(57)【要約】本発明は、高い複屈折をもつ光ディスクから情報を読み取る光ドライブに関する。放射線ビーム５は、周波数Ｆ１の変調された読み取りパワーレベルを有する。偏光ビームスプリッタＰＢＳ，６は、ディスク１から反射されたビーム８を、光応答信号ＲＳを出力する光検出器１０に誘導する。光応答信号（ＲＳ）は、光応答パラメータＲＰに変換され、この光応答パラメータは、予め決定された光応答パラメータの基準値ＲＰ＿ｒｅｆに比較される。十分な逸脱Δが存在する場合、ビームスプリッティング手段ＰＢＳ，６から放射線源４への光フィードバックを示す。処理手段５２は、光フィードバックを減少するように、放射線ビーム５の第一の変調周波数Ｆ１を第二の周波数Ｆ２に変更する。本発明は、情報が再生される光キャリアでの高い複屈折の値を補償する比較的簡単且つ効果的な方法を提供する。
2009544110.tif 000002
【特許請求の範囲】
【請求項１】
関連される光キャリアから情報を読み取る光ドライブであって、
第一の変調周波数で変調される読取りパワーレベルを有する放射線ビームを放出可能な放射線源と、前記放射線ビームは、前記関連される光キャリアに衝突するために光学的に調節され、
光応答信号を出力可能な光検出手段に向けてキャリアから反射されたビームを誘導する偏光ビームスプリッティング手段と、
１以上の光応答パラメータに前記光検出手段から受信された前記光応答信号を処理する処理手段とを有し、
前記処理手段は、前記光応答パラメータが予め決定された光応答パラメータの基準値から逸脱するかをモニタする比較手段を有し、前記逸脱は、前記ビームスプリッティング手段から放射線源への光フィードバックを示し、
前記処理手段は、前記光フィードバックを減少するように、前記放射線ビームの第一の変調周波数を第二の変調周波数に変更する、
ことを特徴とする光ドライブ。
【請求項２】
前記光応答信号は、前記光キャリアから読取られた情報を表す、
請求項１記載の光ドライブ。
【請求項３】
前記光応答パラメータは、前記光キャリアの位置を示すアドレス、光キャリアから読取られる情報系列における訂正不可能なエラー、及び光キャリアからの光応答信号から測定された非対称値からなるグループから選択される、
請求項２記載の光ドライブ。
【請求項４】
補助の放射線ビームを放出する補助の放射線源を更に有し、前記ビームは、前記光キャリアに衝突し、前記光検出手段に向かう反射されたビームとなる、
請求項１記載の光ドライブ。
【請求項５】
前記光キャリアから読み取られる情報を表す反射された放射線を検出する補助の光検出手段をさらに有する、
請求項１記載の光ドライブ。
【請求項６】
前記第二の変調周波数は、前記第一の変調周波数よりも高い、
請求項１記載の光ドライブ。
【請求項７】
前記処理手段は、前記予め決定された光応答パラメータの基準値からの前記光応答パラメータの逸脱を最小にするように、フィードバックループで変調周波数を増加するために構成される、
請求項６記載の光ドライブ。
【請求項８】
前記放射線ビームは、実質的に方形波のパワープロファイルを有する、
請求項１記載の光ドライブ。
【請求項９】
前記放射線ビームは、前記光キャリアに向かって前記光経路上の前記偏光ビームスプリッティング手段を通過するために光学的に調整される、
請求項１記載の光ドライブ。
【請求項１０】
関連される光キャリアから情報を読取る関連される光ドライブを制御する処理手段であって、
第一の変調周波数で変調される読取りパワーレベルを有する放射線ビームを放出可能な放射線源と、前記放射線ビームは、前記関連される光キャリアに衝突するために光学的に調節され、
光応答信号を出力可能な光検出手段に光キャリアからの反射されたビームを誘導する偏光ビームスプリッティング手段とを有し、
当該処理手段は、前記光検出手段から受信された前記光応答信号を１以上の光応答パラメータに処理し、
当該処理手段は、前記光応答パラメータが予め決定された光応答パラメータの基準値から逸脱するかをモニタし、前記逸脱は、前記ビームスプリッティング手段から前記放射線源への光フィードバックを示し、
当該処理手段は、前記光フィードバックを減少するように、前記放射線ビームの第一の変調周波数を第二の変調周波数に変更する、
ことを特徴とする処理手段。
【請求項１１】
光キャリアから情報を読取る光ドライブを動作する方法であって、
第一の変調周波数で変調された読取りパワーレベルを有する放射線ビームを放出するステップと、前記放射線ビームは、前記光キャリアに衝突するように光学的に調節され、
光応答信号を出力可能な光検出手段に光キャリアからの反射されたビームを偏光ビームスプリッティング手段により誘導するステップと、
前記光検出手段から受信された前記光応答信号を１以上の光応答パラメータに処理するステップと、
