。絶縁性ハウジング１は、電子カードの収容キャビティ５を形成する下壁１３を有し、下壁１３は、はんだ付パッド８１を備える回路基板８に取付けられている。
【００１０】
再び図３、７及び１１を参照すると、複数の導電性端子３が、絶縁性ハウジング１の後部１２の対応する各通路１４に取付けられている。各導電性端子３は接触部３１を備える。接触部３１は、収容キャビティ５に向って前方に片持ち状に延在し、収容キャビティ５に挿入された電子カード７の適切な接点７１と接触する（図６及び１０参照）。
【００１１】
遮蔽シェル２は、略長方形であり、電子カードの収容キャビティ５の上部を形成する上壁２１を有する。遮蔽シェル２は、上壁２１の両側に沿って延在し、上壁から下方に垂下する一組の側壁２２及び２３を有する。
【００１２】
図３〜６は、本発明の第一の好ましい実施形態の各状態を示し、図７〜１０は、本発明の第二の好ましい実施形態の各状態を示す。図１１は、本発明の第三の好ましい実施形態を示す。図中の同一の符号は、各好ましい実施形態における同一の部品を示す。本発明はテスト端子を１個だけ設けることを意図しており、テスト端子は、絶縁性ハウジング１の前部１１に取付けられ、複数の導電性端子３のいずれかに対して離間し対向しているということを理解すべきである。図３〜６に示す第一の実施形態においては、テスト端子の弾性アーム及び固定部は同一直線上に配置されていない。図７〜１０に示す第二の実施形態においては、テスト端子の弾性アーム及び固定部は直線上に配置されている。図１１に示す第三の実施形態においては、テスト端子の弾性アームは、固定部から直接延在している。
【００１３】
更に詳細に説明すると、図３〜６に示す第一の実施形態においては、図３に示すように、テスト端子４は、固定部４１、接続部４２、はんだ付部４３、弾性アーム４４及び接触部４５を有し、該接触部４５は、弾性アーム４４から外側に延在して曲がることによって形成されており、固定部４１は、接続部４２の一端から接続部４２の一方の側に向って延在して曲がることによって形成されており、はんだ付部４３は、接続部４２の他端から固定部４１のある側に向って延在することによって形成されており、弾性アーム４４は、固定部４１とは反対側の接続部４２の端部からはんだ付部４３とは反対側に外側に延在している。
【００１４】
以下、テスト端子４を絶縁性ハウジング１に組付ける手順を詳細に示す図３、４Ａ及び４Ｂを参照する。図３に示すように、絶縁性ハウジング１の下壁１３の前部１１に固定ブロック１５及び収容スロット１６が形成され、テスト端子４の固定部４１は絶縁性ハウジング１の固定ブロック１５にインサート成形で固定される。テスト端子４は、絶縁性ハウジング１にプラグイン方式で固定することもできる。すなわち、テスト端子の固定部４１は、固定部４１の係止突起４１１が固定ブロック１５の挿入スロット１５１と干渉することによって絶縁性ハウジング１の固定ブロック１５に固定される。これと同時に、弾性アーム４４が、絶縁性ハウジング１の前部１１の対応する収容スロット１６に埋込まれて挿入され、次に、はんだ付部４３が、回路基板８の対応するはんだ付パッド８１にはんだ付されるが、ここで、テスト端子４の接触部４５は、（図４Ｂに示すように）１個の導電性端子３の接触部３１に対して離間し対向している。電子カード７が電子カードの挿入開口部６から収容キャビティ５（図５参照）に挿入されると、図６に示すように、テスト端子４の接触部４５とこれに離間して対向する導電性端子３の接触部３１とは、同時に電子カード７の１個の接点７１と接触し、導電性回路を形成し、スイッチとして機能する。
【００１５】
図７〜１０は、本発明の第二の実施形態の各状態を示すが、第一の実施形態と第二の実施形態とでは、テスト端子の形状だけが異なる。第二の実施形態のテスト端子４’は、固定部４１’、接続部４２’、はんだ付部４３’、弾性アーム４４’及び接触部４５’を備えるが、第一の実施形態のテスト端子４とは異なり、弾性アーム４４’及び固定部４１’は、図７に示すように、接続部４２’の同一端部の両側に配置されている。したがって、テスト端子４’が絶縁性ハウジング１に固定されると、弾性アーム４４’は、絶縁性ハウジング１の対応する収容スロット１６（図８Ａ参照、第一の実施形態とは位置が異なる）に埋込まれ、さらに、接触部４５’は、対応する導電性端子３の接触部３１（図８Ｂ参照）に対して離間して対向する。図１０に示すように、テスト端子４’の接触部４５’とこれに離間して対向する導電性端子３の接触部３１とは同時に電子カード７の接点７１に接触し、導電性回路を形成し、スイッチとして機能する。
【００１６】