前記光応答パラメータが予め決定された光パラメータの基準値から逸脱するかをモニタするステップと、前記逸脱は、前記ビームスプリッティング手段から前記放射線源への光フィードバックを示し、
前記光フィードバックを減少するように、前記放射線ビームの第一の変調周波数を第二の変調周波数に変更するステップと、
を有することを特徴とする方法。
【請求項１２】
少なくとも１つのコンピュータに関連されるデータストレージ手段を有する少なくとも１つのコンピュータを有するコンピュータシステムに、請求項１１に係る光ドライブを動作させるコンピュータプログラム。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、高い複屈折性をもつ光キャリアを再生可能な、関連される光キャリアから情報を読取る光ドライブに関する。  
また、本発明は、光ドライブ及び光ドライブを制御する対応する処理手段を動作させる対応する方法に関する。
【背景技術】
【０００２】
ＣＤ（compact  disc）、ＤＶＤ（digital  versatile  disc）又はＢＤ（Blu-Ray  disk）フォーマットのような光キャリアでの光記録及び再生は、一般に、偏光光学（polarizing  optics）又は非偏光光学を利用した光ドライブで実行することができる。
【０００３】
非偏光光学による光ドライブは、比較的シンプルな設計を有し、それらのパフォーマンスにおいてロバストである。係る光ドライブは、たとえば、光ディスクからの複屈折により影響されない。しかし、非偏光光学による光ドライブについて、光ディスクに伝達され、次いで検出フォトダイオードに反射されるパワーは、制御することが更に困難である。この問題は、光ディスクへの信頼できる記録のために電力制御が不可欠であるので、情報が光ディスクに書き込まれる場合に特に重要である。この理由のため、大部分の光ドライブは、光ドライブと光キャリアから構成される光システムにおいて更に効率的なパワーコントロールを容易にするために偏光光学を利用する。
【０００４】
照射源としてレーザをもつ光ドライブは、偏光源を本質的に有し、次いで、偏光に関する光路を定義及び制御するために適切な光学素子が設けられる。光学素子は、偏光ビームスプリッタ、２分の１波長板、４分の１波長板等を含む。ディスクの複屈折が問題となる光ディスクの規定されたレベルを超える場合、光キャリア又はディスク自身は、光ディスクに衝突する偏光に悪影響を与える可能性がある。光ディスクの複屈折は、これにより、許容されない、高く偏光され、光ディスから反射された光の歪みを導入する可能性があり、結果的に、光ドライブの光検出手段に向かうリターンパスにおける光パワーの損失となる。結果的に、光ディスクからの読取り信号は、低減された品質となる可能性があるか、デコードすることさえ困難となり、光ドライブの完全な機能停止となる。
【０００５】
光ディスクの複屈折は、製造プロセスから典型的に生じ、この場合、モールディングプロセスにおける短いサイクル時間及び／又は高速冷却時間は、型押しされた光ディスクの光パラメータ（すなわち屈折率）における異方性の振る舞いを導入する可能性がある。通常、光ディスクは、ポリカーボネート（ＰＣ）で射出成形され、射出成形は、収縮、流線、及び基板における封入を導入する可能性がある。通常、複屈折は、外径の近くでより深刻である。光ディスクの記録／再生の間、光ドライブの高速の回転は、光ディスクにおけるひずみを増加し、次いで、光ディスクの複屈折を悪化させる。
【０００６】
光ディスクの許容されない高い複屈折の問題は、当該技術分野で公知であり、技術的なソリューションのレンジを利用可能である。いわゆる「仕様外“out-of-spec”」ディスクである適切な仕様を超える複屈折の値を有する光ディスクによる問題は、低価格な光ディスクに向かう競争率が高い傾向のために増加している現象であると言及されるべきである。
【０００７】
米国特許出願2005/259553は、光ディスクにおける複屈折を補正するため、光ドライブの光路に複屈折補正エレメント（図１及び図１４におけるエレメント５ａを参照）が挿入される技術的なソリューションを開示している。補正エレメントは、単軸の屈折率の異方性をもつ材料を有し、補正エレメントは、光ドライブの対物レンズの前に位置される。１実施の形態では、補正エレメントは、光軸を通過し、直角で互いに交差する２つの直線により４つの領域に分割される。４つの領域のそれぞれは、光軸でセンタリングされる３つの円により４つのサブ領域に半径方向に分割される。この光学的な設計により、複屈折ディスクにより光が反射されるときに生成される位相差は、補正エレメントを通して光が透過されるときに生成される位相差によりオフセット又はキャンセルされる。しかし、完全又はほぼ完全な補正効果を提供するため、領域の数は、かなり高くなる必要がある。これは、したがって、光ドライブの大量生産を実現するために高価なソリューションである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００８】
【特許文献１】米国特許出願2005/259553
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００９】
したがって、改善された光ドライブが有利であり、特に、より効率的及び／又は信頼性の高い光ドライブが有利である。  
本発明は、上述された１以上の課題を単独又は任意の組み合わせで緩和、軽減又は除去することが望まれる。特に、本発明の目的は、比較的高い複屈折の値を有する光キャリアによる従来技術の上述された問題を解決する光ドライブを提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【００１０】
この目的及び幾つかの他の目的は、関連される光キャリアから情報を読取る光ドライブを提供することで、本発明の第一の態様で達成される。光ドライブは、以下を有する。第一の変調周波数（Ｆ１）で変調される読取りパワーレベルを有する放射線ビームを放出可能な放射線源。前記放射線ビームは、関連される光キャリアに衝突するために光学的に調節される。光検出手段に向けてキャリアから反射されたビームを誘導する偏光ビームスプリッティング手段。前記光検出手段は、光応答信号（ＲＳ）を出力可能である。１以上の光応答パラメータ（ＲＰ）に光検出手段から受信された前記光応答信号（ＲＳ）を処理する処理手段。前記処理手段は、予め決定された光応答パラメータの基準値（ＲＰ＿ｒｅｆ）から光応答パラメータ（ＲＰ）が逸脱するかをモニタする比較手段を有する。前記逸脱は、ビームスプリッティング手段（ＰＢＳ）から放射線源に向かう光フィードバックを示す。処理手段は、光フィードバックを減少するように、第二の変調周波数（Ｆ２）に放射線ビームの第一の変調周波数（Ｆ１）を変更する。
【００１１】
本発明は、特に、限定されるものではないが、情報が再生される光キャリアでの比較的高い複屈折の値を補償する比較的シンプルであって効果的なやり方を提供する光ドライブを得るために有利である。光ドライブは、再生されている光キャリアの複屈折の指標を得るように、１以上の光応答パラメータ（ＲＰ）を基準値と比較し、これに応じて、光ドライブは、読取られている光キャリアの複屈折から生じる光フィードバックを低くするため、光キャリアを読取るために印加される放射線ビームの周波数を変更可能である。
【００１２】
さらに、本発明は、大部分の光ドライブが固定された周波数で変調された読取りレーザビームを既に有するので、既存の光ドライブ技術で実現することが比較的容易である。電磁シールドの用途について、この周波数は、光ドライブの動作の間の一定に保持され、すなわち光ドライブは、所定の固定された変調器周波数について設計される。光キャリアの大きな複屈折による技術的な問題は、たとえば米国特許出願2005/259553におけるような光ドライブに補正の光エレメントを挿入するか、又は当該技術分野で知られている他の補正手段を挿入することで解決される。出願人により実行される予備テストにより、商業的に利用可能な従来技術のソリューションの大部分は、本発明と比較されたとき、比較的大きな複屈折の値に対処することができないことが示される。
【００１３】
本発明の前後関係における用語「逸脱“deviation”」の意味、すなわち予め決定された光応答パラメータの基準値（ＲＰ＿ｒｅｆ）からの光応答パラメータ（ＲＰ）の逸脱は、測定の不確かさにおける絶対的な逸脱と測定の不確かさにおける相対的な逸脱とを含む。また、逸脱は、ランダムノイズ及び分離されたエラー又はイベントを区別するため、好ましくは時間平均を基礎にして、所定の閾値を超える逸脱として理解することができる。
【００１４】
１実施の形態では、光応答信号（ＲＳ）は、光キャリアから読取られた情報を表し、たとえば光応答信号（ＲＳ）は、高周波（ＨＦ）信号である。これにより、情報を読取るために使用される照射源は、読取られている光キャリアの複屈折を測定するために利用される。次いで、光応答パラメータ（ＲＰ）は、光キャリア上の位置を示すアドレス、光キャリアから読取られる情報系列における補正不可能なエラー、及び光キャリアからの光応答信号（ＲＳ）から測定された非対称値（ベータ）からなるグループから選択される。利点は、これらのパラメータが他の目的のために既に利用可能であって、これに応じて本発明が比較的容易に実現されることである。さらに、非対称値又はその等価なものは、再生されている光キャリアの複屈折の比較的良好な測定値である。
【００１５】