図１１は、本発明の第三の実施形態に係る電子カードコネクタの分解斜視図である。第三の実施形態は、テスト端子の形状及びテスト端子の絶縁性ハウジングへの組立が上述の二つの実施形態と異なる。図１１に示すように、第三の実施形態のテスト端子４”は、固定部４１”、はんだ付部４２”、弾性アーム４３”及び接触部４４”を備えるが、第一及び第二の実施形態のテスト端子４及び４’と異なり、第三の実施形態のテスト端子４”は接続部を省略し、はんだ付部４２”及び弾性アーム４３”は固定部４１”の両端から各々外側に延在することによって形成されている。本実施形態においては、固定部４１”の両側部に係止突起４１１”が各々形成されており、接触部４４”は弾性アーム４３”から外側に曲がることによって形成されている。本実施形態と上述の他の二つの実施形態との間の更なる差異は、絶縁性ハウジング１は、（第一の実施形態における符号１５及び第二の実施形態における符号１５’のような）固定部を省略している。したがって、組立時、テスト端子４”の固定部４１”は、絶縁性ハウジング１の対応する収容スロット１６に埋込まれて挿入され、固定部４１”の係止突起４１１”が収容スロット１６の両側壁に各々干渉することによって固定される。その後、上述の二つの実施形態と同様、テスト端子４”の接触部４５”が１個の導電性端子３（図示せず）の接触部３１に対して離間し対向するように、はんだ付部４２”は回路基板８の対応するはんだ付パッド８１にはんだ付される。
【００１７】
なお、本発明のテスト端子の構造は、上述の三つの実施形態の構造に限定されるものではない。また、テスト端子は、選択的に、テスト回路を形成するために導電性端子のいずれか１個に対して離間し対向させることができ、これに応じて、絶縁性ハウジングの固定ブロック及び収容スロット並びに回路基板のはんだ付パッドの位置及び個数を、テスト端子に適合するように調節あるいは増減することができる。
【００１８】
これまで、好ましい実施形態を用いて本発明を説明してきたが、これら実施形態は本発明を限定するものではなく、当業者であれば、本発明の精神及び範囲から逸脱することなく変形及び改良を行うことができるであろう。したがって、本発明の保護範囲は、本特許出願の特許請求の範囲に基いて決めるべきである。
【図面の簡単な説明】
【００１９】
【図１】従来技術の電子カードコネクタの分解斜視図である。
【図２】従来技術の電子カードコネクタの図であり、電子カードが電子カードコネクタに挿入された状態を示す。
【図３】本発明の第一の実施形態に係る電子カードコネクタの分解斜視図である。
【図４Ａ】本発明の第一の実施形態の電子カードコネクタの組立斜視図であり、電子カードコネクタの絶縁性ハウジングにテスト端子が取付けられ、遮蔽シェルが省略された状態を示す。
【図４Ｂ】図４Ａの上面図である。
【図５】第一の実施形態の電子カードコネクタの組立後の上面図であり、電子カードコネクタにおけるテスト端子の位置を示す。
【図６】図５の電子カードコネクタに電子カードが挿入された後の、電子カードに対する、テスト端子及びテスト端子に対向する導電性端子の相対位置を示す。
【図７】本発明の第二の実施形態に係る電子カードコネクタの分解斜視図である。
【図８Ａ】本発明の第二の実施形態の電子カードコネクタの組立斜視図であり、電子カードコネクタの絶縁性ハウジングにテスト端子が取付けられ、遮蔽シェルが省略された状態を示す。
【図８Ｂ】図８Ａの上面図である。
【図９】第二の実施形態の電子カードコネクタの組立後の上面図であり、電子カードコネクタにおけるテスト端子の位置を示す。
【図１０】図９の電子カードコネクタに電子カードが挿入された後の、電子カードにおける、テスト端子及び該テスト端子に対向する導電性端子の相対位置を示す。
【図１１】本発明の第三の実施形態に係る電子カードコネクタの分解斜視図である。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４Ａ】
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【図４Ｂ】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８Ａ】
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【図８Ｂ】
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【図９】
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【図１０】
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【図１１】
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【国際調査報告】
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