代替的な実施の形態では、光ドライブは、補助の放射線ビームを放出するために適合される補助の放射線源を有する場合があり、前記ビームは、光キャリアに衝突し、光検出手段に向かう反射されたビームとなるために光学的に調節される。この実施の形態では、光キャリアの複屈折は、情報を読取るために利用される照射源を使用することなしに評価される。したがって、複屈折を測定する専用の光源は、光ドライブにインストールされる。したがって、この特定の実施の形態では、光検出手段は、光キャリアから情報を読取ることに利用されず、これに応じて、光ドライブは、光キャリアから読取られた情報を表す反射された放射線の検出のための補助的な光検出手段をさらに有する。
【００１６】
しばしば実現される１つの実施の形態では、第二の変調周波数（Ｆ２）は、第一の変調周波数（Ｆ１）よりも高い。したがって、第一の変調周波数（Ｆ１）は、５％、１０％、１５％又は２０％の選択されたステップで増加される。代替的に、５、１０、１５、２０又は２５ＭＨｚのような絶対的なインクリメントが利用される場合がある。一般に、電力の消失は、半導体レーザの容量結合による変調周波数を増加するために増加する。これにより、この実施の形態は、電力の考慮について好適な選択ではない。
【００１７】
付加的に又は代替的に、処理手段は、予め決定された光応答パラメータの基準値（ＲＰ＿ｒｅｆ）からの光応答パラメータ（ＲＰ）のずれを最小化するように、フィードバックループにおいて変調周波数（Ｆ１；Ｆ２）を増加するために構成される場合がある。これにより、複屈折値の大きなインターバルを反復的に補償する全く効果的なやり方が提供される。
【００１８】
パワーに関して放射線ビームを操作するため、ビームは、実質的に方形波のパワープロファイルを有する。非常に高い周波数のため、現実の実現において方形波からの幾つかの逸脱が生じる。本発明の教示は、このパワープロファイルに制限されないが、正弦波プロファイル、マルチレベルプロファイル等のような様々なパワープロファイルを含む場合がある。しかし、以下に更に詳細に説明されるように、光フィードバックを減少するように、パワーが周期的に効果的にオフにされることは重要である。１実施の形態では、放射線ビームは、光キャリアへの光路で偏光ビームスプリッティング手段（ＰＢＳ）を通過するために光学的に調整される。
【００１９】
第二の態様では、本発明は、関連される光キャリアから情報を読取る関連される光ドライブを制御する処理手段に関する。光ドライブは、以下を有する。第一の変調周波数（Ｆ１）で変調される読取りパワーレベルを有する放射線ビームを放出可能な放射線源。前記放射線ビームは、関連される光キャリアに衝突するために光学的に調節される。光検出手段に光キャリアからの反射されたビームを誘導する偏光ビームスプリッティング手段（ＰＢＳ）。前記光検出手段は、光応答信号（ＲＳ）を出力可能である。処理手段は、光検出手段から受信された前記光応答信号（ＲＳ）を１以上の光応答パラメータ（ＲＰ）に処理するために適合される。前記処理手段は、光応答パラメータ（ＲＰ）が予め決定された光応答パラメータの基準値（ＲＰ＿ｒｅｆ）から逸脱するかをモニタするために構成される。前記逸脱は、ビームスプリッティング手段（ＰＢＳ）から放射線源への光フィードバックを示し、処理手段は、光フィードバックを減少するように、放射線ビームの第一の変調周波数（Ｆ１）を第二の変調周波数（Ｆ２）に変更する。
【００２０】
第三の態様では、本発明は、光キャリアからの情報を読取るために光ドライブを動作させる方法に関する。本方法は、以下のステップを有する。第一の変調周波数（Ｆ１）で変調された読取りパワーレベルを有する放射線ビームを放出するステップ。前記放射線ビームは、光キャリアに衝突するために光学的に構成される。光検出手段に光キャリアからの反射されたビームを偏光ビームスプリッティング手段（ＰＢＳ）により誘導するステップ。前記光検出手段は、光応答信号（ＲＳ）を出力可能である。光検出手段から受信された前記光応答信号（ＲＳ）を１以上の光応答パラメータ（ＲＰ）に処理するステップ。光応答パラメータ（ＲＰ）が予め決定された光パラメータの基準値（ＲＰ＿ｒｅｆ）から逸脱するかをモニタするステップ。前記逸脱は、ビームスプリッティング手段（ＰＢＳ）から放射線源への光フィードバックを示す。光フィードバックを減少するように、放射線ビームの第一の変調周波数（Ｆ１）を第二の変調周波数（Ｆ２）に変更するステップ。
【００２１】
第四の態様では、本発明は、少なくとも１つのコンピュータに関連されるデータストレージ手段を有する少なくとも１つのコンピュータを有するコンピュータシステムに、本発明の第三の態様に係る光ドライブを動作させるために適用される。
【００２２】
本発明のこの態様は、特に、限定されるものではないが、本発明の第二の態様の動作をコンピュータシステムが実行するのを可能にするコンピュータプログラムにより実現される点で有利である。したがって、前記光記録装置を制御するコンピュータシステムにコンピュータプログラムをインストールすることにより、幾つかの公知の光ドライブは、本発明に従って動作するために変更されることが意図される。係るコンピュータプログラムは、たとえば磁気又は光学に基づいた媒体といった任意のコンピュータ読取り可能な媒体で提供されるか、又はたとえばインターネットといったコンピュータに基づいたネットワークを通して提供される。
【００２３】
本発明の第一、第二、第三及び第四の態様は、それぞれ、他の態様の何れかと結合される場合がある。本発明のこれらの態様及び他の態様は、以下に記載される実施の形態を参照して明らかにされるであろう。本発明は、添付図面を参照して例示を通して以下に説明される。
【図面の簡単な説明】
【００２４】
【図１】図１は、本発明に係る光ドライブの概念図である。
【図２】図２は、光ドライブにおける光フィードバックの概念的な例示である。
【図３】図３は、本発明に係る光ドライブの簡略化された図である。
【図４】図４は、照射源の電力出力を示す簡略化されたグラフである。
【図５】図５は、複屈折のない光キャリアを読み取る光ドライブの光路の概念図である。
【図６】図６は、複屈折をもつ光キャリアを読み取る光ドライブの光路の概念図である。
【図７】図７は、光キャリアを通した複屈折を示すグラフである。
【図８】図８は、本発明に係る方法のフローチャートである。
【発明を実施するための形態】
【００２５】
図１は、光再生／記録装置又は光ドライブ及び光キャリア１を示す。キャリア１は、保持手段３０により固定され、回転される。  
光キャリア１は、回転手段５により情報を記録するために適した材料を有する。記録材料は、たとえば、光磁気タイプ、相変化タイプ、ダイ（dye）タイプ、Ｃｕ／Ｓｉのような合金又は他の適切な材料からなる。情報は、光学的に検出可能な作用の形式、いわゆる書き換え可能なメディアについてマーク“mark”及びライトワンスメディアについてピット“pits”の形式で光キャリア１に記録される。
【００２６】
光装置、すなわち光ドライブは、光ピックアップ（ＯＰＵ）と呼ばれることがある光学ヘッド２０を有し、光学ヘッド２０は、たとえばエレクトリックステッパモータ、リニアモータ、又はＤＣモータといったアクチュエーション手段２１により移動可能である。光学ヘッド２０は、光検出システム１０、レーザドライバ装置（ＬＤＤ）、放射線源４、ビームスプリッタ６、対物レンズ７、及びキャリア１の半径方向及び焦点方向の両者においてレンズ７を移動可能なレンズ移動手段９を有する。
【００２７】
光検出システム１０の機能は、キャリア１から反射された放射線８を電気信号に変換することである。したがって、光検出システム１０は、１以上の電気出力信号を発生可能な、たとえばフォトダイオード、電荷結合素子（ＣＣＤ）等の幾つかの光検出手段を有する。光検出手段は、互いに離れて配置され、エラー信号、すなわちフォーカスエラーＦＥ及びラジアルトラッキングエラーＲＥの検出を可能にするように十分な時間解像度により配置される。フォーカスエラーＦＥ及びラジアルトラッキングエラーＲＥ信号は、処理手段５０に送出され、ここで、ＰＩＤ（proportional-integrate-differentiate）制御手段を使用することで動作される公知のサーボメカニズムは、キャリア１での放射線ビーム５の半径方向の位置及び焦点位置を制御するために利用される。
【００２８】
放射線ビーム又は光ビーム５を放出するための放射線源４は、たとえば、可変の電力をもち、おそらく可変の放射線の波長をもつ半導体レーザとすることができる。代替的に、放射線源４は、１を超えるレーザを有する。本発明の文脈で、用語「光」は、可視光、紫外線（ＵＶ）、赤外線（ＩＲ）等のような光記録及び／又は再生に適した電磁放射を含むことが考慮される。放射線源４は、適切な時間に依存する電流を放射線源４に供給するために構成されるレーザドライバデバイス（ＬＤＤ）２２により制御される。ドライバデバイス２２は、処理手段５０から順次に制御される。処理手段５０は、ドライバデバイス２２を制御して、図１に示される変調周波数Ｆ１又はＦ２をもつ放射線ビーム５を放出させる。
【００２９】
また、処理手段５０は、光検出手段１０からの信号、特に光応答信号ＲＳを受信及び分析する。処理手段５０は、図１に概念的に示されるように、制御信号をアクチュエーション手段２１、放射線源４、レンズ移動手段９、及び回転手段３０に出力する。同様に、処理手段５０は、参照符号６１で示されるように、書き込まれるべきデータを受信し、処理手段５０は、参照符号６０により示されるように、読み取り処理からデータを出力する。処理手段５０は単一のユニット、すなわち図１におけるプロセッサとして示されているが、等価的に、処理手段５０は、光記録装置に位置される複数の相互接続している処理ユニットであり、それらユニットのうちの幾つかは、光学ヘッド２０に位置される場合があることを理解されたい。
【００３０】
図２は、幾つかの選択された光学素子のみが示されるが、光フィードバックの基本原理を示す光キャリア１との光ドライブにおける光フィードバックの概念的な例示である。放射線源４、すなわちレーザは、特定の電磁（ＥＭ）定在波のパターンによるボックスとしてみることができる。この波５の部分は、キャリア１に向かって進行し、放射線８としてキャリア１により反射される。放射線５及び８のこの経路は、特定の電磁（ＥＭ）定在波のパターンとして見ることができる。光記憶では、これは、放射線源４のインタフェースＩＮＴでの望まれない成分であり、たとえばビームスプリッタを導入することで光路によりできるだけ低減される。したがって、反射された光８が放射線源４のインタフェースＩＮＴでの減少しない成分を有するとき、むしろ複雑なプロセスが行なわれる。これは、光フィードバックとして知られる。
【００３１】
データパターンがキャリア１に存在するとき、光記憶の分野では公知であるように、インタフェースＩＮＴでの信号レベルの瞬間的な非線形シフトが存在する。これは、ＥＦＭパターンでの短いランレングスのシフトが存在することを意味する。また、これは、非対称（又はベータ）シフトとして知られる。したがって、極端な状況では、この非線形の複合プロセスの結果、短いランレングス（キャリアのフォーマットに依存して２Ｔ，３Ｔ等）が実際に消失して、光キャリア１に記憶される情報をデコードすることが非常に困難又は不可能となる。光フィードバックは、実際の条件下で常に存在し、インタフェースＩＮＴでのコヒーレントなプロセスとなる。
【００３２】
図３は、第一の変調周波数Ｆ１で変調される読み取りパワーレベルを有する放射線ビーム５を放出可能な放射線源４を有する光ドライブの簡略化された図である。放射線ビーム５は、光キャリア１に衝突するために光学的に構成され、キャリア１は、著しい複屈折を有しており、すなわちΔｎ≠０である。
【００３３】
変更ビームスプリッティング手段（ＰＢＳ）６は、キャリア１から光検出手段１０に反射されたビーム８を誘導するために構成される。光検出手段１０は、光キャリア１から処理手段５０に光応答信号ＲＳを出力可能である。
【００３４】
処理手段５０は、光検出手段１０から受信された光応答信号ＲＳをサブプロセッサ５３により１以上の光応答パラメータＲＰに処理するために適合される。処理手段５０は、光応答パラメータＲＰが予め決定された光応答パラメータの基準値ＲＰ＿ｒｅｆから逸脱するかをモニタするために構成される。この逸脱は、ビームスプリッティング手段（ＰＢＳ）から放射線源４への光フィードバックの指標である。シンボルΔ（ギリシャ語のデルタ）により示される逸脱が十分な振幅及び／又は特徴からなる場合、処理手段５０は、レーザドライバデバイス２２を制御するサブプロセッサ５２により、放射線ビームの第一の変調周波数Ｆ１を第二の変調周波数Ｆ２に変更するために更に適合される。これにより、プロセッサ５０は、通常、変調周波数を増加することで（すなわちＦ２はＦ１よりも大きい）、Ｆ１からＦ２に、変調周波数を変動させることで、光フィードバックを減少可能である。
【００３５】
光応答信号ＲＳは、光キャリアから読み取られた情報を表し、たとえば、光応答信号は、１実施の形態において高周波（ＨＦ）信号である。光応答パラメータＲＰは、次いで、光キャリア１での位置を示すアドレスとすることができる。アドレスが誤ったフォーマットであるか、又は信頼できない場合、本発明の文脈において逸脱が存在する場合がある。代替的に、係るアドレスエラーの頻度はモニタされ、所定の予め決定されたレベルを超える場合、本発明の文脈での逸脱が存在する場合がある。
【００３６】
代替的に、光応答パラメータＲＰは、光キャリア１から読み取られる情報系列における補正不可能な誤りである。光キャリア１からの符号化データをデコードする情報は、通常、誤り訂正ステップ（ＥＣＣ）を含むが、深刻なエラーについて、この訂正ステップはエラーを訂正することができず、本発明の文脈で逸脱が存在する場合がある。代替的に、係る訂正不可能なエラーの頻度はモニタされ、所定の予め決定されたレベルを超える場合、本発明の文脈における逸脱が存在する場合がある。
【００３７】
代替的に、光応答パラメータＲＰは、光応答信号（ＲＳ）、すなわち光キャリア１からのＨＦ信号から測定された非対称な値（ベータ、βと呼ばれることがある）である。好ましくは時間平均に基づいて非対称な値が所定のレベルを超える場合、本発明の文脈における逸脱が存在する場合がある。
【００３８】
１実施の形態では、光応答信号ＲＳは、光応答信号自身の基準値と直接に比較される。したがって、その実施の形態では、光応答信号ＲＳは、光応答パラメータＲＰに等しく、したがって、サブプロセッサ５３の機能が必要とされない。しかし、サブプロセッサ５３は、複屈折の許容されない高いレベルの指標を取得するため、基準値との簡単且つ複雑さのない比較を容易にする。特に、ＨＦ信号の非対称な値は、光キャリア１における複屈折のレベルについて有効な指標となる。
【００３９】
図４は、照射源４の放出された放射線ビーム５における変調された電力出力ＰLaserを示す簡略化されたグラフである。ビーム５のパワーは、方形波パターンで周期的に変調される。この方形波パターンは、複数のパルス８０を有し、それぞれのパルスは、変調周波数の逆数である周期１／Ｆ１を有する。図４では、それぞれのパルスは、ハイコントラストレベル８１及びロウレベル８２を有し、放射線パワーはゼロであるか又はゼロに近い。放射線電力を完全にオフにしてロウレベルにし、変調周波数Ｆ１を切り換えることで、本発明の教示により、光ドライブにおける光フィードバックを大幅に減少することができる。
【００４０】
変調周波数Ｆ１及びＦ２は、言及されるべきロウ及びハイの境界を有する。変調周波数は、余りに低く選択することはできない。さもなければ、ナイキストのサンプリング理論から知られているように、データのデコードは不可能である。他方で、ディスクリート変調器又はドライバデバイス２２と放射線源４との間の書込みのため、変調周波数は、余りに高く選択されない。したがって、所定の量の寄生インダクタンス（黄金律１０ｎＨ／ｃｍ）が考慮されるべきであり、したがって、高い周波数Ｆ１及びＦ２で、たとえば５０ｍＡでオンし、０ｍＡでオフするためにレーザ４を切り換えることが益々困難となる。最後に、光ドライブ及び周囲の環境の残りに関して、電磁シールド（ＥＭＣ）の制限が存在する。したがって、放出は特定のレベルを通常は超えない。実際に、利用された変調器の周波数Ｆ１及びＦ２は、４００ＭＨｚ〜５００ＭＨｚのレンジにある。しかし、本発明は、ひとたび本発明の一般的な原理が実現されると、この周波数インターバルの外で容易に利用される。
【００４１】
図５は、複屈折をもたない、すなわちΔｎ＝０であるキャリア１から読み取る光ドライブについて光路の概念図である。現実の状況下で、正確にゼロの複屈折が存在しないが、あるケースでは、ゼロに近いか、又は代替的に実施上の考慮点について効果的にゼロである。光路は、４分の１波長板（ＱＷＰ）１６がキャリア１の前に挿入されるという追加により図１に類似する。図５では、偏光状態（線形（linear）又は円形（circular））及び相対的な指向性（垂直（ver）又は水平（hor））は、放射線ビーム５が光キャリア１に衝突する前後の選択された位置で示される。偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）６を通過した後、放射線５は、垂直方向において直線偏光される。ＱＷＰ１７の進行に応じて、ビーム５は、キャリア１からの反射後に円偏光されるが、次いで、反対の回転方向で円偏光される。反射された放射線ビーム８がＱＷＰ１６を通過した後、偏光は、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）６におけるビーム分離を容易にするように、水平方向において再び直線である。スプリッタ６の後、反射された放射線ビーム８は、光検出手段１０に向けて完全に反射される。
【００４２】
図６は、複屈折を持つ、すなわちΔｎ≠０である光キャリア１を読み取る光ドライブの光路の概念図である。光路は、図５の光路に類似するが、光キャリア１の複屈折のため、反射された放射線８の偏光は、図５に示される理想的な状況に介して歪む。係る歪みは、偏光状態の更なる回転とすることができる。一般に、複屈折により波面（通常ナノメートルで表現される）が導入されることが示される。更なる作用は、いわゆる光キャリア１の基板へのパワーの光リークであり、すなわち反射率の低下である。光キャリア１の複屈折の作用は、偏光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）６で見られ、この場合、スプリッタ６は、光検出手段１０に放射線８を完全に反射するために使用可能である。むしろ、放射線８は、２つの方向に分離される。１つの方向は、光検出手段に向かう方向であり、別の方向は、放射線源４に向かう方向である。後者の成分は、図２に関して説明されるように放射線源４から放射された放射線５への悪影響のため望まれない光フィードバック１５を表す。さらに、この成分が光検出手段１０により測定することができないため、光フィードバック１５はパワーロスを表し、したがって、これにより光検出手段１０において信号強度が低下する。
【００４３】
図７は、ＤＶＤフォーマットの光キャリア１にわたる複屈折を示すグラフである。複屈折は、図７のグラフの垂直軸で示されるようにナノメートル（ｎｍ）で測定される相対的な複屈折であり、水平軸で、キャリア１の半径方向の位置（ｍｍ）は、２３ｍｍと５８ｍｍとの間で示される。複屈折の上の曲線及び下の曲線は、ＢＤディスクについてＥＭＣＡ規格に従って、測定された最大値及び最小値をそれぞれ示す。複屈折は、約５２ｍｍ以下の半径について約１００ｎｍを超える。１００ｎｍは、グラフにおける水平ラインによりマークされる仕様の上限（upper  specification  limit）である。このように、この光キャリア１は、複屈折に関して仕様外のキャリアの大きな部分についてである。係る仕様外のキャリア又はディスクは、「ホラーディスク」として当該技術分野で知られており、光ドライブに補償メカニズムが設けられるまで致命的な読み取りエラーを生じさせる可能性が非常に高い。確かに、本発明は、非常に効率的且つ費用対効果の高いやり方で光キャリア１での係る複屈折を光ドライブが補償するのを可能にする光ドライブを提供するものである。
【００４４】
図８は、光キャリア１からの情報を読み取る光ドライブを動作する本発明に係る方法のフローチャートであり、本方法は、以下のステップを有する。第一の変調周波数Ｆ１で変調された読み取りパワーレベル８０及び８１を有する放射線ビーム５を放出するステップ。前記放射線ビームは、光キャリア１に衝突するために光学的に調節される。光検出手段１０にキャリア１からの反射されたビーム８を偏光ビームスプリッティング手段（ＰＢＳ）により誘導するステップ。前記光検出手段は、光応答信号ＲＳを出力可能である。２つの最初のステップは、フローチャートにおけるＳＴＡＲＴボックスの一部として受け取られる。第二のボックス“ＲＳ，ＲＰ”に示されるように、光検出手段から受信された前記光応答信号ＲＳを１以上の光応答パラメータＲＰに処理するステップ。判定ボックス“ＲＰ＿ｒｅｆ？”により示されるように、光応答パラメータＲＰが予め決定された光応答パラメータの基準値ＲＰ＿ｒｅｆから逸脱するかをモニタするステップ。前記逸脱は、ビームスプリッティング手段（ＰＢＳ；６）から放射線源４に光フィードバック１５を示す。逸脱が生じた場合（シンボルΔ、ギリシャ文字のデルタによりマークされる）、ボックス“Ｆ１→Ｆ２”により示されるように、図３及び図６で示された光フィードバック１５を減少するように、放射線ビーム５の第一の変調周波数Ｆ１を第二の変調周波数Ｆ２に切り換えるステップ。閉ループのフィードバックは、ループの停止を補償するために所定のループの回数に制限される。
【００４５】
最後に、光応答パラメータＲＰと予め決定された光応答パラメータの基準値との間に逸脱が存在しない場合、本方法は、ボックスＲＥＡＤに進む。
【００４６】
本発明は規定された実施の形態と関連して説明されたが、本明細書で述べた特定の形式に制限されることが意図されない。むしろ、本発明の範囲は、特許請求の範囲によってのみ制限される。請求項では、用語「有する“comprising”」は、他のエレメント又はステップの存在を排除しない。さらに、ここの特徴が異なる請求項に含まれたが、これらは有効に結合され、異なる請求項における包含は、特徴の結合が実施可能ではなく及び／又は有効ではないことを意味しない。さらに、単数の参照は、複数を排除するものではない。したがって、“ａ”、“ａｎ”、“ｆｉｒｓｔ”、“ｓｅｃｏｎｄ”等への参照は、複数を排除しない。さらに、請求項における参照符号は、請求項の範囲を制限するものとして解釈されるべきではない。
【図１】
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【図２】
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【図３】
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【図４】
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【図５】
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【図６】
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【図７】
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【図８】
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【国際調査報告】
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